(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記試験の操作、モニタリングを行うために、前記制御装置に接続された外部解析装置とを備えた試験装置であって、
前記外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際に、
前記制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送されるように構成され、
前記外部解析装置が、前記制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得するように構成され、
前記制御装置のシステム設定と、前記外部解析装置のシステム設定とが、同じシステム設定となるように構成されていることを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記外部解析装置において、システム設定情報を更新設定した際に、前記外部解析装置の更新されたシステム設定情報が、前記制御装置に転送されるように構成したことを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われることを特徴とする請求項１から２のいずれかに記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置がある。
【０００３】
以下、本明細書において、「試験装置」とは、これらの各種の試験を行うための試験装置を包含した意味で用いられる。
【０００４】
ところで、従来のこのような試験装置としては、特許文献１（特開２００７−１２１０６５号公報）に開示されているような試験装置が提案されている。
【０００５】
すなわち、図７に示したように、この試験装置１００では、試験を行うための試験装置本体１０２と、試験装置本体１０２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置１０４とを備えている。そして、制御装置１０４は、外部解析装置（ＰＣ）１０６に接続されており、制御装置１０４で収集された試験データーを外部解析装置１０６に転送して、試験の解析などを行うように構成されている。
【０００６】
すなわち、制御装置１０４と外部解析装置１０６との間では、通信回線（例えば、ＬＡＮ、ＧＰＩＢなど）を介して、例えば、制御コマンド、各チャネル測定データ(レンジ相対値)などを送受信している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００７−１２１０６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、このような特許文献１に開示されているような従来の試験装置１００では、制御装置１０４と外部解析装置１０６では、それぞれ個別に、試験装置本体１０２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報を保持している。
【０００９】
ところで、複雑な試験、試験中のデーターをネットワーク経由で操作したい場合、すなわち、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行う場合には、制御装置１０４から送られてくる試験データーの他、上記のように、試験装置本体１０２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報が必要である。
【００１０】
しかしながら、従来の試験装置１００では、これらの情報の設定は、外部解析装置１０６側で、制御装置１０４の情報に合わせて、手動で設定する必要があり、複雑なソフト設定が必要であった。
【００１１】
そして、この手動で設定した情報に基づいて、外部解析装置１０６、制御装置１０４に要求するデーター測定チャネル数の決定、レンジ換算（例えば、読み取り分解能ＦＳや、１．０ＦＳなどから物理値へ換算）、試験ソフト上でのチャネル名称、単位表示などを行っていた。
【００１２】
すなわち、例えば、図８、図９に示したように情報の設定などが行われるようになっている。
【００１３】
図８は、従来の外部解析装置１０６において、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。
【００１４】
先ず、図８のステップＳ１０１に示したように、インストールを開始し、ステップＳ１０２において、ソフト標準構成をインストールする。そして、ステップＳ１０３において、制御装置１０４の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）設定し、ステップＳ１０４において、制御装置１０４の型式を設定している。
【００１５】
また、ステップＳ１０５において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１０２の名称を設定し、ステップＳ１０６において、センサー使用数と、各センサー名称設定とが行われ、ステップＳ１０７において、センサーレンジのフルスケール設定が行われ、ステップＳ１０８においてインストール作業が終了する。
【００１６】
そして、外部解析装置１０６において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトは、例えば、図９に示したように作動される。
【００１７】
すなわち、図９は、外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。
【００１８】
先ず、図９のステップＳ１０９に示したように、ソフトが起動され、ステップＳ１１０において、登録された接続先、すなわち、登録された制御装置１０４の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）へ通信が開始される。
【００１９】
そして、この通信を介して、ステップＳ１１１において、制御装置１０４の型式に対応した通信規則で通信が開示される。次にステップＳ１１２において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１０２の名称が取得される。続いて、ステップＳ１１３において、センサー使用数と、各センサー名称の取得が行われ、ステップＳ１１４において、センサーレンジのフルスケールの取得が行われ、ステップＳ１１５において試験が開始される。
【００２０】
この場合、ステップＳ１１０〜ステップＳ１１４における情報は、ソフトのインストール時における情報を使用しており、この情報の設定が実際の試験装置本体１０２と同一であるか否かはチェックされておらず、または、不完全の状態である。
【００２１】
すなわち、従来の試験装置１００では、このように外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行う場合、上記のように、外部解析装置１０６において、複雑なソフト設定が必要である。
【００２２】
しかも、外部解析装置１０６のソフトにおいて、情報の設定が実際の試験装置本体１０２と同一であるか否かはチェックされておらず、または、不完全の状態である。
【００２３】
従って、制御装置１０４のシステム設定と同じシステム設定を、外部解析装置１０６側に設定する必要があり、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を起こしていた。
【００２４】
また、制御装置１０４のシステム設定が変更されても、このシステム設定の情報が、外部解析装置１０６側に反映されない場合があった。このため、例えば、レンジの設定ミスなどがあり、正しいデーターを測定できない問題などが発生していた。
【００２５】
本発明は、このような現状に鑑み、外部解析装置から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない試験装置を提供することを目的とする。
【００２６】
また、制御装置のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明されたものであって、本発明の試験装置は、
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記試験の操作、モニタリングを行うために、前記制御装置に接続された外部解析装置とを備えた試験装置であって、
前記外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際に、
前記制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送されるように構成され、
前記外部解析装置が、前記制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得するように構成され、
前記制御装置のシステム設定と、前記外部解析装置のシステム設定とが、同じシステム設定となるように構成されていることを特徴とする。
【００２８】
このように構成することによって、制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送され、外部解析装置が、制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得する。
【００２９】
従って、外部解析装置から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない。
【００３０】
また、制御装置のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる。
【００３１】
また、本発明の試験装置は、前記外部解析装置において、システム設定情報を更新設定した際に、前記外部解析装置の更新されたシステム設定情報が、前記制御装置に転送されるように構成したことを特徴とする。
【００３２】
このように構成することによって、外部解析装置側から、例えば、レンジの設定などを変更したい場合に、外部解析装置側で変更し、更新されたシステム設定情報が、制御装置に転送されるので、レンジの設定ミスによる誤った試験が行われるのを回避することができ、正しい試験データーを得ることができる。
【００３３】
また、本発明の試験装置は、前記制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われることを特徴とする。
【００３４】
このように制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われるので、例えば、ＬＡＮケーブルを接続するだけで、制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報が同期するので、接続操作が簡単であり、制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報が同期が確実に行われ、正しい試験を実施することができる。
【発明の効果】
【００３５】
本発明によれば、制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送され、外部解析装置が、制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得する。
【００３６】
従って、外部解析装置から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない。
【００３７】
また、制御装置のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図である。
【図２】図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図である。
【図３】図３は、本発明の試験装置における外部解析装置の画面表示の実施例を示す図である。
【図４】図４は、本発明の試験装置における外部解析装置から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。
【図５】図５は、本発明の試験装置における外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。
【図６】図６は、本発明の試験装置における外部解析装置において、試験中の作動を説明するフローチャートである。
【図７】図７は、従来の試験装置を示す概略図である。
【図８】図８は、従来の外部解析装置１０６において、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。
【図９】図９は、外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３９】
以下、本発明の実施の形態（実施例）を図面に基づいてより詳細に説明する。
【００４０】
図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図、図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図、
図３は、本発明の試験装置における外部解析装置の画面表示の実施例を示す図、図４は、本発明の試験装置における外部解析装置から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャート、図５は、本発明の試験装置における外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャート、図６は、本発明の試験装置における外部解析装置において、試験中の作動を説明するフローチャートである。
【００４１】
図１において、符号１０は、全体で本発明の試験装置を示している。
【００４２】
図１〜図２に示したように、本発明の試験装置１０は、試験を行うための試験装置本体１２を備えている。この試験装置本体１２は、この実施例では、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置から構成されている。
【００４３】
なお、前述したように、本発明の試験装置１０は、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置に適用することが可能である。
【００４４】
図１に示したように、試験装置本体１２は、架台フレーム１４を備えており、この架台フレーム１４の下方にシリンダーからなるアクチュエーター１６を備えている。このアクチュエーター１６には、テストピースＡを載置するためのピストン１８と、変位を検出するための変位検出器２０とを備えている。
【００４５】
また、架台フレーム１４の上方には、上方フレーム２８が立設されており、この上方フレーム２８には、上方フレーム２８と架台フレーム１４との間に、ガイドロッド２２が設けられている。
【００４６】
そして、ガイドロッド２２の下方と上方フレーム２８との間には、ボールネジ２４が設けられており、ボールネジ２４により、ピストン１８に対して、上下動可能なクロスヘッド２６が設けられている。また、このクロスヘッド２６には、ピストン１８と対峙するように、荷重検出器３０が設けられている。
【００４７】
また、図１に示したように、本発明の試験装置１０は、試験装置本体１２に接続され、試験装置本体１２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための試験制御装置として機能する制御装置３２を備えている。
【００４８】
この実施例では、制御装置３２は、試験条件などの設定画面、試験データーなどの表示を行うためのＣＲＴ３４と、制御装置本体３６と、キーボード３８と、マウス４０を備えている。従って、この制御装置３２には、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーが内蔵されている。なお、制御装置本体３６に、操作用のパソコンが接続されている場合がある。
【００４９】
そして、試験装置本体１２のアクチュエーター１６の変位検出器２０と、制御装置本体３６が接続されるとともに、試験装置本体１２の荷重検出器３０と、制御装置本体３６が接続されている。
【００５０】
また、図１に示したように、この実施例の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に、例えば、パソコンからなる外部解析装置４２が、通信回線（例えば、ＬＡＮ、ＧＰＩＢなど）を介して接続されている。なお、外部解析装置４２は、制御装置３２と同様に、試験条件、試験データーなどの表示を行うためのＣＲＴ４６と、外部解析装置本体４８と、キーボード５０と、マウス５２を備えている。
【００５１】
一方、本発明の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に接続されるとともに、試験装置本体１２のアクチュエーター１６に接続されたアクチュエーター駆動源４４が設けられている。
【００５２】
このように構成される本発明の試験装置１０では、以下のように試験が行われる。
【００５３】
すなわち、図２に示したように、ピストン１８の上面にテストピースＡを載置して、図示しない駆動機構によって、ボールネジ２４により、ピストン１８に対してクロスヘッド２６を下降して、ピストン１８の上面とクロスヘッド２６の下面との間にテストピースＡを挟持する。
【００５４】
そして、制御装置３２に予め記憶されたプログラムに基づいて、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集が行われるようになっている。
【００５５】
すなわち、図１に示したように、制御装置３２の制御によって、制御装置３２に接続されたアクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させる。これにより、アクチュエーター駆動源４４に接続されたアクチュエーター１６が所定の条件で駆動して、テストピースＡに対して一定の振動を与えるようになっている。
【００５６】
そして、アクチュエーター１６に設けられた変位検出器２０によって、テストピースＡの変位が検出され、テストピースＡの変位データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。一方、クロスヘッド２６に設けられた荷重検出器３０によって、テストピースＡにかかる荷重が検出され、テストピースＡにかかる荷重データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。
【００５７】
また、これらの試験データーに基づいて、制御装置３２の制御装置本体３６のプログラムに基づいて、制御装置３２からアクチュエーター駆動源４４に、フィードバック指令信号が出力され、アクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させるようになっている。
【００５８】
ところで、本発明の試験装置１０では、このように収集された試験データーが、制御装置３２内に設けられた、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーに保存（記憶）されるようになっている。
【００５９】
また、この内部メモリーに保存された試験データーは、制御装置３２の制御装置本体３６に接続された外部解析装置４２に、定期的にデーター転送されて、自動的に保存されるようになっている。
【００６０】
ところで、複雑な試験、試験中のデーターをネットワーク経由で操作したい場合、すなわち、外部解析装置４２から操作、モニタリングを行う場合には、制御装置３２から送られてくる試験データーの他、試験装置本体１２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報が必要である。
【００６１】
このため、本発明の試験装置１０では、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送されるように構成され、外部解析装置４２が、制御装置３２から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置４２におけるシステム設定情報を取得するように構成されている。
【００６２】
すなわち、具体的には、図４に示したように、本発明の試験装置１０における外部解析装置４２から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業が行われる。
【００６３】
先ず、図４のステップＳ１に示したように、インストールを開始し、ステップＳ２において、ソフト標準構成をインストールする。そして、ステップＳ３において、制御装置３２の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）設定し、ステップＳ４において、インストール作業が終了する。
【００６４】
そして、外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトは、例えば、図５に示したように作動される。
【００６５】
すなわち、図５は、外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。
【００６６】
先ず、図５のステップＳ５に示したように、ソフトが起動され、ステップＳ６において、登録された接続先、すなわち、登録された制御装置３２の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）へ通信が開始される。
【００６７】
そして、この通信を介して、ステップＳ７において、制御装置３２の型式が取得され、制御装置３２に対応した通信規則で通信が開始される、次に、ステップＳ８において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１２の名称が取得される。
【００６８】
続いて、ステップＳ９において、センサー使用数と、各センサー名称の取得が行われ、ステップＳ１０において、センサーレンジのフルスケールの取得が行われ、ステップＳ１１において試験が開始される。
【００６９】
なお、この場合、ステップＳ７〜ステップＳ１０において、外部解析装置４２は、制御装置３２の制御装置本体３６との間で通信を行い、取得した制御装置３２の情報を使用するようになっている。従って、制御装置３２のシステム設定と、外部解析装置４２のシステム設定とは、同じシステム設定となるように構成されている。
【００７０】
また、この場合、実施例では、ステップＳ３において、制御装置３２の接続先設定を予め行ったが、通信開始時に一定範囲のネットワークアドレスをスキャンすることによって、制御装置３２の接続先設定を不要にすることもできる。
【００７１】
このように外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動が行われた後、試験装置１０において、試験が行われる際には、図６のフローチャートに示したように、下記のように作動される。
【００７２】
その際、図３に示したように、外部解析装置４２のＣＲＴ４６の画面表示が行われるように構成されている。
【００７３】
すなわち、ステップＳ１２において、処理が開始され、ステップＳ１３において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１２の名称が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「耐久試験機Ｎｏ．１」のように、試験機名称が表示される。
【００７４】
そして、ステップＳ１４において、処理対象のセンサーチャネルが、例えば、センサーチャネル１が表示され、ステップＳ１５において、センサー名が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」として表示される。
【００７５】
次に、ステップＳ１６において、センサー測定値（ＡＤコンバータ分解能フルスケール）を制御装置３２から取得する。そして、ステップＳ１７において、センサー物理値が、下記の式に基づいて算出される。
【００７６】
センサー物理値＝センサー測定値／（ＡＤコンバータ分解能フルスケール）＊レンジフルスケール
【００７７】
そして、ステップＳ１８において、この算出されたセンサー物理値が表示される（例えば、数値、グラフなど）。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」の欄に、「２１．５」、また、その右に示したようなグラフが表示される。
【００７８】
さらに、ステップＳ１９において、センサー単位が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」の欄に、単位「ｍｍ」が表示される。
【００７９】
続いて、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数であるか否かが判定される。そして、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数である場合には、ステップＳ２１において、処理が終了される。
【００８０】
一方、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数でない場合には、ステップＳ２２に進み、処理対象センサーチャネル＋１を処理対象センサーチャネルとして設定して、再び、ステップＳ１５に戻り、処理対象のセンサーチャネルが、例えば、センサーチャネル２が表示され、ステップＳ１６において、センサー名が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー２：荷重」として表示される。以降、同様なステップが繰り返される。
【００８１】
なお、上記の処理を画面表示の項目変更や、測定データーが更新された時など必要に応じて繰り返し行うように構成されている。
【００８２】
また、この実施例では、制御装置３２からの測定データー以外に必要な情報としては、試験機名称、チャネル数、センサー名、レンジフルスケール、単位であるが、その他の情報を適宜表示するようにすることも可能である。
【００８３】
さらに、データーのファイルへの記録についても、詳細な説明は省略するが、表示と同様に行うように構成されている。
【００８４】
このように構成することによって、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送され、外部解析装置４２が、制御装置３２から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置４２におけるシステム設定情報を取得する。
【００８５】
従って、外部解析装置４２から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置４２において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置４２側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない。
【００８６】
また、制御装置３２のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置４２側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる。
【００８７】
また、本発明の試験装置１０では、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われるので、例えば、ＬＡＮケーブルを接続するだけで、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報が同期するので、接続操作が簡単であり、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報が同期が確実に行われ、正しい試験を実施することができる。
【００８８】
以上、本発明の好ましい実施の態様を説明してきたが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば、外部解析装置４２において、システム設定情報を更新設定した際に、外部解析装置４２の更新されたシステム設定情報が、制御装置３２に転送されるように構成してもよい。
【００８９】
このように構成することによって、外部解析装置４２側から、例えば、レンジの設定などを変更したい場合に、外部解析装置４２側で変更し、更新されたシステム設定情報が、制御装置３２に転送されるので、レンジの設定ミスによる誤った試験が行われるのを回避することができ、正しい試験データーを得ることができる。
【００９０】
また、図示しないが、外部解析装置４２を複数個設けて、これらを並列的に制御装置３２と接続して、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送されるように構成することも可能である。
【００９１】
さらに、本発明において、試験装置１０は、試験装置本体１２と、制御装置３２と、外部解析装置４２と、アクチュエーター駆動源４４を含めて試験装置１０とすることも可能であるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００９２】
本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に適用することができる。
【符号の説明】
【００９３】
１０    試験装置
１２    試験装置本体
１４    架台フレーム
１６    アクチュエーター
１８    ピストン
２０    変位検出器
２２    ガイドロッド
２４    ボールネジ
２６    クロスヘッド
２８    上方フレーム
３０    荷重検出器
３２    制御装置
３６    制御装置本体
３８    キーボード
４０    マウス
４２    外部解析装置
４４    アクチュエーター駆動源
４８    外部解析装置本体
５０    キーボード
５２    マウス
１００    試験装置
１０２    試験装置本体
１０４    制御装置
１０６    外部解析装置
Ａ    テストピース
【図１】
0005999979.tif 000002
【図２】
0005999979.tif 000003
【図３】
0005999979.tif 000004
【図４】
0005999979.tif 000005
【図５】
0005999979.tif 000006
【図６】
0005999979.tif 000007
【図７】
0005999979.tif 000008
【図８】
0005999979.tif 000009
【図９】
0005999979.tif 000010