(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を受信し、前記入力信号に処理を施し、前記信号及び前記処理に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置（８）を較正する際に用いる較正検出システム（４）であって、
プロセッサ（４８）及びストレージ（５２）を含むプロセッサ装置（３２）と、
前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第１の信号発生器（５６）及び少なくとも第１の測定デバイス（６０）を含む評価装置（３６）と、
複数のリード（８０Ａ〜８０Ｊ）を含む接続装置（４０）であって、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第１の信号発生器及び前記少なくとも第１の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、
前記ストレージが１つ以上のルーチンを格納しており、前記ルーチンが前記プロセッサで実行されると、
前記少なくとも第１の信号発生器から少なくとも第１の入力信号を第１の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、
前記少なくとも第１の測定デバイスによって少なくとも第１の出力信号を第２の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、
前記少なくとも第１の入力信号及び前記少なくとも第１の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、
を含む動作を前記較正検出システムに実行させる、較正検出システム。
【請求項２】
前記動作が、前記第１の数の前記リード及び前記第２の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項１に記載の較正検出システム。
【請求項３】
前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、
前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、
前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、
前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第１の数の前記リード及び前記第２の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、
を更に含む、請求項２に記載の較正検出システム。
【請求項４】
前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項１に記載の較正検出システム。
【請求項５】
前記動作が、前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、
前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであることと、
前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、
の少なくとも１つである指示を出力することを更に含む、請求項４に記載の較正検出システム。
【請求項６】
前記動作が、前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項５に記載の較正検出システム。
【請求項７】
前記動作が、
前記少なくとも第１の入力信号として複数の入力信号を入力すること、
前記少なくとも第１の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも１つに応答する複数の出力信号を検出すること、
前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、
を含む、請求項１に記載の較正検出システム。
【請求項８】
前記動作が、
前記複数の入力信号の少なくとも２つを同時に入力することと、
前記複数の出力信号の少なくとも２つを同時に検出すること、
の少なくとも一方を更に含む、請求項７に記載の較正検出システム。
【請求項９】
前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、前記動作が、
前記複数の測定デバイスの１つの測定デバイス（６０）によって前記複数の出力信号の１つの出力信号と、
前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス（６４）によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、
を同時に検出することを更に含む、請求項８に記載の較正検出システム。
【請求項１０】
前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置（７６）を更に含み、前記動作が、前記少なくとも第１の信号発生器及び前記少なくとも第１の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第１のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項１に記載の較正検出システム。
【請求項１１】
入力信号を受信し、前記入力信号に処理を施し、前記信号及び前記処理に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置（８）を較正するに当たって較正検出システム（４）を動作させる方法であって、前記較正検出システムが、プロセッサ（４８）及びストレージ（５２）を含むプロセッサ装置（３２）と、前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第１の信号発生器（５６）及び少なくとも第１の測定デバイス（６０）を含む評価装置（３６）と、複数のリード（８０Ａ〜８０Ｊ）を含み、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第１の信号発生器及び前記少なくとも第１の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、前記方法が、
前記少なくとも第１の信号発生器からの少なくとも第１の入力信号を第１の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、
前記少なくとも第１の測定デバイスによって少なくとも第１の出力信号を第２の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、
前記少なくとも第１の入力信号及び前記少なくとも第１の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、
を含む、方法。
【請求項１２】
前記第１の数の前記リード及び前記第２の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、
前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、
前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、
前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第１の前記リード及び前記第２の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、
を更に含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、
前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１５】
前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、
前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、
の少なくとも１つである指示を出力することを更に含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、
検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記少なくとも第１の入力信号として複数の入力信号を入力することと、
前記少なくとも第１の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも１つに応答する複数の出力信号を検出することと、
前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、
を更に含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１８】
前記複数の入力信号の少なくとも２つを同時に入力することと、
前記複数の出力信号の少なくとも２つを同時に検出すること、
の少なくとも一方を更に含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、
前記複数の測定デバイスの１つの測定デバイス（６０）によって前記複数の出力信号の１つの出力信号と、
前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス（６４）によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、
を同時に検出することを更に含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置（７６）を更に含み、前記少なくとも第１の信号発生器及び前記少なくとも第１の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第１のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項１１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に較正検出システム及び方法に関し、更に具体的には、較正検出システムが電子装置に接続可能な電気リードを含み、リードと様々な試験デバイスとの接続が較正検出システムによって内部で切り換えられる、較正検出システム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
原子力発電所等の施設においては、典型的にはセンサー及び他のデバイスがプロセスの状態及び他の状態を検出し、かかる状態を示すデータが制御室等の中央場所に供給される。最も典型的には、制御室では、センサーからの生の出力に加えて別の出力が必要である。例えば、制御室では、圧力センサーが出力する現在の圧力に加えて、平均圧力、ピーク及び最小圧力、並びに圧力センサーが供給する信号を処理した結果得られる他の信号を追加供給することが望ましい。このため、センサー信号に対するかかる追加の処理を必要とする施設は通常、センサーからの信号を受信し、その信号に様々な処理を施し、１つ以上のデータ・ストリームを制御室に供給するあるタイプの電子装置を含む。
【０００３】
電子装置の精巧さや他の要因によるが、電子装置は随時較正することが必要な場合がある。例えば、原子力発電所における電子装置は、電子装置が古い設計のため、また、連邦政府の規制に従う必要があるために、アナログ機器である場合がある。かかる電子装置は頻繁に試験及び較正を行う必要がある。一方、医薬製造プロセスの側面を制御する電子装置は、全体的にデジタルであり、最小限の較正しか必要としないことがある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
電子装置に必要な較正の量又は頻度にかかわらず、かかる較正操作はしばしば時間がかかり、労働集約的であり、エラーが生じやすい。例えば、原子力発電所に用いられるアナログ構成の電子装置において、技術者は、典型的には、電子装置の電子コンポーネントの所定の場所にデジタル・マルチメータを接続し、電子装置の他のコンポーネントのある特定の場所に電圧源を接続し、信号を発生させ、検出した電圧（又は他の検出パラメータ）に注目して、その値を記録シートに記録することを含む試験プロトコルに従わなければならない。原子力発電所では、かかる較正プロトコルは、関与する機器の多様性及び運転の安全上の余裕を確保するために設ける機器の冗長度のため、極めて煩雑であり得る。
【０００５】
任意の所与の電子装置について、試験プロトコルは一般的に詳細かつ複雑であるので、エラーを生じやすい。例えば、第１のステップでは技術者が、電子装置のいくつかのコンポーネントにある特定の機器を接続し、電子装置にある特定の入力信号を供給し、測定デバイスで検出される出力に注目し、それを記録することが必要な場合がある。次いで、試験プロトコルで指定された方法で、電子装置と試験機器との間の接続部の１つ以上を電子装置の他のコンポーネントに再接続しなければならない。かかる多様な接続及び再接続が、その複雑さのためにエラーを招く。更に、かかる操作は労働集約的であると共に時間がかかる。このため、既知の試験方法におけるこれら及び他の欠点を克服する改良されたシステムを提供することが望まれる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
電子装置を較正する際に用いられる改良された較正検出システムは、プロセッサ装置、評価装置、及び接続装置を含む。評価装置は、１つ以上の信号発生器及び例えば電圧計である１つ以上の測定デバイスを含む。接続装置は複数のリードを含み、内部で様々なリードを切り換えて評価装置の様々な要素と接続するようにプロセッサ装置によって作動される。最初にリードの全てを電子装置に接続可能な状態にし、リードと評価装置の様々な要素との間の接続を内部で切り換えることによって、較正検出システムは試験プロトコルを実行する際の時間を節約し、エラーを回避する。
【０００７】
従って、本発明の一態様によると、改良された較正検出システムが提供される。
【０００８】
本発明の別の態様によると、かかる改良された較正検出システムを用いて電子装置に試験プロトコルを実行する改良された方法が提供される。
【０００９】
本発明のこれら及び別の態様によると、電子装置を較正する際に用いられる改良された較正検出システムが提供される。この電子装置は、入力信号を受信し、入力信号に処理を施し、入力信号及び当該処理に少なくとも部分的に基づく出力信号を供給するように構成されている。較正検出システムの一般的な性質は、プロセッサ及びストレージを含むプロセッサ装置と、プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第１の信号発生器及び少なくとも第１の測定デバイスを含む評価装置と、複数のリードを含み、リードの少なくとも一部がそれぞれ少なくとも第１の信号発生器及び少なくとも第１の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含むとして説明できる。ストレージは１つ以上のルーチンを格納しており、このルーチンがプロセッサで実行されると、較正検出システムに、その一般的な性質が、少なくとも第１の信号発生器から少なくとも第１の入力信号を第１の数のリードを通じて電子装置に入力することと、少なくとも第１の測定デバイスによって少なくとも第１の出力信号を第２の数のリードを通じて電子装置から検出することと、少なくとも第１の入力信号及び少なくとも第１の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含むものとして説明できる動作を行わせる。
【００１０】
本発明の別の態様によると、電子装置を較正する際に較正検出システムを操作させる改良された方法が提供される。この電子装置は、入力信号を受信し、入力信号に処理を施し、入力信号及び当該処理に少なくとも部分的に基づく出力信号を供給するように構成されている。較正検出システムは、プロセッサ及びストレージを含むプロセッサ装置と、プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第１の信号発生器及び少なくとも第１の測定デバイスを含む評価装置と、複数のリードを含み、リードの少なくとも一部がそれぞれ少なくとも第１の信号発生器及び少なくとも第１の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含むものとして説明できる。この方法の一般的な性質は、少なくとも第１の信号発生器から少なくとも第１の入力信号を第１の数のリードを通じて電子装置に入力することと、少なくとも第１の測定デバイスによって少なくとも第１の出力信号を第２の数のリードを通じて電子装置から検出することと、少なくとも第１の入力信号及び少なくとも第１の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含むものとして説明できる。
【００１１】
添付図面と関連付けて以下の説明を読むことから、本発明の更なる理解が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】試験プロトコルの実行時に電子装置と接続された、本発明による改良された較正検出システムの概略図である。
【図２】図１の改良された較正検出システムを詳細に示す。
【図３】本発明による、図１の較正検出システムを用いる改良された方法のいくつかの態様を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本明細書全体を通して、同様の番号は同様の部分を指す。
【００１４】
図１に、本発明による改良した較正検出システム４を、電子装置８に接続された状態で概略的に示す。電子装置８は多種多様な機器の任意のものとすることができ、本明細書に示す例示的な実施形態では、原子力発電所等の施設に用いられるカード・ラックである。
【００１５】
例示的な電子装置８は、１２Ａ〜１２Ｇで示す例示的な７個の機能カードを含むが、これらは本明細書に示す実施形態では、性質上アナログであり、コンデンサ、抵抗器、トランジスタ等の様々な露出した電子コンポーネントを含む。しかしながら他の実施形態では、本発明から逸脱することなく１つ以上のデジタル・カードを使用可能であることに留意されたい。電子装置８は、カード１２Ａ〜１２Ｇの全てが接続されているコネクタ１６を更に含む。電子装置８には、例えば圧力センサーであるセンサー２０が接続されており、電子装置８と制御室２４との間にも接続が存在する。
【００１６】
関連技術において理解されるように、電子装置８は、センサー２０からの信号を検出し、例えば、ある時間に亘るセンサー２０からの圧力値を示す信号を検出し、その所与の時間の平均圧力値を制御室２４に伝達するような、この信号に対するある特定の機能を実行する。用途の要請に応じて、他の機能もしくは追加の機能又はそれら双方を電子装置８によって提供することも可能である。
【００１７】
図１に略示し、図２により詳細に示す改良された較正検出システム４は、プロセッサ３２、評価装置３６、接続装置４０、及び入出力装置４４を含む。プロセッサ装置３２はプロセッサ４８を含むが、これは多種多様なプロセッサの任意のものとすることができ、マイクロプロセッサ（μＰ）又は他のタイプのプロセッサとすることも可能である。ストレージは、データ、ルーチン、及び他の電子的資料を格納するためにストレージ・デバイスとして機能する、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭのようなメモリ等であるが、これらに限定されない、様々なタイプの電子ストレージ・デバイスの任意のものとすることができる。
【００１８】
ストレージ５２に格納されるルーチンの１つはオペレーティング・システム・ルーチンであり、これによってプロセッサ４８は、評価装置３６、接続装置４０、及び入出力装置４４の様々な要素を制御する。オペレーティング・システム・ルーチンは、較正検出システムに合うように標準化され、一般に、較正検出システム４が配備される環境にかかわらず不変である。ルーチンの別のものは、較正検出システム４が配備される施設に固有のカスタマイズされた較正ルーチンであり、その施設の電子装置８に付随する、様々なカスタマイズされた試験プロトコルを含む。プロセッサ４８で様々なルーチンを実行することで、較正検出システム４は様々な動作を行う。これらの動作については本明細書の他の箇所でより詳細に説明する。
【００１９】
プロセッサ４８は、評価装置３６、接続装置４０、及び入出力装置４４に接続され、これらを制御する。評価装置３６は、１つ以上の信号発生器５６及び１つ以上の測定デバイス６０、６４を含む。本明細書に記載する実施形態において、測定デバイス６０、６４は電圧計であり、更に具体的にはデジタル・マルチメータであるが、本発明から逸脱することなく他の及び／又は追加の測定デバイスを用いることも可能である。
【００２０】
信号発生器５６は、電圧源６８及び関数発生器７２を含み、これらは相互に接続されている。関数発生器７２は、ランプ関数、階段関数、鋸歯関数、正弦波関数等の様々な関数を発生し、電圧源と連携して、関数発生器７２から前述の関数に従った電圧信号を発生する。
【００２１】
接続装置４０は切り換え装置７６及び複数のリードを含むが、図示する例示的な実施形態においてリードは１０本あり、８０Ａ〜８０Ｊと付番されている。リードは全て、プロセッサ４８により制御される切り換え装置７６に接続されている。同様に、信号発生器５６及び測定デバイス６０、６４等の評価装置３６のコンポーネントからの接続部も切り換え装置７６に接続されている。好都合なことに、切り換え装置は、リード８０Ａ〜８０Ｊの任意のものを評価装置３６のコンポーネントの任意のものと内部で接続する。図２は、リード８０Ａ及び８０Ｇのみが切り換え装置７６を介して信号発生器５６及び測定デバイス６０、６４の接続部の全てと接続可能であることを示すが、切り換え装置７６は実際にはリード８０Ａ〜８０Ｊの任意のものを評価装置３６の任意のコンポーネントの任意の接続部へ独立して切り換え可能であることに留意すべきである。
【００２２】
多数のリード８０Ａ〜８０Ｊが設けられているが、好都合なことに、技術者は、すべての接続を較正検出システム４が行う試験動作の最初に行うことができ、試験プロトコルの間に技術者がいずれのリード８０Ａ〜８０Ｊも再接続する必要はない。上述のように、ストレージ５２に格納されカスタマイズされた較正ルーチンは典型的には、較正検出システム４が配備されている施設に存在する様々な電子装置８の全てでなくともその多くに用いる試験プロトコルを含む。試験プロトコルは典型的には、較正検出システム４が配備されている施設で用いられる操作マニュアルに基づいた何らかのカスタマイズされたコードの形態をとる。
【００２３】
任意の所与の電子装置のための試験プロトコルは最初に、例えば１５秒の間、１秒間隔で１．０ボルトと３．０ボルトとの間を階段状に変化する電圧を必要とし、入力はカード１２Ｃの特定のコンポーネント上の特定場所に供給され、出力電圧はカード１２Ａの特定のコンポーネント上の特定場所から検出される。従って、図１及び図２から理解されるように、一例として、切り換え装置７６は内部でリード８０Ｃを信号発生器５６に接続し、リード８０Ａを電圧計６０に接続する。次いで、上述のように、較正検出システム４は、前述の階段関数電圧を電子装置８に入力し、電圧が生じた場合、それを電圧計６０で検出する。
【００２４】
検出された電圧が電子装置８の第１の部分の較正が適当であることを示すと、プロセッサ４８は試験プロトコルの次の部分を実行することができる。これは、カード１２Ｆの特定のコンポーネントの特定場所に１．５ボルトの固定電圧を印加し、カード１２Ｄの特定のコンポーネントの特定場所から及びカード１２Ｇの特定のコンポーネントの特定場所からの電圧を同時に検出することであってよい。このようにするため、切り換え装置７６は、内部でリード８０Ｅを信号発生器５６に接続し、リード８０Ｄを電圧計６０に接続し、リード８０Ｇを電圧計６４に接続することにより、内部で様々なリード８０を評価装置３６の様々なコンポーネントに再接続する。次いで較正検出システム４は、前述の信号を発生し、先に示したように電圧を同時に検出する。
【００２５】
このため、技術者に対する指示は、様々なリード８０Ａ〜８０Ｊの全てを、全ての試験プロトコルの間に評価されるカード１２Ａ〜１２Ｇ上の様々な場所の全てに接続することでよく、プロセッサ４８により制御される切り換え装置７６が、内部で様々なリード８０Ａ〜８０Ｊ及び評価装置３６のコンポーネントの間の接続を切り換えて、試験プロトコルを構成する様々な試験動作が実行される。このため、較正検出システム４をその格納された試験プロトコルと共に用いることによって、試験プロトコル進行時に、技術者が様々なリード８０Ａ〜８０Ｊと電子装置８の他の様々なコンポーネントとを定期的に切断及び再接続する必要がなくなるという利点がある。
【００２６】
試験プロトコルの前述の例は限定を意図したものではなく、寧ろ試験プロトコルは典型的には、開発されたこれよりもはるかに豊富な命令セットを有することに留意すべきである。例えば、電圧等の固定試験値をその固定予想値と比較する際に、試験プロトコルは典型的には、特定の電子装置８で得られる特定の測定値に特有の許容誤差を用いるが、典型例では、測定信号の或る特定の百分率に測定スケールの或る特定の百分率を加算したものである。一例として、電圧の或る特定の許容誤差は、予想される測定信号（例えばボルト単位）の±１．００％を、スケール（例えば０から１００ボルト）の±４．００％と組み合わせたものとすることができる。予想される測定値が５０ボルトである場合、許容誤差は５０ボルトの±１．００％に等しい０．５０ボルトを１００ボルト・スケールの±４．００％に等しい４．００ボルトに加算した合計の±４．５０ボルトとなる。
【００２７】
しかしながら、試験プロトコルは、電圧入力又は出力がランプ関数、階段関数、鋸歯関数、及び正弦波関数の１つ以上に従う状況のように、入力及び／又は予想出力が時間の関数として変動する場合、及び／又は入力の印加と出力の検出との間に時間遅延が予想される場合に、試験を可能とするように構成されている。かかる状況において、適切な許容誤差は時間の関数として変動し、有利であることには試験プロトコルは、時間の関数として特定の入力の印加に対して固有の正しい許容誤差をリアルタイムで計算し印加する能力を含む。
【００２８】
入出力装置４４はディスプレイ８４及びキーボード８８を含み、どちらもプロセッサ４８に接続されている。キーボード８８は、技術者が電子装置８の識別コード等のデータを入力するために使用することができるが、技術者が入力することによってプロセッサ４８は識別コードを用いて、特定の電子装置８と関連して用いるために記述され格納されている関連の試験プロトコルをストレージ５２から検索することができる。
【００２９】
ディスプレイ８４は、様々なリード８０Ａ〜８０Ｊを電子装置８の様々な要素に接続するための図等の指示を技術者に表示し、更なる指示を技術者に提供することができる。例えば、試験プロトコルの様々な部分を実行する際に、技術者が電子装置８の所与のカード１２Ａ〜１２Ｇ等の所与のコンポーネントを交換することが試験プロトコルの一部であってよい。あるいは技術者に対し、所与のカード１２Ａ〜１２Ｇの利得を調整すること、又はカード１２Ａ〜１２Ｇを一新することを指示する場合がある。更にディスプレイ８４は、試験プロトコルにおける個々の試験ステップの記述を技術者に出力し、そのような個々の試験ステップが実際に実行される前に技術者からの明示の同意、即ち同意の入力を待つことができる。
【００３０】
更に、ディスプレイは、発生した入力及び得られた結果をリアルタイムで出力するように構成することができるが、このことは、そのように構成しなければ信号発生器５６及び電圧計６０、６４の個々のディスプレイで提供されるであろう出力を、ディスプレイ８４がシミュレートすることができることを意味する。
【００３１】
また、ディスプレイ８４は最終的に、試験及び較正が電子装置について完了したこと、並びに較正検出システム４を異なる電子装置８に接続可能であることを技術者に指示することができる。好都合なことに、様々な電子装置８間で較正検出システム４を移送するためにプラットフォーム９２及び車輪９６が設けられている。明確を期すため、ここでは電子装置８のうち１つのみを明示的に図示している。
【００３２】
図３に、本発明による改良した方法のいくつかの態様を示すフローチャートが略示されている。１０４におけるように、機器識別子等の識別コードの入力を較正検出システム４が検出すると、処理が開始される。かかる入力は、技術者が較正対象の特定の電子装置８の識別コードをタイプ入力することによって可能である。
【００３３】
次いで１０８におけるように、較正検出システム４は、１０４で技術者により識別された特定の電子装置８に関連する試験プロトコルを検索することができる。次いで１１２におけるように、プロセッサ４８はディスプレイ８４に接続図を出力させることができるが、この接続図は、１０８で検索された試験プロトコル全体の試験動作を全て行うために、様々なリード８０Ａ〜８０Ｊを様々なカード１２Ａ〜１２Ｇとどのように接続するべきかを技術者に指示する。任意所与の試験プロトコルを実行する際にリード８０Ａ〜８０Ｊの全てでなく一部を使用するとしてもよいことに留意すべきであり、更に、かかる試験プロトコルの間にカード１２Ａ〜１２Ｇの全てでなく一部をリード８０Ａ〜８０Ｊに接続してもよいことに留意すべきである。また、１０本のリード８０Ａ〜８０Ｇは例示の目的にのみ示されており、７枚のカード１２Ａ〜１２Ｇでもよいことが理解されよう。どちらも、本発明から逸脱することなく、数はより多くてもより少なくてもよいことに留意すべきである。
【００３４】
一旦様々なリード８０Ａ〜８０Ｊが電子装置８上の様々な場所に接続されたら、１１６におけるように、技術者は＜開始＞コマンドを与えることにより、かかる接続が行われたことを較正検出システム４に示すことができる。次いで１２０におけるように、切り換え装置７６によって、様々なリード８０Ａ〜８０Ｊを、第１の試験を実行するために必要な、評価装置３６の様々なコンポーネントに接続されるように内部で切り換え、信号発生器５６により適切な信号を電子装置８に入力し、電圧計６０、６４又はこれら双方を適宜用いて出力を検出することによって、試験プロトコルが始動される。試験プロトコルはプロセッサ４８に様々な試験パラメータを示す。
【００３５】
次いで１２４におけるように、電子装置８の試験プロトコルのその時点で特定の被試験コンポーネントの較正に問題が検出されたか否かを判定する。かかる較正の問題が検出された場合、処理１２８におけるように処理が続行し、技術者が実行するためにディスプレイ８４に出力される特定の指示を識別するために試験プロトコルが参照される。次いで１３２におけるように、表示した指示が実行されたことを示す入力が検出され、次いで１３６におけるように、問題が解決したか否かが判定される。問題が解決していない場合、処理は１２８におけるように続行し、試験プロトコルが更に参照され、技術者のためにディスプレイ８４に更に別の指示が出力される。一方、１３６におけるように問題が解決したと判定されると、処理が１２０におけるように続行され、試験プロトコル全体が最初から再実行される。かかる状況において試験プロトコルが再始動されるのは、技術者がアクションを取った結果として電子装置８に何らかのタイプの変化が生じ、これが試験プロトコルのより前の部分で起きたであろうことに影響を及ぼした可能性があるからである。従って、１３６におけるように問題が解決したからには、試験プロトコルが再始動され電子装置８の要素全てが再評価される。
【００３６】
一方、１２４におけるように、電子装置８の特定の被試験コンポーネントの較正につき問題が検出されなかったと判定された場合、処理は１４０におけるように続行し、試験プロトコルに未実行の残り部分が存在するか否かが判定される。存在する場合、処理は１４４におけるように続行し、切り換え装置７６は、必要に応じてリードの、評価装置３６の様々なコンポーネントとの接続を内部で切り換え、信号発生器により新しい信号を発生し、電圧計６０もしくは６４又はそれら双方を用いて１つ以上の出力信号がもしあればそれを検出する。次いで、処理は１２４におけるように続行し、電子装置８の現在試験中のコンポーネントの較正に問題が検出されたか否かが判定される。
【００３７】
一方で、１４０で現在の試験プロトコルに更なる試験が存在しないと判定された場合、ディスプレイ８４は、電子装置８の試験が完了したとの表示を出力する。その後、較正検出システム４を電子装置８から切り離して別の電子装置８（本明細書では明示していない）に車輪で移送し、プロセスを１０４におけるように繰り返すことが可能である。
【００３８】
従って、改良された較正検出システム４及び方法は、これを用いないならば技術者に必要であろう労力の多くを無しで済ますことによって時間を節約することができ、これを用いないならば従来のシステムにとって必要とされる冗漫な再接続を回避することによってエラーを減少させることができる。好都合なことに、較正検出システム４は更に、電圧計６０もしくは６４又は評価装置３６の他のコンポーネントによって検出及び／又は導出された結果を、試験書式の様々な空欄に記入することができる。この点で、本発明から逸脱することなく、評価装置３６に任意の数の電圧計、信号発生器、及び他のデバイスを使用可能であることが理解されよう。このため、電圧自体に加えて、較正検出システム４は、検出電圧に到達するまでの時間、カードのストリップ状態、及び取得し記録することが望ましい他のタイプの情報の実質的に全て値を記録することができる。試験プロトコルを多数、即ち施設における多種多様な電子装置８の各々に１つずつ格納することによって、個々の較正検出システム４を用いる個々の技術者が、従前のシステムによりこれまでに可能であったよりも非常に多くの較正及び試験を行うことができる。
【００３９】
本発明は、その思想又は本質的な特徴から逸脱することなく他の具体的な形態で具現化することができる。記載した実施形態は、あらゆる点において限定でなく例示にすぎないと見なされるべきである。従って、本開示の範囲は前述の記載によってではなく添付の特許請求の範囲によって示される。特許請求の範囲の均等物の意味及び範囲に該当するあらゆる変更は、特許請求の範囲に包含されるものとする。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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