【手続補正書】
【提出日】平成23年3月15日(2011.3.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送されるイオンガイドと、
使用時に複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って形成されるように、ＡＣまたはＲＦ電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加する手段と、
一動作モードにおいて、第１の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第２の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび／または通って駆動または推進する手段と
を含み、
前記イオンを駆動または推進する手段は、１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくはポテンシャルまたはＤＣ電圧もしくはポテンシャル波形を前記電極のうちの少なくとも１％、５％、１０％、２０％、３０％、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、９５％または１００％に印加する手段を含む質量分析器。
【請求項２】
前記ＡＣまたはＲＦ電圧を前記複数の電極の少なくともいくつかに印加する手段は、複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも１％、５％、１０％、２０％、３０％、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、９５％または１００％に沿って生成されるように構成および適合される、請求項１に記載の質量分析器。
【請求項３】
（ｉ）前記イオンガイドは、セグメント化四重極、六重極もしくは八重極イオンガイドまたは８個よりも多くのセグメント化ロッドセットを含むイオンガイドを含む、
または、
（ｉｉ）前記イオンガイドは、複数のプレート電極を含み、複数のグループの電極が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って配置され、
各グループの電極は、第１の電極および第２の電極を含み、前記第１および第２の電極は、実質的に同じ平面に配置され、かつ前記イオンガイドの中心長手方向軸のいずれか一方の側に配置され、
イオンを前記イオンガイド内に第１の半径方向に閉じ込めるためにＤＣ電圧またはポテンシャルを前記第１および第２の電極に印加する手段をさらに含む、
請求項１または２に記載の質量分析器。
【請求項４】
前記１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくはポテンシャルまたはＤＣ電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さを順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第１の手段をさらに含む、請求項１に記載の質量分析器。
【請求項５】
前記１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくはポテンシャルまたはＤＣポテンシャルもしくは電圧波形が前記電極に印加される速度または率を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第２の手段をさらに含む、請求項１または４に記載の質量分析器。
【請求項６】
前記電極に印加される前記ＡＣまたはＲＦ電圧の振幅を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第３の手段をさらに含む、請求項１〜５のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項７】
前記電極に印加される前記ＲＦまたはＡＣ電圧の周波数を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第４の手段をさらに含む、請求項１〜６のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項８】
前記イオンガイドを通るガスフローを順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された手段をさらに含む、請求項１〜７のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項９】
一動作モードにおいて、イオンが実質的に質量電荷比の逆順で前記質量分析器から出射するように構成される、請求項１〜８のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれかに記載の質量分析器を含む質量分析計であって、
（ａ）（ｉ）エレクトロスプレーイオン化（「ＥＳＩ」）イオン源、（ｉｉ）大気圧光イオン化（「ＡＰＰＩ」）イオン源、（ｉｉｉ）大気圧化学イオン化（「ＡＰＣＩ」）イオン源、（ｉｖ）マトリックス支援レーザ脱離イオン化（「ＭＡＬＤＩ」）イオン源、（ｖ）レーザ脱離イオン化（「ＬＤＩ」）イオン源、（ｖｉ）大気圧イオン化（「ＡＰＩ」）イオン源、（ｖｉｉ）シリコンを用いた脱離イオン化（「ＤＩＯＳ」）イオン源、（ｖｉｉｉ）電子衝突（「ＥＩ」）イオン源、（ｉｘ）化学イオン化（「ＣＩ」）イオン源、（ｘ）電界イオン化（「ＦＩ」）イオン源、（ｘｉ）電界脱離（「ＦＤ」）イオン源、（ｘｉｉ）誘導結合プラズマ（「ＩＣＰ」）イオン源、（ｘｉｉｉ）高速原子衝撃（「ＦＡＢ」）イオン源、（ｘｉｖ）液体二次イオン質量分析（「ＬＳＩＭＳ」）イオン源、（ｘｖ）脱離エレクトロスプレーイオン化（「ＤＥＳＩ」）イオン源、および（ｘｖｉ）ニッケル−６３放射性イオン源からなる群から選択されるイオン源をさらに含む、
および／または、
（ｂ）前記質量分析器の上流および／または下流に配置される１つ以上の質量フィルタをさらに含み、前記１つ以上の質量フィルタは、（ｉ）四重極ロッドセット質量フィルタ、（ｉｉ）飛行時間質量フィルタまたは質量分析器、（ｉｉｉ）ウィーンフィルタ、および（ｉｖ）扇形磁場質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、
および／または、
（ｃ）前記質量分析器の上流および／または下流に配置される１つ以上の第２のイオンガイドまたはイオントラップをさらに含む、
および／または、
（ｄ）（ｉ）衝突誘起解離（「ＣＩＤ」）フラグメンテーションデバイス、（ｉｉ）表面誘起解離（「ＳＩＤ」）フラグメンテーションデバイス、（ｉｉｉ）電子移動解離フラグメンテーションデバイス、（ｉｖ）電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、（ｖ）電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、（ｖｉ）光誘起解離（「ＰＩＤ」）フラグメンテーションデバイス、（ｖｉｉ）レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、（ｖｉｉｉ）赤外線放射誘起解離デバイス、（ｉｘ）紫外線放射誘起解離デバイス、（ｘ）ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、（ｘｉ）インソースフラグメンテーションデバイス、（ｘｉｉ）イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、（ｘｉｉｉ）熱または温度源フラグメンテーションデバイス、（ｘｉｖ）電界誘起フラグメンテーションデバイス、（ｘｖ）磁場誘起フラグメンテーションデバイス、（ｘｖｉ）酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、（ｘｖｉｉ）イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｖｉｉｉ）イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｉｘ）イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｘ）イオン−メタステーブルイオン反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｘｉ）イオン−メタステーブル分子反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｘｉｉ）イオン−メタステーブル原子反応フラグメンテーションデバイス、（ｘｘｉｉｉ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、（ｘｘｉｖ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、（ｘｘｖ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、（ｘｘｖｉ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、（ｘｘｖｉｉ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および（ｘｘｖｉｉｉ）イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含む、
質量分析計。
【請求項１１】
前記質量分析器の下流に配置されたさらなる質量分析器をさらに含み、
前記さらなる質量分析器は、（ｉ）フーリエ変換（「ＦＴ」）質量分析器、（ｉｉ）フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（「ＦＴＩＣＲ」）質量分析器、（ｉｉｉ）飛行時間（「ＴＯＦ」）質量分析器、（ｉｖ）直交加速飛行時間（「ｏａＴＯＦ」）質量分析器、（ｖ）軸方向加速飛行時間質量分析器、（ｖｉ）扇形磁場質量分析計、（ｖｉｉ）ポールまたは３Ｄ四重極質量分析器、（ｖｉｉｉ）２Ｄまたは直線四重極質量分析器、（ｉｘ）ペニングトラップ質量分析器、（ｘ）イオントラップ質量分析器、（ｘｉ）フーリエ変換オービトラップ、（ｘｉｉ）静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、（ｘｉｉｉ）静電フーリエ変換質量分析計、および（ｘｉｖ）四重極ロッドセット質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、請求項１０に記載の質量分析計。
【請求項１２】
前記さらなる分析器の質量電荷比移送ウィンドウを前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器の動作に同期して順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された手段をさらに含む、請求項１１に記載の質量分析計。
【請求項１３】
イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送されるイオンガイドを準備するステップと、
使用時に複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って形成されるように、ＡＣまたはＲＦ電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加するステップと、
一動作モードにおいて、第１の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第２の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび／または通って駆動または推進するステップと
を含み、
前記イオンを駆動または推進するステップは、１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくはポテンシャルまたはＤＣ電圧もしくはポテンシャル波形を前記電極のうちの少なくとも１％、５％、１０％、２０％、３０％、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、９５％または１００％に印加するステップを含む方法。