(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
設定されているスキャン条件に基づいて被検体の被曝量の予測値を算出する算出手段と、
前記算出された被曝量の予測値を表すグラフを表示し、操作者による該グラフの変更を受け付けるユーザインタフェースと、
前記変更されたグラフに対応する被曝量の目標値を設定する設定手段と、
前記算出手段により算出される被曝量の予測値が前記設定された被曝量の目標値に近づくよう、前記スキャン条件を調整する調整手段とを備えているＸ線ＣＴ装置であって、
前記スキャン条件は、優先順位が定められた複数のパラメータを含んでおり、
前記調整手段は、所定の優先順位のパラメータを調整し、該パラメータの設定が所定の条件に達したら、次に優先順位が高いパラメータを調整しており、
前記複数のパラメータは、Ｘ線照射出力と画像再構成時に用いるノイズ低減処理の強さとのバランスを表すパラメータを含んでいるＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記複数のパラメータの優先順位は、前記操作者によって任意に設定可能である請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記ユーザインタフェースは、前記グラフ上に被曝量の基準値を示すマークを表示する請求項１または請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記複数のパラメータは、自動露出機構に係るパラメータを含んでいる請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記複数のパラメータは、Ｘ線照射出力に係るパラメータを含んでいる請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記スキャン条件は、複数のスキャングループの各々に対するパラメータを含んでおり、
前記算出手段は、前記スキャングループごとに被曝量の予測値を算出し、
前記ユーザインタフェースは、前記スキャングループごとの被曝量の予測値を表すグラフを表示する請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記ユーザインタフェースは、前記グラフ上で操作者によるスキャングループの選択を受け付け、選択されたスキャングループの被曝量の予測値をテキスト情報で表示する請求項６に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記ユーザインタフェースは、スキャン開始後に、前記グラフにおけるスキャン未実行のスキャングループに対応する部分の変更を受け付ける請求項６または請求項７に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項９】
前記算出手段は、前記被検体の部位ごとに被曝量の予測値を算出し、
前記ユーザインタフェースは、前記被検体の部位ごとの被曝量の予測値を表すグラフを表示する請求項１から請求項８のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】
前記算出手段は、前記被検体の部位ごとの被曝量の予測値を、該部位の放射線感受性の高さを考慮して算出する請求項９に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】
前記ユーザインタフェースは、前記被検体の複数の部位について該部位に応じた被曝量の基準値を示すマークを表示する請求項９または請求項１０に記載のＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ＣＴ(Computed Tomography)装置に関し、詳しくは、被検体の被曝量の予測値をグラフ(graph)化して表示することができるＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
設定されているスキャン(scan)条件に基づいて被検体の被曝量の予測値を算出し、その予測値をグラフ化して表示することができるＸ線ＣＴ装置が知られている（例えば特許文献１，図４等参照）。このようなＸ線ＣＴ装置によれば、設定されているスキャン条件でスキャンした場合に、被検体の被曝量がどの程度になるかを直感的に把握することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−０６６２８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、オペレータ(operator)は、上記グラフを参照して、予測される被曝量が期待通りでないと考える場合には、スキャン条件を変更する。
【０００５】
しかしながら、上記の装置では、設定されているスキャン条件に基づいて被曝量の予測値を算出してこれをグラフ化するだけである。そのため、被検体の被曝量の予測値を期待通りの値にするには、いわゆるトライ・アンド・エラー(try and error)形式により、スキャン条件の設定変更とグラフの参照とを繰り返し行う必要がある。このような作業は効率が悪く、オペレータに負担を与えるだけでなく、撮影の生産性がよくない。
【０００６】
このような事情により、スキャン条件を変更する際に、被検体の被曝量として所望値を効率よく狙うことができるＸ線ＣＴ装置が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の観点の発明は、設定されているスキャン条件に基づいて被検体の被曝量の予測値を算出する算出手段と、前記算出された被曝量の予測値を表すグラフを表示し、操作者による該グラフの変更を受け付けるユーザインタフェース(user interface)と、前記変更されたグラフに対応する被曝量の目標値を設定する設定手段と、前記算出手段により算出される被曝量の予測値が前記設定された被曝量の目標値に近づくよう、前記スキャン条件を調整する調整手段とを備えているＸ線ＣＴ装置を提供する。
【０００８】
第２の観点の発明は、前記ユーザインタフェースが、前記グラフ上に被曝量の基準値を示すマークを表示する上記第１の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【０００９】
第３の観点の発明は、前記スキャン条件が、優先順位が定められた複数のパラメータ(parameter)を含んでおり、前記調整手段が、所定の優先順位のパラメータを調整し、該パラメータの設定が所定の条件に達したら、次に優先順位が高いパラメータを調整する上記第１の観点または第２の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１０】
第４の観点の発明は、前記複数のパラメータが、自動露出機構に係るパラメータを含んでいる上記第３の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１１】
第５の観点の発明は、前記複数のパラメータが、Ｘ線照射出力と画像再構成時に用いるノイズ低減処理の強さとのバランス(balance)に係るパラメータを含んでいる上記第３の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１２】
第６の観点の発明は、前記複数のパラメータが、Ｘ線照射出力に係るパラメータを含んでいる上記第３の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１３】
第７の観点の発明は、前記スキャン条件が、複数のスキャングループ(scan group)の各々に対するパラメータを含んでおり、前記算出手段が、前記スキャングループごとに被曝量の予測値を算出し、前記ユーザインタフェースが、前記スキャングループごとの被曝量の予測値を表すグラフを表示する上記第１の観点から第６の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１４】
第８の観点の発明は、前記ユーザインタフェースが、前記グラフ上で操作者によるスキャングループの選択を受け付け、選択されたスキャングループの被曝量の予測値をテキスト情報で表示する上記第７の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１５】
第９の観点の発明は、前記ユーザインタフェースが、スキャン開始後に、前記グラフにおけるスキャン未実行のスキャングループに対応する部分の変更を受け付ける上記第７の観点または第８の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１６】
第１０の観点の発明は、前記算出手段が、前記被検体の部位ごとに被曝量の予測値を算出し、前記ユーザインタフェースが、前記被検体の部位ごとの被曝量の予測値を表すグラフを表示する上記第１の観点から第９の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１７】
第１１の観点の発明は、前記算出手段が、前記被検体の部位ごとの被曝量の予測値を、該部位の放射線感受性の高さを考慮して算出する上記第１０の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１８】
第１２の観点の発明は、前記ユーザインタフェースが、前記被検体の複数の部位について該部位に応じた前記マークを表示する上記第１０の観点または第１１の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【発明の効果】
【００１９】
上記観点の発明によれば、被曝予測グラフを表示し、操作者によるそのグラフの変更を受け付け、変更されたグラフに対応する被曝量の目標値を設定し、算出される被曝量の予測値が、設定された被曝量の目標値に近づくよう、スキャン条件を調整することができ、スキャン条件を変更する際に、被検体の被曝量として所望値を効率よく狙うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】Ｘ線ＣＴ装置の構成を模式的に示す図である。
【図２】Ｘ線照射・検出装置の構成を模式的に示す図である。
【図３】被検体の撮影を行うときのＸ線ＣＴ装置の動作フロー(flow)を示す図である。
【図４】スキャングループの一例を概念的に示す図である。
【図５】第一実施形態による被曝予測グラフの表示例を示す図である。
【図６】第一実施形態による被曝予測グラフにおける区分領域の変更例を示す図である。
【図７】調整するスキャンパラメータの候補とその優先順位の一例を示す図である。
【図８】第一実施形態の第一変形例による被曝予測グラフの表示例を示す図である。
【図９】第一実施形態の第二変形例における１検査を構成するスキャングループの一例を概念的に示す図である。
【図１０】第一実施形態の第二変形例による被曝予測グラフの表示例を示す図である。
【図１１】第二実施形態による被曝予測グラフの表示例を示す図である。
【図１２】第二実施形態による被曝予測グラフにおける区分領域の変更例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を参照して発明の実施形態を説明する。なお、これにより本発明は限定されない。
【００２２】
（第一実施形態）
図１に、Ｘ線ＣＴ装置の構成を模式的に示す。
【００２３】
本装置は、ガントリ(gantry)１００、テーブル(table)２００およびオペレータコンソール(operator console)３００を有する。ガントリ１００は、テーブル２００によって搬入される被検体１０を、Ｘ線照射・検出装置１１０でスキャンして複数ビュー(view)の投影データ(data)を収集し、オペレータコンソール３００に入力する。
【００２４】
オペレータコンソール３００は、ガントリ１００から入力された投影データに基づいて画像再構成を行い、再構成画像をディスプレイ(display)３０２に表示する。画像再構成は、オペレータコンソール３００内の専用のコンピュータ(computer)によって行われる。
【００２５】
オペレータコンソール３００は、また、ガントリ１００とテーブル２００の動作を制御する。制御はオペレータコンソール３００内の専用のコンピュータによって行われる。オペレータコンソール３００による制御の下で、ガントリ１００は所定のスキャン条件でスキャンを行い、テーブル２００は所定の部位がスキャンされるように、被検体１０の位置決めを行う。位置決めは、テーブル２００が内蔵する位置調節機構により、上部構造体２０２の高さおよびクレードル(cradle)２０４の水平移動距離を調節することによって行われる。
【００２６】
クレードル２０４を停止させた状態でスキャンすることにより、アキシャルスキャン(axial scan)を行うことができる。また、クレードル２０４を移動させた状態でスキャンすることにより、ヘリカルスキャン(helical scan)を行うことができる。
【００２７】
上部構造体２０２の高さ調節は、クレードル２０４とベース(base)２０８との間に設けられた昇降機構２０６によって行われる。スキャン条件によっては、ガントリ１００をチルト(tilt)させた状態でスキャンが行われる。ガントリ１００のチルトは、内蔵のチルト機構によって行われる。
【００２８】
図２に、Ｘ線照射・検出装置１１０の構成を模式的に示す。Ｘ線照射・検出装置１１０は、Ｘ線管１３０の焦点１３２から放射されたＸ線１３４をＸ線検出器１５０で検出するようになっている。
【００２９】
Ｘ線１３４は、図示しないコリメータ(collimator)で成形されて、ファンビーム(fan
beam)またはコーンビーム(cone beam)のＸ線となる。Ｘ線検出器１５０は、Ｘ線の広がりに対応して２次元的に広がるＸ線入射面１５２を有する。Ｘ線入射面１５２は円筒の一部を構成するように湾曲している。円筒の中心軸は焦点１３２を通る。
【００３０】
Ｘ線照射・検出装置１１０は、撮影中心すなわちアイソセンタ(iso-center)ＩＣを通る中心軸の周りを回転する。中心軸は、Ｘ線検出器１５０が形成する部分円筒の中心軸に平行である。
【００３１】
回転の中心軸の方向をｚ方向とし、アイソセンタＩＣと焦点１３２を結ぶ方向をｙ方向とし、ｚ方向およびｙ方向に垂直な方向をｘ方向とする。これらｘ，ｙ，ｚ軸はｚ軸を中心軸とする回転座標系の３軸となる。
【００３２】
図３に、被検体の撮影を行うときの本装置の動作フローを示す。なお、撮影は、オペレータコンソール３００による制御の下で遂行される。また、オペレータとオペレータコンソール３００との間での各種情報のやり取りは、グラフィカル・ユーザ・インタフェース(graphical user interface ;ＧＵＩ)を用いてインタラクティブ(interactive)に行われる。
【００３３】
ステップ(step)５０１では、低線量のＸ線による被検体のスカウトスキャン(scout scan)を行う。このスカウトスキャンにより、被検体のスカウト画像が得られる。スカウト画像は、被検体のＸ線吸収プロファイル(profile)に相当し、主に、スキャン範囲やスキャン位置すなわちスライス(slice)位置の設定、自動露出機構による管電流変調カーブ(curve)の算出等に用いられる。
【００３４】
ステップ５０２では、被検体１０の１検査分のスキャンに係るスキャンパラメータ(scan parameter)を設定する。スキャンパラメータの設定は、例えば、オペレータコンソール３００のディスプレイ３０２にスカウト画像を含むスキャン計画画面が表示され、その画面を介してオペレータにより行われる。スキャンパラメータには、例えば、Ｘ線管１３０の管電圧および管電流、スキャン範囲、チルト角、スキャン位置、ガントリ回転速度、ヘリカルピッチ(helical
pitch)、自動露出機構の種類およびオンオフ(on/off)のモード(mode)、ノイズ(noise)低減画像フィルタ(filter)による被曝低減率などが含まれる。
【００３５】
スキャンパラメータの設定は、スキャングループごとに行われる。スキャングループとは、ガントリ回転速度、ヘリカルピッチ、自動露出機構のモード、被曝低減率などのスキャンパラメータによるスキャン条件を共通にして行われる一連のスキャンのまとまりである。スキャングループは、例えば、撮影部位、撮影タイミング、撮影目的に等によって分けられる。
【００３６】
ここでは、１検査として、被検体１０の頭部のパフュージョン撮影を行うことを想定する。図４に、パフュージョン撮影による１検査を構成するスキャングループの一例を概念的に示す。図４による示すように、１検査として、撮影タイミングが異なる３つのスキャングループを想定する。すなわち、頭部の同一スキャン範囲について、撮影タイミングｔ１でのチルトスキャンを第１スキャングループＧｒ１、撮影タイミングｔ２でのチルトスキャンを第２スキャングループＧｒ２、撮影タイミングｔ３でのチルトスキャンを第３スキャングループＧｒ３とする。
【００３７】
ステップ５０３では、設定されているスキャンパラメータを基に、１検査分の被曝予測値を算出し、その算出結果を基に被曝予測グラフを表示する。被曝予測値の算出は、スキャングループごとに、必要に応じてさらに細分化して行う。被曝予測値は、例えばＣＴＤＩｖｏｌ（ｍＧｙ）およびＤＬＰ（ｍＧｙ＊ｃｍ）で算出される。
【００３８】
図５に、第一実施形態による被曝予測グラフの表示例を示す。第一実施形態による被曝予測グラフは、例えば図５に示すように、ＤＬＰによる被曝量を軸にとった棒グラフ６１１である。ここでは、１検査分の各スキャングループの中で、スキャン範囲の少なくとも一部が互いに重複するスキャングループを特定する。特定されたスキャングループのトータル(total)の被曝予測値を一本のビン６１２の全長で表す。また、特定されたスキャングループごとの被曝予測値を、このビン６１２の区分領域６１２１，６１２２，・・・の長さでそれぞれ表す。なお、スキャングループが１つだけのときは、そのスキャングループの被曝予測値を一本のビンの全長で表す。また、各スキャングループにおいてスキャン範囲の重複部分がない場合には、スキャングループごとに一本ずつビンを割り当てて表示し、各スキャングループの被曝予測値をそれぞれのビンの全長で表す。
【００３９】
また、この棒グラフ６１１上には、被曝の参照用の基準値として被曝許容上限値を示す上限値ライン(line)（マーク）６１３を表示する。この上限値は、例えば次のようにして求める。まず、撮影部位、被検体の大人／小児の別、年齢、性別等に応じて、基準となるＣＴＤＩｖｏｌを決定する。決定されたＣＴＤＩｖｏｌの値に、各スキャングループにおけるスキャン範囲の重複部分のｚ方向長さを乗算し、その重複部分のＤＬＰ基準値を算出する。そして、算出された重複部分のＤＬＰ基準値に、特定されたスキャングループのスキャン範囲のうちこの重複部分以外の領域に対するＤＬＰの被曝予測値を加算して、上限値を求める。
【００４０】
スキャン範囲の重複部分はトータルの被曝量が大きくなりやすいが、このように表示することで、棒グラフ６１１のビンがこの上限値ライン６１３を超えているか否かを観ることにより、スキャン範囲の重複部分に対するトータルの被曝予測値がＤＬＰ基準値を超えているか否かを認識することができる。つまり、被曝量が大きくなりがちな、スキャン範囲の重複部分について、そのトータルの被曝量の管理、コントロールの支援を行うことができる。
【００４１】
ちなみに、オペレータがポインタ(pointer)７０１をビンまたはその区分領域の上に位置させると、その区分領域に対応するスキャングループの被曝詳細情報７０２がポップアップ(pop-up)表示される。被曝詳細情報７０２には、例えば、ＣＴＤＩｖｏｌによる被曝予測値、ＤＬＰによる被曝予測値、被曝効率（Ｘ線検出器の幅に対するＸ線照射幅の比率）、ＣＴＤＩｖｏｌの算出基準に用いたファントム(phantom)の径などが含まれる。
【００４２】
なお、被曝予測グラフは、スキャン開始後にも表示させておくことができる。この場合、”スキャン実行済み”のスキャングループの区分領域と、”スキャン実行中”のスキャングループの区分領域と、”スキャン未実行”のスキャングループの区分領域とを、それぞれ差別化して表示する。差別化は、区分領域の色、テクスチャ(texture)、枠線などを変えたり、反転表示、点滅表示させたりすることにより行われる。
【００４３】
ところで、表示された被曝予測グラフにおける各スキャングループの区分領域（スキャン未実行のものに限る）の大きさ（長さ）は、その画面上でオペレータの操作により作図感覚で変更できるようになっている。詳細は後述するが、区分領域の大きさが変更されると、変更後の区分領域の大きさに対応する被曝予測値が算出されるよう、そのスキャングループのスキャンパラメータが調整される。これにより、オペレータは、トータルの被曝予測値を、基準値としての上限値を参照しながらコントロール(control)することができる。このスキャンパラメータの調整は、後述するステップ５０７以降の処理によって実現される。
【００４４】
図６に、第一実施形態による被曝予測グラフにおける区分領域の変更例を示す。この例では、第１〜第３スキャングループＧｒ１〜Ｇｒ３のうち、第２スキャングループＧｒ２の区分領域６１２２を、ポインタ７０１を用いてより小さく変更している。これに伴い、第３スキャングループＧｒ３の区分領域６１２３が、第２スキャングループＧｒ２の区分領域６１２２側にシフトし、トータルの被曝予測値が下がる。
【００４５】
ステップ５０４では、オペレータにより被曝予測グラフが変更されたか否かを判定する。変更されたときには、ステップ５０７に進み、変更されていないときには、ステップ５０５に進む。
【００４６】
ステップ５０５では、オペレータにより確認操作が成されたか否かを判定する。成されたときには、ステップ５０６に進み、設定されているスキャンパラメータを基に、スキャンが実行される。成されていないときには、ステップ５０４に戻る。
【００４７】
ステップ５０７では、変更された区分領域の大きさに対応した被曝量を、そのスキャングループの被曝目標値に設定する。
【００４８】
ステップ５０８では、調整するスキャンパラメータを優先順位にしたがって選択する。調整するスキャンパラメータの候補とその優先順位は、事前に登録しておく。なお、この候補と優先順位とは、オペレータがオペレータコンソール３００を介して任意に設定可能である。
【００４９】
図７に、調整するスキャンパラメータの候補とその優先順位の一例を示す。なお、調整するスキャンパラメータの候補には、それぞれ閾値が設定されている。閾値は、スキャンパラメータの調整を止めるタイミングを決める基準であり、調整しているスキャンパラメータがこの閾値に達したら、そのスキャンパラメータでの調整を一旦止める。そして、次の優先順位のスキャンパラメータがある場合には、調整するスキャンパラメータをそのパラメータに切り換えて、調整を再開する。
【００５０】
この例では、優先順位が第１位〜第３位のスキャンパラメータを、それぞれ、「Ｘ線管電流の変調による自動露出機構モード」、「ノイズ低減画像フィルタによる被曝低減率」、「Ｘ線管電流」としている。
【００５１】
「自動露出機構モード」の調整は、例えば、Ｘ線管電流の「変調なし」、「体軸方向のみ変調（例えば、ＧＥ製装置のＡｕｔｏ  ｍＡ機能に相当）」、「体軸方向および断層面方向で変調（例えばＧＥ製装置のＳｍａｒｔ  ｍＡ機能に相当）」のモードを順次切り換えて、段階的に被曝量を低減させることにより行われる。このスキャンパラメータの閾値は、例えば、モード＝「体軸方向および断層面方向で変調」である。なお、体軸方向、または、体軸方向および断層面方向でＸ線管電流を変調する場合は、その平均値の代表値による被曝予測値に基づいて調整される。
【００５２】
「被曝低減率」の調整は、例えば、再構成画像の画質、例えばノイズレベル(noise level)が一定に維持されるようにしながら、管電流のレベルとノイズ低減画像フィルタ（例えば、ＧＥ製装置のＡＳｉＲに相当）の強度レベルとのバランスを変更することにより行われる。このスキャンパラメータの閾値は、例えば、被曝低減率＝４０％である。
【００５３】
また、「Ｘ線管電流」の調整は、例えば、自動露出機構による変調管電流の上限値、下限値、または、自動露出機構で設定される再構成画像のノイズレベルを増減させることにより行われる。このスキャンパラメータの閾値は、例えば、変調管電流の上限値なら１００ｍＡ、下限値なら２０ｍＡ、再構成画像のノイズレベルなら画素値の標準偏差で１０である。
【００５４】
ステップ５０９では、被曝予測値が被曝目標値に近づくよう、ステップ５０８で選択されたスキャンパラメータを調整する。スキャンパラメータの調整は、微量調整が可能な場合には、微量調整により行う。
【００５５】
ステップ５１０では、調整後のスキャンパラメータを基に被曝予測値を算出し、その算出された被曝予測値が、被曝目標値以下であるか否かを判定する。被曝目標値以下であれば、ステップ５０３に戻り、被曝目標値以下でなければ、ステップ５１１に進む。
【００５６】
ステップ５１１では、調整しているスキャンパラメータが、その閾値に達したか否かを判定する。達していれば、ステップ５１２に進み、達していなければ、ステップ５０９に戻る。
【００５７】
ステップ５１２では、次の優先順位のスキャンパラメータがあるか否かを判定する。あれば、ステップ５０８に戻り、なければ、ステップ５０３に戻る。
【００５８】
このような第一実施形態によれば、被曝予測グラフを表示し、オペレータによるそのグラフの変更を受け付け、変更されたグラフに対応する被曝量の目標値を設定し、算出される被曝量の予測値が、設定された被曝量の目標値に近づくよう、スキャン条件を調整することができ、スキャン条件を変更する際に、被検体の被曝量として所望値を効率よく狙うことができる。
【００５９】
また、第一実施形態によれば、グラフ上に被曝量の基準値を示すラインを表示するので、被曝量の予測値と基準値とを見比べながら被曝予測グラフを変更するができ、被検体の被曝量として基準値からの所定値を効率的かつ効果的に狙ってスキャンパラメータを変更することができる。
【００６０】
また、第一実施形態によれば、調整するスキャンパラメータの候補の優先順位が登録されているので、調整するスキャンパラメータを優先順位にしたがって切り換えることができ、変更の許容度が高いものから順にスキャンパラメータを変更することができる。
【００６１】
また、第一実施形態によれば、被曝予測グラフにおける区分領域ごとの変更を受け付けるので、スキャングループごとにスキャンパラメータを変更することができ、スキャンパラメータの変更の許容度が高いスキャングループのスキャンパラメータを優先的に変更することができる。
【００６２】
また、第一実施形態によれば、スキャン開始後においても被曝予測グラフの変更を受け付けるので、スキャン未実行のスキャングループのスキャンによる被曝量の調整を行うことができ、スキャン開始後であってもトータルの被曝量の調整を行うことができる。
【００６３】
（第一変形例）
第一実施形態の第一変形例では、１検査の中にスカウトスキャンも含めて、被曝予測値の算出および被曝予測グラフの表示を行う。
【００６４】
図８に、第一実施形態の第一変形例による被曝予測グラフの表示例を示す。第一変形例では、例えば図８に示すように、棒グラフ６１１のビン６１２の中に、スカウトスキャンによる被曝予測値を表す区分領域６１２４が追加される。
【００６５】
このようにすれば、スカウトスキャンも含めたより正確な被曝量の管理を行うことができる。
【００６６】
（第二変形例）
第一実施形態の第二変形例では、各スキャングループにおけるスキャン範囲の重複部分が複数ある場合に、その重複部分ごとに、その重複部分をスキャン範囲に含むスキャングループによるトータルの被曝予測値を示す被曝予測グラフを表示する。
【００６７】
図９に、第一実施形態の第二変形例における１検査を構成するスキャングループの一例を概念的に示す。ここでは、図９に示すように、被検体１０の頭部のチルトスキャンを第１スキャングループＧｒ１、被検体１０の頭頂から首部にかけてのアキシャルスキャンを第２スキャングループＧｒ２、被検体１０の胸部のヘリカルスキャンを第３スキャングループＧｒ３とする。
【００６８】
図１０に、第一実施形態の第二変形例による被曝予測グラフの表示例を示す。第二変形例では、例えば図１０に示すように、スカウト画像６５１および棒グラフ６２１を表示する。スカウト画像の上または近傍には、各スキャングループＧｒ１〜Ｇｒ３のスキャン範囲を示すバー６５２〜６５４を表示する。そして、スキャン範囲の重複部分６５５，６５６を差別化して表示する。また、棒グラフ６２１では、その重複部分ごとに対応するビンを表示する。すなわち、重複部分６５５をスキャン範囲に含む第１スキャングループＧｒ１および第２スキャングループＧｒ２によるトータルの被曝予測値を表すビン６２２を表示するとともに、重複部分６５６をスキャン範囲に含む第２スキャングループＧｒ２および第３スキャングループＧｒ３によるトータルの被曝予測値を表すビン６２３を表示する。ビン６２２については、第１スキャングループＧｒ１の被曝予測値を区分領域６２２１の長さで表し、第２スキャングループＧｒ２の被曝予測値を区分領域６２２２の長さで表す。同様に、ビン６２３については、第２スキャングループＧｒ２の被曝予測値を区分領域６２４１の長さで表し、第３スキャングループＧｒ３の被曝予測値を区分領域６２４２の長さで表す。
【００６９】
また、前述のように、決定されたＣＴＤＩｖｏｌの値に、重複部分６５５のｚ方向長さを乗算し、重複部分６５５のＤＬＰ基準値を算出する。算出された重複部分６５５のＤＬＰ基準値に、第１スキャングループＧｒ１および第２スキャングループＧｒ２のスキャン範囲のうちこの重複部分以外の領域に対するＤＬＰの被曝予測値を加算して、ビン６２２に対応する上限値を求める。この上限値を表す上限値ライン６２３をビン６２２に対応付けて表示する。同様に、ビン６２４に対応する上限値を求め、この上限値を表す上限値ライン６２５をビン６２４に対応付けて表示する。ビン６２２の区分領域６２２２と、ビン６２４の区分領域６２４１とは、同じ第２スキャングループＧｒ２の被曝予測値を表している。したがって、これらはリンク(link)しており、一方の区分領域を変更すると、他方の区分領域も連動して変更される。
【００７０】
このようにすれば、各スキャングループにおけるスキャン範囲の重複部分が複数ある場合にも、それぞれの重複部分について被曝量の管理を行うことができる。
【００７１】
（第二実施形態）
第二実施形態では、スキャングループごとおよび被検体の部位ごとに被曝予測値の算出を行い、その結果を被曝予測グラフにして表示する。
【００７２】
ここでは、１検査を構成するスキャングループとして、図９に示した第１〜第３スキャングループＧｒ１〜Ｇｒ３を想定する。
【００７３】
図１１に、第二実施形態による被曝予測グラフの表示例を示す。被曝予測グラフは、例えば図１１に示すように、実効線量（ｍＳｖ）による被曝量を一方の軸にとり、被検体の部位（ｚ方向の座標）を他方の軸にとった棒グラフ６３１とする。被検体１０の部位を示す軸には、被検体１０のモデル画像あるいはスカウト画像６５１を対応付けて表示し、どの位置がどの部位と対応しているか分かりやすくする。被検体１０の部位の位置と実際のスキャン位置との対応関係は、スカウト画像６５１の画像認識結果やオペレータによる手動設定により求められる。この棒グラフ６３１では、部位ごとにビン６３２，６３３，・・・，６３７を設け、部位ごとのトータルの被曝予測値をその部位のビンの全長で表す。そしてさらに、部位のビンにおいて、スキャングループごとの被曝予測値をそのビンの区分領域の長さ（スキャングループが１つしかないときは、ビン全体の長さ）で表す。この棒グラフ６３１では、区分領域６３２１が頭部の第１スキャングループＧｒ１による被曝予測値を表しており、区分領域６３２２が頭部の第２スキャングループＧｒ２による被曝予測値を表している。また、区分領域６３６２が胸部上端部の第２スキャングループＧｒ２による被曝予測値を表しており、区分領域６３６３が胸部上端部の第３スキャングループＧｒ３による被曝予測値を表している。
【００７４】
また、被曝許容上限値を複数の部位について決定し、この棒グラフ６３１上に、その部位に応じた上限値を示すラインを参照用の基準値としてそれぞれ表示する。例えば、一般部位用の上限値ライン６３８に加え、水晶体を含む部位用の上限値ライン６３９や、甲状腺を含む部位用の上限値ライン６４０などを表示する。
【００７５】
なお、部位ごとの被曝予測値は、その部位の放射線感受性すなわち放射線吸収率の高さを考慮して算出する。例えば、Ｘ線照射出力が一定である場合に、水晶体を含む部位１０ａに対しては、一般部位の約３倍の被曝量を予測値として算出する。また例えば、甲状腺を含む部位１０ｂに対しては、一般部位の約２倍の被曝量を予測値として算出する。
【００７６】
図１２に、第二実施形態による被曝予測グラフにおける区分領域の変更例を示す。この例では、第２スキャングループＧｒ２の水晶体を含む部位１０ａのビン（区分領域）を、ポインタ７０１を用いてより小さく変更している。これに伴い、第２スキャングループＧｒ２に属する各部位のビンあるいは区分領域もより小さく変更される。そして、これらのビンや区分領域に隣接する他のスキャングループの区分領域は低被曝量側にシフトし、トータルの被曝予測値が下がる。
【００７７】
区分領域の大きさが変更されると、第一実施形態と同様に、変更後の区分領域の大きさに対応する被曝予測値が算出されるよう、そのスキャングループのスキャンパラメータが調整される。
【００７８】
このような第二実施形態によれば、被曝量の予測値と基準値とを部位ごとに見比べながらスキャンパラメータを変更することができるので、所望の部位の被曝量が基準値に近い被曝量となるように、スキャンパラメータを変更することができる。
【００７９】
（他の実施形態）
被曝予測グラフは、折れ線グラフや円グラフ等であってもよい。
【００８０】
スキャングループは１つだけであってもよい。
【符号の説明】
【００８１】
１０  被検体
１０ａ  水晶体を含む部位
１０ｂ  甲状腺を含む部位
１００  ガントリ
１１０  Ｘ線照射・検出装置
１３０  Ｘ線管
１３２  焦点
１３４  Ｘ線
１５０  Ｘ線検出器
１５２  Ｘ線入射面
２００  テーブル
２０２  上部構造体
２０４  クレードル
２０６  昇降機構
２０８  ベース
３００  オペレータコンソール
３０２  ディスプレイ
６１１，６２１，６３１  棒グラフ（被曝予測グラフ）
６１２，６２２，６２４，６３２〜６３７  ビン
６１３，６２３，６２５，６３８〜６４０  上限値ライン（マーク）
６５１  スカウト画像
６５２〜６５４  スキャン範囲
６５５，６５６  重複部分
７０１  ポインタ
７０２  被曝詳細情報
６１２１〜６１２４  区分領域
６２２１，６２２２，６２４１，６２４２  区分領域
６３２１，６３２２，６３６２，６３６３  区分領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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