(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験片の伸びを測定するための変位計であって、
鉛直方向に向けて配設されたシャフトと、
前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設されたアームと、
試験片を挟持するための一対の接触子と、
前記一対の接触子を支持するための前記アームに配設された支持部材と、
を備え、
前記支持部材は前記一対の接触子を、前記アームの回動に伴う前記一対の接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持することを特徴とする変位計。
【請求項２】
請求項１に記載の変位計において、
前記支持部材は、直動ガイドである変位計。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の変位計において、
前記アームは、前記シャフトの外周部に配設された軸受に対して固設されており、前記軸受の作用により、前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に構成される変位計。
【請求項４】
試験片の伸びを測定するための変位計であって、
鉛直方向に向けて配設されたシャフトと、
前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設された上アームと、
試験片における上側の標線部分を挟持するための一対の第１接触子と、
前記一対の第１接触子を支持するための前記上アームに配設された第１支持部材と、
前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設された下アームと、
試験片における下側の標線部分を挟持するための一対の第２接触子と、
前記一対の第２接触子を支持するための前記下アームに配設された第２支持部材と、
を備え、
前記第１支持部材は、前記一対の第１接触子を、前記上アームの回動に伴う前記一対の第１接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持するとともに、
前記第２支持部材は、前記一対の第２接触子を、前記下アームの回動に伴う前記一対の第２接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持することを特徴とする変位計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、試験片の伸びを測定するための変位計に関する。
【背景技術】
【０００２】
試験片に引張荷重を付与しながら試験片の伸びを測定し、試験片に付与された荷重と試験片の伸びとの関係を測定するための材料試験機においては、試験片の伸びを測定するために伸び計とも呼称される変位計が使用される。
【０００３】
このような変位計は、鉛直方向に向けて配設されたシャフトと、試験片における上側の標線部分を挟持するための一対の接触子を備えた上アームと、試験片における下側の標線部分を挟持するための一対の接触子を備えた下アームとを備える。これらの上アームと下アームとは、シャフトに対して昇降可能で、かつ、シャフトを中心に回動可能に配設されることにより、試験片を挟持するための挟持位置と退避位置との間を、各々、個別に移動可能となっている。
【０００４】
試験片に伸びの荷重を与えるための材料試験機の上下のチャックに把持された試験片は、所定距離だけ離れた２つの位置が伸び測定の基準位置として指定され、その位置に標線が設けられている。伸びを測定する場合には、そのうち上側の標線部分を上アームの接触子によって挟持し、下側の標線部分を下アームの接触子により挟持する。上アームと下アームはそれぞれがシャフトに沿って非常に軽い力で上下動可能であるから、上側のチャックが上方に移動して試験片が引張られて伸びるのに従って、上アームと下アームも上方に移動していき、これらの上アームと下アームとの移動距離の差が試験片の伸び量として計測される。
【０００５】
図６は、このような変位計に使用される従来の上アームまたは下アームの概要図である。
【０００６】
図６に示す従来の上アームまたは下アームは、支柱を挿入可能な孔部１０１が形成されたベース板１０２と、ベース板１０２に対して軸１０３を中心に揺動可能に配設された右アーム部材１０４と、右アーム部材１０４の先端に固定された右接触子１０７と、ベース板１０２に対して軸１０５を中心に揺動可能に配設された左アーム部材１０６と、左アーム部材１０６の先端に固定された左接触子１０８と、右アーム部材１０４と左アーム部材１０６とを互いに近接する方向に付勢するバネ１０９と、軸１１１により右アーム部材１０４に対して揺動可能に取り付けられるとともに、左アーム部材１０６と当接する当接部１１２を有し、右アーム部材１０４と左アーム部材１０６とを離隔する方向に移動させるために使用されるレバー１１３とを備える。
【０００７】
試験片１００の伸びを測定するときには、試験片１００を図６に示す右接触子１０７および左接触子１０８により挟持する。この場合には、オペレータが一方の手で右アーム部材１０４を支持した上で、他方の手でレバー１１３を操作して、右アーム部材１０４と左アーム部材１０６とを離隔する方向に移動させる。そして、右接触子１０７と左接触子１０８との間に試験片１００を配置した上で、レバー１１３を操作して右アーム部材１０４と左アーム部材１０６とを互いに近接する方向に移動させ、右接触子１０７と左接触子１０８とにより試験片１００を挟持する。
【０００８】
特許文献１には、試験片を点接触状態で挟持するため、円弧状の接触面を有する接触子を備えた伸び測定装置が開示されている。また、特許文献２には、試験片の材質や形状にかかわらず試験片を安定して挟持するため、試験片の材質や形状に応じて接触子を回動し、試験片に対する接触面を選択して最適な挟持力を得るようにした伸び測定装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０００−３２１００７号公報
【特許文献２】特開２００１−８３０５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
図６に示す従来の上アームまたは下アームを使用した変位計においては、右接触子１０７および左接触子１０８により試験片１００を挟持した状態では、試験片１００が移動可能な方向は、上アームまたは下アームが支軸を中心に揺動する方向に限定される。このため、試験片１００が上アームおよび下アームに対して偏位した状態で装着された場合には、試験片１００の伸びに伴って、試験片１００に本来付与すべき試験力と交差する方向の力が、変位計により試験片１００に付与されてしまうことになり、正確な材料試験を実行し得ないという問題が生ずる。
【００１１】
特許文献１に記載されたように、円弧状の接触面を有する接触子を使用するとともに、この接触子を回転可能とした場合には、上述した問題を緩和することが可能となるが、細い索体状の試験片に対して試験を行う場合や、試験片が伸びに伴って細くなった場合には、試験片が接触子から外れてしまうという問題が生ずる。また、特許文献２に記載されたように、回動により接触面を選択して使用しうる接触子を使用した場合においても、試験片に対して、本来付与すべき試験と交差する方向の力が付与されてしまうことに変わりはない。
【００１２】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、試験片が変位計に偏位して装着された場合においても、正確な材料試験を実行することが可能な変位計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
請求項１に記載の発明は、試験片の伸びを測定するための変位計であって、鉛直方向に向けて配設されたシャフトと、前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設されたアームと、試験片を挟持するための一対の接触子と、前記一対の接触子を支持するための前記アームに配設された支持部材と、を備え、前記支持部材は前記一対の接触子を、前記アームの回動に伴う前記一対の接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持することを特徴とする。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記支持部材は、直動ガイドである。
【００１５】
請求項３に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の発明において、前記アームは、前記シャフトの外周部に配設された軸受に対して固設されており、前記軸受の作用により、前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に構成される。
【００１６】
請求項４に記載の発明は、試験片の伸びを測定するための変位計であって、鉛直方向に向けて配設されたシャフトと、前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設された上アームと、試験片における上側の標線部分を挟持するための一対の第１接触子と、前記一対の第１接触子を支持するための前記上アームに配設された第１支持部材と、前記シャフトに対して昇降可能で、かつ、前記シャフトを中心に回動可能に配設された下アームと、試験片における下側の標線部分を挟持するための一対の第２接触子と、前記一対の第２接触子を支持するための前記下アームに配設された第２支持部材と、を備え、記第１支持部材は、前記一対の第１接触子を、前記上アームの回動に伴う前記一対の第１接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持するとともに、前記第２支持部材は、前記一対の第２接触子を、前記下アームの回動に伴う前記一対の第２接触子の移動方向と交差する方向に移動可能に支持することを特徴とする
【発明の効果】
【００１７】
請求項１から請求項４に記載の発明によれば、試験片が変位計に対して偏位して装着された場合においても、一対の接触子のアームの回動に伴う移動およびこれと交差する方向への移動により、試験片に試験力以外の力が付与されることを防止することができる。これにより、材料試験を正確に実行することが可能となる。
【００１８】
特に、請求項３に記載の発明によれば、軸受の作用により、遊びを生ずることなく、アームを昇降および回動させることが可能となる。このため、このアームに対して支持部材を介して装着された一対の接触子の位置精度を向上させることができ、これにより材料試験をより正確に実行することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】この発明に係る変位計２を材料試験機１とともに示す正面概要図である。
【図２】この発明に係る変位計２の側面概要図である。
【図３】この発明に係る変位計２の要部を示す斜視図である。
【図４】挟持部２３、２４付近を斜め上方向から見た拡大斜視図である。
【図５】挟持部２３、２４付近を斜め下方向から見た拡大斜視図である。
【図６】従来の上アームまたは下アームの概要図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明に係る変位計２を材料試験機１とともに示す正面概要図である。
【００２１】
材料試験機本体１は、ベース１１上に立設された左右一対の支柱１２と、一対の支柱１２の最上部において左右に架け渡されたクロスヨーク１３からなるフレームに対して、昇降可能に配設されたクロスヘッド１４を備える。クロスヘッド１４は、一対の支柱１２に内蔵されたねじ棹の作用により昇降する構成となっている。ベース１１上には、試験片１００の下端部を把持するための下チャック１７が配設されている。一方、クロスヘッド１４には、試験片１００の上端部を把持するための上チャック１６が、ロードセル１５を介して配設されている。
【００２２】
この材料試験機１においては、上チャック１６および下チャック１７により試験片１００の上下両端を把持したままクロスヘッド１４を上方に移動させることにより試験片１００に対して引張力を付与する。このときに試験片１００に付与される引張荷重は、上チャック１６に接続されたロードセル１５によって測定される。また、このときの試験片１００の伸びは、この発明に係る変位計２によって測定される。
【００２３】
次に、この発明に係る変位計２の構成について説明する。図２は、この発明に係る変位計２の側面概要図である。なお、図２においても、後述する標線設定棒２５の図示を省略している。
【００２４】
この発明に係る変位計２は、鉛直方向に向けて配設されたシャフト１０と、軸受２０に固設され、この軸受２０の作用によりシャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設された上アーム２１と、軸受３０に対して固設され、この軸受３０の作用によりシャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設された下アーム２２とを備える。上アーム２１の下面には、試験片１００における上側の標線部分を挟持するための後述する一対の接触子５１、５２を有する挟持部２３が付設されている。また、下アーム２２の上面には、試験片１００における下側の標線部分を挟持するための後述する一対の接触子５３、５４を有する挟持部２４が付設されている。
【００２５】
ここで、試験片１００における標線は、試験片１００自体に形成され、あるいは、書き込まれたものでもよく、また、試験片１００の表面に貼着された標線シールに記載されたものでもよく、さらには、この標線は仮想的なものであってもよい。
【００２６】
上アーム２１の後端に配設されたネジ３３には、ワイヤー４１が接続されている。このワイヤー４１のネジ３３とは逆側の端部には、おもり３９が接続されており、また、このワイヤー４１はプーリ３５に巻回されている。軸受２０、上アーム２１およびそこに接続された各種の部品の総重量とおもり３９の重量とは釣り合っており、上アーム２１は小さな力で昇降可能となっている。プーリ３５の回転量はプーリ３５と同軸状に配設されたロータリエンコーダ３７により測定され、プーリ３５の回転量と直径等から、上アーム２１の昇降距離が計算される。
【００２７】
同様に、下アーム２２の後端に配設されたネジ３４には、ワイヤー４２が接続されている。このワイヤー４２のネジ３４とは逆側の端部には、おもり４０が接続されており、また、このワイヤー４２はプーリ３６に巻回されている。軸受３０、下アーム２２およびそこに接続された各種の部品の総重量とおもり４０の重量とは釣り合っており、下アーム２２は小さな力で昇降可能となっている。プーリ３６の回転量はプーリ３６と同軸状に配設されたロータリエンコーダ３８により測定され、プーリ３６の回転量と直径等から、下アーム２２の昇降距離が計算される。
【００２８】
図３は、この発明に係る変位計２の要部を示す斜視図である。また、図４は、挟持部２３、２４付近を斜め上方向から見た拡大斜視図である。さらに、図５は、挟持部２３、２４付近を斜め下方向から見た拡大斜視図である。
【００２９】
上アーム２１は、図２に示す軸受２０の作用により、シャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設されている。上アーム２１の一端には、シャフト１０の貫通孔２８が形成されている。上アーム２１の下面には、試験片１００における上側の標線部分を挟持するための一対の接触子５１、５２を有する挟持部２３が付設されている。これらの接触子５１、５２は、後述するように、試験片１００における上側の標線部分を挟持するために互いに近接する方向に移動し、また、試験片１００を挟持状態から開放するために互いに離隔する方向に移動する。
【００３０】
この上アーム２１の下面には、標線設定棒２５が下方に向けて配設されている。この標線設定棒２５は、上アーム２１の接触子５１、５２による試験片１００の挟持位置と上アーム２２の接触子５３、５４による試験片１００の挟持位置との距離を、試験片１００における標線間の距離（ＧＬ／Ｇａｕｇｅ  Ｌｅｎｇｔｈ）と一致させる目的で使用されるものである。
【００３１】
下アーム２２は、図２に示す軸受３０の作用により、シャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設されている。下アーム２２の一端には、シャフト１０の貫通孔２９が形成されている。下アーム２２の上面には、試験片１００における下側の標線部分を挟持するための一対の接触子５３、５４を有する挟持部２４が付設されている。これらの接触子５３、５４は、後述するように、試験片１００における下側の標線部分を挟持するために互いに近接する方向に移動し、また、試験片１００を挟持状態から開放するために互いに離隔する方向に移動する。
【００３２】
上アーム２１の挟持部２３における一対の接触子５１、５２は、レール６１および一対のブロック６２、６３よりなる直動ガイドにより支持されている。ここで、直動ガイドを構成するレール６１は、上アーム２１の下面に固定されている。そして、接触子５１はレール６１に沿って移動可能なブロック６２に支持されており、接触子５２は、レール６１に沿って移動可能なブロック６３に支持されている。
【００３３】
また、下アーム２２の挟持部２４における一対の接触子５３、５４は、レール６４および一対のブロック６５、６６よりなる直動ガイドにより支持されている。ここで、直動ガイドを構成するレール６４は、下アーム２２の上面に固定されている。そして、接触子５３はレール６４に沿って移動可能なブロック６５に支持されており、接触子５４は、レール６４に沿って移動可能なブロック６６に支持されている。
【００３４】
なお、上述した直動ガイドは、この発明における支持部材として機能するものである。この直動ガイドとしては、ＬＭガイド（ＴＨＫ株式会社の登録商標）やＮＳＫリニアガイド（日本精工株式会社の登録商標）を使用することができる。但し、直動ガイドにかえて、一対の接触子５１、５２または一対の接触子５３、５４を、少なくとも、上アーム２１または下アーム２２の回動に伴う一対の接触子５１、５２または一対の接触子５３、５４の移動方向と交差する方向に移動可能に支持する構成であれば、その他の支持部材を使用してもよい。
【００３５】
上アーム２１に配設された挟持部２３における一方の接触子５１は操作部７２と連結されており、挟持部２３における他方の接触子５２は操作部７１と連結されている。操作部７１と操作部７２とは、操作部７２が操作部７１の内部に侵入することにより、操作部７１と操作部７２とが重なり合った状態で互いに近接し、あるいは、離隔する位置を移動可能となっている。図４および図５に示す様に、操作部７１における操作部７２を向く面には、プッシュラッチ機構の雄部７３が配設されている。また、操作部７２における操作部７１を向く面には、プッシュラッチ機構の雌部７４が配設されている。さらに、図５に示す様に、接触子５１と接触子５２は、これらの接触子５１および接触子５２を互いに近接させる方向に付勢するバネ７５と連結されている。
【００３６】
オペレータが操作部７１と操作部７２とを同時につまみ、操作部７１と操作部７２とを互いに近接する方向に移動させたときには、接触子５１と接触子５２とは互いに離隔する方向に移動する。そして、プッシュラッチ機構の雄部７３と雌部７４とが互いに係合することにより操作部７１と操作部７２とがその位置で固定され、接触子５１と接触子５２とは、互いに離隔した解放位置で停止する。この状態から、再度、オペレータが操作部７１と操作部７２とを同時につまみ、プッシュラッチ機構のラッチ状態を解除してプッシュラッチ機構の雄部７３と雌部７４とを離隔させた場合には、バネ７５の作用により、接触子５１と接触子５２とが互いに近接する方向に移動する。この状態で、接触子５１と接触子５２との間に試験片１００が配置されていた場合には、この試験片１００は、バネ７５の付勢力により、接触子５１と接触子５２とにより挟持される。
【００３７】
同様に、下アーム２２に配設された挟持部２４における一方の接触子５３は操作部８２と連結されており、挟持部２４における他方の接触子５４は操作部８１と連結されている。操作部８１と操作部８２とは、操作部８２が操作部８１の内部に侵入することにより、操作部８１と操作部８２とが重なり合った状態で互いに近接し、あるいは、離隔する位置を移動可能となっている。図４および図５に示す様に、操作部８１における操作部８２を向く面には、プッシュラッチ機構の雄部８３が配設されている。また、操作部８２における操作部８１を向く面には、プッシュラッチ機構の雌部８４が配設されている。さらに、図５に示す様に、接触子５３と接触子５４は、これらの接触子５３および接触子５４を互いに近接させる方向に付勢するバネ８５と連結されている。
【００３８】
オペレータが操作部８１と操作部８２とを同時につまみ、操作部８１と操作部８２とを互いに近接する方向に移動させたときには、接触子５３と接触子５４とは互いに離隔する方向に移動する。そして、プッシュラッチ機構の雄部８３と雌部８４とが互いに係合することにより操作部８１と操作部８２とがその位置で固定され、接触子５３と接触子５４とは、互いに離隔した解放位置で停止する。この状態から、再度、オペレータが操作部８１と操作部８２とを同時につまみ、プッシュラッチ機構のラッチ状態を解除してプッシュラッチ機構の雄部８３と雌部８４とを離隔させた場合には、バネ８５の作用により、接触子５３と接触子５４とが互いに近接する方向に移動する。この状態で、接触子５３と接触子５４との間に試験片１００が配置されていた場合には、この試験片１００は、バネ８５の付勢力により、接触子５３と接触子５４とにより挟持される。
【００３９】
このように、オペレータが操作部７１、７２をつまむという簡易な動作により、接触子５１と接触子５２とを試験片１００の挟持位置と解放位置の間で移動させることが可能となり、同様に、オペレータが操作部８１、８２をつまむという簡易な動作により、接触子５３と接触子５４とを試験片１００の挟持位置と解放位置の間で移動させることが可能となる。そして、この動作は、オペレータが材料試験機１の正面側から実行することができる。このため、変位計２による試験片１００の挟持動作および開放動作を極めて容易に実行することが可能となる。
【００４０】
材料試験機１により試験片１００に対して材料試験を実行するときには、最初に、試験片１００の両端を材料試験機１の上チャック１６および下チャック１７により把持する。このときには、材料試験を行う試験片１００に対応する標線設定棒２５が、上アーム２１に配設されているものとする。また、上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４とは、予め、互いに離隔する方向に移動しているものとする。
【００４１】
この状態でオペレータは、上アーム２１または下アーム２２のいずれか一方を持ち、上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４とを試験片１００を挟持するのに適した位置に移動させる。このときには、上アーム２１と下アーム２２とは、これらの上アーム２１および下アーム２２が標線設定棒２５等により互いに連結されていることから、互いに同期して回動する。そして、上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４との距離は、標線設定棒２５の作用により、予め試験片１００における標線間の距離となっていることから、上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４とを、試験片１００を挟持するための高さ位置に容易に配置することができる。
【００４２】
このとき、上アーム２１は、図２に示す軸受２０の作用により、シャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設されており、下アーム２２は、図２に示す軸受３０の作用により、シャフト１０に対して昇降可能で、かつ、シャフト１０を中心に回動可能に配設されていることから、上アーム２１および下アーム２２とシャフト１０との間にガタ（遊び）が生ずることはない。また、接触子５１、５２および接触子５３、５４は、直動ガイドを介して上アーム２１および下アーム２２に支持されていることから、接触子５１、５２および接触子５３、５４と上アーム２１および下アーム２２との間にガタ（遊び）が生ずることもない。このため、このため、接触子５１、５２および接触子５３、５４の位置精度を向上させることができ、これにより材料試験をより正確に実行することが可能となる。
【００４３】
この状態において、上述した操作により、試験片１００を上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４とにより挟持する。試験片１００を上アーム２１における接触子５１、５２と下アーム２２における接触子５３、５４とにより挟持すれば、材料試験機１により材料試験を開始する。このときには、試験片１００の上端を把持している上チャック１６が上昇を始めると、試験片１００は引き伸ばされ、それに伴って上アーム２１と下アーム２２がそれぞれ上方に移動していく。この移動量は図２に示すロータリエンコーダ３７、３８によって測定され、上アーム２１の移動量と下アーム２２の移動量の差が試験片１００の伸び量として測定される。そして、このようにして得られた試験片１００の伸び量と、図１に示すロードセル１５によって測定された荷重値に基づいて各種の材料試験演算が行われる。
【００４４】
このような材料試験時において、上チャック１６および下チャック１７により把持された試験片１００を、上アーム２１における接触子５１、５２および下アーム２２における接触子５３、５４により挟持した場合に、接触子５１、５２および接触子５３、５４による挟持位置にずれがあり、上チャック１６および下チャック１７により把持された試験片１００が接触子５１、５２および接触子５３、５４に対して偏位して挟持される場合がある。このような場合においても、接触子５１、５２は上アーム２１の回動と直動ガイドによる一方向への往復移動との二方向の自由度を有し、接触子５３、５４は下アーム２２の回動と直動ガイドによる一方向への往復移動との二方向の自由度を有することから、偏位が生じても接触子５１、５２および接触子５３、５４の移動によりその影響は解消され、試験片１００の伸びに伴って試験片１００に本来付与すべき試験力と交差する方向の力が付与されることはない。このため、正確な材料試験を実行することが可能となる。
【００４５】
なお、上述した実施形態においては、クロスヘッド１４を上昇させることにより、上アーム２１および下アーム２２がともに上昇する場合について説明したが、上アーム２１および下アーム２２がともに下降する場合においても、この発明に係る変位計を適用することが可能である。
【符号の説明】
【００４６】
１      材料試験機
２      変位計
１０    シャフト
１１    ベース
１２    支柱
１３    クロスヨーク
１４    クロスヘッド
１５    ロードセル
１６    上チャック
１７    下チャック
２０    軸受
２１    上アーム
２２    下アーム
２３    挟持部
２４    挟持部
２５    標線設定棒
３０    軸受
３５    プーリ
３６    プーリ
３７    ロータリエンコーダ
３８    ロータリエンコーダ
３９    おもり
４０    おもり
４１    ワイヤー
４２    ワイヤー
５１    接触子
５２    接触子
５３    接触子
５４    接触子
６１    レール
６２    ブロック
６３    ブロック
６４    レール
６５    ブロック
６６    ブロック
７５    バネ
８５    バネ
１００  試験片
【図１】
0006032162.tif 000002
【図２】
0006032162.tif 000003
【図３】
0006032162.tif 000004
【図４】
0006032162.tif 000005
【図５】
0006032162.tif 000006
【図６】
0006032162.tif 000007