(57)【要約】  テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、レーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する処理において、前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得し、取得した記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定し、決定したテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録を行い、テスト記録を行った領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する。
2009119019.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、レーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する方法であって、
前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得ステップと、
前記残容量取得ステップにおいて取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定ステップと、
前記テスト記録層決定ステップにおいて決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記テスト記録ステップにおいてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定ステップとを備えたことを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項２】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項３】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記テスト記録領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項４】
請求項３の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記残容量最大記録層が複数あるとき、前記残容量最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項５】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記残容量取得ステップは、前記記録管理データに基づいて、さらに前記ユーザデータ領域の残容量を記録層毎に取得し、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録層毎のテスト記録領域の残容量に加えて、前記残容量取得ステップにおいて取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、前記テスト記録層を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項６】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層における前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項７】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項８】
請求項７の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記割合最大記録層が複数あるとき、前記割合最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項９】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値よりも大きい記録層のうち、前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１０】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１１】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記条件決定ステップは、前記記録品質に加えて、前記テスト記録層と前記記録対象記録層との組み合わせを加味して、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１２】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記条件決定ステップは、前記テスト記録層が前記記録対象記録層と一致していない場合に、前記記録対象記録層のテスト記録領域に対して、前記テスト記録ステップにおいてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて設定した複数種類の光出力レベルでテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか１項の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記レーザー光の光出力レベル及び光パルス幅のうちの少なくとも一方を前記記録条件として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１４】
請求項１〜１２のいずれか１項の記録条件又は再生条件の決定方法において、
ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、該イコライザ回路のカットオフ周波数、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、前記光記録媒体に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差のうちの少なくとも一つを前記再生条件として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１５】
テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、光ヘッドによるレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する集積回路であって、
前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得手段と、
前記残容量取得手段によって取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定手段と、
前記テスト記録層決定手段によって決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録が行われるように前記光ヘッドを制御するテスト記録手段と、
前記テスト記録手段によりテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定手段とを備えたことを特徴とする集積回路。
【請求項１６】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１７】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記テスト記録領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１８】
請求項１７の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記残容量最大記録層が複数あるとき、前記残容量最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１９】
請求項１５の集積回路において、
前記残容量取得手段は、前記記録管理データに基づいて、さらに前記ユーザデータ領域の残容量を記録層毎に取得し、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録層毎のテスト記録領域の残容量に加えて、前記残容量取得手段によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、前記テスト記録層を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２０】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層における前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２１】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２２】
請求項２１の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記割合最大記録層が複数あるとき、前記割合最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２３】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値よりも大きい記録層のうち、前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２４】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２５】
請求項１５の集積回路において、
前記条件決定手段は、前記記録品質に加えて、前記テスト記録層と前記記録対象記録層との組み合わせを加味して、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２６】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層が前記記録対象記録層と一致していない場合に、
前記テスト記録手段が、前記テスト記録層におけるテスト記録を行った領域の記録品質に基づいて設定された複数種類の光出力レベルで、前記記録対象記録層のテスト記録領域に対してテスト記録が行われるように前記光ヘッドを制御し、
前記条件決定手段が、前記記録対象記録層における前記テスト記録手段によるテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２７】
請求項１５〜２６のいずれか１項の集積回路において、
前記レーザー光の光出力レベル及び光パルス幅のうちの少なくとも一方を前記記録条件として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２８】
請求項１５〜２６のいずれか１項の集積回路において、
ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、該イコライザ回路のカットオフ周波数、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、前記光記録媒体に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差のうちの少なくとも一つを前記再生条件として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２９】
請求項１５〜２８のいずれか１項の集積回路と、
前記光ヘッドとを備え、
前記光記録媒体は光ディスクであることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体に対してレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録を行うことにより記録条件及び再生条件を決定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数の記録層が形成された光ディスクに対して、光ピックアップによるレーザー光の照射によりデータを再生する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置では、増幅器を有する電気回路によって光ピックアップが制御され、上記増幅器のデータ再生時におけるゲインが記録層毎に決定されるようになっている。【０００３】
特許文献２には、複数の記録領域を有する記録媒体にデータを記録する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置は、上記複数の記録領域のうち、記録・再生特性が最良となる領域で、記録条件を決定するためのテスト記録を行うようになっている。
【特許文献１】特開２００１−３１９３３２号公報
【特許文献２】特開２００７−１７９６５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１の光ディスク装置によって再生される光ディスクのように、複数の記録層が形成された光記録媒体では、一般的に、各記録層がテスト記録領域とユーザデータ領域とを有し、各記録層における記録条件及び再生条件を決定するために、該記録層のテスト記録領域においてテスト記録が行われる。通常、テスト記録領域はユーザデータ領域よりも小さく形成される。【０００５】
したがって、１つの記録層のテスト記録領域にテスト記録が繰り返して行われると、テスト記録領域の残容量が小さくなり、テスト記録を再び行えなくなる。そしてその結果、その記録層における記録条件や再生条件を決定できなくなる。【０００６】
特に、追記型ＢＤ−Ｒ（Blu-ray Disc Recordable）ディスク等の追記型ディスクに対して小さい単位の多数のファイルを記録する場合、ファイル毎にテスト記録が行われることにより、テスト記録領域の残容量が小さくなりやすい。また、ある記録層においては小さい単位の多数のファイルが記録されてテスト記録領域の残容量が小さくなっている一方、他の記録層においては大きい単位のファイルが少ない回数で記録されてテスト記録領域に大きな容量が残っている場合もある。【０００７】
本発明は、上記の点に鑑み、光記録媒体に対してデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するため、本発明は、テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、レーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する処理であって、前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得処理と、前記残容量取得処理において取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定処理と、前記テスト記録層決定処理において決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録を行うテスト記録処理と、前記テスト記録処理においてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定処理とを備えたことを特徴とする。【０００９】
これにより、記録対象記録層におけるテスト記録領域の残容量が不足している場合でも、記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、記録対象記録層とは別の記録層をテスト記録層として決定し、決定したテスト記録層のテスト記録領域でテスト記録を行うことができる。したがって、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できる。また、テスト記録領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明により、記録対象記録層におけるテスト記録領域の残容量が不足している場合でも、別の記録層のテスト記録領域でテスト記録を行うことができるので、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できる。また、テスト記録領域を有効に利用できるので追記回数を増やすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明の実施形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、同、ＢＤ−Ｒディスクのフォーマットを示す説明図である。
【図３】図３は、同、記録条件及び再生条件の決定方法を示すフローチャートである。
【図４】図４は、同、図３の（Ｓ１０００）における処理を示すフローチャートである。
【図５】図５は、同、図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図６】図６は、同、ＢＤ−Ｒディスクに記録マークが形成される際に駆動手段が出力する駆動波形とゲート信号とを示すグラフである。
【図７】図７は、同、ＢＤ−ＲディスクのＰＩＣ領域の構成を示す説明図である。
【図８】図８は、同、ＢＤ−Ｒディスクにおける単一パターンのデータを記録した領域を再生したときに得られる再生信号のレベルを示すグラフである。
【図９】図９（ａ）は、同、光出力レベルと変調度との関係を例示するグラフである。図９（ｂ）は、同、光出力レベルと変調度に光出力レベルを乗算した値との関係を例示するグラフである。
【図１０】図１０は、同、図３の（Ｓ３０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、同、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）でのテスト記録の方法を説明する説明図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態２に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、本発明の実施形態３に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１４】図１４は、本発明の実施形態４に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、本発明の実施形態５に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１６】図１６は、本発明の実施形態６に係る光ディスク装置によって図３の（Ｓ０００８）の処理に代えて行われる処理を示すフローチャートである。
【図１７】図１７は、ＤＶＤ＋Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）ディスクのフォーマットを示す説明図である。
【図１８】図１８は、複数のセッションが記録されたＤＶＤ＋Ｒディスクのフォーマットを示す説明図である。
【符号の説明】
【００１２】
１００      光ヘッド
１０６      対物レンズ
２００      集積回路
２２１      残容量取得手段
２２２      テスト記録層決定手段
２２３      記録／再生条件決定手段（条件決定手段）
２２４      テスト記録手段
７００      ＢＤ−Ｒディスク（光記録媒体） 
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。【００１４】
《実施形態１》
本発明の実施形態１に係る光ディスク装置（記録再生装置）は、図１に示すように、光ヘッド１００、集積回路２００、コンピュータプログラムを格納するメモリ素子３００、駆動手段４００、ディスクモータ５００、及び移送モータ６００を備え、装填された２層構造のＢＤ−Ｒディスク７００に対してデータの記録及び再生を行うようになっている。【００１５】
＜ＢＤ−Ｒディスクのフォーマット＞
まず、本実施形態の光ディスク装置の記録対象であるＢＤ−Ｒディスク７００のフォーマットについて図２を参照して説明する。ＢＤ−Ｒディスク７００は、一般的なＢＤ−Ｒディスクのフォーマットを有している。【００１６】
図２に示すように、ＢＤ−Ｒディスク７００は、Ｌ０層とＬ１層とを有し、各層において、半径２４．００ｍｍ（ミリメートル）より内周にリードイン領域（図２中にはＬｅａｄ  ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）が配置され、半径２４．００ｍｍ〜５８．００ｍｍの範囲にユーザデータ領域（図２中にはＵｓｅｒ  Ｄａｔａ  Ａｒｅａと表記）が配置され、半径５８．００ｍｍより外周にはリードアウト領域（図２中にはＬｅａｄ−ｏｕｔ  Ｚｏｎｅと表記）が配置されている。ユーザデータ領域は、任意のユーザデータを記録できるように構成され、リードイン、リードアウト領域にはディスク情報などが予め記録されている。【００１７】
また、記録層毎にテスト記録領域としてＯＰＣ (Optimum Power Control)領域が存在し、図２に示すように、Ｌ０層のＯＰＣ領域（ＯＰＣ０）は、半径２３．３２９ｍｍから２３．６４７ｍｍまでの領域であり、Ｌ１層のＯＰＣ領域（ＯＰＣ１）は、２２．７４０ｍｍから２３．０６７ｍｍまでの領域である。ここで、テスト記録は、ユーザデータ記録時の光出力レベルや光パルス幅を適切に調整するための記録動作を意味する。【００１８】
また、ＢＤ−Ｒディスク７００には、記録管理領域としてテンポラリ・ディスク・マネジメント領域（Temporary Disc Management Area）（図２中にはＴＤＭＡと表記）が存在し、Ｌ０層には、ＴＤＭＡ領域として、ＴＤＭＡ０（半径２３．６４７ｍｍから２０４８物理クラスタ）、ＴＤＭＡ２（半径２４．００ｍｍからｎ×２５６物理クラスタで最大４０９６物理クラスタ）、及びＴＤＭＡ３（半径５８．００ｍｍまでのｎ×２５６物理クラスタ）が配置されている。一方、Ｌ１層には、ＴＤＭＡ領域としてＴＤＭＡ１（半径２３．３２９ｍｍから２０４８物理クラスタ）、ＴＤＭＡ４（半径５８．００ｍｍまでのｎ×２５６物理クラスタ）、及びＴＤＭＡ５（半径２４．００ｍｍからｎ×２５６物理クラスタで最大４０９６物理クラスタ）が配置されている。ここで、ＴＤＭＡ領域には、ＴＤＭＡ０、ＴＤＭＡ１、ＴＤＭＡ２、ＴＤＭＡ３、ＴＤＭＡ４、ＴＤＭＡ５の順に、ＯＰＣ領域及びユーザデータ領域における記録済みの領域を示す記録管理データが記録される。なお、ＯＰＣ領域又はユーザデータ領域への記録がどの層で行われたのかに関わらず、ＴＤＭＡ領域は、ＴＤＭＡ０、ＴＤＭＡ１、ＴＤＭＡ２、ＴＤＭＡ３、ＴＤＭＡ４、ＴＤＭＡ５の順で使用される。したがって、ＯＰＣ領域又はユーザデータ領域への記録がＬ１層で行われても、Ｌ０層のＴＤＭＡ０に上記記録管理データが記録される場合がある。光ディスク装置は、ＴＤＭＡ領域の上記記録管理データを再生することによって、ＯＰＣ領域とユーザデータ領域の使用状況を検出できる。【００１９】
また、Ｌ０層の半径２２．５１２ｍｍから外周側には、ディスクの属性や、記録時の推奨パワー及び光パルス幅等を示すディスク情報が記録されたＰＩＣ（Permanent Information & Control Data）領域が配置されている。ＰＩＣ領域については後で詳述する。【００２０】
＜光ヘッド１００＞
光ヘッド１００は、ＢＤ−Ｒディスク７００に対してレーザー光を照射するものであり、具体的には、半導体レーザー１０１、コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ：polarization beam splitter）１０３、前光検出器１０４、波長板１０５、対物レンズ１０６、アクチュエータ１０７、検出レンズ１０８、及び±１次光検出器１０９を備えている。【００２１】
半導体レーザー１０１は、駆動手段４００からの電流出力に応じて、再生及び記録に必要な光強度の光ビーム、例えば波長４０５ｎｍのレーザー光を出射する光源である。【００２２】
アクチュエータ１０７は、対物レンズ１０６をフォーカス方向及びトラック方向に移動させる制御や、対物レンズ１０６を記録面に対して傾ける制御を行う。【００２３】
半導体レーザー１０１から出射されたレーザー光（出射光）は、コリメータレンズ１０２によって並行光にされ、ＰＢＳ１０３によって分離される。そして、分離した光は、波長板１０５を通り、対物レンズ１０６によってＢＤ−Ｒディスク７００に集光され、その集光位置が光ビームスポットとなる。このとき、ＰＢＳ１０３に入射したレーザー光の一部が前光検出器１０４によって検出されて電気信号に変換される。【００２４】
一方、ＢＤ−Ｒディスク７００からの反射光は、対物レンズ１０６及び波長板１０５を通り、ＰＢＳ１０３で出射光の光路から分離されて、検出レンズ１０８に導かれる。検出レンズ１０８は、フォーカスエラー信号検出用＋１次光とトラッキングエラー信号検出用−１次光とを±１次光検出器１０９に導く。±１次光検出器１０９は、検出レンズ１０８により導かれた＋１次光及び−１次光を電気信号に変換して出力する。【００２５】
＜集積回路２００＞  
集積回路２００は、サーボ制御手段２０１、光検出手段２０２、再生手段２０３、検波手段２０４、再生信号品質評価手段２１０、及びマイコン２２０を備えている。再生信号品質評価手段２１０は、ジッタ算出手段２１１、アシンメトリ算出手段２１２、及び変調度算出手段２１３を備えている。マイコン２２０は、残容量取得手段２２１、テスト記録層決定手段２２２、記録／再生条件決定手段２２３、及びテスト記録手段２２４を備えている。【００２６】
サーボ制御手段２０１は、±１次光検出器１０９によって出力された電気信号に応じてフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。これらフォーカス制御及びトラッキング制御は、アクチュエータ１０７を駆動することによって行われる。また、サーボ制御手段２０１は、後述するマイコン２２０の記録／再生条件決定手段２２３及びテスト記録手段２２４からの命令に応じて、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（フォーカスオフセット及びトラッキングオフセット）、対物レンズ１０６の傾き（チルト）及び収差を変更する。【００２７】
光検出手段２０２は、±１次光検出器１０９によって出力された電気信号の一部又は全部に基づいて、ＢＤ−Ｒディスク７００に記録されたデータ（アドレス情報やユーザデータ等）を再生するための再生信号を生成する。【００２８】
再生手段２０３は、光検出手段２０２によって生成された再生信号に対してイコライザ回路によるイコライザ処理等の信号処理を行う。【００２９】
検波手段２０４は、前光検出器１０４によって取得された電気信号に対して検波を行い、再生状態又は記録状態に応じた光出力レベルを出力する。【００３０】
再生信号品質評価手段２１０は、再生手段２０３による信号処理後の再生信号の品質を評価する。具体的には、再生信号品質評価手段２１０は、ジッタ値を算出するジッタ算出手段２１１、アシンメトリ値を算出するアシンメトリ算出手段２１２、及び変調度を算出する変調度算出手段２１３を備えている。【００３１】
残容量取得手段２２１は、再生手段２０３による信号処理後の再生信号を受け、該再生信号によって示される上記記録管理データ（ＴＤＭＡ領域から読み出されたデータ）に基づいて、ＢＤ−Ｒディスク７００のＯＰＣ領域の残容量（ＯＰＣ領域における記録可能領域の残容量）を記録層毎に取得する。また、残容量取得手段２２１は、ＯＰＣ領域、ＰＩＣ領域、ＴＤＭＡ領域、又はユーザデータ領域に光ビームスポットを移動させる駆動信号を出力する。【００３２】
テスト記録層決定手段２２２は、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。【００３３】
記録／再生条件決定手段２２３は、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に基づいて、複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件を決定する。具体的には、
記録条件として、光ヘッド１００がＢＤ−Ｒディスク７００に対して照射するレーザー光の光出力レベル及び光パルス幅を決定し、この決定結果に応じて駆動手段４００に対して命令を行う。再生条件として、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（オフセット）、対物レンズ１０６の傾き、サーボ制御手段２０１内部のゲイン、及び収差を決定し、この決定結果に応じてサーボ制御手段２０１に対して命令を行う。また、再生条件として、さらに、再生手段２０３のイコライザ回路のブースト値（ゲイン）及びカットオフ周波数等を決定し、この決定結果に応じて再生手段２０３に対して命令を行う。【００３４】
テスト記録手段２２４は、再生状態、あるいは記録状態に応じて、半導体レーザー１０１の光出力レベルや光パルス幅を制御するために、レーザー駆動命令及びパルス命令を駆動手段４００に出力する。また、テスト記録手段２２４は、駆動手段４００及び移送モータ６００を制御することにより、テスト記録層決定手段２２２によって決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録が行われるように光ヘッド１００を間接的に制御する。【００３５】
マイコン２２０の上記各手段の機能は、メモリ素子３００に格納されたコンピュータプログラムを実行することによって実現される。また、メモリ素子３００は、マイコン２２０からの命令に応じてコンピュータプログラムを起動することができる。【００３６】
駆動手段４００は、集積回路２００のテスト記録手段２２４によって出力されたレーザー駆動命令及びパルス命令に応じて電流を出力する。駆動手段４００は、半導体レーザー１０１が再生及び記録に必要な強度の出射光をＢＤ−Ｒディスク７００に照射できるように出力電流の電流量を変化させる。【００３７】
ディスクモータ５００は、設定される回転数でＢＤ−Ｒディスク７００を回転させる。【００３８】
移送モータ６００は、マイコン２２０の残容量取得手段２２１及びテスト記録手段２２４により出力された駆動信号に応じて、ＢＤ−Ｒディスク７００のトラックを横断する方向に光ヘッド１００を移動させることにより、設定された位置に光ヘッド１００を配置できる。【００３９】
ここで、上記のように構成された光ディスク装置による記録条件及び再生条件の決定方法について図３のフローチャートを参照して説明する。なお、図３に示す記録条件及び再生条件の決定動作は、複数の記録層のうちのいずれかの記録層（以下、「記録対象記録層」と呼ぶ）に対してユーザデータの一連の記録動作が開始される際に行われる。【００４０】
光ディスク装置にＢＤ−Ｒディスク７００が装填されると、光ディスク装置が起動する。そして、サーボ制御により、ＢＤ−Ｒディスク７００の所定の位置に半導体レーザー１０１から出射されたレーザー光が集光された状態となる。そして、マイコン２２０が、ＢＤ−Ｒディスク７００へのデータ記録状況等に基づいて、テスト記録の実行要否を判断する。かかる判断は、例えば、前回記録したユーザデータの大きさや、前回記録したユーザデータが同じ光ディスク装置によって記録されたものであるかどうかに基づいて行われる。テスト記録の実行が必要と判断された場合、図３のフローチャートに示す動作が開始される。【００４１】
まず（Ｓ１０００）で、光ディスク装置がＢＤ−Ｒディスク７００のＯＰＣ領域の残容量を記録層毎に取得する。【００４２】
図４は、（Ｓ１０００）における処理を詳細に説明するフローチャートである。【００４３】
（Ｓ１０００）において光ディスク装置は、まず（Ｓ１００１）でｎを初期値０に設定し、（Ｓ１００２）でＴＤＭＡｎに光ビームスポットが位置するように光ヘッド１００をシークさせてＴＤＭＡｎのデータを再生し、（Ｓ１００３）でＴＤＭＡｎ全体が記録済であるか否かを判定する。そして、ＴＤＭＡｎ全体が記録済であった場合には、（Ｓ１００４）でｎ＝５であるか否かを判定し、ｎ＝５であれば処理を終了し、ｎ＝５でなければ（Ｓ１００５）でｎ＝ｎ＋１として（Ｓ１００２）の処理に戻る。具体的には、光ディスク装置は、最初にＴＤＭＡ０のデータを再生し、そこでＴＤＭＡ０全体が記録済であるかを判定し、記録済であった場合には、ＴＤＭＡ１のデータをさらに再生する。そして、記録済でないＴＤＭＡ領域が現れるか又はＴＤＭＡ５を再生するまで繰り返す。そして、光ディスク装置の残容量取得手段２２１が、ＴＤＭＡ領域から読み出された記録管理データに基づいてＯＰＣ０及びＯＰＣ１の残容量を取得する。【００４４】
次に、図３の（Ｓ２０００）で、テスト記録層決定手段２２２が、いずれの記録層のＯＰＣ領域においてテスト記録を行うかを、（Ｓ１０００）において取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に基づいて決定する。つまり、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。【００４５】
図５は、（Ｓ２０００）における処理を詳細に説明するフローチャートである。【００４６】
（Ｓ２０００）においてテスト記録層決定手段２２２は、まず（Ｓ２００１）で、上記記録対象記録層がＬ０層であるかＬ１層であるかを判定し、Ｌ０層である場合には（Ｓ２００２）でＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２００３）の処理に進み、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２００３）では、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より小さいか否かを判定し、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以上である場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より小さい場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。【００４７】
一方、（Ｓ２００１）で記録対象記録層がＬ１層であると判定した場合には、（Ｓ２００６）でＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２００７）の処理に進み、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２００７）では、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より小さいか否かを判定する。そして、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より小さい場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以上である場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。【００４８】
そして、図３の（Ｓ０００１）で、光ディスク装置は、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録を行う。【００４９】
次に、（Ｓ０００２）で、光ディスク装置は、（Ｓ０００１）でテスト記録が行われたＯＰＣ領域に光ヘッド１００をシークさせる。【００５０】
次に、（Ｓ０００３）で、記録／再生条件決定手段２２３が、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に応じて、サーボ制御手段２０１内部の調整パラメータを算出する。ここで算出される調整パラメータは、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置、対物レンズ１０６の傾き、サーボ制御手段２０１内部のゲイン、及び収差等である。【００５１】
さらに、（Ｓ０００４）で、光ディスク装置は、（Ｓ０００１）でテスト記録が行われたＯＰＣ領域に光ヘッド１００を再びシークさせる。【００５２】
そして、（Ｓ０００５）で、記録／再生条件決定手段２２３が、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に応じて、再生手段２０３内部の調整パラメータを算出する。ここで算出される調整パラメータは、光検出手段２０２によって生成された再生信号、すなわちユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路の回路定数、及び再生信号の振幅レベル等である。また、イコライザ回路の回路定数としては、ブースト値（ゲイン）及びカットオフ周波数等が算出される。【００５３】
次に、（Ｓ３０００）で、再生信号品質評価手段２１０において算出された変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に基づいて、記録／再生条件決定手段２２３が、図６に示す光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓ及び光パルス幅を算出する。図６は、ＢＤ−Ｒディスク７００に記録マークを形成するときに駆動手段４００が半導体レーザー１０１に出力する駆動波形と、記録状態及び再生状態におけるゲート信号の波形とを示す。ＢＤ−Ｒディスク７００に記録を行う場合、光出力レベル及び光パルス幅を適切に設定しなければ、再生できない記録マークが形成されるおそれがある。【００５４】
記録／再生条件決定手段２２３は、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを以下の式（１）〜（４）を用いて算出する。【００５５】
Ｐｐｅａｋ＝Ｐｔｈ×κ×ρ            ・・・  （１）
Ｐｓｐａｃｅ＝Ｐｐｅａｋ×εｓ        ・・・  （２）
Ｐｃｏｏｌ＝Ｐｐｅａｋ×εｃ          ・・・  （３）
Ｐｂｉａｓ＝Ｐｐｅａｋ×εｂｗ        ・・・  （４）  
これらの係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗは、図２に示したＰＩＣ領域の情報を再生することによって得られる。図７は、ＢＤ−Ｒディスク７００のＰＩＣ領域の構成を示す説明図である。ＰＩＣ領域は５つの情報フラグ（ＩＦ）から構成されている。各情報フラグは５４４物理クラスタによって構成され、各物理クラスタは３２個のＩＤ情報（ＩＤ）を含み、各ＩＤ情報はそれぞれ１１２バイトで構成される。このＩＤ情報の５０〜５４バイトに、上記式（１）から（４）に示した係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗが記録されている。したがって、光ディスク装置は、光出力レベルを算出する際に、ＰＩＣ領域を再生することによって、係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗを取得することができる。【００５６】
ここで、変調度について説明する。図８は、ＢＤ−Ｒディスク７００における単一パターンのデータを記録した領域を再生したときに得られる再生信号のレベル、すなわち光検出手段２０２の出力レベルを示すグラフである。また、±１次光検出器１０９の出力レベルも同様の波形となる。縦軸の０は未記録領域の信号レベルを示す。変調度は、以下の式（５）を用いて算出できる。【００５７】
変調度＝（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）        ・・・  （５）
図９（ａ）は、横軸に光出力レベルＰｐｅａｋ、縦軸に当該光出力レベルで記録された記録マークの再生信号に基づいて算出される変調度ｍを例示するグラフである。また、図９（ｂ）は、横軸に光出力レベルＰｐｅａｋ、縦軸に図９（ａ）の縦軸に示した変調度ｍに光出力レベルＰｐｅａｋを乗算した値ｍ×Ｐｐｅａｋを例示するグラフである。【００５８】
光ディスク装置は、光出力レベルＰｐｅａｋを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域を再生することにより再生信号を取得し、取得した再生信号に基づいて、各光出力レベルに対応する変調度を算出することにより、図９（ａ）に示すような光出力レベルＰｐｅａｋと変調度ｍとの関係を得ることができる。そして、縦軸の値をｍ×Ｐｐｅａｋに変換する演算を行い、光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係を１次近似式に近似する。そして、図９（ｂ）に示すように、この近似式を表すグラフのｘ軸切片の値をＰｔｈとして決定する。このように決定されたＰｔｈを上記式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出することができる。【００５９】
図１０は、（Ｓ３０００）における光出力レベルの算出処理を詳細に説明するフローチャートである。【００６０】
まず最初に（Ｓ３００１）で、光ディスク装置がＰＩＣ領域に光ヘッド１００をシークさせ、光出力調整に必要な係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗを取得する。次に、（Ｓ３００２）で、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に光ヘッド１００をシークさせる。（Ｓ３００３）では、内部変数ｎを０にリセットする。続いて（Ｓ３００４）で光出力レベルＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ（ｎ）に設定し、（Ｓ３００５）でテスト記録を行う。（Ｓ３００６）では、ｎ≧ｐｔｎ−１であるか否かを判定し、ｎ≧ｐｔｎ−１でなければ（Ｓ３００７）でｎに１を加算し、ｎ≧ｐｔｎ−１であれば（Ｓ３００８）に進む。これにより、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）ではｐｔｎ種類の光出力レベルでテスト記録が行われる。【００６１】
例えば、光ディスク装置は、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）において、ｐｔｎを１３と設定し、テスト記録が行われるＢＤ−Ｒディスク７００のアドレスと光出力レベルＰｐｅａｋとの関係が図１１に示すようになるようにテスト記録を行う。この例では、１種類の光出力レベルに対応するテスト記録を１ＡＵの領域で行っている。まず最初にＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ０に設定し、ＯＰＣ領域の最初のアドレスＡＵ０にテスト記録を行う。続いてＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ１に変更し、第２のアドレスＡＵ１にテスト記録を行う。そして、このようなテスト記録をＰｐｅａｋ１２まで繰り返す。【００６２】
なお、Ｐｐｅａｋ０〜Ｐｐｅａｋ１２の範囲は、半導体レーザー１０１の特性ばらつき、ＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性ばらつき等を考慮して設定する。例えば、半導体レーザー１０１の特性やＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性のばらつきが小さい場合、Ｐｐｅａｋ０〜Ｐｐｅａｋ１２の幅を小さくしてもよい。また、記録／再生条件決定手段２２３の目標調整精度が低い場合、Ｐｐｅａｋ（ｎ）〜Ｐｐｅａｋ（ｎ＋１）の幅を大きくしてもよい。したがって、ｐｔｎの値は１３に限定されない。【００６３】
そして、（Ｓ３００８）で、光ディスク装置が（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）でテスト記録を行った領域に光ヘッド１００をシークさせ、（Ｓ３００９）で該領域の変調度を算出する。具体的には、変調度は、図１１に示すＡＵ０からＡＵ１２までの区間でＡＵ毎に上記式（５）を用いて算出する。なお、光出力レベルＰｐｅａｋは、必ずしも図１１に示したように階段状に設定しなくてもよい。また、テスト記録は必ずしも１ＡＵ毎に行わなくてもよく、他の単位領域毎に行なうようにしてもよい。【００６４】
続いて、（Ｓ３０１０）で、記録／再生条件決定手段２２３が、図９（ａ）及び（ｂ）を参照して上述したように光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係に基づいてＰｔｈを算出し、算出したＰｔｈを式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出する。【００６５】
次に、図３の（Ｓ０００６）で、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が、上記記録対象記録層と一致しているか否かを判定する。そして、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が上記記録対象記録層と一致している場合には、（Ｓ０００７）において、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ０００３）及び（Ｓ０００５）で算出した調整パラメータを、記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件として決定するとともに、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベル及び光パルス幅を、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件として決定する。【００６６】
一方、図３の（Ｓ０００６）で、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が上記記録対象記録層と一致していないと判定した場合には、（Ｓ０００８）の処理に進む。そして、（Ｓ０００８）において、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出した調整パラメータ、光出力レベル及び光パルス幅を補正する。具体的には、（Ｓ０００３）で算出したフォーカス制御目標位置及び対物レンズ１０６の傾き、（Ｓ０００５）で算出したイコライザ回路のブースト値及びカットオフ周波数、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、以下の表１の上側２段に示す値を用いて補正する。表１の値は、あらかじめ光ディスク装置に保持されている。【００６７】
【表１】
2009119019.tif 000003
【００６８】
まず、光ディスク装置がＬ０層にユーザデータを記録しようとした（記録対象記録層がＬ０層である）が、Ｌ０層のＯＰＣ領域に残容量が十分なく、Ｌ１層のＯＰＣ領域にてテスト記録を行った場合について説明する。ここでは、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出したフォーカス制御目標位置をＦｂａｌ１、対物レンズ１０６の傾きをＴｉｌｔ１、イコライザ回路のブースト値をＢｏｏｓｔ１、同カットオフ周波数をｆｃ１、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，ＰｂｉａｓをＰｔｈ１と表す。また、Ｌ０層に対応する補正後のフォーカス制御目標位置、対物レンズ１０６の傾き、イコライザ回路のブースト値（ゲイン）、同カットオフ周波数、及び光出力レベルを、Ｆｂａｌ０、Ｔｉｌｔ０、Ｂｏｏｓｔ０、ｆｃ０、Ｐｔｈ０と表す。そして、記録／再生条件決定手段２２３は、記録対象記録層であるＬ０層に対応するフォーカス制御目標位置Ｆｂａｌ０、対物レンズ１０６の傾きＴｉｌｔ０、イコライザ回路のブースト値（ゲイン）Ｂｏｏｓｔ０、同カットオフ周波数ｆｃ０、及び光出力レベルＰｔｈ０を、以下の式（６）から（１０）に示すようにして決定する。【００６９】
Ｆｂａｌ０＝Ｆｂａｌ１×α０１      ・・・  （６）
Ｔｉｌｔ０＝Ｔｉｌｔ１×α０２      ・・・  （７）
Ｂｏｏｓｔ０＝Ｂｏｏｓｔ１×α０３  ・・・  （８）
ｆｃ０＝ｆｃ１×α０４              ・・・  （９）
Ｐｔｈ０＝Ｐｔｈ１×α０５          ・・・  （１０）
なお、上記の逆でテスト記録をＬ０層で行い、ユーザデータをＬ１層で記録する（記録対象記録層がＬ１層である）場合には、式（６）から（１０）の代わりに、以下の式（１１）から（１５）に示すようにして決定する。【００７０】
Ｆｂａｌ１＝Ｆｂａｌ０×α１１      ・・・  （１１）
Ｔｉｌｔ１＝Ｔｉｌｔ０×α１２      ・・・  （１２）
Ｂｏｏｓｔ１＝Ｂｏｏｓｔ０×α１３  ・・・  （１３）
ｆｃ１＝ｆｃ０×α１４              ・・・  （１４）
Ｐｔｈ１＝Ｐｔｈ０×α１５          ・・・  （１５）
つまり、（Ｓ０００８）では、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ０００３）で算出したフォーカス制御目標位置及び対物レンズ１０６の傾き、（Ｓ０００５）で算出したイコライザ回路のブースト値及びカットオフ周波数、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層（（Ｓ０００１）と（Ｓ３０００）でテスト記録が行われた記録層）と記録対象記録層との組み合わせがどのようなものであるかに応じて補正している。このように、（Ｓ０００１）及び（Ｓ３０００）でテスト記録を行った領域の記録品質に加えて、テスト記録層と記録対象記録層との組み合わせを加味することにより、より適当な記録条件及び再生条件を決定できる。【００７１】
なお、ＢＤ−Ｒディスク７００の代わりに、記録層数が３層の記録媒体が用いられる場合も表１の下側４段に示すように、変数を多く用いることにより同様の補正を行える。【００７２】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を高精度に決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１以下の場合には、他方の記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より小さいか否かを判定し、小さくない場合には該他方の記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を決定できる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。【００７３】
また、本実施形態の光ディスク装置は、ユーザデータを記録する際の光出力レベル及び光パルス幅を決定するので、ユーザデータを表す記録マークの品質が向上する。【００７４】
また、本実施形態の光ディスク装置は、ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、及びＢＤ−Ｒディスク７００に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差等を決定するので、様々な条件で記録された記録データを精度良く再生できる。【００７５】
《実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置では、残容量取得手段２２１が、上記記録管理データに基づいて、ＯＰＣ領域の残容量に加え、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。また、テスト記録層決定手段２２２が、記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に加えて、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。【００７６】
本実施形態の光ディスク装置では、（Ｓ１０００）において、残容量取得手段２２１が、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。このとき、ＯＰＣ領域の残容量を先に取得するようにしてもよいし、ユーザデータ領域の残容量を先に取得するようにしてもよい。【００７７】
また、本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態１の図５の処理に代えて、図１２に示す処理を行う。【００７８】
まず（Ｓ２１０１）で、テスト記録層決定手段２２２が、記録対象記録層がＬ０層であるかＬ１層であるかを判定し、Ｌ０層である場合には（Ｓ２１０２）でＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２１０３）の処理に進み、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２１０３）では、Ｌ０層のユーザデータ領域Ｄａｔａ０の残容量に対するＯＰＣ０の残容量の割合が所定値Ｔｈ２より大きいか否かを判定する。そして、該割合が所定値Ｔｈ２より大きい場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する一方、該割合が所定値Ｔｈ２以下の場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。【００７９】
一方、（Ｓ２１０１）で記録対象記録層がＬ１層であると判定した場合には、（Ｓ２１０６）でＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２１０７）の処理に進み、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２１０７）では、Ｌ１層のユーザデータ領域Ｄａｔａ１の残容量に対するＯＰＣ１の残容量の割合が所定値Ｔｈ２より大きいか否かを判定する。そして、該割合が所定値Ｔｈ２より大きい場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、該割合が所定値Ｔｈ２以下の場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。【００８０】
本実施形態の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態１と同じであるので、その詳細な説明を省略する。【００８１】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１以下の場合には、さらに記録対象記録層におけるユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合がＴｈ２より大きいか否かを判定し、大きくない場合には他方の記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を決定できる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。【００８２】
《実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、３層以上の記録層を有する光ディスクに対してもデータの記録及び再生を行うことが可能に構成されている。【００８３】
本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態１の図５の処理に代えて、図１３に示す処理を行う。ここで、光ディスク装置に装填されるＢＤ−Ｒディスク７００には、ｎ層の記録層Ｌ１〜Ｌｎ（ｎは２以上の整数）が形成されているものとする。【００８４】
まず（Ｓ２２０１）で、ユーザデータの記録対象となる記録対象記録層がいずれの記録層であるかを判定する。ここでは、記録対象記録層が記録層Ｌｍであるとする。次に（Ｓ２２０２）で、記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３より大きいか否かを判定する。そして、記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３より大きい場合には、（Ｓ２２０３）で、記録対象記録層Ｌｍを記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶し、（Ｓ２２１０）の処理に進む。【００８５】
一方、（Ｓ２２０２）で記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３以下であると判定した場合には、（Ｓ２２０４）で、（Ｓ１０００）において残容量取得手段２２１により取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量を取得し、（Ｓ２２０５）でＯＰＣ領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を演算によって抽出し、（Ｓ２２０６）で残容量最大記録層が複数あるか否かを判定する。残容量最大記録層が複数ある場合には、（Ｓ２２０７）で複数の残容量最大記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。一方、残容量最大記録層が１つしかない場合には、（Ｓ２２０８）でその１つの残容量最大記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。（Ｓ２２０９）では、記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶された記録層のＯＰＣ領域の残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒより小さいか否かを判定する。残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒより小さい場合には、（Ｓ２２０３）で、記録対象記録層Ｌｍを記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶し、（Ｓ２２１０）の処理に進む。一方、残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒ以上である場合には、そのまま（Ｓ２２１０）の処理に進む。【００８６】
（Ｓ２２１０）では、テスト記録を行うＯＰＣ領域を、（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０７）又は（Ｓ２２０８）で記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶した記録層のＯＰＣ領域に決定する。【００８７】
本実施形態の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態１と同じであるので、その詳細な説明を省略する。【００８８】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてＯＰＣ領域の残容量が最も大きい記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、一般に、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、残容量最大記録層が複数あるときに残容量最大記録層のうちで記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことにより、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。【００８９】
《実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置では、残容量取得手段２２１が、前記記録管理データに基づいて、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。また、テスト記録層決定手段２２２が、記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に加えて、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。【００９０】
本実施形態の光ディスク装置では、（Ｓ１０００）において、残容量取得手段２２１が、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。このとき、ＯＰＣ領域の残容量を先に取得するようにしてもよいし、ユーザデータ領域の残容量を先に取得するようにしてもよい。【００９１】
また、本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態３の図１３の処理に代えて、図１４に示す処理を行う。【００９２】
なお、図１４の（Ｓ２２０１）〜（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０９）、（Ｓ２２１０）における処理は、実施形態３の図１３で同一の符号を付して説明した処理と同様であるので説明を省略する。【００９３】
（Ｓ２３０１）では、（Ｓ１０００）において残容量取得手段２２１により取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量とユーザデータ領域の残容量とを取得する。続いて（Ｓ２３０２）で、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合（比率）を、記録対象記録層Ｌｍを除く各記録層毎に算出し、算出した割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を演算によって抽出する。そして、（Ｓ２３０３）で、（Ｓ２３０２）において抽出された割合最大記録層が複数あるか否かを判定する。割合最大記録層が複数ある場合には、（Ｓ２３０４）で複数の割合最大記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。一方、割合最大記録層が１つしかない場合には、（Ｓ２３０５）でその１つの割合最大記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。【００９４】
本実施形態４の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態３と同じであるので、その詳細な説明を省略する。【００９５】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が最も大きい記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、一般に、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、割合最大記録層が複数あるときに割合最大記録層のうちで記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことにより、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。【００９６】
《実施形態５》
本発明の実施形態５に係る光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態４の図１４の処理に代えて、図１５に示す処理を行う。【００９７】
なお、図１５の（Ｓ２２０１）〜（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０９）、（Ｓ２２１０）、（Ｓ２３０１）における処理は、実施形態３、４の図１３、１４で同一の符号を付して説明した処理と同様であるので、説明を省略する。【００９８】
（Ｓ２４０１）では、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合（比率）を、記録対象記録層Ｌｍを除く各記録層毎に算出し、算出した割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層を記録層のグループＧｔｅｓｔＷｒｉｔｅとして抽出する。続いて（Ｓ２４０２）で、（Ｓ２４０１）において抽出された記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。【００９９】
本実施形態５の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態４と同じであるので、その詳細な説明を省略する。【０１００】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔより大きい記録層のうち、記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、離れた記録層にテスト記録を行う場合よりも、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。【０１０１】
《実施形態６》
本発明の実施形態６に係る光ディスク装置は、（Ｓ２０００）でテスト記録を行う記録層として決定されたテスト記録層が記録対象記録層と一致していない場合に、実施形態１の（Ｓ０００８）の処理に代えて、図１６に示す処理を行う。【０１０２】
図１６の処理では、記録／再生条件決定手段２２３が、まず、（Ｓ０００８）の処理を行う。つまり、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出した調整パラメータ、光出力レベル及び光パルス幅に対し、表１の値を用いた補正を行う。【０１０３】
そして、（Ｓ４００１）で、光ディスク装置が、記録対象記録層のＯＰＣ領域へ光ヘッド１００をシークさせる。次に、（Ｓ４００２）で、内部変数ｎをリセットする。続いて（Ｓ４００３）で光出力レベルＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ（ｎ）に設定し、（Ｓ４００４）でテスト記録を行う。（Ｓ４００５）では、ｎ≧ｐｔｎ’−１であるか否かを判定し、ｎ≧ｐｔｎ’−１でなければ（Ｓ４００６）でｎに１を加算し、ｎ≧ｐｔｎ’−１であれば（Ｓ４００７）に進む。【０１０４】
（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）では、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）の範囲で光出力レベルを変化させてテスト記録を行う。Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）は、実施形態１で図１１を用いて説明したように、半導体レーザー１０１の特性、ＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性を考慮して設定する。【０１０５】
ただし、（Ｓ４００３）では、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を、（Ｓ０００８）で補正により得た光出力レベルに基づく所定の範囲で段階的に変化させた値に設定する。例えば、（Ｓ０００８）で補正した光出力レベルを中心レベルとし、ディスクの記録特性ばらつきに応じた設計値を該中心レベルに対して加減算したレベルを上限・下限とする範囲で段階的に変化させた値に設定する。（Ｓ０００８）で補正により得た光出力レベルは、（Ｓ２０００）で決定したテスト記録層について調整した光出力レベルであるので、記録対象記録層の光出力レベルとしても最適に近い値として期待することができる。【０１０６】
その結果、半導体レーザー１０１の特性ばらつきを考慮する必要が無くなるので、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）の範囲は、（Ｓ３０００）で設定された光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ−１）の範囲よりも狭くすることができる。したがって、ｐｔｎ’は上記ｐｔｎよりも少ない２以上の値に設定する。【０１０７】
そして、（Ｓ４００７）で、（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）でテスト記録を行った領域に光ヘッド１００をシークさせ、（Ｓ４００８）で該領域の変調度を算出する。続いて、（Ｓ４００９）で、図９（ａ）及び（ｂ）を参照して上述したように光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係に基づいてＰｔｈを算出し、算出したＰｔｈを式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出する。そして、（Ｓ４００８）で取得した変調度に基づいて算出したこれらの光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓとして決定する。なお、（Ｓ４００１）〜（Ｓ４００６）の処理は、テスト記録手段２２４が駆動手段４００及び移送モータ６００を制御（光ヘッド１００を間接的に制御）することにより行われる。【０１０８】
したがって、本実施形態によると、（Ｓ０００１）と（Ｓ３０００）でテスト記録を行った記録層が記録対象記録層と一致していない場合、記録対象記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを決定するので、より高精度な光出力レベルを得ることができる。また、ｐｔｎ’を少なく設定するので、記録対象記録層のＯＰＣ領域の使用容量を小さくできる。【０１０９】
なお、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓに限らず、他の記録条件や、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（フォーカスオフセット及びトラッキングオフセット）等の再生条件が、（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）でテスト記録を行った領域の記録品質に基づいて決定されるようにしてもよい。【０１１０】
また、本実施形態では、記録対象記録層のＯＰＣ領域に対するテスト記録（（Ｓ４００４）におけるテスト記録）に用いる光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を、（Ｓ０００８）で得た光出力レベルに基づいて設定する。しかし、（Ｓ０００８）の補正処理を行わず、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルに基づいて、（Ｓ４００４）におけるテスト記録でのＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を設定するようにしてもよい。いずれにせよ、光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）は、テスト記録層におけるテスト記録を行った領域の記録品質に基づく値に設定される。【０１１１】
《その他の実施形態》
なお、上記実施形態１、２においては、ＯＰＣ０の残容量及びＯＰＣ１の残容量が、共に同じ所定値Ｔｈ１と比較されるようになっていたが、異なる所定値と比較されるようにしてもよい。また、実施形態２においては、Ｌ０層のユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ０の残容量の割合とＬ１層のユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ１の残容量の割合とが、共に所定値Ｔｈ２と比較されるようになっていたが、互いに異なる所定値と比較されるようにしてもよい。【０１１２】
また、上記実施形態１〜６では、光ディスク装置が、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件の両方を決定していたが、いずれか一方だけを決定するようにしてもよい。例えば、上記実施形態３、４、５において、（Ｓ２２０２）及び（Ｓ２２０９）のうちの少なくとも一方を実行しないようにしてもよい。また、上記実施形態１〜６で決定した記録条件及び再生条件のうちのいずれか１つ以上を決定するようにしてもよい。さらに、上記実施形態１〜６では挙げていない記録条件又は再生条件を決定するために本発明を適用してもよい。【０１１３】
また、上記実施形態１〜６において、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）のうちのいずれか１つ又は２つだけが実行されるようにしてもよい。【０１１４】
また、上記実施形態５では、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層を抽出してから、抽出された記録層のうち記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶するようになっていた。しかし、近い記録層から順に、上記割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層であるか否かの判定を行い、上記割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層であると最初に判定した記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶するようにしてもよい。【０１１５】
また、上記実施形態１〜６では、ＢＤ−Ｒディスク７００に対してデータの記録及び再生を行う光ディスク装置について説明したが、他の光記録媒体に対してデータの記録及び再生を行う装置にも本発明を適用できる。【０１１６】
例えば、ＤＶＤ＋Ｒディスクに対しても、本発明の処理を行うことができる。図１７は、ＤＶＤ＋Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）ディスクのフォーマットを示す説明図である。ＤＶＤ＋Ｒディスクでは、半径２２．２００ｍｍ〜２３．４００ｍｍの範囲に内周ドライブ領域（図１７中にはＩｎｎｅｒ  Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）が配置されている。Ｌ０層の半径２３.４００ｍｍ〜２４．０００ｍｍの範囲には、リードイン領域（図１７中にはＬｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）、Ｌ１層の半径２３.４００ｍｍ〜２４．０００ｍｍの範囲には、リードイン領域（図１７中にはＬｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）が配置されている。半径２４．０００ｍｍ〜５８．０００ｍｍの範囲には、データ領域（図１７中にはＤａｔａ  Ｚｏｎｅと表記）、半径５８．０００ｍｍ〜５８．２００ｍｍの範囲には、ミドルゾーン（図１７中にはＭｉｄｄｌｅ  Ｚｏｎｅ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）、半径５８．２００ｍｍ〜５８．３０６ｍｍの範囲には、外周ドライブ領域（図１７中にはＯｕｔｅｒ  Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）が配置されている。【０１１７】
ここで、上記内周ドライブ領域内及び外周ドライブ領域内には、内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンが配置されている。詳しくは、内周ディスクテストゾーンは、図１７に示すように、ＤＶＤ＋Ｒディスクの内周領域（半径２２．６９５ｍｍ〜２３．１３７ｍｍ）に配置されている一方、外周ディスクテストゾーンは、外周領域（半径５８．２９４ｍｍ〜５８．３０６ｍｍ）に配置されている。これら内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンには、光出力レベルや光パルス幅を変化させながらテスト記録を行うことができ、テスト記録が行われた当該記録領域を再生することにより、再生信号品質が最適になる記録条件を求めることができる。つまり、これら内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンは、ＢＤ−ＲディスクにおけるＯＰＣ領域と同様の役割を果たすものである。【０１１８】
また、ＤＶＤ＋Ｒディスクは、ＴＯＣゾーン（図１７中にはＴａｂｌｅ  ｏｆ  Ｃｏｎｔｅｎｔｓ  Ｚｏｎｅと表記）を有しており、これらＴＯＣゾーンは、ＢＤ−ＲディスクにおけるＴＤＭＡ領域と同様の役割を果たす。ＤＶＤ＋Ｒディスクの記録領域は、複数のセッションを有し、ＤＶＤ＋Ｒディスクに対する記録は、セッション単位で行われるようになっている。そして、上記ＴＯＣゾーンには、各セッション毎の開始／終了アドレス情報が記録されている。各セッションには、そのセッションにおいてどの領域が記録済みかを示す記録情報が記録されている。図１８は、複数（図１８中ではｎ：２以上の整数）のセッションが記録されたＤＶＤ＋Ｒディスクのフォーマットを示したものである。各セッションは、Ｉｎｔｒｏゾーン、Ｄａｔａゾーン、及びＣｌｏｓｕｒｅゾーンによって構成される。Ｉｎｔｒｏゾーン内の内周セッション・アイデンティフィケーションゾーン（図１８中にはＩｎｎｅｒ  Ｓｅｓｓｉｏｎ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｚｏｎｅと表記）を再生することによって、Ｄａｔａ領域の使用状況をユーザデータ領域の使用（記録）状況として確認することができる。【０１１９】
以上のように、光ディスク装置にＤＶＤ＋Ｒディスクが装填された場合においても、内周ドライブ領域内のＴＯＣゾーン及び各セッションのＩｎｔｒｏゾーンを再生することによって、ディスクテストゾーン及びＤａｔａゾーンにおける残容量を検出することができる。したがって、上記実施形態１〜６と同様の方法でテスト記録を行う記録層を決定し、決定した記録層のディスクテストゾーンへテスト記録をすることができる。【０１２０】
また、既に実用化されている様々な規格のディスク、例えば、ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＤＶＤ±ＲＷ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc Rewritable）（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）についても同様に本発明を適用することができる。【０１２１】
また、上記実施形態１〜６では、ＴＤＭＡ領域のデータを用いてＯＰＣ領域の残容量を記録層毎に取得していたが、他の規格の光記録媒体に本発明を適用する場合には、ＴＤＭＡ領域のデータの代わりに、記録済みのトラック又はアドレス情報が記録された他の領域のデータを用いてもよい。【０１２２】
また、上記実施形態１〜６では、ＯＰＣ領域をテスト記録領域として用いていたが、他の規格の光記録媒体に本発明を適用する場合には、ＯＰＣ領域の代わりに、例えば、ＰＣＡ領域、ドライブテストゾーン等、テスト記録（試し書き）に用いられる他の領域を用いてもよい。【０１２３】
また、上記実施形態１〜６では、（Ｓ３０００）で、光出力レベルを算出するために用いる係数κ、ρ、εｓ、εｃ、εｂｗを、ＰＩＣ領域を再生することにより得ていたが、設定した係数をあらかじめ光ディスク装置に記憶させておき、記憶させた係数を読み出すことにより得るようにしてもよい。【０１２４】
さらに、ＤＶＤやＣＤに本発明を適用する場合、各記録条件で１ＥＣＣブロック又は１セクタにテスト記録が行われるように、記録条件を複数種類に変化させながらテスト記録を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１２５】
本発明に係る記録条件又は再生条件の決定方法、集積回路、及び光ディスク装置は、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できるとともに、テスト記録領域を有効に利用できるので追記回数を増やすことができるという効果を有し、光記録媒体に対してレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録を行うことにより記録条件及び再生条件を決定する技術等として有用である。
【図１】
2009119019.tif 000004
【図２】
2009119019.tif 000005
【図３】
2009119019.tif 000006
【図４】
2009119019.tif 000007
【図５】
2009119019.tif 000008
【図６】
2009119019.tif 000009
【図７】
2009119019.tif 000010
【図８】
2009119019.tif 000011
【図９】
2009119019.tif 000012
【図１０】
2009119019.tif 000013
【図１１】
2009119019.tif 000014
【図１２】
2009119019.tif 000015
【図１３】
2009119019.tif 000016
【図１４】
2009119019.tif 000017
【図１５】
2009119019.tif 000018
【図１６】
2009119019.tif 000019
【図１７】
2009119019.tif 000020
【図１８】
2009119019.tif 000021
【手続補正書】
【提出日】平成22年6月21日(2010.6.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体に対してレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録を行うことにより記録条件及び再生条件を決定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数の記録層が形成された光ディスクに対して、光ピックアップによるレーザー光の照射によりデータを再生する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置では、増幅器を有する電気回路によって光ピックアップが制御され、上記増幅器のデータ再生時におけるゲインが記録層毎に決定されるようになっている。
【０００３】
特許文献２には、複数の記録領域を有する記録媒体にデータを記録する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置は、上記複数の記録領域のうち、記録・再生特性が最良となる領域で、記録条件を決定するためのテスト記録を行うようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−３１９３３２号公報
【特許文献２】特開２００７−１７９６５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１の光ディスク装置によって再生される光ディスクのように、複数の記録層が形成された光記録媒体では、一般的に、各記録層がテスト記録領域とユーザデータ領域とを有し、各記録層における記録条件及び再生条件を決定するために、該記録層のテスト記録領域においてテスト記録が行われる。通常、テスト記録領域はユーザデータ領域よりも小さく形成される。
【０００６】
したがって、１つの記録層のテスト記録領域にテスト記録が繰り返して行われると、テスト記録領域の残容量が小さくなり、テスト記録を再び行えなくなる。そしてその結果、その記録層における記録条件や再生条件を決定できなくなる。
【０００７】
特に、追記型ＢＤ−Ｒ（Blu-ray Disc Recordable）ディスク等の追記型ディスクに対して小さい単位の多数のファイルを記録する場合、ファイル毎にテスト記録が行われることにより、テスト記録領域の残容量が小さくなりやすい。また、ある記録層においては小さい単位の多数のファイルが記録されてテスト記録領域の残容量が小さくなっている一方、他の記録層においては大きい単位のファイルが少ない回数で記録されてテスト記録領域に大きな容量が残っている場合もある。
【０００８】
本発明は、上記の点に鑑み、光記録媒体に対してデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するため、本発明は、テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、レーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する処理であって、前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得処理と、前記残容量取得処理において取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定処理と、前記テスト記録層決定処理において決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録を行うテスト記録処理と、前記テスト記録処理においてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定処理とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
これにより、記録対象記録層におけるテスト記録領域の残容量が不足している場合でも、記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、記録対象記録層とは別の記録層をテスト記録層として決定し、決定したテスト記録層のテスト記録領域でテスト記録を行うことができる。したがって、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できる。また、テスト記録領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明により、記録対象記録層におけるテスト記録領域の残容量が不足している場合でも、別の記録層のテスト記録領域でテスト記録を行うことができるので、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できる。また、テスト記録領域を有効に利用できるので追記回数を増やすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、本発明の実施形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、同、ＢＤ−Ｒディスクのフォーマットを示す説明図である。
【図３】図３は、同、記録条件及び再生条件の決定方法を示すフローチャートである。
【図４】図４は、同、図３の（Ｓ１０００）における処理を示すフローチャートである。
【図５】図５は、同、図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図６】図６は、同、ＢＤ−Ｒディスクに記録マークが形成される際に駆動手段が出力する駆動波形とゲート信号とを示すグラフである。
【図７】図７は、同、ＢＤ−ＲディスクのＰＩＣ領域の構成を示す説明図である。
【図８】図８は、同、ＢＤ−Ｒディスクにおける単一パターンのデータを記録した領域を再生したときに得られる再生信号のレベルを示すグラフである。
【図９】図９（ａ）は、同、光出力レベルと変調度との関係を例示するグラフである。図９（ｂ）は、同、光出力レベルと変調度に光出力レベルを乗算した値との関係を例示するグラフである。
【図１０】図１０は、同、図３の（Ｓ３０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、同、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）でのテスト記録の方法を説明する説明図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態２に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、本発明の実施形態３に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１４】図１４は、本発明の実施形態４に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、本発明の実施形態５に係る光ディスク装置による図３の（Ｓ２０００）における処理を示すフローチャートである。
【図１６】図１６は、本発明の実施形態６に係る光ディスク装置によって図３の（Ｓ０００８）の処理に代えて行われる処理を示すフローチャートである。
【図１７】図１７は、ＤＶＤ＋Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）ディスクのフォーマットを示す説明図である。
【図１８】図１８は、複数のセッションが記録されたＤＶＤ＋Ｒディスクのフォーマットを示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１４】
《実施形態１》
本発明の実施形態１に係る光ディスク装置（記録再生装置）は、図１に示すように、光ヘッド１００、集積回路２００、コンピュータプログラムを格納するメモリ素子３００、駆動手段４００、ディスクモータ５００、及び移送モータ６００を備え、装填された２層構造のＢＤ−Ｒディスク７００に対してデータの記録及び再生を行うようになっている。
【００１５】
＜ＢＤ−Ｒディスクのフォーマット＞
まず、本実施形態の光ディスク装置の記録対象であるＢＤ−Ｒディスク７００のフォーマットについて図２を参照して説明する。ＢＤ−Ｒディスク７００は、一般的なＢＤ−Ｒディスクのフォーマットを有している。
【００１６】
図２に示すように、ＢＤ−Ｒディスク７００は、Ｌ０層とＬ１層とを有し、各層において、半径２４．００ｍｍ（ミリメートル）より内周にリードイン領域（図２中にはＬｅａｄ  ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）が配置され、半径２４．００ｍｍ〜５８．００ｍｍの範囲にユーザデータ領域（図２中にはＵｓｅｒ  Ｄａｔａ  Ａｒｅａと表記）が配置され、半径５８．００ｍｍより外周にはリードアウト領域（図２中にはＬｅａｄ−ｏｕｔ  Ｚｏｎｅと表記）が配置されている。ユーザデータ領域は、任意のユーザデータを記録できるように構成され、リードイン、リードアウト領域にはディスク情報などが予め記録されている。
【００１７】
また、記録層毎にテスト記録領域としてＯＰＣ (Optimum Power Control)領域が存在し、図２に示すように、Ｌ０層のＯＰＣ領域（ＯＰＣ０）は、半径２３．３２９ｍｍから２３．６４７ｍｍまでの領域であり、Ｌ１層のＯＰＣ領域（ＯＰＣ１）は、２２．７４０ｍｍから２３．０６７ｍｍまでの領域である。ここで、テスト記録は、ユーザデータ記録時の光出力レベルや光パルス幅を適切に調整するための記録動作を意味する。
【００１８】
また、ＢＤ−Ｒディスク７００には、記録管理領域としてテンポラリ・ディスク・マネジメント領域（Temporary Disc Management Area）（図２中にはＴＤＭＡと表記）が存在し、Ｌ０層には、ＴＤＭＡ領域として、ＴＤＭＡ０（半径２３．６４７ｍｍから２０４８物理クラスタ）、ＴＤＭＡ２（半径２４．００ｍｍからｎ×２５６物理クラスタで最大４０９６物理クラスタ）、及びＴＤＭＡ３（半径５８．００ｍｍまでのｎ×２５６物理クラスタ）が配置されている。一方、Ｌ１層には、ＴＤＭＡ領域としてＴＤＭＡ１（半径２３．３２９ｍｍから２０４８物理クラスタ）、ＴＤＭＡ４（半径５８．００ｍｍまでのｎ×２５６物理クラスタ）、及びＴＤＭＡ５（半径２４．００ｍｍからｎ×２５６物理クラスタで最大４０９６物理クラスタ）が配置されている。ここで、ＴＤＭＡ領域には、ＴＤＭＡ０、ＴＤＭＡ１、ＴＤＭＡ２、ＴＤＭＡ３、ＴＤＭＡ４、ＴＤＭＡ５の順に、ＯＰＣ領域及びユーザデータ領域における記録済みの領域を示す記録管理データが記録される。なお、ＯＰＣ領域又はユーザデータ領域への記録がどの層で行われたのかに関わらず、ＴＤＭＡ領域は、ＴＤＭＡ０、ＴＤＭＡ１、ＴＤＭＡ２、ＴＤＭＡ３、ＴＤＭＡ４、ＴＤＭＡ５の順で使用される。したがって、ＯＰＣ領域又はユーザデータ領域への記録がＬ１層で行われても、Ｌ０層のＴＤＭＡ０に上記記録管理データが記録される場合がある。光ディスク装置は、ＴＤＭＡ領域の上記記録管理データを再生することによって、ＯＰＣ領域とユーザデータ領域の使用状況を検出できる。
【００１９】
また、Ｌ０層の半径２２．５１２ｍｍから外周側には、ディスクの属性や、記録時の推奨パワー及び光パルス幅等を示すディスク情報が記録されたＰＩＣ（Permanent Information & Control Data）領域が配置されている。ＰＩＣ領域については後で詳述する。
【００２０】
＜光ヘッド１００＞
光ヘッド１００は、ＢＤ−Ｒディスク７００に対してレーザー光を照射するものであり、具体的には、半導体レーザー１０１、コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ：polarization beam splitter）１０３、前光検出器１０４、波長板１０５、対物レンズ１０６、アクチュエータ１０７、検出レンズ１０８、及び±１次光検出器１０９を備えている。
【００２１】
半導体レーザー１０１は、駆動手段４００からの電流出力に応じて、再生及び記録に必要な光強度の光ビーム、例えば波長４０５ｎｍのレーザー光を出射する光源である。
【００２２】
アクチュエータ１０７は、対物レンズ１０６をフォーカス方向及びトラック方向に移動させる制御や、対物レンズ１０６を記録面に対して傾ける制御を行う。
【００２３】
半導体レーザー１０１から出射されたレーザー光（出射光）は、コリメータレンズ１０２によって並行光にされ、ＰＢＳ１０３によって分離される。そして、分離した光は、波長板１０５を通り、対物レンズ１０６によってＢＤ−Ｒディスク７００に集光され、その集光位置が光ビームスポットとなる。このとき、ＰＢＳ１０３に入射したレーザー光の一部が前光検出器１０４によって検出されて電気信号に変換される。
【００２４】
一方、ＢＤ−Ｒディスク７００からの反射光は、対物レンズ１０６及び波長板１０５を通り、ＰＢＳ１０３で出射光の光路から分離されて、検出レンズ１０８に導かれる。検出レンズ１０８は、フォーカスエラー信号検出用＋１次光とトラッキングエラー信号検出用−１次光とを±１次光検出器１０９に導く。±１次光検出器１０９は、検出レンズ１０８により導かれた＋１次光及び−１次光を電気信号に変換して出力する。
【００２５】
＜集積回路２００＞  
集積回路２００は、サーボ制御手段２０１、光検出手段２０２、再生手段２０３、検波手段２０４、再生信号品質評価手段２１０、及びマイコン２２０を備えている。再生信号品質評価手段２１０は、ジッタ算出手段２１１、アシンメトリ算出手段２１２、及び変調度算出手段２１３を備えている。マイコン２２０は、残容量取得手段２２１、テスト記録層決定手段２２２、記録／再生条件決定手段２２３、及びテスト記録手段２２４を備えている。
【００２６】
サーボ制御手段２０１は、±１次光検出器１０９によって出力された電気信号に応じてフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。これらフォーカス制御及びトラッキング制御は、アクチュエータ１０７を駆動することによって行われる。また、サーボ制御手段２０１は、後述するマイコン２２０の記録／再生条件決定手段２２３及びテスト記録手段２２４からの命令に応じて、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（フォーカスオフセット及びトラッキングオフセット）、対物レンズ１０６の傾き（チルト）及び収差を変更する。
【００２７】
光検出手段２０２は、±１次光検出器１０９によって出力された電気信号の一部又は全部に基づいて、ＢＤ−Ｒディスク７００に記録されたデータ（アドレス情報やユーザデータ等）を再生するための再生信号を生成する。
【００２８】
再生手段２０３は、光検出手段２０２によって生成された再生信号に対してイコライザ回路によるイコライザ処理等の信号処理を行う。
【００２９】
検波手段２０４は、前光検出器１０４によって取得された電気信号に対して検波を行い、再生状態又は記録状態に応じた光出力レベルを出力する。
【００３０】
再生信号品質評価手段２１０は、再生手段２０３による信号処理後の再生信号の品質を評価する。具体的には、再生信号品質評価手段２１０は、ジッタ値を算出するジッタ算出手段２１１、アシンメトリ値を算出するアシンメトリ算出手段２１２、及び変調度を算出する変調度算出手段２１３を備えている。
【００３１】
残容量取得手段２２１は、再生手段２０３による信号処理後の再生信号を受け、該再生信号によって示される上記記録管理データ（ＴＤＭＡ領域から読み出されたデータ）に基づいて、ＢＤ−Ｒディスク７００のＯＰＣ領域の残容量（ＯＰＣ領域における記録可能領域の残容量）を記録層毎に取得する。また、残容量取得手段２２１は、ＯＰＣ領域、ＰＩＣ領域、ＴＤＭＡ領域、又はユーザデータ領域に光ビームスポットを移動させる駆動信号を出力する。
【００３２】
テスト記録層決定手段２２２は、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。
【００３３】
記録／再生条件決定手段２２３は、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に基づいて、複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件を決定する。具体的には、記録条件として、光ヘッド１００がＢＤ−Ｒディスク７００に対して照射するレーザー光の光出力レベル及び光パルス幅を決定し、この決定結果に応じて駆動手段４００に対して命令を行う。再生条件として、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（オフセット）、対物レンズ１０６の傾き、サーボ制御手段２０１内部のゲイン、及び収差を決定し、この決定結果に応じてサーボ制御手段２０１に対して命令を行う。また、再生条件として、さらに、再生手段２０３のイコライザ回路のブースト値（ゲイン）及びカットオフ周波数等を決定し、この決定結果に応じて再生手段２０３に対して命令を行う。
【００３４】
テスト記録手段２２４は、再生状態、あるいは記録状態に応じて、半導体レーザー１０１の光出力レベルや光パルス幅を制御するために、レーザー駆動命令及びパルス命令を駆動手段４００に出力する。また、テスト記録手段２２４は、駆動手段４００及び移送モータ６００を制御することにより、テスト記録層決定手段２２２によって決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録が行われるように光ヘッド１００を間接的に制御する。
【００３５】
マイコン２２０の上記各手段の機能は、メモリ素子３００に格納されたコンピュータプログラムを実行することによって実現される。また、メモリ素子３００は、マイコン２２０からの命令に応じてコンピュータプログラムを起動することができる。
【００３６】
駆動手段４００は、集積回路２００のテスト記録手段２２４によって出力されたレーザー駆動命令及びパルス命令に応じて電流を出力する。駆動手段４００は、半導体レーザー１０１が再生及び記録に必要な強度の出射光をＢＤ−Ｒディスク７００に照射できるように出力電流の電流量を変化させる。
【００３７】
ディスクモータ５００は、設定される回転数でＢＤ−Ｒディスク７００を回転させる。
【００３８】
移送モータ６００は、マイコン２２０の残容量取得手段２２１及びテスト記録手段２２４により出力された駆動信号に応じて、ＢＤ−Ｒディスク７００のトラックを横断する方向に光ヘッド１００を移動させることにより、設定された位置に光ヘッド１００を配置できる。
【００３９】
ここで、上記のように構成された光ディスク装置による記録条件及び再生条件の決定方法について図３のフローチャートを参照して説明する。なお、図３に示す記録条件及び再生条件の決定動作は、複数の記録層のうちのいずれかの記録層（以下、「記録対象記録層」と呼ぶ）に対してユーザデータの一連の記録動作が開始される際に行われる。
【００４０】
光ディスク装置にＢＤ−Ｒディスク７００が装填されると、光ディスク装置が起動する。そして、サーボ制御により、ＢＤ−Ｒディスク７００の所定の位置に半導体レーザー１０１から出射されたレーザー光が集光された状態となる。そして、マイコン２２０が、ＢＤ−Ｒディスク７００へのデータ記録状況等に基づいて、テスト記録の実行要否を判断する。かかる判断は、例えば、前回記録したユーザデータの大きさや、前回記録したユーザデータが同じ光ディスク装置によって記録されたものであるかどうかに基づいて行われる。テスト記録の実行が必要と判断された場合、図３のフローチャートに示す動作が開始される。
【００４１】
まず（Ｓ１０００）で、光ディスク装置がＢＤ−Ｒディスク７００のＯＰＣ領域の残容量を記録層毎に取得する。
【００４２】
図４は、（Ｓ１０００）における処理を詳細に説明するフローチャートである。
【００４３】
（Ｓ１０００）において光ディスク装置は、まず（Ｓ１００１）でｎを初期値０に設定し、（Ｓ１００２）でＴＤＭＡｎに光ビームスポットが位置するように光ヘッド１００をシークさせてＴＤＭＡｎのデータを再生し、（Ｓ１００３）でＴＤＭＡｎ全体が記録済であるか否かを判定する。そして、ＴＤＭＡｎ全体が記録済であった場合には、（Ｓ１００４）でｎ＝５であるか否かを判定し、ｎ＝５であれば処理を終了し、ｎ＝５でなければ（Ｓ１００５）でｎ＝ｎ＋１として（Ｓ１００２）の処理に戻る。具体的には、光ディスク装置は、最初にＴＤＭＡ０のデータを再生し、そこでＴＤＭＡ０全体が記録済であるかを判定し、記録済であった場合には、ＴＤＭＡ１のデータをさらに再生する。そして、記録済でないＴＤＭＡ領域が現れるか又はＴＤＭＡ５を再生するまで繰り返す。そして、光ディスク装置の残容量取得手段２２１が、ＴＤＭＡ領域から読み出された記録管理データに基づいてＯＰＣ０及びＯＰＣ１の残容量を取得する。
【００４４】
次に、図３の（Ｓ２０００）で、テスト記録層決定手段２２２が、いずれの記録層のＯＰＣ領域においてテスト記録を行うかを、（Ｓ１０００）において取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に基づいて決定する。つまり、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。
【００４５】
図５は、（Ｓ２０００）における処理を詳細に説明するフローチャートである。
【００４６】
（Ｓ２０００）においてテスト記録層決定手段２２２は、まず（Ｓ２００１）で、上記記録対象記録層がＬ０層であるかＬ１層であるかを判定し、Ｌ０層である場合には（Ｓ２００２）でＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２００３）の処理に進み、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２００３）では、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より小さいか否かを判定し、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以上である場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より小さい場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。
【００４７】
一方、（Ｓ２００１）で記録対象記録層がＬ１層であると判定した場合には、（Ｓ２００６）でＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２００７）の処理に進み、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２００７）では、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より小さいか否かを判定する。そして、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より小さい場合には（Ｓ２００５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以上である場合には（Ｓ２００４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。
【００４８】
そして、図３の（Ｓ０００１）で、光ディスク装置は、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録を行う。
【００４９】
次に、（Ｓ０００２）で、光ディスク装置は、（Ｓ０００１）でテスト記録が行われたＯＰＣ領域に光ヘッド１００をシークさせる。
【００５０】
次に、（Ｓ０００３）で、記録／再生条件決定手段２２３が、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に応じて、サーボ制御手段２０１内部の調整パラメータを算出する。ここで算出される調整パラメータは、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置、対物レンズ１０６の傾き、サーボ制御手段２０１内部のゲイン、及び収差等である。
【００５１】
さらに、（Ｓ０００４）で、光ディスク装置は、（Ｓ０００１）でテスト記録が行われたＯＰＣ領域に光ヘッド１００を再びシークさせる。
【００５２】
そして、（Ｓ０００５）で、記録／再生条件決定手段２２３が、再生信号品質評価手段２１０において算出されたジッタ値、アシンメトリ値、及び変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に応じて、再生手段２０３内部の調整パラメータを算出する。ここで算出される調整パラメータは、光検出手段２０２によって生成された再生信号、すなわちユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路の回路定数、及び再生信号の振幅レベル等である。また、イコライザ回路の回路定数としては、ブースト値（ゲイン）及びカットオフ周波数等が算出される。
【００５３】
次に、（Ｓ３０００）で、再生信号品質評価手段２１０において算出された変調度（テスト記録が行われた領域の記録品質）に基づいて、記録／再生条件決定手段２２３が、図６に示す光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓ及び光パルス幅を算出する。図６は、ＢＤ−Ｒディスク７００に記録マークを形成するときに駆動手段４００が半導体レーザー１０１に出力する駆動波形と、記録状態及び再生状態におけるゲート信号の波形とを示す。ＢＤ−Ｒディスク７００に記録を行う場合、光出力レベル及び光パルス幅を適切に設定しなければ、再生できない記録マークが形成されるおそれがある。
【００５４】
記録／再生条件決定手段２２３は、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを以下の式（１）〜（４）を用いて算出する。
【００５５】
Ｐｐｅａｋ＝Ｐｔｈ×κ×ρ            ・・・  （１）
Ｐｓｐａｃｅ＝Ｐｐｅａｋ×εｓ        ・・・  （２）
Ｐｃｏｏｌ＝Ｐｐｅａｋ×εｃ          ・・・  （３）
Ｐｂｉａｓ＝Ｐｐｅａｋ×εｂｗ        ・・・  （４）  
これらの係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗは、図２に示したＰＩＣ領域の情報を再生することによって得られる。図７は、ＢＤ−Ｒディスク７００のＰＩＣ領域の構成を示す説明図である。ＰＩＣ領域は５つの情報フラグ（ＩＦ）から構成されている。各情報フラグは５４４物理クラスタによって構成され、各物理クラスタは３２個のＩＤ情報（ＩＤ）を含み、各ＩＤ情報はそれぞれ１１２バイトで構成される。このＩＤ情報の５０〜５４バイトに、上記式（１）から（４）に示した係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗが記録されている。したがって、光ディスク装置は、光出力レベルを算出する際に、ＰＩＣ領域を再生することによって、係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗを取得することができる。
【００５６】
ここで、変調度について説明する。図８は、ＢＤ−Ｒディスク７００における単一パターンのデータを記録した領域を再生したときに得られる再生信号のレベル、すなわち光検出手段２０２の出力レベルを示すグラフである。また、±１次光検出器１０９の出力レベルも同様の波形となる。縦軸の０は未記録領域の信号レベルを示す。変調度は、以下の式（５）を用いて算出できる。
【００５７】
変調度＝（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）        ・・・  （５）
図９（ａ）は、横軸に光出力レベルＰｐｅａｋ、縦軸に当該光出力レベルで記録された記録マークの再生信号に基づいて算出される変調度ｍを例示するグラフである。また、図９（ｂ）は、横軸に光出力レベルＰｐｅａｋ、縦軸に図９（ａ）の縦軸に示した変調度ｍに光出力レベルＰｐｅａｋを乗算した値ｍ×Ｐｐｅａｋを例示するグラフである。
【００５８】
光ディスク装置は、光出力レベルＰｐｅａｋを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域を再生することにより再生信号を取得し、取得した再生信号に基づいて、各光出力レベルに対応する変調度を算出することにより、図９（ａ）に示すような光出力レベルＰｐｅａｋと変調度ｍとの関係を得ることができる。そして、縦軸の値をｍ×Ｐｐｅａｋに変換する演算を行い、光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係を１次近似式に近似する。そして、図９（ｂ）に示すように、この近似式を表すグラフのｘ軸切片の値をＰｔｈとして決定する。このように決定されたＰｔｈを上記式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出することができる。
【００５９】
図１０は、（Ｓ３０００）における光出力レベルの算出処理を詳細に説明するフローチャートである。
【００６０】
まず最初に（Ｓ３００１）で、光ディスク装置がＰＩＣ領域に光ヘッド１００をシークさせ、光出力調整に必要な係数κ，ρ，εｓ，εｃ，εｂｗを取得する。次に、（Ｓ３００２）で、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層のＯＰＣ領域に光ヘッド１００をシークさせる。（Ｓ３００３）では、内部変数ｎを０にリセットする。続いて（Ｓ３００４）で光出力レベルＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ（ｎ）に設定し、（Ｓ３００５）でテスト記録を行う。（Ｓ３００６）では、ｎ≧ｐｔｎ−１であるか否かを判定し、ｎ≧ｐｔｎ−１でなければ（Ｓ３００７）でｎに１を加算し、ｎ≧ｐｔｎ−１であれば（Ｓ３００８）に進む。これにより、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）ではｐｔｎ種類の光出力レベルでテスト記録が行われる。
【００６１】
例えば、光ディスク装置は、（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）において、ｐｔｎを１３と設定し、テスト記録が行われるＢＤ−Ｒディスク７００のアドレスと光出力レベルＰｐｅａｋとの関係が図１１に示すようになるようにテスト記録を行う。この例では、１種類の光出力レベルに対応するテスト記録を１ＡＵの領域で行っている。まず最初にＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ０に設定し、ＯＰＣ領域の最初のアドレスＡＵ０にテスト記録を行う。続いてＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ１に変更し、第２のアドレスＡＵ１にテスト記録を行う。そして、このようなテスト記録をＰｐｅａｋ１２まで繰り返す。
【００６２】
なお、Ｐｐｅａｋ０〜Ｐｐｅａｋ１２の範囲は、半導体レーザー１０１の特性ばらつき、ＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性ばらつき等を考慮して設定する。例えば、半導体レーザー１０１の特性やＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性のばらつきが小さい場合、Ｐｐｅａｋ０〜Ｐｐｅａｋ１２の幅を小さくしてもよい。また、記録／再生条件決定手段２２３の目標調整精度が低い場合、Ｐｐｅａｋ（ｎ）〜Ｐｐｅａｋ（ｎ＋１）の幅を大きくしてもよい。したがって、ｐｔｎの値は１３に限定されない。
【００６３】
そして、（Ｓ３００８）で、光ディスク装置が（Ｓ３００３）〜（Ｓ３００７）でテスト記録を行った領域に光ヘッド１００をシークさせ、（Ｓ３００９）で該領域の変調度を算出する。具体的には、変調度は、図１１に示すＡＵ０からＡＵ１２までの区間でＡＵ毎に上記式（５）を用いて算出する。なお、光出力レベルＰｐｅａｋは、必ずしも図１１に示したように階段状に設定しなくてもよい。また、テスト記録は必ずしも１ＡＵ毎に行わなくてもよく、他の単位領域毎に行なうようにしてもよい。
【００６４】
続いて、（Ｓ３０１０）で、記録／再生条件決定手段２２３が、図９（ａ）及び（ｂ）を参照して上述したように光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係に基づいてＰｔｈを算出し、算出したＰｔｈを式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出する。
【００６５】
次に、図３の（Ｓ０００６）で、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が、上記記録対象記録層と一致しているか否かを判定する。そして、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が上記記録対象記録層と一致している場合には、（Ｓ０００７）において、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ０００３）及び（Ｓ０００５）で算出した調整パラメータを、記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件として決定するとともに、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベル及び光パルス幅を、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件として決定する。
【００６６】
一方、図３の（Ｓ０００６）で、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層が上記記録対象記録層と一致していないと判定した場合には、（Ｓ０００８）の処理に進む。そして、（Ｓ０００８）において、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出した調整パラメータ、光出力レベル及び光パルス幅を補正する。具体的には、（Ｓ０００３）で算出したフォーカス制御目標位置及び対物レンズ１０６の傾き、（Ｓ０００５）で算出したイコライザ回路のブースト値及びカットオフ周波数、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、以下の表１の上側２段に示す値を用いて補正する。表１の値は、あらかじめ光ディスク装置に保持されている。
【００６７】
【表１】
2009119019.tif 000022
【００６８】
まず、光ディスク装置がＬ０層にユーザデータを記録しようとした（記録対象記録層がＬ０層である）が、Ｌ０層のＯＰＣ領域に残容量が十分なく、Ｌ１層のＯＰＣ領域にてテスト記録を行った場合について説明する。ここでは、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出したフォーカス制御目標位置をＦｂａｌ１、対物レンズ１０６の傾きをＴｉｌｔ１、イコライザ回路のブースト値をＢｏｏｓｔ１、同カットオフ周波数をｆｃ１、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，ＰｂｉａｓをＰｔｈ１と表す。また、Ｌ０層に対応する補正後のフォーカス制御目標位置、対物レンズ１０６の傾き、イコライザ回路のブースト値（ゲイン）、同カットオフ周波数、及び光出力レベルを、Ｆｂａｌ０、Ｔｉｌｔ０、Ｂｏｏｓｔ０、ｆｃ０、Ｐｔｈ０と表す。そして、記録／再生条件決定手段２２３は、記録対象記録層であるＬ０層に対応するフォーカス制御目標位置Ｆｂａｌ０、対物レンズ１０６の傾きＴｉｌｔ０、イコライザ回路のブースト値（ゲイン）Ｂｏｏｓｔ０、同カットオフ周波数ｆｃ０、及び光出力レベルＰｔｈ０を、以下の式（６）から（１０）に示すようにして決定する。
【００６９】
Ｆｂａｌ０＝Ｆｂａｌ１×α０１      ・・・  （６）
Ｔｉｌｔ０＝Ｔｉｌｔ１×α０２      ・・・  （７）
Ｂｏｏｓｔ０＝Ｂｏｏｓｔ１×α０３  ・・・  （８）
ｆｃ０＝ｆｃ１×α０４              ・・・  （９）
Ｐｔｈ０＝Ｐｔｈ１×α０５          ・・・  （１０）
なお、上記の逆でテスト記録をＬ０層で行い、ユーザデータをＬ１層で記録する（記録対象記録層がＬ１層である）場合には、式（６）から（１０）の代わりに、以下の式（１１）から（１５）に示すようにして決定する。
【００７０】
Ｆｂａｌ１＝Ｆｂａｌ０×α１１      ・・・  （１１）
Ｔｉｌｔ１＝Ｔｉｌｔ０×α１２      ・・・  （１２）
Ｂｏｏｓｔ１＝Ｂｏｏｓｔ０×α１３  ・・・  （１３）
ｆｃ１＝ｆｃ０×α１４              ・・・  （１４）
Ｐｔｈ１＝Ｐｔｈ０×α１５          ・・・  （１５）
つまり、（Ｓ０００８）では、記録／再生条件決定手段２２３が、（Ｓ０００３）で算出したフォーカス制御目標位置及び対物レンズ１０６の傾き、（Ｓ０００５）で算出したイコライザ回路のブースト値及びカットオフ周波数、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、（Ｓ２０００）で決定されたテスト記録層（（Ｓ０００１）と（Ｓ３０００）でテスト記録が行われた記録層）と記録対象記録層との組み合わせがどのようなものであるかに応じて補正している。このように、（Ｓ０００１）及び（Ｓ３０００）でテスト記録を行った領域の記録品質に加えて、テスト記録層と記録対象記録層との組み合わせを加味することにより、より適当な記録条件及び再生条件を決定できる。
【００７１】
なお、ＢＤ−Ｒディスク７００の代わりに、記録層数が３層の記録媒体が用いられる場合も表１の下側４段に示すように、変数を多く用いることにより同様の補正を行える。
【００７２】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を高精度に決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１以下の場合には、他方の記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より小さいか否かを判定し、小さくない場合には該他方の記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を決定できる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。
【００７３】
また、本実施形態の光ディスク装置は、ユーザデータを記録する際の光出力レベル及び光パルス幅を決定するので、ユーザデータを表す記録マークの品質が向上する。
【００７４】
また、本実施形態の光ディスク装置は、ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、及びＢＤ−Ｒディスク７００に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差等を決定するので、様々な条件で記録された記録データを精度良く再生できる。
【００７５】
《実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置では、残容量取得手段２２１が、上記記録管理データに基づいて、ＯＰＣ領域の残容量に加え、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。また、テスト記録層決定手段２２２が、記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に加えて、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。
【００７６】
本実施形態の光ディスク装置では、（Ｓ１０００）において、残容量取得手段２２１が、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。このとき、ＯＰＣ領域の残容量を先に取得するようにしてもよいし、ユーザデータ領域の残容量を先に取得するようにしてもよい。
【００７７】
また、本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態１の図５の処理に代えて、図１２に示す処理を行う。
【００７８】
まず（Ｓ２１０１）で、テスト記録層決定手段２２２が、記録対象記録層がＬ０層であるかＬ１層であるかを判定し、Ｌ０層である場合には（Ｓ２１０２）でＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２１０３）の処理に進み、ＯＰＣ０の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２１０３）では、Ｌ０層のユーザデータ領域Ｄａｔａ０の残容量に対するＯＰＣ０の残容量の割合が所定値Ｔｈ２より大きいか否かを判定する。そして、該割合が所定値Ｔｈ２より大きい場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する一方、該割合が所定値Ｔｈ２以下の場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。
【００７９】
一方、（Ｓ２１０１）で記録対象記録層がＬ１層であると判定した場合には、（Ｓ２１０６）でＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１以下の場合には（Ｓ２１０７）の処理に進み、ＯＰＣ１の残容量が所定値Ｔｈ１より大きい場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する。（Ｓ２１０７）では、Ｌ１層のユーザデータ領域Ｄａｔａ１の残容量に対するＯＰＣ１の残容量の割合が所定値Ｔｈ２より大きいか否かを判定する。そして、該割合が所定値Ｔｈ２より大きい場合には（Ｓ２１０５）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ１、すなわちＬ１層のＯＰＣ領域に決定する一方、該割合が所定値Ｔｈ２以下の場合には（Ｓ２１０４）で、テスト記録を行うＯＰＣ領域をＯＰＣ０、すなわちＬ０層のＯＰＣ領域に決定する。
【００８０】
本実施形態の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態１と同じであるので、その詳細な説明を省略する。
【００８１】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ１以下の場合には、さらに記録対象記録層におけるユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合がＴｈ２より大きいか否かを判定し、大きくない場合には他方の記録層のＯＰＣ領域を用いて記録条件及び再生条件を決定できる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。
【００８２】
《実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、３層以上の記録層を有する光ディスクに対してもデータの記録及び再生を行うことが可能に構成されている。
【００８３】
本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態１の図５の処理に代えて、図１３に示す処理を行う。ここで、光ディスク装置に装填されるＢＤ−Ｒディスク７００には、ｎ層の記録層Ｌ１〜Ｌｎ（ｎは２以上の整数）が形成されているものとする。
【００８４】
まず（Ｓ２２０１）で、ユーザデータの記録対象となる記録対象記録層がいずれの記録層であるかを判定する。ここでは、記録対象記録層が記録層Ｌｍであるとする。次に（Ｓ２２０２）で、記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３より大きいか否かを判定する。そして、記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３より大きい場合には、（Ｓ２２０３）で、記録対象記録層Ｌｍを記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶し、（Ｓ２２１０）の処理に進む。
【００８５】
一方、（Ｓ２２０２）で記録対象記録層ＬｍのＯＰＣ領域の残容量が所定値Ｔｈ３以下であると判定した場合には、（Ｓ２２０４）で、（Ｓ１０００）において残容量取得手段２２１により取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量を取得し、（Ｓ２２０５）でＯＰＣ領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を演算によって抽出し、（Ｓ２２０６）で残容量最大記録層が複数あるか否かを判定する。残容量最大記録層が複数ある場合には、（Ｓ２２０７）で複数の残容量最大記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。一方、残容量最大記録層が１つしかない場合には、（Ｓ２２０８）でその１つの残容量最大記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。（Ｓ２２０９）では、記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶された記録層のＯＰＣ領域の残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒより小さいか否かを判定する。残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒより小さい場合には、（Ｓ２２０３）で、記録対象記録層Ｌｍを記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶し、（Ｓ２２１０）の処理に進む。一方、残容量ＯＰＣｌｔｅｓｔが、所定値Ｔｈｅｒｒ以上である場合には、そのまま（Ｓ２２１０）の処理に進む。
【００８６】
（Ｓ２２１０）では、テスト記録を行うＯＰＣ領域を、（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０７）又は（Ｓ２２０８）で記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶した記録層のＯＰＣ領域に決定する。
【００８７】
本実施形態の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態１と同じであるので、その詳細な説明を省略する。
【００８８】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてＯＰＣ領域の残容量が最も大きい記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、一般に、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、残容量最大記録層が複数あるときに残容量最大記録層のうちで記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことにより、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。
【００８９】
《実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置では、残容量取得手段２２１が、前記記録管理データに基づいて、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。また、テスト記録層決定手段２２２が、記録層毎のＯＰＣ領域の残容量に加えて、残容量取得手段２２１によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定する。
【００９０】
本実施形態の光ディスク装置では、（Ｓ１０００）において、残容量取得手段２２１が、ＯＰＣ領域の残容量に加えて、ユーザデータ領域の残容量を記録層毎にさらに取得する。このとき、ＯＰＣ領域の残容量を先に取得するようにしてもよいし、ユーザデータ領域の残容量を先に取得するようにしてもよい。
【００９１】
また、本実施形態の光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態３の図１３の処理に代えて、図１４に示す処理を行う。
【００９２】
なお、図１４の（Ｓ２２０１）〜（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０９）、（Ｓ２２１０）における処理は、実施形態３の図１３で同一の符号を付して説明した処理と同様であるので説明を省略する。
【００９３】
（Ｓ２３０１）では、（Ｓ１０００）において残容量取得手段２２１により取得された記録層毎のＯＰＣ領域の残容量とユーザデータ領域の残容量とを取得する。続いて（Ｓ２３０２）で、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合（比率）を、記録対象記録層Ｌｍを除く各記録層毎に算出し、算出した割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を演算によって抽出する。そして、（Ｓ２３０３）で、（Ｓ２３０２）において抽出された割合最大記録層が複数あるか否かを判定する。割合最大記録層が複数ある場合には、（Ｓ２３０４）で複数の割合最大記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。一方、割合最大記録層が１つしかない場合には、（Ｓ２３０５）でその１つの割合最大記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。
【００９４】
本実施形態４の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態３と同じであるので、その詳細な説明を省略する。
【００９５】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が最も大きい記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、一般に、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、割合最大記録層が複数あるときに割合最大記録層のうちで記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことにより、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。
【００９６】
《実施形態５》
本発明の実施形態５に係る光ディスク装置では、テスト記録層決定手段２２２が、（Ｓ２０００）において、実施形態４の図１４の処理に代えて、図１５に示す処理を行う。
【００９７】
なお、図１５の（Ｓ２２０１）〜（Ｓ２２０３）、（Ｓ２２０９）、（Ｓ２２１０）、（Ｓ２３０１）における処理は、実施形態３、４の図１３、１４で同一の符号を付して説明した処理と同様であるので、説明を省略する。
【００９８】
（Ｓ２４０１）では、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合（比率）を、記録対象記録層Ｌｍを除く各記録層毎に算出し、算出した割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層を記録層のグループＧｔｅｓｔＷｒｉｔｅとして抽出する。続いて（Ｓ２４０２）で、（Ｓ２４０１）において抽出された記録層のうち、記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶する。
【００９９】
本実施形態５の光ディスク装置の他の構成及び動作は、実施形態４と同じであるので、その詳細な説明を省略する。
【０１００】
したがって、本実施形態によると、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３より大きい場合には、記録対象記録層のＯＰＣ領域にテスト記録を行い、その結果、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。一方、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量がＴｈ３以下の場合には、ＢＤ−Ｒディスク７００においてユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔより大きい記録層のうち、記録対象記録層に最も近い記録層にテスト記録を行うことができる。したがって、記録対象記録層におけるＯＰＣ領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなる可能性が従来よりも低くなる。また、従来よりもＯＰＣ領域を有効に利用できるので、追記回数を増やすことができる。さらに、記録対象記録層に近い記録層は、離れた記録層よりも記録対象記録層に近似した特性を有しているため、離れた記録層にテスト記録を行う場合よりも、記録条件及び再生条件を精度良く決定できる。
【０１０１】
《実施形態６》
本発明の実施形態６に係る光ディスク装置は、（Ｓ２０００）でテスト記録を行う記録層として決定されたテスト記録層が記録対象記録層と一致していない場合に、実施形態１の（Ｓ０００８）の処理に代えて、図１６に示す処理を行う。
【０１０２】
図１６の処理では、記録／再生条件決定手段２２３が、まず、（Ｓ０００８）の処理を行う。つまり、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）で算出した調整パラメータ、光出力レベル及び光パルス幅に対し、表１の値を用いた補正を行う。
【０１０３】
そして、（Ｓ４００１）で、光ディスク装置が、記録対象記録層のＯＰＣ領域へ光ヘッド１００をシークさせる。次に、（Ｓ４００２）で、内部変数ｎをリセットする。続いて（Ｓ４００３）で光出力レベルＰｐｅａｋをＰｐｅａｋ（ｎ）に設定し、（Ｓ４００４）でテスト記録を行う。（Ｓ４００５）では、ｎ≧ｐｔｎ’−１であるか否かを判定し、ｎ≧ｐｔｎ’−１でなければ（Ｓ４００６）でｎに１を加算し、ｎ≧ｐｔｎ’−１であれば（Ｓ４００７）に進む。
【０１０４】
（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）では、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）の範囲で光出力レベルを変化させてテスト記録を行う。Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）は、実施形態１で図１１を用いて説明したように、半導体レーザー１０１の特性、ＢＤ−Ｒディスク７００の記録特性を考慮して設定する。
【０１０５】
ただし、（Ｓ４００３）では、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を、（Ｓ０００８）で補正により得た光出力レベルに基づく所定の範囲で段階的に変化させた値に設定する。例えば、（Ｓ０００８）で補正した光出力レベルを中心レベルとし、ディスクの記録特性ばらつきに応じた設計値を該中心レベルに対して加減算したレベルを上限・下限とする範囲で段階的に変化させた値に設定する。（Ｓ０００８）で補正により得た光出力レベルは、（Ｓ２０００）で決定したテスト記録層について調整した光出力レベルであるので、記録対象記録層の光出力レベルとしても最適に近い値として期待することができる。
【０１０６】
その結果、半導体レーザー１０１の特性ばらつきを考慮する必要が無くなるので、Ｐｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）の範囲は、（Ｓ３０００）で設定された光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ−１）の範囲よりも狭くすることができる。したがって、ｐｔｎ’は上記ｐｔｎよりも少ない２以上の値に設定する。
【０１０７】
そして、（Ｓ４００７）で、（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）でテスト記録を行った領域に光ヘッド１００をシークさせ、（Ｓ４００８）で該領域の変調度を算出する。続いて、（Ｓ４００９）で、図９（ａ）及び（ｂ）を参照して上述したように光出力レベルＰｐｅａｋとｍ×Ｐｐｅａｋとの関係に基づいてＰｔｈを算出し、算出したＰｔｈを式（１）から式（４）に代入することにより、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを算出する。そして、（Ｓ４００８）で取得した変調度に基づいて算出したこれらの光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓとして決定する。なお、（Ｓ４００１）〜（Ｓ４００６）の処理は、テスト記録手段２２４が駆動手段４００及び移送モータ６００を制御（光ヘッド１００を間接的に制御）することにより行われる。
【０１０８】
したがって、本実施形態によると、（Ｓ０００１）と（Ｓ３０００）でテスト記録を行った記録層が記録対象記録層と一致していない場合、記録対象記録層のＯＰＣ領域に対してテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓを決定するので、より高精度な光出力レベルを得ることができる。また、ｐｔｎ’を少なく設定するので、記録対象記録層のＯＰＣ領域の使用容量を小さくできる。
【０１０９】
なお、光出力レベルＰｐｅａｋ，Ｐｓｐａｃｅ，Ｐｃｏｏｌ，Ｐｂｉａｓに限らず、他の記録条件や、フォーカス制御及びトラッキング制御の目標位置（フォーカスオフセット及びトラッキングオフセット）等の再生条件が、（Ｓ４００３）〜（Ｓ４００６）でテスト記録を行った領域の記録品質に基づいて決定されるようにしてもよい。
【０１１０】
また、本実施形態では、記録対象記録層のＯＰＣ領域に対するテスト記録（（Ｓ４００４）におけるテスト記録）に用いる光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を、（Ｓ０００８）で得た光出力レベルに基づいて設定する。しかし、（Ｓ０００８）の補正処理を行わず、（Ｓ３０００）で算出した光出力レベルに基づいて、（Ｓ４００４）におけるテスト記録でのＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）を設定するようにしてもよい。いずれにせよ、光出力レベルＰｐｅａｋ（０）〜Ｐｐｅａｋ（ｐｔｎ’−１）は、テスト記録層におけるテスト記録を行った領域の記録品質に基づく値に設定される。
【０１１１】
《その他の実施形態》
なお、上記実施形態１、２においては、ＯＰＣ０の残容量及びＯＰＣ１の残容量が、共に同じ所定値Ｔｈ１と比較されるようになっていたが、異なる所定値と比較されるようにしてもよい。また、実施形態２においては、Ｌ０層のユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ０の残容量の割合とＬ１層のユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ１の残容量の割合とが、共に所定値Ｔｈ２と比較されるようになっていたが、互いに異なる所定値と比較されるようにしてもよい。
【０１１２】
また、上記実施形態１〜６では、光ディスク装置が、記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件の両方を決定していたが、いずれか一方だけを決定するようにしてもよい。例えば、上記実施形態３、４、５において、（Ｓ２２０２）及び（Ｓ２２０９）のうちの少なくとも一方を実行しないようにしてもよい。また、上記実施形態１〜６で決定した記録条件及び再生条件のうちのいずれか１つ以上を決定するようにしてもよい。さらに、上記実施形態１〜６では挙げていない記録条件又は再生条件を決定するために本発明を適用してもよい。
【０１１３】
また、上記実施形態１〜６において、（Ｓ０００３）、（Ｓ０００５）、及び（Ｓ３０００）のうちのいずれか１つ又は２つだけが実行されるようにしてもよい。
【０１１４】
また、上記実施形態５では、ユーザデータ領域の残容量に対するＯＰＣ領域の残容量の割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層を抽出してから、抽出された記録層のうち記録対象記録層Ｌｍに最も近い記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶するようになっていた。しかし、近い記録層から順に、上記割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層であるか否かの判定を行い、上記割合が所定値Ｔｈｓｏｒｔよりも大きい記録層であると最初に判定した記録層を記録層Ｌｔｅｓｔとして記憶するようにしてもよい。
【０１１５】
また、上記実施形態１〜６では、ＢＤ−Ｒディスク７００に対してデータの記録及び再生を行う光ディスク装置について説明したが、他の光記録媒体に対してデータの記録及び再生を行う装置にも本発明を適用できる。
【０１１６】
例えば、ＤＶＤ＋Ｒディスクに対しても、本発明の処理を行うことができる。図１７は、ＤＶＤ＋Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）ディスクのフォーマットを示す説明図である。ＤＶＤ＋Ｒディスクでは、半径２２．２００ｍｍ〜２３．４００ｍｍの範囲に内周ドライブ領域（図１７中にはＩｎｎｅｒ  Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）が配置されている。Ｌ０層の半径２３.４００ｍｍ〜２４．０００ｍｍの範囲には、リードイン領域（図１７中にはＬｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）、Ｌ１層の半径２３.４００ｍｍ〜２４．０００ｍｍの範囲には、リードイン領域（図１７中にはＬｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅと表記）が配置されている。半径２４．０００ｍｍ〜５８．０００ｍｍの範囲には、データ領域（図１７中にはＤａｔａ  Ｚｏｎｅと表記）、半径５８．０００ｍｍ〜５８．２００ｍｍの範囲には、ミドルゾーン（図１７中にはＭｉｄｄｌｅ  Ｚｏｎｅ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）、半径５８．２００ｍｍ〜５８．３０６ｍｍの範囲には、外周ドライブ領域（図１７中にはＯｕｔｅｒ  Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ  ｎと表記：ｎは記録層のナンバーを示す）が配置されている。
【０１１７】
ここで、上記内周ドライブ領域内及び外周ドライブ領域内には、内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンが配置されている。詳しくは、内周ディスクテストゾーンは、図１７に示すように、ＤＶＤ＋Ｒディスクの内周領域（半径２２．６９５ｍｍ〜２３．１３７ｍｍ）に配置されている一方、外周ディスクテストゾーンは、外周領域（半径５８．２９４ｍｍ〜５８．３０６ｍｍ）に配置されている。これら内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンには、光出力レベルや光パルス幅を変化させながらテスト記録を行うことができ、テスト記録が行われた当該記録領域を再生することにより、再生信号品質が最適になる記録条件を求めることができる。つまり、これら内周ディスクテストゾーン及び外周ディスクテストゾーンは、ＢＤ−ＲディスクにおけるＯＰＣ領域と同様の役割を果たすものである。
【０１１８】
また、ＤＶＤ＋Ｒディスクは、ＴＯＣゾーン（図１７中にはＴａｂｌｅ  ｏｆ  Ｃｏｎｔｅｎｔｓ  Ｚｏｎｅと表記）を有しており、これらＴＯＣゾーンは、ＢＤ−ＲディスクにおけるＴＤＭＡ領域と同様の役割を果たす。ＤＶＤ＋Ｒディスクの記録領域は、複数のセッションを有し、ＤＶＤ＋Ｒディスクに対する記録は、セッション単位で行われるようになっている。そして、上記ＴＯＣゾーンには、各セッション毎の開始／終了アドレス情報が記録されている。各セッションには、そのセッションにおいてどの領域が記録済みかを示す記録情報が記録されている。図１８は、複数（図１８中ではｎ：２以上の整数）のセッションが記録されたＤＶＤ＋Ｒディスクのフォーマットを示したものである。各セッションは、Ｉｎｔｒｏゾーン、Ｄａｔａゾーン、及びＣｌｏｓｕｒｅゾーンによって構成される。Ｉｎｔｒｏゾーン内の内周セッション・アイデンティフィケーションゾーン（図１８中にはＩｎｎｅｒ  Ｓｅｓｓｉｏｎ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｚｏｎｅと表記）を再生することによって、Ｄａｔａ領域の使用状況をユーザデータ領域の使用（記録）状況として確認することができる。
【０１１９】
以上のように、光ディスク装置にＤＶＤ＋Ｒディスクが装填された場合においても、内周ドライブ領域内のＴＯＣゾーン及び各セッションのＩｎｔｒｏゾーンを再生することによって、ディスクテストゾーン及びＤａｔａゾーンにおける残容量を検出することができる。したがって、上記実施形態１〜６と同様の方法でテスト記録を行う記録層を決定し、決定した記録層のディスクテストゾーンへテスト記録をすることができる。
【０１２０】
また、既に実用化されている様々な規格のディスク、例えば、ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＤＶＤ±ＲＷ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc Rewritable）（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）についても同様に本発明を適用することができる。
【０１２１】
また、上記実施形態１〜６では、ＴＤＭＡ領域のデータを用いてＯＰＣ領域の残容量を記録層毎に取得していたが、他の規格の光記録媒体に本発明を適用する場合には、ＴＤＭＡ領域のデータの代わりに、記録済みのトラック又はアドレス情報が記録された他の領域のデータを用いてもよい。
【０１２２】
また、上記実施形態１〜６では、ＯＰＣ領域をテスト記録領域として用いていたが、他の規格の光記録媒体に本発明を適用する場合には、ＯＰＣ領域の代わりに、例えば、ＰＣＡ領域、ドライブテストゾーン等、テスト記録（試し書き）に用いられる他の領域を用いてもよい。
【０１２３】
また、上記実施形態１〜６では、（Ｓ３０００）で、光出力レベルを算出するために用いる係数κ、ρ、εｓ、εｃ、εｂｗを、ＰＩＣ領域を再生することにより得ていたが、設定した係数をあらかじめ光ディスク装置に記憶させておき、記憶させた係数を読み出すことにより得るようにしてもよい。
【０１２４】
さらに、ＤＶＤやＣＤに本発明を適用する場合、各記録条件で１ＥＣＣブロック又は１セクタにテスト記録が行われるように、記録条件を複数種類に変化させながらテスト記録を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１２５】
本発明に係る記録条件又は再生条件の決定方法、集積回路、及び光ディスク装置は、テスト記録領域の残容量の不足によって記録条件や再生条件が決定できなくなることを防止できるとともに、テスト記録領域を有効に利用できるので追記回数を増やすことができるという効果を有し、光記録媒体に対してレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、テスト記録を行うことにより記録条件及び再生条件を決定する技術等として有用である。
【符号の説明】
【０１２６】
１００      光ヘッド
１０６      対物レンズ
２００      集積回路
２２１      残容量取得手段
２２２      テスト記録層決定手段
２２３      記録／再生条件決定手段（条件決定手段）
２２４      テスト記録手段
７００      ＢＤ−Ｒディスク（光記録媒体）
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、レーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する方法であって、
前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得ステップと、
前記残容量取得ステップにおいて取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定ステップと、
前記テスト記録層決定ステップにおいて決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記テスト記録ステップにおいてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定ステップとを備えたことを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項２】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項３】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記テスト記録領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項４】
請求項３の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記残容量最大記録層が複数あるとき、前記残容量最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項５】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記残容量取得ステップは、前記記録管理データに基づいて、さらに前記ユーザデータ領域の残容量を記録層毎に取得し、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録層毎のテスト記録領域の残容量に加えて、前記残容量取得ステップにおいて取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、前記テスト記録層を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項６】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層における前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項７】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項８】
請求項７の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記割合最大記録層が複数あるとき、前記割合最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項９】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値よりも大きい記録層のうち、前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１０】
請求項５の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記テスト記録層決定ステップは、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１１】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記条件決定ステップは、前記記録品質に加えて、前記テスト記録層と前記記録対象記録層との組み合わせを加味して、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１２】
請求項１の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記条件決定ステップは、前記テスト記録層が前記記録対象記録層と一致していない場合に、前記記録対象記録層のテスト記録領域に対して、前記テスト記録ステップにおいてテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて設定した複数種類の光出力レベルでテスト記録を行い、該テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか１項の記録条件又は再生条件の決定方法において、
前記レーザー光の光出力レベル及び光パルス幅のうちの少なくとも一方を前記記録条件として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１４】
請求項１〜１２のいずれか１項の記録条件又は再生条件の決定方法において、
ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、該イコライザ回路のカットオフ周波数、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、前記光記録媒体に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差のうちの少なくとも一つを前記再生条件として決定することを特徴とする記録条件又は再生条件の決定方法。
【請求項１５】
テスト記録領域とユーザデータ領域とをそれぞれ有する複数の記録層が形成されているとともに前記複数の記録層における記録済み領域を示す記録管理データが記録されている光記録媒体に対し、光ヘッドによるレーザー光の照射によりデータの記録及び再生を行う記録再生装置において、前記複数の記録層のうちのいずれかの記録対象記録層にユーザデータを記録する際の記録条件及び前記記録対象記録層のデータを再生する際の再生条件のうちの少なくとも一方を決定する集積回路であって、
前記記録管理データに基づいて、前記テスト記録領域の残容量を記録層毎に取得する残容量取得手段と、
前記残容量取得手段によって取得された記録層毎のテスト記録領域の残容量に基づいて、テスト記録を行う記録層をテスト記録層として決定するテスト記録層決定手段と、
前記テスト記録層決定手段によって決定されたテスト記録層のテスト記録領域に対してテスト記録が行われるように前記光ヘッドを制御するテスト記録手段と、
前記テスト記録手段によりテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定する条件決定手段とを備えたことを特徴とする集積回路。
【請求項１６】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１７】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記テスト記録領域の残容量が最も大きい記録層である残容量最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１８】
請求項１７の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記残容量最大記録層が複数あるとき、前記残容量最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項１９】
請求項１５の集積回路において、
前記残容量取得手段は、前記記録管理データに基づいて、さらに前記ユーザデータ領域の残容量を記録層毎に取得し、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録層毎のテスト記録領域の残容量に加えて、前記残容量取得手段によって取得された記録層毎のユーザデータ領域の残容量に基づいて、前記テスト記録層を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２０】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層における前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２１】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が最も大きい記録層である割合最大記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２２】
請求項２１の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記割合最大記録層が複数あるとき、前記割合最大記録層のうち前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２３】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記ユーザデータ領域の残容量に対する前記テスト記録領域の残容量の割合が所定値よりも大きい記録層のうち、前記記録対象記録層に最も近い記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２４】
請求項１９の集積回路において、
前記テスト記録層決定手段は、前記記録対象記録層のテスト記録領域の残容量が所定値より大きい場合、該記録対象記録層を前記テスト記録層として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２５】
請求項１５の集積回路において、
前記条件決定手段は、前記記録品質に加えて、前記テスト記録層と前記記録対象記録層との組み合わせを加味して、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２６】
請求項１５の集積回路において、
前記テスト記録層が前記記録対象記録層と一致していない場合に、
前記テスト記録手段が、前記テスト記録層におけるテスト記録を行った領域の記録品質に基づいて設定された複数種類の光出力レベルで、前記記録対象記録層のテスト記録領域に対してテスト記録が行われるように前記光ヘッドを制御し、
前記条件決定手段が、前記記録対象記録層における前記テスト記録手段によるテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて、前記記録条件及び前記再生条件のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２７】
請求項１５〜２６のいずれか１項の集積回路において、
前記レーザー光の光出力レベル及び光パルス幅のうちの少なくとも一方を前記記録条件として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２８】
請求項１５〜２６のいずれか１項の集積回路において、
ユーザデータの再生により得られる再生信号に対してイコライザ処理を行うイコライザ回路のブースト値、該イコライザ回路のカットオフ周波数、フォーカスオフセット、トラッキングオフセット、前記光記録媒体に照射するレーザー光を集光させる対物レンズの傾き、及び収差のうちの少なくとも一つを前記再生条件として決定することを特徴とする集積回路。
【請求項２９】
請求項１５〜２８のいずれか１項の集積回路と、
前記光ヘッドとを備え、
前記光記録媒体は光ディスクであることを特徴とする光ディスク装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
2009119019.tif 000024
【図３】
2009119019.tif 000025
【図４】
2009119019.tif 000026
【図５】
2009119019.tif 000027
【図６】
2009119019.tif 000028
【図７】
2009119019.tif 000029
【図８】
2009119019.tif 000030
【図９】
2009119019.tif 000031
【図１０】
2009119019.tif 000032
【図１１】
2009119019.tif 000033
【図１２】
2009119019.tif 000034
【図１３】
2009119019.tif 000035
【図１４】
2009119019.tif 000036
【図１５】
2009119019.tif 000037
【図１６】
2009119019.tif 000038
【図１７】
2009119019.tif 000039
【図１８】
2009119019.tif 000040
【国際調査報告】
2009119019.tif 000041
2009119019.tif 000042
2009119019.tif 000043