【事件の表示】
　平成１１年特許願第２８９７６３号「走査トンネル顕微鏡発光集光装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　４月２０日出願公開、特開２００１−１０８５９８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は，平成１１年１０月１２日の出願であって，平成２２年３月４日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年６月１０日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに，同日付けで手続補正がされたものである。
  　
第２　平成２２年６月１０日付けの手続補正についての補正却下の決定
  　
１　補正却下の決定の結論
　　平成２２年６月１０日付けの手続補正を却下する。
  　
２　理由
（１）本願補正発明
　本件補正は，特許請求の範囲の請求項１を，
「（ａ）走査トンネル顕微鏡と，
（ｂ）該走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針の周りに放射状に配置される複数の光ファイバーを具備し，
（ｃ）前記複数の光ファイバーの各光ファイバーを被測定試料の表面より３０°の方向から近づけ，前記各光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離を，
該光ファイバーの焦点距離に相当する，該光ファイバーコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ
-1
ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）より小さくなるように
ことを特徴とする走査ト
　
　上記請求項１についての補正は，補正前の請求項１における「光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離」について「光ファイバーの焦点距離に相当する，該光ファイバーコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ-1ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）より小さくなるように配置する」との限定を付加する補正と，補正前の請求項１の末尾における「ンネル顕微鏡発光集光装置」を「ことを特徴とする走査トンネル顕微鏡発光集光装置」とする補正であり，前者は特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり，後者は誤記を訂正するものである。
　したがって，上記請求項１についての補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下，「平成１８年改正前」という。）の特許法１７条の２第４項第２号及び第３号の，特許請求の範囲の減縮及び誤記の訂正を目的とするものに該当する。
　そこで，上記請求項１に記載された発明（以下，「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法１７条の２第５項において準用する同法１２６条５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
  　
（２）刊行物およびその記載事項
　ア　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である，特開平１０−１０１３９号公報（以下，「刊行物１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は当審において付記したもの）。 
  　
　（ア−１）
「【０００１】【発明の属する技術分野】本発明は微小部光物性測定装置に関する。」
　　
　（ア−２）
「【０００７】【課題を解決するための手段】本発明は，表面の形状を測定する
走査型プローブ顕微鏡
探針先端直下の試料より放出される光を集光する光学系
走査型プローブ顕微鏡を用いた微小部光物性測定装置
【０００８】また本発明は，
放出される光を効率よく集光するための光学系として凹面鏡を用い
【０００９】また本発明は，
放出される光を集光するための光学系として光ファイバを多数用い
各光ファイバの測定波長範囲をフィルタを使用して変えることにより
波長範囲の異なった発光強度像を得ることのできる走査型プローブ顕微鏡を用いた微小部光物性測定装置
　
　（ア−３）
「【００１０】従来のＳＰＭで複雑な組成や構造を持つ試料を測定する場合，表面形状を測定するのみであった。これはＳＰＭでは試料表面の物質が同定できないことに由来している。近年
ＳＴＭからの光放出現象
放出される光は極微弱
従来は，集光系としてレンズやファイバを使うため集光立体角が小さく（最大０.１ｓｒ 程度），放出される光の１／６０程度の光しか集めることができず積算時間が長くなるのである。したがって，放出される光を可能な限り集めることにより，積算時間を短縮し強いては位置分解能の向上が期待できる。そこで放出される光を可能な限り集め積算時間を短くし位置分解能を向上させるため，集光系に凹面鏡を用いた
従来は表面形状と発光強度を同時に測定するという際，ある波長範囲の光しか検出しておらず，いろいろな波長範囲の光強度を測定する場合，集光系が一つしかないため，まず一つの波長範囲を測定しその後波長範囲を変え測定しなければならない。これは測定に時間がかかり，熱ドリフトの影響が大きくなる。そこで多数の光ファイバを設け，各光ファイバによる測定波長範囲を変えておくことにより，表面形状と多数の波長範囲の光強度が同時に測定できることになり，測定時間の短縮や熱ドリフトの軽減が可能となる
　　
　（ア−４）
「【００１１】【発明の実施の形態】（実施例１）図１は
本発明による走査型プローブ顕微鏡を用いた発光現象
ＳＴＭを用いた場合
１はＳＴＭ探針
　
　（ア−５）
「【００１２】図２は本発明による従来の集光系（ａ）と凹面鏡を用いた集光系（ｂ）である。６はレンズ，
７は光ファイバ
１０は光検出器
（ａ）の波線の矢印は光が放出される様子
凹面鏡を使うことにより集光立体角はほぼ２πｓｒとなり，放出される光をほぼ全部集めることが可能となる
  　
　（ア−６）
　「【００１３】図３は
本発明による多数の異なる波長範囲で光強度を測定する方法である
１２は光フィルタ
２本の光ファイバを探針先端に近づけ光を光ファイバ内に導く。光ファイバと光検出器の間に光フィルタを設け，測定したい波長範囲の光だけを光検出器に導入する
 
　（ア−７）
　図３は，本発明の第１実施例の多数の異なる波長範囲で光強度を測定するための装置を設けた微小部光物性測定装置の説明図であり，
ＳＴＭ探針１の周りに光ファイバ７が配置された形態
　
　以上の記載事項（ア−１）〜（ア−７）を総合すると，刊行物１には次の発明が記載されているものと認められる。
　
「ＳＴＭにより放出された光を集光するためにＳＴＭ探針１の先端に近づけてＳＴＭ探針１の周りに配置された多数の光ファイバ７と，測定したい波長範囲の光だけを光検出器１０に導入するために光ファイバ７と光検出器１０との間に配置された光フィルタ１２とを備えた，ＳＴＭを用いた走査型プローブ顕微鏡」（以下，「刊行物１発明」という。）
　　
（３）当審の判断 
　ア　対比・判断　　
　本願補正発明と刊行物１発明を対比する。
　
　（ア）刊行物１発明の「ＳＴＭを用いた走査型プローブ顕微鏡」は，「ＳＴＭにより放出された光を集光する」ものであるから，本願補正発明の「走査トンネル顕微鏡発光集光装置」に相当する。
　
　（イ）刊行物１発明の「ＳＴＭにより放出された光」が「ＳＴＭを用いた走査型プローブ顕微鏡」の操作により生じた発光であるのは明らかである。
　また，刊行物１発明の「ＳＴＭ探針１の先端に近づけてＳＴＭ探針１の周りに配置された」形態は，「ＳＴＭ探針１の先端」を中心として「ＳＴＭ探針１の周りに配置された」形態と実施的に同じであるといえる。
　そうすると，刊行物１発明の「ＳＴＭにより放出された光を集光するためにＳＴＭ探針１の先端に近づけてＳＴＭ探針１の周りに配置された多数の光ファイバ７」と，本願補正発明の「走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー」は，「走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針の周りに配置される複数の光ファイバー」である点で共通する。
　　
　以上より，刊行物１発明と本願補正発明とは，
「走査トンネル顕微鏡と，　走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針の周りに配置される複数の光ファイバーを具備した走査トンネル顕微鏡発光集光装置。」である点において一致し，以下の点で相違する。
　
（相違点１）「走査トンネル顕微鏡発光集光装置」の「複数の光ファイバー」が，本願補正発明においては，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として走査トンネル顕微鏡探針の周りに「放射状」に配置されるのに対して，刊行物１発明においては「放射状」に配置することは特定されていない点。
　
（相違点２）「走査トンネル顕微鏡発光集光装置」の「複数の光ファイバーの各光ファイバー」が，本願補正発明においては「被測定試料の表面より３０°の方向から近づけ，前記各光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離を，該光ファイバーの焦点距離に相当する，該光ファイバーコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ-1ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）より小さくなるように配置」されるのに対して，刊行物１発明においては，多数の光ファイバ７の配置についてこのような特定がされていない点。
　
　以下，上記相違点について検討する。
　　
（相違点１）
　刊行物１発明の「光フィルタ１２」は，（ア−２）の記載から，各光ファイバの測定波長範囲を変えて波長範囲の異なる発光光をそれぞれの光ファイバで検出するためのものである。
　一方，本願補正発明は複数の光ファイバを有するものであるが，上記複数の光ファイバが光フィルタを備えるか否かは特定されておらず，複数の光ファイバがさまざまな波長特性を有する光フィルタを備えた構成も含んでいる。
　そして，光学測定において，一度にさまざまな測定を実施するためにより多くの波長範囲での測定を行う要請は当然に内在するものといえ，刊行物１発明において，より多くの光ファイバ７で，それぞれが異なる波長特性を有した光フィルタ１２を備えた光ファイバ７を探針１の周りに配置すれば，必然的に探針１の先端を中心として探針１の周りに放射状に配置されることになる。よって刊行物１発明において本願補正発明のごとくすることは，当業者が容易になし得ることである。
　
　また，仮に，本願補正発明が実施例のごとく，光フィルタの無い光ファイバを「放射状」に配置するものであるとしても，（ア−３）に「・・・従来は，集光系としてレンズやファイバを使うため集光立体角が小さく（最大０.１ｓｒ 程度），放出される光の１／６０程度の光しか集めることができず・・・」と記載されており，その集光立体角度からみて，単数のファイバを用いた場合の問題点が記載されている。そして（ア−３）には，上の問題点を解決するために凹面鏡を用いることが記載され，（ア−５）には，凹面鏡により集光立体角がほぼ２πｓｒとなり，放出される光をほぼ全部あつめることが可能となることが記載されており，上記凹面鏡はより大きな集光立体角を有し，ほぼ全ての方向を網羅するものとして認識されていることが理解される。
　また，刊行物１の（ア−２）における「・・・探針先端直下の試料より放出される光・・・」との記載，（ア−３）における「放出される光は極微弱である」との記載，（ア−５）における「・・・凹面鏡を使うことにより集光立体角はほぼ２πｓｒとなり，放出される光をほぼ全部集めることが可能となる・・・」との記載から，刊行物１発明において集光され検出されるＳＴＭ発光は，探針先端直下の試料から様々な方向へ放出される発光光であり，極微弱なものであることが理解される。
　上記したように，刊行物１発明における探針先端直下の試料から放出される光は，様々な方向に放出されるものであるが，発光部を中心に様々な方向に放出される発光光を光ファイバを用いてより効率的に検出するために，複数の光ファイバを発光部を中心としてその周りに放射状に配置すること，その際により多くの光ファイバを用いることは本願出願前における周知技術であり，例えば特開平４−３８４４８号公報の特許請求の範囲，第２頁右下欄第３〜１０行，第３頁左上欄第４〜１０行，図１，図２には，蛍光集光装置において，被測定試料１１から生じた蛍光を励起光９に対して角度θを有するように大体等間隔で配設された複数のファイバ束５で検出すること，各ファイバ束を構成するファイバの本数は多いほど集光率が向上することについて記載され，特開昭６２−６３８４０号公報の特許請求の範囲，第２頁左下欄第１〜１１行，第３頁左欄第２〜９行，図２には，高周波誘導結合プラズマ発光分光装置において，プラズマからの発光を検出する際に，プラズマの円周方向に複数個の光ファイバー群を並べて配置すること，複数個の光ファイバー群を配置することによりより多くの光量をサンプリングできることについて記載されている。ここで，上記の蛍光やプラズマからの発光光が，様々な方向へ放出されるものであることは技術常識である。また，刊行物１発明におけるＳＴＭ発光の発光部は，探針先端直下の位置であり，この位置はＳＴＭの原理からみて探針先端の位置とほぼ一致する。
　そうすると，刊行物１発明において上記問題点を解決するために，同じ波長特性の光フィルタ１２を備えた光ファイバ７に対して，発光部を中心にしてその周りに放射状に配置することにより集光効率を向上させる上記周知技術を適用して本願補正発明のごとく構成することは，当業者が容易になし得ることである。
　
（相違点２）
　ＳＴＭ発光のような微弱光の検出において，光ファイバと被測定試料表面との成す角度を，より強い発光強度が得られる角度に設定することは当業者であれば当然に考慮することである。また，本願明細書の【００１５】を参酌しても，上記角度を３０°とすることに格別な技術的根拠があるということはできず，３０°という数値は，様々な方向へ放出される発光光の検出において，通常想定される範囲内の角度であるといわざるを得ない。
　よって，刊行物１発明において，ＳＴＭ発光強度や測定条件に応じて上記角度を最適化すること，その際にこれを３０°とすることは，当業者が容易になし得ることといえる。
　
　また，本願補正発明における「光ファイバーコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ-1ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）」は，光ファイバのコア半径や開口数といった特性を有効に利用して集光を行う場合に光ファイバ先端と被測定試料の測定点との間の距離として通常想定される値にすぎない。さらに，上記距離は測定条件などに応じて最適化されるものといえ，これを上記値よりもさらに小さいものとすることも，当業者が適宜なし得ることである。
　ここで，本願補正発明の「光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離」は，本願明細書の【００１６】を参酌すると「ファイバーの先端２ＡとＳＴＭ探針の先端１Ａ間の距離ｄ」であるといえ，ＳＴＭ探針の先端位置と被測定試料の測定点の位置は，ＳＴＭの原理上，ほぼ一致するものである。
　よって，刊行物１発明において，光ファイバ７先端と探針１先端との距離を，該光ファイバ７の焦点距離に相当する，該光ファイバコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ-1ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）より小さくなるように配置することは，当業者が適宜行い得ることにすぎない。
　
　イ　本願補正発明の効果について          
　本願補正発明の有する，複数の光ファイバーをＳＴＭ探針の先端を中心としてこのＳＴＭ探針の周りに放射状に配置することによって，ＳＴＭのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく，従来のファイバーを用いたＳＴＭ発光の集光よりも高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を実現できるという効果は，刊行物１の記載事項及び周知技術から当業者が予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　したがって，本願補正発明は，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願補正発明は特許法２９条２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（４）小括
　以上のとおり，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。 
　　
第３　本願発明について
　平成２２年６月１０日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので，本願の請求項１及び請求項２に係る発明は，平成２１年１月１３日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１及び請求項２に記載された事項により特定されるとおりのものと認められ，その請求項１に係る発明は以下のとおりのものである。
  　
「（ａ）走査トンネル顕微鏡と，
（ｂ）該走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために，前記走査トンネル顕微鏡探針の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針の周りに放射状に配置される複数の光ファイバーを具備し，
（ｃ）前記複数の光ファイバーの各光ファイバーを被測定試料の表面より３０°の方向から近づけ，前記各光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離を前記各光ファイバーの焦点距離にして配置するンネル顕微鏡発光集光装置。」（以下，「本願発明」という。）
　
　ここで，「ンネル顕微鏡発光集光装置」が「トンネル顕微鏡発光集光装置」の誤りであるのは明らかであるから，これを誤記として以下の判断を行う。
　　
１　刊行物およびその記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である刊行物１の記載事項は，前記「第２　２（２）」に記載したとおりである。　
  　
２　対比・判断
　本願発明は，前記「第２　２」で検討した本願補正発明における「光ファイバーの先端と前記走査トンネル顕微鏡探針間の距離」についての「光ファイバーの焦点距離に相当する，該光ファイバーコアの半径を［ｔａｎ（ｓｉｎ-1ＮＡ）］で除した値（ＮＡは開口数）より小さくなるように配置する」との限定事項を省くものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加し限定したたものに相当する本願補正発明が，前記「第２　２（３）」にて述べたとおり，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　
３　むすび
　以上のとおり，本願発明は，刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，その他の請求項に係る発明についての判断を示すまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　　
　よって，結論のとおり審決する。