(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置であって、
第１の端子のセットと第２の端子のセットとを有するインタフェースと、
アナログフロントエンド（ＡＦＥ）と、
を含み、
前記第１及び第２の端子のセットがタッチパネルに結合されるように構成され、
前記インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間に前記第１の端子のセットからの第１の端子に第１の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第１の部分の間に前記第１の端子のセットからの第２の端子に第２の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の第２の部分の間に前記第１の端子のセットからの前記第２の端子に前記第１の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第２の部分の間に前記第１の端子のセットからの前記第１の端子に前記第２の励起電圧を提供し、
前記第２の励起電圧が前記第１の励起電圧の反対の極性を有し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第１及び第２の部分の間に、それぞれ、前記第２の端子のセットからの第１の端子から第１及び第２の測定信号を受け取り、
前記ＡＦＥが前記第１及び第２の測定信号を受け取るように前記インタフェースに結合されており、前記ＡＦＥが第１及び第２の積分された信号を生成するために前記第１及び第２の測定信号を積分し、前記ＡＦＥが出力信号を生成するために第１及び第２の積分された信号を組み合わせる、装置。
【請求項２】
請求項１に記載の装置であって、
前記インタフェースが、前記第２の端子のセットからの各端子に結合され、且つ、前記ＡＦＥに結合されるマルチプレクサと、前記第２の端子のセットからの各端子に結合される励起器とを更に含む、装置。
【請求項３】
請求項２に記載の装置であって、
前記ＡＦＥが、前記マルチプレクサに結合される積分器と、前記積分器に結合されるアナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）と、前記ＡＤＣに結合される加算回路とを更に含む、装置。
【請求項４】
請求項３に記載の装置であって、
前記積分器が、
第１の入力端子と、第２の入力端子と、出力端子とを有する増幅器であって、前記増幅器の前記第１の入力端子が参照電圧を受け取り、前記増幅器の前記第２の入力端子が前記マルチプレクサに結合され、前記増幅器の前記出力端子が前記ＡＤＣに結合される、前記増幅器と、
前記増幅器の前記第２の入力端子と前記増幅器の前記出力端子との間に結合されるキャパシタと、
前記増幅器の前記第２の入力端子と前記増幅器の前記出力端子との間に結合されるスイッチであって、サンプル信号により制御される、前記スイッチと、
を更に含む、装置。
【請求項５】
請求項４に記載の装置であって、
前記加算回路が、前記ＡＤＣに結合される遅延回路と、前記ＡＤＣと前記遅延回路とに結合される加算器とを更に含む、装置。
【請求項６】
請求項５に記載の装置であって、
前記ＡＦＥに結合されるデジタルフロントエンド（ＤＦＥ）と、前記ＤＦＥと前記ＡＦＥとに結合される制御ロジックとを更に含む、装置。
【請求項７】
タッチパネルと、タッチパネルコントローラとを含む装置であって、
前記タッチパネルが、
複数の列に配置される複数の列センサ電極と、
第１のストリップ電極のセットであって、前記第１のストリップ電極のセットからの各ストリップ電極が前記複数の列の少なくとも１つ内の各列電極に結合される、前記第１のストリップ電極のセットと、
複数の行に配置される複数の行センサ電極と、
第２のストリップ電極のセットであって、前記第２のストリップ電極のセットからの各ストリップ電極が前記複数の行の少なくとも１つ内の各行電極に結合される、前記第２のストリップ電極のセットと、
を有し、
前記タッチパネルコントローラが、
前記第１及び第２のストリップ電極のセットからの各ストリップ電極に結合されるインタフェースと、
アナログフロントエンド（ＡＦＥ）と、
を有し、
前記インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間に前記第１のストリップ電極のセットからの第１のストリップ電極に第１の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第１の部分の間に前記第１のストリップ電極のセットからの第２のストリップ電極に第２の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の第２の部分の間に前記第１のストリップ電極のセットからの前記ストリップ電極に前記第１の励起電圧を提供し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第２の部分の間に前記第１のストリップ電極のセットからの前記第２のストリップ電極に前記第２の励起電圧を提供し、
前記第２の励起電圧が前記第１の励起電圧の反対の極性を有し、
前記インタフェースが、前記スキャン期間の前記第１及び第２の部分の間に、それぞれ、前記第２のストリップ電極のセットからの第１のストリップ電極から第１及び第２の測定信号を受け取り、
前記ＡＦＥが前記第１及び第２の測定信号を受け取るように前記インタフェースに結合されており、前記ＡＦＥが第１及び第２の積分された信号を生成するために前記第１及び第２の測定信号を積分し、前記ＡＦＥが出力信号を生成するために第１及び第２の積分された信号を組み合わせる、装置。
【請求項８】
請求項７に記載の装置であって、
前記インタフェースが、前記第２のストリップ電極のセットからの各ストリップ電極に結合され、且つ、前記ＡＦＥに結合されるマルチプレクサと、前記第２のストリップ電極のセットからの各ストリップ電極に結合される励起器とを更に含む、装置。
【請求項９】
請求項８に記載の装置であって、
前記ＡＦＥが、前記マルチプレクサに結合される積分器と、前記積分器に結合されるアナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）と、前記ＡＤＣに結合される加算回路とを更に含む、装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の装置であって、
前記積分器が、
第１の入力端子と、第２の入力端子と、出力端子とを有する増幅器であって、前記増幅器の前記第１の入力端子が参照電圧を受け取り、前記増幅器の前記第２の入力端子が前記マルチプレクサに結合され、前記増幅器の前記出力端子が前記ＡＤＣに結合される、前記増幅器と、
前記増幅器の前記第２の入力端子と前記増幅器の前記出力端子との間に結合されるキャパシタと、
前記増幅器の前記第２の入力端子と前記増幅器の前記出力端子との間に結合されるスイッチであって、サンプル信号により制御される、前記スイッチと、
を更に含む、装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の装置であって、
前記加算回路が、前記ＡＤＣに結合される遅延回路と、前記ＡＤＣと前記遅延回路とに結合される加算器とを更に含む、装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の装置であって、
前記タッチパネルコントローラが、前記ＡＦＥに結合されるデジタルフロントエンド（ＤＦＥ）と、前記ＤＦＥと前記ＡＦＥとに結合される制御ロジックとを更に含む、装置。
【請求項１３】
方法であって、
第１のインタバルの間にタッチパネル内の第１の列電極のセットに第１の電圧を印加することと、
前記第１のインタバルの間に前記タッチパネル内の第２の列電極のセットに第２の電圧を印加することであって、前記第１及び第２の列電極のセットが互いに隣接しており、前記第２の電圧が前記第１の電圧の反対の極性を有する、前記印加することと、
前記第１のインタバルの間に前記タッチパネルにおける行電極のセットから第１の測定信号を受け取ることと、
第１の積分された信号を生成するために前記第１の測定信号を積分することと、
第２のインタバルの間に前記タッチパネル内の前記第２の列電極のセットに前記第１の電圧を印加することと、
前記第２のインタバルの間に前記タッチパネル内の前記第１の列電極のセットに前記第２の電圧を印加することと、
前記第２のインタバルの間に前記タッチパネルにおける前記行電極のセットから第２の測定信号を受け取ることと、
第２の積分された信号を生成するために前記第２の測定信号を積分することと、
出力信号を生成するために前記第１及び第２の積分された信号を組み合わせることと、
を含む、方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の方法であって、
前記組み合わせる工程が、
第１及び第２のデジタル化された信号を生成するために前記第１及び第２の積分された信号をデジタル化することと、
前記第１のデジタル化された信号を遅延させることと、
前記第１及び第２のデジタル化された信号を共に加算することと、
を更に含む、方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の方法であって、
前記方法が、前記第１のインタバルの間に第１のサンプル期間のために、及び前記第２のインタバルの間に第２のサンプル期間のために、積分器をアクティブにすることを更に含む、方法。
【請求項１６】
請求項１５に記載の方法であって、
前記方法が、
列電極の隣接するセットの各対と列電極の各セットとに対し、前記第１のインタバルの間に前記第１の電圧を印加する工程と、前記第１のインタバルの間に前記第２の電圧を印加する工程と、前記第１の測定信号を受け取る工程と、前記第１の測定信号を積分する工程と、前記第２のインタバルの間に前記第１の電圧を印加する工程と、前記第２のインタバルの間に前記第２の電圧を印加する工程と、前記第２の測定信号を受け取る工程と、前記第２の測定信号を積分する工程と、前記第１及び第２の積分された信号を組み合わせる工程とを反復することと、
前記タッチパネルに対し静電容量プロファイルを生成することと、
を更に含む、方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の方法であって、
前記方法が、
列電極の隣接するセットの各対と列電極の各セットとに対し、前記第１のインタバルの間に前記第１の電圧を印加する工程と、前記第１のインタバルの間に前記第２の電圧を印加する工程と、前記第１の測定信号を受け取る工程と、前記第１の測定信号を積分する工程と、前記第２のインタバルの間に前記第１の電圧を印加する工程と、第２のインタバルの間に前記第２の電圧を印加する工程と、前記第２の測定信号を受け取る工程と、前記第２の測定信号を積分する工程と、前記第１及び第２の積分された信号を組み合わせる工程とを反復することにより前記タッチパネルをスキャンすることと、
前記スキャンすることと前記静電容量プロファイルとに少なくとも部分的に基づいてタッチ事象の位置を判定することと、
を更に含む、方法。
【請求項１８】
装置であって、
第１のインタバルの間にタッチパネル内の第１の列電極のセットに第１の電圧を印加する手段と、
前記第１のインタバルの間に前記タッチパネル内の第２の列電極のセットに第２の電圧を印加する手段であって、前記第１及び第２の列電極のセットが互いに隣接しており、前記第２の電圧が前記第１の電圧の反対の極性を有する、前記印加する手段と、
前記第１のインタバルの間に前記タッチパネルにおいて行電極のセットから第１の測定信号を受け取る手段と、
第１の積分された信号を生成するために前記第１の測定信号を積分する手段と、
第２のインタバルの間に前記タッチパネル内の前記第２の列電極のセットに前記第１の電圧を印加する手段と、
前記第２のインタバルの間に前記タッチパネル内の前記第１の列電極のセットに前記第２の電圧を印加する手段と、
前記第２のインタバルの間に前記タッチパネルにおける前記行電極のセットから第２の測定信号を受け取る手段と、
第２の積分された信号を生成するために前記第２の測定信号を積分する手段と、
出力信号を生成するために前記第１及び第２の積分された信号を組み合わせる手段と、
を含む、装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の装置であって、
前記組み合わせる手段が、
第１及び第２のデジタル化された信号を生成するために前記第１及び第２の積分された信号をデジタル化する手段と、
前記第１のデジタル化された信号を遅延させる手段と、
前記第１及び第２のデジタル化された信号を共に加算する手段と、
を更に含む、装置。
【請求項２０】
請求項１９に記載の装置であって、
前記装置が、前記第１のインタバルの間に第１のサンプル期間のために、及び前記第２のインタバルの間に第２のサンプル期間のために、積分器をアクティブにする手段を更に含む、装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して容量性タッチパネルに関し、更に特定して言えば、スキャン及び感知オペレーションを実行するタッチパネルコントローラに関連する。
【背景技術】
【０００２】
多くの容量性タッチパネル又は容量性タッチスクリーンは、タッチ位置を判定するために投影された容量性感知を用いる。概して、タッチパネル内の各タッチセンサは、透明プレート（即ち、プラスチック）の下の２つの電極で構成され、誘電体（即ち、指）が、２つのプレート（１つのプレートが励起プレートであり、１つが検出プレートである）に近接すると、これら２つのプレート間の静電容量が低減する。タッチ事象の位置（即ち、指が静電容量を増大させる位置）を判定するため、タッチスクリーンコントローラは通常、励起及び検出プレートを「スキャン」し、タッチ事象の位置を計算し得る。しかし、これらのシステムに関する問題点の１つはノイズである。通常、タッチ事象は、約０．１ｐＦの増大された静電容量となり、指は、パネルに触れるときノイズ（即ち、６０サイクルノイズ）を導入し得る。そのため、タッチ事象がそのノイズ内で失われ得る。従って、改善されたタッチパネルコントローラが求められている。
【０００３】
従来の回路の幾つかの他の例が下記文献に記載されている。
【特許文献１】米国特許番号第５，５２６，２９４号
【特許文献１】米国特許番号第５，５６５，６５８号
【特許文献１】米国特許番号第６，３６６，０９９号
【発明の概要】
【０００４】
従って、一実施例が或る装置を提供する。この装置は、端子の第１のセットと端子の第２のセットとを有するインタフェース、及びインタフェースに結合されるアナログフロントエンド（ＡＦＥ）を含む。端子の第１及び第２のセットはタッチパネルに結合されるように構成される。インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間、第１の励起電圧を端子の第１のセットからの第１の端子に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間、第２の励起電圧を端子の第１のセットからの第２の端子に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第２の部分の間、第１の励起電圧を端子の第１のセットからの第２の端子に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第２の部分の間、第２の励起電圧を端子の第１のセットからの第１の端子に提供し、第２の励起電圧が、第１の励起電圧の反対の極性を有し、インタフェースが、それぞれ、スキャン期間の第１及び第２の部分の間、端子の第２のセットからの第１の端子から第１及び第２の測定信号を受け取る。ＡＦＥは、測定信号を受け取るようにインタフェースに結合されており、ＡＦＥは、第１及び第２の測定信号を積分して、第１及び第２の積分された信号を生成する。ＡＦＥは、第１及び第２の積分された信号を組み合わせて出力信号を生成する。
【０００５】
一実施例に従って、インタフェースは、端子の第２のセットからの各端子に結合され、且つ、ＡＦＥに結合されるマルチプレクサと、端子の第２のセットからの各端子に結合される励起器とを更に含む。
【０００６】
一実施例に従って、ＡＦＥは、マルチプレクサに結合される積分器と、積分器に結合されるアナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）と、ＡＤＣに結合される加算回路とを含む。
【０００７】
一実施例に従って、積分器は、第１の入力端子と、第２の入力端子と、出力端子とを有する増幅器、増幅器の前記第２の入力端子と増幅器の出力端子との間に結合されるキャパシタ、及び増幅器の第２の入力端子と増幅器の出力端子との間に結合されるスイッチを更に含む。増幅器の第１の入力端子は参照電圧を受け取り、増幅器の第２の入力端子はマルチプレクサに結合され、増幅器の出力端子はＡＤＣに結合される。スイッチはサンプル信号により制御される。
【０００８】
一実施例に従って、加算回路は、ＡＤＣに結合される遅延回路、及びＡＤＣ及び遅延回路に結合される加算器を更に含む。
【０００９】
一実施例に従って、タッチパネルコントローラが、ＡＦＥに結合されるデジタルフロントエンド（ＤＦＥ）、及びＤＦＥ及びＡＦＥに結合される制御ロジックを含む。
【００１０】
一実施例に従って或る装置が提供される。この装置は、タッチパネル、及びタッチパネルコントローラを含む。タッチパネルは、複数の列に配置される複数の列センサ電極と、ストリップ電極の第１のセットであって、ストリップ電極の第１のセットからの各ストリップ電極が、複数の列の少なくとも１つ内の各列電極に結合される、ストリップ電極の第１のセットと、複数の行に配置される複数の行センサ電極と、ストリップ電極の第２のセットであって、ストリップ電極の第２のセットからの各ストリップ電極が、複数の行の少なくとも１つ内の各行電極に結合される、ストリップ電極の第２のセットとを有する。タッチパネルコントローラは、ストリップ電極の第１及び第２のセットからの各ストリップ電極に結合されるインタフェースと、インタフェースに結合されるアナログフロントエンド（ＡＦＥ）とを有する。インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間、第１の励起電圧をストリップ電極の第１のセットからの第１のストリップ電極に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第１の部分の間、第２の励起電圧をストリップ電極の第１のセットからの第２のストリップ電極に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第２の部分の間、第１の励起電圧をストリップ電極の第１のセットからのストリップ電極に提供し、インタフェースが、スキャン期間の第２の部分の間、第２の励起電圧をストリップ電極の第１のセットからの第２のストリップ電極に提供し、第２の励起電圧が第１の励起電圧の反対の極性を有し、インタフェースが、それぞれ、スキャン期間の第１及び第２の部分の間、ストリップ電極の第２のセットからの第１のストリップ電極から第１及び第２の測定信号を受け取る。ＡＦＥは、測定信号を受け取るようにインタフェースに結合されており、ＡＦＥは、第１及び第２の測定信号を積分して第１及び第２の積分された信号を生成する。ＡＦＥは、第１及び第２の積分された信号を組み合わせて出力信号を生成する。
【００１１】
一実施例に従って、インタフェースは、ストリップ電極の第２のセットからの各ストリップ電極に結合され、且つ、ＡＦＥに結合されるマルチプレクサと、第２のストリップ電極からの各ストリップ電極に結合される励起器とを更に含む。
【００１２】
一実施例に従って或る方法が提供される。この方法は、第１のインタバルの間、第１の電圧をタッチパネル内の列電極の第１のセットに印加すること、第１のインタバルの間、第２の電圧をタッチパネル内の列電極の第２のセットに印加することであって、電極の第１及び第２のセットが互いに隣接しており、第２の電圧が第１の電圧の反対の極性を有すること、第１のインタバルの間、タッチパネルにおける行電極のセットから第１の測定信号を受け取ること、第１の積分された信号を生成するため第１の測定信号を積分すること、第２のインタバルの間、第１の電圧をタッチパネル内の列電極の第２のセットに印加すること、第２のインタバルの間、第２の電圧をタッチパネル内の列電極の第１のセットに印加すること、第２のインタバルの間、タッチパネルにおける行電極のセットから第２の測定信号を受け取ること、第２の積分された信号を生成するため第２の測定信号を積分すること、及び出力信号を生成するため第１及び第２の積分された信号を組み合わせることを含む。
【００１３】
一実施例に従って、組み合わせる工程が、第１及び第２のデジタル化された信号を生成するため第１及び第２の積分された信号をデジタル化すること、第１のデジタル化された信号を遅延させること、及び第１及び第２のデジタル化された信号を共に加算することを更に含む。
【００１４】
一実施例に従って、この方法は、第１のインタバルの間の第１のサンプル期間のため、及び第２のインタバルの間の第２のサンプル期間のため積分器をアクティブにすることを更に含む。
【００１５】
一実施例に従って、この方法は、列電極の隣接するセットの各対及び列電極の各セットに対して、第１のインタバルの間第１の電圧を印加する工程、第１のインタバルの間第２の電圧を印加する工程、第１の測定信号を受け取る工程、第１の測定信号を積分する工程、第２のインタバルの間第１の電圧を印加する工程、第２のインタバルの間第２の電圧を印加する工程、第２の測定信号を受け取る工程、第２の測定を積分する工程、及び第１及び第２の積分された信号を組み合わせる工程、を反復することと、タッチパネルに対して静電容量プロファイルを生成することとを更に含む。
【００１６】
一実施例に従って、この方法は、列電極の隣接するセットの各対及び列電極の各セットに対して、第１のインタバルの間第１の電圧を印加する工程、第１のインタバルの間第２の電圧を印加する工程、第１の測定信号を受け取る工程、第１の測定信号を積分する工程、第２のインタバルの間第１の電圧を印加する工程、第２のインタバルの間第２の電圧を印加する工程、第２の測定信号を受け取る工程、第２の測定を積分する工程、及び第１及び第２の積分された信号を組み合わせる工程、を反復することによりタッチパネルをスキャンすることと、スキャンすること及び静電容量プロファイルに少なくとも部分的に基づいてタッチ事象の位置を判定することとを更に含む。
【００１７】
一実施例に従って或る装置が提供される。この装置は、第１のインタバルの間、第１の電圧をタッチパネル内の列電極の第１のセットに印加するための手段、第１のインタバルの間、第２の電圧をタッチパネル内の列電極の第２のセットに印加するための手段であって、電極の第１及び第２のセットが互いに隣接しており、第２の電圧が第１の電圧の反対の極性を有する手段、第１のインタバルの間、タッチパネルにおいて行電極のセットから第１の測定信号を受け取るための手段、第１の積分された信号を生成するため第１の測定信号を積分するための手段、第２のインタバルの間、第１の電圧をタッチパネル内の列電極の第２のセットに印加するための手段、第２のインタバルの間、第２の電圧をタッチパネル内の列電極の第１のセットに印加するための手段、第２のインタバルの間、タッチパネルにおける行電極のセットから第２の測定信号を受け取るための手段、第２の積分された信号を生成するため第２の測定信号を積分するための手段、及び出力信号を生成するため第１及び第２の積分された信号を組み合わせるための手段を含む。
【００１８】
一実施例に従って、組み合わせるための手段が、第１及び第２のデジタル化された信号を生成するため第１及び第２の積分された信号をデジタル化するための手段、第１のデジタル化された信号を遅延させるための手段、及び第１及び第２のデジタル化された信号を共に加算するための手段を更に含む。
【００１９】
一実施例に従って、この装置は、第１のインタバルの間第１のサンプル期間に対し、及び第２のインタバルの間第２のサンプル期間に対し、積分器をアクティブにするための手段を更に含む。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】図１は、一実施例に従ったシステムの一例の図である。
【００２１】
【図２】図２は、図１のタッチパネル、インタフェース、及びアナログフロントエンド（ＡＦＥ）の一例を更に詳細に示す図である。
【００２２】
【図３】図３は、タイミング図であり、図２のＡＦＥ及びインタフェースのオペレーションの例を示す。
【００２３】
【図４】図４は、タッチ事象を備えた、タッチパネル、インタフェース、及びＡＦＥを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
図１は、例示の実施例を実装するシステム１００を図示する。図示するように、タッチパネル１０２は概して、各列の各電極がストリップ電極（即ち、ストリップ電極１０７）により共に結合される列電極（即ち、電極１０５）のセットと、各行の各電極がストリップ電極（即ち、ストリップ電極１０７）により共に結合される行電極（即ち、電極１０９）のセットとで構成される。各列のためのストリップ電極（即ち、ストリップ電極１０７）は、端子Ｘ−ｌ〜Ｘ−Ｎによりタッチパネルコントローラ１０４のインタフェース又はＩ／Ｆ１０６に結合され、各行のためのストリップ電極（即ち、ストリップ電極１０９）は、端子Ｙ−ｌ〜Ｙ−Ｍによりインタフェース１０６に結合される。インタフェース１０６は、ＡＦＥ１０８と通信することができ、ＡＦＥは、データをデジタルフロントエンド１１０に通信することができる。ＡＦＥ１０８及びＤＦＥ１１０の各々は、制御ロジック１１４からの制御信号（即ち、クロック信号）も受け取り、ホストコントローラ１０４は、ＤＦＥ１１０からデータを受け取ることができる。図２に更に詳細に示すように、インタフェース１０６は概して、マルチプレクサ又はＭＵＸ２０２及び励起器で構成され、ＡＦＥ１０８は概して、積分器（これは概して、増幅器２０６、キャパシタＣＩＮＴ、及びスイッチＳを含む）、アナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）２０８、及び加算回路（これは概して遅延回路２１０及び加算器２１２を含む）で構成される。
【００２５】
オペレーションにおいて、インタフェース１０６（これは通常、制御ロジック１１４により制御される）は、電極（即ち、電極１０３）の列を選択及び励起し、タッチ位置が弁別され得るように行電極（即ち、電極１０５）の行を「スキャンする」。図２及び図３に示される例において、励起器２０４が２つの隣接する列を、端子Ｘ−ｊ及びＸ−（ｊ＋ｌ）を介して励起信号ＥＸＣＩＴＥ［ｊ］及びＥＸＣＩＴＥ［ｊ＋ｌ］で励起しており、インタフェース１０６は、端子Ｙ−ｉに関連付けられる行から測定信号を受け取る。この励起の結果、端子Ｘ−ｊ及びＸ−（ｊ＋ｌ）に関連付けられる列と端子Ｙ−ｉに関連付けられる行との交差において２つのキャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ+１が形成される。
【００２６】
まず、この種のオペレーションは、タッチパネル１０２をキャリブレートするために用いることができる。タッチセンサに対するベース静電容量（即ち、Ｃ）は、タッチパネル（即ち、タッチパネル１０２）の特性に依存するため、これらの静電容量は、パネル毎に異なり得、時間で変化し得るため、タッチパネルコントローラ１０４は、電極の行の対の励起によりタッチパネルに対する静電容量プロファイルを構築することができる。好ましくは、励起器２０４は、キャパシタの対（即ち、キャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ＋１）が差動配置で動作し得るように、相対する極性の信号を提供する。図３に示すように、励起器２０４は、励起クロック信号ＣＬＫ（これは、制御ロジック１１４によって提供され得る）を用いる。時間Ｔ１で、スキャン期間ＴＳＣＡＮが開始し、キャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ＋１は、スキャン期間ＴＳＣＡＮの始めの間、それぞれ、＋ＶＰＬＳ及び−ＶＰＬＳの電圧を受け取る。時間Ｔ１とＴ２の間のインタバルの間、（制御ロジック１１４からの）サンプル信号ＳＡＭＰＬＥは論理低であり、これは、このインタバルの間積分器が測定信号を積分することができるようにスイッチＳが「オフ」であることを示している。時間Ｔ２の（積分器からの）結果の出力電圧ＶＯＵＴは下記の通りである。
【数１】
0005952398.tif 000002
続いて、時間Ｔ３で及びスキャン期間ＴＳＣＡＮの別の部分の間、キャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ＋１は、それぞれ、−ＶＰＬＳ及び＋ＶＰＬＳの電圧を受け取り、積分器は時間Ｔ３からＴ４まで積分を実行する。時間Ｔ４における結果の出力電圧ＶＯＵＴは、次の通りである。
【数２】
0005952398.tif 000003
時間Ｔ２からＴ４までの出力電圧ＶＯＵＴの各々は、ＡＤＣ２０８（これは例えば、逐次比較レジスタ又はＳＡＲ  ＡＤＣとし得る）によりデジタル化される。時間Ｔ２における出力電圧ＶＯＵＴは、時間Ｔ４における出力電圧ＶＯＵＴ前に生じるため、それは遅延回路２１０により遅延され、その後、加算器２１２により時間Ｔ２における出力電圧ＶＯＵＴから減じられて、下記となる。
【数３】
0005952398.tif 000004
数式（３）を用いることにより、キャパシタＣｉ，ｊとＣｉ，ｊ+１との間の静電容量の差は、次のように判定され得る。
【数４】
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タッチパネル１０２上のキャパシタの各対間の静電容量の差が、静電容量プロファイルを生成するため実行され得、これは、タッチパネル１０２の後続のスキャニングの間タッチ事象の位置を内挿するために用いることができる。
【００２７】
タッチスクリーンコントローラ（即ち、タッチスクリーンコントローラ１０４）及びタッチパネル（即ち、タッチパネル１０２）に関する１つの問題点は、タッチ事象の間ノイズが導入されることであるが、インタフェース１０６及びＡＦＥ１０８は、ノイズ（即ち、６０サイクルノイズ）を補償することができる。図４の例において図示するように、タッチ事象が、キャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ＋１で表す位置で起こっており、このタッチ事象は、キャパシタＣＦで表され、タッチ静電容量と呼ぶことができる。タッチ事象のため、ノイズＶＮＯＩＳＥも導入され、これは下記のように表すことができる。
（５）ＶＮＯＩＳＥ＝Ｖｎｓｉｎ（ωｔ）
そのため、その結果のＡＦＥ１０８からの出力ノイズＶＮＯＵＴは次のようになる。
【数５】
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ここで、ＦＣＬＫは信号の周波数である。周波数ＦＣＬＫは下記のように選択され、
【数６】
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ノイズＶＮＯＵＴはゼロにほぼ等しくなる。そのため、隣接するキャパシタ（即ち、キャパシタＣｉ，ｊ及びＣｉ，ｊ+１）の差動励起を用いることにより、ノイズ除去は実質的に増大され得る。
【００２８】
当業者であれば、本発明の特許請求の範囲内で、説明した例示の実施例に変形が成され得ること、及び多くの他の実施例が可能であることが分かるであろう。
【図３】
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【図１】
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【図２】
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【図４】
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