(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対向する局側伝送装置と加入者側伝送装置が現用光ファイバを介して信号光を送受信する光伝送装置に用いられ、前記現用光ファイバ中の任意の２箇所に介在される上部迂回用光分岐カプラと下部迂回用光分岐カプラとの間に迂回路を形成し、通信を二重化する光伝送路二重化装置において、
前記上部迂回用光分岐カプラの分岐端に接続される上部波長分割多重カプラと、
前記下部迂回用光分岐カプラの分岐端に接続される下部波長分割多重カプラと、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に形成され、
前記下部波長分割多重カプラで分波された、前記加入者側伝送装置から発せられる上り波長の上り信号光を上り電気信号に変換する、上り信号光−電気変換器、
前記上り電気信号を設定時間遅延させる、上り信号可変遅延器、
前記上り信号可変遅延器の出力信号を信号光に変換する、上り信号電気−光変換器、及び、
前記上り信号電気−光変換器が出力する信号光を、前記上部波長分割多重カプラへ出力・停止する、上り信号光遮断スイッチ、を備える
上り信号光伝送手段と、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に形成され、
前記上部波長分割多重カプラで分波された、前記局側伝送装置から発せられる下り波長の下り信号光を下り電気信号に変換する、下り信号光−電気変換器、
前記下り電気信号を設定時間遅延させる、下り信号可変遅延器、
前記下り信号可変遅延器の出力信号を信号光に変換する、下り信号電気−光変換器、及び、
前記下り信号電気−光変換器が出力する信号光を、前記下部波長分割多重カプラへ出力・停止する、下り信号光遮断スイッチ、を備える
下り信号光伝送手段と、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に形成され、
前記上り電気信号を試験電気信号として取り込んで設定時間遅延させる、試験信号可変遅延器、
前記試験信号可変遅延器の出力信号を試験波長の試験信号光に変換する試験信号電気−光変換手段、及び、
前記試験信号光を、前記上部波長分割多重カプラへ出力・停止する、試験信号光遮断スイッチ、を備える
試験信号光伝送手段と、
前記上部迂回用光分岐カプラで分岐される、前記上部波長分割多重カプラからの前記試験信号光および前記上り信号光を受信し、前記現用光ファイバと前記迂回路との光路長差の有無を検出する、光路長差検出器と、
前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間を、前記上り信号可変遅延器及び前記下り信号可変遅延器に設定する、制御器と
を具備することを特徴とする光伝送路二重化装置。
【請求項２】
前記光路長差検出器は、
前記上部迂回用光分岐カプラを通った上り信号光及び試験信号光の伝送信号光が一方の入力端に与えられる２入力・２出力光スイッチと、
前記２入力・２出力光スイッチの一方の出力端から出力される伝送信号光を取り込んで前記試験信号光の波長を選択し、選択され試験信号光を２入力・２出力光スイッチの他方の入力端に出力する試験信号波長選択フィルタと、
前記２入力・２出力光スイッチの他方の出力端から出力される伝送信号光を取り込んで前記試験信号光および前記上り信号光を電気信号に変換する試験信号・上り信号光−電気変換器と、
前記試験信号・上り信号光−電気変換器から出力される伝送信号からクロックを抽出し、その抽出時のエラーを検出するクロックデータリカバリーエラー検出器と
を具備し、
前記クロックデータリカバリーエラー検出器の検出結果から前記光路長差の有無を検出することを特徴とする請求項１記載の光伝送路二重化装置。
【請求項３】
前記試験信号電気−光変換手段は、前記試験信号可変遅延器で遅延された前記試験電気信号を前記試験波長の試験信号光に変換する試験信号電気−光変換器を備えることを特徴とする請求項１記載の光伝送路二重化装置。
【請求項４】
前記現用光ファイバを新規光ファイバに交換した際に前記新規光ファイバ中に設けられ、前記上り信号光を前記試験波長に変換する波長変換器を備え、
前記光路長差検出器は、前記上部迂回用光分岐カプラで分岐される前記新規光ファイバからの試験信号光および前記迂回路からの試験信号光を受信し、前記新規光ファイバと前記迂回路との光路長差の有無を検出し、
前記制御器は、前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間から前記波長変換器の変換遅延時間を差し引いて前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定することを特徴とする請求項１記載の光伝送路二重化装置。
【請求項５】
対向する局側伝送装置と加入者側伝送装置が現用光ファイバを介して信号光を送受信する光伝送装置に用いられ、前記現用光ファイバ中の任意の２箇所に介在される上部迂回用光分岐カプラと下部迂回用光分岐カプラとの間に迂回路を形成し、通信を二重化する光伝送路二重化方法において、
前記上部迂回用光分岐カプラの分岐端に上部波長分割多重カプラを接続し、
前記下部迂回用光分岐カプラの分岐端に下部波長分割多重カプラを接続し、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に、
前記下部波長分割多重カプラで分波された、前記加入者側伝送装置から発せられる上り波長の上り信号光を上り電気信号に変換する、上り信号光−電気変換器、
前記上り電気信号を設定時間遅延させる、上り信号可変遅延器、
前記上り信号可変遅延器の出力信号を信号光に変換する、上り信号電気−光変換器、及び、
前記上り信号電気−光変換器が出力する信号光を、前記上部波長分割多重カプラへ出力・停止する、上り信号光遮断スイッチ、を備える
上り信号光伝送路を形成し、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に、
前記上部波長分割多重カプラで分波された、前記局側伝送装置から発せられる下り波長の下り信号光を下り電気信号に変換する、下り信号光−電気変換器、
前記下り電気信号を設定時間遅延させる、下り信号可変遅延器、
前記下り信号可変遅延器の出力信号を信号光に変換する、下り信号電気−光変換器、及び、
前記下り信号電気−光変換器が出力する信号光を、前記下部波長分割多重カプラへ出力・停止する、下り信号光遮断スイッチ、を備える
下り信号光伝送路を形成し、
前記上部波長分割多重カプラと前記下部波長分割多重カプラとの間に、
前記上り電気信号を試験電気信号として取り込んで設定時間遅延させる、試験信号可変遅延器、
前記試験信号可変遅延器の出力信号を試験波長の試験信号光に変換する試験信号電気−光変換手段、及び、
前記試験信号光を、前記上部波長分割多重カプラへ出力・停止する、試験信号光遮断スイッチ、を備える
試験信号光伝送路を形成し、
前記上部迂回用光分岐カプラで分岐される、前記上部波長分割多重カプラからの前記試験信号光および前記上り信号光を受信し、前記現用光ファイバと前記迂回路との光路長差の有無を検出し、
前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間を前記上り信号可変遅延器及び前記下り信号可変遅延器に設定することを特徴とする光伝送路二重化方法。
【請求項６】
前記現用光ファイバを新規光ファイバに交換した際に前記新規光ファイバ中に前記上り信号光を前記試験波長に変換する波長変換器を配置し、
前記上部迂回用光分岐カプラで分岐される前記新規光ファイバからの試験信号光および前記迂回路からの試験信号光から前記新規光ファイバと前記迂回路との光路長差の有無を検出し、
前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間から前記波長変換器の変換遅延時間を差し引いて前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定することを特徴とする請求項５記載の光伝送路二重化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光伝送路の支障移転工事等における光伝送路切替時の一時的な迂回路を形成するための光伝送路の二重化技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
これまでの光伝送の路二重化技術としては、迂回路における信号伝送を全て光信号のまま行う方式や一旦電気信号に変換する方式がある（例えば、非特許文献１、非特許文献２参照）。
これらの方式では、本線路と迂回路の光路長差検出のための試験信号光を上部もしくは下部光分岐カプラより入射する必要がある。そのために、上部光分岐カプラおよび下部光分岐カプラについては、共に２入力・２出力の光分岐カプラを用いる。ここで、上部光分岐カプラとしては、通信設備ビル内に既に設置された試験用途の光分岐カプラを用いることが可能であるが、下部光分岐カプラは既設設備には設置されておらず、側方光入出力技術（例えば、非特許文献３）による一時的な光分岐カプラが必要となる。
【０００３】
しかしながら、現在実現されつつある側方光入出力技術を用いた光分岐カプラは、下り２入力・１出力、上り１入力・２出力の分岐であり、上り試験信号光の入射端が得られず、光伝送路二重化に必要な２入力・２出力の光分岐カプラとしては利用できないという問題があった。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】東他：光アクセス媒体切り替え方式の基礎検討−サービス無瞬断光媒体切り替えシステム−，信学技法OFT2008-52, pp.27-31, 2008
【非特許文献２】田中他：サービス無瞬断光線路切替技術の信頼性向上，信学技法OFT2010-18, pp.11-16, 2010.
【非特許文献３】納戸他、光ファイバ側方入射法の高性能化、2011電子情報通信学会総合大会講演論文集、p324、2011
【非特許文献４】エルミック株式会社、PDH４ビット、６ビット高速プログラマブルディレイライン：http://www.elmec.co.jp/programmable.html
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
以上述べたように、現在実現されつつある側方光入出力技術を用いた光分岐カプラは、２入力・１出力または１入力・２出力の分岐であり、上り試験信号光の入射端が得られないため、光伝送路の二重化に必要な２入力・２出力の光分岐カプラとして利用することができない。
【０００６】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、下部光分岐カプラにて上り試験信号光を入射しなくても上り試験信号光を得ることができ、下部光分岐用として２入力・１出力または１入力・２出力の光分岐カプラを利用して光伝送路を二重化することのできる光伝送路の二重化装置及びその二重化方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため、本発明に係る光伝送路の二重化装置は、以下の態様で構成される。
（１）対向する局側伝送装置と加入者側伝送装置が現用光ファイバを介して信号光を送受信する光伝送装置に用いられ、前記現用光ファイバ中の任意の２箇所に介在される上部迂回用光分岐カプラと下部迂回用光分岐カプラとの間に迂回路を形成し、通信を二重化する光伝送路二重化装置において、それぞれ前記上部・下部迂回用光分岐カプラの分岐端に接続され、前記加入者側伝送装置から発せられる上り波長の上り信号光と、前記局側伝送装置から発せられる下り波長の下り信号光と、および試験信号発生器から発せられる試験波長の試験信号光との波長を合分波する一対の波長分割多重カプラと、前記一対の波長分割多重カプラ間に形成され、前記上り光信号を上り電気信号に変換する上り信号光−電気変換器、前記上り電気信号を設定時間遅延させる上り信号可変遅延器、前記上り電気信号を信号光に変換する上り信号電気−光変換器、前記上り信号光を出力・停止する上り信号光遮断スイッチを備える上り信号光伝送手段と、前記一対の波長分割多重カプラ間に形成され、前記下り信号光を電気信号に変換する下り信号光−電気変換器、前記下り電気信号を設定時間遅延させる下り信号可変遅延器、前記下り電気信号を下り信号光に変換する下り信号電気−光変換器、前記下り信号光を出力・停止する下り信号光遮断スイッチを備える下り信号光伝送手段と、前記一対の波長分割多重カプラ間に形成され、前記上り信号光−電気変換器により変換された電気信号を試験電気信号として取り込んで設定時間遅延させる試験信号可変遅延器、前記試験電気信号を試験信号光に変換し前記試験波長に変換する試験信号電気−光変換手段、前記試験信号光を出力・停止する試験信号光遮断スイッチを備える試験信号光伝送手段と、前記上部光分岐カプラで分岐される前記試験信号光および前記上り信号光を受信し、前記現用光ファイバと前記迂回用光ファイバの光路長差の有無を検出する光路長差検出器と、前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間を前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定する制御器とを具備する態様とする。
【０００８】
（２）（１）において、前記光路長差検出器は、前記上部光分岐カプラを通った上り信号光及び試験信号光の伝送信号光が一方の入力端に与えられる２入力・２出力光スイッチと、前記２入力・２出力光スイッチの一方の出力端から出力される伝送信号光を取り込んで前記試験信号光の波長を選択し、選択され試験信号光を２入力・２出力光スイッチの他方の入力端に出力する試験信号波長選択フィルタと、前記２入力・２出力光スイッチの他方の出力端から出力される伝送信号光を取り込んで前記試験信号光および前記上り信号光を電気信号に変換する試験信号・上り信号光−電気変換器と、前記試験信号・上り信号光−電気変換器から出力される伝送信号からクロックを抽出し、その抽出時のエラーを検出するクロックデータリカバリーエラー検出器とを具備し、前記クロックデータリカバリーエラー検出器の検出結果から前記光路長差の有無を検出する態様とする。
【０００９】
（３）（１）において、前記試験信号電気−光変換手段は、前記試験信号可変遅延器で遅延された前記試験電気信号を前記試験波長の試験信号光に変換する試験信号電気−光変換器を備える態様とする。
（４）（１）において、前記現用光ファイバを新規光ファイバに交換した際に前記新規光ファイバ中に設けられ、前記上り信号光を前記試験波長に変換する波長変換器を備え、前記光路長検出器は、前記上部光分岐カプラで分岐される前記新規光ファイバからの試験信号光および前記迂回伝送路からの試験信号光を受信し、前記新規光ファイバと前記迂回伝送路との光路長差の有無を検出し、前記制御器は、前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間から前記波長変換器の変換遅延時間を差し引いて前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定する態様とする。
【００１０】
また、本発明に係る光伝送路の二重化方法は、以下の態様で構成される。
（５）対向する局側伝送装置と加入者側伝送装置が現用光ファイバを介して信号光を送受信する光伝送装置に用いられ、前記現用光ファイバ中の任意の２箇所に介在される上部迂回用光分岐カプラと下部迂回用光分岐カプラとの間に迂回路を形成し、通信を二重化する光伝送路二重化方法において、それぞれ前記上部・下部迂回用光分岐カプラの分岐端に一対の波長分割多重カプラを接続して、前記加入者側伝送装置から発せられる上り波長の上り信号光と、前記局側伝送装置から発せられる下り波長の下り信号光と、および試験信号発生器から発せられる試験波長の試験信号光との波長を合分波させるようにし、前記一対の波長分割多重カプラ間に、前記上り光信号を上り電気信号に変換する上り信号光−電気変換器、前記上り電気信号を設定時間遅延させる上り信号可変遅延器、前記上り電気信号を信号光に変換する上り信号電気−光変換器、前記上り信号光を出力・停止する上り信号光遮断スイッチを備える上り信号光伝送路と形成し、前記一対の波長分割多重カプラ間に、前記下り信号光を電気信号に変換する下り信号光−電気変換器、前記下り電気信号を設定時間遅延させる下り信号可変遅延器、前記下り電気信号を下り信号光に変換する下り信号電気−光変換器、前記下り信号光を出力・停止する下り信号光遮断スイッチを備える下り信号光伝送路を形成し、前記一対の波長分割多重カプラ間に、前記上り信号光−電気変換器により変換された電気信号を試験電気信号として取り込んで設定時間遅延させる試験信号可変遅延器、前記試験電気信号を試験信号光に変換し前記試験波長に変換する試験信号電気−光変換手段、前記試験信号光を出力・停止する試験信号光遮断スイッチを備える試験信号光伝送路を形成し、前記上部光分岐カプラで分岐される前記試験信号光および前記上り信号光を受信し比較して前記現用光ファイバと前記迂回用光ファイバの光路長差の有無を検出し、前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間を前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定する態様とする。
【００１１】
（６）（５）において、前記現用光ファイバを新規光ファイバに交換した際に前記新規光ファイバ中に前記上り信号光を前記試験波長に変換する波長変換器を配置し、前記上部光分岐カプラで分岐される前記新規光ファイバからの試験信号光および前記迂回伝送路からの試験信号光から前記新規光ファイバと前記迂回伝送路との光路長差の有無を検出し、前記光路長差の有無を監視して前記試験信号可変遅延器の遅延時間を制御し、前記光路長差無しが検出されたときの前記試験信号可変遅延器に設定される遅延時間から前記波長変換器の変換遅延時間を差し引いて前記上り信号可変遅延器及び下り信号可変遅延器に設定する態様とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の光伝送路の二重化装置は、上り信号光を下部光分岐カプラにて分波し、その一方で得られる上り信号光の波長を波試験信号波長に変換することで試験信号を得ることとする。その際の、上り信号光の波長を試験信号光波長への変換については、光−光変換であっても良く、また、一旦、上り信号光を試験電気信号に変換し、電気回路による処理を行い、さらに、電気信号を試験信号光波長に変換することでもよい。これにより、上部光分岐カプラにおいて合波された上り信号光と試験信号光から光路長差を検出することが可能となるものである。このように、上り信号光から試験信号光を得るため、従来のように試験信号光を下部光分岐カプラから入射する必要が無いことから、下部光分岐カプラに２入力・２出力の光分岐カプラを必要とせず、２入力・１出力または１入力・２出力の光分岐カプラを利用することが可能となるものである。
【００１３】
したがって、本発明によれば、下部光分岐カプラにて上り試験信号光を入射しなくても上り試験信号光を得ることができ、下部光分岐用として２入力・１出力または１入力・２出力の光分岐カプラを利用して光伝送路を二重化することのできる光伝送路の二重化装置及びその二重化方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明に係る光伝送路の二重化装置とその構成要素の一つである迂回路構成器の内部構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す装置において、二重化構成となった初期の状態で、現用光ファイバで通信している最中に光路長差を検出する場合の信号光および試験光の流れを示すブロック図である。
【図３】図２の初期状態での制御器の制御手順を示すフローチャートである。
【図４】図１に示す装置において、迂回路構成器で通信している最中に光路長差を検出する場合の信号光および試験光の流れを示すブロック図である。
【図５】図４の初期状態での制御器の制御手順を示すフローチャートである。
【図６】図４に示す装置の構成要素の一つである上り信号波長変換器の内部構成を示すブロック図である。
【図７】図１に示す装置の構成要素の一つである光路長差検出器の内部構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
添付の図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の例であり、本発明は、以下の実施の形態に制限されるものではない。
図１は、本発明に係る光伝送路の二重化装置とその構成要素の一つである迂回路構成器の内部構成を示すブロック図である。図１において、局側伝送装置１００から送出された波長λDownの下り信号光は、上り・下り共に２入力・２出力の上部光分岐カプラ２０２で分岐され、それぞれ現用光ファイバ１０２および上部迂回用光ファイバ１０３に分けられる。上部迂回用光ファイバ１０３を伝搬した波長λDownの下り信号光は、上部ＷＤＭ（波長分割多重：Wavelength Division Multiplexing）カプラ１で分波され、下り信号光−電気変換器１０に入射され、ここで電気信号に変換される。変換された下りの電気信号は、下り信号可変遅延器３０により設定時間遅延されて下り信号電気−光変換器２０に入力され、ここで再度波長λDownの下り信号光に変換される。この波長λDownの信号光は、下り信号光遮断スイッチ６０を通過した後、下部ＷＤＭカプラ２により合波され、下部迂回用光ファイバ１０４を通じ、下り２入力・１出力、上り１入力・２出力の下部光分岐カプラ２０１にて現用光ファイバ１０２を伝搬してきた波長λDownの下り信号光と合波されて加入者側伝送装置１０１に到達する。
【００１６】
加入者側伝送装置１０１から送出された波長λUpの上り信号光は、下部光分岐カプラ２０１で分岐され、現用光ファイバ１０２と下部迂回用光ファイバ１０４に分けられる。下部迂回用光ファイバ１０４を伝搬した波長λUpの上り信号光は、下部ＷＤＭカプラ２で分波され、上り信号光−電気変換器１１に入射され、ここで電気信号に変換される。変換された上りの電気信号は、上り信号可変遅延器３１に供給される。
【００１７】
この上り信号可変遅延器３１に供給された上り信号は、設定時間遅延された後、上り信号電気−光変換器２１により再度波長λUpの上り信号光に変換される。この波長λUpの上り信号光は、上り信号光遮断スイッチ６１を通過した後、上部ＷＤＭカプラ２により合波され、上部迂回用光ファイバ１０３を通じ、上部光分岐カプラ２０２にて現用光ファイバ１０２を伝搬してきた波長λUpの上り信号光と合波され、光路長差検出器４１および局側伝送装置１００に到達する。
【００１８】
一方、上記上り信号光−電気変換器１１で得られた上りの電気信号は試験信号可変遅延器３２にも供給され、試験信号の生成に供される。この試験信号は、現用光ファイバ１０２と、上部迂回用光ファイバ１０３、下部迂回用光ファイバ１０４および迂回路構成器１０００により構成される迂回ルートとの信号伝搬時間が一致しているかどうかを検出するための信号であり、上り信号光−電気変換器１１により上り信号光を電気信号に変換することで生成する。この試験信号は、試験信号可変遅延器３２により設定時間遅延された後に、試験信号電気−光変換器２２により波長λSenseの試験信号光に変換される。この波長λSenseの試験信号光は、試験信号光遮断スイッチ６２を通過した後、上部ＷＤＭカプラ１により合波され、上部迂回用光ファイバ１０３を通じ、光路長差検出器４１に到達する。
【００１９】
なお、上り信号可変遅延器３１、下り信号可変遅延器３２、および試験信号可変遅延器３３の構成としては、半導体ディレイライン等を用いることが可能である（例えば、非特許文献４参照）。
制御器５０では、検出信号線５１を通じて光路長差検出器４１で検出される光路長差の有無を確認することができるので、可変遅延器制御線５２により試験信号可変遅延器３２の遅延時間を変化させ、光路長差が一致した時の遅延時間を用いて下り信号可変遅延器３０および上り信号可変遅延器３１の遅延時間を設定する。これにより、局側伝送装置１００と加入者側伝送装置１０１との間の光伝送路二重化が実現される。
【００２０】
上記構成において、光伝送路に迂回ルートを設けることにより二重化構成となった初期の状態で、現用光ファイバ１０２と迂回ルートとの光路長差の有無を検出し、両者を一致させる制御処理について、図２及び図３を参照して説明する。
図２は、二重化構成となった初期の状態で、現用光ファイバ１０２側のルートで通信中に、現用光ファイバ１０２と迂回ルートとの光路長差を検出する際の上り信号光および試験信号光の流れを示すブロック図である。また、図３は、初期状態での制御器５０の制御手順を示すフローチャートである。
【００２１】
まず、制御器５０では、光伝送路に迂回ルートが設けられ、二重化構成の組み込みが完了した初期状態で、迂回ルートの光路長制御の開始指示が与えられると（ステップＳ１１）、図１に示す上り信号光遮断スイッチ６１及び下り信号光遮断スイッチ６０をオン状態として上り信号光および下り信号光を遮断させ、試験信号光遮断スイッチ６２をオフ状態として試験信号光を出力させる（ステップＳ１２）。これにより、上り信号光から生成された試験信号光と現用光ファイバ１０２を流れる上り信号光が上部光分岐カプラ２０２を通じて光路長差検出器４１に送られる。
【００２２】
ここで、現用光ファイバ１０２で通信を維持している状態で光路長差の有無を計測する場合は、現用光ファイバ１０２を伝搬してきた波長λUpの上り信号光２０００と波長λSenseの試験信号光２００１を光路長差検出器４１にて同時に受信して光路長差の有無を検出する。この検出において、現用光ファイバ１０２と迂回ルートとの信号伝搬時間が一致していれば、波長λUpの上り信号光と波長λSenseの試験信号光は信号波形パターンが一致する。これに対し、光路長が一致していなければ、両者の信号波形パターンが不一致となる。この原理を用いて、光路長差検出器４１では両者の信号波形パターンを検出し、検出パターンの一致・不一致を判定することによって光路長差の有無を検出し、その結果を制御器５０に通知する。
【００２３】
制御器５０では、上記光路長差検出器４１からの光路長差有無の検出結果を受け取って、光路長差有りか否かを判定する（ステップＳ１３）。光路長差有りの場合には、試験信号可変遅延器３２の遅延時間を変化させて光路長差無しの状態をサーチする（ステップＳ１４）。光路長差無しの場合には、試験信号可変遅延器３２に設定されている遅延時間を下り信号可変遅延器３０及び上り信号可変遅延器３１に同じ遅延時間を設定する（ステップＳ１５）。続いて、上り信号光遮断スイッチ６１及び下り信号光遮断スイッチ６０を共にオフ状態として上り信号光および下り信号光を出力させ、試験信号光遮断スイッチ６２をオン状態として試験信号光の出力を停止させて（ステップＳ１６）、初期状態での制御処理を完了する。
【００２４】
以上の制御処理により、光路長差計測後に光伝送路を二重化する際に、試験信号可変遅延器３３の設定遅延時間が上り信号可変遅延器３１および下り信号可変遅延器３２に設定されているので、迂回ルートでも現用光ファイバ１０２と光路長差の無い状態となり、伝送路の二重化を完全に確立させることができる。
【００２５】
次に、先の図３の制御処理により現用光ファイバ１０２のルートと迂回ルートの光路長を調整し一致させた後、現用光ファイバルートから通信光を迂回ルートに切り替えた後の状態、即ち、迂回路構成器側のルートで通信中の状態において、迂回ルートと新たに敷設する新規光ファイバ１０５との光路長差の有無を検出し、両者を一致させる制御処理について、図４及び図５を参照して説明する。
【００２６】
図４は、伝送路が二重化されて迂回路構成器１０００側のルートで通信中の状態において、迂回ルートと新たに敷設する新規光ファイバ１０５との光路長差の有無を検出し、両者の光路長を一致させる際の上り信号光および試験信号光の流れを示すブロック図である。また、図５は、制御器５０の迂回ルートと新たに敷設する新規光ファイバ１０５との光路長を一致させる制御手順を示すフローチャートである。
【００２７】
まず、上部迂回用光ファイバ１０３、下部迂回用光ファイバ１０４および迂回路構成器１０００により通信を維持している時、即ち迂回ルートで通信を行っている時に、新たに敷設する新規光ファイバ１０５と迂回ルートとの光路長差を計測する場合は、新規光ファイバ１０５に上り信号光波長変換器７１を挿入し、新規光ファイバ１０５に分岐される波長λUp上り信号光２０００を波長λSenseの試験信号光２００１’に変換するように構成する。
【００２８】
図６は、上記上り信号光波長変換器７１の内部構成例を示すブロック図である。図６において、上り信号光２０００は、上り信号光−電気変換器７２により電気信号に変換された後、試験信号電気−光変換器７３により波長λSenseの試験信号光２００１’に変換される。
【００２９】
上記構成において、まず、制御器５０では、新規光ファイバ１０５に対する光路長制御の開始指示が与えられると（ステップＳ２１）、図１に示す上り信号光遮断スイッチ６１、下り信号光遮断スイッチ６０および試験信号光遮断スイッチ６２を全てオフ状態にして、上り信号光、下り信号光および試験信号光を全て伝送状態とする（ステップＳ２２）。これにより、上部迂回用光ファイバ１０３、下部迂回用光ファイバ１０４および迂回路構成器１０００により通信を維持している時、即ち迂回ルートで通信を行っている時に、上り信号光波長変換器７１で生成された試験信号光２００１’は、上部光分岐カプラ２０２を通じて光路長差検出器４１にて受信される。また、迂回路構成器１０００において、上り信号光２０００から変換されて生成された試験信号光２００１についても、上部光分岐カプラ２０２を通じて光路長差検出器４１にて受信される。光路長差検出器４１では、これらの試験信号光２００１，２００１’の受信光を比較することにより光路長差の有無を検出する。
【００３０】
ここで、新規光ファイバ１０５と迂回ルートとの信号伝搬時間が一致していれば、２つの経路を経て合波された波長λSenseの試験信号光２００１，２００１’は信号波形パターンが一致するが、光路長が一致していなければ両者の信号波形パターンが崩れる。この原理を用いて、光路長差検出器４１ではこの信号波形パターンの状態から光路長差の有無を検出する。
【００３１】
制御器５０では、上記光路長差検出器４１からの光路長差有無の検出結果を受け取って、光路長差有りか否かを判定する（ステップＳ２３）。光路長差有りの場合には、試験信号可変遅延器３２の遅延時間を変化させて光路長差無しの状態をサーチする（ステップＳ２４）。光路長差無しの場合には、試験信号可変遅延器３２に設定されている遅延時間から、新規光ファイバ１０５に挿入された信号光波長変換器７１の予め計測された遅延時間分を差し引いて、下り信号可変遅延器３０及び上り信号可変遅延器３１に同じ遅延時間を設定する（ステップＳ２５）。続いて、試験信号光遮断スイッチ６２をオン状態として試験信号光の出力を停止させて（ステップＳ２６）、一連の制御処理を完了する。
【００３２】
図７は、上記光路長差検出器４１の内部構成例を示すブロック図である。図７において、上部光分岐カプラ２０２を通った波長λUpの上り信号光２０００と波長λSenseの試験信号光２００１は、２入力×２出力光スイッチ４５の一つの入力（入力１）に送られる。
【００３３】
この２入力×２出力光スイッチ４５は、ストレートの状態（入力１→出力１、入力２→出力２）、およびクロスの状態（入力１→出力２、入力２→出力１）の二種類の状態に設定することができる。ストレートの状態では、波長λUpの上り信号光２０００と波長λSenseの試験信号光２００１の両方が試験信号・上り信号光−電気変換器４４に到達する。クロスの状態では、入力１が出力２を介して試験信号波長選択フィルタ４３に送られ、ここで試験信号波長λSenseの試験信号光２００１のみが選択されて、再度信号光−電気変換器４４の入力２および出力１を通じて試験信号・上り信号光−電気変換器４４に到達する。
【００３４】
試験信号・上り信号光−電気変換器４４によって電気信号に変換された試験信号は、クロックデータリカバリ−（ＣＤＲ）エラー検出器４２に送られる。このクロックデータリカバリ−（ＣＤＲ）エラー検出器４２は、伝送信号からクロックを抽出し、その抽出時のエラーを検出するもので、このエラーの有無の検出結果に基づいて光路長差の有無を検出する。
【００３５】
上記構成による光路長差検出器４１については、構成する光スイッチを適切に選択することにより、図２と図４のいずれも場合においても適用することが可能となる。つまり、図２で示した現用光ファイバで通信中に光路長差を検出する場合は、２入力×２出力光スイッチ４５をストレートの状態に設定し、図４で示した迂回路構成器で通信中に光路長差を検出する場合は、２入力×２出力光スイッチ４５をクロスの状態に設定することで、光路長差の検出に適用可能である。
【００３６】
以上説明したように、本発明によれば、下部光分岐カプラ２０１から試験信号を供給する必要がなくなるので、下部光分岐カプラ２０１として利用できる光分岐カプラの条件を大幅に緩和することが可能となる。
これにより、従来であれば適用できなかった２入力・１出力または１入力・２出力の側方光入出力技術を用いた光分岐カプラの利用が可能となる。また、任意の場所で迂回ルートを作成できることから、光伝送路二重化装置を用いた支障移転工事等における光線路切替作業の適用領域を拡大することが可能となる。
【００３７】
その他、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成を削除してもよい。さらに、異なる実施形態例に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００３８】
１…上部ＷＤＭカプラ
２…下部ＷＤＭカプラ
１０…下り信号光−電気変換器
１１…上り新語宇高-電気変換器
２０…下り信号電気−光変換器
２１…上り信号電気−光変換器
２２…試験信号電気−光変換器
３０…下り信号可変遅延器
３１…上り信号可変遅延器
３２…試験信号可変遅延器
４１…光路長差検出器
４２…ＣＤＲエラー検出器
４３…試験信号波長選択フィルタ
４４…試験信号・上り信号光−電気変換器
４５…２入力×２出力光スイッチ
５０…制御器
５１…検出信号線
５２…可変遅延器制御線
６０…下り信号光遮断スイッチ
６１…上り信号光遮断スイッチ
６２…試験信号光遮断スイッチ
７１…上り信号光波長変換器
７２…上り信号光−電気変換器
７３…試験信号電気−光変換器
１００…局側伝送装置
１０１…加入者側伝送装置
１０２…現用光ファイバ
１０３…上部迂回用光ファイバ
１０４…下部迂回用光ファイバ
１０５…新規光ファイバ
２０１…下部光分岐カプラ
２０２…上部光分岐カプラ
１０００…迂回路構成器
２０００…上り信号光
２００１，２００１’…試験信号光
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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