【手続補正書】
【提出日】平成23年9月5日(2011.9.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】質量分析計、質量分析方法および媒体
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析計であって、
第１の複数の電極を有する第１の質量選択的イオントラップ（以下、単に第１のイオントラップという）と、
第２の複数の電極を有する第２の質量選択的イオントラップ（以下、単に第２のイオントラップという）で、前記第１の質量選択的イオントラップの下流側に配置される第２の質量選択的イオントラップと、
前記第１のイオントラップ内へのイオンをパルス状にする装置であるイオンゲートであって、当該イオンは、使用に際して、前記第１のイオントラップ内に存在するバッファガス分子との衝突による熱エネルギー近傍まで冷却するために、前記第１のイオントラップ内に存在するように配置されている装置であるイオンゲートと、
を備え、
動作モード下で、前記第１のイオントラップ中に、あるいは、前記第１のイオントラップ内部に、初期時間Ｔ０において、貯蔵またはトラップされるようにイオン群を設定し、
さらに、
制御システムであって、
（ｉ）第１スキャンの間、前記第１のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第１のイオントラップを制御し、前記第１のイオントラップから質量選択的に放出される、および／あるいは、前記第１のイオントラップから出現する前記イオンの少なくとも一部を、次に、前記第２のイオントラップが受け取り、前記第２のイオントラップ中に、あるいは、前記第２のイオントラップ内部に貯蔵またはトラップするように、前記第１のイオントラップを制御し、
（ｉｉ）第２スキャンの間、前記第２のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第２のイオントラップを制御し、
かつ、前記第２のスキャンは、前記第１のスキャンが完了してから開始されるように構成される制御システムを備える、
質量分析計。
【請求項２】
請求項１に記載の質量分析計であって、
前記第１スキャンが時間Ｔ１ｓｔａｒｔで開始され、その後の時間Ｔ１ｅｎｄで完了し、また、前記第２スキャンが時間Ｔ２ｓｔａｒｔで開始され、その後の時間Ｔ２ｅｎｄで完了し、
Ｔ２ｅｎｄ＞Ｔ２ｓｔａｒｔ＞Ｔ１ｅｎｄ＞Ｔ１ｓｔａｒｔ
の関係を満たす質量分析計。
【請求項３】
請求項１に記載の質量分析計であって、
前記制御システムが、さらに、
（ｉ）第３スキャンの間、前記第１のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第１のイオントラップを制御し、前記第１のイオントラップから質量選択的に放出される、および／あるいは、前記第１のイオントラップから出現する前記イオンの少なくとも一部を、次に、前記第２のイオントラップが受け取り、前記第２のイオントラップ中に、あるいは、前記第２のイオントラップ内部に貯蔵またはトラップするように制御し、
（ｉｉ）第４スキャンの間、前記第２のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように前記第２のイオントラップを制御するように、構成される、
質量分析計。
【請求項４】
請求項３記載の質量分析計であって、
前記第３スキャンが時間Ｔ３ｓｔａｒｔで開始され、その後の時間Ｔ３ｅｎｄで完了し、また、前記第４スキャンが時間Ｔ４ｓｔａｒｔで開始され、その後の時間Ｔ４ｅｎｄで完了し、
Ｔ４ｅｎｄ＞Ｔ４ｓｔａｒｔ＞Ｔ３ｅｎｄ＞Ｔ３ｓｔａｒｔ
の関係を満たし、
（ａ）前記第３スキャンの持続時間Ｔ３ｅｎｄ−Ｔ３ｓｔａｒｔが、
（ｉ）１ミリ秒より短い値、（ｉｉ）１から１０ミリ秒の範囲の値、（ｉｉｉ）１０から２０ミリ秒の範囲の値、（ｉｖ）２０から３０ミリ秒の範囲の値、（ｖ）３０から４０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉ）４０から５０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉ）５０から６０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉｉ）６０から７０ミリ秒の範囲の値、（ｉｘ）７０から８０ミリ秒の範囲の値、（ｘ）８０から９０ミリ秒の範囲の値、（ｘｉ）９０から１００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉ）１００から２００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉｉ）２００から３００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｖ）３００から４００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖ）４００から５００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉ）５００から６００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉ）６００から７００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉｉ）７００から８００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｘ）８００から９００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘ）９００から１０００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘｉ）１から２秒の範囲の値、（ｘｘｉｉ）２から３秒の範囲の値、（ｘｘｉｉｉ）３から４秒の範囲の値、（ｘｘｉｖ）４から５秒の範囲の値、および（ｘｘｖ）５秒より長い値、からなる群から選択される、および／あるいは、
（ｂ）前記第４スキャンの持続時間Ｔ４ｅｎｄ−Ｔ４ｓｔａｒｔが、
（ｉ）１ミリ秒より短い値、（ｉｉ）１から１０ミリ秒の範囲の値、（ｉｉｉ）１０から２０ミリ秒の範囲の値、（ｉｖ）２０から３０ミリ秒の範囲の値、（ｖ）３０から４０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉ）４０から５０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉ）５０から６０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉｉ）６０から７０ミリ秒の範囲の値、（ｉｘ）７０から８０ミリ秒の範囲の値、（ｘ）８０から９０ミリ秒の範囲の値、（ｘｉ）９０から１００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉ）１００から２００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉｉ）２００から３００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｖ）３００から４００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖ）４００から５００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉ）５００から６００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉ）６００から７００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉｉ）７００から８００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｘ）８００から９００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘ）９００から１０００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘｉ）１から２秒の範囲の値、（ｘｘｉｉ）２から３秒の範囲の値、（ｘｘｉｉｉ）３から４秒の範囲の値、（ｘｘｉｖ）４から５秒の範囲の値、および（ｘｘｖ）５秒より長い値、からなる群から選択される、および／あるいは、
（ｃ）前記第３スキャンの開始から前記第４スキャンの完了までを測定した前記第３スキャンと前記第４スキャンとの合計持続時間Ｔ４ｅｎｄ−Ｔ３ｓｔａｒｔが、
（ｉ）１ミリ秒より短い値、（ｉｉ）１から１０ミリ秒の範囲の値、（ｉｉｉ）１０から２０ミリ秒の範囲の値、（ｉｖ）２０から３０ミリ秒の範囲の値、（ｖ）３０から４０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉ）４０から５０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉ）５０から６０ミリ秒の範囲の値、（ｖｉｉｉ）６０から７０ミリ秒の範囲の値、（ｉｘ）７０から８０ミリ秒の範囲の値、（ｘ）８０から９０ミリ秒の範囲の値、（ｘｉ）９０から１００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉ）１００から２００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｉｉ）２００から３００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｖ）３００から４００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖ）４００から５００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉ）５００から６００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉ）６００から７００ミリ秒の範囲の値、（ｘｖｉｉｉ）７００から８００ミリ秒の範囲の値、（ｘｉｘ）８００から９００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘ）９００から１０００ミリ秒の範囲の値、（ｘｘｉ）１から２秒の範囲の値、（ｘｘｉｉ）２から３秒の範囲の値、（ｘｘｉｉｉ）３から４秒の範囲の値、（ｘｘｉｖ）４から５秒の範囲の値、および（ｘｘｖ）５秒より長い値、からなる群から選択される、
質量分析計。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の質量分析計であって、
（ａ）第１の時間Ｔ０からＴ１の間に、Ｍ０からＭ１の範囲内のイオンが前記第１のイオントラップから放出される、および／あるいは、
（ｂ）第２の時間Ｔ２からＴ３の間に、Ｍ０からＭ１の範囲内のイオンが前記第２のイオントラップから放出される、および／あるいは、
（ｃ）第３の時間Ｔ４からＴ５の間に、Ｍ１からＭ２の範囲内のイオンが前記第１のイオントラップから放出される、および／あるいは、
（ｄ）第４の時間Ｔ６からＴ７の間に、Ｍ１からＭ２の範囲内のイオンが前記第２のイオントラップから放出される、および／あるいは、
（ｅ）第５の時間Ｔ８からＴ９の間に、Ｍ２からＭ３の範囲内のイオンが前記第１のイオントラップから放出される、および／あるいは、
（ｆ）第６の時間Ｔ１０からＴ１１の間に、Ｍ２からＭ３の範囲内のイオンが前記第２のイオントラップから放出され、
ここで、Ｔ１１＞Ｔ１０＞Ｔ９＞Ｔ８＞Ｔ７＞Ｔ６＞Ｔ５＞Ｔ４＞Ｔ３＞Ｔ２＞Ｔ１＞Ｔ０の関係、および／あるいは、
Ｍ３＞Ｍ２＞Ｍ１＞Ｍ０の関係を満たす、
質量分析計。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記初期時間Ｔ０において、および／あるいは、その後の所定時間ΔＴの間に、前記第２のイオントラップに実質上イオンが存在しない質量分析計。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第１のイオントラップおよび前記第２のイオントラップのうち、少なくとも一方が、
一つあるいは複数の第１の電極を備えるイオンガイドまたはイオントラップと、
前記第１の電極の下流側に配置される一つあるいは複数の出口電極と、
動作モード下で、前記イオンガイドまたはイオントラップ内部にイオンをトラップし、また、複数サイクルの操作を実行するように構成される制御手段であって、各操作サイクルにおいて、第１の時間Ｔｅの間、少なくとも一部のイオンを活性化して、前記イオンガイドまたはイオントラップから抜け出させ、その後、第２の時間Ｔｃの間、前記イオンガイドまたはイオントラップからイオンが抜け出るのを実質的に防ぐように構成される制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、さらに、前記複数サイクルの操作が実行されている間、前記イオンガイドまたはイオントラップへのイオンの実質的な侵入を防ぎ、それに続く操作サイクルにおいて前記第１の時間Ｔｅの長さあるいは幅を変動させるように構成される
質量分析計。
【請求項８】
請求項１ないし請求項７のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第１のイオントラップが、前記第２のイオントラップよりも、使用時のイオン貯蔵能力が高い、または、イオン電荷が大きい、あるいは、使用時のイオン貯蔵能力が高くなるように、または、イオン電荷が大きくなるように運転される
質量分析計。
【請求項９】
請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の質量分析計であって、
動作モード下で、前記第２のイオントラップ内部に存在するイオンの総電荷および／あるいはイオンの総数が、前記第１のイオントラップ内部に存在するイオンの総電荷および／あるいはイオンの総数よりも実質的に低くなるように構成される
質量分析計。
【請求項１０】
請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の質量分析計であって、
動作モード下で、前記第２トラップの質量分解能あるいは質量対電荷比分解能Ｒ２は、前記第１トラップの質量分解能あるいは質量対電荷比分解能Ｒ１よりも実質的に高い、あるいは、実質的に高くなるように構成される
質量分析計。
【請求項１１】
請求項１ないし請求項１０のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記動作モード下で前記第１のイオントラップを操作することにより、第１の質量対電荷比を有するイオンが、第１時間窓（第１タイムウィンドウ）以内に、前記第１のイオントラップから出現するように構成される、あるいは、出現する可能性があり、また、同じ第１の質量対電荷比を有するイオンが、次に続く第２時間窓（第２タイムウィンドウ）以内に、前記第２のイオントラップから出現するように構成される、あるいは、出現する可能性があり、
前記第１時間窓が第１の幅を有し、前記第２時間窓が第２の幅を有し、前記第２の幅が前記第１の幅よりも実質的に狭い
質量分析計。
【請求項１２】
請求項１ないし請求項１１のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記制御システムは、ある瞬間において、第１上限閾値Ｍ１ｍａｘおよび第１下限閾値Ｍ１ｍｉｎとの間の質量または質量対電荷比を有するイオンを質量選択的に放出させるように構成され、また、前記制御システムは、ある瞬間において、第２上限閾値Ｍ２ｍａｘおよび第２下限閾値Ｍ２ｍｉｎとの間の質量または質量対電荷比を有するイオンを質量選択的に放出させるように構成され、Ｍ１ｍａｘ−Ｍ１ｍｉｎ＞Ｍ２ｍａｘ−Ｍ２ｍｉｎの関係を満たす
質量分析計。
【請求項１３】
請求項１ないし請求項１２のいずれかに記載の質量分析計であって、
質量選択的不安定性、共鳴放出、パラメトリックまたは非線形共鳴励起、あるいは非共鳴放出のいずれかの手法により、前記第１のイオントラップから、および／あるいは、前記第２のイオントラップから、質量選択的に、または、質量対電荷比選択的に、イオンを放出させる、
質量分析計。
【請求項１４】
質量分析法であって、
第１の複数の電極を有する第１の質量選択的イオントラップと、第２の複数の電極を有する第２の質量選択的イオントラップで、前記第１の質量選択的イオントラップの下流側に配置される第２の質量選択的イオントラップと、を準備する工程と、
前記第１のイオントラップ内に存在するバッファガス分子との衝突による熱エネルギー近傍まで冷却するために、前記第１のイオントラップ内にイオンが存在するように、前記第１のイオントラップ内へのイオンをパルス状に放出する工程と、
前記第１のイオントラップ中に、あるいは、前記第１のイオントラップ内部に、初期時間Ｔ０において、貯蔵またはトラップされるようにイオン群を設定する工程と、
第１スキャンの間、前記第１のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第１のイオントラップを制御し、前記第１のイオントラップから質量選択的に放出される、および前記第１のイオントラップから出現する前記イオンの少なくとも一部を、次に、前記第２のイオントラップが受け取り、前記第２のイオントラップ中に、あるいは、前記第２のイオントラップ内部に貯蔵またはトラップするように、前記第１のイオントラップを制御する工程と、
前記第１のスキャンが完了してから開始される第２スキャンの間、前記第２のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第２のイオントラップを制御する工程と
を備える質量分析法。
【請求項１５】
コンピュータにより実行可能な命令が記憶されるコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
第１の質量選択的イオントラップと前記第１の質量選択的イオントラップの下流側に配置される第２の質量選択的イオントラップとを備える質量分析計の制御システムにより、前記命令が実行可能なように構成され、
前記命令に従って、制御システムが、
（ｉ）前記第１のイオントラップ内に存在するバッファガス分子との衝突による熱エネルギー近傍まで冷却するために、前記第１のイオントラップ内にイオンが存在するように、前記第１のイオントラップ内へのイオンをパルス状に放出し、
（ｉｉ）前記第１のイオントラップ中に、あるいは、前記第１のイオントラップ内部に、初期時間Ｔ０において、貯蔵またはトラップされるようにイオン群を設定し、
（ｉｉｉ）
第１スキャンの間、前記第１のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第１のイオントラップを制御し、前記第１のイオントラップから質量選択的に放出される、および前記第１のイオントラップから出現する前記イオンの少なくとも一部を、次に、前記第２のイオントラップが受け取り、前記第２のイオントラップ中に、あるいは、前記第２のイオントラップ内部に貯蔵またはトラップするように、前記第１のイオントラップを制御し、
（ｉｖ）前記第１のスキャンが完了してから開始される第２スキャンの間、前記第２のイオントラップから外に少なくとも一部のイオンが質量選択的に放出されるように、前記第２のイオントラップを制御する
よう動作するコンピュータ読み取り可能な媒体。