(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部を備える不良検出装置において、
第１乃至第３直流電圧が供給される第１乃至第３直流配線と、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチをオン状態とし、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一グループのみをオン状態として、
前記対応する配線に連結される前記対応するデータ線に連結された複数の画素の発光状態により、前記複数の配線の短絡不良を検出する、不良検出装置。
【請求項２】
前記複数の第１ＴＦＴがオン状態であると、
前記対応する配線は、ターンオンされた複数の前記第１ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応するデータ線に連結され、
前記対応する配線が短絡であると、前記対応するデータ線に連結された複数の画素は前記短絡の電圧により発光する、請求項１に記載の不良検出装置。
【請求項３】
前記複数の第２ＴＦＴがオン状態であると、
前記対応する配線は、ターンオンされた複数の前記第２ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応する他のデータ線に連結され、
前記対応する配線が短絡であると、前記対応する他のデータ線に連結された複数の画素は前記短絡の電圧により発光する、請求項１に記載の不良検出装置。
【請求項４】
複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部を備える不良検出装置において、
第１乃至第３直流電圧が供給される第１乃至第３直流配線と、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチのうちの一グループのみをオン状態とし、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴをオン状態とし、
ターンオンされたいずれか前記一グループの複数スイッチのそれぞれに連結された複数のデータ線のそれぞれが、対応するデータ線に連結されて、
前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴの不良を検出する、不良検出装置。
【請求項５】
前記複数の第１スイッチがターンオン状態であると、
前記ターンオンされた複数の第１スイッチのそれぞれに連結された複数の第１データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第２データ線に連結される、請求項４に記載の不良検出装置。
【請求項６】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良であると、
前記第２データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない、請求項５に記載の不良検出装置。
【請求項７】
前記複数の第２スイッチがターンオン状態であると、
前記ターンオンされた複数の第２スイッチのそれぞれに連結された複数の第２データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第１データ線に連結される、請求項４に記載の不良検出装置。
【請求項８】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良であると、
前記第１データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない、請求項７に記載の不良検出装置。
【請求項９】
前記複数の第１スイッチは、
前記第１ゲート信号が伝達されるゲート電極、前記第１乃至第３直流配線のうちの対応する直流配線に連結されている第１電極、および前記複数の第１データ線のうちの対応する第１データ線に連結されている第２電極を含む、請求項１に記載の不良検出装置。
【請求項１０】
前記複数の第２スイッチは、
前記第２ゲート信号が伝達されるゲート電極、前記第１乃至第３直流配線のうちの対応する直流配線に連結されている第１電極、および前記複数の第２データ線のうちの対応する第２データ線に連結されている第２電極を含む、請求項１に記載の不良検出装置。
【請求項１１】
複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部を備える表示パネルの前記複数の配線に対する不良を検出する方法において、
前記表示パネルは不良検出装置をさらに含み、
前記不良検出装置は、
第１乃至第３直流電圧が供給される第１乃至第３直流配線と、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチをターンオンさせる段階と、
前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一グループのみをターンオンさせる段階と、
前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちのターンオンされた一グループの複数のＴＦＴを通じて前記配線と連結されたデータ線の前記表示パネルの画素列が発光する状態により前記配線の不良有無を検出する段階を含む、不良検出方法。
【請求項１２】
前記複数の第１ＴＦＴがターンオンであると、前記不良有無を検出する段階は、
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つを通じて連結されたデータ線に接続される画素列が発光する状態が明線または暗線である場合、前記配線を不良として検出する、請求項１１に記載の不良検出方法。
【請求項１３】
前記複数の第２ＴＦＴがターンオンであると、前記不良有無を検出する段階は、
前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて連結されたデータ線に接続される画素列が発光する状態が明線または暗線である場合、前記配線を不良として検出する、請求項１１に記載の不良検出方法。
【請求項１４】
複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部を備える表示パネルの前記逆多重化部の不良を検出する方法において、
前記表示パネルは不良検出装置をさらに含み、
前記不良検出装置は、
第１乃至第３直流電圧が供給される第１乃至第３直流配線と、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチのうちの一グループのみをターンオンさせる段階と、
前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴをターンオンさせる段階と、
前記ターンオンさせられたいずれか一グループの複数スイッチのそれぞれに連結された複数のデータ線のそれぞれに対応する画素列の発光状態により前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴに対する不良有無を検出する段階を含む、不良検出方法。
【請求項１５】
前記不良有無を検出する段階は、
前記画素列の発光状態が他の画素列の発光状態と異なる時、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する、請求項１４に記載の不良検出方法。
【請求項１６】
前記複数の第１スイッチがターンオンの場合、前記不良有無を検出する段階は、前記画素列がブラックで表示されると、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴには不良を検出せず、
前記画素列が所定の明るさで表示されると、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する、請求項１５に記載の不良検出方法。
【請求項１７】
前記複数の第２スイッチがターンオンの場合、前記不良有無を検出する段階は、前記画素列がブラックで表示されると、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴには不良検出せず、
前記画素列が所定の明るさで表示されると、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する、請求項１５に記載の不良検出方法。
【請求項１８】
複数のデータ線と、
前記複数のデータ線のそれぞれに連結されている複数の画素と、
前記複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部と、
前記複数の配線および前記逆多重化部の不良を検出する不良検出装置を含み、
前記不良検出装置は、
第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチをオン状態とし、前記複数の第１ＴＦＴをオン状態とし、かつ前記複数の第２ＴＦＴをオフ状態とすると、前記対応する配線はターンオンされた前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応するデータ線に連結されるので、
前記対応するデータ線と連結される画素列の発光状態により前記対応する配線の短絡不良を検出する、表示パネル。
【請求項１９】
複数のデータ線と、
前記複数のデータ線のそれぞれに連結されている複数の画素と、
前記複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部と、
前記複数の配線および前記逆多重化部の不良を検出する不良検出装置を含み、
前記不良検出装置は、
第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチと、
前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含み、
前記逆多重化部は、
前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含み、
前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチをオン状態とし、前記複数の第２ＴＦＴをオン状態とし、かつ前記複数の第１ＴＦＴをオフ状態とすると、前記対応する配線はターンオンされた前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応する他のデータ線に連結されるので、
前記対応する他のデータ線と連結される画素列の発光状態により前記対応する配線の短絡不良を検出する、表示パネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に含まれる逆多重化部および配線の不良を検出する方法および装置、そして不良検出装置を含む表示パネルに関する。
【背景技術】
【０００２】
アクティブマトリックス（active matrix）方式の表示パネルの検査のためにＲＧＢ直流電圧とゲート信号を利用する。
【０００３】
つまり、表示パネル中の複数の赤色画素にＲ直流電圧がゲート信号に同期して供給され、複数の緑色画素にＧ直流電圧がゲート信号に同期して供給され、複数の青色画素にＢ直流電圧がゲート信号に同期して供給される。
【０００４】
赤色、緑色、および青色画素のそれぞれは、Ｒ直流電圧、Ｇ直流電圧、およびＢ直流電圧により発光し、発光状態でむら、明・暗点およびライン不良などが検査される。
【０００５】
このような検査動作において表示パネルとデータ駆動回路の間に位置する逆多重化部はオフ状態である。したがって、逆多重化部とデータ駆動回路の間の配線および逆多重化部を構成するＴＦＴ（Thin Film Transistor）の不良は検出することができない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、配線および逆多重化部の不良を検出することができる方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の実施形態による不良検出装置は、複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部を利用する。前記不良検出装置は、第１乃至第３直流電圧が供給される第１乃至第３直流配線、前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチ、および前記第１乃至第３直流配線に連結されて、前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含む。
【０００８】
前記逆多重化部は、前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含む。
【０００９】
前記不良検出装置が前記複数の配線の短絡不良を検出する時、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一グループのみがオン状態であり、前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチはオン状態である。
【００１０】
前記複数の第１ＴＦＴがオン状態である時、前記対応する配線は、前記ターンオンされた複数の第１ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応するデータ線に連結され、前記対応する配線が短絡である時、前記対応するデータ線に連結された複数の画素は前記短絡電圧により発光する。
【００１１】
前記複数の第２ＴＦＴがオン状態である時、前記対応する配線は、前記ターンオンされた複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応する他のデータ線に連結され、前記対応する配線が短絡である時、前記対応する他のデータ線に連結された複数の画素は前記短絡電圧により発光する。
【００１２】
前記不良検出装置が前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴの不良を検出する時、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴはオン状態であり、前記複数の第１スイッチおよび前記複数の第２スイッチのうちの一グループのみがオン状態である。
【００１３】
前記複数の第１スイッチがターンオン状態である時、前記ターンオンされた複数の第１スイッチのそれぞれに連結された複数の第１データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第２データ線に連結される。
【００１４】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良である時、前記第２データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない。
【００１５】
前記複数の第２スイッチがターンオン状態である時、前記ターンオンされた複数の第２スイッチのそれぞれに連結された複数の第２データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第１データ線に連結される。
【００１６】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良である時、前記第１データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない。
【００１７】
前記複数の第１スイッチは、前記第１ゲート信号が伝達されるゲート電極、前記第１乃至第３直流配線のうちの対応する直流配線に連結されている第１電極、および前記複数の第１データ線のうちの対応する第１データ線に連結されている第２電極を含む。
【００１８】
前記複数の第２スイッチは、前記第２ゲート信号が伝達されるゲート電極、前記第１乃至第３直流配線のうちの対応する直流配線に連結されている第１電極、および前記複数の第２データ線のうちの対応する第２データ線に連結されている第２電極を含む。
【００１９】
本発明の他の実施形態による不良検出方法は、第１画素列に対応する第１データ線および第２画素列に対応する第２データ線に第１ＴＦＴおよび第２ＴＦＴを通じて連結される配線に対する不良を検出する。前記不良検出方法は、前記第１データ線に第１直流電圧を供給し、前記第２データ線に前記第１直流電圧を供給する段階、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちのいずれか一つのみをターンオンさせる段階、および前記第１データ線および前記第２データ線のうち、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちのターンオンされたＴＦＴを通じて前記配線と連結されたデータ線の画素列が発光する状態により不良有無を検出する段階を含む。
【００２０】
前記第１ＴＦＴがターンオンである時、前記不良有無を検出する段階は、前記第１画素列が発光する状態が明線または暗線である場合、前記配線を不良として検出する。
【００２１】
前記第２ＴＦＴがターンオンである時、前記不良有無を検出する段階は、前記第２画素列が発光する状態が明線または暗線である場合、前記配線を不良として検出する。
【００２２】
本発明のさらに他の実施形態による不良検出方法は、第１スイッチおよび第１画素列に連結されている第１データ線、および第２スイッチおよび第２画素列に連結されている第２データ線のそれぞれに連結されている第１ＴＦＴおよび第２ＴＦＴを含む逆多重化部に対する不良を検出する。前記不良検出方法は、前記第１スイッチおよび前記第２スイッチのうちの一つのみをターンオンさせる段階、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴをターンオンさせる段階、および前記第１画素列および前記第２画素列の発光状態により前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴに対する不良有無を検出する段階を含む。
【００２３】
前記不良有無を検出する段階は、前記第１画素列と前記第２画素列の発光状態が異なる時、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する。
【００２４】
前記第１スイッチがターンオンである時、前記不良有無を検出する段階は、前記第１画素列がブラックで表示され、前記第２画素列が所定の明るさで表示される時、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する。
【００２５】
前記第２スイッチがターンオンである時、前記不良有無を検出する段階は、前記第２画素列がブラックで表示され、前記第１画素列が所定の明るさで表示される時、前記第１ＴＦＴおよび前記第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つを不良として検出する。
【００２６】
本発明のさらに他の実施形態による表示パネルは、複数のデータ線、前記複数のデータ線のそれぞれに連結されている複数の画素、前記複数のデータ線を対応する複数の配線に連結する逆多重化部、および前記複数の配線および前記逆多重化部の不良を検出する不良検出装置を含む。
【００２７】
前記不良検出装置は、第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第１ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第１データ線に伝達する複数の第１スイッチ、および前記第１乃至第３直流電圧のうちの一つを第２ゲート信号により前記複数のデータ線のうちの対応する複数の第２データ線に伝達する複数の第２スイッチを含む。
【００２８】
前記逆多重化部は、前記複数の配線のうちの対応する配線と前記複数のデータ線のうちの対応するデータ線を連結する第１ＴＦＴを複数個含み、前記対応する配線に複数のデータ線のうちの対応する他のデータ線を連結する第２ＴＦＴを複数個含む。
【００２９】
前記不良検出装置が前記複数の配線の短絡不良を検出する時、前記複数の第１ＴＦＴがオン状態であり、前記対応する配線は前記ターンオンされた複数の第１ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応するデータ線に連結される。
【００３０】
前記不良検出装置が前記複数の配線の短絡不良を検出する時、前記複数の第２ＴＦＴがオン状態であり、前記対応する配線は前記ターンオンされた複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて前記対応する他のデータ線に連結される。
【００３１】
前記不良検出装置が前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴの不良を検出する時、前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴはオン状態であり、前記複数の第１スイッチがターンオン状態であり、前記ターンオンされた複数の第１スイッチのそれぞれに連結された複数の第１データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第２データ線に連結される。
【００３２】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良である時、前記第２データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない。
【００３３】
前記不良検出装置が前記複数の第１ＴＦＴおよび前記複数の第２ＴＦＴの不良を検出する時、前記複数の第２スイッチがターンオン状態であり、前記ターンオンされた複数の第２スイッチのそれぞれに連結された複数の第２データ線のそれぞれは、前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つを通じて対応する第１データ線に連結される。
【００３４】
前記複数の第１ＴＦＴのうちの一つおよび前記複数の第２ＴＦＴのうちの一つのうちの少なくとも一つが不良である時、前記第１データ線には前記第１乃至第３直流電圧のうちの対応する直流電圧が伝達されない。
【発明の効果】
【００３５】
本発明によれば、配線および逆多重化部の不良を検出することができる方法および装置を提供することができ、さらに、これら方法及び装置を含む表示パネルを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施形態による不良検出装置を含む表示装置を示した図面である。
【図２】本発明の実施形態による画素を示した図面である。
【図３】配線不良の検出のための不良検出装置および逆多重化部の状態を示した図面である。
【図４】短絡配線が発生した場合、他の表示状態を示した図面である。
【図５】配線不良の検出のための不良検出装置および逆多重化部の他の状態を示した図面である。
【図６】短絡配線が発生した場合、他の表示状態を示した図面である。
【図７】逆多重化部の不良検出のための不良検出装置および逆多重化部の状態を示した図面である。
【図８】不良ＴＦＴが発生した場合、表示状態を示した図面である。
【図９】逆多重化部の不良検出のための不良検出装置および逆多重化部の他の状態を示した図面である。
【図１０】不良ＴＦＴが発生した場合、他の表示状態を示した図面である。
【発明を実施するための形態】
【００３７】
以下、添付した図面を参照して本発明の実施形態について本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者が容易に実施することができるように詳しく説明する。しかし、本発明は多様な異なる形態で実現することができ、ここで説明する実施例に限定されない。図面において、本発明を明確に説明するために説明上不要な部分は省略した。明細書全体を通して類似する部分については類似する図面符号を付した。
【００３８】
明細書全体で、ある部分が他の部分と「連結」されているという時、これは「直接的に連結」されている場合のみならず、その中間に他の素子を介して「電気的に連結」されている場合も含む。ある部分がある構成要素を「含む」という時、これは特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くのではなく、他の構成要素をさらに含むことを意味する。
【００３９】
次に、図面を参照して本発明の実施形態による不良検出方法、不良検出装置、およびこれを含む表示装置を説明する。
【００４０】
図１は、本発明の実施形態による不良検出装置を含む表示装置を示した図面である。不良検出装置１００は、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に連結されており、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に二つのテストゲート信号（ＴＧＳ１、ＴＧＳ２）により赤色直流電圧（ＲＤＶ）、緑色直流電圧（ＧＤＶ）、および青色直流電圧（ＢＤＶ）を伝達する。
【００４１】
不良検出装置１００は、二つのゲート配線（ＴＧ１、ＴＧ２）、赤色直流配線（ＤＣ＿Ｒ）、緑色直流配線（ＤＣ＿Ｇ）、青色直流配線（ＤＣ＿Ｂ）、複数の第１制御スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）、および複数の第２制御スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）を含む。
【００４２】
第１ゲート配線（ＴＧ１）は、複数の第１制御スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）のゲート電極に連結されており、第２ゲート配線（ＴＧ２）は複数の第２制御スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）のゲート電極に連結されている。
【００４３】
第１ゲート信号（ＴＧＳ１）は、第１ゲート配線（ＴＧ１）を通じて複数の第１制御スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）のゲート電極に伝達され、第２ゲート信号（ＴＧＳ２）は、第２ゲート配線（ＴＧ２）を通じて複数の第２制御スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）のゲート電極に伝達される。
【００４４】
複数の第１制御スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）および複数の第２制御スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）は、Ｐチャンネルタイプのトランジスターで具現されており、第１および第２ゲート信号（ＴＧＳ１、ＴＧＳ２）のイネーブルレベルはローレベルであり、ディスエーブルレベルはハイレバルである。
【００４５】
複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）のそれぞれは、赤色直流配線（ＤＣ＿Ｒ）、緑色直流配線（ＤＣ＿Ｇ）、および青色直流配線（ＤＣ＿Ｂ）のうちの対応する直流配線に連結されているソース電極および複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）のうちの対応するデータ線に連結されているドレイン電極を含む。
【００４６】
複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）のそれぞれは、赤色直流配線（ＤＣ＿Ｒ）、緑色直流配線（ＤＣ＿Ｇ）、および青色直流配線（ＤＣ＿Ｂ）のうちの対応する直流配線に連結されているソース電極および複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）のうちの対応するデータ線に連結されているドレイン電極を含む。
【００４７】
不良検出装置１００により配線（Ｌ１〜Ｌｋ）の不良有無が判断される時、第１および第２ゲート信号（ＴＧＳ１、ＴＧＳ２）はすべてイネーブルレベルである。不良検出装置１００により逆多重化部２００の不良有無が判断される時、第１および第２ゲート信号（ＴＧＳ１、ＴＧＳ２）のうちのいずれか一つのみがイネーブルレベルである。
【００４８】
表示部３００は、複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）、および複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）および複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）が交差する領域に形成されている複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）を含む。
【００４９】
複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）のそれぞれは行方向に形成されており、一行に形成された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）は同一の走査線に連結されている。複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）は列方向に形成されており、一列に形成された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）は同一のデータ線に連結されている。
【００５０】
複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）のそれぞれは、駆動回路および発光素子を含む。複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）のそれぞれの駆動回路は、対応する走査線を通じて伝達される走査信号により対応するデータ線を通じて伝達されるデータ信号を記入し、記入されたデータ信号による駆動電流を生成して発光素子に供給する。
【００５１】
図２は、本発明の実施形態による画素を示した図面である。本発明の実施形態がこれに限定されるのではない。図２に示された画素は、ｉ番目走査線（Ｓｉ）およびｊ番目データ線（Ｄｊ）に連結された画素である。
【００５２】
図２に示されているように、画素（ＰＸｉｊ）は、スイッチングトランジスター（ＴＳ）、駆動トランジスター（ＴＤ）、キャパシタ（Ｃ）、および有機発光素子（ＯＬＥＤ）を含む。
【００５３】
スイッチングトランジスター（ＴＳ）は、走査線（Ｓｉ）に連結されているゲート電極、データ線（Ｄｊ）に連結されている第１電極および駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極に連結されている第２電極を含む。
【００５４】
駆動トランジスター（ＴＤ）は、電圧（ＥＬＶＤＤ）に連結されているソース電極、有機発光素子（ＯＬＥＤ）のアノード電極に連結されているドレイン電極、およびスイッチングトランジスター（ＴＳ）に連結されているゲート電極を含む。
【００５５】
キャパシタ（Ｃ）は、駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極およびソース電極の間に連結されており、有機発光素子（ＯＬＥＤ）のカソード電極は電圧（ＥＬＶＳＳ）に連結されている。
【００５６】
走査線（Ｓｉ）を通じて伝達される走査信号がローレベルである時、スイッチングトランジスター（ＴＳ）がターンオンされ、データ線（Ｄｊ）を通じて伝達されるデータ信号によりキャパシタ（Ｃ）が充電される。
【００５７】
キャパシタ（Ｃ）により駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電圧は次の走査時まで一定に維持され、駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート−ソース電圧差による駆動電流が発生する。有機発光素子（ＯＬＥＤ）は、駆動電流により発光する。
【００５８】
逆多重化部２００は、複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）および複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）の間に連結されている。複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）は、複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）に連結されており、複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）に入力される複数のデータ信号は複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）を通じて逆多重化部２００に伝達される。
【００５９】
逆多重化部２００は、複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）を通じて伝達される複数のデータ信号を複数のＴＦＴを通じて対応する複数のデータ線に伝達する。逆多重化部２００は、複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）、複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）、第１制御線（ＣＬＡ）、および第２制御線（ＣＬＢ）を含む。
【００６０】
第１制御線（ＣＬＡ）は、複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）のゲート電極に連結されている。第１制御線（ＣＬＡ）を通じて複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）を制御する第１制御信号（ＣＯＮ１）が複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）のゲート電極に伝達される。
【００６１】
第２制御線（ＣＬＢ）は、複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）のゲート電極に連結されている。第２制御線（ＣＬＢ）を通じて複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）を制御する第２制御信号（ＣＯＮ２）が複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）のゲート電極に伝達される。
【００６２】
複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）がデータ駆動回路（図示せず）に連結されると、データ駆動回路から複数のデータ信号が複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）に入力される。
【００６３】
この時、第１制御信号（ＣＯＮ１）により複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）がターンオンされると、複数のデータ線（Ｄ１、Ｄ３、…、Ｄｍ）に複数のデータ信号が伝達され、第２制御信号（ＣＯＮ２）により複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）がターンオンされると、複数のデータ線（Ｄ２、Ｄ４、…、Ｄｍ−１）に複数のデータ信号が伝達される。
【００６４】
本発明の実施形態により複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）の不良および逆多重化部２００の不良、つまり、複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）および複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）の不良有無を検出する時、複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）はデータ駆動回路に連結されていない。
【００６５】
複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）の不良有無を検出する時、複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）および複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）のうちの一グループのみがターンオン状態に制御される。複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）および複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）の不良有無を検出する時はすべてターンオン状態に制御される。
【００６６】
以下、図３乃至図６を参照して本発明の実施形態による配線不良検出方法を説明する。説明の便宜のために図３乃至６では９個の画素列のみを図示した。
【００６７】
また、配線不良の検出のために複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）にはスイッチングトランジスター（ＴＳ）をターンオンさせるレベルの複数の走査信号が伝達される。配線不良検出時、赤色、緑色および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）のレベルは検出条件により設定される。
【００６８】
例えば、配線が電圧（ＥＬＶＳＳ）に短絡されると、短絡された配線に連結された画素列は高い輝度で発光する。これとは異なり、配線が電圧（ＥＬＶＤＤ）に短絡されると、短絡された配線に連結された画素列は発光しない。したがって、正常的な配線に連結された画素列と電圧（ＥＬＶＳＳ）または電圧（ＥＬＬＶＤＤ）に短絡された配線に連結された画素列とを区分することに適切な程度に赤色、緑色および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）のレベルを設定すれば良い。
【００６９】
実施形態では、赤色、緑色および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）が階調範囲中に中間階調に対応するデータ電圧と同一のレベルに設定され得る。
【００７０】
図３は、配線不良の検出のための不良検出装置および逆多重化部の状態を示した図面である。図３に示されているように、第１ゲート信号（ＴＧＳ１）および第２ゲート信号（ＴＧＳ２）により複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）および複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）はすべてターンオン状態であり、第１制御信号（ＣＯＮ１）により複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）がターンオン状態である。そうすると、複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）のそれぞれは、ターンオンされた複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）を通じて複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に連結されているようになる。
【００７１】
複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）のそれぞれには、対応する第１スイッチ（または第２スイッチ）を通じて赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）のうちの対応する直流電圧が供給され、複数のパッド（ＰＤ１〜ＰＤｋ）は、データ駆動回路に連結されていないフローティング状態である。したがって、複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）のそれぞれを通じて伝達される赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）は、複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）に伝達され、複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）は、赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）により発光する。
【００７２】
この時、複数の配線（Ｌ１〜Ｌｋ）中に短絡配線が発生すると、短絡配線を通じて短絡配線に連結されたデータ線が短絡され、短絡されたデータ線に連結されている複数の画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）は短絡されていない配線に連結されている画素と異なる明るさで発光する。
【００７３】
例えば、図３に示されているように、配線（Ｌ１）が電圧（ＥＬＶＤＤ）に短絡されたと仮定する。配線（Ｌ１）と電圧（ＥＬＶＤＤ）の間には抵抗成分が存在しても良い。
【００７４】
配線（Ｌ１）は、ターンオンされた第１ＴＦＴ（ＴＡ１）を通じてデータ線（Ｄ１）に連結されている。したがって、データ線（Ｄ１）には、電圧（ＥＬＶＤＤ）と類似するハイレバルの電圧が供給される。そうすると、図２に示されたスイッチングトランジスター（ＴＳ）を通じて駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極には、ハイレバルの電圧が供給される。
【００７５】
したがって、データ線（Ｄ１）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ）は非常に低い輝度で発光する。つまり、データ線（Ｄ１）に沿って暗線（dark line）が表れる。このように、暗線で表示された画素列に連結されたデータ線に電気的に連結されている配線が短絡されたと検出され得る。
【００７６】
これとは異なり、配線（Ｌ１〜Ｌｋ）が電圧（ＥＬＶＳＳ）に短絡されることもできる。
【００７７】
図４は、短絡配線が発生した場合、他の表示状態を示した図面である。図４では、配線（Ｌ１）が電圧（ＥＬＶＳＳ）に短絡された状況が示されている。データ線（Ｄ１）には、電圧（ＥＬＶＳＳ）と類似するローレベルの電圧が供給される。そうすると、スイッチングトランジスター（ＴＳ）を通じて駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極には、ローレベルの電圧が供給される。
【００７８】
したがって、データ線（Ｄ１）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ）は非常に高い輝度で発光する。つまり、データ線（Ｄ１）に沿って明線（bright line）が表れる。このように、明線で表示された画素列に連結されたデータ線に電気的に連結されている配線が短絡されたと検出され得る。
【００７９】
このような方式で複数の画素列中の暗線または明線で表示される画素列に対応する配線を短絡と判断することができる。配線（Ｌ２）が短絡された場合、データ線（Ｄ５）に連結された画素列が明線または暗線で表示され、配線（Ｌ３）が短絡された場合、データ線（Ｄ３）に連結された画素列が明線または暗線で表示され、配線（Ｌ４）が短絡された場合、データ線（Ｄ７）に連結された画素列が明線または暗線で表示される。
【００８０】
図３および図４を参照して複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）がターンオン状態である条件で説明したが、複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）の代わりに複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）がターンオン状態であっても良い。
【００８１】
図５は、配線不良の検出のための不良検出装置および逆多重化部の他の状態を示した図面である。図５に示されているように、複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）がターンオン状態である場合、短絡された配線に対応する画素列が変わるだけであり、上記説明と同一である。図５でも、配線（Ｌ１）が電圧（ＥＬＶＤＤ）に短絡されたと仮定する。配線（Ｌ１）と電圧（ＥＬＶＤＤ）の間には抵抗成分が存在しても良い。
【００８２】
配線（Ｌ１）は、ターンオンされた第２ＴＦＴ（ＴＢ４）を通じてデータ線（Ｄ４）に連結されている。したがって、データ線（Ｄ４）には、電圧（ＥＬＶＤＤ）と類似するハイレバルの電圧が供給される。そうすると、図２に示されたスイッチングトランジスター（ＴＳ）を通じて駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極には、ハイレバルの電圧が供給される。
【００８３】
したがって、データ線（Ｄ４）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ）は非常に低い輝度で発光する。つまり、データ線（Ｄ４）に沿って暗線が表れる。このように、暗線で表示された画素列に連結されたデータ線に電気的に連結されている配線が短絡されたと検出され得る。
【００８４】
図６は、短絡配線が発生した場合、他の表示状態を示した図面である。図６では、配線（Ｌ１）が電圧（ＥＬＶＳＳ）に短絡された状況が示されている。
【００８５】
そうすると、データ線（Ｄ４）には、電圧（ＥＬＶＳＳ）と類似するローレベルの電圧が供給される。そうすると、スイッチングトランジスター（ＴＳ）を通じて駆動トランジスター（ＴＤ）のゲート電極には、ローレベルの電圧が供給される。
【００８６】
したがって、データ線（Ｄ４）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｒ）は非常に高い輝度で発光する。つまり、データ線（Ｄ４）に沿って明線が表れる。このように、明線で表示された画素列に連結されたデータ線に電気的に連結されている配線が短絡されたと検出され得る。
【００８７】
このような方式で複数の画素列中の暗線または明線で表示される画素列に対応する配線を短絡と判断することができる。配線（Ｌ２）が短絡された場合、データ線（Ｄ５）に連結された画素列が明線または暗線で表示され、配線（Ｌ３）が短絡された場合、データ線（Ｄ３）に連結された画素列が明線または暗線で表示され、配線（Ｌ４）が短絡された場合、データ線（Ｄ７）に連結された画素列が明線または暗線で表示される。
【００８８】
次に、図７乃至１０を参照して本発明の実施形態による逆多重化部２００の不良検出方法を説明する。図７乃至図１０において、図３乃至図６のように説明の便宜のために９個の画素列のみを示す。
【００８９】
また、逆多重化部の不良検出のために、複数の走査線（Ｓ１〜Ｓｎ）にはスイッチングトランジスター（ＴＳ）をターンオンさせるレベルの複数の走査信号が伝達される。逆多重化部の不良検出時、赤色、緑色および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）のレベルは逆多重化部で発生した不良ＴＦＴを検出することができる適切な電圧に設定される。
【００９０】
図７は、逆多重化部の不良検出のための不良検出装置および逆多重化部の状態を示した図面である。図７に示されているように、第１ゲート信号（ＴＧＳ１）および第２ゲート信号（ＴＧＳ２）により複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）および複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）のうちの一グループのスイッチのみがターンオン状態である。
【００９１】
本発明の実施形態で複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）が第２ゲート信号（ＴＧ２）によりターンオンされ、複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）が第１ゲート信号（ＴＧ１）によりターンオフされるものと設定される。
【００９２】
また、第１制御信号（ＣＯＮ１）により複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）がターンオン状態であり、第２制御信号（ＣＯＮ２）により複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）がターンオン状態である。
【００９３】
そうすると、赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）は、ターンオンされた複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）、ターンオンされた複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）およびターンオンされた複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）を通じて複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に連結される。
【００９４】
つまり、表示部３００のすべての赤色、緑色、および青色画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）に対応する赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）が供給される。
【００９５】
実施形態で、逆多重化部２００の不良検出のための赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）は、画素を発光させない電圧に設定することができる。
【００９６】
具体的に、第２スイッチ（Ｔ２１）、データ線（Ｄ４）、第２ＴＦＴ（ＴＢ４）、第１ＴＦＴ（ＴＡ１）、およびデータ線（Ｄ１）を含む経路が形成され、赤色直流電圧（ＲＤＶ）がデータ線（Ｄ１）およびデータ線（Ｄ４）に連結されている複数の赤色画素（ＰＸ＿Ｒ）に供給される。第２スイッチ（Ｔ２２）、データ線（Ｄ５）、第１ＴＦＴ（ＴＡ５）、第２ＴＦＴ（ＴＢ２）、およびデータ線（Ｄ２）を含む経路が形成され、緑色直流電圧（ＧＤＶ）がデータ線（Ｄ２）およびデータ線（Ｄ５）に連結されている複数の緑色画素（ＰＸ＿Ｇ）に供給される。第２スイッチ（Ｔ２３）、データ線（Ｄ６）、第２ＴＦＴ（ＴＢ６）、第１ＴＦＴ（ＴＡ３）、およびデータ線（Ｄ３）を含む経路が形成され、青色直流電圧（ＢＤＶ）がデータ線（Ｄ３）およびデータ線（Ｄ６）に連結されている複数の青色画素（ＰＸ＿Ｂ）に供給される。
【００９７】
このような方式ですべての画素に対応する直流電圧が供給されると、表示部３００全体はブラックで表示される。ところで、逆多重化部２００を構成する複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）および複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）のうち不良ＴＦＴが発生する場合、不良ＴＦＴを含む経路のデータ線は対応する直流電圧が供給されない。
【００９８】
図８は、不良ＴＦＴが発生した場合、表示状態を示した図面である。例えば、第２ＴＦＴ（ＴＢ６）および第１ＴＦＴ（ＴＡ３）のうちの少なくともいずれか一つが不良であると仮定する。
【００９９】
第２ＴＦＴ（ＴＢ６）が不良である時、データ線（Ｄ３）には青色直流電圧（ＢＤＶ）が供給されない。したがって、データ線（Ｄ３）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｂ）はブラックで表示されず、所定の明るさで発光する。つまり、明線が発生する。第２ＴＦＴ（ＴＢ６）の代わりに第１ＴＦＴ（ＴＡ３）が不良である場合にも、データ線（Ｄ３）に連結された画素列は明線で表示される。つまり、データ線に連結された第１ＴＦＴおよび第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つは不良である。
【０１００】
このような方式で、明線が発生するデータ線により不良である第１ＴＦＴまたは第２ＴＦＴを検出することができる。
【０１０１】
しかし、本発明は、これに限定されるのではなく、複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）の代わりに複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）がターンオンされ得る。
【０１０２】
図９は、逆多重化部の不良検出のための不良検出装置および逆多重化部の他の状態を示した図面である。図９に示されているように、複数の第２スイッチ（Ｔ２１〜Ｔ２ｂ）が第２ゲート信号（ＴＧ２）によりターンオフされ、複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）が第１ゲート信号（ＴＧ１）によりターンオンされたと設定される。
【０１０３】
また、第１制御信号（ＣＯＮ１）により複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）がターンオン状態であり、第２制御信号（ＣＯＮ２）により複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）がターンオン状態である。
【０１０４】
そうすると、赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）は、ターンオンされた複数の第１スイッチ（Ｔ１１〜Ｔ１ａ）、ターンオンされた複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）およびターンオンされた複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１）を通じて複数のデータ線（Ｄ１〜Ｄｍ）に連結される。
【０１０５】
つまり、表示部３００のすべての赤色、緑色、および青色画素（ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ）に対応する赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）が供給され、逆多重化部２００の不良検出のための赤色、緑色、および青色直流電圧（ＲＤＶ、ＧＤＶ、ＢＤＶ）は画素を発光させない電圧に設定することができる。
【０１０６】
具体的に、第１スイッチ（Ｔ２１）、データ線（Ｄ１）、第１ＴＦＴ（ＴＡ１）、第２ＴＦＴ（ＴＢ４）、およびデータ線（Ｄ４）を含む経路が形成され、赤色直流電圧（ＲＤＶ）がデータ線（Ｄ１）およびデータ線（Ｄ４）に連結されている複数の赤色画素（ＰＸ＿Ｒ）に供給される。第１スイッチ（Ｔ１２）、データ線（Ｄ２）、第２ＴＦＴ（ＴＢ２）、第１ＴＦＴ（ＴＡ５）、およびデータ線（Ｄ５）を含む経路が形成され、緑色直流電圧（ＧＤＶ）がデータ線（Ｄ２）およびデータ線（Ｄ５）に連結されている複数の緑色画素（ＰＸ＿Ｇ）に供給される。第１スイッチ（Ｔ１３）、データ線（Ｄ３）、第１ＴＦＴ（ＴＡ３）、第２ＴＦＴ（ＴＢ６）、およびデータ線（Ｄ６）を含む経路が形成され、青色直流電圧（ＢＤＶ）がデータ線（Ｄ３）およびデータ線（Ｄ６）に連結されている複数の青色画素（ＰＸ＿Ｂ）に供給される。
【０１０７】
このような方式ですべての画素に対応する直流電圧が供給されると、表示部３００全体はブラックで表示される。ところで、逆多重化部２００を構成する複数の第１ＴＦＴ（ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ）および複数の第２ＴＦＴ（ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ〜１）のうち不良ＴＦＴが発生する場合、不良ＴＦＴを含む経路のデータ線は対応する直流電圧が供給されない。
【０１０８】
図１０は、不良ＴＦＴが発生した場合、他の表示状態を示した図面である。例えば、図８と同一に第２ＴＦＴ（ＴＢ６）および第１ＴＦＴ（ＴＡ３）のうちの少なくともいずれか一つが不良であると仮定する。
【０１０９】
第２ＴＦＴ（ＴＢ６）が不良である時、データ線（Ｄ６）には青色直流電圧（ＢＤＶ）が供給されない。したがって、データ線（Ｄ６）に連結された複数の画素（ＰＸ＿Ｂ）はブラックで表示されず、所定の明るさで発光する。つまり、明線が発生する。第２ＴＦＴ（ＴＢ６）の代わりに第１ＴＦＴ（ＴＡ３）が不良である場合にも、データ線（Ｄ６）に連結された画素列は明線で表示される。つまり、データ線に連結された第１ＴＦＴおよび第２ＴＦＴのうちの少なくとも一つは不良である。
【０１１０】
このような方式で、明線が発生するデータ線により不良である第１ＴＦＴまたは第２ＴＦＴを検出することができる。
【０１１１】
以上で本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の権利範囲はこれに限定されるのではなく、特許請求の範囲で定義している本発明の基本概念を利用した当業者の多様な変形および改良形態も本発明の権利範囲に属する。
【符号の説明】
【０１１２】
１００：不良検出装置
Ｄ１〜Ｄｍ：データ線
ＴＧＳ１、ＴＧＳ２：テストゲート信号
ＲＤＶ：赤色直流電圧
ＧＤＶ：緑色直流電圧
ＢＤＶ：青色直流電圧
ＴＧ１、ＴＧ２：ゲート配線
ＤＣ＿Ｒ：赤色直流配線
ＤＣ＿Ｇ：緑色直流配線
ＤＣ＿Ｂ：青色直流配線
Ｔ１１〜Ｔ１ａ：第１制御スイッチ
３００：表示部
Ｔ２１〜Ｔ２ｂ：第２制御スイッチ
Ｓ１〜Ｓｎ：走査線
画素ＰＸ＿Ｒ、ＰＸ＿Ｇ、ＰＸ＿Ｂ：画素
ＴＳ：スイッチングトランジスター
ＴＤ：駆動トランジスター
Ｃ：キャパシタ
ＯＬＥＤ：有機発光素子
ＴＡ１、ＴＡ３、…、ＴＡｍ：第１ＴＦＴ
ＴＢ２、ＴＢ４、…、ＴＢｍ−１：第２ＴＦＴ
ＣＬＡ：第１制御線
ＣＬＢ：第２制御線
Ｌ１〜Ｌｋ：配線
ＰＤ１〜ＰＤｋ：パッド
【図１】
0006034033.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0006034033.tif 000008
【図８】
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【図９】
0006034033.tif 000010
【図１０】
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