(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を取得する取得手段と、
前記画像の輝度の勾配に基づいて、当該画像に含まれる勾配方向が略一定の全てのエッジを特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定された勾配方向が略一定の全てのエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記特定手段は、勾配強度が最大値となる勾配角度を有する全ての第１のエッジと、その勾配角度とは異なり、勾配強度が２番目に高い値となる勾配角度を有する全ての第２のエッジを特定し、
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記全ての第１のエッジ及び前記全ての第２のエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記画像の輝度の勾配に基づいて、勾配強度についての勾配方向の分布を表す勾配ヒストグラムを算出するヒストグラム算出手段を更に備え、
前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出した勾配ヒストグラムに基づき、勾配方向が略一定の全てのエッジを特定することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強度が所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して前記勾配方向が略一定の全てのエッジを特定することを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記取得手段によって取得した画像から前記特定手段によって特定された勾配方向が略一定の全てのエッジを含む領域をマスクしたマスク画像を生成する生成手段を含み、
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記生成手段によって生成されたマスク画像からＡＦ評価値を算出することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
画像を入力する入力ステップと、
この入力された画像の輝度の勾配に基づいて、当該画像に含まれる勾配方向が略一定の全てのエッジを特定する特定ステップと、
この特定された勾配方向が略一定の全てのエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出ステップと、
を備えたことを特徴とする画像処理方法。
【請求項７】
処理を制御するコンピュータに、
画像を入力する入力機能と、
前記画像の輝度の勾配に基づいて、当該画像に含まれる勾配方向が略一定の全てのエッジを特定する特定機能と、
前記特定機能の発揮によって特定された勾配方向が略一定の全てのエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出機能と、
を実現させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像処理方法及びプログラムに関し、特に、手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させる技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＡＦ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｆｏｃｕｓ：オートフォーカス）処理を実行可能な撮像装置が存在する。代表的なＡＦ評価処理の手法としては、画像信号に含まれる周波数成分（直流成分を除く）が合焦レンズ位置（合焦位置）で最大になることを利用して、画像信号に含まれる周波数成分の量を評価値として合焦状態を検出する、というものが存在する。そして、この手法により検出される評価値は、撮像画像の一領域から検出される。この検出される評価値を、以下、「ＡＦ評価値」と呼び、ＡＦ評価値が検出される当該一領域を、以下、「ＡＦ評価エリア」と呼ぶ。
【０００３】
このようなＡＦ評価エリアの従来の設定手法としては、複数のＡＦ評価エリアの各々に関して合焦レンズ位置を演算し、演算された複数の合焦レンズ位置のうち、最至近の合焦レンズ位置に対応するＡＦ評価エリアを選択する、という手法が特許文献１に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−３６１４８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の手法では、特異なケースとして動物等の被写体の手前にフェンス等が存在するといった場合は、フェンス等の位置が合焦レンズ位置として算出される場合がある。つまり、フェンス等は被写体よりも手前にあり、撮像装置の最至近に存在することが多いため、フェンス等の位置が合焦レンズ位置として算出されＡＦ評価エリアが選択されて、フェンス等に合焦してしまう。即ち、被写体の手前にフェンス等が存在すると、これを着目すべき被写体と見做し、真に着目すべき被写体に合焦できない場合がある。
【０００６】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、複数の対象が遠近方向に存在する環境において、遠い位置にある方の対象に着目した画像処理を行うこと、例えば着目する被写体の手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明の一態様の画像処理装置は、画像を取得する取得手段と、前記画像の輝度の勾配に基づいて、当該画像に含まれる勾配方向が略一定の全てのエッジを特定する特定手段と、前記特定手段によって特定された勾配方向が略一定の全てのエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出手段と、を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、着目する被写体の手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明に係る画像処理装置の一実施形態である撮像装置のハードウェアの構成を示すブロック図である。
【図２】図１の撮像装置の機能的構成のうち、ＡＦ評価処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。
【図３】スルー画像を示す模式図である。
【図４】図３のスルー画像から輝度値を抽出して生成した輝度画像を示す模式図である。
【図５】図４の輝度画像の一部を、画素レベルに拡大して示す模式図である。
【図６】勾配ヒストグラムの作成を示す図である。
【図７】ＡＦ評価処理の流れを説明するフローチャートである。
【図８】変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について、図を用いて説明する。
図１は、本発明に係る画像処理装置の一実施形態である撮像装置１のハードウェアの構成を示すブロック図である。
【００１１】
撮像装置１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）１２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）１３と、画像処理部１４と、バス１５と、入出力インターフェース１６と、撮像部１７と、操作部１８と、表示部１９と、記憶部２０と、通信部２１と、ドライブ２２と、を備えている。
【００１２】
ＣＰＵ１１は、ＲＯＭ１２に記録されているプログラム、又は、記憶部２０からＲＡＭ１３にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。
【００１３】
ＲＡＭ１３には、ＣＰＵ１１が各種の処理を実行する上において必要なデータ等も適宜記憶される。
【００１４】
画像処理部１４は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）や、ＶＲＡＭ（Ｖｉｄｅｏ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等から構成されており、ＣＰＵ１１と協働して、画像のデータに対して各種画像処理を施す。
例えば、画像処理部１４は、後述する撮像部１７から出力される撮像画像のデータに対して、ノイズ低減、ホワイトバランス、手ぶれ補正等の画像処理を施す。
【００１５】
ＣＰＵ１１、ＲＯＭ１２、ＲＡＭ１３及び画像処理部１４は、バス１５を介して相互に接続されている。このバス１５にはまた、入出力インターフェース１６も接続されている。入出力インターフェース１６には、撮像部１７、操作部１８、表示部１９、記憶部２０、通信部２１及びドライブ２２が接続されている。
【００１６】
撮像部１７は、光学系３１と、イメージセンサ３２と、レンズ駆動部３３と、を備えている。
【００１７】
光学系３１は、被写体を撮像するための光を集光するレンズ、例えば、フォーカスレンズやズームレンズ等で構成される。
フォーカスレンズは、イメージセンサ３２の受光面に被写体像を結像させるレンズであり、後述するレンズ駆動部３３によって位置（合焦位置）が調節されることにより、被写体の合焦を行うレンズである。
ズームレンズは、焦点距離を一定の範囲で自在に変化させるレンズである。
【００１８】
イメージセンサ３２は、光電変換素子や、ＡＦＥ（Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）等から構成される。
光電変換素子は、例えばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）型の光電変換素子等から構成される。光電変換素子には、光学系３１から被写体像が入射される。そこで、光電変換素子は、被写体像を光電変換（撮像）して画像信号を一定時間蓄積し、蓄積した画像信号をアナログ信号としてＡＦＥに順次供給する。
ＡＦＥは、このアナログの画像信号に対して、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）変換処理等の各種信号処理を実行する。ＡＦＥでの各種信号処理によって、ディジタル信号が生成され、撮像部１７の出力信号として出力される。
なお、以下、撮像部１７の出力信号を、「撮像画像のデータ」と呼ぶ。従って、撮像部１７からは撮像画像のデータが出力されて、ＣＰＵ１１、画像処理部１４、記憶部２０等に適宜供給される。
【００１９】
レンズ駆動部３３は、ＣＰＵ１１等の制御に基づいて、光学系３１を構成するフォーカスレンズやズームレンズ等を駆動して、各位置を調整する。例えば、レンズ駆動部３３は、後述するＣＰＵ１１によるＡＦ位置決定処理の結果に基づいて、ズームレンズを駆動して、その位置を調整する。
【００２０】
操作部１８は、例えば、図示せぬリレーズ釦等の各種釦により構成され、ユーザの指示操作を受け付ける。
【００２１】
表示部１９は、各種画像を表示可能なディスプレイ等により構成される。
【００２２】
記憶部２０は、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等で構成され、後述するスルー画像、表示対象の原画像、当該原画像に合成され得る画像等の各種画像のデータを記憶する。
【００２３】
通信部２１は、インターネットを含むネットワークを介して他の装置（図示せず）との間で行う通信を制御する。
【００２４】
ドライブ２２には、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等よりなる、リムーバブルメディア２３が適宜装着される。ドライブ２２によってリムーバブルメディア２３から読み出されたプログラムは、必要に応じて記憶部２０にインストールされる。また、リムーバブルメディア２３は、記憶部２０に記憶されている画像のデータ等の各種データも、記憶部２０と同様に記憶することができる。
【００２５】
撮像装置１は、以上のようなハードウェアの構成により、手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることが可能なＡＦ処理を実行することができる。
【００２６】
ＡＦ処理として、フォーカスレンズの各位置でＡＦ評価値を算出する処理（以下、ＡＦ評価処理と呼ぶ）と、算出されたＡＦ評価値を比較して、合焦位置を決定する処理（以下、ＡＦ位置決定処理と呼ぶ）とが含まれている。
【００２７】
本実施形態では、このようなＡＦ処理のうちＡＦ評価処理として、手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させるために、当該遮蔽物を考慮しないでＡＦ評価値の算出が可能になるＡＦ評価処理が採用されている。
そこで、以下、本実施形態で採用されているＡＦ評価処理について主に説明する。
【００２８】
図２は、図１の撮像装置１の機能的構成のうち、ＡＦ評価処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。
【００２９】
本実施形態では、画像処理部１４は、ＡＦ評価処理を実行すべく、スルー画像取得部４１と、輝度画像生成部４２と、ノイズ除去部４３と、勾配ヒストグラム作成部４４と、勾配ピーク選定部４５と、除外画素選定部４６と、ＡＦ評価用画像生成部４７と、ＡＦ評価部４８と、を備える。
【００３０】
なお、図２の機能的構成は例示であって、画像処理部１４の機能の少なくとも一部を、画像処理部１４以外の他の構成要素（ＣＰＵ１１等）に移譲させることも当然可能である。
【００３１】
スルー画像取得部４１は、撮像部１７から出力された撮像画像のデータを、スルー画像のデータとして取得する。
即ち、ＣＰＵ１１等は、ＡＦ評価処理の実行中やその前後に、スルー撮像処理及びスルー表示処理を実行することで、スルー画像を表示部１９に表示させる。
具体的には、ＣＰＵ１１等は、例えば操作部１８のレリーズ釦が半押しされると、撮像部１７による撮像動作を継続させる。そして、ＣＰＵ１１等は、撮像部１７による撮像動作が継続されている間、当該撮像部１７から順次出力される撮像画像のデータを、メモリ（本実施形態では記憶部２０）に一時的に記憶させる。このような一連の制御処理が、ここでいう「スルー撮像処理」である。
また、ＣＰＵ１１等は、スルー撮像処理の最中にメモリ（本実施形態では記憶部２０）に一時的に記録された各撮像画像のデータを順次読み出して、当該撮像画像を表示部１９に順次表示させる。このような一連の制御処理が、ここでいう「スルー表示処理」であり、スルー表示処理により表示部１９に表示されている撮像画像を、以下、「スルー画像」と呼ぶ。
【００３２】
ここで、本実施形態の理解を容易なものとすべく、スルー画像取得部４１が、図３に示すようなスルー画像のデータを取得したものとして、以下説明する。
図３は、スルー画像の一例を示す模式図である。
具体的には、図３には、フェンスＦの奥に存在する被写体ＰＯ（例えば樹木）を撮像部１７が撮像したときに得られた撮像画像が、スルー画像として表示部１９に表示されている様子が示されている。
ここで、フェンスＦは、被写体ＰＯの手前に存在する遮蔽物に該当し、所定の角度で折り曲げられた複数の列線が組み合わされることによって、平行四辺形の網目状となるように形成されたフェンス、いわゆる、ひし型金網（以下、「フェンス」と呼ぶ）である。
なお、スルー画像では、フェンスＦは被写体よりも手前にあり、撮像装置の最至近に存在するため、フェンスＦの位置が合焦レンズ位置として算出されフェンスＦに合焦しているものとする。
【００３３】
図２に戻り、輝度画像生成部４２は、スルー画像取得部４１により取得されたスルー画像のデータから輝度成分を画素単位で抽出し、抽出された各輝度成分を画素値としてそれぞれ有する画像（以下、「輝度画像」と呼ぶ）のデータを生成する。
例えば、輝度画像生成部４２は、図３に示すようなスルー画像のデータから、図４に示すような輝度画像のデータを生成する。
図４は、図３のスルー画像から生成された輝度画像の一例を示す模式図である。
図４の例の輝度画像においては、黒くなるほど輝度が低くなり、白くなる程輝度が高くなるようになされている。例えば、フェンスＦは、その形状がはっきりと写っており、輝度が高いため白に近い色で表示されている。
【００３４】
図２に戻り、ノイズ除去部４３は、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータに対して、ノイズを除去する処理を施す。ノイズ除去部４３におけるノイズの除去の手法は、主に画像内の輝度の変化を滑らかにする手法、即ち、いわゆる平滑化処理を目的とするものであれば足り、本実施形態においては、ガウスフィルタ（ガウシアンフィルタ）を用いた手法が採用されている。
【００３５】
そして、画像の内の輝度の勾配を計算することでエッジの強さを計算し、勾配の方向からエッジの局所的方向を予測し、その方向の勾配が局所的に極大となる箇所を探す。なお本実施例においては、勾配ヒストグラム作成部４４によって、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータにおける輝度の勾配ヒストグラムを作成することで、画像の輝度の勾配を見積もる。
【００３６】
ここで、勾配ヒストグラムの作成手法の一例について説明する。
勾配ヒストグラムとは、輝度画像のデータから画素単位で取得可能な勾配強度Ｍについての、勾配方向θ毎の分布を表した図である。
まず、勾配ヒストグラム作成部４４は、輝度画像のデータから、各画素における勾配方向θをそれぞれ算出する。
各画素における勾配方向θは、例えば、次の式（１）により算出される。
【数１】
0005853369.tif 000002
ここで、式（１）の左辺の（ｘ，ｙ）とは、輝度画像において、処理の対象として注目すべき画素（以下、「注目画素」と呼ぶ）の位置を示す座標である。当該座標は、輝度画像において、水平右向方向をｘ軸として垂直下向方向をｙ軸として構築される直交座標系により表現される。即ち、左辺のθ（ｘ，ｙ）とは、輝度画像内の座標（ｘ，ｙ）に位置する画素、即ち注目画素の勾配方向θを示している。
式（１）の右辺のｍｏｄ（α，β）は、値αを値βで除算した場合の剰余を出力するＭＯＤＵＬＯ関数である。
Ｈ（ｘ，ｙ）は、輝度画像内の座標（ｘ，ｙ）に位置する画素、即ち注目画素における、水平（Ｈｏｒｉｚｏｎ）方向のコントラストの度合い（以下、「水平コントラスト長」と呼ぶ）を示しており、次の式（２）によって定義される。
【数２】
0005853369.tif 000003
また、Ｖ（ｘ，ｙ）は、輝度画像内の座標（ｘ，ｙ）に位置する画素、即ち注目画素における、垂直（Ｖｅｒｔｉｃａｌ）方向のコントラストの度合い（以下、「垂直コントラスト長」と呼ぶ）を示しており、次の式（３）によって定義される。
【数３】
0005853369.tif 000004
式（２）及び式（３）において、Ｐ（ｘα，ｘｂ）は、輝度画像内の座標（ｘα，ｘｂ）についての輝度値（画素値）を示している。
【００３７】
ここで、図５を参照して、式（２）の水平コントラスト長と式（３）の垂直コントラスト長についてさらに詳しく説明する。
図５は、図４の輝度画像の一部を、画素レベルに拡大して示す模式図である。
図５において、１つの黒丸印は、１つの画素を示している。同図には、ｘ方向（水平方向）に５個分の画素、かつ、ｙ方向（垂直方向）に５個分の画素で、総計２５個（＝５×５個）の画素が示されている。
ここで、注目画素と隣接する画素を、以下、「隣接画素」と呼ぶならば、式（２）の注目画素の水平コントラスト長Ｈ（ｘ，ｙ）は、右方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ＋１、ｙ）と、左方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ−１、ｙ）との差分により求められる。また、式（３）の注目画素の垂直コントラスト長Ｖ（ｘ，ｙ）は、下方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ、ｙ＋１）と、上方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ、ｙ−１）との差分により求められる。
具体的には例えば、右方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ＋１、ｙ）が、白を示す「１」であり、左方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ−１、ｙ）が、黒を示す「０」であるとする。この場合、式（２）の注目画素の水平コントラスト長Ｈ（ｘ，ｙ）は、「１」（＝１−０）になる。
また例えば、下方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ、ｙ＋１）が、白を示す「１」であり、上方の隣接画素の輝度値Ｐ（ｘ、ｙ―１）が、黒を示す「０」であるとする。この場合、式（３）の注目画素の垂直コントラスト長Ｖ（ｘ，ｙ）は、「１」（＝１−０）になる。
従って、本例の場合、式（１）のｔａｎ−１｛Ｖ（ｘ，ｙ）／Ｈ（ｘ，ｙ）｝は、４５度になるため、式（１）の右辺のＭＯＤＵＬＯ関数の出力は、（４５／１８０）の余りである４５になる。即ち、注目画素の勾配方向θは、４５度になる。
なお、このようにＭＯＤＵＬＯ関数を用いて、全方位（０度乃至３６０度）で特定される角度を１８０度で除算してその余りを、注目画素の勾配方向θとして出力しているため、注目画素の勾配方向θは、０度乃至１８０度の範囲内で特定されることになる。
【００３８】
次に、輝度画像のデータから、各画素における勾配強度Ｍをそれぞれ算出する。
勾配強度Ｍは、全画素において、画素間の輝度の差分を算出することにより特定される。
各画素における勾配強度Ｍは、例えば次の式（４）により算出される。
【数４】
0005853369.tif 000005
式（４）に示すように、注目画素の勾配強度Ｍは、水平コントラスト長Ｈ（ｘ，ｙ）の２乗と垂直コントラスト長Ｖ（ｘ，ｙ）の２乗との和の平方根をとることによって演算される。
具体的には例えば、図５を用いて説明した上述の例では、式（２）の注目画素の水平コントラスト長Ｈ（ｘ，ｙ）は「１」となり、式（３）の注目画素の垂直コントラスト長Ｖ（ｘ，ｙ）は「１」となったので、注目画素の勾配強度Ｍは、「√２」になる。
【００３９】
なお、本実施形態においては、勾配強度Ｍは、注目画素が示す被写体についての、撮像装置１からの実際の距離が考慮される。具体的には例えば、注目画素が、撮像装置１から近い距離にある被写体の一部を示す画素である場合には、勾配強度Ｍに対する重み付けの度合いが高くなる。逆に、注目画素が、撮像装置１から遠い距離にある被写体の一部を示す画素である場合には、勾配強度Ｍに対する重み付けの度合いが低くなる。このように撮像装置１からの距離に応じて勾配強度Ｍの重み付けを変えることにより、近距離にある遮蔽物を示す画素の勾配強度Ｍが大きくなる一方、遠くの遮蔽物を示す画素の勾配強度Ｍが小さくなる。このため、例えば、手前にある金網等の被写体を積極的に除去することができるようになる。
【００４０】
このようにして、勾配ヒストグラム作成部４４は、輝度画像を構成する全画素を対象に、勾配方向θ及び勾配強度Ｍを算出すると、その算出結果に基づいて、例えば図６に示すような勾配ヒストグラムを作成する。画素の勾配強度Ｍを画素が有する勾配角度とすると、勾配ヒストグラムは、画像に含まれる勾配角度の分布を表すということができる。
【００４１】
図６は、図４の輝度画像から作成された勾配ヒストグラムを示している。
図６においては、縦軸は勾配強度Ｍを示し、横軸は勾配方向θを示す。
ここで、縦軸の勾配強度Ｍは、式（４）の各画素の算出値である勾配強度Ｍ（ｘ，ｙ）そのものを意味せず、各勾配方向θ毎の、同一の勾配方向θを有する画素群の各勾配強度Ｍ（ｘ、ｙ）（式（４）の各算出結果）の総和を示している。
ただし、本実施形態では、式（４）の各画素の勾配強度Ｍ（ｘ，ｙ）のうち、所定の閾値ＴｈＭ以下のものは、ノイズの影響を受けている可能性があるものとして、勾配ヒストグラムに反映させない。即ち、勾配ヒストグラム作成部４４は、ノイズ除去を行った上で、勾配ヒストグラムを作成する。
具体的には例えば、本実施形態では、次の式（５）に従って、勾配ヒストグラムが作成される。
【数５】
0005853369.tif 000006
式（５）において、「ｈｉｓｔ（θ）＋＝Ｍ（ｘ，ｙ）」とは、勾配ヒストグラムにおいて、所定の勾配方向θ（横軸の所定値）についての勾配強度Ｍ（縦軸の高さ）に対して、注目画素の式（４）の演算結果である勾配強度Ｍ（ｘ、ｙ）を加算する、という意味である。即ち、所定の勾配方向θ（横軸の所定値）を有する画素群のうち、その勾配強度Ｍ（ｘ、ｙ）が閾値ＴｈＭを超えているもののみが演算対象となり、演算対象となった各画素の勾配強度Ｍ（ｘ、ｙ）の総和が、当該所定の勾配方向θについての勾配強度Ｍ（縦軸の高さ）として、勾配ヒストグラムにプロットされる。換言すると、所定の勾配方向θ（横軸の所定値）を有する画素群のうち、その勾配強度Ｍ（ｘ、ｙ）が閾値ＴｈＭ以下のものは演算対象とならずに、ノイズとして除去される。
【００４２】
以上、勾配ヒストグラムの作成手法の一例について説明した。このような作成手法に従って、図２の勾配ヒストグラム作成部４４により作成された勾配ヒストグラムは、勾配ピーク選定部４５に供給される。
【００４３】
勾配ピーク選定部４５は、勾配ヒストグラム作成部４４により作成された勾配ヒストグラムにおいて、勾配のピークを選定する。
【００４４】
勾配のピークとは、勾配ヒストグラムにおいて、所定の勾配方向θの勾配強度Ｍの極大点に該当する部分をいう。即ち、勾配強度Ｍが、勾配方向θが前後において最高値となっている部分（勾配強度Ｍを勾配方向θ方向に微分した場合に、その微分値が正から負に変わる部分）が、勾配のピークである。
勾配のピークとなっている勾配方向θは、スルー画像（原画像）に含まれるオブジェクトのうち、合焦しているオブジェクトのエッジの実角度（オブジェクトに対応する実物体の、実世界上での輪郭の角度）を示している可能性が高い。当該オブジェクトに合焦する程（ピントが合う程）、当該オブジェクトのコントラストが高くなるため、当該オブジェクトを構成する各画素の勾配強度Ｍ（ｘ，ｙ）（式（４）の演算結果）が高くなるからである。即ち、その結果として、それらの総和である勾配強度Ｍ（勾配ヒストグラムの縦軸の高さ）が高くなるからである。
ただし、スルー画像のうち動物等の被写体に合焦している場合、その被写体のエッジでは、同一角度となっている領域（画素群）は少ない。即ち、動物等の被写体のエッジについては、同一の勾配方向θを有する画素数は少なくなる。このため、動物等の被写体のエッジを構成する各画素の勾配強度Ｍ（ｘ，ｙ）（式（４）の演算結果）がある程度の高値を有していたとしても、全体の画素数が少ない以上、それらの総和である勾配強度Ｍ（勾配ヒストグラムの縦軸の高さ）はさほど高くならない。
一方で、スルー画像のうち手前のフェンスに合焦している場合、フェンスは、ほぼ全体が、略同一角度のエッジ（線）の集合体、通常は２種類の角度のエッジの集合体で構成されている。即ち、２種類の角度のうちの何れかを勾配方向θとして有する画素の数は非常に多くなる。このため、フェンスに合焦すると、当該フェンスを構成する各画素の勾配強度Ｍ（ｘ，ｙ）（式（４）の演算結果）がある程度の高値を有するようになり、かつ、全体の画素数が非常に多いため、２種類の角度の各々に対応する勾配方向θにおいて、それらの総和である勾配強度Ｍ（勾配ヒストグラムの縦軸の高さ）は非常に高くなる。
ここで、勾配ヒストグラムにおける複数の勾配ピークのうち、最高値の勾配強度Ｍ（縦軸の高さ）を有する勾配ピークを、以下、「第１の勾配ピーク」と呼び、２番目に高い勾配強度Ｍ（縦軸の高さ）を有する勾配ピークを、以下、「第２の勾配ピーク」と呼ぶ。この場合、第１の勾配ピークにおける勾配方向θと、第２の勾配ピークにおける勾配方向θとは、上述の内容により、フェンスを構成する各画素の勾配方向θであると判断することが可能である。
従って、撮像装置１は、第１及び第２の勾配ピークを判断することにより、スルー画像において、合焦しているフェンスＦ等の遮蔽物を識別することができる。
【００４５】
具体的には例えば、図６の勾配ヒストグラムは、フェンスＦに合焦した状態の図３のスルー画像から作成された図４の輝度画像に基づいて作成されたものである。このフェンスの像は、図４に示すように、略４０度のエッジと略１３０度のエッジとの集合体により構成されている。このため、図６の勾配ヒストグラムでは、勾配方向θが略４０度と略１３０度とのそれぞれにおいて、勾配のピークが表れているのである。
即ち、勾配方向θが略４０度における勾配ピークが、第１の勾配ピークである。また、勾配方向θが略１３０度における勾配ピークが、第２の勾配ピークである。
この場合、勾配ピーク選定部４５は、勾配ヒストグラムから２第１の勾配ピーク及び第２の勾配ピークを選定する。
このようにして、勾配ピーク選定部４５は、第１及び第２の勾配ピークを選定することで、スルー画像において規則的に配置される連子状の遮蔽物であるフェンスＦを特定することができる。
【００４６】
除外画素選定部４６は、勾配ピーク選定部４５により選定された勾配ピーク（本実施形態においては、第１の勾配ピーク及び第２の勾配ピーク）に対応する画素を選定する。
勾配ピークに対応する画素とは、勾配ピークとなっている勾配方向θ（上述の例では略４０度と略１３０度）を有する画素をいい、スルー画像において規則的に配置される連子状の遮蔽物（上述の例ではフェンスＦ）の一部を示すと想定される画素である。詳細については後述するが、本実施形態では、このような画素が除外されてＡＦ評価が行われる。そこで、以下、勾配ピークに対応する画素を、以下、「除外画素」と呼ぶ。
即ち、除外画素選定部４６は、輝度画像を構成する各画素の中から、勾配ピークに対応する画素を除外画素として選定し、ＡＦ評価用画像生成部４７に通知する。
【００４７】
ＡＦ評価用画像生成部４７は、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータから、周波数成分（直流成分を除く）を画素単位で抽出して、抽出値を各画素値とする画像のデータを生成する。
ここで、ＡＦ評価用画像生成部４７により生成される画像のデータを構成する各画素値は、上述の如く、輝度画像のデータから抽出された周波数成分（直流成分を除く）であり、後述するＡＦ評価値の算出においてＡＦ検波値として用いられる。そこで、以下、このようにしてＡＦ評価用画像生成部４７により生成される画像のデータを、以下、「ＡＦ評価用画像のデータ」と呼ぶ。
ここで、ＡＦ評価用画像生成部４７には、除外画素選定部４６により選定された除外画素、即ち、図４のフェンスＦ等の遮蔽物の一部を示すと想定される除外画素が通知されている。そこで、ＡＦ評価用画像生成部４７は、除外画素をマスクしたＡＦ評価用画像のデータを生成する。除外画素をマスクするとは、ＡＦ評価用画像における除外画素の画素値を、ＡＦ検波値としてほぼ用いることができないようにすること、即ち、その画素値を０又は低値にすることを意味する。
【００４８】
ＡＦ評価部４８は、ＡＦ評価用画像生成部４７により生成されたＡＦ評価用画像のデータのうち、ＡＦ評価エリア内の各画素のデータ（ＡＦ検波値としての画素値）を積分することによって、ＡＦ評価値を求める。
この場合、ＡＦ評価エリア内の各画素の中に除外画素が存在する場合、除外画素のデータ（ＡＦ検波値としての画素値）は０又は低値であるので、積分結果としてのＡＦ評価値には反映されない。即ち、除外画素はマスクされてＡＦ評価値が求められるのと等価の処理が実行される。
【００４９】
従って、撮像装置１のＣＰＵ１１等は、上述したＡＦ評価部４８により生成されるＡＦ評価値を用いることにより、除外画素をマスクしたＡＦ位置決定処理を実行することができる。即ち、除外画素とは、図４のフェンスＦ等のような所定の方向で規則的に覆うような遮蔽物の一部を示す画素であるため、このような遮蔽物をマスクして、本来合焦させたい被写体のみに着目して、合焦位置を自動的に決定することができるようになる。例えば、図３のようなフェンスＦ越しに、フェンスＦの奥の風景を撮影したい場合に、フェンスＦの奥の樹木（被写体ＰＯ）に合焦位置を自動的に合わせることができるようになる。
【００５０】
以上、図２乃至図６を参照して、本実施形態の撮像装置１の機能的構成について説明した。
【００５１】
次に、このような機能的構成を有する撮像装置１が実行するＡＦ機能に係る処理のうちＡＦ評価処理の流れについて説明する。
図７は、図２の機能的構成を有する図１の撮像装置１が実行するＡＦ評価処理の流れを説明する図である。
【００５２】
ＡＦ評価処理は、本実施形態においては、例えば、ユーザが操作部１８のリレーズ釦に対して半押しの操作をすることにより、スルー画像取得部４１により、図３に示すようなフェンスＦ越しに風景が映し出されたスルー画像が取得されることを契機として開始される。その結果、レンズ駆動部３３は、フォーカスレンズを所定の位置（初期位置）に移動させる。
なお、ＡＦ評価処理が終了し、その後、合焦位置が決定した後に、ユーザが操作部１８のリレーズ釦に対して全押しの操作をすることで、決定された合焦位置での撮像が行われる。
【００５３】
ステップＳ１において、輝度画像生成部４２は、輝度画像を生成する。詳細には、輝度画像生成部４２は、スルー画像取得部４１により取得されたスルー画像のデータから輝度成分を画素単位で抽出し、抽出された各輝度成分を画素値としてそれぞれ有する輝度画像のデータを生成する。本実施形態においては、輝度画像生成部４２は、図３に示すようなスルー画像のデータから、図４に示すような輝度画像のデータを生成する。
【００５４】
ステップＳ２において、ノイズ除去部４３は、ノイズを除去する。詳細には、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータに対して、ノイズを除去するガウスフィルタの処理を施す。
【００５５】
ステップＳ３において、勾配ヒストグラム作成部４４は、勾配ヒストグラムを作成する。詳細には、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータから、勾配ヒストグラムを作成する。本実施形態においては、勾配ヒストグラム作成部４４は、ノイズ除去部４３によりノイズが除去された輝度画像の各画素から上述した式（１）を演算し勾配方向θを算出し、上述した式（４）を演算して勾配強度Ｍを算出する。また、勾配ヒストグラム作成部４４は、上述した式（５）によりノイズ除去を行う。最終的に、勾配ヒストグラム作成部４４は、算出した各画素の勾配方向θ及び勾配強度Ｍに基づいて、図６に示すような勾配ヒストグラムを作成する。
【００５６】
ステップＳ４において、勾配ピーク選定部４５は、勾配ピークを選定する。詳細には、勾配ピーク選定部４５は、勾配ヒストグラム作成部４４により作成された勾配ヒストグラムにおいて、勾配のピークを選定する。また、勾配ピーク選定部４５は、勾配ヒストグラム作成部４４で作成された勾配ヒストグラムにおいて、第１の勾配ピーク及び第２の勾配ピークを選定する。本実施形態においては、図６に示すように、勾配方向θが略４０度を第１の勾配ピークとし、勾配方向θが略１３０度を第２の勾配ピークとして選定する。
【００５７】
ステップＳ５において、除外画素選定部４６は、除外画素を選定する。詳細には、除外画素選定部４６は、勾配ピーク選定部４５により選定された勾配ピーク（本実施形態においては、第１の勾配ピーク及び第２の勾配ピーク）に対応する画素を選定する。
【００５８】
ステップＳ６において、ＡＦ評価用画像生成部４７は、ＡＦ評価用画像を生成する。詳細には、ＡＦ評価用画像生成部４７は、輝度画像生成部４２により生成された輝度画像のデータから、周波数成分（直流成分を除く）を画素単位で抽出して、抽出値を各画素値とするＡＦ評価用画像のデータを生成する。
【００５９】
ステップＳ７において、ＡＦ評価部４８は、ＡＦ評価を行う。詳細には、ＡＦ評価用画像生成部４７により生成されたＡＦ評価用画像のデータのうち、ＡＦ評価エリア内の各画素のデータ（ＡＦ検波値としての画素値）を積分することによって、ＡＦ評価値を求める。
【００６０】
撮像装置１においては、ステップＳ１乃至Ｓ７の処理が実行されてＡＦ評価処理が終了した場合、撮像装置１のＣＰＵ１１等は、他の複数の合焦位置で再度、ＡＦ評価処理が行われる。その後、撮像装置１のＣＰＵ１１等は、上述したＡＦ評価部４８により生成されるＡＦ評価値を用いることにより、除外画素をマスクしたＡＦ位置決定処理を実行して、合焦位置を自動的に合わせる。その後、ユーザが操作部１８のリレーズ釦に対して全押しの操作をすることで、決定された合焦位置での撮像が行われる。
【００６１】
以上説明したように、本実施形態における撮像装置１は、撮像部１７から出力された撮像画像のデータに基づいてスルー画像を取得するスルー画像取得部４１と、画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する除外画素選定部４６と、除外画素選定部４６によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価部４８と、を備える。
【００６２】
このような構成により、撮像装置１は、被写体の前後に例えばフェンス等の遮蔽物が存在しても、取得したスルー画像から、遮蔽物を特定して除去した画像に基づいてＡＦ評価値を算出することができる。
従って、撮像装置１は、被写体の前後にフェンス等の遮蔽物が存在しても、算出されたＡＦ評価値に基づいて着目する被写体に合焦させることができる。
【００６３】
また、撮像装置１は、さらに、第１の勾配ピーク（勾配強度が最大値となる勾配角度）と、その勾配角度とは異なり、勾配強度が２番目に高い値となる勾配角度を有する第２のエッジを特定する勾配ピーク選定部４５を備える。
これにより、撮像装置１はスルー画像内に、ある所定の勾配角度を有する領域、例えば、連子状のフェンス等が存在しても遮蔽物として選定することができる。その結果、撮像装置１は、例えば手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。
【００６４】
また、勾配ピーク選定部４５は、更に第２の勾配ピーク（第１の勾配ピーク以外で勾配強度が２番目に大きな値となる勾配角度）を有する領域を選定し、第１の勾配ピークを有する領域と、第２の勾配ピークを有する領域とを遮蔽物として選定する。
これにより、撮像装置１は、スルー画像内に、２つの所定の勾配角度を有する領域、例えば、格子状のフェンス等が存在しても遮蔽物として選定することができる。その結果、撮像装置１は、例えば手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。
【００６５】
また、勾配ピーク選定部４５は、勾配ヒストグラム作成部４４によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強さが所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して遮蔽物を選定する。
従って、撮像装置１は、ＡＦ評価値を算出する際に、除外する遮蔽物の選定精度を高めることができる。
【００６６】
また、撮像装置１は、除外画素選定部４６によって特定された遮蔽物の領域をマスクしたＡＦ評価用画像を生成するＡＦ評価用画像生成部４７を備え、ＡＦ評価部４８は、ＡＦ評価用画像生成部４７によって生成されたＡＦ評価用画像からＡＦ評価値を算出する。
これにより、撮像装置１は、手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、特別な合焦に係るデータ等を取得することなく、スルー画像を利用して、着目する被写体に合焦させることができる。
【００６７】
なお、本発明は、上述の実施形態や数式に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
つまり、上述の実施形態では、勾配ヒストグラムを算出することにより、勾配ピークを算出し、勾配方向が一定のエッジを特定したが、これに限らず、例えばＰｒｅｗｉｔｔオペレータやＲｏｂｅｒｔｓ  ｃｒｏｓｓなど、他の手法を用いて画像の輝度の勾配を見積もるようにしてもよい。つまり、勾配方向が一定のエッジを特定できる方法であればよい。
【００６８】
また、上述の実施形態では、図３に示すように、勾配方向θが一定（本実施形態においては、略４０度のエッジと略１３０度のエッジ）の遮蔽物を特定するように構成したが、本発明はこれに限定されない。
例えば、図８に示すような、勾配方向が画像内の位置により変化する遮蔽物の画像に対して勾配ヒストグラムを作成した場合を想定する。形成される勾配ピークは２つ存在する。しかし、図８に示す画像では、フェンスの方向が緩やかに変化しているため、得られる勾配ヒストグラムの勾配ピークは、図３に示す画像から得られる勾配ヒストグラム（図６参照）の勾配ピークよりも幅が広くなる。
従って、図８に示すような、勾配方向が画像内の位置に応じて緩やかに変化する遮蔽物や、遠近等の画像への映り込みの状態等により画像内で勾配方向が緩やかに変化する遮蔽物を選定する場合には、例えば、勾配ピーク選定部４５が選定する勾配方向θを有する画素を特定する範囲をθ±γ広げればよい。即ち、勾配ピーク選定部４５が選定する勾配ヒストグラムのピークの幅を、想定される勾配方向の変化分、例えば、γだけ広げればよい。
【００６９】
また、上述の実施形態では、輝度画像に平滑化処理を行うことによりノイズの除去を実行し、勾配ヒストグラム作成時にも所定の勾配強度を除去することによってノイズの除去を実行するものとして説明した。しかし、これらのノイズの除去は、遮蔽物を特定するための精度を高めるに過ぎず、本発明の目的を達成するために、必須の構成ではなく、種々の使用目的等により適宜採用することができる。
【００７０】
また、上述の実施形態では、画像内における遮蔽物の特定を、勾配方向θに撮像装置からの遠近の重み付けを加味して判断するとして説明したが、本発明はこれに限定されない。撮像装置からの遠近の重み付けは、フェンス越しの撮影を想定し、手前にある遮蔽物は外形のエッジ（コントラスト）が強くなる傾向が高く、ＡＦ評価値に反映されやすいことを考慮して、手前にある遮蔽物を積極的に排除するという思想に基づいている。このため、必ずしも必須の構成ではなく、種々の使用目的等により適宜採用することができる。
【００７１】
また、上述の実施形態では、本発明が適用される電子装置は、デジタルカメラ等の撮像装置１を例として説明したが、特にこれに限定されない。本発明は、上述のＡＦ評価処理を実行可能な電子機器一般に適用することができる。具体的には、例えば、本発明は、ノート型のパーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、携帯型ナビゲーション装置、携帯電話装置、ポータブルゲーム機、ＷＥＢカメラ等に適用可能である。
【００７２】
上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。また例えば、上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。換言すると、図２の機能的構成は例示に過ぎず、特に限定されない。即ち、上述した一連の処理を全体として実行できる機能が撮像装置１に備えられていれば足り、この機能を実現するためにどのような機能ブロックを用いるのかは特に図２の例に限定されない。また、１つの機能ブロックは、ハードウェア単体で構成してもよいし、ソフトウェア単体で構成してもよいし、それらの組み合わせで構成してもよい。
【００７３】
一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、コンピュータ等にネットワークや記録媒体からインストールされる。コンピュータは、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータであってもよい。また、コンピュータは、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能なコンピュータ、例えば汎用のパーソナルコンピュータであってもよい。
【００７４】
このようなプログラムを含む記録媒体は、ユーザにプログラムを提供するために装置本体とは別に配布される図１のリムーバブルメディア２３により構成されるだけでなく、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体等で構成される。外部メモリ２６は、例えば、磁気ディスク（フロッピディスクを含む）、光ディスク、又は光磁気ディスク等により構成される。光ディスクは、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）等により構成される。光磁気ディスクは、ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ）等により構成される。また、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体は、例えば、プログラムが記録されている図１のＲＯＭ１２や、図１の記憶部２０に含まれるハードディスク等で構成される。
【００７５】
なお、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、その順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的或いは個別に実行される処理をも含むものである。
また、本明細書において、システムの用語は、複数の装置や複数の手段などより構成される全体的な装置を意味するものとする。
【００７６】
以上、本発明のいくつかの実施形態について説明したが、これらの実施形態は、例示に過ぎず、本発明の技術的範囲を限定するものではない。本発明はその他の様々な実施形態を取ることが可能であり、更に、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、省略や置換等種々の変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、本明細書等に記載された発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【００７７】
以下に、本願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
［付記１］
画像を取得する取得手段と、
前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。
［付記２］
前記特定手段は、前記勾配強度が最大値となる勾配角度を有する第１のエッジと、その勾配角度とは異なり、前記勾配強度が２番目に高い値となる勾配角度を有する第２のエッジを特定し、
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記第１のエッジ及び前記２のエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出することを特徴とする付記１に記載の画像処理装置。
［付記３］
前記画像の輝度の勾配に基づいて、勾配強度についての勾配方向の分布を表す勾配ヒストグラムを算出するヒストグラム算出手段を更に備え、
前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出した勾配ヒストグラムに基づき、勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする付記１又は２に記載の画像処理装置。
［付記４］
前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強度が所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して前記勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする付記３に記載の画像処理装置。
［付記５］
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記取得手段によって取得した画像から前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域をマスクしたマスク画像を生成する生成手段を含み、
前記ＡＦ評価値算出手段は、前記生成手段によって生成されたマスク画像からＡＦ評価値を算出することを特徴とする付記１から４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
［付記６］
画像を入力する入力ステップと、
この入力された画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定ステップと、
この特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出ステップと、
を備えたことを特徴とする画像処理方法。
［付記７］
処理を制御するコンピュータに、
画像を入力する入力機能と、
前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定機能と、
前記特定機能の発揮によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からＡＦ評価値を算出するＡＦ評価値算出機能と、
を実現させるためのプログラム。
【符号の説明】
【００７８】
１・・・撮像装置、１１・・・ＣＰＵ、１２・・・ＲＯＭ、１３・・・ＲＡＭ、１４・・・画像処理部、１５・・・バス、１６・・・入出力インターフェース、１７・・・撮像部、１８・・・操作部、１９・・・表示部、２０・・・記憶部、２１・・・通信部、２２・・・ドライブ、２３・・・リムーバブルメディア、４１・・・スルー画像取得部、４２・・・輝度画像生成部４２・・・ノイズ除去部、４４・・・勾配ヒストグラム作成部、４５・・・勾配ピーク選定部、４６・・・除外画素選定部、４７・・・ＡＦ評価用画像生成部、４８・・・ＡＦ評価部
【図１】
0005853369.tif 000007
【図２】
0005853369.tif 000008
【図３】
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【図５】
0005853369.tif 000010
【図６】
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【図７】
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【図８】
0005853369.tif 000013
【図４】
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