(57)【要約】炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩の含有量を低減させた低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法を提供する。高分子量ポリテトラフルオロエチレンに、放射線を照射して、３８０℃における溶融粘度が１．０×１０２〜７．０×１０５Ｐａ・ｓである低分子量ポリテトラフルオロエチレンを得る工程（１）、及び、前記低分子量ポリテトラフルオロエチレンに、前記低分子量ポリテトラフルオロエチレンが分解しない線量の放射線を照射する工程（２）を含むことを特徴とする低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法である。【特許請求の範囲】
【請求項１】
高分子量ポリテトラフルオロエチレンに、放射線を照射して、３８０℃における溶融粘度が１．０×１０２〜７．０×１０５Ｐａ・ｓである低分子量ポリテトラフルオロエチレンを得る工程（１）、及び、前記低分子量ポリテトラフルオロエチレンに、前記低分子量ポリテトラフルオロエチレンが分解しない線量の放射線を照射する工程（２）を含むことを特徴とする低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法。
【請求項２】
工程（２）における線量は、０．１〜２５ｋＧｙである請求項１記載の製造方法。
【請求項３】
工程（２）の実施後に得られる低分子量ポリテトラフルオロエチレンは、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩を実質的に含まない請求項１又は２記載の製造方法。
【請求項４】
前記高分子量ポリテトラフルオロエチレンは、標準比重が２．１３０〜２．２３０である請求項１、２又は３記載の製造方法。
【請求項５】
前記高分子量ポリテトラフルオロエチレン及び前記低分子量ポリテトラフルオロエチレンがいずれも粉末である請求項１、２、３又は４記載の製造方法。
【請求項６】
工程（１）の前に、更に、前記高分子量ポリテトラフルオロエチレンを、その一次融点以上に加熱することにより成形品を得る工程（３）を含み、前記成形品は、比重が１．０ｇ／ｃｍ３以上である請求項１、２、３、４又は５記載の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
分子量数千から数十万の低分子量ポリテトラフルオロエチレン（「ポリテトラフルオロエチレンワックス」や「ポリテトラフルオロエチレンマイクロパウダー」とも呼ばれる）は、化学的安定性に優れ、表面エネルギーが極めて低いことに加え、フィブリル化が生じにくいので、滑り性や塗膜表面の質感を向上させる添加剤として、プラスチックス、インク、化粧品、塗料、グリース等の製造に用いられている（例えば、特許文献１参照）。【０００３】
低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法としては、重合法、放射線分解法、熱分解法等が知られている。放射線分解法では、従来、空気雰囲気下で高分子量ポリテトラフルオロエチレンに放射線を照射して低分子量ポリテトラフルオロエチレンを得るのが一般的である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−１４７６１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本開示は、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩の含有量を低減させた低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示は、高分子量ポリテトラフルオロエチレンに、放射線を照射して、３８０℃における溶融粘度が１．０×１０２〜７．０×１０５Ｐａ・ｓである低分子量ポリテトラフルオロエチレンを得る工程（１）、及び、上記低分子量ポリテトラフルオロエチレンに、上記低分子量ポリテトラフルオロエチレンが分解しない線量の放射線を照射する工程（２）を含むことを特徴とする低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法に関する。【０００７】
工程（２）における線量は、０．１〜２５ｋＧｙであることが好ましい。【０００８】
工程（２）の実施後に得られる低分子量ポリテトラフルオロエチレンは、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩を実質的に含まないことが好ましい。【０００９】
上記高分子量ポリテトラフルオロエチレンは、標準比重が２．１３０〜２．２３０であることが好ましい。【００１０】
上記高分子量ポリテトラフルオロエチレン及び上記低分子量ポリテトラフルオロエチレンがいずれも粉末であることが好ましい。【００１１】
工程（１）の前に、更に、上記高分子量ポリテトラフルオロエチレンを、その一次融点以上に加熱することにより成形品を得る工程（３）を含み、上記成形品は、比重が１．０ｇ／ｃｍ３以上であることが好ましい。
【発明の効果】
【００１２】
本開示によれば、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩の含有量を低減させた低分子量ポリテトラフルオロエチレンの製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本開示を具体的に説明する。
本開示は、高分子量ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）に、放射線を照射して、３８０℃における溶融粘度が１．０×１０２〜７．０×１０５Ｐａ・ｓである低分子量ＰＴＦＥを得る工程（１）、及び、上記低分子量ＰＴＦＥに、上記低分子量ＰＴＦＥが分解しない線量の放射線を照射する工程（２）を含むことを特徴とする低分子量ＰＴＦＥの製造方法に関する。
従来の照射条件で上記高分子量ＰＴＦＥに放射線を照射すると、上記高分子量ＰＴＦＥよりも溶融粘度が大きい上記低分子量ＰＴＦＥが生成すると同時に、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸又はその塩が生成する。これらの化合物には、自然界には存在せず分解され難い物質であり、更には、生物蓄積性が高いことが指摘されている炭素数が８のパーフルオロオクタン酸又はその塩、炭素数が９のパーフルオロノナン酸又はその塩、及び炭素数が１０、１１、１２、１３、１４の、それぞれパーフルオロデカン酸パーフルオロウンデカン酸、パーフルオロドデカン酸、パーフルオロトリデカン酸、パーフルオロテトラデカン酸、又はそれぞれの塩、が含まれている。
従来の照射条件で高分子量ＰＴＦＥに放射線を照射した場合、炭素数８のパーフルオロオクタン酸又はその塩が２５ｐｐｂ以上生成してしまう。
本開示の製造方法では、低分子量化（工程（１））を実施した後に、工程（２）において低分子量ＰＴＦＥが分解しない比較的低線量の放射線を照射することにより、上記パーフルオロカルボン酸及びその塩を上記低分子量ＰＴＦＥから除去できる。
また、低分子量ＰＴＦＥには炭素数６〜１４のパーフルオロスルホン酸又はその塩が含まれることもあるが、本開示の製造方法によれば、これらの化合物も除去することができる。
【００１４】
工程（１）において、上記高分子量ＰＴＦＥへの上記放射線の照射は、従来公知の方法及び条件により行うことができる。
【００１５】
上記放射線としては、電離性放射線であれば特に限定されず、電子線、ガンマ線、Ｘ線、中性子線、高エネルギーイオン等が挙げられるが、電子線又はガンマ線が好ましい。
【００１６】
上記放射線の照射線量としては、３０〜２５００ｋＧｙが好ましく、１０００ｋＧｙ以下がより好ましく、７５０ｋＧｙ以下が更に好ましい。また、５０ｋＧｙ以上がより好ましい。上記放射線の照射線量は、分解（低分子量化）したいＰＴＦＥの分子量（後述する標準比重）に応じて決定される。
【００１７】
上記放射線の照射温度としては、５℃以上、ＰＴＦＥの融点以下であれば特に限定されない。融点近傍付近ではＰＴＦＥの分子鎖が架橋することも知られており、低分子量ＰＴＦＥを得る上では、３２０℃以下が好ましく、３００℃以下がより好ましく、２６０℃以下が更に好ましい。経済的には常温で照射することが好ましい。
【００１８】
工程（１）において、上記放射線の照射は、従来と同様の雰囲気中で実施してもよく、例えば、空気中等で実施できる。低コストで実施できる観点からは、空気中での照射が好ましい。
【００１９】
工程（１）においては、好ましくは、平均粒子径が５００μｍ以下である上記低分子量ＰＴＦＥの粒子が得られる。上記低分子量ＰＴＦＥの粒子の平均粒子径は、３００μｍ以下がより好ましく、１００μｍ以下が更に好ましい。また、下限については特に限定されないが、３０μｍ超であってよい。上記低分子量ＰＴＦＥの粒子の平均粒子径が上記範囲内にあると、平均粒子径の比較的小さい低分子量ＰＴＦＥの粉末を容易に得ることができる。
【００２０】
上記平均粒子径は、日本電子株式会社製レーザー回折式粒度分布測定装置（ＨＥＬＯＳ＆ＲＯＤＯＳ）を用いて、カスケードは使用せず、分散圧力１．０ｂａｒで測定を行い、粒度分布積算の５０％に対応する粒子径に等しいとする。
【００２１】
工程（２）における放射線の照射は、工程（１）で得られた低分子量ＰＴＦＥが分解しない線量で行う。このように、工程（１）で高分子量ＰＴＦＥを低分子量化する（分解する）ための放射線照射を行った後で、低分子量ＰＴＦＥが分解しない比較的低線量の照射を行うことにより、工程（１）で生成した炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩を除去することができる。
上記放射線の照射線量としては、例えば、０．１〜２５ｋＧｙが好ましく、２０ｋＧｙ以下がより好ましく、１５ｋＧｙ以下が更に好ましい。また、０．５ｋＧｙ以上がより好ましく、１．０ｋＧｙ以上が更に好ましい。
【００２２】
工程（２）における照射に用いる放射線の種類、照射温度、雰囲気としては、工程（１）における照射と同様のものが挙げられる。
【００２３】
本開示の製造方法は、工程（１）の前に、更に、上記高分子量ＰＴＦＥを、その一次融点以上に加熱することにより成形品を得る工程（３）を含むこともできる。この場合、工程（３）で得られた成形品を工程（１）における上記高分子量ＰＴＦＥとして使用することができる。上記一次融点は、好ましくは３００℃以上、より好ましくは３１０℃以上、更に好ましくは３２０℃以上である。上記一次融点は、未焼成の高分子量ＰＴＦＥを示差走査熱量計で測定した場合に、結晶融解曲線上に現れる吸熱カーブの最大ピーク温度を意味する。上記吸熱カーブは、示差走査熱量計を用いて、昇温速度１０℃／分の条件で昇温させて得られたものである。
【００２４】
工程（３）における上記成形品は、比重が１．０ｇ／ｃｍ３以上であることが好ましく、１．５ｇ／ｃｍ３以上であることがより好ましく、また、２．５ｇ／ｃｍ３以下であることが好ましい。上記成形品の比重が上記範囲内にあると、表面の細孔や凸凹が小さくなり、結果的に比表面積の小さい低分子量ＰＴＦＥを得ることが出来る。
上記比重は、水中置換法により測定することができる。
本開示の製造方法は、工程（３）の後に、更に、上記成形品を粉砕して、上記ＰＴＦＥの粉末を得る工程を含むこともできる。上記成形品を粗く粉砕してから、更に小さく粉砕してもよい。
【００２５】
本開示の製造方法は、更に、工程（２）の実施後に得られる低分子量ＰＴＦＥを粉砕する工程（４）を含むこともできる。これにより、平均粒子径の小さい低分子量ＰＴＦＥの粉末が得られる。
【００２６】
次に、本開示の製造方法の工程（１）において放射線を照射する高分子量ＰＴＦＥ、及び、放射線を照射した後に得られる低分子量ＰＴＦＥについて説明する。
【００２７】
上記低分子量ＰＴＦＥは、３８０℃における溶融粘度が１．０×１０２〜７．０×１０５Ｐａ・ｓである。本開示において、「低分子量」とは、上記溶融粘度が上記の範囲内にあることを意味する。
上記溶融粘度は、１．５×１０３Ｐａ・ｓ以上であることが好ましく、また、３．０×１０５Ｐａ・ｓ以下であることが好ましく、１．０×１０５Ｐａ・ｓ以下であることがより好ましい。
【００２８】
上記溶融粘度は、ＡＳＴＭ  Ｄ  １２３８に準拠し、フローテスター（島津製作所社製）及び２φ−８Ｌのダイを用い、予め３８０℃で５分間加熱しておいた２ｇの試料を０．７ＭＰａの荷重にて上記温度に保って測定した値である。
【００２９】
上記放射線を照射する上記高分子量ＰＴＦＥは、標準比重（ＳＳＧ）が２．１３０〜２．２３０であることが好ましい。上記標準比重（ＳＳＧ）はＡＳＴＭ  Ｄ  ４８９５に準拠し、測定した値である。
【００３０】
上記高分子量ＰＴＦＥは、上記低分子量ＰＴＦＥよりも溶融粘度が極めて高く、その正確な溶融粘度を測定することは困難である。他方、低分子量ＰＴＦＥの溶融粘度は測定可能であるが、低分子量ＰＴＦＥからは、標準比重の測定に使用可能な成形品を得ることが難しく、その正確な標準比重を測定することが困難である。従って、本開示では、放射線を照射する上記高分子量ＰＴＦＥの分子量の指標として、標準比重を採用し、上記低分子量ＰＴＦＥの分子量の指標として、溶融粘度を採用する。なお、上記高分子量ＰＴＦＥ及び上記低分子量ＰＴＦＥのいずれについても、直接に分子量を特定できる測定方法は知られていない。
【００３１】
上記低分子量ＰＴＦＥは、融点が３２０〜３４０℃であることが好ましく、３２４〜３３６℃であることがより好ましい。
【００３２】
上記融点は、示差走査熱量計（ＤＳＣ）を用い、事前に標準サンプルとして、インジウム、鉛を用いて温度校正した上で、低分子量ＰＴＦＥ約３ｍｇをアルミ製パン（クリンプ容器）に入れ、２００ｍｌ／分のエアー気流下で、２５０〜３８０℃の温度領域を１０℃／分で昇温させて行い、上記領域における融解熱量の極小点を融点とする。
【００３３】
本開示の製造方法において、上記高分子量ＰＴＦＥの形状は特に限定されず、粉末であってもよいし、上記高分子量ＰＴＦＥの成形品であってもよいし、上記高分子量ＰＴＦＥの成形品を切削加工した場合に生じる切削屑であってもよい。上記高分子量ＰＴＦＥが粉末であると、上記低分子量ＰＴＦＥの粉末を容易に得ることができる。
【００３４】
また、本開示の製造方法によって得られる低分子量ＰＴＦＥの形状は、特に限定されないが、粉末であることが好ましい。
【００３５】
本開示の製造方法によって得られる低分子量ＰＴＦＥが粉末である場合、比表面積が０．５〜２０ｍ２／ｇであることが好ましい。上記比表面積としては、７．０ｍ２／ｇ以上がより好ましい。
低分子量ＰＴＦＥ粉末としては、比表面積が０．５ｍ２／ｇ以上、７．０ｍ２／ｇ未満の比表面積の低いタイプと、比表面積が７．０ｍ２／ｇ以上、２０ｍ２／ｇ以下の比表面積の高いタイプがそれぞれ求められている。
比表面積の低いタイプの低分子量ＰＴＦＥ粉末は、例えば塗料等のマトリクス材料に容易に分散する利点がある一方、マトリクス材料への分散粒径が大きく、微分散に劣る。
比表面積の低いタイプの低分子量ＰＴＦＥ粉末の比表面積は、１．０ｍ２／ｇ以上が好ましく、５．０ｍ２／ｇ以下が好ましく、３．０ｍ２／ｇ以下がより好ましい。マトリクス材料としては、プラスチック、インクの他、塗料等も好適に用いられる。
比表面積の高いタイプの低分子量ＰＴＦＥ粉末は、例えば塗料等のマトリクス材料に分散させた場合、マトリクス材料への分散粒径が小さく、塗膜表面の質感を向上させる等、表面を改質する効果が高く、吸油量も多くなるが、マトリクス材料への分散に必要な時間が長い等容易に分散しないおそれがあり、また、塗料等の粘度が上昇するおそれもある。
比表面積の高いタイプの低分子量ＰＴＦＥ粉末の比表面積は、８．０ｍ２／ｇ以上が好ましく、２５ｍ２／ｇ以下が好ましく、２０ｍ２／ｇ以下がより好ましい。マトリクス材料としては、オイル、グリース、塗料の他、プラスチック等も好適に用いられる。
【００３６】
上記比表面積は、表面分析計（商品名：ＢＥＬＳＯＲＰ−ｍｉｎｉＩＩ、マイクロトラック・ベル株式会社製）を用い、キャリアガスとして窒素３０％、ヘリウム７０％の混合ガスを用い、冷却に液体窒素を用いて、ＢＥＴ法により測定する。
【００３７】
本開示の製造方法によって得られる低分子量ＰＴＦＥが粉末である場合、平均粒子径が０．５〜２００μｍであることが好ましく、５０μｍ以下がより好ましく、２５μｍ以下が更に好ましく、１０μｍ以下が特に好ましく、５μｍ以下が殊更好ましい。下限は、１．０μｍであってよい。このように、平均粒子径が比較的小さい粉末であることで、例えば、塗料の添加剤として用いた場合等に、より優れた表面平滑性を有する塗膜を形成することができる。
【００３８】
上記平均粒子径は、日本電子株式会社製レーザー回折式粒度分布測定装置（ＨＥＬＯＳ＆ＲＯＤＯＳ）を用いて、カスケードは使用せず、分散圧力１．０ｂａｒで測定を行い、粒度分布積算の５０％に対応する粒子径に等しいとする。
【００３９】
本開示の製造方法では、工程（２）を実施した後に、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩を実質的に含まない低分子量ＰＴＦＥを得ることができる。本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩の総量が質量基準で５０ｐｐｂ以下であることが好ましく、２５ｐｐｂ未満であることがより好ましく、１５ｐｐｂ以下であることが更に好ましく、１０ｐｐｂ以下であることが更により好ましく、５ｐｐｂ以下であることが特に好ましく、５ｐｐｂ未満であることが最も好ましい。下限は特に限定されず、検出限界未満の量であってよい。
【００４０】
上記パーフルオロカルボン酸及びその塩の量は、液体クロマトグラフィーにより測定できる。
【００４１】
また、本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、パーフルオロオクタン酸及びその塩を実質的に含まない点にも特徴がある。本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、パーフルオロオクタン酸及びその塩の量が質量基準で２５ｐｐｂ未満であることが好ましい。１５ｐｐｂ以下であることがより好ましく、１０ｐｐｂ以下であることが更に好ましく、５ｐｐｂ以下であることが更により好ましく、５ｐｐｂ未満であることが特に好ましい。下限は特に限定されず、検出限界未満の量であってよい。
【００４２】
上記パーフルオロオクタン酸及びその塩の量は、液体クロマトグラフィーにより測定できる。
【００４３】
また、本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、炭素数６〜１４のパーフルオロスルホン酸及びその塩を実質的に含まない点にも特徴がある。本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、炭素数６〜１４のパーフルオロスルホン酸及びその塩の量が質量基準で２５ｐｐｂ未満であることが好ましい。１５ｐｐｂ以下であることがより好ましく、１０ｐｐｂ以下であることが更に好ましく、５ｐｐｂ以下であることが更により好ましく、５ｐｐｂ未満であることが特に好ましい。下限は特に限定されず、検出限界未満の量であってよい。
【００４４】
上記パーフルオロスルホン酸及びその塩の量は、液体クロマトグラフィーにより測定できる。
【００４５】
上記低分子量ＰＴＦＥは、分子鎖末端に主鎖炭素数１０６個あたり３０個以上のカルボキシル基を有していることが好ましい。上記カルボキシル基は、主鎖炭素数１０６個あたり３５個以上がより好ましい。また、上記カルボキシル基の上限値は特に限定されないが、例えば、主鎖炭素数１０６個あたり５００個が好ましく、３５０個がより好ましい。上記カルボキシル基は、例えば、上記高分子量ＰＴＦＥに酸素存在下で上記放射線を照射することにより、上記低分子量ＰＴＦＥの分子鎖末端に生じる。上記高分子量ＰＴＦＥの変性量によって放射線照射後のカルボキシル基数が増加する。上記低分子量ＰＴＦＥは、分子鎖末端に主鎖炭素数１０６個あたり３０個以上のカルボキシル基を有することにより、成形材料、インク、化粧品、塗料、グリース、オフィスオートメーション機器用部材、トナーを改質する添加剤、めっき液への添加剤等との分散性に優れる。例えば、マイクロパウダーは、摺動性や摩耗量低下、鳴き防止、撥水性・撥油性向上を目的として、ハイドロカーボン系のマトリックス樹脂やインク、塗料に配合されるが、パーフルオロ樹脂であるマイクロパウダーは、もともと上記マトリックス樹脂やインク、塗料とはなじみが悪く、均一に分散することが難しい。一方、高分子ＰＴＦＥを照射分解して製造されたマイクロパウダーは、その製法故に副生成物としてＰＦＯＡ（パーフルオロオクタン酸及びその塩）やカルボキシル基が生成される。得られたマイクロパウダーの末端他に存在するカルボキシル基は、結果的にハイドロカーボン系である上記マトリックス樹脂やインク、塗料への分散剤としても作用する。
上記カルボキシル基の数は、下記方法により測定した値である。この測定方法による検出限界は０．５個である。
（測定方法）
特開平４−２０５０７号公報記載の末端基の分析方法に準拠し、以下の測定を行う。
低分子量ＰＴＦＥ粉末をハンドプレスにて予備成形し、およそ０．１ｍｍ厚みのフィルムを作製する。作製したフィルムについて赤外吸収スペクトル分析する。ＰＴＦＥにフッ素ガスを接触させて作製した末端を完全フッ素化したＰＴＦＥの赤外吸収スペクトル分析も行い、両者の差スペクトルから次式により末端カルボキシル基の個数を算出する。
末端カルボキシル基の個数（炭素数１０６個あたり）＝（ｌ×Ｋ）／ｔ
ｌ：吸光度
Ｋ：補正係数
ｔ：フィルムの厚み（ｍｍ）
カルボキシル基の吸収周波数は３５６０ｃｍ−１、補正係数は４４０とする。
【００４６】
上記低分子量ＰＴＦＥの分子鎖末端には、上記ＰＴＦＥの重合反応において使用された重合開始剤又は連鎖移動剤の化学構造に由来する不安定末端基が生じていてもよい。上記不安定末端基としては特に限定されず、例えば、−ＣＨ２ＯＨ、−ＣＯＯＨ、−ＣＯＯＣＨ３等が挙げられる。
【００４７】
上記低分子量ＰＴＦＥは、不安定末端基の安定化を行ったものであってもよい。上記不安定末端基の安定化の方法としては特に限定されず、例えば、フッ素含有ガスに曝露することにより末端をトリフルオロメチル基〔−ＣＦ３〕に変化させる方法等が挙げられる。
【００４８】
上記低分子量ＰＴＦＥはまた、末端アミド化を行ったものであってもよい。上記末端アミド化の方法としては特に限定されず、例えば、特開平４−２０５０７号公報に開示されているように、フッ素含有ガスに曝露する等して得られたフルオロカルボニル基〔−ＣＯＦ〕をアンモニアガスと接触させる方法等が挙げられる。
【００４９】
上記低分子量ＰＴＦＥが上述の不安定末端基の安定化又は末端アミド化を行ったものであると、塗料、グリース、化粧品、メッキ液、トナー、プラスチックス等の相手材への添加剤として用いる場合に、相手材となじみやすく、分散性を向上させることができる。
【００５０】
上記高分子量ＰＴＦＥは、テトラフルオロエチレン（ＴＦＥ）単位のみからなるホモＰＴＦＥであってもよいし、ＴＦＥ単位及びＴＦＥと共重合可能な変性モノマーに基づく変性モノマー単位を含む変性ＰＴＦＥであってもよい。本開示の製造方法において、ポリマーの組成は変化しないので、上記低分子量ＰＴＦＥは、上記高分子量ＰＴＦＥが有する組成をそのまま有する。
【００５１】
上記変性ＰＴＦＥにおいて、上記変性モノマー単位の含有量は、全単量体単位の０．００１〜１質量％であることが好ましく、０．０１質量％以上がより好ましく、また、０．５質量％以下がより好ましく、０．１質量％以下が更に好ましい。本明細書において、上記変性モノマー単位とは、変性ＰＴＦＥの分子構造の一部分であって変性モノマーに由来する部分を意味し、全単量体単位とは、変性ＰＴＦＥの分子構造における全ての単量体に由来する部分を意味する。上記変性モノマー単位の含有量は、フーリエ変換型赤外分光法（ＦＴ−ＩＲ）等の公知の方法により求めることができる。
【００５２】
上記変性モノマーとしては、ＴＦＥとの共重合が可能なものであれば特に限定されず、例えば、ヘキサフルオロプロピレン〔ＨＦＰ〕等のパーフルオロオレフィン；クロロトリフルオロエチレン〔ＣＴＦＥ〕等のクロロフルオロオレフィン；トリフルオロエチレン、フッ化ビニリデン〔ＶＤＦ〕等の水素含有フルオロオレフィン；パーフルオロビニルエーテル；パーフルオロアルキルエチレン；エチレン等が挙げられる。また、用いる変性モノマーは１種であってもよいし、複数種であってもよい。
【００５３】
上記パーフルオロビニルエーテルとしては特に限定されず、例えば、下記一般式（１）
ＣＦ２＝ＣＦ−ＯＲｆ（１）
（式中、Ｒｆは、パーフルオロ有機基を表す。）で表されるパーフルオロ不飽和化合物等が挙げられる。本明細書において、上記「パーフルオロ有機基」とは、炭素原子に結合する水素原子が全てフッ素原子に置換されてなる有機基を意味する。上記パーフルオロ有機基は、エーテル酸素を有していてもよい。
【００５４】
上記パーフルオロビニルエーテルとしては、例えば、上記一般式（１）において、Ｒｆが炭素数１〜１０のパーフルオロアルキル基を表すものであるパーフルオロ（アルキルビニルエーテル）〔ＰＡＶＥ〕が挙げられる。上記パーフルオロアルキル基の炭素数は、好ましくは１〜５である。
【００５５】
上記ＰＡＶＥにおけるパーフルオロアルキル基としては、例えば、パーフルオロメチル基、パーフルオロエチル基、パーフルオロプロピル基、パーフルオロブチル基、パーフルオロペンチル基、パーフルオロヘキシル基等が挙げられるが、パーフルオロアルキル基がパーフルオロプロピル基であるパープルオロ（プロピルビニルエーテル）〔ＰＰＶＥ〕が好ましい。
【００５６】
上記パーフルオロビニルエーテルとしては、更に、上記一般式（１）において、Ｒｆが炭素数４〜９のパーフルオロ（アルコキシアルキル）基であるもの、Ｒｆが下記式：
【００５７】
【化１】
2019156038.tif 000002
【００５８】
（式中、ｍは、０又は１〜４の整数を表す。）で表される基であるもの、Ｒｆが下記式：
【００５９】
【化２】
2019156038.tif 000003
【００６０】
（式中、ｎは、１〜４の整数を表す。）で表される基であるもの等が挙げられる。
【００６１】
パーフルオロアルキルエチレンとしては特に限定されず、例えば、（パーフルオロブチル）エチレン（ＰＦＢＥ）、（パーフルオロヘキシル）エチレン、（パーフルオロオクチル）エチレン等が挙げられる。
【００６２】
上記変性ＰＴＦＥにおける変性モノマーとしては、ＨＦＰ、ＣＴＦＥ、ＶＤＦ、ＰＰＶＥ、ＰＦＢＥ及びエチレンからなる群より選択される少なくとも１種であることが好ましい。より好ましくは、ＰＰＶＥ、ＨＦＰ及びＣＴＦＥからなる群より選択される少なくとも１種である。
【００６３】
本開示の製造方法により得られる低分子量ＰＴＦＥは、成形材料、インク、化粧品、塗料、グリース、オフィスオートメーション機器用部材、トナーを改質する添加剤、複写機の有機感光体材料、めっき液への添加剤等として好適に使用することができる。上記成形材料としては、例えば、ポリオキシベンゾイルポリエステル、ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリアセタール、ポリカーボネート、ポリフェニレンサルファイド等のエンジニアリングプラスチックが挙げられる。上記低分子量ＰＴＦＥは、特に、グリース用粘稠剤として好適である。
【００６４】
上記低分子量ＰＴＦＥは、成形材料の添加剤として、例えば、コピーロールの非粘着性・摺動特性の向上、家具の表層シート、自動車のダッシュボード、家電製品のカバー等のエンジニアリングプラスチック成形品の質感を向上させる用途、軽荷重軸受、歯車、カム、プッシュホンのボタン、映写機、カメラ部品、摺動材等の機械的摩擦を生じる機械部品の滑り性や耐摩耗性を向上させる用途に用いることができる。
【００６５】
上記低分子量ＰＴＦＥは、塗料の添加剤として、ニスやペンキの滑り性向上の目的に用いることができる。上記低分子量ＰＴＦＥ及び上記粉末は、化粧品の添加剤として、ファンデーション等の化粧品の滑り性向上等の目的に用いることができる。
【００６６】
上記低分子量ＰＴＦＥは、更に、ワックス等の撥油性又は撥水性を向上させる用途や、グリースやトナーの滑り性を向上させる用途にも好適である。
【００６７】
上記低分子量ＰＴＦＥは、二次電池や燃料電池の電極バインダー、電極バインダーの硬度調整剤、電極表面の撥水処理剤等としても使用できる。
【００６８】
上記低分子量ＰＴＦＥと潤滑油とを使用してグリースを調製することもできる。上記グリースは、上記低分子量ＰＴＦＥと潤滑油とを含有することを特徴とすることから、潤滑油中に上記低分子量ＰＴＦＥが均一かつ安定に分散しており、耐荷重性、電気絶縁性、低吸湿性等の特性に優れている。
【００６９】
上記潤滑油（基油）は、鉱物油であっても、合成油であってもよい。上記潤滑油（基油）としては、例えば、パラフィン系やナフテン系の鉱物油、合成炭化水素油、エステル油、フッ素オイル、シリコーンオイルのような合成油等が挙げられる。耐熱性の観点からはフッ素オイルが好ましい。上記フッ素オイルとしては、パーフルオロポリエーテルオイル、三フッ化塩化エチレンの低重合物等が挙げられる。三フッ化塩化エチレンの低重合物は、重量平均分子量が５００〜１２００であってよい。
【００７０】
上記グリースは、更に、増稠剤を含むものであってもよい。上記増稠剤としては、金属石けん、複合金属石けん、ベントナイト、フタロシアニン、シリカゲル、ウレア化合物、ウレア・ウレタン化合物、ウレタン化合物、イミド化合物等が挙げられる。上記金属石けんとしては、例えばナトリウム石けん、カルシウム石けん、アルミニウム石けん、リチウム石けん等が挙げられる。また上記ウレア化合物、ウレア・ウレタン化合物及びウレタン化合物としては、例えばジウレア化合物、トリウレア化合物、テトラウレア化合物、その他のポリウレア化合物、ウレア・ウレタン化合物、ジウレタン化合物又はこれらの混合物等が挙げられる。
【００７１】
上記グリースは、上記低分子量ＰＴＦＥを０．１〜６０質量％含むことが好ましく、０．５質量％以上含むことがより好ましく、５質量％以上含むことが更に好ましく、５０質量％以下含むことがより好ましい。上記低分子量ＰＴＦＥの量が多すぎると、グリースが硬くなりすぎて、充分な潤滑性を発揮できないおそれがあり、上記低分子量ＰＴＦＥの量が少なすぎると、シール性が発揮できないおそれがある。
【００７２】
上記グリースは、固体潤滑剤、極圧剤、酸化防止剤、油性剤、さび止め剤、粘度指数向上剤、清浄分散剤等を含むこともできる。
【実施例】
【００７３】
次に実施例を挙げて本開示を更に詳しく説明するが、本開示はこれらの実施例のみに限定されるものではない。【００７４】
実施例の各数値は以下の方法により測定した。【００７５】
溶融粘度
ＡＳＴＭ  Ｄ  １２３８に準拠し、フローテスター（島津製作所社製）及び２φ−８Ｌのダイを用い、予め３８０℃で５分間加熱しておいた２ｇの試料を０．７ＭＰａの荷重にて上記温度に保って測定を行った。【００７６】
パーフルオロオクタン酸及びその塩（ＰＦＯＡ）の含有量
液体クロマトグラフ質量分析計（Ｗａｔｅｒｓ，  ＬＣ−ＭＳ  ＡＣＱＵＩＴＹ  ＵＰＬＣ／ＴＱＤ）を用い、パーフルオロオクタン酸及びその塩の含有量の測定を行った。測定粉末１ｇにアセトニトリル５ｍｌを加え、６０分間の超音波処理を行い、パーフルオロオクタン酸を抽出した。得られた液相について、ＭＲＭ（Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ｒｅａｃｔｉｏｎ  Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ）法を用いて測定した。移動相としてアセトニトリル（Ａ）と酢酸アンモニウム水溶液（２０ｍｍｏｌ／Ｌ）（Ｂ）を、濃度勾配（Ａ／Ｂ＝４０／６０−２ｍｉｎ−８０／２０−１ｍｉｎ）で送液した。分離カラム（ＡＣＱＵＩＴＹ  ＵＰＬＣ  ＢＥＨ  Ｃ１８  １．７μｍ）を使用し、カラム温度は４０℃、注入量は５μＬとした。イオン化法はＥＳＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏｓｐｒａｙ  ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）Ｎｅｇａｔｉｖｅを使用し、コーン電圧は２５Ｖに設定し、プリカーサーイオン分子量／プロダクトイオン分子量は４１３／３６９を測定した。パーフルオロオクタン酸及びその塩の含有量は外部標準法を用い、算出した。この測定における検出限界は５ｐｐｂである。【００７７】
炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩（ＰＦＣ）の含有量
液体クロマトグラフ質量分析計（Ｗａｔｅｒｓ，  ＬＣ−ＭＳ  ＡＣＱＵＩＴＹ  ＵＰＬＣ／ＴＱＤ）を用い、炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩を測定した。溶液はパーフルオロオクタン酸の測定にて抽出した液相を使用し、ＭＲＭ法を用いて測定した。測定条件はパーフルオロオクタン酸の測定条件から、濃度勾配を変更し（Ａ／Ｂ＝１０／９０−１．５ｍｉｎ−９０／１０−３．５ｍｉｎ）、プリカーサーイオン分子量／プロダクトイオン分子量は、パーフルオロヘキサン酸（炭素数６）は３１３／２６９、パーフルオロヘプタン酸（炭素数７）は３６３／３１９、パーフルオロオクタン酸（炭素数８）は４１３／３６９、パーフルオロノナン酸（炭素数９）は４６３／４１９、パーフルオロデカン酸（炭素数１０）は５１３／４６９、パーフルオロウンデカン酸（炭素数１１）は５６３／５１９、パーフルオロドデカン酸（炭素数１２）は６１３／５６９、パーフルオロトリデカン酸（炭素数１３）は６６３／６１９、パーフルオロテトラデカン酸（炭素数１４）は７１３／６６９を測定した。
炭素数６〜１４のパーフルオロカルボン酸及びその塩の合計量は、上記測定より得られたパーフルオロオクタン酸の含有量（Ｘ）から下記式を用いて算出した。この測定における検出限界は５ｐｐｂである。
（ＡＣ６＋ＡＣ７＋ＡＣ８＋ＡＣ９＋ＡＣ１０＋ＡＣ１１＋ＡＣ１２＋ＡＣ１３＋ＡＣ１４）／ＡＣ８×Ｘ
ＡＣ６：パーフルオロヘキサン酸のピーク面積
ＡＣ７：パーフルオロヘプタン酸のピーク面積
ＡＣ８：パーフルオロオクタン酸のピーク面積
ＡＣ９：パーフルオロノナン酸のピーク面積
ＡＣ１０：パーフルオロデカン酸のピーク面積
ＡＣ１１：パーフルオロウンデカン酸のピーク面積
ＡＣ１２：パーフルオロノデカン酸のピーク面積
ＡＣ１３：パーフルオロトリデカン酸のピーク面積
ＡＣ１４：パーフルオロテトラデカン酸のピーク面積
Ｘ：ＭＲＭ法を用いた測定結果から外部標準法を用いて算出したパーフルオロオクタン酸の含有量【００７８】
比較例１
市販のホモＰＴＦＥファインパウダー（ＡＳＴＭ  Ｄ  ４８９５に準拠し、測定した標準比重：２．１７５、ＰＦＣ及びＰＦＯＡの濃度は検出限界以下である）に、室温にて空気中においてコバルト−６０γ線を２００ｋＧｙ照射して、低分子量ＰＴＦＥ粉末を得た。
得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末の各種物性を測定した。結果を表１に示す。【００７９】
実施例１
比較例１で得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末に、室温にて空気中においてコバルト−６０γ線を１ｋＧｙ照射して、低分子量ＰＴＦＥ粉末を得た。
比較例１と同様に、得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末の各種物性を測定した。結果を表１に示す。【００８０】
実施例２〜４
比較例１で得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末に照射する放射線の線量を表１に示すように変更した点以外は実施例１と同様にして、低分子量ＰＴＦＥ粉末を得た。
比較例１と同様に、得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末の各種物性を測定した。結果を表１に示す。【００８１】
比較例２〜４
ホモＰＴＦＥファインパウダーに照射する放射線の線量を表１に示すように変更した点以外は比較例１と同様にして、低分子量ＰＴＦＥ粉末を得た。
比較例１と同様に、得られた低分子量ＰＴＦＥ粉末の各種物性を測定した。結果を表１に示す。【００８２】
【表１】
2019156038.tif 000004
【国際調査報告】
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