(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線光源であって：
カソードと；
アノードと；
少なくとも一つのＸ線センサーと；を含み
前記カソードは、前記アノードに向かって電子を放出し；前記アノードは、前記電子が衝突して、Ｘ線放射を生成するターゲット領域を含み；
前記Ｘ線放射からＸ線ビームの放出を形成するための穴を備えたＸ線バリアを含み；
前記Ｘ線ビームの放出は、中心軸を伴なうビーム形態を有し；
前記ビーム形態の放出は、前記Ｘ線光源の構成に対する最大の検査領域であるとして視認され；
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記ビーム形態の中に配置され；
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記中心軸に関してＸ線放出の特定の方向における比較的に小さな角度のセグメントに対する前記Ｘ線の輝度を測定し；かつ、
少なくとも２つのセンサーが備えられ、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームの束における放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームのヒール部分における前記放射線量の輝度を測定する、
ことを特徴とするＸ線光源。
【請求項２】
前記Ｘ線光源は、
開口を備えた絞りを備え、
前記開口は、実際の検査領域を定め；かつ、
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記実際の検査領域の外側に配置されている、
請求項１に記載のＸ線光源。
【請求項３】
前記アノードと前記カソードは、真空チューブの内側に配置され、
前記真空チューブは、前記Ｘ線バリアにおける前記穴としてのＸ線窓を含む、
請求項１または２に記載のＸ線光源。
【請求項４】
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記Ｘ線窓の外側に配置されている、
請求項３に記載のＸ線光源。
【請求項５】
前記アノードは、回転アノードであり；かつ
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記中心軸に関して、前記アノード側に向かって配置されている、
請求項１乃至４いずれか一項に記載のＸ線光源。
【請求項６】
前記アノードは、回転アノードであり；かつ
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記中心軸に関して、前記カソード側に向かって配置されている、
請求項１乃至５いずれか一項に記載のＸ線光源。
【請求項７】
マルチピクセルの放射線量センサーが備えられる、
請求項１乃至６いずれか一項に記載のＸ線光源。
【請求項８】
Ｘ線画像システムであって：
Ｘ線光源と；
検出器と；
処理装置と；を含み
前記Ｘ線光源は、少なくとも一つのＸ線センサーを含む、請求項１乃至７いずれか一項に記載のＸ線光源として備えられ；前記Ｘ線光源は、中心軸を伴なうビーム形態を有するＸ線ビームを放出するように適合されており；
前記少なくとも一つのＸ線センサーは、前記中心軸に関してＸ線放出の特定の方向に対するＸ線の輝度を測定するように適合されており、
前記処理装置は、前記測定されたデータを、保存されたデータと比較して前記測定されたデータを分析するように；かつ、前記分析に基づいて放射線量劣化の値を判断するように適合されており；かつ、
前記検出器は、興味の対象の画像情報を記録するように適合されている、
ことを特徴とするＸ線画像システム。
【請求項９】
Ｘ線チューブのＸ線放射収率における変化を判断する方法であって：
ａ）Ｘ線光源を用いてＸ線ビームを放出するステップであり；前記Ｘ線光源は、Ｘ線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含み；前記Ｘ線ビームは中心軸の中にビーム形態を有する；ステップと、
ｂ）少なくとも一つのＸ線センサーを用いて前記中心軸に関して特定方向のＸ線放出に対するＸ線輝度を測定するステップであり；前記Ｘ線センサーは、前記Ｘ線ビームのビーム形態の中に配置されている；ステップと、
ｃ）前記測定されたデータを保管されたデータと比較し、前記測定されたデータを分析するステップと；
ｄ）ステップｃ）に係る前記分析に基づいて、放射線量の劣化を判断するステップと、
を含み、
少なくとも２つのセンサーが使用され；
前記ステップｂ）においては、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームの束における前記放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームのヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し；
前記ステップｃ）においては、前記２つの輝度の差異が比較され、前記分析のためにデータが保管される、
ことを特徴とする方法。
【請求項１０】
前記ステップｄ）の後に、さらなるＸ線生成のために、前記劣化の値に基づいて前記Ｘ線光源の新たな設定を算出するステップｅ）；および、前記Ｘ線光源の収率ファクターを更新するステップｇ）を備える、
請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記ステップｇ）の前に、前記Ｘ線光源の前記新たな設定を既定の値と比較するステップｆ）を備え；既定の閾値を超える場合には、さらなるサービス測定が実行される、
請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイが備えられ、前記中心軸に関して少なくとも２つの方向に対する輝度が測定されるように配置され；
前記ステップｂ）においては、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、前記ビームの束における前記放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、前記ビームの前記ヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し；
前記ステップｃ）においては、前記２つの輝度の差異が比較され、前記分析のためにデータが保管される、
請求項９乃至１１いずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
請求項１乃至８いずれか一項に記載の装置をコントロールするためのコンピュータープログラムであり、処理装置によって実行される場合に、請求項９乃至１２いずれか一項に記載の方法を実施するように適合されたコンピュータープログラム。
【請求項１４】
請求項１３に記載のコンピュータープログラムが保管されたコンピューターで読取り可能な媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線チューブのＸ線放出収率における変化を判断することに関し、特定的には、放射線量の劣化に関する。本発明は、特に、Ｘ線光源、Ｘ線画像システム、Ｘ線光源のＸ線放出収率における変化を判断する方法、コンピュータープログラム、そしてコンピューターで読取り可能な媒体、に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線光源においては、例えばＸ線チューブ、キロボルト単位のエネルギーを持った電子が、アノードの焦点軌道、例えば回転アノード、の上に衝突し、Ｘ線放射を生じる。このことは、中でもアノード表面の変形を招く。米国特許出願公開第２００９／００６７５７８Ａ１号明細書では、スリット（ｓｌｉｔ）を有する構造と供に回転可能なアノードが記載されている。例えば、アノ−ド上の構造が焦点を通過する場合に、その構造は検知され得る。このように、焦点の特性は、Ｘ線チューブの動作の最中の検知信号の変化から判断され得る。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】米国特許出願公開第２００９／００６７５７８Ａ１号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
Ｘ線チューブの収率が劣化した場合に、システムの制限により、Ｘ線光源から放出されるＸ線放射線量があまりに低くなってしまうことが知られてきた。さらに、サービス人員によって実行される較正工程が、経済的に不利益であり、長期の計画的な工程が必要とされることが示されている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
このように、正しい放射線量のアプリケーションの提供には、Ｘ線光源のＸ線放出収率における変化の判断を提供することが必要である。
【０００６】
本発明の目的は、独立請求項に記載の技術事項によって解決される。さらなる実施例は、従属請求項に組み入れられている。
【０００７】
以降に記述される本発明の態様は、Ｘ線放出収率光源、Ｘ線画像システム、方法、プログラム、そしてコンピューターで読取り可能な媒体、にも適用されることに留意すべきである。
【０００８】
本発明の典型的な実施例に従えば、カソード、アノード、そして、少なくとも一つのＸ線センサーを含むＸ線光源が提供される。カソードは、アノードに向けて電子を放出する。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域を含んでおり、それによってＸ線放射を生成している。Ｘ線放射から放出するＸ線ビームを形成するための穴を備えたＸ線バリアが備えられる。Ｘ線ビームの放出は、中心軸を伴なうビーム形態を有している。ビーム形態の放出は、Ｘ線光源の構成に対する最大の検査領域であるとして視認される。少なくとも一つのＸ線センサーが、ビーム形態の中に配置される。少なくとも一つのＸ線センサーは、中心軸に関してＸ線放出の特定の方向における比較的に小さな角度のセグメントに対するＸ線の輝度を測定する。
【０００９】
こうしたＸ線光源により、Ｘ線放出収率における変化を判断することができる。Ｘ線センサーは、Ｘ線ビームのＸ線輝度が測定できるように配置されているからである。
【００１０】
本発明の別の典型的な実施例に従えば、開口を備えた絞りが提供される。開口は、実際の検査領域を定め、少なくとも一つのＸ線センサーは、実際の検査領域の外側に配置されている。
【００１１】
本発明の別の典型的な実施例に従えば、アノードとカソードは、真空チューブの内側に配置され、真空チューブは、Ｘ線バリアにおける穴としてのＸ線窓を含んでいる。少なくとも一つのＸ線センサーは、真空チューブの外側に配置されている。
【００１２】
例えば、少なくとも一つのＸ線センサーは、Ｘ線窓の外側に配置されている。
【００１３】
本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、Ｘ線画像システムは、Ｘ線光源と、検出器と、処理装置とを含んでいる。Ｘ線光源は、少なくとも一つのＸ線センサーを含む、上述の典型的な実施例の一つに従ったＸ線光源として備えられる。Ｘ線光源は、中心軸を伴なうビーム形態を有するＸ線ビームを放出するように適合されている。少なくとも一つのＸ線センサーは、中心軸に関してＸ線放出の特定の方向に対するＸ線の輝度を測定するように適合されている。処理装置は、測定されたデータを保管されたデータと比較するように、かつ、分析に基づいて放射線量劣化の値を判断するように適合されている。検出器は、興味の対象の画像情報を記録するように適合されている。
【００１４】
さらなる典型的な実施例に従えば、Ｘ線チューブのＸ線放射収率における変化を判断する方法が提供される。方法は、以下のステップを含んでいる。
ａ）Ｘ線光源を用いてＸ線ビームを放出するステップであり、Ｘ線光源は、Ｘ線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含み、Ｘ線ビームは中心軸の中にビーム形態を有している。
ｂ）少なくとも一つのＸ線センサーを用いて中心軸に関して特定方向のＸ線放出に対するＸ線輝度を測定するステップであり、Ｘ線センサーは、Ｘ線ビームのビーム形態の中に配置されている。
ｃ）測定されたデータを保管されたデータと比較し、測定されたデータを分析するステップである。
ｄ）ステップｃ）に係る分析に基づいて、放射線量の劣化を判断するステップである。
例えば、測定されたデータは、保管されたデータとの比較のため、そして測定されたデータの分析のために放射線量率の出力に変換される。例えば、チューブ電圧に平均チューブ電流を掛けることにより算出された電力入力が考慮される。
【００１５】
さらなる典型的な実施例に従えば、ステップｄ）の後に、さらなるＸ線生成のために、劣化の値に基づいてＸ線光源の新たな設定を算出するステップｅ）が備えられる。さらに、Ｘ線光源の収率ファクターを更新するステップｇ）を備える。
【００１６】
Ｘ線放出収率の変化に関して正確な情報を提供するために、ビーム形態の内側に配置されたセンサーを用いて、特定の放射角度に対するＸ線の輝度を測定することが、本発明の要旨であると理解することができる。すなわち、例として、放射線量の劣化に関する情報を提供することである。センサーは、実際の視野が影響されないように配置されている。
【００１７】
本発明のこのような、そして他の態様は、以降に記述される実施例を参照することで明らかになり、説明される。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
本発明の典型的な実施例が、以降の図において説明される。
【図１】図１は、本発明の典型的な実施例に従ったＸ線画像システムを示している。
【図２】図２は、本発明の典型的な実施例に従ったＸ線光源の断面図を示している。
【図２ａ】図２ａは、焦点の上のＸ線輝度分布の断面図を示している。
【図３】図３は、本発明のさらなる典型的な実施例に従ったＸ線光源の断面図を示している。
【図４】図４は、さらなる典型的な実施例に従ったＸ線光源の断面図を示している。
【図５】図５は、典型的な実施例に従ったＸ線生成の態様を示している。
【図６】図６は、典型的な実施例に従ったＸ線生成のさらなる態様を示している。
【図７】図７は、本発明に従ったＸ線減衰のシミュレーションを示すグラフである。
【図８】図８は、本発明に従ったセンサー構成の典型的な実施例を示している。
【図９】図９は、センサー構成のさらなる典型的な実施例を示している。
【図１０】図１０は、センサー構成のさらなる典型的な実施例を示している。
【図１１】図１１は、センサー構成のさらなる典型的な実施例を示している。
【図１２】図１２は、本発明の典型的な実施例に従った方法に係る基本的なステップを示している。
【図１３】図１３は、本発明に従った方法に係るさらなる典型的な実施例を示している。
【図１４】図１４は、本発明に従った方法に係るさらなる典型的な実施例を示している。
【図１５】図１５は、本発明に従った方法に係るさらなる典型的な実施例を示している。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１は、Ｘ線光源１１０、検知器１１２、そして処理装置１１４を伴なうＸ線画像システム１００を示している。Ｘ線光源１１０と検知器１１２は、Ｃ型アーム１１６の相対する端に配置されている。Ｃ型アーム１１６は、Ｃ型アームサポート１１８によって回転可能に支持されており、Ｃ型アームサポート１１８は、回転可能なサポートアーム１２２によって天井１２０から吊るされている。回転可能なサポートアームは、天井マウント１２４によって、天井１２０に対して回転可能に取付けられている。Ｃ型アーム１１６は、参照番号１２６で示すように、水平方向軸の周りに回転可能である。さらに、Ｃ型アームは、Ｃ型アームサポート１１８のスライドサポートデバイス１２８において、曲線のような方式でスライド可能に移動できる。サポートアーム１２２は、参照番号１３０で示すように、鉛直方向軸の周りに回転可能である。このように、検知器１１２とＸ線光源１１０は、検査される対象者１３８に関して数多くの位置に配置され得る。さらに、テーブル１３２の形態で対象者サポートデバイスが備えられる。テーブルは、それぞれ調整可能なテーブルスタンド１３４によって上下方向に上げたり、下げたりすることで鉛直方向に位置決めされる。さらに、テーブル１３２は、両端矢印１３６で示すように、水平方向に移動できる。このように、対象者１３８は、テーブル１３２の上に位置決めされ、Ｘ線光源１１０と検知器１１２との間に位置するように配置される。
【００２０】
Ｘ線光源は、カソード、アノード、そして、少なくとも一つのＸ線センサーを含んでいる。カソードは、アノードに向けて電子を放出する。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域を含んでおり、それによってＸ線放射を生成している（以降にさらに記載される）。さらに、Ｘ線放射から放出するＸ線ビームを形成するための穴を備えたＸ線バリアが備えられる。
【００２１】
処理装置１１４は、模式的にのみ示されていることに留意すべきである。もちろん、処理装置はあらゆる好適な場所に配置され得る。例えば、病院の検査研究室の中である。
【００２２】
図２などに関して記載されるように、Ｘ線光源は、中心軸を持ったビーム形態を有するＸ線ビーム（さらに詳しくは示されないが）を放射するように適合されている。
【００２３】
さらに、Ｘ線光源１１０は、少なくとも一つのＸ線センサー１４０（さらに詳しくは示されない）を含んでおり、Ｘ線放射に係る特定の方向と中心軸との間の角度に対するＸ線輝度を測定するように適合されている。Ｘ線センサーは、さらに、ビーム形態の中に配置される。
【００２４】
処理装置１１４は、測定されたデータを解析するために、測定されたデータと保管されたデータとを比較するように適合されている。処理装置１１４は、さらに、解析に基づいて、放射線量の劣化に係る値を決定するように適合されている。
【００２５】
さらに、検出器１１２は、興味の対象者に係る画像情報を記録するように適合されている。
【００２６】
処理装置１１４は、少なくとも一つのＸ線センサー１４０、Ｘ線光源１１０とＸ線検出器１１２をコントロールしているＸ線生成器（図示なし）に接続されていることに留意すべきである。例えば、有線のケーブル接続または無線接続によるものである。しかしながら、これらの接続について、さらには示されない。
【００２７】
Ｘ線光源１１０は、図２に関して以下に説明される。
【００２８】
図２において、Ｘ線光源１０は、カソード１２、アノード１４、そして少なくとも一つのＸ線センサー１６を含むものとして示されている。
【００２９】
カソードは、アノードに向かって電子を放出する。電子は、破線１８を使って模式的に示されている。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域２０を含んでおり、数多くのライン２２で示されるように、Ｘ線放射を生成している。Ｘ線放射は、ランダムな方向において放出されており、図２ａに示すように、焦点軌道の表面上位に肝臓形の輝度分布３５を生じる。分布は、焦点軌道の表面に関して、より大きい角度においては等方性であるが、「ヒール（“ｈｅｅｌ”）」においては、小さい角度で急激に減少する。これは、「ヒール効果」と呼ばれるものである。
【００３０】
さらに、Ｘ線バリア２４は、２８ａと２８ｂでアウトラインが模式的に示されているように、放射するＸ線ビーム２８を形成するための穴２６を備えている。Ｘ線ビーム２８は、Ｘ線放射２２から形成されている。
【００３１】
放射するＸ線ビーム２８は、ターゲット領域の中心と穴２６の中心を通って延びる中心軸３２を伴なうビーム形態３０を有している。穴２６の構成に応じて、ビーム形態３０は、さらに、アノード１４の陰によって制限され得る。
【００３２】
実際のビームはＸ線放射が穴２６を通過するときに形成されるのだが、ビーム形態は、また、穴２６の前面の領域にも到達する。例えば、穴を通過する前の領域である。ビーム形態３０は、ターゲット領域２６から始まり、穴を通じて到達するＸ線放射ラインによって定まるからである。
【００３３】
本発明に従って、少なくとも一つのＸ線センサー１６が、ビーム形態３０の中に配置される。
【００３４】
少なくとも一つのセンサー１６は、特定のＸ線放射の方向と中心軸３２との間で、参照番号３４で示される、角度αに対するＸ線輝度を測定する。
【００３５】
本発明のさらなる実施例に従えば、穴２６は、Ｘ線ビームの断面を形成するために配置される。
【００３６】
例えば、穴２６は円形であり、ビーム形態３０が、図２における断面図に示されるように、円錐形状であるように構成されている。
【００３７】
本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、穴はスロット（ｓｌｏｔ）であり、ビーム形態がファン（ｆａｎ）形状になるよう配置されている（さらに詳しくは示されない）。
【００３８】
本発明のさらなる態様に従えば、Ｘ線バリアは、Ｘ線を通さない。
【００３９】
さらなる態様に従えば、Ｘ線バリアは、Ｘ線を吸収する。
【００４０】
本発明のさらなる態様に従えば、ビーム形態３０は、図示のように構成されたＸ線光源に対する最大の検査領域である。
【００４１】
さらなる態様に従えば、中心軸３２は、焦点とも呼ばれるターゲット領域の中心を通って延びている。
【００４２】
別の態様に従えば、焦点はターゲット領域上の特定の領域であり、その上に電子が衝突する。
【００４３】
さらなる態様に従えば、焦点軌道の表面に関して低い角度における放射と、高い角度における放射との間の輝度における違いは、異なる角度に配置された２つのＸ線センサー１６、または複数のピクセルセンサー（図示なし）を用いて測定可能である。
【００４４】
図３に関して、さらなる典型的な実施例に従えば、開口３８を有する絞り３６が提供される。開口は、実際の検査領域４０を定め、例えば、所望の検知サイズだけをカバーするようにビーム形態を制限する。少なくとも一つのＸ線センサー１６は、実際の検査領域４０の外側に配置される。（所望の検知サイズの制限の外側に放射することが法的に許されないのは、明らかな理由によるものである。）
【００４５】
実際の検査領域４０は、検出器によって検出された領域によって決定される。実際の検査領域４０は、最大の検査領域３０と同じ大きさであり得るが、実際には、これよりも小さいものである。
【００４６】
さらなる態様に従えば、実際の検査領域４０は、Ｘ線ビームによってカバーされるように配置されており、少なくとも一つのＸ線センサーは、実際の検査領域４０の外側に配置される。
【００４７】
本発明のさらなる態様に従えば、検査領域は、また、視野としても参照される。しかしながら、この領域はユーザーによって実際に見ることはできない。しかし、Ｘ線放射でカバーされているだけであり、可視化できる。しかしながら、開口３８を通過するＸ線放射が、検出器によって検出可能な情報を提供し、さらに可視的なＸ線画像を生成するので、視野という用語も適用される。
【００４８】
さらなる態様に従えば、絞り３６は、一つまたはそれ以上のシャッターを含んでいる。
【００４９】
さらなる態様に従えば、絞り３６は、一つまたはそれ以上のくさびを含んでいる。
【００５０】
さらなる態様に従えば、開口３８は、サブビーム形態を有するＸ線サブビームを放射する検査領域を形成するために備えられている。
【００５１】
さらなる態様に従えば、サブビーム形態は、ビーム形態３０の一部である（さらに詳しくは示されない）。
【００５２】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサーは、ビーム形態３０の中に配置される。
【００５３】
例えば、開口３８はＸ線を透過する。
【００５４】
さらなる態様に従えば、開口３８は、開口端４４によって囲まれている。
【００５５】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、Ｘ線窓２６と絞り３６との間に配置される。
【００５６】
さらなる態様に従えば、センサーは、開口端４４と隣り合った絞りの上に取付けられる。
【００５７】
さらなる態様に従えば、実際の検査領域４０は、絞り３６によってＸ線ビームからの照準が正しく合わされている
【００５８】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、絞りの開口部の外側に配置されている。これは、図３において、参照番号４６で、破線の正方形として示されている。
【００５９】
さらなる態様に従えば、絞りにおいては、Ｘ線ビームの断面が、絞り３６の開口３８よりも大きくなっている。
【００６０】
さらなる態様に従えば、開口部は長方形であり、少なくとも一つのＸ線センサーが円形のＸ線ビーム形態の中であって、開口の外側に配置されている（さらなる説明は、図８から図１１を参照のこと）。
【００６１】
本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、図４に示すように、アノードとカソードはチューブ４８の内側に配置されており、チューブは、Ｘ線バリア２４における穴としてのＸ線窓５０を含んでいる。少なくとも一つのＸ線センサーは、チューブの外側に配置されている。
【００６２】
さらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのＸ線センサーは、チューブの内側に配置されている（さらに詳しくは示されない）。
【００６３】
本発明のさらなる態様に従えば、チューブ４８は、Ｘ線放射を生成するための真空を備える容器、例えば真空管、である。
【００６４】
さらなる態様に従えば、Ｘ線窓５０は、円錐形状のエマージング（ｅｍｅｒｇｉｎｇ）Ｘ線ビームが、チューブ４８から外に出るように配置されている。
【００６５】
例えば、Ｘ線窓５０は、円形である。
【００６６】
例えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、円錐形状のエマージングＸ線ビームの中に配置されている。エマージングＸ線ビームは、円錐形状の破線の外形５２で示されている。
【００６７】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、単一ピクセル（ｐｉｘｅｌ）センサーとして備えられている。
【００６８】
図４に示すように、さらなる典型的な実施例に従えば、複数の単一ピクセルセンサーは、Ｘ線チューブによって発せられたＸ線フィールドの中のいくつかの位置に配置されている。
【００６９】
本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのＸ線センサーは、Ｘ線窓５０の外側に配置される（さらに詳しくは示されない）。
【００７０】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、Ｘ線窓５０の表面に取付けられている。
【００７１】
図４にも示されているように、さらなる態様に従えば、アノードは回転アノード５４であり、少なくとも一つのＸ線センサーは、中心軸に関してアノード側に向かって配置されている。図４を見ればわかるように、カソード側とは、中心軸３２のカソード１２に対面する側である。参照をより易しくするために、カソード側はＳＣで示され、アノード側はＳＡで示されている。例えば、アノード側は中心軸３２の他方の側であり、例えば、アノード５４に対面する側である。
【００７２】
本発明のさらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、参照番号１６ａで示されているが、アノード側に向かって配置されており、ヒール効果（ｈｅｅｌ−ｅｆｆｅｃｔ）センサーである。
【００７３】
本発明のさらなる態様に従えば、少なくとも一つのＸ線センサーは、中心軸３２に関してカソード側ＳＣに配置されている。
【００７４】
例えば、カソード側ＳＣに向かう少なくとも一つのＸ線センサー１６は、参照番号１６ｃで示される一般的な放射線量センサーである。
【００７５】
さらなる態様に従えば、中心軸３２は、アノードの回転軸に対して垂直であり、回転軸は一点鎖線５６で示されている。
【００７６】
さらなる態様に従えば、少なくとも２つのセンサーが備えられる、一つは、中心軸のアノード側ＳＡに配置され、他方は、中心軸のカソード側ＳＣに配置されている。
【００７７】
さらなる態様に従えば、アノード側のセンサーは、検査領域の側面側に配置されている（さらには図８から図１１を参照にこと）。
【００７８】
さらなる態様に従えば、カソード側のセンサーは、検査領域のカソード側に向かって、またはカソード側に配置されている（さらには図８から図１１を参照にこと）。
【００７９】
本発明のさらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサー５８が備えられており、図９から図１１を参照して説明される。以降には、Ｘ線放射生成の例が、詳細に説明される。医療用画像において一般的に使用されているＸ線光源の一つは、回転アノードＸ線チューブである。Ｘ線は、Ｘ線ターゲットに衝突するキロボルト単位のエネルギーをもった電子によって生成される。ほとんどの場合、ターゲットは、タングステンとレニウムの合金であるか、モリブデンである。回転アノードを伴なうチューブにおいて、Ｘ線ターゲットは、ディスク上の環状のタングステン／レニウム（Ｗ／Ｒｅ）層か、モリブデン（Ｍｏ）層のそれぞれである。画像アプリケーションでは、アノードは、焦点軌道の直径において、典型的には７度から１２度の範囲の角度で傾斜している。
【００８０】
アノードの回転軸に対して多かれ少なかれ垂直な軸の周りのビームの中に放出されたＸ線だけが、画像アプリケーションのために使用される。回転に対して多かれ少なかれ垂直な軸は、また、中心軸としても参照される。こうした構成において、電子は、ライン（ｌｉｎｅ）焦点の焦点軌道の上にガイドされ、これにより熱的負荷を低減している。
【００８１】
中心軸から、傾斜したアノードを眺めると、ライン線状焦点は、スポットのような形状に見える。この投影においては、集束電子のライン（ｌｉｎｅ）が、幾何学的に約１０倍で収縮するからである。
【００８２】
Ｘ線チューブでは、Ｘ線ターゲット自身における本来的なＸ線のフィルターが生じる。例えば、キロ電子ボルト単位のエネルギーにおいて、電子は、数ミクロンまでターゲットの中に貫通し、全てのエネルギーが熱またはＸ線フォトン（ｐｈｏｔｏｎ）に変換される。結果として、ターゲットの中でＸ線の断片が生成される。例えば、Ｘ線は、チューブの出口窓に到達するまでに焦点軌道のバルク（ｂｕｌｋ）を横切る必要がある。ターゲットの中から生じるこうしたＸ線は、ターゲットに向かう途中で吸収されてしまうことがある。
【００８３】
吸収の確率は、バルク材料中の通路の長さに依存する。Ｘ線の移動通路が長いほど、より吸収され易い。
【００８４】
傾斜したアノードに係る特定の形状のため、本来的なフィルターは、Ｘ線放射の放出方向に依存する。中心視界軸をアノード表面に向かって移動させると、本来的なフィルターは強くなる。効果は幾何学的にもたらされるからである。軸から外れた角度がアノードの傾斜角と等しい場合には、Ｘ線収率におけるカットオフ（ｃｕｔ−ｏｆｆ）がある。この位置は、回転アノードの陰の中にあるからである。このように、角度依存のＸ線収率が存在し、画像のようなアプリケーションにおいて説明される必要がある。
【００８５】
回転アノード上の焦点軌道は、熱的、機械的なストレスによる劣化の対象となり、「アノード荒れ（“ａｎｏｄｅ  ｒｏｕｇｈｅｎｉｎｇ”）」と呼ばれる焦点軌道の構造的な変化を引き起こす。一般的な現象は、クラック（ｃｒａｃｋ）の形成であり、チューブのＸ線収率の劣化を生じる。クラック形成によるＸ線出力の減少は、クラックに入っていく電子は、アノードのバルクのより深くにＸ線を生成するという事実によるものである。例えば、図５において、電子が衝突するアノード２１２の一部が示されており、破線２１４と２１６で示されている。さらに、矢印２１８と２２０で示されるように、Ｘ線フォトンが生成される。しかしながら、電子２１４は、アノード２１２におけるクラック形態２２２に衝突している。従って、Ｘ線放射の矢印２１８は、このように、アノードの表面に到達するまでアノード２１２の材料領域の中を通過しなければならない。これと反対に、電子２１６によって生成されたＸ線フォトン２２０は、アノード材料の表面近くで生成されている。従って、このフォトンは、表面に到達するまでには、非常に小さな距離を移動するだけで済む。
【００８６】
焦点軌道におけるクラックの数量と深さを増加させると、これは回転アノードの典型的な経年変化であるが、チューブの全Ｘ線出力は減少し、発するＸ線スペクトラムの変化を伴なう。
【００８７】
第２の効果は、アノード材料の微小なパーティクルがアノード表面から排出され、穴２６の内側を含んでチューブの内側にあるパーツを覆い、Ｘ線透過性を減じることである。
【００８８】
Ｘ線チューブが動作している最中、その効率は、アノード荒れと窓の被覆物によって悪化する。チューブ収率の劣化を意味するものである。
【００８９】
インターベンショナルラジオグラフィー（ｉｎｔｅｒｖｅｎｔｉｏｎａｌ  ｒａｄｉｏｇｒａｇｈｙ）コンプライアンスにとっては、ＦＤＡに係る入り口放射線量ＥＤＬ制限を伴う例として、課された放射線量制限より下にとどまるためには、入力パラメーターとしてチューブ収率を利用して、適用される放射線量を見積もることが不可欠である。チューブの収率が低下した場合は、システムは自らを、あまりにも低い放射線量に制限することがある。削減された放射線量は、画像の品質低下を招く。
【００９０】
本発明の典型的な実施例に従えば、既に述べたように、Ｘ線チューブは、異なる角度位置において放射線量の低下を判断する一つまたはそれ以上のＸ線センサー１６を備えている。このように、Ｘ線センサーは、また、ヒール効果に対しても敏感である。
【００９１】
例えば、異なる位置において相対的放射線量が測定されるので、従って、絶対的放射線量に対しては感度が低い。
【００９２】
相対的放射線量に依存することのさらなる有利な点は、露光時間の独立性である。絶対的放射線量測定においては、特に蛍光透視装置で使用されるようなパルスモードのチューブオペレーションに対して問題を生じ得るものである。
【００９３】
結果として、放射線量の低下は、通常オペレーションの最中にモニターすることができ、特定の較正を行うことは不要になった。
【００９４】
以降では、図６に関して、上述されたアノードエイジ（ａｇｅ）センサーの感度について説明する。単純な物理モデルによって、ヒール効果が説明される。図６には、傾斜表面２２４を伴なうアノード部分２１２が示されている。電子２２６は、ターゲット領域２２８の領域内の傾斜表面２２４の上に衝突する（さらに詳しくは示されない）。例えば、クラック形態により、電子は、参照記号ｄで示されるように、所定の深さに達して、矢印２３０で示されるように、Ｘ線放射が生成される。
【００９５】
見てわかるように、Ｘ線放射は、アノード２１２の材料の中と、アノード２１２の材料の外側に通路を有している。
【００９６】
Ｘ線のターゲット、例えばアノード２１２、の中の通路長さは、参照文字ｓによって参照されるが、それぞれのフォトンが生成され、参照番号２３２で示される、収差角θ度である位置における浸透深さｄの関数として表すことができる。以下の式が適用される。
ｓ（θ）＝ｄ＊ｃｏｓ（α）／ｓｉｎ（θ＋α）
ここで、αは、アノード角である。アノード角αは、参照番号２３４で示されている。密度ｐの材料の中を通過する通路長さｓに渡る通過におけるＸ線輝度は、希薄化則によって以下のように表される。
Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ（−μ＊ｓ）
ここで、μは、材料の特定質量の減衰係数であり、エネルギーに依存する。ターゲット中の深さｄにおいて生じる、Ｘ線の本来的なフィルターは、従って、以下の式で表されるターゲットから生じる減衰Ｘ線フラックス（ｆｌｕｘ）Ｉ／Ｉ０を導き、放出角度に依存している。
Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ（−μ＊ｄ＊ｃｏｓ（α）／ｓｉｎ（θ＋α））
上記の式は、ヒール効果を定性的に記述したものである。本来的な減衰の機能的な依存性は、浸透深さｄの変化に対する感度の増大を導く。特に、アノードの表面に向かう収差位置に対するものであり、例えば、ヒール効果が大きくＸ線収率を減じる角度におけるものである。
【００９７】
従って、この収差位置におけるＸ線フラックスは、クラック形態に対して非常に感度が高い、このようであるため、Ｘ線が、サーマルトラック（ｔｈｅｒｍａｌ  ｔｒａｃｋ）のバルクの中のより深い位置で生成され、本来的な減衰による損失がより大きくなる。
【００９８】
図７は、アノード角度が９°で傾斜したアノード中の特定の深さｄにおいて生成される３０ｋｅＶのＸ線フォトンに係るＸ線減衰についてのシミュレーションを示している（実線と点線の曲線である）。放出角度  θ＝α  に対するＸ線収率の減少とカットオフが、ヒール効果の特性である。深さｄの変化は、カットオフ位置に対する角度におけるＸ線収率に最大の影響を与える（破線と一点鎖線の曲線）。図７では、縦軸は、０から１までの範囲でＸ線収率を示している。横軸は、例として、−１０から−６の範囲で収差角度θ（度）を示している。右側の縦軸は、０から５０％の範囲で、相対的な差異が、パーセントで示されている。実線２５２として示される第１のラインには、以下が適用される。Ｉ／Ｉ＿０（ｄ＝５μｍ）
【００９９】
点線の曲線２５４として示される第２のラインには、Ｉ／Ｉ＿０（ｄ＝１０μｍ）が適用される。
【０１００】
さらに、破線の曲線２５６として示される第３のラインは、Ｘ線収率の絶対的な減少を示している。
【０１０１】
さらに、一点鎖線の曲線２５８として示される第３のラインは、Ｘ線収率の相対的な減少をパーセントで示している。
【０１０２】
典型的な実施例に従えば、コスト効果があり簡単なソリューションとして、Ｘ線チューブによって放出されるＸ線フィールドの中のいくつかの位置に、単一のピクセルセンサーが数多く配置される。例えば、ターゲットから放出されるＸ線にとって十分に透過性がある、丸いチューブの窓により、中心軸の近くから円錐形状のＸ線が放出される。画像アプリケーションのために使用される長方形の視野は、円錐から焦点が合わせされる。センサーが、画像アプリケーションに影響することなく、Ｘ線ビームの中に配置されるようにである。
【０１０３】
図８を見てわかるように、少なくとも一つのＸ線センサー１６は、窓のセグメント２７６ａ、２７６ｂ、２７６ｃ、または２７６ｄに配置されている。例えば、図７において円２６０で示されるビーム形態３０の領域であり、現状、長方形２６２で示される検査領域の外側にあるセグメントである。画像目的のビームの実際に使用される部分の最大のサイズを示している。
【０１０４】
例えば、単一のピクセルセンサーにより、センサー読み出しの簡単な実施ができる。
【０１０５】
このことは、図８に関して説明される。円２６０は、Ｘ線窓の開口を模式的に示している。さらに、円２６０の内側にある長方形２６２は検査領域を示している。例えば、開口に最大のサイズは、検知器フォーマットの縦３００、横３８０ミリメートルの長方形に応じたものである。
【０１０６】
さらに、図８では、アノード側がＳＡで示されている。すなわち、円の上側である。カソード側はＳＣで示されており、すなわち、円の下側である。
【０１０７】
センサーがとり得る位置が、小さな正方形２６４、２６６、２６８、そして２７０、同様に２７２、で示されている。
【０１０８】
例えば、アノード側に向かう位置２６４と２６６は、ヒール効果の放射線量センサーとしてとり得る位置である。
【０１０９】
位置２６８、２７０、同様に２７２は、通常の放射線量センサーとしてとり得る位置である。より良い理解のために、中心軸の投射が、点線２７４で示されている。
【０１１０】
もちろん、センサーを、円２６０の内側で長方形２６２の上にあるセグメント２７６ａの中に置くこともできる。しかしながら、ヒール効果とアノードの陰のために、穴２６の位置に依存するが、この位置では、実際に、非常に低い放射線量だけを測定する。
【０１１１】
アノード側に近いセンサー、例えば、中心軸に関して負の角度であるセンサーは、ヒール効果のために、０よりも大きい角度でカソードに近いセンサーよりも少ないＸ線を記録する。測定されたＸ線輝度におけるこの違いは、焦点軌道の摩滅により影響されるものであり、従って、ヒール効果を取り扱う画像処理工程を順応させるために利用できる情報を提供する。さらに、センサーのデータは、焦点軌道の摩滅についての洞察を与える。アノードに向かうセンサーによって記録されたＸ線放射線量は、焦点軌道の摩滅のために、より少ないＸ線しか受け取らないからである。
【０１１２】
センサーは、Ｘ線フィールドの相対的な角度依存性を測定するので、この方法は、Ｘ線出力についてチューブの絶対的な変化によって乱されることはない。従って、アノードの摩滅は、Ｘ線窓の汚れまたはフィラメントの経年劣化というような、Ｘ線フィールドに影響する他の経年変化から独立して検知される。
【０１１３】
さらなる典型的な実施例に従えば、このようにＸ線光源の一般的な放射線量出力に関する情報を与える単一のセンサーを提供することもできる。ヒール効果とＸ線窓の汚れは既に考慮されているものである。
【０１１４】
さらなる典型的な実施例に従えば、マルチピクセルのセンサーを、収差位置、すなわち、中心軸に関する、負の角度に配置することも可能である。そこでは、ヒール効果によってチューブのＸ線フィールドが最も強く影響される。これは、図９に表されており、マルチピクセルのセンサーは参照番号５８で示されている。
【０１１５】
アノード角度（−θ）≒αに近づいていく、より大きな角度では、本来的なフィルターがＸ線収率を著しく減少させる。そうした角度では、Ｘ線効率は、Ｘ線ターゲットの表面形態における変化に関して特に感度が高い。特に、焦点軌道におけるクラックに対してである。
【０１１６】
Ｘ線フィールドの角度依存性は、マルチピクセルによってサンプルされ、それぞれのピクセルの信号を収集するコントローラー（さらに詳しくは示されない）によって読み出される。その結果は、定性的には図７における曲線のように振る舞い、アノードの摩滅の程度の指標として役に立つ。マルチピクセルのセンサーでＸ線放射線量を細かくサンプルすることで精度が上がり、従って、寿命予測の信用レベルが増加する。
【０１１７】
さらなる実施例に従えば、一つまたはそれ以上のマルチピクセルの放射線量センサー５８は、図１０と図１１に示されるように、アノードＳＡに向かって、視野の側面側に配置される。
【０１１８】
センサーは、画像アプリケーションにとって必要な視野と干渉しないことに留意しなければならない。視野の外側の収差位置に配置されているためである。コリメーター（ｃｏｌｌｉｍａｔｏｒ）または絞りは、ビームを円錐形状からピラミッド形に典型的に制限して「自由に使えるセグメント」を提供しているので、こうしたことが可能である。
【０１１９】
例えば、Ｘ線センサーにおける数多くの幾何的な制限があるために、粗い見積もりに基づけば、センサーは、角度範囲  θ＝[α−２°、α]  をカバーする必要がある。そこでは、本来的なフィルターが非常に顕著であり、センサーは、検査領域の視野の外側にある。
【０１２０】
例えば、中心が焦点軌道から５ｃｍの距離の位置に置かれ、２°の角度範囲が約１．８ｍｍ幅の検出器によってカバーされると仮定する。
【０１２１】
以降では、図１２を参照して、Ｘ線光源のＸ線放出収率における変化を判断するための方法に係る典型的な実施例について説明する。方法５００は、以下のステップを含んでいる。
【０１２２】
最初に、放出ステップ５１２において、Ｘ線ビーム５１４がＸ線光源から放出される。Ｘ線光源は、Ｘ線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含んでおり、Ｘ線ビームは、中心軸を伴うビーム形態を有している。
【０１２３】
次に、測定ステップ５１６において、少なくとも一つのＸ線センサーを用いて、Ｘ線放射の特定の方向と中心軸との間の角度に対してＸ線輝度５１８が測定される。Ｘ線センサーは、Ｘ線ビームのビーム形態の中に配置されている。
【０１２４】
次に、比較ステップ５２０において、測定されたデータは、保管されたデータと比較され分析される。
【０１２５】
そして、判断ステップ５２４において、比較と分析のステップ５２０、５２２の解析に基づいて、放射線量の劣化値５２６が決定される。
【０１２６】
放出ステップ５１２はステップａ）として、測定ステップ５１６は、ステップｂ）として、比較ステップは、分析ステップ５２２と一緒にステップｃ）として、そして、判断ステップ５２４は、ステップｄ）としても参照されることに留意すべきである。
【０１２７】
さらなる態様に従えば、ステップｂ）で、異なる位置において相対的な放射線量が測定される。
【０１２８】
さらなる態様に従えば、ステップｃ）で、相対的な放射線量は、同じ位置において時間経過とともに測定される。
【０１２９】
さらなる態様に従えば、ステップｄ）において、検査領域の中のヒール効果の変化が判断され、さらなる画像処理ステップにおいて、修正フィルターが適用される。
【０１３０】
図１３に示される、さらなる典型的な実施例に従えば、ステップｄ）に続いて、ステップｅ）が備えられる。さらなるＸ線生成のための劣化値に基づいたＸ線光源の新たな設定５３０の算出５２８を含んでいる。さらに、ステップｇ）が備えられ、Ｘ線光源の収率ファクター５３４の更新５３２を含んでいる。
【０１３１】
例えば、新たな設定を自動的に算出することが提供される。
【０１３２】
さらなる態様に従えば、Ｘ線光源のパラメーターは、光源の全体的なＸ線収率の劣化を修正するために、自動的に調整される。
【０１３３】
例えば、Ｘ線光源は、Ｘ線窓を含んでおり、Ｘ線光源の設定は、アノード荒れとＸ線窓の汚れまたはシミを修正するために自動的に調整される。
【０１３４】
さらなる態様に従えば、Ｘ線収率の相対的な角度依存性が測定され、アノード摩滅が検知される。
【０１３５】
図１３にも示されるように、本発明のさらなる態様に従えば、更新された収率ファクター５３４は、続いて、さらなるＸ線放射放出ステップのために使用される。すなわち、参照番号５３６を伴なって、ボックス５３２から出てボックス５１２に入る破線の矢印で示されるように、更新された収率ファクターが、ループのような方法で提供される。
【０１３６】
本発明のさらなる態様に従えば、図１４に示されるように、ステップｇ）の前に、ステップｆ）が備えられる。Ｘ線光源の新たな設定と規定値５４０との比較５３８を含んでいる。規定の閾値を越えると、さらなるサービス測定５４２が行われる５４４。
【０１３７】
例えば、手動でチューブの放射線量の再較正が行われる。さらなる実施例に従えば、チューブの取替えが行われる。
【０１３８】
図１５に示す、本発明の典型的な実施例に従えば、以下の方法が提供される。Ｘ線エクスポージャー（ｅｘｐｏｓｕｒｅ）に続いて、ボックス６１４で示される、一般的な放射線量センサーによるデータ獲得がされ、おそらく並行に、ボックス６１６で示されるようにヒ−ル効果センサーによるデータ獲得がなされる。一つの値または両方の値が、次に、データベース６２０の中に保管される６１８。次に、例えば累和法といった、統計的な分析６２２がされる。
【０１３９】
次に、チューブの放射線量の劣化が検知されたかどうかが判断される６２４。もし、そうでない場合は、Ｘ線エクスポージャーが再び開始される。結果は「ノー（“ｎｏ”）」であり、参照番号６２６を伴なって、ボックス６２４から出てボックス６１２に入る矢印で示されるループのような実行が続く。もし、放射線量の劣化が検知された場合には、すなわち、答えが「イエス（“ｙｅｓ”）」の場合であるが、ボックス６２４から下側に向かう矢印について参照番号６２８で示される次のステップが実行される。新たなチューブ収率テーブルが算出され６３０、もしくは、チューブの電力入力とチューブの放射線量収率出力との間の関係を定める他のパラメーターが算出される。
【０１４０】
以降、新たな設定ポイントが、放射線量規則に応じるように算出される。例えば、ＦＤＡ放射線量規則によるものであり、Ｘ線光源が、こうした新たな設定に従うかを判断する。判断するステップは、参照番号６３２で示されている。答えが「イエス（“ｙｅｓ”）」の場合、参照番号６３４を伴ない右に向かう矢印で示されるように、Ｘ線光源の設定の更新６３６へ進む。判断するステップ６３２の結果が「ノー（“ｎｏ”）」の場合は、矢印６３８で示されるように、さらなるステップ６４０において、手動でのチューブ放射線量の再較正、またはチューブ交換のサービスコールが発行される。
【０１４１】
もちろん、判断するステップ６３２をスキップして、算出６３２の終了後直ちに自動的に更新６３６／６４４を実行することも可能である。そのショートカットは、ボックス６３０からボックス６３６／ライン６４４への破線の矢印６４２で示されている。ステップ６３６において、一旦自動的な更新が実行されれば、ループのような矢印６４４で示されるように、Ｘ線エクスポージャーが再び実施される。
【０１４２】
図１５に関して説明したように、Ｘ線放射線量センサーは、Ｘ線チューブのそれぞれの通常動作において放射線量を記録する。測定されたデータは、チューブ電圧とＸ線チューブの平均放出電流とを考慮に入れたヒール効果のモデルに従っておそらく生成されたモデルデータと比較される。測定されたデータは、統計的な方法を用いて分析され、避けることのできない変動に関してより強健であるように、測定されたデータの顕著な変化を検知する。
【０１４３】
こうした分析から、アノードの劣化パラメーターが抽出される。劣化パラメーターが、特定の既定された制限を超える場合には、減少したＸ線収率と輝度分布における変化を補償するように、チューブの放射線量、及び／又は画像処理においてヒール効果を説明する画像フィルターが調整される。例えば、アノードの劣化パラメーターに対して警告限界が導入され得る。警告限界に達した場合に、ユーザーには、近い将来でのチューブ交換を推奨することが知らされる。自動的な更新を実行するために可能なシナリオは、図１５に示されている。本発明は、医療用画像システムにおいて使用される全てのＸ線光源に適用することができることに言及しなければならない。特に、画像システムの利用可能性と信頼性が重要な、インターベンショナル（ｉｎｔｅｒｖｅｎｔｉｏｎａｌ）手術のためのＣ型アームシステム、ＣＴ、緊急手術室にある一般的なＸ線、等といったものに適用される。さらに、チューブの収率、ヒール効果のような放出特性、そしてチューブのスペクトラムに関する細分化についての情報は、３Ｄデータの獲得のために重要性が増している。例えば、ＣＴスキャナーまたはＣ型アームのいずれかにおいて、そして、例えば、血流の定量化、還流（ｐｅｒｆｕｓｉｏｎ）、等の関係で使用される定量的な画像プロトコルにおいて重要である。
【０１４４】
本方法のさらなる態様に従えば、典型的な実施例に従えば、少なくとも２つのセンサーが使用される。ステップｂ）においては、少なくとも一つのセンサーは、ビームの束における放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのセンサーは、ビームのヒール部分における放射線量の輝度を測定する。ステップｃ）においては、チューブの輝度の差異が比較され、分析のためにデータが保管される。
【０１４５】
さらなる典型的な実施例に従えば、以下の方法が提供される。少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイが備えられ、中心軸に関して少なくとも２つの方向に対する輝度が測定されるように配置される。ステップｂ）においては、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ビームの束における放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ビームのヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し、または、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ヒール部分からビームの束の中へ延びている。ステップｃ）においては、ピクセルの輝度の差異が比較され、分析のためにデータが保管される。
【０１４６】
図９から図１１を見てわかるように、例えば、マルチピクセルの放射線量センサー５８は、線型のピクセル構成として提供される。
【０１４７】
さらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサーは、アノード側とカソード側との間の方向に向けられる。
【０１４８】
さらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサー５８は、中心軸のアノード側に配置される。
【０１４９】
さらなる態様に従えば、図１１に示すように、マルチピクセルの放射線量センサー５８は、アノード側に向いているが、検査領域の側面側に配置されている。
【０１５０】
さらなる態様に従えば、図１０にも示すように、少なくとも２つのマルチピクセルの放射線量センサー５８が備えられる。
【０１５１】
示されていないが、さらなる典型的な実施例に従えば、マルチピクセルの放射線量センサーは、検査領域の両方の側面側に配置されている。
【０１５２】
示されていないが、さらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイがアノード側に向かって備えられ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイがカソード側に向かって備えられる。
【０１５３】
さらなる態様に従えば、少なくとも一つのセンサーがヒール効果の測定のために備えられ、少なくとも一つのセンサーが放射線量の測定のために備えられる。
【０１５４】
さらなる態様に従えば（図示なし）、少なくとも一つのセンサーは透過性であり、少なくとも一つのセンサーは検査領域の中に配置されている。
【０１５５】
本発明の別の典型的な実施例に従えば、好適なシステム上で、上述の実施例のうちの一つに従った方法のステップを実行するように適合されていることで特徴付けられるコンピュータープログラムが提供される。
【０１５６】
コンピュータープログラムは、従って、コンピューターユニットに保管されるもので、本発明の実施例の一部でもあり得る。このコンピューターユニットは、上述の方法に係るステップを実行するように適合されている。さらに、上述の装置に係るコンポーネントを動作するように適合されている。コンピューターユニットは、自動的に動作し、及び／又はユーザーの命令を実行するように適合され得る。コンピュータープログラムは、データプロセッサのワーキングメモリーの中にロードされる。データプロセッサは、従って、本発明に係る方法を実行するように備えられている。
【０１５７】
本発明に係るこの典型的な実施例は、最初から本発明を使用するコンピュータープログラムと、更新手段として既存のプログラムを、本発明を使用するプログラムへと変換するコンピュータープログラム、の両方をカバーする。
【０１５８】
さらには、コンピュータープログラムは、上述した方法の典型的な実施例に係る工程を満足するために必要な全てのステップを提供することができる。
【０１５９】
コンピュータープログラムは、好適な媒体に保管し、及び／又は、配布することができる。ハードウェアと一緒に、または、その一部として提供される、磁気的もしくは光学的ストレージ媒体、または半導体媒体といったものである。しかし、インターネット、または他の有線もしくは無線の電子通信システムを介するといった、他の形態においても配布することができる。
【０１６０】
しかしながら、コンピュータープログラムは、ワールドワイドウェブ（Ｗｏｒｌｄ  Ｗｉｄｅ  Ｗｅｂ）のようなネットワーク上でも提供され、そうしたネットワークからデータプロセッサのワーキングメモリーの中にダウンロードすることもできる。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、コンピュータープログラムをダウンロードできるようにする媒体が提供される。コンピュータープログラムは、以前に説明した本発明の実施例の一つに従った方法を実行するように構成されている。
【０１６１】
本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、ＣＤ−ＲＯＭといった、コンピューターで読取り可能な媒体が提供される。コンピューターで読取り可能な媒体には、コンピュータープログラムが保管されている。コンピュータープログラムは、前出の説明されたものである。
【０１６２】
本発明の典型的な実施例は、異なる技術的事項に関して記述されていることに留意すべきである。特に、いくつかの典型的な実施例は、装置タイプのクレームに関して記述されているが、一方、他の典型的な実施例は、方法タイプのクレームに関して記述されている。しかしながら、当業者であれば、上述の、そして後続の記載から以下のことがわかるだろう。つまり、一つのタイプの技術的事項に属する特徴のあらゆる組み合わせに加えて、そうではないとの記載がなければ、異なる技術的事項に関する特徴のあらゆる組み合わせについて、特に装置タイプのクレームの特徴と方法タイプのクレームの特徴との組み合わせが、このアプリケーションにおいて開示されているものと考えられる。
【０１６３】
本発明は、図および前出の記載において詳細に説明され、記述されてきたが、こうした説明および記述は、説明目的のもの、または典型例であって、本発明を限定するものではないと考えられるべきである。本発明は、記載された実施例に限定されるものではない。図面、開示、そして従属請求項を研究することで、当業者によって、クレームされている本発明の実施における、開示された実施例に対する他の変形が理解され、もたらされるだろう。
【０１６４】
請求項において、用語「含む（“ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ”）」は、他のエレメントまたはステップを除外するものではなく、不定冠詞「一つの（“ａ”または“ａｎ”）」は、複数を除外するものではない。単一のプロセッサまたは他のユニットは、請求項において数回に渡り列挙される機能を満足することができる。特定の手段が、お互いに異なる独立請求項において説明されているという事実だけでは、これらの手段の組み合わせが有利なように使用できないということを意味するものではない。いかなる参照記号も、本発明の範囲を限定するものと理解されるべきではない。
【図１】
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【図２】
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【図２ａ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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