(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
高分子から構成された材料からなる第１試料および標準試料となる黒板に、同一の条件で太陽光またはキセノンアークランプの光を照射し、前記黒板の表面温度が設定された温度となったときの前記第１試料の表面温度を測定して試験温度とする第１工程と、
前記材料からなる第２試料の表面温度を前記試験温度に制御した状態で、前記材料を劣化させる紫外線の強度が前記キセノンアークランプより高い光源の光を前記第２試料に照射することで耐候性試験を実施する第２工程と
を備えることを特徴とする促進耐候性試験方法。
【請求項２】
請求項１記載の促進耐候性試験方法において、
前記第２試料は、前記第１試料であり、前記第１工程では、前記第１試料が劣化しない範囲の条件で前記試験温度を測定することを特徴とする促進耐候性試験方法。
【請求項３】
高分子から構成された材料からなる第１試料および標準試料となる黒板に、同一条件で太陽光またはキセノンアークランプの光を照射しているときの前記黒板および前記第１試料の表面温度を測定する温度測定手段と、
前記材料からなる第２試料を収容する恒温槽と、
前記温度測定手段に測定される温度が設定された温度となったときの前記温度測定手段に測定される前記前記第１試料の表面温度である試験温度に、前記恒温槽に収容された前記第２試料の表面温度を制御する温度制御手段と、
前記恒温槽に収容された前記第２試料に前記材料を劣化させる紫外線の強度が前記キセノンアークランプより高い光を照射する光源と、
前記温度制御手段および前記光源を制御して前記第２試料の表面温度を前記試験温度とした状態で前記光源による光を前記第２試料に照射する試験制御手段と
を備えることを特徴とする促進耐候性試験装置。
【請求項４】
請求項３記載の促進耐候性試験装置において、
前記恒温槽に収容された前記キセノンアークランプを備え、
前記第２試料は、前記第１試料であり、
前記温度測定手段は、前記恒温槽に収容された前記黒板および前記第１試料の表面温度を測定し、
前記温度制御手段は、前記温度測定手段が測定した前記第１試料の表面温度を基に前記第１試料の表面温度を前記試験温度に制御する
ことを特徴とする促進耐候性試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高分子材料の耐候性を評価する促進耐候性試験方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
屋外で使用される高分子材料の耐候性の評価には、「JIS K5600-7-7」、「JIS K 7350-2」などで規定されているキセノンアークランプ式促進耐候性試験機（以下ＸＷＯＭ）が最も一般的に用いられている。しかし、この装置による試験は、真夏の太陽光に近似した分光放射強度の光を照射し続けるものであり、劣化促進率はあまり高くない。このため、上記装置を用いた長期信頼性評価には、数千時間を要することがあり、評価時間の短縮が求められている。
【０００３】
評価時間短縮のために、より強い光強度の紫外線を照射する装置も存在している（例えば非特許文献１、２）。しかしながら、より強い紫外線を照射する装置を用いると、劣化の状態が、実際の屋外暴露と異なってしまうことがある。また、分光放射分布が太陽光とは異なる装置を用いて耐候性（紫外線耐性）を評価すると、ある装置で材料Ａ＞材料Ｂという結果が得られても、実際の屋外では材料Ａ＜材料Ｂということが起きうるため注意を要することが報告がされている（非特許文献３，４参照）。
【０００４】
促進劣化試験を実施するに際して重要なことは、まず、用いる促進劣化試験装置が、屋外暴露やその他の促進劣化試験装置と比較し、両者の劣化促進率の差異を予備実験により明らかにしておくことにある。また、この予備実験の結果から、必要とされる耐候性を担保するためには、試験時間を何時間にするのが適切なのかを検討することも重要となる。
【０００５】
評価時間短縮のために、より強い紫外線を照射する装置も存在しているが、分光放射強度が太陽光とは異なるために、屋外暴露と比較した場合の劣化促進率が不適切に算出されてしまう事例が多い。特に問題となるのは、次の点にある。光の吸収により試料の温度が上昇し、試料の色によって試料の表面温度が異なる状態となる。黒に近い色ほど高温になる。この、色の違いによる表面温度の異なり具合が、試験装置によって異なることが問題となる。
【０００６】
例えば、ＸＷＯＭにおいては、波長が３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線強度が６０Ｗ／ｍ2となるようにキセノンアークランプを制御し、かつ、ブラックパネルと呼ばれる黒色の板の温度が６３℃となり、装置の試験槽内の温度が３８℃になるように制御して試験を行うのが最も一般的な条件である。ここで、３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線強度が６０Ｗ／ｍ2となる条件は、概ね真夏の南中時における太陽光の紫外線と同程度の紫外線強度である。なお、促進耐候性試験では、一般的に、ブラックパネルもしくはブラックスタンダードと呼ばれる黒色の板（黒板）を用いている。ブラックスタンダードは、厳密にはブラックパネルとやや異なる構造であるが、基本的に同じ機能を有するものであり、以下では、これらを黒板として総称する。
【０００７】
３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線が６０Ｗ／ｍ2の条件でキセノンアークランプの光を照射し、試験槽内が３８℃で無風であると、太陽光に近似しているキセノンアークランプからの照射光には、可視・赤外光も多く含まれるため、光の吸収により黒板は発熱して温度は６３℃以上になる。このため、装置内の風速を制御し、黒板の温度が６３℃になるように調整している。
【０００８】
試料表面の温度は、黒に近い色の試料であれば、光をよく吸収して発熱するので、黒板の表面温度（黒板温度）の６３℃に近い温度になる。一方、白や透明に近い試料であれば、光の吸収による発熱が少ないので、槽内温度の３８℃に近い温度になる。ＸＷＯＭは、太陽光と非常に良く近似した分光放射分布の光を照射するので、真夏の太陽光と同程度になるような光の強度（標準的な設定）を試料に照射すれば、上述した色による試料の温度変化（温度差）も、屋外暴露≒ＸＷＯＭと見なせる。
【０００９】
このため、例えば気温３８℃、３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線が６０Ｗ／ｍ2の環境で、黒板が６３℃になるような風が吹いている屋外環境と、ＸＷＯＭで３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線が６０Ｗ／ｍ2の条件で、試験槽内温度３８℃、黒板温度６３℃と設定した場合では、色による試料温度変化はほぼ同じになる。このことから、暴露での１年間≒ＸＷＯＭでのｘ時間と算出する評価には、問題はない。
【００１０】
しかし、太陽光と分光放射分布が大きく異なる光源を用いた試験装置の場合は、問題が生じる。例えば、紫外線蛍光ランプ式の促進耐候性試験機の場合、太陽光やＸＷＯＭとは異なり、光源は可視・赤外領域の光をほとんど照射しない。このため、黒板温度を同じ６３℃に設定した場合、紫外線蛍光ランプの光照射では黒板の発熱が少ないので、試験槽内の温度を６３℃に近づけることで、黒板温度を６３℃に制御している。この状態では、黒や白といった色による試料の温度変化は、太陽光やＸＷＯＭと比較して非常に小さいものになる。
【００１１】
上述した差異により発生する問題について説明する。「屋外暴露１年≒ＸＷＯＭでのｘ時間≒紫外線蛍光ランプのｙ時間」といった関係を、予備実験を行って算出する場合を考える。この際、黒板温度を揃えて実験を行うと、黒以外の試料の場合、紫外線蛍光ランプ式の装置では、屋外暴露やＸＷＯＭと比較して試料表面の温度が高くなってしまうところに問題がある。
【００１２】
具体的な例を挙げて説明する。例えば、上述した関係式の作成では、短期間で予備実験を行うために、実際に評価する予定の物品の材料から、意図的に顔料や紫外線吸収剤や光安定剤を抜いた紫外線に弱い試料を作製して用いている。この試料を、屋外暴露および各種促進耐候性試験機で劣化させた後、強度やのび、色差、光沢といったパラメータを測定し、「屋外暴露１年≒ＸＷＯＭでのｘ時間≒紫外線蛍光ランプのｙ時間」といった関係式を導く。次に、実際に評価の対象となる材料（顔料・添加剤入り）が屋外で１０年使用に耐えて欲しい物品である場合、予備実験で得た関係式から試験時間を検討し、ＸＷＯＭであれば１０×ｘ時間、紫外線蛍光ランプであれば１０×ｙ時間の試験を行った後に問題がないかどうかを評価するという流れになる。
【００１３】
上述した評価において、意図的に顔料や紫外線吸収剤や光安定剤を抜いた紫外線に弱い試料というのは、透明ないし半透明であることが多い。このため、この試料は、可視・赤外光をあまり吸収せず、発熱が少ない。ここで、仮に真夏の南中時における太陽光、および周辺の風によって黒板パネル温度が６３℃になる環境を模擬して試験をする場合を仮定する。この場合、透明ないし半透明の試料の表面温度は、実際の屋外やＸＷＯＭでは４０℃台となる。これに対し、紫外線蛍光ランプ式装置の場合では、可視・赤外光を照射しない装置であり、試験槽内の温度を上げて黒板を６３℃に制御するので、透明や半透明の試料でも温度は６０℃弱となる。このように、紫外線蛍光ランプ式装置の評価試験では、屋外やＸＷＯＭでの４０℃台とは非常に大きな温度差が生じてしまう。
【００１４】
一方、黒板温度が６３℃であり、実際に評価したい製品の材料（顔料・添加剤入り）が黒色であった場合、試料の表面温度は実際の屋外，ＸＷＯＭ，紫外線蛍光ランプ式装置のいずれにおいても６３℃付近の温度になる。また、実際に評価したい製品の材料が黄色であった場合には、黒板温度が６３℃なら試料の表面温度は、実際の屋外およびＸＷＯＭでは５０℃前後であり、紫外線蛍光ランプ式装置でも黄色の試料は、６０℃弱付近の温度になる。
【００１５】
以上に説明したように、紫外線蛍光ランプ式装置においては、試料の色による温度変化が少ないので、色による温度変化が大きい太陽光やＸＷＯＭとは異なる挙動となってしまう。温度が高いほど高分子の酸化劣化といった化学反応は、速く進行するのが一般的である。このため、透明ないし半透明な試料で作成した「屋外暴露１年≒紫外線蛍光ランプのｙ時間」といった関係式は、着色された実際の製品ではあまり正確ではないという問題がある。
【００１６】
このような問題については、太陽光と分光放射分布が大きく異なる装置であれば、紫外線蛍光ランプ式の促進耐候性試験機以外にも、サンシャインカーボンアークランプ式促進耐候性試験機、紫外線カーボンアークランプ式促進耐候性試験機、メタルハライドランプ式促進耐候性試験機などの他の装置についても同様なことが言える。
【００１７】
また、キセノンアークランプ式促進耐候性試験機においても、一般的にスーパーキセノンウェザーメータと呼ばれる装置は、太陽光と分光放射分布は似ているが、放射強度は、真夏の太陽光の３倍程度となる著しく高い光を照射する。この装置では、黒板温度を６３℃に設定すると、試料の発熱は、通常のキセノンアークランプ式促進耐候性試験機の３倍になる。このため、装置内で送風装置の風速を上げても温度試験槽内を３８℃には保てず、装置メーカと機種にもよるが、温度制御により試験槽内を２０℃から３０℃台前半としている。黒い試料は、黒板温度の６３℃に近いので太陽光やＸＷＯＭの結果と比較するのに問題は少ないが、透明ないし半透明、白色の試料などは試験槽内の温度に近い温度になる。このため、紫外線蛍光ランプの場合とは逆で、実際の屋外暴露やＸＷＯＭと比較してずっと低温になってしまう。
【００１８】
このように、分光放射分布が太陽とよく似たキセノンアークランプを用いた装置であっても、試料に照射される分光放射「強度」が太陽光と異なる場合は、光の吸収による温度変化が太陽光やＸＷＯＭの標準的な試験とは異なる挙動を示してしまう。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１９】
【非特許文献１】飯田眞司、高柳弘道、高柳弘道、「促進耐候性試験法」、塗料の研究、Ｎｏ．１４５、２２〜３７頁、２００６年。
【非特許文献２】飯田眞司、高柳弘道、「促進耐候性試験（その２）」、塗料の研究、Ｎｏ．１４６、２６〜３９、２００６年。
【非特許文献３】三輪貴志、松本守彦、赤毛勇一、渡辺正満、高谷雅昭、「低密度ポリエチレンの各種耐候性試験機による紫外線劣化挙動の比較」、電子情報通信学会ソサイエティ大会２０１２  講演要旨集ＣＤ−ＲＯＭ、２０１２年。
【非特許文献４】三輪貴志、赤毛勇一、渡辺正満、高谷雅昭、「低密度ポリエチレンの各種耐候性試験機による分子量変化挙動の比較」、電子情報通信学会総合大会２０１３  講演要旨集ＣＤ−ＲＯＭ、２０１３年。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２０】
上述したように、より強い光強度の紫外線を照射するなどにより評価時間を短縮しようとすると、着色された高分子材料などでは、耐候性を正確に評価できないなどの問題があった。
【００２１】
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、高分子材料の耐候性がより正確に評価できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明に係る促進耐候性試験方法は、高分子から構成された材料からなる第１試料および標準試料となる黒板に、同一の条件で太陽光またはキセノンアークランプの光を照射し、黒板の表面温度が設定された温度となったときの第１試料の表面温度を測定して試験温度とする第１工程と、上記材料からなる第２試料の表面温度を試験温度に制御した状態で、材料を劣化させる紫外線の強度がキセノンアークランプより高い光源の光を第２試料に照射することで耐候性試験を実施する第２工程とを備える。
【００２３】
上記促進耐候性試験方法において、第２試料は、第１試料であり、第１工程では、第１試料が劣化しない範囲の条件で試験温度を測定するとよい。
【００２４】
また、本発明に係る促進耐候性試験装置は、高分子から構成された材料からなる第１試料および標準試料となる黒板に、同一条件で太陽光またはキセノンアークランプの光を照射しているときの黒板および第１試料の表面温度を測定する温度測定手段と、上記材料からなる第２試料を収容する恒温槽と、温度測定手段に測定される温度が設定された温度となったときの温度測定手段に測定される第１試料の表面温度である試験温度に、恒温槽に収容された第２試料の表面温度を制御する温度制御手段と、恒温槽に収容された第２試料に材料を劣化させる紫外線の強度がキセノンアークランプより高い光を照射する光源と、温度制御手段および光源を制御して第２試料の表面温度を試験温度とした状態で光源による光を第２試料に照射する試験制御手段とを備える。
【００２５】
上記促進耐候性試験装置において、恒温槽に収容されたキセノンアークランプを備え、第２試料は、第１試料であり、温度測定手段は、恒温槽に収容された黒板および第１試料の表面温度を測定し、温度制御手段は、温度測定手段が測定した第１試料の表面温度を基に第１試料の表面温度を試験温度に制御する。
【発明の効果】
【００２６】
以上説明したことにより、本発明によれば、高分子材料の耐候性がより正確に評価できるようになるという優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】図１は、本発明の実施の形態における促進耐候性試験方法を説明するためのフローチャートである。
【図２】図２は、本発明の実施の形態における促進耐候性試験装置の構成を示す構成図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態における促進耐候性試験装置の構成を示す構成図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態における促進耐候性試験装置の構成を示す構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。図１は、本発明の実施の形態における促進耐候性試験方法を説明するためのフローチャートである。
【００２９】
実施の形態における促進耐候性試験方法は、第１工程Ｓ１０１で、次に示すことにより、試験温度を測定（決定）する。まず、対象となる高分子から構成された材料からなる第１試料を用意する。また、標準試料となる黒板を用意する。これら第１試料および黒板に対し、同一の条件で太陽光またはキセノンアークランプの光を照射する。キセノンアークランプは、太陽光に近似した分光放射分布をもつ光源である。この照射を継続した状態で、黒板の表面温度が設定された温度となったときの第１試料の表面温度を測定して試験温度とする。
【００３０】
次に、第２工程Ｓ１０２で、測定された試験温度で耐候性試験を実施する。耐候性試験では、上記材料からなる第２試料の表面温度を試験温度に制御した状態で、材料を劣化させる紫外線の強度がキセノンアークランプより高い光源の光を第２試料に照射する。ここで、第２試料として、第１工程Ｓ１０１で用いた第１試料を用いてもよい。この場合、第１工程Ｓ１０１では、第１試料が劣化しない範囲の条件で試験温度を測定していればよい。
【００３１】
次に、上述した促進耐候性試験方法を実施するための促進耐候性試験装置について図２を用いて説明する。この装置は、温度測定部２０１，キセノンアークランプ２０２，恒温槽２０３，温度制御部２０４，加速試験用光源２０５，試験制御部２０６を備える。
【００３２】
温度測定部２０１は、高分子から構成された材料からなる試料２２１および標準試料となる黒板２２２に、同一条件でキセノンアークランプ２０２の光を照射しているときの黒板２２２および試料２２１の表面温度を測定する。キセノンアークランプ２０２は、３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線が６０Ｗ／ｍ2となる光が照射可能である。また、恒温槽２０３は、温度測定部２０１，キセノンアークランプ２０２，試料２２１，温度制御部２０４，加速試験用光源２０５などを収容する。
【００３３】
温度制御部２０４は、温度測定部２０１に測定される温度が設定された温度となったときの温度測定部２０１に測定される試料２２１の表面温度である試験温度に、試料２２１の表面温度を制御する。
【００３４】
加速試験用光源２０５は、試料２２１を構成する材料を劣化させる紫外線の強度がキセノンアークランプ２０２より高い光を、恒温槽２０３に収容された試料２２１に照射する。
【００３５】
試験制御部２０６は、温度制御部２０４および加速試験用光源２０５を制御することなどにより、試料２２１の表面温度を試験温度とした状態で加速試験用光源２０５による光を試料２２１に照射して耐候性試験を制御する。
【００３６】
また、実施の形態における促進耐候性試験装置は、黒板温度測定部２０７，送風制御部２０８，紫外線放射計２０９を備える。黒板温度測定部２０７は、黒板２２２の温度を測定する。送風制御部２０８は、恒温槽２０３の内部の風を制御する。送風制御部２０８の送風制御により、試料２２１および黒板２２２における、温度の上がりすぎなどを制御する。送風制御部２０８も、温度制御手段と言える。紫外線放射計２０９は、キセノンアークランプ２０２および加速試験用光源２０５より放射される紫外線の強度などを測定する。
【００３７】
次に、上述した装置を用いた促進耐候性試験方法について説明する。以下では、試料２１１として、ポリエチレン（高分子から構成された材料）製品の耐候性を、加速試験用光源２０５として紫外線蛍光ランプを用いて評価しようとする場合について説明する。はじめに、顔料などの添加物を添加していないポリエチレンを試料２２１とする。この場合、試料２２１は、紫外線の照射により短時間で劣化する。また、試料２２１は、半透明である。
【００３８】
まず、図３に示すように、第１工程で、キセノンアークランプ２０２から試料２２１および黒板２２２に対して光を照射し、両者の温度を上昇させる。照射する光は、３００〜４００ｎｍの範囲の紫外線が６０Ｗ／ｍ2となる条件とする。紫外線の強度は、紫外線放射計２０９の測定結果により制御すればよい。また、黒板２２２の温度は、６３℃とし、恒温槽２０３内部の温度は３８℃とする。これらは、キセノンアークランプ式促進耐候性試験機で一般的に用いられる条件である。
【００３９】
上述した条件は変更しても良いが、真夏の南中時における太陽光の照射状態を良く模擬しているので、基本的には上記条件が好適である。なお、真夏の気温や太陽光の紫外線強度がより低い、極地に近いエリアを想定して試験を行うのであれば、紫外線強度，黒板２２２の温度，および恒温槽２０３内の温度の設定を下げても良い。一方、紫外線強度や気温がより高い地域を想定するのであれば、紫外線強度，黒板２２２の温度，恒温槽２０３内部の温度の設定を下げても良い。
【００４０】
第１工程において、半透明の試料２２１は、照射される可視・赤外光をあまり吸収しない。このため、黒板２２２の温度が６３℃に到達したとき、放射温度計などによる温度測定部２０１で測定される試料２２１の表面温度は、例えば４３℃である。このように測定された４３℃を試験温度とする。なお、第１工程は、各種温度が安定するまでのごく短時間で終了するため、試料２２１の劣化にはほとんど寄与しない。
【００４１】
次に、図４に示すように、第２工程では、試験制御部２０６の制御により、加速試験用光源２０５の光を試料２２１に照射して促進耐候性試験を実施する。この試験の実施では、試験制御部２０６の制御により、温度測定部２０１で試料２２１の表面温度を監視しながら恒温槽２０３内の温度を温度制御部２０４により制御し、また、送風制御部２０８により風速を制御し、試料２２１表面温度が試験温度である４３℃となるよう保った状態とする。このようにして実施した促進耐候試験後の試料２２１を、屋外暴露やＸＷＯＭで劣化させた同材料の試料と比較し、「屋外暴露１年≒ＸＷＯＭでのｘ時間≒紫外線蛍光ランプのｙ時間」といった関係式を導く。
【００４２】
ここで、従来の黒板温度を揃える方法では、例えば黒板温度を６３℃に設定した場合、半透明の試料温度は、前述したように、キセノンランプ照射時では、例えば４３℃と低い状態である。これに対し、紫外線蛍光ランプ照射による促進耐候性試験を実施するとき、黒板温度と同じ高温（例えば６０℃付近）にしてしまうので、実際の状態より劣化が早くなり、関係式が大幅に不正確になってしまうのが分かる。
【００４３】
次に、顔料などの添加剤が添加されたポリエチレンからなる実際の製品と同様の材料を試料２２１とした場合について説明する。試験時間は、上述したように求めた関係式より得られる「ｙ」を用い、１０×ｙ時間か、余裕を見てそれ以上とする。ここで、実際の製品の色が青の場合、第１工程でキセノンアークランプ２０２から照射される可視・赤外光を、試料２２１はある程度吸収する。従って、この例では、黒板２２２の温度６３℃のとき、温度測定部２０１で測定される試料２２１表面温度は、例えば５２℃となる。従って、この場合、試験温度を５２℃とする。
【００４４】
次の第２工程では、温度測定部２０１で試料２２１表面温度を監視しながら恒温槽２０３内の温度および風速を制御し、試料２２１の表面温度を試験温度の５２℃に保った状態とする。この状態で、加速試験用光源２０５の光を試料２２１に照射して促進耐候性試験を実施する。
【００４５】
従来の黒板の表面温度制御のみによる方法では、太陽光と分光放射強度の違う光源を用いた場合、黒以外の試料を対象とする試験する際の試料温度が、実際の屋外やＸＷＯＭと比較して高くなりすぎたり、低くなりすぎたりすることが発生する。これに対し、実施の形態によれば、試料の表面温度を、実際の屋外（真夏の南中時）やＸＷＯＭとほぼ同じ温度の状態で、促進耐候性試験が実施できる。このため、「屋外暴露１年≒ＸＷＯＭでのｘ時間≒紫外線蛍光ランプのｙ時間」といった関係式が、色の違う試料でも比較的正確に成立する。
【００４６】
本発明は、試料に照射される分光放射「強度」が、太陽光と異なる促進耐候試験装置であればランプの種類を問わず利用可能である。太陽光と非常によく似た分光放射分布をもつが３倍程度強い光をもつスーパーキセノンウェザメータを用いた場合でも、本発明は利用できる。スーパーキセノンウェザメータでは、黒板の光による発熱が大きいので、黒板の温度制御には、恒温槽内をかなり低温に冷やして黒板の温度を６３℃に保っている。このため、白や透明に近いあまり発熱しない試料の試験では、試料の表面温度が下がりすぎるという問題があった。
【００４７】
しかしながら、スーパーキセノンウェザメータにおいても、出力を低下させ、一般的なキセノンアークランプ式促進耐候性試験機と同様な６０Ｗ／ｍ2の紫外線を含む光を照射し、黒板温度が６３℃、恒温槽内温度が３８℃になったときの、試料表面温度を測定して試験温度を決定すればよい。このように決定した試験温度に試料の表面温度を制御した状態で、１８０Ｗ／ｍ2の紫外線を含む光を照射して促進耐候性試験を実施すればよい。
【００４８】
本発明により、太陽光とは大きく異なる分光放射強度の光を照射する促進耐候性試験装置において、実際に使用する製品材料と異なる色の試料を用いても、試料表面の温度を太陽光に近似した分光放射強度をもつＸＷＯＭと同じ温度に制御できるようにすることで、適切な劣化促進率を算出することができる。このように、本発明によれば、高分子材料の耐候性がより正確に評価できるようになる。
【００４９】
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。例えば、上述では、同一の装置で、第１工程および第２工程を実施するようにしたが、これに限るものではない。第１工程と第２工程とを、異なる装置で実施してもよい。また、第１工程を実施する装置では、キセノンアークランプではなく、太陽光を黒板および試料に照射できる装置構成としてもよい。また、第１工程は、恒温槽はなくても実施可能である。
【符号の説明】
【００５０】
２０１…温度測定部、２０２…キセノンアークランプ、２０３…恒温槽、２０４…温度制御部、２０５…加速試験用光源、２０６…試験制御部、２０７…黒板温度測定部、２０８…送風制御部、２０９…紫外線放射計、２２１…試料、２２２…黒板。
【図１】
0005986059.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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