(57)【要約】  本発明によるリサイクル方法は，物品（１２）の製造時に，その物品（１２），リサイクルされる材料を含むその物品の部品及び／又は構成要素を選択的に標識化する予備段階，並びに物品（１２）を粒子（１５）に粉砕し，各粒子が有する標識を遠隔検出し，標識の検出されたこれらの部品（２６）を採取し，かつこれらを前記標識に固有の保管区域に誘導することを含むリサイクル可能な材料を集積する段階を含む。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品から得られる材料のリサイクル方法であって，
−  リサイクルされる材料の分類が，これらの材料がその中に存在すると仮定されている物品（１２）とは無関係に実行され，接触することなく一定の距離を隔てて検出可能な識別コードを分類される前記材料のそれぞれに割り当てる準備段階と，
−  以下の工程を含む前記物品内に存在する前記リサイクルされる材料を集積する段階と，
−−  前記物品（１２）及び前記構成要素の種類ないし性質に応じて，前記物品（１２）を粒子（１５）に粉砕する工程と，
−−  前記粒子のそれぞれを一定の距離を隔てて検出し，前記リサイクルされる材料を識別し，マーカーが検出及び識別される粒子（２６）を採取し，検出及び識別される前記粒子を採取し，かつこれらの粒子を前記リサイクルされる材料に固有の保管区域（２７）に移動する工程
を含み，
−  前記識別コードは少なくとも一つの固有の化学的マーカーの存在を表し，
−  前記方法は，前記分類により行われる割り当てに応じて，前記リサイクルされる材料を含む前記物品，前記物品の部品及び／又は前記物品の構成要素を選択的に化学的にマーキングする段階を含み，
−  前記一定の距離を隔てた検出は粒子のそれぞれにより運搬される可能性のある前記化学的マーカーの検出を含み，前記材料の識別は前記マーカーの分析により行われることを特徴とする方法。
【請求項２】
前記準備段階が，前記マーカーのための分光学的識別データの入力と保存とを含むことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記マーキング段階が，前記物品（１２）の製造中又はその耐用期間中の後続の工程で実行されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記採取段階の前に，優先順位により前記マーカー，すなわち前記リサイクルされる材料への分類の割り当てを行うため，同じ粒子（１７）から複数の前記マーカーが検出される場合，この粒子（１７）をその区分が最上位である前記マーカーにより移送することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記化学的マーカーが，入射光放射により励起されると，その周波数スペクトルが互いに，及び，組み込まれることが意図された前記物品及び物質に関して識別できる輻射エネルギーを発するマーカーから成ることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項６】
前記識別コードが前記マーカーの組み合わせから得られ，それぞれが２進数，すなわち前記マーカーの存在の有無に対応した２進数値で構成されることを特徴とする請求項１〜５いずれか１項記載の方法。
【請求項７】
前記識別工程が，前記物品，前記粉砕により生じる前記物品，構成要素又は材料の粒子の分光分析により実行されることを特徴とする請求項１〜６いずれか１項記載の方法。
【請求項８】
前記分光分析が，
−  広い周波数スペクトルを有する光ビームによってマーキングされた前記物品又は粒子（４８）を照射する工程と，
−  前記物品又は粒子から伝送すなわち反射された波を分散素子（４１）へ送信し，前記分散素子は異なる波長範囲に対応した異なるスペクトル帯域において，光強度を有する光スペクトルを得るために前記波を偏向する工程と，
−  前記帯域の各々において前記光強度を検出する工程と，
−  この強度と，この帯域に割り当てられ，メモリに事前に記録されている一又はそれ以上の閾値と比較する工程と，
−  前記リサイクルされる材料の識別コードの判定に寄与するこの比較から結果を得る工程と
を含むことを特徴とする請求項７記載の方法。
【請求項９】
解析される前記スペクトル帯域の判定が，これらの帯域のそれぞれに割り当てられた様々なパラメータと同様に，前記メモリに事前に保存されている前記分光学的識別データを使用してシステムにより実行されることを特徴とする請求項１〜８いずれか１項記載の方法。
【請求項１０】
前記識別コードが，
−  蛍光の存在の有無，及び／又は
−  少なくとも一つの閾値より大きい又は小さい蛍光の持続時間，及び／又は
−  事前に設定された波長ならびに場合により振幅におけるピークの存在の有無及び／又はこのピーク幅，及び／又は
−  一又はそれ以上の所定の閾値よりも大きい又は小さい前記マーカーの濃度に対応する発光ピーク高さ
に関連するパラメータも含むことを特徴とする請求項１〜９いずれか１項記載の方法。
【請求項１１】
可能な組み合わせの数を増やすため，異なる組み合わせの前記マーカーを使用して異なる強度線を得ることを特徴とする請求項１〜１０いずれか１項記載の方法。
【請求項１２】
前記ビームの光強度が，前記マーカーの存在により影響されない所定の周波数の範囲で検出された光強度の値と所定の設定値との差によりスレーブされることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１３】
識別コード内に存在する前記マーカーの一つが，他の前記マーカーの存在の有無，及び／又は強度を判定するための基準となる標準として使用することができ，特に，前記物質又は前記物品の組成，入射角などによる位置決めの変動，前記物品又は，前記物質又は前記物品を包囲ないし被覆する透明材料までの距離，異物（汚れなど）の存在による信号の減衰，又は前記物品が長期間外気に露出される又は劣化したりすることによる信号の減衰などから生じる可能性のあるノイズを取り除くための補正及び較正を行うために使用することができることを特徴とする請求項１〜１２いずれか１項記載の方法。
【請求項１４】
−  前記マーカーの一つの事前の選択及び製品又は前記物質の種類ないし性質に対する及び／又は所定の期間にわたる標準としての前記マーカーの割り当てと，
−  識別データ及び標準としてその役割に固有のデータの前記マーカーへの割り当て，及び，これらのデータの保存と，
−  認証段階において，事前に保存された識別データを用いた標準として使用される前記マーカーの判定，及び，前記物品又は粒子の分光分析中に得られた前記標準のマーカーに関連したデータと事前に保存された前記固有データとの比較と，
−  この比較の結果から分光分析に対して行われる補正の計算と，
−  補正された分光分析の結果からの前記マーカーの存在の有無及び／又は強度の検出と，
−  前記マーカーの存在の有無及び／又は強度からの前記物品又は前記物質のための認証コードの判定と
を更に含むことを特徴とする請求項１３記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は，使用済み物品から得られる材料のリサイクル方法に関する。
【０００２】
一般的に，現在，廃棄された工業製品に使用されている材料を可能な限りリサイクルするために多大な努力がなされていることが知られている。
【０００３】
それにもかかわらず，この問題は，リサイクルを目的として処理することが望まれる製品が本質的に複雑であり，かつ異なる材料から製造される多数の部品を含む場合には，解決が非常に困難であることが分かっている。
【０００４】
特に電子機器又は自動車をリサイクルする場合に非常に困難である。
【０００５】
これら２つをリサイクルする際は，同じ材料から製造された構成要素を一緒に回収するために機器を分解し，構成要素を分類する。
【０００６】
このプロセスは安い労働力を使用する場合にのみ適しており，自動化された産業用途には向いてないことは明らかである。
【０００７】
これらの問題を解決するため，機器を所定の大きさの小片に粉砕することが提案されている。これらの小片は更に，浮選や磁気選別などの従来の手段によって分別される。しかしながら，これらの方法は，すべての範囲の製品を対象としていない。特にこれらの方法では，様々なタイプのプラスチック材料の分別を行ったり，希少及び／又は高価な材料を含む電子構成要素を含む機器の小片を選別したりすることは不可能である。
【０００８】
それゆえ，本発明の目的は，より詳細には，材料及び／又は物品の種類ないし性質とは無関係に，多様な物品に存在する可能性のある様々な材料をリサイクルする方法により，この問題を解決することである。
【０００９】
本発明によれば，この方法は次の段階を含む作業手順を含む。
−  リサイクルされる材料の分類が，これらの材料がその中に存在すると仮定されている物品とは無関係に実行される準備段階。この段階は，接触することなく一定の距離を隔てて検出可能な少なくとも一つの固有の化学的マーカーが存在することを示す識別コードを，分類される材料のそれぞれに割り当てることを伴う。この段階はまた，前記マーカーのための分光学的識別データの入力と保存を含むことが可能である。
−  リサイクルされる材料を含む物品，物品の部品及び／又は物品の構成要素の選択的マーキングの段階。このマーキング段階は前記分類により行われる割り当てに応じて，物品の製造中又は耐用期間中の後続の工程で実行されることが好ましい。
−  前記物品内に存在するリサイクルされる材料を集積する段階。この段階は次の工程を含む。
−−  前記物品及び前記構成要素の種類ないし性質に応じて，物品を粒子に粉砕する工程。
−−  前記粒子のそれぞれが有する可能性のあるマーカーを一定の距離を隔てて検出し，マーカーの解析及びマーカーが検出及び識別される粒子の採取に基づいてリサイクルされる材料を識別し，かつこれらの粒子を前記マーカー及びこのマーカーに対応するリサイクルされる前記材料に固有の保管区域に移送する工程。
【００１０】
有利には：
−  この方法は，採取段階より前に，優先順位によりマーカーへの分類の割り当て，すなわちリサイクルされる材料への分類の割り当てを含むことができるため，同じ粒子から複数のマーカーが検出される場合，この粒子の切り替えにおいて区分が最上位であるマーカーを考慮し，逆に，特定のマーカー又はマーカーの組み合わせが識別された粒子を排除することにより先に進めることも可能である。
−  マーカーは，入射光放射により励起されると，その周波数スペクトルが互いに，及び，組み込まれることが意図された前記物品及び物質に関して識別できる輻射エネルギーを発する化学的マーカーで構成することができる。
−  識別工程は，前記パラメータ，特にマーカーの存在の有無，及び，前記粒子内又は前記粒子上に存在するリサイクルされる材料の識別コードを判定するように，粉砕により生じる物品，構成要素，又は材料の粒子の分光分析により実行することができる。
【００１１】
前記方法において，分光分析の段階は次の工程を含む手順を含むことができる。
−  マーキングされた物品又は粒子の広い周波数スペクトルを有する光ビームによる照射，
−  物品又は粒子から伝送すなわち反射された波の分散素子への送信。分散素子は，異なる波長範囲に対応した異なるスペクトル帯域において光強度を有する光スペクトルを得るために波を偏向する。
−  前記帯域の各々における光強度の検出。
−  この強度と，この帯域に特異的に属し，予めメモリに記録されている一又はそれ以上の閾値との比較。
−  リサイクルされる材料の識別コードの判定に寄与するこの比較の結果の取得。
【００１２】
更に，解析されるスペクトル帯域の判定は，これらの帯域のそれぞれに割り当てられた様々なパラメータと同様に，メモリに事前に保存されている前記分光学的識別データを用いて，システムにより実行することができる。この解決法によって，より信頼性のある結果を得て，かつ使用する処理手段の電力を大幅に削減することが可能となる。
【００１３】
識別コードの判定のために特定及び使用されるマーカーの組み合わせの存在の有無に関するパラメータは，特に以下を含むことができる。
−  蛍光の存在の有無及び／又は
−  少なくとも一つの閾値より大きいか又は小さい蛍光の持続時間，及び／又は
−  事前に設定された波長ならびに場合により振幅におけるピークの存在の有無及び／又はこのピーク幅，及び／又は
−  一又はそれ以上の所定の閾値よりも大きい又は小さいマーカーの濃度に対応する発光ピーク高。
【００１４】
組み合わせ数を増やすため，異なる濃度のマーカーを使用して異なる強度線(intensity line)を得る。
【００１５】
更に，読み取り及びそれに続く分光分析を干渉する可能性のあるすべての光学因子を取り除くため，光放射発生器から放出される光強度は，マーカーの存在により影響されない所定の周波数の範囲で検出された光強度の値と所定の設定値との差によりスレーブ(slave)することができる。
【００１６】
この測定は複数の強度レベルがパラメータとして使用されている場合に必要であることが判明している。
【００１７】
有利には，識別コード内に存在するマーカーの一つは，他のマーカーの存在の有無，及び／又は強度を判定するための基準となる標準として使用することができる。特に，物質又は物品の組成，入射角などによる位置決めの変動，物品又は，この物質又は物品を包囲ないし被覆する透明材料までの距離，異物（汚れなど）の存在による信号の減衰，又は物品が長期間外気に露出されたり劣化したりすることによる信号の減衰などから生じる可能性のあるノイズを取り除くための補正及び較正を行うために使用することができる。
【００１８】
したがって，本発明による方法は，以下も含むことができる。
−  前記マーカーの一つの事前の選択，及び，製品又は物質のタイプに対する及び／又は所定の期間にわたる標準としての，このマーカーの割り当て，
−  識別データ及び標準としてその機能に固有のデータのマーカーへの割り当て，及び，これらのデータの保存，
−  認証段階において，事前に保存された識別データを用いた標準として使用されるマーカーの判定，及び，物品又は物質の分光分析中に得られた標準マーカーに関連したデータと事前に保存された前記固有データとの比較，
−  この比較の結果から得られる，分光分析に対して行われる補正の計算，
−  補正された分光分析の結果からのマーカーの存在の有無及び／又は強度の検出，
−  前記マーカーの存在の有無及び／又は強度からの物品又は物質のための認証コードの判定。
【００１９】
この解決法の一つの利点は，非常に低濃度（数ｐｐｍから数百ｐｐｍ，好ましくは数十ｐｐｍ。ｐｐｍは百万分の一の意味）で，それぞれが固有の発光信号を有する複数の化学的マーカーの使用が可能なことである。ただし，これらの濃度は，色つき又は黒などの特定のマトリックスの場合に，数パーセントに達する可能性がある。これは次のことに由来する。
−  化学的マーカーとしてのナノ材料，すなわち，ナノメートル（百万分の１ミリメートル）で計測されるサイズの粒子又は構造体の使用の可能性。ここで，粒子のサイズが小さくなればなるほど，表面／体積比は増加するということ，及び，その結果，分光分析がより重要になるという事実に関する性質が利用される。
−  使用される量が非常に少ないことを考慮すると，マーカーを加えたマトリックスの本質的な物理的及び化学的性質は変化しない。
−  同様の理由により，マーカーのコストは低く抑えられる。
−  マーカーは，
ａ）集合体に埋め込むことができる。一例として，これらのマーカーはプラスチックマトリックスに組み込むことができ，マーカーは，ポリマーの滴定濃度(titer)及び等級，製造元，追跡可能性，物品の認証などを識別することを目的とする。
ｂ）表面に配置することができる。例えば，
−  含浸処理（例えば，織物や染料などの中）によるもの，
−  金属製航空機部品などの様々な支持物のコーティング（ニス，塗料，吹き付けによる成膜）などによるもの。これは表面全体又は一部分に対して（スクリーン印刷，パッド成膜）施される，
−  可視部分又はそうでない部分に付けられたラベルの形態で行われるもの。
【００２０】
更に，識別コードは集合体に埋め込まれたマーカーの存在の有無，及び，表面，例えば，ニス又は塗料などのコーティング内に配置されたマーカーの存在の有無から判定することができる。
【００２１】
このコーティングは，マーカーを含む透明層に覆われた反射帯域を有利に含むことができる。従って，この解決法により，エネルギー損失を大幅に減少させる反射分光分析を実行することができる。
【００２２】
識別データは，選択されるマーカーの組み合わせ，特性線の波長，それらの強度，あらゆる蛍光の持続時間などを含むことができる。
【００２３】
それゆえ，すべての波長を対象とする必要はなく，予想される前記特性線に対応する値の範囲を解析すれば十分である。前記特性線は，これらの範囲の外側に位置している帯域について考慮することなく前記特性線等の存在の有無を確認するために，メモリに事前に保存された分光学的識別データのコードから識別される。
【００２４】
プラスチックのリサイクルを行う場合，プラスチックのタイプ又は等級ごとにマーカーの組み合わせを使用することが想定でき，識別が行われると，マーカーをタイプ又は等級ごとに分類することが可能になる。
【００２５】
前記識別コードは，マーカーの組み合わせから得ることができ，２進数すなわちそれぞれがマーカーの存在の有無に対応した２進数値で構成することができる。
【００２６】
本発明は，これら様々なタイプの用途に限定されない。
【００２７】
それゆえ，特に，マーカーの組み合わせにより製品自体，製品の製造（例えばシリアル番号），製造者，場合により，販売者に関する識別データを得ることもできる。
【００２８】
これらの処理により，マーキングされた物品又は製品の追跡を確実に行うことができる。
【００２９】
本発明の実施形態を，非限定的な例により添付図面を参照して以下に説明する。
図１及び図２は，リサイクルすることが望まれる特定の構成要素を含む２つの物品の模式図であり，図１は電子機器の概略断面図であり，図２は自動車の側面図である；
図３は，リサイクル設備のブロック図である；
図４は，本発明の方法で使用することができる物品又はその破片を識別する装置の模式図である。
【００３０】
前記のように，本発明の目的は，複雑な構造で非常に多くの材料が混在し，それらの中には材料を回収又はリサイクルすることに高い価値を有する物品に含まれる材料の選択的リサイクルを可能にすることである。
【００３１】
図１及び図２は，重要なリサイクル問題をもたらしている２つの物品を示す。これらの２つの例は限定的なものでなく，本発明は他の多くの物品に適用可能であることを理解されたい。
【００３２】
図１に示す物品は，筐体１に収容された電子回路を含む装置である。この電子回路は，プリント基板カード２により保持され，多様な電子構成要素３を含む。このプリント基板カードには金属電機子及び銅巻線４を含む変圧器３’が固定されている。この電子回路は，複数ピンコネクタ５，金メッキ及び／又は銀メッキされたピン６に接続されている。
【００３３】
本発明によれば，この機器をリサイクルする方法の第一の工程は，物品の製造中に行われる。この工程には，リサイクルすることが望まれる材料を含む物品の部品のマーキングが含まれる。この例では，このマーキングは以下の部品に対して施すことができる。
−  プラスチック材料から製造される筐体１。マーキングは材料内，又は，場合により表面層（ニス又は塗料）上に施すことができる。
−  希少材料を含む特定の電子構成要素３。マーキングは構成要素を覆う表面コーティング内に組み込むことができる。
−  変圧器の銅巻線４。マーキングは銅巻線を覆うニスの層内に組み込むことができる。
−  接続ピン。マーキングはピンを支持する絶縁材料に施すことができる。
【００３４】
磁気特性を有する金属から製造される部品は，従来の方法が有効なためマーキングしない。
【００３５】
当然ながら，リサイクルすることが望まれるその他の部品に対しては，部品内に存在するリサイクルが望まれる材料の識別子を構成する固有のマーカーが割り当てられる。
【００３６】
図２に示す自動車の場合，マーキングの対象になる部品は以下のものを含むことができる。
−  同じ性質を有するプラスチック材料から製造される構成要素。
−−  マーキングは，プラスチック材料から作られる車体部品（例えばバンパー７，８）に施すことができ，他のマーキングはボンネットの下及び／又はキャビン内に配置されたプラスチック材料から作られた部品に施すことができる。対応するマーカーは材料内に組み込むことができる。
−  鋳造アルミニウムから作られる部品，特にエンジン９及びホイールのリム１０内に存在する部品。ここでもまたマーキングは集合体内又は表面上に施すことができる。
−  窓及びフロントガラス。マーキングはガラスの集合体内に施す。
【００３７】
当然ながら，特定のマーキングの対象となる物品の部品のリストは，限定されるものではない。それゆえ，このリストは長くなり，マーカーが非常に多くなることがある。
【００３８】
これらのマーカーのそれぞれに対して，リサイクルされる材料ならびに分光学的識別を容易にするデータが対応する。
【００３９】
本発明による方法によれば，マーキングの対象になる物品は，リサイクル処理を実行する目的で，寿命がつきたら回収及び保管される。リサイクルを意図した物品の在庫は，当然ながらマーキングされた物品とマーキングされていない物品の混合物を含む可能性がある。同様に，これらの物品は，部分的に解体し，事前に分別することができる。
【００４０】
図３に示すように，リサイクルを目的とした物品１２はコンベヤ１３により一又はそれ以上の粉砕機を含むことができる粉砕ユニット１４に運搬される。
【００４１】
これらの粉砕機は，物品１２を所定の大きさを有する被処理粒子１５に減容化するように設計されている。粉砕ユニット１４は，いくつかの段階を含むことができ，被処理粒子１５は分離処理のための大きさの範囲に分けられる異なる大きさを有することができることが理解される。
【００４２】
この例では，粉砕機から運搬される粒子１５は，所望の大きさを有する粒子１７を採取する選別機１６（ふるいによって概略的に示す）を通過する。
【００４３】
大きいサイズを有する粒子１８は，破線で概略的に示したコンベヤシステム１９により粉砕機１４に戻る。
【００４４】
選別機１６からの排出において，所望の大きさを有する粒子１７はコンベヤ２０により検出及び採取ステーション２１に運搬される。この検出及び採取ステーション２１では，粒子１７は自然落下で，一連の検出／採取モジュールＭ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍｎを通過する。各モジュールは以下のものを含む。
−  発光器が発した光により粒子１７を照射する手段２２。
−  粒子１７から伝送すなわち反射された光を受け，異なる範囲の波長に対応した少なくとも数個のスペクトル帯域において光強度の光スペクトルを発生する分散素子を含む分光分析手段２３。
−  前記帯域内で光強度を検出する手段。
−  この強度を，この帯域に対して特別に割り当てられ，前記パラメータに基づいてメモリに記録された一又はそれ以上の閾値と比較する手段。
−  粒子内に含まれるリサイクルされる材料を識別するコードを，前記識別パラメータから決定する手段。
−  電磁弁により圧縮空気回路に接続されている圧縮空気噴射ノズル２４から成る採取手段。
−  予め決定された識別コードを使用して電磁弁を制御する回路。この回路は，決定された識別コードが，リサイクルすることが望まれる材料の識別コードに一致した場合に電磁バルブの開放を制御する。
−  採取された粒子２６を保管区域２７まで運搬する手段２５。
【００４５】
検出及び採取ステーションで採取されなかった粒子２８は，コンベヤ２９により，特に磁気特性を有する金属元素を含む粒子を採取する手段を含むことができる補足的な採取ステーション３０まで運搬される。
【００４６】
採取された磁気粒子３１はコンベヤ３２により保管区域に運搬され，その他は別のコンベヤ３３により別の保管区域に運搬される。
【００４７】
この例では，４つの検出／採取モジュールＭ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍｎが示されているが，この数は異なることがある。各検出／採取モジュールＭ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍｎは特定のマーカー，すなわち，リサイクルされる特定の材料に対応している。採取は，ノズルから放出される圧縮空気を受けた状態で検出された粒子２６を他のコンベヤに送るそらせ板３４により行われる。
【００４８】
分光分析は，探索されたマーカーに関連したスペクトルの情報をメモリ内に有する処理ユニット３５により実行される。また，この処理ユニットは，圧縮空気の噴射ノズル２４への流入を制御する電磁バルブの制御も行う。
【００４９】
処理ユニット３５は，粉砕ユニット１４の上流で処理される物品１２を識別し，この識別の後にマーカーの種類ないし性質，すなわち，これら物品内に含まれるリサイクルされる材料の種類ないし性質を判定することを目的として，場合により例えばバーコード型の読取機に連結することができる。その結果，制御ユニットは，検出／採取モジュールＭ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍｎのそれぞれの割り当てを決定することができ，場合により，これらのモジュール位置で採取された粒子２６を適切な保管区域（ユニット３６）に移送させる。
【００５０】
図４に示す例では，各検出／採取モジュールに備えられている分光分析器は以下のものを含む。
−  出力調整可能な電流発生器４６から電力を供給された光源４４及び，軸にレンズ４５が配置された視準器４２を含み，広い周波数スペクトルと調整可能な強度を有する光放射発生器（処理される粒子４８は光源４４の光軸に位置する），
−  粒子４８の反対側に配置され，光源４４と同じ側に配置された分散素子４１。この分散素子４１（プリズム又は回析格子）は，粒子４８によって反射及び／又は拡散された光放射を，スペクトルを生成するために周波数に応じて分解する，
−  スペクトルを検出する手段，ここでは分散素子４１により様々なスペクトルレベルで放出された放射光を検出し，かつ検出されたスペクトルを表すデジタル信号を電子システムに伝送することを可能にする電荷移動検出器４３の配列。
【００５１】
すでに述べたように，光源４４は広い周波数スペクトルを有する光源である。この光源は，アーク灯（キセノン型）又は白色光を発生する電球から構成することができる。この光源は，使用する化学的マーカーの種類ないし性質に応じて特別に選択された複数のレーザ放射源から構成することも可能であり，これらの光源から放出された異なる放射光を混合するために光混合器が使用される。
【００５２】
レンズ４５は，例えば，アクロマティックダブレット(achromatic doublet)で構成することができる。
【００５３】
また，当然ながら，電流発生器４６は，分光分析器に使用される電子回路の電力源としても利用することができる。
【００５４】
この例では，検出器４３の配列は，化学的マーカーの存在に影響を受けないスペクトルの位置に配置されたセルＣを含む。
【００５５】
セルＣは，処理ユニットＥの減算器Ｓの入力に（増幅後）適応される検出信号を出力し，減算器の別の入力は較正電圧ＶＣを受け取る。この減算器Ｓの出力は，減算器Ｓの出力が，好ましくはゼロに等しい一定値を維持するように，電流発生器４６を制御する電力増幅器ＡＰに供給される。
【００５６】
この配置により，セルＣが受ける光強度のレベルは確実に一定となる。それゆえ，粒子４８により放出される放射光の光強度を変化させる可能性のある干渉は起こらない。
【００５７】
処理ユニットＥは，識別コードＢＣのデータベースのための記憶手段に付随する処理装置Ｐ（破線で示す），分光測定データベースＢＡ及び様々な処理操作ＰＧを管理するためのプログラム，及び表示及び信号発生手段ＡＦを含む。
【００５８】
この処理装置Ｐは，粒子４８により運搬されるマーカー，すなわちそれに対応するリサイクルされる材料の識別コードを判定するように設計されている。この目的のため，処理装置はまず，データベースＢＡの分光測定データにしたがって，調査するスペクトル帯域（ブロックＢ２）を決定する。処理装置は，前記スペクトル帯域（ブロックＢ３）内で検出器により受信された光放射の振幅を測定する。
【００５９】
標準マーカーが使用される場合，この信号は，標準マーカーに対応した検出器から生成されるデジタル信号を用いて分析前に補正することができる（ブロックＢ４）。
【００６０】
次に，処理装置Ｐは，検出された識別コードを判定し（ブロックＢ５），所定の識別コードと比較する（ブロックＢ６）。これらの２つのコードが一致した場合，処理装置は検証信号ＳＶを送信し，粒子４８を対応するコンベヤに移送させる圧縮空気ジェットの放出を行うために電磁バルブＥＶの開放を要求する。
【００６１】
より詳細には，前記装置による粒子４８の分光分析は，以下の処理を含むことができる。
−  光源４４による粒子４８への放射，
−  粒子４８により反射すなわち拡散した波の分散素子４１への伝送，該分散素子４１は，波を波長により別々に分散する，
−  このように分散した平面波による反射又は拡散された放射光スペクトルの獲得。これは電荷移動検出器４３からなる検出域に連続した光源の画像を与える（ブロック３），
−  このスペクトルのサンプリング，次いでアナログ信号の所定のデジタルフレームを有するデジタル信号への変換（ブロック４），
−  読み込まれたコードの判定を可能にするマーカーの特性線の存在の有無のみを考慮するように，分光測定データベースに示された波長範囲に準じて行われるウィンドウイング(windowing)（ブロック５）， 
−  粒子４８に含まれるリサイクルされる材料の識別を実行するための，データ（識別コードに関する）と実験データ（すなわち読み込まれたコード）との比較（ブロック６）。
【００６２】
蛍光マーカーの場合，蛍光の持続時間をチェックするために，時間dｔの後に第２の測定を実行することが想定できる。
【００６３】
使用するトレーサーは，有機又は無機のどちらでもよい。それらは，ジスプロシウム，ユーロピウム，サマリウム，イットリウムなどの希土類を基にすることができる。
【００６４】
使用するいくつかのマーカー及びそれらの特性を次の表に例示する。
それらを販売する企業は特に，ＢＡＳＦ（登録商標），Ｂａｙｅｒ（登録商標），Ｇｌｏｗｂｕｒｇ（登録商標），Ｌａｍｂｅｒｔ  Ｒｉｖｉｅｒｅ（登録商標），Ｐｈｏｓｐｈｏｒ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ（登録商標），Ｒｈｏｄｉａ（登録商標），ＳＣＰＩ（登録商標）などである。
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【００６５】
なお，マーカーは市販のマーカーに限定されず，全合成により合成するか又は市販のマーカーから生成することができる。
【００６６】
前記方法の重要な利点は，分別設備で使用できる従来の手段では検出できない（あるいは大変な努力によってのみ検出できる）物品内に非常に少量存在するあらゆる材料の検出と採取に関連した問題を解決できる点である。
【００６７】
リサイクルされる材料が，例えば，本事例と同様に，電子構成要素と共に筐体内に含まれている場合，マーカーは筐体に塗布されたコーティング（例えばニス又は塗料）内に設けることができる。
【００６８】
コーティングが施されていないプラスチック材料から製造される片の場合，マーカーは材料内に形成することができる。しかしながら，この解決法はプラスチック材料が充填剤，例えば，光線を吸収する黒色又は暗色顔料を含む場合に問題を引き起こす。この場合，光放射の吸収が最小になる波長範囲で発光する高輝度光源を使用することが必要になる。
【００６９】
該当する場合には，着色されたプラスチック材料を覆う反射特性を有するゲルコート層又はニスの層にマーキングを施すことができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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