【事件の表示】
　特願２０００−６０１５０１「対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値からの対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの偏差を確定する方法。」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年　８月３１日国際公開、ＷＯ００／５０９６５、平成１４年１１月１２日国内公表、特表２００２−５３８４３９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、２０００年２月２８日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９９年２月２６日、ドイツ）を国際出願日とする出願であって、平成２０年１１月２６日付け（発送日同年１２月２日）で拒絶査定がなされ、これに対し、平成２１年２月２６日に拒絶査定に対する審判請求がなされ、平成２１年３月２７日付けで手続補正がなされたものである。
　
　
２．本願発明について
　本願の請求項１〜９に係る発明は、平成２１年３月２７日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜９に記載された事項により特定されるとおりのものであるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は次のとおりである。
　
「【請求項１】
　　対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値からの測定された対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの偏差を確定する方法であって、
前記偏差を確定する前に、対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの測定値を、対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの目標値の規定された公差領域内に調整してなることを特徴とする方法。」
　
　
３．引用例記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用された本願の優先権主張の日前である平成７年３月２０日に頒布された特開平７−７７４２０号公報（以下、「引用例1」という。）には、図面とともに、
　
（１−１）「【００１８】表１にＪＩＳで規定されている幾何公差の一覧を示す。
【００１９】
【表１】
　偏差種別　　　公差のの名称　　　適用形体
　　　　　　　　　・・・
　姿勢偏差　　　　・・・
　　　　　　　　直角度　　　　　　関連形体
　　　　　　　　　・・・
【００２０】この表１の中で、適用形体として単独形体が指定されている形状偏差は、先願発明によって規格通りに正しく評価することが可能になった。しかし、先願発明だけでは関連形体として指定されている姿勢偏差と位置偏差及び振れ（線と面の輪郭度も含まれる）に対する形状パラメータは、直接的には求めることができなかった。これは、関連形体の幾何公差には必ずデータムと呼ばれる基準要素が存在し、幾何偏差を求める際にはこのデータムによって制約された理論形状をもって偏差を求めなければならないからである。
【００２１】図１には関連形体の幾何偏差として、平面と平面の直角度を例に取って示している。図に示されるように、ＪＩＳの規格によれば平面データムに対する平面の直角度とは、「被測定面をデータムに対して直角な平行二平面で挟んだときの最小幅」であると規定されている。この規定に従えば、被測定面の平面としての基本的な評価は最小領域法によって行なうが、その評価平面は常にデータム平面に対して垂直であるという制約条件を満たしていなければならない。しかも、最小領域幅を求めるためには、評価平面自体はデータム平面の持つ面法線ベクトル回りには自由に回転可能でなければならない。つまり、評価平面は前記の制約条件に加えて、データム平面軸回りにのみ回転可能という二つの制約条件を持つことを意味する。」　
　
（１−２）「【００２３】以下に、前述の制約条件を与えるための新たな理論と方法を説明する。図２にはワーク（被測定物）の形状測定データを基に、ワーク形状を構成する形状パラメータを求めるための基礎理論の例を示す。この形状パラメータを求めるための理論には、並進量だけを求める理論や、回転量だけを求める理論、または並進量と回転量を同時に求める理論等、幾つかの理論が存在する。ここでは並進量および回転量を同時に求める理論を説明する。この基礎理論自体は先願発明でも解説しているが、後の制約条件を与える方法を説明するのために再度解説する。
【００２４】Ｎ個の測定点により構成された形状測定データのｉ番目の測定点の位置ベクトルをＭi 、それに対応する位置合わせ前の理論形状上の理論点の位置ベクトルをＭthi 、その位置における理論形状の単位法線ベクトルをｎi 、位置合わせ後の理論形状上の理論点の位置ベクトルをＭopt とする。また、Ｍthi からＭopt へのスクリュー・ベクトル（後述）をＤMthiとする。
【００２５】ここで、位置合わせに係る量（並進量と回転量等）が微小であり、位置合わせ前の理論点Ｍthi 上における単位法線ベクトルｎi と位置合わせ後の理論点Ｍopt 上における単位法線ベクトルの方向が変化しないと仮定する。この仮定のもとでは、位置合わせ後の基本理論形状と前記測定点との間の誤差量ｅi は次式で表現される。
【００２６】
【数１】
　　　　　ｅi ＝Ｍthi・Ｍi・ｎi −ＤMthi・ｎi
【００２７】ここで、式中の記号「・」は２ベクトルの内積を表す。また、数１式のＤMthiは位置合わせに係る量が微小であるという仮定より、理論形状の任意の基準位置（位置ベクトル）をＡとすると、次式のように表すことができる。
【００２８】
【数２】
　　　　　ＤMthi ＝ＤA＋ＶMA ×Ｒ
【００２９】ここで、ＶMAは理論点Ｍthi から任意の基準位置Ａへ向かうベクトルである。また、ＤA はＡでの並進量を、ＲはＡでの回転量を表すベクトルである。数２式中の記号「×」は２つのベクトルの外積を表す。また、ＤA とＲの二つのベクトルは、合わせてスクリュー・ベクトル（図２のＤmthi）と呼ばれる。三次元空間上において、これら二つのベクトルは次式のように表現することもできる。
【００３０】
【数３】
　　　　　ＤA ＝（ｄx,ｄy,ｄz ）　，　Ｒ＝（ｕ，ｖ，ｗ）
【００３１】ここで、ｄx,ｄy,ｄz は並進移動ベクトルの３次元空間における座標成分であり、ｕ，ｖ，ｗは同じく回転ベクトルの各座標成分である。数２式を数１式に代入して次の数４式を得る。ここで、ＶAMはベクトルＶMAを反転したベクトルである。
【００３２】
【数４】
　　　　　ｅi ＝Ｍthi・Ｍi・ｎi −｛ＤA・ｎi＋（ＶMA ×ｎi）・Ｒ｝
【００３３】この数４式は言い替えれば、測定点と基本理論形状との間の、位置合わせ後の誤差量を表している。総ての測定点に対しこの数４式を適用することによって、ＤA とＲを未知変数（三次元空間上での要素数は合計６個になる、以下では三次元空間を前提して話を進める）としたＮ本の連立一次方程式が得られる。 従って、この理論式によれば最低６個以上の測定点があれば、未知変数ＤA とＲの各要素を決定することができる。
【００３４】測定点の数が６点の場合には、この連立一次方程式を直接解く事によって一意的にＤA とＲが決定される。しかし、測定点の数が６点より多い場合には、この連立一次方程式を解く際にさまざまな評価関数を適用することで、その評価関数に従ったさまざまな解が得られるここでは測定点と理論形状との位置合わせという目的から、評価関数としては数４式のｅi を最小にすることを考える。最小化にもさまざまな方法が存在するが、ここではＪＩＳやＡＮＳＩ等の規格で規定されている最小自乗法・最小領域法・最大内接法・最小外接法の４つの方法を例に取って説明する。また、この４つの方法を表す評価関数の例を、円の場合を例に取って以下に記述する。
【００３５】
　　　　　　　　　　・・・
【００３７】（２）最小領域法の場合
【００３８】
【数６】
　　　　　Ｗ＝ｍａｘ（｜ｅi ｜）→　minimize
【００３９】
　　　　　　　　　　・・・
【００４１】
　　　　　　　　　　・・・
【００４３】ここで、ｒは円の半径を表す。またｍｉｎ（）とｍａｘ（）はそれぞれカッコ内の変数の最小・最大値を求める関数を意味する。以上が、測定点と理論形状との位置合わせを行うための基礎理論である。しかし、現実の形状測定およびその評価を考えた場合、前記理論の前提条件である「位置合わせに係る量（並進量と回転量）が微小であり」という仮定は、一般には成り立たない。従って、先願発明においては本来非線形連立方程式となるべき形状パラメータの算出理論を、線形近似と繰り返し演算の手法を適用し、新たな方法論として体系化することによって、最小自乗法のみならず従来では不可能であった最小領域・最大内接・最小外接等といった方法による形状パラメータ測定を、安定的にかつ短時間で求めることを実現した。」
　　
が記載されている。
　
　そして、これらの記載から、引用例１には、次のとおりの発明、
　
【引用例１に記載の発明】
「被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）からの位置合わせ後の誤差量ｅi （測定された対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの偏差に相当。）を確定する方法であって、
前記誤差量ｅi（偏差に相当。）を確定する前に、被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）を、被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）の、幾何公差である直角度つまり被測定面をデータムに対して直角な平行二平面で挟んだときの公差幅（規定された公差領域に相当。）内に回転（調整に相当。）してなることを特徴とする方法。」（以下、これを「引用例１に記載の発明」という。）
　
が記載されていると認められる。
　
　
４．対比・判断
　本願発明と引用例１に記載の発明とを対比する。
　引用例１に記載の発明における「被測定面」、「理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi」、「位置合わせ後の誤差量ｅi」、「幾何公差である直角度つまり被測定面をデータムに対して直角な平行二平面で挟んだときの公差幅」、「回転」は、それぞれ、
　本願発明における「対象物」、「位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値」、「測定された対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの偏差」、「規定された公差領域」、「調整」
に相当する。
　
　したがって、両者は、
　
【一致点】
「対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値からの測定された対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの偏差を確定する方法であって、
前記偏差を確定する前に、
　対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの目標値の規定された公差領域内に調整してなることを特徴とする方法。」
　  
で一致し、
　
【相違点１】
「本願発明では、対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの目標値の規定された公差領域内に調整する対象が、
対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの測定値であるのに対して、
　引用例１に記載の発明では、被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）の、幾何公差である直角度つまり被測定面をデータムに対して直角な平行二平面で挟んだときの公差幅（規定された公差領域に相当。）内に回転（調整に相当。）する対象が、
　被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）であって、
　測定点の位置ベクトルＭi （対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの測定値に相当。）ではない点」、
　
で一応相違する。
　
　しかしながら、引用例１に記載の発明において、
　被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）と、
　測定点の位置ベクトルＭi （対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの測定値に相当。）と、
の回転（調整に相当。）は、相対的であるから、
　被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）の、幾何公差である直角度つまり被測定面をデータムに対して直角な平行二平面で挟んだときの公差幅（規定された公差領域に相当。）内への回転（調整に相当。）を実現するのに、
　被測定面（対象物に相当。）の理論形状上の理論点の位置ベクトルＭthi（位置ないし幾何学的ディメンションの規定可能な目標値に相当。）を回転（調整に相当。）させるか、
　測定点の位置ベクトルＭi （対象物の位置ないし幾何学的ディメンションの測定値に相当。）を回転（調整に相当。）させるか、
に、実質的な相違は存在しない。　
　
　そして、このことは、原査定の拒絶の理由に引用された特開平５−１０７５１号公報に、
　
（２−１）「【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る設計値評価方式は、既知形状の自由曲面を測定することによって得られた測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価する測定値評価方式において、前記測定座標値によって特定される自由曲面と前記設計座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束する測定座標値の第１座標系と設計座標値の第２座標系との間の相対位置関係を求め、得られた両座標系の間の相対位置関係に基づいて前記両座標系のうちの一方に対して他方を整合させる座標変換処理を行なったのち、前記測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価することを特徴とする。」
　
（２−２）「【００２８】そして、収束するまで、この処理を繰り返すと、最終的に評価座標系を基準した設計座標系の最適位置及び姿勢を算出することができる。なお、上記実施例では、評価座標系（第１座標系）に対する設計座標系（第２座標系）の位置及び姿勢を求めるようにしたが、設計座標系に対する評価座標系の位置及び姿勢を求め、測定値を座標変換するようにしてもよい。但し、この場合には、自由曲面に対する座標変換を行う必要があるため、先の実施例よりもややデータ処理量が増すことになる。」
　
の記載があることからも裏付けられる。
　
　そして、本願発明の効果は、引用例１に記載された発明に基づいて当業者が予測可能な範囲のものである。
  
　
　なお、審判請求人は、平成２２年９月２１日付け回答書において、請求項１に請求項２に記載の事項を追加した補正案を提示している。
　ところで、限定事項「公差から目標値のゼロ又は最小値の偏差に関して調整が実行され、」は、「公差から目標値までの偏差は、調整が実行されることによって、ゼロ又は最小値に変化する。」と解される。
   一方、公差の定義を考えると、「公差から目標値までの偏差は、公差であって、あらかじめ規定された一定の値をもっているから、調整が実行されることによって、変化することはない。」
　そうすると、上記限定事項が主張する「偏差は、変化する。」ことと、公差の定義から得られる「偏差は、変化することはない。」こととは、矛盾する。
　したがって、この出願は、請求項１に請求項２に記載の事項を追加しても、特許法第３６条第６項に規定する要件を満たしていない。
　
　
５．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定により特許を受けることができない。
　そして、本願発明が、特許を受けることができないものであるから、その余の請求項２〜９に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきである。
　よって、結論のとおり審決する。