(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験装置からの妨害電波放射レベルの測定を行う全電波無響室における不要輻射の測定方法であって、
前記被試験装置に電力を供給する電源ケーブル長を、前記被試験装置の共振周波数と同じ周波数の電波を送信するダイポールアンテナと等価の共振を行わせる長さに設定し、
前記全電波無響室の電源供給部と前記電源ケーブルの電力入力端との間に、３０ＭＨｚから２００ＭＨｚの周波数範囲で２ｋΩから１０ＫΩの範囲のインピーダンスを備える高インピーダンス装置を設けたことを特徴とする全電波無響室における不要輻射測定方法。
【請求項２】
前記高インピーダンス装置は、電源線を少なくとも２分岐し、分岐した各線にインピーダンス素子を複数個分散して取り付けることによって形成されることを特徴とする請求項１に記載の全電波無響室における不要輻射測定方法。
【請求項３】
前記インピーダンス素子は、フェライトコアにワイヤを少なくとも１回巻き付けることによって形成されることを特徴とする請求項２に記載の全電波無響室における不要輻射測定方法。
【請求項４】
分岐した前記各線に取り付ける複数個の前記インピーダンス素子は、前記フェライトコアへの巻き数が全て同じであることを特徴とする請求項３に記載の全電波無響室における不要輻射測定方法。
【請求項５】
分岐した前記各線に取り付ける複数個の前記インピーダンス素子の中には、前記フェライトコアへの巻き数が異なるものが含まれることを特徴とする請求項３に記載の全電波無響室における不要輻射測定方法。
【請求項６】
前記少なくとも２分岐した各線に取り付ける複数個の前記インピーダンス素子は、前記フェライトコアへの巻き数を異ならせた２種類が交互に取り付けられて形成されることを特徴とする請求項３に記載の全電波無響室における不要輻射測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、全電波無響室における不要輻射測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電波を送受信する通信機器では、通信のための電波の送受信を行うが、内部の送受信回路から、他の通信機器の送受信に対しては妨害波となる電波（不要輻射）も放射する。このような不要輻射を放射するのは通信機器に限らず、電動工具等のようなモータで動作し、電源線を備える小型電気機器からも高周波妨害波が放射される。このような小型電気機器からの不要輻射は、小型電気機器が販売される前に測定されて改善される。特許文献１には、小型電気機器が発生する高周波妨害波を測定する妨害電力検出装置が開示されている。
【０００３】
一方、デジタル機器の高速化にともない、テレビやラジオがデジタル機器化され、更には、モバイル通信機器も普及している。一方、デジタル機器からは他のデジタル機器におけるモバイル通信への妨害電波が放射され、この妨害電波の発生が社会問題化した。これを受けて国際規格が制定され、妨害電波の測定法と許容値が決定された。各国はこれを準用して規制を開始している。 
【０００４】
現在のデジタル機器からの妨害電波（不要輻射）の測定には、図１（ａ）に示すような半電波無響室（ＳＡＣ:Semi anechoic Chamber）１が使用されている。この半電波無響室１においてテーブルＴの上に載置された被試験装置３から放射される妨害電波の測定では電源インピーダンスの影響が大きい。このため、妨害電波の測定においては、現在ＶＨＦ−ＬＩＳＮ（電源ラインインピーダンス整合回路網）という、位相と大地間インピーダンスを設定するものの使用が提案されている。
【０００５】
半電波無響室１には床面があり、これが大地面Ｇとなっている。半電波無響室１では、大地面Ｇは金属面であり、被試験装置３と半電波無響室１の外部にある電源ボックス４を接続する電源ケーブル５は、図１（ｂ）に示すように、全長が波長の四分の一となる周波数で共振するモノポールアンテナ６Ｍのように働く。半電波無響室１においては、提案されているＶＨＦ−ＬＩＳＮを使用すると電源インピーダンスが低いため、被試験装置３は、モノポールアンテナ６Ｍと同様な共振現象を生じ、共振周波数で強い妨害電波を放射することになる。
【０００６】
この半電波無響室１に対して、大地面がない全電波無響室（ＦＡＲ:Fully anechoic Room）２がある。全電波無響室２にもテーブルＴを置くための床面があるが大地面ではなく、床面は吸収体７で形成されている。電源ボックス４に接続する電源ケーブル５は、コンセント８を経てテーブルＴの上に載置された被試験装置３に接続される。被試験装置３と全電波無響室２の外部にある電源ボックス４を接続する電源ケーブル５は、全長が二分の一波長となる周波数に共振するダイポールアンテナ６Ｄのように働く。また、全電波無響室２においては、大地面がないため、半電波無響室１で使用したＶＨＦ−ＬＩＳＮは使用することができない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平７−２０１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
以上説明したように、全電波無響室には大地面がないため、半電波無響室で生じるようなモノポール共振の現象が発生しない。そのため、半電波無響室と全電波無響室の妨害電波の測定値に対して相関をとろうとしても、全電波無響室に大地面がないために、被試験装置の測定値に相関を取ることができない。
【０００９】
本発明の目的は、被試験装置の全電波無響室における妨害電波の測定値を、被試験装置の半電波無響室における妨害電波の測定値に対して相関をとることができるようにする全電波無響室における不要輻射測定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一側面に係る測定方法は、被試験装置からの妨害電波放射レベルの測定を行う全電波無響室における不要輻射の測定方法であって、被試験装置に電力を供給する電源ケーブル長を、被試験装置の共振周波数と同じ周波数の電波を送信するダイポールアンテナと等価の共振を行わせる長さに設定し、全電波無響室の電源供給部と電源ケーブルの電力入力端との間に、高インピーダンス装置を設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、被測定装置の半電波無響室におけるモノポール共振での共振周波数と、被測定装置の全電波無響室におけるダイポール共振での共振周波数とを一致させることができる。それによって、被試験装置の全電波無響室における妨害電波の測定値を、被試験装置の半電波無響室における妨害電波の測定値に対して相関をとることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】（ａ）は半電波無響室の構造の説明図、（ｂ）は（ａ）に示した半波無響室における電源ケーブルの動作説明図、（ｃ）は全電波無響室の構造の説明図である。
【図２】（ａ）は半電波無響室を使用した不要輻射測定システムの斜視図、（ｂ）は（ａ）に示した被試験装置とＶＨＦ−ＬＩＳＮとの接続を示す部分拡大斜視図である。
【図３】本発明に係る全電波無響室２における不要輻射測定方法を説明するための図である。
【図４】（ａ）は本発明に使用するフェライトコアの平面図と側面図、（ｂ）は（ａ）に示したフェライトコアにワイヤを１回挿通した状態とその記号を示す説明図、（ｃ）は（ａ）に示したフェライトコアにワイヤを３回挿通した状態とその記号を示す説明図である。
【図５】高インピーダンス装置の構造を示す図（１）である。
【図６】高インピーダンス装置の構造を示す図（２）である。
【図７】高インピーダンス装置の構造を示す図（３）である。
【図８】高インピーダンス装置の構造を示す図（４）である。
【図９】高インピーダンス装置の構造を示す図（５）である。
【図１０】高インピーダンス装置の構造を示す図（６）である。
【図１１】高インピーダンス装置の構造を示す図（７）である。
【図１２】高インピーダンス装置の構造を示す図（８）である。
【図１３】高インピーダンス装置の構造を示す図（９）である。
【図１４】高インピーダンス装置５０のフェライトコア２１への電源ワイヤ２２の巻き数と、周波数に対するインピーダンスの相違を示すグラフである。
【図１５】半電波無響室（ＳＡＣ）及び全電波無響室（ＦＡＲ）において被試験装置の不要輻射を測定した結果を比較して示すグラフ（１）である。
【図１６】半電波無響室（ＳＡＣ）及び全電波無響室（ＦＡＲ）において被試験装置の不要輻射を測定した結果を比較して示すグラフ（２）である。
【図１７】高インピーダンス装置の性能を確認するための測定結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の一側面に係る全電波無響室における不要輻射の測定方法について図を参照しつつ説明する。但し、本発明の技術的範囲はそれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された発明とその均等物に及ぶ点に留意されたい。
【００１４】
図２（ａ）は半電波無響室を使用した不要輻射測定システムの斜視図であり、図２（ｂ）は図２（ａ）に示した被試験装置とＶＨＦ−ＬＩＳＮとの接続を示す部分拡大斜視図である。
【００１５】
不要輻射測定システム１０は、半電波無響室１の内部の金属の大地面Ｇの上に置かれるテーブルＴの上に置いて使用する被試験装置３と、被試験装置３が放射する電波を受信するアンテナ１１を備える。アンテナ１１はアンテナマスト１２の先端部に取り付けられており、アンテナマスト１２は、大地面Ｇの上に置かれたベース１３の上に突設された昇降ポール１４に昇降可能に取り付けられている。昇降ポール１４の高さが４ｍであるとすると、アンテナ１１はアンテナマスト１２が昇降ポール１４の上を移動することにより、大地面Ｇから１ｍ〜４ｍの高さの範囲で自由に高さを調節することができる。
【００１６】
アンテナ１１で受信された電波は同軸ケーブル１６によって半電波無響室１の外部に引き出され、不要輻射測定装置１５に入力される。被試験装置３はテーブルＴの上に載置されており、テーブルＴの大地面Ｇからの高さは８０ｃｍである。テーブルＴの下には一般にテーブルＴを回転させるターンテーブルがあるが、本図には図示を省略してある。被試験装置３の電源ケーブル５はＶＨＦ−ＬＩＳＮ９に接続され、ＶＨＦ−ＬＩＳＮ９に接続する電源ケーブル５Ｘによって半電波無響室１の外部に引き出され、不要輻射測定装置１５に入力される。
【００１７】
被試験装置３は、大地面Ｇから８０ｃｍの高さを備えるテーブルＴの上に載置されており、被試験装置３の電源ケーブル５がＶＨＦ−ＬＩＳＮ９に接続されている。電源ケーブル５の長さは１．１ｍである。ＶＨＦ−ＬＩＳＮ９より後段の回路については図示を省略してある。
【００１８】
図３は、本発明に係る全電波無響室２における不要輻射測定方法を説明するための図である。
【００１９】
半電波無響室１では、大地面ＧからのテーブルＴの高さは８０ｃｍであったが、全電波無響室２では、テーブルＴが置かれる吸収体７からの電波の反射の影響がない高さに被試験装置３を置くために、テーブルＴが嵩上げ部材Ｕによって１３０ｃｍだけ高くなっている。
【００２０】
テーブルＴの被試験装置３の載置面が嵩上げ部材Ｕによって嵩上げされたので、１．１ｍの電源ケーブル５も追加ケーブル５Ａによって１．５ｍ延長され、全体で２．６ｍになっている。電源ケーブル５に追加ケーブル５Ａを加算したケーブルの長さの方が、テーブルＴと嵩上げ部材Ｕの長さよりも長いので、共振周波数に影響が余り出ないように、追加ケーブル５Ａは、嵩上げ部材Ｕの側面で蛇行させている。
【００２１】
図３に示すように、追加した追加ケーブル５ＡとＶＨＦ−ＬＩＳＮ９の間に高インピーダンス装置５０が設けられている。全電波無響室２に設置する高インピーダンス装置５０としては、３０ＭＨｚから２００ＭＨｚの周波数範囲で、２ｋΩから１０ＫΩの範囲のインピーダンスを備える装置を使用する。
【００２２】
ここで、図２に示した半電波無響室１における電源ケーブル５の共振周波数と、図３に示した全電波無響室２における電源ケーブル５と追加ケーブル５Ａの共振周波数を一致させる手順について説明する。
【００２３】
最初に、半電波無響室１において、電源ケーブル５の共振周波数ＦRES（ＭＨｚ）を測定する。なお、測定した共振周波数ＦRESの値が４０ＭＨｚであった場合に基づいて、順次、具体的な数値について合わせて説明する。
【００２４】
次に、得られた共振周波数（４０ＭＨｚ）の四分の一波長からケーブル長を減算し、被試験装置（ＥＵＴ：小型で電源ケーブル１本のみが接続される装置のこと）３の等価ケーブル長（ＬEUT）を計算する。共振周波数が４０ＭＨｚであり、半電波無響室１における電源ケーブル長が１．１ｍの場合、４０ＭＨｚの四分の一波長である１．９ｍから１．１ｍを引くと、ＥＵＴの等価ケーブル長（ＬEUT）は０．８ｍとなる。
【００２５】
次に、全電波無響室２の延長ケーブル長ＬEXTを次の式１から求める。
ＬEXT＝１５０（ｍ）／ＦRES（ＭＨｚ）−（半電波無響室における電源ケーブル長）−ＬEUT・・・（１）
ＦRESが４０ＭＨｚの場合、ＬEXTは１．８５ｍとなる。
したがって、全電波無響室２の電源ケーブル長（ＬEXT）を、半電波無響室１における電源ケーブル長である１．１ｍに１．８５ｍを加算した２．９５ｍとする。
【００２６】
上記のような手順で決定された電源ケーブル長（ＬEXT）のケーブルを利用することにより、半電波無響室１における電源ケーブル５の共振周波数と同じ周波数の電波を送信するダイポールアンテナと等価の共振を行わせる長さに設定できる。
【００２７】
ここで、全電波無響室２における不要輻射測定方法に使用する高インピーダンス装置５０について説明する。高インピーダンス装置５０によって、全電波無響室２の床面７に対して追加ケーブル５Ａが絶縁され、上記によって算出された周波数とほぼ等しい周波数で共振できるようになる。
【００２８】
図４（ａ）は高インピーダンス装置５０に使用するフェライトコア２１の平面図と側面図を示している。例えば、フェライトコア２１は、直径が１７．７ｍｍ、孔の内径が９．４ｍｍ、厚さが２８．８ｍｍのものを使用することができる。
【００２９】
図４（ｂ）は図４（ａ）に示したフェライトコア２１に電源ワイヤ２２を１回挿通した状態とその記号を示すものである。フェライトコア２１は、電源ワイヤ２２を巻き付けることにより、高いインピーダンスを実現できる。電源ワイヤ２２を１回挿通した状態のフェライトコア２１は、インピーダンス素子３１として以後白丸で表す。
【００３０】
図４（ｃ）は図４（ａ）に示したフェライトコア２１に電源ワイヤ２２を３回挿通した状態とその記号を示すものである。電源ワイヤ２２を３回挿通した状態のフェライトコア２１は、インピーダンス素子３３として以後黒丸で表す。
【００３１】
図５〜図１３は、高インピーダンス装置５０の実施例の構造を示す図である。以下では、高インピーダンス装置５０を代表番号として、第１の実施例の高インピーダンス装置５１（図５）から第９の実施例の高インピーダンス装置５９（図１３）を、図５〜図１３を用いて説明する。
【００３２】
図５（ａ）、（ｂ）は第１の実施例の高インピーダンス装置５０の構造を説明するものであり、図５（ａ）が側面図であり、図５（ｂ）は図５（ａ）に示した高インピーダンス装置５０の平面図である。第１の実施例の高インピーダンス装置５１は円錐台状をしており、上底には電源が３つ（３Ｐ）の電源ジャック（コンセント）２３があり、この電源ジャック２３に被試験装置が接続される。また、下底の近傍には電源が供給されるインレットコネクタ２４がある。電源ジャック２３とインレットコネクタ２４の間には３本の電源ワイヤ２２が設けられており、高インピーダンス装置５１では、電源ワイヤ２２は螺旋状に電源ジャック２３とインレットコネクタ２４の間を接続している。３本の電源ワイヤ２２には、それぞれ複数個のインピーダンス素子３３が分散して設けられている。インピーダンス措置３３は、前述のように、フェライトコア２１に電源ワイヤ２２が３回挿通されたものである。
【００３３】
図６は、第２の実施例の高インピーダンス装置５２の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５２の側面が示されている。高インピーダンス装置５２が高インピーダンス装置５１と相違する点は、高インピーダンス装置５１が円錐台形状をしているのに対して、高インピーダンス装置５２が円柱状をしている点である。また、高インピーダンス装置５２では、上面中央に電源ジャック２３が設けられている点は高インピーダンス装置５１と同じであるが、インレットコネクタ２４が高インピーダンス装置５１では側面に設けられていたのに対し、高インピーダンス装置５２では下面中央に設けられている点が異なる。高インピーダンス装置５２でも電源ジャック２３とインレットコネクタ２４の間には３本の電源ワイヤ２２が設けられており、電源ワイヤ２２は螺旋状に電源ジャック２３とインレットコネクタ２４の間を接続している点は高インピーダンス装置５１と同様である。また、３本の電源ワイヤ２２には、それぞれ複数個のインピーダンス素子３３が設けられている。
【００３４】
図７は、第３の実施例の高インピーダンス装置５３の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５３の側面が示されている。高インピーダンス装置５３が高インピーダンス装置５２と相違する第１の点は、インレットコネクタ２４が側面に設けられている点である。第２の点は、高インピーダンス装置５２では３本の電源ライン２２が螺旋状に電源ジャック２３とインレットコネクタ２４を接続していたのに対して、高インピーダンス装置５３では３本の電源ライン２２が直線状に電源ジャック２３とインレットコネクタ２４を接続している点である。３本の電源ワイヤ２２にそれぞれ複数個のインピーダンス素子３３が設けられている点は同じである。
【００３５】
図８は、第４の実施例の高インピーダンス装置５４の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５４の側面が示されている。高インピーダンス装置５４が高インピーダンス装置５３と相違する点は、インレットコネクタ２４の位置だけである。高インピーダンス装置５３ではインレットコネクタ２４が側面に設けられているのに対して、高インピーダンス装置５４ではインレットコネクタ２４が下面中央に設けられている。３本の電源ワイヤ２２にそれぞれ複数個のインピーダンス素子３３が設けられている点は同じである。
【００３６】
図９は、第５の実施例の高インピーダンス装置５５の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５５の側面が示されている。高インピーダンス装置５５が高インピーダンス装置５４と相違する点は、３本の電源ワイヤ２２の構造だけである。高インピーダンス装置５４では３本の電源ワイヤ２２にそれぞれ設けられているのは複数のインピーダンス素子３３だけであった。一方、高インピーダンス装置５５では、３本の電源ワイヤ２２にはそれぞれ、インピーダンス素子３１とインピーダンス素子３３が交互に設けられている。３本の電源ワイヤ２２におけるインピーダンス素子３１とインピーダンス素子３３の順番は同じである。インピーダンス素子３１とインピーダンス素子３３を交互に設置することにより、高インピーダンス装置５５では浮遊容量を削減可能であり、高周波特性を改善できる。
【００３７】
図１０は、第６の実施例の高インピーダンス装置５６の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５６の側面が示されている。高インピーダンス装置５６が高インピーダンス装置５４と相違する点は、３本の電源ワイヤ２２の構造だけである。高インピーダンス装置５４では３本の電源ワイヤ２２にそれぞれ設けられているのは複数のインピーダンス素子３３だけであった。一方、高インピーダンス装置５６では、３本の電源ワイヤ２２にはそれぞれ、電源ジャック２３に最も近い位置にインピーダンス素子３３の代わりにインピーダンス素子３１が設けられている。インピーダンス素子３３の代わりにインピーダンス素子３１を設けることにより、高インピーダンス装置５６では高周波特性を改善できる。
【００３８】
図１１は、第７の実施例の高インピーダンス装置５７の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５７の電源ジャック２３の近傍のみを拡大して示している。高インピーダンス装置５７が第１から第６の実施例の高インピーダンス装置５１〜５６と異なる点は、３本の電源ワイヤ２２を全て挿通するフェライトコア２１が設けられている点である。高インピーダンス装置５７では、特性を変えずにフェライトコア２１の数を減らすことができる。
【００３９】
図１２は第８の実施例の高インピーダンス装置５８の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５８を平面視した状態が示されている。高インピーダンス装置５８が第１から第７の実施例の高インピーダンス装置５１〜５７と相違する点は、電源ワイヤ２２が２つの端子板２５，２６の間に架け渡され、それぞれの電源ワイヤ２２にインピーダンス素子３１が取り付けられている点である。例えば、端子板２５が電源ジャックに対応し、端子板２６がインレットコネクタに対応する。高インピーダンス装置５８は、他の実施例の高インピーダンス装置５１〜５７に比べて構造が簡素である。
【００４０】
図１３は第９の実施例の高インピーダンス装置５９の構造を説明するものであり、本図には高インピーダンス装置５９を平面視した状態が示されている。高インピーダンス装置５９が高インピーダンス装置５８と相違する点は、３本の電源ワイヤ２２を全て挿通するインピーダンス素子３１が端子板２５側に複数個設けられている点である。高インピーダンス装置５９は、他の実施例の高インピーダンス装置５１〜５７に比べて構造が簡素であり、フェライトコア２１の個数も低減できる。
【００４１】
図１４は、高インピーダンス装置５０のフェライトコア２１への電源ワイヤ２２の巻き数と、周波数に対するインピーダンスの相違を示すグラフである。
【００４２】
太線１４１は、フェライトコア２１に電源ワイヤ２２を１回挿通した場合を示し、線１４２は、フェライトコア２１に電源ワイヤ２２を２回挿通した場合を示し、点線１４３は、フェライトコア２１に電源ワイヤ２２を２回挿通した場合を示している。図１４より、３０〜８０ＭＨｚにおいて、フェライトコア２１に電源ワイヤ２２を１回挿通したインピーダンスは約１００Ω以上であり、電源ワイヤ２２を２回挿通したインピーダンスは５００Ω以上であり、電源ワイヤ２２を３回挿通したインピーダンスは９００Ω以上である。
【００４３】
例えば、図５に示す高インピーダンス装置５１では、電源ワイヤ２２を３回挿通したフェライトコア２１を１０個直列接続したラインを３ライン並列に接続している。したがって、３０〜８０ＭＨｚにおいて、高インピーダンス装置５１全体のインピーダンスは、約３０００Ωとなる。なお、図６〜図１３に示した高インピーダンス装置全体のインピーダンスは、図１４を用いて上記と同様に算出することができる。また、図５〜図１３に示した高インピーダンス装置５０では、電源ジャック２３とインレットコネクタ２４の間には３本の電源ワイヤ２２が設けられているが、アース線を削除して２本の電源ワイヤ２２のみを設けるようにしても良い。
【００４４】
電磁界シミュレーション結果によると、高インピーダンス装置全体のインピーダンスは、３０ＭＨｚから２００ＭＨｚの周波数範囲で、２ｋΩから１０ｋΩの範囲であれば、高インピーダンス装置５０に対して追加ケーブル５Ａから被試験装置３が充分に分離され、ダイポール共振することを妨げないと考えられる。
【００４５】
図１５及び図１６は、半電波無響室（ＳＡＣ）及び全電波無響室（ＦＡＲ）において被試験装置の不要輻射を測定した結果を比較して示すグラフである。図１５及び図１６において、横軸が周波数を表しており、縦軸が特性インピーダンスを表している。
【００４６】
図１５に示す曲線１５１は、半電波無響室（ＳＡＣ）において、テーブル高さ８０ｃｍ、電源ケーブル長１．１ｍで、所定の被試験装置３の不要輻射を測定した結果を示している（図２参照）。一方、図１５に示す曲線１５２は、全電波無響室（ＦＡＲ）において、本発明に係る不要輻射測定システム１０を利用して、曲線１５１の場合と同じ被試験装置３の不要輻射を測定した結果を示している（図３参照）。すなわち、発明に係る不要輻射測定システム１０では、テーブル高さ（８０＋１３０）ｃｍ、電源ケーブル長２．９５ｍで、追加ケーブル５ＡとＶＨＦ−ＬＩＳＮ９との間には図５に示す高インピーダンス装置５０が接続されている。
【００４７】
図１６に示す曲線１６１は、半電波無響室（ＳＡＣ）において、テーブル高さ８０ｃｍ、電源ケーブル長１．１ｍで、所定の被試験装置３の不要輻射を測定した結果を示しており、図１５の曲線１５１と同じ曲線である。一方、図１６に示す曲線１６２は、全電波無響室（ＦＡＲ）において、半電波無響室（ＳＡＣ）における測定と同じ条件（テーブル高さ８０ｃｍ、電源ケーブル長１．１ｍ）で、同じ所定の被試験装置３の不要輻射を測定した結果を示している。なお、図１６に示す曲線１６２の測定では、電源ケーブル５とＶＨＦ−ＬＩＳＮ９との間には高インピーダンス装置が接続されていない。
【００４８】
ところで、全電波無響室（ＦＡＲ）では本来床面反射波がないため、半電波無響室（ＳＡＣ）と比較して、特性インピーダンスが５ｄＢ小さく測定される。これを考慮して、図１５及び図１６に示されるグラフを比較すると、全電波無響室（ＦＡＲ）において本発明に係る不要輻射測定システム１０を利用した被試験装置３の不要輻射の測定結果からは、以下の効果が得られることが理解できる。
（１）４０ＭＨｚでは、半電波無響室（ＳＡＣ）との差異が−１０ｄＢから−５ｄＢに改善された。
（２）１５０ＭＨｚでは半電波無響室（ＳＡＣ）との差異が、−５ｄＢから＋３ｄＢに改善された。
【００４９】
上記のように周波数によって改善の程度が異なるが、全電波無響室（ＦＡＲ）において本発明に係る不要輻射測定システム１０を利用した場合には、半電波無響室（ＳＡＣ）と全電波無響室（ＦＡＲ）との間で、約５ｄＢの差異に留まった。このように、全電波無響室（ＦＡＲ）において本発明に係る不要輻射測定システム１０を利用すれば、全電波無響室（ＦＡＲ）においても半電波無響室（ＳＡＣ）に近い測定を行うことが可能となる。
【００５０】
図１７は、高インピーダンス装置の性能を確認するための測定結果を示す図である。なお、全電波無響室（ＦＡＲ）には大地面Ｇがないので、高インピーダンス装置の性能の評価には半電波無響室（ＳＡＣ）が使用される。
【００５１】
図１７（Ａ）は、半電波無響室（ＳＡＣ）において、基準となるダイポールアンテナから一定の信号を送信し、距離３ｍで測定した電界強度と、ダイポールアンテナの端を電源ケーブルで、大地面Ｇに短絡した状態で測定した電界強度との差異を示している。図１７（Ｂ）は半電波無響室（ＳＡＣ）において、上記ダイポールアンテナと電源ケーブルとの間に、高インピーダンス装置を挿入し、挿入した高インピーダンス装置には（図５に示す高インピーダンス装置５０が備えるものと同じ）フェライトコアを１０個設置した場合の電界強度と基準との差異を示している。図１７の中に２Ｐとあるのは電源ワイヤ２２が２本の場合であり、３Ｐとあるのは電源ワイヤ２２が３本の場合である。
【００５２】
不要輻射の測定は、基本の共振周波数と、３倍の共振周波数で行った。高インピーダンス装置のインピーダンスは、（Ｂ）の３Ｐで３０００Ω、２Ｐで４５００Ωである。図１７から分かるように、半電波無響室（ＳＡＣ）においてダイポールアンテナに高インピーダンス装置を接続すると、基本共振周波数と３倍の共振周波数における不要輻射の測定値の基準との差異が４ｄＢ以内に収まり、電源ケーブルが半波長ダイポールアンテナのように働くことを阻害しないことが分かる。
【００５３】
以上説明したように、発明では、全電波無響室において被試験装置に接続する電源コード長を延長し、延長した電源ケーブルに高インピーダンス設定機構を接続することによって、電源ケーブルがダイポールアンテナのように働くようになった。これにより、全電波無響室における電源コードの共振周波数を、半電波無響室における電源コードの共振周波数と同じにでき、全電波無響室における被試験装置の不要輻射の測定値を、半電波無響室における被試験装置の不要輻射の測定値と良い相関を実現できた。 
【符号の説明】
【００５４】
１    半電波無響室
２    全電波無響室
３    被試験装置
４    電源ボックス
５    電源ケーブル
７    吸収体
９    ＶＨＦ−ＬＩＳＮ
５０    高インピーダンス装置
２１    フェライトコア
３１，３３    インピーダンス素子
Ｇ    大地面
Ｔ    テーブル
【要約】
【課題】被試験装置の全電波無響室における妨害電波の測定値を、被試験装置の半電波無響室における妨害電波の測定値に対して相関をとることができるようにする。
【解決手段】被試験装置３からの妨害電波放射レベルの測定を、全電波無響室２において行うに際して、被試験装置３に電力を供給する電源ケーブル５の長さを、被試験装置３の共振周波数と同じ周波数の電波を送信するダイポールアンテナと等価の共振を行わせる長さに設定し、全電波無響室２の電源供給部と電源ケーブル５の電力入力端との間に、高インピーダンス装置５０を設けた全電波無響室における不要輻射測定方法である。
【選択図】図３【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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