(57)【要約】  光記録媒体から読み取られた記録パラメータ推奨値(ＷＲ)と、予め求めたベクトル情報（ＰＣ）と近似係数（Ｃａ、Ｃｂ）とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータ（ＷＵ）を求め（Ｓ２４）、求められた記録パラメータを用いて、光記録媒体への書き込みを行う（Ｓ１７）。ベクトル情報(ＰＣ)は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値(ＷＯ)と記録パラメータ推奨値(ＷＲ)との各々のパラメータ差分値(ＤＦ）に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分であり、近似係数（Ｃａ、Ｃｂ）は、ベクトル情報(ＰＣ）とパラメータ差分値(ＤＦ)との関係を示す変換情報（Ｘ）と、記録パラメータ推奨値(ＷＲ)とベクトル情報(ＰＣ)から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報（Ｄ）との関係を近似することで求められる。
2010134268.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分であり、
前記近似係数は、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報と、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報との関係を近似することで求めた近似係数である
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報であり、
前記近似係数は、複数の光記録媒体に対して求めた、前記変換情報と前記特徴情報との関係を近似することで求めた近似係数である
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、記録パラメータ推奨値と、予め求められたベクトル情報との積から各光記録媒体の特徴を示す特徴情報を算出する特徴情報算出工程と、
前記特徴情報算出工程で算出した前記特徴情報に対応して予め定められ記憶手段に記憶されている、光記録媒体の前記記録パラメータ推奨値と、記録に用いるべき記録パラメータ最適値との差分値を前記記憶手段から抽出する差分値抽出工程と、
前記差分値抽出工程で抽出した前記差分値に前記記録パラメータ推奨値を加算することで、記録に用いる記録パラメータを決定する、記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分である
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項４】
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の光記録方法。
【請求項５】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワーの変動が許容できる範囲内でかつ、低い記録パワーで良好な記録性能が得られる様に最適化された値であることを特徴とする請求項４に記載の光記録方法。
【請求項６】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワー又はライトストラテジで規定されるパルス幅のパラメータが複数の光記録媒体相互間で互いに近い値となるように最適化されたものであることを特徴とする請求項４に記載の光記録方法。
【請求項７】
前記近似係数は、
前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報と、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報との関係を複数の光記録媒体で求めておき、
前記特徴情報と前記変換情報の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットである
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録方法。
【請求項８】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
前記記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
を有し、
前記近似係数は、複数の光記録媒体の記録パラメータの推奨値と、記録に使用すべき記録パラメータの最適値との差分量と、記録パラメータの推奨値の関係を近似することで求めたものであることを特徴とする光記録方法。
【請求項９】
前記近似係数は、前記差分量と前記記録パラメータの推奨値の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットであることを特徴とする請求項８に記載の光記録方法。
【請求項１０】
前記記録パラメータ決定工程で決定された記録パラメータを用いて、試し書きすることにより、記録性能を確認し、該記録性能が予め定めた基準の記録性能よりも良いか悪いかを判断する記録性能判断工程と、
前記記録性能判断工程で、基準の記録性能よりも悪いと判断された場合に、
前記記録パラメータを修正する、記録パラメータ修正工程とをさらに有し、
前記書き込み工程は、前記記録性能判断工程で、基準の記録性能よりも良いと判断された場合に、当該試し書きに用いられた記録パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行い、
前記近似係数を求める際に、各々の記録パラメータに対する近似精度を求めておき、
前記記録パラメータ修正工程において、前記近似精度の悪い記録パラメータから優先的に記録パラメータの修正を行うことを特徴とする請求項１又は８に記載の光記録方法。
【請求項１１】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分であり、
前記近似係数は、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報と、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報との関係を近似することで求めた近似係数である
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１２】
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報であり、
前記近似係数は、複数の光記録媒体に対して求めた、前記変換情報と前記特徴情報との関係を近似することで求めた近似係数である
ことを特徴とする請求項１１に記載の光記録装置。
【請求項１３】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、記録パラメータ推奨値と、予め求められたベクトル情報との積から各光記録媒体の特徴を示す特徴情報を算出する特徴情報算出手段と、
前記特徴情報算出手段で算出した前記特徴情報に対応して予め定められ記憶手段に記憶されている、光記録媒体の前記記録パラメータ推奨値と、記録に用いるべき記録パラメータの最適値との差分値を前記記憶手段から抽出する差分値抽出手段と、
前記差分値抽出手段で抽出した前記差分値に前記記録パラメータ推奨値を加算することで、記録に用いる記録パラメータを決定する、記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分である
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１４】
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであることを特徴とする請求項１１、１２又は１３に記載の光記録装置。
【請求項１５】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワーの変動が許容できる範囲内でかつ、低い記録パワーで良好な記録性能が得られる様に最適化された値であることを特徴とする請求項１４に記載の光記録装置。
【請求項１６】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワー、又はライトストラテジで規定されるパルス幅のパラメータが複数の光記録媒体相互間で互いに近い値となるように最適化されたものであることを特徴とする請求項１４に記載の光記録装置。
【請求項１７】
前記近似係数は、
前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報と、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報との関係を複数の光記録媒体で求めておき、
前記特徴情報と前記変換情報の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットである
ことを特徴とする請求項１１又は１２に記載の光記録装置。
【請求項１８】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
前記記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めた近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と
を有し、
前記近似係数は、複数の光記録媒体の記録パラメータの推奨値と、記録に使用すべき記録パラメータの最適値との差分量と、記録パラメータの推奨値の関係を近似することで求められる
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１９】
前記近似係数は、前記差分量と前記記録パラメータの推奨値の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットであることを特徴とする請求項１８に記載の光記録装置。
【請求項２０】
前記記録パラメータ決定手段で決定された記録パラメータを用いて、試し書きすることにより、記録性能を確認し、該記録性能が予め定めた基準の記録性能よりも良いか悪いかを判断する記録性能判断手段と、
前記記録性能判断手段で、基準の記録性能よりも悪いと判断された場合に、
前記記録パラメータを修正する、記録パラメータ修正手段とをさらに有し、
前記書き込み手段は、前記記録性能判断手段で、基準の記録性能よりも良いと判断された場合に、当該試し書きに用いられた記録パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行い、
前記近似係数を求める際に、各々の記録パラメータに対する近似精度を求めておき、
前記記録パラメータ修正手段において、前記近似精度の悪い記録パラメータから優先的に記録パラメータの修正を行うことを特徴とする請求項１１又は１８に記載の光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジ（記録に用いられるレーザーの発光制御設定値）や記録パワーの最適化制御（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）に用いるＯＰＣ用設定値等の記録パラメータの決定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに対して情報の記録を行うためには、記録時に用いる記録パラメータとして、ライトストラテジ、及びＯＰＣ（記録パワーの最適化制御）用の設定値を光ディスクの特性に合わせて最適に調整する必要がある。通常、光ディスクには、ディスクメーカーにより定められた記録パラメータの推奨値が記録されているが、前記推奨値を決める為に用いる光記録装置の光ピックアップは、一般の光記録装置の光ピックアップとは仕様が異なる場合が殆どである為、その様な場合には、記録パラメータの推奨値を用いても正常に記録できない場合が多い。その為、一般的に光記録装置は、光ディスクのＩＤ（識別情報）毎に最適な記録パラメータ（ライトストラテジ及びＯＰＣ用設定値）を保持し、記録に用いている。【０００３】
しかし、この様に光ディスクに対して固有の最適な記録パラメータを光記録装置に保持させる為には、予め最適な記録パラメータを光ディスク毎に求める必要があり、例えば光記録装置を出荷後に、新たに発売される光ディスクに対しては、最適な記録パラメータを持つ事ができないという問題があった。【０００４】
この対応策として、試し書きにより形成されたピット（マーク）部分を読み取り、読み取ったピット部分の信号のデビエーションを評価して、前記デビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジの修正を繰り返して調整するものがある（例えば特許文献１〜５参照）。また、光ディスクに記録されたライトストラテジの推奨値を読み出し、ライトストラテジの先頭パルス幅の推奨値から、記録に用いる先頭パルス幅を計算により求めるものがある（例えば特許文献６）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−００４６０１号公報（第１−１４頁、第１−１６図）
【特許文献２】特開２００６−０３１９１５号公報（第１−１３頁、第１−１０図）
【特許文献３】特開２００６−０４８９０７号公報（第１−１６頁、第１−１９図）
【特許文献４】特開２００６−１６４４８６号公報（第１−１３頁、第１−１７図）
【特許文献５】特開２００７−０１８５８２号公報（第１−１１頁、第１−１１図）
【特許文献６】特許第３９０７６３０号公報（第１−１５頁、第１−１１図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の従来の光記録装置では、ライトストラテジの修正を繰り返して調整する場合、記録開始までに時間を要し、限られた光ディスクのテスト記録領域を多量に消費してしまう。また、ライトストラテジの発光規則によっては、調整が必要なライトストラテジのパラメータが多く、個々のパラメータを変更するだけでは最適に調整できない場合がある。
また、計算によりライトストラテジを求める場合には、光ディスクに記録されたライトストラテジの推奨値の先頭パルス幅の推奨値から、記録に用いる先頭パルス幅を計算により求めており、特定の発光規則にしか対応できておらず、異なる発光規則に対応できないという問題があった。【０００７】
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、予め最適な記録パラメータが判明していない光ディスクに対しても、適切な記録が行える記録パラメータを、記録開始までに長い時間を掛けずに求めることができる光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。
また、ライトストラテジの発光規則や記録倍速によらずに、適切な記録が行える記録パラメータを求めることができるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光記録方法は、
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分であり、
前記近似係数は、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報と、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報との関係を近似することで求めた近似係数である
ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、光ディスクに対応した最適な記録パラメータが不明な場合も、最適な記録パラメータを迅速に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態の光記録方法及び装置で用いられる光ディスクの構成の一例を示した図である。
【図２】この発明の実施の形態の光記録装置を示すブロック図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は、図２の再生特性測定部１５０で測定される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。
【図４】図２の再生特性測定部１５０で測定される再生信号の変調度の例を示した図である。
【図５】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態における光記録装置において、光ディスクへの記録がＥＦＭ＋（８−１６）変調の場合（ＤＶＤの場合）に生成されるライトストラテジの一例を示した図である。
【図６】この発明の実施の形態１の光記録装置における、記録の手順の一例を示すフローチャートである。
【図７】実施の形態１における、記録パラメータ決定の処理（図６のステップＳ１４）の手順を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態１の光記録装置における、光ディスク５００がＤＶＤ−Ｒの場合における特徴パラメータＤと変換パラメータＸとの関係（実測結果）を示した図である。
【図９】実施の形態１の光記録装置における、光ディスク５００がＢＤ−Ｒの場合における特徴パラメータＤと変換パラメータＸとの関係（実測結果）を示した図である。
【図１０】従来の記録パラメータのリストテーブルを示した図である。
【図１１】この発明の実施の形態２における特徴パラメータＤとそれに対する記録パラメータのオフセット量を含むリストテーブルを示した図である。
【図１２】この発明の実施の形態２における、記録パラメータ決定の処理（図６のステップＳ１４）の手順を示すフローチャートである。
【図１３】この発明の実施の形態３における、記録パラメータ決定（図６のステップＳ１４）の処理の手順を示すフローチャートである。
【図１４】この発明の実施の形態４の光記録装置における記録の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の光記録方法及び光記録装置は、記録パラメータ推奨値が予め記録された光ディスクへの記録を行うものである。記録パラメータ推奨値は、当該光ディスクの製造メーカーにより、記録に用いるのに適した記録パラメータとして、光ディスクの所定の領域、例えば、図１のリードイン領域に記録されたものである。また、記録パラメータ推奨値を決定する為の条件、例えば光記録装置の光ピックアップの仕様（例えば、対物レンズの開口数ＮＡや、レーザーの波長等）は、光ディスクの種類により決められている。ここで、光ディスクの種類には、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（ＢＤ）や、ＤＶＤ、ＣＤ等があり、さらに、各々は書換型や追記型と分類される。
【００１２】
光ディスクに記録される記録パラメータ推奨値には、ライトストラテジ（パルスの幅やエッジ位置の設定値や、記録パワーと消去パワーの比率などのレーザーの発光パターンを決定する為の記録パラメータの設定値）の推奨値と、ＯＰＣにより記録パワーを最適化する為の推奨設定値（例えば、アシンメトリ値など）が含まれている。
【００１３】
さらに、記録パラメータ推奨値は、光ディスクへ記録する際の、記録速度や、ライトストラテジの発光規則毎（例えば、マルチパルス状に発光する規則や、非マルチパルス状に発光する規則など）に光ディスクへ記録されている。
【００１４】
前記記録パラメータ推奨値は、所定の条件で記録することを想定したものである。従って、記録条件が異なれば、記録パラメータ推奨値とは異なる記録パラメータで記録を行うのが望ましい。本発明は、光ディスクから読み取られた記録パラメータ推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップで求めた最適な記録パラメータとの関係に基づいた係数を利用して、記録パラメータ推奨値から、記録に用いる記録パラメータを決定し記録を行う。
【００１５】
実施の形態１．
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザーをライトストラテジ（記録に用いられるレーザー発光波形規則）に従い発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。
【００１６】
図２は本発明の実施の形態１に係る光記録装置１００の基本的な構成例を示す図である。ここで、図２の光記録装置１００は、ＥＦＭ＋（８−１６）変調した記録データを光ディスク５００へ記録する場合（例えば光ディスク５００がＤＶＤの場合）を示している。
【００１７】
サーボ制御部１８０は、光ディスク５００を回転させる為のスピンドルモーター１８１、光ヘッド３００の位置を移動させる為のスレッドモーター１８２、光ヘッド３００のアクチュエーター（図示しない）を制御する。
【００１８】
光ヘッド３００からの再生信号がプリアンプ回路１１０にて増幅され、中央制御部２００に入力される。入力された信号は中央制御部２００にてアドレス情報の復号が行われ、光ヘッド３００の現在位置(を示すアドレス情報)が得られる。
【００１９】
現在位置を示すアドレス情報から、アクセスすべき位置（アクセス対象位置）のアドレス情報の差分をサーボ制御部１８０に与えることにより、サーボ制御部１８０がスレッドモーター１８２を制御し、光ヘッド３００をアクセス対象位置へ移動させる。さらに、サーボ制御部１８０は、プリアンプ１１０からのサーボエラー信号に基づき、フォーカス制御、トラッキング制御を行う。
【００２０】
データ再生時は、レーザー駆動部３２０により駆動される半導体レーザー３１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。光ディスク５００からの反射光は、対物レンズ３５０を通った後にビームスプリッタ３４０により入射光と分離され、検出レンズ３６０を介して受光素子３７０で受光される。
【００２１】
上記のうち、半導体レーザー３１０と、コリメートレンズ３３０と、ビームスプリッタ３４０と、対物レンズ３５０、検出レンズ３６０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子３７０と、レーザー駆動部３２０と、アクチュエーター（図示しない）とで光ピックアップ３００が構成されている。
【００２２】
受光素子３７０は光信号を電気信号に変換する。受光素子３７０において変換された電気信号は、プリアンプ１１０を介して上記のように中央制御部２００に入力されるほか、再生信号処理部１２０にも入力される。
【００２３】
再生信号処理部１２０は、プリアンプ１１０からの電気信号をイコライズ処理（波形整形）し、記録品質測定部１３０と、データデコーダー１４０とに入力する。また、再生信号処理部１２０は、イコライズ処理する前の信号を再生特性測定部１５０に入力する。
【００２４】
再生特性測定部１５０は、記録時に必要な記録パワーの調整用にアシンメトリ値あるいは、変調度値等の再生特性を求める。また、記録品質測定部１３０は、再生信号のジッター値やエラーレート等の信号品質を測定する。
データデコーダー１４０は、入力された再生信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク５００に記録されたデータを生成（再生）する。光記録装置１００は上位コントローラー４００と接続されており、中央制御部２００は、生成されたデータを、バッファメモリ１９０に格納した後、上位コントローラー４００へ送る。
【００２５】
再生特性測定部１５０がアシンメトリ値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号（プリアンプ１１０から出力される信号）をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号に基づいてアシンメトリ値βを算出する。図３（ａ）〜（ｃ）に上記のＡＣカップリングされた電気信号の例が示されている。再生特性測定部１５０は、図３（ａ）〜（ｃ）に例示される信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）      …（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。
【００２６】
上記のように、図３（ａ）〜（ｃ）は、再生特性測定部１５０において、検出される再生信号（プリアンプ１１０から出力される信号）のアシンメトリの検出例を示すが、そのうち、図３（ａ）はベータ値（β）＜０の場合を示し、図３（ｂ）はベータ値（β）＝０の場合を示し、図３（ｃ）はベータ値（β）＞０の場合を示す。
【００２７】
また、再生特性測定部１５０が変調度値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号のピークレベルＰＫとボトムレベルＢＴを検出する。この場合、アシンメトリを求める場合とは異なり、ＡＣカップリングをせずにそのまま（ＤＣカップリングで）得られた信号のピークレベルＰＫと、ボトムレベルＢＴとを検出し、これらから、以下の式（２）を用いて変調度を算出する。
変調度＝（ＰＫ−ＢＴ）／ＰＫ      …（２）
図４にそのようなＤＣカップリングで得られた信号の一例を示す。図示のように、ピークＰＫ、ボトムＢＴは、ゼロレベル（受光素子３７０への入力がない（光ディスクからの反射光入力がない）ときの出力オフセット値）が基準となる。ピークＰＫ、ボトムＢＴはそれぞれ最長スペース、最長マークのレベルに対応する。
【００２８】
データ記録時には、中央制御部２００は、前記上位コントローラー４００からのデータをバッファメモリ１９０に格納した後、データエンコーダー１６０で誤り訂正符号を付加し、変調規則に従って変調し、記録データを光ディスク５００のフォーマットに従って生成する。
【００２９】
ライトストラテジ制御部１７０は、記録データに基づきライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２００からライトストラテジが設定された後、データエンコーダー１６０から、マークの長さを表す周期数ｎを指定する記録データが与えられると、ライトストラテジ制御部１７０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。
【００３０】
レーザー駆動部３２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザー３１０を駆動する。半導体レーザー３１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。
【００３１】
図５（ａ）〜（ｅ）は、図２に示される光記録装置１００において、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図５（ａ）は、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図５（ｂ）は、図５（ａ）の記録データを光ディスク５００へ記録した場合に形成された光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。ＥＦＭ＋（８−１６）変調された記録データは、最短マークを記録する為の周期数ｎ＝３、即ち３Ｔに対応する長さから、周期数ｎ＝１１、即ち１１Ｔに対応する長さと、最長マークを記録する為の周期数ｎ＝１４、即ち１４Ｔに対応する長さを有する。
図５（ａ）〜（ｅ）は、最短マーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に２番目に短いマーク、即ち４Ｔのマークを記録し、次に４番目に短いマーク、即ち６Ｔのマークを記録する場合を想定している。
【００３２】
図５（ｃ）は、光ディスク５００が書換可能な記録媒体（例えばＤＶＤ−ＲＷ）へデータを記録する場合に、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。また、図５（ｄ）及び図５（ｅ）は、光ディスク５００が追記可能な記録媒体（例えばＤＶＤ−Ｒ）へデータを記録する場合に、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したもので、図５（ｄ）のライトストラテジ信号は、低倍速（例えば１倍速〜４倍速）の記録に用いられ、図５（ｅ）のライトストラテジ信号は、高倍速（例えば４倍速以上）の記録に用いられる。
【００３３】
図５（ｃ）〜（ｅ）の様なライトストラテジ信号をライトストラテジ制御部１７０で生成する為に、中央制御部２００は、複数のライトストラテジパラメータを設定する必要があり、ライトストラテジ信号の形が複雑になる程、その種類は増加する。
【００３４】
中央制御部２００は、光記録装置１００による光ディスク５００への書き込みや読み出しの際に、装置の全体を制御するもので、記録品質測定部１３０からのジッター等の記録品質、再生特性測定部１５０からのアシンメトリ値や変調度値、データデコーダー１４０からの再生データを受ける一方、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、レーザー駆動部３２０、サーボ制御部１８０に制御信号を与える。
【００３５】
中央制御部２００はまた、後に図６乃至図９を参照して説明する記録パラメータの決定、特に記録パラメータの設定値の算出、算出された記録パラメータを用いて行われる試し書きの制御などを行う。
【００３６】
中央制御部２００は例えばＣＰＵ２１０と該ＣＰＵ２１０の動作のためのプログラムを格納した不揮発性のメモリ例えばＲＯＭ２２０とデータを記憶するデータメモリ、例えばＲＡＭ２３０とを備えている。ＲＯＭ２２０に格納されたプログラムは、後に図６を参照して説明される記録パラメータの演算、及び演算や記録パワー調整で必要となる設定値等を定義する部分を含む。ＲＯＭ２２０はまた、後述のように、予め定められた係数などを格納するためにも用いられるものであり、書換可能型のものであるのが望ましい。
【００３７】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００３８】
最初に、例えばランダムな記録データパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク５００への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を再生し、再生特性測定部１５０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２００において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。ここで、アシンメトリ値は、追記型の光ディスク（ＤＶＤ−Ｒや、ＢＤ−Ｒ等）において記録パワーを最適化する場合に用いられる場合が多く、これに対して書換型ディスク（ＤＶＤ−ＲＷや、ＢＤ−ＲＥ等）においては、変調度が用いられる事が多い。変調度も一般に、記録パワーを大きくすれば値は大きくなり、記録パワーを小さくすれば値は小さくなる。
中央制御部２００では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク５００への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。
また、書換型ディスクの場合には、最適記録パワーとなる変調度を目標値とするのではなく、記録パワーに対して、変調度の変化が大きい記録パワーの領域（最適記録パワーよりも小さい記録パワーの領域）における変調度を目標値として、求まった記録パワーに予め設定した係数を掛けることで最適記録パワーを算出する様な方法を用いる場合もある。
【００３９】
以下、図６を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に光ディスク５００が光再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２００に伝えられ、中央制御部２００は、サーボ制御部１８０を介して光ヘッド３００を駆動して、光再生装置１００に挿入された光ディスク５００の種別（ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の種別）や、光ディスク５００が何層ディスクか等を判別する（ステップＳ１１）。
【００４０】
次に、ステップＳ１２において、光ディスク５００とのチルト角度や、サーボ条件等を調整した後、ステップＳ１３において、光ディスク５００から、予めディスクメーカにより記録された記録パラメータ推奨値を読み出す。また、ステップＳ１３においては、読み出す記録パラメータ推奨値の、発光規則や記録速度の情報も同時に読み出しておく。光ディスク５００に複数の発光規則や記録速度に対応した記録パラメータ推奨値が記録されている場合、光ディスク５００への記録に実際に用いる発光規則及び記録速度を選択して記録パラメータ推奨値を光ディスク５００から読み出す。読み出した記録パラメータ推奨値ＷＲは、例えば中央制御部２００のＲＡＭ２３０に保持しておく。
【００４１】
次にステップＳ１４において、読み出した記録パラメータ推奨値と、予め中央制御部２００内に（例えばＲＯＭ２２０に）格納されている記録パラメータ算出用の係数とを用いて、記録に用いる記録パラメータを算出し設定する。その詳細については後に図７を参照して説明する。
【００４２】
然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（ステップＳ１５）、ステップＳ１６において、ステップＳ１４で設定された記録パラメータを用いて前記光ディスク５００への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１４において中央制御部２００内に設定された記録パラメータのライトストラテジをライトストラテジ制御部１７０に設定することにより、ライトストラテジ制御部１７０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ヘッド３００を用いて光ディスク５００への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を光ヘッド３００で再生し、再生特性測定部１５０により検出された再生特性（アシンメトリ値あるいは変調度）とステップＳ１４において設定された記録パラメータのＯＰＣ設定値（アシンメトリ値あるいは変調度）とを中央制御部２００で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００４３】
最後にステップＳ１７において、ステップＳ１４で設定された記録パラメータのライトストラテジと、ステップＳ１６で決定された記録パワーにより、光ディスク５００への本来のデータの書き込み（本書き込み）を開始する。
【００４４】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１１、およびステップＳ１２の処理は、光ヘッド３００、プリアンプ１１０、サーボ制御部１８０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１３の処理は、光ヘッド３００、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、データデコーダー１４０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１４の処理は、中央制御部２００により行われ、ステップＳ１５の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１６の処理は、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、再生特性測定部１５０、中央制御部２００、ライトストラテジ制御部１７０、及び光ヘッド３００により行われ、ステップＳ１７以降のデータ記録処理は、中央制御部２００、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、サーボ制御部１８０、及び光ヘッド３００により行われる。
【００４５】
図７に図６のステップＳ１４の記録パラメータ決定のための処理を詳細に示す。
ステップＳ２０において、ステップＳ１３で光ディスクから読み出した記録パラメータ推奨値の発光規則及び記録速度に対応した記録パラメータ算出係数を中央制御部２００のＲＯＭ２２０から読み出す。また、ステップＳ１３で読み出され、ＲＡＭ２３０に保持されている記録パラメータ推奨値ＷＲをも読み出す。
【００４６】
記録パラメータ算出係数としては、主成分ベクトルＰＣと係数Ｃａ、Ｃｂが読み出される。係数Ｃａ、Ｃｂは近似係数とも呼ばれる。
主成分ベクトルＰＣは、記録パラメータ推奨値と記録パラメータ最適値の差分量に主成分分析を適用することで得られる主成分ベクトルで、次のように表される。
ＰＣ１＝［ＰＣ１１，ＰＣ１２，・・・，ＰＣ１ｎ］
ＰＣ２＝［ＰＣ２１，ＰＣ２２，・・・，ＰＣ２ｎ］
：        ：        ：              ：
ＰＣｍ＝［ＰＣｍ１，ＰＣｍ２，・・・，ＰＣｍｎ］
…（３）
ここで、ｍは主成分分析を行った記録パラメータの数ｎと同じで、ｍが小さい程寄与率が大きいことを示している（寄与率が大きい程、相関が強い）。
主成分分析は、複数の変数に対して、不偏分散が最大となるような新変数（主成分）を統計的に求める分析である。残差に対して同様に不偏分散が最大となる様な主成分を求めることで、寄与率（影響度）順に第１主成分、第２主成分、第３主成分・・・と主成分が求まる（パラメータと同数の主成分が求まる）。この主成分は、元の変数の合成変数で表され主成分ベクトルとして示され、変数の不偏分散が最大となるように求められるため、元の変数相互間の相関が強いベクトル成分として求められる。
ここでは、記録パラメータ推奨値と記録パラメータ最適値の各々のパラメータに対する差分量に対して、主成分分析をしている為、各々のパラメータ相互間の相関が強い順に主成分ベクトルが求まることになる。
【００４７】
また、係数ＣａとＣｂは、記録パラメータの推奨値と記録パラメータの最適値との差分を求める際に使用する係数で、各々記録パラメータの数だけ中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶されている。具体的には次のように表される（ｍは、主成分ベクトルの数である）。
Ｃａ＝［Ｃａ１，Ｃａ２，・・・，Ｃａｍ］
Ｃｂ＝［Ｃｂ１，Ｃｂ２，・・・，Ｃｂｍ］
…（４）
尚、主成分ベクトルＰＣと係数Ｃａｉ、Ｃｂｉ（ｉ＝１、２、…ｍ）は、発光規則及び記録速度毎に中央制御部２００に（例えば、ＲＯＭ２２０に）記憶されている。
【００４８】
次に、ステップＳ２１において、記録パラメータ推奨値と、前記主成分ベクトルから、特徴パラメータＤを算出する。特徴パラメータＤは、ステップＳ１３で光ディスクから読み出し、ステップＳ２０でＲＡＭ２３０から読み出した記録パラメータ推奨値ＷＲとステップＳ２０でＲＯＭ２２０から読み出した主成分ベクトルＰＣから、次のように計算される。
Ｄ１＝ＰＣ１１×ＷＲ１＋ＰＣ１２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ１ｎ×ＷＲｎ
Ｄ２＝ＰＣ２１×ＷＲ１＋ＰＣ２２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ２ｎ×ＷＲｎ
：  
Ｄｍ＝ＰＣｍ１×ＷＲ１＋ＰＣｍ２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣｍｎ×ＷＲｎ
…（５Ａ）
式（５Ａ）は、上式（３）の主成分ベクトルＰＣ１〜ＰＣｍを用いて以下のように書き換えることができる。
【数１】
2010134268.tif 000003
【００４９】
次に、ステップＳ２２において、ステップＳ２１で算出した特徴パラメータＤと、ステップＳ２０で読み出した係数Ｃａ、Ｃｂから、変換パラメータＸを次のように算出する。
Ｘ１＝Ｄ１×Ｃａ１＋Ｃｂ１
Ｘ２＝Ｄ２×Ｃａ２＋Ｃｂ２
：
Ｘｍ＝Ｄｍ×Ｃａｍ＋Ｃｂｍ
…（６Ａ）
【００５０】
次に、ステップＳ２３において、ステップＳ２０で読み出した主成分ベクトルＰＣと、ステップＳ２２で算出した変換パラメータＸから、記録に使用する記録パラメータ（ＷＵ）と記録パラメータの推奨値（ＷＲ）間のオフセット量ＯＦを次のように算出する。
ＯＦ１＝ＰＣ１１×Ｘ１＋ＰＣ２１×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍ１×Ｘｍ
ＯＦ２＝ＰＣ１２×Ｘ１＋ＰＣ２２×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍ２×Ｘｍ
：
ＯＦｎ＝ＰＣ１ｎ×Ｘ１＋ＰＣ２ｎ×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍｎ×Ｘｍ
…（７）
式（７）は、主成分ベクトルＰＣ１〜ＰＣｍを用いて以下のように書き換えることができる。
【数２】
2010134268.tif 000004
式（７ａ）において、ＰＣ１ｔ〜ＰＣｍｔは、それぞれ式（３）で表される１行ｎ列の行列の転置行列（即ち、ｎ行１列の行列）である。
【００５１】
最後に、ステップＳ２４において、ステップＳ２３で算出したオフセット量ＯＦと、ステップＳ１３で読み出した記録パラメータ推奨値ＷＲから、記録に用いる記録パラメータＷＵを次のように算出する。
ＷＵ１＝ＷＲ１＋ＯＦ１
ＷＵ２＝ＷＲ２＋ＯＦ２
：
ＷＵｎ＝ＷＲｎ＋ＯＦｎ
…（８Ａ）
【００５２】
次に、この様にして、記録に用いる記録パラメータが求められる理由について説明する。
記録に用いる記録パラメータＷＵは、光記録装置１００で最適な記録性能が得られる記録パラメータの最適値ＷＯとなるのが理想である。
ここで、記録パラメータの最適値ＷＯは、信号品質が最良となる記録パラメータであるが、各々の光ディスク５００において、信号品質が良好となる記録パラメータは複数存在し、信号品質を維持する条件としては、記録パワーと、ライトストラテジで規定されるパルス幅の関係が互いに反対となる。つまり、記録パワーを大きくして、ライトストラテジで規定されるパルスの幅を狭くするか、逆に記録パワーを小さくして、ライトストラテジで規定されるパルスの幅を広くすることで、信号品質を維持する事が可能である。これは、両者を相反する関係で調整することで、光ディスク５００に与えるトータルの熱量を維持しているためと考えられる。
【００５３】
上記の記録パワーとライトストラテジで規定されるパルス幅の関係により、信号品質を維持することが可能であるが、記録パワーが大きい場合と小さい場合で記録パワーに対するマージンおよび、ライトストラテジで規定されるパルス幅に対するマージンが異なってくる。
記録パワーが大きく、ライトストラテジで規定されるパルス幅が狭い方が、記録パワーに対するマージンが広くなる。逆に、記録パワーが小さく、ライトストラテジで規定されるパルス幅が広い方が、記録パワーに対するマージンが小さくなる。これは、ライトストラテジで規定されるパルス幅が狭い方が、記録パワーが変動した場合の熱量の変化が小さいからである。
一方、ライトストラテジで規定されるパルス幅に対するマージンは、記録パワーに対するマージンとは逆の関係となる。
従って、記録パラメータを最適化する際には、記録パワーとライトストラテジで規定されるパルス幅によるマージンを考慮して、各々を設定するのが望ましい。
【００５４】
ここで、本実施の形態においては、記録に用いる記録パラメータを、光ディスク５００に記録された記録パラメータの推奨値から計算により求める為、誤差を考慮すると、ライトストラテジの変動に対するマージンが広い方が望ましいことになる。
但し、記録パワーに対するマージンも考慮して、記録パワーに対するマージンを光記録装置で不具合が生じないレベルに留める必要がある。
【００５５】
以上の様に、本実施の形態で使用する記録パラメータの最適値ＷＯは、ライトストラテジの変動に対するマージンが広くなるような、つまり記録パワーが低めで、ライトストラテジで規定されるパルス幅が広めとなるような領域で最適化した記録パラメータを用いる。
【００５６】
尚、記録パラメータの最適値ＷＯを、色々な領域（記録パワーの低い領域から高い領域の間）で求める場合、以下の様に、記録パラメータの最適値ＷＯとして求めても良い。記録パラメータの最適値ＷＯを、記録パワーの低い領域から高い領域まで変え、各々の領域で記録パラメータの最適化を行った結果を複数求め、求まった複数の結果（記録パラメータの最適値）を主成分分析などの手法を用い、相関の強い主成分ベクトルＰＣを求める。ここでは、寄与率の最も大きい第１主成分ベクトルＰＣ１を用いる。
ここで、前記主成分ベクトルＰＣを求める際には、同じメーカーの、同じ生産ロットの光ディスク５００ではなく、異なるメーカーの、異なる生産ロットの（従って特性の異なる複数の）光ディスク５００について同様に記録パラメータの最適値を複数求めて、求めた全ての記録パラメータの最適値を主成分分析する様にした方が良い。
但し、光ディスク５００の種類や、ライトストラテジの発光規則等は、同じ条件のものを用いる必要がある。ここで言う「種類」は、ＢＤの追記型か書換型か、ＤＶＤの追記型か書換型かで分類した種類を意味する。また、ライトストラテジの発光規則は、上記の「種類」が同一であっても、記録速度などで、光ディスクに予め記録されている推奨ライトストラテジのタイプ（マルチパルス型やノンマルチパルス型）や設定されるパラメータが異なってくる為、同様のタイプで、同様のパラメータが適用されるもの（即ち「同じ条件のもの」）を用いる必要がある。
【００５７】
次に、求めた第１主成分ベクトルＰＣ１を用いて、記録パラメータの最適値ＷＯを変更する。まず、記録パラメータＷＯの内、基準とするパラメータＷＯｓを選定する。この時、この基準とするパラメータＷＯｓとしては、ライトストラテジで規定されるパルスの幅に関連するパラメータを選定し、また第１主成分ベクトルＰＣ１内において、出来るだけベクトル量（ベクトルの絶対値）が大きい（言い換えると、第１主成分ベクトルＰＣ１と同じ方向の成分が大きい）パラメータを選定するのが望ましい。
【００５８】
次に、既に求めている記録パラメータの最適値ＷＯを通り、第１主成分ベクトルＰＣ１に平行な直線の方向にシフトさせる。この時、前記選定したパラメータＷＯｓを所望の値、例えば、ライトストラテジで規定されるパルスの幅に合わせる様にシフトする。この時の前記パラメータＷＯｓの所望の値は、例えば、ライトストラテジに対するマージンが十分確保できる様な設定とする。
以上の様に、記録パラメータの最適値ＷＯを求める。
【００５９】
また、光ディスク５００には、光ディスクメーカーが特定の光記録装置で最適となるように設定した記録パラメータの推奨値ＷＲが記録されており、この記録パラメータの推奨値ＷＲと、記録パラメータの最適値ＷＯの関係式が求まれば、記録パラメータの推奨値ＷＲから、記録に用いる記録パラメータＷＵを求める事が可能となる。
本発明の実施の形態においては、記録パラメータの推奨値ＷＲと記録パラメータの最適値ＷＯの関係式に、前記両者の値の差と、相関の強い主成分ベクトル（主成分分析を適用することによって得られる主成分ベクトル）を用いる様にした。
【００６０】
まず、記録パラメータの最適値ＷＯと記録パラメータの推奨値ＷＲの差ＤＦ（＝ＷＯ−ＷＲ）を複数（ｋ種類）の光ディスク５００について以下の様に求める。
ＤＦ１
＝｛ＷＯ１１−ＷＲ１１，ＷＯ１２−ＷＲ１２，・・・，ＷＯ１ｎ−ＷＲ１ｎ｝
ＤＦ２
＝｛ＷＯ２１−ＷＲ２１，ＷＯ２２−ＷＲ２２，・・・，ＷＯ２ｎ−ＷＲ２ｎ｝
：            ：                  ：                          ：
ＤＦｋ
＝｛ＷＯｋ１−ＷＲｋ１，ＷＯｋ２−ＷＲｋ２，・・・，ＷＯｋｎ−ＷＲｋｎ｝
…（９）
ここで、ｎは記録パラメータの数、ｋは計算に用いる光ディスク５００の数である。
得られた差ＤＦを主成分分析することで、主成分ベクトルが得られる。
ＰＣ１＝［ＰＣ１１，ＰＣ１２，・・・，ＰＣ１ｎ］
ＰＣ２＝［ＰＣ２１，ＰＣ２２，・・・，ＰＣ２ｎ］
：        ：        ：              ：
ＰＣｍ＝［ＰＣｍ１，ＰＣｍ２，・・・，ＰＣｍｎ］
…（１０）
【００６１】
主成分ベクトルは、寄与率の高い（相関の強い）第１主成分ＰＣ１から、第ｍ主成分ＰＣｍ（ｍは、記録パラメータの数ｎに等しい）までが得られる。
次に、各光ディスク５００において、光ディスク５００に依存して変わる値を変換パラメータＸとすると、差ＤＦと主成分ベクトルＰＣとの関係は、以下の線形方程式として表せる（以下は光ディスク５００の１種類についての計算式であり、各々の光ディスク５００に対して同様の計算を行う）。
ＤＦ１＝ＰＣ１１×Ｘ１＋ＰＣ２１×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍ１×Ｘｍ
ＤＦ２＝ＰＣ１２×Ｘ１＋ＰＣ２２×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍ２×Ｘｍ
：
ＤＦｎ＝ＰＣ１ｎ×Ｘ１＋ＰＣ２ｎ×Ｘ２＋・・・＋ＰＣｍｎ×Ｘｍ
…（１１）
式（１１）は、主成分ベクトルＰＣ１〜ＰＣｍを用いて以下のように書き換えることができる。
【数３】
2010134268.tif 000005
式（１１ａ）においてＰＣ１ｔ、ＰＣ２ｔ、…ＰＣｍｔは、式（７ａ）に関し説明したのと同じものである。
差ＤＦおよび主成分ベクトルＰＣが既知であることから、この線形方程式を解くことで変換パラメータＸの値を求める事ができる。
【００６２】
次に、変換パラメータＸは、光ディスク５００に依存して変わる値であり、光ディスク５００から得る事ができる記録パラメータの推奨値ＷＲと関連づけることで、変換パラメータＸが求められる様にする。そうすることで、変換パラメータＸと主成分ベクトルＰＣから、差ＤＦが求まり、差ＤＦを記録パラメータの推奨値ＷＲに加算することで、記録に用いるべき記録パラメータＷＵが導出可能となる。
【００６３】
変換パラメータＸと、記録パラメータの推奨値ＷＲとの関連づけは、既に求めた主成分ベクトルＰＣを使用する。
まず、主成分ベクトルＰＣの主成分毎（第１主成分〜第ｍ主成分）に記録パラメータの推奨値ＷＲを掛けた値を合計することで、光ディスク５００各々の特徴を示すことになる特徴パラメータＤを以下のように計算する（以下は光ディスク５００の１種類についての計算式であり、各々の光ディスク５００に対して同様の計算を行う）。
Ｄ１＝ＰＣ１１×ＷＲ１＋ＰＣ１２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ１ｎ×ＷＲｎ
Ｄ２＝ＰＣ２１×ＷＲ１＋ＰＣ２２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ２ｎ×ＷＲｎ
：
Ｄｍ＝ＰＣｍ１×ＷＲ１＋ＰＣｍ２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣｍｎ×ＷＲｎ
…（５Ｂ）
式（５Ｂ）は、式（５Ａ）と同様に、主成分ベクトルＰＣ１〜ＰＣｍを用いて表すことができる。
【００６４】
複数（ｋ種類）の光ディスク５００で求めた、特徴パラメータＤと、変換パラメータＸの関係は、比例関係にあり、係数Ｃａ、Ｃｂを使って以下のように一次式で近似することができる。ここで、ｘは、各々の光ディスク５００の結果であることを示すインデックス値でｘ＝１〜ｋである。
Ｘ１（ｘ）＝Ｃａ１×Ｄ１（ｘ）＋Ｃｂ１
Ｘ２（ｘ）＝Ｃａ２×Ｄ２（ｘ）＋Ｃｂ２
：
Ｘｍ（ｘ）＝Ｃａｍ×Ｄｍ（ｘ）＋Ｃｂｍ
…（１２）
実際に求めた特徴パラメータＤ１（ｘ）と変換パラメータＸ１（ｘ）との関係を、図８、図９に示す。ここで、図８は、ＤＶＤ−Ｒにおける結果で、図９は、ＢＤ−Ｒにおける結果を示しており、両者共に直線近似できていることが分かる。尚、特徴パラメータＤ１と変換パラメータＸ１の関係と同様に、第２主成分以降の特徴パラメータＤと変換パラメータＸの関係も直線近似できる。
【００６５】
以上のことから、予め調べた主成分ベクトルＰＣと、特徴パラメータＤと変換パラメータＸとの関係を示す係数Ｃａ、Ｃｂおよび、記録パラメータの推奨値ＷＲが分かれば、記録パラメータの最適値ＷＯと同等の、記録に用いるべき記録パラメータＷＵを求めることができる。
【００６６】
尚、主成分ベクトルと、係数Ｃａ、Ｃｂを求める為に、予め記録パラメータの最適値を複数の光ディスク５００で調べておく必要があるが、全ての光ディスク５００に対して、調べる必要はなく、特に光ディスク５００に記録されている記録パラメータの推奨値が大きく異なる光ディスクを選定する様にすれば良い。
また、主成分分析によって得られる相関の強い主成分ベクトルを用いて、記録パラメータの推奨値と、記録パラメータの最適値の関係を求めている為、予め調査していない光ディスク５００に対しても、記録パラメータの推奨値が記録されていれば、その発光規則および記録倍速に対応した主成分ベクトルと、係数Ｃａ、Ｃｂを用いることで、記録に用いるべき記録パラメータＷＵを求めることができる。
【００６７】
以上の様に本実施の形態１においては、記録パラメータの最適値と光ディスク５００に記録されている記録パラメータの推奨値とから、予め、記録パラメータの最適値と推奨値の差を主成分分析した結果で得られる主成分ベクトルと、特徴パラメータＤと変換パラメータＸとの関係式に用いる係数Ｃａ、Ｃｂを求めておき、記録に用いる光ディスク５００に記録された記録パラメータの推奨値から、予め設定した主成分ベクトル、係数Ｃａ、Ｃｂを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを算出できるようにしている為、光ディスク５００に対応した最適な記録パラメータが不明な場合も、最適な記録パラメータを求めることができる。
【００６８】
また、光ディスク５００に記録された記録パラメータの推奨値と、予め中央制御部２００に記憶した主成分ベクトルと係数Ｃａ、Ｃｂから、計算により記録に用いる記録パラメータを算出する様にしているので、試し書きで記録パラメータの特にライトストラテジを調整する場合に比べ、記録開始までに余分な調整時間がかかることがない。また、膨大な記録パラメータの最適値を中央制御部２００に記憶しておく必要がなく、光記録装置１００が記録に対応する、光ディスク５００の種類（ＢＤやＤＶＤ、ＣＤ等）、及び発光波形規則や記録倍速に対応した主成分ベクトルと係数Ｃａ、Ｃｂのみを保持するだけで良く、メモリ容量を節減できる。
【００６９】
なお、上記のように、各光記録媒体について記録パラメータの最適値は複数存在するが、光記録媒体の記録パラメータ推奨値と、記録に用いる光記録方法における記録パラメータの最適値との差分量を複数の光記録媒体について予め調べておき、該差分量を主成分分析することで求まる主成分ベクトルをベクトル情報として用いる場合には、ベクトル情報の決定のために用いられる記録パラメータの最適値として、記録パワーの変動が許容できる範囲内でかつ、低い記録パワーで良好な記録性能が得られる様に最適化されたものを用いることとしても良く、また記録パワー又はライトストラテジで規定されるパルス幅のパラメータが複数の光記録媒体相互間で互いに近い値となるように最適化されたものを用いることとしても良い。
【００７０】
実施の形態２．
次に、実施の形態２の光記録方法の手順を説明する。
一般的に光記録装置１００は、中央制御部２００内（例えばＲＯＭ２２０内）に光ディスク５００のＩＤにそれぞれ対応した記録パラメータのリストを保持している。ここで、記録パラメータのリスト（テーブル）には、ライトストラテジの各パラメータの設定値、及びパワー調整を行う場合の目標値となるアシンメトリ値や変調度等が一緒に保持されている。図１０に記録パラメータのリストの一例を示している。ここで、光ディスク５００のＩＤは、光ディスク５００を作成するメーカーが予め設定したもので、光ディスク５００に（例えばリードインエリア等に）固有情報として記録されている。
【００７１】
実施の形態２においては、この記録パラメータのリストとして、光ディスク５００のＩＤと対応する記録パラメータの代わりに、特徴パラメータＤと対応する記録パラメータのオフセット量のリストを保持する様にしている。
【００７２】
図１１は、特徴パラメータＤに応じた記録パラメータのオフセット量ＷＰのリストの一例を示している。
特徴パラメータＤの求め方は、実施の形態１の場合と概略同じであり、記録パラメータのオフセット量ＷＰは、実施の形態１における、記録パラメータの最適値ＷＯと記録パラメータの推奨値ＷＲの差ＤＦ（＝ＷＯ−ＷＲ）に相当し、特徴パラメータＤ毎にリスト化したものである。
【００７３】
尚、図１１においては、特徴パラメータＤは、主成分分析で得られる、全ての主成分（主成分分析を行った記録パラメータ数と同数）に対応した特徴パラメータＤ（Ｄｉ１〜Ｄｉｎ）を用いているが、寄与率の大きい主成分に対応した特徴パラメータＤのみを用いる様にしても良い。
【００７４】
実施の形態２の光記録方法の手順は、実施の形態１に関して図６を参照して説明した方法と概して同じである。しかし、ステップＳ１４の記録パラメータ決定の具体的な方法が異なる。即ち、図７を参照して説明した方法の代わりに、図１２に示される方法で行なわれる。
【００７５】
図１２において、ステップＳ３０においては、図７のステップＳ２０と同様に、ステップＳ１３で光ディスクから読み出した記録パラメータ推奨値の発光規則及び記録速度に対応した記録パラメータ算出係数として、主成分ベクトルＰＣを中央制御部２００のＲＯＭ２２０から読み出す。また、ステップＳ１３で読み出され、ＲＡＭ２３０に保持されている記録パラメータ推奨値ＷＲをも読み出す。
【００７６】
次にステップＳ３１において、ステップＳ１３で光ディスクから読み出され、ステップＳ３０でＲＡＭ２３０から読み出された記録パラメータ推奨値ＷＲと、主成分ベクトルＰＣから、特徴パラメータＤを算出する。
ここで、主成分ベクトルは予め中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶されており、使用される光ディスク５００の種類（ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤ等）と読み出された記録パラメータ推奨値の発光規則および記録倍速の条件に合った主成分ベクトルが特徴パラメータＤの計算に用いられる。
【００７７】
特徴パラメータＤは、記録パラメータ推奨値ＷＲと、前記主成分ベクトルＰＣから、次のように計算する。ここで、ｎは記録パラメータ数を、ｍは主成分分析を行った記録パラメータの数ｎと同じで、ｍが小さい程寄与率が大きいことを示している（寄与率が大きい程、相関が強い）。
Ｄ１＝ＰＣ１１×ＷＲ１＋ＰＣ１２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ１ｎ×ＷＲｎ
Ｄ２＝ＰＣ２１×ＷＲ１＋ＰＣ２２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣ２ｎ×ＷＲｎ
：  
Ｄｍ＝ＰＣｍ１×ＷＲ１＋ＰＣｍ２×ＷＲ２＋・・・＋ＰＣｍｎ×ＷＲｎ
…（５Ｃ）
式（５Ｃ）も、式（５Ａ）と同様に、主成分ベクトルＰＣ１〜ＰＣｍを用いて表すことができる。
【００７８】
次に、ステップＳ３２において、ステップＳ３１で求めた特徴パラメータＤと図１１のリスト中の特徴パラメータＤを比較し、両者が同一となる記録パラメータのオフセット量ＷＰｉ１〜ＷＰｉｎを求める。
【００７９】
次に、ステップＳ３４において、ステップＳ３２で求めた記録パラメータのオフセット量ＷＰｉ１〜ＷＰｉｎを、ステップＳ１３で光ディスク５００から読み出した記録パラメータ推奨値ＷＲに加算することで、記録に用いる記録パラメータＷＵを算出する。
この演算は下記の式で表される。
ＷＵ１＝ＷＲ１＋ＷＰｉ１
ＷＵ２＝ＷＲ２＋ＷＰｉ２
：
ＷＵｎ＝ＷＲｎ＋ＷＰｉｎ
…（１３）
【００８０】
尚、本実施の形態２においては、特徴パラメータＤに対応した、記録パラメータのオフセット量をリストに持つようにしているが、記録パラメータのオフセット量でなくても良い。例えば、記録パラメータのオフセット量の代わりに、特徴パラメータＤに対応した変換パラメータＸをリストとして持つようにしても良い。この場合、ステップＳ３３における記録パラメータの算出は、リストで保持するデータに応じて、計算を変更する必要がある。
【００８１】
また、ステップＳ３１で算出した特徴パラメータＤと同じ値が、記録パラメータリストに含まれていない場合は、実施の形態１と同様に計算をする様にすれば良い。
さらに、記録パラメータリストは、中央制御部２００内（例えばＲＯＭ２２０内）に保持する様にしているが、ＲＯＭ２２０を書き換え可能なもの、例えばＥＥＰＲＯＭを用いる様にして、特徴パラメータＤがリストに無かった場合、新たに追加する様にしても良い。
【００８２】
以上の様に、本実施の形態２においては、記録パラメータ推奨値から計算する特徴パラメータＤ毎に、記録パラメータの最適値と記録パラメータの推奨値の差分量のリストを光記録装置に記憶しておき、光ディスク５００の記録パラメータ推奨値から計算した特徴パラメータＤに対応する、記録パラメータの差分量を選択し、記録パラメータ推奨値に前記差分量を加算することで、記録に用いる記録パラメータを算出する様にした為、従来の光ディスク５００のＩＤ毎にリストを保持していた場合と比べて、記録パラメータが同一となるような、情報が複数重複することなく、メモリ容量を効率良く使うことができる。また、実施の形態１と比べ、式（６Ａ）及び式（７）の演算を省略することができる。
【００８３】
実施の形態３．
次に、実施の形態３の光記録方法の手順を説明する。
実施の形態３の光記録方法の手順は、実施の形態１に関して図６を参照して説明した方法と概して同じである。しかし、ステップＳ１４の記録パラメータ決定の具体的な方法が異なる。即ち、図７を参照して説明した方法の代わりに、図１３に示される方法で行なわれる。
【００８４】
ステップＳ４０において、図７のステップＳ２０と同様に、ステップＳ１３で光ディスクから読み出した記録パラメータ推奨値ＷＲと、予め設定され、中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶されている記録パラメータ算出係数Ｄａ、Ｄｂを読み出す。また、ステップＳ１３で読み出され、ＲＡＭ２３０に保持されている記録パラメータ推奨値ＷＲをも読み出す。
ここで、係数Ｄａ、Ｄｂは、記録パラメータの推奨値と記録パラメータの最適値との差分を求める際に使用する係数であり、近似係数とも呼ばれ、各々記録パラメータの数だけ中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶されている。係数Ｄａ、Ｄｂは次の様に表される（ｎは、記録パラメータの数である）。
Ｄａ＝｛Ｄａ１，Ｄａ２，・・・，Ｄａｎ｝
Ｄｂ＝｛Ｄｂ１，Ｄｂ２，・・・，Ｄｂｎ｝
…（１４）
【００８５】
係数Ｄａｉ、Ｄｂｉ（ｉ＝１、２、…ｎ）は、発光規則及び記録速度毎に中央制御部２００のＲＯＭ２２０に記憶されている。
【００８６】
次にステップＳ４４において、ステップＳ１３で光ディスクから読み出し、ステップＳ４０でＲＡＭ２３０から読み出した、記録パラメータ推奨値ＷＲと、ステップＳ４０でＲＯＭ２２０から読み出した記録パラメータ算出係数Ｄａｉ、Ｄｂｉを用いて、以下の様に、記録に用いる記録パラメータＷＵを算出する。
ＷＵ１＝ＷＲ１×（Ｄａ１＋１）＋Ｄｂ１
ＷＵ２＝ＷＲ２×（Ｄａ２＋１）＋Ｄｂ２
：
ＷＵｎ＝ＷＲｎ×（Ｄａｎ＋１）＋Ｄｂｎ
…（１５）
【００８７】
次に、この様にして、記録に用いる記録パラメータが求められる理由について説明する。
記録に用いる記録パラメータＷＵは、光記録装置１００で最適な記録性能が得られる記録パラメータの最適値ＷＯとなるのが理想である。
本実施の形態３においては、記録パラメータの最適値ＷＯと記録パラメータの推奨値ＷＲとの差ＤＦと、記録パラメータの推奨値ＷＲとの関係は、線形に近似が可能であり、上記の係数Ｄａ、Ｄｂは、複数の光記録媒体の記録パラメータの推奨値ＷＲと、記録に使用すべき記録パラメータの最適値ＷＯとの差分量ＤＦと、記録パラメータの推奨値ＷＲの関係を近似することで求めたものであり、例えば以下の様な関係が成り立つように定められている。
ＤＦ１＝ＷＯ１−ＷＲ１＝Ｄａ１×ＷＲ１＋Ｄｂ１
ＤＦ２＝ＷＯ２−ＷＲ２＝Ｄａ２×ＷＲ２＋Ｄｂ２
：
ＤＦｎ＝ＷＯｎ−ＷＲｎ＝Ｄａｎ×ＷＲｎ＋Ｄｂｎ
…（１６）
【００８８】
従って、記録パラメータの最適値ＷＯは、以下のように変形できる。
ＷＯ１＝ＷＲ１×（Ｄａ１＋１）＋Ｄｂ１
ＷＯ２＝ＷＲ２×（Ｄａ２＋１）＋Ｄｂ２
：
ＷＯｎ＝ＷＲｎ×（Ｄａｎ＋１）＋Ｄｂｎ
…（１７）
【００８９】
記録に用いる記録パラメータＷＵは、記録パラメータの最適値ＷＯと等しいことが理想の為、記録に用いる記録パラメータＷＵを求めるには、上式における記録パラメータの最適値ＷＯを、記録に用いる記録パラメータＷＵとすれば良いことになる。即ち、式（１７）でＷＯをＷＵに置き換えれば式（１５）が得られる。
尚、記録パラメータの最適値ＷＯは実施の形態１と同様に求めることが必要である。
また、本実施の形態３は、本実施の形態１に比べて、計算量を少なくできるが、求められる記録に用いる記録パラメータＷＵの誤差（記録パラメータの最適値ＷＯからの誤差）は、大きくなる。
【００９０】
以上の様に、実施の形態３においては、記録パラメータの最適値と光ディスク５００に記録されている記録パラメータの推奨値とから、予め、記録パラメータの最適値と推奨値の差と、記録パラメータの推奨値の関係を線形近似することで、係数Ｄａ、Ｄｂを求めておき、記録に用いる光ディスク５００に記録された記録パラメータの推奨値から、予め設定した係数Ｄａ、Ｄｂを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを算出できるようにしている為、光ディスク５００に対応した最適な記録パラメータが不明な場合も、最適な記録パラメータを求めることができる。
【００９１】
また、光ディスク５００に記録された記録パラメータの推奨値と、予め中央制御部２００に記憶した係数Ｄａ、Ｄｂから、計算により記録に用いる記録パラメータを算出する様にしているので、試し書きで記録パラメータの特にライトストラテジを調整する場合に比べ、記録開始までに余分な調整時間がかかることがない。また、膨大な記録パラメータの最適値を中央制御部２００に記憶しておく必要がなく、光記録装置１００が記録に対応する、光ディスク５００の種類（ＢＤやＤＶＤ、ＣＤ等）、及び発光波形規則や記録倍速に対応した係数Ｄａ、Ｄｂのみを保持するだけで良く、メモリ容量を節減できる。
【００９２】
実施の形態４．
次に、実施の形態４の光記録方法の手順を説明する。
図１４に、本実施の形態４の光記録方法の手順を示す。ここで、ステップＳ１６以前の処理および、ステップＳ１７以降の処理は、図６や、図１２と同様であるため省略する。
ステップＳ１６において、記録パワーの調整が行われた後、ステップＳ１６で調整された記録パワーと、ステップＳ１４において決定された記録に用いる記録パラメータのライトストラテジとを用いて、ステップＳ５１において試し書きを行い、記録した信号を再生してその信号品質（記録品質）を測定する。この試し書きは、例えば、光ディスク５００に設けられているテスト記録領域を用いて行う。
【００９３】
ステップＳ５２では、測定した信号品質（記録品質）を、予め設定した基準値と比較して、問題無いかどうかを判断する。この判断は、記録性能判断とも呼ばれる。
ステップＳ５２の判断が、性能ＯＫの場合（ＹＥＳの場合で、基準値よりも良好な性能の場合）は、ステップＳ１７でデータの記録を開始する。
ステップＳ５２の判断が、性能ＮＧの場合（ＮＯの場合で、基準値よりも性能が悪い場合）は、ステップＳ５３の処理を行う。
【００９４】
ステップＳ５３では、ステップＳ５１の試し書きで用いられた記録パラメータのうち、一部のパラメータを変更し、再度ステップＳ５１で、変更された記録パラメータを用いて試し書きを行い、以降同様の処理を行う。
ここで、ステップＳ５３で変更する記録パラメータは、例えば、係数Ｃａ、Ｃｂや、係数Ｄａ、Ｄｂを求めた際の近似精度（相関の強さ）が低いパラメータを優先的に選択する。この近似精度は、係数Ｃａ、ＣｂやＤａ、Ｄｂと共に、中央制御部２００に保持しておく。こうすることで、記録に用いる記録パラメータのうち、本来記録に用いるべき記録パラメータの最適値からのずれが大きい記録パラメータを優先的に修正できることになる。
また、ステップＳ５３で変更する記録パラメータとして、記録性能への影響が大きい記録パラメータを予め調べておき、記録性能への影響が大きい記録パラメータを修正する様にしても良い。
【００９５】
尚、図１４においては、ステップＳ５２において、性能が基準値をクリアするまで繰り返しステップＳ５３、ステップＳ５１の処理を繰り返す様にしているが、例えば、試し書きを実行する回数の制限を設けておき、制限を超えた場合は、以降の記録パラメータの変更を停止する様にしても良い。また、その時までに得られた記録パラメータのうち、最も性能の良かった記録パラメータを用いて、ステップＳ１７以降でデータを記録することとしても良い。但し、記録しても再生出来ないような性能が劣悪な事が明らかな場合は、ステップＳ１７以降の処理をせずに、停止するようにしても良い。
また、図１４においては、ステップＳ５３で記録パラメータを変更した後、ステップＳ５１の試し書きを行う様にしているが、ステップＳ１６のパワー調整を行ってから、ステップＳ５１の試し書きを行う様にしても良い。
【００９６】
以上の様に、本実施の形態４においては、光ディスク５００から読み出した記録パラメータの推奨値から、予め設定した係数及び関係式を用いて記録に用いるべき記録パラメータを算出した後、試し書きにより、記録品質をチェックする処理と、記録品質が悪い場合に、算出した記録パラメータを修正する処理を追加した為、計算による記録パラメータの結果に誤差が生じていても、適切な記録パラメータに修正する事ができる。
【００９７】
また、計算により求めた記録パラメータを基準として、記録パラメータの修正を行う為、記録パラメータの最適値に近いパラメータからの修正となり、少ない試し書きの回数で、適切な記録パラメータの修正を行うことができる。
また、係数Ｃａ、Ｃｂや係数Ｄａ、Ｄｂを求めた時の近似精度（相関の強さ）の情報を保持しておき、近似精度が悪い（相関が弱い）記録パラメータを優先的に、修正する様にしているため、記録パラメータの最適値からのずれが大きい記録パラメータが先に修正される可能性が高く、少ない試し書きの回数で適切な記録パラメータの修正を行うことができる。
【００９８】
また、最適な記録パラメータに非常に近い状態から記録パラメータの修正を行うので、少ない試し書きで、修正が可能で、記録開始までの待機時間を短縮でき、テスト記録領域の消費も少なく抑える事ができる。
また、上記求めた記録パラメータによる記録再生性能のチェック、及び記録パラメータの修正を行う様にしている為、光記録装置の個々のバラツキや、光ディスクの個々のバラツキに対しても、良好な記録再生性能を実現することができる。
【００９９】
また、本実施の形態においては、主成分分析により主成分ベクトルを求める様にしているが、主成分分析に限らず、多変量を統計的に解析する、例えば独立成分分析法等の異なる手法を用いても良い。
【０１００】
また、本実施の形態においては、光記録装置１００が、ＥＦＭ＋（８−１６）変調した記録データを光ディスク５００へ記録する場合（例えば光ディスク５００がＤＶＤの場合）について示していたが、光ディスクへの情報の記録が１−７変調した記録データを光ディスク５００へ記録する場合（例えば光ディスク５００がＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃの場合）等にも適用でき、特に変調方式等に依存しない。少なくとも、光ディスク５００に記録パラメータの推奨値が記録されており、その発光規則や記録倍速に対応した主成分ベクトルおよび、係数Ｃａ、Ｃｂが予め求めることができていれば良い。
【０１０１】
更に、本実施の形態においては、主成分分析で得られた主成分ベクトルを全て利用する様にしていたが、寄与率の小さい主成分ベクトルは、記録パラメータに殆ど影響しない為、主成分ベクトルの寄与率に応じて、利用するかしないかを選定するようにしても良い。
【０１０２】
また、本実施の形態においては、記録パラメータとして、ライトストラテジおよびＯＰＣ用設定値の全てを用いて、主成分分析を行う様にしているが、光ディスク５００によって、設定変更しないパラメータについては、そのパラメータを主成分分析に含めなくても良い。
また、例えば、ライトストラテジとＯＰＣ用設定値で、別々に主成分分析を行う様にしても良い。ただし、その場合は、他の計算についても別々に行う必要があり、主成分分析に用いた記録パラメータ毎に計算を行うようにすれば良い。
【０１０３】
また、本実施の形態においては、特徴パラメータＤを主成分ベクトルＰＣの主成分毎（第１主成分〜第ｍ主成分）に記録パラメータの推奨値ＷＲを掛けた値を合計することで求めていたが、合計ではなくて平均値としても良い。また、主成分毎（第１主成分〜第ｍ主成分）に記録パラメータの推奨値ＷＲを掛けた値から、ユークリッド距離や、マハラノビスの距離などを利用することも可能である。但し、特徴パラメータＤと、変換パラメータＸの関係が一次式で近似できる必要がある。ただし、必ずしも一次式で近似できる必要はなく、特徴パラメータＤから変換パラメータＸへ一意に変換できる規則及び変換式が求まれば、その規則及び変換式を用いる様にしても良い。
【０１０４】
また、本実施の形態においては、主成分ベクトル、係数Ｃａ、Ｃｂを予め求める様にしているが、各型式の光記録装置に対して一度行えば良く、同じ型式の多数の光記録装置に対して同じ係数を用いることができる。即ち、ある型式の光記録装置に関して係数を求めたら、求められた係数を同じ型式の光記録装置に設定して出荷することとすれば良い。
【符号の説明】
【０１０５】
１００  光記録装置、  １１０  プリアンプ、  １２０  再生信号処理部、  １３０  記録品質測定部、  １４０  データデコーダー、  １５０  再生特性測定部、  １６０  データエンコーダー、  １７０  ライトストラテジ制御部、  １８０  サーボ制御部、  １８１  スピンドルモーター、  １８２  スレッドモーター、  １９０  バッファメモリ、  ２００  中央制御部、  ２１０  ＣＰＵ、  ２２０  ＲＯＭ、  ２３０  ＲＡＭ、  ３００  光ヘッド、  ３１０  半導体レーザー、  ３２０  レーザー駆動回路、  ３３０  コリメートレンズ、  ３４０  ビームスプリッタ、  ３５０  対物レンズ、  ３６０  検出レンズ、  ３７０  受光素子、  ４００  上位コントローラー、  ５００  光ディスク。
【図１】
2010134268.tif 000006
【図２】
2010134268.tif 000007
【図３】
2010134268.tif 000008
【図４】
2010134268.tif 000009
【図５】
2010134268.tif 000010
【図６】
2010134268.tif 000011
【図７】
2010134268.tif 000012
【図８】
2010134268.tif 000013
【図９】
2010134268.tif 000014
【図１０】
2010134268.tif 000015
【図１１】
2010134268.tif 000016
【図１２】
2010134268.tif 000017
【図１３】
2010134268.tif 000018
【図１４】
2010134268.tif 000019
【手続補正書】
【提出日】平成23年7月1日(2011.7.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の第１の態様の光記録方法は、
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする。
本発明の第２の態様の光記録方法は、
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を独立成分分析することで、求まるベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする。
本発明の第３の態様の光記録方法は、
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求められたベクトル情報との積から各光記録媒体の特徴を示す特徴情報を算出する特徴情報算出工程と、
前記特徴情報算出工程で算出した前記特徴情報に対応して予め定められ記憶手段に記憶されている、光記録媒体の前記記録パラメータ推奨値と、記録に用いるべき記録パラメータ最適値との差分値を前記記憶手段から抽出する差分値抽出工程と、
前記差分値抽出工程で抽出した前記差分値に前記記録パラメータ推奨値を加算することで、記録に用いる記録パラメータを決定する、記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分である
ことを特徴とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を独立成分分析することで、求まるベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項３】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求められたベクトル情報との積から各光記録媒体の特徴を示す特徴情報を算出する特徴情報算出工程と、
前記特徴情報算出工程で算出した前記特徴情報に対応して予め定められ記憶手段に記憶されている、光記録媒体の前記記録パラメータ推奨値と、記録に用いるべき記録パラメータ最適値との差分値を前記記憶手段から抽出する差分値抽出工程と、
前記差分値抽出工程で抽出した前記差分値に前記記録パラメータ推奨値を加算することで、記録に用いる記録パラメータを決定する、記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分である
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項４】
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであることを特徴とする請求項３に記載の光記録方法。
【請求項５】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワーの変動が許容できる範囲内でかつ、低い記録パワーで良好な記録性能が得られる様に最適化された値であることを特徴とする請求項１、２又は４に記載の光記録方法。
【請求項６】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワー又はライトストラテジで規定されるパルス幅のパラメータが複数の光記録媒体相互間で互いに近い値となるように最適化されたものであることを特徴とする請求項１、２又は４に記載の光記録方法。
【請求項７】
前記近似係数は、
前記変換情報と、前記特徴情報との関係を複数の光記録媒体で求めておき、
前記特徴情報と前記変換情報の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットである
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録方法。
【請求項８】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
前記記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り工程と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り工程で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定工程と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録方法により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
を有し、
前記近似係数は、複数の光記録媒体の記録パラメータの推奨値と、記録に使用すべき記録パラメータの最適値との差分量と、記録パラメータの推奨値の関係を近似することで求めたものであることを特徴とする光記録方法。
【請求項９】
前記近似係数は、前記差分量と前記記録パラメータの推奨値の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットであることを特徴とする請求項８に記載の光記録方法。
【請求項１０】
前記記録パラメータ決定工程で決定された記録パラメータを用いて、試し書きすることにより、記録性能を確認し、該記録性能が予め定めた基準の記録性能よりも良いか悪いかを判断する記録性能判断工程と、
前記記録性能判断工程で、基準の記録性能よりも悪いと判断された場合に、
前記記録パラメータを修正する、記録パラメータ修正工程とをさらに有し、
前記書き込み工程は、前記記録性能判断工程で、基準の記録性能よりも良いと判断された場合に、当該試し書きに用いられた記録パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行い、
前記近似係数を求める際に、各々の記録パラメータに対する近似精度を求めておき、
前記記録パラメータ修正工程において、前記近似精度の悪い記録パラメータから優先的に記録パラメータの修正を行うことを特徴とする請求項１、２又は８に記載の光記録方法。
【請求項１１】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１２】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めたベクトル情報と近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有し、
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を独立成分分析することで、求まるベクトルであり、
前記近似係数は、前記記録パラメータ推奨値と前記ベクトル情報から求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報から、前記ベクトル情報と前記パラメータ差分値との関係を示す変換情報へ一意に変換できる様に定めた規則及び変換式による変換用の係数であり、
前記変換情報は、前記ベクトル情報を線形方程式の係数とし、前記パラメータ差分値を前記線形方程式の定数とした時の、線形方程式の解であり、
前記特徴情報は、前記記録パラメータ推奨値の各パラメータに、前記ベクトル情報による重み付けをすることで求める各光記録媒体の特徴を示す特徴情報である
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１３】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求められたベクトル情報との積から各光記録媒体の特徴を示す特徴情報を算出する特徴情報算出手段と、
前記特徴情報算出手段で算出した前記特徴情報に対応して予め定められ記憶手段に記憶されている、光記録媒体の前記記録パラメータ推奨値と、記録に用いるべき記録パラメータの最適値との差分値を前記記憶手段から抽出する差分値抽出手段と、
前記差分値抽出手段で抽出した前記差分値に前記記録パラメータ推奨値を加算することで、記録に用いる記録パラメータを決定する、記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有し、
前記ベクトル情報は、複数の光記録媒体に対する記録パラメータ最適値と前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値に対して、パラメータ相互間の相関が強くなる様に統計的に求めた各パラメータのベクトル成分である
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１４】
前記ベクトル情報は、光記録媒体の前記記録パラメータ最適値と、前記記録パラメータ推奨値との各々のパラメータ差分値を複数の光記録媒体について予め調べておき、前記差分値を主成分分析することで、求まる主成分ベクトルであることを特徴とする請求項１３に記載の光記録装置。
【請求項１５】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワーの変動が許容できる範囲内でかつ、低い記録パワーで良好な記録性能が得られる様に最適化された値であることを特徴とする請求項１1、１２又は１４に記載の光記録装置。
【請求項１６】
前記ベクトル情報の決定のために用いられる前記記録パラメータ最適値は、記録パワー、又はライトストラテジで規定されるパルス幅のパラメータが複数の光記録媒体相互間で互いに近い値となるように最適化されたものであることを特徴とする請求項１１、１２又は１４に記載の光記録装置。
【請求項１７】
前記近似係数は、
前記変換情報と、前記特徴情報との関係を複数の光記録媒体で求めておき、
前記特徴情報と前記変換情報の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットである
ことを特徴とする請求項１１又は１２に記載の光記録装置。
【請求項１８】
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成される記録パラメータに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
前記記録パラメータの推奨値が記録された光記録媒体から、前記記録パラメータの推奨値を読み取る記録条件推奨値読み取り手段と、
前記記録パラメータ推奨値読み取り手段で読み取られた、前記記録パラメータ推奨値と、予め求めた近似係数とを用いて、記録に用いるべき記録パラメータを求める記録パラメータ決定手段と、
求められた記録パラメータを用いて、前記記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と
を有し、
前記近似係数は、複数の光記録媒体の記録パラメータの推奨値と、記録に使用すべき記録パラメータの最適値との差分量と、記録パラメータの推奨値の関係を近似することで求められる
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項１９】
前記近似係数は、前記差分量と前記記録パラメータの推奨値の関係を線形近似することで求めた傾きとオフセットであることを特徴とする請求項１８に記載の光記録装置。
【請求項２０】
前記記録パラメータ決定手段で決定された記録パラメータを用いて、試し書きすることにより、記録性能を確認し、該記録性能が予め定めた基準の記録性能よりも良いか悪いかを判断する記録性能判断手段と、
前記記録性能判断手段で、基準の記録性能よりも悪いと判断された場合に、
前記記録パラメータを修正する、記録パラメータ修正手段とをさらに有し、
前記書き込み手段は、前記記録性能判断手段で、基準の記録性能よりも良いと判断された場合に、当該試し書きに用いられた記録パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行い、
前記近似係数を求める際に、各々の記録パラメータに対する近似精度を求めておき、
前記記録パラメータ修正手段において、前記近似精度の悪い記録パラメータから優先的に記録パラメータの修正を行うことを特徴とする請求項１１、１２又は１８に記載の光記録装置。
【国際調査報告】
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