(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ホスト計算機と接続するディスクアレイシステムであって、
冗長化された複数のコントローラを有する制御部と、
それぞれが冗長化された複数のエキスパンダコントローラを有する複数のドライブボックスが格納され、
デイジーチェーン方式に接続されるＮ台のディスクユニット筺体を有する記憶部とを備え、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のそれぞれには、第０ないし第（Ｋ−１）のドライブボックス（Ｋ≧１）が格納され、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のうち、１番目のディスクユニット筐体内の各ドライブボックスが有する、少なくとも１つの前記エキスパンダコントローラは、前記コントローラに接続され、
Ｍ番目（１≦Ｍ＜Ｎ）のディスクユニット筐体内の第Ｌ（０≦Ｌ＜Ｋ）のドライブボックスが有する、第１のエキスパンダコントローラは、（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の第Ｌのドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラに接続され、
前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の前記第Ｌのドライブボックスが有する、第２のエキスパンダコントローラは、前記（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の第（（Ｌ＋１）ｍｏｄｅ  Ｋ）のドライブボックス（（Ｌ＋１）ｍｏｄｅ  Ｋは、（Ｌ＋１）をＫで割った余りである）が有する第２のエキスパンダコントローラに接続され、
前記ディスクアレイシステムは、前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスと、前記（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスとで、ＲＡＩＤグループを構成し、
前記ＲＡＩＤグループを構成するいずれか１つのドライブボックスに障害が発生した場合、前記ＲＡＩＤグループに対する障害回復プロセスを実行する、
ディスクアレイシステム。
【請求項２】
請求項１に記載のディスクアレイシステムであって、Ｋが偶数のとき、
前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ）のドライブボックス（０≦ｊ≦（Ｋ−２）÷２）が有する前記第１のエキスパンダコントローラと、前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラが、前記コントローラに接続され、
前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ）のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラは、前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラに接続され、
前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラは、前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第（２×ｊ）のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラに接続される、
ディスクアレイシステム。
【請求項３】
ホスト計算機と接続するディスクアレイシステムであって、
冗長化された複数のコントローラを有する制御部と、
それぞれが冗長化された複数のエキスパンダコントローラを有する複数のドライブボックスが格納され、
デイジーチェーン方式に接続されるＮ台のディスクユニット筺体を有する記憶部とを備え、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のそれぞれには、第０ないし第（Ｋ−１）のドライブボックス（Ｋは２以上の偶数）が格納され、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のうち、１番目のディスクユニット筐体内の各ドライブボックスが有する、少なくとも１つの前記エキスパンダコントローラは、前記コントローラに接続され、
Ｍ番目（１≦Ｍ＜Ｎ）のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ）のドライブボックス（０≦ｊ≦（Ｋ−２）÷２）が有する、第１のエキスパンダコントローラはそれぞれ、（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ）のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラに接続され、
前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ）のドライブボックスが有する、第１のエキスパンダコントローラの各々はさらに、前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラに接続され、
前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する、第２のエキスパンダコントローラはそれぞれ、前記（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する第２のエキスパンダコントローラに接続され、
前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ＋１）のドライブボックスが有する、第２のエキスパンダコントローラの各々はさらに、前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の第（２×ｊ）のドライブボックスが有する第２のエキスパンダコントローラに接続され、
前記ディスクアレイシステムは、前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスと、前記（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスとで、ＲＡＩＤグループを構成し、
前記ＲＡＩＤグループを構成するいずれか１つのドライブボックスに障害が発生した場合、前記ＲＡＩＤグループに対する障害回復プロセスを実行する、
ディスクアレイシステム。
【請求項４】
ホスト計算機と接続するディスクアレイシステムであって、
冗長化された複数のコントローラを有する制御部と、
それぞれが冗長化された複数のエキスパンダコントローラを有する複数のドライブボックスが格納され、
デイジーチェーン方式に接続されるＮ台のディスクユニット筺体を有する記憶部とを備え、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のそれぞれには、少なくとも第１のドライブボックスと第２のドライブボックスが格納され、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のうち、
１番目のディスクユニット筐体内の前記第１のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラは、前記コントローラ及び前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第２のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラに接続され、
Ｎ番目のディスクユニット筐体内の前記第２のドライブボックスが有する第２の前記エキスパンダコントローラは、前記コントローラ及び前記Ｎ番目のディスクユニット筐体内の前記第１のドライブボックスが有する第２のエキスパンダコントローラに接続され、
Ｍ番目（１≦Ｍ＜Ｎ）のディスクユニット筐体内の第１及び第２のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラはそれぞれ、（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の前記第１及び第２のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラに接続され、
Ｌ番目（１＜Ｌ≦Ｎ）のディスクユニット筐体内の第１及び第２のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラはそれぞれ、（Ｌ−１）番目のディスクユニット筐体内の前記第１及び第２のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラに接続される、
ディスクアレイシステム。
【請求項５】
前記Ｍ番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスと、前記（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の各前記ドライブボックスとで、ＲＡＩＤグループを構成し、
前記ＲＡＩＤグループを構成するいずれか１つのドライブボックスに障害が発生した場合、前記ＲＡＩＤグループに対する障害回復プロセスを実行する、請求項４に記載のディスクアレイシステム。
【請求項６】
前記制御部は、前記エキスパンダコントローラに対し稼働状態を確認するコマンドを発行し、
前記エキスパンダコントローラは稼働状態を確認するコマンドに対し、前記エキスパンダコントローラ自身の稼働情報を前記制御部に送信し、
前記制御部は、前記送信された稼働情報により前記エキスパンダコントローラの稼働状態を確認する、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のディスクアレイシステム。
【請求項７】
請求項６に記載のディスクアレイシステムであって、
前記稼働情報が、筐体識別情報、ドライブボックス識別情報、エキスパンダコントローラ識別情報、障害情報を含むディスクアレイシステム。
【請求項８】
請求項７に記載のディスクアレイシステムであって、
前記稼働情報の前記筐体識別情報、前記ドライブボックス識別情報、前記エキスパンダコントローラ識別情報により前記エキスパンダコントローラ間の接続を確認するディスクアレイシステム。
【請求項９】
請求項８に記載のディスクアレイシステムであって、
前記制御部は、ディスプレイを有する管理端末を有し、
前記制御部はまた、前記エキスパンダコントローラ間の接続順序の期待値を有しており、
前記制御部は、前記送信された稼働情報から得た前記エキスパンダコントローラ間の接続順序と、前記接続順序の期待値が異なる場合、
前記送信された稼働情報から得た前記エキスパンダコントローラ間の接続順序と、前記接続順序の期待値とで異なる部分を、前記管理端末のディスプレイに表示する、
ディスクアレイシステム。
【請求項１０】
冗長化された複数のコントローラを有する制御部と、Ｎ台のディスクユニット筺体を有する記憶部と、を備え、
前記Ｎ台のディスクユニット筺体のそれぞれには、少なくとも第１のドライブボックス及び第２のドライブボックスが格納されており、
前記第１及び第２のドライブボックスは複数のエキスパンダコントローラを有する、ディスクアレイシステムにおいて、
１番目のディスクユニット筐体内の前記第１のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラを、前記コントローラ及び前記１番目のディスクユニット筐体内の前記第２のドライブボックスが有する第１のエキスパンダコントローラに接続し、
Ｎ番目のディスクユニット筐体内の前記第２のドライブボックスが有する第２の前記エキスパンダコントローラを、前記コントローラ及び前記Ｎ番目のディスクユニット筐体内の前記第１のドライブボックスが有する第２のエキスパンダコントローラに接続し、
Ｍ番目（１≦Ｍ＜Ｎ）のディスクユニット筐体内の第１及び第２のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラをそれぞれ、（Ｍ＋１）番目のディスクユニット筐体内の前記第１及び第２のドライブボックスが有する前記第１のエキスパンダコントローラに接続し、
Ｌ番目（１＜Ｌ≦Ｎ）のディスクユニット筐体内の第１及び第２のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラをそれぞれ、（Ｌ−１）番目のディスクユニット筐体内の前記第１及び第２のドライブボックスが有する前記第２のエキスパンダコントローラに接続する、
ディスクアレイシステムのディスクユニット筐体の接続方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクアレイシステム及び接続方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数の第１のスイッチデバイスを介して接続された複数のドライブユニットを制御する第１のコントローラ及び複数の第１のスイッチデバイスに対応付けられた複数の第２のスイッチデバイスを介して接続された複数のドライブユニットを制御する第２のコントローラを含むストレージサブシステムにおいて、複数の第１のスイッチデバイスと当該対応する複数の第２のスイッチデバイスとを相互に接続したコネクションパスを有するストレージシステムの構成が開示されている。
【０００３】
また、このストレージシステムは、障害の発生を検出すると、コネクションパス中の障害部位を特定し、当該障害部位を迂回するようにスイッチデバイスの接続構成を変更することについても開示している。
【０００４】
つまり、デイジーチェーン方式に接続されたスイッチデバイスを、冗長構成を持つペア間で相互に接続し、障害が発生すると、当該障害発生部位を迂回して、接続構成を再構成する。
【０００５】
また、特許文献２には、デイジーチェーン方式に接続されたスイッチデバイスを冗長構成としたペア間で、異なる順序で接続することが記載されている。
【０００６】
以上のように、従来技術では、ドライブユニットとエキスパンダコントローラから構成されるドライブボックス内の冗長構成を持つエキスパンダコントローラに接続された２本のパスは、２本のパスとも後段のドライブボックス内のエキスパンダコントローラへとデイジーチェーン方式で、接続されていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国公開特許２００９／０２０４７４３号公報
【特許文献２】米国公開特許２０１１／０１７９２３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従来のパス接続方法では、ドライブボックスが閉塞すると、障害により閉塞したドライブボックスに接続された後段のドライブボックスも全て閉塞してしまう。そのため、後段のドライブボックスが構成するＲＡＩＤグループの構成によっては、後段のドライブボックスのデータをＲＡＩＤグループにより回復できない場合がある。
【０００９】
また、ＲＡＩＤにより回復できても、後段のドライブボックスすべてに対してＲＡＩＤグループによる回復処理が必要となり、性能が低下してしまう。
【００１０】
そこで、本発明では、ドライブボックスに障害が発生し閉塞しても、後段のドライブボックスには、閉塞したドライブボックス以外のドライブボックスのエキスパンダコントローラを経由してアクセスすることができるディスクアレイシステムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明では、冗長化された複数のコントローラを有する制御部と、それぞれが冗長化された複数のエキスパンダコントローラを有する複数のドライブボックスが格納され、デイジーチェーン方式に接続される複数の筐体を有する記憶部とを備えるディスクアレイシステムにおいて、複数の筐体のうち第１の筐体には、第１のドライブボックス、第２の筐体には、第２のドライブボックスと第３のドライブボックスとが格納されている。
【００１２】
そして、第１のドライブボックス内のエキスパンダコントローラのうち、一方のエキスパンダコントローラは、第２のドライブボックス内のエキスパンダコントローラに接続し、もう一方のエキスパンダコントローラは、第３のドライブボックス内のエキスパンダコントローラに接続する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明のディスクアレイシステムでは、ドライブボックスに障害発生時に、後段のドライブボックス全てが閉塞することを回避でき、また、ディスクアレイシステム全体の信頼性及び可用性を向上できる。前述以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、本発明の障害範囲を縮小するパス接続方法の一例を示す図である。
【図２】図２は、従来のパス接続方法での課題を示す図である。
【図３】図３は、従来のパス接続方法での課題を示す図である。
【図４】図４は、本発明の障害範囲を縮小するパス接続方法を用いたディスクアレイシステムの全体構成図である。
【図５】図５は、障害発生時の障害検出の処理を示すフローチャート図である。
【図６】図６は、障害発生時の障害部位確認の処理を示すフローチャート図である。
【図７】図７は、取得した障害情報を管理する障害判定テーブルの構成図である。
【図８】図８は、障害発生時の障害判定と障害対応動作の処理を示すフローチャート図である。
【図９】図９は、従来の接続方法での障害を示す図である。
【図１０】図１０は、従来の接続方法での障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【図１１】図１１は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での１点障害を示す図である。
【図１２】図１２は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での１点障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【図１３】図１３は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での２点障害を示す図である。
【図１４】図１４は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での２点障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【図１５】図１５は、障害発生時のポート閉塞処理を示すフローチャート図である。
【図１６】図１６は、障害範囲を縮小する第２のパス接続方法を示す図である。
【図１７】図１７は、障害範囲を縮小する第３のパス接続方法を示す図である。
【図１８】図１８は、障害範囲を縮小する第４のパス接続方法を示す図である。
【図１９】図１９は、障害範囲を縮小する第５のパス接続方法を示す図である。
【図２０】図２０は、障害範囲を縮小する第６のパス接続方法を示す図である。
【図２１】図２１は、各パス接続方法のメリット・デメリットを説明する比較図である。
【図２２】図２２は、接続パターン認識の処理を示すフローチャート図である。
【図２３】図２３は、接続パターン期待値の比較処理を示すフローチャート図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明では、「管理テーブル」等の表現にて各種情報を説明することがあるが、各種情報は、テーブル以外のデータ構造で表現されていてもよい。また、データ構造に依存しないことを示すために「管理テーブル」を「管理情報」と呼ぶことができる。
【００１６】
また、「プログラム」または「ツール」を主語として処理を説明する場合がある。そのプログラムは、プロセッサ、例えば、ＭＰ（Micro  Processor）やＣＰＵ（Central  Processing  Unit）によって実行されるもので、定められた処理をするものである。なお、適宜に記憶資源（例えばメモリ）及び通信インタフェース装置（例えば、通信ポート）を用いながら行うため、処理の主語がプロセッサとされてもよい。
【００１７】
プロセッサは、ＣＰＵの他に専用ハードウェアを有していても良い。コンピュータプログラムは、プログラムソースから各コンピュータにインストールされても良い。プログラムソースは、例えば、プログラム配布サーバ又は記憶メディアなどで提供されるものであっても良い。
【００１８】
また、各要素例えば、ＣＴＬ（Controller）は番号などで識別可能であるが、識別可能な情報であれば、名前など他種の識別情報が用いられても良い。本発明の図及び説明において同一部分には同一符号を付与しているが、本発明が本実施例に制限されることは無く、本発明の思想に合致するあらゆる応用例が本発明の技術的範囲に含まれる。また、特に限定しない限り、各構成要素は複数でも単数でも構わない。
【００１９】
＜＜発明概要＞＞
図１は、本発明の障害範囲を縮小するパス接続方法の一例を示す図である。図２及び図３は、従来のパス接続方法での課題を示す図である。 
【００２０】
ディスクアレイシステムは、図１に示すようにコントローラ（ＣＴＬ）２４などを内蔵したディスクコントローラ部と、複数のディスクドライブを内蔵した１つ以上のＣｈａｓｓｉｓ３０／３１／３２から成るディスクユニット部で構成される。
【００２１】
ディスクユニット部では耐障害性を確保する為に、ＲＡＩＤグループを構成している。しかし、障害の影響範囲によってはＲＡＩＤグループを構成していても、障害回復が不能なことがある。
【００２２】
高信頼性を確保する為には、ＲＡＩＤグループ不成立となるような障害を避ける必要がある。また、ＲＡＩＤグループによる障害回復が可能な場合においても、障害回復のプロセスが完了するまではＲＡＩＤグループによる耐障害性は確保できないので、高信頼性を確保する為には障害範囲を縮小する必要がある。
【００２３】
本発明では、図１に示すように障害発生時の障害範囲を縮小できるパス接続方法を提案する。詳細については後述する。なお、本発明ではＥＸＰ同士の接続をパス接続と呼ぶ。
【００２４】
まず、図２及び図３で従来の接続方法での課題を説明する。
【００２５】
図２の接続方法では、コントローラユニット部内のコントローラ（ＣＴＬ２４：ＣＴＬ＃０からＣＴＬ＃３）と、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのＥｘｐａｎｄｅｒ  Ｂｏａｒｄ（ＥＸＰ）が、スイッチ２９を介して接続される。なお、スイッチ２９は、各コントローラと各ＥＸＰとを接続するためのデバイスの一例であり、各コントローラと各ＥＸＰとの接続方法や接続手段に加え接続状況は、いかようなものであってもかまわない。
【００２６】
Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０の各々のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが、後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１の各Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸと従続接続され、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎまで同様の従続接続が繰り返される。
【００２７】
１つのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸには２つのＥＸＰがあり、各々が記憶ドライブの各ポートにアクセスする。電源ユニットは各Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ毎にある。
【００２８】
図３の接続方法では、Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ  Ｂｏａｒｄ２４ａ／２４ｂのコントローラ（ＣＴＬ）と第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０に属するＳＩＤＥ＃０  ３０ａとＳＩＤＥ＃１  ３０ｂのＥＸＰが接続される。
【００２９】
同じＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内にて２つのＥＸＰが従続接続していて、２段目のＥＸＰと後続のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１内の第１段目のＥＸＰが各々接続され、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎ  ３９まで同様の接続が繰り返される。なお、電源ユニットはＳＩＤＥ毎にある。
【００３０】
図２及び図３従来のパス接続方法での課題は下記（１）から（５）の５点である。
【００３１】
（１）障害発生時にＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が生じることがある。
【００３２】
図２の接続方法にて、Ｃｈａｓｓｉｓ＃ＮとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）内にあるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸで、ＲＡＩＤ５（７Ｄ＋１Ｐ）を構成している場合、Ｃｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）より前段にあるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが電源ユニット障害による電力供給停止（以下、電断）等により閉塞すると、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが全て閉塞する。
【００３３】
例えば、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００が電断等により閉塞すると、後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０及びＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０も閉塞する。なお、図示していないが、Ｍ個のユニットのＣｈａｓｓｉｓを従続接続している場合、３段目以降Ｍ段目までのＣｈａｓｓｉｓのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０自身に障害が無いにも関わらず、全て閉塞し使用不可能となる。
【００３４】
そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループで２Ｄ、すなわち２台の記憶ドライブ（Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００及びＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０の記憶ドライブ）が使用不可となり、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能となる。
【００３５】
また、図３の接続方法にて、Ｃｈａｓｓｉｓ内でＲＡＩＤ５（３Ｄ＋１Ｐまたは７Ｄ＋１Ｐ）を構成している際に、電断等により片ＳＩＤＥが閉塞（使用不可能な状態）すると、後段に接続する片ＳＩＤＥ全てが閉塞する。
【００３６】
そのため、障害発生Ｃｈａｓｓｉｓとその後段の全てのＣｈａｓｓｉｓで４Ｄ、すなわち４台の記憶ドライブが使用不可となり、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能となる。
【００３７】
（２）障害発生時にＲＡＩＤグループによる耐障害性低下範囲が広範囲に及ぶ。
【００３８】
図２の接続方法にて、１つのＣｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０からＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３でＲＡＩＤ５（３Ｄ＋１Ｐ）を構成している際に、１つのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが電断等の障害により閉塞すると、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸも全て閉塞する。そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループで１Ｄ、すなわち１台の記憶ドライブが使用不可となり、ＲＡＩＤグループレベルでの耐障害性を失う。
【００３９】
（３）障害回復プロセスを行い性能低下する範囲が広範囲に及ぶ。
【００４０】
（２）の障害を回復するには、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループについて、障害回復プロセス（コレクションコピー）を実行することが必要となり、ディスクアレイシステムへのアクセス性能が低下する。
【００４１】
（４）障害回復プロセス時のスペアディスクの割り当て範囲が広範囲に及ぶ。
【００４２】
（２）の障害を回復するには、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループにて障害回復プロセス（コレクションコピー）を実行することが必要となり、その分だけスペアディスクに割り当てるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが必要となる。例えば、４つのＣｈａｓｓｉｓを接続しているディスクアレイシステムでは、スペアディスクに割り当てるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが４つ必要となる。
【００４３】
（５） 障害回復するまで障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続されるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの状態が不明となる。
【００４４】
障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続されるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセス可能なパスが無いので、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続されるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの状態が不明となる。
【００４５】
以上の課題に対し、本発明では図１に示すようにＣｈａｓｓｉｓ＃ＮとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸを接続する際に、ＥＸＰ＃１とＥＸＰ＃２の接続先を変えることによって、耐障害性を高める。
【００４６】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸからＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに接続する際のＥＸＰ＃１の接続では、同じＢＯＸ番号を持つＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｍ同士で従続接続を行う。ちなみに、Ｍは０から３までの値である。
【００４７】
すなわち、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１に接続する。
【００４８】
同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１に接続する。以下、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３まで同じ従続接続を行う。以上のＥＸＰ＃１同士の接続をＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎまで行う。
【００４９】
また、ＥＸＰ＃２の接続ではＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０を接続する。
【００５０】
それ以外のＥＸＰ＃２同士の接続は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）で接続を行う。ちなみに、Ｍは０から２の値である。
【００５１】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃２に接続する。
【００５２】
同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃２は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２に接続する。以下、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２まで同じ従続接続を行う。以上のＥＸＰ＃２同士の接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎまで行う。
【００５３】
このようなパス接続方法でも、例えば、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００が電断等で閉塞すると、第２段目のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２は使用不可となる。同様に、第３段目のＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０のＥＸＰ＃１及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２は使用不可となる。
【００５４】
しかしながら、本発明では、片側のＥＸＰ、第２段目のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃２及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１が使用可能と出来る。同様に、第３段目のＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０のＥＸＰ＃２及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃１が使用可能と出来る。そのため、前述の（１）から（５）の課題を解決できる。詳細については、後述する。
【００５５】
なお、ＣＴＬ２４と第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０とは、例えば、ＣＴＬ＃０とＣＴＬ＃１のそれぞれが、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１に両方に接続され、同じく、ＣＴＬ＃２とＣＴＬ＃３のそれぞれが、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３に両方に接続する。
【００５６】
また、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＫをＣＴＬ＃Ｋに置き換え、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２との接続が考えられる。例えば、図２のＣｈａｓｓｉｓ同士での接続方法をＣＴＬとＣｈａｓｓｉｓとの接続で考えると、ＣＴＬ＃Ｋのポートの両方がＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｋに接続される（Ｋは０から３）。
【００５７】
また、図１のＣｈａｓｓｉｓ同士での接続方法をＣＴＬとＣｈａｓｓｉｓとの接続で考えると、ＣＴＬ＃Ｋの片方の１ポートがＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＫのＥＸＰ＃１と接続する。もう片方の１ポートがＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（（Ｋ＋１）ｍｏｄｅ４）のＥＸＰ＃２と接続される。ちなみに、Ｋは０から３の値で、（Ｋ＋１）ｍｏｄｅ４はＫ＋１の値を、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの数である４（Ｃｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数）で割った余り（自然数）を算出する関数を示す。
【００５８】
＜ディスクアレイシステム構成＞
図４は、本発明の障害範囲を縮小するパス接続方法を用いたディスクアレイシステムの全体構成図である。
【００５９】
ディスクアレイシステム１は、ホスト計算機（以下、ホスト）４と接続され、ホスト４のデータを保管する。また、ディスクアレイシステム１は、ディスクコントローラ部２とディスクユニット部３から構成される。
【００６０】
ディスクコントローラ部２は、複数のＣｈａｎｎｅｌ  Ａｄａｐｔｅｒ（以下、ＣＨＡ）２０、複数のＳｗｉｔｃｈ（以下、ＳＷ）２１、複数のＣａｃｈｅ  Ｍｅｍｏｒｙ（以下、ＣＭ）２２、複数のＭｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ（以下、ＭＰ）２３、複数のコントローラボード（以下、ＣＴＬ）２４、複数の管理端末２５で構成され、冗長化している。なお、それぞれの構成要素には、０からＸまでの識別番号が付与されている。
【００６１】
ＣＨＡ２０は、ホスト４からディスクアレイシステム１へのＩ／Ｏコマンド（ライトコマンド又はリードコマンド）を受信し、受信したＩ／Ｏコマンドを、ＭＰ２３に転送する。ＳＷ２１は、ＣＨＡ２０、ＣＭ２２、ＭＰ２３、ＣＴＬ２４の間を接続するコントローラである。
【００６２】
ＣＭ２２は、ＤＲＡＭ（Dynamic  Random  Access  Memory）などの揮発性メモリ及び／又は、フラッシュメモリなどの不揮発性メモリを有する記憶装置である。ホストからの書込みデータやディスクアレイシステムを制御する種々の制御情報などが格納される。制御情報として、例えば、後述する障害判定テーブルがある。
【００６３】
ＭＰ２３は、ディスクコントローラ部２の全体を制御するプロセッサである。また、ＭＰ２３は、管理端末２５と接続し、管理端末２５でユーザまたはシステム管理者によって入力された情報を取得したり、前述の障害判定テーブルを送信し管理端末２５で表示させたりする。
【００６４】
ＣＴＬ２４は、ディスクコントローラ部２とディスクユニット部３とを接続するコントローラを複数有する。
【００６５】
管理端末２５のハードウェア構成は、一般的な計算機と同じである。管理端末２５は、ＭＰと、揮発性メモリ又は／及び不揮発性メモリで構成されるメモリと、キーボードなどの入力装置とディスプレイなどの出力装置とを有する。
【００６６】
ディスクユニット部３は、複数のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸを有するＣｈａｓｓｉｓが複数接続して構成される。Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸは、２つのＥＸＰと複数の記憶ドライブで構成される。ＥＸＰそれぞれが複数のポートを持つ。
【００６７】
また、ＣＴＬ−ＥＸＰ間およびＥＸＰ−ＥＸＰ間のパス接続に使用するケーブルの長さ及び材質は、必要とされる信号品質が維持可能であれば任意となる。
【００６８】
また、コレクションコピー時に使用するスペアディスクは、何れかのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの記憶ドライブより選択し割り当てる。
【００６９】
ホスト４のハードウェア構成は、一般的な計算機と同じである。すなわち、ホスト４は、通信インタフェースと、揮発性メモリと、不揮発性メモリと、それらに接続されたＭＰとを有する。
【００７０】
＜障害判定動作＞ 
次に、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸに障害が発生した際の障害判定動作について説明する。障害判定動作は、障害検出、障害部位確認、障害判定から成る。また、障害判定結果は後述の障害判定テーブル（図７）として管理する。
【００７１】
＜障害検出処理＞ 
図５は、障害発生時の障害検出の処理を示すフローチャート図である。
【００７２】
図５における障害情報は、ＥＸＰアクセス不可（電断、ケーブル抜去、ＥＸＰボード抜去）とＥＸＰ無応答を検出した契機で、障害を検出したＥＸＰよりＣＴＬ２４及びＭＰ２３に通知される。
【００７３】
但し、この障害情報からは接続しているＥＸＰのどれかに障害が発生したことのみを、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３で判定できる。そのため、障害の部位を特定するためには、図６に示すような障害部位確認の処理が必要となる。
【００７４】
図５の障害発生時の障害検出の処理は、ＳＡＳ（Serial Attached SCSI）規格を用いた検出方法である。ＳＡＳ規格では、特定のポート間においてＳＡＳドメインが変化（ＥＸＰの状態が障害などにより変化）すると、Ｂｒｏａｄｃａｓｔ（Ｃｈａｎｇｅ）という障害通知をすることが規定されている。このＢｒｏａｄｃａｓｔ（Ｃｈａｎｇｅ）という障害通知により、障害の発生は判定可能である。
【００７５】
その障害発生の検出処理を図５で説明する。なお、図中のＥＸＰ−ＸＹＺの表記で、“Ｘ”はＣｈａｓｓｉｓ番号、“Ｙ”は当該Ｃｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ番号、“Ｚ”は当該Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸでのＥＸＰ番号を示す。
【００７６】
例えば、ＥＸＰ−１０１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１ ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１を表す。同じく、ＥＸＰ−００１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１を表す。つまり、ＥＸＰ−００１がＥＸＰ−１０１の前段で接続された上位ＥＸＰである。
【００７７】
まず、Ｓ５０１で、ＥＸＰ−１０１  ３１０１が自分自身の障害を検出する。この障害には、前述の電断やケーブル抜去などである。
【００７８】
Ｓ５０２で、ＥＸＰ−１０１  ３１０１は、障害の発生を上位ＥＸＰであるＥＸＰ−００１  ３００１へ報告するため、障害情報（障害通知：Ｂｒｏａｄｃａｓｔ（Ｃｈａｎｇｅ））を送信する。
【００７９】
Ｓ５１１で、ＥＸＰ−００１  ３００１は、障害情報を下位ＥＸＰであるＥＸＰ−１０１  ３１０１より受信する。
【００８０】
Ｓ５１２で、ＥＸＰ−００１  ３００１は、受信した障害情報をＣＴＬ２４へ送信する。
【００８１】
Ｓ５２１で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−００１  ３００１からの障害情報を受信する。
【００８２】
Ｓ５２２で、ＣＴＬ２４は、ＭＰ２３へ報告するため、受信した障害情報を送信する。
【００８３】
以上の処理で、ディスクコントローラ部２は、ディスクユニット部３に障害が発生したことを把握することができる。
【００８４】
しかしながら、前述のように、ＳＡＳ規格ではＢｒｏａｄｃａｓｔ（Ｃｈａｎｇｅ）と同時に、障害部位を示す接続情報を通知する規定はない。そのため、この障害検出の処理だけでは、障害が発生したことのみしか判定ができない。
【００８５】
そこで、障害部位を特定するために、Ｂｒｏａｄｃａｓｔ（Ｃｈａｎｇｅ）の通知後、ＣＴＬ２０は全てのＥＸＰに対してＤｉｓｃｏｖｅｒコマンドを発行する。Ｄｉｓｃｏｖｅｒコマンドの発行で収集した接続情報と事前に定めた接続情報の期待値とを比較して、障害部位の特定を行う。次に、その障害部位の特定処理を図６で説明する。
【００８６】
＜ 障害部位確認＞
図６は、障害発生時の障害部位確認の処理を示すフローチャート図である。
【００８７】
Ｓ６０１で、障害の発生を検出したＭＰ２３は、障害部位の確認要求をＣＴＬ２４に発行する。
【００８８】
Ｓ６１１で、ＣＴＬ２４は、ＭＰ２３からの障害部位の確認要求を受信する。
【００８９】
Ｓ６１２で、障害部位の確認要求を受信したＣＴＬ２４は、障害部位確認コマンド（Ｄｉｓｃｏｖｅｒコマンド）を全てのＥＸＰに対して発行する。まず、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−００１  ３００１に対し障害部位確認コマンドを送信する。
【００９０】
Ｓ６２１で、ＥＸＰ−００１  ３００１は、ＣＴＬ２４からの障害部位確認コマンドを受信する。
【００９１】
Ｓ６２２で、ＥＸＰ−００１  ３００１は、自身の稼働状態を判定しその判定結果をＣＴＬ２４に回答する。ＥＸＰ−００１  ３００１は正常稼働であるので、正常応答をＣＴＬ２４に発行する。
【００９２】
Ｓ６１３で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−００１  ３００１からの正常応答を受信し、ＥＸＰ-００１  ３００１が正常に稼働していることを確認する。
【００９３】
Ｓ６１４で、ＣＴＬ２４は、正常稼働中のＥＸＰ−００１  ３００１（または、ＥＸＰ−１０１  ３１０１に接続しているＤｒｉｖｅ  ＢｏｘのＥＸＰ）を経由してＥＸＰ−１０１  ３１０１への障害部位確認コマンドを発行する。
【００９４】
Ｓ６３１で、ＥＸＰ−１０１  ３１０１は、ＣＴＬ２４からの障害部位確認コマンドであるＤｉｓｃｏｖｅｒコマンドを受信する。
【００９５】
Ｓ６３２で、ＥＸＰ−１０１  ３１０１は、自身の稼働状態を判定しその判定結果をＣＴＬ２４に回答する。ＥＸＰ−１０１  ３１０１には障害が発生しており、異常状態であるので異常応答をＣＴＬ２４に発行する。
【００９６】
Ｓ６１５で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−１０１  ３１０１からの異常応答をＥＸＰ−００１  ３００１（または、ＥＸＰ−１０１  ３１０１に接続しているＤｒｉｖｅ  ＢｏｘのＥＸＰ）経由で受信し、ＥＸＰ-１０１  ３１０１での異常を確認する。
【００９７】
Ｓ６１６で、ＣＴＬ２４は、取得した各ＥＸＰでの障害部位の確認結果を纏め、ＭＰ２３に障害部位の確認結果を発行する。
【００９８】
Ｓ６０２で、ＭＰ２３は、ＣＴＬ２４からの障害部位の確認結果を受信する。
【００９９】
以上の障害部位確認の処理で、ディスクコントローラ部２は、ディスクユニット部３で発生した障害部位を特定することができる。
【０１００】
なお、障害情報を通知する際に、ＭＰ２３が把握しているユニークなＥＸＰの情報（例えば、ＳＡＳ規格ではＳＡＳ Ａｄｄｒｅｓｓ）を同時に通知することで、障害部位を特定可能となり、図６に示す障害部位確認フローは不要となる。
【０１０１】
ちなみに、取得した障害情報は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃、ＥＸＰ＃と合わせて、図７に示す障害判定テーブルとして管理される。
【０１０２】
＜障害判定テーブル＞ 
図７は、取得した障害情報を管理する障害判定テーブルの構成図である。障害判定テーブル７０は、ＣＭ２２に格納され適宜ＭＰ２３により参照され各種処理に利用される。
【０１０３】
障害判定テーブル７０は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃７０１、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃７０２、ＥＸＰ＃７０３、判定結果７０４から構成される。
【０１０４】
Ｃｈａｓｓｉｓ＃７０１、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃７０２、ＥＸＰ＃７０３には、各構成要素を識別する番号を格納する。
【０１０５】
判定結果７０４には、”正常”、”障害”、”使用不可”、”状態不明”の４つの状態情報を設定するもので、各ＥＸＰの状態を格納する。
【０１０６】
図６の障害発生時の障害部位確認の処理では、ＥＸＰ−１０１  ３１０１に障害が発生していたので、障害判定テーブル７０は、ＥＸＰ−１０１に相当する判定結果７０４が”障害”となる。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃  ７０１が”１”、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃  ７０２が”０”、ＥＸＰ＃  ７０３が”１”である判定結果７０４の欄に”障害”と格納される。
【０１０７】
ＭＰ２３は、この障害判定テーブル７０を参照し、図８に示す障害判定処理に従い、障害判定および対応動作を行う。
【０１０８】
＜障害判定／障害対応処理＞
図８は、障害発生時の障害判定と障害対応動作の処理を示すフローチャート図である。
【０１０９】
Ｓ８０１で、ＭＰ２３は、図６のＳ６０２の処理でＣＴＬ２４からの障害情報である障害部位確認結果を障害判定テーブル７０に反映する。例えば、前述のように障害発生ＥＸＰ−１０１の判定結果を“障害”とし、その他のＥＸＰについては“正常”としてＭＰ２３は、障害判定テーブル７０を更新する。
【０１１０】
Ｓ８０２で、ＭＰ２３は、同一Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ内の２つのＥＸＰで障害が発生したかを障害判定テーブル７０で判定する。障害が発生している場合（Ｓ８０２：Ｙｅｓ）、ＭＰ２３は、Ｓ８０７を実行し、障害が発生していない場合（Ｓ８０２：Ｎｏ）、Ｓ８０３を実行する。
【０１１１】
Ｓ８０３で、ＭＰ２３は、同一Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ内の１つのＥＸＰのみで障害が発生したかを判定する。障害が発生している場合（Ｓ８０３：Ｙｅｓ）、ＭＰ２３は、Ｓ８０５を実行し、障害が発生していない場合（Ｓ８０３：Ｎｏ）、Ｓ８０４を実行する。
【０１１２】
Ｓ８０４で、ＭＰ２３は、同一Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ内の２つのＥＸＰは正常状態と断定する。
【０１１３】
Ｓ８０５で、ＭＰ２３は、１つのＥＸＰにのみ障害発生している状態であるＥＸＰ１点障害と断定し、Ｓ８０６で、ポート閉塞ＳＩＭ（Service  Information  Message）を管理端末２５へ発行し、ポート番号などの物理的な位置情報を含む障害情報を報告する。
【０１１４】
同一Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ内の２つのＥＸＰで障害が発生している場合（Ｓ８０２：Ｙｅｓ）、ＭＰ２３はＳ８０７で、障害が発生したＥＸＰの後段に接続しているＥＸＰのポート以外にアクセス不可のＥＸＰが存在するかを、障害判定テーブル７０で判断する。
【０１１５】
アクセス不可のＥＸＰが存在する場合（Ｓ８０７：Ｙｅｓ）、ＭＰ２３はＳ８１１を実行し、存在しない場合（Ｓ８０７：Ｎｏ）、Ｓ８０８を実行する。
【０１１６】
Ｓ８０８で、ＭＰ２３は、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの１点障害と断定し、Ｓ８０９で電断ＳＩＭを管理端末２５に発行し、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ番号などの物理的な位置情報を含む障害情報を報告する。
【０１１７】
Ｓ８１０で、ＭＰ２３は、コレクションコピーを作動させる。
【０１１８】
アクセス不可のＥＸＰが存在する場合（Ｓ８０７：Ｙｅｓ）、Ｓ８１１でＭＰ２３は、２点障害と断定する。
【０１１９】
Ｓ８１２で、ＭＰ２３は、電断ＳＩＭとポート閉塞ＳＩＭを管理端末２５へ発行する。そして、Ｓ８１０で、ＭＰ２３は、コレクションコピーを作動させる。
【０１２０】
以上の障害発生時の障害判定と障害対応動作の処理により、障害情報の管理端末での表示による障害部位及び内容の把握とコレクションコピーや部品交換などの必要とされる対応動作を実施できる。
【０１２１】
＜従来接続での障害検知＞
図９は、従来の接続方法での障害を示す図である。図１０は、従来の接続方法での障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【０１２２】
図９は、従来の接続方法１（図２）で、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２が電断したケースの図を示す。このケースにおいて、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２で発生した障害の検知が可能である。
【０１２３】
しかしながら、障害が発生したＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１の後段に接続しているＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２にはアクセス可能なポートが無い為、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの状態が不明のまま、ＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２両方のポートへのアクセスが不可となる。
【０１２４】
そのため、このＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２に障害があるか否かは、前段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２の障害を回復するまで、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３は、判別不能となる。
【０１２５】
この障害ケースでの障害判定テーブル７０ａの状態を図１０に示す。Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２の障害発生は検知可能であるので、判定結果７０４は“障害”となる。
【０１２６】
一方、後段のＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２での判定結果７０４は、“状態不明”で“使用不可”と設定される。
【０１２７】
＜＜パス接続方法１＞＞
＜接続方法＞
図１で、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法を利用したディスクアレイシステムの概要を説明した。
【０１２８】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃ＮとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸを接続する際に、ＥＸＰ＃１とＥＸＰ＃２の接続先を変えることによって、耐障害性を高める。Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸからＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに接続する際、ＥＸＰ＃１の接続では同じＢＯＸ番号を持つＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｌ同士で従続接続を行う。ちなみに、Ｌは０から３の値である。
【０１２９】
ＥＸＰ＃２の接続ではＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０を接続し、それ以外のＥＸＰ＃２同士の接続は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）で接続を行う。ちなみに、Ｍは０から２の値である。
【０１３０】
＜障害検知＞
このパス接続方法で、図９と同じ障害、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２が電断したケースでの障害検知動作を説明する。
【０１３１】
＜１点障害検知＞
図１１は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での１点障害を示す図である。図１２は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での１点障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【０１３２】
図１１のケースで、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３は、電断によるＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２の障害発生を検知する。
【０１３３】
その後、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２と接続する後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのポートは、ＣＴＬ２４により閉塞される。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃１及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃２は、ＣＴＬ２４により閉塞される。
【０１３４】
障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスするポートのうち、閉塞していない方のポートはアクセス可能である。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２及びＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃１は、上位ＥＸＰを経由して、ＣＴＬ２４がアクセス可能である。
【０１３５】
そのため、両ポートが閉塞するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ障害は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２に限定される。
【０１３６】
また、ＣＴＬ２４は、異常ＥＸＰがあるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ内の正常ＥＸＰを使用することで、異常ＥＸＰの状態と、障害が発生したＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２の右側（後段側）の２ポートの状態を把握できる。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２がＥＸＰ＃１を、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃１がＥＸＰ＃２の状態を把握できる。
【０１３７】
更に、ＣＴＬ２４は、前段のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１を使用することにより、障害が発生したＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２の左側（前段側）の２ポートの状態を把握できる。
【０１３８】
そのため、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２と接続する前後の４ポートが閉塞していることを確認することで、当該Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸに障害が発生していることをピンポイントで特定可能となる。
【０１３９】
この障害ケースでの障害判定テーブルの状態を図１２に示す。障害判定テーブル７０ｂでは、障害が発生したＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２の後段に接続するＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃１及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃２の状態を、ＣＴＬ２４及びＭＰ２３は、判定結果７０４のように“使用不可”と的確に判定できる。
【０１４０】
＜２点障害検知＞
図１３は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での２点障害を示す図である。図１４は、障害範囲を縮小する第１のパス接続方法での２点障害時の障害判定テーブル状態を示す図である。
【０１４１】
図１３は、図１１のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２が電断した状態（実線バツ印部分）で、更にＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２（点線バツ印部分）が障害で閉塞した２点障害の状態を示す図である。
【０１４２】
Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２（点線バツ印部分）の障害は、前段に接続しているＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２と、図示はしていないが後段に接続するＣｈａｓｓｉｓ＃３  のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３のＥＸＰ＃２を使用しＣＴＬ２４は、障害を検出できる。
【０１４３】
障害を検出したＣＴＬ２４は、障害情報をＭＰ２３に送信し、ＭＰ２３は障害判定テーブル７０を更新する。このケースでの障害判定テーブル７０ｃの状態を図１４に示す。
【０１４４】
障害判定テーブル７０ｃと２点障害発生前の１点障害時の障害判定テーブル７０ｂとの相違点は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２の判定結果７０４が“正常”から“障害”と、ＭＰ２３が正しく更新している点である。このように、ディスクコントローラ部２は、ディスクユニット部３で発生した２点障害発生の検出と障害部位の把握を的確に行うことができる。
【０１４５】
最後に、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、障害を検出すると障害発生部位のポートを、図１５に示すポート閉塞処理により閉塞させる。
【０１４６】
＜ポート閉塞処理＞
図１５は、障害発生時のポート閉塞処理を示すフローチャート図である。
【０１４７】
ＭＰ２３は、障害判定テーブル７０からアクセスが不可能な部位に対するポートを確認した後、該当ポートを閉塞する。その後、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、後段にアクセス可能なポートがあれば、そのポートを利用して継続動作する。
【０１４８】
つまり、Ｓ１５０１で、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、障害判定テーブル７０を参照し、アクセスが不可能な部位を特定する。
【０１４９】
Ｓ１５０２で、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、アクセスが不可能な部位と接続するポートを閉塞させる。
【０１５０】
Ｓ１５０３で、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、アクセスが不可能な部位の後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスが可能なポートがあれば、そのアクセス可能なポートを使用して記憶ドライブへのアクセス動作を継続する。
【０１５１】
つまり、図１１のケースであれば、ＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１／ＥＸＰ＃２と、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃１と、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃２とを閉塞させる。
【０１５２】
しかし、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２のＥＸＰ＃２は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２を用いてＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）からのアクセス動作を継続する。
【０１５３】
同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３２３のＥＸＰ＃１もＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３１３のＥＸＰ＃１を用いてＭＰ２３（またはＣＴＬ２４）からのアクセス動作を継続する。
【０１５４】
＜メリット＞
次に、本発明の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法のメリットについて説明する。図１１（図１も同様）に示す障害範囲を縮小する第１のパス接続方法は、図２ないし図３に示す従来のパス接続方法に比べ、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個の電断時に下記（１）から（７）のメリットがある。
【０１５５】
（１）ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無い。
【０１５６】
図９に示す従来のパス接続方法では、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１とＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２内にあるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸで、ＲＡＩＤ５（７Ｄ＋１Ｐ）を構成している場合、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２より前段にあるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが電源ユニット障害による電断等により閉塞すると、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが全て閉塞する。
【０１５７】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２が電断等により閉塞すると、後段のＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３２２も閉塞する。なお、図示していないが、ＮユニットのＣｈａｓｓｉｓを従続接続されている場合、３段目以降Ｎ段目までのＣｈａｓｓｉｓのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２自身に障害が無いにも関わらず、全て閉塞し使用不可能となる。
【０１５８】
そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループで２Ｄ、すなわち２台のドライブが使用不可となり、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能となる。
【０１５９】
しかしながら、図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ全体が閉塞する部位はＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のみに限定される。そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループで１Ｄ、すなわち１台のドライブのみが使用不可となるが、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能となることはない。
【０１６０】
（２）ＲＡＩＤグループによる耐障害性低下範囲が限定される。
【０１６１】
図９に示す従来のパス接続方法では、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０からＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３でＲＡＩＤ５（３Ｄ＋１Ｐ）を構成している際に、１個のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが電断等により閉塞すると、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが全て閉塞する。
【０１６２】
そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループで１Ｄ、すなわち１台の記憶ドライブが使用不可となり、ＲＡＩＤグループレベルでの耐障害性を失う。
【０１６３】
しかしながら、図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段に接続するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸは閉塞しない。
【０１６４】
そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループの記憶ドライブ１台のみが使用不可となるが、その後段の全てのＲＡＩＤグループで記憶ドライブが使用不可とならない。そのため、ＲＡＩＤグループレベルによる耐障害性低下範囲が、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループのみに限定され、全ＲＡＩＤグループへ耐障害性が低下する影響は波及しない。
【０１６５】
（３）障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲が限定される。
【０１６６】
図９に示す従来のパス接続方法では、（２）の障害の回復を行う際には、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループにて障害回復プロセス（コレクションコピー）が必要となりアクセス性能が低下する。
【０１６７】
図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループのみに障害回復プロセス（コレクションコピー）が必要である。しかしながら、後段の全てのＲＡＩＤグループには、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ全体が閉塞（使用不可）する部位は発生しない。そのため、障害回復プロセス（コレクションコピー）は不必要で、アクセス性能低下を軽減できる。つまり、障害ディスク回復プロセスによるアクセス性能の低下範囲が限定される。
【０１６８】
（４）スペアディスクに割り当てられるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数が削減される。 
【０１６９】
図９に示す従来のパス接続方法では、（２）の障害の回復を行う際には、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループにて障害回復プロセス（コレクションコピー）が必要となり、その分だけスペアディスクに割り当てるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが必要となる。 
【０１７０】
図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、（３）で述べたように障害ディスク回復プロセスによるアクセス性能の低下範囲が限定されるので、限定された分のスペアディスクに削減できる。
【０１７１】
（５）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスする際に特別な処理が不要である。 
【０１７２】
図９に示す従来のパス接続方法では、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸへのアクセスを回復するには、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの交換が必要であった。
【０１７３】
しかしながら、図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、他の正常なＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ経由でのアクセスが可能であるのでアクセスする際に特別な処理が不要である。
【０１７４】
（６）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸをピンポイントで特定が可能である。
【０１７５】
図１１の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、ＣＴＬ２４が障害発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸと接続する前後の４ポートが閉塞していることを確認することで、当該Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸに障害が発生していることをピンポイントで特定可能となる。
【０１７６】
（７）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段で起こった２点障害の検出が可能である。
【０１７７】
図１３で説明したように、本発明の障害範囲を縮小する第１のパス接続方法では、ＣＴＬ２４が障害発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段で起こった障害を、他の正常なＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ経由で状態を確認できるので、２点障害の検出が可能である。
【０１７８】
つまり、従来構成では後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスできなくなるため、障害が発生しても検出できなかったが、本構成では後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに障害が発生する２点障害も検出可能である。
【０１７９】
＜＜パス接続方法２＞＞
＜接続方法＞
図１６は、障害範囲を縮小する第２のパス接続方法を示す図である。
【０１８０】
＜ＣＴＬ−ＥＸＰ接続＞
図１６の障害範囲を縮小する第２のパス接続方法は、ＣＴＬ２４からＣｈａｓｓｉｓ（ないしＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ）への接続数を８から４に減らし、ＣＴＬ２４と第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸとを４つのパスで接続する。
【０１８１】
例えば、ＣＴＬ＃０とＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とを接続する。同じく、ＣＴＬ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２とを、ＣＴＬ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１とを、ＣＴＬ＃３とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２とを接続する。
【０１８２】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＬとＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｌ＋１）を接続する。ちなみに、Ｌは０ないし２以上の偶数である。
【０１８３】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１とを接続する。同じく、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２を接続する。
【０１８４】
同様に、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃１とを接続する。同じく、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２とを接続する。
【０１８５】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
次に、第１段目（前段）のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｍと２段目（後段）のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｍを接続する。ちなみに、Ｍは０から３までの値である。
【０１８６】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１を従続接続する。
【０１８７】
同様に、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２とを、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３１２のＥＸＰ＃１とを、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３１３のＥＸＰ＃２とを従続接続する。
【０１８８】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。すなわち、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１を接続し、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２を接続する。同じ接続方法で、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３１２のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。
【０１８９】
以下、上述の前後段ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ接続と同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０１９０】
＜メリット＞
図１６に示す障害範囲を縮小する第２のパス接続方法は、図２ないし図３に示す従来のパス接続方法に比べ、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個の電断時に下記（１）から（７）のメリットがある。 
【０１９１】
（１）ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無い。
図１１の第１のパス接続方法と同様、閉塞する部位は電断したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのみで、他のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのＥＸＰには、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ以外のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ経由でアクセスが可能である。そのため、障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループとその後段の全てのＲＡＩＤグループによる障害回復が不能となることはない。
【０１９２】
（２）ＲＡＩＤグループ耐障害性低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０１９３】
障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが同一Ｃｈａｓｓｉｓの他の正常なＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ及び後段のＣｈａｓｓｉｓのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸへのアクセスに影響を与えないパス接続となっている。そのため、ＲＡＩＤグループ耐障害性低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０１９４】
（３）障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０１９５】
（２）のメリットにより、障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０１９６】
（４）スペアディスクに割り当てられるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数が１個のみに限定される。
【０１９７】
（３）のメリットにより、障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定されるので、スペアディスクに割り当てられるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数が１個のみに限定される。
【０１９８】
（５）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスする際に特別な処理が不要である。
（６）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸをピンポイントで特定することが可能である。 
（７）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段で起こった２点障害の検出が可能である。 
上記（５）から（７）のメリットは、図１１の第１のパス接続方法と同等の理由によるものである。
【０１９９】
＜＜パス接続方法３＞＞
＜接続方法＞
図１７は、障害範囲を縮小する第３のパス接続方法を示す図である。このパス接続方法は、ＣＴＬ２４からＣｈａｓｓｉｓ（ないしＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ）への接続数を減らし、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）を接続するものである。
【０２００】
＜ＣＴＬ−ＥＸＰ接続＞
例えば、図１７の障害範囲を縮小する第２のパス接続方法は、図１６の第１段目（Ｃｈａｓｓｉｓ＃０）と同様のパス接続方法とする。すなわち、ＣＴＬ２４と第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸとを４つのパスで接続する。
【０２０１】
つまり、ＣＴＬ＃０とＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１と、ＣＴＬ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２と、ＣＴＬ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１と、ＣＴＬ＃３とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２と接続する。
【０２０２】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）を接続する。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。
【０２０３】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
次に、第１段目（前段）のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭのＥＸＰ＃１とＥＸＰ＃２をそれぞれ、２段目（後段）のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭのＥＸＰ＃１とＥＸＰ＃２とに従続接続する。ちなみに、Ｍは０から３までの値である。この従続接続、すなわち、同じＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ番号の同じＥＸＰ番号同士の従続接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２０４】
＜メリット＞
図１７に示す障害範囲を縮小する第３のパス接続方法は、Ｃｈａｓｓｉｓ内でＲＡＩＤ構成している場合、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個に電断が発生しても、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無いというメリットがある。
【０２０５】
＜＜パス接続方法４＞＞
＜接続方法＞
図１８は、障害範囲を縮小する第４のパス接続方法を示す図である。
【０２０６】
図１８の第４のパス接続方法は、ＣＴＬ２４からＣｈａｓｓｉｓ（ないしＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ）への接続数を減らし、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）を接続した構成である。Ｍは０ないし２以上の偶数である。
【０２０７】
＜ＣＴＬ−ＥＸＰ接続＞
例えば、ＣＴＬ２４と第１段目のＣｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸとを４つのパスで接続する。例えば、ＣＴＬ＃０とＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１と、ＣＴＬ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２と、ＣＴＬ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２のＥＸＰ＃１と、ＣＴＬ＃３とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃２と接続する。
【０２０８】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、第１段目のＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）を接続する。つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２  ３０２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３のＥＸＰ＃１同士及びＥＸＰ＃２同士を接続する。
【０２０９】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
次に、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸからＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに接続する際、ＥＸＰ＃１の接続ではＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃Ｍ同士で従続接続を行う。Ｍは０から３の値である。
【０２１０】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１に接続する。
【０２１１】
同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１０のＥＸＰ＃１に接続する。以下、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３  ３０３まで同じ従続接続を行う。
【０２１２】
また、ＥＸＰ＃２の接続では、まず、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃３とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０を接続する。なお、Ｃｈａｓｓｉｓ内に８つのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが格納されている場合は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃７とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０とを接続する。つまり、前段のＣｈａｓｓｉｓの最後尾のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのＥＸＰ＃２と、後段のＣｈａｓｓｉｓの最前のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸのＥＸＰ＃２とを接続する。
【０２１３】
上記以外のＥＸＰ＃２同士の接続は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃Ｎに属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃ＭとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）に属するＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃（Ｍ＋１）で接続を行う。
【０２１４】
つまり、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃２は、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２に接続する。以下、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃２まで同じ接続を行う。
【０２１５】
Ｎが１以上のＣｈａｓｓｉｓ＃ＮとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）とは、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０とＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１とのパス接続と同じ接続で行う。この前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。このように、Ｃｈａｓｓｉｓ＃ＮとＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸを接続する際に、ＥＸＰ＃１とＥＸＰ＃２の接続先を変えることによって、耐障害性を高める。
【０２１６】
＜メリット＞
図１８に示す障害範囲を縮小する第４のパス接続方法は、図２ないし図３に示す従来のパス接続方法に比べＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個の電断時に、図１１と同等の下記（１）から（７）のメリットがある。 
【０２１７】
（１）ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無い。
（２）ＲＡＩＤグループによる耐障害性低下範囲が限定される。
（３）障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲が限定される。
（４）スペアディスクに割り当てられるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数が削減される。
（５）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスする際に特別な処理が不要である。
（６）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸをピンポイントで特定が可能である。
（７）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段で起こった２点障害の検出が可能である。
【０２１８】
＜＜パス接続方法５＞＞
＜接続方法＞
図１９は、障害範囲を縮小する第５のパス接続方法を示す図である。図１９の第５のパス接続方法は、第１段目と最終段のＣｈａｓｓｉｓそれぞれに別々のＣＴＬを接続する接続方法である。
【０２１９】
＜ＣＴＬ＃０−ＥＸＰ接続＞
ＣＴＬ＃０  ２４０とＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とを接続する。
【０２２０】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１を接続する。
【０２２１】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１と後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１とを接続する。
【０２２２】
同じく、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０のＥＸＰ＃１と接続する。
【０２２３】
このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃１との従続接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２２４】
更に、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１と後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１とを従続接続する。同様に、Ｃｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１と後段のＣｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃１とを接続する。
【０２２５】
このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃１との接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２２６】
＜ＣＴＬ＃１−ＥＸＰ接続＞
ＣＴＬ＃１  ２４１と最終段のＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎ（図１９では、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃２とを接続する。
【０２２７】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃２とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０のＥＸＰ＃２を接続する。
【０２２８】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
更に、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３２０のＥＸＰ＃２と前段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃２とを従続接続する。
【０２２９】
このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃２とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ−１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃２との従続接続を第１段目のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２３０】
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃２と前段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２とも従続接続する。このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ−１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２との従続接続を第１段目のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２３１】
＜メリット＞
図１９に示す障害範囲を縮小する第５のパス接続方法は、図２ないし図３に示す従来のパス接続方法に比べ、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個の電断時に下記（１）から（６）のメリットがある。
【０２３２】
（１）ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無い。
障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに接続されるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸへのアクセスは、障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが属するＣｈａｓｓｉｓ以外のＣｈａｓｓｉｓのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸからアクセス可能である。そのため、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位は無い。
【０２３３】
（２）ＲＡＩＤグループ耐障害性低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０２３４】
（１）のメリットから障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにのみアクセスが不可能になる。そのため、ＲＡＩＤグループ耐障害性低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０２３５】
（３）（２）のメリットより障害ディスク回復プロセスによる性能低下範囲は電断Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸを含むＲＡＩＤグループ１個のみに限定される。
【０２３６】
（４）（３）のメリットより、スペアディスクに割り当てられるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数が１個のみに限定される。 
【０２３７】
（５）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの後段のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸにアクセスする際に特別な処理が不要である。
【０２３８】
他の正常なＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ経由でのアクセスが可能であるのでアクセスする際に特別な処理が不要である。
【０２３９】
（６）障害発生Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸをピンポイントで特定が可能である。
【０２４０】
ＣＴＬ＃０  ２４０またはＣＴＬ＃１  ２４１が障害発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸと接続する前後の４ポートが閉塞していることを確認することで、当該Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸに障害が発生していることをピンポイントで特定可能となる。
【０２４１】
また、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸの電断がない場合、（７）のメリットもある。
（７）記憶ドライブからのレイテンシ（応答時間）を短縮できる。
【０２４２】
Ｃｈａｓｓｉｓ＃０とＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎの両側からＣＴＬが記憶ドライブをアクセスできる。そのため、ＣＴＬから記憶ドライブまでのＥＸＰ数、すなわち、ＥＸＰの段数を最大でもＮ／２段とできるので、レイテンシを短縮することができる。
【０２４３】
＜＜パス接続方法６＞＞
＜接続方法＞
図２０は、障害範囲を縮小する第６のパス接続方法を示す図である。図２０の第６のパス接続方法は、図１９の第１段目と最終段のＣｈａｓｓｉｓそれぞれにＣＴＬを接続する接続方法の変形例である。最初のＥＸＰ＃２同士の接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓではなく、第１段目のＣｈａｓｓｉｓで行う点である。
【０２４４】
＜ＣＴＬ＃０−ＥＸＰ接続＞
ＣＴＬ＃０  ２４０とＣｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とを接続する。
【０２４５】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１とＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１を接続する。
【０２４６】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃１と、後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃１とも従続接続する。このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃１との従続接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２４７】
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃１と後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１ ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃１と従続接続する。このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃１とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃１との従続接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２４８】
＜ＣＴＬ＃１−ＥＸＰ接続＞
ＣＴＬ＃１  ２４１とＣｈａｓｓｉｓ＃Ｎ（図２０では、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃２とを接続する。
【０２４９】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃２  ３２のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３２１のＥＸＰ＃２は、前段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３１１のＥＸＰ＃２と接続する。このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ−１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２との従続接続を第１段目のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２５０】
＜同一ＣｈａｓｓｉｓのＥＸＰ−ＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１  ３０１のＥＸＰ＃２と同一Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃２とを接続する。ここでの接続が図１９と異なる点である。
【０２５１】
＜前後段Ｃｈａｓｓｉｓ間のＥＸＰ接続＞
また、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０  ３０のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３００のＥＸＰ＃２と後段のＣｈａｓｓｉｓ＃１  ３１のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０  ３１０のＥＸＰ＃２とを従続接続する。このＣｈａｓｓｉｓ＃ＮのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃０のＥＸＰ＃２とＣｈａｓｓｉｓ＃（Ｎ＋１）のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ＃１のＥＸＰ＃２との従続接続を最終段のＣｈａｓｓｉｓまで繰り返す。
【０２５２】
＜メリット＞
図２０に示す障害範囲を縮小する第５のパス接続方法は、図２ないし図３に示す従来のパス接続方法に比べ、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ１個の電断時に下記（１）及びＤｒｉｖｅ  ＢＯＸの電断がない場合、（２）のメリットがある。
【０２５３】
（１）ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位が無い。
障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸに接続されるＤｒｉｖｅ  ＢＯＸへのアクセスは、障害が発生したＤｒｉｖｅ  ＢＯＸが属するＣｈａｓｓｉｓ以外のＣｈａｓｓｉｓのＤｒｉｖｅ  ＢＯＸからアクセス可能である。そのため、ＲＡＩＤグループによる障害回復が不能な部位は無い。
【０２５４】
（２）記憶ドライブからのレイテンシ（応答時間）を短縮できる。
【０２５５】
図２０のパス接続方法は、図１９のパス接続方法とほぼ同等であるので、記憶ドライブからのレイテンシ（応答時間）を短縮できる。
【０２５６】
＜各パス接続方法のメリット・デメリット＞
図２１は、各パス接続方法のメリット・デメリットを説明する比較図である。
【０２５７】
図２１は、各図に示した従来及び本発明でのパス接続方法とそれに対する電断の影響範囲、障害検出、ケーブルルーティングの難易度を示す。
【０２５８】
本発明でのパス接続方法では、従来のパス接続方法に比べ、全ポート閉塞部位範囲を狭くすることができる。
【０２５９】
また、従来のパス接続方法では片ポートのみの閉塞は不可能であったが、本発明では実現可能である。
【０２６０】
ＲＡＩＤグループ閉塞が、図３に示す従来のパス接続方法では発生していたが、本発明のパス接続方法では発生を防止できる。
【０２６１】
本発明のパス接続方法では、従来発生していたシステムダウンを防止でき、更に、コレクションコピーの動作範囲も狭くできる。
【０２６２】
従来では不可能であった障害のピンポイント特定や２点障害特定も、本発明では、可能とできるパス接続方法がある。
【０２６３】
本発明のパス接続では、従来とほぼ同等以上のケーブルルーティングの容易性を実現できる。このケーブルルーティングは、後述する接続パターン判定と期待値との比較処理により、接続間違いを確認しながらケーブル接続を行うことができるので、容易性を向上できる。また、本発明では、ケーブル接続の間違いを無くすことが可能となる。
【０２６４】
＜＜接続パターン判定方法＞＞
以上説明したように、本発明のディスクアレイシステムでは、Ｃｈａｓｓｉｓ間、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ間、ＥＸＰ間を接続する接続パターンは複数あり、いずれの接続パターンで接続されているか、いずれの接続パターンを組み合わせて接続されているか、または、正確に接続されているかを判定する必要がある。そこで、本発明では図２２及び図２３に示す接続パターン認識処理と接続パターン期待値の比較処理でその課題を解決する。
【０２６５】
図２２は、接続パターン認識の処理を示すフローチャート図である。図２３は、接続パターン期待値の比較処理を示すフローチャート図である。
【０２６６】
（Ｐ１）接続パターン期待値無し（図２２）
【０２６７】
ディスクアレイシステムの構成時に、接続パターンの期待値を準備しない場合、ＭＰ２３は、ＣＴＬ２４に接続している各ＥＸＰのユニークな情報（例えば、ＳＡＳ  ＡｄｄｒｅｓｓやＷＷＮ（Ｗｏｒｌｄ  Ｗｉｄｅ Ｎａｍｅ）等）を順番に取得する。
【０２６８】
なお、ＭＰ２３が物理的な接続パターンを認識していなくても、本発明のパス接続方法でＣＴＬ−ＥＸＰ間、ＥＸＰ間を接続することにより、障害発生時でも耐障害性が得られる。その接続パターン認識処理を図２２で説明する。
【０２６９】
Ｓ２２０１で、ＭＰ２３は、ＣＴＬ２４に対し接続ＥＸＰ情報の確認要求を発行する。
【０２７０】
Ｓ２２１１で、ＣＴＬ２４は、ＭＰ２３からの接続ＥＸＰ情報の確認要求を受信する。
【０２７１】
Ｓ２２１２で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−００１  ３００１に対しＥＸＰ情報確認コマンドを発行する。
【０２７２】
Ｓ２２２１で、ＥＸＰ−００１  ３００１は、ＣＴＬ２４からのＥＸＰ情報確認コマンドを受信する。
【０２７３】
Ｓ２２２２で、ＥＸＰ−００１  ３００１のＥＸＰ情報をＣＴＬ２４へ送信する。ここでのＥＸＰ情報とは、Ｅｘｐａｎｄｅｒ自身の物理的な位置情報を含む情報である。ＥＸＰ情報として、例えば、ＥＸＰ−００１は、“００１”であり、この数値は、Ｃｈａｓｓｉｓが“０ｘｘ”、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸが“ｘ０ｘ”、ＥＸＰが“ｘｘ０”という物理的な位置に配置されたＥｘｐａｎｄｅｒを示す。
【０２７４】
Ｓ２２１３で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−００１  ３００１からのＥＸＰ情報を受信する。このＥＸＰ−００１  ３００１からのＥＸＰ情報により、ＥＸＰ-００１  ３００１の物理的な位置を確認できる。
【０２７５】
Ｓ２２１４で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−１０１  ３１０１に対しＥＸＰ情報確認コマンドを発行する。
【０２７６】
Ｓ２２３１で、ＥＸＰ−１０１  ３１０１は、ＣＴＬ２４からのＥＸＰ情報確認コマンドを受信する。
【０２７７】
Ｓ２２３２で、Ｓ２２２２でのＥＸＰ−００１  ３００１と同様、ＥＸＰ−１０１  ３１０１のＥＸＰ情報をＣＴＬ２４へ送信する。
【０２７８】
Ｓ２２１５で、ＣＴＬ２４は、ＥＸＰ−１０１  ３１０１からのＥＸＰ情報を受信する。このＥＸＰ−１０１  ３１０１からのＥＸＰ情報により、ＥＸＰ-１０１  ３１０１の物理的な位置を確認できる。
【０２７９】
Ｓ２２１６で、ＣＴＬ２４は、取得したＥＸＰ情報を纏めて接続ＥＸＰ情報としてＭＰ２３へ送信する。
【０２８０】
Ｓ２２０２で、ＭＰ２３は、ＣＴＬ２４からの接続ＥＸＰ情報を受信する。
【０２８１】
以上の処理で取得した接続ＥＸＰ情報により、ＭＰ２３は、ディスクコントローラ部２のＣＴＬ２４とディスクユニット部３のＥＸＰとの接続状況、ディスクユニット部３のＥＸＰ同士の接続状況やＥＸＰの物理的な位置を把握できる。つまり、ディスクアレイシステムは、接続パターン認識の処理で、どのようなパス接続パターンでＣＴＬ−ＥＸＰ間またはＥＸＰ間が接続されているかを判断できる。
【０２８２】
また、複数のパス接続方法で用いて、ＣＴＬ−ＥＸＰ間またはＥＸＰ間を接続している場合もある。例えば、Ｃｈａｓｓｉｓ＃０からＣｈａｓｓｉｓ＃３までのＥＸＰ間は、図１６に示すパス接続方法２で接続し、Ｃｈａｓｓｉｓ＃４からＣｈａｓｓｉｓ＃７までのＥＸＰ間は、図１８に示すパス接続方法４で接続したケースである。
【０２８３】
このケースでＭＰ２３が予めパス接続状況を把握していなくとも、接続パターン認識の処理で、どのようなパス接続方法を組み合わせて接続されているかを、ＭＰ２３は把握できる。また、ＭＰ２３は、パス接続方法毎に障害判定テーブル７０を設けることができ、前述の障害判定動作（図５、図６、図８）をパス接続毎に実行できる。
【０２８４】
また、接続パターン認識処理では、正常な接続を判定できることに加え、接続パターン毎に障害判定テーブルが用意されている場合、どの接続パターンで接続されていて、どの障害判定テーブルを使用するかを決定できる。
【０２８５】
（Ｐ２）接続パターン期待値有り（図２３）
【０２８６】
ディスクアレイシステム構成時に、ＭＰ２３は、把握しているＥＸＰの物理的な位置情報を用いて接続パターンの期待値を決める。ＣＴＬ２４に接続している各ＥＸＰの物理的な位置情報が含まれるユニークな情報（例えば、ＳＡＳ  Ａｄｄｒｅｓｓ）を順番に取得し、接続パターン期待値と比較し、一致していれば接続パターンを認識する。一致しない場合は、期待値と異なるＥＸＰを指摘し、接続方法の確認を促す。
【０２８７】
Ｓ２３０１で、ＭＰ２３は、ディスクアレイシステム構成時に把握した接続順序の期待値と、図２２の接続パターン認識処理で取得した接続ＥＸＰ情報とを比較する。
【０２８８】
Ｓ２３０２で、ＭＰ２３は、ディスクアレイシステム構成時に把握した接続順序と、接続パターン認識処理で取得した接続順序とが一致するかを判断する。
【０２８９】
一致している場合（Ｓ２３０２：Ｙｅｓ）、Ｓ２３０３で、ＭＰ２３は、ディスクコントローラ部２のＣＴＬ２４とディスクユニット部３のＥＸＰとの接続、ディスクユニット部３のＥＸＰ同士の接続が正常状態であると判断する。
【０２９０】
そして、ＭＰ２３は、接続が正常である旨の通知を管理端末２５に送信する。管理端末２５は、受信した正常通知をディスプレイ（図示せず）等で、システムが正常状態であることをユーザないしシステム管理者へ知らしめる。
【０２９１】
ディスクアレイシステム構成時の接続順序と、接続パターン認識処理での接続順序とが一致していない場合（Ｓ２３０２：Ｎｏ）、ＭＰ２３は、不一致と判断する。
【０２９２】
そして、ＭＰ２３は、Ｓ２３０４で、一致していない接続部分を管理端末２５に送信する。管理端末２５は、受信した一致していない接続部分を画面等で表示して、ユーザないしシステム管理者へ知らしめる。
【０２９３】
また、上記のように接続パターンを予めＭＰ２３で把握している場合、ＥＸＰの物理的位置を示すＥＸＰ番号を、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸがＣｈａｓｓｉｓへ接続された時に自動的に割り振る処理を、図２２の接続パターン認識処理ないし図２３の接続パターン期待値比較処理に実装して使い勝手を向上させてもよい。
【０２９４】
以上の接続パターン認識処理により、接続状態を把握でき、更に接続パターン期待値の比較処理により、異常接続状態の通知により接続状態の確認をユーザないしシステム管理者に促すことができる。そのため、期待するディスクアレイシステムでの耐障害性を得ることができる。
【０２９５】
以上の説明したパス接続方法、障害判定動作、接続パターン認識動作により、ディスクアレイシステム全体の耐障害性、信頼性及び可用性を向上できる。なお、図でのＣＴＬ数は主に４つ、Ｃｈａｓｓｉｓ数は主に３つ、Ｃｈａｓｓｉｓ内のＤｒｉｖｅ  ＢＯＸ数は主に４つ、Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ内のＥＸＰ数は主に２つで説明したが、この数に限定されるものではない。様々な数値の組み合わせで接続の構成を実現してよい。
【０２９６】
また、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。更に、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。
【０２９７】
また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【０２９８】
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。
【０２９９】
各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ  Ｓｔａｔｅ  Ｄｒｉｖｅ）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置いてもよい。
【０３００】
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０３０１】
１  ディスクアレイシステム
２  ディスクコントローラ
３  ディスクユニット部
２３  ＭＰ
２４、２４０、２４１  ＣＴＬ
３０、３９  Ｃｈａｓｓｉｓ
３００、３０９、３９０、３９９  Ｄｒｉｖｅ  ＢＯＸ
３００１、３０９１、３９０１、３９９１  ＥＸＰ
３００２、３０９２、３９０２、３９９２  ＥＸＰ
３００３、３０９３、３９０３、３９９３  記憶ドライブ部
【図１】
0005977431.tif 000002
【図２】
0005977431.tif 000003
【図３】
0005977431.tif 000004
【図４】
0005977431.tif 000005
【図５】
0005977431.tif 000006
【図６】
0005977431.tif 000007
【図７】
0005977431.tif 000008
【図８】
0005977431.tif 000009
【図９】
0005977431.tif 000010
【図１０】
0005977431.tif 000011
【図１１】
0005977431.tif 000012
【図１２】
0005977431.tif 000013
【図１３】
0005977431.tif 000014
【図１４】
0005977431.tif 000015
【図１５】
0005977431.tif 000016
【図１６】
0005977431.tif 000017
【図１７】
0005977431.tif 000018
【図１８】
0005977431.tif 000019
【図１９】
0005977431.tif 000020
【図２０】
0005977431.tif 000021
【図２１】
0005977431.tif 000022
【図２２】
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【図２３】
0005977431.tif 000024