(57)【要約】  記憶部１８は、第１検量線及び第２検量線を記憶する。第１検量線は、波長λ１の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。第２検量線は、波長λ２の光を第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と第２標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。濃度測定処理部１５３は、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度と第１検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。また、濃度測定処理部１５３は、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には、波長λ２の光を未知試料に照射したときの吸光度と第２検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、
第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線、及び、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を記憶する記憶部と、
前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定処理部とを備えることを特徴とする原子吸光分光光度計。
【請求項２】
前記第１検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第１検量線作成処理部と、
前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第２検量線作成処理部とをさらに備え、
前記第２検量線作成処理部は、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の原子吸光分光光度計。
【請求項３】
前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項１に記載の原子吸光分光光度計。
【請求項４】
原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、
第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線を作成する第１検量線作成ステップと、
前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を作成する第２検量線作成ステップと、
前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定ステップとを含むことを特徴とする原子吸光測定方法。
【請求項５】
前記第２検量線作成ステップでは、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成することを特徴とする請求項４に記載の原子吸光測定方法。
【請求項６】
前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項４に記載の原子吸光測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料の濃度を測定する原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
原子吸光分光光度計の一例として、フレーム式の原子吸光分光光度計が知られている。この種の原子吸光分光光度計では、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスをバーナで燃焼させることにより、フレーム（炎）が形成される。そして、フレーム中に試料を噴霧することにより試料を原子化させ、そのフレーム中に測定光を照射することにより、原子化された試料の吸光度を測定することができる。【０００３】
原子吸光測定の際には、試料の濃度と吸光度との関係を表す検量線が用いられる。検量線は、試料の濃度が低い範囲では直線性が高いが、試料の濃度が高い範囲では直線性が低く、測定精度が低下するという特性がある。そのため、試料の濃度が高い場合には、測定光の光軸に対するバーナの角度を調整することにより、フレーム中を通過する測定光の光路を短くして、吸光度を低下させることが一般的に行われている（例えば、下記特許文献１参照）。【０００４】
また、高濃度の試料の原子吸光を測定する別の方法として、試料を希釈して吸光度を低下させる方法も知られている。すなわち、試料の濃度を低下させることにより、検量線の直線性が高い範囲で吸光度を測定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特公平７−１１４８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
測定光の光軸に対するバーナの角度を調整して吸光度を低下させる方法では、一般的には手動で角度調整が行われる。そのため、角度調整の誤差が生じやすく、測定誤差により再現性が低下しやすいという問題がある。【０００７】
また、試料を希釈して吸光度を低下させる方法では、希釈の誤差が生じやすく、やはり測定誤差が生じやすいという問題がある。また、複数の試料を測定する場合には、それぞれの試料を希釈する必要があるため、測定の手順が煩雑になるという問題もある。【０００８】
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、測定の手順が煩雑になるのを防止しつつ、精度よく測定を行うことができる原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
（１）本発明に係る原子吸光分光光度計は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、記憶部と、濃度測定処理部とを備える。前記記憶部は、第１検量線及び第２検量線を記憶する。前記第１検量線は、第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。前記第２検量線は、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す。前記濃度測定処理部は、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。また、前記濃度測定処理部は、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。【００１０】
このような構成によれば、第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、検量線の直線性が高い範囲で測定できるため、従来と同様に、第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と第１検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる。一方、第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には、第１の波長とは異なる第２の波長の光を未知試料に照射することにより、吸光度を低下させることができる。この場合でも、第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と第２標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を用いることにより、未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる。【００１１】
このように、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を切り替えることにより、高濃度の未知試料であっても精度よく測定を行うことができる。また、複数の未知試料を測定する場合に、それぞれの試料を希釈したりする必要がないため、希釈の誤差を防止することができるとともに、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。【００１２】
（２）前記原子吸光分光光度計は、第１検量線作成処理部と、第２検量線作成処理部とをさらに備えていてもよい。前記第１検量線作成処理部は、前記第１検量線を作成して前記記憶部に記憶させる。前記第２検量線作成処理部は、前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させる。この場合、前記第２検量線作成処理部は、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させてもよい。【００１３】
このような構成によれば、第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合にのみ第２検量線が作成される。したがって、第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、第２検量線を作成する必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。【００１４】
（３）前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定してもよい。【００１５】
このような構成によれば、複数の未知試料を測定する場合に、第１の波長の光を照射したときの吸光度が閾値以上である未知試料にのみ第２の波長の光が照射され、そのときの吸光度と第２検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。したがって、複数の未知試料を測定する場合に、第１の波長の光を各未知試料に照射したときの吸光度がいずれも閾値未満である場合には、未知試料に照射する光の波長を切り替える必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。【００１６】
（４）本発明に係る原子吸光測定方法は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、第１検量線作成ステップと、第２検量線作成ステップと、濃度測定ステップとを含む。前記第１検量線作成ステップでは、第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線を作成する。前記第２検量線作成ステップでは、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を作成する。前記濃度測定ステップでは、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。また、濃度測定ステップでは、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。【００１７】
（５）前記第２検量線作成ステップでは、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成してもよい。【００１８】
（６）前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定してもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を切り替えることにより、測定の手順が煩雑になるのを防止しつつ、精度よく測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の一実施形態に係る原子吸光分光光度計の構成例を示した概略図である。
【図２】原子化部の具体的構成を示した斜視図である。
【図３】光源部の光源から出射される光の輝線スペクトルを簡略的に示した図である。
【図４】制御部の具体的構成を示したブロック図である。
【図５】複数の未知試料の濃度を測定する際の制御部による処理の流れを示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
１．原子吸光分光光度計の全体構成
図１は、本発明の一実施形態に係る原子吸光分光光度計１の構成例を示した概略図である。この原子吸光分光光度計１は、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させることによりフレーム２を形成し、そのフレーム２中に試料を噴霧することにより原子化された試料の原子吸光を測定するためのフレーム式原子吸光分光光度計である。
【００２２】
原子吸光分光光度計１には、光源部１１、原子化部１２、検出器１３、測光部１４、制御部１５、表示部１６及び操作部１７などが備えられている。図１において、実線の矢印は信号の流れを表しており、破線の矢印は光の流れを表している。
【００２３】
光源部１１は、例えばホロカソードランプなどの光源を含む構成であり、輝線スペクトルを有する光が光源から出射される。光源から出射される光の波長は、光源部１１に備えられたモノクロメータ１１１（図４参照）により切り替えられる。すなわち、波長切替部の一例であるモノクロメータ１１１の動作により、任意の波長の光を測定光として光源部１１から出射させることができる。
【００２４】
光源部１１から出射される光は、フレーム２に照射される。フレーム２に照射された光は、フレーム２中に含まれる原子化された試料の成分により特定の波長が吸収される。このようにして特定の波長が吸収された光は、フレーム２を通過した後、検出器１３により検出される。
【００２５】
原子化部１２には、燃料ガス、助燃ガス及び試料が供給される。燃料ガスとしては、例えばアセチレンガス（Ｃ２Ｈ２）を用いることができる。また、助燃ガスとしては、例えば空気又は亜酸化窒素ガス（Ｎ２Ｏ）を用いることができる。ただし、燃料ガス及び助燃ガスは、上記のようなガスに限られるものではない。
【００２６】
原子化部１２では、燃料ガス及び助燃ガスが混合されることにより混合ガスが生成され、その混合ガスが燃焼されることにより、分析中は連続的にフレーム２が形成された状態となる。また、試料は霧化された上で混合ガスに混合され、混合ガスとともにフレーム２中に供給される。これにより、フレーム２中に試料が噴霧され、フレーム２の熱によって試料が原子化される。
【００２７】
検出器１３は、例えば光電子増倍管により構成されている。フレーム２中を通過した光は検出器１３により検出され、光電変換によって光強度に応じた電気信号が検出器１３から出力される。測光部１４は、検出器１３からの出力信号を増幅するとともに、Ａ／Ｄ変換によりデジタル信号に変換する。
【００２８】
制御部１５は、検出器１３から測光部１４を介して入力される信号に基づいて、含有される対象成分の濃度が未知である試料（未知試料）中の成分の濃度を測定する処理を行う。具体的には、試料中の成分により特定の波長が吸収されるため、試料中の成分の濃度と吸光度との関係を表す検量線を用いて演算を行うことにより、試料中の成分の濃度を測定することができる。すなわち、原子吸光分光光度計１では、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分（分析対象となる成分）の濃度を測定することができる。
【００２９】
制御部１５には、表示部１６及び操作部１７が接続されている。表示部１６は、例えば液晶表示器により構成されており、原子吸光分光光度計１による試料の測定結果などが表示される。操作部１７は、例えばキーボード及びマウスにより構成されており、各種設定を行う際などにユーザにより操作される。
【００３０】
２．原子化部の具体的構成
図２は、原子化部１２の具体的構成を示した斜視図である。原子化部１２には、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させるためのバーナ１２１が備えられている。バーナ１２１は、例えば直方体などの長尺形状で形成されており、その長尺方向が水平に延びるように配置されている。
【００３１】
バーナ１２１の上面には、長手方向に一直線上に延びる吹出口１２２が形成されている。分析時には、吹出口１２２から燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスが連続的に吹き出されて燃焼される。これにより、吹出口１２２の上方には、当該吹出口１２２に沿って一直線上に延びるフレームが形成される。
【００３２】
バーナ１２１は、その下面に設けられた鉛直方向に延びる支軸１２３により支持されている。従来の原子吸光分光光度計では、支軸１２３が回転自在に構成され、支軸１２３を中心にバーナ１２１を回転させることにより、水平面内における吹出口１２２の角度を手動で調整することができるような構成であったが、本実施形態では支軸１２３は固定されている（回転しない）。
【００３３】
図２に示すように、吹出口１２２は光源部１１からの光の光路Ｐに沿って延びている。これにより、光源部１１からの光は、吹出口１２２の上方に形成されるフレーム２中を一端から他端まで通過する。
【００３４】
３．輝線スペクトル
図３は、光源部１１の光源から出射される光の輝線スペクトルを簡略的に示した図である。輝線スペクトルには、複数の波長（この例では波長λ１と波長λ２）にピークが現れる。通常、対象成分（元素）に対して最も感度が高い波長（例えば波長λ１）の光が出射されるように、モノクロメータ１１１による波長の切り替えが行われる。
【００３５】
本実施形態では、最も感度が高い波長λ１（第１の波長）だけでなく、必要に応じて、第１の波長とは異なる第２の波長（例えば波長λ２）の光も用いて測定が行われる。すなわち、対象成分に対して最も感度が高い波長とは異なる波長の光を用いて、未知試料中の対象成分の濃度が測定される場合がある。
【００３６】
４．制御部の具体的構成
図４は、制御部１５の具体的構成を示したブロック図である。制御部１５は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を含む構成である。制御部１５は、ＣＰＵがプログラムを実行することにより、検量線作成処理部１５０、濃度測定処理部１５３などとして機能する。検量線作成処理部１５０には、第１検量線作成処理部１５１と第２検量線作成処理部１５２とが含まれる。制御部１５は、例えばハードディスク又はＲＡＭ（Random Access Memory）により構成される記憶部１８に対して、データの入出力を行うことができるようになっている。
【００３７】
検量線作成処理部１５０は、含有される対象成分の濃度が既知である標準試料を用いて、検量線を作成するための処理を行う。具体的には、検量線作成処理部１５０は、オートサンプラ（図示せず）から原子化部１２に標準試料を供給し、原子化された標準試料を通過した光を検出する検出器１３からの検出信号に基づいて、標準試料中の対象成分の濃度と吸光度との関係を表す検量線を演算により作成する。検量線作成処理部１５０は、光源部１１から出力される光の波長を切り替える処理も行う。本実施形態では、同一の対象成分を含み、濃度が異なる２種類の標準試料（第１標準試料及び第２標準試料）が用いられる。
【００３８】
第１検量線作成処理部１５１は、第１標準試料を用いて測定を行うことにより、検出器１３からの検出信号に基づいて、波長λ１の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線を作成する。第１検量線作成処理部１５１により作成された第１検量線のデータは、記憶部１８に記憶される。
【００３９】
第２検量線作成処理部１５２は、第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料を用いて測定を行うことにより、検出器１３からの検出信号に基づいて、波長λ２の光を第２標準試料に照射したときの吸光度と第２標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を作成する。第２検量線作成処理部１５２により作成された第２検量線のデータは、記憶部１８に記憶される。
【００４０】
濃度測定処理部１５３は、記憶部１８に記憶されている第１検量線又は第２検量線を用いて、未知試料中の対象成分の濃度を測定する処理を行う。具体的には、濃度測定処理部１５３は、オートサンプラ（図示せず）から原子化部１２に未知試料を供給し、原子化された未知試料を通過した光を検出する検出器１３からの検出信号に基づいて、未知試料中の対象成分の濃度を測定する。濃度測定処理部１５３は、光源部１１から出力される光の波長を切り替える処理も行う。
【００４１】
本実施形態では、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満であるか否かに応じて、第１検量線又は第２検量線のいずれかを用いた測定が行われる。具体的には、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合、すなわち未知試料が低濃度の場合には、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度と第１検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。一方、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合、すなわち未知試料が高濃度の場合には、波長λ２の光を未知試料に照射したときの吸光度と第２検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。
【００４２】
また、本実施形態では、濃度測定処理部１５３による測定結果に基づいて、第２検量線作成処理部１５２が第２検量線を作成する処理を行うようになっている。具体的には、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合に、第２検量線作成処理部１５２が第２検量線を作成して記憶部１８に記憶させる。すなわち、複数の未知試料を測定する場合に、波長λ１の光を照射したときの吸光度が閾値以上となる高濃度の未知試料がなければ、第２検量線作成処理部１５２は第２検量線を作成しないようになっている。
【００４３】
その結果、濃度測定処理部１５３は、複数の未知試料の中に波長λ１の光を照射したときの吸光度が閾値以上となる高濃度の未知試料がなければ、第２検量線を用いた測定を行わない。すなわち、濃度測定処理部１５３は、複数の未知試料のうち、波長λ１の光を照射したときの吸光度が閾値以上である高濃度の未知試料にのみ波長λ２の光を照射させ、そのときの吸光度と第２検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。
【００４４】
５．濃度測定処理
図５は、複数の未知試料の濃度を測定する際の制御部１５による処理の流れを示したフローチャートである。
【００４５】
複数の未知試料の濃度を測定する際には、まず、第１標準試料を用いて第１検量線が作成される（ステップＳ１０１：第１検量線作成ステップ）。そして、それぞれの未知試料について、第１検量線を用いた波長λ１の光による測定が行われる（ステップＳ１０２）。すなわち、複数の未知試料が原子化部１２に順次供給され、原子化された未知試料を通過した波長λ１の光を検出する検出器１３からの検出信号と、第１検量線とに基づいて、未知試料中の対象成分の濃度が測定される。
【００４６】
このとき、検出器１３からの検出信号に基づいて算出される各未知試料の吸光度が、所定の閾値と比較される。その結果、複数の未知試料の中に吸光度が閾値以上の高濃度の未知試料がなければ（ステップＳ１０３でＮｏ）、ステップＳ１０２で測定した各未知試料中の対象成分の濃度が測定結果となる。
【００４７】
一方、複数の未知試料の中に吸光度が閾値以上の高濃度の未知試料があれば（ステップＳ１０３でＹｅｓ）、第２標準試料を用いて第２検量線が作成される（ステップＳ１０４：第２検量線作成ステップ）。そして、複数の未知試料のうち、波長λ１の光を照射したときの吸光度が閾値以上である高濃度の未知試料についてのみ、第２検量線を用いた波長λ２の光による測定が行われる（ステップＳ１０５）。
【００４８】
すなわち、光源部１１から照射される光が波長λ１から波長λ２に切り替えられ、高濃度の未知試料のみが再び原子化部１２に順次供給される。そして、原子化された未知試料を通過した波長λ２の光を検出する検出器１３からの検出信号と、第２検量線とに基づいて、高濃度の未知試料中の対象成分の濃度が測定される。ステップＳ１０２，Ｓ１０３，Ｓ１０５は、未知試料中の対象成分の濃度を測定するための濃度測定ステップを構成している。
【００４９】
６．作用効果
（１）本実施形態では、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には（ステップＳ１０３でＮｏ）、検量線の直線性が高い範囲で測定できるため、従来と同様に、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度と第１検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる（ステップＳ１０２）。一方、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には（ステップＳ１０３でＹｅｓ）、波長λ１とは異なる波長λ２の光を未知試料に照射することにより、吸光度を低下させることができる。この場合でも、第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と第２標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を用いることにより、未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる（ステップＳ１０５）。
【００５０】
このように、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を波長λ１又は波長λ２に切り替えることにより、高濃度の未知試料であっても精度よく測定を行うことができる。また、複数の未知試料を測定する場合に、それぞれの試料を希釈したりする必要がないため、希釈の誤差を防止することができるとともに、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
【００５１】
（２）また、本実施形態では、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合（ステップＳ１０３でＹｅｓ）にのみ第２検量線が作成される（ステップＳ１０４）。したがって、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には（ステップＳ１０３でＮｏ）、第２検量線を作成する必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
【００５２】
（３）さらに、本実施形態では、複数の未知試料を測定する場合に、波長λ１の光を照射したときの吸光度が閾値以上である未知試料にのみ波長λ２の光が照射され、そのときの吸光度と第２検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される（ステップＳ１０５）。したがって、複数の未知試料を測定する場合に、波長λ１の光を各未知試料に照射したときの吸光度がいずれも閾値未満である場合には（ステップＳ１０３でＮｏ）、未知試料に照射する光の波長を波長λ１から波長λ２に切り替える必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
【００５３】
７．変形例
以上の実施形態では、波長λ１の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合（ステップＳ１０３でＹｅｓ）にのみ第２検量線が作成されるような構成について説明した（ステップＳ１０４）。しかし、このような構成に限らず、第１検量線及び第２検量線を予め作成して記憶部１８に記憶させ、必要なときだけ第２検量線を用いて未知試料の測定を行うような構成であってもよい。
【００５４】
また、以上の実施形態では、フレーム２中で試料を原子化させるフレーム式の原子吸光分光光度計について説明した。しかし、本発明は、フレーム式に限らず、例えばファーネス式などの他の方式を用いた原子吸光分光光度計にも適用可能である。
【００５５】
また、以上の実施形態では、光源部１１で波長を切り替えている（前分光）が、原子化部１２と検出器１３の間で波長を切り替える（後分光）ことにしてもよい。
【符号の説明】
【００５６】
１              原子吸光分光光度計
２              フレーム
１１            光源部
１２            原子化部
１３            検出器
１４            測光部
１５            制御部
１６            表示部
１７            操作部
１８            記憶部
１１１          モノクロメータ
１２１          バーナ
１５０          検量線作成処理部
１５１          第１検量線作成処理部
１５２          第２検量線作成処理部
１５３          濃度測定処理部
【図１】
2019043858.tif 000003
【図２】
2019043858.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【手続補正書】
【提出日】令和1年12月18日(2019.12.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、
第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線、及び、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を記憶する記憶部と、
前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定処理部と、
前記第１検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第１検量線作成処理部と、
前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第２検量線作成処理部とを備え、
前記第２検量線作成処理部は、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成して前記記憶部に記憶させることを特徴とする原子吸光分光光度計。
【請求項２】
前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項１に記載の原子吸光分光光度計。
【請求項３】
原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、
第１の波長の光を第１標準試料に照射したときの吸光度と前記第１標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第１検量線を作成する第１検量線作成ステップと、
前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を前記第１標準試料よりも高濃度の第２標準試料に照射したときの吸光度と前記第２標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第２検量線を作成する第２検量線作成ステップと、
前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第１検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第２の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定ステップとを含み、
前記第２検量線作成ステップでは、前記第１の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第２検量線を作成することを特徴とする原子吸光測定方法。
【請求項４】
前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第１の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第２の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第２検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項３に記載の原子吸光測定方法。
【国際調査報告】
2019043858.tif 000008
2019043858.tif 000009
2019043858.tif 000010
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