(57)【要約】  変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく、変形試験において試験体が取り得る形状状態を保持しつつ試験体を観察や分析等を行うことができる変形試験器を提供する。  試験体の異なる少なくとも２の部分それぞれが第１部の第１取付部及び第２部の第２取付部に取り付けられ、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第１部に対する第２部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、を備えてなる変形試験器であって、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも１の形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器である。
2018155723.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験体の異なる少なくとも２の部分それぞれが第１部の第１取付部及び第２部の第２取付部に取り付けられ、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第１部に対する第２部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、
脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、
を備えてなる変形試験器であって、
試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも１の形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器。
【請求項２】
脱着部分が、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を有してなるものである、請求項１に記載の変形試験器。
【請求項３】
第１形状状態から第２形状状態に遷移する際に、第１部と第２部との間の距離が減少するものであり、
脱着部分が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を増加させるよう第１部及び／又は第２部を付勢する付勢手段を有してなり、
状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段である、請求項１又は２に記載の変形試験器。
【請求項４】
第１形状状態から第２形状状態に遷移する際に、第１部と第２部との間の距離が増加するものであり、
脱着部分が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を減少させるよう第１部及び／又は第２部を付勢する付勢手段を有してなり、
状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段である、請求項１又は２に記載の変形試験器。
【請求項５】
状態保持手段が、一端側が第１部に取り付けられると共に他端側が第２部に取り付けられる状態保持部材と、状態保持部材の該一端側を第１部に着脱自在に取り付ける一端側着脱部と、状態保持部材の該他端側を第２部に着脱自在に取り付ける他端側着脱部と、を含んでなる、請求項３又は４に記載の変形試験器。
【請求項６】
状態保持手段が、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定することができるものである、請求項１乃至５のいずれか１に記載の変形試験器。
【請求項７】
脱着部分が本体部分に取り付けられたとき、脱着部分を本体部分に対して所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができるが、脱着部分と本体部分とが当接することで該所定方向とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されるものである、請求項１乃至６のいずれか１に記載の変形試験器。
【請求項８】
前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を制限する移動制限手段を備えるものである、請求項７に記載の変形試験器。
【請求項９】
移動制限手段が、前記所定方向とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際の脱着部分の重力と、脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段と、の少なくとも一方を含む、請求項８に記載の変形試験器。
【請求項１０】
脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向又はその逆方向に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向又はその逆方向に嵌入する嵌入孔を有するものである、請求項７乃至９のいずれか１に記載の変形試験器。
【請求項１１】
本体部分が、第１部を取り付ける第１部取付部分と、第２部を取り付ける第２部取付部分と、第１部取付部分に取り付けられた第１部と第２部取付部分に取り付けられた第２部とが変位サイクルを繰り返すように第１部取付部分と第２部取付部分とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段と、を含んでなる、請求項１乃至１０のいずれか１に記載の変形試験器。
【請求項１２】
請求項１乃至１１のいずれか１に記載の変形試験器を構成する脱着部分。
【請求項１３】
請求項１乃至１１のいずれか１に記載の変形試験器を構成する本体部分。
【請求項１４】
請求項１乃至１１のいずれか１に記載の変形試験器に装着される状態保持手段。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変形試験器に関し、より詳細には、携帯電話等の基板や有機ＥＬ等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器に関する。
【背景技術】
【０００２】
以前から、携帯電話等の基板や有機ＥＬ等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器が知られている（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１は、試験体の『彎曲試験を機械でできるようにしたもので、これにおいて、彎曲の曲率半径や弧長が違っていても、わずかな調整で機械が作動できるようにした』（特許文献１の段落番号０００５）変形試験器を提供するためになされたものであり、具体的には、『略四角形のフレームの中に固定壁と移動壁とを対向して設け、両壁の頂上にワークを取り付ける取付部を固定壁と移動壁に対してそれぞれ鉛直面内で回動可能に設けるとともに、両取付部にワークとワークの他に板ばねのそれぞれ両端を取り付けて固定壁と移動壁との間に彎曲状態に渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてワークを繰り返し彎曲することを特徴とする彎曲試験機』（特許文献１の請求項１）を開示している。かかる変形試験器（特許文献１では彎曲試験機）によれば『固定壁と移動壁に薄いガラス板や樹脂板といったワークを彎曲状態で渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてワークを繰り返して彎曲するものである。このとき、ワークの彎曲の曲率半径等の形状要件を変えることがあるが、移動壁を移動させるアクチュエータによるストロークと両壁の初期位置を変えること等でそれを可能にする。また、ワークを取り付ける取付部が移動壁又は固定壁に対して鉛直面内で回動可能（相手方に向かって傾動可能なこと）にすることで内部応力を残さずにストローク変化にも対応できるようにしている。さらに、彎曲の速度も調整できなければならないが、アクチュエータの速さを変えることでそれができる』（特許文献１の段落番号０００８）というものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−０８０６９４号公報（例えば、要約、発明の詳細な説明中の段落番号０００１〜０００８、００１１〜００１３、第１図〜第３図等）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に開示の変形試験器においては、『ワーク４は移動壁３と固定壁２との間にそれぞれ架け渡すが、このときの移動壁３と固定壁２への取り付けは各々の頂上に設けられる点板２２、２３にそれぞれ蝶番９、１０で鉛直面内で回転可能に取り付けられる取付部５、６と、これに固定される押え板７、８とで挟み付けて取り付け』（特許文献１の段落番号００１３）るものである。ここに試験体たるワーク４は、取付部５、６と押え板７、８とに挟んで取り付けられて変形試験を開始した後、大きな変形試験器に取り付けられたままの試験体を観察や分析等を行うことは難しいことから、試験体の観察や分析等を行う際には、変形試験器から試験体を取り外す必要があった。観察や分析等の後、その試験体の変形試験を続行するには、観察や分析等を行ったその試験体を再び取付部５、６と押え板７、８との間に挟み付けて取り付ける必要があるが、観察や分析等の前後の取り付け状態（観察や分析等を行うために試験体を取り外す前の状態と、観察や分析等の後に試験体を再度の取り付けた状態）を同じにするには非常に注意深く難儀な取り付け作業を要するし、十分注意深く取り付けたと考えていても両状態が異なることにより、観察や分析等を挟んで同一条件での連続した変形試験を行うことができない問題があった。さらに、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる変形試験において、試験体が取り得る形状状態を保持しつつ試験体の観察や分析等を行いたい場合には、変形試験器から試験体を取り外すことで形状状態を保持できない問題もあった。
そこで、本発明では、変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく、変形試験において試験体が取り得るいずれかの形状状態を保持しつつ試験体を観察や分析等を行うことができる変形試験器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の変形試験器（以下、「本試験器」という）は、試験体の異なる少なくとも２の部分それぞれが第１部の第１取付部及び第２部の第２取付部に取り付けられ、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第１部に対する第２部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、を備えてなる変形試験器であって、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも１の形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器である。【０００６】
本試験器は、脱着部分と本体部分とを備えてなる。
脱着部分は第１部と第２部とを含んでなる。第１部が有する第１取付部と、第２部が有する第２取付部と、に、試験体の異なる少なくとも２の部分それぞれが取り付けられる（該少なくとも２の部分の１の部分が第１取付部に取り付けられ、該少なくとも２の部分の他の部分が第２取付部に取り付けられる。また、「少なくとも２の部分」であるので、試験体の３以上の部分が脱着部分に取り付けられてもよい。）。そして、第１部に対する第２部の相対的な変位（第１部のみが変位をし第２部は静止している場合、第２部のみが変位をし第１部は静止している場合、そして第１部及び第２部いずれもが変位をする場合の３の場合を含む。）である変位サイクルを繰り返すことで、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクル（例えば、折り曲げ、彎曲、捻り、引っ張り、圧縮等の変形を含む。）を試験体に生じさせる。本体部分は、脱着部分が着脱自在に取り付けられる。
そして、本試験器においては、状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在である。ここに状態保持手段は、第１形状状態から第２形状状態を経て再び第１形状状態に戻る所定の変形サイクルにおいて試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも１の形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定する。【０００７】
こうすることで本試験器においては、第１部と第２部とに試験体を取り付け、第１部に対する第２部の変位サイクルを繰り返すことで、所定の変形サイクルを試験体に生じさせて試験体の変形試験を行うことができる。そして、変形試験を開始した後、試験体の観察や分析等を行う際には、本体部分に取り付けられた脱着部分に状態保持手段を取り付ける。その後、状態保持手段が装着された脱着部分を本体部分から取り外し（状態保持手段が装着されることで、脱着部分を本体部分から取り外しても、取り外される前の第１部に対する第２部の相対的な位置が固定されており、試験体の形状状態が保持される。）、脱着部分に取り付けられたままの試験体の観察や分析等を行うことができる（試験器全体に比して脱着部分は小形かつ軽量であるので、脱着部分に取り付けたままで試験体を容易に観察や分析等ができる。）。試験体の観察や分析等の後、状態保持手段を装着したままの脱着部分を本体部分に取り付け、そして本体部分に取り付けられた脱着部分から状態保持手段を取り外す。そして、再び、第１部に対する第２部の変位サイクルを繰り返すことで、再び、所定の変形サイクルを試験体に生じさせる試験体の変形試験を続行することができる。このように本試験器は、変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく（試験体は脱着部分に取り付けたまま）、変形試験において試験体が取り得るいずれかの形状状態を保持（状態保持手段を脱着部分に装着することで試験体の形状状態が保持される。）しつつ試験体を観察や分析等することができる。【０００８】
本試験器においては、脱着部分が、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を有してなるものであってもよい。
状態保持手段は、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも１の形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定するものであれば何ら限定されるものではなく、例えば、脱着部分の第１部及び第２部をそれぞれ挟んで取り付けられるものや、脱着部分の第１部及び第２部に吸引される磁石により取り付けられるものや、脱着部分の第１部及び第２部に外嵌して取り付けられるもの等であってもよい。しかしながら、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を脱着部分が有するようにすれば、脱着部分に状態保持手段を確実に装着することができる。状態保持手段取付部と、状態保持手段取付部に取り付けられる状態保持手段が有するものと、の一方と他方との組み合わせの例としては、一方が雄ねじであり他方が該雄ねじが螺合可能な雌ねじである場合、一方が嵌入凸部であり他方が該嵌入凸部が嵌入される嵌入凹部である場合、一方が面ファスナーであり他方が該面ファスナーに係合可能な面ファスナーである場合等を例示的に挙げることができる。【０００９】
本試験器においては、第１形状状態から第２形状状態に遷移する際に、第１部と第２部との間の距離が減少するものであり、脱着部分が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を増加させるよう第１部及び／又は第２部を付勢する付勢手段を有してなり、状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段であってもよい（以下、「距離増加禁止本試験器」という。）。
所定の変形サイクルにより試験体に生じる第１形状状態から第２形状状態への遷移過程において、第１部と第２部との間の距離が減少する場合、脱着部分が付勢手段を有し、該付勢手段が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を増加させるよう第１部及び／又は第２部を付勢するものとし、状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段とすれば、状態保持手段たる距離増加禁止手段が該距離の増加を禁止する方向に第１部及び／又は第２部の変位を制限すればよいので、状態保持手段を簡単に構成することができる。【００１０】
本試験器においては、第１形状状態から第２形状状態に遷移する際に、第１部と第２部との間の距離が増加するものであり、脱着部分が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を減少させるよう第１部及び／又は第２部を付勢する付勢手段を有してなり、状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段であってもよい（以下、「距離減少禁止本試験器」という。）。
所定の変形サイクルにより試験体に生じる第１形状状態から第２形状状態への遷移過程において、第１部と第２部との間の距離が増加する場合、脱着部分が付勢手段を有し、該付勢手段が、第２形状状態から第１形状状態へ該距離を減少させるよう第１部及び／又は第２部を付勢するものとし、状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段とすれば、状態保持手段たる距離減少禁止手段が該距離の減少を禁止する方向に第１部及び／又は第２部の変位を制限すればよいので、状態保持手段を簡単に構成することができる。【００１１】
距離増加禁止本試験器又は距離減少禁止本試験器においては、状態保持手段が、一端側が第１部に取り付けられると共に他端側が第２部に取り付けられる状態保持部材と、状態保持部材の該一端側を第１部に着脱自在に取り付ける一端側着脱部と、状態保持部材の該他端側を第２部に着脱自在に取り付ける他端側着脱部と、を含んでなるものであってもよい。
こうすることで、一端側着脱部により状態保持部材の一端側を第１部に着脱自在に取り付けると共に、他端側着脱部により状態保持部材の他端側を第２部に着脱自在に取り付けることで、状態保持部材がその一端側が第１部に着脱自在に取り付けられると共にその他端側が第２部に着脱自在に取り付けられるので、状態保持手段たる距離増加禁止手段（距離増加禁止本試験器の場合）又は距離減少禁止手段（距離減少禁止本試験器の場合）を簡単に構成することができる。【００１２】
本試験器においては、状態保持手段が、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定することができるものであってもよい。
こうすることで、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第１部に対する第２部の相対的な位置を固定することができるので、変形試験を開始した後、試験体が取り得るいずれの形状状態においても形状状態を保持しつつ試験体の観察や分析等を行うことができる。【００１３】
本試験器においては、脱着部分が本体部分に取り付けられたとき、脱着部分を本体部分に対して所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができるが、脱着部分と本体部分とが当接することで該所定方向とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されるもの（以下、「脱着方向規定本試験器」という。）であってもよい。
こうすることで、脱着部分が本体部分に取り付けられた状態（以下、「取り付け状態」という。）においては、脱着部分を本体部分に対して所定方向（以下、「取り外し方向」という。）に移動させることで、脱着部分を本体部分から取り外すことができる。しかしながら取り付け状態において、脱着部分と本体部分との当接により、該所定方向（取り外し方向）とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止される。そして、取り付け状態において、脱着部分と本体部分との当接により、該所定方向（取り外し方向）に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動することは禁止される。このため取り付け状態においては、脱着部分を本体部分に対して該所定方向（取り外し方向）に移動させ取り外すことはできるが、該所定方向（取り外し方向）以外の方向への移動は禁止され、脱着部分を本体部分に取り付けた状態を容易に保持することができる。そして、本体部分から取り外された脱着部分を、該所定方向（取り外し方向）とは反対方向に本体部分に対して（前記当接が形成されるまで）移動させることで、該垂直な平面に沿った脱着部分の本体部分に対する位置決め（該垂直な平面への脱着部分の正投影が、該垂直な平面への本体部分の正投影に対する相対位置が所定の位置に定まる）と該所定方向（取り外し方向）に沿った脱着部分の本体部分に対する位置決めとの両方を容易かつ確実に行うことができる。【００１４】
脱着方向規定本試験器においては、前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を制限する移動制限手段を備えるもの（以下、「脱着方向移動制限本試験器」という。）であってもよい。
こうすることで、移動制限手段は、脱着部分が本体部分に取り付けられた取り付け状態において脱着部分が本体部分に対して前記所定方向（取り外し方向）に移動することを制限するので、不意に脱着部分が本体部分から脱落等することを防止又は減少させることができる。なお、ここにいう前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動の制限とは、前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を完全に禁止するもののみならず、脱着部分が本体部分から脱落しない程度の前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を許容するものも含む。【００１５】
脱着方向移動制限本試験器においては、移動制限手段が、前記所定方向とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際の脱着部分の重力と、脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段と、の少なくとも一方を含むものであってもよい。
移動制限手段は、取り付け状態において脱着部分が本体部分に対して前記所定方向（取り外し方向）に移動することを制限するものであればよく、例えば、脱着部分と本体部分とを係止するピンとそれを嵌入する嵌入孔、脱着部分と本体部分とに設けられる互いに係合する一対の面ファスナー、脱着部分と本体部分とを係止する雄ネジとそれに螺合する雌ネジ、脱着部分と本体部分とを連結する連結ベルト等を挙げることができるが、前記所定方向（取り外し方向）とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際（即ち、前記所定方向（取り外し方向）とは反対方向への脱着部分の移動により脱着部分の重心位置が降下する）の脱着部分の重力とすれば格別の構成を要さないので本試験器を容易かつ簡潔に構成することができ、さらに脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段（例えば、永久磁石や電磁石）とすれば脱着部分及び本体部分が互いに近接した際に格別の操作を要することなく両者が引き合うので本試験器の操作を容易ならしめる。また、移動制限手段がこれら脱着部分の該重力と該磁力発生手段との両方を含むものであってもよい。【００１６】
脱着方向規定本試験器においては、脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向又はその逆方向に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向又はその逆方向に嵌入する嵌入孔を有するものであってもよい。
このように脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向（該一方が本体部分）又はその逆方向（該一方が脱着部分）に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向（該他方が脱着部分）又はその逆方向（該他方が本体部分）に嵌入する嵌入孔を有することによって、突出部材とそれを嵌入する嵌入孔という簡単な構成により、取り付け状態から脱着部分を本体部分に対して前記所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができると共に、取り付け状態において前記所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動することを禁止（例えば、該いずれの方向に脱着部分が本体部分に対して移動しても、突出部材の外面と嵌入孔の内面とが当接するようにしてもよい。）することができる。【００１７】
本試験器においては、本体部分が、第１部を取り付ける第１部取付部分と、第２部を取り付ける第２部取付部分と、第１部取付部分に取り付けられた第１部と第２部取付部分に取り付けられた第２部とが変位サイクルを繰り返すように第１部取付部分と第２部取付部分とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段と、を含んでなるものであってもよい。
こうすることで、本体部分が第１部取付部分と第２部取付部分と駆動手段とを含み、駆動手段が、第１部が取り付けられた第１部取付部分と、第２部が取り付けられた第２部取付部分と、を、第１部と第２部とが変位サイクルを繰り返すように相対的に繰り返して変位させる。第１部と第２部とを相対的に変位させる駆動手段は、本試験器において重量及び／又は体積に関して比較的大きな割合を占めることが多く、かかる駆動手段を本体部分に含めて脱着部分に含めないようにすることで脱着部分を小形軽量に構成できるので、脱着部分を本体部分から取り外して試験体の観察や分析等を容易に行うことができる。【００１８】
本試験器における本体部分、脱着部分及び状態保持手段については、本試験器における試験の目的や仕様等に応じて種々変更されるので、それぞれ異なる種類の本体部分、脱着部分及び状態保持手段を準備（製造、販売）しておき、試験の目的や仕様等にうまく適合させるように、本体部分、脱着部分及び状態保持手段を組み合わせて用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施形態に係る変形試験器（本試験器）を示す分解斜視図である。
【図２】本試験器の正面図である。
【図３】試験カートリッジの拡大斜視図である。
【図４Ａ】第１本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。
【図４Ｂ】第１本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。
【図４Ｃ】第２本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。
【図４Ｄ】第２本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。
【図５】試験体支持部の回動を係止する回動ストッパーを示す一部拡大斜視図である。
【図６】変形試験の状態を示す正面図である。
【図７Ａ】試験カートリッジを試験器本体から取り外した状態を示す斜視図である。
【図７Ｂ】試験カートリッジを試験器本体から取り外した状態を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。しかしながら、これらによって本発明は何ら制限されるものではない。
【００２１】
図１は、本発明の一実施形態に係る変形試験器（本試験器）１１を示す分解斜視図であり、図２は本試験器１１の正面図（図１中の矢印Ｖ方向から見たところを示している。但し状態保持部３０は取り外しており、駆動部９７は図示を省略している。）であり、図３は、後述の試験カートリッジ２０の拡大斜視図であり、図４Ａ及び図４Ｂは、後述の第１本体２４、嵌入ピン９４ａ、９４ｂ及び永久磁石９４ｍの関係を示す一部拡大分解斜視図であり、図４Ｃ及び図４Ｄは、後述の第２本体２６、嵌入ピン９６ａ、９６ｂ及び永久磁石９６ｍの関係を示す一部拡大分解斜視図であり、そして図５は、後述の試験体支持部２１ａの回動を係止する回動ストッパー２９ｂを示す一部拡大斜視図である。図１乃至図５を参照して、本試験器１１について説明する。
本試験器１１は、大まかには、試験器本体９１と、試験カートリッジ２０と、状態保持部３０と、を備えてなる。
【００２２】
試験器本体９１は、本試験器１１を設置する載置面２０１に据え置かれるフレーム９２と、フレーム９２の上部に配設され、試験カートリッジ２０の第１部分２３を着脱自在に支持する固定支持部９３と、試験カートリッジ２０の第２部分２５を着脱自在に支持する移動支持部９５と、移動支持部９５を変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に往復動させる駆動部９７と、を有してなる。
フレーム９２は、中空かつ開放された直方体形状に鋼材によって形成され、水平面である載置面２０１に下部が当接している。
また、別の側面からは、板状の試験体１０１の湾曲試験を行う変形試験機は、試験器本体９１及び試験カートリッジ２０を含む。ほぼ直方体における辺の部分を構成し試験機本体の概形を構成するフレーム９２と、試験器本体９１をほぼ水平な載置面に配置したとき上面視でほぼ長方形空間の輪郭を形成するフレーム９２が囲んで規定する長方形の仮想面の１つの辺に沿った側に備えられる固定支持部９３と、この１つの辺の両端からそれぞれ垂直に延びる別の２つの辺（フレーム９２で形成されていてもよい）に沿って延びる一対のスライドレール８５ａ、８５ｂと、長方形の仮想面を挟んで対向する互いにほぼ平行なスライドレール８５ａ、８５ｂの間を跨がるように備えられる基礎部９５ｂを含む移動支持部９５と、移動支持部９５を前記スライドレール８５ａ、８５ｂに沿った方向（上述する別の２つの辺に沿う方向）に往復動させる駆動部９７と、を含む。
【００２３】
固定支持部９３は、フレーム９２上部に架け渡された基礎部９３ｂと、基礎部９３ｂの上面に取り付けられた一対の「Ｌ」形のアングル部材９３ａ１、９３ａ２と、アングル部材９３ａ１、９３ａ２それぞれの上面から上方に向けて突出するように設けられた一対の嵌入ピン９４ａ、９４ｂと、アングル部材９３ａ１、９３ａ２それぞれの近傍の基礎部９３ｂ上面に埋設された永久磁石９４ｍ（アングル部材９３ａ１近傍の永久磁石９４ｍは図４Ｂ参照）と、を含んでなる。なお、アングル部材９３ａ１、９３ａ２は、主表面が鉛直になるように固定板状部材８１を支持する。
また、別の側面からは、固定支持部９３は、長方形の仮想面の１つの辺を形成するフレーム９２に沿って備えられる長板状の基礎部９３ｂ（１つの板面（上面）を上に向けてほぼ水平に配置）と、基礎部９３ｂの長手方向（上述する１つの辺に沿う方向）の中ほどに所定の距離を隔てて基礎部９３ｂの上面に取り付けられた一対のアングル部材９３ａ１、９３ａ２（垂直な線分の下端及び水平な線分の左端で結合されて構成される「Ｌ」字形状を持つが、この「Ｌ」字をひっくり返して、試験器本体９１のほぼ長方形の仮想面の内部側から基礎部９３ｂに近接させ水平な線分に相当する部材の下面を基礎部９３ｂの上面に当接させて取り付け、垂直な線分に相当する部材を基礎部９３ｂの内部側に垂直方向下向きに垂らしたもの）と、アングル部材９３ａ１、９３ａ２の水平な線分に相当する部材の上面であって上述する長方形の仮想面の内部側に寄る位置に上方に突出するように備えられる嵌入ピン９４ａ、９４ｂと、基礎部９３ｂの上面であってアングル部材９３ａ１、９３ａ２の水平な線分に相当する部材の外側（基礎部９３ｂの長手方向のそれぞれの端部側）にそれぞれその部材に沿って備えられる２つの永久磁石９４ｍと、を含む。
【００２４】
移動支持部９５は、変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に平行にフレーム９２の上部に取り付けられた一対のスライドレール８５ａ、８５ｂの間に跨がるように取り付けられた基礎部９５ｂ（スライドレール８５ａ、８５ｂに対して変位方向（図中、矢印Ｓ方向）にスライド自在である。）と、基礎部９５ｂの上面に取り付けられた一対の「Ｌ」形のアングル部材９５ａ１、９５ａ２と、アングル部材９５ａ１、９５ａ２それぞれの上面から上方に向けて突出するように設けられた一対の嵌入ピン９６ａ、９６ｂと、アングル部材９５ａ１、９５ａ２それぞれの近傍の基礎部９５ｂ上面に埋設された永久磁石９６ｍ（アングル部材９５ａ１近傍の永久磁石９６ｍは図に表れない）と、を含んでなる。なお、アングル部材９５ａ１、９５ａ２は、主表面が鉛直になるように移動板状部材８３を支持する。
また、別の側面からは、移動支持部９５は、一対のスライドレール８５ａ、８５ｂの間に跨がるように備えられスライドレール８５ａ、８５ｂに沿ってスライド可能にマウントされるマウント部をそれぞれのスライドレール８５ａ、８５ｂに対するように両端近傍に備える長板状の基礎部９５ｂ（１つの板面（上面）を上に向けてほぼ水平に配置）と、基礎部９５ｂの長手方向（一対のスライドレール８５ａ、８５ｂを跨ぐ方向）の中ほどに所定の距離を隔てて基礎部９５ｂの上面に取り付けられた一対のアングル部材９５ａ１、９５ａ２（垂直な線分の下端及び水平な線分の左端で結合されて構成される「Ｌ」字形状を持つが、この「Ｌ」字をひっくり返して、試験器本体９１のほぼ長方形の仮想面の内部側から基礎部９５ｂに近接させ水平な線分に相当する部材の下面を基礎部９５ｂの上面に当接させて取り付け、垂直な線分に相当する部材を基礎部９５ｂの内部側に垂直方向下向きに垂らしたもの）と、アングル部材９５ａ１、９５ａ２の水平な線分に相当する部材の上面であって上述する長方形の仮想面の内部側に寄る位置に上に突出するように備えられる嵌入ピン９６ａ、９６ｂと、基礎部９５ｂの上面であってアングル部材９５ａ１、９５ａ２の水平な線分に相当する部材の外側（基礎部９５ｂの長手方向のそれぞれの端部側）にそれぞれその部材に沿って備えられる２つの永久磁石９６ｍと、を含む。
【００２５】
駆動部９７は、一端が移動支持部９５に連結される連結棒９７ａ（長手方向が変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に平行である）と、連結棒９７ａの基端を定められた振幅及び周波数にて変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に往復動させる駆動ユニット９７ｂと、を含んでなり、移動支持部９５を定められた振幅及び周波数にて変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に往復動させる。
また、別の側面からは、駆動部９７は、フレーム９２による直方体形状の外側において載置面２０１に配置されるが、一端が移動支持部９５に連結されスライドレール８５ａ、８５ｂに平行な方向である変位方向に延びる連結棒９７ａと、連結棒９７ａの他端である基端側に変位方向に沿った方向（連結棒９７ａの軸方向）に連結棒９７ａを移動させる駆動ユニット９７ｂを含む。フレーム９２から構成される部分と駆動ユニット９７ｂとは、連結棒９７ａの移動（例えば、往復動）や連結棒９７ａの一端が連結される移動支持部９５の移動が生じても移動しないように、それぞれ載置面２０１において固定されている。
【００２６】
試験カートリッジ２０は、大まかには、試験器本体９１の固定支持部９３に着脱自在に取り付けられる第１部分２３と、試験器本体９１の移動支持部９５に着脱自在に取り付けられる第２部分２５と、第１部分２３と第２部分２５とを互いに連結する一対の板バネ２２ａ、２２ｂと、を含んでなる。基本形態においては、試験カートリッジ２０は輪郭により上面視でほぼ長方形を呈しており、その長方形の輪郭の対向する２つの辺に相当する部分にそれぞれ固定支持部９３及び移動支持部９５に対応する第１部分２３及び第２部分２５を備え、上述する長方形の他の対向する２つの辺に相当する部分にそれぞれ板バネ２２ａ、２２ｂを備え、第１部分２３及び第２部分２５を連結するように構成される。
【００２７】
第１部分２３は、一対の嵌入ピン９４ａ、９４ｂに上方から嵌め込まれることで取り付けられる第１本体２４と、第１本体２４に対して第１回動軸Ｃ１（図３参照）を中心に回動自在に取り付けられる試験体支持部２１ａと、を有してなる。また、第１部分２３は、上面視で「Ｃ」字形状する概ね板状のものであって「Ｃ」字形状の背部が上述する長方形の対向する２つの辺のうちの１つに沿うものであり「Ｃ」字形状の背部の反対側の開口部が上述する輪郭による長方形の内側を向いている第１本体２４と、「Ｃ」字形状内に少なくとも一部が入りその開口部から他の部分が突出し更に突出部から両側の板バネ２２ａ、２２ｂに向かって少し外側に延びる部分（小延長部）を備える上面視でほぼ長方形を呈する試験体支持部２１ａと、第１本体２４及び試験体支持部２１ａを回動自在に結合する上述する長方形の対向する２つの辺に平行な方向に延びる第１回動軸Ｃ１（例えば、蝶番）と、を含む。ここで、第１回動軸Ｃ１の端部２３ｃが板バネ２２ｂの向こうに見えている（図２）。なお、第１本体２４の下面には、嵌入ピン９４ａ、９４ｂが嵌入される一対の嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂ（図４Ａ参照）が穿設されているが、嵌入ピン９４ａ、９４ｂは、アングル部材９３ａ１、９３ａ２の上面に備えられるので、第１本体２４の下面に設けられる部材との干渉が避けられる。
そして、第１本体２４が固定支持部９３に取り付けられた際（嵌入ピン９４ａ、９４ｂが嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂに嵌入される）、永久磁石９４ｍが第１本体２４（磁石に吸引される鋼材により形成されている）を吸引することで、第１本体２４の固定支持部９３への取り付けを確実ならしめる。
また、試験体支持部２１ａが、第１本体２４に対して第１回動軸Ｃ１を中心に回動することを規制する回動ストッパー２９ａ、２９ｂが第１本体２４の下面に板バネ２２ａ、２２ｂが延びる方向（又は変位方向）に沿って延びるように配設されているが、アングル部材９３ａ１、９３ａ２との干渉を避けるように、第１本体２４の「Ｃ」字形状の背部に沿う方向において、所定の距離隔てて設けられた１対のアングル部材９３ａ１、９３ａ２の外側壁の位置よりも幅広に隔てられている（図４Ａ及び図５参照）。回動ストッパー２９ａ、２９ｂは、試験体支持部２１ａが第１回動軸Ｃ１を中心に回動すると、先端２９ａａ、２９ｂａが、試験体支持部２１ａの小延長部の下面又は小延長部に連結・固定される外側に向かって延びる小片からなる板バネ固定片の下面に当接することでさらなる回動を禁止する。
そして、試験体支持部２１ａには、回動ストッパー２９ａ、２９ｂの外側壁の位置よりもクリアランスを加えて更に幅広に隔てられて、板バネ２２ａ、２２ｂが延びる方向（又は変位方向）に沿って延びるように、一対の引っ張りばね２１ａｓの１つの端が掛けられる取付突起がその下面に配設され、他方の端は、第１本体２４の下面に配設される取付突起に掛けられる。この一対の引っ張りばね２１ａｓは、第１回動軸Ｃ１より下方に設置されているので、試験体支持部２１ａが下方に向けて回動するように引っぱられており、試験体支持部２１ａが第１回動軸Ｃ１を中心に上方に回動することを防止し、試験体１０１が常に下方向に彎曲するようになっている（この引っ張りばね２１ａｓは、特許文献１において取付部５、６を下方に引っぱるばね１１に相当する。）。
【００２８】
第２部分２５は、一対の嵌入ピン９６ａ、９６ｂに上方から嵌め込まれることで取り付けられる第２本体２６と、第２本体２６に対して第２回動軸Ｃ２（図３参照。Ｃ１とＣ２とは平行である。）を中心に回動自在に取り付けられた試験体支持部２１ｂと、を有してなる。また、第２部分２５は、上面視で「Ｃ」字形状する概ね板状のものであって「Ｃ」字形状の背部が上述する長方形の対向する２つの辺のうちの１つに沿うものであり「Ｃ」字形状の背部の反対側の開口部が上述する輪郭による長方形の内側を向いている第２本体２６と、「Ｃ」字形状内に少なくとも一部が入りその開口部から他の部分が突出し更に突出部から両側の板バネ２２ａ、２２ｂに向かって少し外側に延びる部分（小延長部）を備える上面視でほぼ長方形を呈する試験体支持部２１ｂと、第２本体２６及び試験体支持部２１ｂを回動自在に結合する上述する長方形の対向する２つの辺に平行な方向に延びる第２回動軸Ｃ２と、を含む。ここで、第２回動軸Ｃ２端部２５ｃが板バネ２２ｂの向こうに見えている（図２）。なお、第２本体２６の下面には、第１本体２４の下面と同様、嵌入ピン９６ａ、９６ｂが嵌入される一対の嵌入孔２６ｈａ、２６ｈｂが穿設されているが、嵌入ピン９６ａ、９６ｂは、アングル部材９５ａ１、９５ａ２の上面に備えられるので、第２本体２６の下面に設けられる部材との干渉が避けられる。
そして、第２本体２６が移動支持部９５に取り付けられた際（嵌入ピン９６ａ、９６ｂが、第２本体２６の下面の一対の嵌入孔に嵌入される）、永久磁石９６ｍが第２本体２６（磁石に吸引される鋼材により形成されている）を吸引することで、第２本体２６の移動支持部９５への取り付けを確実ならしめる。
また、試験体支持部２１ｂが、第２本体２６に対して第２回動軸Ｃ２を中心に回動することを規制する回動ストッパー２９ａ、２９ｂが第２本体２６の下面に板バネ２２ａ、２２ｂが延びる方向（又は変位方向）に沿って延びるように配設されているが、アングル部材９５ａ１、９５ａ２との干渉を避けるように、第２本体２６の「Ｃ」字形状の背部に沿う方向において、所定の距離隔てて設けられた１対のアングル部材９５ａ１、９５ａ２の外側壁の位置よりも幅広に隔てられている。該回動ストッパーは、前述の回動ストッパー２９ａ、２９ｂと同様のものであり、試験体支持部２１ｂが第２回動軸Ｃ２を中心に回動すると、その先端が試験体支持部２１ｂの小延長部の下面又は小延長部に連結・固定される外側に向かって延びる小片からなる板バネ固定片の下面に当接することでさらなる回動を禁止する。
そして、試験体支持部２１ｂには、回動ストッパー２９ａ、２９ｂの外側壁の位置よりもクリアランスを加えて更に幅広に隔てられて、板バネ２２ａ、２２ｂが延びる方向（又は変位方向）に沿って延びるように、一対の引っ張りばね２１ｂｓの１つの端が掛けられる取付突起がその下面に配設され、他方の端は、第２本体２６の下面に配設される取付突起に掛けられる。この一対の引っ張りばね２１ｂｓは、第２回動軸Ｃ２より下方に設置されているので、試験体支持部２１ｂが下方に向けて回動するように引っぱられており、試験体支持部２１ｂが第２回動軸Ｃ２を中心に上方に回動することを防止し、試験体１０１が常に下方向に彎曲するようになっている（この引っ張りばね２１ｂｓは、特許文献１において取付部５、６を下方に引っぱるばね１１に相当する。）。
【００２９】
板バネ２２ａ、２２ｂは、いずれも一端が試験体支持部２１ａに取り付けられると共に他端が試験体支持部２１ｂに取り付けられたまっすぐの短冊状（細長い板状）のバネであり、その短冊の長手方向は互いに平行になるように配置されている（試験カートリッジ２０が試験器本体９１に取り付けられると、短冊の該長手方向は変位方向（図１及び図２中、矢印Ｓ方向）に平行となる。）。この板バネ２２ａ、２２ｂは、重力以外の力が加わっていない場合には（無負荷の状態とも言える）、試験体１０１の両主表面が平面にほぼ沿う（ここでは試験体１０１が接着される試験体支持部２１ａの表面（ここでは上面）と、試験体支持部２１ｂの表面（ここでは上面）と、は厳密には引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓの引っ張りにより僅かに下方に回動しているが、ほぼ水平な一平面に存するように位置している。この引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓの引っ張りにより試験体１０１の両主表面は下方に僅かに彎曲しているが、ほぼ平面に沿った状態である。）ように試験体支持部２１ａ、２１ｂが互いに離れるように付勢する。即ち、第１部分２３及び第２部分２５を連結するように、上面視でほぼ長方形の試験カートリッジ２０の概形を構成し、以下に述べるように、中央に試験体１０１を保持する空間を確保する。
【００３０】
試験体１０１は、ここでは両主表面が長方形を略なすものであり、有機ＥＬのフレキシブルディスプレーとして用いられる薄く柔軟な樹脂板である。
試験体１０１は、第１部の試験体支持部２１ａの表面（ここでは上面）と、第２部の試験体支持部２１ｂの表面（ここでは上面）と、に試験体１０１の両縁近傍（両縁から所定の幅の部分）が接着することにより取り付けられている。
そして、第１部分２３と第２部分２５とに、重力以外の力が加わっていない場合には、試験体１０１の両主表面が平面に略沿っている（前述の如く、厳密には引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓの引っ張りにより試験体１０１の両主表面は下方に僅かに彎曲している。）。
【００３１】
状態保持部３０は、まっすぐの短冊状（細長い板状）の保持板３１、３２と、保持板３１を試験カートリッジ２０に取り付けるための取付ねじ３５ａ、３５ｂと、保持板３２を試験カートリッジ２０に取り付けるための取付ねじ３６ａ、３６ｂと、を含んでなる。保持板３１、３２は、いずれもその長手方向に沿った長穴３１ｈ、３２ｈが形成されている。取付ねじ３５ａ、３５ｂの軸部はいずれも長穴３１ｈを貫通可能であるが、取付ねじ３５ａ、３５ｂの頭部はいずれも長穴３１ｈを通過できない。同様に、取付ねじ３６ａ、３６ｂの軸部はいずれも長穴３２ｈを貫通可能であるが、取付ねじ３６ａ、３６ｂの頭部はいずれも長穴３２ｈを通過できない。取付ねじ３５ａ、３６ａの軸部には雄ねじが螺刻されており、該雄ねじが螺合可能な雌ねじ２７ａ、２７ｂが第１部分２３（第１本体２４）上面に穿設されると共に取付ねじ３５ｂ、３６ｂの軸部には雄ねじが螺刻されており、該雄ねじが螺合可能な雌ねじ２８ａ、２８ｂが第２部分２５（第２本体２６）上面に穿設されている。
【００３２】
本試験器１１を用いて試験体１０１の彎曲試験を行うには、まず第１に、上述の如く、試験カートリッジ２０を試験器本体９１に取り付ける。このとき嵌入ピン９４ａ、９４ｂを嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂに嵌入すると共に（図４Ａ参照）、嵌入ピン９６ａ、９６ｂを第２本体２６下面に形成した嵌入孔に嵌入する。この状態では、永久磁石９４ｍが第１本体２４を吸引すると共に永久磁石９６ｍが第２本体２６を吸引することで、試験カートリッジ２０の試験器本体９１への取り付けを確実ならしめる。
第２に、試験体１０１の両縁近傍を試験体支持部２１ａ、２１ｂの表面（ここでは上面）に接着することにより取り付ける。通常は、試験体支持部２１ａの表面（上面）と、試験体支持部２１ｂの表面（上面）と、が一平面（互いに平行な第１回動軸Ｃ１及び第２回動軸Ｃ２を含む平面）にほぼ属する状態において、試験体１０１の両主表面が該一平面にほぼ沿うように取り付ける（前述の通り、厳密には、引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓの引っ張りに試験体支持部２１ａの表面（上面）と試験体支持部２１ｂの表面（上面）とは僅かに下方に回動すると共に、試験体１０１の両主表面は下方に僅かに彎曲している。）。
第３に、駆動部９７により、移動支持部９５を所定の振幅及び周波数で矢印Ｓと平行方向に往復動させる（このときは状態保持部３０を装着していない）。移動支持部９５の往復動は、移動支持部９５に取り付けられた第２部分２５を該所定の振幅及び周波数で矢印Ｓと平行方向に往復動させる。なお、第１部分２３は固定されているので、第２部分２５の該往復動により、第１部分２３と第２部分２５との間の距離が増減し（板バネ２２ａ、２２ｂの付勢力に抗して該距離が減少する）、第１部分２３と第２部分２５との間に取り付けられた試験体１０１は屈伸される（このとき引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓによって試験体１０１は常に下方向に彎曲する。）。
【００３３】
試験体１０１が所定回数屈伸した後、試験体１０１の観察や分析等行う場合、試験体１０１が所望の彎曲状態において状態保持部３０を試験カートリッジ２０に装着する。具体的には、試験体１０１が所望の彎曲状態となるよう駆動部９７を停止し、その状態において、取付ねじ３５ａ、３５ｂの軸部を長穴３１ｈに貫通すると共に取付ねじ３６ａ、３６ｂの軸部を長穴３２ｈに貫通させた保持板３１、３２を試験カートリッジ２０に取り付ける（具体的には、取付ねじ３５ａ、３６ａを雌ねじ２７ａ、２７ｂに螺合させると共に取付ねじ３５ｂ、３６ｂを雌ねじ２８ａ、２８ｂに螺合させて締め付ける。これにより、取付ねじ３５ａ、３５ｂの長穴３１ｈに対する位置が固定されると共に取付ねじ３６ａ、３６ｂの長穴３２ｈに対する位置が固定される。）。こうすることで第１部分２３と第２部分２５との間の距離が変化することを状態保持部３０により禁止することで、後述のように試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外しても試験体１０１の所望の彎曲状態が保持される。
【００３４】
以上のように状態保持部３０を装着した試験カートリッジ２０を試験器本体９１から上方に移動させることにより取り外す。具体的には、試験カートリッジ２０を試験器本体９１に対して上方に移動させるように力を加えることで、永久磁石９４ｍ、９６ｍの吸引力及び試験カートリッジ２０の重力に抗して試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外すことができる（このとき嵌入ピン９４ａ、９４ｂは嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂから抜けると共に、嵌入ピン９６ａ、９６ｂは第２本体２６下面に形成した嵌入孔から抜ける。）。
試験器本体９１から取り外した試験カートリッジ２０は、それに装着した状態保持部３０により、第１部分２３と第２部分２５との間の距離の変化が禁止され、試験体１０１の所望の彎曲状態が保持されるので、該所望の彎曲状態のまま試験体１０１の観察や分析等を行うことができる。
【００３５】
試験体１０１の観察や分析等の後、状態保持部３０を装着した試験カートリッジ２０を再び試験器本体９１に取り付ける（嵌入ピン９４ａ、９４ｂを嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂに嵌入し、嵌入ピン９６ａ、９６ｂを第２本体２６下面に形成した嵌入孔に嵌入する。そして永久磁石９４ｍ、９６ｍの吸引力により試験カートリッジ２０の試験器本体９１への取り付けを確実ならしめる。）。
そして、状態保持部３０を試験カートリッジ２０から取り外す（取付ねじ３５ａ、３６ａを雌ねじ２７ａ、２７ｂから抜き取ると共に取付ねじ３５ｂ、３６ｂを雌ねじ２８ａ、２８ｂから抜き取る。）。こうすることで第１部分２３と第２部分２５との間の距離の変化が許容されるので、駆動部９７により、移動支持部９５を所定の振幅及び周波数で矢印Ｓと平行方向に往復動させることで、試験体１０１の彎曲試験を続行することができる。また、この彎曲試験の後、上述と同様に何度でも、試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外して、試験体１０１の観察や分析等を適宜行うことができる。
【００３６】
例えば、図６（図２と同様の方向から見た際、第１部分２３及び第２部分２５を含む部分を示した図）のように、試験体１０１の彎曲試験においては、試験体支持部２１ｂが第１部分２３から最も遠くなった状態（このときは試験体１０１の両主表面は、前述の如く、厳密には引っ張りばね２１ａｓ、２１ｂｓの引っ張りにより下方に僅かに彎曲しているが、ほぼ平面に沿った状態である。このときの試験体支持部２１ｂの位置をＰ１にて示す。）から試験体支持部２１ｂが第１部分２３に近づいた状態（このときは試験体１０１の両主表面は下方に彎曲している。このときの試験体支持部２１ｂの位置をＰ２にて示す。）を経て試験体支持部２１ｂが第１部分２３に最も近づいた状態（このときは試験体１０１の両主表面は大きく下方に彎曲している。このときの試験体支持部２１ｂの位置をＰ３にて示す。）に至ることで試験体１０１がほぼ平らな状態から大きく下方に彎曲する。その後、試験体支持部２１ｂが位置Ｐ３から位置Ｐ２を経て位置Ｐ１に戻ることで、試験体１０１が大きく下に彎曲した状態からほぼ平らな状態に戻る。このように試験体支持部２１ｂが、位置Ｐ１、位置Ｐ２、位置Ｐ３、位置Ｐ２そして位置Ｐ１と変位することで試験体１０１が１回屈伸することになるので、この試験体支持部２１ｂの移動速度、変位距離（位置Ｐ１と位置Ｐ３との間の距離）及び回数を適宜設定して試験体１０１の屈伸試験を行うことができる。
【００３７】
この試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１から位置Ｐ３までのいずれの位置においても、状態保持部３０を試験カートリッジ２０に装着することで試験体１０１の所望の彎曲状態を保持したまま、試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外して該所望の彎曲状態のまま試験体１０１の観察や分析等を行うことができる。例えば、図７Ａは、図６において試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１に存する状態で状態保持部３０を試験カートリッジ２０に装着して試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外したところを示す斜視図であり、図７Ｂは、図６において試験体支持部２１ｂが位置Ｐ３に存する状態で状態保持部３０を試験カートリッジ２０に装着して試験カートリッジ２０を試験器本体９１から取り外したところを示す斜視図であり、図７Ａ及び図７Ｂのいずれにおいても試験体１０１の所望の彎曲状態を保持している。
そして、前述の通り、試験体１０１の観察や分析等の後、状態保持部３０を装着した試験カートリッジ２０を再び試験器本体９１に取り付け、状態保持部３０を試験カートリッジ２０から取り外して、再度、試験体１０１の彎曲試験を行うことができる。このように試験体１０１の彎曲試験と試験体１０１の観察分析等（試験カートリッジ２０は試験器本体９１から取り外し状態）とを自由に何度でも行うことができる。
【００３８】
また、このように試験カートリッジ２０が着脱自在になっていることから、予め試験体１０１を取り付けた複数の試験カートリッジ２０を準備しておくことで、次々に試験カートリッジ２０を試験器本体９１に装着し彎曲試験を行うことができるので（試験体１０１を試験カートリッジ２０に装着する時間に比し、試験カートリッジ２０を試験器本体９１に装着する時間は非常に短い）、複数の彎曲試験を迅速に行うことができる（各彎曲試験に対応する試験カートリッジ２０を次々交換しつつ、複数の彎曲試験を迅速に行うことができ、試験器本体９１の稼働率を向上させることができる。）。
【００３９】
以上説明の通り、本試験器１１は、試験体１０１の異なる少なくとも２の部分（ここでは略平行な両縁近傍）それぞれが第１部（ここでは第１部分２３）の第１取付部（ここでは試験体支持部２１ａ）及び第２部（ここでは第２部分２５）の第２取付部（ここでは試験体支持部２１ｂ）に取り付けられ（ここでは接着）、第１形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１に存する状態）から第２形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ３に存する状態）を経て再び第１形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１に存する状態）に戻る所定の変形サイクルを試験体１０１に生じさせる第１部（第１部分２３）に対する第２部（第２部分２５）の相対的な変位である変位サイクル（試験体支持部２１ｂが、位置Ｐ１、位置Ｐ２、位置Ｐ３、位置Ｐ２そして位置Ｐ１と変位するサイクル）を繰り返す脱着部分（ここでは試験カートリッジ２０）と、脱着部分（試験カートリッジ２０）が着脱自在に取り付けられる本体部分（ここでは試験器本体９１）と、を備えてなる変形試験器（ここでは彎曲試験機）であって、試験体１０１が取り得る形状状態のうち少なくとも１（ここでは全て）の形状状態における第１部（第１部分２３）に対する第２部（第２部分２５）の相対的な位置を固定する状態保持手段（ここでは状態保持部３０）が、本体部分（試験器本体９１）に取り付けられた脱着部分（試験カートリッジ２０）に着脱自在であると共に、状態保持手段（状態保持部３０）が装着された脱着部分（試験カートリッジ２０）が本体部分（試験器本体９１）に脱着自在なものである、変形試験器である。
【００４０】
本試験器１１においては、脱着部分（試験カートリッジ２０）が、状態保持手段（状態保持部３０）を取り付けるための状態保持手段取付部（ここでは取付ねじ３５ａ、３６ａの軸部に螺刻された雄ねじが螺合可能な雌ねじ２７ａ、２７ｂと、取付ねじ３５ｂ、３６ｂの軸部に螺刻された雄ねじが螺合可能な雌ねじ２８ａ、２８ｂと、により構成される。）を有してなるものである。
【００４１】
本試験器１１においては、第１形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１）から第２形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ３）に遷移する際に、第１部（第１部分２３）と第２部（第２部分２５）との間の距離が減少するものであり、脱着部分（試験カートリッジ２０）が、第２形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ３）から第１形状状態（試験体支持部２１ｂが位置Ｐ１）へ該距離を増加させるよう第１部（第１部分２３）及び第２部（第２部分２５）を付勢する付勢手段（ここでは板バネ２２ａ、２２ｂ）を有してなり、状態保持手段（状態保持部３０）が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段である。
本試験器１１においては、状態保持手段（状態保持部３０）が、一端側が第１部（第１部分２３）に取り付けられると共に他端側が第２部（第２部分２５）に取り付けられる状態保持部材（ここでは保持板３１、３２）と、状態保持部材（保持板３１、３２）の該一端側を第１部（第１部分２３）に着脱自在に取り付ける一端側着脱部（ここでは取付ねじ３５ａ、３６ａ）と、状態保持部材（保持板３１、３２）の該他端側を第２部（第２部分２５）に着脱自在に取り付ける他端側着脱部（ここでは取付ねじ３５ｂ、３６ｂ）と、を含んでなる。
本試験器１１においては、状態保持手段（状態保持部３０）が、試験体１０１が取り得る形状状態の全ての形状状態における第１部（第１部分２３）に対する第２部（第２部分２５）の相対的な位置を固定することができるものである（ここでは長穴３１ｈ、３２ｈの長手方向のどこにおいても、取付ねじ３５ａ、３６ａ、３５ｂ、３６ｂを締めることで保持板３１、３２に第１部分２３及び第２部分２５を係止できる。）。
【００４２】
本試験器１１においては、脱着部分（試験カートリッジ２０）が本体部分（試験器本体９１）に取り付けられたとき、脱着部分（試験カートリッジ２０）を本体部分（試験器本体９１）に対して所定方向（図中、矢印Ｋにて示す鉛直上方向）に移動させ脱着部分（試験カートリッジ２０）を本体部分（試験器本体９１）から取り外すことができるが、脱着部分（試験カートリッジ２０）と本体部分（試験器本体９１）とが当接することで該所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向）とは反対方向に脱着部分（試験カートリッジ２０）を本体部分（試験器本体９１）に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向）に垂直な平面（ここでは水平面）に沿ったいずれの方向にも脱着部分（試験カートリッジ２０）を本体部分（試験器本体９１）に対して移動させることは禁止されるものである。
【００４３】
本試験器１１においては、前記所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向）への本体部分（試験器本体９１）に対する脱着部分（試験カートリッジ２０）の移動を制限する移動制限手段を備えるものである。
本試験器１１においては、移動制限手段が、前記所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向）とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際（ここでは該反対方向が鉛直下方向である。）の脱着部分（試験カートリッジ２０）の重力と、脱着部分（試験カートリッジ２０）及び本体部分（試験器本体９１）のいずれか一方（ここでは試験器本体９１）に設けられ他方（ここでは試験カートリッジ２０）を吸引する磁力発生手段（ここでは永久磁石９４ｍ、９６ｍ）と、の少なくとも一方（ここでは両方）を含む。
【００４４】
本試験器１１においては、脱着部分（試験カートリッジ２０）及び本体部分（試験器本体９１）のいずれか一方（ここでは試験器本体９１）が、前記所定方向又はその逆方向（ここでは前記所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向））に突出する突出部材（ここでは嵌入ピン９４ａ、９４ｂと嵌入ピン９６ａ、９６ｂ）を有し、該いずれか他方（ここでは試験カートリッジ２０）が、該突出部材（嵌入ピン９４ａ、９４ｂ、嵌入ピン９６ａ、９６ｂ）を前記所定方向又はその逆方向（ここでは前記所定方向（矢印Ｋにて示す鉛直上方向））に嵌入する嵌入孔（ここでは第１本体２４下面に形成された嵌入ピン９４ａ、９４ｂが嵌入される嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂと、第２本体２６下面に形成された嵌入ピン９６ａ、９６ｂが嵌入される一対の嵌入孔）を有するものである。
本試験器１１においては、本体部分（試験器本体９１）が、第１部（第１部分２３）を取り付ける第１部取付部分（ここでは固定支持部９３）と、第２部（第２部分２５）を取り付ける第２部取付部分（ここでは移動支持部９５）と、第１部取付部分（固定支持部９３）に取り付けられた第１部（第１部分２３）と第２部取付部分（移動支持部９５）に取り付けられた第２部（第２部分２５）とが変位サイクルを繰り返すように第１部取付部分（固定支持部９３）と第２部取付部分（移動支持部９５）とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段（ここでは駆動部９７）と、を含んでなる。
また、別の実施例においては、第１部（第１部分２３）を取り付ける第１部取付部分を移動可能にすることもでき、その際には、第１部取付部分との距離が相対的に繰り返して変化することができるのであれば、第２部取付部分を固定してもよく、或いは、移動可能にしてもよい。
【００４５】
以上述べてきたように、本発明の１つの実施例において、板状又はフィルム状の試験体を彎曲させて評価する変形試験器（１１）は、
少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）において、互いの距離が繰り返して相対的に変化し得る第１部取付部分（９３）及び第２部取付部分（９５）と、
前記第１部取付部分（９３）及び前記第２部取付部分（９５）の間の相対的な距離を繰り返して変化させることができる駆動部（９７）と、
前記第１部取付部分（９３）及び前記第２部取付部分（９５）に係合して前記試験体を彎曲させるように保持する試験カートリッジ（２０）と、を含み、
前記試験カートリッジ（２０）は、
前記第１部取付部分（９３）に係合する第１部分（２３）と、
前記第２部取付部分（９５）に係合する第２部分（２５）と、
前記第１部分（２３）及び前記第２部分（２５）の間に前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）に沿って無負荷で所定の距離を維持可能に架け渡される弾性体（例えば、板バネ２２ａ、２２ｂ）と、
前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）に沿って、負荷又は無負荷で前記第１部分（２３）及び前記第２部分（２５）の間の相対的な距離を固定して保持可能な状態保持部（３０）と、を含み、
前記第１部分（２３）は、
前記第１部取付部分（９３）と係合し前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）に沿って係合固定したまま前記第１部取付部分（９３）と一緒に移動し得るように構成される第１本体（２４）と、
前記第１本体（２４）に、前記少なくとも１つの方向に実質的に垂直な回動軸（Ｃ１）を介して、回動自在に接続されるように構成される第１試験体支持部（２１ａ）と、を含み、
前記第１本体（２４）は、前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）に実質的に垂直な方向の移動により、前記第１部取付部分（９３）に装着可能な及び装脱可能な係合部材（例えば、嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂ）を、及び、前記第１部取付部分（９３）は、その係合部材に対応可能な対応部材（例えば、嵌入ピン９４ａ、９４ｂ）を、備え、
前記第２部分（２５）は、
前記第２部取付部分（９５）と係合し前記少なくとも１つの方向に沿って係合固定したまま前記第２部取付部分（９５）と一緒に移動し得るように構成される第２本体（２６）と、
前記第２本体（２６）に、前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）に実質的に垂直な回動軸Ｃ２を介して、回動自在に接続されるように構成される第２試験体支持部（２１ｂ）と、を含み、
前記第２本体（２６）は、前記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）にほぼ垂直な方向の移動により、前記第２部取付部分（９５）に装着可能な及び装脱可能な係合部材（例えば、嵌入孔２６ｈａ、２６ｈｂ）を、及び、前記第２部取付部分（９５）は、その係合部材に対応可能な対応部材（例えば、嵌入ピン９６ａ、９６ｂ）を、備え、
前記第１試験体支持部（２１ａ）及び前記第２試験体支持部（２１ｂ）は、前記試験体（１０１）の異なる部分を保持可能に構成され、そして、前記第１試験体支持部（２１ａ）及び前記第２試験体支持部（２１ｂ）の間は、かかる保持により、前記試験体（１０１）を配置することができるように構成され、そして、
前記状態保持部（３０）は、前記弾性体（例えば、板バネ２２ａ、２２ｂ）の復元力に抗して、相対的な距離を固定することができるように構成される。
ここで、上記状態保持部（３０）は、上記弾性体（例えば、板バネ２２ａ、２２ｂ）及び上記試験体（１０１）の復元力に抗して十分耐えうる構造及び／又は材料並びにそれら弾性体及び試験体をその状態で前記状態保持部に固定可能な固定装置（例えば、ファスナー、ネジ、ボルト、凸部、及び対応するファスナー、ネジ穴、ナット、凹部等）を含みことができる。また、前記状態保持部（３０）は、上記試験カートリッジ（２０）を取り出す際に、上記係合部材（例えば、嵌入孔２４ｈａ、２４ｈｂ）及び上記対応部材（例えば、嵌入ピン９４ａ、９４ｂ）並びに上記係合部材（例えば、嵌入孔２６ｈａ、２６ｈｂ）及び上記対応部材（例えば、嵌入ピン９６ａ、９６ｂ）の係合を解除する際に、適度なクリアランスを供給することができる。
更に、前記試験カートリッジ（２０）は、上記少なくとも１つの方向（例えば、Ｓ）における任意の位置で、上記第１部取付部分（９３）及び上記第２部取付部分（９５）が停止可能に構成されており、その状態で、上記状態保持部（３０）は、上記弾性体（例えば、板バネ２２ａ、２２ｂ）及び上記試験体（１０１）を固定することができる。
【符号の説明】
【００４６】
１１  本試験器          ２０  試験カートリッジ
２１ａ  試験体支持部          ２１ａｓ  引っ張りばね
２１ｂ  試験体支持部          ２１ｂｓ  引っ張りばね
２２ａ、２２ｂ  板バネ          ２３  第１部分
２４  第１本体          ２４ｈａ、２４ｈｂ  嵌入孔
２５  第２部分          ２６  第２本体
２７ａ、２７ｂ  雌ねじ          ２８ａ、２８ｂ  雌ねじ
２９ａ、２９ｂ  回動ストッパー          ２９ａａ、２９ｂａ  先端
３０  状態保持部          ３１、３２  保持板
３１ｈ、３２ｈ  長穴          ３５ａ、３５ｂ  取付ねじ
３６ａ、３６ｂ  取付ねじ          ８１  固定板状部材
８３  移動板状部材          ８５ａ、８５ｂ  スライドレール
９１  試験器本体          ９２  フレーム          ９３  固定支持部
９３ａ１、９３ａ２  アングル部材          ９３ｂ  基礎部
９４ａ、９４ｂ  嵌入ピン          ９４ｍ  永久磁石
９５  移動支持部          ９５ａ１、９５ａ２  アングル部材
９５ｂ  基礎部          ９６ａ、９６ｂ  嵌入ピン
９６ｍ  永久磁石          ９７  駆動部          ９７ａ  連結棒
９７ｂ  駆動ユニット          １０１  試験体
２０１  載置面
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｃ】
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【図４Ｄ】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【国際調査報告】
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