(57)【要約】  光ファイバ伝送路に適切な波長間隔で光信号を増設するため、本発明の送信側の光波長多重伝送装置の試験用制御装置は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部と、を備える。本発明の受信側の光波長多重伝送装置の試験用制御装置は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御部と、を備える。
2018180913.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段と、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御手段と、
を備える試験用制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の試験用制御装置において、
受信側の試験用制御装置に、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および前記試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔の情報を送信する
試験用制御装置。
【請求項３】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段と、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御手段と、
を備える試験用制御装置。
【請求項４】
請求項３に記載の試験用制御装置において、
送信側の試験用制御装置から、送信側で設定された、送信側の波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および送信側の試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔の情報を受信する
試験用制御装置。
【請求項５】
請求項４に記載の試験用制御装置において、
前記受信した情報に従って、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御し、前記試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する
試験用制御装置。
【請求項６】
増設用トランスポンダからの光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる波長可変フィルタと、
制御された波長帯域、および前記透過させる光信号との制御された波長間隔を有する試験用の光信号を生成する試験用トランスポンダと、
トランスポンダからの光信号を波長多重する波長多重部、前記波長可変フィルタ、および前記試験用トランスポンダからの光信号を合波し、伝送路に出力する光合波手段と、
前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および前記試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用制御手段と、
を備える光波長多重伝送装置。
【請求項７】
トランスポンダに波長分離された光信号を出力する波長分離手段、波長可変フィルタ、および試験用トランスポンダに伝送路からの光信号を分配する光分岐手段と、
前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる前記波長可変フィルタと、
前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域を有する試験用の光信号を受信する前記試験用トランスポンダと、
前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御し、前記試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用制御手段と、
を備える光波長多重伝送装置。
【請求項８】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段と、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御手段と、
を備える試験用制御回路。
【請求項９】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段と、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御手段と、
を備える試験用制御回路。
【請求項１０】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御するステップと、
を有する試験用制御方法。
【請求項１１】
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
を有する試験用制御方法。
【請求項１２】
試験用制御装置のコンピュータを、
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御手段、
として機能させるためのプログラムを記録したプログラム記録媒体。
【請求項１３】
試験用制御装置のコンピュータを、
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御手段、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御手段、
として機能させるためのプログラムを記録したプログラム記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験用制御装置、光波長多重伝送装置、試験用制御回路および方法、ならびにプログラム記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
関連する光波長多重伝送システムでは波長多重分離にアレイ導波路格子(arrayed-waveguide grating, AWG)が使用され、導入される光信号の種別に拘わらず一定の波長グリッドに収容されてきた（図６）。しかし近年は信号処理技術の飛躍的な発達により大容量化が進み、関連する技術における小容量の光信号と大容量の光信号が同じ光波長多重伝送システムに収容されるようになってきた。このようなシステムでは波長選択スイッチ(Wavelength Selective Switch, WSS)といったデバイスが導入され、任意帯域の信号が任意の波長間隔で収容することが可能となっている。【０００３】
このため高密度に波長多重信号を収容するため波長間隔の最適化が必要となってきた。
すなわち、近年の光波長多重伝送システムでは１波長当たりの信号の変調方式やビットレートが多様化しており、効率よく光信号を波長多重し収容するためフレキシブルな波長配置が求められている。先行技術には、チャネルとチャネルとの間隙の幅を測定し、その測定結果を基に、対向のトランスポンダにおける送信器の送信波長の波長制御量を決定するもの（特許文献１）、波長間隔が所定の間隔であるかどうか、各光信号が所定の波長であるかどうかを監視するもの（特許文献２）、隣接波長間隔が閾値未満となったことを検出した時点で伝送速度を変更するもの（特許文献３）がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１６−０１００４０号公報
【特許文献２】特開２００１−０６６２１９号公報
【特許文献３】特開平１１−０２７２３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、光波長多重伝送においては光信号の種別や伝送路光ファイバの特性、伝送距離等により光信号の所要波長帯域や隣接光信号との所要波長間隔が異なり、より高密度な伝送を行うためにはシステム毎の最適化が必要である。【０００６】
上記のように、関連する光波長多重伝送システムでは、光信号の帯域に拘わらず決められた波長間隔のグリッド上に光信号が配置されてきた（図６）。しかし近年の光ファイバ通信における回線需要の増加は著しく、多値変調技術・波長多重技術・スペクトラム制御技術等を駆使して周波数利用効率を拡大し、高密度に光信号を多重する方法が検討されている。光信号を効率よく波長多重するためにはそれぞれの光信号の所要帯域、隣接光信号との波長間隔を適切に設定する必要があるが、これを定量的に評価するためには実際に同じパラメータの伝送路において光信号への影響を評価する必要があった。しかし光ファイバ伝送路の設計はプロジェクト毎に多種多様に異なり、実伝送路と同等の模擬伝送路を準備することはほとんど不可能であった。そのためフィールドトライアルによりトランスポンダを実際の光ファイバ伝送路につなぎこみ、光伝送特性を測定するといった方法が取られている。しかしフィールドトライアルを実施するためには専用機材の準備が必要となり、膨大な時間と費用がかかるという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上述の課題を解決する試験用制御装置、光波長多重伝送装置、試験用制御回路および方法、ならびにプログラム記録媒体を提供する。【０００８】
本発明は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部と、を備える試験用制御装置である。【０００９】
また、本発明は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御部と、を備える試験用制御装置である。【００１０】
また、本発明は、増設用トランスポンダからの光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる波長可変フィルタと、制御された波長帯域、および前記透過させる光信号との制御された波長間隔を有する試験用の光信号を生成する試験用トランスポンダと、トランスポンダからの光信号を波長多重する波長多重部、前記波長可変フィルタ、および前記試験用トランスポンダからの光信号を合波し、伝送路に出力する光合波部と、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および前記試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用制御部と、を備える光波長多重伝送装置である。【００１１】
また、本発明は、トランスポンダに波長分離された光信号を出力する波長分離部、波長可変フィルタ、および試験用トランスポンダに伝送路からの光信号を分配する光分岐部と、前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる前記波長可変フィルタと、前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域を有する試験用の光信号を受信する前記試験用トランスポンダと、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御し、前記試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用制御部と、を備える光波長多重伝送装置である。【００１２】
また、本発明は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部と、を備える試験用制御回路である。【００１３】
また、本発明は、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御するステップと、を有する試験用制御方法である。【００１４】
また、本発明は、試験用制御装置のコンピュータを、波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部、試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部、として機能させるためのプログラムを記録したプログラム記録媒体である。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の特徴は、運用されている光波長多重伝送システムにおいて試験用制御回路を備え、運用適用前に、増設する光信号の所要波長帯域、隣接光信号との所要波長間隔の最適値を評価可能とするものである。本発明では光波長多重伝送装置に試験用制御回路を備えることにより、増設する信号の所要帯域および隣接光信号との所要波長間隔の測定を容易に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明による光波長多重伝送システム１００の構成を示す図である。
【図２】本発明による送信側の光波長多重伝送装置２の構成を示す図である。
【図３】本発明による送信側の光波長多重伝送装置２が備える試験用制御回路２５の構成を示す図である。
【図４】本発明による受信側の光波長多重伝送装置３の構成を示す図である。
【図５】本発明による受信側の光波長多重伝送装置３が備える試験用制御回路３５の構成を示す図である。
【図６】関連する光信号の配置例を示す図である。
【図７】本発明による光信号の配置例を示す図である。
【図８】本発明による試験用制御回路２５の最小構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
図１から図５を参照して本発明の実施例の構成を順に説明する。まず、図１は光波長多重伝送システム１００の構成を示す。この中でトランスポンダ１および光波長多重伝送装置２は送信側、光波長多重伝送装置３およびトランスポンダ４は受信側である。送信側の光波長多重伝送装置２と受信側の光波長多重伝送装置３は光ファイバ伝送路５で接続されている。
【００１８】
送信側のトランスポンダ１は、既設で運用に供されているトランスポンダ１１および増設用トランスポンダ１２を備え、送信側の光波長多重伝送装置２に光信号を出力する。既設のトランスポンダ１１は複数のトランスポンダを備える。用語「既設のトランスポンダ１１」は、これらの複数のトランスポンダの総称として使用される。増設用トランスポンダ１２は、既設のトランスポンダ１１と同じ波長多重回路２１に接続されて使用される予定の、新たに増設されるトランスポンダである。
【００１９】
これと対応して、受信側のトランスポンダ４は、既設で運用に供されているトランスポンダ４１および増設用トランスポンダ４２を備え、受信側の光波長多重伝送装置３から出力される光信号を受信する。既設のトランスポンダ４１は複数のトランスポンダを備える。用語「既設のトランスポンダ４１」は、これらの複数のトランスポンダの総称として使用される。増設用トランスポンダ４２は、既設のトランスポンダ４１と同じ波長分離回路３１に接続されて使用される予定の、新たに増設されるトランスポンダである。
【００２０】
受信側のトランスポンダ４は、既設のトランスポンダ４１および増設用トランスポンダ４２が受信する光信号の品質をモニタする機能を有し、受信側のトランスポンダ４の外部に設けられた監視装置（図示しない）からモニタされた情報を読み出すことができる。送信側のトランスポンダ１の外部にも監視装置（図示しない）が設けられ、送信側と受信側の監視装置は通信回線で接続され、相互にモニタされた情報を取得することができる。例えば、送信側のトランスポンダ１の操作者は、受信側のトランスポンダ４においてモニタされた情報を取得することができる。
【００２１】
次に図２を参照して、送信側の光波長多重伝送装置２の構成を説明する。送信側の光波長多重伝送装置２は、既設のトランスポンダ１１のそれぞれからの光信号を入力し、波長多重を行う波長多重回路２１、増設用トランスポンダ１２からの光信号を入力し、試験用制御回路２５による制御に従って透過波長帯域が可変になっている波長可変フィルタ２２、試験用制御回路２５による制御に従って試験用の光信号を生成する試験用トランスポンダ２３、波長多重回路２１が出力する既設の光波長多重信号と波長可変フィルタ２２を経由した増設用トランスポンダ１２からの光信号と試験用トランスポンダ２３の出力する試験用の光信号とを波長無依存に合波する光合波回路２４、および波長可変フィルタ２２と試験用トランスポンダ２３を制御する試験用制御回路２５を備える。試験用制御回路２５は、波長可変フィルタ２２が透過させる光信号の中心波長および波長帯域（帯域幅）、および試験用トランスポンダ２３が生成する試験用の光信号の波長帯域（帯域幅）および隣接光信号との波長間隔を制御する。ここで、隣接光信号は、波長可変フィルタ２２が透過させる光信号である。
【００２２】
尚、送信側の光波長多重伝送装置２の試験用制御回路２５と受信側の光波長多重伝送装置３の試験用制御回路３５は、試験用トランスポンダ２３、３３のデジタルコミュニケーションチャンネルを介して相互に通信が可能となっており、対向同士で波長設定等の情報交換を行う。一実施形態として、試験用制御回路２５から試験用制御回路３５に、波長可変フィルタ２２が透過させる光信号の中心波長および波長帯域、試験用トランスポンダ２３が生成する試験用の光信号の波長帯域および波長可変フィルタ２２が透過させる光信号との波長間隔の情報が送信される。一実施形態として、情報の送信は、設定が変更されるごとに行われる。
【００２３】
図３は、送信側の光波長多重伝送装置２が備える試験用制御回路２５の構成を示す。入出力インタフェース２５４は、操作者が外部機器を接続するためのインタフェースであり、外部機器を介して操作者が各部を制御するために用いられる。操作者は、外部機器を介して、波長可変フィルタ制御部２５１に、波長可変フィルタ２２が透過させる中心波長および波長帯域を指示し、試験用トランスポンダ制御部２５２に、試験用トランスポンダ２３が生成する試験用の光信号の波長帯域および波長可変フィルタ２２が透過させる光信号との波長間隔を指示する。波長可変フィルタ制御部２５１は、上記の指示に従って、波長可変フィルタ２２が透過させる中心波長および波長帯域を設定する。試験用トランスポンダ制御部２５２は、上記の指示に従って、試験用トランスポンダ２３が生成する試験用の光信号の波長帯域および波長可変フィルタ２２が透過させる光信号との波長間隔を設定する。通信部２５３は、受信側の光波長多重伝送装置３の試験用制御回路３５の通信部３５３と、試験用トランスポンダ２３、３３のデジタルコミュニケーションチャンネルを介して相互に通信し、情報交換を行う。試験用制御回路２５の機能は、コンピュータとプログラムを用いて実現してもよい。
【００２４】
次に図４を参照して、受信側の光波長多重伝送装置３の構成を説明する。光波長多重伝送装置３は光ファイバ伝送路５から受信した光波長多重信号を波長無依存に分配する光分岐回路３４、光分岐回路３４から出力された光波長多重信号を波長分離し、既設のトランスポンダ４１のそれぞれに出力する波長分離回路３１、同じく光分岐回路３４から出力された光波長多重信号から試験用制御回路３５による制御に従って任意の帯域を透過して増設用トランスポンダ４２に光信号を出力する波長可変フィルタ３２、光分岐回路３４から出力された光波長多重信号から試験用制御回路３５による制御に従って試験用の光信号を受信する試験用トランスポンダ３３、および波長可変フィルタ３２と試験用トランスポンダ３３を制御する試験用制御回路３５を備える。一実施形態として、試験用制御回路３５は、送信側の試験用制御回路２５から、波長可変フィルタ２２が透過させる光信号の中心波長および波長帯域、試験用トランスポンダ２３が生成する試験用の光信号の波長帯域および波長可変フィルタ２２が透過させる光信号との波長間隔の情報を受信する。一実施形態として、情報の受信は、送信側で設定が変更されるごとに行われる。試験用制御回路３５は、受信された情報に従って、波長可変フィルタ３２が透過させる中心波長および波長帯域を設定し、試験用トランスポンダ３３が受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を設定する（受信された情報から計算される）。さらに、試験用制御回路３５は、試験用トランスポンダ３３に試験用の光信号の品質をモニタさせ、モニタされた情報を取得することも可能であるが、試験用の光信号による、増設用トランスポンダ１２からの光信号への影響を評価する場合、試験用の光信号の品質はモニタしなくてもよい。
【００２５】
図５は、受信側の光波長多重伝送装置３が備える試験用制御回路３５の構成を示す。波長可変フィルタ制御部３５１は、上記の送信側の試験用制御回路２５から受信された情報に従って、波長可変フィルタ３２が透過させる中心波長および波長帯域を設定する。試験用トランスポンダ制御部３５２は、上記の送信側の試験用制御回路２５から受信された情報に従って、試験用トランスポンダ３３が受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を設定する。さらに、試験用トランスポンダ制御部３５２は、試験用トランスポンダ３３に受信した試験用の光信号の品質をモニタさせ、モニタされた情報を取得することも可能である。通信部３５３は、送信側の光波長多重伝送装置２の試験用制御回路２５の通信部２５３と、試験用トランスポンダ２３、３３のデジタルコミュニケーションチャンネルを介して相互に通信し、情報交換を行う。入出力インタフェース３５４は、操作者が外部機器を接続するためのインタフェースであり、外部機器を介して操作者が各部を制御するために用いられる。試験用制御回路３５の機能は、コンピュータとプログラムを用いて実現してもよい。
【００２６】
本発明による送信側の光波長多重伝送装置２は、図２に示す構成要素を備える装置として実現してもよいし、一例として、既存の装置が波長多重回路２１および増設用ポートを有する光合波回路２４を備えるならば、その増設用ポートに波長可変フィルタ２２および試験用トランスポンダ２３を接続し、これらに試験用制御回路２５を接続することにより実現してもよい。受信側の光波長多重伝送装置３についても同様である。
【００２７】
再度図１を参照して、既設のトランスポンダ１１、４１に増設用トランスポンダ１２、４２を増設する際の波長帯域および波長間隔の評価における光波長多重伝送システム１００の動作を説明する。増設用トランスポンダ１２、４２は、波長帯域を任意に変更可能な波長可変フィルタ２２、３２と接続され、光信号の透過帯域に対する影響が評価される。
また試験用トランスポンダ２３、３３の波長帯域を任意に設定し、増設用トランスポンダ１２、４２の波長帯域との波長間隔を変化させて相互干渉による影響も評価される。
【００２８】
増設用トランスポンダ１２の光信号出力は波長可変フィルタ２２に接続されている。波長可変フィルタ２２は透過帯域が可変なバンドパスフィルタとなっており、中心波長は、実際の運用で使用される波長ではなく、試験用波長に設定されている。フィルタ帯域は試験用制御回路２５からの制御により任意の帯域が設定可能である。
【００２９】
試験用トランスポンダ２３は増設用トランスポンダ１２との相互干渉による回線品質の影響を測定するためのトランスポンダであり、試験用制御回路２５からの制御信号により任意の波長が設定される。波長可変フィルタ２２および試験用トランスポンダ２３から出力される光信号は波長多重回路２１からの既設光波長多重信号と光合波回路２４において合波され、光ファイバ伝送路５に送出される。
【００３０】
受信側の光波長多重伝送装置３において、光ファイバ伝送路５から受信した光波長多重信号は、光分岐回路３４において３分岐され、波長分離回路３１、波長可変フィルタ３２、試験用トランスポンダ３３に出力される。波長分離回路３１は受信した既設光波長多重信号を波長分波し、既設のトランスポンダ４１のそれぞれに出力する。波長可変フィルタ３２は、送信側の光波長多重伝送装置２の波長可変フィルタ２２と同様に透過帯域が可変なバンドパスフィルタとなっており、中心波長は試験用波長に設定され、透過帯域は試験用制御回路３５からの制御により任意に設定可能である。波長可変フィルタ３２で任意の帯域が透過された光信号は増設用トランスポンダ４２で受信される。増設用トランスポンダ４２では受信した光信号の回線品質（誤り率）をモニタしており、信号の劣化を検出する。試験用トランスポンダ３３は送信側の試験用トランスポンダ２３が送信する光信号を受信する。試験用トランスポンダ３３もまた受信した光信号の回線品質（誤り率）をモニタし、信号の劣化を検出することが可能である。試験用トランスポンダ２３および３３は試験用制御回路２５および３５から光送受信波長を任意に設定できる。また試験用制御回路２５および３５は試験用トランスポンダ２３、３３のデジタルコミュニケーションチャンネルを介して相互に通信可能となっており、波長可変フィルタ２２、３２の波長帯域、試験用トランスポンダ２３、３３の設定波長および測定した回線品質といった情報を共有できる。
【００３１】
次に増設用トランスポンダ１２、４２の動作について説明する。増設用トランスポンダ１２から出力された光信号は波長可変フィルタ２２、３２を通過して増設用トランスポンダ４２で受信される。波長可変フィルタ２２、３２は試験用制御回路２５、３５からの制御で帯域が変更でき、波長可変フィルタ２２、３２の帯域をパラメータとして増設用トランスポンダ４２で光信号の誤り率を測定する。波長可変フィルタ２２、３２の帯域が光信号帯域より広い場合は誤り率は一定で、波長可変フィルタ２２、３２の帯域が光信号帯域より狭くなると誤り率が増加する。これにより増設用トランスポンダ１２の光信号の所要帯域を求めることができる。
【００３２】
次に、増設用トランスポンダ１２の光信号と隣接するように試験用トランスポンダ２３、３３の光信号の波長帯域を設定し、増設用トランスポンダ４２の光信号の誤り率を測定する。試験用トランスポンダ２３、３３と増設用トランスポンダ１２、４２の光信号の波長間隔をパラメータとし、誤り率を測定することで相互の回線品質に与える影響を測定することができる。波長間隔が広い場合は相互の影響は小さく、誤り率の増加はないが、波長間隔が狭くなり相互に干渉するまで波長間隔が狭まると誤り率が増加する。これにより隣接した光信号との間に確保すべき波長間隔を測定することができる。
【００３３】
以上をトランスポンダ増設時の評価手順に沿って再度説明する。本発明では、光波長多重伝送システム１００の回線増設（トランスポンダ増設による光信号増設）にあたり、試験用波長帯を用いて、増設用トランスポンダの帯域幅と、隣接する光信号との相互干渉の影響を受ける範囲を測定し、得られた情報を用いて増設用トランスポンダの中心波長を運用中の光信号に影響のない波長に設定する。
【００３４】
図６に示すような波長間隔が固定の場合には、光信号１〜ｎの占有帯域は異なるが、中心波長の間隔が同じなので、隙間が多く、周波数利用効率が悪い。これに対し、図７に示すように中心波長の間隔が固定でない（フレキシブル）場合には、光信号１〜ｎの占有帯域に応じて、波長間隔を詰めて配置するので、周波数利用効率が高い。図６に示すような中心波長の間隔が固定の場合には、回線増設（光信号増設）にあたっては、単純に、任意の空きチャネルに設定すればよかった。しかしながら、図７に示すように中心波長の間隔が固定でない（フレキシブル）の場合には、回線増設（光信号増設）にあたっては、増設するトランスポンダが必要とする帯域や隣接する光信号との相互干渉の範囲を把握したうえで、波長設定する必要がある。増設するトランスポンダが必要とする帯域は、運用時の伝送速度、変調方式で異なる。
【００３５】
一例として、トランスポンダ増設は次のような手順で行う。
(i) まず、増設用トランスポンダ１２、４２の所要帯域を求める。
a.増設用トランスポンダ１２、４２の光出力波長を「試験用波長帯域」に設定する。
b.増設用トランスポンダ１２、４２をそれぞれ波長可変フィルタ２２、３２に接続し、運用時と同じ伝送速度と変調方式で動作させた状態で、波長可変フィルタ２２、３２が透過させる帯域幅を増減しながら増設用トランスポンダ４２がモニタする回線品質を参照し、増設用トランスポンダ１２、４２が誤り率を一定に維持して送受信可能な波長帯域幅を測定する。
【００３６】
一実施形態として、操作者が、試験用制御回路２５の入出力インタフェース２５４を介して波長可変フィルタ制御部２５１に、波長可変フィルタ２２が透過させる中心波長および波長帯域を設定する指示を送った後、波長帯域を減少させる指示を送り、上述した受信側および送信側のトランスポンダ４、１の外部に設けられた監視装置（図示しない）を介して受信側の増設用トランスポンダ４２において得られた誤り率の情報を取得する。誤り率が増加しないならば入出力インタフェース２５４を介して波長帯域を減少させる指示を送り、誤り率が増加したならば入出力インタフェース２５４を介して帯域幅を増加させる指示を送る。これを繰り返して、増設用トランスポンダ１２、４２が誤り率を一定に維持して送受信可能な波長帯域幅を測定する。
【００３７】
(ii) 次に、増設用トランスポンダ１２、４２と隣接した光信号との間に確保すべき波長間隔を求める。
c.試験用トランスポンダ２３、３３を、上記(i)で測定された増設用トランスポンダ１２、４２の光出力の波長帯域幅の近傍で、中心波長を変えながら動作させ、すなわち、増設用トランスポンダ１２、４２の光出力波長に近づけたり、遠ざけたりして、相互干渉による回線品質劣化の影響がなくなる波長間隔を求める。
【００３８】
一実施形態として、操作者が、試験用制御回路２５の入出力インタフェース２５４を介して試験用トランスポンダ制御部２５２に、試験用の光信号の波長帯域（(i)で測定された波長帯域）および波長可変フィルタ２２が透過させる波長帯域との波長間隔を設定する指示を送った後、波長間隔を減少させる指示を送り、上述した受信側および送信側のトランスポンダ４、１の外部に設けられた監視装置（図示しない）を介して受信側の増設用トランスポンダ４２において得られた誤り率の情報を取得する。誤り率が増加しないならば入出力インタフェース２５４を介して波長間隔を減少させる指示を送り、誤り率が増加したならば入出力インタフェース２５４を介して波長間隔を増加させる指示を送る。これを繰り返して、増設用トランスポンダ１２、４２が誤り率を一定に維持して送受信可能な波長間隔を測定する。
【００３９】
(iii) (i)〜(ii)の試験評価結果を基に、増設用トランスポンダ１２、４２の光出力の中心波長帯域を設定する。すなわち、運用中の伝送路で試験された評価結果を用いて、運用中の回線に影響のない波長位置に光信号を増設することができる。
【００４０】
(iv) 増設用トランスポンダ１２、４２をそれぞれ波長多重回路２１、波長分離回路３１に接続し、運用を開始する。
【００４１】
試験用波長から実際に運用する波長へ変更しても、増設用トランスポンダの帯域幅や隣接光信号との間隔はあまり影響しない。波長変更により、通信品質Ｓ／Ｎ（信号／雑音）は変わるが、あらかじめ把握できるので補正可能である。上記の通り、増設用トランスポンダの試験評価に当たっては対向する増設用トランスポンダ１２、４２同士で同期を取って、パラメータ測定することができる。
【００４２】
図８は、本発明による試験用制御回路２５の最小構成を示す図である。試験用制御回路２５は、図８に示すように、少なくとも、波長可変フィルタ制御部２５１と、試験用トランスポンダ制御部２５２と、を備えればよい。
【００４３】
上記実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
【００４４】
（付記１）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部と、
を備える試験用制御装置。
【００４５】
（付記２）
受信側の試験用制御装置に、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および前記試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔の情報を送信する、付記１に記載の試験用制御装置。
【００４６】
（付記３）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御部と、
を備える試験用制御装置。
【００４７】
（付記４）
送信側の試験用制御装置から、送信側で設定された、送信側の波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および送信側の試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔の情報を受信する、付記３に記載の試験用制御装置。
【００４８】
（付記５）
前記受信した情報に従って、前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御し、前記試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する、付記４に記載の試験用制御装置。
【００４９】
（付記６）
増設用トランスポンダからの光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる波長可変フィルタと、
制御された波長帯域、および前記透過させる光信号との制御された波長間隔を有する試験用の光信号を生成する試験用トランスポンダと、
トランスポンダからの光信号を波長多重する波長多重部、前記波長可変フィルタ、および前記試験用トランスポンダからの光信号を合波し、伝送路に出力する光合波部と、
前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域、および前記試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用制御部と、
を備える光波長多重伝送装置。
【００５０】
（付記７）
トランスポンダに波長分離された光信号を出力する波長分離部、波長可変フィルタ、および試験用トランスポンダに伝送路からの光信号を分配する光分岐部と、
前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域の光信号を透過させる前記波長可変フィルタと、
前記分配された光信号を入力し、制御された中心波長および波長帯域を有する試験用の光信号を受信する前記試験用トランスポンダと、
前記波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御し、前記試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用制御部と、
を備える光波長多重伝送装置。
【００５１】
（付記８）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部と、
を備える試験用制御回路。
【００５２】
（付記９）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部と、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御部と、
を備える試験用制御回路。
【００５３】
（付記１０）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御するステップと、
を有する試験用制御方法。
【００５４】
（付記１１）
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御するステップと、
を有する試験用制御方法。
【００５５】
（付記１２）
試験用制御装置のコンピュータを、
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部、
試験用トランスポンダが生成する試験用の光信号の波長帯域、および前記波長可変フィルタが透過させる光信号との波長間隔を制御する試験用トランスポンダ制御部、
として機能させるためのプログラムを記録したプログラム記録媒体。
【００５６】
（付記１３）
試験用制御装置のコンピュータを、
波長可変フィルタが透過させる光信号の中心波長および波長帯域を制御する波長可変フィルタ制御部、
試験用トランスポンダが受信する試験用の光信号の中心波長および波長帯域を制御する試験用トランスポンダ制御部、
として機能させるためのプログラムを記録したプログラム記録媒体。
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態に限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
この出願は、２０１７年３月３０日に出願された日本出願特願２０１７−０６９１６５を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明は、光ファイバによる光波長多重伝送システムに利用できる。
【符号の説明】
【００５８】
１  トランスポンダ(送信側)
２  光波長多重伝送装置(送信側)
３  光波長多重伝送装置(受信側)
４  トランスポンダ(受信側)
５  光ファイバ伝送路
１１、４１  既設のトランスポンダ
１２、４２  増設用トランスポンダ
２１  波長多重回路
２２、３２  波長可変フィルタ
２３、３３  試験用トランスポンダ
２４  光合波回路
２５、３５  試験用制御回路
３１  波長分離回路
３４  光分岐回路
１００  光波長多重伝送システム
２５１、３５１  波長可変フィルタ制御部
２５２、３５２  試験用トランスポンダ制御部
２５３、３５３  通信部
２５４、３５４  入出力インタフェース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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