【事件の表示】
　特願２００２−　　３１９６「搬送システムのスライダ部分の位置を検出する装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年１０月２３日出願公開、特開２００２−３１０６３５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯 
　本願は，平成１４年１月１０日（パリ条約による優先権主張日　平成１３年１月１２日，ドイツ）の特許出願であって，平成２０年５月２１日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年８月２６日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，同日付けで手続補正がなされたものである。さらに，平成２２年２月１８日付けで審尋がなされ，回答書が同年６月２４日付けで請求人より提出されたものである。 
　
　
第２　平成２０年８月２６日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）についての補正却下の決定 
　
 　［補正却下の決定の結論］ 
 　　本件補正を却下する。 
　
 　［理由］ 
１　補正後の請求項１に記載された発明
　本件補正は，特許請求の範囲を補正するものであって，そのうち請求項１についてする補正は，補正前の特許請求の範囲（平成１９年１１月１５日付けで補正されたもの。以下，同様。）の 
「【請求項１】　スライダ部分（３）に加えて定置の部分も有している搬送システムの前記スライダ部分の位置を検出する装置であって，
　長さと地点を有する測定体であって，特定の細かい分解能を持つパターンを有し，前記スライダ部分の一部を構成する測定体（１）と，
　各々が地点を有し，位置座標の位置座標軸に沿って位置する前記定置部分上に設けられている複数の検出器であって，前記測定体の前記パターンを検出し，最大で前記測定体の前記長さに等しい，前記位置座標軸に沿った２つの連続した検出器の間の間隔を定めている複数の検出器（Ｇ）と
　を有する，搬送システムのスライダ部分の位置を検出する装置。」
を，
「【請求項１】　スライダ部分（３）に加えて定置の部分も有している搬送システムの前記スライダ部分の位置を検出する装置であって，
　長さと地点を有する測定体であって，
特定の分解能
　各々が地点を有し，位置座標の位置座標軸に沿って位置する前記定置部分上に設けられている複数の検出器であって，前記測定体の前記パターンを検出し，最大で前記測定体の前記長さに等しい，前記位置座標軸に沿った２つの連続した検出器の間の間隔を定めている複数の検出器（Ｇ）と
　を有し，
　
前記測定体（１）の位置座標軸（Ｘ）の長さＵをもつ区間（Ｉn(n+1)）が存在しており，この区間については，前記測定体（１）の地点（Ｐ）がこの区間の中にある場合には，少なくとも１つの第１の検出器（Ｇn）が第１の出力信号（Ｍ（Ｇn））を生成し，第１の検出器（Ｇn）に続く少なくとも１つの第２の検出器（Ｇn+1）が第２の出力信号（Ｍ（Ｇn+1））を生成する
　搬送システムのスライダ部分の位置を検出する装置。」
と補正するものである。なお，上記において，下線は補正箇所を示す。
　
　上記補正は，拒絶査定において「『細かい』とは何に対して細かいのか，明らかでない。」と指摘されたことに対応して，補正前の「特定の細かい分解能を持つパターン」を「特定の分解能を持つパターン」と補正して，記載を明りょうにするとともに，補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「測定体（１）」，「位置座標軸」および「複数の検出器」について，「前記測定体（１）の位置座標軸（Ｘ）の長さＵをもつ区間（Ｉn(n+1)）が存在しており，この区間については，前記測定体（１）の地点（Ｐ）がこの区間の中にある場合には，少なくとも１つの第１の検出器（Ｇn）が第１の出力信号（Ｍ（Ｇn））を生成し，第１の検出器（Ｇn）に続く少なくとも１つの第２の検出器（Ｇn+1）が第２の出力信号（Ｍ（Ｇn+1））を生成する」との限定を付したものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下，「平成１８年改正前」という。）の特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮および同第４号に規定する明りょうでない記載の釈明を目的とするものに該当する。
　
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下，「補正発明」という。）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下検討する。
　
２　引用刊行物の記載事項
　本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である国際公開９９／５３２６６号（以下，「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。（引用例１の日本語訳を記載する。訳文は，対応日本公報である特表２００２−５１１５７１号公報によるものであり，段落番号も併せて記載したものである。なお，下線は当審にて付与したものである。）
（１−ア）（引用例１の１４頁１〜１２行）
「【特許請求の範囲】
【請求項１】  
前もって定められた経路に沿って移動できる部材の位置を決定する装置において
  
その部材に取り付けられていて磁界を作り出す磁界発生手段と
  
前もって定められた経路に近接して既知位置に配置された磁界トランスデューサ・アレイであって，各トランスデューサは，磁界発生手段が各トランスデューサに接近し，そこを通過し，そこから離れるのに伴ってバイポーラ出力信号を発生すると共に，磁界発生手段の第１の位置に対する出力信号値を発生する磁界トランスデューサ・アレイと
  選択されたトランスデューサの出力信号値に関する比を計算し，その比に選択された補正率を適用することによって磁界発生手段の第１の位置を決定する位置決定手段と，
を具備したことを特徴とする装置
　
（１−イ）（同１頁３〜１３行）
「【発明の詳細な説明】
【０００１】
  発明の背景
  本発明は，
広義には位置検出装置に関し
【０００２】
  アクチュエータあるいはこれと同様のものによって制御される機器の位置を検知したいことはしばしばある。例えば，制御機器産業においては，アクチュエータにより動かされるバルブステムあるいは弁軸を有する弁のような機器を用いて，種々の工業プロセスに関連する液体や気体の流れを制御することが行われる。これらの用途では，所与の時点で，それらの可動バルブステムあるいは弁軸の正確な位置を検知したいことがしばしばある。この位置情報を得ることによって，プロセス及びプロセスの制御をよりよく理解することが可能になる。」
　
（１−ウ）（同５頁２７行〜６頁１１行）
「【００１７】
【発明の実施の形態】
  添付図面において，バルブステムのような可動部材の位置を検出するための装置を全体として符号１０で示す。図１は，磁石１２とその磁力線１５の拡大図を示す。トランスデューサ２２は，直線１７に沿って例えば位置２１に配置されている（図６Ａも参照のこと）。磁石１２は，直線あるいは経路２３に沿って移動する。この実施形態では，磁極は磁石２３の線あるいは経路２３に平行に配向されている。
【００１８】
  トランスデューサ２２は特定の方向，例えば図１のｘ軸，ｙ軸あるいはｚ軸に沿った方向の磁界成分に有感となるように設計することができる。この形態のセンサの一例としては，ｘ軸方向に有感となるよう構成されたホールセンサがある。あるいは，トランスデューサ２２は磁界成分の合成磁界に有感となるよう設計することも可能である。この形態のセンサの一例が，ブリッジ回路構成として接続された磁気抵抗材料，例えばパーマロイ・ストリップをｘｙ平面内に配置し，パーマロイ・ストリップを飽和させるのに十分な強い磁界中で動作させるようにしたトランスデューサである。これらの条件下では，パーマロイ・ストリップの抵抗変化がｘｙ平面内の磁化角の測度，従って磁界の角度の測度になる。磁気抵抗トランスデューサの例としては，本発明の譲受人から入手可能なＨＭＣ１００１，ＨＭＣ１００２，あるいはＨＭＣ１５０１がある。」
　
（１−エ）（同６頁３２行〜７頁１２行）
「【００２２】
  図６Ａは本発明の一実施形態の側面図である。図示の実施形態において，位置検出装置１０は，
バルブステム１４に固着された磁石１２を具備し
バルブステム１４はその縦軸１６に沿って移動可能である
【００２３】
  磁石１２はバルブステム１４が動くのに伴って移動し，磁石１２からの磁界もアレイ２４に沿って移動する。磁石１２は，互いに直交する３本の軸沿いの成分によって表すことができる磁界を供給する。上に述べたように，トランスデューサ２２は，単一方向，例えばｘ軸沿いの方向の磁界成分に対して有感となるように設計するか，あるいは合成方向の磁界成分に対して有感となるよう設計することができる。各トランスデューサ２２は，磁石１２がその近接位置にあるとき磁界データを取得する。」
　
（１−オ）（同７頁２２行〜９頁４行）
「【００２５】
  図７は，図６Ａのセンサモジュール１８のブロック図である。トランスデューサ２２は導体２８によってセンサモジュール１８に接続されている。トランスデューサ２２からの磁界データは直列にでも，並列にでも得ることが可能である。電力消費をできる限り小さくするために，トランスデューサ２２は図示のようにマルチプレクサ８０へ配線して，直列にデータが得られるようにすることができる。また，図７にはアナログ‐ディジタル（ＡＤ）変換器（ＡＤＣ）８２，マイクロプロセッサ８４及びその関連メモリ８６が示されている。マイクロプロセッサ８４は，制御線８８を介してどのトランスデューサ２２をアナログ‐ディジタル変換器８２に接続するかを制御する。より短い時間でデータを得るために，トランスデューサ２２は個別のＡＤ変換器に接続してもよく，その場合各ＡＤ変換器は個々にマイクロプロセッサ８４に接続される。
【００２６】
  マイクロプロセッサ８４は，好ましくは，モトローラ（Ｍｏｔｏｒｏｌａ）６８ＨＣ０５あるいはマイクロチップ（Ｍｉｃｒｏｃｈｉｐ）ＰＩＣ１６Ｃ７１のようななるべく低消費電力で，低性能のプロセッサである。そのプロセッサは，トランスデューサ２２によって供給される適切な出力信号を選択し，比を計算し，適切な補正率を選択して比に加え，かつ前もって定められた経路沿いの磁石の位置を示す信号，すなわちカウントを供給するアルゴリズムを使用するよう適切にプログラムされる。この目的のためのアルゴリズムをマイクロプロセッサ８４に組み込むことができる。マイクロプロセッサ８４は，下記の機能を含むいくつかの機能が得られるよう適切にプログラムされる。各トランスデューサの出力を周期的に走査してデータを取得する，磁石に対する相対的接近を示す出力を有する２つ以上のトランスデューサを選択する，選択されたトランスデューサの出力信号に関する比を計算する，適切な補正率を選択して適用する，適切なオフセット値を加えて磁石の位置を得る。
【００２７】
  図８は，９トランスデューサのアレイの場合の各トランスデューサ２２の出力を２極磁石１２の位置の関数として表す磁界データを示すグラフである。磁石１２が各トランスデューサ２２に接近し，そこを通過し，そこから離れるのに伴って変化する出力信号が各トランスデューサ２２により供給される。これらの出力信号は符号ａ〜ｉで示されている。垂直線３８は磁石１２の位置を表す。磁石１２が移動し，その極の１つがトランスデューサに接近するにつれて，その出力信号電圧の線形上昇及び線形低下がそれぞれ起こる。磁石によって作り出される磁界の強度及びトランスデューサからの磁石の距離によって，線形曲線が非線形になって最大出力電圧に達した後，出力電圧は減少する。
【００２８】
  
常に線形領域で動作させるために，トランスデューサの間隔は磁石の長さと比較して相対的に小さくしなければならない
【００２９】
  図９Ａは，第１及び第２のトランスデューサの一例の出力信号９０及び９２を示す。垂直線８９は磁石１２の位置を表す。垂直線８９の位置で，第１のトランスデューサは正の出力信号値“Ａ”９４を持ち，第２のトランスデューサは負の出力信号値“Ｂ”９６を有する。信号値ＡとＢの間のこの関係は，磁石１２の位置が第１のトランスデューサと第２のトランスデューサとの間のどこかにあることを示す。第１及び第２のトランスデューサに対する磁石１２の相対位置を決定するために，第１及び第２のトランスデューサの出力信号値９４と９６の振幅を所定の方法で割って，比が計算される。この比に補正率を適用した後，第１と第２のトランスデューサの間のある位置に対する補間を行うことによって磁石の位置を決定することができる。以下にさらに説明するように，好ましくは，この補正率によってトランスデューサの非線形性が少なくとも部分的に補正されるようにする。」
　
（１−カ）
　Ｆｉｇ．１には，直線あるいは経路２３に沿う方向に，磁石１２のＮ極とＳ極とを配置した様子が描かれている。
　
（１−キ）
　Ｆｉｇ．８には，磁石１２の位置すなわち座標によって，各トランスデューサの出力が変化する様子が描かれている。また，磁石１２の位置を表す垂直線３８において，１つのトランスデューサからの出力信号ｄと，それに隣接するトランスデューサからの出力信号ｅが生成されている様子が描かれている。
　
（１−ク）
　Ｆｉｇ．９Ａには，磁石１２の位置を表す垂直線８９において，第１のトランスデューサからの出力信号９０が正の出力信号値“Ａ”９４を持ち，第２のトランスデューサからの出力信号９２が負の出力信号値“Ｂ”９６を有する様子が描かれている。
　
　上記摘記事項からみて，引用例１には，以下の発明が記載されていると認められる。
　
「縦軸１６に沿って移動できる部材の位置を決定する広義の位置検出装置において，
  前記部材に取り付けられていて磁界を作り出す磁石１２と，
  既知位置に配置された複数のトランスデューサ２２であって，各トランスデューサ２２は，磁石１２が各トランスデューサ２２に接近し，そこを通過し，そこから離れるのに伴ってバイポーラ出力信号を発生すると共に，磁石１２の第１の位置に対する出力信号値を発生する複数のトランスデューサ２２と，
を具備し，
　トランスデューサ２２の間隔は磁石１２の長さと比較して相対的に小さい，装置。」（以下，「引用発明」という。）
　
３　対比・判断
　
（１）対比 
　補正発明と引用発明とを対比する。
　
ア　引用発明の「部材」は，縦軸１６に沿って移動するものであるから，補正発明の「スライダ部分（３）」に相当する。また，引用例１に関する上記摘記事項（１−エ）における「【００２２】・・・また，装置１０は，バルブヨーク２０あるいはバルブステム１４の近傍の他の適切な固定支持部材に取り付けられたセンサモジュールあるいは電子回路モジュール１８を具備する。センサモジュール１８は，互いに既知の距離２６だけ離間して縦軸１６に平行なリニアアレイ２４として配列された磁界トランスデューサ２２を具備する。」の記載からみて，引用発明では，定置の部分に複数のトランスデューサ２２を有しているといえる。
　してみると，引用発明の「縦軸１６に沿って移動できる部材の位置を決定する装置」と，補正発明の「スライダ部分（３）に加えて定置の部分も有している搬送システムの前記スライダ部分の位置を検出する装置」とは，「スライダ部分に加えて定置の部分も有しているシステムの前記スライダ部分の位置を検出する装置」である点において共通する。
　
イ　引用発明の「磁石１２」は，トランスデューサ２２によって位置が測定されるから，補正発明の「測定体（１）」に相当する。
　また，引用発明の「磁石１２」が「長さ」を有することは自明であり，引用例１に関する上記摘記事項（１−オ）における「【００２７】・・・垂直線３８は磁石１２の位置を表す。・・・」の記載からみて，引用発明の「磁石１２」には，磁石１２の位置を表す「地点」が存在することが自明である。
　また，補正発明の「特定の分解能を持つパターン」に関し，本願明細書の段落【００１６】には「この場合の測定体とは，長さＬの区間に特定の細かい分解能を備えている実質的に一次元のパターンを指している。換言すれば，長さＬの区間で，２つの極値，すなわち特定の大きさの最小値と最大値の間の値を，それぞれの地点に割り当てることができる。」と記載され，同段落【００２４】には「特に被印刷体を処理する機械に適している有利な実施形態では，測定体１は，磁石のＮ極とＳ極からなる実質的に一次元のパターンであり，たとえば交互のＮ極とＳ極からなる規則的な配列である。」と記載されていることからみて，補正発明の「特定の分解能を持つパターン」には，測定体の長さＬに沿って１つのＮ極と１つのＳ極を配置したパターンも含まれるといえる。他方，引用例１に関する上記摘記事項（１−カ）の記載からみて，引用発明では，直線あるいは経路２３に沿う方向に，磁石１２のＮ極とＳ極とを配置しているから，引用発明の「磁石１２」も，補正発明と同様に，「特定の分解能を持つパターン」を有しているといえる。
　また，引用発明では，磁石１２は部材に取り付けられているから，磁石は「部材」の一部を構成しているといえる。
　以上のことから，引用発明の「前記部材に取り付けられていて磁界を作り出す磁石１２」は，補正発明の「長さと地点を有する測定体であって，特定の分解能を持つパターンを有し，前記スライダ部分の一部を構成する測定体（１）」に相当する。
　
ウ　引用発明の「複数のトランスデューサ２２」は，「磁石１２」の位置を測定するものであるから，補正発明の「複数の検出器」に相当する。
　また，引用発明の「複数のトランスデューサ２２」は，互いに間隔をあけて配置されているから，トランスデューサの各々が，それぞれの位置すなわち「地点」を有することは自明である。
　また，引用例１に関する上記摘記事項（１−ウ）における「【００１７】・・・磁石１２は，直線あるいは経路２３に沿って移動する。・・・」の記載からみて，引用発明では，磁石１２の位置すなわち座標は，直線あるいは経路２３上にあるといえるから，当該直線あるいは経路２３は磁石１２の位置座標軸であるということができる。また，引用例１に関する上記摘記事項（１−エ）における「【００２２】・・・センサモジュール１８は，互いに既知の距離２６だけ離間して縦軸１６に平行なリニアアレイ２４として配列された磁界トランスデューサ２２を具備する。」の記載からみて，引用発明の「複数のトランスデューサ２２」は，縦軸１６に沿って配置されているといえるが，部材の移動経路である前記縦軸１６と磁石１２の移動経路である前記位置座標軸とが平行であることは明らかであるから，磁石１２の位置座標軸に沿って配置されているともいえる。
　また，上記「ア」で検討のように，引用発明の「複数のトランスデューサ２２」は定置の部分に設けられている。
　また，引用例１に関する上記摘記事項（１−オ）における「【００２７】・・・磁石１２が移動し，その極の１つがトランスデューサに接近するにつれて，その出力信号電圧の線形上昇及び線形低下がそれぞれ起こる。・・・」の記載からみて，引用発明では，磁石１２の極を検出しているから，特定の分解能を持つパターンを検出しているといえる。
　また，引用発明では，トランスデューサ２２の間隔は磁石１２の長さと比較して相対的に小さいのであるから，トランスデューサ２２の定める間隔は，磁石１２の長さよりも小さい，すなわち，補正発明の「最大で前記測定体の前記長さに等しい」に含まれる間隔であることが明らかである。
　以上のことから，引用発明の「既知位置に配置された複数のトランスデューサ２２であって，各トランスデューサ２２は，磁石１２が各トランスデューサ２２に接近し，そこを通過し，そこから離れるのに伴ってバイポーラ出力信号を発生すると共に，磁石１２の第１の位置に対する出力信号値を発生する複数のトランスデューサ２２」は，補正発明の「各々が地点を有し，位置座標の位置座標軸に沿って位置する前記定置部分上に設けられている複数の検出器であって，前記測定体の前記パターンを検出し，最大で前記測定体の前記長さに等しい，前記位置座標軸に沿った２つの連続した検出器の間の間隔を定めている複数の検出器（Ｇ）」に相当する。
　
エ　引用例１に関する上記摘記事項（１−キ）には，磁石１２の位置を表す垂直線３８において，１つのトランスデューサが出力信号ｄを生成し，それに隣接するトランスデューサが出力信号ｅを生成することが記載されているから，引用発明では，前記出力信号ｅが生成される区間と前記出力信号ｄが生成される区間との重複区間が存在しているといえる。そうすると，引用発明では，前記重複区間，すなわち，磁石１２の位置座標軸の長さをもつ区間が存在しており，磁石１２の位置が前記重複区間の中にある場合には，１つのトランスデューサが出力信号ｄを生成し，それに隣接するトランスデューサが出力信号ｅを生成しているといえる。
　以上のことから，引用発明の「各トランスデューサ２２は，磁石１２が各トランスデューサ２２に接近し，そこを通過し，そこから離れるのに伴ってバイポーラ出力信号を発生すると共に，磁石１２の第１の位置に対する出力信号値を発生する」ことは，補正発明の「前記測定体（１）の位置座標軸（Ｘ）の長さＵをもつ区間（Ｉn(n+1)）が存在しており，この区間については，前記測定体（１）の地点（Ｐ）がこの区間の中にある場合には，少なくとも１つの第１の検出器（Ｇn）が第１の出力信号（Ｍ（Ｇn））を生成し，第１の検出器（Ｇn）に続く少なくとも１つの第２の検出器（Ｇn+1）が第２の出力信号（Ｍ（Ｇn+1））を生成する」ことに相当する。
　
　してみると，両者は， 
　
（一致点）
「スライダ部分に加えて定置の部分も有しているシステムの前記スライダ部分の位置を検出する装置であって，
　長さと地点を有する測定体であって，特定の分解能を持つパターンを有し，前記スライダ部分の一部を構成する測定体と，
　各々が地点を有し，位置座標の位置座標軸に沿って位置する前記定置部分上に設けられている複数の検出器であって，前記測定体の前記パターンを検出し，最大で前記測定体の前記長さに等しい，前記位置座標軸に沿った２つの連続した検出器の間の間隔を定めている複数の検出器と
　を有し，
　前記測定体の位置座標軸の長さをもつ区間が存在しており，この区間については，前記測定体の地点がこの区間の中にある場合には，少なくとも１つの第１の検出器が第１の出力信号を生成し，第１の検出器に続く少なくとも１つの第２の検出器が第２の出力信号を生成する，
　システムのスライダ部分の位置を検出する装置。」
の点で一致し，以下の点で相違する。
　
（相違点）スライダ部分の位置を検出する装置が，補正発明では「搬送システム」のスライダ部分の位置を検出する装置であるのに対して，引用発明では，広義の位置検出装置である点。
　
（２）判断
　上記相違点について検討する。
　スライダ部分の位置を検出する装置において，搬送システムのスライダ部分の位置を検出するようにしたものは，例えば，特開平７−９８２０１号公報の段落【００３３】，および，特開２０００−３２９１０８号公報の段落【００３２】に記載されているように，本願優先日前に周知である。
　そして，スライダ部分の位置を検出する装置は，様々なシステムのスライダ部分の位置を検出するために使用できるものであることが，当業者にとって技術常識であるから，引用発明の「広義の位置検出装置」を，上記周知の「搬送システムのスライダ部分の位置検出」に応用し，上記相違点における補正発明のようにすることは，当業者であれば，何ら困難性はなく，容易に想到し得る事項であるといえる。
　
　そして，本願明細書に記載された補正発明によってもたらされる効果は，引用例１の記載事項および周知の事項から，当業者であれば予測することができる程度のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　したがって，補正発明は，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により，特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（３）付記（回答書における請求人の主張について）
　請求人は，平成２２年６月２４日付けで提出された審尋に対する回答書の２頁６〜１７行において「本発明は，第１および第２の出力信号に基づいて，搬送システムにおけるロータ部分（スライダ部分）の位置を制御する装置です。・・・『ロータ部分』の位置を制御することは，印刷機における位置の制御がわずか数マイクロメータのスケールで行われるため高い精度を必要とします。」と主張し，同回答書の２頁２６行〜３頁１行において「引用文献１は，・・・第１および第２の出力信号に基づいて，搬送システムにおけるロータ部分（スライダ部分）の位置を制御する装置は開示していません。」と主張している。
　しかし，本願の特許請求の範囲には，ロータ部分（スライダ部分）の位置を制御するものであることは特定されていない。
　よって，上記主張は，特許請求の範囲に基づかない主張であり，採用することができない。
　
４　まとめ
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。 
　
　
第３　本願発明について
　
１　本願発明
　以上のとおり，本件補正は，却下されることとなったから，本件特許出願人が特許を受けようとする発明として特定する事項は，平成１９年１１月１５日付けの手続補正によって補正された特許請求の範囲の請求項１〜１６に記載されたとおりのものと認められ，そのうち請求項１は，次のとおりである。（以下，「本願発明」という。）　
「【請求項１】　スライダ部分（３）に加えて定置の部分も有している搬送システムの前記スライダ部分の位置を検出する装置であって，
　長さと地点を有する測定体であって，特定の細かい分解能を持つパターンを有し，前記スライダ部分の一部を構成する測定体（１）と，
　各々が地点を有し，位置座標の位置座標軸に沿って位置する前記定置部分上に設けられている複数の検出器であって，前記測定体の前記パターンを検出し，最大で前記測定体の前記長さに等しい，前記位置座標軸に沿った２つの連続した検出器の間の間隔を定めている複数の検出器（Ｇ）と
　を有する，搬送システムのスライダ部分の位置を検出する装置。」
　
２　引用刊行物の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例およびその記載事項は，上記「第２　２　引用刊行物の記載事項」に記載したとおりである。
　
３　判断　
　本願発明は，補正発明から，明りょうでない記載の釈明を目的とする補正である「特定の細かい分解能を持つパターン」を「特定の分解能を持つパターン」とする補正を元に戻すとともに，「前記測定体（１）の位置座標軸（Ｘ）の長さＵをもつ区間（Ｉn(n+1)）が存在しており，この区間については，前記測定体（１）の地点（Ｐ）がこの区間の中にある場合には，少なくとも１つの第１の検出器（Ｇn）が第１の出力信号（Ｍ（Ｇn））を生成し，第１の検出器（Ｇn）に続く少なくとも１つの第２の検出器（Ｇn+1）が第２の出力信号（Ｍ（Ｇn+1））を生成する」との限定を省いたものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加したものに相当する補正発明が，上記「第２　３　対比・判断」において検討のとおり，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。
　
４　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　
　よって，結論のとおり審決する。