(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成手段と、
前記形成された第１テストチャートを読み取る読取手段と、
を備え、
前記不良記録素子補償パラメータ最適化装置は、前記読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた画像記録装置。
【請求項２】
前記形成手段、前記読取手段、及び前記解析手段による処理を経る前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化処理が複数回にわたって実行される際に、
前記形成手段は前記計測チャートに適用される複数の不良記録素子補償パラメータの範囲を前回よりも狭めて前記計測チャートを形成する請求項１に記載の画像記録装置。
【請求項３】
前記指定記録素子が既知の不良記録素子の場合、前記形成手段は前記指定記録素子の記録位置を前記非記録領域とし、前記指定記録素子の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置を前記計測チャート領域として前記第１テストチャートを形成する請求項１又は２に記載の画像記録装置。
【請求項４】
前記指定記録素子が正常記録素子の場合、前記形成手段は前記指定記録素子の記録位置を前記計測チャート領域とし、前記指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置を前記非記録領域として前記第１テストチャートを形成する請求項１又は２に記載の画像記録装置。
【請求項５】
前記形成手段は、前記計測チャート領域に複数の不良記録素子補償パラメータのそれぞれに対応する小領域が連続する計測チャートを形成する請求項１から４のいずれか１項に記載の画像記録装置。
【請求項６】
前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に前記指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、
前記形成手段は、前記他の記録素子の中で不良記録素子とみなした模擬不良記録素子の記録位置が非記録とされた模擬不良記録領域、前記模擬不良記録素子の記録不良を補償する記録素子である不良補償記録素子の記録位置であり前記模擬不良記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが適用された濃度値を有する補償パターンが形成される不良記録素子補償領域、及び処理対象の濃度値の均一濃度画像が形成される均一濃度領域を有するテストチャートであり、複数の前記模擬不良記録領域及び前記不良記録素子補償領域が第１の方向に予め決められた間隔で配置された１段分のパターンが前記第１の方向に直交する第２の方向について複数配置され、異なる段に属する前記模擬不良記録領域は前記第１の方向の位置がずらして配置される第２テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第２テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって得られた前記第２テストチャートの読取データを解析して、前記記録素子ごとの不良記録素子補償パラメータの補正強度を評価し、前記評価した補正強度から反復法を用いた一変数求根アルゴリズムに基づいて前記他の記録素子のそれぞれの不良記録素子補償パラメータを最適化する請求項１から５のいずれか１項に記載の画像記録装置。
【請求項７】
前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化の際に、
前記形成手段は、前記第１テストチャートを形成する代わりに、前記第１テストチャートに対応する第１チャート及び前記第２テストチャートに対応する第２チャートが混成され、前記指定記録素子の記録位置及び前記指定記録素子の近傍の記録素子の記録位置に前記第１チャートが形成され、前記指定記録素子の記録位置及び前記指定記録素子の近傍の記録素子の他の記録素子の記録位置に前記第２チャートが形成された第３テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第３テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって取得された前記第３テストチャートの読取データにおける前記第１テストチャートの読取データを解析して、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する請求項６に記載の画像記録装置。
【請求項８】
前記解析手段は、前記第３テストチャートにおける前記第１チャートの均一濃度領域には処理をせずに、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する請求項７に記載の画像記録装置。
【請求項９】
前記第３テストチャートを用いた指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に前記指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、
前記形成手段は、前記第３テストチャートにおける第１チャートの均一濃度領域に前記第２テストチャートに対応する第２チャートが形成された第４テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第４テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって取得された前記第４テストチャートの読取データにおける前記第２チャートの読取データを解析して、前記指定記録素子の近傍の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する請求項７又は８に記載の画像記録装置。
【請求項１０】
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成工程と、
前記形成された第１テストチャートを読み取る読取工程と、
前記読取工程によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程と、
を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。
【請求項１１】
コンピュータに、
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成手段と、
前記形成された第１テストチャートを読み取る読取手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、
前記不良記録素子補償パラメータ最適化装置の機能として、前記読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。
【請求項１２】
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた不良記録素子補償パラメータ最適化装置。
【請求項１３】
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。
【請求項１４】
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、
コンピュータに、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域置、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートの読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実行させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像記録装置及び不良記録素子補償パラメータ最適化装置、方法、プログラムに係り、特に、インクジェット記録装置等の画像記録装置における不吐出ノズル等の不良記録素子の補正技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
インクジェット方式の画像記録において、インクジェットヘッドの使用に伴い目詰まりや故障により不吐出状態となったノズル（不吐出ノズル）が発生する。シングルパス方式の画像記録の場合、画像における不吐出ノズルの位置は白筋として認識されるため、補正（補償）が必要になる。これまでに、多くの不吐出ノズルの補正技術が提案されている。
【０００３】
不吐出ノズルの発生に起因する白筋が発生すると、不吐出ノズルに近接する正常なノズルである不吐出補正ノズルによる画像記録を濃くすることで。白筋の視認性を低下させる。不吐出補正ノズルによる画像記録を濃くする方法の例として、出力画像を走査する方法、吐出信号を強めて吐出ドット径を強めに矯正する方法、などが挙げられる。
【０００４】
不吐出補正ノズルにおける補正強度を表す不吐出補正パラメータは、ノズルから吐出されるインクの着弾位置誤差のノズル間のばらつきの程度や、各ノズルから吐出されるインク量のばらつきの程度に依存するので、最適値はノズルごとに異なる値となる。
【０００５】
しかし、シングルパス方式の画像記録を行うインクジェットヘッドのノズル数は、数千個から数万個と非常に多く、このような多数のノズルのすべてを最適化するための技術には、効率的な最適化手法であることが要求される。
【０００６】
特許文献１には、不良記録素子補償パラメータ選定用チャートを利用した不良記録素子の補正技術が記載されている。不良記録素子補償パラメータ選定用チャートは、参照パッチと計測パッチとから構成されている。参照パッチは一定の階調による均一濃度で被記録媒体上の領域が描画された均一画像から構成される。
【０００７】
計測パッチは、参照パッチを描画した複数の記録素子のうち１つ又は複数が非記録状態とされ、非記録とされた記録素子による非記録位置の近傍の記録を担う記録素子による描画部分に補正量を示す不良記録素子補償パラメータの候補値が与えられ、当該不良記録素子補償パラメータの候補値に応じた補正量による補正後の状態が再現されたものである。
【０００８】
そして、不良記録素子補償パラメータ選定用チャートは光学式読取装置によって読み取られ、参照パッチの取込画像と計測パッチの取込画像との差異を評価するための評価指標となる評価値を算出するにあたり、参照パッチの取込画像と計測パッチの取込画像の差異を示す値に、参照パッチを記録するときの記録ヘッドの記録特性を反映した重み付けを与えて評価値が計算され、評価値に基づいて不良記録素子補償パラメータが算出される。
【０００９】
特許文献１に記載の補正技術は、特定の記録素子のみを対象とした場合においては、効率的に不良記録素子補償パラメータを選定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２０１２−７１４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、特許文献１に記載の補正技術は、既に不良記録素子が存在している場合には、参照パッチが均一濃度で描画されないことがありうる。参照パッチが均一濃度で描画されない理由として、参照パッチを描画する記録素子に不良記録素子が含まれてしまうこと、参照パッチを描画する際の不良記録素子補償パラメータが最適値になっていないことが挙げられる。
【００１２】
参照パッチが均一濃度で描画されないと、計測パッチの読取画像と参照パッチの取込画像との差異を評価するための評価値が適切な値にならない場合に、不良記録素子補償パラメータの最適化に失敗してしまう可能性がある。
【００１３】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、既存の不良記録素子などの指定記録素子について、不良記録素子補償パラメータを効率的に最適化する画像記録装置及び不良記録素子補償パラメータ最適化装置、方法、プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
前記目的を達成するために、本発明に係る画像記録装置は、複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成手段と、形成された第１テストチャートを読み取る読取手段と、を備え、不良記録素子補償パラメータ最適化装置は、読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、均一濃度領域における対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、差分値が最小となる対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えている。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、予め指定された指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが用いられ、計測チャートに与えられた不良記録素子補償パラメータごとの計測チャートの濃度値と均一濃度領域の濃度値との差分値が最小となる不良記録素子補償パラメータが指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出されるので、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが効率的に最適化される。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】不吐出補正の基本原理の説明図
【図２】指定ノズル高速最適化処理の流れを示すフローチャート
【図３】指定ノズル高速最適化用テストチャートの概略構成図
【図４】図３に図示した指定ノズル高速最適化用テストチャートの一部を模式的に図示した一部拡大図
【図５】本実施形態の応用例に適用される指定ノズル高速最適化用テストチャートの概略構成図
【図６】本発明に係る不吐出補正パラメータ最適化処理が適用されるインクジェット記録装置の全体構成図
【図７】図６に示すインクジェット記録装置のブロック図
【図８】不吐出ノズルが存在しない場合の全ノズル最適化処理の流れを示すフローチャート
【図９】全ノズル最適化処理に適用されるテストチャートの説明図
【図１０】求根アルゴリズムの処理を示す模式図
【図１１】既知の不吐出ノズルが存在する場合における全ノズル最適化処理の課題を説明する説明図
【図１２】本発明の第２実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理の流れを示すフローチャート
【図１３】本発明の第３実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理の流れを示すフローチャート
【図１４】図１３に示す不吐出補正パラメータ最適化処理に適用される混成最適化用テストチャートの構成図
【図１５】図１３に示す不吐出補正パラメータ最適化処理における不吐出補正ノズルの近接ノズルに対する最適化用テストチャートの構成図
【図１６】他の装置構成例の全体構成を示した構成図
【図１７】（ａ）：図１６に示すインクジェット記録装置に具備されるインクジェットヘッドの構造例を示す図、（ｂ）：図１７（ａ）の一部拡大図
【図１８】短尺のヘッドモジュールを千鳥状に配列したヘッドを示す図
【図１９】液滴吐出素子の立体的構成を示す断面図
【図２０】マトリクス状のノズル配置を示す図
【図２１】図１６に示すインクジェット記録装置の制御系の概略構成を示すブロック図
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、添付図面に従って本発明の好ましい実施形態について詳説する。
【００１８】
〔不吐出補正の基本原理〕
図１は、不吐出補正の基本原理の説明図である。同図には、フルライン型のインクジェットヘッド１２０を用いて、インクジェットヘッド１２０と用紙Ｐとを用紙Ｐの搬送方向（図３に符号Ｓを付して図示する用紙搬送方向と同意義）に沿って相対的に移動させて、用紙Ｐの記録面に画像を形成している状態が模式的に図示されている。
【００１９】
フルライン型のインクジェットヘッドは、用紙Ｐの搬送方向と直交するノズル配列方向（図３に符号Ｍを付して図示）に沿って、用紙Ｐの同方向の全長に対応する長さにわたって複数のノズルを配列させた構造を有するインクジェットヘッドである。
【００２０】
本明細書において、「直交」という用語は、９０°未満又は９０°超える角度をなして交差する態様のうち、９０°の角度をなして交差するものと同様の作用効果を奏する実質的に直交とみなせる態様が含まれる。
【００２１】
不吐出補正とは、インクの吐出ができないノズル（記録素子）や、インクの飛翔曲がり等のためにインクの吐出動作を停止させたノズルである不吐出ノズル（不良記録素子）が発生した場合に、正常なノズルを用いたインク吐出によって不吐出の影響を低減させるものである。
【００２２】
インクジェットヘッド１２０に不吐出ノズルが存在すると、不吐出ノズルに対応する記録位置にインクが打滴されず、描画画像には用紙Ｐの搬送方向に沿う白筋が視認される。
【００２３】
不吐出ノズルの発生による白筋の視認性を低減させるためには、不吐出ノズルの両隣のノズルから吐出するインクの濃度を高くすればよい。すなわち、図１に示すように、不吐出ノズルの両隣のノズル（不吐出補正ノズル（不良補償記録素子））に対して、他のノズルの濃度値よりも大きい濃度値を設定する。
【００２４】
不吐出補正を行わない場合に不吐出ノズルに設定される濃度値（不吐出補正ノズルとして機能しない場合に当該ノズルに設定される濃度値）をＤとしたときに、不吐出補正を行う場合に不吐出補正ノズルに設定される濃度値はｍ×Ｄ（ｍ＞１）とされる。ｍは不吐出補正の強度を決定する不吐出補正パラメータ（不良記録素子補償パラメータ）であり、濃度値ごと、補正対象の不吐出ノズルごとに個別に値が設定される。
【００２５】
不吐出補正パラメータを用いて不吐出補正ノズルの濃度値を変更し、不吐出ノズルの発生による画像品質の低下を補償する処理は不吐出補正と呼ばれる。
【００２６】
〔第１実施形態〕
次に、本発明の第１実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理について詳述する。
【００２７】
＜指定ノズル高速最適化処理フローの説明＞
図２は、指定ノズル高速最適化処理の流れを示すフローチャートである。以下に説明する「指定ノズル高速最適化処理」は、最適化対象の指定ノズルに対する不吐出補正パラメータを高速に最適化するものである。
【００２８】
本例では、不吐出ノズルを指定ノズルとして、不吐出ノズルに対する不吐出補正パラメータを最適化する処理について説明する。ここで、「不吐出ノズルに対する不吐出補正パラメータ」とは、不吐出ノズルの補正を行う不吐出補正ノズルに設定される不吐出補正パラメータを意味する。不吐出補正ノズルは、不吐出ノズルに近接する（例えば、両隣の）正常ノズルが適用される。
【００２９】
以下の説明では、用紙Ｐの搬送方向（図１参照）と直交するノズル配列方向（図３参照）に沿って、複数のノズルを一列に配列させたフルライン型インクジェットヘッドが用いられることとする。
【００３０】
また、予め不吐出ノズルの位置が把握され、不吐出ノズルの位置の情報を含む不吐出ノズル情報が取得され、記憶されていることとする。さらに、不吐出ノズルの両隣の１ノズルを不吐出補正ノズルとする。
【００３１】
つまり、不吐出ノズルのノズル番号をｉ（ｉは１以上の整数）とすると、ｉ＋１番目、ｉ−１番目のノズル（但し、ｉ≠１の場合）が不吐出補正ノズルとされる。なお、ｉ＋２番目のノズル、ｉ−２番目のノズルなど、不吐出ノズルの両側の複数のノズルを不吐出補正ノズルとしてもよい。
【００３２】
不吐出ノズル情報は、不吐出ノズル検出用テストチャートを出力させ、光学式読取装置によって不吐出ノズル検出用テストチャートを読み取り、読取結果（読取データ）を解析して取得され、記憶されている。
【００３３】
（ステップＳ１０：不吐出補正パラメータ読出工程）
ステップＳ１０に示す不吐出補正パラメータ読出工程は、予め記憶されている更新された最新の不吐出補正パラメータが読み出される工程である。
【００３４】
使用開始前のインクジェットヘッドは、すべてのノズルについて不吐出補正パラメータの初期値が決められており、不吐出補正パラメータの初期値は予め決められた記憶部（例えば、図７の不吐出補正パラメータ記憶部１５２）に記憶されている。
【００３５】
インクジェットヘッドの吐出状態は使用とともに変化するので、定期的に又は不吐出ノズルの発生による画像品質の低下が発生した場合など、必要に応じて各ノズルの不吐出補正パラメータが更新される。
【００３６】
（ステップＳ１２：繰返処理完了判断工程）
ステップＳ１２に示す繰返処理完了判断工程は、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータが最適化（更新）される際の繰り返し処理が完了したか否かを判断する工程である。指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの更新は、指定ノズル高速最適化用テストチャートデータの生成（ステップＳ１４）、指定ノズル高速最適化用テストチャートの出力（ステップＳ１６）、指定ノズル高速最適化用テストチャートの読み取り（ステップＳ１８）、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データの解析（ステップＳ２０）、指定ノズル不吐出補正パラメータの更新（ステップＳ２２）、更新された不吐出補正パラメータの記憶（ステップＳ１０）の各工程が１回以上実行される。
【００３７】
上記した各工程を繰り返す繰返処理の回数は予め設定されていてもよいし、最新の不吐出補正パラメータを用いて記録された画像の検証結果に基づいて適宜決められてもよい。
【００３８】
繰返処理完了判断工程において、繰返処理が完了している（不吐出補正パラメータの最適化がされている）と判断されると（ステップＳ１２のＹｅｓ判定）、当該指定ノズル高速最適化処理は終了される。
【００３９】
一方、繰返処理完了判断工程において、繰返処理が完了していないと判断されると（ステップＳ１２のＮｏ判定）、指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程（ステップＳ１４）へ進む。
【００４０】
（ステップＳ１４：指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程（形成工程））
ステップＳ１４に示す指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程は、図３に符号１０を付して図示する指定ノズル高速最適化用テストチャート（第１テストチャート）に対応する指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ（図２のｄ１０）を生成する。
【００４１】
指定ノズル高速最適化用テストチャートデータは、不吐出ノズル（指定ノズル）が非記録（ｍ＝０）とされ、不吐出補正ノズルに対して連続的又は段階的に変化する複数の不吐出補正パラメータが設定され、不吐出ノズル及び不吐出補正ノズル以外の処理対象外ノズルにはそれぞれの最新の不吐出補正パラメータが設定される。
【００４２】
指定ノズルの指定は、不吐出ノズル情報に基づいて不吐出ノズルを自動的に指定ノズルとして指定してもよいし、オペレータが手動で指定ノズルを指定してもよい。指定ノズルの指定は、指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程までにされていればよい。
【００４３】
（ステップＳ１６：指定ノズル高速最適化用テストチャート出力工程（形成工程））
ステップＳ１４に示す指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程において指定ノズル高速最適化用テストチャートデータが生成されると、指定ノズル高速最適化用テストチャートが出力される。指定ノズル高速最適化用テストチャートは、インクジェットヘッド１２０（図１参照）を用いて用紙Ｐに出力される。
【００４４】
指定ノズル高速最適化用テストチャートを出力するに際し、インクジェットヘッド１２０の回復動作を実行し、インクジェットヘッド１２０の各ノズルの吐出状態（記録状態）を一定にしておくことが好ましい。
【００４５】
（ステップＳ１８：指定ノズル高速最適化用テストチャート読取工程（読取工程））
用紙Ｐに出力された指定ノズル高速最適化用テストチャートは、インラインセンサ（図６に符号１４０を付して図示）等の読取装置を用いて読み取られ、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ（ｄ１２）が得られる。指定ノズル高速最適化用テストチャート読み取りには、フラットベッドスキャナ等の外部装置を用いてもよい。
【００４６】
（ステップＳ２０：指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ解析工程（解析工程））
指定ノズル高速最適化用テストチャート読取工程によって指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが取得されると、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが解析される（詳細後述）。
【００４７】
（ステップＳ２２：指定ノズル不吐出補正パラメータ更新工程（解析工程））
指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ解析工程の解析結果に基づいて、指定ノズルの不吐出補正パラメータが更新される。更新された不吐出補正パラメータは予め決められた記憶部（例えば、図７の不吐出補正パラメータ記憶部１５２）に記憶される（ステップＳ１０の不吐出補正パラメータ記憶工程）。
【００４８】
＜指定ノズル高速最適化用テストチャートの説明＞
図３は、指定ノズル高速最適化処理に適用される指定ノズル高速最適化用テストチャートの概略構成図である。同図に示す指定ノズル高速最適化用テストチャート１０は、非記録領域１２、計測チャート領域１４，１６、及び均一濃度領域１８から構成される。
【００４９】
非記録領域１２は、記録がされない非記録の領域であり、不吐出ノズルの記録位置に対応した位置に用紙搬送方向Ｓと平行な１ノズル分の幅（ノズル配列方向Ｍにおける長さ）を有している。図３に図示した指定ノズル高速最適化用テストチャート１０は、３つの非記録領域１２を有している。
【００５０】
計測チャート領域１４，１６は、不吐出補正パラメータを弱（白筋）から強（黒筋）へ一気に振ったチャートであり、不吐出補正ノズルの記録位置に対応した位置に用紙搬送方向Ｓと平行な不吐出補正ノズル数分の幅を有する計測チャートが形成される。
【００５１】
図３に示す指定ノズル高速最適化用テストチャート１０は、各非記録領域１２の一方側（図３における右側）に１ノズル幅分の計測チャート領域１４を有し、各非記録領域１２の他方側（図３における左側）に１ノズル幅分の計測チャート領域１６が形成されている。
【００５２】
非記録領域１２を挟んだ両側に形成される計測チャート領域１４，１６には、同一のデータに基づく同一内容の計測チャートが形成される。
【００５３】
計測チャート領域１４，１６の計測チャートに適用される不吐出補正パラメータの範囲は、最大値から最小値にわたる全範囲を適用してもよいし、全範囲の一部を適用してもよい。また、後述するように、複数回にわたって指定ノズル高速最適化処理が繰り返し実行される場合には、処理回数が進むにつれて不吐出補正パラメータの範囲を狭めてもよい。
【００５４】
均一濃度領域１８は、予め決められた処理対象の濃度値の均一濃度のべたパターンが形成され、不吐出ノズル及び不吐出補正ノズルを除いた処理対象外ノズルの記録位置に対応している。
【００５５】
すなわち、指定ノズル高速最適化用テストチャート１０は、不吐出ノズルの記録位置に対応する非記録領域１２に白筋が形成され、非記録領域１２の白筋の両隣（計測チャート領域１４，１６）に、複数の不吐出補正パラメータが連続的又は段階的に変えられた（濃度値が濃から淡に連続的又は段階的に変化し、濃度値ごとに区画された構造を有する）計測チャートが形成され、計測チャート領域１４，１６間の均一濃度領域１８に均一濃度を有する均一濃度（べた）パターンが形成される。
【００５６】
図３に示す計測チャート領域１４，１６に形成された計測チャートは、用紙搬送方向Ｓの下流側から上流側へ向かって不吐出補正パラメータ（計測チャートを構成する各小領域が表す濃度値）が小さくなっている。用紙搬送方向Ｓの最下流位置は不吐出補正パラメータの最大値が適用され、同方向最上流位置は不吐出補正パラメータの最小値が適用されている。
【００５７】
図４は、図３に図示した指定ノズル高速最適化用テストチャートの一部拡大図であり、指定ノズル高速最適化用テストチャートの詳細構成が模式的に図示されている。なお、非記録領域１２及び均一濃度領域１８は、計測チャート領域１４，１６の区画（小領域）に対応して、便宜上、用紙搬送方向Ｓについて複数の領域に区画されている（破線により図示）。
【００５８】
６つの不吐出補正パラメータｍa、ｍb、ｍc、ｍd、ｍe、ｍf（ｍa＜ｍb＜ｍc＜ｍd＜ｍe＜ｍf）について、符号１４−１、１６−１を付した小領域は不吐出補正パラメータｍaが適用され、符号１４−２、１６−２を付した小領域は不吐出補正パラメータｍb、符号１４−３、１６−３を付した小領域は不吐出補正パラメータｍc、符号１４−４、１６−４を付した小領域は不吐出補正パラメータｍd、符号１４−５、１６−５を付した小領域は不吐出補正パラメータｍe、符号１４−６、１６−６を付した小領域はｍfが不吐出補正パラメータ適用される。
【００５９】
そして、各小領域１４−１から１４−６及び１６−１から１６−６は、用紙搬送方向Ｓについて隙間を空けずに密接して形成される。各小領域の間に隙間を空けずに各小領域を密接させることで、光学式の読取装置を用いて計測チャートが読み取られる場合に、隙間の白地による反射に起因する読取データの誤差の発生が防止される。
【００６０】
図４に図示した計測チャート領域１４，１６の各小領域の用紙搬送方向Ｓにおける長さは、読取装置の同方向における読取長さ、領域数（不吐出補正パラメータ数）、読取装置の性能（スキャン周期、信号出力周期等）が考慮され決められる。
【００６１】
＜指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ解析の説明＞
図３及び図４に図示した指定ノズル高速最適化用テストチャート１０は、光学式の読取装置（例えば、図６のインラインセンサ１４０）によって読み取られ、読取装置から指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが出力される。
【００６２】
取得された指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが解析され、不吐出補正パラメータの最適値が判定される。
【００６３】
すなわち、計測チャート領域１４，１６に形成された計測チャートにおける小領域の中から、近傍の均一濃度領域１８における濃度と同等の濃度を有する小領域を探索し、この条件を満たす小領域に与えられた不吐出補正パラメータを、処理対象濃度値における不吐出補正パラメータの最適値とする。
【００６４】
換言すると、計測チャート領域１４，１６に不吐出補正パラメータの最適値の候補値を与えて、計測チャート領域１４，１６に連続的又は段階的に濃度値が変化する複数の小領域からなる計測チャートを形成する。複数の候補値の中から、均一濃度領域１８の濃度値（処理対象濃度値）に最も近い濃度値を実現する不吐出補正パラメータを最適値としている。
【００６５】
例えば、不吐出補正パラメータの最適値の評価関数（評価指標）には、対象不吐出極近傍領域を除いた対象不吐出略近傍領域の平均濃度と、不吐出補正パラメータが与えられた対象不吐出極近傍領域と、の差分にすることが考えられる。
【００６６】
「対象不吐出極近傍領域」は、図４における非記録領域１２、計測チャート領域１４，１６の枝番（ハイフンの後ろの数値）が一致する領域である。また、「対象不吐出略近傍領域」は、均一濃度領域１８において対象不吐出極近傍領域の枝番の下一桁の数値が対象不吐出極近傍領域の枝番の数値と一致する領域である。
【００６７】
つまり、不吐出補正パラメータｍaが与えられた計測チャート領域１４，１６の小領域１４−１、１６−１、及び計測チャート領域１４，１６の小領域１４−１、１６−１に対応する非記録領域の仮想的な小領域１２−１が「対象不吐出極近傍領域」である。
【００６８】
そして、当該「対象不吐出極近傍領域」の比較対象となる「対象不吐出略近傍領域」は、便宜上区画された小領域１８−１及び小領域１８−１１の少なくともいずれか一方である。
【００６９】
図４に示す指定ノズル高速最適化用テストチャートにおいて、対象不吐出極近傍領域である領域１２−１、１４−１、１６−１の平均濃度Ｄave1と対象不吐出略近傍領域である領域１８−１、１８−１１との平均濃度Ｄave11の差分値（Ｄave1−Ｄave11）を求める。同様に、領域１２−２、１４−２、１６−２の平均濃度Ｄave2と領域１８−２、１８−１２との平均濃度Ｄave12の差分値（Ｄave2−Ｄave12）を求め、…、領域１２−６、１４−６、１６−６の平均濃度Ｄave6と領域１８−６、１８−１６との平均濃度Ｄave16の差分値（Ｄave6−Ｄave16）を求める。
【００７０】
そして、求められた差分値が最小となる対象不吐出極近傍領域と対象不吐出略近傍領域との組み合わせに対して与えられた不吐出補正パラメータを、当該濃度における不吐出補正パラメータの最適値と判断し、指定ノズル不吐出補正パラメータの更新値とされる。
【００７１】
本例に示す指定ノズル不吐出補正パラメータの最適化方法によれば、不吐出補正パラメータの最適化の対象を指定ノズルに限定することで、全ノズルの不吐出補正パラメータを最適化する場合と比較して処理工数、処理時間が大幅に削減される。
【００７２】
また、１枚の用紙に形成された指定ノズル高速最適化用テストチャート１０を用いて、指定ノズルの不吐出補正パラメータを最適化することができ、一変数求根アルゴリズムに基づいて複数枚のテストチャートを出力することで不吐出補正パラメータを最適化する手法と比較して、テストチャートの出力時間を短縮化することができ、テストチャートに使用される用紙の枚数を削減することが可能となる。
【００７３】
本例では、対象不吐出極近傍領域（計測チャート領域１４，１６）の用紙搬送方向Ｓにおける区画に対応して、同方向について均一濃度領域１８を区画して対象不吐出略近傍領域としたが、用紙搬送方向Ｓについて均一濃度領域１８を区画せずに、均一濃度領域１８の全体又は一部を対象不吐出略近傍領域としてもよい。
【００７４】
一方、図４に示すように、対象不吐出極近傍領域（計測チャート領域１４，１６）の用紙搬送方向Ｓにおける区画に対応して、均一濃度領域１８を同方向について区画して対象不吐出略近傍領域とすることで、用紙搬送方向Ｓにおける用紙の搬送速度の変動、同方向における各ノズルの吐出特性のばらつき等の影響を受けずに、指定ノズル不吐出補正パラメータの最適化が可能となる。
【００７５】
また、対象不吐出略近傍領域のノズル配列方向Ｍにおける長さは、１ノズル分の記録幅でもよいが、数ノズル分の記録幅とすることで、各ノズルの吐出特性のばらつき等の影響を抑えることができる。対象不吐出略近傍領域は、用紙搬送方向Ｓに沿う領域としてもよい。
【００７６】
本例では、不吐出ノズルを指定ノズルとする態様を例示したが、正常ノズルを指定ノズルとし、指定ノズルの近傍のノズル（例えば、指定ノズルに隣接するノズル）が不吐出ノズルになった場合における、指定ノズルの不吐出補正パラメータを最適化することも可能である。
【００７７】
正常ノズルを指定ノズルとする場合には、指定ノズルの記録位置が図３の計測チャート領域１４又は計測チャート領域１６とされ、指定ノズルが補正を担うノズルを模擬不吐出ノズルとして模擬不吐出ノズルの記録位置が非記録とされる。さらに、模擬不吐出ノズルの指定ノズルと反対側のノズルの記録位置を図３の計測チャート領域１６（又は計測チャート領域１４）としてもよい。
【００７８】
そして、計測チャート領域１４，１６の小領域及び非記録領域１２の便宜的な小領域を「対象不吐出極近傍領域」とし、均一濃度領域１８における当該対象不吐出極近傍領域の近傍を「対象不吐出略近傍領域」として、上記した最適化手法を適用すればよい。
【００７９】
＜指定ノズル高速最適化処理の応用例＞
次に、先に説明した指定ノズル高速最適化処理の応用例について説明する。図５は、本応用例に係る指定ノズル高速最適化用テストチャート１０Ａの概略構成図である。なお、図５中、図３及び図４と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。
【００８０】
上述した指定ノズル高速最適化処理を複数回繰り返すことで、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータをより最適な値とすることができる。複数回の繰り返し処理において、不吐出補正ノズルに与えられる不吐出補正パラメータの振り幅を狭くする（範囲を絞る）ことが有効である。
【００８１】
例えば、前回（１回目）の処理において不吐出補正パラメータの最適値としてｍcが求められた場合に、今回（２回目）の処理において適用される不吐出補正パラメータをｍc1、ｍc2、ｍc3、ｍc4、ｍc5、ｍc6（但し、ｍc1、ｍc2、ｍc3、ｍc4、ｍc5、ｍc6はｍb以上ｍd以下）とする。
【００８２】
図５に示す指定ノズル高速最適化用テストチャート１０Ａは、計測チャート領域１４，１６の小領域１４−３１、１６−３１は不吐出補正パラメータｍc1が与えられている。同様に、小領域１４−３２、１６−３２は不吐出補正パラメータｍc2が与えられ、小領域１４−３３、１６−３３は不吐出補正パラメータｍc3が与えられ、小領域１４−３４、１６−３４は不吐出補正パラメータｍc4が与えられ、小領域１４−３５、１６−３５は不吐出補正パラメータｍc5が与えられ、小領域１４−３６、１６−３６は不吐出補正パラメータｍc6が与えられている。
【００８３】
そして、対象不吐出極近傍領域である領域１２−１、１４−３１、１６−３１の平均濃度Ｄave31と対象不吐出略近傍領域である領域１８−１、１８−１１との平均濃度Ｄave11の差分値（Ｄave31−Ｄave11）、…、対象不吐出極近傍領域である領域１２−６、１４−３６、１６−３６の平均濃度Ｄave36と対象不吐出略近傍領域である領域１８−６、１８−１６との平均濃度Ｄave16の差分値（Ｄave36−Ｄave16）を求める。
【００８４】
そして、求められた差分値が最小となる対象不吐出極近傍領域と対象不吐出略近傍領域との組み合わせに対して与えられた不吐出補正パラメータを、当該濃度における不吐出補正パラメータの最適値と判断し、指定ノズル不吐出補正パラメータの更新値とされる。なお、差分値に代わり対象不吐出略近傍領域の平均濃度に対する対象不吐出極近傍領域の平均濃度の比率を求め、当該比率が「１」に最も近い値を当該濃度における不吐出補正パラメータの最適値としてもよい。すなわち、対象不吐出略近傍領域と対象不吐出極近傍領域との濃度差に基づいて不吐出補正パラメータの最適値が決められる。
【００８５】
このようにして、処理回数が増えるごとに指定ノズルに対して与える不吐出補正パラメータの値を絞り込むことで、不吐出補正パラメータの最適値の絞り込みが可能となる。
【００８６】
対象不吐出略近傍領域のノズル配列方向の幅（ノズル数）は、少なくとも１ノズルの記録幅（１ノズル）であればよいが、濃度むらを考慮すると複数ノズルの記録幅（２以上のノズル）であることが好ましい。また、対象不吐出略近傍領域のノズル配列方向の幅は、演算領域の容量、記憶領域の容量、演算速度等の演算条件によって決められる。
【００８７】
＜装置適用例＞
図６は、本発明に係る不吐出補正パラメータの最適化処理が適用されるインクジェット記録装置（画像記録装置）の全体構成図である。なお、以下の説明では、上述した「指定ノズル高速最適化用テストチャート１０，１０Ａ」を単に「テストチャート」と記載することある。
【００８８】
同図に示すインクジェット記録装置１００は、用紙Ｐの記録面に画像を形成するシングルパス方式のラインプリンタであり、搬送ドラム１１０，１１２，１１４、インクジェットヘッド１２０（形成手段）、及びインラインセンサ１４０（読取手段）等を備えている。
【００８９】
搬送ドラム１１０，１１２，１１４の搬送面には、多数の吸引穴（不図示）が所定のパターンで形成されている。搬送ドラム１１０，１１２，１１４の周面に巻き掛けられた用紙Ｐは、この吸引穴から吸引されることにより、搬送ドラム１１０，１１２，１１４の周面に吸着保持されながら搬送される。
【００９０】
インクジェットヘッド１２０の搬送ドラム１１０と対向する面には、用紙Ｐの全幅にわたって複数のノズルが形成されている。インクジェットヘッド１２０は、制御部（図６中不図示、図１７（ａ），（ｂ）に符号５１を付して図示）の制御により各ノズルからインクを吐出し、搬送ドラム１１０によって搬送される用紙Ｐの記録面に画像を形成する。このように、搬送ドラム１１０による１回の搬送（シングルパス）により、用紙Ｐの記録面の全面に画像が形成される。
【００９１】
インクジェットヘッド１２０により記録面に画像が形成された用紙Ｐは、搬送ドラム１１０から搬送ドラム１１２に受け渡され、さらに搬送ドラム１１２から搬送ドラム１１４に受け渡される。
【００９２】
搬送ドラム１１４に吸着保持された用紙Ｐは、インラインセンサ１４０により記録面に形成された画像が撮像される。
【００９３】
インラインセンサ１４０は、用紙Ｐに形成された画像を読み取り、画像の濃度、ドットの着弾位置ずれ等を検出するための手段であり、ＣＣＤラインセンサ等が適用される。
【００９４】
なお、搬送ドラム１１２は、搬送ドラム１１０から搬送ドラム１１４への用紙Ｐの受け渡しが行えればよく、用紙Ｐの全面を吸着保持する必要はないので、搬送ドラム１１２は用紙Ｐの先端を把持するグリッパーを備え、円筒形状の枠体から構成される渡し胴としてもよい。
【００９５】
図７は、図６に示すインクジェット記録装置１００のブロック図である。インクジェット記録装置１００は、搬送ドラム１１０，１１２，１１４、インクジェットヘッド１２０、インラインセンサ１４０、装置各部を統括的に制御する制御部１５０の他、不吐出補正パラメータ記憶部１５２、テストチャートデータ生成部１５４、テストチャートデータ記憶部１５６、テストチャート読取データ取得部１５８、テストチャート読取データ記憶部１６０、テストチャート読取データ解析部１６２（解析手段）、及び不吐出補正パラメータ更新部１６４（解析手段）等から構成される不吐出補正パラメータ最適化部１６６（不良記録素子補償パラメータ最適化装置）を備えている。
【００９６】
不吐出補正パラメータ記憶部１５２は、インクジェットヘッド１２０のすべてのノズルについて、ノズルごとに不吐出補正パラメータが記憶されている。不吐出補正パラメータ記憶部１５２には少なくとも最新の不吐出補正パラメータが記憶されている。
【００９７】
テストチャートデータ生成部１５４は、不吐出補正パラメータ記憶部１５２から読み出された最新の不吐出補正パラメータに基づいて、不吐出補正パラメータを最適化するためのテストチャートデータ（指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ（ｄ１０））を生成する。テストチャートデータ生成部１５４で生成されたテストチャートデータは、テストチャートデータ記憶部１５６に記憶される。
【００９８】
制御部１５０は、テストチャートデータ記憶部１５６からテストチャートデータを読み出し、テストチャートデータに基づく駆動電圧を生成し、当該駆動電圧をインクジェットヘッド１２０へ供給する。
【００９９】
インクジェットヘッド１２０は、駆動電圧に基づいて各ノズルからインクを吐出させて、搬送ドラム１１０によって搬送される用紙Ｐの記録面にテストチャート（指定ノズル高速最適化用テストチャート１０，１０Ａ）を記録する。
【０１００】
すなわち、図７に図示した制御部１５０は、不吐出補正パラメータ記憶部１５２やテストチャートデータ記憶部１５６等の各記憶部（メモリ）におけるデータの書き込み、読み出しを制御するメモリコントローラとして機能し、インクジェットヘッド１２０へ供給される駆動電圧を生成する駆動電圧生成部、インクジェットヘッド１２０へ駆動電圧を供給（出力）する駆動電圧供給部として機能する。
【０１０１】
なお、テストチャートは色ごとに個別に形成することが好ましい。色ごとの複数のテストチャートを１枚の用紙に形成してもよいし、色ごとの複数のテストチャートを複数の用紙Ｐにわたって形成してもよい。
【０１０２】
テストチャートが記録された用紙Ｐは、搬送ドラム１１０から搬送ドラム１１２、１１４へと搬送され、インラインセンサ１４０によりテストチャートが読み取られる。インラインセンサ１４０は、用紙Ｐに記録されたテストチャートを読み取り、テストチャート読取データを生成する。インラインセンサ１４０により読み取られたテストチャート読取データはテストチャート読取データ取得部１５８を介してテストチャート読取データ記憶部１６０に記憶される。
【０１０３】
テストチャート読取データ解析部１６２は、テストチャート読取データ記憶部１６０に記憶されたテストチャート読取データを解析して、不吐出補正パラメータの最適値を判定（探索）する。
【０１０４】
不吐出補正パラメータ更新部１６４は、テストチャート読取データ解析部１６２によって判定（探索）された不吐出補正パラメータの最適値を最新の（更新された）不吐出補正パラメータとして、不吐出補正パラメータ記憶部１５２に記憶する。
【０１０５】
図７に図示したインクジェット記録装置１００における一部又は全部の機能を利用して、不吐出ノズルの補正を行う不吐出補正ノズルにおける不吐出補正パラメータの最適化を行う画像処理装置（不良記録素子補償パラメータ最適化装置）として機能させることも可能である。
【０１０６】
上記の如く構成された指定ノズル高速最適化処理、及びインクジェット記録装置によれば、予め指定されている指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化を行う場合において、指定ノズルである不吐出ノズルの記録位置である非記録領域１２は非記録とされ、不吐出補正ノズルの記録位置である計測チャート領域１４，１６は複数の不吐出補正パラメータが連続的又は段階的に変えられた不吐出補正パラメータを弱から強へ一気に振った計測チャートが形成される。
【０１０７】
不吐出補正パラメータごとの対象不吐出極近傍領域の平均濃度と、当該対象不吐出極近傍領域に対応する対象不吐出略近傍領域の平均濃度との差分値が最小となる不吐出補正パラメータが不吐出補正パラメータの最適値とされ、指定ノズルに対する最新の不吐出補正パラメータとして記憶される。
【０１０８】
したがって、一変数求根アルゴリズムに基づいて不吐出補正パラメータを最適化する手法と比較して、指定ノズルの不吐出補正パラメータが効率的に最適化される。また、一変数求根アルゴリズムに基づいて複数枚のテストチャートを出力することなく、１枚の用紙に指定ノズル高速最適化用テストチャート１０（指定ノズル高速最適化用テストチャート１０Ａ）を出力することができるので、使用される用紙の削減にも寄与する。
【０１０９】
本例では画像記録装置の一例としてインクジェット記録装置を例示したが、本発明の適用範囲は電子写真方式の画像記録装置など、記録素子を有する画像記録装置に広く適用することができる。
【０１１０】
また、図７に図示した不吐出補正パラメータ最適化部１６６の各部の機能をコンピュータによって実現するプログラムは、プリンターなどに組み込まれる中央演算処理装置（ＣＰＵ（Central Processing Unit））の動作プログラムとして構成することが可能であるし、パソコンなどのコンピュータシステムとして構成することも可能である。
【０１１１】
このような処理プログラムを情報記憶媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、磁気ディスク等）や外部記憶装置に記憶し、情報記憶媒体等を介して当該プログラムを第三者に提供したり、通信回線を通じて当該プログラムのダウンロードサービスを提供したり、ＡＳＰ（Application Service Provider）サービスとして提供したりすることも可能である。
【０１１２】
図７に示すインラインセンサ１４０は、ＲＧＢカラーフィルタなどの色分解フィルタを備えた読取対象画像の色情報を取得可能なものでもよいし、単色対応のインラインセンサでもよい。
【０１１３】
〔第２実施形態〕
次に、本発明の第２実施形態について説明する。以下に説明する第２実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化方法、装置では、第１実施形態で説明した指定ノズルを対象とする不吐出補正パラメータ高速最適化処理を利用して、既知の不吐出ノズルを考慮して全ノズルを対象として不吐出補正パラメータを最適化するものである。
【０１１４】
＜全ノズル最適化処理の説明＞
まずは、不吐出ノズルが存在していない場合の全ノズル最適化処理について説明する。図８は、全ノズル最適化処理の流れを示すフローチャートである。以下の説明において、第１実施形態に係る指定ノズル最適化処理と共通する内容については、記載を省略する。
【０１１５】
なお、以下の説明における装置構成は、図７に図示したインクジェット記録装置１００の各部に対応している。
【０１１６】
（ステップＳ１：不吐出補正パラメータ読出工程）
ステップＳ１に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている不吐出補正パラメータが読み出される。
【０１１７】
（ステップＳ２：繰返処理完了判断工程）
ステップＳ２に示す繰返処理完了判断工程では、不吐出補正パラメータが最適化（更新）される際の繰り返し処理が完了したか否かを判定する。不吐出補正パラメータの更新は、全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ１）作成（ステップＳ３）、全ノズル最適化用テストチャート（第２テストチャート）出力（ステップＳ４）、全ノズル最適化用テストチャート読取（ステップＳ５）、全ノズル最適化用読取データ（ｄ２）解析（ステップＳ６）、全ノズル不吐出補正パラメータ更新（ステップＳ７）、更新された不吐出補正パラメータの記憶（ステップＳ１）、の各工程が１回以上実行される。
【０１１８】
上述した繰り返し処理が完了したと判断されると（ステップＳ２のＹｅｓ判定）、すべてのノズルの不吐出補正パラメータが最適化されているので、すべての処理が終了される。一方、繰り返し処理が完了していないと判断されると（ステップＳ２のＮｏ判定）、ステップＳ３へ進む。
【０１１９】
（ステップＳ３：全ノズル最適化用テストチャートデータ生成工程）
テストチャートデータ生成部１５４（図７参照）は、不吐出補正パラメータ記憶部１５２から全ノズルについてのノズルごとの不吐出補正パラメータを読み出し、全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ１）を生成する。
【０１２０】
（ステップＳ４：全ノズル最適化用テストチャート出力工程）
テストチャートデータ生成部１５４（図７参照）において生成された全ノズル最適化用テストチャートデータは、テストチャートデータ記憶部１５６に記憶される。制御部１５０は、テストチャートデータ記憶部１５６に記憶された全ノズル最適化用テストチャートデータを読み出し、全ノズル最適化用テストチャートデータに基づいてインクジェットヘッド１２０の各ノズルを制御し、用紙Ｐの記録面に全ノズル最適化用テストチャート（図９に符号１を付して図示）を出力する。
【０１２１】
（ステップＳ５：全ノズル最適化用テストチャート読取工程）
用紙Ｐに出力された全ノズル最適化用テストチャートは、インラインセンサ１４０（図７参照）によって読み取られ、全ノズル最適化用テストチャート読取データ（ｄ２）が生成される。
【０１２２】
なお、インラインセンサ１４０を用いて自動的にテストチャートを読み取る態様に代わり、ユーザがマニュアルでフラットベッドスキャナ等の読取装置を用いて、全ノズル最適化用テストチャートが出力された用紙Ｐを読み取る態様も可能である。
【０１２３】
（ステップＳ６：全ノズル最適化用テストチャート読取データ解析工程）
インラインセンサ１４０によって生成された全ノズル最適化用テストチャート読取データ（ｄ２）は、テストチャート読取データ取得部１５８（図７参照）によって取得され、テストチャート読取データ記憶部１６０に記憶される。
【０１２４】
ユーザがマニュアルで全ノズル最適化用テストチャートを読み取った場合は、ユーザが図示しない入力手段により全ノズル最適化用テストチャート読取データを入力し、テストチャート読取データ取得部１５８がこれを取得し、テストチャート読取データ記憶部１６０に記憶させればよい。
【０１２５】
テストチャート読取データ解析部１６２（図７参照）は、テストチャート読取データ記憶部１６０に記憶された全ノズル最適化用テストチャート読取データ（図８のｄ２）に基づいて、ノズルごとの不吐出補正パラメータの補正強度を評価する（詳細後述）。
【０１２６】
（ステップＳ７：全ノズル不吐出補正パラメータ更新工程）
不吐出補正パラメータ更新部１６４（図７参照）は、全ノズルテストチャート読取データの評価結果に基づいて、ノズルごとの不吐出補正パラメータを更新する。更新されたノズルごとの不吐出補正パラメータは、不吐出補正パラメータ記憶部１５２に記憶される。
【０１２７】
以下、ステップＳ２において繰り返し処理が完了と判定されるまで、制御部１５０は、不吐出補正パラメータ記憶部１５２、テストチャートデータ生成部１５４、テストチャートデータ記憶部１５６、テストチャート読取データ取得部１５８、テストチャート読取データ記憶部１６０、テストチャート読取データ解析部１６２、及び不吐出補正パラメータ更新部１６４に同様の動作を繰り返し処理させる。
【０１２８】
＜全ノズル最適化用テストチャートの説明＞
図９は、全ノズル最適化処理に適用される全ノズル最適化用テストチャートの説明図である。
【０１２９】
同図に示す全ノズル最適化用テストチャート１は、最適化対象の濃度値（階調）におけるベタ画像が形成される均一濃度領域１Ｄに対して、Ｎ本間隔（Ｎ＝自然数、図ではＮ＝７）に不吐出が模擬的に与えられた非記録とされる模擬不吐出領域１Ａを有するパターンがＮ段配置されている。
【０１３０】
また、各模擬不吐出領域１Ａに隣接する不吐出補正領域１Ｂ，１Ｃは、均一濃度領域１Ｄの濃度に対して不吐出補正パラメータが適用された濃度となっている。
【０１３１】
この全ノズル最適化用テストチャート１を形成するために、テストチャートの１つの段のデータは、ノズル配列方向ＭついてＮ個おきの模擬不吐出ノズルがインクを吐出せずに１ノズルの記録幅分の模擬不吐出領域１Ａを形成し、模擬不吐出ノズルの両隣の不吐出補正ノズルが不吐出補正パラメータによって補正された指令値によって、それぞれ１ノズルの記録幅分の不吐出補正領域１Ｂ，１Ｃを形成し、模擬不吐出ノズル及び不吐出補正ノズル以外のノズルが、補正されない指令値によって均一濃度領域１Ｄを形成するデータとなっている。
【０１３２】
すなわち、図９に示す全ノズル最適化用テストチャート１は、模擬不吐出ノズルの記録位置に対応する模擬不吐出領域１Ａと、模擬不吐出ノズルの両隣のノズルである不吐出補正ノズルの記録位置に対応する不吐出補正領域１Ｂ，１Ｃと、模擬不吐出ノズル及び不吐出補正ノズル以外のノズルの記録位置に対応する均一濃度領域１Ｄとを有している。
【０１３３】
模擬不吐出領域１Ａがノズル配列方向Ｍに一定間隔で配置された１つの段が、用紙搬送方向Ｓに沿って複数段配置されている。また、各段の模擬不吐出領域１Ａは、他の段の模擬不吐出領域１Ａとノズル配列方向Ｍについて異なる位置に配置されている。
【０１３４】
全ノズル最適化用テストチャート１を形成するためのテストチャートデータは、模擬不吐出ノズルからインクを吐出させず、均一濃度領域１Ｄを形成するノズルから最適化対象の濃度値に基づきインクを吐出させ、不吐出補正ノズルから最適化対象の濃度値を不吐出補正パラメータで補正した指令値でインクを吐出させるデータである。
【０１３５】
具体的には、最適化対象の濃度値をＤ、模擬不吐出ノズルのノズル番号をｉとすると、模擬不吐出ノズルはインク吐出させず、ノズル番号ｉ−１、ｉ＋１の不吐出補正ノズルは指令値をＤ×ｍiとして吐出させ、ノズル番号ｉ−Ｎ＋１、…、ｉ−３、ｉ−２、ｉ＋２、ｉ＋３、…、ｉ＋Ｎ−１、のノズルは指令値をＤとして吐出させるデータとなっている。
【０１３６】
また、全ノズル最適化用テストチャート１の各段は、模擬不吐出ノズルがノズル配列方向にずらして配置されている。図９に図示した全ノズル最適化用テストチャート１は、模擬不吐出ノズルのノズル番号が、段ごとにｉ、ｉ＋１、ｉ＋２、ｉ＋３、ｉ＋４、ｉ＋５のように１つずつずらして配置されている。
【０１３７】
このように、各段の模擬不吐出ノズルをノズル配列方向にずらして配置することで、すべてのノズルを模擬不吐出ノズルとした全ノズル最適化用テストチャートを形成することができ、すべてのノズルの不吐出補正パラメータを最適化することができる。
【０１３８】
なお、全ノズル最適化用テストチャート１の各段の長さ（用紙搬送方向Ｓにおける長さ）は、読取装置の同方向における読取長さ、読取装置の性能（スキャン周期、信号出力周期）、用紙Ｐの搬送速度が考慮されて決められる。
【０１３９】
＜全ノズル最適化用テストチャート読取データ解析の説明＞
各模擬不吐出ノズルについて、模擬不吐出領域１Ａの近傍の均一濃度領域１Ｄにおけるノズル配列方向Ｍの平均濃度を算出し、不吐出補正の強弱を表す補正強度評価値を算出する。補正強度評価値が正値であれば過補正、負値であれば弱補正、ゼロであれば最適な不吐出補正パラメータということとなる。
【０１４０】
補正強度評価値として、例えば、模擬不吐出領域１Ａの近傍の平均濃度と目標濃度との差分量を使用することができる。また、平均色度と目標色度との差分量（色度差ΔＥ）や平均輝度と目標輝度との差分量（輝度差ΔＹ）を使用してもよい。
【０１４１】
＜全ノズル不吐出補正パラメータ更新の説明＞
本実施形態では、不吐出補正パラメータ更新部１６４（図７参照）は、二分法などに代表される反復法を用いた一変数求根アルゴリズムに基づいて、ノズルごとの不吐出補正パラメータを更新していく。すなわち、模擬不吐出領域１Ａ（図９参照）における補正強度評価値を最適化アルゴリズムの評価関数とみなし、不吐出補正パラメータを求根アルゴリズムの設計変数とみなすものとする。
【０１４２】
ここで、求根アルゴリズムとは、関数ｆ（ｘ）に対し、ｆ（ｘ）＝０を満たすｘを求める数値解析アルゴリズム全般を表したものである。二分法、黄金分割法、Ｂｒｅｎｔ法、挟み撃ち法、Ｎｅｗｔｏｎ法等、様々な手法がこれに属する。
【０１４３】
概してこれらの手法は、初期又は過去のｎ点(約１、２点)の計測点から、各手法固有のアルゴリズムに基づいて次の計測点を決定するという処理を反復する。本実施形態では、特にＢｒｅｎｔ法を用いることが好ましい。Ｂｒｅｎｔ法は、収束安定性と収束効率性の両方に優れた方法である。
【０１４４】
図１０は、求根アルゴリズムの処理を示す模式図であり、ノズル番号ｉのノズルについて不吐出補正パラメータの更新を５回繰り返した様子を示している。
【０１４５】
まず、ノズル番号ｉのノズルの不吐出補正パラメータの初期値としてｍi1を設定し（図８のステップＳ１）、全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ１）を生成する（ステップＳ３）。次に、全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ１）に基づいて全ノズル最適化用テストチャートを出力し（ステップＳ４）、インラインセンサ１４０（図７参照）によって読み取る（図８のステップＳ５）。
【０１４６】
さらに、この読み取りデータを評価し、補正強度評価値ｆ（ｍi1）（図１０の計測点１）を算出する（図８のステップＳ６）。図１０の補正強度評価値ｆ（ｍi1）は負値であり、弱補正であることがわかる。
【０１４７】
不吐出補正パラメータ更新部１６４は、図１０の補正強度評価値ｆ（ｍi1）に基づいて、不吐出補正パラメータをｍi2に更新する。
【０１４８】
図８のステップＳ１に戻り、この更新された不吐出補正パラメータｍi2（図１０参照）に基づいて、全ノズル最適化用テストチャートデータ（図８のｄ１）を生成し、出力、読み取りを行う。この読み取りデータを評価し、補正強度評価値ｆ（ｍi2）（図１０の測点２）を算出する。補正強度評価値ｆ（ｍi2）は正値であり、過補正であることがわかる。
【０１４９】
不吐出補正パラメータ更新部１６４は、補正強度評価値ｆ（ｍi1）、ｆ（ｍi2）に基づいて、不吐出補正パラメータをｍi3に更新する。そして、補正強度評価値ｆ（ｍi3）（計測点３）を算出し、不吐出補正パラメータをｍi4に更新する。
【０１５０】
このように、求根アルゴリズムによる処理を繰り返すことで、全ノズルの不吐出補正パラメータを効率的に最適化することができる。なお、繰り返し処理は、最低２回行えばよい。例えば、単純な二分法等では、解を挟んだ２点を計測すれば、その中点は計測した２点よりも最適な値に近付いていると考えられる。
【０１５１】
処理対象の濃度値を変更して同様の処理を行うことで、全濃度値（階調）における不吐出補正パラメータを最適化することができる。処理対象の濃度値を変更するには、全ノズル最適化用テストチャート１の均一濃度領域１Ｄの濃度値を変更すればよい。
【０１５２】
本実施形態において、不吐出補正パラメータ初期値はなるべく最適値に近い値が設定されていることが効率・精度の面から望ましい。初期値の決定には、ハーフトーン情報・濃度設計情報からの理論正解値の算出や、実験による不吐出補正パラメータの粗計測等による方法を用いることが望ましい。
【０１５３】
また、一度不吐出補正パラメータを最適化してから一定時間経過後に再度不吐出補正パラメータを調整する場合には、前回の不吐出補正パラメータ最適化結果を初期値として利用するということが考えられる。繰り返し処理の完了判定は、最適化しようとするすべてのノズルについて色度差ΔＥ、輝度差ΔＹ等の補正強度評価値が一定値以下となった場合に完了としてもよいし、予め定められた繰り返し回数ｎを上限とし、すべてのノズルの補正強度評価値が一定値以下となった場合にはその時点で完了としてもよい。
【０１５４】
上述した全ノズル不吐出補正パラメータ更新処理では、不吐出補正パラメータを直接求根アルゴリズムの設計変数としていた。これには暗黙のうちに『不吐出の左右のノズルに与えられる不吐出補正パラメータは同値である』という仮定が含まれることになる。
【０１５５】
しかし、ヘッド上のノズルの配置は左右対称とは限らないため、左右で異なるパラメータを用いて不吐出補正を行うことが有効な場合がありうる。このような場合は、共通の変数で表される複数の補正パラメータからなる不吐出補正パラメータを用いて、左右の不吐出補正ノズルに適用することができる。
【０１５６】
例えば、左側の不吐出補正ノズルの補正パラメータＰLと右側の不吐出補正ノズルの補正パラメータＰRとを、両者で共通の変数ｘを用いて、下記のような一般式で定義する。
【０１５７】
ＰL＝ｇ（ｘ）、ＰR＝ｈ（ｘ）  …（式１）
ここで、ｇ（ｘ）、ｈ（ｘ）は、ｘを変数とした任意の関数とする。このように定義した上で、本実施形態における求根アルゴリズムの設計変数をｘとすることで、左右で異なる補正パラメータで表された不吐出補正パラメータを最適化することが可能となる。
【０１５８】
関数ｇ（ｘ）、ｈ（ｘ）の例としては、例えば、
ｇ（ｘ）＝ｘ、ｈ（ｘ）＝ｘ  …（式２）
とすることで、先に説明した全ノズル不吐出補正パラメータ更新処理と同様に、左右の不吐出補正ノズルについて同じ不吐出補正パラメータを適用するものとして扱うことができる。
【０１５９】
ｇ（ｘ）＝ａ×ｘ、ｈ（ｘ）＝ｂ×ｘ  （ａ、ｂはそれぞれ異なる定数）  …（式３）
とすることで、左右の不吐出補正ノズルでそれぞれ異なる補正パラメータを有する不吐出補正パラメータを生成することができる。
【０１６０】
ｇ（ｘ）＝ｘ、ｈ（ｘ）＝ｃ  （ｃは定数）  …（式４）
とすることで、左右のうちの一方（右側）の不吐出補正ノズルの補正パラメータを固定した上で、他方（左側）の不吐出補正ノズルの補正パラメータのみを最適化した不吐出補正パラメータを生成することも可能である。
【０１６１】
これら式２〜式４で表された補正パラメータは、すべてのノズルのいずれかの式の補正パラメータを一律に適用してもよいし、不吐出ノズルごとに最適な式の補正パラメータを選択して適用することも可能である。
【０１６２】
その他、不吐出補正パラメータの複数のパラメータを、不吐出ノズル（ノズル番号ｉ）の両隣のノズル（ノズル番号ｉ±１）に適用する補正パラメータＱ1と、さらにその両隣のノズルに隣接するノズル（ノズル番号ｉ±２）に適用する補正パラメータＱ2とし、これらを共通の変数を用いた関数ｘとして表し、このｘを求根アルゴリズムの設計変数として最適化する態様も可能である。
【０１６３】
＜全ノズル最適化処理の課題の説明＞
ここで、上述した全ノズル最適化処理の課題について説明する。上述した全ノズル最適化処理は、既知の不吐出ノズルに関連して、以下の課題を有している。
【０１６４】
（課題１）
既知の不吐出ノズルのみの不吐出補正パラメータを最適化すればよいと考えられる印刷系（例えば、インク吐出が安定している系）の場合、全ノズルの不吐出補正パラメータを最適化する処理は冗長な処理となる。既知の不吐出ノズルに対する不吐出補正パラメータのみが最適化されればよいので、より一層効率的な手法が望まれる。
【０１６５】
（課題２）
既知の不吐出ノズルの近傍のノズルに対する不吐出補正パラメータが最適化されない。既知の不吐出ノズルが存在する場合、不吐出ノズルの近傍のノズルに対して既知の不吐出ノズルの影響を加味した不吐出補正パラメータの最適値を探索しようとする。
【０１６６】
しかし、既知の不吐出ノズルに対する不吐出補正パラメータは、最初の状態では最適化されていないので、不吐出補正パラメータの最適化処理の実行に伴い値が変化する。そのため、既知の不吐出ノズルの近傍のノズルに対する不吐出補正パラメータの収束値は、最適化されていない既知の不吐出ノズルの影響を受けて、最適化された値とならないことがありうる。
【０１６７】
図１１に図示したテストチャート２は、全ノズル最適化処理に適用されるテストチャートであり、不吐出補正パラメータが最適化されていない既知の不吐出ノズルの影響が混入した状態が模式的に図示されている。
【０１６８】
上記の課題１、２を解決して、既知の不吐出ノズルが存在する場合でもすべてのノズルに対する不吐出補正パラメータが効率的に最適化される全ノズル最適化処理について、以下に詳述する。
【０１６９】
＜フローチャートの説明＞
図１２は、本発明の第２実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理の流れを示すフローチャートである。なお、以下に説明するフローチャートにおいて、これまでに説明した不吐出補正パラメータの最適化処理における各工程と同一又は類似する工程、各手段と同一又は類似する手段については、説明を省略又は簡略化する。
【０１７０】
（ステップＳ１００：不吐出補正パラメータ読出工程）
ステップＳ１００に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている最新の不吐出補正パラメータが読み出される。
【０１７１】
（ステップＳ１０２：繰返処理完了判断工程）
ステップＳ１０２に示す繰返処理完了判断工程では、繰返処理が完了したか否かが判断される。ステップＳ１０２において、繰返処理が完了していると判断されると（Ｙｅｓ判定）、当該不吐出補正パラメータ最適化処理は終了される。
【０１７２】
一方、ステップＳ１０２において、繰返処理が完了していないと判断されると（Ｎｏ判定）、ステップＳ１０４へ進む。
【０１７３】
（ステップＳ１０４：指定ノズル高速最適化処理工程）
ステップＳ１０４に示す指定ノズル高速最適化処理工程では、既知の不吐出ノズルを指定ノズルとして指定ノズル高速最適化処理が実行され、指定ノズル最適化済み不吐出補正パラメータ（ｄ１００）が生成される。
【０１７４】
ステップＳ１０４において生成された指定ノズル最適化済み不吐出補正パラメータは、図７の不吐出補正パラメータ記憶部１５２に記憶される。ステップＳ１０４の指定ノズル高速最適化処理は、第１実施形態において説明した指定ノズル高速最適化処理（図２参照）が適用される。
【０１７５】
（ステップＳ１０６：全ノズル最適化処理工程）
ステップＳ１０６に示す全ノズル最適化処理工程では、不吐出補正パラメータ記憶部１５２に記憶されている指定ノズル最適化済み不吐出補正パラメータを用いて、全ノズル最適化処理が実行される。ステップＳ１０６の全ノズル最適化処理は、先に説明した全ノズル最適化処理が適用される（図８参照）。
【０１７６】
（ステップＳ１０８：不吐出補正パラメータ更新工程）
ステップＳ１０８に示す全ノズルについて不吐出補正パラメータが最適化されると、全ノズルの不吐出補正パラメータが更新される。
【０１７７】
（ステップＳ１００：不吐出補正パラメータ記憶工程）
ステップＳ１００に示す更新後の不吐出補正パラメータは、最新の不吐出補正パラメータとして図７の不吐出補正パラメータ記憶部１５２に記憶される。
【０１７８】
このようにして、指定ノズル高速最適化処理と、全ノズル最適化処理を組み合わせることで、既知の不吐出ノズルが存在している場合にもすべてのノズルについて不吐出補正パラメータを効率的に最適化することができる。
【０１７９】
〔第３実施形態〕
次に、本発明の第３実施形態について説明する。以下に説明する第３実施形態は、第２実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理をさらに効率的にしたものである。なお、以下に説明するフローチャートにおいて、これまでに説明した不吐出補正パラメータ最適化処理における各工程と同一又は類似する工程、各手段と同一又は類似する手段については、説明を省略又は簡略化する。
【０１８０】
図１３は、第３実施形態に係る全ノズル最適化処理の流れを示すフローチャートである。
【０１８１】
（ステップＳ２００：不吐出補正パラメータ読出工程）
ステップＳ２００に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている最新の不吐出補正パラメータが読み出される。
【０１８２】
（ステップＳ２０２：繰返処理完了判断工程）
ステップＳ２０２に示す繰返処理完了判断工程では、繰返処理が完了したか否かが判断される。ステップＳ２０２において、繰返処理が完了していると判断されると（Ｙｅｓ判定）、当該不吐出補正パラメータ最適化処理は終了される。
【０１８３】
一方、ステップＳ２０２において、繰返処理が完了していないと判断されると（Ｎｏ判定）、ステップＳ２０４へ進む。
【０１８４】
（ステップＳ２０４：指定ノズル高速最適化完了判断工程）
ステップＳ２０４に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程では、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了しているか否かが判断される。ステップＳ２０４において指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了していると判断されると（Ｙｅｓ判定）、ステップＳ２０８へ進む。
【０１８５】
一方、ステップＳ２０４において指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了していないと判断されると（Ｎｏ判定）、ステップＳ２０６へ進む。
【０１８６】
（ステップＳ２０６：混成最適化用テストチャートデータ生成工程）
ステップＳ２０６に示す混成最適化用テストチャートデータ生成工程では、指定ノズル高速最適化用テストチャートと全ノズル最適化用テストチャートとを一体的に構成した混成最適化用テストチャートデータ（ｄ２００）が生成され、ステップＳ２１０へ進む。
【０１８７】
（ステップＳ２０８：全ノズル最適化用テストチャートデータ生成工程）
ステップＳ２０８に示す全ノズル最適化用テストチャートデータ生成工程では、最適化されている指定ノズルに対する不吐出補正パラメータが考慮された、全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ２０２）が生成され、ステップＳ２１０へ進む。
【０１８８】
全ノズル最適化用テストチャートデータ生成工程において生成される全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ２０２）は、図８の全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ１）と同一である。
【０１８９】
（ステップＳ２１０：テストチャート出力・読取工程）
ステップＳ２１０に示すテストチャート出力工程では、ステップＳ２０６において生成された混成最適化用テストチャートデータ（ｄ２００）に基づく混成最適化用テストチャート、又はステップＳ２０８において生成された全ノズル最適化用テストチャートデータ（ｄ２０２）に基づく全ノズル最適化用テストチャートが出力され、出力されたテストチャートが読み取られ、テストチャート読取データ（ｄ２０４）が生成され、ステップＳ２１２へ進む。
【０１９０】
なお、テストチャート読取データ（ｄ２０４）は、混成最適化用テストチャートが出力された場合は混成最適化用テストチャート読取データであり、全ノズル最適化用テストチャートが出力された場合は全ノズル最適化用テストチャート読取データである。
【０１９１】
（ステップＳ２１２：指定ノズル高速最適化完了判断工程）
ステップＳ２１２に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程では、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了しているか否かが判断される。ステップＳ２１２における判断結果は、ステップＳ２０４に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程の判断結果を引用することができる。
【０１９２】
ステップＳ２１２において指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了していると判断されると（Ｙｅｓ判定）、ステップＳ２２０へ進む。一方、ステップＳ２１２において指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了していないと判断されると（Ｎｏ判定）、ステップＳ２３０へ進む。
【０１９３】
（ステップＳ２２０：全ノズル最適化アルゴリズム実行工程）
ステップＳ２２０に示す全ノズル最適化アルゴリズム実行工程では、全ノズルに対する不吐出補正パラメータ最適化アルゴリズム（処理）が実行され、ステップＳ２２２へ進む。ここでは、図８を用いて説明した全ノズル最適化処理が適用されるので、詳細な説明は省略する。
【０１９４】
（ステップＳ２２２：全ノズル不吐出補正パラメータ更新工程）
ステップＳ２２２に示す全ノズル不吐出補正パラメータ更新工程では、すべてのノズルに対する不吐出補正パラメータが更新され、ステップＳ２００へ進む。
【０１９５】
（ステップＳ２３０：混成最適化用アルゴリズム実行工程）
ステップＳ２３０に示す混成最適化用アルゴリズム実行工程では、混成最適化用テストチャート（図１４、図１５に図示）を用いてノズルの種類を３種類に分類し、ノズルの種類ごとに個別の処理が施される。
【０１９６】
すなわち、すべてのノズルは、指定ノズル及び不吐出補正ノズル、指定ノズルの近傍ノズル、指定ノズル、不吐出補正ノズル、及び指定ノズルの近傍ノズル以外のノズルの３種類に分類される。
【０１９７】
ここで、「指定ノズルの近傍ノズル」とは、既知の不吐出ノズルの影響を受けて全ノズル最適化処理では不吐出補正パラメータが最適化されないノズルであり、不吐出補正ノズルの不吐出ノズルと反対側に隣接するノズルが少なくとも含まれる。
【０１９８】
すなわち、不吐出ノズルのノズル番号をｉとし、不吐出補正ノズルをｉ＋１番目のノズル、ｉ−１番目のノズルとした場合に、少なくともｉ＋２番目のノズル、ｉ−２番目のノズルは「指定ノズルの近傍ノズル」とされる。なお、「指定ノズルの近傍ノズル」は適宜設定することができる。
【０１９９】
指定ノズル及び不吐出補正ノズルに対して指定ノズル最適化処理が実行され、指定ノズルの近傍ノズルは非処理とされ、他のノズルに対して全ノズル最適化処理が実行されると、ステップＳ２３２へ進む。
【０２００】
（ステップＳ２３２：指定ノズルの近傍ノズルを除くノズルの不吐出補正パラメータ更新工程）
ステップＳ２３２に示す指定ノズルの近傍ノズルを除く不吐出補正パラメータ更新工程では、指定ノズルの近傍ノズルを除くノズル（指定ノズル、不吐出補正ノズル、他のノズル）について不吐出補正パラメータが更新され、ステップＳ２３４へ進む。
【０２０１】
（ステップＳ２３４：指定ノズルの近傍ノズルの不吐出補正パラメータ最適化処理工程）
ステップＳ２３４に示す指定ノズルの近傍ノズルの不吐出補正パラメータ最適化処理工程では、指定ノズルの近傍ノズルに対して不吐出補正パラメータの最適化処理、不吐出補正パラメータの更新処理が実行され、ステップＳ２００へ進む。
【０２０２】
（ステップＳ２００：不吐出補正パラメータ記憶工程）
不吐出補正パラメータ記憶工程では、すべてのノズルについて、更新された不吐出補正パラメータが図７の不吐出補正パラメータ記憶部１５２へ記憶される。
【０２０３】
＜混成最適化処理の詳細な説明＞
図１４は、ステップＳ２３０に示す混成最適化アルゴリズムに使用される第１混成最適化用テストチャート２０（第３テストチャート）の構成を模式的に図示した構成図である。
【０２０４】
同図に示す第１混成最適化用テストチャート２０は、指定ノズルの記録位置に対応する非記録領域２２、不吐出補正ノズルの記録位置に対応するチャート領域２４，２６、指定ノズルの近傍ノズルの記録位置に対応する均一濃度領域２８，３０、及び指定ノズル、不吐出補正ノズル、指定ノズルの近傍ノズル以外の他のノズルの記録位置に対する全ノズル最適化用チャート領域３２から構成されている。
【０２０５】
すなわち、指定ノズルの記録位置に対応する非記録領域２２、不吐出補正ノズルの記録位置に対応するチャート領域２４，２６、指定ノズルの近傍ノズルの記録位置に対応する均一濃度領域２８，３０には、指定ノズル高速最適化用テストチャート１０（図３参照）に対応するパターンから構成される第１チャートが形成され、指定ノズル、不吐出補正ノズル、指定ノズルの近傍ノズル以外の他のノズルの記録位置に対する全ノズル最適化用チャート領域３２には、全ノズル最適化用テストチャート１に対応するパターンから構成される第２チャートが形成される。
【０２０６】
非記録領域２２は非記録とされる。チャート領域２４，２６は、図３に図示した計測チャート領域１４，１６と同様に複数の不吐出補正パラメータが連続的又は段階的に適用された計測チャートが形成される。
【０２０７】
また、均一濃度領域２８，３０は処理対象の濃度値による均一濃度のべたパターンが形成される。全ノズル最適化用チャート領域３２は図９に図示した全ノズル最適化用テストチャートが形成される。
【０２０８】
図１４に図示した第１混成最適化用テストチャート２０を用いた不吐出補正パラメータ最適化処理（図１３のステップＳ２３０に示す混成最適化用アルゴリズム実行工程）では、指定ノズル及び不吐出補正ノズルは第１実施形態の指定ノズル高速最適化処理が適用され、指定ノズルの近傍ノズルは非処理とされ、他のノズルは全ノズル最適化処理が適用される。
【０２０９】
混成最適化用アルゴリズム実行工程によって、指定ノズルの近傍ノズル以外のノズルについて、不吐出補正パラメータが最適化される。そして、非処理とされた指定ノズルの近傍ノズルについて不吐出補正パラメータの最適化処理がされる。
【０２１０】
図１５は、指定ノズルの近傍ノズルに対する不吐出補正パラメータ最適化処理に適用される第２混成最適化用テストチャート４０（第４テストチャート）の構成を模式的に図示した構成図である。
【０２１１】
図１５に示す第２混成最適化用テストチャート４０は、指定ノズルの近傍ノズルの記録位置に対応する均一濃度領域２８，３０（図１４参照）に、模擬不吐出領域３４、不吐出補正領域３６，３８が形成される。
【０２１２】
模擬不吐出領域３４は、図９に示す模擬不吐出領域１Ａと同様に非記録とされ、図１５の不吐出補正領域３６，３８は、図９の不吐出補正領域１Ｂ，１Ｃと同様に均一濃度領域１Ｄの濃度に対して不吐出補正パラメータが適用された濃度のパターンとされる。
【０２１３】
第２混成最適化用テストチャート４０を用いて、指定ノズルの近傍ノズルに対して全ノズル最適化処理が適用され不吐出補正パラメータが最適化、更新がされる。
【０２１４】
上述した指定ノズル、不吐出ノズル、及び指定ノズルの近傍ノズルに対する不吐出補正パラメータ最適化処理は、２回以上繰り返してもよい。
【０２１５】
以上説明した第３実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理によれば、指定ノズル最適化処理と全ノズル最適化処理とを組み合わせることで、既知の不吐出ノズルの影響を受けることなく、全ノズルの不吐出補正パラメータが効率的に最適化される。
【０２１６】
〔他の装置構成例の説明〕
次に、本発明に係る不吐出補正パラメータ最適化処理が適用される他の装置構成例について説明する。
【０２１７】
＜全体構成＞
図１６は、他の装置構成例のインクジェット記録装置の全体構成を示した構成図である。同図に示すインクジェット記録装置２００は、色材を含有するインクと該インクを凝集させる機能を有する凝集処理液を用いて、所定の画像データに基づいて記録媒体２１４（用紙Ｐ）の記録面に画像を形成する二液凝集方式の記録装置である。
【０２１８】
インクジェット記録装置２００は、主として、給紙部２２０、処理液塗布部２３０、描画部２４０、乾燥処理部２５０、定着処理部２６０、及び排出部２７０を備えて構成される。
【０２１９】
処理液塗布部２３０、描画部２４０、乾燥処理部２５０、定着処理部２６０の前段に搬送される記録媒体２１４の受け渡しを行う手段として渡し胴２３２，２４２，２５２，２６２が設けられるとともに、処理液塗布部２３０、描画部２４０、乾燥処理部２５０、定着処理部２６０のそれぞれに記録媒体２１４を保持しながら搬送する手段として、ドラム形状を有する圧胴２３４，２４４，２５４，２６４が設けられている。
【０２２０】
渡し胴２３２，２４２，２５２，２６２及び圧胴２３４，２４４，２５４，２６４は、外周面の所定位置に記録媒体２１４の先端部を挟んで保持するグリッパー２８０Ａ，２８０Ｂが設けられている。グリッパー２８０Ａとグリッパー２８０Ｂにおける記録媒体２１４の先端部を挟んで保持する構造、及び他の圧胴又は渡し胴に備えられるグリッパーとの間で記録媒体２１４の受け渡しを行う構造は同一であり、かつ、グリッパー２８０Ａとグリッパー２８０Ｂは、圧胴２３４，２４４，２５４，２６４の外周面の圧胴２３４，２４４，２５４，２６４の回転方向について１８０°移動させた対称位置に配置されている。
【０２２１】
グリッパー２８０Ａ，２８０Ｂにより記録媒体２１４の先端部を狭持した状態で渡し胴２３２，２４２，２５２，２６２及び圧胴２３４，２４４，２５４，２６４を所定の方向に回転させると、渡し胴２３２，２４２，２５２，２６２及び圧胴２３４，２４４，２５４，２６４の外周面に沿って記録媒体２１４が回転搬送される。
【０２２２】
なお、図１６中、圧胴２３４に備えられるグリッパー２８０Ａ，２８０Ｂのみ符号を付し、他の圧胴及び渡し胴のグリッパーの符号は省略する。
【０２２３】
給紙部２２０に収容されている記録媒体（枚葉紙）２１４が処理液塗布部２３０に給紙されると、圧胴２３４の外周面に保持された記録媒体２１４の記録面（圧胴２３４，２４４，２５４，２６４の保持された状態における外側面）に、凝集処理液（処理液）が付与される。
【０２２４】
その後、凝集処理液が付与された記録媒体２１４は描画部２４０に送出され、描画部２４０において記録面の凝集処理液が付与された領域に色インクが付与され、所望の画像が形成される。
【０２２５】
さらに、該色インクによる画像が形成された記録媒体２１４は乾燥処理部２５０に送られ、乾燥処理部２５０において乾燥処理が施され、定着処理部２６０において定着処理が施される。記録媒体２１４の記録面に所望の画像が形成され、該画像が記録媒体２１４の記録面に定着した後に、排出部２７０から装置外部に搬送される。
【０２２６】
以下、インクジェット記録装置２００の各部（給紙部２２０、処理液塗布部２３０、描画部２４０、乾燥処理部２５０、定着処理部２６０、排出部２７０）について詳細に説明する。
【０２２７】
（給紙部）
給紙部２２０は、給紙トレイ２２２と不図示の送り出し機構が設けられ、記録媒体２１４は給紙トレイ２２２から一枚ずつ送り出されるように構成されている。
【０２２８】
（処理液塗布部）
処理液塗布部２３０は、給紙胴２３２から受け渡された記録媒体２１４を外周面に保持して記録媒体２１４を所定の搬送方向へ搬送する処理液胴２３４と、処理液胴２３４の外周面に保持された記録媒体２１４の記録面に処理液を付与する処理液塗布装置２３６と、含んで構成されている。
【０２２９】
図１６に示す処理液塗布装置２３６は、処理液胴２３４の外周面（記録媒体保持面）と対向する位置に設けられている。処理液塗布装置２３６の構成例として、処理液が貯留される処理液容器と、処理液容器の処理液に一部が浸漬され、処理液容器内の処理液を計量するアニロックスローラと、アニロックスローラにより計量された処理液を記録媒体２１４上に移動させる塗布ローラと、を含む態様が挙げられる。
【０２３０】
処理液塗布装置２３６により記録媒体２１４に付与される処理液は、描画部２４０で付与されるインク中の色材（顔料）を凝集させる色材凝集剤を含有し、記録媒体２１４上で処理液とインクとが接触すると、インク中の色材と溶媒との分離が促進される。
【０２３１】
（描画部）
描画部２４０は、記録媒体２１４を保持して搬送する描画胴２４４と、記録媒体２１４を描画胴２４４に密着させるための用紙押さえローラ２４６と、記録媒体２１４にインクを付与するインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙを備えている。描画胴２４４の基本構造は先に説明した処理液胴２３４と共通している。
【０２３２】
用紙押さえローラ２４６と記録媒体２１４の搬送方向における最上流側のインクジェットヘッド２４８Ｍとの間には、用紙浮き検出センサ（不図示）が配置されている。該用紙浮き検出センサは、記録媒体２１４がインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙの直下に進入する直前の浮き量を検出している。
【０２３３】
渡し胴２４２から描画胴２４４に受け渡された記録媒体２１４は、グリッパー（符号省略）によって先端が保持された状態で回転搬送される際に、用紙押さえローラ２４６によって押圧され、描画胴２４４の外周面に密着する。
【０２３４】
インクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙはそれぞれ、マゼンダ（Ｍ）、黒（Ｋ）、シアン（Ｃ）、イエロー（Ｙ）の４色のインクに対応しており、描画胴２４４の回転方向（図１６における反時計回り方向）に上流側から順に配置されるとともに、インクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙのインク吐出面（ノズル面）が描画胴２４４に保持された記録媒体２１４の記録面と対向するように配置される。
【０２３５】
また、図１６に示すインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙは、描画胴２４４の外周面に保持された記録媒体２１４の記録面とインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙのノズル面が平行となるように、水平面に対して傾けられて配置されている。
【０２３６】
インクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙは、記録媒体２１４における画像形成領域の最大幅（記録媒体２１４の搬送方向と直交する方向の長さ）に対応する長さを有するフルライン型のヘッドであり、記録媒体２１４の搬送方向と直交する方向に延在するように固定設置される。
【０２３７】
記録媒体２１４がインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙの直下の印字領域に搬送されると、インクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙから記録媒体２１４の凝集処理液が付与された領域に画像データに基づいて各色のインクが吐出（打滴）される。
【０２３８】
インクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙから、対応する色インクの液滴が、描画胴２４４の外周面に保持された記録媒体２１４の記録面に向かって吐出されると、記録媒体２１４上で処理液とインクが接触し、インク中に分散する色材（顔料系色材）又は不溶化する色材（染料系色材）の凝集反応が発現し、色材凝集体が形成される。これにより、記録媒体２１４上に形成された画像における色材の移動（ドットの位置ずれ、ドットの色ムラ）が防止される。
【０２３９】
（乾燥処理部）
乾燥処理部２５０は、画像形成後の記録媒体２１４を保持して搬送する乾燥胴２５４と、該記録媒体２１４上の水分（液体成分）を蒸発させる乾燥処理を施す乾燥処理装置２５６を備えている。
【０２４０】
乾燥処理装置２５６は、乾燥胴２５４の外周面に対向する位置に配置され、記録媒体２１４に存在する水分を蒸発させる処理部である。乾燥処理装置２５６の構成例として、ヒータによる加熱、ファンによる送風、又はこれらを併用して記録媒体２１４上に存在する液体成分を蒸発させる態様が挙げられる。
【０２４１】
（定着処理部）
定着処理部２６０は、記録媒体２１４を保持して搬送する定着胴（定着ドラム）２６４と、記録媒体２１４に加熱処理を施すヒータ２６６と、該記録媒体２１４を記録面側から押圧する定着ローラ２６８と、を備えて構成される。
【０２４２】
定着処理部２６０では、記録媒体２１４の記録面に対してヒータ２６６による予備加熱処理が施されるとともに、定着ローラ２６８による定着処理が施される。ヒータ２６６の加熱温度は記録媒体の種類、インクの種類（インクに含有するポリマー微粒子の種類）などに応じて適宜設定される。
【０２４３】
図１６に示すインクジェット記録装置２００は、定着処理部２６０の処理領域の後段に、インラインセンサ２８２が設けられている。インラインセンサ２８２は、記録媒体２１４に形成された画像（例えば、図３の指定ノズル高速最適化用テストチャート１０）を読み取るためのセンサであり、ＣＣＤラインセンサが好適に用いられる。
【０２４４】
（排出部）
図１６に示すように、定着処理部２６０に続いて排出部２７０が設けられている。排出部２７０は、張架ローラ２７２Ａ，２７２Ｂに巻きかけられた無端状の搬送チェーン２７４と、画像形成後の記録媒体２１４が収容される排出トレイ２７６と、を備えて構成されている。
【０２４５】
定着処理部２６０から送り出された定着処理後の記録媒体２１４は、搬送チェーン２７４によって搬送され、排出トレイ２７６に排出される。
【０２４６】
＜インクジェットヘッドの構造＞
次に、描画部２４０に具備されるインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙの構造の一例について説明する。なお、各色に対応するインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙの構造は共通しているので、以下、これらを代表して符号５０によってインクジェットヘッド（ヘッド）を示すものとする。
【０２４７】
図１７（ａ）はヘッド５０の構造例を示す平面透視図、図１７（ｂ）はヘッド５０の一部の拡大図である。また、図１８はヘッド５０の他の構造例を示す平面透視図、図１９は記録素子単位となる１チャンネル分の液滴吐出素子（１つのノズル５１に対応したインク室ユニット）の立体的構成を示す断面図（図１７（ｂ）中の１７ａ−１７ａ線に沿う断面図）である。
【０２４８】
図１７（ａ），（ｂ）に示すように、本例のヘッド５０には、インク吐出口であるノズル５１が、ヘッド５０の記録媒体２１４と対向するノズル面の画像形成領域の全幅にわたって複数配列されている。これにより、ヘッド長手方向（図３のノズル配列方向Ｍと同意義）に沿って並ぶように投影（正射影）される実質的なノズル間隔（投影ノズルピッチ）の高密度化を達成している。
【０２４９】
ノズル配列方向Ｍに記録媒体２１４の全幅Ｗｍに対応する長さ以上のノズル列を構成する形態は本例に限定されない。例えば、図１７（ａ）の構成に代えて、図１８に示すように、複数のノズル５１が２次元に配列された短尺のヘッドモジュール５０Ｂを千鳥状に配列して繋ぎ合わせることで、記録媒体２１４の全幅に対応する長さのノズル列を有するラインヘッド５０を構成してもよい。
【０２５０】
ここで、本明細書における「直交する方向」とは、９０°未満又は９０°を超える角度をなして交差するが、作用効果、機能等の観点から９０°の角度をなして交差する場合と実質的に同一とみなせるものが含まれる。
【０２５１】
各ノズル５１に対応して設けられている圧力室５２は、その平面形状が概略正方形となっており（図１７（ａ），（ｂ）参照）、対角線上の両隅部の一方にノズル５１への流出口が設けられ、他方に供給インクの流入口（供給口）５４が設けられている。なお、圧力室５２の形状は、本例に限定されず、平面形状が四角形（菱形、長方形など）、五角形、六角形その他の多角形、円形、楕円形など、多様な形態があり得る。
【０２５２】
図１９に示すように、ヘッド５０は、ノズルプレート５１Ｐ、流路板５２Ｐ、及び振動板５６等を積層接合した構造から成る。ノズルプレート５１Ｐは、ヘッド５０のノズル面５０Ａを構成し、各圧力室５２にそれぞれ連通する複数のノズル５１が２次元的に形成されている。
【０２５３】
流路板５２Ｐは、圧力室５２の側壁部を構成するとともに、共通流路５５から圧力室５２にインクを導く個別供給路の絞り部（最狭窄部）としての供給口５４を形成する流路形成部材である。なお、説明の便宜上、図１９では簡略的に表示しているが、流路板５２Ｐは一枚又は複数の基板を積層した構造である。
【０２５４】
振動板５６は、圧力室５２の一壁面（図１９の上面）を構成するとともに、導電性材料から成り、各圧力室５２に対応して配置される複数の圧電素子５８の共通電極を兼ねる。なお、樹脂などの非導電性材料によって振動板を形成する態様も可能であり、この場合は、振動板部材の表面に金属などの導電材料による共通電極層が形成される。
【０２５５】
振動板５６の圧力室５２側と反対側（図１９において上側）の面には、各圧力室５２に対応する位置に圧電体５９が設けられており、該圧電体５９の上面（共通電極を兼ねる振動板５６に接する面と反対側の面）に個別電極５７が形成されている。この個別電極５７と、これに対向する共通電極（本例では振動板５６が兼ねる）と、これら電極間に挟まれるように介在する圧電体５９とにより圧電素子５８として機能する圧電素子が構成される。
【０２５６】
各圧力室５２は供給口５４を介して共通流路５５と連通されている。共通流路５５はインク供給源たるインクタンク（不図示）と連通しており、インクタンクから供給されるインクは共通流路５５を介して各圧力室５２に分配供給される。
【０２５７】
圧電素子５８の個別電極５７と共通電極間に駆動電圧を印加することによって圧電素子５８が変形して圧力室５２の容積が変化し、これに伴う圧力変化によりノズル５１からインクが吐出される。インク吐出後、圧電素子５８の変位が元に戻る際に、共通流路５５から供給口５４を通って新しいインクが圧力室５２に再充填される。
【０２５８】
上述した構造を有するインク室ユニット５３を図２０に示す如く、主走査方向（ノズル配列方向Ｍ、第１方向）に対してある角度ψの方向に沿ってインク室ユニット５３を一定のピッチｌで複数配列する構造により、主走査方向については、実質的に各ノズル５１が一定のピッチＰN＝ｌ×ｃｏｓψで直線状に配列されたものと等価的に取り扱うことができる。
【０２５９】
図２０に示すようなマトリクス状のノズル配置において、ノズル５１-11、５１-12、５１-13、５１-14、５１-15、５１-16を１つのブロックとし（他にはノズル５１-21、…、５１-26を１つのブロック、ノズル５１-31、…、５１-36を１つのブロック、…として）、記録媒体２１４の搬送速度に応じてノズル５１-11、５１-12、…、５１-16を順次駆動することで記録媒体２１４の幅方向に１ラインを印字することができる。
【０２６０】
ここで、ノズル５１-13の両隣のノズルとは、ノズル５１-12及びノズル５１-14を指す。すなわち、ノズル５１-13の不吐出補正パラメータはノズル５１-12とノズル５１-14に適用される。このように、本実施形態において両隣のノズルとは、主走査方向に隣接する位置にインク滴を打滴するノズルを指す。
【０２６１】
一方、記録媒体２１４の搬送とともに、上述した主走査で形成された１ライン（１列のドットによるライン又は複数列のドットから成るライン）の印字を記録媒体搬送方向に繰り返し行うことにより副走査方向（第２方向）の印字がなされる。
【０２６２】
本実施形態において、ヘッド５０におけるノズル５１の配列形態は図示の例に限定されない。例えば、図８で説明したマトリクス配列に代えて、１列の直線配列、Ｖ字状のノズル配列、Ｖ字状配列を繰り返し単位とするジグザク状（Ｗ字状など）のような折れ線状のノズル配列なども可能である。
【０２６３】
また、本実施形態では、ピエゾ素子に代表される圧電素子の変形によってインク滴を飛ばす方式が採用されているが、本発明の実施に際して、インクを吐出させる方式は特に限定されず、ピエゾジェット方式に代えて、ヒータなどの発熱体によってインクを加熱して気泡を発生させ、その圧力でインク滴を飛ばすサーマルジェット方式など、各種方式を適用できる。
【０２６４】
＜制御系の説明＞
図２１は、インクジェット記録装置２００の制御系の概略構成を示すブロック図である。インクジェット記録装置２００は、通信インターフェース３４０、システム制御部３４２、搬送制御部３４４、画像処理部３４６、ヘッド駆動部３４８を備えるとともに、インライン検出部３６６、不吐出補正パラメータ最適化部３８６等を備えている。
【０２６５】
通信インターフェース３４０は、ホストコンピュータ３５４から送られてくる画像データを受信するインターフェース部である。通信インターフェース３４０は、シリアルインターフェースを適用してもよいしパラレルインターフェースを適用してもよい。通信インターフェース３４０は、通信を高速化するためのバッファメモリ（不図示）を搭載してもよい。
【０２６６】
システム制御部３４２は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）及びその周辺回路等から構成され、所定のプログラムに従ってインクジェット記録装置２００の全体を制御する制御装置として機能するとともに、各種演算を行う演算装置として機能し、さらに、画像メモリ３５０及びＲＯＭ３５２のメモリコントローラとして機能する。すなわち、システム制御部３４２は、通信インターフェース３４０、搬送制御部３４４等の各部を制御し、ホストコンピュータ３５４との間の通信制御、画像メモリ３５０及びＲＯＭ３５２の読み書き制御等を行うとともに、上記の各部を制御する制御信号を生成する。
【０２６７】
また、システム制御部３４２は、図７に示した制御部１５０の機能と同等の機能を有している。
【０２６８】
ホストコンピュータ３５４から送出された画像データは通信インターフェース３４０を介してインクジェット記録装置２００に取り込まれ、画像処理部３４６によって所定の画像処理が施される。
【０２６９】
画像処理部３４６は、画像データから印字制御用の信号を生成するための各種加工、補正などの処理を行う信号（画像）処理機能を有し、生成した印字データをヘッド駆動部３４８に供給する制御部である。画像処理部３４６において所要の信号処理が施され、該画像データに基づいて、ヘッド駆動部３４８を介してヘッド５０の吐出液滴量（打滴量）や吐出タイミングの制御が行われる。これにより、所望のドットサイズやドット配置が実現される。なお、図２１に示すヘッド駆動部３４８には、ヘッド５０の駆動条件を一定に保つためのフィードバック制御系を含んでいてもよい。
【０２７０】
搬送制御部３４４は、画像処理部３４６により生成された印字制御用の信号に基づいて記録媒体２１４（図１６参照）の搬送タイミング及び搬送速度を制御する。図２１における搬送駆動部３５６は、図１６の圧胴２３４，２４４，２５４，２６４を回転させるモータや、渡し胴２３２〜２６２を回転させるモータ、給紙部２２０における記録媒体２１４の送出機構のモータ、排出部２７０の張架ローラ２７２Ａ（２７２Ｂ）を駆動するモータなどが含まれ、搬送制御部３４４は上記のモータのコントローラーとして機能している。
【０２７１】
画像メモリ（一次記憶メモリ）３５０は、通信インターフェース３４０を介して入力された画像データを一旦格納する一次記憶手段としての機能や、ＲＯＭ３５２に記憶されている各種プログラムの展開領域及びＣＰＵの演算作業領域（例えば、画像処理部３４６の作業領域）としての機能を有している。画像メモリ３５０には、逐次読み書きが可能な揮発性メモリ（ＲＡＭ）が用いられる。
【０２７２】
ＲＯＭ３５２は、システム制御部３４２のＣＰＵが実行するプログラムや、装置各部の制御に必要な各種データ、制御パラメータなどが格納されており、システム制御部３４２を通じてデータの読み書きが行われる。ＲＯＭ３５２は、半導体素子からなるメモリに限らず、ハードディスクなど磁気媒体を用いてもよい。また、外部インターフェースを備え、着脱可能な記憶媒体を用いてもよい。
【０２７３】
さらに、このインクジェット記録装置２００は、処理液付与制御部３６０、乾燥処理制御部３６２、及び定着処理制御部３６４を備えており、システム制御部３４２からの指示に従って、それぞれ、処理液塗布部２３０、乾燥処理部２５０、及び定着処理部２６０の各部の動作を制御する。
【０２７４】
処理液付与制御部３６０は、画像処理部３４６から得られた印字データに基づいて、処理液付与のタイミングの制御を制御するとともに、処理液の付与量を制御する。また、乾燥処理制御部３６２は、乾燥処理装置２５６における乾燥処理のタイミングを制御するとともに、処理温度、送風量等を制御し、定着処理制御部３６４は、ヒータ２６６（図１６参照）の温度を制御するとともに、定着ローラ２６８の押圧を制御する。
【０２７５】
また、図２１のインライン検出部３６６は、図１６に示したインラインセンサ２８２から出力される読取信号にノズル除去や増幅、波形整形などの所定の信号処理を施す信号処理部を含む処理ブロックである。システム制御部３４２は、インライン検出部３６６により得られた検出信号に基づいて、ヘッド５０の吐出異常の有無を判断する。
【０２７６】
本例に示すインクジェット記録装置２００は、ユーザインターフェース３７０を具備し、該ユーザインターフェース３７０は、オペレータ（ユーザ）が各種入力を行うための入力装置３７２と、表示部（ディスプレイ）３７４を含んで構成される。入力装置３７２には、キーボード、マウス、タッチパネル、ボタンなど各種形態を採用し得る。オペレータは、入力装置３７２を操作することにより、印刷条件の入力、画質モードの選択、付属情報の入力・編集、情報の検索などを行うことができ、入力内容や検索結果など等の各種情報は表示部３７４の表示を通じて確認することができる。この表示部３７４はエラーメッセージなどの警告を表示する手段としても機能する。
【０２７７】
パラメータ記憶部３８０は、インクジェット記録装置２００の動作に必要な各種制御パラメータが記憶されている。システム制御部３４２は、制御に必要なパラメータを適宜読み出すとともに、必要に応じて各種パラメータの更新（書換）を実行する。また、不吐出ノズルのノズル番号が不吐出ノズル情報として記憶されている。
【０２７８】
プログラム格納部３８４は、インクジェット記録装置２００を動作させるための制御プログラムが格納されている記憶手段である。
【０２７９】
不吐出補正パラメータ最適化部３８６は、図７に示した不吐出補正パラメータ記憶部１５２、テストチャートデータ生成部１５４、テストチャートデータ記憶部１５６、テストチャート読取データ記憶部１６０、不吐出補正パラメータ更新部１６４を含んで構成される。
【０２８０】
不吐出補正パラメータ最適化部３８６で生成されたテストチャートデータは、システム制御部３４２に入力される。システム制御部３４２は、ヘッド駆動部３４８によってヘッド５０を駆動し、記録媒体２１４にテストチャートを記録する。
【０２８１】
このテストチャートは、図１６のインラインセンサ２８２によって読み取られ、図２１のインライン検出部３６６によって所定の信号処理がされた後にシステム制御部３４２に入力される。不吐出補正パラメータ最適化部３８６は、この読取データを評価し、不吐出補正パラメータを更新する。
【０２８２】
インクジェット記録装置２００は、更新された最新の不吐出補正パラメータを用いてインクジェットヘッド２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙを動作させ、不吐出ノズルに起因する白筋等の画像劣化が発生しない高品質の画像を記録媒体２１４（図１６参照）に記録する。
【０２８３】
なお、図１６から図２１を用いて説明した装置構成は、適宜変更、追加、削除等が可能である。
【０２８４】
本発明の技術的範囲は、上記の実施形態に記載の範囲には限定されない。各実施形態における構成等は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、適宜変更、追加、削除等が可能であり、各実施形態を適宜組み合わせることも可能である。
【０２８５】
〔本明細書が開示する発明〕
上記に詳述した発明の実施形態についての記載から把握されるとおり、本明細書は少なくとも以下に示す発明を含む多様な技術思想の開示を含んでいる。
【０２８６】
（第１態様）：複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成手段と、形成された第１テストチャートを読み取る読取手段と、を備え、不良記録素子補償パラメータ最適化装置は、読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた画像記録装置。
【０２８７】
かかる態様によれば、予め指定された指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが用いられ、計測チャートに与えられた不良記録素子補償パラメータごとの計測チャートの濃度値と均一濃度領域の濃度値との差分値が最小となる不良記録素子補償パラメータが指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出されるので、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが効率的に最適化される。
【０２８８】
第１テストチャートデータを形成する第１テストチャートデータ形成手段、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを更新する更新手段、更新された指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを記憶する記憶手段、を備える態様が好ましい。また、指定記録素子を指定する指定手段を備える態様が好ましい。
【０２８９】
非記録領域と計測チャート領域とを第１方向に沿って並べて形成する態様が好ましい。また、非記録領域及び計測チャートのそれぞれを第１方向と直交する第２方向に沿って形成される態様が好ましい。
【０２９０】
（第２態様）：第１態様に記載の画像記録装置において、解析手段は、不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、計測チャート領域及び非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、均一濃度領域における対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、差分値が最小となる対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する。
【０２９１】
かかる態様における「対象不良極近傍領域」の例としては、第２方向について同じ位置の非記録領域及び計測チャート領域から形成される態様が挙げられる。
【０２９２】
「対象不良略近傍領域」の例として、第２方向について対象不良極近傍領域と同じ位置の均一濃度領域とする態様が挙げられる。
【０２９３】
「対象不良略近傍領域」は、第１方向について「対象不良極近傍領域」の片側に形成されてもよいし、両側に形成されてもよい。
【０２９４】
（第３態様）：第１態様又は第２態様に記載の画像記録装置において、形成手段、読取手段、及び解析手段による処理を経る指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化処理が複数回にわたって実行される際に、形成手段は計測チャートに適用される複数の不良記録素子補償パラメータの範囲を前回よりも狭めて計測チャートを形成する。
【０２９５】
かかる態様によれば、複数回の繰り返し処理によって不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、処理回数が進むに従って不良記録素子補償パラメータの範囲を狭めることで、より効率的に不良記録素子補償パラメータが最適化される。
【０２９６】
初回の処理では不良記録素子補償パラメータの範囲を全範囲としてもよいし、初回の処理から不良記録素子補償パラメータの範囲を絞ってもよい。
【０２９７】
（第４態様）：第１態様から第３態様のいずれかに記載の画像記録装置において、指定記録素子が既知の不良記録素子の場合、形成手段は指定記録素子の記録位置を非記録領域とし、指定記録素子の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置を計測チャート領域として第１テストチャートを形成する。
【０２９８】
かかる態様によれば、既知の不良記録素子を指定記録素子として、既知の不良記録素子を考慮した不良記録素子補償パラメータの最適化が実現される。
【０２９９】
（第５態様）：第１態様から第３態様のいずれかに記載の画像記録装置において、指定記録素子が正常記録素子の場合、形成手段は指定記録素子の記録位置を計測チャート領域とし、指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置を非記録領域として第１テストチャートを形成する。
【０３００】
かかる態様によれば、予め決められた条件から指定された記録素子に対して、効率的に不良記録素子補償パラメータの最適化がされる。
【０３０１】
（第６態様）：第１態様から第５態様のいずれかに記載の画像記録装置において、形成手段は、計測チャート領域に複数の不良記録素子補償パラメータのそれぞれに対応する小領域が連続する計測チャートを形成する。
【０３０２】
かかる態様によれば、計測チャートを構成する小領域を連続させることで、光学的読取装置を用いた第１テストチャートの読取に際して、読取データへの反射光の影響を抑制しうる。
【０３０３】
（第７態様）：第１態様から第６態様のいずれかに記載の画像記録装置において、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、形成手段は、他の記録素子の中で不良記録素子とみなした模擬不良記録素子の記録位置が非記録とされた模擬不良記録領域、模擬不良記録素子の記録不良を補償する記録素子である不良補償記録素子の記録位置であり模擬不良記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが適用された濃度値を有する補償パターンが形成される不良記録素子補償領域、及び処理対象の濃度値の均一濃度画像が形成される均一濃度領域を有するテストチャートであり、複数の模擬不良記録領域及び不良記録素子補償領域が第１の方向に予め決められた間隔で配置された１段分のパターンが第１の方向に直交する第２の方向について複数配置され、異なる段に属する模擬不良記録領域は第１の方向の位置がずらして配置される第２テストチャートを形成し、読取手段は、形成された第２テストチャートを読み取り、解析手段は、読取手段によって得られた第２テストチャートの読取データを解析して、記録素子ごとの不良記録素子補償パラメータの補正強度を評価し、評価した補正強度から反復法を用いた一変数求根アルゴリズムに基づいて他の記録素子のそれぞれの不良記録素子補償パラメータを最適化する。
【０３０４】
かかる態様によれば、第１態様から第６態様に係る不良記録素子補償パラメータ最適化手法を利用して、記録ヘッドに具備されるすべての記録素子について、既知の不良記録素子等を考慮した好ましい不良記録素子補償パラメータの最適化がされうる。
【０３０５】
かかる態様において、反復法を用いた一変数求根アルゴリズムとして、Ｂｒｅｎｔ法を使用する態様が好ましい。
【０３０６】
かかる態様において、制御手段は、予め定められた回数を上限として動作を繰り返し実行させる態様が好ましい。
【０３０７】
かかる態様において、評価した補正強度が所定の値より小さいか否かを判定する判定手段を備え、制御手段は、評価した補正強度が所定の値より小さいと判定されるまで動作を繰り返し実行させる態様が好ましい。
【０３０８】
かかる態様において、第２テストチャートは、第１のノズルにより形成される模擬不吐出領域と、第１のノズルの両隣のノズルである第２のノズルにより形成される不吐出補正領域と、第１のノズル及び第２のノズル以外の第３のノズルにより形成される均一濃度領域と、を有し、模擬不吐出領域が第１の方向に所定の間隔で配置された１つの段が第１の方向に直交する第２の方向に複数段配置され、複数段の模擬不吐出領域は第１の方向についてそれぞれ異なる位置に配置されており、テストチャートデータは、第１のノズルにはインクを吐出させず、第３のノズルには所定の濃度の指令値でインクを吐出させ、第２のノズルには所定の濃度の指令値を隣接する第１のノズルの不吐出補正パラメータで補正した指令値でインクを吐出させるデータである態様が好ましい。
【０３０９】
かかる態様において、第２テストチャートは、さらに全てのノズルに所定の濃度の指令値でインクを吐出させたリファレンス領域段を有する態様が好ましい。
【０３１０】
かかる態様において、補正強度は、模擬不吐出領域近傍の読取データの濃度値と所定の濃度の濃度値の差分量である態様が好ましい。
【０３１１】
かかる態様において、ノズルごとの不吐出補正パラメータは濃度ごとに備えられ、制御手段は、所定の濃度の指令値の不吐出補正パラメータを最適化する態様が好ましい。
【０３１２】
かかる態様において、ノズルごとの不吐出補正パラメータは、共通の変数で表される複数のパラメータからなり、パラメータ更新手段は、共通の変数を更新する態様が好ましい。
【０３１３】
（第８態様）：第７態様に記載の画像記録装置において、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化の際に、形成手段は、第１テストチャートを形成する代わりに、第１テストチャートに対応する第１チャート及び第２テストチャートに対応する第２チャートが混成され、指定記録素子の記録位置及び指定記録素子の近傍の記録素子の記録位置に第１チャートが形成され、指定記録素子の記録位置及び指定記録素子の近傍の記録素子の他の記録素子の記録位置に第２チャートが形成された第３テストチャートを形成し、読取手段は、形成された第３テストチャートを読み取り、解析手段は、読取手段によって取得された第３テストチャートの読取データにおける第１テストチャートの読取データを解析して、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する。
【０３１４】
かかる態様によれば、第１テストチャートに対応する第１チャートと、第２テストチャートに対応する第２チャートとを混成させた第３テストチャートを用いて、指定記録素子及び指定記録素子の近傍の記録素子に対して第１チャートを用いた不良記録素子補償パラメータ最適化手法が適用され、指定記録素子及び指定記録素子の近傍の記録素子の他の記録素子に対して第２チャートを用いた不良記録素子補償パラメータ最適化手法が適用され、両者を一括してすることで、指定記録素子を考慮した不良記録素子補償パラメータのより効率的な最適化が実現される。
【０３１５】
「指定記録素子の近傍の記録素子」の一例として、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化処理に際し、演算対象領域を記録位置とする記録素子が挙げられる。
【０３１６】
（第９態様）：第８態様に記載の画像記録装置において、解析手段は、第３テストチャートにおける第１チャートの均一濃度領域には処理をせずに、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する。
【０３１７】
かかる態様によれば、第３テストチャートにおける第１チャートの均一濃度領域には処理をしないことで、指定記録素子及び指定記録素子の近傍の記録素子について好ましい不良記録素子補償パラメータの最適化がされる。
【０３１８】
（第１０態様）：第８態様又は第９態様に記載の画像記録装置において、第３テストチャートを用いた指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、形成手段は、第３テストチャートにおける第１チャートの均一濃度領域に第２テストチャートに対応する第２チャートが形成された第４テストチャートを形成し、読取手段は、形成された第４テストチャートを読み取り、解析手段は、読取手段によって取得された第４テストチャートの読取データにおける第２チャートの読取データを解析して、指定記録素子の近傍の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する。
【０３１９】
かかる態様によれば、第３テストチャートにおける第１チャートの非記録領域、計測チャート領域とは別に、第３テストチャートにおける第１チャートの均一濃度領域に対して第４テストチャートを用いて不良記録素子補償パラメータの最適化を行うことで、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化の影響を受けることがない。
【０３２０】
（第１１態様）：複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成工程と、形成された第１テストチャートを読み取る読取工程と、読取工程によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程と、を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。
【０３２１】
かかる態様によれば、予め指定された指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが用いられ、計測チャートに与えられた不良記録素子補償パラメータごとの計測チャートの濃度値と均一濃度領域の濃度値との差分値が最小となる不良記録素子補償パラメータが指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出されるので、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが効率的に最適化される。
【０３２２】
第１テストチャートデータを形成する第１テストチャートデータ形成工程、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを更新する更新工程、更新された指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを記憶する記憶工程、を含む態様が好ましい。また、指定記録素子を指定する指定工程を含む態様が好ましい。
【０３２３】
（第１２態様）：コンピュータに、複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを形成する形成手段と、形成された第１テストチャートを読み取る読取手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、不良記録素子補償パラメータ最適化装置の機能として、読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。
【０３２４】
（第１３態様）：複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置であって、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた不良記録素子補償パラメータ最適化装置。
【０３２５】
（第１４態様）：複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。
【０３２６】
（第１５態様）：複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、コンピュータに、予め指定された指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第１テストチャートの読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに計測チャートの濃度と均一濃度領域の濃度とを比較し、均一濃度領域との濃度差が最小となる計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実行させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。
【符号の説明】
【０３２７】
１０…指定ノズル高速最適化用テストチャート、２０…第１混成最適化用テストチャート、４０…第２混成最適化用テストチャート、１００…インクジェット記録装置、１２０，２４８Ｍ，２４８Ｋ，２４８Ｃ，２４８Ｙ…インクジェットヘッド、１４０…インラインセンサ、１５０…制御部、１６２…テストチャート読取データ解析部、１６６…不吐出補  正パラメータ最適化部
【図１】
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【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１０】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図３】
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【図９】
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【図１１】
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【図１４】
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【図１５】
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