【事件の表示】
　特願２０１７−１１３５６５「積層セラミックキャパシタ」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年１０月２６日出願公開、特開２０１７−１９５３９２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は、平成２５年１０月８日（パリ条約による優先権主張２０１３年７月１１日、大韓民国）に出願した特願２０１３−２１０９７１号の一部を平成２９年６月８日に新たな特許出願としたものであって、その手続の経緯は以下のとおりである。
　平成３０年　２月　９日付け：拒絶理由通知書
　同　　　年　５月１６日　　：意見書の提出
　同　　　年　８月１７日付け：拒絶査定
　同　　　年１２月２１日　　：審判請求書、手続補正書の提出
第２　本願発明
　本願の請求項１ないし３に係る発明は、平成３０年１２月２１付け手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された事項により特定されるものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、以下のとおりのものである。
「【請求項１】
　複数の誘電体層を含み、対向する厚さ方向の第１及び第２主面、長さ方向の第１及び第２端面、並びに幅方向の第１及び第２側面を有するセラミック本体と、
　前記セラミック本体内で前記誘電体層を介して前記第１及び第２側面を通じて交互に露出するように配置された複数の第１及び第２内部電極と、
　前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における一部分、前記第２側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における一部分にわたって形成され、前記第１内部電極と電気的に連結された第１外部電極、並びに、前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における前記一部分以外の他部分、前記第１側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における前記一部分以外の他部分にわたって形成され、前記第２内部電極と電気的に連結された第２外部電極と、を含み、
　前記セラミック本体の長さをＷ（ｍｍ）、前記セラミック本体の幅をＬ（ｍｍ）、前記セラミック本体の厚さをｈ（ｍｍ）、前記第１または第２外部電極の長さをＢ（ｍｍ）と規定するとき、
　前記セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし、前記セラミック本体の厚さ及び幅と前記第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌは、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たし、
　前記第１及び第２外部電極の長さは前記セラミック本体の長さより短く形成され、
　前記セラミック本体の長さ方向の前記第１及び第２端面、前記第１及び第２端面と前記第１主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第２主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第１側面との連結部、並びに、前記第１及び第２端面と前記第２側面との連結部は、前記第１及び第２外部電極によりカバーされない、積層セラミックキャパシタ。」
第３　原査定における拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由は、次のとおりである。
１．（委任省令要件）本件出願は、明細書の発明の詳細な説明の記載が、Ｂ×ｈ／Ｌ及びＷ／Ｌの数値範囲とツームストーン現象との技術的関係が不明であって、請求項１−３に係る発明について経済産業省令で定めるところにより記載されたものでないため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。
２．（サポート要件）本件出願は、明細書において如何にしてツームストーン現象を抑制、防止しているのか説明されておらず、また、十分な実験例が示されていないため、請求項１−３の記載が、明細書の発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて拡張、一般化されたものになっている点で、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
３．（進歩性）本件出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前日本国内または外国において頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった下記の引用文献に記載された発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　　　　　　　　　　　　　　　　記
●請求項１について、引用文献１ないし３
●請求項２及び３について、引用文献１ないし４
引用文献１．特開平１１−１８６０９２号公報
引用文献２．特開平９−１４８１７４号公報
引用文献３．特開２００９−３３１０１号公報
引用文献４．特開２０１２−２４８５８１号公報
第４　当審の判断
１．委任省令要件及びサポート要件（特許法第３６条第４項第１号違反及び第６項第１号違反）について
（１）本願の発明の詳細な説明の記載内容
　本願の発明の詳細な説明な記載には、次の内容が記載されている。なお、下線は当審で付与したものである。
ア．発明が解決使用とする課題
　「【０００７】
　当技術分野では、実装工程における
ツームストーン現象の発生を抑制
イ．課題を解決するための手段
「【０００８】
　本発明の一側面は、複数の誘電体層を含み、対向する厚さ方向の第１及び第２主面、長さ方向の第１及び第２端面、及び幅方向の第１及び第２側面を有するセラミック本体と、上記セラミック本体内で上記誘電体層を介して上記第１及び第２側面を通じて交互に露出するように配置された複数の第１及び第２内部電極と、上記セラミック本体の幅−厚さ断面に形成され、上記第１及び第２内部電極と電気的に連結された第１及び第２外部電極と、を含み、上記セラミック本体の長さをＷ、上記セラミック本体の幅をＬ、上記セラミック本体の厚さをｈ、上記第１または第２外部電極の長さをＢと規定するとき、上記セラミック本体の長さと幅の
比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし、
関係Ｂ×ｈ／Ｌは、Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たす
　また、本発明は、複数の誘電体層を含み、対向する厚さ方向の第１及び第２主面、長さ方向の第１及び第２端面、及び幅方向の第１及び第２側面を有するセラミック本体と、
　前記セラミック本体内で前記誘電体層を介して前記第１及び第２側面を通じて交互に露出するように配置された複数の第１及び第２内部電極と、
　前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における一部分、前記第２側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における一部分にわたって形成され、前記第１内部電極と電気的に連結された第１外部電極、及び、前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における前記一部分以外の他部分、前記第１側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における前記一部分以外の他部分にわたって形成され、前記第２内部電極と電気的に連結された第２外部電極と、を含み、
　前記セラミック本体の長さをＷ（ｍｍ）、前記セラミック本体の幅をＬ（ｍｍ）、前記セラミック本体の厚さをｈ（ｍｍ）、前記第１または第２外部電極の長さをＢ（ｍｍ）と規定するとき、
　前記セラミック本体の長さと幅の
比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし
関係Ｂ×ｈ／Ｌは、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たし、
　前記第１及び第２外部電極の長さは前記セラミック本体の長さより短く形成され、
　前記セラミック本体の長さ方向の前記第１及び第２端面、前記第１及び第２端面と前記第１主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第２主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第１側面との連結部、及び、前記第１及び第２端面と前記第２側面との連結部は、前記第１及び第２外部電極によりカバーされない、積層セラミックキャパシタを提供する。
【０００９】
　本発明の一実施形態における上記第１及び第２外部電極の長さは、上記セラミック本体の長さより短く形成されてもよい。
【００１０】
　本発明の一実施形態における上記セラミック本体は、上記第１及び第２内部電極が配置されたアクティブ層の上部及び下部に上部及び下部カバー層をさらに形成してもよい。
【００１１】
　このとき、上記下部カバー層は上記上部カバー層より厚くてもよい。」
ウ．発明の効果
「【００１２】
　本発明の一実施形態によると、
セラミック本体及び外部電極の寸法を限定して、実装工程におけるツームストーン現象の発生を抑制することで、実装不良率を下げる効果がある
【００１３】
　このような効果は、実装工程の製造収率を改善して製品の信頼性を向上させることができる。」
エ．発明を実施するための形態
「【００５３】
　下表１は、
本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタでのセラミック本体１１０及び外部電極１３１、１３２の寸法による実装不良率を示した
【００５４】
【表１】
【００５５】
　図３及び上記表１を参照すると、本実施形態において、セラミック本体１００の長さをＷ、セラミック本体１００の幅をＬ、セラミック本体１００の厚さをｈ、第１または第２外部電極１３１、１３２の長さをＢと規定するとき、セラミック本体１００の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし、セラミック本体１００の厚さ及び幅と第１または第２外部電極１３１、１３２の関係Ｂ×ｈ／Ｌは、Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たすと、実装工程におけるツームストーン現象の発生を防止し、実装不良が発生しないため、製品の信頼性を向上させることができる。このような効果は、実装工程の製造収率を改善して製品の信頼性を向上させる。」
（２）委任省令要件（特許法第３６条第４項第１号違反）について
ア．当審の判断
　上記「（１）イ．」によれば、セラミック本体及び外部電極の寸法として、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１及び０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７と限定することが課題解決手段とされ、上記「（１）ウ．」によれば、セラミック本体及び外部電極の寸法を限定してツームストーン現象の発生を抑制できることが記載されている。
　しかるところ、発明の詳細な説明の全体を通じて、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１とすること及び０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７とすることでツームストーン現象の発生を抑制できることについて、これを理解できるような理論的説明はなされていない。
　もっとも、上記「（１）エ．」に摘示したように、【表１】及び図３には、Ｂ×ｈ／Ｌと実装不良率（Ｅｒｒｏｒ　Ｒａｔｅ（％））との関係を調べた実験例が開示されている。
　しかし、Ｗ／Ｌについては【表１】及び図３において１．４以上２．１以下に設定された旨説明されているのみでＷ／Ｌの具体的値は不明であり、Ｗ／Ｌの値とツームストーン現象発生の原因や抑制の考え方との関係についても把握できない。また、Ｗ／Ｌとして１．４以上２．１以下を外れた実験例は開示されていない。したがって、Ｗ／Ｌが上記範囲内になる場合と範囲外になる場合との間で比較検討をすることができず、「０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７」を満たす場合に、Ｗ／Ｌを上記範囲とすることの必然性を見出すことはできない。
　次に、Ｂ×ｈ／Ｌについては、本願の【表１】及び図３を見るとＢ×ｈ／Ｌが１．２７よりも大きいとエラーが生じているが、Ｂ×ｈ／Ｌが０．８４以上１．２７以下ではＥｒｒｏｒ　Ｒａｔｅ（％）が０となっており、これについて段落【００５５】にはツームストーン現象が防止されていると説明されている。
　しかしながら、出願時の技術常識に照らして、ツームストーン現象の有無は、積層セラミックキャパシタや外部電極の寸法以外にも、積層セラミックキャパシタの重さ、半田の材料や塗り方、それにより発生する張力など、様々な要素が影響する。そして、Ｂ×ｈ／Ｌの０．８４〜１．２７という数値範囲の内側を選択した場合の方が外側を選択した場合よりも、常に優位であるかも不明である。
　たとえば、本願の図４の状態で実装されることを考えれば、第１または第２外部電極の長さＢが大きいほど半田に接する第１または第２外部電極の面積は増えるのであるから、半田による外部電極に作用する張力は大きくなり、下図のように、積層セラミックキャパシタが立ち上がらせる向きの何らかのモーメント（点線の矢印）が加わった場合、これに対して立ち上がらないようにするモーメント（実線の矢印）、すなわち、図中左側の半田２３０による張力及び積層セラミックキャパシタの重力によるモーメントの和が大きくなってツームストーン現象は抑制されると考えられる。
　また、ｈが大きくなることは、積層セラミックキャパシタの重心を高くして不安定にさせ、ツームストーン現象は起こりやすくなる方向にも作用するが、積層セラミックキャパシタの重量が大きくなるためツームストーン現象を抑制する方向にも作用するのであり、そのトレードオフで定まる適切な範囲というのは、積層セラミックキャパシタの単位体積当たりの重量や積層セラミックキャパシタを立ち上がらせる原因となる力の大きさ（重心が高いだけでは立ち上がらない）にも依存するものである。
　したがって、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７という数値範囲において常にツームストーン現象が防止され、又は数値範囲外よりも常にツームストーン現象を抑制できるかは不明である。
　以上のとおり、請求項１に係る発明のように、あらゆるセラミック本体の長さＷ、セラミック本体の幅Ｌ、セラミック本体の厚さｈ、第１または第２外部電極の長さＢにおいて、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１及び０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７と限定してもツームストーン現象を抑制できるかどうかは不明であるから、請求項１に係る発明について、発明の技術上の意義が理解できない。
イ．審判請求人の主張について
（ア）０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７とする点について
ａ．審判請求人は審判請求書において、「本願の明細書の記載（段落００５５等）によりＢ×ｈ／Ｌがツームストーン現象の発生に関する関係式であると認識した当業者は、（ｉ）ツームストーン現象が、半田との接触面積に応じた半田からの応力に起因するものであり、半田の接触面積を構成するＢおよびｈが、ツームストーン現象に影響を及ぼすパラメータであること、および（ｉｉ）積層セラミックキャパシタにおけるツームストーン現象により立ち上がる方向の長さＬが大きくなるほど、ツームストーン現象が起こりにくくなることを理解することができ、Ｂ×ｈ／Ｌが実装不良に影響を及ぼすことは明らかである。具体的には、積層セラミックキャパシタの立ち上がり始めにおいては、半田の接触面積Ｂ×ｈに比例するモーメントが積層セラミックキャパシタを立ち上げるモーメントとして生じる一方で、幅Ｌに比例するモーメントが立ち上がりを抑えるモーメントとして生じる。そして、これらの力の大小関係により、積層セラミックキャパシタが立ち上がり始めるか否かが決まるのであるから、Ｂ×ｈ／Ｌの値が、積層セラミックキャパシタがツームストーン現象により立ち上がるか否かに大きな影響を与える重要なパラメータとなることがわかる。したがって、本願発明の技術上の意義は、当業者が発明の詳細な説明に基づいて十分に理解できるものである。」と主張する。
　そこで、上記主張について検討する。
　まず、Ｂ×ｈが半田の接触面積を構成することを前提にした説明は、半田が第１又は第２側面に接触することを前提とする説明であるといえるが、本願明細書等には、第１又は第２側面に半田が接触する実施形態は記載されておらず、図４及び段落【００５２】にあるように、半田２３が第１及び第２外部電極１３１、１３２の下面にある形態のみ記載されている。すなわち、ツームストーン現象を発生させる様々な原因がある中で、本願発明におけるツームストーン現象がＢ×ｈに比例したモーメントに起因するものという上記主張は本願明細書等の記載に基づいたものではない。
　また、仮にＢ×ｈに応じたモーメントによってツームストーン現象が発生するにしても、Ｂ×ｈをＬで除算することの技術的意味が不明である。
　よって、審判請求人の上記主張は採用できない。
ｂ．また、審判請求人は審判請求書において、「本願発明における積層セラミックキャパシタは、段落００５４の表１および段落００５５において当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に、その効果が示されている。したがって、出願時の技術常識に照らせば、その具体的な理論的根拠を明らかにするまでもなく、本願の明細書において技術上の意義は十分に示されているものである」と主張している。 
　そこで、上記主張について検討する。
　確かに本願明細書等に実験例は示されているが、上記「（１）ア．」で検討したとおり、ツームストーン現象の有無は、積層セラミックキャパシタの寸法以外にも、積層セラミックキャパシタの重さ、半田の材料や塗り方、それにより発生する張力など様々な要素が影響し、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７とするだけでツームストーン現象が抑制できるとは考えられない。
　そうすると、本願明細書等で開示する実験例は、本願明細書等で明らかにされてない前提条件のもとで初めて得られるものと解さざるを得ない。そして、当該前提条件が明らかでない以上、請求項１に係る発明によってツームストーン現象を抑制することはできないのであるから、請求項１に係る発明を実施できるとは認められない。
　してみると、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７とすることの技術上の意義を理解できる程度に記載されておらず、結果として、請求項１に係る発明を実施することができる程度に記載されているということはできない。
　よって、審判請求人の主張は採用できない。
（イ）１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１とする点について
　審判請求人は審判請求書において、「本願明細書において、『図３及び上記表１を参照すると、本実施形態において、セラミック本体１００の長さをＷ、セラミック本体１００の幅をＬ、セラミック本体１００の厚さをｈ、第１または第２外部電極１３１、１３２の長さをＢと規定するとき、セラミック本体１００の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし、セラミック本体１００の厚さ及び幅と第１または第２外部電極１３１、１３２の関係Ｂ×ｈ／Ｌは、Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たすと、実装工程におけるツームストーン現象の発生を防止し、実装不良が発生しないため、製品の信頼性を向上させることができる。』（段落００５５）と記載されている。したがって、実施形態（表１）では、本願発明が対象とする１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たす形状の積層セラミックキャパシタについて、具体的な実験データを明確に示したものである。そして、本願発明においては、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たす積層セラミックキャパシタについて権利化を図るべく、特許請求の範囲をこの範囲に限定したものである。」と主張する。
　そこで検討するに、上記主張は、Ｗ／Ｌ自体はツームストーン現象の発生防止に直接寄与するものではなく、その値を１．４以上２．１以下の範囲とすればＢ×ｈ／Ｌの数値範囲が１．２７以下であることでツームストーン現象を防止できるという趣旨の主張と認められる。
　したがって、ツームストーン現象の抑制に関して、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１とすること自体の技術上の意義は認められない。
ウ．まとめ
　以上のとおり、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。
（３）サポート要件（特許法第３６条第６項第１号違反）について
ア．当審の判断
　上記「（１）ア．」によれば、本願の課題は、実装工程におけるツームストーン現象の発生を抑制することにある。
　これに対し、発明の詳細な説明の段落【００５３】ないし【００５５】、【表１】、図３には、「セラミック本体の厚さ及び幅と第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌ」が、０．８４以上１．２７以下であればツームストーン現象が防止される実験例が示されている。
　しかしながら、「セラミック本体の厚さ及び幅と前記第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌ」が「０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲」であることにより、ツームストーン現象を防止できることについての理論的な説明はなされておらず、どのような原理でツームストーン現象を防止しているのかは不明である。
　しかるところ、上記（２）で検討したように、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７であっても常にツームストーン現象が防止できるかは不明であり、本願の【表１】に示された限られた事例をもって、なぜ、セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌが、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし、セラミック本体の厚さ及び幅と第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌが、Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たすＷ、Ｌ、ｈ、Ｂのあらゆる組合せでツームストーン現象の発生を防止できるものであると、一般化ないし拡張できるのか当業者が認識できる程度に具体的な説明がされているとはいえず、請求項１ないし３に係る発明は、発明の詳細な説明に記載したものでない。 
イ．審判請求人の主張
（ア）審判請求人は審判請求書において、「『セラミック本体の厚さ及び幅と第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌ』と、ツームストーン現象の発生防止との技術的関係は、出願時の技術常識に照らせば明らか」であり、「『セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１』についても、同様である」と主張する。
　しかしながら、上記（２）で検討したように、「セラミック本体の厚さ及び幅と第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌ」を「０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７」とすることとツームストーン現象の発生原因との技術的関係、及び、「セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌ」を「１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１」とすることとツームストーン現象の発生原因との技術的関係は、いずれも明らかではない。
　したがって、審判請求人の上記主張は採用できない。
（イ）また、審判請求人は審判請求書において、「本来、積層セラミックキャパシタは、その機能、用途等に鑑み、ある程度適切な寸法範囲が存在しており、Ｗ、Ｌ、ｈ、またはＢが極端に大きかったり、または極端に小さかったりするものではない。そこで、本願の表１および図３は、その適切な寸法範囲内において条件を変化させた場合の実験データを示すものであるため、限られた事例のみをもって、ツームストーン現象の発生を防止できる範囲として、一般化ないし拡張したものではない。」とも主張する。
　しかしながら、積層セラミックキャパシタで採用されるサイズは、本願の実験例で採用された値（「幅Ｌ（ｍｍ）、厚さｈ（ｍｍ）」＝「０．５２、０．７８」、「０．５７、０．８５」、「０．５７、０．９５」、「０．９６、１．１５」）以外にも種々のものがあり、例えば、特表２００９−５０５３９５号公報（段落【００３３】参照）には、積層セラミックコンデンサに関して、一般的に幅寸法として０．５〜５．０ｍｍ、厚さ寸法として０．５〜２．０ｍｍを採用することが記載されており、特開２０１３−６９７５８号公報（段落【０００２】参照）や、理由３で引用される引用文献１（段落【００２１】参照）、引用文献２（段落【０００９】参照）、引用文献３（段落【００４９】参照）及び特開２００５−１９９２１号公報（段落【００２９】、【００４７】及び【００４８】参照）には、積層セラミックコンデンサに関して、幅寸法として０．２〜１．６ｍｍ、厚さ寸法として０．２〜１．２ｍｍの範囲で本願の実験例とは異なる種々の寸法が記載されている。
　そして、上記（２）のとおり、ツームストーン現象の有無は、積層セラミックキャパシタや外部電極の寸法以外にも、積層セラミックキャパシタの重さ、半田の材料や塗り方、それにより発生する張力など、様々な要素が影響すると考えられる。しかるところ、Ｗ、Ｌ、ｈが変化することで、少なくとも、積層セラミックキャパシタの重量は変化するから、Ｂ×ｈ／Ｌが０．８４以上１．２７以下において実装不良率が小さくなるかは不明である。
　したがって、審判請求人の上記主張は採用できない。
ウ．まとめ
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
２．特許法第２９条第２項（進歩性）について
（１）引用文献の記載
ア．引用文献１について
　原査定の拒絶の理由で引用された上記引用文献１には、「積層セラミックコンデンサ」について、以下の事項が記載されている。ただし、下線は当審で付与したものである。 
「【００１９】
【発明の実施の形態】図１は本発明に係るチップ状電子部品を示す斜視図、図２は図１に示したチップ状電子部品の平面図、図３は図１に示したチップ状電子部品の正面図、図４は図２の４−４線に沿った断面図である
。図示されたチップ状電子部品は、積層セラミックコンデンサであって、基体１と、外部電極２１、２２とを含む
【００２０】
基体１は、長さ方向Ｘの両側面１１、１２と、幅方向Ｙの両側面１３、１４とが交叉する。即ち、基体１は、その形状が略直方体となる。
【００２１】
基体１は長さ方向Ｘの寸法Ｌ＝２．２ｍｍ以下の値に選定される。
代表的には、Ｃ０６０３タイプ（L×W×T=0.6×0.3×0.2(mm)）、Ｃ１００５タイプ（L×W×T=1.0×0.5×0.4(mm)）、Ｃ２０１２タイプ（L×W×T=2.0×1.2×1.0(mm)）等がその典型的なディメンションである
【００２２】基体１は、各面の交差する稜角部に丸味を付してあることが望ましい。このような丸味はバレル研磨を施すことによって付与することができる。実施例において、基体１はセラミックコンデンサとして適した誘電体セラミックでなる。
【００２３】
基体１は回路要素を有する。図１〜図４に示した実施例は積層セラミックコンデンサを示しており、回路要素は内部電極３０〜３９と、内部電極３０〜３９の間にある誘電体セラミック層によって構成される。
【００２４】
内部電極３０〜３９は、厚み方向Ｚに重なり、長さ方向Ｘの一端が、長さ方向Ｘの両側面１１、１２に交互に導出されている。即ち、偶数参照符号が付された内部電極３０、３２、３４、３６、３８は、長さ方向Ｘの一端が側面１２に導出され、奇数参照符号が付された内部電極３１、３３、３５、３７、３９は、一端が、側面１１に導出されている。
【００２５】内部電極３０〜３９は、ほぼ同じ平面形状を有している。例えば、内部電極３１を代表的に取り出して説明すると、図４に示すように、
引き出し電極部分３１０の幅方向Ｙの寸法ｄ３が、外部電極２１の幅方向Ｙの寸法ｄ４より小さくなっている。
【００２６】図５は内部電極３０〜３９の別の態様を示している。図５において、内部電極３１は、引き出し電極部分３１０の幅方向Ｙの寸法ｄ３が、外部電極２１の幅方向Ｙの寸法ｄ４とほぼ等しくなっている。但し、図４、図５に示された内部電極パターンは一例であり、その他、種々のパターンを取り得ることはいうまでもない。
【００２７】再び、図１〜図４を参照して説明する。
外部電極２１、２２のうち、外部電極２１は、基体１の長さ方向Ｘの一端部に備えられ、かつ、幅方向Ｙの両側面１３、１４から、それぞれ、間隔ｄ１１、ｄ１２を隔てて形成されている。外部電極２２は、基体１の長さ方向Ｘの他端部に備えられ、かつ、幅方向Ｙの両側面１３、１４から、それぞれ、間隔ｄ２１、ｄ２２を隔てて形成されている
【００２８】
外部電極２１は、基体１の長さ方向Ｘの側面１１に形成されされている。側面１１には、奇数参照符号の付された内部電極３１〜３９の一端が導出されているから、外部電極２１は、奇数参照符号の付された内部電極３１〜３９に導通される。外部電極２２は、基体１の長さ方向Ｘの側面１２に形成されている。側面１２には、偶数参照符号の付された内部電極３０〜３８の一端が導出されているから、外部電極２２は、偶数参照符号の付された内部電極３０〜３８に導通される。
【００２９】上記構造によれば、内部電極３０〜３９の層数及び対向面積と、その間にある誘電体セラミック層の誘電率及び層数とによって定まる静電容量を、外部電極２１、２２から外部に取り出すことができる。
【００３０】実施例において、
外部電極２１は、基体１の長さ方向Ｘの側面１１及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される。外部電極２２は、基体１の長さ方向Ｘの側面１２及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される。
【００３１】図６は図１〜図５に示したチップ状電子部品の実装状態を示す図、図７は図６の７ー７線に沿った断面図である。図示するように、回路基板４への実装に当たり、基体１の長さ方向Ｘの両端部に備えられた外部電極２１を、回路基板４上の導体パターン４１にハンダ付け５し、長さ方向Ｘの他端部の外部電極２２を、回路基板４上の導体パターン４２にハンダ付け５する。
【００３２】ここで、本発明に係るチップ状電子部品において、基体１は、長さ方向Ｘの側面１１、１２と、幅方向Ｙの両側面１３、１４とが交叉しており、
外部電極２１は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ１１、ｄ１２を隔てて形成されているから、外部電極２１と、基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に、間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面が生じる。この間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面は、ハンダ付けされ得ない。
【００３３】
外部電極２２も、幅方向Ｙの両側面１３、１４から、間隔ｄ２１、ｄ２２を隔てて形成されているから、外部電極２１、２２と、基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に、間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面が生じる。この間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面は、ハンダ付けされ得ない。
【００３４】したがって、図６に図示するように、回路基板４上に２つのチップ状電子部品Ｑ１、Ｑ２を実装した場合、チップ状電子部品Ｑ１ーＱ２間の間隔を狭くしても、チップ状電子部品Ｑ１ーＱ２間に、ハンダフィレット等を生じる余地がない。このため、回路基板４に対する実装密度を大幅に向上させることができる。当該チップ状電子部品と隣接して配置されるチップ状電子部品は、他種のチップ状電子部品であってもよいし、導体パターン等であってもよい。この場合にも、同様の作用効果を奏する。
【００３５】図８は多数のチップ状電子部品を実装した状態を示している。図示するように、チップ状電子部品Ｑ１１〜Ｑ３３のそれぞれを、実質的に接触したようなきわめて狭い間隔を隔てて、幅方向に配列して行くことができる。
【００３６】
間隔ｄ１１、ｄ１２、ｄ２１、ｄ２２は１０μｍ以上であることが望ましい。１０μｍ以上の間隔であると、外部電極２１、２２と他の回路素子との間にハンダフィレットが発生するのを、確実に阻止することができる。
・段落【００２３】によれば、基体１は、内部電極３０〜３９と、内部電極３０〜３９の間にある誘電体セラミック層によって構成されるものである。
・段落【００２０】及び【００３０】によれば、基体１は、長さ方向Ｘの両側面１１、１２と、幅方向Ｙの両側面１３、１４、厚み方向Ｚの両面１５、１６を有するものである。
・段落【００１９】及び【００３０】によれば、積層セラミックコンデンサは、基体１と、基体１の長さ方向Ｘの側面１１及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される外部電極２１と、基体１の長さ方向Ｘの側面１２及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される外部電極２２とを含んでいる。
・段落【００２４】によれば、内部電極３０〜３９は、厚み方向Ｚに重なり、長さ方向Ｘの一端が長さ方向Ｘの両側面１１、１２に交互に導出され、偶数参照符号が付された内部電極３０、３２、３４、３６、３８の一端が側面１２に導出され、奇数参照符号が付された内部電極３１、３３、３５、３７、３９の一端が側面１１に導出されている。
・段落【００２８】によれば、外部電極２１は、側面１１に形成されて奇数参照符号が付された内部電極３１、３３、３５、３７、３９に導通され、外部電極２２は、側面１２に形成されて偶数参照符号が付された内部電極３０、３２、３４、３６、３８に導通されている。
・段落【００２７】、【００３２】及び【００３３】によれば、外部電極２１は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ１１、ｄ１２を隔てて形成され、外部電極２１と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面が生じ、この間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面はハンダ付けされないものであり、外部電極２２は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ２１、ｄ２２を隔てて形成され、外部電極２２と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面が生じ、この間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面はハンダ付けされないものである。
　なお、段落【００３３】における「外部電極
２１、２２
２２
・段落【００３６】によれば、間隔ｄ１１、ｄ１２、ｄ２１及びｄ２２は、１０μｍ以上とすることで外部電極２１、２２と他の回路素子との間にハンダフィレットが発生するのを確実に阻止する。
・段落【００２１】によれば、積層セラミックコンデンサの寸法について、基体１の長さ方向Ｘの寸法をＬ、基体１の幅方向Ｙの寸法をＷ、基体１の厚み方向Ｚの寸法をＴとすると、長さ方向の寸法Ｌ≦２．２ｍｍの値に選定され、代表的には、Ｃ０６０３タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=０．６×０．３×０．２(ｍｍ)）、Ｃ１００５タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=１．０×０．５×０．４(ｍｍ)）、Ｃ２０１２タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=２．０×１．２×１．０(ｍｍ)）等がその典型的なディメンションであることが記載されている。また、段落【００２５】に記載されている外部電極の幅方向Ｙの寸法ｄ４は、段落【００２７】及び図１、２、４によれば、間隔ｄ１１及びｄ１２、又は、間隔ｄ２１及びｄ２２の分、Ｗよりも短くなっている。
　上記摘示事項および図面を総合勘案すると、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 
「内部電極３０〜３９と、内部電極３０〜３９の間にある誘電体セラミック層によって構成され、長さ方向Ｘの両側面１１、１２と、幅方向Ｙの両側面１３、１４、厚み方向Ｚの両面１５、１６を有する基体１と、 
　基体１の長さ方向Ｘの側面１１及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される外部電極２１と、
　基体１の長さ方向Ｘの側面１２及び厚み方向Ｚの両面１５、１６に連続して形成される外部電極２２と
を含み、 
　内部電極３０〜３９は、厚み方向Ｚに重なり、長さ方向Ｘの一端が長さ方向Ｘの両側面１１、１２に交互に導出され、偶数参照符号が付された内部電極３０、３２、３４、３６、３８の一端が側面１２に導出され、奇数参照符号が付された内部電極３１、３３、３５、３７、３９の一端が側面１１に導出されており、
　外部電極２１は、側面１１に形成されて奇数参照符号が付された内部電極３１、３３、３５、３７、３９に導通され、外部電極２２は、側面１２に形成されて偶数参照符号が付された内部電極３０、３２、３４、３６、３８に導通され、
　外部電極２１は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ１１、ｄ１２を隔てて形成され、外部電極２１と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面が生じ、この間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面はハンダ付けされず、 
　外部電極２２は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ２１、ｄ２２を隔てて形成され、外部電極２２と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面が生じ、この間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面はハンダ付けされず、 
　間隔ｄ１１、ｄ１２、ｄ２１及びｄ２２は、１０μｍ以上とすることで外部電極２１、２２と他の回路素子との間にハンダフィレットが発生するのを確実に阻止し、
　基体１の長さ方向Ｘの寸法をＬ、基体１の幅方向Ｙの寸法をＷ、基体１の厚み方向Ｚの寸法をＴ、外部電極の幅方向Ｙの寸法ｄ４（＜Ｗ）とすると、長さ方向の寸法Ｌ≦２．２ｍｍの値に選定され、代表的には、Ｃ０６０３タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=０．６×０．３×０．２(ｍｍ)）、Ｃ１００５タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=１．０×０．５×０．４(ｍｍ)）、Ｃ２０１２タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=２．０×１．２×１．０(ｍｍ)）等がその典型的なディメンションである積層セラミックコンデンサ。」 
イ．引用文献２について
　原査定の拒絶の理由で引用された上記引用文献２には以下の事項が記載されている。なお、下線は当審で付与した。
（ア）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
内部電極を備えたセラミックシートの複数枚を積層して成る積層セラミックコンデンサの構造に関する
（イ）「【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図１〜図４の図面について説明する。この図において、符号１１は、長さ寸法Ｌを幅寸法Ｗの約二倍の長方形に形成したセラミックシートを示し、このセラミックシート１１の表面に、内部電極１２を、当該内部電極１２がセラミックシート１１における四辺１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄのうち一つの長辺１１ａにまで延びるように形成し、このセラミックシート１１の複数枚を、前記一つの長辺１１ａが交互に逆向きとなるように積層することにより、長さ寸法がＬで、幅寸法がＷで、高さ寸法がＨのチップ体１３に一体化したのち、
このチップ体１３における長手方向に沿って左右両側の両側面１３ａ，１３ｂの各々に、接続用の端子電極膜１４，１４を、前記各内部電極１２に電気的に導通するように形成する
【０００８】このように構成することにより、各内部電極１２の相互間における重なり面積を、前記従来と同じにした状態のもとで、各内部電極１２における一方の端子電極膜１４から他方の端子電極膜１５に向かう方向の長さが短くなり、ひいては、この各内部電極２における一方の端子電極膜４から他方の端子電極膜５に向かう方向に沿っての重なり長さが大幅に短くなるから、各内部電極１２の相互間に発生する
インダクタンス成分を小さくすることができる
　したがって、引用文献２には、「内部電極を備えたセラミックシートの複数枚を積層して成る積層セラミックコンデンサにおいて、チップ体１３における長手方向に沿って左右両側の両側面１３ａ，１３ｂの各々に、接続用の端子電極膜１４，１４を、前記各内部電極１２に電気的に導通するように形成することでインダクタンス成分を小さくする」技術事項が記載されていると認められる。
ウ．引用文献３について
　原査定の拒絶の理由で引用された上記引用文献３には、以下の事項が記載されている。ただし、下線は当審で付与したものである。 
「【０００７】
  ＥＳＬがさらに低減された低ＥＳＬ型の
積層セラミックコンデンサとしては、たとえばＬＷ逆転型の積層セラミックコンデンサが知られている。
、ＬＷ逆転型の積層セラミックコンデンサでは、外部端子電極が形成されている端面におけるセラミック層の広がり方向寸法（Ｗ寸法）が、側面におけるセラミック層の広がり方向の寸法（Ｌ寸法）より大きくされている。
ＥＳＬが低減される
　したがって、引用文献３には、「積層セラミックコンデンサにおいて、外部端子電極が形成されている端面におけるセラミック層の広がり方向寸法を、側面におけるセラミック層の広がり方向の寸法より大きくすることでＥＳＬを低減する」技術事項が記載されていると認められる。
（２）対比
　本願発明と引用発明を対比する。
ア．引用発明の「内部電極３０〜３９の間にある誘電体セラミック層」は、内部電極３０〜３９の間にあるから、複数あるのは自明であり、本願発明の「複数の誘電体層」に相当する。
イ．引用発明の「厚み方向Ｚの両面１５、１６」、「長さ方向Ｘの両側面１１、１２」及び「幅方向Ｙの両側面１３、１４」が、各々本願発明の「対向する厚さ方向の第１及び第２主面」、「長さ方向の第１及び第２端面」及び「幅方向の第１及び第２側面」に相当する。
ウ．引用発明の「基体１」は、内部電極３０〜３９と、内部電極３０〜３９の間にある誘電体セラミック層によって構成され、長さ方向Ｘの両側面１１、１２と、幅方向Ｙの両側面１３、１４、厚み方向Ｚの両面１５、１６を有するものであるから、本願発明の「複数の誘電体層を含み、対向する厚さ方向の第１及び第２主面、長さ方向の第１及び第２端面、並びに幅方向の第１及び第２側面を有するセラミック本体」に相当する。
エ．引用発明の「内部電極３０〜３９」は、間に誘電体セラミック層を有しており、長さ方向Ｘの一端が、長さ方向Ｘの両側面１１、１２に交互に導出されている。したがって、引用発明の「内部電極３０〜３９」と本願発明の「第１及び第２内部電極」とは、「前記セラミック本体内で前記誘電体層を介して」対向面を通じて「交互に露出するように配置され」ている点で一致する。
　ただし、露出するセラミック本体の対向面が、本願発明では幅方向の「第１及び第２側面」であるのに対し、引用発明ではその旨の特定がされていない。
オ．引用発明では、「外部電極２１」が「内部電極３１、３３、３５、３７、３９」に導通され、「外部電極２２」が「内部電極３０、３２、３４、３６、３８」に導通されているから、引用発明の「内部電極３１、３３、３５、３７、３９」、「内部電極３０、３２、３４、３６、３８」、「外部電極２１」及び「外部電極２２」が、各々本願発明の「第１内部電極」、「第２内部電極」、「第１外部電極」及び「第２外部電極」に相当する。
　したがって、本願発明と引用発明とは、「前記第１内部電極と電気的に連結された第１外部電極と、前記第２内部電極と電気的に連結された第２外部電極と」を含む点で一致する。
　ただし、第１外部電極及び第２外部電極が、本願発明では、各々「前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における一部分、前記第２側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における一部分にわたって形成され」ているもの、及び「前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における前記一部分以外の他部分、前記第１側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における前記一部分以外の他部分にわたって形成され」ているものであるのに対して、引用発明においてはその旨特定されていない。
カ．引用発明の「基体１の厚み方向Ｚの寸法」（Ｔ）及び「外部電極の幅方向Ｙの寸法」（ｄ４）が、各々本願発明の「前記セラミック本体の厚さ」（ｈ（ｍｍ））及び「前記第１または第２外部電極の長さ」（Ｂ（ｍｍ））に相当する。
　また、引用発明の「基体１の長さ方向Ｘの寸法」（Ｌ）及び「基体１の幅方向Ｙの寸法」（Ｗ）がそれぞれ、本願発明の「セラミック本体の長さ」（Ｗ（ｍｍ））及び「セラミック本体の幅」（Ｌ（ｍｍ））に相当する。
　そして、本願発明のＷ／Ｌ（長さ／幅）は、引用発明においてＬ／Ｗ（長さ／幅）であるから、その値を算出すると２．０（Ｃ０６０３タイプ又はＣ１００５タイプ）又は１．６７（Ｃ２０１２タイプ）が代表的なものの値といえる。
　したがって、引用発明と本願発明とは「前記セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たし」ている点で一致する。
　ただし、本願発明は、前記セラミック本体の厚さ及び幅と前記第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌは、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満たすのに対し、引用発明においてはその旨特定されていない。
キ．第１及び第２外部電極の長さが、本願発明では「前記セラミック本体の長さ」（Ｗ）より短く形成され、「前記セラミック本体の長さ方向の前記第１及び第２端面、前記第１及び第２端面と前記第１主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第２主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第１側面との連結部、並びに、前記第１及び第２端面と前記第２側面との連結部は、前記第１及び第２外部電極によりカバーされない」のに対し、引用発明ではその旨の特定はなされていない。
　そうすると、本願発明と引用発明とは、
「複数の誘電体層を含み、対向する厚さ方向の第１及び第２主面、長さ方向の第１及び第２端面、並びに幅方向の第１及び第２側面を有するセラミック本体と、
　前記セラミック本体内で前記誘電体層を介して対向面を通じて交互に露出するように配置された複数の第１及び第２内部電極と、
　前記第１内部電極と電気的に連結された第１外部電極と、前記第２内部電極と電気的に連結された第２外部電極と、を含み、
　前記セラミック本体の長さをＷ（ｍｍ）、前記セラミック本体の幅をＬ（ｍｍ）、前記セラミック本体の厚さをｈ（ｍｍ）、前記第１または第２外部電極の長さをＢ（ｍｍ）と規定するとき、
　前記セラミック本体の長さと幅の比率Ｗ／Ｌは、１．４≦Ｗ／Ｌ≦２．１の範囲を満たす
　積層セラミックキャパシタ。」
である点で一致し、次の点で相違する。
［相違点１］ 
　露出するセラミック本体の対向面が、本願発明では幅方向の「第１及び第２側面」であるのに対し、引用発明ではその旨の特定がされておらず、第１外部電極及び第２外部電極が、本願発明では、各々「前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における一部分、前記第２側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における一部分にわたって形成され」ているもの、及び「前記セラミック本体の前記第１主面の幅方向における前記一部分以外の他部分、前記第１側面の厚さ方向全体、及び、前記第２主面の幅方向における前記一部分以外の他部分にわたって形成され」ているものであるのに対して、引用発明においてはその旨特定されていない点。
［相違点２］
　第１及び第２外部電極の長さが、本願発明では「前記セラミック本体の長さ」（Ｗ）より短く形成され、「前記セラミック本体の長さ方向の前記第１及び第２端面、前記第１及び第２端面と前記第１主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第２主面との連結部、前記第１及び第２端面と前記第１側面との連結部、並びに、前記第１及び第２端面と前記第２側面との連結部は、前記第１及び第２外部電極によりカバーされない」のに対し、引用発明ではその旨特定されていない点。
［相違点３］ 
　本願発明は、「前記セラミック本体の厚さ及び幅と前記第１または第２外部電極の関係Ｂ×ｈ／Ｌは、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲を満た」すのに対し、引用発明においてはその旨特定されていない点。
（３）判断
ア．相違点１について
　積層セラミックコンデンサにおいて、外部電極をセラミック本体の長手方向に沿った面に設けるようにすることでインダクタンス成分を抑えることは、例えば、上記「２．（１）イ．及びウ．」で摘示した引用文献２及び３に記載されているとおり、周知の技術事項である。 
　そして、引用発明においてもインダクタンス成分を抑えることが有用であるのは自明なことであるから、当該周知の技術事項を採用することで相違点１に係る構成とすることは当業者にとって容易になし得たことである。
イ．相違点２について
　引用文献１の段落【０００３】ないし【０００７】、及び【００１３】によれば、引用発明の「外部電極２１は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ１１、ｄ１２を隔てて形成され、外部電極２１と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面が生じ、この間隔ｄ１１、ｄ１２の基体表面はハンダ付けされず、外部電極２２は、幅方向Ｙの両側面１３、１４から間隔ｄ２１、ｄ２２を隔てて形成され、外部電極２２と基体１の幅方向Ｙの両側面１３、１４との間に間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面が生じ、この間隔ｄ２１、ｄ２２の基体表面はハンダ付けされず、」「間隔ｄ１１、ｄ１２、ｄ２１及びｄ２２は、１０μｍ以上とすることで外部電極２１、２２と他の回路素子との間にハンダフィレットが発生するのを確実に阻止」する構成は、外部電極に付着したハンダが幅方向に拡がり、幅方向の両側面からはみ出さないようにするという課題を解決している。
　そうすると、引用発明において上記周知の技術事項を採用することで相違点１に係る構成とするのに伴い、外部電極に付着したハンダが電極の幅方向（引用発明の基体１の長さ方向Ｘ）に拡がらないようにするために上記相違点２に係る構成とすることは当業者にとって容易になし得たことである。
ウ．相違点３について
　引用発明は、間隔ｄ１１、ｄ１２、ｄ２１及びｄ２２は１０μｍ以上とすることで外部電極２１、２２と他の回路素子との間にハンダフィレットが発生するのを確実に阻止するものである。したがって、引用発明において上記周知の技術事項を採用することで上記相違点１及び２に係る構成とする際には、外部電極の長さｄ４を
　ｄ４≦０．５８ｍｍ（＝０．６ｍｍ−２０μｍ：Ｃ０６０３タイプ）、
　ｄ４≦０．９８ｍｍ（＝１．０ｍｍ−２０μｍ：Ｃ１００５タイプ）、
　ｄ４≦１．９８ｍｍ（＝２．０ｍｍ−２０μｍ：Ｃ２０１２タイプ）、
とするのが普通である。
　そうすると、代表的なＣ２０１２タイプ（Ｌ×Ｗ×Ｔ=２．０×１．２×１．０(ｍｍ)）を採用する場合、引用発明と周知の技術事項から導き出される発明において本願発明の「Ｂ×ｈ／Ｌ」（引用発明のｄ４×Ｔ／Ｗ）を、
　Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．６５（＝１．９８×１．０／１．２）
とするのが当業者が選択すべき数値範囲となる。
　また、Ｃ１００５タイプを採用する場合、一般的に厚さＴ＝０．５ｍｍとすることが多い（例えば、特開２０１０−６７７０７号公報の段落【００２４】、特開２００５−１９９２１号公報の段落【００４８】を参照）ことを考慮すると、
　Ｂ×ｈ／Ｌ≦０．９８（＝０．９８×０．５／０．５）
とするのも当業者が選択すべき数値範囲となる。
　以上のとおり、相違点３の構成とすることは、相違点１及び２の構成とすることに伴って容易になし得たことである。
　なお、上記「１．（２）」及び「１．（３）」で検討したとおり、０．８４≦Ｂ×ｈ／Ｌ≦１．２７の範囲に格別優位な技術的効果は認められない。
第５　むすび
　以上のとおり、本願明細書の発明の詳細な説明は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。
　また、本願の請求項１に係る発明は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
　さらに、本願の請求項１に係る発明は、引用文献１に記載された発明、引用文献２及び３に記載された技術事項、並びに技術常識に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。