【事件の表示】
　平成１０年特許願第２６８３１２号「倒立型共焦点顕微鏡」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年　４月　７日出願公開、特開２０００−　９８２４２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件出願（以下「本願」と記す。）は、平成１０年９月２２日の出願であって、平成２０年５月２６日付けで拒絶理由が通知され、これに対し、同年８月４日付けで手続補正がなされ、その後同年１２月１１日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２１年１月１５日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年２月１６日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．平成２１年２月１６日付けの手続補正についての補正の却下の決定
〔補正の却下の決定の結論〕
　平成２１年２月１６日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。
〔理由〕
（２−１）補正の内容
　本件補正は、明細書の特許請求の範囲及び【００１６】を補正するものであって、その補正内容は、特許請求の範囲について、
「【請求項１】　第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズおよび結像レンズに順次導き、前記結像レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像手段で撮像するようにした倒立型顕微鏡において、
　前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、前記撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備したことを特徴とする倒立型共焦点顕微鏡。
　　【請求項２】　試料からの光を該試料の下方に位置する対物レンズに集光して結像レンズに導き、前記結像レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像手段で撮像するようにした倒立型顕微鏡において、
　前記結像レンズは前記試料からの光を前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面位置に結像させ、
　前記倒立型顕微鏡は、
　前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に配置された共焦点ディスクスキャナと、
　前記共焦点ディスクスキャナを介して前記試料を照明することにより前記撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るための光源とを具備した
　ことを特徴とする倒立型共焦点顕微鏡。
　　【請求項３】　前記共焦点ディスクスキャナは前記結像レンズの像面に挿脱可能に配置されていることを特徴とする請求項２記載の倒立型共焦点顕微鏡。」
と補正するとともに、【００１６】を上記特許請求の範囲の記載に対応して補正するものである。
　
（２−２）本件補正の目的
　本件補正は、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である、「ピンホールスキャナ」を「前記結像レンズによる前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナ」という事項から「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナ」という事項に限定し、請求項２に記載された発明を特定するために必要な事項である、「共焦点ディスクスキャナ」を「前記結像レンズによる前記撮像光路上の像面位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に配置された共焦点ディスクスキャナ」から「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に配置された共焦点ディスクスキャナ」という事項に限定するものであって、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号に規定された特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
（２−３）独立特許要件について
　本件補正後の上記請求項１に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するか）について以下に検討する。
　
（２−３−１）引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の出願日前である平成６年６月１４日に頒布された「特開平６−１６７６５４号公報 」（以下「引用刊行物１」という。）には、図面とともに、以下の技術事項が記載されている。
　
（ａ）「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試料照明のために眼に有害なビーム、例えばレーザビームが使用される顕微鏡に関する。」
　
（ｂ）「【００１６】特に有利な実施例では、顕微鏡は倒立構造に構成される。すなわち、試料の下方に対物レンズが配置される。倒立形顕微鏡は微生物領域では非常に頻繁に使用されるから、この場合顕微鏡側方の空間をマイクロマニプレータおよびマイクロインジェクション装置のため完全に使用できることが特に重要である。透明な試料を通過したレーザビームないし試料が離れている場合に対物レンズから出射したレーザビームを遮蔽するために、試料テーブルの上にレーザビームを通過させないシールドを設ける必要がある。このシールドはまたセンサを介して同様にレーザビームを遮断するシャッターと接続されていなければならない。これによりシールドが離れた場合にもレーザ光が操作者の眼に入射しないことが保証される。」
　
（ｃ）「【００１９】
【実施例】図１に示された反転顕微鏡は鏡基１を有し、この鏡基の前面には両眼用チューブ３が配置されている。試料テーブル６の下方では、複数の対物レンズ５が対物レンズレボルバ４に収容されている。対物レンズ５の光学軸７に沿って延在する観察ビーム路は、対物レンズ下方に配置されたミラーを介して斜め上方に接眼レンズ３へ偏向される。対物レンズ５とミラー８との間には反射光レフレクタスライダ９が配置されている。ここまで述べた構成は、ドイツ公開公報第３９３８４１２号から公知の反転顕微鏡に相応する。従って、観察ビーム路に配置されたその他の要素並びに光学チューブへの反射に関しては前記の公開公報を参照されたい。
【００２０】反射光レフレクタスライダ９は少なくとも３つの接続位置を有する。この３つの接続位置の１つは空きであり、可視透過検鏡に用いられる。第２の接続位置には５０％ビームスプリッタが視覚照明顕微鏡のために、第３の接続位置には全反射ミラー１０が共焦点顕微鏡のために設けられている。蛍光アプリケーションのための別の実施例では、レフレクタは４つの接続位置を有する。それらのうちの１つには共焦点顕微鏡のための全反射ミラーが、別の２つには蛍光フィルタセットが装備されている。第４の位置は可視透過検鏡のために用いられるか、または別の蛍光フィルタセットが装備されている。
【００２１】顕微鏡鏡基の接眼チューブ３の反対側の裏面１１にはスキャンモジュールが配置されている。レーザスキャンモジュール１２（固有のケーシングを有する）は実質的にスキャンユニットからなる。スキャンユニットは例えば２つの検流計形スキャナであり、図平面に対して垂直に入射するレーザビームを２つの相互に垂直な方向に偏向する。スキャンユニットの後方に配置されたレンズ１５は顕微鏡鏡基内に配置されたチューブレンズ１７と共にリレーレンズ系を構成する。リレーレンズ系は２つのスキャンミラー１３、１４を対物レンズ５の照明側ピューピルへ結像する。
【００２２】レーザビームの鏡基１への入力結合はミラー１６を介し、顕微鏡鏡基内にいずれにしろ備えられている反射光ビーム路１８を通して行われる。このような反射光ビーム路１８は通常すべての顕微鏡鏡基にいずれにしろ備えられているから、スキャンモジュール１２は容易に種々異なる顕微鏡鏡基に適合される。
【００２３】偏向ミラー１６とレーザビームの顕微鏡鏡基への入力結合部との間にはさらに、フラップミラー１９が設けられている。このフラップミラーを介してここに図示しない従来型顕微鏡照明をレーザビームの代わりに、可視反射検鏡のために反射光ビーム路に入力結合することができる。
【００２４】レフレクタスライダ９には全反射ミラー１０の位置がセンサによりマークされる。このセンサはここでは特別に２つの磁石２１と、これらの磁石に対向しレフレクタスライダの案内部に収容されたプローブ２０とからなる。磁石はレフレクタスライダ９の２つの小さな孔部に収容されている。磁石２１とプローブ２０が対向すると、その際に発生する信号がここに図示しないシャッターをレーザ光のビーム路でトリガし、ビーム路を開放する。全反射ミラー１０の接続位置だけが磁石２１によりマークされるので、レーザビーム路はレフレクタスライダ９の各他の接続位置に対しては遮断されず、またこのスライダが存在しない場合にも遮断されない。これにより接眼チューブ３をのぞき込む際の眼の損傷は排除される。２つの磁石による安全装置の実施例は、センサの故障も検出することができる。それによりセンサが誤機能した場合もレーザビームが遮断される。
【００２５】試料テーブル６の上部では、水平軸線２３を中心に旋回するアーム２２に透過光コンデンサ２４とその上のフラップミラー２５が配置されている。フラップミラー２５を介して選択的に、図平面の上部に配置された図示しない従来の透過光照明装置の光が入射されるか、またはスキャン検鏡に対しては図平面の下方に配置された検出器へ出射される。透過光コンデンサ２４とフラップミラー２５並びに検出器と透過光照明装置の配置されたケーシングは同時に、対物レンズ５から出射するレーザ光を無意識にのぞき込むことから保護する。アーム２２が離脱している際にこのように無意識にのぞき込むことを回避するためにここにもセンサ２６、２７が設けられている。この磁石２６とプローブ２７からなるセンサの信号は同様にシャッターをレーザビーム路で制御する。センサ２０、２１とセンサ２６、２７の信号はそのために論理積回路で相互に結合される。それにより、２つのセンサが安全状態を指示した場合だけレーザビーム路は開放される。
【００２６】図２からわかるように、倒立形レーザスキャン顕微鏡はモジュール構成されている。ここでは３つの標準ブロックＡ，Ｂ，Ｃと原則的に任意の数の付加的レーザモジュールＤとＥからなる。ここでモジュールＡは顕微鏡鏡基であり、モジュールＢはスキャンモジュールである。図２の個々の光学的要素には図１と同じ参照符号が付してある。図２の構成要素全体は簡単化のため１つの平面に図示されている。しかしこれらは実際の顕微鏡では種々異なる平面内にある。
【００２７】モジュールＡとＢの構成要素については既に図１に関連して説明したのでこれらの構成要素の説明は省略する。
【００２８】スキャンモジュールＢには検出器モジュールＣが接続されている。この検出器モジュールは前置されたシャッター３２を備えたレーザ３１を有する。シャッター３２は電磁石を介して駆動される。ダイクロイックビームスプリッタ３３はレーザ３１から発射されたレーザビームをビームエキスパンダ３４、３５に偏向する。別のダイクロイックビーム３６はビームエキスパンダ３４、３５から出射したコリメータレーザビームを偏向ユニット１３、１４に偏向する。反射検鏡に対してはここにニュートラルビームスプリッタまたは偏光ビームスプリッタを使用することができる。
【００２９】スキャン装置１３、１４の通過後、コリメータレーザビームは全反射ミラー１０により対物レンズ５に偏向され、対物レンズによりここに図示しないプレパラートにフォーカスされる。
【００３０】レーザビームによりプレパラートに励起された蛍光光ないし反射光は、対物レンズとスプリッタ３６との間を同じビーム路を通って反対方向に通過する。蛍光光は波長の点でレーザ光とは異なるから、蛍光光はダイクロイックビーム３６を通過する。異なるスペクトル通過特性を有する２つの別のダイクロイックビーム３７、３８と全反射ミラー３９を介して、蛍光光は３つの並列の共焦点検出チャネルに供給される。これら共焦点検出チャネルのそれぞれは１つの対物レンズ４０、４１、４２、１つの共焦点絞り４４、４５、４６並びに光ビームを電気信号に変換するためのホト検出器４７、４８、４９を有する。共焦点絞り４４、４５、４６はその際、それぞれ対物レンズ５の焦点面に対して共役の平面に配置される。これら共焦点絞りのそれぞれは他方に依存しないで、外部から操作可能な相応の調節ねじ（図示せず）により芯合わせし、またその開口直径に関して調整することができる。これにより顕微鏡結像の深度解像度を各蛍光波長に対して別個に調整することができる。
【００３１】照明ビーム路を測定ビーム路から分離するスプリッタ３６と、測定光を種々異なる検出チャネルに配分するためのダイクロイックビーム３７、３８はそれぞれここに図示しないレフレクタスライダに収容されている。従って、レフレクタスライダの種々異なる組合せにより種々異なる波長組合せが調整可能であり、同時に記録される。ダイクロイックビームスプリッタ３７、３８が収容されているレフレクタスライダはここで空きの接続位置を有する。これにより、非常に弱い蛍光光を測定する際にレフレクタスライダを完全な通過に切り換えることができ、それにより既に弱い蛍光光が付加的に減衰されることがない。
【００３２】さらにモジュールＤとＥにより示されているように、複数の励起波長を用いるアプリケーションに対しては原則的に任意の数の付加的な外部レーザモジュールを検出器モジュールＣに結合することができる。これら付加的なレーザモジュールＤとＥのそれぞれは実質的に、固有のシャッター６２、５２、マルチラインレーザの場合はライン選択のためのフィルタ（図示せず）および調整可能な入力結合光学系６３、５３からなる。この調整可能な入力結合光学系６３、５３のそれぞれは２つの調整可能なミラーからなる（ただしこれらミラーのうちの１つだけが図示されている）。
【００３３】図面には本発明の特に有利な実施例が示されている。しかし多数の変形も可能である。特にシャッター信号を形成するためには他のセンサ形式、例えばマイクロスイッチまたは簡単な電気接点を使用することもできる。その他に検出器モジュールＣにも複数のレーザまたは３つ以上の並列の検出チャネルを設けることができる。
【００３４】本発明にとって重要なのは、全反射ミラー１０がレーザ光を通過させないことである。従って全反射ミラー１０があらゆる波長を完全に反射することは必ずしも必要でない。全反射ミラー１０がレーザ波長の光、または種々異なる波長の複数のレーザが設けられている場合はすべてのレーザ波長の光を完全に反射すればそれで十分である。
【００３５】
【発明の効果】本発明により、レーザ照明ないしその他の眼に有害な照明ビームを用いる顕微鏡において、従来のアプリケーションの点から何ら制限の生じない。またレーザ照明は簡単に種々異なる顕微鏡鏡基に適合可能である。さらに接眼レンズをのぞき込む観察者の眼を損傷することが排除される。」
　
（ｄ）前記【００１９】−【００３２】の記載からして【図１】には、「試料テーブル６の上方から透過光照明を照射し、試料テーブル６上の試料を透過した光が対物レンズ５を通り、ミラー８で反射して接眼チューブ３に向かう」ことが図示されていると認められる。
　
（ｅ）前記【００１９】−【００３２】の記載からして【図２】には、「レーザ３１から出射されたレーザビームは、シャッター３２、ダイクロイックビームスプリッタ３３、ビームエキスパンダ３４、３５、ダイクロイックビームスプリッタ３６、スキャンミラー１３，１４、レンズ１５、チューブレンズ１７、全反射ミラー１０、対物レンズ５を経由して試料テーブル６上の試料に入射し、試料からの蛍光光ないし反射光は、対物レンズ５、全反射ミラー１０、チューブレンズ１７、レンズ１５、スキャンミラー１３，１４、ダイクロイックビームスプリッタ３６、ダイクロイックビームスプリッタ３７、対物レンズ４０、共焦点絞り４６を経由してホト検出器４７で検出される」ことが図示されていると認められる。
　
　上記引用刊行物１の記載事項及び図面を総合勘案すると、引用刊行物１には、次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されていると認められる。
　
「試料の下方に対物レンズ５が配置される、倒立構造に構成された倒立形レーザスキャン顕微鏡において、
　顕微鏡は鏡基１を有し、試料テーブル６の上部では、水平軸線２３を中心に旋回するアーム２２に透過光コンデンサ２４とその上のフラップミラー２５が配置され、フラップミラー２５を介して透過光照明装置の光が入射され、試料テーブル６の下方では、対物レンズ５が対物レンズレボルバ４に収容されて配置され、対物レンズ５の下方にミラー８が配置され、対物レンズ５とミラー８のとの間には、反射光レフレクタスライダ９が配置され、全反射ミラー１０が共焦点顕微鏡のために反射光レフレクタスライダに設けられ、全反射ミラー１０で試料からの光が導かれる光路上にはチューブレンズ１７が配置され、
　チューブレンズ１７の先の反射光ビーム路１８には、スキャンモジュールＢ及び検出器モジュールＣが接続され、スキャンモジュールＢにはスキャンミラー１３，１４、レンズ１５が配置され、検出器モジュールＣには、レーザ３１、シャッタ３２、ダイクロイックビームスプリッタ３３、ビームエキスパンダ３４，３５、ダイクロイックビームスプリッタ３６、ダイクロイックビームスプリッタ３７、レンズ４０、共焦点絞り４６、ホト検出器４７を備え、
　スキャンモジュールＢのレンズ１５は顕微鏡鏡基内に配置されたチューブレンズ１７と共にリレーレンズ系を構成しており、
　可視透過検鏡として用いる場合は、反射光レフレクタスライダ９を空き位置にして、試料テーブル６の上方から透過光照明を照射し、試料テーブル６上の試料を透過した光が対物レンズ５を通り、ミラー８で反射して接眼チューブ３に向かうようにして、接眼チューブ３で透過像を観察し、
　共焦点顕微鏡として用いる場合は、レーザ３１から出射されたレーザ光を、シャッタ３２、ダイクロイックビームスプリッタ３３、ビームエキスパンダ３４，３５、ダイクロイックビームスプリッタ３６、スキャンミラー１３，１４、レンズ１５、チューブレンズ１７、全反射ミラー１０、対物レンズ５を経由して試料テーブル６上の試料に入射し、試料からの蛍光光ないし反射光を、対物レンズ５、全反射ミラー１０、チューブレンズ１７、レンズ１５、スキャンミラー１３，１４、ダイクロイックビームスプリッタ３６、ダイクロイックビームスプリッタ３７、対物レンズ４０、共焦点絞り４６を経由してホト検出器４７で検出する、
倒立形レーザスキャン顕微鏡。」
　
　また、原査定の拒絶の理由に引用された、本願の出願日前である平成９年１２月１６日に頒布された「特開平９−３２５２７９号公報 」（以下「引用刊行物２」という。）には、図面とともに、以下の技術事項が記載されている。
　
（ア）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、タンデム走査型コンフォーカル顕微鏡に関し、さらに詳しくは、コンフォーカル観察と通常観察とを行うことができるように構成されたコンフォーカル顕微鏡に関する。」
　
（イ）「【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図１および図２を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。図１および図２には本発明に係るタンデム走査型コンフォーカル顕微鏡を示しており、この顕微鏡は、筐体（図示せず）内に、コンフォーカル照明光源１０、第１ハーフミラー１１、ニッポウディスク１２、対物レンズ１３、リレーレンズ１４および接眼レンズ１５を図示のように配設して構成されており、これによりメイン光学系が構成される。
【００１４】筐体内には、さらに、通常照明光源２０、第２ハーフミラー２１、第１全反射ミラー２２、第２全反射ミラー２３および第３全反射ミラー２４も図示の位置に配設されており、これによりバイパス光学系が構成される。なお、第１および第３全反射ミラー２２，２４は、図１に示すように、アクチュエータ２７，２８により矢印Ｂ方向に移動可能であり、これにより、メイン光学系の光路中に位置する通常観察位置（図１に示す位置）とこの光路外に位置するコンフォーカル観察位置とで移動可能となっている。
【００１５】このような構成のコンフォーカル顕微鏡において、コンフォーカル観察を行う場合をまず説明する。コンフォーカル観察を行うときには、アクチュエータ２７，２８により第１および第３全反射ミラー２２，２４をコンフォーカル観察位置に移動させる。この状態で、コンフォーカル照明光源１０からの光を第１ハーフミラー１１を通過させてニッポウディスク１２の表面に照射させる。
【００１６】ニッポウディスク１２は、軸１２ａを中心として回転駆動されるディスクを有し、このディスクには図１に示すように螺旋放射状に広がるパターンで多数のピンホール１２ｂが上下に貫通形成されている。なお、図１にはピンホールパターンの一部を示しており、実際にはディスク全周表面に螺旋放射状パターンのピンホールが形成されている。
【００１７】上記のようにニッポウディスク１２の表面に照射された光はピンホール１２ｂを通過し、第２ハーフミラー２１を通って対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射される。ここで、ニッポウディスク１２のピンホール形成面は対物レンズ１３を介して観察標本３０の一次像面位置（共役位置ｃ１）に配設されており、このため対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射される光は観察標本３０上にピンホール像を結ぶ。なお、図２においては一つのピンホールを示しているだけであるが、実際には、コンフォーカル照明光源１０からの光が照射される領域内に位置するニッポウディスク１２表面の複数のピンホール１２ｂがそれぞれ観察標本３０の上にピンホール像を結ぶ。
【００１８】このように観察標本３０に照射された光は、観察標本３０により反射されて再び対物レンズ１３および第２ハーフミラー２１を通り、元のピンホール１２ｂに集まってこれを通過し、第１ハーフミラー１１に反射されてリレーレンズ１４を通過し、共役位置ｃ２に観察標本の二次像を結ぶ。これを接眼レンズ１５で見ることによりコンフォーカル観察ができる。
【００１９】このようなコンフォーカル観察では、上述のように観察標本３０の上に照射された複数のピンホール１２ｂからの光に対応する箇所の拡大像が共役位置ｃ２に結像されるだけであり、瞬間的には複数の点位置に対応する拡大像しか観察できない。しかしながら、ニッポウディスク１２は軸１２ａを中心として回転されており、観察標本３０上に照射されるピンホール光はこの回転に応じて観察標本３０上を走査される。このため、共役位置ｃ２の二次像を接眼レンズ１５からビデオカメラにより記録して観察標本３０の全体拡大像（コンフォーカル観察像）を得ることができる。なお、共役位置ｃ２にフィルム面が位置するようにスチルカメラをセットして観察標本３０の全体拡大コンフォーカル観察像を写真撮影することもできる。
【００２０】次に、この顕微鏡による通常観察について説明する。通常観察を行うときには、アクチュエータ２７，２８により第１および第３全反射ミラー２２，２４を通常観察位置に移動させる。この状態で、通常照明光源２０からの光を第２ハーフミラー１１に照射し、これにより反射された光を対物レンズ１３を通過させて観察標本３０の表面に照射させる。
【００２１】このように観察標本３０に照射された光は、観察標本３０により反射されて再び対物レンズ１３および第２ハーフミラー２１を通り、通常観察位置に移動された第１全反射ミラー２２により反射されてメイン光学系の光路の外に導かれる。すなわち、第１全反射ミラー２２が分岐光路手段として働く。
【００２２】第１全反射ミラー２２に反射された光は共役位置ｃ３に一次像を結んだのち第２全反射ミラー２３に照射されて方向が変えられ、第３全反射ミラー２４に照射される。第３全反射ミラー２４は通常観察位置に移動されてメイン光学系の光路中に位置しており、第３全反射ミラー２４に照射された光は、メイン光学系の光路に戻ってリレーレンズ１４を通過し、共役位置ｃ２に観察標本の二次像を結ぶ。これを接眼レンズ１５で見ることにより観察標本の全体拡大像の観察、すなわち、通常観察ができる。なお、このような作用から分かるように、第２全反射ミラー２３は光路ガイド手段として働き、第３全反射ミラー２４は光路復帰手段として働く。
【００２３】以上説明したように、このタンデム走査型コンフォーカル顕微鏡では、バイパス光学系を構成する第１および第３全反射ミラー２２，２４を移動させるだけで、ニッポウディスク１２の配設位置は固定されている。このため、ニッポウディスク１２のピンホール形成面位置を正確に一次像面位置（共役位置）に設定でき、良好なコンフォーカル観察ができる。
【００２４】なお、本実施例においては、第１および第３全反射ミラー２２，２４をそれぞれアクチュエータ２７，２８により移動されるように構成しているが、両ミラー２２，２４を一体に結合し、一つのアクチュエータにより移動させるように構成しても良い。また、このようにアクチュエータを用いずに、外部から手動により両ミラーを移動させるようにしても良い。さらに、全反射ミラーに変えてプリズムを用いても良い。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、コンフォーカル照明光源からの光を走査基板（例えば、ニッポウディスク）の微少小孔を通過させて観察対象に照射させ、この観察対象から反射した光を微少小孔を逆に通過させた後、観察位置に観察対象の拡大像を結像させるメイン光学系と、通常照明光源からの光を観察対象に直接照射させ、観察対象から反射された光を走査基板を迂回して観察位置に導き、観察位置に観察対象の拡大像を結像させるバイパス光学系とからタンデム走査型コンフォーカル顕微鏡を構成しているので、通常観察を行うときには走査基板を迂回するバイパス光学系を用いればよく、走査基板の配設位置を固定できる。このため、走査基板（ニッポウディスク）のピンホール形成面位置を、観察標本の一次像面位置（共役位置）に正確に設定でき、常に良好なコンフォーカル観察ができる。
【００２６】なお、バイパス光学系をメイン光学系に挿脱自在に構成するのが好ましく、このようにすれば、コンフォーカル観察を行うときにはバイパス光学系をメイン光学系から離脱させ、通常観察を行うときにはバイパス光学系をメイン光学系内に装着させればよく、簡単に観察モードの切換を行うことができる。」
　
　上記引用刊行物２の記載事項及び図面を総合勘案すると、引用刊行物２には、次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されていると認められる。
　
「コンフォーカル観察と通常観察とを行うことができるように構成されたコンフォーカル顕微鏡において、
　上記顕微鏡は、筐体内に、コンフォーカル照明光源１０、第１ハーフミラー１１、ニッポウディスク１２、対物レンズ１３、リレーレンズ１４および接眼レンズ１５を配設してメイン光学系を構成し、さらに筐体内に、通常照明光源２０、第２ハーフミラー２１、第１全反射ミラー２２、第２全反射ミラー２３および第３全反射ミラー２４も配設してバイパス光学系を構成し、
　ニッポウディスク１２は、軸１２ａを中心として回転駆動されるディスクを有し、このディスクにはディスク全周表面に螺旋放射状に広がるパターンで多数のピンホール１２ｂが上下に貫通形成されており、
　通常観察の時は、第１および第３全反射ミラー２２，２４を通常観察位置に移動させ、通常照明光源２０からの光を第２ハーフミラー２１に照射し、これにより反射された光を対物レンズ１３を通過させて観察標本３０の表面に照射させ、観察標本３０により反射された光を再び対物レンズ１３および第２ハーフミラー２１を通り、通常観察位置に移動された第１全反射ミラー２２により反射され、その後第２全反射ミラー２３に照射されて方向が変えられ、第３全反射ミラー２４に照射され、その後リレーレンズ１４を通過し、共役位置ｃ２に観察標本の二次像を結び、これを接眼レンズ１５で見ることを行い、
　コンフォーカル観察の時は、第１および第３全反射ミラー２２，２４をコンフォーカル観察位置に移動させ、コンフォーカル照明光源１０からの光を第１ハーフミラー１１を通過させてニッポウディスク１２の表面に照射させ、ニッポウディスク１２の表面に照射された光はピンホール１２ｂを通過し、第２ハーフミラー２１を通って対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射され、ここで、ニッポウディスク１２のピンホール形成面は対物レンズ１３を介して観察標本３０の一次像面位置（共役位置ｃ１）に配設されており、このため対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射される光は観察標本３０上にピンホール像を結び、観察標本３０に照射された光は、観察標本３０により反射されて再び対物レンズ１３および第２ハーフミラー２１を通り、元のピンホール１２ｂに集まってこれを通過し、第１ハーフミラー１１に反射されてリレーレンズ１４を通過し、共役位置ｃ２に観察標本の二次像を結び、これを接眼レンズ１５からビデオカメラにより記録して観察標本３０の全体拡大像（コンフォーカル観察像）を得る、
コンフォーカル顕微鏡。」
　
（２−３−２）本願補正発明と引用発明１との対比と判断
（２−３−２−１）対比
　本願補正発明を、引用発明１と対比する。
　引用発明１における「試料テーブル６上の試料」は、本願補正発明における「試料」に相当する。
　引用発明１における「対物レンズ５」は、「試料の下方に」「配置される」対物レンズであるから、本願補正発明における「対物レンズ」に相当する。
　引用発明１における「透過光照明装置」は、「試料テーブル６の上部」に「透過光コンデンサ２４とその上のフラップミラー２５」があり、その「フラップミラー２５を介して透過光照明装置の光が入射され」て「試料テーブル６の上方から透過光照明を照射」することに用いる照明装置であるから、本願補正発明における「第１の光源」に相当する。
　引用発明１における「レーザ３１」は、倒立形レーザスキャン顕微鏡を共焦点顕微鏡として用いる場合に使用する光源であるから、本願補正発明における「第２の光源」に相当する。
　引用発明１における「倒立形レーザスキャン顕微鏡」は、「倒立構造に構成され」、「可視透過検鏡として用いる」ことも「共焦点顕微鏡として用いる」こともできる顕微鏡であるから、本願補正発明における「倒立型共焦点顕微鏡」に相当する。
　
　すると、本願補正発明と、引用発明１とは、次の点で一致する。
＜一致点＞
　第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズに導く倒立型顕微鏡において、
　前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源を具備した、
倒立型共焦点顕微鏡。」
　
　一方で、両者は、次の相違点で相違する。
＜相違点＞
　本願補正発明では、倒立型共焦点顕微鏡を「第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズおよび結像レンズに順次導き、前記結像レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像手段で撮像するようにし」かつ「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、前記撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備した」ものとしたのに対し、引用発明１では、倒立型共焦点顕微鏡で第１の光源、対物レンズ、第２の光源を具備しているが、上記発明特定事項を備えていない点。
　
（２−３−２−２）判断
　上記相違点について判断する。
　引用発明１と共焦点顕微鏡という同一の技術分野に属する引用刊行物２には、上記「（２−３−１）」を参酌するに、以下の技術が開示されている。
　
「第１の光源から試料に照射された光を、対物レンズに導き、対物レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像するようにした共焦点顕微鏡において、
　前記対物レンズにより最初に形成される前記顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備する技術。」
　
　ここで、引用発明１と引用刊行物２に開示されものは共に共焦点顕微鏡という同一の技術分野に属し、共に通常照明による通常観察と別照明による共焦点観察が行える顕微鏡である。
　よって、引用発明１における、通常照明による通常観察と別照明による共焦点観察を行う光学系の構成を、引用刊行物２に開示された技術における通常照明による通常観察と別照明による共焦点観察を行う光学系の構成に置換することは、当業者にとって通常の創作能力の発揮にすぎない。その置換の際に、引用発明１の倒立形レーザスキャン顕微鏡に備わっている試料テーブル６の下方の対物レンズ５から続く光学系を引用刊行物２に開示された技術における対物レンズ１３から続く光学系に置換することも、当業者にとって格別の困難性無く行いうることである。
　そして、顕微鏡において通常照明による通常観察を目で行う代わりに撮像手段で撮影して観察を行うことは、本願出願前に周知（必要ならば特開平９−２９７２６９号公報の【００２６】参照。）であるから、上記置換の際に引用刊行物２に開示された技術における接眼レンズ１５の後方に設置されたコンフォーカル観察像を撮影するビデオカメラをそのまま接眼レンズ１５で観察する通常観察時の観察標本の二次像を撮影するようにすることは、当業者が適宜なしうる設計的事項に過ぎない。
　さらに、共焦点顕微鏡において、試料からの光を結像するレンズを対物レンズと結像レンズの２つのレンズで構成することは、本願出願前に周知（必要ならば特開平６−２４２３８０号公報の【図１】参照。）であるから、上記置換の際に引用刊行物２に開示された技術における対物レンズ１３を対物レンズと結像レンズの２つのレンズで構成するようにすることは、当業者が適宜なしうる設計的事項に過ぎない。
　以上のことから、引用発明１に引用刊行物２に記載された技術および周知技術に基いて、上記相違点に係る本願補正発明の発明特定事項をうることは、当業者が容易になしうることであり、その作用効果も当業者が予測しうるものに過ぎない。
　
　したがって、本願補正発明は、引用発明１、引用刊行物２に記載された技術及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（２−３−３）本願補正発明と引用発明２との対比と判断
（２−３−３−１）対比
　本願補正発明を、引用発明２と対比する。
　引用発明２における「コンフォーカル顕微鏡」と本願補正発明の「倒立型共焦点顕微鏡」は、「共焦点顕微鏡」である点で共通する。
　引用発明２における「通常照明光源２０」は、通常観察の時に試料を照射する照明光源であるから、本願補正発明における「第１の光源」に相当する。
　引用発明２における「観察標本３０」は、本願補正発明における「試料」に相当する。
　引用発明２における「対物レンズ１３」は、本願補正発明における「対物レンズ」に相当する。
　引用発明２における「第２ハーフミラー２１を通り、通常観察位置に移動された第１全反射ミラー２２により反射され、その後第２全反射ミラー２３に照射されて方向が変えられ、第３全反射ミラー２４に照射され、その後リレーレンズ１４を通過し、」「共役位置ｃ２」に結ばれた「観察標本の二次像」を「接眼レンズ１５で見る」という光路は、対物レンズ１３の後の通常観察時の観察標本の二次像を光学的に伝送する光路であるから、本願補正発明における「撮像光路」に相当する。
　引用発明２における「ニッポウディスク１２」が、「ニッポウディスク１２のピンホール形成面は対物レンズ１３を介して観察標本３０の一次像面位置（共役位置ｃ１）に配設されて」いること及び「コンフォーカル顕微鏡」の「筐体内に、」「ニッポウディスク１２、対物レンズ１３」「を配設して」いることと、本願補正発明の「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナ」とは、「ピンホールスキャナが対物レンズに最初に形成される顕微鏡本体内部の撮像光路上の像面の位置に配置され」ている点及び「顕微鏡本体内部に収納され」ている点で共通する。
　引用発明２における「ビデオカメラ」は、「これを接眼レンズ１５からビデオカメラにより記録して観察標本３０の全体拡大像（コンフォーカル観察像）を得る」ものであるから、本願補正発明における「試料の共焦点画像を得るため」の「撮像手段」に相当する。
　引用発明２における「コンフォーカル照明光源１０」は、「コンフォーカル観察の時」に「コンフォーカル照明光源１０からの光を第１ハーフミラー１１を通過させてニッポウディスク１２の表面に照射させ、ニッポウディスク１２の表面に照射された光はピンホール１２ｂを通過し、第２ハーフミラー２１を通って対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射され、ここで、ニッポウディスク１２のピンホール形成面は対物レンズ１３を介して観察標本３０の一次像面位置（共役位置ｃ１）に配設されており、このため対物レンズ１３を通り観察標本３０に照射される光は観察標本３０上にピンホール像を結び、観察標本３０に照射された光は、観察標本３０により反射されて再び対物レンズ１３および第２ハーフミラー２１を通り、元のピンホール１２ｂに集まってこれを通過し、第１ハーフミラー１１に反射されてリレーレンズ１４を通過し、共役位置ｃ２に観察標本の二次像を結び、これを接眼レンズ１５からビデオカメラにより記録して観察標本３０の全体拡大像（コンフォーカル観察像）を得る」ために使用される照明光源であるから、本願補正発明における「撮像手段で」「試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源」に相当する。
　
　すると、本願補正発明と、引用発明２とは、次の点で一致する。
＜一致点＞
「第１の光源から試料に照射された光を、対物レンズに導き、対物レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像するようにした共焦点顕微鏡において、
　前記対物レンズにより最初に形成される前記顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備した、
共焦点顕微鏡。」
　
　一方で、両者は、次の相違点で相違する。
＜相違点＞
　本願補正発明は、「第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズ及び結像レンズに順次導き、前記結像レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像手段で撮像するようにした倒立型顕微鏡」であり、「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、前記撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備して」いるのに対し、引用発明２は、倒立型ではない顕微鏡であり、対物レンズ１３により最初に形成される前記顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記顕微鏡本体内部に収納されたニッポウディスク１２と、撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置されるコンフォーカル照明光源１０とを具備している点。
　
（２−３−３−２）判断
　上記相違点について判断する。
　引用発明２と共焦点顕微鏡という同一の技術分野に属する引用刊行物１には、上記「（２−３−１）」を参酌するに、以下の技術が開示されている。
　
「第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズに導く倒立型顕微鏡という技術及び前記倒立型顕微鏡において対物レンズ５の下流に共焦点像観察用光学系を備える技術。」
　
　ここで、引用発明２と引用刊行物１に開示された技術は共に共焦点顕微鏡という同一の技術分野に属し、共に通常照明による通常観察と別照明による共焦点観察が行える顕微鏡である。
　よって、引用発明２における、倒立型ではない顕微鏡の光学系を、引用刊行物１に開示された技術における第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズに導く倒立型顕微鏡の光学系の構成に変更することは、当業者にとって通常の創作能力の発揮にすぎない。その変更の際に、引用発明２の光学系を上下反転し、通常照明光源２０による試料照射に代えて引用刊行物１に開示された技術における透過光照明装置の光を試料上方から照射する手法に変換することも、当業者にとって格別の困難性無く行いうることである。
　そして、顕微鏡において通常照明による通常観察を目で行う代わりに撮像手段で撮影して観察を行うことは、本願出願前に周知（必要ならば特開平９−２９７２６９号公報の【００２６】参照。）であるから、上記周知の技術を参酌して引用発明２の接眼レンズ１５の後方に設置されたコンフォーカル観察像を撮影するビデオカメラをそのまま接眼レンズ１５で観察する通常観察時の観察標本の二次像を撮影するようにすることは、当業者が適宜なしうる設計的事項に過ぎない。
　さらに、共焦点顕微鏡において、試料からの光を結像するレンズを対物レンズと結像レンズの２つのレンズで構成することは、本願出願前に周知（必要ならば特開平６−２４２３８０号公報の【図１】参照。）であるから、上記周知の技術を参酌して、引用発明２の対物レンズ１３を対物レンズと結像レンズの２つのレンズで構成するようにすることは、当業者が適宜なしうる設計的事項に過ぎない。
　以上のことから、引用発明２に引用刊行物１に記載された技術及び周知技術に基いて、上記相違点に係る本願補正発明の発明特定事項をうることは、当業者が容易になしうることであり、その作用効果も当業者が予測しうるものに過ぎない。
　
　したがって、本願補正発明は、引用発明２、引用刊行物１に記載された技術及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（２−４）むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
３．本願発明について
　平成２１年２月１６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１乃至３に係る発明は、平成２０年８月４日付け手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１乃至３に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
　
「【請求項１】　第１の光源から試料に照射された光を、該試料の下方に位置する対物レンズおよび結像レンズに順次導き、前記結像レンズを透過した光を撮像光路へ導き、撮像手段で撮像するようにした倒立型顕微鏡において、
　前記結像レンズによる前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナと、前記撮像手段で前記試料の共焦点画像を得るために光学系を介して配置される第２の光源とを具備したことを特徴とする倒立型共焦点顕微鏡。」
　
４．引用刊行物記載の発明
　原査定の拒絶の理由で引用された引用刊行物並びにその記載事項は、前記「（２−３−１）」に記載したとおりである。
　
５．対比・判断
　本願発明は、前記「（２−３）」で検討した本願補正発明から、「ピンホールスキャナ」を「前記対物レンズ及び前記結像レンズにより最初に形成される前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面の位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナ」から「前記結像レンズによる前記倒立型顕微鏡本体内部の前記撮像光路上の像面位置に配置され前記倒立型顕微鏡本体内部に収納されたピンホールスキャナ」へと拡張した構成としたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、さらにほかの構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、前記「（２−３）」に記載したとおり、引用発明１、引用刊行物２に記載された技術及び周知技術に基いて、または引用発明２、引用刊行物１に記載された技術及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、引用発明１、引用刊行物２に記載された技術及び周知技術に基いて、または引用発明２、引用刊行物１に記載された技術及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
６．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用刊行物１に記載された発明、引用刊行物２に記載された技術及び周知技術に基いて、または引用刊行物２に記載された発明、引用刊行物１に記載された技術及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。