(57)【要約】  一実施形態に係る切替装置は、基板と、前記基板の表面の少なくとも３点と接触しながら所定の摺動方向に摺動する摺動子と、前記基板の表面の第１領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第１パターン、第２パターン、及び第３パターンと、前記基板の表面の第２領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第４パターン、第５パターン、及び第６パターンと、前記基板の表面の第３領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第７パターン、第８パターン、及び第９パターンと、前記第１パターンからの信号から前記第９パターンからの信号までの組み合わせに基づいて、前記摺動子の位置を検出する位置検出部と、を備える。
2018225308.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
前記基板の表面の少なくとも３点と接触しながら所定の摺動方向に摺動する摺動子と、
前記基板の表面の第１領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第１パターン、第２パターン、及び第３パターンと、
前記基板の表面の第２領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第４パターン、第５パターン、及び第６パターンと、
前記基板の表面の第３領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第７パターン、第８パターン、及び第９パターンと、
前記第１パターンからの信号から前記第９パターンからの信号までの組み合わせに基づいて、前記摺動子の位置を検出する位置検出部と、
を備える切替装置。
【請求項２】
前記第１パターン、前記第４パターン、及び前記第７パターンは、前記摺動方向に一列に配置され、前記第２パターン、前記第５パターン、及び前記第８パターンは、前記摺動方向に一列に配置され、前記第３パターン、前記第６パターン、及び前記第９パターンは、前記摺動方向に一列に配置される
請求項１に記載の切替装置。
【請求項３】
前記第１パターン、前記第４パターン、及び前記第７パターンは接続され、前記第２パターン及び前記第９パターンは接続され、前記第３パターン及び前記第６パターンは接続され、前記第５パターン及び前記第８パターンは接続される
請求項１又は請求項２に記載の切替装置。
【請求項４】
前記第１パターン、前記第４パターン、及び前記第７パターンは、断続的又は連続的に形成される
請求項１から請求項３までのいずれか１項に記載の切替装置。
【請求項５】
前記第２パターン及び前記第９パターンは、断続的に形成される
請求項１から請求項４までのいずれか１項に記載の切替装置。
【請求項６】
前記第３パターン及び前記第６パターンは、断続的又は連続的に形成される
請求項１から請求項５までのいずれか１項に記載の切替装置。
【請求項７】
前記第５パターン及び前記第８パターンは、断続的又は連続的に形成される
請求項１から請求項６までのいずれか１項に記載の切替装置。
【請求項８】
前記第１パターン、前記第４パターン、及び前記第７パターンは、断続的に形成され、かつ、他のパターンより短く形成される
請求項１から請求項７までのいずれか１項に記載の切替装置。
【請求項９】
前記第１パターン、前記第４パターン、及び前記第７パターンは、前記基板の表面における、前記第２パターン、前記第５パターン、及び前記第８パターンより外側に形成される
請求項１から請求項８までのいずれか１項に記載の切替装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、切替装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、基板及び摺動子を備える切替装置により、操作レバーの位置を検出するストークスイッチが知られている。従来の切替装置では、直線状に形成されたコモン接点と、当該コモン接点と平行に配置された２つの固定接点と、が基板上に形成され、当該基板上を摺動子が摺動することにより、コモン接点と接続される固定接点が切り替えられる。切替装置は、コモン接点及び固定接点の接続関係に基づいて、摺動子の位置を検出した。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９-２７７４３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の切替装置では、２つの接点の接続関係に基づいて摺動子の位置が検出されたため、一方の接点に異常（ショートや接触不良など）が生じると、摺動子の位置を検出できなくなるという問題がった。【０００５】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、摺動子の位置をより確実に検出可能な切替装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一実施形態に係る切替装置は、基板と、前記基板の表面の少なくとも３点と接触しながら所定の摺動方向に摺動する摺動子と、前記基板の表面の第１領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第１パターン、第２パターン、及び第３パターンと、前記基板の表面の第２領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第４パターン、第５パターン、及び第６パターンと、前記基板の表面の第３領域に形成された、前記摺動子が同時に接触可能な第７パターン、第８パターン、及び第９パターンと、前記第１パターンからの信号から前記第９パターンからの信号までの組み合わせに基づいて、前記摺動子の位置を検出する位置検出部と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の各実施形態によれば、摺動子の位置をより確実に検出可能な切替装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第１実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図。
【図２】摺動子の一例を示す側面図。
【図３】パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃ及び位置検出部の接続方法を示す図。
【図４】第１実施形態における摺動子の位置の検出結果の一例を示す図。
【図５】第２実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図。
【図６】第２実施形態における摺動子の位置の検出結果の一例を示す図。
【図７】第３実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図。
【図８】摺動子が傾いた場合の図５の切替装置の一例を示す平面図。
【図９】第３実施形態に係る切替装置の他の例を示す平面図。
【図１０】第１実施形態に係る切替装置の他の例を示す平面図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の各実施形態について、添付の図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態に係る明細書及び図面の記載に関して、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重畳した説明を省略する。
【００１０】
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係る切替装置について、図１〜図４を参照して説明する。本実施形態に係る切替装置は、多点を切り替え可能な多点切替装置であり、スライドスイッチのツマミやストークスイッチの操作レバーの位置を検出するための装置として利用される。
【００１１】
図１は、本実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図である。図１の切替装置は、基板１と、摺動子２と、位置検出部３と、を備え、後述する位置Ｐ１、位置Ｐ２、及び位置Ｐ３の３つの切替位置を有する。
【００１２】
摺動子２は、基板１の表面の３点と接触しながら所定の摺動方向（図１の矢印Ａの方向）に摺動する鉄板等からなる導電性部材である。摺動子２は、接続部２１と、接触部２２Ａ〜２２Ｃと、を備える。
【００１３】
接続部２１は、接触部２２Ａ〜２２Ｃの基部を接続する部分である。接続部２１は、スライドスイッチのツマミの背面やストークスイッチの操作レバーの基部に、基板１から離間した状態で取り付けられる。ユーザがツマミや操作レバーを操作することにより、接続部２１が移動し、摺動子２が摺動する。
【００１４】
接触部２２Ａ〜２２Ｃは、接続部２１から基板１に向かって延びた部分であり、基部が接続部２１に接続され、先端が基板１の表面に接触する。接触部２２Ａ〜２２Ｃは、それぞれの先端が摺動方向に対して垂直な方向に並ぶように設けられる。以下、接触部２２Ａ〜２２Ｃを区別しない場合、接触部２２と称する。
【００１５】
図２は、摺動子２の一例を示す側面図である。図２に示すように、接触部２２の先端は、摺動子２の摺動により基板１の表面に引っかからないように、基板１側に凸な弧形状を有する。接触部２２は、弾性を有し、先端が基板１に対して押圧されるように形成される。
【００１６】
位置検出部３は、基板１の表面に形成された各パターン（図１のｐａ、ｐｂ、ｐｃ及びｐｇ）と、基板１の背面を介して接続されており、各パターンの接続関係（各パターンからの信号の組み合わせ）に基づいて、摺動子２の位置を検出する。具体的には、位置検出部３は、摺動子２が、後述する位置Ｐ１、位置Ｐ１と位置Ｐ２の間、位置Ｐ２、位置Ｐ２と位置Ｐ３の間、及び位置Ｐ３のいずれに位置するか判定する。位置検出部３は、例えば、ＭＣＵ（Micro Controller Unit）、ＣＰＵ（Central Control Unit）を備えるコンピュータにより構成される。位置検出部３は、基板１上に設けられてもよいし、信号線を介して基板１と接続されてもよい。位置検出部３について詳しくは後述する。
【００１７】
基板１は、表面に複数の導電性のパターンｐ１〜ｐ９を形成される。第１実施形態では、各パターンｐ１〜ｐ９が、それぞれ第１パターン乃至第９パターンである。各パターンｐ１〜ｐ９は、摺動子２の接触部２２と接触可能な位置に形成される。摺動子２が摺動することにより、パターンの接続関係が変化する。基板１の表面には、摺動方向に一列に並んだ、第１領域Ｆ１、第１中間領域ｆ１、第２領域Ｆ２、第２中間領域ｆ２、及び第３領域Ｆ３が形成される。接触部２２が第１領域Ｆ１、第１中間領域ｆ１、第２領域Ｆ２、第２中間領域ｆ２、及び第３領域Ｆ３に形成されたパターンと接触可能な位置にある場合における摺動子２の位置が、それぞれ位置Ｐ１、位置Ｐ１と位置Ｐ２の間、位置Ｐ２、位置Ｐ２と位置Ｐ３の間、及び位置Ｐ３と定義される。
【００１８】
第１領域Ｆ１は、摺動子２の位置Ｐ１に対応する領域であり、互いに離間したパターンｐ１、パターンｐ２、及びパターンｐ３を形成される。パターンｐ１は、パターンｐｇのうち、第１領域Ｆ１における、接触部２２Ａの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ２は、パターンｐａのうち、第１領域Ｆ１における、接触部２２Ｂの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ３は、パターンｐｂのうち、第１領域Ｆ１における、接触部２２Ｃの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。
【００１９】
摺動子２が位置Ｐ１に位置する場合、パターンｐ１〜ｐ３に、接触部２２Ａ〜２２Ｃが同時に接触する。これにより、パターンｐ１〜ｐ３が、摺動子２を介して互いに接続される。一方、摺動子２が位置Ｐ１に位置しない場合、パターンｐ１〜ｐ３には、摺動子２が接触しない。したがって、パターンｐ１〜ｐ３は、互いに接続されない。位置検出部３は、パターンｐ１〜ｐ３が接続されている場合、摺動子２の位置は、位置Ｐ１であると判定する。
【００２０】
第２領域Ｆ２は、摺動子２の位置Ｐ２に対応する領域であり、互いに離間したパターンｐ４、パターンｐ５、及びパターンｐ６を形成される。パターンｐ４は、パターンｐｇのうち、第２領域Ｆ２における、接触部２２Ａの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ５は、パターンｐｃのうち、第２領域Ｆ２における、接触部２２Ｂの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ６は、パターンｐｂのうち、第２領域Ｆ２における、接触部２２Ｃの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。
【００２１】
摺動子２が位置Ｐ２に位置する場合、パターンｐ４〜ｐ６に、接触部２２Ａ〜２２Ｃが同時に接触する。これにより、パターンｐ４〜ｐ６が、摺動子２を介して互いに接続される。一方、摺動子２が位置Ｐ２に位置しない場合、パターンｐ４〜ｐ６には、摺動子２が接触しない。したがって、パターンｐ４〜ｐ６は、互いに接続されない。位置検出部３は、パターンｐ４〜ｐ６が接続されている場合、摺動子２の位置は、位置Ｐ２であると判定する。
【００２２】
第３領域Ｆ３は、摺動子２の位置Ｐ３に対応する領域であり、互いに離間したパターンｐ７、パターンｐ８、及びパターンｐ９を形成される。パターンｐ７は、パターンｐｇのうち、第３領域Ｆ３における、接触部２２Ａの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ８は、パターンｐｃのうち、第３領域Ｆ３における、接触部２２Ｂの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。パターンｐ９は、パターンｐａのうち、第３領域Ｆ３における、接触部２２Ｃの摺動面を含む範囲に形成されたパターンである。
【００２３】
摺動子２が位置Ｐ３に位置する場合、パターンｐ７〜ｐ９に、接触部２２Ａ〜２２Ｃが同時に接触する。これにより、パターンｐ７〜ｐ９が、摺動子２を介して互いに接続される。一方、摺動子２が位置Ｐ３に位置しない場合、パターンｐ７〜ｐ９には、摺動子２が接触しない。したがって、パターンｐ７〜ｐ９は、互いに接続されない。位置検出部３は、パターンｐ７〜ｐ９が接続されている場合、摺動子２の位置は、位置Ｐ３であると判定する。
【００２４】
なお、図１に示すように、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７は、摺動子２の摺動方向に一列に配置される。また、パターンｐ２，ｐ５，ｐ８は、摺動子２の摺動方向に一列に配置される。また、パターンｐ３，ｐ６，ｐ９は、摺動子２の摺動方向に一列に配置される。
【００２５】
第１中間領域ｆ１は、第１領域Ｆ１と第２領域Ｆ２との間の領域であり、摺動子２の第
１位置と位置Ｐ２との間に対応する。すなわち、第１領域Ｆ１及び第２領域Ｆ２は、第１中間領域ｆ１により隔てられる。
【００２６】
第２中間領域ｆ１は、第２領域Ｆ２と第３領域Ｆ３との間の領域であり、摺動子２の第
２位置と位置Ｐ３との間に対応する。すなわち、第２領域Ｆ２及び第３領域Ｆ３は、第２中間領域ｆ２により隔てられる。
【００２７】
本実施形態では、図１に示すように、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７は、連続的に形成される。すなわち、第１領域Ｆ１、第１中間領域ｆ１、第２領域Ｆ２、第２中間領域ｆ２、及び第３領域Ｆ３にわたって、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７を含む１つのパターンｐｇが形成される。パターンｐｇは、グラウンドに接続された（接地された）パターンであり、摺動子２と常時接触する。図１の例のように、パターンｐｇは、基板１における外側に形成されるのが好ましい。これにより、パターンｐｇの引き回しが容易となる。
【００２８】
また、パターンｐ２，ｐ９は、基板１の表面で断続的に形成され、かつ、基板１の背面又は基板１の外側で互いに電気的に接続される。パターンｐ２，ｐ９はそれぞれパターンｐａを形成する。
【００２９】
また、パターンｐ３，ｐ６は、連続的に形成される。すなわち、第１領域Ｆ１、第１中間領域ｆ１、及び第２領域Ｆ２にわたって、パターンｐ３，ｐ６を含む１つのパターンｐｂが形成される。
【００３０】
また、パターンｐ５，ｐ８は、連続的に形成される。すなわち、第２領域Ｆ２、第２中間領域ｆ２、及び第３領域Ｆ３にわたって、パターンｐ５，ｐ８を含む１つのパターンｐｃが形成される。
【００３１】
次に、摺動子２の位置の判定方法について説明する。図３は、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃ及び位置検出部３の接続方法を示す図である。図３の例では、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃは、それぞれ位置検出部３に接続されている。また、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃは、それぞれプルアップ抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３を介して電源線に接続されている。また、上述の通り、パターンｐｇは、接地されている。電圧Ｖａは、パターンｐａがパターンｐｇに接続されていない場合、電源電圧Ｖｃｃとなり、パターンｐａがパターンｐｇに接続された場合、接地電圧となる。電圧Ｖｂ，Ｖｃについても同様である。
【００３２】
このような構成により、位置検出部３には、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃからの信号として、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃの電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃがそれぞれ印加される。位置検出部３は、印加された電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃに基づいて、摺動子２の位置を判定する。パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃからの信号は、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃに流れる電流であってもよい。以下、電源電圧ＶｃｃをＨｉｇｈ、接地電圧をＬｏｗと称する。
【００３３】
図４は、位置検出部３による摺動子２の位置の検出結果の一例を示す図である。図４は、位置検出部３に印加される電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃの組と、各組に応じて位置検出部３が出力する摺動子２の位置と、を示している。図４のＮｏは、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃの組の識別番号である。以下、Ｎｏ．Ｘの組を、組Ｘという。
【００３４】
本実施形態では、摺動子２が位置Ｐ１に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ１），ｐａ（ｐ２），ｐｂ（ｐ３）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｌｏｗ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈとなる。そこで、図４の組１に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ１であると判定する。
【００３５】
また、摺動子２が位置Ｐ１と位置Ｐ２との間に位置する場合、パターンｐｇ，ｐｂが接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈとなる。そこで、図４の組２に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ１と位置Ｐ２との間であると判定する。
【００３６】
また、摺動子２が位置Ｐ２に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ４），ｐｂ（ｐ５），ｐｃ（ｐ６）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｌｏｗとなる。そこで、図４の組３に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｌｏｗである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ２であると判定する。
【００３７】
また、摺動子２が位置Ｐ２と位置Ｐ３との間に位置する場合、パターンｐｇ，ｐｃが接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｈｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗとなる。そこで、図４の組４に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ２と位置Ｐ３との間であると判定する。
【００３８】
また、摺動子２が位置Ｐ３に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ７），ｐａ（ｐ８），ｐｃ（ｐ９）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗとなる。そこで、図４の組５に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ３であると判定する。
【００３９】
以上説明した通り、本実施形態によれば、切替装置は、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃ，ｐｇの接続関係、すなわち、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃに基づいて、摺動子２の位置を検出できる。具体的には、切替装置は、摺動子２が、位置Ｐ１、位置Ｐ１と位置Ｐ２との間、位置Ｐ２、位置Ｐ２と位置Ｐ３との間、及び位置Ｐ３のいずれに位置するか判定できる。
【００４０】
また、本実施形態によれば、切替装置は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ（パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃ）のうちの２つを利用して、摺動子２が、位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれに位置するか判定する。このように、位置の判定に利用する電圧（パターン）が多重化されたことにより、切替装置は、摺動子２の位置をより確実に判定できる。
【００４１】
例えば、パターンｐａがショートした場合について考える。この場合、電圧Ｖａは、摺動子２の位置によらずＬｏｗとなるため、従来の切替装置では、摺動子２の位置を検出できなくなった。しかしながら、本実施形態では、パターンｐａがショートした場合であっても、電圧Ｖｂ，Ｖｃに基づいて、摺動子２が位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれに位置するか判定できる。具体的には、図４からわかるように、切替装置は、電圧Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｈｉｇｈの場合、位置Ｐ１と判定し、電圧Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｌｏｗの場合、位置Ｐ２と判定し、電圧Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｌｏｗの場合、位置Ｐ３と判定すればよい。
【００４２】
このように、本実施形態によれば、パターンｐａがショートした場合であっても、摺動子２の位置を検出できる。これは、パターンｐｂ又はパターンｐｃがショートした場合も同様である。また、パターンｐａ，ｐｂ、ｐｃのいずれかに接触異常が生じ、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃのいずれかが常時Ｈｉｇｈになった場合も同様である。
【００４３】
＜第２実施形態＞
第２実施形態に係る切替装置について、図５及び図６を参照して説明する。図５は、本実施形態に係る本実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図である。図５の切替装置では、パターンｐ３，ｐ６は、基板１の表面で断続的に形成され、かつ、基板１の背面又は基板１の外側で互いに電気的に接続されている。また、パターンｐ５，ｐ８は、基板１の表面で断続的に形成され、かつ、基板１の背面又は基板１の外側で互いに接続されている。切替装置の他の構成は、第１実施形態と同様である。
【００４４】
図６は、位置検出部３による摺動子２の位置の検出結果の一例を示す図である。図６は、位置検出部３に印加される電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃの組と、各組に応じて位置検出部３が出力する摺動子２の位置と、を示している。図６のＮｏは、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃの組の識別番号である。以下、Ｎｏ．Ｘの組を、組Ｘという。
【００４５】
本実施形態では、第１実施形態と同様に、摺動子２が位置Ｐ１に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ１），ｐａ（ｐ２），ｐｂ（ｐ３）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｌｏｗ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈとなる。そこで、図６の組１に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ１であると判定する。
【００４６】
また、摺動子２が位置Ｐ２に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ４），ｐｂ（ｐ５），ｐｃ（ｐ６）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｌｏｗとなる。そこで、図６の組３に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｌｏｗである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ２であると判定する。
【００４７】
また、摺動子２が位置Ｐ３に位置する場合、パターンｐｇ（ｐ７），ｐａ（ｐ８），ｐｃ（ｐ９）が接続される。したがって、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗとなる。そこで、図６の組５に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗである場合、摺動子２の位置は位置Ｐ３であると判定する。
【００４８】
これに対して、本実施形態では、摺動子２が位置Ｐ１と位置Ｐ２との間に位置する場合、パターンｐｇは、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれとも接続されない。同様に、摺動子２が位置Ｐ２と位置Ｐ３との間に位置する場合、パターンｐｇは、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれとも接続されない。したがって、摺動子２が位置Ｐ１と位置Ｐ２の間に位置する場合、及び摺動子２が位置Ｐ１と位置Ｐ２の間に位置する場合、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、Ｈｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｈｉｇｈとなる。したがって、図６の組２，４に示すように、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２の位置は２つの位置の間（位置Ｐ１と位置Ｐ２との間又は位置Ｐ２と位置Ｐ３との間）であると判定する。
【００４９】
以上説明した通り、本実施形態によれば、第１実施形態と同様に、位置の判定に利用する電圧（パターン）が多重化されているため、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれか１つに異常が生じた場合であっても、摺動子２が位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれに位置するか判定できる。
【００５０】
また、本実施形態によれば、摺動子２が２つの位置の間に位置する場合、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｈｉｇｈとなる。すなわち、摺動子２が２つの位置の間に位置する場合の電圧の組の値と、摺動子２が位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれかに位置する場合の電圧の組の値と、が２つ異なる。したがって、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれか１つに異常が生じた場合であっても、摺動子２が位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれかに位置するか、摺動子２が２つの位置の間に位置するか、判定できる。
【００５１】
例えば、第１実施形態では、パターンｐ２（ｐａ）がショートした場合、電圧Ｖｂ，Ｖｃに基づいて摺動子２の位置が判定される。しかしながら、図４に示すように、組１における電圧Ｖｂ，Ｖｃと、組２における電圧Ｖｂ，Ｖｃと、はいずれもＬｏｗ，Ｈｉｇｈである。このため、第１実施形態では、位置検出部３は、摺動子２が、位置Ｐ１に位置するのか、位置Ｐ１と位置Ｐ２との間に位置するのか判定できない。
【００５２】
これに対して、本実施形態では、組１における電圧Ｖｂ，ＶｃはＬｏｗ，Ｈｉｇｈであり、組２における電圧Ｖｂ，ＶｃはいずれもＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈである。したがって、本実施形態では、パターンｐ２（ｐａ）がショートした場合であっても、位置検出部３は、摺動子２が、位置Ｐ１に位置するのか、２つの位置の間に位置するのか判定できる。具体的には、位置検出部３は、電圧Ｖｂ，ＶｃがＬｏｗ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２は位置Ｐ１に位置すると判定し、電圧Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈである場合、摺動子２は２つの位置の間に位置すると判定すればよい。
【００５３】
このように、本実施形態によれば、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれか１つに異常が生じた場合に、２つの位置の間に位置する摺動子２の位置を、位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれかと誤判定することを抑制できる。したがって、摺動子２の位置の検出精度を向上させることができる。
【００５４】
また、本実施形態によれば、摺動子２が位置Ｐ１〜Ｐ３のいずれかに位置する場合、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃはいずれか１つがＨｉｇｈであり、摺動子２が２つの位置の間に位置する場合、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがいずれもＨｉｇｈである。これに対して、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれかに異常が生じた場合、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃのうちの２つがＨｉｇｈとなる。したがって、位置検出部３は、電圧Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃに基づいて、パターンｐａ，ｐｂ，ｐｃのいずれか１つに異常が生じたこと（一点故障）を容易に検出できる。
【００５５】
＜第３実施形態＞
第３実施形態に係る切替装置について、図７〜図９を参照して説明する。図７は、本実施形態に係る本実施形態に係る切替装置の一例を示す平面図である。図７の切替装置では、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７は、基板１の表面で断続的に形成され、かつ、基板１の背面又は基板１の外側でグラウンドに電気的に接続されている。また、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７は、他のパターンｐ２，３，５，６，８，９より短く形成されている。より詳細には、パターンｐ１は、第１中間領域ｆ１側の端部が短く形成され、パターンｐ４は、第１中間領域ｆ１側の端部及び第２中間領域ｆ２側の端部が短く形成され、パターンｐ７は、第２中間領域ｆ２側の端部が短く形成されている。切替装置の他の構成は、第２実施形態と同様である。また、本実施形態における位置検出部３による摺動子２の位置の検出結果も、第２実施形態と同様である（図６参照）。
【００５６】
ここで、図８は、摺動子２が傾いた場合の図５の切替装置の一例を示す平面図である。摺動子２が傾き、接触部２２Ａ〜２２Ｃの先端が、摺動方向に対する垂直に対して傾いて並んでいる場合、図８の摺動子２Ａのように、接触部２２Ａ，２２Ｂが第１中間領域ｆ１に位置すると同時に、接触部２２Ｃが第１領域Ｆ１に位置することが考えられる。この場合、パターンｐｂのみがパターンｐｇと接続され、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｌｏｗ，Ｈｉｇｈとなるため、位置検出部３により、一点故障が誤検出されるおそれがある。
【００５７】
これに対して、本実施形態では、パターンｐｇが第１中間領域ｆ１及び第２中間領域ｆ２に形成されていないため、摺動子２が図８の摺動子２Ａのように傾いている場合であっても、パターンｐｂはパターンｐｇに接続されない。結果として、上記のような一点故障の誤検出を抑制できる。
【００５８】
また、摺動子２が傾き、接触部２２Ａ〜２２Ｃの先端が、摺動方向に対する垂直に対して傾いて並んでいる場合、図８の摺動子２Ｂのように、接触部２２Ａ，２２Ｂが第３領域Ｆ３に位置すると同時に、接触部２２Ｃが第２中間領域ｆ２に位置することも考えられる。この場合、パターンｐｃのみがパターンｐｇと接続され、電圧Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃがＨｉｇｈ，Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗとなるため、位置検出部３により、一点故障が誤検出されるおそれがある。
【００５９】
これに対して、本実施形態では、パターンｐｇ（パターンｐ１，ｐ４，ｐ７）の中間領域側が短く形成されているため、摺動子２が図８の摺動子２Ｂのように傾いている場合であっても、パターンｐｃはパターンｐｇに接続されない。結果として、上記のような一点故障の誤検出を抑制できる。
【００６０】
このように、本実施形態によれば、パターンｐｇを断続的に形成されたパターンｐ１，ｐ４，ｐ７により構成することにより、摺動子２の傾きに起因する一点故障の誤検出を抑制できる。
【００６１】
なお、図９の例のように、本実施形態に係るパターンｐｇの構成を、第１実施形態に適用することも可能である。このような構成により、上記と同様に、パターンｐｇを基板１の表面で断続的に形成されたパターンｐ１，ｐ４，ｐ７により構成することにより、摺動子２の傾きに起因する一点故障の誤検出を抑制できる。
【００６２】
以上の各実施形態では、パターンｐ１〜ｐ９が、それぞれ第１パターン乃至第９パターンである場合を例に説明した。第１パターン、第４パターン、及び第７パターンは、パターンｐｇを構成するパターンであり、第２パターン及び第９パターンは、パターンｐａを構成するパターンであり、第３パターン及び第６パターンは、パターンｐｂを構成するパターンであり、第５パターン及び第８パターンは、パターンｐｃを構成するパターンである。
【００６３】
しかしながら、パターンｐ１〜ｐ９と第１パターン乃至第９パターンとの対応関係は、これに限られない。例えば、パターンｐ１，ｐ４，ｐ７がそれぞれ第２パターン、第５パターン、及び第８パターンであり、パターンｐ２，ｐ５，ｐ８がそれぞれ第１パターン、第４パターン、及び第７パターンであり、パターンｐ３，ｐ６，ｐ９がそれぞれ第３パターン、第６パターン、及び第９パターンであってもよい。この場合、図１０の例のように、パターンｐｇはパターンｐ２，ｐ５，ｐ８により構成され、パターンｐａはパターンｐ１，ｐ９により構成され、パターンｐｂはパターンｐ３，ｐ６により構成され、パターンｐｃはパターンｐ４，ｐ７により構成される。
【００６４】
なお、上記実施形態に挙げた構成等に、その他の要素との組み合わせなど、ここで示した構成に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更可能であり、その応用形態に応じて適切に定めることができる。
【００６５】
また、本国際出願は、２０１７年６月８日に出願した日本国特許出願第２０１７−１１３６５２号に基づく優先権を主張するものであり、当該出願の全内容を本国際出願に援用する。
【符号の説明】
【００６６】
１：基板
２：摺動子
３：位置検出部
２１：接続部
２２：接触部
ｐ：パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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