【事件の表示】
　特願２００４−５４１６６２「後面波長ロッカーの同調および組立方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　４月１５日国際公開、ＷＯ２００４／０３２２９５、平成１８年　１月１９日国内公表、特表２００６−５０２５７１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
ある。
　本願は、２００３年（平成１５年）１０月２日（パリ条約による優先権主張外国庁受理　２００２年１０月３日、アメリカ合衆国）を国際出願日とする特許出願であって、平成１７年８月１０日付け及び平成２０年１１月６日付けで手続補正がなされたが、平成２１年９月３０日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２２年１月２９日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、これと同時に手続補正がなされたものである
　
２　本願発明
　本願の請求項に係る発明は、平成２２年１月２９日になされた手続補正による補正後の明細書、特許請求の範囲及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１ないし２３に記載された事項によって特定されるものと認められるところ、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、次のとおりである。
　
「　波長ロッカーであって、
　モニタされるビームを検出する第１検出器と、
　前記第１検出器からオフセットした、前記モニタされるビームを検出する第２検出器と、
　レンズと、
　前記レンズを通過したビームをフィルタリングして前記第１検出器に供給するフィルタと、
　前記モニタされるビームの光軸に対して、ｘおよびｙ方向の少なくとも一方に前記レンズを平行移動させて、前記フィルタおよび前記第１検出器に対するビームの入射角を変更することにより、前記フィルタのピーク伝送周波数を、前記第１検出器の出力がピークまたはトラフとなる周波数からシフトさせるレンズ取付け台とを備え、
　前記レンズ取付け台がフレクシャである波長ロッカー。」
　
３　引用刊行物に記載された発明
（１）引用刊行物１及び引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先日前に頒布された刊行物である欧州特許出願公開第１１５８６３０号明細書（以下「引用刊行物１」という。）には、図とともに以下の事項が記載されている（なお、当審による訳文をかっこ書きで付した。）。
　
　ア　「[0001] The invention is based on a method of adjusting the wavelength of lasers and a wavelength stabilization monitor for regulating the wavelength of a laser, comprising an optical input, a splitter, a wavelength filter in one branch, and two photodetectors.」
（[0001]　本発明は、レーザの波長を調整する方法、および光入力と、スプリッタと、１つのブランチの波長フィルタと、２つの光検出器とを備える、レーザの波長を調節する波長安定化モニタに基づく。）
　
　イ　「[0004] Exemplary embodiments of the invention are illustrated in the drawing andexplained in detail in the following description. ・・・
[0005] A wavelength stabilization monitor 1 is schematically illustrated in Figure 1. A beam splitter 3 is connected to an optical input 2. The beam splitter 3 splits the light into two branches. The first output of the beam splitter 3 leads directly to a photodiode P1. The second optical output of the beam splitter 3 leads to the input of a wavelength filter 4, whose optical output leads to a photodiode P2. The photodiodes ・・・ supply photocurrents. The photodiode P1 supplies a constant reference current I1 relative to changes in the wavelength of the laser whose light is applied to the optical input 2. As a result of the wavelength filter, the photo diode P2 supplies a filter function I2 in dependence upon the wavelength. The two photocurrents are analyzed in respect of their difference or ratio and supply a function illustrated in Figure 2. The intersection point of these functions is set at the desired wavelength via the choice of filter and/or via the reference current. It is indicated in Figure 2 that the wavelength of the laser can be adjusted by heating or cooling of the laser, whereby an intersection point not yet at the exact wavelength can be shifted. The reference current I1 must supply a value such that the error signal becomes zero at the desired wavelength to be set. The error signal is then used to operate the laser temperature control stage. If the wavelength drifts towards small wavelengths, the control circuit compensates for this by heating the laser. If the wavelength drifts towards a larger wavelength, the control circuit cools the laser. When a wavelength monitor of this kind is used for wavelength division multiplex transmission systems, it is effective to select wavelength filters with a periodic characteristic. It is known to user Fabry-Perot filters here. In the simplest case one uses, for example, Air-Gap Fabry-Perot etalon as dispersive element. The use of a Fabry-Perot etalon allows to adjust the period of the interferometer so it corresponds to the wavelength pattern for the wavelength division multiplex. The error curve in the case of the use of such a periodic filter is illustrated in Figure 3. Here the error signal of a periodic wavelength filter is plotted over the wavelength. It can be seen that, due to the periodic function, the value zero always occurs at the intersection point between reference signal and filter function, whereby the desired wavelengths can be set in the spacing of the free spectral region of the function. In this way it is possible to set a laser at different wavelengths. This reduces the number of different lasers to be used by an operator of a wavelength division multiplex transmission system. In accordance with the stipulations of the International Telecommunication Union (ITU), the accuracy with which the wavelengths are set here must amount to one tenth of the channel spacing between the wavelengths. Thus high accuracy levels are to be expected with channel spacings of 200 GHz. However, WDM systems with substantially smaller channel spacings are planned for the future, which will increase the demands on the wavelength monitors and control circuits. If one refers to the method of wavelength stabilization illustrated in Figure 3, it will be seen that when the channel spacing between the individual wavelengths is reduced, it is necessary to adapt the period of the Fabry-Perot etalon. 」
（[0004]　本発明の例示的な実施形態を図面に示し、以下の記述で詳細に説明する。・・・
[0005]　
波長安定化モニタ１を概略的に図１に示す。ビームスプリッタ３が光入力２に接続されている。ビームスプリッタ３は、光を２つのブランチに分割する。ビームスプリッタ３の第１出力は、直接フォトダイオードＰ１に至る。ビームスプリッタ３の第２光出力は、波長フィルタ４の入力に至り、その光出力が、フォトダイオードＰ２に至る。フォトダイオードは光電流を供給する。
フォトダイオードＰ１は、光が光入力２に供給されるレーザ波長の変化に対して、一定な基準電流Ｉ
１
を供給する。波長フィルタの結果として、フォトダイオードＰ２は、波長に依存するフィルタ関数Ｉ
２
を供給する。２つの光電流をその差分または割合について分析し、図２に示す関数を提供する。これらの関数の交点は、フィルタの選択および／または基準電流により、所望の波長に設定される
図２に、レーザの波長は、レーザを加熱または冷却することによって調整することができ、それにより、まだ正確な波長にない交点を移動することができることが示されている。
この種の波長モニタを波長分割多重伝送システムに使用する場合、周期的な特性を有する波長フィルタを選択することが効果的である
図３に、そのような周期的なフィルタを使用する場合のエラー曲線を示す。
周期関数のために、基準信号とフィルタ関数の交点で、常に値が「ゼロ」となり、それにより、関数の自由スペクトル領域の間隔で、所望の波長を設定することができることがわかる。このようにして、レーザを異なる波長に設定することが可能である。
図３に示す波長安定化の方法を参照する場合、個々の波長間のチャネル間隔が低減するとき、ファブリ−ペローエタロンの周期を適合することが必要であることがわかる
　
　ウ　「[0006] Figure 4 shows an etalon with two plates 5 and a air gap of length L between them. The optical axis 6 is perpendicular to the plates 5. To avoid back reflection into the lasers cavity the incident beam 4 has an angle θ between the perpendicular axis and the beam 4.
[0007] The angular dependence of the transmitted wavelength λm at maximum transmission in a etalon described in Figure 4 is given by: 
[0008] This means that at λm =1.55 μm and θ = 2°the angular dependence of the wavelength is -1nm/°.
Tto achieve the needed precision on the central wavelength, tolerances on the angular placement of the beam are very tight. For example, at λm = 1.55 μm and θ = 2°, a ± 30 pm precision of the central wavelength needs a precision of the angle of incidence better than ± 0.03°. 」
（[0006]　図４は、２つのプレート５とその間の長さＬのエアギャップとを有するエタロンを示す。光学軸６は、プレート５に垂直である。レーザ空洞への後方反射を回避するために、入射ビーム４１は、垂直軸とビーム４１の間で、角度θを有する。
[0007]　図４で記述した
エタロンの最大透過率における透過波長λ
ｍ
の角度依存性は、次式によって与えられる
・・・
[0008]　これは、λｍ＝１．５５μｍおよびθ＝２°で、波長の角度依存性が、−１ｎｍ／°であることを意味する。
中心波長について必要な精度を達成するために、ビームの角度配置に関する許容度は非常に狭い
　
　エ　「[0009] The easiest way to apply the inventional idea is to realize 2 building blocks. Each of them containing any number of the previously enumerated elements that are passively fixed to the building blocks (using brazing or gluing for example). The lens and the laser diode have to be on separated building blocks to allow the dynamic adjustment.
It should be noticed that the drawings only show displacements along the x-axis. The same effect could be obtained by displacements along the y-axis. The z-axis is used to adjust the collimation of the lens.
[0010] One possibility to modify the angle of incidence of a beam is illustrated in Fig. 5. A collimating lens 8 is installed in the emission path of the laser diode 7. The distance between the focal point of the lens and the laser diode is the focal length f. The resulting beam is parallel for laser and lens are aligned. In Fig. 5b) the collimating lens 8 is shifted perpendicular to the optical axis by a distance d. This results in a angular deviation of φ.
[0011] Figure 6 show a first embodiment of the invention. The wavelength monitor is mounted on two different building blocks 12 and 13. The building block 12 comprises the laser diode 7, the dispersive element 9 and the two photodiodes the wavelength monitoring photodiode 10 and the power monitoring photodiode 11. The building block 13 comprises the collimating lens 8.
[0012] In the drawings the beam separation is made by spatial splitting. Other means to do the separation (cube beamsplitter, separating plates...) could be used as well. The type of dispersive element is not precised as well since it can be Fabry-Perot etalon or interferential filter. In fact, all wavelength filters could fit as long as they have sufficient spectral sensitivity to the angle of incidence of the input beam.
[0013] The Fig.6b shows the variation made by moving the block 12 respectively to the block 13.」
（[0009]　
発明の概念を適用するもっとも簡単な方式は、２つの構成ブロックを実現することである
レンズとレーザダイオードは、動的な調整が可能であるように、別々の構成ブロック上になければならない
図面は、ｘ軸に沿った変位のみを示していることに留意すべきである。同じ効果は、ｙ軸に沿った変位によって得ることができる。
[0010]　
ビームの入射角を変更する１つの可能性を図５に示す。コリメートレンズ８が、レーザダイオード７の出射経路に据え付けられている
結果的に得られるビームはレーザに平行であり、レンズは位置合わせされる。図５（ｂ）では、コリメートレンズ８が、光学軸に対して直角に距離ｄだけ移動されている。これは、角偏差φをもたらす
[0011]　図６は、本発明の第１実施形態を示す。波長モニタは、２つの異なる構成ブロック１２と１３の上に実装されている。構成ブロック１２は、レーザダイオード７と、分散要素９と、波長モニタフォトダイオード１０およびパワーモニタフォトダイオード１１の２つのフォトダイオードとを備える。構成ブロック１３は、コリメートレンズ８を備える。
[0012]　図面では、ビームの分離は、空間分割によって行われる。分割を実施する他の手段（キューブビームスプリッタ、分離プレートなど）を使用することもできる。分散要素のタイプについても、ファブリ−ペローエタロンまたは干渉フィルタとすることができるので、正確に定めていない。実際、入射ビームの入射角に対して、十分なスペクトル感度を有する限り、全ての波長フィルタを装備することができる。
[0013]　図６（ｂ）は、ブロック１３に対しブロック１２を移動することによって作成された変形形態を示す。）
　
　オ　「[0017] The method used to adjust the wavelength monitor in the right position starts with two building blocks, at least on of them movable fixed on a base plate. The laser diode is connected to the driver circuit to run. The laser beam is analyzed by the photodiodes and the connected electronic circuit. ・・・ This measurements show that is necessary to move the building blocks towards another. The building blocks are carefully moved up to a position where the photodiodes' signals show a perfect zero transit signal at the desired wavelength. Then the building blocks are fixed on the base plate or to each other. The fixation can be done by laser welding for example using a YAG-laser or any other fixation method.
[0018] The building blocks described above can be made by any material used for optoelectronic components. It can be for example metallic materials (as Kovar, Invar ...), silicon, glass, ceramics ...」
（[0017]　
適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法は、２つの構成ブロックで開始する
その少なくとも１つは、移動可能であるようにベースプレート上に取り付けられている
フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置まで、構成ブロックを注意深く移動する。次いで、構成ブロックをベースプレート上、または互いに対して固定する
[0018]　上述した構成ブロックは、光電子構成要素に使用する任意の材料によって作成することができる。例えば、金属材料（コバール、インバールなど）、シリコン、ガラス、セラミックなどとすることができる。）
　
　カ　「Claims
1. A wavelength stabilization monitor (1): 
  with a laser source (7), two photodiodes (10, 11) in different light paths, and a wavelength filter (9) 
  with a collimating element (8) where at least the collimating element (8) is at least once movable be moved in relation to the laser source (7). 
2. A wavelength stabilization monitor (1) according to claim 1, where the laser source (7), the two photodiodes (10, 11) and
and a wavelength filter (9) are fixed on a first building block (12) and a collimating element (8) on a second building block (13).
・・・
4. A wavelength stabilization monitor according to claim 1, where the building blocks (11,12,13,14) are moved and fixed on a base plate or to eachother.
5. A method for adjusting the working wavelength with a wavelength stabilization monitor with a laser source (7), two photodiodes (10, 11) indifferent light paths, 
  and a wavelength filter (9)
  with a collimating element (8) where at least the collimating element (8) can be moved in relation to the laser source (7) for obtaining a desired wavelength and the single circuits (7, 8, 9, 10,11) are fixed in the desired position.
6. A method according to claim 5 where the single circuit are mounted on building blocks and the block are moved toward another.
7. A method according to claim 6 where the building blocks are moved along a x- or y-axis.
8. A method according to claim 5 where the building blocks are fixed in a position where the desired wavelength is adjusted.」
（特許請求の範囲
１．
レーザ源（７）と、異なる光経路にある２つのフォトダイオード（１０、１１）と、波長フィルタ（９）と、コリメート要素（８）とを有し、少なくともコリメート要素（８）が、レーザ源（７）に対して少なくとも１回移動することができる、波長安定化モニタ（１）
２．
レーザ源（７）と、２つのフォトダイオード（１０、１１）と、波長フィルタ（９）とが第１構成ブロック（１２）上に取り付けられており、コリメート要素（８）が第２構成ブロック（１３）上に取り付けられている
・・・
４．
構成ブロック（１１、１２、１３、１４）は、ベースプレート上で、または互いに、移動されかつ固定される
５．レーザ源（７）と、異なる光経路にある２つのフォトダイオード（１０、１１）と、波長フィルタ（９）と、コリメート要素（８）とを有し、少なくともコリメート要素（８）が、所望の波長を得るために、レーザ源（７）に対して移動することができ、単一回路（７、８、９、１０、１１）が所望の位置に固定される、波長安定化モニタで動作波長を調整する方法。
６．単一回路が、複数の構成ブロック上に実装されており、一つのブロックが他方に向かって移動される、請求項５に記載の方法。
７．
構成ブロックが、ｘ軸またはｙ軸に沿って移動する
８．
構成ブロックが、所望の波長が調整される位置に固定される
　
　キ　上記イを踏まえて図２及び図３を見ると、波長に依存するフィルタ関数Ｉ２において、設定される所望の波長でエラー信号がゼロになる点は、単調増加する関数の中心付近であり（図２）、周期的なフィルタを使用する場合のエラー曲線において、所望の波長として設定される複数のＩＴＵ波長においてエラー信号がゼロになる点は、周期的なエラー曲線の各頂部と各谷部の中間位置であって、エラー信号が単調変化する位置である(図３)、ことが見て取れる。
　
　ク　上記イによれば、特許請求の範囲に記載された波長安定化モニタの実施形態として、レーザ（レーザ源）の波長を調整するための波長安定化モニタは、ビームスプリッタ３が光入力２に接続されて供給されるレーザ（レーザ源）の光を２つのブランチに分割し、２つのフォトダイオード（１０、１１）は、ビームスプリッタ３の第１出力が直接至るフォトダイオードＰ１と、ビームスプリッタ３の第２光出力が波長フィルタ４を介して至るフォトダイオードＰ２とからなり、フォトダイオードＰ１は、光が光入力２に供給されるレーザ波長の変化に対して、一定な基準電流Ｉ１を供給し、波長フィルタの結果として、フォトダイオードＰ２は、波長に依存するフィルタ関数Ｉ２を供給するよう構成されるものであることが認められる。
　
　ケ　上記ウないしオによれば、特許請求の範囲に記載された波長安定化モニタの実施形態において、コリメート要素であるコリメートレンズ８は、レーザ源であるレーザダイオード７の出射経路に据え付けられており、コリメートレンズは、動的な調整が可能であるようにレーザダイオードとは別の構成ブロック（第２構成ブロック）上に取り付けられ、光学軸に対して直角に距離ｄだけ移動されることによって角偏差φがもたらされるよう構成されるものであり、
　レーザ源の波長を所望の波長に設定できるよう適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法において、フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置まで、前記構成ブロック（第２構成ブロック）はｘ軸またはｙ軸に沿って移動され、次いで、該構成ブロックはベースプレート上、または互いに対して固定される、ことが認められる。
　そして、上記エを踏まえて図５ないし６を見ると、コリメートレンズが光学軸に対して直角に距離ｄだけ移動されることによって角偏差φがもたらされると、波長フィルタ９及びフォトダイオード１０に対する入射角がφだけ変化されることが見て取れる。
　上記摘記事項を総合すると、引用刊行物１には、以下の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 
　
「　レーザ源と、異なる光経路にある２つのフォトダイオードと、波長フィルタと、コリメート要素とを有し、
　少なくともコリメート要素が、レーザ源に対して少なくとも１回移動することができる、波長安定化モニタにおいて、
　レーザ源と、２つのフォトダイオードと、波長フィルタとが第１構成ブロック上に取り付けられており、コリメート要素が第２構成ブロック上に取り付けられており、
　構成ブロックは、ベースプレート上で、または互いに、移動されかつ固定される、波長安定化モニタであって、
　ビームスプリッタ３が光入力２に接続されて供給されるレーザ（レーザ源）の光を２つのブランチに分割し、２つのフォトダイオード（１０、１１）は、ビームスプリッタ３の第１出力が直接至るフォトダイオードＰ１と、ビームスプリッタ３の第２光出力が波長フィルタ４を介して至るフォトダイオードＰ２とからなり、フォトダイオードＰ１は、光が光入力２に供給されるレーザ波長の変化に対して、一定な基準電流Ｉ１を供給し、波長フィルタの結果として、フォトダイオードＰ２は、波長に依存するフィルタ関数Ｉ２を供給するよう構成され、
　コリメート要素であるコリメートレンズ８は、レーザ源であるレーザダイオード７の出射経路に据え付けられており、コリメートレンズは、動的な調整が可能であるようにレーザダイオードとは別の第２構成ブロック上に取り付けられ、光学軸に対して直角に距離ｄだけ移動されることによって角偏差φがもたらされ、これによって波長フィルタ９及びフォトダイオード１０に対する入射角がφだけ変化されるよう構成されるものであり、
　レーザ源の波長を所望の波長に設定できるよう適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法において、フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置まで、前記第２構成ブロックはｘ軸またはｙ軸に沿って移動され、次いで、該第２構成ブロックはベースプレート上、または互いに対して固定される、
　波長安定化モニタ。」
　
（２）引用刊行物２
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先日前に頒布された刊行物である米国特許第６２０７９５０号明細書（以下「引用刊行物２」という。）には、図とともに以下の事項が記載されている（なお、当審による訳文をかっこ書きで付した。）。
　
　ア　「  The present invention relates generally to optoelectronic assemblies having optical components and methods for making the same; more particularly, the present invention relates to an assembly having optical components mounted on a quasi-planar substrate and a flexure and methods for making the same.」（第１欄６〜１１行）
（本発明は一般に光学構成部品を有するオプトエレクトロニクス・アセンブリおよびそれを作成する方法に関する。より詳細には、本発明は、ほぼ平坦な基板やフレクシャに載置した光学構成部品を有するアセンブリおよびそれを製作する方法に関する。）
　
　イ　「  In high performance opto-electronic packages, critical optical elements require more precise placement than can be obtained with the combination of platform height control and two-dimensional pick and place. This is the case of single mode fibers, which have to be aligned within less than a micron precision to achieve high optical coupling efficiency. In one embodiment, such components are mounted using a miniature flexure which allows for a small amount of vertical adjustment. In one embodiment, the flexure is made of thin spring steel that has been etched or stamped, then bent in a press. The flexure may comprise of two or more legs which rest on the substrate or on each side of the frame. In one embodiment, the legs are joined by a bridge that supports or clamps the optical element. Two sections of material with spring property join the legs to the bridge. 
  The flexure may be designed so that in its natural (non-flexed) state, the optical axis of the optical component attached to the bridge rests slightly above the optical plane of the package. Final adjustment of the height is obtained by applying pressure to the flexure, therefore lowering the bridge height. Dragging the flexure in the plane parallel to the plane of the substrate may be preferred to correct the lateral position. When adequate alignment is reached, the legs are permanently attached to the frame or substrate. The attachment may be by, for example, laser welding, soldering or adhesive bonding. In another refinement of the flexure design, the flexure has more than two legs. The first pair of legs is attached to the frame after coarse optical alignment. The flexure is then finely realigned, using the residual flexibility left after the two first legs are attached. When the optimum position is reached, the remaining legs are attached.」（第３欄５７行〜第４欄２１行）
（　
高性能のオプトエレクトロニクス・パッケージでは、重要な光学要素は、プラットフォームの高さ制御と２次元ピック・アンド・プレイスの組合わせで得ることができる精度よりも高精度の配置が必要である
そのような構成部品は、垂直方向のわずかな調整を見込んでいる小型フレクシャを使用して載置される
  フレクシャは、自然な（湾曲していない）状態で、ブリッジに取り付けられている光学構成部品の光学軸が、わずかにパッケージの光学平面の上にあるように設計することが可能である。
高さの最終調整は、フレクシャに圧力を加え、したがって、ブリッジの高さを低くすることによって得られる。基板の面に平行な平面内でフレクシャをドラグすることは、側方方向の位置を修正するために好ましい。適切な位置合わせに達したとき、脚部は、永続的にフレームまたは基板に取り付けられている。取付けは、例えば、レーザ溶接、はんだ付け、または接着結合によることが可能である。
　
　ウ　「  FIG. 1 shows one embodiment of an optoelectronic assembly, package 10, with frame 32 and flexure 24. Assembly comprises a substrate 12 with a positioning floor 14. In one embodiment, positioning floor 14 is substantially planar, and substrate 12 comprises an electrically isolating material with a low coefficient of thermal expansion, such as alumina or beryllium oxide. In one embodiment, raised platform 20 is created by a submount attached to positioning floor 14. 
  Optical elements, or components, are mounted on positioning floor 14 and platform 20. In one embodiment, a lens 16 is mounted on substrate 12, and an edge emitting optoelectronic element 18, such as, for example, a laser diode, is mounted on platform 20. Other optical components may be used. 
  An optical element 22 is attached to on flexure 24, by, for example, soldering, brazing or welding. In one embodiment, flexure 24 comprises two legs 26 and 27, a bridge 30, and two spring regions 28 and 29 at the junction of legs 26 and 27 and bridge 36. In one embodiment, element 22 is a single mode optical fiber, but it may be any element that requires optical alignment with other optical elements.」（第５欄１６〜３６行）
（　図１はフレーム３２とフレクシャ２４を有する、オプトエレクトロニクス・アセンブリ、すなわちパッケージ１０の一実施形態を示す。アセンブリは、位置決めフロア１４を有する基板１２を備える。一実施形態では、位置決めフロア１４はほぼ平面であり、基板１２は、アルミナまたはベリリウム酸化物など、熱膨張率の係数が小さい電気的に絶縁性の材料からなる。一実施形態では、隆起プラットフォーム２０が位置決めフロア１４に取り付けられているサブマウントによって形成されている。
　光学要素または構成部品は、位置決めフロア１４とプラットフォーム２０の上に載置されている。一実施形態では、レンズ１６が基板１２の上に載置されており、レーザ・ダイオードなどの縁部発光オプトエレクトロニクス要素１８は、プラットフォーム２０の上に載置されている。他の光学構成部品を使用することが可能である。
　
光学要素２２が、はんだ付け、ろう付け、または溶接などによって、フレクシャ２４に取り付けられている
一実施形態では、要素２２は、単一モード光ファイバであるが、他の光学要素との光学的位置合わせを必要とする任意の要素とすることが可能である
　
　エ　「I claim:
1. An optoelectronic package comprising: 
a substrate having a floor; 
a first optical element coupled to the substrate; 
a second optical element; 
a flexure coupled to the second optical element and the substrate to maintain the second optical element in optical alignment with the first optical element, wherein the flexure comprises: 
at least two legs; 
a bridge; 
a pair of spring regions coupling the bridge to the at least two legs.」（第９欄２０〜３３行）
（特許請求の範囲：
１．フロアを有する基板と、
  基板に結合された第１光学要素と、
  第２光学要素と、
  
第２光学要素を第１の光学要素と光学的に位置合わせして維持するために第２光学要素および基板に結合されたフレクシャ
　前記フレクシャが、
　少なくとも２つの脚部と、
　ブリッジと、
　前記少なくとも２つの脚部にブリッジを結合させる１対のスプリング領域とを備えた、
　オプトエレクトロニクス・パッケージ。）
　
４　対比 
　本願発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「波長安定化モニタ」は、本願発明の「波長ロッカー」に相当する。
　
（２）引用発明は、「異なる光経路にある２つのフォトダイオード」を有し、「ビームスプリッタ３が光入力２に接続されて供給されるレーザ（レーザ源）の光を２つのブランチに分割し」、前記「２つのフォトダイオード」は、「ビームスプリッタ３の第１出力が直接至るフォトダイオードＰ１と、ビームスプリッタ３の第２光出力が波長フィルタ４を介して至るフォトダイオードＰ２とからな」るから、
　引用発明の「フォトダイオードＰ２」及び「フォトダイオードＰ１」は、それぞれ、本願発明の「（モニタされるビームを検出する）第１検出器」及び「（前記第１検出器からオフセットした、前記モニタされるビームを検出する）第２検出器」に相当し、
　引用発明の「波長フィルタ」は、本願発明の「（前記レンズを通過したビームをフィルタリングして前記第１検出器に供給する）フィルタ」に相当する。
　
（３）引用発明の「コリメートレンズ（コリメート要素）」は、本願発明の「レンズ」に相当する。
　
（４）引用発明の「第２構成ブロック」は、その上に「コリメートレンズ（要素）」が「取り付けられ」ているものであるから、本願発明の「レンズ取付け台」に相当する。
　そして、引用発明において、「コリメートレンズは、動的な調整が可能であるようにレーザダイオードとは別の第２構成ブロック上に取り付けられ、光学軸に対して直角に距離ｄだけ移動されることによって角偏差φがもたらされ、これによって波長フィルタ９及びフォトダイオード１０に対する入射角がφだけ変化される」ものであり、「レーザ源の波長を所望の波長に設定できるよう適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法において、フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置まで、前記第２構成ブロックはｘ軸またはｙ軸に沿って移動され、次いで、該第２構成ブロックはベースプレート上、または互いに対して固定される」から、
　引用発明の「第２構成ブロック」は、本願発明の「レンズ取付け台」の「前記モニタされるビームの光軸に対して、ｘおよびｙ方向の少なくとも一方に前記レンズを平行移動させて、前記フィルタおよび前記第１検出器に対するビームの入射角を変更する」との特定事項を備える。
　そして、上記３（１）キによれば、引用発明の「レーザ源の波長を所望の波長に設定できるよう適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法」における「フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置」は、「所望の波長として設定される複数のＩＴＵ波長においてエラー信号がゼロになる点は、周期的なエラー曲線の各頂部と各谷部の中間位置であって、エラー信号が単調変化する位置である」から、引用発明における上記の「適切な位置で波長モニタを調整するために使用する方法において」、「フォトダイオードの信号が所望の波長で完全なゼロ遷移信号を示す位置まで、前記第２構成ブロックはｘ軸またはｙ軸に沿って移動され」ることは、本願発明の「前記第１検出器の出力がピークまたはトラフとなる周波数からシフトさせる」ことに、一致する。
　したがって、引用発明は、本願発明の「前記モニタされるビームの光軸に対して、ｘおよびｙ方向の少なくとも一方に前記レンズを平行移動させて、前記フィルタおよび前記第１検出器に対するビームの入射角を変更することにより、前記フィルタのピーク伝送周波数を、前記第１検出器の出力がピークまたはトラフとなる周波数からシフトさせるレンズ取付け台とを備え」との特定事項を備える。
　
　以上によると、本願発明と引用発明とは、
「　波長ロッカーであって、
　モニタされるビームを検出する第１検出器と、
　前記第１検出器からオフセットした、前記モニタされるビームを検出する第２検出器と、
　レンズと、
　前記レンズを通過したビームをフィルタリングして前記第１検出器に供給するフィルタと、
　前記モニタされるビームの光軸に対して、ｘおよびｙ方向の少なくとも一方に前記レンズを平行移動させて、前記フィルタおよび前記第１検出器に対するビームの入射角を変更することにより、前記フィルタのピーク伝送周波数を、前記第１検出器の出力がピークまたはトラフとなる周波数からシフトさせるレンズ取付け台とを備える波長ロッカー。」
である点で一致し、次の点で相違する。
　
［相違点］
　本願発明は、「前記レンズ取付け台がフレクシャである」とされているのに対して、引用発明は、そのような特定を含んでいない点。
　
５　判断
　上記相違点について検討する。
　
　引用刊行物２には、上記３（２）に示したとおりの事項が記載され、高精度の配置が必要なオプトエレクトロニクス・パッケージにおいて、光学要素を他の光学要素と光学的に位置合わせして維持するために、高さ及び側方方向の位置調整が可能であり、適切な位置合わせに達したとき、その脚部を永続的にフレームまたは基板に取り付けることが可能なフレクシャを用いる技術が開示され、該技術は、他の光学要素との光学的位置合わせを必要とする任意の光学要素に用いられることが記載されている。
　したがって、引用発明の波長安定化モニタにおいて、適切な位置で波長モニタを調整するために、コリメートレンズを適切な位置に移動し固定するための第２構成ブロックとしてフレクシャを用い、相違点に係る本願発明の特定事項とすることは、当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願発明において、引用発明、並びに引用刊行物１及び２に記載された事項から当業者が予測し得る域を超えるほどの格別顕著な効果が奏されるものとは認められない。
　
６　むすび　
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物１及び２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができない。
　
　よって、結論のとおり審決する。