(57)【要約】  高周波試験レンジ（１０）（屈折性コンパクトレンジ）が、１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイを配置するためのソースゾーン（１４）と、試験される装置（２０）を配置するための試験ゾーン（１６）と、を含む物理的空間（１２）を具備する。レンズ（２４）とアポダイザ（２６）とが、ソースゾーンと試験ゾーンとの間の物理的空間に配置されている。レンズは、試験ゾーン内にアンテナによって放射されるエネルギをコリメートするように機能する。レンズは、片面または両面に反射防止コーティング面のような表面処理層を有することができる。アポダイザは、レンズの縁部でエネルギが反射し、図のフィールド（試験ゾーン）に入るのを防ぐように機能する。
2009537823.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アンテナ（１８）を配置するためのソースゾーン（１４）と、試験される装置（２０）を配置するための試験ゾーン（１６）と、を含む物理的空間（１２）と、
前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間のレンズ（２４，５０，６０，８０，９０，１００，１１０）と、
前記ソースゾーンと前記レンズとの間に配置されたアポダイザ（２６）とを具備する高周波試験レンジ（１０）であって、
前記レンズは、前記試験ゾーン内に、前記アンテナによって放射されたエネルギをコリメートし、また、前記アポダイザは、前記試験ゾーンに達するエネルギの悪影響を与える干渉縞を少なくとも減少させる高周波試験レンジ（１０）。
【請求項２】
前記レンズは、誘電材料と、複合材料と、プラスチック材料との少なくとも１つを含む請求項１の試験レンジ。
【請求項３】
前記レンズは、少なくとも一方の面（３０，３２）に、反射防止表面処理層（２８）を有し、この表面処理層は、コーティング面（３４）を含む請求項１または２の試験レンジ。
【請求項４】
前記レンズは、少なくとも一方の面（３０，３２）に、反射防止表面処理層（２８）を有し、この表面処理層は、表面パターン（４０）を含む請求項１または２の試験レンジ。
【請求項５】
前記アポダイザは、抵抗カード／フェンスアポダイザである請求項１ないし４のいずれか１の試験レンジ。
【請求項６】
前記アポダイザは、径方向でほぼ対称である請求項１ないし５のいずれか１の試験レンジ。
【請求項７】
前記試験ゾーン内での前記装置の移動を果すように構成された移動式プラットフォーム（２２）をさらに具備する請求項１ないし６のいずれか１の試験レンジ。
【請求項８】
前記レンズは、夫々異なる屈折率を有する異なる部分を備えたマルチパートレンズ（８０，９０，１００，１１０）である請求項１ないし７のいずれか１の試験レンジ。
【請求項９】
請求項１ないし８のいずれか１のレンジを使用して、高周波のフィールドで装置を試験する方法であって、
前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間に、前記レンズと前記アポダイザとを配置することと、
前記ソースゾーンに前記アンテナを配置することと、
前記試験ゾーンに前記装置を配置することと、
前記アンテナから放射された高周波エネルギを、前記アポダイザと前記レンズとを順次通過させ、前記試験ゾーンに向けることと、
前記エネルギを受信するために前記装置を監視することとを具備する方法。
【請求項１０】
前記向けることは、フィールドの強度が、ほぼ全ての前記試験ゾーンで５％以内で一様であり、かつ前記エネルギが、ほぼ全ての前記試験ゾーンで２０°以内の位相であるように向けることを含む請求項９の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的に、高周波信号を使用する装置を試験するためのレンジと方法とに関する。
【背景技術】
【０００２】
高周波信号を使用する、レーダセンサやアンテナシステムのような装置による試験をする際には、アンテナの実際の使用をシミュレーションする条件の下で、制御された条件や大きなビルで、屋外での試験を必要とし得る。しかし、屋外、即ち制御された条件の下での大きなビルでの試験は、しばしば非実用的であったり高価であったりするので、比較的小さな、屋内での試験レンジが、しばしば好ましく、試験のために使用されている。
【０００３】
従来の屋内試験設備の最も簡単な形式は、レーダ吸収材料で内部空間を囲むことと、試験を行う際、１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイによって、センサを直接的に照射することとを含む。このようなセンサは、アンテナの性能に対する指向性並びに動きの影響を試験するために、回転されたり移動されたりし得る。このような直接的な照射試験設備は、大きな内部空間並びにレーダ吸収材料の十分な品質が必要であるという欠点を有する。
【０００４】
センサを試験するための従来の他の形式の屋内の試験レンジは、エネルギをコリメートし、（屋外のレンジのような）かなり遠いフィールドのソースによって果されるような試験ゾーンと同じ効果を果すように、少なくとも１つのアンテナによって照射される少なくとも１つの曲面金属ミラー（または金属でコーティングされた曲面形状物）を使用する。このようなミラーの使用は、金属ミラーがないレンジと比べて、試験レンジのサイズを減少させる。しかし、このような屋内の試験レンジでは、関連するフィールドが（通常は約７ないし１０°に）制限され、センサに関連するフィールドが制限されてしまう。センサに関連するフィールドのこのような制限は、複数のアンテナのアレイによって発生されたターゲットに対して、ハードウェアにループ試験（ＨＷＩＬ，ＨＩＬまたはＨＩＴＬ試験として知られている）を行う際に、いくつかの制限が課されてしまう。また、高レベルな性能を果すためには、高価で高品質な反射ミラーが必要とされる。高レベルの反射板は、（ミラーの縁部で反射し、位相が乱れた状態の、表面からの直接的な反射が混じったエネルギを減少させるために）縁部の処理を必要とする。このようなミラーの縁部の処理は、直接的な照射の回折による影響のみならず、ミラーの表面に沿って縁部に進行するエネルギの回折による影響も考慮しなければならない。反射ミラーを用いて比較的大きな角度の範囲で使用するために、非常に高価な注文設計をしてもなお、性能には限界がある。
【０００５】
上述のことから、特にＨＷＩＬに適用される場合、高周波試験設備のフィールドで、改良が必要とされていることが明らかであろう。
【発明の開示】
【０００６】
本発明の一態様に係れば、試験レンジは、１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイが配置されているような高周波エネルギソースである高周波ソースゾーンと、試験のための装置が配置される試験ゾーンとの間に、レンズを有する。このレンズは、前記試験ゾーンに一様に放射されたフィールドを与えるように、前記ソースから前記１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイによって放射されたエネルギをコリメートする。
【０００７】
本発明の他の態様に係れば、高周波放射線を曲げるためのレンズが、径方向で対称なアポダイザ（ａｐｏｄｉｚｅｒ）と共に使用される。このアポダイザは、前記レンズの縁部からの回折を防ぐ。このレンズは、アンテナのアレイの形態並びに前記試験ゾーンの要求に合わせた非球面レンズである。広帯域で適用可能であるために、非球面のアクロマート（ａｃｈｒｏｍａｔ）レンズ、アポクロマート（ａｐｏｃｈｒｏｍａｔ）レンズまたはスーパーアクロマート（ｓｕｐｅｒａｐｏｃｈｒｏｍａｔ）レンズが使用されることができる。
【０００８】
本発明の他の態様に係れば、高周波試験レンジは、アンテナを配置するためのソースゾーンと、試験される装置を配置するための試験ゾーンと、を含む物理的空間と、前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間のレンズと、前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間に配置されたアポダイザとを有する。前記レンズは、前記試験ゾーン内に、前記アンテナまたは他のソースによって放射されたエネルギをコリメートする。また、前記アポダイザは、前記レンズの縁部に達するエネルギを遮ることによって、前記試験ゾーンに達するエネルギの悪影響を与える回折干渉縞を非常に減少させる。Ｒカードアポダイザが、独立した素子として、またはこのレンズ自体の表面に組み込んで、使用されることができる。同様に、前記レンズは、コーティング面（実際には、レンズ表面に組み込まれたアポダイザの部分である）やレンズの表面処理層（例えば、チェボクサリ（Ｃｈｅｂｕｓｈｅｖ）パターンや表面の制御された疑ランダム（ｐｓｕｄｏｒａｎｄｏｍ）エッチング）からなる反射防止設計を組み込むことができる。
【０００９】
本発明の他の態様に係れば、高周波のフィールドで装置を試験する方法は、前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間に、前記レンズと前記アポダイザとを配置する工程と、前記ソースゾーンに前記アンテナを配置する工程と、前記試験ゾーンに前記装置を配置する工程と、前記アンテナから放射された高周波エネルギを、前記アポダイザと前記レンズとを順次通過させ、前記試験ゾーンに向ける工程と、前記エネルギを受信するために前記装置を監視する工程とを具備する。
【００１０】
上述の目的並びに関連する目的を果すために、本発明は、以下に説明される態様並びに請求項により規定される特徴部分を有する。これら実施の形態は、例示的であり、様々な実施の形態で本発明の原理が使用されることができる。本発明の他の目的、効果並びに新規な特徴部分が、添付図面と共に参照される本発明の以下の詳細な説明により明らかにされる。添付図面では、スケールは必ずしも対応していない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
高周波装置の試験レンジは、１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイを配置するためのソースゾーンと、試験されるセンサまたは他の装置を配置するための試験ゾーンとを有する物理的空間を有する。レンズとアポダイザとが、これらソースゾーンと試験ゾーンとの間の前記物理的空間に配置されている。このレンズは、前記試験ゾーンに向かって、前記１つのアンテナ／複数のアンテナのアレイから放射されたエネルギをコリメートするように機能する。このレンズは、非球面レンズであり得る。このレンズは、片面または両面に、反射防止コーティング面または表面パターンのような表面処理層を有することができる。前記アポダイザは、エネルギがレンズの縁部から回折して図のフィールド（前記試験ゾーン）に入るのを防ぐように機能する。前記アポダイザは、抵抗（Ｒカード）フェンスであり得る。試験される前記センサまたは他の装置は、このセンサまたは他の装置とアンテナのような高周波発生源との相対的な動きをシミュレーションするために、このセンサまたは他の装置が移動可能であるように、移動可能な装着部に配置されることができる。このレンジの試験ゾーンは、少なくとも３０°の範囲を有することができる。この試験ゾーン内のフィールドの強度は、この試験ゾーン全体に亘って、５％以内で一様であることが好ましい。前記試験ゾーン内の信号は、２０°以下の位相であることができる。試験レンジは、ＸバンドやＫａバンドの放射線、即ち大まかに約２ＧＨｚないし１１０ＧＨｚの放射線で試験するために有用であり得る。
【００１２】
図１は、高周波エネルギによって１つまたは複数の装置を試験するための試験レンジ１０を示している。この試験レンジ１０は、装置を配置し、試験を行うための物理的空間１２を含む。この物理的空間１２は、適切なレーダ吸収材料によって囲繞されることができる。
【００１３】
高周波エネルギという用語は、ここでは２ＧＨｚないし１１０ＧＨｚを含む周波数スペクトルのバンドを参照して定義される。電磁スペクトルのこの部分は、ミリメートルの放射線、マイクロ波並びに無線バンドの部分を含む。前記物理的空間は、ソースゾーン１４と、試験ゾーン１６とを有する。１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイ１８が、前記ソースゾーン１４に配置されている。“アンテナ”という用語は、ここでは複数のアンテナのアレイ、さらに単式のアンテナを含むように定義される。このアンテナ１８は、一例では電子操縦アレイ（ＥＳＡ）であり得る。他の多くの種類のアンテナが、適切なアンテナのアレイで配置されることができる。
【００１４】
試験のための装置２０が、前記試験ゾーン１６に配置されている。前記アンテナ１８は、この装置２０の応答を試験するように、高周波エネルギを出すために使用される。この装置２０は、高周波（ＲＦ）信号への応答に関する情報が得られるような、様々な適切な装置であることができる。このような装置の例は、限定的ではないが、走査デバイス、線量計、レーダシステム、電子線システム、ＧＰＳシステム、通信センサ並びに到来角システムのようなセンサおよびアンテナを含む。
【００１５】
前記装置２０は、様々な方法でこの装置２０を移動させるように使用されることができるプラットフォームまたはテーブル２２の上に配置されている。このようなプラットフォーム（またはテーブル）は、ペンシルベニア州のピッツバーグのＡｃｕｔｒｏｎｉｃＵＳＡから入手可能な自由度３のテーブルのような、商業的に入手可能な運動シミュレータであることができる。他の適切な装置が、選択されたアンテナカット（例えばＡｚ／Ｅｌ（高度に亘る方位）カット、座標のカット、または回転、ピッチ、偏揺れ並びに直線的な径方向の動きの制御を与える４軸システム）を果すように設計されたポジショナである。前記プラットフォーム２２は、例えば、速い速度または正確に制御されたパターンカットで、試験のための前記装置２０を横方向への移動、傾斜、回転、もしくは移動させるように使用されることができる。これは、試験のための装置２０が実際の使用で受け得る動きに一致した様々な動きで、この装置を特徴づけ、試験を果す。前記プラットフォーム２２は、試験のための装置２０が回動されるように、回動テーブル／３−ＤＯＦテーブル／ポジショナを使用して、または使用することなく、タワーからパイロンまで、様々な形態であることができる。
【００１６】
レンズ２４とアポダイザ２６とは、前記ソースゾーン１４と前記試験ゾーン１６との間の前記物理的空間１２に配置されている。このレンズ２４は、試験ゾーン１６に向かって、関連するフィールド２５を通って前記アンテナ１８から出る放射されたエネルギをコリメートするように機能する。このレンズ２４は、前記放射されたエネルギに焦点を合わせるという目的を果すように、様々な適切な形状を有することができる。このレンズ２４は、球体の一部でも環状のシリンダでもない形態を有する表面を備えた非球面レンズであり得る。このレンズ２４は、単色レンズ、アクロマートレンズ、アポクロマートレンズまたはスーパークロマートレンズの適切な形状や特性を有することができる。
【００１７】
（ＸバンドやＫａバンドの）一例では、前記レンズ２４は、約１．５メートル（５フィート）ないし３メートル（１０フィート）の直径であることができる。このレンズ２４は、様々な材料でできていることができる。このような材料は、セラミックまたはラドームでの使用に適切な材料を含む複合材料を含む。他の適切な材料の広いカテゴリは、ほぼ一様な放射線透過特性を有するのに十分な均一性の、適切なプラスチックである。レンズ２４にガラスが使用されても良いが、ガラスは重く、このような機能を果すことが比較的難しい。このレンズに特に適した材料の一例は、ＥＣＨＯＳＯＲＢとして販売されている材料である。
【００１８】
前記レンズ２４は、このレンズの面３０，３２の片面または両面に、表面処理２８を有することができる。一実施の形態では、図２に示されるように、この表面処理は、反射防止コーティング面３４であり得る。このコーティング面３４は、前記レンズ２４によって反射される入射放射線の量を減少させることによって、このレンズ２４の明るさを増加させる。これは、前記試験ゾーン１６に向けられる入射放射線の量を増加させる。
【００１９】
前記反射防止コーティング面３４のための材料は、光学的な反射防止コーティング面と同様にして、屈折率と厚さとが異なる誘電材料の複数の層を有することができる。これら材料は、一般的に、適切な電気的特性および機械的特性を有する誘電体である。前記反射防止コーティング面の材料は、Ｒカードフェンスで使用される材料と同様であることができる（さらに以下に説明される）。
【００２０】
前記コーティング面３４は、前記レンズ２４を製造するためのプロセスの製造部分として、このレンズ２４の上に配置されることができる。代わって、このコーティング面３４は、レンズ２４の製造後、前記面３０，３２の片面または両面上に層を加えることができる。
【００２１】
前記コーティング面３４の使用に代わって、屈折性の減少は、前記面３０，３２の少なくとも一方の面上に表面パターン４０を加えることによって果されることができる。“表面パターン”という用語は、ここでは表面上に受けられる制御された閉じた空間パターンを参照して広く使用される。この表面パターン４０は、入射エネルギの波長につき多くのパターン要素があるように、十分な空間密度を有することができる。このパターン４０は、前記面３０，３２の少なくとも一方に直角に反射されるエネルギが、互いに打ち消し合うようにして、このパターンに干渉する。これは、前記レンズ２４の両面３０，３２での反射で失うエネルギの量を減少させる。前記パターン４０の一例は、前記表面３０，３２の上に配置された一連の凹みである。他の例は、チェブイショフ（Ｃｈｅｂｙｓｈｅｖ）パターンである。このパターン４０は、レンズにエッチングされるか、もしくは適切な方法で形成されることができる。
【００２２】
前記アポダイザ２６は、入射する放射されたエネルギが、前記レンズ２４の縁部で反射して前記試験ゾーンに入るのを防ぐように機能する。このアポダイザ２６は、このアポダイザ２６の周縁に沿ったＲカードフェンスを形成するように配置された抵抗シート（Ｒカード）を有することができる。このアポダイザ２６は、放射されたエネルギが周縁に沿って通過するのを選択的に防ぐアポダイザ２６を使用して、径方向でほぼ対称であることができる点で、従来のＲカードフェンスと異なっている。対照的に、反射されたエネルギを防ぐまたは減衰するために使用される従来のＲカードフェンスは、直線的なフェンスである。
【００２３】
前記アポダイザ２６が存在しなければ、前記レンズ２４の縁部からの悪影響を与える干渉縞が、フレネルゾーンの発生によってのように、前記試験ゾーン１６で信号を分解する。結果として、所望の滑らかな強度よりもむしろ、試験ゾーン１６での単一の振幅で変化を生じる。本質的には、前記アポダイザ２６の使用によって、再放射面である前記レンズ２４の縁部を取り除くことが好ましい。
【００２４】
前記レンズ２４並びにアポダイザ２６は、単一の装置内に組み込まれることができる。代わって、レンズ２４並びにアポダイザ２６は、独立した部材であっても良い。
【００２５】
この試験レンジ１０は、良い試験特性を与える。前記試験ゾーン１６は、反射試験レンジよりもかなり大きい。例えば、前記試験ゾーン１６は、少なくとも３０°のフィールドで、少なくとも直径３０ｃｍかつ深さ３０ｃｍのシリンダであることができる。試験のための装置のより大きな動き並びにより大きな装置が可能である大きな試験ゾーンが可能であることが理解されるであろう。
【００２６】
前記試験ゾーン１６中のフィールドの強度は、試験ゾーン全体に亘って５％以内で一様であることができる。この試験ゾーン１６内の信号は、２０°以内の位相であることができる。このように、反射試験レンジの特性に関して、大きな試験ゾーンを超えて、特性をかなり改良する。
【００２７】
従って、前記試験ゾーン１６は、５％以内で一様なフィールドの強度を有し、２０°以内の位相であり、少なくとも２１リットルの体積を有することができる。これら値は例に過ぎず、試験ゾーン１６の体積、フィールドの強度の均一性および信号は、与えられた値から変えることができる。
【００２８】
前記試験レンジ１０は、例えば、Ｋａバンド放射線（２７ないし４０ＧＨｚ）かＸ−ｂａｎｄ（８ないし１２ＧＨｚ）で使用される。周波数が増加するのに従って、コンパクトな試験レンジを可能にする装置が重要であることが理解されるであろう。なぜならば、比較的低い周波数で波長が測定されると（例えば、３０ＧＨｚの波長が１ｃｍであると、１０ＧＨｚのエネルギの波長が３ｃｍであり、直径９ｃｍのディスクが１０ＧＨｚで３つの波長の直径を有するが、３０ＧＨｚで９つの波長の直径であることを意味する）、試験される部材は、比較的高い周波数では一般的に非常に大きいからである。
【００２９】
前記試験レンジ１０の構成では、前記レンズ２４と前記アポダイザ２６とは、前記試験ゾーン１６内のアンテナ１８により放射されたエネルギをコリメートするように、（前記ソースゾーン１４内の）アンテナ１８と前記試験ゾーン１６とに対して適切に配置されることができる。試験のための装置２０は、移動式プラットフォーム２２に固定されることができ、前記試験ゾーン１６内で移動されることができる。これら測定は、様々な目的のために使用されることができる。例えば、様々な動きや振動環境の下で、センサの応答は、制御され、繰り返し可能な方法で測定されることができる。
【００３０】
図４並びに図５は、前記レンズ２４の可能な１対の構成を示している。図４は、凹凸レンズ５０であるレンズ２４の一実施の形態を示している。この凹凸レンズ５０は、前記ソースゾーン１４に面した凹面５４と、前記試験ゾーン１６に面した凸面５６とを有する。図５は、前記ソースゾーン１４に面したほぼ平坦な面６４と、前記試験ゾーン１６に面した凸面６６とを有するプラノ凸レンズ６０を示している。前記レンズ５０，６０は、例えば試験ゾーンの所望のサイズから出る光線を明らかにし、所望のソースの位置並びに構成に前記光線を曲げるようなレンズの構成を選択することによって、光線トレースコンピュータプログラムの使用によって構成されることができる。
【００３１】
様々な適切なレンズが、多くのファクタに基づいて構成されることができる。このようなファクタは、前記ソースゾーン１４と前記試験ゾーン１６との相対位置、前記アンテナ１８の構成、前記レンズ２４のための材料の特性（特に材料の屈折率であり、屈折率３を有する材料が、レンズ５０，６０に対して使用される）、放射される前記放射されたエネルギの波長、前記試験ゾーン１６のためのサイズ並びに構成である。ほんの一例を与えるために、二重凸レンズが可能である。
【００３２】
図６ないし図９は、前記レンズ２４の様々な実施の形態のためのマルチパートレンズの構成を示している。図６ないし図９に示される実施の形態は、試験ゾーン内で放射される複数の波長をコリメートするように構成されている。従って、図６ないし図９の実施の形態は、複数の波長の放射線を放射するソースを含む広帯域での使用に適している。これは、上述の単色レンズと対照的である。
【００３３】
図６は、動作的に互いに接合される１対の独立したレンズ８２，８４を有するアクロマットレンズ８０を示している。これらレンズ８２，８４は、夫々異なる屈折率を有し、これらレンズ８２，８４は、ソースの前記アンテナ１８から前記試験ゾーン１６に、異なる１対の波長を互いにコリメートする。これらレンズ８２，８４は、例えば互いに接着して結合されることが可能な様々な幅広い方法で、互いに接合されることができる。代わって、これらレンズ８２，８４は、両方とも単一のフレームに取着され、互いに離間されていても良い。
【００３４】
代わって、図７は、アクロマートレンズ９０を示しており、このレンズでは、異なる屈折率を有する材料が、単一のレンズ部分９２，９４である。これら部分９２，９４は、２つの材料の適切な結合と混合との少なくとも一方を果すように、互いに永久的に結合されることができる。
【００３５】
図８ないし図９は、広帯域の概念の拡張を示している。図８は、異なる屈折率を有する３つのレンズ、即ち部分１０２，１０４，１０６を含むアポクロマートレンズ１００を示している。このアポクロマートレンズ１００は、少なくとも３つの波長の放射線をコリメートすることができる。図９は、４つのレンズ、部分、即ち構成要素１１２，１１４，１１６，１１８を有するスーパークロマートレンズ１１０を示している。前記部分１１２−１１８は、異なる屈折率を有し、異なる形状であることができる。
【００３６】
前記レンズ１００，１１０は、前記アクロマートレンズ９０（図７）に示されるように、異なる屈折率を有する部分を有する単一のレンズを形成するために、互いに溶融された独立した構成要素を有することができる。
【００３７】
本発明が、所定の好ましい実施の形態に関連して示され、説明されてきたが、同等の変更並びに修正が、当業者によって、この明細書並びに添付図面の解釈並びに理解に基づいてなされ得ることは明らかであろう。特に、上述の要素（構成要素、アセンブリ、装置、組成等）によって果される様々な機能に関して、このような構成要素を説明するために使用される用語（“手段”の参照を含む）は、たとえ示されていなくても、説明された構成要素（即ち機能上同等のもの）や、本発明の実施の形態に例として示された機能を果す構造的に同等でないものも、特定の機能を果すいかなる構成要素に対応するように意図されている。さらに、上述のいくつかの実施の形態のみに関して、本発明の特徴部分が説明されてきたが、このような特徴部分は、所定のまたは特定の適用装置に対して好ましく効果的であるような他の実施の形態の少なくとも１つの他の特性と組み合わせられることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】図１は、本発明の一実施の形態に係る試験レンジの概略図である。
【図２】図２は、図１の試験レンジで使用するための非球面レンズの一実施の形態の側断面の概略図である。
【図３Ａ】図３Ａは、図１の試験レンジで使用するための、パターン化された非球面レンズの正面図である。
【図３Ｂ】図３Ｂは、図１の試験レンジで使用するための、パターン化された非球面レンズの正面図である。
【図４】図４は、図１の試験レンジで使用するための一実施の形態の代表的な非球面レンズの側断面図である。
【図５】図５は、図１の試験レンジで使用するための一実施の形態の第２の代表的な非球面レンズの側断面図である。
【図６】図６は、図１の試験レンジで使用可能なアクロマートレンズの一実施の形態の概略図である。
【図７】図７は、図１の試験レンジで使用可能なアクロマートレンズの他の実施の形態の概略図である。
【図８】図８は、図１の試験レンジで使用可能なアポクロマートレンズの一実施の形態の概略図である。
【図９】図９は、図１の試験レンジで使用可能なスーパーアポクロマートレンズの一実施の形態の概略図である。
【図１】
2009537823.tif 000003
【図２】
2009537823.tif 000004
【図３Ａ】
2009537823.tif 000005
【図３Ｂ】
2009537823.tif 000006
【図４】
2009537823.tif 000007
【図５】
2009537823.tif 000008
【図６】
2009537823.tif 000009
【図７】
2009537823.tif 000010
【図８】
2009537823.tif 000011
【図９】
2009537823.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成21年2月23日(2009.2.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ソースゾーン（１４）と、試験される装置（２０）を配置するための試験ゾーン（１６）と、を含む物理的空間（１２）と、
前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間の非球面レンズ（２４，５０，６０，８０，９０，１００，１１０）と、
前記ソースゾーンと前記レンズとの間に配置されたアポダイザ（２６）と、
前記ソースゾーン内の１つのアンテナまたは複数のアンテナのアレイ（１８）とを具備する高周波試験レンジ（１０）であって、
前記レンズは、前記試験ゾーン内に、前記アンテナによって放射されたエネルギをコリメートし、また、前記アポダイザは、前記試験ゾーンに達するエネルギの悪影響を与える干渉縞を少なくとも減少させる高周波試験レンジ。
【請求項２】
前記レンズは、誘電材料と、複合材料と、プラスチック材料との少なくとも１つを含む請求項１の試験レンジ。
【請求項３】
前記レンズは、少なくとも一方の面（３０，３２）に、反射防止表面処理層（２８）を有し、この表面処理層は、コーティング面（３４）を含み、また、このコーティング面は、屈折率と厚さとが異なる誘電材料の複数の層を含む請求項１または２の試験レンジ。
【請求項４】
前記レンズは、少なくとも一方の面（３０，３２）に、反射防止表面処理層（２８）を有し、この表面処理層は、表面パターン（４０）を含む請求項１または２の試験レンジ。
【請求項５】
前記アポダイザは、抵抗シートを有する抵抗カードフェンスアポダイザである請求項１ないし４のいずれか１の試験レンジ。
【請求項６】
前記アポダイザは、径方向でほぼ対称である請求項１ないし５のいずれか１の試験レンジ。
【請求項７】
前記試験ゾーン内での前記装置の移動を果すように構成された移動式プラットフォーム（２２）をさらに具備する請求項１ないし６のいずれか１の試験レンジ。
【請求項８】
前記レンズは、夫々異なる屈折率を有する異なる複数の部分を備えたマルチパートレンズ（８０，９０，１００，１１０）である請求項１ないし７のいずれか１の試験レンジ。
【請求項９】
請求項１ないし８のいずれか１のレンジを使用して、高周波のフィールドで装置を試験する方法であって、
前記ソースゾーンと前記試験ゾーンとの間に、前記レンズと前記アポダイザとを配置することと、
前記ソースゾーンに前記アンテナを配置することと、
前記試験ゾーンに前記装置を配置することと、
前記アンテナから放射された高周波エネルギを、前記アポダイザと前記レンズとを順次通過させ、前記試験ゾーンに向けることと、
受信したエネルギのための装置を監視することとを具備する方法。
【請求項１０】
前記向けることは、フィールドの強度が、ほぼ全ての前記試験ゾーンで５％以内で一様であり、かつ前記エネルギが、ほぼ全ての前記試験ゾーンで２０°以内の位相であるように向けることを含む請求項９の方法。
【請求項１１】
前記レンズは、少なくとも一方の面（３０，３２）に反射防止表面処理層（２８）を有し、
この表面処理層は、コーティング面（３４）を含み、
このコーティング面は、屈折率と厚さとが異なる誘電材料の複数の層を含み、また、
前記アポダイザは、抵抗シートを有する抵抗カードフェンスアポダイザである請求項１または２の試験レンジ。
【請求項１２】
前記抵抗カード／フェンスアポダイザは、径方向でほぼ対称である請求項１１の試験レンジ。
【請求項１３】
前記アポダイザは、このアポダイザの周縁に沿った抵抗カードフェンスを形成する抵抗シートを有する請求項１ないし４のいずれか１の試験レンジ。
【国際調査報告】
2009537823.tif 000013
2009537823.tif 000014
2009537823.tif 000015