(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、
試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、
該投入部と該サンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、
前記メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、
該投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する第１異物判定手段と、
前記サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、
前記異物除去機構により異物除去をした後であって、前記サブラインから前記メインラインにサンプル容器を移動する前に、再度サンプル容器内の異物有無を判定する第２異物判定手段と、
前記メインライン、前記サブライン、前記異物除去機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記第１異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記メインラインから前記サブラインに移動し、前記異物除去機構により異物除去をした後、前記サブラインから前記メインラインに移載し、該サンプル吸引位置に搬送する制御を行い、
前記制御部は、前記第２異物判定手段によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプル容器を、前記メインラインに移動する制御を行うことを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、
さらに、前記異物除去機構を前記サブラインとで挟むように配置され、該サンプル容器を搬送する第２サブラインを備え、
前記制御部は、前記第２異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記サブラインから前記第２サブラインに移動し、
前記異物除去機構は、前記第２サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物除去を行うことを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項２記載の自動分析装置において、
さらに、前記異物除去機構により、前記第２サブラインで搬送されたサンプル容器内の異物除去を行った後に、再度サンプル容器内の異物有無を判定する第３異物判定手段を備え、
前記制御部は、
前記第３異物判定手段によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプル容器を、該サンプル吸引位置に搬送し、異物ありと判定したサンプル容器を前記サブラインに移動し、再度前記異物除去機構により異物除去を行うか、もしくは、サンプル収納部に搬送する制御を行うことを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、
試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、
該投入部と該サンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、
前記メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、
該投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段と、
前記サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、
前記メインライン、前記サブライン、前記異物除去機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記メインラインから前記サブラインに移動し、前記異物除去機構により異物除去をした後、前記サブラインから前記メインラインに移載し、該サンプル吸引位置に搬送する制御を行い、
サンプル容器は、該投入部に複数個投入され、
前記制御部は、第１サンプル容器が前記サブラインで搬送されている間に、第２サンプル容器を前記メインラインで該サンプル吸引位置まで搬送する制御を行い、
サンプル容器はサンプルラックに搭載された前記メインライン上を搬送され、前記第１サンプル容器と前記第２サンプル容器は、同一サンプルラックに搭載され、
前記制御部は、サンプル容器単位で前記第１サンプル容器を前記サブラインに移動し、前記第２サンプル容器を該サンプル吸引位置まで搬送し、前記第１サンプル容器を同一サンプルラックに移動することを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、
試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、
該投入部と該サンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、
前記メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、
該投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段と、
前記サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、
前記メインライン、前記サブライン、前記異物除去機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記メインラインから前記サブラインに移動し、前記異物除去機構により異物除去をした後、前記サブラインから前記メインラインに移載し、該サンプル吸引位置に搬送する制御を行い、
サンプル容器は、該投入部に複数個投入され、
前記制御部は、第１サンプル容器が前記サブラインで搬送されている間に、第２サンプル容器を前記メインラインで該サンプル吸引位置まで搬送する制御を行い、
サンプル容器はサンプルラックから、前記異物判定手段で異物有無の判定を行う前に取り出され、サンプル容器単位で、前記メインラインおよび前記サブラインを移動することを特徴とする自動分析装置。
【請求項６】
試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、
試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、
該投入部と該サンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、
前記メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、
該投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段と、
前記サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、
前記メインライン、前記サブライン、前記異物除去機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記メインラインから前記サブラインに移動し、前記異物除去機構により異物除去をした後、前記サブラインから前記メインラインに移載し、該サンプル吸引位置に搬送する制御を行い、
前記異物除去機構は、異物を吸引して除去する第１異物除去機構と、異物を分離して除去する第２異物除去機構を備え、
前記制御部は、前記異物判定手段により判定された異物の大きさにより、前記第１異物除去機構と前記第２異物除去機構のいずれかを用いるかを判定し、判定された異物除去機構により異物の除去を行うことを特徴とする自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は血液、尿などの生体サンプルの定性・定量分析を行う自動分析装置に係り、特にサンプル容器内の異物除去の自動化に関わる。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、臨床検査の分野において広く知られている。多くの分析は前処理作業として、患者より採血した血液を遠心分離機にかけ、血清と血餅を分けた後に、血清のみをサンプリングして分析を行う。このサンプリングの際に、分注機構に備えた流路内でフィブリンなどの異物が残存し、詰まりの原因となる場合がある。
【０００３】
このような分注時の詰まりが分析結果に影響を与えないように、血清吸引時の圧力波形の変動による詰まり検知機能を備えた自動分析装置が特許文献１〜３に記載されている。また特許文献４は光学系を利用して異物を検出し、分離部材を用いて除去する機能を備えた自動分析装置を提案し、特許文献５はＣＣＤカメラによって異物を検出し、捕獲部材を用いて除去する機能を備えた自動分析装置を提案している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−３３３４４９号公報
【特許文献２】特開２００４−１２５７８０号公報
【特許文献３】特開２０１１−１５３９４４号公報
【特許文献４】特開２０１１−１１２５４０号公報
【特許文献５】特開２００１−２４２１６４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
自動分析装置のサンプル容器において、フィブリンなどの異物混入を防ぐ手段として遠心分離を行った後にオペレータがサンプルを目視で確認して異物が存在する場合は手動で取り除く作業を行っている。この際に、目視での確認が不十分または異物が小さく判別ができない場合や、遠心分離後の経過時間が十分でないと異物が残存する可能性が高くなる。
【０００６】
一方、異物の混入有無による分析結果への影響を識別する手段として、分注動作時にサンプリング機構流路内の圧力変動をモニタリングし、詰まり発生の閾値を設けることで異物ありのアラームを出すことができるようになる。アラーム発生時には分析データにフラグを付けるとともに詰まり除去動作を行い、次の分注動作へ備えることもできる。
【０００７】
また別の手法としては、光学系やＣＣＤカメラなどを利用して分注前に異物を検出し、異物除去動作を行うこともできる。これらの詰まり除去動作においては処理能力の低下や、装置をストップしてオペレータが手動で詰まりを除去する作業が必要となる。一度装置をストップすると、再度サンプルの準備と設置や分析項目の依頼、分析動作開始をやり直すことが必要となる。新たに詰まりが発生すれば、その度に上記の作業を繰り返すことが必要となる。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明は以下を構成する。
【０００９】
試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、投入部とサンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段と、サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、メインライン、サブライン、異物除去機構を制御する制御部と、を備え、制御部は、異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、メインラインからサブラインに移動し、異物除去機構により異物除去をした後、サブラインからメインラインに移動し、サンプル吸引位置に搬送する制御を行うことを特徴とする自動分析装置である。
【発明の効果】
【００１０】
本発明により、自動分析装置動作開始後に分析動作をストップすることなく、高精度にサンプル内異物有無のチェックと異物有無によるサンプルの分類が可能となる。また、異物ありの場合に、異物除去可能ならば確実に除去された状態で分注動作に備えることができるようになる。また、異物除去を行っている間であっても、分析動作をストップすることなく、別サンプルを優先して分注動作を行わせることができる。また、異物除去不可能ならば分注動作を行わずに収納されることがオペレータの介入なく装置のみでできるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態１の装置およびサンプルラックの搬送の流れを示す概略図である。
【図２】本発明の実施形態２の装置およびサンプルラックの搬送の流れを示す概略図である。
【図３】本発明の実施形態３の装置およびサンプル容器の搬送の流れを示す概略図である。
【図４】本発明による異物除去機構と洗浄槽及び搬送ラインの概略図である。
【図５】本発明による異物除去機構の吸引動作部の概略図である。
【図６】本発明による異物除去機構の分離動作部の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に本発明の実施形態について図面を用いて示す。
【００１３】
（実施形態１）
実施形態１では、サンプル容器をサンプルラックに搭載して搬送する場合の装置構成について説明する。
【００１４】
図１は本発明によるラックメインライン３、ラックサブライン４、ラック戻しライン（第２サブライン）５において、第１異物判定手段（第１判定カメラ）１６、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７、第３異物判定手段（第３判定カメラ）１８によってサンプル容器内の異物有無判定を行い、異物ありの場合は異物除去機構１９によって取り除く機構の一例である。サンプルラック１、サンプルラック投入部２、サンプルラック収納部６、第１異物判定位置７、メインライン分類位置８、サブライン分類位置９、第１異物除去位置１０、第２異物判定位置１１、サンプル吸引位置１２、戻しライン投入位置１３、第２異物除去位置１４、第３異物判定位置１５、サンプル分注機構２０、第１試薬分注機構２１、第２試薬分注機構２２、サンプル反応ディスク２３、第１試薬ディスク２４、第２試薬ディスク２５、分光光度計２６、異物解析ユニット２７で構成される。さらに、ラックメインライン３、ラックサブライン４、ラック戻しライン５、異物除去機構１９を制御する制御部１００を備えている。なお、サンプルラック投入部２は、サンプル容器がサンプルラックに搭載されているため、サンプル容器の投入部でもある。
【００１５】
最初にオペレータは、遠心分離などの前処理を施したサンプルを乗せたサンプルラック１をサンプルラック投入部２へ設置する。ラックメインライン３上の第１異物判定位置７へ搬送されたサンプルラック１は第１異物判定手段（第１判定カメラ）１６によってサンプル容器の側面から撮影され、容器内の異物有無を判定する。判定は異物解析ユニット２７を用いて、あらかじめ登録された異物対象サンプルと照合して異物の有無と大きさ、位置を特定することができる。異物の有無判定には、光源からの光をサンプル容器側面に当てて透過した光と影を解析して特定する手段も有効であり、音波を使った方法も同様に有効である。つまり、異物判定手段は、カメラに限られたものではない。
【００１６】
サンプルラック１に搭載されたサンプル容器のすべてに対して、異物なしと判定されたサンプルラック１はラックメインライン３上を直進し、サンプル吸引位置１２で停止する。サンプル分注機構２０がサンプルを吸引し、サンプル反応ディスク２３へ搭載された反応容器へ吐出する。さらに第１試薬分注機構２１が第１試薬ディスク２４に設置された試薬を吸引し、第２試薬分注機構２２が第２試薬ディスク２５に設置された試薬を吸引し、反応容器へ吐出してサンプルと混合し反応させた後に分光光度計２６によって測光と波長解析をして分析結果を出力する。
【００１７】
異物解析ユニット２７によってサンプルラック１に搭載されたサンプル容器のうちいずれかのサンプル容器に異物ありと判定されたサンプルラック１はラックサブライン４上のサブライン分類位置９を経由して第１異物除去位置１０へ搬送される。第１異物除去位置１０において、異物除去機構１９による異物除去動作の後にサンプルラック１は、第２異物判定位置１１で停止する。異物対象サンプルは第２異物判定位置１１で第２異物判定手段（例えば第２判定カメラ）１７によって撮影され、サンプル容器内の異物有無を再判定する。
【００１８】
異物なしと判定されたサンプルラック１は、ラックメインライン３上のサンプル吸引位置１２で停止し、サンプル分注機構２０によるサンプル吸引動作へと入る。再度異物ありと判定されたサンプルラック１は、ラック戻しライン５上の戻しライン投入位置１３を経由して、第２異物除去位置１４へ搬送される。第２異物除去位置１４において、異物除去機構１９による異物除去動作の後に第３異物判定位置１５で停止する。異物対象サンプルは第３異物判定位置１５で第３異物判定手段（例えば第３判定カメラ）１８によって撮影され、サンプル容器内の異物有無を最終判定する。
【００１９】
異物なしと判定されたサンプルラック１は、ラックサブライン４上のサブライン分類位置９を経由してラックメインライン３上のメインライン分類位置８へ搬送される。その後、ラックメインライン３上を直進してサンプル吸引位置１２で停止し、サンプル分注機構２０によるサンプル吸引動作へと入る。異物ありと判定されたサンプルラック１は、再度ラックサブライン４上の異物除去動作へ入るか、異物除去不可と判定してサブライン分類位置９を経由しラックメインライン３上へ搬送され、サンプル吸引位置１２を通過してサンプルラック収納部（サンプル収納部）６へ移動することもできる。ラックサブライン４上とラック戻しライン５上の異物除去トライ回数は、分析開始前にオペレータが設定できる。
【００２０】
本発明による図１形態の利点を述べる。サンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段（例えばカメラ）で除去動作前後に撮影するため、オペレータが目視で確認できなかった異物もしくは確認後に発生した異物を確実にチェックして分類に備えることができる。またラックメインライン３とは別のラックサブライン４、ラック戻しライン５にて異物の判定と除去を行うため、異物なしサンプルの分析処理能力を落とさずに分注動作を行うことができる。
【００２１】
実施形態１では、最良の形態を図１として示し説明したが、ラック戻しライン（第２サブライン）５、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７、第３異物判定手段（第３判定カメラ）１８は、必須の構成ではない。つまり、これらの構成がない装置においても、自動分析装置動作開始後に装置をストップすることなく、高精度にサンプル内異物有無のチェックと異物有無によるサンプルの分類が可能となる。また、異物ありと判定された場合でも異物を除去した状態で分析を行うことができる。さらに、ラックサブライン４があることにより、制御部１００は、ラックサブライン４で搬送されている間に、別のサンプル容器をラックメインライン３でサンプル吸引位置まで搬送する制御を行うこともできる。つまり、後続のサンプルラックに搭載されたサンプル容器を優先して分析対象とすることができる。これにより、分析の処理能力が低下することを抑制することができる。
【００２２】
また、第２異物判定手段がある場合には、異物除去機構１９により異物除去をした後、ラックサブライン４からラックメインライン３にサンプルラック１を移動する前に、サンプル容器内の異物有無を判定することができる。この場合には、異物が除去できたかが確認でき、さらに確実に異物のないサンプル容器を分析対象とすることができる。制御部１００は、第２異物判定手段によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプルラック１をラックメインライン３に移動する制御を行う。
【００２３】
また、ラック戻しライン５がある場合には、異物除去機構１９により異物除去した後に、再度異物除去機構１９が動作できる異物除去位置１０に搬送できるため、ラックサブライン４を逆向きに搬送するよりも、異物除去機構１９のスループットを向上させることができる。逆向きに搬送する場合には、後続のサンプルラックを異物除去位置１０の手前で待機させる必要があり、後続のサンプルラックに搭載されたサンプル容器に対し、異物除去動作ができなくなるためである。一方、ラック戻しライン５がある場合には、後続のサンプルラックと干渉することがないので、異物除去動作を相対的に早く開始することができる。さらに、ラック戻しライン５は、異物除去機構１９をラックサブライン４とで挟むように配置されているため、同じ異物除去機構１９によりラック戻しライン５で搬送されるサンプル容器内の異物除去を行うことができる。これにより、異物除去機構１９を別途設ける必要がなくなり、部品点数を削減することができる。
【００２４】
また、第３異物判定手段がある場合には、ラック戻しライン５で搬送されたサンプル容器内の異物除去を行った後に、再度サンプル容器内の異物有無を判定することができる。この場合には、ラック戻しライン５上で異物が除去できたかが確認でき、さらに確実に異物のないサンプル容器を分析対象とすることができる。制御部１００は、第３異物判定手段によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプル容器を、サンプル吸引位置１２に搬送し、異物ありと判定したサンプル容器をラックサブライン４に移動し、再度異物除去機構１９により異物除去を行うか、もしくは、サンプルラック収納部６に搬送する制御を行う。
【００２５】
（実施形態２）
実施形態１では、サンプル容器をサンプルラック１に搭載して搬送する場合の装置構成について説明した。実施形態２では、ラックサブライン４に相当するサンプル抜き取りライン（サブライン）２８を設け、サンプル容器単位で、ラックメインライン３からサンプル抜き取りライン２８に移動する装置について説明する。
【００２６】
図２は本発明によるラックメインライン３、サンプル抜き取りライン２８において、第１異物判定手段（第１判定カメラ）１６、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７によってサンプル容器内の異物有無判定を行い、異物ありの場合は異物除去機構１９によって取り除く機構の一例である。サンプルラック１、サンプルラック投入部２、サンプルラック収納部６、第１異物判定位置７、メインライン分類位置８、サブライン分類位置９、第１異物除去位置１０、第２異物判定位置１１、サンプル吸引位置１２、サンプル分注機構２０、第１試薬分注機構２１、第２試薬分注機構２２、サンプル反応ディスク２３、第１試薬ディスク２４、第２試薬ディスク２５、分光光度計２６、異物解析ユニット２７、サンプル容器抜き取り機構２９、サンプル容器戻し機構３０で構成される。さらに、ラックメインライン３、サンプル抜き取りライン２８、異物除去機構１９、サンプル容器抜き取り機構２９、サンプル容器戻し機構３０を制御する制御部１００を備えている。なお、サンプルラック投入部２は、サンプル容器がサンプルラックに搭載されているため、サンプル容器の投入部でもある。
【００２７】
オペレータによってサンプルラック投入部２へ設置されたサンプルラック１はラックメインライン３上の第１異物判定位置７で停止する。サンプルラック１は第１異物判定手段（例えば第１判定カメラ）１６によってサンプル容器を側面から撮影され、容器内の異物有無を判定する。サンプルラック１に搭載されたサンプル容器のすべてに対して、異物なしと判定されたサンプルラック１はラックメインライン３上を直進し、サンプル吸引位置１２で停止して上記で述べたサンプル吸引動作へと移る。
【００２８】
異物解析ユニット２７によってサンプルラック１に搭載されたサンプル容器のうちいずれかのサンプル容器に異物ありと判定されたサンプルラック１はラックメインライン３上のメインライン分類位置８で停止し、サンプル容器抜き取り機構２９によって異物ありのサンプル容器のみがサンプル抜き取りライン２８上のサブライン分類位置９へ搬送される。搬送された異物対象サンプル容器は、サンプル抜き取りライン２８上の第１異物除去位置１０で異物除去機構１９による異物除去動作の後に第２異物判定位置１１で停止する。異物対象サンプル容器は第２異物判定手段（例えば第２判定カメラ）１７によって撮影され、容器内の異物有無を再判定する。
【００２９】
異物なしと判定されたサンプル容器は、サンプル容器戻し機構３０によってサンプル吸引位置１２でサンプルラック１に戻されサンプル吸引動作へと入る。異物ありと判定されたサンプル容器は、サンプル抜き取りライン２８上で第１異物除去位置１０へ戻り、再び異物除去機構１９による異物除去動作へ移る。サンプル抜き取りライン２８上の異物除去トライ回数は、分析開始前にオペレータが設定できる。異物が除去されればサンプル吸引位置１２のサンプルラック１へ搬送されサンプル吸引動作へ入るが、異物除去不可と判定された場合はサンプル吸引位置１２でのサンプル吸引動作を行わずにサンプルラック収納部６へ搬送される。
【００３０】
本発明による図２形態の利点を述べる。図１と同様にサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段（例えばカメラ）で除去動作前後に撮影するため、オペレータが目視で確認できなかった異物もしくは確認後に発生した異物を確実にチェックして分類に備えることができる。サンプル抜き取りライン２８では異物対象サンプル容器のみを抜き取って異物除去と判定を行うため、ハンドリング性が向上する。またラックメインライン３とは別のサンプル抜き取りライン２８にて異物の判定と除去を行うため、異物なしサンプルの分析処理能力を落とさずに分注動作を行うことができる。
【００３１】
実施形態２では、最良の形態を図２として示し説明したが、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７は、必須の構成ではない。つまり、この構成がない装置においても、自動分析装置動作開始後に装置をストップすることなく、高精度にサンプル内異物有無のチェックと異物有無によるサンプルの分類が可能となる。また、異物ありと判定された場合でも異物を除去した状態で分析を行うことができる。さらに、サンプル抜き取りライン（サブライン）２８があることにより、制御部１００は、サンプル抜き取りライン２８で搬送されている間に、別のサンプル容器をラックメインライン３でサンプル吸引位置１２まで搬送する制御を行うこともできる。つまり、抜き取られたサンプルが搭載されていたラック内の別のサンプル容器を、ラックメインライン３でサンプル吸引位置１２まで搬送する制御を行うこともできる。つまり、同じラック内のサンプル容器であって、サンプル抜き取りライン２８に抜き取られていなければ、先にサンプル吸引位置１２に到達していたサンプル容器を追い越して、後にサンプル吸引位置１２に到達する予定であったサンプル容器を分析対象とすることができる。これにより、分析の処理能力が低下することを抑制することができる。なお、そもそも先にサンプル吸引位置１２に到達する予定であり、異物なしと判定されたサンプル容器に対しても、実施形態１のように、ラックサブライン４に移動することがないので、異物なしと判定されたサンプル容器に対して、より早くサンプル吸引位置１２に到達することができる。サンプル引き取りライン２８に移載されたサンプル容器の回収については、引き抜かれたラックの空きポジションと同じ位置に戻されることが望ましい。
【００３２】
また、第２異物判定手段１７がある場合には、異物除去機構１９により異物除去した後であって、サンプル抜き取りライン２８からラックメインライン３にサンプル容器を移動する前に、サンプル容器内の異物有無を判定することができる。この場合には、異物が除去できたかが確認でき、さらに確実に異物のないサンプル容器を分析対象とすることができる。制御部１００は、第２異物判定手段１７によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプル容器をラックメインライン３のサンプルラックに移動する制御を行う。異物ありと判定したサンプル容器をサンプル抜き取りライン２８を使って戻すのは、実施形態１の場合と異なり、サンプル容器を抜き取ったラックと同じラックに戻すため、経路を迂回させずに極力早く処理するためである。なお、場合によっては、図１のように、ラック戻しライン（第２サブライン）５を設けたり、さらに、第３異物判定手段（第３判定カメラ）１８を設けて、信頼性を高めた装置にすることもできる。
【００３３】
（実施形態３）
図３は本発明によるサンプルメインライン（メインライン）３１、サンプルサブライン（サブライン）３２、サンプル戻しライン３３において第１異物判定手段（第１判定カメラ）１６、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７、第３異物判定手段（第３判定カメラ）１８によってサンプル容器内の異物有無判定を行い、異物ありの場合は異物除去機構１９によって取り除く機構の一例である。サンプルラック１、サンプルラック投入部２、サンプルラック収納部６、第１異物判定位置７、メインライン分類位置８、サブライン分類位置９、第１異物除去位置１０、第２異物判定位置１１、サンプル吸引位置１２、戻しライン投入位置１３、第２異物除去位置１４、第３異物判定位置１５、サンプル分注機構２０、第１試薬分注機構２１、第２試薬分注機構２２、サンプル反応ディスク２３、第１試薬ディスク２４、第２試薬ディスク２５、分光光度計２６、異物解析ユニット２７、投入サンプル抜き取り機構３４、収納サンプル抜き取り機構３５で構成される。さらに、サンプルメインライン３１、サンプルサブライン３２、サンプル戻しライン３３、異物除去機構１９を制御する制御部１００を備えている。なお、サンプルラック投入部２は、サンプル容器がサンプルラックに搭載されているため、サンプル容器の投入部でもある。
【００３４】
オペレータによってサンプルラック投入部２へ設置されたサンプルラック１から投入サンプル抜き取り機構３４によってサンプル容器を１個ずつサンプル容器単位で抜き取り、サンプルメインライン３１上の第１異物判定位置７へ搬送する。第１異物判定位置７で第１異物判定手段（例えば第１判定カメラ）１６によってサンプル容器を側面から撮影され、容器内の異物有無を判定する。異物なしと判定されたサンプル容器は、サンプルメインライン３１上を直進し、サンプル吸引位置１２で停止して上記で述べたサンプル吸引動作へと入る。
【００３５】
異物ありと判定されたサンプル容器はサンプルメインライン３１上のメインライン分類位置８とサンプルサブライン３２上のサブライン分類位置９を経由して、第１異物除去位置１０へ搬送される。搬送された異物対象サンプル容器は、第１異物除去位置１０で異物除去機構１９による異物除去動作の後に第２異物判定位置１１で停止する。異物対象サンプル容器は第２異物判定手段（例えば第２判定カメラ）１７によって撮影され、容器内の異物有無を再判定する。
【００３６】
異物なしと判定されたサンプル容器は、サンプルメインライン３１上のサンプル吸引位置１２で停止し、サンプル分注機構２０によるサンプル吸引動作へと入る。その後、収納サンプル抜き取り機構３５によってサンプルラック収納部６へ搬送される。第２異物判定位置１１において、再度異物ありと判定されたサンプル容器は、サンプル戻しライン３３上の戻しライン投入位置１３を経由して、第２異物除去位置１４へ搬送される。第２異物除去位置１４において、異物除去機構１９による異物除去動作の後に第３異物判定位置１５で停止する。異物対象サンプルは第３異物判定位置１５で第３異物判定手段（例えば第３判定カメラ）１８によって撮影され、サンプル容器内の異物有無を最終判定する。
【００３７】
異物なしと判定されたサンプル容器は、サンプルサブライン３２上のサブライン分類位置９を経由してサンプルメインライン３１上のメインライン分類位置８へ搬送される。その後、サンプルメインライン３１上を直進してサンプル吸引位置１２で停止し、サンプル分注機構２０によるサンプル吸引動作へと入る。異物ありと判定されたサンプル容器は、再度サンプルサブライン３２上の異物除去動作へ入るか、異物除去不可と判定してサブライン分類位置９を経由しサンプルメインライン３１上へ搬送され、サンプル吸引位置１２を通過してサンプルラック収納部６へ移動することもできる。サンプルサブライン３２上とサンプル戻しライン３３上の異物除去トライ回数は、分析開始前にオペレータが設定できる。
【００３８】
本発明による図３形態の利点を述べる。図１と同様にサンプル容器内の異物有無を判定する異物判定手段（例えばカメラ）で除去動作前後に撮影するため、オペレータが目視で確認できなかった異物もしくは確認後に発生した異物を確実にチェックして分類に備えることができる。サンプルメインライン３１、サンプルサブライン３２、サンプル戻しライン３３では異物対象サンプル容器のみを抜き取って異物除去と判定を行うため、ハンドリング性が向上する。またサンプルメインライン３１とは別のサンプルサブライン３２、サンプル戻しライン３３にて異物の判定と除去を行うため、異物なしサンプルの分析処理能力を落とさずに分注動作を行うことができる。
【００３９】
実施形態３では、最良の形態を図３として説明したが、サンプル戻しライン３３、第２異物判定手段（第２判定カメラ）１７、第３異物判定手段（第３判定カメラ）１８は、必須の構成ではない。これは実施形態１で説明したのと同様の理由である。
【００４０】
本発明による異物除去機構１９の動作原理を図４に示す。異物除去機構１９によってラックサブライン４上の第１異物除去位置１０、ラック戻しライン５上の第２異物除去位置１４、サンプルメインライン３１上の第１異物除去位置１０、サンプル戻しライン３３上の第２異物除去位置１４において異物除去動作が行われる。異物判定手段（例えばカメラ）によって判定されたサンプル容器内の異物は、異物解析ユニット２７により大きさと位置が特定される。異物除去機構１９は、異物を吸引して除去する異物吸引アーム３６と異物を分離して除去する異物分離アーム３７の２本アームで構成されており、特定された異物対象の大きさによって２本アームを使い分ける。異物除去動作後は、除去方法によって吸引プローブ洗浄槽３８と分離フィルタ洗浄槽３９を使い分けて洗浄する。但し、図１〜図３の装置において、この異物除去機構に限られず、一方の異物除去機構でも構わない。両方備えていることにより、異物対象の大きさによって使い分けることができる。つまり、制御部は、異物判定手段により判定された異物の大きさにより、異物吸引アーム（第１異物除去機構）３６と異物分離アーム（第２異物除去機構）３７のいずれかを用いるかを判定し、判定された異物除去機構により異物の除去を行う。
【００４１】
ラックサブライン４上の第１異物除去位置１０、ラック戻しライン５上の第２異物除去位置１４が並行して隣り合っているため、異物除去機構１９が１台で２ポジションの異物除去動作を行うことができる。同様にサンプルメインライン３１上の第１異物除去位置１０、サンプル戻しライン３３上の第２異物除去位置１４も並行して隣り合っているため、異物除去機構１９は１台で２ポジションの異物除去動作を行うことができる。
【００４２】
本発明による異物除去機構１９の動作部を図５、図６に示す。図５を用いて異物吸引アーム３６の動作原理を説明する。異物判定手段で判定し、異物解析ユニット２７によってサンプル容器４１内で大きさと位置が特定された異物４２の位置を狙って異物吸引アーム３６に備えた異物吸引プローブ４０を動作させ吸引する手段である。この手段の場合、特定した異物４２を吸引する異物吸引プローブ４０の停止位置と吸引量を決定する必要がある。停止位置はすでに特定済みの異物４２の中心を狙って、異物吸引アーム３６の停止位置精度で決定することができる。吸引量については、異物４２の体積に加えて装置に設定された裕度を加味した量で決定する。例えば１０ｕＬの異物４２を吸引する時に、１０ｕＬに裕度５ｕＬと設定された場合は計１５ｕＬを吸引するように決定される。異物４２を吸引した異物吸引プローブ４０は、吸引プローブ洗浄槽３８においてプローブの内面と外面が純水により洗浄される。内面は異物吸引プローブ４０へ接続されたチューブを介して純水で洗い流し、外面は吸引プローブ洗浄槽３８から吐出した純水で洗い流す。
【００４３】
異物吸引除去動作の利点を以下に述べる。本手段では、大きさと位置が特定された異物４２を異物吸引プローブ４０で狙って裕度を加味した量を吸引するため確実に異物４２を捕らえることができるのに加えて、異物吸引にかかる動作時間も必要最低限に抑えることができる。一方、本手段により一定以上の大きさの異物４２を吸引除去するには、吸引量が多くなるためサンプル自体の量が減り分析に必要な最低サンプル量を確保できなくなってしまう恐れがある。そこで異物４２一定以上の大きさの場合は、図６に示す異物分離アーム３７により異物４２を除去する。
【００４４】
図６を用いて異物分離アーム３７の動作原理を説明する。異物判定手段で判定し、異物解析ユニット２７によってサンプル容器４１内で大きさと位置が特定された異物４２の下へ異物分離フィルタ４３を挿入し、すくい上げて異物４２を捕らえる手段である。この手段の場合、異物分離フィルタ４３の大きさと目粗さ、停止位置と上昇距離を決定する必要がある。異物分離フィルタ４３の大きさはサンプル容器底まで挿入できる寸法で決定され、目粗さは異物吸引プローブ４０で吸引できない一定以上の大きさの異物４２を捕らえられる範囲で決定される。停止位置は異物分離アーム３７の停止位置精度かつ確実に異物を捕らえられる位置で、上昇距離は異物４２の位置情報から決定することができる。異物４２をすくい上げた異物分離フィルタ４３は、異物分離フィルタ洗浄槽３９において超音波洗浄により異物を取り除き、洗浄される。
【００４５】
異物分離除去動作の利点を以下に述べる。本手段では、異物吸引プローブ４０では吸引できない大きさの異物４２のみを異物分離フィルタ４３ですくい上げて除去するため、サンプルの減少量を少なくすることができる。また一定以上の大きさの異物４２のみを捕らえればよいので、異物分離フィルタ４３の目粗さは適切なものを選択することができ、すくい上げた異物以外のサンプルが異物分離フィルタ４３を透過してサンプル容器４１内へ戻る時間も短くて済む。
【００４６】
以上で説明した流れにより、サンプル分注前に詰まり要因となる異物有無を高精度で判定し、メインラインとは別の搬送ライン上で異物を除去することができる。これによりオペレータが分析開始した装置上で、異物による詰まりアラームを発生せずに処理能力を維持したまま、効率良く分析が行える自動分析装置を実現できる。なお、異物はフィブリンを想定しているが、フィブリン以外の異物に対しても、同様の効果が得られる。
【符号の説明】
【００４７】
１  サンプルラック
２  サンプルラック投入部
３  ラックメインライン
４  ラックサブライン
５  ラック戻しライン
６  サンプルラック収納部
７  第１異物判定位置
８  メインライン分類位置
９  サブライン分類位置
１０  第１異物除去位置
１１  第２異物判定位置
１２  サンプル吸引位置
１３  戻しライン投入位置
１４  第２異物除去位置
１５  第３異物判定位置
１６  第１異物判定手段（第１判定カメラ）
１７  第２異物判定手段（第２判定カメラ）
１８  第３異物判定手段（第３判定カメラ）
１９  異物除去機構
２０  サンプル分注機構
２１  第１試薬分注機構
２２  第２試薬分注機構
２３  サンプル反応ディスク
２４  第１試薬ディスク
２５  第２試薬ディスク
２６  分光光度計
２７  異物解析ユニット
２８  サンプル抜き取りライン
２９  サンプル容器抜き取り機構
３０  サンプル容器戻し機構
３１  サンプルメインライン
３２  サンプルサブライン
３３  サンプル戻しライン
３４  投入サンプル抜き取り機構
３５  収納サンプル抜き取り機構
３６  異物吸引アーム
３７  異物分離アーム
３８  吸引プローブ洗浄槽
３９  分離フィルタ洗浄槽
４０  異物吸引プローブ
４１  サンプル容器
４２  異物
４３  異物分離フィルタ
１００  制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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