【手続補正書】
【提出日】平成23年8月12日(2011.8.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から光源ビームを受けて、干渉効果を導入するための干渉計と、
干渉計から干渉効果を有する光源ビームを受けるための封止されたハウジングと、
干渉効果を有する光源ビームをリファレンスビームおよびサンプルビームに分岐し、リファレンスビームおよびサンプルビームを別個の経路に向けるための、ハウジング内にある光学システムと、
ハウジング内にあるリファレンス室であって、リファレンスビームと相互作用するためのリファレンスを含み、前記相互作用は、ある方向の出力リファレンスビームを生じさせるようにしたリファレンス室と、
出力リファレンスビームの方向に基づいて、出力リファレンスビームの少なくとも一部を検出し、検出光を表すリファレンス信号を発生するためのリファレンス光検出器と、
ハウジング内にあるサンプル室であって、サンプルビームと相互作用するためのサンプルを含み、前記相互作用は、ある方向の出力サンプルビームを生じさせるようにしたサンプル室と、
出力サンプルビームの方向に基づいて、出力サンプルビームの少なくとも一部を検出し、検出光を表すサンプル信号を発生するためのサンプル光検出器と、
リファレンス信号に比例したリファレンス電圧および、リファレンス信号とサンプル信号との差分に比例した差分電圧を出力するための検出器回路と、
差分電圧に基づいてサンプルのスペクトルを決定するように構成されたプロセッサとを備え、
前記プロセッサは、差分電圧からインターフェログラムを発生し、インターフェログラムのフーリエ変換を計算するように構成され、
前記スペクトルは、インターフェログラムのフーリエ変換の関数であるようにした分光測光システム。
【請求項２】
プロセッサはさらに、リファレンス電圧に基づいてサンプルのスペクトルを決定するように構成されている請求項１記載の分光測光システム。
【請求項３】
プロセッサはさらに、サンプル電圧に基づいてサンプルのスペクトルを決定するように構成されている請求項１記載の分光測光システム。
【請求項４】
リファレンスは、リファレンスビームの少なくとも一部を特定方向に反射し、
出力リファレンスビームは、前記特定方向のリファレンスビームの前記反射部分を含む請求項１記載の分光測光システム。
【請求項５】
リファレンスは、リファレンスビームの少なくとも一部を特定方向に透過し、
出力リファレンスビームは、前記特定方向のリファレンスビームの前記透過部分を含む請求項１記載の分光測光システム。
【請求項６】
サンプルは、サンプルビームの少なくとも一部を特定方向に反射し、
出力サンプルビームは、前記特定方向のサンプルビームの前記反射部分を含む請求項１記載の分光測光システム。
【請求項７】
サンプルは、サンプルビームの少なくとも一部を特定方向に透過し、
出力サンプルビームは、前記特定方向のサンプルビームの前記透過部分を含む請求項１記載の分光測光システム。
【請求項８】
検出器回路は、可変利得要素を含み、前記可変利得要素はリファレンス信号およびサンプル信号を平衡化するようにした請求項１記載の分光測光システム。
【請求項９】
検出器回路は、リファレンス信号およびサンプル信号を平衡化するようにフィードバックを有する加算点を含む請求項１記載の分光測光システム。
【請求項１０】
差分電圧を所定の周期でアナログ信号からデジタル信号へ変換するための第１変換器と、
リファレンス電圧を所定の周期でアナログ信号からデジタル信号へ変換するための第２変換器と、
サンプル電圧を所定の周期でアナログ信号からデジタル信号へ変換するための第３変換器とをさらに備える請求項１記載の分光測光システム。
【請求項１１】
光源から光源ビームを受けて、干渉効果を導入するためのマイケルソン干渉計と、
封止されたハウジングと、
ハウジング内に設けられ、干渉計の出力と光学的に連結され、透過側と反射側を有する第１ビームスプリッタと、
ハウジング内に設けられ、前記第１ビームスプリッタの透過側と光学的に連結した第２ビームスプリッタと、
ハウジング内に設けられ、前記第１ビームスプリッタの反射側と光学的に連結した第３ビームスプリッタと、
ハウジング内に設けられ、前記第２および第３ビームスプリッタの一方と光学的に連結したリファレンス検出システムと、
ハウジング内に設けられ、前記第２および第３ビームスプリッタの他方と光学的に連結したサンプル検出システムとを備える分光測光装置。
【請求項１２】
前記リファレンス検出システムおよび前記サンプル検出システムは、前記第２ビームスプリッタの反射側および前記第３ビームスプリッタの透過側と光学的に連結している請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１３】
前記中空部分の一部として形成され、前記第２ビームスプリッタから透過した光および前記第３ビームスプリッタから反射した光を捕捉するように配置された光トラップをさらに備える請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１４】
前記リファレンスおよびサンプル検出システムから反射した光を捕捉する、追加の光トラップをさらに備える請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１５】
前記リファレンス検出システムおよび前記サンプル検出システムは、
相互作用面を有するプリズムと、
検出器と、
前記プリズムから出力されたビームを前記検出器に集光するレンズと、
気体または液体を相互作用面に供給するための入口および出口を有する、閉じた相互作用空間と、をそれぞれ備える請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１６】
前記リファレンス検出システムおよび前記サンプル検出システムは、
反射相互作用面と、
検出器と、
前記反射相互作用面から出力されたビームを前記検出器に集光するレンズと、
気体または液体を反射相互作用面に供給するための入口および出口を有する、閉じた相互作用空間と、をそれぞれ備える請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１７】
前記リファレンス検出システムおよび前記サンプル検出システムは、
つや消し相互作用面と、
検出器と、
前記つや消し相互作用面から出力された散乱出力を前記検出器に集光するレンズまたはミラーと、
気体または液体を相互作用面に供給するための入口および出口を有する、閉じた相互作用空間と、をそれぞれ備える請求項１１記載の分光測光装置。
【請求項１８】
サンプル物質に関する光学スペクトルを決定するための方法であって、
外部光源から、複数の波長を有する光源ビームを受けること、
光源ビームに干渉効果を導入すること、
干渉効果を含む光源ビームをリファレンスビームおよびサンプルビームに分岐すること、
リファレンスビームを、リファレンス物質を有するリファレンスセルに向けて、前記リファレンス物質はリファレンスビームと相互作用し、前記相互作用は、ある方向の出力リファレンスビームを生じさせること、
サンプルビームを、サンプル物質を有するサンプルセルに向けて、前記サンプル物質はサンプルビームと相互作用し、前記相互作用は、ある方向の出力サンプルビームを生じさせること、
出力リファレンスビームの少なくとも一部および、出力サンプルビームの少なくとも一部を検出すること、
出力リファレンスビームの検出部分を表すリファレンス信号および、出力サンプルビームの検出部分を表すサンプル信号を発生すること、
リファレンス信号に比例したリファレンス電圧および、リファレンス信号とサンプル信号との差分に比例した差分電圧を発生すること、
差分電圧からインターフェログラムを発生すること、
インターフェログラムのフーリエ変換を計算すること、
インターフェログラムの計算したフーリエ変換の関数として、サンプルのスペクトルを決定すること、を含む方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】フーリエ変換を用いた分光測光システムおよび装置ならびに光学スペクトルの決定方法