(57)【要約】  本発明は、第１および第２端を有するマルチコア光ファイバ、光源、受光器、分岐部、合流部、測定光路および参照光路を備える干渉測定装置に関し、測定光路上にある被測定物の物理量を測定する。光源および受光器は第１端の側に配置され、測定光路および参照光路は第２端の側に配置される。分岐部は、光源からの光を測定光と参照光とに分岐し、合流部は、測定光路を伝搬した測定光と参照光路を伝搬した参照光との干渉光を生成する。受光器が干渉光の強度を検出する。
2013141112.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１端と前記第１端と対向する第２端を有するとともに、前記第１端と前記第２との間に延在する複数のコアと前記複数のコアそれぞれを覆う共通のクラッドとを有するマルチコア光ファイバと、
前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側に設けられた光源と、
前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側に設けられた受光器と、
前記マルチコア光ファイバの前記第２端の側に設けられた測定光路と、
前記マルチコア光ファイバの前記第２端の側に設けられた参照光路と、
前記光源から出力された光を、前記測定光路を伝搬する測定光と前記参照光路を伝搬する参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光路を伝搬した前記測定光と前記参照光路を伝搬した前記参照光とを合流させることにより前記測定光と前記参照光の干渉光を生成し、前記生成された干渉光を前記受光器へ向けて出力する合流部と、
を備え、
前記マルチコア光ファイバの前記複数のコアには、前記第１端から前記第２端へ光を伝搬させる第１伝送経路に属する少なくとも１本のコアと、前記第１伝送経路には属さないコアであって前記第２端から前記第１端へ光を伝搬させる第２伝送経路に属する少なくとも１本のコアが含まれることを特徴とする干渉測定装置。
【請求項２】
前記マルチコア光ファイバは、実質的にセンシング機能を有しないことを特徴とする請求項１に記載の干渉測定装置。
【請求項３】
前記分岐部は、前記マルチコア光ファイバの前記第２端の側に設けられ、前記マルチコア光ファイバの前記第２端において前記第１伝送経路に属するコアから出力された、前記光源からの光を、前記測定光と前記参照光に分岐することを特徴とする請求項１または２に記載の干渉測定装置。
【請求項４】
前記合流部は、前記マルチコア光ファイバの前記第２端の側に設けられ、前記測定光路を伝搬した前記測定光と前記参照光路を伝搬した前記参照光との干渉光を、前記マルチコア光ファイバの前記第２端の側から前記第２伝送経路に属するコアに入力させることを特徴とする請求項３に記載の干渉測定装置。
【請求項５】
前記分岐部は、前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側に設けられ、前記光源から出力された光から分岐された前記測定光を、前記第１伝送経路に属するあるコアに、前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側から入力させる一方、前記光源から出力された光から分岐された前記参照光を、前記第１伝送経路に属する別のコアに、前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側から入力させることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の干渉測定装置。
【請求項６】
前記合流部は、前記マルチコア光ファイバの前記第１端の側に設けられ、前記第２伝送経路に属する互いに異なる２本のコアを伝搬した後に前記マルチコア光ファイバの前記第１端からそれぞれ出力された前記測定光と前記参照光を合流させることにより干渉光を生成し、前記生成された干渉光を前記受光器に入力させることを特徴とする請求項５に記載の干渉測定装置。
【請求項７】
前記マルチコア光ファイバは、前記複数のコアとして、第１コア，第２コア，第３コアおよび第４コアを有し、
前記マルチコア光ファイバの中心軸に垂直な断面において、前記中心軸を挟んで前記第１コアと前記第２コアとが互いに対称な位置にあり、前記中心軸を挟んで前記第３コアと前記第４コアとが互いに対称な位置にあり、
前記第１コアおよび前記第３コアが前記第１伝送経路に属し、前記第２コアおよび前記第４コアが前記第２伝送経路に属することを特徴とする請求項６に記載の干渉測定装置。
【請求項８】
前記マルチコア光ファイバの前記複数のコアそれぞれは、偏波保持型コアであることを特徴とする請求項５に記載の干渉測定装置。
【請求項９】
前記測定光および前記参照光のうち少なくとも一方は、デポラライズまたは偏波スクランブルされることを特徴とする請求項５に記載の干渉測定装置。
【請求項１０】
前記分岐部および前記合流部として機能するマルチコア光ファイバ型カプラを備え、
前記マルチコア光ファイバ型カプラは、一方のコアを伝搬する光の一部の、他方のコアへの分岐、または、一方のコアを伝搬する光と他方のコアを伝搬する光との合流を、それぞれが実現する複数のコア群を内蔵したクラッドと、
前記クラッドに内蔵されるとともに前記複数のコア群のうち異なるコア群間に設けられた、前記異なるコア群間のクロストークを抑制するための漏洩低減部と、を有し、
前記複数のコア群それぞれは、同一コア群内のコア間のクロストークにより光の分岐または合流が実現される複数のコアを含むことを特徴とする請求項１記載の干渉測定装置。
【請求項１１】
一方のコアを伝搬する光の一部の、他方のコアへの分岐、または、一方のコアを伝搬する光と他方のコアを伝搬する光との合流を、それぞれが実現する複数のコア群を内蔵するクラッドと、
前記クラッドに内蔵されるとともに前記複数のコア群のうち異なるコア群間に配置された、前記異なるコア群間のクロストークを抑制するための漏洩低減部と、を有するマルチコア光ファイバ型カプラであって、
前記複数のコア群それぞれは、同一コア群内のコア間のクロストークにより光の分岐または合流を実現する複数のコアを含むことを特徴とするマルチコア光ファイバ型カプラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、干渉測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバを用いた測定装置が知られている。特許文献１，２に開示された測定装置は、複数のコアを有するマルチコア光ファイバをセンサ部として用い、コア間の光結合の変化に基づいて温度・圧力・張力等の変化を検出する。特許文献３に開示された測定装置は、光源から出力された測定光をマルチコア光ファイバの或るコアにより被測定物まで伝搬させ、被測定物からの反射光を他のコアにより受光器まで伝搬させて、受光器により検出された反射光量に基づいて被測定物の物理量測定を行う。また、光ファイバをセンサ部として用いる干渉測定装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】日本特許第２７０６２８１号
【特許文献２】特開平４−３０７３２８号公報
【特許文献３】特開２００３−２２９５９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
発明者は、上述のような従来の測定装置について検討した結果、以下のような課題を発見した、すなわち、上記特許文献１，２に開示された測定装置では、測定可能な物理量の種類は、マルチコア光ファイバのコア間の光結合に影響を与える種類に限定される。また、上記特許文献１，２に開示された測定装置では、マルチコア光ファイバのコア間の光結合の変化の大きさは、各コアからの出力光パワーの測定により検知可能な大きさである必要がある。特許文献３に開示された測定装置では、測定可能な物理量の種類は、被測定物からの反射光の光量に影響を与える種類に制限される。また、特許文献３に開示された測定装置では、測定可能な物理量の大きさは、反射光量の変化として検知可能な大きさである必要がある。これら特許文献１〜３に開示された測定装置では、測定可能な物理量の種類および大きさが制限される。【０００５】
また、光ファイバをセンサ部として用いる干渉測定装置では、測定したい物理量以外の物理量の変化により測定光と参照光との間の位相差が変化すると、これが測定ノイズの原因となる。光ファイバをセンサ部として用い、かつ、測定光伝搬用の光ファイバと参照光伝搬用の光ファイバとが互いに異なる従来の構成では、例えば温度を測定したい場合に、温度以外の圧力・張力等の外乱により容易に測定光と参照光との間の位相差が変化してしまう。それ故、測定したい物理量以外の物理量の外乱に因るノイズを排除するための対策を講ずる必要があり、このために測定装置の構成が複雑になる。【０００６】
本発明は上述のような課題を解決するためになされたものであり、簡易な構成で様々な種類の物理量の測定をすることができる干渉測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る干渉測定装置は、第１の態様として、マルチコア光ファイバと、光源と、受光器と、測定経路と、参照経路と、分岐部と、合流部と、を少なくとも備える。マルチコア光ファイバは、第１端と該第１端と対向する第２端を有するとともに、第１端と第２との間に延在する複数のコアとこれら複数のコアそれぞれを覆う共通のクラッドとを有する。光源は、マルチコア光ファイバの第１端の側に配置されている。受光器も、マルチコア光ファイバの第１端の側に配置されている。測定経路は、マルチコア光ファイバの第２端の側に配置されている。参照経路も、マルチコア光ファイバの第２端の側に配置されている。分岐部は、光源から出力された光を、測定光路を伝搬する測定光と参照光路を伝搬する参照光に分岐する。合流部は、測定光路を伝搬した測定光と参照光路を伝搬した参照光とを合流させることにより、測定光と参照光の干渉光を生成し、生成された干渉光を受光器へ向けて出力する。これにより、受光器が干渉光の強度を検出する。なお、マルチコア光ファイバの複数のコアには、第１端から第２端へ光を伝搬させる第１伝送経路に属する少なくとも１本のコア（１またはそれ以上のコア）と、第１伝送経路には属さないコアであって第２端から前記第１端へ光を伝搬させる第２伝送経路に属する少なくとも１本のコア（１またはそれ以上のコア）が含まれる。【０００８】
上記第１の態様に適用可能な第２の態様として、マルチコア光ファイバは、実質的にセンシング機能を有しないのが好ましい。測定光路および参照光路も実質的にセンシング機能を有しなくても良い。また、上記第１および第２の態様のうち少なくとも何れかの態様に適用可能な第３の態様として、分岐部は、マルチコア光ファイバの第２端の側に配置されても良い。この場合、第３の態様における分岐部は、マルチコア光ファイバの第２端において第１伝送経路に属するコアから出力された、光源からの光を、測定光と参照光に分岐する。上記第１〜第３の態様のうち少なくとも何れかの態様に適用可能な第４の態様として、合流部は、マルチコア光ファイバの第２端の側に配置されても良い。この場合、第４の態様における合流部は、測定光路を伝搬した測定光と参照光路を伝搬した参照光との干渉光を、マルチコア光ファイバの第２端の側から第２伝送経路に属するコアに入力させる。【０００９】
上記第１〜第４の態様のうち少なくとも何れかの態様に適用可能な第５の態様として、分岐部は、マルチコア光ファイバの第１端の側に配置されても良い。この場合、第５の態様における分岐部は、光源から出力された光から分岐された測定光を、第１伝送経路に属するあるコアに、マルチコア光ファイバの第１端の側から入力させる一方、光源から出力された光から分岐された参照光を、第１伝送経路に属する別のコアに、マルチコア光ファイバの第１端の側から入力させる。したがって、第５の態様では、第１伝送経路に属するコアの本数は、少なくとも２本となる。さらに、上記第１〜第５の態様のうち少なくとも何れかの態様に適用可能な第６の態様として、合流部は、マルチコア光ファイバの第１端の側に配置されても良い。この場合、第６の態様における合流部は、第２伝送経路に属する互いに異なる２本のコアを伝搬した後にマルチコア光ファイバの第１端からそれぞれ出力された測定光と参照光を合流させることにより干渉光を生成し、生成された干渉光を受光器に入力させる。したがって、第６の態様では、第２伝送経路に属するコアの本数は、少なくとも２本となる。【００１０】
上述のように、第３〜第６の態様によれば、マルチコア光ファイバに対して、少なくとも、分岐部と合流部の双方が第１の端側に配置される第１構成、分岐部と合流部の双方が第２の端側に配置される第２構成、分岐部が第１の端側に配置される一方、合流部が第２の端側に配置される第３構成、および、分岐部が第２の端側に配置される一方、合流部が第１の端側に配置される第４構成が実現可能である。特に、分岐部と合流部がマルチコア光ファイバを挟むように配置された第３および第４構成の場合、第１伝送経路に属するコアの本数と第２伝送経路に属するコアの本数とが異なる。２つの分岐部がマルチコア光ファイバにおける第1および第２の端の双方の側に配置されても良い。また、２つの合流部がマルチコア光ファイバにおける第1および第２の端の双方の側に配置されても良い。【００１１】
さらに、上記第１〜第６の態様のうち少なくとも何れかに適用可能な第７の態様として、例えば、マルチコア光ファイバは、複数のコアとして、第１コア，第２コア，第３コアおよび第４コアを有してもよい。特に、マルチコア光ファイバの中心軸（ファイバ軸）に垂直な断面において、該中心軸を挟んで第１コアと第２コアとが互いに対称な位置に配置され、該中心軸を挟んで第３コアと第４コアとが互いに対称な位置に配置されるのが好ましい。この場合において、第１コアおよび第３コアが第１伝送経路に属し、第２コアおよび第４コアが第２伝送経路に属することになる。【００１２】
上記第１〜第７の態様のうち少なくとも何れかに適用可能な第８の態様として、マルチコア光ファイバの複数のコアそれぞれは、偏波保持型コアであるのが好ましい。また、上記第１〜第８の態様のうち少なくとも何れかに適用可能な第９の態様として、測定光および参照光のうち少なくとも一方は、デポラライズまたは偏波スクランブルされるのが好ましい。【００１３】
上記第１〜第９の態様のうち少なくとも何れかに適用可能な第１０の態様として、当該第１０の態様に係る干渉測定装置は、分岐部および合流部として機能するマルチコア光ファイバ型カプラを備えてもよい。マルチコア光ファイバ型カプラは、複数のコア群を内蔵したクラッドと、クラッドに内蔵された漏洩低減部と、を有する。特に、複数のコア群それぞれは、一方のコアを伝搬する光の一部の、他方のコアへの分岐、または、一方のコアを伝搬する光と他方のコアを伝搬する光との合流を、実現する。漏洩低減部は、複数のコア群のうち異なるコア群間に設けられ、異なるコア群間のクロストークを抑制する。また、複数のコア群それぞれは、同一コア群内のコア間のクロストークにより光の分岐または合流が実現される複数のコアを含む。【００１４】
なお、第１１の態様として、本発明に係るマルチコア光ファイバ型カプラは、複数のコア群を内蔵したクラッドと、クラッドに内蔵された漏洩低減部と、を有する。特に、複数のコア群それぞれは、一方のコアを伝搬する光の一部の、他方のコアへの分岐、または、一方のコアを伝搬する光と他方のコアを伝搬する光との合流を、実現する。漏洩低減部は、複数のコア群のうち異なるコア群間に設けられ、異なるコア群間のクロストークを抑制する。また、複数のコア群それぞれは、同一コア群内のコア間のクロストークにより光の分岐または合流が実現される複数のコアを含む。
【発明の効果】
【００１５】
本実施形態に係る干渉測定装置によれば、簡易な構成で、様々な種類の物理量の測定をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】は、第１実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図２】は、第１および第６実施形態それぞれの応用例を説明するための図である。
【図３】は、第２実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図４】は、マルチコア光ファイバ１０の断面図である。
【図５】は、第２〜第６および第７〜第８実施形態それぞれの応用例を説明するための図である。
【図６】は、第３実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図７】は、第４実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図８】は、第５実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図９】は、第６実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図１０】は、第６実施形態に係る干渉測定装置の各構成部品の断面図である。
【図１１】は、第７実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【図１２】は、第７実施形態に係る干渉測定装置の各構成部品の断面図である。
【図１３】は、第８実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１８】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。第１実施形態に係る干渉測定装置１は、マルチコア光ファイバ１０、光源２０、受光器３０、分岐部４１、合流部５１、測定光路６０および参照光路７０を備える。干渉測定装置１は、測定光路６０上にある被測定物９０の物理量を測定することができる。マルチコア光ファイバ１０、測定光路６０および参照光路７０は実質的にセンシング機能を有しない。
【００１９】
マルチコア光ファイバ１０は、第１端１０ａと第２端１０ｂとの間に延在する複数のコアを共通のクラッド内に有する。光源２０および受光器３０は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａの側に配置され、第１端側要素１００Ａを構成する。分岐部４１、合流部５１、測定光路６０および参照光路７０は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂの側に配置され、第２端側要素１００Ｂを構成する。また、分岐部４１、合流部５１、測定光路６０および参照光路７０は、マッハツェンダ型干渉計を構成している。
【００２０】
光源２０から出力された光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいて或るコア（第１端１０ａから第２端１０ｂに向けて光を伝搬する第１伝送経路に属するコア）に入力され、第２端１０ｂにおいて該コアから出力されて、分岐部４１に入力される。分岐部４１に入力された光は測定光および参照光に分岐される。分岐部４１から出力された測定光は、被測定物９０が存在する測定光路６０を経て合流部５１に入力される。分岐部４１から出力された参照光は、参照光路７０を経て合流部５１に入力される。
【００２１】
合流部５１に入力された測定光および参照光は合流されることで干渉し、得られた干渉光が合流部５１から出力される。この干渉光は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにおいて他の或るコア（第２端１０ｂから第１端１０ａに向けて光を伝搬する第２伝送経路に属するコア）に入力され、第１端１０ａにおいて該コアから出力されて、受光器３０により受光される。そのとき、受光器３０により干渉光の強度が検出される。マルチコア光ファイバ１０の複数のコアのうち、第１端１０ａから第２端１０ｂへ光を伝搬させるコアと、第２端１０ｂから第１端１０ａへ光を伝搬させるコアとは、互いに異なる。
【００２２】
被測定物９０を通った測定光の位相が変化すると、合流部５１に入力される測定光と参照光との間の位相差が変化し、干渉光の強度が変化する。この結果、光の位相変化を伴う被測定物９０の変化であれば、干渉光の強度変化として受光器３０により検出することが可能になる。干渉測定装置１は、簡易な構成で様々な種類の物理量の測定をすることができる。
【００２３】
被測定物９０として光ファイバを使用することができる。この場合、光ファイバの屈折率、長さが、温度、圧力、張力等で変化することを利用すれば、干渉測定装置１は温度センサ、圧力センサ、張力センサとして使用することが可能となる。本実施形態においては、被測定物９０は光ファイバに限定されない。例えば周囲の化学物質の種類・濃度に応じて屈折率が変化する物質を被測定物９０として使用すれば、干渉測定装置１は化学センサとして利用することが可能になる。また、例えば周囲の電磁気に応じて屈折率が変化する物質を被測定物９０として使用すれば、干渉測定装置１は電磁気センサ（アンテナ）として利用することが可能になる。
【００２４】
図２は、第１実施形態の応用例を説明するための図である。なお、この図２に示された構成は、後述する第６実施形態にも適用可能である。すなわち、図１に示された第１実施形態に係る干渉測定装置１は、マルチコア光ファイバ１０が第１伝送経路に属する少なくとも１本のコアと第２伝送経路に属する少なくとも１本のコアを有する場合、実現可能である。
【００２５】
したがって、マルチコア光ファイバ１０におけるコアの本数が２の倍数である場合（具体的には、コア数が２本、４本、６本、８本、…の場合）、図２（ａ）に示されたように、マルチコア光ファイバ１０の両端に第１端側要素１００Ａと第２端側要素１００Ｂをそれぞれ配置することにより、それぞれが図１と同じ構造を有する複数の測定系１Ａ、１Ｂ、…が実現できる。例えば、図２（ｂ）に示されたように、マルチコア光ファイバ１０が、共通のクラッド１５内に６本のコア１１ａ〜１６ａを有する場合、当該マルチコア光ファイバ１０の中心軸を挟んで対向するコアの組（一方のコアが第１伝送経路に属し、他方のコアが第２伝送経路に属する）により、それぞれが光学的に独立した複数の測定系が実現可能である。具体的に、図２（ｂ）の例では、コア１１ａとコア１４ａの組を第１および第２伝送経路の組として有する測定系１Ａが構成され、コア１３ａとコア１６ａの組を第１および第２伝送経路の組として有する測定系１Ｂが構成され、コア１２ａとコア１５ａの組を第１および第２伝送経路の組として有する測定系１Ｃが構成される。
【００２６】
（第２実施形態）
図３は、第２実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。図４は、本実施形態に適用可能なマルチコア光ファイバ１０の断面図である。第２実施形態に係る干渉測定装置２は、マルチコア光ファイバ１０、光源２０、受光器３０、分岐部４２、合流部５２、測定光路６０および参照光路７０を備える。干渉測定装置２は、測定光路６０上にある被測定物９０の物理量を測定することができる。マルチコア光ファイバ１０、測定光路６０および参照光路７０は実質的にセンシング機能を有しない。
【００２７】
マルチコア光ファイバ１０は、第１端１０ａと第２端１０ｂとの間に延在する少なくとも４本のコア１１ｂ〜１４ｂ（図４参照）を共通のクラッド１５内に有する。光源２０、受光器３０、分岐部４２および合流部５２は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａの側に配置され、第１端側要素２００Ａを構成する。測定光路６０および参照光路７０は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂの側に配置され、第２端側要素２００Ｂを構成する。また、分岐部４２、合流部５２、マルチコア光ファイバ１０、測定光路６０および参照光路７０は、マッハツェンダ型干渉計を構成している。
【００２８】
光源２０から出力された光は、分岐部４２により２分岐されて測定光および参照光とされる。分岐部４２から出力された測定光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいて第１コア１１ｂ（第１伝送経路に属するコア）に入力されて、第２端１０ｂにおいて第１コア１１ｂから、被測定物９０が存在する測定光路６０へ出力される。測定光路６０を経た光は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにおいて第２コア１３ｂ（第２伝送経路に属するコア）に入力されて、第１端１０ａにおいて第２コア１３ｂから出力され、合流部５２に入力される。
【００２９】
分岐部４２から出力された参照光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいて第３コア１４ｂ（第１伝送経路に属するコア）に入力されて、第２端１０ｂにおいて第３コア１４ｂから参照光路７０へ出力される。参照光路７０を経た光は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにおいて第４コア１２ｂ（第２伝送経路に属するコア）に入力されて、第１端１０ａにおいて第４コア１２ｂから出力され、合流部５２に入力される。合流部５２に入力された測定光および参照光は合流され、その干渉光が受光器３０に受光される。その結果、受光器３０において干渉光の強度が検出される。
【００３０】
本実施形態は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａの側に光源２０および受光器３０に加えて分岐部４２および合流部５２も配置される。したがって、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂの側の構成が簡便となり、この結果、この第２端１０ｂの側の小型化が容易となるので、被測定物９０のスペースが限られる場合に特に有効である。
【００３１】
本実施形態においては、マルチコア光ファイバ１０のコア１１ｂ〜１４ｂもマッハツェンダ型干渉計のアームの一部となる。コア１１ｂ〜１４ｂは同一クラッド１５中に配置されているので、マルチコア光ファイバ１０の温度変化やマルチコア光ファイバ１０に加わる張力の変化等の外乱の影響を受けにくい。すなわち、測定光と参照光との間の位相差がこれら外乱の影響で変化し難い。
【００３２】
本実施形態においては、図４に示されたように、マルチコア光ファイバ１０の中心軸（ファイバ軸）に垂直な断面において、該中心軸を挟んで第１コア１１ｂと第２コア１３ｂとが互いに対称な位置にあり、中心軸を挟んで第３コア１４ｂと第４コア１２ｂとが互いに対称な位置にある。そして、第１伝送経路に属するコアとして第１コア１１ｂが第１端１０ａから第２端１０ｂへ測定光を伝搬させ、第２伝送経路に属するコアとして第２コア１３ｂが第２端１０ｂから第１端１０ａへ測定光を伝搬させる。一方、第１伝送経路に属するコアとして第３コア１４ｂが第１端１０ａから第２端１０ｂへ参照光を伝搬させ、第２伝送経路に属するコアとして第４コア１２ｂが第２端１０ｂから第１端１０ａへ参照光を伝搬させる。このような構成の場合、マルチコア光ファイバ１０を曲げた場合に発生する測定光と参照光との光路差が往復で相殺されるので、マルチコア光ファイバ１０に加わる曲げの影響を受け難くすることも可能となる。
【００３３】
本実施形態においては、マルチコア光ファイバ１０のコア１１ｂ〜１４ｂそれぞれを偏波保持型のコアとしたり、カプラ４２とマルチコア光ファイバ１０との間に配置可能な偏光素子４２０（またはデポラライザ）により、測定光および参照光のうち少なくとも一方をデポラライズまたは偏波スクランブルしたりすると、マルチコア光ファイバ１０中の偏波変動に起因する干渉光の強度変化を抑制することが可能となる。
【００３４】
図４に示されたマルチコア光ファイバ１０の断面においては、測定光、参照光を伝搬させるコア１１ｂ〜１４ｂがクラッド１５の中心軸を中心とする円の周上に配置されており、測定光の往路および復路に用いられるコア１１ｂおよびコア１３ｂはクラッド中心軸に関して対向する位置に配置され、また、参照光の往路および復路に用いられるコア１４ｂおよびコア１２ｂはクラッド１５の中心軸に関して対向する位置に配置されている。したがって、マルチコア光ファイバ１０が曲げられた場合でも、測定光の往路用の第１コア１１ｂがアウトコース側となった場合には、測定光の復路用の第２コア１３ｂがインコース側となるので、両者が相殺して測定光の光路長は一定となる。参照光についても同様である。
【００３５】
図４に示されたマルチコア光ファイバ１０の断面の例ではマルチコア光ファイバ１０のコア数は４本（被測定物１つに対応）となっているが、これに限られることはなく、例えばコア数が８本、１２本、１６本、…（４の倍数）であってもよい。また、図４に示されるように同一円周上に全てのコアが配置する場合に限られることはなく、クラッド１５の中心軸を中心とする複数の円周上にコアを配置することも可能である。但し、この場合でも、マルチコア光ファイバの曲げによる光路差を相殺するコア同士は、同一円周上かつクラッド中心に関して対向する位置に配置される。
【００３６】
被測定物９０を通った測定光の位相が変化すると、合流部５２に入力される測定光と参照光との間の位相差が変化し、干渉光の強度が変化する。この結果、光の位相変化を伴う被測定物９０の変化であれば、干渉光の強度変化として受光器３０により検出することが可能となる。干渉測定装置２は、簡易な構成で様々な種類の物理量の測定をすることができる。
【００３７】
被測定物９０として光ファイバを使用することができる。この場合、光ファイバの屈折率、長さが、温度、圧力、張力等で変化することを利用すれば、干渉測定装置２は温度センサ、圧力センサ、張力センサとして使用することが可能となる。本実施形態においては、被測定物９０は光ファイバに限定されない。例えば周囲の化学物質の種類・濃度に応じて屈折率が変化する物質を被測定物９０として使用すれば、干渉測定装置２は化学センサとして利用することが可能になる。また、例えば周囲の電磁気に応じて屈折率が変化する物質を被測定物９０として使用すれば、干渉測定装置２は電磁気センサ（アンテナ）として利用することが可能になる。
【００３８】
図５は、この第２実施形態の応用例を説明するための図である。なお、この図５に示された構成は、後述する第３〜第５および第７〜第８実施形態にも適用可能である。すなわち、図３に示された第２実施形態に係る干渉測定装置２は、マルチコア光ファイバ１０が第１伝送経路に属する少なくとも２本のコアと第２伝送経路に属する少なくとも２本のコアを有する場合、実現可能である。
【００３９】
したがって、マルチコア光ファイバ１０におけるコアの本数が４の倍数である場合、図５（ａ）に示されたように、マルチコア光ファイバ１０の両端に第１端側要素２００Ａと第２端側要素２００Ｂをそれぞれ配置することにより、それぞれが図３と同じ構造を有する複数の測定系３Ａ、３Ｂ、…（３系統以上でもよい）が実現できる。例えば、図５（ｂ）に示されたように、マルチコア光ファイバ１０が、共通のクラッド１５内に８本のコア１１ｃ〜１８ｃを有する場合、当該マルチコア光ファイバ１０の中心軸を挟んで対向するコアの２組（一方のコアが第１伝送経路に属し、他方のコアが第２伝送経路に属する）により、それぞれが光学的に独立した複数の測定系が実現可能である。具体的に、図５（ｂ）の例では、コア１１ｃ、コア１５ｃの組（第１および第２伝送経路の組）と、コア１３ｃ、コア１７ｃの組（第１および第２伝送経路の組）の２組により、測定系２Ａが構成される。同様に、
コア１２ｃ、コア１６ｃの組（第１および第２伝送経路の組）と、コア１４ｃ、コア１８ｃの組（第１および第２伝送経路の組）の２組により、測定系２Ｂが構成される。
【００４０】
（第３実施形態）
図６は、第３実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。第３実施形態に係る干渉測定装置３は、図３に示された第２実施形態に係る干渉測定装置２の構成に加えて位相シフタ８０を備える。なお、当該第３実施形態における他の構成については第２実施形態と同様である。位相シフタ８０は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａと合流部５２との間に設けられており、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａから出力された測定光および参照光のうち少なくとも一方の光に位相シフトを与えて該光を合流部５２へ出力する。
【００４１】
本実施形態では、第２実施形態の場合と同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態では、被測定物９０による位相変化に伴う干渉光強度変化の感度を向上させることができ、或いは、被測定物９０による位相変化に伴う干渉光強度変化の直線性を改善させることができる。また、被測定物９０による位相変化量を相殺する様に位相シフタ８０により与えられる位相シフト量を制御することにより、被測定物９０による位相変化量を検知することもできる。
【００４２】
なお、この第３実施形態でも、第２実施形態（図５）と同様に、４の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、４本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図６に示された干渉測定装置３と同じ構造を有する）が実現可能である。
【００４３】
（第４実施形態）
図７は、第４実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。第４実施形態に係る干渉測定装置４は、図６に示された第３実施形態に係る干渉測定装置３の構成に加えてカプラ９６およびカプラ９７を備える。なお、当該第４実施形態における他の構成については第３実施形態と同様である。カプラ９６およびカプラ９７は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂ側の測定光路６０および参照光路７０の途中に設けられており、これにより多段のマッハツェンダ型干渉計を構成している。
【００４４】
本実施形態では、第３実施形態の場合と同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態では、２つの被測定物９１，９２に対応した多点干渉装置が構成されており、位相シフタ８０が、対象とする被測定物を含むマッハツェンダ型干渉計の位相差に対応する位相シフト量を測定光に与えることにより、対象とする被測定物を選択的に測定することができる。
【００４５】
この第４実施形態でも、第２実施形態(図５)と同様に、４の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、４本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図７に示された干渉測定装置４と同じ構造を有する）が実現可能である。
【００４６】
（第５実施形態）
図８は、第５実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。第５実施形態に係る干渉測定装置５は、図３に示された第２実施形態に係る干渉測定装置２の構成に対し、受光器３０および合流部５２に替えて、受光器３３，受光器３４，分岐部４３，分岐部４４，合流部５３，合流部５４および位相シフタ８０を備える点で相違する。なお、当該第５実施形態の他の構成は第２実施形態と同様である。
【００４７】
マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａから出力された測定光は、分岐部４３により２分岐されて合流部５３および合流部５４それぞれに入力される。マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａから出力された参照光は、分岐部４４により２分岐されて、一方が合流部５３に入力され、他方が位相シフタ８０により位相シフトを与えられた後に合流部５４に入力される。合流部５３に入力された測定光および参照光は合流されて干渉し、当該干渉光が受光器３３により受光されて強度が検出される。合流部５４に入力された測定光および参照光は合流されて干渉し、当該干渉光が受光器３４により受光されて強度が検出される。
【００４８】
本実施形態では、第３実施形態の場合と同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態では、位相シフトが有る場合および無い場合の２種類の干渉光強度を測定することができ、これら２種類の干渉光強度を信号処理することにより高精度な測定をすることができる。なお、位相シフタ８０は、測定光および参照光のうち少なくとも一方の光に位相シフトを与えればよい。
【００４９】
この第５実施形態でも、第２実施形態（図５）と同様に、４の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、４本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図８に示された干渉測定装置５と同じ構造を有する）が実現可能である。
【００５０】
（第６実施形態）
図９は、第６実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。特に、図９（ａ）に示されたように、第６実施形態に係る干渉測定装置６は、第１実施形態に係る干渉測定装置１と同様に、マルチコア光ファイバ１０、光源２０、受光器３０、分岐部４１、合流部５１、測定光路６０および参照光路７０を備える。第６実施形態に係る干渉測定装置６では、分岐部４１および合流部５１は１本のマルチコア光ファイバ型カプラ４５により構成されており、分岐部４１および合流部５１それぞれはマルチコア光ファイバ型カプラである。また、第６実施形態に係る干渉測定装置６では、このマルチコア光ファイバ型カプラ４５と測定光路６０および参照光路７０との間にファンイン／ファインアウト素子１００が設けられている。
【００５１】
なお、図９（ｂ）は、図９（ａ）中の矢印Ｄで示された方向から見たマルチコア光ファイバ型カプラ４５の構造を示す図である。また、図１０は、第６実施形態に係る干渉測定装置６の各構成部品の断面図である。マルチコア光ファイバ１０は、図１０（ａ）に示されたように、第１端１０ａと第２端１０ｂとの間に延在する２つのコア１１ｄ，１２ｄを共通のクラッド内に有する。マルチコア光ファイバ型カプラ４５は、図９（ｂ）および図１０（ｂ）に示されるように、一端と他端との間に延在する４つのコア４５１〜４５４を共通のクラッド４５０内に有し、また、コア４５１，４５３とコア４５２，４５４との間に設けられた漏洩低減部４５５を有する。ファンイン／ファインアウト素子１００は、図１０（ｃ）に示されるように、一端と他端との間に延在する４つのコア１０１〜１０４を共通のクラッド１０００内に有する。
【００５２】
マルチコア光ファイバ１０のコア１１ｄは、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１と光学的に接続されている。マルチコア光ファイバ１０のコア１２ｄは、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２と光学的に接続されている。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１とコア４５３との間ではクロストークが生じ、これにより分岐部４１が構成される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２とコア４５４との間でもクロストークが生じ、これにより合流部５１が構成される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１，４５３とコア４５２，４５４との間では、漏洩低減部４５５が設けられていることによりクロストークが生じない。
【００５３】
マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０１と光学的に接続されている。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０２と光学的に接続されている。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５３は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０３と光学的に接続されている。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５４は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０４と光学的に接続されている。
【００５４】
光源２０から出力された光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいてコア１１ｄに入力され、第２端１０ｂにおいて該コア１１から出力されて、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１に入力される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１に入力された光は、分岐部４１を構成するコア４５１とコア４５３との間のクロストークにより測定光および参照光に分岐される。
【００５５】
マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１から出力された測定光は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０１、被測定物９０が存在する測定光路６０、および、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０２を経て、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２に入力される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５３から出力された参照光は、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０３、参照光路７０、および、ファンイン／ファインアウト素子１００のコア１０４を経て、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５４に入力される。
【００５６】
マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５４に入力された参照光の一部は、合流部５１を構成するコア４５２とコア４５４との間のクロストークによりコア４５２に分岐される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２から出力されてマルチコア光ファイバ型カプラ１０のコア１２ｄを経て受光器３０により受光される光は、測定光と参照光とが干渉することにより生成される干渉光である。この干渉光の強度が受光器３０により検出される。
【００５７】
マルチコア光ファイバ型カプラについては特開２０１１−２３７７８２号公報に開示されている。本実施形態では、マルチコア光ファイバ型カプラ４５において２つのカプラが構成されている。すなわち、コア４５１およびコア４５３によりカプラが構成され、コア４５２およびコア４５４によりカプラが構成されている。したがって、一方のカプラを構成するコア４５１とコア４５３との間ではクロストークが生じる。なお、他方のカプラを構成するコア４５２とコア４５４との間ではクロストークが生じる一方で、一方のカプラ（コア４５１，４５３）と他方のカプラ（コア４５２，４５４）との間ではクロストークは可能な限り小さいことが望ましい。
【００５８】
マルチコア光ファイバ型カプラ４５には、２つのカプラの間のクロストークを低減するために漏洩低減部４５５が設けられている。漏洩低減部４５５は、一方のカプラ（コア４５１，４５３）と他方のカプラ（コア４５２，４５４）との間に設けられており、両者間の光の浸み出しの影響（クロストーク）を低減させることができる。漏洩低減部４５５は、クラッドの屈折率より低い屈折率を有する領域であってもよく、また、光を吸収もしくは散乱する領域であってもよい。前者の場合、漏洩低減部４５５は、Ｆ元素等の屈折率低下剤が添加された石英ガラスにより構成されてもよいし、軸方向に延在する複数の空孔により構成されてもよいし、また、複数のボイドが散在する領域により構成されてもよい。
【００５９】
また、マルチコア光ファイバ型カプラ４５において、一方のカプラ（コア４５１，４５３）が光を伝搬させる方向と、他方のカプラ（コア４５２，４５４）が光を伝搬させる方向とは、互いに逆になっている。このような構成も、一方のカプラ（コア４５１，４５３）と他方のカプラ（コア４５２，４５４）との間のクロストークを低減する上で有効である。
【００６０】
マルチコア光ファイバ１０の各コアとマルチコア光ファイバ型カプラ４５の各コアとを互いに光学的に接続するには、マルチコア光ファイバ１０，マルチコア光ファイバ型カプラ４５それぞれのコア配置を互いに一致させる必要がある。この条件下で、マルチコア光ファイバ１０のコア間クロストークを低減させる一方で、マルチコア光ファイバ型カプラ４５において構成されるカプラのコア間クロストークを一定レベル以上にする必要がある。これを達成するための一つの手段として、マルチコア光ファイバ１０のコア間に漏洩低減部を設け、マルチコア光ファイバ型カプラ４５において構成されるカプラのコア間には漏洩低減部を設けないことが考えられる。漏洩低減部の構成としては、前述したものと同様のものが適用可能である。
【００６１】
また、別の手段として以下のものも可能である。すなわち、マルチコア光ファイバ１０，４５のコア間隔として、マルチコア光ファイバ１０のコア間クロストークが所望のレベルとなる様な間隔を確保し、この条件下でもマルチコア光ファイバ型カプラ４５において構成されるカプラで必要なコア間クロストークを実現させるため、マルチコア光ファイバ型カプラ４５においては、その一部を溶融・延伸することで、コア間隔を狭くすると共にコア径を小さくすることで、コア部分への光の閉じ込め率を低下させることが考えられる。
【００６２】
本実施形態の干渉測定装置６は、前述の第１実施形態の干渉測定装置１と同様の動作をして同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態の干渉測定装置６は、マルチコア光ファイバ１０，４５およびファンイン／ファインアウト素子１００の相互接続により構成することができるので、構成がシンプルとなる。
【００６３】
この第６実施形態でも、第１実施形態（図２）と同様に、２の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、２本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図９に示された干渉測定装置６と同じ構造を有する）が実現可能である。
【００６４】
（第７実施形態）
図１１は、第７実施形態に係る干渉測定装置７の構成を示す図である。第７実施形態に係る干渉測定装置７は、第２実施形態に係る干渉測定装置２と同様に、マルチコア光ファイバ１０、光源２０、受光器３０、分岐部４２、合流部５２、測定光路６０および参照光路７０を備える。第７実施形態に係る干渉測定装置７では、分岐部４２および合流部５２は１本のマルチコア光ファイバ型カプラ４５により構成されており、分岐部４２および合流部５２それぞれはマルチコア光ファイバ型カプラである。なお、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにファンイン／ファインアウト素子が設けられてもよい。この場合、ファンイン／ファインアウト素子は、第６実施形態の場合と同様の構成で良い。
【００６５】
図１２は、第７実施形態に係る干渉測定装置７の各構成部品の断面図である。マルチコア光ファイバ型カプラ４５は、図１２（ａ）に示されたように、一端と他端との間に延在する４つのコア４５１〜４５４を共通のクラッド４５０内に有し、また、コア４５１，４５３とコア４５２，４５４との間に設けられた漏洩低減部４５５を有する。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１とコア４５３との間ではクロストークが生じ、これにより分岐部４２が構成される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５２とコア４５４との間でもクロストークが生じ、これにより合流部５２が構成される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１，４５３とコア４５２，４５４との間では、漏洩低減部４５５が設けられていることによりクロストークが生じない。
【００６６】
マルチコア光ファイバ１０は、図１２（ｂ）に示されたように、第１端１０ａと第２端１０ｂとの間に延在する４つのコア１１ｅ〜１４ｅを共通のクラッド１５内に有する。コア１１ｅの周囲のクラッド内にコア１１ｅを囲むように漏洩低減部１１１ｅが設けられている。コア１２ｅの周囲のクラッド内にコア１２ｅを囲むように漏洩低減部１２１ｅが設けられている。コア１３ｅの周囲のクラッド内にコア１３ｅを囲むように漏洩低減部１３１ｅが設けられている。コア１４ｅの周囲のクラッド内にコア１４ｅを囲むように漏洩低減部１４１ｅが設けられている。これら漏洩低減部１１１ｅ〜１４１ｅは、コアを伝搬する光のパワーが殆ど存在しない領域に設けられる。これら漏洩低減部１１１ｅ〜１４１ｅは、漏洩低減部４５５と同様に、クラッド１５の屈折率より低い屈折率を有する領域であってもよく、また、光を吸収もしくは散乱する領域であってもよい。
【００６７】
光源２０から出力された光は、マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１に入力され、分岐部４２を構成するコア４５１とコア４５３との間のクロストークにより測定光および参照光に分岐される。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５１から出力された測定光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいて第１コア１１ｅに入力されて、第２端１０ｂにおいて第１コア１１ｅから、被測定物９０が存在する測定光路６０へ出力される。測定光路６０を経た光は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにおいて第２コア１３ｅに入力されて、第１端１０ａにおいて第２コア１３ｅから出力され、合流部５２を構成するコア４５２に入力される。
【００６８】
マルチコア光ファイバ型カプラ４５のコア４５３から出力された参照光は、マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにおいて第３コア１２ｅに入力されて、第２端１０ｂにおいて第３コア１２ｅから参照光路７０へ出力される。参照光路７０を経た光は、マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにおいて第４コア１４ｅに入力されて、第１端１０ａにおいて第４コア１４ｅから出力され、合流部５２を構成するコア４５４に入力される。合流部５２に入力された測定光および参照光は合流されて干渉し、当該干渉光が受光器３０により受光されて強度が検出される。
【００６９】
本実施形態に係る干渉測定装置７は、前述の第２実施形態に係る干渉測定装置２と同様の動作をして同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態に係る干渉測定装置７は、マルチコア光ファイバ１０，マルチコア光ファイバ型カプラ４５およびファンイン／ファインアウト素子の相互接続により構成することができるので、構成がシンプルとなる。
【００７０】
この第７実施形態でも、第２実施形態(図５)と同様に、４の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、４本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図１１に示された干渉測定装置７と同じ構造を有する）が実現可能である。
【００７１】
（第８実施形態）
図１３は、第８実施形態に係る干渉測定装置の構成を示す図である。第８実施形態に係る干渉測定装置８は、第７実施形態に係る干渉測定装置７の構成に加えて、ファンイン／ファインアウト素子１００，１１０および位相シフタ８０を備える。マルチコア光ファイバ型カプラ４５のマルチコア光ファイバ１０側にファンイン／ファインアウト素子１００が設けられている。なお、当該第８実施形態における他の構成は第７実施形態と同様である。マルチコア光ファイバ１０の第１端１０ａにファンイン／ファインアウト素子１１０が設けられている。ファンイン／ファインアウト素子１００の１つのコアとファンイン／ファインアウト素子１１０の１つのコアとの間に位相シフタ８０が挿入されている。マルチコア光ファイバ１０の第２端１０ｂにもファンイン／ファインアウト素子が設けられてもよい。この場合、ファンイン／ファインアウト素子は、第６実施形態の場合と同様の構成で良い。
【００７２】
本実施形態に係る干渉測定装置８は、前述の第３実施形態に係る干渉測定装置３と同様の動作をして同様の効果を奏することができる。加えて、本実施形態に係る干渉測定装置８は、マルチコア光ファイバ１０，４５およびファンイン／ファインアウト素子１００，１１０の相互接続により構成することができるので、構成がシンプルとなる。
【００７３】
なお、この第８実施形態でも、第２実施形態(図５)と同様に、４の倍数の本数のコアを有するマルチコア光ファイバ１０が適用されることにより、４本のコアの組ごとにそれぞれが光学的に独立した複数の測定系（それぞれ図６に示された干渉測定装置３と同じ構造を有する）が実現可能である。
【符号の説明】
【００７４】
１〜８…干渉測定装置、１０…マルチコア光ファイバ、１０ａ…第１端、１０ｂ…第２端、１１ａ〜１６ａ、１１ｂ〜１４ｂ、１１ｃ〜１８ｃ、１１ｄ〜１２ｄ、１１ｅ〜１４ｅ…コア、１５…クラッド、２０…光源、３０，３３，３４…受光器、４１〜４４…分岐部、４５…マルチコア光ファイバ型カプラ、５１〜５４…合流部、６０…測定光路、７０…参照光路、８０…位相シフタ、９０〜９２…被測定物、９６，９７…カプラ、１００，１１０…ファンイン／ファインアウト素子、４２０…偏光素子（またはデポラライザ）。
【図１】
2013141112.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【国際調査報告】
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