【事件の表示】
　平成１１年特許願第１４２８１１号「表面検査装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年１１月３０日出願公開、特開２０００−３２９５３８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯・原査定の拒絶の理由
　本願は、平成１１年５月２４日の出願であって、明細書または図面について、平成２０年１０月２７日付けで手続補正（以下、「補正１」という。）がなされ、平成２１年１月１９日付け（送達日：同年同月２１日）で拒絶査定がなされ、これに対し、同年２月１９日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同年３月１８日付けで手続補正（以下、「本件補正」という。）がなされたものである。
　
　そして、原査定の拒絶の理由は、特許請求の範囲に記載された各請求項に係る発明はいずれも、本願の出願前に頒布された刊行物である、特開平９−３１８３３４号公報（以下、「引用刊行物」という。）に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許をすることができない、というものである。
　
２　本件補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　
　本件補正を却下する。
　
［理由］独立特許要件違反
　
（１）補正の内容・補正の適否
　本件補正により、本件補正前の請求項１は、
「プラスチックカードの表面における欠陥を検査する表面検査装置であって、撮像手段とＡ／Ｄ変換手段と微分手段と２値化閾値演算手段と２値化手段と良否判定手段とを有し、
前記撮像手段は前記プラスチックカードの表面を撮像して撮像信号を生成し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成し、
前記微分手段は前記撮像画像を微分して微分画像を生成し、
前記２値化閾値演算手段は前記撮像画像から所定の領域ごとの平均画素値を算出し、前記平均画素値に基いて２値化閾値を算出し、
前記２値化手段は前記所定の領域ごとの２値化閾値を用いて前記所定の領域ごとに前記微分画像を２値化した２値化画像を生成し、
前記良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記プラスチックカードの良否判定を行う、ことを特徴とする表面検査装置。」から、
　
「
印刷絵柄あるいは加工された表面を有する
前記撮像手段は前記プラスチックカードの表面を撮像して撮像信号を生成し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成し、
前記微分手段は前記撮像画像を微分して微分画像を生成し、
前記２値化閾値演算手段は前記撮像画像から所定の領域ごとの平均画素値を算出し、前記平均画素値に基いて２値化閾値を算出し、
前記２値化手段は前記所定の領域ごとの２値化閾値を用いて前記所定の領域ごとに前記微分画像を２値化した２値化画像を生成し、
前記良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記プラスチックカードの良否判定を行う、ことを特徴とする表面検査装置。」に補正された。なお、下線は補正箇所を明示するために請求人が付したものである。
　
　そして、この補正は、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「プラスチックカード」について、「印刷絵柄あるいは加工された表面を有する」との限定を付加するものであって、特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
　そこで、本件補正後の請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否かについて検討する。
　
（２）引用刊行物に記載された事項・引用発明
　引用刊行物には、「画像２値化方法および表面欠陥検査装置」（発明の名称）に関して、次の事項が図面とともに記載されている。
　
（ａ）「【発明の属する技術分野】本発明は、画像の２値化方法および被検査物体の表面欠陥、例えば自動車ボディの塗装面の凹凸等のような表面欠陥を検査する装置に関する。」（【０００１】）
　
（ｂ）「【従来の技術】従来の表面欠陥検査装置としては、例えば特開平２−７３１３９号公報などに示されたものがある。これは、明暗模様投影手段により明暗パターンの映し出された被検査面を撮像し、撮像された画像信号を微分および２値化することにより被検査面の欠陥を検出するものである。」（【０００２】）
　
（ｃ）「図１および図２に従来例の一例を示す。図１（ａ）は原画像であり、白く明るい背景に対して円形の黒い物体が２つあることを表しており、その下は画像の点線部分の輝度（濃度）断面である。このような原画像に対して微分等のエッジ検出を行うと、図１（ｂ）のような画像および輝度断面となる。よって図１（ｂ）の画像において、輝度平均値をしきい値として２値化すると、エッジ成分とノイズ成分とが分離でき良好な２値画像が得られる。しかし、図２のように背景に対してコントラストの低い物体の場合は、エッジ検出のレベルが低下してしまうため、上記従来のしきい値では良好な２値化が困難であった。」（【０００４】）
　
（ｄ）「本発明は上記のごとき従来技術の問題を解決するためになされたものであり、微分等によるエッジ検出処理画像において検出したい信号成分とノイズとを確実に分離するような適切なしきい値による２値化方法、および上記２値化方法を欠陥検出に適応することにより、被検査面の欠陥を精度よく検出することの出来る表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。」（【０００５】）
　
（ｅ）「（第１の実施の形態）図３および図４は、本発明の第１の実施の形態を示す図である。図３は、本発明の処理フローである。図４は、本発明の輝度断面を用いた説明図である。図３のように画像中のエッジを検出するために微分等の処理を行った結果、図４（図２（ｂ）の輝度断面例と同じ）のような輝度断面が得られたとする。通常画像には、電気的なノイズや被写体の表面状態などが原因でノイズが存在する。よって２値化にてエッジのみを抽出するには、図４のようにしきい値Ｔｈがノイズレベルより大きくエッジレベルより小さい値であればよい。このようなしきい値Ｔｈの算出方法を図５を用いて以下に説明する。」（【０００８】）
　
（ｆ）「まず図５（ａ）のように、ノイズが発生する輝度レベルの範囲の上限値と下限値を設定する。本実施の形態では、ノイズの最大値を上限値とし（Ｎｍａｘ）、０を下限値とする。よって、上記上限値Ｎｍａｘと下限値０との間をノイズレベルとし、この範囲における平均値Ｎａｖｇを求める（図５（ｂ））。このノイズ平均値Ｎａｖｇに、例えば式（１）のように所定の係数ｋを乗じて、図５（ｃ）のようなノイズレベルより大きくエッジレベルより小さいしきい値Ｔｈを算出する。
　Ｔｈ＝ｋ×Ｎａｖｇ            …（１）
例えば、ノイズ平均値Ｎａｖｇを２倍するとほぼノイズの上限値となるので、さらにその１．２倍をしきい値とするならば、ｋ＝２×１．２＝２．４となる。ノイズレベルが変化しなければ、しきい値Ｔｈは上記ノイズ最大値Ｎｍａｘに所定のオフセット値を加えた値としてもよいが、ノイズレベルが変動する場合は、その変動に比例してしきい値が追従するように係数を乗じて算出した方がよい。ここで上記係数や計算式、およびノイズの上限／下限値は、予め実験的に決定すればよい。このようにして求めたしきい値で２値化すれば、図５（ｄ）のようにエッジのみを検出することができる。」（【０００９】、【００１０】）
　
（ｇ）「（第３の実施の形態）次に、本発明の第３の実施の形態について説明する。
　これは、例えば画像を図７のようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割し、各領域毎に上記の手順でしきい値を算出し２値化するものである。本発明は、画像においてノイズレベルが部分的に異なり一定でない場合に有効である。なお、上記領域の分割数、形状、大きさはノイズの発生状況等に応じて決定すればよい。」（【００１４】、【００１５】）
　
（ｈ）「（第５の実施の形態）次に本発明の第５の実施の形態を図１０を用いて説明する。
　図１０において、１は照明手段であり、被検査面５に明暗パターンを映し出すように配置されている。２は撮像手段であり例えばＣＣＤカメラといったもので、所定の焦点距離のレンズを取り付けることにより上記明暗パターンの映し出された被検査面５を所定の視野で撮像する。カメラ２から出力されるビデオ信号は、画像処理手段３に入力され、さらにその処理結果は追跡処理手段４へと接続される。また、この実施の形態において、上記被検査面もしくは撮像手段のいずれか一方を移動させながら任意の時刻毎に受光画像を処理する、と記載したが、本実施の形態では被検査面５が図１０の矢印の方向へ移動するものとして説明する。図１１は、上記照明手段１の一例を示す概略図である。照明箱１０１に光源１０２が取り付けられており、照明箱１０１の照射側には拡散板につや消し黒色で所定の明暗パターンが形成された照明板１０３が配置される。よって光源１０２の光が照明板１０３を通過し、被検査面５に所定の明暗パターンが映し出される。ここで、被検査面５上に凹凸状の欠陥６があると、欠陥での凹凸により光が乱反射するため、カメラ２の受光画像は図１２（ａ）のように欠陥が周囲とは異なる輝度（明るさ）を持った領域として映る。よって画像処理手段３では、カメラ受光画像を上記の手順でエッジ検出／２値化処理し、図１２（ｂ）のような２値画像を得る。」（【００１９】、【００２０】）
　
（ｉ）「（第６の実施の形態）次に、本発明の第６の実施の形態を図１３を用いて説明する。
　本発明は、被検査面の表面状態、例えば塗装や表面粗さといった表面状態と上記ノイズ平均値といったノイズに関する物理量との関係に基づいてしきい値を決定するものである。」（【００２２】、【００２３】）
　
（ｊ）「本実施の形態では、被検査面が塗装されている場合を例に取り、塗装色とノイズに関する物理量との関係に基づいてしきい値を決定する方法について説明する。例えば塗装色自身の持つ明度が高い、つまり白などの明るいほど輝度レベルつまりビデオ信号の電圧レベルも高くなるので、この電圧レベルに比例してノイズレベルも増大する、という性質があるものとする。このような場合、エッジ成分とノイズ成分とを分離するしきい値もまた塗装色の明度に応じて変化すればよく、ゆえにノイズに関する物理量Ｎとしきい値Ｔｈとの関係は図１３のようになる。このような関係式を予め実験的に求めておき、しきい値を算出する。
　なお、しきい値の算出方法や計算式等は本実施の形態に限定されるものではない。」（【００２４】、【００２５】）
　
　そして、前記（ａ）ないし（ｊ）の記載事項及び図１ないし５、図７及び図１０から、以下の（ア）ないし（ケ）の技術事項を読み取ることができる。
　
・（ｅ）及び（ｇ）の第１の実施の形態及び第３の実施の形態の説明では、画像をどのように入力するかについては明示されていないが、（ｇ）及び図１０の第５の実施の形態では、ＣＣＤカメラからなる撮像手段２が明示されているように、表面欠陥検査装置における画像を入力する手段として撮像手段が必要であることは明らかであるから、
（ア）第３の実施の形態の表面欠陥検査装置もまた、ＣＣＤカメラからなる撮像手段２を有していると解される点。
（イ）ＣＣＤカメラからなる撮像手段２は、自動車ボディの塗装面を撮像し、受光画像を生成する点。
　
・（ｄ）及び図３から、
（ウ）表面欠陥検査装置は、微分手段を有している点。
（エ）微分手段は、受光画像を微分して、微分等によるエッジ検出処理画像を生成する点。
　
・（ｄ）、（ｅ）、（ｆ）、（ｇ）及び図３、５、７から、
（オ）表面欠陥検査装置は、２値化しきい値演算手段を有する点。
（カ）２値化しきい値演算手段は、微分等によるエッジ検出処理画像の４つの領域毎のノイズ平均値を算出し、前記ノイズ平均値に基づいて２値化しきい値を算出する点。
　
・（ｄ）、（ｇ）、（ｈ）及び図３、７から、
（キ）表面欠陥検査装置は、微分等によるエッジ検出処理画像を２値化処理する画像処理手段３を有する点。
（ク）画像処理手段３は、４つの領域毎の前記２値化しきい値を用いて前記４つの領域毎に微分等によるエッジ検出処理画像を２値化した２値画像を生成する点。
　
・（ｄ）から、表面欠陥検査装置は、撮像された画像信号を微分および２値化処理することにより、自動車ボディの塗装面の欠陥を検出するものであることから、
（ケ）表面欠陥検査装置は、２値画像に基づいて自動車ボディの塗装面の欠陥を検出する、欠陥検出手段を有する点。
　
　したがって、前記（ア）〜（ケ）の技術事項を総合勘案すると、引用刊行物には、
「自動車ボディの塗装面の凹凸等のような表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置であって、ＣＣＤカメラからなる撮像手段２と微分手段と２値化しきい値演算手段と２値画像を生成する画像処理手段３と欠陥検出手段とを有し、
前記ＣＣＤカメラからなる撮像手段２は、前記自動車ボディの塗装面を撮像して受光画像を生成し、
前記微分手段は前記受光画像を微分して微分等によるエッジ検出処理画像を生成し、
前記２値化しきい値演算手段は、前記微分等によるエッジ検出処理画像の４つの領域毎のノイズ平均値を算出し、前記ノイズ平均値に基づいて２値化しきい値を算出し、
前記２値画像を生成する画像処理手段３は、４つの領域毎の前記２値化しきい値を用いて前記４つの領域毎に前記微分等によるエッジ検出処理画像を２値化した２値画像を生成し、
前記欠陥検出手段は前記２値画像に基づいて前記自動車ボディの塗装面の欠陥を検出する、表面欠陥検査装置。」の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　
（３）対比
　本願補正発明と引用発明とを比較する。
　
（ア）引用発明の「微分手段」は、本願補正発明の「微分手段」に相当し、以下同様に、「２値画像を生成する画像処理手段３」は「２値化手段」に、「受光画像」は「撮像画像」に、「微分等によるエッジ検出処理画像」は「微分画像」に、「２値化しきい値」は「２値化閾値」に、「４つの領域毎」は「所定の領域ごと」に、「（２値化した）２値画像」は「（２値化した）２値化画像」に、それぞれ相当する。
　
（イ）引用発明の「自動車ボディの塗装面の凹凸等のような表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置」と、本願補正発明の「印刷絵柄あるいは加工された表面を有するプラスチックカードの表面における欠陥を検査する表面検査装置」とは、物品の表面における欠陥を検査する表面検査装置という点で、共通する。
　
（ウ）本願補正発明の「撮像手段」及び「Ａ／Ｄ変換手段」に関し、本願明細書の段落【００２８】に「エリアセンサカメラ１は２次元に配列した受光素子（画素）によって構成されるＣＣＤ（charge coupled device ）等のエリアセンサを有する撮像手段である。」と記載されているように、本願明細書には、「撮像手段」及び「Ａ／Ｄ変換手段」の一例として、ＣＣＤを利用したエリアセンサカメラ１が開示されている。
　また、ＣＣＤを利用したカメラが、「物品の表面を撮像して撮像信号を生成し」、「撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成」する機能を有していることは、技術常識である。
　してみれば、引用発明の「前記ＣＣＤカメラからなる撮像手段２は、前記自動車ボディの塗装面を撮像して受光画像を生成し、」と、
　本願補正発明の「前記撮像手段は前記プラスチックカードの表面を撮像して撮像信号を生成し、前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成し」とは、
　前記撮像手段は物品の表面を撮像して撮像信号を生成し、前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成する点で、共通する。
　
（エ）引用発明の「前記２値化しきい値演算手段は、前記微分等によるエッジ検出処理画像の４つの領域毎のノイズ平均値を算出し、前記ノイズ平均値に基づいて２値化しきい値を算出し、」と、
　本願補正発明の「前記２値化閾値演算手段は前記撮像画像から所定の領域ごとの平均画素値を算出し、前記平均画素値に基いて２値化閾値を算出し、」とは、
　前記２値化閾値演算手段は所定の領域ごとの２値化閾値を算出する点で、共通する。
　
（オ）自動車ボディの塗装面の欠陥を検出するということは、自動車ボディの塗装面の良否を判定することに他ならないから、
　引用発明の「欠陥検出手段は前記２値画像に基づいて前記自動車ボディの塗装面の欠陥を検出する、」と、
　本願補正発明の「良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記プラスチックカードの良否判定を行う」とは、
　良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記物品の良否判定を行う点で、共通する。
　
　したがって、本願補正発明と引用発明の両者は、
「物品の表面における欠陥を検査する表面検査装置であって、撮像手段とＡ／Ｄ変換手段と微分手段と２値化閾値演算手段と２値化手段と良否判定手段とを有し、
前記撮像手段は前記物品の表面を撮像して撮像信号を生成し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成し、
前記微分手段は前記撮像画像を微分して微分画像を生成し、
前記２値化閾値演算手段は、所定の領域ごとの２値化閾値を算出し、
前記２値化手段は前記所定の領域ごとの２値化閾値を用いて前記所定の領域ごとに前記微分画像を２値化した２値化画像を生成し、
前記良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記物品の良否判定を行う、表面検査装置。」の点で一致し、以下の点で相違する。
　
［相違点１］
　検査対象が、
　本願補正発明では、「印刷絵柄あるいは加工された表面を有するプラスチックカードの表面」であるのに対し、
　引用発明では、自動車ボディの塗装面である点。
　
［相違点２］
　２値化閾値演算手段に関し、
　本願補正発明は、撮像画像から所定の領域ごとの平均画素値を算出し、平均画素値に基づいて２値化閾値を算出しているのに対し、
　引用発明は、微分等によるエッジ検出処理画像の４つの領域毎のノイズ平均値を算出し、前記ノイズ平均値に基づいて２値化しきい値を算出する点。
　
（４）判断
［相違点１について］
　印刷された表面を有するプラスチックカードの表面を検査対象とするために、印刷された表面を有するプラスチックカードを撮像して、撮像画像から表面欠陥を検査する技術自体は周知技術である。例えば、特開昭６４−６３８４６号公報（「この発明は、印刷されたカードの印刷品質を検査するカード検査装置に関するものである。」（第１ページ右下欄第６〜７行）、「この発明の目的は、印刷工程に発生する調子欠陥のみならず、後工程で発生するキズ、形状欠陥等も表裏の両面を自動的に検査でき、」（第２ページ左上欄第９〜１１行）、「画像処理部３２では、あらかじめメモリに格納した正常な画像データと、画像センサ系３０から入力される画像データとを比較し、一致しない箇所がある場合には、そのずれ量があらかじめ設定した許容値以下のときは良品の判定信号を、許容値以上のときは不良品の判定信号を機構制御部３１に送出する。」（第３ページ右上欄第１５行〜左下欄第１行））を参照されたい。
　
　また、引用刊行物の前記（ｊ）に、塗装色の明度に応じてしきい値を算出する旨開示されているように、引用刊行物の表面欠陥検査装置も、塗装等の加工がされた表面の欠陥を検査するものであることが、示唆されている。
　
　してみれば、引用発明の表面欠陥検査装置を、印刷絵柄あるいは加工された表面を有するプラスチックカードの表面の欠陥検査に適用することに、格別の困難性は無い。
　
　したがって、相違点１に係る本願補正発明の発明特定事項は、引用発明及び前記周知技術に基づいて当業者が容易に想到し得る事項である。
　
［相違点２について］
　引用発明において、２値化しきい値は、２値画像を適切に得られるような値に適宜調整し得るものである。このことは、引用刊行物においても、前記記載事項（ｆ）、（ｊ）の、しきい値の算出方法が適宜設定できる旨の記載からも、明らかである。
　そして、微分処理と２値化を利用してキズ等の欠陥を検出する装置において、２値化する際のしきい値として、画像自体の平均値をもとにしきい値を設定する技術もまた、周知技術である。例えば、特開平３−１７５３４３号公報の「上記各実施例では、欠陥候補領域Ｂ内の画素の濃度を２値化するためのしきい値を、欠陥候補領域Ｂの外周を囲むように設定した基準値算出ラインＬのうえの画素の濃度に基づく基準濃度ｃｓにより求めていたが、」（第９ページ左上欄第１２〜１６行）との記載を参照されたい。
　
　してみれば、引用発明における２値化しきい値を算出する手段を、受光画像の輝度平均値に基づいて２値化しきい値を算出する手段とすることに、格別の困難性は無い。
　
　したがって、相違点２に係る本願補正発明の発明特定事項は、引用発明及び前記周知技術に基づいて当業者が容易に想到し得る事項である。
　
　そして、本願補正発明が奏する効果は、引用発明及び前記各周知技術から、当業者が予測し得る範囲内のものである。
　
　したがって、本願補正発明は、引用発明及び前記各周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　よって、本願補正発明は、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（５）むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するから、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する特許法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
３　本願発明について
　
　本件補正は前記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし３に係る発明は、補正１によって補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、請求項１に係る発明は、以下のとおりである。
　
「プラスチックカードの表面における欠陥を検査する表面検査装置であって、撮像手段とＡ／Ｄ変換手段と微分手段と２値化閾値演算手段と２値化手段と良否判定手段とを有し、
前記撮像手段は前記プラスチックカードの表面を撮像して撮像信号を生成し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は前記撮像信号を入力してディジタルデータに変換し撮像画像を生成し、
前記微分手段は前記撮像画像を微分して微分画像を生成し、
前記２値化閾値演算手段は前記撮像画像から所定の領域ごとの平均画素値を算出し、前記平均画素値に基いて２値化閾値を算出し、
前記２値化手段は前記所定の領域ごとの２値化閾値を用いて前記所定の領域ごとに前記微分画像を２値化した２値化画像を生成し、
前記良否判定手段は前記２値化画像に基づいて前記プラスチックカードの良否判定を行う、ことを特徴とする表面検査装置。」（以下「本願発明」という。）
　
（１）引用刊行物に記載された事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された引用刊行物に記載された事項・引用発明は、前記「２（２）引用刊行物に記載された事項・引用発明」に記載したとおりである。
　
（２）対比・判断
　本願発明は、前記「２（１）補正の内容・補正の適否」で検討したように、本願補正発明から、プラスチックカードについての限定事項である「印刷絵柄あるいは加工された表面を有する」との発明特定事項を省いたものである。
　
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、さらに他の発明特定事項を限定したものに相当する本願補正発明が、前記２（３）対比、２（４）判断に記載したとおり引用発明及び各周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も同様の理由により、引用発明及び各周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
（３）むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明及び各周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　したがって、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。