(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、前記基板上に設けられ、インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子が所定方向に配列された記録素子列と、前記基板上の前記所定方向に互いに異なる位置に設けられ、温度を検出するための複数の検出素子と、を有する記録ヘッドと、
前記複数の検出素子によって検出された複数の温度を取得する取得手段と、
前記複数の検出素子それぞれに対応する係数を決定する第１の決定手段と、
前記取得手段によって取得された前記複数の温度と、前記第１の決定手段によって決定された複数の前記係数と、に基づいて、代表温度を決定する第２の決定手段と、
前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度に基づいて、インクの温度に関する温度制御を行う制御手段と、を有するインクジェット記録装置であって、
前記第１の決定手段は、前記取得手段によって前記複数の温度のうちの最も高い温度が取得された前記検出素子に対応する前記係数が前記複数の係数のうちで最大となるように、前記複数の係数を決定することを特徴とするインクジェット記録装置。
【請求項２】
前記第２の決定手段は、前記第１の決定手段によって決定された前記複数の係数に基づく重みを前記取得手段によって取得された前記複数の温度に適用し、前記複数の温度の加重平均をとることにより、前記代表温度を決定することを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項３】
前記第２の決定手段は、（ｉ）前記取得手段によって取得された前記複数の温度のそれぞれと、前記第１の決定手段によって決定された前記複数の係数のそれぞれと、の積に基づいて、前記複数の検出素子における複数の重み付け温度を決定し、（ｉｉ）前記複数の重み付け温度の和に基づいて、前記代表温度を決定することを特徴とする請求項１または２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項４】
前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度に基づいて前記複数の記録素子に印加する駆動パルスを決定する第３の決定手段を更に有し、
前記制御手段は、前記第３の決定手段により決定された前記駆動パルスを前記複数の記録素子に印加することにより、インクの吐出を制御することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項５】
それぞれメインパルスと、当該メインパルスに先だって前記複数の記録素子に印加されるプレパルスと、から構成され、プレパルスのパルス幅が互いに異なる複数の駆動パルスを規定し、駆動パルスと代表温度との対応関係を定めた駆動パルステーブルを記憶するメモリを更に有し、
前記第３の決定手段は、前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度と、前記メモリに記憶された前記駆動パルステーブルと、に基づいて、前記複数の記録素子に印加する駆動パルスを決定することを特徴とする請求項４に記載のインクジェット記録装置。
【請求項６】
前記第３の決定手段は、（ｉ）前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度が第１の温度である場合、プレパルスのパルス幅が第１の幅である第１の前記駆動パルスを前記複数の記録素子に印加する駆動パルスに決定し、（ｉｉ）前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度が前記第１の温度よりも高い第２の温度である場合、プレパルスのパルス幅が前記第１の幅よりも短い第２の幅である第２の前記駆動パルスを前記複数の記録素子に印加する駆動パルスに決定することを特徴とする請求項５に記載のインクジェット記録装置。
【請求項７】
前記記録ヘッドは、前記基板上に設けられ、前記基板の温度を調整するために加熱を行う加熱素子を更に有し、
前記制御手段は、前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度に基づいて前記加熱素子による温度の調整を制御することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項８】
前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度に基づいて前記加熱素子に印加する調整パルスを決定する第４の決定手段を更に有し、
前記制御手段は、前記第４の決定手段によって決定された前記調整パルスを前記加熱素子に印加することにより、温度の調整を制御することを特徴とする請求項７に記載のインクジェット記録装置。
【請求項９】
それぞれ単一のパルスから構成され、パルス幅が互いに異なる複数の調整パルスを規定し、調整パルスと代表温度との対応関係を定めた調整パルステーブルを記憶するメモリを更に有し、
前記第４の決定手段は、前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度と、前記メモリに記憶された前記調整パルステーブルと、に基づいて、前記加熱素子に印加する調整パルスを決定することを特徴とする請求項８に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１０】
前記第４の決定手段は、（ｉ）前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度が第３の温度である場合、パルス幅が第１の幅である第１の前記調整パルスを前記加熱素子に印加する調整パルスに決定し、（ｉｉ）前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度が前記第３の温度よりも高い第４の温度である場合、パルス幅が前記第１の幅よりも短い第２の幅である第２の前記調整パルスを前記加熱素子に印加する調整パルスに決定することを特徴とする請求項９に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１１】
前記第１の決定手段は、前記取得手段によって前記複数の温度のうちの最も高い温度が取得された前記検出素子以外の検出素子に対応する前記係数が互いに等しくなるように、前記複数の係数を決定することを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１２】
前記第１の決定手段は、前記取得手段によって高い温度が取得された前記検出素子ほど対応する前記係数が大きくなるように、前記複数の係数を決定することを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１３】
前記記録ヘッドは、前記基板を複数有することを特徴とする請求項１から１２のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１４】
前記複数の基板は、前記所定方向に沿って配置されていることを特徴とする請求項１３に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１５】
前記取得手段は、前記複数の基板それぞれにおいて独立に前記複数の温度を取得し、
前記第１の決定手段は、前記複数の基板それぞれにおいて独立に前記複数の係数を決定し、
前記第２の決定手段は、前記複数の基板それぞれにおいて独立に前記代表温度を決定し、
前記制御手段は、前記複数の基板それぞれにおいて独立に前記温度制御を行うことを特徴とする請求項１３または１４に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１６】
前記複数の検出素子は、前記記録素子列の前記所定方向における一方の端部近傍に設けられた第１の検出素子と、前記記録素子列の前記所定方向における他方の端部近傍に設けられた第２の検出素子と、前記記録素子列の前記所定方向における中央部近傍に設けられた第３の検出素子と、を少なくとも含むことを特徴とする請求項１から１５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１７】
前記複数の検出素子は、それぞれダイオードセンサであることを特徴とする請求項１から１６のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１８】
基板と、前記基板上に設けられ、インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子が所定方向に配列された記録素子列と、前記基板上の前記所定方向に互いに異なる位置に設けられ、温度を検出するための複数の検出素子と、を有する記録ヘッドを用いて記録を行うインクジェット記録方法であって、
前記複数の検出素子によって検出された複数の温度を取得する取得工程と、
前記複数の検出素子それぞれに対応する係数を決定する第１の決定工程と、
前記取得工程によって取得された前記複数の温度と、前記第１の決定工程によって決定された複数の前記係数と、に基づいて、代表温度を決定する第２の決定工程と、
前記第２の決定工程によって決定された前記代表温度に基づいて、インクの温度に関する温度制御を行う制御工程と、を有し、
前記第１の決定工程は、前記取得工程によって前記複数の温度のうちの最も高い温度が取得された前記検出素子に対応する前記係数が前記複数の係数のうちで最大となるように、前記複数の係数を決定することを特徴とするインクジェット記録方法。
【請求項１９】
前記第２の決定工程は、（ｉ）前記取得工程によって取得された前記複数の温度のそれぞれと、前記第１の決定工程によって決定された前記複数の係数のそれぞれと、の積に基づいて、前記複数の検出素子における複数の重み付け温度を決定し、（ｉｉ）前記複数の重み付け温度の和に基づいて、前記代表温度を決定することを特徴とする請求項１８に記載のインクジェット記録方法。
【請求項２０】
前記第２の決定工程によって決定された前記代表温度に基づいて前記複数の記録素子に印加する駆動パルスを決定する第３の決定工程を更に有し、
前記制御工程は、前記第３の決定工程により決定された前記駆動パルスを前記複数の記録素子に印加することにより、インクの吐出を制御することを特徴とする請求項１８または１９に記載のインクジェット記録方法。
【請求項２１】
前記記録ヘッドは、前記基板上に設けられ、前記基板の温度を調整するために加熱を行う加熱素子を更に有し、
前記制御工程は、前記第２の決定工程によって決定された前記代表温度に基づいて前記加熱素子による温度の調整を制御することを特徴とする請求項１８から２０のいずれか１項に記載のインクジェット記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、熱エネルギを利用して画像を記録するインクジェット記録装置およびその記録方法に関する。特に記録ヘッド内の温度分布に起因する画像弊害を緩和するための記録ヘッドの制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
インクジェット記録装置では、記録ヘッド内に配置された複数の記録素子に対し、画像データに従って熱エネルギを与え、個々の記録素子からインクを吐出させて、記録媒体に画像を記録する。このようなインクジェット記録装置において、記録素子内のインク温度は、その記録素子や周辺の記録素子の吐出頻度に影響を受け、インク温度が高いほど吐出量も多くなる。よって、同じ記録ヘッド内であっても、吐出頻度の偏りに応じて吐出量にばらつきが生じたり、記録開始からの経過時間によって吐出量が変化したりして、濃度むらが招致される場合がある。
【０００３】
例えば特許文献１には、このような問題を解決するための吐出量制御方法（ＰＷＭ制御）が開示されている。ＰＷＭ制御では、吐出の際に個々の記録素子に印加する電圧パルスのパルス幅を、複数の記録素子が配列しているチップの温度に応じて調整し、チップに温度変化が起こっても吐出量を一定に保つことが出来る方法が開示されている。また特許文献２には、安定した吐出が保証される温度まで記録ヘッドを加熱するためのサブヒータを、記録素子近傍に配置された温度センサの検出温度に応じて制御する方法が開示されている。
【０００４】
このような特許文献１や特許文献２の吐出量制御方法では、複数の記録素子の温度分布がなるべく正確に検出されることが求められる。実際の温度分布に比べて検出誤差が大きいと、吐出量制御が正常に機能せず、濃度むらを緩和できなかったり、濃度むらをかえって増長させてしまったりするからである。そのため、近年では、温度検出の精度向上を目的として、１つのチップに複数の温度センサを配備し、複数の検出温度を総合的に判断して吐出時の駆動制御を行っているインクジェット記録装置が提供されている。例えば特許文献３には、複数の温度センサから得られた複数の検出温度の平均値に基づいて、ＰＷＭ制御を行う方法が開示されている。また、特許文献４には、複数の検出温度夫々に対し温度センサのチップ上の位置に応じた重み付けを行い、その上で駆動制御のための代表温度を決定する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平５−３１９０５号公報
【特許文献２】特開平６−３３６０２２号公報
【特許文献３】特開２０００−３３４９５８号公報
【特許文献４】特開平１０−１００４０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献３や特許文献４のようにして駆動制御のための代表温度を求める方法は、フルライン型のインクジェット記録装置の場合は好適に機能しない場合があった。
【０００７】
フルライン型のインクジェット記録装置では、記録素子が複数配列してなるチップが、更に記録媒体の幅に応じた分だけ複数配置された記録ヘッドを用いている。そして、記録素子の配列方向と交差する方向に移動する記録媒体に対し、個々の記録素子からインクを吐出することによって記録媒体に画像を記録する。このようなフルライン型の記録装置では、チップの配列幅以下であれば様々なサイズの記録媒体に記録を行うことが出来るが、この場合、限られたチップや限られた領域の記録素子しか使用されず、記録ヘッドの内の温度勾配は大きくなる。この状況においても特許文献３や特許文献４の温度検出方法を採用することは出来るが、代表温度を決定するのに記録に使用していない領域の検出温度も用いられるので、記録に使用している領域の温度が正確に把握できない恐れが生じる。すなわち、フルライン型のインクジェット記録装置においては、特許文献３や特許文献４の方法を採用しても、画像データによっては、濃度むらが低減できない、或はむしろ強調される場合が懸念されていた。
【０００８】
本発明は上記問題点を解決するためになされたものである。よってその目的とするところは、どのような画像データを記録する場合であっても、適切な代表温度に基づく適切な駆動制御を行うことにより、濃度むらのない安定した画像を出力することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
そのために本発明は、基板と、前記基板上に設けられ、インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子が所定方向に配列された記録素子列と、前記基板上の前記所定方向に互いに異なる位置に設けられ、温度を検出するための複数の検出素子と、を有する記録ヘッドと、前記複数の検出素子によって検出された複数の温度を取得する取得手段と、前記複数の検出素子それぞれに対応する係数を決定する第１の決定手段と、前記取得手段によって取得された前記複数の温度と、前記第１の決定手段によって決定された複数の前記係数と、に基づいて、代表温度を決定する第２の決定手段と、前記第２の決定手段によって決定された前記代表温度に基づいて、インクの温度に関する温度制御を行う制御手段と、を有するインクジェット記録装置であって、前記第１の決定手段は、前記取得手段によって前記複数の温度のうちの最も高い温度が取得された前記検出素子に対応する前記係数が前記複数の係数のうちで最大となるように、前記複数の係数を決定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、チップ上の記録素子に温度ばらつきが存在しても、チップ全体を適切に温度制御することが出来るので、どのような画像データを記録する場合であっても、濃度むらのない安定した画像を出力することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】（ａ）および（ｂ）は、第１実施形態における記録部と制御の構成を示す図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）は、吐出口の配列状態とヘッド駆動部の制御構成を示す図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は、第１の実施形態のＰＷＭ制御を説明する図である。
【図４】個々のチップのＰＷＭナンバーを更新する工程を説明する図である。
【図５】（ａ）〜（ｃ）は、代表温度の算出方法を説明するための図である。
【図６】（ａ）および（ｂ）は、シアンヘッドと画像パターンの例を示す図である。
【図７】（ａ）および（ｂ）は、固定的加重平均法を用いたＰＷＭ制御の記録状態図である。
【図８】（ａ）および（ｂ）は、最大値制御法を用いたＰＷＭ制御の記録状態図である。
【図９】（ａ）および（ｂ）は、動的加重平均法を用いたＰＷＭ制御の記録状態図である。
【図１０】図７〜図９を用いて説明した結果をまとめた表である。
【図１１】（ａ）および（ｂ）は、第２実施形態の記録部と制御の構成を示す図である。
【図１２】（ａ）〜（ｃ）は、吐出口の配列状態とヘッド駆動部の制御構成を示す図である。
【図１３】（ａ）および（ｂ）は第２の実施形態のサブヒータ制御を説明する図である。
【図１４】個々のチップのサブヒータへのパルス幅Ｐ４を更新する工程を示す図である。
【図１５】（ａ）及び（ｂ）は、シアンヘッドと画像パターンの例を示す図である。
【図１６】（ａ）及び（ｂ）は固定的加重平均法を用いたサブヒータ制御の記録状態図である。
【図１７】（ａ）及び（ｂ）は、最大値制御法を用いたサブヒータ制御の記録状態図である。
【図１８】（ａ）及び（ｂ）は、動的加重平均法を用いたサブヒータ制御の記録状態図である。
【図１９】図１６〜図１８を用いて説明した結果をまとめた表である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の好ましい実施形態について添付の図面を参照しつつ述べる。
【００１３】
（第１の実施形態）
図１（ａ）および（ｂ）は、本実施形態のインクジェット記録装置における、記録部の構成と制御の構成を夫々説明するためのブロック図である。
【００１４】
図１（ａ）を参照するに、ロール紙カセット４ａに巻きつけられている記録媒体１は、ロール紙カセット４ａの回転に伴い一定の搬送速度でＸ方向に搬送される。そして、上流側搬送ローラ４ｂ対および下流側搬送ローラ対４ｃによって平滑に保たれた領域において、記録ヘッド８による記録が行われる。記録ヘッド８は、シアンインクを吐出するシアンヘッド８ａ、マゼンタインクを吐出するマゼンタヘッド８ｂ、イエローインクを吐出するイエローヘッド８ｃを備えており、これら３つのヘッドはＸ方向に順に配置されている。記録ヘッド８ａ〜８ｃの夫々には、図の奥行き方向（Ｙ方向）に複数の記録素子が記録解像度に対応したピッチで配列されている。
【００１５】
記録媒体１に記録された画像は、必要に応じてスキャナ５によって読み込まれる。また、記録ヘッド８は、画像の終端部を示すカットマークも記録しており、カットマークセンサ６ｂの検出タイミングに基づいて、カッター６ａが記録媒体１を切断する。切断された記録媒体１は、そのサイズに応じてソータ７のトレイに積載される。
【００１６】
次に、図１（ｂ）を参照する。本実施形態のインクジェット記録装置は、ホスト装置２からインターフェースを介して受信した画像データを、メインコントローラ３の制御の下、記録媒体に記録する構成になっている。メインコントローラ３は、受信した画像データを記録するために、搬送制御部９、記録ヘッド制御部１０、スキャナ制御部１１、カッター制御部１２、ソータ制御部１３を制御する。
【００１７】
搬送制御部９は、メインコントローラ３の制御の下、ロール紙カセット４ａ、上流側搬送ローラ４ｂ対および下流側搬送ローラ対４ｃの回転駆動を行う。
【００１８】
記録ヘッド制御部１０は、記録ヘッド８ａ〜８ｃのそれぞれに対応する駆動部１０ａ〜１０ｃを有しており、メインコントローラ３から受信する記録データに基づいて、所定のタイミングで記録ヘッドの個々の記録素子からインクを吐出させる。個々の記録素子にはインクを吐出口まで導くインク路とインク路中に備えられた電気熱変換素子が配備されている。そして、記録データに応じて電気熱変換素子に電圧パルスを印加することにより、インク路中のインクに熱エネルギによる膜沸騰を起こし、発生した気泡の成長によって吐出口からインクを吐出させる仕組みになっている。
【００１９】
スキャナ制御部１１は、メインコントローラ３の制御の下、スキャナ５を用いて記録媒体の画像を読み取り、これをメインコントローラ３に送信する。カッター制御部１２は、メインコントローラ３の制御の下、カットマークセンサ６ｂのカットマーク検出と、これに伴うカッターの切断動作を行う。ソータ制御部１３は、メインコントローラ３の制御の下、記録媒体１のサイズや画像の種類に基づいてソータ７を動作させ、カットされた記録媒体を適切なトレイに配送する。
【００２０】
図２（ａ）〜（ｃ）は、シアンヘッド８ａとチップ１４（基板）における吐出口の配列状態、および記録ヘッド駆動部１０ａにおける制御構成を示す図である。ここではシアンヘッド８ａを例に説明するが、マゼンタヘッド８ｂおよびイエローヘッド８ｃについても同様の構成を有している。
【００２１】
記録ヘッド８ａでは、図２（ａ）に示すように、ＣＰ０、ＣＰ１、ＣＰ２、ＣＰ３の４つのチップ１４が、Ｘ方向に交互にずれながらＹ方向に連続するように配置されている。個々のチップでは、図２（ｂ）に示すように、４列の記録素子列（Ａ列〜Ｄ列）が所定の間隔でＸ方向に並列されている。また、個々の記録素子列では、１０２４個の記録素子１５が１２００ｄｐｉのピッチでＹ方向に配列されている。このような構成により、本実施形態の記録装置は、Ｙ方向に記録素子が連続して配置された距離に対応する幅の記録媒体に画像を記録することが出来る。
【００２２】
チップＣＰ０（１４ａ）には、温度センサとなる３つのダイオードセンサ１６（Ｄｉ０、Ｄｉ１、Ｄｉ２）（以下、Ｄｉセンサと呼称する）が図のように配置されている。Ｄｉ０およびＤｉ２はＹ方向におけるチップの左右端部の温度を検出し、Ｄｉ１はその中央の温度を検出する。
【００２３】
図２（ｃ）を参照するに、駆動部１０ａにおいて、ヘッドドライバに入力される２値の画像データは、ヒータ駆動信号生成手段によって個々の記録素子に対する駆動信号に変換され、チップＣＰ０〜ＣＰ３に分配される。各記録素子への配線はチップ内で共通になっているため、同一チップ内の記録素子は、同一形状の駆動パルスで駆動される。一方、複数のＤｉセンサからのアナログ信号はマルチプレクサの切り替えに応じて順次取得され、アンプで増幅された後、Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換される。このデジタル信号は温度情報としてヘッドドライバに入力される。ヘッドドライバは、各チップの吐出量を目標値に合わせるように、得られた温度情報に基づいてチップ毎に駆動パルス幅を変更する（ＰＷＭ制御）。
【００２４】
図３（ａ）〜（ｃ）は本実施形態のＰＷＭ制御を説明する図である。本実施形態のインクジェット記録装置において、１つの記録素子から１滴のインクを吐出する際、その記録素子の電気熱変換素子には図３（ａ）のような駆動パルスが印加される。図において、横軸は時間、縦軸は電圧を示し、Ｐ１はプレヒートパルス、Ｐ２はインターバル、Ｐ３はメインヒートパルスである。プレヒートパルスＰ１は、電気熱変換素子近傍のインクを適当な温度に加熱するためのパルスであり、吐出動作が行われない程度のエネルギ（パルス幅）に抑えられている。プレヒートパルスＰ３は、実際に吐出動作を行わせるために印加するパルスである。インターバルＰ２はプレヒートパルスＰ１からメインヒートパルスＰ３までの非印加時間を示している。このように、１回の吐出のために２回のパルスを印加する駆動方法をダブルパルス駆動と呼んでいる。
【００２５】
ところで、既に説明したように、記録素子から吐出されるインクの量（吐出量）は、インク路内のインク温度に依存する。すなわち、メインパルスＰ３のパルス幅が一定であっても、その時々のインク温度に応じて、吐出されるインク滴の量は変化する。また、十分な吐出を行うために必要とされるエネルギ量やＰ３の幅も、環境温度やヘッド温度によって変化する。ＰＷＭ制御とは、このような温度依存性を利用した吐出量の制御方法である。本実施形態のＰＷＭ制御では、直接吐出動作にかかわるＰ３を検出した温度に応じて変化させることによって、吐出量を安定させる。具体的には、検出温度が低い場合は、供給エネルギを高めるためメインヒートパルス幅Ｐ３を大きくし、検出温度が高い場合は、供給するエネルギを抑えるためメインヒートパルス幅Ｐ３を小さくする。
【００２６】
図３（ｃ）は、本実施形態において、検出されたチップ温度に応じて設定されるＰ１、Ｐ２およびＰ３を示した図である。ここでは、検出温度が上昇するにつれ、Ｐ２およびＰ３が小さくなっている。検出温度が４２℃以上の領域では、Ｐ２が０になり、駆動パルスは図３（ｂ）のようなシングルパルスになっている。なお、検出された温度に対応付けて用意されているパルス形状（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３）を、以後は図の右端に示したＰＷＭナンバーで区別する。このような、検出温度とパルス形状が１対１で対応付けられているＰＷＭテーブルは、記録ヘッド制御部１０内のメモリに予め格納されている。
【００２７】
既に説明したように、本実施形態では各記録素子への配線はチップ内で共通になっているため、同一チップ内の記録素子は、同一形状の駆動パルスで駆動される。よって、１つのチップに３つのＤｉセンサが配備されていても、ＰＷＭ制御で参照される温度は１つの代表温度であり、この代表温度によって設定された図３（ｃ）に示すいずれか１つのＰＷＭナンバーによって、同一チップ上の全記録素子が駆動される。一方、同一記録ヘッド（８ａ）であっても、異なるチップ（１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ）は、互いに異なるＰＷＭナンバーの駆動パルスで駆動することが出来る。
【００２８】
図４は、１つの記録ヘッドにおいて、ヘッドドライバが記録中に個々のチップのＰＷＭナンバーを更新する工程を説明する図である。記録動作の開始と同時に本処理が開始されると、まずステップＳ４０１において、ヘッドドライバは全チップ上の全Ｄｉセンサの検出温度Ｔｉｊを取得する。ここで添え字ｉは、同一チップ上の３つのＤｉセンサを区別するための変数であり、０〜２の整数である。また、添え字ｊは、同一ヘッド上の４つのチップを区別するための変数であり、０〜３の整数である。
【００２９】
続くステップＳ４０２では、チップごとに代表温度Ｃｊを算出する。代表温度Ｃｊは、３つのＤｉセンサの検出温度Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊの関数でありＣｊ＝Ｃｊ（Ｔｉｊ）と表すことが出来る。関数Ｃｊ（Ｔｉｊ）の具体的な演算内容は後述する。
【００３０】
ステップＳ４０３では、図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照し、ステップＳ４０２で求めた代表温度Ｃｊに基づいて、各チップのＰＷＭナンバーを更新する。続くステップＳ４０４では、今回のジョブで入力された画像データに対する記録が終了したか否かを判断する。未だ記録すべき画像データが残っている場合はステップＳ４０１に戻り、全画像データの記録が終了したと判断した場合は本処理を終了する。なお、ステップＳ４０１〜Ｓ４０４の工程は、記録動作中において、濃度むらが目立たない程度のタイミングで駆動パルスが更新されるように、時間や画像データを単位とした何らかの間隔で繰り返し実行されればよい。
【００３１】
図５（ａ）〜（ｃ）は、本発明における代表温度Ｃｊ（Ｔｉｊ）の算出方法を従来法と比較しながら説明するための図である。ここで、図５（ａ）は、チップＣＰ０〜ＣＰ３夫々について、固定的加重平均法を用いて代表温度Ｃｊを求める工程を示したフローチャートである。固定的加重平均法では、代表温度Ｃｊは
Ｃｊ＝０．２×Ｔ０ｊ＋０．６×Ｔ１ｊ＋０．２×Ｔ２ｊ
で求められる。固定的加重平均法では、チップ上中央に配置されているＤｉセンサの検出温度Ｔ１ｊに対する重み付け係数（０．６）が最も高く、両端部に配置されているＤｉセンサの検出温度Ｔ０ｊとＴ２ｊに対する重み付け係数は０．２に抑えられている。このように重み付け係数をＤｉセンサの位置に対し固定しているのは、チップの中央に設置されたＤｉセンサが、最も多くの記録素子の温度を信頼性の高い状態で検出できると考えられるからである。
【００３２】
図５（ｂ）は、チップＣＰ０〜ＣＰ３夫々について、最大値制御法を用いて代表温度Ｃｊを求める工程を示したフローチャートである。最大値制御法では、３つのＤｉセンサの検出値の最大値を代表温度Ｃｊとしている。すなわち、代表温度Ｃｊは
Ｃｊ＝Ｍａｘ（Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊ）
と表すことが出来る。このように検出値の最大値を代表温度Ｃｊとしているのは、最大値を検出したＤｉセンサ近傍にある記録素子が最も記録に使用されており、その領域の記録素子に対してＰＷＭ制御が最も必要と考えるからである。
【００３３】
図５（ｃ）は、本実施形態の特徴的な動的加重平均法を用いて代表温度Ｃｊを求める工程を示したフローチャートである。動的加重平均法では、３つのＤｉセンサの検出値の大小関係を求め、その結果に応じて重み付け係数を設定している。具体的には、まず３つのＤｉセンサの検出値の最大値Ｍａｘ（Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊ）、中間値Ｍｉｄ（Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊ）および最小値Ｍｉｎ（Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊ）を夫々求める。そしてこれら値を用いて代表温度Ｃｊは
Ｃｊ＝０．６×Ｍａｘ＋０．２×Ｍｉｄ＋０．２×Ｍｉｎ
で算出される。このように、動的加重平均法では、重み付け係数をＤｉセンサの位置に対し固定しているのではなく、検出値の大小関係に基づいて重み付け係数を振り分けている。よって、記録素子の使用頻度の高い領域のＤｉセンサの検出値に対する重み付け係数を大きく設定しながらも、他の領域の検出値も代表温度を決定するために使用している。
【００３４】
なお、３つの検出温度のうち最大値に該当するものが２つある場合は、Ｍｉｄ＝Ｍａｘとして、
Ｃｊ＝０．６×Ｍａｘ＋０．２×Ｍａｘ＋０．２×Ｍｉｎ
とすればよい。また、３つの検出温度のうち最小値に該当するものが２つある場合は、Ｍｉｄ＝Ｍｉｎとして、
Ｃｊ＝０．６×Ｍａｘ＋０．２×Ｍｉｎ＋０．２×Ｍｉｎ
とすればよい。
【００３５】
以下、図６〜図１０を用いて、動的加重平均法を採用した本実施形態の効果を、他の方法を用いて代表温度Ｃｊを求めた場合と比較しながら説明する。
【００３６】
図６（ａ）および（ｂ）は、シアンヘッド８ａとこれが記録する画像パターンの例を示す図である。図６（ａ）で記録される画像パターンＡは、同一の記録密度で記録される２つのバンドＡ１およびＡ２で構成されるパターンである。バンドＡ１はＣＰ０のＤｉ０近傍の記録素子で記録され、バンドＡ２はＣＰ１のＤｉ１近傍の記録素子でバンドＡ１と等しい記録密度で記録される。
【００３７】
ここで、記録密度とは記録媒体の単位面積あたりに記録されるドットの数を示し、同一の記録密度で記録を行う記録素子は、温度がほぼ同等に上昇する。本例において、非記録状態での記録素子の温度は３０℃であり、画像パターンＡを記録するために使用される記録素子の温度は４０℃まで昇温するものとする。
【００３８】
一方、図６（ｂ）で記録される画像パターンＢは、相対的に高い記録密度で記録されるバンドＢ１と、これよりも低い同一の記録密度で記録されるバンドＢ２およびＢ３で構成されるパターンである。ここで、バンドＢ１はＣＰ０のＤｉ０近傍の記録素子で記録され、バンドＢ２はＣＰ０のＤｉ１およびＤｉ２近傍の記録素子で記録され、バンドＢ３はＣＰ１の全記録素子で記録される。ここでは便宜上３つのバンドに分割して説明したが、これらは連続して１つの大きなバンドを構成している。本例においても、非記録状態での記録素子の温度は３０℃であり、バンドＢ１を記録するために使用される記録素子の温度は３５℃まで昇温し、バンドＢ２およびＢ３を記録するために使用される記録素子の温度は３１℃まで昇温するものとする。
【００３９】
図７（ａ）および（ｂ）は、固定的加重平均法で求めた代表温度に基づいてＰＷＭ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図７（ａ）は、パターンＡを記録した後、ＰＷＭ制御を行って再びパターンＡを記録した状態を示している。記録に使用しない記録素子の温度が３０℃、記録に使用した記録素子の温度が４０℃まで上昇しているので、固定的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．２×４０＋０．６×３０＋０．２×３０＝３２[℃]
Ｃ１＝０．２×３０＋０．６×４０＋０．２×３０＝３６[℃]
となる。ここで、チップＣＰ０及びＣＰ１において、同数の記録素子を用いて同様の画像（バンドＡおよびバンドＢ）を記録しているので、使用した記録素子近傍の温度は実際には同程度であることが想定される。しかし、固定的加重平均法を用いると、上記のように代表温度Ｃ０およびＣ１の間に４（＝３６−３２）℃分のずれが生じてしまう。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰＷＭナンバー１２の駆動パルスが設定され、ＣＰ１にはＰＷＭナンバー８の駆動パルスが設定される。その結果、より低い代表温度に基づいてＰＷＭ制御が行われたチップＣＰ０の吐出量が、より高い代表温度に基づいてＰＷＭ制御が行われたチップＣＰ１の吐出量よりも大きくなる。
【００４０】
ここで、本実施形態の記録ヘッドにおいて、「記録素子近傍の温度が１℃上昇すると吐出量が１％増大する」と仮定すると、図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルは、代表温度が１℃上昇するたびに吐出量を約１％減少させるようなパルステーブルが設定されている。その結果、ＣＰ０の吐出量がＣＰ１の吐出量よりも４％程度大きくなり、出力された画像パターンにおいても、バンドＡ１の方がバンドＡ２よりも高い濃度となる。一般に、３％以上の吐出量差が存在すると濃度差が目視で認識できるので、このような画像パターンＡには濃度むらが確認されてしまう。このように、チップ内の一部の記録素子を使用する画像パターンを、固定的加重平均法を用いて記録すると、個々のチップで設定される駆動パルスが、記録に使用する記録素子のチップ内の位置に応じて異なってしまうので、チップ間で濃度むらが確認されやすくなる。
【００４１】
一方、図７（ｂ）は、パターンＢを記録した後、固定的加重平均法でＰＷＭ制御を行って、再びパターンＢを記録した状態を示している。バンドＢ１の記録に使用した記録素子の温度が３５℃、バンドＢ２およびバンドＢ３の記録に使用した記録素子の温度が３１℃まで上昇しているので、固定的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．２×３５＋０．６×３１＋０．２×３１＝３２[℃]
Ｃ１＝０．２×３１＋０．６×３１＋０．２×３１＝３１[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰＷＭナンバー１２の駆動パルスが設定され、ＣＰ１にはＰＷＭナンバー１３の駆動パルスが設定される。この場合、ＣＰ１の吐出量がＣＰ０の吐出量よりも１％程度大きくなるが、３％以上の吐出量差ではないので、バンドＢ２とＢ３の間で濃度むらは確認されにくい。
【００４２】
図８（ａ）および（ｂ）は、最大値制御法で求めた代表温度に基づいてＰＷＭ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図８（ａ）は、パターンＡを記録した後、ＰＷＭ制御を行って再びパターンＡを記録した状態を示している。記録に使用しない記録素子の温度が３０℃、記録に使用した記録素子の温度が４０℃まで上昇しているので、最大値制御法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝ＭＡＸ（４０、３０、３０）＝４０[℃]
Ｃ１＝ＭＡＸ（３０、４０、３０）＝４０[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０においてもＣＰ１においてもＰＷＭナンバー４の駆動パルスが設定される。その結果、出力された画像パターンにおいても、バンドＡ１とバンドＡ２の濃度は等しくなり、濃度むらが確認されない。
【００４３】
一方、図８（ｂ）は、パターンＢを記録した後、最大値制御法でＰＷＭ制御を行って、再びパターンＢを記録した状態を示している。バンドＢ１の記録に使用した記録素子の温度が３５℃、バンドＢ２およびバンドＢ３の記録に使用した記録素子の温度が３１℃まで上昇しているので、最大値制御法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝ＭＡＸ（３５、３１、３１）＝３５[℃]
Ｃ１＝ＭＡＸ（３１、３１、３１）＝３１[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰＷＭナンバー９の駆動パルスが設定され、ＣＰ１にはＰＷＭナンバー１３の駆動パルスが設定される。この場合、ＣＰ１の吐出量がＣＰ０の吐出量よりも４％程度大きくなり、バンドＢ２とＢ３の間で濃度むらが確認される。
【００４４】
このように、チップ内で記録密度の差すなわち吐出頻度の差が大きい画像パターンを、最大値制御法を用いて記録すると、記録密度の低い領域の温度がＰＷＭ制御に反映されない。よって、記録密度の低い領域が複数チップに亘って連続する場合、両者の間で濃度むらが確認されやすくなる。
【００４５】
図９（ａ）および（ｂ）は、本実施形態で特徴的な動的加重平均法で求めた代表温度に基づいてＰＷＭ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図９（ａ）は、パターンＡを記録した後、ＰＷＭ制御を行って再びパターンＡを記録した状態を示している。記録に使用しない記録素子の温度が３０℃、記録に使用した記録素子の温度が４０℃まで上昇しているので、動的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．６×４０＋０．２×３０＋０．２×３０＝３６[℃]
Ｃ１＝０．６×４０＋０．２×３０＋０．２×３０＝３６[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０においてもＣＰ１においてもＰＷＭナンバー８の駆動パルスが設定される。その結果、出力された画像パターンにおいても、バンドＡ１とバンドＡ２の濃度は等しくなり、濃度むらが確認されない。
【００４６】
一方、図９（ｂ）は、パターンＢを記録した後、動的加重平均法でＰＷＭ制御を行って、再びパターンＢを記録した状態を示している。バンドＢ１の記録に使用した記録素子の温度が３５℃、バンドＢ２およびバンドＢ３の記録に使用した記録素子の温度が３１℃まで上昇しているので、動的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．６×３５＋０．２×３１＋０．２×３１＝３３[℃]
Ｃ１＝０．６×３１＋０．２×３１＋０．２×３１＝３１[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図３（ｃ）に示したＰＷＭテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰＷＭナンバー１１の駆動パルスが設定され、ＣＰ１にはＰＷＭナンバー１３の駆動パルスが設定される。この場合、ＣＰ１の吐出量はＣＰ０の吐出量よりも２％程度大きくなるが、３％以上の吐出量差ではないので、バンドＢ２とＢ３の間で濃度むらは確認されにくい。
【００４７】
このように、動的加重平均法を採用すれば、吐出頻度に応じて重み付け係数を振り分けることが出来るので、固定的加重平均法のように、使用する記録素子の位置に応じて異なる駆動パルスが設定されることを回避することが出来る。その結果、図７（ａ）で発生したような濃度むらは、図９（ａ）では発生していない。
【００４８】
また、動的加重平均法を採用すれば、吐出頻度の少ない領域の温度も考慮して駆動パルスが設定されている。よって、複数チップに亘る記録密度の低い連続領域が存在しても、最大値制御法のように隣接するチップ間で極端に異なる駆動パルスが設定されるのを抑制することが出来る。その結果、図８（ｂ）で発生したような濃度むらは、図９（ｂ）では確認され難い。
【００４９】
図１０は、図７〜図９を用いて説明した結果をまとめた表である。固定的加重平均法や最大値制御法で現れていた濃度むらが動的加重平均法では招致されていないことが分かる。
【００５０】
このように、本実施形態によれば、吐出頻度に応じて重み付け係数を振り分けながら、吐出頻度の少ない領域の検出温度も使用してＰＷＭ制御を行うための代表温度を決定する。これにより、チップ上の記録素子に温度ばらつきが存在しても、チップ全体の温度を適切に制御することが可能となり、濃度むらのない画像を安定して出力することが出来る。
【００５１】
（第２の実施形態）
図１１（ａ）および（ｂ）は、本実施形態のインクジェット記録装置における、記録部の構成と制御の構成を夫々説明するためのブロック図である。ここでは、図１（ａ）および（ｂ）を用いて説明した第１の実施形態のインクジェット記録装置と異なる点のみについて説明する。
【００５２】
図１１（ａ）を参照するに、本実施形態のインクジェット記録装置において、ロール紙カセット２４ａに巻きつけられている記録媒体２１は、ロール紙カセット２４ａの回転に伴い一定の搬送速度でＸ方向に搬送される。そして、上流側搬送ローラ２４ｂ対および下流側搬送ローラ対２４ｃによって平滑に保たれた領域において、記録ヘッド２８による記録が行われる。本実施形態のインクジェット記録装置では、スキャナやカッターなどの機構は備えられていない。記録が施された記録媒体２１は、切断されることなく排紙カセット２４ｄに巻きつけられて収容される。
【００５３】
図１１（ｂ）を参照するに、搬送制御部２９は、メインコントローラ２３の制御の下、ロール紙カセット２４ａ、上流側搬送ローラ２４ｂ対、下流側搬送ローラ対２４ｃおよび排紙カセット２４ｄの回転駆動を行う。
【００５４】
図１２（ａ）〜（ｃ）は、本実施形態におけるシアンヘッド２８ａとチップ３４ａにおける吐出口の配列状態、および記録ヘッド駆動部３０ａにおける制御構成を示す図である。ここではシアンヘッド２８ａを例に説明するが、マゼンタヘッド２８ｂおよびイエローヘッド２８ｃについても同様の構成を有している。
【００５５】
記録ヘッド２８ａでは、第１の実施形態と同様、図１２（ａ）に示すように、ＣＰ０、ＣＰ１、ＣＰ２、ＣＰ３の４つのチップが、Ｘ方向に交互にずれながらＹ方向に連続するように配置されている。個々のチップについても、図１２（ｂ）に示すように、並列される４列の記録素子列（Ａ列〜Ｄ列）が形成されている。記録素子列における記録素子の数および配列ピッチ、更にＤｉセンサの配置についても第１の実施形態と同様である。
【００５６】
本実施形態の第１の実施形態と異なる点は、Ａ列、Ｂ列、Ｃ列およびＤ列の記録素子列夫々を取り囲むように、サブヒータ３８（３８ａ、３８ｂ、３８ｃ、３８ｄ）が配備されていることである。これらサブヒータ３８は、チップ内の温度を一定温度に調整するために使用される。
【００５７】
図１２（ｃ）を参照するに、駆動部３０ａにおいて、ヘッドドライバに入力される２値の画像データは、ヒータ駆動信号生成手段によって個々の記録素子に対する駆動信号に変換され、チップＣＰ０〜ＣＰ３に分配される。各記録素子への配線はチップ内で共通になっているため、同一チップ内の記録素子は、同一形状の駆動パルスで駆動される。また、ヘッドドライバはサブヒータ駆動信号生成手段を制御することにより、個々のチップに配されたサブヒータ３８ａ、３８ｂ、３８ｃ、３８ｄを駆動する。サブヒータ３８ａ、３８ｂ、３８ｃ、３８ｄについても、共通配線となっており、共通の電圧とパルス幅で駆動される。
【００５８】
一方、複数のＤｉセンサからのアナログ信号はマルチプレクサの切り替えに応じて順次取得され、アンプで増幅された後、Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換される。このデジタル信号は温度情報としてヘッドドライバに入力される。ヘッドドライバは得られた温度情報に基づいて、サブヒータ駆動生成手段を用いてチップ上のサブヒータ３８を駆動し（サブヒータ制御）、各チップを目標温度に調整する。この目標温度は、安定した吐出が保証される温度であり、本実施形態では５０℃としている。
【００５９】
図１３（ａ）および（ｂ）は本実施形態のサブヒータ制御を説明する図である。図１３（ａ）はサブヒータ３８を駆動する際のパルス形状、同図（ｂ）はこのようなパルスを設定する際に参照するパルステーブルを示している。
【００６０】
図１３（ａ）において、横軸は時間、縦軸はサブヒータ３８に印加する電圧を示している。本実施形態では、所定のパルス電圧がＰ５の周期で繰り返し印加されるが、そのパルス幅Ｐ４はＰ６の周期で更新される。図では、パルス幅がＰ４からこれよりも小さなＰ４´に切り替えられる様子を示している。パルス周期Ｐ５と更新周期Ｐ６は一定であるので、パルス幅Ｐ４が大きくなるほど、単位時間当たりにサブヒータ３８に与えられるエネルギは大きくなり、そのチップの温度が上昇する。本実施形態ではこのような仕組みでチップの温度を制御し、吐出量を制御している。
【００６１】
図１３（ｂ）は、本実施形態において、検出されたチップ温度に応じて設定されるパルス幅Ｐ４を示した図である。本実施形態のサブヒータ制御では、目標温度の５０℃に満たないチップに対して、５０℃に到達する程度のエネルギを付与している。よって、図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルでは、チップの検出温度に対し、当該チップの温度が５０℃まで上昇するのに必要なエネルギに相当するパルス幅が対応づけられている。検出温度が上昇するにつれ、Ｐ４が小さくなり、検出温度が５０℃以上の領域では、Ｐ４は０すなわちサブヒータ３８は駆動されないようになっている。このような、検出温度とパルス形状が１対１で対応付けられているＰＷＭテーブルは、記録ヘッド制御部３０内のメモリに予め格納されている。
【００６２】
既に説明したように、４つの記録素子列に対するサブヒータ３８ａ〜３８ｄはチップ内で共通配線となっている。よって、１つのチップに３つのＤｉセンサが配備されていても、サブヒータ制御で参照される温度は１つの代表温度であり、この代表温度によって設定された図１３（ｂ）に示すいずれか１つのパルス幅Ｐ４によって、１つのチップのサブヒータが駆動される。一方、同一記録ヘッド（２８ａ）であっても、異なるチップ（３４ａ、３４ｂ、３４ｃ、３４ｄ）は異なるパルス幅で駆動することが出来る。
【００６３】
図１４は、１つの記録ヘッドにおいて、ヘッドドライバが記録中に個々のチップのサブヒータ３８へのパルス幅Ｐ４を更新する工程を説明する図である。記録動作の開始と同時に本処理が開始されると、まずステップＳ１６０１において、ヘッドドライバは全チップ上の全Ｄｉセンサの検出温度Ｔｉｊを取得する。ここで添え字ｉは、同一チップ上の３つのＤｉセンサを区別するための変数であり、０〜２の整数である。また、添え字ｊは、同一ヘッド上の４つのチップを区別するための変数であり、０〜３の整数である。
【００６４】
続くステップＳ１６０２では、チップごとに代表温度Ｃｊを算出する。代表温度Ｃｊは、３つのＤｉセンサの検出温度Ｔ０ｊ、Ｔ１ｊ、Ｔ２ｊの関数でありＣｊ＝Ｃｊ（Ｔｉｊ）と表すことが出来る。
【００６５】
ステップＳ１６０３では、図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照し、ステップＳ１６０２で求めた代表温度Ｃｊに基づいて、サブヒータ３８に印加する電圧のパルス幅Ｐ４を更新する。続くステップＳ１６０４では、今回のジョブで入力された画像データに対する記録が終了したか否かを判断する。未だ記録すべき画像データが残っている場合はステップＳ１６０１に戻り、全画像データの記録が終了したと判断した場合は本処理を終了する。なお、ステップＳ１６０１〜Ｓ１６０４の工程は、記録動作中において、濃度むらが目立たない程度のタイミングで駆動パルスが更新されるように、時間や画像データを単位とした何らかの間隔で繰り返し実行されればよい。
【００６６】
以下、図１５〜図１８を用いて、動的加重平均法を採用して代表温度Ｃｊを決定した本実施形態の効果を、他の方法を用いて代表温度Ｃｊを求めた場合と比較しながら説明する。
【００６７】
図１５（ａ）および（ｂ）は、シアンヘッド８ａとこれが記録する画像パターンの例を示す図である。図１５（ａ）で記録される画像パターンＣは、高い記録密度で記録されるバンドＣ１と、これよりも低い同一の記録密度で記録されるバンドＣ２およびバンドＣ２で構成されるパターンである。ここで、バンドＣ１はＣＰ０のＤｉ０近傍の記録素子で記録され、バンドＣ２はＣＰ０のＤｉ１およびＤｉ２近傍の記録素子で記録される。更に、バンドＣ３はＣＰ１の全記録素子で記録される。ここでは便宜上３つのバンドに分割して説明したが、これらは連続して１つの大きなバンドを構成している。図中で示す温度はサブヒート制御を行わずに記録した場合の記録素子の温度を示している。バンドＣ１の記録に使用する記録素子の温度は３９℃、バンドＣ２およびＣ３を記録するのに使用される記録素子の温度は３５℃まで昇温するものとする。
【００６８】
一方、図１５（ｂ）で記録される画像パターンＤは、等しい記録密度で記録される２つのバンドＤ１およびＤ２で構成されるパターンである。ここで、バンドＤ１はＣＰ０のＤｉ０近傍の記録素子で記録され、バンドＤ２はＣＰ１のＤｉ１近傍の記録素子で記録される。図中で示す温度はサブヒート制御を行わずに記録した場合の記録素子の温度を示している。本例において、記録に使用されない記録素子の温度は３０℃であり、バンドＤ１およびバンドＤ２を記録するために使用される記録素子の温度は３９℃まで昇温するものとする。
【００６９】
図１６（ａ）および（ｂ）は、第１の実施形態で説明した固定的加重平均法で求めた代表温度に基づいてサブヒータ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図１６（ａ）は、サブヒータ制御を行わずにパターンＣを記録した後、サブヒータ制御を行って再びパターンＣを記録した状態を示している。バンドＣ１の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、バンドＣ２およびＣ３の記録に使用した記録素子の温度が３５℃まで上昇するので、固定的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．２×３９＋０．６×３５＋０．２×３５＝３６[℃]
Ｃ１＝０．２×３５＋０．６×３５＋０．２×３５＝３５[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰ４＝７５０μｓｅｃのパルス幅が設定され、ＣＰ１にはＰ４＝８００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータ３８が駆動されることにより、ＣＰ０には１４℃（＝５０℃−３６℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ２の温度は３５℃＋１４℃＝４９℃となる。また、ＣＰ１には１５℃（＝５０℃−３５℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ１のＤｉ０の温度は３５℃＋１５℃＝５０℃となる。このように、より低い代表温度に基づいてサブヒータ制御が行われたチップＣＰ１の方が、より高い代表温度に基づいてサブヒータ制御が行われたチップＣＰ０のよりも多くのエネルギが付与され、高温になる。但し、本実施形態でも第１の実施形態の記録ヘッドと同様、「記録素子近傍の温度が１℃上昇すると吐出量が１％増大する」と仮定すると、チップＣＰ０とＣＰ１の境界の吐出量差は１％であり、濃度むらが確認される程度ではない。
【００７０】
一方、図１６（ｂ）は、パターンＤを記録した後、固定的加重平均法でサブヒータ制御を行って、再びパターンＤを記録した状態を示している。バンドＤ１およびバンドＤ２の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、記録に使用しなかった記録素子の温度が３０℃であるので、固定的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．２×３９＋０．６×３０＋０．２×３０＝３２[℃]
Ｃ１＝０．２×３０＋０．６×３９＋０．２×３０＝３５[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰ４＝９５０μｓｅｃのパルス幅が設定され、ＣＰ１にはＰ４＝８００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータが駆動されることにより、ＣＰ０には１８℃（＝５０℃−３２℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ０の温度は３９℃＋１８℃＝５７℃となる。一方、ＣＰ１には、１５℃（＝５０℃−３５℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ１のＤｉ１の温度は３９℃＋１５℃＝５４℃となる。この場合、バンドＤ１を記録する記録素子とバンドＤ２を記録する記録素子の温度差は３℃、吐出量差は３％程度となるので、これら２つのバンド間で濃度差が確認されてしまう。
【００７１】
図１７（ａ）および（ｂ）は、第１の実施形態でも説明した最大値制御法で求めた代表温度に基づいてサブヒータ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図１７（ａ）は、サブヒータ制御を行わずにパターンＣを記録した後に、サブヒータ制御を行って再びパターンＣを記録した状態を示している。バンドＣ１の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、パターンＣ１およびＣ２の記録に使用した記録素子の温度が３５℃まで上昇するので、最大値制御法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝ＭＡＸ（３９、３５、３５）＝３９[℃]
Ｃ１＝ＭＡＸ（３５、３５、３５）＝３５[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０には６００μｓｅｃのパルス幅が設定され、ＣＰ１にはＰ４＝８００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータ３８が駆動されることにより、ＣＰ０には、１１℃（＝５０℃−３９℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ２の温度は３５℃＋１１℃＝４６℃となる。また、ＣＰ１には、１５℃（＝５０℃−３５℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ１のＤｉ０の温度は３５℃＋１５℃＝５０℃となる。このように、バンドＣ２を記録する記録素子とバンドＣ３を記録する記録素子間では、温度差が４℃吐出量差は４％となるので、これら２つのバンド間で濃度むらは目立ってしまう。
【００７２】
一方、図１７（ｂ）は、パターンＤを記録した後、最大値制御法でサブヒータ制御を行って、再びパターンＤを記録した状態を示している。バンドＤ１およびバンドＤ２の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、記録に使用しなかった記録素子の温度が３０℃であるので、固定的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝ＭＡＸ（３９、３０、３０）＝３９[℃]
Ｃ１＝ＭＡＸ（３０、３９、３０）＝３９[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０にもＣＰ１にもＰ４＝６００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータ３８が駆動されることにより、ＣＰ０、ＣＰ１ともに、１１℃（＝５０℃−３９℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ０の温度もＣＰ１のＣｉ１の温度も３９℃＋１１℃＝５０℃となる。この場合、バンドＤ１を記録する記録素子とバンドＤ２を記録する記録素子の吐出量差は存在せず、これら２つのバンド間で濃度差は確認されない。
【００７３】
図１８（ａ）および（ｂ）は、本実施形態の動的加重平均法で求めた代表温度に基づいてサブヒータ制御を行った場合の、記録状態を示した図である。図１８（ａ）は、サブヒータ制御を行わずにパターンＣを記録した後に、サブヒータ制御を行って再びパターンＣを記録した状態を示している。バンドＣ１の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、パターンＣ１およびＣ２の記録に使用した記録素子の温度が３５℃まで上昇するので、動的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０＝０．６×３９＋０．２×３５＋０．２×３５＝３７[℃]
Ｃ１＝０．２×３５＋０．６×３５＋０．２×３５＝３５[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０にはＰ４＝７００μｓｅｃのパルス幅が設定され、ＣＰ１にはＰ４＝８００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータ３８が駆動されることにより、ＣＰ０には、１３℃（＝５０℃−３７℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ２の温度は３５℃＋１３℃＝４８℃となる。また、ＣＰ１には、１５℃（＝５０℃−３５℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ１のＤｉ０の温度は３５℃＋１５℃＝５０℃となる。このように、より低い代表温度に基づいてサブヒータ制御が行われたチップＣＰ１の方が、より高い代表温度に基づいてサブヒータ制御が行われたチップＣＰ０のよりも多くのエネルギが付与される。しかし、バンドＣ２を記録する記録素子とバンドＣ３を記録する記録素子の温度差は２℃、吐出量差も２％程度であるので、これら２つのバンドの間で濃度むらは確認されない。
【００７４】
一方、図１８（ｂ）は、パターンＤを記録した後、動的加重平均法でサブヒータ制御を行って、再びパターンＤを記録した状態を示している。バンドＤ１およびバンドＤ２の記録に使用した記録素子の温度が３９℃、記録に使用しなかった記録素子の温度が３０℃であるので、動的加重平均法によると、ＣＰ０及びＣＰ１のチップ代表温度は
Ｃ０ ＝０．６×３９＋０．２×３０＋０．２×３０＝３５[℃]
Ｃ１ ＝０．６×３９＋０．２×３０＋０．２×３０＝３５[℃]
となる。このような状況で、それぞれの代表温度に基づいて図１３（ｂ）に示したサブヒータテーブルを参照すると、ＣＰ０、ＣＰ１ともにＰ４＝８００μｓｅｃのパルス幅が設定される。そして、サブヒータ３８が駆動されることにより、ＣＰ０、ＣＰ１ともに、１５℃（＝５０℃−３５℃）分昇温するエネルギが投入され、ＣＰ０のＤｉ０もＣＰ１のＤｉ１もその温度は３９℃＋１５℃＝５４℃となる。すなわち、バンドＤ１を記録する記録素子とバンドＤ２を記録する記録素子の吐出量差は存在せず、これら２つのバンド間で濃度差は確認されない。
【００７５】
このように、動的加重平均法を採用すれば、個々のＤｉセンサの検出温度に応じて重み付け係数を振り分けることが出来る。よって、固定的加重平均法のように、使用する記録素子の位置に応じてサブヒータ３８に印加されるパルスの幅が異なる状況を回避することが出来る。その結果、図１６（ｂ）で発生したような濃度むらは、図１８（ｂ）では発生していない。
【００７６】
また、動的加重平均法を採用すれば、吐出頻度が少なく検出温度が低い領域の温度も考慮してパルス幅が設定されている。よって、複数チップに亘る記録密度の低い連続領域が存在しても、最大値制御法のように隣接するチップ間で極端に異なるパルス幅が設定されるのを抑制することが出来る。その結果、図１７（ａ）で発生したような濃度むらは、図１８（ａ）では確認されない。
【００７７】
図１９は、図１６〜図１８を用いて説明した結果をまとめた表である。固定的加重平均法や最大値制御法で現れていた濃度むらが動的加重平均法では招致されていないことが分かる。
【００７８】
このように、本実施形態によれば、検出温度に応じて重み付け係数を振り分けながらも、温度が低い領域の検出温度も使用してサブヒータ制御を行うための代表温度を決定する。これにより、チップ上の記録素子に温度ばらつきが存在しても、チップ全体を適切に温度制御することが可能となり、濃度むらのない画像を安定して出力することが出来る。
【００７９】
なお、以上では、１つのチップの中央と両側にＤｉセンサが備えられている構成を例に説明してきたが、チップ上に存在するＤｉセンサの位置および数はこれに限定されるものではない。また、温度センサの種類もＤｉセンサに限定されず、他の種類のセンサであっても適用することができる。
【００８０】
また、以上では４つのチップを備えたインクジェット記録ヘッドを例に説明してきたが、無論本発明はこのような形態に限定されるものではない。例えば、１つのチップで構成される記録ヘッドであっても、本発明の構成を採用すれば、当該チップの温度を安定させることが出来、時間の経過に応じて画像の濃度が変動することを抑えることが出来る。
【００８１】
また、上述した第１および第２の実施形態では、同一チップ内の記録素子への配線は共通であるという構成を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。配線が共通ではなくてもチップ内の各記録素子に関して同一の駆動電圧およびパルス幅で駆動することは出来る。
【００８２】
例えば、４つの温度センサから得られた４つの温度Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３に対し、０．４、０．３、０．２および０．１のような４種類の重み付け係数を用意し、検出温度が高いほど大きな重み付け係数が対応されるようにすることも出来る。具体的に説明すると、Ｔ０＞Ｔ１＞Ｔ２＞Ｔ４であった場合、チップ温度Ｃは、Ｃ＝０．４×Ｔ０＋０．３×Ｔ１＋０．２×Ｔ２＋０．１×Ｔ３と求めればよい。
【００８３】
このように、本発明の動的加重平均法においては、チップ上に配置された複数の温度センサの検出温度を高い順に並べた際の順番に対応付けて、夫々の検出温度に乗じる係数が決定された上で、加重平均から代表温度を決定すればよい。そして、このようにして得られた代表温度に基づいて、チップ内では共通の駆動パルスが、個々のチップに対応付けて設定され印加されればよい。
【符号の説明】
【００８４】
１  記録媒体
８  記録ヘッド
１０  記録ヘッド制御部
１４  チップ
１５  記録素子
１６  ダイオードセンサ
３８  サブヒータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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