【誤訳訂正書】
【提出日】平成23年2月28日(2011.2.28)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験されるそれぞれのディスクドライブを個々に受容するための複数のベイと、
ディスクドライブがテストカードを介して試験され得る該テストカードを個々に受容するための複数のカードスロットと、
それぞれのテストカードは個々のカードスロットに受容され、それぞれの前記テストカードは環境テストカード又は接続テストカードである、複数のテストカードと、を備えており、
前記カードスロットと前記テストカードとが、それぞれのカードスロットが接続テストカード又は前記ベイ内で試験されるそれぞれのディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを選択的に受容できるように配置される、
ディスクドライブ試験装置。
【請求項２】
前記カードスロットと、前記又は個々の環境テストカードと、前記又は個々の接続テストカードとが、個々のカードスロットがテストカードで満たされ得る他のいかなるカードスロットとも物理的に干渉することなく、個々のカードスロットが環境テストカード又は接続テストカードを選択的に受容できるように配置されていることを特徴とする、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記装置は、少なくとも一の環境テストカードと、少なくとも一の接続テストカードと、を有することを特徴とする、請求項１又は２に記載の装置。
【請求項４】
前記装置は、各ベイにつき、それぞれ一のカードスロットを有していることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項５】
フレームと、
少なくとも一のディスクドライブを受容するために設けられ、前記フレームに固定されているか又は一体的に形成されているディスクドライブホルダと、
前記ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カードを受容するために設けられ、前記フレームに着脱自在に受容され、前記ディスクドライブホルダ内のディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを受容できるように配置されているカードホルダと、
を備えるディスクドライブ取り付け装置。
【請求項６】
前記ディスクドライブホルダは、複数のディスクドライブを受容するために構成され配置されており、前記カードホルダは、対応する複数のカードを受容するために構成され配置されていることを特徴とする、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記ディスクドライブホルダは、内部に一のディスクドライブを取り付けることができるディスクドライブ取り付け装置を備えており、前記ディスクドライブ取り付け装置は、前記ディスクドライブホルダを前記フレームから取り外さないでも、ディスクドライブホルダからの着脱が自在であることを特徴とする、請求項５又は６に記載の装置。
【請求項８】
少なくとも一のディスクドライブを受容するためのディスクドライブホルダと、前記ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カード、および、空気を前記ディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを含むカードホルダと、を備えるディスクドライブ取り付け装置であって、
空気が前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダおよび前記ディスクドライブに通ることができる一方で、前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダが互いに機械的に孤立しており、前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダが、非接触で封止する配置によって、互いに動作可能に接続される、ディスクドライブ取り付け装置。
【請求項９】
前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダは、前記ディスクドライブを通過した前記空気の少なくともいくらかが前記カードホルダに戻ってくるように配置されていることを特徴とする、請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記封止する配置は、前記ディスクドライブホルダと前記カードホルダとの間に空隙を有し、前記空気が前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダへと通過するとき、および、前記空気が前記ディスクドライブホルダから前記カードホルダへと通過するときに、前記空気の圧力が低下するようになっていることを特徴とする、請求項８又は９に記載の装置。
【請求項１１】
前記少なくとも一のカードは、空気を前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダおよび前記ディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを有していることを特徴とする、請求項８〜１０に記載の装置。
【請求項１２】
ディスクドライブを受容するためのベイと、
前記ディスクドライブの試験中又は運転中に前記ディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている温度センサと、
を備える、ディスクドライブ取り付け装置であって、
前記装置がさらに、前記ベイを画定しているフレームを備えており、前記温度センサが前記フレームに取り付けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け装置。
【請求項１３】
前記温度センサは、前記温度センサを前記ディスクドライブに接触するように付勢するための付勢手段を介して取り付けられていることを特徴とする、請求項１２に記載の装置。
【請求項１４】
内部にディスクドライブを受容することができ、かつ前記ディスクドライブを前記ベイ内に取り付けるために該ベイ内に着脱自在に受容できる、可撤性トレーを備えており、前記温度センサが前記トレーに取り付けられていることを特徴とする、請求項１２又は１３に記載の装置。
【請求項１５】
前記装置は、前記ディスクドライブの試験中又は運転中に前記ディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている少なくとも二の温度センサを備え、
前記装置は、ベイを画定するフレームを備え、
少なくとも一の温度センサが前記フレームに取り付けられており、
前記装置は、内部にディスクドライブを受容することができ、かつ前記ディスクドライブを前記ベイ内に取り付けるために該ベイ内に着脱自在に受容できる、可撤性トレーを備えており、
少なくとも一の温度センサが前記トレーに取り付けられていることを特徴とする、請求項１２又は１３に記載の装置。
【請求項１６】
前記トレーは、前記トレー内で受容されるディスクドライブを支持する複数の取り付けピンを備えており、少なくとも一の前記取り付けピンは、その内部に温度センサを包含していることを特徴とする、請求項１４又は１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記装置は、前記ベイ内で受容されるディスクドライブを備えており、
前記ディスクドライブは、内部温度センサを有していることにより、ディスクドライブ取り付け装置の温度センサによって検知された温度と前記ディスクドライブの内部温度センサによって検知された温度との比較ができることを特徴とする、請求項１２〜１６のいずれか一項に記載の装置。
【請求項１８】
内部にディスクドライブを有するディスクドライブトレーを受容することができる容器を画定し、三つの直交方向における振動を減衰するための減衰材料を有する、ディスクドライブ取り付け手段であって、
前記減衰材料は、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して、前記減衰材料のせん断と圧縮／延伸との組み合わせにより前記減衰材料が振動を減衰するような所定の角度で設けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け手段。
【請求項１９】
前記手段は、二の対向する側壁を備えており、少なくとも一の前記側壁の外部はその面上に減衰材料を有していることを特徴とする、請求項１８に記載の手段。
【請求項２０】
少なくとも一の前記側壁は、前記側壁の外部が、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して所定の角度になるように設けられていることを特徴とする、請求項１８又は１９に記載の手段。
【請求項２１】
前記手段は、対向する二の側壁を備えており、前記側壁のそれぞれは、該側壁の外部が、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して所定の角度になるように設けられており、それぞれの側壁は減衰材料をその面上に有しており、前記減衰材料は、該減衰材料のせん断と圧縮／延伸との組み合わせにより前記減衰材料が振動を減衰することができるように設けられていることを特徴とする、請求項１８に記載の手段。
【請求項２２】
塊が、前記手段の上に着脱自在に取り付けられていることを特徴とする、請求項１８〜２１のいずれか一項に記載の手段。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１０】
本発明の第一の態様によれば、試験されるそれぞれのディスクドライブを個々に受容するための複数のベイと、ディスクドライブがテストカードを介して試験され得る該テストカードを個々に受容するための複数のカードスロットと、それぞれのテストカードは個々のカードスロットに受容され、それぞれのテストカードは環境テストカード又は接続テストカードである、複数のテストカードと、を備えており、カードスロットとテストカードとが、それぞれのカードスロットが接続テストカード又はベイ内で試験されるそれぞれのディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを選択的に受容できるように配置されるディスクドライブ試験装置を提供することにより、前記課題を解決しようとするものである。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
この態様において、複数のディスクドライブの環境テストおよび接続テストを許容するために、同一の基本装置を使用することができる。実際、環境テストは接続テストよりも長時間を要する。したがって、製造業者は、それぞれの接続テストカードにつきいくつかの環境テストカードがあるように、装置を設計してもよい。環境テストカードは、例えば、一又は二以上のファン、導管組織、電子機器、等、ディスクドライブのインターフェースがテストされることを可能にするためのプロセッサおよびディスクドライブへの適切な接続を有していてもよい接続テストカードと容易に交換できる一のユニットとして包含された全てのものを有していてもよい。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
本発明の第二の態様によれば、フレームと、少なくとも一のディスクドライブを受容するために設けられ、フレームに固定されているか又は一体的に形成されているディスクドライブホルダと、ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カードを受容するために設けられ、フレームに着脱自在に受容され、ディスクドライブホルダ内のディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを受容できるように配置されているカードホルダと、を有するディスクドライブ取り付け装置を提供することにより、前記課題を解決しようとするものである。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１６】
この配置は、一般に機械部品（特に、ディスクドライブホルダ）を電子部品（特に、環境テストカードおよび接続テストカードを保持するカードホルダ）から隔離する。この配置により、ディスクドライブホルダをフレームに対してしっかりと固定することができるため、ディスクドライブ上の振動の影響を最小に留めることができる。一方、カードホルダは、着脱が可能である。実際、メンテナンスおよびアップグレードの目的で、カードホルダの着脱が必要になる。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
本発明の第三の態様によれば、少なくとも一のディスクドライブを受容するためのディスクドライブホルダと、ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カード、および、空気をディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを含むカードホルダと、を備えるディスクドライブ取り付け装置であって、空気がカードホルダからディスクドライブホルダおよびディスクドライブに通ることができる一方で、ディスクドライブホルダおよびカードホルダが互いに機械的に孤立しており、ディスクドライブホルダおよびカードホルダが、非接触で封止する配置によって、互いに動作可能に接続される、ディスクドライブ取り付け装置を提供することにより、前記課題を解決しようとするものである。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
この態様によれば、（ｉ）ディスクドライブホルダおよびカードホルダが互いに実質的に機械的に孤立し、さらに、（ｉｉ）加熱／冷却風がディスクドライブホルダとカードホルダとの間を通過し得るという、二重の必要条件を満たす。ディスクドライブホルダとカードホルダとの間のいかなる隙間または連結部をも完全に封止するゴム又はこれと同様のシール材のような、接触封止する配置は回避される。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２１】
実際、ディスクドライブホルダおよびカードホルダは、ディスクドライブを通過した前記空気の少なくともいくらかがカードホルダに戻ってくるように配置されていることが好ましい。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
好ましい実施態様において、封止する配置は、ディスクドライブホルダとカードホルダとの間に空隙を有し、空気がカードホルダからディスクドライブホルダへと通過するとき、および、空気がディスクドライブホルダからカードホルダへと通過するときに、空気の圧力が低下するようになっている。このようにして、空気が、ディスクドライブホルダとカードホルダから空隙を介して漏れ出すことが抑制される。これは、空隙を介したすべての空気の漏れを必ずしも防止すべきであるとは限られないと理解され、「抑制する」との用語は、これに従って解釈される。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
少なくとも一のカードは、空気をカードホルダからディスクドライブホルダおよびディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを有していてもよい。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２４】
本発明の第四の態様によれば、ディスクドライブを受容するためのベイと、ディスクドライブの試験中又は運転中にディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている温度センサと、を備える、ディスクドライブ取り付け装置であって、ベイを画定しているフレームを備えており、温度センサがフレームに取り付けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け装置を提供することにより、前記課題を解決しようとするものである。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２５】
上述のとおり、ディスクドライブの温度は、ディスクドライブの中を流れる空気の温度測定およびディスクドライブの温度の計算によって、間接的にではあるが経時的に監視される。この点で、ディスクドライブの温度は、直接的に感知され得る。これが、ディスクドライブの温度のより正確な監視を可能とし、よって、よりよい試験とディスクドライブの認証を行うことができる。重要なことは、大量でかつ高速の気流を達成するために先行技術で用いられてきた大きいファンの使用を避けることができ、これによって、スペースを削減し、振動を低減することができるということも意味する。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２７】
本発明の第四の態様において、本発明にかかる装置は、ベイを画定しているフレームを備えており、温度センサがこのフレームに取り付けられている。温度センサは、フレームに直接的に、又は、間接的に、例えば、フレームに取り付けられているコネクタに、取り付けることができる。使用時には、（電力と制御及びデータ信号とを伝えるために）ディスクドライブはこのコネクタに接続されている。従って、この接続は、ベイに対するディスクドライブの相対的位置を適切に画定する基準点を画定する。ディスクドライブの残部は、振動の影響を最小限にとどめるために、ベイ内で多かれ少なかれ「浮いて」いてもよいと理解される。したがって、温度センサをコネクタに取り付けることは、確実に温度センサが使用中のディスクドライブに適切に接触するようにすることを容易にする。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２９】
他の実施態様において、本発明にかかる装置は、ディスクドライブの試験中又は運転中にディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている少なくとも二の温度センサを備え、装置は、ベイを画定するフレームを備え、少なくとも一の温度センサがフレームに取り付けられており、装置は、内部にディスクドライブを受容することができ、かつディスクドライブをベイ内に取り付けるために該ベイ内に着脱自在に受容できる、可撤性トレーを備えており、少なくとも一の温度センサはこのトレーに取り付けられている。この実施態様によれば、二の温度センサを用いることができ、それにより、ディスクドライブ上の異なる位置におけるディスクドライブの温度の比較ができる。いずれにせよ、ディスクドライブの温度をディスクドライブ上のいくつかの異なる位置において測定するために、複数の温度センサが提供されていてもよい。また、異なるタイプのディスクドライブの温度をそれぞれのディスクドライブの異なる位置において測定することが望ましい。一以上の温度センサを有するとは、同一の基本装置が、より幅広いタイプのディスクドライブと共に使用され得ることを意味し、さらに、良好な精度の温度測定を達成することができる。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
本発明の第五の態様によれば、内部にディスクドライブを有するディスクドライブトレーを受容することができる容器を画定し、三つの直交方向における振動を減衰するための減衰材料を有する、ディスクドライブ取り付け手段であって、減衰材料は、手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して、減衰材料のせん断と圧縮／延伸との組み合わせにより減衰材料が振動を減衰するような所定の角度で設けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け手段を提供することにより、前記課題を解決しようとするものである。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３４】
減衰材料は、好ましくは、手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して、減衰材料のせん断と圧縮／延伸との組み合わせにより減衰材料が振動を減衰するような所定の角度で設けられている。このように、減衰材料は、せん断又は圧縮／延伸モードにおいて排他的にならないように作用することが好ましい。このような作用は、材料の耐久性を向上し、その作用特性を、幅広い範囲の動作条件にわたって、より安定かつ予測可能なものとする。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４３】
各環境テストカード７は、２つの遠心ブロワファン９、１０を含む。そのうちの一つである遠心ブロワファン９は、環境テストカード７に隣接するベイ４内に使用の際に取り付けられているディスクドライブを通るように空気を吹き動かすために作動する冷却ファン９である。第二のファン１０は、ディスクドライブから冷却ファン９に戻ってくる空気の流れを変更するために選択的に運転され得る再循環ファン１０である。特に、再循環ファン１０の運転により、ディスクドライブから戻ってくる空気の一部がカード７の第一のエアダクト１１を介して強制的に外に出される。そこから、その一部の空気は、フレームと関連している熱交換器（不図示）を通過して、冷却される。そして、この空気は、環境テストカード７の第二のダクト１２を通じて冷却ファン９へと戻される。ディスクドライブを通過する空気の全般的な温度を変えるため、再循環１０の運転速度は変更される。例えば、一の配置において、再循環ファン１０のより高い回転速度により、第一のダクト１１を通じて比較的より多くの空気が外に出ることを強制され、熱交換器と第二のダクト１２とを通じて、比較的より多くの空気が戻ることを強制される。その結果、ディスクドライブの上を通過することを余儀なくされた空気は、比較的冷たくなる。一方、再循環ファン１０が低回転速度又はゼロ回転速度であるとは、ほとんど又は全く空気が熱交換器を通過しないことを意味し、よって、ディスクドライブ上を比較的暖かい空気が通過する。加熱器（不図示）は、例えば、電熱要素の形態において、空気を必要に応じて温めることを許容するために、環境テストカード７の気流道の中で提供されることができる。この配置は、ディスクドライブ上を流れる空気の温度が広い範囲で変化することを許容するため、ディスクドライブ自体の温度を広い範囲で変化させることを可能としている。二つのファン９、１０を供給することにより、例えば本出願人の国際公開ＷＯ−Ａ−０１／４１１４８号公報に開示しているように、バルブの上にファンを有する必要性が回避される。このことは、今度は、より多くの環境テストカード７が装置１中に単位高さあたり収容され得ること、及び、したがって、より多くのディスクドライブが装置１中に単位高さあたり収容され得ることを意味する。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４４】
環境テストカードは、それ自体公知のものである。環境テストカード７は、ディスクドライブへの電力とデータ接続を提供する。ディスクドライブは、ディスクドライブがその磁気記録表面に対して欠陥が許容公差内であるかをテストできるいわゆるセルフテストを実行するために、そしてそれを上述の広い温度範囲にて行うために、環境テストカード７を通じて運転される。ディスクドライブの電子回路のある一定量のテストもまた、環境テストカード７を介して実行され得る。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５１】
この例において、非接触シール３５は、環境テストカード７の前部３６とディスクドライブ取り付け手段３３の後部とが、それらの間に空隙を残しつつ重なり合うことにより、達成される。さらに、この重なりは、空気が環境テストカード７の前部３６を出てディスクドライブ取り付け手段３３に入るときに、空気が、より大きくされた断面の領域（図５の位置Ａ）に遭遇し、そして圧力低下を経験するように配置される。同様に、ディスクドライブ取り付け手段３３から空気が出て、環境テストカード７に戻るとき、空気は再びより大きな断面領域（Ｂで示される。）に遭遇し、そしてまた、圧力低下を経験する。それぞれの場合で、圧力低下は空気の漏れを阻止する傾向にあり、そして、そのようにして、接触シールでなくてもよい効果的なシールを提供する。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５４】
図７Ａ〜図７Ｄを参照すると、代替の又は追加として、温度センサ５０は、従来からディスクドライブキャリア３２に設けられている一または二以上のディスクドライブロケーションピン５１中に取り付けることができる。一般的に、ディスクドライブ３１の下表面内に標準的に設けられているそれぞれの取り付け孔５３に使用の際に受容される四つのそのようなピン５１がある。ロケーションピン５１での温度センサ５０の取り付けは、温度センサ５０がディスクドライブ３１上を流れる空気から遮断されていることを意味する。キャリア３２はその後部表面に、温度センサ５０からの信号が環境テストカード７へと通され得るように使用の際にキャリア３２が接続されている物理的コネクタ４１上で、対応するデータコネクタ５５と使用の際に係合する、データコネクタ５４を有している。