【事件の表示】
　特願２００４−　８８４７８「Ｓパラメータ算出装置，Ｓパラメータ算出方法，Ｓパラメータ算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体，並びに入出力特性解析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年１０月　６日出願公開、特開２００５−２７４３７３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　
　本願は、平成１６年３月２５日の出願であって、平成２１年８月２４日付けで手続補正（以下、「補正１」という。）がなされ、同年１１月１０日付け（送達日：同年１１月１７日）で拒絶査定がなされ、これに対し、平成２２年２月１６日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同時に手続補正（以下、「本件補正」という。）がなされたものである。
　
２　本件補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　
　本件補正を却下する。
　
［理由］
　
（１）補正の内容
　本件補正は、特許請求の範囲の請求項１を、補正前の
　
「同一または異なる複数のデバイスからなるシステム全体のＳパラメータを算出する装置であって，
　前記各デバイス毎のＳパラメータを入力する入力手段と，
　入力されたＳパラメータを，予め設定された前記各デバイスのポート位置に対応するように変換するポート位置対応変換手段と，
　前記変換されたＳパラメータを前記各デバイス毎のＴパラメータに変換するＳパラメータＴパラメータ変換手段と，
　前記デバイスの各々のＴパラメータを，行列演算にて接続することにより，前記システム全体のＴパラメータを算出する演算手段と，
　前記算出されたシステム全体のＴパラメータをシステム全体のＳパラメータに変換するＴパラメータＳパラメータ変換手段と，
　前記ＴパラメータＳパラメータ変換手段により得られたシステム全体のＳパラメータを出力する出力手段とを備える
　ことを特徴とするＳパラメータ算出装置。」
　
から、補正後の
　
「同一または異なる複数のデバイスからなるシステム全体のＳパラメータを算出する装置であって，
　
伝送解析対象のシステムを構成する
　入力されたＳパラメータを，予め設定された前記各デバイスのポート位置に対応するように変換するポート位置対応変換手段と，
　前記変換されたＳパラメータを前記各デバイス毎のＴパラメータに変換するＳパラメータＴパラメータ変換手段と，
　前記デバイスの各々のＴパラメータを，行列演算にて接続することにより，
伝送解析対象の
　前記算出されたシステム全体のＴパラメータをシステム全体のＳパラメータに変換するＴパラメータＳパラメータ変換手段と，
　前記ＴパラメータＳパラメータ変換手段により得られた
，前記伝送解析に用いられる
　ことを特徴とするＳパラメータ算出装置。」に補正する補正事項を含むものである。（下線は、補正箇所を明示するために請求人が付した。）
　
（２）独立特許要件違反について
　
ア　補正発明について
　本件補正によって補正された明細書、特許請求の範囲及び図面の記載からみて、本願の請求項１に係る発明は、その特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものであると認められる。
　
　本件補正により、請求項１に記載されていた「前記各デバイス毎」、「前記システム全体の」及び「システム全体の」は、それぞれ、「
伝送解析対象のシステムを構成する
伝送解析対象の
前記伝送解析に用いられる
　このように、本件補正は、「システム（全体）」について、「伝送解析対象」であることをさらに規定したものであるから、本件補正は特許請求の範囲の減縮を目的としたものである。
　そこで、本件補正後の請求項１に記載された発明（以下、「補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかについて、以下に検討する。
　
イ　引用例記載の事項・引用発明
　
（ア）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開２００１−２４２２０７号公報（以下、「引用例１」という。）には、「高周波デバイス測定プログラムを記録した記憶媒体並びに高周波デバイス測定装置及び方法」（発明の名称）に関し、次の事項ａないしｅが図１ないし７とともに記載されている。
　
ａ「【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の高周波デバイスであるＤＵＴの各種特性測定を行う高周波デバイス測定装置に関し、特に、ＤＵＴの真の特性を測定でき、また、所定のモデル化した標準基板に搭載した際の特性をシミュレート可能な装置及び方法並びに該測定プログラムを記録した記憶媒体に関する。」（段落【０００１】）
　
ｂ「【発明が解決しようとする課題】このテストフィクスチャはＤＵＴを交換して順次特性測定を行うためのものであり、テストフィクスチャを使用しＤＵＴを測定した場合、その測定結果はＤＵＴの特性だけでなく、テストフィクスチャの特性も含んだ結果となる。また、実際には、ＤＵＴは部品であり、例えば電子機器に搭載される場合は他の周辺回路とともに組み込まれて使用されることが多い。そのため、ユーザとしてはＤＵＴを周辺回路とともに組み込んだ基板（これを標準基板と称す）で試験したいという要望があった。標準基板は、ＤＵＴの性能を最適化するため各種部品（例えばインピーダンス変換器等）を必要に応じ搭載できる。仮にテストフィクスチャにも同様の部品を組み込んだとしても標準基板とテストフィクスチャでは等価回路が異なるため、両者の特性は一致しない問題があった。」（段落【０００３】）
　
ｃ「本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、テストフィクスチャを用いたＤＵＴの測定値よりＤＵＴの真の特性を求めることが可能であり、またＤＵＴを搭載した状態の標準基板の特性をシミュレーションにより求めることができる高周波デバイス測定プログラム並びに高周波デバイス測定装置及び方法の提供を目的としている。」（段落【０００６】）
　
ｄ「【発明の実施の形態】（第１実施形態）図１は、本発明の高周波デバイス測定装置の全体構成を示す図である。装置は、測定器１と、処理装置２と、テストフィクスチャ（ＴＦ）３で大略構成されている。測定器１はこの実施形態ではＤＵＴ４から出力される信号の大きさ及び位相（ベクトル量という）を測定することによりＤＵＴ４の特性を測定可能なベクトルネットワーク解析装置（ＶＮＡ）が用いられる。
【００１６】処理装置２は、汎用のコンピュータ装置が用いられ、測定器１の測定結果を所定の測定プログラムに基づき解析処理してＤＵＴ４の特性を測定する。テストフィクスチャ３は、ＤＵＴ４を交換可能に装着する治具であり、測定器１に信号ケーブル５で接続され、装着されたＤＵＴ４に対して測定器１の測定信号を入出力する。このテストフィクスチャ３はＤＵＴ４に対して２入力、２出力の計４ポートを有する。ＤＵＴ４は、本実施形態ではＳＡＷフィルタからなる。
【００１７】図２は、処理装置２の内部構成を示すブロック図である。このブロック図に記載した各機能は、上記測定プログラムが実行する各処理に相当する。入力手段１０には、測定器１から出力される測定結果、すなわちテストフィクスチャ３、ＤＵＴ４が含まれたＳパラメータ及びテストフィクスチャ３のＳパラメータが入力される。
【００１８】Ｓ／Ｔ変換手段１１は、ＳパラメータをＴパラメータに変換する。通常、高周波測定における測定解析はＳパラメータが使用されるが、図３（ａ）に示すように、Ｓパラメータは入力波により出力波を定義し入出力ポートは分離されていないので、テストフィクスチャ３とＤＵＴ４を従属接続した状態での解析はできない。そこで、図３（ｂ）に示すように、ポートの入出力波により他のポートの入出力波を定義するＴパラメータを使用する。これよりＳ→Ｔのパラメータ変換式が求まる。そして測定器１から出力されたＳパラメータをＴパラメータに変換する。この際、テストフィクスチャ３に関しては、ＳパラメータＳａ，Ｓｂ→ＴパラメータＴａ，Ｔｂであり、テストフィクスチャ３を使用したＤＵＴ４に関しては、ＳパラメータＳｘ→ＴパラメータＴｘが得られる。
【００１９】マトリクス演算手段１２は、得られたＴパラメータに基づき、ＤＵＴ４の抽出演算を実行する。即ち、各マトリクスＴａ，Ｔｂ，Ｔｘ，Ｔｙの関係は以下の式のようになる。
Ｔｘ＝Ｔａ×Ｔｙ×Ｔｂ…（１）
（但し、Ｔａ，Ｔｂ：テストフィクスチャ３、Ｔｙ：ＤＵＴ４を示す。）
【００２０】そして、ＤＵＴ４の抽出は削除したい要素（テストフィクスチャ３）のＴマトリクスにその逆行列をかける（下記式２）演算を実行して得る。
Ｔｙ＝Ｔａ-1×Ｔｘ×Ｔｂ-1…（２）
【００２１】Ｔ／Ｓ変換手段１３は、上記により得られたＤＵＴ４のＴパラメータＴｙをＳパラメータＳｙに変換する。Ｓパラメータ変換後のＤＵＴ４の特性は出力手段１４を介して外部出力される。なお、出力手段１４は、図示しない記憶部に抽出したＤＵＴ４のＳパラメータを記憶させ必要時に読み出すことができる。」（段落【００１５】〜【００２１】）
　
ｅ「（第２実施形態）第２実施形態では、ＤＵＴ４が実際に標準基板に搭載された状態の特性を、テストフィクスチャ３を用いてシミュレーションする構成である。この実施形態においても、図２記載のブロック構成と基本的に変わらない。図６は、このシミュレーション時の特性測定を示すフローチャートである。図示のように、第１実施形態（図４記載）で説明した処理によりＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙを得る処理を先ず実行しておく（Ｓ１〜Ｓ９）。
【００２６】以降、この第２実施形態で下記の処理を実行する場合Ｔパラメータを必ずしも使う必要はない。次に、標準基板のＳパラメータをそれぞれＳｎ，Ｓｍとして設定する（Ｓ１０）。
【００２７】次に、第１実施形態により求めたＳｙをＳｎ、Ｓｍと合成してＤＵＴ４が標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを求める（Ｓ１１）。この演算は、汎用の回路シミュレータに使用される接点解析法等を用いても、第１実施形態で使用したＴパラメータによるマトリクス解析方法のどちらを用いても構わない。上記により、テストフィクスチャ３を用いて、標準基板にＤＵＴ４を装着したと仮定した状態の特性をシミュレーションして得ることができるようになる。即ち、ＤＵＴ４測定用のテストフィクスチャ３を使用しながら、標準基板にＤＵＴ４を搭載した状態での特性が得られるようになる。」（段落【００２５】〜【００２７】）
　
　ここで、上記記載ｅには、ＤＵＴ４が実際に標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを求める装置を開示した第２実施形態において、第１実施形態により求めたＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙを、標準基板のＳパラメータＳｎ、Ｓｍと合成して、当該特性Ｓｊを求める際の演算に、第１実施形態で使用したＴパラメータによるマトリクス解析方法を適用する構成が、開示されている。
　そこで、そのような場合におけるＤＵＴ４が載置された標準基板の特性Ｓｊを求める装置に基づいて、引用例１に記載された発明の認定をする。
　
・ 上記記載ｅから、
（ａ）「ＤＵＴ４が載置された標準基板の特性Ｓｊを求める装置」が読みとれる。
　
・第１実施形態に係る上記記載ｄは、テストフィクスチャ３、ＤＵＴ４が含まれたＳパラメータ、及びテストフィクスチャ３のＳパラメータを入力する入力手段１０を開示している。
　そして、第２実施形態に係る上記記載ｅにおいて、当該入力手段１０を有する第１実施形態のマトリクス解析方法を適用すると、当該手段は、ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、及び標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍをそれぞれ入力することは明らかであるから、
（ｂ）「ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍをそれぞれ入力する入力手段１０」が読みとれる。
　
・第１実施形態に係る上記記載ｄは、ＳパラメータをＴパラメータに変換するＳ/Ｔ変換手段１１が、テストフィクスチャ３に関するＳパラメータＳａ，ＳｂをＴパラメータＴａ，Ｔｂに変換し、テストフィクスチャ３を使用したＤＵＴ４に関するＳパラメータをＴパラメータに変換する構成を開示している。
　そして、第２実施形態に係る上記記載ｅにおいて、当該Ｓ／Ｔ変換手段１１を有する第１実施形態のマトリクス解析方法を適用すると、当該手段は、ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙを、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、ＳｍをそれぞれＴパラメータに変換することから、
（ｃ）「ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、ＳｍをそれぞれＴパラメータに変換するＳ／Ｔ変換手段１１」が読みとれる。
　
・第１実施形態に係る上記記載ｄは、以下の式のようになる各マトリクスＴａ，Ｔｂ，Ｔｘ，Ｔｙについて、ＤＵＴ４を抽出するために、削除したい要素であるテストフィクスチャ３のＴマトリクスにその逆行列をかける演算を実行するマトリクス演算手段１２を開示している。
Ｔｘ＝Ｔａ×Ｔｙ×Ｔｂ…（１）（但し、Ｔａ，Ｔｂ：テストフィクスチャ３、Ｔｙ：ＤＵＴ４を示す。）
　そして、第２実施形態に係る上記記載ｅにおいて、当該マトリクス演算手段１２を有する第１実施形態のマトリクス解析方法を適用すると、当該手段は、Ｓ／Ｔ変換手段１１で変換した各Ｔパラメータ、Ｔｙ、Ｔａ、Ｔｂを接続して、ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータを得ることから、
（ｄ）「得られた各Ｔパラメータをマトリクス演算により接続することにより、ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータを算出するマトリクス演算手段１２」が読みとれる。
　
・第１実施形態に係る上記記載ｄは、得られたＤＵＴ４のＴパラメータＴｙをＳパラメータＳｙに変換するＴ／Ｓ変換手段１３を開示している。
　そして、第２実施形態に係る上記記載ｅにおいて、当該Ｔ／Ｓ変換手段１３を有する第１実施形態のマトリクス解析方法を適用すると、当該手段は、得られたＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータをＳパラメータに変換することから、
（ｅ）「得られたＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータをＳパラメータに変換するＴ／Ｓ変換手段１３」が読みとれる。　
　
・第１実施形態に係る上記記載ｄは、Ｓパラメータ変換後のＤＵＴ４を外部出力する出力手段１４を開示している。
　そして、上記記載ｅに係る第２実施形態において、当該出力手段１４を有する第１実施形態のマトリクス解析方法を適用すると、当該手段は、ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータをＳパラメータに変換して得られた、ＤＵＴ４が標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを外部出力するものとなることから、
（ｆ）「ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータであるＴｘをＳパラメータＳｘに変換して得られた、ＤＵＴ４が標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを外部出力する出力手段１４」が読みとれる。
　
　以上の技術事項（ａ）ないし（ｆ）を総合勘案すると、引用例１には次の発明が記載されているものと認められる。
　
「ＤＵＴ４が載置された標準基板の特性Ｓｊを求める装置であって、
　ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍをそれぞれ入力する入力手段１０と、
　ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、ＳｍをそれぞれＴパラメータに変換するＳ／Ｔ変換手段１１と、
　得られた各Ｔパラメータをマトリクス演算により接続することにより、ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータを算出するマトリクス演算手段１２と、
　得られたＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータをＳパラメータに変換するＴ／Ｓ変換手段１３と、
　ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータをＳパラメータに変換して得られた、ＤＵＴ４が標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを外部出力する出力手段１４とを備える
　高周波デバイス測定装置。」（以下、「引用発明１」という。）
　
（イ）同じく、原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開２００３−２９４７９４号公報（以下、「引用例２」という。）には、「複数の装置ポートを有する装置の特性を解明する方法及び機器」（発明の名称）に関し、次の事項ａないしｄが図１ないし１５とともに記載されている。
　
ａ「【従来の技術】従来より、ベクトル・ネットワーク・アナライザ（vector network analyzer：以下、「ＶＮＡ」とよぶ）は、被測定物（device under test：以下、「ＤＵＴ」とよぶ）に試験信号（stimulus）を与え、その試験信号に対するＤＵＴの応答を測定することによって、散乱パラメータを測定するために利用されている。結果得られる散乱パラメータによって、所定の周波数範囲にわたって測定されるＤＵＴの反射係数及び透過係数に基づく電気的挙動が数学的に定義される。一般には、ＤＵＴをＶＮＡに直接接続して、ＤＵＴだけの測定値を求めるのは不可能である。ＶＮＡの試験信号ポートとＤＵＴの測定ポートとの間には、相互接続コネクタと、ケーブルと、伝送線路と、他の回路要素とが設けられているのがより一般的である。本開示のため、ＶＮＡと被測定物の間にある全ての中間接続に用いられる一般的な用語は、「アダプタ」である。低周波数の場合には、アダプタの電気的挙動は、ＤＵＴの測定にあまり影響がない場合がある。しかし、高周波数の場合には、測定が所望されるＤＵＴにカスケード接続されたアダプタの応答は、ＤＵＴ自体に起因する応答以上になる場合がある。従って、ＤＵＴ単独の電気的挙動の測定結果を得るには、測定プロセスにおいて、アダプタの影響を明らかにし、排除できることが不可欠である。このプロセスは、アダプタからのＤＵＴの解放またはＤＵＴの特性解明と呼ばれる。」（段落【０００２】）
　
ｂ「図１は、その入力装置ポート１０８1〜１０８nと、装置ポート１０８n+1及び１０８n+1〜１０８2nとが、第１のアダプタ１０２のポートｎ＋１〜２ｎと、第２のアダプタ１１０のポート１〜ｎとにそれぞれ接続されたＤＵＴ１００を例示している。第１及び第２のアダプタ１０２，１１０は、ＤＵＴ１００の一方の側とカスケード接続されているので、全ての装置ポート１０８が、第１及び第２のアダプタ１０２、１１０の一方によってＶＮＡテスト・ポート１１６に接続されることになる。通常の当業者には明らかなように、第１及び第２のアダプタ１０２、１１０は、ＤＵＴ１００をＶＮＡ１０６に接続するのに必要とされる、コネクタとケーブルと回路要素との全てを表している。第１のアダプタ１０２及び第２のアダプタ１１０に関するＳパラメータが測定またはモデル化によって分っている場合には、ＤＵＴ１００とカスケード接続をなすように組み合わせた第１及び第２のアダプタ１０２、１１０を測定することができる。そして、Ｓパラメータは、伝送パラメータまたはＴパラメータとも呼ばれる、対応する散乱転送パラメータに変換することができる。行列ＴXは、第１のアダプタ１０２のＴパラメータを表し、行列ＴYは、第２のアダプタ１１０のＴパラメータを表し、ＴCは、カスケード接続をなすように組み合わせられた第１及び第２のアダプタ１０２、１１０とＤＵＴ１００とを表している。行列ＴDによって表されるＤＵＴのＴパラメータは、
［ＴC］＝［ＴX］・［ＴD］・［ＴY］
を利用して、これらの測定結果から数学的に求めることができる。ＴDについて
解くと、次のようになる。
［ＴD］＝［ＴX］-1・［ＴC］・［ＴY］-1そして、ＤＵＴのＴパラメータ行列ＴDは、その対応するＳパラメータ行列ＳDへと変換することができる。」（段落【０００５】）
　
ｃ「【発明の実施の形態】図面のうち特に図１を参照すると、マルチポートＤＵＴ１００が概略表現で示されている。ＤＵＴ１００は、図示のように、ｎの装置入力ポート１０８1〜１０８nを備えている。ここで、ｎは任意の整数を表す。装置ポート１０８1〜１０８nは、マルチポート・テストセット１０４とアダプタ「Ｘ」で表示された第１のアダプタ１０２とを介して、ＶＮＡ１０６に接続されている。マルチポート・テストセット１０４は、ＶＮＡ１０６の単一試験信号ポートに対していくつかの装置ポートを多重化し、残りのテスト・ポート１１６を特性インピーダンス１２０で終端する。マルチポート・テストセットは、ＶＮＡ１０６の外部に設けることもできるし、または、ＶＮＡ１０６の一部として組み込むこともできる。同様に、装置出力ポート１０８n+1〜１０８2nは、マルチポート・テストセット１０４と、アダプタ「Ｙ」として表示された第２のアダプタ１１０とを介して、ＶＮＡ１０６に接続されている。場合によっては、ＶＮＡ１０６とコンピュータ（図示せず）とが通じている場合もある。多くのＶＮＡ１０６は、測定ハードウェア及び処理ハードウェアを含んでいる。多くの場合には、ＶＮＡ１０６の処理能力は、それが通じているコンピュータの処理能力に匹敵するか、または、それを上回っている。本発明の教示によれば、測定能力と処理能力との両方が要求される。教示の範囲を解釈するのに、測定装置に接続された外部プロセッサの有無は重要ではない。というのも、本明細書に開示の処理は、ＶＮＡから得られたデータに基づいて、ＶＮＡのプロセッサによって実施することもできるし、あるいは、ＶＮＡ外部のプロセッサによって実施することもできるためである。このような状況なので、ＶＮＡで測定を行って、コンピュータに読み取り可能な媒体にデータを記憶し、後にユーザの判断で、同じかまたは異なるコンピュータで特性解明プロセスを完了することもできる。」（段落【００１２】）
　
ｄ「図面のうち特に図８を参照すると、第１及び第２のアダプタ１０２、１１０とカスケード接続されたＤＵＴ１００の従来の略図が示されている。図８は、図１に示すものと同様であり、ＤＵＴの側方に位置する２つのアダプタが設けられているが、ポート構成は全て同じである。図面のうち図９には、対比のため、アダプタ・ポートに再度の番号付けが施された単一組み合わせアダプタ７０２へと、第１及び第２のアダプタ１０２、１１０の対応する再概念化された相互接続が示されている。この例に示されているのが、４ポートＤＵＴ１００と、２つの４ポート・アダプタ１０２、１１０とであるという点を除けば、図面のうち図８及び図９に示されているのは、本明細書において既に開示済みのものだけである。
【００４１】１つ以上のアダプタを視覚的に逆にすると、見た目の複雑性が増し、その結果、個々のアダプタ行列からの適正なＳパラメータ値を組み合わせアダプタＳパラメータ行列Ｓaの適合する要素に割り当てるのが困難になる場合がある。助けがなければ、組み合わせアダプタ７０２の較正方向に対する適正な入射及び反射波を追跡して、適正な組み合わせアダプタ行列を作成しなければならない。組み合わせアダプタ行列Ｓaの作成プロセスのある実施例は、中間ステップによって助けられる場合がある。この中間ステップは、必要というわけではないが、この一般的解決方法のソフトウェアによる実施にも役立つ。この中間ステップでは、視覚的に反転されたアダプタ、この場合にはアダプタ１１０に対するポート番号の再割り当てを行い、アダプタ１１０に関するＳパラメータ行列にさらなる補正を施して、ポート番号の再割り当てに適応させる。すなわち、ポート１はポート３に変更され、ポート２はポート４に変更される。第１のアダプタ１０２のポートの番号付けは変化しないので、組み合わせアダプタ７０２のポートの番号付けも変化しない。この中間ステップでは、ポート１とポート３を入れ替えることによって、第２のアダプタ１１０のポート番号再割り当てに適応する。第２のアダプタＳパラメータ行列ＳYにおけるこの変更は、添字１が３になり、添字３が添字１になるようにし、同時に、添字２が添字４になり、添字４が添字２になるようにすることで、簡単に実施することができる。ポート指定添字の変更は、Ｓパラメータ行列における元の位置のＳパラメータ値が、新たなポートの番号付けによって反映される行列内の位置に移ることを表している。この中間ステップによって、新たなポートの番号付け規則の下におけるアダプタ要素の反射及び透過の挙動を正確に反映した、第２のアダプタ１１０に関する新たなＳパラメータ行列が得られることになる。この中間ステップによって、下記の転置が生じることになる。」（段落【００４０】〜【００４１】）
　
・ 上記記載ａ及びｂから、
（ａ）「パラメータを算出するアダプタ及びＶＮＡからなる装置」が読みとれる。
　
・ 上記記載ｄから、
（ｂ）「アダプタに関するＳパラメータ行列の再割り当てを行う手段」が読みとれる。
　
  以上の技術事項（ａ）及び（ｂ）を総合勘案すると、引用例２には次の発明が記載されているものと認められる。
　
　「パラメータを算出するアダプタ及びＶＮＡからなる装置であって、
　アダプタに関するＳパラメータ行列の再割り当てを行う手段を備える
　複数の装置ポートを有する装置の特性を解明する装置。」（以下、「引用発明２」という。）
　
ウ　対比
　補正発明と引用発明１を比較する。
　
（ア）引用発明１における「ＤＵＴ４」及び「標準基板」は、いずれも、補正発明における「デバイス」に相当し、「ＤＵＴ４」と「標準基板」に組み込まれた周辺回路とは、ひとつの「システム」を構築していると認められる。
　したがって、引用発明１における「ＤＵＴ４が裁置された標準基板」は、補正発明における「同一または異なる複数のデバイスからなるシステム」に相当する。
　
（イ）引用発明１における「特性Ｓｊ」は、ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙを、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍと合成して求めることから、補正発明における「システム全体のＳパラメータ」に相当する。
　
（ウ）上記相当関係（ア）及び（イ）を踏まえると、引用発明１における「ＤＵＴ４が載置された標準基板の特性Ｓｊを求める装置」は、補正発明における「同一または異なる複数のデバイスからなるシステムからなるシステム全体のＳパラメータを算出する装置」に相当する。
　
（エ）引用発明１における「ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍをそれぞれ入力する入力手段１０」との構成は、ＤＵＴ４及び標準基板が、それぞれ各種特性測定を行う対象となるシステムを構成する各デバイスであることから、補正発明における「伝送解析対象のシステムを構成する前記各デバイス毎のＳパラメータを入力する入力手段」に相当する。
　
（オ）引用発明１における「ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、ＳｍをそれぞれＴパラメータに変換するＳ／Ｔ変換手段１１」との構成は、ＤＵＴ４及び標準基板が、それぞれ各種特性測定を行う対象となるシステムを構成する各デバイスであることから、補正発明における「Ｓパラメータを前記各デバイス毎のＴパラメータに変換するＳパラメータＴパラメータ変換手段」に相当する。
　
（カ）引用発明１における「得られた各Ｔパラメータをマトリクス演算により接続することにより、ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータを算出するマトリクス演算手段１２」との構成は、当該構成中の「ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータ」が、補正発明における「伝送解析対象の前記システム全体のＴパラメータ」に対応することから、補正発明における「前記デバイスの各々のＴパラメータを，行列演算にて接続することにより，伝送解析対象の前記システム全体のＴパラメータを算出する演算手段」に相当する。
　
（キ）引用発明１における「得られたＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータであるＴｘをＳパラメータＳｘに変換するＴ／Ｓ変換手段１３」は、補正発明における「算出されたシステム全体のＴパラメータをシステム全体のＳパラメータに変換するＴパラメータＳパラメータ変換手段」に相当する。
　
（ク）引用発明１における「ＤＵＴ４が裁置された標準基板のＴパラメータであるＴｘをＳパラメータＳｘに変換し、そのＤＵＴ４が標準基板に搭載された場合の特性Ｓｊを外部出力する出力手段１４」は、補正発明における「ＴパラメータＳパラメータ変換手段により得られた，前記伝送解析に用いられるシステム全体のＳパラメータを出力する出力手段」に相当する。
　
（ケ）引用発明１における「高周波デバイス測定装置」は、ＤＵＴ4が載置された標準基板の特性Ｓｊを求める機能も有することから、補正発明における「Ｓパラメータ算出装置」に相当する。
　
　してみると、両者は、
（一致点）
「同一または異なる複数のデバイスからなるシステム全体のＳパラメータを算出する装置であって，
　伝送解析対象のシステムを構成する前記各デバイス毎のＳパラメータを入力する入力手段と，
　前記変換されたＳパラメータを前記各デバイス毎のＴパラメータに変換するＳパラメータＴパラメータ変換手段と，
　前記デバイスの各々のＴパラメータを，行列演算にて接続することにより，伝送解析対象の前記システム全体のＴパラメータを算出する演算手段と，
　前記算出されたシステム全体のＴパラメータをシステム全体のＳパラメータに変換するＴパラメータＳパラメータ変換手段と，
　前記ＴパラメータＳパラメータ変換手段により得られた，前記伝送解析に用いられるシステム全体のＳパラメータを出力する出力手段とを備える
　ことを特徴とするＳパラメータ算出装置。」の点で一致し、以下の点で相違する。
　
（相違点）
相違点：ポート位置対応変換手段について
　補正発明には、「入力されたＳパラメータを，予め設定された前記各デバイスのポート位置に対応するように変換するポート位置対応変換手段」を備えるのに対して、引用発明１にはそのような手段を備えない点。
　
エ　判断
　上記記載「イ（イ）」に記載されているとおり、引用発明２は、パラメータを算出するアダプタ及びＶＮＡからなる装置であって、アダプタ要素の反射及び透過の挙動を正確に反映したＳパラメータ行列を得るために、アダプタに関するＳパラメータ行列の再割り当てを行う手段を備える、複数の装置ポートを有する装置の特性を解明する装置である。
　ここで、引用発明１と引用発明２とは、いずれも、Ｔパラメータを用いてＳパラメータを求め、ＤＵＴ（被測定物）の特性を検査するという共通の技術分野に属する発明である。
　してみれば、引用発明１の装置において、引用発明２を適用することにより、ＤＵＴ４の真の特性を示すＳパラメータＳｙ、標準基板のＳパラメータであるＳｎ、Ｓｍにおいて、ＤＵＴ４や標準基板の反射及び透過の挙動を正確に反映したＳパラメータ行列を得るために、Ｓｙ、Ｓｎ、Ｓｍの各Ｓパラメータにおいて、ポート番号の再割り当てを行い、Ｓパラメータを再配列することは、当業者ならば容易に想到し得たことである。
　
　また、補正発明の作用効果も、引用発明１及び引用発明２から当業者が予測可能なものであって、格別のものではない。
　
　よって、補正発明は、引用発明１及び引用発明２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
オ　むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであるから、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
３　本願発明について
　
　本件補正は前記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし５に係る発明は、補正１によって補正された明細書、特許請求の範囲及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明は次のとおりである。
　
「同一または異なる複数のデバイスからなるシステム全体のＳパラメータを
算出する装置であって，
　前記各デバイス毎のＳパラメータを入力する入力手段と，
　入力されたＳパラメータを，予め設定された前記各デバイスのポート位置
に対応するように変換するポート位置対応変換手段と，
　前記変換されたＳパラメータを前記各デバイス毎のＴパラメータに変換するＳパラメータＴパラメータ変換手段と，
　前記デバイスの各々のＴパラメータを，行列演算にて接続することにより，前記システム全体のＴパラメータを算出する演算手段と，
　前記算出されたシステム全体のＴパラメータをシステム全体のＳパラメータに変換するＴパラメータＳパラメータ変換手段と，
　前記ＴパラメータＳパラメータ変換手段により得られたシステム全体のＳパラメータを出力する出力手段とを備える
　ことを特徴とするＳパラメータ算出装置。」（以下、「本願発明」という。）
　
４　引用例記載の事項・引用発明
　
（１）引用例１に記載の事項及び引用発明１は、前記「２（２）イ（ア）」に記載したとおりである。
　
（２）引用例２に記載の事項及び引用発明２は、前記「２（２）イ（イ）」に記載したとおりである。
　
５　判断
　
　本願発明は、前記「２（２）ア」で検討した補正発明から、当該請求項に記載された「前記各デバイス毎」、「前記システム全体」及び「システム全体」のそれぞれを限定した「伝送解析対象」との発明特定事項を省いたものである。
　
　してみると、本願発明の発明特定事項を全て含む補正発明が、前記「２（２）エ」で述べたとおり、引用発明１及び引用発明２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、引用発明１及び引用発明２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
６　むすび
　
　以上のとおりであるから、本願発明は、引用発明１及び引用発明２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　
　そして、本願発明が特許を受けることができないものであるから、その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 
　
　よって、結論のとおり審決する。