【誤訳訂正書】
【提出日】平成22年12月6日(2010.12.6)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（ａ）各ターゲット位置が光反射性物体を受け取るように適合され、かつ該ターゲット位置の全てが実質的に単一基部平面にある１つ又はそれよりも多くのターゲット位置を備えた表面を有する基部と、
（ｂ）各々が前記ターゲット位置の１つで位置決めされた１つ又はそれよりも多くの光反射性物体と、
（ｃ）光源と反射光を検出するセンサとを有するプローブと、
を含み、
前記プローブは、該プローブが、光線で各ターゲット位置を照明することができ、かつ前記センサが、そのようなターゲット位置に位置するあらゆる光反射性物体からの反射光を検出することができるように、前記基部平面と実質的に平行で該基部平面からある一定の距離にあるプローブ平面内において光反射性物体が位置決めされた各ターゲット位置に対応する位置に位置決め可能である、
ことを特徴とするアラインメント補正システム。
【請求項２】
前記光源は、レーザであることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項３】
前記光反射性物体は、光反射性球体であることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項４】
前記光線は、前記基部平面に対して実質的に垂直であることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項５】
前記基部の前記表面は、各ターゲット位置で光反射性物体を収容するための凹部又は穴を含むことを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項６】
光反射性物体が、前記各ターゲット位置すべてに位置決めされることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項７】
前記基部表面上の前記ターゲット位置は、２つのターゲット位置が同じＸ座標又は同じＹ座標を有しないように、前記基部平面内のｘ軸及びｙ軸によって定められた直角座標系のＸ座標及びＹ座標によって定められることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項８】
前記基部表面は、コーナの少なくとも２つの対を含み、各対の該コーナは、互いから対角線上に位置決めされ、
少なくとも２つのターゲット位置は、前記基部表面の第１の対の対向するコーナ間に延びる第１の対角線に沿って位置決めされることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項９】
２つ又はそれよりも多くのターゲット位置は、前記基部表面上の第２の対の対向するコーナ間に延びる第２の対角線上に位置決めされる、
ことを特徴とする請求項８に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１０】
前記基部は、液体を受け取るための容器を保持するようになっていることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１１】
液体を受け取るための前記容器は、試験管又はマイクロタイタープレートのラックから選択されることを特徴とする請求項１０に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１２】
前記基部表面の上方の前記プローブ平面内のｘ軸及びｙ軸によって定められた直角座標系のあらゆるＸ−Ｙ座標に移動するようになったＸ−Ｙアクチュエータをそれぞれ有するＸ−Ｙプロッタ又は直角座標ロボットの一部であることを特徴とする請求項１に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１３】
前記直角座標ロボットは、液体処理ロボットであることを特徴とする請求項１２に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１４】
前記プローブは、前記Ｘ−Ｙアクチュエータ上に装着されることを特徴とする請求項１２に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１５】
前記光反射性球体は、ボールベアリング、金属被膜球体、セラミック球体、反射性ガラス球体、又は反射性プラスチック球体から選択されることを特徴とする請求項３に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１６】
前記プローブは、再帰的反射レーザ光学センサであることを特徴とする請求項２に記載のアラインメント補正システム。
【請求項１７】
請求項１に記載のアラインメント補正システムを用いて機械のアラインメント誤差を補正する方法であって、
（ａ）アラインメント補正システムのプローブからの光線で１つ又はそれよりも多くの光反射性物体を照明する段階と、
（ｂ）前記少なくとも１つの光反射性物体から反射された光をプローブセンサで検出する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項１８】
機械のアラインメント誤差を補正する方法であって、
（ａ）請求項１に記載のアラインメント補正システムのプローブをターゲット位置の１つで光反射性物体の１つの上に位置決めする段階と、
（ｂ）プローブ光源からの光線で前記光反射性物体を照明する段階と、
（ｃ）前記光反射性物体から反射された光をプローブセンサで検出する段階と、
（ｄ）前記反射光が最大になるまで前記光反射性物体に対して前記プローブを再位置決めし、その最大で該プローブの位置を記録する段階と、
（ｅ）光反射性物体をそこに有する各ターゲット位置に対して以上の段階を繰り返す段階と、
（ｆ）段階（ｄ）で集められたデータからアラインメント誤差を判断する段階と、
を含み、
前記光反射性物体は、光反射性球体であり、
前記光線は、前記基部平面に対して実質的に垂直である
ことを特徴とする方法。
【請求項１９】
前記アラインメント誤差は、オフセット誤差、スケール不正確性、又はスキューのうちの１つ又はそれよりも多くのものであることを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記プローブは、各光反射性物体の中心線を走査するように位置決めされることを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２１】
ｘ軸及びｙ軸が、前記基部平面内に直角座標系を定め、
前記ｘ軸に沿った中心線及び前記ｙ軸に沿った中心線は、両方とも走査されることを特徴とする請求項１９に記載の方法。
【請求項２２】
ｘ中心線に沿った走査が実行され、ｙ中心線が、該ｘ中心線から走査され、該ｙ中心線から、該ｘ中心線が再度走査されることを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２３】
前記ｘ軸に沿った前記中心線及び前記ｙ軸に沿った前記中心線は、各ターゲット位置に対する１組のＸ及びＹ測定値を与えることを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２４】
多重線形回帰が、各ターゲット位置に対するＸ及びＹ測定値の組に対して実行されることを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【請求項２５】
（ａ）プローブを更に含む直角座標ロボットアームと、
（ｂ）各ターゲット位置が光反射性球体を受け取るように適合され、かつ該ターゲット位置の全てが実質的に単一基部平面にあり、更に、前記ロボットアーム及び基部が、互いから垂直に配置されて実質的に平行な平面を占める、１つ又はそれよりも多くのターゲット位置を備えた表面を有する基部と、
（ｃ）各々が前記ターゲット位置の１つに位置決めされた１つ又はそれよりも多くの光反射性球体と、
を含み、
（ｄ）前記プローブは、レーザと反射レーザ光を検出するセンサとを更に含み、該プローブは、該プローブが、レーザ光線で各ターゲット位置を照明することができ、かつ該センサが、そのようなターゲット位置に位置するあらゆる光反射性球体からの反射光を検出することができるように、前記基部平面と実質的に平行で該基部平面からある一定の距離にあるプローブ平面内において光反射性物体が位置決めされた各ターゲット位置に対応する位置に位置決め可能である、
ことを特徴とするアラインメント補正システム。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
光源及びセンサを組み合わせて、再帰的反射レーザ光学センサ又は他の再帰的反射光光学センサのような単一ユニットにすることができる。再帰的反射レーザ光学センサは、レーザ源とレーザセンサの両方を有する。レーザ源は、反射面に対して照らされた時に、後で反射レーザビームの存在を検出し、かつ反射レーザビームの強度も測定するセンサに反射して戻されることになるレーザビームを生成する。このタイプの装置は、市販されており、Ｘ−Ｙプロッタ又は直角座標ロボットアセンブリに対する取り付けに容易に適応させることができる。市販供給元は、以下に限定されるものではないが、キーエンス・インターナショナル（米国ニュージャージー州、ウッドクリフ・レイク）からの「ＬＶ−シリーズ」レーザ光学センサ、マイクロ−エプシロン（米国ノースカロライナ州、レイリー）からの「ｓｃａｎＣＯＮＴＲＯＬ」及び「ｏｐｔｏＮＣＤＴ」シリーズレーザセンサ、並びに松下／パナソニックグループ、アロマート・コーポレーション（米国ニュージャージー州、ニュープロビデンス）からの同軸再帰的反射タイプレーザセンサ（例えば、ＬＳ−Ｈ９１Ｆ）を含む。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
上述のように、製造された各直角座標ロボットに対して、オフセット、スケール不正確性、及びスキュー誤差は、個々に判断する必要があり、又は誤差の２つ又は全て３つを判断する必要がある。誤差補正の方程式は、以下のように表すことができる。
Ｘ’＝Ｋ1＋（Ｋ2×Ｘ）＋（Ｋ3×Ｙ）
Ｙ’＝Ｋ4＋（Ｋ5×Ｙ）＋（Ｋ6×Ｘ）
６つの常数Ｋ1からＫ6は、生成された各機械に対して実験的に見出す必要がある。Ｋ1及びＫ4は、オフセット誤差を補正し、Ｋ2及びＫ5は、スケール不正確性を補正し、かつＫ3及びＫ6は、スキュー誤差を補正する。これらの方程式では、Ｘ及びＹという用語は、プローブの要求された位置を表すが、Ｘ’及びＹ’は、達成した実際の位置を表している。次に、多重回帰分析を実施して、適正な誤差補正座標を判断することができる。多重回帰分析の計算方法に対しては、Ｉｒｗｉｎ  Ｍｉｌｌｅｒ及びＪｏｈｎ  Ｅ．Ｆｒｅｕｎｄ著「技術者のための確率及び統計学」、１２．４節、２４５−２５４（Ｄｒ．Ａｌｂｅｒｔ  Ａ．Ｂｅｎｎｅｔ編、１９６５）を参照されたい。「技術者のための確率及び統計学」は、開示する本発明と矛盾しない全ての目的に対して本明細書においてその全内容が引用により組み込まれている。