(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
トレランスリングであって、
側壁を有する概ね円筒形の本体を備え、
前記側壁は、
未形成セクションと、
前記未形成セクションから、前記本体の周りに一定の間隔で延びる複数の波形構造と、を含み、
前記未形成セクションは、周方向に隣り合う第１の対の波形構造間の第１の未形成セクションを含み、前記第１の未形成セクションは隙間を含み、該隙間は、前記本体の全長Ｌに沿って延びて前記本体に割れ目を形成し、
前記未形成セクションは、前記隙間に連続しない、隣り合う第２の対の波形構造間の第２の未形成セクションを含み、前記第２の未形成セクションは、軸方向に長さＬSを有する少なくとも１つのスロットを含み、
前記複数の波形構造は、複数の軸方向に延びる列において延設され、
各々の軸方向に延びる列における前記複数の波形構造の数は、前記軸方向における前記少なくとも１つのスロットの数と異なる、
トレランスリング。
【請求項２】
ＬSはＬの８５％以上である、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項３】
ＬSはＬの９９％以下である、請求項２に記載のトレランスリング。
【請求項４】
各未形成セクションは幅ＷUSを有し、各々の前記少なくとも１つのスロットは幅ＷSを有し、ＷSはＷUSの５０％以上である、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項５】
ＷSはＷUSの９９％以下である、請求項４に記載のトレランスリング。
【請求項６】
各波形構造は長さＬWSを有し、ＬSはＬWSの５０％以上である、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項７】
ＬSはＬWSの１１０％以下である、請求項６に記載のトレランスリング。
【請求項８】
各々の前記少なくとも１つのスロットは各未形成セクション内に中心決めされる、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項９】
各々の軸方向に延びる列は、前記側壁から延びる第１の波形部、及び前記側壁から延びる第２の波形部を含み、前記第２の波形部は前記第１の波形部から離れている、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項１０】
各々の軸方向に延びる列は、前記第１の波形部と前記第２の波形部との間で前記側壁から延びる第３の波形部を更に含む、請求項９に記載のトレランスリング。
【請求項１１】
各々の前記少なくとも１つのスロットは、長さＬS、及び幅ＷSを含み、ＬS：ＷSは１０：１以上であり、ＬS：ＷSは５０：１以下である、請求項１に記載のトレランスリング。
【請求項１２】
アセンブリであって、
ボアを含む、外側構成要素と、
前記ボア内に配置される内側構成要素と、
前記内側構成要素に取り付けられるトレランスリングと、を含み、
前記トレランスリングは、側壁を有する概ね円筒形の本体を含み、
前記側壁は：
未形成セクションと、
前記未形成セクションから、前記本体の周りに一定の間隔で延びる複数の波形構造と、を含み、
前記未形成セクションは、周方向に隣り合う第１の対の波形構造間の第１の未形成セクションを含み、前記第１の未形成セクションは隙間を含み、該隙間は、前記本体の全長Ｌに沿って延びて前記本体に割れ目を確立し、
前記未形成セクションは、前記隙間に連続しない、周方向に隣り合う各残りの対間の波形構造間の第２の未形成セクションを含み、前記第２の未形成セクションは、軸方向に長さを有する少なくとも１つのスロットを含み、
前記複数の波形構造は、複数の軸方向に延びる列において延設され、
各々の軸方向に延びる列における前記複数の波形構造の数は、前記軸方向における前記少なくとも１つのスロットの数と異なる、
アセンブリ。
【請求項１３】
前記アセンブリはハードディスクドライブを含む、請求項１２に記載のアセンブリ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、トレランスリングに関し、詳細には、ハードディスクドライブ内のアクチュエータアームのトレランスリングに関する。
【背景技術】
【０００２】
本開示は、トレランスリングアセンブリであって、トレランスリングは、アセンブリの部品間に締まり嵌めを提供し、その第１の部品は、第２の部品の円筒ボア内に位置する円筒部分を有する、トレランスリングアセンブリに関する。さらに、本開示は詳細には、シャフト又は軸受及びシャフトのハウジング等の円筒構成要素間に締まり嵌めを提供するトレランスリングを有するアセンブリに関する。
【０００３】
エンジニアリング技法の改良によって、機械部品にはより高い精度が要求されるようになっており、製造コストの上昇につながっている。プーリ、フライホイール又はドライブシャフト等の用途においてトルクを伝達するために圧入、スプライン、ピン又はキー溝が使用される場合、非常に厳密な公差が必要とされる。
【０００４】
トレランスリングは、トルクを伝達するために必要な部品間に締まり嵌めを提供するために用いることができる。トレランスリングは、正確な寸法に機械加工されない可能性のある部品間に締まり嵌めを提供する低コストの手段を提供する。トレランスリングは、部品間の異なる線膨張率を相殺するといった複数の他の潜在的な利点を有し、装置の迅速な組み付け及び耐久性を可能にする。
【０００５】
トレランスリングは概して、弾性材料、例えばばね鋼等の金属のストリップを含み、ストリップの端部同士が合わせられてリングを形成する。突起の帯が、リングから径方向外方に、又はリングの中心に向かって径方向内方に延びる。通常、突起は編成されており、起伏、隆起又は波形等の規則的な編成が考えられる。
【０００６】
リングが、例えば、シャフトと、シャフトが位置するハウジング内のボアとの間の環状スペースに位置すると、突起は圧縮される。各突起は、ばねとして働き、シャフト及びボアの表面に対して径方向の力を加え、シャフトとハウジングとの間に締まり嵌めを提供する。ハウジング又はシャフトの回転は、トルクがトレランスリングによって伝達されると、シャフト又はハウジングの他方における同様の回転を生む。通常、突起の帯は、編成を有しないリングの環状領域（当該技術分野においてトレランスリングの「未形成領域」として知られている）と軸方向に隣接する。
【０００７】
トレランスリングは通常、弾性材料のストリップを含み、ストリップは、ストリップの端部同士を重ね合わせることによってリングの容易な形成を可能にするように湾曲しているが、トレランスリングは環状の帯として作製することもできる。「トレランスリング」という用語は、本明細書において以下で用いられる場合、双方のタイプのトレランスリングを含む。「シャフト」という用語は、本明細書において以下で用いられる場合、シャフト又は軸受等の円筒部分を有する任意のアセンブリの構成要素を含む。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
したがって、当業界では、依然として、トレランスリング、特にハードディスクドライブ内に据え付けられるトレランスリングの改良が必要とされている。
【０００９】
本開示は、添付の図面を参照することによってより良く理解することができ、その多くの特徴及び利点が当業者に明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】一実施形態によるハードディスクドライブアセンブリの分解斜視図である。
【図２】一実施形態によるハードディスクドライブアセンブリの断面図である。
【図３】一実施形態によるトレランスリングの斜視図である。
【図４】図３の線４−４に沿った、一実施形態によるトレランスリングの断面図である。
【図５】別の実施形態によるトレランスリングの斜視図である。
【図６】また別の実施形態によるトレランスリングの斜視図である。
【図７】更に別の実施形態によるトレランスリングの部分斜視図である。
【図８】更にまた別の実施形態によるトレランスリングの部分斜視図である。
【図９】軸上の軸方向剛性を試験するハンマ試験設定を示す図である。
【図１０Ａ】軸外の剛性を試験するハンマ試験を示す図である。
【図１０Ｂ】軸外の剛性を試験するハンマ試験を示す図である。
【図１１Ａ】種々のトレランスリングの軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示す図である。
【図１１Ｂ】種々のトレランスリングの軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示す図である。
【図１２】種々のトレランスリングの径方向剛性の試験結果を示す図である。
【図１３】種々のトレランスリングのピーク組み付け力（ＰＡＦ）、初期滑り（ＩＳ）、及びＩＳ／ＰＡＦの比の試験結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
異なる図における同じ参照符号の使用は、同様の又は同一の要素を示す。
【００１２】
以下の説明は、トレランスリング、詳細には、ハードディスクドライブ内の、支柱と、アクチュエータアームに形成されるボアとの間に据え付けることができるトレランスリングに関する。１つの態様では、トレランスリングはピボットの周りに取り付けることができ、次に、このピボットリングアセンブリをボアに挿入することができる。代替的には、トレランスリングをボアに挿入することができ、ピボットをトレランスリングに挿入することができる。
【００１３】
典型的なトレランスリングでは、隙間に最も近い波形部が最も弱く、すなわち剛性が最も低くなる傾向があり、これは、その波形部が一方の側に隙間を有し、他方の側に材料を有し、トレランスリングの残りの波形部には、両側に材料が隣接するためである。この剛性の変化によって、性能、例えば共振及び位置合わせの変わりやすさが、ハードディスクドライブアセンブリの隙間の位置に大きく依存する可能性がある。１つの性能パラメータのために隙間の位置を最適化する試みは、他の性能パラメータに悪影響を及ぼす可能性がある。このことはさらに、全体的な性能を損なう可能性がある。
【００１４】
本明細書において記載される実施形態のうちの１つ又は複数によるトレランスリングは、１つ又は複数の波形部に隣り合う側壁に制御された脆弱さを与えるために、トレランスリングの未形成セクション内の目的位置においてトレランスリングの側壁を貫通する複数のスロットを含むことができる。例えば、スロットは、２つの隣り合う波形構造間で側壁の全長にほぼ沿って延びて、波形構造間の側壁の未形成セクションのほぼ全てを除去することができる。波形構造間の側壁の未形成セクションを除去することによって、未形成セクションが波形構造の強化ベースを提供するため、隣り合う波形部の剛性を低減することができる。
【００１５】
本明細書において開示されるスロット付きのトレランスリングは、トレランスリングの周りで周方向に実質的に変化しない共振周波数及び剛性を有するトレランスリングを提供することができる。したがって、トレランスリングは、ボア内で支柱を位置合わせして維持することができ、ほぼいずれもの径方向への通常の動作荷重下でのボア内における支柱のいかなる揺れも実質的に防止することができる。
【００１６】
最初に図１を参照すると、ハードディスクドライブアセンブリが示されており、全体的に１００で示されている。ハードディスクドライブアセンブリ１００は、ハードディスクドライブのアクチュエータアーム１０２及びピボットアセンブリ１０４を含むことができる。
【００１７】
図示のように、アクチュエータアーム１０２は、近位端１１０及び遠位端１１２を含むことができる。複数の読み書きヘッド１１４が、アクチュエータアーム１０２の遠位端１１２から延びることができる。その上、アクチュエータアーム１０２は、アクチュエータアーム１０２の近位端１１０付近のボア１１６を有して形成することができる。
【００１８】
図１は、ピボットアセンブリ１０４がピボット１２０及びトレランスリング１２２を含むことができることを更に示している。ピボット１２０は、内側部材１２４及び外側部材１２６を含むことができ、外側部材１２６は内側部材１２４に対して回転することができる。
【００１９】
特定の態様では、トレランスリング１２２を、ピボット１２０の周りに嵌めることができ、次に、ピボットアセンブリ１０４をボア１１６内に据え付けることができる。別の態様では、トレランスリング１２２をボア１１６内に配置することができ、ピボット１２０をトレランスリング１２２内に挿入することができる。トレランスリング１２２は、ピボット１２０の外側部材１２６とアクチュエータアーム１０２のボア１１６との間で締まり嵌めを確立することができる。したがって、アクチュエータアーム１０２は、ピボット１２０の内側部材１２４の周りでピボット１２０の外側部材１２６とともに回転することができる。
【００２０】
したがって、図２に示されているように、トレランスリング１２２は、ボア１１６内に、外側構成要素すなわちアクチュエータアーム１０２と、内側構成要素すなわちピボット１２０との間に据え付けることができる。特定の態様では、据え付けられると、ボアの上部又は底部を越えて延びるトレランスリング１２２の部分はなく、トレランスリング１２２はボア１１６内に完全に収容することができる。別の態様では、トレランスリング１２２の一部、例えば上部、底部、上部の構造、底部の構造、又はそれらの組み合わせが、ボアから延びることができる。
【００２１】
図２に示されているように、また以下でより詳細に説明するように、トレランスリング１２２は、ピボット１２０をアクチュエータアーム１０２内で締まり嵌めして維持するために、ボア１１６の内側壁及びピボット１２０の外側壁に係合するように構成することができる。トレランスリング１２２は、ピボット１２０に据え付けられるときにピボット１２０の周りで拡張し、次に据え付け中にボア１１６内で少なくとも部分的に変形する、すなわち圧縮することによって、寸法変化を考慮することができる。
【００２２】
ここで図３、図４及び図５を参照すると、トレランスリング１２２に関する細部が示されている。図示のように、トレランスリング１２２は、概ね円筒形の側壁３０４を有する概ね円筒形の本体３０２を含むことができる。側壁３０４は上部３０６及び底部３０８を含むことができる。さらに、側壁３０４は第１の端３１０及び第２の端３１２を含むことができる。その上、側壁３０４の第１の端３１０と第２の端３１２との間に隙間３１４を形成することができる。隙間３１４は本体３０２の全長に沿って延びることができ、隙間３１４は本体３０２に割れ目を形成することができる。
【００２３】
図３に示されているように、トレランスリング１２２の本体３０２は、側壁３０４の上部３０６から延びる上側フランジ３１６、及び側壁３０４の底部３０８から延びる下側フランジ３１８を更に含むことができる。
【００２４】
トレランスリング１２２は中心軸３２０を含むことができ、図２及び図３に示されているように、特定の態様では、フランジ３１６、３１８は、トレランスリング１２２の中心軸３２０に対して外方方向に角度を付けることができる。フランジ３１６、３１８は中心軸３２０に対して内方方向に角度を付けることができることを理解されたい。いずれの場合も、フランジ３１６、３１８は、中心軸３２０に対して角度αを形成することができる。特定の態様では、αは５°以上、例えば１０°以上又は１５°以上であるものとすることができる。別の態様では、αは３０°以下、例えば２５°以下又は２０°以下であるものとすることができる。別の態様では、αは上記で開示した値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００２５】
図２に最もはっきり示されているように、トレランスリング１２２は、トレランスリング１２２の側壁３０４の内面と、トレランスリング１２２の側壁３０４に形成される壁構造の外面との間の距離である、全体的な肉厚ｔＯＷを含むことができる。さらに、各フランジ３１６、３１８は、トレランスリング１２２の側壁３０４の内面とフランジ３１６、３１８の外縁との間の距離である、全体的なフランジ厚ｔＯＦを有するように、側壁３０４から延びることができる。特定の態様では、ｔＯＦは、ｔＯＷの３０％以上、例えばｔＯＷの３５％以上、ｔＯＷの４０％以上、ｔＯＷの４５％以上、ｔＯＷの５０％以上、ｔＯＷの５５％以上、又はｔＯＷの６０％以上であるものとすることができる。さらに、ｔＯＦは、ｔＯＷの９８％以下、例えばｔＯＷの９５％以下、ｔＯＷの９０％以下、ｔＯＷの８５％以下、又はｔＯＷの８０％以下であるものとすることができる。別の態様では、ｔＯＦは、上記で開示したｔＯＷのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００２６】
中心軸３２０に対して内方方向に延びるフランジ及び壁構造を含む特定の実施形態では、ｔＯＷは、トレランスリング１２２の側壁３０４の外面とトレランスリング１２２の側壁３０４に形成される壁構造の内面との間で測定することができる。さらに、そのような実施形態では、ｔＯＦは、トレランスリング１２２の側壁３０４の外面とフランジ３１６、３１８の内縁との間で測定される。
【００２７】
図２及び図３を更に参照すると、トレランスリング１２２は、本体３０２の側壁３０４に形成される複数の波形部３２２を含むことができる。図示のように、１つの態様では、波形部３２２は、中心軸３２０に対して外方方向に延びることができる。しかし、別の態様では、波形部３２２は、中心軸３２０に対して内方方向に延びることができる。
【００２８】
波形部３２２は、本体３０２の側壁３０４に形成するか又は別様に配置することができるため、トレランスリング１２２は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の外周の周りに等間隔に離間した波形部の列３２４等の複数の波形構造を含む。
【００２９】
各波形部の列３２４は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４に沿って、例えばトレランスリング１２２の長さに沿って互いに鉛直に位置合わせされる少なくとも２つの波形部３２２を含むことができる。
【００３０】
図３に示されているように、特定の態様では、トレランスリング１２２の各波形部の列３２４は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の上部３０６付近の第１の波形部３３０、及びトレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の底部３０８付近の第２の波形部３３２であるものとすることができる。特定の態様では、第１の波形部３３０は、トレランスリング１２２の長さの上半分内に中心決めすることができる。その上、第２の波形部３３２は、トレランスリング１２２の長さの下半分内に中心決めすることができる。各波形部の列３２４は、第１の波形部３３０と第２の波形部３３２との間の第３の波形部３３４も含むことができる。第３の波形部３３４は、トレランスリング１２２の長さに沿って中心決めすることができる。
【００３１】
１つの態様では、第１の波形部３３０は、第２の波形部３３２と同じサイズ、例えば長さ、幅、高さ（側壁３０４の外面から測定した）であるものとすることができる。別の態様では、第１の波形部３３０、第２の波形部３３２及び第３の波形部３３４は同じサイズ、例えば長さ、幅、高さ（側壁３０４の外面から測定した）である。特に、第１の波形部３３０及び第２の波形部３３２は第１の長さＬ１を有することができ、第３の波形部３３４は第２の長さＬ２を含み、Ｌ２≦Ｌ１である。詳細には、Ｌ２はＬ１の７５％以下、例えばＬ２はＬ１の７０％以下、Ｌ２はＬ１の６５％以下、Ｌ２はＬ１の６０％以下、Ｌ２はＬ１の５５％以下、又はＬ２はＬ１の５０％以下であるものとすることができる。別の態様では、Ｌ２はＬ１の２５％以上、例えばＬ２はＬ１の３０％以上、Ｌ２はＬ１の３５％以上、又はＬ２はＬ１の４０％以上であるものとすることができる。別の態様では、Ｌ２は、上記で開示したＬ１のパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００３２】
図３、図４及び図５は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４が複数の未形成セクション３４０を含むことができることを更に示している。各未形成セクション３４０は、隣り合う波形部の列３２４間に延びるとともに何らかの波形部又は他の構造を有して形成されない側壁３０４のセクションを含むことができる。その上、各未形成セクション３４０は、本体３０２の上側フランジ３１６と下側フランジ３１８との間に形成される何らかの付加的な構造又は特徴を有することなく、フランジ３１６、３１８間で隣り合う波形部の列３２４間に延びることができる。
【００３３】
図５に示されているように、波形部の列３２４及び未形成セクション３４０は、側壁３０４の外周の周りで交互になっていることができる。その上、特定の態様では、波形部の列３２４は、側壁３０４の未形成セクション３４０によって、側壁３０４の外周の周りで等間隔に離間する。
【００３４】
図３及び図５は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４を、本体３０２の側壁３０４を径方向に貫通することができる複数のスロット３４２を有して形成することができることを示している。特に、スロット３４２は、側壁３０４の未形成セクション３４０に沿って延びることができる。特定の態様では、本体３０２は長さＬを有し、スロットは長さＬＳを有する。さらに、ＬＳはＬの８０％以上、例えばＬの８５％以上又はＬの９０％以上である。別の態様では、ＬＳはＬの９９％以下、例えばＬの９８％以下、Ｌの９７％以下、Ｌの９６％以下、Ｌの９５％以下である。その上、ＬＳは、本明細書において記載されるＬ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００３５】
別の態様では、各未形成セクション３４０は、幅ＷＵＳを有する。さらに、各スロット３４２は、幅ＷＳを有する。特定の態様では、ＷＳはＷＵＳの５０％以上、例えばＷＵＳの５５％以上、ＷＵＳの６０％以上、ＷＵＳの６５％以上、ＷＵＳの７０％以上、ＷＵＳの７５％以上、ＷＵＳの８０％以上、ＷＵＳの８５％以上、又はＷＵＳの９０％以上であるものとすることができる。別の態様では、ＷＳはＷＵＳの９９％以下、例えばＷＵＳの９８％以下、ＷＵＳの９７％以下、ＷＵＳの９６％以下、又はＷＵＳの９５％以下であるものとすることができる。ＷＳは、上述したＷＵＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００３６】
また別の態様では、各波形構造は全長ＬＷＳを有する。波形部の列の場合、ＬＷＳは上側波形部の上部及び下側波形部の底部から測定することができる。後述する細長い波形部の場合、ＬＷＳは細長い波形部の上部から細長い波形部の底部まで測定することができる。特定の態様では、ＬＳはＬＷＳの５０％以上、例えばＬＷＳの５５％以上、ＬＷＳの６０％以上、ＬＷＳの６５％以上、ＬＷＳの７０％以上、ＬＷＳの７５％以上、ＬＷＳの８０％以上、ＬＷＳの８５％以上、ＬＷＳの９０％以上、又はＬＷＳの９５％以上であるものとすることができる。その上、ＬＳはＬＷＳの１１０％以下、例えばＬＷＳの１０９％以下、ＬＷＳの１０８％以下、ＬＷＳの１０７％以下、ＬＷＳの１０６％以下、又はＬＷＳの１０５％以下であるものとすることができる。ＬＳは、上述したＬＷＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００３７】
別の態様では、各スロット３４２は第１の端及び第２の端を含むことができ、各端は丸みを帯びることができる。さらに、各スロット３４２は、各未形成セクション３４０内で周方向及び長手方向に中心決めされる。
【００３８】
特定の態様では、スロット３４２を有しない未形成セクション、すなわち中実の未形成セクションは、周方向の波形部から波形部への力伝達ＦＴを含むことができ、１つの波形構造に加えられるその力は、中実の未形成セクションを通して隣り合う波形構造に伝えられる。特定の用途では、比較的高いＦＴは望ましくない可能性がある。未形成セクションの一部又はほぼ全てを除去することは、ＦＴをかなり低下させることができ、スロット３４２が形成される未形成セクション３４０は、ＦＴ未満である、周方向の波形部から波形部への伝達ＦＴＳを有することができる。例えば、ＦＴＳはＦＴの５０％以下、例えばＦＴの４５％以下、ＦＴの４０％以下、ＦＴの３５％以下、ＦＴの３０％以下、ＦＴの２５％以下、ＦＴの２０％以下、ＦＴの１５％以下、又はＦＴの１０％以下であるものとすることができる。さらに、ＦＴＳはＦＴの１％以上、例えばＦＴの２％以上、ＦＴの３％以上、ＦＴの４％以上、又はＦＴの５％以上であるものとすることができる。別の態様では、ＦＴＳは、上述したＦＴ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００３９】
波形部３２２又は波形構造に隣接する未形成セクション３４２の一部を除去することによって、隣り合う波形部３２２の剛性を変えることができる。特に、波形部３２２の一部を除去することによって、隣り合う波形部の剛性を、スロット付きの未形成セクション３４２に隣り合わない同一の波形部３２２から低減することができる。換言すると、スロット付きではない未形成セクション３４２に隣り合う波形部は剛性Ｓを含むことができ、スロット３４２を、波形部３２２に隣り合う未形成セクション３４２に切断、パンチ又は別様に作った後で、結果として生じる波形部は剛性ＳＳを有することができる。ＳＳはＳ未満であるものとすることができる。例えば、ＳＳはＳの９５％以下、例えばＳＳはＳの９０％以下、Ｓの８５％以下、Ｓの８０％以下、Ｓの７５％以下、Ｓの７０％以下、又はＳの６５％以下であるものとすることができる。その上、ＳＳはＳの２５％以上、例えばＳの３０％以上、Ｓの３５％以上、Ｓの４０％以上、Ｓの４５％以上、又はＳの５０％以上であるものとすることができる。別の態様では、ＳＳは、上述したＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００４０】
図４は、トレランスリング１２２が、トレランスリング１２２の中心３５２を通って隙間３１４を二分することができる中心軸３５０を含むことができることを示している。特定の態様では、トレランスリング１２２は中心軸３５０を中心に対称であるものとすることができる。
【００４１】
特定の態様では、ピボットアセンブリ１０４がアクチュエータアームのボア１１６内に、トレランスリング１２２が間に配置された状態で据え付けられると、ピボット１２０及びボア１１６は、トレランスリング１２２の中心軸３２０に沿って又はほぼ沿って延びる中心軸を含むことができる。トレランスリング１２２は、ボア１１６及びアクチュエータアーム１０２に対するピボット１２０の揺動に実質的に抵抗することができる軸方向剛性を提供することができ、ピボット１２０の中心軸は、中心軸３２０に対して、中心軸（長手方向軸）に垂直な軸を中心に回転する。
【００４２】
拘束されないままである場合、そのような揺動によって読み書きヘッド１１４がハードディスクに接触する可能性がある。この接触は望ましくなく、ハードディスクドライブを故障させる可能性がある。波形構造に隣り合う未形成セクションを本明細書において記載されるように変更することによって、トレランスリング１２２の径方向剛性を操作し、隙間３１４に起因する軸方向剛性の低下によって生じる軸方向剛性のいかなる変化も実質的に低減することができる。さらに、波形構造に隣り合う未形成セクションを変更することによって、トレランスリング１２２の径方向剛性を操作することができるため、トレランスリング１２２の軸方向剛性は、トレランスリング１２２の周りの周方向の種々の位置において測定したときに大きくは変化しない。
【００４３】
例えば、隙間３１４を通るトレランスリング１２２の軸方向剛性ＡＳＧは、隙間３１４、及びトレランスリング１２２の中心３６０を通る第１の方向に測定することができる。隙間３１４に垂直なトレランスリング１２２の軸方向剛性ＡＳＰＧは、第１の方向に垂直な第２の方向に測定することができる。ＡＳＧはＡＳＰＧの９０％以上、例えばＡＳＰＧの９１％以上、ＡＳＰＧの９２％以上、ＡＳＰＧの９３％以上、ＡＳＰＧの９４％以上、ＡＳＰＧの９５％以上、又はＡＳＰＧの９６％以上であるものとすることができる。さらに、ＡＳＧはＡＳＰＧの１００％以下、ＡＳＰＧの９９％以下、ＡＳＰＧの９８％以下、又はＡＳＰＧの９７％以下であるものとすることができる。その上、ＡＳＧは、上記で開示したＡＳＰＧのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００４４】
さらに、トレランスリング１２２の共振周波数は、トレランスリング１２２が据え付けられるアセンブリの周方向の種々の位置で測定したときに大きくは変化しない。例えば、隙間３１４を通るトレランスリング１２２の共振周波数ＲＦＧは、トレランスリング１２２の隙間３１４及び中心３６０を通る第１の方向に測定することができる。隙間３１４に垂直なトレランスリング１２２の共振周波数ＲＦＰＧは、第１の方向に垂直な第２の方向に測定することができる。ＲＦＧは、ＲＦＰＧの９０％以上、例えばＲＦＰＧの９１％以上、ＲＦＰＧの９２％以上、ＲＦＰＧの９３％以上、ＲＦＰＧの９４％以上、又はＲＦＰＧの９５％以上であるものとすることができる。さらに、ＲＦＧは、ＲＦＰＧの１００％以下、ＲＦＰＧの９９％以下、ＲＦＰＧの９８％以下、ＲＦＰＧの９７％以下、又はＲＦＰＧの９６％以下であるものとすることができる。その上、ＲＦＧは、上記で開示したＲＦＰＧのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００４５】
ここで図５を参照すると、別の態様では、各波形構造は単一の細長い波形部５００を含むことができる。細長い波形部５００は、トレランスリング５０６の本体５０４の側壁５０２に沿って長手方向に延びることができる。さらに、各細長い波形部５００は、実質的に上側フランジ５０８と下側フランジ５１０との間でトレランスリング５０６の側壁５０２の長さに沿って延びることができる。トレランスリング５０６も隙間５１６を含むことができる。この態様では、各細長い波形部５００は、トレランスリング５０６の長さに沿って中心決めすることができる。その上、トレランスリング５０６のこの態様は、本明細書において開示される他のトレランスリングに関して本明細書において記載される特徴又は特性のうちの１つ又は複数を含むことができる。この態様では、スロット５１２を、隣り合う細長い波形部５００間の未形成セクション５１４内のトレランスリング５０６の側壁５０２に形成することができる。さらに、トレランスリングは隙間５１６を含むことができる。
【００４６】
本明細書において記載される各実施形態では、２つの波形構造、例えば細長い波形部、波形部の列、又はそれらの組み合わせが常に、残りの波形構造よりも周方向に隙間３１４、５１６のより近くに位置する。隙間３１４、５１６に隣り合う２つの波形構造、すなわち隙間３１４に最も近い２つの波形構造は、第１の波形部の剛性ＳＷ１を含むことができる。未形成セクションに隣り合う他の波形構造は、第２の波形部の剛性ＳＷ２を含むことができる。トレランスリング１２２、５０６を変更せず、またトレランスリング１２２、５０６の同様のサイズ及び形状の波形構造では、ＳＷ１はＳＷ２以下であるものとすることができる。
【００４７】
しかし、波形構造３２２、５００の１つ又は複数の寸法を変えることによって、又は、波形構造３２２、５００間の未形成セクション３４０、５１４にスロットを作ることによって、波形構造３２２、５００を変更することにより、波形部の剛性を本明細書において記載されるように操作することができる。したがって、隙間３１４、５１６に周方向により近い、側壁３０４、５０２の未形成セクション３４０、５１４に形成されるスロット３４２、５１２は、隙間３１４、５１６から周方向に離れた、側壁３０４、５０２に形成されるスロット３４２、５１２とは、異なるサイズであるか、異なる形状であるか、又は異なるサイズ及び形状であるものとすることができる。特に、スロット３４２、５１２は、隙間３１４、５１６から、隙間３１４、５１６から最も離れた側壁３０４、５０２の外周に沿う位置（すなわち隙間３１４、５１６から１８０°）まで側壁３０４、５０２の外周に沿って、サイズ、例えば長さ、幅又はそれらの組み合わせを大きくすることができる。
【００４８】
図６は、側壁６０６の未形成セクション６０４にスロット６０２を有して形成されている別のトレランスリング６００を示している。図示のように、スロット６０２は、スロットブリッジ６０８によって分岐するか又は別様に分割することができる。特定の態様では、スロットブリッジは、ブリッジされたスロットに隣り合うか又はブリッジされたスロット付近の波形部の剛性ＷＳＢＳを変えることができるため、スロットに隣り合う波形部の、波形部の剛性ＷＳＳはＷＳＢＳ未満である。ＷＳＢＳは、単一の波形部、例えば波形部の列の中央の波形部、又は波形部の一部、例えば細長い波形部の中間に関連付けることができる。中央の波形部又は波形部の中央部分の剛性を変えることによって、トレランスリング６００は、トレランスリングの上部及び底部において種々の方向に僅かしか変化しない軸方向剛性を依然として提供しながらも、トレランスリングの中間を通る構造的剛性を保持することができる。
【００４９】
特定の態様では、ＷＳＳはＷＳＢＳの５０％以下、例えばＷＳＢＳの４５％以下、ＷＳＢＳの４０％以下、ＷＳＢＳの３５％以下、ＷＳＢＳの３０％以下、ＷＳＢＳの２５％以下、又はＷＳＢＳの２０％以下であるものとすることができる。別の態様では、ＷＳＳはＷＳＢＳの１％以上、例えばＷＳＢＳの２％以上、ＷＳＢＳの３％以上、ＷＳＢＳの４％以上、又はＷＳＢＳの５％以上であるものとすることができる。その上、ＷＳＳは、ＷＳＢＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００５０】
図７は、側壁７０８の未形成セクション７０６に形成されている上側スロット７０２及び下側スロット７０４を有するまた別のトレランスリング７００を示している。スロット７０２、７０４は、隣り合う波形構造７１０間で鉛直に位置合わせされる別個の離散したスロット７０２、７０４であるものとすることができる。１つの態様では、上側スロット７０２は、トレランスリング７００の側壁７０８の上部付近、したがって細長い波形部の上部付近に形成することができ、下側スロット７０４は、トレランスリング７００の側壁７０８の底部付近、したがって細長い波形部の底部付近に形成することができる。別の態様では、上側スロット７０２は、隣り合う上側波形部間に形成することができ、下側スロット７０４は隣り合う下側波形部間に形成することができる。各スロット７０２、７０４は長さＬＳを有することができ、各上側波形部及び下側波形部は長さＬＷを有することができる。特定の態様では、ＬＳはＬＷの７５％以上、例えばＬＷの８０％以上、ＬＷの８５％以上、ＬＷの９０％以上、ＬＷの９５％以上、又はＬＷの１００％以上であるものとすることができる。さらに、ＬＳはＬＷの２００％以下、例えばＬＷの１７５％以下、ＬＷの１５０％以下、又はＬＷの１２５％以下であるものとすることができる。さらに、ＬＳは、本明細書において記載されるＬＷ値のパーセンテージのいずれかの範囲内であるものとすることができる。
【００５１】
図８を参照すると、トレランスリングの別の実施形態が示されており、全体的に８００で示されている。図示のように、トレランスリング８００は、側壁８０６の未形成セクション８０４に径方向に形成されている、複数の近接して離間した鉛直に位置合わせされる穴８０２を含む。穴８０２間のサイズ及び距離は、側壁８０６の未形成セクション８０４に与えられる脆弱さを変更するために変更することができる。例えば、穴８０２の直径を大きくするとともに穴８０２間の距離を小さくすることによって、側壁８０６の未形成セクション８０４の脆弱さを高めることができる。逆に、穴８０２の直径を小さくするとともに穴８０２間の距離を大きくすることによって、側壁８０６の未形成セクション８０４の脆弱さを低下させることができる。
【００５２】
特定の態様では、穴８０２は、同じ直径又は異なる直径を有することができる。例えば、トレランスリング８００の鉛直中心に沿って位置する穴８０２は、最も小さい直径を有することができ、残りの穴８０２は、トレランスリング８００の上部及び底部に向かって直径が漸進的に増大することができる。代替的には、トレランスリング８００の鉛直中心に沿って位置する穴８０２は、最も大きい直径を有することができ、残りの穴８０２は、トレランスリング８００の上部及び底部に向かって直径が漸進的に低減することができる。
【００５３】
特定の態様では、本明細書において記載される態様のいずれかに従ったトレランスリングは、金属、金属合金又はそれらの組み合わせから作ることができる。金属は鉄系金属を含むことができる。さらに、金属は鋼を含むことができる。鋼は、オーステナイト系ステンレス鋼等のステンレス鋼を含むことができる。その上、鋼は、クロム、ニッケル、又はそれらの組み合わせを含むステンレス鋼を含むことができる。例えば、鋼はＸ１０ＣｒＮｉｌ８−８ステンレス鋼であるものとすることができる。さらに、トレランスリングは、３５０以上、例えば３７５以上、４００以上、４２５以上、又は４５０以上であるものとすることができるビッカースピラミッド硬さ、ＶＰＮを含むことができる。ＶＰＮはまた、５００以下、４７５以下、又は４５０以下であるものとすることができる。ＶＰＮはまた、本明細書において記載されるＶＰＮ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。別の態様では、トレランスリングを、その耐食性を高めるように処理することができる。特に、トレランスリングを不動態化処理することができる。例えば、トレランスリングは、ＡＳＴＭ規格Ａ９６７に従って不動態化処理することができる。
【００５４】
別の態様では、トレランスリングを形成することができるストック材料は、厚さｔを有することができ、ｔは、０．０８５ｍｍ以上、例えば０．０８７ｍｍ以上、０．０９０ｍｍ以上、０．０９５ｍｍ以上、又は０．１００ｍｍ以上であるものとすることができる。別の態様では、ｔは０．１１５ｍｍ以下、０．１１３ｍｍ以下、０．１１０ｍｍ以下、又は０．１０５ｍｍ以下であるものとすることができる。その上、ｔは、上記で開示したｔの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００５５】
本明細書において記載される態様のいずれかに従ったトレランスリングは、全体的な外径ＯＤを有することができ、ＯＤは５ｍｍ以上、例えば６ｍｍ以上、７ｍｍ以上、８ｍｍ以上、９ｍｍ以上、又は１０ｍｍ以上であるものとすることができる。ＯＤは、２０ｍｍ以下、例えば１５ｍｍ以下、１４ｍｍ以下、１３ｍｍ以下、１２ｍｍ以下、又は１０ｍｍ以下であるものとすることができる。さらに、ＯＤは、本明細書において記載されるＯＤの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００５６】
別の態様では、トレランスリングは全長Ｌを有することができ、Ｌは、２０ｍｍ以下、例えば１７ｍｍ以下、１５ｍｍ以下、１４ｍｍ以下、又は１３ｍｍ以下であるものとすることができる。Ｌは５ｍｍ以上、６ｍｍ以上、７ｍｍ以上、８ｍｍ以上、９ｍｍ以上、又は１０ｍｍ以上であるものとすることができる。その上、Ｌは、上述したＬの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。
【００５７】
さらに、本明細書において記載されるトレランスリングのいずれかを形成するのに用いられるストック材料を切断し、スタンプし、ロール成形してトレランスリングを形成した後で、結果として生じるトレランスリングには実質的にいかなるバリもない。詳細には、１０倍の倍率下でトレランスリングを目視検査することでは切断縁のいずれに沿ってもバリは見えない。
【実施例】
【００５８】
トレランスリングを、Ｘ１０ＣｒＮｉｌ８−８ステンレス鋼ストックから製造する。ステンレス鋼ストックは、０．１ｍｍ±０．０１３の厚さを有する。さらに、ステンレス鋼ストックは４００〜４５０のＶＰＮを有し、ＡＳＴＭ規格Ａ９６７に従って不動態化処理する。形成されたトレランスリングは、側壁の外周の周りで等間隔に離間した１３個の波形部の列を含む。側壁の外周に沿う各隣り合う対の波形部の列の中心間の距離は、およそ２．６２ｍｍである。
【００５９】
さらに、各波形部の列は、鉛直方向に位置合わせされる３つの波形部を含む。上側波形部及び下側波形部はおよそ１．６６ｍｍの幅及び３．０ｍｍの高さである。中間の波形部はおよそ１．６６ｍｍの幅及び１．５ｍｍの高さである。トレランスリングは、据え付け後に約０．３ｍｍの全体的な肉厚を有する。さらに、トレランスリングは、全体的な自由状態の１１．５ｍｍの直径及び１２．５ｍｍの全長を有する。
【００６０】
トレランスリングは、側壁の未形成セクションに形成されている１２個のスロットを含む。詳細には、スロットは、各隣り合う対の波形部の列間の側壁の未形成セクションに形成されている。各スロットは、波形部の列間に中心決めされ、トレランスリングの長さに沿って中心決めされる。各スロットはおよそ０．６ｍｍの幅及び１０ｍｍの長さである。
【００６１】
トレランスリングを、１１．１３５ｍｍの外径を有する支柱の周りに据え付け、このアセンブリを、およそ１１．７２２ｍｍのボアを有するリング内に据え付ける。このアセンブリを、釣り糸を用いて吊り下げ、２つのレーザを、リングの同じ側にリングの平坦な面に垂直に配置する。レーザを、互いから１８０度に配置する。一方のレーザを基準レーザとして用い、他方のレーザを測定用レーザとして用いる。リングを、力変換器が組み込まれているハンマを用いて、測定レーザ下から叩く。
【００６２】
図９は、軸上の軸方向剛性試験のハンマ試験設定を示している。トレランスリングを、１１．１３５ｍｍの外径を有する支柱９０２の周りに据え付け、このアセンブリを、およそ１１．７２２ｍｍのボアを有するリング９０４内に据え付ける。このアセンブリを、釣り糸９０６を用いて吊り下げ、２つのレーザを、リング９０８の同じ側にリングの平坦な面に垂直に配置する。レーザを、互いから１８０度に配置する。一方のレーザを基準レーザＲとして用い、他方のレーザを測定用レーザＭとして用いる。支柱を、Ｈと表記される矢印によって示されているように、レーザとは反対の側から軸上で叩く。レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。
【００６３】
図１０Ａは、軸外の軸方向剛性試験のハンマ試験設定を示している。トレランスリングを、図９に示されているようにリングを有するとともにリング内の支柱の周りに据え付け、釣り糸を用いて吊り下げる。図９におけるように、２つのレーザを、リングの同じ側にリングの平坦な面に垂直に配置する。レーザを、互いから１８０度に配置する。一方のレーザを基準レーザとして用い、他方のレーザを測定用レーザとして用いる。リングを、力変換器が組み込まれているハンマを用いて、Ｈと表記される矢印によって示されているように測定レーザ下から軸外で叩く。レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。図１０Ｂは、入力を処理して、軸外を叩くことによって誘発される揺動モードＲＭ及び軸方向モードＡＭを相殺する方法を示している。
【００６４】
図１１Ａ及び図１１Ｂは、種々のトレランスリングに関する軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示している。図１１Ａ及び図１１Ｂにおいて、縦列は以下の意味を有する。ＦＲは、リングの平均共振周波数（ｋＨｚ）を提供し；Δはリングの周りで求められた平均パーセント差である。
【００６５】
【表１】
0005923216.tif 000002
【００６６】
リング１は、３個の帯を有する１３個の波形部のハードディスクドライブのトレランスリングである比較リングである。リング２は４個の群の８個の波形部のリングである。リング３は、４個の群の１２個の波形部のトレランスリングである。リング４はリング１と同様であるが、二重の帯を含む。リング５は、ピッチが補正された６個の波形部を有する。ピッチが補正されたリングは、等しい角度間隔でアセンブリの周りに分散される波形部を有する。リング６及び７は、それぞれ、７個の波形部及び８個の波形部のピッチが補正された構成を有する。リング８は、１３個の波形部の３個の帯構成を有する新たなアセンブリバッチから作られる第２の比較リングである。リング９は、隙間に対向する未形成の（「プラニッシュ」）領域を有する。リング１０は、隙間に対向する中心決めされた波形部を有する。リング１１は、波形部間に位置するスリットを有する１２個の波形部のピッチが補正されたリングである。スリットは、実質的に波形部の列の長さにわたる長さを有する。
【００６７】
ダミーアセンブリにおけるリングの径方向剛性を、２つの位置；すなわち隙間、及び隙間に対して９０度においてハンマ試験を用いて測定する。％差を、各位置における５回の打撃を用いて試験される５個のリングの平均の間で計算する。試験は同じダミー質量を用いて行ったため、計算を容易にするために、剛性よりも共振周波数を報告する（式１）。
【００６８】
ダミーアセンブリにおけるリングの径方向剛性を、２つの位置；すなわち隙間、及び隙間に対して９０度においてハンマ試験を用いて測定する。％差を、各位置における５回の打撃を用いて試験される５個のリングの平均の間で計算する。試験は同じダミー質量を用いて行ったため、計算を容易にするために剛性よりも共振周波数を報告する（式１）。
【００６９】
【数１】
0005923216.tif 000003
【００７０】
式中、ｆは共振周波数であり、ｍは有効質量であり、ｋは試験片の剛性である。
【００７１】
図１２は、種々のトレランスリングに関する径方向剛性試験の試験結果を示している。図１２において、縦列は図１１Ａ及び図１１Ｂにおけるものと同じであり、また以下で開示されるような意味を有する。ＦＲは、リングの平均共振周波数（ｋＨｚ）を提供し；Δはリングの周りで求められた平均パーセント差である。
【００７２】
【表２】
0005923216.tif 000004
【００７３】
リング２Ａは、４０ｌｂｆの残りの組み付け力を有する。リング３Ｂは、３０ｌｂｆの残りの組み付け力を有する。リング１２は、波形部の列間に穴、より詳細には２つの波形部間に２つの穴を有する１２個の波形部のピッチが補正されたリングである。リング１３は１１個の波形部のピッチが補正されたリングである。リング１４は収容が可変であるリングであり、すなわち、リングを強く押して中央ボアに一致させることができる。リング１５は、閉じている、収容が可変であるリングであり、すなわち、リングはそのボアよりも直径が小さく、ボアに一致するように伸ばすことができる。
【００７４】
ピーク組み付け及び初期滑り試験に関して、最初にピボットのトルクを試験する。ピボットを次に、関連するトレランスリングを用いてアーム内に組み付け、ピーク組み付け力（ＰＡＦ）を記録する。次に、アセンブリのトルクを試験し、組み付けられていないトルクと組み付けられたトルクとの差、すなわち「トルクシフト」を記録する。次に、アセンブリを分解し、初期滑りを記録し、最後に、ピボットのトルクを再び測定する。ピボットは、組み付け後のトルクが高いとみなされるか、又は５回まで、どちらが先に生じるかにかかわらず再使用する。アームを５回再使用する。これらの再使用の方針は、以前の研究の結果であり、いかなる問題も引き起こすはずはないが、ピボット及びアームが毎回未使用ではないことを留意するべきである。
【００７５】
図１３は、種々のトレランスリングに関するＰＡＦ、ＩＳ及びＩＳ／ＰＡＦ試験の試験結果を示している。図１３において、縦列は図１１Ａ、図１１Ｂ及び図１２におけるものと同じ意味を有する。ＰＡＦ及びＩＳはｌｂｆであり、ＩＳ／ＰＡＦは％である。
【００７６】
レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。マイクロプロセッサは、ハンマ及びレーザによって提供される入力からの共振周波数を計算するソフトウェアを含む。共振周波数は、トレランスリングの軸方向剛性に直接関連する。隙間を二分するとともにアセンブリの中心を通る軸に沿って測定した共振周波数は約９．８ｋＨｚである。第１の軸に垂直な軸に沿って測定した共振周波数は、約３．２％の差である約１０．１ｋＨｚである。したがって、隙間を通る軸方向剛性ＡＳＧは、隙間に垂直な軸方向剛性ＡＳＰＧの約９６．８％である。
【００７７】
本明細書において記載されるトレランスリングは、側壁に形成されるスロットを含む。スロットは、トレランスリングの周りで周方向に実質的に変化しない共振周波数及び剛性を有するトレランスリングを提供する。したがって、トレランスリングは、ボア内で支柱を位置合わせして維持することができ、ほぼいずれもの径方向への通常の動作荷重下でのボア内における支柱のいかなる揺れも実質的に防止することができる。
【００７８】
当業者は、本明細書において記載される特徴のうちの１つ又は複数を有するトレランスリングを使用することができる他の用途があり得ることを理解できる。
【００７９】
上記で開示した主題は、例示的であるものとみなされ、限定的であるものとみなされるべきではなく、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の範囲内に入る全てのそのような変更形態、改良形態及び他の実施形態を包含することが意図される。したがって、本発明の範囲は、法が許す可能な限りまで、以下の特許請求の範囲及びそれらの均等物の最も広範な許容される解釈によって決まり、上述の詳細な説明によっては制限又は限定されないものとする。
【００８０】
加えて、上述の詳細な説明において、種々の特徴はまとめてグループ分けされるか、又は本開示を簡素化するために単一の実施形態において記載することができる。本開示は、特許請求の範囲に記載の実施形態が各請求項において明示的に記載されるよりも多くの特徴を必要とするという意図を反映するものとして解釈されるべきではない。むしろ、以下の特許請求の範囲が反映するように、本発明の主題は、開示される実施形態のいずれかの全てではない特徴に関するものとすることができる。したがって、以下の特許請求の範囲は、詳細な説明に組み込まれ、各請求項は、特許請求される主題を別個に規定するものとして独立的である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２】
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【図１３】
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