(57)【要約】  光ディスクを再生するために照射するレーザーパワーを設定する方法において、光ディスク上の情報が記録された領域を３つ以上のテスト用再生パワーを用いて再生し（Ｓ２２Ｂ）、その再生信号の品質の劣化が所定値に達するまでの再生回数を劣化回数として求め（Ｓ２２Ｆ）、テスト用再生パワーと劣化回数の関係を曲線近似して、所定保証再生回数までの再生信号品質の劣化を所定量以下に抑える再生パワーを求める（Ｓ２５Ｆ）。情報が記録された光ディスクを光学的に再生する際に、光ディスクを再生するために照射するパワーを最適に設定することができ、再生光による情報の劣化を防ぐことができる。
2010116734.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク再生方法における、再生パワーの設定値を求める方法において、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生工程と、
前記テスト再生工程において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出工程と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下となるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定工程とを有し、
前記再生パワー決定工程は、前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標の対数との関係が非線形となる、互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーと前記寿命指標とを用いて、前記最適再生パワーを求めることを特徴とする
光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項２】
前記再生パワー決定工程は、
前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標算出工程で求めた寿命指標の対数との関係を、
第１の傾きに漸近する直線状の領域である第１の直線部分と、
前記第１の傾きよりも緩やかな第２の傾きに漸近する直線状の領域である第２の直線部分と、
前記第１の直線部分と前記第２の直線部分を結ぶ曲線部分とから成る近似曲線で近似する近似工程を含み、
前記近似工程で得られた近似曲線を元に、
前記光ディスクを所定の再生時間再生した後に、前記光ディスクを再生した再生信号が劣化する量が、前記所定の値以下となるレーザー光のパワーを前記最適再生パワーとして求める
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項３】
前記近似工程は、前記寿命指標ＬＰと、前記テスト用再生パワーＰＲの関係を
ｌｎ（ＬＰ）
＝∫｛（ＬＡ−ＬＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＬＢ×ＰＲ−ＬＣ））＋ＬＤ｝＋ＬＥ
で近似し、定数ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥを調整することで、前記テスト用再生パワーの各値ＰＲにおける前記寿命指標ＬＰと、前記式から得られる近似曲線上の値との差が総合的に最小となる様に、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項４】
前記テスト用再生パワーは、
前記第２の直線部分の領域における再生パワーと、前記曲線部分の領域における再生パワーであることを特徴とする請求項２又は３に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項５】
前記近似工程は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果として、ピークとなる点と、その両側に位置するそれぞれ少なくとも１点のデータが得られたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２乃至４のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項６】
前記近似工程は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果にピークが存在せずほぼ０の値であり、再生パワーに対する前記寿命指標の対数を１回微分した結果に、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で、所定値以上の差があることが検出されたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２乃至４のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項７】
前記テスト再生工程において、テスト再生に使用する光ディスク上の領域は、光ディスク上に記録された情報の内、アクセスされる頻度が低いデータが格納されている領域とすることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項８】
前記所定の時間又は回数が、保証再生時間又は回数であることを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項９】
レーザー光を照射するレーザー付近の温度を測定する温度測定工程をさらに有し、
前記再生パワー決定工程で前記最適再生パワーを求める間、もしくは求めた後に、前記レーザー付近の温度を第１の温度として測定しておき、
前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定工程で求めた前記最適再生パワーの代りに、前記変化後の温度における前記最適再生パワーを再生パワーの設定値とする再生パワー変更工程を有する
ことを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１０】
前記再生パワー変更工程は、
前記再生パワー決定工程で求められた前記最適再生パワーを前記温度変化に応じて補正する再生パワー補正工程を有し、
前記再生パワー補正工程は、前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から第１の所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定工程で求めた前記最適再生パワーを、予め定められた再生パワーと温度との関係から、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項９に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１１】
前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から、第２の所定の変化幅以上変化した場合に、前記テスト再生工程の処理と、前記寿命指標算出工程の処理と、前記再生パワー決定工程の処理を行い、これにより前記第２の所定の変化幅以上の変化後の温度における前記最適再生パワーを求め、これを再生パワーの設定値とする
ことを特徴とする請求項９又は１０に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１２】
前記再生パワー補正工程は、
予め求められた前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する近似直線を元に、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項１０又は１１に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１３】
予め複数の光ディスクの各々について前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する複数の近似直線を求め、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最大のものの傾きを第１の傾きとし、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最小のものの傾きを第２の傾きとし、
前記再生パワー補正工程は、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が高い場合は、前記第１の傾きを用い、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が低い場合は、前記第２の傾きを用い、
前記第２の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１４】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定工程をさらに有し、
前記最大再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となる再生パワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項１乃至１３のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１５】
請求項１乃至１４のいずれかの設定方法で設定されたパワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生することを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１６】
前記テスト再生工程を、前記光ディスクから情報を再生する前に実施することを特徴とする請求項１５に記載の光ディスク再生方法。
【請求項１７】
前記光ディスクから情報を再生する場合に、情報の再生を行う読み出し期間と、再生を中断し待機させる待機期間とを繰り返すことで、情報を再生する光ディスク再生方法であって、
前記テスト再生工程は、前記光ディスクからの再生を中断し待機している待機期間に行われることを特徴とする請求項１５に記載の光ディスク再生方法。
【請求項１８】
各光ディスク装置について、該光ディスク装置と同じ仕様の他の光ディスク装置又は同じ特性を有する試験装置を用いて、再生パワーの設定を行い、設定された再生パワーの値を上記各光ディスク装置内の記憶手段に、試験に用いられた光ディスクの識別情報に対応付けて記憶させ、
当該光ディスク装置において、前記他の光ディスク装置又は試験装置を用いて行われた再生パワーの設定に用いられた光ディスクと同じ仕様の光ディスクの再生に際し、記憶されている設定された再生パワーの値を、再生パワーの初期値として用いて光ディスクから情報を再生する方法において、
前記他の光ディスク装置又は試験装置を用いて行われる再生パワーの設定が、請求項１乃至１４のいずれかに記載の方法で行われる
ことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１９】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
複数種類の光ディスクの各々について請求項１乃至１４のいずれかの光ディスク再生パワー設定方法で設定された前記最適再生パワーを、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶する記憶手段と、
挿入された光ディスクの識別情報を読み込む手段と、
該読み込まれた識別情報に対応付けて前記記憶手段に記憶されている最適再生パワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生する手段とを
有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
前記記憶手段に記憶されている最適再生パワーを再生パワーの初期値として用いて、再生パワーの設定を行うことを特徴とする請求項１９に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生手段と、
前記テスト再生手段において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出手段と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下となるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定手段とを有し、
前記再生パワー決定手段は、前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標の対数との関係が非線形となる、互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーと前記寿命指標とを用いて、前記最適再生パワーを求めることを特徴とする
光ディスク装置。
【請求項２２】
前記再生パワー決定手段は、
前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標算出手段で求めた寿命指標の対数との関係を、
第１の傾きに漸近する直線状の領域である第１の直線部分と、
前記第１の傾きよりも緩やかな第２の傾きに漸近する直線状の領域である第２の直線部分と、
前記第１の直線部分と前記第２の直線部分を結ぶ曲線部分とから成る近似曲線で近似する近似手段を含み、
前記近似手段で得られた近似曲線を元に、
前記光ディスクを所定の再生時間再生した後に、前記光ディスクを再生した再生信号が劣化する量を、前記所定の値以下となるレーザー光のパワーを前記最適再生パワーとして求める
ことを特徴とする請求項２１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記近似手段は、前記寿命指標ＬＰと、前記テスト再生パワーＰＲの関係を
ｌｎ（ＬＰ）
＝∫｛（ＬＡ−ＬＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＬＢ×ＰＲ−ＬＣ））＋ＬＤ｝＋ＬＥ
で近似し、定数ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＨＥを調整することで、前記テスト用再生パワーの各値ＰＲにおける前記寿命指標ＬＰと、前記式から得られる近似曲線上の値との差が総合的に最小となる様に、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２２に記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記テスト再生用再生パワーは、
前記第２の直線部分の領域における再生パワーと、前記曲線部分の領域における再生パワーであることを特徴とする請求項２２又は２３に記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記近似手段は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果として、ピークとなる点と、その両側に位置するそれぞれ少なくとも１点のデータが得られたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２２乃至２４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記近似手段は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果にピークが存在せずほぼ０の値であり、再生パワーに対する前記寿命指標の対数を１回微分した結果に、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で、所定値以上の差があることが検出されたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２２乃至２４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
前記テスト再生手段において、テスト再生に使用する光ディスク上の領域は、光ディスク上に記録された情報の内、アクセスされる頻度が低いデータが格納されている領域とすることを特徴とする請求項２１乃至２６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２８】
前記所定の時間又は回数が、保証再生時間又は回数であることを特徴とする請求項２１乃至２７のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２９】
光ディスク装置内の温度を測定する温度測定手段をさらに有し、
前記再生パワー決定手段で前記最適再生パワーを求める間、もしくは求めた後に、前記光ディスク装置内の温度を第１の温度として測定しておき、
前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定手段で求めた前記最適再生パワーの代りに、前記変化後の温度における前記最適再生パワーを再生パワーの設定値とする再生パワー変更手段を有する
ことを特徴とする請求項２１乃至２８のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３０】
前記再生パワー変更手段は、
前記再生パワー決定手段で求められたレーザー光のパワーを前記温度変化に応じて補正する再生パワー補正手段を有し、
前記再生パワー補正手段は、前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から第１の所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定手段で求めた前記最適再生パワーを、予め定められた再生パワーと温度との関係から、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項２９に記載の光ディスク装置。
【請求項３１】
前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から第２の所定の変化幅以上変化した場合に、前記テスト再生手段によるテスト再生と、前記寿命指標算出手段による寿命指標算出と、前記再生パワー決定手段による最適再生パワーの算出を行い、これにより前記第２の所定の変化幅以上の変化後の温度における前記最適再生パワーを求め、これを再生パワーの設定値とする
ことを特徴とする請求項２９又は３０に記載の光ディスク装置。
【請求項３２】
前記再生パワー補正手段は、
予め求められた前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する近似直線を元に、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項３０又は３１に記載の光ディスク装置。
【請求項３３】
予め複数の光ディスクの各々について前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する複数の近似直線を求め、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最大のものの傾きを第１の傾きとし、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最小のものの傾きを第２の傾きとし、
前記再生パワー補正手段は、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が高い場合は、前記第１の傾きを用い、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が低い場合は、前記第２の傾きを用い、
前記第２の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項３１に記載の光ディスク装置。
【請求項３４】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定手段をさらに有し、
前記最大再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となる再生パワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項２１乃至３３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３５】
前記再生パワー決定手段で設定されたパワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生する手段をさらに有することを特徴とする請求項２１乃至３４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３６】
前記テスト再生手段は、前記光ディスクから情報を再生する前に前記テスト再生を実施することを特徴とする請求項３５に記載の光ディスク装置。
【請求項３７】
前記光ディスクから情報を再生する場合に、情報の再生を行う読み出し期間と、再生を中断し待機させる待機期間とを繰り返すことで、情報を再生する光ディスク装置であって、
前記テスト再生手段は、前記光ディスクからの再生を中断し待機している待機期間に前記テスト再生を行うことを特徴とする請求項３５に記載の光ディスク装置。
【請求項３８】
前記再生パワー決定手段で求めたレーザー光のパワーを、当該光ディスクの識別情報に対応付けて記憶する記憶手段をさらに有し、
光ディスクが挿入されたときに、
前記記憶手段に、前記挿入された光ディスクの識別情報に対応付けて記憶されているレーザー光のパワーを用いて再生を行なう手段をさらに有することを特徴とする請求項２１乃至３４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３９】
光ディスク装置内の温度を測定する温度測定手段と、
前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置内の温度との関係を記憶する記憶手段と、
前記温度測定手段で測定された光ディスク装置内の温度における前記最適再生パワーを計算により求める再生パワー補正手段とをさらに有し、
再生パワー補正手段は、前記記憶手段に記憶された、前記レーザー光のパワーと温度との関係と、前記光ディスク装置内の測定された温度とから、前記光ディスク装置内の温度における前記最適再生パワーを算出する
ことを特徴とする請求項２１乃至２８のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項４０】
前記記憶手段は、
前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、
前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度との関係を直線近似する近似直線の傾きを記憶するとともに、
前記光ディスク装置のいずれかの温度において、前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーを基準パワーとして、前記再生パワー決定手段で前記最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度を基準温度として、それぞれ、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶し、
前記再生パワー補正手段は、
挿入された光ディスクの識別情報に対応した、前記記憶手段に記憶されている前記近似直線の傾きと、前記基準パワーと前記基準温度から、前記光ディスク装置の現在の温度における最適再生パワーを算出する
ことを特徴とする請求項３９に記載の光ディスク装置。
【請求項４１】
前記記憶手段は、
前記光ディスク装置の２つ以上の温度において前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度とを、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶し、
前記再生パワー補正手段は、前記温度測定部で測定された光ディスク装置の現在の温度に対応する再生パワーを、挿入された光ディスクの識別情報に対応した、前記記憶手段に記憶されている前記２つ以上の温度における、前記再生パワーと前記光ディスク装置の温度の関係を補間することによって求める
ことを特徴とする請求項３９に記載の光ディスク装置。
【請求項４２】
前記記憶手段は、
複数の光ディスクに対して求めた、前記再生パワー決定手段で求めた複数の最適再生パワーの値のうち、光ディスク装置の同一温度において最小となる値と、前記光ディスク装置の温度とを、異なる２つ以上の温度に対して記憶し、
前記再生パワー補正手段は、前記温度測定手順で測定された光ディスク装置の現在の温度に対応する、再生パワーを、前記温度条件記憶手段に記憶されている前記２つ以上の温度における、前記最小の値と前記光ディスク装置の温度の関係を補間することによって求める
ことを特徴とする請求項３９に記載の光ディスク装置。
【請求項４３】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定手段をさらに有し、
前記最大再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となるレーザー光のパワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項３９乃至４２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクを再生するために照射するレーザーの再生パワー（再生光量）を設定するための方法、並びにその方法を用いた光ディスク再生方法及び光ディスク装置に関するもので、光ディスク上の情報の再生光による劣化量を所定の範囲内に抑えることを目的とするものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクを再生する場合の再生パワーに関しては以下のように相反する要求がある。再生信号品質の観点からは少しでも大きい再生パワーで再生する方がノイズを低減でき有利である。一方、光ディスクの再生パワーに対する耐性や半導体レーザーの寿命の観点からは少しでも小さい再生パワーで再生する方が有利である。これらの相反する要求に対して、最低限の再生信号品質を確保しつつ、光ディスクの記録マークの特性劣化が生じず、できるだけ長く光ディスクが使用できるように再生パワーを設定して再生を行うことが望まれる。【０００３】
従来の光ディスク装置では同一トラックを繰り返し再生するスチル再生を行った際に、そのトラックが熱的なダメージを多く受け、その部分の記録情報である記録マークが劣化し、再生信号品質が劣化していた。この改善策として、スチル再生時に再生信号振幅を検出し、再生信号振幅の変化を補正する形で再生パワーを制御していた（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−３４９４４号公報（第１−６頁、第９図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記の従来の光ディスク装置では、再生信号振幅の変化を検出しているだけであるため、記録マークが大きく劣化している状態も検出することができず、記録マークを再生不可能な状態まで劣化させる場合がある。また、上記特許文献１に記載されているように、光ディスク上の静止画像の表示のために再生されるユーザ領域を用いて再生信号振幅の変化を検出しており、ユーザにとって必要な記録マークを再生不可能な状態まで劣化させる可能性がある。【０００６】
また、光ディスクの記録マーク劣化により、再生不可能となる状態を寿命とした場合、この寿命予測として一般的に用いられているアレニウスプロットを用いる手法（加速試験により寿命を予測する手法）が考えられるが、通常加速試験で加えられる温度負荷を再生パワーと置き換え、寿命は再生品質が設定許容値に達するまでの再生時間とした場合、前記再生パワーと、前記再生品質が設定許容値に達するまでの再生時間の関係が非線形となりアレニウスプロットを適用できない問題があった。【０００７】
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクを繰り返し再生しても所定の再生時間又は再生回数を保証する最大再生パワーを効率良く求めることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光ディスク再生パワー設定方法は、
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク再生方法における、再生パワーの設定値を求める方法において、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生工程と、
前記テスト再生工程において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出工程と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下となるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定工程とを有し、
前記再生パワー決定工程は、前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標の対数との関係が非線形となる、互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーと前記寿命指標とを用いて、前記最適再生パワーを求めることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、光ディスクの再生に用いられるレーザーのパワー（光量）の最適値を短時間で決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１に係る光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１の光ディスク装置における、再生の手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】図２の再生パワー調整のステップＳ１５における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】光ディスクを繰り返し再生した場合の再生回数とジッターの関係を示す図である。
【図５】光ディスクを繰り返し再生した場合に得られる、再生パワーと劣化回数（再生信号品質が所定量劣化するまでの再生回数(寿命再生回数）ＮＤの関係を示す図である。
【図６】（ａ）〜（ｃ）は、光ディスクを再生する場合に照射するレーザーの再生パワーと出力波形の関係を示す図である。
【図７】劣化回数(寿命再生回数）が保証再生回数となる再生パワーを予測する場合に、アレニウスプロットを適用した場合の図である。
【図８】劣化回数(寿命再生回数）が保証再生回数となる再生パワー（最大再生パワー）ＰＲｍを予測する場合に使用する近似曲線を示した図である。
【図９】劣化回数(寿命再生回数）が保証再生回数となる再生パワー（最大再生パワー）ＰＲｍを予測する為の近似曲線と実測値を示した図である。
【図１０】（ａ）〜（ｃ）は、実施の形態１におけるテスト再生の終了判断をする場合に用いるデータを示した図である。
【図１１】この発明の実施の形態２に係る光ディスク装置における、再生の手順の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１１の再生パワー調整のステップＳ３０における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図１３】この発明の実施の形態３で用いられる光ディスクの記憶領域を示す図である。
【図１４】この発明の実施の形態４に係る光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１５】実施の形態４の光ディスク装置における、再生の手順の一例を示すフローチャートである。
【図１６】異なる３つの温度において、光ディスクを繰り返し再生した場合に得られる、再生パワーと劣化回数（再生信号品質が所定量劣化するまでの再生回数(寿命再生回数）ＮＤの関係を示した図である。
【図１７】温度と最大再生パワーＰＲｍとの関係を示した図である。
【図１８】温度と最大再生パワーＰＲｍとの関係の一例を示した図である。
【図１９】この発明の実施の形態５の光ディスク装置における、再生の手順の一例を示すフローチャートである。
【図２０】この発明の実施の形態５の光ディスク装置の変形例における、再生の手順の一例を示すフローチャートである。
【図２１】図２０の再生パワー調整のステップＳ６０における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２２】各温度における複数の最大再生パワーの最小値の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。図１は本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成例を示す図である。
図示の光ディスク装置１００は、光ヘッド３００と、プリアンプ１１０と、再生信号処理部１２０と、信号品質測定部１３０と、データデコーダ１４０と、中央制御部２００と、バッファメモリ１９０と、サーボ制御部１８０と、スピンドルモーター１８１と、スレッドモーター１８２とを有する。
【００１２】
サーボ制御部１８０は、光ディスク５００を回転させる為のスピンドルモーター１８１、光ヘッド３００を光ディスクの径方向に移動させる為のスレッドモーター１８２、光ヘッド３００のアクチュエータ１８３を制御する。
【００１３】
光ヘッド３００からの再生信号がプリアンプ回路１１０にて増幅され、中央制御部２００に入力される。入力された信号は中央制御部２００にてアドレス情報の復号が行われ、光ヘッド３００の現在位置を示す情報が得られる。
【００１４】
現在位置にて得られたアドレス情報から、アクセスすべき位置（アクセス対象位置）のアドレス情報の差分をサーボ制御部１８０に与えることにより、サーボ制御部１８０がスレッドモーター１８２を制御し、光ヘッド３００をアクセス対象位置へ移動させる。
さらに、サーボ制御部１８０は、プリアンプ１１０からのサーボエラー信号に基づき、アクチュエータ１８３を駆動してフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。
【００１５】
データ再生時は、半導体レーザー３１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。光ディスク５００からの反射光は、対物レンズ３５０を通った後にビームスプリッタ３４０により入射光と分離され、検出レンズ３６０を介して受光素子３７０で受光される。
【００１６】
上記のうち、半導体レーザー３１０と、コリメートレンズ３３０と、ビームスプリッタ３４０と、対物レンズ３５０、検出レンズ３６０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子３７０と、レーザー駆動部３２０と、アクチュエータ１８３とで光ピックアップ３００が構成されている。
【００１７】
受光素子３７０は光信号を電気信号に変換する。受光素子３７０において変換された電気信号は、プリアンプ１１０を介して中央制御部２００、再生信号処理部１２０にそれぞれ入力される。
再生信号処理部１２０は、プリアンプ１１０からの電気信号をイコライズ処理（波形整形）し、信号品質測定部１３０と、データデコーダー１４０とに入力する。
【００１８】
信号品質測定部１３０は、再生信号のジッター値やエラーレート等の信号品質を測定する。
データデコーダー１４０は、入力された再生信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク５００に記録されたデータを生成（再生）する。
光ディスク装置１００は上位コントローラー４００と接続されており、中央制御部２００は、生成されたデータを、バッファメモリ１９０に格納した後、上位コントローラー４００へ送る。上記コントローラー４００は例えば表示装置４５０と接続されている。
【００１９】
中央制御部２００は、装置の全体を制御するもので、信号品質測定部１３０からのジッター等の信号品質、データデコーダー１４０からの再生データを受ける一方、レーザー制御部１７０、サーボ制御部１８０に制御信号を与える。
【００２０】
中央制御部２００はまた、後に説明する信号品質の測定、最適再生パワーＰＲｏを求めるためのテスト再生および演算処理、データ再生の停止や再開処理などを行う。
【００２１】
中央制御部２００は例えばＣＰＵ２１０と該ＣＰＵ２１０の動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２２０とデータを記憶するＲＡＭ２３０とを備えている。ＲＯＭ２２０に格納されたプログラムは、後に図２、図１１を参照して説明される再生の制御や、後に図３、図１２を参照して説明される最適再生パワー調整のための演算、及び演算やテスト再生で必要となる設定値等を定義する部分を含む。
尚、ＲＯＭ２２０としては、後述の理由で書換可能なもの、例えばＥＥＰＲＯＭを用いる様にしても良い。
ＲＡＭ２３０は、種々のデータの記憶に用いられる。例えば、再生パワーの設定値もＲＡＭ２３０内に記憶される。
【００２２】
以下、図２を参照して本実施の形態の再生パワー設定方法の手順を説明する。
最初に光ディスク５００が光ディスク装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２００に伝えられ、中央制御部２００は、サーボ制御部１８０を介して光ヘッド３００を駆動して、光ディスク装置１００に挿入された光ディスク５００の種別（ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の種別）や、光ディスク５００が何層ディスクか等を判別する（ステップＳ１１）。
【００２３】
次に、ステップＳ１２において、ステップＳ１１で判別された光ディスクの種別に応じて、再生パワー(次のステップＳ１３における初期調整、およびステップＳ１４における制御情報等の読出しで用いられる再生パワー)を設定する。この時設定する再生パワーの値(制御情報読出し用パワー)としては、例えば中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に予め格納されている値（初期設定値）を用いる。
【００２４】
次に、ステップＳ１３において、光ディスク５００とのチルト角度や、サーボ条件等を調整（初期調整）した後、ステップＳ１４において光ディスク５００から、光ディスクの固有情報や再生動作を制御するための制御情報等を読み出す。
【００２５】
尚、ステップＳ１２において、ステップＳ１１で判別された光ディスク５００の種別によって初期再生パワーを設定する様にしていたが、光ディスク装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に、ステップＳ１４で読み出す光ディスクの固有情報（ＩＤ等の情報）と、予め調べた保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化が所定の劣化量以下に抑えることができる最適再生パワーＰＲｏとの関係をテーブルとして保持しておき、その値を設定する様にしても良い。ただし、ここで設定された再生パワーを用いた場合でも、光ディスク５００のロットばらつきや、光ディスク装置１００の光ピックアップ３００のロットバラツキ等で、必ずしも劣化を抑えることが保証できない為、次のステップＳ１５での再生パワー調整を行うのが望ましい。
【００２６】
ステップＳ１５では、再生パワー調整（テスト再生及び最適再生パワーの計算）を行なう。即ち、光ディスク５００に情報が記録された領域を、複数のテスト用再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１、２、３...）を用いてテスト再生し、テストした再生パワーＰＲ（ｉ）と、テスト再生により信号品質が所定の値劣化する回数ＮＤ（ｉ）の関係から、最適再生パワーＰＲｏを求め、レーザー制御部１７０に設定する。このテスト再生に用いられるパワーＰＲ（ｉ）は、通常の再生で用いられるパワーＰＮＲよりも高いものであり、このような高いパワーを用いることで加速試験を行なっている。
【００２７】
ステップＳ１５の後、図示しない手段により再生の指示が与えられると（ステップＳ１６）、ステップＳ１７において、ステップＳ１５で調整し設定した最適再生パワーＰＲｏにより、光ディスク５００からの本来のデータの読み出し（本読み出し）を開始する。
【００２８】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１１の処理は、光ヘッド３００、プリアンプ１１０、サーボ制御部１８０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１２の処理は、中央制御部２００により行われ、ステップＳ１３の処理は、光ヘッド３００、プリアンプ１１０、サーボ制御部１８０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１４の処理は、光ヘッド３００、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、データデコーダー１４０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１５の処理は、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、信号品質測定部１３０、中央制御部２００、レーザー制御部１７０、及び光ヘッド３００により行われ、ステップＳ１６の処理は、図示しない再生の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１７以降のデータ再生処理は、中央制御部２００、データデコーダー１４０、レーザー制御部１７０、サーボ制御部１８０、及び光ヘッド３００により行われる。
【００２９】
図３は、図２のステップＳ１５の処理を詳細に示す。
まず、ステップＳ２０において複数回行うテスト再生の回数（何回目のテスト再生かを示すパラメータ）ｉを初期化する（ｉ＝１とする）。
次に、ステップＳ２１において、ｉ番目のテスト用再生パワーＰＲ（ｉ）を設定する。ここで、設定する再生パワーの値は、例えば中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に予め、テストに使用する再生パワー値のリストを格納しておき、テスト再生の回数（ｉの値）に対応する再生パワー値を設定する。再生パワーの値としては、所定の範囲内の最小値が最初に選択され、その後順次次第に大きな値が選択されるようにしても良く、所定の範囲内の最大値が最初に選択され、その後順次次第に小さな値が選択されるようにしても良い。
【００３０】
次に、ステップＳ２２において、ステップＳ２１で設定したテスト用再生パワーを用いてテスト再生を行う。
まず、ステップＳ２２Ａにおいて、ｉ番目のテスト用領域に移動し、初期の再生品質（連続スチル再生開始前の再生信号品質）を測定する。次いで、ステップＳ２２Ｂにおいて、ステップＳ２２Ａで再生品質を測定した領域（ｉ番目のテスト用領域）で連続スチル再生を行う。
【００３１】
ここで、テスト再生に用いるテスト用領域は、光ディスク５００において、再生する頻度が少ない領域を優先的に選択するのが望ましい。例えば、ディスクの制御情報を管理している領域や、本編のメニュー情報ならびに、メニュー時に再生されるサムネイル画像や動画が格納されている領域など、再生される頻度が高い領域は避ける方が望ましい。
【００３２】
また、テスト再生に用いるテスト用領域の管理は、光ディスク５００の固有情報と共に（固有情報に対応付けて）、例えば、中央制御部２００内のＲＯＭ２２０（ＥＥＰＲＯＭの場合）に保存する様にしても良いし、図示しない上位コントローラー４００における情報の記憶手段（例えば、外部メモリや、内蔵ＨＤＤ等）に格納する様にしても良い。
【００３３】
尚、この様に、テスト再生に用いるテスト用領域の管理を必ず行う必要はなく、例えばテスト再生を行う領域は、過去にテスト再生を行った領域と少なくとも１回のテスト再生に使用する領域以上を空ける様にすれば、テスト再生を行う前に、テスト再生を行う領域の前後の領域を含めた複数の領域の再生信号品質を測定し、再生信号品質が悪くなっていない領域を未使用領域としてテスト再生に用いる様にしても良い。ただし、この場合もすぐ隣の領域（内周側および外周側の両隣）がテスト再生により悪化していない領域を選ぶ必要がある。
【００３４】
ステップＳ２２Ｃでは、連続スチル再生で再生している領域を再生した回数をモニターしておき、再生品質を測定するかどうかを判断する。ステップＳ２２Ｃにおいて再生品質を測定しないと判断した場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｂに戻り、スチル再生を継続する。ステップＳ２２Ｃにおいて再生品質を測定すると判断した場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ｄにおいて連続再生したテスト用領域の再生品質を測定し、ステップＳ２２Ａで測定した初期の再生品質からの劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）を計算する。
【００３５】
ステップＳ２２Ｃにおける「再生品質を測定するかどうか」の判断は、ステップＳ２２ＡからステップＳ２２Ｂに進んで、ステップ２２Ｂで連続スチル再生を開始してからの再生回数（ＮＳ（ｉ）＝ＮＴ（ｉ，１）、又は前回のステップＳ２２Ｄにおける再生品質の測定したとき以降の再生回数ＮＴ（ｉ，ｊ）；（ｊは、再生パワーＰＲ（ｉ）でのテスト再生における何回目の再生品質測定であるかを示すパラメータ）が所定値ＮＴＬ（ｉ，ｊ）となったか否かに基づいて行われる。
【００３６】
次にステップＳ２２Ｅでは、ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が予め指定した所定の値ＱＤＭよりも大きいかどうかを判断する。ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が所定の値ＱＤＭよりも大きい場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ｆに進む。
【００３７】
ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が所定値ＱＤＭ以下である場合（Ｓ２２ＥでＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｇにおいて、テスト再生を行っている再生パワーにおける連続スチル再生回数ＮＳ（ｉ）と、予め設定したテスト再生回数の上限値ＮＳＬを比較する。予め設定したテスト再生回数の上限値（所定回数）ＮＳＬ以上の再生を行っていない場合（Ｓ２２ＧでＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｂに戻り、引き続きテスト再生領域をスチル再生しステップＳ２２Ｃ以降の処理を再び実行する。
予め設定したテスト再生回数の上限値（所定回数）ＮＳＬ以上の再生を行っている場合（Ｓ２２ＧでＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ｆに進む。
【００３８】
ステップＳ２２Ｆでは、劣化量ＱＤ（ｉ）が所定の値ＱＤＬとなるまでの再生回数（劣化回数、言い換えると寿命再生回数）ＮＤ（ｉ）を算出し、算出された再生回数ＮＤ（ｉ）を、例えば中央制御部２００のＲＡＭ２３０に、当該再生パワー（ｉ番目のテスト用再生パワー）ＰＲ（ｉ）と共に（再生パワーＰＲ（ｉ）に対応付けて）記憶させ、連続スチル再生を終了する。ステップＳ２２Ｆの後、ステップＳ２３に進む。
再生回数は再生時間に対応するものであるので、劣化量が所定の値となるまでの再生回数（劣化回数）ＮＤ（ｉ）は、劣化量が所定の値となるまでの再生時間に対応するものであるとも言える。「劣化量が所定の値となるまでの再生回数（劣化回数、言い換えると寿命再生回数）ＮＤ（ｉ）」と「劣化量が所定の値となるまでの再生時間（劣化時間、言い換えると寿命再生時間」とはともに寿命指標として用いられている。
【００３９】
上記のステップＳ２２Ｆにおける劣化回数の算出は、以下のようにして行われる。ステップＳ２２ＥでＹＥＳと判断されてステップＳ２２Ｆに進んだ場合には、その時点で、その時の再生パワー（ｉ番目）における再生品質の劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）（ｉは特定値、ｊは測定数分）が求まっている為（情報はＲＡＭ等で記憶しておく）、この結果を元に、劣化量と再生回数の対数との関係を曲線近似（例えば、スプライン曲線等を用いて近似）し、予め定めた基準劣化量ＱＤＭと近似した結果のＱＤ値が最も近くなる再生回数を求める。この時、スプライン曲線で近似する場合は、基準劣化量ＱＤＭ近辺の複数の結果を用いれば良い（別に全点を使用しても良い）。
また、上記近似結果あるいは、近似前の結果ＱＤ（ｉ，ｊ）が基準劣化量ＱＤＭをまたぐ様な２点を抽出し、線形近似することでＮＤ（ｉ）を算出する様にすれば算出が可能である。
【００４０】
ステップＳ２２ＧでＹＥＳと判断されてステップＳ２２Ｆに進んだ場合には、最後に測定された再生品質の劣化量ＱＤと、それ以前に測定された複数の再生品質の劣化量ＱＤと、それに対応した再生回数の対数との関係を線形近似し、近似結果の外挿により基準劣化量ＱＤＭとなる再生回数を算出する。ただし、基準劣化量ＱＤＭと最後に測定された劣化量ＱＤとの差が大きい時（例えば、ＱＤＭに対して、ＱＤが５０％以下の時）には、外挿による算出誤差が大きくなる為算出は行わない様にする（あるいは、近似した時の誤差量で判断することとしても良い）。また、この場合はこれ以上再生パワーを低くしても、所定再生回数では、基準劣化量ＱＤＭに達しない為、ステップＳ２１の再生パワー設定では、今迄測定した再生パワーのうち、最大となる再生パワーよりも１ステップ分大きい再生パワーを設定する様にし、以降は再生パワーを大きくしながら、テスト再生を行う様にする。
【００４１】
ステップＳ２２Ｄで再生品質を測定する間隔（（ｊ）番目（ｊ＝１、２、３、…）の再生品質測定と次の再生品質測定までの再生回数ＮＴＬ（ｉ，ｊ））は、予め設定した一定間隔（一定の再生回数毎）としても良いし、ステップＳ２２Ｄで算出した再生品質の劣化量により変更するようにしても良い。例えば、ステップＳ２２Ｄで算出した劣化量が、ステップＳ２２Ｅで指定する所定の劣化量に近づくに伴い、間隔を短くするようにしても良い。
【００４２】
尚、テスト再生に用いる再生パワーによっては、急激に再生信号品質の劣化が起こる可能性があるため、特に初めのテスト再生（ｉ＝１の場合）や、それまでに実施したテスト再生における再生パワーよりも大きい再生パワーを用いてテスト再生を行なう場合には、連続スチル再生を開始した後、再生品質を測定する間隔ＮＴＬ（ｉ，ｊ）を短く設定し、必要以上に再生品質が劣化しないようにするのが望ましい。
【００４３】
また、ステップＳ２２Ｇの所定回数ＮＳＬ再生したかどうかの判断は、ステップＳ２２Ｅにおける判断で、再生品質の劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）と、基準となる予め定めた再生品質の劣化量ＱＤＭの差が小さい場合（例えば、前記劣化量の差（ＱＤＭ−ＱＤ（ｉ，ｊ）が、予め定めた再生品質の劣化量ＱＤＭに対して１０％以下に相当しており（即ち、ＱＤ（ｉ）がＱＤＭの９０％以上に相当しており）、追加の再生で所望の劣化量に達すると判断できる場合等）には実施せずに、ステップＳ２２Ｅの次にステップＳ２２Ｆに進むこととしても良い。
【００４４】
次にステップＳ２３では、テスト再生を終了するかどうかを判断する。ステップＳ２３でテスト再生を終了しないと判断した場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２４においてテスト回数を制御する値ｉを１増加し、ステップＳ２１以降の処理を再び実行する。ｉの増加に伴い、再生パワーＰＲ（ｉ）も変更する。再生パワーの変更は、例えば、１回目のテスト再生における再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１）から順により小さな値としても良く、また１回目のテスト再生における再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１）から順により大きな値としても良い。
【００４５】
ステップＳ２３でテスト再生を終了すると判断した場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２５において、実施したテスト再生の再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１、２、…）と再生品質が所定量劣化するまでの再生回数（劣化回数）ＮＤ（ｉ）の関係から演算により再生パワーの最適値、即ち、本再生で用いるべき再生パワーの設定値を算出する。
例えば、再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１、２、…）と劣化回数ＮＤ（ｉ）の関係から、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー（最大再生パワー）ＰＲｍを求め、最大再生パワーＰＲｍから最適再生パワーＰＲｏを求め、最適再生パワーＰＲｏを本再生で用いるべき再生パワーの設定値（目標値）とする。
尚、ステップＳ２５における再生パワーの最適値の算出と、ステップＳ２３でのテスト再生を終了かどうかの判断については後で説明する。
【００４６】
次に、図４を用いて再生信号品質と再生時間および再生パワーの関係について説明する。図４は異なる再生パワーＰＲ（１）、ＰＲ（２）、ＰＲ（３）、ＰＲ（４）における再生回数ＮＰ（ｉ）；（ｉ＝１、２、３、４）と再生信号品質（ジッター値）ＪＬの関係を示している。ここで、再生パワーの大きさは、ＰＲ（１）＜ＰＲ（２）＜ＰＲ（３）＜ＰＲ（４）という関係となっている。
ジッター値ＪＴは大きいほど、再生信号品質は悪いことを意味するものであり、ジッター値ＪＬの限界許容値ＪＬは、再生性能に問題が生じやすくなるレベルである。初期値ＪＴＩに対するジッター値ＪＴの増加分が再生信号品質の劣化量ＱＤとなる。
【００４７】
図４に示すように、再生パワーが高くなると、少ない再生回数ＮＰで信号品質が劣化し、ジッター値ＪＴが限界許容値ＪＬを超えてしまう。
【００４８】
次に、図５を用いて再生パワーと劣化回数（再生信号品質が所定量劣化するまでの再生回数(寿命再生回数））ＮＤの関係について説明する。図は２種類の異なるＢＤ−ＲＥディスクにおける、再生パワーと劣化回数ＮＤの関係を示したものである。ここで、劣化回数ＮＤを求める際の再生信号品質の劣化量ＱＤＭは、再生開始時のジッターＪＴＩに対して１％の劣化としている。即ち、図４に示すように、再生開始時のジッターＪＴＩが７．５％であった場合には、ジッタが８．５％になったときの再生回数ＮＰを劣化回数ＮＤ（３）、ＮＤ（４）としている。また、図５において、○印は、あるＢＤ−ＲＥディスク（ＤｉｓｃＡ）において異なる再生パワーを用いて（異なる位置で）行った実験の結果を、□印は、別のＢＤ−ＲＥディスク（ＤｉｓｃＢ）において異なる再生パワーを用いて（異なる位置で）行った実験の結果をそれぞれ示す。
【００４９】
保証再生回数ＲＬは、ジッターが１％劣化するまでの再生回数ＮＤとして光ディスク装置１００が保証する再生回数であり、ここでは１００万回としている。劣化回数ＮＤは、対数目盛上に示されている。
【００５０】
どちらのディスクにおいても、再生パワーが低い領域（０．５ｍＷ〜０．５２ｍＷ付近より小さい領域）では、再生パワーと劣化回数ＮＤの関係が指数関数的に変化しており、図５上ではほぼ直線で近似できる。一方、再生パワーが高い領域（０．５ｍＷ〜０．５２ｍＷ付近より大きい領域）では、再生パワーに対する劣化回数ＮＤの変化が、再生パワーが低い領域に比べ著しく緩やかとなっているのがわかる。
【００５１】
この様に、再生パワーが低い領域と高い領域で劣化回数と再生パワーの関係が異なる要因としては、再生時にレーザーが出射している再生波形の影響が考えられる。図６（ａ）〜（ｃ）に、レーザーの再生パワーと、再生波形（ＷＦ１、ＷＦ２、ＷＦ３）の関係を示す。一般的に再生時には、図６（ａ）〜（ｃ）に示すように、高周波を重畳して間欠的な高周波発光を行う。これはレーザー発振をマルチモード化し、相対的にノイズを低減することで再生信号のＣＮ比を改善する為である。ここで、光ディスク５００へ照射する際の再生パワーは、図６（ａ）〜（ｃ）の平均パワー（ＡＰ１、ＡＰ２、ＡＰ３）に相当する。再生パワーを大きくすると、図６（ａ）から図６（ｂ）のレーザー出力波形（ＷＦ１、ＷＦ２）の様に、波形の形は変わらず、ピークパワー（ＰＰ１、ＰＰ２）が増加することで平均パワーも増加する。しかし、レーザーパワーが大きくなりすぎると、高周波の重畳にレーザーが応答しきれなくなり、図６（ｃ）に示す様に、レーザー出力波形（ＷＦ３）が変形してしまう。また、平均パワーは増加しているものの、ピークパワー（ＰＰ３）は、レーザー出力波形の変形の影響で、殆ど増加しなくなる。なお、図６（ａ）〜（ｃ）でＢＰ１、ＢＰ２、ＢＰ３はボトムパワーであり、これらは互いに等しい。
【００５２】
光ディスク５００に記録された信号が、繰り返し再生により劣化する程度は、平均パワーではなく、ピークパワーの大きさに影響される為、高い領域での劣化回数と再生パワーの関係が緩やかになる。
【００５３】
次に、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワーを予測する際に、寿命予測で一般的に用いられているアレニウスプロットを適用した場合について説明する。一般的にある材質のある温度での化学反応の速度を予測する式であるアレニウスの式は速度係数ｋ、温度に無関係な定数（度数因子）Ａ、活性化エネルギーＥ、ガス定数Ｒ、温度Ｔを用いて式（１）のように表される。
ｋ＝Ａ＊ｅｘｐ（−Ｅ／ＲＴ）      …（１）
また、寿命Lは速度係数ｋの逆数（１／ｋ）となることから式（１）は、式（１ａ）のように変換できる。
Ｌ＝１／ｋ＝Ａ’×ｅｘｐ（Ｅ／ＲＴ）      ・・・（１ａ）
式（１ａ）におけるＡ’は、式（１）におけるＡの逆数に等しい。
式（１ａ）の両辺の自然対数を取ると、式（２）の形で表される。
ｌｎ（Ｌ）＝（Ｅ／Ｒ）＊（１／Ｔ）＋ｌｎ（Ａ）      …（２）
【００５４】
アレニウスプロットでは、横軸に温度Ｔの逆数（１／Ｔ）を、縦軸に寿命Ｌの自然対数をとってデータをプロットし、直線近似した結果から寿命を予測する。
ここで、式（１ａ）において、温度Ｔの逆数（１／Ｔ）は、加速試験を行う上でのストレスに相当する。そこで、温度の代わりに、再生パワーをストレスとして与え（温度の逆数１／Ｔを再生パワーＰＲとする）、寿命Ｌを劣化回数ＮＤ、活性化エネルギーＥとガス定数Ｒの比（Ｅ／Ｒ）を定数βとすると式（１ａ）は、
ＮＤ＝Ａ’×ｅｘｐ（−β×ＰＲ）      …（２ａ）
と表す事ができる。ここで、ストレスとして温度Ｔの逆数（１／Ｔ）を再生パワーＰＲとして置き換えた為、定数βの符号を反転させている。これは、寿命Ｌは、温度Ｔの逆数（１／Ｔ）を高くする程長くなるのに対し、寿命Ｌに相当する劣化回数ＮＤは、再生パワーＰＲを高くするほど短くなる為である。
【００５５】
式（２ａ）の両辺の自然対数を取ると、式（２ｂ）の形で表される。
ｌｎ（ＮＤ）＝−β×ＰＲ＋ｌｎ（Ａ’）      …（２ｂ）
ここで、−βは傾きＫａ、ｌｎ（Ａ’）は切片Ｋｂに相当し、下記式（３）が得られる。
ｌｎ（ＮＤ）＝Ｋａ×ＰＲ＋Ｋｂ      …（３）
アレニウスプロットとして、横軸を再生パワーＰＲとし、縦軸を劣化回数ＮＤの自然対数としてデータをプロットした場合、再生パワーＰＲが大きい程、劣化回数ＮＤの自然対数が小さくなる右下がりのグラフとなり、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワーは、前記プロットあるいは、式（３）において、ＮＤ＝ＲＬとなる再生パワーＰＲ（最大再生パワーＰＲｍ）を求めることで推測できる。
【００５６】
尚、実施の形態においては、温度Ｔの逆数（１／Ｔ）をストレスとして、再生パワーＰＲと置き換えたが、温度Ｔを再生パワーＰＲと置き換えても良い。ただし、この場合は、式（２ａ）は、
ＮＤ＝Ａ×ｅｘｐ（β／ＰＲ）      …（２ｃ）
となり、アレニウスプロットとして、横軸に再生パワーＰＲの逆数（１／ＰＲ）を、縦軸に劣化回数ＮＤの自然対数としてデータをプロットした場合、再生パワーＰＲの逆数（１／ＰＲ）が大きい程、劣化回数ＮＤの自然対数が大きくなる右上がりのグラフとなる。
【００５７】
図７にアレニウスプロットを適用した場合の図を示す。ここで、図７では、図５のＤｉｓｃＢの場合を示しており、□印は実測値を、実線ＥＣＬは低い再生パワーでの再生の結果として得られたデータＤＵＬを使用した時の近似直線を、破線ＥＣＨは高い再生パワーでの再生の結果として得られたデータＤＵＨを使用した時の近似直線をそれぞれ示す。
実線ＥＣＬで示す低い再生パワーでの再生の結果として得られたデータＤＵＬを使用した時の近似直線ＥＣＬでは、その直線を延長して求めた、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなると予測される再生パワーＥＬが実測値ＥＤと同等となっている（ＥＬ≒ＥＤ）ことがわかる。一方、高い再生パワーでの再生の結果として得られたデータＤＵＨを使用した時の近似直線ＥＣＨでは、その直線を延長して求めた、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなると予測される再生パワーＥＨが実測値ＥＤと大きくかけ離れており、予測誤差ＥＲが大きいことがわかる。
【００５８】
この様にアレニウスプロットを適用した場合、高い再生パワーを含めると、最大再生パワー（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー）を正確に予測することができないことがわかる。一方、低い再生パワーのみから成る領域でアレニウスプロットを適用すれば最大再生パワーを正確に予測することができるが、劣化までに時間のかかる低い再生パワーでのテスト再生を実施する必要があり、最適再生パワーの予測値が求まるまでの時間が長くなってしまう。
【００５９】
この問題を解決する為に、本実施の形態においては高い再生パワーの領域を含めて近似し、短いテスト再生により再生パワーを予測できる様にした。そのために用いられる、式（４）に近似曲線ＡＰＣの式を示す。
ｌｎ（ＮＤ）
＝∫｛（ＡＡ−ＤＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＢＢ×ＰＲ−ＣＣ））＋ＤＤ｝＋ＥＥ
…（４）
【００６０】
また、図８に、式（４）のパラメータと近似曲線ＡＰＣの関係を示す。図８は、アレニウスプロットの場合と同様に横軸を再生パワーＰＲ、縦軸を劣化回数ＮＤの自然対数としている。尚、縦軸に劣化回数ＮＤの自然対数を取る様にしているが、常用対数としても良い。式（４）はＡＡ、ＢＢ、ＣＣ、ＤＤ、ＥＥの５個のパラメータから構成される。
【００６１】
式（４）の近似曲線ＡＰＣは、シグモイド関数（式（５））と呼ばれる曲線の積分関数となっている。シグモイド関数は成長や死亡率、需要などを表す曲線としてよく用いられており、正または負の無限大で漸近的に一定値に近づくＳ字状の曲線となっている。
ｆ（ｘ）＝１／（１＋ｅｘｐ（−ｘ））      …（５）
【００６２】
本実施の形態で用いる式（４）のｌｎ（ＮＤ）は、このシグモイド曲線の積分曲線となっているため、正または負の無限大で漸近的に傾きが一定の直線へと近づく曲線となっている。
この為、式（４）の近似曲線ＡＰＣは、低パワー領域ＲＱＬ、曲線領域ＲＱＣ、高パワー領域ＲＱＨの３つの領域におおまかに区分できる。ここで、近似曲線ＡＰＣは低パワー領域ＲＱＬと高パワー領域ＲＱＨとで各々傾きの異なる直線状となり、曲線領域ＲＱＣにおいて、低パワー領域ＲＰＬの直線状の部分（第１の直線部分）と、高パワー領域ＲＰＨの直線状の部分（第２の直線部分）とをつなぐ曲線部分を含む構成となっている。第２の直線部分は、第１の直線部分よりも傾きが緩やかである。
さらに、各パラメータは、式（４）の近似曲線ＡＰＣに次の様な影響がある。
【００６３】
ＡＡは、低パワー領域ＲＱＬの漸近直線ＥＱＬの傾きを決定するパラメータであり、
ＤＤは、高パワー領域ＲＱＨの漸近直線ＥＱＨの傾きを決定するパラメータである。
ＢＢは、曲線領域ＲＱＣの広さを決定するパラメータであり、値が小さい程曲線領域が小さくなる。
ＣＣは、曲線領域の中心にあたる変局点の位置（横軸方向）を決定するパラメータである。
ＥＥは、高パワー領域ＲＱＨの漸近直線ＥＱＨの縦軸方向の位置を決定するパラメータである。
但し、前記５つのパラメータは、完全に独立して近似曲線ＡＰＣの形状を決定する訳ではなく、他の領域にも影響を及ぼす。例えば、ＡＡやＤＤは、低パワー領域ＲＱＬや、高パワー領域ＲＱＧの直線の傾きだけでなく、ＢＢで決定される曲線領域ＲＱＣの広さにも影響を及ぼす。逆もまたしかりである。
【００６４】
前記５つのパラメータを最適に調整することで、つまり５つのパラメータを設定することで得られる近似曲線ＡＰＣ上の値と、テスト再生により求めた実測値（再生パワーの各値ＰＲにおける劣化回数ＮＤ）との誤差が総合的に最小になるように、例えば二乗誤差の和が最小になるように前記近似曲線ＡＰＣを決定することで、再生パワーＰＲと劣化回数ＮＤの自然対数の関係を求める事ができる。
さらに、得られた近似曲線ＡＰＣと保証再生回数ＲＬとから、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー（最大再生パワー）を求めることができる。
【００６５】
図９に、２種類の異なるＢＤ−ＲＥディスクにおける、再生パワーと劣化回数の関係（実測値）を式（４）で近似した時の近似曲線ＡＰＣａ、ＡＰＣｂを示す。ここで、○印と実線ＡＰＣａがＤｉｓｃＡの場合、□印と破線ＡＰＣｂがＤｉｓｃＢの場合を示しており、近似に用いた実測値は、それぞれ符号ＤＵａ、ＤＵｂで示すように、図９に示している中で、曲線領域、及び高パワー領域に主に含まれている、比較的高い再生パワーで測定した結果のみを用いている。
【００６６】
図９より、両方の近似曲線ＡＰＣａ、ＡＰＣｂ共に、近似曲線と保証再生回数ＲＬが交わる予測再生パワーＥＡ、ＥＢが、実測値とほぼ等しくなっていることがわかり、アレニウスプロットで予測再生パワーに誤差が生じる高パワー領域のデータを用いても、最大再生パワー（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー）が高精度に予測できることが分かる。
【００６７】
図２のステップＳ１５では、上記のように、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワーを最大再生パワー（再生パワーの許容上限値）とし、それと同じ値、或いは（余裕を考慮に入れて）それより若干小さい値のパワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。言い換えれば、保証再生回数ＲＬにおける再生信号の劣化が所定値以下に抑えられる再生パワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。
【００６８】
次に、図３のステップＳ２３において、テスト再生を終了するかどうかの判定について図１０（ａ）〜（ｃ）を参照して説明する。図１０（ａ）は再生パワーＰＲと劣化回数ＮＤの自然対数の関係から求めた劣化特性結果を示し、図１０（ｂ）は、図１０（ａ）の劣化特性結果を１回微分して得られる微分結果（一次微分）Ｄ１を示し、図１０（ｃ）は、図１０（ａ）の劣化特性結果を２回微分して得られる微分結果（二次微分）Ｄ２を示している。
【００６９】
ここで、図１０（ｂ）の微分結果Ｄ１は劣化特性結果を１回微分した時の結果を、微分結果Ｄ２２は微分結果Ｄ１をさらに微分した時の結果で、劣化特性結果を２回微分することにより、劣化特性結果の変局点（１回微分の変曲点）の位置にピークを持つ曲線が得られる。このことを利用し、測定したデータから求めた微分結果Ｄ２として、ピーク（極大値）となる点と、その両側に位置するそれぞれ少なくとも１点のデータが得られた状態になったときに、テスト再生を終了することとする。
【００７０】
即ち、ステップＳ２４でパラメータｉを１増加するごとに、テスト用再生パワーを次第に小さくしながら、例えば図１０（ａ）に示すように、ＰＲをＰＲ（１）、ＰＲ（２）、ＰＲ（３）、ＰＲ（４）、ＰＲ（５）と変化させながら（Ｓ２１）、それぞれの再生パワーについて得られた劣化量データから、所定量劣化までの再生回数を算出し（Ｓ２２Ｆ）、異なる再生パワー（図１０でＰＲ（１）〜ＰＲ（５））について得られた所定量劣化までの再生回数ＮＤ（１）、ＮＤ（２）、ＮＤ（３）、ＮＤ（４）、ＮＤ（５）の自然対数を２回微分したデータを逐次得ながら、それらについて上記のように、ピークとその両側に位置する点が得られるかどうか判定を行い、得られたときに、テスト再生を終了する。
【００７１】
図１０（ａ）〜（ｃ）に示す例では、それぞれの再生パワーＰＲ（ｉ）における所定量劣化までの再生回数の自然対数ｌｎ（ＮＤ（ｉ））で表され、
１回微分の結果Ｄ１（ｉ）を、
Ｄ１（ｉ）＝ｌｎ（ＮＤ（ｉ）−ｌｎ（ＮＤ（ｉ−１））
により求め、２回微分の結果Ｄ（ｉ）を、
Ｄ２（ｉ）＝｜Ｄ１（（ｉ））−Ｄ１（ｉ−１）｜
により求めている。
【００７２】
そしてそれまでに得られたデータから近似曲線ＡＰＣを得る。即ち、劣化特性を推定する。
なお、上記のように、テスト用再生パワーを次第に小さくしながら、所定量劣化までの再生回数を求める代わりに、テスト用再生パワーを次第に大きくしながら、それぞれの再生パワーについての所定量劣化までの再生回数を求め、異なる再生パワーについて得られた所定量劣化までの再生回数の自然対数を２回微分したデータを逐次得ながら、それらについて上記のように、ピークとその両側に位置する点が得られるかどうか判定を行うこととしても良い。
【００７３】
また、２回微分で得られた複数のデータにピークが存在せず、ほぼ０の値を取ったとしても、１回微分の結果Ｄ１に大きな差（所定値以上の差）が生じていれば、高パワー領域と低パワー領域の各々で複数の測定が行われていると判断し、テスト再生を終了するようにしても良い。
即ち、ステップＳ２４でパラメータｉを１増加するごとに、テスト用再生パワーを次第に小さくしながら、例えば図１０（ａ）に示すように、ＰＲをＰＲ（１）、ＰＲ（２）、ＰＲ（３）、ＰＲ（４）、ＰＲ（５）と変化させながら（Ｓ２１）、それぞれの再生パワーについて得られた劣化量データから、所定量劣化までの再生回数を算出し（Ｓ２２Ｆ）、異なる再生パワー（図１０でＰＲ（１）〜ＰＲ（５））について得られた所定量劣化までの再生回数ＮＤ（１）、ＮＤ（２）、ＮＤ（３）、ＮＤ（４）、ＮＤ（５）の自然対数を２回微分したデータを逐次得ながら、それらについて上記のように、ピークが存在せず、ほぼ０の値を取ったとしても、１回微分の結果Ｄ１が、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で大きな差（所定値以上の差）が生じたら、テスト再生を終了することとしても良い。
【００７４】
そしてそれまでに得られたデータから近似曲線ＡＰＣを得る。即ち、劣化特性を推定する。
なお、上記のように、テスト用再生パワーを次第に小さくしながら、所定量劣化までの再生回数を求める代わりに、テスト用再生パワーを次第に大きくしながら、それぞれの再生パワーについての所定量劣化までの再生回数を求め、異なる再生パワーについて得られた所定量劣化までの再生回数の自然対数を２回微分したデータを逐次得ながら、それらについて上記のように、ピークが存在せず、ほぼ０の値を取ったとしても、１回微分の結果Ｄ１が、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で大きな差（所定値以上の差）が生じるかどうかの判定を行なうこととしても良い。
【００７５】
また、ステップＳ２３の判定においては、必ずしも劣化データの１回微分や２回微分による判定を行う必要はなく、測定した領域が高パワー領域だけかどうかを判断してテスト再生を終了するかどうかを判断するようにしても良い。
【００７６】
また、図３のステップＳ２１においては、テスト用再生パワーを予め中央制御部２００内のＲＯＭ２２０にリストとして格納しておくようにしているが、ステップＳ２３の判断時に、テスト再生が必要な再生パワー（次のテスト再生に用いるべき再生パワー）を決定し、その再生パワーで追加のテスト再生を行うようにしても良い。
【００７７】
以上の様に本実施の形態１においては、再生パワーと、信号品質が所定量劣化する時の再生回数（劣化回数）の自然対数との関係を、式（４）の曲線で近似することで、高い再生パワーでの加速試験を行ったデータを用いても、保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる最適再生パワーを、正確に予測することができる。また、高い再生パワーでの加速試験が可能となることで、テスト再生に必要な再生回数を少なく抑えることができ、最適再生パワーの予測を一般的な寿命試験で用いられるアレニウスプロットを用いた場合よりも早く求めることができる。
【００７８】
先にも述べたように、再生回数に再生時間に対応するものであり、劣化回数（劣化量が所定の値となるまでの再生回数）ＮＤ（ｉ）やこれに対応する再生時間はともに寿命指標として用いられている。
劣化回数ＮＤの代わりに寿命指標ＬＰを用いて式（４）を書き直せば、
ｌｎ（ＬＰ）
＝∫｛（ＬＡ−ＬＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＬＢ×ＰＲ−ＬＣ））＋ＬＤ｝＋ＬＥ
…（４ａ）
となる。ここで、ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥは、式（４）のＡＡ、ＢＢ、ＣＣ、ＤＤ、ＥＥに対応するパラメータである。
【００７９】
実施の形態２．
実施の形態１では、データが再生開始される前にテスト再生による最適再生パワーの調整を行っていたため、データが再生できるまでに時間がかかるという問題がある。そこで、実施の形態２では、データの再生中の待機時間を利用してテスト再生をし、最適再生パワーの調整を行う様にする。
【００８０】
以下、図１１を参照して本実施の形態２の再生パワー設定方法の手順を説明する。実施の形態２の再生パワー設定方法の実施に用いられる光ディスク装置（従って、実施の形態２の光ディスク装置１をブロック図で示すと、図１のようになり、実施の形態１と同じである。
図１１のステップＳ１４の光ディスク情報の読み出しまでの処理は、図２と同様であるので省略する。
【００８１】
ステップＳ１４で光ディスク情報の読み出しが行われた後、図示しない手段により再生の指示が与えられると（ステップＳ１６でＹＥＳ）、ステップＳ１７において、光ディスク５００からの本来のデータ読み出し（本読み出し）を開始する。また、ステップＳ１６においては、図示しない手段からの再生の指示が与えられていない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ３０において、再生パワー調整を行う。ステップＳ３０における処理の詳細については、後で説明するが、図２のステップＳ１５とは異なり、１回のステップＳ３０の処理で、テスト再生と最適再生パワーの計算を完了するとは限らず、ステップＳ３０の各々では、ステップＳ１５の処理の一部、特に繰り返して行なう必要のあるテスト再生（図３のステップＳ２２Ｂ）の一部を行い、ステップＳ３０を繰り返すことで、必要な数のテスト再生結果を収集し、収集したテスト再生結果に用いて最適再生パワーの算出（ステップＳ２５）を行なう場合がある。
【００８２】
一般的に光ディスク装置１００は、上位コントローラー４００から指示される、読み出すデータの開始アドレスと読み出すデータ量に従い、光ディスク５００からデータを読み出し、バッファメモリ１９０に蓄積する。また上位コントローラー４００は、バッファメモリ１９０に蓄えられた再生データをデコードし映像や音声に変換した後、表示装置４５０に出力する。ここで、光ディスク装置１００が光ディスク５００から読み出す際の読み出しレートは、上位コントローラー４００が表示装置４５０に出力する際にバッファメモリ１９０から読み出すレートよりも速い為、上位コントローラー４００からの再生指示に対し、中央制御装置２００では、バッファメモリ１９０でオーバーフローやアンダーフローが起きないように制御を行う。
【００８３】
そのため、光ディスク５００から所定量のデータを読み出してバッファメモリ１９０へ蓄積する期間と、上位コントローラー４００が映像出力のためにバッファメモリ１９０からデータを読み出す間、光ディスク５００からのデータの読み出しを停止しておく待機期間とが交互に繰り返される。本実施の形態２では、上位コントローラー４００が映像出力のために光ディスク５００からのデータ読み出しを停止している待機期間、或いは他の理由で、光ディスク５００からのデータの読み出しを停止しておく期間において、再生パワーを求めるのに必要なテスト再生を行う様にしている。
【００８４】
ステップＳ１７においてデータの読み出しが開始された後、光ディスク装置１００は、上位コントローラー４００からの再生指示を待つ（ステップＳ３１）。再生指示が無い場合（例えば、図示しない手段により再生の一時停止等が行われた場合に相当する）、ステップＳ３０において再生パワー調整を行う。
【００８５】
また、ステップＳ３１において再生指示があった場合は、ステップＳ３２において、指定されたアドレスから指定データサイズのデータを読み込む。
【００８６】
次にステップＳ３３では、データ再生が完了して再生待機状態となったかどうかを判断し、再生待機状態になった場合（ＹＥＳの場合）、ステップＳ３０にて再生パワー調整を実施する。
次に、ステップＳ３４において待機状態が終了するかどうかを判断し、待機状態が継続する場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ３０の再生パワー調整を継続する。ステップＳ３４において、待機状態が終了する場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ３１に戻り、上位コントローラー４００からの再生指示を待つ。
【００８７】
ここで、ステップ３４の待機状態が終了するかどうかの判断は、例えばバッファメモリ１９０の状態を監視し、バッファメモリのデータ量が少なくなり、空に近づいたときは待機状態を終了すると判断すれば良い。例えば、バッファメモリに蓄えられているデータ量が、テスト再生用領域（テスト再生を行っているアドレス）から、前回データを再生した領域の次に再生を行なうべき領域までシークする時間の間に上位コントローラー４００が表示装置４５０に出力し続けるために必要なデータ量以下になったら、待機状態を終了すべきと判断し、データを再生した領域の次に再生すべき領域にシークしておく。
【００８８】
次に、図１２を参照して本実施の形態２における再生パワー調整（ステップＳ３０）の処理について説明する。図１２で、図３と同内容又は対応するステップには同じ符号が付してある。
まず、ステップＳ３０Ａにおいて、ｉ番目のテスト用領域へ移動する。ここでｉは、複数の互いに異なる再生パワーでテスト再生する際に、何回目のテスト再生かを示すパラメータであり、図１１において、初回のテスト再生が行われる前にｉ＝１に初期化しておく。
【００８９】
次に、ステップＳ２１において、ｉ番目のテスト用再生パワーＰＲ（ｉ）を設定する。
次に、ステップＳ３０Ｂにおいて、ｉが前回ステップＳ３０を実行した時に対して変更されているかどうかを判断し、変更されている場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ａに進み、劣化前の再生信号品質（ｉ番目のテスト領域における連続スチル再生開始前の再生信号品質、即ち「初期の再生品質）として信号品質を測定する。なお、ステップＳ３０の再生パワー調整が初めて実行される場合は、ｉの変更の有無にかかわらず、劣化前の再生信号品質をステップＳ２２Ａで測定する。ステップＳ２２Ａの後、ステップＳ２２Ｂに進む。ステップＳ３０Ｂでｉが変更されていない場合（ＮＯの場合）には、直ちにステップＳ２２Ｂに進む。
【００９０】
ステップＳ２２Ｂでは、連続スチル再生を行なう。ステップＳ２２Ａを経てステップＳ２２Ｂに進んだ場合には、直前にステップＳ２２Ａで再生品質を測定した領域で連続スチル再生を継続する。ステップＳ３０Ｂから直接ステップＳ２２Ｂに進んだ場合には、以前にステップＳ２２Ａ）で再生品質を測定した領域で連続スチル再生を開始する。
【００９１】
次にステップＳ３０Ｃでは、テスト再生を中断するかどうかを判断する。この判断は、上位コントローラー４００からの再生指示があった場合や、光ディスク装置１００の中央制御部２０が、バッファメモリ１９０の残りデータ容量から、待機状態を終了すると判断した場合にテスト再生中断（ＹＥＳ）とする。
【００９２】
ステップＳ３０Ｃで、テスト再生を中断する場合、ステップＳ３０Ｄに進み、それまでに行っているテスト再生における累積再生回数ＮＳ（ｉ）を記憶する（ｉ毎に記憶する）。次にステップＳ３０Ｅでテスト再生を中断し、ステップＳ３０Ｆで再生パワーを図１１のステップＳ１２で設定した初期再生パワーに戻し、ステップＳ３０の処理を終わる。ここで、ステップＳ１４において、挿入された光ディスク５００に応じて、再生パワーを設定している場合は、設定された再生パワーに戻すようにしても良い。
【００９３】
ステップＳ３０Ｃでテスト再生を中断しないと判断した場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｃで再生信号品質を測定するかどうかを判断する。ステップＳ２２Ｃで再生品質を測定しないと判断した場合（ＮＯの場合）、ステップＳ２２Ｂに戻る。一方、ステップＳ２２Ｃで再生品質を測定すると判断した場合（ＹＥＳの場合）、ステップＳ２２Ｄで再生品質を測定し、ステップＳ２２Ａで測定していた劣化前の再生品質からの劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）を算出する。
【００９４】
ステップＳ２２Ｃにおける「再生品質を測定するかどうか」の判断は、図３におけるステップＳ２２Ｃと同様に、ステップＳ２２ＡからステップＳ２２Ｂに進んで、ステップＳ２２Ｂで連続スチル再生を開始してからの再生回数（ＮＳ（ｉ）＝ＮＴ（ｉ，１）、又は前回のステップＳ２２Ｄにおける再生品質の測定したとき以降の再生回数ＮＴ（ｉ，ｊ）；（ｊは、再生パワーＰＲ（ｉ）でのテスト再生における何回目の再生品質測定であるかを示すパラメータ）が所定値ＮＴＬ（ｉ，ｊ）となったか否かに基づいて行われる。
【００９５】
次に、ステップＳ２２Ｅでは、ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が予め指定した所定の値ＱＤＭよりも大きいかどうかを判断する。ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が所定の値ＱＤＭよりも大きい場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ｆに進む。
【００９６】
ステップＳ２２Ｄで求めた劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）が所定値ＱＤＭ以下である場合（Ｓ２２ＥでＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｇにおいて、テスト再生を行っている再生パワーにおける連続スチル再生回数ＮＳ（ｉ）と、予め設定したテスト再生回数の上限値ＮＳＬを比較する。予め設定したテスト再生回数の上限値（所定回数）ＮＳＬ以上の再生をまだ行っていない場合（Ｓ２２ＧでＮＯの場合）は、ステップＳ２２Ｂに戻り、引き続きテスト再生領域をスチル再生しステップＳ３０Ｃ以降の処理を再び実行する。
【００９７】
予め設定したテスト再生回数の上限値（所定回数）ＮＳＬ以上の再生を行っている場合（Ｓ２２ＧでＹＥＳの場合）は、ステップＳ２２Ｆに進む。
【００９８】
ステップＳ２２Ｆでは、劣化量ＱＤ（ｉ）が所定の値ＱＤＬとなるまでの再生回数（劣化回数）ＮＤ（ｉ）を算出し、算出された再生回数ＮＤ（ｉ）を、例えば中央制御部２００のＲＡＭ２３０に、当該再生パワー（ｉ番目のテスト用再生パワー）ＰＲ（ｉ）と共に（再生パワーＰＲ（ｉ）に対応付けて）記憶させ、連続スチル再生を終了する。ステップＳ２２Ｆの後、ステップＳ２３に進む。
【００９９】
ここで、ステップＳ２２Ｃで再生品質を測定する間隔（（ｊ）番目（ｊ＝１、２、３、…）の再生品質測定と次の再生品質測定までの再生回数ＮＴＬ（ｉ，ｊ））は、予め設定した一定間隔（一定の再生回数毎）としても良いし、ステップＳ２２Ｄで算出した再生品質の劣化量により変更するようにしても良い。例えば、ステップＳ２２Ｄで算出した劣化量が、ステップＳ２２Ｅで指定する所定の劣化量に近づくに伴い、間隔を短くするようにしても良い。
【０１００】
また、ステップＳ２２Ｇの所定回数ＮＳＬ再生したかどうかの判断は、ステップＳ２２Ｅにおける判断で、再生品質の劣化量ＱＤ（ｉ，ｊ）と、基準となる予め定めた再生品質の劣化量ＱＤＭの差が小さい場合（例えば、前記劣化量の差（ＱＤＭ−ＱＤ（（ｉ，ｊ）が、予め定めた再生品質の劣化量ＱＤＭに対して１０％以下に相当しており、追加の再生で所望の劣化量に達すると判断できる場合等）には実施せずに、ステップＳ２２Ｅの次にステップＳ２２Ｆに進むこととしても良い。
【０１０１】
次にステップＳ２３では、テスト再生を終了するかどうか判断し、テスト再生を終了しない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２４でｉに１を加算し、ステップＳ３０Ａに戻る。ｉの増加に伴い、再生パワーＰＲ（ｉ）も変更する。再生パワーの変更は、例えば、１回目のテスト再生における再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１）から順により小さな値としても良く、また１回目のテスト再生における再生パワーＰＲ（ｉ）；（ｉ＝１）から順により大きな値としても良い。
【０１０２】
ステップＳ２３でテスト再生を終了する場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２５で演算式により最適再生パワーを算出し設定し、ステップＳ３０の処理を終了する。
ここで、ステップＳ２３、ステップＳ２５の処理については、実施の形態１で詳細に説明したので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１０３】
以上の様に、本実施の形態２においては、再生パワー調整、特にそのうちのテスト再生を、光ディスク装置１００が光ディスク５００からデータを読み出す間の待機期間を利用して行うようにした為、光ディスク５００を光ディスク装置１００に挿入してから再生されるまでの時間を延ばす事無く、最適再生パワーを予測することができる。
【０１０４】
尚、実施の形態２において、ステップＳ３０の再生パワー調整で最適再生パワーが求まった後の処理を特に示していないが、最適再生パワーが求まった以降は、図１１におけるステップＳ３０の再生パワー調整を行わない様にしても良いし、ステップＳ３０で再生パワー調整に用いた再生パワーからさらに低い再生パワーを用いたテスト再生を追加で行い、図１２のステップＳ２５で最適再生パワーを算出しなおすこととしても良く、このようにすれば最適再生パワーをより正確に（より適切な値に）決定することができる。
【０１０５】
実施の形態３．
実施の形態１及び実施の形態２においては、光ディスク装置１００が光ディスク５００からデータを再生する前、あるいはデータを再生中の待機期間を利用して、テスト再生を行うことにより、保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる最適再生パワーを求めることとしているが、本実施の形態３においては、予め、例えば光ディスク装置１００の出荷前や開発時において、光ディスク５００に対応した最適再生パワーを求め、光ディスク装置１００に、例えばその中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶させておく様にする。
【０１０６】
一般的に光ディスク５００は、図１３に示すように、ＢＣＡ領域ＲＢＣ、リードイン領域ＲＬＩ、データ記録領域ＲＤＲ、リードアウト領域ＲＬＯに分かれている。ここで、ＢＣＡ領域ＲＢＣには、バーコード状の信号で、ディスク１枚毎にメディアを識別する為の固有番号が記録されている。また、リードイン領域ＲＬＩは、ディスクを制御する為の制御情報を記録する領域ＲＣＩ、及び製造メーカー等のディスク固有情報を記録する領域ＲＩＤを含み、上記の制御情報（ＲＣＩ）やディスクの固有情報（ＲＩＤ）は、リードアウト領域ＲＬＯにも記録されている場合がある。
【０１０７】
本実施の形態３においては、ディスクの固有情報別に、予め実施の形態１や実施の形態２と同様のテスト再生を行い、テスト再生に用いた再生パワーと、信号品質が所定量劣化する時の再生回数（劣化回数）ＮＤの自然対数との関係を、式（４）の曲線で近似し、保証再生回数ＲＬにおいて、信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる最適再生パワーを予め求めておき、ディスクの固有情報と求めた最適再生パワーの関係を例えばテーブル形式で、光ディスク装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に記憶しておく。
【０１０８】
再生を行おうとする光ディスク装置１００に光ディスク５００が挿入された場合、該光ディスク装置１００は、光ヘッド３００、プリアンプ、再生信号処理部、データデコーダ１４０及び中央制御部２００により、光ディスク５００の固有情報を読み取り、ＲＯＭ２００内の前記テーブルから、挿入された光ディスク５００と同じ固有情報に対応付けて記憶されている最適再生パワーを読み出して、ＲＡＭ２３０内に設定し（再生パワーの設定値（目標値）としてＲＡＭ２３０内に設定し）、設定された再生パワーで、光ディスク５００からデータを再生する。
【０１０９】
ここで、最適再生パワーの決定（それぞれのディスクに対する最適再生パワーを含むテーブルの作成）は、予め光ディスク装置１００の出荷前に、光ディスク５００の固有情報別に実施しておき、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶させる。尚、光ディスク装置１００のモデル乃至仕様が変わった際（例えば、光ピックアップ３００の光学的な仕様が変更となった場合）にのみ実施すれば良い。
【０１１０】
光ディスク装置の出荷前に、光ディスク装置１００に対する最適再生パワーを求めるためには、個々の光ディスク装置１００を用いて、最適再生パワーを求めても良く、同じ仕様の別の光ディスク装置又は同じ性能及び特性を有する試験装置を用いて最適再生パワーを求めて良い。
【０１１１】
そして、このようにして求めた最適再生パワーを初期値として、光ディスク装置内に、例えばＲＯＭ２２０内に記憶させておく。光ディスク装置では、光ディスクが挿入されると、ＲＯＭ２２０から最適再生パワーの初期値を読み出して、読み出された最適再生パワーの設定値を用いて、制御情報の読出しや本再生を行うようにしても良い。
【０１１２】
また、読み出された最適再生パワーの設定値を用いて制御情報の読出しなど（ステップＳ１３、Ｓ１４の処理）のみを行い、その後で、実施の形態１に関して図２、図３を参照して説明したのと同様にして、或いは実施の形態２に関して図１１、図１２を参照して説明したのと同様にテスト再生を行って、最適再生パワーを決定して、ＲＯＭ２２０に書き込むこととすれば良い。
【０１１３】
また、光ディスク装置の出荷前に最適再生パワーを求めるには、実施の形態１や実施の形態２に関して説明した方法を用いても良いが、最適再生パワーを精度良く求める為に、テスト再生に用いる再生パワーは、図８における低パワー領域、曲線領域、及び高パワー領域を含む範囲において測定するのが望ましい。
【０１１４】
また、実施の形態３においては、リードイン領域のディスクの固有情報別に最適再生パワーを記憶する様にしているが、例えばＢＣＡ領域ＲＢＣに記録されているディスク１枚毎にメディアを識別する為の固有番号や、その他のディスクを特定できる情報を用いる様にしても良い。
【０１１５】
さらに、実施の形態３の光ディスク装置に対して、実施の形態１や実施の形態２を用いて、改めてテスト再生を行い、最適な再生パワーを求める様にしても良い。
【０１１６】
実施の形態４．
実施の形態１及び実施の形態２においては、光ディスク装置１００が光ディスク５００からデータを再生する前、あるいはデータを再生中の待機期間を利用して、テスト再生を行うことにより、保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる再生パワー（最適再生パワーＰＲｏ）を求めることとしているが、光ディスク装置内の温度の考慮を行っていない。信号品質の劣化量は、温度によっても変化する為、光ディスク装置１００内の温度が変化した場合、実施の形態１又は実施の形態２で求めた再生パワーでは、所定量以上の信号の劣化が起こってしまう可能性がある。そこで、実施の形態４では、温度変化に応じた最適再生パワーの補正（即ち再生パワーの設定値の補正）を行う。
【０１１７】
実施の形態４における光ディスク装置１００は図１４に示すように、図１の光ディスク装置１００に加えて、温度測定部３８０を有する。温度測定部３８０は、例えばサーミスタを利用したものであり、光再生装置１００内部の温度を測定する。ここで、サーミスタは光ディスク装置１００内の光ヘッド３００に近い場所もしくは、光ヘッド３００上に配置し、光ヘッド３００、特にそのレーザー３１０の近傍の温度を測定するように設けるのが望ましい。なお、温度測定部３８０としては、サーミスタを利用したものに限らず、温度が測定できる素子や装置等であればよい。
【０１１８】
以下、図１５を参照して、実施の形態４における温度変化に応じた再生パワーの補正手順を説明する。実施の形態４における再生の手順のうち、ステップＳ１５の再生パワー調整までの処理は、図２と同様であるのでステップＳ１４までの処理については図示及び説明を省略する。
【０１１９】
ステップＳ１５の再生パワー調整では、図２に関して説明したのと同様に、最大再生パワーＰＲｍ（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー）を求め、それと同じ値、或いは（余裕を考慮に入れて）それより若干小さい値のパワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。言い換えれば、保証再生回数ＲＬにおける再生信号の劣化が所定値以下に抑えられる再生パワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。
【０１２０】
次に、ステップＳ４０で、光ディスク装置１００の温度Ｔ１を温度測定部３８０で測定し、基準温度ＴＲＡとして、例えば、中央制御部２００内のＲＡＭ２３０に記憶しておく。また、ステップＳ１５で求められた最適再生パワーＰＲｏを、基準再生パワーＰＲＡとして、例えば、中央制御部２００内のＲＡＭ２３０に記憶しておく。
【０１２１】
ステップＳ４０の後、図示しない手段により再生の指示が与えられると（ステップＳ１６）、ステップＳ１７において、ステップＳ１５で調整し設定した最適再生パワーＰＲｏにより、光ディスク５００からの本来のデータの読み出し（本読み出し）を開始する。尚、図示していないが、以降の処理は、ステップＳ１７で開始されたデータの読み出しと並行して処理を行うもので、以下では、データの再生処理以外について説明する。
【０１２２】
次に、ステップＳ４１において、データの読み出しと並行して、光ディスク装置１００内部の温度Ｔ２を温度測定部３８０を用いて測定する。ここで、ステップＳ４１の動作は、常に行う必要はなく、例えば、前に温度測定した時刻から、予め定めた時間以上が経過した場合に実施するようにすれば良い。尚、光ディスク装置１００における他の処理負荷が大きくない場合には、より短い時間間隔で、ステップＳ４１の温度測定を実施する様にしても良い。
【０１２３】
ステップＳ４１で温度Ｔ２を測定した後、ステップＳ４２において、基準温度ＴＲＡ（初めてステップＳ４２が実施される時は、ステップＳ４０で測定した温度Ｔ１が基準温度ＴＲＡとなる）と、ステップＳ４１で測定した温度Ｔ２との温度差（差分の絶対値、即ち変化幅）を求め、該温度差が所定の温度差ΔＴＡ以上（例えば１０度以上）となっているかどうかを判断する。前記温度差が所定の温度差ΔＴＡ未満の場合（ＮＯの場合）は、何もせずにデータの再生を継続する。前記温度差が所定の温度差ΔＴＡ以上の場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ４３において再生パワーを補正する。この再生パワーの補正のステップＳ４３においては、最適再生パワーＰＲｏを補正する。この再生パワーの補正については後述する。さらに、ステップＳ４４において基準温度ＴＲＡをこの時のステップＳ４１で測定した温度Ｔ２に更新し、基準再生パワーＰＲＡをステップＳ４３で求めた最適再生パワーＰＲｏに更新する。
【０１２４】
次に、ステップＳ４５において、ステップＳ４３で補正した最適再生パワーＰＲｏを設定し（補正した最適再生パワーＰＲｏを新たな設定値とし、すなわち、設定値を更新し）、データ読み出しに用いる。ここで、図示していないが、ステップＳ４５で再生パワーを設定する場合は、光ディスク５００からのデータ読み出しを一旦停止して再生パワーを設定する。尚、データ読み出しを強制的に一旦停止させる必要はなく、例えばデータ読み出し待機期間（データ読み出しをしていない期間）となるまで待機して、再生パワーの設定をする様にしても良い。
【０１２５】
図１５のうち、ステップＳ４０、Ｓ４１の処理は、温度測定部３８０と中央制御部２００とで行なわれ、ステップＳ４２、Ｓ４３、Ｓ４４、Ｓ４５の処理は、中央制御部２００で行なわれる。
【０１２６】
次に、図１６及び図１７を参照して、ステップＳ４３における再生パワーの補正について説明する。図１６に、３つの異なる温度における、再生パワーＰＲと劣化回数ＮＤの関係（実測値）と式（４）で近似した時の近似曲線ＡＰＣ２０、ＡＰＣ４０、ＡＰＣ６０を示す。ここで、△印と実線ＡＰＣ２０が光ディスク装置内の温度が２０℃の場合を示し、△印が実測値、実線ＡＰＣ２０が近似曲線を示す。○印と破線ＡＰＣ４０が４０℃の場合を示し、○印が実測値、破線が近似曲線を示す。□印と鎖線ＡＰＣ６０が６０℃の場合を示し、□印が実測値、鎖線が近似曲線を示す。
【０１２７】
図１６において、曲線ＡＰＣ２０、ＡＰＣ４０、ＡＰＣ６０の各々についての最大再生パワー（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬにとなる再生パワー）が符号ＰＲｍ（ＡＰＣ２０）、ＰＲｍ（ＡＰＣ４０）、ＰＲｍ（ＡＰＣ６０）で示されている。
図１６より、温度が高くなるに従い、再生パワーＰＲと劣化回数ＮＤの関係が図中の左側に移動し、低い再生パワーでも劣化しやすくなっていることがわかる。つまり、最大再生パワーＰＲｍは、温度が高くなるに従い、低くなることが分かる。
【０１２８】
図１７に、異なる２種類のＢＤ−ＲＥディスクにおける、温度と最大再生パワーＰＲｍの関係を示す。ここで、○印と実線がＤｉｓｃＣの場合、□印と破線がＤｉｓｃＤの場合を示しており、○印と□印は実測値を、実線と破線は実測値を一次近似した場合の近似直線を示している。図１７より、温度と最大再生パワーＰＲｍの関係は、線形に近似が可能であることがわかる。また、異なる２種類のＢＤ−ＲＥディスクの近似直線の傾きは、ほぼ同等であることがわかる。この近似直線の傾きＣＴを、予め対象となる光ディスク装置１００で調べておき、例えば中央制御部２００のＲＡＭ２３０内に保存しておく。ここで、この傾きＣＴの保存は、光ディスク装置１００のモデル乃至仕様が変わった際（例えば、光ピックアップ３００の光学的な仕様が変更となった場合）にのみ実施すれば良い。
【０１２９】
なお、最適再生パワーＰＲｏは最大再生パワーＰＲｍに対応する値であるので、温度と最適再生パワーの関係は、温度と最大再生パワーの関係と同様のものであり、特に最適再生パワーが最大再生パワーに所定の定数を掛けることで得られものである場合には、温度と最適再生パワーの関係を示す近似直線の傾きは、温度と最大再生パワーの関係を示す近似直線の傾きと同じである。以下では、最適再生パワーが最大再生パワーに所定の係数を掛けることで得られるものであるとし、温度と最適再生パワーの関係を示す近似直線の傾きが温度と最大再生パワーの関係を示す近似直線の傾きと同じであるとして説明する。
【０１３０】
以上の結果を利用し、ステップＳ４３における再生パワーの補正を行う。基準再生パワーＰＲＡ、及び基準温度ＴＲＡと、ステップＳ４２の直前に行われたステップＳ４１（ステップＳ４２の判断において用いられた温度を測定したステップ）で測定された温度Ｔ２、温度と最大再生パワーの関係の近似直線の傾きをＣＴとすると、以下の式で補正後の最適再生パワーＰＲｏｕ（温度変化に対応して補正を行った後の最適再生パワー）を求めることができる。
ＰＲｏｕ＝ＣＴ×（Ｔ２−ＴＲＡ）＋ＰＲＡ      …（６Ａ）
【０１３１】
ここで、基準温度ＴＲＡと、基準再生パワーＰＲＡは、ステップＳ４４で更新した値を、次にステップＳ４３の処理を行なう場合に、式（６Ａ）で用いる様にしているが、式（６Ａ）中の基準温度ＴＲＡをステップＳ４０で求めた温度Ｔ１とし、基準再生パワーＰＲＡをステップＳ１５で求めた最適再生パワーＰＲｏに固定して求める様にしても良い。
【０１３２】
尚、図１７において、温度と最大再生パワーの関係（近似直線の傾き）が異なる２種類のＢＤ−ＲＥディスクにおいてほぼ同等であることを示したが、光ディスクの特性によっては前記温度と最大再生パワーＰＲｍの関係（近似直線の傾き）が異なる可能性がある。図１８に、光ディスクによって、温度と最大再生パワーＰＲｍの関係（近似直線の傾き）が異なる場合の、温度と最大再生パワーＰＲｍとの関係の一例を示す。ここで、○印と実線がＤｉｓｃＥの場合、□印と破線がＤｉｓｃＦの場合、△印と鎖線がＤｉｓｃＧの場合を示す。この様な場合は、前記温度と最大再生パワーＰＲｍの関係の近似直線の傾きＣＴを、光ディスクの固有情報毎に光ディスク装置１００に、例えばその中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶する様にする。例えば、図１８においては、ＤｉｓｃＥ、ＤｉｓｃＦ、ＤｉｓｃＧのそれぞれの近似直線の傾きをＣＴ（Ｅ）、ＣＴ（Ｆ）、ＣＴ（Ｇ）として光ディスク装置１００に(ＲＯＭ２２０に）記憶する。光ディスク再生時には、挿入された光ディスクの固有情報に応じた近似直線の傾き情報を用いて、式（６Ａ）を用いて温度変化に対応した補正後の最適再生パワーＰＲｏｕを求める様にすれば良い。
【０１３３】
尚、近似直線の傾きＣＴが光ディスクにより異なる場合には、光ディスクの固有情報と共に（固有情報に対応付けて）、光ディスク毎の近似直線の傾きＣＴの関係を例えばテーブル形式で、光ディスク装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に記憶しておく。代わりに、種々の光ディスクに対して求めた近似直線の傾きのうち、絶対量が最大となる傾きと、最小となる傾きのそれぞれを、光ディスク装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に記憶しておくこととしても良い。
この場合、前記テーブル内に固有情報を記憶していないディスクに対して、ステップＳ４０で測定した温度（又は前回のステップＳ４１での温度測定により求めた温度）よりも高くなった場合には絶対量が最大となる傾きを用い、温度が低くなった場合には、絶対量が最大となる傾きを用いて再生パワーの補正を行う様にしても良い。
【０１３４】
即ち、光ディスク装置１００の温度が高くなった結果、ステップＳ４３の再生パワー補正が行われる場合は、近似直線の傾きの絶対量が最大となる方の傾きを用いて、式（６Ａ）により補正を行う。一方、光ディスク装置１００の温度が低くなった結果、ステップＳ４３の再生パワー補正が行われる場合は、近似直線の傾きの絶対量が最小となる方の傾きを用いて式（６Ａ）により補正を行うこととしても良い。このようにすれば、光ディスクによっては、本来よりも低い再生パワーに設定されることになるが、全ての光ディスクにおいて、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬ未満となることを防ぐ事ができる。
【０１３５】
ステップＳ４３では、式（６Ａ）を用いて、最適再生パワーＰＲｏを温度変化に応じて補正し、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。
【０１３６】
尚、ステップＳ４０で基準再生パワーＰＲＡとして、最適再生パワーＰＲｏを設定する様にしているが、ステップＳ１５で求められる最大再生パワーＰＲｍを設定する様にしても良い。この場合、ステップＳ４３で、式（６Ａ）と同様の下記の式（６Ｂ）を用いて補正された結果が最大再生パワーＰＲｏとなる。
ＰＲｍｕ＝ＣＴ×（Ｔ２−ＴＲＡ）＋ＰＲＡ      …（６Ｂ）
（但し、ＰＲＡ＝ＰＲｍ）
【０１３７】
以上の様に、本実施の形態４においては、最大再生パワーＰＲｍと温度の関係を予め調べておき、最適再生パワーを温度変化に応じて式（６Ａ）により、又は式（６Ｂ）を用いて補正することで、温度が変化した場合でも、その温度における最適再生パワーＰＲｏを求める事ができ、所定量以上の信号品質の劣化を防ぐことができる。
【０１３８】
尚、本実施の形態４においては、ステップＳ４２において所定の温度差以上となっているかどうかを判断して、ステップＳ４３の再生パワーの補正をする様にしているが、ステップＳ４１における温度測定の後、再生パワーの補正を行い、再生パワーの変動量が所定の値以上（例えば、制御可能な最小ステップ以上）となった場合に、ステップＳ４４とステップＳ４５の処理を行う様にしても良い。
【０１３９】
また、光ディスク装置の出荷前に温度と最大再生パワーの関係を求めるには、実施の形態１や実施の形態２に関して説明した方法を用いても良いが、最適再生パワーを精度良く求める為に、テスト再生に用いる再生パワーとして、図８における低パワー領域、曲線領域、および高パワー領域を含む範囲において測定するのが望ましい。
【０１４０】
また、本実施の形態４においては、図１５に示す様に、ステップＳ１７でデータ再生が開始された後の処理として示しているが、データ再生を開始する前の待機中に、ステップＳ４１からステップＳ４５までの処理を行っても良い。
【０１４１】
また、本実施の形態４においては、図１７に示す様に、温度と最大再生パワーＰＲｍの関係を直線近似しているが、直線近似に限らず、両者の関係を近似できれば良い。ただし、直線近似以外の近似を行う場合は、用いる近似式に応じて、式（６Ａ）又は式（６Ｂ）、及び記憶する係数を変更する必要がある。
【０１４２】
なお、上記したステップＳ４３における再生パワー補正の処理は、温度変化に応じて再生パワーを変更する処理であると言うこともできる。
【０１４３】
実施の形態５．
実施の形態４においては、光ディスク装置１００内の温度変化に応じて、予め調べておいた最大再生パワーＰＲｍと温度との関係を用いて計算により再生パワーを補正する様にしていた。ここで、最大再生パワーＰＲｍと温度の関係は特定の光ディスク装置１００、及び限られた光ディスク５００でしか調べることができない為、光ディスク装置１００や光ディスク５００の個体差等によるずれが生じ、特に温度変化が大きい場合にはその影響が顕著となる。そこで、実施の形態５では、温度変化に応じて、再生パワー調整を再度行う。
【０１４４】
実施の形態５に係る光ディスク装置１００をブロック図で示すと、図１４のようになる。
【０１４５】
以下、図１９を参照して、実施の形態５における温度変化後の温度に応じた再生パワーの変更処理について説明する。実施の形態４における再生の手順のうち、ステップＳ１５の再生パワー調整までの処理は、図２と同様であるのでステップＳ１４までの処理ついては図示及び説明を省略する。
また、ステップＳ４１、ステップＳ４２からステップＳ４５までの処理は、図１５と概略同じである。ステップＳ５０の処理は、ステップＳ４０と概して同じであるが、以下に述べるように違いがある。
【０１４６】
ステップＳ１５の再生パワー調整では、図２に関して説明したのと同様に、最大再生パワーＰＲｍ（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー）を求め、それと同じ値、或いは（余裕を考慮に入れて）それより若干小さい値のパワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。言い換えれば、保証再生回数ＲＬにおける再生信号の劣化が所定値以下に抑えられる再生パワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する。
【０１４７】
次に、ステップＳ５０で、光ディスク装置１００の温度Ｔ１を温度測定部３８０を用いて測定し、基準温度ＴＲＡ及びＴＲＢとして、例えば、中央制御部２００内のＲＡＭ２３０に記憶しておく。また、ステップＳ１５で求められた最大再生パワーＰＲｍを、基準再生パワーＰＲＢ及びＰＲＣとして、例えば、中央制御部２００内のＲＡＭ２３０に記憶しておく。
【０１４８】
ステップＳ５０の後、図示しない手段により再生の指示が与えられると（ステップＳ１６）、ステップＳ１７において、ステップＳ１５で調整し設定した最適再生パワーＰＲｏにより、光ディスク５００からの本来のデータの読み出し（本読み出し）を開始する。尚、図示していないが、以降の処理は、ステップＳ１７で開始されたデータの読み出しと並行して処理を行うもので、以下では、データの再生処理以外について説明する。
【０１４９】
次に、ステップＳ４１において、データの読み出しと並行して、光ディスク装置１００内部の温度Ｔ２を温度測定武３８０を用いて測定する。ここで、ステップＳ４１の動作は、常に行う必要はなく、例えば、前に温度測定した時刻から、予め定めた時間以上が経過した場合に実施するようにすれば良い。尚、光ディスク装置１００における他の処理負荷が大きくない場合には、より短い時間間隔で、ステップＳ４１の温度測定を実施する様にしても良い。
【０１５０】
ステップＳ４１で温度Ｔ２を測定した後、ステップＳ５１において、基準温度ＴＲＢとステップＳ４１で測定した温度Ｔ２との温度差（差分の絶対値、即ち変化幅）を求め、該温度差が所定の温度差ΔＴＢ以上（例えば２０度以上）となっているかどうかを判断する。所定の温度差ΔＴＢ未満の場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ４２からステップＳ４５の処理を実行する。ここで、ステップステップＳ４２からステップＳ４５の処理は実施の形態４と同一であるので説明を省略する。また、ステップＳ５１で用いる温度差ΔＴＢは、ステップＳ４２で用いる温度差ΔＴＡより大きい値とするのが望ましい。
【０１５１】
ステップＳ５１で、前記温度差が所定の温度差ΔＴＢ以上の場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ５２において再生パワー調整を行う。ステップＳ５２の処理は、ステップＳ１５と同様である。尚、ステップＳ５２における再生パワー調整においては、最適再生パワーＰＲｏのみならず、（最適再生パワーＰＲｏを求める過程で）最大再生パワーＰＲｍも求められる。
【０１５２】
ステップＳ５２の次に、ステップＳ５４で、光ディスク装置１００の温度Ｔ３を温度測定部３８０を用いて測定する。さらに、ステップＳ５５において基準温度ＴＲＡ及びＴＲＢをステップＳ５４で測定した温度Ｔ３に、基準再生パワーＰＲＢ及びＰＲＣをステップＳ５３で求めた再生パワー（最大再生パワーＰＲｍ）に更新する。こうすることで、その後で行われるステップＳ５１における最適再生パワーの調整を再度行うことが必要かどうかの判断は、ステップＳ５２で再生パワー調整のために行ったテスト再生の際の温度を基準として（該温度に対する変化幅が所定値以上かどうかにより）行うことになる。
尚、ステップＳ５４を省略し、ステップＳ４１で測定した温度Ｔ２をステップＳ５５で温度Ｔ３の代わりに用いることとしても良い。この場合には、その後で行われるステップＳ５１における最適再生パワーの調整を再度行うことが必要かどうかの判断は、ステップＳ１５で再生パワー調整のために行ったテスト再生の際の温度を基準として行うことになる。
【０１５３】
次に、ステップＳ４５において、ステップＳ５２で求めた最大再生パワーＰＲｍに対応する最適再生パワーＰＲｏを設定し（求められた最適再生パワーＰＲｏを新たな設定値とし、すなわち、設定値を更新し）、該設定値をそれ以降のデータ読み出しに用いる。ここで、図示していないが、ステップＳ４５で再生パワーを設定する場合は、光ディスク５００からのデータ読み出しを一旦停止して再生パワーを設定する。尚、データ読み出しを強制的に一旦停止させる必要はなく、例えばデータ読み出し待機期間（データ読み出しをしていない期間）となるまで待機して、再生パワーの設定をする様にしても良い。
【０１５４】
ステップＳ４３の再生パワーの補正においては、実施の形態４と同様に、予め調べた温度と最大再生パワーの関係（近似直線の傾き）を利用する。この際、基準再生パワーＰＲＢ及びＰＲＣとして最大再生パワーＰＲｍが記憶されているので、式（６Ｂ）を用いて補正を行う。ここで、図１８に示した様に、光ディスク毎に近似直線の傾きが異なる場合は、光ディスク毎の近似直線の傾きを光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にしても良く、代わりに、種々の光ディスクの近似直線の傾きの中から、傾きの絶対量が最大の場合と最小の場合の２つのみを光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にしても良い。
【０１５５】
この場合、光ディスク装置１００の温度が高くなった結果、ステップＳ４３の再生パワー補正が行われる場合は、近似直線の傾きの絶対量が最大となる方の傾きを用いて、式（６Ｂ）により補正を行う。一方、光ディスク装置１００の温度が低くなった結果、ステップＳ４３の再生パワー補正が行われる場合は、近似直線の傾きの絶対量が最小となる方の傾きを用いて式（６Ｂ）により補正を行うこととしても良い。こうすることで、光ディスクによっては、本来よりも低い再生パワーに設定されることになるが、全ての光ディスクにおいて、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬ未満となることを防ぐ事ができる。
【０１５６】
また、ステップＳ５２の再生パワー調整により、温度変化後の温度に応じた最適再生パワーＰＲｏがその後の再生に用いられることになるので、再生パワーが大きすぎて劣化回数ＮＤが保証再生未満となるのを防ぐことができるだけでなく、光ディスクの再生に光ディスクが再生できないレベルにまで再生パワーが低く設定されるたりするのを防ぐことができる。
【０１５７】
図１９のうち、ステップＳ５０、Ｓ４１、Ｓ５４の処理は、温度測定部３８０と中央制御部２００とで行なわれ、ステップＳ４２、Ｓ４３、Ｓ４４、Ｓ４５、Ｓ５１、Ｓ５３、Ｓ５５の処理は、中央制御部２００で行なわれる。
【０１５８】
なお、上記の例では、ステップＳ５１で、前記温度差が所定の温度差ΔＴＢ以上の場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ５２で再生パワー調整を行うこととしているが、ステップＳ５１でＹＥＳの場合の処理手順を図２０に示す如くとしても良い。図２０に示す手順は実施の形態２に関し図１１を参照して説明したのと同様に、再生パワー調整、特にそのためのテスト再生を間欠的に行うものであり、図２０において、図１１と同じ符号は同様の処理を示す。
まず、ステップＳ５１で、前記温度差が所定の温度差ΔＴＢ以上の場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ３１において、再生指示の有無を判断し、再生指示が無い場合（例えば、図示しない手段により再生の一時停止等が行われた場合に相当する）、ステップＳ６０において再生パワー調整を行う。
【０１５９】
ステップＳ６０の処理は、実施の形態２に関して図１１及び図１２を参照して説明したステップＳ３０と同様であるが、図１２のステップＳ２５の次に、図１９のステップＳ５４及びＳ５５と同様の処理を行う点で異なる。即ち、図１２のステップＳ２５の次に図２１に示すように、ステップＳ５４及びＳ５５が挿入されており、図１９を参照して説明したように、ステップＳ５４で、光ディスク装置１００の温度Ｔ３を温度測定部３８０を用いて測定し、ステップＳ５５で、基準温度ＴＲＡ及びＴＲＢをステップＳ５４で測定した温度Ｔ３に、基準再生パワーＰＲＢ及びＰＲＣをステップＳ２５で求めた最大再生パワーＰＲｍに更新する。
【０１６０】
ステップＳ３１において再生指示があった場合は、ステップＳ３２において、指定されたアドレスから指定データサイズのデータを読み込む。
【０１６１】
ステップＳ３３では、データ再生が完了して再生待機状態となったかどうかを判断し、再生待機状態になった場合（ＹＥＳの場合）、ステップＳ６０にて再生パワー調整を実施する。
次に、ステップＳ３４において待機状態が終了するかどうかを判断し、待機状態が継続する場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ６０の再生パワー調整を継続する。ステップＳ３４において、待機状態が終了する場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ３１に戻り、上位コントローラー４００からの再生指示を待つ。
【０１６２】
以上のように、図２０に示す手順で処理を行なう場合には、
実施の形態２と同様に、データの再生中の待機時間を利用して間欠的に再生パワー調整を行う。この場合、図１１に説明したのと同様に、他の処理、例えばステップＳ３２と同様のデータ再生の処理などを行いながら、ステップＳ６０を繰り返すことで、最適再生パワーの計算に必要なテスト再生データを収集する場合がある。
【０１６３】
なお、図２０の手順で処理をする場合にも、ステップＳ５１で、前記温度差が所定の温度差ΔＴＢ以上の場合（ＹＥＳの場合）に、データ再生が停止しており、光ディスク装置１００の電源が入っている場合等は、ステップＳ５２と同様に、再生パワー調整を行うこととしてもよい。すなわち、ステップＳ３１でＮＯであれば、その後、図１９のステップＳ５２以下の処理を行うこととしても良い。
【０１６４】
以上の様に、本実施の形態５においては、ステップＳ１５、ステップＳ５２、又は或いはＳ６０における再生パワー調整を行った時からの温度変化が大きい場合（所定の温度差ΔＴＢ以上の場合）に、再度再生パワー調整（Ｓ５２、Ｓ６０）を行うようにした為、最大再生パワーＰＲｍと温度の関係が、光ディスク装置１００や光ディスク５００の個体差等により、予め設定した関係と異なる場合にも、温度変化によらず、劣化回数を保証再生回数ＲＬ以上とすることができる。
【０１６５】
尚、図２０においては、ステップＳ５２又はＳ６０による再生パワー調整（そのためのテスト再生）を行っている間は、ステップＳ４３の式（６Ａ）又は式（６Ｂ）を用いた再生パワーの補正を行わない様になっているが、再生パワー調整をデータ読み出し待機期間で行っている場合（図２０のステップＳ３１でＮＯ、或いはステップＳ３３でＹＥＳの場合にステップＳ６０の処理を行なっている場合）には、ステップＳ４２からステップＳ４５の処理を定期的に行って、データ読み出し用の再生パワーとして設定する様にしても良い。
【０１６６】
また、図１９のステップＳ５２或いは図２０のステップＳ６０で最適再生パワーを算出した場合、式（６Ａ）又は式（６Ｂ）で用いる温度と最大再生パワーの関係の近似直線の傾きＣＴを、ステップＳ１５で求めた最大再生パワー、ステップＳ５０で測定により得た温度Ｔ１、ステップＳ５２又はステップＳ６０で求めた最大再生パワー、及びステップＳ５４で測定により得た温度Ｔ３を用いて計算し直し、その後のステップＳ４３での再生パワー補正に用いる様にしても良い。
【０１６７】
上記のステップＳ５２又はステップＳ６０における、変化後の温度に対する最適パワーの算出の処理及びステップＳ４３における、再生パワー補正の処理は、いずれも温度変化に応じて再生パワーを変更する処理である点で共通しており、これらの各々、又はれらの組み合わせと再生パワーの変更と言うこともある。
【０１６８】
実施の形態６．
実施の形態３においては、予め、例えば光ディスク装置１００の出荷前や開発時において、光ディスク５００に対応した最適再生パワーを求めておき、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶させておく様にしていたが、光ディスク装置内の温度の考慮を行っていない。信号品質の劣化量は、温度によっても変化する為、光ディスク装置１００内の温度が変化した場合、実施の形態３で求めた再生パワーでは、所定量以上の信号の劣化が起こってしまう可能性がある。そこで、実施の形態６では、実施の形態３に加えて、温度変化に対応するための情報も、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶させる様にして、温度に応じた最適再生パワーの補正を行う。
【０１６９】
本実施の形態６においては、ディスクの固有情報別に、予め実施の形態１や実施の形態２と同様のテスト再生を、種々の温度環境下（光ディスク装置１００の動作保証範囲として想定される範囲内）で行い、テスト再生に用いた再生パワーと、信号品質が所定量劣化する時の再生回数（劣化回数）ＮＤの自然対数との関係を、式（４）の曲線で近似し、保証再生回数ＲＬにおいて、信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる最適再生パワーを基準パワーとして予め求めておく。また、種々の（２つ以上の異なる）温度で測定した最適再生パワー（基準パワー）と温度(基準温度)の関係から近似直線の傾きも予め求めておく。前記求めた最適再生パワー（基準パワー）と最適再生パワーを求めた時の温度（基準温度）と、近似直線の傾きの関係を温度条件として、ディスクの固有情報（識別情報）と関連付け、例えばテーブル形式で、光ディスク装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に記憶しておく。
【０１７０】
次に、実施の形態６における、再生パワー設定手順を説明する。
再生を行おうとする光ディスク装置１００に光ディスク５００が挿入された場合、該光ディスク装置１００は、光ディスク５００の固有情報を読み取り、前記テーブルから、挿入された光ディスク５００と同じ固有情報に対応する最適再生パワーと、最適再生パワーが得られた時の温度と、近似直線の傾きを読み出す。
【０１７１】
次に、光ディスク装置１００の温度を温度測定部３８０で計測し、実施の形態４と同様に式（６Ａ）を用いて最適再生パワーを計算する。ここで、式（６Ａ）のＰＲｏｕが求める最適再生パワー、ＣＴが前記テーブルから読み出した温度と最適再生パワーの関係の近似直線の傾き、Ｔ２が計測した温度、ＴＲＡが前記テーブルから読み出した温度（基準温度）、ＰＲＢが前記テーブルから読み出した最適再生パワー（基準パワー）として計算する。計算により求められた最適再生パワーを設定し、光ディスク５００からデータを再生する。
【０１７２】
ここで、最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きの決定（それぞれのディスクに対する最適再生パワー、温度、近似直線の傾きを含むテーブルの作成）は、予め光ディスク装置１００の出荷前に、光ディスク５００の固有情報別に実施しておき、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶させる。尚、光ディスク装置１００のモデル乃至仕様が変わった際（例えば、光ピックアップ３００の光学的な仕様が変更となった場合）にのみ実施すれば良い。
【０１７３】
ここで、温度と最大再生パワーＰＲｍとの関係が図１７に示す様に、光ディスクによらず同様であれば、温度と最大再生パワーＰＲｍの関係（近似直線の傾き）の情報を光ディスクの固有情報毎に光ディスク装置１００に記憶せず、一つの共通の値（又は値の組）を、全ての光ディスクの固有情報に対して用いる様にしても良い。また、温度と最大再生パワーＰＲｍとの関係が図１８に示す様に異なる場合は、光ディスクの固有情報毎に温度と最大再生パワーの関係（近似直線の傾き）を光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶するのが望ましい。
【０１７４】
尚、温度と最大再生パワーの関係（近似直線の傾き）を記憶できない光ディスクについては、上記のようにする代わりに、以下のようにして各温度における最適再生パワーを求める。即ち、種々の光ディスクにおいて、それぞれの最大再生パワーを求める。例えば図１８においては、０℃の場合は、ＤｉｓｃＥの最大再生パワー、２０℃及び４０℃の場合はＤｉｓｃＧの最大再生パワー、６０℃の場合はＤｉｓｃＦの最大再生パワーが、「最大再生パワーの値のうちの最小値」となる。
【０１７５】
光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０には、複数の温度にそれぞれ対応する複数の最大再生パワーの値のうちの上記最小値（又は該最小値に対応する最適再生パワーの値）を、それぞれの温度に対応付けて記憶する。図１８に示す例の場合に記憶される数値は図２２に示す如くとなる。
そのような情報を記憶した光ディスク装置１００で再生を行うに当たり、温度測定部３８０での測定により得られた温度に対応付けて上記最適再生パワーの値が記憶されていれば、該最適再生パワーの値を再生パワーの設定値として用い、測定温度に対応付けて上記最適再生パワーの値が記憶されていない場合には、記憶されている最適再生パワーの値を用いた線形補間により、測定温度（測定された現在の温度）に対応する再生パワーの設定値を求めれば良い。
なお、全ての光ディスクの固有情報に対して、この方法を用いる様にしても良い。
【０１７６】
光ディスク装置の出荷前に、当該光ディスク装置１００に対する最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを求めるためには、個々の光ディスク装置１００を試験に用いて、最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを求めても良く、同じ仕様の別の光ディスク装置又は同じ性能及び特性を有する試験装置を用いて最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを求めて良い。
そして、このようにして求めた最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを出荷される光ディスク装置内に、例えばＲＯＭ２２０内に記憶させておく。光ディスク装置では、光ディスクが挿入されると、ＲＯＭ２２０から最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを読み出して、その時の光ディスク装置１００の温度と式（６Ａ）を用いて補正した最適再生パワーの設定値を用いて、制御情報の読出しや本再生を行うようにしても良い。
【０１７７】
また、補正した最適再生パワーの設定値を用いて制御情報の読出しなど（ステップＳ１３、Ｓ１４の処理）のみを行い、その後で、実施の形態１又は実施の形態２と同様にして再生パワー調整を行って、ＲＯＭ２２０に書き込むこととすれば良い。また、実施の形態４や実施の形態５と同様にして、温度変化に応じた最適再生パワーの補正（Ｓ４３）や、温度変化後の温度に応じた最適再生パワーを求めるための再生パワー調整（Ｓ６０）を行う様にすれば良い。
【０１７８】
また、光ディスク装置の出荷前に最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを求めるには、実施の形態１や実施の形態２に関して説明した方法を用いても良いが、最適再生パワーを精度良く求める為に、テスト再生に用いる再生パワーは、図８における低パワー領域、曲線領域、および高パワー領域を含む範囲において測定するのが望ましい。また、温度は光ディスク装置１００の動作保証範囲として設定される広範囲の温度で特に信号の劣化の影響が大きい高温を含めて最適再生パワーと、温度と、近似直線の傾きを求めるのが望ましい。
【０１７９】
また、実施の形態６においては、光ディスクの固有情報別に最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きをテーブル形式で光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にしているが、近似直線の傾きについては、例えば種々の温度における最適再生パワーを求める為のテスト再生を、いくつかの代表的な光ディスクに限定して、最適再生パワーと温度の関係から求める近似直線の傾きを求め、複数求めた近似直線の傾きの平均値などを、光ディスクの固有情報によらず全てで同一の値を使用する様にしても良い。この場合、複数の温度に対して最適再生パワーを求めていない光ディスクに対しては、特定の温度における最適再生パワーを求めておくのみで良い。また、このとき、信号の劣化が顕著となる高温で最適再生パワーを求めておく方が望ましい。
【０１８０】
また、実施の形態６においては、光ディスクの固有情報別に最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きをテーブル形式で光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にしているが、種々の温度に対する最適再生パワーの値をテーブル形式で光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にし、例えばテーブルに記憶されていない温度に対しては、対象となる温度よりも高いテーブルに記憶された温度における最適再生パワーを用いる様にしても良い。
【０１８１】
また、実施の形態６においては、光ディスクの固有情報別に最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きをテーブル形式で光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する様にしているが、記憶する情報を少なくした簡易的なテーブルとする場合、種々の光ディスクの固有情報で調べた、最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度に対して、前記調べた全ての光ディスクの固有情報において、劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬ以上とできる様に、各温度における、複数の光ディスクのそれぞれの最大再生パワーの値のうちの最小値と温度との関係を用い、近似直線の傾きを決定し、この時に用いた最適再生パワーと温度を光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶させておき、全ての光ディスクに対して記憶した最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きを用い得る様にしても良い。例えば、図１７の場合では、ＤｉｓｃＤの結果から求めた最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きが光ディスク１００に記憶され、ＤｉｓｃＣに対しても用いられることとなる。
【０１８２】
尚、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に、最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きをテーブル形式で光ディスクの固有情報別に（固有識別情報に対応付けて）記憶させる様にし、式（６Ａ）を用いて温度に対する再生パワーの補正を行っているが、本発明はこのような態様に限定されない。例えば、異なる２つの温度に対する最適再生パワーと温度を光ディスクの固有情報別にＲＯＭ２２０に記憶させておき、この２つの温度に対する最適再生パワーから傾きを計算する様にしても良いし、この２つの温度に対する最適再生パワーから、式（６Ａ）と等価な補正が行える別の式を用いる様にしても良い。
【０１８３】
また、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に、最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きをテーブル形式で光ディスクの固有情報別に記憶する様にしているが、例えば、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶する最適再生パワーの温度条件を、光ディスクの固有情報によらず同一として、最適再生パワーを求めた時の温度を、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に最適再生パワーを求めた時の温度を、固有情報と対応付けることなく、記憶しておく様にしても良い。
【０１８４】
以上の様に、本実施の形態６においては、最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、近似直線の傾きを、ディスクの固有情報と関連付け、例えばテーブル形式で、光ディスク装置１００のＲＯＭ２２０に記憶し、挿入された光ディスク５００の固有情報と光ディスク装置１００の温度に対応した最適再生パワーと、最適再生パワーが得られた時の温度と、近似直線の傾きを読み出し、式（６Ａ）を用いて最適再生パワーを求める様にしているので、光ディスク装置１００の温度によらず、信号の劣化を所定量以下に抑えることができる。
【０１８５】
実施の形態３及び実施の形態６では、予め求めた最適再生パワーを光ディスク装置１００内に記憶させておくようにしているが、代わりに予め求めた最大再生パワーを記憶させておくようにしても良い。この場合、記憶されている最大再生パワーを用いて最適再生パワーを算出し、再生パワーの設定値として用いる。
【０１８６】
以上の実施の形態１〜実施の形態６においては、光ディスク５００がＢＤ（ブルーレイディスク）の場合について説明しているが、光ディスク５００がＢＤ以外の場合であっても、レーザー光を照射して光ディスク５００からのデータを再生する場合には、本実施の形態を適用することができる。
【０１８７】
また、以上の実施の形態１〜実施の形態６においては、最大再生パワーを求め、それと同じ値、或いは（余裕を考慮に入れて）それより若干小さい値のパワーを、最適再生パワーＰＲｏとして設定する様にしているが、最大再生パワーより低い再生パワーで、且つ図３のステップＳ２２Ｄと同様の信号品質測定工程により測定された再生品質が最良となる様な再生パワーを求めて、その再生パワーを最適再生パワーＰＲｏとして設定する様にしても良い。
【０１８８】
以上の様に本発明においては、再生パワーと、信号品質が所定量劣化する時の再生回数（劣化回数）の自然対数との関係を、式（４）のシグモイド関数の積分関数で近似することで、高い再生パワーでの加速試験を行ったデータを用いても、最適再生パワー（保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる再生パワー）を、正確に予測することができる。また、高い再生パワーでの加速試験が可能となることで、テスト再生に必要な再生回数を少なく抑えることができ、最適再生パワーの予測を一般的な寿命試験で用いられるアレニウスプロットを用いた場合よりも早く求めることができる。
【０１８９】
さらに、光ディスク装置が、実施の形態２に関して図１１及び図１２を参照して説明したように、或いは実施の形態５に関して図２０及び図２１を参照して説明したように、光ディスクからのデータを読み取る再生期間と、次のデータを読み出すまでの待機期間が交互に繰り返されることでデータの再生を行う場合に、待機期間を利用して再生パワー調整を行う様にした為、再生パワー調整により最適再生パワーが求まるのを待たずに光ディスクからの再生を行う事ができる。
【０１９０】
また、光ディスク装置に、例えばその内部のＲＯＭ２２０に、最適再生パワー（予め求めた保証再生回数ＲＬにおいて信号品質の劣化を所定の劣化量以下に抑えることができる再生パワー）を、ディスクの固有情報と共にと共に（固有情報に対応付けて）記憶しておくことで、ディスクの再生前にテスト再生を行わずに、最適な再生パワーに設定することができる。
【０１９１】
また、最大再生パワー（劣化回数ＮＤが保証再生回数ＲＬとなる再生パワー）と温度の関係を予め調べておき、温度変化後の最適再生パワーを温度変化に応じて式（６Ａ）を用いて補正することで、光ディスク装置の温度が変化した場合でも、その温度における最適再生パワーを求める事ができ、所定量以上の信号品質の劣化を防ぐことができる。
【０１９２】
さらに、光ディスク装置の温度変化が大きい場合には、（テスト再生を含む）再生パワー調整を再度行なう様にしているので、最大再生パワーと温度の関係が、光ディスク装置や光ディスクの個体差等により、予め設定した関係と異なる場合にも、温度変化によらず、劣化回数を保証再生回数ＲＬ以上にすることができる。
【０１９３】
また、光ディスク装置に、例えばその内部のＲＯＭ２２０に最適再生パワーと最適再生パワーを求めた時の温度と、温度と最大再生パワーの関係を近似した近似直線の傾きを、ディスクの固有情報と共に（固有情報に対応付けて）記憶しておくことで、ディスクの再生前に再生パワー調整（テスト再生を含む）を行わずに、再生パワーを適切な値に設定することができ、しかも光ディスク装置の温度変化にも対応することができる。
【符号の説明】
【０１９４】
１００  光ディスク装置、  １１０  プリアンプ、  １２０  再生信号処理部、  １３０  信号品質測定部、  １４０  データデコーダー、  １７０  レーザー制御部、  １８０  サーボ制御部、  １８１  スピンドルモーター、  １８２  スレッドモーター、  １９０  バッファメモリ、  ２００  中央制御部、  ２１０  ＣＰＵ、  ２２０  ＲＯＭ、  ２３０  ＲＡＭ、  ３００  光ヘッド、  ３１０  半導体レーザー、  ３２０  レーザー駆動回路、  ３３０  コリメートレンズ、  ３４０  ビームスプリッタ、  ３５０  対物レンズ、  ３６０  検出レンズ、  ３７０  受光素子、  ４００  上位コントローラー、  ５００  光ディスク。
【図１】
2010116734.tif 000003
【図２】
2010116734.tif 000004
【図３】
2010116734.tif 000005
【図４】
2010116734.tif 000006
【図５】
2010116734.tif 000007
【図６】
2010116734.tif 000008
【図７】
2010116734.tif 000009
【図８】
2010116734.tif 000010
【図９】
2010116734.tif 000011
【図１０】
2010116734.tif 000012
【図１１】
2010116734.tif 000013
【図１２】
2010116734.tif 000014
【図１３】
2010116734.tif 000015
【図１４】
2010116734.tif 000016
【図１５】
2010116734.tif 000017
【図１６】
2010116734.tif 000018
【図１７】
2010116734.tif 000019
【図１８】
2010116734.tif 000020
【図１９】
2010116734.tif 000021
【図２０】
2010116734.tif 000022
【図２１】
2010116734.tif 000023
【図２２】
2010116734.tif 000024
【手続補正書】
【提出日】平成23年6月6日(2011.6.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の光ディスク再生パワー設定方法は、
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク再生方法における、再生パワーの設定値を求める方法において、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生工程と、
前記テスト再生工程において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出工程と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定工程とを有し、
前記再生パワー決定工程は、
前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標算出工程で求めた寿命指標の対数との関係を、
第１の傾きに漸近する直線状の領域である第１の直線部分と、
前記第１の傾きよりも緩やかな第２の傾きに漸近する直線状の領域である第２の直線部分と、
前記第１の直線部分と前記第２の直線部分を結ぶ曲線部分とから成る近似曲線で近似する近似工程を含み、
前記近似工程で得られた近似曲線を元に、
前記光ディスクを所定の再生時間再生した後にも、前記光ディスクを再生した再生信号が劣化する量が、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを前記最適再生パワーとして求める
ことを特徴とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク再生方法における、再生パワーの設定値を求める方法において、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生工程と、
前記テスト再生工程において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出工程と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定工程とを有し、
前記再生パワー決定工程は、
前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標算出工程で求めた寿命指標の対数との関係を、
第１の傾きに漸近する直線状の領域である第１の直線部分と、
前記第１の傾きよりも緩やかな第２の傾きに漸近する直線状の領域である第２の直線部分と、
前記第１の直線部分と前記第２の直線部分を結ぶ曲線部分とから成る近似曲線で近似する近似工程を含み、
前記近似工程で得られた近似曲線を元に、
前記光ディスクを所定の再生時間再生した後にも、前記光ディスクを再生した再生信号が劣化する量が、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを前記最適再生パワーとして求める
ことを特徴とする
光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項２】
前記近似工程は、前記寿命指標ＬＰと、前記テスト用再生パワーＰＲの関係を
ｌｎ（ＬＰ）
＝∫｛（ＬＡ−ＬＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＬＢ×ＰＲ−ＬＣ））＋ＬＤ｝＋ＬＥ
で近似し、定数ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥを調整することで、前記テスト用再生パワーの各値ＰＲにおける前記寿命指標ＬＰと、前記式から得られる近似曲線上の値との差が総合的に最小となる様に、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項３】
前記テスト用再生パワーは、
前記第２の直線部分の領域における再生パワーと、前記曲線部分の領域における再生パワーであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項４】
前記近似工程は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果として、ピークとなる点と、その両側に位置するそれぞれ少なくとも１点のデータが得られたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項５】
前記近似工程は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果にピークが存在せずほぼ０の値であり、再生パワーに対する前記寿命指標の対数を１回微分した結果に、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で、所定値以上の差があることが検出されたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項６】
前記テスト再生工程において、テスト再生に使用する光ディスク上の領域は、光ディスク上に記録された情報の内、アクセスされる頻度が低いデータが格納されている領域とすることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項７】
前記所定の時間又は回数が、保証再生時間又は回数であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項８】
レーザー光を照射するレーザー付近の温度を測定する温度測定工程をさらに有し、
前記再生パワー決定工程で前記最適再生パワーを求める間、もしくは求めた後に、前記レーザー付近の温度を第１の温度として測定しておき、
前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定工程で求めた前記最適再生パワーの代りに、前記変化後の温度における前記最適再生パワーを再生パワーの設定値とする再生パワー変更工程を有する
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項９】
前記再生パワー変更工程は、
前記再生パワー決定工程で求められた前記最適再生パワーを前記温度変化に応じて補正する再生パワー補正工程を有し、
前記再生パワー補正工程は、前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から第１の所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定工程で求めた前記最適再生パワーを、予め定められた再生パワーと温度との関係から、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項８に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１０】
前記レーザー付近の温度が前記第１の温度から、第２の所定の変化幅以上変化した場合に、前記テスト再生工程の処理と、前記寿命指標算出工程の処理と、前記再生パワー決定工程の処理を行い、これにより前記第２の所定の変化幅以上の変化後の温度における前記最適再生パワーを求め、これを再生パワーの設定値とする
ことを特徴とする請求項８又は９に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１１】
前記再生パワー補正工程は、
予め求められた前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する近似直線を元に、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項９又は１０に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１２】
予め複数の光ディスクの各々について前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する複数の近似直線を求め、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最大のものの傾きを第１の傾きとし、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最小のものの傾きを第２の傾きとし、
前記再生パワー補正工程は、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が高い場合は、前記第１の傾きを用い、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が低い場合は、前記第２の傾きを用い、
前記第２の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項１０に記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１３】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定工程をさらに有し、
前記最適再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となる再生パワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の光ディスク再生パワー設定方法。
【請求項１４】
請求項１乃至１３のいずれかの設定方法で設定されたパワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生することを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１５】
前記テスト再生工程を、前記光ディスクから情報を再生する前に実施することを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク再生方法。
【請求項１６】
前記光ディスクから情報を再生する場合に、情報の再生を行う読み出し期間と、再生を中断し待機させる待機期間とを繰り返すことで、情報を再生する光ディスク再生方法であって、
前記テスト再生工程は、前記光ディスクからの再生を中断し待機している待機期間に行われることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク再生方法。
【請求項１７】
各光ディスク装置について、該光ディスク装置と同じ仕様の他の光ディスク装置又は同じ特性を有する試験装置を用いて、再生パワーの設定を行い、設定された再生パワーの値を上記各光ディスク装置内の記憶手段に、試験に用いられた光ディスクの識別情報に対応付けて記憶させ、
当該光ディスク装置において、前記他の光ディスク装置又は試験装置を用いて行われた再生パワーの設定に用いられた光ディスクと同じ仕様の光ディスクの再生に際し、記憶されている設定された再生パワーの値を、再生パワーの初期値として用いて光ディスクから情報を再生する方法において、
前記他の光ディスク装置又は試験装置を用いて行われる再生パワーの設定が、請求項１乃至１３のいずれかに記載の方法で行われる
ことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１８】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
複数種類の光ディスクの各々について請求項１乃至１３のいずれかの光ディスク再生パワー設定方法で設定された前記最適再生パワーを、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶する記憶手段と、
挿入された光ディスクの識別情報を読み込む手段と、
該読み込まれた識別情報に対応付けて前記記憶手段に記憶されている最適再生パワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生する手段とを
有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
前記記憶手段に記憶されている最適再生パワーを再生パワーの初期値として用いて、再生パワーの設定を行うことを特徴とする請求項１８に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
光ディスク上にレーザー光を照射することにより、前記光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
前記光ディスク上の情報が記録された領域を、光ディスクを再生する場合に用いられるレーザー光の再生パワーよりも高いテスト用再生パワーを用いてテスト再生するテスト再生手段と、
前記テスト再生手段において、再生した信号の品質が所定の値に劣化するまでの再生時間又は再生回数を寿命指標として求める寿命指標算出手段と、
互いに異なる３つ以上のテスト用再生パワーを用いてテスト再生した場合の、前記テスト用再生パワーと前記寿命指標との関係から、
前記光ディスクを所定の時間又は回数の再生を行っても、再生した信号が劣化する量が、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを最適再生パワーとして求め、これを再生パワーの設定値とする再生パワー決定手段とを有し、
前記再生パワー決定手段は、
前記テスト用再生パワーと、前記寿命指標算出手段で求めた寿命指標の対数との関係を、
第１の傾きに漸近する直線状の領域である第１の直線部分と、
前記第１の傾きよりも緩やかな第２の傾きに漸近する直線状の領域である第２の直線部分と、
前記第１の直線部分と前記第２の直線部分を結ぶ曲線部分とから成る近似曲線で近似する近似手段を含み、
前記近似手段で得られた近似曲線を元に、
前記光ディスクを所定の再生時間再生した後にも、前記光ディスクを再生した再生信号が劣化する量を、前記所定の値以下であるレーザー光のパワーを前記最適再生パワーとして求める
ことを特徴とする
光ディスク装置。
【請求項２１】
前記近似手段は、前記寿命指標ＬＰと、前記テスト再生パワーＰＲの関係を
ｌｎ（ＬＰ）
＝∫｛（ＬＡ−ＬＤ）／（１＋ｅｘｐ（ＬＢ×ＰＲ−ＬＣ））＋ＬＤ｝＋ＬＥ
で近似し、定数ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥを調整することで、前記テスト用再生パワーの各値ＰＲにおける前記寿命指標ＬＰと、前記式から得られる近似曲線上の値との差が総合的に最小となる様に、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２０に記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記テスト再生用再生パワーは、
前記第２の直線部分の領域における再生パワーと、前記曲線部分の領域における再生パワーであることを特徴とする請求項２０又は２１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記近似手段は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果として、ピークとなる点と、その両側に位置するそれぞれ少なくとも１点のデータが得られたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２０乃至２２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記近似手段は、前記テスト用再生パワーに対する前記寿命指標の対数を２回微分した結果にピークが存在せずほぼ０の値であり、再生パワーに対する前記寿命指標の対数を１回微分した結果に、隣り合うテスト用再生パワー値相互間で、所定値以上の差があることが検出されたときに、それまでに得られた前記テスト再生工程の結果を用いて、前記近似曲線を求めることを特徴とする請求項２０乃至２２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記テスト再生手段において、テスト再生に使用する光ディスク上の領域は、光ディスク上に記録された情報の内、アクセスされる頻度が低いデータが格納されている領域とすることを特徴とする請求項２０乃至２４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記所定の時間又は回数が、保証再生時間又は回数であることを特徴とする請求項２０乃至２５のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
光ディスク装置内の温度を測定する温度測定手段をさらに有し、
前記再生パワー決定手段で前記最適再生パワーを求める間、もしくは求めた後に、前記光ディスク装置内の温度を第１の温度として測定しておき、
前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定手段で求めた前記最適再生パワーの代りに、前記変化後の温度における前記最適再生パワーを再生パワーの設定値とする再生パワー変更手段を有する
ことを特徴とする請求項２０乃至２６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２８】
前記再生パワー変更手段は、
前記再生パワー決定手段で求められたレーザー光のパワーを前記温度変化に応じて補正する再生パワー補正手段を有し、
前記再生パワー補正手段は、前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から第１の所定の変化幅以上変化した場合に、前記再生パワー決定手段で求めた前記最適再生パワーを、予め定められた再生パワーと温度との関係から、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項２７に記載の光ディスク装置。
【請求項２９】
前記光ディスク装置内の温度が前記第１の温度から第２の所定の変化幅以上変化した場合に、前記テスト再生手段によるテスト再生と、前記寿命指標算出手段による寿命指標算出と、前記再生パワー決定手段による最適再生パワーの算出を行い、これにより前記第２の所定の変化幅以上の変化後の温度における前記最適再生パワーを求め、これを再生パワーの設定値とする
ことを特徴とする請求項２７又は２８に記載の光ディスク装置。
【請求項３０】
前記再生パワー補正手段は、
予め求められた前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する近似直線を元に、前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項２８又は２９に記載の光ディスク装置。
【請求項３１】
予め複数の光ディスクの各々について前記最適再生パワーと温度との関係を直線近似する複数の近似直線を求め、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最大のものの傾きを第１の傾きとし、
前記複数の近似直線のうちの傾きの絶対量が最小のものの傾きを第２の傾きとし、
前記再生パワー補正手段は、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が高い場合は、前記第１の傾きを用い、
前記第１の温度よりも前記第１の所定の変化幅以上の変化後の温度の方が低い場合は、前記第２の傾きを用い、
前記第２の温度に対応する最適再生パワーに補正する
ことを特徴とする請求項２９に記載の光ディスク装置。
【請求項３２】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定手段をさらに有し、
前記最適再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となる再生パワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項２０乃至３１のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３３】
前記再生パワー決定手段で設定されたパワーのレーザー光を用いて前記光ディスクから情報を再生する手段をさらに有することを特徴とする請求項２０乃至３２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３４】
前記テスト再生手段は、前記光ディスクから情報を再生する前に前記テスト再生を実施することを特徴とする請求項３３に記載の光ディスク装置。
【請求項３５】
前記光ディスクから情報を再生する場合に、情報の再生を行う読み出し期間と、再生を中断し待機させる待機期間とを繰り返すことで、情報を再生する光ディスク装置であって、
前記テスト再生手段は、前記光ディスクからの再生を中断し待機している待機期間に前記テスト再生を行うことを特徴とする請求項３３に記載の光ディスク装置。
【請求項３６】
前記再生パワー決定手段で求めたレーザー光のパワーを、当該光ディスクの識別情報に対応付けて記憶する記憶手段をさらに有し、
光ディスクが挿入されたときに、
前記記憶手段に、前記挿入された光ディスクの識別情報に対応付けて記憶されているレーザー光のパワーを用いて再生を行なう手段をさらに有することを特徴とする請求項２０乃至３２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３７】
光ディスク装置内の温度を測定する温度測定手段と、
前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置内の温度との関係を記憶する記憶手段と、
前記温度測定手段で測定された光ディスク装置内の温度における前記最適再生パワーを計算により求める再生パワー補正手段とをさらに有し、
再生パワー補正手段は、前記記憶手段に記憶された、前記レーザー光のパワーと温度との関係と、前記光ディスク装置内の測定された温度とから、前記光ディスク装置内の温度における前記最適再生パワーを算出する
ことを特徴とする請求項２０乃至２６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項３８】
前記記憶手段は、
前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、
前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度との関係を直線近似する近似直線の傾きを記憶するとともに、
前記光ディスク装置のいずれかの温度において、前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーを基準パワーとして、前記再生パワー決定手段で前記最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度を基準温度として、それぞれ、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶し、
前記再生パワー補正手段は、
挿入された光ディスクの識別情報に対応した、前記記憶手段に記憶されている前記近似直線の傾きと、前記基準パワーと前記基準温度から、前記光ディスク装置の現在の温度における最適再生パワーを算出する
ことを特徴とする請求項３７に記載の光ディスク装置。
【請求項３９】
前記記憶手段は、
前記光ディスク装置の２つ以上の温度において前記再生パワー決定手段で求めた最適再生パワーと、前記再生パワー決定手段で最適再生パワーを求めた時の光ディスク装置の温度とを、各光ディスクを識別する情報に対応付けて記憶し、
前記再生パワー補正手段は、前記温度測定部で測定された光ディスク装置の現在の温度に対応する再生パワーを、挿入された光ディスクの識別情報に対応した、前記記憶手段に記憶されている前記２つ以上の温度における、前記再生パワーと前記光ディスク装置の温度の関係を補間することによって求める
ことを特徴とする請求項３７に記載の光ディスク装置。
【請求項４０】
前記記憶手段は、
複数の光ディスクに対して求めた、前記再生パワー決定手段で求めた複数の最適再生パワーの値のうち、光ディスク装置の同一温度において最小となる値と、前記光ディスク装置の温度とを、異なる２つ以上の温度に対して記憶し、
前記再生パワー補正手段は、前記温度測定手順で測定された光ディスク装置の現在の温度に対応する、再生パワーを、前記温度条件記憶手段に記憶されている前記２つ以上の温度における、前記最小の値と前記光ディスク装置の温度の関係を補間することによって求める
ことを特徴とする請求項３７に記載の光ディスク装置。
【請求項４１】
再生パワーに対する信号品質を測定する信号品質測定手段をさらに有し、
前記最適再生パワーよりも低く、かつ信号品質が最良となるレーザー光のパワーを、前記最適再生パワーとする
ことを特徴とする請求項３７乃至４０のいずれかに記載の光ディスク装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図８】
2010116734.tif 000025
【国際調査報告】
2010116734.tif 000026
2010116734.tif 000027
2010116734.tif 000028
2010116734.tif 000029