(57)【要約】  Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ、Ｎｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材であって、結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、平均直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、平均直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、引張強度が６００ＭＰａ以上である電気電子部品用銅合金材。
2010071220.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ、Ｎｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材であって、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
引張強度が６００ＭＰａ以上である
ことを特徴とする電気電子部品用銅合金材。
【請求項２】
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ、Ｎｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｍｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％を含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材であって、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
引張強度が６００ＭＰａ以上である
ことを特徴とする電気電子部品用銅合金材。
【請求項３】
前記化合物Ｘの平均直径の平均値が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下であることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の電気電子部品用銅合金材。
【請求項４】
前記化合物Ｙの平均直径の平均値が０．５μｍ以上３．０μｍ以下であることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の電気電子部品用銅合金材。
【請求項５】
前記化合物Ｙについて、｛（表層から厚さ１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（表層から厚さ４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比が０．８〜１．０の範囲である、請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載の電気電子部品用銅合金材。
【請求項６】
請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の電気電子部品用銅合金材を製造する方法であって、鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を均質処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返し、仕上げ圧延、歪取り焼鈍を施すことを特徴とする電気電子部品用銅合金材の製造方法。
【請求項７】
仕上げ圧延の直前の最終の中間焼鈍工程を３００〜５５０℃で行うことを特徴とする請求項６に記載の電気電子部品用銅合金材の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は端子・コネクタなどの電気電子部品用に好適な、電気電子部品用銅合金材およびその製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
リン青銅（ＪＩＳ  Ｃ５２１０、ＪＩＳ  Ｃ５１９１など）、あるいは黄銅（ＪＩＳ  Ｃ２６００）などの銅合金は、優れた加工性と機械的強度を有しているため、電子機器や自動車内配線用途のコネクタ、端子などの電気電子部品に用いられている。【０００３】
近年、電子機器の小型化、軽量化、および高密度実装化が進展する中で、電気電子部品用の金属材料には、高強度かつ曲げ加工性に優れることが強く求められている。これら電気電子部品は、金型を用いた高速プレス装置により打ち抜き加工されることが常である。この打ち抜き加工の際、材料は金型のパンチによりせん断変形を生じた後に、該材料のパンチの刃先に接した部位から材料内部へのクラック発生によって、破断変形を生じて所定の形状に打ち抜かれる。【０００４】
しかし、プレス装置による打ち抜き加工のショット数が増すにつれて、金型のパンチの刃先の磨耗が進み、その結果として刃先に接した部位からのクラック発生が不均一になり、電気電子部品の破断形状が乱れることがある。具体的には、せん断帯と破断帯の段差が大きくなったり、大きなバリが発生したり、破断により生じた材料の大きなカスが発生して、これらのいずれによっても、打ち抜かれた電気電子部品は、所定の形状を保てなくなる。そのため、電気電子部品用材料として、金型磨耗やメンテナンス頻度の低減を目的とした打ち抜き加工性に優れる銅合金材が求められている。【０００５】
ところで、銅合金材の強度（引張強度）は加工硬化により容易に高めることができるが、加工硬化材は一般に靭性に劣るために、端子などに加工する際に曲げ割れが発生してしまう問題がある。この問題点を解決するために、銅（Ｃｕ）に鉄（Ｆｅ）とニッケル（Ｎｉ）とリン（Ｐ）を添加することにより第二相の化合物を分散させ、さらに最終冷間加工前の熱処理条件を規定することで結晶粒を微細化し、銅合金材の曲げ性を向上させることが知られている（特許文献１参照）。また、銅合金材の打ち抜き加工性の改善に関しては、リン青銅（Ｃｕ−Ｓｎ−Ｐ系合金）に鉛（Ｐｂ）、ビスマス（Ｂｉ）、カルシウム（Ｃａ）、ストロンチウム（Ｓｒ）、バリウム（Ｂａ）、テルル（Ｔｅ）などの元素を添加し、第二相の化合物を分散させることによりプレス性を向上させることが知られている（特許文献２参照）。また、銅合金材の強度、曲げ加工性、耐応力緩和特性を同時に向上させるための技術として、直径が１〜５０ｎｍで密度が１０６〜１０１０個／ｍｍ２の析出物と、直径が５０〜５００ｎｍで密度が１０４〜１０８個／ｍｍ２の析出物とを有する、Ｃｕ−Ｓｎ系合金が知られている（特許文献３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第ＷＯ２００２／０５３７９０号パンフレット
【特許文献２】特開平１０−１９５５６２号公報
【特許文献３】特開２００６−２７４４４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１〜３に記載の発明では、強度（引張強度）・曲げ加工性・打ち抜き加工性のすべてを満足するには至っていない。本発明者らは、これまで多用されているリン青銅系材料について種々検討した結果、強度（引張強度）、曲げ加工性を維持しつつ、打ち抜き加工性を改善しうることを知見し、さらに検討を進めて本発明を完成させるに至った。【０００８】
そこで、本発明は、コネクタ用端子など電気電子部品に要求される諸特性（特に引張強度、曲げ加工性、打ち抜き加工性）に優れる銅合金材を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の銅合金材は、銅合金中に結晶粒を微細化する径のより小さい化合物（以下の化合物Ｘ）と打ち抜き加工性を向上させる径のより大きい化合物（以下の化合物Ｙ）とがそれぞれ適量含まれることをその特徴の１つとしている。また、このように大きさの異なる２種の化合物は、特定の工程を経ることで生成させることができる。すなわち、本発明によれば、以下の解決手段が提供される。
［１］Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ、Ｎｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材であって、結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、平均直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、平均直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金材、
［２］Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ、Ｎｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｍｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％を含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材であって、結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、平均直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、平均直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金材、
［３］前記化合物Ｘの平均直径の平均値が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下であることを特徴とする、［１］または［２］に記載の電気電子部品用銅合金材、
［４］前記化合物Ｙの平均直径の平均値が０．５μｍ以上３．０μｍ以下であることを特徴とする、［１］または［２］に記載の電気電子部品用銅合金材、
［５］前記化合物Ｙについて、｛（表層から厚さ１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（表層から厚さ４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比が０．８〜１．０である、［１］〜［４］のいずれか１項に記載の電気電子部品用銅合金材、
［６］前記［１］〜［５］のいずれか１項に記載の電気電子部品用銅合金材を製造する方法であって、鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を均質処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返し、仕上げ圧延、歪取り焼鈍を施すことを特徴とする電気電子部品用銅合金材の製造方法、
［７］仕上げ圧延の直前の最終の中間焼鈍工程を３００〜５５０℃で行うことを特徴とする［６］に記載の電気電子部品用銅合金材の製造方法。【００１０】
本発明の電気電子部品用銅合金材は、引張強度（ＴＳ）が６００ＭＰａ以上と高強度であり、好ましくは引張強度が７００ＭＰａ以上である。この引張強度の上限値には特に制限はないが、曲げ特性（曲げ加工性）重視の観点からは、８００ＭＰａ以下が好ましい。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の銅合金材は、強度（引張強度）、曲げ加工性を損なわずに打ち抜き加工性を向上させることができ、電気電子部品用の例えば端子・コネクタ用として銅合金に要求される高レベルの特性が得られる。
本発明の上記及び他の特徴及び利点は、適宜添付の図面を参照して、下記の記載からより明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】好ましい温度と時間の均質化熱処理条件示したグラフであり、図中の台形で囲まれた範囲内が、好ましい均質化熱処理条件の範囲である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を述べる。なお、以下の説明中では、銅合金材として特に板材について言及する。本発明の銅合金材の形状は、打ち抜き加工されることを前提として、板状（板材、条材など）であることが好ましい。
【００１４】
本発明の銅合金材では、銅合金中に鉄（Ｆｅ）またはニッケル（Ｎｉ）の少なくとも一方の元素とリン（Ｐ）とを含有させることにより、これらの添加元素からなる化合物（具体的には、Ｆｅ−Ｐ、Ｎｉ−Ｐ、Ｆｅ−Ｎｉ−Ｐ）を有する。本発明では、この化合物を微小な化合物Ｘ（直径が３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下）と、化合物Ｘより大きい化合物Ｙ（直径が０．３μｍより大きく５．０μｍ以下）に分けて規定する。なお、化合物の直径（平均直径）と密度は、圧延平行方向の断面を透過型電子顕微鏡で写真撮影して、その写真上で化合物の直径（長径と短径の平均値）と密度を測定したものである。
【００１５】
銅合金中の化合物Ｘの平均直径を３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の範囲とする理由は、結晶粒を微細化するためである。これより小さすぎる粒子では、結晶粒界をピニングすることができず、結晶粒の微細化効果を得ることができない。一方、これより大きい粒子では、上記結晶粒界のピニングとそれによる結晶粒の微細化効果が小さい。化合物Ｘの平均直径は、好ましくは５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下である。また、化合物Ｘの平均直径の平均値は、好ましくは５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下である。なお、本発明において、平均直径３０ｎｍより小さい化合物は、それ自身が打ち抜き加工性および曲げ加工性に影響をもたらすことはほとんどないが、このような化合物の密度が高くなりすぎると、化合物Ｘや化合物Ｙの密度が減少する。したがって、平均直径３０ｎｍより小さい化合物の密度は極力低いことが好ましい。
【００１６】
化合物Ｘの密度を１０４〜１０８個／ｍｍ２とする理由は、上記の結晶粒を安定して製造できるからである。化合物Ｘの密度が低すぎると結晶粒の成長を抑制できなくなり粗大化してしまう。化合物Ｘの密度が高すぎると化合物の直径が小さくなって結晶粒の成長を抑制できなくなり、結晶粒が粗大化してしまう。化合物Ｘの密度は、好ましくは１０５〜１０８個／ｍｍ２、より好ましくは１０６〜１０８個／ｍｍ２である。
【００１７】
化合物Ｙの平均直径を０．３μｍより大きく５．０μｍ以下とする理由は、打ち抜き加工性を向上させるからである。これより大きすぎる粒子は曲げ加工時の応力集中を発生させてこの点を起点として曲げ割れの問題が生じる。一方、これより小さい粒子では、打ち抜き加工性を向上させる効果が小さい。また、化合物Ｙよりも小さい化合物が多すぎると、化合物Ｙの密度が低下してしまう。化合物Ｙの平均直径は、好ましくは０．５μｍ以上３．０μｍ以下である。また、化合物Ｙの平均直径の平均値は、好ましくは０．５μｍ以上３．０μｍ以下、より好ましくは０．６μｍ以上３．０μｍ以下である。
【００１８】
化合物Ｙの密度を１０２〜１０６個／ｍｍ２とするのは、打ち抜き加工性を向上させるからである。化合物Ｙの密度が低すぎると、打ち抜き加工する時の破断のクラックの起点となるべき化合物Ｙの密度が低いため、打ち抜き加工性を向上させることができない。化合物Ｙの密度が高すぎると化合物の直径が小さくなって結晶粒の成長を抑制できなくなり粗大化してしまう。また、曲げ加工性を悪くする。化合物Ｙの密度は、好ましくは１０３〜１０５個／ｍｍ２である。
【００１９】
本発明の銅合金材は、スズ（Ｓｎ）、リン（Ｐ）と、鉄（Ｆｅ）及び／またはニッケル（Ｎｉ）と、必要によりその他の添加元素とを含有し、残部が銅（Ｃｕ）および不可避的不純物からなるものである。
【００２０】
本発明の銅合金材において、Ｓｎの含有量を３．０〜１３．０質量％とする理由は、強度（引張強度）が向上するためである。少なすぎると固溶強化によって得られる強度が不十分であり、多すぎると脆性の強いＣｕ−Ｓｎ金属間化合物が形成して加工性を悪化させる問題が起きる。好ましくは５．０〜１１．０質量％であり、より好ましくは７．０〜１１．０質量％である。
【００２１】
本発明の銅合金材中に含まれるＦｅ、Ｎｉはそれぞれ０．０１〜１．０質量％であることが好ましく、これらのどちらか１種または２種の合計で０．０１〜２．０質量％とする。Ｆｅの含有量は好ましくは０．０５〜０．５質量％である。Ｎｉの含有量は好ましくは０．０２〜０．４質量％である。ＦｅとＮｉのどちらか１種または２種の合計の含有量は、好ましくは０．０５〜０．５質量％である。また、本発明の銅合金材中には、Ｐを０．０１〜１．０質量％含有し、さらに好ましくは０．０３〜０．３０質量％含有する。本発明の銅合金材中にＦｅ及び／又はＮｉと、Ｐとをそれぞれ所定量含有することによって、結晶粒径が粗大化することがなく、圧延中に割れが生じることもない。
また、前記化合物Ｙを構成する化合物の（Ｆｅ＋Ｎｉ）量が６８〜８８質量％、Ｐ量が１０〜２５質量％のとき、プレス打ち抜き性に効果を発揮する粒子を安定して分散させることができ、打ち抜き加工性を向上させることができる。なお、上記含有量の合計が１００質量％にならない場合があるのは、化合物Ｙには、他の元素（例えばＣｕやＳｎなど）が含まれることがあるからである。
【００２２】
本発明の銅合金材には、コバルト（Ｃｏ）、クロム（Ｃｒ）、マンガン（Ｍｎ）から選ばれる少なくとも１種を含有させてもよい。これらのＣｏ、Ｃｒ、Ｍｎは、リン（Ｐ）との第二相（化合物）として晶出または析出し、結晶粒径の制御、打ち抜き加工性の向上に有効である。添加する場合に、前記Ｃｏ、Ｃｒ、Ｍｎの１種または２種以上の合計の含有量を０．０１〜１．０質量％とする理由は、少なすぎるとその効果が十分得られず、多すぎると鋳造時に粗大な化合物を晶出させ、曲げ加工性を悪化させるためである。
【００２３】
本発明において銅合金材の結晶粒の平均直径（平均結晶粒径）を１．０〜５．０μｍとする理由は、強度（引張強度）と曲げ加工性の両方が優れるからである。小さすぎると強度（引張強度）の向上よりも延性の劣化が顕著であり結果として靭性に劣るため曲げ加工性が劣化する。また、工業的には安定して製造できないという問題がある。大きすぎると結晶粒微細化によって得られる強度（引張強度）が不十分であるという問題が起きる。好ましくは１．０〜２．０μｍである。
【００２４】
前記化合物Ｙの密度が板厚方向に均一の場合、より一層打ち抜き加工性を向上させることができるため、化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（板表層から板厚４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比が０．８〜１．０であることが好ましい。
プレス時の材料の変形は、表層から変形が入りクラックが生じ、破断すると考えられる。そのため、表層にクラックの起点となるような晶出物（化合物Ｙ）が少ない場合、破断が生じにくい材料となり、金型の寿命を悪化させる。一般に、表層は、鋳造時の冷却速度が速く、晶出物が少なくなっている。一方、晶出物が表層に多すぎる場合も、金型と硬い晶出物が当たることになり、金型が磨耗してしまう。これは、極表層は、化合物の偏析が多くなっていると考えられる。
これに対して、本発明の銅合金材料では、このような偏析が起こりにくいため、良好な打ち抜き性を示すことができる。
【００２５】
本発明の銅合金材の製造方法においては、鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を、均質処理後、表面を表裏両面の合計で１ｍｍ以上面削する工程を施し、冷間圧延と中間焼鈍を２回〜４回繰り返した後、仕上げ圧延、歪取り焼鈍を施すと、結晶粒径が１〜５μｍの再結晶組織を工業的に安定して製造することができ、得られる再結晶組織における加工組織や粒径のばらつきを抑制できる。また、鋳造の冷却速度を規定することで晶出物の量を制御でき、化合物Ｙの分散量を規定値にすることが可能であり、表面を１ｍｍ以上面削し、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返すことにより板厚方向の化合物Ｙの密度のばらつきを抑制できる。
本発明の製造法では、圧延加工を冷間圧延でおこない、熱間圧延は行なわない。本発明の銅合金材を熱間加工（熱間圧延）すると加工割れを生じる場合があるためである。また、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返し行なうことによって、得られる銅合金材が硬くなりすぎることを防ぎ、所定の厚さまで薄くする際に硬すぎて加工割れすることを防ぐことができる。
【００２６】
本発明の銅合金の製造方法の好ましい実施形態の一例を挙げると、各工程は以下の通りである。
ＳｎとＰとその他の添加元素と残部がＣｕからなる合金を高周波溶解炉等により溶解して鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件で鋳造し、鋳塊を得る。この鋳塊に８５０℃〜６００℃で０．５時間〜１０時間の均質化熱処理、より好ましくは、時間と温度の関係が、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる温度・時間の条件で均質化熱処理を施す。このような好ましい温度と時間の均質化熱処理条件を図４に示した。図４中の台形で囲まれた範囲内が、好ましい均質化熱処理条件の範囲である。均質化熱処理は、温度が高い場合には比較的短時間で、温度が低い場合には比較的長時間であることが好ましい。なお、均質化熱処理温度が高すぎると、鋳造で生じた晶出物が固溶し、その結果、打ち抜き加工性向上に寄与する化合物Ｙが減少してしまう。また、均質化熱処理の温度が低い場合でも、長時間熱処理した場合には化合物が粗大化し、化合物Ｙの数が減少してしまうので好ましくない。均質化処理温度を厳密に制御することが特に好ましい。均質化熱処理の後、徐冷し、表面を１ｍｍ以上面削する。この面削量は、好ましくは２ｍｍ以上である。面削量の上限には特に制限はないが、通常５ｍｍ以下の面削量とする。次いで４０〜７０％の冷間圧延ａを施し、不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａを行い、徐冷する。さらに４０〜８０％の圧延加工率で冷間圧延ｂを行い、不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂを行い、５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る。
【００２７】
この熱処理ｂを終えた材料に４０〜８０％の加工率で冷間圧延ｃを行った後に、３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃを行い、再結晶組織を得る。次いで４０〜７０％の加工率で冷間圧延ｄを行った後に、３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄを行う。熱処理ｄでは、昇温速度と冷却速度はそれぞれ５℃／秒〜８０℃／秒が好ましく、４０℃／秒程度とすることがさらに好ましい。冷間圧延ｄで熱処理ｄにおける再結晶のための駆動力を蓄え、熱処理ｄの終了時に結晶粒径が１〜５μｍの組織を得る。
【００２８】
化合物Ｘは主に熱処理ｃ・熱処理ｄにおいて生じる。一方、化合物Ｙは主に鋳造・均質加熱処理・熱処理ａ・熱処理ｂにおいて生じる。また、前記熱処理ｄの工程の後、化合物Ｘと化合物Ｙは均一に分散している。熱処理ｃの工程の後、均一な再結晶組織を得るには熱処理ａと熱処理ｂの間の冷間加工ｂにおける加工率を４０〜８０％に、好ましくは５０〜７０％にするのが好ましい。この加工率が高すぎる場合は加工割れをおこし、加工率が低すぎる場合は熱処理ｂにおいて再結晶が完了しないために熱処理ｂ後の冷間加工で加工割れをおこす問題が生じる。
【００２９】
熱処理ｄ後に、加工率１０〜３０％で最終冷間圧延を施した後、その後１５０〜２５０℃で０．２時間〜１．０時間、好ましくは０．５時間程度の歪取り熱処理を施す。
上記の合金製造条件の中で、本発明で規定する結晶粒径、化合物Ｘと化合物Ｙの大きさ、生成密度を調節することができるのは、合金組成以外に、鋳造条件、均質化熱処理、熱処理（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）や冷間圧延（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）などの条件であり、これを上記のように規定することにより、目的の銅合金材を得ることができる。ただし、冷間圧延ｂと熱処理ｂ、冷間圧延ｄと熱処理ｄは必要に応じて行うもので、省略することができる。各圧延の加工率が４０％以上の場合は、粗大な化合物が圧延時に砕かれて、化合物Ｙの密度を増加させることができる。
【００３０】
本発明の銅合金材は、例えば、コネクタ、端子、リレー、スイッチ、リードフレームなどの電気電子部品に好適に用いることができる。
【実施例】
【００３１】
以下に、本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明するが、本発明はそれらに限定されるものではない。【００３２】
実施例（本発明例）の合金は以下のように作製した。各実施例に記載する量のＳｎと０．０７質量％のＰとその他の添加元素と残部がＣｕからなる合金を高周波溶解炉により溶解し、これを鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件でＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ  Ｃｈｉｌｌ）鋳造して厚さ３０ｍｍ、幅１００ｍｍ、長さ１５０ｍｍの鋳塊を得た。【００３３】
次にこの鋳塊に８００℃で１時間加熱する均質化処理を施し、徐冷し、両面をそれぞれ２ｍｍ以上面削して酸化皮膜を除去した。次いで、加工率４０〜７０％で冷間圧延ａを施し、不活性化ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａを行い、徐冷した。さらに４０〜８０％の圧延加工率で冷間圧延ｂを施して厚さ２〜５ｍｍの板材とし、不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂを行い、５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得た。【００３４】
この熱処理ｂを終えた材料に４０〜８０％の加工率で冷間圧延ｃを行った後に、３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃを行った。この熱処理ｃを施した１〜１５μｍの平均結晶粒径からなる組織を有する板材に４０〜７０％の加工率で冷間圧延ｄを行った後に、３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄを行った。熱処理ｄでは、昇温速度と冷却速度を４０℃／秒で行った。その後に、加工率１０〜２０％で最終冷間圧延を施し、その後１５０〜２５０℃で０．５時間のひずみ取り熱処理を施し、厚さ０．２ｍｍの板材を得た。また、比較例８、９は鋳造の冷却速度の条件を変化させたときの効果を調査した例である。比較例８は鋳造の冷却速度を１２０℃／秒で、比較例９は鋳造の冷却速度を０．５℃／秒で、それぞれ実施した以外は、上述の実施例と同様に行った。【００３５】
このようにして得られた各々の板材を供試材として下記の特性調査を行い、その結果を表に示した。なお、評価項目の測定方法は以下の通りである。【００３６】
ａ．機械的性質（引張強さ；ＴＳ）
供試材を圧延方向と平行に切り出したＪＩＳ−１３Ｂ号試験片をＪＩＳ−Ｚ２２４１に準じて３本測定し、その平均値（ＭＰａ）で示した。
ｂ．曲げ加工性
供試材（板材）を幅１０ｍｍ、長さ２５ｍｍに切出し、曲げ半径Ｒ＝０で曲げ角度９０°のＷ曲げし、曲げ部における割れの有無を観察した。この観察は、倍率５０倍の光学顕微鏡による目視観察より行い、その曲げ加工部位の割れの有無を調査した。試験片採取方向はＧ．Ｗ．（Ｇｏｏｄ  Ｗａｙ：曲げの軸が圧延方向に直角）、Ｂ．Ｗ（Ｂａｄ  Ｗａｙ：曲げの軸が圧延方向に平行）とし、割れが無かったものを「○（良）」、割れがあったものを「×（劣）」で示した。
ｃ．平均結晶粒径
供試材（板材）の厚さ方向に平行でかつ最終冷間圧延方向（最終塑性加工方向）と平行な断面において、最終冷間圧延方向と平行な方向と直角な方向の２方向で結晶粒径を測定した。そして、測定値の大きい方を長径、小さい方を短径とし、それぞれの長径と短径の４値の平均値を示した。測定はＪＩＳ−Ｈ０５０１の切断法に準じ、供試材の断面を鏡面研磨した後にエッチングを行い、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で１０００倍に拡大して写真撮影した。この写真上に２００ｍｍの線分を引き、前記線分で切られる結晶粒数ｎを数え、（２００ｍｍ／（ｎ×１０００））の式から平均結晶粒径を求めた。前記線分で切られる結晶粒数が２０に満たない場合は、５００倍の写真に取り長さ２００ｍｍの線分で切られる結晶粒数ｎを数え、（２００ｍｍ／（ｎ×５００））の式から求めた。
ｄ．第２相化合物（化合物Ｘおよび化合物Ｙ）の大きさと密度
供試材を直径３ｍｍに打ち抜き、ツインジェット研磨法を用いて、板表層から板厚の４０〜６０％の領域が薄膜になるように研磨を行った後、加速電圧３００ｋＶの透過型電子顕微鏡で１０００〜１０００００倍の写真を任意で３ヶ所撮影して、その写真上で化合物の粒子径と密度を測定した。粒子径は、化合物Ｘの粒子径の範囲と、化合物Ｙの粒子径の範囲について、それぞれの平均値を０．００５ｍｍの整数倍で表中に示した。化合物の粒子径と密度を測定するとき、ｎ＝１０（ｎは観察の視野数）で、その個数を測定することで、個数の局所的な偏りを排除するように測定した。その個数を単位面積当たりの個数（個／ｍｍ２）へ演算した。
ｅ．プレス打ち抜き加工性
金型を研磨した後に、各サンプルで、四角形で大きさ３ｍｍ×５ｍｍの打ち抜き形状で、１分間あたり５００回の連続プレス加工を実施し、金型が磨耗して材料のプレス破面に１０μｍを越えるバリが発生した段階でプレス加工を中止し、それまでのショット数を測定した。この測定を３回行い、ショット数の最小値が３００万回以上のものを打ち抜き性が特に優れているとして表中に「◎」で示し、ショット数の最小値が２００万回以上のものを打ち抜き性が良好であるとして表中に「○」で示し、ショット数の平均値が２００万回以上で打ち抜き性は良好であるがショット数の最小値が２００万回未満となったものがあってばらつきがあるものを表中に「△」で示し、ショット数の平均値が２００万回未満のものを打ち抜き性が劣っているものとして表中に「×」で示した。この評価結果を以下の表中には「打ち抜き性（１）」として示した。【００３７】
本発明例１〜１８、比較例１〜１２の結果を表１に示す。【００３８】
【表１】
2010071220.tif 000003
【００３９】
表１に示すように本発明例１〜１８は強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性に優れた特性を示している。
比較例１はＳｎが３．０質量％未満のため結晶粒径が大きく、強度（引張強度）が低い。比較例２はＣｕにＳｎ、Ｐのみ添加したいわゆるリン青銅であるが、化合物（ＸおよびＹ）が存在しないため強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例３はＦｅ、Ｎｉの合計量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多過ぎるため曲げ加工性が悪い。比較例４、５はＦｅおよびＮｉの含有量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多すぎるため曲げ加工性が悪い。比較例６はＦｅ、Ｎｉの合計量が下限値以下のため、結晶粒径が大きく、化合物ＸとＹがいずれも少なすぎて、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例７はＳｎの含有量が上限値以上のため曲げ加工性が悪い。比較例８は鋳造の冷却速度が速すぎたため化合物（晶出物）が少なく、化合物Ｙの密度が下限値以下のため打ち抜き加工性が悪い。比較例９は鋳造の冷却速度が遅すぎたため化合物Ｘの生成量が少なくて、５μｍより大きい粗大な化合物（晶出物）が生成するため曲げ加工性が悪い。比較例１０は、Ｐの含有量が多すぎたために冷間圧延中に割れが生じ製造を中止した。比較例１１は、Ｐの含有量が少なすぎたために、化合物ＸとＹの生成量が少なく、粒径が大きくて粗大な粒子であって、曲げ加工性に劣り、また打ち抜き加工性が劣った。比較例１２は、熱処理ｄを３００℃未満で行った例であるが、再結晶が不十分で結晶粒径が小さ過ぎ、曲げ加工性が劣った。【００４０】
次に、本発明例４の変形例として、化合物Ｙの板厚方向の存在密度として、｛（板表層から板厚１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（板表層から板厚４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比を変化させたときの効果を調査した結果（本発明例４−２〜４−４）を表２に示す。前記の比は、前記面削量を変えることで調整した。すなわち、前記本発明例４では表裏両面をそれぞれ３ｍｍずつ面削したのに対して、本発明例４−２では２ｍｍ、本発明例４−３では１ｍｍ、本発明例４−４では０．５ｍｍとこの片面の面削量を変えた以外は本発明例４と同様にしてそれぞれ板材を得た。【００４１】
【表２】
2010071220.tif 000004
【００４２】
表２に示すように、本発明例４−２は片面の面削量が２ｍｍであった場合であるが、特に優れた打ち抜き加工性を示している。本発明例４−３は片面の面削量１ｍｍであった場合であるが、良好な打ち抜き特性を示している。本発明例４−４は片面の面削量０．５ｍｍであった場合であるが、板表層側での化合物Ｙの密度が高いため、本発明例４−２および本発明例４−３と比較して、ばらつきが見られたものの打ち抜き加工性はなお良好であった。【００４３】
次に、本発明例４の変形例として、熱処理（ｂ、ｄ）、冷間圧延（ｂ、ｄ）の影響を調べた結果（本発明例４−５〜４−７）を表３に示す。本発明例４−５では熱処理ｂと冷間圧延ｂを省略し、本発明例４−６では熱処理ｄと冷間圧延ｄを省略し、本発明例４−７では熱処理ｂ、熱処理ｄ、冷間圧延ｂおよび冷間圧延ｄを省略した以外は、それぞれ実施例４と同様の操作を行って板材を得た。【００４４】
【表３】
2010071220.tif 000005
【００４５】
表３に示すように、本発明例４−５〜４−７はいずれも良好な特性を示している。これに対して、実施例４のように熱処理ｂ、熱処理ｄ、冷間圧延ｂおよび冷間圧延ｄをすべて行ない、熱処理と焼鈍との組合せを合計４回繰り返して行うことが特に好ましいことが分かる。【００４６】
次に、本発明例１〜４において、均質化熱処理の条件を変えた以外は同様に行なった試験結果を表４に示す。本発明例１Ａ〜１Ｎ、本発明例２Ａ〜２Ｎ、本発明例３Ａ〜３Ｎ、本発明例４Ａ〜４Ｎは、それぞれ本発明例１〜４と同一の鋳塊を用いて、均質化熱処理条件を変化させた以外は、本発明例１〜４と同一の工程で板材を得た。【００４７】
なお、表４に示すプレス打ち抜き加工性の評価結果は、表１〜表３と同様の条件で評価し、ショット数の評価基準を変更した。ここでは、ショット数の最小値が５００万回以上のものを打ち抜き性が特に優れているとして表中に「◎」で示し、ショット数の最小値が３００万回以上５００万回未満のものを打ち抜き性が良好であるとして表中に「○」で示し、ショット数の平均値が３００万回以上で打ち抜き性は良好であるがショット数の最小値が３００万回未満となったものがあってばらつきがあるものを表中に「△」で示し、ショット数の平均値が３００万回未満のものを打ち抜き性が劣っているものとして表中に「×」で示した。この評価結果を以下の表中には「打ち抜き性（２）」として示した。【００４８】
【表４−１】
2010071220.tif 000006
【００４９】
【表４−２】
2010071220.tif 000007
【００５０】
表４に示すように、本発明例１Ａ〜１Ｊは本発明例１と比べて、本発明例２Ａ〜２Ｊは本発明例２と比べて、本発明例３Ａ〜３Ｊは本発明例３と比べて、本発明例４Ａ〜４Ｊは本発明例４と比べて、いずれも化合物Ｙの密度が増加しており、プレスの打ち抜きのショット数のバラつきが小さく、特に打ち抜き加工性に優れるものとなった。なお、本発明例１Ｌ〜１Ｎは本発明例１と比べて、本発明例２Ｌ〜２Ｎは本発明例２と比べて、本発明例３Ｌ〜３Ｎは本発明例３と比べて、本発明例４Ｌ〜４Ｎは本発明例４と比べて、いずれも化合物Ｙの密度が減少していたため、本発明例１〜４の方が打ち抜き加工性に優れる結果を示した。【００５１】
次に、均質化熱処理条件およびを本発明の好ましい範囲で種々変化させて試験した本発明例１９〜５６を、表５に示す。なお、表５に示すプレス打ち抜き加工性の評価結果は、表４と同様の条件で評価した。【００５２】
【表５−１】
2010071220.tif 000008
【００５３】
【表５−２】
2010071220.tif 000009
【００５４】
表５に示すように、本発明例１９〜５６は、プレスの打ち抜きのショット数のバラつきが小さく、特に打ち抜き加工性に優れるものとなった。【００５５】
次に、上記本発明例１の別の比較例１３〜１９とその結果を表６に示す。【００５６】
【表６】
2010071220.tif 000010
【００５７】
表６に示した比較例１３〜１４は、均質化熱処理を温度７００℃で１時間施した例である。このような条件下での均質化処理では、化合物Ｙが十分に生成せず、結果として打ち抜き加工性が劣った。また、比較例１５〜１９は、均質化処理を８００℃１時間で行なった例である。このような温度条件での均質化処理では、化合物Ｙが十分に生成せず（化合物Ｙとして存在せずに化合物Ｘやそれより小さい化合物が増える）ので化合物Ｙの密度（分布）が低下したために、打ち抜き加工性に劣った。これらの比較例１３〜１４と比較例１５〜１９では、化合物Ｙの密度が低すぎたために、打ち抜きパンチと接してクラックの起点となる化合物Ｙの密度が低下し、打ち抜き加工性が悪化したものと考えられる。【００５８】
本発明をその実施態様とともに説明したが、我々は特に指定しない限り我々の発明を説明のどの細部においても限定しようとするものではなく、添付の請求の範囲に示した発明の精神と範囲に反することなく幅広く解釈されるべきであると考える。
本願は、２００８年１２月１９日に日本国で特許出願された特願２００８−３２４７９２に基づく優先権を主張するものであり、これはここに参照してその内容を本明細書の記載の一部として取り込む。
【図１】
2010071220.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成22年11月5日(2010.11.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなる電気電子部品用銅合金板材であって、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
【請求項２】
さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｍｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする請求項１に記載の電気電子部品用銅合金板材。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の銅合金板材を製造する方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を均質化処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返し、仕上げ圧延、歪取り焼鈍を施すことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
【請求項４】
仕上げ圧延の直前の最終の中間焼鈍工程を３００〜５５０℃で行うことを特徴とする請求項３に記載の電気電子部品用銅合金板材の製造方法。
【請求項５】
前記均質化処理の条件について、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すことを特徴とする請求項３又は４に記載の電気電子部品用銅合金板材の製造方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は端子・コネクタなどの電気電子部品用に好適な、電気電子部品用銅合金板材およびその製造方法に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
そこで、本発明は、コネクタ用端子など電気電子部品に要求される諸特性（特に引張強度、曲げ加工性、打ち抜き加工性）に優れる銅合金板材を提供することを課題とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の銅合金材は、銅合金中に結晶粒を微細化する径のより小さい化合物（以下の化合物Ｘ）と打ち抜き加工性を向上させる径のより大きい化合物（以下の化合物Ｙ）とがそれぞれ適量含まれることをその特徴の１つとしている。また、このように大きさの異なる２種の化合物は、特定の工程を経ることで生成させることができる。すなわち、本発明によれば、以下の解決手段が提供される。
［１］Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金材よりなる電気電子部品用銅合金板材であって、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
［２］さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｍｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする［１］に記載の電気電子部品用銅合金板材。
［３］［１］又は［２］に記載の銅合金板材を製造する方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を均質処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、冷間圧延と中間焼鈍を繰り返し、仕上げ圧延、歪取り焼鈍を施すことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
［４］仕上げ圧延の直前の最終の中間焼鈍工程を３００〜５５０℃で行うことを特徴とする［３］に記載の電気電子部品用銅合金板材の製造方法。
［５］前記均質化処理の条件について、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すことを特徴とする［３］又は［４］に記載の電気電子部品用銅合金板材の製造方法。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明の銅合金板材は、強度（引張強度）、曲げ加工性を損なわずに打ち抜き加工性を向上させることができ、電気電子部品用の例えば端子・コネクタ用として銅合金に要求される高レベルの特性が得られる。
本発明の上記及び他の特徴及び利点は、適宜添付の図面を参照して、下記の記載からより明らかになるであろう。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を述べる。なお、以下の説明中では、銅合金材として特に板材について言及する。本発明の銅合金板材の形状は、打ち抜き加工されることを前提としている板状（板材、条材など）であることが好ましい。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
本発明の銅合金材では、銅合金中に鉄（Ｆｅ）またはニッケル（Ｎｉ）の少なくとも一方の元素とリン（Ｐ）とを含有させることにより、これらの添加元素からなる化合物（具体的には、Ｆｅ−Ｐ、Ｎｉ−Ｐ、Ｆｅ−Ｎｉ−Ｐ）を有する。本発明では、この化合物を微小な化合物Ｘ（直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下）と、化合物Ｘより大きい化合物Ｙ（直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下）に分けて規定する。なお、化合物の直径（平均直径）と密度は、圧延平行方向の断面を透過型電子顕微鏡で写真撮影して、その写真上で化合物の直径（長径と短径の平均値）と密度を測定したものである。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
銅合金中の化合物Ｘの平均直径を５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の範囲とする理由は、結晶粒を微細化するためである。これより小さすぎる粒子では、結晶粒界をピニングすることができず、結晶粒の微細化効果を得ることができない。一方、これより大きい粒子では、上記結晶粒界のピニングとそれによる結晶粒の微細化効果が小さい。また、化合物Ｘの平均直径の平均値は、好ましくは５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下である。なお、本発明において、平均直径が小さすぎる化合物は、それ自身が打ち抜き加工性および曲げ加工性に影響をもたらすことはほとんどないが、このような化合物の密度が高くなりすぎると、化合物Ｘや化合物Ｙの密度が減少する。したがって、平均直径が小さすぎる化合物の密度は極力低いことが好ましい。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
化合物Ｙの平均直径を０．５μｍより大きく３．０μｍ以下とする理由は、打ち抜き加工性を向上させるからである。これより大きすぎる粒子は曲げ加工時の応力集中を発生させてこの点を起点として曲げ割れの問題が生じる。一方、これより小さい粒子では、打ち抜き加工性を向上させる効果が小さい。また、化合物Ｙよりも小さい化合物が多すぎると、化合物Ｙの密度が低下してしまう。また、化合物Ｙの平均直径の平均値は、好ましくは０．５μｍ以上３．０μｍ以下、より好ましくは０．６μｍ以上３．０μｍ以下である。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
前記化合物Ｙの密度が板厚方向に均一の場合、より一層打ち抜き加工性を向上させることができるため、化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（板表層から板厚４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比が０．８〜１．０である。
プレス時の材料の変形は、表層から変形が入りクラックが生じ、破断すると考えられる。そのため、表層にクラックの起点となるような晶出物（化合物Ｙ）が少ない場合、破断が生じにくい材料となり、金型の寿命を悪化させる。一般に、表層は、鋳造時の冷却速度が速く、晶出物が少なくなっている。一方、晶出物が表層に多すぎる場合も、金型と硬い晶出物が当たることになり、金型が磨耗してしまう。これは、極表層は、化合物の偏析が多くなっていると考えられる。
これに対して、本発明の銅合金材料では、このような偏析が起こりにくいため、良好な打ち抜き性を示すことができる。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
【表１】
2010071220.tif 000012
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
表１に示すように本発明例１〜１５は強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性に優れた特性を示している。
比較例１はＳｎが３．０質量％未満のため結晶粒径が大きく、強度（引張強度）が低い。比較例２はＣｕにＳｎ、Ｐのみ添加したいわゆるリン青銅であるが、化合物（ＸおよびＹ）が存在しないため強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例３はＦｅ、Ｎｉの合計量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多過ぎるため曲げ加工性が悪い。比較例４、５はＦｅおよびＮｉの含有量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多すぎるため曲げ加工性が悪い。比較例６はＦｅ、Ｎｉの合計量が下限値以下のため、結晶粒径が大きく、化合物ＸとＹがいずれも少なすぎて、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例７はＳｎの含有量が上限値以上のため曲げ加工性が悪い。比較例８は鋳造の冷却速度が速すぎたため化合物（晶出物）が少なく、化合物Ｙの密度が下限値以下のため打ち抜き加工性が悪い。比較例９は鋳造の冷却速度が遅すぎたため化合物Ｘの生成量が少なくて、５μｍより大きい粗大な化合物（晶出物）が生成するため曲げ加工性が悪い。比較例１０は、Ｐの含有量が多すぎたために冷間圧延中に割れが生じ製造を中止した。比較例１１は、Ｐの含有量が少なすぎたために、化合物ＸとＹの生成量が少なく、粒径が大きくて粗大な粒子であって、曲げ加工性に劣り、また打ち抜き加工性が劣った。比較例１２は、熱処理ｄを３００℃未満で行った例であるが、再結晶が不十分で結晶粒径が小さ過ぎ、曲げ加工性が劣った。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
次に、本発明例４の変形例として、化合物Ｙの板厚方向の存在密度として、｛（板表層から板厚１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（板表層から板厚４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比を変化させたときの効果を調査した結果（本発明例４−２〜４−３（比較例４−ｃ１）を表２に示す。前記の比は、前記面削量を変えることで調整した。すなわち、前記本発明例４では表裏両面をそれぞれ３ｍｍずつ面削したのに対して、本発明例４−２では２ｍｍ、本発明例４−３では１ｍｍ、比較例４−ｃ１では０．５ｍｍとこの片面の面削量を変えた以外は本発明例４と同様にしてそれぞれ板材を得た。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
【表２】
2010071220.tif 000013
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
表２に示すように、本発明例４−２は片面の面削量が２ｍｍであった場合であるが、特に優れた打ち抜き加工性を示している。本発明例４−３は片面の面削量１ｍｍであった場合であるが、良好な打ち抜き特性を示している。比較例４−ｃ１は片面の面削量０．５ｍｍであった場合であるが、板表層側での化合物Ｙの密度が高いため、本発明例４−２および本発明例４−３と比較して、ばらつきが見られた。

【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
2010071220.tif 000014
【手続補正書】
【提出日】平成23年4月25日(2011.4.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなる電気電子部品用銅合金板材の製造方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を下記条件で均質化処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、下記の工程を順次行うことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ａ
・不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａ
・４０〜８０％の圧延加工率で冷間圧延ｂ
・不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｃ
・３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃ
・４０〜７０％の加工率で冷間圧延ｄ
・３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄ
（前記均質化処理の条件は、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すものである。）
【請求項２】
前記熱処理ｂを経て結晶粒が５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る請求項１に記載の製造方法。
【請求項３】
前記熱処理ｄを経て結晶粒が１〜５μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る請求項１又は２に記載の製造方法。
【請求項４】
前記銅合金が、さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の製造方法。
【請求項５】
得られる銅合金板材について、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の製造方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の製造方法で製造された電気電子部品用銅合金板材であって、
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなり、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
【請求項７】
さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする請求項６に記載の電気電子部品用銅合金板材。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
そこで、本発明は、コネクタ用端子など電気電子部品に要求される諸特性（特に引張強度、曲げ加工性、打ち抜き加工性）に優れる銅合金板材及びその製造方法を提供することを課題とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の銅合金材は、銅合金中に結晶粒を微細化する径のより小さい化合物（以下の化合物Ｘ）と打ち抜き加工性を向上させる径のより大きい化合物（以下の化合物Ｙ）とがそれぞれ適量含まれることをその特徴の１つとしている。また、このように大きさの異なる２種の化合物は、特定の工程を経ることで生成させることができる。すなわち、本発明によれば、以下の解決手段が提供される。
［１］Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなる電気電子部品用銅合金板材の製造方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を下記条件で均質化処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、下記の工程を順次行うことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ａ
・不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａ
・４０〜８０％の圧延加工率で冷間圧延ｂ
・不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｃ
・３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃ
・４０〜７０％の加工率で冷間圧延ｄ
・３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄ
（均質化処理の条件は、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すものである。）
［２］前記熱処理ｂを経て結晶粒が５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る［１］に記載の製造方法。
［３］前記熱処理ｄを経て結晶粒が１〜５μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る［１］又は［２］に記載の製造方法。
［４］前記銅合金が、さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする［１］〜［３］のいずれか１項に記載の製造方法。
［５］得られる銅合金板材について、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする［１］〜［４］のいずれか１項に記載の製造方法。
［６］［１］〜［５］のいずれか１項に記載の製造方法で製造された電気電子部品用銅合金板材であって、
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、およびＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなり、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
［７］さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする[６]に記載の電気電子部品用銅合金板材。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明の製造方法によれば、強度（引張強度）、曲げ加工性を損なわずに打ち抜き加工性を向上させることができ、電気電子部品用の例えば端子・コネクタ用として銅合金に要求される高レベルの特性の銅合金板材が得られる。
本発明の上記及び他の特徴及び利点は、適宜添付の図面を参照して、下記の記載からより明らかになるであろう。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【図１】好ましい温度と時間の均質化熱処理条件示したグラフであり、図中の台形で囲まれた範囲内が、本発明の均質化熱処理条件の範囲である。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を述べる。以下の説明中では、銅合金材として特に板材について言及する。本発明の銅合金板材の形状は、打ち抜き加工されることを前提としている板状（板材、条材など）であることが好ましい。なお、以下では本発明の銅合金板材から説明を始めるが、これにより本発明の製造方法が限定して解釈されるものではない。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
本発明の銅合金の製造方法の各工程は以下の通りである。
ＳｎとＰとその他の添加元素と残部がＣｕからなる合金を高周波溶解炉等により溶解して鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件で鋳造し、鋳塊を得る。この鋳塊に８５０℃〜６００℃で０．５時間〜１０時間の均質化熱処理、より具体的には、時間と温度の関係が、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる温度・時間の条件で均質化熱処理を施す。この温度と時間の均質化熱処理条件を図１に示した。図１中の台形で囲まれた範囲内が均質化熱処理条件の範囲である。均質化熱処理は、温度が高い場合には比較的短時間で、温度が低い場合には比較的長時間である。なお、均質化熱処理温度が高すぎると、鋳造で生じた晶出物が固溶し、その結果、打ち抜き加工性向上に寄与する化合物Ｙが減少してしまう。また、均質化熱処理の温度が低い場合でも、長時間熱処理した場合には化合物が粗大化し、化合物Ｙの数が減少してしまうので好ましくない。均質化処理温度を厳密に制御することが特に好ましい。均質化熱処理の後、徐冷し、表面を１ｍｍ以上面削する。この面削量は、好ましくは２ｍｍ以上である。面削量の上限には特に制限はないが、通常５ｍｍ以下の面削量とする。次いで４０〜７０％の冷間圧延ａを施し、不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａを行い、徐冷する。さらに４０〜８０％の圧延加工率で冷間圧延ｂを行い、不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂを行い、５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
参考例の合金は以下のように作製した。各例に記載する量のＳｎと０．０７質量％のＰとその他の添加元素と残部がＣｕからなる合金を高周波溶解炉により溶解し、これを鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件でＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ  Ｃｈｉｌｌ）鋳造して厚さ３０ｍｍ、幅１００ｍｍ、長さ１５０ｍｍの鋳塊を得た。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
この熱処理ｂを終えた材料に４０〜８０％の加工率で冷間圧延ｃを行った後に、３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃを行った。この熱処理ｃを施した１〜１５μｍの平均結晶粒径からなる組織を有する板材に４０〜７０％の加工率で冷間圧延ｄを行った後に、３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄを行った。熱処理ｄでは、昇温速度と冷却速度を４０℃／秒で行った。その後に、加工率１０〜２０％で最終冷間圧延を施し、その後１５０〜２５０℃で０．５時間のひずみ取り熱処理を施し、厚さ０．２ｍｍの板材を得た。また、比較例８、９は鋳造の冷却速度の条件を変化させたときの効果を調査した例である。比較例８は鋳造の冷却速度を１２０℃／秒で、比較例９は鋳造の冷却速度を０．５℃／秒で、それぞれ実施した以外は、上述の参考例と同様に行った。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
参考例１〜１５、比較例１〜１２の結果を表１に示す。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
【表１】
2010071220.tif 000015
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
表１に示すように参考例１〜１５は強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性に優れた特性を示している。
比較例１はＳｎが３．０質量％未満のため結晶粒径が大きく、強度（引張強度）が低い。比較例２はＣｕにＳｎ、Ｐのみ添加したいわゆるリン青銅であるが、化合物（ＸおよびＹ）が存在しないため強度（引張強度）、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例３はＦｅ、Ｎｉの合計量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多過ぎるため曲げ加工性が悪い。比較例４、５はＦｅおよびＮｉの含有量が上限以上であり、化合物Ｙの数が多すぎるため曲げ加工性が悪い。比較例６はＦｅ、Ｎｉの合計量が下限値以下のため、結晶粒径が大きく、化合物ＸとＹがいずれも少なすぎて、曲げ加工性、打ち抜き加工性が悪い。比較例７はＳｎの含有量が上限値以上のため曲げ加工性が悪い。比較例８は鋳造の冷却速度が速すぎたため化合物（晶出物）が少なく、化合物Ｙの密度が下限値以下のため打ち抜き加工性が悪い。比較例９は鋳造の冷却速度が遅すぎたため化合物Ｘの生成量が少なくて、５μｍより大きい粗大な化合物（晶出物）が生成するため曲げ加工性が悪い。比較例１０は、Ｐの含有量が多すぎたために冷間圧延中に割れが生じ製造を中止した。比較例１１は、Ｐの含有量が少なすぎたために、化合物ＸとＹの生成量が少なく、粒径が大きくて粗大な粒子であって、曲げ加工性に劣り、また打ち抜き加工性が劣った。比較例１２は、熱処理ｄを３００℃未満で行った例であるが、再結晶が不十分で結晶粒径が小さ過ぎ、曲げ加工性が劣った。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
次に、参考例４の変形例として、化合物Ｙの板厚方向の存在密度として、｛（板表層から板厚１０％以内の領域での化合物Ｙの密度）／（板表層から板厚４０〜６０％の領域での化合物Ｙの密度）｝で表わされる比を変化させたときの効果を調査した結果（参考例４−２〜４−３（比較例４−ｃ１））を表２に示す。前記の比は、前記面削量を変えることで調整した。すなわち、前記参考例４では表裏両面をそれぞれ３ｍｍずつ面削したのに対して、参考例４−２では２ｍｍ、参考例４−３では１ｍｍ、比較例４−ｃ１では０．５ｍｍとこの片面の面削量を変えた以外は参考例４と同様にしてそれぞれ板材を得た。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
【表２】
2010071220.tif 000016
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
表２に示すように、参考例４−２は片面の面削量が２ｍｍであった場合であるが、特に優れた打ち抜き加工性を示している。参考例４−３は片面の面削量１ｍｍであった場合であるが、良好な打ち抜き特性を示している。参考例４−４は片面の面削量０．５ｍｍであった場合であるが、板表層側での化合物Ｙの密度が高いため、本発明例４−２および本発明例４−３と比較して、ばらつきが見られたものの打ち抜き加工性はなお良好であった。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
次に、参考例４の変形例として、熱処理（ｂ、ｄ）、冷間圧延（ｂ、ｄ）の影響を調べた結果（参考例４−５〜４−７）を表３に示す。参考例４−５では熱処理ｂと冷間圧延ｂを省略し、参考例４−６では熱処理ｄと冷間圧延ｄを省略し、参考例４−７では熱処理ｂ、熱処理ｄ、冷間圧延ｂおよび冷間圧延ｄを省略した以外は、それぞれ参考例４と同様の操作を行って板材を得た。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４４】
【表３】
2010071220.tif 000017
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
表３に示すように、参考例４−５〜４−７はいずれも良好な特性を示している。これに対して、参考例４のように熱処理ｂ、熱処理ｄ、冷間圧延ｂおよび冷間圧延ｄをすべて行ない、熱処理と焼鈍との組合せを合計４回繰り返して行うことが特に好ましいことが分かる。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４６】
次に、参考例１〜４において、均質化熱処理の条件を変えた以外は同様に行なった試験結果を表４に示す。本発明例１Ａ〜１Ｎ、本発明例２Ａ〜２Ｎ、本発明例３Ａ〜３Ｎ、本発明例４Ａ〜４Ｎは、それぞれ参考例１〜４と同一の鋳塊を用いて、均質化熱処理条件を変化させた以外は、参考例１〜４と同一の工程で板材を得た。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
【表４−１】
2010071220.tif 000018
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４９】
【表４−２】
2010071220.tif 000019
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５０】
表４に示すように、本発明例１Ａ〜１Ｊは参考例１と比べて、本発明例２Ａ〜２Ｊは参考例２と比べて、本発明例３Ａ〜３Ｊは参考例３と比べて、本発明例４Ａ〜４Ｊは参考例４と比べて、いずれも化合物Ｙの密度が増加しており、プレスの打ち抜きのショット数のバラつきが小さく、特に打ち抜き加工性に優れるものとなった。なお、参考例１Ｌ〜１Ｎは参考例１と比べて、参考例２Ｌ〜２Ｎは参考例２と比べて、参考例３Ｌ〜３Ｎは参考例３と比べて、参考例４Ｌ〜４Ｎは参考例４と比べて、いずれも化合物Ｙの密度が減少していたため、参考例１〜４の方が打ち抜き加工性に優れる結果を示した。
【手続補正書】
【提出日】平成23年9月22日(2011.9.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなる電気電子部品用銅合金板材の製造方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を下記条件で均質化処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、下記の工程を順次行うことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ａ
・不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｂ
・不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｃ
・３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃ
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ｄ
・３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄ
（前記均質化処理の条件は、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すものである。）
【請求項２】
前記熱処理ｂを経て結晶粒が５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る請求項１に記載の製造方法。
【請求項３】
前記熱処理ｄを経て結晶粒が１〜５μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る請求項１又は２に記載の製造方法。
【請求項４】
前記銅合金が、さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の製造方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の製造方法で製造された電気電子部品用銅合金板材であって、
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなり、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
【請求項６】
さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする請求項５に記載の電気電子部品用銅合金板材。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の銅合金材は、銅合金中に結晶粒を微細化する径のより小さい化合物（以下の化合物Ｘ）と打ち抜き加工性を向上させる径のより大きい化合物（以下の化合物Ｙ）とがそれぞれ適量含まれることをその特徴の１つとしている。また、このように大きさの異なる２種の化合物は、特定の工程を経ることで生成させることができる。すなわち、本発明によれば、以下の解決手段が提供される。
［１］Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなる電気電子部品用銅合金板材の製造方法であって、
鋳造時の冷却速度が１℃／秒より速く１００℃／秒より遅い条件下で作製された鋳塊を下記条件で均質化処理し、表面を１ｍｍ以上面削する工程を施した後、下記の工程を順次行うことを特徴とする銅合金板材の製造方法。
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ａ
・不活性ガス雰囲気中で５５０〜７５０℃において１〜１０時間の熱処理ａ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｂ
・不活性ガス雰囲気中で３５０〜５５０℃において１〜１０時間の熱処理ｂ
・４０〜８０％の加工率での冷間圧延ｃ
・３００〜５５０℃で１０〜１２０秒の熱処理ｃ
・４０〜７０％の加工率での冷間圧延ｄ
・３００〜５５０℃で５〜２００秒の熱処理ｄ
（均質化処理の条件は、均質化温度（℃）と処理時間（ｈｒ）とで表示される添付第１図のグラフにおいて、（７８０℃、０．７時間）、（７８０℃、４時間）、（６００℃、１０時間）、（６００℃、２．５時間）の４点を結ぶ直線で囲まれる台形領域内の温度・時間の条件で均質化熱処理を施すものである。）
［２］前記熱処理ｂを経て結晶粒が５〜２０μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る［１］に記載の製造方法。
［３］前記熱処理ｄを経て結晶粒が１〜５μｍの平均結晶粒径からなる組織を得る［１］又は［２］に記載の製造方法。
［４］前記銅合金が、さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする［１］〜［３］のいずれか１項に記載の製造方法。
［５］［１］〜［４］のいずれか１項に記載の製造方法で製造された電気電子部品用銅合金板材であって、
Ｓｎを３．０〜１３．０質量％、Ｆｅ及びＮｉのどちらか一方または両方の合計で０．０１〜２．０質量％、並びにＰを０．０１〜１．０質量％含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる銅合金よりなり、
結晶粒の平均直径が１．０〜５．０μｍであり、
平均直径が５０ｎｍ以上２００ｎｍ以下の化合物Ｘが密度１０４〜１０８個／ｍｍ２で分布し、
平均直径が０．５μｍより大きく３．０μｍ以下の化合物Ｙが密度１０２〜１０６個／ｍｍ２で分布し、
前記化合物Ｙについて、｛（板表層から板厚１０％領域の化合物Ｙの密度）／（板厚表層から板厚４０〜６０％領域の化合物Ｙの密度）｝が０．８〜１．０の範囲であり、
引張強度が６００ＭＰａ以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板材。
［６］さらに、Ｃｏ、Ｃｒ、及びＭｎの１種または２種以上を合計で０．０１〜１．０質量％含有することを特徴とする[５]に記載の電気電子部品用銅合金板材。
【国際調査報告】
2010071220.tif 000020
2010071220.tif 000021
2010071220.tif 000022
2010071220.tif 000023