(57)【要約】本発明の情報記録媒体は、複数の記録速度に適合し、前記複数の記録速度の記録条件があらかじめ記録されている情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録速度ごとに、当該記録速度で記録をおこなうための記録パワーに関するパラメータおよび記録波形に関するパラメータと、当該記録速度で記録をおこなうための記録波形に関するパラメータ用いて当該記録速度以外の記録速度で記録を行うための、記録パワーに関する他のパラメータとを含む。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録速度に適合し、前記複数の記録速度の記録条件があらかじめ記録されている情報記録媒体であって、
前記記録条件は、
前記記録速度ごとに、当該記録速度で記録をおこなうための記録パワーに関するパラメータおよび記録波形に関するパラメータと、
当該記録速度で記録をおこなうための記録パワーに関するパラメータ用いて当該記録速度以外の記録速度で記録を行うための、記録パワーに関する他のパラメータと、
を含む情報記録媒体。
【請求項２】
前記当該記録速度以外の記録速度は、前記当該記録速度よりも遅い請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記複数の記録速度は、標準記録速度の４倍の記録速度および６倍の記録速度を含む請求項１または２に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
前記記録パワーに関するパラメータおよび前記記録パワーに関する他のパラメータは、すくなくともターゲットβ値をそれぞれ１つ含む請求項１から３のいずれかに記載の記録媒体。
【請求項５】
前記それぞれのターゲットβ値は、記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、略等しくなるように設定されている請求項４に記載の記録媒体。
【請求項６】
前記情報記録媒体は、ＢＣＡ領域またはＰＩＣ領域を含み、前記記録条件は、前記ＢＣＡ領域または前記ＰＩＣ領域に記録されている請求項１から５のいずれかに記載の記録媒体。
【請求項７】
複数の記録速度に適合し、各記録速度の記録条件が予め記録されている記録媒体を最適な記録パワーで記録する記録装置であって、
前記記録条件は、各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータを含み、
記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、互いに略等しくなるように、前記パラメータを用いて、前記記録速度ごとに記録パワーのターゲットを算出し、前記記録パワーを制御する記録装置。
【請求項８】
前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、βである請求項７に記載の記録装置。
【請求項９】
前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、所定の記録速度にのみ対応しており、
前記所定の記録速度以外の速度に用いる記録パワーのターゲットは、前記所定の記録速度にのみ対応したパラメータを直線近似して算出する請求項７または８に記載の記録装置。
【請求項１０】
複数の記録速度に適合し、各記録速度の記録条件が予め記録されている記録媒体を最適な記録パワーで記録する集積回路であって、
前記記録条件は、各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータを含み、
記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、互いに略等しくなるように、前記パラメータを用いて、前記記録速度ごとに記録パワーのターゲットを算出し、前記記録パワーを制御する集積回路。
【請求項１１】
複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、
記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、
前記情報記録媒体または記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、
前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する記録装置。
【請求項１２】
複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、
記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、
前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、第２のパルス位置パラメータ値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、
前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する記録装置。
【請求項１３】
複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、
記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、
前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１の線速度でデータを記録する際の第１のパルス位置パラメータ値が記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーと、前記第１のパルス位置パラメータを用いて前記第２の線速度よりも遅い第３の線速度でテスト記録を行った際の第３の記録パワーとから演算する記録装置。
【請求項１４】
請求項１に記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、
前記情報記録媒体に光ビームを照射するステップと、
前記情報記録媒体から前記記録条件を読み出すステップと、
を含む再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報記録媒体、情報記録媒体への情報の記録方法、情報記録媒体へ情報を記録する記録装置およびこれに用いる集積回路に関し、特に、記録の際に用いる記録パワーを決定する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光を用いて情報の記録を行う追記型情報記録媒体（ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＢＤ−Ｒ）や書き換え型情報記録媒体（ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＢＤ−ＲＥ）などの記録型情報記録媒体が現在広く利用されている。このようなレーザ光を用いて情報の記録を行う情報記録媒体は一般に光ディスクと称されている。以下、本願明細書では情報記録媒体を単に光ディスクと呼ぶ。【０００３】
こうした記録型光ディスクにレーザ光を用いて情報を記録する光ディスク装置では、光ディスクに記録した情報の記録品質を保証することが最も重要な課題である。しかし、光ディスクに記録された情報の記録品質は、その情報を記録するときの光ディスク装置の使用環境や温度等によって左右される。また、光ディスクの種類や製品の品質のバラツキ等によっても変動してしまう。したがって、情報記録時のこうした要因に応じたレーザ光の記録パワーで情報を書き込まないと、情報を正しく書き込むことができず、後でその情報を読み出せなくなる、あるいは、読み出した情報が正しいものではないといった不具合が発生する。そこで、従来より、光ディスク装置では、光ディスクに記録した情報の記録品質を安定化させるため、光ディスクに情報を記録する前に、情報記録時の最適記録レーザパワーを求めていた。【０００４】
例えば、パワーキャリブレーションを行って情報記録時の最適記録レーザパワーを求める方式（Optimum Power Control：ＯＰＣと略称する）がある。このＯＰＣは、まず、光ディスク上のパワーキャリブレーションエリア（「ＰＣＡ」と略称する。ＯＰＣ領域とも呼ばれる。）において、レーザパワーを複数のステップで変化させて所定の情報を記録する。次に、記録した各情報を再生し、得られたＲＦ信号（再生信号）の基準レベルＣに対する最大値（ピーク値）Ａ１と最小値（ボトム値）Ａ２を検出する。図１５は、ＲＦ信号の一例を示している。β値を求めるための基準レベルＣは、ＲＦ信号の全振幅の平均レベルであり、所定の帯域が設定されたハイパスフィルタ（ＨＰＦ）にＲＦ信号を通過させることによって得られる信号のレベルと等価である。図１５に示すように、この基準レベルＣを基準としてＲＦ信号の振幅の最大値のＡ１と、ＲＦ信号の振幅の最小値のＡ２を求める。最大値Ａ１と最小値Ａ２とから次式（１）に基づいてβ値を求める。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１ーＡ２）  ・・・  （１）【０００５】
求めたβ値の中で目標値と一致するときのレーザパワーを記録時の最適記録レーザパワーとして設定し、その最適記録レーザパワーで光ディスクの記録領域（ユーザーエリア）に情報を記録する（例えば、特許文献１参照）。【０００６】
また、最適記録レーザパワーの決定にＲＦ信号の変調度を用いてもよい。この場合にも、光ディスク上のパワーキャリブレーションエリアにおいて、レーザパワーを複数のステップで変化させて所定の情報を記録する。次に、記録した各情報を再生し、得られたＲＦ信号の基準レベルＤに対する最大値（ピーク値）Ｂ１と最小値（ボトム値）Ｂ２を検出する。図１５に示すように、変調度値を求めるための基準レベルＤは、ＲＦ信号の振幅を測定するための基準となるＤＣレベルであり、例えば、レーザを消光したときのレベルと等価である。この基準レベルＤを基準に、ＲＦ信号の振幅の最大値のＢ１と、ＲＦ信号の振幅の最小値のＢ２を求める。変調度値は、次式（２）に基づいて求められる。
変調度＝（Ｂ１−Ｂ２）／Ｂ２  ・・・  （２）【０００７】
求めた変調度値が目標値と一致するときのレーザパワーを記録時の最適記録レーザパワーとして設定し、その最適記録レーザパワーで光ディスクの記録領域に情報を記録する（例えば、特許文献２参照）。【０００８】
このようなβまたは変調度のような信号測定指標を用いて、最適な記録レーザパワーを求め、これを用いて情報を記録することにより、光ディスクに記録した情報の記録品質を確保している。【０００９】
β値や変調度の目標値は、たとえば光ディスクに予め記録されている記録条件パラメータの１つとして光ディスクのＰＩＣ（Permanent Information and Control data）領域に記録されている。【００１０】
一方、光ディスクへの記録速度の制御方法には、ＣＬＶ(Constant Linear Velocity)方式およびＣＡＶ(Constant Angular Velocity)方式がある。【００１１】
ＣＬＶ方式は、光ディスクへの記録を、記録位置にかかわらず一定の線速度で行う方式であり、最も安定した書き込みを行なうことができる。ＣＡＶ方式は、光ディスクへの記録を、記録位置にかかわらず一定の回転速度で行う方式であり、最も高速で書き込みを行うことができる。【００１２】
また、決められた領域ごとに決められた一定の線速度で書き込みを行うＺ-ＣＬＶ (Zone-Constant Linear Velocity)方式や、途中までＣＡＶ方式で書き込み、最高速に達した時点でＣＬＶに切り替えるＰ-ＣＡＶ (Partial-Constant Angular Velocity)方式が知られている。【００１３】
近年、光ディスクへの情報の書き込み時間を短縮すること、つまり、記録速度を高め、より高速で記録を行うことが求められる。たとえば、ハードディスクドライブに記録した情報をできるだけ短い時間で光ディスクへコピーしたり、ムーブ（移動）したりすることが求められている。記録速度は、線速度または転送速度（レート）で示される。本願明細書では、記録速度とは具体的には線速度のことを意味する。また、光ディスクには全て標準の記録速度が規定されており、記録速度は、標準の記録速度に対して何倍の速さかを示す「〜倍速」という表現を用いて表される。たとえは、２倍速、４倍速、６倍速等と表現され、ｘ２、ｘ４、ｘ６あるいは２ｘ、４ｘ、６ｘと省略して表す場合もある。【００１４】
図１６に示すように、一般に、光ディスク６０１は、情報を記録するための螺旋状のトラック６０２を備え、トラック６０２に光ビームを照射することにより、マークおよび、マークとマークの間のスペースを形成する。これによりマークおよびスペースによって符号化されたユーザーデータなどの情報が記録される。光ディスクが１回転したときにマークやスペースが形成されるトラックの長さは半径位置によって異なる。このため、光ディスクの内周部分と外周部分とにおいて、同じ線密度で情報を記録するためには、内周部分では、外周部分よりも回転速度を上げる必要がある。例えば、ＤＶＤの場合、最内周部分を１６倍速で記録しようとすると、毎分約２２０００回転の回転速度が必要になる。１秒間に換算すると、毎秒約３６０回転となる。【００１５】
光ディスクの基盤素材であるポリカーボネートの耐久性の観点から、光ディスクを安全に使用できるのは、約１００００回転／分強と考えられている。このため、上述したように、ＤＶＤの最内周部分において、１６倍速で記録することはできない。内周部から徐々に記録速度を上げていき、最高で１６倍速の記録速度に達するように記録速度を制御する必要がある。【００１６】
ＢＤの場合、標準（ｘ１）記録速度（線速度）は、約４．９ｍ/ｓである。ＢＤの最内周位置である半径２４ｍｍにおいて、この記録速度で記録を行うためには、光ディスクの回転速度を約１９５０回転/分にする必要がある。したがって、ポリカーボネートの耐久性を考慮し、光ディスクの回転数を１００００回転/分以下に制限する場合、最内周位置である半径２４ｍｍにおいて記録することのできる記録速度は５倍速（ｘ５）以下にする必要がある。つまり、光ディスクへの情報の書き込み時間を短縮するために記録速度を高める場合、最内周位置である半径２４ｍｍにおいて記録することのできる記録速度が５倍速（ｘ５）以下であること、また、他の半径位置においても、１００００回転/分を超えないように記録速度を制御する必要がある。【００１７】
従来ＢＤの記録速度は最大で４倍速であった。このため、最内周位置である半径２４ｍｍにおいて４倍速で記録をおこなっても回転速度が１０００回転／分を超えることは無かった。しかし、より高速で情報を記録することが求められており、５倍速を超える速度で情報をＢＤに記録する場合、上述したように、光ディスクの回転速度が１００００回転/分を超えないように記録速度の制御をする必要がある。
【特許文献１】特許第３２５９６４２号
【特許文献２】特開２００６−１４７１２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
上述したポリカーボネートの耐久性の観点から生じる回転速度の制限を考慮すれば、ＢＤにおいてより高速で記録を行うためには、ＢＤへの記録をＣＡＶ方式または、Ｚ-ＣＬＶで行うことが考えられる。しかしながら、上述した光ディスクに予め記録されている記録条件パラメータは、ＣＬＶ記録方式を基準とし、各記録速度においてのみ定義されている。【００１９】
たとえばＤＶＤの場合、表１に示すように、光ディスクがｘ４、ｘ６、ｘ８の記録速度に対応している場合、それぞれの記録速度の対応したｘ４、ｘ６、ｘ８の記録条件がＰＩＣに独立して記録されている。【００２０】
【表１】
2009072287.tif 000003
【００２１】
記録条件には、記録パワーを決定するためのパラメータと記録波形を定義するためのパラメータが少なくとも含まれている。例えば、記録パワーを決定するためのパラメータは、記録パワーを決定するためのターゲットとなるβ値、変調度値と基準記録パワーとなる記録パワー、パワー比等である。表１に示すように、ｘ４のＰＩＣは、記録条件１で示されるように、４倍速で記録を行う場合に使用される上述の記録パワーを決定するためのパラメータと記録波形を定義するためのパラメータのみを含む。また、ｘ６およびｘ６のＰＩＣは、それぞれ、記録条件２および３で示されるように、６倍速および８倍速で記録を行う場合に使用される上述の記録パワーを決定するためのパラメータと記録波形を定義するためのパラメータのみを含む。記録速度ごとのこれらのパラメータは、その記録速度でのみ使用されることが保証されており、他の記録速度において使用することは保証されていない。【００２２】
例えば、ｘ６の記録条件２は、６倍速での記録のための記録パワーや記録波形を決定するために使用する場合、所定の記録品質を確保できることが保証されている。しかし、ｘ６の記録条件２を用いて、ｘ６より遅い記録速度、たとえば４倍速で記録するための記録パワーや記録波形を決定した場合、決定した条件による記録品質は保証されない。つまり、記録速度が一定なＣＬＶ方式に従って定義された記録条件パラメータを用いて、記録速度が変化するＣＡＶ方式で記録を行っても、記録品質は保証されない。【００２３】
このため、仮に、従来のＤＶＤと同様、ｘ４、ｘ６、ｘ８の記録速度に対応したＢＤにおいて、ＣＬＶ記録方式における記録条件パラメータが表１に示すように記録されるとしても、ＣＡＶ記録方式でＢＤへ記録することはできない。【００２４】
また、ＢＤの場合、膜特性が保証されたパワーキャリブレーションエリアは、ディスクの最内周部分にのみ存在する。上述したように最内周位置における最大記録速度は５倍速であるため、膜特性が保証されたパワーキャリブレーションエリアでは、６倍速以上の記録条件を求めることができない。最外周にもパワーキャリブレーションエリアは存在する場合はあるが、最外周の記録膜特性が保証されていない場合があり、ｘ６の記録条件を最適に求めることができない。このため、Ｚ−ＣＬＶによって、内周側の領域では５倍速以下のＣＬＶで記録を行い、外周側の領域では６倍速以上のＣＬＶで記録を行うことを考えた場合、外周側の領域における記録条件を最適に求めることができない。【００２５】
本発明は、このような従来技術の課題を解決し、ＣＡＶ方式および従来よりも高速に書き込みが可能なディスクにおいて、最適な記録条件、たとえば、記録パワーを決定することのできる情報記録媒体、記録方法、記録装置および集積回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
本発明の情報記録媒体は、複数の記録速度に適合し、前記複数の記録速度の記録条件があらかじめ記録されている情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録速度ごとに、当該記録速度で記録をおこなうための記録パワーに関するパラメータおよび記録波形に関するパラメータと、当該記録速度で記録をおこなうための記録パワーに関するパラメータ用いて当該記録速度以外の記録速度で記録を行うための、記録パワーに関する他のパラメータとを含む。【００２７】
ある好ましい実施形態において、前記当該記録速度以外の記録速度は、前記当該記録速度よりも遅い。【００２８】
ある好ましい実施形態において、前記複数の記録速度は、標準記録速度の４倍の記録速度および６倍の記録速度を含む。【００２９】
ある好ましい実施形態において、前記記録パワーに関するパラメータおよび前記記録パワーに関する他のパラメータは、すくなくともターゲットβ値をそれぞれ１つ含む。【００３０】
ある好ましい実施形態において、前記それぞれのターゲットβ値は、記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、略等しくなるように設定されている。【００３１】
ある好ましい実施形態において、前記情報記録媒体は、ＢＣＡ領域またはＰＩＣ領域を含み、前記記録条件は、前記ＢＣＡ領域または前記ＰＩＣ領域に記録されている。【００３２】
本発明の記録方法は、各記録速度の記録条件が予め記録されている記録媒体を最適な記録パワーで記録する記録方法であって、前記記録条件は、各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータを有し、記録された領域を再生した変調度が、略々等しくなるように、前記パラメータを用いて、記録速度ごとに記録パワーのターゲットを算出し、記録パワーを制御する。【００３３】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、β指標値である。【００３４】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、所定の記録速度のみ含まれており、前記記録条件に記載されていない記録速度の記録パワーのターゲットは、記載されている倍速のパラメータを直線近似して算出する。【００３５】
本発明の記録装置は、複数の記録速度に適合し、各記録速度の記録条件が予め記録されている記録媒体を最適な記録パワーで記録する記録装置であって、前記記録条件は、各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータを含み、記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、互いに略等しくなるように、前記パラメータを用いて、前記記録速度ごとに記録パワーのターゲットを算出し、前記記録パワーを制御する。【００３６】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、βである。【００３７】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、所定の記録速度にのみ対応しており、前記所定の記録速度以外の速度に用いる記録パワーのターゲットは、前記所定の記録速度にのみ対応したパラメータを直線近似して算出する。【００３８】
本発明の集積回路は、複数の記録速度に適合し、各記録速度の記録条件が予め記録されている記録媒体を最適な記録パワーで記録する集積回路であって、前記記録条件は、各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータを含み、記録された領域を再生することにより得られる信号の変調度が、互いに略等しくなるように、前記パラメータを用いて、前記記録速度ごとに記録パワーのターゲットを算出し、前記記録パワーを制御する。【００３９】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、β指標値である。【００４０】
ある好ましい実施形態において、前記各記録速度に対応した記録パワーのターゲットとなるパラメータは、所定の記録速度のみ含まれており、前記記録条件に記載されていない記録速度の記録パワーのターゲットは、記載されている倍速のパラメータを直線近似して算出する。【００４１】
本発明の記録方法は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録方法であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体または記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する。【００４２】
本発明の記録方法は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録方法であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、第２のパルス位置パラメータ値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する。【００４３】
本発明の記録方法は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録方法であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１の線速度でデータを記録する際の第１のパルス位置パラメータ値が記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーと、前記第１のパルス位置パラメータを用いて前記第２の線速度よりも遅い第３の線速度でテスト記録を行った際の第３の記録パワーとから演算する。【００４４】
本発明の記録装置は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体または記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する。【００４５】
本発明の記録装置は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１のパルス位置パラメータ値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、第２のパルス位置パラメータ値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１の記録パワー値と、前記第２の記録パワー値と、前記第２のパルス位置パラメータ値を用いて第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算する。【００４６】
本発明の記録装置は、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成され、トラックの記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、前記マークとマークの間のスペースによってデータが記録される情報記録媒体に前記データの記録を行う記録装置であって、記録を行うための光ビームの照射パワーを決定する際に、前記情報記録媒体もしくは情報記録装置の所定の領域に、第１の線速度でデータを記録する際の第１のパルス位置パラメータ値が記録されており、前記第１の線速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の線速度よりも遅い第２の線速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーと、前記第１のパルス位置パラメータを用いて前記第２の線速度よりも遅い第３の線速度でテスト記録を行った際の第３の記録パワーとから演算する。【００４７】
本発明の再生方法は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、前記情報記録媒体に光ビームを照射するステップと、前記情報記録媒体から前記記録条件を読み出すステップとを含む。
【発明の効果】
【００４８】
本発明によれば、光ディスク等の記録情報媒体において、最内周で記録可能な記録速度よりも高い記録速度の最適記録条件を、あらかじめ記録情報媒体に所定の条件を満たす記録パラメータを持つことで、内周のパワーキャリブレーションエリアで求めることができる。また、ＣＡＶ制御方式で記録する場合のパワー制御方式をβ一定でなく、変調度一定となるように、ターゲットとなるβを記録速度ごとに算出して、記録パワーを求めることで、常にパワーマージンが最大となる記録パワーを求めることができる。よって、光ディスクのどの領域においても、所定の記録品質を保持することができ、高速記録と良好な記録品質とを両立できるシステムを提供するこができる。【００４９】
また、本発明によれば、ＣＡＶ記録において試し記録を行えない記録速度での記録を行う際の最適な記録パワーを予測することが可能になり、正しい記録を行うことができる。【００５０】
したがって、本発明は、ＢＤのように、高密度記録により、今まで以上に高精度の記録パワーの制御を要求される光ディスクへの記録に有効である。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の第1の実施形態の光ディスクのトラック構造を示す図である。
【図２】第1の実施形態によるｘ４ｘ６ＺＣＬＶ記録制御における光ディスクの半径位置に対する記録速度と、記録パワーと、β及び変調度の関係を示す図である。
【図３】第２の実施形態によるｘ６ＰＣＡＶ記録制御方式における光ディスクの半径位置に対する記録速度と、記録パワーと、β及び変調度の関係を示す図である。
【図４】ｘ６ＰＣＡＶ記録制御方式において、βを一定に制御した場合の変調度の変化を示す図である。
【図５】第２の実施形態によるｘ８ＰＣＡＶ記録制御方式における光ディスクの半径位置に対する記録速度と、記録パワーと、β及び変調度の関係を示す図である。
【図６】第３の実施形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図７Ａ】第４の実施形態おける光ディスクの平面図である。
【図７Ｂ】第４の実施形態おける光ディスクのトラック構造を示す図である。
【図８】第４の実施形態における光ディスク装置のブロック図である。
【図９】図８の光ディスク装置の再生部のブロック図である。
【図１０】第４の実施形態における光パルス波形を示す図である。
【図１１】第４の実施形態におけるテスト記録の配置を説明する図である。
【図１２】ＲＦ信号の変調度の求め方を説明する図である。
【図１３Ａ】第４の実施形態における記録パワーの決定に用いるグラフである。
【図１３Ｂ】第４の実施形態における記録パワーの決定に用いるグラフである。
【図１３Ｃ】第４の実施形態における記録パワーの決定に用いるグラフである。
【図１４】第４の実施形態における記録パワーの決定に用いるグラフである。
【図１５】ＲＦ信号の変調度の求め方を説明する図である。
【図１６】従来の光ディスクの構造を示す図である。
【図１７】本発明で用いる記録速度の制御方法を説明する図である。
【図１８】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の一例を示す図である。
【図１９】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【図２０】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１００  光ディスク
１３１  光ヘッド
１３２  モータ
１３３  サーボ回路
１３４  トラックアドレス再生回路
１３５  ＣＰＵ
１３６  データ記録再生回路
１３７  データアドレス再生回路
１１０  ＢＣＡ領域
１２０  リードイン領域
１３０  ユーザー領域
１５１    光ディスク
２０２    光ヘッド
２０４    再生部
２０８    記録パワー決定部
２１０    記録パワー設定部
２１２    レーザ駆動回路
２１４    記録データ生成部
２１５    再生部Ａ
２１７    サーボ位置設定部
２２１    プリアンプ
２２２    サンプルホールド回路
２２３    Ａ／Ｄ変換器
２２４    演算器
１５１    トラック
１５２    制御情報記録領域
１５３    テスト記録領域
１５４    ユーザーデータ記録領域
【発明を実施するための最良の形態】
【００５３】
図１７は、より高速でＢＤに記録を行うことが可能であり、本発明が適用可能な記録速度の制御方法の例を示している。図１７に示すように、従来のＢＤよりも高速で記録を行うため、例えば、以下のようなｘ６ＰＣＡＶ、ｘ４ｘ６ＰＺＣＬＶ、ｘ８ＰＣＡＶ、ｘ４ｘ６ｘ８ＰＺＣＬＶ、ｘ１０ＣＡＶ、ｘ１２ＣＡＶなどの方式を検討する必要がある。グラフにおいて、横軸は光ディスクの半径位置を示し、縦軸は記録速度を示している。また、図１７において、ｘ４ＣＬＶは、内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）まで、ｘ４の一定の線速度で記録する従来の方式を示している。【００５４】
ｘ６ＰＣＡＶでは、内周（２４ｍｍ）から半径Ａｍｍまで、ＣＡＶ方式で記録し、Ａｍｍから外周（５８ｍｍ）まで、ｘ６ＣＬＶ方式で記録する。【００５５】
ｘ４ｘ６ＰＺＣＬＶでは、内周（２４ｍｍ）から半径Ａｍｍまで、ｘ４ＣＬＶ方式で記録し、Ａｍｍから外周（５８ｍｍ）まで、ｘ６ＣＬＶ方式で記録する。【００５６】
ｘ８ＰＣＡＶでは、内周（２４ｍｍ）から半径Ｂｍｍまで、ＣＡＶ方式で記録し、Ｂｍｍから外周（５８ｍｍ）まで、ｘ８ＣＬＶ方式で記録する。【００５７】
ｘ４ｘ６ｘ８ＰＺＣＬＶでは、内周（２４ｍｍ）から半径Ａｍｍまで、ｘ４ＣＬＶ方式で記録し、ＡｍｍからＢｍｍまで、ｘ６ＣＬＶ方式で記録し、Ｂｍｍから外周（５８ｍｍ）まで、ｘ８ＣＬＶ方式で記録する方式である。【００５８】
ｘ１０ＣＡＶは、内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）まで、一定の回転数（約７８００回転/分）で記録する。【００５９】
ｘ１２ＣＡＶは、内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）まで、一定の回転数（約９８００回転/分）で記録する。【００６０】
以下、これらの記録速度の制御方法を用いてＢＤに記録を行う場合において、最適な記録条件、たとえば、記録パワーを決定することのできる情報記録媒体、記録方法、記録装置および集積回路を具体的に説明する。【００６１】
（第１の実施形態）
以下本発明による第１の実施形態を説明する。まず、図１を参照しながら、本実施形態の光ディスク１００のトラック構造を説明する。光ディスク１００は、記録層を含む。記録層に記録マークおよび記録マークと記録マークとの間のスペースを形成することによって、光ディスク１００にデータが記録される。光ディスク１００には、図１６を参照して説明したように、トラックが同心円状に形成されている。【００６２】
光ディスク１００は、ＢＣＡ（Burst Cutting Area）領域１１０と、リードイン領域１２０と、ユーザー領域１３０と、リードアウト領域１４０とを含む。【００６３】
ＢＣＡ領域１１０は、あらかじめバーコード状の信号が記録されている。この信号には、ディスク１枚ごとのメディア識別用の固有番号や、著作権情報や、ディスク特性情報が含まれる。このディスク特性情報には、記録層の数やアドレス管理方法の識別情報が含まれている。【００６４】
ユーザー領域１３０は、ユーザーがデータを記録し得るように構成されており、ユーザー領域１３０に、ユーザーデータが記録される。ユーザーデータには、例えば、オーディオデータおよびビジュアルデータが含まれる。【００６５】
リードイン領域１２０は、ユーザー領域１３０とは異なって、ユーザーがデータを記録し得るようには構成されていない。リードイン領域１２０は、ＰＩＣ（Permanent Information and Control data）領域１２１とＯＰＣ（Optimum Power Calibration）領域（ＰＣＡ領域とも言う）１２２とＩＮＦＯ領域１２３を含む。【００６６】
ＰＩＣ領域１２１には、ディスク特性情報が含まれる。このディスク特性情報には、記録層の数やアドレス管理方法の識別情報、アクセスパラメータが記録されている。アクセスパラメータは、光ディスク１００に記録マークを形成し、また、追記型の場合にはさらにスペースを形成するための／書き換え型の場合にはさらに消去するためのレーザビームの記録パワーに関するパラメータ、および記録マークを形成するための記録パルスの幅などの記録波形に関するパラメータを含む。【００６７】
ＰＣＡ領域１２２は、テストデータを記録または再生するための領域である。テストデータの記録または再生は、光ディスク１００にアクセスする光ディスク装置がアクセスパラメータの調整、具体的には、たとえば、記録パワーやパルス幅等の調整を行う。【００６８】
ＩＮＦＯ領域１２３は、光ディスク１００にアクセスする装置にとって必要であるユーザー領域１３０の管理情報やユーザー領域１３０の欠陥管理のためのデータが記録される。【００６９】
図２は、本発明の第1の実施形態による、記録速度および記録パワーの制御方法であって、ＢＤにおいて、６倍速で記録を行うための記録速度および記録パワーの制御方法の一例を示している。本実施形態の光ディスクは、たとえば、４倍速（ｘ４）、６倍速（ｘ６）および８倍速（ｘ８）での記録に適合している。この光ディスクを用い、ｘ４ｘ６ＺＣＬＶによる記録速度および記録パワーを制御する方法を示している。図２中、３つのグラフの横軸は、光ディスクの内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）の範囲の半径位置［ｍｍ］を示している。図中、上のグラフの縦軸は、記録速度を示しており、中央のグラフの縦軸は記録パワーを示しており、下のグラフの縦軸は、βおよび変調度を示している。【００７０】
図２に示すように、ディスクの内周から外周まで領域を、内周側に位置するＺＯＮＥ０および外周側に位置するＺＯＮＥ１に分けている。図２の上のグラフに示すように、ＺＯＮＥ０では、４倍速のＣＬＶで記録が行われ、ＺＯＮＥ１では６倍速のＣＬＶで記録が行われる。このため、ＺＯＮＥ０ではｘ４の記録条件パラメータが用いられ、ＺＯＮＥ１ではｘ６の記録条件パラメータを用いられる。これらの記録条件パラメータは光ディスクのＰＩＣ等に予め記録されており、光ディスク装置は、そのＰＩＣ等を再生して、その記録条件を得る。【００７１】
ＺＯＮＥ０とＺＯＮＥ１との境界は、例えば、光ディスクの回転数が、１００００回転/分以下の条件を満たし、ｘ６の記録速度が可能となる半径位置に設定する。図中半径Ａｍｍは、記録速度を切り替える半径位置を示す。たとえば、内周から外周に向かって記録を行う場合、Ａｍｍよりも内周側の半径位置における記録は４倍速で行い、Ａｍｍおよびこれより外周側の半径位置に置けける記録は６倍速で行う。【００７２】
図２の中央のグラフは記録に用いる光ビームの記録パワーを示している。図に示すように、ＺＯＮＥ０における記録パワーはｘｍＷであり、ＺＯＮＥ１における記録パワーはｙｍＷである。ｙはｘよりも大きく、ＺＯＮＥ０とＺＯＮＥ１との境界で記録パワーが変化している。図２では理想的な状態を示しているため、ＺＯＮＥ０およびＺＯＮＥ１における記録パワーはそれぞれ一定である。しかし、同一記録速度で記録を行う場合に記録パワーを変動させてもよい。例えば、β値を指標とするパワー制御を行った場合、光ディスク装置における各種制御ばらつきや、光ディスクにおける半径位置ごとの膜特性に応じて、最適な記録パワーは変えてもよい。【００７３】
図２の下のグラフは、β値を指標として記録パワーを制御しながら記録を行い、記録した情報を再生することにより得られたβ及び変調度を示している。本実施形態では、ＺＯＮＥ０およびＺＯＮＥ１のそれぞれにおいて、β値が５％となるように記録パワーの制御がなされ、情報が記録されている。この場合、変調度は常に、６０％となるように記録されている。このように、記録される記録媒体の記録膜において、最適な記録状態で記録された領域の変調度となるように、全面において、記録パワー制御を行なうことによって、記録品質を最良にすることができる。その結果、記録のパワーマージンが最大となるように、記録される。【００７４】
β値を用いた記録パワー制御は、変調度を一定に保って記録することが目的であり、β値を所定にすることは本質でない。変調度は、記録パワー変化に鈍感な記録パワー領域があり、変調度を用いた記録パワー制御が困難な場合がある。これに対し、βは、記録パワー変化に非常に敏感に変化する指標であるため、記録パワー制御に有用である。記録品質を最良に保つための記録パワー制御の本質は、変調度を所定となるように記録パワーを制御することである。【００７５】
表２は、本実施形態による光ディスクに記録された記録条件を示している。前述したように光ディスクは、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録における記録条件が記録されている。記録条件には、記録パワーに関するパラメータ、つまり、最適な記録パワーを決定するために用いられるパラメータと、記録波形に関するパラメータが含まれる。表２ではこのうち、記録パワーに関するパラメータの一部を示している。【００７６】
【表２】
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【００７７】
前述したように本実施形態の光ディスクは、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録に対応しているため、ＰＩＣ領域には、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録を行う際に最適な記録パワーが得られるよう、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録の記録パワーを求めるためのパラメータで記録されている。具体的には、ｘ４での記録パワーを求めるためのｘ４ＰＩＣは、Ｐｗ４４およびβ４４を含む。同様にｘ６での記録パワーを求めるためのｘ６ＰＩＣは、Ｐｗ６６およびβ６６を含む。ｘ８での記録パワーを求めるためのｘ８ＰＩＣは、Ｐｗ８８およびβ８８を含む。これらは、上述したように光ディスクが適合した記録速度ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録を行うために用いられる記録パワーに関するパラメータである。【００７８】
表２において、Ｐｗおよびβの添え字のうち、左側は使用される記録波形に関するパラメータが対応している記録速度を意味している。また、右側の添え字は、実際に記録あるいは試し書きを行う際の記録速度を意味している。したがって、ｘ４ＰＩＣ、ｘ６ＰＩＣおよびｘ８ＰＩＣはそれぞれ、ｘ４、ｘ６およびｘ８の記録速度に対応した記録波形に関するパラメータを含んでおり、ｘ４ＰＩＣ、ｘ６ＰＩＣおよびｘ８ＰＩＣを用いる場合、記録時の記録速度にかかわらず、ｘ４、ｘ６およびｘ８の記録速度に対応した記録波形に関するパラメータを使用する。【００７９】
また、各記録速度のＰｗ＊＊には、ターゲット（推奨値）となる記録パワーと各パワーレベルの比と、ターゲット変調度、パワー調整時の係数等が含まれている。これらの値は、前述したように、その記録速度での記録パワーを決定するために用いられる。このため、ｘ６での記録における最適記録パワーは必ず実際にｘ６で試し書きをする必要があった。また、たとえば、Ｐｗ６６およびβ６６を用いて、ｘ４での記録のための記録パワーを求めることはできなかった。【００８０】
本実施形態の光ディスクは、このような課題を解決するため、上述の記録条件に加えて、光ディスクが適合した記録速度ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録を行うために用いられる記録パワーに関するパラメータを用いて、その記録速度以外の記録速度で記録を行うための記録パワーに関するパラメータを含んでいる。たとえば、ｘ６での記録パワーを求めるためのｘ６ＰＩＣ、具体的には、Ｐｗ６６およびＰｗ４４を用いてｘ４での記録パワーを決定するために用いるβ６４がｘ６ＰＩＣとして記録されている。Ｐｗ６６およびβ６６を用いてｘ４での記録パワー決定する方法は以下の通りである。【００８１】
ステップ１
まず、内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ６ＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録行う。具体的には、ｘ６ＰＩＣを用いて、レーザの記録パワーを複数のステップで変化させ、ｘ４の記録速度で所定の情報（テスト記録パターン）を記録する。【００８２】
ステップ２
記録された領域のパターンを再生し、得られたＲＦ信号から式（１）に従って各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値を求める。光ディスクに記録されたβ６４と一致するβ値のＲＦ信号が得られた記録パワーＰＰを求める。β６４と一致するβ値がない場合には、各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値から、補間または近似によって、記録パワーＰＰを求める。これにより求められる記録パワーＰＰは、ｘ６ＰＩＣを用いてｘ４の記録を行う場合に最適な記録パワーである。【００８３】
ステップ３
記録パワーＰＰに、予め記録条件として記録されているＰｗ６６と、Ｐｗ４４の比（Ｐｗ６６/Ｐｗ４４）を乗算する。これにより、ｘ６の記録速度で記録する場合の最適な記録パワーを求めることができる。β６４は、ｘ６ＰＩＣを用いてｘ４の記録速度で記録した場合とｘ６の記録速度で記録した場合とで、記録した領域の変調度が同一となるように決定されていることが好ましい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なって、ｘ６の記録における最適な記録パワーを決定できる。【００８４】
上述したように、光ディスクに使用するポリカーボネートの耐久性の観点から、光ディスクを１００００回転／分以上の速さで回転させることは好ましくない。このため、ＢＤの場合、内周に設けられたパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ６ＣＬＶ方式の記録速度で試し書きによる記録パワーの条件を決定することができない。【００８５】
しかし、本実施形態によれば、パワーキャリブレーションエリアにおいて、上述した本実施形態の手順に従い、ｘ４の記録速度でテスト記録を行うことにより、ｘ６の記録における最適な記録パワーを決定することができる。この記録パワーの決定には、品質が保証された内周側のパワーキャリブレーションエリアを使用するため、精度よく記録パワーを決定することができる。したがって、このようにして決定された記録パワーを用いた行なわれる記録の品質が保証される。【００８６】
本実施形態では、ｘ４ｘ６ＺＣＬＶによる記録速度および記録パワーを制御する方法を説明したが、光ディスクは、ｘ８に適合しているため、ｘ８での記録を行うことができる。このため、表１に示すように、本実施形態の光ディスクは、ｘ８のＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度で記録パワーを求めるためのパラメータβ８４をさらに記録していてもよい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なって、ｘ８の記録における最適な記録パワーを決定できる。具体的な手順は以下の通りである。【００８７】
ステップ１
まず、内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ８ＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録行う。具体的には、ｘ８ＰＩＣを用いて、レーザの記録パワーを複数のステップで変化させ、ｘ４の記録速度所定の情報を記録する。【００８８】
ステップ２
テスト記録された領域を再生し、得られたＲＦ信号から式（１）に従って各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値を求める。光ディスクに記録されたβ８４と一致するβ値のＲＦ信号が得られた記録パワーＰＰを求める。β８４と一致するβ値がない場合には、各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値から、補間または近似によって、記録パワーＰＰを求める。これにより求められる記録パワーＰＰは、ｘ８ＰＩＣを用いてｘ４の記録を行う場合に最適な記録パワーである。【００８９】
ステップ３
記録パワーＰＰに、予め記録条件として記録されているＰｗ８８と、Ｐｗ４４の比（Ｐｗ８８/Ｐｗ４４）を乗算する。これにより、ｘ８の記録速度で記録する場合の最適な記録パワーを求めることができる。β８４は、ｘ８ＰＩＣを用いてｘ４の記録速度で記録した場合とｘ８の記録速度で記録した場合とで、記録した領域の変調度が同一となるように決定されていることが好ましい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なって、ｘ８の記録における最適な記録パワーを決定できる。【００９０】
このように本実施形態によれば、光ディスクが適合した記録速度ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録を行うために用いられる記録パワーに関するパラメータを用いて、その記録速度以外の記録速度で記録を行うための記録パワーに関するパラメータを含んでいる。このため、実際に記録を行っていない記録速度における最適な記録パワーを算出することができる。特に、光ディスクが適合した記録速度ｘ４、ｘ６またはｘ８よりも遅い記録速度で記録を行うための記録パワーに関するパラメータを含んでいることにより、遅い記録速度で試し書きを行なうことによって、速い記録速度で記録を行う場合の記録パワーを算出することができる。具体的にはβ６４、β８４、β８６が記録条件として光ディスクに記録されていることにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なうことによってｘ６、ｘ８の記録速度で記録を行う場合の記録パワーを算出することができる。また、ｘ６の記録速度で試し書きを行なうことによってｘ８の記録速度で記録を行う場合の記録パワーを算出することができる。【００９１】
表１に示すように光ディスクは、β４６、β４８、β８６、β６８をさらに記録していてもよい。これらの値は、ＣＡＶ方式によって記録を行う場合における記録パワー制御に有用である。ＣＡＶ方式による記録については第２の実施形態で説明する。【００９２】
（第２の実施形態）
以下本発明による第２の実施形態を説明する。図３は、本発明の第２の実施形態による、記録速度および記録パワーの制御方法であって、ＢＤにおいて、６倍速で記録を行うための記録速度および記録パワーの制御方法の一例を示している。本実施形態の光ディスクは、たとえば、４倍速（ｘ４）、６倍速（ｘ６）および８倍速（ｘ８）での記録に適合している。この光ディスクを用い、ｘ６ＣＡＶによる記録速度および記録パワーを制御する方法を示している。図３中、３つのグラフの横軸は、光ディスクの内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）の範囲の半径位置［ｍｍ］を示している。図中、上のグラフの縦軸は、記録速度を示しており、中央のグラフの縦軸は記録パワーを示しており、下のグラフの縦軸は、βおよび変調度を示している。【００９３】
図３の上のグラフに示すように、内周での記録速度はｘ４であり、内周から半径ＡｍｍまでＣＡＶ方式で記録を行い、Ａｍｍから外周までｘ６ＣＬＶ方式で記録を行う。内周においてｘ４の記録速度となるように、ＢＤを一定の回転速度で回転し続ける場合、半径位置が大きくなるにつれて、ｘ４よりも記録速度は速くなる。記録速度がｘ６に達する半径位置がＡｍｍである。【００９４】
また、図３の上のグラフに示すように、ディスクの内周から外周まで領域を、内周側に位置するＺＯＮＥ０および外周側に位置するＺＯＮＥ１に分けている。記録の際、ＺＯＮＥ０では、ｘ４の記録条件パラメータが用いられ、ＺＯＮＥ１ではｘ６の記録条件パラメータが用いられる。ＺＯＮＥ０とＺＯＮＥ１との境界は、記録速度のｘ４とｘ６との間に設定されことが望ましく、例えば、ｘ５の記録速度となる半径位置としてもよい。【００９５】
図３の中央のグラフは、記録に用いる光ビームの記録パワーを示している。内周（２４ｍｍ）の半径位置では、ｘ４の記録速度であり、たとえばｘｍＷの記録パワーで記録することを示している。記録される半径位置が外周側へ移動するにつれ、記録パワーがある関係を持って上昇していき、ｘ６の記録速度となって半径位置ＡｍｍにおいてｙｍＷの記録パワーで記録する。その半径位置Ａｍｍから外周は、ｘ６ＣＬＶ制御によって記録される領域であるため、記録パワーは一定となっている。この例は、理想的な様子を示しているため、ＣＡＶ記録制御領域では、記録パワーは一定の割合で増加させ、ＣＬＶ記録制御方式領域では、記録パワーを一定としている。しかし、このような制御に限られず、例えば、β値を指標とするパワー制御を行った場合、光ディスク装置における各種制御ばらつきや、光ディスクにおける半径位置ごとの膜特性に応じて、最適な記録パワーを変化させてもよい。【００９６】
図３の下のグラフは、β値を指標として記録パワーを制御しながら記録を行い、記録した情報を再生することにより得られたβ及び変調度を示している。【００９７】
本実施形態では、変調度がどの領域においても６０％となるように記録パワーの制御を行い、情報が記録されている。変調度を一定に保つため、βが記録条件パラメータと記録速度との関係において、一定の関係で変化することを利用する。そのβを記録速度ごとにターゲットβを変化させることで、記録した領域の変調が一定となるように記録パワーを制御する。【００９８】
このように、記録される記録媒体の記録膜において、最適な記録状態で記録された領域の変調度となるように、全面において、記録パワー制御を行なうことによって、記録品質を最良にすることができる。その結果、記録のパワーマージンが最大となるように記録される。【００９９】
β値を用いた記録パワー制御は、変調度を一定に保って記録することが目的であり、β値を所定にすることは本質でない。変調度は、記録パワー変化に鈍感な記録パワー領域があり、変調度を用いた記録パワー制御が困難な場合がある。これに対し、βは、記録パワー変化に非常に敏感に変化する指標であるため、記録パワー制御に有用である。記録品質を最良に保つための記録パワー制御の本質は、変調度を所定となるように記録パワーを制御することである。【０１００】
本実施形態の光ディスクのＰＩＣ領域には第１の実施形態で説明した表１に示す記録条件パラメータが記録されている。前述したように光ディスクは、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録における記録条件が記録されている。記録条件には、記録パワーに関するパラメータ、つまり、最適な記録パワーを決定するために用いられるパラメータと、記録波形に関するパラメータが含まれる。表２ではこのうち、記録パワーに関するパラメータの一部を示している。【０１０１】
前述したように本実施形態の光ディスクは、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録に対応しているため、ＰＩＣ領域には、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録を行う際に最適な記録パワーが得られるよう、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録の記録パワーを求めるためのパラメータで記録されている。具体的には、ｘ４での記録パワーを求めるためのｘ４ＰＩＣは、Ｐｗ４４およびβ４４を含む。同様にｘ６での記録パワーを求めるためのｘ６ＰＩＣは、Ｐｗ６６およびβ６６を含む。ｘ８での記録パワーを求めるためのｘ８ＰＩＣは、Ｐｗ８８およびβ８８を含む。各倍速のＰｗ＊＊には、ターゲット（推奨値）となる記録パワーと各パワーレベルの比と、ターゲット変調度、パワー調整時の係数等が含まれている。これらの値は、前述したように、その記録速度での記録パワーを決定するために用いられる。このため、ｘ６での記録における最適記録パワーは必ず実際にｘ６で試し書きをする必要があった。また、たとえば、Ｐｗ６６およびβ６６を用いて、ｘ４での記録のための記録パワーを求めることはできなかった。【０１０２】
本実施形態の光ディスクも、このような課題を解決するため、上述の記録条件に加えて、たとえば、ｘ６での記録パワーを求めるためのｘ６ＰＩＣに含まれるＰｗ６６およびＰｗ４４を用いてｘ４での記録パワーを決定するために用いるβ６４がｘ６ＰＩＣとして記録されている。Ｐｗ６６およびβ６６を用いてｘ４での記録パワー決定する方法は第１の実施形態と同様である。具体的には以下の通りである。【０１０３】
ステップ１
まず、内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ６ＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録行う。具体的には、ｘ６ＰＩＣを用いて、レーザの記録パワーを複数のステップで変化させ、ｘ４の記録速度所定の情報を記録する。【０１０４】
ステップ２
テスト記録された領域を再生し、得られたＲＦ信号から式（１）に従って各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値を求める。光ディスクに記録されたβ６４と一致するβ値のＲＦ信号が得られた記録パワーＰＰを求める。β６４と一致するβ値がない場合には、各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値から、補間または近似によって、記録パワーＰＰを求める。これにより求められる記録パワーＰＰは、ｘ６ＰＩＣを用いてｘ４の記録を行う場合に最適な記録パワーである。【０１０５】
ステップ３
記録パワーＰＰに、予め記録条件として記録されているＰｗ６６と、Ｐｗ４４の比（Ｐｗ６６/Ｐｗ４４）を乗算する。これにより、ｘ６の記録速度で記録する場合の最適な記録パワーを求めることができる。β６４は、ｘ６ＰＩＣを用いてｘ４の記録速度で記録した場合とｘ６の記録速度で記録した場合とで、記録した領域の変調度が同一となるように決定されていることが好ましい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なって、ｘ６の記録における最適な記録パワーを決定できる。【０１０６】
上述したように、光ディスクに使用するポリカーボネートの耐久性の観点から、光ディスクを１００００回転／分以上の速さで回転させることは好ましくない。このため、ＢＤの場合、内周に設けられたパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ６ＣＬＶ方式の記録速度で試し書きによる記録パワーの条件を決定することができない。【０１０７】
しかし、本実施形態によれば、パワーキャリブレーションエリアにおいて、上述した本実施形態の手順に従い、ｘ４の記録速度でテスト記録を行うことにより、ｘ６の記録における最適な記録パワーを決定することができる。この記録パワーの決定には、品質が保証された内周側のパワーキャリブレーションエリアを使用するため、精度よく記録パワーを決定することができる。したがって、このようにして決定された記録パワーを用いて行なわれる記録の品質が保証される。【０１０８】
次に、ＣＡＶ記録における記録パワーの決定および制御方法を説明する。これには、表２に示すβ４６、β４８、β６８、β８４、β８６が用いられる。【０１０９】
図３の下のグラフに示すように、本実施形態では、変調度が内周から外周までの全領域において、６０％となるように記録パワーの制御を行う。このために、上述したようにβを用いて記録パワーの制御を行なう。【０１１０】
図３の下のグラフにおけるβ値ＸＸは、β４６に相当し、ＹＹは、β６４に相当する。上述したように、本実施形態では、ＺＯＮＥ０の領域をｘ４の記録条件パラメータを用いて、ｘ５の記録速度までＣＡＶ方式で記録を行う。ＺＯＮＥ１領域ではｘ６の記録条件パラメータを用いて、ｘ５の記録速度からｘ６の記録速度までＣＡＶ方式で記録を行い、ｘ６の記録速度以降は、ＣＬＶ方式によって記録を行う。【０１１１】
この場合、内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて求める必要がある記録パワーは、ｘ４の記録速度におけるｘ４の記録条件の記録パワーＳＳ１と、ｘ４記録速度におけるｘ６の記録条件の記録パワーＳＳ２である。【０１１２】
ＺＯＮＥ０領域の記録開始位置、つまり内周（半径位置２４ｍｍ）において、ｘ４の記録速度の記録パワーは、ＳＳ１である。ＳＳ１は、β４４となるように記録パワーが調整されている。つまり、ｘ４のＰＩＣであるＰｗ４４およびβ４４を用いて記録パワーが決定されている。【０１１３】
ＺＯＮＥ０領域の開始位置以降、記録終了位置までは、ｘ４の記録速度のβ４４と、ｘ６の記録速度のβ４６（ＸＸ％）を用いて、例えば、ターゲットとなるβを半径位置の関数として直線近似し、βがその近似直線上の値となるように、記録パワーを制御しながら記録する。具体的には、たとえば、所定の時間間隔あるいは、所定半径位置における間隔で記録を中断し、記録した領域のβを測定する。測定したβと、直線近似により、半径位置からもとまるターゲットのβとの差分を記録パワーの差分に変換し、記録パワーを更新しながら記録する。本実施形態では、このターゲットとなるβ値が、記録速度あるに応じて、例えば、直線的に変化することが特徴である。【０１１４】
同様に、ＺＯＮＥ１領域の記録開始位置では、上述したようにｘ６の記録条件を用いてｘ４で求めた記録パワーを用いる。ＺＯＮＥ１領域の開始位置以降、Ａｍｍまでは、β６４（ＹＹ％）と、β６６を用いて、例えば、ターゲットとなるβを半径位置の関数として直線近似し、βがその近似直線上の値となるように、記録パワーを制御しながら記録する。具体的には、たとえば、所定の時間間隔あるいは、所定半径位置における間隔で記録を中断し、記録した領域のβを測定する。測定したβと、直線近似により、半径位置からもとまるターゲットのβとの差分を記録パワーの差分に変換し、記録パワーを更新しながら記録する。本実施形態では、このターゲットとなるβ値が、記録速度あるに応じて、例えば、直線的に変化することが特徴である。【０１１５】
ＺＯＮＥ１領域の半径Ａｍｍから外周側の領域では、ＣＬＶ方式で記録される。このためβの直線近時による記録パワー制御は行わないで、β６６をターゲットβとする記録パワー制御を行いながら記録を行う。【０１１６】
このような記録パワー制御を行うことにより、光ディスクの全領域において、変調度が一定となる記録を行うことができ、記録品質を一定に保つことができる。【０１１７】
なお、記録速度の変化に伴ってβが変化する理由は、記録クロックに基づき、記録速度に比例して記録波形を変化させても、記録パルス幅や記録波形の立ち上がり及び立下りのタイミングやエッジの形状は、記録速度に比例して変化しないからである。このため、βが変化しないような記録パワー制御を行ってしまうと、変調度が変化するような記録を行うことになり、記録品質を一定に保つことができない。図４は、図３と同様にｘ６ＰＣＡＶで記録を行う場合において、βが一定となるように記録パワーを制御した場合の変調度の変化を示している。図４の下のグラフに示すように、特に、ＣＡＶ方式での記録領域において、βを例えば５％で一定となるように記録パワーを制御すると、変調度が一定となる記録を実現することができない。このため記録品質が著しく劣化する可能性がある。【０１１８】
このように本実施形態によれば、β６４は、ｘ６の記録条件を用いて、ｘ４の記録速度でｘ６の記録に最適な記録パワーを求めるために使用される。また、ＣＡＶ方式で記録する場合において、記録速度の変化に伴って記録パワーを制御するためにも使用される。β４６はＣＡＶ方式で記録する場合において、記録速度の変化に伴って記録パワーを制御するためにも使用される。【０１１９】
したがって、β６４およびβ４６を光ディスクに記録しておくことによって、内周の品質が保証されたパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ６の記録に最適な記録パワーをｘ４の記録速度で試し書きをおこなうことによって決定することができる。また、ＣＡＶ方式で記録する場合の最適な記録パワーも決定することができる。【０１２０】
本実施形態では、ｘ６ＰＣＡによる記録速度および記録パワーを制御する方法を説明したが、光ディスクは、ｘ８に適合しているため、ｘ８での記録を行うことができる。このため、表１に示すように、本実施形態の光ディスクは、ｘ８のＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度で記録パワーを求めるためのパラメータβ８４をさらに記録していてもよい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行なって、ｘ８の記録における最適な記録パワーを決定できる。具体的な手順は以下の通りである。【０１２１】
ステップ１
まず、内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて、ｘ８ＰＩＣを用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録行う。具体的には、ｘ８ＰＩＣを用いて、レーザの記録パワーを複数のステップで変化させ、ｘ４の記録速度所定の情報を記録する。【０１２２】
ステップ２
テスト記録された領域を再生し、得られたＲＦ信号から式（１）に従って各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値を求める。光ディスクに記録されたβ８４と一致するβ値のＲＦ信号が得られた記録パワーＰＰを求める。β８４と一致するβ値がない場合には、各記録パワーを用いた場合に得られるＲＦ信号のβ値から、補間または近似によって、記録パワーＰＰを求める。これにより求められる記録パワーＰＰは、ｘ８ＰＩＣを用いてｘ４の記録を行う場合に最適な記録パワーである。【０１２３】
ステップ３
記録パワーＰＰに、予め記録条件として記録されているＰｗ８８と、Ｐｗ４４の比（Ｐｗ８８/Ｐｗ４４）を乗算する。これにより、ｘ８の記録速度で記録する場合の最適な記録パワーを求めることができる。β８４は、ｘ８ＰＩＣを用いてｘ４の記録速度で記録した場合とｘ８の記録速度で記録した場合とで、記録した領域の変調度が同一となるように決定されていることが好ましい。これにより、ｘ４の記録速度で試し書きを行って、ｘ８の記録における最適な記録パワーを決定できる。【０１２４】
また、β４８、β６８、β８４、β８６は、特に、ｘ８ＰＣＡＶ等、ＣＡＶ記録を実施するときに有用な記録パラメータである。【０１２５】
図５は、本実施形態の光ディスクを用いて、ｘ８ＰＣＡＶ記録を行うときの、記録速度および記録パワーの制御方法の一例を示している。図４と同様、３つのグラフの横軸は、光ディスクの内周（２４ｍｍ）から外周（５８ｍｍ）の範囲の半径位置［ｍｍ］を示している。図中、上のグラフの縦軸は、記録速度を示しており、中央のグラフの縦軸は記録パワーを示しており、下のグラフの縦軸は、βおよび変調度を示している。【０１２６】
この例では、ディスクの内周から外周まで領域を内周側に位置するＺＯＮＥ０、外周側に位置するＺＯＮＥ２およびＺＯＮＥ０とＺＯＮＥ２にはさまれたＺＯＮＥ１に分けている。ＺＯＮＥ０、ＺＯＮＥ１およびＺＯＮＥ２は、それぞれｘ４の記録条件、ｘ６の記録条件およびｘ８の記録条件を用いる。半径位置Ｂｍｍは、ｘ８の記録速度に切り替わる半径位置を示している。また半径位置Ａｍｍはｘ６の記録速度に切り替わる半径位置を示している。図５の下のグラフに示すように、β８４は、ＺＺ％に相当し、ｘ８の記録速度の記録条件をｘ４の記録速度で求めるための記録パラメータである。記録パワーの制御方法は、図２を参照して説明した手順と同様であるためここでは説明を省略する。【０１２７】
β４８は、ｘ４の記録速度の記録条件でｘ８の記録速度まで記録を行う場合のターゲットβを算出するのに用いる。β６８は、ｘ６の記録速度の記録条件でｘ８の記録速度まで記録を行う場合のターゲットβを算出するのに用いる。また、β８６は、ｘ８の記録速度の記録条件でｘ６の記録速度まで記録を行う場合のターゲットβを算出するのに用いる。図４を参照して説明したように、ターゲットとなるβは半径位置の関数として直線近似する。しかし、βを記録速度の関数として近似してもよい。この場合、βは記録速度の１／２乗に比例し、直線近似することができる。【０１２８】
なお、第１および第２の本実施形態では、光ディスクの記録領域を複数のＺＯＮＥ分け、ＺＯＮＥごとに記録速度の記録条件を決定したが、この配置は特に限定されない。ＺＯＮＥ数を増やしも減らしてもよいし、複数の記録条件を使わないで、一つの記録条件だけを用いて全面を記録しても構わない。例えば、ｘ６ＰＣＡＶ記録においては、ｘ４の記録条件を用いて、ｘ５の記録速度からｘ６の記録速度まで記録を行っても構わない。記録品質が所定以上となるように、ＺＯＮＥの数とそのＺＯＮＥをどの記録速度の記録条件を用いるかを決定すればよい。【０１２９】
また、第１および第２の実施形態において、ＣＬＶによって記録速度を制御する領域では、ターゲットとなるβを一定にしていた。しかし、光ディスクの膜特性を考慮して、ＣＡＶ制御方式と同様に、ターゲットとなるβを変化させてもかまわない。【０１３０】
また、各記録速度における記録条件は、ＰＩＣ等予め光ディスクに記録されている記録パラメータのみに限定されない。光ディスク装置が光ディスクごとにその記録パラメータを保持しておき、それを記録条件パラメータとして用いてもよい。【０１３１】
また、第１および第２の実施形態の光ディスクは、光ディスクは、ｘ４、ｘ６およびｘ８での記録に適合していた。しかし、第１および第２の実施形態の光ディスク２倍速での記録にも適合していてもよい。この場合、ｘ２ＰＩＣとして、Ｐｗ２２、β２２、β２４、β２６、β４２、β６２をさらに記録しておいてもよい。【０１３２】
また、光ディスクは、ｘ２、ｘ４、ｘ６、ｘ８およびｘ１０での記録に適合していてもよい。この場合、以下の表３に示すデータが光ディスクのＰＩＣ領域に記録されていることが好ましい。これにより、たとえば、品質が保証された内周のパワーキャリブレーションエリアにおいて、上述した第1の実施形態の手順に従い、ｘ４の記録速度でテスト記録を行い、β６４、β８４およびβ１０＿４の値を用いて、ｘ６ｘ８、ｘ１０の記録における最適な記録パワーを決定することができる。【０１３３】
【表３】
2009072287.tif 000005
【０１３４】
また、第１及び第２の実施形態では、記録条件としてβを記録していたが、βに替えて、あるいはβともに、以下の第４の実施形態で説明する、ρ、Ｐｉｎｄ、κ、ｎ、εｅ、εｂｗを光ディスクのＰＩＣ領域やＯＰＡ領域に記録していてもよい。【０１３５】
（第３の実施形態）
次に、各記録速度における各記録条件を用いて、最適な記録パワー制御を行う光ディスク装置について説明する。【０１３６】
図６は、本発明の記録装置である光ディスク装置の実施形態実施の構成を示すブロック図である。図６において、光ディスク装置は、光ヘッド１３１、モータ１３２、サーボ回路１３３、トラックアドレス再生回路１３４、ＣＰＵ１３５、データ記録再生回路１３６、レーザ駆動回路１３７を備え、光ディスク１００に情報の記録を行う。【０１３７】
光ディスク１００は、図１６参照して説明したように、データを記録するトラックを有し、トラック上のアドレスフォーマットに従ってアドレス値が記録されている。トラックは蛇行して形成されており、蛇行の周波数あるいは位相の変調によりアドレス値が記録されている。また、図１を参照して説明したようなトラック構造を備え、リードイン領域１２０に表１などの記録条件パラメータが記録されたＰＩＣ領域１２１と試し書きのためのＰＣＡ（ＯＰＣ）領域１２２を含んでいる。【０１３８】
光ヘッド１３１は、光ディスク１００に光ビームを照射し、トラックを走査しながら光ディスク１００からの反射光量を検出して電気信号を出力する。【０１３９】
モータ１３２は、光ディスク1００を指定された回転数で回転させる。【０１４０】
サーボ回路１３３は、電気信号から光ビームのトラックへの集光状態に応じたサーボエラー信号を抽出し、サーボエラー信号を用いて、光ヘッド１３１のトラックにおける光ビームの集光状態、トラックの走査状態が最適な状態になるようにフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を行う。また、光ビームを照射する光ディスク１００上の半径位置およびモータ１３２の回転数を最適に制御する。【０１４１】
トラックアドレス再生回路１３４は、電気信号から光ディスク８００のトラックの蛇行に応じたウォブル信号を抽出し、ウォブル信号からトラックに予め記録されたアドレス値を復調する。また、トラック上のブロック単位およびサブブロック単位の同期位置の検出も行う。【０１４２】
ＣＰＵ１３５は、トラックアドレス再生回路１３４で復調されたアドレス値を得て、サーボ回路１３３に指示してデータの記録および再生を行うブロックを検索し、検索したブロック位置においてデータ記録再生回路１３６に対し記録動作、再生動作の指令を出す。【０１４３】
データ記録再生回路１３６は、ＣＰＵ１３５からデータ記録の指示を受けたとき、記録データに対しエラー訂正符号の付加と、所定のフォーマットに従ったデータアドレスの付加と、データ変調処理を施して記録信号を生成し、トラックアドレス再生回路１３４で検出した同期位置のタイミングに従って、指定されたブロックに対して記録信号に応じたマークがトラック上に記録されるようにレーザ駆動回路１３７を用いて光ヘッド１３１の光ビームの強度を制御することによってデータの記録を行う。【０１４４】
ＣＰＵ１３５からデータ再生の指示を受けた場合、トラックアドレス再生回路２０４で検出した同期位置のタイミングに従って、指定されたブロックにおいて、電気信号から光ディスク１００のトラック上に記録されたマークに応じたデータ信号を抽出し、データ信号から前述の記録動作のデータ変調に従ったデータ復調を行い、さらにエラー訂正処理を行って再生データを出力する。【０１４５】
また、データ記録再生回路２０６は、再生信号から変調度またはβを検出する回路を備え、上記実施形態の記録条件を求める場合は、再生信号から変調度またはβを検出し、ＣＰＵ１３５へその検出結果を出力する。【０１４６】
レーザ駆動回路１３７は、データ記録再生回路１３６から出力されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド１３１のレーザ発光動作を制御する。【０１４７】
次に、第１および第２の実施形態で説明した手順にしたがって、記録条件、特に最適な記録パワーを求める場合の光ディスク装置の動作を説明する。【０１４８】
まず、光ディスク１００に予め記録されている記録条件を再生する。具体的には、ＣＰＵ１３５は、サーボ回路１３３に指示して、光ヘッド１３１をＰＩＣ領域１２１へ移動させ、データ記録再生回路２０６を用いて、記録条件が含まれたＰＩＣ情報を再生する。さらに、光ヘッド１３１をＰＣＡ領域１２２へ移動させ、モータ１３２の回転数を所定の値に設定した後、データ記録再生回路２０６及び、レーザ駆動回路１３７を用いて、所定の記録パターンを、所定の記録条件を用い、異なる記録パワーでＰＣＡ領域１２２に記録する。各記録パワーで記録されたパターンを、データ記録再生回路１３６を用いてそれぞれ再生し、変調度及びβをそれぞれ検出する。第１の実施形態で説明したように、ＣＰＵ１３５は検出結果から、ターゲットとなるβ値に対応する記録パワーを算出する。より具体的な手順は、たとえば特許文献２に記載されている。【０１４９】
このように、光ディスク装置は、第１の実施形態で説明したように、内周における回転数の上限以上となる記録速度の記録条件を用い、内周側のテスト記録領域において、内周で記録可能な記録速度で試し書きを行う。試し書きから、変調度及びβを検出し、検出した変調度およびβとＰＩＣに予め記録されていた記録条件に基づき、内周で記録可能な記録速度での最適な記録パワーと内周の回転数の上限以上となる記録速度での最適な記録パワーを求めることができる。具体的には、たとえば、第１の実施形態で説明したようにｘ６の記録速度の記録条件を用いてｘ４の記録速度で試し書きを行い、記録条件パラメータβ６４を用いて、ｘ６の記録速度の記録条件を用いてｘ４における最適な記録パワーと、ｘ６における最適な記録パワーを求めることができる。他の記録速度についても同様の動作手順を用いることにより、所望の記録速度の記録条件における最適な記録パワーを求めることができる。【０１５０】
また、第２の実施形態で説明したように、ＣＡＶ方式で記録速度を制御する場合において、ＰＩＣに予め記録されていた記録条件に基づき、半径位置に応じてターゲットβを変化させながら、記録パワー制御する。このような記録パワー制御を行うことで、ディスク全面において、変調度を一定に記録することができ、記録品質を良好に保つことができる。具体的には、たとえば、ｘ６ＰＣＡＶ記録制御において、ＰＩＣに予め記録されていた記録条件β６４およびβ６６を用いて、半径位置に応じてターゲットβを変化させながら記録パワーを制御することにより、変調度が一定となる記録を行うことができる。他の記録速度についても同様の動作手順を用いることにより、ＣＡＶ方式の制御において、最適な記録パワーを求めることができる。【０１５１】
（第４の実施形態）
以下本発明による第４の実施形態を説明する。まず、本実施形態の光ディスクのトラック構造を説明する。図７Ａに示すように、光ディスク１５０は、スパイラル状または同心円状に形成された複数の溝状のトラック１５１を備え、トラック１５１の記録面に光ビームを照射することにより、マークおよび、マークとマークの間のスペースを形成することによって、ユーザーデータを記録する。図７Ｂに示すように、光ディスク１５０のトラック１５１は、最内周側に位置する制御情報記録領域１５２と、その外周側に位置するテスト記録領域１５３と、その外周側に位置するユーザーデータ記録領域３０４とを備える。制御情報記録領域１５２、テスト記録領域１５３およびユーザーデータ記録領域１５４は、図１のＰＩＣ領域１２１、ＰＣＡ（ＯＰＣ）領域１２２およびユーザー領域１３０にそれぞれ対応する。【０１５２】
制御情報記録領域１５２は、記録パワーに関するパラメータと記録波形に関するパラメータが記録されている。これらの値は、光ディスクにあらかじめ記録されている。【０１５３】
本実施形態の光ディスクはｘ２、ｘ４およびｘ６の記録速度に対応しており、ｘ２、ｘ４およびｘ６の記録速度でデータを記録することが可能である。表４に制御情報記録領域１５２に記録されている制御情報の一例を示す。制御情報には、記録波形、具体的にはパルス位置に関するパラメータと記録パワーに関するパラメータとが含まれる。表４に示すように、ｘ２記録時のパルス位置パラメータ１００１および記録パワーパラメータ１００４と、ｘ４記録時のパルス位置パラメータ値１００２および記録パワーパラメータ１００８と、ｘ６記録時のパルス位置パラメータ値１００３および記録パワーパラメータ１０１２とがディスクメーカーの推奨値として記載されている。【０１５４】
これに加えて、本実施形態の光ディスクは、ｘ２記録時のパルス位置パラメータ１００１を用いて、ｘ４で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１００４およびｘ６で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１０１０が記録されている。また、ｘ４記録時のパルス位置パラメータ１００２を用いて、ｘ２で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１００５およびｘ６で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１０１１が記録されている。同様に、ｘ６記録時のパルス位置パラメータ１００３を用いて、ｘ２で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１００６およびｘ４で記録を行う場合の記録パワーパラメータ１００９が記録されている。【０１５５】
【表４】
2009072287.tif 000006
【０１５６】
図８は、本実施形態の記録装置である光ディスク装置の構造を示すブロック図である。図８に示す光ディスク装置は、光ヘッド２０２、再生部２０４、復調・ＥＣＣ回路２０６、記録パワー決定部２０８、記録パワー設定部２１０、レーザ駆動回路２１２、記録データ生成部２１４を備える。【０１５７】
光ヘッド２０２は、レーザ光源を含み、光ディスク１５０のトラック１５１に光ビーム光を照射することにより、データの記録を行う。また、光ディスクに光ビームを照射することにより、トラックに記録されたマークおよびスペースに対応した強度変化を有する反射光を検出し、ＲＦ信号（再生信号）２０３を生成する。ＲＦ信号２０３は再生部２０４に入力される。【０１５８】
再生部２０４は図９に示すように、プリアンプ２２１、サンプルホールド回路２２２、ＡＤ変換器２２３、演算器２２４および二値化データ生成部２２５を含む。ＲＦ信号２０３は、二値化データ生成部２２５に入力され、二値化される。二値化されたＲＦ信号２０５は、復調・ＥＣＣ回路２０６に入力され、復調・ＥＣＣ回路２０６において復号、エラー訂正が施され、ユーザーデータが抽出される。【０１５９】
一方、プリアンプ２２１に入力されるＲＦ信号２０３は、光ビームの記録パワーの決定されるために種々の処理が施される。これらの処理については、以下で説明する。【０１６０】
図１０は、本実施形態において記録時に光ヘッド２０２から出力される光ビームの波形の一例を示している。本実施形態では、Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録するものとする。この場合、最短の２Ｔから最長の８Ｔまで、基準周期Ｔ毎に増加する、つまり２Ｔから８Ｔまでの７種類のマークおよびスペースが存在する。なお記録方式はこれに限らず他の記録方式でも良い。図１０では、このうち２Ｔ、３Ｔ、４Ｔのマークを形成するための光ビームの波形を示している。【０１６１】
図１０に示すように、光ビームの照射パワーレベル、つまり記録パワーのパラメータには、ピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（特に、追記型の場合はスペースパワー（Ｐｓ）と言うこともあり、書き換え型の場合は消去パワー（Ｐｅ）ということもある。図１０ではＰｅとして例示している。）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）がある。パルス位置に関するパラメータとしては、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅがある。２Ｔマークの記録は１つのパルスで行い、３Ｔマークの記録は２つのパルスで行う。以下、マーク長がＴ長くなる毎にパルス数が１つ増える。本発明は記録パワーの決定に関しているため、以下の説明では、記録パワーの決定方法のみを説明する。【０１６２】
本実施の形態ではピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マークに共通であり、Ｔｍｐも全マークに共通である。Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の分類で設定できるものとするが、分類方法はこれに限らなくても良い。また光波形を決定するパラメータも本実施の形態に限らなくても良い。【０１６３】
表５および表６は、パルス位置パラメータおよび記録パワーパラメータの一例を示しており、表４に示すように、ｘ４の記録速度で記録を行う場合に用いられるパルス位置パラメータ１００２および記録パワーパラメータ１００８を示している。ここでρ１２０１とＰｉｎｄ１２０２の積がＰｗの照射パワーに相当し、Ｐｗとεｅの積がＰｅの照射パワーに相当し、Ｐｗとεｂｗの積がＰｂｗの照射パワーに相当する。【０１６４】
【表５】
2009072287.tif 000007
【０１６５】
【表６】
2009072287.tif 000008
【０１６６】
理想的な記録状態では、例えばｘ４のＣＬＶ記録を行う際にはパルス位置パラメータ値１００２が記録データ生成部２１４に設定され、記録パワーパラメータ値１００８が記録パワー設定部２１０に設定されることにより、レーザ駆動回路２１２の出力２１３として図１０に示す様な光変調波形が照射される。【０１６７】
同様に例えば内周ｘ４、外周ｘ６のＣＡＶ記録を行う際には内周ではパルス位置パラメータ値１００２が記録データ生成部２１４に設定され、記録パワー値１００８が記録パワー設定部２１０に設定される。外周ではパルス位置パラメータ値１００３が記録データ生成部２１４に設定され、記録パワー値１０１２が記録パワー設定部２１０に設定される。内周から外周への移動に伴い線速度が速くなるため、例えばパルス位置パラメータ値については１００２と１００３の間で線形に補間された値が所定のタイミングで記録データ生成部２１４に設定され、記録パワー値については１００８と１０１２の間で線形に補間された値が所定のタイミングで記録パワー設定手部２１０に設定される。【０１６８】
しかしながら、実際には光ディスクや光ディスク装置に個体差があり、光ディスクに記録されたパルス位置パラメータおよび記録パワーパラメータを用いても記録する信号や再生する信号の品質が低下する場合がある。このためテスト記録を行い、個々の光ディスクと光ディスク装置に最適な記録パワーの決定を行う。以下、この手順を説明する。【０１６９】
光ディスク１５０が光ディスク装置に装着されると、ディスクタイプの識別や回転制御等の所定動作の終了後、光ヘッド２０２は制御情報記録領域３０２へ移動し、後述する記録パワーの決定に必要な制御情報等を取得する。その後、最適記録パワーを設定するため、テスト記録領域１５３へ移動する。【０１７０】
記録パワーを決定する際には、まず記録パワー設定部２１０により、ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーがレーザ駆動回路２１２に設定される。続いて記録データ生成部２１４から、所定の位置よりトラック１周分を連続して記録するための信号２１５がレーザ駆動回路７１２に送られる。【０１７１】
記録する信号はたとえば、８Ｔマークと８Ｔスペースが連続した信号である。図１１に示すように１周で例えばＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈの８条件で記録パワーを変えて記録する。このときピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定とする。トラック１周にかけて４条件を複数回繰り返すことにより、光ディスク１０１の周方向のチルトばらつきを吸収することができる。【０１７２】
なお記録する信号に、８Ｔマークと８Ｔスペースが連続した信号を多く含むのであれば、記録する信号中に同期信号やアドレス信号等が含まれていても良い。また、Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式以外の変調方式の場合には、その方式における最長マークと最長スペースが連続した信号を多く含む信号を記録する。なお単一周期の信号を記録したときの再生振幅が最長マークと最長スペースの信号を記録したときの振幅と同程度であれば、任意の単一周期の信号でも良い。【０１７３】
また、本実施形態ではピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定としているが、ピークパワーやバイアスパワーやボトムパワーを独立に決定しても良い。例えばピークパワーを決定する際には、バイアスパワー、ボトムパワーを固定にするというように、それぞれのパワーを個別に決定しても良い。【０１７４】
記録が終了すると、光ヘッド２０２のレーザ光源は再生パワーで発光し、さきほど記録を行ったトラックを再生し、ＲＦ信号として光ディスク１５０上の記録マークの有無により強弱が変化する信号２０３が再生部２０４に入力される。再生部２０４において、信号２０３はプリアンプ２２１で増幅され、サンプルホールド回路２２２で８Ｔ信号のピーク値とボトム値がホールドされる。Ａ／Ｄ変換器２２３はピーク値とボトム値をデジタル値に変換し、演算器２２４にて例えば８Ｔ信号の変調度が計算される。変調度に関する信号２０７が記録パワー決定部２０８に入力される。変調度は図１２に示すように、ピーク値１６０１およびボトム値１６０２から変調度＝（１６０１−１６０２）／１６０１と定義される。なお、図１２は分かり易さのため、プリアンプ２２１の出力信号波形において、ＲＦ信号のピーク値１６０１およびボトム値１６０２を示している。変調度は、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈの記録パワーごとに求められる。【０１７５】
記録パワー決定部２０８は、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈの変調度を基に最適な記録パワーを決定する。図１３Ａは各記録パワーと、各記録パワーにおける変調度との関係をプロットしたグラフである。図１３Ｂは各記録パワーと、各記録パワーの２乗および各記録パワーにおける変調度の積との関係をプロットしたグラフである。図１３Ｃは各記録パワーと、各記録パワーの３乗および各記録パワーにおける変調度の積との関係をプロットしたグラフである。【０１７６】
記録パワー決定部２０８は、図１３Ｂにおける各点の並びの直線性と、図１３Ｃにおける各点の並びの直線性とを比較し、より直線性の高い図１３Ｂにおいて、記録パワーの２乗と変調度との積が０となる記録パワーＰ５００を算出する。次に、算出した記録パワーＰ５００と、光ディスク１５０に記録されている所定の定数との演算結果を信号２０９として記録パワー設定部１１０に設定する。【０１７７】
直線性の判定は、例えば、図１３ＢにおけるＡおよびＢを結ぶ直線の傾きと、ＧおよびＨを結ぶ直線の傾きとの比、および、図１３ＣにおけるＡおよびＢを結ぶ直線の傾きと、ＧおよびＨを結ぶ直線の傾きとの比をそれぞれ算出し、比が１に近い方を選択することによって、行うことができる。直線性の判定方法はこれらに限らず、直線性を比較できるのであれば、任意の方法をもちいてもよい。【０１７８】
ＢＤではＰｉｎｄ、ρ、κが制御情報記録領域などの所定の領域に記録されており、ρおよびＰｉｎｄの積がディスクメーカーの推奨する、ユーザーデータを記録するときの記録パワーＰｗｏである。ディスクメーカーはＰｗｏの決定に続いてＰｉｎｄを決定し、Ｐｉｎｄの０．９倍から１．１倍の記録パワーの範囲で８Ｔ信号を記録して変調度を取得する。【０１７９】
図１４は、各記録パワーと、各記録パワーにおける変調度および対応する記録パワーの積との関係をプロットしたグラフである。各プロットを直線で近似することにより、記録パワーおよび変調度の積が０となる記録パワーＰｔｈｒを算出し、Ｐｔｈｒとκの積がＰｉｎｄとなるようなκを決定する。【０１８０】
ここで本実施形態のテスト記録と直線性の判定により、図１３Ｂの特性が選択されたとき、記録パワー決定部２０８は、図１３Ｂにおける、記録パワーの２乗と変調度との積が０となる記録パワーＰ５００を算出する。式（３）に従って求められた記録パワーＰｗ１を示す信号２０９を、ユーザーデータを記録する記録パワーとして、記録パワー設定部１１０に設定する。
Ｐｗ１＝Ｐ５００×（−１／κ＋２）×ρ  ・・・（３）【０１８１】
直線性の判定において、図１３Ｃの特性が選択された場合には、記録パワー決定部２０８は、図１３Ｃにおける、記録パワーの３乗と変調度との積が０となる記録パワーＰ６００を算出する。式（４）に従って求められた記録パワーＰｗ１を示す信号２０９を、ユーザーデータを記録する記録パワーとして、記録パワー設定部１１０に設定する。
Ｐｗ１＝Ｐ６００×（３κ−２）／（２κ−１）×ρ  ・・・（４）【０１８２】
表７は、このようにしてテスト記録に基づいて算出された記録パワー値である。例えば１７０５はｘ４のパルス位置パラメータ値１００２を用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録を行い、算出されたｘ４での記録用の記録パワー値である。この値はテスト記録の終了後に光ディスクに記録されても良いし、光ディスク装置に記憶されても良い。テスト記録によって求められた記録パワーを光ディスクや光ディスク装置の所定の領域に記憶しておくことにより、次回にテスト記録を行うことなく適切な記録パワーで記録を行うことができる。【０１８３】
このようにしてテスト記録から求められた記録パワーは光ディスクや光ディスク装置の個別の特性を反映して決定されたものであるため、その光ディスクおよび光ディスク装置に最適な記録パワーであり、決定された記録パワーを用いてデータの記録を行うことにより、光ディスクに記録した情報の記録品質が保証される。【０１８４】
【表７】
2009072287.tif 000009
【０１８５】
次に外周をｘ６の記録速度で記録する際の記録パワーの算出方法を説明する。本実施形態ではｘ４の記録速度でディスクの全領域に渡るＣＬＶ記録が可能であるとする。第１および第２の実施形態で説明したように、光ディスク１５０には品質が保証されたテスト記録領域１５３は内周にしかないため、ｘ６の線速度でのテスト記録を行うことができない。このため本実施形態では、表７に示すように、ｘ４の記録速度でテスト記録を行い、記録結果に基づき決定した記録パワー１７０５と、表４に示すように、光ディスクもしくは情報記録装置のメモリに記憶されている記録パワー１００８、１０１２を用いて、ｘ６でユーザーデータを記録する際の記録パワー１７０９を式（５）に従い、算出する。【０１８６】
ここで記録パワー１７０５は光ディスク１５０に記録されているか、光ディスク装置に記憶されており、メディアメーカーが推奨するｘ４のパルス位置パラメータ値１００２を用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録を行った結果に基づき、上述の方法によって求めた記録パワーである。また、記録パワー１００８はメディアメーカーが指定したｘ４のパルス位置パラメータ値１００２を用いて、ｘ４の線速度で記録を行う際のメディアメーカーが指定する記録パワーである。また記録パワー１０１２はメディアメーカーが指定したｘ６のパルス位置パラメータ値１００３を用いて、ｘ６の記録速度で記録を行う際のメディアメーカーが指定する記録パワーである。
１７０９  ＝  １０１２  ×  （１７０５  ／  １００８）  ・・（５）【０１８７】
式（５）は、ｘ４の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録状態と、ｘ４の記録速度においてメディアメーカーが記録を行った際の記録状態との比を求め、それをｘ６の記録速度においてメディアメーカーが記録を行った際の記録状態に反映させることにより、ｘ６の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録パワーを推定するものである。これにより例えばレンズに埃が付着していたり、製造精度などによりディスクの特性にばらつきがあり、通常よりも強いパワーで記録を行う必要がある場合等においても、ｘ４の記録速度でテスト記録を行い、式（５）の関係を利用してｘ６の記録速度での記録パワーを求めることにより、実際にｘ６でのテスト記録を行わなくても、最適な記録パワーを得ることができる。【０１８８】
なお本実施形態では、ｘ４の記録速度をＣＬＶ記録の可能な上限の線速度とし、ＣＡＶ記録においてｘ６を外周の記録速度としているが、記録速度の組み合わせはこれに限らない。ほぼ同一のパルス位置パラメータを用い、実際にテスト記録が可能な記録速度でのテスト記録結果としての記録パワーと同じ記録速度での既知の記録パワーとの比を、ユーザーデータの記録を行う記録速度における既知の記録パワーに乗じるのであれば他の任意の記録速度の組み合わせに適用しても良い。【０１８９】
つまり、第１のパルス位置パラメータ値と、第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、第２のパルス位置パラメータ値と、第２のパルス位置パラメータ値を用いて第１の記録速度よりも遅い第２の記録速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが光ディスクに記録されているか光ディスク装置に記憶されておればよい。この場合、第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、第１の記録パワー値と第２の記録パワー値と、第２のパルス位置パラメータ値を用いて第２の記録速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算することができる。これにより、第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを実際に第１の記録速度でテスト記録を行わなくても正しく推定することができる。【０１９０】
あるいは、ｘ６でユーザーデータを記録する際の記録パワー１７０９を式（６）に従って算出してもよい。式（６）で記録パワー１７０９を算出するためには、ｘ４でテスト記録を行った際の記録パワー１７０６と、光ディスクに記録された、または、光ディスク装置に記憶された記録パワー１００９、１０１２とを用いる。ここで記録パワー１７０６は、光ディスク１５０に記録されているか、光ディスク装置に記憶されており、メディアメーカーが推奨するｘ６のパルス位置パラメータ値１００３を用いて、ｘ４の記録速度でテスト記録を行った結果に基づき、上述の方法によって求めた記録パワーである。【０１９１】
また、記録パワー１００９はメディアメーカーが指定したｘ６のパルス位置パラメータ値１００３を用いて、ｘ４の線速度で記録を行う際のメディアメーカーが指定する記録パワーである。記録パワー１０１２はメディアメーカーが指定したｘ６のパルス位置パラメータ値１００３を用いて、ｘ６の記録速度で記録を行う際のメディアメーカーが指定する記録パワーである。
１７０９  ＝  １０１２  ×  （１７０６  ／  １００９）  ・・（６）【０１９２】
式（６）は、ｘ４の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録状態と、ｘ４の記録速度においてメディアメーカーが記録を行った際の記録状態との比を求め、それをｘ６の記録速度においてメディアメーカーが記録を行った際の記録状態に反映させることにより、ｘ６の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録パワーを推定するものである。これにより例えばレンズに埃が付着している場合等にｘ４の線速度でのテスト記録を行うことにより適切にｘ６の線速度での記録パワーを求めることができる。【０１９３】
この例では、ｘ４の記録速度をＣＬＶ記録の可能な上限の線速度とし、ＣＡＶ記録においてｘ６を外周の記録速度としているが、記録速度の組み合わせはこれに限らない。ほぼ同一のパルス位置パラメータを用いた、実際にテスト記録が可能な記録速度でのテスト記録結果としての記録パワーと同記録速度での既知の記録パワーとの比を、ユーザーデータの記録を行う記録速度における既知の記録パワーに乗じるのであれば他の任意の記録速度の組み合わせに適用しても良い。【０１９４】
つまり、第１のパルス位置パラメータ値と、第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて前記第１の記録速度よりも遅い第２の記録速度でデータを記録する際の第２の記録パワー値とが光ディスクに記録されているか光ディスク装置に記憶されておればよい。この場合、第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、第１の記録パワー値と第２の記録パワー値と、前記第１のパルス位置パラメータ値を用いて第２の記録速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーとから演算するができる。これにより、第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを実際に第１の記録速度でテスト記録を行わなくても正しく推定することができる。【０１９５】
また、ｘ６でユーザーデータを記録する際の記録パワー１７０９を式（７）に従って算出してもよい。式（７）で記録パワー１７０９を算出するためには、ｘ２でテスト記録を行った際の記録パワー１７０３と、ｘ４でテスト記録を行った際の記録パワー１７０６とを用いる。ここで記録パワー１７０３、１７０６は、光ディスク１５０に記録されているか、光ディスク装置に記憶されており、メディアメーカーが推奨するｘ６のパルス位置パラメータ値１００３を用いて、ｘ２の記録速度およびｘ４の記録速度でテスト記録を行った結果に基づき、上述の方法によってそれぞれ求めた記録パワーである。式（７）において、記録速度を一般化するためｘ４の記録速度をＶ４、ｘ６の記録速度をＶ６とする（Ｖ６＞Ｖ４）。記録速度はたとえば線速度で表わされる。
１７０９  ＝  （１７０６  ×  １７０６  ／  １７０３）
×  √（Ｖ６  ×  Ｖ２）  ／  Ｖ４  ・・（７）【０１９６】
式（７）は、必要な記録パワーが線速度比の０．５乗に比例して増加すると仮定し、ｘ２の記録速度においてユーザーが記録を行う記録状態と、ｘ４の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録状態とから比例係数を算出し、その比例係数を用いてｘ６の記録速度においてユーザーが記録を行う際の記録パワーを推定するものである。【０１９７】
この例では、式（７）を用いて記録パワーを算出しているが、実際にテスト記録が可能な複数の記録速度でのテスト記録結果からユーザーデータの記録を行う記録速度における記録パワーを算出するのであれば他の演算式を適用しても良い。【０１９８】
また、ｘ４の記録速度をＣＬＶ記録の可能な上限の線速度とし、ＣＡＶ記録においてｘ６を外周の記録速度としているが、記録速度の組み合わせはこれに限らない。ほぼ同一のパルス位置パラメータを用いた、実際にテスト記録が可能な複数の記録速度でのテスト記録結果からユーザーデータの記録を行う記録速度における記録パワーを算出するのであれば他の任意の記録速度の組み合わせに適用しても良い。【０１９９】
この算出方法を用いる場合、第１の記録速度でデータを記録する際の第１のパルス位置パラメータ値のみが光ディスクに記録されているか光ディスク装置に記憶されておればよい。この場合、第１の記録速度でデータを記録する際の第１の記録パワーを、第１のパルス位置パラメータ値を用いて第１の記録速度よりも遅い第２の記録速度でテスト記録を行った際の第２の記録パワーと、第１のパルス位置パラメータを用いて第２の記録速度よりも遅い第３の記録速度でテスト記録を行った際の第３の記録パワーとから演算することができる。【０２００】
なお本実施形態では、テスト記録を行って記録パワーを決定する際、複数の記録パワーと、複数の記録パワーの２乗と各パワーにおける変調度の積との第１の相関と、複数の記録パワーと、前記複数の記録パワーの３乗と各パワーにおける変調度の積との第２の相関において、より直線性の高い方の相関から第１の記録パワーを算出した。しかし、光ディスクの構造や記録膜の特性の違いにより、２または３以外のべき数で直線性が良くなる場合には、べき数は２または３以外の整数または実数あっても良い。【０２０１】
また本実施の形態では、２つ異なるべき数を用いて表わした相関の直線性を判断しているが、直線性の判断は３つ以上のべき数に対して行っても良く、記録パワーと、変調度および記録パワーの２乗、２．５乗および３乗との相関から直線性を判定してもよい。【０２０２】
なお、直線性の最も高いｎの値を光ディスクの所定の領域に記憶しておいても良い。所定の領域に記憶しておくことにより、再度記録パワーを決定する際に、記憶されているｎの値を用いることにより直線性の判定を行う処理を省略することができ、速やかに記録パワーを決定することができる。【０２０３】
また、直線性の最も高いｎの値を情報記録装置のメモリに記憶しておいても良い。複数の製造会社の光ディスクや、同一の製造会社において複数のロットの光ディスクが存在する場合には、情報記録装置が同一ディスクもしくは、同一ロットの識別手段を有することにより、次回に同じ光ディスク、もしくは同一ロット光ディスクの記録パワーを決定する際に、メモリ記憶されているｎの値を用いることにより直線性の判定を行う処理を省略することができ、速やかに記録パワーを決定することができる。【０２０４】
なお、上記第４実施形態において、図１０を参照して記録波形の一例を示したが、本発明に適用されうる記録波形はこれに限らない。以下、本発明に適用可能な記録波形について簡単に補足する。【０２０５】
光ディスクへの記録は、所定の変調則に従って、記録するデータ（ソースデータ）を変調して複数の記録変調符号を生成し、パルス状の光ビームを照射し、前記複数の記録変調符号にそれぞれ対応する長さを有する複数の記録マーク、およびスペース（記録マークと記録マーク間のスペース）を形成することによって行われる。ここで、どのような記録波形に基づいてパルス状の光ビームを発光するかについて、以下で３つの例を説明する。図１８から図２０のいずれにおいても、説明の便宜上、最短マークが２Ｔ（Ｔは基準クロック／変調の基準周期）である場合を示しているが、最短マークの長さは２Ｔに限るものではない。【０２０６】
図１８は、第１の記録波形を示した図である。この第１の記録波形は、マルチパルス型のストラテジ、つまり、複数のパルスを含み（マルチパルス）、複数のパルスのうち、先頭に配置されるファーストパルス（幅Ｔtop）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅ＴLP）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルス（幅ＴMP）で構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、Ｐwは記録パワー、Ｐbはボトムパワー、ＰCはクーリングパワー（冷却パワー）、ＰS（Ｐｅ）はバイアスパワー（追記型：ＰSはスペースパワー，書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。【０２０７】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは次々最短マーク（４Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、１Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数も１つ増える。この第１の記録波形の特徴の一つは、ｎＴマーク（ｎは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｎ−１）個となる点である。【０２０８】
ここで各種パラメータであるが、次のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。【０２０９】
まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴtopや幅であるＴtopは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の４つに分類して、設定してもよい。【０２１０】
また、ラストパルスの幅であるＴLPは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の２つに分類して設定してもよい。【０２１１】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベルＰSまたはＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」，「３Ｔ」，「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。【０２１２】
図１９は、第２の記録波形を示した図である。この第２の記録波形もマルチパルス型のストラテジである。そして、最短マーク（２Ｔ）及び次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）及び次々々最短マーク（５Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは５番目に短いマーク（６Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、２Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数が１つ増える。この第２の記録波形の特徴の一つは、ｍＴマーク（ｍは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｍ÷２）の商の数となる点である。【０２１３】
ここで各種パラメータであるが、次のように、記録マークの長さに応じて分類して設定してもよい。【０２１４】
まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴtopや幅であるＴtopは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ，６Ｔ，８Ｔ」、「５Ｔ，７Ｔ，９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。【０２１５】
また、中間パルスの立ち上がり位置であるｄＴMPは、例えば、記録マークの長さが「６Ｔ，８Ｔ」、「７Ｔ，９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。【０２１６】
また、ラストパルスの立ち上がり位置であるｄＴLPや幅であるＴLPは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ，６Ｔ，８Ｔ」、「５Ｔ，７Ｔ，９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、ｄＴLPに関して、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。【０２１７】
また、冷却パワーレベルＰCを設定する終了位置（バイアスパワーレベルＰSまたはＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ，６Ｔ，８Ｔ」、「５Ｔ，７Ｔ，９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。【０２１８】
図２０は、第３の記録波形を示した図である。この第３の記録波形は、マルチパルス型のストラテジである第１・２の記録波形とは異なり、記録パワーＰｗが設定されるパルス間のパワーレベルをボトムパワーＰbまで低下させずに、一定の中間パワーＰｍをとる形状となっている（キャッスル（ｃａｓｔｌｅ）型のストラテジ）。先頭に配置されるファーストパルス（幅Ｔtop）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅ＴLP）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルスで構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、ＰWは記録パワー、Ｐｍは中間パワー、ＰCはクーリングパワー（冷却パワー）、ＰS（Ｐｅ）はバイアスパワー（追記型：ＰSはスペースパワー，書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。【０２１９】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）以上の記録マークを記録するための記録波形から、ラストパルスと中間パルスがともに含まれる。また、（３Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）ファーストパルスの終了位置と中間パルスの開始位置は一致し、（４Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）中間パルスの終了位置とラストパルスの開始位置は一致している。【０２２０】
なお、キャッスル型のストラテジを別の見方で表現するとすれば、次のような形状を有する記録波形となる。つまり、記録マークを形成するための記録パルスが１つのパルスで構成され、前記記録パルスの開始位置から第一のパワーレベル（記録パワーＰW）が設定される第一の区間と、前記第一の区間の終了位置から前記第一のパワーレベルより低い第二のパワーレベル（中間パワーＰｍ）が設定される第二の区間と、前記第二の区間の終了位置から前記第二のパワーレベルよりも高く、かつ、前記第一のパワーレベルと同じパワーレベル（記録パワーＰｗ）又は低いパワーレベルが設定される第三の区間を含んだ形状を有する記録波形である。図２０では説明の便宜上複雑にならないよう、第一の区間のパワーレベルと第三の区間のパワーレベルを一致させているが、異なるレベルを設定しても構わない。先の説明では、第一の区間のパワーレベルが設定されたパルスをファーストパルスと表現し、第二の区間のパワーレベルが設定されたパルスを中間パルスと表現し、第三の区間のパワーレベルが設定されたパルスをラストパルスと表現したものであり、以降の説明においても、先の説明（ファーストパルス，中間パルス，ラストパルス）の表現を用いることとする。【０２２１】
ここで各種パラメータであるが、次のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。【０２２２】
まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴtopや幅であるＴtopは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、例えば、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。【０２２３】
また、ラストパルスの幅であるＴLPは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ以上」の１つに分類して設定（ラストパルスを含む４Ｔ以上すべてにおいて同じ幅を設定）してもよい。【０２２４】
また、冷却パワーレベルＰCを設定する開始位置であるｄＴCは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。【０２２５】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベルＰSまたはＰｅを設定する開始位置）であるｄＴSは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。【０２２６】
なお、各パルスの／各パワーレベルを設定する際の、位置や幅は、第１〜３の記録波形いずれにおいても、Ｔ／１６を単位として調整してもよい。【０２２７】
ここで、各記録波形と記録速度との関係については、第１の記録波形よりも第２の記録波形の方が高速な記録に適し、第２の記録波形よりも第３の記録波形の方がより高速な記録に適していることが言える。なぜなら、第３の記録波形よりも第２の記録波形の方が、また第２の記録波形よりも第１の記録波形の方が、記録パワーＰWの発光回数が多くなり、つまり、パルスの立ち上がり時間と立ち下がり時間に要する累積が多くなり、高速処理に影響を及ぼすためである。この点を考慮して、光ディスクに記録条件を格納する場合に、次のようにしてもよい。【０２２８】
まず、記録速度：ｘ１（標準の記録速度）に対応する記録条件を格納する場合、例えば、第１の記録波形に関するパラメータの格納を必須とし、第２の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。また更に、記録速度：ｘ１の場合は、例えば、第３の記録波形は適用させないようにしてもよい。【０２２９】
また、記録速度：ｘ２（標準の記録速度の２倍速）に対応する記録条件を格納する場合、例えば、第３の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。これに加え、あるいはこれに替えて、例えば、第１の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとし、第２の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしつつ、第１の記録波形に関するパラメータと第２の記録波形に関するパラメータの少なくとも一方の格納を必須とするようにしてもよい。ｘ２という速度は、高倍速（例えばｘ４前後、及びｘ４以上）とまでは言えないので、キャッスル型の適用を必ずしも必須にする必要はない。しかし、標準速度よりは早いため、マルチパルス型の適用を必須としてしまうと、ディスクの特性やディスクとドライブとの相性などで必ずしも適切な記録が行えるとも限らない。そこで、上記のように、キャッスル型をオプション格納として、マルチパルス型のどちらかは問わないが（第１、２の記録波形はそれぞれオプション格納）、どちらか一方の格納は必須とすることで、ディスクの製造やドライブの設計に自由度を持たせることができる。【０２３０】
また、記録速度：ｘ４（標準の記録速度の４倍速）に対応する記録条件を格納する場合、例えば、第３の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよい。また更に、記録速度：ｘ４の場合は、例えば、第１及び２の記録波形は適用させないようにしてもよい。これは、ｘ４のような高倍速の場合、中間パルスを細かく発生させることは、レーザ発光の立上り／立下りの累積時間を考慮すると、実装上の限界もあるためである。【０２３１】
また、記録速度：ｘ６（標準の記録速度の６倍速）に対応する記録条件を格納する場合、例えば、ｘ４の場合と同様、第３の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよく、また更に、例えば、第１及び２の記録波形は適用させないようにしてもよい。【０２３２】
また、記録速度：ｘ８以上に対応する記録条件を格納する場合、例えば、記録速度：ｘ４及びｘ６と同じ条件、つまり、第３の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよく、また更に、例えば、第１及び２の記録波形は適用させないようにしてもよい。【０２３３】
また、上記の記録条件の格納に関して、ＨＴＬ（記録部の反射率が未記録部の反射率よりも低い）の場合と、ＬＴＨ（記録部の反射率が未記録部の反射率よりも高い）の場合とで、同じ内容を格納しても、異なる内容を格納しても、構わない。【０２３４】
これまでの説明において、本発明が適用され得る光ディスクの一例として触れてきＢＤに関してもう少し詳しく説明する。ＢＤには、ＢＤ−Ｒ（追記型ブルーレイディスク）やＢＤ−ＲＥ（書換え型ブルーレイディスク）やＢＤ−ＲＯＭ（再生専用ブルーレイディスク）等があり、ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。【０２３５】
ＢＤでは、波長４０５ｎｍ（誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光およびＮＡ＝０．８５（誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは０．３２μｍであり、記録層が１層または２層設けられている。記録層またの記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク長（２Ｔマーク）は０．１４９μｍ（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ）である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（より詳細には、２５．０２５ＧＢ）、または、片面２層５０ＧＢ（より詳細には、５０．０５０ＧＢ）である。チャネルクロック周波数はＢＤ標準転送レート（ｘ１）において６６ＭＨｚ（６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、ＢＤｘ４の転送レートでは２６４ＭＨｚ（２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、ＢＤｘ６の転送レートでは３９６ＭＨｚ（３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、ＢＤｘ８の転送レートでは５２８ＭＨｚ（５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。標準線速度（基準線速度、１Ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃである。２倍（ｘ２）、４倍（ｘ４）、６倍（ｘ６）および８倍（ｘ８）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（ｘ０．５）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。【０２３６】
保護層（カバー層）の厚みに関しては、開口数を上げ焦点距離が短くなるのに伴い、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄い保護層、例えば媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚みを１０〜２００μｍ（より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）としてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚みはさらに薄くなる。【０２３７】
また、レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層構造を次のようにしてもよい。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置に基準層（Ｌ０）を設け、基準層から光入射面側に層を増やすように積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）し、また光入射面から基準層までの距離を単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離と同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にする等である。このように層の数に関わらず最奥層までの距離を一定にすることで、基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができ、また層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑える（最奥層が最もチルトの影響を受けるが層数の増加に伴い最奥層までの距離が増加することがなくなるため）ことが可能となる。そして、媒体に関する管理情報や制御情報などを、少なくともこの基準層（Ｌ０）に記録させることで、これら情報の読み出しに関しても互換性を保つことができる。【０２３８】
また、スポットの進行方向／再生方向に関しては、例えば、全ての層において同じ、つまり全層にて内周方向から外周方向、又は全層にて外周方向から内周方向、というパラレル・パスであっても、オポジット・パス（基準層（Ｌ０）を内周側から外周側の方向とした場合、Ｌ１では外周側から内周側の方向、Ｌ２では内周側から外周側の方向、・・・つまり、Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周側から外周側の方向、Ｌｍ＋１では外周側から内周側の方向（又は、Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周側から内周側の方向、Ｌｍ＋１では内周側から外周側の方向）というように層が切り替わる毎に再生方向が逆になる）であってもよい。【０２３９】
また記録方式に関してであるが、媒体に溝を形成することによって、溝部と、溝と溝との間の溝間部と、が形成されることになるが、溝部に記録するか、溝間部に記録するか、溝部と溝間部の両方に記録するか、様々な方式がある。ここで、溝部と溝間部のうち、光入射面から見て凸部となる側に記録する方式をＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式といい、光入射面から凹部となる側に記録する方式をＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式という。本発明において、記録方式として、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、両方式のどちらか一方を許可する方式とするかは特に問わない。【０２４０】
なお、両方式のどちらか一方を許可する方式の場合、その媒体が、どちらの記録方式であるかを容易に識別できるように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかを示した記録方式識別情報を媒体に記録してもよい。多層媒体については、各層についての記録方式識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録方式識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録方式識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録方式識別情報を記録してもよい。【０２４１】
また記録方式識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。【０２４２】
またウォブルの開始方向に関してであるが、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とで互いに逆となるようにしてもよい。つまり、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの内周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの外周側から開始するようにし（、又は、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの外周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの内周側から開始するようにし）てもよい。このように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とでウォブルの開始方向互いに逆となるようにすることで、どちらの方式にしてもトラッキングの極性を同一にすることができる。なぜなら、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凸部となる側に記録を行うのに対して、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凹部となる側に記録を行うため、仮に両者で溝の深さが同じである場合、トラッキング極性は逆の関係となる。そこで、両者でウォブルの開始方向も互いに逆とすることにより、トラッキング極性を同じにすることができる。【０２４３】
また、記録膜の特性に関してであるが、記録部分と未記録部分との反射率の関係により、以下の２つの特性のものがある。つまり、未記録部分が記録済部分よりも高反射率（Ｈｉｇｈ−ｔｏ−Ｌｏｗ）であるＨｔｏＬ特性と、未記録部分が記録済部分よりも低反射率（Ｌｏｗ−ｔｏ−Ｈｉｇｈ）であるＬｔｏＨ特性である。本発明において、媒体の記録膜特性として、ＨｔｏＬであるか、ＬｔｏＨであるか、どちらか一方を許可するものであるかは特に問わない。【０２４４】
また、どちらか一方を許可するものの場合、どちらの記録膜特性であるかを容易に識別できるように、ＨｔｏＬであるかＬｔｏＨであるかを示した記録膜特性識別情報を媒体に記録してもよい。多層媒体については、各層についての記録膜特性識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録膜特性識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録膜特性識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録膜特性識別情報を記録してもよい。【０２４５】
また、記録膜特性識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。【０２４６】
本発明の光ディスク装置の各構成要素は集積回路であるＬＳＩとして実現され得る。また、上述した第１から第４の実施形態、つまり本発明の記録方法の実行するための手順は、コンピュータに読み取り可能なプログラム（ファームウェア）として、ＬＳＩに記憶され得る。光ディスク装置が備える構成要素は個別に１チップ化されてもよいし、一部または全てを含むように１チップ化されてもよい。ここでは、集積回路をＬＳＩと呼んだが、集積度の違いにより、ＩＣ、ＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。また、集積回路は、ＬＳＩに限るものではなく、専用回路または汎用プロセッサによって実現してもよい。ＬＳＩ製造後にプログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。【０２４７】
さらには、半導体技術の進歩または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてあり得る。
【産業上の利用可能性】
【０２４８】
本発明の光学情報の記録方法は、光ディスクへの高倍速記録を行う際に有用であり、特にモータの回転数の制限により、内周のテスト記録領域でテスト記録を実施できない線速度における記録パワーを決定する際に有用である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３Ａ】
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【図１３Ｂ】
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【図１３Ｃ】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【国際調査報告】
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