【手続補正書】
【提出日】平成23年10月3日(2011.10.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル（２）、特に眼、の測定用のＳＳ−ＯＣＴ干渉計装置であって、前記装置（１）は、測定照射光（５）の中心波長のスペクトル調整によって、干渉法により、測定信号を生成し且つ、そこから前記サンプル（２）の深さ分解コントラスト信号を生成し、そのために制御デバイス（３）を有する、装置であって、前記装置（１）は、前記サンプル（２）のまたは前記サンプル（２）内の動きを示す運動信号を提供するサンプル運動検出器（１２；１３〜１７）を含むことと、前記深さ分解コントラスト信号の前記生成の前または最中に、前記制御デバイス（３）が、前記運動信号によって、前記調整中に起きた前記サンプル（２）のまたは前記サンプル（２）内の動きによって引き起こされる測定誤差に関して前記測定信号を補正することと、を特徴とする装置。
【請求項２】
前記運動信号が、前記サンプル（２）内にあり前記装置（１）から固定距離にある参照部位（Ｂ）におけるコントラストを示すことを特徴とする、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記サンプル運動検出器（１２；１３〜１７）が、前記干渉計装置に面する前記サンプル（２）の表面、好ましくは角膜表面、あるいは前記サンプル（２）内の境界面、好ましくは眼の水晶体または網膜、の前記動きを検出することを特徴とする、請求項１または２に記載の装置。
【請求項４】
前記参照部位（Ｂ）の位置の補正信号を干渉法により生成するために、前記サンプル運動検出器（１３〜１７）が、前記中心波長がスペクトル的に固定された補正照射光（１４）を含むことを特徴とする、請求項１および２に記載の装置。
【請求項５】
−前記装置（１）が、サンプルビーム経路（７）を有し、測定照射光源（４）から発せられた前記測定照射光（５）の一部分によって前記サンプル（２）を照明すること、および検出ビーム経路（１０）を有し、前記サンプル（２）から反射または後方散乱された前記測定照射光によって形成されるサンプル測定照射光を受け、それを検出器（１１）によって検出することと、
−前記サンプル運動検出器（１３〜１７）が、補正照射光（１４）を発する補正照射光源（１３）を含むことと、
−ただし、前記補正照射光（１４）の一部分は前記サンプルビーム経路（７）に結合され、前記サンプル（２）を照明すること、および前記検出ビーム経路（１０）は、前記サンプル（２）から反射または後方散乱された照射光によって形成されるサンプル補正照射光を受け、それを前記検出器（１６、１７）によって前記サンプル測定照射光とは別個に検出することと、
−前記制御デバイス（３）は前記サンプル補正照射光の前記検出の信号から前記補正信号を生成することと、
を特徴とする請求項４に記載の装置。
【請求項６】
前記補正照射光（１４）が前記測定照射光（５）とはスペクトル的にまたは偏光に関して異なり、それに対応して前記検出器（１６、１７）が前記サンプル補正照射光を前記サンプル測定照射光からスペクトル的にまたは偏光に関して分割することを特徴とする、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記制御デバイス（３）が、前記測定照射光（５）および前記補正照射光（１４）の波長を各々についてそれらの中心波長を中心として変調し、前記補正信号および前記測定信号の位相関数をヘテロダイン検出によって求め、前記測定信号の前記位相関数から前記補正信号の前記位相関数を除去することを特徴とする、請求項４乃至６のいずれか１項に記載の装置。
【請求項８】
前記変調のために、前記制御デバイス（３）が前記測定および補正照射光源（４、１３）の供給電流を変調し、好ましくは前記供給電流の生成の安定性は０．８μＡよりも良好であることを特徴とする、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記サンプル測定および補正照射光の平衡検出が行われ、前記制御デバイス（３）が前記補正信号および前記測定信号の位相関数を求めて前記測定信号の前記位相関数から前記補正信号の前記位相関数を除去することを特徴とする、請求項４乃至６のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１０】
前記制御デバイス（３）が、前記測定信号の振幅関数を振幅が時間的に一定となるようにリスケールし、こうして補正された前記測定信号からフーリエ変換によって前記コントラスト信号を生成することを特徴とする、請求項８または９に記載の装置。
【請求項１１】
前記測定照射光が次の照射光源（４）：外部共振器型半導体レーザ、分布帰還型レーザ、分布ブラッグ反射型レーザ、垂直共振器型面発光レーザ、垂直外部共振器型発光レーザ、のうちの１つから発生することを特徴とする、上記請求項のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１２】
前記測定照射光が、前記中心波長を調整するための動作温度調節デバイスを有する照射光源（４）から発生し、前記動作温度調節デバイスは前記制御デバイス（３）によって制御されることを特徴とする、上記請求項のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１３】
サンプル（２）、特に眼、の測定用のＳＳ−ＯＣＴ方法であって、測定照射光（５）の中心波長のスペクトル調整によって、干渉法により、測定信号が生成され且つ、ここから前記サンプル（２）の深さ分解コントラスト信号が生成される方法において、前記サンプル（２）のまたは前記サンプル（２）内の動きが検出されてこれらを示す運動信号が生成されることと、前記深さ分解コントラスト信号の前記生成の前または最中に、前記運動信号によって、前記調整中に起きる前記サンプル（２）の動きによって引き起こされる測定誤差に関して前記測定信号が補正されることと、を特徴とする方法。
【請求項１４】
前記運動信号が、前記サンプル（２）内にあり前記装置（１）から固定距離にある参照部位（Ｂ）におけるコントラストを示すことを特徴とする、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記サンプル（２）の前記動きを検出するために、前記装置に面する前記サンプル（２）の表面、または前記サンプル内の境界面が検出されることを特徴とする、請求項１３または１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記サンプル（２）内にあり前記装置（１）まで固定距離を有する参照部位（Ｂ）の位置の補正信号が、前記中心波長がスペクトル的に固定された補正照射光（１４）によって干渉法により生成され、前記調整中に起きる前記補正信号の変化が、前記測定信号を補正するために用いられることを特徴とする、請求項１３、１４または１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記サンプル（２）が前記測定照射光（５）の一部によって照明され、前記サンプル（２）から反射または後方散乱された測定照射光が検出され、ただし、前記補正照射光（１４）の一部も前記サンプル（２）を照明し、前記サンプル（２）から反射または後方散乱された補正照射光が独立して検出され、そこから前記補正信号が生成されることを特徴とする、請求項１５に記載の方法。
【請求項１８】
前記補正照射光（１４）が前記測定照射光（５）とはスペクトル的にまたは偏光に関して異なり、それに対応して前記反射または後方散乱された補正照射光が前記反射または後方散乱された測定照射光からスペクトル的にまたは偏光に関して分割されることを特徴とする、請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記測定照射光（５）および前記補正照射光（１４）の波長が各々についてそれらの中心波長を中心として変調され、前記補正信号および前記測定信号の位相関数がヘテロダイン検出によって求められ、前記測定信号の前記位相関数から前記補正信号の前記位相関数が除去されることを特徴とする、請求項１６乃至１８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２０】
前記変調のために前記測定および補正照射光源（４、１３）の供給電流が変調され、好ましくは前記供給電流の生成の安定性は０．８μＡよりも良好であることを特徴とする、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記反射または後方散乱された測定および補正照射光の平衡検出が行われ、前記補正信号および前記測定信号の位相関数が求められて前記測定信号の前記位相関数から前記補正信号の前記位相関数が除去されることを特徴とする、請求項１６乃至２０のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２２】
前記測定信号の振幅関数が、振幅が時間的に一定となるようにリスケールされ、前記こうして補正された測定信号からフーリエ変換によって前記コントラスト信号が生成されることを特徴とする、請求項２０または２１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２３】
前記測定照射光の前記中心波長が、対応する照射光源の動作温度の変化量を介して調整されることを特徴とする、請求項１６乃至２２のいずれか１項に記載の方法。