(57)【要約】  評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の記録周波数のＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録した後、磁気ヘッドの読出素子により記録媒体に記録された符号を磁気的に読み出す。読出符号はパーシャルレスポンス等化波形に波形等化され後、最尤検出によりパーシャルレスポンス畳込み符号が検出される。この最尤検出処理から磁気ヘッドの良否を判定するための尤度情報を生成して出力する。
2009060525.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録ステップと、
前記磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生ステップと、
前記再生ステップからの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化ステップと、
前記波形等化ステップで波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出ステップと、
前記最尤検出ステップで生成した前記尤度情報を前記磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力ステップと、
を備えたことを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項２】
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数より低い周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録した後に、入力符号に応じて所定の記録周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に重ねて記録するオーバライト記録ステップと、
前記磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生ステップと、
前記記録再生ステップからの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化ステップと、
前記波形等化ステップで波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する最尤検出ステップと、
前記最尤検出ステップからオーバーライト特性を含めて前記磁気ヘッドの良否を判定するための尤度情報を生成して出力する尤度情報出力ステップと、
を備えたことを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項３】
請求項１又は２記載の磁気ヘッド評価方法に於いて、前記波形等化ステップは、カットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波以下の範囲に設定すると共に、ブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項４】
請求項１又は２記載の磁気ヘッド評価方法に於いて、前記波形等化ステップは、ローパスフィルタのカットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波の周波数未満の範囲に設定すると共に、前記ローパスフィルタに続いて配置されたＦＩＲフィルタのタップ係数の選択によりブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項５】
請求項１又は２記載の磁気ヘッド評価方法に於いて、前記尤度情報出力ステップは、前記最尤検出ステップにおける畳込み符号の目標値（＋１），（０），（−１）の各々に対する前記読取符号のサンプル値との二乗誤差を検出し、前記二乗誤差の最小値を累積計算した値を前記尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項６】
請求項１又は２記載の磁気ヘッド評価方法に於いて、前記尤度情報生成ステップは、前記最尤検出ステップの最尤検出に用いるトレリス線図で示される現在の処理対象符号に対し先行した処理済みの２符合の組合せからなる４種のノード（００），（０１），（１０），（１１）の各々における２種の畳込み符号の目標値（０，＋１）（０，＋１）（−１，０）（−１，０）に対する前記読取信号のサンプル値との累積二乗誤差を計算し、その中で最小の累積二乗誤差と同じノードの他方の累積二乗誤差との差を計算し、前記累積二乗誤差の差が所定の閾値を超えた回数をカウントして尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項７】
請求項１又は２記載の磁気ヘッド評価方法に於いて、前記尤度情報出力ステップは、前記最尤検出ステップから生成された尤度情報とＳＮ比との相関特性を予め測定して記憶し、前記相関特性に基づき前記尤度情報をＳＮ比に変換して出力することを特徴とする磁気ヘッド評価方法。
【請求項８】
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録部と、
前記磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
前記再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
前記波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出部と、
前記最尤検出部で生成した前記尤度情報を前記磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項９】
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数より低い周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録した後に、入力符号に応じて所定の記録周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に重ねて記録するオーバライト記録部と、
前記磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
前記記録再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
前記波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する最尤検出部と、
前記最尤検出部からオーバーライト特性を含めて前記磁気ヘッドの良否を判定するための尤度情報を生成して出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１０】
請求項８又は９記載の磁気ヘッド評価装置に於いて、前記波形等化部は、カットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波以下の範囲に設定すると共に、ブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１１】
請求項８又は９記載の磁気ヘッド評価装置に於いて、前記波形等化部は、ローパスフィルタとＦＩＲフィルタを縦接続し、前記ローパスフィルタのカットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波の周波数未満の範囲に設定すると共に、前記ＦＩＲフィルタのタップ係数の選択によりブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１２】
請求項８又は９記載の磁気ヘッド評価装置に於いて、前記尤度情報生成部は、前記最尤検出部における畳込み符号の目標値（＋１），（０），（−１）の各々に対する前記読取符号のサンプル値との二乗誤差を検出し、前記二乗誤差の最小値を累積計算した値を前記尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１３】
請求項８又は９記載の磁気ヘッド評価装置に於いて、前記尤度情報生成部は、前記最尤検出部の最尤検出に用いるトレリス線図で示される現在の処理対象符号に対し先行した処理済みの２符合の組合せからなる４種のノード（００），（０１），（１０），（１１）の各々における２種の畳込み符号の目標値（０，＋１）（０，＋１）（−１，０）（−１，０）に対する前記読取信号のサンプル値との累積二乗誤差を計算し、その中で最小の累積二乗誤差と同じノードの他方の累積二乗誤差との差を計算し、前記累積二乗誤差の差が所定の閾値を超えた回数をカウントして尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１４】
請求項８又は９記載の磁気ヘッド評価装置に於いて、前記尤度情報出力部は、前記最尤検出部から生成された尤度情報とＳＮ比との相関特性を予め測定して記憶し、前記相関特性に基づき前記尤度情報をＳＮ比に変換して出力することを特徴とする磁気ヘッド評価装置。
【請求項１５】
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩ(Non Return to Zero Invert) の記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録部と、
前記磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
前記再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
前記波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出部と、
前記最尤検出部で生成した前記尤度情報を前記磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【請求項１６】
請求項１５記載の磁気ヘッド評価回路に於いて、前記波形等化部は、カットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波以下の範囲に設定すると共に、ブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【請求項１７】
請求項１５記載の磁気ヘッド評価回路に於いて、前記波形等化部は、ローパスフィルタとＦＩＲフィルタを縦接続し、前記ローパスフィルタのカットオフ周波数を前記記録周波数以上でその第３高調波の周波数未満の範囲に設定すると共に、前記ＦＩＲフィルタのタップ係数の選択によりブーストをフラット又は任意のブースト値に設定したことを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【請求項１８】
請求項１５記載の磁気ヘッド評価回路に於いて、前記尤度情報出力部は、前記最尤検出部における畳込み符号の目標値（＋１），（０），（−１）の各々に対する前記読取符号のサンプル値との二乗誤差を検出し、前記二乗誤差の最小値を累積計算した値を前記尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【請求項１９】
請求項１５記載の磁気ヘッド評価回路に於いて、前記尤度情報出力部は、前記最尤検出部の最尤検出に用いるトレリス線図で示される現在の処理対象符号に対し先行した処理済みの２符合の組合せからなる４種のノード（００），（０１），（１０），（１１）の各々における２種の畳込み符号の目標値（０，＋１）（０，＋１）（−１，０）（−１，０）に対する前記読取信号のサンプル値との累積二乗誤差を計算し、その中で最小の累積二乗誤差と同じノードの他方の累積二乗誤差との差を計算し、前記累積二乗誤差の差が所定の閾値を超えた回数をカウントして尤度情報として出力することを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【請求項２０】
請求項１５記載の磁気ヘッド評価回路に於いて、前記尤度情報出力部は、前記最尤検出部から生成された尤度情報とＳＮ比との相関特性を予め測定して記憶し、前記相関特性に基づき前記尤度情報をＳＮ比に変換して出力することを特徴とする磁気ヘッド評価回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ヘッドの特性を評価する磁気ヘッド評価方法、装置及び評価回路に関し、特に高周波記録に好適な磁気ヘッドの特性を評価する磁気ヘッド評価方法、装置及び評価回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気ディスク装置の記録密度が飛躍的に増大している。これは高感度なＭＲ（磁気抵抗効果）ヘッドに負うところが大きい。【０００３】
従来、磁気ディスク装置の製造工程にあっては、構成部品の１つとして、サスペンションの先端に磁気ヘッドを搭載したヘッドジンバルアセンブリィを準備しており、ヘッドジンバルアセンブリィの組付けに先立ち、磁気ヘッドの良否を判定する評価試験を行っている。【０００４】
この評価試験は、評価対象とするヘッドジンバルアセンブリィを試験機に装着し、試験用の磁気ディスクに対し実際にデータをリード、ライトしながらヘッド読取信号の信号レベル測定、分解能測定、オーバーライト特性測定といった各種の評価試験を行い、評価試験にパスしたヘッドジンバルアセンブリィを製造ラインに流すようにしている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、近年における磁気ディスク装置の記録密度の増大に伴い記録周波数が上昇し、これに伴いヘッドジンバルアセンブリィを試験機に装着して行う評価試験の際に、磁気ヘッドと試験機の接続長に起因する信号の劣化を招いており、磁気ヘッドの評価精度に支障を来たしている。【０００６】
また、信号レベル測定、分解能測定、オーバーライト特性測定の精度も記録周波数が高周波化したために劣化し、磁気ヘッドの良否を適確に評価できずに製造ラインに流す可能性があり、大きな問題となっている。【０００７】
本発明は、記録周波数を高周波化しても適切に磁気ヘッドの良否を判定できる測定情報を生成可能とする磁気ヘッド評価方法、装置及び評価回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（方法）
本発明は、磁気ディスク評価方法を提供する。本発明の磁気ディスク評価方法は、
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩ(Non Return to Zero Invert) の記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録ステップと、
磁気ヘッドの読出素子により記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生ステップと、
再生ステップからの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する共に尤度情報を生成する波形等化ステップと、
波形等化ステップで波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する最尤検出ステップと、
最尤検出ステップで生成した尤度情報を磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力ステップと、
を備えたことを特徴とする。【０００９】
また本発明の別の形態となる磁気ヘッド評価方法は、
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数より低い周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録した後に、入力符号に応じて所定の記録周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に重ねて記録するオーバーライト記録ステップと、
磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生ステップと、
再生ステップからの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化ステップと、
波形等化ステップで波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する最尤検出ステップと、
最尤検出回路で生成した尤度情報を磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力ステップと、
を備えたことを特徴とする。【００１０】
ここで、波形等化ステップは、カットオフ周波数を記録周波数以上でその第３高調波以下の範囲に設定すると共に、ブーストをフラット又は任意のブースト値に設定する。【００１１】
波形等化ステップは、ローパスフィルタのカットオフ周波数を記録周波数以上でその第３高調波の周波数未満の範囲に設定すると共に、ローパスフィルタに続いて配置されたＦＩＲフィルタのタップ係数の選択によりブーストをフラット又は任意のブースト値に設定する。【００１２】
尤度情報出力ステップは、最尤検出ステップにおける畳込み符号の目標値（＋１），（０），（−１）の各々に対する読取符号のサンプル値との二乗誤差を検出し、二乗誤差の最小値を累積計算した値を尤度情報として出力する。【００１３】
尤度情報出力ステップは、最尤検出ステップの最尤検出に用いるトレリス線図で示される現在の処理対象符号に対し先行した処理済みの２符合の組合せからなる４種のノード（００），（０１），（１０），（１１）の各々における２種の畳込み符号の目標値（０，＋１）（０，＋１）（−１，０）（−１，０）に対する読取信号のサンプル値との累積二乗誤差を計算し、その中で最小の累積二乗誤差と同じノードの他方の累積二乗誤差との差を計算し、累積二乗誤差の差が所定の閾値を超えた回数をカウントして尤度情報として出力する。【００１４】
尤度情報出力ステップは、最尤検出ステップから生成された尤度情報とＳＮ比との相関特性を予め測定して記憶し、相関特性に基づき尤度情報をＳＮ比に変換して出力する。
（装置）
本発明は磁気ヘッド評価装置（評価試験機）を提供する。本発明の磁気ヘッド評価装置は、
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録部と、
磁気ヘッドの読出素子により記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出部と、
最尤検出部で生成した尤度情報を磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする。【００１５】
本発明による磁気ヘッド評価装置の別の形態にあっては、
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数より低い周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録した後に、入力符号に応じて所定の記録周波数でＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に重ねて記録するオーバーライト記録部と、
磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出部と、
最尤検出部で生成した尤度情報を前記磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする。
（評価回路）
本発明は磁気ヘッド評価回路を提供する。本発明の磁気ヘッド評価回路は、
評価対象とする磁気ヘッドの記録素子に、入力符号に応じて所定の周波数のＮＲＺＩの記録電流を流して記録媒体に磁気的に記録する記録部と、
磁気ヘッドの読出素子により前記記録媒体に記録された符合を磁気的に読み出す再生部と、
記録再生部からの読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に波形等化する波形等化部と、
波形等化部で波形等化された読取符号列からパーシャルレスポンス畳込み符号を検出する共に尤度情報を生成する最尤検出部と、
最尤検出部で生成した尤度情報を磁気ヘッドの良否を判定するために出力する尤度情報出力部と、
を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、入力符号を磁気ヘッドの記録素子により磁気ディスクに所定の周波数でＮＲＺＩで記録し、磁気ヘッドの読出素子による読出符号を所定の周波数のパーシャルレスポンス等化波形に等化した後に、パーシャルレスポンスの畳込み符号を最尤検出し、この最尤検出の際に生成される尤度情報、例えば読出符号のサンプル値とパーシャルレスポンス目標値の差の累積２乗誤差を測定して出力し、累積２乗誤差が小さいほど良好な磁気ヘッドと評価することができる。【００１７】
即ち、パーシャルレスポンス最尤検出で生成される尤度情報は、磁気ヘッドからの読取符号のＳＮ比と大きな相関を持っており、磁気ディスクのトラックに符号を記録して再生するという少なくとも２回転という短時間の測定で得られた尤度情報から、間接的にＳＮ比に基づいた磁気ヘッドの良否判定が可能となる。【００１８】
また、予め尤度情報とＳＮ比との関係を測定して登録しておくことにより、尤度情報をＳＮ比に変換して評価することもできる。【００１９】
また記録周波数より低い周波数で記録した後に、記録周波数で重ねて記録し、その後に再生して尤度情報を求めることで、オーバーライト特性を含めた磁気ヘッドの良否判定を適切に行うこともできる。【００２０】
更に、磁気ヘッドの評価回路として、既存の磁気ディスク装置に使用されているパーシャルレスポンス磁気記録再生系に対応したリードチャネルとして知られた汎用の記録再生回路のＬＳＩを利用でき、低コストで済むと同時に配線による信号の劣化が少なく、高い測定精度を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明による磁気ヘッドの評価装置の実施形態を示した説明図
【図２】図１の実施形態におけるリードチャネルの詳細を示したブロック図
【図３】図２のイコライザに設定するカットオフ周波数を記録周波数の２倍のナイキスト周波数とし、ブーストをフラットとした周波数特性を示したグラフ図
【図４】図２の波形等化部に設定するカットオフ周波数を記録周波数の第３高調波とし、ブーストをフラットとした周波数特性を示したグラフ図
【図５】図２の波形等化部に設定するカットオフ周波数を記録周波数のナイキスト周波数とし、ブーストを有効とした周波数特性を示したグラフ図
【図６】波形等化された最尤検出部に対する入力波形を示した説明図
【図７】本実施形態の最尤検出部でパーシャルレスポンス畳込み符号を検出するためのトレリス線図を示した説明図
【図８】図２のリードチャネルに設けた最尤検出部の詳細を示したブロック図
【図９】本実施形態におけるパーシャルレスポンス最尤検出の処理内容を示したタイムチャート
【図１０】シンクバイトの検出による最尤検出部の動作開始を示したタイムチャート
【図１１】遅延制御による最尤検出部の動作開始を示したタイムチャート
【図１２】図８の尤度情報出力回路の実施形態を示したブロック図
【図１３】図８の尤度情報出力回路の他の実施形態を示したブロック図
【図１４】図１３のＳＮ変換テーブルによる変換特性を示したグラフ図
【図１５】図２に示した最尤検出部の他の実施形態を示したブロック図
【図１６】本実施形態による磁気ヘッド評価処理を示したフローチャート
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
図１は本発明による磁気ヘッドの評価装置の実施形態を示した説明図である。図１において、本実施形態による磁気ヘッド評価装置１０は、試験装置１１と制御装置１２で構成されている。【００２３】
試験装置１１にはスピンドルモータ１４により一定回転数で定速回転される評価試験に使用する磁気ディスク１６が配置されており、磁気ディスク１６にヘッド支持部２０のアーム先端に評価対象とする磁気ヘッド２４を取り付けたヘッドジンバルアッセンブリィ２２を装着している。【００２４】
ヘッドジンバルアッセンブリィ２２に取り付けられている評価対象となる磁気ヘッド２４は、記録素子と読出素子が一体化された複合型の磁気ヘッドである。磁気ヘッド２４の記録素子としては、水平磁気記録型の記録素子または垂直磁気記録型の記録素子が使用される。【００２５】
また磁気ヘッド２４に垂直磁気記録型の記録素子を使用している場合には、評価試験に使用する磁気ディスク１６としては記録層と磁性体下地層を備えた垂直記憶用の磁気ディスクを使用する。更に、磁気ヘッド２４の読出素子にはＧＭＲ素子やＴＭＲ素子などの磁気抵抗素子を使用している。【００２６】
また試験装置１１にはヘッドＩＣ２６が設けられ、ヘッドＩＣ２６には磁気ディスク１６の記録素子に対し記録電流を供給するライトアンプと、読出素子からの読出信号を前置増幅するプリアンプが組み込まれている。【００２７】
制御装置１２側にはＭＰＵ２８が設けられ、ＭＰＵ２８のバス３０に対し、ＲＡＭなどの揮発メモリ３２、フラッシュメモリなどの不揮発メモリ３４、モータ駆動制御部３６、コントローラ４０及びリードチャネル４２を設けている。【００２８】
本実施形態にあっては、制御装置１２のリードチャネル４２に設けているパーシャルレスポンス最尤検出（ＰＲＭＬ）の記録再生部を用いて、磁気ヘッド２４の記録素子により磁気ディスク１６に所定の記録信号をＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔ））で記録し、記録後に磁気ヘッド２４の読出素子で読み出した再生信号に対し、リードチャネル４２に設けているパーシャルレスポンス等化のためのイコライザに対しカットオフ周波数を例えば記録周波数ｆの２倍のナイキスト周波数ｆｎ（＝２ｆ）に設定すると共に、ブーストをフラットに設定した状態で波形等化した後、最尤検出部でパーシャルレスポンスの畳込み符号を検出し、この最尤検出の際に生成される尤度情報、具体的には読取信号のサンプル値とパーシャルレスポンス等化波形の目標値の差の累積二乗誤差を測定し、この測定した尤度情報に基づき、磁気ヘッド２４の良否判定を行えるようにしている。【００２９】
ＭＰＵ２８に設けた評価処理部４４は、試験装置１１に評価対象とする磁気ヘッド２４を備えたヘッドジンバルアッセンブリィ２２を装着した状態で、モータ駆動制御部３６によりスピンドルモータ１４を一定速度で回転させ、目標回転に達してレディ状態になると、例えば不揮発メモリ３４に予め保持している評価用の試験データを使用し、コントローラ４０を介してリードチャネル４２に試験データを入力し、パーシャルレスポンス最尤検出の記録再生を行って、リードチャネル４２に設けられている最尤検出部による尤度情報を測定し、測定した尤度情報を例えば揮発メモリ３２に保持した後、ホストインタフェース部３８から上位装置としてのホストに転送し、ホスト側で試験対象とした磁気ヘッド２４の良否判定を行えるようにしている。【００３０】
また本実施形態の評価処理部４４にあっては、所定の記録周波数を用いたパーシャルレスポンス最尤検出記録再生処理による尤度情報の測定以外に、オーバーライト特性を含めたヘッドの良否判定のための尤度情報の測定処理も行うようにしている。【００３１】
オーバーライト特性を含めた尤度情報の測定については、磁気ヘッド２４により磁気ディスク１６に対し所定の記録周波数ｆより低い記録周波数、例えば記録周波数ｆ／２で記録データを磁気ディスク１６に記録した後、次に、最初の記録周波数より高い所定の記録周波数ｆにより記録データを磁気ディスク１６の同じトラックに上書きするオーバーライトを行う。【００３２】
このオーバーライト後に磁気ヘッド２４の読出素子により記録データを再生し、パーシャルレスポンス最尤検出による尤度情報を測定し、これをオーバーライト特性を含めた磁気ヘッド２４の良否判定に使用する。【００３３】
図２は図１の実施形態におけるリードチャネル４２及びヘッドＩＣ２６、更に磁気ヘッド２４と記録媒体である磁気ディスク１６で構成されるパーシャルレスポンス最尤検出記録再生系を示したブロック図である。【００３４】
図２において、本実施形態のパーシャルレスポンス最尤検出記録再生系は、ヘッドＩＣ２６及びリードチャネル４２に設けられた記録系と再生系で構成される。【００３５】
まず、記録系は、ＮＲＺＩ記録部５０で構成され、所定の記録周波数ｆの記録信号である入力データ４８を、ＮＲＺＩによる記録電流の記録素子４４に対する供給で磁気ディスク１６に磁気的に記録する。【００３６】
パーシャルレスポンス最尤検出の再生系は、磁気ディスク１６に対し設けた読出素子４６、ヘッドＩＣ２６に設けたプリアンプ５２、リードチャネル４２に設けているＡＧＣ回路５４、ローパスフィルタ５５、ＡＤ変換器５６、ＶＦＯ５８、ＦＩＲフィルタ６０、最尤検出部６４及び尤度情報出力部６５で構成される。【００３７】
ここで、パーシャルレスポンス最尤検出の再生系における波形等化部として機能するイコライザ６２は、ローパスフィルタ５５とＦＩＲフィルタ６０の特性を合わせることにより、パーシャルレスポンス波形等化のためのカットオフ周波数とブーストを決めるようにしている。またローパスフィルタ５５としては、ＣＴＦ（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ  Ｔｉｍｅ  Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）を使用する。【００３８】
次に図２におけるパーシャルレスポンス最尤検出の記録再生動作を説明する。【００３９】
ＮＲＺＩ記録部５０は入力データ４８をＮＲＺＩによる記録電流に変換し、記録素子４４に記録電流を流すことで、磁気ディスク１６に入力データ４８に対応した記録信号を磁気的に記録する。この入力データ４８による記録信号の記録周波数としては、パーシャルレスポンスのナイキスト周波数の例えば１／２の周波数とする。例えばナイキスト周波数をｆｎとすると、記録周波数ｆは
ｆ＝ｆｎ／２
に設定している。【００４０】
磁気ディスク１６に記録された記録信号は、読出素子４６により読み出されて電気信号に変換され、読出信号はプリアンプ５２で増幅された後、ＡＧＣ回路５４で一定振幅となるように利得制御による増幅を行った後、ローパスフィルタ５５でカットオフ周波数を超える周波数成分を除去した後、ＡＤコンバータ５６でサンプリングされ、サンプル値がＦＩＲフィルタ６０に入力され、例えば１０タップのＦＩＲフィルタ６０を使用することで波形等化される。【００４１】
評価対象としている磁気ヘッドに設けた読出素子４６により再生された読取信号は、記録周波数ｆの正弦波にノイズが重畳された波形となる。【００４２】
イコライザ６２は、例えば図３に示すように、カットオフ周波数Ｆｃが記録周波数ｆの２倍の２ｆとなるナイキスト周波数ｆｎに設定し、且つブーストをフラットとした周波数特性９２を設定している。【００４３】
このため、イコライザ６２に入力した記録周波数ｆの正弦波にノイズが重畳された入力波形に含まれる可能性のある記録周波数の第３高調波３ｆはカットオフ周波数２ｆの帯域外であることから除去され、依然として記録周波数ｆの周波数の正弦波にノイズが重畳されたままの波形が、イコライザ６２から出力される。【００４４】
ここで図２のローパスフィルタ５５とＦＩＲフィルタ６０の間に設けた読取信号をサンプリングするＡＤコンバータ５６に対するサンプルクロックを供給するＶＦＯ５８は、ＦＩＲフィルタ６０から出力された読取信号に基づいてサンプルクロックを生成している。具体的には、ＦＩＲフィルタ６０から得られる読取信号の記録周波数ｆに対し、４倍の周波数４ｆを持つサンプリングクロックをＡＤ変換器５６に出力してサンプリングする。【００４５】
また本実施形態のイコライザ６２にあっては、図３に示したように、カットオフ周波数Ｆｃを記録周波数ｆより高く、第２高調波となる２ｆ即ちナイキスト周波数ｆｎ以下に設定しているが、これはサンプリング定理により、ナイキスト周波数以下しか波形等化が補償されないためである。【００４６】
しかしながら、このようにパーシャルレスポンスの波形等化がナイキスト周波数ｆｎ以下でしか補償されないことを考慮しても、本実施形態におけるカットオフ周波数Ｆｃとしては、図４の周波数特性９４に示すように、記録周波数ｆの第３高調波となる周波数３ｆを超えない範囲に設定してもよい。【００４７】
即ち、本実施形態におけるイコライザ６２のカットオフ周波数Ｆｃとしては、記録周波数ｆより高く、第３高調波の周波数３ｆ以下の範囲９６に設定することにより、磁気ヘッドの評価の要因となるパーシャルレスポンス再生系のＳＮ比の帯域を自由に設定することが可能となる。【００４８】
また本実施形態にあっては、図３に示したように、イコライザ６２におけるブーストをフラットな周波数特性９２としているが、図５のイコライザの周波数特性９８に示すように、ブーストをフラットとした周波数特性９２に対し、ブーストを０以上の値に設定することで、ブーストを有効とした周波数特性９８としてもよい。【００４９】
このように、イコライザにおけるブーストが有効となっても、同じイコライザ特性で評価対象とする磁気ヘッドの尤度情報を測定することで、ヘッドの良否の評価がブーストをフラットとした場合と同様に実現することができる。即ち本実施形態にあっては、イコライザとしては必ずしもブーストをフラットとしたものに限定されないことを意味する。【００５０】
図２の最尤検出部６４は、イコライザ６２から出力されたパーシャルレスポンス波形等化が施された出力波形を対象に、ノイズの重畳した記録周波数ｆの周波数の正弦波からビタビアルゴリズムによりパーシャルレスポンスクラス字IVの
（１−Ｄ）×（１＋Ｄ）
の畳み込み符号を検出する。【００５１】
図６はノイズを省略した最尤検出部６４の入力波形を示しており、ＶＦＯ５８によるクロック同期が完了したサンプリング点では、サンプル値は
（＋１，＋１，−１，−１）
として検出される。【００５２】
最尤検出部６４は、イコライザ６２の出力となるパーシャルレスポンス等化波形から畳み込まれた「＋１，０，−１」の畳込み符号をビタビアルゴリズムにより時系列的に検出するように動作する。【００５３】
図７にパーシャルレスポンスクラスIVの畳込み符号における時系列的
に可能な組合せを表すトレリス線図を示している。【００５４】
図７のトレリス線図において、左側のノード「００」、「０１」、「１０」、「１１」は、（ｎ−２）ビットから（ｎ−１）ビットの２ビットにおける４種のノードを表している。右側のノード「００」、「０１」、「１０」、「１１」は、（ｎ−１）ビットからｎビットの２ビットにおける４種のノードを表している。【００５５】
左側の４つのノードについては、（ｎ−２）ビットと（ｎ−１）ビットの２ビットに続く次のｎビットが「０」の場合には、破線で示す右側のノードの状態に移行し、「１」の場合には実線で示す右側のノードの状態に移行する。このとき取り得る電圧値を、左側の２ビットのノードの上下に「０」、「＋１」、「−１」の値として示している。即ち、ノードの上がｎビット目が「０」のときであり、下がｎビット目が「１」のときを示す。【００５６】
パーシャルレスポンスクラスIVの畳込み符号にあっては、１ビットを
３ビットに畳み込んだ拘束長＝３の符号であるため、前２ビットは前方のビットの影響を受けるが、３ビット目は影響を受けずに、そのときのサンプル値の電圧で一義的に決まる。【００５７】
例えば左側のノード「００」を例にとると、例えば（ｎ−２）ビットから（ｎ−１）ビットが「００」のとき、ｎビット目が「０」のときは電圧値は上側の「０」となり、破線のように右側のノード「００」に遷移する。一方、ｎビット目が「１」のときの電圧値は下側の「＋１」となり、実線のように右側のノード「０１」に遷移する。【００５８】
次に図７のトレリス線図を用いた最尤検出方法について説明する。最尤検出の基本原理は、図７のトレリス線図の目標とされる電圧値「＋１，０，−１」のそれぞれと、実際の波形等化が済んだサンプル電圧値、実際にはノイズにより目標電圧値よりずれているサンプル電圧値との差（誤差）を二乗して二乗誤差を求め、この二乗誤差を各ビットで累積加算して累積二乗誤差を算出する。【００５９】
この累積二乗誤差を、図７のトレリス線図で示される可能性のあるすべての組合せ、具体的には８つの組合せについて求め、それらの累積二乗誤差が最も小さい組合せ（パス）が最も確からしいものとして検出する。【００６０】
図８は図２に設けた最尤検出部６４の詳細を示したブロック図である。最尤検出部６４は、二乗誤差検出部７０、累積二乗誤差計算部７２、比較選択部７４、累積二乗誤差保持部７６、パスメモリ７８及びポストコーダ８０で構成され、更に本実施形態にあっては、尤度情報出力部８２を設けている。【００６１】
図８において、二乗誤差検出部７０は、図７のトレリス線図で目標とされる左側のノードの上下に示した８つの電圧値と、イコライザ６２から出力されたパーシャルレスポンス等化波形のサンプル値との差により、８種類の二乗誤差を検出する。【００６２】
累積二乗誤差保持部７６は、図７のトレリス線図の４種のノードに対する４種のノード累積二乗誤差が保持されている。累積二乗誤差計算部７２は、累積二乗誤差保持部７６で保持された４種のノード累積二乗誤差と、二乗誤差検出部７０から出力された８種類の二乗誤差を、それぞれノードごとに加算し、新たに８種類の分岐累積二乗誤差を計算する。【００６３】
比較選択部７４は図７のトレリス線図の右側の各ノードにおいて、破線と実線の２種の矢印で示される分岐累積二乗誤差を比較し、小さい方のデータ（ｎビット目のデータ）を確からしいとし、確からしいとしたデータと選択信号をパスメモリ７８に出力する。同時に、選択されたデータに対応する分岐累積二乗誤差を新たなそのノードのノード累積二乗誤差として累積二乗誤差保持部７６に出力して保持させる。【００６４】
パスメモリ７８は、選択されたパスを記憶する多段のレジスタで構成され、比較選択部７４からの選択データを記憶すると共に、選択信号に従い、各段のデータを図７のトレリス線図に示すようにコピーする。【００６５】
これによりトレリス線図における半数のパスが生き残り、また半数のパスが消滅し、これを繰り返すことにより最も確からしいパスのみがパスメモリ７８上に最後まで生き残り、最尤検出されたデータが得られる。パスメモリ７８で最尤検出されたデータはポストコーダ８０に入力され、（１−Ｄ）の演算が施されて、検出データとして出力される。【００６６】
図９は本実施形態におけるパーシャルレスポンス最尤検出の処理内容を示したタイムチャートである。図９（Ａ）は入力データであり、入力データは図９（Ｂ）（Ｃ）（Ｄ）に示すようにＮＲＺＩ記録される。【００６７】
図９（Ｂ）の１／（１−Ｄ）の演算は、入力データと１／（１−Ｄ）の演算結果の１つ前のデータとを排他論理和するのと等価である。図９（Ｃ）の（１−Ｄ）の演算は、１／（１−Ｄ）の演算結果を１つ遅延させて減算したものと等価である。この図９（Ｂ）（Ｃ）における１／（１−Ｄ）と（１−Ｄ）の演算は、ＮＲＺＩ回路５０に設けたフリップフロップの１段で等価的に行われる。【００６８】
図９（Ｄ）の記録電流は、「１」及び「−１」で向きが反転するように、ライトアンプが記録素子に記録電流を流して駆動することで、磁気ディスクに磁気的に記録する。【００６９】
磁気ディスクの記録信号を読み取る読取素子の出力は微分検出作用を持つことから、図９（Ｅ）に示す微分検出特性のインパルスとなり、磁気ディスクとヘッドの伝達特性により、図９（Ｆ）に示すようなインパルス応答波形がヘッド出力として得られる。【００７０】
図９（Ｇ）のイコライザは、例えば図２に示したように、アナログ回路のＣＴＦを用いたローパスフィルタ５５とＦＩＲフィルタ６０を合わせた、例えば図３に示したようなカットオフ周波数Ｆｃが記録周波数ｆの２倍の２ｆ、即ちナイキスト周波数ｆｎで、ブーストがフラットな特性を設定している。【００７１】
このためイコライザにより再生される正弦波は、ナイキスト周波数２ｆ（＝ｆｎ）の半分の周波数ｆの正弦波であり、イコライザ通過後もサンプル点の電圧は黒丸で示すように「＋１」、「−１」となり、結果的に、ナイキスト等化されたパーシャルレスポンス等化波形とすることができる。【００７２】
なお、図９（Ｇ）の等化波形については、説明の便宜上、ノイズのない波形を示しているが、実際にはノイズが重畳された波形となる。しかしながら、ノイズが重畳されてもイコライザとしての動作は基本的に変わらない。【００７３】
ここで図２の最尤検出部６４の動作を開始するためには、図１０のタイムチャートに示すように、シンクバイトの検出が必要である。図１０は最尤検出部の動作開始を示したもので、図１０（Ａ）でリードゲートをオンし、図１０（Ｂ）のリード信号に含まれるシンクバイト１００を図１０（Ｃ）で検出すると、この時点で最尤検出部６４の動作を開始する。【００７４】
シンクバイト１００は、記録周波数ｆの図６に示した理想的な等化波形と同じ目標値である「＋１，＋１，−１，−１」の繰り返し波形を得られるシンクバイトデータとすることにより、最尤検出部６４の動作を開始させることができる。【００７５】
最尤検出部６４の動作開始としては、シンクバイト以外に、図１１に示すように遅延制御によっても可能である。図１１の遅延制御は、図１０（Ａ）でリードゲートをオンした後、そのとき得られている図１０（Ｂ）のリード信号に対し、リードゲートのオンから図１１（Ｃ）に示すようにタイマを起動し、タイマによる遅延時間後に最尤検出部６４に対する動作を開始することで、同様に最尤検出部６４を起動することができる。【００７６】
最尤検出部６４にあっては、パーシャルレスポンス等化波形から畳込まれた「＋１，０，−１」の畳込み符号をビタビアルゴリズムにより時系列的に検出する。これによって、図９（Ｉ）の最尤検出に示すように、実線で示すパスが生き残り、一部破線で示すパスが消滅している。【００７７】
最尤検出された実線で示すパスのデータは図９（Ｉ）の出力データとなり、図９（Ｊ）に示すようにポストコーダ８０で（１−Ｄ）演算が施されて出力データとして出力される。【００７８】
図１２は図８の最尤検出部６４に設けた本実施形態による尤度情報出力部８２の実施形態を示したブロック図である。図１２の尤度情報出力部８２は、パーシャルレスポンス等化波形のサンプル値の目標値である「＋１，０，−１」のそれぞれについて設けられた（＋１）二乗誤差検出部８４、（０）二乗誤差検出部８６、（−１）二乗誤差検出部８８と、累積計算部１０２で構成される。【００７９】
即ち、（＋１）二乗誤差検出部８４、（０）二乗誤差検出部８６、（−１）二乗誤差検出部８８のそれぞれで、目標値の「＋１，０，−１」の目標値に対するサンプル値のそれぞれの二乗誤差を検出し、累積計算部１０２で３種の二乗誤差の中の最小値を累積計算して、これを尤度情報６８として出力する。【００８０】
このようにして得られた尤度情報６８は、例えば図１の制御装置１２に設けられた揮発メモリ３２に保持された後、ホストインタフェース部３８からホスト側に送られてホスト側に表示され、尤度情報の値が大きいほど、評価対象としているヘッドによるＳＮ比が悪いことから、ある閾値を超える尤度情報につき不良品と判断し、閾値未満であれば良品として判断することができる。【００８１】
図１３は図８の尤度情報生成部の他の実施形態を示したブロック図であり、図１２の実施形態に加え、更にＳＮ変換テーブル１０４を設けたことを特徴とする。【００８２】
図１３のＳＮ変換テーブル１０４には、例えば図１４に示すような尤度情報に対するＳＮ比の測定結果に基づく特性が設定されている。図１４において、白丸が尤度情報に対するＳＮ比の測定点であり、これらを結んだ特性直線１０６の関係をＳＮ変換テーブル１０４に登録しておくことで、累積計算部１０２から得られた尤度情報をＳＮ比に変換して出力することができる。【００８３】
図１５は図２に示した最尤検出部の他の実施形態を示したブロック図であり、尤度情報出力部として別の生成方法を使用している。図１５において、最尤検出部６２の構成は図８と同じであり、尤度情報出力部８２として、この実施形態にあっては最小累積二乗誤差選択部１０８、比較部１１０及びカウンタ１１２を設けている。【００８４】
最小累積二乗誤差選択部１０８は、累積二乗誤差計算部７２で計算された図７のトレリス線図における４つのノード「００，０１，１０，１１」に対する２個のパス「０，１」についての目標値とサンプル値の累積二乗誤差を計算して得られた８個の累積二乗誤差を入力し、８個の累積二乗誤差の中から最小の累積二乗誤差を比較選択部７４の比較結果により選択し、選択した最小の累積二乗誤差を持つノードの他方の累積二乗誤差との差を計算して比較部１１０に出力する。【００８５】
比較部１１０にあっては、最小累積二乗誤差選択部１０８から得られた値が所定の閾値ＴＨを超えた際に比較出力を生じ、この比較出力をカウンタ１１２８で計数し、カウンタ１１２の計数値を尤度情報６８として出力する。【００８６】
このため、尤度情報出力部８２から出力される尤度情報６８としてのカウンタの値は、評価対象としている磁気ヘッドの特性が良好であればカウンタ値は小さく、特性が悪い場合にはカウンタ値が大きくなり、したがって、この尤度情報としてのカウンタ値から磁気ヘッドの良否を判定することが可能となる。【００８７】
また図１５の尤度情報出力部８２についても、図１３の実施例と同様、尤度情報をＳＮ比に変換するためのＳＮ変換テーブルを設け、カウンタ１１２の値に対するＳＮ比の関係を測定して変換特性を求め、この変換特性を変換テーブルに設定しておくことで、尤度情報出力部８２から出力された尤度情報６８をＳＮ比に変換して磁気ヘッドの良否の評価に用いることができる。【００８８】
図１６は本実施形態による磁気ヘッド評価処理を示したフローチャートであり、図１の制御装置１２に設けたＭＰＵ２８のプログラムの実行により実現される機能である評価処理部４４による処理となる。【００８９】
図１６において、本実施形態の評価処理は、ステップＳ１で試験装置１１側に試験対象とする磁気ヘッド２４を備えたヘッドジンバルアッセンブリィ２２を装着して電源を投入すると、モータ駆動制御部３６によるスピンドルモータ１４の起動が行われ、一定回転に達すると、磁気ヘッド２４に対する磁気ディスク１６に対する記録再生が可能となるステップＳ２のデバイスレディが判別される。【００９０】
続いてステップＳ３で、ＶＣＭ１８によるロータリアクチュエータ２０の制御で磁気ヘッド２４を磁気ディスク１６の所定の評価トラックにシークさせる。ステップＳ４でシーク完了を判別すると、ステップＳ５で不揮発メモリ３４から揮発メモリ３２にロードした図９（Ａ）に示した入力データの内容を持つ評価データを読み出し、ハードディスクコントローラ４０、リードチャネル４２及びヘッドＩＣ２６を介して、磁気ヘッド２４の記録素子により磁気ディスク１６にＮＲＺＩによる記録をライト処理として行う。【００９１】
続いてステップＳ６で磁気ディスク１６から記録した評価データをリードし、ステップＳ７で、リードチャネル４２に設けている図２に示すパーシャルレスポンス最尤検出系において再生処理を行い、最尤検出部６４において、例えば図１２，図１３または図１５に示した尤度情報出力成部８２により、生成した尤度情報を検出して揮発メモリ３２に保存する。【００９２】
続いてステップＳ８〜Ｓ１１の処理により、オーバーライト特性を含む尤度情報の測定を行う。オーバーライト特性を含む尤度情報の測定は、まずステップＳ８で記録周波数ｆより低い周波数、例えば記録周波数ｆ／２の評価データを、磁気ディスク１６にＭＲＺＩにより記録するライト処理を行う。【００９３】
このオーバーライト特性のために最初に記録する低い周波数の評価データとしては、例えば「１０００１０００１０００１０００１０００１０００・・・」の入力データを使用する。この入力データは、図９（Ｂ）〜（Ｃ）に示した１／（１−Ｄ）演算及び（１−Ｄ）演算により、記録電流の反転周期が図９（Ｄ）の周期の２倍となり、記録周波数ｆに対し、その半分の記録周波数ｆ／２とすることができる。これは汎用のＲＤＣにおいては、直接記録機能により実施可能である。【００９４】
続いてステップＳ９で記録周波数ｆの評価データを、ステップＳ８で記録した記録周波数がｆ／２と低い評価データに対し、重ねて記録するためのライト処理を実行する。【００９５】
続いてステップＳ１０で磁気ディスクに記録した評価データをリードし、ステップＳ１１でパーシャルレスポンス最尤検出における尤度情報をオーバーライト特性を含む尤度情報として検出して保存する。【００９６】
このステップＳ８〜Ｓ１１におけるオーバーライト特性を含む尤度情報の検出にあっては、ステップＳ８で記録した周波数がｆ／２と低い評価データを、高い周波数ｆの評価データで上書きしており、低い周波数成分の消し残り評価データはノイズとみなすことができ、このノイズ成分に上書きした記録周波数ｆのデータを読み出してパーシャルレスポンス最尤検出における尤度情報を求めることで、強制的にノイズ成分を含めた記録再生に対する磁気ヘッドの性能であるオーバーライト特性を評価することが可能となる。【００９７】
オーバーライト特性を含めた尤度情報の検出処理は、ステップＳ８，Ｓ９で周波数ｆ／２の評価データに周波数ｆの評価データをＮＲＺＩにより重ね書きする以外の処理、即ち記録後のパーシャルレスポンス最尤検出の再生系の処理については、ステップＳ６の周波数ｆの評価データをリードして最尤検出する場合と同じ処理となる。【００９８】
続いてステップＳ１３で、ステップＳ７で保存した尤度情報及びステップＳ１２で保存したオーバーライト特性を含む尤度情報のそれぞれにつき、予め定めた閾値との比較により磁気ヘッドが合格品か不合格品かを判定し、合格品であればステップＳ１４で合格判定出力表示を行い、不合格品であればステップＳ１５で不合格判定出力表示を行う。【００９９】
このステップＳ１３〜Ｓ１５の磁気ヘッドの良否を決める判定処理は、図１に示したＭＰＵ２８の評価処理部４４による処理として実行してもよいし、揮発メモリ３２に保存した尤度情報を評価データとしてホストインタフェース部３８からホスト側に送って合格判定を行い、ホスト側で判定結果を表示するようにしてもよい。【０１００】
なお上記の実施形態にあっては、図１に示した試験装置１１におけるヘッドＩＣ２６、及び制御装置１２のリードチャネル４２については、既存の磁気ディスク装置に使用されているＬＳＩをそのまま使用できるが、評価試験専用のヘッドＩＣ２６及びリードチャネル４２を用いてもよいことはもちろんである。【０１０１】
また、図１６の評価処理にあっては、ステップＳ５〜Ｓ７の記録周波数ｆによる尤度情報の測定と、ステップＳ８〜Ｓ１１のオーバーライトによる尤度情報の測定とを順次行うようにしているが、いずれか一方の処理を行うようにしても良い。【０１０２】
また本発明はその目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【国際調査報告】
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2009060525.tif 000020
2009060525.tif 000021
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