(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を検出した場合、検出信号を発生する放射線センサと、
前記検出信号を計数する第１のカウンタと、
周期信号を所定周期で発生する発振器と、
前記検出信号と前記周期信号との論理積を出力するＡＮＤ回路と、
前記ＡＮＤ回路の出力信号を計数する第２のカウンタと、
前記第２のカウンタの計数値が第１の所定値未満である場合、前記第１のカウンタの計数値を表示し、前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上である場合、前記第１のカウンタの実際の計数値とは異なる値を表示する表示器とを備えたことを特徴とする放射線測定器。
【請求項２】
前記表示器は、前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上である場合、前記第２のカウンタの計数値に基づく値を表示する請求項１記載の放射線測定器。
【請求項３】
前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上であるか否かを判定する比較回路と、
前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上である場合、前記表示器に対し前記第２のカウンタの計数値を出力する表示制御回路をさらに備えた請求項１または２記載の放射線測定器。
【請求項４】
前記表示器は、前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上である場合、前記第１のカウンタの計数値を第２の所定値に設定し、前記第２の所定値が設定された前記第１のカウンタの値を表示する請求項１記載の放射線測定器。
【請求項５】
前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上であるか否かを判定し、前記第２のカウンタの計数値が前記第１の所定値以上である場合、前記第１のカウンタの計数値を前記第２の所定値に設定する比較回路をさらに備えた請求項４記載の放射線測定器。
【請求項６】
前記第２の所定値は、前記第１のカウンタの実際の計数値よりも大きく前記第１のカウンタの最大値以下である請求項４または５記載の放射線測定器。
【請求項７】
前記表示器は、前記第１のカウンタが計測可能な最大値に到達した場合、前記第１のカウンタの最大値を表示する請求項１から６のいずれか一項に記載の放射線計測器。
【請求項８】
前記第１のカウンタの計数値が最大値に到達したか否かを判定する比較回路と、
前記比較回路が前記第１のカウンタの計数値が最大値に到達したと判定した場合、前記第１のカウンタの最大値を所定のタイミングまで前記表示器に出力する表示制御回路をさらに備えた請求項６または７記載の放射線測定器。
【請求項９】
前記第１のカウンタの計数値が最大値に到達したか否かを判定し、前記第１のカウンタの計数値が前記最大値に到達したと判定した場合、前記第１のカウンタの計数値を前記第１のカウンタの最大値に設定し、前記第１のカウンタの値を前記表示器に表示させる比較回路をさらに備えた請求項７記載の放射線測定器。
【請求項１０】
少なくとも前記放射線センサの感度の校正値の情報を含む前記放射線測定器の固有情報を格納する記憶装置と、
前記第１のカウンタの計測値を前記記憶装置に格納された前記固有情報とともに外部機器に出力する出力装置をさらに備えた請求項１から９のいずれか一項に記載の放射線測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線を検出して計数する放射線測定器に関する。
【背景技術】
【０００２】
原子力発電所などの放射性物質を取り扱う施設において事故が発生した場合、広範囲にわたり強い放射能を有する放射性物質が飛散する可能性がある。このため環境中の放射性物質の有無を広範囲にわたり調査し、放射性物質が存在する場合には除去する必要がある。
【０００３】
放射性物質の有無に対する測定は多大な人手を要するため、放射線計測の知識や経験が少ない作業員が実施することが考えられる。この場合、以下の課題が生じ得る。
【０００４】
放射線測定器で放射線を検出すると、電気パルスが発生しこのパルスを後段の計数回路で計数する。放射能が強い場合は多数の放射線を計数するため、電気パルスと電気パルスとの間隔が狭まり、パルス同士が重なる（以下、「パイルアップ」という。）状態となる。
【０００５】
パイルアップした場合、重なり合った複数のパルスは１つのパルスとみなされるため、実際に放射線検出器が検出した放射線数に比べて計数回路が計数した数は少なくなる。また、全ての電気パルスがパイルアップすると計数はゼロとなる。このため、実際には強い放射能を有する放射性物質が存在する環境であっても、放射能が弱いと判断されてしまう恐れある。この結果、放射性物質は除去されず、被曝につながる恐れがある。
【０００６】
従来、パイルアップの検出やパイルアップを防止する技術が提案されている（例えば、特許文献１および２参照）。
【０００７】
また、計測時間内の計数が計数回路の容量を超えると桁があふれ（以下、「オーバフロー」という。）、計数回路で出力される計数は計数回路に入力された計数より小さくなる。例えば、計測時間内の計数が２５６の場合、８ビット計数回路では最大計測値（計測容量）が２５５であるため、計測値は０となる。この場合、パイルアップと同様に放射能は弱いと判断され、被曝につながる恐れがある。
【０００８】
従来、オーバフローによる誤計測を回避するため、計数回路がオーバフローした場合、その旨を表示する技術が提案されている（非特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平０７−０７２２５２号公報
【特許文献２】特開２００９−１８１５４号公報
【非特許文献】
【００１０】
【非特許文献１】ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｃｌｅａｒｐｕｌｓｅ．ｃｏ．ｊｐ／ｊｐｎ／ｐｒｏｄｕｃｔ／ｐｌｉｓｔ＿Ｅ／ｐｌｉｓｔＥ１．ｈｔｍｌ
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
従来の技術は、パイルアップ検出やパイルアップ防止を行う一方、装置の複雑化、大型化を招いていた。また、オーバフローが発生した場合には、オーバフローした旨を表示するが、計数の表示はオーバフローしており、やはり放射線測定器の取り扱いを熟知していない作業員にとってはオーバフローの判断が困難であった。
【００１２】
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、作業員の放射線計測の熟練度や知識に依存せず放射能の誤認を防止することができる放射線測定器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明に係る放射線測定器は、上述した課題を解決するために、放射線を検出した場合、検出信号を発生する放射線センサと、前記検出信号を計数する第１のカウンタと、周期信号を所定周期で発生する発振器と、前記検出信号と前記周期信号との論理積を出力するＡＮＤ回路と、前記ＡＮＤ回路の出力信号を計数する第２のカウンタと、前記第２のカウンタの計数値が第１の所定値未満である場合、前記第１のカウンタの計数値を表示し、前記第２のカウンタの計数値が第１の所定値以上である場合、前記第１のカウンタの実際の計数値とは異なる値を表示する表示器とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係る放射測定器においては、作業員の放射線計測の熟練度や知識に依存せず放射能の誤認を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１実施形態における放射線測定器の回路構成図。
【図２】パイルアップが生じていない場合のコンパレータ、発振器およびＡＮＤ回路で発生するパルスの様子を示す説明図であり、（Ａ）は放射線センサより出力される電気パルスを示す図、（Ｂ）は波形整形回路において整形され出力される整形パルスを示す図、（Ｃ）はコンパレータより出力される検出パルスを示す図、（Ｄ）は発振器より出力される周期パルスを示す図、（Ｅ）はＡＮＤ回路より出力される出力信号を示す図。
【図３】パイルアップが生じた場合のコンパレータ、発振器およびＡＮＤ回路で発生するパルスの様子を示す説明図であり、（Ａ）は放射線センサより出力される電気パルスを示す図、（Ｂ）は波形整形回路において整形され出力される整形パルスを示す図、（Ｃ）はコンパレータより出力される検出パルスを示す図、（Ｄ）は発振器より出力される周期パルスを示す図、（Ｅ）はＡＮＤ回路より出力される出力信号を示す図。
【図４】第１実施形態の変形例としての放射線測定器の回路構成図。
【図５】第２実施形態における放射線測定器の第１のカウンタの回路構成図。
【図６】第２実施形態の変形例としての放射線測定器の回路構成図。
【図７】第３実施形態における放射線測定器の回路構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
［第１実施形態］
本発明に係る放射線測定器の第１実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、第１実施形態における放射線測定器１の回路構成図である。
【００１８】
放射線測定器１は、放射線計測部として、放射線センサ１０、波形整形回路１２、コンパレータ１３、弁別レベル設定器１４、および第１のカウンタ１５を有する。
【００１９】
放射線センサ１０は、放射線を検出した場合、電気パルスを発生する。波形整形回路１２は、発生した電気パルスを後段の回路で計数可能な整形パルスに変換する。コンパレータ１３は、波形整形回路１２から出力される整形パルスを弁別する。弁別レベル設定器１４は、設定電圧をコンパレータ１３に出力する。第１のカウンタ１５は、コンパレータ１３の出力である検出パルスを一定時間計数する。
【００２０】
放射線測定器１は、パイルアップを防止するためのパイルアップ防止部として、発振器１６、ＡＮＤ回路１７、第２のカウンタ１８、比較回路１９、係数設定回路２０、およびセレクタ２１を有する。
【００２１】
発振器１６は、所定周期で周期パルス（周期信号）を連続して発生する。ＡＮＤ回路１７は、コンパレータ１３から出力される検出パルスと発振器１６から出力される周期パルスの論理積を出力する。第２のカウンタ１８は、ＡＮＤ回路１７から出力される出力信号を一定時間計数する。比較回路１９は、第２のカウンタ１８の値が設定値２２以上で真、設定値未満で偽の論理信号を出力する。係数設定回路２０は、第２のカウンタ１８から出力される計数値に所定の係数を設定する。セレクタ２１（表示制御回路）は、比較回路１９の出力が偽の場合、第１のカウンタ１５の計数値を出力する。また、セレクタ２１は、比較回路１９の出力が真の場合、係数が掛けられた第２のカウンタ１８の計数値を出力する。
【００２２】
また、放射線測定器１は、セレクタ２１から出力される各カウンタ１５、１８の値を表示する表示器２３を有する。
【００２３】
次に、第１実施形態における放射線測定器１の作用を説明する。
【００２４】
図２は、パイルアップが生じていない場合のコンパレータ１３、発振器１６およびＡＮＤ回路１７などで発生するパルスの様子を示す説明図である。図２（Ａ）は放射線センサ１０より出力される電気パルス３１を示す図、（Ｂ）は波形整形回路１２において整形され出力される整形パルス３２を示す図である。図２（Ｃ）はコンパレータ１３より出力される検出パルス３３を示す図、（Ｄ）は発振器１６より出力される周期パルス３４を示す図、（Ｅ）はＡＮＤ回路１７より出力される出力信号３５を示す図である。
【００２５】
放射線センサ１０は放射線を検出すると、図２（Ａ）に示すように電気パルス３１を発生する。波形整形回路１２は、電気パルス３１を図２（Ｂ）に示す幅数μｓの整形パルス３２に整形する。コンパレータ１３は、整形パルス３２の波高値が弁別レベル設定器１４において設定された電圧より大きい場合、図２（Ｃ）に示す出力１を示す検出パルス（検出信号）３３を出力する。整形パルス３２の幅が数μｓのため、コンパレータ１３の出力（検出パルス３３）は幅が数μｓのパルスとなる。コンパレータ１３の出力は、第１のカウンタ１５に出力される。第１のカウンタ１５は、検出パルス３３を一定期間計数する。
【００２６】
検出パルス３３は、同時にＡＮＤ回路１７に出力される。ＡＮＤ回路１７は、コンパレータ１３の検出パルス３３と発振器１６の周期パルス３４との論理積を演算する。すなわち、ＡＮＤ回路１７は、コンパレータ１３の出力が１である間（検出パルス３３が出力される間）、発振器１６より出力される周期パルス３４を出力信号３５として第２のカウンタ１８に出力する。第２のカウンタ１８は、ＡＮＤ回路１７の出力を一定期間計数する。周期パルス３４の幅は、整形パルス３２の幅より充分小さく（例えば検出パルス３３の１／５程度）、整形パルス３２が発生している間は必ず周期パルス３４が第２のカウンタ１８に出力されるように設定される。
【００２７】
比較回路１９は、第２のカウンタ１８の計数値と設定値２２とを比較する。設定値２２には、放射線測定器１がパイルアップ状態となっているか否かを判断可能な値が任意に選択されて設定される。比較回路１９は、第２のカウンタ１８の計数値が設定値２２未満、すなわちパイルアップ状態ではなく出力信号３５の計数が小さい場合、偽を出力する。
【００２８】
セレクタ２１は出力が偽である場合、第１のカウンタ１５の値を表示器２３に出力し、表示器２３は放射線の入力数に対応した実際の計数値を表示する。
【００２９】
ここで、図３は、パイルアップが生じた場合のコンパレータ１３、発振器１６およびＡＮＤ回路１７などで発生するパルスの様子を示す説明図である。
【００３０】
図３（Ａ）に示すように放射線センサ１０における電気パルス３１の計数が高い場合、図３（Ｂ）に示すように整形パルス３２は重なりパイルアップ状態となる。この結果、図３（Ｃ）に示すようにコンパレータ１３の検出パルス３３も重なり幅の広いパルスになる。放射線が強いにもかかわらず検出パルス３３の数は減り、第１のカウンタ１５により一定期間計数される計数値は小さくなる。
【００３１】
ＡＮＤ回路１７は、コンパレータ１３の出力が１である間（検出パルス３３が出力される間）、発振器１６より出力される周期パルス３４を出力信号３５として第２のカウンタ１８に出力する。すなわち、第１のカウンタ１５の計数値は小さくなるが、検出パルス３３の幅に比例して出力信号３５は増えるため第２のカウンタ１８の計数値は大きくなる。
【００３２】
比較回路１９は、第２のカウンタ１８と設定値２２とを比較する。比較回路１９は、第２のカウンタ１８の計数値が設定値２２以上の場合、すなわちパイルアップ状態となり出力信号３５の計数が大きい場合、真を出力する。
【００３３】
セレクタ２１は出力が真である場合、係数設定回路２０において係数が掛けられた第２のカウンタ１８の値（第２のカウンタ１８の計数値に基づく値）を表示器２３に出力し、表示器２３は検出された実際の放射線の計数を反映した値を表示する。すなわち、パイルアップ状態となり計数値が小さい第１のカウンタ１５の出力は表示されない。なお、係数設定回路２０は、第１のカウンタ１５の計数値から第２のカウンタ１８の計数値に切り替わる場合に、出力される値に連続性を持たせるために設けられ、係数は適宜設定される。
【００３４】
第１実施形態における放射線測定器１は、整形パルス３２がパイルアップしていることを第２のカウンタ１８の計数値より検出する。パイルアップが検出された場合、放射線測定器１は第１のカウンタ１５から第２のカウンタ１８の計測値に切り替えることで、表示器２３に表示される計数表示は小さくならず、実際の放射能の状態を反映した大きな値を表示する。これにより、放射線測定器１は、作業員の知識や熟練度によらずに放射線を測定でき、パイルアップによる計測値の誤認を防止できる。
【００３５】
なお、第１実施形態における放射線測定器１は、第２のカウンタ１８の計数値が設定値２２より大きい場合、第１のカウンタ１５の値を実際の計数値ではなく所定値に設定し表示器２３に表示させてもよい。
【００３６】
図４は、第１実施形態の変形例としての放射線測定器４１の回路構成図である。なお、第１実施形態の放射線測定器１と対応する構成および部分については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００３７】
放射線測定器４１は、放射線計測部として、放射線センサ１０、波形整形回路１２、コンパレータ１３、弁別レベル設定器１４、および第１のカウンタ１５を有する。また、放射線測定器４１は、パイルアップを防止するためのパイルアップ防止部として、発振器１６、ＡＮＤ回路１７、第２のカウンタ１８、および比較回路４２を有する。さらに、放射線測定器４１は、表示器２３を有する。
【００３８】
比較回路４２は、第２のカウンタ１８の値が設定値２２以上で真、設定値未満で偽の論理信号を第１のカウンタ１５に出力する。第１のカウンタ１５は、比較回路４２の出力が真の場合、予め設定された値に設定される。
【００３９】
第１実施形態の変形例としての放射線測定器４１の作用を説明する。
【００４０】
比較回路４２は、第２のカウンタ１８の計数値と設定値２２とを比較する。第２のカウンタ１８の計数値が設定値２２未満でありパイルアップ状態ではない場合、比較回路４２は偽を出力し第１のカウンタ１５の実際の計数値が表示器２３に出力される。表示器２３は、放射線の検出数に対応した計数値を表示する。
【００４１】
第２のカウンタ１８の計数値が設定値２２以上となり、パイルアップ状態となる場合、比較回路４２は真を出力する。比較回路４２は、第１のカウンタ１５の計数値を予め設定された値に設定する。予め設定された値は、例えば第１のカウンタ１５の最大値であり、パイルアップして小さくなった第１のカウンタ１５の計数値より大きい値である。設定された第１のカウンタ１５の計数値は表示器２３に出力され表示される。
【００４２】
放射線測定器４１は、パイルアップ状態を検出した場合、第１のカウンタ１５の計数値を予め設定された大きな値に設定することにより、表示器２３に表示される計数値は小さくはならない。このため、放射線測定器４１は大きな値を表示することで、放射能が強いことを作業員に認識させることができ、計測における誤認を防止できる。
【００４３】
また、放射線測定器４１は、第１実施形態の放射線測定器１に設けられるセレクタ２１を省略できるため、構成を簡素化できる。
【００４４】
［第２実施形態］
本発明に係る放射線測定器５１の第２実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【００４５】
図５は、第２実施形態における放射線測定器５１の第１のカウンタ６０の回路構成図である。
【００４６】
第２実施形態における放射線測定器５１が第１実施形態と異なる点は、第１のカウンタ６０内に第１のカウンタ６０のオーバフローによる作業員の誤認を防止するための構成を有する点である。第１のカウンタ６０以外の構成は、第１実施形態の放射線測定器１とほぼ同様であるため、図示を省略する。また、第１実施形態と対応する構成および部分については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００４７】
放射線測定器５１は、放射線計測部として、放射線センサ１０、波形整形回路１２、コンパレータ１３、弁別レベル設定器１４（図１参照）、および第１のカウンタ６０を有する。また、放射線測定器５１は、パイルアップを防止するためのパイルアップ防止部として、発振器１６、ＡＮＤ回路１７、第２のカウンタ１８、および比較回路１９（図１参照）を有する。また、放射線測定器５１は、表示器２３（図１参照）を有する。なお、放射線測定器５１は、パイルアップ防止部を省略してもよい。
【００４８】
第１のカウンタ６０は、オーバフローを防止するオーバフロー防止部として、カウンタ６１、比較回路６２、およびセレクタ６３を有する。
【００４９】
カウンタ６１は、コンパレータ１３の出力を一定時間計数する。比較回路６２は、カウンタ６１の計数値がカウンタ６１の最大値６５に到達した場合に真、最大値６５未満である場合に偽の論理信号を出力する。セレクタ６３は比較回路６２の出力が偽の場合、カウンタ６１の実際の計数値を出力する。また、セレクタ６３は比較回路６２の出力が真の場合、カウンタ６１の最大値６５を出力する。
【００５０】
次に、第２実施形態における放射線測定器５１の作用を説明する。
【００５１】
放射線センサ１０は放射線を検出すると、電気パルス３１を発生する。波形整形回路１２は、電気パルス３１を幅数μｓの整形パルス３２に整形する。コンパレータ１３は、整形パルス３２の波高値が弁別レベル設定器１４において設定された電圧より大きい場合、出力１を示す検出パルス（検出信号）３３を出力する。コンパレータ１３の出力は、第１のカウンタ６０のカウンタ６１に出力される。カウンタ６１は、検出パルス３３を一定期間計数する。
【００５２】
比較回路６２は、カウンタ６１の計数値を最大値６５と比較する。カウンタ６１の計数値が最大値６５未満である場合、偽を出力する。セレクタ６３は、カウンタ６１の実際の放射線の計数値を表示器２３に出力する。表示器２３は、カウンタ６１の計数値を表示する。
【００５３】
一方、比較回路６２は、カウンタ６１の計数値が最大値６５である場合、すなわちカウンタ６１が計測可能な最大値に到達した場合には、真を出力する。セレクタ６３は、カウンタ６１の最大値６５を所定のタイミングまで（例えば、次の測定を開始するまで）表示器２３に出力する。表示器２３は、カウンタ６１の最大値６５を表示する。
【００５４】
この結果、カウンタ６１がオーバフローして計数値が最大値６５より小さくなることはなく、カウンタ６１の値は最大値６５に保持される。
【００５５】
第２実施形態における放射線測定器５１は、第１のカウンタ６０（カウンタ６１）が最大値６５に到達したことを検出し、第１のカウンタ６０の値を実際の計数値から最大値６５に切り替えることで、表示器２３に出力される値はオーバフローした値とならず、作業員の誤認を防止できる。
【００５６】
なお、第２実施形態における放射線測定器５１は、カウンタ６１の計数値が最大値６５に到達した場合、第１のカウンタ１５の値を最大値６５に設定し表示器２３に表示させてもよい。
【００５７】
図６は、第２実施形態の変形例としての放射線測定器７１の回路構成図である。なお、第２実施形態の放射線測定器５１と対応する構成および部分については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００５８】
第１のカウンタ７２は、オーバフローを防止するオーバフロー防止部として、カウンタ６１、および比較回路７３を有する。
【００５９】
比較回路７３は、カウンタ６１の計数値がカウンタ６１の最大値６５に到達した場合に真、最大値６５未満である場合に偽の論理信号をカウンタ６１に出力する。カウンタ６１は、比較回路７３の出力が偽の場合、カウンタ６１の実際の計数値を出力する。比較回路７３の出力が真の場合、比較回路７３は、カウンタ６１の計数値を最大値６５に設定する。
【００６０】
放射線測定器７１は、第２実施形態における放射線測定器５１と同様の効果を奏する上、セレクタ６３を省略でき構成を簡素化できる。
【００６１】
なお、第２実施形態においては、カウンタ６１と比較される値は最大値６５に限らず他の大きい値であってもよい。
【００６２】
［第３実施形態］
本発明に係る放射線測定器の第３実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【００６３】
図７は、第３実施形態における放射線測定器８１の回路構成図である。
【００６４】
第３実施形態における放射線測定器８１が第１および第２実施形態と異なる点は、放射線測定器８１のメンテナンス性を向上させるため、ＵＳＢ変換器８２、ＵＳＢハブ８３、ＵＳＢメモリ８４を有する点である。第１実施形態と対応する構成および部分については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００６５】
放射線測定器８１は、放射線計測部として、放射線センサ１０、波形整形回路１２、コンパレータ１３、弁別レベル設定器１４、および第１のカウンタ１５を有する。また、放射線測定器８１は、パイルアップを防止するためのパイルアップ防止部として、発振器１６、ＡＮＤ回路１７、第２のカウンタ１８、および比較回路１９を有する。
【００６６】
さらに、放射線測定器８１は、ＵＳＢ変換器８２、ＵＳＢハブ８３、およびＵＳＢメモリ８４を有する。ＵＳＢ変換器８２は、セレクタ２１から出力される測定データをＵＳＢ規格のシリアルデータに変換し出力する。ＵＳＢハブ８３（出力装置）は、放射線測定器８１とデータ処理表示部９０とを接続し、データの送受信などを行う。ＵＳＢメモリ８４（記憶装置）は、放射線測定器８１の固有情報を格納する。固有情報は、例えば放射線センサ１０の感度などの校正値、放射線測定器８１の製造番号、使用・保守履歴などの情報である。
【００６７】
放射線測定器８１に接続されるデータ処理表示部９０は、放射線測定器８１の測定データを処理したり表示したりする。
【００６８】
次に、第３実施形態における放射線測定器８１の作用について説明する。
【００６９】
ＵＳＢ変換器８２は、セレクタ２１より出力される測定データをＵＳＢ規格のシリアルデータに変換し、ＵＳＢハブ８３に出力する。シリアルデータは、ＵＳＢハブ８３を介してデータ処理表示部９０に送信される。データ処理表示部９０においては、セレクタ２１より出力される測定データ（第１および第２のカウンタ１５、１８の計数値）と、ＵＳＢメモリ８４に格納された放射線測定器８１の固有情報を読み出し、所要のデータ処理を行う。
【００７０】
データ処理表示部９０は、例えば放射線センサ１０の感度をＵＳＢメモリ８４より読み出し、放射線測定器８１固有の放射線センサ１０の感度でセレクタ２１より出力される第１のカウンタ１５の計数値を校正する。
【００７１】
第３実施形態における放射線測定器８１は、放射線測定器８１の固有情報がＵＳＢメモリ８４に格納されているため、放射線測定器８１やデータ処理表示部９０が故障し、放射線測定器８１やデータ処理表示部９０を交換する必要がある場合であっても、この固有情報に基づいてスムーズに測定に移行することができる。
【００７２】
例えば、ＵＳＢメモリ８４から読み出された放射線測定器８１の校正値をもとに、データ処理表示部９０において放射線センサ１０の計数値を校正して測定データを表示することができる。このため、機器の交換が必要になる場合には放射線測定器８１自体を校正する必要がなく、予備の放射線測定器８１またはデータ処理表示部９０があれば迅速に交換して使用することができる。
【００７３】
また、放射線測定器８１は、放射線測定器８１の校正方法を知らない作業員であっても、繁雑な作業を要することなく交換して使用することができる。
【００７４】
なお、記憶装置としてのＵＳＢメモリ８４は、放射線測定器８１またはデータ処理表示部９０に内蔵してもよい。
【００７５】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００７６】
１、４１、５１、７１、８１  放射線測定器
１０  放射線センサ
１２  波形整形回路
１３  コンパレータ
１４  弁別レベル設定器
１５、６０、７２  第１のカウンタ
１６  発振器
１７  ＡＮＤ回路
１８  第２のカウンタ
１９、４２、６２、７３  比較回路
２０  係数設定回路
２１、６３  セレクタ
２２  設定値
２３  表示器
６１  カウンタ
６５  最大値
８２  ＵＳＢ変換器
８３  ＵＳＢハブ
８４  ＵＳＢメモリ
９０  データ処理表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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