(57)【要約】  距離画像センサ１０は、パルス光ＬＰを発生させる光源１１と、光源１１を制御する光源制御手段３１と、光電変換領域２１、電荷読出領域２２１〜２２４、電荷排出領域２３、及び制御電極２４１〜２４４，２５を有する画素回路１３と、制御電極２４１〜２４４に制御パルスを順次印加する電荷転送制御手段３２と、電荷読出領域２２１〜２２４の電圧を検出信号Ｓ１〜Ｓ４として読み出し、検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基に距離を繰り返し計算する距離計算手段とを備え、電荷転送制御手段３２は、１フレーム期間内の４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４ごとに、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように制御パルスのタイミングを設定する。
2019078366.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス光を発生させる光源と、
第１の持続時間を有する前記パルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように前記光源を制御する光源制御手段と、
光を電荷に変換する光電変換領域、前記光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、前記電荷を排出するための電荷排出領域、及び前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域とに対応してそれぞれ設けられ、前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域との間における電荷転送のための第１〜第Ｍ＋１の制御パルスを印加するための第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部と、
前記光源制御手段による前記パルス光の発生に対応して、前記第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ前記第１〜第Ｍの制御電極に前記第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に前記第Ｍ＋１の制御電極に前記第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御手段と、
前記電荷転送制御手段による前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、前記画素回路部の前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出手段と、
前記第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算手段とを備え、
前記電荷転送制御手段は、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、前記第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定する、
距離画像測定装置。
【請求項２】
前記距離計算手段は、前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のそれぞれにおいて前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された前記第１〜第Ｍの検出信号を用いて、前記距離を計算する、
請求項１記載の距離画像測定装置。
【請求項３】
前記距離計算手段は、前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のうちの２つのサブフレーム期間内において前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された前記第１〜第Ｍの検出信号を用いて、前記距離を計算する、
請求項１又は２記載の距離画像測定装置。
【請求項４】
１フレーム期間内のそれぞれの第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内における前記パルス光の繰り返し回数は、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が長くなるほど多くなるように、重み付けされる、
請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項５】
前記電圧検出手段は、重み付けされて設定された期間のサブフレーム期間ごとに、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて発生したそれぞれの前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を前記第１〜第Ｍの検出信号として読み出す、
請求項１〜４のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項６】
前記電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される前記第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも前記第１の制御パルスの印加回数のレートを下げるように設定する、
請求項１〜５のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項７】
前記電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される前記第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも前記第１の制御パルスの印加回数を間引くように設定する、
請求項６に記載の距離画像測定装置。
【請求項８】
前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内における前記パルス光の強度は、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど弱くなるように、重み付けされる、請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項９】
前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内において、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の持つ容量が大きくなるように制御される、
請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項１０】
前記画素回路部が２次元アレイ状に配列されたイメージセンサを含む、
請求項１〜９のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項１１】
光源制御手段が、第１の持続時間を有するパルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように光源を制御する光源制御ステップと、
光を電荷に変換する光電変換領域、前記光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、前記電荷を排出するための電荷排出領域、及び前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域とに対応して設けられた第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部を用いて、電荷転送制御手段が、前記光源制御手段による前記パルス光の発生に対応して、前記第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ前記第１〜第Ｍの制御電極に、電荷の転送を制御するための第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に前記第Ｍ＋１の制御電極に電荷の排出を制御するための第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御ステップと、
電圧検出手段が、前記電荷転送制御手段による前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、前記画素回路部の前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出ステップと、
距離計算手段が、前記第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算ステップとを備え、
前記電荷転送制御ステップでは、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、前記第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定する、
距離画像測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の一側面は、画素毎に距離情報を含む距離画像を生成する距離画像測定装置および距離画像測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光の飛行時間を用いて距離情報を含む画像信号を生成するセンサ装置が用いられている（例えば、下記特許文献１参照）。このセンサは、時間軸上に配列された第１〜第５フレームにおいて第１〜第５のパルスの列を照射パルスとして対象物に照射し、ピクセルアレイにおいて対象物の距離情報を含む画像信号を生成する。このような構成により、距離分解能を低下させることなく距離計測範囲を拡大することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−３２４２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述した従来のセンサ装置では、様々な距離計測範囲の対象物の距離情報を含む画像信号を生成しようとする場合に、さらに距離分解能を向上させようとするためには改善の余地があった。【０００５】
本発明の一側面は、上記課題に鑑みて為されたものであり、様々な距離計測範囲の対象物を対象にして距離分解能が向上された画像信号を生成することが可能な距離画像測定装置及び距離画像測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本発明の一形態にかかる距離画像測定装置は、パルス光を発生させる光源と、第１の持続時間を有するパルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように光源を制御する光源制御手段と、光を電荷に変換する光電変換領域、光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、電荷を排出するための電荷排出領域、及び光電変換領域と第１〜第Ｍの電荷読出領域および電荷排出領域とに対応してそれぞれ設けられ、光電変換領域と第１〜第Ｍの電荷読出領域および電荷排出領域との間における電荷転送のための第１〜第Ｍ＋１の制御パルスを印加するための第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部と、光源制御手段によるパルス光の発生に対応して、第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ第１〜第Ｍの制御電極に第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に第Ｍ＋１の制御電極に第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御手段と、電荷転送制御手段による第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、画素回路部の第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出手段と、第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算手段とを備え、電荷転送制御手段は、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、パルス光の発生タイミングに対する第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定する。【０００７】
あるいは、本発明の他の形態にかかる距離画像測定方法は、光源制御手段が、第１の持続時間を有するパルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように光源を制御する光源制御ステップと、光を電荷に変換する光電変換領域、光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、電荷を排出するための電荷排出領域、及び光電変換領域と第１〜第Ｍの電荷読出領域および電荷排出領域とに対応して設けられた第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部を用いて、電荷転送制御手段が、光源制御手段によるパルス光の発生に対応して、第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ第１〜第Ｍの制御電極に、電荷の転送を制御するための第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に第Ｍ＋１の制御電極に電荷の排出を制御するための第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御ステップと、電圧検出手段が、電荷転送制御手段による第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、画素回路部の第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出ステップと、距離計算手段が、第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算ステップとを備え、電荷転送制御ステップでは、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、パルス光の発生タイミングに対する第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定する。【０００８】
上記形態の距離画像測定装置あるいは距離画像測定方法によれば、１フレーム期間内に含まれる２つ以上のサブフレーム期間内で光源から定期的に繰り返しパルス光が発生し、パルス光の発生に対応して、パルス光の持続時間以上の第２の持続時間の時間ウィンドウが順次設定され、その時間ウィンドウで画素回路部の光電変換領域から第１〜第Ｍの電荷読出領域に順次電荷が転送されるとともに、その時間ウィンドウ以外の期間では光電変換領域から電荷が排出される。さらに、画素回路部の第１〜第Ｍの電荷読出領域から第１〜第Ｍの検出信号が読み出され、それらをもとに距離が繰り返し計算される。このとき、２つ以上のサブフレーム期間ごとに、パルス光の発生タイミングに対する時間ウィンドウの遅れ時間が異なる時間にシフトするように設定される。このように、画素回路部単位での時間ウィンドウのシフトおよびサブフレーム間での時間ウィンドウのシフトを組み合わせることによって、デューティ比の小さい多数の時間ウィンドウを使った電荷の検出が可能とされる。その結果、様々な距離計測範囲の対象物を対象にした場合であっても、検出信号における背景光ノイズの影響が低減され、距離分解能の高い距離計算が実現されるとともに、強い背景光に起因した検出信号の飽和による距離計算の誤差も防止できる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の一側面によれば、様々な距離計測範囲の対象物を対象にして距離分解能が向上された画像信号を生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の好適な一実施形態に係る距離画像センサ１０の概略構成を示すブロック図である。
【図２】演算回路１２による距離計算の繰り返し期間である１フレーム期間の構成を示す図である。
【図３】図１の電荷転送制御手段３２によって設定された各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３における制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図４】図１の電荷転送制御手段３２によって設定された各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３における制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図５】図１の距離画像センサ１０による距離計算の原理を説明するためのタイミングチャートである。
【図６】図１の距離画像センサ１０によって扱われる各種信号のタイミングチャート、及び距離画像センサ１０によって計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。
【図７】図１の距離画像センサ１０による別の計算手順で扱われる各種信号のタイミングチャート、及び、距離画像センサ１０による別の計算手順において計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。
【図８】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の距離分解能のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図９】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の距離分解能のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図１０】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の距離分解能のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図１１】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態における信号読み出し時の発生電子数のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図１２】変形例によって扱われる各種信号のタイミングチャート、及び変形例によって計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。
【図１３】変形例におけるサブフレーム期間Ｆ１でのパルス光ＬＰ及び第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の制御タイミングを示すタイミングチャートである。
【図１４】変形例におけるサブフレーム期間Ｆ１でのパルス光ＬＰ及び第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の制御タイミングを示すタイミングチャートである。
【図１５】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の変形例における信号読み出し時の発生電子数のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図１６】０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の変形例における距離分解能のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図１７】変形例における、演算回路１２による制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加タイミング及びパルス光ＬＰの発生タイミングを示すタイミングチャートである。
【図１８】変形例における画素回路１３の要部の等価回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照しつつ本発明に係る距離画像測定装置の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明においては、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１２】
まず、図１を参照して、本発明の距離画像測定装置の好適な一実施形態に係る距離画像センサ１０の機能および構成を説明する。図１に示す距離画像センサ１０は、飛行時間法を利用して画素毎に距離情報を含む距離画像を生成する装置であり、光源１１と、演算回路１２と、複数の画素回路（画素回路部）１３とを備える。光源１１は、飛行時間（ＴＯＦ：Time  Of  Flight）方式による距離計測を行うために、対象物Ｓに照射するパルス光ＬＰを発生させる装置である。光源１１は、例えば、発光ダイオードあるいはレーザダイオード等の半導体発光素子とその半導体発光素子を駆動する駆動回路とによって構成される。光源１１としては、近赤外領域、可視光領域等の波長領域の光を発生させる素子を用いることができる。さらに、距離画像センサ１０は複数の画素回路１３を備える。複数の画素回路１３は、２次元方向（例えば、列方向および行方向）に２次元アレイ状に配列されてイメージセンサを構成し、対象物Ｓによってパルス光ＬＰが反射されて生じた入射パルス光ＬＲを光電変換することにより検出信号を生成する。加えて、距離画像センサ１０は、演算回路１２も備えている。演算回路１２は、複数の画素回路１３によって生成された検出信号を用いて、対象物Ｓに関する距離情報を画素ごとに演算し、画素ごとの距離情報が反映された２次元画像情報を含む距離画像を生成及び出力する。演算回路１２は、ＣＰＵ，ＲＡＭ、ＲＯＭ、および入出力装置等を含むワンチップマイクロコンピュータ等の専用の集積回路によって構成されてもよいし、パーソナルコンピュータ等の汎用コンピュータによって構成されてもよい。
【００１３】
以下、画素回路１３および演算回路１２の構成について詳細に説明する。
【００１４】
まず、画素回路１３の構成について説明する。画素回路１３は、半導体素子によって構成され、入射パルス光ＬＲを電荷に変換する機能を有する光電変換領域２１と、光電変換領域２１に近接し、かつ互いに離間して設けられた第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４及び電荷排出領域２３と、第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４及び電荷排出領域２３のそれぞれに対応して設けられ、光電変換領域２１からそれぞれの領域との間における電荷転送のための制御パルスを印加するための第１〜第４の制御電極２４１〜２４４および第５の制御電極２５と、第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４のそれぞれから検出信号を読み出すための電圧検出手段２６１〜２６４とを含んでいる。電圧検出手段２６１〜２６４は、例えば、ソースフォロワアンプを含む増幅器であり、演算回路１２からの制御によって、選択的にそれぞれの電荷読出領域２２１〜２２４の基準電位を基準にした電圧を検出および増幅し、増幅した電圧を第１〜第４の検出信号として演算回路１２に出力する。
【００１５】
画素回路１３は、例えば、シリコン基板等のｐ型半導体基板上に形成される。すなわち、光電変換領域２１は、ｐ型半導体基板上に順に形成された、ｐ型の半導体からなる活性領域形成層、ｎ型の表面埋込領域、ｐ型のピニング層、及び絶縁膜からなる画素形成領域の中央部に設けられる。そして、光電変換領域２１に近接するように互いに離間した位置にｎ型の表面埋込領域よりも高不純物濃度のｎ型の電荷読出領域２２１〜２２４及び電荷排出領域２３が形成され、絶縁膜上の光電変換領域２１から電荷読出領域２２１〜２２４及び電荷排出領域２３のそれぞれに至る電荷移動経路上のそれぞれには、制御電極２４１〜２４４，２５が設けられる。ここで、制御電極２４１〜２４４，２５は、それぞれ、電荷移動経路上に設けられてもよいし、電荷移動経路を両側から挟むように複数の電極部に分離して設けられてもよい。
【００１６】
上記構成の画素回路１３においては、後述する演算回路１２から制御電極２４１〜２４４，２５に対して、互いに位相の異なる制御パルスが印加される。これにより、表面埋込領域の空乏化電位を順次変化させることにより、電荷移動経路のいずれかに電荷が輸送されるような電位勾配を順次形成して、光電変換領域２１の表面埋込領域で発生した多数キャリア（電荷）を、電荷読出領域２２１〜２２４及び電荷排出領域２３のいずれかに移動させる。この電荷排出領域２３は、光電変換領域２１で発生した電荷を排出するための領域である。
【００１７】
次に、演算回路１２の構成について説明する。演算回路１２は、機能的な構成要素として、光源制御手段３１、電荷転送制御手段３２、距離データ有効性判定信号生成手段３３、距離データ有効性判定手段３４、無効画素識別値生成手段３５、距離計算参照信号生成手段３６、距離計算参照信号選択手段３７、及び距離画像生成手段３８を含んで構成される。距離データ有効性判定信号生成手段３３、距離データ有効性判定手段３４、無効画素識別値生成手段３５、距離計算参照信号生成手段３６、距離計算参照信号選択手段３７、及び距離画像生成手段３８は、本実施形態の距離計算手段を構成する。
【００１８】
演算回路１２の光源制御手段３１は、光源１１によるパルス光ＬＰの発光タイミング、パルス光ＬＰの強度、及びパルス光ＬＰのパルス幅を制御する。具体的には、持続時間Ｔ０のパルス光ＬＰを、予め設定された長さの期間Ｔｆ(例えば、１／１２０ｓｅｃ)である１フレームの期間内の４種類のサブフレーム期間内で周期的に繰り返し発生させるように制御する。
【００１９】
演算回路１２の電荷転送制御手段３２は、制御電極２４１〜２４４，２５のそれぞれに、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４及び第５の制御パルスＧＤを印加する機能を有する。すなわち、電荷転送制御手段３２は、サブフレーム期間内のパルス光ＬＰのそれぞれの発生タイミングに対応して、持続時間Ｔ０以上である持続時間Ｔ１の間だけ制御電極２４１〜２４４に順次第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４を印加する。本実施形態では、持続時間Ｔ１は持続時間Ｔ０と等しくなるように設定される。また、電荷転送制御手段３２は、サブフレーム期間内の第１〜第３の制御パルスＧ１〜Ｇ３の印加タイミングを除く期間において、光電変換領域２１に蓄積された電荷を電荷排出領域２３に排出させるための制御パルスＧＤを制御電極２５に印加する。
【００２０】
なお、パルス光ＬＰの飛行時間を用いた距離計算の分解能１５ｃｍは飛行時間１ｎｓに相当し、この分解能を下回るためには目安としてｐｓオーダーの時間精度を持つ制御手段が必要となる。それ故に、電荷転送制御手段３２と光源制御手段３１は、画素回路１３と一体での配線容量などを考慮した設計が必要になってくるため、画素回路１３と一体の半導体上に形成することが望ましい。なお、「一体の半導体上」とは、ＳＯＩ（Ｓｉｌｉｃｏｎ  Ｏｎ  Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ）技術やＴＳＶ（Ｔｈｒｏｕｇｈ  Ｓｉｌｉｃｏｎ  Ｖｉａ）技術を用いて積層された複数の半導体層のうちの異なる半導体上も含まれる。具体的には、電荷転送制御手段３２と、電荷転送制御手段３２と制御電極２４１〜２４４，２５との間の回路と、電荷転送制御手段３２と光源制御手段３１との間の回路の一部とは、画素回路１３と同一の半導体上、あるいは画素回路１３とともに積層された半導体層上に形成されていてもよい。
【００２１】
ここで、演算回路１２による距離計算の繰り返し期間である１フレーム期間（Ｔｆ）は、図２に示すように、パルス光ＬＰのそれぞれの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４，ＧＤのタイミングが異なる４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４と、それらの期間の間で第１〜第４の検出信号を読み出す期間である読出期間Ｒとを含んでいる。１フレーム期間（Ｔｆ）は、図２の（ａ）部に示すように、異なる長さの期間の４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４が循環して繰り返されてもよいし、図２の（ｂ）部、（ｃ）部、及び（ｄ）部のそれぞれに示すように、異なる期間の４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４が予め設定された任意の順番で繰り返されてもよい。
【００２２】
演算回路１２の電荷転送制御手段３２は、４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎に、パルス光ＬＰのそれぞれの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４の遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングを設定する。図３は、電荷転送制御手段３２によって設定された各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３における制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。なお、図３には、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３に関するタイミングチャートを示しているが、サブフレーム期間Ｆ４についても、サブフレーム期間Ｆ３における制御パルスＧ１〜Ｇ４の遅れ時間からさらにシフトするように設定される。
【００２３】
具体的には、サブフレーム期間Ｆ１においては、期間ＴＣで周期的に繰り返されるパルス光ＬＰの発生タイミングと一致するように制御パルスＧ１のタイミングが設定され、その直後に互いに時間的に重ならないように連続して順次制御パルスＧ２〜Ｇ４のタイミングが設定され、制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加期間以外の期間において制御パルスＧＤが印加されるように設定される。このサブフレーム期間Ｆ１の直後に読出期間Ｒが設定される。これに対して、サブフレーム期間Ｆ２においては、サブフレーム期間Ｆ１と比較して、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間（以下、この遅れ時間を「レンジシフト」ともいう。）が＋４Ｔ０でシフトするように制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングが設定される。このシフト幅は、＋４Ｔ０には限定されず、＋３Ｔ０等の他のシフト幅であってもよい。同様に、サブフレーム期間Ｆ３においては、サブフレーム期間Ｆ２と比較して、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が＋４Ｔ０でシフトするように制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングが設定される。
【００２４】
図４は、電荷転送制御手段３２によって設定された各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３における制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングの別の例を示すタイミングチャートである。この例では、サブフレーム期間Ｆ２においては、サブフレーム期間Ｆ１と比較して、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が＋２Ｔ０でシフトするように制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングが設定される。同様に、サブフレーム期間Ｆ３においては、サブフレーム期間Ｆ２と比較して、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が＋２Ｔ０でシフトするように制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングが設定され、サブフレーム期間Ｆ４とサブフレーム期間Ｆ３との間の関係も同様に設定される。
【００２５】
また、演算回路１２によって設定される各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎の長さは、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内でのパルス光ＬＰの繰り返し回数Ｎ１、Ｎ２、Ｎ３、Ｎ４（Ｎ１〜Ｎ４は整数）に比例した長さＮ１・ＴＣ、Ｎ２・ＴＣ、Ｎ３・ＴＣ、Ｎ４・ＴＣとなり、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が長くなるほど長くなるように設定される。言い換えれば、演算回路１２によって、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内でのパルス光ＬＰの繰り返し回数Ｎ１、Ｎ２、Ｎ３、Ｎ４は、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が長くなるほど多くなるように設定される。これは、対象物での反射光の強度が対象物の距離の二乗に反比例することから、パルス光ＬＰの画素回路１３への取り込み回数を遅れ時間のシフト量に依存するように設定することを意味する。すなわち、各サブフレーム期間ＦＫ（Ｋ＝１，２，３，４）の長さは、その長さが下記式（１）で計算される重み付け係数ＷＫで重み付けされるように設定される。
【数１】
2019078366.tif 000003
【００２６】
上記式（１）中、Ｎｅｘｐは所定の定数であり、例えば、Ｎｅｘｐ＝２の場合は、取り込み回数の重み付け係数は、Ｗ１＝１／３０、Ｗ２＝４／３０、Ｗ３＝９／３０、Ｗ４＝１６／３０となる。結果として、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４間での取り込み回数はレンジシフトが大きくなるほど増加するように重み付けされる。
【００２７】
図１に戻って、演算回路１２の距離計算手段は、各画素回路１３ごとの距離の計算を１フレーム期間ごとに繰り返し実行し、その結果得られた距離情報を含む距離画像を繰り返し生成する。詳細には、距離計算手段は、図２の（ａ）部に示した読出期間Ｒのタイミングごとに（すなわち、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４の終了タイミングに合わせて）、読出期間Ｒで読み出された第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を対象に下記の距離計算を繰り返し行い、その結果得られた有効な距離計算結果の１フレーム期間内での平均値を距離情報とする。その一方で、図２の（ａ）部〜（ｄ）部に示されたサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４の構成が採用される際には、距離計算手段は、１フレーム期間内で４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎にそれぞれの第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４の値を合算し、合算した第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を対象に距離の計算を実行し、その結果のうちの有効な距離計算の結果を纏めて（平均化等して）距離情報としてもよい。
【００２８】
距離計算手段を構成する距離データ有効性判定信号生成手段３３は、パルス光ＬＰの発光タイミングに対応して画素回路１３から出力された第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基に、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４のうち、背景光の信号成分を除いた入射パルス光ＬＲから発生した電荷の信号成分の合計値を、距離データ有効性判定信号ＳＡとして生成する。この距離データ有効性判定信号ＳＡは、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４が入射パルス光ＬＲを強く反映したものであるかを示す信号であり、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基にした距離の計算が有効であるかを判定するための信号である。距離データ有効性判定手段３４は、距離データ有効性判定信号ＳＡを基に、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基にした距離の計算が有効であるかを判定する。具体的には、距離データ有効性判定手段３４は、距離データ有効性判定信号ＳＡを所定の閾値Ｔｈ１と比較し、距離データ有効性判定信号ＳＡが閾値Ｔｈ１を超えた場合には距離の計算が有効であると判定し、距離データ有効性判定信号ＳＡが閾値Ｔｈ１以下である場合には距離の計算が無効であると判定する。無効画素識別値生成手段３５は、距離データ有効性判定手段３４の判定結果を基に、画素回路１３に対応する画素ごとに距離計算が無効であるか否かを示す識別値を生成する。
【００２９】
距離計算手段のうちの距離計算参照信号生成手段３６は、パルス光ＬＰの発光タイミングに対応して画素回路１３から出力された第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基に、距離の計算の基礎となる距離計算参照信号を生成する。具体的には、距離計算参照信号生成手段３６は、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４のうちの一方の検出信号の組Ｓ１，Ｓ３の差の値Ｓ１−３の差と距離データ有効性判定信号ＳＡとの比を計算することにより、第１の距離計算参照信号ＸＲを生成する。加えて、距離計算参照信号生成手段３６は、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４のうちの他方の検出信号の組Ｓ２，Ｓ４の差の値Ｓ２−４の差と距離データ有効性判定信号ＳＡとの比を計算することにより、第２の距離計算参照信号ＹＲを生成する。
【００３０】
距離計算手段のうちの距離計算参照信号選択手段３７は、第１及び第２の距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲを基に対象物Ｓの位置が測定可能な範囲か否かを判定し、測定可能な範囲である場合に第１及び第２の距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲのいずれかを有効な値として距離画像生成手段３８に出力する。例えば、距離計算参照信号選択手段３７は、距離計算参照信号ＸＲの値が“０”以上であり、かつ、距離計算参照信号ＹＲの値がＴｈ３以下であるか否かを判定することにより、距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲの有効／無効を判定する。さらに、距離計算参照信号選択手段３７は、第１の距離計算参照信号ＸＲと閾値Ｔｈ２との比較結果に応じて、第１及び第２の距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲのいずれかを選択し、選択した第１及び第２の距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲを有効な値として距離画像生成手段３８に出力する。
【００３１】
距離計算手段のうちの距離画像生成手段３８は、距離計算が有効であると判定された場合は、各画素回路１３に関して距離計算参照信号選択手段３７によって選択されたいずれかの距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲを参照して各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎に距離を算出し、それらの平均から距離情報を算出する。そして、距離画像生成手段３８は、各画素回路１３に対応する距離情報を含む距離画像を生成して外部装置に出力する。出力先の外部装置としては、例えば、表示装置、通信インターフェース装置等の出力デバイスが挙げられる。この際、距離画像生成手段３８は、全てのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４について距離計算が無効であることを示す識別値が生成された画素あるいは全てのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４について距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲが測定可能範囲外であると判定された画素については距離画像に無効値を埋め込むことができる。
【００３２】
図５は、距離画像センサ１０による距離計算の原理を説明するためのタイミングチャートである。図５には、距離画像センサ１０によって制御される各種信号のタイミングおよび画素回路１３の各領域に電荷が蓄積されるタイミングを示しており、上から順番に、パルス光ＬＰの発光タイミング、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４及び制御パルスＧＤの印加タイミング、第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４における電荷蓄積タイミングを示している。このように、パルス光ＬＰの持続時間Ｔ０の発光タイミングに対応して、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４が互いに重ならないように続けて持続時間Ｔ０で印加されている。このようにすれば、入射パルス光ＬＲが光電変換されることにより光電変換領域２１に蓄積された電荷が、入射パルス光ＬＲのパルス光ＬＰに対する遅れ時間ＴＤに対応した比率で、２つの電荷読出領域２２２，２２３、あるいは２つの電荷読出領域２２３，２２４に分配される。
【００３３】
ここでは、パルス光ＬＰの持続時間Ｔ０の発光タイミングと、第１の制御パルスＧ１の印加タイミングとの関係を設定することで、電荷読出領域２２１には、制御パルスＧ１で規定される時間ウィンドウで背景光及び暗電流等のノイズに起因する電荷量ＮＢの電荷のみが輸送される。これに対して、入射パルス光ＬＲの到達タイミングが制御パルスＧ２，Ｇ３で規定される２つの時間ウィンドウにまたがった場合には、電荷読出領域２２２には電荷量ＮＢに遅れ時間ＴＤに対応して分配された電荷量Ｎｓｍ１が加算された電荷が輸送される一方、電荷読出領域２２３には、電荷量ＮＢに遅れ時間ＴＤに対応して分配された電荷量Ｎｓｍ２が加算された電荷が輸送される。
【００３４】
その一方で、入射パルス光ＬＲの到達タイミングが制御パルスＧ３，Ｇ４で規定される２つの時間ウィンドウにまたがった場合には、電荷読出領域２２３には電荷量ＮＢに遅れ時間ＴＤに対応して分配された電荷量Ｎｓｍ１が加算された電荷が輸送される一方、電荷読出領域２２４には、電荷量ＮＢに遅れ時間ＴＤに対応して分配された電荷量Ｎｓｍ２が加算された電荷が輸送される。このような現象を利用して、距離画像センサ１０の演算回路１２においては、パルス光ＬＰのそれぞれの発光タイミングに応じて、電荷量ＮＢを除いた電荷量Ｎｓｍ１と電荷量ＮＢを除いた電荷量Ｎｓｍ２との比率を計算することにより、遅れ時間ＴＤに対応した対象物Ｓの距離を計算することができる。
【００３５】
次に、距離画像センサ１０による距離計算の手順の詳細を説明するとともに、本実施形態にかかる距離画像測定方法（以下では、「４タップ３ゾーン４サブフレーム方式」とも言う。）について説明する。なお、この処理は、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４単位で実行される。図６は、距離画像センサ１０によって扱われる各種信号のタイミングチャート、及び計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。図６において、（ａ）部から（ｅ）部には、それぞれ、制御パルスＧ１〜Ｇ４及びパルス光ＬＰのタイミングを示し、（ｆ）部〜（ｎ）部には、それぞれ、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４の値、差分値Ｓ１−３，Ｓ２−４の値、距離データ有効性判定信号ＳＡの値、及び距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲの値を、遅れ時間ＴＤに対応して示し、（ｏ）部には、遅れ時間ＴＤにおけるデータ有効範囲を示し、（ｐ）部には、遅れ時間ＴＤにおける測定可能範囲を示す。なお、図６には、サブフレーム期間Ｆ１を対象にした距離計算において扱われる各種信号および値を示しているが、サブフレーム期間Ｆ２〜Ｆ４を対象にした距離計算においても遅れ時間ＴＤがシフトする点以外は同様である。
【００３６】
まず、距離画像センサ１０による距離画像の生成処理が開始されると、演算回路１２の光源制御手段３１及び電荷転送制御手段３２によって、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４によって構成される１フレームの期間内で制御パルスＧ１〜Ｇ４及びパルス光ＬＰのタイミングが制御される（光源制御ステップ、電荷転送制御ステップ）。詳細には、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４において、パルス光ＬＰのタイミングが定期的なタイミングに設定され、このタイミングを基準に制御パルスＧ１〜Ｇ４が持続時間Ｔ１＝Ｔ０で互いに重複しないような連続したタイミングに設定され、制御パルスＧＤが制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加期間以外の期間に印加されるように設定される。その後、読出期間Ｒにおいて、各画素回路１３の電圧検出手段２６１〜２６４によって、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４が読み出され、それらの検出信号Ｓ１〜Ｓ４が演算回路１２に出力される（電圧検出ステップ）。
【００３７】
次に、各画素回路１３から出力された検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基に、演算回路１２によってサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４単位での画素ごとの距離情報が計算される（距離計算ステップ）。すなわち、距離データ有効性判定信号生成手段３３によって、検出信号Ｓ１，Ｓ３を基に、下記式（２）；
Ｓ１−３＝Ｓ１−Ｓ３…（２）
を用いて、検出信号Ｓ１，Ｓ３の差分値Ｓ１−３が計算されてから、その差分値の絶対値｜Ｓ１−３｜が計算される。加えて、距離データ有効性判定信号生成手段３３によって、検出信号Ｓ２，Ｓ４を基に、下記式（３）；
Ｓ２−４＝Ｓ２−Ｓ４…（３）
を用いて、検出信号Ｓ２，Ｓ４の差分値Ｓ２−４が計算されてから、その差分値の絶対値｜Ｓ２−４｜が計算される。さらに、距離データ有効性判定信号生成手段３３によって、差分値の絶対値｜Ｓ１−３｜と差分値の絶対値｜Ｓ２−４｜が加算されることにより、下記式（４）；
ＳＡ＝｜Ｓ１−３｜＋｜Ｓ２−４｜…（４）
を用いて、距離データ有効性判定信号ＳＡの値が計算される。そして、距離データ有効性判定手段３４は、距離データ有効性判定信号ＳＡの値を閾値Ｔｈ１と比較することにより、検出信号Ｓ１〜Ｓ４を用いた距離の計算が有効であるか否かを判定する。例えば、閾値Ｔｈ１を“０”近傍に設定することにより、図６の（ｏ）部に示すように、遅れ時間ＴＤの“−１”〜“０”の間の値から“３”〜“４”の間の値までの範囲が、距離の計算が有効な範囲である「データ有効範囲」であると判定される。さらに、距離計算参照信号生成手段３６によって、検出信号Ｓ１とＳ３との差の値Ｓ１−３と距離データ有効性判定信号ＳＡの値との比を計算することにより、下記式（５）；
ＸＲ＝１−Ｓ１−３／ＳＡ…（５）
を用いて第１の距離計算参照信号ＸＲの値が計算されると共に、検出信号Ｓ２とＳ４との差の値Ｓ２−４と距離データ有効性判定信号ＳＡの値との比を計算することにより、下記式（６）；
ＹＲ＝２−Ｓ２−４／ＳＡ…（６）
を用いて第２の距離計算参照信号ＹＲの値が計算される。
【００３８】
次に、距離計算参照信号選択手段３７により、距離計算参照信号ＸＲの値が所定範囲にあるか否かが判定されることにより、距離計算のために参照する値が、距離計算参照信号ＸＲと距離計算参照信号ＹＲとのうちから選択される。例えば、距離計算参照信号ＸＲの値が“０”以上閾値Ｔｈ２以下の場合は距離計算参照信号ＸＲが選択され、距離計算参照信号ＸＲの値が閾値Ｔｈ２を超えている場合は距離計算参照信号ＹＲが選択される。このような判定により、対象物Ｓの位置に応じて、入射パルス光ＬＲの入射タイミングが重複した時間ウィンドウの検出信号が反映された距離計算参照信号を選択することができる。さらに、距離計算参照信号選択手段３７により、選択された距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲの値が所定範囲にあるか否かが判定されることにより、対象物Ｓが測定可能な範囲にあるかが判定される。例えば、距離計算参照信号ＸＲの値が“０”以上であるか否かが判定され、距離計算参照信号ＹＲの値が閾値Ｔｈ３以下であるか否かが判定される。このような判定により、対象物Ｓが近すぎて検出信号Ｓ２の時間ウィンドウから入射パルス光ＬＲが外れて距離計算参照信号ＸＲの値に距離が反映されていない場合、及び、対象物Ｓが遠すぎて検出信号Ｓ３の時間ウィンドウから入射パルス光ＬＲが外れて距離計算参照信号ＹＲの値に距離が反映されていない場合を、距離計算から除外することができる。例えば、閾値Ｔｈ３を“３”近傍に設定することにより、図６の（ｐ）部に示すように、遅れ時間ＴＤの“０”から“３”の近傍までの範囲が「測定可能範囲」であると判定される。
【００３９】
最後に、距離画像生成手段３８は、「データ有効範囲」にあると判定され、かつ、「測定可能範囲」にあると判定された場合に、該当画素に関して選択された距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲを基に対象物Ｓの距離が算出され、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４の算出結果を平均化して距離情報が算出され、算出した各画素の距離情報を含む距離画像が生成および出力される。
【００４０】
上述した手順によれば、入射パルス光ＬＲによって生じる電荷量を４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内の検出信号Ｓ１〜Ｓ４に対応する４×４＝１６個の時間ウィンドウに分配することができるので、遅れ時間ＴＤに対応した計算可能な範囲を広げることができ、かつ、時間ウィンドウの時間幅も小さくすることができる。さらに、距離計算参照信号ＸＲ，ＹＲのうちで遅れ時間ＴＤに対して線形に変化する値を選んで距離の計算を行うので、対象物Ｓが位置する範囲に対応して適切な距離データ参照信号の値を利用して距離を計算することができ、対象物Ｓの位置にかかわらず精度の高い画像信号を生成することができる。
【００４１】
ここで、上述した計算手順では、１つのサブフレームにおける測定可能な距離範囲が、時間Ｔ０の幅の４つの時間ウィンドウに対して３つの時間ウィンドウ未満に相当する距離範囲である。そのため、図３に示したような各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３の制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングでは、距離測定できない距離範囲が生ずる可能性がある。このようなことを防ぐためには、図４に示したような各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３の制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングの設定方式を採用することが好ましい。ただし、この場合は４つのサブフレームで測定可能な距離範囲に相当する時間ウィンドウが２×４＝８個の時間ウィンドウとなる。
【００４２】
上述した距離画像センサ１０による距離計算は、次のような別の手順（以下では、「４タップ４ゾーン４サブフレーム方式」とも言う。）で行われてもよい。この手順によれば、遅れ時間ＴＤにおける「データ有効範囲」および「測定可能範囲」を広げることができる。図７は、距離画像センサ１０による別の計算手順で扱われる各種信号のタイミングチャート、及び別の計算手順において計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。図７において、（ａ）部から（ｅ）部には、それぞれ、制御パルスＧ１〜Ｇ４及びパルス光ＬＰのタイミングを示し、（ｆ）部〜（ｏ）部には、それぞれ、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４の値、差分値Ｓ１−３，Ｓ２−４の値、距離データ有効性判定信号ＳＡの値、及び距離計算参照信号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の値を、遅れ時間ＴＤに対応して示し、（ｐ）部には、遅れ時間ＴＤにおけるデータ有効範囲を示し、（ｑ）部には、遅れ時間ＴＤに対応して計算される比較信号Ｐ２〜Ｐ４の値、（ｒ）部には、遅れ時間ＴＤにおける測定可能範囲を示す。なお、図７には、サブフレーム期間Ｆ１を対象にした距離計算において扱われる各種信号および値を示しているが、サブフレーム期間Ｆ２〜Ｆ４を対象にした距離計算においても遅れ時間ＴＤがシフトする点以外は同様である。
【００４３】
まず、距離画像センサ１０による距離画像の生成処理が開始されると、演算回路１２の光源制御手段３１及び電荷転送制御手段３２によって、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４によって構成される１フレームの期間内で制御パルスＧ１〜Ｇ４及びパルス光ＬＰのタイミングが制御される（光源制御ステップ、電荷転送制御ステップ）。詳細には、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４において、パルス光ＬＰのタイミングが定期的なタイミングに設定され、このタイミングを基準に制御パルスＧ１〜Ｇ４が持続時間Ｔ１＝Ｔ０で互いに重複しないような連続したタイミングに設定され、制御パルスＧＤが制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加期間以外の期間に印加されるように設定される。ここでは、パルス光ＬＰの点灯タイミングの直前に制御パルスＧ３がオンされてから、４つの制御パルスＧ１〜Ｇ４が連続してオンされた直後に、再度制御パルスＧ１がオンされる。その後、読出期間Ｒにおいて、各画素回路１３の電圧検出手段２６１〜２６４によって、第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４が読み出され、それらの検出信号Ｓ１〜Ｓ４が演算回路１２に出力される（電圧検出ステップ）。
【００４４】
次に、各画素回路１３から出力された検出信号Ｓ１〜Ｓ４を基に、演算回路１２によってサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４単位での画素ごとの距離情報が計算される（距離計算ステップ）。すなわち、距離データ有効性判定信号生成手段３３によって、検出信号Ｓ１，Ｓ３の差分値Ｓ１−３及び検出信号Ｓ２，Ｓ４の差分値Ｓ２−４が計算される。加えて、距離データ有効性判定信号生成手段３３によって、差分値Ｓ１−３及び差分値Ｓ２−４の絶対値を基に、距離データ有効性判定信号ＳＡの値が計算される。そして、距離データ有効性判定手段３４は、距離データ有効性判定信号ＳＡの値を閾値Ｔｈ１と比較することにより、検出信号Ｓ１〜Ｓ４を用いた距離の計算が有効であるか否かを判定する。例えば、閾値Ｔｈ１を“０”近傍に設定することにより、図７の（ｐ）部に示すように、遅れ時間ＴＤの“−１”〜“０”の間の値から“４”〜“５”の間の値までの範囲が、距離の計算が有効な範囲である「データ有効範囲」であると判定される。さらに、距離計算参照信号生成手段３６によって、検出信号Ｓ１とＳ３との差の値Ｓ１−３と距離データ有効性判定信号ＳＡの値との比を計算することにより、下記式（７）；
Ｒ１＝１−Ｓ１−３／ＳＡ…（７）
を用いて距離計算参照信号Ｒ１の値が計算され、検出信号Ｓ２とＳ４との差の値Ｓ２−４と距離データ有効性判定信号ＳＡの値との比を計算することにより、下記式（８）；
Ｒ２＝２−Ｓ２−４／ＳＡ…（８）
を用いて距離計算参照信号Ｒ２の値が計算され、検出信号Ｓ１とＳ３との差の値Ｓ１−３と距離データ有効性判定信号ＳＡの値との比を計算することにより、下記式（９）；
Ｒ３＝３＋Ｓ１−３／ＳＡ…（９）
を用いて距離計算参照信号Ｒ３の値が計算される。
【００４５】
距離計算参照信号選択手段３７により、距離計算参照信号Ｒ１〜Ｒ３の値が閾値と比較されることにより、距離計算のために参照する値が、距離計算参照信号Ｒ１〜Ｒ３の中から選択される。例えば、距離計算参照信号Ｒ１が閾値Ｔｈ２以下であり、かつ、距離計算参照信号Ｒ２が閾値Ｔｈ５以下である場合は、距離計算参照信号Ｒ１が選択される。その一方で、距離計算参照信号Ｒ１が閾値Ｔｈ２を超えており、かつ、距離計算参照信号Ｒ２が閾値Ｔｈ５以下である場合は、距離計算参照信号Ｒ２が選択される。さらに、距離計算参照信号Ｒ２が閾値Ｔｈ５を超えている場合は、距離計算参照信号Ｒ３が選択される。このような判定により、対象物Ｓの位置に応じて、入射パルス光ＬＲの入射タイミングが重複した時間ウィンドウの検出信号が反映された距離計算参照信号を選択することができる。
【００４６】
さらに、距離計算参照信号選択手段３７により、選択された距離計算参照信号Ｒ１，Ｒ３の値が所定範囲にあるか否かが判定されることにより、対象物Ｓが測定可能な範囲にあるかが判定される。例えば、距離計算参照信号Ｒ１の値が“０”以上であるか否かが判定され、距離計算参照信号Ｒ３の値が閾値Ｔｈ６以下であるか否かが判定される。このような判定により、対象物Ｓが近すぎて検出信号Ｓ２の時間ウィンドウから入射パルス光ＬＲが外れて距離計算参照信号Ｒ１の値に距離が反映されていない場合、及び、対象物Ｓが遠すぎて検出信号Ｓ４の時間ウィンドウから入射パルス光ＬＲが外れて距離計算参照信号Ｒ３の値に距離が反映されていない場合を、距離計算から除外することができる。例えば、閾値Ｔｈ６を“４”近傍に設定することにより、図７の（ｒ）部に示すように、遅れ時間ＴＤの“０”から“４”の近傍までの範囲が「測定可能範囲」であると判定される。また、図７の（ｑ）部には、距離計算参照信号Ｒ１を閾値Ｔｈ２と比較した結果得られる比較信号Ｐ２、距離計算参照信号Ｒ２を閾値Ｔｈ５と比較した結果得られる比較信号Ｐ３、及び距離計算参照信号Ｒ３を閾値Ｔｈ６と比較した結果得られる比較信号Ｐ４を示している。
【００４７】
最後に、距離画像生成手段３８は、「データ有効範囲」にあると判定され、かつ、「測定可能範囲」にあると判定された場合に、該当画素に関して選択された距離計算参照信号Ｒ１〜Ｒ３を基に対象物Ｓの距離が算出され、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４の算出結果を平均化して距離情報が算出され、算出した各画素の距離情報を含む距離画像が生成および出力される。
【００４８】
上述した手順によれば、入射パルス光ＬＲによって生じる電荷量を４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内の連続する４つの制御パルスＧ１〜Ｇ４に対応する４×４＝１６個の時間ウィンドウに分配することができるので、遅れ時間ＴＤの計算可能な範囲を広げることができ、かつ、時間ウィンドウの時間幅も小さくすることができる。さらに、距離計算参照信号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３のうちで遅れ時間ＴＤに対して線形に変化する値を選んで距離の計算を行うので、対象物Ｓが位置する範囲に対応して適切な距離データ参照信号の値を利用して距離を計算することができ、対象物Ｓの位置にかかわらず精度の高い画像信号を生成することができる。
【００４９】
ここで、上述した計算手順では、１つのサブフレームにおける測定可能な距離範囲が、時間Ｔ０の幅の５つの時間ウィンドウに対して４つの時間ウィンドウ未満に相当する距離範囲である。そのため、図３に示したような各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３の制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングでは、距離測定できない距離範囲が生ずる可能性がある。このようなことを防ぐためには、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３の制御パルスＧ１〜Ｇ４のタイミングを、互いに＋３Ｔ０シフトさせる方式を採用することが好ましい。ただし、この場合は４つのサブフレームで測定可能な距離範囲に相当する時間ウィンドウが３×４＝１２個の時間ウィンドウとなる。
【００５０】
上述した本実施形態の作用効果を説明する。
【００５１】
本実施形態の距離画像センサ１０によれば、１フレーム期間内に含まれる４つのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内で光源１１から定期的に繰り返しパルス光ＬＰが発生し、パルス光ＬＰの発生に対応して、パルス光ＬＰの持続時間Ｔ０以上の持続時間Ｔ１の時間ウィンドウが順次設定され、その時間ウィンドウで画素回路１３の光電変換領域２１から第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４に順次電荷が転送されるとともに、その時間ウィンドウ以外の期間では光電変換領域２１から電荷排出領域２３に電荷が排出される。さらに、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４ごとに画素回路１３の第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４から第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４が読み出され、それらをもとに距離が繰り返し計算される。このとき、４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４ごとに、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する時間ウィンドウの遅れ時間（レンジシフト）が異なる時間にシフトするように設定されている。
【００５２】
このように、画素回路１３単位での時間ウィンドウのレンジシフトおよびサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４間での時間ウィンドウのレンジシフトを組み合わせることによって、デューティ比の小さい多数の時間ウィンドウを使った電荷の検出が可能とされる。例えば、図３の例によれば、４×３＝１２種類のレンジシフトの時間ウィンドウが設定される。図４の例によれば、８種類のレンジシフトの時間ウィンドウが設定される。その結果、様々な距離計測範囲の対象物Ｓを対象にした場合であっても、検出信号における背景光ノイズの影響が低減され、距離分解能の高い距離計算が実現されるとともに、強い背景光に起因した検出信号の飽和による距離計算の誤差も防止できる。
【００５３】
また、距離画像センサ１０においては、演算回路１２の距離計算手段により、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎に距離が計算されている。この場合、対象物Ｓの距離計測範囲に応じて距離分解能の高い距離の計算が可能となる。
【００５４】
また、距離画像センサ１０においては、１フレーム期間内のそれぞれのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内におけるパルス光ＬＰの繰り返し回数は、レンジシフトのシフト時間が長くなるほど多くなるように重み付けされている。これにより、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎の測距範囲に応じて、遠い測距範囲のフレームに関しては光パルスの投光回数（画素内での電荷の蓄積回数）を多くし、近い測距範囲のフレームに対しては投光回数（画素内での電荷の蓄積回数）を少なくでき、距離分解能を高めることができる。特に、入射パルス光ＬＲの強度は距離の二乗に反比例して弱くなることから、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４を測距距離の二乗で重み付けしている。これにより、距離分解能が最も低下する最長の測距距離のサブフレーム期間に対してより多くの投光回数を割り当てることができ、距離分解能の最低値（最長の測距距離のサブフレーム期間で起こりうる）を改善することができる。例えば、サブフレーム期間の間で均等に投光回数を割り当てた場合と比較して距離分解能の最低値が２１／２倍改善する。その結果、距離の遠い距離計測範囲における距離分解能の低下を防止でき、全体として効率的に距離分解能を維持することができる。
【００５５】
さらに、距離画像センサ１０においては、重み付けされて設定された期間のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４ごとに、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加に応じて発生したそれぞれの第１〜第４の電荷読出領域２２１〜２２４の電圧が第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４として読み出され、それらを用いて距離の計算が実行されている。この場合、強い背景光に起因した検出信号Ｓ１〜Ｓ４の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【００５６】
次に、本実施形態における距離分解能の向上の効果を、比較例と比較しつつ説明する。
【００５７】
なお、以下に示すシミュレーションの前提条件を以下の表に示す。
【表１】
2019078366.tif 000004
【００５８】
図８及び図９には、０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の距離分解能のシミュレーション結果を比較例と比較して示している。図８では、１００ｋｌｕｘの背景光下での計測における分解能、図９では、０ｌｕｘの背景光下での計測における分解能が示される。比較例１は、サブフレーム毎に１種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内でサブフレームを１種類とした場合、比較例２は、サブフレーム毎に２種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内でサブフレームを１種類とした場合、比較例３は、サブフレーム毎に３種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内でサブフレームを１種類とした場合、比較例４は、サブフレーム毎に４種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内でサブフレームを１種類とした場合、をそれぞれ示している。実施例１は、サブフレーム毎に４種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内の２種類のサブフレーム期間でサブフレームのレンジシフトを２種類にシフトさせた場合、実施例２は、サブフレーム毎に４種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内の３種類のサブフレーム期間でサブフレームのレンジシフトを３種類にシフトさせた場合、実施例３は、サブフレーム毎に４種類のレンジシフトを設定し、１フレーム期間内の４種類のサブフレーム期間でサブフレームのレンジシフトを４種類にシフトさせた場合、をそれぞれ示している。ただし、実施例１〜３では、複数のサブフレーム期間の長さの重み付けは行わず、複数のサブフレーム期間の長さは１フレーム期間内で均等と設定されていることを想定している。
【００５９】
図８に示すように、比較例１では６ｍの距離計測において約７ｍの分解能が見積もられているのに対して、実施例１〜３においては、サブフレーム期間の個数を増やすに従って分解能が改善され、実施例３では６ｍの距離計測で２０ｃｍの分解能にまで向上することが判明した。また、図９に示すように、比較例１では６ｍの距離計測において約５．５ｃｍの分解能が見積もられているのに対して、実施例１〜３においては、サブフレーム期間の個数を増やすに従って分解能が改善され、実施例３では６ｍの距離計測で８ｍｍの分解能にまで向上することが判明した。
【００６０】
また、図１０には、１００ｋｌｕｘの背景光下で０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の距離分解能のシミュレーション結果を、サブフレーム期間の長さを重み付けした場合と重み付けしない場合とを比較して示している。グラフＲＧ１５は、実施例３において定数Ｎｅｘｐ＝０としてサブフレーム期間の長さを重み付けしない場合、グラフＲＧ１６は、実施例３において定数Ｎｅｘｐ＝２．５としてサブフレーム期間の長さを重み付けする場合を示している。この結果より、重み付けしない場合は６ｍまでの距離計測において距離分解能のワースト値が２１．５ｃｍであるのに対し、重み付けした場合は距離分解能のワースト値が１４ｃｍまで改善されている。
【００６１】
また、図１１には、１００ｋｌｕｘの背景光下で０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本実施形態の信号読み出し毎の発生電子数のシミュレーション結果を、比較例と比較して示している。グラフＣＧ１は、比較例４において１フレーム期間単位で信号読み出しを行う際の発生電子数を示し、グラフＣＧ２は、実施例３において、図２の（ｄ）部に示すように設定されたサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４単位で信号を読み出す際の発生電子数を示している。これらの結果に示すように、本実施形態では、広い計測範囲で信号読み出しにおける発生電子数が抑えられている。
【００６２】
このように、本実施形態では、サブフレーム毎の信号読み出しを行うことで、太陽光のような強い背景光に起因する大量の電荷による飽和を防止できる。また、画素の電荷検出部の飽和電子数を比較的低く設定できるので、画素に内蔵する電荷検出のためのキャパシタのサイズを小さくできる。例えば、電子数を１００，０００個以下にできれば、１０ｆＦのキャパシタで１００ｋｌｕｘの背景光まで対応できる。キャパシタを小さくできることにより、変換利得を大きくすることができ、ノイズに対しても有利となる。
【００６３】
一方で、サブフレーム毎の信号読み出しを行うことで、読み出しノイズが加算され、距離計算の分解能が低下する可能性がある。しかしながら、強い背景光によるショットノイズが支配する状況下では、読み出し１回あたりのノイズを十分に小さくすることによってその影響を小さくすることができる。
【００６４】
なお、本発明は、上述した実施形態の態様に限定されるものではない。
【００６５】
上述した実施形態では、画素回路１３に４つの電荷読出領域２２１〜２２４が設けられているが、電荷読出領域は３つ以上であれば任意の個数で設けられていてもよい。その場合は、制御電極及び電圧検出手段は電荷読出領域の個数に対応して設けられ、演算回路１２は、それぞれの電荷読出領域から読み出された検出信号を基に距離情報を計算する。
【００６６】
また上述した実施形態では、１フレーム期間に４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４が含まれていたが、２以上のサブフレーム期間であれば任意の種類のサブフレーム期間を含んでいてもよい。その場合は、演算回路１２の電荷転送制御手段３２は、パルス光ＬＰの発生タイミングに対して、サブフレーム期間の種類の数に応じて、制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように制御パルスのタイミングを設定する。
【００６７】
上記実施形態では、演算回路１２の距離計算手段は、１フレーム期間内で４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎に第１〜第４の検出信号Ｓ１〜Ｓ４を対象に距離の計算を実行していた。しかし、そのような態様には限定されない。
【００６８】
例えば、距離計算手段は、２つのサブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２で跨って検出された検出信号を対象に距離の計算を実行してもよい。図１２を参照しながら、このような態様の変形例における、演算回路１２の距離計算手段による距離計算の手順の詳細を説明する。なお、本変形例では、２つのサブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２で跨って検出された検出信号を基に距離の計算が実行されているが、同様に、２つのサブフレーム期間Ｆ２，Ｆ３あるいは２つのサブフレーム期間Ｆ３，Ｆ４で跨って検出された検出信号を基に距離の計算が実行されてもよい。
【００６９】
図１２は、本変形例によって扱われる各種信号のタイミングチャート、及び計算される各種値の遅れ時間ＴＤに対する変化を示すグラフである。図１２において、（ａ）部〜（ｃ）部には、それぞれ、サブフレーム期間Ｆ１において印加される制御パルスＧ１（１）〜Ｇ４（１）、サブフレーム期間Ｆ２において印加される制御パルスＧ１（２）〜Ｇ４（２）、及びパルス光ＬＰのタイミングを示し、（ｄ）部〜（ｅ）部には、それぞれ、サブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２において検出される第１〜第４の検出信号Ｓ１（１）〜Ｓ４（１），Ｓ１（２）〜Ｓ４（２）の値を示している。また、図１２において、（ｆ）部〜（ｇ）部には、差分値Ｓ１−３（１），Ｓ１−３（２），Ｓ２−４（１），Ｓ２−４（２）の値、（ｈ）部〜（ｉ）部には、距離データ有効性判定信号ＳＡ（１），ＳＡ（２）の値、（ｊ）部〜（ｏ）部には、距離計算参照信号ＸＲ（１），ＹＲ（１），ＸＲ（Ｂ），ＹＲ（Ｂ），ＸＲ（２），ＹＲ（２）の値を、遅れ時間ＴＤに対応して示し、（ｐ）部には、遅れ時間ＴＤにおけるデータ有効範囲を示し、（ｑ）部には、遅れ時間ＴＤにおける測定可能範囲を示す。
【００７０】
本変形例にかかる演算回路１２は、上述した実施形態と同様にして、それぞれのサブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２において検出された検出信号Ｓ１（１）〜Ｓ４（１），Ｓ１（２）〜Ｓ４（２）を基に、差分値Ｓ１−３（１），Ｓ１−３（２），Ｓ２−４（１），Ｓ２−４（２）を計算する。そして、演算回路１２は、これらの差分値を基に、上述した実施形態と同様にして、各サブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２に対応した距離データ有効性判定信号ＳＡ（１），ＳＡ（２）の値を計算する。そして、それぞれの距離データ有効性判定信号ＳＡ（１），ＳＡ（２）の値が閾値Ｔｈ１と比較されることにより、それぞれの検出信号Ｓ１（１）〜Ｓ４（１），Ｓ１（２）〜Ｓ４（２）を用いた距離の計算が有効であるか否かが判定される。例えば、閾値Ｔｈ１を“０”近傍に設定することにより、図１２の（ｐ）部に示すように、遅れ時間ＴＤの“−１”〜“０”の間の値から“７”〜“８”の間の値までの範囲が、距離の計算が有効な範囲である「データ有効範囲」であると判定される。
【００７１】
さらに、上記実施形態と同様にして、サブフレーム期間Ｆ１に対応して、第１の距離計算参照信号ＸＲ（１）及び第２の距離計算参照信号ＹＲ（１）の値が計算される。それに加えて、本変形例では、２つのサブフレーム期間Ｆ１，Ｆ２に跨って検出された検出信号を基に、下記式（１０）及び（１１）を用いて、距離計算参照信号ＸＲ（Ｂ），ＹＲ（Ｂ）の値が計算される。
ＸＲ（Ｂ）＝３＋（Ｓ１−３（１）＋Ｓ１−３（２））／（ＳＡ（１）＋ＳＡ（２））…（１０）
ＹＲ（Ｂ）＝４＋（Ｓ２−４（１）＋Ｓ２−４（２））／（ＳＡ（１）＋ＳＡ（２））…（１１）
さらに、サブフレーム期間Ｆ２に対応して、第１の距離計算参照信号ＸＲ（２）及び第２の距離計算参照信号ＹＲ（２）の値が、下記式（１２）及び（１３）を用いて、計算される。
ＸＲ（２）＝５−Ｓ１−３（２）／ＳＡ（２）…（１２）
ＹＲ（２）＝６−Ｓ２−４（２）／ＳＡ（２）…（１３）
【００７２】
次に、本変形例にかかる演算回路１２によって、距離計算のために参照する値が、距離計算参照信号ＸＲ（１），ＸＲ（Ｂ），ＸＲ（２）と距離計算参照信号ＹＲ（１），ＹＲ（Ｂ），ＹＲ（２）とのうちから選択される。例えば、距離データ有効性判定信号ＳＡ（１）の値が閾値Ｔｈ１以上である場合には、上記実施形態と同様にして、距離計算参照信号ＸＲ（１），ＹＲ（１）の値に応じて、距離計算参照信号ＸＲ（１）及びＹＲ（１）のいずれかが選択される。距離データ有効性判定信号ＳＡ（２）の値が閾値Ｔｈ１以上である場合には、上記実施形態と同様にして、距離計算参照信号ＸＲ（２），ＹＲ（２）の値に応じて、距離計算参照信号ＸＲ（２）及びＹＲ（２）のいずれかが選択される。さらに、距離データ有効性判定信号ＳＡ（１），ＳＡ（２）のいずれかの値が閾値Ｔｈ１以上である場合であって、距離計算参照信号ＸＲ（１），ＸＲ（２）と距離計算参照信号ＹＲ（１），ＹＲ（２）とのうちからいずれの値も選択されなかった場合には、距離計算参照信号ＸＲ（Ｂ），ＹＲ（Ｂ）の値に応じて、距離計算参照信号ＸＲ（Ｂ）及びＹＲ（Ｂ）のいずれかが選択される。
【００７３】
最後に、本変形例にかかる演算回路１２によって、「データ有効範囲」にあると判定され、かつ、「測定可能範囲」にあると判定された場合に、該当画素に関して選択された距離計算参照信号ＸＲ（１），ＸＲ（Ｂ），ＸＲ（２），ＹＲ（１），ＹＲ（Ｂ），ＹＲ（２）を基に対象物Ｓの距離が算出され、全てのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４における算出結果を平均化して距離情報が算出され、算出した各画素の距離情報を含む距離画像が生成および出力される。
【００７４】
上述した手順によっても、入射パルス光ＬＲによって生じる電荷量を４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内の検出信号Ｓ１〜Ｓ４に対応する４×４＝１６個の時間ウィンドウに分配することができるので、遅れ時間ＴＤに対応した計算可能な範囲を広げることができ、かつ、時間ウィンドウの時間幅も小さくすることができる。さらに、距離計算参照信号ＸＲ（１），ＸＲ（Ｂ），ＸＲ（２），ＹＲ（１），ＹＲ（Ｂ），ＹＲ（２）のうちで遅れ時間ＴＤに対して線形に変化する値を選んで距離の計算を行うので、対象物Ｓが位置する範囲に対応して適切な距離データ参照信号の値を利用して、切れ目のない範囲の距離を計算することができ、対象物Ｓの位置にかかわらず精度の高い画像信号を生成することができる。例えば、１つのサブフレーム期間ごとに４つの時間ウィンドウを設定し、３つのサブフレーム期間毎に距離の計算を行うと、１１個の時間ウィンドウに対して入射パルス光ＬＲが入射した場合にシンプルな計算で距離を求めることができる。同様に、Ｍ個の時間ウィンドウが設定されたサブフレーム期間をＮ種類設定する場合は、連続したＭ×Ｎ−１個の時間ウィンドウに対応して入射パルス光ＬＲが入射した場合を想定して距離を計算することができる。
【００７５】
また、上述した実施形態では、４種類のサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４の間で、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４のうち少なくとも制御パルスＧ１の印加回数を変化させるように構成されてもよい。図１３を参照しながら、このような態様の変形例における、演算回路１２の電荷転送制御手段３２による制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加タイミングの制御の詳細を説明する。
【００７６】
図１３は、本変形例におけるサブフレーム期間Ｆ１でのパルス光ＬＰ及び第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の制御タイミングを示すタイミングチャートである。なお、図１３には、サブフレーム期間Ｆ１でのタイミング制御を示しているが、他のサブフレーム期間Ｆ２〜Ｆ４でのタイミング制御は、図３又は図４に示した制御状態と同一であってよい。
【００７７】
すなわち、本変形例の電荷転送制御手段３２では、パルス光ＬＰの印加タイミングに対する第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の遅れ時間が短いサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４において、順次印加される第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加回数のレート（単位時間当たりの印加回数）を、第４〜第１の制御パルスＧ４〜Ｇ１の順番で下げるように、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加タイミングを制御する。ただし、少なくとも第１の制御パルスＧ１の印加回数のレートが下げられていればよい。すなわち、図１３に示す例では、電荷転送制御手段３２は、遅れ時間が最も短いサブフレーム期間Ｆ１において、制御パルスＧ１〜Ｇ３の印加回数を間引くように制御し、サブフレーム期間Ｆ１内での間引き回数を、第３〜第１の制御パルスＧ３〜Ｇ１の順番で多くするように制御する。より具体的には、サブフレーム期間Ｆ１内での第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加回数が、それぞれ、Ｎ１・（１／４）、Ｎ１・（２／４）、Ｎ１・（３／４）、Ｎ１となるように制御される。
【００７８】
また、本変形例では、サブフレーム期間Ｆ１でのパルス光ＬＰ及び第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の制御タイミングが、図１４に示すように制御されてもよい。
【００７９】
すなわち、本変形例の電荷転送制御手段３２では、パルス光ＬＰの印加タイミングに対する第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の遅れ時間が短いサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４において、パルス光ＬＰの印加直後に印加される測定対象の距離範囲に相当する遅れ時間を持つ第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加回数のレートを、第４〜第１の制御パルスＧ４〜Ｇ１の順番で下げるように、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加タイミングを制御する。ただし、少なくとも第１の制御パルスＧ１の印加回数のレートが下げられていればよい。すなわち、図１４に示す例では、電荷転送制御手段３２は、遅れ時間が最も短いサブフレーム期間Ｆ１において、制御パルスＧ１〜Ｇ３の一部をパルス光ＬＰの印加直前の測定対象の距離範囲に相当しない遅れ時間のタイミングに変更するように制御し、サブフレーム期間Ｆ１内での印加タイミングの変更回数を、第３〜第１の制御パルスＧ３〜Ｇ１の順番で多くするように制御する。このように印加タイミングが変更された制御パルスＧ３〜Ｇ１の印加により、背景光のみが検出信号に反映されるようになる。より具体的には、サブフレーム期間Ｆ１内でのパルス光ＬＰの印加直後に印加される第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加回数が、それぞれ、Ｎ１・（１／４）、Ｎ１・（２／４）、Ｎ１・（３／４）、Ｎ１となるように制御される。
【００８０】
上記変形例によれば、近い距離計測範囲の対象物Ｓを対象にした場合に検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。すなわち、近距離領域の対象物Ｓを対象にした場合には、強い入射パルス光ＬＲに起因して発生電子数が非常に多くなり、画素回路１３における飽和電子数を超える可能性がある。本変形例では、近距離領域の測定のための時間ウィンドウが設定されたサブフレーム期間においては時間ウィンドウによる電荷取り込み回数を少なくして発生電子数を抑えている。その結果、画素回路１３における発生電子数を飽和電子数の範囲に収めることができ、遠距離領域の対象物Ｓを対象にした場合の距離分解能を十分に高めつつ、近距離領域の対象物を対象にした場合の距離分解能も十分な値に維持できる。
【００８１】
図１５には、０ｌｕｘの背景光下で０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本変形例の信号読み出し毎の発生電子数のシミュレーション結果を示している。グラフＣＧ３は、サブフレーム期間Ｆ１において第１の制御パルスＧ１の印加回数を１／４に間引きし、第２の制御パルスＧ２の印加回数を２／４に間引きした場合における１フレーム期間での発生電子数を示している。また、グラフＣＧ４は、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４を間引きしない場合における１フレーム期間での発生電子数を示している。これらの結果に示すように、本変形例では、約１ｍの距離までの近い計測範囲で信号読み出しにおける発生電子数が抑えられている。
【００８２】
また、図１６には、０ｌｕｘの背景光下で０．２〜６ｍの距離範囲を距離計測した際の本変形例における距離分解能のシミュレーション結果を示している。グラフＲＧ１７は、サブフレーム期間Ｆ１において第１の制御パルスＧ１の印加回数を１／４に間引きし、第２の制御パルスＧ２の印加回数を２／４に間引きした場合における距離分解能を示している。また、グラフＲＧ１８は、第１〜第４の制御パルスＧ１〜Ｇ４を間引きしない場合における距離分解能を示している。グラフＲＧ１７に示すように、本変形例では、制御パルスを間引きした場合でも距離分解能は０．８ｍの距離において約３．２ｍｍ以下に抑えられている。
【００８３】
また、上述した実施形態では、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎の長さが、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が長くなるほど長くなるように設定されている。その代わりに、変形例として、１フレーム期間内のそれぞれのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内におけるパルス光ＬＰの強度が、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４のそれぞれの遅れ時間が短くなるほど弱くなるように重み付けして設定されてもよい。
【００８４】
図１７には、このような態様の変形例における、演算回路１２の電荷転送制御手段３２及び光源制御手段３１による制御パルスＧ１〜Ｇ４の印加タイミング及びパルス光ＬＰの発生タイミングを示している。この変形例では、演算回路１２の光源制御手段３１によって、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ３内において発生するパルス光ＬＰの強度が、それぞれ、Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３（Ｉ１＜Ｉ２＜Ｉ３）と設定される。詳細には、光源１１が点光源であると想定できる場合、パルス光ＬＰの反射光が距離の２乗に反比例して減衰するので、下記式；
Ｉ１：Ｉ２：Ｉ３＝（１／３）２：（２／３）２：１＝１：４：９
に示すような重み付けによって設定される。サブフレーム期間Ｆ４内のパルス光ＬＰの強度も同様に設定される。この際、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内におけるパルス光ＬＰの繰り返し回数Ｎ１〜Ｎ４は、同等に設定される。
【００８５】
このような変形例によっても、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎の測距範囲に応じて、遠い測距範囲のフレームに関しては光パルスの投光強度を高くし、近い測距範囲のフレームに対しては投光強度を低くでき、距離分解能を高めることができる。特に、入射パルス光ＬＲの強度は距離の二乗に反比例して弱くなることから、光パルスの強度を測距距離の二乗で重み付けしている。これにより、距離分解能が最も低下する最長の測距距離のサブフレーム期間に対してより強いパルス光を使用することができ、距離分解能の最低値（最長の測距距離のサブフレーム期間で起こりうる）を改善することができる。その結果、距離の遠い距離計測範囲における距離分解能の低下を防止でき、全体として効率的に距離分解能を維持することができる。
【００８６】
また、他の変形例として、１フレーム期間内のそれぞれのサブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内において、パルス光ＬＰの発生タイミングに対する制御パルスＧ１〜Ｇ４の遅れ時間が短くなるほど、電荷読出領域２２１〜２２４の持つ容量が大きくなるように制御されてもよい。
【００８７】
図１８には、このような態様の変形例における画素回路１３の要部の等価回路図を示している。図１８において、フォトダイオードＤｉｊが光電変換領域２１に対応し、電荷排出用ＭＯＳトランジスタＱＤのゲート端子が第５の制御電極２５に対応し、転送用ＭＯＳトランジスタＱ１Ｔ〜Ｑ４Ｔのゲート端子がそれぞれ第１〜第４の制御電極２４１〜２４４に対応する。フォトダイオードＤｉｊから転送用ＭＯＳトランジスタＱ１Ｔ〜Ｑ４Ｔに至る静電誘導チャネル部は、自己のゲート端子が接地された接合型電界効果トランジスタＱＰ１，ＱＰ２で表される。直列接続された２つの接合型電界効果トランジスタＱＰ１，ＱＰ２の中間タップに、電荷排出用ＭＯＳトランジスタＱＤのソース端子が接続され、電荷排出用ＭＯＳトランジスタＱＤのドレイン端子が高電位の電源ＶＤＤに接続されている。等価回路上では、転送用ＭＯＳトランジスタＱ１Ｔ〜Ｑ４Ｔのそれぞれの一方の端部が接合型電界効果トランジスタＱＰ２にＴ字型に接続された構成として表される。
【００８８】
さらに、図１８に示すように、転送用ＭＯＳトランジスタＱ１Ｔ〜Ｑ４Ｔのそれぞれの他方の端部には、電荷読出領域２２１〜２２４、及び電圧検出手段２６１〜２６４が接続される。等価回路上は、電荷読出領域２２ｋ（ｋ＝１，２，３，４）は、ノードＤｋ、キャパシタ（容量素子）Ｃｋａ，Ｃｋｂ，Ｃｋｃ、及び容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｂ，Ｑｋｃで表され、電圧検出手段２６ｋ（ｋ＝１，２，３，４）は、ＭＯＳトランジスタＱｋＡ，ＱｋＳ、及び端子ＳＬｋで表される。
【００８９】
電荷読出領域２２ｋにおいては、ノードＤｋとグラウンドとの間には、電荷蓄積用のキャパシタＣｋａが接続され、それと並列に、容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｂと電荷蓄積用のキャパシタＣｋｂとの直列回路、及び、容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｃと電荷蓄積用のキャパシタＣｋｃとの直列回路が接続されている。そして、容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｂの４つのゲート端子が制御線ＳＣｂに接続され、容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｃの４つのゲート端子が制御線ＳＣｃに接続され、演算回路１２の電荷転送制御手段３２から制御線ＳＣｂ及び制御線ＳＣｃに与えられる制御信号によって、容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｂ及び容量スイッチ用ＭＯＳトランジスタＱｋｃのオン／オフが独立に制御可能とされている。その結果、電荷転送制御手段３２によって、電荷読出領域２２１〜２２４の持つ容量が、４通りで変化するように制御可能とされる。
【００９０】
ノードＤｋには、ノードＤｋの電荷量の変化に伴う電位変化を読み出すためのソースフォロア回路を構成する増幅トランジスタＱｋＡのゲート端子に接続され、ノードＤｋにはさらに、信号の読み出し後に信号電荷を初期化するためのリセットトランジスタＱｋＲが接続されている。また、増幅トランジスタＱｋＡのソース端子には、読出画素選択用のスイッチとしての選択トランジスタＱｋＳが接続され、選択トランジスタＱｋＳの出力は検出信号を読み出すための信号読出線Ｓｋに接続されている。
【００９１】
このような変形例においては、演算回路１２の電荷転送制御手段３２によって、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４において電荷を転送し検出信号を読み出す際に、電荷読出領域２２１〜２２３の持つ容量を、それぞれ、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３（Ｃ１＞Ｃ２＞Ｃ３）と設定する。詳細には、光源１１が点光源であると想定できる場合、パルス光ＬＰの反射光が距離の２乗に反比例して減衰するので、下記式；
Ｃ１：Ｃ２：Ｃ３＝１：（２／３）２：（１／３）２＝９：４：１
に示すような重み付けによって設定される。例えば、Ｃｋａ：Ｃｋｂ：Ｃｋｃ＝１：３：５とし、Ｃ１＝Ｃｋａ＋Ｃｋｂ＋Ｃｋｃ、Ｃ２＝Ｃｋａ＋Ｃｋｂ、Ｃ３＝Ｃｋａと設定するように制御することで、このような重み付けが実現される。電荷読出領域２２４の持つ容量も同様に設定される。この際、各サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４内におけるパルス光ＬＰの繰り返し回数Ｎ１〜Ｎ４は、同等に設定される。
【００９２】
このような変形例によっても、サブフレーム期間Ｆ１〜Ｆ４毎の測距範囲に応じて、遠い測距範囲のフレームに関しては電荷を蓄積する容量を小さく、近い測距範囲のフレームに対しては電荷を蓄積する容量を大きくでき、距離分解能を高めることができる。特に、入射パルス光ＬＲの強度は距離の二乗に反比例して弱くなることから、距離分解能が最も低下する最長の測距距離のサブフレーム期間に対してより小さい容量を使用することができ、距離分解能の最低値（最長の測距距離のサブフレーム期間で起こりうる）を改善することができる。その結果、距離の遠い距離計測範囲における距離分解能の低下を防止でき、全体として効率的に距離分解能を維持することができる。
【００９３】
ここで、上記実施形態では、距離計算手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のそれぞれにおいて第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された第１〜第Ｍの検出信号を用いて、距離を計算する、こととしてもよい。この場合、対象物の距離計測範囲に応じて距離分解能の高い距離の計算が可能となる。
【００９４】
また、距離計算手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のうちの２つのサブフレーム期間内において第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された第１〜第Ｍの検出信号を用いて、距離を計算する、こととしてもよい。この場合、対象物の複数の距離計測範囲に跨って切れ目のない距離の計算が可能となる。
【００９５】
また、１フレーム期間内のそれぞれの第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内におけるパルス光の繰り返し回数は、パルス光の発生タイミングに対する第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が長くなるほど多くなるように、重み付けされる、ことでもよい。これにより、距離の遠い距離計測範囲における距離分解能の低下を防止でき、全体として効率的に距離分解能を維持することができる。
【００９６】
さらに、電圧検出手段は、重み付けされて設定された期間のサブフレーム期間ごとに、第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて発生したそれぞれの第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出してもよい。この場合、強い背景光に起因した検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【００９７】
またさらに、電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、パルス光の発生タイミングに対する第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも第１の制御パルスの印加回数のレートを下げるように設定する、ことでもよい。かかる構成を採れば、近い距離計測範囲の対象物を対象にした場合に検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【００９８】
さらにまた、電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、パルス光の発生タイミングに対する第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも第１の制御パルスの印加回数を間引くように設定する、ことでもよい。かかる構成を採れば、近い距離計測範囲の対象物を対象にした場合に検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【００９９】
また、前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内における前記パルス光の強度は、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど弱くなるように、重み付けされる、ことでもよい。この場合、近い距離計測範囲の対象物を対象にした場合に検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【０１００】
また、前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内において、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の持つ容量が大きくなるように制御される、ことでもよい。この場合、近い距離計測範囲の対象物を対象にした場合に検出信号の飽和を防止できる結果、距離計測のダイナミックレンジを向上させることができる。
【０１０１】
また、画素回路部が２次元アレイ状に配列されたイメージセンサを含んでいてもよい。かかる構成によれば、対象物の位置にかかわらず精度の高い２次元距離情報を含む距離画像を生成することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０２】
本発明の一側面は、画素毎に距離情報を含む距離画像を生成する距離画像測定装置および距離画像測定方法を使用用途とし、様々な距離計測範囲の対象物を対象にして距離分解能が向上された画像信号を生成することができるものである。
【符号の説明】
【０１０３】
１０…距離画像センサ（距離画像測定装置）、１１…光源、１２…演算回路、１３…画素回路（画素回路部）、２１…光電変換領域、２２１〜２２４…電荷読出領域、２３…電荷排出領域、２４１〜２４４，２５…制御電極、２６１〜２６４…電圧検出手段、３１…光源制御手段、３２…電荷転送制御手段、３３…距離データ有効性判定信号生成手段、３４…距離データ有効性判定手段、３５…無効画素識別値生成手段、３６…距離計算参照信号生成手段、３７…距離計算参照信号選択手段、３８…距離画像生成手段、Ｆ１〜Ｆ４…サブフレーム期間、Ｇ１〜Ｇ４，ＧＤ…制御パルス、ＬＰ…パルス光、Ｓ…対象物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【手続補正書】
【提出日】平成31年4月5日(2019.4.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス光を発生させる光源と、
第１の持続時間を有する前記パルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように前記光源を制御する光源制御手段と、
光を電荷に変換する光電変換領域、前記光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、前記電荷を排出するための電荷排出領域、及び前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域とに対応してそれぞれ設けられ、前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域との間における電荷転送のための第１〜第Ｍ＋１の制御パルスを印加するための第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部と、
前記光源制御手段による前記パルス光の発生に対応して、前記第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ前記第１〜第Ｍの制御電極に前記第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に前記第Ｍ＋１の制御電極に前記第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御手段と、
前記電荷転送制御手段による前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、前記画素回路部の前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出手段と、
前記第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算手段とを備え、
前記電荷転送制御手段は、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、前記第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定し、
前記電圧検出手段は、重み付けされて設定された期間のサブフレーム期間ごとに、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて発生したそれぞれの前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を前記第１〜第Ｍの検出信号として読み出す、
距離画像測定装置。
【請求項２】
前記距離計算手段は、前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のそれぞれにおいて前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された前記第１〜第Ｍの検出信号を用いて、前記距離を計算する、
請求項１記載の距離画像測定装置。
【請求項３】
前記距離計算手段は、前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内のうちの２つのサブフレーム期間内において前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて検出された前記第１〜第Ｍの検出信号を用いて、前記距離を計算する、
請求項１又は２記載の距離画像測定装置。
【請求項４】
１フレーム期間内のそれぞれの第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内における前記パルス光の繰り返し回数は、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が長くなるほど多くなるように、重み付けされる、
請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項５】
（削除）
【請求項６】
前記電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される前記第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも前記第１の制御パルスの印加回数のレートを下げるように設定する、
請求項１〜４のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項７】
前記電荷転送制御手段は、第１〜第Ｎのサブフレーム期間の間で、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、順次印加される前記第１〜第Ｍの制御パルスのうちの少なくとも前記第１の制御パルスの印加回数を間引くように設定する、
請求項６に記載の距離画像測定装置。
【請求項８】
前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内における前記パルス光の強度は、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど弱くなるように、重み付けされる、請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項９】
前記１フレーム期間内のそれぞれの前記第１〜第Ｎのサブフレーム期間内において、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間が短くなるほど、前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の持つ容量が大きくなるように制御される、
請求項１〜３のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項１０】
前記画素回路部が２次元アレイ状に配列されたイメージセンサを含む、
請求項１〜４，６〜９のいずれか１項に記載の距離画像測定装置。
【請求項１１】
光源制御手段が、第１の持続時間を有するパルス光を１フレーム期間内に含まれる第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間内で定期的に繰り返し発生させるように光源を制御する光源制御ステップと、
光を電荷に変換する光電変換領域、前記光電変換領域に近接して互いに離間して設けられた第１〜第Ｍ（Ｍは２以上の整数）の電荷読出領域、前記電荷を排出するための電荷排出領域、及び前記光電変換領域と前記第１〜第Ｍの電荷読出領域および前記電荷排出領域とに対応して設けられた第１〜第Ｍ＋１の制御電極を有する画素回路部を用いて、電荷転送制御手段が、前記光源制御手段による前記パルス光の発生に対応して、前記第１の持続時間以上である第２の持続時間の間だけ前記第１〜第Ｍの制御電極に、電荷の転送を制御するための第１〜第Ｍの制御パルスを順次印加し、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加期間以外の期間に前記第Ｍ＋１の制御電極に電荷の排出を制御するための第Ｍ＋１の制御パルスを印加する電荷転送制御ステップと、
電圧検出手段が、前記電荷転送制御手段による前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加後に、前記画素回路部の前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を第１〜第Ｍの検出信号として読み出す電圧検出ステップと、
距離計算手段が、前記第１〜第Ｍの検出信号を基に距離を繰り返し計算する距離計算ステップとを備え、
前記電荷転送制御ステップでは、１フレーム期間内の第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のサブフレーム期間ごとに、前記パルス光の発生タイミングに対する前記第１〜第Ｍの制御パルスの遅れ時間を異なる時間にシフトさせるように、前記第１〜第Ｍの制御パルスのタイミングを設定し、
前記電圧検出ステップでは、重み付けされて設定された期間のサブフレーム期間ごとに、前記第１〜第Ｍの制御パルスの印加に応じて発生したそれぞれの前記第１〜第Ｍの電荷読出領域の電圧を前記第１〜第Ｍの検出信号として読み出す、
距離画像測定方法。
【国際調査報告】
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