(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
方法であって、
デバイスの方位を測定するための少なくとも１つの慣性センサを含む前記デバイスの画像キャプチャリングユニットによってシーンの画像をキャプチャすることと、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、実世界の座標系と前記デバイスの前記画像キャプチャリングユニットの座標系との間の関係を表す、相対的なデバイス方位を決定することと、
前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された測定方位と、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位との間の差分を計算することと、
前記測定方位と前記相対的なデバイス方位との間の前記計算された差分が所定の閾値を上回るという決定に応答して、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を備える方法。
【請求項２】
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定すること
を備える、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定すること
を備える、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定すること
をさらに備える、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた前記画像内の前記シーンに対応するエリアを含む領域についてのマップデータから前記シーン方位値を取り出すこと
をさらに備える、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、あらかじめ定められた方位値にさらに基づいて実際のデバイス方位を決定すること
をさらに備える、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位の変化を決定することと、
前記時間期間の間に前記少なくとも１つの慣性センサによって測定された方位の変化に基づいて、および、相対的なデバイス方位の前記決定された変化に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサを較正することと
をさらに備える、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記少なくとも１つの慣性センサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記少なくとも１つの慣性センサに対して前記１つ以上の較正動作を実行することは、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された前記測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサを較正すること、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを備える、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの慣性センサを較正することは、
前記少なくとも１つの慣性センサについて、センサのバイアス、センサのスケーリング、またはセンサのズレのうちの１つ以上を、前記比較結果に基づいて決定すること
を備える、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンについての前記キャプチャ画像の中心からの前記少なくとも１つの消失点の偏差を決定すること
を備える、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
デバイスであって、
画像キャプチャリングユニットと、
前記デバイスの方位を測定するための少なくとも１つの慣性センサと、
コントローラと
を備え、前記コントローラは、
前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされたシーンの画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、実世界の座標系と前記デバイスの前記画像キャプチャリングユニットの座標系との間の関係を表す、相対的なデバイス方位を決定することと、
前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された測定方位と、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位との間の差分を計算することと、
前記測定方位と前記相対的なデバイス方位との間の前記計算された差分が所定の閾値を上回るという決定に応答して、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を行うように構成される、デバイス。
【請求項１３】
前記相対的なデバイス方位を決定するように構成された前記コントローラは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定する
ように構成される、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１４】
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するように構成された前記コントローラは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定する
ように構成される、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１５】
前記コントローラは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定する
ようにさらに構成される、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１６】
前記コントローラは、
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位の変化を決定し、
前記時間期間の間に前記少なくとも１つの慣性センサによって測定された方位の変化に基づいて、および、相対的なデバイス方位の前記決定された変化に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサを較正する
ようにさらに構成される、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１７】
前記少なくとも１つの慣性センサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１８】
前記少なくとも１つの慣性センサに対して前記１つ以上の較正動作を実行するように構成された前記コントローラは、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された前記測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサを較正すること、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを実行するように構成される、請求項１２に記載のデバイス。
【請求項１９】
装置であって、
デバイスの方位を測定するための少なくとも１つの慣性センサを含む前記デバイスについてシーンの画像をキャプチャするための手段と、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、実世界の座標系と前記デバイスの前記画像をキャプチャするための手段の座標系との間の関係を表す、相対的なデバイス方位を決定するための手段と、
前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された測定方位と、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位との間の差分を計算するための手段と、
前記測定方位と前記相対的なデバイス方位との間の前記計算された差分が所定の閾値を上回るという決定に応答して、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサに対して１つ以上の較正動作を実行するための手段と
を備える装置。
【請求項２０】
前記相対的なデバイス方位を決定するための前記手段は、
前記画像をキャプチャするための前記手段の基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定するための手段
を備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２１】
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するための前記手段は、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するための手段
を備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２２】
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定するための手段
をさらに備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２３】
ある時間期間にわたって、前記画像をキャプチャするための前記手段によってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位の変化を決定するための手段と、
前記時間期間の間に前記少なくとも１つの慣性センサによって測定された方位の変化に基づいて、および、相対的なデバイス方位の前記決定された変化に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサを較正するための手段と
をさらに備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２４】
前記少なくとも１つの慣性センサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２５】
前記少なくとも１つの慣性センサに対して前記１つ以上の較正動作を実行するための前記手段は、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された前記測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサを較正すること、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを実行するための手段を備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２６】
プロセッサ上で実行可能な命令のセットでプログラムされる非一時的プロセッサ可読媒体であって、前記命令のセットは、実行されると、
デバイスの方位を測定するための少なくとも１つの慣性センサを含む前記デバイスの画像キャプチャリングユニットによってシーンの画像をキャプチャすることと、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、実世界の座標系と前記デバイスの前記画像キャプチャリングユニットの座標系との間の関係を表す、相対的なデバイス方位を決定することと、
前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された測定方位と、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位との間の差分を計算することと、
前記測定方位と前記相対的なデバイス方位との間の前記計算された差分が所定の閾値を上回るという決定に応答して、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を備える動作を引き起こす、プロセッサ可読媒体。
【請求項２７】
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定すること
を備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項２８】
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定すること
を備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項２９】
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定すること
を備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項３０】
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位の変化を決定することと、
前記時間期間の間に前記少なくとも１つの慣性センサによって測定された方位の変化に基づいて、および、相対的なデバイス方位の前記決定された変化に基づいて、前記少なくとも１つの慣性センサを較正することと
を備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項３１】
前記少なくとも１つの慣性センサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項３２】
前記少なくとも１つの慣性センサに対して前記１つ以上の較正動作を実行することは、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された前記測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサを較正すること、
前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを備える、請求項２６に記載のプロセッサ可読媒体。
【請求項３３】
前記１つ以上の較正動作を実行することは、
(i)前記少なくとも１つの慣性センサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つの慣性センサによって決定された前記測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサを較正すること、
(ii)前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つの慣性センサが較正された状態であると決定すること、
(iii)前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、
(iv)前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること、または
(v)それらの任意の組合せ
を備える、請求項１に記載の方法。
【請求項３４】
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、前記相対的なデバイス方位を決定することは、前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションを決定することを備え、前記決定することは、
前記キャプチャ画像内のエッジ線を抽出することと、
前記抽出されたエッジ線の対の所定の数を選択することと、
前記抽出されたエッジ線の前記選択された対の各々について、それぞれの前記抽出されたエッジ線の交点に対応する消失点仮説を決定することと、
前記決定された消失点仮説の前記各々を消失点のクラスタにクラスタ化することと
前記少なくとも１つの消失点として、識別された前記消失点のうちの少なくとも１つにおいて中心点を選択することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
[0001]  ジャイロスコープおよび磁力計のような方位センサからの情報は、測位および追跡、アクティビティ、ならびにジェスチャ識別等の様々なアプリケーションに対して使用されることができる。しかしながら、ジャイロスコープは、バイアス、スケーリング、およびズレ（misalignment）のような要因による誤差を補正するために頻繁な較正（calibration）を必要とする。これらの要因は、温度に伴って変化し、一時的な（ONE-TIME）較正を無効なものにしうる。一般的な較正技法は、デバイスが静止しているときを検出し、センサを較正するものである。しかしながら、この較正技法は、完了するまでに比較的長い時間を必要としうる。別のセンサである磁力計は、室内環境でよく見られる局所的な磁場に対して敏感であり、不正確な方位を提供する可能性がある。
【発明の概要】
【０００２】
[0002]  いくつかの変形例では、方法が開示される。方法は、少なくとも１つのセンサを含むデバイスの画像キャプチャリングユニット（image capturing unit）によってシーンの画像をキャプチャすることと、シーンのキャプチャ画像（captured image）内の少なくとも１つの消失点（vanishing point）の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することとを含む。
【０００３】
[0003]  この方法の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、下記特徴のうちの１つ以上を含みうる。
【０００４】
[0004]  相対的なデバイス方位を決定することは、画像キャプチャリングユニットの基準系（frame of reference）およびシーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列（rotation matrix）を決定することを含みうる。
【０００５】
[0005]  少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位を決定することは、シーンのキャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて相対的なデバイス方位を決定することを含みうる。
【０００６】
[0006]  方法は、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、このシーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定することをさらに含みうる。
【０００７】
[0007]  方法は、画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた画像内のシーンに対応するエリアを含む領域についてのマップデータからシーン方位値を取り出す（RETRIEVE）ことをさらに含みうる。
【０００８】
[0008]  方法は、決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、あらかじめ定められた（previously determined）方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定することをさらに含みうる。
【０００９】
[0009]  方法は、ある時間期間にわたって画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいて、デバイス方位の変化を決定することをさらに含みうる。
【００１０】
[0010]  少なくとも１つのセンサは、例えば、ジャイロスコープおよび／または磁力計のうちの１つ以上を含みうる。
【００１１】
[0011]  少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することは、例えば、少なくとも１つのセンサが較正に必要とすることを、少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位（measured orientation）と、決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされた比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサを較正すること、少なくとも１つのセンサが較正された状態（calibrated）であることを比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサは較正された状態であると決定すること、測定方位の一時的な測定不良（temporary erroneous measurements）を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを比較結果が示すことに応答して、磁力計を較正すること、または、比較結果に基づいて、および、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションにさらに基づいて磁力計が較正された状態であると決定すること、のうちの１つを含みうる。
【００１２】
[0012]  少なくとも１つのセンサを較正することは、少なくとも１つのセンサについて、例えば、センサのバイアス、センサのスケーリング、またはセンサのズレのうちの１つ以上を、比較結果に基づいて決定することを含みうる。
【００１３】
[0013]  相対的なデバイス方位を決定することは、シーンのキャプチャ画像の中心からの少なくとも１つの消失点の偏差（deviation）を決定することを含みうる。
【００１４】
[0014]  いくつかの変形例では、デバイスが開示される。デバイスは、画像キャプチャリングユニットと、デバイスの方位を測定するための少なくとも１つのセンサと、コントローラとを含む。コントローラは、画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされたシーンの画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、決定された相対的なデバイス方位に基づいて、少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することとを行うように構成される。
【００１５】
[0015]  デバイスの実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、方法に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかに加えて、下記特徴のうちの１つ以上を含みうる。
【００１６】
[0016]  相対的なデバイス方位を決定するように構成されたコントローラは、画像キャプチャリングユニットの基準系およびシーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定するように構成されうる。
【００１７】
[0017]  少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位を決定するように構成されたコントローラは、シーンのキャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて相対的なデバイス方位を決定するように構成されうる。
【００１８】
[0018]  コントローラは、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、このシーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定するようにさらに構成されうる。
【００１９】
[0019]  コントローラは、ある時間期間にわたって画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定するようにさらに構成されうる。
【００２０】
[0020]  少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行するように構成されたコントローラは、例えば、少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされた比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサを較正すること、少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを比較結果が示すことに応答して、磁力計を較正すること、または、比較結果に基づいて、および、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションにさらに基づいて磁力計が較正された状態であると決定することのうちの１つを実行するように構成されうる。
【００２１】
[0021]  いくつかの変形例では、装置が開示される。装置は、少なくとも１つのセンサを含むデバイスのためにシーンの画像をキャプチャするための手段と、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、デバイスの相対的なデバイス方位を決定するための手段と、決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行するための手段とを含む。
【００２２】
[0022]  装置の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、方法、デバイス、および装置に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかに加えて、下記特徴のうちの１つ以上を含みうる。
【００２３】
[0023]  相対的なデバイス方位を決定するための手段は、画像をキャプチャするための手段の基準系およびシーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定するための手段を含みうる。
【００２４】
[0024]  少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて相対的なデバイス方位を決定するための手段は、シーンのキャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて相対的なデバイス方位を決定するための手段を含みうる。
【００２５】
[0025]  装置は、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、このシーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定するための手段をさらに含みうる。
【００２６】
[0026]  装置は、ある時間期間にわたって、画像をキャプチャするための手段によってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定するための手段をさらに含みうる。
【００２７】
[0027]  少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行するための手段は、例えば、少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされた比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサを較正すること、少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを比較結果が示すことに応答して、磁力計を較正すること、または、比較結果に基づいて、および、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションにさらに基づいて、磁力計が較正された状態であると決定することのうちの１つを実行するための手段を含みうる。
【００２８】
[0028]  いくつかの変形例では、非一時的プロセッサ可読媒体が開示される。プロセッサ可読媒体は、プロセッサ上で実行可能な命令のセットでプログラムされており、この命令のセットは、実行されると、少なくとも１つのセンサを含むデバイスの画像キャプチャリングユニットによってシーンの画像をキャプチャすることと、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することとを含む動作を引き起こす。
【００２９】
[0029]  プロセッサ可読媒体の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、方法、デバイス、および装置に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかを含む。
【００３０】
[0030]  いくつかの変形例では、別の方法が開示される。方法は、デバイスの画像キャプチャリングユニットが、シーン方位値に関連付けられたシーンの画像をキャプチャすることと、ここで、デバイスは、少なくとも１つのセンサをさらに備える、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、デバイスの少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいて、デバイスの測定デバイス方位（measured device orientation）を決定することと、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置を、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、および領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定することとを含む。
【００３１】
[0031]  方法の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、これは、第１の方法、デバイス、装置、プロセッサ可読媒体に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかに加え、下記特徴のうちの１つ以上を含む。
【００３２】
[0032]  方法は、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するようにデバイスを移動させるためのインジケーションを生成することをさらに含みうる。
【００３３】
[0033]  候補の位置を決定することは、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定されたデバイスの相対的な方位に基づいて、および、測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定することを含みうる。
【００３４】
[0034]  方法は、領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データを、その領域についてのマップデータから取り出すことをさらに含みうる。
【００３５】
[0035]  いくつかの変形例では、別のデバイスが開示される。デバイスは、画像キャプチャリングユニットと、デバイスの方位を測定するための少なくとも１つのセンサと、コントローラとを含む。コントローラは、画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされたシーンの画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、デバイスの少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいてデバイスの測定デバイス方位を決定することと、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置を、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、および領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定することとを行うように構成される。
【００３６】
[0036]  デバイスの実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、方法、第１のデバイス、装置、プロセッサ可読媒体に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかに加え、下記特徴のうちの１つ以上を含む。
【００３７】
[0037]  コントローラは、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するようにデバイスを移動させるためのインジケーションを生成するようにさらに構成されうる。
【００３８】
[0038]  候補の位置を決定するように構成されたコントローラは、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定されたデバイスの相対的な方位に基づいて、および、測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定するように構成される。
【００３９】
[0039]  コントローラは、領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データを、その領域についてのマップデータから取り出すようにさらに構成されうる。
【００４０】
[0040]  いくつかの変形例では、別の装置が開示される。装置は、少なくとも１つのセンサを含むデバイスのためにシーンの画像をキャプチャするための手段と、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定するための手段と、デバイスの少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいて、デバイスの測定デバイス方位を決定するための手段と、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置を、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、および領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定するための手段とを含む。
【００４１】
[0041]  装置の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、方法、デバイス、第１の装置、およびプロセッサ可読媒体に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかに加え、下記特徴のうちの１つ以上を含む。
【００４２】
[0042]  装置は、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するようにデバイスを移動させるためのインジケーションを生成するための手段をさらに含みうる。
【００４３】
[0043]  候補の位置を決定するための手段は、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションから決定されたデバイスの相対的な方位に基づいて、および、測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定するための手段を含みうる。
【００４４】
[0044]  装置は、領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データを、その領域についてのマップデータから取り出すための手段をさらに含みうる。
【００４５】
[0045]  いくつかの変形例では、非一時的プロセッサ可読媒体が開示される。プロセッサ可読媒体は、プロセッサ上で実行可能な命令のセットでプログラムされ、その命令のセットは、実行されると、デバイスの画像キャプチャリングユニットによって、シーン方位値に関連付けられたシーンの画像をキャプチャすることと、ここで、デバイスは、少なくとも１つのセンサをさらに備える、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、デバイスの少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいてデバイスの測定デバイス方位を決定することと、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置を、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、および領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定することとを含む動作を引き起こす。
【００４６】
[0046]  プロセッサ可読媒体の実施形態には、本開示で説明される特徴のうちの少なくともいくつかが含まれ、それは、方法、デバイス、装置、および第１のプロセッサ可読媒体に関して上述された特徴のうちの少なくともいくつかを含む。
【００４７】
[0047]  別途規定されない限り、本明細書で使用されるすべての技術的および科学的な用語は、一般にまたは従来理解されるものと同じ意味を有する。本明細書で使用される場合、「Ａ」および「ＡＮ」という冠詞は、この冠詞の文法上の対象が１つであることまたは１つよりも多いこと（すなわち、少なくとも１つであること）を指す。例として、「an element」は、１つのエレメントまたは１つよりも多くのエレメントを意味する。量、時間的な持続期間、等の測定可能な値を指して本明細書で使用される場合、「約（about）」および／または「略／おおまかに（approximately）」は、規定値から±２０％または±１０％、±５％、あるいは±０．１％という変化量（variations）を包含する。というのも、そのような変化量は、本明細書で説明されるシステム、デバイス、回路、方法、および他の実現に照らして、適切であるためである。量、時間的な持続期間、物理的な属性（周波数のような）、等の測定可能な値を指して本明細書で使用される場合、「ほぼ／実質的に／略（substantially）」もまた、規定値から±２０％または±１０％、±５％、あるいは±０．１％という変化量を包含する。というのも、そのような変化量は、本明細書で説明されるシステム、デバイス、回路、方法、および他の実現に照らして、適切であるためである。
【００４８】
[0048]  特許請求の範囲を含む本明細書で使用される場合、「少なくとも１つ（AT LEAST ONE）」または「１つ以上の（ONE OR MORE）」に続く、項目のリストで使用される「または（OR）」または「および（AND）」は、リストされた項目の任意の組み合わせが使用されうることを示す。例えば、「Ａ、Ｂ、またはＣのうちの少なくとも１つ」というリストは、Ａ、またはＢ、またはＣ、またはＡＢ、またはＡＣ、またはＢＣ、および／またはＡＢＣ（すなわち、ＡとＢとＣ）という任意の組み合わせを含む。さらに、項目Ａ、Ｂ、またはＣの二回以上の発生（OCCURRENCE）または使用が可能な場合に限り、Ａ、Ｂ、および／またはＣの多重使用が、予期される組み合わせの一部分を形成しうる。例えば、「Ａ、Ｂ、またはＣのうちの少なくとも１つ」というリストは、ＡＡ、ＡＡＢ、ＡＡＡ、ＢＢ、等も含みうる。
【００４９】
[0049]  特許請求の範囲を含む本明細書で使用される場合、別途明記されていない限り、機能、動作、または特徴が、項目および／または条件「に基づく」というステートメントは、この機能、動作、機能が、明記された項目および／または条件に基づくことと、この明記された項目および／または条件に加えて１つ以上の項目および／または条件に基づきうることとを意味する。
【００５０】
[0050]  本開示の他のおよびさらなる目的、特徴、態様、および利点は、以下に続く添付の図面の詳細な説明からより良く理解されこととなるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】図１は、３Ｄシーンのキャプチャ２Ｄ画像における消失点への複数の線の収束を示す図である。
【図２】図２は、モバイルデバイスのための例となる動作環境の概略図である。
【図３】図３は、モバイルデバイスのブロック図である。
【図４】図４は、画像内の消失点を決定するための例となるプロシージャのフローチャートである。
【図５】図５は、決定された１つ以上の消失点に基づくセンサ較正のための例となるプロシージャのフローチャートである。
【図６】図６は、デバイス（モバイルデバイスのような）を携帯しているユーザが位置しうる複数の通路／廊下を示す例となるマップの図である。
【図７】図７は、ユーザが持っているモバイルデバイスをユーザが位置合わせ（ALIGN）できるようにするための十字ガイドの例が提示されている画像である。
【図８】図８は、モバイルデバイスのロケーションを推定するための例となるプロシージャのフローチャートである。
【図９】図９は、例となるコンピューティングシステムの概略図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、単位球と、画像平面（image plane）に位置する（LYING）線との例となる関係を例示する図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、単位球と、画像平面に位置する線との別の例となる関係を例示する図である。
【詳細な説明】
【００５２】
[0062]  システム、装置、デバイス、方法、コンピュータプログラム製品、および他の実現が本明細書で説明され、それは、少なくとも１つのセンサ（例えば、ジャイロスコープ、磁力計等の空間／方位／慣性センサ）も含むデバイスの画像キャプチャリングユニット（カメラのような）によってシーンの画像をキャプチャすることと、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいてデバイスの相対的なデバイス方位（例えば、回転行列で表される）を決定することと、決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することとを含む方法を含む。
【００５３】
[0063]  例えば、３Ｄシーンの対応する２Ｄのキャプチャ画像１００内の共通の消失点への複数の線１１０−１１８（３Ｄシーンでは平行である）の収束を示す図１を参照すると、方位が（マップからまたは地理参照情報から）知られている廊下にユーザが立っている状況について検討する。廊下の中央に立っているユーザが、モバイルデバイスのカメラをこの廊下の縦軸におおまかに沿うように向ける場合、エッジ線の共通の消失点１２０は廊下の向きを規定する。この共通の消失点１２０のロケーションに基づいて、カメラの相対的な方位（例えば、実世界座標とカメラの座標系との間の関係を確立する回転行列で表記される）が決定されうる。いくつかの実施形態では、カメラが正確に位置合わせされているとき、カメラ方位を推定するために画像の中心からの消失点の偏差が使用されうる。いくつかの実施形態では、相対的な方位を決定するために、画像内の少なくとも２つの消失点が必要とされうる。例えば、決定された相対的な方位および／またはユーザ位置している廊下または別の地理的特徴の既知の方位に基づいてカメラ方位が知られている場合、少なくとも１つの方位センサによって実行される独立した方位測定の正確度は、そのような独立した測定値を、決定されたデバイス方位と比較することによって決定されうる。結果として、画像内の消失点は、センサ（１つ以上）を較正するために使用されることができる。
【００５４】
[0064]  図２を参照すると、モバイルデバイス２０８のための例となる動作環境２００の概略図が示される。モバイルデバイス（ワイヤレスデバイスまたはモバイル局とも呼ばれる）２０８は、室内通信用のＷＬＡＮのようなローカルエリアネットワークデバイス（またはノード）、フェムトセル、ブルートゥース（登録商標）ベースのトランシーバ、他のタイプの室内通信用ネットワークノード、広域ワイヤレスネットワークノード、衛星通信システム等を含む多数のタイプの他の通信システム／デバイスと動作および対話するように構成され得、そのため、モバイルデバイス２０８は、様々なタイプの通信システムと通信するために１つ以上のインターフェースを含みうる。本明細書で使用される場合、モバイルデバイス２０８が通信しうる通信システム／デバイスは、アクセスポイント（ＡＰ）とも呼ばれる。モバイルデバイスはまた、シーンの少なくとも１つの２Ｄキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の計算に少なくとも部分的に基づいてそれの相対的な方位を決定することによって、ジャイロスコープ、磁力計等のような１つ以上の方位センサ（空間センサまたは慣性センサとも呼ばれる）を較正するように構成される。いくつかの変形例では、デバイスの絶対的な方位が、例えば、デバイスの画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされる３Ｄシーンの特定の特徴について、所定の方位値を保持しているサーバからモバイル局に与えられるそのような値に基づいて決定されうる。例えば、デバイスが室内環境に位置しているとき、デバイスの絶対的な方位を決定するために、その環境内の廊下の所定の方位値が使用されうる。より詳細に以下で説明されるように、いくつかの実施形態では、方位値はまた、例えば、デバイス２０８が経験する方位の変化の決定を可能にするために、複数の相対的な方位（消失点決定に基づいて計算される）から決定されうる。
【００５５】
[0065]  いくつかの変形例では、モバイルデバイスは、デバイスのカメラから可視であるシーンのキャプチャ画像内の消失点の決定に基づいてデバイスのロケーション決定を容易にするようにさらに構成されうる。特に、モバイルデバイス２０８は、シーン方位値（例えば、デバイスに記憶されているマップ情報から取得されうるか、遠隔サーバから取得されうる）に関連付けられたシーンの画像をキャプチャしうる（例えば、カメラのような、それの画像キャプチャリングユニットによって）。デバイスは、キャプチャ画像のシーン内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定し、そのデバイスに含まれる方位センサ（例えば、ジャイロスコープ、磁力計等）によって実行される測定に基づいてデバイスの測定方位を決定するように構成される。そのような方位センサ（１つ以上）は、較正された状態であり、そして、モバイルデバイスのほぼ正確な方位測定値を提供するものと想定される。ゆえに、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置は、シーンの少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、およびこの領域内の多数のエリア（多数の廊下のような）に関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定されうる。
【００５６】
[0066]  述べたように、動作環境２００は、１つ以上の異なるタイプのワイヤレス通信システムまたはノードを含みうる。そのようなノードは、ワイヤレスアクセスポイント（すなわち、ＷＡＰ）とも呼ばれ、例えば、WiFi（登録商標）基地局、フェムトセルトランシーバ、ブルートゥーストランシーバ、セルラ基地局、WiMax（登録商標）トランシーバ、等を含む、ＬＡＮおよび／またはＷＡＮワイヤレストランシーバを含みうる。ゆえに、例えば、続けて図２を参照すると、動作環境２００は、モバイルデバイス２０８とのワイヤレスの音声および／またはデータ通信に対して使用されうるローカルエリアネットワークワイヤレスアクセスポイント（ＬＡＮ−ＷＡＰ）２０６Ａ−Ｅを含みうる。ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅはまた、いくつかの実施形態では、位置データの独立したソースとして、例えば、到着時間技法に基づいた三辺測量ベースのプロシージャの実現を通して、利用されうる。ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅは、建物内で動作し、かつ、ＷＷＡＮよりも小さい地理的領域にわたって通信を実行しうるワイヤレスローカルエリアネットワーク（ＷＬＡＮ）の一部でありうる。追加的にいくつかの実施形態では、ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅはまた、ＷＷＡＮネットワークの一部であるピコセルまたはフェムトセルでありうる。いくつかの実施形態では、ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅは、例えば、WiFiネットワーク（８０２.１１Ｘ）、セルラピコネットおよび／またはフェムトセル、ブルートゥースネットワーク、等の一部でありうる。ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅはまた、室内測位システムの一部を形成しうる。図２には５つのＬＡＮ−ＷＡＰアクセスポイントが描写されているが、そのようなＬＡＮ−ＷＡＰは任意の数が使用されることができ、いくつかの実施形態では、動作環境２００は、ＬＡＮ−ＷＡＰアクセスポイントを１つも含まないか、または単一のＬＡＮ−ＷＡＰアクセスポイントを含みうる。さらに、図２に描写されているＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅの各々は、移動可能なノードでありうるか、そうでない場合は、再配置されることが可能でありうる。
【００５７】
[0067]  図２にさらに示されているように、動作環境２００はまた、いくつかの実施形態では、１つ以上のタイプの広域ネットワークワイヤレスアクセスポイント（ＷＡＮ−ＷＡＰ）２０４Ａ−Ｃを複数含み得、それは、ワイヤレスの音声および／またはデータ通信に対して使用され得、かつ、モバイルデバイス２０８がそれの位置／ロケーションを決定しうる独立した情報の別のソースとしても機能しうる。ＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−Ｃは、セルラ基地局を含みうる広域ワイヤレスネットワーク（ＷＷＡＮ）、および／または、例えば、WiMAX（登録商標）（例えば、８０２.１６）、フェムトセルトランシーバ、等の他の広域ワイヤレスシステムの一部でありうる。ＷＷＡＮは、図２に示されていない他の既知のネットワーク構成要素を含みうる。典型的に、ＷＷＡＮ内の各ＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−２０４Ｃは、固定位置から動作し、大都市圏および／または地方エリアにわたってネットワークカバレッジを提供する。図２には３つのＷＡＮ−ＷＡＰが描写されているが、そのようなＷＡＮ−ＷＡＰは、任意の数が使用されうる。いくつかの実施形態では、動作環境２００は、ＷＡＮ−ＷＡＰを１つも含まないか、または単一のＷＡＮ−ＷＡＰを含みうる。追加的に、図２に描写されているＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−Ｃの各々は、移動可能なノードでありうるか、そうでない場合は、再配置されることが可能でありうる。
【００５８】
[0068]  ゆえに、モバイルデバイス２０８への通信とそれからの通信（データを交換するための、デバイス２０８の位置決定を可能にするための、等）もまた、いくつかの実施形態では、広域ワイヤレスネットワーク（ＷＷＡＮ）、ワイヤレスローカルエリアネットワーク（ＷＬＡＮ）、ワイヤレスパーソナルエリアネットワーク（ＷＰＡＮ）、等のような様々なワイヤレス通信ネットワークを使用して実現されうる。「ネットワーク」および「システム」という用語は交換可能に使用されうる。ＷＷＡＮは、符号分割多元接続（ＣＤＭＡ）ネットワーク、時分割多元接続（ＴＤＭＡ）ネットワーク、周波数分割多元接続（ＦＤＭＡ）ネットワーク、直交周波数多元接続（ＯＦＤＭＡ）ネットワーク、単一キャリア周波数分割多元接続（ＳＣ−ＦＤＭＡ）ネットワーク、WiMax（ＩＥＥＥ ８０２.１６）、等でありうる。ＣＤＭＡネットワークは、ＣＤＭＡ２０００、広帯域−ＣＤＭＡ（Ｗ−ＣＤＭＡ（登録商標））、等のような１つ以上の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を実現しうる。ＣＤＭＡ２０００は、ＩＳ−９５、ＩＳ−２０００、および／またはＩＳ−８５６規格を含む。ＴＤＭＡネットワークは、モバイル通信のためのグローバルシステム（ＧＳＭ（登録商標））、Ｄ−ＡＭＰＳ（Digital Advanced Mobile Phone System）、または何らかの他のＲＡＴを実現しうる。ＧＳＭおよびＷ−ＣＤＭＡは、「第３世代パートナーシッププロジェクト（３ＧＰＰ）」という名称の団体による文書に記載されている。ＣＤＭＡ２０００は、「第３世代パートナーシッププロジェクト２（３ＧＰＰ２）」という名称の団体による文書に記載されている。３ＧＰＰおよび３ＧＰＰ２の文書は公に入手可能である。ＷＬＡＮはまた、ＩＥＥＥ ８０２.１１Ｘネットワークであり得、ＷＰＡＮは、ブルートゥースネットワーク、ＩＥＥＥ ８０２.１５Ｘ、または何らかの他のタイプのネットワークでありうる。本明細書で説明される技法は、ＷＷＡＮ、ＷＬＡＮ、および／またはＷＰＡＮのあらゆる組み合わせに対しても使用されうる。
【００５９】
[0069]  ＷＬＡＮを使用して位置を導出するとき、モバイルデバイス２０８は、オプションで測位サーバ２１０とネットワーク２１２の助けを借りて、到着時間技法を利用しうる。ゆえに、モバイルデバイス２０８は、異なるタイプのＷＡＰ（例えば、セルラ基地局、WiMax基地局、等）を含みうるＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−Ｃを使用して位置情報を決定するように構成されうる。そのような動作環境では、モバイルデバイス２０８は、精度を向上させるために異なるタイプのＷＡＮ−ＷＡＰからの信号を使用することができる。測位サーバ２１０は、ネットワーク２１２を通してモバイルデバイス２０８と通信しうる。
【００６０】
[0070]  いくつかの実施形態では、図２でさらに描写されているように、モバイルデバイス２０８は、また、モバイルデバイス２０８についての位置情報の独立したソースとして使用されうる衛星測位システム（ＳＰＳ）２０２Ａ−Ｂから情報を少なくとも受信するように構成されうる。ゆえに、モバイルデバイス２０８は、ＳＰＳ衛星からジオロケーション情報を導出するための信号を受信するように特に設計された１つ以上の専用ＳＰＳ受信機を含みうる。ゆえに、いくつかの実施形態では、モバイルデバイス２０８は、ＳＰＳ衛星２０２Ａ−Ｂ、ＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−Ｃ、および／またはＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅのうちのいずれか１つまたはそれらの組み合わせと通信しうる。いくつかの変形例では、前述されたシステムの各々は、異なる技法を使用して、位置の独立した情報推定をモバイルデバイス２０８に提供することができる。いくつかの実施形態では、モバイルデバイスは、位置データの精度を向上させるために、異なるタイプのアクセスポイントの各々から導出されたソリューションを組み合わせうる。
【００６１】
[0071]  モバイルデバイス２０８が衛星信号を受信することができる実施形態では、モバイルデバイスは、ＳＰＳ衛星２０２Ａ−Ｂから送信される複数の信号から位置データを抽出するＳＰＳとの使用に対して特に実現される受信機を利用しうる。送信される衛星信号は、例えば、規定数のチップの繰り返す疑似ランダム雑音（ＰＮ）コードでマーキングされた信号を含み得、地上制御局、ユーザ機器、および／または宇宙ビークル上に位置しうる。衛星測位システムは、全世界測位システム（ＧＰＳ）、ガリレオ、グロナス、コンパス、日本上にある準天頂衛星システム（ＱＺＳＳ）、インド上にあるインド地域航法衛星システム（ＩＲＮＳＳ）、中国上にある北斗、等のようなシステム、および／または、１つ以上の全地球および／または地域航法衛星システムに関連付けられうるか、そうでなければそれとの使用に有効な様々な補強システム（例えば、静止衛星型衛星航法補強システム（ＳＢＡＳ））を含みうる。限定ではなく例として、ＳＢＡＳは、例えば、広域補強システム（ＷＡＳＳ）、欧州静止衛星航法オーバレイサービス（ＥＧＮＯＳ）、運輸多目的衛星用衛星航法補強システム（ＭＳＡＳ）、ＧＰＳ支援静止衛星補強航法またはＧＰＳおよび静止衛星補強航法システム（ＧＡＧＡＮ）、および／または同様のもののようなインテグリティ情報、微分補正、等を提供する補強システム（１つ以上）を含みうる。
【００６２】
[0072]  本明細書で使用される場合、モバイルデバイスまたはモバイル局（ＭＳ）は、セルラまたは他のワイヤレス通信デバイス、パーソナル通信システム（ＰＣＳ）デバイス、パーソナルナビゲーションデバイス（ＰＮＤ）、個人情報管理（ＰＩＭ）、携帯情報端末（ＰＤＡ）、ラップトップ、あるいはワイヤレス通信および／またはナビゲーション測位信号のようなナビゲーション信号を受信することができる他の適切なモバイルデバイスのようなデバイスを指す。「モバイル局」（あるいは、「モバイルデバイス」または「ワイヤレスデバイス」）という用語はまた、衛星信号受信、支援データ受信、および／または位置関連処理がデバイスで行われるかＰＤＮで行われるかに関わらず、例えば、短距離ワイヤレス、赤外線、有線接続、あるいは他の接続によって、パーソナルナビゲーションデバイス（ＰＮＤ）と通信するデバイスを含むことが意図される。また、「モバイル局」は、衛星信号受信、支援データ受信、および／または位置関連処理が、デバイスで行われるか、サーバで行われるか、ネットワークに関連付けられた別のデバイスで行われるかかに関わらず、例えば、インターネット、WiFi、または他のネットワークを介して、サーバと通信することができる、ワイヤレス通信デバイス、コンピュータ、ラップトップ、タブレットデバイス、等を含む、すべてのデバイスを含むことが意図される。上記の動作可能なあらゆる組み合わせもまた「移動局」と考えられる。いくつかの実施形態では、消失点を決定し、決定された消失点に基づいてセンサを較正するためのプロシージャ等を含む、本明細書で説明されるプロシージャは、ワイヤレス機能（例えば、他の遠隔デバイスとワイヤレスに通信する機能）を有さないデバイスによって実行されうる。
【００６３】
[0073]  特定の態様にしたがって、本明細書に提示される技法／プロシージャは、ＳＰＳのためのグローバルシステム（例えば、ＧＮＳＳ）に限定されない。例えば、本明細書で提供される技法は、例えば、日本上にある準天頂衛星システム（ＱＺＳＳ）、インド上にあるインド地域航法衛星システム（ＩＲＮＳＳ）、中国上にある北斗、等のような様々な地域システム、および／または、１つ以上の全地球および／または地域航法衛星システムに関連付けられうるか、そうでなければともに使用するのに有効な様々な補強システム（例えば、静止衛星型衛星航法補強システム（ＳＢＡＳ））での使用に対して適用されうるか、そうでなければ有効でありうる。限定ではなく例として、ＳＢＡＳは、例えば、広域補強システム（ＷＡＡＳ）、欧州静止衛星航法オーバレイサービス（ＥＧＮＯＳ）、運輸多目的衛星用衛星航法補強システム（ＭＳＡＳ）、ＧＰＳ支援静止衛星補強航法またはＧＰＳおよび静止衛星補強航法システム（ＧＡＧＡＮ）、および／または同様のもののようなインテグリティ情報、微分補正、等を提供する補強システム（１つ以上）を含みうる。ゆえに、本明細書で使用される場合、ＳＰＳは、１つ以上の全地球および／または地域航法衛星システムおよび／または補強システムの任意の組み合わせを含み得、ＳＰＳ信号は、ＳＰＳ信号、準ＳＰＳ信号、および／またはそのような１つ以上のＳＰＳに関連付けられた他の信号を含みうる。
【００６４】
[0074]  図３を参照すると、図２に関して説明されたデバイス２０８と類似しうるモバイルデバイス３００のブロック図が示されている。図３で例示されているように、モバイルデバイス３００は、例えば、磁力計、加速度計（例えば、３Ｄ加速度計）、ジャイロスコープ、等でありうる、少なくとも１つの方位センサ（空間センサまたは慣性センサとも呼ばれる）３２０を含みうる。１つの方位センサだけが描写されているが、追加のセンサがデバイス３００に含まれうる。モバイル局は、ディスプレイまたはスクリーンのようなユーザインターフェースデバイス上に表示されうる静止画または動画（例えば、ビデオシーケンス）を生成しうるカメラ３３０（例えば、電荷結合素子（ＣＣＤ）型カメラ、ＣＭＯＳ型カメラ、等）のような画像キャプチャリングデバイスをさらに含む。
【００６５】
[0075]  モバイルデバイス３００は、アンテナ３４４を介してＳＰＳ衛星（図２の衛星２０２Ａ−Ｂのような）から信号を受信する衛星測位システム（ＳＰＳ）受信機のような受信機３４０を含みうる。モバイルデバイス３００はまた、例えば、１つ以上のワイヤレスアクセスポイント（ＬＡＮ−ＷＡＰ ２０６Ａ−Ｅおよび／またはＷＡＮ−ＷＡＰ ２０４Ａ−Ｃのいずれかのような）へのおよびそれからの通信、ならびに、ワイヤレス／セルラ通信用に構成されたその他のタイプのネットワークノードとの通信を送受信するように構成されたセルラモデムまたはワイヤレスネットワーク無線受信機／送信機でありうるワイヤレストランシーバ３３５を含む。ワイヤレストランシーバへのおよびそれからの通信は、専用アンテナ３３６を介して、アンテナ３４４を介して、または何らかの他のアンテナを介して有効にされうる。望まれる場合、モバイルデバイス３００は、セルラモデムおよびワイヤレスネットワーク無線受信機／送信機として機能する別個のトランシーバを含みうる。
【００６６】
[0076]  少なくとも１つの方位センサ３２０、カメラ３３０、ＳＰＳ受信機３４０、およびワイヤレストランシーバ３３５は、モバイルデバイスコントローラ３５０に接続されており、それと通信する。コントローラ３５０は、少なくとも１つの方位センサ３２０、カメラ３３０、ＳＰＳ受信機３４０、および／またはワイヤレストランシーバ３３５からデータを受け取って処理するように、および、モバイルデバイス３００の通常動作に加えてデバイス３００の様々なオンボードユニット／モジュールの動作を制御するように構成される。例えば、コントローラ３５０は、カメラ３３０によってキャプチャされた画像を処理し、キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点（１つ以上）（例えば、２つ以上の消失点）を決定し、決定された少なくとも１つの消失点に少なくとも部分的に基づいてデバイス３００の相対的な方位を決定し、および／または、デバイス３００の決定された相対的な方位に少なくとも部分的に基づいて少なくとも１つのセンサ３２０を較正するように構成される。コントローラ３５０は、いくつかの実現では、プロセッサ３５２と関連メモリ３５４、クロック３５３、ハードウェア３５６、ソフトウェア３５８、およびファームウェア３５７を含みうる。モバイル局コントローラ３５０は、いくつかの実施形態では、明瞭さためにプロセッサ３５２とは切り離して例示されているがプロセッサ３５２の一部分を構成しうる専用画像処理エンジン３５５をさらに含みうる。画像処理エンジン３５５は、画像を処理して、例えば、カメラ３３０によってキャプチャされた画像内の様々な特徴の線を識別し、この識別された線が収束する消失点を識別／決定するように構成される。決定された消失点に基づいて、デバイス３００の相対的な方位が決定され得（例えば、廊下のような何らかの地理的特徴に対して）、それを用いて、より詳細に以下で説明されるように、モバイルデバイス３００に取り付けられている方位センサが較正されうる。
【００６７】
[0077]  例えば、図３のカメラ３３０によってキャプチャされた画像内の消失点（１つ以上）を決定することは、図４に描写されているようなプロシージャに基づいて実行されうる。図４のフローチャートに例示されている例となる消失点決定プロシージャ４００は、例えば、モバイルデバイス３００のカメラ３３０によってキャプチャされた画像内のエッジ線を検出および抽出すること４１０を含む。例えば、いくつかの実現では、エッジ線を検出および抽出することは、例えば、コンボリューションカーネル（Ｓｏｂｅｌフィルタリング、ＣＡＮＮＹ、ＣＡＮＮＹ−ＤＥＲＩＣＨＥ、微分、ＰＲＥＷＩＴＴ、ＲＯＢＥＲＴＳ ＣＲＯＳＳ、または他の適切な演算子、等）のようなエッジまたは線検出演算子を適用して、エッジピクセル、これは次に線分に接続および取り付けられる、を検出することによって実行されうる。ハフ変換（HOUGH TRANSFORM）のような直線フィッティング技法に基づいたプロシージャを含む、画像内の線を識別するための他のプロシージャ／技法もまた使用されうる。画像から抽出される線分の例は、図１に示される画像１００から抽出された線１００−１１８および線１３０−１３６を含む。
【００６８】
[0078]  キャプチャ画像に存在するエッジ線を決定してから、線の対の規定数Ｍ（ここで、Ｍは、消失点の決定に望まれる精度に基づいて調節可能な所定の数である）が選択され４２０、そのような線の各対についての交点が決定／計算される（これもまた４２０である）。線の選択されたＭ個の対の各々の交点は消失点仮説（vanishing point hypothesis）を表しうる。消失点の決定された仮説は、例えば、消失点の座標の分布に基づいてクラスタ化される４３０。いくつかの実施形態（例えば、デバイスの相対的な方位を決定するために１つの消失点が抽出されうる実施形態）では、１つ以上の基準を満たす１つ以上の消失点仮説が識別され４４０、識別されたクラスタの中心にある（または、ほぼ中心にある）点は、キャプチャ画像の消失点であるとみなされる／推定される４５０。消失点を識別するために適用されうる１つ以上の基準は、消失点のクラスタにおける点の数（例えば、最大数の点を有するクラスタの場合、それの点のうちの１つ、例えば、最も中心にある点が、識別された消失点として選定される）、特定のロケーション、例えば、画像の中心、までの消失点仮説のクラスタの近接度（proximity）、等の基準を含みうる。消失点を識別するための他のプロシージャ／技法もまた使用されうる。いくつかの実施形態では、２つ以上の消失点が選択され得、それらのうちの１つは、画像の中心に最も近い消失点を含みうる。
【００６９】
[0079]  図３に戻ると、プロセッサ３５２は、１つ以上のマイクロプロセッサ、埋込式プロセッサ、コントローラ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、等を含みうるが必ずしもそれらを含む必要はない。本明細書で使用される場合、「メモリ」という用語は、モバイル局に関連付けられた長期メモリ、短期メモリ、または他のメモリを含む任意のタイプの非一時的コンピュータ記憶媒体を指し、任意の特定のメモリタイプまたは任意の特定のメモリ数、またはメモリが記憶される媒体のタイプに限定されるべきではない。プロセッサ３５２に類似しうる、プロセッサまたは計算システムの例となる実施形態についてのさらなる詳細が図９に関して以下に提供される。
【００７０】
[0080]  モバイルデバイス３００はまた、コントローラ３５０と通信状態にあるユーザインターフェース３６０を含み、例えば、コントローラ３５０は、データを受け取り、ユーザインターフェース３６０を制御しうる。ユーザインターフェース３６０は、カメラ３３０によって生成される画像を含む画像を表示しうるディスプレイ３６２を含む。ディスプレイ３６２は、制御メニューおよび位置情報をさらに表示しうる。ユーザインターフェース３６０は、例えば、キーパッド３６４、タッチスクリーン（示されない）、マイクロフォンおよびスピーカ（示されない）、またはユーザが情報をモバイル局３００に入力することができる他の入力デバイスのような入力インターフェースデバイスをさらに含む。
【００７１】
方位センサの較正
[0081]  述べたように、モバイルデバイス（モバイルデバイス３００のような）のカメラによってキャプチャされた画像内の少なくとも１つの消失点（一般には２つ以上の消失点）の決定を通して、モバイルデバイスの方位／動きセンサに対する較正動作が実行されうる。ゆえに、図５を参照すると、決定された消失点に基づくセンサ較正のための例となるプロシージャ５００のフローチャートが示されている。プロシージャ５００は、デバイスのユーザが位置している地理的エリアのシーンの画像を画像キャプチャリングユニット（例えば、図３に関して説明されたカメラ３３０のようなカメラ）によってキャプチャすること５１０を含む。シーンをキャプチャすることは、デバイスを携帯しており、カメラをアクティブ化しうるユーザの判断で実行されるか、あるいは、例えば、何らかの所定のスケジュールに基づいた、または、１つ以上の方位センサの性能がこのセンサ（１つ以上）が較正を必要とする程度まで劣化したことを示す何らかの性能ベースの測定値に基づいた、デバイスの１つ以上のオンボード方位センサが較正される必要があるとの決定に応答して自動的に開始されうる。較正プロシージャの自動開始は、較正プロシージャのためにユーザの助けが必要とされる場合、ユーザに命令／指示を送ること（例えば、カメラを掲げ、それをアクティブ化してシーンを露光するようユーザに要求すること）を含みうる。いくつかの実施形態では、スクリーンディスプレイ（図３のデバイス３００のディスプレイ３６２のような）は、デバイスのカメラ（そのようなカメラは、ディスプレイが位置している側面とは反対側のデバイスの側面に配置されうる）を用いて撮られた画像を提示して、ユーザがカメラを廊下に（または、デバイス方位の決定に役立つシーン内の何らかの他の目立つ特徴に）向けることを可能にしうる。ひとたび廊下の画像が撮られると、その画像内の決定された消失点は、いくつかの実施形態では、デバイスのディスプレイ上に表示されているキャプチャ画像内でマーキング／識別されうる（例えば、星またはドットのような特徴を、その画像内の決定された消失点に対応する、表示されている画像上のロケーションに重ね合わせる）。いくつかの実施形態では、デバイスのディスプレイはまた、ユーザが位置しているエリアのマップを提示しうる。例えば、ユーザが位置しているエリアのマップはディスプレイ表面の大半を占め、カメラによってキャプチャされた画像が、このディスプレイ表面の残りのエリアに（例えば、このディスプレイ表面の１つのコーナーの小さな四角形のエリアに）提示されうる。代替的に、カメラによってキャプチャされた画像はディスプレイの表面の大半に提示され、ユーザが位置するエリアのマップは、このディスプレイ表面のほんの一部（例えば、このディスプレイ表面のコーナーのうちの１つの）を占める。いくつかの実施形態では、モバイルデバイスは、多数のカメラ（例えば、１つのカメラがデバイスの後部にあり、別のカメラが、それの側面のうちの１つに位置する、等）を含み得、ゆえに、シーンの多数の画像を同時に撮り、そこから多数の消失点が決定されうる。単一のモバイルデバイスに含まれる多数のカメラの使用は、画像（１つ以上）が撮られ���シーンに対するカメラの方位の推定の改善を可能にしうる。
【００７２】
[0082]  図５にさらに示されているように、デバイスの相対的な方位は（例えば、シーンに対する方位）が、シーンのキャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点（一般には少なくとも２つ）の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定される５２０。述べたように、いくつかの実施形態では、図４のプロシージャ４００のような消失点決定プロシージャが、シーンのキャプチャ画像内の消失点を計算するために使用されうる。ゆえに、例えば、このような実施形態では、キャプチャ画像内のエッジ線が検出され、線の多数の対の交点のクラスタが決定され、交点のこれらのクラスタの１つ以上のクラスタが選択される（例えば、クラスタ内の交点の数、キャプチャ画像の中心までのクラスタの近接度、等のような１つ以上の基準に基づいて）。消失点（１つ以上）のロケーションに基づいて、シーンの画像をキャプチャしたカメラの相対的な方位（そして、モバイルデバイスの相対的な方位）が確立される。例えば、再度図１を参照すると、いくつかの実施形態では、線１１０−１１８の交点から決定された消失点１２０のロケーションに基づいて、画像の中心からの消失点１２０のロケーションの偏差は、カメラがシーンに対してどのように配置されているかについての決定を可能にする。図１の例では、１つの消失点が画像の中心の右上に配置されており（例えば、画像の中心から約２０度の角度で）、垂直線はほとんど平行である（無限遠である（at infinity）消失点に対応して）。画像の中心からの消失点のロケーションの計算された偏差は、デバイスの画像キャプチャリングユニットが、画像の中心に対してわずかに左方向に回転している可能性があることを示す。一般に、相対的な方位は、２つ以上の消失点が検出されるとき、画像の中心からの消失点の偏差から決定されうる。
【００７３】
[0083]  いくつかの実施形態では、キャプチャ画像内で２つの消失点が識別されるとき、例えば、識別された２つの消失点に対して直交である消失点ベクトルを、例えば、これらの２つの消失点（ベクトルで表される）に対して外積演算を実行することによって決定することに基づいて第３の消失点が推定されうる。３つの消失点（すなわち、キャプチャ画像から決定された２つと、例えば、最初の２つの消失点の外積として決定された３つ目）に基づいて、カメラの画像平面とワールド座標系との間の回転角度が導出されうる（そして、シーンに対するデバイスの方位の決定を可能にする）回転行列が決定される。例えば、下記プロシージャは、ピンホールカメラについて、回転行列Ｒの決定を例示する。
【００７４】
[0084]  特に、カメラが本質的に較正されるとき（例えば、カメラの焦点距離および主点のような、カメラの光学属性に関連付けられた行列が知られているとき）、画像内の線分は、カメラの投影中心（perspective center）の周囲の単位球に位置する、いわゆる「大円」で表せられうる（すなわち、キャプチャ画像に現れる線分は、単位球と、線分および投影中心を通過する平面との交点として大円を規定する）。例えば、単位球１０１０と画像平面１０２０との間の関係の図を示している図１０Ａを参照すると、線分１０２２は大円１０１２に関連付けられており、線分１０２４は大円１０１４に関連付けられている。図１０Ａにさらに示されるように、線１０２２および１０２４は、点１０２６で交わる。この消失点は、球体１０１０１上の単位ベクトル１０１６に対応する（点１０１６はまた、２つの大円１０１２と１０１４の交点に対応する）。この単位球は、通称「ガウス球（Gaussian Sphere）」と呼ばれる。大円は、このガウス球を、線分およびカメラの透視中心を通過する（モーメント）平面と交差させることによって検出されることができる。
【００７５】
[0085]  画像から抽出される線分が平行でない状況（例えば、図１の線１１０−１１８）では、線分は画像平面上で互いに交差する。この交差の（同次）座標は、Ｐ＝  [μ ν １]  Ｔと表わされ、ここで、μおよびνは、画像平面上の消失点の有限座標である。その消失点の単位長ベクトルは、以下の式にしたがって決定されうる：  
【数１】
0005893802.tif 000002
【００７６】
[0086]  ３Ｄの平行線が平行線として２Ｄ画像平面に現れる状況（図１０Ｂに描写されている線１０３０、１０３２、および１０３４、または、図１の例に現れる線１３０、１３２、１３４、１３６のいずれかのケースのような）では、そのような平行線分は、画像平面上で互いに交差しないだろう。このケースでは、消失点は、無限遠であると考えられる。しかしながら、無限遠である画像平面の消失点に対応するガウス球上の消失点は、それらの平行線分に対応する大円の交差で取得されうる。そのケースでは、画像平面内の平行線に対応する大円の交差から決定される単位ベクトルは、画像平面内の平行線分の方向と平行の方向に延びる。この観察に基づいて、平行する２Ｄの線分（それらの対応する消失点は無限遠である）に対応する大円の交差で取得される消失点についての単位法線ベクトル（unit-norm vector）は下記の通り計算されうる：  
【数２】
0005893802.tif 000003
【００７７】
ここで、θは、画像平面（１０２０）上の水平軸と線１０３４との間の角度１０４０である。
【００７８】
[0087]  回転行列を決定するために、消失点が、何らかの消失点に収束する画像内の線分（線が廊下の壁に対応するケースのような）に対応しようと、収束せず、よって無限遠である消失点に対応する平行線分（例えば、ドアまたは画像内に現れる他の構造の線のような垂直線）に対応しようと、キャプチャ画像から少なくとも２つの消失点が決定される状況を想定する。周囲の構造の２つの主要方向（例えば、Ｘ方向およびＹ方向）に対応する２つの消失点Ｐ１およびＰ２が検出される場合、カメラの座標枠（coordinate frames）と周囲の構造との間の回転行列Ｒは以下のとおり計算されうる（方向割り当てによる曖昧さ次第で）：  
【数３】
0005893802.tif 000004
【００７９】
[0088]  述べたように、項Ｐ１×Ｐ２は、少なくとも２つの消失点のうちの１つ（例えば、Ｐ１）と、少なくとも２つの消失点のうちの別の１つ（例えば、Ｐ２）との外積に対応する。上記行列Ｒが、消失点検出の不正確性により正規直交ではない場合、最も近い正規直交行列が、ＱＲ解析を使用して取得されうる。Ｐ１およびＰ２がＸ方向、Ｙ方向、またはＸ方向に対応するかどうかが知られていない可能性があるため、枠割り当ての曖昧さが生じる。この曖昧さは、いくつかの異なった（DISTINCT）ソリューションに帰着する。これらのうち正確なソリューションは、方位の粗推定値（例えば、磁力計からの）がある場合、容易に選定されうる。それがない場合、これらの仮説のうちの１つを選択するために、実行可能なソリューションに対応する多数の仮説が分析されうる。
【００８０】
[0089]  ゆえに、結果として得られる回転行列Ｒは、モバイルデバイスのカメラの相対的な方位を表す（すなわち、シーンの画像が撮られた特定の瞬間における）。画像キャプチャリングデバイスの相対的な方位（そして、モバイルデバイスの方位）を、少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションから計算する他の方法もまた使用されうる。
【００８１】
[0090]  いくつかの実現では、方位センサが実際のまたは絶対的な方位を測定することができるようにするためにこのセンサを較正する上で、例えば、キャプチャ画像内の消失点（１つ以上）から決定されたデバイスの相対的な方位は十分ではない可能性がある（しかしながら、いくつかの実施形態では、方位センサは、デバイスの初期の方位に対する方位を提供するように構成されうるため、このセンサは、デバイスの方位がその初期の方位から変化したときにデバイスの方位の変化を提供すること、例えば、２つの画像が共通の検出可能な特徴を共有するときにこれら２つの画像の回転行列を決定することができる）。結果として、そのような実現では、デバイスの実際の／絶対的な方位は、相対的な方位に加えて決定されることが必要とされうる。例えば、いくつかの実施形態では、実際の方位は、少なくとも１つの消失点から決定される相対的なデバイス方位に基づいて、および、このシーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて決定されうる。より具体的には、例えば、図３のデバイス３００のようなデバイスを携帯しているユーザが位置しうる複数の通路／廊下を示す図６に例示されているマップ６００を検討する。ユーザ、そしてデバイスが、廊下６１０（廊下１Ａともマーキングされている）沿いの「Ｘ」とマーキングされた点に位置すると想定する。マップ６００に対応する局所エリア内のデバイスのロケーションは、様々な基地局またはアクセスポイント（例えば、セルラ技術またはWiFi技術を使用して実現される）から通信される信号に基づいて導出され、デバイス３００のワイヤレストランシーバ（１つ以上）３３５によって受信されうる。次いで、マルチラテレーション位置決定プロシージャは、受信された信号から導出される行列に基づいて実行されうる。デバイスの位置が決定されうるそのような行列は、例えば、ラウンドトリップ時間（ＲＴＴ、これは一般に、信号がモバイルデバイスからアクセスポイントに送られ、アクセスポイントからそれに対する応答を受信するまでにかかる時間の長さに対応する）と、受信信号強度インジケーション（ＲＳＳＩ、これは、モバイルデバイスのアンテナによって受信される信号の信号電力レベルを示すインジケーションである）、等を含む。デバイス３００がＳＰＳ信号も受信することができる場合（例えば、ＳＰＳ受信機３４０によって）、局所エリア（マップ６００に対応するもののような）内のデバイス３００の位置は、ＳＰＳ信号に少なくとも部分的に基づいて決定されうる。
【００８２】
[0091]  ゆえに、デバイスのロケーションが決定される（デバイスのロケーションの近似値が十分でありうる）と、デバイスのロケーションに対応する地理的特徴に関連付けられた所定の方位値が取得されうる。例えば、何らかの基準点（例えば、いくつかの実施形態では０度を表すとみなされうる絶対的な北方向）に対する、マップ６００に描写されている廊下６１０（デバイスが位置していると決定された場所）の構成／位置を表すシーン方位値は、マップデータ（データベースまたはリポジトリを使用して配列された）から、例えば、マップデータ（遠隔サーバに位置しうるか、デバイスに局所的に記憶されている）にアクセスし、デバイスの決定されたロケーション（または、略ロケーション）に対応する、マップデータ内のエントリを識別し、そのエントリに関連付けられた方位値を読み取ることによって取り出されうる。図６の例では、廊下１Ａは、４５度（データベース６２０に記憶されているマップの北の角度位置から）の方位値に関連付けられうる。デバイスの相対的な方位（廊下に対する）が決定されており（廊下６１０のシーンのキャプチャ画像から決定された少なくとも１つの消失点に基づいて）、廊下６１０の方位も決定されているため、デバイスの実際の方位が導出されることができ、ゆえに、絶対的な方位が必要とされるデバイスの方位／動きセンサの較正動作が実行されうる（より詳細に以下で説明されるように）。
【００８３】
[0092]  いくつかの実現では、デバイス（すなわち、画像キャプチャリングユニットと、較正されるべき少なくとも１つのセンサを含むデバイス）の方位を決定することは、ある時間期間にわたって画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定される消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定される相対的なデバイス方位値の変化に基づいて実行されうる。ゆえに、そのような実現では、デバイスの画像キャプチャリングユニット（例えば、図３のデバイス３００のカメラ３３０）は、シーンの複数の画像（図６のマップ６００によって表される廊下のうちの１つの廊下のシーンのような、または、消失点が識別されそのロケーションが計算されうるその他のシーン）をキャプチャする。キャプチャ画像のうちの少なくともいくつかについて、それぞれの消失点が決定され（例えば、図４に描写されているプロシージャ４００に類似したプロシージャにしたがって）、そしてデバイスについての複数の相対的な方位を導出する。デバイスの複数の計算された相対的な方位に基づいて、デバイスの方位の変化が決定される。例えば、ユーザが真っ直ぐな通路に沿って移動しているとき、多数のロケーションにおける複数の消失点が検出されうる。これらの時点の間の方位の変化を比較することによって、カメラの（そして、デバイスの）相対的な方位が決定されることができ、それは次に、センサ（１つ以上）の較正を可能にする。ゆえに、方位変化（すなわち、方位デルタ（Δ））を決定するのに十分な状況では、方位センサは、測定方位変化が、複数の画像とそれから計算された複数の消失点とから決定された方位変化と実質的に同一となるように較正されうる。例えば、ワールド座標系と、例えば廊下の第１の画像との間の回転行列が、Ｒ０であると決定され、後続の画像からの後続の回転行列がＲ１，Ｒ２，…ＲＮであると想定すると、第Ｉの画像と第１の画像についての回転行列は、Ｒ＝Ｒ０＊Ｒ１＊Ｒ２…ＲＩと計算されることができ、次いで、第Ｉの画像と廊下との間の回転角度が計算されることができる。後者の式では、Ｒは、３×３の行列であり、任意の２つの行列の積（例えば、ＲＩ＊ＲＪ）は、行列乗算演算に対応し、ＲＩは、第Ｉのカメラ位置と第（Ｉ＋１）のカメラ位置との間の相対的な回転を表す。
【００８４】
[0093]  シーンが、平行な壁を有する廊下のものではない状況では、異なるアプローチがとられうることに留意されたい。例えば、左（または右）に曲がるとき、現在の消失点が追跡されうる（例えば、デバイスが右に動くと、シーンの多数の画像のシーケンスにおける消失点は左にシフトしうる）。キャプチャされたシーンが、例えば、Ｔ字路のものである状況では、カメラが壁に近づきすぎて床および天井の線がみえないとき消失点（１つ以上）は見えなくなり（DISAPPEAR）、さらなる較正プロシージャ（１つ以上）が実行されうる前に新しいシーンの獲得が必要となりうる。
【００８５】
[0094]  いくつかの実現では、実際のデバイス方位は、相対的なデバイス方位（シーンの画像内の決定された少なくとも１つの消失点から計算される）に少なくとも部分的に基づいて、および、あらかじめ定められた方位値、例えば、廊下のマップ、にさらに基づいて、決定されうる。
【００８６】
[0095]  いくつかの実施形態では、消失点の決定の精度をさらに向上させるために（例えば、キャプチャ画像内の消失点が画像のほぼ中心となるように）、画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた画像上に十字のようなガイドが表示され（例えば重ね合わせられ）、キャプチャ画像内の計算された消失点の現在のロケーションを示しうる。キャプチャシーンの画像上の略対称な十字表示は、計算された消失点が画像のほぼ中心にあることを示しうる。ユーザが持っているモバイルデバイスをユーザが位置合わせできるようにするために使用されうる、廊下の画像７００に現れる十字ガイド７０２の例が図７に示される。
【００８７】
[0096]  図５に戻ると、述べたように、画像キャプチャリングユニットを有するデバイスについて決定された相対的な方位値に基づいて、デバイスの少なくとも１つの方位センサに対する１つ以上の較正動作が実行されうる５３０。いくかの実施形態では、このような較正動作を実行することは、デバイスのオンボードの方位センサ（１つ以上）の較正が必要かどうかについて決定を行うことを含みうる。ゆえに、センサが較正を必要とすることを、少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、決定された相対的な（または実際の／絶対的な）デバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、オンボードの少なくとも１つの方位センサの較正は必要であるとみなされる。例えば、比較結果が、方位センサ（１つ以上）によって測定された方位と、消失点計算から決定された方位（相対的なまたは実際の）との間の差分が何らかの所定の閾値を上回るようなもの、であるとき、較正が必要であると決定されうる。他方では、少なくとも１つのセンサがすでに較正された状態であることを、少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、少なくとも１つの方位センサの較正は不必要であるとみなされうる。例えば、比較結果が、少なくとも１つの方位センサによって測定された方位と、消失点計算から決定された方位との間の差分が何らかの所定の閾値（較正が必要かどうかを決定するために使用された閾値とは異なるまたはそれと同じである）よりも低いようなもの、であるとき、少なくとも１つの方位センサの較正は不必要であると決定されうる。
【００８８】
[0097]  述べたように、いくつかの実施形態では、デバイスの方位センサ（１つ以上）の較正とは、デバイスが現在位置しているエリアの現在の基準系に関連して相対的な方位を測定するために、そのセンサ（１つ以上）が較正されるようなことである。例えば、デバイスの相対的な方位だけが導出された状況では（例えば、少なくとも１つの消失点の計算に基づいて）、センサは、そのセンサによって測定された方位が、少なくとも１つの消失点に基づいて計算された方位と相対的になるように較正されうる。例えば、デバイスの画像キャプチャリングユニットが、廊下の中心に対して約２０度左方向に（または、反時計回りに）回転されていることを消失点計算が示す場合、デバイスのオンボード方位センサ（１つ以上）は、それらの現在の測定方位（１つ以上）を、基準点に対して左方向に２０度の値に設定するために、同様に較正されうる。
【００８９】
[0098]  デバイスの実際の方位が決定されるとき（例えば、キャプチャ画像から計算された少なくとも１つの消失点から、および、キャプチャ画像に対応するシーンに関連付けられた取得された方位値から決定される相対的な方位に基づいて）、デバイスの方位センサ（１つ以上）は、実際の方位を測定するために較正されうる。ゆえに、例えば、消失点計算に基づいて決定されるデバイスの実際の方位を使用して（および、オプションで、例えば、方位センサによって現在もたらされた方位測定値と、消失点に基づいて計算された実際の方位との間の差異（discrepancy）により、方位センサの較正が必要であることを決定していると）、デバイスの方位センサ（１つ以上）は、例えば、方位センサ（１つ以上）についてのセンサのバイアス、センサのスケーリング、および／またはセンサのズレのうちの１つ以上を補正するために較正され得、それによって、デバイスの少なくとも１つのセンサは、消失点アプローチに基づいて決定された方位値と実質的に同じである方位測定値を提供する。センサのバイアス（センサのオフセットとも呼ばれる）は、実際の測定がゼロであるべきときに、センサによって報告される一定の誤差（例えば、回転センサについての一定の誤りのある角度回転値（fixed erroneous angular rotation value））を表す。この誤差を無効にする（COUNTER）ために、オフセットがセンサの測定値に加えられうる。例えば、回転方位センサ（ジャイロスコープまたはジャイロメータのような）について、回転変化がないとき、回転センサによる測定を表すデータは、ゼロ角度の回転変化を示すべきである。センサのスケーリング（因数Ｋとして表されることがある）は、測定された属性に変化があるとき、測定差異を表す。例えば、回転センサのケースでは、Ｋ＝１という値は、実際の角度加速度と、測定された角度加速度との間に誤差がないことを表す。１．１という値は、実際の回転加速度または変化に対する、センサによって測定された回転加速度（または変化）の１０％の差分を表す。センサのズレは、直交軸からのＸ、Ｙ、Ｚ軸の角度変動である。これは、ジャイロスコープが構築されるときに引き起こされる不正確さによって生じる。ズレは、３つの角度で、または、回転ベクトルで表される。
【００９０】
[0099]  いくつかの実現では、方位センサ（１つ以上）についてのセンサのバイアス、センサのスケーリング、および／またはセンサのズレのうちの１つ以上を補正するために、最小二乗最適化技法が使用されうる。較正パラメータは、誤差関数（例えば、較正パラメータの候補のセットを使用して予測された方位値と、消失点から計算された方位値との間の差分の平方）を最小化することによって推定される。
【００９１】
[00100]  述べたように、いくつかの実施形態では、計算された消失点（１つ以上）に基づく較正プロシージャは、例えば、ジャイロスコープセンサを較正するために実行されうる。デバイスのジャイロスコープセンサは、いくつかの実施形態では、ＭＥＭＳ（micro-electro-mechanical-system）技術に基づいて実現され得、例えば、３つの直交軸の周り（ABOUT）の動きを感知するように構成された単軸ジャイロスコープ、二軸ジャイロスコープ、または３Ｄジャイロスコープでありうる。他のタイプのジャイロスコープは、例えば、ＭＥＭＳベースのジャイロスコープの代わりに、またはそれに加えて使用されうる。いくつかの変形例では、モバイルデバイスのジャイロスコープの較正は、ジャイロスコープのバイアス、スケーリング、および／またはズレを計算するために、例えば、ジャイロスコープが測定した方位（gyroscope-measured orientation）を、消失点アプローチを使用して取得された方位と比較することによって実行されうる。述べたように、いくつかのアプリケーションでは、ジャイロスコープによって測定された方位は、絶対的な方位である必要はない。むしろ、いくつかのアプリケーションでは、それは、方位の変化、すなわち方位デルタ（方位Δ）を算出するのに十分でありうる。ゆえに、いくつかの実施形態では、ジャイロスコープの較正は、ジャイロスコープによる測定方位の変化を決定することと、その測定変化と、消失点アプローチから決定された方位の変化とを比較すること（すなわち、両方のアプローチによって検出されるデルタ角を比較すること）とを含みうる。ゆえに、消失点計算から決定される相対的な方位の変化は、センサ較正係数の計算、および／または、ジャイロスコープのセッティング／パラメータ、例えば、センサのスケーリング係数、センサのバイアス、等のうちのいくつかの補正を可能にし、それによって、ジャイロスコープは、消失点計算から決定された方位と一致する（例えば、それと実質的に同じ）方位の変化を測定するだろう。いくつかの実施形態では、ジャイロスコープに関連付けられたバイアス誤差および／またはスケーリング誤差の決定は、回転変化をモバイルデバイスに経験させることと、ジャイロスコープの回転変化の間にキャプチャされた複数の画像から方位の変化を測定することと、この回転変化（消失点計算から決定された）から、および、ジャイロスコープによってもたらされる出力から、ジャイロスコープに関連付けられたオフセットおよびスケーリング値を、直線回帰のようなプロシージャを使用して多数の測定値に基づいて、例えば、バイアス誤差およびスケーリング誤差のようないくつかの未知数を解くことで、決定することとによって達成されうる。
【００９２】
[00101]  いくつかの実施形態では、デバイスの方位測定センサは、磁力計でありうる。磁力計は、磁場の強度および／または方向を測定するように構成され、いくつかの実施形態では、磁北に関連して絶対的な方位を測定し得、それは、真北に関連した方位にコンバートされることができる。いくつかの実施形態では、ＭＥＭＥＳベースの磁力計が使用されうる。そのようなＭＥＭＳベースのセンサは、ＭＥＭＳコンダクタを通る電流によってもたらされるローレンツ力（LORENTZ FORCE）によって引き起こされる動きを検出するように構成されうる。次に、結果として得られる動きが、電子的または光学的に感知されうる。例えば、ホール効果磁力計（hall effect magnetometer）、回転式コイル磁力計（rotating coil magnetometer）等の磁力計を含む他のタイプの磁力計もまた、ＭＥＭＳベースの実現の代わりにまたはそれに加えて、モバイルデバイスの実現に使用されうる。
【００９３】
[00102]  画像キャプチャリングユニットを用いるモバイルデバイスと併せて使用される磁力計タイプの方位／慣性センサの較正は、例えば、磁力計が測定した方位を、消失点アプローチを使用して取得された方位と比較して、較正されるべき磁力計のバイアス、スケーリング、および／またはズレを計算することによって、ジャイロスコープタイプのセンサの較正に類似した方法で実行されうる。いくつかの実施形態では、較正プロシージャは、磁力計による絶対的な方位測定値を提供することと、シーンの１つ以上のキャプチャ画像からの消失点計算に基づいて絶対的なデバイス方位を決定することとを含みうる（例えば、画像内の消失点を計算すること、デバイスの相対的な方位を決定すること、および、シーン内のデバイスの決定された相対的な方位に基づいて、および、このシーンに関連付けられた既知の方向／方位値に基づいて絶対的なデバイス方位を決定すること）。ゆえに、磁力計センサの測定方位と、消失点（１つ以上）から決定されたデバイス方位との間の差分は、磁力計のバイアス／オフセット値、そのスケーリング係数、等のパラメータの計算を可能にする。較正プロシージャは、磁力計較正を実行するために、いくつかの方位測定値と、１つ以上の画像からのいくつかの計算された消失点との使用を必要としうる（例えば、磁力計の較正が、センサのオフセット／バイアス、スケーリング、ズレ、等に関する係数のような多数の較正係数の計算を必要とする状況で）。
【００９４】
[00103]  ジャイロスコープの較正プロシージャと同様に、いくつかの実施形態では、磁力計センサの較正は、特にデバイスの絶対的な方位についての知識を必要とすることなくデバイスの方位の変化（例えば、方位Δ）に基づいて実行されうる。例えば、磁力計の較正は、磁力計によって測定方位の変化を決定することと、その測定された変化と、消失点の動きによって検出された方位の変化とを比較すること（すなわち、両方のアプローチによって検出されるデルタ角を比較すること）とを含みうる。消失点から決定される相対的な方位の変化は、較正係数の計算、および／または、センサのセッティング／パラメータ、例えば、センサのスケーリング係数、センサのバイアス、等のうちのいくつかを補正／調整を可能にし、それによって、磁力計は、消失点計算から決定された方位と一致する（例えば、実質的に同じ）方位の変化を測定するだろう。いくつかの実施形態では、磁力計に関連付けられたバイアス誤差および／またはスケーリング誤差の決定は、回転変化をモバイルデバイスに経験させることと、磁力計の回転変化の間にキャプチャされた複数の画像からの方位の変化を測定することと、回転変化（消失点計算から決定される）から、および、磁力計によってもたらされる出力から、ジャイロスコープに関連付けられたオフセットおよびスケーリング値（例えば、センサの較正に必要とされる多数の係数／パラメータを解くために多数の測定値を使用して）を決定することとによって達成されうる。
【００９５】
[00104]  磁力計の使用における共通の課題は、大きな誤差を引き起こしうる磁気異常を説明すること（account for）である。ゆえに、いくつかの実施形態では、これらの誤差を検出および補正するために、消失点アプローチもまた使用されうる。例えば、室内の磁気異常は、典型的に、通常同じ位置に留まる金属物質および電子機器により引き起こされるため、将来的な基準に使用されうる磁気偏差のマップが生成されうる。消失点（１つ以上）を使用して方位が変化していないことを決定すること、および、その後、典型的に金属ビームによって引き起こされる周期的な異常（および他の異常）を較正することで、マップなく動作することが可能であることは留意されるべきである。これらのビームが一般に均一であるため、磁力計に対する所与のビームのインパクトが何であるのかについても決定され、次いで、センサがそれらに近づくと、（１）それを較正すること、（２）それをマッピングすること（例えば、それらを磁気マップの一部として含むこと）、および／または（３）距離およびロケーションを決定するためにランドマークとしてそれらをカウントまたは使用すること（それらが典型的に、グリッドに沿ってまたはコーナーに離間されるため）のうちのいずれかを行うために、ビームを検出しうる。ゆえに、磁力計センサを較正することは、磁力計によって測定された方位値と、消失点アプローチに基づいて決定されたデバイス方位との差異がそのような磁気干渉／異常に起因する程度を決定するために、磁気干渉および／または他の磁気異常の存在（およびレベル）についての知識に少なくとも部分的に基づきうる。磁気干渉の存在とレベルが、磁力計によって測定された方位と、キャプチャ画像（１つ以上）内の消失点（１つ以上）から計算／導出されるデバイス方位との間の差異を実質的に説明する場合、磁力計は、較正された状態であるとみなされうる。しかしながら、磁力計によって測定された方位と、消失点（１つ以上）から計算されるデバイス方位との間の差異が、磁気干渉（あらかじめ計算／決定されているような）の存在およびレベルに全体的には起因しない場合、これは、磁力計が較正を必要としうることを示すインジケーションでありうる。結果として、いくつかの実施形態では、磁力計に対して較正プロシージャを実行すること（図５の５３０にしたがって）は、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションにさらに基づくいて、さらには、磁力計によって決定された測定方位と、消失点（１つ以上）の計算から決定される相対的なデバイス方位の比較からもたらされる比較結果が、磁力計が較正を必要としていることを示すことに応答して、磁力計を較正することを含みうる。磁力計に対して較正プロシージャを実行することはまた、磁力計が較正された状態であることを、比較結果に基づいて、および、測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションにさらに基づいて決定することを含みうる。
【００９６】
ロケーション推定
[00105]  シーンのキャプチャ画像内の消失点の決定は、ロケーション推定／決定に対しても使用されうる。例えば、閉ざされたエリア（例えば、多数の廊下／通路を含むエリア）内を移動しているユーザは、それが位置しうる可能性のある廊下の推定値を、モバイルデバイスの方位センサ（１つ以上）からの方位情報と、シーンの少なくとも１つの消失点の識別情報とに基づいて取得することができる。
【００９７】
[00106]  ユーザが位置しうる可能性のある候補の廊下を決定するために、方位値に関連付けられたシーンの画像が、カメラ（図３のデバイス３００のカメラ３３０のような）を含むデバイスと、別の独立した方位センサ（例えば、ジャイロスコープ、磁力計、または、図３に描写されているセンサ３２０に対応する何らかの他のセンサによって実行される）とを使用してキャプチャされうる。キャプチャ画像のシーン内の消失点のロケーションが決定される。デバイスの方位センサ（１つ以上）によって実行される測定からの測定デバイス方位もまた決定される。シーンの少なくとも１つの消失点のロケーション、測定デバイス方位、および、領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて、キャプチャ画像内のシーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置が決定されうる。
【００９８】
[00107]  例えば、図６に描写されているものに類似した既知の廊下レイアウトを検討する。この例では、廊下１ａ、１ｂ、…１ｊは、北位置（North position）（これは、例として、０度位置を表すように設定される）に対して、αまたはα＋１８０度の角度に配設（align）され、ここで、αは、この北位置から略４５度である。廊下２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄは、略９０度＋αに配設される。ユーザが廊下に立っており、廊下の写真を撮るためにそれのデバイスのカメラを掲げると、方位センサによって決定されるデバイスの方位（そのようなセンサは、実質的に較正された状態であると想定される）は、デバイスのロケーションを、センサによって測定された方位に関連付けられたいくつかの廊下のうちの１つに狭めるために使用されうる。特に、消失点計算から決定されたデバイスの相対的な方位（すなわち、シーンに対する、またはユーザが立っている廊下のようなシーン内の特徴に対する相対的な方位）は、シーンまたは特徴に対する、センサによって測定された方位と同じであるものと想定されうる。結果として、グローバル基準点（北の位置ような）に対する特徴の方位は、消失点に基づいて、および、方位センサによって提供される測定方位に基づいて計算された相対的な方位から決定されうる。例えば、消失点が画像のほぼ中心に表れる状況では、方位センサ（ジャイロスコープであろうと、磁力計であろうと、および／または何らかの他のタイプの方位センサであろうと）によって提供される方位測定が、廊下の方位のほぼ正確な推定値（北位置のような基準点に対する）であると想定されうる。この決定された方位推定値を、例えば、廊下が位置しているエリアに関連付けられた方位値と比較することで、エリア６００内のデバイスのロケーションが、いくつかの候補の廊下へと狭められうる。例えば、方位センサが、４５度という方位値を測定した場合（方位センサによるその測定が行われた際に消失点がキャプチャ画像のほぼ中心にあるとき）、モバイルデバイス（そしてユーザ）が廊下１ａ−１ｊのうちの１つに位置していることが、エリア６００に関連付けられた方位値から推測されうる。
【００９９】
[00108]  消失点がひとつも検出されない状況では、ユーザが、図６に示されるスペース３ａ−３ｄのようなオープンスペースに立っていると推測されることに留意されたい。「低信頼度」消失点（例えば、無関係な線（extraneous lines）による）が存在しており、これらの線が１、２、または３つの消失点に収束しない状況では、この状況は、消失点がひとつも検出され得ないケースに等しく、したがって、その状況では、消失点アプローチに基づく略ロケーション推定は実現不可能でありうる。
【０１００】
[00109]  ゆえに、図８を参照すると、モバイルデバイスのロケーションを推定するためのプロシージャ８００のフローチャートが示されている。例示されるように、プロシージャ８００は、デバイスの画像キャプチャリングユニット（例えば、ＣＣＤカメラ、ＣＭＯＳ−カメラ、等）によって、シーン方位値に関連付けられたシーンの画像をキャプチャすること８１０を含む。例えば、ユーザは、カメラが画像をキャプチャするのに適切な位置につくようデバイスを移動させるように促され得、ひとたびカメラが適切な位置につくと、画像キャプチャリングユニットは、自動的に、または、画像が撮られるためのボタンをユーザが押すことに応答して、例えば、ＣＣＤカメラのＣＣＤアレイ上に画像をキャプチャし、それは次に、キャプチャ画像を表すデジタルデータを、記憶デバイス（メモリまたは何らかの他の媒体）に記憶させる。
【０１０１】
[00110]  デバイス（例えば、モバイルデバイス）は、方位センサのような少なくとも１つのセンサをさらに含む。シーンのキャプチャ画像から、画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションが決定される８２０。少なくとも１つの消失点のロケーションは、図４に関して説明されたプロシージャ４００のようなプロシージャに基づいて決定されうる。いくつかの実施形態では、ロケーション推定プロシージャの精度および信頼性を向上させるため、および／または、プロシージャを簡略化するために、ユーザは、そのデバイスのカメラを、画像内の少なくとも１つの消失点のうちの１つが画像のほぼ中心に現れるように配置するよう促されうる。そのような実施形態では、キャプチャ画像の消失点の決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、別のキャプチャ画像内の後続の消失点が後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するようにデバイスを移動させるためのインジケーションが生成されうる。
【０１０２】
[00111]  追加的に、デバイスの方位センサによって実行される１つ以上の測定に基づいたデバイスの測定デバイス方位が決定される８３０。例えば、センサは、センサの方位を表す測定を行うように（例えば、方位の変化を測定するように、何らかの基準点に対して方位を測定するように、等）構成された、ＭＥＭＳによって実現されるジャイロスコープまたは磁力計でありうる。
【０１０３】
[00112]  シーンの画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーション、測定デバイス方位、および領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データ（そのような方位データは、遠隔デバイスにまたは局所的にモバイルデバイスに記憶されうる、その領域についてのマップデータから取り出されうる）に少なくとも部分的に基づいて、シーンに対応するエリアを含む領域におけるデバイスの候補の位置が決定される８４０。例えば、本明細書で述べたように、少なくとも１つの消失点のロケーションは、例えば、廊下のような、シーン内の特徴に対して、デバイスの相対的な方位を決定するために使用されうる（例えば、回転行列で表される）。少なくとも１つの消失点から決定されたデバイスの相対的な方位から、同一の特徴に対するセンサの相対的な方位もまた決定されることができる。例えば、デバイスが中心から約１０度の角度に向いていると決定される場合、センサはまた、キャプチャ画像の基準の特徴（例えば、廊下）に関して、デバイスと同一の相対的な方位を有すると想定されるため、方位センサを通して取得された方位値に、消失点から決定されたデバイスの相対的な方位を織り込むこと（factor）で、その特徴の方位（北位置のような基準位置に対する）が決定されうる。その結果として得られる方位値は、次に、シーン内のエリアの特徴に関連付けられた所定の方位値（そのような所定の値は、遠隔サーバに記憶されうるか、局所的にモバイルデバイスに記憶されている）と比較されうる。方位値が、方位センサ測定値と、消失点に基づいて計算された相対的な方位とによって決定された結果として得られる方位値にほぼ一致する特徴は、デバイスについての可能性のある候補の位置であると考えられる。一致する方位値を有する特徴が１つしか見つからない場合、その特徴（例えば、廊下）は、デバイスが現在位置している特徴であるとみなされうる。
【０１０４】
[00113]  本明細書で説明された方位センサ較正プロシージャおよび／またはロケーション推定プロシージャ（例えば、消失点決定に基づいた）を実行することは、プロセッサベースのコンピューティングシステムによって容易にされうる。図９を参照すると、例となるコンピューティングシステム９００の概略図が示されている。コンピューティングシステム９００は、典型的には中央処理ユニット９１２を含む、パーソナルコンピュータ、特殊コンピューティングデバイス、等のようなプロセッサベースのデバイス９１０を含む。ＣＰＵ ９１２に加えて、システムは、主要メモリ、キャッシュメモリ、およびバスインターフェース回路（示されない）を含む。プロセッサベースのデバイス９１０は、コンピュータシステムに関連付けられたハードドライブおよび／またはフラッシュデバイスのようなマスストレージデバイス９１４を含みうる。コンピューティングシステム９００は、キーボードまたはキーパッド９１６、および、ユーザがアクセス可能な場所（例えば、モバイルデバイスのスクリーン）に配置されうる、例えば、ＣＲＴ（cathode ray tube）またはＬＣＤ（液晶ディスプレイ）モニタのようなモニタ９２０をさらに含みうる。
【０１０５】
[00114]  プロセッサベースのデバイス９１０は、シーンのキャプチャ画像において決定された消失点（１つ以上）に基づく、例えば、方位センサ（例えば、ジャイロスコープ、磁力計）の較正プロシージャの実現を容易にするように、またそのような消失点に基づいたロケーション決定プロシージャの実現を容易にするように構成される。ゆえに、マスストレージデバイス９１４は、コンピュータプログラム製品を含み得、それは、プロセッサベースのデバイス９１０によって実行されると、プロセッサベースのデバイスに、上述されたプロシージャの実現を容易にするための動作を実行させる。プロセッサベースのデバイスは、入力／出力機能を可能にするための周辺デバイスをさらに含みうる。そのような周辺デバイスは、例えば、ＣＤ−ＲＯＭドライブおよび／またはフラッシュドライブ、あるいは、接続されたシステムに関連コンテンツをダウンロードするためのネットワーク接続を含みうる。そのような周辺デバイスは、それぞれのシステム／デバイスの通常動作を可能にするためのコンピュータ命令を含むソフトウェアをダウンロードするためにも使用されうる。代替的におよび／または追加的に、いくつかの実施形態では、専用の論理回路、例えば、ＦＰＧＡ（フィールドプログラマブルゲートアレイ）、ＤＳＰプロセッサ、またはＡＳＩＣ（特定用途向け集積回路）が、コンピューティングシステム９００の実現で使用されうる。プロセッサベースのデバイス９１０とともに含まれうる他のモジュールは、スピーカ、サウンドカード、ポインティングデバイス、例えば、ユーザがコンピューティングシステム９００に入力を提供することができるマウスまたはトラックボール、でありうる。プロセッサベースのデバイス９１０は、オペレーティングシステムを含みうる。
【０１０６】
[00115]  コンピュータプログラム（プログラム、ソフトウェア、ソフトウェアアプリケーション、またはコードとしても知られている）は、プログラマブルプロセッサのための機械命令を含み、高度な手続き型の（procedural）および／またはオブジェクト指向のプログラミング言語で、および／またはアセンブリ言語／機械語で実現されうる。本明細書で使用される場合、「機械可読媒体」という用語は、機械命令を機械可読信号として受信する非一時的機械可読媒体を含むプログラマブルプロセッサに機械命令および／またはデータを提供するために使用されるあらゆる非一時的コンピュータプログラム製品、装置、および／またはデバイス（例えば、磁気ディスク、光ディスク、メモリ、プログラマブル論理デバイス（ＰＬＤ））を指す。
【０１０７】
[00116]  メモリは、処理ユニットの内部でまたは処理ユニットの外部で実現されうる。本明細書で使用される場合、「メモリ」という用語は、任意のタイプの長期、短期、揮発性、不揮発性、または他のメモリを指し、任意の特定のタイプのメモリまたはメモリの数、あるいはメモリが記憶される媒体のタイプに限定されるべきでない。
【０１０８】
[00117]  ファームウェアおよび／またはソフトウェアで実現される場合、これらの機能は、コンピュータ可読媒体上の１つ以上の命令またはコードとして記憶されうる。データ構造で符号化されたコンピュータ可読媒体およびコンピュータプログラムで符号化されたコンピュータ可読媒体が例に含まれる。コンピュータ可読媒体は、物理的なコンピュータ記憶媒体を含む。記憶媒体は、コンピュータによってアクセスされることができるあらゆる入手可能な媒体でありうる。限定ではなく例として、そのようなコンピュータ可読媒体は、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ（登録商標）、ＣＤ−ＲＯＭまたは他の光ディスク記憶装置、磁気ディスク記憶装置、半導体記憶装置または他の記憶デバイス、あるいは、命令またはデータ構造の形態で所望のプログラムコードを記憶するために使用されることができ、かつ、コンピュータによってアクセスされることができるその他の媒体を備えうる。ディスク（ｄｉｓｋ）およびディスク（ｄｉｓｃ）は、本明細書で使用される場合、コンパクトディスク（ｄｉｓｃ）（ＣＤ）、レーザーディスク（登録商標）（ｄｉｓｃ）、光ディスク（ｄｉｓｃ）、デジタル多用途ディスク（ｄｉｓｃ）（ＤＶＤ）、フロッピー（登録商標）ディスク（ｄｉｓｋ）、およびブルーレイ（登録商標）ディスク（ｄｉｓｃ）を含み、ディスク（ｄｉｓｋ）は通常、磁気的にデータを再生するが、ディスク（ｄｉｓｃ）は、レーザーを用いて光学的にデータを再生する。上記の組み合わせもまた、コンピュータ可読媒体の適用範囲（scope）内に含まれるべきである。
【０１０９】
[00118]  コンピュータ可読媒体への記憶に加えて、命令および／またはデータは、通信装置に含まれる送信媒体上の信号として提供されうる。例えば、通信装置は、命令およびデータを示す信号を有するトランシーバを含みうる。これら命令およびデータは、特許請求の範囲において概説される機能を実現することを１つ以上の処理ユニットに行わせるように構成される。すなわち、通信装置は、開示された機能を実行するための情報を示す信号を有する送信媒体を含む。第１の時間には、通信装置に含まれる送信媒体は、開示された機能を実行するための情報の第１の部分を含みうるが、第２の時間には、通信装置に含まれる送信媒体は、開示された機能を実行するための情報の第２の部分を含みうる。
【０１１０】
[00119]  本明細書では特定の実施形態が詳細に開示されているが、これは、例として、例示だけを目的としてなされており、以下の添付の特許請求項の範囲の適用範囲に関連して限定的であることを意図しない。特に、様々な置き換え、代替、および変更が、特許請求の範囲によって規定される発明の精神および適用範囲から逸脱することなくなされることが予期される。他の態様、利点、および変更は、以下の特許請求の範囲の適用範囲内であることが意図される。提示される特許請求の範囲は、本明細書で開示された実施形態および特徴を代表したものである。特許請求の範囲に記載されていない他の実施形態および特徴もまた予期される。結果として、他の実施形態は、以下の特許請求の範囲の適用範囲内にある。
以下に本願発明の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
［Ｃ１］
方法であって、
少なくとも１つのセンサを含むデバイスの画像キャプチャリングユニットによってシーンの画像をキャプチャすることと、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、前記デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、
前記決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を備える方法。
［Ｃ２］
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定すること
を備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ３］
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定すること
を備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ４］
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定すること
をさらに備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ５］
前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた前記画像内の前記シーンに対応するエリアを含む領域についてのマップデータから前記シーン方位値を取り出すこと
をさらに備える、Ｃ４に記載の方法。
［Ｃ６］
前記決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、あらかじめ定められた方位値にさらに基づいて実際のデバイス方位を決定すること
をさらに備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ７］
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定すること
をさらに備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ８］
前記少なくとも１つのセンサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ９］
前記少なくとも１つのセンサに対して前記１つ以上の較正動作を実行することは、
前記少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサを較正すること、
前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ１０］
前記少なくとも１つのセンサを較正することは、
前記少なくとも１つのセンサについて、センサのバイアス、センサのスケーリング、またはセンサのズレのうちの１つ以上を、前記比較結果に基づいて決定すること
を備える、Ｃ９に記載の方法。
［Ｃ１１］
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンについての前記キャプチャ画像の中心からの前記少なくとも１つの消失点の偏差を決定すること
を備える、Ｃ１に記載の方法。
［Ｃ１２］
デバイスであって、
画像キャプチャリングユニットと、
前記デバイスの方位を測定するための少なくとも１つのセンサと、
コントローラと
を備え、前記コントローラは、
前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされたシーンの画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、前記デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、
前記決定された相対的なデバイス方位に基づいて、前記少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を行うように構成される、デバイス。
［Ｃ１３］
前記相対的なデバイス方位を決定するように構成された前記コントローラは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定する
ように構成される、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１４］
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するように構成された前記コントローラは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定する
ように構成される、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１５］
前記コントローラは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定する
ようにさらに構成される、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１６］
前記コントローラは、
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定する
ようにさらに構成される、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１７］
前記少なくとも１つのセンサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１８］
前記少なくとも１つのセンサに対して前記１つ以上の較正動作を実行するように構成された前記コントローラは、
前記少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサを較正すること、
前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを実行するように構成される、Ｃ１２に記載のデバイス。
［Ｃ１９］
装置であって、
少なくとも１つのセンサを含むデバイスについてシーンの画像をキャプチャするための手段と、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、前記デバイスの相対的なデバイス方位を決定するための手段と、
前記決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行するための手段と
を備える装置。
［Ｃ２０］
前記相対的なデバイス方位を決定するための前記手段は、
前記画像をキャプチャするための前記手段の基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定するための手段
を備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２１］
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するための前記手段は、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定するための手段
を備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２２］
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および、前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定するための手段
をさらに備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２３］
ある時間期間にわたって、前記画像をキャプチャするための前記手段によってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定するための手段
をさらに備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２４］
前記少なくとも１つのセンサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２５］
前記少なくとも１つのセンサに対して前記１つ以上の較正動作を実行するための前記手段は、
前記少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサを較正すること、
前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを実行するための手段を備える、Ｃ１９に記載の装置。
［Ｃ２６］
プロセッサ上で実行可能な命令のセットでプログラムされる非一時的プロセッサ可読媒体であって、前記命令のセットは、実行されると、
少なくとも１つのセンサを含むデバイスの画像キャプチャリングユニットによってシーンの画像をキャプチャすることと、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点の決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて、前記デバイスの相対的なデバイス方位を決定することと、
前記決定された相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも１つのセンサに対して１つ以上の較正動作を実行することと
を備える動作を引き起こす、プロセッサ可読媒体。
［Ｃ２７］
前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記画像キャプチャリングユニットの基準系および前記シーンの基準系におけるロケーション座標を関連させる回転行列を決定すること
を備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ２８］
前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションに少なくとも部分的に基づいて前記相対的なデバイス方位を決定することは、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の２つ以上の消失点の決定されたロケーションに基づいて前記相対的なデバイス方位を決定すること
を備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ２９］
前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記相対的なデバイス方位に少なくとも部分的に基づいて、および前記シーンに関連付けられたシーン方位値にさらに基づいて、実際のデバイス方位を決定すること
を備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ３０］
ある時間期間にわたって、前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされた複数の画像から決定された消失点のロケーションに少なくとも部分的に基づいて決定された相対的なデバイス方位値に少なくとも部分的に基づいてデバイス方位の変化を決定すること
を備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ３１］
前記少なくとも１つのセンサは、ジャイロスコープまたは磁力計のうちの１つ以上を備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ３２］
前記少なくとも１つのセンサに対して前記１つ以上の較正動作を実行することは、
前記少なくとも１つのセンサが較正を必要とすることを、前記少なくとも１つのセンサによって決定された測定方位と、前記決定された相対的なデバイス方位との比較からもたらされる比較結果が示すことに応答して前記少なくとも１つのセンサを較正すること、
前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であることを前記比較結果が示すことに応答して、前記少なくとも１つのセンサが較正された状態であると決定すること、
前記測定方位の一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示すインジケーションに基づいて、磁力計が較正を必要とすることを前記比較結果が示すことに応答して、前記磁力計を較正すること、または
前記比較結果に基づいて、および、前記測定方位の前記一時的な測定不良を引き起こす磁気干渉の存在を示す前記インジケーションにさらに基づいて、前記磁力計が較正された状態であると決定すること
のうちの１つを備える、Ｃ２６に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ３３］
方法であって、
デバイスの画像キャプチャリングユニットによって、シーン方位値に関連付けられたシーンの画像をキャプチャすることと、ここで、前記デバイスは、少なくとも１つのセンサをさらに備える、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、
前記デバイスの前記少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定値に基づいて、前記デバイスの測定デバイス方位を決定することと、
前記シーンに対応するエリアを含む領域における前記デバイスの候補の位置を、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーション、前記測定デバイス方位、および、前記領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定することと
を備える方法。
［Ｃ３４］
前記キャプチャ画像の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が前記後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するように前記デバイスを移動させるためのインジケーションを生成することをさらに備える、Ｃ３３に記載の方法。
［Ｃ３５］
前記候補の位置を決定することは、
前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記デバイスの相対的な方位に基づいて、および、前記測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定すること
を備える、Ｃ３３に記載の方法。
［Ｃ３６］
前記領域内の前記多数のエリアに関連付けられた前記方位データを、前記領域についてのマップデータから取り出すこと
をさらに備える、Ｃ３３に記載の方法。
［Ｃ３７］
デバイスであって、
画像キャプチャリングユニットと、
前記デバイスの方位を測定するための少なくとも１つのセンサと、
コントローラと
を備え、前記コントローラは、
前記画像キャプチャリングユニットによってキャプチャされたシーンの画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、
前記デバイスの前記少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいて、前記デバイスの測定デバイス方位を決定することと、
前記シーンに対応するエリアを含む領域における前記デバイスの候補の位置を、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーション、前記測定デバイス方位、および前記領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて、決定することと
を行うように構成される、デバイス。
［Ｃ３８］
前記コントローラは、
前記キャプチャ画像の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が前記後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するように、前記デバイスを移動させるためのインジケーションを生成する
ようにさらに構成される、Ｃ３７に記載のデバイス。
［Ｃ３９］
前記候補の位置を決定するように構成された前記コントローラは、
前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記デバイスの相対的な方位に基づいて、および、前記測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定する
ように構成される、Ｃ３７に記載のデバイス。
［Ｃ４０］
前記コントローラは、
前記領域内の前記多数のエリアに関連付けられた前記方位データを、前記領域についてのマップデータから取り出す
ようにさらに構成される、Ｃ３７に記載のデバイス。
［Ｃ４１］
装置であって、
少なくとも１つのセンサを含むデバイスについてシーンの画像をキャプチャするための手段と、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定するための手段と、
前記デバイスの前記少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいて、前記デバイスの測定デバイス方位を決定するための手段と、
前記シーンに対応するエリアを含む領域における前記デバイスの候補の位置を、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーション、前記測定デバイス方位、および前記領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて、決定するための手段と
を備える装置。
［Ｃ４２］
前記キャプチャ画像の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が前記後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するように前記デバイスを移動させるためのインジケーションを生成するための手段
をさらに備える、Ｃ４１に記載の装置。
［Ｃ４３］
前記候補の位置を決定するための前記手段は、
前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記デバイスの相対的な方位に基づいて、および、前記測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定するための手段
を備える、Ｃ４１に記載の装置。
［Ｃ４４］
前記領域内の前記多数のエリアに関連付けられた前記方位データを、前記領域についてのマップデータから取り出すための手段
をさらに備える、Ｃ４１に記載の装置。
［Ｃ４５］
プロセッサ上で実行可能な命令のセットでプログラムされる非一時的プロセッサ可読媒体であって、前記命令のセットは、実行されると、
デバイスの画像キャプチャリングユニットによって、シーン方位値に関連付けられたシーンの画像をキャプチャすることと、ここで、前記デバイスは、少なくとも１つのセンサをさらに備える、
前記シーンの前記キャプチャ画像内の少なくとも１つの消失点のロケーションを決定することと、
前記デバイスの前記少なくとも１つのセンサによって実行される１つ以上の測定に基づいて、前記デバイスの測定デバイス方位を決定することと、
前記シーンに対応するエリアを含む領域における前記デバイスの候補の位置を、前記シーンの前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーション、前記測定デバイス方位、および前記領域内の多数のエリアに関連付けられた方位データに少なくとも部分的に基づいて決定することと
を備える動作を引き起こす、プロセッサ可読媒体。
［Ｃ４６］
前記キャプチャ画像の前記少なくとも１つの消失点の前記決定されたロケーションが中心から外れたロケーションにあるとの決定に応答して、後続のキャプチャ画像内の後続の消失点が前記後続のキャプチャ画像のほぼ中心に位置するように前記デバイスを移動させるためのインジケーションを生成すること
を備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、Ｃ４５に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ４７］
前記候補の位置を決定することは、
前記キャプチャ画像内の前記少なくとも１つの消失点の前記ロケーションから決定された前記デバイスの相対的な方位に基づいて、および、前記測定デバイス方位に基づいて、それぞれの方位値に関連付けられた多数の廊下を含むエリアにおける候補の廊下を決定すること
を備える、Ｃ４５に記載のプロセッサ可読媒体。
［Ｃ４８］
前記領域内の前記多数のエリアに関連付けられた前記方位データを、前記領域についてのマップデータから取り出すことを備えるさらなる動作を引き起こす命令をさらに備える、Ｃ４５に記載のプロセッサ可読媒体。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
0005893802.tif 000013
【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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