(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得手段と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、に基づいて、前記撮影光源の状態を判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記撮影光源の状態を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする眼科装置。
【請求項２】
前記表示制御手段は、前記撮影光源の状態を示す表示形態を選択して前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記撮影光源の発光時間は、発光の開始から前記光量検知手段が検知した光量が所定の光量に達するまでの時間であることを特徴とする請求項１又は２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記表示制御手段は、前記評価値に応じて前記撮影光源の劣化を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記評価値、及び被検眼を撮影する複数の撮影モードのうち自発蛍光撮影モードが選択されたこと、に応じて前記自発蛍光撮影を禁止する撮影禁止手段を有し、
前記表示制御手段が、前記自発蛍光撮影の禁止を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記撮影光源の発光毎に該撮影光源の発光時間を記録手段に記録させる記録制御手段と、
前記撮影光源の発光時間に基づいて該撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度を検出する検出手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項７】
前記光量検知手段が検知した光量が所定の光量に達した場合に、前記撮影光源の発光を停止する撮影光源の制御手段を有することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項８】
観察用光源と、
前記撮影光源からの光を照射した被検眼からの戻り光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光結果に基づいて、前記所定の光量を決定する光量決定手段と、
を有することを特徴とする請求項７に記載の眼科装置。
【請求項９】
前記判定手段は、前記撮影光源の発光毎に該撮影光源の発光時間を記録手段に記録させる記録制御手段と、前記撮影光源の発光時間に基づいて該撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度を検出する検出手段と、を有し、
前記検出手段は、前記撮影光源の発光開始から基準時間までの間に前記光量検知手段が測定した前記光量を撮影毎に前記評価値として記録しており、前記評価値に基づいて前記劣化度を検出することを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項１０】
前記判定手段は、前記撮影光源の発光毎に該撮影光源の発光時間を記録手段に記録させる記録制御手段と、前記撮影光源の発光時間に基づいて該撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度を検出する検出手段と、を有し、
前記検出手段は、前記撮影光源の発光開始から基準光量に達するまでの時間を撮影毎に前記評価値として記録しており、前記評価値に基づいて前記劣化度を検出することを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項１１】
前記撮影光源の発光時間と前記光量検知手段の光量検知結果との関係から、前記撮影光源の不発光を検出する、不発光検出手段を有することを特徴とする請求項１乃至１０の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１２】
前記撮影光源の発光の開始から、基準時間までの間に撮影光量が基準光量に達しない場合、撮影光源が前記不発光を起こしていると判定する不発光判定手段を有することを特徴とする請求項１１に記載の眼科装置。
【請求項１３】
前記不発光の検出時に撮影が失敗したことを操作者に通知する失敗通知手段を有することを特徴とする請求項１１又は１２に記載の眼科装置。
【請求項１４】
前記不発光の記録と、前記撮影光源の発光時間に基づいた該撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度とから、前記撮影光源の劣化状態を判定する劣化状態判定手段を有することを特徴とする請求項１１乃至１３の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１５】
前記判定される状態は、前記撮影光源が自発蛍光撮影を可能であるか否かを含むことを特徴とする請求項１乃至１４の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１６】
前記判定される状態は、前記撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度であることを特徴とする請求項１乃至１４の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１７】
前記判定手段は、前記評価値と過去に取得した複数の前記評価値とに基づいて前記撮影光源の状態を判定することを特徴とする請求項１乃至１６の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１８】
前記撮影光源はカラー撮影時にも発光し、
前記自発蛍光撮影時に必要な光量は、前記カラー撮影時に必要な光量よりも大きいことを特徴とする請求項１乃至１７の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項１９】
前記判定手段は、前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、を比較することにより、前記撮影光源の状態を判定することを特徴とする請求項１乃至１８の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項２０】
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得手段と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、を比較する比較手段と、
前記評価値が前記基準評価値より低い場合は、撮影失敗を示す表示を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする眼科装置。
【請求項２１】
撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得手段と、
前記取得された評価値に基づき、前記撮影光源が不発光を起こしていると判定する不発光判定手段と、
前記不発光判定手段の判定結果により、所定回数以上、不発光と判定された場合には、光源の交換を促す表示を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする眼科装置。
【請求項２２】
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源からの光の光量を検知する光量検知工程と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知工程により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得工程と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、に基づいて、前記撮影光源の状態を判定する判定工程と、
前記判定工程での判定結果に基づいて、前記撮影光源の状態を表示手段に表示させる表示工程と、
を有することを特徴とする眼科装置の制御方法。
【請求項２３】
前記表示工程において、前記撮影光源の劣化状態の段階を示す状態を示す表示形態を選択して前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項２２に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項２４】
前記判定される状態は、前記撮影光源が自発蛍光撮影を可能であるか否かを含むことを特徴とする請求項２２に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項２５】
前記判定される状態は、前記撮影光源の劣化状態の段階を示す劣化度であることを特徴とする請求項２２に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項２６】
前記判定工程において、前記評価値と過去に取得した複数の前記評価値とに基づいて前記撮影光源の状態を判定することを特徴とする請求項２２に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項２７】
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源からの光の光量を検知する光量検知工程と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知工程により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得工程と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、を比較する比較工程と、
前記評価値が前記基準評価値より低い場合は、撮影失敗を示す表示を表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする眼科装置の制御方法。
【請求項２８】
撮影光源からの光の光量を検知する光量検知工程と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知工程により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得工程と、
前記取得された評価値に基づき、前記撮影光源が不発光を起こしていると判定する不発光判定工程と、
前記不発光判定工程の判定結果により、所定回数以上、不発光と判定された場合には、光源の交換を促す表示を表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする眼科装置の制御方法。
【請求項２９】
請求項２２乃至２８の何れか一項に記載の眼科装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の撮影時に撮影光量の制御を行う眼科装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の眼底カメラなどの眼科装置では被検眼の眼底を撮影するための光源に、キセノン管等の光源を使用している。このような光源を撮影光源とする場合は一般的に、撮影時、撮影光の一部をフォトダイオード等の受光素子で受光し、受光素子からの出力をオペアンプとコンデンサにより構成される積分回路により積分を行う。積分回路からの出力と基準電圧を比較し基準電圧以上になった場合に発光を停止させることで光量が一定値になるように制御している。
【０００３】
また、上記のような光源は、一般的に経時劣化することが知られている。劣化は、撮影時の不発光や、劣化前と同じ電流、電圧を印加しているにも関わらず光量が低下してしまう光量劣化という形で顕在化する。不発光は撮影失敗を引き起こし、経時使用でその頻度が増加する。光量劣化は、一度劣化すると経時使用でその後も劣化を続け、大光量が必要な撮影（自発蛍光撮影等）ができなくなってしまう。
【０００４】
その対策として、撮影毎に発光開始から発光停止までの発光エネルギーを計測する手段を有し、その積算エネルギー、つまり光源がどれだけ使用されたかというデータから、光源の劣化状態を検出するものが知られている。（特許文献１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平６−４７０００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１のような装置には、積算発光エネルギーに対する、光源の劣化状態を示す正確なモデルが必要となる。しかしながら、一般的にキセノン管等の発光光源は、製造工程上、その品質に大きなばらつきがあることが知られている。また、光源の劣化状態は発光エネルギー以外にも、未使用時の経時変化、保管、使用環境等、様々な要因に左右される複雑系であり、発光エネルギーのみから劣化状態を予測可能な、正確な劣化モデルを作成することは非常に困難であると考えられる。
【０００７】
モデルから予測される劣化状態と実際の状態に相違がある場合、検出が行われずに機能自体に意味がなくなるだけでなく、劣化していないにも関わらず劣化していると判定され、使用者が光源を新しいものに交換してしまう等、悪影響を及ぼす可能性さえある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る眼科装置は、
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量を評価値として取得する取得手段と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、に基づいて、前記撮影光源の状態を判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記撮影光源の状態を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、上記課題を解決するために、本発明に係る眼科装置の制御方法は、
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源からの光の光量を検知する光量検知工程と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知工程により検知された前記光量を評価値として取得する取得工程と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、に基づいて、前記撮影光源の状態を判定する判定工程と、
前記判定工程での判定結果に基づいて、前記撮影光源の状態を表示手段に表示させる表示工程と、
を有することを特徴とする。
また、上記課題を解決するために、本発明に係る眼科装置は、
自発蛍光撮影時に発光する撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得手段と、
前記取得された評価値と、前記自発蛍光撮影時に必要な光量と関連した基準評価値と、を比較する比較手段と、
前記評価値が前記基準評価値より低い場合は、撮影失敗を示す表示を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、上記課題を解決するために、本発明に係る眼科装置は、
撮影光源と、
前記撮影光源からの光の光量を検知する光量検知手段と、
前記撮影光源の発光時間が所定の発光時間に達している際に、前記光量検知手段により検知された前記光量と関連した評価値を取得する取得手段と、
前記取得された評価値に基づき、前記撮影光源が不発光を起こしていると判定する不発光判定手段と、
前記不発光判定手段の判定結果により、過去に所定回数以上、不発光と判定された場合には、光源の交換を促す表示を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする
【発明の効果】
【０００９】
本発明の眼科装置は、撮影光量と発光時間の関係を、光源の劣化状態を示すデータとして蓄積し、その経時変化から光源の劣化状態を評価する。劣化状態を撮影毎に実測することになるため、上記（特許文献１）のような装置で行う劣化状態予測において、誤差要因であった光源自体の個体差、未使用時の経年劣化、保管、使用環境による劣化の違い等に影響されず、光源の劣化状態を知ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】眼底カメラの構成図
【図２】キセノン管駆動回路と光量検出部の電気回路図
【図３】発光時間、積分回路出力と劣化評価値の関係（実施例１）
【図４】正常時、及び不発光時の積分回路出力電圧波形
【図５】光源劣化状態判定チャート（実施例１）
【図６】撮影フローチャート
【図７】発光時間、積分回路出力と劣化評価値の関係（実施例２）
【図８】光源劣化状態判定チャート（実施例２）
【発明を実施するための形態】
【００１１】
［実施例１］
本発明を図１〜図7に図示の一実施例に基づいて詳細に説明する。
図１は、実施例における眼底カメラの構成図を示している。該眼底カメラは、赤外観察用光源の赤外ＬＥＤ１、可視光を発光する撮影用光源キセノン管３、赤外ＬＥＤ１の先にリング状の開口を有する絞り２、キセノン管３の先にリング状の開口を有する絞り４および、赤外光を透過し可視光を反射するダイクロイックミラー５を有する。これらは、キセノン管３から対物レンズ１０にいたる光路上にこの記載順序で配置される。ダイクロイックミラー５の先には、リレーレンズ６、ミラー７、リレーレンズ８、孔あきミラー９が順次に配列され、眼底照明光学系Ｏ１を構成する。絞り４とダイクロイックミラー９の間には自発蛍光撮影用の励起フィルタ４８が配置されており、不図示の駆動系により光軸外に退避可能でカラー撮影時は光軸外に退避させる。なお、該キセノン管３は、本発明における撮影光源に対応する。
【００１２】
ミラー７の反射方向には、絞り１１、レンズ１２、合焦用指標１３、合焦用指標光源である赤外ＬＥＤ１４が配置されており、合焦用指標投影光学系Ｏ３を構成する。
また合焦用指標投影光学系Ｏ３は、合焦レンズ１５と連動して図中Ａの方向へ動く。静止画撮影時には、不図示の駆動系により図中Ｂの方向へ動き照明光学系Ｏ１上から退避される。
【００１３】
孔あきミラー９の透過方向の光路上には、合焦レンズ１５、撮影レンズ１６、撮像手段１７が配列され、眼底撮影光学系Ｏ２を構成しており撮像手段１７の出力は画像信号処理部１９、表示器２０へ順次接続されている。孔あきミラー９には光ファイバ２１を通じて位置合わせ指標用光源である赤外ＬＥＤ２２が接続されている。孔あきミラー９と合焦レンズ１５の間には自発蛍光撮影用の阻止フィルタ４９が配置されており不図示の駆動系により光軸外に退避可能でカラー撮影時は光軸外に退避させる。
【００１４】
キセノン管３の後方に光量検出部２８が配置され、絞り２７を通じてキセノン管３からの発光光束の一部が受光可能である。
【００１５】
赤外ＬＥＤ１はＬＥＤ駆動回路２３へ、撮影用キセノン管３はキセノン管駆動回路２４へ、赤外発光ＬＥＤ１４はＬＥＤ駆動回路２５へ、赤外ＬＥＤ２２はＬＥＤ駆動回路２６へとそれぞれ接続されている。ＬＥＤ駆動回路２３、キセノン管駆動回路２４、ＬＥＤ駆動回路２５、ＬＥＤ駆動回路２６、光量検出部２８、撮像手段１７、画像信号処理部１９、操作部３０、記録部３１、メモリ４７はＣＰＵ２９へ接続されている。
【００１６】
また、撮像手段１７の各画素上にはＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３色のモザイク状に配置されたフィルタ１８が配置されておりＲのフィルタは赤から赤外光を透過可能である。各画素はＲ、Ｇ、Ｂのいずれかの光に感度を有し、さらにＲの画素は赤外光にも感度を有する。
【００１７】
赤外観察時、画像信号処理部１９はＲの画素の出力を用いてモノクロの動画データを生成し表示部２０に動画を出力する。またカラー撮影時、画像信号処理部１９はＲ、Ｇ、Ｂの各画素の出力を用いてカラー静止画を生成し、自発蛍光撮影時は、画像信号処理部１９はＲ、Ｇ、Ｂの各画素の出力を用いて画像処理によりモノクロ静止画を生成しＣＰＵ２９を介して記録部３１に記録する。
【００１８】
図２はキセノン管駆動回路２４と光量検出部２８の電気回路の構成図である。キセノン管駆動回路２４はＩＧＢＴ３２、メインコンデンサ３５、電源３６、抵抗３７、トリガー用コンデンサ３４、トリガートランス３３により構成されており、メインコンデンサ３５は電源３６により高電圧（例えば３００Ｖ）に充電されている。トリガー用コンデンサ３４も抵抗３７を通じて充電されている。この回路構成でＣＰＵ２９がＸｅ＿ＯＮ信号をＨｉとするとＩＧＢＴ３２がＯＮし、まずトリガー用コンデンサ３４の電荷が放電されトリガートランス３３の左側の巻線に電流が流れることで右側の巻線に高電圧が発生しキセノン管３にトリガーがかかる。また、メインコンデンサ３５からキセノン管３に電流が流れることでキセノン管３の発光が開始される。発光開始後ＣＰＵ２９がＸｅ＿ＯＮ信号をＬｏｗにするとＩＧＢＴ３２がＯＦＦしキセノン管３の電流が遮断され発光が停止する。
【００１９】
光量検出部２８にはフォトダイオード３９、積分コンデンサ４０、リセット抵抗４１、アナログスイッチ４２、オペアンプ４３からなる積分回路が構成されている。当該光量検出部２８は、本発明において撮影光源から照射される撮影光の撮影光量を測定する光量検知手段を構成する。ＣＰＵ２９がアナログスイッチ４２をオンにするとリセット抵抗４１を通じて積分コンデンサの電荷をリセットすることができる。
【００２０】
Ｄ/Ａコンバータ４４はキセノン管３の発光停止の基準電圧と積分コンデンサ４０をリセットする基準電圧を出力する。基準電圧を出力するＤ/Ａコンバータ４４等の構成は、本発明において撮影時に被検眼に照射する撮影光の目標値となる撮影光量目標値を設定する撮影光量設定手段に対応する。この出力はオペアンプ４３の出力とともにコンパレータ４６の入力に接続されており、積分回路の出力電圧とＤ/Ａコンバータ４４の出力電圧の比較が可能である。
【００２１】
コンパレータ４６の出力はＣＰＵ２９に接続させており、積分回路の出力電圧がＤ/Ａコンバータ４４の出力電圧より低い場合はコンパレータ４６からはＨｉが出力され逆の場合はＬｏｗが出力される。このコンパレータ４６は、以上の操作により撮影光源の発光時間を制御することによって実際の撮影光量と撮影光量目標値とが等しくなるように撮影光量を制御する、本発明における撮影光量制御手段として機能する。
【００２２】
図３（Ａ）は発光時間に対する積分回路出力電圧（光電流積分値）を、光源劣化前撮影と光源劣化後撮影についてプロットしたグラフである。劣化後の光源を表す例として、装置の使用時間が時間Ｔd経過した状態について示している。本例での時間Ｔｄは光源の劣化を使用者が認識する年単位の時間である。ＣＰＵ２９はＡ/Ｄコンバータ４５を介して積分回路出力電圧を取得する。ここで、発光開始から、基準時間ｔb経過後の積分回路の出力電圧を、光量検知手段が測定した評価値あるいは劣化評価値とする。光源が劣化していない初期状態での劣化評価値Ｖiに対し、経年使用により光量が低下した場合の劣化評価値はＶｄのように低い値をとることとなる。ＣＰＵ２９は撮影毎に取得した積分回路出力電圧から、劣化評価値を算出し、メモリ４７に格納する。撮影光源光量は発光時間により制御されるため、撮影時の光量設定によっては基準時間ｔbに達する前に発光を停止し、劣化評価値が収集できない可能性があるが、その場合のデータは無視する。実施例において基準電圧ｔbは、通常の発光時間に対して十分短く、発光も安定しているｔb＝２ｍｓを設定している。
【００２３】
図３（Ｂ）は装置の積算使用時間に対する、劣化評価値の経時変化のプロットである。メモリ４７に格納されるこの値は、経年使用による光源劣化に伴い、初期値であるＶiに対して下降していく。ここで装置には、あらかじめ基準劣化評価値Ｖfafが定められている。Ｖfafは、装置の最大発光光量である自発蛍光撮影時光量に、フル発光でぎりぎり到達可能な劣化状態の劣化評価値に＋５％のマージンを加えた値である。劣化評価値がこの値を下回り、さらにマージン分劣化すると、光源から自発蛍光撮影に必要な発光性能が失われたという事となる。また、装置には劣化評価基準値としてＶchgが定められている。Ｖchgは、カラー撮影モードのＭＡＸ撮影光量が出せる、限界劣化状態の劣化評価値に＋５％のマージンを加えたものである。自発蛍光撮影に対し、カラー撮影に必要な発光性能は十分低いため、Ｖfaf＞Ｖchgの関係が成り立つ。
【００２４】
図４は発光時間に対する、正常時、不発光時の積分回路出力電圧である。ＶrefはＤ/Ａコンバータ４４の出力であり、積分回路出力電圧がＶrefを上回ると、ＩＧＢＴ３２がＯＦＦし発光が停止する。また、キセノン管３について制御による発光停止を行わない場合（フル発光）の発光時間は約１５ｍｓであり、発光停止しなければ出力電圧は約１５ｍｓで一定となる。ここで、装置にはフル発光時間より長い不発光検知時間ｔeがあらかじめ定められている。発光開始からｔe経過後もコンパレータ４６がＬｏｗを出力しない場合、ＣＰＵ２９はその撮影を不発光と判定し、表示部２０に不発光による撮影失敗を表示する。また、ＣＵＰ２９はメモリ４７に不発光を記録する。
【００２５】
以上の光源発光時間と光量検知結果との関係を時間-光量記録として記録するメモリ４７、およびこの時間-光量記録の変化から撮影光源の劣化度（後述）を検出するＣＰＵ２９内のモジュール領域は、本発明における検出手段を構成する。この経年劣化度は、前述した評価値に基づいて判定される。また、前述した不発光の判定は、不発光検出出手段として機能するモジュール領域により実行される。
【００２６】
図５は、実施例１における劣化評価値、及び不発光検知結果を元に、光源の劣化状態を判定するフローチャートである。ＣＰＵ２９は撮影毎に劣化評価値を算出し、メモリ４７から過去の劣化評価値と、不発光の情報を読み出し、図５の判定チャートに沿って劣化状態を判定する。劣化状態にはＳｔａｔｅ１〜Ｓｔａｔｅ５までの五段階があり、装置はそれぞれの光源劣化状態に対応して、特定撮影モードの禁止や、表示部２０への警告表示を行う。このような劣化状態は、本発明において撮影光源の劣化度として規定する。本発明では、このように検知された撮影光源からの光量と撮影光源の発光時間とに基づいて撮影光源の状態を判定し、その判定結果を後述する種々の態様にて使用者に報知している。この判定はＣＰＵ２９内にて判定手段として機能するモジュール領域により実行される。この判定手段は、撮影光源の発光毎にその発光時間をメモリ４７に対して記録させておく記録制御手段としてのモジュール領域も包含する。また、本発明では、この判定手段により判定された判定結果により撮影光源の状態を得ることとしている。得られた状態は、例えばキセノン管の発光時間の積算値、キセノン管の交換の要否、交換までに可能な発光回数等、効果的な表示形態を選択し、これを表示手段である表示部２０に表示させている。これら表示形態には、キセノン管の交換メッセージ等の他に「自発蛍光撮影の場合には必要な光量が得られない」等のメッセージも含まれるが、この選択及び表示手段への指令は、ＣＰＵ２９において表示制御手段として機能するモジュール領域により実行される。
また、これら表示手段等は、その態様をより明確に規定した場合には、警告表示を実行する表示部２０は劣化度通知手段に、撮影を禁止するモジュール領域は撮影禁止手段に各々対応する。
【００２７】
劣化判定ステップ全てをクリアする場合、劣化状態はＳｔａｔｅ１：劣化なしとして警告表示や撮影禁止等は行わない。
【００２８】
ステップ５０４の条件、最新の劣化評価値がＶfafを下回る、に該当する場合、Ｓｔａｔｅ２：それ以上光量劣化した場合に自発蛍光撮影が行えなくなる状態、すなわち自発蛍光撮影モードが選択されても当該モードの実行が出来ないと判定する。ＣＰＵ２９は、光源を交換せずに継続使用した場合、自発蛍光撮影が行えなくなる旨を表示部２０に表示し、警告する。
【００２９】
ステップ５０３の条件、過去５回の劣化評価値が不発光もしくはＶfafを下回るのどちらかである、に該当する場合。Ｓｔａｔｅ３：安定して自発蛍光撮影モードが行えなくなっている状態、と判定する。ＣＰＵ２９は、光源劣化のため自発蛍光撮影モードが行えない旨を表示部２０に表示し、モード選択時に自発蛍光撮影が選択できないよう、撮影禁止手段による制御を実行する。また、この場合には、前述した表示制御手段により表示部２０に対して自発蛍光撮影の禁止を示す表示形態の表示を行わせる。
【００３０】
ステップ５０２の条件、最新の劣化評価値がＶchgを下回る、に該当する場合、Ｓｔａｔｅ４：自発蛍光撮影だけでなく、さらに劣化が進行した場合にはカラー撮影が行えなくなる状態、と判定する。ＣＰＵ２９は、自発蛍光撮影が行えない旨と、光源交換なしに継続使用した場合、カラー撮影に不具合を生じる事を表示部２０に表示し、さらに自発蛍光撮影が選択できないようにする。
【００３１】
さらにステップ５０１の条件、過去５回の劣化評価値が不発光もしくはＶchgを下回るのどちらかである、に該当する場合。Ｓｔａｔｅ５：光源劣化が非常に進行し、安定した撮影が行えなくなっている状態、と判定する。ＣＰＵ２９は、光源劣化のため撮影画像品質が保証できない旨と、光源の交換を促す表示を表示部２０に表示する。
【００３２】
実施例での実施はないが、例えば光源劣化表示のタイミングは、あらかじめ定められた基準値Ｖfaf、Ｖchgを下回った時でなく、メモリ４７に格納された劣化評価値の蓄積と劣化予測式による予測に従う等の方法により定めてもよい。また、本装置はカラー撮影、自発蛍光撮影が可能であるが、その他特殊撮影モードを持つ眼科撮影装置であれば、上記Ｖfafと同様に、撮影モード特有の劣化評価値を設け、其々の撮影モード個別に劣化影響を表示、または撮影禁止を行ってもよい。また、光量に対する複数のパラメータ、例えばＩＳＯ感度に応じて光量を調整するような眼科撮影装置の場合、各ＩＳＯ感度の劣化状態に対する撮影可否を判定し、警告表示、撮影禁止等を行ってもよい。
【００３３】
図６は撮影の流れを示すフローチャートである。図６を使用して、撮影の流れについて説明する。
撮影前に、ステップ６０１では、ＣＰＵ２９がメモリ４７より劣化評価値と不発光記録を読み出し、光源劣化状態の判定を行う。
【００３４】
Ｓｔａｔｅ１：劣化なしの場合はステップ６０６にする。
【００３５】
Ｓｔａｔｅ２の場合は、光源劣化により、継続使用すると自発蛍光が撮影できなくなる旨を表示部２０に表示し、ステップ６０６、撮影モード選択に移行する。
【００３６】
Ｓｔａｔｅ３の場合は、光源劣化により、自発蛍光が撮影できなくなった旨を表示部２０に表示し、ステップ６０６をスキップしてステップ６０７に移行する。
【００３７】
Ｓｔａｔｅ４の場合は、光源劣化により、自発蛍光が撮影できなくなった旨、及びこれ以上の継続使用により、カラー撮影に支障をきたす可能性がある旨を表示部２０に表示し、ステップ６０６をスキップしてステップ６０７に移行する。
【００３８】
Ｓｔａｔｅ５の場合は、光源劣化が進行し、撮影画像の品質保証ができないため、撮影光源の交換を促す警告を表示部２０に表示し、ステップ６０６をスキップしてステップ６０７に移行する。
【００３９】
ステップ６０６には自発蛍光撮影可能なＳｔａｔｅ１、２の場合のみ移行する。ステップ６０６では、操作者は操作部３０のモードＳＷ（不図示）を操作しカラー撮影か自発蛍光撮影を選択する。カラー撮影が選択された場合は自発蛍光撮影用の励起フィルタ４８を光軸から退避させる。
【００４０】
ステップ６０７では操作部３０の光量調整ＳＷ（不図示）を操作し撮影時の光量調整値を設定する。ＣＰＵ２９は設定された撮影モードと光量補正値から発光光量を計算し、Ｄ/Ａコンバータ４４を介してコンパレータ４６に基準電圧Ｖrefを設定する。この光量調整スイッチも撮影光量設定手段の一部を構成する。
【００４１】
次に表示部２０上の表示された赤外観察用光源の赤外ＬＥＤ１により照明された被検眼Ｅの眼底像と、位置合わせ指標用光源の赤外ＬＥＤ２２により被検眼Ｅの角膜に投影された位置合わせ指標像により眼底カメラと被検眼Ｅのアライメントを行う。更に、合焦用指標光源の赤外ＬＥＤ１４の指標像によりピント合わせを行う。アライメントとピント合わせが完了すると操作者は操作部３０の撮影ＳＷ（不図示）を押し撮影を開始させる（ステップ６０８）。赤外観察モードから静止画撮影モードに移行するために、ＣＰＵ２９は赤外ＬＥＤ１、赤外ＬＥＤ２２、赤外ＬＥＤ１４を消灯させる。合焦用指標投影光学系Ｏ２を照明光学系Ｏ１の光軸上から退避させる、自発蛍光撮影が選択されている場合は自発蛍光撮影用の阻止フィルタ４９を光軸内に挿入する。
【００４２】
ステップ６０８ではＣＰＵ２９はアナログＳＷ４４をＯＦＦにし積分回路のリセットを解除し、ステップ７ではＣＰＵ２９はＸｅ＿ＯＮ信号をＨｉにしＩＧＢＴ３２がＯＮすることでキセノン管３にトリガーがかかり発光が開始される。
【００４３】
ステップ６０９ではＣＰＵ２９はコンパレータ４６の出力がＬｏｗになるまで待つ。発光開始から不発光検出時間ｔe経過後にもコンパレータ４６の出力がＬｏｗにならない場合、ステップ６１０の発光停止後に、ステップ６１２が挿入される。ステップ６１２ではＣＰＵ２９は表示部２０に不発光が発生し、撮影が失敗した旨を表示する。またステップ６１１の撮影静止画像保存の後にステップ６１３が挿入される。ステップ６１３では、ＣＰＵ２９が撮影不発光をメモリ４７に記録する。
【００４４】
ステップ６０９に話を戻すと、コンパレータ４６の出力がＬｏｗ、もしくは発光開始から不発光検出時間ｔe経過するとステップ６１０に移行し、ＣＰＵ２９はＸｅ＿ＯＮ信号をＬｏｗにしてＩＧＢＴ３２をＯＦＦにしてキセノン管３の発光を停止させる。
【００４５】
その後、ステップ６１１では撮像手段１７の出力から画像信号処理部１９が撮影モードに応じた静止画を生成し記録部３１に保存し、ステップ６１４に移行する。
ステップ６１４では、ＣＰＵ２９はＡ/Ｄコンバータ４５からの出力を元に、劣化評価値を計算し、メモリ４７に格納する。
【００４６】
［実施例２］
実施例２は劣化評価値の算出と、劣化状態の判定のみ実施例１と異なるため、その他部分の説明は割愛する。
【００４７】
図７（Ａ）は発光時間に対する積分回路出力電圧（光電流積分値）を、光源劣化前撮影と光源劣化後撮影についてプロットしたグラフである。劣化後の光源を表す例として、装置の使用時間が時間Ｔd経過した状態について示している。ＣＰＵ２９は積分回路出力電圧を取得する。ここで、発光開始から、積分回路の出力が評価基準電圧Ｖｂに達するまでの時間を劣化評価値とする。光源が劣化していない初期状態での劣化評価値ｔiに対し、経年使用により光量が低下した場合の劣化評価値はｔdのように長くなる。ＣＵＰ２９は撮影毎に、取得した積分回路出力電圧から、劣化評価値を算出し、メモリ４７に格納する。撮影光源は、撮影前に設定された目標撮影光量に達した時点で発光が停止されるため、目標撮影光量によっては基準電圧Ｖｂに達する前に発光を停止し、劣化評価値が収集できない可能性があるが、その場合のデータは無視する。ただし、基準電圧Ｖbを低く設定することでそのような状況は極力回避している。
【００４８】
図７（Ｂ）は装置の積算使用時間に対する、劣化評価値の経時変化のプロットである。メモリ４７に格納されるこの値は、経年使用による光源劣化に伴い、初期値であるｔiに対して長くなっていく。ここで装置には、あらかじめ基準劣化評価値ｔfafが定められている。ｔfafは、装置の最大発光光量である自発蛍光撮影時光量に、フル発光でぎりぎり到達可能な劣化状態の劣化評価値に、５％のマージンもった値である。劣化評価値がこの値を上回り、さらにマージン分劣化すると、光源から自発蛍光撮影に必要な発光性能が失われたという事となる。また、装置には劣化評価基準値としてｔchgが定められている。ｔchgは、カラー撮影モードのＭＡＸ撮影光量が出せる限界劣化状態の劣化評価値に、５％のマージンをもった値である。自発蛍光撮影に対し、カラー撮影に必要な発光性能は十分低いため、ｔchg＞ｔfafの関係が成り立つ。
【００４９】
図８は、実施例１における劣化評価値、及び不発光検知結果を元に、光源の劣化状態を判定するフローチャートである。ＣＰＵ２９は図５の判定チャートに沿って劣化状態を判定する。劣化判定ステップ全てをクリアする場合、劣化状態はＳｔａｔｅ１：劣化なしとして警告表示や撮影禁止等は行わない。
【００５０】
ステップ８０４の条件、最新の劣化評価値がｔfafを上回る、に該当する場合、Ｓｔａｔｅ２：それ以上光量劣化した場合に自発蛍光撮影が行えなくなる状態、と判定する。
【００５１】
ステップ８０３の条件、過去５回の劣化評価値が不発光もしくはｔfaf上回るの、どちらかである、に該当する場合。Ｓｔａｔｅ３：安定して自発蛍光撮影が行えなくなっている状態、と判定する。
【００５２】
ステップ８０２の条件、最新の劣化評価値がｔchgを上回る、に該当する場合、Ｓｔａｔｅ４：自発蛍光撮影だけでなく、さらに劣化が進行した場合にはカラー撮影が行えなくなる状態、と判定する。
【００５３】
さらにステップ８０１の条件、過去５回の劣化評価値が不発光もしくはｔchgを上回る、のどちらかである、に該当する場合。Ｓｔａｔｅ５：光源劣化が非常に進行し、安定した撮影が行えなくなっている状態、と判定する。
【００５４】
即ち、本実施例では、光源劣化検出手段が、撮影光源の発光開始から基準光量に達するまでの時間を撮影ごとに記録して、これを評価値といて用い且つ当該評価値に基づいて経年劣化度の判定を行っている。また、この場合、コンパレータ４６は、基準時間内に撮影光量が基準光量に達しないことから撮影光源が不発光を起こしていることを判定する不発光判定手段を構成する。また、この不発光によって撮影が失敗であってことの操作者への通知は、本発明において失敗通知手段を構成する表示部２０により実行される。更に本実施例においては、撮影光源の劣化状態は、光源劣化度に加えてこの不発光状態も加味し、ＣＰＵ２９において劣化状態判定手段として機能するモジュール領域によって判例される。
【００５５】
なお、上述した実施例１および２で示した構成では、キセノン管からの撮影光の光量を直接測定する態様としている。しかし、このキセノン管からの撮影光が被検眼に照射され且つ反射させて得られる戻り光に基づいてキセノン管より得る撮影光量を決定することとしても良い。この場合、上述した構成に加え、該戻り光を受光する受光手段と、該受光手段の受光結果より戻り光の光量を検知して更に撮影光源からの光の光量を決定する光量決定手段を配することにより当該態様が得られる。
上述した実施例１および２に示した構成は本発明を具現化した形態を例示するものであって、同等の機能を有する公知の代替手段によっても構築可能である。
【００５６】
［その他の実施例］
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００５７】
３    キセノン管
２０  表示部
２４  キセノン管駆動回路
２８  光量検出部
２９  ＣＰＵ
３０  操作部
３２  ＩＧＢＴ
３９  フォトダイオード
４０  積分コンデンサ
４３  オペアンプ
４４  Ｄ／Ａコンバータ
４５  Ａ／Ｄコンバータ
４６  コンパレータ
４７  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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