(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定された光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に前記光ファイバを接続する光コネクタについての接続損失を測定するために、前記光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を前記光コネクタの接続面に対向させて取り付け、取り付けた前記光コネクタを前記遮光治具を介して前記接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、
前記光強度測定装置が、前記光コネクタを前記光モジュールと接続した際の接続損失を求めるのに使用するために、前記光コネクタで光路変換された光を前記遮光治具の前記貫通孔を介して前記受光部で受光して第１の光強度を測定する
ステップを含み、
前記光コネクタは、前記光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために、前記接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、
前記遮光治具は、前記光コネクタに取り付けた際に、前記光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有する
損失測定方法。
【請求項２】
光ファイバの一端に設けられ光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に前記光ファイバを接続する光路変換型の光コネクタ付き光ファイバについての挿入損失を測定するために、前記光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を前記光コネクタの接続面に対向させて取り付け、取り付けた前記光コネクタを前記遮光治具を介して前記接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、
前記光強度測定装置が、前記光コネクタ付き光ファイバを前記光モジュールと接続した際の挿入損失を求めるのに使用するために、前記光コネクタで光路変換された光を前記遮光治具の前記貫通孔を介して前記受光部で受光して第１の光強度を測定する
ステップを含み、
前記光コネクタは、前記光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために、前記接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、
前記遮光治具は、前記光コネクタに取り付けた際に、前記光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有する
損失測定方法。
【請求項３】
前記光コネクタに一端を固定した前記光ファイバの他端に設けられた光コネクタと接続される測定用光コネクタを、その測定用光コネクタから出射する光を受光するように前記光強度測定装置の前記受光部に装着し、
前記光強度測定装置が、前記第１の光強度を較正するために、前記測定用光コネクタから出射する光を前記受光部で受光して第２の光強度を測定する
ステップをさらに含む請求項１、または、請求項２記載の損失測定方法。
【請求項４】
前記光強度測定装置は、前記受光部と、前記光コネクタを装着可能な被装着部複数を所定方向に配列して保持し、前記所定方向にスライド可能であり、前記複数の被装着部のそれぞれが前記受光部の正面となった状態で仮固定可能なスライダとを備え、
前記光強度測定において、前記複数の被装着部のそれぞれが前記受光部の正面となった状態で前記スライダを順次仮固定し、それぞれの被装着部に装着された光コネクタについて光強度測定を行うことを繰り返す
請求項１乃至請求項３のいずれか一に記載の損失測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光強度測定装置を用いて光路変換型の光コネクタの接続損失を測定する測定方法及びこの光コネクタを使用したコネクタ付き光ファイバの挿入損失を測定する測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光コネクタが取付けられた光ファイバにおける損失（光減衰量）の評価は、光ネットワークを構築する上で極めて重要である。この光ファイバ損失の評価は、光の強度を測定する光強度測定装置を用いて行われている。
【０００３】
光ファイバ損失の評価において、光ファイバが取り付けられた光コネクタを光強度測定装置に装着するにあたっては、一般的には専用の測定治具（アタッチメント）が使用されている。
【０００４】
ところで、特許文献１には、光ファイバからの光の光路を変換して出射する機能を有する光路変換型の光コネクタが記載されている。光路変換型の光コネクタにおいては、光コネクタに接続された光ファイバからの光は、光コネクタの内部のミラーによって反射されて光路変換されて、外部へ出射される。また、光コネクタの外部からの光は、ミラーによって反射されて光路変換され、この光コネクタに接続された光ファイバに入射する。
【０００５】
このような光路変換型の光コネクタは、例えば、基板（光電気複合基板）上に実装された発光素子（半導体レーザ等）や受光素子（フォトダイオード等）などの光素子に光ファイバを光接続するために使用される。この光コネクタは、光コネクタの入出光部を光素子に向けた状態で基板上に装着されることにより、光コネクタに取り付けられた光ファイバと光素子とを光接続する。このとき、光コネクタに取り付けられた光ファイバは、基板に平行な方向に配索することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第２００４／０９７４８０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、上述した光路変換型の光コネクタに取り付けられた光ファイバについても、光ファイバ損失を光強度測定装置を用いて測定する必要がある。
【０００８】
ところが、光コネクタを光強度測定装置に装着するための測定治具は、光路変換を行わない光コネクタが装着されるように構成されている。このような測定治具をそのまま用いて光路変換型の光コネクタを光強度測定装置に装着しても、正確な測定を行うことはできない。
【０００９】
そこで、本発明は、前述の実情に鑑みて提案されるものであり、その目的は、光路変換型の光コネクタ及びこの光路変換型の光コネクタに取り付けられた光ファイバを含む測定対象について、光強度測定装置を用いて接続損失を正確に測定することができる損失測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前述の課題を解決し、前記目的を達成するため、本発明に係る損失測定方法は、以下の構成のいずれか一を有するものである。
【００１１】
〔構成１〕
固定された光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に光ファイバを接続する光コネクタについての接続損失を測定するために光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を光コネクタの接続面に対向させて取り付け取り付けた光コネクタを遮光治具を介して接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が光コネクタを光モジュールと接続した際の接続損失を求めるのに使用するために光コネクタで光路変換された光を遮光治具の貫通孔を介して受光部で受光して第１の光強度を測定するステップを含み、光コネクタは、光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、遮光治具は、光コネクタに取り付けた際に光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有するものである。
【００１２】
〔構成２〕
光ファイバの一端に設けられ光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に光ファイバを接続する光路変換型の光コネクタ付き光ファイバについての挿入損失を測定するために光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を光コネクタの接続面に対向させて取り付け、取り付けた光コネクタを遮光治具を介して接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が光コネクタ付き光ファイバを光モジュールと接続した際の挿入損失を求めるのに使用するために光コネクタで光路変換された光を遮光治具の貫通孔を介して受光部で受光して第１の光強度を測定するステップを含み、光コネクタは、光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、遮光治具は、光コネクタに取り付けた際に光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有するものである。
【００１３】
〔構成３〕
構成１、または、構成２を有する損失測定方法において、光コネクタに一端を固定した光ファイバの他端に設けられた光コネクタと接続される測定用光コネクタを、その測定用光コネクタから出射する光を受光するように光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が第１の光強度を較正するために測定用光コネクタから出射する光を受光部で受光して第２の光強度を測定するステップをさらに含むものである。
【００１４】
〔構成４〕
構成１乃至構成３のいずれか一を有する損失測定方法において、光強度測定装置は、受光部と、光コネクタを装着可能な被装着部複数を所定方向に配列して保持し、所定方向にスライド可能であり、複数の被装着部のそれぞれが受光部の正面となった状態で仮固定可能なスライダとを備え、光強度測定において、複数の被装着部のそれぞれが受光部の正面となった状態でスライダを順次仮固定し、それぞれの被装着部に装着された光コネクタについて光強度測定を行うことを繰り返すものである。
【発明の効果】
【００１７】
構成１を有する本発明に係る損失測定方法においては、固定された光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に光ファイバを接続する光コネクタについての接続損失を測定するために光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を光コネクタの接続面に対向させて取り付け取り付けた光コネクタを遮光治具を介して接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が光コネクタを光モジュールと接続した際の接続損失を求めるのに使用するために光コネクタで光路変換された光を遮光治具の貫通孔を介して受光部で受光して第１の光強度を測定するステップを含むので、光コネクタの接続損失を正確に測定することができる。
また、光コネクタは、光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、遮光治具は、光コネクタに取り付けた際に光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有するので、光強度測定装置において、基板に実装された受光素子が受光する光の強度を正確に測定することができる。
【００１８】
構成２を有する本発明に係る損失測定方法においては、光ファイバの一端に設けられ光ファイバの光路と交差する光路を有する光モジュール上の光素子に光ファイバを接続する光路変換型の光コネクタ付き光ファイバについての挿入損失を測定するために光素子の受発光領域の大きさ及び位置に対応する大きさ及び位置を有する貫通孔を有する遮光治具を光コネクタの接続面に対向させて取り付け、取り付けた光コネクタを遮光治具を介して接続面を対向させて光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が光コネクタ付き光ファイバを光モジュールと接続した際の挿入損失を求めるのに使用するために光コネクタで光路変換された光を遮光治具の貫通孔を介して受光部で受光して第１の光強度を測定するステップを含むので、コネクタ付き光ファイバの挿入損失を正確に測定することができる。
また、光コネクタは、光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部との位置合わせのために接続面に嵌合凸部又は嵌合凹所を有し、遮光治具は、光コネクタに取り付けた際に光モジュールの嵌合凹所又は嵌合凸部と対応する大きさ及び位置となる嵌合凹所又は嵌合凸部を有するので、光強度測定装置において、基板に実装された受光素子が受光する光の強度を正確に測定することができる。
【００１９】
構成３を有する本発明に係る損失測定方法においては、光コネクタに一端を固定した光ファイバの他端に設けられた光コネクタと接続される測定用光コネクタを、その測定用光コネクタから出射する光を受光するように光強度測定装置の受光部に装着し、光強度測定装置が第１の光強度を較正するために測定用光コネクタから出射する光を受光部で受光して第２の光強度を測定するステップをさらに含むので、接続損失を正確に測定することができる。
【００２０】
構成４を有する本発明に係る損失測定方法においては、光強度測定装置は、受光部と、光コネクタを装着可能な被装着部複数を所定方向に配列して保持し、所定方向にスライド可能であり、複数の被装着部のそれぞれが受光部の正面となった状態で仮固定可能なスライダとを備え、光強度測定において、複数の被装着部のそれぞれが受光部の正面となった状態でスライダを順次仮固定し、それぞれの被装着部に装着された光コネクタについて光強度測定を行うことを繰り返すので、複数の光コネクタについての測定を迅速に行うことができ、また、複数の光コネクタの交換作業を一括して行うことができる。
【００２２】
すなわち、本発明は、光路変換型の光コネクタ及びこの光路変換型の光コネクタに取り付けられた光ファイバを含む測定対象について、光強度測定装置を用いて接続損失を正確に測定することができる損失測定方法を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置の概略構成を示す側面図である。
【図２】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成を示す分解斜視図である。
【図３】光路変換型光コネクタの構成の一例を示す斜視図である。
【図４】光路変換型光コネクタを光電気複合基板に取り付けた使用状態を示す断面図である。
【図５】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成要素である光コネクタ装着ブロックと光路変換型光コネクタとの関係を示す斜視図である。
【図６】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置におけるスライダの構成を示す平面図である。
【図７】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における本体ハウジングの構成を示す平面図である。
【図８】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における収納部カバーの構成を示す平面図である。
【図９】図７におけるＢ−Ｂ矢視断面図であり、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における光コネクタ装着ブロック、光路変換型光コネクタ、ブロック収納部材及び収納部カバーの構成を示す断面図である。
【図１０】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における光路変換型光コネクタと光コネクタカバーとの関係を示す斜視図である。
【図１１】（ａ）〜（ｃ）は、図２におけるＡ−Ａ矢視の要部断面図であり、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置におけるブロック収納部材をスライドさせる過程を順を追って示す平面図である。
【図１２】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例を示す分解斜視図である。
【図１３】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例を示す斜視図である。
【図１４】本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例において光コネクタ装着ブロックを装着した状態を示す斜視図である。
【図１５】本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例を示す平面図である。
【図１６】本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例において光コネクタを装着した状態を示す平面図である。
【図１７】本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例において光コネクタを装着した状態を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明する。
【００２５】
〔本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置の概略構成〕
図１は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置の概略構成を示す側面図である。
【００２６】
本発明に係る接続損失測定方法は、図１に示すように、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置を用いて実施される。この接続損失測定装置においては、光源１１０から発せられた光が、光路１１１を経て、光ファイバセレクタ１０５ａに入射される。光ファイバセレクタ１０５ａは、光ファイバ束１０５の入射端に接続されている。光ファイバセレクタ１０５ａは、切り換え操作により、光ファイバ束１０５をなす複数の光ファイバ素線（例えば、１２心）のうちの任意の１本の入射端に対して、選択的に光路１１１を経た光を入射させる。光ファイバ束１０５の出射端には、測定用光コネクタ１０４が接続されている。
【００２７】
測定用光コネクタ１０４には、測定対象となる光コネクタ１０３、光ファイバ１４及び光路変換型光コネクタ１０が接続される。光コネクタ１０３は、光ファイバ１４の入射端に取り付けられている。光路変換型光コネクタ１０は、光ファイバ１４の出射端に取り付けられている。光路変換型光コネクタ１０は、光ファイバ１４が取り付けられ、光ファイバ１４からの出射光の光路を変換して出射するようになっている。
【００２８】
光ファイバ１４は、複数の光ファイバ素線（例えば、１２心）からなる光ファイバ束である。光ファイバ１４をなす各光ファイバ素線は、光コネクタ１０３及び測定用光コネクタ１０４を介して、光ファイバ束１０５をなす各光ファイバ素線に対して、対応して光接続される。したがって、光ファイバセレクタ１０５ａにより光ファイバ束１０５をなす光ファイバ素線のうちの１本を選択することは、すなわち、光ファイバ１４をなす光ファイバ素線のうちの１本を選択して、光源１１０からの光を入射させることである。
【００２９】
光路変換型光コネクタ１０は、測定治具（アタッチメント）１を介して、光強度測定装置２０に装着される。すなわち、光路変換型光コネクタ１０が測定治具１に装着されるとともに、測定治具１が光強度測定装置２０に装着される。光路変換型光コネクタ１０は、このように装着されることにより、入出光部を、光強度測定装置２０の光検出器２２に対向させる。
【００３０】
測定治具１は、貫通孔３６が形成された遮光治具３５を備えている。この遮光治具３５の貫通孔３６は、光路変換型光コネクタ１０の使用目的である受光素子が実装された基板に光路変換型光コネクタ１０を装着したときに、基板上の受光素子によって受光される光のみを通過させるように形成されている。すなわち、光路変換型光コネクタ１０に取り付けられる光ファイバ１４が１２心であるとすると、貫通孔３６の数も１２個である。そして、各貫通孔３６は、基板において受光素子が実装される位置に形成されるとともに、受光素子の受光面の大きさに等しい大きさに形成されている。
【００３１】
この接続損失測定方法において、光源１１０から出射された光は、光路１１１を経て、光ファイバ束１０５のうちの選択された光ファイバ素線及び測定用光コネクタ１０４を経て、光コネクタ１０３に入射される。この光は、光ファイバ１４のうちの選択された光ファイバ素線に入射され、この光ファイバ素線を経て、光路変換型光コネクタ１０に至る。この光は、光路変換型光コネクタ１０から出射され、遮光治具３５の貫通孔３６を通過して、光強度測定装置２０の光検出器２２に入射する。遮光治具３５において貫通孔３６から外れた光は、遮光され、光検出器２２に至ることはない。光検出器２２に入射した光の強度が、光検出器２２によって測定される。
【００３２】
このようにして測定される光強度は、貫通孔３６を通過した光の光強度であるため、光路変換型光コネクタ１０の使用目的である受光素子が実装された基板に光路変換型光コネクタ１０を装着したときに、基板上の受光素子によって受光される光の光強度を正確に再現したものとなっている。
【００３３】
このようにして測定された光強度を、基準値と比較することにより、測定対象となる光コネクタ１０３、光ファイバ１４及び光路変換型光コネクタ１０における損失を測定することができる。
【００３４】
本発明に係る接続損失測定方法においては、光路変換型光コネクタ１０を測定治具１に装着するに先だって、光強度測定装置２０のキャリブレーションを行い、基準値を求めておくことが望ましい。このキャリブレーションは、光ファイバ１４に入射される光（測定用光コネクタ１０４からの出射光）を、光コネクタ１０３、光ファイ１４バ及び光路変換型光コネクタ１０を介さずに、直接に測定治具１に入射させ、貫通孔３６を通過した光の強度を光検出器２２で測定することにより行う。
【００３５】
また、光路変換型光コネクタ１０の測定治具１への装着は、複数（例えば、４個）の光路変換型光コネクタ１０が装着可能であって測定治具１に対して移動可能に装着されるスライダを用いて行うことが好ましい。このスライダを測定治具１に対して移動させることにより、このスライダに装着された複数の光路変換型光コネクタ１０について順次測定を行うことができる。
【００３６】
測定治具１に対し、４個の光路変換型光コネクタ１０が装着可能であり、各光路変換型光コネクタ１０に取り付けられる光ファイバ１４が１２心であるとすると、合計で４８本の光ファイバ心線が測定治具１に接続されていることになる。光ファイバ損失の測定は、これら４８本の光ファイバ心線に１本ずつ順次に光を入射させて、光が入射された光ファイバ心線を経た光を光強度測定装置２０によって順次測定することによって行う。
【００３７】
図２は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成を示す分解斜視図である。
【００３８】
測定治具１は、図２に示すように、光ファイバ１４の出射端に取り付けられた光路変換型光コネクタ１０（図２には示さない）を、光強度測定装置２０のパネル２１に対して、光強度の測定ができる状態に装着する。
【００３９】
光路変換型光コネクタ１０は、光素子が実装された基板、または、光素子と電子素子とが混載された光電気複合基板に取り付けられて使用されるものである。測定治具１においては、光路変換型光コネクタ１０は、使用目的となる基板に代えて、光コネクタ装着ブロック３０に装着され、光強度測定装置２０のパネル２１に取り付けられる。光コネクタ装着ブロック３０は、複数用いられ、それぞれに光路変換型光コネクタ１０が装着される。
【００４０】
光強度測定装置２０は、パネル２１の背後に、光路変換型光コネクタ１０から出射される光の強度を検出する光検出器２２を備えている。光検出器２２は、パネル２１に設けられた光検出口２３から外部に向かって露出している。なお、パネル２１は、一般的に操作パネル（前面パネル）も兼ねるので、床面に対して垂直に設けられることが多い。
【００４１】
〔光路変換型光コネクタの構成〕
ここで、本発明における測定対象の一部である光路変換型光コネクタ１０について、図３及び図４を用いて説明する。
【００４２】
図３は、光路変換型光コネクタの構成の一例を示す斜視図である。
【００４３】
図４は、光路変換型光コネクタを光電気複合基板に取り付けた使用状態を示す断面図である。
【００４４】
光路変換型光コネクタ１０は、図４に示すように、例えば、光素子２０１が実装された光電気複合基板２００に取り付けられ、光モジュールを構成する。光路変換型光コネクタ１０は、光素子２０１に対して光学的に位置決めされた状態で、光電気複合基板２００に取り付けられる。この光路変換型光コネクタ１０は、図３及び図４に示すように、光電気複合基板２００と平行に配索される光ファイバ１４の光路を、基板面に向けて直角に変換する光路変換型の光コネクタである。この光路変換型光コネクタ１０は、光透過性樹脂によって形成された長方形（矩形）板状の光コネクタ本体１１を有している。この光コネクタ本体１１には、基板と平行に導入される光ファイバ（光ファイバテープ）１４を挿入するための中空部１２が形成されている。
【００４５】
中空部１２は、光ファイバ１４を挿入するための開口部１６を光コネクタ本体１１の長手方向（縦方向）の側端面に有している。中空部１２の前方には、横方向（長方形板状の光コネクタ本体１１の短手方向）に１列に配列された光ファイバ挿入孔１５が設けられている。これらの光ファイバ挿入孔１５は、光ファイバ１４から個別化された光ファイバ心線１４ａの被覆を除去した裸ファイバ１４ｂが挿入される貫通孔である。これら光ファイバ挿入孔１５の出口は、中空部１２の前方に形成された凹所１３に臨んでいる。凹所１３は、光コネクタ本体１１の下面（図３における上側の面）に形成されている。凹所１３の内側面の一つの面は、光ファイバ挿入孔１５の出口に対向し、かつ、光ファイバ挿入孔１５に挿入された裸ファイバ１４ｂの光軸方向に対して４５°傾斜したミラー（反射面）１７となっている。なお、ミラー１７は、凹所１３の内側面に金属メッキ等を施すことで形成されており、光ファイバ挿入孔１５の配列方向と同じ方向（光コネクタ本体１１の短手方向）に長く延在している。
【００４６】
この光路変換型光コネクタ１０を光ファイバ１４の先端に取り付けるには、まず、光ファイバ１４から光ファイバ心線１４ａを分離し、分離した光ファイバ心線１４ａの被覆を除去して露出させた裸ファイバ１４ｂを光ファイバ挿入孔１５に挿入する。そして、接着剤挿入窓１２ａから充填した接着剤により、光ファイバ心線１４ａを固定する。また、ミラー１７のある凹所１３に透明接着剤を充填する。このようにして、光ファイバ１４に光路変換型光コネクタ１０を接続することができる。この場合、光コネクタ本体１１の下面に形成された凹所１３の開口面が、光路変換型光コネクタ１０の光入出力部１８となり、ミラー１７から光素子２０１に向かう複数の光路が形成される。光路は一定の間隔で一列に並んでいる。
【００４７】
また、この光路変換型光コネクタ１０は、光電気複合基板２００上の光素子２０１に対する位置決め手段として、光コネクタ本体１１の下面（基板２００に対向する面）に、基板２００に向けて突出する２つの嵌合凸部１９を有している。これら２つの嵌合凸部１９は、凹所１３を挟む両側に配置されている。一方、光電気複合基板２００には、光路変換型光コネクタ１０の嵌合凸部１９に対応する位置にそれぞれ嵌合凹部２０５が形成されている。これらの基板２００側の嵌合凹部２０５に光路変換型光コネクタ１０側の嵌合凸部１９を嵌合させることにより、光電気複合基板２００に対して光路変換型光コネクタ１０を位置決めして取り付けることができる。
【００４８】
このようにして光路変換型光コネクタ１０を取り付けた状態において、光ファイバ心線１４ａからの光は、ミラー１７で反射されて、光入出力部１８から光路変換型光コネクタ１０の外部に出射し、光素子２０１に入射する。また、光素子２０１からの光は、光入出力部１８から光路変換型光コネクタ１０内部に入り、ミラー１７で反射されて、光ファイバ心線１４ａに入射する。
【００４９】
なお、上記の説明においては、複数本の光ファイバ心線１４ａを有する光ファイバ１４の先端に光路変換型光コネクタ１０を取り付ける場合について示したが、１本の光ファイバ心線１４ａの先端に光路変換型光コネクタ１０を取り付けることもできる。
【００５０】
〔測定治具の構成〕
次に、本実施形態における測定治具（アタッチメント）１について、さらに詳述する。
【００５１】
図２は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成を示す分解斜視図である。
【００５２】
図５は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成要素である光コネクタ装着ブロックと光路変換型光コネクタとの関係を示す斜視図である。
【００５３】
この測定治具１は、図２及び図５に示すように、光路変換型光コネクタ１０をそれぞれ着脱可能に装着することができる複数の光コネクタ装着ブロック３０と、これら複数の光コネクタ装着ブロック３０を収納するスライダ４０と、このスライダ４０を図２中矢印Ｄ方向（以下、スライド方向という）にスライド自在に保持する本体ハウジング５０とを有して構成されている。また、スライダ４０の上側には、各光コネクタ装着ブロック３０を収納する凹所４２を覆う収納部カバー７０が取り付けられている。
【００５４】
本体ハウジング５０は、光強度測定装置２０のパネル２１に固定されている。この本体ハウジング５０には、スライダ４０をスライド方向Ｄにおける所定の位置で仮固定する固定ピン（仮固定手段）６０が設けられている。なお、これらの部品は、ステンレス、アルミ、真鍮等の金属で形成されている。
【００５５】
光コネクタ装着ブロック３０は、図４に示した光電気複合基板２００の代わりとなる部品である。各光コネクタ装着ブロック３０は、図５に示すように、光路変換型光コネクタ１０よりも大きめの平面視略長方形（矩形）板状に形成されている。光コネクタ装着ブロック３０の四隅のうちの一角には、光コネクタ装着ブロック３０の上下面や方向性を認識するのに役立つように切欠部３４が設けられている。また、この光コネクタ装着ブロック３０には、ピンセット等により挟むときの便宜のために、適宜切欠きが形成されている。この光コネクタ装着ブロック３０は、他の部品に比べて精度よく加工する必要があるので、例えば、炭化タングステン等の超硬合金で放電加工により形成されている。
【００５６】
各光コネクタ装着ブロック３０は、光電気複合基板２００の光素子２０１の位置に対応して、上面から下面に貫通した透孔３２を有している。透孔３２は、光路変換型光コネクタ１０の下面が光コネクタ装着ブロック３０の上面３１に載置されて位置決め固定されたとき、光路変換型光コネクタ１０の下面の光入出力部１８と対向する位置に形成されている。ここでは、光ファイバ１４として光ファイバテープを用いているので、透孔３２は、光路変換型光コネクタ１０内部において成端された各光ファイバ心線１４ａの配列方向に沿って、すなわち、ミラー１７の延在方向に沿って、長穴状に形成されている。
【００５７】
そして、透孔３２内には、光路変換型光コネクタ１０からの光路位置に対応した複数の貫通孔（アパーチャ）３６を有する遮光治具（アパーチャープレート）３５が配置されている。各貫通孔３６は、光ファイバ１４の各光ファイバ心線１４ａの本数に対応した個数だけ遮光治具３５に形成されており、光が適切に出射されたときの光路上に正確に配置されている。貫通孔３６の光入出力部１８に対する位置は、光路変換型光コネクタ１０が光電気複合基板２００に載置されたときの光入出力部１８に対する光素子２０１の位置に等しい。また、貫通孔３６の大きさは、光素子２０１の大きさに等しく、例えば、直径１２０μｍである。なお、貫通孔３６の形状は、光素子２０１の受光面、または、発光面の形状に依存するので、円形に限られない。
【００５８】
光ファイバ１４からの光が光路変換型光コネクタ１０の光入出力部１８から適切に出射された場合、この光は、中心部分が貫通孔３６を通過し、周辺部の一部が遮光治具３５によって遮蔽される。光ファイバ１４からの光が光路変換型光コネクタ１０の光入出力部１８から適切に出射されていない場合には、この光は、遮光治具３５の貫通孔３６により、光軸に対して非対称に遮蔽される。貫通孔３６を通過した光の強度を、光強度測定装置２０により測定し、基準値との比較することにより、光ファイバ１４及び光路変換型光コネクタ１０における損失を評価することができる。なお、不適切な光の出射は、例えば、光ファイバ１４が光路変換型光コネクタ１０に適切に接続されていない場合や、光路変換型光コネクタ１０のミラー１７が適切に形成されていない場合などに生じる。
【００５９】
光コネクタ装着ブロック３０は、光路変換型光コネクタ１０に対する位置決め手段として機能する。すなわち、光コネクタ装着ブロック３０の光路変換型光コネクタ１０が載置される上面３１には、２つの嵌合凹部３３が形成されている。これら２つの嵌合凹部３３は、光路変換型光コネクタ１０の下面に設けられた２つの嵌合凸部１９がそれぞれ嵌合される穴であり、透孔３２を挟んで配置されている。嵌合凹部３３のサイズは、光路変換型光コネクタ１０の嵌合凸部１９がちょうど嵌合される大きさに形成されており、嵌合凸部１９が嵌合凹部３３に嵌合されることにより、光路変換型光コネクタ１０は、光コネクタ装着ブロック３０に対して正確に位置決めされる。
【００６０】
光路変換型光コネクタ１０が正しく位置決めされて光コネクタ装着ブロック３０に装着されたとき、平面視長方形の光路変換型光コネクタ１０は、平面視長方形の光コネクタ装着ブロック３０の横方向（幅方向）に長手方向（縦方向）を向けて載置される。また、その状態で、光路変換型光コネクタ１０の光入出力部１８は、光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２の遮光治具３５に対向しており、光路変換型光コネクタ１０側の光ファイバ心線１４ａに対応した光入出力部１８内の各光路が、遮光治具３５の各貫通孔３６に一対一で対向するようになっている。
【００６１】
次に、スライダ４０について説明する。
【００６２】
図６は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置におけるスライダの構成を示す平面図である。
【００６３】
スライダ４０は、図６に示すように、光路変換型光コネクタ１０がそれぞれ装着された複数の光コネクタ装着ブロック３０を、スライダ４０のスライド方向Ｄに沿って一定の間隔（光コネクタ装着ブロック３０の横幅寸法に相当する間隔）で並べて収納するものであり、平面視略長方形（矩形）の板状に形成されている。
【００６４】
このスライダ４０は、肉薄の底板４１のスライド方向Ｄと直交する幅方向の両端部上面に、肉厚角柱状の一対のレール部４６が一体的に形成されており、スライド方向Ｄの正面から見た形状が、上下に潰れた略Ｕ字状に形成されたものである。底板４１の幅方向中央部の上面には、複数の光コネクタ装着ブロック３０をスライド方向Ｄに沿って一列に配列して収納するための矩形状の凹所４２が設けられている。
【００６５】
この凹所４２は、スライド方向Ｄの長さが、各光コネクタ装着ブロック３０のスライド方向における長さと光コネクタ装着ブロック３０の配列個数の積に等しく設定されており、隣接する光コネクタ装着ブロック３０を密着配列して収納することができるようになっている。この場合、各光コネクタ装着ブロック３０は、自身の横幅方向（短手方向）を、スライダ４０のスライド方向Ｄに向けて配列されるようになっており、凹所４２のスライド方向Ｄの長さは、光コネクタ装着ブロック３０の横幅と配列個数の積に等しく設定されている。また、凹所４２のスライド方向Ｄと直交する方向の幅寸法は、光コネクタ装着ブロック３０の縦方向（光コネクタ装着ブロック３０の長手方向）の長さにほぼ等しく設定されている。
【００６６】
凹所４２の底面には、複数の光コネクタ装着ブロック３０の各透孔３２に対応する透孔４３が設けられている。これらの透孔４３は、光コネクタ装着ブロック３０を凹所４２に一列に並べて収納させたとき、各光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２に連通する位置に形成されており、光路変換型光コネクタ１０の光入出力部１８から出射されて、光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２を通って進む光を、スライダ４０の下方に向けて通過させることができるようになっている。
【００６７】
次に、本体ハウジング５０について説明する。
【００６８】
図７は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における本体ハウジングの構成を示す平面図である。
【００６９】
本体ハウジング５０は、図７に示すように、平面視略長方形（矩形）の板状に形成されており、光強度測定装置２０のパネル２１上に固定されたとき、底面がパネル２１の表面に密着する。パネル２１への固定は、例えば、本体ハウジング５０の外側に張り出して設けたフランジ５５をビス止めすることで行われる。
【００７０】
この本体ハウジング５０も、肉薄の底板５１のスライド方向Ｄと直交する幅方向の両端部上面に、肉厚角柱状の一対のレール部５３が一体的に形成されており、スライド方向Ｄの正面から見た形状が、上下に潰れた略Ｕ字状に形成されたものである。この本体ハウジング５０においては、底板５１の幅方向中央部の肉薄部の上面に沿って、スライダ４０がスライドするようになっている。
【００７１】
本体ハウジング５０の底板５１には、光強度測定装置２０の光検出口２３に対応する位置に円形の開口部５２が形成されている。本体ハウジング５０を光強度測定装置２０に固定したとき、光検出口２３の周縁に設けたリング２３ａが、開口部５２に嵌まるようになっている。
【００７２】
本体ハウジング５０の幅方向両端部のレール部５３は、スライダ４０の幅方向両端部のレール部４６と組み合わさることで、スライダ４０をスライドさせる際に、その動きを案内するガイド手段を構成する部分である。スライダ４０側のレール部４６の外側面には、スライド方向Ｄに延在する凸型レール４６ａが設けられ、本体ハウジング５０側のレール部５３の内側面には、スライド方向Ｄに延在し前記凸型レール４６ａが摺動自在に嵌まる凹型レール５３ａが設けられている。そして、これらの凸型レール４６ａと凹型レール５３ａが互いに摺動可能に嵌まり合うことで、スライド方向Ｄにおけるスライダ４０の移動を許容するとともに、スライド方向Ｄと直交する方向へのスライダ４０のガタつき（移動）を規制することができるようになっている。なお、スライダ４０の両レール部４６の延在方向の一端の外側の角部には、本体ハウジング５０の両凹型レール５３ａの開口端に対して、凸型レール４６ａを挿入しやすくするための面取部４７が設けられている。
【００７３】
また、前述したように、本体ハウジング５０には、複数の光コネクタ装着ブロック３０のうちの任意の１つが光強度測定装置２０の光検出器２２に対向するようにスライダ４０をスライドさせたときに、その位置でスライダ４０を仮固定可能な仮固定手段としての固定ピン６０が設けられている。スライダ４０には、固定ピン６０に対応させて、複数の光コネクタ装着ブロック３０の並ぶ間隔に合わせて配列された複数の位置決め凹部４５が設けられている。
【００７４】
固定ピン６０は、本体ハウジング５０の一方のレール部５３に貫通形成されたピン孔６３に、スライダ４０のスライド方向Ｄと直交する方向に摺動自在に挿入されている。固定ピン６０は、先端がスライダ４０の一方のレール部４６に形成された位置決め凹部４５のいずれか１つに係合することにより、スライダ４０を仮固定できるようになっている。この場合の固定ピン６０は、スライダ４０の位置決め凹部４５に向けて、図示しない付勢部材によって付勢されている。
【００７５】
固定ピン６０が位置決め凹部４５の何れか１つに係合された場合、それに対応するスライダ４０の透孔４３及び光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２が、本体ハウジング５０の開口部５２に連通し、光強度測定装置２０の光検出器２２に対向する。
【００７６】
次に、収納部カバー７０について説明する。
【００７７】
図８は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における収納部カバーの構成を示す平面図である。
【００７８】
前述したように、光強度測定装置２０のパネル２１は床面に対して垂直に設けられる場合が多い。また、光路変換型光コネクタ１０に接続されている光ファイバ１４の弾性復元性等によって、光路変換型光コネクタ１０が光コネクタ装着ブロック３０から外れる可能性もある。そこで、本実施形態の測定治具１においては、ブロック収納部材３０に複数の光コネクタ装着ブロック３０を収納した状態で、光コネクタ装着ブロック３０と、光コネクタ装着ブロック３０に装着された光路変換型光コネクタ１０と、光路変換型光コネクタ１０に接続された光ファイバ１４とを押えるための収納部カバー７０が設けられている。
【００７９】
この収納部カバー７０は、図８に示すように、ブロック収納部材３０の底板３１の上面にビス止め等により固定されるカバー本体７１と、カバー本体７１の端部にヒンジ７５を介して一端が回動可能に設けられた可動蓋７３とから構成されている。
【００８０】
カバー本体７１は、ブロック収納部材３０に固定された状態で、光コネクタ装着ブロック３０をスライダ４０に対して装着したり取り外したりできる開口７１ａを有しており、可動蓋７３は、その開口７１ａを開閉できるように、開口７１ａよりも十分大きめに設けられている。
【００８１】
また、可動蓋７３は、開口７１ａを閉じる閉位置付近に回動されたときに、閉位置に向けて付勢力を受けることで、光コネクタ装着ブロック３０と、該光コネクタ装着ブロック３０に装着された光路変換型光コネクタ１０と、光路変換型光コネクタ１０に接続された光ファイバ１４とを、スライダ４０に向けて押え込むことができるようになっている。この場合、その付勢力を発生する手段として、カバー本体７１に、可動蓋７３との間に吸引力を及ぼす磁石７４が設けられている。磁石７４の吸引力により可動蓋７３を閉位置に向けて保持することにより、光路変換型光コネクタ１０や光ファイバ１４に対する過剰な押圧を回避することができる。
【００８２】
また、可動蓋７３は、光路変換型光コネクタ１０をスライダ４０に向かって押圧するとともに、外部からの不要な光を遮蔽することができるように構成されている。可動蓋７３の内面には、可動蓋７３の押圧による光路変換型光コネクタ１０や光ファイバ１４の損傷や変形を防ぐため、弾性材料製の保護シート７６が設けられている。
【００８３】
次に、光路変換型光コネクタ１０の上面に嵌合する樹脂製の光コネクタカバー８０について説明する。
【００８４】
図９は、図７におけるＢ−Ｂ矢視断面図であり、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における光コネクタ装着ブロック、光路変換型光コネクタ、ブロック収納部材及び収納部カバーの構成を示す断面図である。
【００８５】
図１０は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における光路変換型光コネクタと光コネクタカバーとの関係を示す斜視図である。
【００８６】
光コネクタカバー８０は、必要に応じて使用するもので、図１０に示すように、光コネクタ本体１１の上面に当接する横壁８１と、横壁８１の幅方向の両端に設けられ光コネクタ本体１１の側面に当接する一対の縦壁８２とを有した断面Ｈ型をなしており、光コネクタ本体１１の上半部に嵌まるようになっている。
【００８７】
光コネクタカバー８０を用いる場合、図９に示すように、光コネクタカバー８０は、光路変換型光コネクタ１０と保護シート７６との間に挟まる。このように挟まった状態で、保護シート７６と横壁８１との間に空間が確保されるので、その空間に光ファイバ１４を配置することができ、保護シート７６が直接光ファイバ１４や光路変換型光コネクタ１０の上面を押圧することが避けられる。
【００８８】
次に、上記のように構成された測定治具１を使用して、光路変換型光コネクタ１０を光強度測定装置２０に取り付け、各光路変換型光コネクタ１０及び光ファイバ１４を検査する際の手順を説明する。
【００８９】
まず、予め、スライダ４０をセットした本体ハウジング５０を、光強度測定装置２０のパネル２１に取り付ける。このとき、スライダ４０には、収納部カバー７０が既に付いているものとする。また、光ファイバ１４の先端に取り付けてある光路変換型光コネクタ１０は、それぞれ光コネクタ装着ブロック３０に装着してあるものとする。
【００９０】
この状態で、収納部カバー７０の可動蓋７３を開き、光コネクタ装着ブロック３０を一列に配列した状態で、スライダ４０の凹所４２に収納する。収納した後、収納部カバー７０の可動蓋７３を閉じると、磁石７４の吸引作用により可動蓋７３が光コネクタカバー８０を介して、光路変換型光コネクタ１０、光ファイバ１４及び光コネクタ装着ブロック３０をスライダ４０に向けて押さえ込む。これによりセットが完了し、以降の検査ができるようになる。
【００９１】
検査に当たっては、スライダ４０をスライドさせつつ、固定ピン６０を操作してスライダ４０を位置決め固定する。
【００９２】
図１１中の（ａ）〜（ｃ）は、図２におけるＡ−Ａ矢視の要部断面図であり、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置におけるブロック収納部材をスライドさせる過程を順を追って示す平面図である。
【００９３】
固定ピン６０の操作は、次のように行う。まず、図１１中の（ａ）に示すように、固定ピン６０が位置決め凹部４５のうちの１つ（例えば、凹部４５ａ）に係合されているものとする。図１１中の（ａ）に示す状態では、スライダ４０は移動できない。
【００９４】
次に、固定ピン６０を図１１中の（ａ）に示す位置から図１１中の（ｂ）に示す位置に一旦引き抜く。固定ピン６０が位置決め凹部４５ａから完全に引き抜かれたとき、スライダ４０は移動可能となる。そこで、位置決め凹部４５のうちの他の１つ（例えば、凹部４５ｂ）が固定ピン６０に合うように、スライダ４０を移動させる。その後、図１１中の（ｃ）に示すように、固定ピン６０を位置決め凹部４５ｂに挿入することにより、スライダ４０を所定の位置ごとに固定することができ、その状態で、複数の光路変換型光コネクタ１０の何れか１つを、光検出器２２に対向する位置に固定することができる。
【００９５】
このように固定した状態で、光路変換型光コネクタ１０毎に測定を行い、光ファイバ１４からの光の減衰量を光強度測定装置２０により測定することができる。
【００９６】
スライダ４０に収納した全ての光コネクタ装着ブロック３０の光路変換型光コネクタ１０の測定が終了したら、収納部カバー７０の可動蓋７３を開いて、次の光コネクタ装着ブロック３０に交換して、同様の作業を行う。
【００９７】
上述のように、本実施形態の測定治具１においては、光路変換型光コネクタ１０を、光強度測定装置２０に適切に装着することができる。しかも、複数の光路変換型光コネクタ１０をそれぞれ光コネクタ装着ブロック３０を介して一括してスライダ４０に配置し、そのスライダ４０を順次スライドさせて仮固定手段である固定ピン６０により仮固定しながら測定することにより、各光路変換型光コネクタ１０を逐次的に検査することができる。したがって、複数の光路変換型光コネクタ１０の交換作業を一括して行うことができ、検査時間を短縮しながら効率良く検査を行うことができる。
【００９８】
特に、光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２内に、光路変換型光コネクタ１０側の適正な光路位置に対応した貫通孔３６を配置しているので、ミラー１７の性能などにより光路が適正位置からずれているときなどには、貫通孔３６から外れた光が遮光治具３５によって遮蔽されるので、光減衰量の変化により内蔵ミラー１７などの性能評価を容易に行うことができる。
【００９９】
また、スライダ４０の凹所４２に複数の光コネクタ装着ブロック３０を収納するだけで検査できる所定の配列に光コネクタ装着ブロック３０を安定保持することができるので、交換作業の容易化を図ることができる。
【０１００】
また、収納部カバー７０に設けた可動蓋７３を開けば、カバー本体７１をスライダ４０に固定した状態のまま、光路変換型光コネクタ１０の交換ができるので、交換作業を簡単に行うことができる。また、可動蓋７３を閉じれば、可動蓋７３によって光コネクタ装着ブロック３０、光路変換型光コネクタ１０及び光ファイバ１４をスライダ４０に向けて押え込むことができるので、不用意に光コネクタ装着ブロック３０等が外れたり動いたりすることがないように支持することができる。しかも、可動蓋７３は閉位置に磁石７４により付勢されているので、過大な力で光ファイバ１４等を押さえ込むこともなく、光ファイバ１４等に無用な損傷を与える心配がない。特に、可動蓋７３には、磁石７４の吸引力を付勢力として働かせているので、複雑な構造を必要とせず、可動蓋７３をカバー本体７１から引き離す方向に引っ張るだけで、可動蓋７３を簡単に開放することができる。したがって、光路変換型光コネクタ１０の交換作業を極めて容易に行うことができる。
【０１０１】
また、ピン孔６３に挿入した固定ピン６０の先端をスライダ４０の位置決め凹部４５に係合させるだけで、スライダ４０を位置決めしながら容易に仮固定することができるので、繰り返しの仮固定作業を容易に行うことができる。特に、スライダ４０を仮固定するときに、固定ピン６０をスライダ４０の位置決め凹部４５に向けて付勢しているので、付勢力に抗して位置決め凹部４５から固定ピン６０を抜き、その状態でブロック移動部材４０をスライドさせ、他の位置決め凹部４５を固定ピン６０の位置に位置決めして固定ピン６０を離すだけで、自動的に固定ピン６０の先端をスライダ４０の位置決め凹部４５に係合させることができる。したがって、仮固定の作業性を更に良くすることができる。
【０１０２】
また、平面視矩形板状の本体ハウジング５０とスライダ４０の幅方向の両側部に、スライダ４０のスライド動作を案内する凸型レール４６ａと凹型レール５３ａの組み合わせからなる一対のガイド手段を設けているので、スムーズに、かつ、精度よくスライダ４０をスライドさせることができる。
【０１０３】
〔その他の実施の形態（１）〕
図１２は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例を示す分解斜視図である。
【０１０４】
図１３は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例を示す平面図である。
【０１０５】
図１４は、本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置における測定治具の構成の他の例において光コネクタ装着ブロックを装着した状態を示す平面図である。
【０１０６】
本発明に係る接続損失測定方法を実施するための接続損失測定装置の測定治具１は、図１２乃至図１４に示すように、光強度測定装置２０が複数の光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄを備えている場合には、スライダ４０を光強度測定装置２０のパネル２１に固定して取り付けて構成してもよい。
【０１０７】
この場合には、本体ハウジング５０を用いずに、スライダ４０をパネル２１に直接固定する。スライダ４０は、固定ピン６０が嵌入するための凹部４５が不要である以外は、前述した実施の形態におけるものと同様の構成である。また、収納部カバー７０は、前述した実施の形態におけるものと同様の構成のものを同様に使用することができる。
【０１０８】
この測定治具１においては、スライダ４０をパネル２１に固定したとき、スライダ４０の各透孔４３及び各光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２が、光強度測定装置２０の各光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄに対応して対向するようになっている。
【０１０９】
このように構成された測定治具１を使用して、光路変換型光コネクタ１０を光強度測定装置２０に取り付け、各光路変換型光コネクタ１０及び光ファイバ１４を検査する際の手順を説明する。
【０１１０】
まず、スライダ４０を光強度測定装置２０のパネル２１に取り付ける。このとき、スライダ４０には、収納部カバー７０が既に付いているものとする。また、光ファイバ１４の先端に取り付けてある光路変換型光コネクタ１０は、それぞれ光コネクタ装着ブロック３０に装着してあるものとする。
【０１１１】
この状態で、収納部カバー７０の可動蓋７３を開き、光コネクタ装着ブロック３０を一列に配列した状態で、スライダ４０の凹所４２に収納する。収納した後、収納部カバー７０の可動蓋７３を閉じると、磁石７４の吸引作用により可動蓋７３が光コネクタカバー８０を介して、光路変換型光コネクタ１０、光ファイバ１４及び光コネクタ装着ブロック３０をスライダ４０に向けて押さえ込む。これによりセットが完了し、以降の検査ができるようになる。この状態で、複数の光路変換型光コネクタ１０は、それぞれが対応する光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄのいずれかに対向する位置に固定されている。
【０１１２】
このように固定した状態で、各光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄを順次用いて、光路変換型光コネクタ１０毎に測定を行い、光ファイバ１４からの光の減衰量を光強度測定装置２０により測定することができる。なお、各光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄを同時に用いて、各光路変換型光コネクタ１０について同時進行で測定を行うこともできる。ただし、この場合においても、各光路変換型光コネクタ１０については、前述したように、光ファイバ心線１４ａの１本ずつについて測定する。すなわち、光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄが４個である場合には、各光路変換型光コネクタ１０について１本ずつの光ファイバ心線１４ａで、計４本の光ファイバ心線１４ａが同時に測定されることとなる。
【０１１３】
スライダ４０に収納した全ての光コネクタ装着ブロック３０の光路変換型光コネクタ１０の測定が終了したら、収納部カバー７０の可動蓋７３を開いて、次の光コネクタ装着ブロック３０に交換して、同様の作業を行う。
【０１１４】
上述のように、本実施形態の測定治具１においては、光路変換型光コネクタ１０を、光強度測定装置２０に適切に装着することができる。しかも、複数の光路変換型光コネクタ１０をそれぞれ光コネクタ装着ブロック３０を介して一括してスライダ４０に配置して測定することにより、各光路変換型光コネクタ１０を逐次的に検査することができる。したがって、複数の光路変換型光コネクタ１０の交換作業を一括して行うことができ、検査時間を短縮しながら効率良く検査を行うことができる。
【０１１５】
特に、光コネクタ装着ブロック３０の透孔３２内に、光路変換型光コネクタ１０側の適正な光路位置に対応した貫通孔３６を配置しているので、ミラー１７の性能などにより光路が適正位置からずれているときなどには、貫通孔３６から外れた光が遮光治具３５によって遮蔽されるので、光減衰量の変化により内蔵ミラー１７などの性能評価を容易に行うことができる。
【０１１６】
また、スライダ４０の凹所４２に複数の光コネクタ装着ブロック３０を収納するだけで検査できる所定の配列に光コネクタ装着ブロック３０を安定保持することができるので、交換作業の容易化を図ることができる。
【０１１７】
また、収納部カバー７０に設けた可動蓋７３を開けば、カバー本体７１をスライダ４０に固定した状態のまま、光路変換型光コネクタ１０の交換ができるので、交換作業を簡単に行うことができる。また、可動蓋７３を閉じれば、可動蓋７３によって光コネクタ装着ブロック３０、光路変換型光コネクタ１０及び光ファイバ１４をスライダ４０に向けて押え込むことができるので、不用意に光コネクタ装着ブロック３０等が外れたり動いたりすることがないように支持することができる。しかも、可動蓋７３は閉位置に磁石７４により付勢されているので、過大な力で光ファイバ１４等を押さえ込むこともなく、光ファイバ１４等に無用な損傷を与える心配がない。特に、可動蓋７３には、磁石７４の吸引力を付勢力として働かせているので、複雑な構造を必要とせず、可動蓋７３をカバー本体７１から引き離す方向に引っ張るだけで、可動蓋７３を簡単に開放することができる。したがって、光路変換型光コネクタ１０の交換作業を極めて容易に行うことができる。
【０１１８】
〔その他の実施の形態（２）〕
図１５は、本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例を示す平面図である。
【０１１９】
図１６は、本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例において光コネクタを装着した状態を示す平面図である。
【０１２０】
本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置においては、図１５に示すように、収納部カバー７０上にコネクタアダプタ９０を装着することにより、光路変換型光コネクタ１０に代えて、図１６に示すように、光ファイバ１４が取り付けられ光ファイバ１４からの出射光の光路を変換せずに出射する直線型光コネクタ９２（例えば、「ＭＰＯコネクタ」（ＪＩＳ  Ｆ１３形））を、光強度測定装置２０に適切に装着することができる。直線型光コネクタ９２は、光ファイバ１４の出射端に取り付けられている。直線型光コネクタ９２は、光ファイバ１４が取り付けられ、光ファイバ１４からの出射光の光路を変換せずに出射するようになっている。
【０１２１】
図１７は、本発明に係る挿入損失測定方法を実施するための挿入損失測定装置における測定治具の構成のさらに他の例において光コネクタを装着した状態を示す斜視図である。
【０１２２】
コネクタアダプタ９０は、図１５乃至図１７に示すように、平板状に形成され、中央部に、直線型光コネクタ９２の先端側が挿入され装着されるコネクタ装着孔９１が設けられている。コネクタアダプタ９０は、両側部に位置決め孔９４を有し、これら位置決め孔９４に、収納部カバー７０上に設けられた位置決めピン９３が挿入されることにより、収納部カバー７０上に位置決めして装着される。コネクタアダプタ９０の形状には方向性があり、コネクタアダプタ９０は、逆方向には装着できないようになっている。
【０１２３】
コネクタ装着孔９１には、直線型光コネクタ９２の先端側が挿入されることにより、通常のコネクタ同士の装着状態と同様に直線型光コネクタ９２が装着される。直線型光コネクタ９２及びコネクタ装着孔９１の形状には方向性があり、直線型光コネクタ９２は、コネクタアダプタ９０に対して逆方向には装着できないようになっている。
【０１２４】
コネクタアダプタ９０を介して収納部カバー７０に装着された直線型光コネクタ９２から光強度測定装置２０の光検出器２２に至る光路は、前述した実施の形態と同様であり、前述した実施の形態において述べた測定手順により、直線型光コネクタ９２を含む測定対象について、光ファイバ損失を測定することができる。
【０１２５】
なお、光強度測定装置２０が複数の光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄを備えている場合には、これら光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄに対応して複数の位置決めピン９３を設けておき、コネクタアダプタ９０を移動させることにより、各光検出器２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄのうちの任意の光検出器を用いた測定を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１２６】
本発明は、光減衰量を求める光強度測定装置を用いて光ファイバにおける損失を測定する接続損失測定方法及び挿入損失測定方法に適用される。
【符号の説明】
【０１２７】
１  測定治具
１０  光路変換型の光コネクタ
１４  光ファイバ
２０  光強度測定装置
３５  遮光治具
３６  貫通孔
９０  コネクタアダプタ
９２  直線型コネクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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