(57)【要約】本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法及びＰＯＮプロテクションシステムを提供することを目的とする。本発明は、ＯＮＵからの信号光を該ＯＮＵが含まれる光アクセスネットワークの正常系ＯＳＵと冗長系ＯＳＵの双方に入力するように光スイッチを切り換えて回路構成し、正常系ＯＳＵへの信号光と冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、一方への信号光と他方への信号光とが不一致である状態であれば異常と判断する回路構成試験、及びＯＮＵからの信号光を該ＯＮＵが含まれる光アクセスネットワークの正常系ＯＳＵのみに入力するように光スイッチを開放して冗長系ＯＳＵとＯＮＵとの回路を開放状態とし、冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、冗長系への信号光が存在する状態であれば異常と判断する開放状態試験を行う。
2013077249.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵの双方に入力するように前記光スイッチを切り換えて回路構成し、前記正常系ＯＳＵへの信号光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、一方への信号光と他方への信号光とが不一致である状態であれば異常と判断する回路構成試験を行うＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項２】
前記回路構成試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする請求項１に記載の自己診断方法。
【請求項３】
前記回路構成試験において、信号光を前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵで所定期間モニタすることを特徴とする請求項１又は２に記載の自己診断方法。
【請求項４】
前記回路構成試験において、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力測定で所定期間モニタすることを特徴とする請求項１又は２に記載の自己診断方法。
【請求項５】
局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵのみに入力するように前記光スイッチを開放して前記冗長系ＯＳＵと前記ＯＮＵとの回路を開放状態とし、前記冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、前記冗長系ＯＳＵへの信号光が存在する状態であれば異常と判断する開放状態試験を行うＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項６】
前記開放状態試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする請求項５に記載の自己診断方法。
【請求項７】
前記開放状態試験において、信号光を前記冗長系ＯＳＵで所定期間モニタすることを特徴とする請求項５又は６に記載の自己診断方法。
【請求項８】
前記開放状態試験において、前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力測定で所定期間モニタすることを特徴とする請求項５又は６に記載の自己診断方法。
【請求項９】
局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵの双方に入力するように前記光スイッチを切り換えて回路構成し、登録済みの全ての前記ＯＮＵに対して信号光の送信を停止させる無信号期間を形成し、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの光を無信号期間の間モニタし、一方への光と他方への光とが不一致である状態であれば異常と判断する無信号状態試験を行うＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項１０】
前記無信号状態試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする請求項９に記載の自己診断方法。
【請求項１１】
前記無信号期間がディスカバリ・ウィンドウであることを特徴とする請求項９又は１０に記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項１２】
前記無信号状態試験において、光入力の後に前記ＯＳＵが一定期間出力する光検知信号を用いることを特徴とする請求項９から１１のいずれかに記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項１３】
前記正常系ＯＳＵが前記光検知信号を出力する時間をＴ１、
前記冗長系ＯＳＵが前記光検知信号を出力する時間をＴ２、
前記無信号期間の時間をＴＤ、
としたときにＴ１≦Ｔ２≦ＴＤ／２であることを特徴とする請求項１２に記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項１４】
前記無信号状態試験において、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの光を光電力測定でモニタすることを特徴とする請求項９から１１に記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【請求項１５】
局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、
いずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵと、
前記冗長系ＯＳＵといずれかの前記光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチと、
前記光スイッチの切り替え及び請求項１、２、３、５、６、７、９、１０、１１、１２、１３に記載の自己診断方法を行う制御回路と、
を備えたＰＯＮプロテクションシステム。
【請求項１６】
局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数を含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、
いずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵと、
前記冗長系ＯＳＵといずれかの前記光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチと、
前記正常系ＯＳＵへの信号光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力で測定する光電力測定手段と、
前記光スイッチの切り替え及び請求項１、２、４、５、６、８、９、１０、１１、１４に記載の自己診断方法を行う制御回路と、
を備えたＰＯＮプロテクションシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、通信システムにおける故障検知技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
パッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）は、局舎側伝送装置である光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）１台に対し、ユーザ側伝送装置である光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）１台以上を、光ファイバとスプリッタを介して接続する、ポイント・ツー・マルチポイント形態の光アクセスネットワークである。【０００３】
このＰＯＮにおいて、システムの構成要因であるＯＳＵ、ＯＮＵ、光ファイバ、あるいは、スプリッタの冗長化を行い、ＯＳＵ故障・ＯＮＵ故障・光ファイバ破損・スプリッタ破損によるシステムダウンを回避する技術が、ＰＯＮプロテクションである（非特許文献１、１１３−１１６頁）。すなわち、ＰＯＮプロテクション適用時において、これらシステム構成要因の故障・破損時には、正常系から冗長系への動作切り替えにより、サービス継続を行うのである。【０００４】
ＰＯＮプロテクションの中でも特に重要視されるのが、ＯＳＵの冗長化である。第１の理由は、ＯＳＵがＰＯＮというポイント・ツー・マルチポイント形態通信における信号の集約点であることから、故障時には配下のすべてのＯＮＵ（ユーザ）に対し影響が及ぶという、影響の広範囲性を有することにある。第２の理由は、ＯＳＵは電子部品やそれらを動作させるソフトウェアから構成されるため、単なる光導波路である光ファイバ・スプリッタに比べ、故障の可能性が高いことにある。従って、ＰＯＮプロテクションとしてまず第１に冗長化を行うべき個所は、通常、ＯＳＵとなる。【０００５】
ところで、このＯＳＵを１〜複数台と、交換スイッチ（１〜複数台のＯＳＵの上位側に接続される）と、上位ネットワークインタフェース（交換スイッチの上位側に接続される）と、これらを制御するＯＬＴ制御部は、通常、まとめて１台の光加入者線端局装置（ＯＬＴ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｌ）に収容されている。すなわち、ＯＬＴは、ＰＯＮと上位ネットワークの交換を行う通信ノードであり、ＰＯＮ側のインタフェースとなるＯＳＵは多数となることもあり得るものである。従って、ＯＳＵの冗長化は、このようなＯＬＴの基本構成を前提に、最適構成を考慮しなければならない（なお、各図において、交換スイッチ、上位ネットワークインタフェース、ならびにこれに関わる入出力線は、煩雑さを避ける観点から省略している。）。【０００６】
従来のＯＳＵ冗長化技術の第１の構成は、図１に示すように、ＯＬＴ１０の内部において、正常系ＯＳＵ１１のそれぞれに対して冗長系ＯＳＵ１２を１台づつ用意するものである（非特許文献１の１１４頁のＴｙｐｅ−Ｂ）。便宜上、この第１の構成を「冗長系ＯＳＵ独立型」と称することにする。「冗長系ＯＳＵ独立型」の具体的構成・動作は以下のとおりである。正常系ＯＳＵ１１−１と冗長系ＯＳＵ１２−１は、Ｎ：２スプリッタ４１−１（Ｎは１以上の整数）を介して、（さらにＮ：２スプリッタ以遠に、再度スプリッタを設置して更なる分岐を行っても良い）ＯＮＵ５１と接続されている（ＯＮＵの数は、０以上の整数。スプリッタのＯＮＵ側のポートには、空きポートがあっても構わない）。ここで、正常系ＯＳＵ１１−１は、下部のＯＮＵ５１からの信号を上部の交換スイッチへ、上部の交換スイッチからの信号を下部のＯＮＵ５１へ、それぞれ転送している。ここで、正常系ＯＳＵ１１−１が通信中に故障した場合、これを検知したＯＬＴ制御部１５により切り替えが行われ、
（ｉ）正常系ＯＳＵ１１−１の立ち下げ、
（ｉｉ）冗長系ＯＳＵ１２−１の立ち上げ、
（ｉｉｉ）交換スイッチの設定変更が行われる。
そして、冗長系ＯＳＵ１２−１は、故障発生前と同様に、下部のＯＮＵ５１からの信号を上部の交換スイッチへ、上部の交換スイッチからの信号を下部のＯＮＵ５１へ、それぞれ転送を開始することにより、サービス継続する。【０００７】
正常系ＯＳＵ１１−ｉと冗長系ＯＳＵ１２−ｉ（ｉ＝２、３、…）の接続形態とプロテクション時の動作も、ＯＳＵ１１−１とＯＳＵ１２−１の関係に同じである。【０００８】
この「冗長系ＯＳＵ独立型」の構成では、正常系ＯＳＵと同数の冗長系ＯＳＵをあらかじめＯＬＴに収容しておく必要があることから、ＯＬＴスロット消費の問題や、ＯＳＵ導入コスト増大の問題を有していた。【０００９】
これに対し、従来のＯＳＵ冗長化技術の第２の構成は、図２に示すように、ＯＬＴ１０の内部において、複数台の正常系ＯＳＵ１１に対して冗長系ＯＳＵ１２を１台用意することにより、ＯＬＴスロット消費の問題や、コスト増大の問題を抑圧するものである（図２；特許文献１の図１、特許文献２の図１）。便宜上、この第２の構成を「冗長系ＯＳＵ共有型」と称することにする。「冗長系ＯＳＵ共有型」の具体的構成と動作は以下のとおりである。【００１０】
ＯＬＴ１０には、正常系ＯＳＵ１１−ｉ（ｉ＝１、２、３、・・・、Ｍ：Ｍは１以上の整数）と、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが１台収容されている。冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＯＮＵ側入出力ポートには、Ｍ：１光スイッチ３２の入出力ポート（ポートｘと称す）が接続されている。そして、Ｍ：１光スイッチ３２にＭ本あるＯＮＵ側入出力ポート（ポート１、２、３、・・・、Ｍと称す）は、それぞれポート１とＯＳＵ１１−１、ポート２とＯＳＵ１１−２、ポート３とＯＳＵ１１−３、・・・、ポートＭとＯＳＵ１１−Ｍのように一対にて、Ｎ：２スプリッタ４１−ｉ（ｉ＝１、２、３、・・・、Ｍ）を介してＮ台以下のＯＮＵ５０と接続されている（スプリッタのＯＮＵ側のＮ本のポートには、空きポートがあっても構わない）。【００１１】
ここで、正常系ＯＳＵ１１は、それぞれ下部のＯＮＵ５０からの信号を上部の交換スイッチへ、上部の交換スイッチからの信号を下部のＯＮＵ５０へ、それぞれ転送している。ここで、正常系ＯＳＵ１１−１が通信中に故障した場合、これを検知したＯＬＴ制御部１５により切り替えが行われ、
（ｉ）正常系ＯＳＵ１の立ち下げ、
（ｉｉ）光スイッチ３２においてポートｘとポート１の接続、
（ｉｉｉ）冗長系ＯＳＵｘの立ち上げ、
（ｉｖ）交換スイッチの設定変更が行われる。
そして、冗長系ＯＳＵ１２−ｘは、故障発生前と同様に、下部のＯＮＵ５０からの信号を上部の交換スイッチへ、上部の交換スイッチからの信号を下部のＯＮＵ５０へ、それぞれ転送を開始することにより、サービス継続する。【００１２】
他の正常系ＯＳＵ１１−ｉ（ｉ＝２、３、…）の故障時の動作も、それぞれ正常系ＯＳＵ１１、スプリッタ４１、光スイッチ３２のポートが入れ替わる以外、上記説明と同じである。【００１３】
本説明（図２）において、光スイッチ３２を光スイッチ制御部３１で制御し、更に、光スイッチ制御部３１をＯＬＴ制御部１５が制御するものとした。しかしながら、光スイッチ制御部３１を設けず、光スイッチ３２を直接ＯＬＴ制御部１５が制御しても良い。【００１４】
この「冗長系ＯＳＵ共有型」の構成では、正常系ＯＳＵ１１のＭ台に対して、同時にＯＬＴ１０に収容する冗長系ＯＳＵ１２が１台で済むことから、ＯＬＴスロット消費の問題や、ＯＳＵ導入コスト増大の問題は解消されている。また、正常系ＯＳＵが複数同時に故障する確率は十分低いという条件下では、本構成・動作にての冗長化で信頼性を確保することも容易となる。【００１５】
なお、ＯＬＴにおいて、交換スイッチ、上位ネットワークインタフェース、および、ＯＬＴ制御部についても冗長化する場合があるが、ここでは直接関連しないことから、記載を省略する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１６】
【非特許文献１】ＩＴＵ−Ｔ  Ｇ．９８３．１
【特許文献】
【００１７】
【特許文献１】特開平７−２２６７９６号公報
【特許文献２】特開２０００−３３２８５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
上記説明の通り、従来のＯＳＵ冗長化技術の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成では、「冗長系ＯＳＵ独立型」のＰＯＮプロテクション構成に比べ、冗長系ＯＳＵが少なくて済むことから、ＯＬＴスロット消費の問題や、ＯＳＵ導入コスト増大の問題が解消されている。【００１９】
しかるに、「冗長系ＯＳＵ共有型」の構成において導入されている光スイッチ３２に注目されたい。この光スイッチ３２は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘとＮ：２スプリッタ４１−ｉ（ｉ＝１、２、３、・・・、Ｍ）の間に１台だけ設置されており、光スイッチ３２自体は冗長構成とはなっていない。ここで、光スイッチ３２は、ＭＥＭＳ光スイッチやメカニカル光スイッチなどが想定されるが、これらデバイスは機械的に動作することから、光スイッチ３２はＯＳＵ（電子部品から構成）よりも更に劣化し故障する可能性を有している。しかしながら、「冗長系ＯＳＵ共有型」の構成では、光スイッチの冗長化構成行われておらず、従ってＰＯＮプロテクションの信頼性の向上が求められるところである。【００２０】
具体的に、光スイッチに起因するＰＯＮプロテクションの失敗（サービス継続不可能となるような故障）のシナリオを、以下に記載する。「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成において、正常系ＯＳＵ１１−１が故障したとする。この時、前述の（ｉ）〜（ｉｖ）に沿って冗長系ＯＳＵへの切り替え動作がおこなわれる筈である。ところが、上記の通り光スイッチ３２がＯＳＵより故障率が高いとすると、既に光スイッチ３２が故障している場合が多々あるわけであるから、「（ｉｉ）光スイッチ３２においてポートｘとポート１の接続」ができない場合があり得る。その場合、光スイッチ故障によりＰＯＮプロテクションができないこととなり、その結果、サービス継続不可能となる。【００２１】
このように、「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成については、ＯＬＴスロット削減やＯＳＵ導入コスト削減の観点から魅力があるものの、光スイッチの信頼性の観点からＰＯＮプロテクションが万全と言えないのが課題である。【００２２】
これに対し、光スイッチも冗長化する方法も考え得るが、２台目の光スイッチの導入コストや、光配線の複雑化という、新たな課題も発生する。【００２３】
また、光スイッチ自体の信頼性を向上させる方法も考え得るが、システム全体の平均故障間隔（ＭＴＢＦ；Ｍｅａｎ  Ｔｉｍｅ  Ｂｅｔｗｅｅｎ  Ｆａｉｌｕｒｅ）を「冗長系ＯＳＵ独立型」のＰＯＮプロテクション構成と同様とするためには、光スイッチ故障率を光ファイバやスプリッタ程度に低くするこが必要となる。このような高信頼性を有する光スイッチの実現は、現時点では困難であるといえる。【００２４】
なお、前述の通り、光スイッチの制御に光スイッチ制御部を設ける場合があるが、この故障も、光スイッチの故障と同様に、ＰＯＮプロテクションの失敗の原因となる。【００２５】
このように、光スイッチ関係の信頼性を向上させることは困難である。このことを鑑み、光スイッチ関係の故障を予め知り、ＯＳＵの故障前に光スイッチ関係の交換または修理を行うことができれば、サービス継続不可能を回避でき、ＰＯＮプロテクションの信頼性を向上させることができる。【００２６】
そこで、ＰＯＮプロテクションの信頼性を向上するために、本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法及びＰＯＮプロテクションシステムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
目標を達成するため、本発明は、正常系ＯＳＵへの信号光と冗長系ＯＳＵへの信号光とを比較することで、光スイッチに関する故障を判断することとした。【００２８】
具体的には、本発明に係る第一のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵの双方に入力するように前記光スイッチを切り換えて回路構成し、前記正常系ＯＳＵへの信号光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、一方への信号光と他方への信号光とが不一致である状態であれば異常と判断する回路構成試験を行う。【００２９】
本回路構成試験は、通信を行っているＯＮＵから正常系ＯＳＵの任意の経路を選択し、当該経路にさらに冗長形ＯＳＵが接続するように光スイッチを切り換える。このように回路構成することで、光スイッチが故障していなければ、ＯＮＵからの信号光が正常系ＯＳＵの経路だけでなく冗長系ＯＳＵの経路にも入力することになる。すなわち、正常系ＯＳＵの経路の信号光と冗長系ＯＳＵの経路の信号光とを比較し、同一であれば光スイッチは正常であると判断でき、一方に信号光が有り他方に信号光が無い等、互いに不一致であれば光スイッチは故障であると判断できる。そして、本回路構成試験は通常の通信中に実施することができる。【００３０】
従って、本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法を提供することができる。【００３１】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記回路構成試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする。任意の時刻に複数回繰り返して回路構成試験を行うことで、再現性の無い故障を検出することができる。【００３２】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記回路構成試験において、信号光を前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵで所定期間モニタすることを特徴とする。【００３３】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記回路構成試験において、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力測定で所定期間モニタすることを特徴とする。【００３４】
具体的には、本発明に係る第二のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵのみに入力するように前記光スイッチを開放して前記冗長系ＯＳＵと前記ＯＮＵとの回路を開放状態とし、前記冗長系ＯＳＵへの信号光を所定期間モニタし、前記冗長系ＯＳＵへの信号光が存在する状態であれば異常と判断する開放状態試験を行う。【００３５】
本開放状態試験は、光スイッチを通信を行っているＯＮＵから正常系ＯＳＵのいずれの経路とも接続しない状態とし、正常系ＯＳＵの経路の信号光と冗長系ＯＳＵの経路の信号光とを比較する。光スイッチが冗長系ＯＳＵへの経路を遮断しているので、信号光が当該経路に無ければ光スイッチは正常であると判断でき、信号光が当該経路に存在すれば光スイッチが故障していると判断できる。そして、本回路構成試験は通常の通信中に実施することができる。【００３６】
従って、本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法を提供することができる。【００３７】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記開放状態試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする。任意の時刻に複数回繰り返して開放状態試験を行うことで、再現性の無い故障を検出することができる。【００３８】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記開放状態試験において、信号光を前記冗長系ＯＳＵで所定期間モニタすることを特徴とする。【００３９】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記開放状態試験において、前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力測定で所定期間モニタすることを特徴とする。【００４０】
具体的には、本発明に係る第三のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、光スイッチの切り換えでいずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵを備えたＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法であって、
前記冗長系ＯＳＵが待機状態のときに、前記ＯＮＵからの信号光を前記ＯＮＵが含まれる前記光アクセスネットワークの前記正常系ＯＳＵと前記冗長系ＯＳＵの双方に入力するように前記光スイッチを切り換えて回路構成し、登録済みの全ての前記ＯＮＵに対して信号光の送信を停止させる無信号期間を形成し、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの光を無信号期間の間モニタし、一方への光と他方への光とが不一致である状態であれば異常と判断する無信号状態試験を行う。【００４１】
本無信号状態試験は、まず、各ＯＮＵに対してＯＳＵへの信号光の送信を停止させ、無信号期間を発生させる。そして、ＯＮＵから正常系ＯＳＵの任意の経路を選択し、当該経路にさらに冗長形ＯＳＵが接続するように光スイッチを切り換える。このように回路構成することで、光スイッチや光伝送路が故障していなければ、正常系ＯＳＵ及び冗長系ＯＳＵに光が入力することはない。また、無信号期間であってもシステム管理のための管理信号光をＯＮＵが送信しなければならないことがあるが、光スイッチや光伝送路が故障していなければ、正常系ＯＳＵ及び冗長系ＯＳＵに管理信号光が入力する。すなわち、正常系ＯＳＵの経路の光と冗長系ＯＳＵの経路の光とを比較し、同一であれば光スイッチや光伝送路は正常であると判断でき、一方に光が有り他方に光が無い等、互いに不一致であれば光スイッチや光伝送路は故障であると判断できる。【００４２】
従って、本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法を提供することができる。【００４３】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記無信号状態試験を複数回繰り返し行うことを特徴とする。複数回繰り返して無信号状態試験を行うことで、再現性の無い故障を検出することができる。【００４４】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記無信号期間をディスカバリ・ウィンドウとすることができる。【００４５】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記無信号状態試験において、光入力の後に前記ＯＳＵが一定期間出力する光検知信号を用いることができる。【００４６】
この場合、前記正常系ＯＳＵが前記光検知信号を出力する時間をＴ１、前記冗長系ＯＳＵが前記光検知信号を出力する時間をＴ２、前記無信号期間の時間をＴＤ、としたときにＴ１≦Ｔ２≦ＴＤ／２に設定する。【００４７】
本発明に係るＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法は、前記無信号状態試験において、前記正常系ＯＳＵへの光と前記冗長系ＯＳＵへの光を光電力測定でモニタすることを特徴とする。【００４８】
本発明に係る第一のＰＯＮプロテクションシステムは、上述のような回路構成試験と開放状態試験を実施できるように制御回路を有する。具体的には、本発明は、局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、いずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵと、前記冗長系ＯＳＵといずれかの前記光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチと、前記光スイッチの切り替え及びＯＳＵを用いて自己診断方法を行う制御回路と、を備えたＰＯＮプロテクションシステムである。【００４９】
本発明は、制御回路の指示により正常系ＯＳＵと冗長系ＯＳＵを用いて回路構成試験と開放状態試験を実施するため、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムを提供することができる。【００５０】
本発明に係る第二のＰＯＮプロテクションシステムは、上述のような回路構成試験と開放状態試験を実施できるように制御回路及び光電力測定手段を有する。具体的には、本発明は、局舎側伝送装置である１台の正常系光加入者線終端盤（ＯＳＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｕｎｉｔ）と、ユーザ側伝送装置である１台以上の光加入者線終端装置（ＯＮＵ；Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数を含むパッシブオプティカルネットワーク（ＰＯＮ；Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）に、いずれかの前記ＯＳＵの代理として前記ＯＳＵに収容される前記ＯＮＵと通信できる冗長系ＯＳＵと、前記冗長系ＯＳＵといずれかの前記光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチと、前記正常系ＯＳＵへの信号光と前記冗長系ＯＳＵへの信号光を光電力で測定する光電力測定手段と、前記光スイッチの切り替え及び光電力測定手段を用いて自己診断方法を行う制御回路と、を備えたＰＯＮプロテクションシステムである。【００５１】
本発明は、制御回路の指示により光電力測定手段を用いて回路構成試験と開放状態試験を実施するため、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムを提供することができる。
【発明の効果】
【００５２】
本発明は、光スイッチ関係の故障を予め点検できるＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法及びＰＯＮプロテクションシステムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】従来のＰＯＮプロテクション（冗長系ＯＳＵ独立型）の構成を示す図である。
【図２】従来のＰＯＮプロテクション（冗長系ＯＳＵ共有型）の構成を示す図である。
【図３】本発明に係るＰＯＮプロテクションの構成を示す図である。
【図４】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図５】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図６】本発明に係るＰＯＮプロテクションの構成を示す図である。
【図７】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図８】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図９】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図１０】ディスカバリ・ウィンドウを説明する図である。
【図１１】本発明に係るＰＯＮプロテクションのフローチャートを示す図である。
【図１２】ディスカバリ・ウィンドウを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００５４】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。また、枝番号を付さずに説明している場合は、当該符号の全ての枝番号に共通する説明である。
【００５５】
（実施形態１）
図３は本実施形態のＰＯＮプロテクションシステム３０１の構成を説明する図である。ＰＯＮプロテクションシステム３０１は、局舎側伝送装置である１台の正常系ＯＳＵ１１と、ユーザ側伝送装置である１台以上のＯＮＵ５０とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むＰＯＮに、いずれかのＯＳＵ１１の代理としてＯＳＵ１１に収容されるＯＮＵ５０と通信できる冗長系ＯＳＵ１２と、冗長系ＯＳＵ１２といずれかの光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチ３２と、光スイッチ３２の切り替え及び自己診断方法を行う制御回路２５と、を備える。
【００５６】
ＰＯＮプロテクションシステム３０１は、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成に対し、光スイッチ自己診断の為の構成が付加されたものとなっている。ＰＯＮプロテクションシステム３０１の構成は、基本構成、および、ＰＯＮプロテクション時の構成が、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成と同じであることから、これらに関する説明は省略する。
【００５７】
また、以下、光スイッチ制御部３１とＯＬＴ制御部１５を独立した機能ブロックとして記載説明するが、光スイッチ制御部３１の機能をＯＬＴ制御部１５に持たせることにより、独立した光スイッチ制御部を設けない設計手法を用いても問題ない。
【００５８】
以降は、ＰＯＮにおける上り信号光（ＯＮＵ５０からＯＳＵ１１に向けての送信信号）の特徴と、それを用いた光スイッチ３２の自己診断機能についての説明である。
【００５９】
ＰＯＮは複数のＯＮＵ５０と１台のＯＳＵ１１がポイント・ツー・マルチポイント型の通信することを前提としているため、上り回線の信号光が衝突しないように各ＯＮＵ５０がバースト的に上り信号光を送信している。すなわち、ＰＯＮの上り信号光は、元々連続的な信号ではなくバースト信号である。
【００６０】
また、各ＯＮＵ５０の電源は通常ユーザ管理下にあり、電源状態によりＯＮＵ５０の上り信号光の送信状態は制御される。この為、ＯＳＵ１１配下のすべてのＯＮＵ５０について、電源がユーザにより切られた場合、トラヒックが少なく全てのＯＮＵ５０が省電力モードとなった場合、あるいは、ＯＮＵ５０の属する地区が停電となった場合、ＯＳＵ１１の配下のＯＮＵ５０が長時間一斉に上り信号光を送信しない状況になり得る。即ち、ＰＯＮにおける上り信号光は、短時間のスパンで見ても、長時間のスパンで見ても、連続した点灯状態ではないことから試験用の光源として安定したものとは言えない。
【００６１】
しかし、ＰＯＮの上り信号光は、ＰＯＮの非プロテクション時（通常運用時で、冗長系ＯＳＵ１２が待機状態）に、光スイッチ３２に入力される唯一の光である。従って、本実施形態においては、ＰＯＮの上り信号光を光スイッチ３２の自己診断における試験光に用いることを特徴とする。
【００６２】
この自己診断の為の動作は以下の通りである。図４、図５及び図９にフローチャートを示す。自己診断時においては、ＰＯＮが非プロテクション状態であることが前提となる。すなわち、ＯＬＴ制御部１５及び光スイッチ制御部３１を含む制御回路２５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが待機状態のときに、ＯＮＵ５０からの信号光を該ＯＮＵが含まれる光アクセスネットワークの正常系ＯＳＵ１１−ｉと冗長系ＯＳＵ１２−ｘの双方に入力するように光スイッチ３２を切り換えて回路構成し、正常系ＯＳＵ１１−ｉへの信号光と冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの信号光を所定期間モニタし、一方への信号光と他方への信号光とが不一致である状態であれば異常と判断する回路構成試験を行う。
【００６３】
[開始]
自己診断は、ＯＬＴ制御部１５内のタイマ、または、外部からのトリガがＯＬＴ制御部１５に入力されることにより起動する（ステップＳ１０１）。まず、ＯＬＴ制御部１５は、ＰＯＮが非プロテクション状態であることを確認する（ステップＳ１０２、Ｓ１０３）。プロテクションの指示はＯＬＴ制御部１５から各部に出されているので、プロテクション／非プロテクションの状態の確認は、ＯＬＴ制御部１５の内部メモリを参照すれば可能である（この他、正常系ＯＳＵ１１−ｉ、冗長系ＯＳＵ１２−ｘ、あるいは、光スイッチ制御部３１の内部メモリを参照しても可能である）。非プロテクション状態でなければ自己診断は行わない（ステップＳ１１３）。非プロテクション状態であれば次の［ポート試験］に進む。
【００６４】
[ポート試験]
光スイッチ３２には、冗長系ＯＳＵ１２側のポートｘをＯＮＵ５０側のポート（ポートｉ）に接続して回路を構成する組み合わせがＭ通りあることから、Ｍ通りの「回路構成試験」が行われる。また、解放状態（冗長系ＯＳＵ１２側のポートｘを他のいずれのポートｉとも接続させない状態）があることから、１回の開放状態試験が行われる。これらの試験方法について説明する。なお、これらの試験の動作の順番は任意である。
【００６５】
（１）回路構成試験（ステップＳ１０４〜Ｓ１１２）
ＯＬＴ制御部１５は、光スイッチ制御部３１を介し、光スイッチ３２にポートｘとポートｉを接続する回路を構成させる（ステップＳ１０５）。次にＯＬＴ制御部１５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉの同時刻における上り信号光の受光状態を評価する（ステップＳ１０６）。この時、上り信号光は安定した光源ではないが、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘ、及び正常系ＯＳＵ１１−ｉが正常動作していれば、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉは同時に受光することになる。従って、以下の状態
（ａ）冗長系ＯＳＵ１２−ｘが非受光、正常系ＯＳＵ１１−ｉが受光
（ｂ）冗長系ＯＳＵ１２−ｘが受光、正常系ＯＳＵ１１−ｉが非受光
のいずれか一方でも検知すれば、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのいずれかの故障と判定できる（ステップＳ１０７、Ｓ１０８）。なお、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉの受光／非受光は、観測中に閾値以上の電力の上り信号光を受光している／受光していないということで判定してもよい。あるいは、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉの受光／非受光は、観測中に閾値以上あるいは規定値の情報量（ビット数、フレーム数、パケット数、セル数など）の上りデータを受信している／受信していないということで判定してもよい（この場合、ループ試験設定などにより特定のＯＳＵから規定数の情報量（ビット数、フレーム数、パケット数、セル数など）を出力させる設定とすれば、上り信号の情報量を制御させることができる。その場合、該当ＯＮＵからの送信情報であるかどうかは、ＬＬＩＤなどの識別子で弁別できる。このように、ＯＳＵ側から特定ＯＮＵの上り信号送信情報量を制御する手段としてはループ試験やＯＡＭがあり、また、該当ＯＮＵからの送信情報であるかどうかの識別子としては、ＬＬＩＤやＳＡが存在する）。
【００６６】
なお、正常系ＯＳＵ１１−ｉの故障によっても（ａ）または（ｂ）は発生し得る。しかし、正常系ＯＳＵ１１−ｉの故障は、主信号の通信ができなくなることで正常系ＯＳＵ１１−ｉの故障が検知され、既にＰＯＮプロテクションが開始されている。従って、正常系ＯＳＵ１１−ｉの故障については説明を省略する。
【００６７】
（ａ）または（ｂ）が発生した場合、ＯＬＴ制御部１５は故障要因について「回路ｉ構成時」と記録し、警報を出力してポートｉに対する回路構成試験を終了する（ステップＳ１０８）。この警報は、ＯＡＭ（Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ  Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ  ａｎｄ  Ｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ）信号への重畳、ＬＥＤへの出力、専用出力端への出力、あるいはログへの蓄積のいずれでも構わない。
【００６８】
一方、規定時間Ｔ内に上記状態評価を規定間隔ｔ（ｔ≦Ｔ）にてあるいは規定回数繰り返し、規定時間Ｔの間、上記（ａ）または（ｂ）の現象が発生しなければ、ＯＬＴ制御部１５は、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、又は冗長系ＯＳＵ１２−ｘの故障は検知しないもの判定として、ポートｉに対する回路構成試験を終了する（ステップＳ１０９、Ｓ１１０）。
【００６９】
なお、上記は、特定のポートｉに対する回路構成試験のフローである。他のポートに対しても同様の回路構成試験を実施する（ステップＳ１１１、Ｓ１１２）。また、回路構成試験の際、ｉは１からＭに単調増加させても、Ｍから１に単調減少させても、任意に変化させても構わない。図４は、ｉを１からＭに単調増加させるフローとなっているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００７０】
（２）開放状態試験
制御回路２５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが待機状態のときに、ＯＮＵ５０からの信号光を該ＯＮＵが含まれる光アクセスネットワークの正常系ＯＳＵ１１−ｉのみに入力するように光スイッチ３２を開放して冗長系ＯＳＵ１２−ｘとＯＮＵ５０との回路を開放状態とし、冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの信号光を所定期間モニタし、冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの信号光が存在する状態であれば異常と判断する開放状態試験を行う。
【００７１】
ＯＬＴ制御部１５は、光スイッチ制御部３１を介し、光スイッチ３２にポートｘを開放状態（他のいずれのポートｉとも接続させない状態）となるよう回路を構成させる（ステップＳ１２１）。次にＯＬＴ制御部１５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの上り信号光の受光状態を評価する（ステップＳ１２２）。この時、上り信号光は安定した光源ではないが、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び冗長系ＯＳＵ１２−ｘが正常動作していれば、冗長系ＯＳＵ１２−ｘは受光しない。従って、以下の状態
（ｃ）冗長系ＯＳＵ１２−ｘが受光
を検知すれば、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのいずれかの故障と判定できる（ステップＳ１２３）。なお、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの受光／非受光は、観測中に閾値以上の電力の上り信号光を受光している／受光していないということで判定してもよい。あるいは、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの受光／非受光は、観測中に閾値以上あるいは規定値の情報量（ビット数、フレーム数、パケット数、セル数など）の上りデータを受信している／受信していないということで判定してもよい（この場合、ループ試験設定などにより特定のＯＳＵから規定数の情報量（ビット数、フレーム数、パケット数、セル数など）を出力させる設定とすれば、上り信号の情報量を制御させることができる。その場合、該当ＯＮＵからの送信情報であるかどうかは、ＬＬＩＤなどの識別子で弁別できる。このように、ＯＳＵ側から特定ＯＮＵの上り信号送信情報量を制御する手段としてはループ試験やＯＡＭがあり、また、該当ＯＮＵからの送信情報であるかどうかの識別子としては、ＬＬＩＤやＳＡが存在する）。
【００７２】
（ｃ）が発生した場合、ＯＬＴ制御部１５は故障要因について「開放時」と記録し、警報を出力して開放状態試験を終了する（ステップＳ１２４）。この警報は、ＯＡＭ信号への重畳、ＬＥＤへの出力、あるいは専用出力端への出力のいずれでも構わない。
【００７３】
一方、規定時間Ｔ内に上記状態評価を規定間隔ｔ（ｔ≦Ｔ）にてあるいは規定回数繰り返し、規定時間Ｔの間（ｃ）の現象が発生しなければ、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び冗長系ＯＳＵ１２−ｘの故障は検知しないものとして、開放状態試験を終了する（ステップＳ１２５、Ｓ１２６、Ｓ１２７）。
【００７４】
なお、ポートｘが開放状態に設定できないような光スイッチも存在することから、開放状態試験は実行しなくても良い。また、開放状態試験は、回路構成試験の前に行っても、後に行っても、回路構成試験と回路構成試験の間に行っても構わない。図４及び図５は、開放状態試験を回路構成試験の後に行うフローとなっているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００７５】
［終了］
ＯＬＴ制御部１５は、Ｍ個のポートに関する「回路構成試験」と１回の開放状態試験が終了したのち、自己診断動作を終了する。なお、自己診断動作中にＰＯＮプロテクションを行う必要が発生した場合にも、自己診断動作を終了する。
【００７６】
（３）無信号状態試験
制御回路２５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが待機状態のときに、ＯＮＵ５０からの信号光を該ＯＮＵが含まれる光アクセスネットワークの正常系ＯＳＵ１１−ｉと冗長系ＯＳＵ１２−ｘの双方に入力するように光スイッチ３２を切り換えて回路構成し、登録済みの全てのＯＮＵ５０に対して信号光の送信を停止させる無信号期間を形成し、正常系ＯＳＵ１１−ｉへの光と冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの光を無信号期間の間モニタし、一方への光と他方への光とが不一致である状態であれば異常と判断する無信号状態試験を行う。
【００７７】
前記無信号期間をディスカバリ・ウィンドウ（Ｄｉｓｃｏｖｅｒｙ  Ｗｉｎｄｏｗ）を用いて実現することができる。図１０は、ＯＳＵにおけるディスカバリ・ウィンドウを示したものである。ディスカバリ・ウィンドウは、新規に接続された未登録ＯＮＵをＯＳＵに登録する期間であり、ＯＳＵから配下の登録済み、および、未登録ＯＮＵに対し、ディスカバリ用のゲート信号を送信することにより開始される。ゲート信号を受信した未登録ＯＮＵは、規定された時間内にＯＳＵに対し登録要求を送信する。一方、ゲート信号を受信した登録済みＯＳＵは、規定された時間、上り信号の送信を停止する。
【００７８】
［開始］
図９を用いて無信号状態試験の自己診断を説明する。自己診断は、ＯＬＴ制御部１５内のタイマ、または、外部からのトリガがＯＬＴ制御部１５に入力されることにより起動する（ステップＳ１４１）。まず、ＯＬＴ制御部１５は、ステップＳ１４２、Ｓ１４３、Ｓ１４４、及びＳ１５４を行う。これらのステップは、図４で説明したステップＳ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０４、Ｓ１１３と同じである。非プロテクション状態であれば次の［ポート試験］に進む。
【００７９】
［ポート試験］
ＯＬＴ制御部１５は、光スイッチ制御部３１を介し、光スイッチ３２にポートｘとポートｉを接続する回路を構成させる（ステップＳ１４５）。次に、正常系ＯＳＵ１１−ｉは、配下のＯＳＵ５０に対し、ディスカバリ用のゲート信号を送信する（ステップＳ１４６）。次に、ＯＬＴ制御部１５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉの同時刻の受光状態を評価する（ステップＳ１４７）。ＯＮＵ５０がすべてＯＳＵ１１に登録されている場合、ＯＳＵ１１−ｉがディスカバリ用のゲート信号を送信し無信号期間（ディスカバリ・ウィンドウ期間（ＴＤ））を設定すると、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉはその間受光しないことになる。一方、新規のＯＮＵが存在する場合、無信号期間に冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉは新規のＯＮＵからの登録要求信号光を受光することになる。即ち、無信号期間（ディスカバリ・ウィンドウ）において、
（ｄ）新規ＯＮＵ登録が無い場合に、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが受光
（ｅ）新規ＯＮＵがある場合に、冗長系ＯＳＵ１２−ｘが非受光
のいずれかの状態を検知した場合には、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのいずれかの故障と判定できる（ステップＳ１４８）。
【００８０】
（ｄ）または（ｅ）が発生した場合、ＯＬＴ制御部１５は故障要因について「無信号回路ｉ構成時」と記録し、警報を出力してポートｉに対する無信号状態試験を終了する（ステップＳ１４９）。この警報は、ＯＡＭ信号への重畳、ＬＥＤへの出力、専用出力端への出力、あるいはログへの蓄積のいずれでも構わない。
【００８１】
一方、規定時間Ｔ内に上記状態評価を規定間隔ｔ（ｔ≦Ｔ）にてあるいは規定回数繰り返し、規定時間Ｔの間、上記（ｄ）または（ｅ）の現象が発生しなければ、ＯＬＴ制御部１５は、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、又は冗長系ＯＳＵ１２−ｘの故障は検知しないもの判定として、ポートｉに対する回路構成試験を終了する（ステップＳ１５０、Ｓ１５１）。
【００８２】
なお、ポートｉ以外のポートに対しても同様の無信号状態試験を実施する（ステップＳ１５２、Ｓ１５３）。ステップＳ１５２及びＳ１５３は、それぞれ図４のステップＳ１１１及びＳ１１２と同様である。
【００８３】
ここで、図９のステップＳ１４７についてさらに説明する。ステップＳ１４７では、光入力の後に前記ＯＳＵが一定期間出力する光検知信号を用いることができる。例えば、検知信号は、ＳＤ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｄｅｔｅｃｔ）信号と便宜的に呼ばれるＯＳＵ内部の検知信号である。ＳＤ信号は、ＯＳＵが上り信号光を受信すると信号受信状態（図１０の例ではＨｉｇｈレベル）となり、ＳＤ観測周期毎に発生するリセット信号で信号非受信状態（図１０の例ではＬｏｗレベル）となる。ここで、前述の規定時間Ｔについては、ＯＳＵのＳＤ観測周期を適用すれば実装を簡易化することができる。ただし、ＯＳＵごとにＳＤ観測周期が異なる場合もあることから、以下、この場合の対処について説明を行う。正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ観測周期をＴ１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ観測周期をＴ２とすると、ディスカバリ用のゲート信号は正常系ＯＳＵ１１−ｉが送信するから、ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤはＳＤ観測周期Ｔ１の整数倍で、ＳＤ観測周期とディスカバリ・ウィンドウ期間は重なる期間がないものとする。
【００８４】
以下、新規ＯＳＵ登録が無い場合のディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤのＳＤ信号の挙動について説明する。図１０から明らかなように、正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ信号は、ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤの直前にリセットされ非受信状態となっている。ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤはＳＤ観測周期Ｔ１の整数倍であるから、正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ信号は、ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤにおいて非受信状態を維持する。
【００８５】
一方、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ信号は、ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤになり、リセット信号を受けてから信号非受信状態となる。従って、図１０から明らかなように、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ観測周期Ｔ２がディスカバリ・ウィンドウの期間ＴＤに含まれ非受信状態を維持するようになる条件は、Ｔ２≦ＴＤ／２となる。即ち、この条件を課した上でディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤに含まれる２種類のＳＤ信号（正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ信号、および、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ信号）を比較することにより、（ｄ）の故障判定を行うことが可能となる。
【００８６】
さらに、ディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤに含まれる冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ観測周期Ｔ２が終了時に、２種類のＳＤ信号（正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ信号、および、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ信号）を比較できるようにするには、図１０から明らかなように、Ｔ１≦Ｔ２なる条件を課せば良い。
【００８７】
上述の通り、ステップＳ１４６をＳＤ信号により実装する場合、Ｔ１≦Ｔ２≦ＴＤ／２と設定し、かつ、正常系ＯＳＵ１１−ｉのディスカバリ・ウィンドウ期間ＴＤ内に行われる冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ観測周期Ｔ２の終了時において、２種類のＳＤ信号（正常系ＯＳＵ１１−ｉのＳＤ信号、および、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのＳＤ信号）を比較し、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの最新のＳＤ信号が信号受信状態を示していれば、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのいずれかの故障と判定できる。
【００８８】
［終了］
ＯＬＴ制御部１５は、Ｍ個のポートに関する「無信号状態試験」を終了したのち、自己診断動作を終了する。なお、自己診断動作中にＰＯＮプロテクションを行う必要が発生した場合にも、自己診断動作を終了する。
【００８９】
なお、無信号状態試験は、図４で説明した「（１）回路構成試験」と組み合わせることもできる。即ち、「（１）回路構成試験」において、ステップＳ１０７で“Ｎｏ”判定の後に「無信号状態試験」のステップＳ１４６、Ｓ１４７、Ｓ１４８及びＳ１４９を行ってもよい。
【００９０】
以上、実施形態１の動作について説明した。もし、上記の自己診断により光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１又は冗長系ＯＳＵ１２−ｘに故障が発見され、ＯＬＴ制御部１５から警報が出力されていた場合には、作業者が、これらの故障個所を交換又は修理し、ＰＯＮプロテクション前に保全を行うことができる。
【００９１】
実施形態１の利点は、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成とハードウェア構成が同じであるということである。即ち、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成において、ＯＬＴ制御部１５と光スイッチ制御部３１に本発明の制御アルゴリズムを追記すれば実現できる技術であるので、量産時の導入コストを低くすることができる。
【００９２】
また、実施形態１のもう１つの利点は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘについても、部位によっても検知可能であるということである。即ち、ＰＯＮの非プロテクション時には、各正常系ＯＳＵ１１−ｉは通信を行っているのであるから故障が起これば通診断となってすぐに検知できるのであるが、冗長系ＯＳＵ１２−ｘは待機状態であることから、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」のＰＯＮプロテクション構成では信号の入出力がない。しかし、実施形態１の光スイッチ３２の自己診断においては、冗長系ＯＳＵ１２−ｘも用いることから、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの異常の発見も可能である。
【００９３】
（実施形態２）
図６は本実施形態のＰＯＮプロテクションシステム３０２の構成を説明する図である。ＰＯＮプロテクションシステム３０２は、局舎側伝送装置である１台の正常系ＯＳＵ１１と、ユーザ側伝送装置である１台以上のＯＮＵ５０とを、ポイント・ツー・マルチポイント形態で接続する光アクセスネットワークを複数含むＰＯＮに、いずれかのＯＳＵ１１の代理としてＯＳＵ１１に収容されるＯＮＵ５０と通信できる冗長系ＯＳＵ１２と、冗長系ＯＳＵ１２といずれかの光アクセスネットワークとを選択的に接続する光スイッチ３２と、正常系ＯＳＵ１１への信号光と冗長系ＯＳＵ１２への信号光を光電力で測定する光電力測定手段３８と、光スイッチ３２の切り替え及び自己診断方法を行う制御回路２５と、を備える。
【００９４】
ＰＯＮプロテクションシステム３０２は、図３のＰＯＮプロテクションシステム３０１と、以下の点で異なる。即ち、各正常系ＯＳＵ１１−ｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）の下り側にスプリッタ３７−ｉ、ならびに、冗長系ＯＳＵ１２−ｘの下り側にスプリッタ３７−ｘが接続されている。スプリッタ３７−ｉは、各正常系ＯＳＵ１１−ｉに入力される上り信号光を分岐しモニタするためのものである。スプリッタ３７−ｘは、冗長系ＯＳＵ１２−ｘに入力される上り信号光を分岐しモニタするためのものである。
【００９５】
分岐した上り信号光の光電力を測定できるように、各スプリッタ３７には光電力測定手段３８が接続されている。正常系ＯＳＵ１１−ｉ及び冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの上り信号光の光電力をモニタする光電力測定手段をそれぞれ光電力測定手段３８−ｉ及び光電力測定手段３８−ｘと称する。これらの光電力測定手段３８は、フォトダイオードとＡ／Ｄ変換器、あるいは、光パワーメータのような汎用品を用いることができる。この光電力測定手段３８の出力は、光スイッチ制御部に入力されている。
【００９６】
なお、スプリッタ３７−ｉを、スプリッタ４１−ｉから正常系ＯＳＵ１１−ｉへの経路に接続する代わりに、スプリッタ４１−ｉから光スイッチ３２のポートｉへの経路に接続しても良い。あるいは、スプリッタ３７−ｉは用いず、スプリッタ４１−ｉをＮ：３スプリッタに置き換え、Ｎ個のポートはＯＮＵに接続し、３個のポートは正常系ＯＳＵ１１−ｉと、光スイッチ３２のポートｉと、光電力測定手段３８−ｉにそれぞれ接続しても良い。
【００９７】
以降は、光スイッチ３２の自己診断機能についての説明である。本実施形態においても、ＰＯＮの上り信号光を光スイッチ３２の自己診断における試験光に用いることを特徴とする。
【００９８】
この自己診断の為の動作は以下の通りである。図７、図８及び図１１にフローチャートを示す。自己診断時においては、ＰＯＮが非プロテクション状態であることが前提となる。本実施形態において、正常系ＯＳＵ１１−ｉへの信号光と冗長系ＯＳＵ１２−ｘへの信号光を所定期間モニタして回路構成試験と開放状態試験を行う点は実施形態１とおなじである。しかし、信号光の状態を実施形態１ではＯＳＵの受光状態で判断していたが、本実施形態では光電力測定手段３８で判断する点が異なる。
【００９９】
[開始]
自己診断は、光スイッチ制御部３１内のタイマ、または、外部からのトリガが光スイッチ制御部３１に入力されることにより起動する（ステップＳ２０１）。まず、光スイッチ制御部３１は、ＰＯＮが非プロテクション状態であることを確認する。プロテクションの指示はＯＬＴ制御部１５から光スイッチ制御部３１に出されているので、プロテクション／非プロテクションの状態の確認は、光スイッチ制御部３１の内部メモリを参照すれば可能である（この他、正常系ＯＳＵ１１−ｉ、冗長系ＯＳＵ１２−ｘ、あるいは、光スイッチ制御部３１の内部メモリを参照しても可能である）。非プロテクション状態でなければ自己診断は行わない（ステップＳ２１３）。非プロテクション状態であれば次の［ポート試験］に進む。
【０１００】
[ポート試験]
光スイッチ３２には、冗長系ＯＳＵ１２側のポートｘをＯＮＵ５０側のポート（ポートｉ）に接続して回路を構成する組み合わせがＭ通りあることから、Ｍ通りの「回路構成試験」が行われる。また、解放状態（ＯＳＵ側のポートｘを他のいずれのポートとも接続させない状態）があることから、１回の開放状態試験が行われる。これらの試験方法について説明する。なお、これらの試験の動作の順番は任意である。
【０１０１】
（１）回路構成試験（ステップＳ２０４〜Ｓ２１２）
光スイッチ制御部３１は、光スイッチ３２にポートｘとポートｉを接続する回路を構成させる（ステップＳ２０５）。次に光スイッチ制御部３１は、光電力測定手段３８−ｘと光電力測定手段３８−ｉの同時刻における上り信号受光状態を評価する（ステップＳ２０６）。この時、上り信号は安定した光源ではないが、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘ、及び正常系ＯＳＵ１１−ｉが正常動作していれば、光電力測定手段３８−ｘと光電力測定手段３８−ｉは同時に受光することになる。従って、以下の状態
（ａ）光電力測定手段３８−ｘが非受光、光電力測定手段３８−ｉが受光
（ｂ）光電力測定手段３８−ｘが受光、光電力測定手段３８−ｉが非受光
のいずれか一方でも検知すれば、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、光電力測定手段３８のいずれかの故障と判定できる（ステップＳ２０７、Ｓ２０８）。なお、光電力測定手段３８−ｘと光電力測定手段３８−ｉの受光／非受光は、観測中に閾値以上の電力の上り信号光を受光している／受光していないということで判定すればよい。
【０１０２】
（ａ）または（ｂ）が発生した場合、光スイッチ制御部３１は故障要因について「回路ｉ構成時」と記録し、警報を出力してポートｉに対する回路構成試験を終了する（ステップＳ２０８）。この警報は、回線を介してＯＬＴ制御部１５への出力、ＬＥＤへの出力、専用出力端への出力、あるいはログへの蓄積でも構わない。
【０１０３】
一方、規定時間Ｔ内に上記状態評価を規定間隔ｔ（ｔ≦Ｔ）にてあるいは規定回数繰り返し、規定時間Ｔの間（ａ）または（ｂ）の現象が発生しなければ、光スイッチ制御部３１は、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び光電力測定手段３８の故障は検知しないもの判定として、ポートｉに対する回路構成試験を終了する（ステップＳ２０９、Ｓ２１０）。
【０１０４】
なお、上記は、特定のポートｉに対する回路構成試験のフローである。他のポートに対しても同様の回路構成試験を実施する（ステップＳ２１１、Ｓ２１２）。また、回路構成試験の際、ｉは１からＭに単調増加させても、Ｍから１に単調減少させても、任意に変化させても構わない。図７は、ｉを１からＭに単調増加させるフローとなっているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１０５】
（２）開放状態試験
光スイッチ制御部３１は、光スイッチ３２にポートｘを開放状態（他のいずれのポートとも接続させない状態）となるよう回路を構成させる。次に光スイッチ制御部３１は、光電力測定手段３８−ｘの上り信号光の受光状態を評価する。この時、上り信号は安定した光源ではないが、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び光電力測定手段３８−ｘが正常動作していれば、光電力測定手段３８−ｘは受光しない。従って、以下の状態
（ｃ）光電力測定手段３８−ｘが受光
を検知すれば、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び光電力測定手段３８−ｘのいずれかの故障と判定できる（ステップＳ２１３）。なお、光電力測定手段３８−ｘの受光／非受光は、観測中に閾値以上の電力の上り信号光を受光している／受光していないということで判定すればよい。
【０１０６】
（ｃ）が発生した場合、光スイッチ制御部３１は故障要因について「開放時」と記録し、警報を出力して開放状態試験を終了する（ステップ２２４）。この警報は、回線を介してＯＬＴ制御部への出力、ＬＥＤへの出力、あるいは専用出力端への出力でも構わない。
【０１０７】
一方、規定時間Ｔ内に上記状態評価を規定間隔ｔ（ｔ≦Ｔ）にてあるいは規定回数繰り返し、規定時間Ｔの間（ｃ）の現象が発生しなければ、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、及び光電力測定手段３８−ｘの故障は検知しないものとして、開放状態試験を終了する（ステップＳ２２５、Ｓ２２６、Ｓ２２７）。
【０１０８】
なお、ポートｘが開放状態に設定できないような光スイッチも存在することから、開放状態試験は実行しなくても良い。また、開放状態試験は、回路構成試験の前に行っても、後に行っても、回路構成試験と回路構成試験の間に行っても構わない。図７及び図８は、開放状態試験を回路構成試験の後に行うフローとなっているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１０９】
［終了］
光スイッチ制御部３１は、Ｍ個のポートに関する回路構成試験と１回の開放状態試験が終了したのち、自己診断動作を終了する。なお、自己診断動作中にＰＯＮプロテクションを行う必要が発生した場合にも、自己診断動作を終了する。
【０１１０】
（３）無信号状態試験
実施形態２の構成においても実施形態１で説明した無信号状態試験を行うことができる。図１２は、本実施形態のＯＳＵにおけるディスカバリ・ウィンドウを示したものである。本実施形態も無信号期間をディスカバリ・ウィンドウとすることができる。
【０１１１】
［開始］
図１１を用いて無信号状態試験の自己診断を説明する。ステップＳ２４１、Ｓ２４２、Ｓ２４３、Ｓ２４４、及びＳ２５４は、それぞれ図９のステップＳ１４１、Ｓ１４２、Ｓ１４３、Ｓ１４４、及びＳ１５４と同じである。ステップＳ２４３で非プロテクション状態であれば次の［ポート試験］に進む。
【０１１２】
［ポート試験］
ステップＳ２４５は図９のステップＳ１４５と同じである。次に、正常系ＯＳＵ１１−ｉは、配下のＯＳＵ５０に対し、ディスカバリ用のゲート信号を送信する（ステップＳ２４６）。次に、ＯＬＴ制御部１５は、冗長系ＯＳＵ１２−ｘと正常系ＯＳＵ１１−ｉの同時刻の受光状態を光電力測定手段３８を用いて評価する（ステップＳ２４７）。即ち、無信号期間（ディスカバリ・ウィンドウ）において、
（ｄ）新規ＯＮＵ登録が無い場合に、光電力測定手段３８−ｘが受光
（ｅ）新規ＯＮＵがある場合に、光電力測定手段３８−ｘが非受光
のいずれかの状態を検知した場合には、光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、冗長系ＯＳＵ１２−ｘのいずれかの故障と判定できる（ステップＳ２４８）。
【０１１３】
ステップＳ２４９〜Ｓ２５５は、それぞれ図９のステップＳ１４９〜Ｓ１５５と同じである。
【０１１４】
［終了］
ＯＬＴ制御部１５は、Ｍ個のポートに関する「無信号状態試験」を終了したのち、自己診断動作を終了する。なお、自己診断動作中にＰＯＮプロテクションを行う必要が発生した場合にも、自己診断動作を終了する。
【０１１５】
なお、無信号状態試験は、図７で説明した「（１）回路構成試験」と組み合わせることもできる。即ち、「（１）回路構成試験」において、ステップＳ２０７で“Ｎｏ”判定の後に「無信号状態試験」のステップＳ２４６、Ｓ２４７、Ｓ２４８及びＳ２４９を行ってもよい。
【０１１６】
以上、実施形態２の動作について説明した。もし、上記の自己診断により光スイッチ３２、光スイッチ制御部３１、光電力測定手段３８−ｘ又は光電力測定手段３８−ｉに故障が発見され、光スイッチ制御部３１から警報が出力されていた場合には、作業者が、これらの故障個所を交換又は修理し、ＰＯＮプロテクション前に保全を行うことができる。
【０１１７】
実施形態２の利点は、自己診断動作に関して、ＯＬＴ制御部の制御ソフトウェアの修正が不要であるということである。即ち、自己診断の試験光の光電力を測定するのはＯＳＵではなく新たに設けられた光電力測定手段３８であり、この測定結果は光スイッチ制御部３１に入力されている。従って、自己診断の制御アルゴリズムは、全て、光スイッチ制御部３１に格納することができる。ＯＬＴ制御部１５と光スイッチ制御部３１との間の自己診断に関する追加は、高々、自己診断開始の指示と結果の受け取りが考えられる。光スイッチ制御部３１に自己診断起動用のタイマや結果を直接出力するＯＡＭ出力端を設ければ、上記の追加すら不要である。これは、図２の「冗長系ＯＳＵ共有型」ＰＯＮプロテクションのＯＬＴに対し、光スイッチ制御部３１側のみの対応だけで、光スイッチの自己診断機能を付加可能ということになる。
【０１１８】
以下は、本実施形態のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法を説明したものである。
（１）
光加入者線端局装置制御部と、Ｍ台（Ｍは１以上の整数）の正常系光加入者線終端盤ｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）と、１台の冗長系光加入者線終端盤と、からなる光加入者線端局装置と、
Ｍ本の入出力ポート内の任意の入出力ポートｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）が、１本の入出力ポートｘに結合できるＭ：１光スイッチと、
前記Ｍ：１光スイッチを制御する光スイッチ制御部と、
Ｍ本のＮ：２スプリッタｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）（Ｎは１以上の整数）と、
から構成され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記正常系光加入者線終端盤ｉの制御回線が接続され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記冗長系光加入者線終端盤の制御回線が接続され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記光スイッチ制御部の制御回線が接続され、
前記光スイッチ制御部と前記Ｍ：１光スイッチの制御回線が接続され、
前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の一方が前記正常系光加入者線終端盤ｉの光入出力端と接続され、
前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の他方が前記Ｍ：１光スイッチのポートｉと接続され、
前記前記Ｍ：１光スイッチのポートｘが前記冗長系光加入者線終端盤の光入出力端と接続された、
ＰＯＮプロテクションシステムにおいて、
前記光加入者線端局装置制御部が、タイマまたは外部トリガを契機として、ＰＯＮが非プロテクション状態であれば自己診断動作を開始し、ＰＯＮがプロテクション状態であれば自己診断動作を終了するステップ１と、
自己診断動作を開始する場合に、前記光加入者線端局装置制御部が、前記光スイッチ制御部を介して、前記ポートｘと前記ポートｉを接続する回路を構成させ、規定時間の間、前記光加入者線端局装置制御部が前記正常系光加入者線終端盤ｉと前記冗長系光加入者線終端盤の受光状態を同時に評価することを繰り返し、この間に、前記正常系光加入者線終端盤ｉと前記冗長系光加入者線終端盤の一方が受光状態で他方が非受光状態であれば、前記光加入者線端局装置制御部は警報を出力するステップ２−ｉと、
前記光加入者線端局装置制御部が、自己診断動作を終了するステップ３と、
を有し、
ステップ２−ｉは、ｉが１以上Ｍ以下の全ての整数について、任意の順序で行う、
ことを特徴とする、ＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【０１１９】
（２）
前記光加入者線端局装置制御部が、前記光スイッチ制御部を介して、前記ポートｘと任意の前記ポートｉ（ｉは１以上Ｍ以下）のいずれとも接続しない開放状態を構成させ、規定時間の間、前記光加入者線端局装置制御部が前記冗長系光加入者線終端盤の受光状態を評価することを繰り返し、この間に、前記冗長系光加入者線終端盤が受光状態であれば、前記光加入者線端局装置制御部は警報を出力するステップ４を有し、
前記ステップ４は、前記ステップ２−ｉ（ｉは１以上Ｍ以下）の内の任意の１ステップの前または後ろに実行される、
ことを特徴とする、（１）に記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【０１２０】
（３）
光加入者線端局装置制御部と、Ｍ台（Ｍは１以上の整数）の正常系光加入者線終端盤ｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）と、１台の冗長系光加入者線終端盤と、からなる光加入者線端局装置と、
Ｍ本の入出力ポート内の任意の入出力ポートｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）が、１本の入出力ポートｘに結合できるＭ：１光スイッチと、
前記Ｍ：１光スイッチを制御する光スイッチ制御部と、
Ｍ本のＮ：２スプリッタｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）（Ｎは１以上の整数）と、
から構成され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記正常系光加入者線終端盤ｉの制御回線が接続され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記冗長系光加入者線終端盤の制御回線が接続され、
前記光加入者線端局装置制御部と前記光スイッチ制御部の制御回線が接続され、
前記光スイッチ制御部と前記Ｍ：１光スイッチの制御回線が接続され、
前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の一方が前記正常系光加入者線終端盤ｉの光入出力端と接続され、
前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の他方が前記Ｍ：１光スイッチのポートｉと接続され、
前記前記Ｍ：１光スイッチのポートｘが前記冗長系光加入者線終端盤の光入出力端と接続された、
ＰＯＮプロテクションシステムにおいて、
前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の一方と前記正常系光加入者線終端盤ｉの光入出力端の間、または、前記Ｎ：２スプリッタｉの２分岐の他方と前記Ｍ：１光スイッチのポートｉの間に、スプリッタｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）を設け、
前記スプリッタｉには上り信号光をモニタする為の光電力測定手段ｉ（ｉは１以上Ｍ以下の整数）を接続し、
前記前記Ｍ：１光スイッチのポートｘと前記冗長系光加入者線終端盤の光入出力端の間に、スプリッタｘを設け、
前記スプリッタｘには上り信号光をモニタする為の光電力測定手段ｘを接続し、
前記光スイッチ制御部と前記光電力測定手段ｉの出力が接続され、
前記光スイッチ制御部と前記光電力測定手段ｘの出力が接続され、
前記光スイッチ制御部が、タイマまたは外部トリガを契機として、ＰＯＮが非プロテクション状態であれば自己診断動作を開始し、ＰＯＮがプロテクション状態であれば自己診断動作を終了するステップ１と、
自己診断動作を開始する場合に、前記光スイッチ制御部が前記ポートｘと前記ポートｉを接続する回路を構成させ、規定時間の間、前記光スイッチ制御部が前記光電力測定手段ｉと前記光電力測定手段ｘの受光状態を同時に評価することを繰り返し、この間に、前記光電力測定手段ｉと前記光電力測定手段ｘの一方が受光状態で他方が非受光状態であれば、前記光スイッチ制御部は警報を出力するステップ２−ｉと、
前記光スイッチ制御部が、自己診断動作を終了するステップ３と、
を有し、
ステップ２−ｉは、ｉが１以上Ｍ以下の全ての整数について、任意の順序で行う、
ことを特徴とする、ＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【０１２１】
前記光スイッチ制御部が、前記ポートｘと任意の前記ポートｉ（ｉは１以上Ｍ以下）のいずれとも接続しない開放状態を構成させ、規定時間の間、前記光スイッチ制御部が前記光電力測定手段ｘの受光状態を評価することを繰り返し、この間に、前記光電力測定手段ｘであれば、前記光スイッチ制御部は警報を出力するステップ４を有し、
前記ステップ４は、前記ステップ２−ｉ（ｉは１以上Ｍ以下）の内の任意の１ステップの前または後ろに実行される、
ことを特徴とする、（３）に記載のＰＯＮプロテクションシステムの自己診断方法。
【符号の説明】
【０１２２】
１０：ＯＬＴ
１１、１１−１、１１−２、・・・、１１−ｉ、・・・、１１−Ｍ：正常系ＯＳＵ
１２、１２−ｘ：冗長系ＯＳＵ
１５：ＯＬＴ制御部
２５：制御回路
３１：光スイッチ制御部
３２：光スイッチ
３７、３７−１、３７−２、・・・、３７−ｉ、・・・、３７−Ｍ、３７−ｘ：スプリッタ
３８、３８−１、３８−２、・・・、３８−ｉ、・・・、３８−Ｍ、３８−ｘ：光電力測定手段
４１、４１−１、４１−２、・・・、４１−ｉ、・・・、４１−Ｍ：Ｎ×２スプリッタ
５０、５１、５１−１、５１−２、５１−３：ＯＮＵ
３０１、３０２：ＰＯＮプロテクションシステム
【図１】
2013077249.tif 000003
【図２】
2013077249.tif 000004
【図３】
2013077249.tif 000005
【図４】
2013077249.tif 000006
【図５】
2013077249.tif 000007
【図６】
2013077249.tif 000008
【図７】
2013077249.tif 000009
【図８】
2013077249.tif 000010
【図９】
2013077249.tif 000011
【図１０】
2013077249.tif 000012
【図１１】
2013077249.tif 000013
【図１２】
2013077249.tif 000014
【国際調査報告】
2013077249.tif 000015
2013077249.tif 000016
2013077249.tif 000017
2013077249.tif 000018