(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からのレーザ光を標本に２次元走査する走査手段と、
前記標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段と、
前記光検出手段を保護する保護手段と、
前記光強度信号を走査位置に対応する画素毎に輝度に変換して、前記標本の画像を生成する画像生成手段と、を備え、
前記保護手段が、
前記光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部と、
前記閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する画素カウンタを有する領域判定部と、
前記領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、前記光検出手段による出力を停止させ、前記閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定されなかった場合は、前記光検出手段による出力を停止せずに前記画像生成手段による前記標本の画像の生成を継続させるように制御する制御部と、を備えた走査型レーザ顕微鏡。
【請求項２】
前記制御部が、前記光検出手段を駆動する駆動電圧の供給を停止することにより前記光検出手段による出力を停止させる請求項１に記載の走査型レーザ顕微鏡。
【請求項３】
前記光検出手段の前段に配置され、前記標本からの光を入射又は遮断させるシャッタを備え、
前記制御部が、前記シャッタを閉じて前記標本からの光を遮断することにより前記光検出手段による出力を停止させる請求項１に記載の走査型レーザ顕微鏡。
【請求項４】
前記制御部が、前記光検出手段の出力が停止される時間を計測するタイマと、
該タイマの計時時間が所定の時間を経過したかを判定する判定部とを有し、
該判定部により前記計時時間が所定の時間を経過したと判定された場合に前記光検出手段の動作を復帰させる請求項１に記載の走査型レーザ顕微鏡。
【請求項５】
前記標本に光刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光源と、
該刺激用光源により、前記標本に前記刺激用レーザ光を照射している間、前記画像生成手段により生成される前記標本の画像の平均輝度を算出し、該平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、前記光源による刺激用レーザ光の照射を停止させる輝度監視手段と、を備え、
前記保護手段が、前記光検出手段の出力を停止した場合に、前記光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を前記輝度監視手段に対して出力し、
前記輝度監視手段が、前記停止信号に基づいて前記刺激用レーザ光の照射を続行する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の走査型レーザ顕微鏡。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、走査型レーザ顕微鏡に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
走査型レーザ顕微鏡は、レーザ光を２次元走査させながら標本に照射し、標本からの透過光や反射光ないしは標本に発生する蛍光を検出して輝度情報を取得し、これらの輝度情報を走査位置に対応する画素毎に積算することにより画像を形成して標本を観察するようになっている。このような走査型レーザ顕微鏡において、輝度情報を取得するための光検出器として、光電子増倍管（以下、単に「ＰＭＴ」という）が適用されたものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
ＰＭＴは、その受光部に過大な光が入射すると劣化又は損傷する虞があるため、これを防止するための保護回路を備え、強い入射光に起因してＰＭＴからの出力が一定値以上となった場合に、この保護回路によってＰＭＴの動作を停止させている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−３５２１００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記した従来のＰＭＴでは、一定値以上の出力が所定時間得られた場合にＰＭＴの動作を停止させているが、この「所定時間」は、通常は瞬間的（例えば５０ｎｓｅｃ程度）な時間であり、実質的には、ＰＭＴから一定値以上の出力が得られると瞬時にＰＭＴの動作を停止させている。従って、所望の画像を取得することができず、走査型レーザ顕微鏡における観察を妨げる虞がある。
すなわち、ＰＭＴから瞬間的に一定値以上の出力が得られると、この瞬間的な出力は輝度情報としては１ピクセル分の輝度情報に満たないにもかかわらず、保護回路によってＰＭＴの動作が停止される。従って、外乱光による過大な光だけでなく、例えば、標本の表面に付着した微量の蛍光試薬による蛍光によってもＰＭＴの動作が停止されるため、走査型レーザ顕微鏡において所望の画像を取得できず標本の観察を妨げる虞がある。
【０００５】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明は、光源からのレーザ光を標本に２次元走査する走査手段と、前記標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段と、前記光検出手段を保護する保護手段と、前記光強度信号を走査位置に対応する画素毎に輝度に変換して、前記標本の画像を生成する画像生成手段と、を備え、前記保護手段が、前記光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部と、前記閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する画素カウンタを有する領域判定部と、前記領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、前記光検出手段による出力を停止させ、前記閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定されなかった場合は、前記光検出手段による出力を停止せずに前記画像生成手段による前記標本の画像の生成を継続させるように制御する制御部と、を備えた走査型レーザ顕微鏡を提供する。
【０００７】
本発明によれば、走査手段により光源からのレーザ光が標本に２次元走査され、光検出手段により、標本からの光を検出して検出した光の輝度に相当する光強度信号が出力され、画像生成手段により光強度信号を画素毎に輝度に変換して標本の画像が生成される。この場合において、保護手段の閾値判定部が、光強度信号が閾値を超えたか否かを判定することにより、光検出手段に入射した光が過大であるか否かを判定する。更に、領域判定部が、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定することにより、標本上の所定の領域に亘って過大な光が検出されたかを判定することができる。そして、制御部が、連続する複数の画素に亘って閾値を超える光強度信号が出力されたと判定された場合に、光検出手段による出力を停止するように制御する。
【０００８】
すなわち、光検出手段に外乱光のような過大な光が入射した場合には、画像を生成する際に連続する複数の画素に亘って閾値を超える光強度信号が得られるため、光検出手段を保護すべくその出力を停止するように制御する。一方、標本上の微小な薬剤やゴミ等によって瞬間的に閾値を超える光強度信号が出力されても、瞬間的な光強度信号は連続する複数の画素に亘らないため、光検出手段の出力が停止されない。従って、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。
【０００９】
上記した本発明において、前記制御部が、前記光検出手段を駆動する駆動電圧の供給を停止することにより前記光検出手段による出力を停止させることが好ましい。
このようにすることで、簡便且つ確実に光検出手段の出力を停止させて光検出手段の損傷を防止することができる。
【００１０】
上記した本発明において、前記光検出手段の前段に配置され、前記標本からの光を入射又は遮断させるシャッタを備え、前記制御部が、前記シャッタを閉じて前記標本からの光を遮断することにより前記光検出手段による出力を停止させることが好ましい。
このようにすることで、光検出手段に対する光の入射が遮断されるので、簡便且つ確実に光検出手段の出力を停止させて光検出手段の損傷を防止することができる。
上記した本発明において、前記制御部が、前記光検出手段の出力が停止される時間を計測するタイマと、該タイマの計時時間が所定の時間を経過したかを判定する判定部とを有し、該判定部により前記計時時間が所定の時間を経過したと判定された場合に前記光検出手段の動作を復帰させることが好ましい。
【００１１】
上記した本発明において、前記標本に光刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光源と、該刺激用光源により、前記標本に前記刺激用レーザ光を照射している間、前記画像生成手段により生成される前記標本の画像の平均輝度を算出し、該平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、前記光源による刺激用レーザ光の照射を停止させる輝度監視手段と、を備え、前記制御部が、前記光検出手段の出力を停止した場合に、前記光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を前記輝度監視手段に対して出力し、前記輝度監視手段が、前記停止信号に基づいて前記刺激用レーザ光の照射を続行することが好ましい。
【００１２】
本発明によれば、標本の挙動を観察するために、刺激用光源から標本に対して刺激用レーザ光を照射することにより光刺激を与えるが、この光刺激を継続すると次第に標本が褪色して得られる画像の輝度が低下するので、輝度監視手段により標本の画像の平均輝度を適宜算出し、平均輝度閾値と比較することにより輝度を監視している。この場合において、光検出手段の出力が停止すると画像生成手段により生成される画像の輝度が得られないため、輝度監視手段が、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止する虞がある。このため、保護手段の制御部が、光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を輝度監視手段に対して出力することで、結果的に平均輝度が平均輝度閾値を下回った場合にも、輝度監視手段により刺激用レーザ光の照射を続行する。
従って、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡により実行される処理を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態の変形例に係る走査型レーザ顕微鏡により実行される処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
［実施形態］
本発明の一実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡１００について、図面を参照して説明する。
図１に示すように、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡１００は、光刺激用光学系１、観察用光学系２、光検出部３、コントローラ４、ステージ５、対物レンズ６、及び光検出部３の前段に設けられたダイクロイックミラー８を備えている。図中、符号７はミラーである。
【００１６】
光刺激用光学系１は、光刺激用レーザ光を出射する光刺激用光源１０と、光刺激用光源１０から出射された光刺激用レーザ光のスポットの位置を２次元的に移動させるスキャナ１１とを備えている。
観察用光学系２は、観察用レーザ光を出射する観察用光源２０と、観察用光源２０から出射された観察用レーザ光を２次元走査するスキャナ２１と、標本Ａからスキャナ２１を介して戻る蛍光を観察用レーザ光の光路から分岐するダイクロイックミラー２２とを備えている。
光刺激用光学系１，観察用光学系２及び光検出部３におけるレンズについては図示を省略している。
【００１７】
光検出部３は、ダイクロイックミラー２２により分岐された光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号としての電流信号を出力するＰＭＴ（Photomultiplier Tube）３２、及びＰＭＴ３２を制御し、所定の条件に従って保護するＰＭＴコントローラ（保護手段）３３を備えている。また、光検出部３のＰＭＴ３２の前段には、対物レンズ６の焦点位置と光学的に共役な位置に配置される共焦点ピンホール３０が配置されている。ＰＭＴコントローラ３３は、閾値判定部３４、領域判定部３５及びＰＭＴ制御部３６を備えている。
【００１８】
閾値判定部３４は、ＰＭＴ３２の電流信号が閾値を超えたか否かを判定する。すなわち、閾値判定部３４は、予めＰＭＴ３２からの電流信号に対する閾値を記憶しており、ＰＭＴ３２から電流信号が得られると、得られた電流信号と閾値とを比較し電流信号が閾値を超えたか否かを判定する。なお、この閾値としては、適用するＰＭＴの定格電流を超える値とすることが好ましい。
【００１９】
領域判定部３５は、閾値判定部３４により閾値を超えたと判定された電流信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定するようになっている。すなわち、画像を形成する各画素に対する電流信号が閾値を超えた場合であって、且つ、その画素が相互に連続している場合に、当該閾値を超えた電流信号に対応する画素をカウントする。カウントした画素数が、予め定め画素閾値を超えた場合に閾値を超えたと判定された電流信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたと判定する。
【００２０】
ＰＭＴ制御部３６は、領域判定部３４により、閾値を超えたと判定された光強度信号としての電流信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、ＰＭＴ３２の出力を停止させるように制御する。また、ＰＭＴ制御部３６は、ＰＭＴ３２の出力が停止される時間を計時するタイマ（図示せず）を備えており、ＰＭＴ制御部３６は、タイマの計時時間が所定時間を経過した後に、ＰＭＴの出力を再開させるように制御する。
【００２１】
なお、ＰＭＴの出力を停止させるには、例えば、ＰＭＴ３２を駆動する高圧電源（図示せず）からの駆動電圧（ＨＶ）の供給を停止することができる。また、ＰＭＴ３２の前段に、標本から戻る蛍光を入射又は遮断させるシャッタを設け、このシャッタを閉じて標本Ａからの蛍光を遮断してＰＭＴ３２に蛍光が入射しないようにすることでＰＭＴ３２からの出力を停止させることができる。
【００２２】
コントローラ４は、光刺激用光学系１、観察用光学系２及び光検出部３を制御すると共に、光検出部３から得られた電流信号を輝度に変換し、スキャナ２１の走査位置に対応する画素毎に並べて、標本の画像を生成する。
【００２３】
ステージ５は標本Ａを載置する。対物レンズ６は、ステージ５に対向して配置され、ステージ５に標本Ａが載置されたときに、ダイクロイックミラー８により合波された光刺激用レーザ光及び観察用レーザ光を標本Ａに照射すると共に、標本Ａから戻る蛍光を集光する。
【００２４】
このように構成された走査型レーザ顕微鏡１００においては、以下のように標本Ａの観察が行われる。観察用光源２０を作動させて観察用レーザ光を出射させ、スキャナ２１を作動させて、観察用レーザ光を標本Ａ上において走査させる。すなわち、観察用光源２０から出射された観察用レーザ光はダイクロイックミラー２２により反射され、スキャナ２１により２次元的に走査され、ダイクロイックミラー８及びミラー７により反射された後に、対物レンズ６により標本Ａ上に集光される。
【００２５】
一方、光刺激用光源１０から出射された光刺激用レーザ光は、スキャナ１１により２次元的な位置を調節された後に、ダイクロイックミラー８を透過し、ミラー７により反射され、対物レンズ６により標本Ａ上に集光される。これにより、対物レンズ６の焦点位置に光刺激用レーザ光を照射して、標本Ａに光刺激を与えることができる。
【００２６】
対物レンズ６の焦点面においては、観察用レーザ光により標本Ａ内の蛍光物質が励起され、蛍光が発生する。発生した蛍光は、対物レンズ６により集光され、ミラー７及びダイクロイックミラー８により反射され、スキャナ２１を介して戻り、ダイクロイックミラー２２を透過して、ミラー３１により反射された後、共焦点ピンホール３０を通過したもののみが、ＰＭＴ３２により光強度信号（電流信号）として検出される。検出された電流信号は、ＰＭＴコントローラ３３を介してコントローラ４に出力され、スキャナ２１による観察用レーザ光の走査位置と対応づけて記憶される。コントローラ４では、電流信号がスキャナ２１の走査位置に対応する画素毎に積算され、標本の２次元的な画像を構築する。
【００２７】
ここで、ＰＭＴ３２はＰＭＴコントローラ３３により駆動又は制御されており、光強度信号の検出の際に、検出された電流信号に基づいてＰＭＴ３２を保護すべきか否かＰＭＴコントローラ３３により判断される。
【００２８】
以下、ＰＭＴ３２及びＰＭＴコントローラ３３の作用について、図２のフローチャートを参照して説明する。
ＰＭＴ３２による電流信号の検出を開始または再開するに際し、領域判定部３５における画素数のカウント値をリセットする（ステップＳ１１）。続いて、ＰＭＴ３２において入射した蛍光を検出し、これを光強度信号としての電流信号としてＰＭＴコントローラ３３に出力する。ＰＭＴコントローラ３３の閾値判定部３４では、入力された電流信号の電流値を測定し（ステップＳ１２）、測定された電流値と予め定めた閾値とを比較し、電流値が閾値を超えるか否かを判定する（ステップＳ１３）。
【００２９】
判定の結果、電流値が閾値を超えない場合には、ステップＳ１１に戻り領域判定部３５により再度画素数のカウント値がリセットされる。一方、判定の結果、電流値が閾値を超えている場合には、閾値判定部３４から当該電流信号の電流値が閾値を超えたことを領域判定部３５に通知する。領域判定部３５では、閾値判定部３４からの通知を受けて、画素数のカウント値をアップする（ステップＳ１４）。
【００３０】
続いて、領域判定部３５では、カウント値がアップされた画素数と所定の画素閾値とを比較し、当該画素数が画素閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ１５）。判定の結果、画素数が画素閾値を超えていない場合には、ステップＳ１２に戻り、ＰＭＴ３２からの電流信号の電流値の測定を続行する。一方、判定の結果、画素数が画素閾値を超えている場合には、次のステップＳ１６に進み、ＰＭＴ制御部３６が、ＰＭＴ３２の駆動電圧（ＨＶ）の供給を停止（ＨＶ＝０）する。
【００３１】
駆動電圧の供給を停止したことによりＰＭＴ３２の出力が停止すると、ＰＭＴ制御部３６のタイマが作動し、ＰＭＴ３２の出力が停止する時間を計時する（ステップＳ１７）。次のステップＳ１８において、タイマの計時時間が所定時間を経過したか否かを判定する。この判定は、タイマの計時時間が所定時間を経過するまで継続され、所定時間が経過したと判定されたときに、ＰＭＴ制御部３６が、ＰＭＴ３２の駆動電圧の供給を再開する。ＰＭＴ３２は、駆動電圧の供給が再開されたことによりその動作を復帰させ、光強度信号の検出を再度行う（ステップＳ１９）。
【００３２】
以上のように、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡１００によれば、閾値判定部３４が、電流信号の電流値が閾値を超えたか否かを判定することにより、ＰＭＴ３２に入射した光が過大であるか否かを判定する。更に、領域判定部３５が、閾値を超えたと判定された電流信号が連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定することにより、標本Ａ上の所定の領域に亘って過大な光が検出されたかを判定することができる。そして、連続する複数の画素に亘って閾値を超える電流信号が出力されたと判定された場合に、ＰＭＴ制御部３６が、ＰＭＴ３２による出力を停止する。
【００３３】
すなわち、ＰＭＴ３２に外乱光のような過大な光が入射した場合には、画像を生成する際に連続する複数の画素に亘って閾値を超える電流信号が得られるため、ＰＭＴ３２を保護すべくその出力を停止するように制御する。一方、標本Ａ上の微小な薬剤やゴミ等によって瞬間的に閾値を超える電流信号が出力されても、瞬間的な電流信号は連続する複数の画素に亘らないため、ＰＭＴ３２の出力が停止されない。従って、過大な入射光によるＰＭＴ３２の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。
【００３４】
また、スキャナの走査速度、画像の解像度、観察範囲等により１画素あたりの信号電流の検出時間（サンプリング時間）が変化する場合でも、所定の複数の画素に対して過大光が検出された場合にのみＰＭＴ３２の出力を停止させるので、簡便且つ確実にＰＭＴを保護することができる。
なお、ＰＭＴ３２の復帰、すなわち出力の再開は、例えば、走査型レーザ顕微鏡１００を操作するためのＧＵＩ等の操作用インターフェースをユーザが操作することにより実現してもよい
【００３５】
［変形例］
以下に、上述した実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡１００の変形例として、コントローラ４が標本Ａの輝度を監視することにより光刺激用光学系１を制御する場合について説明する。
【００３６】
走査型レーザ顕微鏡１００による標本Ａの観察時において、標本の挙動を観察するために、刺激用光源１０から標本Ａに対して刺激用レーザ光を照射することにより光刺激を与えるが、この光刺激を継続すると次第に標本Ａが褪色して得られる画像の輝度が低下する。そこで、コントローラ４は、標本Ａに刺激用レーザ光を照射している間、生成される標本Ａの画像の平均輝度を算出し、この平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、光源による刺激用レーザ光の照射を停止させるように制御することで標本Ａの画像の輝度を監視している（輝度監視機能）。
【００３７】
ここで、何らかの理由によりＰＭＴ３２の出力が停止すると、標本Ａの輝度に係る光強度信号が得られないため、ＰＭＴ３２の出力が停止した後のスキャナ２１による走査位置に対応する画素には輝度情報が存在せず、生成される標本Ａの画像の平均輝度が著しく低下する。
【００３８】
コントローラ４では、標本Ａの画像の平均輝度の低下が、ＰＭＴ３２の出力の停止に起因するのか、標本Ａの褪色に起因するのかを特定することが困難であり、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止する虞がある。このため、ＰＭＴ制御部３６は、ＰＭＴ３２の出力を停止した場合に、ＰＭＴ３２の出力が停止していることを示す停止信号をコントローラ４に対して出力する。同様にＰＭＴ制御部３６は、ＰＭＴ３２が出力を再開する場合には、再開することを示す再開信号をコントローラ４に対して出力する。
【００３９】
従って、コントローラ４では、標本Ａの画像の平均輝度が平均輝度閾値を下回った場合であっても、ＰＭＴ制御部３６から停止信号が入力されている場合においては、この停止信号に基づいて、輝度監視機能を制止させて光刺激用光学系１を制御して刺激用レーザ光の照射を続行する。また、ＰＭＴ制御部３６から再開信号が入力された場合には、輝度監視機能を動作させて、生成される標本Ａの画像の輝度を再度監視する。
【００４０】
以下、本変形例にかかる走査型レーザ顕微鏡における標本Ａ観察中のコントローラ４の作用について、図３のフローチャートを参照して説明する。
【００４１】
光刺激用光源１０から光刺激用レーザ光の照射を開始すると（ステップＳ２１）、コントローラ４において輝度監視機能が動作を開始する（ステップＳ２２）。すなわち、コントローラ４は、標本Ａに刺激用レーザ光を照射している間、生成される標本Ａの画像の平均輝度を算出し、この平均輝度が所定の平均輝度閾値を超えるか否かを例えば所定の周期で判定する。
【００４２】
コントローラ４が輝度監視機能を動作させて標本Ａの画像の輝度を監視している間、これと併行して、コントローラ４では、ＰＭＴ制御部３６から停止信号が入力されたか否かを判定し（ステップＳ２３）、停止信号が入力された場合には輝度監視機能を停止する（ステップＳ２４）。
【００４３】
輝度監視機能が停止されると、コントローラ４では、標本Ａの画像の平均輝度の演算を停止するとともに、ＰＭＴ制御部３６からＰＭＴ３２の出力が再開されたことを示す再開信号が入力されたか否かを判定する（ステップＳ２５）。判定の結果、ＰＭＴ制御部３６から再開信号が入力された場合には、輝度監視機能の動作を再開させる（ステップＳ２６）。
【００４４】
このようにすることで、コントローラ４が、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止することを防止し、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。
【００４５】
なお、上記した変形例では、停止信号はＰＭＴ３２の出力を停止した場合に出力され、再開信号はＰＭＴ３２の出力が再開された場合に出力されることとして説明したが、これらの停止信号及び再開信号出力のタイミングは、適用される機器の応答速度に応じて適宜決定することができ、例えば、ＰＭＴ３２の停止や再開に先立って出力する構成とすることもできる。
【００４６】
また、本実施形態においては、レーザ走査型共焦点顕微鏡を例示して説明したが、観察用光源として極短パルスレーザ光源を使用し、ミラー７をダイクロイックミラーに置き換えて、該ダイクロイックミラーにより分岐された蛍光を検出するＰＭＴを配置することにより、多光子励起型のレーザ走査型顕微鏡に適用してもよい。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【符号の説明】
【００４７】
１  光刺激用光学系
２  観察用光学系
３  光検出部
４  コントローラ（画像生成手段、輝度監視手段）
５  ステージ
６  対物レンズ
７  ミラー
８  ダイクロイックミラー
１０  光刺激用光源（刺激用光源）
１１  スキャナ
２０  観察用光源
２１  スキャナ（走査手段）
２２  ダイクロイックミラー
３０  ピンホール
３１  ミラー
３２  ＰＭＴ（光検出手段）
３３  ＰＭＴコントローラ（保護手段）
３４  閾値判定部
３５  領域判定部
３６  ＰＭＴ制御部（制御部）
１００  走査型レーザ顕微鏡
【図１】
0005901201.tif 000002
【図２】
0005901201.tif 000003
【図３】
0005901201.tif 000004