(57)【要約】  この磁性体の検査装置（１００）は、磁性体（Ｗ）の表面に沿って移動する検査装置本体（Ｕ１）と、自身の位置情報を測位する測位部（４）と、を備える。そして、検査装置本体（Ｕ１）は、磁性体（Ｗ）の磁界の変化を検知する検知部（２）の検知結果に基づいて、磁性体（Ｗ）に欠陥がある場合に、測位部（４）により測位された位置情報に基づき、磁性体（Ｗ）の欠陥の位置情報を表示端末（５）に送信する送信部（３４）を含む。
2019102678.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物である磁性体の表面に沿って移動する検査装置本体と、
前記検査装置本体に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、
前記検査装置本体の検査結果を表示する表示端末と、を備え、
前記検査装置本体は、前記磁性体の磁界の変化を検知する検知部と、前記検知部の検知結果に基づいて、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記測位部により測位された位置情報に基づき、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記表示端末に送信する送信部とを含む、磁性体の検査装置。
【請求項２】
前記表示端末は、前記磁性体からなる前記検査対象物の画像情報を有しており、前記送信部により送信される前記磁性体の欠陥の位置情報と前記検査対象物の画像情報とに基づいて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
【請求項３】
前記測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機を含み、
前記表示端末は、前記送信部により送信される前記衛星信号受信機の情報に基づいた前記磁性体の欠陥の位置情報と、前記検査対象物の画像情報とを関連付けて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項２に記載の磁性体の検査装置。
【請求項４】
前記検査装置本体側に設けられる撮像部をさらに備え、
前記撮像部は、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記磁性体における欠陥の箇所の画像を取得し、
前記検査装置本体の前記送信部は、前記撮像部により取得された前記磁性体における欠陥の箇所の画像、および、前記磁性体の欠陥の位置情報の両方を、前記表示端末に送信し、
前記表示端末は、前記送信部により送信された情報に基づいて、前記磁性体における欠陥の箇所の画像と、前記磁性体における欠陥の位置が識別可能に表示された前記検査対象物の画像との両方を表示するように構成されている、請求項２に記載の磁性体の検査装置。
【請求項５】
前記検査装置本体は、前記磁性体に欠陥があるか否かを判定するとともに、前記磁性体に欠陥があると判定した場合に、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記送信部により前記表示端末に送信させる本体側制御部を含む、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
【請求項６】
検査対象物である磁性体の表面に沿って移動する検査装置と、
前記検査装置に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、
前記検査装置の検査結果を表示する表示端末装置と、を備え、
前記検査装置は、前記磁性体の磁界の変化を検知する検知部と、前記検知部の検知結果に基づいて、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記測位部により測位された位置情報に基づき、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記表示端末装置に送信する送信部とを含む、磁性体の検査システム。
【請求項７】
前記表示端末装置は、前記磁性体からなる前記検査対象物の画像情報を有しており、前記送信部により送信される前記磁性体の欠陥の位置情報と前記検査対象物の画像情報とに基づいて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項６に記載の磁性体の検査システム。
【請求項８】
前記測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機をさらに備え、
前記表示端末装置は、前記送信部により送信される前記衛星信号受信機の情報に基づいた前記磁性体の欠陥の位置情報と、前記検査対象物の画像情報とを関連付けて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項７に記載の磁性体の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体の検査装置および磁性体の検査システムに関し、特に、検査装置本体を備える磁性体の検査装置および磁性体の検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、検査装置本体を備える磁性体の検査装置および磁性体の検査システムが知られている。このような磁性体の検査装置および磁性体の検査システムは、たとえば、特開２００６−１７０７６６号公報に開示されている。【０００３】
上記特開２００６−１７０７６６号公報には、検査部と、超音波探傷器と、位置検出処理手段としてのエンコーダ出力装置とを備える、探傷装置が記載されている。上記探傷装置は、被検体の表面上を移動可能に構成されている。検査部は、超音波探傷用のプローブにマウススキャナを結合した構成となっている。プローブは、圧電素子である振動子を備えている。振動子から発生される超音波が被検体の表面に出射され、被検体により反射された超音波の反射エコーが振動子により検知される。そして、振動子により検知された検知信号が、超音波探傷器に出力される。超音波探傷器は、振動子から出力された検知信号を処理することによって探傷データを生成する。【０００４】
また、上記探傷装置には、エンコーダと、エンコーダからの信号に基づいて、プローブの位置の検出処理を行うエンコーダ出力装置とが備えられている。エンコーダ出力装置は、エンコーダから出力される（マウススキャナに設けられたボールの）回転検出信号に基づいて、予め設定された基準位置からのプローブの移動距離を算出し、プローブの位置情報を超音波探傷器に出力する。すなわち、超音波探傷器では、探傷データと同時にプローブの位置情報が取得されることにより、被検体における傷等の欠陥の位置を特定することが可能に構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−１７０７６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特開２００６−１７０７６６号公報に記載の超音波探傷器では、被検体における傷等の欠陥の位置を特定するために、エンコーダから出力される（マウススキャナに設けられたボールの）回転検出信号に基づいて、プローブの位置情報を（演算を行うことにより）算出する必要がある分、欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するという問題点がある。【０００７】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することが可能な磁性体の検査装置および磁性体の検査システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における磁性体の検査装置は、検査対象物である磁性体の表面に沿って移動する検査装置本体と、検査装置本体に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、検査装置本体の検査結果を表示する表示端末と、を備え、検査装置本体は、磁性体の磁界の変化を検知する検知部と、検知部の検知結果に基づいて、磁性体に欠陥がある場合に、測位部により測位された位置情報に基づき、磁性体の欠陥の位置情報を表示端末に送信する送信部とを含む。【０００９】
この発明の第１の局面における磁性体の検査装置では、上記のように、測位部を備えることによって、エンコーダ等により検査装置本体（欠陥）の位置情報を（演算を行うことにより）算出する場合と異なり、検査装置本体（欠陥）の位置情報を（複雑な演算を行うことなく）測位部から直接的に取得し、表示端末に送信することができる。その結果、磁性体の欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することができる。【００１０】
また、欠陥の位置に塗料等によりマーキングする場合と異なり、検査対象物である磁性体を汚染せずに検査を行うことができる。また、検査対象物である磁性体の素材によっては、塗料等が付着しにくい場合がある。これに対して、測位部の情報に基づいて欠陥の位置情報を取得する場合には、塗料等を用いる場合に比べて容易に検査を行うことができる。【００１１】
上記第１の局面における磁性体の検査装置において、好ましくは、表示端末は、磁性体からなる検査対象物の画像情報を有しており、送信部により送信される磁性体の欠陥の位置情報と検査対象物の画像情報とに基づいて、磁性体における欠陥の位置を検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている。このように構成すれば、ユーザが、画像中に表示された検査対象物における欠陥の位置を視認しながら、欠陥の箇所を探すことができる。その結果、検査対象物における欠陥の箇所を探す作業の容易化を図ることができる。【００１２】
この場合、好ましくは、測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機を含み、表示端末は、送信部により送信される衛星信号受信機の情報に基づいた磁性体の欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とを関連付けて、磁性体における欠陥の位置を検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている。このように構成すれば、衛星信号受信機（たとえばＧＰＳ受信機）を設けるだけの簡易な構成により、磁性体における欠陥の位置を識別可能にすることができる。【００１３】
上記表示端末が検査対象物の画像情報を有する磁性体の検査装置において、好ましくは、検査装置本体側に設けられる撮像部をさらに備え、撮像部は、磁性体に欠陥がある場合に、磁性体における欠陥の箇所の画像を取得し、検査装置本体の送信部は、撮像部により取得された磁性体における欠陥の箇所の画像、および、磁性体の欠陥の位置情報の両方を、表示端末に送信し、表示端末は、送信部により送信された情報に基づいて、磁性体における欠陥の箇所の画像と、磁性体における欠陥の位置が識別可能に表示された検査対象物の画像との両方を表示するように構成されている。このように構成すれば、ユーザが、検査対象物における欠陥の位置に対応する実際の欠陥の様子（画像）を視認することができる。その結果、ユーザが、欠陥が対処（修理）を要するのかを、撮像部により取得された画像に基づいて容易に判断することができる。【００１４】
上記第１の局面における磁性体の検査装置において、好ましくは、検査装置本体は、磁性体に欠陥があるか否かを判定するとともに、磁性体に欠陥があると判定した場合に、磁性体の欠陥の位置情報を送信部により表示端末に送信させる本体側制御部を含む。このように構成すれば、欠陥の判定、および、送信部への指示の各々を、共通の本体側制御部により行うことができる。その結果、欠陥の判定、および、送信部への指示の各々を、別個の制御部により行う場合に比べて、回路構成の複雑化を抑制することができるとともに、欠陥の判定から送信部への指示までをより速やかに行うことができる。【００１５】
この発明の第２の局面における磁性体の検査システムは、検査対象物である磁性体の表面に沿って移動する検査装置と、検査装置に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、検査装置の検査結果を表示する表示端末装置と、を備え、検査装置は、磁性体の磁界の変化を検知する検知部と、検知部の検知結果に基づいて、磁性体に欠陥がある場合に、測位部により測位された位置情報に基づき、磁性体の欠陥の位置情報を表示端末装置に送信する送信部とを含む。【００１６】
この発明の第２の局面における磁性体の検査システムでは、上記のように、測位部を備えることによって、エンコーダ等により検査装置（欠陥）の位置情報を（演算を行うことにより）算出する場合と異なり、検査装置（欠陥）の位置情報を（複雑な演算を行うことなく）測位部から直接的に取得し、表示端末装置に送信することができる。その結果、磁性体の欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することが可能な検査システムを得ることができる。【００１７】
上記第２の局面における磁性体の検査システムにおいて、好ましくは、表示端末装置は、磁性体からなる検査対象物の画像情報を有しており、送信部により送信される磁性体の欠陥の位置情報と検査対象物の画像情報とに基づいて、磁性体における欠陥の位置を検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている。このように構成すれば、ユーザが、画像中に表示された検査対象物における欠陥の位置を視認しながら、欠陥の箇所を探すことができる。その結果、検査対象物における欠陥の箇所を探す作業の容易化を図ることが可能な検査システムを得ることができる。【００１８】
上記第２の局面における磁性体の検査装置において、好ましくは、測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機をさらに備え、表示端末装置は、送信部により送信される衛星信号受信機の情報に基づいた磁性体の欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とを関連付けて、磁性体における欠陥の位置を検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている。このように構成すれば、衛星信号受信機を設けるだけの簡易な検査システムにより、磁性体における欠陥の位置を識別可能にすることができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、上記のように、磁性体の欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することが可能な磁性体の検査装置および磁性体の検査システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】第１実施形態による磁性体の検査装置（磁性体の検査システム）の構成を示す概略図である。
【図２】第１実施形態による検査装置本体の構造を説明するための図である。（図２（ａ）は、磁界印加部の磁界の印加方向および検知部の構成を説明するための図である。図２（ｂ）は、検知部の詳細な構成を示す図である。図２（ｃ）は、電子回路部の構成を示すブロック図である。）
【図３】第１実施形態による磁性体における欠陥の有無の判定方法を説明するための図である。
【図４】第１実施形態による測位部の位置情報の送信のタイミングを制御する方法を説明するための図である。
【図５】第１実施形態による表示端末に表示される画像を示した図である。
【図６】第２実施形態による磁性体の検査装置（磁性体の検査システム）の構成を示す概略図である。
【図７】第２実施形態による電子回路部の構成を示すブロック図である。
【図８】第２実施形態による撮像部により画像が取得されるタイミングを制御する方法を説明するための図である。
【図９】第２実施形態による表示端末に表示される画像を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２２】
［第１実施形態］
図１〜図５を参照して、第１実施形態による検査装置１００（検査システム２００）の構成について説明する。なお、検査装置１００および検査システム２００は、それぞれ、請求の範囲の「磁性体の検査装置」および「磁性体の検査システム」の一例である。
【００２３】
（検査装置（検査システム）の構成）
図１に示すように、検査装置１００（検査システム２００）は、検査対象物であるスチールワイヤロープＷの表面に沿って移動する検査ユニットＵ１を備える。検査ユニットＵ１には、後述する、磁界印加部１（図２（ａ）参照）、検知部２（図２（ａ）参照）、および、電子回路部３（図２（ａ）参照）が設けられている。また、検査装置１００には、検査ユニットＵ１をＸ方向に移動可能にするモータ１０１（図２（ｃ）参照）が設けられている。なお、Ｙ方向およびＺ方向はスチールワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に垂直な面内で直交する２つの方向である。また、検査ユニットＵ１は、請求の範囲の「検査装置本体」および「検査装置」の一例である。また、スチールワイヤロープＷは、請求の範囲の「磁性体」の一例である。
【００２４】
また、検査装置１００（検査システム２００）は、衛星からの信号を受信するＧＰＳ４を備える。ＧＰＳ４は、自身の位置情報を測位するように構成されている。また、検査装置１００（検査システム２００）は、検査ユニットＵ１の検査結果を表示する表示端末５を備える。なお、ＧＰＳ４は、請求の範囲の「測位部」および「衛星信号受信機」の一例である。また、表示端末５は、請求の範囲の「表示端末装置」の一例である。
【００２５】
ＧＰＳ４は、検査ユニットＵ１に設けられて（取り付けられて）いる。すなわち、検査ユニットＵ１およびＧＰＳ４は、Ｘ方向において一体的に移動する。また、ＧＰＳ４は、検査ユニットＵ１に対して、Ｘ２方向側に設けられている。ＧＰＳ４は、検査ユニットＵ１に対して隣接するように設けられている。また、表示端末５は、検査ユニットＵ１とは別個に設けられている。
【００２６】
表示端末５には、受信部５ａが設けられている。検査ユニットＵ１（電子回路部３）の後述する送信部３４と、表示端末５の受信部５ａとは、無線等により情報の送受信が可能に構成されている。なお、図１は概略図であり、説明に不要な部材は、簡略化のため、図示を省略している。
【００２７】
スチールワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成され、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。スチールワイヤロープＷに劣化による切断が起こるのを防ぐために、普段からスチールワイヤロープＷの状態（傷等の有無）を監視し、劣化が進行したスチールワイヤロープＷを早い段階で交換することが必要である。
【００２８】
図２（ａ）に示すように、検査装置１００（後述する検知部２）は、スチールワイヤロープＷの磁界（磁束）の変化を検知するように構成されている。
【００２９】
磁界印加部１は、検査対象物であるスチールワイヤロープＷに対して予めＹ方向に磁界を印加し磁性体の磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部１は、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対してＹ２方向に磁界を印加する第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂと、Ｘ方向において、検知部２の第１磁界印加部１１ａおよび１１ｂの側とは反対側に設けられ、長尺材からなるスチールワイヤロープＷに対しＸ方向に交差する面に平行かつＹ２方向と反対方向となるＹ１方向に沿って磁界を印加する第２磁界印加部１２ａおよび１２ｂとを含む。すなわち、磁界印加部１は、長尺材の長手方向であるＸ方向と略直交する方向に磁界を印加するように構成されている。
【００３０】
図２（ｂ）に示すように、検知部２は、励振コイル２１と検知コイル２２とを含む。また、励振コイル２１および検知コイル２２は、図２（ａ）および図２（ｂ）に示すように、長尺材からなる磁性体であるスチールワイヤロープＷの延びる方向を中心軸として、長手方向に沿うように複数回巻回され、スチールワイヤロープＷの延びるＸ方向（長手方向）に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、巻回される導線部分の形成する面は、長手方向に略直交し、スチールワイヤロープＷはコイルの内部を通過する。また、検知コイル２２は、励振コイル２１の内側に設けられている。なお、検知コイル２２および励振コイル２１の配置はこれに限られない。
【００３１】
励振コイル２１は、スチールワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。具体的には、励振コイル２１に励振交流電流が流されることにより、励振コイル２１の内部において、励振交流電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿って印加されるように構成されている。
【００３２】
検知コイル２２は、検査対象物であるスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知して検知信号（電圧）を出力するように構成されている。すなわち、検知コイル２２は、磁界印加部１によりＹ２方向に磁界が印加されたスチールワイヤロープＷに対して、Ｙ２方向に交差するＸ方向の磁界の変化を検知するとともに、検知したスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化に基づく電圧を出力するように構成されている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。
【００３３】
また、検知コイル２２は、２つのコイル部分である検知コイル２２ａおよび２２ｂからなる差動コイルとなっている。また、検知コイル２２は、励振コイル２１に流れる励振交流電流により発生した磁界により磁化の状態が励振されたスチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の変化を検知する。
【００３４】
また、スチールワイヤロープＷに欠陥（傷等）が存在する場合は、欠陥（傷等）のある部分でスチールワイヤロープＷの全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）が小さくなる。その結果、たとえば、検知コイル２２ａが、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、検知コイル２２ａの検知電圧の値が検知コイル２２ｂと比較して減少するため、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）が大きくなる。また、検知コイル２２ｂが、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、検知コイル２２ｂの検知電圧の値が検知コイル２２ａと比較して減少するため、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）が小さくなる。また、欠陥（傷等）のない部分での検知信号は略ゼロとなる。このように、差動コイルにおいて、欠陥（傷等）の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部３は、検知信号の差の値に基づいてスチールワイヤロープＷの欠陥（傷等）の存在を検出することが可能である。
【００３５】
図２（ｃ）に示すように、電子回路部３は、増幅器３１と、ＡＤ変換器３２と、ＣＰＵ３３（ＣＰＵ３３を含むマイコン）と、送信部３４とを含む。増幅器３１は、検知コイル２２から出力される検知信号（スチールワイヤロープＷのＸ方向の磁界の強さに基づく電流）を増幅し、ＡＤ変換器３２に出力する。ＡＤ変換器３２は、増幅器３１により増幅されたアナログの検知信号を、デジタルの検知信号に変換する。ＣＰＵ３３は、ＡＤ変換器３２から出力される検知信号から交流成分を取り除く処理を行い、検知信号の絶対値の変化に対応した信号（ＤＣレベル信号）に変換する同期検波整流処理を行うとともに、検知信号が所定の閾値を超えた場合に、警報信号を出力する。なお、ＣＰＵ３３は、請求の範囲の「本体側制御部」の一例である。
【００３６】
また、ＣＰＵ３３は、スチールワイヤロープＷに欠陥があるか否かを判定するように構成されている。また、ＣＰＵ３３は、欠陥（傷等）の大きさを判定する機能を有している。また、ＣＰＵ３３は、検知部２（検査装置１００）の移動速度の制御等を行う。具体的には、ＣＰＵ３３は、検査装置１００を駆動するモータ１０１の駆動を制御することにより、検知部２（検査装置１００）の移動速度の制御を行う。
【００３７】
ここで、図３に基づいて、ＣＰＵ３３（図２（ｃ）参照）によるスチールワイヤロープＷの欠陥の判定方法を説明する。図３に示すように、スチールワイヤロープＷの欠陥がある位置に検知コイル２２ａ（図２（ｂ）参照）が位置する場合に、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）の（正側の）ピーク値がｐ１であるとする。また、欠陥がある位置に検知コイル２２ｂ（図２（ｂ）参照）が位置する場合に、差動コイル（検知コイル２２（図２（ｂ）参照）全体）による検知電圧の差の値（検知信号）の（負側の）ピーク値がｐ２であるとする。
【００３８】
この場合、ＣＰＵ３３は、所定の閾時間内に正側のピークおよび負側のピークの両方を検知するとともに、正側のピーク値ｐ１と負側のピーク値ｐ２との差分が所定の値以上である場合に、スチールワイヤロープＷに欠陥があると判定する。なお、所定の閾時間は、検査装置１００の速度等に基づいて、任意に設定された値である。
【００３９】
ここで、第１実施形態では、図４に示すように、送信部３４は、検知部２（図２（ａ）参照）の検知結果に基づいて、スチールワイヤロープＷに欠陥がある場合に、ＧＰＳ４により測位された位置情報に基づき、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を表示端末５に送信するように構成されている。具体的には、ＣＰＵ３３（図２（ｃ）参照）は、スチールワイヤロープＷに欠陥があると判定した場合に、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を送信部３４により表示端末５に送信させるように構成されている。以下に、欠陥の判定における制御を詳細に説明する。なお、図４は概略図であり、説明に不要な部材は、簡略化のため、図示を省略している。
【００４０】
図４（ａ）に示すように、Ｘ方向において、検知コイル２２の中心（検知コイル２２ａと検知コイル２２ｂとの接続点）の中心が、ＧＰＳ４の中心に対して、Ｘ１方向側に距離Ｌ１離間しているとする。距離Ｌ１は、製造時点において予め分かっている値である。
【００４１】
また、ＣＰＵ３３（図２（ｃ）参照）は、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）が０になるタイミング、および、検査装置１００の移動速度等に基づいて、検知コイル２２の中心と欠陥の位置との間の（Ｘ方向における）距離Ｌ２を算出する。
【００４２】
そして、図４（ｂ）に示すように、ＣＰＵ３３は、ＧＰＳ４が欠陥の位置に移動した時点で、ＧＰＳ４の位置情報を送信部３４により表示端末５に送信させるように構成されている。具体的には、ＣＰＵ３３は、ＧＰＳ４の移動速度に基づいて、ＧＰＳ４が距離Ｌ１−Ｌ２を移動するのに要する時間ｔ１を算出する。そして、ＣＰＵ３３は、欠陥があると判定した時間から、上記移動に要する時間ｔ１後に、ＧＰＳ４の位置情報を送信部３４により表示端末５に送信させるように構成されている。
【００４３】
また、ＣＰＵ３３は、ＧＰＳ４の位置情報を送信部３４により表示端末５に送信させる際に、モータ１０１（図２（ｃ）参照）を制御して、検査ユニットＵ１を停止させるように構成されている。
【００４４】
図５に示すように、表示端末５は、スチールワイヤロープＷからなる検査対象物の画像情報（たとえば図面データ）を有している。具体的には、表示端末５には、スチールワイヤロープＷ、および、スチールワイヤロープＷが用いられている建造物（本実施形態では橋９００）の画像情報を有している。スチールワイヤロープＷ、および、建造物の画像情報の各々には、座標情報（たとえば、緯度および経度の情報）が含まれている。
【００４５】
ここで、本実施形態では、表示端末５は、送信部３４（図４参照）により送信されるスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とに基づいて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を検査対象物の画像５０中に識別可能に表示するように構成されている。具体的には、表示端末５の図示しないＣＰＵは、送信部３４により送信されるＧＰＳ４の情報に基づいたスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とを融合することにより互いの情報を関連付け、検査対象物の画像５０中にスチールワイヤロープＷの欠陥の位置を示す印を重ね合わせて表示するように構成されている。
【００４６】
また、ユーザが、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置を示す印のいずれかを選択した場合、選択された欠陥の緯度および経度の情報（図５では、緯度ＸＸ度、経度ＹＹ度と表示）が画像５０中に表示される。
【００４７】
［第１実施形態の効果］
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【００４８】
第１実施形態では、上記のように、検査ユニットＵ１が、検知部２の検知結果に基づいて、スチールワイヤロープＷに欠陥がある場合に、ＧＰＳ４により測位された位置情報に基づき、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を表示端末５に送信する送信部３４を含むように、検査装置１００を構成する。これにより、エンコーダ等により検査ユニットＵ１（欠陥）の位置情報を（演算により）算出する場合と異なり、検査ユニットＵ１（欠陥）の位置情報をＧＰＳ４から直接的に取得し、表示端末５に送信することができる。その結果、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することができる。
【００４９】
また、欠陥の位置に塗料等によりマーキングする場合と異なり、検査対象物であるスチールワイヤロープＷを汚染せずに検査を行うことができる。また、検査対象物であるスチールワイヤロープＷの素材によっては、塗料等が付着しにくい場合がある。これに対して、ＧＰＳ４の情報に基づいて欠陥の位置情報を取得する場合には、塗料等を用いる場合に比べて容易に検査を行うことができる。
【００５０】
また、第１実施形態では、上記のように、表示端末５が、スチールワイヤロープＷからなる検査対象物の画像情報を有しており、送信部３４により送信されるスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と検査対象物の画像情報とに基づいて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を検査対象物の画像５０中に識別可能に表示するように、検査装置１００を構成する。これにより、ユーザが、画像５０中に表示された検査対象物における欠陥の位置を視認しながら、欠陥の箇所を探すことができる。その結果、検査対象物における欠陥の箇所を探す作業の容易化を図ることができる。
【００５１】
また、第１実施形態では、上記のように、表示端末５が、送信部３４により送信されるＧＰＳ４の情報に基づいたスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とを関連付けて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を検査対象物の画像５０中に識別可能に表示するように、検査装置１００を構成する。これにより、ＧＰＳ４を設けるだけの簡易な構成により、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を識別可能にすることができる。
【００５２】
また、第１実施形態では、上記のように、検査ユニットＵ１が、スチールワイヤロープＷに欠陥があるか否かを判定するとともに、スチールワイヤロープＷに欠陥があると判定した場合に、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を送信部３４により表示端末５に送信させるＣＰＵ３３を含むように、検査装置１００を構成する。これにより、欠陥の判定、および、送信部３４への指示の各々を、共通のＣＰＵ３３により行うことができる。その結果、欠陥の判定、および、送信部３４への指示の各々を、別個のＣＰＵにより行う場合に比べて、回路構成の複雑化を抑制することができるとともに、欠陥の判定から送信部３４への指示までをより速やかに行うことができる。
【００５３】
また、第１実施形態では、上記のように、検査ユニットＵ１が、検知部２の検知結果に基づいて、スチールワイヤロープＷに欠陥がある場合に、ＧＰＳ４により測位された位置情報に基づき、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を表示端末５に送信する送信部３４を含むように、検査システム２００を構成する。これにより、エンコーダ等により検査ユニットＵ１（欠陥）の位置情報を（演算を行うことにより）算出する場合と異なり、検査ユニットＵ１（欠陥）の位置情報を（複雑な演算を行うことなく）ＧＰＳ４から直接的に取得し、表示端末５に送信することができる。その結果、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報を取得する制御の負荷が増大するのを抑制することが可能な検査システム２００を得ることができる。
【００５４】
また、第１実施形態では、上記のように、表示端末５が、スチールワイヤロープＷからなる検査対象物の画像情報を有しており、送信部３４により送信されるスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と検査対象物の画像情報とに基づいて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を検査対象物の画像５０中に識別可能に表示するように、検査システム２００を構成する。これにより、ユーザが、画像５０中に表示された検査対象物における欠陥の位置を視認しながら、欠陥の箇所を探すことができる。その結果、検査対象物における欠陥の箇所を探す作業の容易化を図ることが可能な検査システム２００を得ることができる。
【００５５】
また、第１実施形態では、上記のように、表示端末５が、送信部３４により送信されるＧＰＳ４の情報に基づいたスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報と、検査対象物の画像情報とを関連付けて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を検査対象物の画像５０中に識別可能に表示するように、検査システム２００を構成する。これにより、ＧＰＳ４を設けるだけの簡易な検査システム２００により、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置を識別可能にすることができる。
【００５６】
［第２実施形態］
次に、図６〜図９を参照して、第２実施形態による検査装置３００（検査システム４００）の構成について説明する。この第２実施形態の検査装置３００（検査システム４００）は、上記第１実施形態の検査装置１００（検査システム２００）の構成に加えて、スチールワイヤロープＷの欠陥を撮像するためのカメラ６を備えている。なお、上記第１実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。なお、検査装置３００および検査システム４００は、それぞれ、請求の範囲の「磁性体の検査装置」および「磁性体の検査システム」の一例である。
【００５７】
（検査装置（検査システム）の構成）
図６に示すように、検査装置３００（検査システム４００）は、電子回路部１３（図７参照）を含む検査ユニットＵ２（図７参照）を備える。また、検査装置３００（検査システム４００）は、検査ユニットＵ２の検査結果を表示する表示端末１５を備える。なお、検査ユニットＵ２は、請求の範囲の「検査装置本体」および「検査装置」の一例である。また、表示端末１５は、請求の範囲の「表示端末装置」の一例である。
【００５８】
表示端末１５には、受信部１５ａが設けられている。検査ユニットＵ２（電子回路部１３）の後述する送信部１３４と、表示端末１５の受信部１５ａとは、無線等により情報の送受信が可能に構成されている。なお、図６は概略図であり、説明に不要な部材は、簡略化のため、図示を省略している。
【００５９】
検査装置３００（検査システム４００）は、検査ユニットＵ２側に設けられるカメラ６を備える。カメラ６は、スチールワイヤロープＷの表面を接写するように設けられている。カメラ６は、検査ユニットＵ２に対して、Ｘ２方向側に設けられている。カメラ６は、検査ユニットＵ２に対して隣接するように設けられている。なお、カメラ６は、請求の範囲の「撮像部」の一例である。
【００６０】
図７に示すように、電子回路部１３は、ＣＰＵ１３３（ＣＰＵ１３３を含むマイコン）と、送信部１３４とを含む。なお、ＣＰＵ１３３は、請求の範囲の「本体側制御部」の一例である。
【００６１】
図８に示すように、カメラ６は、スチールワイヤロープＷに欠陥がある場合に、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の箇所の画像を取得するように構成されている。具体的には、ＣＰＵ１３３は、スチールワイヤロープＷに欠陥があると判定した場合に、スチールワイヤロープＷの欠陥の箇所の画像をカメラ６により取得させるように構成されている。以下に、カメラ６に画像を取得させるための制御を詳細に説明する。なお、図８は概略図であり、説明に不要な部材は、簡略化のため、図示を省略している。
【００６２】
図８（ａ）に示すように、Ｘ方向において、検知コイル２２の中心（検知コイル２２ａと検知コイル２２ｂとの接続点）が、カメラ６の中心に対して、Ｘ１方向側に距離Ｌ３離間しているとする。距離Ｌ３は、製造時点において予め分かっている値である。
【００６３】
そして、図８（ｂ）に示すように、ＣＰＵ１３３は、カメラ６が欠陥の位置に移動した時点で、スチールワイヤロープＷの欠陥の箇所の画像をカメラ６により取得させるように構成されている。具体的には、ＣＰＵ１３３は、カメラ６の移動速度に基づいて、カメラ６が距離Ｌ３−Ｌ２を移動するのに要する時間ｔ２を算出する。そして、ＣＰＵ１３３は、欠陥があると判定した時間から、上記移動に要する時間ｔ２後に、カメラ６により画像を取得させるように構成されている。
【００６４】
また、ＣＰＵ１３３は、カメラ６により画像を取得させる際に、モータ１０１（図７参照）を制御して、検査ユニットＵ２を停止させるように構成されている。そして、ＣＰＵ１３３は、検査ユニットＵ２を停止させた後、所定の時間後に検査ユニットＵ２を再駆動させるように構成されている。
【００６５】
また、ＣＰＵ１３３は、カメラ６により取得されたスチールワイヤロープＷにおける欠陥の箇所の画像、および、ＧＰＳ４の情報に基づいて取得されたスチールワイヤロープＷの欠陥の位置情報の両方を、送信部１３４により表示端末１５に送信させるように構成されている。ＣＰＵ１３３は、上記画像と上記位置情報とを送信部１３４により同時に送信させてもよいし、上記画像および上記位置情報の各々が取得された時点で送信部１３４により別個に送信させてもよい。
【００６６】
ここで、第２実施形態では、図９に示すように、表示端末１５は、送信部１３４により送信された情報に基づいて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の箇所の画像（後述する画像１５０ｂ）と、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置が識別可能に表示された検査対象物の画像（後述する画像１５０ａ）との両方を表示するように構成されている。具体的には、表示端末１５の図示しないＣＰＵは、表示端末１５の画像１５０中において、スチールワイヤロープＷの欠陥の位置が印により示された画像（左側の画像１５０ａ）と、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の箇所の画像（カメラ６により撮像された写真データである右側の画像１５０ｂ）とを同時に表示するように構成されている。ユーザが、画像１５０の左側の画像１５０ａ中において、表示された欠陥の印のいずれか１つを選択した場合、右側の画像１５０ｂにおいて、選択された欠陥の箇所に対応する欠陥の画像（写真）が表示されるように構成されている。
【００６７】
第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【００６８】
（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【００６９】
第２実施形態では、上記のように、表示端末１５が、送信部１３４により送信された情報に基づいて、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の箇所の画像１５０ｂと、スチールワイヤロープＷにおける欠陥の位置が識別可能に表示された検査対象物の画像１５０ａとの両方を表示するように、検査装置３００を構成する。これにより、ユーザが、検査対象物における欠陥の位置に対応する実際の欠陥の様子（画像１５０ｂ）を視認することができる。その結果、ユーザが、欠陥が対処（修理）を要するのかを、カメラ６により取得された画像１５０ｂに基づいて容易に判断することができる。
【００７０】
なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
【００７１】
（変形例）
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
【００７２】
たとえば、上記第１および第２実施形態では、衛星信号受信機を用いた衛星測位を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、衛星測位以外（たとえば、Ｗｉ−Ｆｉ測位または基地局測位など）の手法を用いてもよい。
【００７３】
また、上記第１および第２実施形態では、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）が、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ１、Ｕ２）のＸ２方向側に配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）は、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ１、Ｕ２）のＸ２方向側以外の場所に配置されていてもよいし、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ１、Ｕ２）の内部に配置されていてもよい。また、撮像部（カメラ６）は、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ１、Ｕ２）のＸ２方向側以外の場所に配置されていてもよい。
【００７４】
また、上記第２実施形態では、表示端末（表示端末装置）が画像情報として検出対象物の図面データを有している例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、表示端末（表示端末装置）は画像情報として検出対象物の写真データを有していてもよい。
【００７５】
また、上記第１および第２実施形態では、磁性体として、橋に用いられるスチールワイヤロープを例に示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体は、橋以外の建造物に用いられるスチールワイヤロープであってもよい。
【００７６】
また、上記実施形態では、磁性体がスチールワイヤロープである例を示したが、本発明はこれに限られない。ワイヤロープ以外の磁性体でもよい。
【００７７】
また、上記第２実施形態では、撮像部（カメラ６）が、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ２）に対して隣接するように設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、撮像部（カメラ６）が、検査装置本体（検査装置）（検査ユニットＵ２）から離間していてもよい。
【００７８】
また、上記第１および第２実施形態では、本体側制御部（ＣＰＵ３３、１３３）は、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）が欠陥の位置に移動した際に、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）による位置情報を表示端末（表示端末装置）に送信する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、本体側制御部（ＣＰＵ３３、１３３）は、欠陥があると判定された時点における、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）による位置情報に基づいて欠陥の位置を算出し、算出した位置情報を表示端末（表示端末装置）に送信してもよい。また、本体側制御部（ＣＰＵ３３、１３３）は、欠陥があると判定された時点における測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）の位置情報を表示端末（表示端末装置）に送信してもよい。
【００７９】
また、上記第１および第２実施形態では、差動コイル（検知コイル２２全体）による検知電圧の差の値（検知信号）の正側のピーク値ｐ１と負側のピーク値ｐ２との差分が、所定の値以上である場合に、磁性体（スチールワイヤロープＷ）に欠陥があると本体側制御部（ＣＰＵ３３、１３３）により判定される例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、正側のピーク値ｐ１が所定の正側閾値以上で、かつ、負側のピーク値ｐ２が所定の負側閾値以下である場合に、磁性体（スチールワイヤロープＷ）に欠陥があると制御部（ＣＰＵ３３、１３３）により判定されてもよい。
【００８０】
また、上記第２実施形態では、撮像部（カメラ６）が１つだけ設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、撮像部（カメラ６）が複数設けられていてもよい。
【００８１】
また、上記第１および第２実施形態では、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）の位置情報を送信する際に、検査装置本体（検査装置）を停止させる例を示したが、本発明はこれに限られない。検査装置本体（検査装置）を停止させることなく、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）の位置情報を送信してもよい。
【００８２】
また、上記第２実施形態では、撮像部（カメラ６）は写真を取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、撮像部（カメラ６）は動画を取得してもよい。
【００８３】
また、上記第２実施形態では、表示端末（表示端末装置）の画像中において、磁性体（スチールワイヤロープＷ）における欠陥の箇所の画像と、磁性体（スチールワイヤロープＷ）における欠陥の位置が識別可能に表示された検査対象物の画像との両方を同時に表示する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁性体（スチールワイヤロープＷ）における欠陥の箇所の画像と、磁性体（スチールワイヤロープＷ）における欠陥の位置が識別可能に表示された検査対象物の画像とが、切り替え可能に構成されていてもよい。
【００８４】
また、上記第１および第２実施形態では、位置情報を取得するための機器として、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）だけが設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、測位部（衛星信号受信機）（ＧＰＳ４）に加えて、高度計が設けられていてもよい。
【００８５】
また、上記第１および第２実施形態では、本体側制御部（ＣＰＵ３３、１３３）がモータ１０１の駆動を制御する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、外部のＰＣからの指示に基づいて、制御部（ＣＰＵ３３、１３３）を介して、モータ１０１の駆動を制御してもよい。
【００８６】
また、上記第１および第２実施形態では、表示端末（表示端末装置）に表示される画像中に、欠陥の経度および緯度の情報が表示される例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、表示端末（表示端末装置）に表示される画像中に、欠陥の経度および緯度の情報に加えて、欠陥の高度の情報が表示されてもいい。
【符号の説明】
【００８７】
２  検知部
４  ＧＰＳ（測位部）（衛星信号受信機）
５、１５  表示端末（表示端末装置）
６  カメラ（撮像部）
３３、１３３  ＣＰＵ（本体側制御部）
３４、１３４  送信部
５０、１５０、１５０ａ  画像（検査対象物の画像）
１００、３００  検査装置（磁性体の検査装置）
１５０ｂ  画像（磁性体における欠陥の箇所の画像）
２００、４００  検査システム（磁性体の検査システム）
Ｕ１、Ｕ２  検査ユニット（検査装置本体）（検査装置）
Ｗ  スチールワイヤロープ（磁性体）
【図１】
2019102678.tif 000003
【図２】
2019102678.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2019102678.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【手続補正書】
【提出日】令和2年1月24日(2020.1.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物である長尺材からなる磁性体の表面に沿って移動する検査装置本体と、
前記検査装置本体に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、
前記検査装置本体の検査結果を表示する表示端末と、を備え、
前記検査装置本体は、前記磁性体に磁界を印加することにより前記磁性体の磁化の大きさおよび方向を整える磁界印加部と、前記磁界印加部により磁界が印加された前記磁性体の磁界の変化を検知するとともに、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられる検知コイルを含む検知部と、前記検知部の検知結果に基づいて、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記測位部により測位された位置情報に基づき、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記表示端末に送信する送信部とを含む、磁性体の検査装置。
【請求項２】
前記表示端末は、前記磁性体からなる前記検査対象物の画像情報を有しており、前記送信部により送信される前記磁性体の欠陥の位置情報と前記検査対象物の画像情報とに基づいて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
【請求項３】
前記測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機を含み、
前記表示端末は、前記送信部により送信される前記衛星信号受信機の情報に基づいた前記磁性体の欠陥の位置情報と、前記検査対象物の画像情報とを関連付けて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項２に記載の磁性体の検査装置。
【請求項４】
前記検査装置本体側に設けられる撮像部をさらに備え、
前記撮像部は、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記磁性体における欠陥の箇所の画像を取得し、
前記検査装置本体の前記送信部は、前記撮像部により取得された前記磁性体における欠陥の箇所の画像、および、前記磁性体の欠陥の位置情報の両方を、前記表示端末に送信し、
前記表示端末は、前記送信部により送信された情報に基づいて、前記磁性体における欠陥の箇所の画像と、前記磁性体における欠陥の位置が識別可能に表示された前記検査対象物の画像との両方を表示するように構成されている、請求項２に記載の磁性体の検査装置。
【請求項５】
前記検査装置本体は、前記磁性体に欠陥があるか否かを判定するとともに、前記磁性体に欠陥があると判定した場合に、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記送信部により前記表示端末に送信させる本体側制御部を含む、請求項１に記載の磁性体の検査装置。
【請求項６】
検査対象物である長尺材からなる磁性体の表面に沿って移動する検査装置と、
前記検査装置に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、
前記検査装置の検査結果を表示する表示端末装置と、を備え、
前記検査装置は、前記磁性体に磁界を印加することにより前記磁性体の磁化の大きさおよび方向を整える磁界印加部と、前記磁界印加部により磁界が印加された前記磁性体の磁界の変化を検知するとともに、前記磁性体を中心として前記磁性体を取り囲み、前記磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられる検知コイルを含む検知部と、前記検知部の検知結果に基づいて、前記磁性体に欠陥がある場合に、前記測位部により測位された位置情報に基づき、前記磁性体の欠陥の位置情報を前記表示端末装置に送信する送信部とを含む、磁性体の検査システム。
【請求項７】
前記表示端末装置は、前記磁性体からなる前記検査対象物の画像情報を有しており、前記送信部により送信される前記磁性体の欠陥の位置情報と前記検査対象物の画像情報とに基づいて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項６に記載の磁性体の検査システム。
【請求項８】
前記測位部は、衛星からの信号を受信する衛星信号受信機をさらに備え、
前記表示端末装置は、前記送信部により送信される前記衛星信号受信機の情報に基づいた前記磁性体の欠陥の位置情報と、前記検査対象物の画像情報とを関連付けて、前記磁性体における欠陥の位置を前記検査対象物の画像中に識別可能に表示するように構成されている、請求項７に記載の磁性体の検査システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における磁性体の検査装置は、検査対象物である長尺材からなる磁性体の表面に沿って移動する検査装置本体と、検査装置本体に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、検査装置本体の検査結果を表示する表示端末と、を備え、検査装置本体は、磁性体に磁界を印加することにより磁性体の磁化の大きさおよび方向を整える磁界印加部と、磁界印加部により磁界が印加された磁性体の磁界の変化を検知するとともに、磁性体を中心として磁性体を取り囲み、磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられる検知コイルを含む検知部と、検知部の検知結果に基づいて、磁性体に欠陥がある場合に、測位部により測位された位置情報に基づき、磁性体の欠陥の位置情報を表示端末に送信する送信部とを含む。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
この発明の第２の局面における磁性体の検査システムは、検査対象物である長尺材からなる磁性体の表面に沿って移動する検査装置と、検査装置に設けられ、自身の位置情報を測位する測位部と、検査装置の検査結果を表示する表示端末装置と、を備え、検査装置は、磁性体に磁界を印加することにより磁性体の磁化の大きさおよび方向を整える磁界印加部と、磁界印加部により磁界が印加された磁性体の磁界の変化を検知するとともに、磁性体を中心として磁性体を取り囲み、磁性体の延びる方向に沿って巻回するように設けられる検知コイルを含む検知部と、検知部の検知結果に基づいて、磁性体に欠陥がある場合に、測位部により測位された位置情報に基づき、磁性体の欠陥の位置情報を表示端末装置に送信する送信部とを含む。
【国際調査報告】
2019102678.tif 000012
2019102678.tif 000013
2019102678.tif 000014
2019102678.tif 000015