(57)【要約】  本発明に係る固体シンチレータは、下記式（１）で表され、    ［化１］    （Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＣｅｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （１）（式中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素であり、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属であり、ｘおよびｙは、０．５≦ｘ≦１、０．０００００１≦ｙ≦０．２である。）厚さ２ｍｍで測定した波長５５０ｎｍの光の透過率が４０％以上である。本発明に係る固体シンチレータは、低コストで製造でき、高い発光出力を有し、Ｃｄを含まないためＣｄを放出しない。【特許請求の範囲】
【請求項１】
下記式（１）で表され、
［化１］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＣｅｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （１）
（式中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素であり、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属であり、ｘおよびｙは、０．５≦ｘ≦１、０．０００００１≦ｙ≦０．２である。）
厚さ２ｍｍで測定した波長５５０ｎｍの光の透過率が４０％以上であることを特徴とする固体シンチレータ。
【請求項２】
下記式（２）で表され、
［化２］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＰｒｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （２）
（式中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素であり、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属であり、ｘおよびｙは、０．５≦ｘ≦１、０．０００００１≦ｙ≦０．２である。）
厚さ２ｍｍで測定した波長６１０ｎｍの光の透過率が４０％以上であることを特徴とする固体シンチレータ。
【請求項３】
請求項１または２に記載の固体シンチレータを用いたことを特徴とする放射線検出器。
【請求項４】
請求項３に記載の放射線検出器を用いたことを特徴とするＸ線断層写真撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線等の放射線を可視光線等に変換する技術に関し、詳しくは、固体シンチレータ、この固体シンチレータを用いた放射線検出器およびＸ線断層写真撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療診断、工業用検査、セキュリティ等の分野においてはＸ線断層写真撮影装置（Ｘ線ＣＴ装置）等の放射線検査装置を用いた検査が行われている。Ｘ線ＣＴ装置は、通常、扇状のＸ線ビームであるファンビームＸ線を照射するＸ線管（Ｘ線源）と、Ｘ線管に対して対向配置され多数のＸ線検出素子を有するＸ線検出器と、Ｘ線検出器からのデータに基づき画像を再構成する画像再構成装置とを備える。被検体は、Ｘ線管とＸ線検出器との間に載置され、ファンビームＸ線の照射により断層面が撮影される。【０００３】
Ｘ線ＣＴ装置は、ファンビームＸ線を照射してＸ線吸収データを収集する作業を、照射角度を断層面に対して例えば１度ずつ変えて繰り返して行う。そして、得られたデータをコンピュータで解析して被検体の断層面でのＸ線吸収率を算出し、この吸収率に応じた断層面の画像を構成する。【０００４】
Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器としては、Ｘ線の刺激により可視光線等を放射する固体シンチレータが用いられている。固体シンチレータとは、シンチレータのうち、セラミックまたは単結晶からなるシンチレータを意味する。【０００５】
Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線検出器として固体シンチレータを用いると、検出素子が小型化されチャンネル数を増やすことが容易であるため、高解像度化することができるため好ましい。【０００６】
このようなＸ線検出器等の放射線検出器に用いられる固体シンチレータとしては、従来、例えばタングステン酸カドミウム（ＣｄＷＯ４）、ヨウ化ナトリウム（ＮａＩ）、ヨウ化セシウム（ＣｓＩ）等の単結晶体、塩化弗化バリウム：ユーロピウム（ＢａＦＣｌ：Ｅｕ）、ランタンオキシ臭化物：テルビウム（ＬａＯＢｒ：Ｔｂ）、ヨウ化セシウム：タリウム（ＣｓＩ：Ｔｌ）、タングステン酸カルシウム（ＣａＷＯ４）、タングステン酸カドミウム（ＣｄＷＯ４）、特開昭５８−２０４０８８号公報（特許文献１）に開示されるガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ）等が知られている。
【特許文献１】特開昭５８−２０４０８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このうち、特許文献１に開示されるガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ）はＸ線吸収係数が大きく発光の残光時間が短いため、Ｘ線検出用シンチレータとして望ましい。特に、Ｘ線ＣＴ装置が医療分野で用いられる場合は、Ｘ線吸収係数が大きく発光の残光時間が短いガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ）は、被爆量や診断時間の短縮等の観点から好適である。【０００８】
しかし、ガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム等の希土類オキシ硫化物セラミックスは、ＨＩＰ法（熱間等方圧加圧法）を用いて製造する必要があるため、ホットプレス（１軸加圧）法や真空焼結法を用いて製造する場合に比べて製造コストが高いという問題がある。また、Ｘ線ＣＴ装置が手荷物検査装置等のセキュリティ分野で用いられる場合は、検出素子が大面積であるためシンチレータにＸ線吸収係数の大きさや残光時間の短さがあまり要求されない。このため、ガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジムは、製造コストの高さが大きな問題となる。【０００９】
これに対し、タングステン酸カドミウム（ＣｄＷＯ４）単結晶シンチレータは、ガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム等の希土類オキシ硫化物セラミックスシンチレータよりも特性面で劣るもののコスト面での優位性が高いため、セキュリティ分野のＸ線ＣＴ装置用シンチレータとして適している。しかし、Ｃｄは有害性物質であるため、タングステン酸カドミウム（ＣｄＷＯ４）単結晶シンチレータは環境を悪化させるおそれがあるという問題がある。【００１０】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、低コストで製造でき、高い発光出力を有し、Ｃｄを含まない固体シンチレータ、この固体シンチレータを用いた放射線検出器およびＸ線断層写真撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る固体シンチレータは、上記問題点を解決するものであり、下記式（１）で表され、
［化１］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＣｅｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （１）
（式中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素であり、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属であり、ｘおよびｙは、０．５≦ｘ≦１、０．０００００１≦ｙ≦０．２である。）
厚さ２ｍｍで測定した波長５５０ｎｍの光の透過率が４０％以上であることを特徴とする。【００１２】
また、本発明に係る固体シンチレータは、上記問題点を解決するものであり、下記式（２）で表され、
［化２］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＰｒｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （２）
（式中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素であり、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属であり、ｘおよびｙは、０．５≦ｘ≦１、０．０００００１≦ｙ≦０．２である。）
厚さ２ｍｍで測定した波長６１０ｎｍの光の透過率が４０％以上であることを特徴とする。【００１３】
さらに、本発明に係る放射線検出器は、上記問題点を解決するものであり、前記固体シンチレータを用いたことを特徴とする。【００１４】
また、本発明に係るＸ線断層写真撮影装置は、上記問題点を解決するものであり、前記固体シンチレータを用いたことを特徴とする。【００１５】
［発明の効果］
本発明に係る固体シンチレータによれば、低コストで製造でき、高い発光出力を有し、Ｃｄを含まない固体シンチレータが得られる。【００１６】
また、本発明に係る放射線検出器によれば、製造コストが低く、光出力が高く、また廃棄の際にＣｄを放出するおそれがない放射線検出器が得られる。【００１７】
さらに、本発明に係るＸ線断層写真撮影装置によれば、製造コストが低く、被爆量が少なく、廃棄の際にＣｄを放出するおそれがないＸ線断層写真撮影装置が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明に係る固体シンチレータは、付活剤としてＣｅを含むもの（以下、「第１の固体シンチレータ」ともいう。）と、付活剤としてＰｒを含むもの（以下、「第２の固体シンチレータ」ともいう。）とがある。【００１９】
［第１の固体シンチレータ］
第１の固体シンチレータは、下記式（１）で表される組成を有する希土類アルミン酸塩化合物である。【００２０】
［化３］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＣｅｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （１）
式（１）中、ＭはＬａおよびＴｂの少なくとも１種の元素である。【００２１】
式（１）中、ＪはＡｌ、ＧａおよびＩｎから選択される少なくとも１種の金属である。【００２２】
式（１）中、ｘは、０．５≦ｘ≦１である。ｘが０．５≦ｘ≦１であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＣｅの合計量中のＧｄの含有量が５０ｍｏｌ％以上１００ｍｏｌ％以下であると、Ｘ線吸収係数および発光効率が高いため好ましい。【００２３】
ｘが０．５未満であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＣｅの合計量中のＧｄの含有量が５０ｍｏｌ％未満であると、Ｘ線を十分に吸収することができないため発光出力が低くなるおそれがある。【００２４】
式（１）中、ｙは、０．０００００１≦ｙ≦０．２、好ましくは０．００１≦ｙ≦０．１である。【００２５】
Ｃｅは、式（１）に表される希土類アルミン酸塩化合物の発光効率を増大させるための付活剤である。ｙが０．０００００１≦ｙ≦０．２であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＣｅの合計量中のＣｅの含有量が０．０００１ｍｏｌ％以上２０ｍｏｌ％以下であると、発光効率が高いため好ましい。【００２６】
ｙが０．０００００１未満であるかまたは０．２を超えると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＣｅの合計量中のＣｅの含有量が０．０００１ｍｏｌ％未満である場合、発光に寄与するＣｅの含有量不足のため発光効率が低く、一方２０ｍｏｌ％を超えると材料が着色するため透明性が低く十分な発光出力が得られないおそれがある。【００２７】
第１の固体シンチレータは、単結晶または多結晶体であるセラミックスのいずれであってもよい。【００２８】
第１の固体シンチレータは、Ｘ線吸収係数および発光効率が高いため、厚さ２ｍｍのシンチレータを用いた場合に、Ｘ線でＣｅが発光する波長５５０ｎｍの光の透過率が４０％以上になる。【００２９】
ここで透過率とは、直線透過率を意味する。この直線透過率は、希土類アルミン酸塩化合物からなる第１の固体シンチレータの透明性の指標である。第１の固体シンチレータは、直線透過率（透明性）が高くなるとフォトダイオードなどの受光器に達する光が増大するため、直線透過率が高いほど好ましい光出力が増加する。【００３０】
透過率が４０％以上であると、固体シンチレータとして用いる場合、光出力が十分に高いと考えられる。【００３１】
第１の固体シンチレータは、たとえば、Ｔｂ４Ｏ７、Ｌａ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｇａ２Ｏ３、ＣｅＯ２等の酸化物を混合した混合粉末をＡｒ等の不活性ガス雰囲気下で焼成して希土類酸化物粉末を製造し、この希土類酸化物粉末をラバープレス等により成形した後、この成形体をホットプレス（１軸加圧）法もしくは真空焼結法で加熱処理して緻密化させることにより、製造することができる。【００３２】
従来のガドリニウムオキシ硫化物：プラセオジム等の希土類オキシ硫化物セラミックスは、高温時に熱分解するため、Ｔａ等の金属カプセルを用いたＨＩＰ法（熱間等方圧加圧法）で製造する必要があるが、本発明の第１の固体シンチレータは、高温時に熱分解しないため、金属カプセルを用いる必要もなく、ＨＩＰ法より簡潔で製造コストの低いホットプレス法もしくは真空焼結法で製造することができる。【００３３】
ホットプレス法および真空焼結法での加熱処理条件は、通常、温度が１４００℃〜１７００℃、処理時間が１時間〜１０時間である。【００３４】
ホットプレス法での加熱加圧処理の際には、少なくともホットプレス処理装置の処理室内の雰囲気をアルゴンガス等の不活性ガスで置換することが好ましい。【００３５】
第１の固体シンチレータによれば、ホットプレス法もしくは真空焼結法により低コストで製造でき、高い発光出力を有し、Ｃｄを含まない固体シンチレータが得られる。【００３６】
［第２の固体シンチレータ］
第２の固体シンチレータは、下記式（２）で表される組成を有する希土類アルミン酸塩化合物である。【００３７】
［化４］
（Ｍ１−ｘ−ｙＧｄｘＰｒｙ）３Ｊ５Ｏ１２      （２）
式（２）中、ＭおよびＪは上記式（１）と同じであるため説明を省略する。【００３８】
式（２）中、ｘは、０．５≦ｘ≦１である。ｘが０．５≦ｘ≦１であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＰｒの合計量中のＧｄの含有量が５０ｍｏｌ％以上１００ｍｏｌ％以下であると、Ｘ線吸収係数および発光効率が高いため好ましい。【００３９】
ｘが０．５未満であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＰｒの合計量中のＧｄの含有量が５０ｍｏｌ％未満であると、Ｘ線を十分に吸収することができないため発光出力が低くなるおそれがある。【００４０】
式（２）中、ｙは、０．０００００１≦ｙ≦０．２、好ましくは０．０００１≦ｙ≦０．０１である。【００４１】
Ｐｒは、式（２）に表される希土類アルミン酸塩化合物の発光効率を増大させるための付活剤である。ｙが０．０００００１≦ｙ≦０．２であると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＰｒの合計量中のＰｒの含有量が０．０００１ｍｏｌ％以上２０ｍｏｌ％以下であると、発光効率が高いため好ましい。【００４２】
ｙが０．０００００１未満であるかまたは０．２を超えると、すなわち、Ｍ、ＧｄおよびＰｒの合計量中のＰｒの含有量が０．０００１ｍｏｌ％未満である場合、発光に寄与するＣｅの含有量不足のため発光効率が低く、一方２０ｍｏｌ％を超えると材料が着色するため透明性が低く十分な発光出力が得られないおそれがある。【００４３】
第２の固体シンチレータは、単結晶または多結晶体であるセラミックスのいずれであってもよい。【００４４】
第２の固体シンチレータは、Ｘ線吸収係数および発光効率が高いため、厚さ２ｍｍのシンチレータを用いた場合に、Ｘ線でＰｒが発光する波長６１０ｎｍの光の透過率が４０％以上になる。透過率が４０％以上であると、固体シンチレータとして用いる場合、光出力が十分に高いと考えられる。【００４５】
第２の固体シンチレータは、たとえば、Ｔｂ４Ｏ７、Ｌａ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｇａ２Ｏ３、Ｐｒ７Ｏ１１等の酸化物を混合した混合粉末をＡｒ等の不活性ガス雰囲気下で焼成して希土類酸化物粉末を製造し、この希土類酸化物粉末を第１の固体シンチレータと同様なホットプレス（１軸加圧）法もしくは真空焼結法で処理して緻密化させることにより製造することができる。【００４６】
ホットプレス法および真空焼結法での加熱処理条件は、通常、温度が１４００℃〜１７００℃、処理時間が１時間〜１０時間である。【００４７】
ホットプレス法での加熱加圧処理の際には、少なくともホットプレス処理装置の処理室内の雰囲気をアルゴンガス等の不活性ガスで置換することが好ましい。【００４８】
第２の固体シンチレータによれば、ホットプレス法もしくは真空焼結法により低コストで製造でき、高い発光出力を有し、Ｃｄを含まない固体シンチレータが得られる。【００４９】
本発明に係る放射線検出器は、上記の本発明に係る固体シンチレータをたとえばＸ線検出器のＸ線検出素子として用いたものである。【００５０】
本発明に係る放射線検出器は、たとえば、上記固体シンチレータと、この固体シンチレータから放射される光を電気エネルギーに変換する光電子増倍管とを備えた構成とすることができる。【００５１】
本発明に係る放射線検出器によれば、本発明に係る固体シンチレータを用いるため、従来の固体シンチレータを用いる場合に比べて、製造コストが低く、かつ光出力が高い、また廃棄の際にＣｄを放出するおそれがない放射線検出器が得られる。【００５２】
本発明に係るＸ線断層写真撮影装置は、上記の本発明に係る固体シンチレータをＸ線検出器のＸ線検出素子として用いたものである。【００５３】
本発明に係るＸ線断層写真撮影装置は、たとえば、Ｘ線管と、本発明に係る固体シンチレータを用いたＸ線検出器と、Ｘ線検出器からのデータに基づき画像を再構成する画像再構成装置とを備えた構成とすることができる。【００５４】
本発明に係るＸ線断層写真撮影装置によれば、Ｘ線検出器に本発明に係る固体シンチレータを用いるため、従来の固体シンチレータを用いる場合に比べて、製造コストが低く、かつＸ線の被曝量を低減でき、また廃棄の際にＣｄを放出するおそれがないＸ線断層写真撮影装置が得られる。
【実施例】
【００５５】
以下に実施例を示すが、本発明はこれらに限定されて解釈されるものではない。【００５６】
［実施例１］
Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．０μｍで（Ｇｄ０．９９Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００５７】
この蛍光体粉末をラバープレスにより成形した後、得られた成形体をホットプレス（１軸加圧）処理装置のカーボン型内にセットした。ホットプレス処理装置に加圧媒体としてアルゴンガスを封入し、圧力（面圧）４９ＭＰａ、温度１７００℃で３時間処理したところ、（Ｇｄ０．９９Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体が得られた。この焼結体をマルチワイヤソーにより機械加工して、縦２５ｍｍ×横２５ｍｍ×厚さ２ｍｍのセラミックスシンチレータを作製した。【００５８】
このセラミックスシンチレータは、管電圧：１２０ＫｖｐのＸ線が照射されるとピーク波長が５５０ｎｍ近傍にある可視光を放射する。このため、セラミックスシンチレータの透明性の指標として、波長５５０ｎｍの光の直線透過率を測定した。具体的には、セラミックスシンチレータについて、縦２５ｍｍ×横２５ｍｍの面に波長５５０ｎｍを含む光を照射して、厚さ２ｍｍにおける波長５５０ｎｍの光の直線透過率（以下、直線透過率を「透過率」ともいう。）を測定した。透過率は５２％であった。【００５９】
また、セラミックスシンチレータについて、光出力を測定した。具体的には、１２０ＫｖｐのＸ線を、軟Ｘ線を遮断するため、２０ｍｍのＡｌフィルタに通した後、セラミックスシンチレータの縦２５ｍｍ×横２５ｍｍの一方の面に照射し、この一方の面の裏側の面に設けられたシリコンフォトダイオードに流れる電流値を光出力として求めた。光出力の測定は、比較試料としてのＣｄＷＯ４についても同条件で行った。セラミックスシンチレータの光出力は、ＣｄＷＯ４の光出力を１００％とした場合の相対光出力値（％）として算出した。相対光出力値（％）は１２８％であった。【００６０】
結果を表１に示す。【００６１】
［実施例２］
Ｔｂ４Ｏ７、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が４．８μｍで（Ｔｂ０．４９Ｇｄ０．５Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００６２】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｔｂ０．４９Ｇｄ０．５Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００６３】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は６３％であり、相対光出力値（％）は１４２％であった。結果を表１に示す。【００６４】
［実施例３］
Ｌａ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．２μｍで（Ｌａ０．４９Ｇｄ０．５Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００６５】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｌａ０．４９Ｇｄ０．５Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００６６】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は４８％であり、相対光出力値（％）は１１７％であった。結果を表１に示す。【００６７】
［実施例４］
Ｔｂ４Ｏ７、Ｇｄ２Ｏ３、Ｇａ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が４．８μｍで（Ｔｂ０．３Ｇｄ０．６Ｃｅ０．１）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１０ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００６８】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｔｂ０．３Ｇｄ０．６Ｃｅ０．１）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１０ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００６９】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は５８％であり、相対光出力値（％）は１３８％であった。結果を表１に示す。【００７０】
［実施例５］
Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＰｒ７Ｏ１１を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．０μｍで（Ｇｄ０．９９Ｐｒ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００７１】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｇｄ０．９９Ｐｒ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００７２】
このセラミックスシンチレータは、管電圧：１２０ＫｖｐのＸ線が照射されるとピーク波長が６１０ｎｍ近傍にある可視光を放射する。このため、得られたセラミックスシンチレータについて、波長５５０ｎｍの光に代えて波長６１０ｎｍの光を用いた以外は実施例１と同様にして透過率を測定した。また、実施例１と同様にして光出力を測定した。透過率は４７％であり、相対光出力値（％）は１１５％であった。結果を表１に示す。【００７３】
［実施例６］
Ｔｂ４Ｏ７、Ｇｄ２Ｏ３、Ｇａ２Ｏ３およびＰｒ７Ｏ１１を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が４．８μｍで（Ｔｂ０．３Ｇｄ０．６９Ｐｒ０．０１）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００７４】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｔｂ０．３Ｇｄ０．６９Ｐｒ０．０１）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００７５】
このセラミックスシンチレータは、管電圧：１２０ＫｖｐのＸ線が照射されるとピーク波長が６１０ｎｍ近傍にある可視光を放射する。このため、得られたセラミックスシンチレータについて、波長５５０ｎｍの光に代えて波長６１０ｎｍの光を用いた以外は実施例１と同様にして透過率を測定した。また、実施例１と同様にして光出力を測定した。透過率は５７％であり、相対光出力値（％）は１３２％であった。結果を表１に示す。【００７６】
［比較例１］
Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．０μｍで（Ｇｄ０．７Ｃｅ０．３）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度３０ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００７７】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｇｄ０．７Ｃｅ０．３）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度３０ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００７８】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は１２％であり、相対光出力値（％）は１８％であった。結果を表１に示す。【００７９】
［比較例２］
Ｌａ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．２μｍで（Ｌａ０．５９Ｇｄ０．４Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００８０】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｌａ０．５９Ｇｄ０．４Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００８１】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は３８％であり、相対光出力値（％）は８７％であった。結果を表１に示す。【００８２】
［比較例３］
Ｔｂ４Ｏ７、Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が４．８μｍで（Ｔｂ０．７９Ｇｄ０．２Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００８３】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｔｂ０．７９Ｇｄ０．２Ｃｅ０．０１）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度１ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００８４】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は３０％であり、相対光出力値（％）は８０％であった。結果を表１に示す。【００８５】
［比較例４］
Ｇｄ２Ｏ３、Ｇａ２Ｏ３およびＣｅＯ２を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．１μｍで（Ｇｄ０．７Ｃｅ０．３）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度３０ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００８６】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｇｄ０．７Ｃｅ０．３）３Ｇａ５Ｏ１２（Ｃｅ濃度３０ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００８７】
得られたセラミックスシンチレータについて、実施例１と同様にして透過率と光出力を測定した。透過率は２１％であり、相対光出力値（％）は５４％であった。結果を表１に示す。【００８８】
［比較例５］
Ｇｄ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３およびＰｒ７Ｏ１１を、所定の組成比で総重量が５００ｇになるように粉末混合した後、Ａｒガス雰囲気下１２００℃で焼成して、平均粒径Ｄ５０が５．０μｍで（Ｇｄ０．７Ｐｒ０．３）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度３０ｍｏｌ％）で表される希土類酸化物蛍光体粉末を生成した。【００８９】
この蛍光体粉末を用いた以外は、実施例１と同様にして（Ｇｄ０．７Ｐｒ０．３）３Ａｌ５Ｏ１２（Ｐｒ濃度３０ｍｏｌ％）で表される焼結体を得、セラミックスシンチレータを作製した。【００９０】
このセラミックスシンチレータは、管電圧：１２０ＫｖｐのＸ線が照射されるとピーク波長が６１０ｎｍ近傍にある可視光を放射する。このため、得られたセラミックスシンチレータについて、波長５５０ｎｍの光に代えて波長６１０ｎｍの光を用いた以外は実施例１と同様にして透過率を測定した。また、実施例１と同様にして光出力を測定した。透過率は１６％であり、相対光出力値（％）は２７％であった。結果を表１に示す。
【表１】
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【産業上の利用可能性】
【００９１】
本発明に係る固体シンチレータは、たとえば医療診断、工業用検査、セキュリティ等の分野で用いられる放射線検査装置を構成する固体シンチレータ、具体的には放射線検出器やＸ線断層写真撮影装置等を構成する固体シンチレータに使用することができる。【００９２】
本発明に係る放射線検出器は、たとえば医療診断、工業用検査、セキュリティ等の分野で用いられる放射線検出器に使用することができる。【００９３】
本発明に係るＸ線断層写真撮影装置は、たとえば医療診断、工業用検査、セキュリティ等の分野で用いられるＸ線断層写真撮影装置に使用することができる。
【国際調査報告】
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