(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、
前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、
前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部とを含み、
撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、
前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される
動作制御装置。
【請求項２】
前記撮像部により撮像される画像の明るさから、前記透過率可変減光フィルタの適切な透過率を算出する透過率算出部と、
前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧を記憶する印加電圧記憶部とを含み、
前記印加電圧制御部は、前記印加電圧記憶部に記憶されている印加電圧のうち、前記透過率算出部により算出された適切な透過率に対応する印加電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する
請求項１に記載の動作制御装置。
【請求項３】
前記撮像部により撮像される画像の撮像準備、または撮像を指示するとき操作される操作部とをさらに含み、
前記透過率特定部は、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、所定のタイミングにおける透過率を特定し、
前記印加電圧制御部は、前記印加電圧記憶部に記憶された前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧のうち、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される透過率に対応する印加電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加する
請求項１または２に記載の動作制御装置。
【請求項４】
前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧へと制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを記憶する応答特性データ記憶部と、
前記印加電圧制御部が印加電圧を制御し始めた後に経過した経過時間を計測する経過時間計測部とをさらに含み、
前記透過率特定部は、前記経過時間計測部により計測された経過時間、および、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データに基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定する
請求項１乃至３のいずれかに記載の動作制御装置。
【請求項５】
前記透過率可変減光フィルタの温度を測定する温度測定部をさらに含み、
前記応答特性データ記憶部は、前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧にまで制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを、前記透過率可変減光フィルタの温度毎に記憶し、
前記透過率特定部は、前記経過時間計測部により計測された経過時間、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データ、および前記温度測定部により測定された透過率可変減光フィルタの温度に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定する
請求項１乃至４のいずれかに記載の動作制御装置。
【請求項６】
前記透過率可変減光フィルタに入射する前の光量を、前記透過率可変減光フィルタの前段の光量として測定すると共に、前記透過率可変減光フィルタを透過した後の光量を前記透過率可変減光フィルタの後段の光量として測定する光量測定部をさらに含み、
前記透過率特定部は、前記光量測定部により測定された前記透過率可変減光フィルタの前段および後段の光量に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率を特定する
請求項１乃至３のいずれかに記載の動作制御装置。
【請求項７】
前記透過率可変減光フィルタは、液晶NDフィルタである
請求項１乃至６のいずれかに記載の動作制御装置。
【請求項８】
前記透過率可変減光フィルタは、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が増大するもの、または、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が減少するものである
請求項１乃至７のいずれかに記載の動作制御装置。
【請求項９】
動作制御装置の動作制御方法であって、
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定処理をし、
前記透過率特定処理により取得された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御処理をし、
前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御処理をし、
前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御処理をするステップを含み、
撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御処理は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定処理により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、
前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定処理により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御処理が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御処理が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される
動作制御方法。
【請求項１０】
コンピュータを、
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、
前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、
前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部として機能させ、
撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、
前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される
ためのプログラム。
【請求項１１】
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、
前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、
前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部とを含み、
撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、
前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される
撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、動作制御装置および動作制御方法、撮像装置、並びにプログラムに関し、特に、フォーカスラグを低減できるようにした動作制御装置および動作制御方法、撮像装置、並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンパクトデジタルカメラの分野では、イメージセンサの高画素化に伴い、小絞りボケの影響により解像感が劣化することがあった。
【０００３】
そこで、印加電圧によって口径を変化させることなく、所望の透過率を実現するND（Neutral Density）フィルタ（透過率可変減光フィルタ）の採用が検討されている。NDフィルタのうち、例えば、液晶NDフィルタは、対物レンズの切り替えに際して接眼像において急激に光量が変化するとき、透過率を変化させることで、露出の急激な変化を防止して観察者の疲労を軽減するといったことに利用されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−３４４６７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、液晶NDフィルタにより透過率を変化させて露出を制御する場合、液晶NDフィルタにおける温度が低温であるようなとき、液晶の応答速度が低下するため、例えば、シャッタボタンを半押しして、撮像に入る前にＡＦ（Auto Focus）を掛けるようなタイミングに、液晶NDフィルタによる露出の制御が遅れてしまい、フォーカスラグが増大してしまう恐れがあった。
【０００６】
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、特に、印加電圧に応じて透過率を変化させるようなNDフィルタの応答速度の低下に起因するフォーカスラグを低減させるものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本技術の第１の側面の動作制御装置は、印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部とを含み、撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される。
【０００８】
前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像される画像の明るさから、前記透過率可変減光フィルタの適切な透過率を算出する透過率算出部と、前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧を記憶する印加電圧記憶部とを含ませるようにすることができ、前記印加電圧制御部には、前記印加電圧記憶部に記憶されている印加電圧のうち、前記透過率算出部により算出された適切な透過率に対応する印加電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加するように制御させるようにすることができる。
【０００９】
前記撮像部により撮像される画像の撮像準備、または撮像を指示するとき操作される操作部とをさらに含ませるようにすることができ、前記透過率特定部には、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、所定のタイミングにおける透過率を特定させるようにすることができ、前記印加電圧制御部には、前記印加電圧記憶部に記憶された前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧のうち、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される透過率に対応する印加電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加するように制御させるようにすることができる。
【００１０】
前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧へと制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを記憶する応答特性データ記憶部と、前記印加電圧制御部が印加電圧を制御し始めた後に経過した経過時間を計測する経過時間計測部とをさらに含ませるようにすることができ、前記透過率特定部には、前記経過時間計測部により計測された経過時間、および、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データに基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定させるようにすることができる。
【００１１】
前記透過率可変減光フィルタの温度を測定する温度測定部をさらに含ませるようにすることができ、前記応答特性データ記憶部には、前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧にまで制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを、前記透過率可変減光フィルタの温度毎に記憶させるようにすることができ、前記透過率特定部には、前記経過時間計測部により計測された経過時間、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データ、および前記温度測定部により測定された透過率可変減光フィルタの温度に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定させるようにすることができる。
【００１２】
前記透過率可変減光フィルタに入射する前の光量を、前記透過率可変減光フィルタの前段の光量として測定すると共に、前記透過率可変減光フィルタを透過した後の光量を前記透過率可変減光フィルタの後段の光量として測定する光量測定部をさらに含ませるようにすることができ、前記透過率特定部には、前記光量測定部により測定された前記透過率可変減光フィルタの前段および後段の光量に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率を特定させるようにすることができる。
【００１４】
前記透過率可変減光フィルタは、液晶NDフィルタとすることができる。
【００１５】
前記透過率可変減光フィルタは、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が増大するもの、または、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が減少するものとすることができる。
【００１６】
本技術の第１の側面の動作制御方法は、動作制御装置の動作制御方法であって、印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定処理をし、前記透過率特定処理により取得された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御処理をし、前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御処理をし、前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御処理をするステップを含み、撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御処理は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定処理により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定処理により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御処理が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御処理が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される。
【００１７】
本技術の第１の側面のプログラムは、コンピュータを、印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部として機能させ、撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される。
【００１８】
本技術の第２の側面の撮像装置は、印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、前記透過率特定部により特定された透過率となる電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加する印加電圧制御部と、前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部とを含み、撮像準備または撮像が指示された場合、前記印加電圧制御部は、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加し、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される。
【００１９】
本技術の第１、および第２の側面においては、印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率が特定され、特定された透過率となる電圧が前記透過率可変減光フィルタに印加され、前記透過率可変減光フィルタを介して、画像が撮像され、撮像される画像のゲインが制御され、画像が撮像されるタイミングにおいて、入射される光を遮光する遮光速度が制御され、撮像準備または撮像が指示された場合、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングから前記撮像準備が解除されるか、または前記撮像が終了するまで、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおいて、特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持する電圧が、前記透過率可変減光フィルタに印加され、前記撮像準備または前記撮像が指示されたタイミングにおいて、取得された透過率により透過される明るさが、画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、ゲインが制御され、前記遮光速度が制御されるか、または、そのいずれかが制御される。
【００２０】
本技術の動作制御装置、または撮像装置は、独立した装置であっても良いし、動作制御処理、または撮像処理を行うブロックであっても良い。
【発明の効果】
【００２１】
本技術によれば、フォーカスラグを低減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本技術である撮像装置の第１の実施の形態の構成例を示す図である。
【図２】液晶NDフィルタに電圧を印加したタイミングからの経過時間に応じた透過率の特性を説明する図である。
【図３】図１の撮像装置による動作制御処理を説明するフローチャートである。
【図４】図１の撮像装置による動作制御処理を説明する図である。
【図５】半押し操作がなされたタイミングの液晶NDフィルタの透過率が維持されるように制御されることを説明する図である。
【図６】液晶NDフィルタの透過率が維持されることにより制御できない明るさをゲインおよびシャッタスピードで調整する例を説明する図である。
【図７】本技術である撮像装置の第２の実施の形態の構成例を示す図である。
【図８】図７の撮像装置による動作制御処理を説明するフローチャートである。
【図９】汎用のパーソナルコンピュータの構成例を説明する図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明する。なお、説明は以下の順序で行なう。
１．第１の実施の形態（透過率を推定する例）
２．第２の実施の形態（透過率を測定する例）
【００２４】
＜１．第１の実施の形態＞
［本技術を適用した撮像装置の第１の実施の形態の構成例］
図１は、本技術を適用した撮像装置の第１の実施の形態の構成例を説明する図である。図１の撮像装置は、レンズ鏡筒１１、画像処理部１２、記録媒体１３、表示処理部１４、表示部１５、制御部１６、および操作部１７を備えており、レンズ鏡筒１１に設けられた撮像素子４６により撮像された画像を記録媒体１３に記録したり、表示部１５に表示する。より詳細には、シャッタボタンなどからなる操作部１７が撮像準備を示す半押し操作されると、制御部１６が、レンズ鏡筒１１を制御して、焦点を制御する。さらに、この状態からシャッタボタンからなる操作部１７が、撮像指示を示す全押し操作されると、制御部１６は、レンズ鏡筒１１を制御して画像を撮像させる。そして、レンズ鏡筒１１は、撮像した画像を画像信号として、画像処理部１２に供給する。画像処理部１２は、所定のデータ形式に圧縮させるなど、所定の処理を加えて、記録媒体１３に記録させる。または、画像処理部１２は、撮像した画像信号に所定の処理を加えて、表示処理部１４に供給し、LCD（Liquid Crystal Display）などからなる表示部１５に表示させる。
【００２５】
より詳細には、レンズ鏡筒１１は、ズームレンズ４１、絞り４２、フォーカスレンズ４３、液晶NDフィルタ４４、サーミスタ４５、および撮像素子４６を備えており、図示せぬ被写体の像をズームレンズ４１、およびフォーカスレンズ４３を介して撮像素子４６に結像させる。そして、撮像素子４６は、結像した被写体の像を撮像し、画像信号として出力する。また、絞り４２は、制御部１６により制御され、レンズ鏡筒１１に入射する光量を調整する。液晶NDフィルタ（液晶透過率可変減光フィルタ）４４は、制御部１６より供給される電圧により透過率を変化させることにより、撮像素子４６への光量を調整する。絞り４２と液晶NDフィルタ４４とは、基本的に目的が同様のものであるが、液晶NDフィルタ４４は、レンズ鏡筒１１内において、均質に透過率を変化させることで光量（照度）を調整できるが、液晶により透過率を変化させるため急激な変化には対応できない。一方、絞り４２は、開口部の開閉により光量を調整するため、均質に光量を調整することができないものの、高速で光量を調整することができる。サーミスタ４５は、液晶NDフィルタ４４の温度を測定し、制御部１６に供給する。撮像素子４６は、例えば、CCD（Charge Coupled Devices）またはCMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）などであり、制御部１６により制御されて、画像を撮像して画像信号として出力する。
【００２６】
制御部１６は、マイクロコンピュータなどから構成されており、撮像装置の動作全体を制御する。より詳細には、制御部１６は、操作検出部２１、ゲイン制御部２２、シャッタ制御部２３、NDフィルタ制御部２４、透過率対電圧テーブル２５、温度別透過率対時間テーブル２６、時間計測部２７、透過率特定部２８、および適正透過率算出部２９を備えている。操作検出部２１は、操作部１７からの操作信号に基づいて、撮像準備を指示する半押し、または、撮像を指示する全押しを検出し、対応する検出信号を出力する。ゲイン制御部２２は、撮像素子４６のゲインを適切な状態に制御する。シャッタ制御部２３は、撮像素子４６の撮像にあたり、シャッタ速度を適切に制御する。NDフィルタ制御部２４は、液晶NDフィルタ４４に印加する電圧を制御することにより、液晶NDフィルタ４４の透過率を制御する。透過率対電圧テーブル２５は、液晶NDフィルタ４４の透過率と印加電圧との関係が示されたテーブルである。したがって、NDフィルタ制御部２４は、所定の透過率に液晶NDフィルタ４４を設定したい場合、透過率対電圧テーブル２５を参照して、所定の透過率に対応する印加電圧を読み出し、読み出した印加電圧により液晶NDフィルタ４４を制御する。尚、透過率から必要な印加電圧が求められればよいので、透過率から印加電圧が算出できるような関数を求めて、この関数により印加電圧を算出できるような構成を設けて、透過率対電圧テーブル２５に代えて利用するようにしてもよい。
【００２７】
温度別透過率対時間テーブル２６は、液晶NDフィルタ４４の透過率を制御する際、印加電圧を変化させたときの、印加電圧を変化させて印加したタイミングからの経過時間と、その経過時間における透過率との関係を、液晶NDフィルタ４４の温度毎にテーブルとして記憶している。
【００２８】
すなわち、例えば、図２の下段における時刻ｔ１の印加電圧の波形で示されるように、印加電圧を電圧Ｖ１２から電圧Ｖ１１（＞Ｖ１２）に変化させて印加した場合、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ１が比較的高いとき、図２の上段における波形Ｌ１で示されるように、透過率Ｖ１から目標となる透過率Ｖ２に到達するまでの経過時間は、時間（ｔ２−ｔ１）となる。一方、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ１よりも低い温度Ｔ２（＜Ｔ１）であるとき、透過率Ｖ１から目標となる透過率Ｖ２に到達するまでの経過時間は、図２の上段における波形Ｌ２で示されるように、時間（ｔ３−ｔ１）（＞（ｔ２−ｔ１））となる。さらに、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ２よりもさらに低い温度Ｔ３（＜Ｔ２＜Ｔ１）であるとき、図２の上段における波形Ｌ３で示されるように、透過率Ｖ１から目標となる透過率Ｖ２に到達するまでの経過時間は、時間（ｔ４−ｔ１）（＞（ｔ３−ｔ１）＞（ｔ２−ｔ１））となる。すなわち、液晶NDフィルタ４４を構成する液晶は、温度が低温になるに従って、粘度が上昇することに伴って応答速度が低下することにより、印加電圧を上昇するように電圧Ｖ１２から電圧Ｖ１１に変化させると、目標となる透過率に達するまでの経過時間が長くなる。
【００２９】
また、逆に、例えば、図２の下段における時刻ｔ１１の印加電圧の波形で示されるように、印加電圧を電圧Ｖ１１から電圧Ｖ１２（＜Ｖ１１）に変化させて印加した場合、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ１が比較的高いとき、図２の上段における波形Ｌ１１で示されるように、透過率Ｖ２から目標となる透過率Ｖ１に到達するまでの経過時間は、時間（ｔ１２−ｔ１１）となる。一方、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ１よりも低い温度Ｔ２（＜Ｔ１）であるとき、透過率Ｖ２から目標となる透過率Ｖ１に到達するまでの経過時間は、図２の上段における波形Ｌ１２で示されるように、時間（ｔ１３−ｔ１１）（＞（ｔ１２−ｔ１１））となる。さらに、液晶NDフィルタ４４の温度Ｔ２よりもさらに低い温度Ｔ３（＜Ｔ２＜Ｔ１）であるとき、図２の上段における波形Ｌ１３で示されるように、透過率Ｖ２から目標となる透過率Ｖ１に到達するまでの経過時間は、時間（ｔ１４−ｔ１１）（＞（ｔ１３−ｔ１１）＞（ｔ１２−ｔ１１））となる。すなわち、液晶NDフィルタ４４を構成する液晶は、温度が低温になるに従って、粘度が上昇することに伴って応答速度が低下することにより、印加電圧を下降するように電圧Ｖ１２から電圧Ｖ１１に変化させても、目標となる透過率に達するまでの経過時間が長くなる。また、印加電圧を上昇させる場合よりも、下降させる場合の方が応答速度の低下は激しくなり、目標とする透過率に達するまでの経過時間がより長くなる。尚、図２において示される特性は、印加電圧を上昇させるとき透過率が低下する、いわゆるネガティブタイプの液晶NDフィルタ４４によるものであるが、印加電圧を上昇させるとき透過率が上昇するポジティブタイプであっても、一般的には、印加電圧を上昇させるときの方が応答速度が速いことが知られている。
【００３０】
温度別透過率対時間テーブル２６には、この図２で示されるように、印加電圧を加える直前の印加電圧、加える印加電圧、および液晶NDフィルタ４４の温度との関係がテーブルとして登録されている。尚、印加電圧を加える直前の印加電圧、加える印加電圧、および液晶NDフィルタ４４の温度との関係が求められればよいので、これらのパラメータから透過率が算出できる近似関数を求め、温度別透過率対時間テーブル２６に代えて利用するようにしてもよい。
【００３１】
時間計測部２７は、印加電圧を変化させたて印加し始めたタイミングからの経過時間を計測する。透過率特定部２８は、時間計測部２７により計測される経過時間と、サーミスタ４５により計測される液晶NDフィルタ４４の温度とに基づいて、温度別透過率対時間テーブル２６を参照し、今現在の液晶NDフィルタ４４の透過率を特定する。
【００３２】
適正透過率算出部２９は、レンズ鏡筒１１の撮像素子４６により撮像され、画像処理部１２により所定の処理が施された画像信号に基づいて、液晶NDフィルタ４４により設定可能な適正な透過率を算出する。
【００３３】
NDフィルタ制御部２４は、操作検出部２１が半押しや全押しを検出した場合、透過率特定部２８を制御して、今現在の透過率を特定し、透過率対電圧テーブル２５を参照して、特定した透過率を維持する印加電圧を求めて印加し直す。このとき、ゲイン制御部２２、およびシャッタ制御部２３は、特定された透過率が目標とする最適な透過率に対して、どの程度過剰であるか、または、不足しているかを求めて、これらの過不足分を補うようにゲインおよびシャッタ速度、または、そのいずれかを制御する。このような動作により、液晶NDフィルタ４４の応答特性により生じるフォーカスラグを低減することが可能となる。
【００３４】
［図１の撮像装置による動作制御処理］
次に、図３のフローチャートを参照して、図１の撮像装置による撮像時の動作制御処理について説明する。
【００３５】
ステップＳ１において、制御部１６は、レンズ鏡筒１１の撮像素子４６を制御して、モニタリング用の画像を撮像させ、モニタリング用の画像信号を画像処理部１２に出力させる。画像処理部１２は、モニタリング用の画像を制御部１６および表示制御部１４に供給する。このとき、表示制御部１４は、モニタリング画像の画像信号に所定の処理を施して表示部１５に表示させる。
【００３６】
ステップＳ２において、制御部１６は、適正透過率算出部２９を制御して、撮像に適切な液晶NDフィルタ４４の透過率を算出する。
【００３７】
ステップＳ３において、NDフィルタ制御部２４は、適正な透過率の情報に基づいて、透過率対電圧テーブル２５を参照し、適正な透過率に液晶NDフィルタ４４を制御するための印加電圧の情報を読み出す。そして、NDフィルタ制御部２４は、液晶NDフィルタ４４を、読み出した適正な透過率に制御するための電圧で印加する。
【００３８】
ステップＳ４において、時間計測部２７は、印加電圧を変化させて印加したタイミングからの経過時間を計測する。尚、このとき、時間計測部２７は、印加電圧を変化させる直前の印加電圧を記憶する。
【００３９】
ステップＳ５において、操作検出部２１は、操作部１７が操作されて、撮像準備状態を指示する半押し操作がなされたか否かを判定する。ステップＳ５において、半押し操作がなされていないとみなされた場合、処理は、ステップＳ１に戻る。すなわち、半押し操作がなされるまで、ステップＳ１乃至Ｓ５の処理が繰り返されて、モニタリング画像が撮像され続けて、適切な光量を得るために適切な透過率になるように、常に、液晶NDフィルタ４４の透過率が制御される状態となる。また、この間、ユーザは、表示部１５に表示された画像を見ることにより、レンズ鏡筒１１の撮像素子４４が、どの位置を撮像しているのかを認識することができる。例えば、図４の時刻ｔ０からモニタリングが開始されているような場合、時刻ｔ２１において、透過率がＶ２１の状態からＶ２２（＜Ｖ２１）に制御されるようなとき、時刻ｔ２１において印加電圧が変化して、時刻ｔ２２において目標の透過率Ｖ２２となったことが示されている。さらに、モニタリング状態が継続することにより、時刻ｔ２３において、目標となる透過率が再び透過率Ｖ２２となったことにより、印加電圧が変化すると、時刻ｔ２３から徐々に目標となる透過率Ｖ２１まで徐々に上昇する。尚、図４の点線で示される例においては、透過率は、時刻ｔ２６において、目標となる透過率Ｖ２１に到達することが示されている。
【００４０】
そして、ステップＳ５において、例えば、図４の時刻ｔ２４で示されるように、操作部１７が半押し操作されることにより対応する操作信号が発生し、半押し操作がなされたと判定された場合、処理は、ステップＳ６に進む。
【００４１】
ステップＳ６において、制御部１６は、透過率特定部２８を制御して、今現在の液晶NDフィルタ４４の透過率を特定させる。より詳細には、透過率特定部２８は、時間計測部２７を制御して、印加電圧が変化したタイミングからの経過時間を問い合わせる。時間計測部２７は、印加電圧の変化を監視しながら、印加電圧が変化したタイミングからの経過時間を計測し続けている。このため、時間計測部２７は、問合せがあったタイミングにおける印加電圧が変化したタイミングからの経過時間を応答すると共に、印加電圧が変化する直前のタイミングにおける印加電圧についても併せて応答する。また、透過率特定部２８は、サーミスタ４５を制御して、液晶NDフィルタの今現在の温度を測定させる。そして、透過率特定部２８は、応答のあった印加電圧が変化したタイミングからの経過時間、印加電圧が変化する直前までの印加電圧、および、サーミスタ４５により測定された温度に基づいて、温度別透過率対時間テーブル２６を参照して、今現在の液晶NDフィルタ４４の透過率を特定する。
【００４２】
すなわち、例えば、図２の下段で示されるように、印加電圧Ｖ１２からＶ１１へと変化し、かつ、変化したタイミングが時刻ｔ１であって、経過時間が（ｔＡ−ｔ１）であるような場合、温度がＴ１であるときには、透過率特定部２８は、図２の上段で示される波形Ｌ１に従って、今現在の透過率が透過率Ｖ４であるものとして特定する。また、例えば、図２の下段で示されるように、印加電圧が変化したタイミングが時刻ｔ１であって、経過時間が（ｔＡ−ｔ１）であるような場合、温度がＴ２であるときには、図２の上段で示される波形Ｌ２に従って、透過率特定部２８は、今現在の透過率を、透過率Ｖ３であるものとして特定する。
【００４３】
ステップＳ７において、制御部１６は、NDフィルタ制御部２４を制御して、今現在の液晶NDフィルタ４４の透過率の状態を維持する電圧を、透過率対電圧テーブル２５を参照して読み出させる。すなわち、今現在の液晶NDフィルタ４４の透過率の状態を維持する印加電圧とは、ステップＳ６の処理で求められた透過率に対応する印加電圧である。そこで、NDフィルタ制御部２４は、透過率対電圧テーブル２５を参照して、特定された透過率に対応する印加電圧の情報を読み出す。
【００４４】
ステップＳ８において、NDフィルタ制御部２４は、読み出した印加電圧を液晶NDフィルタ４４に印加する。すなわち、例えば、図４で示されるように、半押し操作がなされた時刻ｔ２４における透過率がＶ２３である場合、時刻ｔ２４以降においては、液晶NDフィルタ４４に対して透過率Ｖ２３となるように印加電圧が変化して印加されることになるため、液晶NDフィルタ４４の透過率は透過率Ｖ２３の状態で固定（ロック）されることになる。
【００４５】
ステップＳ９において、ゲイン制御部２２、およびシャッタ制御部２３は、現状の透過率における適正な透過率に対する差分の情報に基づいて、適切な明るさに対して過剰となっている明るさ、または、不足している明るさを調整するためのゲイン、およびシャッタスピードを算出する。
【００４６】
すなわち、例えば、図５で示されるように、適正な透過率が透過率Ｖ３２であって、時刻ｔ０において、印加電圧を変化させて透過率がＶ３１から徐々に変化していたところ、時刻ｔ５１において半押し操作がなされたことにより、透過率Ｖ３１に到達せず透過率３３（＞透過率３２）であるような場合、目標とする適正な透過率Ｖ３２に対して透過率が（Ｖ３３−Ｖ３２）だけ過剰な状態であると考えることができる。
【００４７】
液晶NDフィルタ４４の透過率が、適正な透過率Ｖ３２となっていれば、図６の状態Ｚ１で示されるように、撮像素子４６のゲイン、シャッタスピード、および液晶NDフィルタ４４の透過率により、それぞれが適切に調整されることで、適切な明るさとなった画像を撮像素子４６が撮像することができる。しかしながら、図５で示されるような状態となると、図６の状態Ｚ２で示されるように、本来液晶NDフィルタ４４の透過率により調整すべき明るさのパラメータが、上述したように適切な値とならないため、適切な明るさに対して乖離する成分が含まれることになり、結果として、適切な明るさで撮像することができない。
【００４８】
そこで、ステップＳ９の処理においては、例えば、図６の状態Ｚ３で示されるように、液晶NDフィルタ４４の透過率により調整すべき明るさのパラメータでは不十分な状態となっている乖離成分を、撮像素子４６のシャッタスピードで補う。尚、図６においては、液晶NDフィルタ４４の透過率により調整すべき明るさのパラメータでは不十分な状態となっている乖離成分をシャッタスピードのパラメータを調整することにより、全体として適切な明るさにする例が示されているが、ゲインを調整するパラメータを制御することで、全体として適切な明るさにするようにしてもよいし、両方を調整することで、全体として適切な明るさにするようにしてもよい。
【００４９】
ステップＳ１０において、制御部１６は、フォーカスレンズ４３を制御して、ＡＦ（Auto Focus）動作を実行させて、撮像素子４６に被写体の像が決像される状態に設定する。
【００５０】
ステップＳ１１において、操作検出部２１は、操作部１７の操作信号に基づいて、半押し操作が解除されたか否かを判定する。ステップＳ１１において、例えば、半押し操作が解除された場合、処理は、ステップＳ１４に進み、オートフォーカスが解除されて、ステップＳ１に戻る。すなわち、この場合、モニタリングの状態に戻ることになる。
【００５１】
一方、ステップＳ１１において、半押し操作が解除されない場合、ステップＳ１２において、操作検出部２１は、操作部１７の操作信号に基づいて、撮像指示を示す全押し操作がなされたか否かを判定し、全押し操作がなされない場合、処理は、ステップＳ１１に戻る。すなわち、半押し状態が継続された場合、ステップＳ１１，Ｓ１２の処理が繰り返される。
【００５２】
そして、ステップＳ１２において、例えば、図４の時刻ｔ２７で示されるように、全押し操作がなされたとみなされた場合、処理は、ステップＳ１３に進む。
【００５３】
ステップＳ１３において、ゲイン制御部２２、およびシャッタ制御部２３は、撮像素子４６を制御して、ステップＳ１０の処理で求められた適切なゲイン、およびシャッタスピードで画像を撮像させ、処理は、ステップＳ１４に進む。この処理により、例えば、図４の時刻ｔ２７乃至ｔ２８で示されるように、撮像素子４６は、画像を撮像（キャプチャ）し、撮像した画像を画像信号として画像処理部１２に供給する。そして、この処理の後は、時刻ｔ２８以降で示されるようにモニタリングの処理に戻る。尚、図４においては、時刻ｔ２８以降においては、印加電圧が時刻ｔ２３における状態に戻されることにより、時刻ｔ２９において、透過率がＶ２１に到達したことが示されている。
【００５４】
このような処理により、図４の時刻ｔ２３で示されるように、液晶NDフィルタ４４を適切な透過率にするため、印加電圧を変化させた後、適正な透過率となる時刻ｔ２６の前のタイミングである時刻ｔ２４で半押し操作がなされることで、適正ではない透過率の状態で焦点調整がロックされても、その状態で透過率が固定され、かつ、その透過率で調整できなかった明るさをゲインやシャッタスピードを調整して撮像することが可能となる。
【００５５】
結果として、液晶NDフィルタ４４への印加電圧に対する透過率の応答速度が追い付かないことにより生じるフォーカスラグを抑制することが可能となる。
【００５６】
尚、以上においては、NDフィルタの一例として液晶NDフィルタを用いた例について説明してきたが、印加電圧に応じて透過率が変化するタイプのNDフィルタであれば、他の構造のNDフィルタでもよいものである。また、NDフィルタの一例として、ネガティブタイプの液晶NDフィルタを用いる例について説明してきたが、ポジティブタイプの液晶NDフィルタでも良い。さらに、応答特性について、液晶NDフィルタの温度特性につても考慮する例について説明してきたが、応答特性に影響するパラメータは温度以外のものを考慮するようにしてもよい。
【００５７】
＜２．第２の実施の形態＞
［本技術を適用した撮像装置の第２の実施の形態の構成例］
以上においては、液晶NDフィルタに印加電圧を印加したタイミングからの経過時間、および、液晶NDフィルタの温度に基づいて、透過率対時間テーブルを参照し、半押しされたタイミングにおける透過率を特定し、特定した透過率を維持するための印加電圧と、目標とする透過率との差分、すなわち、本来液晶NDフィルタにより調整されるべき明るさとの差分を調整するための、ゲインおよびシャッタスピードを算出する例について説明してきた。しかしながら、半押しされたタイミングにおける透過率は、そのタイミングにおける液晶NDフィルタの透過率を実測して利用するようにしても良い。
【００５８】
図７は、半押しされたタイミングにおける液晶NDフィルタの透過率を実測して利用するようにした撮像装置の第２の実施の形態の構成例を示している。尚、図７の撮像装置において、図１の撮像装置の構成と同一の機能を備えた構成については、同一の名称、および同一の符号を付しており、その説明は適宜省略するものとする。
【００５９】
すなわち、図７の撮像装置において、図１の撮像装置と異なる点は、液晶NDフィルタ４４、およびサーミスタ４５に代えて、液晶NDフィルタ１０１、および光量測定部１０２を設けた点である。また、制御部１６において、NDフィルタ制御部２４、温度別透過率対時間テーブル２６、時間計測部２７、および透過率特定部２８に代えて、NDフィルタ制御部１１１、および透過率特定部１１２を設けた点である。液晶NDフィルタ１０１は、基本的には、液晶NDフィルタ２４と同様の機能のものであるが、レンズ鏡筒１１の内径よりも一部がはみ出す部位を持つ構成となっている。そして、光量測定部１０２は、液晶NDフィルタ１０１の部位のうち、レンズ鏡筒１１１よりもはみ出した部位を挟むように構成されており、液晶NDフィルタ１０１の前段部と後段部との光量をそれぞれ測定する測定部１０２ａ，１０２ｂが設けられており、それぞれの位置で測定される光量を制御部１６に供給する。すなわち、液晶NDフィルタ１０１の前段に設けられた光量測定部１０２の測定部１０２ａは、液晶NDフィルタ１０１に入射前の光量を測定している。また、液晶NDフィルタ１０１の後段に設けられた光量測定部１０２の測定部１０２ｂは、液晶NDフィルタ１０１を透過した後の光量を測定している。
【００６０】
NDフィルタ制御部１１１は、基本的にはNDフィルタ制御部２４と同様のものであるが、半押しがなされたタイミングにおける液晶NDフィルタ１０１の透過率については、透過率特定部１１２により特定された値を利用する。透過率特定部１１２は、光量測定部１０２より供給されてくる、液晶NDフィルタ１０１の前段と後段のそれぞれの光量の比から透過率を算出し、特定する。
【００６１】
［図７の撮像装置による動作制御処理］
次に、図８のフローチャートを参照して、図７の撮像装置による撮像時の動作制御処理について説明する。尚、図８のフローチャートにおいては、ステップＳ３６の処理を除き、図３のフローチャートを参照して説明したステップＳ１乃至Ｓ５，Ｓ７乃至Ｓ１４の処理と同様であるので、その説明は省略するものとする。
【００６２】
すなわち、ステップＳ３１乃至Ｓ３５の処理においては、モニタリング画像が撮像され、半押しされたとみなされるまで、同様の処理が繰り返される。そして、ステップＳ３５において、半押しがなされたと判定された場合、処理は、ステップＳ３６に進む。
【００６３】
ステップＳ３６において、透過率特定部１１２が、光量測定部１０２により測定された液晶NDフィルタ４４の前段および後段の光量の比率を算出することにより、今現在の液晶NDフィルタの透過率を特定する。
【００６４】
そして、ステップＳ３７において、NDフィルタ制御部１１１が、特定された液晶NDフィルタ４４の透過率に対応する印加電圧を透過率対電圧テーブル２５より読み出し、ステップＳ３８において、読み出した印加電圧を液晶NDフィルタに印加して、半押しされたタイミングにおける透過率にロックした状態とする。そして、ステップＳ３９において、半押しされたタイミングにおける透過率と、目標とする透過率との差分から、液晶NDフィルタ１０１により調整できない明るさを、調整するためのゲインおよびシャッタスピードが算出され、ステップＳ４０において、ＡＦが実行される。最終的に、ステップＳ４２において、操作部１７が全押しされることにより撮像が指示されると、ステップＳ４３において、半押しされたタイミングにおける液晶NDフィルタの透過率で、かつ、ステップＳ３９の処理で算出されたゲイン、およびシャッタスピードで画像が撮像される。
【００６５】
以上の処理により、図１の撮像装置においては、操作部が操作されて半押しされたタイミングの液晶NDフィルタ４４の透過率が直接測定されるため、正確な透過率が求められるので、液晶NDフィルタに印加すべき印加電圧をより高い精度で算出することが可能になる。また、半押しされたタイミングの液晶NDフィルタ４４の透過率が正確に求められるので、液晶NDフィルタにより調整できない明るさを調整するためのゲインおよびシャッタスピードをより高い精度で制御することが可能となる。
【００６６】
結果として、液晶NDフィルタへの印加電圧に対する透過率の応答速度が追い付かないことにより生じるフォーカスラグを低減することが可能となる。
【００６７】
上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。ここで、コンピュータには、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
【００６８】
図９は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウェアの構成例を示すブロック図である。
【００６９】
コンピュータにおいて、CPU（Central Processing Unit）１００１，ROM（Read Only Memory）１００２，RAM（Random Access Memory）１００３は、バス１００４により相互に接続されている。
【００７０】
バス１００４には、さらに、入出力インタフェース１００５が接続されている。入出力インタフェース１００５には、入力部１００６、出力部１００７、記憶部１００８、通信部１００９、及びドライブ１０１０が接続されている。
【００７１】
入力部１００６は、キーボード、マウス、マイクロフォンなどよりなる。出力部１００７は、ディスプレイ、スピーカなどよりなる。記憶部１００８は、ハードディスクや不揮発性のメモリなどよりなる。通信部１００９は、ネットワークインタフェースなどよりなる。ドライブ１０１０は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、又は半導体メモリなどのリムーバブルメディア１０１１を駆動する。
【００７２】
以上のように構成されるコンピュータでは、CPU１００１が、例えば、記憶部１００８に記憶されているプログラムを、入出力インタフェース１００５及びバス１００４を介して、RAM１００３にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。
【００７３】
コンピュータ（CPU１００１）が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブルメディア１０１１に記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。
【００７４】
コンピュータでは、プログラムは、リムーバブルメディア１０１１をドライブ１０１０に装着することにより、入出力インタフェース１００５を介して、記憶部１００８にインストールすることができる。また、プログラムは、有線または無線の伝送媒体を介して、通信部１００９で受信し、記憶部１００８にインストールすることができる。その他、プログラムは、ROM１００２や記憶部１００８に、あらかじめインストールしておくことができる。
【００７５】
なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
【００７６】
また、本明細書において、システムとは、複数の構成要素（装置、モジュール（部品）等）の集合を意味し、すべての構成要素が同一筐体中にあるか否かは問わない。したがって、別個の筐体に収納され、ネットワークを介して接続されている複数の装置、及び、１つの筐体の中に複数のモジュールが収納されている１つの装置は、いずれも、システムである。
【００７７】
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【００７８】
例えば、本技術は、１つの機能をネットワークを介して複数の装置で分担、共同して処理するクラウドコンピューティングの構成をとることができる。
【００７９】
また、上述のフローチャートで説明した各ステップは、１つの装置で実行する他、複数の装置で分担して実行することができる。
【００８０】
さらに、１つのステップに複数の処理が含まれる場合には、その１つのステップに含まれる複数の処理は、１つの装置で実行する他、複数の装置で分担して実行することができる。
【００８１】
尚、本技術は以下のような構成を取ることができる。
（１）  印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となるように前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する印加電圧制御部とを含み、
前記印加電圧制御部は、撮像準備または撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持するように、前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する
動作制御装置。
（２）  前記透過率可変減光フィルタを介して、画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像される画像の明るさから、前記透過率可変減光フィルタの適切な透過率を算出する透過率算出部と、
前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧を記憶する印加電圧記憶部とを含み、
前記印加電圧制御部は、前記印加電圧記憶部に記憶されている印加電圧のうち、前記透過率算出部により算出された適切な透過率に対応する印加電圧を前記透過率可変減光フィルタに印加するように制御する
（１）に記載の動作制御装置。
（３）  前記撮像部により撮像される画像の撮像準備、または撮像を指示するとき操作される操作部とをさらに含み、
前記透過率特定部は、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、所定のタイミングにおける透過率を特定し、
前記印加電圧制御部は、前記印加電圧記憶部に記憶された前記透過率可変減光フィルタの透過率に対応する印加電圧のうち、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される透過率に対応する印加電圧を、前記透過率可変減光フィルタに印加するように制御する
（１）または（２）に記載の動作制御装置。
（４）  前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧へと制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを記憶する応答特性データ記憶部と、
前記印加電圧制御部が印加電圧を制御し始めた後に経過した経過時間を計測する経過時間計測部とをさらに含み、
前記透過率特定部は、前記経過時間計測部により計測された経過時間、および、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データに基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定する
（１）乃至（３）のいずれかに記載の動作制御装置。
（５）  前記透過率可変減光フィルタの温度を測定する温度測定部をさらに含み、
前記応答特性データ記憶部は、前記印加電圧制御部が印加電圧を第１の電圧に制御する際、前記印加電圧を制御し始めるときの第２の電圧から、前記第１の電圧にまで制御が完了するまでの時系列の、前記透過率可変減光フィルタの透過率の応答特性データを、前記透過率可変減光フィルタの温度毎に記憶し、
前記透過率特定部は、前記経過時間計測部により計測された経過時間、前記応答特性データ記憶部に記憶された応答特性データ、および前記温度測定部により測定された透過率可変減光フィルタの温度に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後から、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングまでに経過した経過時間における透過率を、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率として特定する
（１）乃至（４）のいずれかに記載の動作制御装置。
（６）  前記透過率可変減光フィルタの前段および後段の光量を測定する光量測定部をさらに含み、
前記透過率特定部は、前記光量測定部により測定された前記透過率可変減光フィルタの前段および後段の光量に基づいて、前記印加電圧制御部が前記透過率可変減光フィルタに印加電圧を印加し始めた後の、前記操作部により撮像準備を指示する操作がなされるタイミングにおける透過率を特定する
（１）乃至（３）のいずれかに記載の動作制御装置。
（７）  前記撮像部により撮像される画像のゲインを制御するゲイン制御部と、
前記撮像部により画像が撮像されるタイミングにおいて、前記撮像部に入射される光を遮光する遮光速度を制御するシャッタ制御部とをさらに含み、
前記透過率特定部により取得された透過率により透過される明るさが、前記撮像部により画像が撮像される際の最適な明るさに対して過不足する場合、前記明るさが最適なものとなるように、前記ゲイン制御部が前記撮像部のゲインを制御し、前記シャッタ制御部が前記遮光速度を制御するか、または、そのいずれかが制御される
（１）乃至（６）のいずれかに記載の動作制御装置。
（８）  前記透過率可変減光フィルタは、液晶NDフィルタである
（１）乃至（７）のいずれかに記載の動作制御装置。
（９）  前記透過率可変減光フィルタは、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が増大するもの、または、前記印加電圧の上昇に応じて前記透過率が減少するものである
（１）乃至（８）のいずれかに記載の動作制御装置。
（１０）  動作制御装置の動作制御方法であって、
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定処理をし、
前記透過率特定処理により取得された透過率となるように前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する印加電圧制御処理をするステップを含み、
前記印加電圧制御処理は、撮像準備が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定処理により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持するように、前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する
動作制御方法。
（１１）  コンピュータを、
印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となるように前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する印加電圧制御部として機能させ、
前記印加電圧制御部は、撮像準備または撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持するように、前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する
ためのプログラム。
（１２）  印加電圧により透過率が可変な透過率可変減光フィルタの透過率を特定する透過率特定部と、
前記透過率特定部により特定された透過率となるように前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する印加電圧制御部とを含み、
前記印加電圧制御部は、撮像準備または撮像が指示されたタイミングにおける、前記透過率特定部により特定される、前記透過率可変減光フィルタの透過率を維持するように、前記透過率可変減光フィルタに印加する電圧を制御する
撮像装置。
【符号の説明】
【００８２】
１１  レンズ鏡筒，  １２  画像処理部，  １３  記録媒体，  １４  表示処理部，  １５  表示部，  １６  制御部，  １７  操作部，  ２１  操作検出部，  ２２  ゲイン制御部，  ２３  シャッタ制御部，  ２４  NDフィルタ制御部，  ２５  透過率対電圧テーブル，  ２６  温度別透過率対時間テーブル，  ２７  時間計測部，  ２８  透過率特定部，  ２９  適正透過率算出部，  ４１  ズームレンズ，  ４２  絞り，  ４３  フォーカスレンズ，  ４４  液晶NDフィルタ，  ４５  サーミスタ，  ４６  撮像素子，  １０１  液晶NDフィルタ，  １０２  光量測定部，  １０２ａ，１０２ｂ  測定部，  １１１  NDフィルタ，  １１２  透過率特定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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