(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
溶融金属を内部に含む真空槽に設けられた開口部から溶融金属の測温サンプリング用検出体が挿入される真空精錬炉用の測温サンプリング装置において、
前記開口部を囲んで設けられた密閉容器と、
前記密閉容器の内部に設けられ、前記開口部を開放又は閉鎖可能な遮断蓋と、
前記開口部及び前記遮断蓋の間に設けられたシール材と、
前記真空槽における前記開口部及び前記真空槽の内部の間の経路を開放又は閉鎖可能な仕切弁とを備え、
前記検出体は、前記密閉容器の内部から前記開口部を介して前記真空槽に挿入可能である真空精錬炉用の測温サンプリング装置。
【請求項２】
前記密閉容器内から前記真空槽内にわたって前記検出体を移動させる運搬機構を前記密閉容器の内部に備える請求項１に記載の真空精錬炉用の測温サンプリング装置。
【請求項３】
前記密閉容器は、
前記検出体を前記密閉容器に搬出入するための容器開口部と、
前記容器開口部を開放又は閉鎖可能な開閉扉とを有する請求項１または２に記載の真空精錬炉用の測温サンプリング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、真空精錬炉内の溶融金属の測温及びサンプリングを実施するための真空精錬炉用の測温サンプリング装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属の製造工程では、原料を溶解させて生成した溶融金属から、金属の特性を低下させる炭素や不純物を除去する精錬が行われる。精錬工程は、一次精錬工程と二次精錬工程とから構成されている。一次精錬工程では、転炉内の溶融金属に対して酸素を吹精することによって脱炭処理を行い、溶融金属に含有される不純物を酸化させてスラグに取り込ませ、溶融金属から除去する。二次精錬工程では、一次精錬後の溶融金属に対して真空精錬炉の真空槽の中で減圧しつつ酸素を吹精することによって脱炭処理を行い、溶融金属に残存している不純物を酸化させてさらに除去すると共に、溶融金属の成分調整を行う。
そして、二次精錬工程では、真空槽内の溶融金属の状態つまり温度・成分等を分析するために、溶融金属の測温・サンプリングが行われる。
【０００３】
例えば、特許文献１には、真空槽に設けた開口部を経てサンプリング用のプローブを挿入することで、真空槽内部の溶融金属の測温・サンプリングを行うことができる測温・サンプリング装置が記載されている。この測温・サンプリング装置は、真空槽の開口部を形成する管における上部フランジを取り囲むようにして遮断弁箱を有している。さらに、この測温・サンプリング装置は、遮断弁箱の上部の開口に着脱自在なシールカバーを有しており、シールカバーは、遮断弁箱に取り付けられると遮断弁箱の開口を気密状態で閉鎖する。また、プローブの支持棒がシールカバーを貫通して摺動自在に設けられている。遮断弁箱は、その内部に、真空槽の開口部を閉鎖又は開放することができる遮断弁を有している。遮断弁は、駆動装置によって動作されることで、真空槽の管の上部フランジにパッキンを介して圧接するように構成され、それにより、真空槽内を外気と遮断する。
【０００４】
そして、溶融金属の測温・サンプリングは、プローブの支持棒が設けられたシールカバーを遮断弁箱に取り付けて遮断弁箱の内部を真空状態にし、この真空状態で遮断弁を開放してプローブを真空槽内部の溶融金属に挿入することによって行われる。さらに、測温・サンプリングを実施後のプローブは遮断弁箱から取り出されて分析されるが、プローブの取り出しは、プローブを真空槽から遮断弁箱内に移動させ、遮断弁で真空槽の開口部を閉鎖した後に遮断弁箱内を大気圧に復圧し、この大気圧状態でシールカバーをプローブの支持棒と共に遮断弁箱から取り外すことによって行われる。上述の測温・サンプリングを実施する一連の過程において、真空槽内は真空状態が維持される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭５９−２１９４０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１における測温・サンプリング装置では、特に遮断弁の閉鎖時、遮断弁と真空槽の管の上部フランジとの気密を保つパッキンが、溶融金属から発生する高温のガス及び粉塵の熱、或いは溶融金属から上がる炎の熱にさらされることになり、その劣化が速いという問題がある。
【０００７】
この発明はこのような問題点を解決するためになされたものであり、真空槽内の真空状態を確実に維持しつつ真空精錬炉内の溶融金属の測温・サンプリングの実施を可能にすると共に、その耐久性の向上を図る真空精錬炉用の測温サンプリング装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、この発明に係る真空精錬炉用の測温サンプリング装置は、溶融金属を内部に含む真空槽に設けられた開口部から溶融金属の測温サンプリング用検出体が挿入される真空精錬炉用の測温サンプリング装置において、開口部を囲んで設けられた密閉容器と、密閉容器の内部に設けられ、開口部を開放又は閉鎖可能な遮断蓋と、開口部及び遮断蓋の間に設けられたシール材と、真空槽における開口部及び真空槽の内部の間の経路を開放又は閉鎖可能な仕切弁とを備え、検出体は、密閉容器の内部から開口部を介して真空槽に挿入可能である。
【０００９】
上記真空精錬炉用の測温サンプリング装置は、密閉容器内から真空槽内にわたって検出体を移動させる運搬機構を密閉容器の内部に備えてもよい。
密閉容器は、検出体を密閉容器に搬出入するための容器開口部と、容器開口部を開放又は閉鎖可能な開閉扉とを有してもよい。
【発明の効果】
【００１０】
この発明に係る真空精錬炉用の測温サンプリング装置によれば、開口部と真空槽の内部との間の経路を開放又は閉鎖可能な仕切弁を設けているため、溶融金属から発生する高温のガスや粉塵等から遮断蓋及びシール材を防護し遮断性能を維持することができる。よって、真空槽内の真空状態を確実に維持しつつ真空精錬炉内の溶融金属の測温・サンプリングの実施が可能になると共に、その耐久性を向上させることが可能になる。
また、測温・サンプリング用プローブのセッティング時や測温・サンプリング終了後のプローブ取り出し時に密閉容器内が大気圧となっても、真空槽内の真空状態を確実に維持できるため、必要に応じて二次精錬期間中に複数回の測温・サンプリングが行えるなど、操業の自由度が向上すると共に、測温・サンプリング後に真空槽の再真空処理を行う必要がないため生産性が向上するという効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】この発明の実施の形態に係る真空精錬炉用の測温サンプリング装置及びその周辺の構成を示す模式断面側面図である。
【図２】図１の真空精錬炉用の測温サンプリング装置の要部を拡大した断面側面図である。
【図３】図２の真空精錬炉用の測温サンプリング装置の側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、この発明の実施の形態について添付図面に基づいて説明する。
実施の形態
まず、この発明の実施の形態に係る真空精錬炉用の測温サンプリング装置１０１及びその周辺の構成を説明する。なお、以下の実施の形態では、真空精錬炉用の測温サンプリング装置１０１は、ステンレス鋼の製鋼における二次精錬工程で使用される真空脱ガス装置（ＶＯＤ）５０で用いられるとする。
【００１３】
図１を参照すると、真空精錬炉であるＶＯＤ５０は、内部に取鍋６０を入れることができ且つ内部に気密な密閉空間を形成することができる真空槽５１を有している。取鍋６０には、一次精錬工程において転炉で炭素及び不純物等が除去された後の溶融金属であるステンレス溶鋼７０が入れられている。
また、ＶＯＤ５０は、真空槽５１の外部から内部に延びる酸素ランス５２を有している。酸素ランス５２は、真空槽５１内に設置された取鍋６０の上部の中蓋６１を貫通して延び、取鍋６０内のステンレス溶鋼７０に酸素を吹精するように構成されている。
また、ＶＯＤ５０は、取鍋６０の底部からステンレス溶鋼７０に攪拌用のアルゴンガスを送るためのアルゴンガス配管５３を有している。
【００１４】
真空槽５１は、内部の空気を外部に排出するための排気管５１ａを有しており、排気管５１ａは図示しない真空ポンプ及び蒸気エジェクターに接続されるように構成されている。さらに、真空槽５１は、測温及び試料のサンプリングができる測温サンプリング用検出体であるプローブ１をその内部に挿入するためのサンプリング管５４を、上部から上方に突出させて有している。サンプリング管５４は、上端で開放して開口部５４ａを形成し、真空槽５１の内部に連通する。
【００１５】
また、サンプリング管５４の上部には、真空精錬炉用の測温サンプリング装置（以下、測温サンプリング装置と呼ぶ）１０１が設けられている。ここで、真空槽５１から測温サンプリング装置１０１へ向かう方向を上方向と呼び、測温サンプリング装置１０１から真空槽５１へ向かう方向を下方向と呼ぶ。
測温サンプリング装置１０１は、内部に密閉空間を形成する密閉容器２を有し、密閉容器２は、開口部５４ａがある上端部分を取り囲むようにしてサンプリング管５４に気密に取り付けられている。
【００１６】
測温サンプリング装置１０１は、プローブ１を、密閉容器２の内部からサンプリング管５４を通って取鍋６０内のステンレス溶鋼７０に運搬するための運搬装置３を有している。
図２をあわせて参照すると、運搬装置３は、プローブ１が取り付けられるソケット部５とウェイト６とを有し、ソケット部５及びウェイト６は、それぞれに設けられたスプロケット５ａ及び６ａ並びに密閉容器２に取り付けられたスプロケット３ｂ及び３ｃを介して、１本のチェーン３ｄによって互いに連結されて吊り下げられている。そして、ウェイト６は、ソケット部５の重力による下降を防ぐための反力として作用し、ソケット部５と釣り合いを保っている。
【００１７】
なお、プローブ１は、図示しない測温のための熱電対と、図示しない試料採取のためのサンプリング容器とを有している。熱電対は、温度に対応してソケット部５に電圧を発生し、ソケット部５は発生した電圧を密閉容器２の外部の図示しない測定器に伝達し、測定器は伝達された電圧の値から熱電対での温度を算出する。また、ウェイト６は、上下方向に延びる溝型のガイド部材９の内側に配置され、ガイド部材９に沿って上下に移動するように構成されている。このため、ウェイト６及びウェイト６を吊るチェーン３ｄは、ガイド部材９によってソケット部５及びソケット部５を吊るチェーン３ｄとの干渉が防がれている。
【００１８】
また、運搬装置３は、スプロケット３ｂに図示しない駆動軸で連結された駆動装置３ａをさらに、密閉容器２の外部に有している。駆動装置３ａは、スプロケット３ｂを回転駆動し、それによってチェーン３ｄが進行することで、ソケット部５が上昇又は下降すると共にウェイト６が下降又は上昇する。
ここで、スプロケット３ｂ及び３ｃ、並びにチェーン３ｄは、ソケット部５の運搬機構３ｅを構成している。
【００１９】
また、密閉容器２は、スプロケット３ｂ及び３ｃ並びにチェーン３ｄを収容する空間を形成する上部部分２ａと、上部部分２ａより側方に幅広の空間を形成する下部部分２ｂとによって構成されている。
下部部分２ｂの側部には容器開口部２ｃが形成されており、下部部分２ｂでは、外部から容器開口部２ｃを介して、密閉容器２内部のソケット部５に対してプローブ１を着脱することができる。
【００２０】
また、測温サンプリング装置１０１は、容器開口部２ｃを開放又は閉鎖するための開閉装置４を有している。開閉装置４は、上下に移動することによって容器開口部２ｃを開放又は気密に閉鎖することができる開閉扉４ａと、閉鎖した開閉扉４ａを容器開口部２ｃに圧着させる図示しない空気圧シリンダと、開閉扉４ａを吊り下げているワイヤ４ｂと、ワイヤ４ｂを巻き上げ又は巻き下げることで開閉扉４ａを上下に駆動する駆動装置４ｃとを有している。さらに、容器開口部２ｃには、その周囲を取り囲むようにして輪状の扉シール材２ｄが設けられており、扉シール材２ｄは、閉鎖され、圧着されたときの開閉扉４ａと容器開口部２ｃとの間の気密を保つ。よって、開閉扉４ａが閉鎖されたとき、密閉容器２の内部は気密状態となる。
【００２１】
また、密閉容器２の下部部分２ｂから排気管７及び吸気管８が延び、排気管７は端部が真空槽５１に接続され、吸気管８は端部が開放されて密閉容器２の内部を大気に連通する。さらに、排気管７の途中には、排気管７を開放又は閉鎖する排気弁７ａが設けられ、吸気管８の途中には、吸気管８を開放又は閉鎖する吸気弁８ａが設けられている。
また、測温サンプリング装置１０１は、サンプリング管５４の開口部５４ａを開放又は閉鎖するように動作することができる遮断蓋１０を密閉容器２の内部に有している。
【００２２】
図２及び図３をあわせて参照すると、遮断蓋１０は、密閉容器２の内部から外部に延びる駆動軸１０ｃと、一方の端部が駆動軸１０ｃに一体に連結されて駆動軸１０ｃを中心として駆動軸１０ｃの回転と共に回動するアーム部１０ｂと、アーム部１０ｂの他方の端部に回動自在に連結された蓋部１０ａとを有している。つまり、遮断蓋１０は、駆動軸１０ｃを軸とするヒンジとして回動することで開口部５４ａの開閉動作をする蓋を形成している。
さらに、サンプリング管５４の上端には、開口部５４ａの周囲を取り囲むようにして環状のシール材５４ｂが設けられている。このため、蓋部１０ａがアーム部１０ｂと共に回動して開口部５４ａを閉鎖したとき、シール材５４ｂは、蓋部１０ａとサンプリング管５４との間の気密を保つ。
【００２３】
また、遮断蓋１０の駆動軸１０ｃは、密閉容器２の外部に設けられた駆動アーム部１０ｄの一方の端部に一体に連結されている。このため、駆動アーム部１０ｄは、駆動軸１０ｃを中心として駆動軸１０ｃの回転と共に回動する、つまり、駆動アーム部１０ｄを回動させると、駆動軸１０ｃ及びアーム部１０ｂを介して、蓋部１０ａで開口部５４ａを開閉することができる。
【００２４】
駆動アーム部１０ｄの他方の端部は、空気圧シリンダ１０ｅの伸縮部１０ｅ２の先端部に回動自在に連結されている。空気圧シリンダ１０ｅの本体部１０ｅ１は、密閉容器２の外部に設けられた取付具１０ｆに取り付けられ、取付具１０ｆの取付軸１０ｆａで回動することができる。そして、空気圧シリンダ１０ｅは、空気圧を利用して本体部１０ｅ１から伸縮部１０ｅ２を伸縮させることができる。このため、空気圧シリンダ１０ｅが伸縮部１０ｅ２を伸長させたとき、駆動アーム部１０ｄは駆動軸１０ｃを中心として下方に向かって図３の紙面上で反時計回りに回動され、それによって、蓋部１０ａが駆動軸１０ｃを中心として下方に向かって図３の紙面上で反時計回りに回動され開口部５４ａを閉鎖する。一方、蓋部１０ａが開口部５４ａを閉鎖した状態から空気圧シリンダ１０ｅが伸縮部１０ｅ２を収縮させると、空気圧シリンダ１０ｅの本体部１０ｅ１が取付軸１０ｆａを中心として回動しつつ、駆動アーム部１０ｄ及び蓋部１０ａが、駆動軸１０ｃを中心として上方に向かって図３の紙面上で時計回りに回動され、開口部５４ａが開放される。
【００２５】
また、図１を参照すると、測温サンプリング装置１０１は、サンプリング管５４における開口部５４ａと真空槽５１との間の内部管路５４ｃに、ゲートバルブ型の仕切弁２０を有している。
図２をあわせて参照すると、仕切弁２０は、本体２１と、本体２１の内部でサンプリング管５４を垂直に横切る方向に摺動自在な弁体２２とを有している。弁体２２は、板状の弁板部２２ａと、弁板部２２ａの端部に一体に連結されたピストン部２２ｂとによって構成されている。そして、弁板部２２ａにおけるピストン部２２ｂと反対側の端部付近には、サンプリング管５４の内部管路５４ｃの断面形状に整合する形状をした弁板貫通穴２２ｃが形成されている。
【００２６】
本体２１は、弁体２２の弁板部２２ａをサンプリング管５４を垂直に横切る方向に摺動自在に収容する弁板収容部２１ａと、ピストン部２２ｂをサンプリング管５４を垂直に横切る方向に摺動自在に収容するシリンダ部２１ｂとによって構成されている。そして、弁板収容部２１ａ及びシリンダ部２１ｂは互いに内部で連通している。弁板収容部２１ａは、サンプリング管５４を垂直に横切るようにして延び、内部でサンプリング管５４の内部管路５４ｃと連通している。また、本体２１は、シリンダ部２１ｂにおける弁板収容部２１ａとの連結部と反対側に空気流路２１ｃを有しており、空気流路２１ｃは図示しないエアコンプレッサ等の空気圧源に接続されている。
【００２７】
また、仕切弁２０は、本体２１の弁板収容部２１ａの内部において弁体２２の弁板部２２ａの上下方向の両側に、サンプリング管５４の内部管路５４ｃの周囲を取り囲むシールリング２３を有している。そして、シールリング２３は、弁板部２２ａと弁板収容部２１ａとの間の気密を保つ。
【００２８】
よって、弁体２２は、空気流路２１ｃからシリンダ部２１ｂ内に導入される空気圧によってピストン部２２ｂが摺動されることで、本体２１の内部で摺動する。そして、シリンダ部２１ｂ内に導入される空気圧が高い場合には、弁体２２は、シリンダ部２１ｂから弁板収容部２１ａに向かう方向に動作し、弁板部２２ａがサンプリング管５４の内部管路５４ｃを閉鎖する。一方、シリンダ部２１ｂ内に導入される空気圧が低い負圧の場合には、弁体２２は、弁板収容部２１ａからシリンダ部２１ｂに向かう方向に動作し、弁板部２２ａの弁板貫通穴２２ｃがサンプリング管５４の内部管路５４ｃを連通させる。さらに、本体２１と弁板部２２ａとの間のシールリング２３は、弁板部２２ａによるサンプリング管５４の内部管路５４ｃの閉鎖時における気密性を保つ。そして、サンプリング管５４の内部管路５４ｃの閉鎖時、弁板部２２ａは、遮断蓋１０のシール材５４ｂに対して、真空槽５１（図１参照）内のステンレス溶鋼７０（図１参照）から発生する高温のガス及び粉塵、並びに、ステンレス溶鋼７０から発生する炎を遮断する。なお、仕切弁２０は、遮断蓋１０のシール材５４ｂに対するステンレス溶鋼７０からの直接的な熱の防護のみを目的とする場合、シールリング２３はなくてもよい。
【００２９】
次に、この発明の実施の形態に係る測温サンプリング装置１０１及びその周辺の動作を説明する。
図１を参照すると、ＶＯＤ５０におけるステンレス溶鋼７０の二次精錬工程中では、排気管５１ａから内部空気が吸引されて真空槽５１内は減圧され、真空状態にされている。そして、取鍋６０内のステンレス溶鋼７０は、取鍋６０の底部のアルゴンガス配管５３から送られるアルゴンガスの流れにより流動することで攪拌されつつ、上方の酸素ランス５２から酸素が吹精される。ステンレス溶鋼７０は、低圧状況下で酸素を供給されることによって、一次精錬後も残存し含有していた炭素の除去つまり脱炭が促進される。
【００３０】
また、図２をあわせて参照すると、測温サンプリング装置１０１では、二次精錬工程における通常時、仕切弁２０の弁体２２がサンプリング管５４の内部管路５４ｃを閉鎖し、さらに、遮断蓋１０の蓋部１０ａがサンプリング管５４の開口部５４ａを閉鎖している。
そして、二次精錬工程の途中ではステンレス溶鋼７０の分析のために、測温・サンプリング、つまり測温及びサンプリング用の試料の採取がプローブ１を使用して実施される。
【００３１】
この際、測温サンプリング装置１０１では、駆動装置４ｃによって密閉容器２の開閉扉４ａが開放され、プローブ１が、図示しない搬送装置によって容器開口部２ｃから密閉容器２の内部に搬入され、運搬装置３のソケット部５に装着される。そして、搬送装置の搬出後、開閉扉４ａで容器開口部２ｃを閉鎖して密閉容器２の内部を気密状態とし、排気弁７ａが開放され、密閉容器２内の空気が真空槽５１と連通した排気管７から吸引される。密閉容器２内の圧力が真空槽５１内の圧力と同等になると、排気弁７ａが閉鎖され、その後、空気圧シリンダ１０ｅ（図３参照）が作動されて遮断蓋１０の蓋部１０ａがサンプリング管５４の開口部５４ａを開放する。さらに、仕切弁２０が作動され、弁体２２の弁板貫通穴２２ｃがサンプリング管５４の内部管路５４ｃを開放する。次に、運搬装置３の駆動装置３ａが駆動され、プローブ１と共にソケット部５が、サンプリング管５４及び中蓋６１を通り、プローブ１がステンレス溶鋼７０に浸漬するまで降下される。
【００３２】
ステンレス溶鋼７０へ浸漬されたプローブ１は、ステンレス溶鋼７０を測温すると共にステンレス溶鋼７０の試料を採取する。そして、駆動装置３ａによってソケット部５がプローブ１と共に密閉容器２の下部部分２ｂまで再び引き上げられる。その後、仕切弁２０が作動されて弁体２２がサンプリング管５４の内部管路５４ｃを閉鎖し、さらに、遮断蓋１０の蓋部１０ａが駆動されてサンプリング管５４の開口部５４ａを閉鎖する。これにより、真空槽５１の内部が、減圧状態（真空状態）を維持したまま密閉容器２の内部と遮断される。そして、吸気弁８ａが開放され、それにより、吸気管８から密閉容器２の内部に外気が流入して密閉容器２内部の圧力が上昇し大気圧となる。このとき、サンプリング管５４の内外の圧力差によって遮断蓋１０の蓋部１０ａがサンプリング管５４の開口部５４ａのシール材５４ｂに押し付けられ、真空槽５１の気密性が向上する。さらに、駆動装置４ｃによって密閉容器２の開閉扉４ａが開放され、図示しない搬送装置によってソケット部５からプローブ１が取り外されて密閉容器２の外部に搬出される。そして、搬出されたプローブ１からステンレス溶鋼７０の試料が取り出され、成分等が分析される。
【００３３】
上述のステンレス溶鋼７０に対して測温及びサンプリング用の試料の採取する過程では、真空槽５１内は、常に気密性が保たれ減圧状態（真空状態）が維持される。また、遮断蓋１０のシール材５４ｂは、測温・サンプリングの実施時のみステンレス溶鋼７０のガス・粉塵・炎等の熱にさらされるが、それ以外は仕切弁２０によってこれらの熱から防護される。
【００３４】
このように、この発明に係る真空精錬炉用の測温サンプリング装置１０１は、ステンレス溶鋼７０を内部に含む真空槽５１に設けられた開口部５４ａからステンレス溶鋼７０の測温サンプリング用のプローブ１が挿入される構成を有する。測温サンプリング装置１０１は、開口部５４ａを囲んで設けられた密閉容器２と、密閉容器２の内部に設けられ、開口部５４ａを開放又は閉鎖可能な遮断蓋１０と、開口部５４ａ及び遮断蓋１０の間に設けられたシール材５４ｂと、真空槽５１における開口部５４ａ及び真空槽５１の内部の間のサンプリング管５４の内部管路５４ｃを開放又は閉鎖可能な仕切弁２０とを備え、プローブ１は、密閉容器２の内部から開口部５４ａを介して真空槽５１に挿入可能である。
【００３５】
プローブ１を密閉容器２に出し入れする際に密閉容器２内の圧力が変化するが、遮断蓋１０で開口部５４ａを閉鎖しておくことによって、真空槽５１内の圧力は密閉容器２内の圧力変化の影響を受けずに維持されるため、真空槽５１内でのステンレス溶鋼７０の精錬処理は、圧力変化による影響を受けることなく継続することができる。また、密閉容器２内に入れた後のプローブ１による測温・サンプリングの実施の際には、密閉容器２内の圧力を真空槽５１内と同等に調節した後に遮断蓋１０を開放することによって、真空槽５１内の真空状態を維持できる。また、遮断蓋１０を閉鎖している間、及び測温・サンプリングを実施しない間は、仕切弁２０でサンプリング管５４の内部管路５４ｃを閉鎖しておくことで、シール材５４ｂがステンレス溶鋼７０の熱にさらされるのを防ぎ、耐久性を向上させることができる。
【００３６】
また、測温サンプリング装置１０１において、遮断蓋１０を、駆動軸１０ｃを軸とするヒンジ形式で回動して開閉動作する蓋とし、シール材５４ｂをサンプリング管５４の開口部５４ａの周囲に設けることによって、シール材５４ｂの交換作業が容易になり、メンテナンス性を向上させることが可能になる。
また、測温サンプリング装置１０１は、密閉容器２内から真空槽５１内にわたってプローブ１を移動させる運搬機構３ｅを密閉容器２の内部に備えている。これにより、密閉容器２の内部から外部にわたって延在する可動部分を低減することができるため、密閉容器２における可動部分を封止するためのシール構造が小型化及び低減され、それにより、圧力を受けるシール構造の耐久性及びメンテナンス性を向上させることが可能になる。例えば、本実施の形態の場合、駆動装置３ａの駆動軸のみが密閉容器２の内外にわたって延在しており、シール構造は駆動軸の周囲にのみ設ければよい。
【００３７】
また、測温サンプリング装置１０１において、密閉容器２は、プローブ１を密閉容器２に搬出入するための容器開口部２ｃと、容器開口部２ｃを開放又は閉鎖可能な開閉扉４ａとを有している。これにより、密閉容器２を真空槽５１のサンプリング管５４に固定した状態で、プローブ１の密閉容器２への搬出入つまり交換を実施することができるため、設備が簡易且つ小型になり、それにより耐久性も向上する。
【００３８】
また、実施の形態における測温サンプリング装置１０１では、仕切弁２０はゲートバルブ型であったが、これに限定されるものでなく、ボール弁型、バタフライ弁型、又はスイング弁型であってもよい。
【符号の説明】
【００３９】
１  プローブ（測温サンプリング用検出体）、２  密閉容器、２ｃ  容器開口部、３ｅ  運搬機構、４ａ  開閉扉、１０  遮断蓋、２０  仕切弁、５０  真空脱ガス装置（真空精錬炉）、５１  真空槽、５４ａ  開口部、５４ｂ  シール材、７０  ステンレス溶鋼（溶融金属）、１０１  測温サンプリング装置。
【図１】
0005875410.tif 000002
【図２】
0005875410.tif 000003
【図３】
0005875410.tif 000004