(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備え、被撮像体を撮像し、当該被撮像体から受光した光量に対応した信号を出力する撮像手段と、
前記被撮像体に光を照射する照射手段と、
前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を第１期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを、前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段と、
前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって前記照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、
前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、
前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段と、
を具備し、
前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、前記代表基板に配置された各撮像素子のうち、決められた第２位置に配置された撮像素子について、前記第１信号値と前記第２信号値とを記憶し、
前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板において、前記第２位置と異なる第３位置に配置されている場合、前記記憶手段により記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いて、予め決められた数式に基づいて、前記代表基板において前記第３位置に配置された撮像素子の前記第１信号値および前記第２信号値を推算し、推算した当該第１信号値および当該第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算する
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記減算手段は、前記第３期間が前記第１期間である場合に、前記第３信号値から前記第１信号値を減算し、前記第３期間が前記第２期間である場合に、前記第３信号値から前記第２信号値を減算して、前記第５信号値を出力する
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
照射手段による光の照射を停止した状態で、直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備えた撮像手段が被撮像体を第１期間にわたって撮像した場合に当該撮像手段によって出力される信号であって、当該撮像手段が前記被撮像体から受光した光量に対応した信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像素子が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを、前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段と、
前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって前記照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像素子が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、
前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、
前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段と、
を具備し、
前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算することを特徴とする情報処理装置。
【請求項５】
直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備え、被撮像体を撮像し、当該被撮像体から受光した光量に対応した信号を出力する撮像手段と、
前記被撮像体に光を照射する照射手段と、
前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を第１期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段と
を具備する撮像装置のコンピュータを、
前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって前記照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、
前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、
前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段
として機能させるとともに、
前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記推算手段が、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算するように機能させる
ためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被撮像体に光を照射して反射光を複数の撮像素子で撮像することで被撮像体上に描かれた画像を読み取る撮像装置がある。撮像素子は、受けた光の量に応じて発生した電荷を読み出して映像信号を出力するが、受光していないときであっても電荷を発生する。これは、撮像素子が熱によって励起するためである。この受光していないときの電荷により生じる電流を一般に暗電流という。暗電流は読み取られた画像にとってノイズとなるため、これを除去する技術が種々開発されている。
【０００３】
特許文献１には、撮像素子と、撮像素子を駆動制御する駆動回路と、撮像素子の電荷蓄積時間を検出する時間検出回路と、演算回路と、撮像素子の暗電流を演算するための演算定数に関するデータを予め記憶しておく不揮発性メモリと、減算回路と、を有する撮像装置の暗電流除去方式において、前記演算回路は前記撮像素子の電荷蓄積時間と前記不揮発性メモリからの前記データ、および前記撮像素子の温度に基づいて暗電流を算出し、算出した暗電流を前記減算回路において撮像信号から減算することにより、撮像信号に重畳した暗電流を除去することを特徴とする撮像装置の暗電流除去方式が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開昭６３−４６０７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、予め決められた期間にわたって撮像手段が撮像した場合の暗電流の値を用いて、指定された期間にわたって撮像手段が撮像した場合の信号からそのときの暗電流の成分を除去することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するため、本発明の請求項１に係る撮像装置は、直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備え、被撮像体を撮像し、当該被撮像体から受光した光量に対応した信号を出力する撮像手段と、前記被撮像体に光を照射する照射手段と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を第１期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを、前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段と、前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって前記照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段と、を具備し、前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算することを特徴とする。
【０００７】
本発明の請求項２に係る撮像装置は、請求項１に記載の態様において、前記記憶手段は、前記代表基板に配置された各撮像素子のうち、決められた第２位置に配置された撮像素子について、前記第１信号値と前記第２信号値とを記憶し、前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板において、前記第２位置と異なる第３位置に配置されている場合、前記記憶手段により記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いて、予め決められた数式に基づいて、前記代表基板において前記第３位置に配置された撮像素子の前記第１信号値および前記第２信号値を推算し、推算した当該第１信号値および当該第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算することを特徴とする。
本発明の請求項３に係る撮像装置は、請求項１に記載の態様において、前記減算手段は、前記第３期間が前記第１期間である場合に、前記第３信号値から前記第１信号値を減算し、前記第３期間が前記第２期間である場合に、前記第３信号値から前記第２信号値を減算して、前記第５信号値を出力することを特徴とする。
【００１０】
本発明の請求項４に係る情報処理装置は、照射手段による光の照射を停止した状態で、直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備えた撮像手段が被撮像体を第１期間にわたって撮像した場合に当該撮像手段によって出力される信号であって、当該撮像手段が前記被撮像体から受光した光量に対応した信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像素子が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを、前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段と、前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像素子が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段と、を具備し、前記推算手段は、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算することを特徴とする。
【００１１】
本発明の請求項５に係るプログラムは、直線に沿って並べられた複数の基板であって、当該直線の方向に沿ってそれぞれ決められた数の撮像素子が配置された複数の基板を備え、被撮像体を撮像し、当該被撮像体から受光した光量に対応した信号を出力する撮像手段と、前記被撮像体に光を照射する照射手段と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を第１期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第１信号値と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第１期間よりも長い第２期間にわたって前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第２信号値とを前記複数の基板のうち代表となる基板である代表基板に配置された各撮像素子について記憶するとともに、当該代表基板において決められた第１位置に配置された撮像素子と、当該代表基板以外の基板において前記第１位置に対応する位置に配置された撮像素子とにおける前記第１信号値または前記第２信号値の差である嵩上げ値を、当該代表基板以外の基板ごとに記憶する記憶手段とを具備する撮像装置のコンピュータを、前記第１期間以上、且つ、前記第２期間以下の期間である第３期間にわたって前記照射手段により光が照射された状態で前記被撮像体を前記撮像手段が撮像した場合の前記信号の値である第３信号値を取得する取得手段と、前記照射手段による光の照射を停止した状態で前記被撮像体を前記第３期間にわたって前記撮像手段が撮影した場合の前記信号の値である第４信号値を、前記記憶手段に記憶された前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間により推算する推算手段と、前記取得手段が取得した第３信号値から前記推算手段が推算した第４信号値を減算して、第５信号値を出力する減算手段として機能させるとともに、前記撮像素子が前記代表基板以外の基板に配置されている場合、前記推算手段が、前記第１信号値および前記第２信号値を用いる線形補間によって得た値を前記嵩上げ値により補正して前記第４信号値を推算するように機能させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
請求項１に記載の撮像装置によれば、予め決められた期間にわたって撮像手段が撮像した場合の暗電流の値を用いて、指定された期間にわたって撮像手段が撮像した場合の信号からそのときの暗電流の成分を除去することができる。また、請求項１に記載の撮像装置によれば、撮像手段に含まれる全ての撮像素子について第１信号および第２信号を記憶しなくてもよい。
請求項２に記載の撮像装置によれば、代表基板に含まれる全ての撮像素子について第１信号および第２信号を記憶しなくてもよい。
請求項３に記載の撮像装置によれば、不必要な推算を回避することができる。
請求項４に記載の情報処理装置によれば、予め決められた期間にわたって撮像手段が撮像した場合の暗電流の値を用いて、指定された期間にわたって撮像手段が撮像した場合の信号からそのときの暗電流の成分を除去することができる。
請求項５に記載のプログラムによれば、予め決められた期間にわたって撮像手段が撮像した場合の暗電流の値を用いて、指定された期間にわたって撮像手段が撮像した場合の信号からそのときの暗電流の成分を除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置の全体構成を説明する図である。
【図２】１つのチップを示す図である。
【図３】キャリブレーション機能における制御部の機能的構成を示す図である。
【図４】画像読取機能における制御部の機能的構成を示す図である。
【図５】撮像装置がキャリブレーションをするときの動作の流れを示す図である。
【図６】制御部が最大期間にわたって読取部の各撮像素子に撮像させて取得した暗電流を示す図である。
【図７】撮像素子においてそれぞれ測定される暗電流を撮像期間ごとに表した図である。
【図８】撮像期間と暗電流との関係を示す図である。
【図９】撮像装置が画像を読み取るときの動作の流れを示す図である。
【図１０】変形例において撮像装置が画像を読み取るときの動作の流れを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
１．実施形態
１−１．全体構成
以下に本発明の実施形態に係る撮像装置９を説明する。図１は、本発明の実施形態に係る撮像装置９の全体構成を説明する図である。読取部１は、複数（ここでは１０個）のチップ１０を備える。図２は、１つのチップ１０を示す図である。図２に示すチップ１０は、図１において左端に配置されたチップ１０である。このチップ１０は、直線状に並べられたｎ個（ｎは２以上の整数；例えばｎ＝３１２）撮像素子Ｃ１〜Ｃｎ（以下、特に区別の必要がない場合は、これらを総称して「撮像素子Ｃ」と記す）と、各撮像素子Ｃによって出力される映像信号を増幅するアンプ１００を備える。撮像素子Ｃは、画像が形成された原稿などの被撮像体を撮像する素子であり、例えばＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサや、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサなどである。アンプ１００は、添字が小さい方の撮像素子Ｃが配置された側の端に配置されている。読取部１は、各チップ１０を、撮像素子Ｃが並べられた方向に沿って直線状に配列している。
【００１５】
コントローラ２は、指定部２０と制御部２１と記憶部２２とを備える。指定部２０は、各種の指示を入力するための操作ボタンなどを備えており、ユーザによる操作を受け付けてその操作内容に応じた信号を制御部２１に供給する。制御部２１は、記憶部２２に記憶されているコンピュータプログラムを読み出して実行することによりコントローラ２の各部を制御する。また、制御部２１は、読取部１を制御して読取部１から各撮像素子Ｃによって出力されアンプ１００によって増幅された映像信号を取得する。また、制御部２１は、照射部３を制御する。
【００１６】
記憶部２２はハードディスクドライブやソリッドステートドライブなどの記憶手段であり、制御部２１に読み込まれるプログラムを記憶する。また、記憶部２２は、制御部２１が予め決められた期間にわたって読取部１に撮像させることにより取得した映像信号を記憶する。照射部３は、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）などを備え、読み取るべき画像が形成された原稿などの被撮像体に向けて光を照射する。
【００１７】
１−２．制御部の機能的構成
撮像装置９は、読取部１を校正するキャリブレーション機能と、被撮像体に形成された画像を読み取る画像読取機能とを有する。以下、各機能についてそれぞれ説明する。
【００１８】
（１）キャリブレーション機能
図３は、キャリブレーション機能における制御部２１の機能的構成を示す図である。キャリブレーション機能において制御部２１は、取得部２１１および光量調整部２１４として機能する。指定部２０からキャリブレーションをする旨の指示を受けたとき、光量調整部２１４は、照射部３へ供給する電流を下げて照射部３による光の照射を停止する。そして、照射部３による光の照射が停止している間に、取得部２１１は、予め決められた最大および最小の期間のそれぞれにわたって読取部１の各撮像素子Ｃに撮像させ、得られた映像信号をそれぞれ取得する。そして、取得部２１１は、取得した映像信号を、撮像させた期間および撮像素子Ｃごとに対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００１９】
（２）画像読取機能
画像読取機能とは、撮像装置９の制御部２１が、読取部１によって被撮像体からの反射光に応じた映像信号を取得し、キャリブレーションの結果に基づいてその映像信号から暗電流の成分を除去することにより、被撮像体に形成された画像を読み取る機能である。
図４は、画像読取機能における制御部２１の機能的構成を示す図である。画像読取機能において制御部２１は、取得部２１１、推算部２１２、減算部２１３および光量調整部２１４として機能する。指定された期間にわたって画像の読み取りを行う旨の指示を指定部２０から受けた時、光量調整部２１４は、照射部３へ供給する電流を調整し、決められた光量の光を照射部３に照射させる。そして、この決められた光量の光が照射部３によって被撮像体に照射されている間に、取得部２１１は、指定された期間にわたって読取部１の各撮像素子Ｃに撮像させ、得られた映像信号をそれぞれ取得する。また、推算部２１２は、記憶部２２から各撮像素子Ｃに対応付けられて記憶された映像信号を読み出し、読み出した映像信号および指定部２０により指定された期間をパラメータとする線形補間の演算をする。これにより推算部２１２は、光が照射されていないときに、指定部２０により指定された期間にわたって各撮像素子Ｃに撮像させた場合に得られるはずの映像信号を推算する。
【００２０】
１−３．動作
次に、キャリブレーション機能および画像読取機能のそれぞれについて、撮像装置９の動作を説明する。
図５は、撮像装置９がキャリブレーションをするときの動作の流れを示す図である。制御部２１は、指定部２０からキャリブレーションをする旨の指示を受けたか否かを判定し（ステップＳ１０１）、この指示を受けていない間（ステップＳ１０１；ＮＯ）は、この判定を続ける。指定部２０からキャリブレーションをする旨の指示を受けた場合（ステップＳ１０１；ＹＥＳ）、制御部２１は、光量調整部２１４として機能し、照射部３による光の照射を停止する（ステップＳ１０２）。次に、制御部２１は、取得部２１１として機能し、予め決められた最小の期間（以下、最小期間という）Ｔｍｉｎ（本発明における第１期間）にわたって読取部１の各撮像素子Ｃに撮像させ、その各撮像素子Ｃからそれぞれ暗電流の値である暗電流値Ｄｍｉｎ（本発明における第１信号値）を取得する（ステップＳ１０３）。また、制御部２１は、予め決められた最大の期間（以下、最大期間という）Ｔｍａｘ（本発明における第２期間）にわたって読取部１の各撮像素子Ｃに撮像させ、その各撮像素子Ｃからそれぞれ暗電流値Ｄｍａｘ（本発明における第２信号値）を取得する（ステップＳ１０４）。このステップＳ１０３とステップＳ１０４の実行の順序は上述の逆でもよい。そして、暗電流値Ｄｍｉｎおよび暗電流値Ｄｍａｘを取得した制御部２１は、これらを記憶部２２に記憶する（ステップＳ１０５）。
【００２１】
図６は、制御部２１が最大期間Ｔｍａｘにわたって読取部１の各撮像素子Ｃに撮像させて取得した暗電流値Ｄｍａｘを示す図である。暗電流値Ｄｍａｘは、チップ１０ごとに大きさが異なっているが、それぞれのチップ１０内における撮像素子の位置と暗電流値との相対的な関係は共通している。例えば、図６に示すように、各チップ１０においてそれぞれ暗電流値は、撮像素子Ｃｉの添字ｉが小さい方ほど大きい傾向がある。これは、図２に示したとおり、チップ１０において添字が小さい撮像素子Ｃｉが配置された側の端にアンプ１００が配置されているからである。つまり、アンプ１００に近いほど、撮像素子Ｃがアンプ１００から発生する熱によって加熱されて高温になり易く、暗電流値が大きくなる傾向があるからである。ただし、撮像素子Ｃには個体差があるため、横軸に撮像素子Ｃの添字を表し、縦軸に暗電流値の出力を表した場合、このグラフは同じチップ１０内においても単調減少曲線になるとは限らない。
【００２２】
図７は、撮像素子Ｃ１〜Ｃｎにおいてそれぞれ測定される暗電流値を撮像期間ごとに表した図である。撮像期間が最大期間Ｔｍａｘの場合、制御部２１が撮像素子Ｃｉから取得する暗電流値はＤｍａｘ［ｉ］である。また、撮像期間が最小期間Ｔｍｉｎの場合、制御部２１が撮像素子Ｃｉから取得する暗電流値はＤｍｉｎ［ｉ］である。
【００２３】
撮像期間は、最小期間Ｔｍｉｎ以上、且つ最大期間Ｔｍａｘ以下の値で指定される。例えば、指定された撮像期間がＴｍｉｎよりも長いＴ１の場合、制御部２１が撮像素子Ｃｉから取得する暗電流値はＤ１［ｉ］であり、指定された撮像期間がＴ１よりも長くＴｍａｘよりも短いＴ２の場合、制御部２１が撮像素子Ｃｉから取得する暗電流値はＤ２［ｉ］である。この場合、Ｄｍｉｎ［ｉ］＜Ｄ１［ｉ］＜Ｄ２［ｉ］＜Ｄｍａｘ［ｉ］が成り立つ。
【００２４】
図８は、撮像期間と暗電流値との関係を示す図である。横軸に撮像期間を表し縦軸に暗電流値の出力を表すと、図８に示すように、どの撮像素子Ｃにおいても暗電流値の出力の大きさが撮像期間の長さの一次関数として表されることがわかる。例えば、撮像素子Ｃｎにおいて、最大期間Ｔｍａｘにわたって撮像したときの暗電流値はＤｍａｘ［ｎ］であり、最小期間Ｔｍｉｎにわたって撮像したときの暗電流値はＤｍｉｎ［ｎ］であるところ、この撮像素子Ｃｎにおいて、指定された期間Ｔ１（Ｔｍｉｎ≦Ｔ１≦Ｔｍａｘ）にわたって撮像したときの暗電流値Ｄ１［ｎ］は、以下の式によって表される。
【００２５】
Ｄ１［ｎ］≒（Ｄｍａｘ［ｎ］−Ｄｍｉｎ［ｎ］）／（Ｔｍａｘ−Ｔｍｉｎ）×（Ｔ１−Ｔｍｉｎ）＋Ｄｍｉｎ［ｎ］
これは撮像素子Ｃｎに限らずに成り立つため、全ての撮像素子Ｃｉにおいて以下の式（１）が成り立つ。
【００２６】
［数１］
Ｄｘ［ｉ］≒（Ｄｍａｘ［ｉ］−Ｄｍｉｎ［ｉ］）／（Ｔｍａｘ−Ｔｍｉｎ）×（Ｔ−Ｔｍｉｎ）＋Ｄｍｉｎ［ｉ］・・・（１）
【００２７】
ここで、式（１）のＴはＴｍｉｎ以上、且つＴｍａｘ以下の期間である。そして、Ｄｘ［ｉ］は、指定された期間Ｔ（本発明における第３期間）にわたって撮像素子Ｃｉに撮像させた場合に発生する暗電流値（本発明における第４信号値）である。すなわち、指定された期間Ｔにわたって撮像素子Ｃｉに撮像させた時の暗電流値Ｄｘ［ｉ］は、最大期間Ｔｍａｘとこれに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］の組、および最小期間Ｔｍｉｎとこれに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］の組によって線形補間により推算される。なお、ＴがＴｍｉｎまたはＴｍａｘである場合、上述の式（１）に従って演算をするとＴ＝ＴｍｉｎでＤｘ［ｉ］＝Ｄｍｉｎ［ｉ］になり、Ｔ＝ＴｍａｘでＤｘ［ｉ］＝Ｄｍａｘ［ｉ］になるが、この線形補間はこの場合の演算を含む。
【００２８】
図９は、撮像装置９が画像を読み取るときの動作の流れを示す図である。制御部２１は、指定部２０から画像読取をする旨の指示を受けたか否かを判定し（ステップＳ２０１）、この指示を受けていない間（ステップＳ２０１；ＮＯ）は、この判定を続ける。指定部２０から画像読取をする旨の指示を受けた場合（ステップＳ２０１；ＹＥＳ）、制御部２１は、光量調整部２１４として機能し、照射部３による決められた光量の光の照射を開始する（ステップＳ２０２）。次に、制御部２１は、取得部２１１として機能し、指定部２０により指定された期間（以下、指定期間という）Ｔにわたって読取部１の各撮像素子Ｃｉ（ｉは１〜１０ｎ）に撮像させ、その各撮像素子Ｃｉからそれぞれ映像信号Ｄｉ（本発明における第３信号値）を取得する（ステップＳ２０３）。そして、制御部２１は、推算部２１２として機能し、指定期間Ｔにわたって照射部３による光の照射を行わずに各撮像素子Ｃｉに撮像させた場合に得られる暗電流値Ｄｘ［ｉ］を上述した式（１）に基づいた線形補間により推算する（ステップＳ２０４）。映像信号Ｄｉを取得し、暗電流値Ｄｘ［ｉ］を推算した制御部２１は、減算部２１３として機能し、映像信号Ｄｉから暗電流値Ｄｘ［ｉ］を減算して、得られた数値（本発明における第５信号値）を出力する（ステップＳ２０５）。これにより、映像信号Ｄｉに含まれるノイズ成分に近い暗電流値Ｄｘ［ｉ］が除去されるため、読取部１により読み取られた画像のムラが目立たなくなる。
【００２９】
２．変形例
以上が実施形態の説明であるが、この実施形態の内容は以下のように変形し得る。また、以下の変形例を組み合わせてもよい。
【００３０】
２−１．最小期間、最大期間の除外
上述した実施形態において、全ての指定期間Ｔについて式（１）を適用した線形補間により暗電流値Ｄｘ［ｉ］を推算していたが、推算に先立って指定期間Ｔが最小期間や最大期間に一致するか否かを判定してもよい。図１０は、この変形例において撮像装置９が画像を読み取るときの動作の流れを示す図である。図１０に示すステップのうち図９に示したステップと共通するものについては、共通の符号を付して説明を省略する。ステップＳ２０３の後、制御部２１は、指定期間Ｔが最小期間Ｔｍｉｎに等しいか否かを判定する（ステップＳ２１１）。指定期間Ｔが最小期間Ｔｍｉｎに等しいと判定した場合（ステップＳ２１１；ＹＥＳ）、制御部２１は、各撮像素子Ｃｉから取得した映像信号Ｃｉから記憶部２２に記憶されたＤｍｉｎ［ｉ］をそれぞれ減算する（ステップＳ２１２）。
【００３１】
指定期間Ｔが最小期間Ｔｍｉｎに等しいと判定しなかった場合（ステップＳ２１１；ＮＯ）、制御部２１は、指定期間Ｔが最大期間Ｔｍａｘに等しいか否かを判定する（ステップＳ２１３）。指定期間Ｔが最大期間Ｔｍａｘに等しいと判定した場合（ステップＳ２１３；ＹＥＳ）、制御部２１は、各撮像素子Ｃｉから取得した映像信号Ｃｉから記憶部２２に記憶されたＤｍａｘ［ｉ］をそれぞれ減算する（ステップＳ２１４）。
【００３２】
そして、指定期間Ｔが最大期間Ｔｍａｘに等しいと判定しなかった場合（ステップＳ２１３；ＮＯ）、制御部２１は、上述したステップＳ２０４およびステップＳ２０５を順次実行すればよい。これにより予め記憶されているため推算の必要がない暗電流値を推算する手間が省かれる。
【００３３】
２−２．代表チップ
上述した実施形態では、読取部１に含まれる全ての撮像素子Ｃｉについて、最小期間Ｔｍｉｎに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、最大期間Ｔｍａｘに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを実測し、記憶部２２に記憶していたが、読取部１に含まれる１つのチップ１０に備えられた撮像素子Ｃについて、これらを記憶してもよい。すなわち、読取部１に含まれる複数のチップ１０のうち、いずれか１つを代表として記憶してもよい。この場合、記憶部２２は、代表となるチップ１０（以下、代表チップともいう）に配置された各撮像素子Ｃｉについて、暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを記憶するとともに、この代表チップにおいて決められた位置に配置された撮像素子Ｃｉの暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、この代表チップ以外のチップ１０においてその位置に対応する位置に配置された撮像素子Ｃｋ（ｋ≠ｉ）の暗電流値Ｄｍｉｎ［ｋ］との差である嵩上げ値を、この代表チップ以外のチップ１０ごとに記憶すればよい。
【００３４】
例えば、チップ１０が図２に示した配置である場合、チップ１０の右端の撮像素子Ｃ、すなわち、チップ１０において添字ｉが最大である撮像素子Ｃｉから生じる暗電流値が最も小さくなることが分かっている。このとき、制御部２１は、キャリブレーションを行うに先立って、各チップ１０においてそれぞれ添字ｉが最大になる位置（本発明における第１位置）に配置された撮像素子Ｃｉに、最小期間Ｔｍｉｎにわたって撮像させて得た暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］（ｉ＝ｎ，２ｎ，３ｎ，…，１０ｎ）を取得する。そして、これらの中から最も小さいものを特定し、特定した暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］を発生させた撮像素子Ｃｉを有するチップ１０を代表とすればよい。制御部２１は、代表となったチップ１０の暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、それ以外のチップ１０の暗電流値Ｄｍｉｎ［ｋ］（ｋ≠ｉ）との差を算出し、代表以外のチップ１０ごとにこれを「嵩上げ値」として対応付けて記憶部２２に記憶する。そして、制御部２１は、代表となったチップ１０についてのみ、最小期間Ｔｍｉｎに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、最大期間Ｔｍａｘに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを実測し、記憶部２２に記憶する。
【００３５】
例えば、代表となったチップ１０が図１に示した読取部１のうち左端にあるチップ１０である場合、添字ｉは、ｉが１〜ｎである。制御部２１は、左端からｊ番目（ｊは２以上１０以下の整数）のチップ１０に対応する嵩上げ値Ｂ［ｊ］として、（Ｄｍｉｎ［ｊ×ｎ］−Ｄｍｉｎ［ｎ］）を記憶する。そして制御部２１は、ｉが１〜ｎの撮像素子Ｃｉについて、最小期間Ｔｍｉｎに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、最大期間Ｔｍａｘに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを実測し、記憶部２２に記憶する。
【００３６】
次に、制御部２１は、画像読取を行うに際して、ｉが１〜ｎの撮像素子Ｃｉについては上述した式（１）に従って線形補間を行う。一方、ｉ＞ｎの撮像素子Ｃｉについては、制御部２１は、以下の式（２）に従って線形補間を行う。
【００３７】
［数２］
Ｄｘ［ｉ］≒（Ｄｍａｘ［ｉ  ｍｏｄ  ｎ］−Ｄｍｉｎ［ｉ  ｍｏｄ  ｎ］）／（Ｔｍａｘ−Ｔｍｉｎ）×（Ｔ−Ｔｍｉｎ）＋Ｄｍｉｎ［ｉ  ｍｏｄ  ｎ］＋Ｂ［ｊ］・・・（２）
【００３８】
ここで、「ｉ  ｍｏｄ  ｎ」とは、自然数ｎを法とする整数ｉの剰余であり、ｊは、上述したチップ１０の左端からの位置を示す値である。したがって、式（２）におけるＤｍａｘ［ｉ  ｍｏｄ  ｎ］とＤｍｉｎ［ｉ  ｍｏｄ  ｎ］とは、代表となったチップ１０（ｉが１〜ｎ）のＤｍａｘ［ｉ］とＤｍｉｎ［ｉ］とにそれぞれ対応する。つまり、制御部２１は、代表となったチップ１０以外のチップ１０において各撮像素子Ｃが発生する暗電流値の推算を、まず、代表となったチップ１０において対応する位置の撮像素子Ｃについて記憶されたデータを用いて行う。そして制御部２１は、得られた各値に対してチップ１０ごとに記憶した嵩上げ値を加算して「嵩上げ」をすることで、各チップ１０間のずれを補正する。これにより、記憶部２２は、最小期間Ｔｍｉｎに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、最大期間Ｔｍａｘに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを全ての撮像素子Ｃｉについて記憶しなくても、代表となるチップ１０に含まれる撮像素子Ｃｉについて記憶すれば、全撮像素子について暗電流値が推算される。
【００３９】
なお、上述の例では、代表となったチップ１０に配置された全ての撮像素子Ｃについて、最小期間Ｔｍｉｎに対応する暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と、最大期間Ｔｍａｘに対応する暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを実測し、記憶部２２に記憶しているが、一部の撮像素子Ｃについてこれらを実測し、それ以外の撮像素子Ｃについては推算値を用いるようにしてもよい。この推算値は、例えば高次の多項式など予め決められた数式に基づく補間計算によって推算されてもよい。具体的に、この数式には、三次関数や四次関数などのほか、指数関数、三角関数、対数関数の項などを含んでいてもよいし、これらを組み合わせた関数を含んでいてもよい。要するに、チップ１０内の撮像素子Ｃの位置に対する暗電流値の分布を、予め決められた数式によって近似してもよい。
【００４０】
例えば、各チップ１０において、撮像素子Ｃの位置と暗電流の値とを表す点が、予め決められた三次関数に沿って描かれることが分かっている場合、記憶部２２は、代表となったチップ１０の撮像素子Ｃのうち、少なくとも３つの位置（本発明における第２位置）に配置された撮像素子Ｃについて、暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを実測した各値を記憶すればよい。このとき、制御部２１は、代表となったチップ１０以外のチップ１０に配置された撮像素子Ｃであって、上述した３つの撮像素子Ｃの位置と異なる位置に配置されている撮像素子Ｃについて暗電流値を推算する場合、記憶部２２に記憶された暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とを用いて上述の三次関数に基づく補間計算を行い、代表となったチップ１０において、この撮像素子Ｃの位置に対応する位置に配置されている撮像素子Ｃの暗電流値Ｄｍｉｎ［ｉ］と暗電流値Ｄｍａｘ［ｉ］とをそれぞれ推算する。そして、推算されたこれら数値を用いて、上述の式（２）に従って線形補間を行うことで、指定期間Ｔにおけるこの撮像素子Ｃの暗電流値を推算すればよい。これにより、記憶部２２は、代表チップ１０に配置されている全ての撮像素子Ｃについて実測値をそれぞれ記憶しなくてもよい。
【００４１】
２−３．情報処理装置
上述したコントローラ２は、情報処理装置として観念される。すなわち、このコントローラ２の記憶部２２は、照射部３による光の照射を停止した状態で被撮像体を最小期間Ｔｍｉｎにわたって撮像素子Ｃに撮像させて得た暗電流値Ｄｍｉｎと、照射部３による光の照射を停止した状態で被撮像体を最小期間Ｔｍｉｎよりも長い最大期間Ｔｍａｘにわたって撮像素子Ｃに撮像させて得た暗電流値Ｄｍａｘとを記憶する。また、このコントローラ２の取得部２１１は、最小期間Ｔｍｉｎ以上、且つ最大期間Ｔｍａｘ以下の期間として指定された指定期間Ｔにわたって照射部３により決められた光量の光が照射された状態で被撮像体を撮像素子Ｃに撮像させて映像信号Ｄｉを取得する。また、このコントローラ２の推算部２１２は、照射部３による光の照射を停止した状態で被撮像体を指定期間Ｔにわたって撮像素子Ｃに撮影させた場合に得られる暗電流値を、記憶部２２に記憶された暗電流値Ｄｍｉｎおよび暗電流値Ｄｍａｘを用いる線形補間により推算する。また、このコントローラ２の減算部２１３は、取得部２１１が取得した映像信号Ｄｉから推算手段が推算した暗電流値を減算する。
【００４２】
２−４．プログラム
制御部２１によって実行される各プログラムは、磁気テープや磁気ディスクなどの磁気記録媒体、光ディスクなどの光記録媒体、光磁気記録媒体、半導体メモリなどの、コンピュータ装置が読み取り可能な記録媒体に記憶された状態で提供し得る。また、このプログラムを、インターネットのようなネットワーク経由でダウンロードさせることも可能である。なお、上記の制御部２１によって例示した制御手段としてはＣＰＵ以外にも種々の装置が適用される場合があり、例えば、専用のプロセッサなどが用いられる。
【符号の説明】
【００４３】
１…読取部、１０…チップ、１００…アンプ、２…コントローラ、２０…指定部、２１…制御部、２１１…取得部、２１２…推算部、２１３…減算部、２１４…光量調整部、２２…記憶部、３…照射部、９…撮像装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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