【誤訳訂正書】
【提出日】平成23年7月29日(2011.7.29)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【書類名】明細書
【発明の名称】製品内の異物を検出する装置および方法
【特許請求の範囲】
【請求項１】  
マイクロ波レンジ内の異なる周波数（ｆ1−ｆ5）の少なくとも二つの信号からなる電磁信号（１３’）を送信するための第１アンテナ（１１）と、
前記第１アンテナ（１１）から発信され、少なくとも一部が製品（１）を通過する信号（１３”）を受信するための第２アンテナ（１２）とを含む、前記製品内の異物を検出するための装置（１０）において、
各信号（１３’、１３”）が振幅情報と位相情報とを含み、さらに、前記装置が
前記第１及び第２アンテナ間に設けられたオープン構造のギャップであって、これによって製品（１）が方向（Ｘ）にギャップを通って搬送されるように製造ラインが前記ギャップ内に配置される、前記ギャップと
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数（ｆ1−ｆ5）に対して測定するための装置（１６）であって、この測定は、この装置において前記製品（１）の前記方向（Ｘ）の移動に対して前記受信信号（１３”）の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向（Ｘ）に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定装置（１６）と、
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号（１３’）の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向（Ｘ）の製品（１）の各移動に対して且つ前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して比較値を得る手段（１４）と、
前記装置内のメモリ（２０）に記憶された参照値に基づいて各比較値を分析する手段（１４）と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信し、前記製品中の異物を検出する手段と、を具備することを特徴とする検出装置。
【請求項２】  
各参照値が前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して前記送信信号（１３’）の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られることを特徴とする請求項１記載の検出装置。
【請求項３】
各参照値が、前記周波数の各々に対する前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から導出され、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品には異物が全く含まれていないことを特徴とする請求項１記載の検出装置。
【請求項４】
各参照値が、前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と位相情報と、前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅位相情報との比較から得られ、前記受信参照信号が製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ（１１）と（１２）の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項１に記載の検出装置。
【請求項５】
前記分析手段（１４）が各参照値の前記振幅情報と位相情報とを、分離周波数における各受信信号と比較することを特徴とする請求項１乃至４いずれか１項に記載の検出装置。
【請求項６】
前記装置がオンライン検出に適用可能であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の検出装置。
【請求項７】
前記装置が前記製品（１）を前記第１アンテナ（１１）と前記第２アンテナ（１２）間を搬送させるコンベヤ手段（１７）を備えていることを特徴とする請求項６に記載の検出装置。
【請求項８】
第１アンテナ（１１）からマイクロ波レンジ内の異なる周波数（ｆ1−ｆ5）の少なくとも二つの信号からなる電磁信号（１３’）を送信する工程と、
前記第１アンテナ（１１）から送信され、少なくとも一部が製品（１）を通過する前記信号（１３’）を第２アンテナ（１２）で受信する工程とからなる前記製品（１）内の異物を検出する方法において、前記方法が、さらに
前記第１アンテナ（１１）と第２アンテナ（１２）との間に設けられたギャップを介して方向（Ｘ）に前記製品（１）を搬送する工程と、
各送信された異なる周波数に対する振幅情報と位相情報からなる参照値をメモリ（２０）に記憶する工程と、
前記受信信号の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数（ｆ1−ｆ5）に対して測定する工程であって、この測定は、前記製品（１）の前記方向（Ｘ）の移動に対して前記受信信号（１３”）の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向（Ｘ）に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定工程と、
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号（１３’）の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向（Ｘ）の製品（１）の各移動に対して且つ前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して比較値を得る工程と、
前記メモリ（２０）から前記参照値の一つを使用して各比較値を分析する工程と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発し、前記製品中の異物を検出する工程と、を含むことを特徴とする検出方法。
【請求項９】
各参照値を前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して前記送信信号（１３’）の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得らる工程をさらに含むことを特徴とする請求項８に記載の検出方法。
【請求項１０】
各参照値を前記周波数の各々に対して前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品が異物を含まないことを特徴とする請求項９に記載の検出方法。
【請求項１１】
各参照値を前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と位相情報と、前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ（１１）と（１２）の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項８に記載の検出方法。
【請求項１２】
各比較値を分析する工程が、各受信信号の振幅情報と位相情報を対応する参照値と比較することによって実行されることを特徴とする請求項８乃至１１いずれか１項に記載の検出方法。
【請求項１３】
マイクロ波レンジ内の異なる周波数（ｆ1−ｆ5）の少なくとも二つの信号からなる電磁信号（１３’）を送信するための第１アンテナ（１１）と、
前記第１アンテナ（１１）から発信された信号（１３”）を受信するための第２アンテナ（１２）とからなり、前記受信信号（１３”）が少なくとも一部が製品（１）を通過する前記製品内の材料特性及び内容物の変化を検出するための装置（１０）において、
各信号（１３’、１３”）が振幅情報と位相情報とを含み、さらに、
前記第１及び第２アンテナ間に設けられたオープン構造のギャップであって、これによって製品（１）が方向（Ｘ）にギャップを通って搬送されるように製造ラインが前記ギャップ内に配置される、前記ギャップと、
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数（ｆ1−ｆ5）に対して測定するための装置（１６）であって、この測定は、この装置において前記製品（１）の前記方向（Ｘ）の移動に対して前記受信信号（１３”）の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向（Ｘ）に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定装置（１６）と、
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号（１３’）の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向（Ｘ）の製品（１）の各移動に対して且つ前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して比較値を得る手段（１４）と、
前記装置内のメモリ（２０）に記憶された参照値に基づいて各比較値を分析する手段（１４）と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信し、前記製品中の異物を検出する手段と、を具備することを特徴とする検出装置。
【請求項１４】
各参照値が前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して前記送信信号（１３’）の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られることを特徴とする請求項１３記載の検出装置。
【請求項１５】
各参照値が、前記周波数の各々に対する前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から導出され、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品は所望の材料特性と内容物を含むことを特徴とする請求項１３記載の検出装置。
【請求項１６】
各参照値が、前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と位相情報と、前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅位相情報との比較から得られ、前記受信参照信号が製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ（１１）と（１２）の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項１３に記載の検出装置。
【請求項１７】
前記分析手段（１４）が各参照値の前記振幅情報と位相情報とを、分離周波数における各受信信号と比較することを特徴とする請求項１３乃至１６いずれか１項に記載の検出装置。
【請求項１８】
前記装置がオンライン検出に適用可能であることを特徴とする請求項１３乃至１７のいずれか１項に記載の検出装置。
【請求項１９】
前記装置が前記製品（１）を前記第１アンテナ（１１）と前記第２アンテナ（１２）間を搬送させるコンベヤ手段（１７）を備えていることを特徴とする請求項１８に記載の装置。
【請求項２０】
第１アンテナ（１１）からマイクロ波レンジ内の異なる周波数（ｆ1−ｆ5）の少なくとも二つの信号からなる電磁信号（１３’）を送信する工程と、
前記第１アンテナ（１１）から送信され、少なくとも一部が製品（１）を通過する前記信号（１３’）を第２アンテナ（１２）で受信する工程とからなる製品（１）内の材料特性及び内容物の変化を検出する方法において、前記方法が、さらに
前記第１アンテナ（１１）と第２アンテナ（１２）との間に設けられたギャップを介して方向（Ｘ）に前記製品（１）を搬送する工程と、
各送信された異なる周波数に対する振幅情報と位相情報からなる参照値をメモリ（２０）に記憶する工程と、
前記受信信号の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数（ｆ1−ｆ5）に対して測定する工程であって、この測定は、前記製品（１）の前記方向（Ｘ）の移動に対して前記受信信号（１３”）の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向（Ｘ）に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定工程と、
前記受信信号（１３”）の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号（１３’）の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向（Ｘ）の製品（１）の各移動に対して且つ前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して比較値を得る工程と、
前記メモリ（２０）から前記参照値の一つを使用して各比較値を分析する工程と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発し、前記製品中の異物を検出する工程と、を含むことを特徴とする検出方法。
【請求項２１】
各参照値を前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対して前記送信信号（１３’）の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られる工程をさらに含むことを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
各参照値を前記周波数の各々に対して前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品が異物を含まないことを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２３】
各参照値を前記送信信号（１３’）の前記振幅情報と位相情報と、前記別々の周波数（ｆ1−ｆ5）の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ１１と１２の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２４】
各比較値を分析する工程が、各受信信号の振幅情報と位相情報を対応する参照値と比較することによって実行されることを特徴とする請求項２０乃至２３いずれか１項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、製品特に食料品内の異物を検出する装置に関する。また本発明は、この装置を利用した方法に関する。
【０００２】
またさらに本発明は、製品を構成する材料の性状及び量の変化、特に材料の欠落、欠陥及び不均一性などを検出する装置に関する。本発明は、またこの装置を利用した方法に関する。
【０００３】
現在、食品業界は、品質を向上させるために、例えば食品が市場に流通するまでに異物が食品に混入する可能性を出来るだけ減少させるための努力をしている。
【０００４】
ここで言う「異物」とは、骨片、ガラスの破片、ゴム、砂、石、毛髪、虫などの食料品に望ましくない製品又は製品以外の全ての固形物を含む。現在、食品業界で行われているある種の異物を検出する方法は、非常に費用が掛かり、検出できる異物も磁力体、基準となる色、大きさ及び重量を逸脱する製品に限られている。このような方法の例としては、接眼鏡検査及びＸ線検査などが挙げられる。
【０００５】
日本特許公報第６３−２８５４８７号に食料品中の金属を検出する方法が開示されている。この発明は、食品の形状及びサイズに関係なく、放電を発生させるためにマイクロ波を食品に照射し、放電を検出することによって金属を検出することを目的としている。
【０００６】
Hoskens氏等によるＷＯ９６／２１１５３号に照射可能な物体を介して任意の波長の放射線を照射して該物体の品質を検出する装置が開示されている。この装置は、被照射可能な物体の一側部から平行に放射する手段と、該物体を通過する放射線を受け且つそれから送信信号を発生させる手段と、この信号から肉片の骨組織など、物体の品質に関する情報を得る手段とから構成されている。
【０００７】
この送信信号から得られる情報によって、被検査製品の質量（ｍａｓｓ）が決められ、この質量は高さと密度の関数であり、質量と放射減衰との間に相関関係が存在し、これにより製品の不均一性も検出される。
【０００８】
この装置には、製品中の多数の異なる種類の異物を検出することが不可能又は非常に困難であるという問題点がある。金属又は高密度の粒子を低密度の材料からなる製品から検出するのは容易であるが、異物が材料と同程度の密度を有する場合、検出するのは困難である。
【０００９】
さらに現代の方法が抱える問題点として、製造工程において完成品上の異物をオンラインで検出することが困難であるということがあり、これにより検出方法は、製造工程後に迅速に、密閉された場所で且つ丁寧に行われなければならない。
【００１０】
本発明の第１の目的は、上述の問題点を克服した製品特に食料品中の異物を検出する装置及び方法を提供することである。
この第１の目的は、添付の請求項１に記載の検出装置によって達成される。
さらにこの第１の目的は、請求項８記載の方法によって達成される。
【００１１】
本発明の第２の目的は、材料の品質及び量の変化を検出する装置及び方法を提供することである。
第２の目的は、請求項１３記載の装置によって達成される。
さらにこの第２の目的は、請求項２０記載の方法によって達成される。
本発明による利点は、非常に多くの種類の異物を検出できるということである。
また本発明による別の利点は、迅速に測定、検出及び評価ができるということである。
さらに本発明には、安価に且つ容易に行うことができ、既存の生産施設に組み込むことができるという利点もある。
本発明はまたさらに製品を傷つけずに最終処理後に異物を検出することができるという利点もある。
さらに本発明の方法及び装置は、異なる誘電率を有する２つの成分からなる製品であっても製品中の材料品質及び量を検出することができるという利点がある。
【００１２】
図１は製品１の異物を検出するための本発明による装置１０を示す。本発明の装置は、第１のアンテナ１１と、第２のアンテナ１２とからなり、第１アンテナ１１が、マイクロ波領域にある電磁信号１３’を送信する。送信された信号１３’の少なくとも１部は、被検査製品を通過する。信号が製品１を通過した後、信号１３’’が第２アンテナで受信される。
【００１３】
第１及び第２アンテナ１１、１２は、少なくとも２つ、好ましくは周波数チャネルと呼ばれるいくつかの隣接する周波数ブロックにある例えば４００以上の異なる周波数を有する。図２に詳しく説明するアンテナは、ネットワークアナライザーなどのマイクロ波回路１４に接続されている。マイクロ波回路１４は、第１アンテナ１１に送信される信号１３’を供給するマイクロ波発信器１５と第２アンテナ１２に受信された１３’’の振幅|Ａ|及び又は位相φ等の特定のパラメーターを収集し且つ測定するベクトル電圧計などのマイクロ波測定システム１６とからなる。
【００１４】
被検査製品１は、輸送システム１７上で搬送され、この搬送システムは、例えば搬送装置１９上のキャリアーと、搬送ベルトと、垂直方向に延びたパイプとからなる。
【００１５】
ここで詳述する態様では、製品は第１と第２アンテナ１１、１２の間のギャップを通過し、送信信号の少なくとも１部が製品の全体を通過する。キャリアー１８上の製品１は、モーター駆動のカートによって開放された空間を移動する。１つ以上の周波数チャネルのマイクロ波領域にある予め選択された数の周波数を有する複数の信号が、第１アンテナから送信され、ネットワークアナライザー１４で測定するために第２アンテナで受信される。製品が第１の方向Ｘにある距離を移動する予め定められた時間が経過した後、新たに測定が行われる。
【００１６】
アンテナ装置は、少なくとも１つの周波数チャネルから構成され、このチャネル内で少なくとも２つの別個の周波数が送信されるようにしてもよい。これは各周波数チャネルのために別個アンテナ又はアンテナセクションを用いて実施しても良く、各周波数チャネル内で送信された各信号の周波数が、マイクロ波発信器１５によって制御される。
【００１７】
第１アンテナ１１の好ましい態様を示す。アンテナ１１は、複数の周波数チャネルｆ1−ｆ6の信号を送信する。この種のアンテナは、容量結合されたパッチを有するパッチ式アンテナである。各周波数チャネルの中間周波数を表１に示す。
【００１８】
この種のパッチアンテナは、製造が安価であり、所望の数のチャネルを得るための制御が容易にでき、各チャネルは個々の周波数を有する少なくとも２つの信号を含むように制御することが可能である。第２アンテナ１２は送信された信号を受けるために第１アンテナ１１と同じ特徴を有する。
【００１９】
【表１】 
2003509689.tif 000001
表１：中央周波数の波形の略式のレイアウトを表１の異なるチャネルｆ1−ｆ6を参照した破線として図２に例示する。
【００２０】
このタイプのアンテナ１１を使用することにより、上述した装置１０において、誘電関数を含んでいる情報が第１方向Ｘと選択された周波数の関数として被検査製品内で得ることができる。
【００２１】
本発明では、誘電率に関する上述した情報を検索する少なくとも一つのチャネル内の別々の周波数を伴う少なくとも二つの信号を有していることが不可欠である。これは次の説明からより明白となろう。
【００２２】
本発明の背後にある基本的理論は、被検査製品の誘電率の変化によってもたらされる異物、汚染物、損傷（割れ目等）のような差異を検出することにある。これはそれ自体少なくとも部分的に誘電体からなる前記製品に信号を少なくとも部分的に通過させることによって実行される。
【００２３】
被検査製品の誘電率を決定するために使用される振幅｜Ａ｜および／または位相φのような前記パラメータからのパラメータ値は、前記マイクロ波測定システム１６内で測定される。被測定パラメータ値が、被送信信号の対応値と比較され、各周波数チャネル内の各周波数に対する比較値を得る。
【００２４】
次に、各比較値が、マイクロ波回路１４に利用可能な、例えば前記マイクロ波回路１４内のメモリ２０に記憶された参照値と比較される。参照値は、製品の試験されるタイプの参照サンプルを通過する受信信号からパラメータを測定することによって得られるのが好ましく、この参照サンプルは、周波数の関数として誘電関数のプロフィールによって説明されたような製品を通るマイクロ波送信の特性の変化を生ぜしめる異物ないし他の欠陥のないものである。
【００２５】
時々、このような「クリーン」な参照サンプルを得ることが困難であり、従って、参照値は複数の製品のパラメータ値を測定し、各パラメータ値に対する平均値として統計的に計算し、また各周波数に対して参照値として使用することによって得られるのが好ましい。前記計算された参照値を得るために測定される一般的な製品の数は、約１００個である。
【００２６】
別の方法として、参照値は、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ１１と１２の送信および受信特性の評価で得ることができる。
【００２７】
図３は被試験製品１が通される測定ギャップの側面図である。製品の左側部には第１アンテナ１１が配され、また右側部には第２アンテナが配されている。信号３０が前記第１アンテナ１１から送信され、また前記第２アンテナ１２によって受信される。関数ｘ，ｓ（ｘ）としての受信信号は、 
【００２８】
ｓ（ｘ） ＝|Ａ|ｅiψで表わされ、式中、｜Ａ｜は受信信号の振幅であり、またψは位相である。位相ψは、 
【００２９】
【数１】
2003509689.tif 000002
に比例し、式中、ｚは第１と第２アンテナ１１、１２間の距離であり、ｋzはｚの方向の伝搬定数であり、またｎは整数で、ギャップ内の完全列の数を意味する。次に、伝搬定数は、 
【数２】
2003509689.tif 000003
に等しい、式中、ωはマイクロ波信号の周波数ｆに関連するマイクロ波信号の角周波数で、ω＝２πｆである。ε（ω）はこの角周波数に対応する誘電関数であり、またμはこの角周波数に対応する特定測定ギャップ内の物質の透磁率である。１個の信号を送信することにより、振幅の絶対値と受信信号の位相のずれを決定する可能性があるが、上記誘電関数を一義に決定することは不可能である、というのは位相測定では３６０度の単位で波列の係数を決定することができるだけだからである。従って、測定ギャップ内で完全な波列の整数値は１回の測定で知ることができない。
【００３０】
図３に、最後の不完全周期３３に先行する２つの完全な振動周期３１、３２を有する第１の送信信号３０を実線で示す。最後の不完全周期３３に先行する２つの完全な振動周期３１、３２を有する第１の送信信号３０とは異なる周波数で、破線で示す第２の信号を加えると、伝搬時間は図４に示すように、異なる数の発信周期を仮定して上記誘電関数をプロットすることで決定することができる。
【００３１】
被検査製品において、上記誘電関数が未知であるが、クリーン製品に属する既知の部分εproduct（ω，ξ）と、異物のマイクロ波送信特性に属する未知の部分εforeign body（ω，ξ）として表わすことができる。異物の誘電関数には異物の散乱、回折、吸収、反射および送信効果が含まれる。従って、誘電関数は周波数ωに大きく依存し（回折ローブが周波数と共に変位するので）、観察の角度ξ（シャープなエッジが存在すれば）と共に変化する。従って、被測定送信信号は、製品内の異物量（η＝０の場合製品中に異物がない）を表すηの関係する次式に分解される。 
【００３２】
εtot = （１−η）・εproduct ＋ η・εforeign body （Ｉ）
式中、ηは０と１の間で変化し、被検査製品内に存在する異物の量に依存する。
【００３３】
送信マイクロ波信号Ｓ21の振幅｜Ａ｜と位相φは、全周波数と各変位ｘについて測定され、複雑な変数（Ｓ21＝｜Ａ｜ｅｘｐ［ｉφ］）の二次元グラフを得る。ここでは製品中の組成の変化が容易に検知できる。
【００３４】
図４は信号１３’が前記第１アンテナ１１から送信され、製品１を通るときに何が発生するかを示している。前記製品の内部において、金属、石等のような異物６０の小片が、信号の受信アンテナ１２に至る途中で信号の通過を妨害する。受信信号１３”はこの場合、回折または散乱されて、干渉パターンが発生する。これは主として変位と周波数の関数として振幅｜Ａ｜内の特徴的パターンとして検出可能である。
【００３５】
信号処理部分の主用目的は、データの適切なフィルタリングと、両方向における、すなわち、（１）異物を純粋な製品に割り当てること、および（２）汚染製品を通過させることで、推定量誤差を最少にする非汚染製品から汚染製品を見分けることができる閾値の定義である。明らかに、ある許容差が（１）に与えられ、一方（２）は可能な限り小さくしなければならない。簡単なクラスの製品と異物（すなわち、同質のもの、湿った製品および乾燥した異物）に対して、式（Ｉ）を直接適用して、純粋な製品の上記誘電関数を純粋な製品からの測定データと置換し、測定基準と測定製品間の差を計算することで十分である。残差の平均二乗は、ある一定の閾値を超えなければ、製品は合格と考えられ、そうでなければ不合格である。
【００３６】
図５ａ乃至５ｃは、いかにして有効な値が回折パターン内に含まれた情報を特に使用して得ることができるかを示している。図５ａは周波数ｆの倍数に対する特定変位ｘ＝ｘ1に対するダンピング値｜Ｓ21｜を示し、カーブ７０が得られる。このダンピング｜Ｓ21｜に「高速フーリエ変換」（ＦＦＴ）を適用することによって、図５ｂに示すような結果が得られる。この結果は、適切なフィルタリング技術に付され、所望の情報が含まれているウインドウ７１を選択する。これらのタイプのフィルタリング技術は当該技術に習熟した人にとっては周知であり、従って、本明細書においてはこれ以上の説明は省略する。
【００３７】
図５ｃは周波数ｆの関数としてダンピング｜Ｓ21｜（ｘ1）に戻る図５ｂ中のフィルター処理されたＦＦＴスペクトルの再変換後に得られるカーブ７３を示す。閾値７４も示しているが、各周波数に対する閾値よりも低い値が許容され、それゆえに、閾値よりも高い値は許容できず、またマイクロ波回路１４からの警告信号を形成し、ここでＦＦＴ処理が実行される。
【００３８】
材料内の異物を検出するための上述した装置および方法は、前記材料が異なる誘電率を有する少なくとも二つの異なる要素からなっていれば、材料の特性と内容のモニターと検出の分野内でも使用される。この種の材料の一例は、内部に気泡を有するプラスチック部材のような材料内の空隙を有している材料である。これらのタイプの欠陥は、本発明の装置と方法を使用することによって容易に検出される。
【図面の簡単な説明】
【図１】
本発明の装置を示す。
【図２】
図１に示した装置に使用されるアンテナ装置を示す。
【図３】
本発明によるアンテナ構造の側面図。
【図４】
検査される製品の回折／拡散を例示するアンテナ構造の側面図 
【図５ａ−５ｃ】
本発明による回折測定に関する情報を抽出するための方法を示す。