(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験電気信号を受ける入力端子と、
上記被試験電気信号をデジタル化するアナログ・デジタル・コンバータと、
デジタル化した上記被試験電気信号からＩ（同相）及びＱ（直交）ベースバンド成分情報を生成するデジタル・ダウン・コンバータと、
上記Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて１つ以上のＩＱベース時間領域トレースを生成するトレース生成部と、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの特性に対応する１つ以上の測定値を生成する測定部とを具え、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースとして周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定するように構成され、これによって、上記被試験電気信号の１側面として、周波数変調ホップ・レートを決定することを特徴とする試験測定装置。
【請求項２】
上記ＩＱベース時間領域トレースとして、位相対時間トレース及び電力対時間トレースの一方又は両方を更に含むことを特徴とする請求項１記載の試験測定装置。
【請求項３】
上記入力端子を第１入力端子とし、第２信号を受ける第２入力端子を更に具え、
上記測定部が上記第２信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定することを特徴とする請求項１記載の試験測定装置。
【請求項４】
試験測定装置において、時間領域トレースを測定するための方法であって、
上記試験測定装置の端子において被試験電気信号を受けるステップと、
アナログ・デジタル・コンバータを用いて上記被試験電気信号をデジタル化するステップと、
デジタル化した上記被試験電気信号をダウン・コンバートしてＩ（同相）及びＱ（直交）ベースバンド成分情報を生成するステップと、
上記Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて１つ以上のＩＱベース時間領域トレースを生成するステップと、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の測定値を自動的に生成するステップとを具え、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースを生成するステップが、周波数対時間トレースを生成するステップを含み、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、
上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定することによって、周波数変調ホップ・レートを決定するステップと、
上記周波数変調ホップ・レートに対応する測定値を表示ユニット上に表示するステップとを含む測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験信号の測定に関し、特に周波数領域と時間領域の関連する測定結果を一緒に表示できる試験測定装置及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
無線周波数（Radio Frequency：ＲＦ）伝送は、今日のワイヤレスに接続された社会において、急激に普遍的なものとなりつつある。例えば、携帯電話の使用は、世界中で急激に増加しており、高速データ・ネットワークは拡大し、家庭でのワイヤレス通信や、ワイド・エリア・ネットワーク（ＷＡＮ）が、普通のことになってきた。こうした進展において、試験測定装置が使いやすい機能やインタフェースを提供し、これによって、試験エンジニアや専門技術者のような現場の人間に、何が起こっているか正確に描写できるようにして提供できるようにすることが従来以上に極めて重要となっている。
【０００３】
無線周波搬送波（ＲＦキャリア）信号は、搬送波（キャリア）の振幅、周波数又は位相の変化に基づく種々のやり方で情報を伝達できる。政府は、通常、ＲＦレンジを異なる目的で使用するように配分する。結果として、あるデバイスは、所定の帯域内でのみ動作することが許される。こうした制限によって、これら制約に対応しているこれまで以上に複雑ながら効率的で、一般に認められた通信規格に従った方法を採用することとなる。例えば、多くの新しい伝送システムでは、周波数ホッピング及び位相変調を用いて通信規格に対応し、同様なリソースで競合する異なるデバイス間の機能性と互換性を高めている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−１７０５６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
こうした信号は本質的に複雑なので、従来の技術ではこれら信号を複数の観点から正確に測定することは困難か又は不可能である。リアルタイム・スペクトラム・アナライザ（ＲＴＳＡ）は、周波数領域においてＲＦ信号を測定するのを多くの点で得意としているが、一方で、特に時間領域における特定の測定についての能力が不足している。ＲＴＳＡでも、復調及びデータ復号能力と、制限はあるものの、ある程度の１チャンネル測定が可能なものもある。しかし、こうした装置では、急速に拡大及び多面化する技術分野において、ＲＦ信号をトータルに理解するのに必要な豊富な測定機能は有していない。
【０００６】
ＲＦ信号については、ランダムなバースト長、周波数ホッピング・アルゴリズム、位相変調、信号歪み、など要求される特性が多く存在するなか、ＲＦ信号の既存の測定方法では、特に時間領域に関して、不十分である。従って、信号伝送における問題を診断したり、完全な信号測定を行ったりすることが困難又は不可能となっている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の実施形態は、無線周波数（ＲＦ）信号の時間領域特性を測定するための測定技法を提供する。本発明による装置、システム及び方法は、ＲＦ信号を受けてデジタル化及びダウン・コンバートし、デジタル化したＲＦ信号からＩ（in-phase：同相）及びＱ（quadrature：直交）のベースバンド成分情報を生成する。１つ以上のＩＱベース時間領域トレースが、Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて生成される。ＩＱベース時間領域トレースには、例えば、周波数対時間トレース、位相対時間トレース、振幅（つまり、電力対時間トレース）、Ｉ対時間トレース、そして、Ｑ対時間トレースが含まれる。
【０００８】
実施形態によっては、試験測定装置の測定部は、時間領域波形に基づいて生成できる種々の適切な測定結果の中から、ＩＱベース時間領域トレースの周波数、ＩＱベース時間領域トレースのパルス幅、ＩＱベース時間領域トレースと他の信号間の遅延時間、そしてＩＱベース時間領域トレースの立ち上がり及び立ち下がり時間のようなＩＱベース時間領域トレースの特性に対応する複数の測定値を生成する。例えば、測定部は、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定し、試験測定装置の表示ユニット上でその測定値を表示するか、さもなくば、測定値を外部のコンピュータ又は記憶装置に伝送する。一般に、信号特性に対応する測定結果は、時間領域レコード全体に渡って生成されるか、さもなくば、取り込んだレコードの最初の部分又はレコード中の複数の場所で生成される。複数の測定は、一度に行われるか、組合せて行われる。以下で詳しく説明するように、種々の測定値をＩＱベース時間領域トレースに適用できる。
【０００９】
本願の第１観点の発明は、試験測定装置であって、被試験電気信号を受ける入力端子と、上記被試験電気信号をデジタル化するアナログ・デジタル・コンバータと、デジタル化した上記被試験電気信号からＩ（同相）及びＱ（直交）ベースバンド成分情報を生成するデジタル・ダウン・コンバータと、上記Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて１つ以上のＩＱベース時間領域トレースを生成するトレース生成部と、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの特性に対応する１つ以上の測定値を生成する測定部とを具えている。
【００１０】
本願の第２観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定するように構成され、これによって、上記被試験信号の１側面として、周波数変調ホップ・レートを決定するものである。
【００１１】
本願の第３観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記周波数対時間トレースのパルス幅を測定するように構成され、これによって、上記被試験信号の１側面として、周波数変調ホップ持続時間を決定するものである。
【００１２】
本願の第４観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、上記入力端子が第１入力端子から構成され、上記試験測定装置が更に第２信号を受ける第２入力端子を具えているものである。
【００１３】
本願の第５観点の発明は、第４観点の試験測定装置において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記第２信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定するように構成されているものである。
【００１４】
本願の第６観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースが位相対時間トレースを含み、上記測定部は上記位相対時間トレースの特性に対応する１つ以上の測定値を生成するように構成されているものである。
【００１５】
本願の第７観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースが電力対時間トレースを含み、上記測定部が上記電力対時間トレースの特性に対応する１つ以上の測定値を生成するように構成されているものである。
【００１６】
本願の第８観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、上記測定値を受けて表示する表示ユニットを更に具えるものである。
【００１７】
本願の第９観点の発明は、第１観点の試験測定装置において、コントローラが上記トレース生成部及び上記測定部を含み、上記コントローラは１つ以上の上記測定値を外部デバイスに伝送するように構成されることを特徴としている。
【００１８】
本願の第１０観点の発明は、試験測定装置において、時間領域トレースを測定するための方法であって、
上記試験測定装置の端子において被試験電気信号を受けるステップと、
アナログ・デジタル・コンバータを用いて上記被試験電気信号をデジタル化するステップと、
デジタル化した上記被試験電気信号をダウン・コンバートしてＩ（同相）及びＱ（直交）ベースバンド成分情報を生成するステップと、
上記Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて１つ以上のＩＱベース時間領域トレースを生成するステップと、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の測定値を自動的に生成するステップとを具えている。
【００１９】
本願の第１１観点の発明は、第１０観点の方法において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の上記測定値を表示ユニット上に表示するステップを更に具えている。
【００２０】
本願の第１２観点の発明は、第１０観点の方法において、複数の上記測定値を外部デバイスに伝送するステップを更に具えている。
【００２１】
本願の第１３観点の発明は、第１０観点の方法において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースを生成するステップが、周波数対時間トレースを生成するステップを含んでいることを特徴としている。
【００２２】
本願の第１４観点の発明は、第１３観点の方法において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、
上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定することによって、周波数変調ホップ・レートを決定するステップと、
上記周波数変調ホップ・レートに対応する測定値を表示ユニット上に表示するステップとを含んでいることを特徴としている。
【００２３】
本願の第１５観点の発明は、第１３観点の方法において、１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースの複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、
上記周波数対時間トレースのパルス幅を測定することによって、周波数変調ホップ持続時間を決定するステップと、
上記周波数変調ホップ持続時間に対応する測定値を表示ユニット上に表示するステップとを更に含んでいることを特徴としている。
【００２４】
本願の第１６観点の発明は、第１０観点の方法において、上記端子が第１端子から構成されると共に、上記試験測定装置の第２端子において第２信号を受けるステップを更に具えていることを特徴としている。
【００２５】
本願の第１７観点の発明は、第１６観点の方法において、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースを生成するステップが、周波数対時間トレースを生成するステップを含み、
複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記第２信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定するステップと、表示ユニットに遅延時間測定結果を表示するステップとを有することを特徴としている。
【００２６】
本願の第１８観点の発明は、第１０観点の方法において、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースを生成するステップが、位相対時間トレースを生成するステップを含み、
複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記位相対時間トレースの特性に対応する複数の測定値を生成するステップを含んでいることを特徴としている。
【００２７】
本願の第１９観点の発明は、第１０観点の方法において、
１つ以上の上記ＩＱベース時間領域トレースを生成するステップが、電力対時間トレースを生成するステップを含み、
複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記電力対時間トレースの特性に対応する複数の測定値を生成するステップを含んでいることを特徴としている。
【００２８】
本願の第２０観点の発明は、磁気ディスク、光学ディスク、固体ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダム・アクセス・メモリ、リード・オンリ・メモリ又はフラッシュ・メモリを含む機器から情報を引き出す装置であって、試験測定装置で実行したときに、第１０観点の発明のステップを機械に実行させる結果となる関連する命令を有する機械アクセス可能なメディアを具えている。
【００２９】
本発明の目的、効果及び他の新規な点は、以下の詳細な説明を添付の特許請求の範囲及び図面とともに読むことによって明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】図１は、アナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）、デジタル・ダウン・コンバータ、トレース生成部及び測定部を含むコントローラ、表示ユニットを有する本発明の実施形態例による試験測定装置のブロック図である。
【図２Ａ】図２Ａは、本発明の実施形態の例に基づき、種々の受信信号又は得られた信号や、周波数対時間トレースのようなトレースを含む簡略化した表示画面を示す。
【図２Ｂ】図２Ｂは、図２Ａに対応して得られた測定値の例を示している。
【図３】図３は、本発明の実施形態の例による種々の受信信号又は得られた信号や、位相対時間トレースのようなトレースを含む簡略化した表示画面を示す。
【図４】図４は、本発明の実施形態の例によるもので、種々の受信信号又は得られた信号や、電力対時間トレースのようなトレースを含む簡略化した表示画面を示す。
【図５】図５は、本発明の実施形態の例によるもので、ＩＱベース時間領域トレースを測定する方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
図１は、アナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）１０８、デジタル・ダウン・コンバータ１１５、トレース生成部１４５及び測定部１４７を含むコントローラ１４０、表示ユニット１５０を有する本発明の実施形態例による試験測定装置１００のブロック図である。試験測定装置１００は、デジタル・オシロスコープ、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ（ＲＴＳＡ）、その他の適切な測定装置としても良い。簡潔かつ一貫性を持たせるため、ここでは、全般に試験測定装置としてオシロスコープを例に説明するが、これに限られるものではない。
【００３２】
オシロスコープ１００は、ここで説明する種々の実施形態での利用に適した入力端子１１０のような入力端子又はチャンネルを複数有している。このオシロスコープは、入力端子１１０を１つだけ持つとしても良いが、本願発明は、４つ又は任意の数の入力を有するオシロスコープにも等しく適用可能である。オシロスコープ１００の構成要素は、互いに直接結合された形で示されているが、オシロスコープ１００は、必ずしも図示しないものの、他の種々の回路、ソフトウェア要素、入力端子、出力端子、インタフェースを含んでも良く、これらは図示したオシロスコープ１００の構成要素の間等に配置される。
【００３３】
入力端子１１０は、被試験電気信号、好ましくはＲＦ信号を受ける。このＲＦ信号は、アナログ中間周波数（ＩＦ）信号に変換しても良く、これはＡＤＣ１０８でデジタル化される前にフィルタされる。しかし、基準となるのは、ここでは１つ又は複数のＲＦ信号であり、これには１つ以上のＲＦ信号、又は、ＲＦ信号から導かれた１つ以上のＩＦ信号が含まれると考えて良い。
【００３４】
ＡＤＣ１０８は、被試験ＲＦ信号をデジタル化するように構成される。デジタル・ダウン・コンバータ１１５は、ＡＤＣ１０８と動作可能に結合され、デジタル化されたＲＦ信号を受けて、このデジタルＲＦ信号からＩ（同相）及びＱ（直交）ベースバンド成分のデータ又は信号を生成する。より具体的には、ミキサ１２０が数値的にサイン及びコサインをデジタルＲＦ信号にかけ算し、これによってＩ及びＱ成分情報を生成する。この情報には、オリジナルのＲＦ信号中に存在する情報の全てが含まれる。信号成分データは、その後、間引きフィルタ１２５を用いて間引きされる。これは、信号に関するサンプル数とノイズをデジタル的にフィルタして減少させる。
【００３５】
取込み（アクイジション）メモリ１３０は、デジタル・ダウン・コンバータ１１５と動作可能に結合されて、ＲＦ信号に関するデジタルＩ及びＱベースバンド成分情報の１つ以上のレコード１３５を取込み及び蓄積する。言い換えると、取込みメモリ１３０は、デジタル・ダウン・コンバータ１１５からＩ及びＱベースバンド成分情報を受けて、これを蓄積することができる。実施形態によっては、ＡＤＣ１０８が出力するデジタル・データを、メモリ１３０のようなメモリに最初に直接蓄積しても良く、その後、ダウン・コンバータ１１５がアクセスしてＩ及びＱベースバンド成分情報を生成するようにしても良い。オシロスコープの各入力端子１１０は、成分情報が蓄積された取込みメモリ１３０の異なる部分又は異なるレコード１３５と関係がある。取込みメモリ１３０は、種々のメモリとしても良い。例えば、取込みメモリ１３０は、揮発性メモリ、非揮発性メモリ、ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ（ＤＲＡＭ）、スタティック・メモリ（ＳＲＡＭ）などとしても良い。
【００３６】
コントローラ１４０は、取込みメモリ１３０と動作可能に結合されており、Ｉ及びＱ成分情報を受ける。コントローラ１４０は、表示ユニット１５０にも結合され、被試験信号を処理し、表示ユニット１５０に表示する対応する波形、トレース、又は測定結果を生成する。トレース及び測定結果を表示する代わりに、又は、これらに加えて、コントローラ１４０は、バスやワイヤなどの伝送線を介してこれらを外部デバイス１６０に伝送することもできる。外部デバイス１６０は、例えば、試験測定装置とは別個のコンピュータや、外部記憶装置などとしても良い。
【００３７】
コントローラ１４０は、トレース生成部１４５及び測定部１４７を有していても良い。トレース生成部１４５は、Ｉ及びＱベースバンド成分情報を用いて、１つ以上のＩＱベースの時間領域トレースを生成する。例えば、ダウン・コンバートした後、トレース生成部１４５は、ＱをＩで割ったもののアークタンジェント（つまり、ＡＲＣＴＡＮ（Ｑ／Ｉ））の計算によって位相を生成しても良い。トレース生成部１４５は、位相の微分（導関数）を計算する（つまり、ｄ／ｄｔ（ｐｈａｓｅ））ことによって、周波数を生成しても良い。位相及び周波数は、位相対時間トレース、周波数対時間トレースをそれぞれプロットするのに用いられる。加えて、トレース生成部１４５は、振幅（つまり、電力対時間）トレースを生成しても良く、これは、例えば、Ｉの２乗にＱの２乗を加えたものの平方根を取る（例えば、ＳＱＲＴ（Ｉ＾２＋Ｑ＾２））ことで生成しても良い。種々のトレースについて、以下で更に詳細に説明する。
【００３８】
測定部１４７は、ＩＱベースの時間領域トレースの測定可能な観点の少なくとも１つから測定値を生成する。例えば、ＩＱベース時間領域トレースが周波数対時間トレースなら、測定部１４７は、周波数対時間トレース中の周波数がホップする周波数を測定することによって、その測定値を生成し、これによって、その信号の１つの側面である周波数変調ホップ・レートを決定する。他の例としては、測定部１４７は、周波数対時間トレースのパルス幅を測定し、これによって、信号の１つの側面である周波数変調ホップ持続時間（duration）を決定する。一般に、測定結果は信号特性に対応し、時間領域レコード全体に渡って生成されるか、さもなくば、取込みメモリ１３０のレコード１３５のような取込みレコードの最初の部分か、又は、取込みレコード中の複数の場所において生成される。測定は、１度に１つか、組合せて行われても良い。以下で更に説明する他の測定値は、周波数対時間トレースに関しても生成される。実際には、当業者に周知の他の適切な種々の測定をＩＱベース時間領域トレースに適用しても良い。
【００３９】
加えて、測定部１４７は、Ｉ及びＱベースバンド成分情報の複数のトレースそれぞれの測定可能な観点の少なくとも１つから測定値を生成できる。言い換えると、Ｉベースバンド成分情報のトレース又はＱベースバンド成分情報のトレースに対して、測定を直接行っても良い。
【００４０】
表示ユニット１５０は、ＲＦ信号のスペクトラムやＲＦ信号のスペクトログラムのような周波数領域トレースと共に、１つ以上のＩＱベース時間領域トレースを表示ユニットの同じウィンドウ内に一緒に（つまり、互いに近くに、又は、重ねて）表示するのに適したものとなっている。ＲＦ信号のスペクトラムやスペクトログラムのような周波数領域トレースは、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）アルゴリズムをＩ及びＱデータに適用することによって生成される。複数のＩＱベース時間領域トレースの測定値が生成されると、これら測定値も、表示ユニットの同じウィンドウ内のオシロスコープのユーザが見やすい場所に表示される。言い換えると、ＩＱベース時間領域トレース、ＩＱベース周波数領域トレース及び測定値は、１つのウィンドウ内において、互いに近い位置に、表示ユニット１５０のおおよそ全表示領域を占めるように表示できる。
【００４１】
ここで、周波数領域に言及すると、これは、当業者には理解されるように、周波数領域の測定やトレースを指すものと考えるべきである。例えば、ＲＦ信号のスペクトラムは、周波数領域であって、周波数レンジを表す水平軸と、任意の周波数についての振幅又は信号電力を表す垂直軸とを有するプロットを含んでいる。加えて、ＲＦ信号のスペクトログラムは、周波数領域に含まれると考えられ、典型的には、周波数レンジを表す水平軸と、時間を表す垂直軸とを有し、色を変化させることでトレースの振幅を表すプロットを有している。
【００４２】
一方、時間領域は、複数の異なる形式の測定やトレースを含んでいる。例えば、周波数対時間の測定やトレースは、周波数領域というよりは、時間領域に属すると考えられ、また、これは時間を表す水平軸と、周波数を表す垂直軸とを有すると考えられる。周波数対時間測定は、時間領域に関して、スペクトログラムよりも高い解像度を有している。
【００４３】
周波数対時間と同様に、電力対時間トレースは、時間に対して信号電力がどのように変化するかを示し、時間領域に属すると考えられ、その水平軸は時間を表し、垂直軸は電力（線形なスケールの電圧の代わりに、典型的には、対数（log）スケール）を表す。加えて、位相対時間の測定やトレースは、時間の関数として表示され、時間領域に属すると考えられる。その水平軸は時間を表し、垂直軸は位相値のレンジを表す。ここでＩＱベース時間領域トレースに言及すると、これはＩ及びＱ成分情報又はデータから得られた信号又はトレースを指しており、周波数領域とは対照的に、時間領域に属している。
【００４４】
ＡＤＣ１０８、デジタル・ダウン・コンバータ１１５、トレース生成部及び測定部を含むコントローラ１４０並びに表示ユニット１５０のいずれもが、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はこれらの組合せたものの中に存在するか、または、これらを用いて実現される。
【００４５】
図２Ａ及び２Ｂは、本発明の実施形態の例によるもので、種々の受信信号又はこれから得られた信号や、周波数対時間トレース２２５のようなトレースを含む簡略化した表示画面２００を示している。
【００４６】
図２Ａに示すように、表示画面２００の上部には、制御信号２２０と周波数対時間トレース２２５がある。表示画面２００の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号２２０は「制御」信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子１１０は、ＲＦ信号や制御信号２２０のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、周波数対時間トレース２２５のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。
【００４７】
実施形態によっては、制御信号２２０は、周波数の遷移を示すものでも良く、周波数対時間トレース２２５に、この遷移が反映される。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号（つまり、制御信号２２０と関係のない信号）と周波数対時間トレース２２５の間で測定を行っても良い。
【００４８】
図１の測定部１４７は、周波数対時間トレースに関する１つ以上の測定値２３０を生成できる。例えば、測定部１４７は、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数測定値を生成でき、表示画面２００上にその測定値が表示される。測定部１４７は、図２Ｂに例として示すように、周波数対時間トレースのパルスのパルス幅、制御信号及び周波数対時間トレース間の遅延時間、周波数対時間トレースのパルス又は一部分の立ち上がり時間、周波数対時間トレースのパルス又は一部分の立ち下がり時間、周波数対時間トレースのオーバーシュート状態、周波数対時間トレースのスルーレート、などのその他の種々の測定値２３０を生成できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を周波数対時間トレースに適用できる。加えて、コントローラ１４０は、バスやワイヤなどの伝送線を介して測定値２３０を外部デバイス１６０に伝送することもできる。
【００４９】
更には、時間領域の周波数対時間トレースや、制御信号、測定値と共に、周波数領域のスペクトログラム２８５やスペクトラム２９０を一緒に（つまり、互いに近く又は重ねて）、表示ユニット１５０の表示画面２００のほぼ全体を占めるように１つのウィンドウ２００中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム２８５やスペクトラム２９０は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム２８５やスペクトラム２９０からの情報は、同じ表示画面内の周波数対時間トレース２２５や測定値２３０のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。
【００５０】
実施形態によっては、測定部１４７は、ユーザの選択に応じて周波数対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面２００上に自動的に測定値２３０を表示させる。例えば、ユーザの入力に応じて、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数と、周波数対時間トレースのパルス幅とを自動的に測定することによって、周波数変調ホップ・レート及びホップ持続時間が自動的に決定され、測定値が表示されるので、ユーザは測定値を観測できる。制御信号に関する遅延時間のようなその他の測定結果も、自動的に決定されて表示できる。上述した測定技法や測定値は、オシロスコープ１００によって自動的に実行及び測定され、表示されることが理解されるであろう。
【００５１】
図３は、本発明の実施形態の例による種々の受信信号又は得られた信号や、位相対時間トレース３２５のようなトレースを含む簡略化した表示画面３００を示す。
【００５２】
図３に示すように、表示画面３００の上部には、制御信号３２０と位相対時間トレース３２５がある。表示画面３００の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号３２０は「制御」信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子１１０は、ＲＦ信号や制御信号３２０のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、位相対時間トレース３２５のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。
【００５３】
実施形態によっては、制御信号３２０は、ＲＦ信号の位相遷移又はその他の特性を示すとしても良い。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号（つまり、制御信号３２０と関係のない信号）と位相対時間トレース３２５の間で測定を行っても良い。
【００５４】
図１の測定部１４７は、位相対時間トレースに関する１つ以上の測定値３３０を生成できる。例えば、測定部１４７は、上述した測定値２３０と類似するか、これらに対応する測定値３３０を生成できるが、これらは位相対時間トレース３２５に測定を適用したものである。測定値３３０は、表示画面３００上に表示するか、バスやワイヤなどの伝送線を介して外部デバイス１６０に伝送できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を位相対時間トレースに適用できる。
【００５５】
更には、時間領域の位相対時間トレース３２５や、制御信号３２０、測定値３３０と共に、周波数領域のスペクトログラム３８５やスペクトラム３９０を一緒に（つまり、互いに近く又は重ねて）、表示ユニット１５０の表示画面３００のほぼ全体を占めるように１つのウィンドウ３００中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム３８５やスペクトラム３９０は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム３８５やスペクトラム３９０からの情報は、同じ表示画面内の位相対時間トレース３２５や測定値３３０のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。
【００５６】
実施形態によっては、測定部１４７は、ユーザの選択に応じて自動的に位相対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面３００上に自動的に測定値３３０を表示させる。例えば、制御信号３２０と位相対時間トレース３２５間の遅延時間を測定することによって、制御信号と回路の位相変調出力信号間の遅延時間が決定される。これら測定結果は、自動的に測定されて表示される。上述した測定技法や測定値のいずれもが、位相対時間トレースの特性を測定するために利用でき、オシロスコープ１００によって自動的に測定され、表示されることが理解されるであろう。
【００５７】
図４は、本発明の実施形態の例によるもので、種々の受信信号又はこれから得られた信号や、電力対時間トレース４２５のようなトレースを含む簡略化した表示画面４００を示している。
【００５８】
図４に示すように、表示画面４００の上部には、制御信号４２０と振幅（つまり、電力対時間）トレース４２５がある。表示画面４００の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号４２０は「制御」信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子１１０は、ＲＦ信号や制御信号４２０のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、電力対時間トレース４２５のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。
【００５９】
実施形態によっては、制御信号４２０は、ＲＦ信号の電力又は他の特性の遷移を示すものでも良い。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号（つまり、制御信号４２０と関係のない信号）と電力対時間トレース４２５の間で測定を行っても良い。
【００６０】
図１の測定部１４７は、電力対時間トレースに関する１つ以上の測定値４３０を生成できる。例えば、測定部１４７は、上述した測定値２３０と類似するか、これらに対応する測定値４３０を生成できるが、これらは電力対時間トレース４２５に測定を適用したものである。測定値４３０は、表示画面４００上に表示するか、バスやワイヤなどの伝送線を介して外部デバイス１６０に伝送できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を電力対時間トレースに適用できる。
【００６１】
更には、時間領域の電力対時間トレース４２５や、制御信号４２０、測定値４３０と共に、周波数領域のスペクトログラム４８５やスペクトラム４９０を一緒に（つまり、互いに近く又は重ねて）、表示ユニット１５０の表示画面４００のほぼ全体を占めるように１つのウィンドウ４００中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム４８５やスペクトラム４９０は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム４８５やスペクトラム４９０からの情報は、同じ表示画面内の電力対時間トレース４２５や測定値４３０のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。
【００６２】
実施形態によっては、測定部１４７は、ユーザの選択に応じて自動的に電力対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面４００上に自動的に測定値４３０を表示させる。これら測定結果は、自動的に測定されて表示される。上述した測定技法や測定値のいずれもが、電力対時間トレースの特性を測定するために利用でき、オシロスコープ１００によって自動的に測定され、表示されることが理解されるであろう。
【００６３】
図５は、本発明の１つの実施形態によるＩＱベース時間領域トレースの測定方法を示すフローチャートである。この方法は、ステップ５０５で始まり、ここではオシロスコープのような試験測定装置の端子がＲＦ信号を受ける。ステップ５１０では、ＡＤＣを用いてＲＦ信号がデジタル化される。続いてフローはステップ５１５に進み、ここではデジタル化された信号がダウン・コンバートされ、Ｉ及びＱベースバンド成分情報又はデータが生成される。ステップ５２０において、ＩＱベースバンド成分情報を用いた時間領域トレースが生成される。次に、フローは、いくつかのパスのどれか１つに沿って進む。ステップ５２５に進むと、ＩＱベース時間領域トレースの周波数が測定される。ステップ５３０に進むと、ＩＱベース時間領域トレースのパルス幅が測定される。ステップ５３５に進むと、ＩＱベース時間領域トレースのパルスの立ち上がり時間が測定される。ステップ５４０に進むと、ＩＱベース時間領域トレースの他の値が測定される。他の値としては、図１〜４に関して上述した測定値のいずれかとしても良く、簡単のため、ここでは繰り返さない。続いて、フローはステップ５４５又は５５０に進み、ここでは測定値がユーザの観測及び分析のために、オシロスコープの表示ユニット１５０上で表示されるか、又は、更なる処理や分析のため、外部デバイス１６０（図１参照）に伝送される。
【００６４】
具体的な実施形態を説明してきたが、本発明の原理はこれら実施形態に限定されるものではないことが理解されよう。例えば、上述の実施形態では、波形の異なる特性を記述しているが、上述の特性は、ジッタ測定に関する特性のように、統計的な性質のものではない。しかし、開示した実施形態は、統計的な特性でないものに限定されず、むしろ、ジッタ測定のような統計的測定にも拡張できるものである。例えば、統計、ヒストグラムなどのような測定結果について更なる分析を行っても良い。最大、最小、中央、平均、標準偏差などの統計的な値を測定に利用しても良い。その他の分析としては、測定値のトレンド・プロット、ヒストグラムなどを含めても良いことが理解されよう。
【００６５】
実施形態によっては、磁気ディスク、光学ディスク、固体ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダム・アクセス・メモリ、リード・オンリ・メモリ、フラッシュ・メモリを含む機器から情報を引き出す装置であっても良く、この装置が、試験測定装置で実行したときに、本願で開示した本発明の種々の実施形態のステップを機械に実行させる結果が得られる関連する命令を有する機械アクセス可能なメディアを具えていても良い。また、その他の種々の変形が、本発明の原理から離れることなく実現可能なことが理解されるであろう。
【符号の説明】
【００６６】
１００  試験測定装置
１０８  アナログ・デジタル・コンバータ
１１０  入力端子
１１５  デジタル・ダウン・コンバータ
１２０  ミキサ
１２５  間引きフィルタ
１３０  取込みメモリ
１３５  取込みレコード
１４０  コントローラ
１４５  トレース生成部
１４７  測定部
１５０  表示ユニット
１６０  外部デバイス
２００  表示画面
２２０  制御信号
２２５  周波数対時間トレース
２３０  測定値
２８５  スペクトログラム
２９０  スペクトラム
３００  表示画面
３２０  制御信号
３２５  位相対時間トレース
３３０  測定値
３８５  スペクトログラム
３９０  スペクトラム
４００  表示画面
４２０  制御信号
４２５  電力対時間トレース
４３０  測定値
４８５  スペクトログラム
４９０  スペクトラム
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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