(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、
前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置において、
前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設け、
前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させ、
前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品が前記搬送手段の前記収容部に供給され、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続することを特徴とする物品分類装置。
【請求項２】
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が１つであり、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給することを特徴とする請求項１記載の物品分類装置。
【請求項３】
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が２つであり、上記分類運転においては第１の供給経路より物品を自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖し、上記テスト運転においては第２の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖することを特徴とする請求項１記載の物品分類装置。
【請求項４】
外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、
前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置の運転方法において、
前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設け、
前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させ、
前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品を前記搬送手段の前記収容部に供給し、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続することを特徴とする物品分類装置の運転方法。
【請求項５】
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が１つであり、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給することを特徴とする請求項４記載の物品分類装置の運転方法。
【請求項６】
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が２つであり、上記分類運転においては第１の供給経路より物品を自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖し、上記テスト運転においては第２の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖することを特徴とする請求項４記載の物品分類装置の運転方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物品分類装置およびその運転方法に関するもので、特にＬＥＤ素子といった電子部品の分類に適した物品分類装置およびその運転方法に関するものである。  
【背景技術】
【０００２】
従来より特許文献１に示されるような電子部品の分類装置が知られている。特許文献１に記載された電子部品の分類装置では、インデックステーブル２の吸着ノズル８により吸着され排出位置に搬送された電子部品Ｗを、ノズル１１のブローにより分配装置４の投入管１２へと投入し、投入された電子部品Ｗを揺動管１３の揺動により所要の分配部材１４の分配口１４Ａを介して収容箱１５へと振り分けていた。
【０００３】
この電子部品の分類装置には、次のような問題がある。即ち、吸着ノズル８に吸着されている電子部品Ｗを排出位置で排出するに際し、ノズル１１により、電子部品Ｗに対し水平方向へブローし、更に、電子部品Ｗの進行方向を投入管１２により鉛直下方へと曲げるようにするため、セラミックス等の脆い材質からなる電子部品Ｗでは割れてしまう危険があった。更に、ノズル１１よりブローを行うためには電磁弁のＯＮ／ＯＦＦが必要となるため、電磁弁の動作遅れ（タイムラグ）の分だけ排出時間が長くなっていた。
【０００４】
そこで、電子部品Ｗを自然落下させ、上下に伸びる直線状の投入管へ投入するようにすれば上記のようなワークの欠けが発生する可能性を低減することができる上、排出時間の短縮も図れる。このような排出孔を介した自然落下式の分類装置としては、特許文献２に示される電子部品の分類装置が知られている。
【０００５】
ところで、このような電子部品の分類装置は、電子部品の光学的特性や電気的特性を検査装置で検査し、この特性に基づき分類を行う。従って、電子部品の分類装置の稼働開始時や、検査する電子部品の生産ロットや品種が変更された場合などには、該検査装置の調整のため、テスト運転を行う必要があった。
【０００６】
このテスト運転は、予め電子部品の特性を検査しておいた上記検査装置の校正用の基準チップを繰り返し検査し、その検査結果に基づき検査装置を調整していた。このようなテスト運転は、一日に数回程度行われるのが通常である。
【０００７】
しかし、引用文献２に示される電子部品の分類装置は、排出孔があるため、テスト運転のために連続した循環搬送を行うことができなくなる。この場合、日に数度のテスト運転の度に、一度検査装置を通過し、特定の分類容器に振り分けた基準チップを、オペレータが再度装置へ供給する作業を繰り返すこととなり、テスト運転のための作業が煩雑となってしまっていた。
【０００８】
特許文献１に示される電子部品の分類装置における検査装置の調整のためのテスト運転では、排出位置において吸着ノズル８の吸引を維持したままノズル１１のブローを行わないことで、電子部品Ｗをインデックステーブル２上で連続循環搬送させることにより、繰り返し検査装置をパスさせて行う方法が考えられた。しかし、この場合にもテスト運転終了後の排出の際に、検査装置の校正用基準チップが割れてしまう危険は避けられなかった。
尚、背景技術で用いた符号は特許文献１に用いられている符号である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特許第４４７４６１２号特許公報
【特許文献２】特許第２８１４５２５号特許公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、上記問題点を解決しようとするもので、分類運転時の分類対象物品又はテスト運転終了時においては基準物品を、搬送手段の排出位置で、下方に位置する分配手段に自然落下させ、ワークであるこれらの物品の欠けが発生する可能性を低減させるとともに、テスト運転時には基準物品を連続循環搬送することを可能にして、同じ基準物品を繰り返し検査装置により検査することができる物品分類装置およびその運転方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するため、第１の発明は、物品分類装置に次の手段を採用する。
第１に、外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置とする。
【００１２】
第２に、前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設ける。
第３に、前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させる。
第４に、前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品が前記搬送手段の前記収容部に供給され、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続する。
【００１３】
第２の発明は、第１の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第１に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が１つとされる。
第２に、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給する。
【００１４】
第３の発明は、第１の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第１に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が２つとされる。
第２に、上記分類運転においては第１の供給経路より物品を自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖する。
第３に、上記テスト運転においては第２の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖する。
【００１５】
第４の発明は、物品分類装置の運転方法に次の手段を採用する。
第１に、外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置の運転方法とする。
【００１６】
第２に、前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設ける。
第３に、前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させる。
第４に、前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品を前記搬送手段の前記収容部に供給し、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続する。
【００１７】
第５の発明は、第４の発明に、次の手段を付加した物品分類装置の運転方法である。
第１に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が１つとされる。
第２に、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給する。
【００１８】
第６の発明は、第４の発明に、次の手段を付加して物品分類装置の運転方法である。
第１に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が２つとされる。
第２に、上記分類運転においては第１の供給経路より物品を自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖する。
第３に、上記テスト運転においては第２の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖する。
【発明の効果】
【００１９】
第１の発明および第４の発明は、排出部閉鎖手段の開放か閉鎖かの選択といった簡単な方法で、分類運転とテスト運転との切換が容易にできる物品分類装置およびその運転方法となった。
その上、分類運転においては、排出部閉鎖手段を開放して物品を自重落下させるのみなので、ワークたる物品へのダメージの低減が図れる物品分類装置およびその運転方法となった。
更に、テスト運転においては、排出部閉鎖手段を閉鎖して物品（テスト運転時であるので基準物品）の落下を阻止することにより、基準物品の搬送を連続的に継続し、同じ基準物品を繰り返し検査装置により検査することができ、テスト運転が容易にできる物品分類装置およびその運転方法となった。
【００２０】
その上、多数の物品を分類する分類運転においては物品を自動供給し、同じ基準物品を循環搬送するテスト運転においては、自動供給を停止し、基準物品が供給されるため、テスト運転のために供給経路に残存する物品を除去すると言った煩わしい作業の必要をなくすことができた。
【００２１】
第３の発明および第６の発明においては、供給経路を２つ設けて、分類運転とテスト運転とで供給経路を異ならせ、分類運転においては第１の供給経路より物品を自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖し、テスト運転においては第２の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖することにより、運転切替ごとに供給経路に残存する物品を除去すると言った煩わしい作業の必要をなくすことができた。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施例を示す電子部品分類装置の概要説明図
【図２】搬送手段の平面説明図
【図３】供給位置および検査位置を示す搬送手段の側面説明図
【図４】排出位置の断面説明図
【図５】供給位置での供給方法を示す説明図
【図６】検査位置でのプローブとＬＥＤチップの位置関係を示す説明図で、（Ａ）は検査前後の状態を示し、（Ｂ）は検査中を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、図示の実施例と共に本発明の実施の形態について説明する。図１は、本発明の一実施例を示す電子部品分類装置の概要説明図である。実施例においてワークである部品は、ＬＥＤチップＬであり、該ＬＥＤチップＬを電気的特性と光学的特性により、振り分け分類する装置である。
【００２４】
電子部品分類装置は、ＬＥＤチップＬを整列して供給するパーツフィーダ１と、パーツフィーダ１よりＬＥＤチップＬを受け取り、吸着保持して供給位置３０より検査位置３１を通過し排出位置３２へと搬送する搬送手段３と、搬送手段３の搬送経路に沿って設けられＬＥＤチップＬの電気的特性と光学的特性を検査位置３１にて検査する検査装置２と、排出位置３２の下方（具体的には排出部６１の下方）に配置され、排出されたＬＥＤチップＬを電気的特性と光学的特性に基づき振り分ける分配装置４と、更に、その下方に配置され、分配装置４から振り分けられ、チューブ１０を通って送り込まれたＬＥＤチップＬを貯留する多数の分類容器５０よりなる分類部５を有する。
【００２５】
パーツフィーダ１は、図１に現れるように、多数のＬＥＤチップＬがランダムに収容されるフィーダボウル１１と、レール１２で構成され、振動によってＬＥＤチップＬをフィーダボウル１１からレール１２へと長手方向一列に整列して送り出し、レール１２から搬送手段３にＬＥＤチップＬを供給する手段であり、本発明における供給経路となる。この供給経路は、実施例においては１つであるが、本発明では、分類運転時に用いる第１の供給経路とテスト運転時に用いる第２の供給経路という２つの供給経路を設けることもできる。
【００２６】
搬送手段３は、図３に示されるように、間欠回転する円盤状のインデックステーブル７と、インデックステーブル７の下方に配置される固定テーブル６で構成される。インデックステーブル７が、本発明における回転体となり、固定テーブル６が本発明における固定体となる。
【００２７】
インデックステーブル７の外周７０には所定間隔で多数の切り欠きが設けられており、この切り欠きがＬＥＤチップＬを収容するポケット状の収容部７１となる。実施例で収容部７１は等間隔に設けられている。インデックステーブル７の裏面には、各収容部７１と連通する放射状の溝７２が複数形成されている。
【００２８】
固定テーブル６には、各収容部７１に収容されるＬＥＤチップＬを下方から支持する支持部と、固定テーブル６を切欠して、収容部７１で搬送されてきたＬＥＤチップＬを搬送手段３の下方に配置される分配装置４へ自然落下させる排出部６１とが形成される。該排出部６１の形成された位置が、排出位置３２となる。排出位置３２での排出部６１を除いた固定テーブル６の上面は支持部となる。
【００２９】
排出部６１には、本発明における排出部閉鎖手段となるシャッタ８が設けられる。シャッタ８は、開放時にはＬＥＤチップＬを自然落下させ、閉鎖時にはＬＥＤチップＬの落下を阻止して、排出部６１上を落下せずに通過させるものである。シャッタ８は、図２および図４に示されるように、ＬＥＤチップＬが通過可能な排出孔８０を形成した円盤状のもので、軸８３を支点に回転可能とされている。尚、実施例では上記のような回転式のシャッタ８を用いているが、進退式シャッタや、取り外し式シャッタであっても良い。
【００３０】
尚、排出部６１の上方には、アシストブローノズル８１が設けられており、アシストブローノズル８１は、ＬＥＤチップＬの排出を確実にするために、ＬＥＤチップＬが欠けない程度の圧力で、排出部６１の上に位置した排出孔８０の上方より下方に向かってエアをブローする。排出部６１の下方には連結チューブ８２が連結されており、連結チューブ８２の下端は分配装置４と連結されている。
【００３１】
固定テーブル６には、排出位置３２以外に、供給位置３０，検査位置３１が形成されている。搬送手段３は、固定テーブル６とインデックステーブル７の収容部７１でＬＥＤチップＬを吸着保持して、図２に示される供給位置３０より検査位置３１を通過し排出位置３２へとＬＥＤチップＬを搬送する手段である。
【００３２】
従って、収容部７１にＬＥＤチップＬを吸着させるための負圧を生じさせる必要がある。そこで、固定テーブル６の上面で、供給位置３０、検査位置３１、排出位置３２以外の領域で単に、ＬＥＤチップＬを搬送するだけの領域には、インデックステーブル７の裏面に形成された放射状の溝７２と連通する同心円状の溝６２が彫ってあり、該溝６２は、それぞれ図示されていない真空源と接続されている。
【００３３】
この固定テーブル６の同心円状の溝６２とインデックステーブル７の放射状の溝７２が連通することにより収容部７１に負圧が供給され、収容されるＬＥＤチップＬを収容部７１に吸着保持する。尚、固定テーブル６の供給位置３０、検査位置３１にはそれぞれ別の溝が形成されており、各位置において収容部７１に負圧を供給するようになっている。
【００３４】
供給位置３０で収容部７１へのＬＥＤチップＬの受け渡しは次のように行われる。供給位置３０において、ＬＥＤチップＬは、パーツフィーダ１のレール１２の先端から、供給位置３０に間欠移動されるインデックステーブル７の収容部７１に、一つずつ供給される。具体的には、図５に示すように、レール１２先端のＬＥＤチップＬ１の吸引２をＯＦＦにすると同時に、吸引１をＯＮにして収容部７１へＬＥＤチップＬ１を移動供給する。即ち、図５中点線位置にＬＥＤチップＬ１は移動することになる。
【００３５】
このとき供給位置３０の収容部７１上方には可動させて開くことができるカバー３３が位置している。このカバー３３により収容部７１の上方を覆うことになり、ＬＥＤチップＬは、スムースに収容部７１へと移動することができる。
【００３６】
ＬＥＤチップＬ１の収容部７１への供給があったときでも、吸引３はＯＮのままである。即ちＬＥＤチップＬ２は元の位置に留まっている。次に、吸引２をＯＮにするとともに、吸引３をＯＦＦにして、後続先頭のＬＥＤチップＬ２をレール１２の先端へと移動させる。
【００３７】
ＬＥＤチップＬ１が収容部７１に供給されたか、否かは、収容検出センサ３４により検知される。供給されたＬＥＤチップＬの姿勢が不良か否かの検知は、カバー３３を観察することによって可能である。姿勢不良のＬＥＤチップＬが押し上げたカバー３３をフォトマイクロセンサで、検出することにより収納ミスがあり、供給が完了されなかったことを検知するのである。
【００３８】
インデックステーブル７側方には、サイドガイド９（排出位置３２では特殊形状のサイドガイド９０）が設けられ、ＬＥＤチップＬの不意の飛び出しを防止している。尚、検査位置３１では、該位置３１に存在するＬＥＤチップＬ４のサイドおよび上方を案内するサイドおよびトップガイド９１が設けられている。
【００３９】
検査装置２は、検査位置３１の下方に昇降可能に設けられたプローブ２０と、検査位置３１の上方に設けられた積分球２１とで構成される。検査装置２での検査は、図６（Ａ）より（Ｂ）に至るように、プローブ２０を上昇させ、ＬＥＤチップＬ４の電極と当接させ、ＬＥＤチップＬ４に電流を供給して発光させ、その発光光を積分球２１で受光し、ＬＥＤチップＬ４の光学的特性と共に電気的特性を検査するものである。
【００４０】
電子部品分類装置は、搬送手段３で運ばれてきたＬＥＤチップＬを、シャッタ８を開放して排出部６１に落下させ、所要の分類容器５０へ振り分ける分類運転と、シャッタ８を閉鎖して排出部６１に落下することを阻止し、ＬＥＤチップＬの循環搬送を継続し、検査装置２の調整のためのテスト運転を行う必要がある。以下、分類運転とテスト運転の方法について説明する。
【００４１】
分類運転は、次のように行われる。先ず、供給位置３０において、ＬＥＤチップＬは、供給経路となるパーツフィーダ１のレール１２の先端から、インデックステーブル７の収容部７１に、一つずつ自動供給される。ＬＥＤチップＬ１が収容部７１に供給されたか、否かの検出が、収容検出センサ３４により行われる。
【００４２】
収容部７１への供給が確認されると、インデックステーブル７が回転し、間欠搬送により検査位置３１にＬＥＤチップＬ４が到達する。到達したＬＥＤチップＬ４に上昇させたプローブ２０を当接させ、電流を流して発光させ、上方に設置された積分球２１により光学的特性および電気的特性を検査する。
【００４３】
検査終了後、ＬＥＤチップＬが排出位置３２の排出部６１の上方に到達したとき、排出部６１には、シャッタ８の排出孔８０が位置しているため、ＬＥＤチップＬの排出部６１からの落下はシャッタ８により阻害されることはなく、排出部６１より排出される。
【００４４】
排出孔８０を通り排出部６１から排出されたＬＥＤチップＬは、図４に示されるように、連結チューブ８２内を自然落下し、その下流に接続される分配装置４により、物品の特性に基づき、振り分けられ、チューブ１０を介して、分類部５である所要の分類容器５０へと分類される。
【００４５】
次にテスト運転は、次のように行われる。先ず、排出部６１をシャッタ８により閉鎖する、即ち、排出部６１の上方よりシャッタ８の排出孔８０を９０度ずらすことにより、シャッタ８により、固定テーブル６に形成された排出部６１を閉じるとともにパーツフィーダ１のレール１２の先頭のＬＥＤチップＬ１を吸着固定し、供給経路からの自動供給をストップする。図５における吸引２をＯＮにしておく。
【００４６】
その後、供給位置３０のカバー３３を開いて、オペレータによりインデックステーブル７の収容部７１へ３〜１０個程度の任意数の基準チップを収容する。即ち、基準チップの手動供給を行う。テスト運転の際はカバー３３を開いてピンセットで基準チップを手載せする。
【００４７】
その後、カバー３３を閉め、インデックステーブル７を回転させれば、排出部６１はシャッタ８により閉鎖されているので、検査位置３１を通過したＬＥＤチップＬは、排出部６１上を通過する際も閉鎖されたシャッタ８上を通過し、再び検査位置３１を通過するように連続循環搬送される。
【００４８】
テスト運転終了後は、シャッタ８を開く、即ち、シャッタ８の排出孔８０を排出部６１上に合わせる。基準チップは、通過時に開放された排出部６１より自然落下し、所要の分類容器５０へ排出して完了する。尚、基準チップは繰り返し使用される。
【００４９】
このように、シャッタ８により排出部６１を閉鎖することで基準チップを循環搬送することができるため、テスト運転が容易となった。加えて、テスト運転の際にはカバー３３を開いて基準チップを人手で供給するようにするので、例えば、緊急停止からの復帰の際に、パーツフィーダ１にＬＥＤチップＬが多数残った状態においても基準チップを供給してテスト運転を行うことができる。
【００５０】
更に、パーツフィーダ１が空であっても、基準チップは数個程度と少ないため、基準チップをパーツフィーダ１に供給して、自動的に基準チップを供給するより、人手による供給の方が簡単である。実施例では、テスト運転の際に人手により基準チップを供給するための位置は、供給位置３０とされているが、手動供給のため位置を限定されることはなく、それ以外の位置でも良い。更に、所望の位置にカバーを設け、供給時のみカバーを開くようにしても良い。
【００５１】
以上の実施例では、搬送手段３にＬＥＤチップＬ又は基準チップを供給する供給経路（パーツフィーダ１）は、１つであるが、これを２つとし、第１の供給経路をＬＥＤチップを自動供給するものとし、第２の供給経路を基準チップを自動供給するものとすることもできる。
【００５２】
この場合、分類運転においては第１の供給経路よりＬＥＤチップＬを自動供給するとともに第２の供給経路を閉鎖し、テスト運転においては第２の供給経路より基準チップを自動供給するとともに第１の供給経路を閉鎖して運転する。
【符号の説明】
【００５３】
１・・・・・・・・パーツフィーダ
２・・・・・・・・検査装置
３・・・・・・・・搬送手段
４・・・・・・・・分配装置
５・・・・・・・・分類部
６・・・・・・・・固定テーブル
７・・・・・・・・インデックステーブル
８・・・・・・・・シャッタ
９・・・・・・・・サイドガイド
１０・・・・・・・チューブ
１１・・・・・・・フィーダボウル
１２・・・・・・・レール
２０・・・・・・・プローブ
２１・・・・・・・積分球
３０・・・・・・・供給位置
３１・・・・・・・検査位置
３２・・・・・・・排出位置
３３・・・・・・・カバー
３４・・・・・・・収容検査センサ
５０・・・・・・・分類容器
６１・・・・・・・排出部
６２・・・・・・・同心円状の溝
７０・・・・・・・外周
７１・・・・・・・収容部
７２・・・・・・・放射状の溝
８０・・・・・・・排出孔
８１・・・・・・・アシストブローノズル
８２・・・・・・・連結チューブ
８３・・・・・・・軸
９０・・・・・・・サイドガイド
９１・・・・・・・サイドおよびトップガイド
Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４・・・・・・・・ＬＥＤチップ
【図１】
0005866726.tif 000002
【図２】
0005866726.tif 000003
【図３】
0005866726.tif 000004
【図４】
0005866726.tif 000005
【図５】
0005866726.tif 000006
【図６】
0005866726.tif 000007