(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、
前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、
前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブの断線、および当該各プローブと当該測定対象体との接触不良のいずれもが発生していない状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する抵抗測定装置。
【請求項２】
容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、
前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、
前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブのうちのいずれかの断線、および当該各プローブのうちのいずれかと当該測定対象体との接触不良のうちの少なくとも１つが発生している状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する抵抗測定装置。
【請求項３】
前記検査時点が前記過渡期間中に複数規定されると共に、当該複数の検査時点にそれぞれ対応する複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、
前記処理部は、前記複数の検査時点のうちの１つが指定されたときに、当該指定された検査時点に対応する前記判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する請求項１または２記載の抵抗測定装置。
【請求項４】
前記検査時点にそれぞれ対応させて複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、
前記処理部は、前記複数の判定範囲のうちの１つが指定されたときに、当該指定された判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する請求項１または２記載の抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象体に測定電流（直流電流）を流したときに発生する電圧を測定して、この測定した電圧の電圧値と測定電流の電流値とに基づいて測定対象体の直流抵抗値を測定する抵抗測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の抵抗測定装置としては、下記特許文献に開示された抵抗測定装置（絶縁抵抗の測定機能を有する絶縁耐電圧試験装置）が知られている。この抵抗測定装置は、測定対象体（被試験体）に直流電圧を印加し、その直流電圧の電圧値と測定対象体に流れる電流の電流値とからオームの法則により直流抵抗値を求め、この直流抵抗値に基づいて測定対象体の絶縁抵抗の良否を判別する。
【０００３】
この抵抗測定装置では、試験用の直流電圧の測定対象体への印加のために、測定対象体の各電極端子に電圧印加用プローブを接触させる必要がある。この場合、このプローブの断線やこのプローブの接触不良が発生した場合には、測定対象体に直流電圧が印加されないことに起因して、不良と判断すべき測定対象体を良品と判断する事態が発生するため、抵抗測定装置には、電圧印加用プローブの接触検出（コンタクトチェック）機能が設けられている。
【０００４】
下記特許文献には、この接触検出機能を実現するためのいくつかの構成が開示されている。そのうちの背景技術として開示された１つの構成は、測定対象体の各電極端子間の電圧を測定するために各電極端子に接触される一対の電圧印加用プローブに加えて、さらに一対の断線検出用プローブを各電極端子に接触させ、同じ電極端子に接触させた電圧印加用プローブと断線検出用プローブとの間に電圧を印加して、この電圧の印加時に電圧印加用プローブと断線検出用プローブとの間に電流が流れるか否かを検出する構成である。この構成によれば、電圧の印加時に電圧印加用プローブと断線検出用プローブとの間に電流が流れたときには、電圧印加用プローブに断線および接触不良の発生がなく、電流が流れないときには、電圧印加用プローブに断線および接触不良の少なくとも一方が発生していると判断することができる。
【０００５】
また、背景技術として開示された他の構成は、各電極端子に接触させる上記の一対の断線検出用プローブと、高電圧を出力する高電圧電源とを備え、各電極端子に一対の断線検出用プローブおよび一対の電圧印加用プローブを接触させた状態において、高電圧電源から一対の電圧印加用プローブを介して各電極端子間に高電圧を印加すると共に、一対の断線検出用プローブを介して電圧計で各電極端子間の電圧を測定する構成である。この構成によれば、測定された電圧が印加した高電圧と同じ電圧であれば、一対の電圧印加用プローブに断線および接触不良の発生がなく、異なる電圧であれば、一対の電圧印加用プローブに断線および接触不良の少なくとも一方が発生していると判断することができる。
【０００６】
しかしながら、前者の構成には、試験中において一対の電圧印加用プローブに発生する断線および接触不良を検出することができないという課題と、試験の前に接触検出を行う構成のため測定対象体についての試験時間が長くなるという課題が存在している。また、後者の構成では、試験中においても断線の有無を監視でき、これによって試験時間が長引くという課題は生じないが、測定対象体に電圧計が並列に接続される構成となるため、電圧計の内部抵抗が測定対象体の抵抗測定に影響を与えることになり、測定対象体の抵抗測定には不適当であるという課題が存在している。
【０００７】
これらの課題を解決するため、下記の特許文献において本願出願人は、測定対象体の各電極端子のそれぞれに接触検出回路（Ｈｉ側断線電圧検出部、Ｌｏ側断線電流検出部）を接続する構成を採用して、試験中においても断線の有無を監視できる測定対象体の抵抗測定装置を提案している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−１７１０６９号公報（第３−７頁、第１−４図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところが、上記の抵抗測定装置には、以下の改善すべき課題が存在している。すなわち、この抵抗測定装置には、測定対象体の各電極端子のそれぞれに接触検出回路を接続する構成を採用しているため、装置構成が複雑化するという改善すべき課題が存在している。
【００１０】
本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、プローブと測定対象体との接触を検出する専用回路を有することなく、測定対象体に対する測定処理中においてプローブの断線および接触不良を検出し得る抵抗測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成すべく請求項１記載の抵抗測定装置は、容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブの断線、および当該各プローブと当該測定対象体との接触不良のいずれもが発生していない状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する。
【００１２】
請求項２記載の抵抗測定装置は、容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブのうちのいずれかの断線、および当該各プローブのうちのいずれかと当該測定対象体との接触不良のうちの少なくとも１つが発生している状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する。
【００１３】
請求項３記載の抵抗測定装置は、請求項１または２記載の抵抗測定装置において、前記検査時点が前記過渡期間中に複数規定されると共に、当該複数の検査時点にそれぞれ対応する複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、前記処理部は、前記複数の検査時点のうちの１つが指定されたときに、当該指定された検査時点に対応する前記判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する。
【００１４】
請求項４記載の抵抗測定装置は、請求項１または２記載の抵抗測定装置において、前記検査時点にそれぞれ対応させて複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、前記処理部は、前記複数の判定範囲のうちの１つが指定されたときに、当該指定された判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１または２記載の抵抗測定装置では、処理部が、抵抗値の測定を開始した状態において、過渡期間に含まれる検査時点において抵抗算出処理を実行して抵抗値を算出すると共に、この抵抗値が判定範囲に含まれるか否かに基づいて、各プローブの断線、および各プローブと測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を実行する。
【００１６】
したがって、これらの抵抗測定装置によれば、各プローブと測定対象体との接触を検出する専用回路を設けることなく、測定対象体に対する抵抗値の測定中において各プローブの断線および接触不良を検出することができる。
【００１７】
また、請求項３または４記載の抵抗測定装置によれば、複数の判定範囲のうちの任意の１つを指定して処理部に断線接触検査処理を実行させることができるため、異なる種類の測定対象体についての最終的な抵抗値を、断線接触検査処理を実行しつつ測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】抵抗測定装置１の動作を説明するための説明図である。
【図３】抵抗測定装置１の動作を説明するための他の説明図である。
【図４】抵抗測定装置１の動作を説明するためのさらに他の説明図である。
【図５】抵抗測定装置１の動作を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、抵抗測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００２０】
最初に、抵抗測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００２１】
抵抗測定装置１は、図１に示すように、一対のプローブ２，３、電源部４、電流測定部５、電圧測定部６、処理部７、記憶部８および出力部９を備え、測定対象体１１の抵抗値（直流抵抗値）Ｒを測定可能に構成されている。本例では一例として、コンデンサを測定対象体１１として、その抵抗値（絶縁抵抗値）Ｒを測定する例について説明する。
【００２２】
プローブ２は、一端側が電源部４の出力端子および電圧測定部６の一方の入力端子に接続されると共に、他端側が測定対象体１１の一方の電極端子１１ａに接触可能に構成されている。プローブ３は、一端側が電流測定部５を介して基準電位（グランド電位）に接続されると共に電圧測定部６の他方の入力端子に接続され、かつ他端側が測定対象体１１の他方の電極端子１１ｂに接触可能に構成されている。
【００２３】
電源部４は、電流源または電圧源（本例では電圧源（一例として定電圧源））で構成されている。また、電源部４は、プローブ２，３が測定対象体１１に接触されている状態（プローブ３を介して測定対象体１１の電極端子１１ｂがグランド電位に規定されている状態）において、グランド電位と測定対象体１１の電極端子１１ａとの間にプローブ２を介して電圧を印加することにより、測定対象体１１に測定電流Ｉを出力する。また、電源部４は、プローブ２への電圧の出力のオン・オフ（つまり、測定電流Ｉの出力のオン・オフ）が処理部７によって制御される。
【００２４】
電流測定部５は、上記したようにプローブ３と基準電位との間に配設されて、プローブ３を介して基準電位に流れる測定電流Ｉの電流値Ｉａを予め規定されたサンプリング周期（後述する過渡期間よりも十分に短い時間間隔）で測定すると共に、電流値Ｉａを示す電流データＤｉを処理部７に出力する。
【００２５】
電圧測定部６は、一対の入力端子に接続された一対のプローブ２，３を介して、測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂに接続される。また、電圧測定部６は、測定電流Ｉが測定対象体１１に流れることによって測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂ間に発生する電圧Ｖの電圧値Ｖａを予め規定されたサンプリング周期（一例として、電流測定部５と同じサンプリング周期）で、測定対象体１１に接触された一対のプローブ２，３を介して測定すると共に、電圧値Ｖａを示す電圧データＤｖを処理部７に出力する。なお、上記したように、本例では、プローブ３が基準電位（グランド電位）に接続（規定）される構成であるため、電圧測定部６の他方の入力端子をプローブ３に接続する構成に代えて、グランド電位に直接接続して、電圧Ｖの電圧値Ｖａを測定する構成を採用することもできる。
【００２６】
以上の構成により、各プローブ２，３は、それぞれ測定対象体１１に測定電流Ｉを供給する電流プローブとして機能すると共に、測定対象体１１に発生する電圧Ｖを検出する電圧プローブとして機能する。なお、図示はしないが、電流プローブおよび電圧プローブをそれぞれ一対使用する構成（つまり、４本のプローブを使用する構成）を採用して、測定対象体１１の抵抗値Ｒを四端子法を用いて測定する構成を採用することもできる。
【００２７】
処理部７は、一例としてＣＰＵを備えて構成されて、電源部４に対する制御処理、および電流測定部５から出力される電流データで示される電流値Ｉａと電圧測定部６から出力される電圧データで示される電圧値Ｖａとに基づく測定対象体１１の抵抗値Ｒを測定する測定処理５０（図５参照）を実行する。また、処理部７は、時間計測処理も実行する。
【００２８】
記憶部８は、一例としてＲＡＭやＲＯＭなどの半導体メモリを用いて構成されている。この記憶部８には、処理部７のための動作プログラムと、測定処理５０において処理部７が使用する判定範囲を示す判定データＤ１と、測定対象体１１についての最終的な抵抗値Ｒの測定時間ｔｂとが予め記憶されている。また、記憶部８は、処理部７のワークメモリとしても機能して、電圧データＤｖおよび電流データＤｉを記憶する。
【００２９】
この場合、測定対象体１１としてのコンデンサは、公知の等価回路（静電容量成分と、この静電容量成分に直列に接続された等価直列抵抗成分と、静電容量成分に並列に接続された絶縁抵抗成分とで構成される回路）で表される。なお、等価直列抵抗成分は、絶縁抵抗成分と比べてその抵抗値（数Ω〜数十Ω程度）が極めて小さいため、以下では無視する（ゼロΩとする）ものとする。
【００３０】
このため、各プローブ２，３に断線が発生しておらず、かつ各プローブ２，３が測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂに正常に接触しているとき（接触抵抗の極めて少ない良好な状態で接触しているとき。つまり、接触不良が発生していないとき）に、処理部７によって測定されるコンデンサの抵抗値Ｒは、図２において実線で示すように、等価直列抵抗成分の抵抗値（本例ではゼロΩとする）を初期値として、コンデンサへの充電の進行に応じて（測定電流Ｉの電流値Ｉａが徐々に収束値（ほぼゼロ）に向けて減少するのに応じて）、徐々に増加して、最終的に絶縁抵抗成分の抵抗値に至る曲線Ｘを描いて変化する。
【００３１】
この場合、コンデンサでは、同じ種類で、かつ同じ静電容量のものであっても、それぞれの曲線Ｘ（抵抗値Ｒの時間的変化）は完全に同一ではなく個々に相違する。一方、各コンデンサが良品である限り、算出されるそれぞれの抵抗値Ｒは、図２に示すように、電源部４による電圧の印加の開始（ｔ＝０）から測定時間ｔｂを経過した時点においては、良品規格値（一般的には、「数千Ｍオーム以上（例えば１００００Ｍオーム以上）」のように規定される値）の範囲に含まれる収束値に達する。また、抵抗値Ｒは、曲線Ｘで示されるように、電源部４による電圧の印加の開始（ｔ＝０）からこの良品規格値に至る手前の抵抗値Ｇ（例えば、良品規格値を１００％としたときに、予め規定した値（例えば、９０％）となる抵抗値）に達するまでの間（つまり、時間ｔが０のときから予め規定した時間ｔａに達するまでの期間。以下、「過渡期間」という）では、時間ｔａ以降の変化量よりも十分に大きな変化量で、収束値に向けて徐々に変化する。本例では、電源部４は定電圧源で構成されているため、この過渡期間において、測定電流Ｉの電流値Ｉａが等価直列抵抗成分の抵抗値で制限される値から収束値（ゼロ）に向けて徐々に変化する。一方、電源部４を定電流源で構成したときには、この過渡期間において、電圧Ｖの電圧値Ｖａがゼロから収束値に向けて徐々に変化する。
【００３２】
また、この過渡期間においても、各コンデンサの曲線Ｘは完全に同一ではなく、コンデンサ毎に相違するが、各コンデンサが良品である限り、過渡期間に含まれる所定の時間ｔ１（検査時点つまり検査タイミング）において算出されるそれぞれの抵抗値Ｒは、抵抗値Ａ１以上抵抗値Ａ２以下の範囲にすべて含まれる。このため、本例では、この抵抗値Ａ１以上抵抗値Ａ２以下の範囲を予め実験やシミュレーションにて求めておき、抵抗値Ａ１を下限値とし、抵抗値Ａ２を上限値とする抵抗値範囲を判定範囲として、この判定範囲を示すデータを時間ｔ１と共に上記の判定データＤ１として記憶部８に記憶させている。
【００３３】
出力部９は、一例として、液晶ディスプレイなどの表示装置で構成されて、処理部７によって実行された測定処理５０の結果を画面上に表示する。なお、表示装置に代えて、外部装置とデータ通信を行うインターフェース装置で構成して、この外部装置に測定処理５０の結果を出力する構成を採用することもできる。
【００３４】
次に、抵抗測定装置１の動作について図面を参照して説明する。なお、各プローブ２，３については、プローブ２が測定対象体１１の電極端子１１ａに接触され、かつプローブ３が測定対象体１１の電極端子１１ｂに接触されているものとする。
【００３５】
この抵抗測定装置１では、電流測定部５および電圧測定部６がそれぞれ予め規定されたサンプリング周期で、測定対象体１１に流れる測定電流Ｉの電流値Ｉａおよび測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂ間に発生する電圧Ｖの電圧値ｖａを測定して、電流値Ｉａを示す電流データＤｉおよび電圧値Ｖａを示す電圧データＤｖを処理部７に出力する。
【００３６】
処理部７は、この状態において、図５に示す測定処理５０を実行する。この測定処理５０では、処理部７は、まず、電源部４に対する制御処理を実行して、電源部４をオフ状態からオン状態に移行させることにより、測定対象体１１に対する電圧の印加を開始させる（つまり、測定対象体１１への測定電流Ｉの出力を開始させる）。また、処理部７は、電源部４に対する上記の制御処理の開始に同期して時間計測処理も開始して、測定電流Ｉの出力開始からの経過時間（時間ｔ）を計測する（ステップ５１）。
【００３７】
処理部７は、計測している時間ｔを記憶部８に判定データＤ１として記憶されている時間ｔ１と比較する処理を実行しつつ（ステップ５２）、時間ｔが時間ｔ１に達したとき（断線接触検査時間（検査タイミング）が到来したとき）には、抵抗算出処理を実行する（ステップ５３）。この抵抗算出処理では、処理部７は、時間ｔ１において電流測定部５から取得した電流データＤｉで示される電流値Ｉａ、および時間ｔ１において電圧測定部６から取得した電圧データＤｖで示される電圧値Ｖａとに基づいて、測定対象体１１の抵抗値Ｒ（以下、このときの抵抗値Ｒを「抵抗値Ｒ１」ともいう）を算出する。
【００３８】
続いて、処理部７は、断線接触検査処理を実行する（ステップ５４）。この断線接触検査処理では、処理部７は、ステップ５３の抵抗算出処理において算出した抵抗値Ｒ１と、記憶部８に判定データＤ１として記憶されている時間ｔ１での判定範囲（抵抗値Ａ１を下限値とし、抵抗値Ａ２を上限値とする範囲）とを比較する。この際に、抵抗値Ｒ１が、図２に示すように、この判定範囲に含まれているときには、測定電流Ｉが測定対象体１１に正常に流れている状態である。このため、処理部７は、各プローブ２，３と測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂとの接触状態が良好であり、かつ各プローブ２，３のいずれにも断線が発生していない状態である（つまり、断線接触検査処理での検査結果が良好である）と判別して、断線接触検査処理を終了する。
【００３９】
一方、プローブ２と測定対象体１１の電極端子１１ａとの接触不良、プローブ３と測定対象体１１の電極端子１１ｂとの接触不良、プローブ２の断線、およびプローブ３の断線の少なくとも１つの異常状態が発生しているときには、測定電流Ｉが測定対象体１１に流れないため、処理部７は、極めて高い抵抗値Ｒ１を算出する。このため、この場合には、図３に示すように、抵抗値Ｒ１は、電源部４による電圧Ｖの出力の開始（時間ｔ＝０）から極めて短時間に良品規格値に達し、それ以降は一定の値になる。このため、処理部７は、抵抗値Ｒ１が上記の判定範囲に含まれていないときには、上記の異常状態が発生していると判別して（つまり、断線接触検査処理での検査結果が不良である）と判別して、断線接触検査処理を終了する。
【００４０】
処理部７は、断線接触検査処理での検査結果が良好のとき（抵抗値Ｒが図２に示す曲線Ｘを描いて変化しているとき）には、次いで、計測している時間ｔを記憶部８に記憶されている測定時間ｔｂと比較する処理を実行しつつ（ステップ５５）、時間ｔが測定時間ｔｂに達したとき（測定時間ｔｂが到来したとき）には、抵抗算出処理を実行する（ステップ５６）。この抵抗算出処理では、処理部７は、測定時間ｔｂにおいて電流測定部５から取得した電流データＤｉで示される電流値Ｉａ、および測定時間ｔｂにおいて電圧測定部６から取得した電圧データＤｖで示される電圧値Ｖａとに基づいて、測定対象体１１の最終的な抵抗値Ｒ（以下、このときの抵抗値Ｒを「抵抗値Ｒ２」ともいう）を算出して、記憶部８に記憶させて、このステップ５６での抵抗算出処理を終了する。
【００４１】
続いて、処理部７は、この抵抗算出処理の終了後に、出力処理（ステップ５７）を実行して、記憶部８に記憶されている抵抗値Ｒ２を出力部９に表示させる。これにより、測定処理５０が終了する。
【００４２】
一方、ステップ５４での断線接触検査処理での検査結果が不良のときには、処理部７は、ステップ５８に移行して出力処理を実行することにより、プローブ２と測定対象体１１の電極端子１１ａとの接触不良、プローブ３と測定対象体１１の電極端子１１ｂとの接触不良、プローブ２の断線、およびプローブ３の断線の少なくとも１つの異常状態が発生している旨を出力部９に表示させる。これにより、測定処理５０が終了する。
【００４３】
このように、この抵抗測定装置１では、測定処理５０を開始した状態において、過渡期間に含まれる時間ｔ１（検査タイミング）において抵抗算出処理を実行して抵抗値Ｒ１を算出すると共に、この抵抗値Ｒ１が判定データＤ１で示される判定範囲に含まれるか否かに基づいて、各プローブ２，３における断線の発生の有無、並びにプローブ２と電極端子１１ａとの接触状態およびプローブ３と電極端子１１ｂとの接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を実行する。
【００４４】
したがって、この抵抗測定装置１によれば、各プローブ２，３と測定対象体１１の各電極端子１１ａ，１１ｂとの接触を検出する専用回路を設けることなく、測定対象体１１に対する測定処理５０中においてプローブ２，３の断線および接触不良を検出することができる。
【００４５】
なお、上記の抵抗測定装置１では、各プローブ２，３の断線、プローブ２と電極端子１１ａとの接触不良、およびプローブ３と電極端子１１ｂとの接触不良のいずれもが発生していないときに、時間ｔ１（検出タイミング）において算出される抵抗値Ｒ１が含まれる範囲を判定範囲とする構成を採用しているが、プローブ２の断線、プローブ３の断線、プローブ２と電極端子１１ａとの接触不良、およびプローブ３と電極端子１１ｂとの接触不良のうちの少なくとも１つが発生しているとき、つまり、各プローブ２，３のうちのいずれかの断線、および各プローブ２，３のうちのいずれかと測定対象体１１との接触不良のうちの少なくとも１つが発生しているときに、時間ｔ１（検出タイミング）において算出される抵抗値が含まれる範囲を判定範囲（例えば、図４において、抵抗値Ａ１以下と抵抗値Ａ２以上との２つの範囲）として、算出されたこの抵抗値がこの判定範囲に含まれているときに、プローブ２の断線、プローブ３の断線、プローブ２と電極端子１１ａとの接触不良、およびプローブ３と電極端子１１ｂとの接触不良のうちの少なくとも１つが発生しており、算出されたこの抵抗値がこの判定範囲に含まれていないときに、各プローブ２，３の断線、プローブ２と電極端子１１ａとの接触不良、およびプローブ３と電極端子１１ｂとの接触不良のいずれもが発生していないと判別する構成を採用することもできる。
【００４６】
また、上記の抵抗測定装置１では、判定範囲として、過渡期間中の１つの時間ｔ１における１つの判定範囲（抵抗値Ａ１以上抵抗値Ａ２以下の範囲）のみを規定する構成を採用しているが、複数の判定範囲を設ける構成を採用することもできる。以下、図４を参照して、その具体例を説明する。
【００４７】
この例では、過渡期間中の時間ｔ１に、上記の判定範囲（抵抗値Ａ１以上抵抗値Ａ２以下の範囲）に加えて、別の判定範囲（抵抗値Ａ３以上抵抗値Ａ４以下の範囲）を規定すると共に、時間ｔ１とは別の時間ｔ２（＞ｔ１）にも、別の２つの判定範囲（抵抗値Ｂ１以上抵抗値Ｂ２以下の範囲）と、判定範囲（抵抗値Ｂ３以上抵抗値Ｂ４以下の範囲）とを規定して、これらを示す判定データＤ１を記憶部８に記憶させる。
【００４８】
この構成では、最終的な抵抗値Ｒ２（絶縁抵抗成分の抵抗値）に至る曲線Ｘが実線で示すようになる測定対象体１１については、この曲線Ｘが判定範囲（抵抗値Ａ３以上抵抗値Ａ４以下の範囲）を通過するため、この測定対象体１１については、この判定範囲を指定して処理部７に対して断線接触検査処理を実行させ、一方、最終的な抵抗値Ｒ２（絶縁抵抗成分の抵抗値）に至る曲線Ｘが一点鎖線で示すようになる測定対象体１１については、この曲線Ｘが判定範囲（抵抗値Ｂ３以上抵抗値Ｂ４以下の範囲）を通過するため、この判定範囲を指定して処理部７に対して断線接触検査処理を実行させる。
【００４９】
また、図示はしないが、抵抗値Ｒが判定範囲（抵抗値Ａ１以上抵抗値Ａ２以下の範囲）を通過する曲線を描いて変化する測定対象体については、この測定範囲を指定して処理部７に対して断線接触検査処理を実行させ、一方、抵抗値Ｒが判定範囲（抵抗値Ｂ１以上抵抗値Ｂ２以下の範囲）を通過する曲線を描いて変化する測定対象体については、この測定範囲を指定して処理部７に対して断線接触検査処理を実行させる。したがって、この構成を採用することにより、複数の判定範囲を使い分けることができる（複数の判定範囲のうちの任意の１つを指定して処理部７に断線接触検査処理を実行させることができる）ため、異なる種類の測定対象体についての最終的な抵抗値を、断線接触検査処理を実行しつつ測定することができる。
【００５０】
さらに、上記した時間ｔ１，ｔ２に加えて、過渡期間内に他の検査タイミング（検査時点）を１または複数規定して、この検査タイミングに対応させて更なる判定範囲を規定する構成を採用することもできる。また、検査タイミングを１つの時間（例えば、上記の時間ｔ１のみ）に限定して、この時間ｔ１に対応させて上記のように複数の判定範囲を規定する構成を採用することもできる。
【００５１】
また、各判定範囲を規定する上限値の抵抗値および下限値の抵抗値を任意に設定し得る構成としてもよいのは勿論である。この構成を採用することにより、さらに多くの種類の測定対象体１１についての最終的な抵抗値Ｒ２を、断線接触検査処理を実行しつつ測定することができる。
【符号の説明】
【００５２】
１  抵抗測定装置
２，３  プローブ
４  電源部
５  電流測定部
６  電圧測定部
７  処理部
１１  測定対象体
【図１】
0005897393.tif 000002
【図２】
0005897393.tif 000003
【図３】
0005897393.tif 000004
【図４】
0005897393.tif 000005
【図５】
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