(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像部と、
いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含めることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像部と、
いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピン列において、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のいずれかのピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含めることを特徴とする検査装置。
【請求項３】
前記判定部は、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と対称に位置するピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項４】
前記判定部は、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と対称に位置するピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項２記載の検査装置。
【請求項５】
前記判定部は、前記被検査ピンの両隣の少なくともいずれかのピンの画像を前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の検査装置。
【請求項６】
前記判定部は、前記比較に画像の輝度値を用いることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の検査装置。
【請求項７】
コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像ステップと、
いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定ステップと、を含み、
前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含めることを特徴とする検査方法。
【請求項８】
コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像ステップと、
いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定ステップと、を含み、
前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピン列において、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のいずれかのピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含めることを特徴とする検査方法。
【請求項９】
前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と対称に位置するピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項７記載の検査方法。
【請求項１０】
前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と対称に位置するピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項８記載の検査方法。
【請求項１１】
前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンの両隣の少なくともいずれかのピンの画像を前記比較の対象に含めることを特徴とする請求項７〜１０のいずれか一項に記載の検査方法。
【請求項１２】
前記判定ステップにおいて、前記比較に画像の輝度値を用いることを特徴とする請求項７〜１１のいずれか一項に記載の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コネクタピンの検査精度を向上させることが望まれている。特許文献１は、端子の先端に光を当てて撮像し、端子の傾きを検出する技術を開示している。特許文献２は、端子の先端面を撮影することによって仮想列線を形成し、基準値との比較により良否を判定する技術について開示している。特許文献３は、コネクタピンの中心を求めることによって補強ピンの位置を検査する技術を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特公平７−１０４１３６号公報
【特許文献２】特開平９−１７８４４５号公報
【特許文献３】特開平１１−１４５６９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１〜３の技術では、個々のピンについて良否判定を行っているわけではないので、検査精度が低くなる。
【０００５】
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、コストを抑制しつつ精度良くコネクタピンを検査することができる検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、明細書開示の検査装置は、コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像部と、いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定部と、を備え、前記判定部は、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含める。他の検査装置は、コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像部と、いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定部と、を備え、前記判定部は、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピン列において、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のいずれかのピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含める。
【０００７】
上記課題を解決するために、明細書開示の検査方法は、コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像ステップと、いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定ステップと、を含み、前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンが属するピン列において前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピンの画像を前記ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含める。他の検査方法は、コネクタのピン列の画像を前記ピン列の各ピンが延びる方向から非テレセントリックレンズを介して撮像する撮像ステップと、いずれかのピンを被検査ピンとし、前記被検査ピンの画像と他のいずれかのピンの画像との比較によって前記被検査ピンの良否を判定する判定ステップと、を含み、前記判定ステップにおいて、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のピン列において、前記被検査ピンに対して前記画像の中心と反対側のいずれかのピンの画像を１８０度回転させたものを前記比較の対象に含める。
【発明の効果】
【０００８】
明細書開示の検査装置および検査方法によれば、コストを抑制しつつ精度良くコネクタピンを検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】（ａ）は比較例１に係る検査方法について説明するための模式図であり、（ｂ）はカメラによって撮像されたコネクタの画像の一例である。
【図２】（ａ）は比較例２に係る検査方法について説明するための模式図であり、（ｂ）はカメラによって撮像されたコネクタの画像の一例である。
【図３】（ａ）は実施例１に係る検査装置の構成を説明するための模式図であり、（ｂ）は判定部のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。
【図４】カメラの画像視野範囲Ｒと、コネクタの配置箇所との関係を説明するための模式図である。
【図５】（ａ）は被検査ピンと比較ピンとの比較について説明するための図であり、（ｂ）はマッチングスコアを表す図である。
【図６】（ａ）は被検査ピン画像を表し、（ｂ）は比較ピン画像を表す。
【図７】（ａ）は被検査ピンが良品である場合の輝度値分布を表し、（ｂ）は被検査ピンが不良品である場合の輝度値分布を表す。
【図８】（ａ）は比較ピン数が「１」である場合のマッチング結果の集合図であり、（ｂ）は比較ピン数が「２」である場合のマッチング結果の集合図であり、（ｃ）は比較ピン数が「３」である場合のマッチング結果の集合図である。
【図９】（ａ）は３００ピンを有するコネクタを１００個検査した場合の誤検出率の一例を表し、（ｂ）はマッチング結果を表す。
【図１０】（ａ）および（ｂ）は被検査ピンおよび比較ピンの画像領域を指定する処理の詳細について説明するための図である。
【図１１】検査装置によるコネクタ検査の際に実行されるフローチャートの一例である。
【図１２】各ピン画像を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
実施例の説明に先立って、コネクタ検査について説明する。コネクタ検査とは、一面に少なくとも１列以上のピン列が設けられたコネクタを対象とし、ピンに曲がりが生じていないか否かを判定する検査である。具体的には、レンズを装着したカメラを用いて、ピンが延びる方向からピン列の画像を撮像し、検査対象のピン（被検査ピン）の画像と他のピン（比較ピン）の画像との比較（マッチング）を行う。当該マッチングの類似度（マッチングスコア）をしきい値と比較することによって、被検査ピンが「良：曲がっていない」であるか、「不良：曲がっている」であるか判定することができる。
【００１１】
図１（ａ）は、比較例１に係る検査方法について説明するための模式図である。図１（ａ）を参照して、コネクタ２０５は、一面に複数のピン２０６が列をなし、当該面と垂直方向にピン２０６が延びる構造を有している。比較例１においては、テレセントリックレンズ２０１を介して撮像された画像を用いてコネクタ検査を行う。テレセントリックレンズ２０１は、径の大きいレンズ２０２、絞り２０３、および径の小さいレンズ２０４を備えている。テレセントリックレンズ２０１では、レンズ２０２の光軸と非平行の光（例えばＬ１）が絞り２０３で遮断される。したがって、レンズ２０２の光軸と平行なレンズ入射光（例えばＬ２，Ｌ３，Ｌ４）のみがカメラによって撮像される。レンズ２０２の径Ｄ´がコネクタ２０５の長さＤよりも大きい場合、ピンの位置にかかわらず、撮像される角度が同じになり、ピンの画像の傾斜方向が同じになる。
【００１２】
図１（ｂ）は、カメラによって撮像されたコネクタ２０５の画像の一例である。図１（ｂ）を参照して、各ピン２０６の傾斜方向は同じになっている。したがって、被検査ピンと比較ピンとが離れていても、マッチングスコアのばらつきが小さくなる。その結果、安定したコネクタ検査を行うことができる。
【００１３】
しかしながら、テレセントリックレンズ２０１を使用する場合、視野を確保するためにコネクタ２０５の長さＤよりもレンズの径Ｄ´を大きくする必要がある。この場合、検査装置が大型化してしまう。また、テレセントリックレンズ２０１は非テレセントリックよりも高価であるため、コストがかかる。
【００１４】
図２（ａ）は、比較例２に係る検査方法について説明するための模式図である。図２（ａ）を参照して、比較例２においては、非テレセントリックレンズ２０７を介して撮像された画像を用いてコネクタ検査を行う。非テレセントリックレンズ２０７は、レンズの光軸と非平行の入射光を透過するレンズであり、例えば、絞りを有さずに径の小さいレンズ２０８および径の小さいレンズ２０９を備えている。非テレセントリックレンズ２０７を用いれば、レンズ２０８の径Ｄ´がコネクタ２０５の長さＤより小さくても広い視野が確保される。したがって、検査装置が小型化される。また、非テレセントリックレンズ２０７はテレセントリックレンズ２０１よりも安価であるため、コストが抑制される。
【００１５】
しかしながら、非テレセントリックレンズ２０７を用いた場合、レンズ２０８の光軸から離れるにつれて、撮像の画角が大きくなる。それにより、コネクタ２０５の外側に実装されているピン２０６は、傾斜して撮像される。図２（ｂ）は、コネクタ２０５の撮像された画像の一例である。図２（ｂ）を参照して、位置に応じて、ピン２０６の傾斜方向が異なってしまう。この場合、マッチングスコアのばらつきが大きくなる。その結果、安定したコネクタ検査を行うことが困難である。
【００１６】
そこで、以下の実施例では、コストを抑制しつつ精度良くコネクタ検査を行うことができる、検査装置および検査方法について説明する。
【実施例１】
【００１７】
図３（ａ）は、実施例１に係る検査装置１００の構成を説明するための模式図である。図３（ａ）を参照して、検査装置１００は、撮像部１０、判定部２０、および表示装置３０を備える。撮像部１０と判定部２０とは、ケーブル４０によって接続されている。撮像部１０は、レンズ１１、カメラ１２、スイッチ１３、およびガイド１４を備える。
【００１８】
レンズ１１は、非テレセントリックレンズであれば特に限定されるものではない。カメラ１２は、画像を撮像できるものであれば特に限定されるものではない。スイッチ１３は、カメラ１２による撮像を制御する制御スイッチである。レンズ１１を被検査対象のコネクタ５０のピン列が設けられた面に対向するように配置し、スイッチ１３をオンすることによって、コネクタ５０のピン列の画像が撮像される。この場合、ピン列の各ピンが延びる方向からピン列の画像を撮像することができる。カメラ１２によって取得された画像データは、ケーブル４０を介して判定部２０に送信される。ガイド１４は、カメラ１２とコネクタ５０との位置合わせの際に用いられる。
【００１９】
図３（ｂ）は、判定部２０のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。図３（ｂ）を参照して、判定部２０は、ＣＰＵ１０１、ＲＡＭ１０２、記憶装置１０３、インタフェース１０４などを備える。これらの各機器は、バスなどによって接続されている。ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１０１は、中央演算処理装置である。ＣＰＵ１０１は、１以上のコアを含む。ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）１０２は、ＣＰＵ１０１が実行するプログラム、ＣＰＵ１０１が処理するデータなどを一時的に記憶する揮発性メモリである。記憶装置１０３は、不揮発性記憶装置である。記憶装置１０３として、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリなどのソリッド・ステート・ドライブ（ＳＳＤ）、ハードディスクドライブに駆動されるハードディスクなどを用いることができる。ＣＰＵ１０１が所定のプログラムを実行することによって、コネクタ検査が行われる。インタフェース１０４は、カメラ１２または表示装置３０との間でデータを送受信するための機器である。
【００２０】
図４は、カメラ１２の画像視野範囲Ｒと、コネクタ５０の配置箇所との関係を説明するための模式図である。図４を参照して、画像視野範囲Ｒは、所定の矩形状を有している。コネクタ５０のピン列は、画像視野範囲Ｒの中央部において、画像視野範囲Ｒのいずれかの辺と平行に配置されることが好ましい。本実施例においては、矩形枠１２ａが設定されている。矩形枠１２ａは、画像視野範囲Ｒの中央部において、画像視野範囲Ｒの各辺と平行をなす矩形状である。また、矩形枠１２ａの中心と画像視野範囲Ｒの中心とが一致している。ガイド１４は、コネクタ５０のピン列が設けられた面が矩形枠１２ａに入るように形成されている。それにより、コネクタ５０が配置される領域に画像視野範囲Ｒの中心が入り、コネクタ５０のピン列が画像視野範囲Ｒの中央部において画像視野範囲Ｒの辺と平行に配置される。なお、ガイド１４が設けられていない場合には、コネクタ５０のピンが配列された面が矩形枠１２ａに入るようにユーザが撮像部１０を移動させればよい。
【００２１】
図５（ａ）は、被検査ピンと比較ピンとの比較について説明するための図である。図５（ａ）は、コネクタ５０の所定のピン列の画像を表している。判定部２０は、コネクタ検査に際して、いずれかのピンを被検査ピンとし、同じピン列における他のいずれかのピンを比較ピンとして選択する。次に、判定部２０は、被検査ピンの画像（以下、被検査ピン画像と称する）と比較ピンの画像（以下、比較ピン画像と称する）との類似度（０．０〜１．０）をマッチングスコアとする。類似度の算出処理については、後述する。
【００２２】
図５（ｂ）の丸印は、左から２番目のピンを被検査ピンとした場合の、マッチングスコアを表すグラフである。図５（ｂ）において、横軸は比較ピンの列番号を示し、縦軸はマッチングスコアを示す。列番号とは、各ピンの番号であり、左側から１番、２番のように付されている。図５（ａ）の例では、ピンの数が１６であるため、列番号は１〜１６である。
【００２３】
図５（ｂ）を参照して、列番号２番では、マッチングスコアが最大値の「１」となっている。これは、被検査ピンと比較ピンとが同一であるからである。列番号１番または３番では、マッチングスコアが最大値に近い値となっている。これは、被検査ピンと比較ピンとが近いからである。すなわち、被検査ピン画像の傾斜方向と比較ピン画像の傾斜方向とが近いからである。列番号が大きくなるにつれて、マッチングスコアが小さくなっている。これは、比較ピンが被検査ピンと離れるにつれて、被検査ピン画像と比較ピン画像との間で、傾斜方向が異なってくるからである。したがって、比較ピンを選択する際には、被検査ピンと近い位置のピンを用いることが好ましい。しかしながら、被検査ピンに近い位置のピンだけを比較ピンとして用いると、検査の精度を高くすることが困難である。したがって、検査の精度を向上させるために、比較ピンの数を増やすことが好ましい。
【００２４】
そこで、各ピン画像を左右反転させる。具体的には、画像面において、各ピン画像を、ピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換する。図５（ｂ）の四角印は、被検査ピン画像と、左右反転後の各ピン画像とのマッチングスコアを表すグラフである。図５（ｂ）を参照して、列番号１５番では、マッチングスコアが最大値の「１」となっている。これは、画像中心線を対称軸とした場合に、列番号２番のピンと列番号１５番のピンとが軸対称に位置し、画像における傾斜方向が同一となるからである。なお、画像中心線は、撮像部１０によって得られる画像の中心を通り、ピン列の配列方向と垂直をなす線である。列番号１４番または列番号１６番では、マッチングスコアが最大値に近い値となっている。これは、列番号１５番のピンの傾斜方向と、列番号１４番および１６番のピンの傾斜方向と近いからである。したがって、列番号１４番、１６番のピン画像を左右反転させたものも比較ピン画像に含めることができる。すなわち、左右反転画像を用いることによって、比較ピンの数を増やすことができる。
【００２５】
以上のことから、判定部２０は、画像中心線に対して被検査ピンと同じ側のピンを比較ピンとして選択するとともに、画像中心線に対して被検査ピンと反対側のピン画像を左右反転させたものを比較対象に含める。それにより、検査精度が向上する。また、この場合、テレセントリックレンズを用いる必要がないため、装置の大型化および高コスト化を抑制することができる。例えば、配列番号２番のピンを被検査ピンとした場合、両隣の列番号１番、３番のピン、画像中心線に対して反対側の列番号１５番のピン、およびその両隣の列番号１４番、１６番のピンを比較ピンとして選択することが好ましい。
【００２６】
ここで、マッチングスコアの算出処理の詳細について説明する。図６（ａ）は、被検査ピン画像を表す。図６（ａ）の上側が良品のピン画像を表し、図６（ａ）の下側が不良品のピン画像を表す。図６（ｂ）は、比較ピン画像を表す。判定部２０は、被検査ピン画像と比較ピン画像とのマッチングを行う際は、双方の画像領域で特定方向（例えば横方向（Ｘ軸方向））の輝度分布を取得し、双方の分布形状の相関値をマッチングスコアとして算出する。相関値は、一例として、下記式（１）の正規化相関によって算出することができる。
【００２７】
【数１】
0005929371.tif 000002
【００２８】
図７（ａ）は、被検査ピンが良品である場合の輝度値分布を表す。図７（ａ）を参照して、被検査ピンが良品である場合には、各ピン画像の輝度値分布は互いに似ている。この場合、被検査ピンと各比較ピンとのマッチングスコアは、「１」に近い値になる。一方、図７（ｂ）は、被検査ピンが不良品である場合の輝度値分布を表す。図７（ｂ）を参照して、被検査ピンが不良品である場合には、被検査ピン画像の輝度値分布が比較ピン画像の輝度値分布と大きく異なっている。この場合、被検査ピンと各比較ピンとのマッチングスコアは、小さくなる。
【００２９】
判定部２０は、これらのマッチングスコアを用いて、被検査ピンが良品であるか不良品であるか判定する。例えば、判定部２０は、全ての比較ピンに対してマッチングスコアがしきい値未満であれば、当該被検査ピンが不良品であると判定してもよい。一方で、判定部２０は、いずれかの比較ピンに対してマッチングスコアがしきい値以上であれば、当該被検査ピンが良品であると判定してもよい。
【００３０】
次に、比較ピンの数を増やした際の検査精度向上の詳細について説明する。図８（ａ）は、比較ピン数が「１」である場合のマッチング結果の集合図である。図８（ａ）で表された集合は、比較ピンａに対してマッチングスコアがしきい値未満となる確率Ｐａを表している。図８（ｂ）は、比較ピン数が「２」である場合のマッチング結果の集合図である。図８（ｂ）では、確率Ｐａに対して、比較ピンｂに対してマッチングスコアがしきい値未満となる確率Ｐｂが重ねられている。図８（ｃ）は、比較ピン数が「３」である場合のマッチング結果の集合図である。図８（ｃ）では、確率Ｐａ，Ｐｂに対して、比較ピンｃに対してマッチングスコアがしきい値未満となる確率Ｐｃが重ねられている。
【００３１】
図８（ｂ）を参照して、比較ピンａ，ｂの双方に対してマッチングスコアがしきい値未満となる確率は、図８（ａ）の場合と比較して小さくなっている。さらに、図８（ｃ）を参照して、比較ピンａ〜ｃの全てに対してマッチングスコアがしきい値未満となる確率は、図８（ａ）および図８（ｂ）の場合と比較して小さくなっている。このように、比較ピンの数を増やすことによって、誤検出を抑制できることがわかる。すなわち、検査精度が向上する。
【００３２】
図９（ａ）は、３００ピンを有するコネクタを１００個検査した場合の誤検出率の一例を表す図である。図９（ａ）において、横軸は比較ピン数を表し、縦軸は誤検出率（％）を表す。図９（ａ）を参照して、比較ピン数が「１」の場合、誤検出率は０．１３０％であった。これは、コネクタ２〜３個ごとに、１ピンに対して誤検出が発生していることを意味する。比較ピン数が「２」の場合、誤検出率は０．０６５％まで低減されている。しかしながら、コネクタ５個ごとに、１ピンに対して誤検出が発生していることになる。比較ピン数が「３」の場合、誤検出率は０．００８％まで低減されている。この場合、コネクタ１３０個ごとに、１ピンの誤検出しか発生していないことになる。以上のように、比較ピンの数を増やすことによって、検査精度が向上する。
【００３３】
なお、被検査ピンが良品で、比較ピンが不良品の場合においてもマッチングスコアが低くなる。この場合、被検査ピンに対しては誤検出がなされていることになる。しかしながら、図９（ｂ）を参照して、複数の比較ピン（図９（ｂ）では５本）が全て不良品である確率は限りなく０％に近い。また、このような過剰検出が発生したとしても、コネクタ自体の良否を判断する場合は、比較ピンが不良品であれば当該コネクタ自体は不良品であるので、コネクタ自体の良否判定の結果には影響がない。
【００３４】
次に、被検査ピンおよび比較ピンの画像領域を指定する処理の詳細について説明する。被検査ピンおよび比較ピンの画像領域は、コネクタの寸法仕様、ピンが実装されるピッチの設計値などに基づいて決定することができる。まず、図１０（ａ）を参照して、判定部２０は、画像中心位置をコネクタ中心位置として算出する。次に、判定部２０は、コネクタ中心位置からの被検査ピンのＸ軸方向の距離ｄＸｉ[ｍｍ]およびＹ軸方向の距離ｄＹｉ[ｍｍ]を算出する。判定部２０は、算出された距離を画素分解能で除算することによって、距離ｄＸｉｐｉｘ[ｐｉｘ]および距離ｄＹｉｐｉｘ[ｐｉｘ]を算出する。それにより、画像上での被検査ピンの位置を算出することができる。
【００３５】
次に、判定部２０は、被検査ピンの位置を中心として、ピン画像の領域として機能する矩形領域を設定する。矩形領域のサイズは、ピンの径（設計値）より大きめ（例えば１．５倍程度）とする。両隣ピンの矩形領域の位置は、被検査ピンの位置を基準にして１ピッチ分だけシフトさせることによって得られる。ピッチ［ｐｉｘ］は、各ピンの実装間隔［ｍｍ］を画素分解能で除算することによって得られた値である。両隣ピンの矩形領域のサイズは、被検査ピンの矩形領域のサイズと同じにする。
【００３６】
次に、図１０（ｂ）を参照して、判定部２０は、画像中心線から被検査ピンと反対側に距離ｄＸｉｐｉｘ［ｐｉｘ］だけオフセットさせた位置を、被検査ピンと対称位置にある比較ピンの位置とする。判定部２０は、被検査ピンと対称位置にあるピン位置を中心に矩形領域を設定する。矩形領域のサイズは、被検査ピンの矩形領域と同じにする。対称位置にあるピンの両隣ピンの領域は、対称位置にあるピンの位置を基準にして１ピッチ分だけシフトさせることによって得られる。両隣ピンの矩形領域のサイズは、被検査ピンの矩形領域のサイズと同じにする。以上のような処理によって、被検査ピン画像および比較ピン画像を取得することができる。
【００３７】
図１１は、検査装置１００によるコネクタ検査の際に実行されるフローチャートの一例である。図１１を参照して、ガイド１４によってカメラ１２とコネクタ５０との位置が合わせられる（ステップＳ１）。次に、スイッチ１３の操作によって、カメラ１２がコネクタ５０のピンが配列された側の画像を撮像する（ステップＳ２）。次に、判定部２０は、ステップＳ２で得られた画像からコネクタ５０の外形を認識し、コネクタ５０の中心位置を算出する（ステップＳ３）。
【００３８】
次に、判定部２０は、被検査ピン画像の領域を設定する（ステップＳ４）。次に、判定部２０は、全ピンの検査が終了したか否かを判定する（ステップＳ５）。ステップＳ５において「Ｎｏ」と判定された場合、判定部２０は、比較ピンを選択する（ステップＳ６）。具体的には、判定部２０は、被検査ピンの両隣のピン画像の領域を比較ピン画像として設定する。さらに、判定部２０は、画像中心線に対して被検査ピンと反対側のピンとその両隣のピンの画像を左右反転させたものを比較ピン画像として設定する。
【００３９】
次に、判定部２０は、被検査ピン画像と各比較ピン画像とのマッチングを行い、マッチングスコアを算出する（ステップＳ７）。次に、判定部２０は、被検査ピンの良否判定を行う（ステップＳ８）。具体的には、判定部２０は、全てのマッチングスコアがしきい値未満であれば、当該被検査ピンが不良品であると判定する。次に、判定部２０は、新たに被検査ピンを選択する（ステップＳ９）。その後、ステップＳ５〜ステップＳ９が繰り返される。ステップＳ５において「Ｙｅｓ」と判定された場合、表示装置３０は、検査結果を表示する（ステップＳ１０）。検査結果には、例えば、コネクタの良否、不良ピン数、不良ピンの場所などが含まれる。その後、フローチャートの実行が終了する。
【００４０】
本実施例によれば、被検査ピンが属するピン列において被検査ピンに対して画像の中心と反対側のピンの画像をピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを前記比較の対象に含めることができる。この場合、精度良くコネクタピンを検査することができる。また、テレセントリックレンズを用いる必要がないため、コストを抑制することができる。被検査ピンが属するピン列において被検査ピンに対して画像の中心と対称に位置するピンの画像をピン列の配列方向に対する垂直方向を軸として軸対称変換したものを比較の対象に含めることが好ましい。被検査ピンの両隣の少なくともいずれかのピンの画像を比較の対象に含めることが好ましい。
【実施例２】
【００４１】
実施例１においては、画像中心に対して反対側のピン画像を左右反転させたものを比較ピン画像として用いたが、それに限られない。例えば、複数のピン列を備えるコネクタにおいては、列ごとに、Ｘ軸方向の傾斜方向だけではなくＹ軸方向の傾斜方向も変化する。例えば、画像中心よりもＹ軸プラス側におけるＹ軸傾斜方向と、画像中心よりもＹ軸マイナス側におけるＹ軸傾斜方向とは、反対になる。
【００４２】
図１２は、各ピン画像を説明するための図である。図１２の例では、被検査ピン画像は、画像中心よりも上側のピン列から選択されている。したがって、被検査ピン画像は、Ｙ軸プラス側に傾斜している。被検査ピンと同列の周辺ピンにおける傾斜方向は、Ｘ軸およびＹ軸のいずれにおいても被検査ピンの傾斜方向と近くなっている。また、被検査ピンと同列において、画像中心に対して反対側のピンの傾斜方向は、Ｘ軸において被検査ピンの傾斜方向と反対になっている。したがって、当該ピン画像を左右反転させることによって、傾斜方向を近くすることができる。画像中心よりも下側の列において、画像中心に対して反対側のピンの傾斜方向は、Ｘ軸およびＹ軸のいずれにおいても逆になっている。したがって、当該ピン画像を１８０度回転させることによって、傾斜方向を近くすることができる。
【００４３】
このように、画像中心と反対側のピン列において、被検査ピンに対して画像中心と反対側のいずれかのピンを比較ピンとして選択し、当該ピン画像を１８０度回転させたものを比較ピン画像に含めることができる。したがって、比較ピンの数を増やすことができ、検査精度がさらに向上する。なお、左右反転画像を用いずに、１８０度回転画像だけを用いてもよい。
【００４４】
上記実施例１および実施例２によれば、被検査ピンに対して画像の中心と反対側のいずれかのピンの画像を補正したものを比較の対象に含めることができる。この場合、精度良くコネクタピンを検査することができる。また、テレセントリックレンズを用いる必要がないため、コストを抑制することができる。
【００４５】
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【００４６】
１０  撮像部
１１  レンズ
１２  カメラ
１３  スイッチ
１４  ガイド
２０  判定部
３０  表示装置
４０  ケーブル
５０  コネクタ
１００  検査装置
１０１  ＣＰＵ
１０２  ＲＡＭ
１０３  記憶装置
１０４  インタフェース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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