(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技領域に設けた複数の入賞口毎に配置された近接スイッチを用いて各入賞口への遊技球の入賞を検出する弾球遊技機であって、
主制御装置が所定周期で実行する定時割込処理において、近接スイッチの非検出状態が第１所定回数連続した後に検出状態に変化し該検出状態を前記第１所定回数とは異なる回数である第２所定回数維持することによって入賞と判定するように構成し、
前記定時割込処理において近接スイッチの非検出状態が検出状態に変化してから該検出状態の維持回数が前記第２所定回数よりも大きな回数である第３所定回数に満たない場合にエラー１と判定し、該維持回数が前記第３所定回数よりも大きな回数である第４所定回数を超えた場合にエラー２と判定し、
所定期間内にエラー１と判定された回数を計数し、該計数した値が所定値に達することを条件にエラー１の報知を行い、エラー２と１回判定した時点でエラー２の報知を実施し、
前記近接スイッチが配置された前記入賞口の構造に応じて異なる前記第２所定回数、前記第３所定回数、及び前記第４所定回数を設定する
ことを特徴とする弾球遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、不正行為による遊技球の入賞を検出可能とするパチンコ遊技機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
パチンコ遊技機の入賞口には、遊技球の入球を検出するための検出スイッチとして近接スイッチが設けられており、主制御装置の定時割込処理によって確認（検知）する検出スイッチの非検出状態から検出状態への検出状態の変化（検出信号の立ち上がり又は立ち下りの変化）によって遊技球の入賞を検出する構成となっている。
【０００３】
従来のパチンコ遊技機では、検出スイッチの検出状態が変化した時点で遊技球が入賞したと判定していたため、検出スイッチとなる近接スイッチに所定の波長の電磁波を照射することで検出信号を変化させ、多数の入賞があったかのように誤動作させるゴト行為（所謂電波ゴト）が昔から現在に至るまで行われており、電波ゴトを検知する発明も開示されている＜特許文献１＞＜特許文献２＞。
【０００４】
上記した電波ゴトは、パチンコ遊技機に搭載された近接スイッチの動作仕様によってゴト行為が可能なタイミングが異なってくる。具体的には、近接スイッチが非検出時に「Ｌｏｗ」、検出時に「Ｈｉ」となる仕様であれば、遊技球の非検出状態（Ｌｏｗ）において所定の波長の電波を照射することでゴト行為を行うことができ、近接スイッチが非検出時に「Ｈｉ」、検出時に「Ｌｏｗ」となる仕様であれば、遊技球の検出状態（Ｌｏｗ）において所定の波長の電波を照射することでゴト行為を行うことができる。従って、後者の近接スイッチを配置し、電波ゴトが行える期間を限定することによって、電波ゴトに対して有効とするパチンコ遊技機もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１４７６８７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３０４５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記したように、非検出時に「Ｈｉ」、検出時に「Ｌｏｗ」となる仕様の近接スイッチは、電波ゴトが行える期間が遊技球検出時に限られるため電波ゴトには有効といえる。但し近年、遊技に利用する遊技球よりも若干大きく検出スイッチを通過しない大きさの金属球（略球状）を、磁石を用いて所定の入賞口（例えば一般入賞口）に誘導し、検出スイッチを常時検出状態（「Ｌｏｗ」）となるようにした上で電波を照射することで不正行為者が任意のタイミングで不正に遊技球を得られるようにするゴト行為（所謂大玉ゴト）が行われている。
【０００７】
この様な不正行為は、遊技機に備えられた磁力センサや電波センサによる不正検知を巧妙に回避して行われているため発見が困難であり、ホールが被害を受けるケースが多発している。
【０００８】
本願発明は、上記問題に鑑み、電波ゴトの不正行為を適切に検出し、ホールの被害を未然に防ぐことが可能な弾球遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１記載の弾球遊技機は、
遊技領域に設けた複数の入賞口毎に配置された近接スイッチを用いて各入賞口への遊技球の入賞を検出する弾球遊技機であって、
主制御装置が所定周期で実行する定時割込処理において、近接スイッチの非検出状態が第１所定回数連続した後に検出状態に変化し該検出状態を前記第１所定回数とは異なる回数である第２所定回数維持することによって入賞と判定するように構成し、
前記定時割込処理において近接スイッチの非検出状態が検出状態に変化してから該検出状態の維持回数が前記第２所定回数よりも大きな回数である第３所定回数に満たない場合にエラー１と判定し、該維持回数が前記第３所定回数よりも大きな回数である第４所定回数を超えた場合にエラー２と判定し、
所定期間内にエラー１と判定された回数を計数し、該計数した値が所定値に達することを条件にエラー１の報知を行い、エラー２と１回判定した時点でエラー２の報知を実施し、
前記近接スイッチが配置された前記入賞口の構造に応じて異なる前記第２所定回数、前記第３所定回数、及び前記第４所定回数を設定する
ことを特徴とする弾球遊技機である。
【００１０】
「近接スイッチの非検出状態が所定回数連続した後に検出状態に変化し」とは、配置された近接スイッチの仕様が非検出時に「Ｌｏｗ」、検出時に「Ｈｉ」となる仕様であれば、定時割込処理時に少なくとも１回以上「Ｌｏｗ」状態を検出した後に「Ｈｉ」状態を検出する場合を指し、近接スイッチの仕様が非検出時に「Ｈｉ」、検出時に「Ｌｏｗ」となる仕様であれば、定時割込処理時に少なくとも１回以上「Ｈｉ」状態を検出した後に「Ｌｏｗ」状態を検出する場合を指し、このように検出スイッチの仕様の違いによって、検出信号の立上り又は立下りのどちらともなる。
【００１１】
「検出状態を所定回数維持することによって入賞と判定するように構成し」とは、検出状態の変化のみで遊技球が入賞したと判定するのではなく、正常な遊技球の入賞にともなう連続した複数回の検出状態の検知を条件に入賞と判定する構成となる。これは、正常な遊技球の入賞であれば非検出状態から検出状態への変化後に検出状態を複数回連続して検知することを基にしており、例えば、遊技球が近接スイッチの検出部を通過する時間が１０ｍｓであった場合、主制御装置が実行する定時割込処理の周期が２ｍｓなら５回の定時割込処理に亘って連続して検出状態を検知することを基にする。なお、入賞口の構造によっては遊技球が近接スイッチの検出部を想定以上の速度で通過する可能性が否定できないため、この場合の所定回数（正常検出維持回数）には、遊技者にエラーによって不愉快な思いをさせないように多少の余裕をもった回数を設定するのが好適である。
【００１２】
検出状態の維持回数が所定回数（最短検出維持回数）に満たない場合はエラー１と判定するが、これは、近接スイッチに照射された電磁波の周期に合わせて短時間のみ近接スイッチが検出状態となることを基に判定する電波ゴトの実行を示すエラーであり、エラー１と判定された場合、進行中の遊技を中止してエラー１を報知してもよいし、進行中の遊技をそのまま進行しながらエラー１を報知してもよいし、内部的にエラー１を記憶して遊技をそのまま進行してもよい。
【００１３】
維持回数が所定回数（最長検出維持回数）を超えた場合にエラー２と判定する構成となるが、エラー１の判定条件となる所定回数（最短検出維持回数）とエラー２の判定条件となる所定回数（最長検出維持回数）とは、異なる値として個々に設定する構成が好適である。また、エラー２の判定構成は、大玉ゴトを検知可能とするが、大玉によるゴトだけではなく、所謂玉詰まりによってエラー２が生じる可能性もあり、エラー１のように遊技進行に大きな影響が発生しない状況とは異なり、玉詰まりを放置することで遊技者に不利益を与えることも想定されるため、エラー２は即座に報知する構成が望ましい。
【００１４】
「近接スイッチが配置された入賞口の構造に応じて」とは、近接スイッチが配置された入賞口の構造（遊技球が入賞口に入球してから近接スイッチ検出部に達するまでの構造）によって変化する近接スイッチ検出部における遊技球の通過速度に応じてに相当し、例えば、遊技球の入賞口への入球から近接スイッチ検出部までに遊技球の転動速度を減速させる障害物が何もない構造（所謂遊技球通過孔が成型品で覆われた状態で遊技領域上に配置された遊技球ゲート（図の普通図柄作動ゲート４２参照）等）の場合、遊技球が近接スイッチ検出部を極めて速い速度で通過することが想定されるため、所定回数（正常検出維持回数、最短検出維持回数、最長検出維持回数）に少ない回数を設定するのが望ましい。
【００１５】
また、遊技球が入賞口へ入球してから近接スイッチ検出部に達するまでに必ず成型物に接触する入賞口内の構造であれば、遊技球の転動速度が減速して近接スイッチ検出部を通過するため、所定回数（正常検出維持回数、最短検出維持回数、最長検出維持回数）に上記した少ない回数よりも多い回数を設定するのが好適となる。従って、「近接スイッチが配置された入賞口の構造に応じて異なる所定回数を設定する」とは、入賞口の構造に応じて変化する該入賞口に配置された近接スイッチの遊技球検出部を通過する遊技球の通過速度に応じて正常検出維持回数となる所定回数、最短検出維持回数となる所定回数、及び最長検出維持回数となる所定回数とを設定する構成となり、各入賞口毎に定時割込処理による検出状況を一時記憶する所謂バッファを備える構成としてもよい。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１記載の弾球遊技機によれば、ほとんどのパチンコ遊技機が実施しているように近接スイッチを用いて遊技球の入賞口への入賞を検出する場合、近接スイッチの遊技球検出維持期間は入賞口内の構造にも依存するが概ね１０〜１４ｍｓとなり、所定回数の定時割込処理による検出維持期間が最短検出維持回数を下回った場合には、電波（電磁波）ゴトが実行された可能性があるためエラー１として判定することができ、検出維持期間が最長検出維持回数を超えた場合には、大玉を用いた電磁波ゴトである可能性が高いので、エラー２と判定することができる。更に近接スイッチの検出維持期間は、該近接スイッチが配置された入賞口の構造に依存するため、例えばゲート型の入賞口であれば短く、遊技球の転動速度が減速するような構造の入賞口であれば長く、というように、近接スイッチが配置された入賞口の構造に応じて検出維持期間となる定時割込処理の所定回数（正常検出維持回数、最短検出維持回数、及び最長検出維持回数）を変化させることで好適な判定が可能となる。また、電磁波センサを遊技機に備える必要がなくなるため、コストを抑えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】遊技盤８の正面図。
【図２】遊技機の電気的構成を示すブロック図。
【図３】主制御装置５０が実行するメインルーチンを示すフローチャート。
【図４】従来機における近接スイッチの入賞検出時間と入賞処理の関係を示すタイミングチャート。
【図５】従来機における電磁波ゴトの内容（スイッチ信号と電磁波の関係）を示すタイミングチャート。
【図６】従来機における大玉ゴトの内容（スイッチ信号と電磁波の関係）を示すタイミングチャート。
【図７】主制御装置５０が記憶するスイッチデータバッファの入賞判定パターンとエラー判定パターンを示す図。
【図８】実施例１において主制御装置５０が実行する入賞確認処理１を示すフローチャート。
【図９】主制御装置５０が実行するエラー１報知処理を示すフローチャート。
【図１０】主制御装置５０が備える入賞判定バッファの構成を示す図。
【図１１】主制御装置５０が実行する入賞処理のタイミングを示すタイミングチャート。
【図１２】主制御装置５０が実行する電磁波ゴト行為の判定タイミングを示すタイミングチャート。
【図１３】主制御装置５０が実行する大玉ゴト行為の判定タイミングを示すタイミングチャート。
【図１４】実施例２において主制御装置５０が備える近接スイッチの検出状態を計数する検出カウンタの内容を示す図１。
【図１５】実施例２において主制御装置５０が備える近接スイッチの検出状態を計数する検出カウンタの内容を示す図２。
【図１６】実施例２において主制御装置５０が実行する入賞確認処理２を示すフローチャート。
【図１７】実施例３において主制御装置５０が記憶する入賞口毎に設定されたスイッチデータバッファの入賞判定パターンとエラー判定パターンを示す図１。
【図１８】実施例３において主制御装置５０が記憶する入賞口毎に設定されたスイッチデータバッファの入賞判定パターンとエラー判定パターンを示す図２。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。尚、本発明の実施の形態は、下記の実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採りうる。
【実施例１】
【００１９】
図１は、本実施例におけるパチンコ機の遊技盤８の正面図である。なお、このパチンコ機の全体的な構成は公知技術に従っているので図示及び説明は省略する。遊技盤８には公知のガイドレール２５ａ、２５ｂによって囲まれた略円形の遊技領域２６が設けられ、多数の遊技釘２７が植設されている。遊技領域２６の略中央には、窓部２８ａを有する液晶枠飾り２８が設けられており、演出図柄表示装置５４ｂ（図２参照）のＬＣＤ画面が遊技者から視認可能に構成され、図示しない公知のワープ入口、ワープ通路、ステージ等も設けられている。
【００２０】
また、窓部２８ａの上方左には、７セグメントＬＥＤ等の発光部材により構成される第１特別図柄表示装置２９、上方右には左と同一部材の第２特別図柄表示装置３０と、中央には４個の発光部材で構成される第２特別図柄保留数表示装置３０ａが設けられており、窓部２８ａ下には同様に４個の発光部材で構成される第１特別図柄保留数表示装置２９ａが設けられている。
【００２１】
液晶枠飾り２８の左右両側又は左側には普通図柄作動ゲート４２が設けられており、下側には第１始動口３１と開放時のみ入賞可能となる普通電動役物４０が第２始動口３２として設けられている。また普通電動役物４０には、７セグメントＬＥＤ等の発光部材により構成される普通図柄表示装置４１が配置されている。第２始動口３２の下方には、アタッカー式の大入賞口３３ａを備える大入賞口ユニット３３が配置され、該大入賞口ユニット３３の下方にはアウト口３４が設けられている。大入賞口３３ａの左側には４個のＬＥＤで構成される普通図柄保留数表示装置４１ａが設けられている。また、大入賞口ユニット３３の左右両側には、一般入賞口３５ａが複数備えられる入賞口ユニット３５が設けられている。尚、計４個の一般入賞口３５ａのそれぞれに配置された一般入賞口スイッチ３５ｂ、３５ｃ、３５ｄ、３５ｅは遊技盤正面から見た一般入賞口３５ａの位置によって区別され、右側上には一般入賞口スイッチ３５ｂ、右側下には一般入賞口スイッチ３５ｃ、左側上には一般入賞口スイッチ３５ｄ、左側下には一般入賞口スイッチ３５ｅ、が配置されている。
【００２２】
上記のように遊技盤８を構成することによって、普通図柄作動ゲート４２に遊技球が入球（普通図柄作動スイッチ４２ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、普通図柄表示装置４１で普通図柄が変動表示を開始し、所定時間後に停止した普通図柄の態様に応じて、普通電動役物４０の羽根部材が駆動して、普通電動役物４０への入球が可能となるように構成されている。尚、本実施形態におけるパチンコ機では、普通電動役物４０の羽根部材が駆動する開放時間は、通常時は０．３秒（１回）、時短状態（開放延長状態）では５．０秒（１回）である。尚、遊技球が１個入賞した際に獲得する賞球数は、第１始動口３１と第２始動口３２は３個、大入賞口３３ａは１４個、一般入賞口３５ａは１０個に設定されている。
【００２３】
第１始動口３１に遊技球が入球（第１始動口スイッチ３１ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、第１特別図柄表示装置２９において第１特別図柄が変動を開始し、所定時間後に停止する。また、第２始動口３２である普通電動役物４０に遊技球が入球（第２始動口スイッチ３２ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、第２特別図柄表示装置３０において第２特別図柄が変動表示を開始し、所定時間後に停止する。
【００２４】
第１特別図柄及び第２特別図柄の変動中は、窓部２８ａに配置された演出図柄表示装置５４ｂにおいて各々の特別図柄の変動に連動した演出態様を表示する。また、第１特別図柄と第２特別図柄は、第１始動口と第２始動口への入球順に関係なく、第２特別図柄の変動停止を優先して実施する。具体的には、第１特別図柄の保留記憶がある場合、第２特別図柄の変動が停止し且つ第２特別図柄保留記憶が無い状態となって、第１特別図柄保留記憶分の変動を開始する。第１特別図柄及び第２特別図柄の態様に応じて大入賞口ユニット３３の扉部材が駆動して、大入賞口３３ａへの入球が可能となるように構成されている。
【００２５】
続いて、図２に本実施例におけるパチンコ機の電気配線を示すブロック図を示し説明する。図２には煩雑になる電源の供給系統に関する記載は行わないが、電源が必要な制御装置若しくはアクチュエータ類には、電源装置（図示せず）から直接的又は間接的に供給される構成となっている。尚、遊技盤８を装着するパチンコ機本体に関する部品は図示を省略している。
【００２６】
主制御装置５０の入力端には、遊技盤中継端子板を介して第１始動口３１に入球した遊技球を検出する第１始動口スイッチ３１ａと、第２始動口３２である普通電動役物４０に入球した遊技球を検出する第２始動口スイッチ３２ａと、普通図柄作動ゲート４２に入球した遊技球を検出する普通図柄作動スイッチ４２ａと、大入賞口３３ａに入球した遊技球を検出するカウントスイッチ３３ｂと、一般入賞口３５ａに入球した遊技球を検出する一般入賞口スイッチ３５ｂ（右上）、３５ｃ（右下）、３５ｄ（左上）、３５ｅ（左下）とが接続されている。また、裏配線中継端子板を介して前面枠が閉鎖していることを検出する前面枠閉鎖スイッチと、意匠枠が閉鎖していることを検出する意匠枠閉鎖スイッチと、が接続されている。なお、主制御装置５０の入力端に接続された各種入賞検出スイッチ（第１始動口スイッチ３１ａ、第２始動口スイッチ３２ａ、普通図柄作動スイッチ４２ａ、カウントスイッチ３３ｂ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、３５ｃ、３５ｄ、３５ｅ）は、電波（電磁波）ゴトに有効なスイッチとしてノーマルクローズタイプ（ＮＣタイプ）の近接スイッチ（遊技球通過孔を備えた形状）を用いている。
【００２７】
主制御装置５０の出力端には、遊技盤中継端子板を介して大入賞口３３ａの扉部材を駆動する大入賞口ソレノイドと、普通電動役物４０の羽根部材を駆動する普通電役ソレノイドとが接続されており、図柄表示装置中継端子板を介して第１特別図柄を表示する第１特図表示装置２９と、第１特別図柄の保留数を表示する第１特図保留数表示装置２９ａと、第２特別図柄を表示する第２特図表示装置３０と、第２特別図柄の保留数を表示する第２特図保留数表示装置３０ａと、普通図柄を表示する普通図柄表示装置４１と、普通図柄の保留数を表示する普図保留数表示装置４１ａとが接続されており、裏配線中継端子板及び外部接続端子板を介して図示しないホールコンピュータと、が接続されている。
【００２８】
主制御装置５０はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される各種検出信号などに基づいて遊技の進行に関わる各種コマンド等を生成し、払出制御装置５１及びサブ統合装置５３に出力する。ここで、主制御装置５０と払出制御装置５１とは双方向通信回路として構成され、主制御装置５０とサブ統合制御装置５３とは主制御装置５０からサブ統合制御装置５３への一方向通信回路として構成されている。
【００２９】
払出制御装置５１の入力端には、裏配線中継端子板を介して球タンク又はタンクレール内の遊技球が不足していることを検出する球切れスイッチと、裏配線中継端子板及び払出中継端子板を介して払い出した遊技球を検出する払出スイッチ２４ｂと、各種端子板を介することなく下皿への経路に遊技球が多数あることを検出する満杯スイッチ１３ａと、エラー解除スイッチ７６と、が接続されている。払出制御装置５１の出力端には、裏配線中継端子板及び払出中継端子板を介して遊技球を上皿へと払い出す払出モータ２４ａと、球切れ表示ＬＥＤと、下皿満杯表示ＬＥＤと、異常状態報知ＬＥＤ７５と、エラーＮＯ表示ＬＥＤ７４と、が接続されている。
【００３０】
払出制御装置５１はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される各種検出信号ならびに主制御装置５０から入力されるコマンドに基づいて遊技球の払い出しに関わる各種コマンド等を生成し、主制御装置５０及び発射制御装置に出力する。ここで、払出制御装置５１と主制御装置５０とは双方向通信回路として構成され、払出制御装置５１と発射制御装置とは払出制御装置５１から発射制御装置への一方向通信回路として構成されている。
【００３１】
また、払出制御装置５１は、外部接続端子板を介して賞球に関する情報などをホールコンピュータに送信するほか、発射制御装置に対して発射停止信号を送信する。発射制御装置は発射モータを制御して、遊技球を遊技領域２６に遊技球を発射させる。なお、発射制御装置には払出制御装置５１以外に発射ハンドルからの回動量信号、タッチスイッチからのタッチ信号、発射停止スイッチから発射停止スイッチ信号が入力される。
【００３２】
回動量信号は、遊技者が発射ハンドルを操作することで出力され、タッチ信号は遊技者が発射ハンドルを触ることで出力され、発射停止スイッチ信号は、遊技者が発射停止スイッチを押すことで出力される。なお、タッチ信号が発射制御装置５１に入力されていなければ、遊技球は発射できないほか、発射停止スイッチ信号が入力されているときには、遊技者が発射ハンドルを触っていても遊技球は発射出来ないようになっている。
【００３３】
サブ統合制御装置５３の入力端には、遊技者により操作可能な遊技スイッチが接続されている。サブ統合制御装置５３の出力端には、図示しない意匠枠及び遊技盤８に備えられる各種ＬＥＤ・ランプと、前面枠及びスピーカユニットに備えられるスピーカと、が接続されている。尚、サブ統合制御装置５３と主制御装置５０とは主制御装置５０からサブ統合制御装置５３への一方向通信回路として構成され、サブ統合制御装置５３と演出図柄制御装置とはサブ統合制御装置５３から演出図柄制御装置への一方向通信回路として構成されている。
【００３４】
サブ統合制御装置５３はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される遊技スイッチの入力ならびに主制御装置５０から入力されるコマンドに基づいて演出に関わる各種コマンド等を生成し、演出図柄ユニットの演出図柄制御装置に出力する。
【００３５】
また、サブ統合制御装置５３には、音量を調節する音量調節スイッチが備えられ、音量調節スイッチの状態（位置）を検出し、その検出結果とスピーカへ送信する内容とを判断し、スピーカから出力する音量をソフト的に制御するように構成されている。
【００３６】
演出図柄制御装置は、サブ統合制御装置５３から受信したデータ及びコマンド（共に主制御装置５０から送信されてきたものとサブ統合制御装置５３が生成したものとがある）に基づいて演出図柄表示装置を制御して、演出図柄等の演出画像を窓部２８ａに表示させる。
【００３７】
次に、図３を用いて、主制御装置５０が実行するメインルーチンについて説明する。図３に示すフローチャートは、主制御装置５０のマイコンにより実行されるメイン処理を表したものであり、約２mＳ毎のハード割り込みにより定期的に実行される処理である。本実施形態では、Ｓ１０〜Ｓ７５までの各処理は割り込み処理において１回だけ実行される処理であって「本処理」と称し、この本処理を実行して余った時間内に時間の許す限り繰り返し実行されるＳ８０、Ｓ８５の処理を「残余処理」と称する。
【００３８】
マイコンによるハード割り込みが実行されると、まず正常割り込みであるか否かが判断される（Ｓ１０）。この判断処理は、メモリとしてのＲＡＭの所定領域の値が所定値であるか否かを判断することにより行われ、マイコンにより実行される処理が本処理に移行したとき、通常の処理を実行して良いのか否かを判断するためのものである。正常割り込みでない場合としては、電源投入時又はノイズ等によるマイコンの暴走等が考えられるが、マイコンの暴走は近年の技術の向上によりほとんど無いものと考えて良いので、たいていが電源投入時である。電源投入時にはＲＡＭの所定領域の値が所定値と異なる値となっている。
【００３９】
正常割り込みでないと判断されると（Ｓ１０：ｎｏ）、前記メモリの所定領域に所定値を書き込む特別図柄及び普通図柄を初期図柄とする等のメモリの作業領域への各初期値の書き込み、即ち初期設定が為され（Ｓ１３）、残余処理に移行する。
【００４０】
正常割り込みとの肯定判断がなされると（Ｓ１０：ｙｅｓ）、各種乱数についての更新処理が順次行なわれる。まず初期値乱数１の更新処理が実行される（Ｓ１５）。この処理は、初期値乱数１の値について、この処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であり、この処理実行前の初期値乱数１の値に＋１するが、この処理を実行する前の乱数値が最大値である「３９６６」のときには次回の処理で初期値である「０」に戻り、「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数を繰り返し昇順に作成する。
【００４１】
Ｓ１５の処理後には、初期値乱数２の更新処理が実行される（Ｓ２０）。この処理はＳ１５の処理と同様に初期値乱数２の値について、実行毎に＋１するインクリメント処理である。違いは、初期値乱数１の最大値が「３９６６」であるのに対して初期値乱数２の最大値が「９９７」であるということである。よって、この処理を実行する前の初期値乱数２の乱数値が最大値である「９９７」のときは次回の処理で初期値である「０」に戻る。尚、初期値乱数１は大当り判定（特別図柄の抽選）に使用するものであり、初期値乱数２は当り判定（普通図柄の抽選）に使用するものである。
【００４２】
Ｓ２０に続く大当り判定用乱数更新処理（Ｓ２５）は、初期値乱数１、初期値乱数２の更新処理と同様に処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であるが、最大値である「３９６６」に至ると次回の処理では、そのときの前記初期値乱数１の値を初期値（以下、「更新初期値」という。）とし、更に割り込み毎に＋１する処理を続行して更新初期値より「１」少ない値（以下、「更新最大値」という。）に至れば次回の処理では、更にそのときの初期値乱数１の値を初期値とし「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数値を繰り返し作成する。
【００４３】
即ち、割り込み処理毎に＋１し、乱数を構成する要素を「０」〜「３９６６」までの整数値とすることは前記初期値乱数１と何等変わることはないが、今回の更新最大値に至れば次回の割り込み処理ではそのときの更新初期値を初期値とし更新最大値に至るまで割り込み毎に＋１し、更に次回の更新初期値を初期値とする構成である。これにより、大当り判定用乱数は、乱数を構成する要素を「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数値とし、割り込み処理毎に＋１するが、更新最大値に至れば、次回の割り込み処理ではそのときの初期値乱数１により決定される値に変更されるので、当否乱数の値を予測不可能にすることができる。また、更新初期値と更新最大値とにより決定される乱数の構成要素は従来の当否乱数と同じ「０」〜「３９６６」の３９６７個の整数値と何等変わることがないので乱数を構成する要素の出現率を均一にしている。
【００４４】
尚、通常確率状態時の当選値の数は１０で、値は「７７５」〜「７７７」、「１７７５」〜「１７７７」、「２７７４」〜「２７７７」であり、高確率状態時の当選値の数は１００で、値は「７７５」〜「７７７」、「１３１４」〜「１３３３」、「１７５８」〜「１７７７」、「２７５８」〜「２７７７」、「３３１４」〜「３３３３」である。
【００４５】
Ｓ２５に続く当り判定用乱数更新処理（Ｓ３０）は、初期値乱数１、初期値乱数２の更新処理と同様に処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であるが、最大値である「９９６」に至ると次回の処理では、そのときの前記初期値乱数２の値を初期値（以下、「更新初期値」という。）とし、更に割り込み毎に＋１する処理を続行して更新初期値より「１」少ない値（以下、「更新最大値」という。）に至れば次回の処理では、更にそのときの初期値乱数２の値を初期値とし「０」〜「９９６」までの９９７個の整数値を繰り返し作成する。
【００４６】
即ち、割り込み処理毎に＋１し、乱数を構成する要素を「０」〜「９９６」までの整数値とすることは前記初期値乱数２と何等変わることはないが、今回の更新最大値に至れば次回の割り込み処理ではそのときの更新初期値を初期値とし更新最大値に至るまで割り込み毎に＋１し、更に次回の更新初期値を初期値とする構成である。これにより、当り判定用乱数は、乱数を構成する要素を「０」〜「９９６」までの９９７個の整数値とし、割り込み処理毎に＋１するが、更新最大値に至れば、次回の割り込み処理ではそのときの初期値乱数１により決定される値に変更されるので、当否乱数の値を予測不可能にすることができる。また、更新初期値と更新最大値とにより決定される乱数の構成要素は従来の当否乱数と同じ「０」〜「９９６」の９９７個の整数値と何等変わることがないので乱数を構成する要素の出現率を均一にしている。尚、通常確率状態時の当選値の数は１０で、値は「３１」〜「４０」であり、高確率状態時の当選値の数は９６６で、値は「３１」〜「９９６」である。
【００４７】
大当り図柄決定用乱数更新処理（Ｓ３５）は「０」〜「１９」の２０個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎に＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る構成になっており、この２０個の乱数値により２０種類の大当り図柄より１つの大当り図柄が決定され、第１特別図柄、第２特別図柄共に同じ大当り図柄を使用する構成になっている。
【００４８】
第１始動口３１に入賞したことに起因して行われる大当り抽選（遊技者にとって有利な特別遊技状態を発生させるか否かを抽選する）で大当りと判断される確率と第２始動口３２に入賞したことに起因して行われる大当り抽選で大当りと判断される確率は、通常遊技状態では１／３９６.７、高確率遊技状態では１／  ３９．６７で同じであるが、大当りした際に行われる大当り遊技の内容が第１始動口３１に入球して大当りになった場合よりも第２始動口３２に入球して大当りになった場合のほうが、大当り遊技中に多く賞球が得られる大当りになる確率が高くなっている。なお、確変大当りになる確率は第１始動口３１に入球して抽選が行われた場合と第２始動口３２に入球して抽選が行われた場合とで変化はない（同じ確率である）。
【００４９】
小当り図柄決定用乱数更新処理（Ｓ４０）は「０」〜「９」の１０個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎に＋１されて最大値を超えると初期値である「０」に戻る。小当りを示す図柄は２種類であり、小当り図柄決定用乱数によって、どちらの小当りを示す図柄を選択するか決定する。尚、小当りを示す図柄は、第１特別図柄、第２特別図柄とも同じになっている。また、ハズレを示す特別図柄も第１特別図柄、第２特別図柄で同じになっており、ハズレを示す図柄は「−−」の１種類になっているので外れ図柄を決定するための乱数は備えていない。また、普通図柄の当り図柄もハズレ図柄も共に１種類しか存在しないので当り図柄又はハズレ図柄を決定するための乱数は備えていない。
【００５０】
リーチ判定用乱数更新処理（Ｓ４５）は「０」〜「２２８」の２２９個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎で＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る。なお、通常確率状態時で変動時間短縮機能未作動時に当選する値の数は２１個で、値は「０」〜「２０」であり、通常確率状態時で変動時間短縮機能作動時に当選する値の数は５個で、値は「０」〜「４」であり、高確率状態時に当選する値の数は６個で、値は「０」〜「５」である。
【００５１】
変動パターン決定用乱数の更新処理（Ｓ５０）は、「０」〜「１０２０」の１０２１個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎で＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る。尚、大当り判定用乱数、大当り図柄決定用乱数、小当り図柄決定用乱数、リーチ判定用乱数、変動パターン決定用乱数は第１始動口３１又は第２始動口３２に遊技球が入賞（第１始動口スイッチ３１ａ又は第２始動スイッチ３２ａが遊技球を検出し入賞と判定）することで抽出され、当り判定用乱数は普通図柄作動ゲート４２を遊技球が通過（普通図柄作動スイッチ４２ａが遊技球を検出し入賞と判定）することで抽出される。
【００５２】
続く入賞確認処理（Ｓ５５）では、遊技領域２６に設けられた各入賞口へ遊技球が正規に入球したか否か及び普通図柄作動ゲート４２を遊技球が正規に通過したか否かを判定する処理である。判定内容の詳細は後述するが、この入賞確認処理において遊技球の正規入賞と判定されることによって、各入賞口への入賞に基づく賞球の払出し及び各種乱数値の抽出等が実施される。また、この入賞確認処理においては、入賞検出スイッチ（近接スイッチ）の検出状態に応じて電波（電磁波）によるゴト行為の可能性が高ければエラー１と判定し、大玉によるゴト行為の可能性が高ければエラー２と判定される。
【００５３】
続いては、大当りか否かを判定する条件成立判定手段としての特図当否判定処理（Ｓ６０）、普通図柄抽選が当りか否かを判定する普図当否判定処理（Ｓ６５）行う。この特図当否判定処理（Ｓ６０）、普図当否判定処理（Ｓ６５）が終了すると、画像出力処理等の各出力処理（Ｓ７０）が実行される。
【００５４】
各出力処理（Ｓ７０）では、遊技の進行に応じて主制御装置５０は演出図柄制御装置５４ａ、払出制御装置５１、発射制御装置、サブ統合制御装置５３、大入賞口ソレノイド、普電役物ソレノイド等に対して各々出力処理を実行する。即ち、入賞確認処理（Ｓ５５）により遊技盤８に設けた各入賞口へ遊技球が入賞したことが確認されたときには、賞球としての遊技球を払い出すべく払出制御装置５１に賞球データを出力する処理を、遊技状態に対応したサウンドデータをサブ統合制御装置５３に出力する処理を、遊技機に異常があるときにはエラー中であることを報知すべく演出図柄制御装置５４ａ及びホールコンピュータ等にエラー信号を出力する処理を各々実行する。
【００５５】
続く不正監視処理（Ｓ７５）は、一般入賞口に対する不正が行われていないか監視する処理であり、所定時間内における入賞口への遊技球の入球が予め決定された規定数よりも多いか否かを判断して、多かった場合には不正と判断され、その旨を報知する処理である。
【００５６】
本処理に続く前述の残余処理は、初期値乱数１の更新処理（Ｓ８０）、初期値乱数２の更新処理（Ｓ８５）から構成されるが、各々前述したＳ１５、Ｓ２０の処理と全く同じ処理である。この処理は無限ループを形成し、次の割り込みが実行されるまで、時間の許される限り繰り返し実行される。前述したＳ１０〜Ｓ７５までの本処理を実行するのに必要とされる時間は、大当り処理を実行（特別遊技の実行）するか否か、特別図柄（第１又は第２）の表示態様の相違等により割り込み毎に異なる。この結果、残余処理を実行する回数も割り込み毎に異なり、割り込み処理が１回実行されることにより初期値乱数１、初期値乱数２の更新される（加算される）値も一律ではなくなる。これにより、初期値乱数１が大当り判定用乱数と、初期値乱数２が当り判定用乱数と同期する可能性はなくなる。尚、本実施形態においては、大当り判定用乱数の更新は初期値乱数１の値により変更され、当り判定用乱数は初期値乱数２の値により変更される構成なので同期の虞は全くない。
【００５７】
次に、本発明の内容と比較するために、従来機における近接スイッチを用いた遊技球の入賞検出と主制御装置５０における入賞判定の内容について、図４を用いて説明する。図４の上の図は、入賞口への遊技球入賞を検出するために本実施例におけるパチンコ遊技機を含む多くのパチンコ遊技機で使用される近接スイッチの形状を示す近接スイッチ形状図となる。図に示すように、近接スイッチが備える遊技球通過孔を遊技球が通過すると、近接スイッチの検出部が遊技球を検出し、遊技球の検出を継続する期間において検出状態を示す信号を主制御装置５０に送信する構成となっている。
【００５８】
遊技領域２６に配置された各入賞口は、そのデザインや機能によって入賞口内の構造が異なるため、入賞口内に組付けられた近接スイッチの遊技球通過孔を遊技球が通過する速度は該構造に依存するが、近接スイッチの検出部を通過する時間は概ね１０ｍｓ〜１４ｍｓとなっている。但し、例えば普通図柄作動ゲート４２のように、遊技球が転動する勢いを殺す障害物に接触することなく近接スイッチの遊技球通過孔を通過する可能性のある入賞口については、想定外の速度で遊技球が通過する場合もある。
【００５９】
近接スイッチ形状図の下のタイミングチャートは、従来機における近接スイッチの入賞検出時間と主制御装置５０の定時割込み時間と入賞処理（入賞判定）との関係を示している。一番上のタイミングチャートは、ノーマルオープンタイプ（ＮＯタイプ）の近接スイッチが同様に遊技球を１２ｍｓ検出した場合であり、その下のタイミングチャートは、ノーマルクローズタイプ（ＮＣタイプ）の近接スイッチが遊技球を１２ｍｓ検出した場合である。ＮＯタイプでは、遊技球の非検出時に検出状態が「Ｌ」（０）、検出時に検出状態が「Ｈ」（１）となり、ＮＣタイプでは、遊技球の非検出時に検出状態が「Ｈ」（１）、検出時に検出状態が「Ｌ」（０）となる。但し、ＮＣタイプの検出状態信号（スイッチ信号）は、主制御装置５０には反転して入力されるため、主制御装置５０が受信する内容はＮＯタイプと同一（遊技球検出状態では「Ｈ」（１）、非検出状態では「Ｌ」（０））となる。
【００６０】
近接スイッチが遊技球の非検出状態から遊技球を検出すると、主制御装置５０の定時割込時間が２ｍｓであるため、ＳＷ信号の変化から２ｍｓ以内に検出状態の変化を検知する。最下部のタイミングチャートに示すように、従来機においては、このスイッチ信号が非検出状態（０）から検出状態（１）に変化（検出信号の立上り又は立下り）したことを定時割込処理で検知した時点で入賞判定を実施し、入賞処理として該入賞判定に基づいて各出力処置（Ｓ７０）が実施された。
【００６１】
次も本発明の内容と比較するために、図５を用いて従来機における近接スイッチへの電波照射によるゴト行為の内容を説明する。所謂電波ゴトといわれる不正行為は、「Ｌ」状態の近接スイッチに電磁波を照射し、該電磁波の周期に合わせて「Ｌ」状態の信号を「Ｈ」状態に持ち上げることによって偽の入球信号を主制御装置５０に送信し、不正に賞球及び乱数を取得する行為である。
【００６２】
タイミングチャートに示すように、ＮＣタイプの近接スイッチが遊技球を検出することによりスイッチ信号が「Ｈ」から「Ｌ」に変化した期間（図の例では１２ｍｓ）では、本来ならば６回の定時割込処理中は検出状態の「Ｌ」（０）を継続し、主制御装置５０にはスイッチ信号として反転した「１」を６回連続して入力するが、この期間において４ｍｓ毎に「Ｌ」と「Ｈ」を繰り返す電磁波が照射されると、電磁波の周期に合わせ４ｍｓ毎に近接スイッチの「Ｌ」状態の信号が「Ｈ」状態に持ち上げられてしまい、この信号が持ち上げられた期間における定時割込処理では、主制御装置５０にスイッチ信号として「０」が入力されてしまう。従って、主制御装置５０は、近接スイッチの１個の遊技球の検出にも関わらず、該検出に係る定時割込処理時に「０」から「１」への状態変化を２回検知することにより２回の入賞処理を実施してしまう。
【００６３】
図５では、ＮＣタイプの近接スイッチを用いたため、電波ゴトが有効となる期間は、スイッチ信号が「Ｌ」となる遊技球検出期間に限定されたが、ＮＯタイプの近接スイッチであれば、遊技球非検出期間がスイッチ信号「Ｌ」となるため、電波ゴトによる被害の可能性が格段に大きくなる。これがＮＣタイプの近接スイッチが電波ゴトに対して有効であるといわれる理由となる。また、電波ゴトの周期を４ｍｓとしたが、多くのパチンコ機の制御（定時割込処理の周期が４ｍｓ又は２ｍｓ）に対して有効な時間として電波ゴトにはこの周期の電磁波が多く使われている。
【００６４】
次も本発明の内容と比較するために、図６を用いて従来機における大玉を使用した電波照射によるゴト行為の内容を説明する。大玉ゴトには、図６の上部に示すように、正規の遊技球よりも大きく、近接スイッチの遊技球検出部に常時検出状態となるように遊技球通過孔に嵌る大きさの不正球（略球状の所謂大玉）が使用される。実際の手順としては、この不正球を遊技領域に発射してから磁石に吸着し、遊技領域２６上の任意の入賞口（例えば一般入賞口３５ａ等）に誘導して近接スイッチの遊技球通過孔にはめ込む作業が行われる。このゴト行為によって、ＮＣタイプの近接スイッチは強制的に遊技球の検出状態である「Ｌ」状態を保持してしまう。タイミングチャートでは、遊技球の非検出状態「Ｈ」において大玉が嵌ると、その時点以降は遊技球の検出状態「Ｌ」を保持している。
【００６５】
大玉ゴトによって強制的に「Ｌ」状態にされた近接スイッチに、４ｍｓ毎に「Ｌ」「Ｈ」が変化する電磁波を照射すると、図５と同様に電磁波の周期に合わせ４ｍｓ毎に「Ｌ」状態のスイッチ信号が「Ｈ」に持ち上げられてしまい、信号が持ち上げられた期間における定時割込処理では主制御装置５０にスイッチ信号として「０」が入力されてしまう。これによりタイミングチャートが示すように、大玉によって近接スイッチの「Ｌ」状態が強制的に保持された期間において近接スイッチに電磁波が照射されれば、主制御装置５０は定時割込処理で「０」から「１」への変化を電磁波の周期に合わせ繰り返し検知し、該検知に応じて入賞処理を繰り返し実施してしまう。
【００６６】
図５では、電波ゴトに対しては、ＮＣタイプの近接スイッチが有効であることを説明したが、ＮＣタイプの近接スイッチを用いた場合でも、図６で説明した大玉ゴトを実施することにより、電波ゴトに対してはＮＯタイプと同一条件となってしまう。
【００６７】
次に、本願明における主制御装置５０が備えるスイッチデータバッファの構成と、該スイッチデータバッファにおける入賞処理を実施するスイッチ信号の検出パターン（スイッチデータ検出パターン）と、主制御装置５０がエラー判定パターンとして記憶するスイッチ信号の検出パターン（スイッチデータ検出パターン）を、図７を用いて説明する。スイッチデータバッファは、主制御装置５０が定時割込処理を実施する毎に検知する入賞口に配置された近接スイッチの非検出状態又は検出状態を、所定期間記憶する一時記憶領域となる。
【００６８】
具体的には、スイッチデータバッファは８ｂｉｔの記憶領域で構成され、定時割込処理毎に以前に記憶したスイッチデータを上位にシフトしながら下位から新しいデータを書込み更新する構成となっている。但し、上位からデータを書き込む構成も考えられる。また、新しいデータを書き込む際のシフト処理によって記憶領域から消失するデータを所定期間記憶する記憶領域又はカウンタを設ける構成も考えられるし、スイッチデータバッファを１６ｂｉtとする構成も考えられる。
【００６９】
従来機において、近接スイッチのスイッチデータ（定時割込処理によって検知した近接スイッチの遊技球検出状態（非検出状態「０」又は検出状態「１」））に基づいて遊技球の入賞を判定する場合は、（１）（ｂ）に示すように定時割込処理によってスイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した時点（２ｂｉｔ）で入賞と判定し入賞処理を実施したが、本願明では、（１）（ａ）の太枠に示すように、スイッチデータバッファの下位３ｂｉｔが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回維持した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１」であった場合に入賞と判定し、入賞処理を実施する構成となっている。
【００７０】
また、（２）（ａ）（ｂ）の太枠に示すようにスイッチデータバッファの下位３ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を維持することなく非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１０」の場合、及びスイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１０」の場合は、遊技球の検出期間が短すぎ、電波ゴトである可能性が高いためエラー１と判定する。
【００７１】
従って、本発明の「定時割込処理において近接スイッチの非検出状態が検出状態に変化してから該検出状態の維持回数が所定回数に満たない場合にエラー１と判定」という構成における本実施例での所定回数は２回（検出状態「１」を３回連続）となり、この値が電波ゴト回避値（最短検出維持回数）となる。
【００７２】
尚、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した時点で該非検出状態「０」が維持されていた回数が１回であった場合も、正常な遊技球の入賞では考えづらい状況（連続した遊技球の検出において非検出期間が短すぎる）であるため、エラー１と判定するスイッチデータパターンを備えてもよい。従って、本発明における、「主制御装置が所定周期で実行する定時割込処理において、近接スイッチの非検出状態が所定回数連続した後に検出状態に変化し該検出状態を所定回数維持することによって入賞と判定する」という構成は、本実施例では、近接スイッチの非検出状態「０」が最低２回連続後に検出状態「１」に変化し該検出状態「１」を１回維持することによって入賞と判定する構成となる。
【００７３】
（３）（ａ）の太枠に示すようにスイッチデータバッファに記憶するスイッチデータの８回分の履歴が全て検出状態「１」となった場合、遊技球の検出期間としては長すぎ、大玉ゴト又は玉詰まりである可能性が高いためエラー２と判定する。従って、定時割込処理において近接スイッチの非検出状態が検出状態に変化してから該検出状態の維持回数が所定回数（最長検出維持回数）を超えた場合にエラー２と判定する構成となるが、本実施における該所定回数は７回となり、この値が大玉ゴト回避値（最長検出維持回数）となる。
【００７４】
この様に本実施例では、入賞処理を実施するデータパターン（（１）（ａ）太枠部）と、電磁波ゴトの可能性が高いエラー１と判定するデータパターン（（２）（ａ）（ｂ）太枠部）と、大玉ゴト及び玉詰まりの可能性が高いエラー２と判定するデータパターン（（３）（ａ）太枠部）とを記憶するデータテーブルを備え、定時割込処理を実施するごとにデータ内容が更新されるスイッチデータバッファの記憶内容とデータテーブルに記憶されたデータパターンとを比較し、記憶内容とデータパターンが一致した場合に入賞処理、エラー１又はエラー２を実施する構成となっている。
【００７５】
次に、実施例１において主制御装置５０が実行する入賞確認処理１を図８のフローチャートを用いて説明する。入賞確認処理１は、主制御装置５０が所定周期で実行する定時割込処理によって近接スイッチの非検出状態が所定回数連続した後に検出状態に変化し、該検出状態を所定回数維持することによって入賞と判定するように構成したうえで、定時割込処理によって近接スイッチの検出状態となってから、該検出状態の維持回数が所定回数に満たない場合にエラー１と判定し、定時割込処理によって近接スイッチの検出状態となってから、該検出状態の維持回数が所定回数を超えた場合にエラー２と判定し、所定期間内にエラーと判定された回数を計数し、該計数値が所定値に達することを条件にエラー１の報知を行い、エラー２と判定された時点でエラー２の報知を行う構成となっている。
【００７６】
また、入賞処理、エラー１、エラー２となるか否かの判定は、図７を用いて説明したように、定時割込処理毎に近接スイッチの非検出状態又は検出状態を所定期間記憶する一時記憶領域（スイッチデータバッファ）の内容と、入賞処理、エラー１及びエラー２となるデータパターンを記憶したデータテーブルとを比較して実施する構成となっている。
【００７７】
図８に示す入賞確認処理１を開始すると、定時割込処理で検知した近接スイッチのスイッチデータが遊技球を検知したことを示す「１」か否か判定する（Ｓ１００）。肯定判定なら（Ｓ１００：ｙｅｓ）、スイッチデータバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１０５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「１」を書き込む（Ｓ１１０）。次に、Ｓ１０５とＳ１１０の処理によって更新された下位３ｂｉｔのスイッチデータ検出パターンが、入賞処理を実施するパターンとしてデータテーブルに記憶された「０１１」と一致するか否か判定する（Ｓ１１５）。肯定判定なら（Ｓ１１５：ｙｅｓ）、入賞処理として、後述する入賞確認バッファの該当するｂｉｔ位置に「１」を書き込む入力エッジ処理を行い（Ｓ１２０）、後述する入賞判定バッファに入賞判定を示す「０」を書き込み（Ｓ１２３）リターンする。
【００７８】
入賞確認バッファは８ｂｉｔで構成され、各ｂｉｔは対応する入賞口への入賞状態を表し、「１」が入賞、「０」が未入賞を示す。例えば、普通図柄作動ゲート４２に対応するｂｉｔが下位１ｂｉｔ目で、当該処理が普通図柄作動ゲートスイッチ４２ａへの遊技球入賞を検知したものであれば、入賞処理として入賞確認バッファの下位１ｂｉｔ目に「１」を書き込む。これによって入賞確認バッファは「０００００００１」となり、第１始動口３１に対応するｂｉｔが下位２ｂｉｔ目で、当該処理が第１始動口スイッチ３１ａへの遊技球入賞を検知したものであれば、入賞処理として入賞確認バッファの下位２ｂｉｔ目に「１」が書き込まれ入賞確認バッファは「００００００１０」となる。この入賞確認バッファの内容に応じて払出し処理が実施される。尚、入賞判定バッファについては図１０を用いて後述する。
【００７９】
Ｓ１００が否定判定なら（Ｓ１００：ｎｏ）、Ｓ１０５と同様のスイッチバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１２５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「０」を書き込む（Ｓ１３０）。Ｓ１３０又はＳ１１５の否定判定（Ｓ１１５：ｎｏ）に続いては、更新されたスイッチデータバッファの内容とデータテーブルのエラーパターンとの比較処理を行い（Ｓ１３５）、エラーパターンと一致しているか否か判定する（Ｓ１４０）。否定判定なら（Ｓ１４０：ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ１４０：ｙｅｓ）、スイッチデータバッファの８ｂｉｔ全てが「１」か否か判定する（Ｓ１４５）。肯定判定なら（Ｓ１４５：ｙｅｓ）、エラー２報知処理を行って（Ｓ１５０）リターンし、否定判定なら（Ｓ１４５：ｎｏ）、エラー１報知処理（図９）を行って（Ｓ１５５）リターンする。
【００８０】
次に図９に示したフローチャートを用いて、エラー１報知処理（Ｓ１５５）を説明する。エラー１報知処理を開始すると、入賞判定バッファにエラー１判定を示す「１」を書き込む（Ｓ２００）。次に８ｂｉｔで構成された入賞判定バッファ内にエラー１判定を示す「１」が４個あるか否か判定し（Ｓ２０５）、否定判定なら（Ｓ２０５：ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ２０５：ｙｅｓ）、エラー１報知処理を行って（Ｓ２１０）リターンする。
【００８１】
次に図１０を用いて入賞判定バッファの内容を説明する。入賞判定バッファは８ｂｉｔで構成された一時記憶領域であり、定時割込処理において入賞判定となると、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「０」を書き込む。入賞確認処理１においてエラー１判定となると、上記と同様のシフト処理を行った後に下位１ｂｉｔ目に「１」を書き込む。エラー１報知処理においては、入賞判定バッファに「１」を書き込むと同時に入賞判定バッファ内の「１」の数を確認（計数）し、確認した値が４であればエラー１報知を実施する構成となっている。
【００８２】
上述したエラー１報知処理及びエラー２報知処理は、所定期間内にエラー１と判定された回数を計数し、該計数値が所定値（電波ゴト確認値）に達することを条件にエラー１の報知を行い、エラー２と１回判定されるとエラー２の報知を行う構成となる。尚、エラー１の報知条件となる所定期間は、本実施例においては上述した入力判定バッファに８回の書き込みを実施する期間となるが、定時割込処理の回数を計数することによって、最初のエラー１が発生してからの時間を計測してもよい。
【００８３】
また、エラー１とエラー２とでは、報知を開始するまでのそれぞれの計数値が異なり、エラー１は４回の計数を必要とするが、これは各エラーに対応するゴト行為の性質に基づいた設定である。詳しくは、エラー１は、１回又は２回の定時割込処理時のみの検出という正常な遊技球の検出では極めて可能性の低い短時間に限って近接スイッチが遊技球の検出状態となったことを受けてエラー判定を行うが、この短時間の検出状態はノイズやチャタリング又は想定外の速度で遊技球が近接スイッチを通過した場合でも起こり得る状況であるため、報知条件となる計数回数を増やし電波ゴトである可能性が高いことを確認してから報知することによって、誤報知を極力なくす（報知の信頼性を向上させる）構成となっている。
【００８４】
エラー２は、エラー１とは逆に、正常な遊技球の検出ではほとんど有得ない長時間に亘って近接スイッチが遊技球の検出状態となったことを受けてエラー判定を行うが、この長時間の検出状態は大玉ゴトだけではなく、実際の玉詰まりも考えられるため、直ぐに対処しなければ遊技の進行に支障をきたし遊技者に不利益を与える状況となってしまう。従って、報知条件となるエラー２の計数回数を少なくし、早期に報知することが望ましい。尚、エラー１とエラー２の計数回数を同一値としてもよいし、報知条件となる計数値をどちらも１回としてもよい。
【００８５】
エラー１又はエラー２の報知を実施した場合は、払出し動作を含め遊技の進行を中断した上で演出図柄表示装置５４ｂ上や各種ＬＥＤ・ランプを用いてエラー１又はエラー２状態を報知してもよいし、払出し動作を含め遊技の進行をそのままに演出図柄表示装置５４ｂ上や各種ＬＥＤ・ランプを用いてエラー１又はエラー２状態を報知してもよい。なお報知の実施中には、ホールコンピュータにもエラー内容を伝える信号が送信される。またエラーＮｏ表示装置７４には、エラー１の場合には「１」を、エラー２の場合には「２」を表示する。エラー１及びエラー２の報知は、ホールスタッフによって遊技機裏面に配置されたエラー解除スイッチ７６が操作されることによりエラー状態が解除される（エラー２の場合は、大玉の除去が必要）。
【００８６】
次に、図１１のタイミングチャートを用いて、本実施例における近接スイッチの遊技球検出状態の変化と入賞処理のタイミングについて説明する。ＮＣタイプの近接スイッチが遊技球の非検出状態「Ｈ」で遊技球を検出し、ＳＷ信号が検出状態「Ｌ」に変化すると、主制御装置５０の定時割込時間が２ｍｓであるため、ＳＷ信号の変化から２ｍｓ以内に検出状態の変化を検知する。図４のタイミングチャートを用いて説明したように、従来機においては、定時割込処理でスイッチ信号が非検出状態（０）から検出状態（１）に変化したことを検知したこの時点で入賞処理を実施したが、本発明においては、更に次の定時割込処理においてＳＷ信号が検出状態（１）を維持したことを検知した時点で、スイッチバッファの下位３ｂｉｔが「０１１」の入賞処理データパターンと同一となることにより入賞処理を実施する。従って、従来のＳＷ信号の変化から入賞処理のタイミングは、１回の定時割込処理分だけ遅延することになる。
【００８７】
次に、図１２のタイミングチャートを用いて本発明における近接スイッチへの電波照射によるゴト行為の判定内容を説明する。図５で説明した内容と同様に、ＮＣタイプの近接スイッチが遊技球を検出することによりスイッチ信号が「Ｈ」から「Ｌ」に変化した期間（１２ｍｓ）では、本来ならば６回の定時割込処理中は検出状態の「Ｌ」（０）を継続して検知し、主制御装置５０にはスイッチ信号として反転した「１」を６回連続して入力するが、この期間において４ｍｓ毎に「Ｌ」と「Ｈ」を繰り返す電磁波が照射されると、電磁波の周期に合わせ４ｍｓ毎に「Ｌ」状態の信号が持ち上げられてしまい、信号が持ち上げられた期間における定時割込処理では主制御装置５０はスイッチ信号として「０」を読込んでしまう。
【００８８】
従って、主制御装置５０に入力される偽ＳＷ信号が示すタイミングチャートは、実際の遊技球の入球に応じて遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化するが、４ｍｓ毎に「Ｌ」「Ｈ」が変化する電波の照射によって次の定時割込処理時には非検出状態「０」に変化している。この時点でスイッチデータバッファの下位３ｂｉｔが「０１０」のエラー１データパターンと同一となることによりエラー１報知処理が実施される（Ｓ１５５）。
【００８９】
引き続き電波照射が行われる中で実施される定時割込処理では、順次非検出状態「０」、検出状態「１」、検出状態「１」、非検出状態「０」を検知するが、この時点でスイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが「０１１０」のエラー１データパターンと同一となることによりエラー１報知処理が実施される（Ｓ１５５）。但し、その前にスイッチデータバッファの下位３ｂｉｔが「０１１」の入賞処理データパターンと同一となるタイミングがあるため、該タイミングで入賞処理が実施される。
【００９０】
本実施例では、スイッチデータパターンの下位３ｂｉｔが「０１１」で入賞処理を実施し、次の定時割込処理でエラー１を判定する場合（スイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが「０１１０」）があるが、スイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが「０１１１」となった場合に入賞処理を実施する構成とすることで、エラー１判定が実施されないことを条件に入賞処理を実施する構成とし、エラー１判定が実施された場合は、継続する定時割込処理において入賞判定を実施しないことによって賞球を払出さなくすることも可能となる。
【００９１】
次に、図１３のタイミングチャートを用いて本発明における大玉を用いたゴト行為の判定内容を説明する。タイミングチャートに示すように、大玉を近接スイッチに嵌めた時点から、ＳＷ信号が変化し遊技球の検出状態「Ｌ」を保持するが、該変化以降連続した８回の定時割込処理時のスイッチデータが全て検出状態を示す「１」であった場合はエラー２と判定する（Ｓ１５０）。但しＳＷ信号が検出状態「１」に変化してから検出状態「１」を１回維持した時点（データパターン「０１１」と一致した時点）で入賞処理を１回実施する。
【００９２】
以上が実施例１の説明となる。本実施例では、主制御装置５０が２ｍｓ毎の定時割込処理で実施するスイッチ信号の検知において、近接スイッチから入力されるスイッチ信号（スイッチデータ）が遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化し、該検出状態「１」を１回維持した場合に遊技球の入賞と判定する構成となっている。そして、非検出状態「０」から検出状態「１」に変化し、該検出状態「１」を維持せずに非検出状態「０」に変化した場合、及び検出状態「１」の維持回数が１回だけで非検出状態「０」に変化した場合は、近接スイッチが遊技球の検出時とは異なる信号、即ち電波ゴトで最も多用される４ｍｓ毎に変化する電磁波が近接スイッチに照射されている可能性が高いと判断しエラー１を実施する。
【００９３】
また、非検出状態「０」から検出状態「１」に変化し、検出状態「１」を遊技球の検出時以上に維持した場合も、遊技球の検出時とは異なる信号、即ち大玉ゴト又は玉詰まり状態と判断しエラー２を実施する。尚、本実施例では、主制御装置５０が実施する定時割込処理を２ｍｓ毎としたが、４ｍｓ毎に定時割込処理を実施する構成でも、検出状態「１」の維持回数の設定（スイッチデータ検出パターン）を変更することによって同様の効果が発揮される。
【実施例２】
【００９４】
次に実施例２について説明する。本実施例に於いて遊技機を構成する部品とその電気的接続は実施例１と共通である。従って、重複する部分は実施例１を援用して説明を進める。
【００９５】
実施例１では、スイッチデータバッファの内容を参照して入賞判定及びエラー１、２判定を実施したのに対して、本実施例では連続する近接スイッチの検出状態を計数する検出カウンタの内容に応じて入賞判定及びエラー１、２判定を実施する構成となる。
【００９６】
実施例１で説明した図１から図６までと、図９から図１３までとは共通内容であるため説明は援用とし、実施例２として上記した検出カウンタの内容と、該検出カウンタの内容に応じて処理を行う入賞確認処理２を説明する。
【００９７】
図１４、１５を用いて上記した検出カウンタの内容を説明する。検出カウンタは、主制御装置５０が２ｍｓ周期で実施する定時割込処理時の近接スイッチの検出状態を計数する装置である。具体的には、（１）に示すように、定時割込処理時に近接スイッチから入力されたスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば、検出カウンタの計数は行わず検出カウンタ値は０となる（スイッチデータが「０」となったため、それまでの計数値はクリアされた状態ともいえる）。次の定時割込処理時で（２）に示すように、近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば、検出カウンタの計数を行い、この時点の検出カウンタ値は１となる。
【００９８】
（２）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図３ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が２となる。このように検出カウンタ値が２になると、言い換えれば近接スイッチが非検出状態から検出状態に変化して該検出状態を１回の定時割込処理期間維持すると、入賞処理を実施する。
【００９９】
（２）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図３ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は１のままとなるが、定時割込処理で確認したスイッチデータが「０」の場合に検出カウンタ値が１であるということは、非検出状態から検出状態に変化した後に検出状態を１回も維持することなく近接スイッチが非検出状態に変化したことを意味する。従ってこの状態（スイッチデータ「０」のとき検出カウンタ値１）は、電磁波によってスイッチ信号が操作された可能性が高いことを示すため、エラー１判定を実施する。また、エラー１判定の実施後は検出カウンタ値がクリアされる。
【０１００】
（図３ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（４ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が３となる。この状態は、入賞処理を実施した後の検出状態維持期間として正常状態と判定する。
【０１０１】
（図３ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図４ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は２のままとなるが、定時割込処理で確認したスイッチデータが「０」の場合に検出カウンタ値が２であるということは、非検出状態から検出状態に変化した後に検出状態を１回のみ維持して近接スイッチが非検出状態に変化したことを意味する。従ってこの状態（スイッチデータ「０」のとき検出カウンタ値２）も、電磁波によってスイッチ信号が操作された可能性が高いことを示すため、エラー１判定を実施し、エラー１判定の実施後は検出カウンタ値がクリアされる。
【０１０２】
（図４ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図５ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が４となる。この状態も、入賞処理を実施した後の検出状態維持期間として正常状態と判定する。
【０１０３】
（図４ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図５ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は３のままとなるが、スイッチデータ「０」のときに検出カウンタ値３という状態は、非検出状態から検出状態に変化してから２回の定時割込処理期間は検出状態を維持していたことを意味する。従って、正常な遊技球の入賞であったと判断し検出カウンタ値をクリアする。
【０１０４】
図１５に進み、（図５ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図６ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が５となる。この状態も、入賞処理を実施した後の検出状態維持期間として正常状態と判定する。
【０１０５】
（図５ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図６ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は４のままとなるが、スイッチデータ「０」のときに検出カウンタ値４という状態は、非検出状態から検出状態に変化してから３回の定時割込処理期間は検出状態を維持していたことを意味する。従って、正常な遊技球の入賞であったと判断し検出カウンタ値をクリアする。
【０１０６】
（図６ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図７ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が６となる。この状態も、入賞処理を実施した後の検出状態維持期間として正常状態と判定する。
【０１０７】
（図６ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図７ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は５のままとなるが、スイッチデータ「０」のときに検出カウンタ値５という状態は、非検出状態から検出状態に変化してから４回の定時割込処理期間は検出状態を維持していたことを意味する。従って、正常な遊技球の入賞であったと判断し検出カウンタ値をクリアする。
【０１０８】
（図７ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図８ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が７となる。この状態も、入賞処理を実施した後の検出状態維持期間として正常状態と判定する。
【０１０９】
（図７ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図８ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は６のままとなるが、スイッチデータ「０」のときに検出カウンタ値６という状態は、非検出状態から検出状態に変化してから５回の定時割込処理期間は検出状態を維持していたことを意味する。従って、正常な遊技球の入賞であったと判断し検出カウンタ値をクリアする。
【０１１０】
（図８ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが検出状態を示す「１」であれば（図９ａ）、検出カウンタの計数を行い検出カウンタ値が８となる。この状態は、非検出状態から検出状態に変化した後の検出状態維持期間が、正常に遊技球が入球した場合と比較して長すぎるため、大玉ゴト若しくは玉詰まりの可能性が高いためエラー２と判断する。エラー２の判定後は検出カウンタをクリアする。
【０１１１】
（図８ａ）の次の定時割込処理で近接スイッチから入力されているスイッチデータが非検出状態を示す「０」であれば（図９ｂ）、検出カウンタの計数は行われず、検出カウンタ値は７のままとなるが、スイッチデータ「０」のときに検出カウンタ値７という状態は、非検出状態から検出状態に変化してから６回の定時割込処理期間は検出状態を維持していたことを意味する。７回までは正常な遊技球の入賞であったと判断し検出カウンタ値をクリアする。
【０１１２】
上記した内容が、一連の定時割込処理を実施した場合のスイッチデータと検出カウンタ値の状態に応じた入賞判定（入賞確認）内容となるが、入賞処理を実施するのは（図３ａ）の時点のみとなり、それ以降の一連の定時割込処理では実施した入賞処理が正常な入賞であったか否かを判定する構成となる。
【０１１３】
次に、図１６を用いて本実施例において主制御装置５０が実行する入賞確認処理２を説明する。入賞確認処理２は、主制御装置５０が所定周期で実行する定時割込処理時のスイッチデータと、該スイッチデータが非検出状態から検出状態に変化してから連続する検出状態を計数する検出カウンタの値とに応じて遊技球の入賞判定と電波ゴトに対応したエラー１判定と大玉ゴトに対応したエラー２判定を実施する構成となり、定時割込処理においてスイッチデータが検出状態の時に検出カウンタの値が所定値に達したことを条件に入賞と判定し、スイッチデータが非検出状態の時に検出カウンタの値が所定値に達していないことを条件にエラー１と判定し、スイッチデータが検出状態の時に検出カウンタが所定値よりも大きいことを条件にエラー２と判定する。また、検出カウンタの値は、スイッチデータが非検出状態となった場合又はエラー２と判定された場合にクリアされる構成となっている。
【０１１４】
入賞確認処理２を開始すると、定時割込処理で検知した近接スイッチのスイッチデータが遊技球を検知したことを示す「１」か否か判定する（Ｓ５００）。肯定判定なら（Ｓ５００：ｙｅｓ）、検出カウンタに＋１するインクリメント処理を行い（Ｓ５０５）、検出カウンタの値が２か否か判定する（Ｓ５１０）。肯定判定なら、即ち、近接スイッチの非検出状態から検出状態への変化後、検出状態を１回維持していれば（Ｓ５１０：ｙｅｓ）、入賞処理として、入賞確認バッファ（実施例１と同一内容）の該当するｂｉｔ位置に「１」を書き込む入力エッジ処理を行い（Ｓ５１５）リターンする。
【０１１５】
Ｓ５１０が否定判定なら（Ｓ５１０：ｎｏ）、検出カウンタの値が８か否か判定する（Ｓ５２０）。否定判定なら（Ｓ５２０：ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ５２０：ｙｅｓ）、実施例１と同一内容のエラー２報知処理を行い（Ｓ５２５）、検出カウンタをクリアして（Ｓ５３０）リターンする。
【０１１６】
Ｓ５００が否定判定なら（Ｓ５００：ｎｏ）、検出カウンタの値が０よりも大きいか否か判定する（Ｓ５３５）。否定判定なら（Ｓ５３５：ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ５３５：ｙｅｓ）、検出カウンタの値が３よりも小さいか否か判定する（Ｓ５４０）。肯定判定なら、即ち、近接スイッチの非検出状態から検出状態への変化後、検出状態を１回も維持していないか維持回数が１回のみであった場合は（Ｓ５４０：ｙｅｓ）、実施例１と同一内容のエラー１報知処理を行う（Ｓ５４５）。Ｓ５４５又はＳ５４０の否定判定（Ｓ５４５：ｎｏ）に続いては、検出カウンタをクリアして（Ｓ５５０）リターンする。
【０１１７】
以上が実施例２の説明となる。本実施例では、上述したように定時割込処理時のスイッチデータの内容と検出カウンタの値との関係で入賞判定及びエラー１、２の判定を実施したが、スイッチデータバッファを備えスイッチデータの履歴を確認可能な構成としてもよい。該構成により、入賞判定とエラー１、２判定の制度を向上させることが可能となる。
【実施例３】
【０１１８】
次に実施例３について説明する。本実施例に於いて遊技機を構成する部品とその電気的接続は実施例１と共通である。従って、重複する部分は実施例１を援用して説明を進める。
【０１１９】
実施例１では、スイッチデータバッファの内容とデータテーブルに記憶したスイッチデータ検出パターンとを比較して入賞判定及びエラー１、２判定を実施したが、本実施例では各入賞口ごとにスイッチデータバッファを備えた上で、入賞判定及びエラー１、２判定を実施するために比較するスイッチデータ検出パターンも各入賞口毎に異なる内容が設定された構成となる。
【０１２０】
異なるスイッチデータ検出パターンが各入賞口毎に設定された構成とは、入賞口内に配置された近接スイッチを遊技球が通過する速度（検出状態維持期間）は、入賞口の構造に依存することから、検出状態維持期間が長くなる構造の入賞口に対しては、維持期間の長いスイッチデータ検出パターンを設定し、検出状態維持期間が短くなる構造の入賞口に対しては、維持状態の短いスイッチデータ検出パターンを設定する構成となる。
【０１２１】
具体的な設定内容を図１７、図１８を用いて説明する。尚、実施例１と異なるのは図１７、１８を用いて説明する各入賞口毎に設定されたスイッチバッファと判定用に比較するスイッチデータ検出パターンのみとなるため、他の構成については実施例１を援用する。
【０１２２】
図１７（１）は、普通図柄作動スイッチ４２ａ用スイッチデータバッファに対して設定された入賞及びエラー１、２判定となるスイッチデータ検出パターンであり、実施例１で説明した内容と同一となる。この設定内容は、普通図柄作動ゲート４２が、遊技球が入球してから近接スイッチの遊技球通過孔を通過するまでに遊技球の速度を減速させる障害物が無い構造であるため、遊技球の検出状態維持期間が短くなることから検出維持回数の少ないスイッチデータ検出パターン（定時割込処理時の連続した「１」検出回数が少ない）として設定されている。
【０１２３】
（２）は、第１始動口スイッチ３１ａ用スイッチデータバッファに対して設定された入賞及びエラー１、２判定となるスイッチデータ検出パターンである。この設定内容は、第１始動口３１ａが、遊技球が入球してから近接スイッチの遊技球通過孔を通過するまでに、必ず成型樹脂へ接触することによって遊技球の転動速度が減速する構造であることから、遊技球の検出状態維持期間が普通図柄作動ゲート４２入球時よりも長くなるため、検出維持回数が普通図柄作動ゲート４２よりも多いスイッチデータ検出パターン（定時割込処理時の連続した「１」検出回数が普通図柄作動スイッチ４２ａ用のデータよりも多い）として設定されている。
【０１２４】
具体的には、定時割込処理によって検知した第１始動口スイッチ３１ａの遊技球検出状態（非検出状態「０」又は検出状態「１」）に基づいて遊技球の入賞を判定する場合は、図１７（２）（ａ）の太枠に示すようにスイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが、非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を２回維持した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１」であった場合に入賞と判定し、入賞処理を実施する構成となっている。
【０１２５】
従って、第１始動口スイッチ３１ａ用のスイッチデータバッファに対応した入賞判定用のスイッチデータ検出パターンは普通図柄作動スイッチ４２ａ用よりも１ｂｉｔ多い４ｂｉｔで判定する構成となる。
【０１２６】
また、（２）（ｂ）（ｃ）（ｄ）の太枠に示すように、スイッチデータバッファの下位３ｂｉｔがスイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回も維持することなく非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１０」の場合、スイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１０」の場合、及びスイッチデータバッファの下位５ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を２回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１０」の場合は、遊技球の検出期間が短すぎ、電波ゴトである可能性が高いためエラー１と判定する。
【０１２７】
従って、第１始動口スイッチ３１ａ用のスイッチデータバッファに対応したエラー１判定用のスイッチデータ検出パターンは、普通図柄作動スイッチ４２ａ用よりも１ｂｉｔ多い５ｂｉｔで判定するパターンが含まれた構成となる。
【０１２８】
また、（２）（ｅ）の太枠に示すように、第１始動口スイッチ３１ａ用のスイッチデータバッファに記憶するスイッチデータの８回分の履歴が全て検出状態「１」となった場合は、遊技球の検出期間としては長すぎ、大玉ゴト又は玉詰まりである可能性が高いためエラー２と判定する。
【０１２９】
図１８（３）は、第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びカウントスイッチ３３ｂ用のそれぞれのスイッチデータバッファに対して設定された入賞及びエラー１、２判定となるスイッチデータ検出パターンである。この設定内容は、普通電動役物４０からなる第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口３５及び大入賞口３３ａが、遊技球が各入賞口に入球してから近接スイッチの遊技球通過孔を通過するまでに必ず成型樹脂等へ接触することによって遊技球の転動速度が大きく減速する構造であることから、各検出スイッチにおける遊技球の検出状態維持期間が第１始動口３１入球時よりも長くなることによって、検出維持回数が第１始動口３１よりも多いスイッチデータパターン（定時割込処理時の連続した「１」検出回数が第１始動口スイッチ３１ａ用のデータよりも多い）として設定されている。
【０１３０】
具体的には、定時割込処理によって検知した第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びカウントスイッチ３３ｂの遊技球検出状態（非検出状態「０」又は検出状態「１」）に基づいて遊技球の入賞を判定する場合は、図１８（３）（ａ）の太枠に示すようにスイッチデータバッファの下位５ｂｉｔが、非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を３回維持した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１１」であった場合に入賞と判定し、入賞処理を実施する構成となっている。
【０１３１】
従って、第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びカウントスイッチ３３ｂ用のスイッチデータバッファに対応した入賞判定用のスイッチデータ検出パターンは第１始動口スイッチ３１ａ用よりも１ｂｉｔ多く、普通図柄作動スイッチ４２ａよりも２ｂｉｔ多い５ｂｉｔで判定する構成となる。
【０１３２】
また、（３）（ｂ）（ｃ）（ｄ）（ｅ）の太枠に示すように、スイッチデータバッファの下位３ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回も維持することなく非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１０」の場合、スイッチデータバッファの下位４ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１０」の場合、スイッチデータバッファの下位５ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を２回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１０」の場合、及びスイッチデータバッファの下位６ｂｉｔが、スイッチデータが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を３回維持した後に非検出状態「０」に変化した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１１０」の場合は、遊技球の検出期間が短すぎ、電波ゴトである可能性が高いためエラー１と判定する。
【０１３３】
従って、第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びカウントスイッチ３３ｂ用のスイッチデータバッファに対応したエラー１判定用のスイッチデータ検出パターンは、第１始動口スイッチ３１ａ用よりも１ｂｉｔ多く、普通図柄作動スイッチ４２ａよりも２ｂｉｔ多い６ｂｉｔで判定するパターンが含まれた構成となる。
【０１３４】
また、（３）（ｆ）の太枠に示すように、第２始動口スイッチ３２ａ、一般入賞口スイッチ３５ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びカウントスイッチ３３ｂ用のそれぞれのスイッチデータバッファに記憶するスイッチデータ８回分の履歴が全て検出状態「１」となった場合は、遊技球の検出期間としては長すぎ、大玉ゴト又は玉詰まりである可能性が高いためエラー２と判定する。
【０１３５】
この様に本実施例では、各入賞口ごとにスイッチデータバッファを備えた上で、入賞処理を実施する各入賞口毎のスイッチデータ検出パターンと、電磁波ゴトの可能性が高いエラー１と判定する各入賞口毎のスイッチデータ検出パターンと、大玉ゴト及び玉詰まりの可能性が高いエラー２と判定するスイッチデータ検出パターンとを記憶するデータテーブルを備え、定時割込処理を実施するごとに記憶内容が更新されるスイッチデータバッファの内容とデータテーブルに記憶されたスイッチデータ検出パターンとを比較し、記憶内容とスイッチデータ検出パターンが一致した場合に入賞処理、エラー１又はエラー２を実施する構成となっている。
【０１３６】
以上が実施例の説明となる。実施例３では、どの入賞口におけるエラー２判定も全て同一のスイッチデータ検出パターン（８ｂｉｔのスイッチデータバッファの値が全て「１」）を用いて判定したが、スイッチデータバッファを１６ｂｉｔで構成したり、定時割込処理の周期を４ｍｓとすることで、内部構造の異なる入賞口毎に検出維持回数の異なるスイッチデータ検出パターンを用いてエラー２の判定を実施する構成も考えられる。
【０１３７】
また、エラー１判定となるスイッチデータ検出パターンをｂｉｔ数の違いにより複数備え、該複数のエラー１判定となるスイッチデータ検出パターンを入賞処理を実施するスイッチデータ検出パターンのｂｉｔ数と同一のｂｉｔ数とそれよりも少ないｂｉｔ数とを含んで設定したことにより、入賞処理を実施する以前にエラー１を判定し、エラー１判定時の賞球払出しを一部回避することが可能な構成となっている。
【０１３８】
更に、入賞処理を実施するスイッチデータ検出パターンのｂｉｔ数とエラー１を判定するスイッチデータ検出パターンの最大のｂｉｔ数とを同一数とすることで、エラー１判定時に確実に賞球払出しを回避することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１３９】
以上のように、本発明の弾球遊技機によれば、定時割込処理によって検出する近接スイッチの連続した検出状態に基づいて電波ゴトの不正行為を適切に検出することが可能となり、入賞口への遊技球の入球を近接スイッチによって検出する弾球遊技機に適用することができる。
【符号の説明】
【０１４０】
８      遊技盤
３１    第１始動口
３１ａ  第１始動口スイッチ
３２    第２始動口
３２ａ  第２始動口スイッチ
３３ａ  大入賞口
３３ｂ  カウントスイッチ
３５ａ  一般入賞口
４０    普通電動役物
４２    普通図柄作動ゲート
５０    主制御装置
【図１】
0005838398.tif 000002
【図２】
0005838398.tif 000003
【図３】
0005838398.tif 000004
【図４】
0005838398.tif 000005
【図５】
0005838398.tif 000006
【図６】
0005838398.tif 000007
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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