(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、
前記識別された投影データのデータ点に対してＸ線管電圧を決定するステップと、
（ａ）第１の検出器を用いて妨げられない放射線を検出するステップと、
（ｂ）第２の検出器を用いて妨げられない放射線を同時に検出するステップであって、前記第２の検出器が、既知の厚さ及びスペクトル特性を持つフィルタ材料を含む、ステップと、
（ｃ）前記第２の検出器に対する前記第１の検出器からの出力データの比を決定するステップと、
複数の既知の管電圧に対して（ａ）−（ｃ）を実行するステップと、
前記管電圧の関数として前記比と管電圧との間のマッピングを生成するステップと、
を有し、
前記データ点に対して前記Ｘ線管電圧を決定するステップが、前記マッピングに基づいて前記Ｘ線管電圧を決定するステップを含み、
前記データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、
非Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップと、
を有する方法。
【請求項２】
Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、
前記識別された投影データのデータ点に対してＸ線管電圧を決定するステップと、
前記データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、
非Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップと、
データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧を所定の補正閾値電圧と比較するステップと、
前記決定されたＸ線管電圧が前記所定の補正閾値電圧を満たすかどうかを決定するステップと、
前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を補正するステップと、
前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を算出されたデータ点で置き換えるステップと、
を有する方法。
【請求項３】
Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、
前記識別された投影データのデータ点に対してＸ線管電圧を決定するステップと、
前記データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、
非Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップと、
データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧を所定の補正閾値電圧と比較するステップと、
前記決定されたＸ線管電圧が前記所定の補正閾値電圧を満たすかどうかを決定するステップと、
前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を補正するステップと、
を有する方法において、
前記所定の補正閾値電圧が、約６０ｋＶ又はスキャン放射電圧の公称電圧の６０％である、
方法。
【請求項４】
データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧を所定の補正閾値電圧と比較するステップと、
前記決定されたＸ線管電圧が前記所定の補正閾値電圧を満たすかどうかを決定するステップと、
前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を補正するステップと、
を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を算出されたデータ点で置き換えるステップ、
を有する、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記所定の補正閾値電圧が、約６０ｋＶ又はスキャン放射電圧の公称電圧の６０％である、請求項２又は４ないし５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
（ａ）第１の検出器を用いて妨げられない放射線を検出するステップと、
（ｂ）第２の検出器を用いて妨げられない放射線を同時に検出するステップであって、前記第２の検出器が、既知の厚さ及びスペクトル特性を持つフィルタ材料を含む、ステップと、
（ｃ）前記第２の検出器に対する前記第１の検出器からの出力データの比を決定するステップと、
複数の既知の管電圧に対して（ａ）−（ｃ）を実行するステップと、
前記管電圧の関数として前記比と管電圧との間のマッピングを生成するステップと、
を有し、
前記データ点に対して前記Ｘ線管電圧を決定するステップが、前記マッピングに基づいて前記Ｘ線管電圧を決定するステップを含む、
請求項２又は３に記載の方法。
【請求項８】
前記データ点に対する比を決定するステップと、
前記決定された比及び前記マッピングに基づいて前記データ点に対する前記Ｘ線管電圧を決定するステップと、
を有する、請求項１又は７に記載の方法。
【請求項９】
前記マッピングが、ルックアップテーブルに記憶される、請求項１又は７ないし８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
前記マッピングが、多項式として表される、請求項１又は７ないし８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
前記データ点が、前記決定された管電圧及び前記フィルタ材料の厚さの関数として補正される、請求項１又は７ないし１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１２】
前記データ点が、変換
ｕcorrected＝（ａ／（ｋＶ−ｂ）0.5）＋ｃ
に基づいて補正され、ここでｋＶが前記決定されたＸ線管電圧であり、ａ、ｂ及びｃが未知の定数である、請求項１又は７ないし１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する投影データを補正する投影データプロセッサ、
を有するシステムであって、
前記投影データプロセッサが、
前記Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する前記投影データの１つ又は複数のグループを識別する管アーク放電識別器、及び
前記識別された１つ又は複数のグループのデータ点の個々についてＸ線管電圧を決定する管電圧決定器
を有するシステムにおいて、
前記投影データプロセッサが、
対応する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記データ点の少なくともサブセットを補正する投影データ補正部、
を有し、前記投影データ補正部が、前記データ点の最後のものから前記データ点の最初のものへの方向に時間において逆向きに前記データ点を補正する、システム。
【請求項１４】
Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する投影データを補正する投影データプロセッサ、
を有するシステムであって、
前記投影データプロセッサが、
前記Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する前記投影データの１つ又は複数のグループを識別する管アーク放電識別器、及び
前記識別された１つ又は複数のグループのデータ点の個々についてＸ線管電圧を決定する管電圧決定器
を有するシステムにおいて、
前記投影データプロセッサが、対応する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記データ点の少なくともサブセットを補正する投影データ補正部を有し、前記投影データ補正部が、取得時間に基づいて順次的に前記データ点を補正する、システム。
【請求項１５】
前記データ点が、変換
ｕcorrected＝（ａ／（ｋＶ−ｂ）0.5）＋ｃ
に基づいて補正され、ここでｋＶが前記決定されたＸ線管電圧であり、ａ、ｂ及びｃがｕcorrectedに対して異なる既知の値を使用する連立方程式により解かれる未知の定数である、請求項１３に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般には、Ｘ線管、特には、Ｘ線管アーク放電事象（arc event）中に取得されるデータを使用することに関し、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナに対する特定の応用を用いて説明される。本発明は、ラジオグラフィ及び／又はＸ線管が放射線感知検出器と併せて使用される他の撮像モダリティのような他の撮像モダリティにも受け入れられる。更に、上記のことは、医療及び／又は非医療システムに適用する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線管アーク放電は、真空ギャップの誘電インピーダンスに障害がおこり、Ｘ線管電圧及び／又は電流が維持されることができない状態である。Ｘ線管アーク放電中の出力及び品質は、維持されることができず、典型的には、画像アーチファクトを生じる。アーク放電しない高出力Ｘ線管を設計することは、常に極度の挑戦であった。典型的には、Ｘ線管の出力を限界まで達せさせることと、Ｘ線管のアーク放電作用を示す内在する傾向との間にトレードオフが存在する。
【０００３】
過去のコンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナの高電圧システムは、比較的遅い電圧立ち上がり時間、したがって管アーク放電からの回復を持っていた。このようなシステムを用いてＸ線管アーク放電に対処する１つのアプローチは、アーク放電抑制器を使用するアプローチを記載する特許５３４７５７１に詳細に記載されている。この装置は、Ｘ線管が回復し続行することができるように、Ｘ線管に対する電圧がアーク放電中に崩壊することを可能にした。不幸なことに、前記Ｘ線管は、約８０％の時間しか回復することができない。
【０００４】
技術の進歩とともに、非常に速い高電圧立ち上がり時間を持つ新しいタイプの高電圧発生器が開発された。これは、約１ミリ秒（１ｍＳ）に行われる全体的なサイクルでアーク放電に対して前記発生器を止め、高電圧を戻すことが可能であったので、管アーク放電に対処する新しい方法に道を開いた。この技術で、電圧は、前記Ｘ線管が回復するのに十分に長く前記Ｘ線管から除去されることができ、したがって、ＣＴ調査の多くの途中終了を取り除くことができる。
【０００５】
不幸なことに、Ｘ線管は、依然としてアーク放電の影響を受けやすく、アーク放電流に取得されたデータは、一般に、再構成に対して無視され、前記アーク放電の前の有効な点から前記アーク放電の後の有効なデータ点に補間されたデータにより置き換えられる。更に、高電圧をオフにし、オンに戻すことは、幾らかの内在する制限を持つ。オフ時間は、クエンチするまでの機能停止事象に対する平均自由時間により固定され、高電圧に戻す時間は、高電圧電源の立ち上がり時間により制限される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本出願の態様は、上記の及び他の問題に対処する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一態様によると、方法は、Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、前記識別された投影データのデータ点に対するＸ線管電圧を決定するステップと、前記データ点に対する前記決定されたＸ線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、非Ｘ線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップとを含む。
【０００８】
他の態様によると、システムは、Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する投影データを補正する投影データプロセッサを含む。
【０００９】
他の態様によると、Ｘ線管アーク放電中に収集されたデータを補正する方法は、管アーク放電を識別するステップと、Ｘ線減衰値とＸ線管電圧との間の関係を確立するステップと、前記管アーク放電中の異なる時間期間において１つ又は複数のＸ線管電圧を決定するステップと、前記Ｘ線管アーク放電中のＸ線減衰値に対する補正値を決定するのに前記関係を使用するステップとを含む。
【００１０】
本発明は、様々な構成要素及び構成要素の組み合わせ、並びに様々なステップ及びステップの組み合わせの形を取りうる。図面は、好適な実施例を説明するも公的のみであり、本発明を限定するように解釈されるべきではない。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】投影データプロセッサと接続された撮像システムを示す。
【図２】投影データプロセッサの例を示す。
【図３】減衰対電圧マッピングの例を示す。
【図４】方法の例を示す。
【図５】管アーク放電事象の間に取得されたデータから生成された投影データのサブセットを補正するグラフィックな例を示す。
【図６】管アーク放電事象の間に取得されたデータから生成された投影データの全てを補正するグラフィックな例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図１は、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナのような撮像システム１００を示す。撮像システム１００は、静止ガントリ１０２と、静止ガントリ１０２により回転可能に支持される回転ガントリ１０４とを含む。回転ガントリ１０４は、長手又はｚ軸について検査領域１０６の周りを回転する。カウチのような支持物１０８は、検査領域１０６において対象を支持し、スキャンの前、間及び／又は後にｘ、ｙ及び／又はｚ軸に対して前記対象を配置するのに使用されることができる。Ｘ線管のような放射線源１１０は、回転ガントリ１０４により支持され、検査領域１０６の周りで回転ガントリ１０４とともに回転し、検査領域１０６を横断する放射線を放射する。
【００１３】
１又は２次元放射線感知検出器アレイ１１２は、検査領域１０６を越えて、放射線源１１０の反対側に配置され、検査領域１０６を横断する放射線を検出する。検出器アレイ１１２は、前記検出された放射線を示す信号又は投影データを生成する。図示された実施例において、検出器アレイ１１２は、検査領域１０６においてスキャンされる物体又は対象により妨げられない前記線源からの放射線を受ける少なくとも２つの検出器を含む。これらの検出器の少なくとも１つは、既知のスペクトル特性及び既知の厚さを持つフィルタ（例えば、銅）を含み、前記検出器の少なくとも１つは、前記フィルタを含まない。より詳細に以下に説明されるように、これら２つの検出器により生成された投影データは、対応する取得間隔に対する管電圧を決定するのに使用されることができる。
【００１４】
管アーク放電センサ１１４は、Ｘ線管アーク放電事象を感知し、それを示す管アーク放電信号を生成する。一例において、前記管アーク放電信号は、アーク放電が起こる場合にセットされ、高電圧が所定のレベル（例えば９０％）まで回復した、前記アーク放電からの所定の時間期間の後にリセットされるビットである。前記管アーク放電信号は、検出器アレイ１１２からの前記投影データと一緒に及び／又は一部として伝達されることができる。投影データプロセッサ１１６は、前記投影データを処理する。より詳細に以下に説明されるように、一例において、投影データプロセッサ１１６は、Ｘ線管アーク放電事象の間に取得されたデータを用いて生成された前記投影データの少なくともサブセットを補正する。これは、消去しない場合に、Ｘ線管アーク放電事象に関連して補間により放棄及び作成されるデータの量を減少することを可能にし、これは、向上された画質を生じうる。
【００１５】
再構成器１１８は、前記処理された投影データを再構成し、検査領域１０６を示す体積画像データを生成する。前記体積画像データは、１つ又は複数の画像を生成するように画像プロセッサ等により処理されることができる。汎用コンピュータシステムは、オペレータコンソール１２０として機能し、ディスプレイのような出力装置並びにキーボード及び／又はマウス等のような入力装置を含む。コンソール１２０内にあるソフトウェアは、オペレータがシステム１００の動作を制御することを可能にし、例えば、前記オペレータが管アーク放電データ補正を起動する、スキャンを開始する等のことを可能にする。
【００１６】
投影データプロセッサ１１６が、コンソール１２０、再構成器１１８、及び／又は１つ又は複数のコンピュータのような他のコンピュータシステムの一部でありうると理解されるべきである。適切なコンピュータシステムは、ローカル、ポータブル、又は遠隔物理メモリのようなコンピュータ読み取り可能記憶媒体において符号化又は具体化される１つ又は複数のコンピュータ読み取り可能命令を実行する１つ又は複数のプロセッサを含む。加えて又は代わりに、前記１つ又は複数の命令は、信号又は波動のようなキャリアにより運ばれうる。前記１つ又は複数のプロセッサは、前記命令の１つ又は複数を実行する場合に、前記１つ又は複数のプロセッサに投影データプロセッサ１１６の機能及び／又は他の機能を実行させる。
【００１７】
図２は、前記アーク放電事象の間の前記Ｘ線管電圧に基づいて前記投影データを補正する投影データプロセッサ１１６の例を示す。
【００１８】
図示された実施例において、投影データプロセッサ１１６は、前記投影データ及び補正された投影データを記憶する記憶部２０２を含む。他の実施例において、記憶部２０２は、データプロセッサ１１６の外部でありうる。
【００１９】
管アーク放電識別器２０４は、前記投影データの管アーク放電ビットを評価する。前記管アーク放電ビットが、特定の投影データに対してセットされない場合、当該投影データは、前記投影データプロセッサにより処理されない。しかしながら、前記管アーク放電ビットが、他の投影データに対してセットされる場合、この投影データは、管アーク放電補正処理に対して転送される。
【００２０】
管電圧決定器２０６は、対応する投影データに基づいて処理されるべき投影データに対する管電圧を決定する。図示された実施例において、管電圧決定器２０６は、所定の減衰比対電圧マッピングに基づいて前記管電圧を決定する。図３は、ｙ軸３０２が減衰比を表し、Ｘ軸３０４がｋＶを表す。図示されたマッピングは、６０ｋＶないし１４０ｋＶの管電圧に対するものであり、５つの異なる検出器フィルタの差（例えば、１ｍｍのインクリメントにおける１ないし５ｍｍの厚さ）に対する５つのマッピング３０６、３０８、３１０、３１２及び３１４を示す。他の実施例において、より低い及び／又はより高いｋＶを含む異なる電圧範囲、及び／又は異なる厚さが、使用されうる。
【００２１】
以下は、前記マッピングを生成する例を提供する。較正手順中に、前記フィルタを持たない検出器からの投影に対する前記フィルタを持つ検出器からの投影データの比が、決定される。この比は、異なるフィルタの厚さに対する異なる電圧において収集される。減衰比と電圧との間の関係が、決定され、図３のグラフに追加するように使用される。スキャナとともに使用される前記フィルタは、図３からのこれらの厚さの１つの厚さを持ち、アーク放電中の前記投影データの比は、前記フィルタの厚さに基づいて前記電圧に対する前記比のマッピングにより決定されることができる。異なるフィルタの厚さが使用される場合、図３の曲線は、内挿又は外挿により前記電圧を得るのに使用されることができる。
【００２２】
図３は、管電圧決定器２０６により使用するためにルックアップテーブル（ＬＵＴ）等のように記憶されることができる。加えて又は代わりに、管電圧決定器２０６は、前記投影データ比を管電圧に変換するのに多項式を使用することができる。前記厚さの１つに対する図３から算出される多項式の例は、電圧＝１．７４４３μ2−２４．７５５μ3＋１３２．３１８８μ2＋３２７．８１７４μ＋３９６．９２９５であり、ここでμは、前記投影データ比を表す。上記アプローチは、説明目的で提供され、限定的ではなく、他のアプローチも、ここで考えられる。例えば、他の例において、ｋＶ立ち上がり時間は、特定の技術のｋＶ及びｍＡの関数として特徴づけられることができる。取得間隔又は統合期間は、前記セットされた状態から非アクティブ状態へのアーク放電ビット遷移の前後の統合期間において高電圧を推定するのに立ち上がり時間プロファイルと併せて使用されることができる。
【００２３】
投影データ補正器２０８は、投影データを補正する。上で簡潔に論じられたように、投影データ補正器２０８は、対応するデータ取得の管電圧に基づいて投影データを補正する。この例において、投影データ補正器２０８は、式１の変換の関数として前記データを補正する。
式１：  ｕcorrected＝（ａ／（ｋＶ−ｂ）0.5）＋ｃ
【００２４】
この例において、ａ、ｂ及びｃは、３つの既知の電圧において３つのスキャンを実行し、３つの連立方程式を解くことにより、フィルタ材料の厚さｔに関して、決定される。この例に対して、ａ、ｂ及びｃは、水シミュレーションから算出される。しかしながら、ａ、ｂ及びｃは、追加的に又は代替的に、骨、脂肪、軟組織、造影剤及び／又は他の構造から算出されることができる。
【００２５】
図４は、Ｘ線管アーク放電事象の間に取得された投影データを補正する方法を示す。
【００２６】
動作の順序が限定的ではないと理解されるべきである。したがって、他の実施例において、動作の順序は、異なってもよい。加えて、１つ又は複数の前記動作は省略されることができ、及び／又は１つ又は複数の他の動作が追加されることができる。
【００２７】
４０２において、スキャンが実行される。
【００２８】
４０４において、前記スキャン中に管アーク放電事象が存在したかどうかが決定される。ここで論じられるように、前記管アーク放電ビットの状態は、前記スキャン中に管アーク放電事象が存在したかどうかを決定するのに使用されることができる。
【００２９】
そうではない場合、４０６において、前記投影データが再構成される。
【００３０】
そうである場合、４０８において、１つ又は複数のＸ線管アーク放電事象の間にそれぞれ取得された投影データの１つ又は複数のグループが識別される。
【００３１】
４１０において、前記グループの１つが、評価に対して選択される。
【００３２】
４１２において、前記グループのデータ点の１つが、評価に対して選択される。一例において、前記選択されたデータ点は、前記グループの最後のデータ点である。この例において、アルゴリズムは、前記グループ内の全てのデータ点を補正する又は管電圧閾値、技術公称閾値からの管電圧の減少の百分率等のような所定の閾値まで前記グループ内のデータ点を補正するように時間において逆方向に機能する。
【００３３】
他の例において、前記選択されたデータ点は、前記グループの最初のデータ点であり、アルゴリズムは、時間において順次的に適用され、例えば、管電圧閾値、技術公称閾値からの管電圧の減少の百分率等のような所定の閾値を満たす電圧を持つデータ点が到達されるまで連続して前記グループ内の全てのデータ点を補正する又は順方向に移動する。
【００３４】
他の例において、前記選択されたデータ点は、最初のデータと最後のデータとの間にあり、前記補正は、時間において前向きに又は両方の方向において実行される。他のアプローチも、ここで考えられる。
【００３５】
４１４において、前記データ点に対する管電圧が決定される。ここに記載されるように、前記管電圧は、放射線を直接的に受ける（すなわち、スキャンされるべき物体又は対象が前記ソースと前記検出器との間にない）検出器（既知のスペクトル特性を持つフィルタを持つ少なくとも１つ及びこのようなフィルタを持たない少なくとも１つ）による測定値に基づいて生成されるルックアップテーブル又は多項式等から決定されることができる。
【００３６】
４１６において、前記データ点に対する前記管電圧が所定の補正閾値電圧を満たすかどうかが決定される。例えば、一例において、前記補正は、前記データに対する前記管電圧が６０ｋＶのような所定の電圧より上である場合、前記管電圧が前記公称技術電圧の６０％以上である場合、及び／又は他の基準でのみ使用される。他の例において、この動作は省略され、データは、前記管電圧にかかわらず前記アーク放電事象の間に補正される。
【００３７】
そうである場合、４ｌ８において、前記データ点が補正される。ここに記載されるように、前記データは、対応する管電圧に基づいて補正されることができる。
【００３８】
そうではない場合、４２０において、前記データ点は置換される。ここに記載されるように、前記データは、放棄され、補間データで置換されることができる。動作４１６が省略される場合、動作４２０も省略されることができる。
【００３９】
４２２において、評価に対する前記グループ内に他のデータ点が存在するかどうかが決定される。
【００４０】
そうである場合、動作４１４が、前記グループの他のデータ点に対して繰り返される。
【００４１】
そうではない場合、４２４において、評価すべき他のグループが存在するかどうかが決定される。
【００４２】
そうである場合、４１２が、次のグループに対して繰り返される。
【００４３】
そうではない場合、４０６において、元の投影データ及び補正された投影データを含む投影データが、再構成される。
【００４４】
上記の動作は、コンピュータプロセッサにより実行される場合に、前記プロセッサにここに記載される動作を実行させるコンピュータ読み取り可能命令を用いて実施されうる。このような場合に、前記命令は、関連するコンピュータと関連付けられた及び／又は他の形でアクセス可能であるメモリのようなコンピュータ読み取り可能記憶媒体に記憶される。
【００４５】
図５は、管アーク放電事象の間に取得されたデータから生成された投影データのサブセットを補正するグラフィックな例を示す。図５において、ｙ軸５０２は、管電圧を表し、ｘ軸５０４は、取得間隔を表す。領域５０６の間、前記管電圧は、およそ撮像技術の公称管電圧５０８である。
【００４６】
５１０において、アーク放電が起こる。領域５１２の間、前記管電圧は、降下し、前記管の立ち上がり時間に基づいて回復している。５１４において、前記管電圧は、所定の電圧閾値５１６まで回復し、５１８において、前記管電圧は、前記撮像技術の公称管電圧５０８まで回復している。
【００４７】
この例において、前記システムは、所定の電圧閾値５１６より大きい管電圧に対応するデータ点に対してアーク放電事象に対応する投影データを補正する。したがって、閾値５１６から公称管電圧５０８までの範囲５２０内のデータ点は、補正され、アーク放電５１０から前記閾値までのデータ点は、補間される。
【００４８】
前記システムが、投影データプロセッサ１１６を使用しない場合、５１０から５０８までの全体的な範囲が補間される。したがって、ここに記載されるように前記投影データを補正することは、少なくとも、放棄され、補間データで置き換えられるアーク放電事象に対応するデータ点の量を減少させる。
【００４９】
図６は、閾値５１６が省略され、データ点５１２の全体的な範囲が補正され、データは放棄されないことを除いて、図５と同様である。
【００５０】
本発明は、好適な実施例を参照して説明されている。修正例及び変更例は、先行する詳細な説明を読み、理解すると他者が思いつきうる。本発明は、添付の請求項又は同等物の範囲に入る限り、全てのこのような修正例及び変更例を含むと解釈されることを意図される。
【図１】
0005944393.tif 000002
【図２】
0005944393.tif 000003
【図３】
0005944393.tif 000004
【図４】
0005944393.tif 000005
【図５】
0005944393.tif 000006
【図６】
0005944393.tif 000007