【事件の表示】
　特願２００２−５４２８２０「対象物の干渉顕微鏡による高速度画像形成の方法および装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　５月２３日国際公開、ＷＯ０２／４０９３７、平成１６年　９月１６日国内公表、特表２００４−５２８５８６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１３年（２００１年）１１月１５日（パリ条約による優先権主張　平成１２年１１月１７日　フランス）の国際出願（特願２００２−５４２８２０号）であって、平成２０年４月３日付けで拒絶査定がなされ、これに対して、同年７月１１日に拒絶査定不服審判の請求がなされた。
　その後、当審において、平成２１年４月２７日付けで拒絶理由の通知をし、これに対して同年１１月１０日付けで意見書が提出され、同日付けで手続補正がなされ、再度、平成２２年５月２７日付けで拒絶理由の通知をし、これに対して同年１１月３０日付けで意見書が提出され、同日付けで手続補正がなされた。
　
第２　本願発明  
　本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、平成２２年１１月３０日付け手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項に特定される次のとおりのものである。
　
「対象物（９）の干渉顕微鏡による画像形成方法であって、
　光源（１）からの短コヒーレンス長を示す光束（２）を、分離手段によって二つの部分に分け、それらをそれぞれ二波長干渉計の各アームに送り、対象物（９）は前記アームの一つ（７）に配され、そして他（１０）は参照鏡（１２）を備え、
　周波数ｆの正弦波変調から成る、干渉信号（S）の位相の連続的な変化をもたらし、
　干渉信号（S）を捕らえるように使用される二次元センサ（１８）を備えるマルチチャンネル画像検出器（１５）によって、この位相の変化の間、干渉信号（S）を積分し、
　干渉計の集合部（１６）における機械的発振により干渉信号（S）を変調し、前記変調が振幅ψおよび位相θを有し、
　マルチチャンネル画像検出器（１５）を周波数f’（ただしｆ’＝ｎｆとし、かつｎは２以上の整数である）で作動させ、前記集合部（１６）の機械的発振を制御する信号と同期させて、干渉信号（S）を変調周期の１／ｎ周期間について積分し、
　前記積分された干渉信号（S）が、対象物（９）の断層の画像を演算すべくデジタル処理され、前記断層の厚みは、前記光束（２）のコヒーレンス長の約半分である、
画像形成方法。」
　
第３　特許法第２９条第２項（発明の進歩性）の要件の違反について
１　引用例
（１）引用例１
　当審が通知した平成２１年４月２７日付け及び平成２２年５月２７日付けの拒絶の理由の両者において引用された、特開平８−２５２２５６号公報（以下「引用例１」という。）には、次の事項が記載されている。
 　 
 「【０００１】 
【産業上の利用分野】本発明は、被検体内部の断層を撮影する断層撮影装置に関する。 
【０００２】 
【従来の技術】従来より、被検体、特に人体の体表や体腔内壁の表面構造を光学的に調べ、具体的には例えば胃カメラにより胃の内壁の状態を写真撮影し、それに基づいて診断等が行なわれている。
　近年、そのような生体組織やそれを切除して得た病理組織試料等の被検体の表面状態の観察のみでなく、その表面の奥、すなわち被検体の内部を光学的に観察するための研究が行なわれている。表面状態のみでなく内部の状態を観察することにより、より多くの情報を得ることができ、例えば臨床に応用した場合、より適切を診断を行なうことができる。
【０００３】従来、被検体内部を光学的に観察する手法として、ＣＬＳＭ（共焦点走査型顕微鏡）が知られている。図２４は、ＣＬＳＭの原理説明図である。ピンホール板８１のピンホール８１ａを経由した、フォーカス性の良いレーザ光８０を、ビームスプリッタ８２および対物レンズ８３を経由して被検体１の内部の所定の観測点Ｏに向けて照射する。観測点Ｏからの反射光は、対物レンズ８３を経由しビームスプリッタ８２を透過して、共焦点ピンホール板８４のピンホール８４ａの位置に集光する。このピンホール８４ａは、ビームスプリッタ８２に関し、ピンホール板８１のピンホール８１ａ（光源）と鏡面対称な関係にある。観測点Ｏ以外の、例えば被検体の表面上の点Ｒ′，Ｒ″等での反射光は、共焦点ピンホール板８４の位置では広がってしまう。したがって観測点Ｏからの反射光が選択的に強調されてピンホール８４ａを通過する。この反射光を光検出器８５で受光する。被検体１を走査して各観測点について反射光信号を得ることにより、被検体１の内部の像を得ることができる。
【０００４】このＣＬＳＭでは、共焦点ピンホール板８４を配置しているために、観測点Ｏからの反射光が強調され、従来の単純顕微鏡よりも深さ分解能が改善されている。しかし、被検体表面からの深さによる入射光の急激な減衰効果により、深さ方向の分解能力は十分ではない。これを改善するために、可干渉距離の短いＬＣ（Ｌｏｗ　Ｃｏｈｅｒｅｎｔ）光源を用いたヘテロダイン干渉法によるＯＣＭが研究されている。
【０００５】図２５は、従来のＯＣＭ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）の基本構成図である。可干渉距離の短い光を発する、例えばＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒｌｕｍｕｎｅｓｃｅｎｔ　Ｄｉｏｄｅ）９１から発せられた光は、ピンホール９２、コリメートレンズ９３を経由して、ビームスプリッタ９４で、物体光９０ａと参照光９０ｂとに二分される。物体光９０ａは、対物レンズ９５により、被検体１の内部の観測点Ｏに焦点を結ぶ。被検体１の表面および内部で反射した物体光は、ビームスプリッタ９４を経由しさらに集光レンズ９６を経由して光検出器９７に入射する。
【０００６】一方、ビームスプリッタ９４で物体光と二分された参照光９０ｂは、参照ミラー９８で反射しビームスプリッタ９４により反射した物体光９０ａと重畳されて光検出器９７に入射する。参照ミラー９８の位置は、物体光９０ａが観測点Ｏで反射しビームスプリッタ９４を経由して光検出器９７に至る迄の物体光の光路長と、参照光が参照ミラー９８で反射しビームスプリッタ９４を経由して光検出器９７に至る迄の参照光の光路長とが等しくなるように設定されている。この場合、観測点Ｏを中心とし、ＳＬＤ９１から発せられた光の可干渉距離に相当する深さ領域ｄについてのみ干渉が生じることになり、この干渉成分を抽出することにより、被検体１内部の深さ方向に距離ｄの分解能を持った信号を得ることができる。ここに示す例では、この干渉成分を抽出するために、参照ミラー９８に駆動部９９が備えられており、この駆動部９９は、正弦波発生器１００からの正弦波信号により、参照ミラー９８を、その光軸方向に可干渉距離よりも短い振幅ａで振動させる。光検出器９７で検出された信号はプリアンプ１０１を経由してロックインアンプ１０２に入力されるが、このロックインアンプ１０２には正弦波発生器１００からの正弦波信号も入力され、ロックインアンプ１０２から、干渉成分のみが抽出された干渉信号が出力される。
【０００７】 
【発明が解決しようとする課題】このＯＣＭは、深さ方向の分解能は優れているが、撮影に時間がかかるという問題があり、撮影時間の短縮と高感度化の実現が課題となっている。本発明は、上記事情に鑑み、撮影時間が短縮化されたＯＣＭ方式の断層撮影装置を提供することを目的とする。
【０００８】 
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発明の断層像撮影装置は、 
（１）所定の光放射面上に離散配置された、所定の可干渉距離を有する光波を放射する複数の光源を備えた光放射部
（２）上記複数の光源から放射された各光波それぞれを物体光と参照光とに二分するビームスプリッタ
（３）上記物体光による、光放射面上の複数の光源それぞれの像を、所定の結像面上に形成するとともに、その結像面で反射した物体光を所定の光検出面上に導いて、結像面上の、上記複数の光源それぞれの像を、その光検出面上の、上記ビームスプリッタに関して、光放射面上の複数の光源それぞれの配置位置と鏡面対称な各位置に写像する物体光結像光学系
（４）上記参照光を、上記ビームスプリッタに向けて反射する参照ミラー
（５）上記参照光を上記参照ミラーに導くとともに、その参照ミラーで反射した参照光を上記光検出面に導いて、参照光による、光放射面上の複数の光源それぞれの像を、結像面で反射した物体光による前記複数の光源それぞれの像に重畳させて形成する参照光結像光学系
（６）光検出面上の上記各位置に離散配置された複数の光センサを有する光検出部を備えたことを特徴とする。
【０００９】ここで、光放射面上に離散配置された複数の光源、および光検出面上に離散配置された複数の光センサは、それら光放射面上、光検出面上に、例えば、一次元的に配列されていてもよく、二次元的に配列されていてもよい。また、上記「鏡面対称」とは、幾何光学的に光線が鏡（ビームスプリッタ）で折り返した場合の互いに対応する位置をいい、レンズ等により倒立像が形成される場合は、そのレンズ等の通過前後の光線上の互いに対応する位置をいう。
【００１０】上記本発明の断層撮影装置において、 
（７）上記参照ミラーを光軸方向に往復移動させるミラー駆動機構を備えることが好ましい。このミラー駆動機構を備えた構成の場合、そのミラー駆動機構が、参照ミラーを、光源から放射された光波の可干渉距離よりも短い距離だけ光軸方向に互いに離れた第１の位置と第２の位置との間を、それら第１の位置および第２の位置それぞれで動きが反転する反転期間を挟んで往復移動させるものであり、さらに、
（８）上記複数の光センサそれぞれに対応して備えられた、対応する光センサで得られた信号のうちの、その光センサに入射した物体光と参照光とが干渉することにより生成された干渉信号成分を抽出する帯域フィルタ回路、その帯域フィルタ回路から出力された干渉信号成分を検波する検波回路、およびその検波回路の出力信号を、参照ミラーが移動する間積分して参照ミラーが前記反転期間にある間その積分信号を保持する積分保持回路を有する光センサ別信号処理系
（９）各光センサ別信号処理系の積分保持回路が各積分信号を保持している間に、それらの各積分信号を、複数の光センサ別信号処理系にわたって時分割に入力してディジタル信号に変換するＡＤ変換器を備えた構成とすることが好ましい。」
　
「【００２６】図８は、光検出部の各光センサでの受光信号を処理する信号処理系の一例を示すブロック図、図９は、図８の信号処理系の各部の信号波形の模式図である。参照ミラーは、図９（ａ）に示すように、図６に示す反射面２０ａが位置２０ａ′にあるときと位置２０ａ″にあるときに一旦停止した停止期間（本発明にいう反転期間の典型例）ＴSTOPを有し、位置２０ａ′から位置２０ａ″への移動、および位置２０ａ″から位置２０ａ′への移動はほぼ直線的に行なわれる。また、光放射部では、図９（ｆ）に示すように、参照ミラーが移動している間だけパルス的に光が放射される。
【００２７】各光センサで検出された信号は、各光センサに対応して備えられた帯域フィルタ回路に入力され、この帯域フィルタ回路では干渉信号成分が抽出される。この帯域フィルタ回路からは、図９（ｂ）に示すような信号が出力される。この帯域フィルタ回路で抽出された干渉信号は、検波回路に入力されて検波され、図９（ｃ）に示すような信号に変換される。この検波回路の出力は、次いで、積分保持回路に入力される。この積分保持回路では、図９（ｄ）に示す積分期間Ｔ０ 、ホールド期間Ｔ１ 、リセット期間Ｔ２ のうちの積分期間Ｔ０ の間、入力信号が積分され、ホールド期間Ｔ１ の間その積分された信号が保持され、リセット期間Ｔ２ 内で初期値にリセットされ、これにより、図９（ｄ）に示すような信号が生成される。
【００２８】ＡＤ変換器は、ホールド期間Ｔ１ の間に、光検出部に配列された全ての光センサに対応する全ての積分保持回路の出力を時系列的にサンプリングしてディジタル信号に変換する。このように、参照ミラーの動きが停止し、もしくはその動きが緩やかになり、積分保持回路がホールド期間にあるときに信号を取り込むことによりノイズが押えられ、Ｓ／Ｎの良い信号を得ることができる。」 
　
【図２４】
　
【図２５】
　
（２）引用例１に記載された発明 
　引用例１の【０００８】〜【００１０】及び【００２６】〜【００２８】段落の記載、並びに、本願出願時の干渉顕微鏡の技術分野における技術常識から、引用例１の【０００２】〜【０００６】段落に記載された従来例においても、光検出器で検出され干渉成分のみが抽出された干渉信号を参照ミラーが移動する間積分していることは明らかである。 
　したがって、上記記載（図面の記載も含む）から、引用例１には、
「被検体１内部のヘテロダイン干渉法によるＯＣＭ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）方式の断層撮影方法であって、
　可干渉距離の短い光を発するＳＬＤ９１から発せられた光は、ビームスプリッタ９４で、物体光９０ａと参照光９０ｂとに二分され、
　物体光９０ａは、対物レンズ９５により、被検体１の内部の観測点Ｏに焦点を結び、被検体１の表面および内部で反射した物体光は、ビームスプリッタ９４を経由しさらに集光レンズ９６を経由して光検出器９７に入射し、
　一方、ビームスプリッタ９４で物体光と二分された参照光９０ｂは、参照ミラー９８で反射しビームスプリッタ９４により反射した物体光９０ａと重畳されて光検出器９７に入射し、
　観測点Ｏを中心とし、ＳＬＤ９１から発せられた光の可干渉距離に相当する深さ領域ｄについてのみ干渉が生じることになり、この干渉成分を抽出することにより、被検体１内部の深さ方向に距離ｄの分解能を持った信号を得ることができ、
　この干渉成分を抽出するために、参照ミラー９８に駆動部９９が備えられており、この駆動部９９は、正弦波発生器１００からの正弦波信号により、参照ミラー９８を、その光軸方向に可干渉距離よりも短い振幅ａで振動させ、光検出器９７で検出された信号はプリアンプ１０１を経由してロックインアンプ１０２に入力されるが、このロックインアンプ１０２には正弦波発生器１００からの正弦波信号も入力され、ロックインアンプ１０２から、干渉成分のみが抽出された干渉信号が出力され、
　光検出器９７で検出され干渉成分のみが抽出された干渉信号を、参照ミラー９８が移動する間積分するＯＣＭによる被検体１内部の像を得る断層撮影の方法 。」の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　
（３）引用例２
　当審が通知した平成２１年４月２７日付け及び平成２２年５月２７日付けの拒絶の理由の両者において引用された、特開昭６２−２１４３０９号公報（以下「引用例２」という。）には、次の事項が記載されている。
　
「〔発明の利用分野〕
　本発明は表面粗さ・形状測定装置に係り、特に、正弦波位相変調されたレーザー光を参照光として用いた干渉法による表面粗さ・形状測定装置に関する。」（第２ページ左上欄第１４〜１８行）
　
「〔発明の目的〕
　本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、反射鏡を変位させずに振動のみで表面粗さを測定することができる表面粗さ・形状測定装置を提供することを目的とする。」（第３ページ左上欄第２０行〜同ページ右上欄第４行） 
　
「〔発明の実施例〕 
　以下添付図面に従って本発明に係る表面粗さ・形状測定装置の好ましい実施例を詳説する。
　第１図において、レーザー発振器１０は可干渉なレーザ光をビームスプリッタ１２に入射し、ビームスプリッタ１２はこのレーザー光を分割してそれぞれ反射鏡１４および被測定物１６に入射させる。反射鏡１４は圧電素子１８によって正弦波振動が加えられており、この反射鏡１４によって反射する参照光は正弦波位相変調される。この参照光と被測定物１６からの反射光（物体光）はビームスプリッタ１２を通って干渉し、この干渉信号レンズ２０を通ってＣＣＤイメージセンサ２２に入射される。
　ここで、圧電素子１８による正弦波振動の振幅をａ、角周波数をＷｃ、初期位相をθとすると、ＣＣＤイメージセンサ２２上（ｕ軸上）の光強度分布は、
 Ｓ（ｔ，ｕ）＝１＋ｃｏｓ｛Ｚｃｏｓ（ｗｃｔ＋θ）＋α（ｕ）｝…(6)
 Ｚ＝（４π／λ）ａ
となる。ただし、上式において、光強度の直流分および交流分の振幅は１としている。そして、第（６）式におけるα（ｕ）が物体面の表面粗さに対応する位相である。」（第３ページ左下欄第３行〜同ページ右下欄第７行） 
　
「次に、ＣＣＤイメージセンサで検出される干渉信号の積分値をそのまま用いて表面粗さを得る更に他の実施例について説明する。
　ＣＣＤイメージセンサの光強度分布Ｓ（ｔ）は、
Ｓ（ｔ）＝ｘ１＋Ｓ０ｃｏｓ｛Ｚｃｏｓ（ｗｃｔ＋θ）＋α〕…(11)
となる（第（６）式参照）。ただし、ｘ１は光強度の直流分、Ｓ０は交流分の振幅である。
　ここで、周期Ｔ＝２π／ｗＣの干渉信号に対して、ＣＣＤイメージセンサにより次の積分検出値ｙｉ（ｉ＝１〜４）を得る。
　　　iT/4 
ｙｉ＝∫　　　Ｓ（ｔ）ｄｔ　　…(12)
　　（i-1)T/4　　　　　　　　　　　　　　　　　」（第４ページ右上欄第１１行〜同ページ左下欄第１行）
 　 
「〔発明の効果〕
　以上説明したように本発明に係る表面粗さ・形状測定装置によれば、干渉信号を演算処理することにより表面粗さを計測するようにしたため、反射鏡は正弦波振動させるだけでよく、反射鏡を精度良く変位させる機構等が不要となる。」（第４ページ右下欄第９〜１４行）
　
　
２　当審の判断 
（１）対比 
　本願発明と引用発明を対比する。 
　引用発明の「被検体１」が本願発明の「対象物（９）」に相当し、引用発明の「被検体１内部のヘテロダイン干渉法によるＯＣＭ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）方式の断層撮影方法」が本願発明の「対象物（９）の干渉顕微鏡による画像形成方法」に相当する。
　
　引用発明の「可干渉距離の短い光を発するＳＬＤ９１から発せられた光」が、本願発明の「光源（１）からの短コヒーレンス長を示す光束（２）」に相当する。 
 　 
 　引用発明の「光は、ビームスプリッタ９４で、物体光９０ａと参照光９０ｂとに二分され」ることが、本願発明の「光束（２）を、分離手段によって二つの部分に分け、それらをそれぞれ二波長干渉計の各アームに送」ることに相当する。 
 　 
 　引用発明の「物体光９０ａは、対物レンズ９５により、被検体１の内部の観測点Ｏに焦点を結」ぶことが、本願発明の「対象物（９）は前記アームの一つ（７）に配され」ることに相当する。 
　また、引用発明の「一方、ビームスプリッタ９４で物体光と二分された参照光９０ｂは、参照ミラー９８で反射」することが、本願発明の「他（１０）は参照鏡（１２）を備え」ることに相当する。
 　 
　正弦波は一定の周波数（ｆ）を有することは当然であるから、引用発明の「干渉成分を抽出するために、参照ミラー９８に駆動部９９が備えられており、この駆動部９９は、正弦波発生器１００からの正弦波信号により、参照ミラー９８を、その光軸方向に可干渉距離よりも短い振幅ａで振動させ」ることが、本願発明の「周波数ｆの正弦波変調から成る、干渉信号（S）の位相の連続的な変化をもたら」すことに相当する。
　
　引用発明の「光検出器９７」は「参照光９０ｂ」と「物体光９０ａ」が重畳されて入射する検出器であるから、引用発明の「光検出器９７」と本願発明の「干渉信号（S）を捕らえるように使用される二次元センサ（１８）」とは、「干渉信号を捕らえるように使用されるセンサ」である点で一致する。よって、引用発明の「光検出器９７で検出された信号はプリアンプ１０１を経由してロックインアンプ１０２に入力されるが、このロックインアンプ１０２には正弦波発生器１００からの正弦波信号も入力され、ロックインアンプ１０２から、干渉成分のみが抽出された干渉信号が出力され、光検出器９７で検出され干渉成分のみが抽出された干渉信号を、参照ミラー９８が移動する間積分する」ことと、本願発明の「干渉信号（S）を捕らえるように使用される二次元センサ（１８）を備えるマルチチャンネル画像検出器（１５）によって、この位相の変化の間、干渉信号（S）を積分」することとは、「干渉信号を捕らえるように使用されるセンサを備える画像検出器によって、この位相の変化の間、干渉信号を積分」する点で一致する。
　
　引用発明の「参照光９０ｂは、参照ミラー９８で反射しビームスプリッタ９４により反射した物体光９０ａと重畳されて光検出器９７に入射」し、「参照ミラー９８に駆動部９９が備えられており、この駆動部９９は、正弦波発生器１００からの正弦波信号により、参照ミラー９８を、その光軸方向に可干渉距離よりも短い振幅ａで振動させ」ることから、引用発明においては干渉信号を正弦波信号によって変調しているものであり、当該正弦波信号による変調が一定の振幅及び位相を有することは当然であるから、引用発明の上記箇所の特定事項が本願発明の「干渉計の集合部（１６）における機械的発振により干渉信号（S）を変調し、前記変調が振幅ψおよび位相θを有」することに相当する。
　
 （２）一致点 
 　したがって、本願発明と引用発明は、 
 「対象物の干渉顕微鏡による画像形成方法であって、
　光源からの短コヒーレンス長を示す光束を、分離手段によって二つの部分に分け、それらをそれぞれ二波長干渉計の各アームに送り、対象物は前記アームの一つに配され、そして他は参照鏡を備え、
　周波数ｆの正弦波変調から成る、干渉信号の位相の連続的な変化をもたらし、
　干渉信号を捕らえるように使用されるセンサを備える画像検出器によって、この位相の変化の間、干渉信号を積分し、
　干渉計の集合部における機械的発振により干渉信号を変調し、前記変調が振幅ψおよび位相θを有する画像形成方法。」の発明である点で一致し、次の各点で相違する。
　
（３）相違点 
ａ　相違点１； 
　画像検出器が、本願発明においては「二次元センサを備えるマルチチャンネル画像検出器」であるのに対して、引用発明はそのような限定がない点。
 　 
ｂ　相違点２； 
　本願発明は、「マルチチャンネル画像検出器（１５）を周波数ｆ’（ただしｆ’＝ｎｆとし、かつｎは２以上の整数である）で作動させ、前記集合部（１６）の機械的発振を制御する信号と同期させて、干渉信号（S）を変調周期の１／ｎ周期間について積分」するものであるのに対して、引用発明はそのような限定がない点。 
　
ｃ　相違点３； 
　本願発明は、「積分された干渉信号（S）が、対象物の断層の画像を演算すべくデジタル処理」されるのに対し、引用発明にはそのような限定がない点。 
　
ｄ　相違点４； 
　本願発明は、「断層の厚みは、前記光束（２）のコヒーレンス長の約半分である」のに対し、引用発明はそのような限定がない点。 
　
（４）各相違点についての検討 
 　上各記相違点について検討する。 
　
ア　相違点１について
　複数の観測点の光強度を二次元センサによって一度に検出して二次元的な画像を得ることは、例えば、特開平８−２４７７３４号公報（当審が通知した平成２１年４月２７日付けの拒絶の理由において開示）の【００４４】〜【００４７】にも記載されているように周知の技術である。
　引用発明においても、上記の周知技術を採用し、干渉信号を生成するための光検出器９７、プリアンプ１０１及びロックインアンプ１０２等の機器類を、二次元センサによって一度に検出して二次元的な画像を得る装置、すなわち、「二次元センサを備えるマルチチャンネル画像検出器」として、上記相違点１に係る本願発明の発明特定事項を得ることは当業者が容易に想到し得たことである。
　
イ　相違点２について
　引用例２には、正弦波位相変調されたレーザー光を参照光として用いた干渉法による表面粗さ・形状測定装置において、表面粗さ・形状測定のために干渉信号を変調周期の１／ｎ（ｎ＝４）周期について積分し、信号（光）の周期性を有する強度の特性（位相）を分析（特定）することが記載されている。
　また、引用例２のＣＣＤイメージセンサは、光強度分布を得るものであることから、複数の検出点を有するマルチチャンネル検出器であるといえる。
　そして、引用発明と引用例２に記載された発明は、ともに、正弦波位相変調された参照光を用いた干渉法により被検体の像を観測する装置でる点で共通しているから、引用発明の断層画像を得るに際して、干渉信号の周期性を有する強度の特性（位相等）を特定するために引用例２に記載の上記技術を適用し、マルチチャンネル検出器を作動させて得た干渉信号を変調周期の１／ｎ（ｎ＝４）周期について積分するとすることは当業者が容易に想到し得たことである。
　そして、マルチチャンネル検出器を、二次元的な画像を得るための「マルチチャンネル画像検出器」とすることは、上記（１）で言及したように周知技術であり、また、当該マルチチャンネル画像検出器が上記の干渉信号を変調周期の１／ｎ（ｎ＝４）周期について積分することを可能にするために、当該マルチチャンネル画像検出器を、参照ミラーに備えられた駆動部における正弦波発生器からの正弦波信号の周波数のｎ倍の周波数で該正弦波信号に同期させて作動させ、上記相違点２に係る本願発明の発明特定事項を得ることは当業者が容易になし得たことである。
　
ウ　相違点３について
　得られた信号から画像を得るべくデジタル処理することは周知の技術である。
　引用発明においても、上記周知技術を適用し、上記相違点３に係る本願発明の発明特定事項を得ることは当業者が容易に想到し得たことである。
　
エ　相違点４について
　「断層の厚み」については、顕微鏡の光軸方向の断層の分解能（一般に（光源のコヒーレンス長）／（被検体の屈折率の２倍）であることが知られている）を勘案して、当業者が適宜設定し得たことにすぎない。
　
　そして、本願発明によってもたらされる効果は、引用発明、引用例２に記載された発明及び周知の技術から当業者が予測し得る程度のものである。
　したがって、本願発明は、引用発明、引用例２に記載された発明及び周知の技術に基いて当業者が容易に発明することができたものである。 
　
３　むすび 
　以上のとおりであるから、本願発明は、引用発明、引用例２に記載された発明及び周知の技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができない。 
 　 
第４　特許法第３６条第６項第１号及び第４項（請求項及び発明の詳細な説明の記載要件）の違反について
１　当審が通知した拒絶の理由
（１）平成２２年５月２７日付けの拒絶理由において、当審は、特許法第３６条第６項第１号及び第４項の違反について次の拒絶理由を通知した。
　
「１　従来技術及び技術課題と本件発明の各特定事項の関連
　発明の詳細な説明の記載においては、従来技術の問題点が不明で、本件発明がどのような問題点を解決しようとするものかが理解できない。また、その問題点を、どのように解決したものであるかも不明で、発明を把握することができない。
　具体的には、
（１）【０００４】段落において、「かくしてこの技術により、対象物の位相画像の取得が可能になる。ただしこの技術はミロー（Mirau）顕微鏡および、参照鏡が利用不可能なマイケルソン顕微鏡については適用可能ではない。またリンニック（Linnik）顕微鏡についても適用できない。」と記載されている。
　上記記載において、 
ア　「参照鏡が利用不可能なマイケルソン顕微鏡」については、一般に「マイケルソン顕微鏡」は、対象物体からの反射光と参照鏡からの参照光とを干渉させ、その干渉信号を用いて対象物体を観測するものであるところ、「参照鏡が利用不可能」なマイケルソン顕微鏡は、その具体的構造や利用形態を想定することができない。
イ　何故、「この技術」がミロー（Mirau）顕微鏡やリンニック（Linnik）顕微鏡に適用できないのか、すなわち、「この技術」のどのような特徴（構造・特性等）のためにミロー（Mirau）顕微鏡やリンニック（Linnik）顕微鏡に適用することが妨げられているのかが不明であり、従来技術の問題点を理解できない。
（２）これに対して、本願の実施例においては、【００１２】段落では「図１および２はそれぞれ本発明に基づいた、リンニック（Linnik）干渉計を用いた干渉顕微鏡による画像形成装置の一例の様式である。」と、【００１４】段落では「ミロー（Mirau）顕微鏡を用いた場合（図４）では」と記載されており、本発明がミロー（Mirau）顕微鏡やリンニック（Linnik）顕微鏡に適用できるものであるといえる。
　本件発明は、上記（１）の【０００４】段落に記載の「この技術」と何が違うために適用ができるようになったのかが不明であり、本発明の特徴を把握できない。」
　
２　請求人の対応（主張）
　これに対して請求人は、平成２２年１１月３０日付けの意見書において次のように主張している。（なお、下線は、下記の「３　当審の判断」において参照した記載を示すため、当審において付したものである。）
　
「（１）審判官殿は、本願明細書［０００４］における「参照鏡が不要なマイケルソン干渉計」との記載について疑問をお持ちですので、この点についてご説明致します。
　まず、当該記載については、「ただしこの技術はミロー（Mirau）顕微鏡およびマイケルソン顕微鏡については、参照鏡の発振を利用できない場合には、適用可能ではない。」と補正しました。これにより、不明とご指摘された「参照鏡が不要なマイケルソン干渉計」なる用語は存在しません。
　次に、明細書［０００４］に記載された「この技術」がミロー顕微鏡、マイケルソン顕微鏡等に適用できない理由について、ご説明致しますが、その理由は、端的には、［０００４］に記載されていますように、その構造上「参照鏡の発振を利用できない」（あるいはその可能性が高い）ためです。
　このことを説明するために、まず、一般的なマイケルソン、ミロー（ミラウ）、およびリンニック干渉計（干渉顕微鏡）の光学的構成についてご説明致します。
　マイケルソン干渉計（干渉顕微鏡）の構成については、本願の図３に一例が示されています。図３に基づき説明しますと、入射光束（２）を（たとえばビームスプリッタ（４）で）２つの光束に分割し、２つのアーム（参照アームおよびサンプルアーム）を形成し、それらビームを反射して、重ねあわすことによって、干渉パターンを形成します。マイケルソン干渉計の場合には、レンズ１１を通った後の光束が２つに分割されます。
　また、ミロー干渉計（干渉顕微鏡）の構成については、本願の図４に一例が示されています。図４に基づき説明しますと、ミロー干渉計の基本原理はマイケルソン干渉計と同様です。マイケルソン干渉計に対するミロー干渉計の相違点は、参照アームの配置です。ミロー干渉計の場合には、参照アームが顕微鏡の対物アセンブリ内に配置されています。したがいまして、レンズ（１１）に続くビームスプリッタ（４）が光束を分割し、サンプル（解析対象物９）へと進むサンプルアームと、対物アセンブリへと反射される参照アームとになります。この構成では、サンプルおよび参照アームの間の光路長の安定性をより高めることができます。
　また、リンニック干渉計（干渉顕微鏡）の構成については、本願の図２に一例が示されています。図２に基づき説明しますと、リンニック干渉計の基本的構成は、マイケルソン干渉計の構成と同様です。リンニック干渉計とマイケルソン干渉計との相違点は、リンニック干渉計では、参照アーム（第二のアーム１０）および測定アーム（第１のアーム７）の両方に光学測定部品（レンズ（１１，８）が設けられます。この構成のメリットは、色分散および他の光学収差を補償できることです。
　本願の明細書［０００４］で引用されているSasaki他の干渉顕微鏡は、表面粗さの測定（いわゆるトポグラフィ）に関するものです。具体的には、明細書［０００４］に記載されていますように、圧電セラミックを使用して参照鏡を発振させることによって、干渉計における２つの光束の間の位相の正弦波変調を実現するものです。なお、この技術は、引用例２にも開示されています（引用例２の第１図の圧電素子１８をご参照下さい）。
　
ミロー顕微鏡の構成では、参照鏡（本願図４の参照鏡１２）は、圧電素子を実装するためには物理的に利用不可能です。なぜなら、参照鏡（１２）が配置された対物レンズ（１１）とビームスプリッタ（４）との間のスペースがきわめて小さいためです。
　
同じくマイケルソン干渉計においても同様の課題が生じます。その理由は、特に、高倍率の対物レンズを使用する場合に、ビームスプリッタ（４）と参照鏡（１２）との間の距離が極めて短くなるためです。
　上記のように、Sasaki他の技術は、トポグラフィに関するものですので、ビームスプリッタとサンプルとの間のワーキングディスタンスが大きいマイケルソン干渉計を用いることができます。しかし、
本願発明のように、顕微鏡の場合（特に高解像度が要求される場合）には、高倍率の対物レンズが必要であり、かつ、ワーキングディスタンスも小さくなります。つまり、補正後の明細書［０００４］における「ただしこの技術はミロー（Mirau）顕微鏡およびマイケルソン顕微鏡については、参照鏡の発振を利用できない場合には、適用可能ではない」との記載は、「この技術」すなわち、「Sasaki他によって提案された、参照鏡を圧電セラミックによって発振させる技術」が、「ミロー顕微鏡、マイケルソン顕微鏡」において、高分解能を得るためにワーキングディスタンスを短くした場合には、「参照鏡の発振を利用できない（参照鏡を発振させることが事実上不可能）」であるとの理由により「適用可能ではない」ということを意味しています。
　また、リンニック顕微鏡の場合には、理論上は、Sasaki他の技術を適用して、参照鏡を動かすための圧電素子を実装することができます。しかしリンニック顕微鏡では、ビームスプリッタの後に参照アームおよび測定アームの両方に光学測定部品を配置するよう構成されています。これに対して、マイケルソン顕微鏡ではレンズが１つしかなく、かつ、そのレンズの後にビームスプリッタが配置されます。すなわちリンニック顕微鏡はマイケルソン顕微鏡よりも複雑な構成を有しています。このため、リンニック顕微鏡では、２つの光路を同一とするために、極めて細かい調整（光学素子のアラインメント）を必要とします。マイケルソン顕微鏡では、対物レンズの後のビームスプリッタの位置により、同一の光路が自動的に確定されますので、リンニック顕微鏡における上記の制約が生じません。
　Sasaki他の論文では、トポグラフィ画像で達成された分解能は約５μｍと説明されています（添付しましたSasaki等の論文の３１３９頁の左欄の第１段落目をご参照下さい）。５μｍの分解能を得るためには、典型的には、対象物のワーキングディスタンスは、約２５ｍｍとなります。一方、高分解能の顕微鏡（約１μｍの分解能では）、ワーキングディスタンスは数ｍｍしかありません。Sasaki他の技術は、分解能が低くてもよいため、圧電素子を実装するのがより容易であるマイケルソン干渉計の構成を採用し、かつ、そのマイケルソン干渉計の構成において、圧電素子を実装するのに十分なスペースを設けています。しかし、
リンニック顕微鏡は、マイケルソン顕微鏡よりも構成が複雑でありながら、マイケルソン顕微鏡と同様の高分解能を必要とします。したがいまして、上記のような低分解能であるSasaki他の技術をリンニック顕微鏡には適用できず、それゆえに本発明時点において、Sasaki他の技術はリンニック顕微鏡には適用されていませんでした。
　このように、Sasaki他の技術がリンニック顕微鏡に適用されてこなかった理由は、リンニック顕微鏡が他の干渉顕微鏡（典型的にはマイケルソン顕微鏡）に比べて構成が複雑であること、また、マイケルソン顕微鏡と同様に高分解能を要求するためであります。
（２）上記のように、明細書［０００４］で挙げられている文献（Sasaki他）では、正弦波振動する鏡によって参照光が位相変調される正弦波位相変調（ＳＰＭ）干渉計について説明しています。Sasaki等の技術によれば、対象物の位相画像を取得することが可能です。対象物の表面のプロファイルは、検出された信号の周波数成分のフーリエ解析によって得られます。この技術では、レーザの使用を要求するとともに、不透明な材料（たとえば金属）または下層部の構造を有さない材料のトポグラフィに対してのみ適用可能です。しかし、
Sasaki等に開示された方法によれば、「断層画像」すなわち対象物の深さ方向の領域の画像を得られることはできません。
　
本願発明は、Sasaki他の技術とは異なり、光学配置および処理を改良することで、「断層」すなわちサンプルの深さ方向の画像を生成するトモグラフィ（断層）の全フィールド干渉顕微鏡を提供するということです。
　明細書の［００１２］、［００１３］および［００１４］、図２〜４ならびに請求項８〜１０から明らかなように、本発明は、リンニック、ミラウまたはマイケルソン顕微鏡のいずれにも実現可能なものです。請求項８，９あるいは図３および図４に示すように、本発明では、マイケルソン顕微鏡あるいはミラウ顕微鏡の場合には発振系集合部全体を発振させます。また、リンニック顕微鏡の場合、本発明では、干渉計自体（請求項６）あるいは、参照鏡のみ（請求項７）を発振させます。これによって、マイケルソン顕微鏡、ミラウ顕微鏡、リンニック顕微鏡への適用を可能とします。」
　
３　当審の判断
　上記「２　請求人の対応」における請求人の（１）の主張から、本願発明のように、顕微鏡の場合（特に高解像度が要求される場合）には、高倍率の対物レンズが必要であり、かつ、ワーキングディスタンスも小さくなり、マイケルソン顕微鏡あるいはミロー顕微鏡においては参照鏡を圧電素子の実装に用いることができない、すなわち、参照鏡を発振させることが事実上不可能であり、断層画像を得ることはできないことがわかった。また、リンニック顕微鏡においても、構成が複雑でありながら、マイケルソン顕微鏡と同様の高分解能を必要とすることから、同様に、Sasaki他によって提案された、参照鏡を圧電セラミックによって発振させる技術が適用できないことも知ることができた。
　本願発明の背景には、上記の点が前提となっている。
　そして、上記の請求人の主張の（２）においては「本願発明は、Sasaki他の技術とは異なり、光学配置および処理を改良することで、「断層」すなわちサンプルの深さ方向の画像を生成するトモグラフィ（断層）の全フィールド干渉顕微鏡を提供するということです。」としている。ところが、上記主張においては、どのような「光学配置および処理を改良」をしたことによって、本願発明が「「断層」すなわちサンプルの深さ方向の画像を生成するトモグラフィ（断層）の全フィールド干渉顕微鏡を提供する」ことができるようになったのかについては何も言及していない。そして、それは、明細書の発明の詳細な説明においても記載されていない。
　したがって、「１　当審が通知した拒絶の理由」の（２）における「本件発明は、上記（１）の【０００４】段落に記載の「この技術」と何が違うために適用ができるようになったのかが不明であり、本発明の特徴を把握できない」から本願は特許法第３６条第６項第１号及び第４項に違反するという拒絶理由を解消していない。
　すなわち、本願発明のように、高解像度が要求される場合には、マイケルソン顕微鏡、ミロー顕微鏡及びリンニック顕微鏡においては、参照鏡を発振させることが事実上不可能であり断層画像を生成することができないことを前提として、どのよな改良によって、断層画像を生成すること（実施をすること）ができるようになったかの開示がないのであるから、発明の詳細な説明（及び上記の請求人の主張）では、発明の実施をすることができないままであり、本願の発明の詳細な説明の記載は、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるということはできない。
　また、特許を受けようとする発明が発明の詳細な説明によってサポートされているということもできず、特許を受けようとする発明が発明の詳細な説明に記載された発明であるということはできない。
　したがって、本願は、特許法第３６条第６項第１号及び第４項の規定に違反するから、拒絶すべきものである。
　
　
第５　むすび
　以上より、本願の請求項１に係る発明は、引用例１に記載された発明、引用例２に記載された発明及び周知の技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。。
　また、本願の特許を受けようとする発明は、発明の詳細な説明に記載されたものではなく、また、本願の発明の詳細な説明は当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるということはできないから、本願は、特許法第３６条第６項第１号及び第４項の規定に違反し、拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。