【事件の表示】
　特許第３０８８５０２号「鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料」の請求項１、２に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３０８８５０２号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続きの経緯
　本件特許第３０８８５０２号に係る手続きの主な経緯は次のとおりである。
　特許出願（特願平３−２１０２９９号）平成　３年　７月２６日
　特許権設定登録　　　　　　　　　　　平成１２年　７月１４日
　特許異議申立　　　　　　　　　　　　平成１３年　３月１４日
　取消理由通知（１）　　　　　　　　　平成１３年　５月１６日
　意見書・訂正請求書（１）　　　　　　平成１３年　７月２６日
　取消理由通知（２）　　　　　　　　　平成１３年　９月　３日
　訂正請求書（１）の取下書　　　　　　平成１３年　９月１９日
　意見書・訂正請求書（２）　　　　　　平成１３年　９月１９日
　
２．訂正の適否についての判断
２．１　訂正の内容
２．１．１　訂正事項ａ
　特許請求の範囲請求項１における「ＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを含有する」を「これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有する」と訂正する。
　
２．１．２　訂正事項ｂ
　特許請求の範囲請求項２を削除する。
　
２．１．３　訂正事項ｃ
　明細書の段落【０００４】を「【０００４】【課題を解決するための手段】上記の問題を改善するため、本発明では、鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料を、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したもので構成することにより積層セラミック素地中の鉛との反応を抑制したものである。」と訂正する。
　
２．１．４　訂正事項ｄ
　明細書の段落【０００６】を「【０００６】本発明では、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したもので構成されている。従って素体中の鉛との反応のない端子電極材料を使用することにより、電極強度の大きい、健全な積層体セラミック部品を得ることができる。」と訂正する。
　
２．１．５　訂正事項ｅ
　明細書の段落【０００９】の「表１」及び【００１０】を削除する。
　
２．１．６　訂正事項ｆ
　明細書の段落【００１１】の「表２」を「表１」と訂正する。
　
２．１．７　訂正事項ｇ
　明細書の段落【００１２】及び【００１３】を削除する。
　
２．１．８　訂正事項ｈ
　明細書の段落【００１４】を「【００１４】Ａｇ粉末１００重量部に対するガラス含有量（重量部）および焼付け温度条件を変化させて素地ダメージ及び電極強度を評価した。このときのガラス含有量は表１に示し、評価結果は表２に示す。表２において、６００，７００，８００はそれぞれ焼付け温度である。ここでガラス量のないものにおいては、フリットを含まないＡｇペーストを塗布、焼付けして評価した。
　素地ダメージ程度を×、△、○で大別したが、×印は端子電極下より２０μｍ以上にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、△印は同じく５〜２０μｍの範囲にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、○印は同じく５μｍ以下の範囲でマイクロクラックの発生していることを示す。」と訂正する。
　
２．１．９　訂正事項ｉ
　明細書の段落【００１５】の「表３」を「表２」と訂正する。
　
２．１．１０　訂正事項ｊ
　明細書の段落【００１６】の「表４」を削除する。
　
２．１．１１　訂正事項ｋ
　明細書の段落【００１７】を「【００１７】これにより、試料Ｎo.１０〜１５について、ガラス量１〜１０重量部において、焼成温度６００〜７００℃の幅で素地ダメージが無いことがわかる。ガラスが１重量部含有される試料Ｎo.１１では、焼付けが７００〜８００℃で電極強度が大きくなっている。試料Ｎo.１０に示す如く、ガラス量０の場合は、ダメージが無いが、電極強度がゼロで全く密着性がない。また試料Ｎo.１５に示す如く、ガラス量１２重量部の場合は、焼成温度幅が狭くなり、試料Ｎo.１１〜１４に比べて電極強度が低い。」と訂正する。
　
２．１．１２　訂正事項ｌ
　明細書の段落【００１８】を「【００１８】また試料Ｎo.１６〜２０のガラス系においては、素地ダメージの小さな焼付温度域もあるが、大半が電極強度がＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系のものより電極強度が小さくなっており、また焼付温度幅が狭くなっている。」と訂正する。
　
２．１．１３　訂正事項ｍ
　明細書の段落【００１９】を「【００１９】なお、ＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系のガラスにおいては、表２において試料Ｎo.１５とＮo.１１〜１４と比較すれば明らかなように、ガラス含有量１〜１０重量部の範囲が適切である。」と訂正する。
　
２．１．１４　訂正事項ｎ
　明細書の段落【００２１】を「【００２１】【発明の効果】以上に説明したように、本発明は鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料として、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したものを使用することにより、従来使用されている端子電極材料に比較して、鉛を含有する積層セラミックに対する素地ダメージの少ない、電極強度の大きい積層セラミック部品を容易に製造できる効果がある。」と訂正する。
　
２．２　訂正の目的の適否，新規事項の有無及び拡張・変更の存否
２．２．１　訂正事項ａ
　上記訂正事項ａは、請求項１におけるＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスの含有量を限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮に相当する。
　そして、「これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部」の記載は、訂正前の請求項２の「上記ガラスは、上記金属粉末または合金粉末１００重量部に対して１〜１０重量部含有する」との記載から明らかである。
　したがって、上記訂正事項ａは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．２．２　訂正事項ｂ
　上記訂正事項ｂは、請求項２を削除するものであるから、特許請求の範囲の減縮に相当する。
　
２．２．３　訂正事項ｃ，ｄ，ｎ
　上記訂正事項ｃ，ｄ，ｎは、特許請求の範囲の訂正に伴って、訂正するものであり、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　さらに、上記訂正事項ｃ，ｄ，ｎは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．２．４　訂正事項ｅ，ｇ
　上記訂正事項ｅ，ｇは、取消理由通知で指摘した明細書の記載不備を解消するために削除する訂正を行ったものであり、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　さらに、上記訂正事項ｅ，ｇは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．２．５　訂正事項ｈ
　上記訂正事項ｈは、取消理由通知で指摘した明細書の記載不備を解消するため及び訂正前の表１の削除に伴って訂正したものであり、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　そして、「Ａｇ粉末１００重量部に対するガラス含有量（重量部）」の記載は、訂正前の請求項２及び表１の記載から明らかであり、「素地ダメージ程度を×、△、○・・・示す。」は、訂正前の段落【００１２】の記載から明らかである。
　したがって、上記訂正事項ｈは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．２．６　訂正事項ｆ，ｉ，ｋ〜ｍ
　上記訂正事項ｆ，ｉ，ｋ〜ｍは、訂正前の表１の削除に伴って訂正したものであり、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　さらに、上記訂正事項ｆ，ｉ，ｋ〜ｍは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．２．７　訂正事項ｊ
　上記訂正事項ｊは、訂正前の表４が表３（訂正後の表２）と重複していたので削除したものであり、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　さらに、上記訂正事項ｊは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
２．３　訂正の適否のむすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第６条第１項の規定によりなお従前の例によるとされる、特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
　
３．特許異議申立及びこれについての判断
３．１　特許異議申立の理由及び取消理由通知の概要
　特許異議申立人株式会社村田製作所は、本件特許は、明細書及び図面の記載が下記３．２の点で不備のため、特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていないものであり、特許を取り消すべきであると主張している。
　取消理由通知も同様の趣旨である。
　
３．２　記載不備の内容
３．２．１　本件特許発明の明細書の段落【００１０】において、「【００１０】積層セラミック素地としては、酸化鉛を６７．８８ｗｔ％含有する組成物を、１０００℃，４ｈ大気中焼成を行ったものを使用し、これに端子電極を７００℃、大気中で焼付けたときの素地ダメージの程度及び電極強度を表２に示した。」と記載されているが、段落【００１１】の【表２】には、素地ダメージの程度及び電極強度が示されていない。
　
３．２．２　段落【００１２】において、「【００１２】なお素地ダメージ程度を×、△、○で大別したが、×印は端子電極下より２０μｍ以上にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、△印は同じく５〜２０μｍの範囲にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、○印は同じく５μｍ以下の範囲でマイクロクラックの発生していることを示す。」と記載されているが、段落【００１１】の【表２】には、素地ダメージの程度が×、△、○で示されていない。
　
３．２．３　段落【００１３】において、「【００１３】これにより試料Ｎo.４のみが素地ダメージがなく、かつ電極強度が大きくなっていることがわかる。また試料Ｎo.９については試料Ｎo.１〜３，５〜８と比較して素地ダメージが小さく、ややすぐれている結果が得られた。」と記載されているが、段落【００１１】の【表２】には、試料Ｎo.１〜３，５〜８の素地ダメージが示されていない。
　
３．２．４　段落【００１４】において、「【００１４】なお、試料Ｎo.４とＮo.９のガラス種において、ガラス含有量および焼付け温度条件を変化させて素地ダメージ及び電極強度を評価した。このときのガラス含有量は表３に示し、評価結果は表４に示す。表４において、６００，７００，８００はそれぞれ焼付け温度である。ここでガラス量のないものにおいては、フリットを含まないＡｇペーストを塗布、焼付けして評価した。」と記載されているが、段落【００１５】の【表３】には、ガラス含有量が示されていない。
　
３．３　記載不備に対する判断
　上記２．で示したように上記訂正は認められるから、本件明細書は、上記訂正請求に係る訂正明細書のとおりのものである。
　したがって、記載不備が指摘された【００１０】，【００１２】及び【００１３】が削除され、【００１４】は上記訂正事項ｇの如く訂正され、表２は表１へ、表３，４は表２へ訂正されたので、上記３．２で指摘された記載不備は全て解消された。
　
３．４　特許異議申立についての判断のむすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由によっては本件発明についての特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明についての特許を取り消すべき理由を発見しない。
　したがって、本件発明についての特許は拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認めない。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の一部の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１３年９月２７日（２００１．９．２７）
【訂正の要旨】
訂正の要旨
　訂正事項ａ
　特許請求の範囲の減縮を目的として、特許請求の範囲請求項１における
「ＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを含有する」を「これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有する」と訂正する。
　訂正事項ｂ
　特許請求の範囲の減縮を目的として、特許請求の範囲請求項２を削除する。
　訂正事項ｃ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【０００４】を「【０００４】【課題を解決するための手段】上記の問題を改善するため、本発明では、鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料を、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したもので構成することにより積層セラミック素地中の鉛との反応を抑制したものである。」と訂正する。
　訂正事項ｄ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【０００６】を「【０００６】本発明では、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したもので構成されている。従って素体中の鉛との反応のない端子電極材料を使用することにより、電極強度の大きい、健全な積層体セラミック部品を得ることができる。」と訂正する。
　訂正事項ｅ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【０００９】の「表１」及び【００１０】を削除する。
　訂正事項ｆ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１１】の「表２」を「表１」と訂正する。
　訂正事項ｇ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１２】及び【００１３】を削除する。
　訂正事項ｈ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１４】を「【００１４】Ａｇ粉末１００重量部に対するガラス含有量（重量部）および焼付け温度条件を変化させて素地ダメージ及び電極強度を評価した。このときのガラス含有量は表１に示し、評価結果は表２に示す。表２において、６００，７００，８００はそれぞれ焼付け温度である。ここでガラス量のないものにおいては、フリットを含まないＡｇペーストを塗布、焼付けして評価した。
　素地ダメージ程度を×、△、○で大別したが、×印は端子電極下より２０μｍ以上にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、△印は同じく５〜２０μｍの範囲にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、○印は同じく５μｍ以下の範囲でマイクロクラックの発生していることを示す。」と訂正する。
　訂正事項ｉ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１５】の「表３」を「表２」と訂正する。
　訂正事項ｊ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１６】の「表４」を削除する。
　訂正事項ｋ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１７】を「【００１７】これにより、試料Ｎｏ．１０〜１５について、ガラス量１〜１０重量部において、焼成温度６００〜７００℃の幅で素地ダメージが無いことがわかる。ガラスが１重量部含有される試料Ｎｏ．１１では、焼付けが７００〜８００℃で電極強度が大きくなっている。試料Ｎｏ．１０に示す如く、ガラス量０の場合は、ダメージが無いが、電極強度がゼロで全く密着性がない。また試料Ｎｏ．１５に示す如く、ガラス量１２重量部の場合は、焼成温度幅が狭くなり、試料Ｎｏ．１１〜１４に比べて電極強度が低い。
」と訂正する。
　訂正事項ｌ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１８】を「【００１８】また試料Ｎｏ．１６〜２０のガラス系においては、素地ダメージの小さな焼付温度域もあるが、大半が電極強度がＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系のものより電極強度が小さくなっており、また焼付温度幅が狭くなっている。」と訂正する。
　訂正事項ｍ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００１９】を「【００１９】なお、ＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系のガラスにおいては、表２において試料Ｎｏ．１５とＮｏ．１１〜１４と比較すれば明らかなように、ガラス含有量１〜１０重量部の範囲が適切である。」と訂正する。
　訂正事項ｎ
　明りょうでない記載の釈明を目的として、明細書の段落【００２１】を「【００２１】【発明の効果】以上に説明したように、本発明は鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料として、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対してＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系ガラスを１〜１０重量部含有したものを使用することにより、従来使用されている端子電極材料に比較して、鉛を含有する積層セラミックに対する素地ダメージの少ない、電極強度の大きい積層セラミック部品を容易に製造できる効果がある。」と訂正する。
（５４）【発明の名称】
鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料として、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、
これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対して
１〜１０重量部
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明は、鉛を含有する積層セラミックコンデンサを始めとする積層部品の端子電極材料に関するものである。
　【０００２】
　【従来の技術】
　従来、積層セラミックコンデンサ、積層アクチュエータ等の積層セラミック部品の端子電極材料として、Ａｇ、Ｐｄ、Ａｇ−Ｐｄ、Ｃｕ等の焼付け型の電極材料が使用されており、この電極材料に混在するガラスフリットとしてＺｎＯ−Ｂ２Ｏ３系、ＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３系の低融点ガラスが一般に使用されて来た。
　【０００３】
　【発明が解決しようとする課題】
　ところで、上記した従来の積層セラミック部品の端子電極材料としてＡｇ、Ａｇ−Ｐｄ、ＰｄあるいはＣｕ等の金属粉末及びＺｎＯ−Ｂ２Ｏ３系、またはＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３系の低融点ガラスで構成されるものでは、鉛を含有する積層セラミック部品に使用する場合、端子電極焼付け時にガラス中のＢ２Ｏ３とセラミック素体中の鉛が反応し、端子電極下部の素体にマイクロクラックが発生する等の素体ダメージがみられ、電極強度が劣るという問題がある。またこの素体ダメージを解消しようとすると、端子電極焼付け温度幅を非常に狭いものとして焼付けなければならないという問題もある。
　【０００４】
　【課題を解決するための手段】
　上記の問題を改善するため、本発明では、鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極材料を、Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、
これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対して
１〜１０重量部
　【０００５】
　【作用】
　鉛を含有する積層セラミック部品の端子電極は、通常、セラミック素地に、ガラスとＡｇ、Ａｇ−Ｐｄ、Ｃｕ粉末からなる端子電極ペーストを塗布、乾燥後、大気中あるいは端子電極材が酸化しない条件で焼付けされる。
　【０００６】
　本発明では、端子電極材料が
Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら１００重量部に対して
１〜１０重量部含有したもの
　【０００７】
　【実施例】
　本発明の一実施例を説明する。
　鉛を含む積層セラミック部品としては、例えばＰｂ（Ｍｇｌ／３）Ｏ３−ＰｂＴｉＯ３系のものを使用した、コンデンサを用いて実験を行った。
　【０００８】
　端子電極材料として、０．５〜５．０μｍのＡｇ粉と、１〜２０μｍのガラス粉末を有機ビヒクルに充分分散し、ペーストを調整した。おな実験に使用した各種ガラス粉末の組成を表１に示した。
　【０００９】
　【００１０】
　【００１１】
　【表１】
　【００１２】
　【００１３】
　【００１４】
　
Ａｇ粉末１００重量部に対するガラス含有量（重量部）
表１
表２
表２
　
素地ダメージ程度を×、△、○で大別したが、×印は端子電極下より２０μｍ以上にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、△印は同じく５〜２０μｍの範囲にわたりマイクロクラックが発生していることを示し、○印は同じく５μｍ以下の範囲でマイクロクラックの発生していることを示す。
　【００１５】
　【表２】
　【００１６】
　【００１７】
　これにより、
試料Ｎｏ．１０〜１５
試料Ｎｏ．１１〜１４
　【００１８】
　また
試料Ｎｏ．１６〜２０
　【００１９】
　なお、ＰｂＯ−Ａｌ２Ｏ３−ＳｉＯ２系のガラスにおいても、
表２
Ｎｏ．１１〜１４
　【００２０】
　また試料Ｎｏ．１５では、焼付温度が７００℃、８００℃のとき、ガスによる局所的ふくれがみられた。
　【００２１】
　【発明の効果】
　以上に説明したように、本発明は鉛を含有する
積層
Ａｇ、Ｐｄ、Ｃｕの一種類もしくは二種類以上の金属粉末またはこれらの金属合金粉末と、これら金属粉末または合金粉末１００重量部に対して
１〜１０重量部含有したものを