【事件の表示】
　特願２００２−５７０５２３「ビデオ符号化における中間画素高精度高速探索を実現する装置及び方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　９月１２日国際公開、ＷＯ０２／７１７４１、平成１６年　８月２６日国内公表、特表２００４−５２６３６３、請求項の数（１）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　経緯
１　手続
　本願は、平成１４年３月８日（優先権主張平成１３年３月８日）に出願したものであって、手続の概要は以下のとおりである。
　
　手続補正　　　　　　　　　：平成１７年　３月　８日
　拒絶理由通知　　　　　　　：平成１８年　６月２６日（起案日）
　手続補正　　　　　　　　　：平成１８年１２月２８日
　拒絶理由通知＜最後＞　　　：平成１９年１０月　４日（起案日）
　手続補正　　　　　　　　　：平成２０年　４月１５日
　補正却下の決定　　　　　　：平成２０年　５月１２日（起案日）
　拒絶査定　　　　　　　　　：平成２０年　５月１２日（起案日）
　拒絶査定不服審判請求　　　：平成２０年　８月２５日
　手続補正　　　　　　　　　：平成２０年　９月２４日
　前置審査報告　　　　　　　：平成２０年１０月２９日
　審尋　　　　　　　　　　　：平成２２年　４月　８日（起案日）
　回答書　　　　　　　　　　：平成２２年１０月１３日
　
２　査定
　原査定の理由は、平成１９年１０月４日付け拒絶理由通知（最後）に記載したとおりの理由とするもので、概略、以下のとおりである。
　
　この出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　　　　　　　　　　記
　請求項１に対して
　　引用文献１〜３
（引用文献１には、第一段階で整数画素精度で動きベクトルの探索を行い、第二段階で半画素精度で動きベクトルの探索を行うことが記載されており、そのような二段階の探索においても、第二段階では８方向の演算を行う必要があるので演算量が膨大になるという課題を有することが記載されており（段落【０００４】参照）、そのような課題を解決するために第二段階の探索方向を絞り込むことによって演算量を削減することが記載されている。
　また、動きベクトルの探索において、演算量を削減するために、まず横方向に探索して誤差が最小になる点を求め、次にその点から縦方向に探索して誤差が最小になる点を求めるという手法は、引用文献２（特に、段落【００８４】〜【００９４】参照）又は引用文献３（特に、第２頁左上欄第７行〜右上欄第１５行、第３頁左下欄第４行〜第６行参照）に記載されているから、上記引用文献１に記載のものにおける上記第二段階において、演算量を削減するために、上記引用文献２又は引用文献３に記載の手法を用いるようにすることは、当業者が容易になし得ることである。）
　
　　　　　　　　　　　引　用　文　献　等　一　覧
１.特開平１０−２４７２４２号公報
２.特開２０００−２５３４０７号公報
３.特開平１−２３３８９４号公報
　
３　平成２０年９月２４日付け手続補正
　この補正は、補正前請求項１を、下記請求項１の記載に変更するものである。
　
　　　記（補正後請求項１、平成２０年９月２４日付け手続補正）
【請求項１】
　ビデオ映像データの第１フレームに含まれる第１マクロブロックと第２フレームに含まれる第２マクロブロックの間の動きベクトルを得る方法であって、
　前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差手段（“MAD”）値を有する整数画素の位置
を探索し、前記整数画素の位置
　第１方向に最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素
の位置を決定
第１の
　第２方向に最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素
の位置を決定
第２の
　前記整数画素の位置と
前記
と
前記
前記
と
第３の
　前記
第１の
　前記整数画素の位置
に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、
　
前記第１共役サブ画素の
の位置
前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、
　
いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、
　前記
第２の
　
前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、
　
前記第２共役サブ画素の
の位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、
　
前記第３のステップは、
　前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、
　
前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得ることを特徴とする方法。
　
第２　補正の適否（審判請求の日から３０日以内にする補正）
　
　【結論】
　平成２０年９月２４日付けの手続補正を認める。
　
　【理由】
　平成２０年９月２４日付けの手続補正（以下「本件補正」という。）は、平成１８年改正前特許法（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法）第１７条の２第３項及び第４項、並びに同条第５項（同項で準用する第１２６条第５項）の各規定に適合する。
　詳細は、以下のとおりである。
　
１　補正の内容
　平成２０年９月２４日付けの手続補正（以下、「本件補正」という）は、補正前請求項１（平成１８年１２月２８日付け手続補正によるもの）についてする以下の補正を含む。
　
［補正事項１］補正前請求項１の「前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差手段（“MAD”）値を有する整数画素の位置で、」を、
　「前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差手段（“MAD”）値を有する整数画素の位置
を探索し、前記整数画素の位置
　
［補正事項２］補正前請求項１の「第１方向に最小第１方向MAD値を有する第１共役サブ画素値を識別するステップ」、
　「前記第１共役サブ画素値を識別するステップは、前記整数画素の位置に中心がある前記第１方向における第１と第２の中間画素値であって、共役の関係である前記第１と第２の中間画素値を第１共役サブ画素値として決定するために共一次内挿法を実行し、
　前記第１と第２の中間画素の位置のそれぞれにおいてMAD値を決定し、
　前記第１方向において前記最小MADを有する前記中間画素の位置を決定するために前記MAD値を比較し、」を、
　「第１方向に最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素
の位置を決定
第１の
　「前記
第１の
　前記整数画素の位置
に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、
前記第１共役サブ画素の
の位置
前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、
いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、
　
［補正事項３］補正前請求項１の「第２方向に最小第２方向MAD値を有する第２共役サブ画素値を識別するステップ」、
　「前記第２共役サブ画素値を識別するステップは、前記第１の方向において前記最小MAD値を有する前記中間画素の位置に中心がある前記第２の方向における第１と第２の中間画素値であって、共役の関係である前記第２の方向における前記第１と第２の中間画素値を第２共役サブ画素値として決定するために共一次内挿法を実行し、
　前記第２の方向における前記第１と第２の中間画素の位置のそれぞれにおいてMAD値を決定し、
　前記第２の方向において最小MAD値を有する前記中間画素の位置を決定するために前記MAD値を比較し、」を、
　「第２方向に最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素
の位置を決定
第２の
　「前記
第２の
　
前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、
前記第２共役サブ画素の
の位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、
　
［補正事項４］補正前請求項１の「前記整数画素の位置とサブ画素の位置を用いて第１マクロブロックと第２マクロブロックの間の距離を表現している動きベクトルを決定するステップ」、「前記サブ画素の位置が、最小MAD値を有する第１共役サブ画素値と第２共役サブ画素値から得られる」を、
　「前記整数画素の位置と
前記
と
前記
前記
と
第３の
　「
前記第３のステップは、　前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、
前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得る
　
２　補正の範囲、目的の適合性について
　上記［補正事項１］は、補正前請求項１に記載されていた「整数画素の位置」を限定するものであり、
　上記［補正事項２］は、補正前請求項１に記載されていた「第１方向に最小第１方向MAD値を有する第１共役サブ画素値を識別するステップ」を限定するものであり、
　上記［補正事項３］は、補正前請求項１に記載されていた「第２方向に最小第２方向MAD値を有する第２共役サブ画素値を識別するステップ」を限定するものであり、
　上記［補正事項４］は、補正前請求項１に記載されていた「前記整数画素の位置とサブ画素の位置を用いて第１マクロブロックと第２マクロブロックの間の距離を表現している動きベクトルを決定するステップ」を限定するものであり、
　いずれも、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に規定する「特許請求の範囲の減縮」に該当する。
　また、上記［補正事項１］ないし［補正事項４］の付加される下線部の特定事項は、本件出願の願書に最初に添付した明細書の段落【００２７】に記載されている事項であると認められる。
　したがって、本件補正は、願書に最初に添付した明細書及び図面に記載した事項の範囲内においてする補正であるから、特許法第１７条の２第３項の規定に適合する。
　
３　独立特許要件（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項の規定が準用する特許法１２６条第５項）について
（１）補正後発明
　以下、上記補正後請求項１記載の発明を、補正後発明という。
　
（２）引用刊行物の記載
ア　刊行物１（特開平１０−２４７２４２号公報）
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献１（以下、「刊行物１」という。）には、以下の記載がある。
　
（刊１−１）＜産業上の利用分野＞
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ブロックマッチング探索方法と装置、とくに、処理の対象となるフレーム画像と処理の基準となるフレーム画像の間でブロック単位にマッチングを行う方法と、その方法を用いた装置に関する。
　
（刊１−２）＜従来の技術＞
【０００２】
【従来の技術】近年、各種映像関連機器や通信技術の進展に伴い、画像をより少ない符号量で、より高い画質を維持しながら伝送または記録することに対する要望はますます高まりつつある。こうした背景から、ビデオ・コーデックとよばれる画像符号化伝送装置では、動き補償を用いた画像符号化が採用されることがある。動き補償とは、あるフレーム画像Ａが入力されたとき、先に入力されていたフレーム画像Ｂに対する画像データの差分と動きベクトルなどを利用して、フレーム画像Ａの符号量を低減する方式をいう。動きベクトルを算出する際、フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間でブロックマッチングが行われることが多い。
【０００３】特開平５−４０８２８号公報には、ブロックマッチングの演算量を低減する探索方式が提案されている。この方式では、まず第１段階において、全データ平面にわたって飛び飛びのブロックマッチング検査を行い、最適候補ブロックを探索する。つぎに第二段階で、最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内で詳細なブロックマッチングを行う。この二段階の処理で最終的に最適なブロックデータを得る。この結果、最初から全データ平面に対して詳細なブロックマッチングを行うことに比べ、トータルの演算量が低減される。
　
（刊１−３）＜発明が解決しようとする課題＞
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このブロックマッチング探索方式では、第一段階を導入することで演算量を減らすことができるが、第二段階については最適候補ブロックの周囲にわたって合計８回の詳細なブロックマッチングが必要になる。第二段階では、例えば半画素（ハーフペル）の精度でブロックマッチングが行われるため、まず周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出し、それらの基準フレーム画像に対する歪み量、すなわち画像データの差分絶対値和を算出するよう構成されている。したがって、８方向にわたる演算量はやはり膨大であり、また演算に必要なメモリのワークエリアも大きくなる。ハードウエアも高速に設計しなければならない。
【０００５】本発明はこうした点に鑑みてなされたもので、その目的は、ブロックマッチングの最終結果の妥当性を確保しながら、さらに演算量を低減し、ハードウエアをよりコンパクトにし、ハードウエアに要求される高速性を緩和することのできるブロックマッチング探索方法およびその方法を用いた装置の提供にある。
　
（刊１−４）＜実施の形態１＞（当審注：式１および式１０におけるΣ(●，■＝▲)は、Σの上に●、下に■＝▲の意味、つまり、■＝▲から始まり、■＝●までの値を合計する関数を表すものとして代用した。）
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の好適な実施の形態を適宜図面を参照しながら説明する。
【００１４】実施の形態１．図１は実施の形態１に係るブロックマッチング探索装置の構成を示す図である。同図において、１は処理の対象となるフレーム画像データが順次入力される入力フレームバッファ、２は先に入力された、処理の基準となるフレーム画像データが格納されているフレームバッファ、３は入力フレームバッファ１より出力される入力データブロック、４はフレームバッファ２より出力される再生画像データブロック、５は整数画素精度の歪み量を演算する第１マッチング部、１０は所定探索範囲（例えば両フレームで位置的に近い範囲）内の各ブロックに関して第１マッチング部５から出力される歪み量、６は第１マッチング部５におけるマッチング結果をもとに最良マッチングを得ることのできる可能性の高い探索方向をしぼり込む判定部、７はしぼり込まれた探索方向において半画素精度の歪み量を演算する第２マッチング部、８は第２マッチング部７の出力を受けて動きベクトルを計算する動きベクトル算出部、２２は算出された動きベクトルである。
【００１５】判定部６において、１１は第１マッチング部５のマッチング結果のうち最小歪み量を与える（すなわちマッチング結果が最良である）再生画像データブロックの位置を検出し、当該ブロックの入力データブロックに対する相対位置を示すベクトル（ｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎと表記）を出力する第１検出部、１３は第１検出部１１から出力されるｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ、１２は第１マッチング部５のマッチング結果のうち二番目に小さな歪み量を与える（すなわちマッチング結果が二番目によい）再生画像データブロックの位置を検出し、当該ブロックの入力データブロックに対する相対位置を示すベクトル（ｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄと表記）を出力する第２検出部、１４は第２検出部１２から出力されるｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ、１５はｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３とｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４を受けて半画素精度のブロックマッチングによって動きベクトルを検索すべき範囲を設定する範囲設定部、１６は範囲設定部１５の出力である動きベクトルの検索範囲（以下、単に検索範囲という）である。
【００１６】第２マッチング部７において、１８は検索範囲１６において半画素精度で再生画像データを算出する画像再生部、１９は半画素精度で再生された再生画像データ、２０は再生画像データ１９を利用して半画素精度の歪み量を演算する演算部、２１は演算で求められる歪み量である。
【００１７】次に動作について説明する。まず第１マッチング部５は、入力フレームバッファ１に蓄積された入力ブロックデータを入力する。これとともに、フレームバッファ２より動きベクトルの所定探索範囲内の再生画像データブロックを読み込み、入力データブロックと、整数画素精度の探索点における再生画像データブロックとの歪み量Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）を式１に基づき算出する。ここで、所定の動きベクトル探索範囲は、入力データブロックの位置を中心としたＸ軸方向±１６、Ｙ軸方向±１６の近傍範囲であるとする。
【００１８】
【数１】
　Ｅ(Ｖｘ，Ｖｙ)＝Σ（１６，ｘ＝１）Σ（１６，ｙ＝１）｜Ａ（ｘ，ｙ）−Ａ’（ｘ＋Ｖｘ，ｙ＋Ｖｙ）｜　　　（式１）
ここで、Ａ（ｘ，ｙ）は入力データブロックの画素値、Ａ’（ｘ，ｙ）は再生画像データブロックの画素値、ＶｘとＶｙは入力データブロックの位置を基準とする移動量（−１６≦Ｖｘ，Ｖｙ≦１６）である。
【００１９】第１検出部１１では、第１マッチング部５より出力された複数の歪み量Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）のうち最小の歪み量Ｅ＿ｍｉｎを求め、Ｅ＿ｍｉｎを与える再生画像データブロックの入力データブロックに対する相対位置を示すベクトル（Ｖｘ＿ｍｉｎ，Ｖｙ＿ｍｉｎ）、すなわちｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３を検出する。一方、第２検出部１２ではＥ（Ｖｘ，Ｖｙ）の中で２番目に小さい歪み量Ｅ＿ｓｅｃｏｎｄを求め、Ｅ＿ｓｅｃｏｎｄを与える再生画像データブロックの入力データブロックに対する相対位置を示すベクトルｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４を出力する。
【００２０】範囲設定部１５は、ｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３とｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４との関係に基づき検索範囲１６を設定する。設定例を図２を用いて説明する。同図中●はｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３で決まる位置、すなわち第１マッチング部５において最良のマッチングが得られた位置（以下「仮の最良位置」という）を示し、（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）、（ｆ）、（ｇ）、（ｈ）は、それぞれ仮の最良位置の左上、直上、右上、直左、直右、左下、直下、右下の半画素位置に対応する。
【００２１】図２に示すように仮の最良位置を中心に周囲を８つの領域１〜領域８に分割する。ここで、仮の最良位置を原点として見たｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４の示す位置（すなわち、ｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４−ｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３で決まるベクトルの示す位置で、以下「可能性のある最良位置」ともいう）が領域１に属していれば検索範囲１６を（ｂ）に設定し、以下同様に同図の各領域に付される英字に従って検索範囲１６を設定する。
【００２２】第２マッチング部７ではまず、画像再生部１８にて検索範囲１６に対応する半画素精度の再生画像データ１９を算出する。図３は算出例を説明する図である。図中Ａ〜Ｉを整数画素精度の再生画像データが対応する位置、ａ〜ｈを半画素精度の再生画像データ１９が対応する位置とすれば、ａ〜ｈの画素値はそれぞれ式２〜９によって算出される。
【００２３】
ａ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｄ＋Ｅ＋２）／４      （式２）
ｂ＝（Ｂ＋Ｅ＋１）／２              （式３）
ｃ＝（Ｂ＋Ｃ＋Ｅ＋Ｆ＋２）／４      （式４）
ｄ＝（Ｄ＋Ｅ＋１）／２              （式５）
ｅ＝（Ｅ＋Ｆ＋１）／２              （式６）
ｆ＝（Ｄ＋Ｅ＋Ｇ＋Ｈ＋２）／４      （式７）
ｇ＝（Ｅ＋Ｈ＋１）／２              （式８）
ｈ＝（Ｅ＋Ｆ＋Ｈ＋Ｉ＋２）／４      （式９）
ここで、例えば式２に含まれる定数「２」は、後の四捨五入をこの段階で疑似的に実行してしまうためのソフトウエア技法にもとづくものであり、Ａ〜Ｉの一文字につき０．５を付加した結果生じる。
【００２４】図４は可能性のある最良位置が仮の最良位置の真上にある場合の半画素精度の再生画像データブロックを示す。この場合、仮の最良位置にある再生画像データブロック（図中太枠５０で表示）の各点に対し、真上方向の探索を考慮した式３を用いて半画素精度の再生画像データブロック（図中細枠５１で表示）を算出する。この計算は従来の技術で８通り行っていたため、この部分の演算量は理論上１／８になる。
【００２５】つづいて、再生画像データブロックをもとに、演算部２０で精細なブロックマッチングを行う。ここでは、可能性のある最良位置の再生画像データブロック（図４の細枠）と入力データブロックとの歪み量Ｅｈ（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）が式１０で算出される。
【００２６】
【数２】
Ｅｈ(Ｖｘｈ，Ｖｙｈ)＝Σ（１６，ｘ＝１）Σ（１６，ｙ＝１）｜Ａ（ｘ，ｙ）−Ａ'h（ｘ＋Ｖｘｈ，ｙ＋Ｖｙｈ）｜　　　（式１０）
Ａ'h（ｘ＋Ｖｘｈ，ｙ＋Ｖｙｈ）は半画素精度の再生画像データブロックを示す。ここでは真上方向を考慮するため、Ｖｘｈ＝０、Ｖｙｈ＝０．５に関する計算が行われる。この計算の結果は歪み量２１として動きベクトル算出部８へ与えられる。式１０の計算は、従来の技術で説明した方法であれば、Ｖｘｈ、Ｖｙｈ＝−０．５、０、０．５として、Ｖｘｈ＝Ｖｙｈ＝０の場合（つまり仮の最良位置）を除く合計８回の計算を要した部分であり、本実施の形態では式１０に関する演算量も理論上１／８になる。
【００２７】最後に、動きベクトル算出部８において、可能性のある最良位置における歪み量２１と、すでに第１マッチング部５の演算によって求められている仮の最良位置におけるＥ＿ｍｉｎとを比較し、より少ないほうをもとに動きベクトルを決定する。したがって、仮の最良位置および可能性のある最良位置のうち、最終的に最良と考えられる位置が選択される。この選択にしたがい、動きベクトル２２が出力される。
【００２８】図５は本実施の形態によるブロックマッチングの手順を示すフローチャートである。同図のごとく、まずＳ２において、入力データブロックと動きベクトルの所定探索範囲内の再生画像データブロックの歪み量Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）が式１で算出される。Ｓ３ではＳ２で計算した歪み量Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）とその時点での歪み量の最小値であるＥ＿ｍｉｎとの比較を行い、Ｅ＿ｍｉｎ＞Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）なら、Ｓ４でＥ＿ｍｉｎ、Ｅ＿ｓｅｃｏｎｄ、ｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３、ｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４が更新される。Ｅ（Ｖｘ，Ｖｙ）≧Ｅ＿ｍｉｎならＳ５に進む。
【００２９】Ｓ５では所定探索範囲内のすべての再生画像データブロックに関する歪み量の算出が終了したか否かを判断し、未終了ならＳ６にて再生画像データブロックの更新を行いＳ２に戻る。Ｓ５で終了と判断した場合、Ｓ７に進む。Ｓ７ではｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３とｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４との関係に基づき、半画素精度の検索範囲１６、すなわち可能性のある最良位置を決定する。つづくＳ８では、式２〜式９のいずれかを用いて検索範囲１６に対応する半画素精度の再生画像データブロックを算出する。
【００３０】Ｓ９では、入力データブロックとＳ８にて求めた再生画像データブロックとの歪み量Ｅｈ（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）を式１０に基づき算出する。Ｓ１０では、Ｓ９で算出した、可能性のある最良位置における歪み量Ｅｈ（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）と仮の最良位置における歪み量Ｅ＿ｍｉｎとの比較を行い、Ｅ＿ｍｉｎ＞Ｅｈ（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）ならＳ１１においてＥ＿ｍｉｎの更新とｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３の更新を行う。Ｅｈ（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）≧Ｅ＿ｍｉｎならＳ１２に進み、ｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３を出力する。この後、最終的なｖｅｃｔｏｒ＿ｍｉｎ１３に基づいて動きベクトル２２が決定される。
【００３１】以上のように、この実施の形態によれば、第１マッチング部５において良好なマッチングを示した複数ブロックの位置の相互関係をもとに、最良なマッチングが得られるであろう探索方向がしぼり込まれるため、演算量の大幅な削減、処理時間の短縮が可能となる。この結果、演算に必要なメモリ等のハードウェアもコンパクトにすることができる。
【００３２】なお本実施の形態では、図２において、可能性のある最良位置としてただひとつの位置を検索範囲１６として定めたが、当然これ以外の方法もある。例えば仮の最良位置から見たｖｅｃｔｏｒ＿ｓｅｃｏｎｄ１４が以下の領域に存在するとき、右に示す３方向を可能性のある最良位置として検索範囲１６に設定し、探索に幅をもたせてもよい。
【００３３】・領域１…（ａ）、（ｂ）、（ｃ）
・領域３…（ｃ）、（ｅ）、（ｈ）
・領域５…（ｆ）、（ｇ）、（ｈ）
・領域７…（ａ）、（ｄ）、（ｆ）
また、領域と検索方向の関係についても、図２の代わりに図６を採用してもよい。図６の場合、領域２、４、６、８がそれぞれ４つの象現のひとつに対応し、領域１はｙ＞０，ｘ＝０、領域３はｘ＞０，ｙ＝０、領域５はｙ＜０，ｘ＝０、領域７はｘ＜０，ｙ＝０にそれぞれ対応する。図２、図６のいずれを採用するかについては、実験等で適宜決めればよい。
　
（３）刊行物１に記載された発明（引用発明）
ア　引用発明認定の対象
　刊行物１には、記載（刊１−２）によれば、従来の技術として、
　「動きベクトルを算出する際、フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間でブロックマッチングが行われることが多い」と記載され、
「ブロックマッチング」については、
　「第１段階において、全データ平面にわたって飛び飛びのブロックマッチング検査を行い、最適候補ブロックを探索」し、
　「つぎに第二段階で、最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内で詳細なブロックマッチングを行」い、
　「この二段階の処理で最終的に最適なブロックデータを得る」ことが記載されている。
　つまり、刊行物１には、従来の技術として、
　フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間でブロックマッチングを行なって動きベクトルを算出する方法であって、
　第一段階において、全データ平面にわたって飛び飛びのブロックマッチング検査を行い、最適候補ブロックを探索し、
　つぎに第二段階で、最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内で詳細なブロックマッチングを行い、
　この二段階の処理で最終的に最適なブロックデータを得て動きベクトルを算出する
方法
　が記載されている。
　そして、記載（刊１−３）によれば、
「このブロックマッチング探索方式では、第一段階を導入することで演算量を減らすことができるが、第二段階については最適候補ブロックの周囲にわたって合計８回の詳細なブロックマッチングが必要になる。第二段階では、例えば半画素（ハーフペル）の精度でブロックマッチングが行われるため、まず周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出し、それらの基準フレーム画像に対する歪み量、すなわち画像データの差分絶対値和を算出するよう構成されている。したがって、８方向にわたる演算量はやはり膨大であり、また演算に必要なメモリのワークエリアも大きくなる。ハードウエアも高速に設計しなければならない。」というブロックマッチング探索を”前提”に、
　「ブロックマッチングの最終結果の妥当性を確保しながら、さらに演算量を低減し、ハードウエアをよりコンパクトにし、ハードウエアに要求される高速性を緩和することのできるブロックマッチング探索方法およびその方法を用いた装置の提供」を目的とすることが記載されており、
　その前提技術となるブロックマッチング探索方法に着目し、その前提技術となるブロックマッチング探索方法から、引用発明を認定する。
　
イ　引用発明
（ア）概要
　上述のように、従来の技術として、
　フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間でブロックマッチングを行なって動きベクトルを算出する方法であって、
　第一段階において、全データ平面にわたって飛び飛びのブロックマッチング検査を行い、最適候補ブロックを探索し、
　つぎに第二段階で、最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内で詳細なブロックマッチングを行い、
　この二段階の処理で最終的に最適なブロックデータを得て動きベクトルを算出する
方法
　が記載されている。
　
（イ）刊行物１の記載（刊１−４）＜実施の形態１＞からの援用
　刊行物１の記載（刊１−４）＜実施の形態１＞は、前記“前提技術”を記述したものではないが、「【００３１】以上のように、この実施の形態によれば、
第１マッチング部５において良好なマッチングを示した複数ブロックの位置の相互関係をもとに、最良なマッチングが得られるであろう探索方向がしぼり込まれる
　また、「・・・この計算は従来の技術で８通り行っていたため、この部分の演算量は理論上１／８になる。」（段落【００２４】）、「式１０の計算は、従来の技術で説明した方法であれば、Ｖｘｈ、Ｖｙｈ＝−０．５、０、０．５として、Ｖｘｈ＝Ｖｙｈ＝０の場合（つまり仮の最良位置）を除く合計８回の計算を要した部分であり、本実施の形態では式１０に関する演算量も理論上１／８になる。」（段落【００２６】）といった記載からも各種計算式は、従来と同様の式が使用されていることが分かる。
　よって、（刊１−４）＜実施の形態１＞に説明される、
第１マッチング部５における歪み量の算出のための式１の計算（段落【００１７】〜【００１８】）および
　第１検出部１１における最小の歪み量を与える再生画像データブロックの入力データブロックに対する相対位置を示すベクトルの検出（段落【００１９】）は、前記“前提技術”においての「第一段階」において行われる処理でもあるといえ、
　第２マッチング部７の画像再生部１８および演算部２０における、再生画像データの算出および式１０による歪み量の計算（段落【００２２】〜【００２６】）は、前記“前提技術”においての「第二段階」において行われる処理でもあると認められる。
　また、式１０について検討するに、段落【００２６】によると、「式１０の計算は、従来の技術で説明した方法であれば、Ｖｘｈ、Ｖｙｈ＝−０．５、０、０．５として、Ｖｘｈ＝Ｖｙｈ＝０の場合（つまり仮の最良位置）を除く合計８回の計算を要した部分であり、本実施の形態では式１０に関する演算量も理論上１／８になる。」とされおり、「Ｖｘｈ、Ｖｙｈ＝−０．５、０、０．５」が想定されていることから、Ｅｈ(Ｖｘｈ，Ｖｙｈ)に対する正しい式は、
　Ｅｈ(Ｖｘｈ，Ｖｙｈ)＝Σ（１６，ｘ＝１）Σ（１６，ｙ＝１）｜Ａ（ｘ，ｙ）−Ａ’ｈ（ｘ＋Ｖｘ＿ｍｉｎ＋Ｖｘｈ，ｙ＋Ｖｙ＿ｍｉｎ＋Ｖｙｈ）｜
　であることは当業者に普通に認識されることである。
　そして、Ｅｈ(Ｖｘｈ，Ｖｙｈ)に対応する最終的な動きベクトルは、ベクトル（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）ではなく、整数精度で求めたベクトル（Ｖｘ＿ｍｉｎ，Ｖｙ＿ｍｉｎ）にベクトル（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）を加算したものであることは明らかである。
　
（ウ）ブロックマッチングにおけるブロックの大きさ
　記載（刊１−４）＜実施の形態１＞のブロックマッチングは、式１および式１０により、歪み量を計算して行っており、そのブロックの大きさは、式１、式１０によれば、１６×１６のブロックが用いられている。
　
（エ）「第一段階」
Ａ　「飛び飛び」について
　「第二段階」については、「第二段階については最適候補ブロックの周囲にわたって合計８回の詳細なブロックマッチングが必要になる。第二段階では、例えば半画素（ハーフペル）の精度でブロックマッチングが行われる」とされており、ここで想定されている「第二段階」は、「合計８回のブロックマッチング」が必要であり、半画素の精度のものであるから、「第二段階」の「最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内」とは、最適候補ブロックを取り囲む水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内であることは明らかである。
　そして、「最適候補ブロックを取り囲む水平・垂直方向に半画素ずらし」て「合計
８回
　また、記載（刊１−４）＜実施の形態１＞の援用が可能である「第一マッチング部５」が整数の精度であることからも当該“前提技術”が整数の精度であることが分かる。
　
Ｂ　「ブロックマッチング検査」について
　「第一段階」の「ブロックマッチング検査を行い、最適候補ブロックを探索」は、上記（イ）で検討したように、歪み量を算出し、最小の歪み量を与えるブロックを探索していることは明らかであり、「歪み量」は、記載（刊１−３）「歪み量、すなわち画像データの差分絶対値和」によれば、「差分絶対値和」である。
　
Ｃ　まとめ
　よって、“前提技術”における「第一段階」は、
　「全データ平面にわたって整数の精度で、ブロックマッチング検査を、歪み量を算出して行い、差分絶対値和が最小の最適候補ブロックを探索する第一段階」である。
　
（オ）「第二段階」
Ａ　「詳細なブロックマッチング」について
　上述（エ）Ａのように、「第二段階」における「ブロックマッチング」は半画素の精度である。
　
Ｂ　「最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内」について
　上述（エ）Ａのように、「最適候補ブロックを取り囲む所定範囲内」とは、最適候補ブロックを取り囲む水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内であることは明らかである。
　また、「最適候補ブロックを取り囲む水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内」の「ブロックマッチング」を行うことは、「最適候補ブロック」の位置、つまり、第一段階で得た、
整数精度の位置を基準に
　
Ｃ　半画素精度のブロックマッチングを行う際に必要となるデータ（再生画像データ値）について
　記載（刊１−３）「第二段階では、例えば半画素（ハーフペル）の精度でブロックマッチングが行われるため、まず周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出し、それらの基準フレーム画像に対する歪み量、すなわち画像データの差分絶対値和を算出するよう構成されている。」と記載されており、「周囲８方向」は「前記整数精度の位置」の「周囲８方向」であることは明らかであるから、
　第二段階は、
　「前記整数精度の位置」の「周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出し」てから、「それらの基準フレーム画像に対する」「差分絶対値和を算出するよう構成されている」。
　また、「再生画像データ値を算出」するに際し、記載（刊１−４）の段落【００２２】および【００２３】のように計算するものであり、この計算は、共一次内挿ということができる。
　よって、第二段階は、
　共一次内挿により、前記整数精度の位置の周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出してから、それらの基準フレーム画像に対する差分絶対値和を算出するよう構成されている。
　
Ｄ　まとめ
　よって、「第二段階」は、「第一段階で得た整数精度の位置を基準に、水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内で、半画素の精度でブロックマッチングが行われる」ものであり、　また、第二段階は、共一次内挿により、前記整数精度の位置の周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出してから、それらの基準フレーム画像に対する差分絶対値和を算出するよう構成されているものである。
　
（カ）「最終的に最適なブロックデータを得て動きベクトルを算出する」
　上述（イ）のように、Ｅｈ(Ｖｘｈ，Ｖｙｈ)に対応する最終的な動きベクトルを得るために、整数精度で求めたベクトル（Ｖｘ＿ｍｉｎ，Ｖｙ＿ｍｉｎ）に、ベクトル（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）を加算することにより求めることは当然であるから、
　「第二段階」で得た差分絶対値和と仮の最良の位置（整数精度で求めた位置）における差分絶対値和とを比較して、第二段階で得た差分絶対値和が最小値である場合に、差分絶対値和が最小となるようなベクトル（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）を得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトル（Ｖｘ＿ｍｉｎ，Ｖｙ＿ｍｉｎ）を加算することにより、最終的な動きベクトルを得るものである。
　そして、ベクトル（Ｖｘｈ，Ｖｙｈ）は、整数精度で求めた位置からの相対位置を示すものである。
　つまり、「最終的に最適なブロックデータを得て動きベクトルを算出する」とは、
　「第二段階で得た差分絶対値和と整数精度で求めた位置における差分絶対値和とを比較して、第二段階で得た差分絶対値和が最小値である場合に、差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトルを得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトルを加算することにより、最終的な動きベクトルを得る」ものである。
　
（キ）まとめ
　以上によれば、補正後発明と対比する、引用発明として、下記の発明を認めることができる。
　
　　　　　　　　　　記（引用発明）
　フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間で１６×１６のブロックを用いたブロックマッチングを行なって動きベクトルを算出する方法であって、
　全データ平面にわたって整数の精度で、ブロックマッチング検査を、差分絶対値和を算出して行い、差分絶対値和が最小の最適候補ブロックを探索する第一段階、
　第一段階で得た整数精度の位置を基準に、水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内で、半画素の精度でブロックマッチングが行われる第二段階、
　第二段階で得た差分絶対値和と整数精度で求めた位置における差分絶対値和とを比較して、第二段階で得た差分絶対値和が最小値である場合に、差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトルを得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトルを加算することにより、最終的な動きベクトルを得る段階
　を含む方法において、
　前記第二段階は、
　共一次内挿により、前記整数精度の位置の周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出してから、それらの基準フレーム画像に対する差分絶対値和を算出するよう構成されている方法
　
（４）対比・判断
　補正後発明と引用発明とを対比する。
　
ア　本願発明の分説
　対比の便宜上、補正後発明を次の構成要件Ａ〜Ｅに分説しておく。
　
＜補正後発明（分説）＞
　Ａ：ビデオ映像データの第１フレームに含まれる第１マクロブロックと第２フレームに含まれる第２マクロブロックの間の動きベクトルを得る方法であって、
　Ｂ：前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差手段（“MAD”）値を有する整数画素の位置を探索し、前記整数画素の位置で、
　Ｃ：第１方向に最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置を決定する第１のステップと、
　Ｄ：第２方向に最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置を決定する第２のステップと、
　Ｅ：前記整数画素の位置と前記サブ画素の位置とを用いて前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の距離を表現している動きベクトルを決定する第３のステップと
　を含んでいる方法において、
　Ｃ’：前記第１のステップは、
　前記整数画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、
　前記第１共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、
　いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、
　Ｄ’：前記第２のステップは、
　前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、
　前記第２共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、
　Ｅ’：前記第３のステップは、
　前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、
　前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得ることを特徴とする
　Ａ：方法。
　
イ　構成要件Ａ「ビデオ映像データの第１フレームに含まれる第１マクロブロックと第２フレームに含まれる第２マクロブロックの間の動きベクトルを得る方法であって」について
　引用発明の「フレーム画像Ａ」、「フレーム画像Ｂ」は、「ビデオ映像データの第１フレーム」、「第２フレーム」といえる。
　また、引用発明の「１６×１６のブロック」は、「マクロブロック」などと称されることは普通のことであり、また、上記「フレーム画像」に含まれることは明らかである。
　よって、引用発明の「フレーム画像Ａとフレーム画像Ｂの間で１６×１６のブロックを用いたブロックマッチングを行なって動きベクトルを算出する方法」は、「ビデオ映像データの第１フレームに含まれる第１マクロブロックと第２フレームに含まれる第２マクロブロックの間の動きベクトルを得る方法であって」といえる。
　
ウ　構成要件Ｂ「前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差手段（“MAD”）値を有する整数画素の位置を探索し、前記整数画素の位置で、」について
　引用発明における「差分絶対値和」が「歪み値」とも称されることは、上述（３）イ（エ）Ｂのとおりであり、本願発明における「ＭＡＤ値」も歪み値といえるものである。
　引用発明の「全データ平面にわたって整数の精度で、ブロックマッチング検査を、差分絶対値和を算出して行い、差分絶対値和が最小の最適候補ブロックを探索する」は、「前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小歪み値を有する整数画素の位置を探索」であるといえ、
　また、引用発明において「第一段階で得た整数精度の位置を基準に」以降の処理を行うことは、「前記整数画素の位置で」以降の処理を行うことといえる。
　よって、本願発明と引用発明とは、「前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小歪み値を有する整数画素の位置を探索し、前記整数画素の位置で」以降の処理を行う点で一致する。
　もっとも、「歪み値」について、
　本願発明は、「ＭＡＤ値」とするのに対し、
　引用発明は、「差分絶対値和」とする点で相違する。（→相違点１）
　
エ　構成要件Ｃ「第１方向に最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置を決定する第１のステップ」、
　構成要件Ｄ「第２方向に最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置を決定する第２のステップ」、
　構成要件Ｃ’「前記第１のステップは、前記整数画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、前記第１共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、」、
　構成要件Ｄ’「前記第２のステップは、前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、前記第２共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、」について
　本願発明の上記構成要件Ｃ，Ｄ，Ｃ’およびＤ’は、「中間画素においてブロックマッチングを行う第１・２ステップ」ということができ、「ＭＡＤ値」は「歪み値」といいえ、該第１・２ステップは、「整数画素の位置」を基準として、「共一次内挿法を実行して」「中間画素の位置」を「サブ画素として決定」し、「前記サブ画素」の「前記中間画素」の「それぞれの位置において前記中間画素の」「歪み値」「を計算する」といいえるものである。
　また、引用発明の「半画素の精度でブロックマッチング」は「中間画素においてブロックマッチング」といえ、引用発明の「共一次内挿」は「前記整数精度の位置の周囲８方向」について行うから、「整数画素の位置を基準とし」ているといえる。
　よって、引用発明と本願発明は、「中間画素においてブロックマッチングを行う第１・２ステップ」を有し、「該第１・２ステップは、整数画素の位置を基準として、共一次内挿法を実行して中間画素の位置をサブ画素として決定し、前記サブ画素の前記中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素の歪み値を計算」する点で一致する。
　もっとも、本願発明が、「第１方向に最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置を決定する第１のステップ」と、「第２方向に最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置を決定する第２のステップ」とを含み、
　「前記第１のステップは、前記整数画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、前記第１共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、」、
　「前記第２のステップは、前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、前記第２共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素のＭＡＤ値を計算し、いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、」
　とするのに対し、
　引用発明は、「第一段階で得た整数精度の位置を基準に、水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内で、半画素の精度でブロックマッチングが行われる第二段階」、「前記第二段階は、共一次内挿により、前記整数精度の位置の周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出してから、それらの基準フレーム画像に対する差分絶対値和を算出するよう構成されている」とする点で相違する。（→相違点２）
　また、当該相違には、上述ウと同様に、本願発明は、ＭＡＤ値とするのに対し、
引用発明は、差分絶対値和である点の相違が含まれる。（→相違点１）
　
オ　構成要件Ｅ「前記整数画素の位置と前記サブ画素の位置とを用いて前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の距離を表現している動きベクトルを決定する第３のステップ」、構成要件Ｅ’「前記第３のステップは、前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得ることを特徴とする」について
［構成要件Ｅについて］
　引用発明の「差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置」、「整数精度で求めた位置からの相対位置」および「最終的な動きベクトル」は、それぞれ「整数画素の位置」、「サブ画素の位置」および「第１マクロブロックと第２マクロブロックとの間の距離を表現している動きベクトル」といえ、また、「得る」は、「決定する」ということができる。
　よって、引用発明の「第二段階で得た差分絶対値和と整数精度で求めた位置における差分絶対値和とを比較して、第二段階で得た差分絶対値和が最小値である場合に、差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトルを得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトルを加算することにより、最終的な動きベクトルを得る段階」は、「整数画素の位置とサブ画素の位置とを用いて第１マクロブロックと第２マクロブロックとの間の距離を表現している動きベクトルを決定する第３のステップ」といえる。
［構成要件Ｅ’について］
　引用発明の「第二段階で得た差分絶対値和が最小値」である場合の「差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトル」は、「サブ画素の位置から得られた中間画素変異ベクトル」といえる。
　また、引用発明の「第一段階で整数精度で求めたベクトル」は、「整数画素の位置を用いて得られた第１マクロブロックと第２マクロブロックとの間の整数変位を表現している整数高精度ベクトル」といえる。
　そして、引用発明の「差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトルを得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトルを加算することにより、最終的な動きベクトルを得る」は、上記「第３のステップ」における処理である。
　よって、引用発明の「差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトルを得て、そのベクトルと第一段階で整数精度で求めたベクトルを加算することにより、最終的な動きベクトルを得る」は、
　本願発明と「前記第３のステップは、サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得る」点で一致する。
　もっとも、「サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトル」について、
　本願発明では「前記最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトル」とするのに対し、
　引用発明では「差分絶対値和が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトル」する点、（→相違点３）
　および、上述ウと同様に、本願発明は、ＭＡＤ値とするのに対し、
引用発明は、差分絶対値和である点の相違が含まれる。（→相違点１）
　
（５）一致点・相違点
　以上の対比結果によれば、本願発明と引用発明との一致点および相違点は、下記のとおりである。
　
　　　　　　記（一致点）
　ビデオ映像データの第１フレームに含まれる第１マクロブロックと第２フレームに含まれる第２マクロブロックの間の動きベクトルを得る方法であって、
前記第１フレームに関連する前記第２フレームの中の最小絶対誤差値を有する整数画素の位置を探索し、前記整数画素の位置で
　中間画素においてブロックマッチングを行う第１・２ステップであり、
　整数画素の位置とサブ画素の位置とを用いて第１マクロブロックと第２マクロブロックとの間の距離を表現している動きベクトルを決定する第３のステップ
　を含む方法において、
　該第１・２ステップは、整数画素の位置を基準として、共一次内挿法を実行して中間画素の位置をサブ画素として決定し、前記サブ画素の前記中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素の歪み値を計算し、
　前記第３のステップは、サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトルを計算し、前記整数画素の位置を用いて得られた前記第１マクロブロックと前記第２マクロブロックとの間の前記整数変位を表現している整数高精度ベクトルに、前記中間画素変位ベクトルをオフセットとして加えることによって前記動きベクトルを得る方法
　
　　　　　　記（相違点）
［相違点１］
　「歪み値」について、
　本願発明は、「ＭＡＤ値」とするのに対し、
　引用発明は、「差分絶対値和」とする点
　
［相違点２］
　本願発明が、「第１方向に最小第１方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第１共役サブ画素の位置を決定する第１のステップ」、「第２方向に最小第２方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第２共役サブ画素の位置を決定する第２のステップ」、
　「前記第１のステップは、前記整数画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第１の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第１共役サブ画素として決定し、前記第１共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素の歪み値（ＭＡＤ値）を計算し、いずれか小さい歪み値（ＭＡＤ値）を有する前記中間画素の位置を前記最小第１方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第１共役サブ画素の位置として決定し、」、
　「前記第２のステップは、前記最小第１方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第１共役サブ画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して前記第２の方向に共役の関係にある第１及び第２の中間画素の位置を前記第２共役サブ画素として決定し、前記第２共役サブ画素の前記第１と第２の中間画素のそれぞれの位置において前記中間画素の歪み値（ＭＡＤ値）を計算し、いずれか小さい歪み値（ＭＡＤ値）を有する前記中間画素の位置を前記最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置として決定し、」
　とするのに対し、
　引用発明は、「第一段階で得た整数精度の位置を基準に、水平・垂直方向に半画素ずらした範囲内で、半画素の精度でブロックマッチングが行われる第二段階」、「前記第二段階は、共一次内挿により、前記整数精度の位置の周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出してから、それらの基準フレーム画像に対する歪み値（差分絶対値和）を算出するよう構成されている」とする点
　
［相違点３］
　「サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトル」について、
　本願発明では「前記最小第１方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第１共役サブ画素の位置と前記最小第２方向歪み値（ＭＡＤ値）を有する第２共役サブ画素の位置とを用いて定められた前記サブ画素の位置から得られた中間画素変位ベクトル」とするのに対し、
　引用発明では「歪み値（差分絶対値和）が最小となるような整数精度で求めた位置からの相対位置を示すベクトル」する点　
　
（６）相違点の判断等
ア　相違点１について
　ブロックマッチングの評価のために用いられる歪み値として、差分絶対値和やＭＡＤ値（本願明細書段落【０００８】に定義されたもの）は、よく知られたものであり、引用発明における差分絶対値和に替えて、差分絶対値和を画素数（引用発明の場合１６×１６＝２５６）で割ったＭＡＤ値とすることは当業者が容易に想到し得たことである。
　
イ　相違点２について
＜周知事項＞
　所定の範囲内で最も相似度の高いブロックを見つけ出して動きベクトルを検出するため方法として、one-at-a-time探索は、下記周知例１，２のように、よく知られている。
　
　　　　　記（周知例）
周知例１：特開２０００−２５３４０７号公報（原査定における引用文献２）
周知例２：特開平１−２３３８９４号公報（原査定における引用文献３）
　
　そして、該one-at-a-time探索は、下記周知例１の段落【００８４】〜【００９４】の記載から、以下の７つのステップ（Ｓ１）〜（Ｓ７）に分けることができる。
（Ｓ１）（ｉ，ｊ）の位置にある前フレームのブロックとの間の相似度（絶対差分の和）を検出する。
（Ｓ２）左右の隣接ブロック（（ｉ−１，ｊ）および（ｉ＋１，ｊ）の位置にあるブロック）との間の相似度を検出する。
（Ｓ３）上記（Ｓ１）の結果が最小である場合には、前フレームと現フレームとの間で動きがないものと判断して、動きベクトルはゼロベクトルとし、左右の隣接ブロックのどちらかにおいて絶対差分の和が最小となった場合、その最小値が得られたブロックの側に動きベクトルの始点となるブロックがあるものと推定する。
（Ｓ４）最小値が得られたブロックの側の隣接する側のブロックについて同様に絶対差分の和を計算する。
（Ｓ５）算出した絶対差分の和が、前回の絶対値差分の和よりも大きくなる、または、所定の探索範囲の外となる、のいずれかの条件が満たされるときに水平方向（Ｘ方向）のベクトル探索は終了される。
（Ｓ６）求めた（前記（Ｓ５）の条件が満たされる手前の）ブロックを始点として、垂直方向のベクトル探索を行う。垂直方向のベクトル探索の方法は、水平方向のベクトル探索方法と同じである。
（Ｓ７）前記（Ｓ６）で求めたブロックが、求める動きベクトルの始点を示すブロックとして検出される。
　
＜引用発明に周知技術を適用した構成＞
　引用発明は、記載（刊１−３）によると「まず周囲８方向にある半画素精度の再生画像データ値を算出し、それらの基準フレーム画像に対する歪み量、すなわち画像データの差分絶対値和を算出するよう構成されている。したがって、８方向にわたる演算量はやはり膨大」であり、「ブロックマッチングの最終結果の妥当性を確保しながら、さらに演算量を低減し、ハードウエアをよりコンパクトにし、ハードウエアに要求される高速性を緩和する」といった課題があるとされており、また、第二段階において「最適候補ブロックを取り囲む」「所定範囲内」の探索を行うものである。
　そして、上記周知技術は、周知例１の段落【０００８】によれば「one-at-a-time探索」は「探索範囲と探索候補ブロックを限定するため、動きベクトル探索装置の構成を簡素化することができる」ものであり、段落【００１０】によれば、「one-at-a-time探索により動きベクトルを検出する場合、着目するブロックに関して探索始点をどこにするかは重要な問題である。」とされている。
　よって、８方向にわたる（つまり、
探索候補ブロックが限定されない）演算量は膨大であり、演算量を低減し、ハードウェアをよりコンパクトにする
探索始点を最適候補ブロックとする
　
探索候補ブロックを限定するため、動きベクトル探索装置の構成を簡素化することができ
探索始点をどこにするか
　を適用する動機付けがあるというべきである。
　そこで、引用発明に、当該周知技術を適用した場合、上述の（Ｓ１）〜（Ｓ７）が如何なる動作となるか、以下、刊行物１の図３の画素配置を参照しながら検討する。
（Ｓ１）引用発明における（ｉ，ｊ）に対応するのは、「最適候補ブロック」（図３の点Ｅ）であり、整数画素の位置に対するものということができ、また、その差分絶対値和（相似度）については、既に計算されている。
（Ｓ２）引用発明における左右の隣接ブロック（図３の点ｄおよび点ｅ）の差分絶対値和を計算する。その際、該差分絶対値和を計算する前に、半画素ずらした左右の隣接ブロックの画素位置を決定し、それぞれの画素値を計算する必要があり、半画素ずらした左右の隣接ブロックの画素位置を決定し、それぞれの画素値を計算するために、共一次内挿法を実行することは普通に想起されることである。
（Ｓ３）上記（Ｓ１）の結果（図３の点Ｅの差分絶対値和）が最小である場合には、前フレームと現フレームとの間で動きがないものと判断して、動きベクトルはゼロベクトルとし、上記（Ｓ２）で検出した左右の隣接ブロックのどちらか（図３の点ｄまたは点ｅ）において差分絶対値和が最小となった場合、その最小値が得られたブロックの側に動きベクトルの始点となるブロックがあるものと推定する。
（Ｓ４）最小値が得られたブロックの側の隣接する側のブロックについては、次の（Ｓ５）により計算の必要がない。
（Ｓ５）引用発明では所定範囲が１方向に対して１つ（半画素）であるため、次の範囲は所定の探索範囲の外となるので、水平方向（Ｘ方向）のベクトル探索は終了される。
（Ｓ６）（前記（Ｓ５）のとおり、前記（Ｓ４）は１回の計算で終了条件を満たすので）１回目の前記（Ｓ４）で計算したブロックを始点として、垂直方向のベクトル探索を行う。そして、垂直方向のベクトル探索の方法は、水平方向のベクトル探索方法と同じであるから、同様に、垂直方向の前記（Ｓ４）の計算（水平方向で右側が最小を示した場合は、図３の点ｃおよび点ｈ点の計算）を行って終了条件を満たすことになる。
（Ｓ７）前記（Ｓ６）で求めたブロックが、求める動きベクトルの始点を示すブロックとして検出される。
　
　つまり、
　整数画素の位置に対して、共一次内挿法を実行して、左右に半画素ずらしたブロックの画素位置を決定し、該画素位置の画素値を計算し、
　左右に半画素ずらしたブロックの差分絶対値和を計算し、
　該左右に半画素ずらしたブロック、最適候補ブロックのうち差分絶対値和が最小のブロックを検出し、
　共一次内挿法を実行して、該最小の差分絶対値和を検出したブロックの上下に半画素ずらしたブロックの画素位置を決定し、該画素位置の画素値を計算し、
　該最小の差分絶対値和を検出したブロックの上下に半画素ずらしたブロックの差分絶対値和を計算し、
　該最小の差分絶対値和を検出したブロック、該上下に半画素ずらしたブロックのうち差分絶対値和が最小のブロックを検出し、求める動きベクトルの始点を示すブロックとして検出することになる。
　よって、引用発明に当該周知技術を適用しても、第１方向（左右）については、
　「該左右に半画素ずらしたブロック、最適候補ブロック
のうち差分絶対値和が最小
いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素
　「該最小の差分絶対値和を検出したブロック、該上下に半画素ずらしたブロック
のうち差分絶対値和が最小
いずれか小さいＭＡＤ値を有する前記中間画素
　
ウ　相違点３について
　上述イのように、引用発明に当該周知技術を適用しても、「最小第１方向ＭＡＤ値を有する第１共役サブ画素の位置」および「最小第２方向ＭＡＤ値を有する第２共役サブ画素の位置」を決定する構成とはならないから、上述の相違点３も克服されない。
　
（７）まとめ
　以上、引用発明を出発点として、刊行物２記載技術を適用しても、上述のように、本願補正後発明の構成を導くことはできない。
　よって、本願補正後発明は、査定で引用された各刊行物に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとすることはできない。
　また、補正後発明を拒絶すべき他の理由を発見しない。
　以上、補正後発明は、特許出願の際独立して特許を受けることができるものである。
　
４　まとめ
　本件補正は、当初明細書等の範囲内でした補正であり、特許請求の範囲についてする補正を含むところ、その補正は、特許法第１７条の２第４項第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものである。
　そして、本件補正は、特許法等の一部を改正する法律（平成１８年法律第５５号）附則第３条第１項の規定によりなお従前の例によるものとされた同法第２条の規定による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定にも適合する。
　したがって、本件補正は適法になされた補正である。
　
第３　本願発明
　
　本願請求項１に係る発明は、本願明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載した事項により特定されるとおりのものである（上記補正後発明と同じ、以下、本願発明という。）。
　
第４　査定の検討
　本願発明は、補正後発明の独立特許要件についてした上記容易想到性の判断での理由と同じ理由により、査定で引用された刊行物に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとすることはできない。
　
第５　むすび
　以上のとおりであるから、本願の請求項１に係る発明が刊行物１ないし刊行物３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるという原査定の理由によっては本願を拒絶することはできない。
　また、他に、本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　
　よって、結論のとおり審決する。