(57)【要約】  本発明の光ディスク装置は、記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成し、分周クロック信号に基づいて、発光部から出力される光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを決定する。記録時の線速度が変化するときは、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整する。テスト領域においてマルチパルスでテスト発光することでレーザパワー制御を行う光ディスク装置において、高倍速においても、マルチパルス平均値の検出精度を良好に保つことができる。
2009130889.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、
前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、
前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周部と、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、
前記分周クロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部と、
を備え、
前記分周部は、記録時の線速度が変化するときは、前記分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整する、光ディスク装置。
【請求項２】
前記線速度を検出する速度検出部をさらに備え、
前記分周部は、前記検出された線速度に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記速度検出部は、前記情報担体上のアドレスに基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記速度検出部は、前記情報担体上のトラックのウォブル周波数に基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記速度検出部は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記分周部は、前記記録クロック信号に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記分周部は、前記分周クロック信号に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記分周部は、ＣＬＶ方式で記録を行う場合は、前記分周クロック信号の周波数を一定にする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記分周部は、ＣＡＶ方式で記録を行う場合は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に応じて分周比を変えることで、前記分周クロック信号の周波数を所定の周波数範囲内にする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記電流調整部は、
前記発光部が出力した前記光ビームのパワーを検出して、パワー検出信号を生成する光量検出部と、
前記パワー検出信号を異なるタイミングでサンプルすることで、複数のレベルの信号を検出するサンプルホールド部と、
前記サンプルホールド部の出力信号に基づいて、前記光ビームの複数のパワーを計算するパワー演算部と、
前記計算した複数のパワーに基づいて、前記発光部に与える前記電流を計算する電流演算部と、
を備え、
前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高いパワー値以外のパワー値に基づいて、前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する非検出方式を有しており、
前記電流演算部は、基準線速度以外では、前記非検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、前記最も高いパワーに対応した電流を計算する検出方式を有しており、
前記電流演算部は、前記基準線速度では、前記検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する、請求項１０に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記電流演算部は、前記情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とする、請求項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記電流演算部は、ＣＡＶ方式で記録を行うときは、前記情報担体の最内周部における線速度を基準線速度とする、請求項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記分周部は、マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさに基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記分周部は、前記電流調整部が検出可能な光ビームのパルスの周波数帯域に基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、
前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、
テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成部と、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、
前記テストクロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部と、
を備え、
前記テストクロック生成部は、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成する、光ディスク装置。
【請求項１７】
前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターン中のマルチパルス部分の始端および終端の少なくとも一方をマスクする、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記サンプルホールド部は、前記テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクする、請求項１７に記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターンの始端および終端はマルチパルスとしない、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、
前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周ステップと、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、
前記分周クロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップと、
を包含し、
前記分周ステップは、記録時の線速度が変化するときは、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整するステップを含む、レーザパワー制御方法。
【請求項２５】
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、
テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成ステップと、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、
前記テストクロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップと、
を包含し、
前記テストクロック生成ステップは、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成するステップを含む、レーザパワー制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光源をテスト発光させることによりレーザパワーの制御ずれを補正して、データを記録する光ディスク装置およびレーザパワー制御方法に関する。より具体的には、本発明は、高倍速におけるレーザ光のピークパワーの制御精度を向上させる。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置では、データを再生する場合、比較的弱い一定の光量の光ビームを情報担体である光ディスク上に照射し、光ディスクによって強弱に変調された反射光を検出して再生を行う。また、データの記録では、記録する信号に応じて光ビームの光量を強弱に変調して、光ディスク上の記録材料膜にデータを書き込む。再生専用の光ディスクでは、ピットによる情報があらかじめスパイラル状に記録されている。また、追記または書き換えが可能な光ディスクは、スパイラル状の凹凸構造のトラックを有する基材表面に、光学的に記録および再生可能な材料膜を蒸着等の手法で形成して作製される。【０００３】
光ディスクに記録マークを形成するために、一般にレーザ光源が用いられている。良好な記録マークを形成するためには、レーザ光源を所定の波形で発光させる必要がある。記録スペースの形成には、レーザ光源を一定パワーで所定時間にわたって連続発光させる。安定した記録性能を確保するためには、これらのレーザ光源のパワーを正確に制御する必要がある。しかしレーザ光源のパワー特性は周囲温度などに大きく左右される。したがって、記録前に一旦パワー設定して一定の駆動電流を供給したとしても、パワーは一定に保たれる事はなく、レーザ光源の本体または周囲機器の温度上昇によってパワーの変動が発生する。【０００４】
従来技術における光ディスク装置の動作について図１２、図１３、図１４および図１５を参照して説明する。【０００５】
図１２に記録時のレーザ光源の発光波形の一例を示す。図１３（ａ）はＤＶＤ−ＲＡＭにおけるテスト領域の配置を示し、図１３（ｂ）はＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）におけるテスト領域の配置を示す。図１４（ａ）はレーザ光源の発光パターンのうちのマルチパルスを含まないテスト発光パターンの一例を示し、図１４（ｂ）はマルチパルスを含むテスト発光パターンの一例を示す。【０００６】
図１５（ａ）は４ｘ時のテスト発光パターンの一例を示している。ここで、Ｍｘとは光ディスクにアクセスする速度がＭ倍速であることを指している。図１５（ｂ）は５ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｃ）は６ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｄ）は７ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｅ）は８ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す。【０００７】
記録する際のレーザ発光波形は、複数のパワーを組み合わせて形成される（例えば、特許文献１を参照）。図１２は、記録する際のレーザ発光波形を示す。スペース部分ではスペースパワー１２０ｓで発光し、マーク部分ではピークパワー１２０ｐとマークパワー１２０ｍとクールパワー１２０ｃを組み合わせて発光する。記録時におけるレーザパワー制御は、上記すべてのパワーに対して行われる。【０００８】
パワー変動の回避の方法としては、一定期間ごとのパワー較正が有効である。例えば、図１３（ａ）に示すようなセクタ構造を有する光ディスクフォーマットにおいては、１セクタに１回、レーザパワーを補正するためのテスト領域が設けられている。この場合、光ビームの焦点がテスト領域を通過するごとに、このテスト領域においてテスト発光によるレーザパワー制御を行なうことによってパワー変動を回避できる。【０００９】
テスト領域を持たない光ディスクフォーマットにおいては、レーザパワー制御はデータ記録を行うデータ領域で行う必要がある。その際、発光時間の短いピークパワーやクールパワーは、特に線速度が高い場合では検出困難であり、制御誤差が増える傾向にある。【００１０】
以下、線速度については規格の標準線速度に対する倍速で表記する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００７―２８０４９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
光ディスクフォーマットによって、図１３（ａ）に示すようにテスト領域が半径方向にそろっている場合と図１３（ｂ）に示すようにテスト領域が半径方向にそろっていない場合がある。【００１３】
テスト領域が半径方向にそろっていない場合、高いパワーで長時間発光させると、隣接するトラックのデータに悪影響を及ぼし、その結果、データの破壊につながる可能性がある。図１４では、左側にテスト領域におけるレーザ発光波形を示し、右側にデータ領域におけるレーザ発光波形を示す。図１４（ａ）に示すように、テスト領域においてピークパワーでデータ発光波形よりも長く発光させると、上記のような懸念事項が発生するため、図１４（ｂ）に示すように、テスト領域におけるピークパワー部分をマルチパルスにする。こうすることで、隣接トラックに与える熱量を低減してデータの破壊を抑制できる。【００１４】
図１４（ｂ）に示すようにテスト領域におけるピークパワー部分をマルチパルスにすると、記録倍速が変化した場合にマルチパルスの周波数が変化する。図１５（ａ）に示す４ｘ時のマルチパルス周波数に対して、図１５（ｂ）、図１５（ｃ）、図１５（ｄ）、図１５（ｅ）と倍速が高くなるに従い、テスト領域を通過する時間が短くなり、それに伴いマルチパルスの周波数は高くなる。【００１５】
テスト発光でのマルチパルスを平均値検出することでレーザパワー制御を行う場合、マルチパルスの周波数変化に起因する光検出デバイスの周波数ひずみの影響を受けることで平均値検出値が真値に対して誤差を持つ。上記誤差によってピークパワー誤差が生じる。【００１６】
光検出デバイスが差動出力形態である場合、伝送ノイズに強い利点があるが、差動チャネル毎の周波数特性差によって、マルチパルスの平均値検出値の誤差は大きくなる。【００１７】
光ディスクにおいて、最終的な最高倍速はＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式での速度となる。ＣＡＶ方式では、内周から外周に向かって少しずつ倍速が高くなる。マルチパルスの周波数も少しずつ高くなり、半径位置によってレーザパワー制御の誤差が悪化することになる。【００１８】
本発明は上述した課題を解決するためになされたものであり、高倍速における光ビームのピークパワーの制御精度を向上させる。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の光ディスク装置は、情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周部と、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、前記分周クロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部とを備え、前記分周部は、記録時の線速度が変化するときは、前記分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整することを特徴とする。【００２０】
ある実施形態によれば、前記線速度を検出する速度検出部をさらに備え、前記分周部は、前記検出された線速度に基づいて前記分周比を調整する。【００２１】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記情報担体上のアドレスに基づいて、前記線速度を検出する。【００２２】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記情報担体上のトラックのウォブル周波数に基づいて、前記線速度を検出する。【００２３】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に基づいて、前記線速度を検出する。【００２４】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記記録クロック信号に基づいて前記分周比を調整する。【００２５】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記分周クロック信号に基づいて前記分周比を調整する。【００２６】
ある実施形態によれば、前記分周部は、ＣＬＶ方式で記録を行う場合は、前記分周クロック信号の周波数を一定にする。【００２７】
ある実施形態によれば、前記分周部は、ＣＡＶ方式で記録を行う場合は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に応じて分周比を変えることで、前記分周クロック信号の周波数を所定の周波数範囲内にする。【００２８】
ある実施形態によれば、前記電流調整部は、前記発光部が出力した前記光ビームのパワーを検出して、パワー検出信号を生成する光量検出部と、前記パワー検出信号を異なるタイミングでサンプルすることで、複数のレベルの信号を検出するサンプルホールド部と、前記サンプルホールド部の出力信号に基づいて、前記光ビームの複数のパワーを計算するパワー演算部と、前記計算した複数のパワーに基づいて、前記発光部に与える前記電流を計算する電流演算部とを備え、前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高いパワー値以外のパワー値に基づいて、前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する非検出方式を有しており、前記電流演算部は、基準線速度以外では、前記非検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する。【００２９】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、前記最も高いパワーに対応した電流を計算する検出方式を有しており、前記電流演算部は、前記基準線速度では、前記検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する。【００３０】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、前記情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とする。【００３１】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、ＣＡＶ方式で記録を行うときは、前記情報担体の最内周部における線速度を基準線速度とする。【００３２】
ある実施形態によれば、前記分周部は、マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさに基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する。【００３３】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記電流調整部が検出可能な光ビームのパルスの周波数帯域に基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する。【００３４】
本発明の光ディスク装置は、情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成部と、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、前記テストクロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部とを備え、前記テストクロック生成部は、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成することを特徴とする。【００３５】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターン中のマルチパルス部分の始端および終端の少なくとも一方をマスクする。【００３６】
ある実施形態によれば、前記サンプルホールド部は、前記テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクする。【００３７】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターンの始端および終端はマルチパルスとしない。【００３８】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる。【００３９】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる。【００４０】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める。【００４１】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める。【００４２】
本発明のレーザパワー制御方法は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周ステップと、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、前記分周クロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップとを包含し、前記分周ステップは、記録時の線速度が変化するときは、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整するステップを含むことを特徴とする。【００４３】
本発明のレーザパワー制御方法は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成ステップと、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、前記テストクロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップとを包含し、前記テストクロック生成ステップは、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成するステップを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００４４】
本発明の請求項１に係る光ディスク装置では、記録線速度によらず、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を求めるので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。【００４５】
さらに、本発明の請求項２に係る光ディスク装置では、倍速検出部は記録時の線速度を検出し、分周部は倍速検出部からの検出線速度に基づいて分周比を求めるので、簡易な構成でテスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。【００４６】
さらに、本発明の請求項３に係る光ディスク装置では、倍速検出部は情報担体上のアドレスを検出して、アドレスを用いて線速度を検出するので、回転数が整定した状態で確実に何倍速かを検出することができる。【００４７】
さらに、本発明の請求項４に係る光ディスク装置では、倍速検出部は情報担体上のトラックのウォブルを検出して、ウォブルの周波数を用いて線速度を検出するので、回転数が過渡状態であっても何倍速かを検出することができる。【００４８】
さらに、本発明の請求項５に係る光ディスク装置では、倍速検出部は光ビームが照射された情報担体上の半径位置を検出して、半径位置を用いて線速度を検出するので、回転数が整定した状態であればアドレスが読めない状態であっても何倍速かを検出することができる。【００４９】
さらに、本発明の請求項６に係る光ディスク装置では、分周部は記録クロック生成部からの記録クロック信号に基づいて分周比を求めるので、テスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。【００５０】
さらに、本発明の請求項７に係る光ディスク装置では、分周部は分周部からの分周クロック信号に基づいて分周比を求めるので、テスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。【００５１】
さらに、本発明の請求項８に係る光ディスク装置では、分周部はＣＬＶで記録する場合は、線速度によらず分周クロック信号の周波数を一定にするので、ＣＬＶ時のピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５２】
さらに、本発明の請求項９に係る光ディスク装置では、分周部はＣＡＶで記録する場合は、半径位置によって分周比を変えることで分周クロック信号の周波数を所定周波数範囲にするので、ＣＡＶ時のピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５３】
さらに、本発明の請求項１０に係る光ディスク装置では、電流演算部はパワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いず、最も高いパワー値以外のパワー値に対応した電流に基づいて、最も高いパワー値に対応した電流を求める非検出方式を有しており、基準線速度以外では非検出方式を用いるので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５４】
さらに、本発明の請求項１１に係る光ディスク装置では、電流演算部はパワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、最も高いパワー値に対応した電流を求める検出方式を有しており、基準線速度ではその検出方式を用いるので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５５】
さらに、本発明の請求項１２に係る光ディスク装置では、電流演算部は情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とするので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５６】
さらに、本発明の請求項１３に係る光ディスク装置では、電流演算部はＣＡＶで記録する際の最内周部における線速度を基準線速度とするので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。【００５７】
さらに、本発明の請求項１４に係る光ディスク装置では、分周部はマルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさから所定周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減するためのテスト発光のマルチパルス周波数を決めることができる。【００５８】
さらに、本発明の請求項１５に係る光ディスク装置では、分周部は、光量検出部の検出可能帯域から所定周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減するためのテスト発光のマルチパルス周波数を決めることができる。【００５９】
また、本発明の請求項１６に係る光ディスク装置では、テストクロック生成部は、生成するテストクロック信号を記録線速度によらず一定周波数とするので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。【００６０】
さらに、本発明の請求項１７に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、テスト発光パターンとデータ記録発光パターンとの切り替え部分において、テスト発光パターン内のマルチパルスのデューティが変化しないように、マルチパルス部分の始端あるいは終端の少なくとも一方をマスクするので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。【００６１】
さらに、本発明の請求項１８に係る光ディスク装置では、サンプルホールド部は、テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクするので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。【００６２】
さらに、本発明の請求項１９に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部はテスト発光パターンの始端および終端ではマルチパルスとしないので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。【００６３】
さらに、本発明の請求項２０および２１に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、線速度が高い場合はテスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させるので、マルチパルス平均値を取得するためのＬＰＦ帯域を変えることなく高い倍速に対応することができる。【００６４】
さらに、本発明の請求項２２および２３に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、データ記録発光パターン内にマルチパルスがない場合でも、テスト発光パターン内にマルチパルスを含めるので、ストラテジに依存しない安定したレーザパワー制御を行うことができる。【００６５】
また、本発明の請求項２４に係るレーザパワー制御方法では、記録線速度によらず、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を求めるので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。【００６６】
また、本発明の請求項２５に係るレーザパワー制御方法では、記録線速度によらず、一定周波数のテストクロック信号を生成するので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の実施形態１における光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態１におけるパワー演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図３】本発明の実施形態１における電流演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図４】（ａ）は、本発明の実施形態１におけるＺＣＬＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１におけるＰＣＡＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図である。
【図５】（ａ）は、本発明の実施形態１における記録クロック信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１における分周クロック信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態１におけるテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図６】（ａ）は、本発明の実施形態１における４ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１における５ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態１における６ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態１における７ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｅ）は、本発明の実施形態１における８ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図７】本発明の実施形態２における電流演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図８】（ａ）は、本発明の実施形態２におけるＰＣＡＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図であり、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）は、本発明の実施形態２における半径位置に応じて制御セレクタが選択する制御の一例をそれぞれ示す図である。
【図９】本発明の実施形態３における光ディスク装置を示す図である。
【図１０】（ａ）は、本発明の実施形態３における記録クロック信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態３におけるテストクロック信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態３におけるテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態３におけるテストパターン演算部からサンプル信号生成部へ出力されるマスク信号の一例を示す図である。
【図１１】（ａ）は、本発明の実施形態３における４ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態３における５ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態３における６ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態３における７ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｅ）は、本発明の実施形態３における８ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図１２】記録時のレーザ光源の発光波形の一例を示す図である。
【図１３】（ａ）は、ＤＶＤ−ＲＡＭにおけるテスト領域の配置を示す図であり、（ｂ）は、ＢＤにおけるテスト領域の配置を示す図である。
【図１４】（ａ）は、マルチパルスを含まないテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｂ）は、マルチパルスを含むテスト発光パターンの一例を示す図である。
【図１５】（ａ）は、４ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｂ）は、５ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｃ）は、６ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｄ）は、７ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｅ）は、８ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００６８】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。
【００６９】
（実施形態１）
本発明の実施形態１による光ディスク装置１００の動作について図１、図２、図３、図４、図５および図６を参照して説明する。
【００７０】
図１は、光ディスク装置１００が備える構成要素を示すブロック図である。図２は、パワー演算部１１の詳細ブロック構成の一例を示す図である。図３は、電流演算部１２の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【００７１】
図４（ａ）は、ＺＣＬＶ（Ｚｏｎｅ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）時の半径位置に対する倍速の一例を示している。図４（ｂ）は、ＰＣＡＶ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）時の半径位置に対する倍速の一例を示している。
【００７２】
ＺＣＬＶ方式は、ディスクの半径方向に沿って複数のＣＬＶ方式が存在する方式である。ＰＣＡＶ方式は、ディスク内周側ではＣＡＶ方式となり、外周側ではＣＬＶ方式となる方式である。ＣＬＶ方式およびＣＡＶ方式の少なくとも一方を組み合わせた方式の例として、ＺＣＬＶ方式およびＰＣＡＶ方式がある。
【００７３】
図５（ａ）は、記録クロック生成部４１から出力される記録クロック信号の一例を示している。図５（ｂ）は、分周部５０から出力される分周クロック信号の一例を示している。図５（ｃ）は、テストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【００７４】
図６（ａ）は、４ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｂ）は、５ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｃ）は、６ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｄ）は、７ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｅ）は、８ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【００７５】
図１、図２および図３を参照して、レーザ光源１は光ビームを出力する発光部であり、例えば半導体発光素子である。レーザ光源１から出力された光ビームは、光学系を介して情報担体である光ディスクに照射され、情報の記録再生が行われる。電流調整部３は、レーザ光源１から出力された光ビームを受光し、光ビームの光量を検出して、レーザ光源１に与える電流を計算する。電流調整部３は、光量検出部２、サンプルホールド部１０、パワー演算部１１、電流演算部１２、サンプル信号生成部１４を備える。光量検出部２はレーザ光源１が出力した光ビームのパワーを検出してパワー検出信号を出力する。サンプルホールド部１０およびサンプル信号生成部１４により、パワー検出信号は異なるタイミングでサンプルされ複数のレベルの信号が検出される。
【００７６】
パワー演算部１１は、サンプルホールド部１０の出力信号に基づいて、光ビームの複数のパワーを計算する。図２に示すように、パワー演算部１１は、ピーク演算部６０、ピークパワー換算部６１、マークパワー換算部６２、スペースパワー換算部６３およびクールパワー換算部６４を備える。
【００７７】
電流演算部１２は、パワー演算部１１が計算した複数のパワーに基づいて、レーザ光源１に与える電流を計算する。図３に示すように、電流演算部１２は、ピーク目標生成部７０、マーク目標生成部７１、スペース目標生成部７２、クール目標生成部７３、ピーク電流積分部７４、マーク電流積分部７５、スペース電流積分部７６およびクール電流積分部７７を備える。
【００７８】
パターンセレクタ２５およびレーザドライバ１３は、データ記録発光パターンおよびテスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、電流演算部１２が計算した電流値とに基づいて、レーザ光源１に電流を与える電流出力部として機能する。
【００７９】
記録データ生成部２０および記録パターン演算部２１は、記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを計算して設定する。テストデータ生成部２２およびテストパターン演算部２３は、分周クロック信号に基づいて、レーザ光源１から出力される光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを計算して設定する。
【００８０】
アドレス検出部３０および倍速検出部４０は、光ディスクへのアクセス時の線速度を検出する速度検出部として機能する。記録クロック生成部４１は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する。周波数領域指定部４３、分周設定部４４および分周部５０により、記録クロック信号が分周されて分周クロック信号が生成される。
【００８１】
図１において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じたパワー検出信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１４は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１４からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２は、パワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワー値に基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【００８２】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１および分周設定部４４へ送る。
【００８３】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成し分周部５０およびテストパターン演算部２３および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【００８４】
周波数領域指定部４３は、光量検出部２が検出できる光ビームのパルスの周波数帯域に基づいた周波数範囲を分周設定部４４へ送る。光量検出部２の検出可能帯域から周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減することが可能なマルチパルス周波数を決めることができる。
【００８５】
分周設定部４４は倍速検出部４０が検出した倍速に基づいて記録クロック信号の周波数を推定し、推定されたクロックの周波数が周波数領域指定部４３からの周波数範囲に入るような分周比を演算し分周部５０へ送る。分周部５０は分周設定部４４からの分周比を用いて、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号を分周しテストパターン演算部２３へ送る。
【００８６】
テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２３へ送る。テストパターン演算部２３はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２３は、テスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、分周部５０からの分周クロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【００８７】
パターンセレクタ２５は、光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２３からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【００８８】
図２において、サンプルホールド部１０からの各ホールド信号のうちマルチパルス部を除く３値の信号については、それぞれマークパワー換算部６２、スペースパワー換算部６３およびクールパワー換算部６４によって信号レベルから光ビーム発光パワーレベルへ換算される。マルチパルスの平均値をホールドした信号については、マルチパルスがピークパワーとスペースパワーから生成されている場合、ピーク演算部６０はマルチパルスの平均値をホールドした信号およびスペースパワーに相当する信号に基づいて、マルチパルスのピークレベルに相当する信号を演算しピークパワー換算部６１へ送る。ピークパワー換算部６１はピーク演算部６０からの信号を信号レベルから光ビーム発光パワーレベルへ換算する。
【００８９】
図３に示す電流演算部１２において、パワー演算部１１が演算したピークパワー検出値から、ピーク目標生成部７０が生成するピークパワー目標値を減算しピーク電流積分部７４へ送る。ピーク電流積分部７４は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したマークパワー検出値から、マーク目標生成部７１が生成するマークパワー目標値を減算しマーク電流積分部７５へ送る。マーク電流積分部７５は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したスペースパワー検出値から、スペース目標生成部７２が生成するスペースパワー目標値を減算しスペース電流積分部７６へ送る。スペース電流積分部７６は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したクールパワー検出値から、クール目標生成部７３が生成するクールパワー目標値を減算しクール電流積分部７７へ送る。クール電流積分部７７は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。
【００９０】
ピークパワー、マークパワー、スペースパワーおよびクールパワーがそれぞれサンプルホールド部１０によって検出され、パワー演算部１１によってパワーレベル（パワー値）を演算した後、電流演算部１２によって各目標パワーになるようにレーザ光源１に与えられる電流が求められる。
【００９１】
図４（ａ）に示すようにＺＣＬＶで記録を行う場合、ディスク内周側の倍速４ｘの領域では分周比２を選択し、ディスク中周の倍速６ｘの領域では分周比３を選択し、ディスク外周側の倍速８ｘの領域では分周比４を選択することで、各倍速における分周部５０からの分周クロック周波数は常に一定となる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度は保たれたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９２】
図４（ｂ）に示すようにＰＣＡＶで記録を行う場合、ディスク内周側の倍速４ｘに近い領域では分周比２を選択し、ディスク中周の倍速６ｘに近い領域では分周比３を選択し、ディスク外周側の倍速８ｘに近い領域では分周比４を選択することで、各倍速における分周部５０からの分周クロック周波数の変化範囲を小さくできる。このように、記録時の線速度が変化するときは、分周部５０が、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整することで、マルチパルスの平均値検出精度の劣化を最小限に留めたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９３】
図５にテストパターン演算部２３の動作の一例を示す。テストデータ生成部２２からはクールレベル、スペースレベル、マークレベル、ピークレベルの順に送る。テストパターン演算部２３は、図５（ａ）に示す記録クロック生成部４１からの記録クロックをカウントして、発光パターンを等間隔に切り替える。テストパターン演算部２３は、図５（ｃ）に示すようにピークレベル６ｐの部分では、ピークレベル６ｐとスペースレベル６ｓとを組み合わせてマルチパルス５を生成する。テストパターン演算部２３は、マルチパルス５を生成する際に図５（ｂ）に示す分周部５０からの分周クロック信号を用いる。
【００９４】
図６に、４ｘから８ｘまでの各倍速におけるテスト発光パターンを示す。分周部５０の分周比が切り替わることで、図６（ａ）、図６（ｃ）および図６（ｅ）に示すように４ｘ、６ｘおよび８ｘにおけるマルチパルス周波数は同じとなる。また、図６（ｂ）および図６（ｄ）に示すように５ｘおよび７ｘにおいても、図１５と比較してマルチパルス周波数の変化範囲は狭くできる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度の劣化を最小限に留めたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９５】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号をテスト領域専用に分周部５０によって分周することで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を低減し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を低減することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を低減することができる。
【００９６】
尚、本実施形態１では、アドレスから倍速を検出したが、光ディスクのトラックのウォブルを検出し、倍速検出部４０は、ウォブル周波数を用いて線速度および倍速を検出してもよい。あるいは光ビームが照射された光ディスクの半径位置を検出して、倍速検出部４０は、その検出した半径位置を用いて線速度および倍速を検出してもよい。半径位置は、例えば光ピックアップの位置から検出することができる。
【００９７】
また、本実施形態１では、倍速に応じて分周部５０の分周比を求めるとしたが、分周比入力の周波数から分周比を求めてもよい。あるいは分周比出力の周波数から分周比を求めてもよい。具体的には、分周部５０の入力信号の周波数を計測し、分周部５０の出力信号が、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲に入るための分周比を求めて、フィードフォワード式に補正してもよい。またあるいは、分周部５０の出力信号自体の周波数を計測し、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲に入るように分周比を求めて、フィードバック式に補正してもよい。このように、分周部５０は、分周クロック信号に基づいて分周比を調整してもよい。
【００９８】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【００９９】
また、本実施形態１では、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲は、光量検出部２の周波数特性から決定するとしたが、マルチパルス平均値検出誤差特性から決定してもよい。レーザ発光部１やレーザドライバ１３の周波数特性によっては、高い周波数になるとマルチパルスの波形が歪むことがある。デューティ５０％のマルチパルスである場合、ピークパワーとボトムパワーの平均値を検出すべきであるが、発生した歪みによって検出値がピークパワー側やボトムパワー側に寄り、検出誤差になる。マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさを考慮して、分周クロック信号の周波数範囲を計算し、周波数範囲を規定することでこうした検出誤差を防ぐことができる。
【０１００】
また、本実施形態１では、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作としたが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作方式に適用してもよい。
【０１０１】
また、本実施形態１では、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１０２】
また、本実施形態１では、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１０３】
また、本実施形態１では、倍速変化による記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【０１０４】
（実施形態２）
本発明の実施形態２である光ディスク装置１００の動作について図１、図７および図８を参照して説明する。図７は、本実施形態の電流演算部１２の詳細ブロック構成の一例を示す図である。図８（ａ）は、ＣＡＶ時の光ディスク１０１の半径位置に対する倍速の一例を示し、図８（ｂ）、図８（ｃ）および図８（ｄ）は、光ディスク１０１の半径位置に対して制御セレクタ８０が選択する制御の一例を示す。光ディスク１０１には、光ディスク装置１００のレーザ光源１から出力された光ビームが照射され、情報の記録再生が行われる。
【０１０５】
図７において、電流演算部１２は、ピーク目標生成部７０、マーク目標生成部７１、スペース目標生成部７２、クール目標生成部７３、ピーク電流積分部７４、マーク電流積分部７５、スペース電流積分部７６、クール電流積分部７７、比例保持部７８、比例演算部７９および制御セレクタ８０を備える。
【０１０６】
図１において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じた信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１４は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１４からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２はパワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワーに基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【０１０７】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１および分周設定部４４へ送る。
【０１０８】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成し分周部５０およびテストパターン演算部２３および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【０１０９】
周波数領域指定部４３は、光量検出部２が検出できる光ビームのパルスの周波数帯域に基づいた周波数範囲を分周設定部４４へ送る。分周設定部４４は倍速検出部４０が検出した倍速に基づいて記録クロック信号の周波数を推定し、推定されたクロックの周波数が周波数領域指定部４３からの周波数範囲に入るような分周比を演算し分周部５０へ送る。分周部５０は分周設定部４４からの分周比を用いて、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号を分周しテストパターン演算部２３へ送る。
【０１１０】
テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２３へ送る。テストパターン演算部２３はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２３は、テスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、分周部５０からの分周クロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【０１１１】
パターンセレクタ２５は、光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２３からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【０１１２】
図７に示す電流演算部１２において、パワー演算部１１が演算したピークパワー検出値から、ピーク目標生成部７０が生成するピークパワー目標値を減算しピーク電流積分部７４へ送る。ピーク電流積分部７４は減算された値を積分し、制御セレクタ８０および比例保持部７８へ送る。パワー演算部１１が出力したマークパワー検出値から、マーク目標生成部７１が生成するマークパワー目標値を減算しマーク電流積分部７５へ送る。マーク電流積分部７５は減算された値を積分し比例保持部７８、比例演算部７９およびレーザドライバ１３へ送る。
【０１１３】
パワー演算部１１が出力したスペースパワー検出値から、スペース目標生成部７２が生成するスペースパワー目標値を減算しスペース電流積分部７６へ送る。スペース電流積分部７６は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したクールパワー検出値から、クール目標生成部７３が生成するクールパワー目標値を減算しクール電流積分部７７へ送る。クール電流積分部７７は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。
【０１１４】
比例保持部７８は、ピーク電流積分部７４からの積分値とマーク電流積分からの積分値の比を演算して保持し、比例演算部７９へ送る。比例演算部７９はマーク電流積分部７５からの積分値に対して、比例保持部７８からの比を乗じた比演算値を制御セレクタ８０へ送る。制御セレクタ８０はピーク電流積分部７４からの積分値あるいは比例演算部７９からの比演算値を選択してレーザドライバ１３へ送る。
【０１１５】
図７に示す電流演算部１２が実行するレーザパワー制御方法は２通りある。第一の方法であるフィードバック制御方式（以下ＦＢ制御方式と称する）では、ピークパワー、マークパワー、スペースパワーおよびクールパワーがそれぞれサンプルホールド部１０によって検出され、パワー演算部１１によってパワー値を演算した後、電流演算部１２によって各目標パワーになるようにレーザ光源１に与えられる電流が求められる。
【０１１６】
第二の方法であるフィードフォワード制御方式（以下ＦＦ制御方式と称する）では、マークパワー、スペースパワー、クールパワーのレーザパワー制御はＦＢ制御方式と同じであるが、ピークパワーについては検出されたピークパワー検出値を用いず、マーク電流との比が一定になるようにピーク電流を求める非検出方式となる。
【０１１７】
ＦＢ制御方式では検出されたパワーが信頼できれば確実な制御となるが、検出ばらつきの影響をうけてレーザパワー制御精度が悪化しやすい傾向が有る。ＦＦ制御方式では検出されたパワーの信頼度によらず安定しているが、レーザ光源１のＩＬ特性折れ曲がりなど、比の精度がレーザパワー制御精度に直結する。
【０１１８】
図８は、ＰＣＡＶ記録を行う場合のＦＦ制御方式とＦＢ制御方式の選択の仕方を示している。実施形態１で説明したように分周部５０の分周比によって４ｘ、６ｘおよび８ｘではマルチパルス周波数を一定にすることができる。図８（ｂ）に示すように、上記倍速（４ｘ、６ｘおよび８ｘ）近傍においてはＦＢ制御方式を選択し、それ以外の倍速ではＦＦ制御方式を選択する。これにより、ＦＢ制御方式選択時のマルチパルス周波数によるレーザパワー制御精度悪化を抑制することができる。また、ＦＦ制御方式選択時に用いる比例保持部７８の比をＦＢ制御方式選択時の電流から求めておくことで、ＦＦ制御方式選択時の比精度悪化によるレーザパワー制御精度悪化を抑制することができる。
【０１１９】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号をテスト領域専用に分周部５０によって分周することで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を低減し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を低減することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を低減することができる。マルチパルス平均値の周波数が微妙にずれている倍速においては、ピークパワー検出値を用いずに、ピーク電流とマーク電流の比を一定に保つことで、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化をさらに低減することができる。
【０１２０】
尚、本実施形態２では、光ディスクの規格で定義された線速度（倍速度：４ｘ、６ｘ、８ｘ）近傍でＦＢ制御方式を選択したが、ディスク最内周部における倍速近傍でのみＦＢ制御方式としてもよい。あるいは最内周部および最外周部の倍速近傍でのみＦＢ制御方式としてもよい。また、電流演算部１２は、ＣＡＶ方式で記録する際は、光ディスクの最内周部における線速度を基準線速度としてもよい。これにより、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【０１２１】
また、本実施形態２では、光ディスクの規格で定義された倍速近傍でＦＢ制御方式を選択した。近傍とは、例えば、プラスマイナス０．５倍速あるいはプラスマイナス０．１倍速などであるが、本発明はこれらに限定されない。
【０１２２】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【０１２３】
また、本実施形態２では、周波数領域指定部４３が指定する周波数範囲は、光量検出部２の周波数特性から決定するとしたが、マルチパルス平均値検出誤差特性から決定してもよい。
【０１２４】
また、本実施形態２では、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作としたが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作方式に適用してもよい。
【０１２５】
また、本実施形態２では、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１２６】
また、本実施形態２では、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１２７】
また、本実施形態２では、倍速変化により記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【０１２８】
また、本実施形態２では、ＦＦ制御方式でのピーク電流の演算元をマーク電流としたが、スペースパワーやクールパワーを演算元として選択してもよい。
【０１２９】
（実施形態３）
本発明の実施形態３による光ディスク装置２００の構成および動作について図９、図１０および図１１を参照して説明する。
【０１３０】
図９は、光ディスク装置２００が備える構成要素を示すブロック図である。図１０（ａ）は、記録クロック生成部４１から出力される記録クロック信号の一例を示している。図１０（ｂ）は、テストクロック生成部４２から出力されるテストクロック信号の一例を示している。図１０（ｃ）は、テストパターン演算部２４からパターンセレクタ２５へ出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１０（ｄ）は、テストパターン演算部２４からサンプル信号生成部１５へ出力されるマスクのための信号の一例を示している。
【０１３１】
図１１（ａ）は、４ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｂ）は、５ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｃ）は、６ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｄ）は、７ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｅ）は、８ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【０１３２】
図１に示す光ディスク装置１００の周波数領域指定部４３、分周設定部４４および分周部５０の代わりに、光ディスク装置２００は、テストクロック生成部４２を備えている。また、光ディスク装置１００のテストパターン演算部２３およびサンプル信号生成部１４の代わりに、光ディスク装置２００は、テストパターン演算部２４およびサンプル信号生成部１５を備えている。
【０１３３】
テストクロック生成部４２は、テスト記録時のテストクロック信号を生成する。テストデータ生成部２２およびテストパターン演算部２４は、テストクロック信号に基づいて、レーザ光源１から出力される光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを計算するテストパターン演算部として機能する。また、テストパターン演算部２４は、サンプル信号生成部１５へマスクのための信号を出力する。
【０１３４】
図９において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じたパワー検出信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１５は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１５からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２は、パワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワーに基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【０１３５】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１へ送る。
【０１３６】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成しテストパターン演算部２４および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【０１３７】
テストクロック生成部４２は固定周波数のテストクロック信号を生成しテストパターン演算部２４へ送る。テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２４へ送る。テストパターン演算部２４はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２４はテスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、テストクロック生成部４２からのテストクロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【０１３８】
パターンセレクタ２５は光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２４からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【０１３９】
図１０にテストパターン演算部２４の動作の一例を示す。テストデータ生成部２２からはクールレベル、スペースレベル、マークレベル、ピークレベルの順に送る。テストパターン演算部２４は、図１０（ａ）に示す記録クロック生成部４１からの記録クロックをカウントして、４つの発光パターンを等間隔になるように切り替える。テストパターン演算部２４は、図１０（ｃ）に示すようにピークレベルの部分では、ピークレベルとスペースレベルとを組み合わせてマルチパルス５を生成する。テストパターン演算部２４は、マルチパルスを生成する際に図１０（ｂ）に示すテストクロック生成部４２からのテストクロック信号を用いる。
【０１４０】
なお、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号とテストクロック生成部４２からのテストクロック信号は非同期であるため、エッジ位置は一致しない。そのため、生成されたマルチパルスのＨ区間とＬ区間が同じであると保障できない。それにより、マルチパルス平均値の検出精度が悪化する可能性がある。
【０１４１】
マルチパルス平均値の検出精度を悪化させないためには、マルチパルスのＨ区間とＬ区間を同じにする必要がある。マルチパルスを図１０（ｄ）に示すマスク信号７ｍでマスクすることで、マルチパルスのＨ区間とＬ区間が同じになりマルチパルス平均値の検出精度の悪化を抑制することができる。テストパターン演算部２４は、テスト発光パターン中のマルチパルス部分５の始端５ａおよび終端５ｂの少なくとも一方をマスクするために、マスク信号７ｍをサンプル信号生成部１５へ出力する。サンプルホールド部１０は、テストパターン演算部２４から得たマスクすべきタイミングでサンプルしないように、サンプルタイミングをマスクする。
【０１４２】
マルチパルスを発光する時間が短くなるため、図１０（ｄ）に示すマスク信号７ｍを用いてマルチパルス平均値検出のためのサンプルタイミングをマスクする。サンプルタイミングをマスクすることで、マルチパルスを発光していない区間でサンプルせず安定したマルチパルス平均値を取得することができる。
【０１４３】
図１１に、４ｘから８ｘまでの各倍速におけるテスト発光パターンを示す。倍速が高くなると、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数は高くなるが、テストクロック生成部４２からのテストクロック信号は、それとは無関係に一定の固定周波数で生成される。すなわち、テストクロック生成部４２は、記録時の線速度によらず、一定周波数のテストクロック信号を生成する。このため、図６（ａ）、図６（ｂ）、図６（ｃ）、図６（ｄ）および図６（ｅ）に示すように、すべての倍速におけるマルチパルス周波数は同じとなる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度は高く保たれたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【０１４４】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号とは別にテスト領域専用にテストクロック信号を生成して、テスト発光のためのマルチパルスに用いることで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を抑制し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を抑制することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を抑制することができる。
【０１４５】
なお、テスト発光のためのマルチパルスは、テスト発光パターンの最後に配置したが、データ記録に影響しにくいように、テスト発光パターンの中央などに配置してもよい。テストパターン演算部は、テスト発光パターンの始端部および終端部をマルチパルスとしないパターンを設定してもよい。これにより、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れがマルチパルスに影響をおよぼすことを防止できる。
【０１４６】
また、テスト発光におけるマルチパルスの割合を一定としたが、倍速が高くなるに従いマルチパルス発光時間が短くなることで検出精度が悪化することを防ぐために、マルチパルスの割合を増加させてもよい。
【０１４７】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【０１４８】
また、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作を例示したが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作状態に適用してもよい。
【０１４９】
また、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１５０】
また、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１５１】
また、倍速変化による記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１５２】
本発明は、記録を行うことのできる光ディスクに記録あるいは再生を行う際に、テスト領域でマルチパルスを含むテスト発光を行うことによりレーザパワー制御を行う技術分野で特に有用である。
【符号の説明】
【０１５３】
１    レーザ
２    光量検出部
３    電流調整部
１０    サンプルホールド
１１    パワー演算部
１２    電流演算部
１３    レーザドライバ
１４    サンプル信号生成部
１５    サンプル信号生成部
２０    記録データ生成部
２１    記録パターン演算部
２２    テストデータ生成部
２３、２４    テストパターン演算部
２５    パターンセレクタ
３０    アドレス検出部
４０    倍速検出部
４１    記録クロック生成部
４２    テストクロック生成部
４３    周波数領域指定部
４４    分周設定部
５０    分周部
６０    ピーク演算部
６１    ピークパワー換算部
６２    マークパワー換算部
６３    スペースパワー換算部
６４    クールパワー換算部
７０    ピーク目標生成部
７１    マーク目標生成部
７２    スペース目標生成部
７３    クール目標生成部
７４    ピーク電流積分部
７５    マーク電流積分部
７６    スペース電流積分部
７７    クール電流積分部
７８    比例保持部
７９    比例演算部
８０    制御セレクタ
１００、２００    光ディスク装置
【図１】
2009130889.tif 000003
【図２】
2009130889.tif 000004
【図３】
2009130889.tif 000005
【図４】
2009130889.tif 000006
【図５】
2009130889.tif 000007
【図６】
2009130889.tif 000008
【図７】
2009130889.tif 000009
【図８】
2009130889.tif 000010
【図９】
2009130889.tif 000011
【図１０】
2009130889.tif 000012
【図１１】
2009130889.tif 000013
【図１２】
2009130889.tif 000014
【図１３】
2009130889.tif 000015
【図１４】
2009130889.tif 000016
【図１５】
2009130889.tif 000017
【手続補正書】
【提出日】平成21年10月23日(2009.10.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光源をテスト発光させることによりレーザパワーの制御ずれを補正して、データを記録する光ディスク装置およびレーザパワー制御方法に関する。より具体的には、本発明は、高倍速におけるレーザ光のピークパワーの制御精度を向上させる。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置では、データを再生する場合、比較的弱い一定の光量の光ビームを情報担体である光ディスク上に照射し、光ディスクによって強弱に変調された反射光を検出して再生を行う。また、データの記録では、記録する信号に応じて光ビームの光量を強弱に変調して、光ディスク上の記録材料膜にデータを書き込む。再生専用の光ディスクでは、ピットによる情報があらかじめスパイラル状に記録されている。また、追記または書き換えが可能な光ディスクは、スパイラル状の凹凸構造のトラックを有する基材表面に、光学的に記録および再生可能な材料膜を蒸着等の手法で形成して作製される。
【０００３】
光ディスクに記録マークを形成するために、一般にレーザ光源が用いられている。良好な記録マークを形成するためには、レーザ光源を所定の波形で発光させる必要がある。記録スペースの形成には、レーザ光源を一定パワーで所定時間にわたって連続発光させる。安定した記録性能を確保するためには、これらのレーザ光源のパワーを正確に制御する必要がある。しかしレーザ光源のパワー特性は周囲温度などに大きく左右される。したがって、記録前に一旦パワー設定して一定の駆動電流を供給したとしても、パワーは一定に保たれる事はなく、レーザ光源の本体または周囲機器の温度上昇によってパワーの変動が発生する。
【０００４】
従来技術における光ディスク装置の動作について図１２、図１３、図１４および図１５を参照して説明する。
【０００５】
図１２に記録時のレーザ光源の発光波形の一例を示す。図１３（ａ）はＤＶＤ−ＲＡＭにおけるテスト領域の配置を示し、図１３（ｂ）はＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）におけるテスト領域の配置を示す。図１４（ａ）はレーザ光源の発光パターンのうちのマルチパルスを含まないテスト発光パターンの一例を示し、図１４（ｂ）はマルチパルスを含むテスト発光パターンの一例を示す。
【０００６】
図１５（ａ）は４ｘ時のテスト発光パターンの一例を示している。ここで、Ｍｘとは光ディスクにアクセスする速度がＭ倍速であることを指している。図１５（ｂ）は５ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｃ）は６ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｄ）は７ｘ時のテスト発光パターンの一例を示し、図１５（ｅ）は８ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す。
【０００７】
記録する際のレーザ発光波形は、複数のパワーを組み合わせて形成される（例えば、特許文献１を参照）。図１２は、記録する際のレーザ発光波形を示す。スペース部分ではスペースパワー１２０ｓで発光し、マーク部分ではピークパワー１２０ｐとマークパワー１２０ｍとクールパワー１２０ｃを組み合わせて発光する。記録時におけるレーザパワー制御は、上記すべてのパワーに対して行われる。
【０００８】
パワー変動の回避の方法としては、一定期間ごとのパワー較正が有効である。例えば、図１３（ａ）に示すようなセクタ構造を有する光ディスクフォーマットにおいては、１セクタに１回、レーザパワーを補正するためのテスト領域が設けられている。この場合、光ビームの焦点がテスト領域を通過するごとに、このテスト領域においてテスト発光によるレーザパワー制御を行なうことによってパワー変動を回避できる。
【０００９】
テスト領域を持たない光ディスクフォーマットにおいては、レーザパワー制御はデータ記録を行うデータ領域で行う必要がある。その際、発光時間の短いピークパワーやクールパワーは、特に線速度が高い場合では検出困難であり、制御誤差が増える傾向にある。
【００１０】
以下、線速度については規格の標準線速度に対する倍速で表記する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００７―２８０４９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
光ディスクフォーマットによって、図１３（ａ）に示すようにテスト領域が半径方向にそろっている場合と図１３（ｂ）に示すようにテスト領域が半径方向にそろっていない場合がある。
【００１３】
テスト領域が半径方向にそろっていない場合、高いパワーで長時間発光させると、隣接するトラックのデータに悪影響を及ぼし、その結果、データの破壊につながる可能性がある。図１４では、左側にテスト領域におけるレーザ発光波形を示し、右側にデータ領域におけるレーザ発光波形を示す。図１４（ａ）に示すように、テスト領域においてピークパワーでデータ発光波形よりも長く発光させると、上記のような懸念事項が発生するため、図１４（ｂ）に示すように、テスト領域におけるピークパワー部分をマルチパルスにする。こうすることで、隣接トラックに与える熱量を低減してデータの破壊を抑制できる。
【００１４】
図１４（ｂ）に示すようにテスト領域におけるピークパワー部分をマルチパルスにすると、記録倍速が変化した場合にマルチパルスの周波数が変化する。図１５（ａ）に示す４ｘ時のマルチパルス周波数に対して、図１５（ｂ）、図１５（ｃ）、図１５（ｄ）、図１５（ｅ）と倍速が高くなるに従い、テスト領域を通過する時間が短くなり、それに伴いマルチパルスの周波数は高くなる。
【００１５】
テスト発光でのマルチパルスを平均値検出することでレーザパワー制御を行う場合、マルチパルスの周波数変化に起因する光検出デバイスの周波数ひずみの影響を受けることで平均値検出値が真値に対して誤差を持つ。上記誤差によってピークパワー誤差が生じる。
【００１６】
光検出デバイスが差動出力形態である場合、伝送ノイズに強い利点があるが、差動チャネル毎の周波数特性差によって、マルチパルスの平均値検出値の誤差は大きくなる。
【００１７】
光ディスクにおいて、最終的な最高倍速はＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式での速度となる。ＣＡＶ方式では、内周から外周に向かって少しずつ倍速が高くなる。マルチパルスの周波数も少しずつ高くなり、半径位置によってレーザパワー制御の誤差が悪化することになる。
【００１８】
本発明は上述した課題を解決するためになされたものであり、高倍速における光ビームのピークパワーの制御精度を向上させる。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の光ディスク装置は、情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周部と、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、前記分周クロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部とを備え、前記分周部は、記録時の線速度が変化するときは、前記分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整することを特徴とする。
【００２０】
ある実施形態によれば、前記線速度を検出する速度検出部をさらに備え、前記分周部は、前記検出された線速度に基づいて前記分周比を調整する。
【００２１】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記情報担体上のアドレスに基づいて、前記線速度を検出する。
【００２２】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記情報担体上のトラックのウォブル周波数に基づいて、前記線速度を検出する。
【００２３】
ある実施形態によれば、前記速度検出部は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に基づいて、前記線速度を検出する。
【００２４】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記記録クロック信号に基づいて前記分周比を調整する。
【００２５】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記分周クロック信号に基づいて前記分周比を調整する。
【００２６】
ある実施形態によれば、前記分周部は、ＣＬＶ方式で記録を行う場合は、前記分周クロック信号の周波数を一定にする。
【００２７】
ある実施形態によれば、前記分周部は、ＣＡＶ方式で記録を行う場合は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に応じて分周比を変えることで、前記分周クロック信号の周波数を所定の周波数範囲内にする。
【００２８】
ある実施形態によれば、前記電流調整部は、前記発光部が出力した前記光ビームのパワーを検出して、パワー検出信号を生成する光量検出部と、前記パワー検出信号を異なるタイミングでサンプルすることで、複数のレベルの信号を検出するサンプルホールド部と、前記サンプルホールド部の出力信号に基づいて、前記光ビームの複数のパワーを計算するパワー演算部と、前記計算した複数のパワーに基づいて、前記発光部に与える前記電流を計算する電流演算部とを備え、前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高いパワー値以外のパワー値に基づいて、前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する非検出方式を有しており、前記電流演算部は、基準線速度以外では、前記非検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する。
【００２９】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、前記最も高いパワーに対応した電流を計算する検出方式を有しており、前記電流演算部は、前記基準線速度では、前記検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する。
【００３０】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、前記情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とする。
【００３１】
ある実施形態によれば、前記電流演算部は、ＣＡＶ方式で記録を行うときは、前記情報担体の最内周部における線速度を基準線速度とする。
【００３２】
ある実施形態によれば、前記分周部は、マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさに基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する。
【００３３】
ある実施形態によれば、前記分周部は、前記電流調整部が検出可能な光ビームのパルスの周波数帯域に基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する。
【００３４】
本発明の光ディスク装置は、情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成部と、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、前記テストクロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部とを備え、前記テストクロック生成部は、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成することを特徴とする。
【００３５】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターン中のマルチパルス部分の始端および終端の少なくとも一方をマスクする。
【００３６】
ある実施形態によれば、前記サンプルホールド部は、前記テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクする。
【００３７】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターンの始端および終端はマルチパルスとしない。
【００３８】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる。
【００３９】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる。
【００４０】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める。
【００４１】
ある実施形態によれば、前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める。
【００４２】
本発明のレーザパワー制御方法は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周ステップと、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、前記分周クロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップとを包含し、前記分周ステップは、記録時の線速度が変化するときは、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整するステップを含むことを特徴とする。
【００４３】
本発明のレーザパワー制御方法は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成ステップと、前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、前記テストクロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップとを包含し、前記テストクロック生成ステップは、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成するステップを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００４４】
本発明の請求項１に係る光ディスク装置では、記録線速度によらず、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を求めるので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。
【００４５】
さらに、本発明の請求項２に係る光ディスク装置では、倍速検出部は記録時の線速度を検出し、分周部は倍速検出部からの検出線速度に基づいて分周比を求めるので、簡易な構成でテスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。
【００４６】
さらに、本発明の請求項３に係る光ディスク装置では、倍速検出部は情報担体上のアドレスを検出して、アドレスを用いて線速度を検出するので、回転数が整定した状態で確実に何倍速かを検出することができる。
【００４７】
さらに、本発明の請求項４に係る光ディスク装置では、倍速検出部は情報担体上のトラックのウォブルを検出して、ウォブルの周波数を用いて線速度を検出するので、回転数が過渡状態であっても何倍速かを検出することができる。
【００４８】
さらに、本発明の請求項５に係る光ディスク装置では、倍速検出部は光ビームが照射された情報担体上の半径位置を検出して、半径位置を用いて線速度を検出するので、回転数が整定した状態であればアドレスが読めない状態であっても何倍速かを検出することができる。
【００４９】
さらに、本発明の請求項６に係る光ディスク装置では、分周部は記録クロック生成部からの記録クロック信号に基づいて分周比を求めるので、テスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。
【００５０】
さらに、本発明の請求項７に係る光ディスク装置では、分周部は分周部からの分周クロック信号に基づいて分周比を求めるので、テスト発光パターンの周波数の変化を低減させることができる。
【００５１】
さらに、本発明の請求項８に係る光ディスク装置では、分周部はＣＬＶで記録する場合は、線速度によらず分周クロック信号の周波数を一定にするので、ＣＬＶ時のピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５２】
さらに、本発明の請求項９に係る光ディスク装置では、分周部はＣＡＶで記録する場合は、半径位置によって分周比を変えることで分周クロック信号の周波数を所定周波数範囲にするので、ＣＡＶ時のピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５３】
さらに、本発明の請求項１０に係る光ディスク装置では、電流演算部はパワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いず、最も高いパワー値以外のパワー値に対応した電流に基づいて、最も高いパワー値に対応した電流を求める非検出方式を有しており、基準線速度以外では非検出方式を用いるので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５４】
さらに、本発明の請求項１１に係る光ディスク装置では、電流演算部はパワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、最も高いパワー値に対応した電流を求める検出方式を有しており、基準線速度ではその検出方式を用いるので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５５】
さらに、本発明の請求項１２に係る光ディスク装置では、電流演算部は情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とするので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５６】
さらに、本発明の請求項１３に係る光ディスク装置では、電流演算部はＣＡＶで記録する際の最内周部における線速度を基準線速度とするので、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００５７】
さらに、本発明の請求項１４に係る光ディスク装置では、分周部はマルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさから所定周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減するためのテスト発光のマルチパルス周波数を決めることができる。
【００５８】
さらに、本発明の請求項１５に係る光ディスク装置では、分周部は、光量検出部の検出可能帯域から所定周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減するためのテスト発光のマルチパルス周波数を決めることができる。
【００５９】
また、本発明の請求項１６に係る光ディスク装置では、テストクロック生成部は、生成するテストクロック信号を記録線速度によらず一定周波数とするので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。
【００６０】
さらに、本発明の請求項１７に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、テスト発光パターンとデータ記録発光パターンとの切り替え部分において、テスト発光パターン内のマルチパルスのデューティが変化しないように、マルチパルス部分の始端あるいは終端の少なくとも一方をマスクするので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。
【００６１】
さらに、本発明の請求項１８に係る光ディスク装置では、サンプルホールド部は、テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクするので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。
【００６２】
さらに、本発明の請求項１９に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部はテスト発光パターンの始端および終端ではマルチパルスとしないので、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れの影響を低減できる。
【００６３】
さらに、本発明の請求項２０および２１に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、線速度が高い場合はテスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させるので、マルチパルス平均値を取得するためのＬＰＦ帯域を変えることなく高い倍速に対応することができる。
【００６４】
さらに、本発明の請求項２２および２３に係る光ディスク装置では、テストパターン演算部は、データ記録発光パターン内にマルチパルスがない場合でも、テスト発光パターン内にマルチパルスを含めるので、ストラテジに依存しない安定したレーザパワー制御を行うことができる。
【００６５】
また、本発明の請求項２４に係るレーザパワー制御方法では、記録線速度によらず、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を求めるので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。
【００６６】
また、本発明の請求項２５に係るレーザパワー制御方法では、記録線速度によらず、一定周波数のテストクロック信号を生成するので、光検出デバイスの帯域特性に依存することなくピークパワーの制御を行うことができ、レーザパワー制御精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の実施形態１における光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態１におけるパワー演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図３】本発明の実施形態１における電流演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図４】（ａ）は、本発明の実施形態１におけるＺＣＬＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１におけるＰＣＡＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図である。
【図５】（ａ）は、本発明の実施形態１における記録クロック信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１における分周クロック信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態１におけるテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図６】（ａ）は、本発明の実施形態１における４ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１における５ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態１における６ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態１における７ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｅ）は、本発明の実施形態１における８ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図７】本発明の実施形態２における電流演算部の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【図８】（ａ）は、本発明の実施形態２におけるＰＣＡＶ時の半径位置に対する倍速の一例を示す図であり、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）は、本発明の実施形態２における半径位置に応じて制御セレクタが選択する制御の一例をそれぞれ示す図である。
【図９】本発明の実施形態３における光ディスク装置を示す図である。
【図１０】（ａ）は、本発明の実施形態３における記録クロック信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態３におけるテストクロック信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態３におけるテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態３におけるテストパターン演算部からサンプル信号生成部へ出力されるマスク信号の一例を示す図である。
【図１１】（ａ）は、本発明の実施形態３における４ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態３における５ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｃ）は、本発明の実施形態３における６ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｄ）は、本発明の実施形態３における７ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図であり、（ｅ）は、本発明の実施形態３における８ｘ時のテスト発光パターン信号の一例を示す図である。
【図１２】記録時のレーザ光源の発光波形の一例を示す図である。
【図１３】（ａ）は、ＤＶＤ−ＲＡＭにおけるテスト領域の配置を示す図であり、（ｂ）は、ＢＤにおけるテスト領域の配置を示す図である。
【図１４】（ａ）は、マルチパルスを含まないテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｂ）は、マルチパルスを含むテスト発光パターンの一例を示す図である。
【図１５】（ａ）は、４ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｂ）は、５ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｃ）は、６ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｄ）は、７ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図であり、（ｅ）は、８ｘ時のテスト発光パターンの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００６８】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。
【００６９】
（実施形態１）
本発明の実施形態１による光ディスク装置１００の動作について図１、図２、図３、図４、図５および図６を参照して説明する。
【００７０】
図１は、光ディスク装置１００が備える構成要素を示すブロック図である。図２は、パワー演算部１１の詳細ブロック構成の一例を示す図である。図３は、電流演算部１２の詳細ブロック構成の一例を示す図である。
【００７１】
図４（ａ）は、ＺＣＬＶ（Ｚｏｎｅ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）時の半径位置に対する倍速の一例を示している。図４（ｂ）は、ＰＣＡＶ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）時の半径位置に対する倍速の一例を示している。
【００７２】
ＺＣＬＶ方式は、ディスクの半径方向に沿って複数のＣＬＶ方式が存在する方式である。ＰＣＡＶ方式は、ディスク内周側ではＣＡＶ方式となり、外周側ではＣＬＶ方式となる方式である。ＣＬＶ方式およびＣＡＶ方式の少なくとも一方を組み合わせた方式の例として、ＺＣＬＶ方式およびＰＣＡＶ方式がある。
【００７３】
図５（ａ）は、記録クロック生成部４１から出力される記録クロック信号の一例を示している。図５（ｂ）は、分周部５０から出力される分周クロック信号の一例を示している。図５（ｃ）は、テストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【００７４】
図６（ａ）は、４ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｂ）は、５ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｃ）は、６ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｄ）は、７ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図６（ｅ）は、８ｘ時にテストパターン演算部２３から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【００７５】
図１、図２および図３を参照して、レーザ光源１は光ビームを出力する発光部であり、例えば半導体発光素子である。レーザ光源１から出力された光ビームは、光学系を介して情報担体である光ディスクに照射され、情報の記録再生が行われる。電流調整部３は、レーザ光源１から出力された光ビームを受光し、光ビームの光量を検出して、レーザ光源１に与える電流を計算する。電流調整部３は、光量検出部２、サンプルホールド部１０、パワー演算部１１、電流演算部１２、サンプル信号生成部１４を備える。光量検出部２はレーザ光源１が出力した光ビームのパワーを検出してパワー検出信号を出力する。サンプルホールド部１０およびサンプル信号生成部１４により、パワー検出信号は異なるタイミングでサンプルされ複数のレベルの信号が検出される。
【００７６】
パワー演算部１１は、サンプルホールド部１０の出力信号に基づいて、光ビームの複数のパワーを計算する。図２に示すように、パワー演算部１１は、ピーク演算部６０、ピークパワー換算部６１、マークパワー換算部６２、スペースパワー換算部６３およびクールパワー換算部６４を備える。
【００７７】
電流演算部１２は、パワー演算部１１が計算した複数のパワーに基づいて、レーザ光源１に与える電流を計算する。図３に示すように、電流演算部１２は、ピーク目標生成部７０、マーク目標生成部７１、スペース目標生成部７２、クール目標生成部７３、ピーク電流積分部７４、マーク電流積分部７５、スペース電流積分部７６およびクール電流積分部７７を備える。
【００７８】
パターンセレクタ２５およびレーザドライバ１３は、データ記録発光パターンおよびテスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、電流演算部１２が計算した電流値とに基づいて、レーザ光源１に電流を与える電流出力部として機能する。
【００７９】
記録データ生成部２０および記録パターン演算部２１は、記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを計算して設定する。テストデータ生成部２２およびテストパターン演算部２３は、分周クロック信号に基づいて、レーザ光源１から出力される光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを計算して設定する。
【００８０】
アドレス検出部３０および倍速検出部４０は、光ディスクへのアクセス時の線速度を検出する速度検出部として機能する。記録クロック生成部４１は、データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する。周波数領域指定部４３、分周設定部４４および分周部５０により、記録クロック信号が分周されて分周クロック信号が生成される。
【００８１】
図１において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じたパワー検出信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１４は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１４からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２は、パワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワー値に基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【００８２】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１および分周設定部４４へ送る。
【００８３】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成し分周部５０およびテストパターン演算部２３および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【００８４】
周波数領域指定部４３は、光量検出部２が検出できる光ビームのパルスの周波数帯域に基づいた周波数範囲を分周設定部４４へ送る。光量検出部２の検出可能帯域から周波数範囲を求めるので、ピークパワーのレーザパワー制御の精度悪化を低減することが可能なマルチパルス周波数を決めることができる。
【００８５】
分周設定部４４は倍速検出部４０が検出した倍速に基づいて記録クロック信号の周波数を推定し、推定されたクロックの周波数が周波数領域指定部４３からの周波数範囲に入るような分周比を演算し分周部５０へ送る。分周部５０は分周設定部４４からの分周比を用いて、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号を分周しテストパターン演算部２３へ送る。
【００８６】
テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２３へ送る。テストパターン演算部２３はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２３は、テスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、分周部５０からの分周クロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【００８７】
パターンセレクタ２５は、光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２３からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【００８８】
図２において、サンプルホールド部１０からの各ホールド信号のうちマルチパルス部を除く３値の信号については、それぞれマークパワー換算部６２、スペースパワー換算部６３およびクールパワー換算部６４によって信号レベルから光ビーム発光パワーレベルへ換算される。マルチパルスの平均値をホールドした信号については、マルチパルスがピークパワーとスペースパワーから生成されている場合、ピーク演算部６０はマルチパルスの平均値をホールドした信号およびスペースパワーに相当する信号に基づいて、マルチパルスのピークレベルに相当する信号を演算しピークパワー換算部６１へ送る。ピークパワー換算部６１はピーク演算部６０からの信号を信号レベルから光ビーム発光パワーレベルへ換算する。
【００８９】
図３に示す電流演算部１２において、パワー演算部１１が演算したピークパワー検出値から、ピーク目標生成部７０が生成するピークパワー目標値を減算しピーク電流積分部７４へ送る。ピーク電流積分部７４は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したマークパワー検出値から、マーク目標生成部７１が生成するマークパワー目標値を減算しマーク電流積分部７５へ送る。マーク電流積分部７５は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したスペースパワー検出値から、スペース目標生成部７２が生成するスペースパワー目標値を減算しスペース電流積分部７６へ送る。スペース電流積分部７６は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したクールパワー検出値から、クール目標生成部７３が生成するクールパワー目標値を減算しクール電流積分部７７へ送る。クール電流積分部７７は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。
【００９０】
ピークパワー、マークパワー、スペースパワーおよびクールパワーがそれぞれサンプルホールド部１０によって検出され、パワー演算部１１によってパワーレベル（パワー値）を演算した後、電流演算部１２によって各目標パワーになるようにレーザ光源１に与えられる電流が求められる。
【００９１】
図４（ａ）に示すようにＺＣＬＶで記録を行う場合、ディスク内周側の倍速４ｘの領域では分周比２を選択し、ディスク中周の倍速６ｘの領域では分周比３を選択し、ディスク外周側の倍速８ｘの領域では分周比４を選択することで、各倍速における分周部５０からの分周クロック周波数は常に一定となる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度は保たれたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９２】
図４（ｂ）に示すようにＰＣＡＶで記録を行う場合、ディスク内周側の倍速４ｘに近い領域では分周比２を選択し、ディスク中周の倍速６ｘに近い領域では分周比３を選択し、ディスク外周側の倍速８ｘに近い領域では分周比４を選択することで、各倍速における分周部５０からの分周クロック周波数の変化範囲を小さくできる。このように、記録時の線速度が変化するときは、分周部５０が、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整することで、マルチパルスの平均値検出精度の劣化を最小限に留めたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９３】
図５にテストパターン演算部２３の動作の一例を示す。テストデータ生成部２２からはクールレベル、スペースレベル、マークレベル、ピークレベルの順に送る。テストパターン演算部２３は、図５（ａ）に示す記録クロック生成部４１からの記録クロックをカウントして、発光パターンを等間隔に切り替える。テストパターン演算部２３は、図５（ｃ）に示すようにピークレベル６ｐの部分では、ピークレベル６ｐとスペースレベル６ｓとを組み合わせてマルチパルス５を生成する。テストパターン演算部２３は、マルチパルス５を生成する際に図５（ｂ）に示す分周部５０からの分周クロック信号を用いる。
【００９４】
図６に、４ｘから８ｘまでの各倍速におけるテスト発光パターンを示す。分周部５０の分周比が切り替わることで、図６（ａ）、図６（ｃ）および図６（ｅ）に示すように４ｘ、６ｘおよび８ｘにおけるマルチパルス周波数は同じとなる。また、図６（ｂ）および図６（ｄ）に示すように５ｘおよび７ｘにおいても、図１５と比較してマルチパルス周波数の変化範囲は狭くできる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度の劣化を最小限に留めたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【００９５】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号をテスト領域専用に分周部５０によって分周することで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を低減し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を低減することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を低減することができる。
【００９６】
尚、本実施形態１では、アドレスから倍速を検出したが、光ディスクのトラックのウォブルを検出し、倍速検出部４０は、ウォブル周波数を用いて線速度および倍速を検出してもよい。あるいは光ビームが照射された光ディスクの半径位置を検出して、倍速検出部４０は、その検出した半径位置を用いて線速度および倍速を検出してもよい。半径位置は、例えば光ピックアップの位置から検出することができる。
【００９７】
また、本実施形態１では、倍速に応じて分周部５０の分周比を求めるとしたが、分周比入力の周波数から分周比を求めてもよい。あるいは分周比出力の周波数から分周比を求めてもよい。具体的には、分周部５０の入力信号の周波数を計測し、分周部５０の出力信号が、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲に入るための分周比を求めて、フィードフォワード式に補正してもよい。またあるいは、分周部５０の出力信号自体の周波数を計測し、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲に入るように分周比を求めて、フィードバック式に補正してもよい。このように、分周部５０は、分周クロック信号に基づいて分周比を調整してもよい。
【００９８】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【００９９】
また、本実施形態１では、周波数領域指定部４３が決定する周波数範囲は、光量検出部２の周波数特性から決定するとしたが、マルチパルス平均値検出誤差特性から決定してもよい。レーザ発光部１やレーザドライバ１３の周波数特性によっては、高い周波数になるとマルチパルスの波形が歪むことがある。デューティ５０％のマルチパルスである場合、ピークパワーとボトムパワーの平均値を検出すべきであるが、発生した歪みによって検出値がピークパワー側やボトムパワー側に寄り、検出誤差になる。マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさを考慮して、分周クロック信号の周波数範囲を計算し、周波数範囲を規定することでこうした検出誤差を防ぐことができる。
【０１００】
また、本実施形態１では、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作としたが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作方式に適用してもよい。
【０１０１】
また、本実施形態１では、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１０２】
また、本実施形態１では、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１０３】
また、本実施形態１では、倍速変化による記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【０１０４】
（実施形態２）
本発明の実施形態２である光ディスク装置１００の動作について図１、図７および図８を参照して説明する。図７は、本実施形態の電流演算部１２の詳細ブロック構成の一例を示す図である。図８（ａ）は、ＣＡＶ時の光ディスク１０１の半径位置に対する倍速の一例を示し、図８（ｂ）、図８（ｃ）および図８（ｄ）は、光ディスク１０１の半径位置に対して制御セレクタ８０が選択する制御の一例を示す。光ディスク１０１には、光ディスク装置１００のレーザ光源１から出力された光ビームが照射され、情報の記録再生が行われる。
【０１０５】
図７において、電流演算部１２は、ピーク目標生成部７０、マーク目標生成部７１、スペース目標生成部７２、クール目標生成部７３、ピーク電流積分部７４、マーク電流積分部７５、スペース電流積分部７６、クール電流積分部７７、比例保持部７８、比例演算部７９および制御セレクタ８０を備える。
【０１０６】
図１において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じた信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１４は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１４からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２はパワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワーに基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【０１０７】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１および分周設定部４４へ送る。
【０１０８】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成し分周部５０およびテストパターン演算部２３および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【０１０９】
周波数領域指定部４３は、光量検出部２が検出できる光ビームのパルスの周波数帯域に基づいた周波数範囲を分周設定部４４へ送る。分周設定部４４は倍速検出部４０が検出した倍速に基づいて記録クロック信号の周波数を推定し、推定されたクロックの周波数が周波数領域指定部４３からの周波数範囲に入るような分周比を演算し分周部５０へ送る。分周部５０は分周設定部４４からの分周比を用いて、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号を分周しテストパターン演算部２３へ送る。
【０１１０】
テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２３へ送る。テストパターン演算部２３はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２３は、テスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、分周部５０からの分周クロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【０１１１】
パターンセレクタ２５は、光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２３からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【０１１２】
図７に示す電流演算部１２において、パワー演算部１１が演算したピークパワー検出値から、ピーク目標生成部７０が生成するピークパワー目標値を減算しピーク電流積分部７４へ送る。ピーク電流積分部７４は減算された値を積分し、制御セレクタ８０および比例保持部７８へ送る。パワー演算部１１が出力したマークパワー検出値から、マーク目標生成部７１が生成するマークパワー目標値を減算しマーク電流積分部７５へ送る。マーク電流積分部７５は減算された値を積分し比例保持部７８、比例演算部７９およびレーザドライバ１３へ送る。
【０１１３】
パワー演算部１１が出力したスペースパワー検出値から、スペース目標生成部７２が生成するスペースパワー目標値を減算しスペース電流積分部７６へ送る。スペース電流積分部７６は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。パワー演算部１１が出力したクールパワー検出値から、クール目標生成部７３が生成するクールパワー目標値を減算しクール電流積分部７７へ送る。クール電流積分部７７は減算された値を積分しレーザドライバ１３へ送る。
【０１１４】
比例保持部７８は、ピーク電流積分部７４からの積分値とマーク電流積分からの積分値の比を演算して保持し、比例演算部７９へ送る。比例演算部７９はマーク電流積分部７５からの積分値に対して、比例保持部７８からの比を乗じた比演算値を制御セレクタ８０へ送る。制御セレクタ８０はピーク電流積分部７４からの積分値あるいは比例演算部７９からの比演算値を選択してレーザドライバ１３へ送る。
【０１１５】
図７に示す電流演算部１２が実行するレーザパワー制御方法は２通りある。第一の方法であるフィードバック制御方式（以下ＦＢ制御方式と称する）では、ピークパワー、マークパワー、スペースパワーおよびクールパワーがそれぞれサンプルホールド部１０によって検出され、パワー演算部１１によってパワー値を演算した後、電流演算部１２によって各目標パワーになるようにレーザ光源１に与えられる電流が求められる。
【０１１６】
第二の方法であるフィードフォワード制御方式（以下ＦＦ制御方式と称する）では、マークパワー、スペースパワー、クールパワーのレーザパワー制御はＦＢ制御方式と同じであるが、ピークパワーについては検出されたピークパワー検出値を用いず、マーク電流との比が一定になるようにピーク電流を求める非検出方式となる。
【０１１７】
ＦＢ制御方式では検出されたパワーが信頼できれば確実な制御となるが、検出ばらつきの影響をうけてレーザパワー制御精度が悪化しやすい傾向が有る。ＦＦ制御方式では検出されたパワーの信頼度によらず安定しているが、レーザ光源１のＩＬ特性折れ曲がりなど、比の精度がレーザパワー制御精度に直結する。
【０１１８】
図８は、ＰＣＡＶ記録を行う場合のＦＦ制御方式とＦＢ制御方式の選択の仕方を示している。実施形態１で説明したように分周部５０の分周比によって４ｘ、６ｘおよび８ｘではマルチパルス周波数を一定にすることができる。図８（ｂ）に示すように、上記倍速（４ｘ、６ｘおよび８ｘ）近傍においてはＦＢ制御方式を選択し、それ以外の倍速ではＦＦ制御方式を選択する。これにより、ＦＢ制御方式選択時のマルチパルス周波数によるレーザパワー制御精度悪化を抑制することができる。また、ＦＦ制御方式選択時に用いる比例保持部７８の比をＦＢ制御方式選択時の電流から求めておくことで、ＦＦ制御方式選択時の比精度悪化によるレーザパワー制御精度悪化を抑制することができる。
【０１１９】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号をテスト領域専用に分周部５０によって分周することで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を低減し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を低減することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を低減することができる。マルチパルス平均値の周波数が微妙にずれている倍速においては、ピークパワー検出値を用いずに、ピーク電流とマーク電流の比を一定に保つことで、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化をさらに低減することができる。
【０１２０】
尚、本実施形態２では、光ディスクの規格で定義された線速度（倍速度：４ｘ、６ｘ、８ｘ）近傍でＦＢ制御方式を選択したが、ディスク最内周部における倍速近傍でのみＦＢ制御方式としてもよい。あるいは最内周部および最外周部の倍速近傍でのみＦＢ制御方式としてもよい。また、電流演算部１２は、ＣＡＶ方式で記録する際は、光ディスクの最内周部における線速度を基準線速度としてもよい。これにより、ＣＡＶ時の中間倍速におけるピークパワーのレーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【０１２１】
また、本実施形態２では、光ディスクの規格で定義された倍速近傍でＦＢ制御方式を選択した。近傍とは、例えば、プラスマイナス０．５倍速あるいはプラスマイナス０．１倍速などであるが、本発明はこれらに限定されない。
【０１２２】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【０１２３】
また、本実施形態２では、周波数領域指定部４３が指定する周波数範囲は、光量検出部２の周波数特性から決定するとしたが、マルチパルス平均値検出誤差特性から決定してもよい。
【０１２４】
また、本実施形態２では、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作としたが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作方式に適用してもよい。
【０１２５】
また、本実施形態２では、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１２６】
また、本実施形態２では、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１２７】
また、本実施形態２では、倍速変化により記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【０１２８】
また、本実施形態２では、ＦＦ制御方式でのピーク電流の演算元をマーク電流としたが、スペースパワーやクールパワーを演算元として選択してもよい。
【０１２９】
（実施形態３）
本発明の実施形態３による光ディスク装置２００の構成および動作について図９、図１０および図１１を参照して説明する。
【０１３０】
図９は、光ディスク装置２００が備える構成要素を示すブロック図である。図１０（ａ）は、記録クロック生成部４１から出力される記録クロック信号の一例を示している。図１０（ｂ）は、テストクロック生成部４２から出力されるテストクロック信号の一例を示している。図１０（ｃ）は、テストパターン演算部２４からパターンセレクタ２５へ出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１０（ｄ）は、テストパターン演算部２４からサンプル信号生成部１５へ出力されるマスクのための信号の一例を示している。
【０１３１】
図１１（ａ）は、４ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｂ）は、５ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｃ）は、６ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｄ）は、７ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。図１１（ｅ）は、８ｘ時にテストパターン演算部２４から出力されるテスト発光パターン信号の一例を示している。
【０１３２】
図１に示す光ディスク装置１００の周波数領域指定部４３、分周設定部４４および分周部５０の代わりに、光ディスク装置２００は、テストクロック生成部４２を備えている。また、光ディスク装置１００のテストパターン演算部２３およびサンプル信号生成部１４の代わりに、光ディスク装置２００は、テストパターン演算部２４およびサンプル信号生成部１５を備えている。
【０１３３】
テストクロック生成部４２は、テスト記録時のテストクロック信号を生成する。テストデータ生成部２２およびテストパターン演算部２４は、テストクロック信号に基づいて、レーザ光源１から出力される光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを計算するテストパターン演算部として機能する。また、テストパターン演算部２４は、サンプル信号生成部１５へマスクのための信号を出力する。
【０１３４】
図９において、光量検出部２はレーザ光源１からの光ビームを受光して、光ビームのパワーに応じたパワー検出信号をサンプルホールド部１０へ送る。サンプル信号生成部１５は光ビームの各パワーを取得するためのサンプルタイミングをサンプルホールド部１０へ送る。サンプルホールド部１０は、光量検出部２からの信号をサンプル信号生成部１５からのサンプル信号に基づいてサンプルし、各ホールド信号をパワー演算部１１へ送る。パワー演算部１１はサンプルホールド部１０からの各ホールド信号に基づいて、光ビームの各検出パワーを演算し電流演算部１２へ送る。電流演算部１２は、パワー演算部１１が演算した光ビームの各検出パワーに基づいて、レーザ光源１に与える各電流を演算しレーザドライバ１３へ送る。
【０１３５】
アドレス検出部３０は光ディスクに照射された光ビームのスポット位置のアドレス情報を検出し倍速検出部４０へ送る。倍速検出部４０はアドレス検出部３０からのアドレス情報に基づいて、何倍速かを検出し記録クロック生成部４１へ送る。
【０１３６】
記録クロック生成部４１は倍速検出部４０からの倍速情報に基づいて、記録クロック信号を生成しテストパターン演算部２４および記録パターン演算部２１へ送る。記録データ生成部２０は記録するデータを生成し記録パターン演算部２１へ送る。記録パターン演算部２１は記録データ生成部２０からのデータを記録するために、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてデータ記録発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。
【０１３７】
テストクロック生成部４２は固定周波数のテストクロック信号を生成しテストパターン演算部２４へ送る。テストデータ生成部２２はテスト記録するデータを生成しテストパターン演算部２４へ送る。テストパターン演算部２４はテストデータに基づいたレーザ光源１の発光ができるように、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号に基づいてテスト発光パターンを演算しパターンセレクタ２５へ送る。テストパターン演算部２４はテスト発光パターン内でマルチパルスを出力する際に、テストクロック生成部４２からのテストクロック信号に基づいてマルチパルスを生成する。
【０１３８】
パターンセレクタ２５は光ディスクフォーマットに基づいて、データ領域では記録パターン演算部２１からのデータ記録発光パターンを選択し、テスト領域ではテストパターン演算部２４からのテスト発光パターンを選択してレーザドライバ１３へ送る。レーザドライバ１３はパターンセレクタ２５からの発光パターンに、電流演算部１２からの各電流を加算してレーザ光源１へ送る。レーザ光源１はレーザドライバ１３からの電流に従って発光する。
【０１３９】
図１０にテストパターン演算部２４の動作の一例を示す。テストデータ生成部２２からはクールレベル、スペースレベル、マークレベル、ピークレベルの順に送る。テストパターン演算部２４は、図１０（ａ）に示す記録クロック生成部４１からの記録クロックをカウントして、４つの発光パターンを等間隔になるように切り替える。テストパターン演算部２４は、図１０（ｃ）に示すようにピークレベルの部分では、ピークレベルとスペースレベルとを組み合わせてマルチパルス５を生成する。テストパターン演算部２４は、マルチパルスを生成する際に図１０（ｂ）に示すテストクロック生成部４２からのテストクロック信号を用いる。
【０１４０】
なお、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号とテストクロック生成部４２からのテストクロック信号は非同期であるため、エッジ位置は一致しない。そのため、生成されたマルチパルスのＨ区間とＬ区間が同じであると保障できない。それにより、マルチパルス平均値の検出精度が悪化する可能性がある。
【０１４１】
マルチパルス平均値の検出精度を悪化させないためには、マルチパルスのＨ区間とＬ区間を同じにする必要がある。マルチパルスを図１０（ｄ）に示すマスク信号７ｍでマスクすることで、マルチパルスのＨ区間とＬ区間が同じになりマルチパルス平均値の検出精度の悪化を抑制することができる。テストパターン演算部２４は、テスト発光パターン中のマルチパルス部分５の始端５ａおよび終端５ｂの少なくとも一方をマスクするために、マスク信号７ｍをサンプル信号生成部１５へ出力する。サンプルホールド部１０は、テストパターン演算部２４から得たマスクすべきタイミングでサンプルしないように、サンプルタイミングをマスクする。
【０１４２】
マルチパルスを発光する時間が短くなるため、図１０（ｄ）に示すマスク信号７ｍを用いてマルチパルス平均値検出のためのサンプルタイミングをマスクする。サンプルタイミングをマスクすることで、マルチパルスを発光していない区間でサンプルせず安定したマルチパルス平均値を取得することができる。
【０１４３】
図１１に、４ｘから８ｘまでの各倍速におけるテスト発光パターンを示す。倍速が高くなると、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数は高くなるが、テストクロック生成部４２からのテストクロック信号は、それとは無関係に一定の固定周波数で生成される。すなわち、テストクロック生成部４２は、記録時の線速度によらず、一定周波数のテストクロック信号を生成する。このため、図６（ａ）、図６（ｂ）、図６（ｃ）、図６（ｄ）および図６（ｅ）に示すように、すべての倍速におけるマルチパルス周波数は同じとなる。それにより、マルチパルスの平均値検出精度は高く保たれたまま高い倍速の記録を行うことができる。
【０１４４】
このようにして、記録クロック生成部４１からの記録クロック信号とは別にテスト領域専用にテストクロック信号を生成して、テスト発光のためのマルチパルスに用いることで、テスト領域における、レーザ光源１のマルチパルス発光の周波数の変化を抑制し、マルチパルス平均値の検出精度悪化を抑制することができ、ピークパワーのレーザパワー制御精度の悪化を抑制することができる。
【０１４５】
なお、テスト発光のためのマルチパルスは、テスト発光パターンの最後に配置したが、データ記録に影響しにくいように、テスト発光パターンの中央などに配置してもよい。テストパターン演算部は、テスト発光パターンの始端部および終端部をマルチパルスとしないパターンを設定してもよい。これにより、記録クロック信号とテストクロック信号の切り替え時におけるエッジ乱れがマルチパルスに影響をおよぼすことを防止できる。
【０１４６】
また、テスト発光におけるマルチパルスの割合を一定としたが、倍速が高くなるに従いマルチパルス発光時間が短くなることで検出精度が悪化することを防ぐために、マルチパルスの割合を増加させてもよい。
【０１４７】
また、データ記録時の発光パターンにおけるマルチパルスの有無にかかわらず、テスト発光時にマルチパルスを用いてもよい。
【０１４８】
また、ＺＣＬＶあるいはＰＣＡＶでの動作を例示したが、ＦＵＬＬＣＬＶやＦＵＬＬＣＡＶなどほかの動作状態に適用してもよい。
【０１４９】
また、ピークパワーを検出するためにマルチパルスの平均値を検出するとしたが、マルチパルスのピークレベルを検波してもよい。
【０１５０】
また、テスト発光のマルチパルスをピークパワーとスペースパワーとを組み合わせたマルチパルスとしたが、ピークパワーとスペースパワーとの組み合わせ以外の組み合わせでマルチパルスを形成してもよい。
【０１５１】
また、倍速変化による記録クロック生成部４１からの記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用したが、メディアの種類差による記録クロック信号の周波数変化に対して本発明を適用してもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１５２】
本発明は、記録を行うことのできる光ディスクに記録あるいは再生を行う際に、テスト領域でマルチパルスを含むテスト発光を行うことによりレーザパワー制御を行う技術分野で特に有用である。
【符号の説明】
【０１５３】
１    レーザ
２    光量検出部
３    電流調整部
１０    サンプルホールド
１１    パワー演算部
１２    電流演算部
１３    レーザドライバ
１４    サンプル信号生成部
１５    サンプル信号生成部
２０    記録データ生成部
２１    記録パターン演算部
２２    テストデータ生成部
２３、２４    テストパターン演算部
２５    パターンセレクタ
３０    アドレス検出部
４０    倍速検出部
４１    記録クロック生成部
４２    テストクロック生成部
４３    周波数領域指定部
４４    分周設定部
５０    分周部
６０    ピーク演算部
６１    ピークパワー換算部
６２    マークパワー換算部
６３    スペースパワー換算部
６４    クールパワー換算部
７０    ピーク目標生成部
７１    マーク目標生成部
７２    スペース目標生成部
７３    クール目標生成部
７４    ピーク電流積分部
７５    マーク電流積分部
７６    スペース電流積分部
７７    クール電流積分部
７８    比例保持部
７９    比例演算部
８０    制御セレクタ
１００、２００    光ディスク装置
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、
前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、
前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周部と、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、
前記分周クロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部と、
を備え、
前記分周部は、記録時の線速度が変化するときは、前記分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整する、光ディスク装置。
【請求項２】
前記線速度を検出する速度検出部をさらに備え、
前記分周部は、前記検出された線速度に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記速度検出部は、前記情報担体上のアドレスに基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記速度検出部は、前記情報担体上のトラックのウォブル周波数に基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記速度検出部は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に基づいて、前記線速度を検出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記分周部は、前記記録クロック信号に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記分周部は、前記分周クロック信号に基づいて前記分周比を調整する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記分周部は、ＣＬＶ方式で記録を行う場合は、前記分周クロック信号の周波数を一定にする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記分周部は、ＣＡＶ方式で記録を行う場合は、前記光ビームが照射された前記情報担体の半径位置に応じて分周比を変えることで、前記分周クロック信号の周波数を所定の周波数範囲内にする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記電流調整部は、
前記発光部が出力した前記光ビームのパワーを検出して、パワー検出信号を生成する光量検出部と、
前記パワー検出信号を異なるタイミングでサンプルすることで、複数のレベルの信号を検出するサンプルホールド部と、
前記サンプルホールド部の出力信号に基づいて、前記光ビームの複数のパワーを計算するパワー演算部と、
前記計算した複数のパワーに基づいて、前記発光部に与える前記電流を計算する電流演算部と、
を備え、
前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高いパワー値以外のパワー値に基づいて、前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する非検出方式を有しており、
前記電流演算部は、基準線速度以外では、前記非検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記電流演算部は、前記パワー演算部が計算した最も高い検出パワー値を用いて、前記最も高いパワーに対応した電流を計算する検出方式を有しており、
前記電流演算部は、前記基準線速度では、前記検出方式を用いて前記最も高いパワー値に対応した電流を計算する、請求項１０に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記電流演算部は、前記情報担体の規格で定義された線速度を基準線速度とする、請求項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記電流演算部は、ＣＡＶ方式で記録を行うときは、前記情報担体の最内周部における線速度を基準線速度とする、請求項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記分周部は、マルチパルス発光時の平均パワーと中央パワーのずれの大きさに基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記分周部は、前記電流調整部が検出可能な光ビームのパルスの周波数帯域に基づいて、前記分周クロック信号の周波数範囲を計算する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
情報担体に照射する光ビームを出力する発光部と、
前記光ビームの光量を検出して、前記発光部に与える電流を調整する電流調整部と、
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成部と、
テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成部と、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算部と、
前記テストクロック信号に基づいて、前記発光部から出力される前記光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算部と、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンと、前記電流調整部が計算した電流値とに基づいて、前記発光部に電流を与える電流出力部と、
を備え、
前記テストクロック生成部は、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成する、光ディスク装置。
【請求項１７】
前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターン中のマルチパルス部分の始端および終端の少なくとも一方をマスクする、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記テストパターン演算部がマスクするタイミングでサンプルしないようにサンプルタイミングをマスクするサンプルホールド部をさらに備える、請求項１７に記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記テストパターン演算部は、前記テスト発光パターンの始端および終端はマルチパルスとしない、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記テストパターン演算部は、前記線速度が高くなると、前記テスト発光パターン内に占めるマルチパルスの割合を増加させる、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記テストパターン演算部は、前記データ記録発光パターンがマルチパルスを含まない場合でも、前記テスト発光パターン内にマルチパルスを含める、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、
前記記録クロック信号を分周して分周クロック信号を生成する分周ステップと、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、
前記分周クロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップと、
を包含し、
前記分周ステップは、記録時の線速度が変化するときは、分周クロック信号の周波数変化が小さくなるように分周比を調整するステップを含む、レーザパワー制御方法。
【請求項２５】
データ記録時の基準となる記録クロック信号を生成する記録クロック生成ステップと、
テスト記録時に用いるテストクロック信号を生成するテストクロック生成ステップと、
前記記録クロック信号に基づいて、データを記録するためのデータ記録発光パターンを設定する記録パターン演算ステップと、
前記テストクロック信号に基づいて、光ビームのパワーを制御するためのテスト記録用のテスト発光パターンを設定するテストパターン演算ステップと、
前記データ記録発光パターンおよび前記テスト発光パターンのうちの選択した発光パターンに基づいて、発光部に電流を与える電流出力ステップと、
を包含し、
前記テストクロック生成ステップは、記録時の線速度によらず、一定周波数の前記テストクロック信号を生成するステップを含む、レーザパワー制御方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【国際調査報告】
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