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　特願２００３−３２７４７３「Ｘ線計測装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　４月　７日出願公開、特開２００５−　８７５９２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は，平成１５年９月１９日の出願であって，平成２１年８月２４日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年１１月３０日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに，同日付けで手続補正がされたものである。
  　
第２　平成２１年１１月３０日付けの手続補正についての補正却下の決定
  　
１　補正却下の決定の結論
　　平成２１年１１月３０日付けの手続補正を却下する。
  　
２　理由
（１）本願補正発明
　本件補正は，特許請求の範囲の請求項１を，
「検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と，前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と，前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と，前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し，前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に，回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し，かつ，前記処理装置において，前記計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と，
前記投影データを端から拡張して前記Ｘ線検出器の幅より広い範囲の投影データを推定する処理と，前記投影データ及び前記推定された
　
　上記請求項１についての補正は，補正前の請求項１における「処理装置」について「前記投影データを端から拡張して前記Ｘ線検出器の幅より広い範囲の投影データを推定する処理」「を行って」との限定を付加し，補正前の請求項１における「投影データ」について「前記投影データ及び前記推定された」との限定を付加するものであるから，特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　したがって，上記請求項１についての補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下，「平成１８年改正前」という。）の特許法１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　そこで，上記請求項１に記載された発明（以下，「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法１７条の２第５項において準用する同法１２６条５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
  　
（２）引用刊行物およびその記載事項
　ア　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である，X-ray micro-CT with a displaced detector array，Med.Phys.，July2002,Vol.29 No.7，pp.1634-1636（以下，「刊行物１」という。）には，図面とともに，次の事項（日本語訳）が記載されている（下線は当審において付記したもの）。 
  　
　（ア−１）
「Ｘ線マイクロＣＴを応用する際，試料の大きさが異なるため，マイクロＣＴスキャナの視野を変化させるための機構を備えることが望まれる。視野の直径を二倍にするためのよく知られた方法は，検出器アレイを５０％変位させる方法である。この論文において我々は，視野を連続的に調整可能とするために，検出器アレイを０％よりも大きく５０％よりも小さい量で変位させることを提案し，アーティファクトのない再構成のための重み付け理論を公式化する。そして，ファンビーム及びコーンビームの幾何学的配置における実行可能性を実証するために，Ｓｈｅｐｐ−Ｌｏｇａｎファントムを用いた数値シミュレーションを行う。」（１６３４頁要約欄１〜７行）
　　
　（ア−２）
「ファンビームの幾何学的配置を図１に図解する。図１では，検出器アレイが再構成システムの原点を通過する大きさとされており，βはＸ線源の角度位置を示し，ＲはＸ線源と原点との距離，ｔとαはそれぞれ検出器の空間位置と角度位置であり，Δとδは検出器アレイの長い方の空間範囲と角度範囲であり，Θとθは検出器アレイの短い方の空間範囲と角度範囲である。検出器アレイの変位の割合ｐは，次のように定義できる。
　ｐ＝［｛（Θ＋Δ）／２−Θ｝／（Θ＋Δ）］×１００％　（１）
ここで，ｐは０％から５０％の間の値であることに留意されたい。図１において，検出器アレイは視野を拡大するためにｔ軸方向に沿って変位されている。最も一般的な等方的なファンビームの幾何学的配置において，Ｘ線源と検出器アレイとの距離は一定のまま，検出器アレイは物理的に変位される。スキャンプロセスにおいて，検出器アレイは元の位置に戻されることはない。
　図２において灰色の部分で表されるように，変位された検出器アレイを用いたファンビームによるイメージングが，長方形の重複データ領域をもたらすことが示される。まず，長方形の重複領域に等角的なデータとして，次の重み関数を与える。
　ｗ（α，β）＝｛ｓｉｎ（πα／２θ）＋１｝／２，−θ≦α≦θ．　（２）」（１６３４頁左欄２６行〜右欄１２行）
　
　（ア−３）
「重複領域における単位合計の重みを示すために，対向するＸ線の間の関係を用いて，次のように重みの合計を計算する。
　ｗ（α，β）＋ｗ（−α，β＋π＋２α）
＝｛ｓｉｎ（πα／２θ）＋１｝／２+｛ｓｉｎ（−πα／２θ）＋１｝／２＝１．（４）　」（１６３４頁右欄２１〜２５行）
　
　（ア−４）
「変位された検出器アレイを用いたマイクロＣＴの数値シミュレーションにおいて，ファンビームおよびコーンビームによる画像再構成ブログラムは共に，ＳＧＩ　Ｏ２ワークステーションにおいてＣ言語により作成された。３次元Ｓｈｅｐｐ　ａｎｄ　Ｌｏｇａｎ　ファントムが被検体として用いられた。」（１６３５頁右欄７〜１１行）
　　
　（ア−５）
　図１は，ファンビームの幾何学的配置における変位された検出器アレイを示すものであり，Ｘ線源と原点とを結ぶ線分がｙ軸に対して角度βを有すること，Ｘ線源と原点をとおる線分がｔ軸と交差する点から，検出器の短い方の端部までの距離がΘであり，長い方の端部までの距離がΔであることが記載されている。
　　
　（ア−６）
　図２は，変位された検出器アレイを用いたファンビームＣＴにおける，重複領域と重み関数を示すものであり，−Θ≦ｔ≦Θ（−θ≦α≦θ），０≦β≦２πの領域において，重み関数がｗ（α，β）＝｛ｓｉｎ（πα／２θ）＋１｝／２となることが記載されている。
  　
　（ア−７）
　図３は，変位された検出器アレイを用いたファンビームＣＴにおける，重み関数を図解するものであり，検出器アレイの角度範囲が−δからδへ変化するにつれて，重み関数が０から１へと変化する様子がグレイスケールによって記載されている。
 
　以上の記載事項（ア−１）〜（ア−７）を総合すると，刊行物１には次の発明が記載されているものと認められる。
「Ｘ線源と，検出器アレイと，を備え，Ｘ線源と検出器アレイとの距離が一定のまま検出器アレイの変位の割合ｐが０％から５０％の間の値となるように検出器アレイを変位させた状態でスキャンプロセスを実施し，−θ≦α≦θの角度範囲において重み関数ｗ（α，β）を用いて画像再構成を行うＸ線マイクロＣＴ。
　ここで，
ｐ＝［｛（Θ＋Δ）／２−Θ｝／（Θ＋Δ）］×１００％であり，　
ｗ（α，β）＝｛ｓｉｎ（πα／２θ）＋１｝／２であり，
βはＸ線源の角度位置を示し，
αは検出器の角度位置を示し，
Δは検出器アレイの長い方の空間範囲を示し，
Θとθは検出器アレイの短い方の空間範囲と角度範囲を示す。」（以下，「刊行物１発明」という。）
  　
（３）当審の判断 
　ア　対比・判断　　
　本願補正発明と刊行物１発明を対比する。
　
　（ア）刊行物１発明の「Ｘ線源」が，試料に対して照射するＸ線を発生するものであるのは明らかであり，刊行物１発明の「検出器アレイ」が，試料に関する計測データを検出するものであるのは明らかである。よって，刊行物１発明の「Ｘ線源」及び「検出器アレイ」は，それぞれ，本願補正発明の「検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管」及び「検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器」に相当する。
　
　（イ）刊行物１発明の「Ｘ線マイクロＣＴ」は「スキャンプロセスを実施」するものである。そして，（ア−２）及び（ア−５）より，βがＸ線源の角度位置を示すこと，（ア−６）より０≦β≦２πの領域において画像再構成のための重み関数が定義されていること，検出器アレイを用いたＸ線ＣＴの基本動作がＸ線源及び検出器アレイの相対位置を回転により変化させるスキャン操作であり，回転角度として通常０〜２πの角度範囲が想定されることを参酌すると，刊行物１発明の「スキャンプロセスを実施」する「Ｘ線マイクロＣＴ」が，試料に対するＸ線源および検出器アレイの相対位置を変化させる回転装置を備えることは明らかであり，上記βが，その回転角度を示すものといえる。
　そうすると，刊行物１発明の「スキャンプロセスを実施」する「Ｘ線マイクロＣＴ」は，本願補正発明の「検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置」を実質的に備えるものといえる。
　　
　（ウ）刊行物１発明の「Ｘ線マイクロＣＴ」は「重み関数ｗ（α，β）を用いて画像再構成を行う」ものであるから，計測データの演算処理を行う処理装置を備えることは明らかである。
　そうすると，刊行物１発明の「重み関数ｗ（α，β）を用いて画像再構成を行う」「Ｘ線マイクロＣＴ」は，本願補正発明の「計測データの演算処理を行う処理装置」を実質的に備えるものといえる。
　　
　（エ）刊行物１発明の「検出器アレイ」は「Ｘ線源と検出器アレイとの距離が一定のまま」「変位」されたものである。そして「Ｘ線源と検出器アレイとの距離」とは，Ｘ線源の位置と，Ｘ線源を通過する線と検出器アレイの変位方向の軸とが直交する点との間の距離であると理解され，この距離を一定に保って検出器アレイを変位させると，その変位の方向は，検出器アレイがＸ線源に対して相対的に回転する際の回転軌道の接線方向となる。
　一方，本願明細書の【００２８】には「・・・検出器２０２は，Ｘ線源２０１の正面位置から回転軌道１０１の接線方向にシフトした位置に配置されている。・・・」と記載されており，上記回転は検出器２０２がＸ線源２０１に対して相対的に行う回転であることから，本願補正発明の「Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に」「移動させて配置」とは，「Ｘ線検出器」を回転軌道１０１の接線方向に「移動させて配置」することを意味するものといえる。
　そうすると，刊行物１発明の「検出器アレイ」を「Ｘ線源と検出器アレイとの距離が一定のまま」「変位」させる構成は，本願補正発明の「Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に」「移動させて配置」する構成に相当する。
　
　また，刊行物１発明の「検出器アレイ」は「検出器アレイの変位の割合ｐが０％から５０％の間の値となるように」「変位」されたものである。
　そして変位の割合ｐ＝［｛（Θ＋Δ）／２−Θ｝／（Θ＋Δ）］×１００％を変形すると，ｐ＝｛（Δ−Θ）／２｝×｛１／（Δ＋Θ）｝×１００となり，
検出器アレイの全長が（Δ＋Θ）であり，
検出器アレイの変位の量が｛（Δ＋Θ）／２−Θ｝すなわち｛（Δ−Θ）／２｝であることから，
ｐ＝｛（Δ−Θ）／２｝×｛１／（Δ＋Θ）｝×１００は，
ｐ＝｛（変位の量）／（検出器アレイの全長）｝×１００を意味するものとなって，ｐが０％から５０％の間の値をとることは，検出器アレイの変位の量が０から検出器アレイ全長の半分の値の間の値をとることを意味するものであることが理解される。ここで，刊行物１発明において，検出器アレイの上記全長が回転面に平行な方向におけるものであるのは明らかである。
　そうすると，刊行物１発明の「検出器アレイ」を「検出器アレイの変位の割合ｐが０％から５０％の間の値となるように」「変位」させる構成は，本願補正発明の「Ｘ線検出器」を「回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置」する構成に相当する。
　
　よって，刊行物１発明の「Ｘ線源と検出器アレイとの距離が一定のまま検出器アレイの変位の割合ｐが０％から５０％の間の値となるように検出器アレイを変位」させる構成は，本願補正発明の「Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に，回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置」する構成に相当する。
　　
　（オ）刊行物１発明の「−θ≦α≦θの角度範囲」は，（ア−２）に記載された検出器の空間位置ｔの空間範囲，−Θ≦ｔ≦Θに相当する。そして，刊行物１発明におけるΘは検出器アレイの短い方の空間範囲を示すものである。
　ここで，刊行物１の図１において，（ア−５）のとおり，Ｘ線源と原点とを結ぶ線分はｙ軸に対して上記回転角度角βを有する。そして，上記線分は回転軌道の半径に相当するものであるから回転軌道の接線方向と直交し，上記接線方向に平行な検出器アレイの変位の方向すなわちｔ軸とも直交するものといえる。そうすると，図１において，Ｘ線源と原点をとおり，ｔ軸と直交する線分が，ｔ軸と交差する点から，検出器の短い方の端部までの距離がΘであり，長い方の端部までの距離がΔである。
　一方，本願明細書の図１において，Ｘ線源２０１と原点と回転中心線３０１とを結ぶ線分は，回転半径を含むものであるから，回転軌道の接線方向に平行なｔ軸とは，直交する。そして，図１において，Ｘ線源と原点をとおり，ｔ軸と直交する線分が，ｔ軸と交差する点から，検出器の短い方の端部までの距離がＴＢであり，検出器の長い方の端部までの距離がＴＡである。
　そうすると，刊行物１発明の「Θ」及び「Δ」は，それぞれ，本願補正発明の「ＴＢ」，「ＴＡ」に相当する。さらに，刊行物１発明において「−Θ≦ｔ≦Θ」と「−θ≦α≦θ」は等価なものであるから，刊行物１発明における−θ≦α≦θの角度範囲は，本願補正発明における−ＴＢ≦ｔ≦ＴＢの空間範囲に相当する。
　また，刊行物１発明において，検出器アレイは処理する対象となる試料の投影データを当然に取得するものといえ，Ｘ線源と変位された検出器アレイの配置からみて−θ≦α≦θとθ≦α≦δのそれぞれにおいて，画像再構成に寄与する投影データの数が異なるのは明らかである。そして−θ≦α≦θの角度範囲において重み関数はｗ（α，β）と定義され，（ア−７）の記載及び，α＝θにおいてｗ（α，β）が１の値を取ることから，θ≦α≦δの角度範囲において重みは１に設定されることが理解できる。そうすると，刊行物１発明における重み関数は，画像再構成に寄与する投影データの数に応じたものであるといえる。
　さらに，刊行物１発明の「Ｘ線マイクロＣＴ」が当然に備える「処理装置」によって「画像再構成」が行われるのは明らかであり，刊行物１発明の「画像再構成を行う」処理が，投影データの値に重み関数を乗算する処理，及び，重みを乗算したデータを用いて画像再構成処理を行い再構成データを得る処理を行って３次元再構成像を得る処理を含むことは，技術常識からみて明らかである。
　よって，刊行物１発明の「−θ≦α≦θの角度範囲において重み関数ｗ（α，β）を用いて画像再構成を行う」構成と，本願補正発明の「処理装置において」「投影データ及び前記推定された投影データの値に，再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算する処理と」「重みを乗算したデータを用いて前記再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って，３次元再構成像を得る」構成とは，「処理装置において」「投影データの値に，再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算する処理と」「重みを乗算したデータを用いて前記再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って，３次元再構成像を得る」構成である点で共通する。
　　
　以上より，刊行物１発明と本願補正発明とは，
「検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と，前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と，前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と，前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し，前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に，回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し，かつ，前記処理装置において，投影データの値に，再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算する処理と，前記重みを乗算したデータを用いて前記再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って，３次元再構成像を得るように構成したＸ線計測装置。」である点において一致し，以下の点で相違する。
　
（相違点１）
　Ｘ線計測装置が，本願補正発明は，「処理装置において」「計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理」を行うのに対して，刊行物１発明はこのような処理を行うことについて特定していない点。
　
（相違点２）
　Ｘ線計測装置が，本願補正発明は，「処理装置において」「投影データを端から拡張して前記Ｘ線検出器の幅より広い範囲の投影データを推定する処理」を行うのに対して，刊行物１発明はこのような処理を行うことについて特定していない点。
　
（相違点３）
　Ｘ線計測装置が，「処理装置において」「投影データの値に，再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算する処理と，前記重みを乗算したデータを用いて前記再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って，３次元再構成像を得る」際に，本願補正発明は，「投影データ及び前記推定された投影データの値」に対して上記処理を行うのに対して，刊行物１発明は「投影データ」のみの値に対して上記処理を行う点。
　
　以下，上記相違点について検討する。
　　
（相違点１）
　Ｘ線計測装置において画像再構成を行う際，計測データに対数変換処理を行って投影データを得る処理を行うことは，本願出願前における周知技術であり，例えば，特開平９−２５３０７９号公報の【０００１】，【００４６】，【００４７】に，「Ｘ線断層像撮像装置において，透過Ｘ線強度データに対して対数変換を施す」ことについて記載され，特開２００２−１１９５０４号公報の【０００１】，【０００９】，【００１０】に，「Ｘ線コンピュータ断層撮影装置において，投影情報を得るために，検出されたＸ線に対して対数変換を行う」ことについて記載されているとおりである。
　よって，刊行物１発明において，検出されたＸ線データに対して対数変換処理を行って投影データを得る処理を行うよう想到することは，当業者が容易になし得ることである。
　
（相違点２及び３）
　相違点２及び３は関連するものであるので，まとめて検討する。
　Ｘ線計測装置において，検査対象が検出器の視野を超えてしまうことは本願出願前から認識されてきた課題であり，このような課題を解決するために，検出されたデータを視野の端部から拡張して検出器の幅より広い範囲のデータを推定する処理を行うことは本願出願前における周知技術である。
　例えば，特開昭５６−７２８４９号公報（前置報告書において周知例として提示）の特許請求の範囲には，Ｘ線を用いた被検査体の断層像再生方法において，被検査体の断面の射影が有効視野からはずれている場合に，欠落している射影部分を外挿法により推定することについて記載され，特開平４−２０３３５号公報（前置報告書において周知例として提示）の特許請求の範囲，第２頁左下欄１９行〜右下欄４行には，Ｘ線ＣＴの画像再構成領域拡大方法として，検出器の範囲外のデータがある場合，このデータを推定して埋め込むことについて記載されている。
　そうすると，刊行物１発明においても，（ア−１）に記載されるように大きさの異なる試料に応じてマイクロＣＴスキャナの視野を変化させる要請が前提としてあるのだから，刊行物１発明において検出器アレイの視野を超えるような大きさの試料についても対処可能とするために，上記周知技術を適用して，投影データを端から拡張して検出器アレイの幅より広い範囲の投影データを推定する処理を行うよう想到することは，当業者が容易になし得ることである。
　そして，刊行物１発明において，（ア−６），（ア−７）の記載及び上記「（３）ア（オ）」での検討から，重み関数はα＝−θ，θの境界において連続性を有するものであり，境界における画像の連続性が考慮されているといえるから，刊行物１発明に上記周知技術を適用して推定データを取得する際に，画像全体の連続性を考慮して，投影データと同様に推定された投影データに対しても適宜の重み関数を用いて画像再構成を行うことは，当業者にとって必然の技術的事項である。
　
　イ　本願補正発明の効果について
　本願補正発明の有する，再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し，回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることができるという効果は，刊行物１の記載事項及び周知技術から当業者が予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　したがって，本願補正発明は，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願補正発明は特許法２９条２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　なお，請求人は，前置報告書の審尋に対する回答書において，請求項１及び２について「前記Ｘ線検出器の回転中心線から等距離の座標にある前記重みの合計値が一定値である」との事項を追加する補正案を提示している。しかしながら，（ア−２）の数式（２）に表される重み関数において，α＝０となる点（上記「回転中心線」に相当）から等距離の座標における合計値が一定となることは，数式（２）の特性，及び（ア−３）の数式（４）に示された演算から明らかである。よって，上記補正案として記載された請求項１及び２に係る発明は，本願補正発明に対する理由と同様の理由により刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
 　
（４）小括
　以上のとおり，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。 
　　
第３　本願発明について
　平成２１年１１月３０日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので，本願の請求項１ないし請求項６に係る発明は，平成２１年８月５日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１ないし請求項６に記載された事項により特定されるとおりのものと認められ，その請求項１に係る発明は以下のとおりのものである。
  　
「検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と，前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と，前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と，前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し，前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に，回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し，かつ，前記処理装置において，前記計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と，前記投影データの値に，再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算する処理と，前記重みを乗算したデータを用いて前記再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って，３次元再構成像を得るように構成したことを特徴とするＸ線計測装置。」（以下，「本願発明」という。）
　　
１　刊行物およびその記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である刊行物１の記載事項は，前記「第２　２（２）」に記載したとおりである。　
  　
２　対比・判断
　本願発明は，前記「第２　２」で検討した本願補正発明における「処理装置」についての「前記投影データを端から拡張して前記Ｘ線検出器の幅より広い範囲の投影データを推定する処理」「を行って」との限定事項，及び，本願補正発明における「投影データ」についての「前記投影データ及び前記推定された」との限定を省くものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加し限定したたものに相当する本願補正発明が，前記「第２　２（３）」にて述べたとおり，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　
３　むすび
　以上のとおり，本願発明は，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，その他の請求項に係る発明についての判断を示すまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　　
　よって，結論のとおり審決する。