(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対向装置へ測定用ビットを含むフレームを送信し続け、前記対向装置から前記送信した測定用ビットを含むフレームを受信する伝送装置であって、
前記対向装置へ前記測定用ビットを含むフレームを送信したときから、前記送信した測定用ビットと同一のビットを含むフレームを前記対向装置から受信するまでの時間を測定する遅延測定を行い、再度遅延測定を行う場合は、前記送信し続けているフレームの測定用ビットを反転させる測定部と、
前記測定部により行われる複数回の遅延測定から少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記対向装置との間の伝送遅延時間を決定する遅延決定部と、
前記測定部による測定結果を格納する第１、第２、．．．、第Ｎ（Ｎは、３以上の整数）のメモリと、を有し、
前記測定部は、前記遅延測定をＮ回繰り返し実行し、Ｎ個の測定結果を前記第１、第２、．．．、第Ｎのメモリに順番に格納し、
前記遅延決定部は、前記第２、．．．、第Ｎのメモリに格納されている複数の測定結果に基づいて、前記対向装置との間の伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする伝送装置。
【請求項２】
前記遅延決定部は、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の誤差が所定の閾値よりも小さいときに、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする請求項１に記載の伝送装置。
【請求項３】
前記測定部は、各遅延測定において、前記対向装置へ一定間隔で送信する各フレーム内の所定のビットの値を変更したときから、前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記対向装置から受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする請求項１に記載の伝送装置。
【請求項４】
前記測定部は、各遅延測定において、前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを連続して前記対向装置へ送信し、前記遅延測定の開始から前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記対向装置から所定数連続して受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする請求項３に記載の伝送装置。
【請求項５】
前記測定部により前記残りの遅延測定が実行される前に、前記対向装置へ送信するフレームの前記所定のビットの値と、前記対向装置から受信するフレームの前記所定のビットの値とを比較する比較部をさらに有し、
前記測定部は、前記比較部により比較された２つの値が互いに一致していたときに前記残りの遅延測定を実行する
ことを特徴とする請求項３に記載の伝送装置。
【請求項６】
前記対向装置との間の伝送路の状態をモニタする監視部をさらに有し、
前記監視部により前記伝送路において所定の劣化が検出されたときは、前記測定部は、前記遅延測定を終了して前記所定の劣化を表すメッセージを出力する
ことを特徴とする請求項１に記載の伝送装置。
【請求項７】
前記遅延決定部は、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の中の最初の測定結果、最後の測定結果、平均値、最小値、または最大値を出力する
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１つに記載の伝送装置。
【請求項８】
第１の伝送装置から第２の伝送装置へ測定用ビットを含むフレームを送信し続け、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ送信された測定用ビットを含むフレームが前記第２の伝送装置から前記第１の伝送装置へ送信される伝送システムにおいて伝送遅延時間を測定する方法であって、
前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ前記測定用ビットを含むフレームを送信したときから、前記送信した測定用ビットと同一のビットを含むフレームが前記第２の伝送装置から前記第１の伝送装置に戻ってくるまでの時間、を測定する遅延測定をＮ（Ｎは、３以上の整数）回行う際に、各遅延測定ごとに、前記送信し続けているフレームの測定用ビットを交互に反転させ、
Ｎ個の測定結果を第１、第２、．．．、第Ｎのメモリに順番に格納し、
前記第２、．．．、第Ｎのメモリに格納されている複数の測定結果に基づいて、前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置との間の伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする遅延測定方法。
【請求項９】
第１の伝送装置と第２の伝送装置との間でフレームが伝送される伝送システムにおいて伝送遅延時間を測定する方法であって、
遅延測定指示が与えられたときに、遅延測定を開始する前に、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ一定間隔で送信される各フレーム内の所定のビットを固定した状態で所定時間の経過を待ち、
前記所定時間が経過した後、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ一定間隔で送信される各フレーム内の所定のビットの値を変更したときから、前記第１の伝送装置が前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記第２の伝送装置から受信するまでの時間を測定する遅延測定を複数回行い、
前記複数回の遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置との間の伝送遅延時間を決定するものであり、
前記所定時間は、第１の伝送装置と第２の伝送装置との間の伝送距離に基づいて推定される伝送時間よりも長い
ことを特徴とする遅延測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、伝送システムにおいて使用される伝送装置、および伝送システムにおいて伝送遅延を測定する方法に係わる。
【背景技術】
【０００２】
フレーム単位でデータを伝送する光伝送システムにおいて、データ伝送の信頼性を確認するために、ノード間で伝送遅延が測定される。このような伝送遅延の測定は、光伝送システムの運用中に実施されることが好ましい。
【０００３】
光伝送システムにおいて伝送遅延を測定する技術の１つとして、以下の方法が提案されている。すなわち、時刻同期した送受信装置間において、送信装置はフレームに時刻情報を付けて送信し、受信装置はフレームに付けられた時刻情報を用いてフレームの処理順番を確定する。また、フレームに付与した時刻情報から伝搬遅延時間および送信間隔を測定し、更に、伝搬遅延時間よりガードタイムを算出してこれを通信路毎に設けることで、正しい順番でフレーム処理が行われる。（例えば、特許文献１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−３３６１９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した従来の方法においては、伝送遅延を測定するために、送信装置と受信装置との間で時刻同期を確立しておく必要がある。すなわち、送信装置が有する時計および受信装置が有する時計の時刻を互いに一致させておく必要がある。
【０００６】
本発明の課題は、伝送装置間での時刻同期なしで、伝送装置間の伝送遅延を測定することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の１つの態様の伝送装置は、対向装置へフレームを送信すると共に前記対向装置からフレームを受信する。この伝送装置は、前記対向装置へフレームを送信したときから対応するフレームを前記対向装置から受信するまでの時間を測定する遅延測定を行う測定部と、前記測定部により行われる複数回の遅延測定から少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記対向装置との間の伝送遅延時間を決定する遅延決定部と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
上述の態様によれば、伝送装置間での時刻同期なしで、伝送装置間の伝送遅延を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態の遅延測定方法の背景技術を説明する図である。
【図２】ＯＴＮフレームの構造を示す図である。
【図３】ＰＭ＆ＴＣＭの使用方法を説明する図である。
【図４】図１に示す遅延測定の問題点を説明する図である。
【図５】図１に示す遅延測定の他の問題点を説明する図である。
【図６】第１の実施形態の光伝送装置の構成を示す図である。
【図７】第２の実施形態の光伝送装置の構成を示す図である。
【図８】第３の実施形態の光伝送装置の構成を示す図である。
【図９】本発明の実施形態の遅延測定方法を示すフローチャートである。
【図１０】遅延測定の手順を示すフローチャートである。
【図１１】他の実施形態の遅延測定方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の実施形態に係る光伝送システムは、第１の光伝送装置および第２の光伝送装置を含む。第１の光伝送装置と第２の光伝送装置との間には、第１の光伝送装置から第２の光伝送装置へ光信号を伝送するための光伝送路、および第２の光伝送装置から第１の光伝送装置へ光信号を伝送するための光伝送路が設けられている。これらの光伝送路上には、１または複数の他の光伝送装置（光中継器を含む）が設けられていてもよい。第１の光伝送装置と第２の光伝送装置との間では、所定の構造のフレームを利用してデータおよび／または情報が伝送される。
【００１１】
第１の光伝送装置は、第２の光伝送装置との間の伝送遅延時間を測定する遅延測定を行うことができる。伝送遅延時間は、実質的には、光伝送路上での光信号の伝搬時間に相当する。ただし、伝送遅延時間は、各光伝送装置内での処理時間などを含むものとしてもよい。
【００１２】
遅延測定において第１の光伝送装置は、第２の光伝送装置へフレームを送信する。第２の光伝送装置は、第１の光伝送装置から受信したフレーム内の所定の情報を測定装置１へ返送（すなわち、ループバック）する。そして、第１の光伝送装置は、第２の光伝送装置へフレームを送信した時刻から、そのフレームが第２の光伝送装置から戻ってくるまで時間（すなわち、伝送遅延）を測定する。
【００１３】
このように、第１の光伝送装置は、第２の光伝送装置へ送信したフレームが自装置に戻ってくるまで時間を測定することで、第１の光伝送装置と第２の光伝送装置との間の伝送遅延を測定することができる。したがって、第１の光伝送装置は、第１の光伝送装置と第２の光伝送装置との間での時刻同期なしで、第２の光伝送装置との間の伝送遅延を測定することができる。
【００１４】
以下の記載においては、上述の遅延測定を行う光伝送装置（すなわち、第１の光伝送装置）を「測定装置」と呼ぶことがある。また、測定装置から送信されるフレームをその測定装置へループバックする光伝送装置（すなわち、第２の光伝送装置）を「対向装置」と呼ぶことがある。
【００１５】
測定装置および対向装置を含む光伝送システムは、特に限定されるものではないが、以下の説明では、ＯＴＮ（Optical Transport Network）規格に従うフレームを伝送するものとする。ＯＴＮについては、ITU-T G.709/Y.1331に記載されている。なお、以下の記載では、ＯＴＮ規格に従うフレームを「ＯＴＮフレーム」または単に「フレーム」と呼ぶことがある。
【００１６】
図１は、実施形態の遅延測定方法の背景技術を説明する図である。図１に示す例では、光伝送システムは、測定装置１および対向装置２を有する。そして、測定装置１は、一定の間隔で、ＯＴＮフレームを対向装置２へ送信する。同様に、対向装置２は、一定の間隔で、ＯＴＮフレームを測定装置１へ送信する。このとき、対向装置２は、測定装置１からＯＴＮフレームを受信すると、受信フレーム内の所定の情報を測定装置１へ返送（すなわち、ループバック）する。
【００１７】
図２は、ＯＴＮのフレーム構造を示す。ＯＴＮフレームは、図２に示すように、オーバヘッドおよびＯＰＵｋペイロードを有する。オーバヘッドは４×１６バイトであり、ＯＰＵｋペイロードは４×３８０８バイトである。クライアントデータは、ＯＰＵｋペイロードに格納される。さらに、ＯＴＮフレームは、図示しないが、ＯＰＵｋペイロードの後に誤り訂正符号を有するようにしてもよい。
【００１８】
オーバヘッドは、フレームアラインメントオーバヘッド、ＯＴＵｋオーバヘッド、ＯＤＵｋオーベヘッド、ＯＰＵｋオーバヘッドを有する。ここで、ＯＰＵｋペイロードにＯＰＵｋオーバヘッドを付与することにより、ＯＰＵｋフレームが形成される。また、ＯＰＵｋフレームにＯＤＵｋオーバヘッドを付与することにより、ＯＤＵｋフレームが形成される。ＯＤＵｋオーバヘッドは、Row#2〜#4、Column#1〜#14に配置される。さらに、ＯＤＵｋフレームにＯＴＵｋオーバヘッドおよびフレームアラインメントオーバヘッドが付与される。なお、略語は、以下の通りである。
ＯＴＵ：Optical channel Transport Unit
ＯＤＵ：Optical channel Data Unit
ＯＰＵ：Optical channel Payload Unit
ＯＴＮにおいては、ＯＤＵｋオーバヘッドの中のＰＭ＆ＴＣＭを利用して、光伝送装置間の伝送遅延を測定することができる。ＰＭ＆ＴＣＭは、図２に示すように、ＯＴＮフレームのRow#2、Column#3に配置されている。ＰＭ＆ＴＣＭの第１〜第６ビットは、それぞれDMt1〜DMt6として使用される。ＰＭ＆ＴＣＭの第７ビットは、DMpとして使用される。ＰＭ＆ＴＣＭの第８ビットは、未使用である。
【００１９】
なお、図２に記載されている略語は、以下の通りである。
ＰＭ：Path Monitoring
ＴＣＭ：Tandem Connection Monitoring
ＲＥＳ：Reserved for future international standardization
ＡＣＴ：Activation/deactivation control channel
ＦＴＦＬ：Fault Type & Fault Location coordination channel
ＥＸＰ：Experimental
ＧＣＣ：General Communication Channel
ＡＰＳ：Automatic Protection Switching coordination channel
ＰＣＣ：Protection Communication Control channel
ＤＭ：Delay Measurement
図３は、ＰＭ＆ＴＣＭの使用方法を説明する図である。図３に示す例では、光伝送路上に光伝送装置３ａ〜３ｄが順番に配置されている。光伝送装置３ａは、測定装置として遅延測定を行う。すなわち、光伝送装置３ａは、光伝送装置３ｂ、３ｃ、３ｄとの間の伝送遅延をそれぞれ測定する。なお、光伝送装置３ａ、３ｂ間にパス＃１が設定され、光伝送装置３ａ、３ｃ間にパス＃２が設定され、光伝送装置３ａ、３ｄ間にパス＃３が設定されているものとする。パスの設定は、例えば、光伝送システム全体を管理する不図示のネットワーク管理システムにより行われる。
【００２０】
この場合、パス＃１に係わる情報は、例えば、ＯＤＵｋオーバヘッド内のＴＣＭ１によって光伝送装置３ａ、３ｂ間で伝送される。また、パス＃２に係わる情報はＴＣＭ２によって光伝送装置３ａ、３ｃ間で伝送され、パス＃３に係わる情報はＴＣＭ３によって光伝送装置３ａ、３ｄ間で伝送される。
【００２１】
上述の例において、光伝送装置３ａ、３ｂ間の伝送遅延を測定するときは、光伝送装置３ａは、ＰＭ＆ＴＣＭのDMt1ビットを利用する。光伝送装置３ａは、DMt1ビットに所定の値を設定してフレームを光伝送装置３ｂへ送信する。光伝送装置３ｂは、受信フレームからDMt1ビットを抽出する。そして、光伝送装置３ｂは、受信フレームから抽出したDMt1ビットの値を、光伝送装置３ａへ送信するフレームのDMt1ビットに書き込む。すなわち、光伝送装置３ｂは、光伝送装置３ａから受信したDMt1ビットを光伝送装置３ａへ返送する。そして、光伝送装置３ａは、光伝送装置３ｂから戻ってくるDMt1ビットを検出することにより、光伝送装置３ａ、３ｂ間の伝送遅延を測定する。なお、以下の説明では、ＰＭ＆ＴＣＭの中の１つのビット（上述の例では、DMt1ビット）を返送することを「ループバック」と呼ぶ。
【００２２】
光伝送装置３ａ、３ｃ間の伝送遅延を測定するときは、光伝送装置３ａは、DMt2ビットを利用する。この場合、光伝送装置３ｂは、DMt2ビットをループバックしない。すなわち、DMt2ビットは、光伝送装置３ｂを通過（スルー）する。そして、光伝送装置３ｃは、DMt2ビットをループバックする。したがって、光伝送装置３ａは、光伝送装置３ｃから戻ってくるDMt2ビットを検出することにより、光伝送装置３ａ、３ｃ間の伝送遅延を測定する。
【００２３】
同様に、光伝送装置３ａ、３ｄ間の伝送遅延を測定するときは、光伝送装置３ａは、DMt3ビットを利用する。この場合、光伝送装置３ｂ、３ｃは、DMt3ビットをループバックしない。すなわち、DMt3ビットは、光伝送装置３ｂ、３ｃを通過（スルー）する。そして、光伝送装置３ｄは、DMt3ビットをループバックする。したがって、光伝送装置３ａは、光伝送装置３ｄから戻ってくるDMt3ビットを検出することで、光伝送装置３ａ、３ｄ間の伝送遅延を測定する。なお、光伝送装置３ａ、３ｄが、例えばＯＴＮネットワークのエッジに配置されているときは、光伝送装置３ａは、DMpビットを利用して光伝送装置３ａ、３ｄ間の伝送遅延を測定してもよい。
【００２４】
このように、測定装置（光伝送装置３ａ）は、ＰＭ＆ＴＣＭのDMt1〜DMt6ビットまたはDMpビットを利用して、任意の光伝送装置との間の伝送遅延を測定できる。したがって、以下の説明では、DMt1〜DMt6ビットまたはDMpビットのことを「ＤＭ（Delay Measurement）ビット」と呼ぶことがある。
【００２５】
図１の説明に戻る。各光伝送装置（測定装置１および対向装置２を含む）は、遅延測定が行われていないときは、図１（ａ）に示すように、ＤＭビットをループバックする。このとき、例えば、ＤＭビットのデフォルト値が「０」であるものとすると、測定装置１と対向装置２との間で伝送される各フレームのＤＭビット（測定装置１と対向装置２との間の遅延測定のためのＤＭビット）は、すべて「０」である。
【００２６】
測定装置１は、遅延測定を開始するときは、ＤＭビットの値を変更する。この例では、図１（ａ）に示すように、遅延測定の開始時のＤＭビットが「０」なので、測定装置１はＤＭビットを「０」から「１」に変更する。以降、測定装置１は、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを送信する。また、測定装置１は、遅延測定中は、ＤＭビットをループバックしない。一方、対向装置２は、遅延測定中であっても、通常動作時と同様に、ＤＭビットをループバックする。なお、遅延測定の開始時においてＤＭビットが「１」であったときは、測定装置１は、ＤＭビットを「１」から「０」に変更する。
【００２７】
測定装置１は、一定の間隔で、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを送信し続ける。また、対向装置２は、測定装置１から受信する「ＤＭビット＝１」をループバックする。このため、測定装置１は、所定時間が経過したときに、図１（ｃ）に示すように、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを対向装置２から受信する。したがって、測定装置１は、「ＤＭビット＝１」を有するフレームの送信を開始したときから、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを対向装置２から受信したときまでの時間を測定することにより、対向装置２との間の伝送遅延時間を測定できる。ここで、この光伝送システムにおいては、一定の間隔でフレームが伝送される。よって、測定装置１は、上記期間に受信するフレームをカウントすることにより、伝送遅延時間を測定することができる。
【００２８】
ただし、測定装置１は、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを所定数連続して受信したときに遅延測定を終了してもよい。図１（ａ）に示す例では、測定装置１は、「ＤＭビット＝１」を有するフレームの送信を開始したときから、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを３個連続して受信したときまでの時間を測定している。この場合、伝送路の遅延時間は、上記期間に受信したフレーム数から３を引き算した値に基づいて算出される。なお、図１に示す遅延測定に関連する方法は、ITU-T G.798に記載されている。
【００２９】
測定装置１は、本発明の実施形態においては、後で詳しく説明するが、上述の遅延測定を複数回実行する。この場合、測定装置１は、新たな遅延測定を行うときに、ＤＭビットの値を変更する。例えば、図１に示す遅延測定では、ＤＭビットとして「１」が使用されている。この場合、測定装置１は、次の遅延測定を開始するときに、ＤＭビットを「１」から「０」に変更する。換言すれば、測定装置１は、ＤＭビットを「１」から「０」に変更することによって、次の遅延測定を開始する。以降、同様に、遅延測定が繰り返し実行される場合には、ＤＭビットとして「０」および「１」が交互に設定される。
【００３０】
図４は、上述の遅延測定の問題点を説明する図である。図４（ａ）は、遅延測定が行われていないときの測定装置１と対向装置２との間のＤＭビットの状態を示す。遅延測定が行われていないときは、上述したように、測定装置１および対向装置２は、それぞれＤＭビットをループバックする。このため、例えば、伝送路上で何らかの理由でＤＭビットが反転すると、測定装置１と対向装置２との間の伝送路上に反転したＤＭビットが残ってしまう。図４（ａ）に示す例では、伝送路上の連続する３つのフレームＦ１〜Ｆ３のＤＭビットが「０」から「１」に反転している。
【００３１】
この後、測定装置１は、ＤＭビットを「０」から「１」に変更することによって遅延測定を開始する。そうすると、図４（ｂ）に示すように、「ＤＭビット＝１」を有するフレームの送信が始まる。
【００３２】
図４（ｂ）に示す状態から所定の時間が経過したときに、測定装置１は、図４（ｃ）に示すように、フレームＦ１〜Ｆ３を受信する。ここで、フレームＦ１〜Ｆ３のＤＭビットはそれぞれ「１」である。このため、測定装置１は、「ＤＭビット＝１」を有するフレームの送信を開始したときから、フレームＦ１〜Ｆ３を受信したときまでの時間を、伝送遅延時間として認識してしまう。この場合、実際の伝送遅延時間よりも短い時間が検出されてしまう。
【００３３】
図５は、上述の遅延測定の他の問題点を説明する図である。図５に示す例では、測定装置１と対向装置２との間の伝送路で障害が発生している。したがって、測定装置１が「ＤＭビット＝１」を有するフレームを送信しても、測定装置１が受信するフレームのＤＭビットの値は不定である。この場合、測定装置１は、伝送遅延を測定できないか、誤った時間を検出してしまう。
【００３４】
このように、図１を参照しながら説明した方法では、伝送遅延を正しく測定できないことがある。以下、上述の問題を解決する構成および方法を説明する。
【００３５】
＜第１の実施形態＞
図６は、第１の実施形態の光伝送装置の構成を示す。第１の実施形態の光伝送装置１０は、フレーム生成部１１、送信部１２、受信部１３、遅延測定部１４、メモリ１５−１〜１５−Ｎ、遅延測定コントローラ１６を有する。
【００３６】
フレーム生成部１１は、図２に示すＯＴＮフレームを生成する。このとき、フレーム生成部１１は、遅延測定コントローラ１６の制御に従って、ＤＭビットを設定する。ＤＭビットは、ＯＴＮフレームにおいては、ＯＤＵｋオーバヘッド内のDMt1〜DMt6ビットまたはDMpビットに相当する。ただし、光伝送装置１０が測定装置として動作しないときには、フレーム生成部１１は、受信フレームのＤＭビットの値を、送信フレームのＤＭビットに設定する。すなわち、ＤＭビットのループバックが行われる。なお、フレーム生成部１１は、例えば、ハードウェア回路で実現される。ただし、フレーム生成部１１は、ソフトウェアプログラムを実行することで実現してもよい。
【００３７】
送信部１２は、フレーム生成部１１によって生成されるフレームを、順番に、一定の間隔で、ネットワーク１００へ出力する。このとき、送信部１２は、例えば、フレームをデータ列に変換し、そのデータ列を表す光信号をネットワーク１００に設けられている他の光伝送装置へ送信する。なお、送信部１２は、光変調器などを含む。
【００３８】
受信部１３は、ネットワーク１００を介してフレームを受信する。このとき、受信部１３は、例えば、受信光信号を復調してデータ列を再生し、そのデータ列からフレームを再構成する。
【００３９】
遅延測定部１４は、受信部１３によって受信されるフレームのＤＭビットを利用して、光伝送装置１０と対向装置との間の伝送路の遅延時間を測定する。対向装置は、ネットワーク１００に接続されている光伝送装置である。そして、遅延測定部１４は、測定結果をメモリに格納する。ここで、光伝送装置１０は、詳しくは後で記載するが、複数回の遅延測定を実行する。したがって、遅延測定部１４は、複数回の遅延測定により得られる複数の測定結果をそれぞれメモリ１５−１〜１５−Ｎに格納する。なお、遅延測定部１４は、例えば、ハードウェア回路で実現される。ただし、遅延測定部１４は、ソフトウェアプログラムを実行することで実現してもよい。
【００４０】
メモリ１５−１〜１５−Ｎは、遅延測定部１４による各測定結果を格納する。なお、各メモリ１５−１〜１５−Ｎは、この例では、１つのメモリ素子の中のメモリ領域である。また、メモリ１５−１〜１５−Ｎは、例えば、半導体メモリにより実現される。
【００４１】
遅延測定コントローラ１６は、光伝送装置１０における遅延測定に係わる動作を制御する。また、遅延測定コントローラ１６は、遅延決定部１７を含む。遅延決定部１７は、メモリ１５−１〜１５−Ｎに格納されている複数の測定結果に基づいて、光伝送装置１０と対向装置との間の伝送遅延時間を決定する。なお、遅延測定コントローラ１６は、たとえば、ソフトウェアプログラムを実行するプロセッサにより実現される。
【００４２】
上記構成の光伝送装置１０は、遅延測定指示が与えられると、遅延測定を開始する。遅延測定指示は、例えば、ユーザ（或いは、ネットワークを管理する管理者）から与えられる。また、遅延測定指示は、ネットワーク１００に接続されている複数の光伝送装置の中から対向装置を指定することができる。例えば、図３において、光伝送装置３ａに与えられる遅延測定指示は、対向装置として、光伝送装置３ｂ、３ｃ、または３ｄを指定することができる。
【００４３】
遅延測定コントローラ１６は、遅延測定指示を受け取ると、フレーム生成部１１および遅延測定部１４に遅延測定をＮ回実行させる。Ｎは、３以上の整数である。遅延測定部１４により得られる測定結果１〜Ｎは、それぞれメモリ１５−１〜１５−Ｎに格納される。そして、遅延決定部１７は、メモリ１５−１〜１５−Ｎに格納されている測定結果１〜Ｎに基づいて、光伝送装置１０と対向装置との間の伝送路遅延を決定する。
【００４４】
ただし、遅延決定部１７は、遅延測定部１４により行われるＮ回の遅延測定から少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、対向装置との間の伝送遅延時間を決定する。たとえば、遅延測定部１４が３回の遅延測定を行い、対応する測定結果１〜３がメモリ１５−１〜１５−３に格納されているものとする。この場合、遅延決定部１７は、最初の遅延測定による測定結果を使用することなく、２回目および３回目の遅延測定により得られる測定結果２〜３に基づいて、対向装置との間の伝送遅延時間を決定する。
【００４５】
遅延決定部１７は、例えば、残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の誤差が所定の閾値よりも小さいときに、それら複数の測定結果に基づいて遅延時間を決定してもよい。以下、メモリ１５−１〜１５−Ｎに測定結果１〜Ｎが格納されており、測定結果２〜Ｎに基づいて伝送遅延時間を決定する方法を説明する。
【００４６】
遅延決定部１７は、測定結果２〜Ｎの誤差（ここでは、差分）を算出する。ここで、伝送遅延時間は、フレーム数でカウントされているものとする。この場合、例えば、測定結果２〜Ｎの中の最大値と最小値との差が５フレームよりも小さいときに、測定結果２〜Ｎに基づいて伝送遅延時間が決定される。
【００４７】
遅延決定部１７は、例えば、下記（１）〜（５）の中の１つを、対向装置との間の伝送遅延時間として出力する。
（１）測定結果２〜Ｎの中で最も先に得られた測定結果（すなわち、測定結果２）
（２）測定結果２〜Ｎの中で最も後に得られた測定結果（すなわち、測定結果Ｎ）
（３）測定結果２〜Ｎの平均
（４）測定結果２〜Ｎの中の最小値
（５）測定結果２〜Ｎの中の最大値
なお、光伝送装置１０には、表示装置２２が接続されていてもよい。この場合、遅延決定部１７により得られる測定結果（すなわち、伝送遅延時間）は、表示装置２２に表示される。
【００４８】
このように、第１の実施形態においては、複数回の遅延測定が実行され、少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて伝送遅延が決定される。ここで、最初の遅延測定の開始時においては、図４（ａ）に示すように、測定装置と対向装置との間の伝送路上のフレームのＤＭビットがすべて同じ値となっているわけではない。このため、最初の遅延測定においては、図４（ｃ）に示すように、伝送遅延を正しく測定できないことがある。そこで、遅延決定部１７は、少なくとも最初の遅延測定により得られる測定結果を使用せずに伝送遅延を計算する。ここで、遅延測定が実行された後（特に、遅延測定が実行された直後）は、測定装置と対向装置との間の伝送路の各フレームのＤＭビットは、図１（ｃ）に示すように、すべて同じ値である。そして、このような状態で遅延測定を開始すれば、図４に示す誤測定は回避される。したがって、第１の実施形態によれば、伝送遅延時間が正しく測定される。
【００４９】
さらに、第１の実施形態によれば、複数の測定結果に基づいて伝送遅延が決定される。したがって、遅延測定の信頼性が向上する。
【００５０】
なお、上述の例では、伝送遅延の決定において最初の測定結果が除外されているが、最初の複数の測定結果を除外してもよい。例えば、最初の２つの測定結果を除外する場合には、遅延決定部１７は、測定結果３〜Ｎに基づいて伝送遅延を決定する。
【００５１】
＜第２の実施形態＞
図７は、第２の実施形態の光伝送装置の構成を示す。第２の実施形態の光伝送装置２０は、フレーム生成部１１、送信部１２、受信部１３、遅延測定部１４、メモリ１５−１〜１５−Ｎ、遅延測定コントローラ１６、信号監視部２１を有する。なお、フレーム生成部１１、送信部１２、受信部１３、遅延測定部１４、メモリ１５−１〜１５−Ｎ、遅延測定コントローラ１６の構成および動作は、第１の実施形態と実質的に同じなので、説明を省略する。また、光伝送装置２０には、表示装置２２が接続されている。
【００５２】
信号監視部２１は、光伝送路の状態をモニタする。すなわち、信号監視部２１は、ネットワーク１００から受信する光信号、及び受信光信号から再生されるデータを監視する。例えば、信号監視部２１は、受信光信号の光レベル（或いは、光パワー）をモニタする。そして、受信光信号の光レベルが所定の閾値レベルよりも低ければ、信号監視部２１は、アラーム信号を出力する。また、信号監視部２１は、受信光信号の信号対雑音比（ＯＳＮＲ）をモニタしてもよい。この場合、ＯＳＮＲが所定の閾値よりも低下すると、信号監視部２１は、アラーム信号を出力する。さらに、信号監視部２１は、受信部１３により再生されるデータの誤り率をモニタしてもよい。この場合、誤り率が所定の閾値よりも劣化すると、信号監視部２１は、アラーム信号を出力する。
【００５３】
遅延測定コントローラ１６は、信号監視部２１からアラーム信号を受信すると、光伝送路の信頼性が低いと判断する。よって、遅延測定前にアラーム信号を受信すると、遅延測定コントローラ１６は遅延測定を開始しない。また、遅延測定中にアラーム信号を受信すると、遅延測定コントローラ１６は遅延測定を終了する。この場合、遅延測定コントローラ１６は、測定結果を出力しない。したがって、第２の実施形態によれば、例えば、図５に示すように光伝送路上で障害が発生した場合には、信号監視部２１からアラーム信号が出力され、遅延測定コントローラ１６は遅延測定を行わないか、または停止する。この結果、信頼性の低い測定結果が出力されることはない。
【００５４】
また、遅延測定コントローラ１６は、アラーム信号を受信すると、伝送特性の劣化を表すメッセージを表示装置２２に表示する。この場合、例えば「伝送特性が低いので、遅延測定を中止します」というメッセージが表示装置２２に表示される。
【００５５】
＜第３の実施形態＞
図８は、第３の実施形態の光伝送装置の構成を示す。第３の実施形態の光伝送装置３０は、フレーム生成部１１、送信部１２、受信部１３、遅延測定部１４、メモリ１５−１〜１５−Ｎ、遅延測定コントローラ１６、ＤＭビット確認部３１を有する。なお、フレーム生成部１１、送信部１２、受信部１３、遅延測定部１４、メモリ１５−１〜１５−Ｎ、遅延測定コントローラ１６の構成および動作は、第１の実施形態と実質的に同じなので、説明を省略する。また、光伝送装置３０には、第２の実施形態と同様に、表示装置２２が接続されている。
【００５６】
図１および図４を参照しながら説明したように、遅延測定の開始時に測定装置と対向装置との間の伝送路上の各フレームのＤＭビットがすべて同じ値であれば、正しい遅延時間が測定される。換言すれば、遅延測定の開始時に測定装置と対向装置との間の伝送路上のフレームのＤＭビットが不安定であるときは、誤った遅延時間が検出されることがある。
【００５７】
そこで、ＤＭビット確認部３１は、送信部１２により送信されるフレームのＤＭビットと、受信部１３により受信されたフレームのＤＭビットとを比較する。そして、ＤＭビット確認部３１は、比較結果を遅延測定コントローラ１６に通知する。なお、ＤＭビット確認部３１は、複数の送信フレームのＤＭビットと対応する複数の受信フレームのＤＭビットを比較してもよい。
【００５８】
送信フレームのＤＭビットと受信フレームのＤＭビットが互いに一致していれば、遅延測定コントローラ１６は、遅延測定を開始する。一方、送信フレームのＤＭビットと受信フレームのＤＭビットが互いに異なっていれば、遅延測定コントローラ１６は、遅延測定を実行することなく、表示装置２２にメッセージを出力する。この場合、例えば「遅延測定を実行できません」というメッセージが表示装置２２に表示される。
【００５９】
第３の実施形態によれば、測定装置と対向装置との間の伝送路上のフレームのＤＭビットが不安定であるときは、遅延測定は実行されない。したがって、遅延測定の信頼性が向上する。
【００６０】
なお、第２の実施形態および第３の実施形態を組み合わせることができる。すなわち、光伝送装置は、信号監視部２１およびＤＭビット確認部３１の双方を含んでもよい。この場合、光伝送装置（測定装置）は、光伝送路の特性が閾値よりも良好であり、且つ、送信フレームのＤＭビットと受信フレームのＤＭビットが互いに一致しているときに、遅延測定を実行する。
【００６１】
＜フローチャート＞
図９は、本発明の実施形態の遅延測定方法を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、第１〜第３の実施形態に適用可能である。また、このフローチャートの処理は、遅延測定指示が与えられたときに、光伝送装置１０、２０、３０によって実行される。
【００６２】
Ｓ１において、遅延測定コントローラ１６は、遅延測定の実行回数をカウントするための変数ｎをゼロに初期化する。Ｓ２において、遅延測定コントローラ１６は、ＤＭビットのループバックを停止する。遅延測定指示が与えられる前は、遅延測定コントローラ１６は、受信フレームのＤＭビットの値を取得してフレーム生成部１１に与える。そして、フレーム生成部１１は、送信フレームのＤＭビットに、遅延測定コントローラ１６から与えられた値を設定する。これにより、ＤＭビットのループバックが実現される。これに対して、遅延測定指示が与えられると、遅延測定コントローラ１６は、フレーム生成部１１に対してＤＭビットを有効化する指示を与える。そうすると、フレーム生成部１１は、後述するＤＭビット反転を実施するまで、「ＤＭビット＝デフォルト値」を有するフレームを生成する。デフォルト値は、この例では「０」である。
【００６３】
Ｓ３において、フレーム送信部１１および遅延測定部１４は、遅延測定を実行する。Ｓ３の遅延測定については、後で図１０を参照しながら詳しく説明する。
【００６４】
Ｓ３の遅延測定が終了すると、遅延測定コントローラ１６は、Ｓ４において、変数ｎをインクリメントする。Ｓ５において、遅延測定コントローラ１６は、変数ｎがＮに一致するか判定する。すなわち、Ｓ３の遅延測定がＮ回実行されたか判定される。そして、Ｓ３の遅延測定がＮ回実行されると、遅延測定コントローラ１６の処理はＳ６へ移行する。なお、Ｎは、３以上の整数であり、予め指定されているものとする。
【００６５】
Ｓ３の遅延測定により得られる測定結果は、メモリに格納される。すなわち、Ｓ３の遅延測定をＮ回実行することにより得られる測定結果１〜Ｎは、メモリ１５−１〜１５−Ｎに格納される。
【００６６】
Ｓ６において、遅延測定コントローラ１６は、メモリ１５−１〜１５−Ｎに格納されている測定結果１〜Ｎの中から、最初に得られた測定結果を除く他の複数の測定結果を抽出する。図９に示す例では、最初の測定結果１を除く測定結果２〜Ｎが抽出されている。なお、図９に示す例では、最初に得られた１つの測定結果が除外されているが、最初に得られた複数の測定結果を除外してもよい。
【００６７】
Ｓ７において、遅延測定コントローラ１６の遅延決定部１７は、抽出した複数の測定結果（図９では、測定結果２〜Ｎ）の誤差が所定の閾値よりも小さいか判定する。そして、測定結果２〜Ｎの誤差が所定の閾値よりも小さいときは、遅延決定部１７は、Ｓ８において、測定結果２〜Ｎに基づいて伝送遅延時間を決定する。このとき、遅延決定部１７は、伝送遅延時間として、上述した（１）〜（５）のいずれか１つを出力する。なお、測定結果２〜Ｎの誤差が所定の閾値以上であったときは、遅延決定部１７は、表示装置２２に対応するメッセージを出力すると共に、伝送遅延時間を決定することなく処理を終了する。
【００６８】
図１０は、遅延測定の手順を示すフローチャートである。図１０に示すフローチャートの処理は、図９のＳ３に対応する。すなわち、光伝送装置は、伝送遅延時間を決定するために、図１０に示すフローチャートの処理をＮ回実行する。
【００６９】
Ｓ１１において、遅延測定コントローラ１６は、信号監視部２１に光伝送路の状態をモニタさせる。信号監視部２１は、遅延測定コントローラ１６からの指示に応じて、光伝送路の状態をモニタする。このとき、信号監視部２１は、例えば、受信光信号の光レベルまたはＯＳＮＲをモニタする。そして、光伝送路の状態が劣化していれば、信号監視部２１は、アラーム信号を生成する。Ｓ１１においてアラーム信号が生成されなければ、遅延測定コントローラ１６の処理はＳ１２に移行する。
【００７０】
Ｓ１２において、遅延測定コントローラ１６は、ＤＭビット確認部３１にＤＭビットを確認させる。ＤＭビット確認部３１は、遅延測定コントローラ１６からの指示に応じて、送信フレームのＤＭビットと受信フレームのＤＭビットとを比較する。この比較結果は、遅延測定コントローラ１６に通知される。そして、送信フレームのＤＭビットおよび受信フレームのＤＭビットが互いに一致していれば、遅延測定コントローラ１６の処理はＳ２１に移行する。
【００７１】
なお、実施形態の遅延測定方法は、Ｓ１１および／またはＳ１２を含まなくてもよい。例えば、図６に示す光伝送装置１０においては、Ｓ１１およびＳ１２はスキップされる。図７に示す光伝送装置２０においては、Ｓ１２はスキップされる。図８に示す光伝送装置３０においては、Ｓ１１はスキップされる。もちろん、実施形態の遅延測定方法は、Ｓ１１およびＳ１２の双方を実行してもよい。
【００７２】
Ｓ２１において、フレーム生成部１１は、ＤＭビットを反転させる。即ち、直前に生成したフレームのＤＭビットが「０」であったときは、フレーム生成部１１は、以降の各フレームのＤＭビットを「１」に変更する。また、直前に生成したフレームのＤＭビットが「１」であったときは、フレーム生成部１１は、以降の各フレームのＤＭビットを「０」に変更する。以下の説明では、ＤＭビットが「０」から「１」に変更されるものとする。そして、Ｓ２２において、遅延測定部１４は、受信フレームをカウントするための変数Ｄを「０」に初期化する。
【００７３】
Ｓ２３において、受信部１３は、ネットワーク１００からフレームを受信し、遅延測定部１４は、その受信フレームのオーバヘッドを取得して解析する。そうすると、遅延測定部１４は、Ｓ２４において、変数Ｄをインクリメントする。さらに、遅延測定部１４は、Ｓ２５において、受信フレームのＤＭビットが、Ｓ２１による変更後の値であるか判定する。例えば、Ｓ２１においてＤＭビットが「０」から「１」に変更されたときは、遅延測定部１４は、受信フレームのＤＭビットが「１」であるか判定する。そして、受信フレームのＤＭビットが「１」でなかったときは、光伝送装置の処理はＳ２３に戻る。換言すれば、「ＤＭビット＝１」を有するフレームを受信するまで、Ｓ２３〜Ｓ２５の処理が繰り返し実行される。このとき、Ｓ２３〜Ｓ２５を実行する毎に、変数Ｄは１ずつインクリメントされる。
【００７４】
Ｓ２５において「ＤＭビット＝１」が検出されると、遅延測定部１４は、Ｓ２６〜Ｓ２８を実行する。Ｓ２６〜Ｓ２８は、実質的にＳ２３〜Ｓ２５と同じである。すなわち、Ｓ２６〜Ｓ２８を実行することにより、変数Ｄが１だけインクリメントされる。同様に、Ｓ２８において「ＤＭビット＝１」が検出されると、遅延測定部１４は、Ｓ２９〜Ｓ３１を実行する。Ｓ２９〜Ｓ３１の処理も、実質的にＳ２３〜Ｓ２５と同じである。よって、Ｓ２９〜Ｓ３１を実行することにより、変数Ｄが１だけインクリメントされる。
【００７５】
このように、光伝送装置が「ＤＭビット＝１」を有するフレームを連続して３つ受信すると、Ｓ２５、Ｓ２８、Ｓ３１がそれぞれ「Ｙｅｓ」と判定され、遅延測定部１４の処理はＳ３２に移行する。この時点で、変数Ｄは、Ｓ２１〜Ｓ３１が実行されている期間に光伝送装置が受信したフレームの数を表している。
【００７６】
Ｓ３２において、遅延測定部１４は、遅延時間の測定結果として、「Ｄ−３」を対応するメモリに格納する。例えば、最初の遅延測定により得られる遅延結果１は、メモリ１５−１に格納され、Ｎ回目の遅延測定により得られる遅延結果Ｎは、メモリ１５−Ｎに格納される。このとき、遅延測定部１４は、フレーム数で表されている測定結果を時間に変換した後にメモリに格納してもよい。
【００７７】
なお、図１０においては、Ｓ２１においてＤＭビットが「０」から「１」に変更され、Ｓ２５、Ｓ２８、Ｓ３１で「ＤＭビット＝１」が検出されるケースが記載されている。これに対して、Ｓ２１でＤＭビットが「１」から「０」に変更されたときは、Ｓ２５、Ｓ２８、Ｓ３１で「ＤＭビット＝０」が検出される。
【００７８】
例えば、最初の遅延測定で「ＤＭビット＝１」が使用されたときは、２回目の遅延測定では、Ｓ２１のビット反転により、「ＤＭビット＝０」が使用されることになる。そうすると、２回目の遅延測定では、Ｓ２５、Ｓ２８、Ｓ３１で「ＤＭビット＝０」が検出される。以下、同様に、「ＤＭビット＝０」および「ＤＭビット＝１」が交互に使用される。
【００７９】
なお、信号監視部２１によってアラーム信号が生成されたときは（Ｓ１１：Ｙｅｓ）、遅延測定コントローラ１６は、Ｓ４１において、表示装置２２に対応するメッセージを表示する。また、送信フレームのＤＭビットおよび受信フレームのＤＭビットが互いに異なっていたときも（Ｓ１２：Ｎｏ）、遅延測定コントローラ１６は、Ｓ４１において、表示装置２２に対応するメッセージを表示する。
【００８０】
また、上述の実施例では、「ＤＭビット＝ビット反転後の値」を有するフレームを３つ連続して受信するまでのフレーム数がカウントされるが、本発明はこの方法に限定されるものではない。例えば、遅延測定部１４は、「ＤＭビット＝ビット反転後の値」を有するフレームを最初に受信するまでのフレーム数をカウントしてもよい。
【００８１】
＜他の実施形態＞
第１〜第３の実施形態を含む上述の実施形態では、複数の測定結果の中の少なくとも最初に得られた測定結果は、伝送遅延の決定において使用されることなく廃棄される。これに対して、以下に記載する他の実施形態では、複数の測定結果の中の最初に得られた測定結果も、伝送遅延の決定において使用される。
【００８２】
図１１は、他の実施形態の遅延測定方法を示すフローチャートである。図１１に示すＳ１〜Ｓ２、Ｓ３〜Ｓ５、Ｓ７は、実質的に図９と同じである。したがって、これらの処理については説明を省略する。ただし、図１１に示すフローチャートでは、Ｎは、２以上の整数である。
【００８３】
Ｓ５１において、遅延測定コントローラ１６は、遅延測定を開始する前に、ループバックを停止した状態で所定時間の経過を待つ。所定時間としては、例えば、測定装置と対向装置との間の距離に基づいて推定される伝送遅延時間よりも長い時間が設定される。そして、上記所定時間が経過すると、遅延測定コントローラ１６は、フレーム送信部１１および遅延測定部１４に対して遅延測定の開始を指示する。これにより、フレーム送信部１１および遅延測定部１４は、Ｎ回の遅延測定を実行する。
【００８４】
ループバックを停止した状態においては、Ｓ２１のビット反転が行われるまで、フレーム生成部１１により生成される各フレームのＤＭビットは一定の値に保持される。このため、Ｓ５１の所定時間が経過した時点では、測定装置と対向装置との間の光伝送路上の各フレームのＤＭビットは、すべて同じ値である。すなわち、Ｓ５１を実行することによって、「測定装置と対向装置との間の光伝送路上の各フレームのＤＭビットが不安定」という図４に示す問題点は回避される。この後、遅延測定が開始される。
【００８５】
Ｓ５２において、遅延測定コントローラ１６は、メモリ１５−１〜１５−Ｎに格納されている測定結果１〜Ｎに基づいて伝送遅延を決定する。ここで、図１１に示す実施形態では、上述のように、図４に示す問題点は回避されている。すなわち、最初の遅延測定で得られる測定結果１の信頼性は高く、伝送遅延を決定する際に測定結果１を除外する必要はない。したがって、遅延決定部１７は、測定結果１〜Ｎに基づいて伝送遅延を決定する。なお、複数の測定結果から伝送遅延を決定する方法は、図９および図１１において実質的に同じである。
【００８６】
なお、上述した第１〜第３の実施形態および図１１に示す他の実施形態は、ＯＴＮフレームを伝送する光伝送システムに適用されているが、本発明はこの構成に限定されるものではない。すなわち、本発明の光伝送装置および遅延測定方法は、他の構造のフレームを伝送する光伝送システムにも適用可能である。
【００８７】
以上記載した各実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
（付記１）
対向装置へフレームを送信すると共に前記対向装置からフレームを受信する伝送装置であって、
前記対向装置へフレームを送信したときから対応するフレームを前記対向装置から受信するまでの時間を測定する遅延測定を行う測定部と、
前記測定部により行われる複数回の遅延測定から少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記対向装置との間の伝送遅延時間を決定する遅延決定部と、
を有することを特徴とする伝送装置。
（付記２）
前記遅延決定部は、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の誤差が所定の閾値よりも小さいときに、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする付記１に記載の伝送装置。
（付記３）
前記測定部は、各遅延測定において、前記対向装置へ一定間隔で送信する各フレーム内の所定のビットの値を変更したときから、前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記対向装置から受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする付記１に記載の伝送装置。
（付記４）
前記測定部は、各遅延測定において、前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを連続して前記対向装置へ送信し、前記遅延測定の開始から前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記対向装置から所定数連続して受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする付記３に記載の伝送装置。
（付記５）
前記測定部により前記残りの遅延測定が実行される前に、前記対向装置へ送信するフレームの前記所定のビットの値と、前記対向装置から受信するフレームの前記所定のビットの値とを比較する比較部をさらに有し、
前記測定部は、前記比較部により比較された２つの値が互いに一致していたときに前記残りの遅延測定を実行する
ことを特徴とする付記３に記載の伝送装置。
（付記６）
前記対向装置との間の伝送路の状態をモニタする監視部をさらに有し、
前記監視部により前記伝送路において所定の劣化が検出されたときは、前記測定部は、前記遅延測定を終了して前記所定の劣化を表すメッセージを出力する
ことを特徴とする付記１に記載の伝送装置。
（付記７）
前記遅延決定部は、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の中の最初の測定結果、最後の測定結果、平均値、最小値、または最大値を出力する
ことを特徴とする付記１〜６のいずれか１つに記載の伝送装置。
（付記８）
第１の伝送装置と第２の伝送装置との間でフレームが伝送される伝送システムにおいて伝送遅延時間を測定する方法であって、
前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へフレームを送信したときから、対応するフレームが前記第２の伝送装置から前記第１の伝送装置に戻ってくるまでの時間、を測定する遅延測定を複数回行い、
前記複数回の遅延測定から少なくとも最初の遅延測定を除いた残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置との間の伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする遅延測定方法。
（付記９）
前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の誤差が所定の閾値よりも小さいときに、前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする付記８に記載の遅延測定方法。
（付記１０）
前記遅延測定は、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ一定間隔で送信される各フレーム内の所定のビットの値を変更することにより開始され、前記第１の伝送装置が前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記第２の伝送装置から受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする付記８に記載の遅延測定方法。
（付記１１）
前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを連続して送信し、
前記遅延測定の開始から、前記第１の伝送装置が前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記第２の伝送装置から所定数連続して受信するまでの時間を測定する
ことを特徴とする付記１０に記載の遅延測定方法。
（付記１２）
前記残りの遅延測定を実行する前に、前記第２の伝送装置へ送信するフレームの前記所定のビットの値と、前記第２の伝送装置から受信するフレームの前記所定のビットの値とを比較し、
比較された２つの値が互いに一致していたときに前記残りの遅延測定を実行する
ことを特徴とする付記１０に記載の遅延測定方法。
（付記１３）
前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置との間の伝送路の状態をモニタし、
前記伝送路において所定の劣化が発生したときに前記遅延測定を終了して前記所定の劣化を表すメッセージを出力する
ことを特徴とする付記８に記載の遅延測定方法。
（付記１４）
前記残りの遅延測定により得られる複数の測定結果の中の最初の測定結果、最後の測定結果、平均値、最小値、または最大値を出力する
ことを特徴とする付記８〜１３のいずれか１つに記載の遅延測定方法。
（付記１５）
第１の伝送装置と第２の伝送装置との間でフレームが伝送される伝送システムにおいて伝送遅延時間を測定する方法であって、
遅延測定を開始する前に、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ一定間隔で送信される各フレーム内の所定のビットを固定した状態で所定時間の経過を待ち、
前記所定時間が経過した後、前記第１の伝送装置から前記第２の伝送装置へ一定間隔で送信される各フレーム内の所定のビットの値を変更したときから、前記第１の伝送装置が前記所定のビットに変更後の値が設定されているフレームを前記第２の伝送装置から受信するまでの時間を測定する遅延測定を複数回行い、
前記複数回の遅延測定により得られる複数の測定結果に基づいて、前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置との間の伝送遅延時間を決定する
ことを特徴とする遅延測定方法。
【符号の説明】
【００８８】
１  測定装置
２  対向装置
１０、２０、３０  光伝送装置
１１  フレーム生成部
１４  遅延測定部
１６  遅延測定コントローラ
１７  遅延決定部
２１  信号監視部
２２  表示装置
３１  ＤＭビット確認部
【図１】
0005966382.tif 000002
【図２】
0005966382.tif 000003
【図３】
0005966382.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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