(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料の複数の成分の別個の画像を取込むための機器であって、
複数の異なる発光チャネルであって、各々特定の成分に関連する発光チャネルで発光させるため、蛍光標識成分を励起する光の励起ビームで試料を照明する光源と、
複数の発光チャネルを取り込んで発光ビームを出力するための対物レンズと、
前記発光ビームを受け取ってそのビームを複数の発光チャネルに分離し、分離により得られた複数の発光チャネルを別個の実質的に平行な経路に向けて出力するスプリッティングシステムと、
当該機器の片側に配設された検出器マウントのアレイと、
１以上の検出器と
を備え、
各検出器は、前記アレイの各検出器マウントに配設されて、前記複数の発光チャネルのうちの１つの発光チャネルを受け取り、
前記複数の発光チャネルの、前記スプリッティングシステムと前記検出器との間における経路が、ほぼ等しい経路長を有し、
前記スプリッティングシステムは、前記発光ビームを複数の発光チャネルに分離するための複数の光学フィルタを含むフィルタセットを複数備え、
前記スプリッティングシステムは、複数のフィルタセットの中から、前記発光ビームの経路内に設置されるフィルタセットを交換できるように構成されており、
前記複数のフィルタセットのうちの第１のフィルタセットが前記発光ビームの経路に設置された場合、前記第１のフィルタセットは、前記発光ビームを第１の複数の発光チャネルに分離し、
前記複数のフィルタセットのうちの第２のフィルタセットが前記発光ビームの経路に設置された場合、前記第２のフィルタセットは、前記発光ビームを、前記第１の複数の発光チャネルとは異なる第２の複数の発光チャネルに分離する、機器。
【請求項２】
前記発光チャネルを前記スプリッティングシステムに反射するポリクロイックミラーを備える、請求項１記載の機器。
【請求項３】
前記スプリッティングシステムが、複数のミラーを有し、
各フィルタセットに含まれる複数の光学フィルタの各々が、前記複数の発光チャネルのうちの１つの発光チャネルを、前記複数のミラーのうちの１つのミラーに向けて反射するためのものであり、各ミラーが、前記発光チャネルを、前記別個の実質的に平行な経路のうちの１つの経路に反射するために配置され配向される、請求項１又は請求項２記載の機器。
【請求項４】
前記複数のミラーが、前記フィルタセットの周りに配設されている、請求項２又は請求項３記載の機器。
【請求項５】
前記光学フィルタがダイクロイックミラー又はポリクロイックミラーである、請求項２乃至請求項４のいずれか１項記載の機器。
【請求項６】
前記別個の実質的に平行な経路は、同一平面内に存在する、請求項２乃至請求項５のいずれか１項記載の機器。
【請求項７】
前記各検出器は、多角形の各頂点に配置されている、請求項２乃至請求項６のいずれか１項記載の機器。
【請求項８】
各検出器が、光検出器アレイ、ＣＣＤカメラ又はＣＭＯＳカメラを備える、請求項２乃至請求項７のいずれか１項記載の機器。
【請求項９】
前記スプリッティングシステムは、各検出器が受け取る発光チャネルに対応する像が、前記発光ビームに含まれる複数の発光チャネルの各々に対応する像と同一の配向を有するように、像の配向を保存する、請求項２乃至請求項８のいずれか１項記載の機器。
【請求項１０】
前記各検出器は、多角形の各頂点に配置されるように、前記各検出器マウントに取り付けられる、請求項２乃至請求項９のいずれか１項記載の機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、蛍光顕微鏡法に関し、特に、カメラシステムを有する蛍光顕微鏡法機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
多カメラ顕微鏡法は、改善された速度及び光学最適化を可能にする各蛍光発光チャネルのために専用カメラを提供する。しかし、蛍光発光チャネルを異なる光学経路に分割し、各発光チャネルを別個のカメラに向けることは、非対称でかつ複雑な光学システムをもたらすことが多い。例えば、顕微鏡の３つの異なる側に３つのカメラが位置する典型的な顕微鏡を考える。試料の３つの異なる蛍光標識された成分から発光される３つの発光チャネルからなる光は、対物レンズによって収集される。光は、対物レンズを出て、顕微鏡光学システムによって３つの別個のビームに分割される。各ビームは、別個の光学経路に沿って３つのカメラの１つのカメラに移動する発光チャネルの１つのチャネルの光からなる。
【０００３】
しかし、カメラが顕微鏡の異なる側に位置するため、カメラに冷却液を搬送するために使用されるカメラケーブル及びチューブは、カメラを含む顕微鏡のそれぞれの側から突出する。結果として、顕微鏡の占有面積が大きくなる可能性があり、そのことが、制限された実験室空間に顕微鏡を設置しようとするときに問題となる場合がある。さらに、カメラレイアウトが非対称であり、また、不規則なケーブリング及びチューブ突出部が、顕微鏡の全体的な美観を実質的に損ないうる。これらの理由で、エンジニア、科学者及び顕微鏡製造業者は、顕微鏡の全体的な占有面積を低減し、美的に満足のいくレイアウトを有する顕微鏡を求め続ける。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】独国特許第１０２００９０６０４９０号
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
顕微鏡法機器であって、検出器が機器の一方の側に位置する、顕微鏡法機器が開示される。一態様では、顕微鏡法機器は、スプリッティングシステムと機器の一方の側に配設された検出器のアレイを含む。２つ以上の別個の発光チャネルからなるビームは、発光経路に沿ってスプリッティングシステムまで移動する。スプリッティングシステムは、発光チャネルを分離するため、各発光チャネルは、別個の経路に沿って、検出器のアレイ内の検出器の１つの検出器まで移動する。別個の発光チャネルが移動する２つ以上の経路は、実質的に平行であるため、各チャネルは、検出器のアレイ内の異なる検出器によって受取られる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】例示的な顕微鏡法機器の概略図である。
【図２Ａ】４つの顕微鏡機器に関連する検出システムの４つの例のうちの１つの例を示す図である。
【図２Ｂ】４つの顕微鏡機器に関連する検出システムの４つの例のうちの１つの例を示す図である。
【図２Ｃ】４つの顕微鏡機器に関連する検出システムの４つの例のうちの１つの例を示す図である。
【図２Ｄ】４つの顕微鏡機器に関連する検出システムの４つの例のうちの１つの例を示す図である。
【図３Ａ】図２Ｄに示す検出システムのスプリッティングシステムの例示的な実装態様を示す図である。
【図３Ｂ】４つの検出器マウントを有するバックプレートの概略実装態様の例を示す図である。
【図４】スプリッティングシステムの光学フィルタに関連する例示的な透過率プロット及び反射率プロットである。
【図５】動作時のスプリッティングシステムの例を示す図である。
【図６】光学フィルタの２つの交換可能なセットを有するスプリッティングシステムの例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
図１は、例示的な顕微鏡法機器１００の略図を示す。機器１００は、対物レンズ１０２、ポリクロイックミラー１０４、励起フィルタ１０６、光源１０８、発光フィルタ１１０、チューブレンズ１１２、スプリッティングシステム１１４及び検出器の平面アレイ１１６を含む。光源１０８は、高強度で実質的に単色の光のビーム１１８を発光するレーザでありうる。励起フィルタ１０６及びポリクロイックミラー１０４は、励起光のビームを送信し、励起光のビームは、ステージ１２０の対物レンズ１０２及びアパーチャを通過し、ステージ１２０によって支持される顕微鏡スライド１２２上に配設された試料に至る。励起フィルタ１０６は、光の帯域外波長が光源１０８に入ることを防止する。試料の成分は、蛍光プローブで標識される。各タイプのプローブは、試料の特定の成分に特異的に結合するように設計され、各タイプの蛍光体は、特定のタイプのプローブに結合されるため、試料が励起光１１８で照明されると、異なる蛍光体は、電磁スペクトルの可視及び近可視部分内の異なる波長を有する光を発光する。結果として、試料の各成分は、関連する異なる波長を持つよう表示される。図１の例では、試料成分は、それぞれが可視スペクトル内の異なる波長の光を発光する、Ｎ個の異なるタイプの蛍光体で標識される。波長はλiで示され、ここで、ｉは１〜Ｎの範囲にある整数インデックスである。図１は、可視スペクトル内のある範囲の波長に対する強度のプロット１２４を含む。プロット１２４の各曲線は、特定の波長を中心とする非常に狭い範囲の波長にわたる強度分布を示す。例えば、曲線１２６は、第１のタイプの蛍光体から光の発光を生成する、波長λex1を中心とする狭い範囲の励起波長を示し、曲線１２８は、第１の蛍光体によって発光される、波長λem1を中心とする狭い範囲の発光波長を示す。波長λexi（ｉは１〜Ｎの範囲にある整数インデックスである）で示すＮ個の励起波長は、Ｎ個の異なるタイプの蛍光体からの発光を励起する。Ｎ個の異なるタイプの蛍光体のそれぞれは、波長λem1で示す対応する発光波長を発光する。発光波長が電磁スペクトルの可視部分内にあるとき、成分は、異なるカラーを有する試料の画像内に現れる。Ｎ個の励起波長は、「励起チャネル」と呼ばれ、Ｎ個のタイプの蛍光体から発光される光のＮ個の波長は「発光チャネル」と呼ばれる。Ｎ個の励起チャネルλexiは励起光１１８を含む。
【０００８】
Ｎ個の発光チャネルの一部分は、対物レンズ１０２によって収集されコリメートされて、単一発光ビーム１３０になる。ビーム１３０は、ポリクロイックミラー１０４から反射して、機器１００に関連するデカルト座標系１３１のｚ軸に平行に延びる中心光学発光軸に沿って進む。ビーム１３０は、迷走励起光を阻止する発光フィルタ１１０を通過する。チューブレンズ１１２は、単一レンズを表す又はいくつかのレンズ及び他の光学要素を表し、ビーム１３０がスプリッティングシステム１１４に入る前に検出器１１６の像面上にビーム１３０を合焦させる。代替の実施形態では、各ビームは、スプリッティングシステムの下流に配置された自分自身の別個のレンズを有しうる。スプリッティングシステム１１４は、ビーム１３０の発光チャネルを分離するため、各チャネルは、発光フィルタ（複数可）１１０を通って検出器の平面アレイ１１６内の検出器までＮ個の別個の実質的に平行な経路のうちの１つの経路をたどる。例えば、指向性矢印１３２及び１３４は実質的に平行な出力ビームを表し、出力ビーム１３２は検出器１３６に向けられる発光チャネルλem1であり、出力ビーム１３４は検出器１３８に向けられる発光チャネルλem2である。アレイ１１６内の各検出器は、光検出器アレイ、ＣＣＤカメラ又はＣＭＯＳカメラでありうる。代替の実施形態では、各ビームは、別個の励起フィルタを通過しうる。スプリッティングシステム１１４及び検出器の平面アレイ１１６は、機器１００の検出システムを形成する。アレイ１１６内の検出器は、任意の適した配置構成を有しうるが、検出器は、スプリッティングシステム１１４に面するほぼ同じ平面内に存在する。
【０００９】
図２Ａ〜２Ｄは、それぞれが検出器の異なる平面配置構成を表す検出システムの４つの例を示す。各図は、上述した対物レンズ１０２、ポリクロイックミラー１０４及びチューブレンズ１１２を含む。図２Ａの例では、検出システムは、スプリッティングシステム２０２及び２つの検出器のアレイ２０４を含む。２つの検出器は、ｙ軸に平行に配向するライン２０６に沿って存在する。スプリッティングシステム２０２は、２つの発光チャネルλem1及びλem2からなる光の発光ビーム２０８を受取り、２つのチャネルを分離するため、チャネルλem1は、ビーム２１０で出力されて検出器１に至り、チャネルλem2は、ビーム２１２で出力されて検出器２に至る。ビーム２１０及び２１２は、ｙｚ平面内に存在しかつ互いに実質的に平行である。図２Ｂの例では、検出システムは、スプリッティングシステム２１４及び３つの検出器のアレイ２１６を含む。３つの検出器は、ｙｚ軸平面内に存在する。スプリッティングシステム２１４は、３つの発光チャネルλem1、λem2及びλem3からなる光の発光ビーム２２０を受取り、チャネルを分離するため、チャネルλem1は、ビーム２２２で出力されて検出器１に至り、チャネルλem2は、ビーム２２４で出力されて検出器２に至り、チャネルλem3は、ビーム２２６で出力されて検出器３に至る。ビーム２２２、２２４及び２２６は、ｙｚ平面内に存在しかつ互いに実質的に平行である。ビーム２２２、２２４及び２２６が進む光学経路長がほぼ同じになるため、検出器２が検出器１及び３に比べてスプリッティングシステム２１４からより遠くに設置されることに留意されたい。他の実施形態では、検出器は、ビーム２２２及び２２６が進む光学経路長にほぼ一致するよう、ビーム２２４の光学経路長を増加させるために、ビーム２２４を内部で反射するミラーをスプリッティングシステム２１４内に含むことによって、ｘｙ平面に平行に配向されたラインに沿って存在しうる。検出器は、ｙ方向に平行なラインに沿って配列されることに限定されず、検出器２０４及び２１６のリニアアレイは、ｘｙ平面内に存在する任意のラインに沿って配列されうる。他の実施形態では、出力ビーム及び検出器は、図２Ｃ及び図２Ｄで示す２次元幾何学配置構成を有しうる。図２Ｃの例では、検出システムは、スプリッティングシステム２２８及び３つの検出器のアレイ２３０を含む。３つの検出器は、各検出器が、ｘｙ平面に平行に配向される三角形２３２の頂点に位置するように配列される。この例では、スプリッティングシステム２２８は、光の発光ビーム２２０を受取り、チャネルを分離するため、チャネルλem1は、ビーム２３４で出力されて検出器１に至り、チャネルλem2は、ビーム２３６で出力されて検出器２に至り、チャネルλem3は、ビーム２３８で出力されて検出器３に至る。ビーム２３４、２３６及び２３８は、互いに実質的に平行である。図２Ｄの例では、検出システムは、スプリッティングシステム２４０及びｘｙ平面に平行に配向される長方形２４４の頂点に各検出器が位置するように配列された４つの検出器のアレイ２４２を含む。この例では、スプリッティングシステム２４０は、４つのチャネルからなる光の発光ビーム２４６を受取り、チャネルを分離するため、チャネルλem1は、ビーム��４８で出力されて検出器１に至り、チャネルλem2は、ビーム２５０で出力されて検出器２に至り、チャネルλem3は、ビーム２５２で出力されて検出器３に至り、チャネルλem4は、ビーム２５４で出力されて検出器４に至る。ビーム２４８、２５０、２５２及び２５４は、互いに実質的に平行である。
【００１０】
検出システムは、４つまでの検出器の平面アレイに限定されることを意図されない。他の実施形態では、検出システムは、平面幾何学的配置構成で５つ以上の検出器を有しうる。例えば、５つの検出器は、五角形の頂点に位置するように配列されることができ、６つの検出器は、六角形の頂点に位置するように配列されることができる。他の実施形態では、検出器は、不規則な平面配置構成を有することができ、平面の規則的な２次元幾何学的配置構成に限定されることを意図されない。
【００１１】
上述した顕微鏡法機器の一方の側又は背面上の検出器の平面配置構成は、コンパクトであり、機器の占有面積を最小にする。顕微鏡法機器の一方の側又は背面上に検出器の全てを位置することによって、機器は、より狭いエリアにより迅速にかつ好都合に設置されることができ、ケーブル及び冷却液チューブが機器のいくいつかの異なる側から突出するのではなく、検出器を動作させるために使用されるケーブル及び冷却液チューブの全てが機器の一方の側から突出し、機器の美観を改善する。
【００１２】
スプリッティングシステムは、顕微鏡法機器の発光軸に沿って位置する光学フィルタのセット及び光学フィルタのセットの周りに配置されたミラーの第２のセットによって実装されうる。各フィルタは、他の波長の透過を可能にしながら、特定のチャネルをミラーのうちの１つのミラーに反射するように構成される。各ミラーは、チャネルのうちの１つのチャネルを、対応する検出器に反射するように配向される。チャネルは、図２に示す例を参照して上述したように、実質的に平行な出力ビームで反射されて検出器に至る。図３Ａは、図２Ｄに示す検出システムのスプリッティングシステム２４０の例示的な実装態様を示す。スプリッティングシステム２４０は、ｚ軸に平行に延びる発光軸３０２に沿って配列される４つの光学フィルタ１〜４のセットを含み、また、フィルタのセットの周りに径方向に分配された４つのミラー１〜４を含む。
【００１３】
実際には、検出システムの検出器は、顕微鏡法機器及び検出器の背面内の検出器マウントに取付けられ、検出器の位置は、理想的な平面からの検出器の距離に関してわずかに変動する場合がある。図３Ｂは、４つの検出器マウント３０６〜３０９を有する背面プレート３０４のほぼ実装態様の例を示す。マウントは、ｘｙ平面内で長方形平面配置構成を有する。結果として、検出器１〜４は、対応するマウント３０６〜３０９に挿入されると、実質的に平面である。４つの別個のマウントは、同様に、検出器のそれぞれの位置がｘｙ平面及びｚ平面内で調整されることを可能にして、フィルタを通過するビーム、色収差及び光学経路長変動の他の発生源による屈折を補正する。
【００１４】
顕微鏡法システムの検出器の数はスケールアップ又はスケールダウンされることができる。換言すれば、図３Ｂに示す検出システムを含む顕微鏡法システムは、任意の１検出器、２検出器又は３検出器及び対応するフィルタを除去することによって、４検出器の検出システム２４２から３検出器、２検出器又は単一検出器の検出システムにスケールダウンされうる。同様に、検出システムは、検出器マウント内に検出器を設置し、対応するフィルタをスプリッティングシステムに付加することによって、単一検出器、２検出器又は３検出器の検出システムからスケールアップされうる。例えば、図３Ｂでは、検出器４がマウント３０９に付加されると、対応するフィルタ４が、スプリッティングシステム２４０に付加され、検出システムは、３検出器システムから４検出器システムにスケールアップされる。代替的に、検出器４がマウント３０９から除去されると、対応するフィルタ４が、スプリッティングシステム２４０から除去され、検出システムは、４検出器システムから３検出器システムにスケールダウンされる。
【００１５】
フィルタ１〜４は、ダイクロイックミラー又はポリクロイックミラーでありうる。各フィルタは、チャネルのうちの１つのチャネルを対応するミラーに反射する。図４は、フィルタ１〜４にそれぞれ関連する反射率特性及び透過率特性を表す例示的な透過率及び反射率プロット４０１〜４０４を示す。各プロットでは、軸４０６などの水平軸は波長を表し、軸４０８などの垂直軸は、透過率及び反射率をパーセンテージとして表し、軸４１０などの垂直軸はチャネル強度を表し、破線の曲線４１２などの破線の曲線は反射率を表し、点線の曲線４１４などの点線の曲線は透過率を表す。各フィルタは、他の波長を透過させながら、発光チャネルのうちの１つのチャネルを反射する。特に、例示的なプロットは、フィルタ１が発光チャネルλem1を反射し、フィルタ２が発光チャネルλem2を反射し、フィルタ３が発光チャネルλem3を反射し、フィルタ４が発光チャネルλem4を反射することを明らかにする。
【００１６】
図５は、動作時の図３に示す例示的なスプリッティングシステム２４０を示し、フィルタは、図４を参照して述べるように、光を反射及び透過させるように構成される。４つのチャネルλem1、λem2、λem3及びλem4からなる発光ビーム５０２は、スプリッティングシステム２４０に入る前に対物レンズ１０２によって収集され、ポリクロイックミラー１０４によって反射され、チューブレンズ１１２によってコリメートされる。発光ビーム５０２がスプリッティングシステム２４０を通過するとき、フィルタ１はミラー１に向かってチャネルλem1を反射し、フィルタ２はミラー２に向かってチャネルλem2を反射し、フィルタ３はミラー３に向かってチャネルλem3を反射し、フィルタ４はミラー４に向かってチャネルλem4を反射する。図５の例に示すように、ミラー１〜４は、フィルタ１〜４のセットの周りに径方向に分配され、各チャネルが、他のチャネルに関連する出力ビームに実質的に平行である出力ビームで反射されるように配向される。特に、図５では、ミラー１〜４は、各チャネルλem1、λem2、λem3及びλem4がそれぞれ、径方向に分配された実質的に平行な別個の出力ビームに沿って反射されて、それぞれ検出器１〜４に至るように配向される。
【００１７】
スプリッティングシステムの光学要素は、チャネルに関連する像の配向を保存するように配列される。例えば、試料が励起光によって照明され、各タイプの蛍光標識された成分が、異なる発光チャネル内の光を発光するとき、各タイプの成分は、発光チャネル波長に対応するカラーの関連する像を有する。スプリッティングシステムは、発光チャネル波長に従って異なる像を分離し、各像は、検出器のうちの１つの検出器によって取込まれる。スプリッティングシステムの光学要素は、成分の別個の像を再配向しない。図５はまた、発光チャネルλem1、λem2、λem3及びλem4内の光をそれぞれ発光するために蛍光標識される、試料の４つの異なるタイプの成分の像の配向を表すために使用される４つの文字「Ｊ」、「Ｋ」、「Ｐ」及び「Ｆ」を含む。スプリッティングシステム２４０は、関連する発光チャネル波長に従って像を分離するが、像が、２回反射され、最終的に対応する検出器まで透過されるため、各像の配向が保存される。例えば、スプリッティングシステム２４０に入る直前の文字「Ｊ」、「Ｋ」、「Ｐ」及び「Ｆ」に関連する像のｘｙ平面配向は、検出器１〜４のｘｙ平面内の文字「Ｊ」、「Ｋ」、「Ｐ」及び「Ｆ」の配向と同じである。換言すれば、像は、像の配向が不変の状態で検出器１〜４に到達する。
【００１８】
他の実施形態では、スプリッティングシステムは、２つ以上のセットのフィルタを有しうる。フィルタの各セットは、発光チャネルの異なるセットを反射する。図６は、フィルタの２つのセットを有するスプリッティングシステム６０２の例を示す。図６の例では、フィルタの各セットは、そのセットを、ｙ方向に前後に摺動させることによって切換えることを可能にするシャシ内に搭載される。図６は、フィルタのセット１及び２に関連する発光チャネルの２つのセットの例示的なプロット６０４を含む。フィルタのセット１は、実線のピークで示すチャネルの第１のセットλem1、λem2、λem3及びλem4を反射するように構成され、フィルタのセット２は、破線のピークで示すチャネルの第２のセットλ’em1、λ’em2、λ’em3及びλ’em4を反射するように構成される。フィルタのセット１が、チャネルの２つのセットからなる発光ビームの経路内に設置されると、セット１は、図５を参照して上述した方法でチャネルの第１のセットλem1、λem2、λem3及びλem4を分離する。フィルタのセット２が、発光ビームの経路内に設置されると、セット２は、上述した方法でチャネルの第１のセットλ’em1、λ’em2、λ’em3及びλ’em4を分離する。
【００１９】
説明のための先の説明は、本開示の完全な理解を提供するために特定の用語を使用した。しかし、本明細書で述べるシステム及び方法を実施するために、特定の詳細は必要とされないことが当業者に明らかになるであろう。特定の例の先の詳細は、例証及び説明のために提示される。それらは、本開示を網羅すること又は述べる厳密な形態に本開示を制限することを意図されない。例えば、図１を参照して、励起フィルタ１０６及び光源１０８の場所は、発光フィルタ１１０、チューブレンズ１１２、スプリッティングシステム１１４及び検出器の平面アレイ１１６の場所と切換えられることができ、ポリクロマティックミラー１０４は、励起ビーム１１８を対物レンズ１０２に反射し、発光ビーム１３０を透過させるポリクロイックミラーと置換されうる。明らかに、多くの変更及び変形が、先の教示を考慮して可能である。本開示の原理及び実用的な用途を最もよく説明し、それにより、当業者が、企図される特定の使用に合う種々の変更によって本開示及び種々の例を最もよく利用することを可能にするために、例が示され述べられる。本開示の範囲が、添付特許請求の範囲及びその均等物によって規定されることが意図される。
【符号の説明】
【００２０】
１００  顕微鏡法機器
１０２  対物レンズ
１０４  ポリクロイックミラー
１０６  励起フィルタ
１０８  光源
１１０  発光フィルタ
１１２  チューブレンズ
１１４、２１４、２２８、２４０、６０２  スプリッティングシステム
１１６  検出器の平面アレイ
１２０  ステージ
１２２  顕微鏡スライド
１１８、１３０、２０８、２１０、２１２、２２０、２２２、２２４、２２６、２３４、２３６、２３８、２４６、２４８、２５０、２５２、２５４、５０２  ビーム
１３２、１３４  指向性矢印
１３６、１３８  検出器
３０４  背面プレート
３０６、３０７、３０８、３０９  検出器マウント
【図１】
0006018635.tif 000002
【図２Ａ】
0006018635.tif 000003
【図２Ｂ】
0006018635.tif 000004
【図２Ｃ】
0006018635.tif 000005
【図２Ｄ】
0006018635.tif 000006
【図３Ａ】
0006018635.tif 000007
【図３Ｂ】
0006018635.tif 000008
【図４】
0006018635.tif 000009
【図５】
0006018635.tif 000010
【図６】
0006018635.tif 000011