(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光部と、受光部と、検煙部とを備え、煙等の粒子によって該発光部の光が該検煙部で散乱することで生じる散乱光を該受光部が透光体を介して受光することにより煙等を検知するよう構成された煙感知器において、
前記受光部の受光感度を検知するための試験用光源をを更に備えており、
前記透光体に汚損等の異常があるときに、前記透光体に入射する前記試験用光源からの試験光が散乱することにより生じる散乱光を前記受光部が受光し、その受光量の増加を検出することで、前記受光部の受光感度の低下を検知するものであることを特徴とする煙感知器。
【請求項２】
前記試験用光源の試験光が前記透光体に入射する位置であって、前記受光部の視野範囲の外の位置に、前記試験用光源を設けたことを特徴とする請求項１記載の煙感知器。
【請求項３】
前記試験用光源の試験光は、反射面に反射してから前記透光体に入射することを特徴とする請求項１記載の煙感知器。
【請求項４】
前記試験用光源は、前記透光体から見て前記受光部側の位置に設けられていることを特徴とする請求項１記載の煙感知器。
【請求項５】
前記試験用光源の試験光が前記透光体に入射する位置であって、前記受光部の視野範囲内に内部範囲として画定され、前記透光体に汚損等の異常がないときの前記試験用光源の試験光を前記受光部が受光する受光量が、前記透光体に汚損等の異常があるときの前記試験用光源の試験光を前記受光部が非散乱光の状態で受光する受光量と、散乱光の状態で受光する受光量との合計以上になる内部範囲の外の位置に、前記試験用光源を設けたことを特徴とする請求項１記載の煙感知器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、空気中に浮遊する煙や汚染物質等を光学的に検知することができる煙感知器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、火災予防や火災発見のために煙を検知するものとして、或いは、半導体製造工場や食品工場等（所謂クリーンルーム等）における環境保全のために汚染物質（埃等）を検知するものとして、煙感知器が用いられている。
【０００３】
煙感知器には種々のものがあるが、空気中に含まれる煙や汚染物質（以下「煙等」という）を光学的に検知する光学式のものがある。
【０００４】
光学式の煙感知器の場合、一般に、煙等の粒子により発光部からの光が散乱することによって検煙部で生じる散乱光を受光部が受光することで煙等を検知するものとなっているが、受光部の受光感度が汚れ等によって低下してしまうことがあることから、例えば、特開平７−１５１６８０号公報（特許文献１）に記載されているもののように、試験光を発光する試験光用の発光部を別に備え、受光部が受光する試験光の受光量を測定して、その受光量から受光部の受光感度を補正したり、一定値以下になった場合は異常として警報を出力したりするようになっているものもある（同文献の明細書段落[００４５]、[００４６]及び図２３等参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平７−１５１６８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、前記の特許文献１に記載された煙感知器のように、受光部が受光する受光量の減少変化によって受光部の受光感度の低下を検知するものの場合、正常時の受光量からの減少変化を量ることによって受光感度の低下を検知することとなるので、散乱光よりも光量のはるかに大きい試験光が減少する受光量から受光感度の低下を検知することとなり、それを高い精度で検知することができいないという問題がある。
【０００７】
又、前記の特許文献１に記載された煙感知器の場合、散乱光よりもはるかに大きい光量の試験光を受光素子に対して正面から入射させるものとなっており（同文献の[００４５]参照）、受光部の汚損等が散乱光の入射を妨げる程のものとなっていたとしても、試験光の入射に対してはあまり影響が出ないという状況になる可能性がある。それを回避するために試験時の閾値の設定をシビアにすることが考えられるが、そうしてしまうと汚損等の経過を監視することはできなくなる。
【０００８】
この発明は、前記の事情に鑑み、受光部の受光感度の低下を高い精度で検知することができる煙感知器の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明は、発光部と、受光部と、検煙部とを備え、煙等の粒子によって該発光部の光が該検煙部で散乱することで生じる散乱光を該受光部が透光体を介して受光することにより煙等を検知するよう構成された煙感知器において、前記受光部の受光感度を検知するための試験用光源をを更に備えており、前記透光体に汚損等の異常があるときに、前記透光体に入射する前記試験用光源からの試験光が散乱することにより生じる散乱光を前記受光部が受光し、その受光量の増加を検出することで、前記受光部の受光感度の低下を検知するものであることを特徴とする煙感知器である。
【００１０】
又、この発明は、前記試験用光源の試験光が前記透光体に入射する位置であって、前記受光部の視野範囲の外の位置に、前記試験用光源を設けたことを特徴とする煙感知器である。
【００１１】
又、この発明は、前記試験用光源の試験光は、反射面に反射してから前記透光体に入射することを特徴とする煙感知器である。
【００１２】
又、この発明は、前記試験用光源は、前記透光体から見て前記受光部側の位置に設けられていることを特徴とする煙感知器である。
【００１３】
又、この発明は、前記試験用光源の試験光が前記透光体に入射する位置であって、前記受光部の視野範囲内に内部範囲として画定され、前記透光体に汚損等の異常がないときの前記試験用光源の試験光を前記受光部が受光する受光量が、前記透光体に汚損等の異常があるときの前記試験用光源の試験光を前記受光部が非散乱光の状態で受光する受光量と、散乱光の状態で受光する受光量との合計以上になる内部範囲の外の位置に、前記試験用光源を設けたことを特徴とする煙感知器である。
【００１５】
尚、この発明は、次のように構成することもできる。
【００１６】
即ち、前記透光体は、光を受光部に向けて集光させる集光レンズとすることができる。前記試験用光源は、ＬＥＤとすることができる。前記試験用光源の試験光は、直接に又は間接に前記透光体に入射するものとすることができる。前記試験用光源の試験光を反射面に反射してから前記透光体に入射するものとすることができ、その場合、前記試験用光源の試験光が反射する反射面は、発光部からの光を迷光にして減衰させるための光トラップの壁面とすることができる。前記受光部は、受光素子としてフォトダイオードを有するものとすることができる。前記透光体に対して試験用光源を受光素子側に設けたものとすることができる。前記受光部の受光感度の低下を判別するための試験用閾値を設定し、前記受光部から出力される前記受光部が受光した試験光由来の光の信号強度と前記試験用閾値とを比較して前記試験用閾値以上であるときに前記受光部の受光感度の低下と判断するものとすることができる。前記試験用閾値は、段階的に複数設定することができ、前記受光部の受光感度の低下を段階的に判断するものとすることができる。前記試験用閾値は、受光部に受光感度の低下がない正常なときに前記受光部から出力される信号強度を基準に設定したものとすることができる。
【発明の効果】
【００１７】
この発明によれば、受光部の受光感度を検知するための試験用光源を更に備え、試験時、試験用光源からの試験光を受光部が受光し、その受光量の増加を検出することで、受光部の受光感度の低下を検知するものとしていることで、受光部の増加する受光量から受光部の受光感度の低下を判別することができる。
【００１８】
従って、この発明によれば、受光部の受光感度の低下を高い精度で検知することができる煙感知器を提供することができる。
【００１９】
又、この発明によれば、透光体に汚損等の異常があると、それによって生じる散乱光を受光部が受光するので、受光量の増加によって汚損等の異常を検知することができる。
【００２０】
又、この発明によれば、試験用光源の試験光が透光体に入射する位置であって、受光部の視野範囲の外の位置に、試験用光源を設けたものとすることで、試験時、透光体に汚損等がなく、受光部の受光感度の低下がない場合には、試験用光源の試験光が受光部にほとんど受光されないものとする一方で、透光体に汚損等があり、受光部の受光感度に低下がある場合には、その汚損等の異常によって透光体に入射する試験用光源の試験光が散乱することで生じる散乱光が受光部に受光されるものとすることができ、透光体に汚損等の異常がない場合と汚損等の異常がある場合との間で増加する受光部の受光量に基き、受光部の受光感度の低下を判別するものとすることができる。
【００２１】
更に、この発明によれば、試験用光源の試験光が前記透光体に入射する位置であって、受光部の視野範囲内に内部範囲として画定され、透光体に汚損等の異常がないときの試験用光源の試験光を受光部が受光する受光量が、透光体に汚損等の異常があるときの試験用光源の試験光を受光部が非散乱光の状態で受光する受光量と、散乱光の状態で受光する受光量との合計以上になる内部範囲の外の位置に、或いは、試験用光源からの試験光が透光体に入射する位置であって、受光部の視野範囲内に内部範囲として画定され、透光体に汚損等の異常がないときの試験用光源からの試験光を受光部が受光する受光量をＡ０とし、透光体に汚損等の異常があるときの試験用光源からの試験光を受光部が非散乱光の状態で受光する受光量をＡ１とし、散乱光の状態で受光する受光量をＢ１とした場合に、Ａ０≧Ａ１＋Ｂ１の関係式が成立する内部範囲の外の位置に、試験用光源を設けたものとすることで、透光体に汚損等がなく、受光部の受光感度の低下がない場合の試験用光源の試験光の受光部への受光量よりも、透光体に汚損等があり、受光部の受光感度に低下がある場合の試験用光源の試験光の受光部への受光量の方が多くなるようにすることができ、これによっても、透光体に汚損等の異常がない場合と汚損等の異常がある場合との間で増加する受光部の受光量に基き、受光部の受光感度の低下を判別するものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】この発明の第１の実施形態における機器構成の概要を示した構成図である。
【図２】同上の実施形態における試験光の軌跡等を示した説明図である。
【図３】同上の実施形態における受光感度の試験時の処理の流れを示したフロー図である。
【図４】この発明の第２の実施形態における図２に相当する図である。
【図５】この発明の第３の実施形態における図２に相当する図である。
【図６】この発明の第４の実施形態における図２に相当する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
[第１の実施形態]
先ず、図１乃至図３に基づき、第１の実施形態に係る煙感知器１について説明する。尚、煙感知器１は、火災予防や火災発見のために煙を検知するものとして用いることができるものであり、又、半導体製造工場や食品工場等（所謂クリーンルーム等）における環境保全のために汚染物質（埃等）を検知するものとして用いることができるものである。
【００２４】
煙感知器１は、図１に示したように、暗箱２ａで画定された煙検出ユニット２や、監視区域に敷設される図示しないサンプリング用配管から流入部４を介して流入する空気Ａを感知対象のサンプリングエアＳＡとして導入路５を介して煙検出ユニット２に送るファン３等を有しており、煙検出ユニット２内に、ＬＥＤ等の発光素子６ａを備えた発光部６や、フォトダイオード等の受光素子７ａを備え、その受光素子７ａに発光部６からの光ＬＢが直接には入射しないように配置された受光部７等を有しており、又、発光部６の発光素子６ａ、受光部７の受光素子７ａ及びエアフローセンサ２１等に接続された電源部８や、受光部７の受光素子７ａ等に接続された制御部９等を更に有している。
【００２５】
尚、煙感知器１は、本実施形態においては、導入路５がファン３の二次側から流路分岐部１７で分岐し、煙検出ユニット２からサンプリングエアＳＡを還流させる還流路１８がファン３の二次側の流路合流部１９で合流し、流路合流部１９と流路分岐部１７との間に生じる差圧（流路合流部１９における流速を流路分岐部１７における流速より速いものとすることによって両者間に差圧を生じさせることができ、例えば、流路合流部１９をファン３の回転翼の周縁に近い位置に設け、流路分岐部１７をその回転翼の周縁から遠い位置に設けることによって両者間に差圧を生じさせることができる。）によって、サンプリングエアＳＡを導入路５からフィルタ２０で濾過した上で煙検出ユニット２を通過させ、還流路１８からファン３の二次側に還流させるものとなっている。
【００２６】
煙感知器１において、煙検出ユニット２の暗箱２ａ中央には検煙部１２が設けられており、その検煙部１２をサンプリングエアＳＡが通過する際に光学的な煙等の検知がされるようになっている。
【００２７】
即ち、煙感知器１は、サンプリングエアＳＡ中に煙等が含まれていれば、検煙部１２を通過する際に、煙等によって発光部６の発光素子６ａからの光ＬＢが散乱することによって散乱光が生じ、その散乱光を受光部７の受光素子７ａが受光することで煙等の検知がされるようになっている。
【００２８】
尚、煙検出ユニット２の暗箱２ａ内において、１０は、発光部６の前方（具体的には直前）に位置して、発光部６の発光素子６ａからの光ＬＢを検煙部１２側に向けて集めて透過させる集光レンズであり、１１は、透光体の一例であり、受光部７の前方（具体的には直前）に位置して、発光部６の発光素子６ａからの光ＬＢが煙等によって散乱することにより生じた散乱光等を受光部７側に向けて集めて透過させる集光レンズであり、１５及び１６は、発光部７の発光素子７ａからの光が通過するアパーチャであり、１３は、発光部７の発光素子７ａからの光を迷光にして減衰させるための光トラップ１４等によって構成された遮光部である。
【００２９】
煙感知器１において、制御部９は、受光部７の受光素子７ａからの信号を増幅するための増幅回路、増幅した信号を変換するＡ／Ｄ変換器、変換した信号を予め設定した閾値と比較する比較回路等を備えており、受光部７の受光素子７ａからの信号に基いて煙等の検知の判別等をすることができるものとなっており、又、後記で詳細に説明するように、試験時には、試験用光源２２を点灯させる制御や、受光部７の受光部素子７ａからの信号に基いてその受光感度の低下の検知の判別や、受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を検知した場合にその異常信号を出力させる制御等もすることができるものとなっている。
【００３０】
そして、煙感知器１は、煙検出ユニット２の暗箱２ａ内に、受光部７の受光感度の低下を検知するためのＬＥＤ等の試験用光源２２が、その試験光が透光体の一例としての集光レンズ１１に入射する位置でありつつ、煙検出ユニット２の暗箱２ａ内に展開する受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１（破線で画定された範囲）の外の位置に設けられている。
【００３１】
ここで、本実施形態においては、受光部７の前部に、遮蔽壁７ｃによって開度が制限された開口である受光窓７ｂが設けられており、又、前記の通り、受光部７の前方には集光レンズ１１が設けられている。つまり、本実施形態においては、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１は、受光素子７ａ、受光窓７ｂ及び集光レンズ１１等によって決定されたものとなっている。
【００３２】
尚、本実施形態においては、透光体としての集光レンズ１１が受光部７と離間して前方位置に設けらられたものとなっているが、透光体としては集光性のないものとしてもよいし、又、受光部７と離間させずに受光部７自体（例えばその前面）に設けられたものとしてもよい。
【００３３】
煙感知器１は、前記の通り、試験用光源２２が、その試験光が透光体の一例としての集光レンズ１１に入射する位置でありつつ、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の外の位置に設けられている。
【００３４】
この配置構造により、煙感知器１においては、試験用光源２２を点灯させて受光部７の受光素子７ａの受光感度を試験する時に、集光レンズ１１に汚損等がなく、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常がない場合も、集光レンズ１１に汚損等があり、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常がある場合も、何れの場合も、例えば図２に軌跡ＴＢ１で示したように、試験用光源２２からの試験光は集光レンズ１１に入射するようになっているが、前者の異常がない場合には、集光レンズ１１を透過する試験光は、例えば図２に軌跡ＴＢ２で示したように、試験用光源２２が受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の外の位置にあることによって、受光部７の受光素子７ａには入射せずに受光されないようになっており、一方、後者の異常がある場合には、集光レンズ１１を透過する試験光は、集光レンズ１１の汚損等により散乱して散乱光となり、例えば図２に軌跡ＴＢ３で示したように、それら試験光由来の散乱光中、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の内に入射するものが受光部７の受光素子７ａに入射して受光されるようになっている。
【００３５】
即ち、煙感知器１は、試験用光源２２が、前記の配置で設けられていることで、試験用光源２２を点灯させて受光部７の受光素子７ａの受光感度を試験する時に、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常がない場合には、試験用光源２２からの試験光が受光部７の受光素子７ａにほとんど受光されないようになっている一方で、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常がある場合には、試験用光源２２からの試験光が散乱光として受光部７の受光素子７ａに受光されるようになっている。
【００３６】
そして、煙感知器１においては、制御部９（具体的にはその比較回路）が受光部７の受光素子７ａからの信号に基いて受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下の有無の判別を行うものとなっているが、前記の通り、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させるような異常がない場合には、試験用光源２２からの試験光が受光部７の受素子７ａにほとんど受光されないようになっている一方で、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させるような異常がある場合には、試験用光源２２からの試験光が散乱光として受光部７の受光素子７ａに受光されるようになっていることで、制御部９が受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下の有無を判別をする際に、正常時の試験用光源２２の試験光が受光部７の受光素子７ａにほとんど受光されない場合と異常時の受光される場合との間で増加する受光量（受光素子７ａからの信号強度）に基くと共に、その間の受光量の大きな変化分に基いて受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を判断することができるものとなっている。
【００３７】
従って、本実施形態の煙感知器１によれば、試験用光源２２が、その試験光が透光体の一例としての集光レンズ１１に入射する位置でありつつ、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の外の位置に設けられていることで、受光部７の受光素子７ａの受光量の増加を検出して、集光レンズ１１に汚損等の異常が発生して、受光感度が低下していることを検知することができ、正常時の受光量からの減少量を検出して受光感度の低下を検知する前記の従来例に比べて、受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を高い精度で検知することができる。
【００３８】
本実施形態において、煙感知器１は、前記のように、制御部９が受光部７の受光素子７ａからの信号に基いて受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下の有無の判別を行うものとなっているが、具体的には、制御部９が、集光レンズ１１に汚損等がなく、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常がない正常な時の受光部７の受光素子７ａからの信号の強度に基いて予め設定された試験用の閾値と、試験時に制御部９に入力される受光部７の受光素子７ａからの信号の強度とを比較回路で比較することにより行うものとなっており、又、その判別の結果、集光レンズ１１に汚損等があり、受光部７の受光素子７ａの受光感度を低下させる異常があると判定した場合には、異常信号の出力を行うものとなっている。
【００３９】
尚、制御部９で比較される前記の試験光由来の散乱光の信号強度は、受光部７の受光素子７ａから出力される受光素子７ａが受光した試験光由来の散乱光の総散乱光の信号強度とすることができる。又、制御部９で比較される前記の試験用の閾値は、段階的に複数設定されたものとして、受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を段階的に判定するものとすることができ、それにより集光レンズ１１等のメンテナンスの計画的な実施をすることができる。
【００４０】
次に、煙感知器１による受光部７の受光素子７ａの受光感度の試験時の処理の流れを図３に基き説明する。尚、この一連の処理は制御部９によって行われる。
【００４１】
先ず、常時の監視モードから試験モードへの切り換え処理が行われ（Ｓ１）、試験用光源２２が点灯されて、試験用光源が発光される（Ｓ２）。受光部７の受光素子７ａからの信号に基き、その信号強度（受光量）と予め設定した試験用の閾値とが比較され、信号強度が閾値以上であるか否かの判断処理が行われる（Ｓ３）。ここで、集光レンズ１１に汚損等がある場合、受光部７の受光素子７ａが受光した試験光由来の散乱光の受光量に応じて出力された信号強度と試験用の閾値とが比較され、受光素子７ａからの信号強度が試験用の閾値以上であれば、集光レンズ１１に汚損等があると判定され（Ｓ４）、一方、集光レンズ１１に汚損等がない場合、受光部７の受光素子７ａは試験光を受光しておらず、受光部７の受光素子７ａから出力された信号強度と試験用の閾値とが比較されても、その信号強度が試験用閾値以上にはならず、集光レンズ１１に汚損等がないと判定される（Ｓ５）。そして、集光レンズ１１に汚損等があると判定された場合は、異常信号の出力がされてから（Ｓ６）、集光レンズ１１に汚損等がないと判定された場合は、所定時間が経過してから（Ｓ７）、常時の火災監視モードへの切り換え処理が行われる（Ｓ８）。
【００４２】
[第２の実施形態]
この発明の第２の実施形態を図４に基き説明する。尚、第２の実施形態は試験用光源２２からの試験光が透光体の一例としての集光レンズ１１に直接に入射される第１の実施形態の構成態様に代えて間接に入射される構成態様としたものである。
【００４３】
第１の実施形態は、前記の通り、試験用光源２２からの試験光が集光レンズ１１に直接に入射される構成態様としているが、それに代えて集光レンズ１１に間接に入射されるようにしてもよく、試験用光源２２からの試験光が反射面を介して集光レンズ１１に入射されるようにしてもよい。
【００４４】
具体的には、例えば、図４に示したように、試験用光源２２をその試験光が直接には集光レンズ１１に入射されない位置に設けると共に、その試験光を受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１内に入らないようにしつつ、集光レンズ１１に向けて反射させる反射面ＲＦとして機能する暗箱２ａ内の壁面（例えば、遮光部１３を構成している光トラップ１４の壁面等）を利用して（反射面を別途設けるようにしてもよい）、試験光用光源２２の試験光が集光レンズ１１に間接に入射されるようにしてもよい。
【００４５】
これにより、試験用光源２２の配置構造の設計の自由度を広げることができ、例えば、図４に示したように、試験用光源２２を受光部７と横並びに近接させた位置に設けたりすることができ、電気部品を片側に集めて収納することができる。
【００４６】
尚、この第２の実施形態においても、煙感知器１は、反射面ＲＦを介在させてはいるが、試験用光源２２が、その試験光が透光体の一例としての集光レンズ１１に入射する位置でありつつ、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の外の位置に設けられていることに変わりはなく、第１の実施形態におけるものと同様、受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を高い精度で検知することができる。
【００４７】
[第３の実施形態]
この発明の第３の実施形態を図５に基き説明する。尚、第３の実施形態は試験用光源２２を集光レンズ１１から見て受光部７側に設け、受光部７側から検煙部１２側に試験光を入射させる構成態様としたものである。
【００４８】
集光レンズ１１に汚損等があれば、図５に示したように、第１の実施形態や第２の実施形態と同様に、散乱光ＴＢ３は受光部７の受光素子７ａに入射することとなる。
【００４９】
これにより、第２の実施形態よりも試験用光源２２を受光部７と横並びにより近接した位置に設けることができる。
【００５０】
[第４の実施形態]
この発明の第４の実施形態を図６に基き説明する。
【００５１】
第４の実施形態は、試験用光源２２を受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１の外の位置に設けるのに代えて、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１内に画定される内部範囲Ｒ２（破線で画定された範囲）であって、集光レンズ１１に汚損等の異常がないときの試験用光源２２の試験光を受光部７の受光素子７ａが受光する受光量が、集光レンズ１１に汚損等の異常があるときの試験用光源２２の試験光を受光部７の受光素子７ａが非散乱光の状態で受光する受光量と散乱光の状態で受光する受光量との合計以上になる内部範囲Ｒ２の外の位置に試験用光源２２を設ける構成態様としたものである。
【００５２】
この構成態様によっても、集光レンズ１１に汚損等がなく、受光部７の受光素子７ａの受光感度に低下がない場合の試験用光源２２の試験光の受光部７の受光素子７ａの受光量よりも、集光レンズ１１に汚損等があり、受光部７の受光素子７ａの受光感度に低下がある場合の試験用光源２２の試験光の受光部７の受光素子７ａへの受光量の方が多くなるようにすることができ、集光レンズ１１に汚損等の異常がない場合と汚損等の異常がある場合との間で増加する受光部７の受光素子７ａの受光量に基いて、受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を判別することが可能となる。
【００５３】
ここで、受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１内に画定される内部範囲Ｒ２は、集光レンズ１１に汚損等の異常がないときの試験用光源２２からの試験光を受光部７の受光素子７ａが受光する受光量を（Ａ０）とし、集光レンズ１１に汚損等の異常があるときの試験用光源２２からの試験光を受光部７の受光素子７ａが非散乱光の状態で受光する受光量を（Ａ１）とし、散乱光の状態で受光する受光量を（Ｂ１）とした場合に、Ａ０≧Ａ１＋Ｂ１の関係式が成立する視野範囲と言い換えることができる。
【００５４】
つまり、集光レンズ１１に汚損等の異常がないときの試験用光源２２からの試験光を受光部７の受光素子７ａが受光する受光量（Ａ０）は、試験用光源２２が受光部７の受光素子７ａの視野範囲Ｒ１内において受光素子７ａの真正面の位置に設けられているときに最大となり、試験用光源２２の位置が横にずれていくに従って徐々に減少していくこととなるが（第１乃至３実施形態の試験用光源２２の位置の場合、受光量（Ａ０）は０であり、視野範囲Ｒ１の境界位置は、受光量（Ａ０）が０になる位置である。）、集光レンズ１１に汚損等の異常があると、試験用光源２２の位置が横にずれていくに従って、試験用光源２２からの試験光を非散乱光（直接入射光）として受光部７の受光素子７ａが受光する受光量（Ａ１）は徐々に減少していく一方で、試験用光源２２からの試験光を散乱光として受光部７の受光素子７ａが受光する受光量（Ｂ１）は徐々に増加していくこととなり、ある位置で集光レンズ１１に汚損等の異常がないとときの受光量（Ａ０）が集光レンズ１１に汚損等の異常のあるときの受光量（Ａ１）と受光量（Ｂ１）の合計と等しくなる。その位置が内部範囲Ｒ２の境界位置であり、内部範囲Ｒ２の範囲内であれば、前記の関係式、Ａ０≧Ａ１＋Ｂ１が成立し、内部範囲Ｒ２の境界位置を超えると、即ち、内部範囲Ｒ２の外側になると、集光レンズ１１に汚損等の異常がないとときの受光量（Ａ０）よりも集光レンズ１１に汚損等の異常のあるときの受光量（Ａ１）と受光量（Ｂ１）の合計（軌跡ＴＢ１の試験光がそのまま受光素子７ａに入射し受光される量と、集光レンズ１１で散乱して軌跡ＴＢ３として受光素子７ａに入射し受光される量の合計）の方が多くなり、関係式、Ａ０＜Ａ１＋Ｂ１が成立し、集光レンズ１１に汚損等の異常がない場合と汚損等の異常がある場合との間で増加する受光量の信号強度に基づいて、集光レンズ１１の汚損等の異常による受光部７の受光素子７ａの受光感度の低下を判別することが可能となる。
【００５５】
尚、試験用光源２２からの試験光を散乱光として受光部７の受光素子７ａが受光する受光量（Ｂ１）が試験用光源２２の位置の違いに従って変化しない場合でも、集光レンズ１１に汚損等の異常がないとときの受光量（Ａ０）は変化するので、視野範囲Ｒ１内であっても、Ａ０＜Ａ１＋Ｂ１の関係式が成立する位置は存在することとなる。
【００５６】
尚、本発明によって検出できる異常として汚損の他に集光レンズ１１のひび割れ等の破損や虫の侵入等が考えられる。
【符号の説明】
【００５７】
１：煙感知器  ２：煙検出ユニット  ２ａ：暗箱  ３：ファン  ４：流入部
５：導入路  ６：発光部  ６ａ：発光素子  ７：受光部  ７ａ：受光素子
７ｂ：受光窓  ７ｃ：遮蔽壁  ８：電源部  ９：制御部
１０：集光レンズ（発光部側）  １１：集光レンズ（受光部側）
１２：検煙部  １３：遮光部  １４：光トラップ  １５〜１６：アパーチャ
１７：流路分岐部  １８：還流路  １９：流路合流部  ２０：フィルタ
２１：エアフローセンサ  ２２：試験用光源  ＳＡ：サンプリングエア
ＬＢ：光線軌跡  Ｒ１：視野範囲  Ｒ２：内部範囲  ＲＦ：反射面
ＴＢ１〜ＴＢ３：光線軌跡
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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