(57)【要約】  本発明の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（iは、２≦i≦ｎ−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
2010016264.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
ｉ番目（iは、２≦i≦ｎ−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい情報記録媒体。
【請求項２】
情報記録層を少なくとも３層有し、
レーザ光の入射面から相対的に近い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔が、前記レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔よりも大きい情報記録媒体。
【請求項３】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
ｋ番目（ｋは、１≦ｋ≦ｎ−２を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋２番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい情報記録媒体。
【請求項４】
前記ｎは４であり、前記ｋは１である請求項３に記載の情報記録媒体。
【請求項５】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
ｋ番目（ｋ’は、１≦ｋ’≦ｎ−３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋３番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい情報記録媒体。
【請求項６】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、
前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している情報記録媒体。
【請求項７】
前記ｎは４である請求項６に記載の情報記録媒体。
【請求項８】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
３層目の情報記録層のテスト記録領域は、２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、
前記２層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している情報記録媒体。
【請求項９】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、
前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している情報記録媒体。
【請求項１０】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するための、互いに異なる半径位置に設けられたテスト記録領域をそれぞれ有し、
前記テスト記録領域には複数の副領域が設けられており、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
ｉ番目（ｉは２≦ｉ≦ｎを満たす偶数）の情報記録層では、前記レーザ光が外周側から内周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が内周側から外周側に向けて使用され、
ｉ−１番目の情報記録層では、前記レーザ光が内周側から外周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が外周側から内周側に向けて使用される情報記録媒体。
【請求項１１】
請求項１から１０のいずれかに記載の情報記録媒体を再生する情報再生装置であって、
前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、
前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および
前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップ
の少なくとも一方を実行する情報再生装置。
【請求項１２】
請求項１から１０のいずれかに記載の情報記録媒体を記録する情報記録装置であって、
前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いて、レーザ光の記録パワーを決定し、
決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録する情報記録装置。
【請求項１３】
請求項１から１０のいずれかに記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、
前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、
前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および
前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップ
の少なくとも一方を実行する再生方法。
【請求項１４】
請求項１から１０のいずれかに記載の情報記録媒体にデータを記録する記録方法であって、
前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いてレーザ光の記録パワーを決定するステップと、
決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録するステップと、
を包含する記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を照射することにより、情報の記録を行う情報記録媒体に関し、特に情報記録層を３層以上備えた情報記録媒体およびこの情報記録媒体に適合した情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
大容量の情報を記録する手段として、記録すべき情報によって変調された光、例えば、レーザ光を照射することにより、情報を記録することができる情報記録媒体が盛んに開発されている。このような情報記録媒体には、一箇所には一度だけ情報を記録することが可能な追記型の情報記録媒体と、何度も情報の書き換えが可能な書き換え型の情報記録媒体があり、一般に追記型光ディスクおよび書き換え型光ディスクとそれぞれ呼ばれている。【０００３】
光ディスクの記録容量を高めるためには、情報記録層の多層化が有効である。ＤＶＤやＢＤでは既に情報記録層を２つ備えた光ディスクが実現されている。【０００４】
このような光ディスクは、情報を記録するための適切な記録条件、特に、光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域を各情報記録層に備えている。光ディスク装置を用いて、光ディスクに情報を記録する場合、装置の起動時または記録直前にテスト記録領域を用いて記録パワーが最適化される。例えば、特許文献１は、追記型光ディスクにおける記録パワーの決定方法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−３５８６４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１は、情報記録層を２つ備えた光ディスクに関する技術を開示している。しかし、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクに関する構造、特に、テスト記録領域の配置やその使用方法については開示されていない。【０００７】
本発明はこのような従来技術の課題を解決し、３つ以上の情報記録層を備え、各情報記録層において適切な条件で情報を記録することが可能な情報記録媒体、および、このような情報記録媒体に適合した情報記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（iは、２≦i≦ｎ−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。【０００９】
本発明の他の情報記録媒体は、情報記録層を少なくとも３層有し、レーザ光の入射面から相対的に近い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔が、前記レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔よりも大きい。【００１０】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋは、１≦ｋ≦ｎ−２を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋２番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。【００１１】
ある好ましい実施形態において前記ｎは４であり、前記ｋは１である。【００１２】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋ’は、１≦ｋ’≦ｎ−３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋３番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。【００１３】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。【００１４】
ある好ましい実施形態において、前記ｎは４である。【００１５】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記２層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。【００１６】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。【００１７】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するための、互いに異なる半径位置に設けられたテスト記録領域をそれぞれ有し、前記テスト記録領域には複数の副領域が設けられており、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（ｉは２≦ｉ≦ｎを満たす偶数）の情報記録層では、前記レーザ光が外周側から内周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が内周側から外周側に向けて使用され、ｉ−１番目の情報記録層では、前記レーザ光が内周側から外周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が外周側から内周側に向けて使用される。【００１８】
本発明情報再生装置は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を再生する情報再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップの少なくとも一方を実行する。【００１９】
本発明の情報記録装置は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を記録する情報記録装置であって、前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いて、レーザ光の記録パワーを決定し、決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録する。【００２０】
本発明の再生方法は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップの少なくとも一方を実行する。【００２１】
本発明の記録方法は、上記いずれかに記載の情報記録媒体にデータを記録する記録方法であって、前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いてレーザ光の記録パワーを決定するステップと、決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録するステップとを包含する。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明による情報記録媒体の第１の実施形態の構成を示す模式的な分解斜視図である。
【図２】図１の情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図３】比較のための情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図４】（ａ）は図１の情報記録媒体の各情報記録層の構造を模式的に示す図であり、（ｂ）および（ｃ）は、それぞれ、テスト記録領域の使用方向を示す模式図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）は、第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図６】第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図７】情報記録層Ｌ２における劣化領域が情報記録層Ｌ０、Ｌ１に与える影響を説明する模式図である。
【図８】第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図９】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図１０】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１１】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１２】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１３】本発明による情報記録装置の実施形態を示すブロック図である。
【図１４】本発明による情報記録媒体の第４の実施形態の構成例示す模式図である。
【図１５】単層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１６】２層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１７】３層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１８】４層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１９】本発明による情報記録媒体の第４の実施形態の物理的構成を示す模式図である。
【図２０】（ａ）および（ｂ）は、それぞれ、レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す模式図である。
【図２１】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す模式図である。
【図２２】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。
【図２３】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す別なグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
（第１の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体の第１の実施形態を説明する。本発明による情報記録媒体は追記型または書き換え型である。
【００２５】
図１は、本発明による情報記録媒体の第１の実施形態の構成を示す模式的な分解斜視図である。上述したように、光学的に情報を記録し、記録した情報を光学的に再生することのできる情報記録媒体は、一般的に光ディスクと呼ばれているため、以下、情報記録媒体を光ディスクと呼ぶ。また、「情報」とは、情報記録媒体に記録される文字情報、音声情報、画像情報、プログラム、その他の種々の情報を意味する。これらの情報はデジタル化され、情報記録媒体に記録されたり、種々の情報処理装置によって処理される。一般にコンピュータで処理される「情報」を「データ」と定義するため、本願明細書において「情報」は「データ」と同義である。本願明細書では、一般的あるいは慣用的表現にしたがって、「情報」または「データ」の用語を選択的に使用する。例えば、光ディスクなどは一般的に「情報記録媒体」と呼ばれるが、情報を記録する領域は「データ領域」と呼ばれる。
【００２６】
図１に示すように光ディスク１０１は、基板１１０と、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２と、中間層１１１、１１２と、カバー層１１３とを備える。基板１１０とカバー層１１３との間に情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２が配置されており、基板１１０側に情報記録層Ｌ０が、カバー層１１３側に情報記録層Ｌ２が配置されている。カバー層１１３側から記録すべき情報によって変調されたレーザ光２００が照射されるので、レーザ光２００の入射面となるカバー層１１３の表面から遠い側から情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２がこの順で配置される。中間層１１１および中間層１１２は、それぞれ、情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との間、および情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との間に設けられている。
【００２７】
基板１１０、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、中間層１１１、１１２およびカバー層１１３は上述した配置で積層され、互いに接合されており、積層によって構成された光ディスク１０１の中心にクランプ孔１１４が設けられている。基板１１０、中間層１１１、１１２およびカバー層１１３は、例えば、ポリカーボネート樹脂等で形成される。
【００２８】
情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のそれぞれは、同心円状あるいは螺旋状に設けられたデータを記録するトラックが設けられている。また、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２には、それぞれ、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２とデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２よりも内周側に設けられたリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２とが設けられている。
【００２９】
データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２は、ユーザデータを記録する領域である。光ディスク１０１が追記型である場合、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２の同一箇所に一度だけ情報を記録することができる。記録された情報を書き換えることはできない。光ディスク１０１が書き換え型である場合、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録し、記録された情報を他の情報で書き換えることができる。
【００３０】
リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２のそれぞれは、少なくとも再生専用領域であるコントロール領域（ＰＩＣ（Permanent Information & Control Data）領域とも呼ばれる）と情報の記録が可能なテスト記録領域（ＯＰＣ（Optimum Power Control）領域とも呼ばれる）とを有する。
【００３１】
テスト記録領域は、データ領域に情報を記録する場合に使用されるレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。具体的には、記録パワーを変えながら所定の情報によって変調されたレーザ光をテスト記録領域に照射し、記録マークを形成する。その後、形成した記録マークにレーザ光を照射し、記録された情報を再生し、再生された情報の品質を評価することによって、最適な記録パワーを決定する。
【００３２】
リードイン領域Ｒ０のテスト記録領域は同じ情報記録層Ｌ０のデータ領域Ｄ０に情報を記録するレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。同様に、リードイン領域Ｒ１、Ｒ２のテスト記録領域は、それぞれ、データ領域Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。
【００３３】
コントロール領域には、ディスク情報、メディア（光ディスク）メーカが推奨するユーザデータ記録時の照射パワー等の記録パラメータ情報が記録（記憶）されている。各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ３へ情報を記録するための最適な記録パラメータは情報記録層ごとに異なる。本実施形態では、リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２のそれぞれのコントロール領域には、同じ情報記録層のデータ領域に情報を記録するための記録パラメータ情報に加えて、他の情報記録層に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。具体的には、リードイン領域Ｒ０のコントロール領域に、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。同様に、リードイン領域Ｒ１、Ｒ２のそれぞれのコントロール領域にも情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。
【００３４】
これにより、いずれか１つの情報記録層のコントロール領域からすべての情報記録層の記録パラメータ情報が得られる。このため、各情報記録層のコントロール領域にはその情報記録層についての記録パラメータ情報しか記録されていない場合に比べて、ユーザデータを記録するまでの時間を短縮することができる。また外乱等により所望の情報記録層とは異なる誤った情報記録層の再生を開始してしまった場合でも、その誤った情報記録層のコントロール領域を再生することによって、意図していた情報記録層の記録パラメータ情報を入手することができる。
【００３５】
ただし、コントロール領域への記録パラメータの記録方法はこれに限られない。各情報記録層のコントロール領域に、その情報記録層のデータ領域に記録を行うための記録パラメータ情報のみが記録されていてもよい。この場合、各コントロール領域に記録すべき記録パラメータ情報の容量が少なくなるため、コントロール領域を小さくすることができる。したがって、以下において説明するように、情報記録層が増え、各層のテスト記録領域の半径位置を異ならせる場合でもコントロール領域を確保し易くなる。
【００３６】
また、光ディスク１０１が追記型である場合、いずれか１つの情報記録層のコントロール領域に、その光ディスク１０１に含まれるすべての情報記録層のデータ領域に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されていてもよい。この場合、すべての情報記録層の記録パラメータ情報が記録されているコントロール領域は、光の入射面から一番遠い情報記録層に配置されていてもよい。
【００３７】
例えば、光ディスク１０１が追記型である場合である場合、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０に設けられたコントロール領域にのみ記録されていてもよい。
【００３８】
また、この場合、カバー層１１３のレーザ光２００が入射面（ディスク１０１の表面）から情報記録層Ｌ０までの深さ（厚さ）が、１つの情報記録層を備えた光ディスクにおけるディスクの表面からその情報記録層までの深さと一致していてもよい。これにより、１つの情報記録層を備えた光ディスクに対して記録再生を行う光ディスク装置を用いて、光ディスク１０１の情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の任意の情報記録層のディスク情報を入手することができ、光ディスク装置の構成を簡単にすることができる。
【００３９】
なお、情報記録層が光ディスクの表面から遠いほど、その情報記録層から再生した再生信号は、チルトによる信号品質の劣化が大きくなる。このため、光ディスクが複数の情報記録層を備える場合、表面から、最も基板側に位置する情報記録層（基準層）までの深さが、１つの情報記録層を備えた光ディスクにおけるディスクの表面からその情報記録層までの深さと等しいことが好ましい。この場合、最も基板側に位置する情報記録層に設けられたディスク情報の領域に対応する他の情報記録層における領域にデータ領域と同じ溝構造を設けることによって、光ディスクの半径位置に関わらず、最も基板側に位置する情報記録層までのレーザ光の透過率を同じにすることができる。したがって、最も基板側に位置する情報記録層のディスク情報を再生するための特別な検出手段を必要とせず、光ディスク装置の構成を簡単にすることができ、さらに他層の作製が容易になる。
【００４０】
図２は、光ディスク１０１の模式的断面図であって、リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２における、テスト記録領域の配置を示している。図２および以下の図面において、中間層１１１、１１２は示していない。またレーザ光２００は図２において上方から照射され、ディスクの外周方向は矢印で示すように右側である。
【００４１】
図２に示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２に、それぞれ、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が位置している。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は、互いに異なる半径位置に配置されており、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の積層方向、つまり、レーザ光２００の入射方向から見て互いに全く重なっていない。
【００４２】
より具体的には、光ディスク１０１において、最も内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂよりも２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａは外周側に位置しており、テスト記録領域が重ならない間隙（間隔）が設けられている。この間隙は、内周端部Ｔ０ａの半径位置と外周端部Ｔ１ｂの半径位置との差で規定される距離を有する。また、２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂよりも最も外周側に配置された情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ２ａと外周端部Ｔ０ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００４３】
３つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、１層目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は２層目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より外周側に位置している。
【００４４】
このようなテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の配置による効果を以下に説明する。図３に示すように、本実施形態とは異なり、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２がそれぞれ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２において同一半径位置に配置されている場合を考える。つまり、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａ、テスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａおよびテスト記録領域Ｔ２内周端部Ｔ２ａの半径位置が互いに一致し、テスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂ、テスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂおよびテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置が互いに一致することにより、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が完全に重なっている場合を考える。この場合、例えば情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されると、テスト記録領域Ｔ１におけるレーザ光の透過率が大きく低下するため、情報記録層Ｌ１よりレーザ光から遠くに位置する情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届かなくなる。その結果、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０に、テスト記録を行う光ディスク装置がアクセスすることができなくなる。
【００４５】
また破壊に至らないまでも情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１に高い照射パワーでテスト記録を行うことによって、テスト記録領域Ｔ１の透過率が変化するのであれば、テスト記録領域Ｔ１への記録の有無により情報記録層Ｌ０に到達するレーザ光の強度が変化してしまう。
【００４６】
テスト記録領域Ｔ２が破壊されたり、テスト記録領域Ｔ２におけるレーザ光の透過率が変化した場合には、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１が影響を受ける可能性がある。したがって、図３に示すテスト記録領域の配置では、情報記録層Ｌ０、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１を用いて正しくテスト記録を行うことができないため、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の記録パワーを正しく決定することができない可能性がある。
【００４７】
これに対し、図２に示す本実施形態のテスト記録領域の配置によれば、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の半径位置が異なっており、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は情報記録層の積層方向に重なっていない。このため、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されても、破壊されたテスト記録領域Ｔ１の影響を受けずに、あるいはほとんど受けずに、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０の記録パワーを正しく決定することができる。同様に、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が破壊されても、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の記録パワーを正しく決定することができる。
【００４８】
また、同様の理由から、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２におけるレーザ光の透過率が変化した場合でも、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができる。
【００４９】
なお、例えば情報記録層の相変化を利用する書き換え型の光ディスクでは、アモルファス状態の記録マークと、結晶状態の記録マークとで透過率が異なることがあっても、記録パワーの決定後に記録マークを消去することにより、情報記録層の透過率を変化させないことが可能である。しかし、１回のみ記録が可能な追記型の光ディスクにおいては、情報記録層の記録膜特性が不可逆である。したがって、本実施形態のテスト記録領域の配置は、追記型の光ディスクに特に有用である。
【００５０】
次に、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の使用方向について説明する。図２において矢印で示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ２では、内周から外周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ０、Ｌ２を走査するようにトラックが構成されている。これに対し、情報記録層Ｌ１では、外周から内周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ１を走査するようにトラックが構成されている。例えば、トラックが螺旋形状を有する場合には、トラックの螺旋の向きが情報記録層Ｌ０、Ｌ２と情報記録層Ｌ１とで逆になっている。これにより、情報記録層Ｌ０および情報記録層Ｌ１に連続して情報の記録または再生を行う場合、情報記録層Ｌ０における最後の記録または再生をデータ領域Ｄ０の最外周位置において行った後、同じ半径位置にレーザ光を維持したまま、情報記録層Ｌ１おける最初の記録または再生をデータ領域Ｄ１の最外周位置から開始することができる。また、情報記録層Ｌ１における最後の記録または再生をデータ領域Ｄ１の最内周位置において行った後、同じ半径位置にレーザ光を維持したまま、情報記録層Ｌ２おける最初の記録または再生をデータ領域Ｄ２の最内周位置から開始することができる。したがって、次の情報記録層へ移動するたびに、レーザ光を光ディスク１０１の最内周位置あるいは最外周位置へジャンプさせることなく、情報の記録または再生を行うことができる。ただし、後述する要件を満たせば、各層におけるレーザ光の光スポットの進行方向はこれに限らなくとも良い。
【００５１】
これに対して、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は、好ましくは、各情報記録層におけるレーザ光の光スポットの進行方向と逆の方向に使用される。以下、テスト記録領域の使用方向について説明する。
【００５２】
すでに説明したように、各情報記録層に設けられたテスト記録領域は、その情報記録層のデータ領域にデータを記録する際のレーザ光の照射パワーを決定するために使用するテスト記録の領域である。例えば、照射パワーを１ｍＷずつ増加させながらテストデータを記録し、記録後にテスト記録を行った領域を再生し、再生信号のエラーレートやジッタ等の再生指標が最良となる照射パワーを決定する。
【００５３】
テストデータを記録する際の照射パワーは、例えばコントロール領域を参照し、コントロール領域に記録されている推奨の照射パワー付近に決定すればよい。しかし、光ディスクのレーザ光に対する感度ばらつきや光ディスクに記録を行う光ディスク装置の光ヘッドの性能のばらつき等により、設定パワーと実際の照射パワーとの間にずれがあると推定される場合には、これらを考慮してもよい。この場合、推奨パワーの±２０％程度のパワー範囲で、例えば５％づつ照射パワーを変化させながらテストデータを記録してもよい。
【００５４】
また再生指標が最良となる照射パワー以外の照射パワーを決定してもよい。例えば、エラーレートやジッタ等に基準値を設定し、基準値以下となる照射パワー範囲の中央付近のパワーをユーザデータを記録する際の記録パワーとして決定してもよい。この決定方法によれば、例えばユーザデータの記録中に、レーザ光を出射する光源の温度が変化し、設定パワーに対して実際の照射パワーが変動した場合でも、変動が基準値以下となる照射パワー範囲内であれば、良好な記録品質を維持することができる。また、光ディスクに反りが生じている場合でも、そりによる記録パワーの変動が基準値以下となる照射パワー範囲内であれば、良好な記録品質を保持することができる。
【００５５】
一方でこのような記録パワーの決定方法ではテスト記録領域での照射パワーを広い範囲で変化させる必要があり、高いパワーで記録したテスト記録領域は劣化する可能性がある。
【００５６】
書き換え型の光ディスクではテスト記録による劣化がない限りにおいては、同じ領域に複数回のテスト記録を行うことができる。このためテスト記録領域の使用方法について特に制限を設ける必要はない。しかし、データを１度だけ記録することができる追記型の光ディスクでは、前述したように記録パワーの決定においては複数の照射パワーでテストデータを記録することから、テスト記録領域の未記録領域をランダムに（虫食い的に）使用するよりも、端から順番に使用していく方が効率的である。書き換え型の光ディスクにおいても、繰り返し記録に対して記録性能が変化する場合には、追記型の光ディスクと同様、テスト記録領域を端から順番に使用することが望ましい。
【００５７】
図４（ａ）は光ディスク１０１の情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のうちの任意の１つの情報記録層Ｌｎ（ｎは０、１、または２）を示している。前述したように、情報記録層Ｌｎにはリードイン領域Ｒｎが設けられており、リードイン領域Ｒｎ内にテスト記録領域Ｔｎが設けられている。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２にもアドレスが与えられており、各テスト記録領域は、所定数のアドレスが連続した領域であるクラスタと呼ばれる副領域を含む。図４（ｂ）および（ｃ）は、テスト記録領域Ｔｎの副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・を模式的に示している。例えば、上述した１回のテスト記録によって１つの副領域が使用される。情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を構成する副領域（クラスタ）の個数は互いに等しい。つまり、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の大きさは互いに等しい。
【００５８】
図２に示すように、情報記録層Ｌ０ではレーザ光が内周から外周に向けて情報記録層Ｌ０を走査する。このため、テスト記録領域Ｔ０の副領域は、図４（ｂ）に示すように、矢印で示すレーザ光の走査方向にしたがって、アドレスが割り当てられた複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・が存在する。この場合、複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は外周から内周に向けて使用される。つまり、未使用の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・のうち最も外周側のものから順に使用される。図４（ｂ）では、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。ただし、各副領域内では矢印で示すようにレーザ光の走査方向にしたがってテスト記録が行われる。情報記録層Ｌ２でもレーザ光が内周から外周に向けて情報記録層Ｌ２を走査する。このため、複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は外周から内周に向けて、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。
【００５９】
これに対し、情報記録層Ｌ１ではレーザ光が外周から内周に向けて情報記録層Ｌ１を走査する。このため、テスト記録領域Ｔ１の副領域は、図４（ｃ）に示すように、矢印で示すレーザ光の走査方向にしたがって、アドレスが割り当てられた複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・が存在する。複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は内周から外周に向けて使用される。つまり、未使用の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・のうち最も内周側のものから、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。
【００６０】
このように、テスト記録領域における副領域の使用方向はレーザ光の走査方向、つまり、光スポットの進行方向と逆である。これにより、テスト記録領域のある副領域がテスト記録の際の強い照射パワーによって破壊され、光スポットのトラックへの追随が困難になった場合でも、テスト記録領域の使用方向が光スポット進行方向と逆であるため、破壊された副領域を通ることなくテスト記録を行う領域に到達することができる。例えば、前回のテスト記録によって情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の副領域ｔ５が強い照射パワーによって破壊された場合でも、次のテスト記録の際には、未記録のテスト記録領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４と順にアドレスを検出するが可能であり、使用されていない最も外周側の副領域ｔ４を検出することができる。
【００６１】
また、図２から分かるように、上述したように各情報記録層のテスト記録領域を使用する場合、任意の隣接するテスト記録領域間では互いに遠い方からテスト記録領域を使用していくことになる。例えば、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は外周端部Ｔ０ｂ側の副記録領域から使用され、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１は内周端部Ｔ１ａ側の副記録領域から使用される。このため、特にテスト記録の回数が少ない間は、より他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００６２】
このように本実施形態の光ディスクによれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【００６３】
また、各情報記録層は、積層方向において互いに重なりが生じないように、互いに異なる半径位置に配置されている。このため、他の情報記録層のテスト記録領域の記録状態の影響を受けることなく、あるいは、影響を抑制し、正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。
【００６４】
また、各情報記録層のテスト記録領域の使用方向をその情報記録層におけるレーザ光の操作方向と逆にした場合には、テスト記録領域の一部が強い照射パワーによって破壊された場合でも、テスト記録領域の残りの領域を正しく使用することができる。また、他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００６５】
次に、図２を参照しながら、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２のより好ましい配置を説明する。
【００６６】
一般に、情報記録層Ｌ０にレーザ光を照射する場合、レーザ光は、情報記録層Ｌ１、Ｌ２を透過する必要があり、情報記録層Ｌ１にレーザ光を照射する場合には、レーザ光が情報記録層Ｌ２を透過する必要がある。このため、情報記録層Ｌ２のレーザ光の透過率が最も高く、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ０の順で透過率が低下する。
【００６７】
また、情報記録層の設計の観点からは、仮に既に２つの情報記録層を有する光ディスクが開発されているならば、既存の情報記録層を情報記録層Ｌ０、Ｌ１に使用し、新たに透過率の高い情報記録層Ｌ２のみを開発するのが望ましい。
【００６８】
しかし、情報記録層Ｌ２には高透過率が要求されるため、設計の自由度が狭くなり、情報記録層Ｌ０、Ｌ１よりも僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ０との間においても、同様の関係が成立する。つまり、一般に透過率の高い情報記録層ほど、設計の自由度が狭くなり、僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。
【００６９】
一方、例えば、情報記録層Ｌ２にレーザ光を照射する際には、一部の光が情報記録層Ｌ２を透過して情報記録層Ｌ１で反射して再び情報記録層Ｌ２へ戻ってくる。このとき、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊または劣化していれば、テスト記録領域Ｔ１の反射率が変化するため、テスト記録領域Ｔ１から情報記録層Ｌ２へ戻ってくる反射光や迷光によるレーザ光の量も変化する。このため、テスト記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ２とが近接していれば、テスト記録領域Ｔ１から情報記録層Ｌ２へ戻ってくるレーザ光の変動がノイズ成分としてテスト記録領域Ｔ１において反射するレーザ光に重畳される。その結果、テスト記録領域Ｔ２を用いて正しくテスト記録を行うことができず、情報記録層Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができない。
【００７０】
本実施形態の光ディスク１０１では、この点考慮し、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差をレーザ光の入射面から遠い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差よりも大きくすることが好ましい。つまり、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定することが好ましい。
【００７１】
具体的には、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａの半径位置との半径位置差（Ｔ２ａ−Ｔ１ｂ）は、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｌ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａの半径位置との半径位置差（Ｔ０ａ−Ｔ１ｂ）よりも大きい。
【００７２】
このようなテスト記記録領域の配置によれば、隣接する情報記録層からの反射の影響がより大きい一対の情報記録層間の間隔を広くし、隣接する情報記録層からの反射の影響を低減することができる。したがって、各情報記録層のテスト記録領域において正しいテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、相対的に隣接する情報記録層からの反射の影響が小さい一対の情報記録層間の間隔を相対的に狭くすることによって、情報記録層間に設ける間隔を必要以上に広く設定せず、リードイン領域の面積を有効に活用することができる。また、リードイン領域を広げることなく、十分なデータ領域を確保するこができる。
【００７３】
なお、上述したように隣接する情報記録層におけるテスト記録領域の間隔を設定する場合において、情報記録層Ｌ０におけるテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ１におけるテスト記録領域Ｔ１を既存の２つの情報記録層を有する光ディスクにおけるテスト記録領域の配置と一致させてもよい。この場合、既存の光ディスク装置においても比較的簡単なシーケンスの変更のみで、本実施形態の光ディスク１０１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１においてテスト記録を行うことができる。
【００７４】
上述のテスト記録領域の配置は、ユーザデータを１度だけ記録する追記型の光ディスクに好適に用いられる。しかし、３層以上の光学的に記録可能な情報記録面を有する書き換え型の光ディスクにおいても、上述のテスト記録領域の配置を採用することにより、隣接する情報記録層の影響を受けることなく正しく各情報記録層の記録パワーを決定することができる。
【００７５】
具体的には、書き換え型の光ディスクの場合、図５（ａ）および（ｂ）に示すように情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を配置してもよい。
【００７６】
図５（ａ）に示す光ディスク１０２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の配置は、図２に示す配置と同じである。ただし、書き換え型の光ディスクの場合テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の使用方向に制限はない。書き換え型の光ディスクでは、テスト記録を行った後、記録マークを消去することにより、記録領域Ｔ０の透過率を変化させないことが可能だからである。また、書き換え型の光ディスクの場合テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の任意の副領域にランダムにアクセスが可能である。
【００７７】
また、書き換え型の光ディスクの場合、図５（ｂ）の光ディスク１０２’に示すようにテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が配置されていてもよい。この形態では、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が最も内周側に配置され、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が最も外周側に配置される。情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２よりも外周側であって、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より内周側に配置されている。
【００７８】
また、各情報記録層をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ１ｂと外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａとの半径位置差（Ｔ１ａ−Ｔ２ｂ）は、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｌ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂと外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａとの半径位置差（Ｔ１ａ−Ｔ０ｂ）よりも大きい。
【００７９】
また、本実施形態では、３つのテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は互いに重ならないように、異なる半径位置に設けられていた。しかし、情報記録層Ｌ２に対する情報記録層Ｌ１の反射光の影響が小さく、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ２の透過光の影響が小さい場合には、図６に示す光ディスク１０３ように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を図２に示すテスト記録領域の配置よりも小さくしてもよい。
【００８０】
図６は、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を最も小さくした場合である半径位置差をゼロにした場合のテスト記録領域の配置を示している。このため、テスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａおよび外周端部Ｔ２ｂが、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａおよび外周端部Ｔ０ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ０が完全に重なっている。しかし、テスト記録領域Ｔ２がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なっていてもよい。
【００８１】
つまり、レーザ光２００の入射面側に近い情報記録層のテスト記録領域は、入射面から遠い側に近い情報記録層に対して近接させて配置してもよい。具体的には、３つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂの半径位置との半径位置差が、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０ａの内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置との半径位置差よりも大きくてもよい。
【００８２】
図７は情報記録層Ｌ２における劣化領域が情報記録層Ｌ０、情報記録層Ｌ１に与える影響を示した模式図である。情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２に含まれる副領域が、強い照射パワーにより破壊され、劣化領域１３０、１３１が形成されたと考える。劣化領域１３０と劣化領域１３１は同じ大きさであるが、情報記録層Ｌ１に焦点を絞ったときの情報記録層Ｌ２におけるレーザ光２０のスポットに占める劣化領域１３０の割合に対し、情報記録層Ｌ０に焦点を絞ったときの情報記録層Ｌ２におけるレーザ光２００’のスポットに占める劣化領域１３１の割合の方が小さい。したがって、テスト記録領域Ｔ２に含まれる副領域が破壊されることによる影響は、情報記録層Ｌ１よりも情報記録層Ｌ０の方が小さい。このため、図６で示すテスト記録領域の配置のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を小さくすることができる。これにより、他の情報記録層のテスト記録領域の影響を抑制し、各テスト記録領域において正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【００８３】
なお図２に示す実施形態では、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）を、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定していた。しかし、例えば情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との厚さ方向の距離が、情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との厚さ方向の距離より短い場合、例えば、図１に示すように、中間層１１１厚さが中間層１１２の厚さよりも小さい場合、情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との間の影響が情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との間よりも大きい事が考えられる、この場合には、図８に示す光ディスク１０４ように、入射面から近い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差を、入射面から遠い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ１、Ｌ０のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０の半径位置差よりも小さくしてもよい。
【００８４】
特にリードイン領域の面積を小さくするために、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差（間隔）を限界まで小さくしている場合、本実施形態のように、レーザ光の入射面から遠い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ１、Ｌ０のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０の半径位置差間隔を、レーザ光の入射面から近い側に位置する、情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差（間隔）よりも大きくすることにより、情報記録層Ｌ１からの反射光の影響を低減して正しい記録パワーを決定することができる。
【００８５】
本実施形態では、光ディスク１０１は３つの情報記録層を備えていたが、情報記録層を４つ以上備える光ディスクにも本発明を適用できる。この場合、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２を４つ以上の情報記録層のうち、レーザ光の入射面から最も遠い情報記録層をＬ０とし、情報記録層をＬ０に隣接して情報記録層をＬ１、Ｌ２を順に設けることが好ましい。
【００８６】
（第２の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体の第２の実施形態を説明する。本発明による情報記録媒体も追記型または書き換え型である。第２の実施形態の光ディスクは、情報記録層Ｌ３をさらに含み、４つの情報記録層を備えている点で第１の実施形態の光ディスク１０１と異なる。図１に示す光ディスク１０１において、情報記録層Ｌ２とカバー層１１３との間に情報記録層Ｌ３が設けられ情報記録層Ｌ３と情報記録層Ｌ２との間に新たな中間層が設けられている。
【００８７】
図９は第２の実施形態の光ディスク１０５の模式的断面図である。図２と同様、中間層は示していない。図９に示すように、光ディスク１０１の構造に追加された情報記録層Ｌ３の内周側にリードイン領域Ｒ３が設けられ、リードイン領域Ｒ３内にテスト記録領域Ｔ３が存在する。
【００８８】
図９に示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３に、それぞれ、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が位置している。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は、互いに異なる半径位置に配置されており、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の積層方向、つまり、レーザ光２００の入射方向から見て互いに重なっていない。
【００８９】
より具体的には、光ディスク１０５において最も内周側に配置された情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の外周端部Ｔ３ｂよりも２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａは外周側に位置しており、テスト記録領域が重ならない間隙（間隔）が設けられている。この間隙は、内周端部Ｔ３ｂの半径位置と外周端部Ｔ１ａの半径位置との差で規定される距離を有する。
【００９０】
また、２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂよりも３番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ０ａと外周端部Ｔ１ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００９１】
また、３番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂよりも最も外周側に配置された情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ２ａと外周端部Ｔ０ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００９２】
４つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、１層目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は２層目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より外周側に位置している。
【００９３】
また、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域より外周側に位置し、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１は４層目の情報記録層である情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３より外周側に位置している。
【００９４】
また、３層目の情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３より外周側に位置している。
【００９５】
第１の実施形態と同様、図９に示す本実施形態のテスト記録領域の配置によれば、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の半径位置が異なっており、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は情報記録層の積層方向に重なっていない。このため、例えば、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されても、破壊されたテスト記録領域Ｔ１の影響を受けずに、あるいはほとんど受けずに、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０の記録パワーを正しく決定することができる。同様に、情報記録層Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ３が破壊されても、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができる。
【００９６】
また、同様の理由から、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３におけるレーザ光の透過率が変化した場合でも、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の記録パワーを正しく決定することができる。
【００９７】
次に、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の使用方向について説明する。図９において矢印で示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ２では、内周から外周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ０、Ｌ２を走査するようにトラックが構成されている。これに対し、情報記録層Ｌ１、Ｌ３では、外周から内周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ１、Ｌ３を走査するようにトラックが構成されている。このため第１の実施形態と同様、次の情報記録層へ移動するたびに、レーザ光を光ディスク１０５の最内周位置あるいは最外周位置へジャンプさせることなく、情報の記録または再生を行うことができる。
【００９８】
これに対して、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は、第１の実施形態と同様、好ましくは、各情報記録層におけるレーザ光の光スポットの進行方向と逆の方向に使用される。これにより第１の実施形態で説明したように、テスト記録領域のある副領域がテスト記録の際の強い照射パワーによって破壊され、光スポットのトラックへの追随が困難になった場合でも、テスト記録領域の使用方向が光スポット進行方向と逆であれば、破壊された副領域を通ることなくテスト記録を行う領域に到達することができる。また、特にテスト記録の回数が少ない間は、より他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００９９】
なお、本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、情報記録層の層数をｎ（ｎは３以上の整数）として、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（ｉは２≦ｉ≦ｎを満たす偶数）の情報記録層では、前記レーザ光が外周側から内周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が内周側から外周側に向けて使用され、ｉ−１番目の情報記録層では、前記レーザ光が内周側から外周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が外周側から内周側に向けて使用される。
【０１００】
このように、本実施形態の光ディスクによれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【０１０１】
また、各情報記録層は、積層方向において互いに重なりが生じないように、互いに異なる半径位置に配置されている。このため、他の情報記録層のテスト記録領域の記録状態の影響を受けることなく、あるいは、影響を抑制し、正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。
【０１０２】
また、各情報記録層のテスト記録領域の使用方向をその情報記録層におけるレーザ光の操作方向と逆にした場合には、テスト記録領域の一部が強い照射パワーによって破壊された場合でも、テスト記録領域の残りの領域を正しく使用することができる。また、他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【０１０３】
第１の実施形態と同様、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３には、より好ましい配置が存在する。この配置を図９を参照しながら説明する。
【０１０４】
情報記録層Ｌ０にレーザ光を照射する場合、レーザ光は、情報記録層Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３を透過する必要があり、情報記録層Ｌ２にレーザ光を照射する場合には、レーザ光が情報記録層Ｌ３を透過する必要がある。このため、情報記録層Ｌ３のレーザ光の透過率が最も高く、情報記録層Ｌ２、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ０の順で透過率が低下する。
【０１０５】
また、情報記録層の設計の観点からは、仮に既に３つの情報記録層を有する光ディスクが開発されているならば、既存の情報記録層を情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２に使用し、新たに透過率の高い情報記録層Ｌ３のみを開発するのが望ましい。
【０１０６】
しかし、情報記録層Ｌ３は高透過率を要求されるため、設計の自由度が狭くなり、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２よりも僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。情報記録層Ｌ２と情報記録層Ｌ１との間および情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ０との間においても、同様の関係が成立する。つまり、一般に透過率の高い情報記録層ほど、設計の自由度が狭くなり、僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。
【０１０７】
一方、例えば、情報記録層Ｌ３にレーザ光を照射する際には、一部の光が情報記録層Ｌ３を透過して情報記録層Ｌ２で反射して再び情報記録層Ｌ２へ戻ってくる。このとき、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が破壊または劣化していれば、テスト記録領域Ｔ２の反射率が変化するため、テスト記録領域Ｔ２から情報記録層Ｌ３へ戻ってくる反射光や迷光によるレーザ光の量も変化する。このため、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ３とが近接していれば、テスト記録領域Ｔ２から情報記録層Ｌ３へ戻ってくるレーザ光の変動がノイズ成分としてテスト記録領域Ｔ２において反射するレーザ光に重畳される。その結果、テスト記録領域Ｔ３を用いて正しくテスト記録を行うことができず、情報記録層Ｌ３の記録パワーを正しく決定することができない。
【０１０８】
本実施形態の光ディスク１０５では、この点を考慮し、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差をレーザ光の入射面から遠い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差よりも大きくすることが好ましい。つまり、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定することが好ましい。
【０１０９】
また、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ２、Ｌ３にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ３間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ３ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）、および、情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ２間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）より大きいことが好ましい。
【０１１０】
具体的には、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（iは、２≦i≦３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
【０１１１】
本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、上記関係はｎを光ディスクに含まれる情報記録層の層数であり、３以上の整数であるとして、ｉが２≦i≦ｎ−１を満たす整数に対し成立する。
【０１１２】
このようなテスト記記録領域の配置によれば、隣接する情報記録層からの反射の影響がより大きい一対の情報記録層間の間隔を広くし、隣接する情報記録層からの反射の影響を低減することができる。したがって、各情報記録層のテスト記録領域において正しいテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、相対的に隣接する情報記録層からの反射の影響が小さい一対の情報記録層間の間隔を相対的に狭くすることによって、情報記録層間に設ける間隔を必要以上に広く設定せず、リードイン領域の面積を有効に活用することができる。また、リードイン領域を広げることなく、十分なデータ領域を確保するこができる。
【０１１３】
なお、上述したように隣接する情報記録層におけるテスト記録領域の間隔を設定する場合において、情報記録層Ｌ０におけるテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ１におけるテスト記録領域Ｔ１を既存の２つの情報記録層を有する光ディスクにおけるテスト記録領域の配置と一致させてもよい。この場合、既存の光ディスク装置においても比較的簡単なシーケンスの変更のみで、本実施形態の光ディスク１０１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１においてテスト記録を行うことができる。
【０１１４】
本実施形態では、４つのテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は互いに重ならないように、異なる半径位置に設けられていた。しかし、図７を参照して説明したように、情報記録層Ｌ３に対する情報記録層Ｌ２の反射光の影響、情報記録層Ｌ２に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響、情報記録層Ｌ０に対する情報記録層Ｌ２の透過光の影響が小さい場合には、図１０に示す光ディスク１０６のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録Ｔ２の半径位置差および、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の半径位置差を図９に示す配置における対応する半径位置差に比べて小さくしてもよい。
【０１１５】
図９は、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ２との半径位置差、および、記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差をゼロにした場合を示している。このため、テスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａおよび外周端部Ｔ２ｂが、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａおよび外周端部Ｔ０ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ０が完全に重なっている。また、テスト記録領域Ｔ３の内周端部Ｔ３ａおよび外周端部Ｔ３ｂが、テスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａおよび外周端部Ｔ１ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ３とテスト記録領域Ｔ１が完全に重なっている。しかし、テスト記録領域Ｔ２がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なっていてもよい。また、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ１と部分的に重なっていてもよい。
【０１１６】
つまり、レーザ光２００の入射面側に近い情報記録層のテスト記録領域は、入射面から遠い側に近い情報記録層に対して近接させて配置してもよい。具体的には、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋは、１≦ｋ≦２を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋２番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きくてもよい。
【０１１７】
また、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置との半径位置差が、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ３の内周端部Ｔ３ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部の半径位置Ｔ１ｂとの半径位置差よりも大きくてもよい。
【０１１８】
本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、上記１番目の関係は、ｎを光ディスクに含まれる情報記録層の層数であり、３以上の整数であるとして、ｋが１≦ｋ≦ｎ−２を満たす整数に対して成立する。
【０１１９】
また、上記２番目の関係は、ｋ’番目（ｋ’は、１≦ｋ’≦ｎ−３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋３番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きいと規定される。
【０１２０】
これにより、他の情報記録層のテスト記録領域の影響を抑制し、各テスト記録領域において正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２１】
また、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響が小さい場合には、図１１に示す光ディスク１０７のように、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３との半径位置差を小さくしてもよい。図１１では、テスト記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差がゼロの場合を示しているが、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ１と部分的に重なるようにテスト記録領域Ｔ３を配置してもよい。これにより、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２２】
また、情報記録層Ｌ０、Ｌ２に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響が少なく、情報記録層Ｌ３に対する情報記録層Ｌ２の反射光の影響が小さい場合には、図１２に示す光ディスク１０８のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の半径位置差を小さくし、テスト記録領域Ｔ３とテスト記録領域Ｔ２の半径位置差を小さくしてもよい。図１２では、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差がゼロの場合を示しているが、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なるようにテスト記録領域Ｔ３を配置してもよい。これにより、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２３】
以上、第１および第２の実施形態では、情報記録層を３つおよび４つ備えた光ディスクを例示し、本発明の光ディスクを説明した。本発明の光ディスクは、これら第１および第２の実施形態に限られず、情報記録層を５つ以上備えていてもよい。
【０１２４】
（第３の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録装置、情報再生装置、記録方法、再生方法の実施形態を説明する。図１３は、本実施形態の情報記録装置３００のブロック図である。情報記録装置３００は、データの記録および再生を行うことが可能であり、スピンドルモータ３０２、光ヘッド３０３、光ビーム制御部３０４、サーボ部３０５、再生二値化部３０６、デジタル信号処理部３０７、記録補償部３０８、ＣＰＵ３０９を備える。
【０１２５】
光ディスク３０１は、第１の実施形態または第２の実施形態として説明した光ディスクである。ここでは、第１の実施形態の光ディスク１０１を光ディスク３０１として用いる。スピンドルモータ３０２は、光ディスク３０１を所定の速度で回転させ、光ヘッド３０３は、光ビームを光ディスク３０１に照射する。また、光ビームを光ディスク３０１に照射した反射光を電気的な信号に変換し、再生信号を出力する。光ビーム制御部３０４は、ＣＰＵ３０９の指示に基づき、光ヘッド３０３から出力される光ビームの照射パワーを制御する。
【０１２６】
サーボ部３０５は、光ヘッド３０３および光ヘッド３０３から出射する光ビームの位置制御、光ビームのフォーカスおよびトラッキング制御、スピンドルモータ３０２の回転制御を行う。再生二値化部３０６は、光ヘッド３０３より得られた再生信号（データ情報は和信号、ディスク情報領域やアドレスに関する情報は差信号）を増幅し、２値化処理を行うことによって、２値化信号を生成する。また内部のＰＬＬ（図示せず）により、２値化信号に同期したクロックを生成する。
【０１２７】
デジタル信号処理部３０７は、２値化信号に所定の復調処理やエラー訂正処理を行う。データ記録時は記録データにエラー訂正コードを付加する処理および所定の変調処理を行い、変調データを生成する。記録補償部３０８は、変調データをパルス列から構成される光変調データに変換し、さらに光変調データのパルス幅等を、ディスク情報領域の再生信号や、予めＣＰＵ３０９に記憶されているデータを基に微妙に調整し、ピット形成に適した記録パルス信号に変換する。
【０１２８】
ＣＰＵ３０９は、情報記録装置３００全体の制御を行う。ホストユニット３１０は、例えば、コンピュータ（図示せず）とアプリケーション（図示せず）やオペレーティングシステム（図示せず）で構成し、光ディスクドライブ３００に対して記録や再生の要求を行う。
【０１２９】
光ディスク３０１が情報記録装置３００に装填されると、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０のコントロール領域を再生し、情報記録層Ｌ０、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ２に記録する際の照射パワー情報等の記録パラメータ情報を読み取る。
【０１３０】
ホストユニット３１０からの記録要求があると、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０に設けられたテスト記録領域Ｔ０を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ０のデータ領域Ｄ０に記録する際の記録パワーを決定する。
【０１３１】
同様の動作を情報記録層Ｌ１、Ｌ２について実行する。具体的には、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ１のリードイン領域Ｒ１に設けられたテスト記録領域Ｔ１を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ１のデータ領域Ｄ１に記録する際の記録パワーを決定する。
【０１３２】
続いて、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ２のリードイン領域Ｒ２に設けられたテスト記録領域Ｔ２を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ２のデータ領域Ｄ２に記録する際の記録パワーを決定する。このようにして、すべての情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パワーが決定される。
【０１３３】
続いて、決定された記録パワーでレーザ光を照射し、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２にユーザデータが記録される。このとき、情報記録層ごとに上述した手順で決定された照射パワーが用いられる。
【０１３４】
各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録されたユーザデータを再生する場合には、コントロール領域に記録されたディスク情報などを再生し、得られたディスク情報を用いて、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録されたユーザデータを再生する。
【０１３５】
なお本実施形態ではテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２はディスクの内周のみに設けられているが、テスト記録領域は外周にも設けられていてもよい。また、記録要求があったときに、すべての情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録するためのすべての記録パワーをそれぞれ決定している。しかし、ＣＰＵ３０９が、情報記録層Ｌ０のみに記録を行うことによって要求されている情報の記録が完了すると判断した場合には、データ領域Ｒ０に記録する際の照射パワーを決定するだけでもよい。これによりユーザデータの記録を開始するまでの時間を短縮することができる。
【０１３６】
また本実施の形態では、記録要求があったときにすべての情報記録層のデータ領域に記録するためのすべての記録パワーをそれぞれ決定しているが、ＣＰＵ３０９の判断により、最初に記録を行う情報記録層の記録パワーを決定し、残りの情報記録層は別のタイミングで記録パワーを決定してもよい。これによりユーザデータの記録を開始するまでの時間を短縮することができる。
【０１３７】
例えば３つの情報記録層を備える光ディスクにおいて、各層の内周および外周でテスト記録を行う場合、合計で６回のテスト記録シーケンスが実行される。このため、ユーザデータの記録開始までに多くの時間がかかる場合がある。
【０１３８】
このため、テスト記録を行う情報記録層または層数のパターンを予め複数種類準備しておき、例えばＣＰＵ３０９により、２層以上の記録が必要かどうかを予測し、２層以上の記録が不要であれば情報記録層Ｌ０および情報記録層Ｌ１のテスト記録のみを行うことで、ユーザデータの記録開始までの時間を短縮することができる。
【０１３９】
（第４の実施形態）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、本実施形態では、第１および第２の実施形態の光ディスクをＢＤに適用した例を説明する。
【０１４０】
＜主要パラメータ＞
ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ、書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがある。本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲＯＭ(再生専用型)，Ｒ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０１４１】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、情報記録層が１層または２層設けられている。情報記録層の記録面がレーザ光入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０１４２】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（または０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（または６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（または２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（または２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（または５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（または５４．０４０ＧＢ））である。
【０１４３】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０１４４】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（または、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０１４５】
なお、上述の諸条件は既に商品化がなされている、主に１層当たり約２５ＧＢ（または約２７ＧＢ）の１層または２層のＢＤに関するものである。ＢＤの記録容量を高めるために、１層あたりの記録容量が略３２ＧＢまたは略３３．４ＧＢである高密度なＢＤや、層数を３層または４層としたＢＤも検討されている。以下このようなＢＤに本発明を適用した例を説明する。
【０１４６】
＜情報記録層の多層化＞
レーザ光を保護層（カバー層）の側から入射して情報が再生および／または記録される片面ディスクの構成をとる場合、情報記録層を２層以上にするためには基板と保護層との間には複数の情報記録層が設ける必要がある。このような多層ディスクの構成例を図１４に示す。図１４に示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２を備える（ｎは０以上の整数）。具体的には、光ディスクには、レーザ光２００が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、および基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２のそれぞれの間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように情報記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０１４７】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から情報記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０１４８】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向、スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。パラレル・パスでは、すべての情報記録層において、スポットの進行方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全情報記録層にて内周から外周の方向へ、または全情報記録層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０１４９】
一方、オポジット・パスでは、ある情報記録層とその情報記録層に隣接する情報記録層とで、スポットの進行方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）におけるスポットの進行方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、情報記録層Ｌ１におけるスポットの進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、情報記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、スポットの進行方向は、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０１５０】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がり、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５、ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば情報記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、２層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。
【０１５１】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図１５に、２層ディスクの構成例を図１６に、３層ディスクの構成例を図１７に、４層ディスクの構成例を図１８に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、いずれのディスクにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）であり、基板５００の厚さは略１．１ｍｍである。また、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図１５に示す単層ディスク（図１４においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍである。また、図１６の２層ディスク（図１４においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍであり、中間層５３０２の厚さは略０．０２５ｍｍである。また、図１７の３層ディスク（図１４においてｎ＝２の場合）や、図１８の４層ディスク（図１４においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１４の厚さ、および／または、中間層５３０４の厚さをさらに薄くしてもよい。
【０１５２】
また、このようにＮＡの高い対物レンズを有する光学ヘッドを用いた記録再生装置では、ディスクの光照射表面から情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差が情報記録層上に絞り込まれるレーザ光の品質に大きく影響を及ぼす。そのため、厚さによって発生する収差を補正する手段が設けられている。
【０１５３】
収差補正手段は、光情報記録媒体の保護層表面から、情報を記録再生する情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差成分を補正するために、各情報記録層で発生する収差成分を打ち消すような収差を与える。この収差補正手段は、本来、単層構造媒体の情報記録層に対して収差が小さくなるような光学設計がなされており、２層構造の情報記録媒体の記録再生における収差も考慮されている。設計上の最小収差位置は、保護層表面から約８０μｍから９０μｍ程度に設定されている。そのため、最小収差位置と異なる厚さの情報記録層に記録再生光を絞り込むときは、収差補正手段を制御し、各情報記録層にあった収差補正値を設定して補正する必要がある。
【０１５４】
＜ＢＤの物理的構成＞
図１９は、本実施形態による光ディスク５１０の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク５１０には、例えば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック５１１が形成されており、各トラック５１２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック５１２には予め定められたサイズのブロック５１３を単位としてデータが記録される。
【０１５５】
本実施形態による光ディスク５１０は、従来の光ディスク（例えば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、例えば、光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク５１０は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０１５６】
トラック５１２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロック５１３に分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロック５１３は、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０１５７】
＜記録密度＞
次に、記録密度について、図２０（ａ）、(ｂ)、図２１および図２２を用いて説明する。
【０１５８】
図２０（ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ光２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０１５９】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック５１２上に物理変化のマーク列５２０、５２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク５２１が最短マークである。
【０１６０】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク５２１の物理的長さは０．１４９μｍである。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０１６１】
図２１は、トラック５１２上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット２１０の直径は、約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット２１０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０１６２】
例えば、図２０（ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列５２４、５２５のうち、最短マーク５２５の物理的長さは０．１１１５μｍである。図２０（ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９μｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０１６３】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるにしたがって低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるにしたがってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０１６４】
図２２は、２５ＧＢの記録容量のＢＤにおける、ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、若しくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０１６５】
そのため、図２０（ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０１６６】
図２３は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図２３において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０１６７】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
高記録密度光ディスクにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０１６８】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとし、（最短マーク長＋最短スペース長）を”Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いた場合、以下の不等式を満たすまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超える。
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
【０１６９】
ＮＡ＝０．８５、λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、以下の式によって求められる。なお、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡを満たす場合、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い。
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
【０１７０】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０１７１】
以上、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録線密度を説明した。さらにＢＤの高密度化が進んだ場合、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係から、上述したのと同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度、記録容量）を設定することができる。
【０１７２】
＜記録密度および層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ、開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ、あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，または３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０１７３】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０１７４】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）であり、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０１７５】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０１７６】
ここで、光ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各情報記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する情報記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０１７７】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０１７８】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０１７９】
いずれの構成をＢＤで採用する場合でも、第１の実施形態または第２の実施形態の光ディスクの構造を採用することによって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。したがって、特に線記録密度が高められることによって、より正確に記録マークを形成することが求められる場合でも、最適な記録パワーを用いて適切な記録を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１８０】
本発明は、種々の情報記録媒体および情報記録装置に好適に用いられ、特に３層以上の情報記録層を有する追記型あるいは書き換え型の情報記録媒体およびこれに対応する情報記録装置に好適に用いられる。
【符号の説明】
【０１８１】
Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３  データ領域
Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３  情報記録層
Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３  リードイン領域
Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３  テスト記録領域
１１０  基板
１１１、１１２  中間層
１１３  カバー層
【図１】
2010016264.tif 000003
【図２】
2010016264.tif 000004
【図３】
2010016264.tif 000005
【図４】
2010016264.tif 000006
【図５】
2010016264.tif 000007
【図６】
2010016264.tif 000008
【図７】
2010016264.tif 000009
【図８】
2010016264.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2010016264.tif 000012
【図１１】
2010016264.tif 000013
【図１２】
2010016264.tif 000014
【図１３】
2010016264.tif 000015
【図１４】
2010016264.tif 000016
【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
2010016264.tif 000020
【図１９】
2010016264.tif 000021
【図２０】
2010016264.tif 000022
【図２１】
2010016264.tif 000023
【図２２】
2010016264.tif 000024
【図２３】
2010016264.tif 000025
【手続補正書】
【提出日】平成22年6月22日(2010.6.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を照射することにより、情報の記録を行う情報記録媒体に関し、特に情報記録層を３層以上備えた情報記録媒体およびこの情報記録媒体に適合した情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
大容量の情報を記録する手段として、記録すべき情報によって変調された光、例えば、レーザ光を照射することにより、情報を記録することができる情報記録媒体が盛んに開発されている。このような情報記録媒体には、一箇所には一度だけ情報を記録することが可能な追記型の情報記録媒体と、何度も情報の書き換えが可能な書き換え型の情報記録媒体があり、一般に追記型光ディスクおよび書き換え型光ディスクとそれぞれ呼ばれている。
【０００３】
光ディスクの記録容量を高めるためには、情報記録層の多層化が有効である。ＤＶＤやＢＤでは既に情報記録層を２つ備えた光ディスクが実現されている。
【０００４】
このような光ディスクは、情報を記録するための適切な記録条件、特に、光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域を各情報記録層に備えている。光ディスク装置を用いて、光ディスクに情報を記録する場合、装置の起動時または記録直前にテスト記録領域を用いて記録パワーが最適化される。例えば、特許文献１は、追記型光ディスクにおける記録パワーの決定方法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−３５８６４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１は、情報記録層を２つ備えた光ディスクに関する技術を開示している。しかし、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクに関する構造、特に、テスト記録領域の配置やその使用方法については開示されていない。
【０００７】
本発明はこのような従来技術の課題を解決し、３つ以上の情報記録層を備え、各情報記録層において適切な条件で情報を記録することが可能な情報記録媒体、および、このような情報記録媒体に適合した情報記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（iは、２≦i≦ｎ−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
【０００９】
本発明の他の情報記録媒体は、情報記録層を少なくとも３層有し、レーザ光の入射面から相対的に近い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔が、前記レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する、隣り合う１対の情報記録層にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域間の半径方向の間隔よりも大きい。
【００１０】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋは、１≦ｋ≦ｎ−２を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋２番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
【００１１】
ある好ましい実施形態において前記ｎは４であり、前記ｋは１である。
【００１２】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋ’は、１≦ｋ’≦ｎ−３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋３番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
【００１３】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。
【００１４】
ある好ましい実施形態において、前記ｎは４である。
【００１５】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、２層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記２層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。
【００１６】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層のテスト記録領域は、１層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置し、前記１層目の情報記録層のテスト記録領域は４層目の情報記録層のテスト記録領域より外周側に位置している。
【００１７】
本発明の他の情報記録媒体は、レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは３以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するための、互いに異なる半径位置に設けられたテスト記録領域をそれぞれ有し、前記テスト記録領域には複数の副領域が設けられており、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（ｉは２≦ｉ≦ｎを満たす偶数）の情報記録層では、前記レーザ光が外周側から内周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が内周側から外周側に向けて使用され、ｉ−１番目の情報記録層では、前記レーザ光が内周側から外周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が外周側から内周側に向けて使用される。
【００１８】
本発明情報再生装置は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を再生する情報再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップの少なくとも一方を実行する。
【００１９】
本発明の情報記録装置は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を記録する情報記録装置であって、前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いて、レーザ光の記録パワーを決定し、決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録する。
【００２０】
本発明の再生方法は、上記いずれかに記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップの少なくとも一方を実行する。
【００２１】
本発明の記録方法は、上記いずれかに記載の情報記録媒体にデータを記録する記録方法であって、前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層のテスト記録領域を用いてレーザ光の記録パワーを決定するステップと、決定した記録パワーで前記レーザ光を照射し、前記いずれかの層にデータを記録するステップとを包含する。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明による情報記録媒体の第１の実施形態の構成を示す模式的な分解斜視図である。
【図２】図１の情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図３】比較のための情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図４】（ａ）は図１の情報記録媒体の各情報記録層の構造を模式的に示す図であり、（ｂ）および（ｃ）は、それぞれ、テスト記録領域の使用方向を示す模式図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）は、第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図６】第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図７】情報記録層Ｌ２における劣化領域が情報記録層Ｌ０、Ｌ１に与える影響を説明する模式図である。
【図８】第１の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図９】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の配置を示す模式図である。
【図１０】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１１】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１２】第２の実施形態の情報記録媒体におけるテスト記録領域の他の配置を示す模式図である。
【図１３】本発明による情報記録装置の実施形態を示すブロック図である。
【図１４】本発明による情報記録媒体の第４の実施形態の構成例示す模式図である。
【図１５】単層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１６】２層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１７】３層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１８】４層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図１９】本発明による情報記録媒体の第４の実施形態の物理的構成を示す模式図である。
【図２０】（ａ）および（ｂ）は、それぞれ、レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す模式図である。
【図２１】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す模式図である。
【図２２】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。
【図２３】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す別なグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
（第１の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体の第１の実施形態を説明する。本発明による情報記録媒体は追記型または書き換え型である。
【００２５】
図１は、本発明による情報記録媒体の第１の実施形態の構成を示す模式的な分解斜視図である。上述したように、光学的に情報を記録し、記録した情報を光学的に再生することのできる情報記録媒体は、一般的に光ディスクと呼ばれているため、以下、情報記録媒体を光ディスクと呼ぶ。また、「情報」とは、情報記録媒体に記録される文字情報、音声情報、画像情報、プログラム、その他の種々の情報を意味する。これらの情報はデジタル化され、情報記録媒体に記録されたり、種々の情報処理装置によって処理される。一般にコンピュータで処理される「情報」を「データ」と定義するため、本願明細書において「情報」は「データ」と同義である。本願明細書では、一般的あるいは慣用的表現にしたがって、「情報」または「データ」の用語を選択的に使用する。例えば、光ディスクなどは一般的に「情報記録媒体」と呼ばれるが、情報を記録する領域は「データ領域」と呼ばれる。
【００２６】
図１に示すように光ディスク１０１は、基板１１０と、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２と、中間層１１１、１１２と、カバー層１１３とを備える。基板１１０とカバー層１１３との間に情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２が配置されており、基板１１０側に情報記録層Ｌ０が、カバー層１１３側に情報記録層Ｌ２が配置されている。カバー層１１３側から記録すべき情報によって変調されたレーザ光２００が照射されるので、レーザ光２００の入射面となるカバー層１１３の表面から遠い側から情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２がこの順で配置される。中間層１１１および中間層１１２は、それぞれ、情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との間、および情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との間に設けられている。
【００２７】
基板１１０、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、中間層１１１、１１２およびカバー層１１３は上述した配置で積層され、互いに接合されており、積層によって構成された光ディスク１０１の中心にクランプ孔１１４が設けられている。基板１１０、中間層１１１、１１２およびカバー層１１３は、例えば、ポリカーボネート樹脂等で形成される。
【００２８】
情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のそれぞれは、同心円状あるいは螺旋状に設けられたデータを記録するトラックが設けられている。また、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２には、それぞれ、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２とデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２よりも内周側に設けられたリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２とが設けられている。
【００２９】
データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２は、ユーザデータを記録する領域である。光ディスク１０１が追記型である場合、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２の同一箇所に一度だけ情報を記録することができる。記録された情報を書き換えることはできない。光ディスク１０１が書き換え型である場合、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録し、記録された情報を他の情報で書き換えることができる。
【００３０】
リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２のそれぞれは、少なくとも再生専用領域であるコントロール領域（ＰＩＣ（Permanent Information & Control Data）領域とも呼ばれる）と情報の記録が可能なテスト記録領域（ＯＰＣ（Optimum Power Control）領域とも呼ばれる）とを有する。
【００３１】
テスト記録領域は、データ領域に情報を記録する場合に使用されるレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。具体的には、記録パワーを変えながら所定の情報によって変調されたレーザ光をテスト記録領域に照射し、記録マークを形成する。その後、形成した記録マークにレーザ光を照射し、記録された情報を再生し、再生された情報の品質を評価することによって、最適な記録パワーを決定する。
【００３２】
リードイン領域Ｒ０のテスト記録領域は同じ情報記録層Ｌ０のデータ領域Ｄ０に情報を記録するレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。同様に、リードイン領域Ｒ１、Ｒ２のテスト記録領域は、それぞれ、データ領域Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するレーザ光の記録パワーを調整するために用いられる。
【００３３】
コントロール領域には、ディスク情報、メディア（光ディスク）メーカが推奨するユーザデータ記録時の照射パワー等の記録パラメータ情報が記録（記憶）されている。各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ３へ情報を記録するための最適な記録パラメータは情報記録層ごとに異なる。本実施形態では、リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２のそれぞれのコントロール領域には、同じ情報記録層のデータ領域に情報を記録するための記録パラメータ情報に加えて、他の情報記録層に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。具体的には、リードイン領域Ｒ０のコントロール領域に、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。同様に、リードイン領域Ｒ１、Ｒ２のそれぞれのコントロール領域にも情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されている。
【００３４】
これにより、いずれか１つの情報記録層のコントロール領域からすべての情報記録層の記録パラメータ情報が得られる。このため、各情報記録層のコントロール領域にはその情報記録層についての記録パラメータ情報しか記録されていない場合に比べて、ユーザデータを記録するまでの時間を短縮することができる。また外乱等により所望の情報記録層とは異なる誤った情報記録層の再生を開始してしまった場合でも、その誤った情報記録層のコントロール領域を再生することによって、意図していた情報記録層の記録パラメータ情報を入手することができる。
【００３５】
ただし、コントロール領域への記録パラメータの記録方法はこれに限られない。各情報記録層のコントロール領域に、その情報記録層のデータ領域に記録を行うための記録パラメータ情報のみが記録されていてもよい。この場合、各コントロール領域に記録すべき記録パラメータ情報の容量が少なくなるため、コントロール領域を小さくすることができる。したがって、以下において説明するように、情報記録層が増え、各層のテスト記録領域の半径位置を異ならせる場合でもコントロール領域を確保し易くなる。
【００３６】
また、光ディスク１０１が追記型である場合、いずれか１つの情報記録層のコントロール領域に、その光ディスク１０１に含まれるすべての情報記録層のデータ領域に情報を記録するための記録パラメータ情報が記録されていてもよい。この場合、すべての情報記録層の記録パラメータ情報が記録されているコントロール領域は、光の入射面から一番遠い情報記録層に配置されていてもよい。
【００３７】
例えば、光ディスク１０１が追記型である場合である場合、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パラメータ情報が情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０に設けられたコントロール領域にのみ記録されていてもよい。
【００３８】
また、この場合、カバー層１１３のレーザ光２００が入射面（ディスク１０１の表面）から情報記録層Ｌ０までの深さ（厚さ）が、１つの情報記録層を備えた光ディスクにおけるディスクの表面からその情報記録層までの深さと一致していてもよい。これにより、１つの情報記録層を備えた光ディスクに対して記録再生を行う光ディスク装置を用いて、光ディスク１０１の情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の任意の情報記録層のディスク情報を入手することができ、光ディスク装置の構成を簡単にすることができる。
【００３９】
なお、情報記録層が光ディスクの表面から遠いほど、その情報記録層から再生した再生信号は、チルトによる信号品質の劣化が大きくなる。このため、光ディスクが複数の情報記録層を備える場合、表面から、最も基板側に位置する情報記録層（基準層）までの深さが、１つの情報記録層を備えた光ディスクにおけるディスクの表面からその情報記録層までの深さと等しいことが好ましい。この場合、最も基板側に位置する情報記録層に設けられたディスク情報の領域に対応する他の情報記録層における領域にデータ領域と同じ溝構造を設けることによって、光ディスクの半径位置に関わらず、最も基板側に位置する情報記録層までのレーザ光の透過率を同じにすることができる。したがって、最も基板側に位置する情報記録層のディスク情報を再生するための特別な検出手段を必要とせず、光ディスク装置の構成を簡単にすることができ、さらに他層の作製が容易になる。
【００４０】
図２は、光ディスク１０１の模式的断面図であって、リードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２における、テスト記録領域の配置を示している。図２および以下の図面において、中間層１１１、１１２は示していない。またレーザ光２００は図２において上方から照射され、ディスクの外周方向は矢印で示すように右側である。
【００４１】
図２に示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２に、それぞれ、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が位置している。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は、互いに異なる半径位置に配置されており、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の積層方向、つまり、レーザ光２００の入射方向から見て互いに全く重なっていない。
【００４２】
より具体的には、光ディスク１０１において、最も内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂよりも２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａは外周側に位置しており、テスト記録領域が重ならない間隙（間隔）が設けられている。この間隙は、内周端部Ｔ０ａの半径位置と外周端部Ｔ１ｂの半径位置との差で規定される距離を有する。また、２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂよりも最も外周側に配置された情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ２ａと外周端部Ｔ０ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００４３】
３つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、１層目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は２層目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より外周側に位置している。
【００４４】
このようなテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の配置による効果を以下に説明する。図３に示すように、本実施形態とは異なり、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２がそれぞれ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２において同一半径位置に配置されている場合を考える。つまり、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａ、テスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａおよびテスト記録領域Ｔ２内周端部Ｔ２ａの半径位置が互いに一致し、テスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂ、テスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂおよびテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置が互いに一致することにより、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が完全に重なっている場合を考える。この場合、例えば情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されると、テスト記録領域Ｔ１におけるレーザ光の透過率が大きく低下するため、情報記録層Ｌ１よりレーザ光から遠くに位置する情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届かなくなる。その結果、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０に、テスト記録を行う光ディスク装置がアクセスすることができなくなる。
【００４５】
また破壊に至らないまでも情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１に高い照射パワーでテスト記録を行うことによって、テスト記録領域Ｔ１の透過率が変化するのであれば、テスト記録領域Ｔ１への記録の有無により情報記録層Ｌ０に到達するレーザ光の強度が変化してしまう。
【００４６】
テスト記録領域Ｔ２が破壊されたり、テスト記録領域Ｔ２におけるレーザ光の透過率が変化した場合には、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１が影響を受ける可能性がある。したがって、図３に示すテスト記録領域の配置では、情報記録層Ｌ０、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１を用いて正しくテスト記録を行うことができないため、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の記録パワーを正しく決定することができない可能性がある。
【００４７】
これに対し、図２に示す本実施形態のテスト記録領域の配置によれば、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の半径位置が異なっており、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は情報記録層の積層方向に重なっていない。このため、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されても、破壊されたテスト記録領域Ｔ１の影響を受けずに、あるいはほとんど受けずに、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０の記録パワーを正しく決定することができる。同様に、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が破壊されても、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の記録パワーを正しく決定することができる。
【００４８】
また、同様の理由から、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２におけるレーザ光の透過率が変化した場合でも、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができる。
【００４９】
なお、例えば情報記録層の相変化を利用する書き換え型の光ディスクでは、アモルファス状態の記録マークと、結晶状態の記録マークとで透過率が異なることがあっても、記録パワーの決定後に記録マークを消去することにより、情報記録層の透過率を変化させないことが可能である。しかし、１回のみ記録が可能な追記型の光ディスクにおいては、情報記録層の記録膜特性が不可逆である。したがって、本実施形態のテスト記録領域の配置は、追記型の光ディスクに特に有用である。
【００５０】
次に、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の使用方向について説明する。図２において矢印で示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ２では、内周から外周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ０、Ｌ２を走査するようにトラックが構成されている。これに対し、情報記録層Ｌ１では、外周から内周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ１を走査するようにトラックが構成されている。例えば、トラックが螺旋形状を有する場合には、トラックの螺旋の向きが情報記録層Ｌ０、Ｌ２と情報記録層Ｌ１とで逆になっている。これにより、情報記録層Ｌ０および情報記録層Ｌ１に連続して情報の記録または再生を行う場合、情報記録層Ｌ０における最後の記録または再生をデータ領域Ｄ０の最外周位置において行った後、同じ半径位置にレーザ光を維持したまま、情報記録層Ｌ１おける最初の記録または再生をデータ領域Ｄ１の最外周位置から開始することができる。また、情報記録層Ｌ１における最後の記録または再生をデータ領域Ｄ１の最内周位置において行った後、同じ半径位置にレーザ光を維持したまま、情報記録層Ｌ２おける最初の記録または再生をデータ領域Ｄ２の最内周位置から開始することができる。したがって、次の情報記録層へ移動するたびに、レーザ光を光ディスク１０１の最内周位置あるいは最外周位置へジャンプさせることなく、情報の記録または再生を行うことができる。ただし、後述する要件を満たせば、各層におけるレーザ光の光スポットの進行方向はこれに限らなくとも良い。
【００５１】
これに対して、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は、好ましくは、各情報記録層におけるレーザ光の光スポットの進行方向と逆の方向に使用される。以下、テスト記録領域の使用方向について説明する。
【００５２】
すでに説明したように、各情報記録層に設けられたテスト記録領域は、その情報記録層のデータ領域にデータを記録する際のレーザ光の照射パワーを決定するために使用するテスト記録の領域である。例えば、照射パワーを１ｍＷずつ増加させながらテストデータを記録し、記録後にテスト記録を行った領域を再生し、再生信号のエラーレートやジッタ等の再生指標が最良となる照射パワーを決定する。
【００５３】
テストデータを記録する際の照射パワーは、例えばコントロール領域を参照し、コントロール領域に記録されている推奨の照射パワー付近に決定すればよい。しかし、光ディスクのレーザ光に対する感度ばらつきや光ディスクに記録を行う光ディスク装置の光ヘッドの性能のばらつき等により、設定パワーと実際の照射パワーとの間にずれがあると推定される場合には、これらを考慮してもよい。この場合、推奨パワーの±２０％程度のパワー範囲で、例えば５％づつ照射パワーを変化させながらテストデータを記録してもよい。
【００５４】
また再生指標が最良となる照射パワー以外の照射パワーを決定してもよい。例えば、エラーレートやジッタ等に基準値を設定し、基準値以下となる照射パワー範囲の中央付近のパワーをユーザデータを記録する際の記録パワーとして決定してもよい。この決定方法によれば、例えばユーザデータの記録中に、レーザ光を出射する光源の温度が変化し、設定パワーに対して実際の照射パワーが変動した場合でも、変動が基準値以下となる照射パワー範囲内であれば、良好な記録品質を維持することができる。また、光ディスクに反りが生じている場合でも、そりによる記録パワーの変動が基準値以下となる照射パワー範囲内であれば、良好な記録品質を保持することができる。
【００５５】
一方でこのような記録パワーの決定方法ではテスト記録領域での照射パワーを広い範囲で変化させる必要があり、高いパワーで記録したテスト記録領域は劣化する可能性がある。
【００５６】
書き換え型の光ディスクではテスト記録による劣化がない限りにおいては、同じ領域に複数回のテスト記録を行うことができる。このためテスト記録領域の使用方法について特に制限を設ける必要はない。しかし、データを１度だけ記録することができる追記型の光ディスクでは、前述したように記録パワーの決定においては複数の照射パワーでテストデータを記録することから、テスト記録領域の未記録領域をランダムに（虫食い的に）使用するよりも、端から順番に使用していく方が効率的である。書き換え型の光ディスクにおいても、繰り返し記録に対して記録性能が変化する場合には、追記型の光ディスクと同様、テスト記録領域を端から順番に使用することが望ましい。
【００５７】
図４（ａ）は光ディスク１０１の情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のうちの任意の１つの情報記録層Ｌｎ（ｎは０、１、または２）を示している。前述したように、情報記録層Ｌｎにはリードイン領域Ｒｎが設けられており、リードイン領域Ｒｎ内にテスト記録領域Ｔｎが設けられている。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２にもアドレスが与えられており、各テスト記録領域は、所定数のアドレスが連続した領域であるクラスタと呼ばれる副領域を含む。図４（ｂ）および（ｃ）は、テスト記録領域Ｔｎの副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・を模式的に示している。例えば、上述した１回のテスト記録によって１つの副領域が使用される。情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を構成する副領域（クラスタ）の個数は互いに等しい。つまり、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の大きさは互いに等しい。
【００５８】
図２に示すように、情報記録層Ｌ０ではレーザ光が内周から外周に向けて情報記録層Ｌ０を走査する。このため、テスト記録領域Ｔ０の副領域は、図４（ｂ）に示すように、矢印で示すレーザ光の走査方向にしたがって、アドレスが割り当てられた複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・が存在する。この場合、複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は外周から内周に向けて使用される。つまり、未使用の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・のうち最も外周側のものから順に使用される。図４（ｂ）では、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。ただし、各副領域内では矢印で示すようにレーザ光の走査方向にしたがってテスト記録が行われる。情報記録層Ｌ２でもレーザ光が内周から外周に向けて情報記録層Ｌ２を走査する。このため、複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は外周から内周に向けて、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。
【００５９】
これに対し、情報記録層Ｌ１ではレーザ光が外周から内周に向けて情報記録層Ｌ１を走査する。このため、テスト記録領域Ｔ１の副領域は、図４（ｃ）に示すように、矢印で示すレーザ光の走査方向にしたがって、アドレスが割り当てられた複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・が存在する。複数の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・は内周から外周に向けて使用される。つまり、未使用の副領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、・・・・のうち最も内周側のものから、ｔ５、ｔ４、ｔ３、ｔ２、ｔ１の順で使用される。
【００６０】
このように、テスト記録領域における副領域の使用方向はレーザ光の走査方向、つまり、光スポットの進行方向と逆である。これにより、テスト記録領域のある副領域がテスト記録の際の強い照射パワーによって破壊され、光スポットのトラックへの追随が困難になった場合でも、テスト記録領域の使用方向が光スポット進行方向と逆であるため、破壊された副領域を通ることなくテスト記録を行う領域に到達することができる。例えば、前回のテスト記録によって情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の副領域ｔ５が強い照射パワーによって破壊された場合でも、次のテスト記録の際には、未記録のテスト記録領域ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４と順にアドレスを検出するが可能であり、使用されていない最も外周側の副領域ｔ４を検出することができる。
【００６１】
また、図２から分かるように、上述したように各情報記録層のテスト記録領域を使用する場合、任意の隣接するテスト記録領域間では互いに遠い方からテスト記録領域を使用していくことになる。例えば、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は外周端部Ｔ０ｂ側の副記録領域から使用され、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１は内周端部Ｔ１ａ側の副記録領域から使用される。このため、特にテスト記録の回数が少ない間は、より他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００６２】
このように本実施形態の光ディスクによれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【００６３】
また、各情報記録層は、積層方向において互いに重なりが生じないように、互いに異なる半径位置に配置されている。このため、他の情報記録層のテスト記録領域の記録状態の影響を受けることなく、あるいは、影響を抑制し、正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。
【００６４】
また、各情報記録層のテスト記録領域の使用方向をその情報記録層におけるレーザ光の操作方向と逆にした場合には、テスト記録領域の一部が強い照射パワーによって破壊された場合でも、テスト記録領域の残りの領域を正しく使用することができる。また、他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００６５】
次に、図２を参照しながら、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２のより好ましい配置を説明する。
【００６６】
一般に、情報記録層Ｌ０にレーザ光を照射する場合、レーザ光は、情報記録層Ｌ１、Ｌ２を透過する必要があり、情報記録層Ｌ１にレーザ光を照射する場合には、レーザ光が情報記録層Ｌ２を透過する必要がある。このため、情報記録層Ｌ２のレーザ光の透過率が最も高く、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ０の順で透過率が低下する。
【００６７】
また、情報記録層の設計の観点からは、仮に既に２つの情報記録層を有する光ディスクが開発されているならば、既存の情報記録層を情報記録層Ｌ０、Ｌ１に使用し、新たに透過率の高い情報記録層Ｌ２のみを開発するのが望ましい。
【００６８】
しかし、情報記録層Ｌ２には高透過率が要求されるため、設計の自由度が狭くなり、情報記録層Ｌ０、Ｌ１よりも僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ０との間においても、同様の関係が成立する。つまり、一般に透過率の高い情報記録層ほど、設計の自由度が狭くなり、僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。
【００６９】
一方、例えば、情報記録層Ｌ２にレーザ光を照射する際には、一部の光が情報記録層Ｌ２を透過して情報記録層Ｌ１で反射して再び情報記録層Ｌ２へ戻ってくる。このとき、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊または劣化していれば、テスト記録領域Ｔ１の反射率が変化するため、テスト記録領域Ｔ１から情報記録層Ｌ２へ戻ってくる反射光や迷光によるレーザ光の量も変化する。このため、テスト記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ２とが近接していれば、テスト記録領域Ｔ１から情報記録層Ｌ２へ戻ってくるレーザ光の変動がノイズ成分としてテスト記録領域Ｔ１において反射するレーザ光に重畳される。その結果、テスト記録領域Ｔ２を用いて正しくテスト記録を行うことができず、情報記録層Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができない。
【００７０】
本実施形態の光ディスク１０１では、この点考慮し、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差をレーザ光の入射面から遠い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差よりも大きくすることが好ましい。つまり、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定することが好ましい。
【００７１】
具体的には、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａの半径位置との半径位置差（Ｔ２ａ−Ｔ１ｂ）は、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｌ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａの半径位置との半径位置差（Ｔ０ａ−Ｔ１ｂ）よりも大きい。
【００７２】
このようなテスト記記録領域の配置によれば、隣接する情報記録層からの反射の影響がより大きい一対の情報記録層間の間隔を広くし、隣接する情報記録層からの反射の影響を低減することができる。したがって、各情報記録層のテスト記録領域において正しいテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、相対的に隣接する情報記録層からの反射の影響が小さい一対の情報記録層間の間隔を相対的に狭くすることによって、情報記録層間に設ける間隔を必要以上に広く設定せず、リードイン領域の面積を有効に活用することができる。また、リードイン領域を広げることなく、十分なデータ領域を確保するこができる。
【００７３】
なお、上述したように隣接する情報記録層におけるテスト記録領域の間隔を設定する場合において、情報記録層Ｌ０におけるテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ１におけるテスト記録領域Ｔ１を既存の２つの情報記録層を有する光ディスクにおけるテスト記録領域の配置と一致させてもよい。この場合、既存の光ディスク装置においても比較的簡単なシーケンスの変更のみで、本実施形態の光ディスク１０１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１においてテスト記録を行うことができる。
【００７４】
上述のテスト記録領域の配置は、ユーザデータを１度だけ記録する追記型の光ディスクに好適に用いられる。しかし、３層以上の光学的に記録可能な情報記録面を有する書き換え型の光ディスクにおいても、上述のテスト記録領域の配置を採用することにより、隣接する情報記録層の影響を受けることなく正しく各情報記録層の記録パワーを決定することができる。
【００７５】
具体的には、書き換え型の光ディスクの場合、図５（ａ）および（ｂ）に示すように情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２を配置してもよい。
【００７６】
図５（ａ）に示す光ディスク１０２のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の配置は、図２に示す配置と同じである。ただし、書き換え型の光ディスクの場合テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の使用方向に制限はない。書き換え型の光ディスクでは、テスト記録を行った後、記録マークを消去することにより、記録領域Ｔ０の透過率を変化させないことが可能だからである。また、書き換え型の光ディスクの場合テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の任意の副領域にランダムにアクセスが可能である。
【００７７】
また、書き換え型の光ディスクの場合、図５（ｂ）の光ディスク１０２’に示すようにテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が配置されていてもよい。この形態では、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が最も内周側に配置され、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が最も外周側に配置される。情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２よりも外周側であって、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より内周側に配置されている。
【００７８】
また、各情報記録層をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ１ｂと外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａとの半径位置差（Ｔ１ａ−Ｔ２ｂ）は、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｌ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂと外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａとの半径位置差（Ｔ１ａ−Ｔ０ｂ）よりも大きい。
【００７９】
また、本実施形態では、３つのテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２は互いに重ならないように、異なる半径位置に設けられていた。しかし、情報記録層Ｌ２に対する情報記録層Ｌ１の反射光の影響が小さく、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ２の透過光の影響が小さい場合には、図６に示す光ディスク１０３ように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を図２に示すテスト記録領域の配置よりも小さくしてもよい。
【００８０】
図６は、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を最も小さくした場合である半径位置差をゼロにした場合のテスト記録領域の配置を示している。このため、テスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａおよび外周端部Ｔ２ｂが、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａおよび外周端部Ｔ０ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ０が完全に重なっている。しかし、テスト記録領域Ｔ２がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なっていてもよい。
【００８１】
つまり、レーザ光２００の入射面側に近い情報記録層のテスト記録領域は、入射面から遠い側に近い情報記録層に対して近接させて配置してもよい。具体的には、３つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および２番目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂの半径位置との半径位置差が、１番目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０および３番目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ０ａの内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置との半径位置差よりも大きくてもよい。
【００８２】
図７は情報記録層Ｌ２における劣化領域が情報記録層Ｌ０、情報記録層Ｌ１に与える影響を示した模式図である。情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２に含まれる副領域が、強い照射パワーにより破壊され、劣化領域１３０、１３１が形成されたと考える。劣化領域１３０と劣化領域１３１は同じ大きさであるが、情報記録層Ｌ１に焦点を絞ったときの情報記録層Ｌ２におけるレーザ光２０のスポットに占める劣化領域１３０の割合に対し、情報記録層Ｌ０に焦点を絞ったときの情報記録層Ｌ２におけるレーザ光２００’のスポットに占める劣化領域１３１の割合の方が小さい。したがって、テスト記録領域Ｔ２に含まれる副領域が破壊されることによる影響は、情報記録層Ｌ１よりも情報記録層Ｌ０の方が小さい。このため、図６で示すテスト記録領域の配置のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２との半径位置差を小さくすることができる。これにより、他の情報記録層のテスト記録領域の影響を抑制し、各テスト記録領域において正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【００８３】
なお図２に示す実施形態では、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）を、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定していた。しかし、例えば情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との厚さ方向の距離が、情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との厚さ方向の距離より短い場合、例えば、図１に示すように、中間層１１１厚さが中間層１１２の厚さよりも小さい場合、情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との間の影響が情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ２との間よりも大きい事が考えられる、この場合には、図８に示す光ディスク１０４ように、入射面から近い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差を、入射面から遠い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ１、Ｌ０のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０の半径位置差よりも小さくしてもよい。
【００８４】
特にリードイン領域の面積を小さくするために、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差（間隔）を限界まで小さくしている場合、本実施形態のように、レーザ光の入射面から遠い側に位置する、隣り合う情報記録層Ｌ１、Ｌ０のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０の半径位置差間隔を、レーザ光の入射面から近い側に位置する、情報記録層Ｌ２、Ｌ１のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１の半径位置差（間隔）よりも大きくすることにより、情報記録層Ｌ１からの反射光の影響を低減して正しい記録パワーを決定することができる。
【００８５】
本実施形態では、光ディスク１０１は３つの情報記録層を備えていたが、情報記録層を４つ以上備える光ディスクにも本発明を適用できる。この場合、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２を４つ以上の情報記録層のうち、レーザ光の入射面から最も遠い情報記録層をＬ０とし、情報記録層をＬ０に隣接して情報記録層をＬ１、Ｌ２を順に設けることが好ましい。
【００８６】
（第２の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体の第２の実施形態を説明する。本発明による情報記録媒体も追記型または書き換え型である。第２の実施形態の光ディスクは、情報記録層Ｌ３をさらに含み、４つの情報記録層を備えている点で第１の実施形態の光ディスク１０１と異なる。図１に示す光ディスク１０１において、情報記録層Ｌ２とカバー層１１３との間に情報記録層Ｌ３が設けられ情報記録層Ｌ３と情報記録層Ｌ２との間に新たな中間層が設けられている。
【００８７】
図９は第２の実施形態の光ディスク１０５の模式的断面図である。図２と同様、中間層は示していない。図９に示すように、光ディスク１０１の構造に追加された情報記録層Ｌ３の内周側にリードイン領域Ｒ３が設けられ、リードイン領域Ｒ３内にテスト記録領域Ｔ３が存在する。
【００８８】
図９に示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のリードイン領域Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３に、それぞれ、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２が位置している。テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は、互いに異なる半径位置に配置されており、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の積層方向、つまり、レーザ光２００の入射方向から見て互いに重なっていない。
【００８９】
より具体的には、光ディスク１０５において最も内周側に配置された情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の外周端部Ｔ３ｂよりも２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａは外周側に位置しており、テスト記録領域が重ならない間隙（間隔）が設けられている。この間隙は、内周端部Ｔ３ｂの半径位置と外周端部Ｔ１ａの半径位置との差で規定される距離を有する。
【００９０】
また、２番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１の外周端部Ｔ１ｂよりも３番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ０ａと外周端部Ｔ１ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００９１】
また、３番目に内周側に配置された情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０の外周端部Ｔ０ｂよりも最も外周側に配置された情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａは外周側に位置しており、内周端部Ｔ２ａと外周端部Ｔ０ｂとの半径位置差で規定される距離を有する間隙が設けられている。
【００９２】
４つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、３層目の情報記録層である情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、１層目の情報記録層である情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は２層目の情報記録層である情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１より外周側に位置している。
【００９３】
また、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域より外周側に位置し、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１は４層目の情報記録層である情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３より外周側に位置している。
【００９４】
また、３層目の情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２は、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０より外周側に位置し、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０は情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３より外周側に位置している。
【００９５】
第１の実施形態と同様、図９に示す本実施形態のテスト記録領域の配置によれば、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の半径位置が異なっており、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は情報記録層の積層方向に重なっていない。このため、例えば、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１が破壊されても、破壊されたテスト記録領域Ｔ１の影響を受けずに、あるいはほとんど受けずに、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０の記録パワーを正しく決定することができる。同様に、情報記録層Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ３が破壊されても、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２の記録パワーを正しく決定することができる。
【００９６】
また、同様の理由から、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３におけるレーザ光の透過率が変化した場合でも、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３にレーザ光が正しく届く。したがって、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３を用いて正しくテスト記録を行うことができ、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の記録パワーを正しく決定することができる。
【００９７】
次に、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の使用方向について説明する。図９において矢印で示すように、情報記録層Ｌ０、Ｌ２では、内周から外周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ０、Ｌ２を走査するようにトラックが構成されている。これに対し、情報記録層Ｌ１、Ｌ３では、外周から内周に向かってレーザ光が情報記録層Ｌ１、Ｌ３を走査するようにトラックが構成されている。このため第１の実施形態と同様、次の情報記録層へ移動するたびに、レーザ光を光ディスク１０５の最内周位置あるいは最外周位置へジャンプさせることなく、情報の記録または再生を行うことができる。
【００９８】
これに対して、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は、第１の実施形態と同様、好ましくは、各情報記録層におけるレーザ光の光スポットの進行方向と逆の方向に使用される。これにより第１の実施形態で説明したように、テスト記録領域のある副領域がテスト記録の際の強い照射パワーによって破壊され、光スポットのトラックへの追随が困難になった場合でも、テスト記録領域の使用方向が光スポット進行方向と逆であれば、破壊された副領域を通ることなくテスト記録を行う領域に到達することができる。また、特にテスト記録の回数が少ない間は、より他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【００９９】
なお、本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、情報記録層の層数をｎ（ｎは３以上の整数）として、前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（ｉは２≦ｉ≦ｎを満たす偶数）の情報記録層では、前記レーザ光が外周側から内周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が内周側から外周側に向けて使用され、ｉ−１番目の情報記録層では、前記レーザ光が内周側から外周側に向けて走査され、前記テスト記録領域において、副領域が外周側から内周側に向けて使用される。
【０１００】
このように、本実施形態の光ディスクによれば、３つ以上の情報記録層を備えた光ディスクにおいて、各情報記録層にテスト記録領域が設けられている。このため、情報記録層が積層されていることによってレーザ光の照射強度や、熱的環境などが情報記録層ごとに異なっていても、記録をすべき情報記録層のテスト記録領域を用い、その情報記録層の環境下でテスト記録を行うことができる。したがって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。
【０１０１】
また、各情報記録層は、積層方向において互いに重なりが生じないように、互いに異なる半径位置に配置されている。このため、他の情報記録層のテスト記録領域の記録状態の影響を受けることなく、あるいは、影響を抑制し、正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。
【０１０２】
また、各情報記録層のテスト記録領域の使用方向をその情報記録層におけるレーザ光の操作方向と逆にした場合には、テスト記録領域の一部が強い照射パワーによって破壊された場合でも、テスト記録領域の残りの領域を正しく使用することができる。また、他層の影響を低減して正しく記録パワーを決定することができる。
【０１０３】
第１の実施形態と同様、テスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３には、より好ましい配置が存在する。この配置を図９を参照しながら説明する。
【０１０４】
情報記録層Ｌ０にレーザ光を照射する場合、レーザ光は、情報記録層Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３を透過する必要があり、情報記録層Ｌ２にレーザ光を照射する場合には、レーザ光が情報記録層Ｌ３を透過する必要がある。このため、情報記録層Ｌ３のレーザ光の透過率が最も高く、情報記録層Ｌ２、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ０の順で透過率が低下する。
【０１０５】
また、情報記録層の設計の観点からは、仮に既に３つの情報記録層を有する光ディスクが開発されているならば、既存の情報記録層を情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２に使用し、新たに透過率の高い情報記録層Ｌ３のみを開発するのが望ましい。
【０１０６】
しかし、情報記録層Ｌ３は高透過率を要求されるため、設計の自由度が狭くなり、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２よりも僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。情報記録層Ｌ２と情報記録層Ｌ１との間および情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ０との間においても、同様の関係が成立する。つまり、一般に透過率の高い情報記録層ほど、設計の自由度が狭くなり、僅かな記録条件の変化、例えば記録パワーの変動により記録特性が悪化しやすい。
【０１０７】
一方、例えば、情報記録層Ｌ３にレーザ光を照射する際には、一部の光が情報記録層Ｌ３を透過して情報記録層Ｌ２で反射して再び情報記録層Ｌ２へ戻ってくる。このとき、情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２が破壊または劣化していれば、テスト記録領域Ｔ２の反射率が変化するため、テスト記録領域Ｔ２から情報記録層Ｌ３へ戻ってくる反射光や迷光によるレーザ光の量も変化する。このため、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ３とが近接していれば、テスト記録領域Ｔ２から情報記録層Ｌ３へ戻ってくるレーザ光の変動がノイズ成分としてテスト記録領域Ｔ２において反射するレーザ光に重畳される。その結果、テスト記録領域Ｔ３を用いて正しくテスト記録を行うことができず、情報記録層Ｌ３の記録パワーを正しく決定することができない。
【０１０８】
本実施形態の光ディスク１０５では、この点を考慮し、レーザ光の入射面から近い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差をレーザ光の入射面から遠い側に位置する隣り合う情報記録層のテスト記録領域の半径位置差よりも大きくすることが好ましい。つまり、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ１間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）より大きく設定することが好ましい。
【０１０９】
また、レーザ光２００の入射面から相対的に近い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ２、Ｌ３にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ２、Ｔ３間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ３ｂとの間隔）は、レーザ光の入射面から相対的に遠い側に位置する隣り合う１対の情報記録層Ｌ０、Ｌ１にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ０間の半径方向の間隔（Ｔ０ａとＴ１ｂとの間隔）、および、情報記録層Ｌ１、Ｌ２にそれぞれ形成された１対のテスト記録領域Ｔ１、Ｔ２間の半径方向の間隔（Ｔ２ａとＴ１ｂとの間隔）より大きいことが好ましい。
【０１１０】
具体的には、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｉ番目（iは、２≦i≦３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい。
【０１１１】
本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、上記関係はｎを光ディスクに含まれる情報記録層の層数であり、３以上の整数であるとして、ｉが２≦i≦ｎ−１を満たす整数に対し成立する。
【０１１２】
このようなテスト記記録領域の配置によれば、隣接する情報記録層からの反射の影響がより大きい一対の情報記録層間の間隔を広くし、隣接する情報記録層からの反射の影響を低減することができる。したがって、各情報記録層のテスト記録領域において正しいテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、相対的に隣接する情報記録層からの反射の影響が小さい一対の情報記録層間の間隔を相対的に狭くすることによって、情報記録層間に設ける間隔を必要以上に広く設定せず、リードイン領域の面積を有効に活用することができる。また、リードイン領域を広げることなく、十分なデータ領域を確保するこができる。
【０１１３】
なお、上述したように隣接する情報記録層におけるテスト記録領域の間隔を設定する場合において、情報記録層Ｌ０におけるテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ１におけるテスト記録領域Ｔ１を既存の２つの情報記録層を有する光ディスクにおけるテスト記録領域の配置と一致させてもよい。この場合、既存の光ディスク装置においても比較的簡単なシーケンスの変更のみで、本実施形態の光ディスク１０１のテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１においてテスト記録を行うことができる。
【０１１４】
本実施形態では、４つのテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は互いに重ならないように、異なる半径位置に設けられていた。しかし、図７を参照して説明したように、情報記録層Ｌ３に対する情報記録層Ｌ２の反射光の影響、情報記録層Ｌ２に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響、情報記録層Ｌ０に対する情報記録層Ｌ２の透過光の影響が小さい場合には、図１０に示す光ディスク１０６のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ２のテスト記録Ｔ２の半径位置差および、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の半径位置差を図９に示す配置における対応する半径位置差に比べて小さくしてもよい。
【０１１５】
図９は、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ２との半径位置差、および、記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差をゼロにした場合を示している。このため、テスト記録領域Ｔ２の内周端部Ｔ２ａおよび外周端部Ｔ２ｂが、テスト記録領域Ｔ０の内周端部Ｔ０ａおよび外周端部Ｔ０ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ２とテスト記録領域Ｔ０が完全に重なっている。また、テスト記録領域Ｔ３の内周端部Ｔ３ａおよび外周端部Ｔ３ｂが、テスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａおよび外周端部Ｔ１ｂと完全に一致し、テスト記録領域Ｔ３とテスト記録領域Ｔ１が完全に重なっている。しかし、テスト記録領域Ｔ２がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なっていてもよい。また、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ１と部分的に重なっていてもよい。
【０１１６】
つまり、レーザ光２００の入射面側に近い情報記録層のテスト記録領域は、入射面から遠い側に近い情報記録層に対して近接させて配置してもよい。具体的には、情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３をレーザ光２００の入射面から最も遠い側から数えた場合、ｋ番目（ｋは、１≦ｋ≦２を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ＋２番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きくてもよい。
【０１１７】
また、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および情報記録層Ｌ２のテスト記録領域Ｔ２のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の内周端部Ｔ１ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ２の外周端部Ｔ２ｂの半径位置との半径位置差が、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１および情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３のうち、内周側に配置されたテスト記録領域Ｔ３の内周端部Ｔ３ａの半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域Ｔ１の外周端部の半径位置Ｔ１ｂとの半径位置差よりも大きくてもよい。
【０１１８】
本実施形態では、光ディスク１０５は４つの情報記録層を備えているが、４層以上の情報記録層を備えた光ディスクにも本発明を好適に用いることができる。この場合、上記１番目の関係は、ｎを光ディスクに含まれる情報記録層の層数であり、３以上の整数であるとして、ｋが１≦ｋ≦ｎ−２を満たす整数に対して成立する。
【０１１９】
また、上記２番目の関係は、ｋ’番目（ｋ’は、１≦ｋ’≦ｎ−３を満たす整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差が、ｋ’＋１番目の情報記録層のテスト記録領域およびｋ’＋３番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置との半径位置差よりも大きいと規定される。
【０１２０】
これにより、他の情報記録層のテスト記録領域の影響を抑制し、各テスト記録領域において正しくテスト記録を行うことができ、各情報記録層で使用する記録パワーを正しく決定することができる。また、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２１】
また、情報記録層Ｌ１に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響が小さい場合には、図１１に示す光ディスク１０７のように、情報記録層Ｌ１のテスト記録領域Ｔ１と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３との半径位置差を小さくしてもよい。図１１では、テスト記録領域Ｔ１とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差がゼロの場合を示しているが、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ１と部分的に重なるようにテスト記録領域Ｔ３を配置してもよい。これにより、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２２】
また、情報記録層Ｌ０、Ｌ２に対する情報記録層Ｌ３の透過光の影響が少なく、情報記録層Ｌ３に対する情報記録層Ｌ２の反射光の影響が小さい場合には、図１２に示す光ディスク１０８のように、情報記録層Ｌ０のテスト記録領域Ｔ０と情報記録層Ｌ３のテスト記録領域Ｔ３の半径位置差を小さくし、テスト記録領域Ｔ３とテスト記録領域Ｔ２の半径位置差を小さくしてもよい。図１２では、テスト記録領域Ｔ０とテスト記録領域Ｔ３との半径位置差がゼロの場合を示しているが、テスト記録領域Ｔ３がテスト記録領域Ｔ０と部分的に重なるようにテスト記録領域Ｔ３を配置してもよい。これにより、リードイン領域の面積を小さくし、十分なデータ領域を確保することができる。
【０１２３】
以上、第１および第２の実施形態では、情報記録層を３つおよび４つ備えた光ディスクを例示し、本発明の光ディスクを説明した。本発明の光ディスクは、これら第１および第２の実施形態に限られず、情報記録層を５つ以上備えていてもよい。
【０１２４】
（第３の実施形態）
以下、図面を参照しながら、本発明による情報記録装置、情報再生装置、記録方法、再生方法の実施形態を説明する。図１３は、本実施形態の情報記録装置３００のブロック図である。情報記録装置３００は、データの記録および再生を行うことが可能であり、スピンドルモータ３０２、光ヘッド３０３、光ビーム制御部３０４、サーボ部３０５、再生二値化部３０６、デジタル信号処理部３０７、記録補償部３０８、ＣＰＵ３０９を備える。
【０１２５】
光ディスク３０１は、第１の実施形態または第２の実施形態として説明した光ディスクである。ここでは、第１の実施形態の光ディスク１０１を光ディスク３０１として用いる。スピンドルモータ３０２は、光ディスク３０１を所定の速度で回転させ、光ヘッド３０３は、光ビームを光ディスク３０１に照射する。また、光ビームを光ディスク３０１に照射した反射光を電気的な信号に変換し、再生信号を出力する。光ビーム制御部３０４は、ＣＰＵ３０９の指示に基づき、光ヘッド３０３から出力される光ビームの照射パワーを制御する。
【０１２６】
サーボ部３０５は、光ヘッド３０３および光ヘッド３０３から出射する光ビームの位置制御、光ビームのフォーカスおよびトラッキング制御、スピンドルモータ３０２の回転制御を行う。再生二値化部３０６は、光ヘッド３０３より得られた再生信号（データ情報は和信号、ディスク情報領域やアドレスに関する情報は差信号）を増幅し、２値化処理を行うことによって、２値化信号を生成する。また内部のＰＬＬ（図示せず）により、２値化信号に同期したクロックを生成する。
【０１２７】
デジタル信号処理部３０７は、２値化信号に所定の復調処理やエラー訂正処理を行う。データ記録時は記録データにエラー訂正コードを付加する処理および所定の変調処理を行い、変調データを生成する。記録補償部３０８は、変調データをパルス列から構成される光変調データに変換し、さらに光変調データのパルス幅等を、ディスク情報領域の再生信号や、予めＣＰＵ３０９に記憶されているデータを基に微妙に調整し、ピット形成に適した記録パルス信号に変換する。
【０１２８】
ＣＰＵ３０９は、情報記録装置３００全体の制御を行う。ホストユニット３１０は、例えば、コンピュータ（図示せず）とアプリケーション（図示せず）やオペレーティングシステム（図示せず）で構成し、光ディスクドライブ３００に対して記録や再生の要求を行う。
【０１２９】
光ディスク３０１が情報記録装置３００に装填されると、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０のコントロール領域を再生し、情報記録層Ｌ０、情報記録層Ｌ１、情報記録層Ｌ２に記録する際の照射パワー情報等の記録パラメータ情報を読み取る。
【０１３０】
ホストユニット３１０からの記録要求があると、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ０のリードイン領域Ｒ０に設けられたテスト記録領域Ｔ０を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ０のデータ領域Ｄ０に記録する際の記録パワーを決定する。
【０１３１】
同様の動作を情報記録層Ｌ１、Ｌ２について実行する。具体的には、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ１のリードイン領域Ｒ１に設けられたテスト記録領域Ｔ１を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ１のデータ領域Ｄ１に記録する際の記録パワーを決定する。
【０１３２】
続いて、光ビーム制御部３０４およびサーボ部３０５により、光ヘッド３０３が所定の照射パワーで情報記録層Ｌ２のリードイン領域Ｒ２に設けられたテスト記録領域Ｔ２を再生する。ＣＰＵ３０９はテスト記録を行う際の照射パワーを光ビーム制御部３０４に設定し、光ヘッド３０３により複数の異なる照射パワーを用いてテストデータの記録を行い、記録したテストデータを再生する。得られた再生信号のエラーレートやジッタなどに基づき、情報記録層Ｌ２のデータ領域Ｄ２に記録する際の記録パワーを決定する。このようにして、すべての情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に情報を記録するための記録パワーが決定される。
【０１３３】
続いて、決定された記録パワーでレーザ光を照射し、各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２にユーザデータが記録される。このとき、情報記録層ごとに上述した手順で決定された照射パワーが用いられる。
【０１３４】
各情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録されたユーザデータを再生する場合には、コントロール領域に記録されたディスク情報などを再生し、得られたディスク情報を用いて、データ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録されたユーザデータを再生する。
【０１３５】
なお本実施形態ではテスト記録領域Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２はディスクの内周のみに設けられているが、テスト記録領域は外周にも設けられていてもよい。また、記録要求があったときに、すべての情報記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２のデータ領域Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２に記録するためのすべての記録パワーをそれぞれ決定している。しかし、ＣＰＵ３０９が、情報記録層Ｌ０のみに記録を行うことによって要求されている情報の記録が完了すると判断した場合には、データ領域Ｒ０に記録する際の照射パワーを決定するだけでもよい。これによりユーザデータの記録を開始するまでの時間を短縮することができる。
【０１３６】
また本実施の形態では、記録要求があったときにすべての情報記録層のデータ領域に記録するためのすべての記録パワーをそれぞれ決定しているが、ＣＰＵ３０９の判断により、最初に記録を行う情報記録層の記録パワーを決定し、残りの情報記録層は別のタイミングで記録パワーを決定してもよい。これによりユーザデータの記録を開始するまでの時間を短縮することができる。
【０１３７】
例えば３つの情報記録層を備える光ディスクにおいて、各層の内周および外周でテスト記録を行う場合、合計で６回のテスト記録シーケンスが実行される。このため、ユーザデータの記録開始までに多くの時間がかかる場合がある。
【０１３８】
このため、テスト記録を行う情報記録層または層数のパターンを予め複数種類準備しておき、例えばＣＰＵ３０９により、２層以上の記録が必要かどうかを予測し、２層以上の記録が不要であれば情報記録層Ｌ０および情報記録層Ｌ１のテスト記録のみを行うことで、ユーザデータの記録開始までの時間を短縮することができる。
【０１３９】
（第４の実施形態）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、本実施形態では、第１および第２の実施形態の光ディスクをＢＤに適用した例を説明する。
【０１４０】
＜主要パラメータ＞
ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ、書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがある。本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲＯＭ(再生専用型)，Ｒ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０１４１】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、情報記録層が１層または２層設けられている。情報記録層の記録面がレーザ光入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０１４２】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（または０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（または６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（または２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（または２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（または５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（または５４．０４０ＧＢ））である。
【０１４３】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０１４４】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（または、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０１４５】
なお、上述の諸条件は既に商品化がなされている、主に１層当たり約２５ＧＢ（または約２７ＧＢ）の１層または２層のＢＤに関するものである。ＢＤの記録容量を高めるために、１層あたりの記録容量が略３２ＧＢまたは略３３．４ＧＢである高密度なＢＤや、層数を３層または４層としたＢＤも検討されている。以下このようなＢＤに本発明を適用した例を説明する。
【０１４６】
＜情報記録層の多層化＞
レーザ光を保護層（カバー層）の側から入射して情報が再生および／または記録される片面ディスクの構成をとる場合、情報記録層を２層以上にするためには基板と保護層との間には複数の情報記録層が設ける必要がある。このような多層ディスクの構成例を図１４に示す。図１４に示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２を備える（ｎは０以上の整数）。具体的には、光ディスクには、レーザ光２００が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、および基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２のそれぞれの間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように情報記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０１４７】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から情報記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０１４８】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向、スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。パラレル・パスでは、すべての情報記録層において、スポットの進行方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全情報記録層にて内周から外周の方向へ、または全情報記録層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０１４９】
一方、オポジット・パスでは、ある情報記録層とその情報記録層に隣接する情報記録層とで、スポットの進行方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）におけるスポットの進行方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、情報記録層Ｌ１におけるスポットの進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、情報記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、スポットの進行方向は、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０１５０】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がり、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５、ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば情報記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、２層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。
【０１５１】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図１５に、２層ディスクの構成例を図１６に、３層ディスクの構成例を図１７に、４層ディスクの構成例を図１８に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、いずれのディスクにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）であり、基板５００の厚さは略１．１ｍｍである。また、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図１５に示す単層ディスク（図１４においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍである。また、図１６の２層ディスク（図１４においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍであり、中間層５３０２の厚さは略０．０２５ｍｍである。また、図１７の３層ディスク（図１４においてｎ＝２の場合）や、図１８の４層ディスク（図１４においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１４の厚さ、および／または、中間層５３０４の厚さをさらに薄くしてもよい。
【０１５２】
また、このようにＮＡの高い対物レンズを有する光学ヘッドを用いた記録再生装置では、ディスクの光照射表面から情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差が情報記録層上に絞り込まれるレーザ光の品質に大きく影響を及ぼす。そのため、厚さによって発生する収差を補正する手段が設けられている。
【０１５３】
収差補正手段は、光情報記録媒体の保護層表面から、情報を記録再生する情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差成分を補正するために、各情報記録層で発生する収差成分を打ち消すような収差を与える。この収差補正手段は、本来、単層構造媒体の情報記録層に対して収差が小さくなるような光学設計がなされており、２層構造の情報記録媒体の記録再生における収差も考慮されている。設計上の最小収差位置は、保護層表面から約８０μｍから９０μｍ程度に設定されている。そのため、最小収差位置と異なる厚さの情報記録層に記録再生光を絞り込むときは、収差補正手段を制御し、各情報記録層にあった収差補正値を設定して補正する必要がある。
【０１５４】
＜ＢＤの物理的構成＞
図１９は、本実施形態による光ディスク５１０の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク５１０には、例えば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック５１１が形成されており、各トラック５１２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック５１２には予め定められたサイズのブロック５１３を単位としてデータが記録される。
【０１５５】
本実施形態による光ディスク５１０は、従来の光ディスク（例えば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、例えば、光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク５１０は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０１５６】
トラック５１２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロック５１３に分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロック５１３は、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０１５７】
＜記録密度＞
次に、記録密度について、図２０（ａ）、(ｂ)、図２１および図２２を用いて説明する。
【０１５８】
図２０（ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ光２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０１５９】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック５１２上に物理変化のマーク列５２０、５２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク５２１が最短マークである。
【０１６０】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク５２１の物理的長さは０．１４９μｍである。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０１６１】
図２１は、トラック５１２上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット２１０の直径は、約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット２１０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０１６２】
例えば、図２０（ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列５２４、５２５のうち、最短マーク５２５の物理的長さは０．１１１５μｍである。図２０（ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９μｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０１６３】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるにしたがって低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるにしたがってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０１６４】
図２２は、２５ＧＢの記録容量のＢＤにおける、ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、若しくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０１６５】
そのため、図２０（ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０１６６】
図２３は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図２３において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０１６７】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
高記録密度光ディスクにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０１６８】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとし、（最短マーク長＋最短スペース長）を”Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いた場合、以下の不等式を満たすまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超える。
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
【０１６９】
ＮＡ＝０．８５、λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、以下の式によって求められる。なお、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡを満たす場合、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い。
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
【０１７０】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０１７１】
以上、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録線密度を説明した。さらにＢＤの高密度化が進んだ場合、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係から、上述したのと同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度、記録容量）を設定することができる。
【０１７２】
＜記録密度および層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ、開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ、あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，または３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０１７３】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０１７４】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）であり、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０１７５】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０１７６】
ここで、光ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各情報記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する情報記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０１７７】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０１７８】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０１７９】
いずれの構成をＢＤで採用する場合でも、第１の実施形態または第２の実施形態の光ディスクの構造を採用することによって、各情報記録層に最適な記録パワーを決定することができる。したがって、特に線記録密度が高められることによって、より正確に記録マークを形成することが求められる場合でも、最適な記録パワーを用いて適切な記録を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１８０】
本発明は、種々の情報記録媒体および情報記録装置に好適に用いられ、特に３層以上の情報記録層を有する追記型あるいは書き換え型の情報記録媒体およびこれに対応する情報記録装置に好適に用いられる。
【符号の説明】
【０１８１】
Ｄ０、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３  データ領域
Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３  情報記録層
Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３  リードイン領域
Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３  テスト記録領域
１１０  基板
１１１、１１２  中間層
１１３  カバー層
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光によりデータの記録が可能であり、互いに積層されたｎ層（ｎは４以上の整数）の情報記録層を有する情報記録媒体であって、
前記ｎ層の情報記録層は、前記レーザ光の記録パワーを決定するためのテスト記録領域をそれぞれ有し、
各テスト記録領域は、前記レーザ光の入射側から見て、前記情報記録媒体の半径方向において、いずれの他のテスト記録領域と重なっておらず、
前記ｎ層の情報記録層を前記レーザ光の入射面から最も遠い側から数えた場合、
ｉ番目（iは、２≦i≦ｎ−１を満たす全ての整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｉ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差が、ｊ番目（ｊは、１≦ｊ≦i−１を満たす全ての整数）の情報記録層のテスト記録領域およびｊ＋１番目の情報記録層のテスト記録領域のうち、内周側に配置されたテスト記録領域の外周端部の半径位置と外周側に配置されたテスト記録領域の内周端部の半径位置との半径位置差よりも大きい情報記録媒体。
【請求項２】
請求項１に記載の情報記録媒体を再生する再生方法であって、
前記情報記録媒体は、前記ｎ層の情報記録層の少なくともいずれか１つの情報記録層にコントロール領域を有し、
前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップ、および
前記ｎ層の情報記録層のいずれかの層に、その層のテスト記録領域を用いて調整された記録パワーで記録されたデータを再生するステップ
の少なくとも一方を実行する再生方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【国際調査報告】
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