(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と、
プロセッサと
を具え、
上記プロセッサが、
上記デジタル信号からのデジタル・データを周波数変換によって連続する複数の周波数スペクトラムに変換する処理と、
複数の上記周波数スペクトラムを、複数セルの配列から構成されるラスタ化周波数スペクトラムへとそれぞれラスタ化し、複数の上記ラスタ化周波数スペクトラムそれぞれの対応する上記セルの値を１フレーム内で合算して複数のビットマップの１つを形成することにより、複数の上記周波数スペクトラムを複数の上記ビットマップに累積する処理と、
複数の上記ビットマップの１つを基準ビットマップとして複数の上記ビットマップの他の１つから減算して、密度差ビットマップを発生する処理と
を行うよう構成される試験測定機器。
【請求項２】
上記プロセッサが、上記基準ビットマップを周期的に更新する請求項１記載の試験測定機器。
【請求項３】
入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と、
上記デジタル信号からのデジタル・データを周波数変換によって連続する複数の周波数スペクトラムに変換する処理と、複数の上記周波数スペクトラムを、複数セルの配列から構成されるラスタ化周波数スペクトラムへとそれぞれラスタ化し、複数の上記ラスタ化周波数スペクトラムそれぞれの対応する上記セルの値を合算して複数のビットマップを形成することにより、複数の上記周波数スペクトラムを複数の上記ビットマップに累積する処理と、複数の上記ビットマップの１つを基準ビットマップとして複数の上記ビットマップの他の１つから減算して、密度差ビットマップを発生する処理とにより上記デジタル・データを処理し、上記密度差ビットマップがユーザ定義のトリガ条件を満足したときにトリガ信号を発生するトリガ検出器と、
上記トリガ信号に応答して上記デジタル信号からの上記デジタル・データを蓄積するメモリと
を具えた試験測定機器。
【請求項４】
上記トリガ検出器が、上記基準ビットマップを周期的に更新する請求項３記載の試験測定機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定機器に関し、特に、密度ビットマップを用いる試験測定機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
本出願人のテクトロニクス社製ＲＳＡ６１００シリーズ及びＲＳＡ３４００シリーズの如き実時間スペクトラム・アナライザは、ＲＦ信号を実時間でトリガし、捕捉し、分析する。これら試験測定機器は、ＲＦ信号をシームレスに捕捉するので、従来の掃引型スペクトラム・アナライザ及びベクトル信号アナライザと異なり、特定の帯域幅内でデータを逃すことがない。
【０００３】
テクトロニクス社の実時間スペクトラム・アナライザは、「デジタル・フォスファ」又は「ＤＰＸ（登録商標）」と呼ばれる技術を用いて、「ＤＰＸスペクトラム」と呼ばれる表示を行っている。ＤＰＸスペクトラムを形成するには、入力信号を表すデジタル・データの連続ストリームを一連の周波数スペクトラムに実時間で変換し、この周波数スペクトラムをデータベースに累積する。このデータベースは、振幅の特定場所又は「ＤＰＸ＿Ｄｅｎｓｉｔｙ（商標）」と呼ばれるパワー対周波数空間を入力信号が占める測定期間での時間に対する百分率の正確な測定を提供する。ＤＰＸ取込み及び表示技術は、従来のスペクトラム・アナライザ及びベクトル信号アナライザが全く捕捉できない短期間又は希なイベントの如き信号の細部を捕捉する。ＤＰＸに関するより詳細な情報は、テクトロニクス社が２００９年に発行した技術情報文献「DPX Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals（スペクトラム・アナライザ用ＤＰＸ取込み技術の基本）」に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−２９４５６０号公報
【特許文献２】特開２０００−２７２０号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】Tektronix, Inc. 2009年発行の「DPX Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals」、インターネット＜URL:http://www.2tek.com/cmsreplive/tirep/4540/37W_19638_4_2010.12.30.12.30.40_4540_EN.pdf＞
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
いくつかの場合において、実時間スペクトラム・アナライザのユーザは、高密度信号の存在において超低密度信号を観察したいことがある。例えば、ユーザは、超高密度信号と同じ周波数レンジ、又はその周波数レンジのある部分を占める非常に小さな干渉信号を観察したいことがある。残念なことに、従来のＤＰＸスペクトラム表示を用いたのでは、カラー・スケール制御の注意深い操作をしても、かかる小さな密度変動を識別することは困難又は不可能である。
【０００７】
上述の従来技術の欠点を克服するために、大きな密度値の百分率にて、非常に小さな密度変動を検出できる試験測定機器が必要とされている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の概念は、次の通りである。
（１）入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と；上記デジタル信号からのデジタル・データを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの１つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の１つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタル・データを処理するプロセッサとを具えた試験測定機器。
（２）上記プロセッサは、デジタル・データを実時間で処理する概念１の試験測定機器。
（３）上記プロセッサは、トリガ信号に応答してデジタル・データをメモリに蓄積した後に上記デジタル・データを処理する概念１の試験測定機器。
（４）入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と；上記デジタル信号からのデジタル・データを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの１つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の１つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタル・データを処理し、上記差のビットマップがユーザ定義のトリガ条件を満足したときにトリガ信号を発生するトリガ検出器と；上記トリガ信号に応答して上記デジタル信号からのデジタル・データを蓄積するメモリとを具えた試験測定機器。
（５）上記プロセッサは、上記デジタル・データを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成したビットマップの各々から上記基準ビットマップを減算する概念２の試験測定機器。
（６）上記プロセッサは、上記基準ビットマップを更新する概念５の試験測定機器。
（７）上記プロセッサは、ユーザ・コマンドに応答して上記基準ビットマップを更新する概念６の試験測定機器。
（８）上記プロセッサは、上記試験測定機器に対して内部又は外部で発生した信号に応答して上記基準ビットマップを更新する概念６の試験測定機器。
（９）上記プロセッサは、上記基準ビットマップを周期的に更新する概念６の試験測定機器。
（１０）上記プロセッサは、各ビットマップが生成された後に、上記基準ビットマップを更新する概念９の試験測定機器。
（１１）上記プロセッサは、Ｎ個のビットマップが生成される毎に基準ビットマップを更新し、上記Ｎが１より大きいユーザ指定の整数である概念９の試験測定機器。
（１２）上記異なるビットマップが表示器に表示される概念１の試験測定機器。
（１３）上記プロセッサは、異なるビットマップを用いて測定を実行する概念１の試験測定機器。
（１４）上記プロセッサは、上記差のビットマップ内に信号が現れた時又は消滅した時を示す概念１の試験測定機器。
（１５）上記試験測定機器は、実時間スペクトラム・アナライザ、掃引型スペクトラム・アナライザ、ベクトル信号アナライザ、ロジック・アナライザ及びオシロスコープから選択された試験測定機器である概念１の試験測定機器。
（１６）上記トリガ検出器は、上記デジタル・データを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成したビットマップの各々から上記基準ビットマップを減算する概念４の試験測定機器。
（１７）上記トリガ検出器は、上記基準ビットマップを更新する概念１６の試験測定機器。
（１８）上記トリガ検出器は、ユーザ・コマンドに応答して上記基準ビットマップを更新する概念１７の試験測定機器。
（１９）上記プロセッサは、上記試験測定機器の内部又は外部で発生した信号に応答して上記基準ビットマップを更新する概念１７の試験測定機器。
（２０）上記トリガ検出器は、上記基準ビットマップを周期的に更新する概念１７の試験測定機器。
（２１）上記トリガ検出器は、各ビットマップが生成された後に、上記基準ビットマップを更新する概念２０の試験測定機器。
（２２）上記トリガ検出器は、Ｎ個のビットマップが生成される毎に、上記基準ビットマップを更新し、上記Ｎが１より大きいユーザ指定の整数である概念２０の試験測定機器。
（２３）上記差のビットマップは、表示器に表示される概念４の試験測定機器。
（２４）上記トリガ検出器は、上記差のビットマップを用いて、測定を行う概念４の試験測定機器。
（２５）上記トリガ検出器は、上記差のビットマップ内に信号が現れた時又は消滅した時を指示する概念４の試験測定機器。
（２６）上記試験測定機器は、実時間スペクトラム・アナライザ、掃引型スペクトラム・アナライザ、ベクトル信号アナライザ、ロジック・アナライザ及びオシロスコープから選択された試験測定機器である概念４の試験測定機器。
（２７）上記差のビットマップ内の密度差がユーザ指定密度しきい値を超えたときに、上記差のビットマップが上記ユーザ指定トリガ条件を満足する概念４の試験測定機器。
【０００９】
よって、本発明の実施例が提供する試験測定機器は、入力信号を表すデジタル・データを複数のビットマップに変換し、複数のビットマップの１つから複数のビットマップの他の１つを減算して差のビットマップを発生する。差のビットマップは、２つのビットマップの間の密度差のみを含む代わりに、これら２つのビットマップに共通の密度値を含んでいないので、大きな密度値の存在にて非常に小さな密度変動を表す。いくつかの実施例において、差のビットマップが表示器に表示される。他の実施例において、差のビットマップを用いてトリガ信号を発生する。
【００１０】
本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添付図を参照した以下の詳細説明から更に理解できよう。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実時間スペクトラム・アナライザのブロック図である。
【図２】図１に示すプロセッサの詳細な機能図である。
【図３】本発明の実施例による方法を説明する流れ図である。
【図４】第１ビットマップを示す図である。
【図５】第２ビットマップを示す図である。
【図６】差のビットマップを示す図である。
【図７】基準ビットマップを更新する第１方法を説明する図である。
【図８】基準ビットマップを更新する第２方法を説明する図である。
【図９】どのように被試験ビットマップの列から基準ビットマップの列を減算して差のビットマップをどのように発生するかを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図１は、実時間スペクトラム・アナライザ１００のブロック図である。この実時間スペクトラム・アナライザ１００は、無線周波数（ＲＦ）入力信号を受け、オプションとして、ミキサ１０５、局部発振器（ＬＯ）１１０及びフィルタ１１５を用いてダウン・コンバージョンして、中間周波数（ＩＦ）信号を発生する。アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）１２０は、ＩＦ信号をデジタル化して、ＩＦ信号を表すデジタル・データの連続ストリームを発生する。デジタル・データは、２つのパスで処理される。第１パスでは、デジタル・データがプロセッサ１２５に入力して、プロセッサ１２５がデジタル・データを実時間で分析する。第２パスでは、デジタル・データがメモリ１３５（いくつかの実施例では、循環バッファで構成される）に入力すると共に、トリガ検出器１４０にも入力する。トリガ検出器１４０は、デジタル・データを実時間で処理し、処理済みデータをユーザ指定のトリガ条件と比較する。処理済みデジタル・データがトリガ条件を満足すると、トリガ検出器１４０は、トリガ信号を発生する。このトリガ信号により、メモリ１３５がデジタル・データのブロックを蓄積する。プロセッサ１２５は、蓄積デジタル・データを分析する。プロセッサ１２５が処理した後、デジタル・データを表示器１３０に表示するか、蓄積装置（図示せず）に蓄積する。
【００１３】
図２は、図１に示すプロセッサの詳細な機能図である。ＤＰＸ処理を行うため、プロセッサ１２５は、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）、チャープＺ変換などの周波数変換手段２０５を用いて、デジタル・データの連続ストリームを一連の周波数スペクトラム２１０に実時間で変換する。次に、「ビットマップ・データベース」２２０と呼ばれるデータ構造、時には、「密度ビットマップ」又は代わりに「ビットマップ」と呼ばれるデータ構造にて、スペクトラム２１０を累積する。スペクトラム２１０は、種々の方法で累積できる。一実施例において、各スペクトラム２１０をラスタ化して、「ラスタ化スペクトラム」２１５を発生する。ラスタ化スペクトラムは、一連の行及び列で配列されたセルの配列から構成され、各行が特定の振幅値を表し、各行が特定の周波数値を表す。各セルの値は、「１」又は「０」（ブランクのセルで表す）である。「１」は、「ヒット」とも言い、測定期間中に、振幅対周波数空間における特定の場所に入力信号が存在することを示す。「０」は、入力信号が存在しないことを表す。ラスタ化スペクトラム２１５の対応セルの値を互いに加算して、ビットマップ・データベース２２０を形成する。ビットマップ・データベース２２０の各セルの値をラスタ化スペクトラム２１５の総数で除算する。これは、測定期間中のヒットの総数をラスタ化スペクトラム２１５の総数で除算することを表す。これは、等価的に、入力信号が振幅対周波数空間での特定場所を占める測定期間中の時間の百分率であり、「ＤＰＸ＿Ｄｅｎｓｉｔｙ」（商標）又は「密度」ともいう。ラスタ化スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０を簡単のために１０行１１列として示すが、実際の実施例においては、ラスタ化スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０が数百の行及び列を含んでもよいことが理解できよう。ビットマップ・データベース２２０は、基本的には、３次元ヒストグラムであり、ｘ軸が周波数であり、ｙ軸が振幅であり、ｚ軸が密度である。ビットマップ・データベース２２０を表示器１４５で表示し、色で等級を付けたピクセル（カラー・グレード・ピクセル）により、各セルの密度を表す。代わりに、ビットマップ・データベース２２０を蓄積装置（図示せず）に蓄積してもよい。いくつかの場合、一連の周波数スペクトラム２１０を、「フレーム」と呼ばれる１つ以上の周波数スペクトラム２１０の組に構成し、各フレームをビットマップ・データベース２２０に変換することにより、一連の周波数スペクトラム２１０を複数のビットマップ・データベース２２０に変換する。
【００１４】
図３は、本発明の実施例による方法を説明する流れ図３００である。本発明のいくつかの実施例において、プロセッサ１２５は、次のステップによりデジタル・データを処理する。すなわち、ステップ１で、デジタル・データを複数のビットマップに変換する。また、ステップ２で、「基準ビットマップ」と呼ぶ複数のビットマップの１つを、「被試験ビットマップ」と呼ぶ複数のビットマップの他の１つから減算して、「差のビットマップ」を発生する。差のビットマップは、これら２つのビットマップに共通の密度値を含んでいないが、その代わりに、これら２つのビットマップの間の密度差を含んでいる。
【００１５】
大きな密度値の百分率での非常に小さな密度変化を差のビットマップがどの様に示すかの例を以下に説明する。図４に示すビットマップ４００と図５に示すビットマップ５００を考察する。これらビットマップ４００及び５００の両方は、異なる時点でのデジタル・データの同じストリームから生成したものである。実際のビットマップをより現実的に示すために、ビットマップ４００及び５００が数百の行列を有するとして示し、それらのグリッドラインを示めさないが、それらのカラー・グレードは、信号がよりしばしば存在することを示すグレイのより黒っぽい影として示す。ビットマップ４００及び５００の両方は、４相位相変調（ＱＰＳＫ：Quadrature Phase Shift Keying）を示している。最も暗い密度値は、測定期間中のかなりの部分で、パワー又は振幅対周波数空間の場所にＱＰＳＫ信号が存在することを示す。ビットマップ４００は、実質的にビットマップ５００と同じように現れる点に留意されたい。
【００１６】
ビットマップ５００からビットマップ４００を減算して、図６に示すような差のビットマップ６００を作成する。ここで、カラー・スケールを拡大して、正及び負の密度差の両方を含む密度差値の小さな範囲を示す。差のビットマップ６００は、ＱＰＳＫ信号よりも２０ｄＢ低い干渉信号６０５を示す。干渉信号６０５は、ビットマップ５００に存在するが、ビットマップ４００には存在しない。時間的にかなりの部分を占めるＱＰＳＫ信号に対比して、干渉信号６０５は、そのピクセル密度値がわずか０．００００２％（即ち、２０ピコ・パーセント）であるが、容易に観察できる点に留意されたい。
【００１７】
いくつかの実施例において、プロセッサ１２５は、デジタル・データの連続ストリームを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成されたビットマップの各々から基準ビットマップを減算して、非常に小さな密度変動について入力信号を実時間でモニタする。この場合、振幅ドリフト、周波数ワンダーなどの入力信号の低周波数変動を除去するために、基準ビットマップを時々更新するという利点がある。この方法にて、試験測定機器は、入力信号での遅い変化を「トラック・アウト」（追跡）するので、基準ビットマップの更新よりもより迅速に生じる変化を検出できる。例えば、基準ビットマップが５０ミリ秒ごとに更新されると、第１順位で、差のビットマップは、５０ミリ秒内に生じる信号の変化を単に示す。
【００１８】
差のビットマップは、種々の方法で更新できる。いくつかの実施例において、基準ビットマップは、ユーザ・コマンドに応答して更新される。他の実施例において、実時間スペクトラム・アナライザ１００の内部又は外部で発生した信号に応答して、基準ビットマップが更新される。
【００１９】
いくつかの実施例において、プロセッサ１２５は、基準ビットマップを周期的に更新する。この基準ビットマップは、種々の方法で周期的に更新できる。いくつかの実施例において、各ビットマップを生成した後に、基準ビットマップを更新する。これを実行するには、新たなビットマップが生成されると、これら新たなビットマップをファースト・イン・ファースト・アウト（ＦＩＦＯ）メモリ構成に蓄積するが、基準ビットマップは、ＦＩＦＯのユーザ指定スロットに蓄積されたビットマップである。図７は、１３個のビットマップをＦＩＦＯに蓄積する本実施例の例を視覚化したものである。ユーザ指定のスロットは、１０番目のスロットであるので、基準ビットマップ７１０は、１０番目のスロットに蓄積されるビットマップとなる。この方法にて、基準ビットマップ７１０は、常に、新たに生成されたビットマップ７００の１０個のビットマップの前である。よって、基準ビットマップは、新たなビットマップが生成されるのと同じレートで時間と伴に「ロール」する（進む）。
【００２０】
他の実施例において、Ｎ個のビットマップが生成された後毎に、基準ビットマップが更新される。なお、Ｎは、１よりも大きいユーザ指定の整数である。例えば、１０個のビットマップが生成された後毎に、より新しく生成したビットマップにより基準ビットマップを更新する。この場合、基準ビットマップを更新した後、この基準ビットマップを次の１０個のビットマップから減算して、１０個の差ビットマップを発生し、その後、基準ビットマップを再度更新する。基準ビットマップを更新するこの方法は、ＦＩＦＯの観点から視覚化できる。例えば、図８は、２つの異なる時点での同じＦＩＦＯの２つの状態を示す。これら状態の一方では、基準ビットマップ８０５は、新たに生成されたビットマップ８００の５個のビットマップ前であり、他方では、基準ビットマップ８１０は、新たに生成されたビットマップ８００の１０個のビットマップ前である。ＦＩＦＯの他のスロットは空である。基準ビットマップを更新するこの方法は、前の段落で説明した方法に比較して、ビットマップを蓄積するのに要するメモリ容量を大幅に減らせることが理解できよう。
【００２１】
差のビットマップを表示器１３０に表示する場合、密度差を容易に観察できるようにするため、スムージングを適用し、濾波し、ユーザ指定値より上の密度差をエンファシスし、ユーザ指定値よりも下の密度差をディエンファシスするなどして、差のビットマップを処理できる。特に、非常に小さな密度変動に対して入力信号を実時間でモニタする場合、パーシステンスを適用して、ユーザが観察するのに十分に長い期間にわたって、短い遷移の信号を観察可能に表示器１３０に表示維持できるという利点がある。
【００２２】
いくつかの実施例において、差のビットマップを用いて、測定を実行する。通常は従来のビットマップで動作する実時間スペクトラム・アナライザで利用可能な多くの測定を、差のビットマップを用いて実行できることが理解できよう。なお、これら測定結果の意味は、大きく異なる。
【００２３】
いくつかの実施例において、プロセッサ１２５は、複数の連続的なビットマップを収集し、複数の連続的なビットマップを単一の基準ビットマップから減算して複数の差測定のインターバルに相当する複数の差のビットマップを発生し、各差のビットマップの密度差を測定して複数の密度差測定値を発生し、これら密度差測定値を密度差対測定インターバルの表示形式で提供する。この方法にて、プロセッサ１２５は、入力信号に存在する間欠的な干渉信号をユーザが識別することを援助する。
【００２４】
任意の１つのピクセル位置にて、正密度差は、被試験ビットマップが基準ビットマップよりもその位置でより多くのヒットがあることを示す。これは、入力信号が特定の振幅にて長い時間を費やし、それよりも高い又は低い振幅にて短い時間を費やすことを意味する。
【００２５】
１つの周波数列のみを考察すると、負の密度差よりも上に配置された正の密度差は、基準ビットマップ内に存在しない信号を被試験ビットマップが表すことを示す。すなわち、その信号が「現れた」ことを示す。逆に、負密度差よりも下に配置された正の密度差は、被試験ビットマップ内に存在しない信号を基準ビットマップが表すことを示す。すなわち、その信号が「消滅した」ことを示す。これは、任意の種類の通過信号が周波数バンドに導入されたときに、その周波数バンドにて総合パワー・レベルを増加させるためである。逆に、信号を周波数バンドから除去するとき、その周波数バンドにて総合パワー・レベルを減少させる。次の例について考察する。図９に示す列９１０は、基準ビットマップの１つの列を表し、各ピクセル内に示す数字は、そのピクセルにヒットした数を表す。列９１０内のヒットのパターンは、ノイズの通常分布を示す。９個のヒットを含むピクセルが表すノイズ分布の中間は、列９１０の上部から９番目のピクセルに配置されている。次に、被試験ビットマップの１つの列を表す列９０５について考察する。ここで、追加の信号を周波数バンドに導入して、追加信号のパワーにより周波数バンド内の総合パワーを増加させる。または、これは、２ピクセルだけノイズ分布を垂直にシフトする。よって、ノイズ分布の中間は、列９０５の上から７番目のピクセルに配置されている。列９１５は、差のビットマップの１つの列を表し、基準ビットマップの列９１０を被試験ビットマップの列９０５から減算して形成される。列９１５の上から７番目のピクセルにて、密度差は、９−７＝２に等しい。ここから２ピクセルだけ下で、列９１５の上から９番目のピクセルで、密度差は、４−９＝−５に等しい。よって、上述の如く、負の密度差（−５）の上に配置された正の密度差（２）は、追加の信号が「現れた」ことを示す。追加の信号が基準ビットマップに存在するが被試験ビットマップに存在しないとき、パターンが反転し、高い振幅で低い振幅及び負の密度差及にて、正の密度差が生じる。いくつかの実施例において、プロセッサ１２５は、差のビットマップ内で信号が現れる又は消滅する時を示す。他の実施例において、プロセッサ１２５は、差のビットマップのユーザ指定部分内で信号が現れる時又は消滅する時を示す。
【００２６】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ検出器１４０は、次のステップを実行してデジタル・データを処理する。すなわち、（１）デジタル・データを複数のビットマップに変換し、（２）「基準ビットマップ」と呼ぶ複数ビットマップの１つを、「被試験ビットマップ」と呼ぶ複数ビットマップの他の１つから減算して、「差のビットマップ」を発生する。差のビットマップがユーザ指定トリガ条件を満足すると、トリガ検出器１４０は、トリガ信号を発生する。上述の如く、トリガ信号により、メモリ１３５は、デジタル・データのブロックを蓄積し、このデジタル・データのブロックをプロセッサ１２５で分析し、その結果を表示器１３０に表示するか蓄積装置（図示せず）に蓄積する。ユーザ指定トリガ条件は、多くの形式が可能である。例えば、いくつかの実施例において、差のビットマップ内のピーク密度差がユーザ指定密度しきい値を超えると、トリガ検出器１４０がトリガ信号を発生する。他の実施例において、差のビットマップのユーザ指定部分内のピーク密度差がユーザ指定密度しきい値を超えると、トリガ検出器１４０がトリガ信号を発生する。種々の他の実施例において、従来のビットマップに基づいてトリガする種々のトリガ技術の任意の１つにて、その従来のビットマップの位置にて差のビットマップを用い、これらトリガ技術によりユーザ指定トリガ条件を定義する。かかるトリガ技術の例としては、２００９年９月２８日に出願した米国特許出願第１２／５６８１４１号「カラー、密度及び相関に基づいたトリガを用いる周波数領域ビットマップトリガ」（特許公開２０１０−２１７１８０号公報に対応）や、２０１０年５月１３日に出願の米国特許出願第１２／７７９７３２号「コンピュータ・ビジョン技術を用いた信号認識及びトリガ」がある。
【００２７】
種々の実施例において、プロセッサ１２５及びトリガ検出器１４０は、ハードウェア、ソフトウェア又はこれら２つの組合せで実現でき、汎用マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、用途特定集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などで構成又は実行できる。
【００２８】
上述は、基準ビットマップを被試験ビットマップから減算することにより計算する差のビットマップについて説明したが、被試験ビットマップを基準ビットマップから減算しても、実質的に同等な差のビットマップを計算できることが理解できよう。この第２の計算法により、負であるが他は同じ結果が得られる。
【００２９】
上述の実施例は、実時間スペクトラム・アナライザについて説明したが、本発明の原理は、掃引型スペクトラム・アナライザ、ベクトル信号分析器、ロジック・アナライザ、オシロスコープなどのように入力信号の複数の取込みを累積できる任意の試験測定機器に等しく適用できることが明らかである。例えば、本発明のいくつかの実施例において、オシロスコープは、入力信号を表すデジタル・データを複数のアイ・ダイアグラムに変換し、複数のアイ・ダイアグラムの１つをアイ・ダイアグラムの他の１つから減算して、入力信号に存在する非常に小さな間欠信号を表す差のアイ・ダイアグラムを発生する。この場合、ビットマップは、上述の如き周波数領域ビットマップではなく、時間領域でのサンプル電圧値の累積を表す。
【００３０】
本発明が試験測定機器の分野で非常な進歩を表すことが上述から明らかであろう。本発明の特定実施例について図示し説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能であることが理解できよう。
【符号の説明】
【００３１】
１００  実時間スペクトラム・アナライザ
１０５  ミキサ
１１０  局部発振器
１１５  フィルタ
１２０  アナログ・デジタル変換器
１２５  プロセッサ
１３０  表示器
１３５  メモリ
１４０  トリガ検出器
２０５  周波数変換手段
２１０  周波数スペクトラム
２１５  ラスタ化スペクトラム
２２０  ビットマップ・データベース
４００、５００、６００、７００  ビットマップ
６０５  干渉信号
７１０  基準ビットマップ
８００  ビットマップ
８０５、８１０  基準ビットマップ
９０５、９１０、９１５  列
【図１】
0005858354.tif 000002
【図２】
0005858354.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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