(57)【要約】  第１の光強度測定部（７７）により測定された光強度と第２の光強度測定部（７８）により測定された光強度とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部（８３）と、第２の光強度測定部（７８）により測定された光強度と、光の漏れ込み量とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部（８４）とを備え、波長選択スイッチ（７１）が、減衰量算出部（８４）により算出された減衰量に従って、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させるように、光信号制御装置（７０）を構成した。
2019180822.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つ以上の光信号が多重化されている波長分割多重信号が、１つ以上の入力側伝送路によって伝送されてくると、すべての波長分割多重信号を合波した合波信号を出力側伝送路に出力する波長選択スイッチと、
前記合波信号の光強度を測定する第１の光強度測定部と、
前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の光強度を測定する第２の光強度測定部と、
前記第１の光強度測定部により測定された光強度と前記第２の光強度測定部により測定された光強度とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部と、
前記第２の光強度測定部により測定された光強度と、前記光の漏れ込み量とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部とを備え、
前記波長選択スイッチは、前記減衰量算出部により算出された減衰量に従って、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させることを特徴とする光信号制御装置。
【請求項２】
前記漏れ込み量算出部は、
前記合波信号に含まれている１つ以上の光信号のそれぞれに割り当てられている波長を示す波長情報を用いて、前記光の漏れ込み量を算出することを特徴とする請求項１記載の光信号制御装置。
【請求項３】
前記第２の光強度測定部は、
前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号を抽出する波長可変フィルタと、
前記波長可変フィルタにより抽出されたそれぞれの光信号の強度を測定するフォトダイオードとを備えていることを特徴とする請求項１記載の光信号制御装置。
【請求項４】
前記第１の光強度測定部、前記第２の光強度測定部、前記漏れ込み量算出部、前記減衰量算出部及び前記波長選択スイッチによるフィードバック制御において、
前記漏れ込み量算出部は、１回目のフィードバック制御のときだけ、前記光の漏れ込み量を算出し、
前記減衰量算出部は、全てのフィードバック制御において、前記第２の光強度測定部により測定された光強度と、１回目のフィードバック制御の際に算出された前記光の漏れ込み量とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出することを特徴とする請求項１記載の光信号制御装置。
【請求項５】
前記漏れ込み量算出部は、前記合波信号に含まれる光信号の組み合わせが変化したときにも、前記光の漏れ込み量を算出し、
前記減衰量算出部は、前記第２の光強度測定部により測定された光強度と、前記組み合わせが変化したときに算出された前記光の漏れ込み量とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出することを特徴とする請求項４記載の光信号制御装置。
【請求項６】
前記漏れ込み量算出部は、前記第１の光強度測定部により測定された光強度と、前記第２の光強度測定部により測定された光強度と、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号に重畳されている雑音光とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出することを特徴とする請求項１記載の光信号制御装置。
【請求項７】
複数の光クロスコネクトが伝送路によって接続されており、
前記複数の光クロスコネクトのそれぞれに含まれている光信号制御装置は、
１つ以上の光信号が多重化されている波長分割多重信号が、１つ以上の入力側伝送路によって伝送されてくると、すべての波長分割多重信号を合波した合波信号を出力側伝送路に出力する波長選択スイッチと、
前記合波信号の光強度を測定する第１の光強度測定部と、
前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の光強度を測定する第２の光強度測定部と、
前記第１の光強度測定部により測定された光強度と前記第２の光強度測定部により測定された光強度とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部と、
前記第２の光強度測定部により測定された光強度と、前記光の漏れ込み量とから、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部とを備え、
前記波長選択スイッチは、前記減衰量算出部により算出された減衰量に従って、前記合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させることを特徴とする光通信システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、１つ以上のチャネルの光信号のそれぞれを減衰させる光信号制御装置と、複数の光クロスコネクトが伝送路によって接続されている光通信システムとに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のトラフィックを収容する幹線系ネットワークシステムでは、光ファイバが用いられることが多い。
幹線系ネットワークシステムでは、光ファイバ一本当たりの伝送容量を向上させるために、波長分割多重（ＷＤＭ：Ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  Ｄｉｖｉｓｉｏｎ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）方式を用いることがある。
ＷＤＭ方式は、互いに波長が異なる複数の信号を多重化することでＷＤＭ信号を生成し、ＷＤＭ信号を伝送する方式である。【０００３】
また、幹線系ネットワークシステムでは、ＷＤＭ信号の伝送容量を向上させるために、ＷＤＭ信号に多重化される複数の信号に割り当てられるそれぞれの波長の間隔を短くした上で、複数の信号を波長軸上に高密度に配置することがある。複数の信号を波長軸上に高密度に配置してＷＤＭ信号を伝送する技術は、ＤＷＤＭ（Ｄｅｎｓｅ  ＷＤＭ）伝送技術と呼ばれる。
ただし、幹線系ネットワークシステムにおいてＤＷＤＭ伝送技術が用いられた場合、複数の信号の間で光パワーのレベル偏差が生じるため、幹線系ネットワークシステムの伝送特性が劣化することがある。【０００４】
以下の特許文献１には、１つの波長グループ信号に含まれている複数のサブキャリア信号の光レベルのそれぞれが目標範囲に含まれるように、光クロスコネクト内の可変光減衰器を制御する光通信システムが開示されている。
特許文献１に開示されている光通信システムは、複数のサブキャリア信号の光レベルのそれぞれを目標範囲に含めることで、伝送特性の劣化を抑えている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１７−１７５１８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の光通信システムは、或るサブキャリア信号における光の一部が、隣接しているサブキャリアに漏れ込んでいても、漏れ込んだ光のレベルを検出することができないため、漏れ込んだ光を除去することができない。
従来の光通信システムは、漏れ込んだ光を除去することができないため、光レベルに誤差があるサブキャリア信号を送信してしまうことがあるという課題があった。【０００７】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、合波信号に含まれる１つ以上の光信号におけるそれぞれの光強度の誤差を低減することができる光信号制御装置及び光通信システムを得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明に係る光信号制御装置は、１つ以上の光信号が多重化されている波長分割多重信号が、１つ以上の入力側伝送路によって伝送されてくると、すべての波長分割多重信号を合波した合波信号を出力側伝送路に出力する波長選択スイッチと、合波信号の光強度を測定する第１の光強度測定部と、合波信号に含まれているそれぞれの光信号の光強度を測定する第２の光強度測定部と、第１の光強度測定部により測定された光強度と第２の光強度測定部により測定された光強度とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部と、第２の光強度測定部により測定された光強度と、光の漏れ込み量とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部とを備え、波長選択スイッチが、減衰量算出部により算出された減衰量に従って、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させるようにしたものである。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、第１の光強度測定部により測定された光強度と第２の光強度測定部により測定された光強度とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部と、第２の光強度測定部により測定された光強度と、光の漏れ込み量とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部とを備え、波長選択スイッチが、減衰量算出部により算出された減衰量に従って、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させるように構成した。したがって、この発明に係る光信号制御装置は、合波信号に含まれる１つ以上の光信号におけるそれぞれの光強度の誤差を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態１による光通信システムを示す構成図である。
【図２】実施の形態１による光通信システムに含まれるＯＸＣを示す構成図である。
【図３】実施の形態１による光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。
【図４】コントローラ８２のハードウェアを示すハードウェア構成図である。
【図５】コントローラ８２がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合のコンピュータのハードウェア構成図である。
【図６】波長選択スイッチ７１、第１の光強度測定部７７、第２の光強度測定部７８及びコントローラ８２の処理内容を示すフローチャートである。
【図７】チャネル（ｉ）の光信号の光強度よりも、隣接チャネル（チャネル（ｉ−１）、チャネル（ｉ＋１））の光信号の光強度が大きい場合のチャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉの推移をシミュレーションした結果を示す説明図である。
【図８】実施の形態１による他の光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。
【図９】実施の形態３による光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、この発明をより詳細に説明するために、この発明を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。
【００１２】
実施の形態１．
図１は、実施の形態１による光通信システムを示す構成図である。
図１は、光通信システムが、光クロスコネクト（ＯＸＣ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｒｏｓｓ  Ｃｏｎｎｅｃｔ）を４つ備えている例を示している。
ＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれは、当該ＯＸＣ１−１〜１−４のうちの他の３つのＯＸＣと光ファイバを介して接続されている。
ＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれは、他の１つ以上のＯＸＣのそれぞれから送信された波長分割多重信号を合波して合波信号を生成し、当該合波信号を送信元のＯＸＣと異なる他のＯＸＣに送信する。
また、ＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれは、他のＯＸＣから送信された波長分割多重信号をチャネル単位に分波して１つ以上の分波信号を生成し、当該分波信号のそれぞれを送信元のＯＸＣと異なる他のＯＸＣに送信する。
波長分割多重信号は、互いに異なる波長が割り当てられている光信号が１つ以上多重化されている信号である。
波長分割多重信号に多重化される光信号としては、波長λ１が割り当てられている光信号、波長λ２が割り当てられている光信号、波長λ３が割り当てられている光信号などが考えられる。
【００１３】
ＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれには、オペレーションシステムであるＯｐＳ２によって、波長分割多重信号と合波信号と分波信号の送受信先（以下単に「信号送受信先」という。）が設定される。
例えば、ＯＸＣ１−１には、信号送受信先として、「ＯＸＣ１−３及びＯＸＣ１−４のそれぞれから送信された波長分割多重信号を受信し、合波信号をＯＸＣ１−２に送信する」という内容が設定される。
ＯＸＣ１−１は、信号送受信先が上記内容のように設定された場合、ＯＸＣ１−３及びＯＸＣ１−４のそれぞれから送信された波長分割多重信号を受信して、それらの波長分割多重信号を合波して合波信号を生成し、当該合波信号をＯＸＣ１−２に送信する。
ＯｐＳ２は、ＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれに対して、信号送受信先を設定する装置である。
なお、ＯｐＳ２による信号送受信先の切り換えは、例えば、数時間毎、あるいは、数日毎に行われる。
【００１４】
図２は、実施の形態１による光通信システムに含まれるＯＸＣを示す構成図である。
図２に示す光通信システムは、４つのＯＸＣ１−１〜１−４を備えている。
図２に示す光通信システムでは、ＯＸＣ１−２〜１−４が、それぞれ伝送路３−２〜３−４を介して、ＯＸＣ１−１と接続されている。
また、図２に示す光通信システムでは、ＯＸＣ１−１の内部構成を示している。ＯＸＣ１−２〜１−４の内部構成は、ＯＸＣ１−１の内部構成と同じである。ここでは、ＯＸＣ１−１の内部構成を説明する。
伝送路３−２〜３−４のそれぞれは、波長分割多重信号、合波信号及び分波信号の伝送方向別に、２本の光ファイバを備えている。ただし、これは一例に過ぎず、伝送路３−２〜３−４のそれぞれが、１本の光ファイバを備え、１本の光ファイバが、波長分割多重信号等の双方向伝送を実現するものであってもよい。
【００１５】
光増幅器１１は、ＯＸＣ１−２から伝送路３−２を介して送信されてきた波長分割多重信号を増幅し、増幅後の波長分割多重信号を第１の合分波部２１に出力する。
光増幅器１２は、ＯＸＣ１−３から伝送路３−３を介して送信されてきた波長分割多重信号を増幅し、増幅後の波長分割多重信号を第１の合分波部２２に出力する。
光増幅器１３は、ＯＸＣ１−４から伝送路３−４を介して送信されてきた波長分割多重信号を増幅し、増幅後の波長分割多重信号を第１の合分波部２３に出力する。
【００１６】
光増幅器１４は、第１の合分波部２１から出力された合波信号を増幅し、増幅後の合波信号を、伝送路３−２を介してＯＸＣ１−２に出力する。
光増幅器１５は、第１の合分波部２２から出力された合波信号を増幅し、増幅後の合波信号を、伝送路３−３を介してＯＸＣ１−３に出力する。
光増幅器１６は、第１の合分波部２３から出力された合波信号を増幅し、増幅後の合波信号を、伝送路３−４を介してＯＸＣ１−４に出力する。
【００１７】
第１の合分波部２１は、光増幅器１１から出力された波長分割多重信号をチャネル単位に分波し、分波信号のそれぞれを、例えば、第１の合分波部２２、第１の合分波部２３又は第２の合分波部３１に出力する。
また、第１の合分波部２１は、例えば、第１の合分波部２２、第１の合分波部２３及び第２の合分波部３１のそれぞれから出力された分波信号を合波し、合波信号を光増幅器１４に出力する。
第１の合分波部２２は、光増幅器１２から出力された波長分割多重信号をチャネル単位に分波し、分波信号のそれぞれを、例えば、第１の合分波部２１、第１の合分波部２３又は第２の合分波部３２に出力する。
また、第１の合分波部２２は、例えば、第１の合分波部２１、第１の合分波部２３及び第２の合分波部３２のそれぞれから出力された分波信号を合波し、合波信号を光増幅器１５に出力する。
【００１８】
第１の合分波部２３は、光増幅器１３から出力された波長分割多重信号をチャネル単位に分波し、分波信号のそれぞれを、例えば、第１の合分波部２１又は第１の合分波部２２に出力する。
また、第１の合分波部２３は、例えば、第１の合分波部２１及び第１の合分波部２２のそれぞれから出力された分波信号を合波し、合波信号を光増幅器１６に出力する。
第１の合分波部２１〜２３のそれぞれにおける、波長分割多重信号、合波信号及び分波信号の入出力先は、ＯｐＳ２によって設定される信号送受信先に応じて決定される。
【００１９】
第２の合分波部３１は、第１の合分波部２１から出力された１つ以上の分波信号を含む波長分割多重信号をチャネル単位に分波し、分波信号のそれぞれを中継器であるＴＰＮＤ４１又はＴＰＮＤ４２に出力する。
また、第２の合分波部３１は、例えば、ＴＰＮＤ４１及びＴＰＮＤ４２のそれぞれから出力された波長分割多重信号を合波し、合波信号を第１の合分波部２１に出力する。
第２の合分波部３２は、第１の合分波部２２から出力された１つ以上の分波信号を含む波長分割多重信号をチャネル単位に分波し、分波信号のそれぞれをＴＰＮＤ４３又はＴＰＮＤ４４に出力する。
また、第２の合分波部３２は、例えば、ＴＰＮＤ４３及びＴＰＮＤ４４のそれぞれから出力された波長分割多重信号を合波し、合波信号を第１の合分波部２２に出力する。
第２の合分波部３１〜３２のそれぞれにおける、波長分割多重信号、合波信号及び分波信号の入出力先は、ＯｐＳ２によって設定される信号送受信先に応じて決定される。
【００２０】
ＴＰＮＤ４１は、第２の合分波部３１とクライアント端末５１との間に挿入されている中継器である。
ＴＰＮＤ４１は、第２の合分波部３１から出力された分波信号をクライアント端末５１に出力し、クライアント端末５１から出力された波長分割多重信号を第２の合分波部３１に出力する。
ＴＰＮＤ４２は、第２の合分波部３１とクライアント端末５２との間に挿入されている中継器である。
ＴＰＮＤ４３は、第２の合分波部３２とクライアント端末５３との間に挿入されている中継器である。
ＴＰＮＤ４４は、第２の合分波部３２とクライアント端末５４との間に挿入されている中継器である。
ＴＰＮＤ４２〜４４のそれぞれは、ＴＰＮＤ４１と同様に、分波信号及び波長分割多重信号の入出力を行う。
【００２１】
通信路４５〜４８は、ＴＰＮＤ４１〜４４とクライアント端末５１〜５４との間を接続している伝送路である。ＴＰＮＤ４１〜４４とクライアント端末５１〜５４との間は、通信路４５〜４８を介してそれぞれ接続されている。
通信路４５〜４８のそれぞれは、光ファイバであってもよいし、電気信号線であってもよい。
クライアント端末５１〜５４のそれぞれは、ユーザが使用する端末である。
【００２２】
図３は、実施の形態１による光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。
第１の合分波部２１の構成及び第１の合分波部２２の構成は、第１の合分波部２３の構成と同様である。
第１の合分波部２３は、波長選択スイッチ６０及び光信号制御装置７０を備えている。
波長選択スイッチ６０は、光増幅器１３と光ファイバ６１を介して接続され、第１の合分波部２１と光ファイバ６２を介して接続され、第１の合分波部２２と光ファイバ６３を介して接続されている。
波長選択スイッチ６０は、光増幅器１３から出力された波長分割多重信号をチャネル単位に分波するＷＳＳ（Ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  Ｓｅｌｅｃｔａｂｌｅ  Ｓｗｉｔｃｈ）である。
波長選択スイッチ６０は、分波信号のそれぞれを、例えば、第１の合分波部２１又は第１の合分波部２２に出力する。
波長選択スイッチ６０における分波信号の出力先は、ＯｐＳ２によって設定される信号送受信先に応じて決定される。
【００２３】
光信号制御装置７０は、フィードバック制御を実行する装置であり、波長選択スイッチ７１、光合分波素子７５，７６、第１の光強度測定部７７、第２の光強度測定部７８、及びコントローラ８２を備えている。
波長選択スイッチ７１は、第１の合分波部２１と入力側伝送路７２を介して接続され、第１の合分波部２２と入力側伝送路７３を介して接続され、光合分波素子７５と出力側伝送路７４を介して接続されている。
波長選択スイッチ７１は、例えば、第１の合分波部２１及び第１の合分波部２２のそれぞれから出力された分波信号を合波し、合波信号を出力側伝送路７４に出力する。
波長選択スイッチ７１における分波信号の入力元は、ＯｐＳ２によって設定される信号送受信先に応じて決定される。
分波信号を合波して生成された合波信号には、１つ以上の光信号が含まれている。
波長選択スイッチ７１は、当該１つ以上の光信号のそれぞれに割り当てられている波長を示す波長情報をコントローラ８２に出力する。ここで、光信号に割り当てられている波長とは、当該光信号を送受信するためのチャネルに割り当てられている波長のことを意味している。
波長選択スイッチ７１は、１つ以上の可変光減衰器７１ａを備えている。１つ以上の可変光減衰器７１ａは、合波信号に含める複数の光信号のそれぞれを減衰させる。
入力側伝送路７２、入力側伝送路７３及び出力側伝送路７４は、いずれも光ファイバである。
【００２４】
光合分波素子７５は、波長選択スイッチ７１から出力側伝送路７４に出力された合波信号を分波して、当該合波信号の一部を光合分波素子７６に出力する。
光合分波素子７６は、光合分波素子７５から出力された合波信号の一部をさらに２分波する。光合分波素子７６は、２分波後に生じた２つの合波信号のうち、一方の合波信号を第１の光強度測定部７７に出力し、他方の合波信号を第２の光強度測定部７８に出力する。
図３には、光信号制御装置７０が、互いに独立した光合分波素子７５及び光合分波素子７６を備えている例を示している。しかし、これは一例に過ぎず、光信号制御装置７０は、光合分波素子７５及び光合分波素子７６が一体になっている素子を備えるものであってもよい。
【００２５】
第１の光強度測定部７７は、例えば、フォトダイオード（ＰＤ：Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ）で実現される。
第１の光強度測定部７７は、光合分波素子７６から出力された合波信号の光強度を測定し、合波信号の光強度を示す測定値ＰＰＤをコントローラ８２に出力する。
第２の光強度測定部７８は、波長可変フィルタ７９、フォトダイオード８０及びコントローラ８１を備えている。
第２の光強度測定部７８は、光合分波素子７６から出力された合波信号に含まれているそれぞれの光信号の光強度を測定する。
例えば、チャネル（１）〜（Ｎ）の光信号が合波信号に含まれている場合、第２の光強度測定部７８は、チャネル（１）〜（Ｎ）の光信号におけるそれぞれの光強度を測定する。
【００２６】
波長可変フィルタ７９は、合波信号に含まれている複数の光信号のうち、コントローラ８１から出力されたチャネル選択信号が示すチャネル（ｉ）の光信号を抽出し、抽出した光信号をフォトダイオード８０に出力する。例えば、ｉ＝１，２，・・・，Ｎである。
なお、チャネル（ｉ）の光信号に割り当てられている波長λｉは、チャネル（ｉ−１）の光信号に割り当てられている波長λｉ−１と隣接しており、また、チャネル（ｉ＋１）の光信号に割り当てられている波長λｉ＋１と隣接している。
【００２７】
フォトダイオード８０は、波長可変フィルタ７９から出力されたチャネル（ｉ）の光信号の強度を測定し、チャネル（ｉ）の光信号の強度を示す測定値ＰＯＣＭｉをコントローラ８１に出力する。
コントローラ８１は、光合分波素子７６から出力された合波信号に含まれている複数のチャネルの光信号のすべての光強度の測定が終了するまで、光信号の抽出対象のチャネルを示すチャネル選択信号を波長可変フィルタ７９に繰り返し出力する。
また、コントローラ８１は、フォトダイオード８０から測定値ＰＯＣＭｉを受けると、測定値ＰＯＣＭｉをコントローラ８２に出力する。
【００２８】
コントローラ８２は、漏れ込み量算出部８３及び減衰量算出部８４を備えている。
図４は、コントローラ８２のハードウェアを示すハードウェア構成図である。
漏れ込み量算出部８３は、例えば、図４に示す漏れ込み量算出回路９１で実現される。
漏れ込み量算出部８３は、波長選択スイッチ７１から出力された波長情報を取得する。
漏れ込み量算出部８３は、測定値ＰＰＤと、測定値ＰＯＣＭｉと、波長情報とから、合波信号に含まれている１つ以上のチャネルの光信号のそれぞれに他のチャネルの光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する処理を実施する。
減衰量算出部８４は、例えば、図４に示す減衰量算出回路９２で実現される。
減衰量算出部８４は、第２の光強度測定部７８から出力された測定値ＰＯＣＭｉと、漏れ込み量算出部８３により算出された光の漏れ込み量とから、合波信号に含まれている光信号におけるそれぞれの減衰量を算出する処理を実施する。
減衰量算出部８４は、合波信号に含まれている光信号におけるそれぞれの減衰量を波長選択スイッチ７１に出力する。
波長選択スイッチ７１に含まれている可変光減衰器７１ａのそれぞれは、減衰量算出部８４から出力された減衰量に従って、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させる。
【００２９】
図３では、コントローラ８２の構成要素である漏れ込み量算出部８３及び減衰量算出部８４のそれぞれが、図４に示すような専用のハードウェアで実現されるものを想定している。即ち、コントローラ８２が、漏れ込み量算出回路９１及び減衰量算出回路９２で実現されるものを想定している。
ここで、漏れ込み量算出回路９１及び減衰量算出回路９２のそれぞれは、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）、又は、これらを組み合わせたものが該当する。
【００３０】
コントローラ８２の構成要素は、専用のハードウェアで実現されるものに限るものではなく、コントローラ８２がソフトウェア、ファームウェア、又は、ソフトウェアとファームウェアとの組み合わせで実現されるものであってもよい。
ソフトウェア又はファームウェアはプログラムとして、コンピュータのメモリに格納される。コンピュータは、プログラムを実行するハードウェアを意味し、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、あるいは、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）が該当する。
図５は、コントローラ８２がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合のコンピュータのハードウェア構成図である。
コントローラ８２がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合、漏れ込み量算出部８３及び減衰量算出部８４の処理手順をコンピュータに実行させるためのプログラムがメモリ１０１に格納される。そして、コンピュータのプロセッサ１０２がメモリ１０１に格納されているプログラムを実行する。
【００３１】
また、図４では、コントローラ８２の構成要素のそれぞれが専用のハードウェアで実現される例を示し、図５では、コントローラ８２がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される例を示しているが、コントローラ８２における一部の構成要素が専用のハードウェアで実現され、残りの構成要素がソフトウェア又はファームウェアなどで実現されるものであってもよい。
【００３２】
図６は、波長選択スイッチ７１、第１の光強度測定部７７、第２の光強度測定部７８及びコントローラ８２の処理内容を示すフローチャートである。
次に、図６を参照しながら、図２に示すＯＸＣ１−１等の動作を説明する。
ＯｐＳ２は、信号送受信先をＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれに設定する。
実施の形態１では、説明の便宜上、ＯｐＳ２により設定される信号送受信先が、以下の通りであるものとする。
［１］ＯＸＣ１−２が、チャネル（１）の光信号、チャネル（３）の光信号、チャネル（５）の光信号及びチャネル（７）の光信号が多重化されている波長分割多重信号Ｗ１をＯＸＣ１−１に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ１に含まれているチャネル（１）の光信号をクライアント端末５１に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ１に含まれているチャネル（３）の光信号をクライアント端末５２に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ１に含まれているチャネル（５）の光信号及びチャネル（７）の光信号のそれぞれをＯＸＣ１−４に送信する。
【００３３】
［２］ＯＸＣ１−３が、チャネル（２）の光信号、チャネル（４）の光信号、チャネル（６）の光信号及びチャネル（８）の光信号が多重化されている波長分割多重信号Ｗ２をＯＸＣ１−１に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ２に含まれているチャネル（２）の光信号をクライアント端末５３に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ２に含まれているチャネル（４）の光信号をクライアント端末５４に送信する。
ＯＸＣ１−１が、波長分割多重信号Ｗ２に含まれているチャネル（６）の光信号及びチャネル（８）の光信号のそれぞれをＯＸＣ１−４に送信する。
【００３４】
ＯＸＣ１−２は、波長分割多重信号Ｗ１を伝送路３−２に出力することで、波長分割多重信号Ｗ１をＯＸＣ１−１に送信する。
ＯＸＣ１−１の光増幅器１１は、ＯＸＣ１−２から伝送路３−２を介して送信されてきた波長分割多重信号Ｗ１を増幅し、増幅後の波長分割多重信号Ｗ１を第１の合分波部２１に出力する。
第１の合分波部２１は、光増幅器１１から出力された波長分割多重信号Ｗ１をチャネル単位に分波する。波長分割多重信号Ｗ１の分波により、チャネル（１）の光信号と、チャネル（３）の光信号と、チャネル（５）の光信号と、チャネル（７）の光信号が、それぞれ分波信号として生成される。
第１の合分波部２１は、チャネル（１）の光信号と、チャネル（３）の光信号とが多重化されている波長分割多重信号Ｗ３を第２の合分波部３１に出力する。
第１の合分波部２１は、チャネル（５）の光信号と、チャネル（７）の光信号とが多重化されている波長分割多重信号Ｗ４を第１の合分波部２３に出力する。
【００３５】
ＯＸＣ１−３は、波長分割多重信号Ｗ２を伝送路３−３に出力することで、波長分割多重信号Ｗ２をＯＸＣ１−１に送信する。
ＯＸＣ１−１の光増幅器１２は、ＯＸＣ１−３から伝送路３−３を介して送信されてきた波長分割多重信号Ｗ２を増幅し、増幅後の波長分割多重信号Ｗ２を第１の合分波部２２に出力する。
第１の合分波部２２は、光増幅器１２から出力された波長分割多重信号Ｗ２をチャネル単位に分波する。波長分割多重信号Ｗ２の分波により、チャネル（２）の光信号と、チャネル（４）の光信号と、チャネル（６）の光信号と、チャネル（８）の光信号が、それぞれ分波信号として生成される。
第１の合分波部２２は、チャネル（２）の光信号と、チャネル（４）の光信号とが多重化されている波長分割多重信号Ｗ５を第２の合分波部３２に出力する。
第１の合分波部２２は、チャネル（６）の光信号と、チャネル（８）の光信号とが多重化されている波長分割多重信号Ｗ６を第１の合分波部２３に出力する。
【００３６】
第２の合分波部３１は、第１の合分波部２１から出力された波長分割多重信号Ｗ３をチャネル単位に分波する。波長分割多重信号Ｗ３の分波により、チャネル（１）の光信号と、チャネル（３）の光信号が、それぞれ分波信号として生成される。
第２の合分波部３１は、チャネル（１）の光信号をＴＰＮＤ４１に送信する。
また、第２の合分波部３１は、チャネル（３）の光信号をＴＰＮＤ４２に送信する。
ＴＰＮＤ４１は、第２の合分波部３１から出力されたチャネル（１）の光信号をクライアント端末５１に送信する。
ＴＰＮＤ４２は、第２の合分波部３１から出力されたチャネル（３）の光信号をクライアント端末５２に送信する。
【００３７】
第２の合分波部３２は、第１の合分波部２２から出力された波長分割多重信号Ｗ５をチャネル単位に分波する。波長分割多重信号Ｗ５の分波により、チャネル（２）の光信号と、チャネル（４）の光信号が、それぞれ分波信号として生成される。
第２の合分波部３２は、チャネル（２）の光信号をＴＰＮＤ４３に送信する。
また、第２の合分波部３２は、チャネル（４）の光信号をＴＰＮＤ４４に送信する。
ＴＰＮＤ４３は、第２の合分波部３２から出力されたチャネル（２）の光信号をクライアント端末５３に送信する。
ＴＰＮＤ４４は、第２の合分波部３２から出力されたチャネル（４）の光信号をクライアント端末５４に送信する。
【００３８】
第１の合分波部２３の波長選択スイッチ７１は、第１の合分波部２１から出力された波長分割多重信号Ｗ４と、第１の合分波部２２から出力された波長分割多重信号Ｗ６とを合波する。波長分割多重信号Ｗ４と波長分割多重信号Ｗ６とが合波された合波信号を、以下、波長分割多重信号Ｗ７という。
波長分割多重信号Ｗ７は、チャネル（５）の光信号と、チャネル（６）の光信号と、チャネル（７）の光信号と、チャネル（８）の光信号とが多重化されている合波信号である。
波長選択スイッチ７１は、波長分割多重信号Ｗ４と波長分割多重信号Ｗ６とを合波する際、１つ以上の可変光減衰器７１ａを用いて、チャネル（５）〜（８）の光信号のそれぞれを減衰させる。
可変光減衰器７１ａによるチャネル（５）〜（８）の光信号の減衰についての詳細は、後述する。
波長選択スイッチ７１は、波長分割多重信号Ｗ７を出力側伝送路７４に出力する。
また、波長選択スイッチ７１は、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上の光信号のそれぞれに割り当てられている波長を示す波長情報をコントローラ８２に出力する。
波長分割多重信号Ｗ７に含まれている光信号は、チャネル（５）〜（８）の光信号であるため、波長選択スイッチ７１は、波長情報として、チャネル（５）〜（８）の光信号のそれぞれに割り当てられている波長λ５，λ６，λ７，λ８を示す情報を出力する。
【００３９】
光合分波素子７５は、波長選択スイッチ７１から出力側伝送路７４に出力された波長分割多重信号Ｗ７を分波して、波長分割多重信号Ｗ７の一部を光合分波素子７６に出力する。
光合分波素子７６は、光合分波素子７５から出力された波長分割多重信号Ｗ７の一部をさらに２分波する。光合分波素子７６は、２分波後に生じた２つの波長分割多重信号Ｗ７のうち、一方の波長分割多重信号Ｗ７を第１の光強度測定部７７に出力し、他方の波長分割多重信号Ｗ７を第２の光強度測定部７８に出力する。
【００４０】
第１の光強度測定部７７は、光合分波素子７６から出力された波長分割多重信号Ｗ７の光強度を測定し、波長分割多重信号Ｗ７の光強度を示す測定値ＰＰＤをコントローラ８２に出力する（図６のステップＳＴ１）。
第２の光強度測定部７８のコントローラ８２は、波長分割多重信号Ｗ７に含まれているチャネル（５）〜（８）の光信号の光強度の測定が終了するまで、光信号の抽出対象のチャネル（ｉ）を示すチャネル選択信号を波長可変フィルタ７９に繰り返し出力する。
波長分割多重信号Ｗ７に多重化されている光信号は、チャネル（５）〜（８）の光信号であるため、ｉ＝５，６，７，８である。
【００４１】
波長可変フィルタ７９は、光信号の透過波長を、コントローラ８２から出力されたチャネル選択信号が示すチャネル（ｉ）に対応する波長λｉに掃引することで、波長分割多重信号Ｗ７の中から、チャネル（ｉ）の光信号を抽出する（図６のステップＳＴ２）。
波長可変フィルタ７９は、抽出したチャネル（ｉ）の光信号をフォトダイオード８０に出力する。
したがって、波長可変フィルタ７９は、チャネル（５）の光信号、チャネル（６）の光信号、チャネル（７）の光信号及びチャネル（８）の光信号のそれぞれを順番にフォトダイオード８０に出力する。
【００４２】
フォトダイオード８０は、波長可変フィルタ７９からチャネル（ｉ）（ｉ＝５，６，７，８）の光信号を受けると、チャネル（ｉ）の光信号の強度を測定する。
フォトダイオード８０は、チャネル（ｉ）の光信号の強度を示す測定値ＰＯＣＭｉをコントローラ８１に出力する（図６のステップＳＴ３）。
コントローラ８１は、フォトダイオード８０から測定値ＰＯＣＭｉを受けると、測定値ＰＯＣＭｉをコントローラ８２に出力する。
【００４３】
コントローラ８２の漏れ込み量算出部８３は、測定値ＰＰＤと測定値ＰＯＣＭｉとから、以下の式（１）に示すように、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上のチャネルの光信号のそれぞれに他のチャネルの光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量の概算値Ｐｌｋを算出する（図６のステップＳＴ４）。
2019180822.tif 000003
波長分割多重信号Ｗ７に含まれている光信号が、チャネル（５）〜（８）の光信号である場合、式（１）において、ｘ＝５、ｙ＝８である。
【００４４】
漏れ込み量算出部８３は、波長選択スイッチ７１から出力された波長情報を取得する。
漏れ込み量算出部８３は、波長情報と、光の漏れ込み量の概算値Ｐｌｋとから、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上のチャネルの光信号のそれぞれに他のチャネルの光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量Ｐｌｋｉをそれぞれ算出する。
以下、漏れ込み量算出部８３による光の漏れ込み量Ｐｌｋｉの算出処理を具体的に説明する。
【００４５】
漏れ込み量算出部８３は、波長情報を参照して、波長分割多重信号Ｗ７に含まれているチャネル（ｉ）の光信号に割り当てられている波長λｉと隣接している波長λｉ−１，λｉ＋１が使用されているか否かを判別する。
例えば、チャネル（５）の光信号に割り当てられている波長λ５と隣接している波長は、波長λ４及び波長λ６である。波長分割多重信号Ｗ７には、チャネル（６）の光信号が含まれているため、波長λ６は、使用されている。波長分割多重信号Ｗ７には、チャネル（４）の光信号が含まれていないため、波長λ４は、使用されていない。
したがって、減衰量算出部８４は、チャネル（５）の光信号に割り当てられている波長λ５については、隣接している波長として、波長λ６が使用されているが、波長λ４が使用されていないと判別する。
また、例えば、チャネル（６）の光信号に割り当てられている波長λ６と隣接している波長は、波長λ５及び波長λ７である。波長分割多重信号Ｗ７には、チャネル（５）の光信号及びチャネル（７）の光信号のそれぞれが含まれているため、波長λ５及び波長λ７のそれぞれは、使用されている。
したがって、減衰量算出部８４は、チャネル（６）の光信号に割り当てられている波長λ６については、隣接している波長として、波長λ５及び波長λ７のそれぞれが使用されていると判別する。
【００４６】
漏れ込み量算出部８３は、チャネル（ｉ）の光信号に割り当てられている波長λｉと隣接している波長λｉ−１，λｉ＋１が使用されているか否かの判別結果に基づいて、チャネル（ｉ）の光信号に対応する隣接パラメータｓｉを決定する（図６のステップＳＴ５）。
具体的には、漏れ込み量算出部８３は、以下のように、チャネル（ｉ）の光信号に対応する隣接パラメータｓｉを決定する。
波長λｉ−１の使用／未使用  波長λｉ＋１の使用／未使用      ｓｉ
未使用                    未使用            →  ０
未使用                      使用            →  １
使用                    未使用            →  １
使用                      使用            →  ２
【００４７】
したがって、チャネル（５）の光信号に対応する隣接パラメータｓ５は１であり、チャネル（６）の光信号に対応する隣接パラメータｓ６は２である。
また、チャネル（７）の光信号に対応する隣接パラメータｓ７は２であり、チャネル（８）の光信号に対応する隣接パラメータｓ８は１である。
【００４８】
漏れ込み量算出部８３は、光の漏れ込み量の概算値Ｐｌｋと隣接パラメータｓｉとから、以下の式（２）に示すように、チャネル（ｉ）に他のチャネルから漏れ込んでくる光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する（図６のステップＳＴ６）。
2019180822.tif 000004
【００４９】
減衰量算出部８４は、チャネル（ｉ）の光信号の強度を示す測定値ＰＯＣＭｉと、光の漏れ込み量Ｐｌｋiとから、以下の式（３）に示すように、チャネル（ｉ）の光信号の制御目標値ＰＧｉを算出する（図６のステップＳＴ７）。
2019180822.tif 000005
【００５０】
次に、減衰量算出部８４は、以下の式（４）に示すように、チャネル（ｉ）の光信号の強度を示す測定値ＰＯＣＭｉと、チャネル（ｉ）の光信号の制御目標値ＰＧｉとの誤差ＰＥＲＲｉ（以下単に「チャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉ」という。）を算出する。
2019180822.tif 000006
式（４）において、αは、事前に設定される制御パラメータである。例えば、０＜α＜３である。
【００５１】
次に、減衰量算出部８４は、事前に設定されている減衰量の初期値ＰＡＴＴｉ０と、チャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉとから、以下の式（５）に示すように、チャネル（ｉ）の光信号の減衰量ＰＡＴＴｉを算出する（図６のステップＳＴ８）。
2019180822.tif 000007
減衰量算出部８４は、チャネル（ｉ）の光信号の減衰量ＰＡＴＴｉを波長選択スイッチ７１に出力する。
【００５２】
波長選択スイッチ７１に含まれている１つ以上の可変光減衰器７１ａのうち、チャネル（ｉ）に対応する可変光減衰器７１ａは、減衰量算出部８４から出力されたチャネル（ｉ）の光信号の減衰量ＰＡＴＴｉに従って、チャネル（ｉ）の光信号を減衰させる（図６のステップＳＴ９）。
波長選択スイッチ７１は、チャネル（５）〜（８）に対応する可変光減衰器７１ａのそれぞれが、チャネル（５）〜（８）の光信号をそれぞれ減衰させると、減衰後のチャネル（５）〜（８）の光信号を含む波長分割多重信号Ｗ７を出力側伝送路７４に出力する。
【００５３】
ここで、図７は、チャネル（ｉ）の光信号の光強度よりも、隣接チャネル（チャネル（ｉ−１）、チャネル（ｉ＋１））の光信号の光強度が大きい場合のチャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉの推移をシミュレーションした結果を示す説明図である。
図７において、横軸は、光信号制御装置７０によるチャネル（ｉ）の光信号のフィードバック制御回数ｋを示し、縦軸は、ｋ回目のフィードバック制御が実施されたときのチャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉを示している。
シミュレーションの条件は、以下の通りである。
（１）チャネル（ｉ−１）の光信号に割り当てられている波長λｉ−１と、チャネル（ｉ）の光信号に割り当てられている波長λｉとの間隔は、５０ＧＨｚである。
また、チャネル（ｉ）の光信号に割り当てられている波長λｉと、チャネル（ｉ＋１）の光信号に割り当てられている波長λｉ＋１との間隔は、５０ＧＨｚである。
（２）波長分割多重信号Ｗ７に多重化されたチャネル（ｉ−１）、チャネル（ｉ）及びチャネル（ｉ＋１）におけるそれぞれの半値全幅は、５０ＧＨｚである。
（３）波長可変フィルタ７９の波長プロファイルは、半値全幅が４０ＧＨｚのガウシアン型である。
（４）制御パラメータαは、２である。
【００５４】
図７において、Ｓ１は、チャネル（ｉ）の光信号の光強度よりも、隣接チャネルの光信号の光強度が１５ｄＢ大きい場合のシミュレーション結果である。
Ｓ２は、チャネル（ｉ）の光信号の光強度よりも、隣接チャネルの光信号の光強度が１０ｄＢ大きい場合のシミュレーション結果である。
Ｓ３は、チャネル（ｉ）の光信号の光強度よりも、隣接チャネルの光信号の光強度が５ｄＢ大きい場合のシミュレーション結果である。
シミュレーション結果Ｓ１〜Ｓ３のうち、チャネル（ｉ）の光信号の光強度と、隣接チャネルの光信号の光強度との差が最も大きい場合のシミュレーション結果がＳ１である。
チャネル（ｉ）の光信号の光強度と、隣接チャネルの光信号の光強度との差が非常に大きい１５ｄＢの場合でも、光信号制御装置７０が、チャネル（ｉ）の光信号を２回フィードバック制御することで、チャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉが、０．５ｄＢ以内に収束している。
したがって、光信号制御装置７０が、チャネル（ｉ）の光信号をフィードバック制御することで、チャネル（ｉ）の誤差ＰＥＲＲｉが低減されることが分かる。
【００５５】
以上の実施の形態１は、第１の光強度測定部７７により測定された光強度と第２の光強度測定部７８により測定された光強度とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号に他の光信号から漏れ込んでくる光の漏れ込み量を算出する漏れ込み量算出部８３と、第２の光強度測定部７８により測定された光強度と、光の漏れ込み量とから、合波信号に含まれているそれぞれの光信号の減衰量を算出する減衰量算出部８４とを備え、波長選択スイッチ７１が、減衰量算出部８４により算出された減衰量に従って、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させるように、光信号制御装置７０を構成した。したがって、光信号制御装置７０は、合波信号に含まれる１つ以上の光信号におけるそれぞれの光強度の誤差を低減することができる。
【００５６】
実施の形態１の光信号制御装置７０は、波長選択スイッチ７１が波長情報をコントローラ８２に出力する例を示しているが、これに限るものではない。
例えば、図８に示すように、ＯｐＳ２が波長情報をコントローラ８２に出力するものであってもよい。
ＯｐＳ２は、信号送受信先をＯＸＣ１−１〜１−４のそれぞれに設定する装置であるため、波長情報をコントローラ８２に出力することが可能である。
図８は、実施の形態１による他の光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。図８において、図３と同一符号は同一又は相当部分を示している。
実施の形態１による他の光信号制御装置７０では、ＯｐＳ２が波長情報をコントローラ８２に出力するため、波長選択スイッチ７１が波長情報をコントローラ８２に出力する信号経路が不要である。
【００５７】
実施の形態１の光信号制御装置７０は、漏れ込み量算出部８３が、波長情報に従って隣接パラメータｓｉを決定する例を示しているが、これに限るものではない。
例えば、ＯｐＳ２が、波長情報に従って隣接パラメータｓｉを決定し、ＯｐＳ２が、隣接パラメータｓｉをコントローラ８２に出力するようにしてもよい。
ＯｐＳ２が隣接パラメータｓｉをコントローラ８２に出力する場合、漏れ込み量算出部８３における処理負荷が軽減される。
【００５８】
実施の形態２．
実施の形態１の光信号制御装置７０は、合波信号に含まれているそれぞれの光信号を減衰させる際に、式（１）〜式（５）の計算を毎回行うようにしている。
しかし、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉは、波長選択スイッチ７１が波長分割多重信号Ｗ７に含める１つ以上の光信号に対応するチャネルの組み合わせが一定であれば、ほとんど変化しない。
したがって、波長選択スイッチ７１が波長分割多重信号Ｗ７に含める１つ以上の光信号に対応するチャネルの組み合わせが一定であれば、式（１）〜式（２）の計算については、１回目のフィードバック制御のときだけ行うようにしてもよい。１回目のフィードバック制御は、例えば、光信号制御装置７０が起動されて、光信号制御装置７０が最初に実施するフィードバック制御である。
【００５９】
実施の形態２では、１回目のフィードバック制御のときだけ、式（１）〜式（５）の計算を行い、２回目以降のフィードバック制御では、式（３）〜式（５）の計算だけを行う光信号制御装置７０について説明する。
光信号制御装置７０は、２回目以降のフィードバック制御では、１回目のフィードバック制御の際に実施された式（１）〜式（２）の計算結果を用いて、式（３）〜式（５）の計算を行う。
【００６０】
具体的には、漏れ込み量算出部８３は、１回目のフィードバック制御のときだけ、式（１）〜式（２）の計算を行うことで、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する。
漏れ込み量算出部８３は、２回目以降のフィードバック制御では、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出しない。
減衰量算出部８４は、全てのフィードバック制御において、式（３）〜式（５）の計算を行う。
即ち、減衰量算出部８４は、全てのフィードバック制御において、１回目のフィードバック制御の際に算出された光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを用いて、チャネル（ｉ）の光信号の減衰量ＰＡＴＴｉを算出する。
【００６１】
実施の形態２の光信号制御装置７０は、実施の形態１の光信号制御装置７０と同様に、１つ以上のチャネルの光信号におけるそれぞれの光強度の誤差を低減することができる。
また、実施の形態２の光信号制御装置７０は、２回目以降のフィードバック制御において、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する必要がないため、処理負荷を軽減することができる。
【００６２】
実施の形態２の光信号制御装置７０は、１回目のフィードバック制御のときだけ、式（１）〜式（２）の計算を行う例を示しているが、これに限るものではない。
例えば、漏れ込み量算出部８３は、波長分割多重信号Ｗ７に含める光信号についてのチャネルの組み合わせが変化したときにおいても、式（１）〜式（２）の計算を行うようにしてもよい。
漏れ込み量算出部８３は、ＯｐＳ２により設定される信号送受信先が変更されたことを認識することで、波長分割多重信号Ｗ７に含める光信号についてのチャネルの組み合わせが変化したことを認識することができる。
減衰量算出部８４は、漏れ込み量算出部８３が、チャネルの組み合わせが変化したときに光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出すると、チャネルの組み合わせが変化したときに算出された光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを用いて、式（３）〜式（５）の計算を行う。
【００６３】
実施の形態３．
実施の形態１の光信号制御装置７０では、漏れ込み量算出部８３が、測定値ＰＰＤと、測定値ＰＯＣＭｉと、波長情報とから光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出している。
漏れ込み量算出部８３は、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する際、波長選択スイッチ７１に入力される波長分割多重信号Ｗ４及び波長分割多重信号Ｗ６のそれぞれに雑音光が重畳されることがあることを考慮していない。
実際には、自然放出（ＡＳＥ：Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）光による雑音光が波長分割多重信号Ｗ４及び波長分割多重信号Ｗ６のそれぞれに重畳されることがある。雑音光は、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉの算出結果に影響を与える要因となる。
【００６４】
実施の形態３では、漏れ込み量算出部８５が、雑音光を考慮して、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する光信号制御装置７０について説明する。
図９は、実施の形態３による光信号制御装置７０を含む第１の合分波部２３を示す構成図である。
図９において、図３及び図８と同一符号は同一又は相当部分を示すので説明を省略する。
漏れ込み量算出部８５は、例えば、図４に示す漏れ込み量算出回路９１で実現される。
漏れ込み量算出部８５は、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上のチャネルの光信号にそれぞれ重畳されている雑音光ＰＡＳＥを検出する処理を実施する。
漏れ込み量算出部８５は、第１の光強度測定部７７から出力された測定値ＰＰＤと、第２の光強度測定部７８から出力された測定値ＰＯＣＭｉと、波長情報と、雑音光ＰＡＳＥとから、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する処理を実施する。
【００６５】
次に、図９に示す光信号制御装置７０の動作について説明する。ただし、漏れ込み量算出部８５以外の動作は、実施の形態１と同様であるため、ここでは、漏れ込み量算出部８５の動作のみを説明する。
漏れ込み量算出部８５は、波長選択スイッチ７１から波長情報を取得する。ここでは、漏れ込み量算出部８５が、波長選択スイッチ７１から波長情報を取得する例を示しているが、図８に示すように、コントローラ８２がＯｐＳ２と接続されている場合、漏れ込み量算出部８５が、ＯｐＳ２から波長情報を取得するようにしてもよい。
【００６６】
漏れ込み量算出部８５は、波長情報を参照して、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１以上のチャネルの光信号に割り当てられている波長を認識することで、波長分割多重信号Ｗ７に含まれていないチャネルの光信号に割り当てられている波長を特定する。
例えば、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上のチャネルが、チャネル（５）〜（８）であれば、チャネル（１）〜（４）などは、波長分割多重信号Ｗ７に含まれていないチャネルである。
漏れ込み量算出部８５は、波長分割多重信号Ｗ７に含まれていないチャネルが、チャネル（１）〜（４）であれば、チャネル（１）〜（４）の光信号に割り当てられている波長λ１，λ２，λ３，λ４をそれぞれ特定する。
【００６７】
漏れ込み量算出部８５は、例えば、波長可変フィルタ７９と同様の波長可変フィルタを備えており、順番に波長λ１，λ２，λ３，λ４のそれぞれを掃引することで、波長分割多重信号Ｗ７の中から、チャネル（１）〜（４）の光信号をそれぞれ抽出する。
チャネル（１）〜（４）の光信号には、いわゆる主信号が含まれていないため、雑音光のみが含まれている。
漏れ込み量算出部８５は、例えば、フォトダイオード８０と同様のフォトダイオードを備えており、チャネル（１）〜（４）の光信号の光強度ＰＡＳＥ１，ＰＡＳＥ２，ＰＡＳＥ３，ＰＡＳＥ４をそれぞれ測定する。
【００６８】
漏れ込み量算出部８５は、以下の式（６）に示すように、それぞれ測定した光強度ＰＡＳＥ１，ＰＡＳＥ２，ＰＡＳＥ３，ＰＡＳＥ４の平均値を雑音光ＰＡＳＥとして算出する。
2019180822.tif 000008
ここでは、漏れ込み量算出部８５が、光強度ＰＡＳＥ１，ＰＡＳＥ２，ＰＡＳＥ３，ＰＡＳＥ４の平均値を雑音光ＰＡＳＥとして算出する例を示しているが、これに限るものではない。
例えば、漏れ込み量算出部８５は、光強度ＰＡＳＥ１，ＰＡＳＥ２，ＰＡＳＥ３，ＰＡＳＥ４のいずれかを雑音光ＰＡＳＥとしてもよい。
【００６９】
漏れ込み量算出部８５は、測定値ＰＰＤと、測定値ＰＯＣＭｉと、雑音光ＰＡＳＥとから、以下の式（７）に示すように、波長分割多重信号Ｗ７に含まれている１つ以上のチャネルのそれぞれに他のチャネルから漏れ込んでくる光の漏れ込み量の概算値Ｐｌｋを算出する。
2019180822.tif 000009
漏れ込み量算出部８５は、光の漏れ込み量の概算値Ｐｌｋと隣接パラメータｓｉとから、式（２）に示すように、チャネル（ｉ）に他のチャネルから漏れ込んでくる光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出する。
漏れ込み量算出部８５は、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを減衰量算出部８４に出力する。
【００７０】
以上の実施の形態３は、第１の光強度測定部７７から出力された測定値ＰＰＤと、第２の光強度測定部７８から出力された測定値ＰＯＣＭｉと、雑音光ＰＡＳＥとから、光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出するように、光信号制御装置７０を構成した。したがって、光信号制御装置７０は、実施の形態１よりも、高精度に光の漏れ込み量Ｐｌｋｉを算出することができるため、実施の形態１よりも更に、光強度の誤差を低減することができる。
【００７１】
なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００７２】
この発明は、１つ以上のチャネルの光信号のそれぞれを減衰させる光信号制御装置に適している。
また、この発明は、複数の光クロスコネクトが伝送路によって接続されている光通信システムに適している。
【符号の説明】
【００７３】
１−１〜１−４  ＯＸＣ、２  ＯｐＳ、３−２〜３−４  伝送路、１１〜１６  光増幅器、２１〜２３  第１の合分波部、３１，３２  第２の合分波部、４１〜４４  ＴＰＮＤ、４５〜４８  通信路、５１〜５４  クライアント端末、６０  波長選択スイッチ、７０  光信号制御装置、６１〜６３  光ファイバ、７１  波長選択スイッチ、７１ａ  可変光減衰器、７２，７３  入力側伝送路、７４  出力側伝送路、７５，７６  光合分波素子、７７  第１の光強度測定部、７８  第２の光強度測定部、７９  波長可変フィルタ、８０  フォトダイオード、８１  コントローラ、８２  コントローラ、８３，８５  漏れ込み量算出部、８４  減衰量算出部、９１  漏れ込み量算出回路、９２  減衰量算出回路、１０１  メモリ、１０２  プロセッサ。
【図１】
2019180822.tif 000010
【図２】
2019180822.tif 000011
【図３】
2019180822.tif 000012
【図４】
2019180822.tif 000013
【図５】
2019180822.tif 000014
【図６】
2019180822.tif 000015
【図７】
2019180822.tif 000016
【図８】
2019180822.tif 000017
【図９】
2019180822.tif 000018
【国際調査報告】
2019180822.tif 000019
2019180822.tif 000020
2019180822.tif 000021