(57)【要約】  使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にするために、あらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長以上は奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部（３）に対して記録情報に基づいて照会を行って、試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定部（２３）と、試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを記録パラメータとして設定する再生信号品質判定部（２６）とを備える。
2009054196.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、
前記記録パラメータは、
前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、
前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、
前記第１記録パラメータ群は、
前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、
前記第２記録パラメータ群は、
前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であることを特徴とする記録パラメータ設定装置。
【請求項２】
前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であることを特徴とする請求項１に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項３】
前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であることを特徴とする請求項１に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項４】
前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であることを特徴とする請求項１に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項５】
前記第１記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であることを特徴とする請求項１から４までのいずれか１項に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項６】
前記第１記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であることを特徴とする請求項１から４までのいずれか１項に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項７】
前記第２記録パラメータ群の前記第２所定記録マーク長以上の分類は、当該第２所定記録マーク長と当該第２所定記録マーク長以外の記録マーク長とに分類され、前記第２所定記録マーク長以外の記録マーク長は、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されていることを特徴とする請求項１に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項８】
前記第１所定記録マーク長は、４Ｔ以上であることを特徴とする請求項１から７までのいずれか１項に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項９】
記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、
前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、
前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えることを特徴とする記録パラメータ設定装置。
【請求項１０】
前記再生信号品質判定手段は、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を、当該所定記録マーク長とそれ以外の記録マーク長とに分類し直すことを特徴とする請求項９に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項１１】
前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であることを特徴とする請求項９に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項１２】
前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であることを特徴とする請求項９に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項１３】
前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であることを特徴とする請求項９に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項１４】
前記所定記録マーク長は、４Ｔ以上であることを特徴とする請求項９から１３までのいずれか１項に記載の記録パラメータ設定装置。
【請求項１５】
請求項１から１４までのいずれかに記載の記録パラメータ設定装置で設定した前記記録パラメータを所定領域に記録していることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項１６】
記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、
前記記録パラメータは、
前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、
前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、
前記第１記録パラメータ群は、
前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、
前記第２記録パラメータ群は、
前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項１７】
請求項９から１４までのいずれか１項に記載の記録パラメータ設定装置における各手段としてコンピュータを機能させるための記録パラメータ設定プログラム。
【請求項１８】
請求項１７に記載の記録パラメータ設定プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項１９】
記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、
前記記録パラメータは、
前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、
前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、
前記第１記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第１記録パラメータ群分類工程と、
前記第２記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、
前記第２所定記録マーク長を、前記第１所定記録マーク長以上とすることを特徴とする記録パラメータ設定方法。
【請求項２０】
記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、
前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、
前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含むことを特徴とする記録パラメータ設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報の記録再生を行うための記録パラメータ設定装置、情報記録媒体、記録パラメータ設定装置におけるコンピュータを機能させるためのプログラム及び該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、及び記録パラメータ設定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータを記録する情報記録媒体（例えば、光ディスク）の記録再生装置では、レーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍の物理特性を変化させて情報を記録する技術が従来から用いられている。情報記録媒体の情報記録面上に記録マークが形成される状態（以下、「マーク」と呼ぶ）と記録マークが形成されない状態（以下、「スペース」と呼ぶ）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さとして、上記情報記録媒体の情報記録面上には２値のデジタルデータが記録されることになる。ここでは、上記デジタルデータのことを記録情報と呼ぶことにする。実際に記録情報を情報記録媒体に記録するときは、記録する記録情報に応じて設定される記録パラメータを用いてレーザ光を変化させることによって、情報記録媒体の情報記録面上に記録マークを形成し、記録情報を記録する。【０００３】
また、近年では、取り扱うデータ容量の増加に対して、記録再生装置の処理時間を短縮するために、記録の高速化が進んでいる。高速記録が可能な情報記録媒体では、下位互換のために低速で記録できることも望まれることから、記録感度を向上させるために熱が蓄積しやすい特性となっている。上述の熱の蓄積は、記録マークの歪みを生じさせて再生信号品質を悪化させる可能性があるため、高速記録が可能な情報記録媒体では、記録マーク形成のための熱の制御が重要になっている。【０００４】
記録マーク形成のための熱の制御に用いられる技術としては、高度なレーザ出力制御技術であるライトストラテジが知られており、ライトストラテジでは、上述した記録パラメータをもとにレーザ出力制御を行うことによって、記録マーク形成のための熱の制御を行っている。従って、記録パラメータの数が多いほど、記録マーク形成のための熱の制御が複雑になる。また、記録パラメータを参照テーブルとして情報記録媒体に記録しておいて、記録再生装置で読み出して設定する場合、記録パラメータの数が多いと、記録再生装置で参照テーブルの情報を読み出すための処理時間が長くなり、記録を開始するまでに時間がかかってしまうことになる。よって、使用する記録パラメータの数はできるだけ少ないほうが望ましい。【０００５】
そこで、例えば特許文献１では、記録パラメータに対して定義した参照テーブルを備え、テーブルを参照しながら記録マーク形成のための熱を制御する光ディスク記録方法が開示されている。【０００６】
具体的には、特許文献１では、記録パラメータのうち、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱を制御するための先頭パルスに関して、記録マークの前スペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、及び５Ｔ以上の４種類に分類し、記録マーク長を２Ｔ、３Ｔ、及び４Ｔ以上の３種類に分類した参照テーブルを用いている（図１４参照）。また、記録パラメータのうち、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの熱を制御するための最終パルスに関しては、記録マークの後スペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、及び５Ｔ以上の４種類に分類し、記録マーク長を３Ｔ、及び４Ｔ以上の２種類に分類した参照テーブルを用いている（図１５参照）。【０００７】
すなわち、特許文献１では、参照テーブルでのマーク長の分類を４Ｔ以上では同じ分類にまとめ、前スペース長及び後スペース長の分類を５Ｔ以上では同じ分類にまとめることによって、記録パラメータの数を少なくして記録マーク形成のための前エッジの熱及び後エッジの熱を制御している。ここで、Ｔはクロック１周期分の時間を表している。従って、例えば２Ｔマーク長とは、クロック２周期分の時間に「１」の記録マークが形成される領域、つまり記録領域を表しており、２Ｔスペース長とは、クロック２周期分の時間に記録マークが形成されていない領域を表している。【０００８】
また、特許文献２では、記録波形のパラメータを少なくして、種々の媒体、線速度に対応させるために、マーク長を大きく２Ｔ、３Ｔ、奇数系列（４，６，８Ｔ）、及び偶数系列（５，７，９Ｔ）の４つに分けてパラメータを設定している。【０００９】
ところで、記録の高速化が今後進んでいくにつれて、より記録感度を向上させた情報記録媒体に記録マークを形成することになると考えられる。また、レーザ光によって記録マークを形成する場合、記録マークを形成し終わる位置である記録マークの後エッジに熱分布は偏るので、記録の高速化に伴って、後エッジに熱が蓄積する傾向がより強まることになると考えられる。従って、今後は、記録パラメータによって、更に厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性が生じてくるものと考えられる。【００１０】
しかしながら、前記従来の特許文献１に開示された光ディスク記録方法では、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とが、同一の設定となっている。【００１１】
一方、特許文献２に開示された技術では、記録マーク長に応じて奇数系列（４，６，８Ｔ）、及び偶数系列（５，７，９Ｔ）に分ける分類方法が採用されているが、やはり、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ（記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅）の分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ（記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅）の分類とが、同一の設定となっている。【００１２】
より具体的には、特許文献１及び２に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とを、いずれも４Ｔ以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。【００１３】
以上のように、特許文献１及び２に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類との特性の相違を考慮することなく、４Ｔ以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。すなわち、これらの従来技術では、使用する記録パラメータの数を少なくするという観点は考慮されているものと思われるが、厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性の観点については全く考慮されていないという問題点を有している。【００１４】
また、特許文献１及び２に開示されたいずれの従来技術においても、記録パラメータを定義した参照テーブルにおいて、記録パラメータの数を少なくするために、記録マーク長及び前後スペース長の分類を何に基づいてまとめたのかについては具体的に開示されていない。【００１５】
そのため、記録パラメータの数を少なく抑えてはいるが、記録マークを実際に読み出した際に良好な再生信号品質が得られる保証がない（所定の再生信号品質を満足する保証がない）という問題点を有している。
【特許文献１】日本国公開特許公報「特開２００５−９２９４２号公報（公開日：２００５年  ４月  ７日）」
【特許文献２】日本国公開特許公報「特開２００５−９２９０６号広報（公開日：２００５年  ４月  ７日）」
【特許文献３】日本国公開特許公報「特開２００７−３１７３４３号広報（公開日：２００７年  １２月  ６日）」
【発明の開示】
【００１６】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置などを提供することを目的とする。
【００１７】
本発明に係る記録パラメータ設定装置は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であることを特徴としている。
【００１８】
また、本発明の記録パラメータ設定方法は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第１記録パラメータ群分類工程と、前記第２記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、前記第２所定記録マーク長を、前記第１所定記録マーク長以上とすることを特徴としている。
【００１９】
前記構成又は方法によれば、記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行うようになっている。
【００２０】
なお、記録情報とは、以下で説明する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さとして、情報記録媒体上に記録される２値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さが指定されていることになる。
【００２１】
記録マークの形成は、例えば、所定のパルス列からなる記録パルスのレーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍の物理特性を変化させることによって行なう場合が考えられる。
【００２２】
例えば、（１，７）ＲＬＬコード（Run Length Limited code）の変調方式では、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク２Ｔが先頭部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、本発明が適用可能な変調方式は、（１，７）ＲＬＬコードに限られず、また、（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードのことである。
【００２３】
なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、及び終端部にて構成されている。また、先頭部のみで構成されているものもある。
【００２４】
ここで、Ｔ（あらかじめ定められた単位記録マーク長）はクロック１周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が３Ｔの場合には、クロック３周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。
【００２５】
また、パルス列は、いわゆる記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーから構成されている。なお、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。また、これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれるものとする。
【００２６】
なお、先端部、中間部、及び終端部の記録パルスの記録パワーは同一であっても良いし、必ずしもこれに限らず、先端部、中間部、及び終端部で別個の記録パワーであってもよい。また、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、及び冷却パワーの順にパワーが小さくなっていいても良いし、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部、中間部、又は、終端部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。
【００２７】
さて、上述のように、（１，７）ＲＬＬの変調方式の場合、最短の記録マークよりも長い記録マークでは、記録パルスのパルス列は、先頭部、中間部、及び終端部から構成されているので、それぞれ、先頭パルス、中間パルス、及び終端パルスと呼ぶことにする。
【００２８】
また、前記構成によれば、記録パラメータは、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでいる。
【００２９】
また、前記方法では、記録パラメータのうち、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群を分類する第１記録パラメータ群分類工程と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群を分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでいる。
【００３０】
なお、前エッジとは、記録マークを形成し始める位置のことである。また、後エッジとは記録マークを形成し終わる位置のことである。
【００３１】
ここで、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、先頭パルスにおける立上りの位置である先頭立上り位置と、先頭パルスの幅などが例示できる。
【００３２】
また、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、終端パルスにおける立上りの位置である終端立上り位置と、終端パルスの幅、及び冷却パルスの照射による冷却期間が終了する冷却終了位置などが例示できる。なお、以上の、２つの例の記録パラメータを、記録パルスパラメータと呼ぶことがある。
【００３３】
ここで、前記構成又は方法によれば、第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Ｔの整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。
【００３４】
一方、第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。
【００３５】
なお、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。
【００３６】
以上の第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。
【００３７】
第１記録パラメータ群の全分類数＝第１所定記録マーク長未満の分類数＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第１所定記録マーク長未満の分類数＋２分類
（第１所定記録マーク長＝第２所定記録マーク長のとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋第２所定記録マーク長の１分類＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数−第１所定記録マーク長未満の分類数＝１分類
（第１所定記録マーク長＜第２所定記録マーク長のとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋第２所定記録マーク長の１分類＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数−第１所定記録マーク長未満の分類数≧２分類
よって、第１所定第１記録パラメータ群の全分類数よりも、第２記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が１分類以上大きいことがわかる。
【００３８】
また、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせるに従って第１記録パラメータ群の全分類数及び第２記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。なお、第１記録パラメータ群の第１所定記録マーク長は、固定しておき、第２所定記録マーク長を大きくスライドさせることも考えられる。
【００３９】
また、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、１つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。
【００４０】
例えば、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第２記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。
【００４１】
一方、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第２記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。
【００４２】
なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第２記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第１記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。
【００４３】
また、ここでは、３種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、２種類の記録パラメータを混在させても良い。
【００４４】
なお、第１記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。
【００４５】
また、以上の説明では、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群で分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば、記録マーク長とスペース長とを記録情報として第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群を分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本発明と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。
【００４６】
以上より、第１記録パラメータ群の全分類数よりも、第２記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が大きいので、第２記録パラメータ群の各分類の記録パラメータの設定を第１記録パラメータ群の記録パラメータの各分類の設定よりも細かくして、再生信号品質の最適化を行うことが可能となることがわかる。
【００４７】
すなわち、当該分類又は分類方法を採用すれば、第１記録パラメータ群と比較して、第２記録パラメータ群を細かく分類することができ、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群の両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。
【００４８】
また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。
【００４９】
その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。
【００５０】
以上より、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法などを提供することができる。
【００５１】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えることを特徴としている。
【００５２】
また、本発明の記録パラメータ設定方法は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍でされているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含むことを特徴としている。
【００５３】
前記構成又は方法によれば、試し記録パラメータ設定手段又は試し記録パラメータ設定工程は、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定するもの又は方法である。
【００５４】
また、再生信号品質判定手段又は再生信号品質判定工程は、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する。
【００５５】
したがって、前記構成又は方法によれば、後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群の分類数が充分でないなどの原因により、再生信号品質が悪ければ、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく設定するようにしている。
【００５６】
よって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。
【００５７】
また、予め固定された第２記録パラメータ群を用いる構成では、時間経過に伴って情報記録媒体トラックの記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて記録パラメータをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化することによって良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成できなくなるおそれがある。
【００５８】
これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて第２記録パラメータ群の分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って情報記録媒体のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて第２記録パラメータ群の分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。
【００５９】
なお、試し記録では、ランダムなデータを使用すれば、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。
【００６０】
また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。
【００６１】
なお、再生信号品質としてはジッタ、エラーレートなどを用いることができ、情報記録媒体ごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベルの規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。
【００６２】
また、所定の再生信号品質とは、記録パラメータ設定装置によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、記録パラメータ設定装置及び以下で説明する本発明の情報記録媒体の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。
【００６３】
以上により、第２記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの第２記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能となる。
【００６４】
また、本発明の情報記録媒体は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であることを特徴としている。
【００６５】
本発明の他の目的、特徴、および優れた点は、以下に示す記載によって十分分かるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明で明白になるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明における光ディスク装置の制御部の実施の一形態を示す機能ブロック図である。
【図２】上記光ディスク装置の実施の一形態を示すブロック図である。
【図３】上記光ディスク装置によって情報が記録される光ディスクを示す斜視図である。
【図４】記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
【図５】２Ｔマーク長から９Ｔマーク長の記録マークを形成するためのパルス列及び記録パルスパラメータを説明するタイミングチャートである。
【図６】本発明における記録パラメータの設定動作の動作フローを説明するフローチャートである。
【図７】本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
【図８】本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
【図９】本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
【図１０】本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
【図１１】本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
【図１２】記録パラメータの条件に対するジッタの変化を示す表である。
【図１３】本発明における光ディスクに記録された参照テーブルの例を示す図であり、（ａ）は、本発明における光ディスクに記録された参照テーブルの一例を示し、（ｂ）は、前記光ディスクに記録された参照テーブルの他の例を示す。
【図１４】従来技術に係る参照テーブルを示す図である。
【図１５】従来技術に係る参照テーブルを示す図である。
【符号の説明】
【００６７】
１  光ディスク装置（記録パラメータ設定装置）
２  光ディスク（情報記録媒体）
３  格納部
１０  記録再生回路群
１１  光ヘッド（光ピックアップ）
１２  光ピックアップ
１３  ピックアップ駆動回路
１４  レーザ駆動回路
１５  再生回路
２０  制御部
２１  記録パラメータ設定部（記録パラメータ設定装置）
２２  記録情報取得部
２３  試し記録パラメータ設定部（試し記録パラメータ設定手段）
２４  試し記録指示部
２５  再生信号取得部
２６  再生信号品質判定部（再生信号品質判定手段）
２７  記録指示部
４１  設定用領域（所定領域）
４２  ユーザ領域
【発明を実施するための最良の形態】
【００６８】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態について図１〜図１３の（ｂ）に基づいて説明すれば、以下の通りである。【００６９】
最初に、本実施の形態に係る記録再生装置として、光ディスク装置（記録パラメータ設定装置）１を例に挙げて説明する。図２に示すように、本実施の形態に係る光ディスク装置１は、光ヘッド（光ピックアップ）１１、光ピックアップ１２、ピックアップ駆動回路１３、レーザ駆動回路１４、再生回路１５、及び制御部２０を備えている。また、ピックアップ駆動回路１３、レーザ駆動回路１４、及び再生回路１５によって記録再生回路群１０が構成されている。光ディスク装置１は、光ディスク（情報記録媒体）２に対して情報の記録及び再生を行う装置である。なお、光ディスク２は光学ディスクであればよく、例えば光磁気ディスクなど、その種類は限定されるものではない。【００７０】
まず、光ヘッド１１は光ピックアップ１２に備えられており、光ヘッド１１は光ディスク２に対して、情報を記録再生するための光ビーム（レーザビーム）を照射するとともに、光ディスク２からの反射光を検出し、再生回路１５に対して出力するものである。光ピックアップ１２は、光ヘッド１１を備えてデータの記録及び再生を行うものであり、光軸方向及び光ディスク２の経方向であるラジアル方向に対して移動可能になっている。【００７１】
続いて、ピックアップ駆動回路１３は、制御部２０からの制御信号に従って光ピックアップ１２を駆動させるものであって、光ピックアップ１２を光ディスク２の図示しないトラックに対して、つまり上記ラジアル方向及び上記光軸方向に移動させるものである。さらに、レーザ駆動回路１４は、光ヘッド１１から照射する光ビームの出力を制御するものである。そして、再生回路１５は、光ヘッド１１が検出した反射光を再生信号に変換し、制御部２０に対して出力するものである。【００７２】
制御部２０は、光ディスク２に記録させる情報である記録マークの記録パラメータを設定するものである。また、制御部２０は、ピックアップ駆動回路１３を介して光ピックアップ１２を移動させるものであり、レーザ駆動回路１４を介して光ヘッド１１から光ビーム照射させるものである。そして、光ヘッド１１が検出した反射光を変換した再生信号を、再生回路１５から受け取るものでもある。なお、制御部２０については後に詳述する。【００７３】
次に、図３を用いて光ディスク装置１によって情報が記録される光ディスク２の概要について説明を行う。光ディスク２は、図３に示すように設定用領域（所定領域）４１及びユーザ領域４２を備えている。設定用領域４１は、情報の試し記録を行うための領域（部位）であり、ユーザ領域４２はユーザが所望する情報を記録するための部位である。また、設定用領域４１は、後述する参照テーブル（第１記録パラメータ群・第２記録パラメータ群・記録パラメータ群）を記録している領域（所定領域）でもある。【００７４】
なお、設定用領域４１の位置は、図３に示した位置に限らず、光ディスク２の任意の半径位置に存在していてもよいし、設定用領域４１は複数存在していてもよい。【００７５】
次に、光ディスク装置１によって光ディスク２へ情報を記録する動作、及び光ディスク装置１によって光ディスク２に記録された情報を再生する動作のそれぞれについて簡単に説明を行う。【００７６】
光ディスク装置１によって光ディスク２へ情報を記録する場合には、まず、記録情報に基づいて制御部２０が記録パラメータを設定する。そして、光ヘッド１１から記録用の光ビームが光ディスク２の設定用領域４１に照射され、光ディスク２の設定用領域４１のトラックに情報が記録されることになる。また、光ディスク装置１によって光ディスク２に記録された情報を再生する場合には、まず、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介して光ピックアップ１２を光ディスク２の設定用領域４１又はユーザ領域４２のうちの情報が記録されている記録部位へ移動させる。【００７７】
そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して、光ヘッド１１から再生用の光ビームを光ディスク２の情報が記録された記録部位のトラックに対して照射する。光ヘッド１１が検出した反射光は、再生回路１５にて再生信号に変換され、制御部２０に入力される。これにより、上記光ディスク装置１は、光ディスク２のトラックに記録された情報を再生することができる。ここで、記録情報とは、光ディスク２上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さとして、光ディスク２（情報記録媒体）上に記録される２値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する光ディスク２上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さが指定されていることになる。【００７８】
また、本実施の形態に係る光ディスク装置１は、上述したように光ディスク２の設定用領域４１にまず記録（試し記録）を行い、試し記録の情報を再生して得られる再生信号の値に基づいて、制御部２０によって記録パラメータの設定を行っている。そして、設定した当該記録パラメータに従ってユーザ領域４２の各トラックに情報を記録している。なお、光ディスク装置１の記録パラメータ設定後のユーザ領域４２への記録動作は一般に知られた記録動作と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。また、制御部２０での記録パラメータの設定については、後に制御部２０についての説明とともに詳述する。【００７９】
制御部２０と制御部２０での記録パラメータの設定とについての詳述を行う前に、図４及び図５を用いて記録パラメータについて説明する。以下の説明では、変調方式として（１，７）ＲＬＬ（Run Length Limited code）を例に挙げて説明を行うが、本実施の形態においては、変調方式は（１，７）ＲＬＬの変調方式に限るものではない。なお、（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードである。【００８０】
また、この（１，７）ＲＬＬの変調方式では、後で詳述するが、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク２Ｔが先頭部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、終端部にて構成されている（例えば、ＤＶＤ−ＲＷ等）。また、先頭部のみで構成されているものもある（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等）。ここで、Ｔ（あらかじめ定められた単位記録マーク長）はクロック１周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が３Ｔの場合には、クロック３周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。【００８１】
図４に示すように、光ディスク２には、記録を行うための媒体温度分布を考慮し、記録情報に対応する記録パルスのパルス列が設定されている。図４では、記録情報が６Ｔの記録マーク長であった場合を例として、記録情報に対応するための記録パルスを示している。記録パルスのパルス列は、時間と記録パルスのパワーとで表されており、図４の横軸方向が照射時間を、図４の縦軸方向が記録パルスのパワーを表している。【００８２】
上記パルス列は、上述したように、先頭部と終端部、中間部とから構成されている。図４に示すように、ここでは、先頭立上り位置及び先頭パルスで構成される部分を先頭部、終端パルス、終端立上り位置、冷却期間、及び冷却終了位置で構成される部分を終端部、中間パルス、中間パルス立上り位置、先頭パルスと中間パルスの間、中間パルスの間、及び、中間パルスと終端パルスの間の期間である中間期間で構成される部分を中間部としている。【００８３】
また、上記パルス列は、図４に示すように、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーとからも構成されている。そして、本実施の形態では、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれる。なお、図４では、先頭部、終端部、及び中間部の記録パルスの記録パワーは同一になっているが、必ずしもこれに限らず、先端部と終端部と中間部で別個の記録パワーであってもよい。また、図４では、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、冷却パワーの順にパワーが小さくなっているが、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部又は終端部又は中間部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。【００８４】
また、図５に、２Ｔの記録マーク長から９Ｔの記録マーク長までのそれぞれの記録マークを形成するためのパルス列、及び記録パルスパラメータを示す。図５では、２Ｔの記録マーク長の記録マーク及び３Ｔの記録マーク長の記録マークは、先頭パルス及び冷却期間で構成されていて、４Ｔ及び５Ｔの記録マーク長の記録マークは、先頭パルス、終端パルス、及び冷却期間で構成されていて、６Ｔの記録マーク長以上の記録マークは、先頭パルス、中間期間、終端パルス、及び冷却期間で構成されている例を示している。【００８５】
また、図５において、ｄＴｔｏｐは先頭部のパルス開始位置である先頭立上り位置、Ｔｔｏｐは先頭パルスの幅、ｄＴｅは終端部の冷却期間の終了する冷却終了位置、Ｔｍｐは中間パルスの幅、ｄＴｍｐは中間パルス立上り位置、Ｔｌｐは終端パルスの幅、ｄＴｌｐは終端パルスの立上り位置（終端立上り位置）を示している。また、ｄＴｅは終端部の冷却期間の終了する冷却終了位置であるとともに、冷却期間に続くスペースパワーＰｓを照射する期間の開始位置ともいえる。【００８６】
ｄＴｔｏｐ、ｄＴｍｐ、ｄＴｅ、及びｄＴｌｐはそれぞれクロックの基準タイミングからの時間で設定されるものであって、ｄＴｔｏｐとｄＴｍｐとｄＴｌｐとは、各記録マーク長に対応する記録情報の立上り位置（０から１になる位置）を基準とした時間で設定され、ｄＴｅは、各記録マーク長に対応する記録情報の立下り位置（１から０になる位置）を基準とした時間で設定される。【００８７】
このとき、全ての記録マーク長に対して、同じ基準が使用される。なお、図５において、ｄＴｔｏｐは、記録情報の立上り位置を基準とした時間で設定されているが、記録情報の立上り位置から所定クロック間隔ずれた位置を基準にしてもよい。同様に、図５において、ｄＴｅは、記録情報の立下り位置を基準とした時間で設定されているが、記録情報の立下り位置から所定クロック間隔ずれた位置を基準にしてもよい。また、ｄＴｔｏｐ，ｄＴｍｐ、ｄＴｌｐ、及びｄＴｅは、記録情報の立上り位置あるいは立下り位置からの基準位置のずれ量を別々に設定してもよい。本実施の形態では、記録パルスのタイミングを定義するｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、ｄＴｅ、Ｔｌｐ、ｄＴｌｐ、Ｔｍｐ、及びｄＴｍｐを記録パルスパラメータと呼ぶことにする。これらの記録パルスパラメータは上述の記録パラメータに含まれる。【００８８】
なお、図５において、Ｔｔｏｐによって先頭パルスの幅を設定しているが、先頭パルスの立下り位置に記録パルスパラメータを設定しても、先頭パルスの期間を表現することができる。同様に、Ｔｌｐによって終端パルスの幅を設定しているが、終端パルスの立下り位置に記録パルスパラメータを設定しても、終端パルスの期間を表現することができる。中間パルスについても同様である。【００８９】
記録パルスパラメータの値を変化させることにより、形成される記録マークの形状が変化する。先頭部を構成するｄＴｔｏｐ及びＴｔｏｐは、記録マークを形成し始める位置である前エッジの形状を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのｄＴｔｏｐ及びＴｔｏｐのパラメータによって前エッジの熱の制御を行うことができる。  また、終端部を構成するｄＴｅ、Ｔｌｐ、及びｄＴｌｐは、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの形状を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのｄＴｅ、Ｔｌｐ、及びｄＴｌｐのパラメータによって後エッジの熱の制御を行うことができる。他にも、記録パルスパラメータのうちのＴｍｐ、ｄＴｍｐは中間部の熱の蓄積を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのＴｍｐ、ｄＴｍｐのパラメータによって前エッジから後エッジまでの間の記録マークの形状の制御を行うことができる。【００９０】
また、上述した記録パワーパラメータ及び記録パルスパラメータからなる記録パラメータの値は参照テーブル（第１記録パラメータ群・第２記録パラメータ群・記録パラメータ群）の形で設定用領域４１に記録されており、光ディスク装置１に読み取られて格納部３に格納（記録）されている。なお、格納部３はメモリ等の情報記録媒体、サーバなどの何れであってもよく、光ディスク装置１に備えられていてもよいし、光ディスク装置１の外部に接続可能にそなえられていてもよい。また、参照テーブルの詳細については後述する。【００９１】
次に、光ディスク装置１の制御部２０での記録パラメータの設定について詳細な説明を行う。まず、図１を用いて制御部２０の構成の概要について説明を行う。図１は本実施の形態における制御部２０の構成を示す機能ブロック図である。【００９２】
図１に示すように、制御部２０は、記録パラメータ設定部（記録パラメータ設定装置）２１を備えている。記録パラメータ設定部２１は、制御部２０の機能のうち、光ディスク２に記録させる情報である記録マークの記録パラメータを設定する働き、レーザ駆動回路１４を介して光ヘッド１１から光ビーム照射させる働き、及び光ヘッド１１が検出した反射光を変換した再生信号を再生回路１５から受け取る働きを担っている。また、記録パラメータ設定部２１は、記録情報取得部２２、試し記録パラメータ設定部（試し記録パラメータ設定手段）２３、試し記録指示部２４、再生信号取得部２５、再生信号品質判定部（再生信号品質判定手段）２６、及び記録指示部２７を備えており、上記各部によって上述した働きを担っている。【００９３】
記録情報取得部２２は、光ディスク２に記録する記録情報を取得するものである。記録情報の取得先としては制御部２０の上位の制御部、記録情報を格納したメモリ、サーバなどの何れであってもよく、記録情報の取得先は光ディスク装置１に備えられていてもよいし、光ディスク装置１の外部に接続可能に備えられていてもよい。【００９４】
また、試し記録パラメータ設定部２３は、記録情報取得部２２で取得した記録情報に基づいて格納部３に照会を行うことによって、格納部３の参照テーブルに定義されている記録パラメータのうちの当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録動作のための試し記録パラメータの設定を行うものである。また、試し記録パラメータ設定部２３は、試し記録動作のための試し記録パラメータの再設定を行う命令（試し記録パラメータ変更命令）を、後述する再生信号品質判定部２６から受けた場合に、試し記録パラメータの再設定を行うものである。上記試し記録パラメータの再設定については後述する。【００９５】
そして、試し記録指示部２４は、試し記録パラメータ設定部２３によって設定された試し記録パラメータに従って光ディスク２の設定用領域４１に試し記録動作を行うように、ピックアップ駆動回路１３及びレーザ駆動回路１４に指示を行うものである。【００９６】
再生信号取得部２５は、試し記録指示部２４の指示によって光ディスク２の設定用領域４１に試し記録が行われた記録マークから得られた再生信号を、再生回路１５から取得するものである。【００９７】
そして、再生信号品質判定部（再生信号品質判定手段）２６は、再生信号取得部２５が取得した再生信号に基づいて、当該試し記録に用いた試し記録パラメータの良否を判定するものである。再生信号品質判定部２６では、当該試し記録に用いた試し記録パラメータの良否を、再生信号取得部２５が取得した再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かに応じて判定している。再生信号品質判定部２６は、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていた場合には、当該試し記録に用いた試し記録パラメータを記録パラメータとして決定（設定）し、記録指示部２７に送るものである。【００９８】
また、再生信号品質判定部２６は、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていなかった場合には、試し記録パラメータ設定部２３が照会した参照テーブルにおける分類数が所定値以上であったか否かの判定を行うものである。そして、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上でなかった場合には、試し記録パラメータの再設定を行う試し記録パラメータ変更命令を試し記録パラメータ設定部２３へ送るとともに、格納部３に格納されている参照テーブルの分類を細かく再設定するものである。【００９９】
また、再生信号品質判定部２６は、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上であった場合には、記録パラメータ設定エラーが生じたとして、図示していない表示部にエラーを表示させて記録パラメータ設定動作を終了させるものである。ここで言うところの所定値については後に詳述する。なお、ここで言うところの所定の再生信号品質とは、記録再生装置（本実施の形態では光ディスク装置１）の誤り訂正の機能によって十分に補償可能な範囲の再生信号品質であり、記録再生装置及び光学ディスク（本実施の形態では光ディスク２）などの製造ばらつきを考慮して任意に設定する値である。再生信号品質としてはジッタ、エラーレートなどを用いることができ、光学ディスクごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベルの規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。【０１００】
記録指示部２７は、再生信号品質判定部２６から送られてきた記録パラメータに従って光ディスク２のユーザ領域４２に記録動作を行うようにピックアップ駆動回路１３及びレーザ駆動回路１４に指示を行うものである。【０１０１】
以下、光ディスク装置１における記録パラメータの設定動作について、図６〜１１を用いて説明を行う。図６は、本実施の形態における記録パラメータの設定動作の動作フローを説明するフローチャートである。図７〜図１１は、本実施の形態における参照テーブルを示す図である。【０１０２】
まず、ステップＳ１では、記録情報取得部２２が、光ディスク２に記録する記録情報を取得する。続いてステップＳ２では、試し記録パラメータ設定部２３が、記録情報取得部２２で取得した記録情報に基づいて格納部３に照会を行い、試し記録パラメータの設定を行う。詳しくは、記録情報に基づいて、まずは図７及び図１１のような参照テーブルを参照し、当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録パラメータの設定を行う。【０１０３】
図７は、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの熱を制御するための参照テーブル（第２記録パラメータ群）として、記録パルスパラメータである終端パルスの幅Ｔｌｐの参照テーブルを示している。図７では、４Ｔ以上の記録マーク長に対して、奇数マーク長と偶数マーク長との２つの分類が対応した参照テーブルを使用している。このとき、記録情報の記録マーク長が４Ｔ未満であった場合には、デフォルトで設定されている記録パラメータを記録パラメータとして設定し、記録情報の記録マーク長が４Ｔ以上であった場合には、参照テーブルの対応する分類の値（ここでは、ｃ４とｃ５）を記録パラメータとして設定する。例えば、デフォルトの設定としては、この場合ではＴｔｏｐの値を予め設定しておけばよい。【０１０４】
また、図１１は、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱を制御するための参照テーブル（第１記録パラメータ群）として、記録パルスパラメータである先頭立上り位置ｄＴｔｏｐの参照テーブルを示している。図１１では、記録マーク長を２Ｔ、３Ｔ、及び４Ｔ以上の奇数マーク長及び偶数マーク長の４種類に分類しており、本実施の形態では、以降の試し記録ではこの分類数は変更しない場合について説明する。したがって、前エッジの熱を制御するための記録パラメータの数はこれ以上増加しない場合について説明する。【０１０５】
ただし、上記本実施の形態の説明に入る前に、ここでは、前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群の分類数を変更する場合を含めて、本実施の形態における両参照テーブル（第１記録パラメータ群と第２記録パラメータ群と）の全分類数の関係についてより詳細に説明しておくことにする。【０１０６】
まず、前エッジの熱を制御するための参照テーブル（以下、第１記録パラメータ群と呼ぶ）は、記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Ｔの整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長（４Ｔ）から最大の記録マーク長（９Ｔ）までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されているものとする。【０１０７】
一方、後エッジの熱を制御するための参照テーブル（以下、第２記録パラメータ群と呼ぶ）は、単位記録マーク長Ｔの整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長（４Ｔ以上７Ｔ以下の任意の値をとり得る）よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長（９Ｔ）までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されているものとする。【０１０８】
なお、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。【０１０９】
以上の第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。【０１１０】
第１記録パラメータ群の全分類数＝第１所定記録マーク長未満の分類数（４Ｔ未満だから２Ｔ、３Ｔの２分類）＋奇数マーク長の１分類（５Ｔ、７Ｔ、及び９Ｔ）＋偶数マーク長（４Ｔ、６Ｔ、及び８Ｔ）の１分類
＝第１所定記録マーク長未満の分類数（２分類）＋２分類
（第１所定記録マーク長＝第２所定記録マーク長＝４Ｔのとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数（４Ｔ未満だから２Ｔ、３Ｔの２分類）＋第２所定記録マーク長の１分類（４Ｔ）＋奇数マーク長の１分類（５Ｔ、７Ｔ、及び９Ｔ）＋偶数マーク長の１分類（６Ｔ、及び８Ｔ）
＝第２所定記録マーク長未満の分類数（２分類）＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数（２分類）−第１所定記録マーク長未満の分類数（２分類）＝１分類
（第１所定記録マーク長（４Ｔ）＜第２所定記録マーク長（５Ｔ以上７Ｔ以下のいずれか）のとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数（３分類以上５分類以下）＋第２所定記録マーク長の１分類（５Ｔ以上７Ｔ以下のいずれか）＋奇数マーク長の１分類（７Ｔ及び９Ｔ、又は９Ｔ）＋偶数マーク長の１分類（６Ｔ及び８Ｔ、又は８Ｔ）
＝第２所定記録マーク長未満の分類数（３分類以上５分類以下）＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数（３分類以上５分類以下）−第１所定記録マーク長未満（２分類）の分類数
２≦全分類数の差≦４
以上より、第１所定第１記録パラメータ群の全分類数よりも、第２記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が１分類以上（本実施の形態では、最大４分類まで増加可能である）大きいことがわかる。【０１１１】
なお、ここでは、第１記録パラメータ群の第１所定記録マーク長は、固定しておき、第２所定記録マーク長を大きくスライドさせる場合の例について計算した。【０１１２】
しかしながら、この例に限らず、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせれば、第１記録パラメータ群の全分類数及び第２記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。ただし、本発明の効果を得るためには、第１記録パラメータ群の分類数＜第２記録パラメータ群の分類数の関係を維持することが必要である。【０１１３】
また、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、１つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。【０１１４】
例えば、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第２記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。【０１１５】
一方、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第２記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。【０１１６】
なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第２記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第１記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。【０１１７】
また、ここでは、３種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、２種類の記録パラメータを混在させても良い。【０１１８】
なお、第１記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。【０１１９】
上述したように、図７及び１１の参照テーブルはディスクの設定用領域４１に記録されており、光ディスク装置１が上記参照テーブルを読み取って格納部３に格納する。以降、試し記録パラメータ設定部２３は、格納部３の参照テーブルを参照して試し記録パラメータの設定を行う。ここでは、４Ｔより長い記録マーク長（５Ｔ以上）の終端パルスの幅Ｔｌｐの偶数マーク長（６Ｔ、８Ｔ）に対して、４Ｔと同じ値、つまり、ｃ４を試し記録パラメータ設定部２３に設定する。４Ｔより長い記録マーク長（５Ｔ以上）の終端パルスの幅Ｔｌｐの奇数マーク長（５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ）に対して、５Ｔと同じ値、つまり、ｃ５を試し記録パラメータ設定部２３に設定する。【０１２０】
また、４Ｔ長いマーク長（５Ｔ以上）の先頭立上り位置ｄＴｔｏｐの偶数マーク長（６Ｔ、８Ｔ）に対して、４Ｔと同じ値、つまり、ｄ４を試し記録パラメータ設定部２３に設定する。４Ｔ長いマーク長（５Ｔ以上）の先頭立上り位置ｄＴｔｏｐの奇数マーク長（５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ）に対して、５Ｔと同じ値、つまり、ｄ５を試し記録パラメータ設定部２３に設定する。試し記録パラメータ設定部２３は、５Ｔ以上の偶数マーク長に４Ｔと同じ値を、５Ｔ以上の奇数マーク長に５Ｔと同じ値を設定するので、９Ｔまでのそれぞれ異なる記録パラメータを読み出すのに比べて読み出し時間を短縮することができる。【０１２１】
試し記録パラメータ設定部２３は、４Ｔと６Ｔと８Ｔ、５Ｔと７Ｔと９Ｔにそれぞれ同じ記録パラメータの値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、４Ｔと６Ｔと８Ｔの共通の試し記録時の変化量の値として４Ｔの変化量の値を使用し、５Ｔと７Ｔと９Ｔの共通の試し記録時の変化量の値として５Ｔの変化量の値を使用する。【０１２２】
ステップＳ３では、試し記録指示部２４が、試し記録パラメータ設定部２３で設定された試し記録パラメータに従って光ディスク２の設定用領域４１に試し記録動作を行うように、ピックアップ駆動回路１３及びレーザ駆動回路１４に指示を行う。続いて、ステップＳ４では、ピックアップ駆動回路１３及びレーザ駆動回路１４によって、当該試し記録パラメータに従った光ディスク２の設定用領域への情報の記録を、光ヘッド１１に行わせる。そして、ステップＳ５では、光ヘッド１１によって当該情報の再生を行って、再生回路１５にて再生信号を得る。【０１２３】
ステップＳ６では、再生信号取得部２５が当該再生信号を取得し、再生信号品質判定部２６に送る。続いて、ステップＳ７では、再生信号品質判定部２６が、再生信号取得部２５が取得した再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かの判定を行う。ここで、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていた場合（ステップＳ７でＹＥＳ）には、ステップＳ８に移る。そして、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていなかった場合（ステップＳ７でＮＯ）には、ステップＳ９に移る。具体的には、所定の再生信号品質として、記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが所定値（例えば、７．０％以下）を満たすか否かによって、再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かの判定を行う。【０１２４】
ステップＳ８では、当該試し記録に用いた試し記録パラメータが、再生信号品質判定部２６によって記録指示部２７に送られる。つまり、光ディスク２のユーザ領域４２に実際に記録動作を行うための記録パラメータが設定（決定）され、記録パラメータ設定動作が終了する。【０１２５】
ステップＳ９では、再生信号品質判定部２６によって、試し記録パラメータ設定部２３が照会した参照テーブルにおける分類数が所定値以上であったか否かの判定を行う。そして、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上であった場合（ステップＳ９でＹＥＳ）には、ステップＳ１０に移る。また、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上でなかった場合（ステップＳ９でＮＯ）には、ステップＳ１１に移る。【０１２６】
上記所定値について以下で説明する。具体的に例を挙げると図７では参照テーブルの分類数は２つである。本実施の形態では、最大の記録マーク長は９Ｔであるため、４Ｔから９Ｔまでが個別に分類される場合に、参照テーブルの分類数は最大の６個となる。ここで、試し記録パラメータ設定部２３が照会した参照テーブルにおける分類数が７個だと再生信号品質判定部２６がステップＳ９で判定したとき、図７の参照テーブルの分類数は最大６個であるので矛盾する。従って、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることになる。【０１２７】
また、試し記録パラメータ設定部２３が照会した参照テーブルにおける分類数が６個だと再生信号品質判定部２６がステップＳ９で判定したとき、図７の参照テーブルの分類数の最大値と同じであるので、これ以上分類数を増やすことが出来ず、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることになる。従って、本実施の形態では、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることを検出可能にするために、試し記録パラメータ設定部２３が照会した参照テーブルにおける分類数の最大値を上記所定値として用いる。なお、試し記録動作のための試し記録パラメータを再設定するごとに、試し記録パラメータ設定部２３が照会する参照テーブルも変更されるが、上記所定値は、上記参照テーブルの変更に伴って変化する参照テーブルの分類数の最大値に応じて変動する。【０１２８】
ステップＳ１０では、記録パラメータ設定動作にエラーが生じたとして、再生信号品質判定部２６が、図示していない表示部にエラーを表示させるとともに、記録パラメータ設定動作を終了させる。【０１２９】
ステップＳ１１では、試し記録パラメータの再設定を行う試し記録パラメータ変更命令を試し記録パラメータ設定部２３へ送るとともに、格納部３に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定する。具体的には、４Ｔ以上の記録マーク長に対して２つの分類しかなかった参照テーブルの分類を、図８に示すように、４Ｔと、５Ｔ以上の奇数マーク長と偶数マーク長とに対しての３種類に分類して試し記録パラメータ設定部２３に設定できるようにする。【０１３０】
これにより、４Ｔと、５Ｔ以上の奇数マーク長と偶数マーク長との試し記録パラメータの設定値とを独立に制御して試し記録を行うことができる。そして、試し記録パラメータ変更命令を受けた試し記録パラメータ設定部２３が、新たに格納部３に照会を行い、図８の参照テーブルに定義されている記録パラメータのうちの当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録動作に使用する試し記録パラメータの再設定を行う。【０１３１】
このとき、５Ｔと７Ｔと９Ｔに同じ値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、５Ｔの値を、７Ｔと９Ｔとの共通の値として使用する。また、６Ｔと８Ｔに同じ値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、６Ｔの値を、８Ｔとの共通の値として使用する。そして、参照テーブルの変更を行った後は、ステップＳ２に戻って動作フローを繰り返す。なお、ステップＳ２に戻って動作フローを繰り返すごとに、上述したようにして格納部３に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定し直していく。【０１３２】
具体的には、図８の参照テーブルの次には、図９に示すような４Ｔと、５Ｔと、６Ｔ以上の奇数マーク長と偶数マーク長との４種類に分類した参照テーブルを用いる。そして、図９の参照テーブルの次には、図１０に示すような４Ｔと、５Ｔと、６Ｔと、７Ｔ以上の奇数マーク長と偶数マーク長（８Ｔ）との５種類に分類した参照テーブルを用いるといったように、段階的に参照テーブルの分類を細かく設定し直していく。【０１３３】
なお、本実施の形態では、試し記録動作を開始した時点で格納部３に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとの両方で４Ｔ以上（所定記録マーク長以上）が奇数マーク長と偶数マーク長の２つに分類されているが、必ずしもこれに限らない。例えば、試し記録動作を開始した時点で格納部３に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されていることが好ましい。【０１３４】
また、上述した前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されているテーブルとして、光ディスク２の設定用領域４１に記録しておいてもよい。この場合、参照テーブルが光ディスク装置１に読み取られて格納部３に格納（記録）されると、試し記録動作を開始した時点で格納部３に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されることになる。【０１３５】
すなわち、所定の記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長とに分類された前エッジの熱を制御するための参照テーブルと、所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類された（すなわち、所定の記録マーク長と所定の記録マーク長よりも長いマーク長とに分けて、さらに所定の記録マーク長よりも長いマーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類した）後ろエッジの熱を制御するための参照テーブルとを含むこととなる。【０１３６】
これにより、記録マークの前エッジの熱を制御する記録パラメータと比較して、記録マークの後エッジの熱を制御する記録パラメータを細かく分類することができ、前エッジと後エッジの記録パラメータの両方の分類の数を増やすよりも、記録パラメータの数を少なくすることができる。また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための参照テーブルをより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１３７】
また、本実施の形態では、試し記録パラメータの再設定を行う場合には、格納部３に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定する構成になっているが、必ずしもこれに限らない。例えば、格納部３に予め分類数の異なる複数の参照テーブルを格納しておき（例として、図７、図８、図９及び図１０の参照テーブルのすべてを格納部３に格納しておく等）、試し記録パラメータの再設定を行う場合には、試し記録パラメータ設定部２３で照会する参照テーブルの種類を変更する構成に代えてもよい。【０１３８】
例えば、終端パルスの幅Ｔｌｐについて最終的に決定した記録パラメータの参照テーブルが図１０の参照テーブルの場合、記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータであるＴｌｐは、図１０のように記録マーク長４Ｔ以上が４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、８Ｔ、７Ｔ以上の偶数マーク長（７Ｔと９Ｔ）に分類して設定されることになる。また、記録マークの前エッジの熱を制御するための記録パラメータであるｄＴｔｏｐは、試し記録による再設定を行わないので、ステップＳ２での設定のまま、図１１のように記録マーク長が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の奇数マーク長と偶数マーク長の４種類に分類して設定されることになる。【０１３９】
また、参照テーブルが光ディスク２の設定用領域４１に記録されるケースでは、例えば記録パルスパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐは、記録マーク長に応じた値が記録されることになり、図１３の（ａ）及び図１３の（ｂ）に示されるような記録パルスパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐの値が設定用領域４１に記録されることになる。【０１４０】
図１３の（ａ）からわかるように、記録パルスパラメータｄＴｔｏｐは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の奇数マーク長、及び４Ｔ以上の偶数マーク長の４つの領域に分類されて割当てられている。一方、図１３の（ｂ）からわかるように、記録パルスパラメータＴｌｐは、４Ｔ、５Ｔ以上の奇数マーク長、及び５Ｔ以上の偶数マーク長の３つの領域に分類されて割当てられている。すなわち、記録パルスパラメータｄＴｔｏｐの値を格納する領域は、記録マーク長に応じて割当てられているとともに、所定の記録マーク長以上（図１３の（ａ）では４Ｔ以上）の値を格納する領域は２つの領域に割当てられている。そして、記録パルスパラメータＴｌｐの値を格納する領域は、記録マーク長に応じて割当てられているとともに、所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長（図１３の（ｂ）では５Ｔ以上）の値を格納する領域は２つの領域に割当てられている。【０１４１】
このように、参照テーブルが光ディスク２の設定用領域４１に記録されるケースでも、後エッジの熱を制御して後エッジを形成するための参照テーブルは前エッジの熱を制御して前エッジを形成するための参照テーブルよりも更に細かく分類されていることとなる。よって、光ディスク２の設定用領域４１から参照テーブルを読み出すことによって、本発明の作用効果を得ることができる。【０１４２】
なお、光ディスク２の設定用領域４１に記録する参照テーブルのそれぞれの値は、上述の試し書きによって記録された値でも良いし、出荷時の各種設定の際の事前記録として記録された値であってもよい。【０１４３】
次に、本発明における作用効果について図１２を用いて説明を行う。図１２は、参照テーブルの分類の度合いと記録マークの再生信号のジッタとの相関関係を示す表である。【０１４４】
条件１では、終端パルスの幅Ｔｌｐの記録パラメータとして、図７の参照テーブル（４Ｔ以上の記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの）を使用し、条件２では、図８の参照テーブル（４Ｔと、５Ｔ以上の記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの）を使用した。また、条件３として、図９の参照テーブル（４Ｔと、５Ｔと、６Ｔ以上との記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの）を使用した。例えば、所定の再生信号品質を、記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが７．０％以下とした場合には、図１２から明らかなように、条件３と条件４しか所定の再生信号品質を満足しないことになる。つまり、記録パラメータの数を少なくするために記録マーク長の分類をまとめすぎると条件１、条件２の場合のように所定の再生信号品質を満足できないことになる。これに対して、本発明では、条件１の参照テーブルで所定の再生信号品質を満足できない場合には、条件２の参照テーブルを使用するといったように、所定の再生信号品質を満足できるところまで参照テーブルの分類を細かく設定し直していくことができる。【０１４５】
なお、所定の再生信号品質は必ずしも記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが７．０％以下であることに限らない。ここで、所定の再生信号品質とは、光ディスク装置１によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、光ディスク装置１及び光ディスク２の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。例えば、所定の再生信号品質を記録マークの前エッジと後エッジを合わせたジッタ（両ジッタ）が７．０％以下とした場合は、図１２から明らかなように、条件２、３及び４が所定の再生信号品質を満足する条件となる。【０１４６】
以上のように、記録マークの少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータに対して定義した参照テーブルを持ち、前記参照テーブルは、前記記録情報のうち少なくともマーク長に応じて分類され、かつ、所定マーク長以上は同じ分類となっており、前記参照テーブルに基づき設定した試し記録パラメータにより試し記録を行い、試し記録を再生し、所定の再生信号品質を満足しない場合は、前記所定マーク長以上の参照テーブルをマーク長によって更に細かく分類し直して、試し記録を行い、試し記録を再生し、所定の再生信号品質を満足する参照テーブルを決定する。これにより、使用する記録パラメータの数をできるだけ少なくし、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱を制御することにより蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成することができる。【０１４７】
なお、記録マークの後エッジは記録マークの前エッジなどの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、所定の記録マーク長以上の記録マークを形成する場合には、後エッジの熱を制御するだけで所定の再生信号品質を得られる記録マークを形成することが可能である。従って、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを本発明によって設定するだけで、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１４８】
また、予め固定された参照テーブルを用いる構成では、時間経過に伴って光ディスク２のトラックの記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて参照テーブルをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化によって良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成できなくなるおそれがある。これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて参照テーブルの分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って光ディスク２のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて参照テーブルの分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成することができる。【０１４９】
なお、設定した記録パラメータの参照テーブルを光ディスク２の設定用領域４１に記録し、次以降に記録パラメータを設定するために、設定用領域４１に記録した当該参照テーブルを光ディスク装置１が読み出して使用する構成であってもよい。例えば、終端パルスの幅Ｔｌｐについて決定した記録パラメータの参照テーブルが図１０の場合、光ディスク２の設定用領域４１に、この情報を記録する。これにより、光ディスク装置１は、次以降に記録パルスパラメータＴｌｐを設定するために、図１０の参照テーブルの情報を設定用領域４１から読み出して使用することができる。【０１５０】
また、以上の構成によれば、予め試し記録を行うことによって設定した記録パラメータの参照テーブルを、新たな記録時の試し記録パラメータに利用することができるので、記録パラメータの決定までに試し記録を繰り返す回数を減らすことが可能になる。また、設定した記録パラメータの参照テーブルを光ディスク２の設定用領域４１に記録するため、メモリ等の記憶装置を新たに設ける必要がなくなる。【０１５１】
なお、本実施の形態では、記録パラメータを参照テーブルといったテーブルの形にして用いているが、必ずしもこれに限らず、記録パラメータの集合を格納部に格納していてもよい。【０１５２】
また、本実施の形態では、参照テーブルの分類の仕方として、短いマーク長から段階的に分類していったが、必ずしもこれに限らない。ただし、記録マーク長が短いほど、ユーザ領域４２に記録するデータの中に発生する頻度が多くなる。なお、試し記録では、ユーザ領域４２に記録するデータをそのまま用いる必要はなく、ランダムなデータを使用することで、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。【０１５３】
なお、本実施の形態では、参照テーブルで分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば記録マーク長とスペース長とを記録情報として参照テーブルで分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本実施の形態と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。【０１５４】
また、本実施の形態では、参照テーブルの例として、終端パルスの幅Ｔｌｐを用いて説明を行ったが、終端パルスの立上り位置を表すｄＴｌｐ又は冷却期間の終了する冷却終了位置ｄＴｅによる参照テーブルを用いたとしても、記録マークの後エッジの熱を制御できるため、同様の効果を得ることができる。このとき、ｄＴｌｐを時間の進行方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向に、時間の進行方向と逆方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向と逆方向に変化する。また、ｄＴｅも時間の進行方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向に、時間の進行方向と逆方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向と逆方向に変化する。【０１５５】
なお、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして先頭立上り位置ｄＴｔｏｐを用いたが、必ずしもこれに限らず、先頭パルスの幅Ｔｔｏｐを記録パラメータとして用いてもよい。【０１５６】
また、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータを試し記録によって再設定しない構成になっているが、必ずしもこれに限らない。例えば、後エッジの熱を制御するための記録パラメータに加えて、前エッジの熱を制御するための記録パラメータを試し記録によって再設定する構成であってもよい。この場合には、後エッジの熱を制御するための記録パラメータを再設定するのと同様にして前エッジの熱を制御するための記録パラメータの再設定を行えばよい。【０１５７】
また、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する工程（第１記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程；第１の工程）と、後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、上記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、上記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する工程（第２記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程；第２の工程）の両工程を記録パラメータ設定部２１内で行っているが、各工程（第１記録パラメータ群分類工程及び第２記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程；第１及び第２の工程）のそれぞれに対応する別々の手段で行う構成であってもよい。【０１５８】
なお、本実施の形態では、最初に試し記録に用いる参照テーブルにおいて、所定記録マーク長を４Ｔにしているが、必ずしもこれに限らず、４Ｔ以上であればあらゆる正の整数値をとってもよい。ここで言うところの所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体（本実施の形態では、光ディスク２）の種類に応じて任意に設定されるものである。【０１５９】
また、本実施の形態では、試し記録の再生信号品質の評価にジッタを用いた場合を例に説明を行ったが、必ずしもこれに限らない。例えば、他にもエラーレートなどを再生信号品質の評価に用いてもよく、試し記録の再生信号品質の評価に用いる指標であれば何を用いてもよい。【０１６０】
なお、本実施の形態では、ｄ＝１のランレングス制限符号として（１，７）ＲＬＬコードを用いたが、必ずしもこれに限らず、他の変調方式及び他のコードを用いてもよい。【０１６１】
また、本実施の形態では、光変調記録の光ディスク装置１を用いているが、これに限らず、光磁界変調記録の光ディスク装置でも同様に用いることができる。さらに、本実施の形態においては、記録再生装置の一例として光ディスク装置１を用いているが、必ずしもこれに限らない。例えば、情報記録媒体上を加熱することによって該情報記録媒体の物理特性を変化させて情報を記録する装置であればよく、磁気記録装置、光磁気ディスク装置などでも光ディスク装置１と同様に用いることができる。【０１６２】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。【０１６３】
最後に、光ディスク装置１の各ブロック、特に上記実施形態の記録パラメータ設定部２１の各部や各処理ステップは、は、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにＣＰＵを用いてソフトウェアによって実現してもよい。【０１６４】
すなわち、光ディスク装置１（記録パラメータ設定部２１）は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するＣＰＵ（central processing unit）、前記プログラムを格納したＲＯＭ（read only memory）、前記プログラムを展開するＲＡＭ（random access memory）、前記プログラム及び各種データを格納するメモリ等の記憶装置（記録媒体）などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである光ディスク装置１（記録パラメータ設定部２１）の制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、前記光ディスク装置１（記録パラメータ設定部２１）に供給し、そのコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。【０１６５】
前記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー（登録商標）ディスク／ハードディスク等の磁気ディスクやコンパクトディスク−ＲＯＭ／ＭＯ／ＭＤ／デジタルビデオデイスク／コンパクトディスク−Ｒ等の光ディスクを含むディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）／光カード等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ／ＥＰＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭ／フラッシュＲＯＭ等の半導体メモリ系などを用いることができる。【０１６６】
また、光ディスク装置１を通信ネットワークと接続可能に構成し、前記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、ＬＡＮ、ＩＳＤＮ、ＶＡＮ、ＣＡＴＶ通信網、仮想専用網（virtual private network）、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、ＩＥＥＥ１３９４、ＵＳＢ、電力線搬送、ケーブルＴＶ回線、電話線、ＡＤＳＬ回線等の有線でも、ＩｒＤＡやリモコンのような赤外線、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、８０２．１１無線、ＨＤＲ、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、前記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。【０１６７】
なお、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群とから前記記録パラメータがなっていても良い。【０１６８】
また、本発明の情報記録体は、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、を含んでいても良い。【０１６９】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの少なくとも前記記録マークを形成し終わる領域である後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、当該再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えていても良い。【０１７０】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録パラメータ設定装置前記再生信号品質判定手段は、前記再生信号が所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を、所定記録マーク長とそれ以外の記録マーク長とに分類し直しても良い。【０１７１】
また、本発明に係る記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する第１記録パラメータ群分類工程と、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでいても良い。【０１７２】
また、本発明に係る記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの少なくとも前記記録マークを形成し終わる領域である後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、当該再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含んでいても良い。【０１７３】
これにより、記録マークの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と比較して、記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を細かく分類することができ、前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群との両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１７４】
その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１７５】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。【０１７６】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１７７】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であっても良い。【０１７８】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１７９】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。【０１８０】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１８１】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であっても良い。【０１８２】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１８３】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であっても良い。【０１８４】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１８５】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記所定記録マーク長は、４Ｔ以上であっても良い。【０１８６】
これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０１８７】
以上のように、本発明によれば、記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にするという効果を奏する。【０１８８】
また、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であっても良い。【０１８９】
また、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第２記録パラメータ群の前記第２所定記録マーク長以上の分類は、当該第２所定記録マーク長と当該第２所定記録マーク長以外の記録マーク長とに分類され、前記第２所定記録マーク長以外の記録マーク長は、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されていることが好ましい。【０１９０】
また、本発明の記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第１記録パラメータ群分類工程と、前記第２記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、前記第２所定記録マーク長を、前記第１所定記録マーク長以上としても良い。【０１９１】
前記構成又は方法によれば、記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行うようになっている。【０１９２】
なお、記録情報とは、以下で説明する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さとして、情報記録媒体上に記録される２値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態（マーク）と記録マークが形成されない状態（スペース）との２つの状態、及び上記２つの状態の長さが指定されていることになる。【０１９３】
記録マークの形成は、例えば、所定のパルス列からなる記録パルスのレーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍の物理特性を変化させることによって行なう場合が考えられる。【０１９４】
例えば、（１，７）ＲＬＬコード（Run Length Limited code）の変調方式では、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク２Ｔが先頭部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、本発明が適用可能な変調方式は、（１，７）ＲＬＬコードに限られず、また、（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードのことである。【０１９５】
なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、及び終端部にて構成されている。また、先頭部のみで構成されているものもある。【０１９６】
ここで、Ｔ（あらかじめ定められた単位記録マーク長）はクロック１周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が３Ｔの場合には、クロック３周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。【０１９７】
また、パルス列は、いわゆる記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーから構成されている。なお、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。また、これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれるものとする。【０１９８】
なお、先端部、中間部、及び終端部の記録パルスの記録パワーは同一であっても良いし、必ずしもこれに限らず、先端部、中間部、及び終端部で別個の記録パワーであってもよい。また、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、及び冷却パワーの順にパワーが小さくなっていいても良いし、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部、中間部、又は、終端部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。【０１９９】
さて、上述のように、（１，７）ＲＬＬの変調方式の場合、最短の記録マークよりも長い記録マークでは、記録パルスのパルス列は、先頭部、中間部、及び終端部から構成されているので、それぞれ、先頭パルス、中間パルス、及び終端パルスと呼ぶことにする。【０２００】
また、前記構成によれば、記録パラメータは、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでいる。【０２０１】
また、前記方法では、記録パラメータのうち、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群を分類する第１記録パラメータ群分類工程と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群を分類する第２記録パラメータ群分類工程とを含んでいる。【０２０２】
なお、前エッジとは、記録マークを形成し始める位置のことである。また、後エッジとは記録マークを形成し終わる位置のことである。【０２０３】
ここで、記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、先頭パルスにおける立上りの位置である先頭立上り位置と、先頭パルスの幅などが例示できる。【０２０４】
また、記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、終端パルスにおける立上りの位置である終端立上り位置と、終端パルスの幅、及び冷却パルスの照射による冷却期間が終了する冷却終了位置などが例示できる。なお、以上の、２つの例の記録パラメータを、記録パルスパラメータと呼ぶことがある。【０２０５】
ここで、前記構成又は方法によれば、第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Ｔの整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。【０２０６】
一方、第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。【０２０７】
なお、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。【０２０８】
以上の第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。【０２０９】
第１記録パラメータ群の全分類数＝第１所定記録マーク長未満の分類数＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第１所定記録マーク長未満の分類数＋２分類
（第１所定記録マーク長＝第２所定記録マーク長のとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋第２所定記録マーク長の１分類＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数−第１所定記録マーク長未満の分類数＝１分類
（第１所定記録マーク長＜第２所定記録マーク長のとき）
第２記録パラメータ群の全分類数＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋第２所定記録マーク長の１分類＋奇数マーク長の１分類＋偶数マーク長の１分類
＝第２所定記録マーク長未満の分類数＋３分類
全分類数の差＝１分類＋第２所定記録マーク長未満の分類数−第１所定記録マーク長未満の分類数≧２分類
よって、第１所定第１記録パラメータ群の全分類数よりも、第２記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が１分類以上大きいことがわかる。【０２１０】
また、第１所定記録マーク長及び第２所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせるに従って第１記録パラメータ群の全分類数及び第２記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。なお、第１記録パラメータ群の第１所定記録マーク長は、固定しておき、第２所定記録マーク長を大きくスライドさせることも考えられる。【０２１１】
また、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、１つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。【０２１２】
例えば、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第２記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。【０２１３】
一方、第２記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第２記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。【０２１４】
なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第２記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第１記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。【０２１５】
また、ここでは、３種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、２種類の記録パラメータを混在させても良い。【０２１６】
なお、第１記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。【０２１７】
また、以上の説明では、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群で分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば、記録マーク長とスペース長とを記録情報として第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群を分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本発明と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。【０２１８】
以上より、第１記録パラメータ群の全分類数よりも、第２記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が大きいので、第２記録パラメータ群の各分類の記録パラメータの設定を第１記録パラメータ群の記録パラメータの各分類の設定よりも細かくして、再生信号品質の最適化を行うことが可能となることがわかる。【０２１９】
すなわち、当該分類又は分類方法を採用すれば、第１記録パラメータ群と比較して、第２記録パラメータ群を細かく分類することができ、第１記録パラメータ群及び第２記録パラメータ群の両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。【０２２０】
また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２２１】
その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２２２】
以上より、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法などを提供することができる。【０２２３】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。【０２２４】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２２５】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であっても良い。【０２２６】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２２７】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第２記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。【０２２８】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２２９】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第１記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であっても良い。【０２３０】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２３１】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第１記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であっても良い。【０２３２】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２３３】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第１所定記録マーク長は、４Ｔ以上であることが好ましい。【０２３４】
これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２３５】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えても良い。【０２３６】
また、本発明の記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍でされているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含んでも良い。【０２３７】
前記構成又は方法によれば、試し記録パラメータ設定手段又は試し記録パラメータ設定工程は、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定するもの又は方法である。【０２３８】
また、再生信号品質判定手段又は再生信号品質判定工程は、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する。【０２３９】
したがって、前記構成又は方法によれば、後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群の分類数が充分でないなどの原因により、再生信号品質が悪ければ、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく設定するようにしている。【０２４０】
よって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。【０２４１】
また、予め固定された第２記録パラメータ群を用いる構成では、時間経過に伴って情報記録媒体トラックの記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて記録パラメータをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化することによって良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成できなくなるおそれがある。【０２４２】
これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて第２記録パラメータ群の分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って情報記録媒体のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて第２記録パラメータ群の分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる（所定の再生信号品質を満足する）記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。【０２４３】
なお、試し記録では、ランダムなデータを使用すれば、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。【０２４４】
また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。【０２４５】
なお、再生信号品質としてはジッタ、エラーレートなどを用いることができ、情報記録媒体ごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベルの規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。【０２４６】
また、所定の再生信号品質とは、記録パラメータ設定装置によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、記録パラメータ設定装置及び以下で説明する本発明の情報記録媒体の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。【０２４７】
以上により、第２記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの第２記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能となる。【０２４８】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。【０２４９】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２５０】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。【０２５１】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２５２】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。【０２５３】
これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２５４】
また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記所定記録マーク長は、４Ｔ以上であることが好ましい。【０２５５】
これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２５６】
また、本発明の情報記録媒体は、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とを含んでおり、前記第１記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第２所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第２所定記録マーク長は、前記第１所定記録マーク長以上であっても良い。【０２５７】
また、本発明の情報記録媒体は、前記記載の記録パラメータ設定装置で設定した前記記録パラメータを所定領域に記録していることが好ましい。【０２５８】
前記構成によれば、予め試し記録を行うことによって設定した記録パラメータの第２記録パラメータ群を、新たな記録時の試し記録パラメータに利用することができるので、記録パラメータの決定までに試し記録を繰り返す回数を減らすことが可能になる。また、設定した記録パラメータの第２記録パラメータ群を情報記録媒体の所定領域に記録するため、メモリ等の記憶装置を新たに設ける必要がなくなる。【０２５９】
また、情報記録媒体の所定領域に記録されている記録パラメータが、該記録パラメータの格納手段を備えた記録パラメータ設定装置に読み取られて格納（記録）されると、試し記録動作を開始した時点で、格納手段に格納されている前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群とのうち、上記第２記録パラメータ群は、上記第１記録パラメータ群よりも更に細かく分類されることになる。【０２６０】
すなわち、第１所定記録マーク長から最大の記録マーク長までが、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類された前エッジの熱を制御するための第１記録パラメータ群と、第２所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までが、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類され、かつ前記第２所定記録マーク長が、前記第１所定記録マーク長以上である第２記録パラメータ群とを含むこととなる。【０２６１】
これにより、記録マークの前エッジの熱を制御する第１記録パラメータと比較して、記録マークの後エッジの熱を制御する第２記録パラメータを細かく分類することができ、前エッジと後エッジの記録パラメータの両方の分類の数を増やすよりも、記録パラメータの数を少なくすることができる。【０２６２】
また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第２記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。【０２６３】
以上によれば、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置、記録パラメータ設定方法、及び情報記録媒体などを提供することができる。【０２６４】
なお、前記記録パラメータ設定装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを前記各手段として機能させることにより前記パラメータ設定装置をコンピュータにて実現させるパラメータ設定装置の制御プログラム、及びそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【産業上の利用可能性】
【０２６５】
以上のように、本発明の記録パラメータ設定装置、そのプログラム及び該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、情報記録媒体、記録再生装置、ならびに記録パラメータ設定方法は、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする。したがって、本発明は、光ディスク、光磁気ディスクなどの情報記録媒体を利用する産業分野、特に高速記録が可能な情報記録媒体を利用する産業分野に好適に用いることができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【国際調査報告】
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