(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数本の光ファイバ心線を並列に並べて一体化したテープ心線である被測定用ファイバをＶ溝ブロックの複数のＶ溝に１心ずつ挿入し、
前記被測定用ファイバの本数と同数の光ファイバ心線からなり、一端側が１心毎に測定器に接続され他端側が複数心を並列に並べて一体化されたテープ心線である測定用ダミーファイバの他端を前記Ｖ溝に挿入し、
前記測定用ダミーファイバと前記被測定用ファイバとを突き合わせて前記被測定用ファイバ全心の伝送特性を同時に測定し、
前記測定器の測定結果をもとに、前記測定用ダミーファイバが所定のＶ溝とは異なるＶ溝に挿入されたと認められる場合は再測定要と判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ファイバの測定方法であって、
前記測定器としてＯＴＤＲ測定器を用い、前記ＯＴＤＲ測定器の波形から測定される接続損失の測定結果に所定の値以上のものが含まれる場合に再測定要と判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項３】
請求項２に記載の光ファイバの測定方法であって、
再測定要と判定された際には、前記測定用ダミーファイバの断心の有無を確認し、前記測定用ダミーファイバが断心していなかった場合は前記被測定用ファイバ全心の再測定を行い、前記測定用ダミーファイバが断心していた場合は前記測定用ダミーファイバの断心修復後に前記被測定用ファイバ全心の再測定を行うことを特徴とする光ファイバの測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ケーブルにおける伝送特性検査を行う光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ケーブルに収納されている光ファイバの伝送特性検査は、ＯＴＤＲ測定器（Optical Time Domain Reflectmeter）で行われているが、多心の光ファイバが測定対象である場合は、測定補助装置（ＭＡＳ：Multiple Alignment System）を使用して効率良く測定される。
【０００３】
具体的には、測定用のダミーファイバと接続するために、ＭＡＳ上に並列状に位置決め固定されている複数の各Ｖ溝内に、被測定用ファイバである複数のテープ心線の端末を挿入する。次に、ＯＴＤＲ測定器に接続されたダミーファイバの逆端側をＭＡＳ上の可動ヘッドに挿入する。次に、可動ヘッドを位置制御して、被測定用ファイバがセットされている適切な各Ｖ溝内にダミーファイバを順次挿入する。これにより、被測定用ファイバの端部とダミーファイバの端部が突き合わさる。
【０００４】
次に、検査ソフトをインストールしたコンピュータによりＯＴＤＲ測定器の動作を制御して、複数の各テープ心線における伝送特性の良否を自動判定する（例えば、特許文献１参照）。なお、検査ソフトは、ＯＴＤＲ測定器やＭＡＳの動作制御およびＯＴＤＲ測定器より取得した測定データの解析による良否判定を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−９０７８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記光ファイバ測定装置による光ファイバの測定方法では、可動ヘッドにセットされたダミーファイバをＶ溝内に挿入する際に、ダミーファイバが適正なＶ溝位置に挿入されず、例えば、隣接する隣のＶ溝内に誤挿入される場合がある。この場合、正規の被測定用ファイバとのＶ溝接続が行われず、測定漏れとなる「軸ズレ」現象となり、正しい判定ができない。
【０００７】
４心テープ心線測定を一例に、軸ズレの発生パターンを説明する。
発生パターンＡは、テープ両端心の外側のＶ溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、従来の検査ソフトでは、接続ロス異常と自動判定されるため、軸ズレの発生を検出できる可能性がある。
しかしながら、接続ロス異常の本来の検出対象としては、ファイバ端面の異常（欠け、傾斜）、異物混入や異種ファイバの混入検出に対してであり、軸ズレ現象は想定していない。従って、従来システムでは接続ロス異常と自動判定された場合でも、軸ズレなのか他の要因なのかの判断がつかない。
【０００８】
発生パターンＢは、テープ両端心の内側のＶ溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、同一心が連続して測定されることになる。従って、被測定用ファイバとの突き合わせ接続は確立されているので、従来の検査ソフトでは接続ロス異常にはならなく、軸ズレを全く検出できない。
【０００９】
上記軸ズレの主な発生要因としては、下記要因１〜３が想定される。
発生要因１は、ＭＡＳの老朽化に伴う可動ヘッドの移動精度不足である。即ち、Ｖ溝の谷中心からのズレや移動ピッチの精度低下に因る。
発生要因２は、ダミーファイバの曲がりによる先端部の大きなぶれ量に因る。
発生要因３は、可動ヘッドへのダミーファイバのセット不備に因る。
【００１０】
また、上記光ファイバ測定装置では、可動ヘッドに１心のダミーファイバを保持させ、例えば、４心テープ心線測定の際に、１心ずつダミーファイバを突き合わせて測定するものであり、全ての測定に長時間を要する。
【００１１】
本発明の目的は、軸ズレ現象を確実に検出することができ、測定効率を向上させ測定時間を短縮することが可能な光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題を解決することのできる本発明の光ファイバの測定方法は、複数本の光ファイバ心線を並列に並べて一体化したテープ心線である被測定用ファイバをＶ溝ブロックの複数のＶ溝に１心ずつ挿入し、
前記被測定用ファイバの本数と同数の光ファイバ心線からなり、一端側が１心毎に測定器に接続され他端側が複数心を並列に並べて一体化されたテープ心線である測定用ダミーファイバの他端を前記Ｖ溝に挿入し、
前記測定用ダミーファイバと前記被測定用ファイバとを突き合わせて前記被測定用ファイバ全心の伝送特性を同時に測定し、
前記測定器の測定結果をもとに、前記測定用ダミーファイバが所定のＶ溝とは異なるＶ溝に挿入されたと認められる場合は再測定要と判定することを特徴とする。
【００１５】
本発明の光ファイバの測定方法において、前記測定器として前記ＯＴＤＲ測定器を用い、前記ＯＴＤＲ測定器の波形から測定される接続損失の測定結果に所定の値以上のものが含まれる場合に再測定要と判定することが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法によれば、被測定用ファイバの心数と同数の心数の測定用ダミーファイバを用い、この測定用ダミーファイバを被測定用ファイバに突き合わせて伝送特性を測定する。
例えば、１心の測定用ファイバを順次移動させて複数心の被測定用ファイバを測定する場合では、被測定用ファイバの両端心が挿入されている両Ｖ溝の何れかの内側に測定用ダミーファイバが誤挿入された際に、同一心が連続測定される可能性がある。その場合でも、誤測定であるにも関わらず測定用ダミーファイバと被測定用ファイバとの接続は確立される。つまり、軸ズレが生じているにも関わらず、正常と判定されてしまうおそれがある。
これに対して、本発明では、被測定用ファイバの心数と同数の心数の測定用ダミーファイバで伝送特性を一括して測定することができるので、軸ズレによる同一心の連続測定による測定不良（発生パターンＢ）の発生をなくすことができる。
また、被測定用ファイバに対して測定用ダミーファイバが軸ズレ（発生パターンＡ）した場合、測定用ダミーファイバには、被測定用ファイバと突き合わされないものが存在することとなり、極端に接続ロス値が高くなる特異パターンが生じる。したがって、この特異パターンを容易に検出し、測定用ファイバが所定のＶ溝とは異なるＶ溝に挿入されているため、再測定要と判定することができる。
しかも、被測定用ファイバの心数と同数の心数の測定用ダミーファイバで伝送特性を一括して測定することで、被測定用ファイバの全心を同時に測定することができて測定作業効率が向上し、測定時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る光ファイバ測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１のＭＡＳの要部を示す拡大図である。
【図３】図２のＭＡＳのＶ溝ブロック上での光ファイバの接続端部を示す概略図である。
【図４】図３の軸ズレ発生の説明図である。
【図５】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャートである。
【図６】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法の一実施形態を説明する。本実施形態は、被測定用ファイバが４心テープ心線の場合を一例に説明する。
【００１９】
図１に示すように、本実施形態の光ファイバ測定装置１０は、主にダミーファイバＦ０の一端側が接続されたＯＴＤＲ測定器１１と、Ｖ溝ブロック１４上でダミーファイバＦ０と被測定用ファイバＦ１とを突き合わせる測定補助装置（ＭＡＳ）１２と、ＯＴＤＲ測定器１１及びＭＡＳ１２を動作制御する制御装置１３とを備えている。本例では、ＯＴＤＲ測定器１１は、４台設置されている。
【００２０】
被測定用ファイバＦ１は、４本の光ファイバ心線が一平面上に隣接して接触した状態で並列状に配置されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されている。１本の光ファイバ心線は、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含む樹脂で被覆されている。
【００２１】
ＯＴＤＲ測定器１１は、被測定用ファイバＦ１に光パルスを入射し、各部位からの後方散乱光の戻り時間と光量を測定することで、被測定用ファイバＦ１上の損失分布や損失値（ロス値）、欠陥位置等を算出する。被測定用ファイバＦ１自体に局所的にロスが高い箇所があると、ＯＴＤＲ波形上では傾きの変化（段差量、区間ロス値）として現れ、このような傾きの変化を段差異常や区間ロス異常として認識する。
【００２２】
制御装置１３は、伝送特性検査用の検査ソフトがインストールされている。制御装置１３は、ＯＴＤＲ測定器１１へ制御信号１５を発信して測定器自体の動作制御を行うとともに、ＯＴＤＲ測定器１１から取得した測定データ１６を受信して、測定データ１６を解析して良否判定を行う。同時に、ＭＡＳ１２へ制御信号１７を発信して、後述する可動ヘッド２０の動作制御を行って、Ｖ溝ブロック１４上の接続部Ｐに位置決めされている各被測定用ファイバＦ１に、ダミーファイバＦ０の他端側を突き合わせる。
【００２３】
図２に示すように、ＭＡＳ１２は、ガイドレール２２上を移動する可動ヘッド２０と、４心の被測定用ファイバＦ１を保持するテープホルダ２３と、テープホルダ２３毎に被測定用ファイバＦ１を配置する複数列のステージ２４とを備えている。各ステージ２４の前方には、複数のＶ溝３０（図３参照）を有するＶ溝ブロック１４が設けられている。ステージ２４は、Ｖ溝ブロック１４に向かって所定角度だけ傾斜している。
【００２４】
図３に示すように、Ｖ溝ブロック１４のＶ溝３０は、谷部３１と山部３２が交互に形成されることで、第１溝部３０ａ、第２溝部３０ｂ、第３溝部３０ｃおよび第４溝部３０ｄを含む８または１２の溝部が形成されている。このＶ溝３０のピッチＸは、４心の被測定用ファイバＦ１を構成する光ファイバ心線Ｆ１ａの着色層を含む所定長さの樹脂を剥くことで露出した被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の隣接するガラスファイバ間隔、例えば、第１ガラスファイバＧｈ１と第２ガラスファイバＧｈ２の中心軸間の間隔Ｗに一致する。したがって、可動ヘッド２０の矢印２５方向への最小移動距離は、Ｖ溝３０のピッチＸに一致するように設定される。
【００２５】
図２に示すように、可動ヘッド２０は、ガイドレール２２によって矢印２５方向に移動可能なように設定されている。可動ヘッド２０上には、ダミーファイバＦ０を保持するダミーホルダ２１を備えている。このダミーホルダ２１は、ガイドレール２２に沿った可動ヘッド２０の移動方向２５に対して直角な矢印２６方向に所定距離だけ移動可能なように設定されている。このダミーホルダ２１は、４心のダミーファイバＦ０を保持する。
【００２６】
測定用ダミーファイバであるダミーファイバＦ０は、被測定用ファイバＦ１の光ファイバ心線Ｆ１ａの本数と同数の４本の光ファイバ心線Ｆ０ａを有しており、各心の一端側は、１心毎に、それぞれのＯＴＤＲ測定器１１に接続されている。ダミーファイバＦ０の光ファイバ心線Ｆ０ａの他端側は、４本が一平面上に隣接して接触した状態で並列状に配置されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されてテープ心線の状態とされている。被測定用ファイバＦ１と同様に、ダミーファイバＦ０の光ファイバ心線Ｆ０ａは、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含むファイバ樹脂で被覆されている。このダミーファイバＦ０は、その光ファイバ心線Ｆ０ａのピッチが被測定用ファイバＦ１の光ファイバ心線Ｆ１ａと同一ピッチとされている。
【００２７】
ダミーファイバＦ０は、ダミーホルダ２１への取付け前に光ファイバ心線Ｆ０ａの先端部分のファイバ樹脂を剥いで所定長さのダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を露出させる。このダミーファイバＦ０は可動ヘッド２０上のダミーホルダ２１の所定位置に取付けられる。したがって、ダミーホルダ２１の矢印２６方向への移動距離は、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部と、Ｖ溝ブロック１４上に配置された突き合わせ相手の被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の先端部との間隔Ｙに一致するように設定される。
【００２８】
軸ズレ発生の原因を説明する。なお、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４のガラス径Ｄ０（例えば、１２５μｍ）、可動ヘッド２０の最小移動距離に一致するＶ溝ブロック１４のＶ溝３０のピッチＸ（例えば、２５０μｍ、）との関係が、Ｘ＝２Ｄ０である場合を一例に説明する。
【００２９】
図４に示すように、本実施形態に係る光ファイバ測定装置１０では、４心のダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が、可動ヘッド２０によって、被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４が配置されたＶ溝ブロック１４のＶ溝３０内の谷部３１中央に位置制御される。
【００３０】
各溝部３０内に位置制御させるための許容範囲は、谷部３１の中心位置前後の±１２５μｍとなる。この許容範囲（±１２５μｍ）をオーバーすると、それぞれのダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４は、隣接する溝部３０内に入ってしまい「軸ズレ」発生となる。例えば、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が図３中右側に１２５μｍ以上ずれるとダミーガラスファイバＧｄ１は、被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の何れも配置されていない溝部３０に誤挿入される。また、ダミーガラスファイバＧｄ２が第１溝部３０ａに誤挿入され、ダミーガラスファイバＧｄ３が第２溝部３０ｂに誤挿入され、ダミーガラスファイバＧｄ４が第３溝部３０ｃに誤挿入されることとなる。
【００３１】
次に、本実施形態の光ファイバの測定方法について説明する。
軸ズレ発生時の特異パターンを把握して、検査ソフトへ判定ロジックを組み込むことにより、自動検出が可能となる。以下、組み込む判定ロジックを説明する。なお、本実施形態は、被測定用ファイバが４心テープ心線の場合を一例に説明する。
【００３２】
例えば、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が図３中右側に１２５μｍ以上ずれることで、発生パターンＡが想定される。具体的には、前述したように、ダミーガラスファイバＧｄ１は、被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の何れも配置されていない溝部３０に誤挿入される。また、ダミーガラスファイバＧｄ２が第１溝部３０ａに誤挿入され、ダミーガラスファイバＧｄ３が第２溝部３０ｂに誤挿入され、ダミーガラスファイバＧｄ４が第３溝部３０ｃに誤挿入される。この場合、接続相手のガラスファイバが全く接続されていないダミーガラスファイバＧｄ１が存在することとなり、このダミーガラスファイバＧｄ１における測定データは、他のダミーガラスファイバＧｄ２〜Ｇｄ４と比較して極端に接続ロス値が高くなるのが特異パターンとなる。
【００３３】
ファイバ端面への異物付着やカッティング状態による接続ロス異常の実績値や未接続状態での接続ロス値（約３１ｄＢ）に基づいて、「完全軸ズレ」の判定基準値を３０ｄＢ以上とする。したがって、新たに軸ズレ検出専用のこの判定基準値（３０ｄＢ以上）を追加することで、確実に軸ズレを検出することができる。なお、ここでいう完全軸ズレとは、軸ズレの可能性が略１００％であることを意味する。また、使用するＯＴＤＲ測定器１１によっては、判定基準値を２０ｄＢ以上とする場合もある。
【００３４】
図５に示すように、測定手順としては、まず、仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理（ステップＳ１）を行う。
【００３５】
次に、判定基準値（３０ｄＢ以上）に基づいて第１の接続ロス判定（ステップＳ２）を行う。接続ロス値が３０ｄＢ以上のものがある場合は、軸ズレ対応処理（ステップＳ３）として、「完全軸ズレ」であることを表示する。
【００３６】
接続ロス値が３０ｄＢ未満の場合は、第２の接続ロス判定（ステップＳ４）を行う。接続ロス値が基準値の上限を超え且つ３０ｄＢ未満の場合は、再接続処理（ステップＳ５）として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
全てのダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４で接続ロス値が基準値を満たす場合は、通常測定（ステップＳ６）で、全ての被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４で全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するＤＢ登録（ステップＳ７）を行う。
【００３７】
（再測定の確認処理）
次に、図６に示すように、ステージ上の各テープホルダでの判定結果に基づいて、再測定の確認処理（ステップＳ３２）を行う。ここでの基本的な処理ステップは、第１ステップ及び第２ステップを順次段階的に行っていく。
【００３８】
＜第１ステップ＞
第１ステップは、完全軸ズレを再測定して、良好、接続ロス異常のいずれかにする。図６に示すように、完全軸ズレが存在している場合であり、完全軸ズレ確認及び再測定処理（ステップＳ３３）を行う。先ず、ダミーファイバＦ０の断心の有無を確認する。なお、ここでいう断心とは、測圧や曲げ等の影響を受けて、ダミーファイバＦ０のガラス部分が完全に折れた状態である。
【００３９】
ダミーファイバＦ０の断心でない場合は、完全軸ズレと判断して、完全軸ズレのボタンを押すことで、自動運転されていた測定心の良好、接続ロス異常を完全軸ズレに変更する。その後、全心の再測定処理を行う。
【００４０】
ダミーファイバＦ０の断心である場合は、完全軸ズレではないと判断して、ダミー断心のボタンを押すことで、ダミー断心の表示に変更し、ダミー断心を修復後に、手動モードあるいは自動モードにて全心の再測定を行う。
【００４１】
＜第２ステップ＞
第２ステップは、接続ロス異常を再測定して、全て良好にする。
【００４２】
完全軸ズレは存在しないが、接続ロス異常が存在している場合であり、接続ロス異常の再測定処理（ステップＳ３４）を行う。
【００４３】
以下の手順に従って処理を進める。
１）接続ロス異常の全心に対して、手動モードあるいは自動モードにて再測定を行う。
２）再測定により全心を良好心とする。
【００４４】
最後に、再測最終心の測定完了後に、再測定心の確認処理（ステップＳ３６）を行い、検査作業を終了する。この確認処理によって軸ズレまたは接続ロス異常が確認された場合は、再度、完全軸ズレ確認及び再測定処理（ステップＳ３３）または接続ロス異常の再測定処理（ステップＳ３４）へフィードバックして、再測定を行う。
【００４５】
上述したように本実施形態の光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法では、被測定用ファイバＦ１の心数と同数の心数のダミーファイバＦ０を用い、このダミーファイバＦ０の各ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を被測定用ファイバＦ１の各被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４に突き合わせてＯＴＤＲ測定器１１で伝送特性を測定する。
【００４６】
例えば、１心のダミーファイバを順次移動させて複数心の被測定用ファイバを測定する場合では、被測定用ファイバの両端心が挿入されている両Ｖ溝の何れかの内側にダミーファイバのダミーガラスファイバが誤挿入された際に、同一心が連続測定される可能性があり、誤測定であるにも関わらずダミーガラスファイバと被測定用ファイバの被測定ガラスファイバとの接続は確立される。つまり、軸ズレが生じているにも関わらず、正常と判定されてしまうおそれがある。
【００４７】
これに対して、本発明では、被測定用ファイバＦ１の心数と同数の心数のダミーファイバＦ０で伝送特性を一括して測定することができるので、軸ズレによる同一心の連続測定による測定不良（発生パターンＢ）の発生をなくすことができる。
【００４８】
また、被測定用ファイバＦ１に対してダミーファイバＦ０が軸ズレ（発生パターンＡ）した場合、ダミーファイバＦ０には、被測定用ファイバＦ１の被測定ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４と突き合わされないダミーガラスファイバが存在することとなり、極端に接続ロス値が高くなる特異パターンが生じる。したがって、この特異パターンを容易に検出し、ダミーファイバＦ０が所定のＶ溝３０とは異なるＶ溝３０に挿入されているため、再測定要と判定することができる。
【００４９】
しかも、被測定用ファイバＦ１の心数と同数の心数のダミーファイバＦ０で伝送特性を一括して測定することで、被測定用ファイバＦ１の全心を同時に測定することができ、測定作業効率が向上し、測定時間を短縮することができる。
【００５０】
また、ＯＴＤＲ測定器１１を用い、このＯＴＤＲ測定器１１の波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値である判断基準値以上のものが含まれる場合に、再測定要と判定するので、被測定用ファイバＦ１に対するダミーファイバＦ０の軸ズレを確実に検出することができる。
【００５１】
なお、上記実施形態では、４心の被測定用ファイバＦ１に対して４心のダミーファイバＦ０を用いたが、被測定用ファイバＦ１及びダミーファイバＦ０の心数は４心に限らない。例えば、被測定用ファイバＦ１が２心であれば、ダミーファイバＦ０も２心となり、被測定用ファイバＦ１が８心であれば、ダミーファイバＦ０も８心となる。
【００５２】
また、上記実施形態では、４心のダミーファイバＦ０に対して各心に一つずつのＯＴＤＲ測定器１１を設けている。したがって、８心の場合では、ＯＴＤＲ測定器１１は８台必要となる。
ＯＴＤＲ測定器１１としては、複数の入出力ポートを有するものを用いるのが好ましい。例えば、２つの入出力ポートを有するＯＴＤＲ測定器１１では、８心の場合に必要となる台数は４台となり、また、４つの入出力ポートを有するＯＴＤＲ測定器１１では、８心の場合に必要となる台数は２台となる。
【００５３】
また、複数の入出力ポートを有するＯＴＤＲ測定器１１を使用する以外にも、測定用ダミーファイバとＯＴＤＲ測定器(入出力ポートは１箇所のみ)の間に、新たに光チャンネルセレクタ(切り替えチャンネル数：２×４や２×８)を導入することにより、２台のＯＴＤＲ測定器のみで４心や８心の測定が対応可能となる。
【００５４】
なお、本発明の光ファイバ測定装置及び光ファイバの測定方法は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良等が自在である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置場所等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
【符号の説明】
【００５５】
１０：光ファイバ測定装置、１１：ＯＴＤＲ測定器、１２：ＭＡＳ（測定補助装置）、１３：制御装置、１４：Ｖ溝ブロック、３０：Ｖ溝、Ｆ０：ダミーファイバ（測定用ファイバ）、Ｆ１：被測定用ファイバ、Ｆ０ａ，Ｆ１ａ：光ファイバ心線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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