【事件の表示】
　特願２００６−５３９３９４「光記録媒体の表面上の耐汚染レベルの評価方法および装置並びに光記録媒体」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　５月２６日国際公開、ＷＯ２００５／０４７９３６、平成１９年１１月２９日国内公表、特表２００７−５３５０８１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は、平成１６年１１月１２日（優先権主張　平成１５年１１月１４日　大韓民国）を国際出願日とする国際特許出願であって、平成２０年５月１日付けで拒絶の理由が通知され、それに対して平成２０年９月９日付けで手続補正がされたが、平成２１年１月２６日付けで拒絶査定された。
　これに対し、平成２１年４月３０日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同日付けで手続補正がされた。
　そして、平成２２年１０月１９日付けで特許法第１６４条第３項による報告の内容を利用した審尋がなされたが、回答書は提出されなかったものである。
　
第２　平成２１年４月３０日付けの手続の補正についての却下の決定
　
〔補正却下の決定の結論〕
　平成２１年４月３０日付けの手続の補正を却下する。
　
〔理　由〕
１．本件補正
　平成２１年４月３０日付けの手続の補正（以下、「本件補正」という。）は、特許請求の範囲について、本件補正前に、
「　　【請求項１】
　光記録媒体上の耐汚染レベルを評価する方法において、
　人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、
　前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するステップと、
　前記測定されたＳＥＲを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップと
　を備えることを特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項２】
　前記測定されたＳＥＲが前記基準値よりも小さい時に、前記光記録媒体は良好な品質を持っていると判断することを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項３】
　前記基準値は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項４】
　前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項５】
　前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項６】
　前記スタンプは、約１０ｍｍの直径を持つことを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項７】
　前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触することを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項８】
　光記録媒体の表面上の耐汚染レベルを評価する方法において、
　（ａ）人工指紋物質が形成されたスタンプパッド上に所定の圧力でスタンプを接触させ、前記スタンプ上に前記人工指紋物質を付着させるステップと、
　（ｂ）前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するために、前記光記録媒体の表面上に前記人工指紋物質を持つ前記スタンプを接触させるステップと、
　（ｃ）前記人工指紋が形成された位置上のシンボルエラーレート（ＳＥＲ）に従って、前記指紋の感度を決定するステップとを備え、
　前記決定するステップは、前記測定されたＳＥＲを基準値と比較することによって前記感度を有するか否かを判断し、および前記ＳＥＲが前記基準よりも小さい時、前記光記録媒体は良好な品質を持つと判断すること
　を特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項９】
　前記基準は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１０】
　前記ステップ（ｂ）は、前記スタンプを前記表面上に所定の圧力で接触させることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１１】
　前記ステップ（ｂ）において、前記所定の圧力は５００ｇであることを特徴とする請求項１０に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１２】
　過酷な条件または標準条件に応じて、前記ステップ（ａ）から、前記人工スタンプ物質が付着された前記スタンプをダミーへ接触させる回数を制御するステップをさらに備えることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１３】
　前記スタンプが前記過酷な条件である場合、前記スタンプから前記ダミーへの接触回数は０または１であり、前記スタンプが前記標準条件である場合、スタンプからダミーへの接触回数は２から４の間にあることを特徴とする請求項１２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１４】
　前記スタンプが前記過酷な条件である場合、前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時、前記光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するステップを含むことを特徴とする請求項１２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１５】
　前記スタンプが前記標準条件である場合、前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが１．５×１０−３よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するステップを含むことを特徴とする請求項１２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１６】
　前記ダミーは、ポリカーボネートで形成されることを特徴とする請求項１２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１７】
　前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１８】
　前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項１９】
　前記ステップ（ａ）において、前記スタンプは５００ｇの圧力で前記スタンプパッドに接触させることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項２０】
　光記録媒体上の耐汚染レベルの評価装置であって、
　人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するように構成されたスタンプと、
　前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するように構成され、前記測定されたＳＥＲを基準値と比較するように構成され、前記測定されたＳＥＲが前記基準値よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するよう構成された測定ユニットと
　を備えたことを特徴とする耐汚染レベル評価装置。
　　【請求項２１】
　前記基準値は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項２０に記載の耐汚染レベル評価装置。
　　【請求項２２】
　前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項２０に記載の耐汚染レベル評価装置。
　　【請求項２３】
　前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする、請求項２０に記載の耐汚染レベル評価装置。
　　【請求項２４】
　前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触させることを特徴とする請求項２０に記載の耐汚染レベル評価装置。
　　【請求項２５】
　光記録媒体上で人工指紋が形成された領域においてシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するよう構成され、
　前記測定されたＳＥＲを基準値と比較するよう構成され、
　前記測定されたＳＥＲが前記基準値よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するよう構成された測定ユニット
　を備えたことを特徴とする光記録媒体上の耐汚染レベルの評価装置。
　　【請求項２６】
　前記基準値は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項２５に記載の耐汚染レベルの評価装置。
　　【請求項２７】
　前記シンボルエラーレート（ＳＥＲ）は、関連するロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数を前記ＬＤＣブロックの総バイト数で割った値として決定されることを特徴とする請求項２５に記載の耐汚染レベルの評価装置。
　　【請求項２８】
　前記シンボルエラーレート（ＳＥＲ）は、関連するロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数を前記ＬＤＣブロックの総バイト数で割った値として決定されることを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項２９】
　前記シンボルエラーレート（ＳＥＲ）は、関連するロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数を前記ＬＤＣブロックの総バイト数で割った値として決定されることを特徴とする請求項８に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項３０】
　前記シンボルエラーレート（ＳＥＲ）は、関連するロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数を前記ＬＤＣブロックの総バイト数で割った値として決定されることを特徴とする請求項２０に記載の耐汚染レベル評価装置。」
とあったところを、
　
　本件補正後、
「　　【請求項１】
　光記録媒体上の耐汚染レベルを評価する方法において、
　人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、
　前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するステップと、
　前記測定されたＳＥＲを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップと
　を備え、
　
前記測定されたシンボルエラーレートが前記基準値４．２×１０
-3
よりも小さい時、前記記録媒体は良好な品質を持っていると判定され、かつ、
　
前記シンボルエラーレートは、ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数と、前記ＬＤＣブロックのバイト数との比として決定されること
　を特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。
　　【請求項２】
　
前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成される
　　【請求項３】
　
前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成される
　　【請求項４】
　
前記スタンプは、約１０ｍｍの直径を持つ
　　【請求項５】
　
前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触する
　　【請求項６】
　
光記録媒体上の耐汚染レベルの評価装置であって、
　
人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するように構成されたスタンプと、
　
前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するように構成され、前記測定されたＳＥＲを基準値４．２×１０
-3
と比較するように構成され、前記測定されたＳＥＲが前記基準値４．２×１０
-3
よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するよう構成された測定ユニットとを備え、
　
前記シンボルエラーレートは、ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数と、前記ＬＤＣブロックのバイト数との比として決定されることを特徴とする耐汚染レベル評価装置
　　【請求項７】
　
前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項６に記載の耐汚染レベル評価装置
　　【請求項８】
　
前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする、請求項６に記載の耐汚染レベル評価装置
　　【請求項９】
　
前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触させることを特徴とする請求項６に記載の耐汚染レベル評価装置
とするものである。
　
　上記本件補正の内容は、特許請求の範囲について、本件補正前の請求項１、２０に記載されていた発明特定事項である「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」及び「基準値」について、限定を付加し、請求項２および３、８ないし１９、２１、２５ないし３０を削除するとともに、請求項の引用番号を変更するものである。
　したがって、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第１号及び２号に掲げる請求項の削除及び特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
　そこで、本件補正後における特許請求の範囲に記載されている事項により特定される発明が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たすか）否かを、請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）について以下に検討する。
　
　本願補正発明は、本件補正における請求項１に記載されたとおりの
「　　【請求項１】
　光記録媒体上の耐汚染レベルを評価する方法において、
　人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、
　前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するステップと、
　前記測定されたＳＥＲを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップと
　を備え、
　
前記測定されたシンボルエラーレートが前記基準値４．２×１０
-3
よりも小さい時、前記記録媒体は良好な品質を持っていると判定され、かつ、
　
前記シンボルエラーレートは、ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数と、前記ＬＤＣブロックのバイト数との比として決定されること
　を特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。」
であると認める。
　
２．引用例及びその記載事項
　原査定の拒絶の理由で引用された、本願の優先権主張の日前の他の出願であって、その出願後に出願公開された、特願２００３−７４５５３号（特開２００４−２８１０１０号公報、平成１５年３月１８日出願、平成１６年１０月７日公開。以下、「先願明細書」という。）には、図面とともに以下の技術事項が記載されている。（なお、下線は当審により付加したものである。）
　
（ａ）
「　  【請求項３】　
光情報媒体の記録及び／又は再生ビーム入射側表面に、微粒子状物質と前記微粒子状物質を分散可能な分散媒とを含む評価用分散液を一定条件で付着させ、前記表面に評価用分散液滴が付着した状態で、記録及び／又は再生特性としてエラーレートを測定し、測定されたエラーレートが所定値と等しいか又は所定値よりも小さいものを良品と判定する、光情報媒体の評価方法
　
（ｂ）
「　　　【０００１】
    【発明の属する技術分野】
　本発明は、光情報媒体の評価方法に関し、より詳しくは、評価用分散液である新規な
人工指紋液を用いて、媒体表面の良否を判定する簡便な光情報媒体の評価方法に関する
　　　【０００２】
　　【従来の技術】
　再生専用光ディスク、光記録ディスク、光磁気記録ディスク等の光ディスクの表面には、その使用に際して各種汚染物質による汚染や指紋の付着が起こる。これら汚染や指紋の付着は好ましいことではなく、光ディスクの表面に、防汚性の改善、指紋付着性の減少、又は指紋除去性の向上のために適切な表面処理が施されることもある。
　　　【０００３】
　例えば、
光ディスク表面に種々の撥水・撥油処理を施すことが検討されている。そして、表面処理による防汚性の改善効果を確認するために、光ディスク表面に実際に指紋を付着させ、その拭き取り性を目視で評価する手法が用いられることが多い。しかしながら、このような評価手法では、定量性及び再現性に乏しい
　　　【０００４】
　また、
光ディスク表面の撥水性や撥油性が高ければ汚染物質は除去されやすいという仮定のもとに、水や脂肪族炭化水素等の種々の液体の前記処理表面に対する接触角を測定することもしばしば行われる。しかしながら、接触角ないし表面自由エネルギーによる評価は、いわば間接的な評価手法である。従って、撥水・撥油性が高ければ耐汚染性に優れるという上述の仮定の成立する極めて限定された場合にのみ、防汚性の評価手法として妥当に用い得る
　
（ｃ）
「　　　【００８１】
（ディスクサンプル表面への擬似指紋パターンの転写）
　
各ディスクサンプルのハードコート層(8) 又は防汚表面層(9) 表面への人工指紋液成分の転写
　　　【００８２】
付着レベル１：
　Ｎｏ．１のシリコーンゴム栓の小さい方の端面（直径１２ｍｍ）を、＃２４０の研磨紙（前記ＪＩＳ規定のＡＡ２４０研磨紙と同等性能を有する）で一様に研磨したものを擬似指紋転写材として用いた。
擬似指紋転写材の研磨された端面を、上記原版に荷重４．９Ｎで１０秒間押し当てて、人工指紋液成分を転写材の前記端面に移行させた。次いで、ディスクサンプルのハードコート層(8) 又は防汚表面層(9) 表面の中心から半径方向に４０ｍｍ付近のところに、人工指紋液成分が付着された転写材の前記端面を荷重４．９Ｎで１０秒間押し当てて、人工指紋液成分を転写した
　
（ｄ）
「　　　【００８７】
（エラーレートの測定）
　
各ディスクサンプルに記録を行った後、光記録媒体評価装置（パルステック工業製、ＤＤＵ−１０００、波長λ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５）でビットバイビットのエラーレート（ｂＥＲ）を測定した（初期エラーレート）。ディスクサンプルＡの初期エラーレートは０であり、ディスクサンプルの初期エラーレートは１×１０
-7
であった。続いて、各ディスクサンプルの表面に上記付着レベル１〜付着レベル４の各操作で人工指紋液滴を付着させ、人工指紋液滴が付着した状態で、エラーレート（ｂＥＲ）を測定した
　
（ｅ）
「　　　【００９３】
　人工指紋液滴の面積割合の値は、人工指紋液滴が付着した状態でのエラーレートの値と相関性が見られた。このことから、人工指紋液滴の面積割合を測定する代わりに、
人工指紋液滴が付着した状態でのエラーレートを測定し、その値を光ディスクの表面性能の判定に用いることができることが明らかとなった。エラーレート値を判定に用いる場合には、評価対象の光ディスクに要求される性能レベルに応じて、予めエラーレートの閾値を適宜決定しておき、閾値以下の光ディスクを良と判定する。本実施例では、エラーレート閾値を１×１０
-4
として、良否判定を行った例を示した。通常、エラーレートは１×１０
-4
以下であれば実用上問題がない
　　　【００９４】
　以上のように、本実施例によって、人工指紋液滴の面積割合値、又は
記録／再生特性としてのエラーレート値を用いて光ディスクの良否判定を行うことができることが示された。人工指紋液（評価用分散液）の成分や組成、人工指紋液の付着条件、記録／再生特性の所定値などは、評価対象の光ディスクに要求される表面性能レベルに応じて、適宜定められる
　
　上記先願明細書記載事項及び図面を総合勘案すると、先願明細書には、次の発明（以下、「先願発明」という。）が記載されているものと認める。
　
「光情報媒体の記録及び／又は再生ビーム入射側表面に、人工指紋液成分が付着された擬似指紋転写材の端面を押し当てて、人工指紋液成分を転写し、
　人工指紋液滴が付着した状態で、エラーレートを測定し、
　測定されたエラーレートが所定値よりも小さいものを良品と判定する、光情報媒体の表面の評価方法。」
　
３．対比
　そこで、本願補正発明を、先願発明と比較する。
　
　先願発明の「光情報媒体」「人工指紋液成分」「擬似指紋転写材」は、本願補正発明の「光記録媒体」「人工物質」「スタンプ」に相当する。
　すると、先願発明の「光情報媒体の記録及び／又は再生ビーム入射側表面に、人工指紋液成分が付着された擬似指紋転写材の端面を押し当てて、人工指紋液成分を転写」する点は、本願補正発明の「人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップ」に相当する。
　
　先願発明の「エラーレート」と本願補正発明の「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」は、どちらも「エラーレート」である点で共通する。
　また、先願発明の「人工指紋液滴が付着した状態で、エラーレートを測定」する点は、「人工指紋液滴が付着した」領域のエラーレートを測定していることは明らかである。
　すると、先願発明の「人工指紋液滴が付着した状態で、エラーレートを測定」する点は、本願補正発明の「前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するステップ」と、「前記人工指紋の形成された領域におけるエラーレートを測定するステップ」である点で一致する。
　
　先願発明の「所定値」は、本願補正発明の「基準値」に相当するから、先願発明の「測定されたエラーレートが所定値よりも小さいものを良品と判定する」点は、本願補正発明の「前記測定されたＳＥＲを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップ」及び「前記測定されたシンボルエラーレートが前記基準値４．２×１０-3よりも小さい時、前記記録媒体は良好な品質を持っていると判定され」る点と、「前記測定されたエラーレートを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップ」及び「前記測定されたエラーレートが前記基準値よりも小さい時、前記記録媒体は良好な品質を持っていると判定され」る点で一致する。
　
　先願発明の「光情報媒体の表面の評価方法」は、上記摘記事項（ｂ）を参照すると「防汚性の評価手法」でもあるから、本願補正発明の「耐汚染レベルを評価する方法」に相当する。
　
　すると、本願補正発明と、先願発明とは、次の点で一致する。
（一致点）
　光記録媒体上の耐汚染レベルを評価する方法において、
　人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、
　前記人工指紋の形成された領域におけるエラーレートを測定するステップと、
　前記測定されたエラーレートを基準値と比較して前記指紋に対する感度を決定するステップと
　を備え、
　前記測定されたエラーレートが前記基準値よりも小さい時、前記記録媒体は良好な品質を持っていると判定される耐汚染レベルを評価する方法。　
　
　一方で、以下の点で一応相違する。
（一応の相違点）
　本願補正発明は「エラーレート」が「ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数と、前記ＬＤＣブロックのバイト数との比として決定される」「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」であり、基準値が「４．２×１０-3」と特定されているのに対し、先願発明の「エラーレート」、「基準値」は、そのように特定されていない点。
　
４．判断
　一応の相違点について検討する。
　光記録媒体に記録される情報の誤り符号化として、「ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）」を用いる点は、周知技術（例えば、特開２００３−１６８２７７号公報（以下、「周知文献１」という。）の、【００７６】ないし【００８３】の「ＬＤＣ」に関する記載、特開平４−１７７６７３号公報（以下、「周知文献２」という。）の、第２頁左下欄第１９行〜右下欄第６行及び第２図の「ＬＤＣ（ロング・ディスタンス・コード）」に関する記載等を参照されたい。）にすぎない。
　また、エラーレートの表現として「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」で表現する点も、周知技術（周知文献１の【００７９】ないし【００８３】の「バイト誤り率（ＳＥＲ）」に関する記載、周知文献２の第３頁右上欄第１７行〜左下欄第１５行の「シンボル・エラー・レート）」に関する記載、特開２０００−３４８４４６号公報の【００９３】の「シンボルエラーレート」に関する記載等を参照されたい。）にすぎない。
　すると、先願発明の「エラーレート」として、「ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックにおける誤りのあるバイト数と、前記ＬＤＣブロックのバイト数との比として決定される」「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」とすることは、課題解決のための具体化手段における微差にすぎない。
　そして、上記周知文献１の特に【００８３】の「即ち、ＬＤＣサブブロックを構成する符号だけに着目しても、生のバイト誤り率（ＳＥＲ）は４×１０-3以下であれば良い。」という記載を勘案すると、「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」で表現した場合の「基準値」は「４×１０-3」付近の値であり、またその基準値を「４．２×１０-3」と特定する点に新たな効果も認められないから、この点も、課題解決のための具体化手段における微差にすぎない。
　
５．本件補正についてのむすび
　以上のとおり、本願補正発明は、先願発明と実質的に同一であり、しかも、本願補正発明の発明者が先願発明の発明者と同一であるとも、また、本願の出願時に、その出願人が先願の出願人と同一であるとも認められないので、特許法第２９条の２の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　したがって、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項に規定する要件に違反するものであるから、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
　
１．本願発明
　平成２１年４月３０日付けの手続の補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし３０に係る発明は、平成２０年９月９日付け手続補正の特許請求の範囲に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という）は、上記「第２　〔理　由〕１．」に本件補正前の請求項１として掲げたとおりのものである。
　
２．引用例及びその記載事項
　原査定の拒絶の理由で引用された先願明細書及びその記載事項は、前記「第２　〔理　由〕２．」に先願明細書として記載したとおりのものである。
　
３．対比
　本願発明は、「第２　〔理　由〕」で検討した本願補正発明の「シンボルエラーレート（ＳＥＲ）」及び「基準値」についての限定を削除したものに相当する。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、更に他の要件を付加したものに相当する本願補正発明が前記「第２　〔理由〕４．」に記載したとおり、先願発明と実質的に同一であるから、本願発明も、同様の理由により、先願発明と実質的に同一である。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、特許法第２９条の２の規定により特許を受けることができないものであるから、その余の請求項について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。