(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ドラム缶の内面側に発生する断面欠損を外面側から検出するドラム缶検査方法であって、
前記ドラム缶の側板について、側板面に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を側板の円周方向に入射して減肉箇所の検出を行う側板検査を行うに当たり、
前記側板検査が、
ドラム缶の側板の中央高さ位置でＳＨ波を側板の円周方向に入射させ、
同じ測線上の上端部及び下端部で前記中央高さ位置での入射方向の反対円周方向に入射させることを特徴とするドラム缶検査方法。
【請求項２】
前記ドラム缶の底板について、底板周縁の嵌合縁部に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射して減肉箇所の検出を行う底板検査を更に行うものであり、
前記超音波手段は底板周縁の嵌合縁部に沿って約１／３周移動させることを特徴とする請求項１に記載のドラム缶検査方法。
【請求項３】
前記ドラム缶が、鉄板の両面に亜鉛メッキし、この亜鉛メッキの表面に樹脂膜を施したものであることを特徴とする請求項１又は２に記載のドラム缶検査方法。
【請求項４】
ドラム缶の内面側に発生する断面欠損を外面側から検出するドラム缶検査装置であって、
前記ドラム缶の側板面に取付けて、ＳＨ波を側板の円周方向に入射させて減肉箇所の検出を行う側板超音波探傷手段を備え、
前記側板超音波探傷手段が、
ドラム缶の側板の中央高さ位置でＳＨ波を側板の円周方向に入射させ、
同じ測線上の上端部及び下端部で前記中央高さ位置での入射方向の反対円周方向に入射させることを特徴とするドラム缶検査装置。
【請求項５】
前記ドラム缶の底板周縁の嵌合縁部に取付けて、ＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射させて減肉箇所の検出を行う底板超音波探傷手段を更に備え、
前記超音波手段は底板周縁の嵌合縁部に沿って約１／３周移動させることを特徴とする請求項４に記載のドラム缶検査装置。
【請求項６】
前記底板超音波探傷手段が、前記底面周縁の嵌合縁部の曲面に合致する当接片を備えたことを特徴とする請求項４又は５に記載のドラム缶検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ドラム缶の欠陥を検査するドラム缶検査方法及びその装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ドラム缶は石油等の液体を一時的に貯蔵して搬送する際に用いられる。その他にも、低レベル放射性廃棄物を収納するドラム缶の内面側に発生する腐食、あるいは錆、あるいは物理的な要因による磨耗などの断面欠損を外面側から検出し、その発生位置が特定できる検査手法を確立するとともに、断面欠損部の残厚を測定し、残余寿命のデータを得ることが可能なドラム缶検査方法及びその装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このドラム缶検査方法は、横波の超音波によりドラム缶の内面に発生する減肉箇所の検出および範囲を推定する１次検査を行い、縦波の超音波により１次検査で得た範囲の垂直探傷することにより減肉の程度を検出する２次検査を行う検査方法である。１次検査は、横波の超音波をドラム缶の側板の上端部から下端部へ伝播させかつ下端部から上端部へ伝播させるか、又は、横波の超音波をドラム缶の天板及び底板の円周外縁部から中心部へ伝播させるものである。
【０００４】
また、ドラム缶検査装置としては、横波の超音波によりドラム缶の内面に発生する減肉箇所の検出および範囲を推定する１次調査を行う１次検査超音波器と、縦波の超音波により１次検査で得た範囲の垂直探傷することにより減肉の程度を検出する２次調査を行う２次検査超音波器とを備えるドラム缶検査装置である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１７５７９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、例えば低レベル放射性廃棄物を収納するドラム缶の保管状態の現状は、多数のドラム缶自体が山積みの状態となっており、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であるため、この表出面が実際の作業範囲となり、底面は実質的に作業ができない状態である。また、特定の廃棄物を保管する際にも山積み状態となっている。
【０００７】
本発明は、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶の断面欠損を外面側から検出することができる検査方法及びその装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１に記載された発明に係るドラム缶検査方法は、ドラム缶の内面側に発生する断面欠損を外面側から検出するドラム缶検査方法であって、
前記ドラム缶の側板について、側板面に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を側板の円周方向に入射して減肉箇所の検出を行う側板検査を行うに当たり、
前記側板検査が、
ドラム缶の側板の中央高さ位置でＳＨ波を側板の円周方向に入射させ、
同じ測線上の上端部及び下端部で前記中央高さ位置での入射方向の反対円周方向に入射させることを特徴とするものである。
【０００９】
請求項２に記載された発明に係るドラム缶検査方法は、請求項１に記載のドラム缶の底板について、底板周縁の嵌合縁部に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射して減肉箇所の検出を行う底板検査を更に行うものであり、
前記超音波手段は底板周縁の嵌合縁部に沿って約１／３周移動させることを特徴とするものである。
【００１０】
請求項３に記載された発明に係るドラム缶検査方法は、請求項１又は２に記載のドラム缶が、鉄板の両面に亜鉛メッキし、この亜鉛メッキの表面に樹脂膜を施したものであることを特徴とするものである。
【００１１】
請求項４に記載された発明に係るドラム缶検査装置は、ドラム缶の内面側に発生する断面欠損を外面側から検出するドラム缶検査装置であって、
前記ドラム缶の側板面に取付けて、ＳＨ波を側板の円周方向に入射させて減肉箇所の検出を行う側板超音波探傷手段を備え、
前記側板超音波探傷手段が、
ドラム缶の側板の中央高さ位置でＳＨ波を側板の円周方向に入射させ、
同じ測線上の上端部及び下端部で前記中央高さ位置での入射方向の反対円周方向に入射させることを特徴とするものである。
【００１２】
請求項５に記載された発明に係るドラム缶検査装置は、請求項４に記載のドラム缶の底板周縁の嵌合縁部に取付けて、ＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射させて減肉箇所の検出を行う底板超音波探傷手段を更に備え、
前記超音波手段は底板周縁の嵌合縁部に沿って約１／３周移動させることを特徴とするものである。
【００１３】
請求項６に記載された発明に係るドラム缶検査装置は、請求項４又は５に記載の底板超音波探傷手段が、前記底面周縁の嵌合縁部の曲面に合致する当接片を備えたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶の断面欠損を外面側から検出することができる検査方法及びその装置を得ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】ドラム缶の正面図である。
【図２】ドラム缶の平面図である。
【図３】測線１からＲ１〜Ｒ９に向かって水平にＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図４】測線２からＳ１〜Ｓ９に向かって水平にＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図５】測線３からＳ１〜Ｓ９に向かって水平にＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図６】溶接線Ａから２００ｍｍ離れた新たな測線から水平にＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図７】側板での探傷位置を示す側板展開図である。
【図８】は底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図９】アクリル治具を装着したＳＨ波探傷子の構成を示す説明図である。
【図１０】側板探査時と同じ感度（４０ｄＢ）での底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【図１１】感度を上げた場合での底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明においては、ドラム缶の内面側に発生する断面欠損を外面側から検出するドラム缶検査方法であって、ドラム缶の側板について側板面に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を側板の円周方向に入射して減肉箇所の検出を行う側板検査を行う方法である。これにより、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶の側壁面の断面欠損を外面側から検出することができる。
【００１７】
また好ましくは、ドラム缶の底板について底板周縁の嵌合縁部に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射して減肉箇所の検出を行う底板検査を更に行うことにより、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶の底板部の断面欠損を外面側から検出することができる。
【００１８】
本発明の検査対象物はドラム缶である。このドラム缶は当初原油や灯油の運搬に使用されていたが、近年は化学製品、塗料等の運搬にも使用されるようになってきた。また、低レベル放射性廃棄物を収納したり、特定の廃棄物を収納して保存する目的にも使用されている。
【００１９】
このドラム缶は、円柱の側壁にあたる側板と、この側板の上下に天板、底板を有するものである。ドラム缶の各壁面の内側及び外側については、メッキや樹脂膜による塗装が施されたものであってもよい。例えば、ドラム缶の多くは、側板、天板、底板の両面に亜鉛メッキが施され、この亜鉛メッキ層の表面に樹脂膜が設けられている。より具体的には、鉄板の厚さは１．６ｍｍ、亜鉛メッキ層の厚さは０．０２ｍｍが施され、樹脂膜層の厚さは０．０３ｍｍが主流である。尚、樹脂膜層は、例えばエポキシ樹脂を用いるが、これに限定されない。低レベル放射性廃棄物を収納するためのドラム缶では、天板については取り外し可能なオープン型のドラム缶が主流である。
【００２０】
ドラム缶は、次のようにして形成される。まず、側板は鋼板を円筒形に曲げて両端辺を溶接した後、円筒の両端を鍔出しを行い、円筒の側方から力に対向するために円筒内部の２カ所に輪帯を形成させる。天板及び底板は円形のお盆状に打ち抜いた鋼板の周囲を折り曲げるプリカール処理が行われる。側板、天板及び底板の表面を処理・塗装した後、側板の下縁部と底板の周縁部を巻き閉め加工してドラム缶が成形される。巻き締め加工により、側板の下縁部と底板の周縁部とが２〜３重に巻き締められて嵌合部が形成される。オープン型のドラム缶では、側板の上縁部と天板の周縁部とが互いに掛合可能なように曲げ加工が施される。
【００２１】
ドラム缶の側板については、溶接により円筒形を形作っており、この天板−底板の上下方向に形成された溶接部が、この溶接部を横切る超音波探傷に対して、どのような影響があるかは不明であったが、後述するように本発明によって溶接部を超えて超音波が伝達されて欠損を検知することが初めて確認された。
【００２２】
更に、好ましい本発明では側板以外の壁面についても腐食等の断面欠損を検出するため、内部の廃棄物と接触して腐食が発生し易い側板と底板との探傷手段を行う。尚、天板については低レベル放射性廃棄物を収納した後であっても取り外して腐食の有無を検査することが可能な場合もあるが、底板と同様の操作で外面側から検出することが可能である。
【００２３】
ドラム缶の底板については、山積みの状態での実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても探知するために、後述するように本発明によってドラム缶の嵌合縁部からＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射することにより、ドラム缶底板に超音波が伝達されて欠損を検知することが初めて確認された。
【００２４】
本発明の超音波探傷手段は、横波の一つであるＳＨ波を照射するものであればよい。具体的には、一般的に超音波探傷に用いられる超音波としては、縦波、横波の１種であるＳＶ波、同じく横波の１種であるＳＨ波等がある。縦波は伝搬方向に振動する波であり、伝搬方向と垂直な方向には振動しない特徴を持つ。
【００２５】
一方、ＳＶ波は伝搬方向に垂直な方向に振動する横波であり、探傷面に垂直な方向に振動している波である。横波であるため方向性がある。ＳＨ波は、ＳＶ波と同じ方向性のある横波であるが、探傷面と平行な方向に振動している波である。ＳＨ波はＳＶ波と異なり、屈折角９０°に近い方向にも横波を強く対象物に入射させることができる特性を有する。このため、本発明では、対象とするドラム缶の板厚が薄いこと、また、超音波をある程度の距離を伝播させることを考慮し、ＳＨ波を適用した。
【００２６】
本発明において対象物に入射させるＳＨ波の周波数については、好ましくは０．３ＭＨｚ〜０．８ＭＨｚの範囲から選定されればよい。０．３ＭＨｚより小さい周波数では、ドラム缶の傷・欠損に対して波長が大きくなり、十分な精度で検査できず、０．８ＭＨｚより大きい周波数では、減衰が大きくなり、十分な距離を伝搬せずに十分な精度で検査ができないからである。より好ましい周波数は、０．４ＭＨｚ〜０．６ＭＨｚ、最も好ましい周波数は０．５ＭＨｚである。
【実施例】
【００２７】
実施例１（ＳＨ波の横方向入力によるドラム缶減肉探査の検討）
１．検査法
探査対象となるドラム缶の現地の保管状態では、側面の１／３程度が実際の作業範囲で、底面は実質的に作業ができない状態である。このため、ドラム缶の側面に対して縦方向からＳＨ波を入力する方法では、探査が不可能である。これを回避するために、側板では探触子の超音波入射方向を円周に沿った水平とし、底版は嵌合部から入射すると言う方法を考案し、探査の可能性を確認する実験を行うこととした。
【００２８】
２．ドラム缶の構成
図１はドラム缶の正面図である。図２はドラム缶の平面図である。ドラム缶の形状・寸法・内径は次の通りである。ドラム缶内径（５６７±３ｍｍ）、外高（８９０±５ｍｍ）、容量（２１２Ｌ以上）、板厚（１．６ｍｍ）である。
【００２９】
３．検査装置
超音波探傷装置は、菱電湘南エレクトロニクス社（株）製低周波汎用超音波探査機ＵＩ−２３ＬＦを用い、ＳＨ波探触子の周波数は、０．５ＭＨｚとした。
【００３０】
４．実験手順
(1) ドラム缶側板に貫通孔及び非貫通の円錐状のきずを加工した。具体的には、図１に示したドラム缶の正面図で黒四角印の貫通孔Ｓ１〜Ｓ９である。尚、図示してはいないが図１の裏面側に溶接線Ａから測線２を通過した約７００ｍｍ離れた地点にドラム缶内側にＳ１〜Ｓ９と同様に非貫通孔Ｒ１〜Ｒ９が形成されている。
(2) ドラム缶底版に貫通孔及び非貫通の円錐状のきずを加工した。具体的には、図２に示したドラム缶の平面図で黒丸印の非貫通のきずＡ１〜Ａ８と黒四角印の貫通孔Ｂ１〜Ｂ８である。
【００３１】
５．側板の計測
ドラム缶側板の計測を行った。溶接部Ａを介して超音波が伝搬するかを検証するため、溶接部Ａを挟んで、測線１と測線２とのを２本を設定した。図１に示す通り、測線１はドラム缶側板の貫通孔Ｓ１が形成されており、表面の溶接線Ａから約９５ｍｍの地点である。測線２は表面の溶接線Ａに対して測線１の対向側に配され、溶接線Ａに対してから約４１０ｍｍの地点とした。また、Ｓ９から２１８ｍｍ離れた測線３を設定した。
【００３２】
測線毎に、端部とリム間、或いは、リム間の計３箇所に側板超音波探傷手段としての超音波探触子１１に横波専用の接触媒質を介して側板に固定し、ＳＨ波を照射した。
【００３３】
尚、側板における超音波探傷の条件は次の通りであった。
ゲイン      ：  ４０．０ｄＢ   試験周波数  ：  ０．５ＭＨｚ
測定範囲    ：  １０００ｍｍ   屈折角      ：  ９０．０°
音速        ：  ３．２２ｋｍ／ｓ
【００３４】
(5-1) 測線１での測定
図３は測線１から非貫通孔Ｒ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。ａ図は測線１上の上端部と第１リム間に超音波探触子を設置した結果を示し、ｂ図は測線１上の第１リムと第２リム間に超音波探触子を設置した結果を示し、ｃ図は測線１上の第２リムと下端部間に超音波探触子を設置した結果を示す。
【００３５】
ａ図〜ｃ図に示す通り、折れ線部が反射エコー、高さが反射エコー高さで０〜１００％で表示される。下の数字が探触子からの距離である（ｍｍ）。各図に示される通り、溶接線Ａを超えてＳＨ波の超音波が伝達されて非貫通孔を検知することが示された。
【００３６】
(5-2) 測線２での測定
図４は測線２からＳ１〜Ｓ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。図は測線２上の上端部と第１リム間に超音波探触子を設置した結果を示す。図に示す通り、折れ線部が反射エコー、高さが反射エコー高さで０〜１００％で表示される。下の数字が探触子からの距離である（ｍｍ）。溶接線Ａを超えてＳＨ波の超音波が伝達されて非貫通孔を検知することが示された。
【００３７】
(5-3) 測線３での測定
図５は測線３からＳ１〜Ｓ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。ａ図は測線１上の上端部と第１リム間に超音波探触子を設置した結果を示し、ｂ図は測線１上の第１リムと第２リム間に超音波探触子を設置した結果を示し、ｃ図は測線１上の第２リムと下端部間に超音波探触子を設置した結果を示す。
【００３８】
ａ図〜ｃ図に示す通り、折れ線部が反射エコー、高さが反射エコー高さで０〜１００％で表示される。下の数字が探触子からの距離である（ｍｍ）。各図に示す通り、溶接線Ａを超えてＳＨ波の超音波が伝達されて非貫通孔を検知することが示された。
【００３９】
(5-4) 新たな測線での測定
溶接線Ａを跨いだ反射エコーを更に検証した。溶接線Ａを中心として貫通孔Ｓ１から２００ｍｍ離れた測線上に超音波探触子１１に横波専用の接触媒質を介して側板に固定し、ＳＨ波を照射した。図６はその結果の探傷波形を示す線図である。図に示す通り、折れ線部が反射エコー、高さが反射エコー高さで０〜１００％で表示される。下の数字が探触子からの距離である（ｍｍ）。
【００４０】
図６に示す通り、２００、３４０、３８０、６３５ｍｍの地点に明確なきずがあることが示されている。ここで２００ｍｍの反射エコーは溶接部からのものである。実際の測定では、２箇所からの測定で得られた反射エコーの数値を半径とした２つの円をドラム缶表面に描けば、その交点にきずがあることになる。
【００４１】
３４０ｍｍはＳ２のきずであり、３８０ｍｍはＳ３のきずであることが確認された。また、６３５ｍｍについては、きずを示すエコーか、ノイズかが不明であったが、実際に確かめると６３５ｍｍは名称未設定のきずであったことが確認された。以上のように、側板については水平方向の探査が十分可能であることが確認された。
【００４２】
(5-5) 側板での伝播範囲の確認
測線２から非貫通孔Ｒ１を狙って探触子を置く。この場合、探触子１１を上端に付けた位置では感度がないので、上端から５２ｍｍ下げた測線地点で２００ｍｍの位置にＲ１を見つけていることから、側板に横方向で入力する場合のＳＨ波伝播角度は約２９度となることが確認された。尚、縦方向に入力する場合の同角度が約１８度であることを考えると、この角度は大きい。その原因は次の２つが考えられた。
【００４３】
(1) 縦方向入力の場合は、平面である探触子と円筒形の側板との接線が縦に一直線となり、ＳＨ波の振動方向と直交するため、入力損失が大きくなる。横方向入力では振動方向に平行な接線となるため、入力損失が小さい。
(2) 縦方向入力では、振動方向に沿って曲率が大きくなるため、伝播損失が大きい。
【００４４】
(5-6) 側板での探傷位置
側板において、溶接線を越えてＳＨ波が伝播され、尚且つＳＨ波伝播角度は約２９度となることが確認された。そのため、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、１つの測線上で少なくとも３カ所で探傷することにより、側板の欠損を外面側から検出することができることがわかった。具体的には、図７は側板での探傷位置を示す側板展開図である。図に示す通り、ドラム缶の側板の中央高さ位置でＳＨ波を側板の円周方向に入射させて減肉箇所の検出を行い、同じ測線上の上端及び下端部で中央部と反対側に円周方向に入射させて減肉箇所の検出を行うことにより、側板の全面を計測することができる。
【００４５】
６．底坂での測定
(6-1) 底坂での測定１
図２に示す平面図において、６時に該当する位置に底板超音波探傷手段としての超音波探触子２１に横波専用の接触媒質を介して側板に固定し、ＳＨ波を照射した。尚、超音波探傷子２１は底板の嵌合部に当接させて照射させた。
【００４６】
尚、底板における超音波探傷の条件は次の通りであった。
ゲイン      ：  ４０．０ｄＢ   試験周波数  ：  ０．５ＭＨｚ
測定範囲    ：  ２７３０ｍｍ   屈折角      ：  ９０．０°
音速        ：  ３．２２ｋｍ／ｓ
【００４７】
図８は底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。図に示す通り、折れ線部が反射エコー、高さが反射エコー高さで０〜１００％で表示される。下の数字が探触子からの距離である（ｍｍ）。嵌合部からの超音波の照射であっても、ＳＨ波の超音波が伝達されて少なくとも４点の貫通孔及び非貫通孔を検知することが示された。
【００４８】
図８に示した計測では、探傷子の接触する面積が小さい上に、ドラム缶のカーブに対して直線で接触するため、入力が小さく、また、嵌合部での入力であるため、折りたたまれた鉄板での減衰が大きいことが示された。これを改善するためは、ドラム缶のカーブに合わせたアクリル樹脂の治具を製作し、再度実験を試みことにした。
【００４９】
(6-2) 底坂での測定２（アクリル治具の有効性）
図９はアクリル治具を装着したＳＨ波探傷子の構成を示す説明図であり、ａ図は平面図、ｂ図は正面図、ｃ図は側面図である。嵌合部から接触面積が小さいことを補完する目的から底板側面の曲率に合わせたアクリル製の治具を製作し、これを用いて測定を行った。具体的には、図９に示す通り、アクリル治具９１の凹部９３にＳＨ波探触子２１を装着させた。この際に、ＳＨ波探触子２１の超音波発振面２２をドラム缶底板の側面の曲率に合わせた曲面９２の上部に形成された凹部９３の底面に接触するように凹部９３に嵌合させてＳＨ波探触子２１を装着した。
【００５０】
図１０は側板探査時と同じ感度（４０ｄＢ）での底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。図に示す通り、複数の反射エコーと対面端部からの反射エコーが確認された。ＳＨ波は角度をもって入射するため、アクリル治具９１とＳＨ波探触子２１の位置をずらし、最適な関係を探る必要があるが、この治具により適切に嵌合部に接触させることができ、探触子単体で使用するよりも感度はよくなった。尚、当接片としては、図９に示すアクリル治具に限定するものではなく、ＳＨ波探触子からの超音波を底板側面の曲率に合わせた曲面から入射させる構成のものであればよい。
【００５１】
(6-3) 底坂での測定３（底板での反射エコーと実際のきずの対応）
嵌合部の巻き込み部と端部までの長さを測定した。巻き込み部は４０ｍｍであり、対面の端部までは６２０ｍｍであった。図１０の測定画面では６１５ｍｍでエコーがあるが、巻き尺測定での緩みの誤差と思われた。そこで、感度を上げて、エコー位置を確認した（＋１０ｄＢ）。図１１は感度を上げた場合での底板の嵌合部からＲ１〜Ｒ９に向かってＳＨ波を照射した結果の探傷波形を示す線図である。
【００５２】
図に示す通り、１４５、１８０、２００、２２０、２４０、２６５、３００ｍｍに複数の反射エコーが確認された。実際のものと比較すると、１４５ｍｍはＢ６（誤差５ｍｍ）であり、１８０ｍｍはＢ５、２００ｍｍはＢ４、２２０はＢ３、２４０はＢ２、２６５はＢ１であることが確認された。尚、３００は直接確認ができないが、Ａ１と思われた。
【００５３】
以上の通り、超音波探傷子２１を底面の嵌合部に沿って約１／３周移動させることにより、底面のほぼ全面を探傷することが可能となることが確認された。
【００５４】
７．まとめ
以上の通り、側板検査により、側板面に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を側板の円周方向に入射して減肉箇所の検出を行うことにより、ドラム缶側板の溶接部を超えて超音波が伝達されて欠損を検知することができ、これにより、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶の断面欠損を外面側から検出することができることが確認できた。尚、この側板検査を精密な検査の予備検査として用いることにより、検査時間の短縮が達成される。即ち、欠損の検出が無いドラム缶については、精密な検査を行う必要が無く、欠損の検出が疑われたドラム缶については、円周方向を逆にして欠損位置の距離を計測したり、従来のより精密な検査を行ってその欠損位置を特定する。これにより、検査時間の短縮と検査費用の低減が達成される。
【００５５】
底板検査により、底板周縁の嵌合縁部に取付けた超音波探傷手段よりＳＨ波を底板平面に沿った水平方向に入射して減肉箇所の検出を行うことにより、ドラム缶の嵌合縁部からでもドラム缶底板に超音波が伝達されて欠損を検知することができ、これにより、山積みの状態となり、実質的に側面の１／３程度が表に出ている状態であっても、ドラム缶底板の断面欠損を外面側から検出することができることが確認できた。この底板検査を精密な検査の予備検査として用いることにより、検査時間の短縮と検査費用の低減が達成されることは前述の側板検査と同様である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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