(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子バンディング補正プロファイルを生成するための方法であって、
複数の反射ファセットを備える回転多角形を有するラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）と、前記複数の反射ファセットのうちの所定の１つを用いる走査の間に、複数のファセット固有バンディング補正プロファイルのうちの対応する１つによって制御される輝度で前記回転多角形へと光を配向する少なくとも１つの光源とを備えるプリンタまたはマーキングステーションを用いて、テストページまたは感光体上へ、デジタル・テスト・パターンに従ってバンディング補正テストパターンを作成することを含み、ここで、前記バンディング補正テストパターンは、プロセス方向に沿って個々に延びかつ前記プロセス方向に対して概して垂直である高速走査方向に沿って互いから離隔される複数のストリップを備え、前記ストリップのうちの少なくとも１つは、前記デジタル・テスト・パターンを走査されるテストパターンに相関させるために前記プロセス方向に互いから離隔される複数の基本マークを含み、さらに
前記バンディング補正テストパターンを走査して、バンディング補正テストパターンの画像データを作成することと、
少なくとも１つのプロセッサを用いて前記バンディング補正テストパターンの画像データを分析し、前記バンディング補正テストパターンの個々のストリップに対応するファセット固有のバンディングエラーを決定することと、
前記決定されたファセット固有のバンディングエラーを少なくとも部分的に打ち消すために、前記少なくとも１つのプロセッサを用いて前記複数のファセット固有のバンディング補正プロファイルのうちの少なくとも１つを選択的に調整することと、を含む方法。
【請求項２】
バンディング補正テストパターンの作成に先立って、ファセット固有のバンディング補正プロファイル表の指数を前記テストページまたは前記感光体上のロケーションに前記高速走査方向に相関させるために空間較正を実行することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記空間較正を実行することは、
前記プリンタまたは前記マーキングステーションおよび複数のファセット固有空間較正プロファイルを用いて、テストページまたは前記感光体上へ空間較正テストパターンを作成し、連続する反射ファセットまたは反射ファセット群のうちの少なくとも１つの光源の輝度を交互に増減して既知のバンディング兆候を導入することと、
前記空間較正テストパターンを走査して空間較正テストパターンの画像データを作成することと、
前記空間較正テストパターンの画像データに従って、バンディングの大きさを前記高速走査方向に沿った位置の関数として計算することと、
前記バンディングの大きさにおける複数の遷移域それぞれのバンディング遷移中間点の前記高速走査方向における位置を、前記テストページの縁または前記感光体の縁に相対して計算することと、
前記空間較正テストパターンの各ストリップの左右の縁の前記高速走査方向における位置を計算することと、
前記バンディング遷移中間点の位置をスマイル補正表における指数に相関させることと、
前記スマイル補正表における指数を前記テストページまたは前記感光体における前記ストリップに相関させることと、を含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、前記少なくとも１つの光源の輝度変化を印刷濃度の変化と相関させるために輝度較正を実行することをさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
前記輝度較正を実行することは、
前記プリンタまたは前記マーキングステーションおよび、公称光源輝度レベルにおける１つ以上のプロファイルより成る第１のグループと、異なる光源輝度レベルにおける１つ以上のプロファイルより成る第２のグループとを有する複数のファセット固有輝度較正プロファイルを用いて、テストページまたは前記感光体上へ輝度較正テストパターンを作成することと、
前記輝度較正テストパターンを走査して輝度較正テストパターンの画像データを作成することと、
前記公称光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度と前記異なる光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度との差の、前記公称光源輝度レベルと前記異なる光源輝度レベルとの差に対する割合に従って輝度感度値を計算することと、を含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記ＲＯＳの前記回転多角形の前記反射ファセットのそれぞれは、前記テストページまたは前記感光体に渡る複数のスキャンラインを含むスワスを前記高速走査方向に同時に走査し、前記ＲＯＳは、１つの反射ファセットを用いて走査された先のスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、かつ前記複数の基本マークは、前記ＲＯＳの２つの反射ファセットに対応する上書きされたスワスペアと相関されることが可能な前記プロセス方向の特定の１つのスキャンラインセットを識別する、請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、多角形の基本または高調波における濃度変化の測定値が印加される同じ振動数の露光変化によって補正される位相差を識別するために位相較正を実行することをさらに含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、前記少なくとも１つの光源の輝度変化を印刷濃度の変化と相関させるために輝度較正を実行することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記輝度較正を実行することは、
前記プリンタまたは前記マーキングステーションおよび、公称光源輝度レベルにおける１つ以上のプロファイルより成る第１のグループと、異なる光源輝度レベルにおける１つ以上のプロファイルより成る第２のグループとを有する複数のファセット固有輝度較正プロファイルを用いて、テストページまたは前記感光体上へ輝度較正テストパターンを作成することと、
前記輝度較正テストパターンを走査して輝度較正テストパターンの画像データを作成することと、
前記公称光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度と前記異なる光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度との差の、前記公称光源輝度レベルと前記異なる光源輝度レベルとの差に対する割合に従って輝度感度値を計算することと、を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記ＲＯＳの前記回転多角形の前記反射ファセットのそれぞれは、前記テストページまたは前記感光体に渡る複数のスキャンラインを含むスワスを前記高速走査方向に同時に走査し、前記ＲＯＳは、１つの反射ファセットを用いて走査された先のスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、かつ前記複数の基本マークは、前記ＲＯＳの２つの反射ファセットに対応する上書きされたスワスペアと相関されることが可能な前記プロセス方向の特定の１つのスキャンラインセットを識別する、請求項８に記載の方法。
【請求項１１】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、多角形の基本または高調波における濃度変化の測定値が印加される同じ振動数の露光変化によって補正される位相差を識別するために位相較正を実行することをさらに含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記ＲＯＳの前記回転多角形の前記反射ファセットのそれぞれは、前記テストページまたは前記感光体に渡る複数のスキャンラインを含むスワスを前記高速走査方向に同時に走査し、前記ＲＯＳは、１つの反射ファセットを用いて走査された先のスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、かつ前記複数の基本マークは、前記ＲＯＳの２つの反射ファセットに対応する上書きされたスワスペアと相関されることが可能な前記プロセス方向の特定の１つのスキャンラインセットを識別する、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
文書処理システムであって、
複数の反射ファセットを備える回転多角形を有するラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）と、前記複数の反射ファセットのうちの所定の１つを用いる走査の間に、複数のファセット固有バンディング補正プロファイルのうちの対応する１つに従って制御される輝度で前記回転多角形へと光を配向する少なくとも１つの光源とを用いて、テストページまたは感光体上へ、デジタル・テスト・パターンに従ってバンディング補正テストパターンを作成する働きをする少なくとも１つのマーキングステーションであって、前記バンディング補正テストパターンは、プロセス方向に沿って個々に延びかつ前記プロセス方向に対して概して垂直である高速走査方向に沿って互いから離隔される複数のストリップを備え、前記ストリップのうちの少なくとも１つは、前記デジタル・テスト・パターンにおける特定のスキャンラインを識別するために前記プロセス方向に互いから離隔される複数の基本マークを含む少なくとも１つのマーキングステーションと、
前記バンディング補正テストパターンを走査してバンディング補正テストパターンの画像データを作成する働きをする少なくとも１つのセンサまたはスキャナと、
前記バンディング補正テストパターンの画像データを分析して前記バンディング補正テストパターンの個々のストリップに対応するファセット固有のバンディングエラーを決定し、かつ前記決定されたファセット固有のバンディングエラーを少なくとも部分的に打ち消すために前記複数のファセット固有のバンディング補正プロファイルのうちの少なくとも１つを選択的に調整する働きをする少なくとも１つのプロセッサと、を備える文書処理システム。
【請求項１４】
前記少なくとも１つのプロセッサは、バンディング補正テストパターンの作成に先立って、ファセット固有のバンディング補正プロファイル表の指数を前記テストページまたは前記感光体上のロケーションに前記高速走査方向に相関させるために空間較正を実行するように動作する、請求項１３に記載の文書処理システム。
【請求項１５】
前記少なくとも１つのプロセッサは、バンディング補正テストパターンの作成に先立って、前記少なくとも１つの光源の輝度変化を印刷濃度の変化と相関させるために輝度較正を実行するように動作する、請求項１３に記載の文書処理システム。
【請求項１６】
前記少なくとも１つのプロセッサは、前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、多角形の基本または高調波における濃度変化の測定値が印加される同じ振動数の露光変化によって補正される位相差を識別するために位相較正を実行するように動作する、請求項１５に記載の文書処理システム。
【請求項１７】
前記ＲＯＳの前記回転多角形の前記反射ファセットのそれぞれは、前記テストページまたは前記感光体に渡る複数のスキャンラインを含むスワスを前記高速走査方向に同時に走査し、前記ＲＯＳは、１つの反射ファセットを用いて走査された先のスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、かつ前記複数の基本マークは、前記ＲＯＳの２つの反射ファセットに対応する上書きされたスワスペアと相関されることが可能な前記プロセス方向の特定の１つのスキャンラインセットを識別する、請求項１３に記載の文書処理システム。
【請求項１８】
複数の反射ファセットを備える回転多角形を有するラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）と、前記複数の反射ファセットのうちの所定の１つを用いる走査の間に、複数のファセット固有バンディング補正プロファイルのうちの対応する１つによって制御される輝度で前記回転多角形へと光を配向する少なくとも１つの光源とを備えるプリンタまたはマーキングステーションを用いて、テストページまたは感光体上へ、デジタル・テスト・パターンに従ってバンディング補正テストパターンを作成することを含み、ここで、前記バンディング補正テストパターンは、プロセス方向に沿って個々に延びかつ前記プロセス方向に対して概して垂直である高速走査方向に沿って互いから離隔される複数のストリップを備え、前記ストリップのうちの少なくとも１つは、前記デジタル・テスト・パターンにおける特定のスキャンラインを識別するために前記プロセス方向に互いから離隔される複数の基本マークを含み、さらに
前記バンディング補正テストパターンを走査して、バンディング補正テストパターンの画像データを作成することと、
前記バンディング補正テストパターンの画像データを分析し、前記バンディング補正テストパターンの個々のストリップに対応するファセット固有のバンディングエラーを決定することと、
前記決定されたファセット固有のバンディングエラーを少なくとも部分的に打ち消すために、前記複数のファセット固有のバンディング補正プロファイルのうちの少なくとも１つを選択的に調整することと、
を実行するためのコンピュータ実行可能命令が備えられる非一時的コンピュータ読取り可能媒体。
【請求項１９】
バンディング補正テストパターンの作成に先立って、ファセット固有のバンディング補正プロファイル表の指数を前記テストページまたは前記感光体上のロケーションに前記高速走査方向に相関させるために空間較正を実行するためのコンピュータ実行可能命令が備えられる、請求項１８に記載の非一時的コンピュータ読取り可能媒体。
【請求項２０】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、前記少なくとも１つの光源の輝度変化を印刷濃度の変化と相関させるために輝度較正を実行するためのコンピュータ実行可能命令が備えられる、請求項１８に記載の非一時的コンピュータ読取り可能媒体。
【請求項２１】
前記バンディング補正テストパターンの作成に先立って、多角形の基本または高調波における濃度変化の測定値が印加される同じ振動数の露光変化によって補正される位相差を識別するために位相較正を実行するためのコンピュータ実行可能命令が備えられる、請求項２０に記載の非一時的コンピュータ読取り可能媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書の例示的な実施形態は、ラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）装置を有する印刷システムに関し、かつバンディングエラーを減じるための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
複写印刷システムは、用紙または他の優れた媒体上へマーキング画像を生成するために用いられ、生成画像の品質向上が継続的な目標として存在する。最終的な画像品質は、複写システムにおけるノイズおよびエラーの様々なソースによって影響され、最終印刷媒体へ定着されるマーキング材料の濃度変化が引き起こされる。複写プロセスにおいて、感光体はプロセス方向に沿って進み、画像およびテキストは、ラスタ走査プロセスにおいてプロセス横断方向に個々のスキャンラインまたはスキャンラインのグループ（スワスと称される場合もある）として形成される。この場合、プロセス方向動作はプロセス横断方向へのラスタ走査より遙かに遅い。したがって、プロセス横断の走査方向は「高速走査」方向と称され、かつプロセス方向は「低速走査」方向と称されることがある。
【０００３】
複写システムのノイズおよびエラーの所定のソースは、プロセス方向に「バンディング」エラーと称される場合もある周期的な濃度変化を引き起こしてきた。周期的濃度変化は、基本振動数の振幅および位相、並びにこの振動数の高調波によって特徴づけられる。バンディングの様々なソースは、マーキング（またはプリント）エンジン内に存在する。例えば、ラスタ出力スキャナはモータ・ポリゴン・アセンブリまたはＭＰＡとして知られるモータ駆動の回転多面鏡装置を使用し、この場合、１つ以上の光源がＭＰＡの回転によって走査され、回転多面鏡装置の反射ファセットからの反射によって高速走査（プロセス横断）方向にスキャンラインが発生される。
【０００４】
多角形の異なる反射ファセットにおける反射率、形状、プロファイル、方向性、他の差は、どの多角形ファセットを用いて所定のスキャンラインまたはスキャンラインのスワスが生成されたかの関数である最終的なプリントアウトにおける画像濃度（色の強さ）の差に繋がる。その結果、最終的な印刷画像は、プロセス方向に周期的である所望される濃度からの変動したバンドを含む場合がある。バンディングエラーの他のソースには、帯電および現像モジュールにおけるギヤ、ピニオンおよびローラ、画像化モジュールにおけるジッタおよびぶれ、並びに感光体および関連の駆動トレインが含まれる。バンディングは、通常、プロセス方向における中間調の周期的濃度変化として発現する。これらの欠陥の周期は、バンディングソースの周回振動数に関連づけられる。対処されなければ、特にバンディングエラーが視認できる場合、このようなプロセス方向の周期的濃度変化は複写印刷システムを容認し難いものにする可能性がある。
【０００５】
バンディングは、このようなノイズまたはエラーのソースを減らすことを通じて、かつ／またはその影響を打ち消すように複写システムの様々なコンポーネントを補正することによって、典型的にはこのような周期的濃度変化のソースの結果として生じるバンディングを相殺する既知のエラーを注入することにより、対処されることが可能である。ラスタ出力スキャナを用いる複写システムでは、ＭＰＡ（モータ・ポリゴン・アセンブリ）の１倍（および倍数）の回転振動数でバンディングを生成する多様なエラーが存在する。実際には、ＭＰＡ調波のバンディングに寄与するエラーソースを完全に排除することは困難であり、または知覚可能な周期的濃度変化を回避できる程度までこれらを減らすことすら困難である。加えて、顧客の要求は、容認できると思われるバンディングの量を絶えず減じている。結果的に、バンディング補正技術は、複写システムのパフォーマンス仕様への対処において１つの重大なツールとなっている。例えば、ＲＯＳの露光パワーはバンディングを補正すべく制御式に変えられることが可能であり、従来のバンディング補正技術は、バンディングに対処するために、バンディング（複数ソースからのものを含む）を測定しかつ情報を用いてスキャンラインに対し何らかのスキャンラインベースの補正戦略（ＲＯＳ露光変動を含む）を作動することを含む。しかしながら、従来のバンディング補正手法は、バンディングのプロセス横断（高速走査）方向の濃度変化に対処せず、プロセス横断方向の平均的なテストプリントによって一次元的なバンディングプロファイルを入手し、これが次にバンディング補正を導出するためにプロセス横断のバンディング濃度変化情報とは独立して使用される。したがって、文書処理デバイスおよびラスタ出力スキャナを用いる他のシステムにおけるバンディングエラーに対処するための改良された技術が必要とされている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本明細書は、ラスタ出力スキャナの回転多角形の特定の反射ファセットに対応するプロセス横断（高速走査）方向の光源輝度調整によってバンディングを打ち消すための電子バンディング補正プロファイルを作成することに関する。本明細書において開示される様々な概念は、プリンタ、多機能デバイスおよび他の形式の文書処理デバイス、他等の複写システムに関連して用いられることが可能である。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本明細書の１つ以上の態様によれば、電子バンディング補正プロファイルを生成するための方法が提示され、本方法では、複数の反射ファセットを有する回転多角形を備えるラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）およびＲＯＳ光源の光出力を選択的に調整するための一連のファセット固有バンディング補正プロファイルを用いて、デジタル・テスト・パターンに従ってテストページまたは感光体上にバンディング補正テストパターンが作成される。テストパターンは、プロセス方向に沿って延びる、高速走査方向沿いに互いから離隔される複数のストリップを含み、この場合、１つ以上のストリップは、デジタル・テスト・パターン内の特定のスキャンラインを識別するために、かつ／またはデジタル・テスト・パターンを走査されるテストパターンに相関するために、プロセス方向沿いに互いから離隔される基準マークを含む。テストパターンを走査して生成される画像データは、個々のストリップに対応するファセット固有のバンディングエラーを決定するために分析される。１つ以上のファセット固有のバンディング補正プロファイルは、次に、バンディングエラーを少なくとも部分的に打ち消すために選択的に調整される。
【０００８】
ある実施形態において、方法はさらに、バンディング補正プロファイル表の指数をテストページまたは感光体上のロケーションに相関するために、バンディング補正テストパターンの作成に先立って空間較正を実行することを含む。ある実装において、空間較正は、ファセット固有の空間較正プロファイルを用いて空間較正テストパターンを作成し、連続する反射ファセットまたは反射ファセット群の光源輝度を交互に増減して既知のバンディング兆候を導入することを含む。空間較正テストパターンは走査され、バンディングの大きさが高速走査方向に沿った位置の関数として計算される。高速走査方向における位置は、テストページの縁または感光体の縁に対する、バンディングの大きさにおける複数の遷移域のそれぞれのバンディング遷移中間点について計算される。空間較正テストパターンの各ストリップの左右の縁の位置が計算され、かつバンディング遷移中間点の位置がスマイル補正表における指数に相関される。さらに、スマイル補正表の指数が、テストページまたは感光体におけるストリップに相関される。
【０００９】
ある実施形態において、方法は、光源輝度の変化を印刷濃度の変化と相関するために輝度較正を実行することを含む。輝度較正は、ファセット固有の輝度較正プロファイルを用いて輝度較正テストパターンを作成することを含んでもよく、この場合、これらのプロファイルのうちの第１のグループは公称光源輝度レベルに設定され、かつ第２のグループは異なる輝度レベルに設定される。テストパターンは画像データを生成するために走査され、かつ公称光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度と異なる光源輝度レベルにおいて書かれた半スワスの濃度との差の、光源輝度レベル間の差に対する割合に従って輝度感度値が計算される。
【００１０】
ある実施形態において、ＲＯＳは複数の光源を含み、かつ各反射ファセットは複数のスキャンラインを含むスワスを同時に走査し、この場合、ＲＯＳは、ある反射ファセットを用いて走査された先行するスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、かつ基本マークは、２つの反射ファセットに対応する上書きされた１つのスワスペアと相関されることが可能なプロセス方向の特定のスキャンラインセットを識別する。ある実施形態では、さらに、バンディング補正手順が実行される前に、適用されるファセット固有バンディング補正プロファイル間の相対位相差と、輝度較正テストパターン画像データにおける結果的な濃度変化とを相関するために位相較正が実行される。
【００１１】
本明細書のさらなる態様は、１つ以上のマーキングステーションと、少なくとも１つのセンサまたはスキャナと、１つ以上のプロセッサとを含む文書処理システムに関する。マーキングステーションは、複数の反射ファセットを有する回転多角形と、所定のファセットを用いて走査する間に複数のファセット固有バンディング補正プロファイルのうちの対応する１つに従って輝度を制御される少なくとも１つの光源とを備えるＲＯＳを用いて、デジタル・テスト・パターンに従ってテストページまたは感光体上へバンディング補正テストパターンを作成する働きをする。テストパターンは、プロセス方向に沿って個々に延びかつ高速走査方向沿いに互いから離隔される複数のストリップを含み、この場合、１つ以上のストリップは、デジタル・テスト・パターン内の特定のスキャンラインを識別するためにプロセス方向に互いから離隔される基準マークを含む。センサは、バンディング補正テストパターンの画像データを生成するためにバンディング補正テストパターンを走査し、かつプロセッサは、個々のストリップに対応するファセット固有バンディングエラーを決定するためにテストパターンの画像データを分析する。プロセッサはさらに、ファセット固有のバンディングエラーを打ち消すために、ファセット固有のバンディング補正プロファイルのうちの少なくとも１つを選択的に調整する働きをする。
【００１２】
ある実施形態において、プロセッサは、補正プロファイル表の指数をテストページまたは感光体上の高速走査方向のロケーションに相関するために空間較正を実行する。さらに、実施形態によっては、プロセッサは、光源輝度の変化を印刷濃度の変化と相関するために輝度較正を実行する。ある実施形態では、プロセッサは、適用されるファセット固有バンディング補正プロファイル間の相対位相差と、輝度較正テストパターン画像データにおける結果的な濃度変化とを相関するために位相較正を実行する。さらに、ある実施形態における反射ファセットは、２つ以上のスキャンラインを含むスワスを同時に走査し、かつＲＯＳは、先行するスワスの少なくとも一部を異なる反射ファセットを用いる後続のスワスで上書きし、この場合、基本マークは、ＲＯＳの２つの反射ファセットに対応するオーバーライドされた特定のスワスペアを識別する。
【００１３】
本明細書のさらなる態様によれば、コンピュータ読取り可能媒体に、電子バンディング補正プロファイルの作成方法を実行するためのコンピュータ実行可能命令が備えられる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、本明細書の１つ以上の態様による、ラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）の回転多角形の反射ファセットに対応する複数のバンディング補正プロファイルを作成するための例示的な方法を示すフロー図である。
【図２】図２は、プリンタまたはマーキングエンジンによって作成された、ストリップの一方の縁沿いに基準セットを含んでプロセス方向に延びる複数のストリップを有する電子バンディング補正テストパターンを含むテストプリントを示す略図である。
【図３】図３は、図２のテストプリントにおける１つのストリップの一部を示す略図であり、ラスタ出力スキャナの順次的スワスによる上書きへの寄与、およびテストプリントにおける半スワスの輝度変化を示している。
【図４】図４は、ファセットの輝度をテストプリントの異なるストリップのスワスペア指数の関数として示す例示的な２図を示す。
【図５】図５は、図１の方法に用いられる例示的な空間較正バンディング補正プロファイルを示すグラフである。
【図６】図６は、例示的な空間較正プリント走査の一部を示す略図であり、異なるバンディング域を示している。
【図７】図７は、図１のプロセスにおける例示的な空間較正分析を示すグラフである。
【図８】図８は、図１のプロセスにおける例示的な輝度較正分析を示すグラフである。
【図９】図９は、例示的な２Ｘ位相シフト較正分析を示すグラフである。
【図１０】図１０は、図１のプロセスにより作成された電子バンディング補正プロファイルを使用した例示的な１Ｘバンディング低減を示すグラフである。
【図１１】図１１は、図１のプロセスにより作成された電子バンディング補正プロファイルを使用した例示的な２Ｘバンディング低減を示すグラフである。
【図１２】図１２は、マーキングデバイスが図１のプロセスにより提供される電子バンディング補正プロファイルを用いて機能するＲＯＳを個々に含む、例示的な多色文書処理システムを示すシステムレベル簡易略図である。
【図１３】図１３は、本明細書の一態様による、バンディングエラーを補正するためのＭＰＡファセット固有バンディング補正プロファイルを用いる例示的なＲＯＳを示す簡易略図である。
【図１４】図１４は、本明細書の一態様による、バンディングエラーを補正するためのＭＰＡファセット固有バンディング補正プロファイルを用いる例示的なＲＯＳを示す簡易略図である。
【図１５】図１５は、本明細書の一態様による、バンディングエラーを補正するためのＭＰＡファセット固有バンディング補正プロファイルを用いる例示的なＲＯＳを示す簡易略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本明細書の異なる態様の幾つかの実施形態または実装を図面に関連して説明する。諸図を通じて、類似の参照数字は類似のエレメントを指して使用されるが、様々な特徴、構造およびグラフィックレンダリングは必ずしも一定の縮尺で描かれていない。
【００１６】
本明細書は一般的に文書処理システムに関し、かつ、電子バンディング補正のために１つ以上のＲＯＳ光源の光強度出力を変更するための電子バンディング補正プロファイルの使用を介してバンディングエラーに対処するための技術および装置に関する。２０１１年１２月７日に提出された米国特許出願第１３／３１３，５３３号明細書は、ＲＯＳ装置および文書処理システム並びに電子バンディング補正を運転中に実行するための技術を示しかつ説明している。この出願は、参照することによりその全体が本明細書に含まれる。本明細書の概念は、米国特許出願第１３／３１３，５３３号明細書に記述されている装置および方法において、または他の文書処理システムにおいて使用され得る電子バンディング補正プロファイルを生成するための技術を提供するものである。
【００１７】
以下で例示されかつ記述されるように、図１２〜図１５において、高度文書処理システム４００は、感光体４０４に渡って複数のレーザスポットを含むスワスを掃引または走査することにより潜像を生成するラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）装置５００を含む。このビーム走査は、複数の反射ファセット５２６を含む回転多面鏡５２８によって達成される。多角形５２８が滑らかに回転し、かつファセット５２６が全て位置合わせされ、歪められずかつ同じ反射率を有していれば、ビームのスワスは感光体４０４上で等しく離隔され、等しいサイズになりかつスキャンライン毎に同じ露光を有することになる。しかしながら、多角形の回転が滑らかでなければ、ファセット５２６は歪められかつ／または異なる反射率を有し、スワスは等しく離隔されず、感光体４０４に渡るスワスに伴って同じ露光を得ることもなく、感光体４０４上に現像されるトナーの濃度は変動し、高い空間振動数バンディングが引き起こされる。発明者らは、空間およびファセット固有の露光プロファイル５０６が電子バンディング補正のために内在的バンディングを妨げかつ相殺できることを認識した。しかしながら、プロファイルを決定するための従来技術は場当たり的なものであって、良好な、但し最良とは思われない補正を決定できるまで一連のターゲットを印刷することを必要とする。
【００１８】
これに相違して、本明細書は、基本マーク２１４を記された一連のストリップ２１２を含むバンディング補正テストパターン（例えば、後述の図２および図３におけるパターン２１０）を印刷しかつ走査することを提案する。測定されたストリップ濃度プロファイルは、デジタル画像からテストパターンを作成するＲＯＳの個々のビーム５２２との相関のために、基本マーク２１４をマーカとして用いてスワス依存濃度に変換されることが可能である。輝度較正分析３５０は、テストパターンを作成するＲＯＳの個々のビーム５２２を、スワスを書き込むＭＰＡの個々のファセット５２６に関連づけるために用いられることが可能である。所定の実装において、指数の付いたファセット５２６は、常に同じファセット５２６上で開始するように較正テストパターン２００をページ印刷させることによって識別されることが可能である。或いは、ストリップ２１２のうちの１つが、既知の印が補正プロファイル５０６に挿入されるタグストリップとして作用することも可能である。基本振動数およびスワス濃度プロファイルが計算され、振動数依存位相シフトは、スワス濃度プロファイルをバンディング補正プロファイル５０６に変換するスワス上書きアプリケーションに用いられることが可能である。空間較正ターゲットは、バンディング補正プロファイル５０６を格納するスマイル補正表を高速走査方向ＦＳにおけるテスト・パターン・ストリップのロケーションに相関するために用いられる。補正されたプロファイルを用いて新しいバンディング補正テストパターンが印刷され、この手順はバンディングが排除されるまで反復される。
【００１９】
図１は、１０２、１０４および１０６においてそれぞれ空間較正、輝度較正および位相較正を含む、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６を生成するための例示的な方法１００を示す。前記各較正に関しては、後にさらに詳述する。図１における１０８では、バンディング補正プロファイル５０６がゼロに、またはＲＯＳ５００のスマイル補正表（図示せず）における他の何らかの初期値セットに設定され、この後、１１０〜１１８において反復的なバンディング補正プロセスが実行される。１２０において、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６の仕上げられたセットがＲＯＳ５００による使用のために、文書処理システムコントローラ（例えば、図１２におけるコントローラ４２２）またはＲＯＳ５００の電子メモリ（例えば、後述の図１３〜図１５）等の電子メモリに格納される。
【００２０】
次に、図１および図２を参照すると、図１における１１０において、テストページ（図２におけるテストページ２００）または感光体（例えば、図１２における感光体４０４または後述の図１３〜図１５における感光体５０４）上にバンディング補正テストパターン（図２におけるパターン２１０）が作成され、この場合、テストパターン２１０はプリンタ（図１２におけるプリンタ４００）またはマーキングステーション（図１２におけるマーキングステーション４０２）を用いて作成される。バンディング補正テストパターン２１０はさらに、複数の反射ファセット５２６を備える回転多角形５２８と回転多角形５２８へ光を方向づける１つ以上の光源５１４とを有するＲＯＳ（図１３〜図１５におけるＲＯＳ５００）を介して作成される。さらに、光源５１４の出力の輝度は、走査中に所定の１つのファセット５２６を用いて、対応するファセット固有バンディング補正プロファイル５０６に従って制御され、この場合、ある実施形態では、ＲＯＳ５００は、本明細書において回転多角形５２８の各反射ファセット５２６のスマイル補正表と称される表にバンディング補正プロファイル５０６を格納する。
【００２１】
図２に示されているように、バンディング補正テストパターン２１０はプロセス方向ＰＤに沿って延びる複数のストリップ２１２を含み、この場合、ストリップ２１２は略垂直の高速走査（例えば、プロセス横断）方向ＦＳに沿って互いから離隔される。図示されている例では、このようなストリップ２１２が１６本使用されているが、バンディング補正テストパターン２１０内に任意の整数のストリップ２１２が作成され得る他の実施形態も可能である。さらに、図２および図３に示されているように、テスト・パターン・ストリップ２１２のうちの１つ、幾つかまたは全ては、プロセス方向ＰＤに互いから離隔される複数の基本マーク２１４を含む。図２における挿入部分２２０は例示的な基本マーク２１４を示し、この場合、プロセス方向ＰＤに沿った基本マークの周期はスワスのスペーシングに関連づけられてもよいが、必ずしもその必要性はない。基本マーク２１４は、パターン２１０の作成に際して、テストページ２００上にインプリントされた走査されるテストパターン２１０をＲＯＳの作動に用いられるデータのデジタル・テスト・パターンに相関するために用いられることが可能である。デジタルパターンにおけるスキャンラインを、高速走査方向ＦＳ沿いに走査するＲＯＳによって作成されるスキャンラインのスワスに相関するに当たっては、既知のデジタル・テスト・パターン設計を使用することができる。各基本マークの前縁２１６からのスキャンライン数は、デジタル・テスト・パターンの設計によって知られる。さらに、ストリップの各基本マークおよび各部分の書き込に使用される１つ以上のスワスは、スワス内のビーム数およびスワス間のスペーシングを計数することによって知られる。この方法では、ストリップ２１２の所定のプロセス方向部分の作成に使用された回転多角形５２８の特定の反射ファセット５２６を識別することができる。
【００２２】
同じく図２を参照すると、バンディング補正テストパターン２１０は、図１の１１２において走査される。テストパターン２１０が図１２における感光体４０４等の中間ベルト上に作成されるある実施形態では、テストパターン２１０は、感光体４０４上のトナー濃度レベルを読み取るために、マーキングステーション４０２の下流側における感光体４０４の画像保持側に近接して位置合わせされるセンサアレイまたはスキャナ４６０を介して走査される、または別段で測定されることが可能である。バンディング補正テストパターン２１０がテストページ（例えば、図２におけるテストページ２００）上に作成されるもの等の他の実施形態では、テストパターンは、図１の１１２において、図１２に示されているように転写ステーション４０６および定着器４１０の下流側における印刷済みシート４０８の画像保持側の近くに配置されるセンサまたはスキャナ４６０を用いて走査されることが可能である。センサまたはスキャナ４６０は、マーキングステーション４０２の内部（インボード）または外部の何れかに存在することが可能であり、かつ文書処理システム４００の内部または外部に存在してもよい。これらの実施形態および他の実施形態において、テストパターン２１０は、図１の１１２において、例えば感光体４０４またはテストページ２００へ塗布されるトナーの濃度レベルを示すバンディング補正テストパターンの画像データを作成するために走査される。
【００２３】
図１の１１４において、バンディング補正テストパターンの画像データは、例えば文書処理システム４００（図１２）のオンボード・システム・コントローラ４２２等のプロセッサベースのシステムを用いて、かつ／または研究室および／または製造環境における外部のプロセッサベースのシステム（図示せず）によって分析される。１１４において、テストパターンの画像データは、バンディング補正テストパターン２１０の個々のストリップ２１２に対応するファセット固有のバンディングエラーを決定するために分析され、基本マーク２１４は、個々のテスト・パターン・ストリップ２１２のプロセス方向ＰＤ沿いに特定の一部を生成することに使用される特定の多角形ファセット５２６、またはＲＯＳによる上書きの場合はファセットペア５２６を相関するために使用される。ファセット依存バンディングエラーの決定に際しては、２つ以上のテストパターンが印刷されて分析されることが可能であり、かつ結果は測定精度を高めるために平均されることが可能である。図１の１１６では、決定されたファセット固有のバンディングエラーが、領域または最大限度値等の予め決められた仕様の範囲内であるかどうかに関して決定が下される。限度内であれば（１１６における「はい」）、プロセス１００は１２０に進み、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５２６を電子メモリに格納する。限度内でなければ（１１６における「いいえ」）、１１４において決定されたファセット固有のバンディングエラーを少なくとも部分的に打ち消すために、１１８において、現行の１つ以上のプロファイル５０６へ補正を追加すべく、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６のうちの１つまたはそれ以上が選択的に調整される。このプロセスは、１１６においてバンディングエラーが仕様の範囲内になる、および／または最大反復回数にまで至る、または他の任意の適切な反復終了条件が満たされる等、反復終了条件が満たされるまで、図１の１１０、１１２、１１４、１１６および１１８において１回または複数回繰り返される。
【００２４】
発明者らは、プロセス１００において、所定の色分解に関連づけられるバンディングに対処するために、バンディングエラーは、ブラックトナーの被覆率５０％等の均一な被覆面積でフルページ中間調を印刷することによって識別される場合があることを認識した。さらに、上述のプロセス１００は数回繰り返されてもよく、テストパターン２１０は多色文書処理システム４００の個々の色分解毎に作成され（例えば、後述の図１２における個々のマーキングステーション４０２を用いてシアン、マゼンタ、イエローおよびブラック毎に１つ）、ここにおいて、個々のマーキングステーション４０２のＲＯＳに関するバンディングエラーが特徴づけられ、かつ対応するバンディング補正プロファイル５０６が生成されかつ格納される。
【００２５】
ある実施形態において、１１４における分析は、濃度プロファイルをプロセス方向ＰＤにおける位置の関数として計算することを含み、かつプロセス方向ＰＤにおける各位置において濃度プロファイルのフーリエ変換が計算される。発明者らは、周期的なバンディングが存在すれば、フーリエ変換は１つ以上のピークを有し、かつピークの頻度はバンディングに起因するサブシステムを指摘し得ることを認識した。さらに、走査の均一性または光の強度がファセット毎に変わる場合、基本周期はモータ・ポリゴン・アセンブリ５２８内のファセット５２６の数に等しい。この分析はバンディングの振幅情報を提供し、かつ理想的には、プロファイル５０６を用いるバンディング補正は識別されたバンディングエラーとの相殺的干渉を提供する。したがって、図１におけるプロセス１００の所定の実装は、さらに、１０２〜１０６において空間較正、輝度較正および／または位相較正を包含する。
【００２６】
図２および図３に示されているように、ブラックトナー用マーキングステーション４０２のこの例示的なバンディング補正テストパターン２１０は、ある実装における５０パーセントの被覆面積等の均一のグレーレベルにおいて一連のストリップ２１２を含む。各ストリップ２１０の幅は、高速走査方向ＦＳにおけるバンディングの変化が必要とされる、または希望される解像度に等しく設定され、ストリップ２１２（またはストリップ２１２のうちの少なくとも１つ）は図２における挿入図および図３にも示されている基本マーク２１４のセットを含む。基本マーク２１４は、走査画像（図１の１１２において図１２のセンサ／スキャナ４６０により入手されるテストパターンの画像データ）と、デジタル画像（例えば、テストパターン２１０を作成するために用いられるデータ）との間のマッピングを決定するために用いられる。電子写真プロセスおよびテストパターン２１０の走査プロセスは共に、数ピクセルのデジタル画像内に歪みを誘発する場合があり、基本マーク２１４は、画像処理が走査画像内の各ピクセルを、画像を書いたスキャンライン（およびファセット５２６）に相関することを可能にする。
【００２７】
図１２の文書処理システム４００において、ＲＯＳ５００（図１３〜図１５）は感光体に渡って３２ビームを掃引し、かつ上書きを用いて画質を向上させることができる。これは、ＲＯＳ５００が、ある反射ファセット５２６を用いて走査された先行スワスの少なくとも一部を、異なる反射ファセット５２６を用いる後続スワスで上書きすることを包含し、この場合、基本マーク２１４は、ＲＯＳ５００の２つの反射ファセット５２６（例えば、「ファセットペア」または「スワスペア」）に対応する特定の上書きされたスワスペアを識別するために使用されることが可能である。この方式では、基本マーク２１４は、デジタル・テスト・パターンの走査テストパターン（例えば、図２）への相関、並びにデジタル・テスト・パターンにおける特定のスキャンラインの識別が促進される。この上書き技術の一実施形態において、多角形５２８の回転速度は、ＲＯＳ５００による次の掃引が１６スキャンラインだけ、またはスワス幅の半分だけ平行移動されるように調整され、よって、２４００ｘ２４００画像の各ピクセルは、図３に示されているように、（上書きする）２つの異なるビームによって書き込まれる。したがって、各ストリップ２１２の所定のプロセス方向領域またはエリアは、識別可能なスワスペアによって効果的に作成され、よって、反射多角形ファセット５２６の特有のペアに相関されることが可能であり、かつこれは、多角形５２８の第１および第２のファセット５２６を表す「１／２」、多角形５２８の第５および第６のファセット５２６を表す「５／６」、他等の「スワスペア指数」を用いて表示されることが可能である。
【００２８】
発明者らは、ファセット固有のスワスの強度が半スワスの強度変化の源であることを認識した。Δｅｉはスワスｉの局所強度であり、ΔＬｉ，ｉ＋１はファセットｉおよびファセットｉ＋１によって書かれた半スワスの強度である。半スワスの幅は、１インチ当たりのスキャンライン数（「ｓｐｉ」）２４００において１６ピクセル、または６００ｓｐｉにおいて４ピクセルであり、これは、画像が典型的にセンサ４６０（図１２）を用いて走査される解像度である。ある実施形態では、順次、４ピクセルより成る８番目のグループ毎に平均化されることが可能であり、これらは、次式で示されるように、測定された半スワスの強度へ割り当てられる。
【００２９】
【数１】
0005914309.tif 000002
【００３０】
但し、Ｎは、走査画像データ内に半スワス当たり４ピクセルが存在し、かつスワス当たり３２スキャンラインが存在する場合の、６００ｓｐｉピクセルにおけるストリップのプロセス方向ＰＤの長さである。この実施形態では、所望されるバンディング測定からプロセス横断の印刷濃度変化を分離するために、各ストリップ２１０から平均ストリップ強度が減算される。画像ビデオおよび画像におけるテストパターンの平行移動のトリガは、対応するファセット５２６が、基本マーク２１４を用いてテストパターン２１０沿いの特定の各ポイントに関連して識別されるように行われることが可能である。実際には、このアラインメントの確認は、１つ以上のファセット５２６に関連づけられるファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６の露光を意図的に高く設定し、かつこれらが走査テストページ２００において高いトナー濃度を有するものとして測定されることを確認することにより行われることが可能である。
【００３１】
図４に示されているグラフ３００およびグラフ３１０には、スワスペア指数が水平軸にプロットされ、かつ測定された輝度または濃度Ｌの平均Ｌ（ΔＬ）からの偏りが垂直軸にプロットされている。グラフ３００、グラフ３１０のそれぞれには、順次取り込まれる４つのテストプリント２００を走査した結果としての４つのシンボルが提示され、グラフ３００は、第２のストリップ２１２（「ストリップ２」）の４つのテストプリントからの半スワスΔＬ測定値の平均であるデータおよび結果としての線３０２を示し、かつグラフ３１０は、「ストリップ１０」の例示的なデータおよび結果としての平均プロファイル３１２を示す。テストパターン２１０のインボード側に近いストリップ２のデータ（例えば、曲線３０２）は、モータ・ポリゴン・アセンブリ（ＭＰＡ）５２８の周回によって支配されるバンディングを示す。一方で、パターン２１０の中心へより近いストリップ１０のバンディングは、ＭＰＡ周回の第１の調波によって支配される。測定精度は、必要に応じて、より多くのバンディング補正テストパターン２１０を走査することにより高められることが可能であり、図示されている事例では、スワスペア強度測定値の標準偏差は０．０３７ΔＬであって、これは、プリント２１０当たりの半スワス強度の１６ｘ８＝１２８測定値の平均である。
【００３２】
先に述べたように、図１におけるプロセス１００のある実施形態は、１０２における空間較正、１０４における輝度較正および／または１０６における位相較正のうちの１つまたはそれ以上を使用することができる。
【００３３】
図５〜図７も参照すると、１０２における空間較正に関連して、内在的バンディングの相殺的干渉に使用される露光変化が、バンディング補正プロファイル補正５０６を介して導入される。ＲＯＳ５００は、感光体４０４に渡る掃引に伴って光源の出力輝度をこれらのプロファイル５０６に従って調整し、この場合、多角形ファセット５２６毎に特定のプロファイル５０６（または、その光源別セット）が提供される。所定の実装における輝度変化は、走査中の高速走査位置の関数としてビームセットの意図された輝度に関連づけられる数字の表（プロファイル５０６を格納するスマイル補正表）を介してＲＯＳ５００へ提供される。
【００３４】
ある実施形態において、空間較正は、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６の表の指数を高速走査（プロセス横断）方向のロケーションに相関するために、図１の１１０〜１２０におけるバンディング補正処理より前に１０２において実行される。図５は、それぞれＲＯＳの最初の４つのファセットおよびＲＯＳの次の４つのファセット５２６に関する例示的な空間較正プロファイル３２２および３２４のグラフ３２０を示し、かつ図６は、テストページ３３０上にプリントされた空間較正テストパターン３３２の例示的走査の一部分を示す。テストパターン３３２は、高速走査位置「０」における走査の始点（ＳＯＳ）がテストページ３３０の第１の縁３３４から離隔され、かつ高速走査位置「５３５」における走査の終わり（ＥＯＳ）がテストページ３３０の反対側の縁３３６から離隔されるように作成される。テストページ３３０の第１の縁３３４は、テストページの背後に黒色のバッキングを有するテストページより大きい視野を有するテストページを走査することによって識別されることが可能である。
【００３５】
図７におけるグラフ３４０は、ある例示的な空間較正バンディング振幅曲線３４２を示す。ｘ軸は、走査されるテストページ３３０の第１の縁３３４からのピクセル数を表す。ｙ軸は、幾つかの任意ユニットにおける測定されたバンディング振幅を定量化したものである。同様に、バンディングのテストパターン２００も黒色のバッキングによって走査されることが可能であり、かつ第１の縁２２２の識別が可能である。画像処理を介して、各ストリップの左側の縁２２４および右側の縁２２６は、第１の縁２２２からのピクセル距離の関数として識別されることが可能である。図７は、各ストリップの測定される左側の縁２２４と測定される右側の縁２２６との間の領域における背景をグレーに着色することによってこの決定の結果をオーバーレイしている。
【００３６】
１０２における空間較正の一実装は、プリンタ４００またはマーキングステーション４０２を用いてテストページ３３０（または、図１２における感光体４０４）上に空間較正テストパターン３３２を作成することを含み、この場合、ＲＯＳ５００は、連続する反射ファセット５２６またはそのグループの光源５１４の輝度を交互に増減してバンディングの既知の兆候を導入するために、複数のファセット固有の空間較正プロファイル３２２、３２４（図５）に従って作動される。テストパターン３３２は、次に、空間較正テストパターンの画像データを作成するために走査され、かつバンディングの大きさが、テストページ３３０（または、他の実施形態における感光体４０４）の第１の縁３３４を参照して、高速走査位置の関数（図７におけるバンディング振幅曲線３４２）として計算される。これを用いて、曲線３４２におけるバンディング遷移中間点の高速走査位置が計算され、かつ（例えば、テストページの縁または感光体の縁に関連して）テストページ３３０上の位置と相関される。この後、空間較正テストパターンの各ストリップの左右の縁の高速走査方向位置が計算され、遷移中間点の位置がスマイル補正表における指数に相関され、かつスマイル補正表指数がテストページまたは感光体におけるストリップに相関される。
【００３７】
したがって、バンディングの大きさは高速走査方向に沿って変わる可能性があることから、１０２における空間較正は、スマイル補正表エントリ（バンディング補正プロファイル５０６の値）と第１の縁３３４に関連するプリント上の高速走査位置との相関を可能にする。図５に示されているように、これは、１０２において、バンディングの既知の兆候を導入する補正プロファイル５０６を用いて空間較正を実行することにより達成される。（図５において点線で示されている）上側のプロファイル３２２は、感光体４０４の掃引に伴って予め画定された７位置でＲＯＳ５００の光出力強度を高めるファセット「１」から「４」までに対して使用される。ファセット「５」から「８」までに関しては、予め決められた同じ高速走査方向位置において強度を下げる異なる補正プロファイル５０６が使用される（図５における曲線３２４）。ある例示において、ＲＯＳ５００は、高速走査方向沿いの均一に離隔された５３５のロケーションにおいて、較正プロファイル５０６の強度を修正することができ、かつこのような各位置において、ＲＯＳ５００はビーム強度を一定に保ち、これをある数値だけ高め、またはある数値だけ下げる働きをする。図５の例では、プロファイル３２２および３２４は、相対強度点「０」と、これより高い、または低い値との間のこのような１０個の値によって強度値に選択的に傾斜を付けるための調整を提供する（本例において、プロファイル３２２に対する調整増分は＋１０、およびプロファイル３２４に対しては−１０）。
【００３８】
発明者らは、強度の変化が内在的バンディングを圧すれば、テストページ３３０上に作成される空間較正テストパターン３３２内の７位置において７つの高いバンディング領域が導入されることを認識した。図６の例では、プリントの上部と底部との間で約１５サイクルのバンディングが続くようにアスペクト比が変更されている走査テストパターン３３２が示され、かつ図６には、例示的な１つの高いバンディング領域が表示されている。高いバンディングのロケーションは、バンディングの大きさを、図７において曲線３４２として示されるフルページ中間調に沿った高速走査方向位置の関数として計算することにより定量化される。この場合、高いバンディングの領域と低い内在的バンディングの領域との間の遷移は、ＲＯＳ５００が補正量をその公称強度から誘導バンディング強度へと変えるために必要とされる増分数値または「ティック」の数（例えば、図５の例では１０）に起因する勾配を有する。次に、第１の縁３３４からの偏りを提供するために、各遷移域の中点が高速走査方向位置の関数として計算される。
【００３９】
バンディング遷移中間点の、スマイル補正表における強度変化の中間点における既知の高速走査表指数への相関は、ＲＯＳスマイル補正表に格納されたバンディング補正プロファイル５０６における各点に関するページの縁からの距離の決定を許容する。さらに、図７のグラフ３４０に示されているように、高速走査方向の位置相関は、バンディング補正テストパターン２１０におけるストリップ２１２を走査することにより、バンディング・テストパターン２１０においてスマイル補正表エントリ（バンディング補正プロファイル５０６）とストリップ指数（例えば、１〜１６）との間に提供されることが可能である。図７におけるグレーの長方形は、バンディング補正テストパターン２１０のストリップ２１２の測定された位置を前縁３３４からの距離の関数として表している。したがって、ある実施形態では、双方の走査から（図１の１０２における空間較正テストパターン３３２（図６）および図１の１１０、１１２におけるバンディング補正テストパターン２１０（図２および図３）から）の用紙の縁は、走査されたストリップパターンと走査されたフルページ中間調とを位置合わせするために使用される。各ストリップの左右の縁は、用紙の縁からの距離の関数として決定されることが可能であり、かつスマイル補正表は事前に用紙の縁からの距離に相関されることが可能であることから、各ストリップに対応する表内のエレメントは決定されることが可能である。
【００４０】
同じく、図８のグラフ３５０を参照すると、方法１００のある実施形態は、１１０においてバンディング補正テストパターンを作成する前にＲＯＳ光源５１４の輝度変化を印刷濃度の変化と相関するために、１０４において輝度較正を実行することも含む。ある可能な例において、輝度較正テストパターン（図示せず）は、テストページ２００または感光体４０４上に、公称光源輝度レベルにおける１つ以上のプロファイルによる第１のグループと、異なる光源輝度レベルにおけるプロファイルによる第２のグループとを有するファセット固有の輝度較正プロファイルを用いて作成される。ある例において、輝度較正プロファイルは、ファセット「３」および「４」を用いて走査する際の光源５１４の露光レベルを高い露光レベルに設定し、一方で他のファセット５２６を用いて走査する際には光出力を公称レベルに保つ。輝度較正テストパターンは、ファセット固有の輝度較正プロファイル５２６のこのセットを用いてテストページまたは感光体上に作成される。テストパターン走査の予想される結果は、ファセット３および４（スワスペア指数３／４）により（上書きを使用して）書かれる半スワスが最も暗くなり、ファセット２および３およびファセット４および５により書かれる半スワスは半分の暗さになり、かつその他の半スワスは公称輝度になることを表示するものと予期される。輝度較正テストパターンは、次に、輝度較正テストパターンの画像データを作成するために（例えば、図１２における１つ以上のセンサ４６０を用いて）走査され、かつ輝度感度値は、測定された輝度（例えば、トナー濃度）レベルの差を基礎として、かつ第１および第２のプロファイルグループを用いて作成された輝度較正テストパターン画像データ間の差に従って、必要に応じて上書きの使用を考慮しながら計算されることが可能である。
【００４１】
図８におけるグラフ３５０は、１０４における上述の例示的な輝度較正テストパターンを用いた輝度較正のこのインポーズから結果的に生じる各スワスペア３５２の相対濃度を示す。このグラフ３５０において、水平軸はスワスペア指数を表し、かつ垂直軸は、テストパターンの全ストリップに渡って平均された明度測定値（ΔＬ＊）を表す。本例において、スマイル補正表は、露光強度を約２％高められた。半スワスの輝度は０．９３ΔＬ＊（スワスペア指数３／４と、スワスペア指数１／２、５／６、６／７、７／８および８／１との差）だけ変更され、よって感度ｓは、ＲＯＳ露光変化増分当たりｓ＝０．０４７ΔＬ＊であった。
【００４２】
図９も参照すると、図１のプロセス１００は、１１０におけるバンディング補正テストパターンの印刷に先行して、１０６における位相較正も含む場合がある。先に言及したように（例えば、図３）、ＲＯＳにおいて上書きが使用される場合、各反射ファセット５２６は同時に、テストページ２００または感光体４０４に渡って高速走査方向ＦＳに複数のスキャンラインを含むスワスを走査し、かつＲＯＳ５００は、先に走査された（１つのファセット５２６を介して作成された）スワスの少なくとも一部を（異なる反射ファセット５２６を用いて作成される）後続のスワスで上書きする。図１の１０６において、位相較正は、高速走査方向の１つ以上の固有のストリップにおけるファセット固有バンディング補正プロファイル５０６と、対応する複数のストリップのテストパターン画像データ２００の濃度変化間の相対位相とを相関するために使用されることが可能である。したがって、位相較正は、多角形回転の基本または調和において測定される濃度変化が、印加される同じ振動数の露光変化によって補正される場合の位相差の識別を促進することができる。
【００４３】
ＲＯＳ５００におけるバンディングのための補正に関して、上書きされない場合のバンディング補正プロファイル５０６の決定は、幾つかの異なる手法によって行われることが可能である。ある特定のストリップ上のある特定のスワスの印刷が常に暗すぎる場合、図１の１１８では、そのストリップ２１２のその位置におけるレーザ露光を減らすように、対応する反射ファセット５２６のためのバンディング補正プロファイル５０６を調整することも可能である。１０２における空間較正は、これらの補正値が表内のどのロケーションにロードされるかを決定するために使用されることも可能であり、かつ輝度較正１０２は、必要とされる輝度の変化の大きさを決定する。
【００４４】
ＲＯＳ５００において上書きが使用されれば、図１の１１８におけるバンディング補正プロファイルの調整は複雑化する。例えば、半スワス２／３がより明るいことを除いて全てのスワスが同じ濃度を有していれば、ファセット２の輝度を下げると半スワス１／２はより暗くなり、かつ同様に、ファセット３の輝度を下げれば、半スワス３／４もより暗くなる。本明細書の所定の態様によれば、個々のファセット固有プロファイル５０６に対する調整の効果におけるこの補正は、単にスワス別ベースの調整を実行することではなく、輝度変化およびその高調波の周回を補正することによって対処される。
【００４５】
基本振動数、即ち８半スワスの周期を有するバンディング変化に関して言えば、濃度変化は、振幅および位相として定量化されることが可能である。図１の１１８において補正信号を決定するためには、ある特定のストリップ２１２において、周回バンディングの優勢な第１の高調波を有する正弦波変化を与えるバンディング補正プロファイル５０６が使用される。適用されるべき補正信号の振幅を１０４における輝度較正から知り、かつ濃度変化と補正信号との間の相対位相を知らない状態で、位相は、図１の位相較正プロセス１０６の一部である可能性がある異なる相対位相の一連の補正を適用することによって実験的に決定されることが可能である。１１８において適用される濃度変化と補正信号との間の正しい位相差が選択されれば、補正は、濃度変化に相殺的に干渉する。
【００４６】
図９のグラフ３６０には、この技術の適用が示されている。本図において、点線３６４は高速走査方向のある特定のストリップにおける未補正の２Ｘバンディング振幅を示し、実線による曲線３６２は、様々な異なる位相において補正に必要な振幅に近い補正信号が印加された際のバンディング振幅測定値をプロットしたものである。図９に示されているように、π／４と３π／８との間の間で、補正信号は内在的バンディングに相殺的に干渉し、結果的なバンディングは低い。３π／８（例えば、１８０度の位相外れ）の近くでは、補正信号は、バンディング振幅の増大に伴って内在的バンディングを強化する。相殺的干渉および建設的干渉を位相の関数として特徴づけるに当たって１Ｘバンディングの大きさで足りる場合には、ストリップに対して同様の較正を実行することができる。１Ｘバンディングを補正するための位相シフトは、必ずしも２Ｘバンディングを補正するための位相シフトと同じではない。
【００４７】
図１の１１８におけるバンディング補正の調整は、スマイル補正露光感度に対する印刷濃度の感度に依存してもよい。ある実施形態では、バンディングが内在的バンディングとは異なる振動数で導入される、印刷を自己較正式にする技術を用いることができる。この手法では、導入されるバンディングと内在的バンディングとの割合が感度係数になる。例えば、ＲＯＳ調整増分１０の振幅を有するバンディングが導入され、その結果、内在的バンディングの２倍の振幅を有するバンディングが誘発されれば、その補正に必要なＲＯＳ調整増分は僅かに５である。
【００４８】
ＲＯＳが異なる振動数でのバンディングの導入を許容しないシステムについては、ストリップ２１２のうちの１つが較正ストリップとして使用されることが可能である。隣接する２つのファセット５２６は、ＲＯＳ５００によるこのストリップ２１２の掃引に伴って高い露光に設定されることが可能である。その結果、図８に示されている較正プロファイルが生じる。言い替えれば、輝度較正は、図１における分離されたステップ１０４として実行される変わりに、図１のステップ１１４における分析の一部となる。
【００４９】
上書きがない場合、バンディング測定値を補正するための１１８におけるバンディング補正プロファイル調整の位相は、相殺的干渉を強制するためにπだけ位相シフトされる可能性もある。上書きに起因して、バンディングの位相と補正信号の位相との間には一対一対応が存在しない場合がある。ファセット１が最も高い輝度を有していれば、これは、半スワス１／２および半スワス８／１の濃度を高める。位相シフトは、第１の高調波についてはπでなく、かつ第２の高調波の位相シフトは第１の高調波の位相シフトと同じではない。ある実施形態では、補正露光プロファイルを生成するために、半スワス濃度プロファイル（図４）のフーリエ変換を計算することができ、基本かつ第１の高調波に対応する係数の位相および振幅が計算される。振幅は、ステップ１０４における輝度較正に従ってスケーリングされ、かつ位相は、ステップ１０６における位相較正に従ってシフトされる。次に、補正露光プロファイルを決定するためにフーリエ変換が計算される。振幅較正が正確であり、かつ測定ノイズが低ければ、１１８における補正調整は単一の測定値から計算されてもよい。しかしながら、これらの量の何れかにエラーが存在すれば、先に述べたように、１１０、１１２、１１４および１１６においてこのプロセスを１回または複数回反復する必要がある場合がある。
【００５０】
また、図１０および図１１を参照すると、図１０におけるグラフ３７０は周回バンディングの振幅（ΔＬ）を示し、図１１におけるグラフ３８０は２周バンディングの大きさを高速走査位置の関数として示す。図１０における曲線３７４（および図１１における曲線３８４）は、（例えば、ゼロに等しいバンディング補正プロファイル５０６を用いる）補正前のバンディング振幅を示す。図１０における曲線３７２および図１１における曲線３８２は、先に述べた図１の電子バンディング補正プロセス１００の後のバンディングを示す。図１０および図１１に示されているように、基本振動数および第１の高調波は共に、プロセス１００を用いて同時に減じられることが可能である。
【００５１】
次に、図１２〜図１５を参照すると、プロセス１００は、オンボード処理エレメント４２２およびセンサ４６０を用いて電子バンディング補正プロファイル５０６を生成するために使用されることが可能であり、またはプロセス１００は、外部の計算および分析コンポーネントを用いて実行されてもよい。図１２〜図１５は、格納されたバンディング補正プロファイル５０６が、正常な印刷作業におけるバンディングを減らすべく１つ以上の変調光出力５２２の出力レベルを選択的に変えるために使用されることが可能である、例示的な文書処理システム４００（図１２）およびそのＲＯＳ５００（図１３〜図１５）を示す。さらに、システム４００は、スキャナまたは他のセンサ４６０を装備していれば、上述のプロセスによる自動化されたバンディング補正を実装してもよい。図示されている文書処理システム４００は、上述の処理のうちの１つまたはそれ以上を機能させるシステムコントローラ４２２を含むマルチカラーである。このシステム４００において、複数の個々のマーキングデバイス４０２（印刷エンジン）は、それぞれ、バンディング補正を最初にセットアップされる場合もあれば、その後に上述の方法１００に従って調整される場合もあるＲＯＳ５００（図１３〜図１５）を含む。マーキング４０２は、個々に、マーキングデバイス４０２を通って進む中間転写ベルト（ＩＴＢ）４０４（感光体）上へトナーマーキング材料を転写する。
【００５２】
図１３に示されているように、ある実施形態において、マーキングデバイス４０２は個々に、カットシート用紙等の最終的な印刷可能媒体４０８への最終画像転写より前の中間転写ベルト４０４への後続転写のための中間転写基材として使用される円筒ドラム感光体５０４を含んでもよい。図示されている印刷システム４００は、マーキングデバイス４０２の下流側に、ＩＢＴ４０４からのマーキング材料を媒体供給から経路Ｐ１に沿って進む最終的な印刷媒体４０８の上側へ転写するための転写ステーション４０６（図１２）を含む。転写ステーション４０６において印刷媒体４０８へトナーが転写された後、最終印刷媒体４０８は経路Ｐ１に沿って定着器型付着装置４１０へ供給され、転写されたマーキング材料はここで印刷媒体４０８へ定着される。他の実施形態では、単一の感光体ベルト４０４をマーキングデバイス４０２と用いて感光体ベルト４０４上へ画像が形成され、ベルト上に現像された画像が印刷媒体４０８へ直に転写される。この点に関連して、本明細書に例示されかつ説明されているバンディング補正技術は、中間ベルト転写（ＩＢＴ）型システムおよび／または非ＩＢＴシステムにおいて使用されることが可能である。
【００５３】
システムコントローラ４２２は様々な制御機能を実行し、かつシステム４００のためのデジタルフロントエンド（ＤＦＥ）機能を実装してもよい。さらに、文書処理システム４００は、ファセット固有のバンディング補正プロファイル５０６を作成しかつ／または調整するための上述の技術を実装してもよい。この点に関連して、コントローラ４２２は、マーキングエンジン４０２および１つ以上のセンサ４６０を用いる上述のプロセス１００を実装してもよい。コントローラ４２２は、単一式であるか、複数の処理コンポーネントに分散式に実装されるかに関わらず、任意の適切な形式のハードウェア、プロセッサ実行ソフトウェアおよび／またはファームウェア、プログラマブル論理またはこれらの組合せであることが可能である。
【００５４】
正常な印刷モードにおいて、コントローラ４２２は到来する印刷ジョブ４１８を受信し、かつ印刷ジョブ４１８の画像データに従ってマーキング材料をＩＴＢ４０４上へ転写するために１つ以上のマーキングデバイス４０２を作動する。バンディング補正の調整モードでは、コントローラ４２２は上述のプロセス１００に従って動作する。マーキングデバイス４０２の動作において、マーキング材料（例えば、図１２における第１のデバイス４０２用のトナー４５１）は、そのマーキングデバイス４０２のＲＯＳ５００を介して内部ドラム感光体５０４（図１３に略示されている）へ供給され、かつトナー４５１は、ＩＴＢ４０４がドラム５０４とバイアスされた転写ローラとの間のニップを通過するにつれてドラム５０４からの反対に帯電されたトナー４５１をＩＴＢ表面へ引き付けるために、バイアスされた転写ローラ（図示せず）によってＩＴＢ４０４へ転写される。トナー４５１は、理想的には、図１２における転写デバイス４０６および定着器４１０を介する最終的な印刷媒体４０８への後続転写および定着のために、ニップを通過した後もＩＴＢ４０４の表面に留まる。図１２の多色例において、各電子写真マーキングデバイス４０２は、コントローラ４２２の制御下で、対応する色（例えば、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ））のトナー４５１〜４５４を転写ベルト４０４へ転写する働きをする。またシステム４００は、マーキングステーション４０２の内部および／または外部に、例えば中間転写ベルト４０４または他の感光体に対する、または最終的な印刷媒体４０８に関連するトナー濃度等の１つ以上のマーキング材料転写特性を測定するために１つ以上のセンサ４６０も含み、よって対応するフィードバック信号または値がコントローラ４２２へ提供される。
【００５５】
図１３〜図１５に示されているように、例示的な電子写真ステーション４０２はそれぞれ、複数のビーム５２２を用いてドラム型感光体５０４（図１３に部分断面図でページ内へのプロセス方向を伴って示されている）の遠回りの長さ沿いに潜像を生成する単ビームまたは多ビームのＲＯＳ５００を含む。多ビームＲＯＳ５００のコンテキストで示されているが、本明細書の様々な態様は、単ビームＲＯＳにおいても使用されることが可能である。ＲＯＳコントローラ５０２は、１つ以上の制御信号または制御値をドライバ５１２およびＲＯＳクロック５０１へ提供し、かつコントローラ５０２から、例えばある実施形態では４つのレーザより成る８グループのレーザ・エミッタ・アレイとして配列される３２個のレーザ型光源５１４に関連づけられるドライバ５１２へ画像データストリームが提供される。ＲＯＳコントローラ５０２はＲＯＳクロック５０１も作動し、ＲＯＳクロック５０１は、クロック出力をドライバ５１２へ、および多角形モータの速度制御５２８ａを含むモータ・ポリゴン・アセンブリ（ＭＰＡ）へ、さらに複数の反射（例えば、鏡式）外面またはファセット５２６を有する回転多角形５２８へ提供する（図１３の例には例示として８個のファセット５２６が示されているが、多の実施形態は、先に論じた例における１６個等のこれより多い、または少ないファセット５２６を有する場合がある）。
【００５６】
運転中は、プリンタ４００におけるパネル画像の単一の色部分に関連づけられるドライバ５１２へ画像データストリームが提供され、ドライバ５１２は、入力された画像データに準じて複数の変調された光出力またはビーム５２２を生成するためにレーザ５１４を変調する。レーザビーム光出力５２２は調整用光学素子５２４内へ入り、次に回転多角形５２８のファセット５２６を照射する。光ビーム５２２は多角形ファセット５２６から反射され、結像光学素子５３０を介して、通過する感光体５０４のドラムの感光性像平面部分上に対応するスポットを形成する。ファセット５２６の回転により、スポットは像平面に渡ってプロセス横断または高速走査方向ＦＳに掃引または走査され、感光体５０４が進む「遅速走査」またはプロセス方向ＰＤに対して概して垂直に連続するスキャンラインが形成される。ＲＯＳ５００の多ビーム配置では、このような３２本のスキャンラインがグループまたはスワスとして同時に作成され、個々のレーザ５１４へ提供される画像データが適宜インタリーブされる。多角形５２８の連続する回転式ファセット５２６は、感光体５０４がプロセス方向に進むにつれて、互いからオフセットされる３２スキャンラインより成る連続セットまたはスワスを形成する。この点に関連して、各ファセット５２６は３２スキャンラインを走査してもよいが、感光体５０４は、次のファセット５２６からの上側の１６スキャンラインがインタリーブ式またはオーバーラップ式に先のファセット５２６からの下側の１６スキャンラインと重なり得るように移動してもよい。この点に関連して、開示される概念は、スキャンラインがインタリーブによって、またはインタリーブなしに上書き（オーバーラップ）されるシステムにおいて、および／またはインタリーブを使用する、後続のスワスからのスキャンラインが先のスワスからのスキャンラインの間に書き込まれるシステムにおいて、またはこれらが組み合わされた、またはこれらの変形であるシステムにおいて使用されることが可能である。
【００５７】
さらに、３２スキャンラインによる各セット内で、レーザ・エミッタ・アレイ５１４は、隣接するスキャンラインのスペーシングが理想的には均一であるように個々の光出力５２２の機械的スペーシングを設ける。本例におけるこのような各スキャンラインは、レーザスポットが像平面を走査するにつれて対応する画像データに従って対応するレーザビーム５２２を変調することにより生成されるピクセル列から成り、ここで個々のスポットは、入力される画像データに従って感光体５０４上の個々のロケーションを選択的に照射する、または照射を控えるように、ビームによるスキャンラインの走査に伴って様々なポイントで照射され、または照射されない。このようにして、トナー画像を受け入れるべき感光体５０４のエリアを選択的に放電することにより、潜像が生成される。プリントされるべき画像の露光（描画）された部分はトナー蒸着ステーション（図示せず）へと進み、ここで画像の描画／放電された部分へトナーが付着する。付着性トナーが付着した画像の露光部分は、次に、トナー画像を中間転写ベルト（先の図１２におけるＩＴＢ４０４）へ転写するためのバイアスされた転写ローラ（ＢＴＲ、図示せず）を備える転写ステーションへ進む。
【００５８】
さらに、図１３〜図１５に示されているように、ＲＯＳドライバ５１２は、最終的な印刷媒体４０８におけるバンディングを減らすために、所定の反射ファセット５２６による走査の間に１つ以上の光源５１４により与えられる光出力５２２の出力レベルを変えるというＲＯＳコントローラ５０２の指示の下で、バンディング矯正または補正プロファイル５０６を選択的に使用し、かつこれらの補正プロファイル５０６は、上述の図１における処理１００の間にも使用されることが可能である。ＭＰＡ多角形５２８は、次に、媒体５０４の少なくとも一部に画像を生成するために、変調光出力５２２を高速走査方向沿いに感光媒体５０４へと配向する。さらに、図１３に示されているように、多角形５２８の現行ファセット５２６の回転は、直接または間接的に感光体５０４へ向かう１つ以上の変調光出力５２２を高速走査方向ＦＳに沿って走査し、この場合、多角形ファセット５２６と感光体５０４との間には１つ以上の光学コンポーネントが存在してもよいが、図１３には、単純化して１例（レンズ５３０）が示されている。運転中、ＲＯＳ５００のコントローラ５０２（図１３〜図１５）は、所定の反射ファセット５２６に対応するバンディング補正プロファイル５０６のうちの所定の１つに従ってバンディングを減らすために、ドライバ５１２に、所定の反射ファセット５２６による走査の間に光源５１４により与えられる光出力５２２の出力レベルを選択的に変更させる。
【００５９】
ある実施形態において、ＲＯＳ５００はＲＯＳコントローラ５０２へ出力を与えるＭＰＡエンコーダ５０８を含み、前記出力は、現行で光出力５２２を走査している回転多角形５２８の所定の反射ファセット５２６のアイデンティティを示す任意の信号または値であることが可能である。次にコントローラ５０２は、ＭＰＡエンコーダ５０８からの表示に従って、所定の反射ファセット５２６に対応する複数のバンディング補正プロファイル５０６のうちの所定の１つを選択する。このようにして、選択された１つ以上のバンディング補正プロファイル５０６は現行使用されているＭＰＡファセット５２６に対応することを保証され、したがって、この現行のＭＰＡファセット５２６に関連づけられる特定のバンディング効果は、適切な（対応する）１つ以上のバンディング補正プロファイル５０６の選択を介して効果的に減じられることが可能である。
【００６０】
図１４に示されているように、複数の光源５１４（例えば、図示されている例では３２個のレーザ５１４より成るアレイ）を用いるある実施形態において、コントローラ５０２は、ドライバ５１２に、現行のＭＰＡファセット５２６に対応する１つのプロファイル５０６に従って光源５１４により与えられる全ての変調光出力５２２の出力レベルを選択的に変更させてもよい。ある可能な実装において、ＲＯＳ５００は、レーザ源５１４の動作を制御する特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）等のプログラマブル論理を含んでもよい。
【００６１】
ある実施形態におけるＲＯＳ  ＡＳＩＣは、コントローラ５０２およびドライバ５１２が、高速走査方向ＦＳに渡る走査の始点（ＳＯＳ）から走査の終わり（ＥＯＳ）までレーザの出力レベルを変えることを許容する。この特徴は、ＭＰＡファセットとは独立している場合のある濃度変化に関して、高速走査方向ＦＳのＲＯＳ出力の輝度変化および光学系効果を補正するために、「スマイル補正」用に単純化された形で使用され得ることは留意される。さらに、このような効果は、例えばバンディング補正プロファイル５０６の生成において特徴づけられかつ使用されることが可能であり、正常な「スマイル補正」効果は、生成されたバンディング補正プロファイル５０６が非ファセット固有（スマイル補正）効果並びにファセット固有バンディング効果の双方を打ち消す働きをするように、ファセット固有のバンディング効果の特性決定に追加される。
【００６２】
さらに、図１４の例において、コントローラ５０２は、ＭＰＡエンコーダ５０８からの表示を用いてどのＭＰＡファセット５２６が現行使用されているかを識別し、かつ（例えば、ＲＯＭメモリに格納されている）複数のプロファイル５０６から対応するバンディング補正プロファイル５０６を選択し、かつドライバ５１２に、選択されたプロファイル５０６に従ってレーザアレイ５１４の出力を修正または変更させる。例えば、レーザアレイ５１４からの光出力５２２を反射するために現行で第１のＭＰＡファセット５２６（図１３におけるファセット「１」）が使用されていれば、コントローラ５０２はＭＰＡエンコーダ５０８から現行ファセット５２６の指示を受信し、かつ適宜、ＭＰＡファセット「１」のためのバンディングプロファイル５０６を選択する。この例では、ＲＯＳ５００は、整数「ｉ」個のバンディング補正プロファイル５０６を格納している。他の実施形態では、ＲＯＳ５００は単一のレーザまたは他のタイプの光源５１４を使用してもよく、この場合、コントローラ５０２は、エンコーダ５０８からの指示に従って、多角形ファセット５２６の数に対応する整数ｉ個のプロファイル５０６（ｉは１より多い）を含む複数のバンディング補正プロファイル５０６から特定の１つのバンディングプロファイル５０６を選択する。
【００６３】
図１５は、所定の１つのＭＰＡファセット５２６に関して２つ以上のバンディング補正プロファイル５０６が使用される、複数（例えば、例示されている実装では３２個）のレーザ光源５１４を用いる別の例を示す。ある可能な実施形態では、各ＭＰＡファセット５２６について、各光源５１４用に１つのプロファイル５０６ｉ，Ｎが提供されている。例えば、８個の回転ファセット５２６（ｉ＝８）および３２個の光源５１４（Ｎ＝３２）を備える多角形５２８を有するＲＯＳ５００では、ＲＯＳ５００内に合計２５６個のバンディング補正プロファイル５０６を格納することができ、コントローラ５０２は、所定の１つの現行ＭＰＡファセット５２６について３２個のプロファイル５０６より成るグループを選択する。ＲＯＳコントローラ５０２は、次に、ドライバ５１２に、選択された３２個のプロファイル５０６のうちの対応する１つに従って対応するレーザ光源５１４の出力を選択的に変更させる。ある可能な実装において、ＲＯＳ５００は、３２の個々のスマイル補正関数を修正するケイパビリティを提供するＡＳＩＣまたは他の論理を含んでもよく、この場合、コントローラ５０２はこのような論理を、ファセット固有のプロファイル５０６をスマイル補正関数として使用するために、かつこれらを現行で使用されているＭＰＡファセット５２６に従って更新するために利用することができる。他の可能な実施形態では、所定の１つのＭＰＡファセット５２６について２つ以上のバンディング補正プロファイル５０６を用いることができ、この場合、２つ以上の光源５１４が同じファセット固有のプロファイル５０６を用いることができる。
【００６４】
したがって、上述の実施形態は、プロセス横断方向のバンディング効果がスキャンラインベースで、かつ／またはスワスベースで補正されることを可能にし（電子バンディング矯正または補正）、これにより、プロセス横断方向に（振幅および位相）変動を含む所定の文書処理システム４００における測定可能なＭＰＡ高調波バンディングの制御が促進され、この場合、ＲＯＳコントローラ５０２は、プロセス横断／高速走査方向に振幅および位相が変わるスマイル補正関数のファセット毎の変化を使用することができ、これが走査の始点（ＳＯＳ）ロケーションと走査の終わり（ＥＯＳ）ロケーションとの間の全ての高速走査ロケーションにおいてＭＰＡ高調波バンディングを補正する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図６】
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