【誤訳訂正書】
【提出日】平成23年7月12日(2011.7.12)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】請求項３０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【請求項３０】
前記走査装置が、ｘ‐偏向角γｘを導入することによって角度σを変化させるための一軸スキャナを更に含むことを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】請求項３１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【請求項３１】
前記一軸スキャナが、一軸スキャンミラーを有するスキャンアームと、前記ｘ‐偏向角γｘを制御するためのＸ‐ドライバと、を更に含むことを特徴とする請求項３０に記載の装置。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】請求項３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【請求項３２】
前記走査装置が、ｘ‐偏向角γｘ及びｙ‐偏向角γｙを導入することによって角度σを変化させるための二軸スキャナを更に含むことを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】請求項３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【請求項３３】
前記二軸スキャナが、二軸スキャンミラーを有するスキャンアームと、前記ｘ‐偏向角γｘを制御するためのＸ‐ドライバと、前記ｙ‐偏向角γｙを制御するためのＹ‐ドライバと、を更に含むことを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
プローブ放射線は、長寸の物体の軸線、例えば中心軸に対して角度σでスキャンビームの形で表面及び不変特徴部に向けられるのが好ましい。好適実施形態において、装置は、角度σを変えるための走査装置を有する。１つの特定の実施形態において、走査装置は、ｘ‐偏向角γｘを導入することによって角度σを変えるための一軸スキャナを有する。これは、一軸スキャンミラーを有するスキャンアームを備えた一軸スキャナと、ｘ‐偏向角γｘを制御するためのＸ‐ドライバによって達成されることができる。別の特定の実施形態において、走査装置は、ｘ‐偏向角γｘとｙ‐偏向角γｙを導入することによって角度σを変えるための二軸スキャナを有する。この目的のために、二軸スキャンミラーを有するスキャンアームと、ｘ‐偏向角γｘを制御するためのＸ‐ドライバと、ｙ‐偏向角γｙを制御するためのＹ‐ドライバとを含む二軸スキャナが用いられる。走査装置を用いるときには、一般的には、単一周波数でプローブ放射線を生成する単一周波数エミッタを用いることが好ましい。適切な単一周波数エミッタは、レーザダイオードである。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３９】
Ｘ‐ドライバ３６は、軸線ＸＭに対するミラー１６のｘ‐偏向角γｘを制御することによって角度σを変化させる。Ｙ‐ドライバ３８は、軸線ＹＭに対するミラー１６のｙ‐偏向角γｙを制御することによって角度σを変化させる。偏向角が小さい場合、角度σの変化は、角度σのｘ‐成分及びｙ‐成分即ちσｘ及びσｙで表すことができるので、次式のように表すことができる。
【数２】
2007515655.tif 000001
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４４】
オイラー回転物体座標の平面（Ｘ，Ｙ）中の点Ｐ＊の位置即ちＰ＊（ｘ，ｙ）は、二軸スキャナ３４によって偏向角γｘ、γｙの関数として次のように決定する。
【数６】
2007515655.tif 000002
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５７】
特徴部４１Ｇが検出器４２により検出される後方散乱部分４０’において強度変化を生じさせるとき、角度σは走査装置３２から分かる。同様に、ベクトルＲｃ、Ｒｑ、Ｆoも分かる。ワールド原点またはベクトルＦoの尾部の位置を基準角σoによって表するのが最も簡単であり、スキャンミラー１６は、プローブ放射線２０をワールド原点に向けると仮定されることが必要になるであろう。実際には、ワールド原点の位置または基準角σoは、ワールド原点をマーキングする不変特徴部へスキャンミラー１６を定期的に向けることによって追跡されることができる。従って、ベクトルＤoを見つけることは、物体１０の方向を表すベクトルｒとオイラー角をも与える三角測量に帰着する。幾つかの場合には、不変特徴部へのスキャンミラー１６の距離などの補助的な情報が既知であるかまたは測定されるとき、スキャンミラーの角度位置即ち角度σの情報の要求を緩和することができる。例えば、標識は、ビームでスキャンされたときに、ミラーの角速度が既知である即ちバーコードパターンであるとき距離に関する情報を含む時間的信号を生じさせることになる所定のパターンを有することができる。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５８】
物体１０の動きは、実時間で先端１２の絶対位置を決定するために角度σのスキャン速度及び三角測量手順に比べてゆっくりでなければならないことに留意されたい。最低限でも、物体１０の動きは、しばらく後の時点で先端１２の絶対位置を決定するためにスキャン速度に比べてゆっくりでなければならない。当業者は、任意の数の三角測量手順を用い、このケースの多くのバリエーションを実施することでベクトルＤoを見つけることができることを認識するであろう。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５９】
先端１２の絶対位置を見つける別の方法は、既知の幾何学の不変特徴部４１Ｈを利用する。この場合には、特徴部４１ＨへのベクトルＦo’及び表面２４上でのその方向は既知である。この場合には、ワールド原点の位置は、追跡される必要がない。特徴部４１Ｈは、その幾何学に対応する後方散乱部分４０１において複数の強度変化を生じさせる。具体的には、特徴部４１Ｈのエッジは、スキャンポイントＰoがそれらを越えて移動する時点で強度変化を生じさせる。それらの時点での角度σの値は、走査装置３２から得られる。実際には、走査装置３２は、物体１０の位置が感知できるほどに変わる前に特徴部４１Ｈの少なくとも３つのエッジで、好適には４つのエッジ全てで点Ｐoが複数回横断するように、角度σを変化させる。これらの横断時間での角度σの値から、スキャンミラー１６の視点からの特徴部４１Ｈの幾何学が再構築される。物体１０の姿勢及び先端１２の絶対位置は、特徴部４１Ｈの既知の幾何学と再構築された幾何学を比較することによって導き出される。今度の場合も、当業者であれば、特徴部４１Ｈのエッジの消失点の発見及び三角測量を含む複数の幾何学的技法をこの導出に用いることができることが分かるであろう。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６５】
また、コントローラ６２は、角度σが十分に高速に変化するように走査装置３２のＸ‐ドライバ３６及びＹ‐ドライバ３８を操作する。ここで、角度σが変化するのは、Ｘ‐ドライバ３６及びＹ‐ドライバ３８はコントローラ６２によってｘ‐偏向角γｘ及びｙ‐偏向角γｙを変化させるように命令されるためである。必然的に、プローブ放射線２０のスキャンビーム２８は、表面２４を通り過ぎて、表面２４（図５を参照）上のスキャンポイントＰoによってスキャンされる位置から戻るプローブ放射線２０の後方散乱部分４０’を作り出す。物体１０が、棒、ポインタ、ロボットアームなどの人が操作する用具であるか、またはペン、鉛筆、またはスタイラスなどの筆記具であるとき、角度σは人の動きより速く変化するのが好ましい。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６６】
スキャンポイントＰoの連続する位置は、ＶＣＳＥＬ１８のパルシングに応じて不連続または連続スキャンラインまたはスキャンパターン５５（図５を参照）を形成する。スキャンパターン５５の形状は、ｘ‐偏向角γｘ及びｙ‐偏向角γｙを変え、このようにして角度σを便利なパターンで変化させるようにＸ‐ドライバ及びＹ‐ドライバに指示するコントローラ６２によって形成される。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６９】
物体１０の姿勢を導き出しかつ先端１２の絶対位置を求める際に、演算装置５６は、特徴部４１に対応する強度変化を観察し、適切な数学的手法、例えば上記した三角測量を用いて先端１２の絶対位置を導き出す。これらの機能を実行する際、装置５６は、モジュール５８からのデータ及び走査装置３２からの角度σも用いる。迅速な比較のために、このデータはルックアップテーブルの形で保存される。モジュール５８中のルックアップテーブルには、物体１０のオイラー角または姿勢と角度σの可能な組合せ全てに対する特徴部４１の反応を含めることができる。あるいは、角度σの連続スキャンのために第３のオイラー角ψ及び傾斜角θの幾つかの選択値での較正中にルックアップテーブルを得ることもできる。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７１】
好適実施形態において、二軸スキャナ３２は、Ｘ‐ドライバ３６及びＹ‐ドライバ３８を用いて次のような周期的様式でｘ‐偏向角γｘ及びｙ‐偏向角γｙを変える。
【数１２】
2007515655.tif 000003
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７２】
この式において、Δはｘ‐偏向角γｘとｙ‐偏向角γｙの位相差、Ａ及びＢは度数偏向角振幅である。σの瞬時値は、式２から次のように求められる。
【数１３】
2007515655.tif 000004
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７５】
特定の実施形態において、スキャンパターン５５は、比ωｘ／ωｙ＝４／３、位相差Δ＝０で偏向角による振幅Ａ及びＢが等しくかつ１に正規化されたリサジュー図形である。このリサジュー図形は、次式により表され、
【数１４】
2007515655.tif 000005
リサジュー図形に沿ったスキャンポイントＰoの瞬間速度は、時間微分を取ることによって得られる。
【数１５】
2007515655.tif 000006
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９０】
この実施形態の操作を理解するために、スキャンビーム８６Ｃにおいてコリメートされかつ軸線Ｃ．Ａ．に対して角度σで表面７４に向けられたプローブ放射線８４により表面７４及び不変特徴部７６Ｂを照明するスキャンアーム８０Ｃを考える。二軸スキャンミラー８７Ｃは、スキャンビーム８６Ｃがスキャンパターン９４に従うように角度σのｘ‐成分σｘ及びｙ‐成分σｙを変えるために二軸スキャナによって駆動される。スキャンパターン９４は、二軸スキャンパターンであり、より正確には、角速度比ωｘ／ωｙ＝４／３、位相差Δ＝０で偏向角による振幅がＡ及びＢに等しいリサジュー図形である。