(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
岩石試料に含まれるＫ及びＡｒを検出することにより、該岩石試料が固化したときの年代を測定するためのＫ−Ａｒ年代測定装置であって、
前記岩石試料の表面にパルスレーザ光を集光させるパルスレーザ装置と、
前記パルスレーザ光により前記岩石試料から蒸発し励起した物質から発光された光を分光するように配置されたトロイダル型凹面回折格子と、
前記トロイダル型凹面回折格子の１次光に含まれるＡｒ輝線を検出するように配置されたＡｒ検出器と、
前記トロイダル型凹面回折格子の０次光に含まれるＫ輝線を検出するため配置されたＫ検出器と、
を備える、Ｋ−Ａｒ年代測定装置。
【請求項２】
前記Ａｒ検出器は、波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出するため、マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）とマルチアノードとを備えている、請求項１に記載のＫ−Ａｒ年代測定装置。
【請求項３】
前記Ｋ検出器は、波長767nmのＫ輝線を検出するためのバンドパスフィルタとフォトダイオードとを備えている、請求項１又は２に記載のＫ−Ａｒ年代測定装置。
【請求項４】
前記トロイダル型凹面回折格子の溝本数を少なくとも１２００gr/mmとする、請求項１乃至３のいずれか１項に記載のＫ−Ａｒ年代測定装置。
【請求項５】
岩石試料に含まれるＫ及びＡｒを検出することにより、該岩石試料が固化したときの年代を測定するための方法であって、
パルスレーザ光を岩石試料の表面に集光させることによって該岩石試料の表面物質を蒸発・励起させ、
前記表面物質の発光をトロイダル型凹面回折格子で分光し、
前記トロイダル型凹面回折格子の回折光の1次光に含まれるＡｒ輝線を検出し、
前記トロイダル型凹面回折格子の回折光の0次光に含まれるＫ輝線を検出し、
検出されたＫ輝線及びＡｒ輝線の光量に基づいて前記岩石試料に含まれるＫとＡｒの量を同定する、各工程を備える、方法。
【請求項６】
前記Ａｒ輝線の検出工程では、マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）とマルチアノードとを用いて、波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出する、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記Ｋ輝線の検出工程では、バンドパスフィルタとフォトダイオードとを用いて、波長767nmのＫ輝線を検出する、請求項５又は６に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、岩石中に存在するＫ及びＡｒを検出することにより、岩石が固化したときの年代を測定するＫ-Ａｒ年代測定装置及び方法に関し、より詳しくは、主に固体地球科学分野の研究（例えば火山噴火年代の特定など）のみならず、宇宙惑星科学分野において月や惑星の形成史の解明に有用となるように可搬型装置の提供を可能とした、Ｋ−Ａｒ年代測定装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、岩石中に含まれる放射性元素の壊変を利用して岩石の固化年代を計測するための年代測定法が知られており、当該測定法は、主に固体地球科学分野の研究（例えば火山噴火年代の特定など）に用いられていた。
【０００３】
近年では、宇宙惑星科学分野において月や惑星の形成史の解明を目標として、年代測定法を実施する装置の更なる小型化が希求されるように至った。例えば、月面の形成年代はアポロ計画で持ち帰られた岩石試料の年代測定結果を基に推定されているが、近年になって月面の非一様性が明らかになってきており、アポロ計画によって岩石試料が採取された非常に限られた地域だけでなく、より多くの地点で年代測定を実施することの重要性が高まってきている。また、他の惑星では岩石試料の採取は行なわれておらず、年代に関する情報はほとんど得られていない。一方で、月や惑星から岩石試料を持ち帰る事はアポロ計画から40年が経過した現在でも技術的に非常に困難であるだけでなく、大型の年代測定装置を現地に送り込む事も難しいため、小型で軽量な年代測定装置が必要である。
【０００４】
岩石の年代測定法の一つに、Ｋ-Ａｒ年代測定法がある。Ｋ-Ａｒ年代測定法は、岩石中に含まれる40Ｋが電子捕獲により40Ａｒへと壊変することを利用している。岩石が固化する前であれば40Ａｒは脱ガスし内部には残らないが、固化後であれば内部に蓄積される。この壊変の半減期は12.5億年ということが分かっているので、岩石中に存在する40Ｋと40Ａｒの比が分かれば、岩石の固化年代を特定する事ができる。
【０００５】
従来のＫ-Ａｒ年代測定法においては、湿式分析によってＫを定量し、脱ガスの質量分析によってＡｒを定量している。また、Ｋをレーザ誘起絶縁破壊分光法(Laser Induced BreaＫdown Spectroscopy, 以降「ＬＩＢＳ法」という)で計測し、Ａｒを脱ガス分析により計測する手法も考案されている。
【０００６】
しかし、上記いずれの方法も、ＫとＡｒとを異なる方法で測定しているため、それぞれの測定用ごとに試料を用意する必要があり、試料中のＫ及びＡｒの量の不均一性が測定誤差の要因となっていた。また、Ａｒ脱ガス分析のための超高真空の測定装置及びＫの湿式分析装置が必要となり、装置全体が大型化する、という問題を有している。この装置全体の大型化は、Ｋ-Ａｒ年代測定方法を上記のような宇宙惑星科学分野に応用することを、きわめて困難なものとしている。
【０００７】
一方、ＬＩＢＳ法を用いて対象物質に含まれる複数の成分（元素）の各々の含有量を測定する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。しかし、このような周知の技術文献には、ＫとＡｒとをどのように同時に測定するかに関して、開示も示唆もされておらず、宇宙惑星科学分野への応用を容易にするため可搬型の年代測定装置を如何に実現するかについて全く考察がなされていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−３５１０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、上記事実に鑑みなされたもので、ＬＩＢＳ法を用いて同一岩石試料に含まれるＫとＡｒとを測定可能にするによって、試料が異なることに起因する測定誤差を減少させると共に、様々な岩石採取地点において岩石の年代測定を可能にする可搬型の年代測定装置を提供することをその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、本発明は、岩石試料に含まれるＫ及びＡｒを検出することにより該岩石試料が固化したときの年代を測定するためのＫ−Ａｒ年代測定装置において、前記岩石試料の表面にパルスレーザ光を集光させるパルスレーザ装置と、前記パルスレーザ光により前記岩石試料から蒸発し励起した物質から発光された光を分光するように配置されたトロイダル型凹面回折格子と、前記トロイダル型凹面回折格子の１次光に含まれるＡｒ輝線を検出するように配置されたＡｒ検出器と、前記トロイダル型凹面回折格子の０次光に含まれるＫ輝線を検出するため配置されたＫ検出器と、を備えて構成したものである。
好ましくは、前記Ａｒ検出器は、波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出する。このＡｒ輝線を検出するため、例えば、空間分解可能なマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）とマルチアノードとを備えているのが好ましい。これによって、岩石中の存在度が高い元素の輝線のうち最も近い波長104nmのＯ輝線からＡｒ輝線を明瞭に分離して、検出効率を大幅に向上させることができる。また好ましくは、前記Ｋ検出器は、波長767nmのＫ輝線を検出するためのバンドパスフィルタとフォトダイオードとを備えているのがよい。また好ましくは、前記トロイダル型凹面回折格子の溝本数を少なくとも１２００gr/mmとするのがよい。Ｋ−Ａｒ年代測定装置をより小型化するためにはトロイダル型凹面回折格子の溝本数を更に多くするのがよく、現時点で作成可能な最多の溝本数である４８００gr/mmとするのがより好ましい。勿論、本発明は、溝本数の上限をこの値に限定するものではない。
【００１１】
本発明の別の態様は、岩石試料に含まれるＫ及びＡｒを検出することにより、該岩石試料が固化したときの年代を測定するための方法であって、パルスレーザ光を岩石試料の表面に集光させることによって該岩石試料の表面物質を蒸発・励起させ、前記表面物質の発光をトロイダル型凹面回折格子で分光し、前記トロイダル型凹面回折格子の回折光の1次光に含まれるＡｒ輝線を検出し、前記トロイダル型凹面回折格子の回折光の0次光に含まれるＫ輝線を検出し、検出されたＫ輝線及びＡｒ輝線の光量に基づいて前記岩石試料に含まれるＫとＡｒの量を同定する、各工程を備えて構成したものである。
【００１２】
好ましくは、前記Ａｒ輝線の検出工程では、マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）とマルチアノードとを用いて、波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出するのがよい。また好ましくは、前記Ｋ輝線の検出工程では、バンドパスフィルタとフォトダイオードとを用いて、波長767nmのＫ輝線を検出するのがよい。
【００１３】
岩石の年代を測定するため、Ｋの総量に対する40Ｋの初期存在量の比率と、同定された前記岩石試料に含まれるＫの量とから、前記岩石試料に含まれる40Ｋの量を推定する工程を更に備えていてもよい。また、同定された前記岩石試料に含まれるＡｒの量を前記岩石試料に含まれる40Ａｒの量と推定する工程を更に備えていてもよい。40Ａｒの量を推定する工程では、岩石中の40Ｋの壊変起源の40Ａｒ量を同定するため、同一試料内では大気から混入したＡｒ量が同程度であると仮定し、Ｋ存在量が異なる試料中の複数点において計測を行ないアイソクロン（等時線）を引く事で大気から混入した40Ａｒ量を計測値から除去するための補正が可能である。
【発明の効果】
【００１４】
本発明のＫ−Ａｒ年代測定装置及び方法によれば、試料の同一箇所に含まれるＫの量とＡｒの量とをＬＩＢＳ法で同時に測定可能にするため、トロイダル型凹面回折格子を用いて、その回折光のうち１次光からＡｒ輝線を検出し、０次光からＫ輝線を検出するようにしたので、測定精度を大幅に向上させることができると共に装置を大幅に小型化して可搬型の装置を実現することができる。
【００１５】
即ち、従来のＫ-Ａｒ年代測定では、湿式分析でＫ量を測定し、脱ガス分析によりＡｒ量を測定するために、試料を分ける必要があり、試料内の不均一性が大きな誤差要因となっていた。本発明の年代測定装置及び方法では同一の試料中のＫ量とＡｒ量を測定するため、この誤差要因を取り除く事ができ、測定精度が飛躍的に向上する。
【００１６】
また、Ａｒ−Ａｒ年代測定法や、ＫをＬＩＢＳ法で計測し、Ａｒを脱ガス分析により計測する手法においても、脱ガス分析のために真空度の高い大型の測定器が必要となる。従来のＫ-Ａｒ年代測定には大型の装置が必要であり、岩石試料を採取した地点付近で測定を行なう事は困難であった。本発明では、脱ガス分析を用いず、Ｋ及びＡｒを共にＬＩＢＳ法を用いて検出するようにしたため、真空度への要求は高くなく、装置の大幅な小型化が実現できる。更に、分光にトロイダル型凹面回折格子を用いることで部品点数を減らすことができ、この点からも装置の小型化を達成することができる。
【００１７】
かくして、本発明により、年代測定装置を乗用車や月惑星着陸機（及びそれに搭載される月惑星探査車）で運搬することが可能となった。これによって、試料採取から測定までの時間が短縮されるだけでなく、実験室に持ち帰り精密測定を行なうべき試料を選択する事が可能となる。また、月表面においてはアポロ計画で持ち帰られた試料で年代測定が行なわれているが、その後に月面の非一様性が明らかになってきており、さらに多くの地点での年代計測が要求されている。しかし、アポロ計画後は月面から試料を持ち帰る計画がなく、現状ではさらなる試料の持ち帰りは非常に困難である。また、惑星表面からは一度も試料が持ち帰られた事がないという状況である。本発明の装置は、宇宙で使用された実績のある部品で構成され、小型軽量であるため、惑星着陸機に搭載できる可能性があり、試料を持ち帰ることなく現場で年代測定を行なうことが可能となるため、月惑星科学に対する大きな貢献が期待される。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係るＫ−Ａｒ年代測定装置の構成を示す概略図である。
【図２】図２は、本発明のＫ−Ａｒ年代測定装置に備えられるトロイダル回折格子によるＡｒ輝線及びＯ輝線の検出面での集光分布を示す図である。
【図３】図３は、本発明の一実施例に係るＫ−Ａｒ年代測定装置の寸法を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態を説明する。
図１には、本発明の一実施形態に係るＫ−Ａｒ年代測定装置１が示されている。Ｋ−Ａｒ年代測定装置１は、岩石中に存在するＫとＡｒとをＬＩＢＳ法（Laser Induced Breakdown Spectroscopy）を用いて検出し、これら元素の比を測定することにより、岩石が固化したときの年代を測定するものである。なお、ＬＩＢＳ法とは、パルスレーザの照射により測定試料の一部が蒸発しイオン化することで発生した高エネルギーの電子が、制動放射及び陽イオンとの再結合を経て励起状態へとエネルギーが落ち、当該励起状態の原子が、脱励起する際に放射する原子固有のスペクトル光の強度及び波長を測定することにより測定試料に含まれる元素の種類及び量を分析する元素分析法である。
【００２０】
図１に示すように、Ｋ−Ａｒ年代測定装置１は、測定試料（岩石試料）２の表面にパルスレーザ光を集光させるパルスレーザ装置３と、試料２の表面から蒸発し励起した物質から発光された光４を分光するように配置されたトロイダル型凹面回折格子５と、トロイダル型凹面回折格子５の１次光６に含まれる波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出するように配置された検出器８（マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）及びマルチアノードの組み合わせ）と、トロイダル型凹面回折格子５の０次光７に含まれる波長767nmのＫ輝線を検出するため配置されたバンドパスフィルタ９及びフォトダイオード１０と、を備えている。パルスレーザ装置３は、図示しない集光光学系を備えている。また、少なくともトロイダル型凹面回折格子５、検出器８、バンドパスフィルタ９及びフォトダイオード１０は分光部１１を構成する。分光部１１及び岩石試料２の設置場所は、図示しない真空槽内に配置されている。パルスレーザ装置３は、大気中での使用が可能なため真空槽内に配置されていなくともよい。
【００２１】
以下にＫ−Ａｒ年代測定装置１による測定方法を説明する
(1)パルスレーザ光を岩石試料２の表面に集光させ、表面物質を蒸発・励起させる。
(2)表面物質の発光４をトロイダル型凹面回折格子５で分光し、回折光の1次光６を空間分解可能なマイクロチャンネルプレート(MCP)とマルチアノードとを組み合わせた検出器８により検出する。ここで、回折格子５の溝本数を4800gr/mmとし、Ａｒ光とその他の元素輝線(酸素など)を分離する。図２には、検出器８の検出面における各輝線の集光分布が示されている（図中、右下のスケール棒の長さが０．３４０ｍｍに相当）。図２に示されるように、真空紫外領域のＡｒ輝線は、波長１０７nmの輝線と波長１０５nmの輝線とを有し、波長１０４nmのＯ輝線が波長１０５nmのＡｒ輝線に隣接して存在している。図２から明らかに、２つのＡｒ輝線のうち波長１０７nmの輝線は波長１０４nmのＯ輝線から十分に分離しているので、Ａｒの量を同定するため波長１０７nmのＡｒ輝線のみを分離して検出することが可能となる。
(3)トロイダル型凹面回折格子５の回折光のうち0次光７に含まれるＫ輝線(767nm)をバンドパスフィルタ９で透過させ検出器(フォトダイオード)１０に導く。Ｋ輝線波長付近には他の主要元素の輝線の強度が非常に弱いため、回折格子の0次光を767nm付近のみを透過するバンドパスフィルタ９とフォトダイオード１０の組み合わせで検出する事ができる。
(4)Ｋ輝線とＡｒ輝線の光量からＫとＡｒの量を同定する。
【００２２】
上記のように本発明では近赤外領域のＫ輝線と真空紫外領域のＡｒ輝線を試料の同一の箇所から同時に計測し、試料中に含まれるＫの量とＡｒの量を定量することができる。
(5)同定されたＫの量とＡｒの量とから、岩石に含まれる40Ｋの量及び40Ａｒの量を推定し、40Ｋの量／40Ａｒの比率から岩石が固化した年代を測定する。
【００２３】
40Ｋの初期存在量はＫの総量の0.0117%であることから、上記ステップ(4)で同定されたＫの量に0.0117%を乗じることによって岩石試料中に含まれる40Ｋの量を推定することができる。また、検出されたＡｒは地球上の試料であればほとんどが40Ａｒであると推定される。このようにＫとＡｒの量を計測する事で40Ｋと40Ａｒを見積もる事が可能である。一方、大気に曝された状態で岩石が固化した際には大気中に含まれる40Ａｒが岩石中に混入するため、岩石中の40Ｋの壊変起源の40Ａｒ量を同定するには、大気から混入した40Ａｒ量を見積もる必要がある。同一試料内では大気から混入したＡｒ量が同程度であると考えられるため、Ｋ−Ａｒ年代測定装置１を用い、Ｋ存在量が異なる複数点において計測を行なうことにより大気から混入した40Ａｒ量を計測値から除去するための補正が可能となる。すなわち、形成年代が同じであるがＫの量が各計測点で異なる試料では、40Ｋの量に対する40Ａｒの量を計測点ごとにプロットすると直線上に並び（この直線をアイソクロン（等時線）という）、この等時線の傾きが岩石の形成年代を反映している。大気から40Ａｒの混入が無ければ、40Ｋの量に対する40Ａｒの量は、切片０の比例関係となるため、最低１点計測すれば、等時線の傾きを求めることができ、この傾きに基づいて岩石の形成年代を求めることができる。しかし、大気からの40Ａｒの混入量が無視できない場合、40Ｋの量に対する40Ａｒの量は、直線上に並ぶものの、このときの等時線は、大気からの40Ａｒの混入量に依存するオフセット切片を有することになる。従って、この場合には、複数の計測点から等時線の傾きを求めることによって、大気から混入した40Ａｒ量を除去した40Ｋ壊変起源の真の40Ａｒ量に基づく正確な年代測定が可能となる。
【００２４】
Ｋを湿式分析、Ａｒを脱ガス分析で行なう従来の方法では、試料をそれぞれの測定用に用意する必要があり、試料中のＫ量、Ａｒ量の不均一性が誤差要因となっていた。また、Ａｒ脱ガス測定を行なうためには超高真空の測定装置が必要であり、Ｋの湿式分析装置も必要であるため、装置が大型で高額になっていた。本発明では、試料の同一部分のＫとＡｒの量を測定する事ができるため、試料内の不均一性による誤差は生じない上、Ｋ/Ａｒ比を求める事が目的であるため絶対量を求める必要がなく、検出精度が大幅に向上する。Ａｒ輝線(107nm)は空気の透過率が非常に低いために真空装置が必要ではあるが、真空度に対する要求が脱ガス分析で使用される真空装置と比べて低いため、装置のコスト及びサイズは比較的小さく抑えられる。また近年になって比較的安価で小型なパルスレーザが市販されており、装置の小型化も見込まれる。
【００２５】
既に、試料中のＫ-Ａｒ量の不均一性による誤差を避けるため、Ａｒ-Ａｒ年代測定法が考案されているが、これには原子炉を用いた試料への中性子放射が必要であり、装置にかかるコストは非常に高い。また、ＬＩＢＳ法でＫを定量し、Ａｒをガス質量分析で定量するという手法も考案されているが、ガス質量分析のために装置が大型になってしまう。これらの手法に比べ本発明の年代測定装置は小型で安価であるという点で優位である。
【００２６】
以上が、本発明の実施形態であるが、本発明は上記例にのみ限定されるものではなく、本発明の範囲内において任意好適に変更可能である。例えば上記例では、Ａｒを空間分解可能なマイクロチャンネルプレート(MCP)とマルチアノードとを組み合わせた検出器８で検出したが、Ａｒ輝線を他の輝線から分離して検出可能であれば、他の検出手段を用いることもできる。また、Ｋをバンドパスフィルタ９とフォトダイオード１０との組み合わせで検出したが、これもＫ輝線を他の輝線から分離して検出可能であれば、この例に限定されるものではない。
【実施例】
【００２７】
本発明によるＫ−Ａｒ年代測定装置の小型化によって、Ｋ−Ａｒ年代測定装置１を乗用車(普通車)、月惑星着陸機、及び、月惑星の表面を走行可能な月惑星探査車で運搬することが可能となる。図３に参照されるように、分光器部１１は25mm x 25 mm x 65 mmの大きさに収まり、岩石試料の設置場所も含めて内径150mm程度の真空槽があればよい。レーザと集光光学系は大気中で使用可能であり、50mm x 50 mm x 150 mmの大きさに収まる程度である。この装置により、岩石試料の採取とほぼ同時に年代測定を行なう事ができる。一般的には測定装置が設置される実験室と岩石の採取場所との距離が遠いため、時間短縮による測定効率の向上が図れる。また、本発明による装置により岩石採取地点で簡易的な測定を行なうことで試料を厳選し、重要な試料を遠方の実験室に持ち帰って精密な測定を行なえば測定効率の向上が見込まれる。
【符号の説明】
【００２８】
１    Ｋ−Ａｒ年代測定装置
２    測定試料（岩石試料）
３    パルスレーザ装置
４    試料２の表面から蒸発し励起した物質から発光された光
５    トロイダル型凹面回折格子
６    トロイダル型凹面回折格子５の１次光
７    トロイダル型凹面回折格子５の０次光
８    Ａｒ検出器
９    バンドパスフィルタ
１０    フォトダイオード
１１    分光部
【図１】
0005930460.tif 000002
【図３】
0005930460.tif 000003
【図２】
0005930460.tif 000004