(57)【要約】  複数の記録層のそれぞれに備えられる記録学習用の領域（記録学習領域またはテスト領域）でパワー学習やストラテジ学習などの記録学習（テスト記録）を行う際に、他の記録層での記録学習に及ぼす影響を最小化させる。  記録媒体には、一方の面から入射したレーザ光により複数の記録層うちの少なくとも１層にデータが記録される。複数の記録層は、第１の記録層と、第１の記録層からレーザ光が入射する入射面の方向に順に配置された第２〜第Ｎの記録層（Ｎは３以上の整数）を含む。複数の記録層のそれぞれは、第１の学習領域と、第１の学習領域よりも外周側に位置する第２の学習領域とを備えている。第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された第１の学習領域は、他の記録層の第１の記録学習領域とは異なる半径位置に配置され、第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された第２の学習領域は、他の記録層の第２の記録学習領域と同一の半径位置に配置される。
2010035444.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の面から入射したレーザ光により複数の記録層うちの少なくとも１層にデータが記録される情報記録媒体であって、
前記複数の記録層は、第１の記録層と、前記第１の記録層から前記レーザ光が入射する入射面の方向に順に配置された第２〜第Ｎの記録層（Ｎは３以上の整数）を含み、
前記複数の記録層のそれぞれは、
第１の学習領域と、前記第１の学習領域よりも外周側に位置する第２の学習領域とを備え、
前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第１の学習領域は、他の記録層の第１の記録学習領域とは異なる半径位置に配置され、
前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第２の学習領域は、他の記録層の第２の記録学習領域と同一の半径位置に配置される、情報記録媒体。
【請求項２】
前記第２の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、前記第１の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅以下である、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記第１〜第Ｎの記録層のそれぞれには、物理アドレスが割り振られており、
前記第１の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第２の記録層の物理アドレスは、外周側から内周側に向かって昇順に割り振られ、前記第３の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、
前記第１の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用され、前記第２の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、内周側から外周側の方向に使用され、前記第３の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用される、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
請求項１に記載の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、
前記第１の学習領域および前記第２の学習領域の少なくとも一方において、記録学習を行うステップと、
前記記録学習の結果に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するステップと
を包含する記録方法。
【請求項５】
請求項１に記載の情報記録媒体から情報を再生する再生方法であって、
前記情報記録媒体の前記１〜第Ｎの記録層のうちの少なくとも１層は、前記情報記録媒体に関する情報が記録されているコントロール領域を有し、
前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップを包含する再生方法。
【請求項６】
請求項１に記載の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、
前記複数の記録層はそれぞれ、最適な記録条件を求めるための記録学習を行うための記録学習領域を備え、
前記記録方法は、第ｋの記録層（ｋは１以上かつＮ以下の整数）において最初に記録を行うタイミングで、前記第ｋの記録層においてのみ、前記記録学習を行う、情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録調整（すなわち記録学習）用の領域を含む複数の記録層を備えた情報記録媒体、その記録媒体に対する記録再生方法、および、記録再生装置に関する。より具体的には、本発明は、複数の記録層を備えた、ＢＤ−Ｒなどの追記型光ディスク、ＢＤ−ＲＥなどの書換型光ディスク等に有効な情報記録媒体、そのような情報記録媒体を利用した情報の記録再生方法、および、記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、大容量で交換可能な情報記録媒体、およびそれを扱うディスクドライブ装置が広く普及している。【０００３】
従来の大容量で交換可能な情報記録媒体としては、ＤＶＤやＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（以下、ＢＤとも記載する。）といった光ディスクが良く知られている。光ディスクドライブ装置は、レーザ光を用いて光ディスク上に微小なピット（記録マーク）を形成することによって記録再生を行う装置であり、大容量で交換可能な情報記録に適している。ＤＶＤは赤色レーザ光、ＢＤは赤色レーザより波長が短い青色レーザ光を用いることが特徴であり、それによりＢＤはＤＶＤよりも記録密度を高め、大容量化を実現している。【０００４】
更に近年では、より大容量化を実現するための１つの方法として多層化、つまり記録膜を複数備えるような光ディスクの開発が盛んで、既にＤＶＤやＢＤでは記録層を２層備えた２層ディスクが商品化されており、今後も６層や８層といった更なる多層化が予想される。【０００５】
図１は、記録層を３層備えた３層光ディスクの概念図である。光ディスク１は基板２の上に記録層３、記録層５、記録層７が積み重ねられ、更に各記録層の間には記録層の保護的な役割を担う中間層４、中間層６を備え、ディスク表面はポリカーボネート樹脂等で形成されたカバー層８で覆われた形で形成されている。光レーザはディスク表面であるカバー層８側から照射される。また、基板２に接して形成された記録層、つまりディスク表面から遠い記録層を基準とし、基準層側から順に、記録層３はＬ０層、記録層５はＬ１層、記録層７はＬ２層と呼ばれる。以降、本明細書ではこの呼び方を採用する。なおこの呼び方はあくまで一例であり、ディスク表面に近い側からＬ０層、Ｌ１層と呼ぶような場合もある。【０００６】
図２は、一般的な光ディスクの記録層における領域構成図である。円盤状の光ディスク１の記録層には、スパイラル状に多数のトラック１１が形成されており、各トラック２には細かく分けられた多数のブロック１２が形成されている。【０００７】
ここで、トラック１１の幅（トラックピッチ）は、例えばＢＤでは０．３２μｍである。またブロック１２は、エラー訂正の単位であり、記録および再生動作が行われる最小の単位である。例えば、ＤＶＤの場合には１ＥＣＣ（サイズ：３２ＫＢｙｔｅ）、ＢＤの場合には１クラスタ（サイズ：６４Ｋｂｙｔｅ）といったサイズであり、光ディスクのデータの最小単位であるセクタ（サイズ：２ＫＢｙｔｅ）という単位を用いて説明すると、１ＥＣＣ＝１６セクタ、１クラスタ＝３２セクタとなる。【０００８】
各記録層は、リードイン領域１３とデータ領域１４とリードアウト領域１５から構成される。【０００９】
データ領域１４とは、音楽やビデオなどのリアルタイムデータや文章やデータベースな
どのコンピュータデータなど、ユーザによって任意の情報が記録可能な領域である。【００１０】
リードイン領域１３は、光ディスク１の径方向に向かってデータ領域１４より内周側に位置する。またリードアウト領域１５は光ディスク１の径方向に向かってデータ領域１４より外周側に位置する。これらの領域は、光ディスク１に関する管理情報を記録するための領域（ＤＭＡ領域や一時的ＤＭＡ領域）や、記録パワーなどの調整用領域（ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域）等を備えており、さらに光ピックアップ（図示せず）のオーバーランを防ぐ役割を果たす。【００１１】
ところで、このような光ディスクへの記録においては、最適な記録条件（例えば記録パワーや、「ストラテジ」と呼ばれるパルスの発生タイミングやパルスの長さ等）で記録することが記録再生品質の観点からも重要であり、そのために光ディスクの所定の領域において試し記録（以降、記録学習（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）と呼ぶ）を行なうことで最適なパワー、ストラテジを求めるという方法が広く用いられている（例えば特許文献１）。【００１２】
記録学習は、リードイン領域１３やリードアウト領域１５などに備えられた記録学習領域（以降、ＯＰＣ領域とも呼ぶ）において実施される。【００１３】
図１８は、一般的な記録学習手順を示したフロー図である。【００１４】
ステップ１８０１：記録パワーの調整（以降、パワー学習と呼ぶ）を行う。具体的には、記録パワーを段階的に変えながらの記録（階段記録）を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ（Ｂｌｏｃｋ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）等）を測定し、記録品質が最も良くなる最適なパワーを求める。【００１５】
ステップ１８０２：記録パワーを固定して、記録ストラテジの調整（以降、ストラテジ学習と呼ぶ）を行う。具体的には、ステップ１８０１で求めた最適パワーで記録パワーを固定させ、パルス幅を変えながら記録を行ない、記録した領域の記録品質を測定し、記録品質が最も良くなる最適なストラテジを求める。【００１６】
ＢＤなどの光ディスクでは、光レーザを記録層に照射し、例えばアモルファス状態から結晶状態に変化させることによってデータが記録される。このように記録層の状態が変化するため、光の透過率と反射率（つまり光学特性）が変化する。すなわち記録済みの領域と未記録の領域では、光学特性が異なるという特徴を持つ。【００１７】
そのため記録層を２層以上備えた光ディスクでは、最適な記録パワーの学習を行う際に、他層の記録状態（記録済み状態か未記録の状態か）によって求まるパワーに差が生じるという課題がある。具体的には、例えば記録パワーの調整の際に過大なパワーでの記録を行なってしまい、学習に用いた領域を破壊してしまうことで、破壊した領域に対応する他層の領域の記録特性に影響を与えることもある。また破壊に至るような極端に大きな記録パワーでなくとも、記録されたパワーの大小によっても透過率は異なる。特に、ディスクに適した記録パワーではないパワーで記録を行なった領域は、ディスクに適したパワーで記録を行なった領域と比べて透過率の変化が大きくなり、その影響を受けやすい。【００１８】
多層光ディスクでは、レーザ光が通過する記録層の記録状態によってレーザ光の透過率が変動する。そのため、レーザ光の入射面から数えて２層目より深い（入射面から遠い）位置の記録層では、その記録層の手前（レーザ光の入射面側）の記録層の記録状態によって、同じ記録層内であっても記録特性に差が生じてしまう。特にパワーを変えながら記録を行うパワー学習を行なった領域は、パワー学習の際には最適な記録パワーを求めるために光ディスクに適した範囲を超える記録パワーで記録が行われる可能性もある。パワー学習を行った領域は最も透過率に影響を与える領域の１つである。【００１９】
そのため、ある記録層に情報を記録するために、より浅い他層でのパワー学習で使用された領域をレーザ光が通過する場合には、レーザ光は他層の透過率バランスの影響を大きく受けてしまうことになる。そのような透過率がばらついた状態で記録された領域の記録品質から最適な記録パワーを求めようとしても、正しい適正パワーを求めることが出来ない。そのため、これらの課題を回避する方法として、ＯＰＣ領域の配置に制約を設ける方法が良く知られている（例えば特許文献２や特許文献３）。【００２０】
図１９は、記録層を２層備えた光ディスクにおけるＯＰＣ領域の配置を示した図である。記録層Ｌ０に配置される第１の記録学習領域２００と記録層Ｌ１に配置される第２の記録学習領域２０１とが異なる半径範囲内の位置に配置されている。さらに記録学習領域とディスク表面（レーザ光の入射面）との間に存在する他層の領域は、リザーブ領域（未使用領域のことで、予備領域とも呼ぶ）として確保されている。図１９の例では、記録層Ｌ１では、第１の記録学習領域２００と同じ半径範囲の領域（第１の記録学習領域２００に対応する記録層Ｌ１の領域）がリザーブ領域２１０（未使用領域）として確保されている。例えば１回のみ記録可能な追記型メディアの場合、未使用領域であるリザーブ領域は未記録な状態となる。これにより、どちらの記録層の記録学習領域を使用する場合にも記録学習領域にレーザ光が届くまでの間に記録済み領域が存在しないため、他記録層の透過率の影響を受けず、常に同一条件下で記録学習が出来る。【００２１】
また記録層が２層より多くなった場合も考慮し、例えば特許文献３は、奇数番目の記録層におけるＯＰＣ領域と、これに隣接する偶数番目の記録層のＯＰＣ領域とが異なる半径範囲位置に配置される構成が例示されている。つまり、奇数層同士、偶数層同士は同一半径範囲位置に各ＯＰＣ領域が配置されても良い。または、各層とも異なる半径範囲位置にＯＰＣ領域が配置される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２２】
【特許文献１】特開２００７−３０５１８８号公報
【特許文献２】特開２００５−０３８５８４号公報
【特許文献３】特表２００７−５２１６０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
しかしこの方法では、記録層が増えていった場合に次のような問題が生じる。最も大きな問題は、記録層が増えていくに従って、ＯＰＣ領域、予備領域の確保が困難になるという点である。【００２４】
図２０（Ａ）および（Ｂ）は、従来例の方法で記録層が３層の場合のＯＰＣ領域の配置を示した図である。説明の都合上、各記録層のＯＰＣ領域のサイズを一定サイズ（例えば、Ｓクラスタ）であるとして説明を行う。図２０（Ａ）に示すように、異なる半径位置に各層のＯＰＣ領域を確保しようとした場合は、３層ディスクの場合は各層は３×Ｓクラスタ分のサイズを要してしまう。そのうち、予備領域に相当する２×Ｓクラスタ分の領域が使用出来ない領域となる。リードイン領域１３もしくはリードアウト領域１５のサイズが有限であることを考えると、層が増えるに従って予備領域、つまり使用出来ない領域のサイズが増えてしまう。また、記録層の数が増えると、予備領域が増加する影響で、リードイン領域またはリードアウト領域内にＯＰＣ領域を確保することが困難になることが予想される。【００２５】
また図２０（Ｂ）に示すように、奇数層同士、偶数層同士は同一半径位置に配置する場合を考えると、必要になる領域サイズは記録層を２層備えた場合と同じ２×Ｓであるが、この場合は上述したように他層の記録状態によって求まるパワーに差が生じるという課題を解消できない。【００２６】
またこれとは別の方法として、例えばＯＰＣ領域を確保するためにリードイン領域１３、あるいはリードアウト領域１５のサイズを大きくするという方法も考えられる。しかしながら、これらの領域のサイズが大きくなれば、その分データ領域１４のサイズが小さくなってしまう。つまりＯＰＣ領域のサイズを確保するためにデータ領域１４のサイズを削ってしまった場合には、ユーザデータを記録できる容量が減ってしまい、ユーザにとってデメリットが生じてしまう。よって、リードイン領域１３、リードアウト領域１５のサイズは出来るだけ小さい方が好ましい。【００２７】
またさらに、図２０の（Ａ）のように各層のＯＰＣ領域を異なる半径位置に確保するための方法として、ＯＰＣ領域のサイズを小さくすることが考えられる。これにより、リードイン領域１３、もしくはリードアウト領域１５に占めるＯＰＣ領域（プラス予備領域）の割合を抑えることが可能となる。しかしながら、ＯＰＣ領域のサイズが小さくなるとそれだけ記録学習を行うことが出来る回数が減ってしまう。一般的に記録学習が出来ないメディア（記録層）では記録パワー等が保証できないため、情報の記録が禁止されることが多い。ＯＰＣ領域のサイズを小さくし、記録学習が出来なくなった場合には、もはやそれ以上記録できなくなるため、ユーザにとってデメリットを生ずる可能性が高まり、これも好ましくない。【００２８】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、その目的は、複数の記録層のそれぞれに備えられる記録学習用の領域（記録学習領域またはテスト領域）でパワー学習やストラテジ学習などの記録学習（テスト記録）を行う際に、他の記録層での記録学習に及ぼす影響を最小化させることにある。また他の目的は、記録学習領域が備えられるリードイン領域やリードアウト領域において、記録学習領域を効率的に配置することでリードイン領域やリードアウト領域の増加や（ユーザ）データ領域の減少を防ぐことが可能な領域配置の情報記録媒体およびその使用方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明による情報記録媒体は、一方の面から入射したレーザ光により複数の記録層うちの少なくとも１層にデータが記録される情報記録媒体であって、前記複数の記録層は、第１の記録層と、前記第１の記録層から前記レーザ光が入射する入射面の方向に順に配置された第２〜第Ｎの記録層（Ｎは３以上の整数）を含み、前記複数の記録層のそれぞれは、第１の学習領域と、前記第１の学習領域よりも外周側に位置する第２の学習領域とを備え、前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第１の学習領域は、他の記録層の第１の記録学習領域とは異なる半径位置に配置され、前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第２の学習領域は、他の記録層の第２の記録学習領域と同一の半径位置に配置される。【００３０】
前記第２の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、前記第１の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅以下であってもよい。【００３１】
前記第１〜第Ｎの記録層のそれぞれには、物理アドレスが割り振られており、前記第１の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第２の記録層の物理アドレスは、外周側から内周側に向かって昇順に割り振られ、前記第３の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第１の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用され、前記第２の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、内周側から外周側の方向に使用され、前記第３の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用されてもよい。【００３２】
本発明による記録方法は、上述の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、前記第１の学習領域および前記第２の学習領域の少なくとも一方において、記録学習を行うステップと、前記記録学習の結果に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するステップとを包含する。【００３３】
本発明による再生方法は、上述の情報記録媒体から情報を再生する再生方法であって、前記情報記録媒体の前記１〜第Ｎの記録層のうちの少なくとも１層は、前記情報記録媒体に関する情報が記録されているコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップを包含する。【００３４】
本発明による記録方法は、上述の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、前記複数の記録層はそれぞれ、最適な記録条件を求めるための記録学習を行うための記録学習領域を備え、前記記録方法は、第ｋの記録層（ｋは１以上かつＮ以下の整数）において最初に記録を行うタイミングで、前記第ｋの記録層においてのみ、前記記録学習を行う。
【発明の効果】
【００３５】
記録層を複数備えた記録媒体において、記録パワー学習のように最適な記録パワーとは保証できないパワーで記録パワーを変化させた記録をおこなうために、その領域を通過するレーザ光の透過率に大きく影響するような学習を行うための領域と、記録ストラテジ学習のように最適なパワーに記録パワーを固定させた記録を行なうために、その領域を通過するレーザ光の透過率への影響が小さいような学習を行うための領域を分割し、さらに最適な記録パワーとは保証できないパワーで記録パワーを変化させた学習を行うための領域についてはいずれの記録層とも異なる半径位置に配置する。これにより、記録学習用のＯＰＣ領域（および予備領域）が要する領域サイズを最小限に抑えつつ、かつ他の記録層の学習結果に及ぼす影響も最小化することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】記録層を３層備えた一般的な光ディスクの構成図である。
【図２】一般的な光ディスクにおける記録層の説明図である。
【図３Ａ】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域構成図である。
【図３Ｂ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｃ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｄ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｅ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｆ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１、２、３、４におけるレーザ光の照射影響範囲説明図である。
【図５】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図６】本発明の実施の形態１における光ディスクのパワー学習領域使用手順説明図である。
【図７】本発明の実施の形態１における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図８】本発明の実施の形態１における光ディスクのパワー学習関連情報説明図である。
【図９】本発明の実施の形態１、２、３における光ディスク記録再生装置の構造図である。
【図１０】本発明の実施の形態１、２、３における記録学習手順説明図である。
【図１１】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域構成の別例を示す説明図である。
【図１２】本発明の実施の形態２における光ディスクの領域構成図である。
【図１３】本発明の実施の形態２における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図１４】本発明の実施の形態２における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図１５】本発明の実施の形態３における光ディスクの領域構成図である。
【図１６】本発明の実施の形態３における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図１７】本発明の実施の形態３における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図１８】一般的な記録学習手順概念説明用のフロー図である。
【図１９】従来例における光ディスクの領域構造図である。
【図２０】従来例を、記録層を３層備えた光ディスクに適用した場合の領域構造図である。
【図２１】本発明の実施の形態４における光ディスクの領域構成図である。
【図２２】本発明の実施の形態４における光ディスクの領域構成の別例を示す説明図である。
【図２３】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習領域Ａの使用方法説明図である。
【図２４】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図２５】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習関連情報の具体例を示す説明図である。
【図２６】本発明の実施の形態４における光ディスク記録再生装置の構造図である。
【図２７】本発明の実施の形態４における記録学習手順説明図である。
【図２８】パワー学習領域及びストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅の関係を示す説明図である。
【図２９】多層ディスクの構成例を示す図である。
【図３０】単層ディスクの構成例を示す図である。
【図３１】二層ディスクの構成例を示す図である。
【図３２】三層ディスクの構成例を示す図である。
【図３３】四層ディスクの構成例を示す図である。
【図３４】実施の形態５による光ディスク６０１の物理的構成を示す図である。
【図３５】（Ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す図、（Ｂ）は２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す図である。
【図３６】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す図である。
【図３７】２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークの関係を示す図である。
【図３８】最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０になっている例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３７】
以下、添付の図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体、情報の記録および／または再生を行うための装置および方法の実施形態を説明する。
【００３８】
本発明の実施の形態の説明においては、情報記録媒体として１回のみ記録可能な媒体である追記型情報記録媒体を用いて説明を行う。
【００３９】
（実施の形態１）
（１）領域配置
図１は、記録層を３層有する追記型光ディスク１の積層構造を示している。
【００４０】
図１に示すように、光ディスク１は、レーザ光が照射される光ディスク１のカバー層８から遠い順に（つまり基板２からレーザ光が入射するカバー層８に向かって順に）Ｌ０層（記録層３）、Ｌ１層（記録層５）、Ｌ２層（記録層７）を備える。
【００４１】
各記録層は、図２に示すように、リードイン領域１３、データ領域１４、リードアウト領域１５から構成されている。
【００４２】
図３Ａは、本発明の実施の形態１における、記録層を３層備えた追記型光ディスク１の領域構成図である。各記録層のリードイン領域１３は、記録学習用のＯＰＣ領域として、パワー学習領域およびストラテジ学習領域を備えている。図示されている例では、Ｌ０層はパワー学習領域２０およびストラテジ学習領域３０を有し、Ｌ１層はパワー学習領域２１およびストラテジ学習領域３１を有し、Ｌ２層はパワー学習領域２２およびストラテジ学習領域３２を有している。また、ある記録層のパワー学習領域と同一半径範囲位置に存在する他の記録層の領域は、予備領域４０として割り当てられる。
【００４３】
パワー学習領域は、記録パワーの学習（パワー学習）を行うための領域である。パワー学習領域は、主に、記録パワーを変動させるなどして記録を行い、最適な記録パワーを求めるために使用される。図３Ａに示すように、各記録層に存在するパワー学習領域２０、パワー学習領域２１、パワー学習領域２２は他の記録層のパワー学習領域とは半径方向に重なる領域を含まないように、つまり異なる半径位置に配置される。これは上述したように、他層の記録状態によって生ずる透過率、反射率（特に半径位置が重なる他層の領域がパワーを変動させながら記録を行なうパワー学習で使用された領域だった場合の透過率、反射率）などの光学特性の差が、記録パワーに大きく影響を与えるためである。特に記録学習を行う際に、レーザ光が通過する他層の領域が、記録パワーを変えながらの記録を伴うパワー学習が行われた領域と重ならないようにずらすことを目的としている。その一例として、他層の記録状態を一定とする（予備領域４０を未使用の状態とする）ことで、光学特性による差が生じるのを防ぐことが出来る。
【００４４】
ストラテジ学習領域は、記録パルス幅の学習（ストラテジ学習）を行うための領域である。ストラテジ学習領域は、記録パワーはパワー学習で求められた光ディスク１に適した記録パワーで固定してパルス幅を変動させるなどして記録を行い、最適なストラテジを求めるために主に使用される。図３Ａに示すように、各記録層に存在するストラテジ学習領域３０、ストラテジ学習領域３１、ストラテジ学習領域３２は、パワー学習領域とは異なる領域として確保され、他の記録層のストラテジ学習領域と半径方向に重なる領域を含むように、つまり例えば図３Ａに示すように同一半径位置に配置される。このような配置は、ストラテジ学習はパワー学習の後に行われること、すなわち、各記録層に大よそ適した記録パワーが決定された後に行われることに起因している。光ディスク１の各記録層に大よそ適した記録パワーで記録された領域の透過率バランスは大きく崩れることは無く、透過率をある所定の範囲に抑えることが出来るという特性がある。ストラテジ学習では光ディスク１の各記録層に適した記録パワーで記録が行われるため、他層のストラテジ学習を行った領域をレーザ光を通過させて記録を行なっても、他層の記録状態による透過率の影響をほとんど受けない（無視できる程度に抑えることができる）。
【００４５】
ここで、図３Ａに示す各記録層のパワー学習領域と予備領域との境界位置は、表記上、隣接する記録層の間ではきっちり同一半径位置になるよう記載している。しかしながら、実際にはきっちり同一半径位置とならなくてもよい。たとえば、ディスク製造時の各記録層の貼り合わせ誤差や、レーザ光の特性による影響により、隣接する記録層の間でパワー学習領域と予備領域との境界位置がずれてもよい。
【００４６】
なお、本発明の実施の形態１ではリードイン領域１３に記録学習用のＯＰＣ領域を備えた例で説明を行うが、これに限定されるものでは無い。つまり記録学習用のＯＰＣ領域をリードイン領域１３の他に更にリードアウト領域１５に備えても良いし、あるいは記録層毎にリードイン領域１３もしくはリードアウト領域１５のいずれか一方に設ける等でも良い。
【００４７】
また、本実施形態ではリードイン領域１３にＯＰＣ領域全体（パワー学習領域およびストラテジ学習領域の両方）を配置した。しかしながら本実施形態においては、パワー学習領域とストラテジ学習領域とが同じ記録層上に設けられていれば、各々が設けられる位置は任意である。その理由は、本実施形態で問題としているのは複数の記録層の各々に設けられたパワー学習領域の相互の位置関係であり、同様に、複数の記録層の各々に設けられたストラテジ学習領域の相互の位置関係だからである。パワー学習領域およびストラテジ学習領域が同じ記録層上に設けられているという条件を満たしていれば、必ずしも両方が同じ領域（リードイン領域１３、あるいはリードアウト領域１５など）に配置されなくても良い。例えばパワー学習領域をリードイン領域１３に設け、ストラテジ学習領域をリードアウト領域１５に設けるなど、パワー学習領域とストラテジ学習領域とをそれぞれ異なる領域内に分離して配置しても良い。
【００４８】
次に予備領域４０を説明する。ある記録層に着目すると、その記録層のパワー学習領域が使用されるまでは、その記録層とディスク表面（レーザ光入射面）との間に存在する他の記録層の予備領域４０は、未使用の状態で維持される。追記型光ディスクの場合には、予備領域４０は未記録の状態で維持される。
【００４９】
なお、図３Ａの各領域の配置は一例であり、各領域を異なる位置に配置してもよい。
【００５０】
例えば図３Ａでは、パワー学習領域をＬ０からＬ２に向かって内周側から外周側に配置しているが、あくまでこれは一例である。パワー学習領域が他の記録層とも異なる半径位置に配置され、かつ他の記録層のパワー学習領域と同一半径位置に相当する領域がパワー学習領域使用時に未使用状態であることを満足できる領域配置であれば良い。例えば、図３Ｂ〜図３Ｆ(ｂ)〜（ｆ）に示すように各記録層のパワー学習領域を配置してもよい。図３Ｂ〜図３Ｆのいずれについても、各記録層に配置されたパワー学習領域は、他の記録層のパワー学習領域とは異なる半径位置に配置されていることが理解される。
【００５１】
図４は、レーザ光による各記録層の影響を説明するための説明図である。図に示すように、例えばＬ０層の領域４００へ連続して記録を行なう場合を考える。レーザ光はＬ０層に集光されて、範囲４１０から範囲４１１までの間を動くことになる。そのため、Ｌ０層の領域４００への情報の記録に対しては、Ｌ１層の領域４０１、Ｌ２層の領域４０２の各記録状態による光学特性が影響する。ある記録層に対して情報を記録する際には、その記録層よりも浅い記録層ほど（すなわちレーザ光の入射面に近い記録層ほど）、当該浅い記録層を透過するレーザ光の面積が大きくなる。よって、レーザ光が透過する当該浅い記録層の予備領域の光学特性を一定に保つ、つまり記録状態を未使用状態のまま一定に保つためには、予備領域のサイズは、各記録層の位置に応じたレーザ光の広がり分程度は必要となる。よって実際のパワー学習領域の配置については、半径位置に加えて、これらの影響を考慮して配置する必要がある。
【００５２】
なお本来は完全な同一半径位置にはならないが、本明細書においては説明の都合上、特に明記しない限りはこれらの影響については説明しないことに留意されたい。つまり、明記していなくとも、貼り合わせ誤差やレーザ光の広がりによる影響がある範囲へも考慮が必要である。ただし、当業者であればその影響する範囲の予測が可能であるため、そのような影響を考慮したパワー学習領域の配置、予備領域の配置およびストラテジ領域の配置が可能である。また本明細書においては、この貼り合わせ誤差やレーザ光による影響を含んだ同一半径位置に相当する位置を、明示的に同一半径範囲位置と呼ぶ場合もあるが、同一半径位置と記載していても、これらの影響を含んでいる。
【００５３】
上述のように、パワー学習領域は、最適な記録パワーであるとは保証できないパワーでパワーを変化させて記録を行う領域である。その際に使用される記録パワーは最適な記録パワーよりも強いまたは弱い可能性があり、記録済みのパワー学習領域を通過するレーザ光の透過率は一定にならない（透過率バランスが崩れる）可能性がある。つまり、ある記録層での記録学習時に、他層のパワー学習実施済み領域をレーザ光が通過してしまうと、特に入射面よりも深い（遠い）記録層での記録学習結果に対して大きな影響を及ぼしてしまう可能性がある。一方、ストラテジ学習領域は、最適なストラテジ等を求めるために最適な記録パワー、もしくはおおよそ適していると保証できる記録パワーで記録を行う領域であるため、他層の記録状態による透過率の影響がほとんど無視できる領域である。
【００５４】
本発明の実施の形態１に示すように、パワー学習領域は他の記録層と異なる半径位置に配置し、ストラテジ学習領域は例えば全ての記録層とも同一半径位置に配置する。これにより、全ての記録層における記録学習結果に対して、他層の記録状態による影響を防ぐことが出来る。また、記録層が増えることで必要になるＯＰＣ領域として確保しなくてはならない領域サイズ（パワー学習領域とストラテジ学習領域と予備領域が占める合計サイズ）を最小限に抑えることが出来る。その結果、記録学習に必要な領域を確保することが出来、ユーザが使用可能（＝記録学習が実施可能）な回数が減るという問題も解決できる。さらに、リードイン領域１３やリードアウト領域１５の増加を抑えることが出来、データ領域１４のサイズが減ってユーザが使用可能な領域サイズが減るという課題も解決できる。
【００５５】
なお、予備領域４０は基本的に未使用のままの領域と記載したが、条件によっては使用しても良い。具体的には、この領域の目的は他層のパワー学習領域が使用される際に未使用状態（追記型光ディスクならば未記録状態）にしておければ良く、言いかえれば同一半径位置に配置される他の記録層のパワー学習領域が使用された後であれば使用しても影響は無い。よって例えば、ストラテジ学習領域の空き容量が少なくなったり無くなったりしたような場合などには、ストラテジ学習領域として割り当てしなおして使用するなどしても良い。
【００５６】
また、予備領域４０に限らず、例えばパワー学習領域が枯渇したがストラテジ学習領域はまだ空いているような場合には、他層の記録状態が同じ（未使用）であるという前提において、空いているストラテジ学習領域の一部をパワー学習領域として割り当てしなおして用いてもよい。ただし、またその逆の場合も同様である。あるいは予備情報領域は、記録学習に限らず、例えば管理情報の更新記録用の領域として用いたり、記録を行った記録装置固有の情報を保存する領域等として用いても良い。
【００５７】
（２）領域の使い方
一般的に光ディスク１には、記録層上に物理的に振られるアドレス（物理アドレス：以下「ＰＢＡ」と略す。）を用いてアクセスが行われる。なお物理アドレスには大きく分けて、ディスク上のトラック１１、つまり記録溝の壁面に波打たせる形（ウォブル）等の方法で物理的に埋め込まれたものと、ディスク上に記録したデータ中に付与されるものがあるが、以降本明細書では特に明記しない限り、前者の記録溝のウォブル等を用いて物理的に埋め込まれたものを示す。
【００５８】
物理アドレス（ＰＢＡ）は、ディスクのトラックパスの方向に沿って昇順に割り振られる。より具体的には、例えば記録層を２つ（Ｌ０層とＬ１層）持つ記録型２層ディスクの場合には、一般的にオポジットパスと呼ばれるアドレッシング方法が採用されており、Ｌ０層ではディスク内周側から外周側に向かって昇順に、Ｌ１層では外周側から内周側に向かって昇順に物理アドレスが割り振られる。
【００５９】
図５は、本発明の実施の形態１における追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方法の一例を示す説明図である。なお図５では、図３Ａに示す領域構造と同じ領域構造である場合を例に取って説明する。しかしながら、以下に説明するパワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方法は、図３Ｂ〜３Ｆのいずれの領域構造に対しても適用可能である。
【００６０】
図５中の矢印は、パワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方向（記録方向）を示している。
【００６１】
図５に示すように、パワー学習領域はトラックパスとは逆に向かって使用する。これはパワー学習を行う段階では、当然まだパワー調整が出来ていない状態であるため、どのようなパワーで記録されるかが保証出来ない。そのため、非常に高いパワーで記録を行なってトラック１１を壊してしまう場合もあり得ることを考慮したものである。
【００６２】
図６は、パワー学習領域の使用例をより具体的に説明するための説明図である。トラックパスとは逆に向かって使用する方法について説明する。なお図６では、Ｌ０層のパワー学習領域２０を例に取って説明する。
【００６３】
Ｌ０層のトラックパスは内周側から外周側向きであるのに対して、パワー学習領域２０は外周側から内周側に向かって使用される。つまり、最初にパワー学習領域２０を使う場合には、図６（ａ）に示すようにパワー学習領域２０の外周側境界位置から使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行なう。
【００６４】
次にパワー学習領域２０を使用する場合には、図６（ｂ）に示すように、図６（ａ）で記録した先頭位置を終端にして、そこから使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行なう。以降、これを繰り返す形で使用していく。その結果、図６（ｃ）に示すように、パワー学習領域２０がＮ回使用された後でも、より内周側に位置するトラックパスの開始位置は未記録の状態が維持される。
【００６５】
一方、ストラテジ学習領域は、図５に示すように、一定の方向に使用される。
【００６６】
このような使用方法を採用する理由を、詳細に説明する。光ディスクへのアクセスはＰＢＡを用いて行われ、かつ連続した記録等のアクセスはＰＢＡ昇順に行うことになる。またある目的アドレスに対して記録等のアクセスを行う場合には、アクセス位置の確定処理（同期化）を行うために、まず目的アドレスの領域よりも手前に光ヘッド（図示せず）を移動（シーク）させる。その後、フォーカスサーボによって、光ディスク１の回転を利用してトラック１１からの反射光を頼りにトラック１１に沿って目的のアドレスに辿り着き、目的アドレスからの記録再生用レーザ発行の準備を行う。
【００６７】
このようなアクセス方法を採用しているため、仮にパワー学習領域をトラックパスと同じくＰＢＡ昇順方向に使用した場合、上記のようにトラック破壊が起きてしまうと、次にパワー学習領域を使う場合、目的アドレスの手前の領域が破壊されてアドレスが取得できない。これでは、手前の領域へシークすることが出来ず、結果として目的アドレスに対してアクセスできない状態に陥る。
【００６８】
一方、ストラテジ学習領域はパワー学習後、つまりパワー調整が行われた後に使用されるため、光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が保証される。そのためパワー学習領域のようにトラックパスとは逆向きに使用するといった制限を付ける必要は無い。そのため１つの使用方法として、図５に示すように、全ての記録層のストラテジ学習領域を同一方向（例えば記録層のトラックパスの方向によらず、全て外周側から内周側）に向かって使用するといった方法が考えられる。
【００６９】
このように使用することで、もし万が一パワー学習領域が枯渇してしまったような場合で全ての記録層におけるストラテジ学習領域にまだ空きがある場合には、上述したようにパワー学習用に割り当てて使用することも可能になる。より具体的には、ストラテジ学習領域は全ての記録層において外周側から内周側に向かって使用されるため、全ての記録層のストラテジ学習領域に空きがある場合には、ストラテジ学習領域の最内周側の一部（最内周側は全ての記録層において未使用状態であるため、パワー学習領域と同一条件を保証できる）をパワー学習用のパワー学習領域として割り当てしなおすといった使い方も可能になる。
【００７０】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
ＢＤ−ＲＥのような書換え型光ディスクの場合、ＯＰＣ領域についてもランダムに使用することが可能である。一方でＢＤ−Ｒのような追記型光ディスクの場合には、ＯＰＣ領域についても１回のみ使用可能な追記記録対象の領域である。また上述したように、ＯＰＣ領域、特にパワー学習領域については最適なパワーで記録されるとは限らないため、領域をどこまで使用しているかをメディアの記録状態からでは判断できない場合も想定される。また記録層や領域の数が増えると、全ての領域に対して使用状態を毎回確認するのも無駄である。そのため追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【００７１】
図７は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なおここでは、図３Ａに示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【００７２】
光ディスク１には、ＤＭＡ（Ｄｉｓｃ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  ＡｒｅａもしくはＤｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ）と呼ばれる、管理情報を記録するための管理情報領域（図示せず）がリードイン領域１３やリードアウト領域１５等に備えられている。なお追記型光ディスクの場合には、ＤＭＡはファイナライズされる際に最終的な管理情報（ＤＭＳ）が記録される領域であり、ファイナライズまでの過渡的な管理情報が追記更新できるようにＤＭＡ領域とは別の一時的ＤＭＡ領域（図示せず。以下、ＴＤＭＡと呼ぶ）が確保されている場合もある。
【００７３】
ＴＤＭＡには、欠陥位置や交替記録に関する情報であるＤＦＬ７０２と、ＤＦＬ７０２の位置情報や光ディスクの領域に関する位置情報などを含むＤＤＳ７０１とを備えたＴＤＭＳ７００が記録される。ＤＤＳはディスク定義構造とも呼ばれる。なお、ＴＤＭＳもＤＭＳも基本的に同じ種類のデータが記録されるが、ＴＤＭＳとＤＭＳとではＤＦＬ７０２とＤＤＳ７０１の配置が逆になるといった特徴があったりする。図７では、記録学習に関する情報の説明であるため、記録が可能なタイミング、つまりファイナライズまでの過渡的に交信記録された情報であるＴＤＭＳ７００を例に取って説明を行う。
【００７４】
なお、ＤＭＡ、もしくはＴＤＭＡはそれぞれ光ディスク１上に複数個所存在する場合もある。具体的には例えばＤＭＡはリードイン領域１３やリードアウト領域１５中に、ＴＤＭＡ領域はリードイン領域１３中や、データ領域１４中に確保される交替記録用のスペア領域（図示せず）中に確保されたりもする。
【００７５】
なお、ＴＤＭＳ（ＤＭＳ）を構成する情報としては、ディスク管理情報であるＤＦＬ７０２とその位置情報を含むＤＤＳ７０１のみとは限らない。具体的には例えば、ディスク管理情報としてＤＦＬ７０２の他に、光ディスク１におけるデータ領域１４中のトラック（ＳＲＲ）の配置や使用状態を示す情報であるＳＲＲＩや、ランダム記録の際に用いられる記録未記録状態を示すＳＢＭなどの情報を含む場合もある。
【００７６】
ＤＤＳ７０１は、この情報がＤＤＳであることを示す識別子７１０や、ＤＦＬ７０２が記録されている位置であるＤＦＬ位置情報７１１に加えて、さらにパワー学習領域２０において次に使用することが可能な位置情報であるＬ０パワー学習領域次使用位置情報（Power Calibration Area Next Available Position Information）７１２、パワー学習領域２１において次に使用することが可能な位置情報であるＬ１パワー学習領域次使用位置情報７１３、パワー学習領域２２において次に使用することが可能な位置情報であるＬ２パワー学習領域次使用位置情報７１４、およびストラテジ学習領域３０において次に使用することが可能な位置情報であるＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５、ストラテジ学習領域３１において次に使用することが可能な位置情報であるＬ１ストラテジ学習領域次使用位置情報７１６、ストラテジ学習領域３２において次に使用することが可能な位置情報であるＬ２ストラテジ学習領域次使用位置情報７１７を備えている。
【００７７】
図８は、次使用位置情報について説明した説明図である。なお図８では、Ｌ０層におけるパワー学習領域２０を例にとって説明する。
【００７８】
パワー学習領域２０が図８に示すように外周側から内周側に向かって使われる領域であるとすると、パワー学習領域２０が全く使用されていない状態においては、図８（ａ）に示すようにＬ０パワー学習領域次使用位置情報はパワー学習領域２０の最外周側の位置であるＰＢＡ：Ａを示す。パワー学習領域２０が１回使用されると、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報は図８（ｂ）のようにＰＢＡ：Ｂを示し、さらにもう１回使用された後では、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報は図８（ｃ）のようにＰＢＡ：Ｃを示すように変化していくことになる。
【００７９】
なおこれらの位置情報は、例えば光ディスク１における位置情報であるＰＢＡで示される。
【００８０】
このように、記録層ごとにパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置に関する情報を備えることが可能である。このような構成を採用する場合には、記録層が増減すれば、その分だけ必要になる情報の数も増減することになる。
【００８１】
（４）記録再生装置
図９は、本発明の実施の形態１における光ディスク１への記録再生を行う光ディスク記録再生装置１００に関する構成を示す。
【００８２】
光ディスク記録再生装置１００は、Ｉ／Ｏバス１８０を介して上位制御装置（図示せず）に接続される。上位制御装置は、例えば、ホストコンピュータ（ホストＰＣ）である。
【００８３】
光ディスク記録再生装置１００は、上位制御装置からの命令を処理する命令処理部１１０と、光ディスク１に対して記録再生を行うためにレーザ光を照射する光ヘッド１２０と、光ヘッド１２０から出力されるレーザパワーの制御を行うレーザ制御部１３０と、指定されたパルス幅（ストラテジ）をピット形成に適した記録パルス信号に変換する記録補償回路１４０と、光ヘッド１２０を目的位置へ移動したりサーボ制御を行うためのメカ制御部１６０と、光ディスク１からの記録再生処理などのシステム処理全般の統括制御や記録学習処理全般の制御を行うシステム制御部１５０と、データを一時的に記憶するためのメモリ１７０とを備える。
【００８４】
システム制御部１５０はさらに、光ディスク１における記録学習処理を行う記録学習部１５１と、光ディスク１に関する管理情報などから記録再生を行う位置を求めるアクセス位置管理部１５４と、ホストからの命令やシステム制御部１５０からの命令等に応じてユーザデータやＴＤＭＡなどの管理情報の記録再生を行うための記録制御部１５５、再生制御部１５６を備え、記録学習部１５１はさらに、パワー学習の制御を行うパワー学習部１５２とストラテジ学習の制御を行うストラテジ学習部１５３とを備える。
【００８５】
光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００に挿入されると、レーザ制御部１３０、メカ制御部１６０により、光ヘッド１２０が所定の照射パワーにより記録層Ｌ０のリードイン領域１３の予め光ディスク１に埋め込まれた当該光ディスク１に関する情報を有するコントロール領域（図示せず）を再生し、記録層Ｌ０、記録層Ｌ１、記録層Ｌ２に記録する際の照射パワー情報等の記録パラメータ情報を読み取る。
【００８６】
上位制御装置からの記録要求があると、光ディスク記録再生装置１００におけるシステム制御部１５０中の記録学習部１５１は、各記録層に備えられているＯＰＣ領域において記録学習を実施した後、求まった記録パワーにおいて対象となる記録層に対する記録を行なう。
【００８７】
記録学習の際には、記録学習部１５１におけるパワー学習部１５２が各記録層におけるパワー学習領域を用いて最適パワーを求めるためのパワー学習を行い、ストラテジ制御部１５３が各記録層におけるストラテジ学習領域を用いて最適ストラテジを求めるためのストラテジ学習を行って最適な記録パラメータを求める。各領域において記録学習用に記録を行う位置は、例えば光ディスク１が追記型光ディスクの場合には、本発明の実施の形態１の（４）で示した管理情報等を再生制御部１５６によってメモリ１７０に読み出し、読み出したデータをもとに管理情報制御部１５４が次に記録学習において使用可能な位置を判断する。あるいは、光ディスク１が書換え型光ディスクの場合には、各記録層に備えられたパワー学習領域、ストラテジ学習領域の範囲内からアクセス位置管理部１５４において任意の位置を求める。
【００８８】
（５）記録学習方法
図１０は、本発明の実施の形態１における追記型の光ディスク１に対する記録学習手順を示すフロー図である。なおここでは、光ディスク１の領域構造は図３Ａに示す領域構造である場合を例に取って説明する。
【００８９】
ステップ１００１：後述するステップ１００２からステップ１００７の処理を全ての記録層に対して繰り返す。例えば図３Ａに示す領域構造を持った光ディスク１の場合ならば、記録層３（Ｌ０層）、記録層５（Ｌ１層）及び記録層７（Ｌ２層）に対して繰り返す。なお、記録学習を実施する順番としては、ディスク表面（レーザ光の入射面）から遠い記録層からディスク表面に近い記録層に向かって順番に記録学習を実施する場合を例として説明を行う。なおこの記録学習実施の順番はあくまで一例であって、これに限ったものではない。
【００９０】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＡから最新のＤＭＳ７００に含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報７１２およびＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【００９１】
ステップ１００３：パワー学習を行う。具体的には、記録学習部１５１におけるパワー学習部１５２は記録学習を行う記録層におけるレーザ照射パワー（例えば複数パターンのレーザパワー）を判断してレーザ制御部１３０に設定し、さらに所定のストラテジ（例えばコントロール領域に記載されているストラテジ）を記録補償回路１４０に設定する。そして、パワー学習部１５２は、ステップ１００２で求めたパワー学習用の記録を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行わせ、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ）から最適な記録パワー（例えば複数パターンのレーザパワーの中で最も変調度が期待値に近いパワー）を求める。
【００９２】
なお、もし万が一パワー学習用の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ１００３を繰り返して実施しても良い。
【００９３】
ステップ１００４：パワー学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報７１２）を更新する。
【００９４】
ステップ１００５：ストラテジ学習を行う。具体的には、記録学習部１５１におけるストラテジ学習部１５３は、ステップ１００３で求めた記録学習を行う記録層における最適レーザパワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定する。そして、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００２で求めたストラテジ学習用の記録を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行わせ、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。
【００９５】
なお、もし万が一ストラテジ学習用の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ１００５を繰り返して実施しても良い。
【００９６】
ステップ１００６：ストラテジ学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００５にてストラテジ学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、ストラテジ学習を行った記録層に相当するストラテジ学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を更新する。
【００９７】
ステップ１００７：前述したステップ１００２からステップ１００６の処理を全ての記録層に対して繰り返す。記録学習が完了していない記録層が存在する場合には、ステップ１００１に戻る。全ての記録層における記録学習が完了した場合には、ステップ１００８へ進む。
【００９８】
ステップ１００８：管理情報を更新する。具体的にはシステム制御部１５０は記録制御部１５５を用いて、メモリ１７０中に格納されている、上記ステップ１００４、ステップ１００６において更新された新しいＤＤＳ相当のデータを新たなＴＤＭＳ７００として、ＴＤＭＡに追記記録する。
【００９９】
なお管理情報更新は必ずしも記録学習後のタイミングで行わずとも、光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００から排出されるまでの間に実施されれば良い。
【０１００】
なおこの場合に使用されるレーザパワー、及びストラテジは、上述の記録学習にて求められたものをベースにする。
【０１０１】
以上の手順で記録学習が実施される。
【０１０２】
なお図１０では、記録層全てにおいて同じタイミングで記録学習を行う場合を説明したが、必ずしも同じタイミングで行われなくとも良く、少なくとも対象の記録層への記録を行なう前に対象記録層での記録学習を行うようにできれば良い。また、必ずしも全ての記録層で実際に学習を行わなくとも、例えば最低ある１つの記録層では記録学習を行うが、他の記録層へはある１つの記録層での学習結果をもとに演算して求めることで実際の学習を実施したものと見なすといった方法でも構わない。
【０１０３】
なお、図１０には記載しなかったが、パワー学習およびストラテジ学習の後に、これらの学習で求めたパラメータが本当に最適なパラメータかどうかを確認するマージン確認処理などを行っても良い。
【０１０４】
なお、ステップ１００３のパワー学習、およびステップ１００５のストラテジ学習は、必ずしも両方とも実施しなくとも良い。具体的には、例えば以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、ストラテジ学習は実施しない（つまりパワー学習のみ実施する）などといった制御を行っても構わない。
【０１０５】
なお、図１０では追記型光ディスクを例にとって説明したが、書換え型光ディスクに対しても同様の方法を用いて実現できる。但しこの場合、ステップ１００２における記録学習位置の算出がパワー学習領域、およびストラテジ学習領域内からそれぞれランダムに選択される点、およびステップ１００４、ステップ１００６、ステップ１００７の管理情報の更新処理が不要な点が追記型光ディスクの場合と異なる点である。
【０１０６】
なお本発明の実施の形態１では、記録学習用のＯＰＣ領域がリードイン領域１３に備えられている場合を例にとって説明したが、例えばリードアウト領域１５に同様にＯＰＣ領域が備えられている場合には、必要に応じてリードアウト領域１５におけるＯＰＣ領域でも上記の要領で記録学習を行うことになる。
【０１０７】
なお、本発明の実施の形態１では、全ての記録層におけるパワー学習領域が異なる半径位置に配置される例を説明したが、必ずしも全ての層のパワー学習領域が異なる半径位置に無くとも良い。より具体的には、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば図１１に示すように、最低限隣接する記録層のパワー学習領域（例えばＬ１層のパワー学習領域２１を基準にして考えた場合、Ｌ０層のパワー学習領域２０およびＬ２層のパワー学習領域２２）は異なる半径位置に配置され、隣接でない記録層（例えばＬ０層のパワー学習領域２０とＬ２層のパワー学習領域２２）のパワー学習領域は半径位置が重なるように配置されても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）におけるパワー学習領域は異なる半径位置に配置され、ストラテジ学習領域は同一半径位置に配置されるような場合でも、本発明の実施の形態１で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１０８】
（６）製造方法
次に、本実施の形態の情報記録媒体の製造方法について、以下に簡単に説明する。
【０１０９】
まず、表面にアドレス信号やコントロールデータに応じた、情報信号を記録するためのトラックが設けられたディスク基板２を形成または用意する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層３をディスク基板２上に形成できる。
【０１１０】
次に、中間層４の記録層５が形成される側の表面にも、情報信号を記録するためのトラックを形成する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層５を中間層４上に形成できる。
【０１１１】
次に、中間層６の記録層７が形成される側の表面にも、情報信号を記録するためのトラックを形成する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層７を中間層６上に形成できる。
【０１１２】
記録層７を形成した後、カバー層８を形成する。
【０１１３】
（実施の形態２）
（１）領域配置
図１２は本発明の実施の形態２における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０１１４】
本発明の実施の形態２では、図１２に示す通り、パワー学習領域２３の配置位置が見た目ではストラテジ学習領域３０、ストラテジ学習領域３１、ストラテジ学習領域３２と同様に、全記録層を通じて共通である所定の半径位置に配置される点が、各記録層におけるパワー学習領域があらかじめ他の記録層と異なる半径位置に配置されていた本発明の実施の形態１（図３Ａ〜図３Ｆで説明）と異なること、またこれに伴って予備領域に相当する領域が確保されていないことを除いては、本発明の実施の形態１で説明したものと同じである。ただし、本発明の実施の形態１でも説明したように、パワー学習に用いる領域においては、他の記録層の記録状態に左右されないように（つまり同一半径位置が重なって記録に使用されないように）制御することが望まれることに変わりはないため、パワー学習領域の使われ方に特徴がある。これについては、（２）で説明を行う。
【０１１５】
なお、本発明の実施の形態２においては、パワー学習領域２３に対しての領域使用方法として説明を行ったが、当然ストラテジ学習領域等においても同様の使用方法を適用しても良い。
【０１１６】
なお、本発明の実施の形態２においては追記型光ディスクを例にとって説明したが、本発明の実施の形態１の（２）でも説明したように、書換え型情報記録媒体に対して同様の管理方法を適用しても、追記型光ディスクの場合と同様の効果を得ることが出来る。但し書換え型メディアに適用する場合には、学習領域をランダムに使用することになるため、他の記録層を未使用（未記録）状態のままに制御するのは困難である。そのため、各記録層におけるパワー学習領域及び予備領域が均一な記録状態（例えば全て０データで記録されている等）にするといった方法が有効である。
【０１１７】
以上、本発明の実施の形態２に示すように、最適な記録パワーとは保証できないパワーでパワーを変化させた記録を行なうために他層の記録状態による透過率バランスの影響を大きく受ける記録パワーの学習を行うためのパワー学習領域は同一半径位置に重ならないように使用し、最適な記録パワーでパワーを固定した記録を行なうために他層の記録状態の影響を受け難いストラテジなどの調整を行うストラテジ学習領域は例えば全ての記録層とも同一半径位置に配置する領域構造とすることで、全ての記録層におけるパワー学習結果に対して他の記録層の記録状態による影響を防ぐことが出来るとともに、記録層が増えることで必要になるＯＰＣ領域として確保しなくてはならない領域サイズ（パワー学習領域とストラテジ学習領域が占める合計サイズ）を最小限に抑えることが出来るため、記録学習に必要な領域を確保することが出来、ユーザが使用可能（＝記録学習が実施可能）な回数が減るという問題も解決できるとともに、リードイン領域１３やリードアウト領域１５の増加を抑えることが出来、データ領域１４のサイズが減ってユーザが使用可能な領域サイズが減るという課題も解決できる。
【０１１８】
（２）領域の使い方
本発明の実施の形態２における記録学習用の領域の使用方法については、パワー学習領域２３の使い方が本発明の実施の形態１と異なる点を除いては、本発明の実施の形態１と同じである。
【０１１９】
図１３は、本発明の実施の形態２におけるパワー学習領域の使用例を示す図である。なお、各記録層におけるパワー学習領域２３の使い方は、本発明の実施の形態１の（２）において図５を用いて説明したようにトラックパスとは逆向きに使用する場合を例にとって説明する。つまり、Ｌ０層およびＬ２層では外周側から内周側に向かって、Ｌ１層は内周側から外周側に向かって使用されるものとする。また記録学習を行う順番は、Ｌ０層から順番に、続いてＬ１層、最後にＬ２層の順番で行われると仮定して説明を行う。
【０１２０】
未使用状態のパワー学習領域２３に対して、まずトラックパスが内周側から外周側向きであるＬ０層でのパワー学習の際には、（ａ）に示すように、パワー学習領域２３の外周側境界位置から使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。次にトラックパスが外周側から内周側向きであるＬ１層でのパワー学習においては、（ｂ）に示すように、パワー学習領域２３の内周側境界位置から使用したいサイズ分外周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。そして最後に、Ｌ０層と同じくトラックパスが内周側から外周側向きであるＬ２層でのパワー学習の際には、（ｃ）に示すように、（ａ）に示すＬ０層で使用した先頭位置を終端にして、そこから使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。以降、各記録層においてこれを繰り返す形で使用していく。
【０１２１】
このように、他の記録層で使用する領域とは異なる半径位置の領域を使用する、つまり他の記録層で使用済みの領域と重ならないようにパワー学習用の記録を行なうことで、いずれの記録層でのパワー学習の場合にも記録状態を同じ状態に保ちながら使用することが出来る。なお、内周側から使用する領域の半径位置と外周側から使用する領域の半径位置が重なったら、パワー学習領域２３は枯渇した状態となる。
【０１２２】
なお、図１３では記録層全てに対して同じタイミングで連続して記録パワー学習を行う例を記載したが、ある特定の記録層においてのみパワー学習領域２３を用いた学習を行う場合であっても使い方、および得られる効果は上述の場合と同じである。
【０１２３】
なお、本発明の実施の形態１の（１）にて説明したように、例えば上記（ｃ）の場合に使用する領域は、厳密には（ａ）で使用した先頭位置と同一半径位置ではなく、貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響分を考慮する必要がある。そのため、これらの影響による考慮分サイズ（以降、オフセットと呼ぶ）分だけ（ａ）で使用した領域の先頭位置から、さらにオフセット分内周側の位置を終端位置として、そこから学習で使用したい分だけ内周側の位置を先頭位置として扱う必要がある。
【０１２４】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
本発明の実施の形態２においても、本発明の実施の形態１の（３）で説明したのと同様に、追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【０１２５】
図１４は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なお図１４では、図１２に示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【０１２６】
ストラテジ学習領域に関する情報は、本発明の実施の形態１の（３）で説明したのと同様に、記録層毎に次使用位置情報を備えている。
【０１２７】
一方でパワー学習領域用の情報としては、全ての記録層共通の情報として、パワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１とパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２とを備える。図１３の例で言えば、外周側から内周側に向かってパワー学習領域を使用するＬ０層、およびＬ２層のパワー学習において使用・更新される情報がパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２であり、内周から外周側に向かってパワー学習領域を使用するＬ１層において使用・更新される情報がパワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１である。ここでこれらの情報は全記録層共通の位置情報であるため、本発明の実施の形態１の（３）で説明したように単にＰＢＡ情報で表明するだけでは不十分で、例えば半径位置に関する情報で表明する、もしくは直前に使用した記録層におけるＰＢＡで表明して、実際に記録に使用する際に、該当する記録層におけるＰＢＡに変換して使用するといった必要がある。
【０１２８】
なお本実施の形態２の（２）でも説明したように、次に使用可能な位置情報を示す場合には、ディスクの貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響を考慮する必要があるため、内周側次使用位置情報および外周側次使用位置情報とも、実際に使用完了した位置よりも上述したオフセットサイズ分を加算した位置情報を示すか、あるいは実際に記録に使用する際にオフセットサイズ分を加算した位置から使用するように考慮する必要がある。
【０１２９】
（４）記録再生装置
本発明の実施の形態２における記録再生装置は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと同じであるため、ここでの説明は省略する。
【０１３０】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態２における記録学習方法の手順は、本発明の実施の形態１の（５）で図１０を用いて説明したものとステップ１００２、およびステップ１００４を除いて同じであるため、ここでは本発明の実施の形態１の場合と異なるこれらのステップについてのみ説明を行う。
【０１３１】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＳから最新のＴＤＭＳに含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２およびＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０１３２】
ステップ１００４：パワー学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２）を更新する。
【０１３３】
なお、本発明の実施の形態２においても、本発明の実施の形態１の（１）で説明したのと同様に、パワー学習領域２３において他層で使用済みの半径位置に相当する領域、つまりパワー学習領域２３における内周境界位置からパワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１までの領域、及びパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２からパワー学習領域２３における外周境界位置までの間の領域については、実際のその半径位置を使用した記録層以外の記録層においては例えばストラテジ学習領域として、或いは管理情報領域としてなど、パワー学習のように他の記録層の記録状態に影響を受けやすい処理以外のデータ記録に対して使用しても良い。但し、実際にその半径位置を使用した記録層か否かの判定は困難であるため、例えば、パワー学習領域２３を内周側から使用するＬ１層においては、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２からパワー学習領域２３における外周境界位置までの間の領域を使用可能な領域として用いるといった方法が有効的である。
【０１３４】
なお、本発明の実施の形態２においては、パワー学習領域２３のサイズは各記録層とも貼り合わせ誤差等の影響分を除いて同一となるようにする必要があるが、各記録層のストラテジ学習領域のサイズに関しては、各記録層において必ずしも同一で無くとも良い。例えば、各記録層において同一方向、例えば外周側から内周側に向かって使用する場合を考えれば、各記録層のストラテジ学習領域における外周側の境界位置は同一半径位置となるようにすべきだが、内周側の境界位置については必ずしも同一とならなくとも良い。
【０１３５】
なお、本発明の実施の形態２でも、パワー学習で使用する領域を他の記録層で使用済みの領域と重ならないように使用する例を説明したが、必ずしも全ての記録層のパワー学習領域において使用する領域の半径位置が異なっていなくとも良い。より具体的には、本発明の実施の形態１で図１１を用いて説明したのと同様、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば最低限隣接する記録層においてパワー学習に使用した領域は異なる半径位置になるように使用するが、隣接でない記録層のパワー学習で使用する領域は重なるように（同一半径位置を含むように）使用しても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）においてパワー学習に使用する領域は重ならないように使用する一方で、ストラテジ学習領域は同一半径位置に配置される場合でも、本発明の実施の形態２で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１３６】
（実施の形態３）
（１）領域配置
図１５は本発明の実施の形態３における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０１３７】
光ディスク１のリードイン領域１３には、記録学習用のＯＰＣ領域５０を備える。
【０１３８】
ＯＰＣ領域５０は、全記録層を通じて共通で所定の半径位置に配置され、パワー学習やストラテジ学習を実施するための領域である。但し、本発明の実施の形態１、および実施の形態２とは異なり、明確にパワー学習領域、ストラテジ学習領域という形で予め分割配置されていないことが特徴である。その代わりにＯＰＣ領域５０は、最初にこの領域を使った記録が行われる前に、任意のサイズでパワー学習用５１とストラテジ学習用５２の部分が割り当てられる。この詳細については、後述の（２）において説明する。
【０１３９】
（２）領域の使い方
図１６は、本発明の実施の形態３における追記型光ディスクにおけるＯＰＣ領域５０の使用方法の一例を示す説明図である。なお図１６では、図１５に示す領域構造と同じ領域構造である場合を例に取って説明する。
【０１４０】
ＯＰＣ領域５０は、初めてこの領域への記録が行われる前に、任意のサイズ（割り当て比）でパワー学習用５１、ストラテジ学習用５２が割り当てられる。またパワー学習用５１の部分についてはさらに、各記録層において使用する領域が重ならないよう（同一半径位置とならないよう）に、これも任意のサイズ（割り当て比）にて割り当てされる。一方でストラテジ学習用５２の部分については、使用する領域が重なっても良いので、記録層によらず重なった位置（同一半径位置）のままとする。
【０１４１】
パワー学習用５１の部分は、本発明の実施の形態１および実施の形態２と同様に、トラックパスとは逆の向きに使用する。具体的には、トラックパスが内周側から外周側向きであるＬ０層、Ｌ２層については、パワー学習用５１の部分は外周側から内周側の向きに、各記録層に対して割り当てられた部分の外周側境界位置を先頭として使用され、トラックパスが外周側から内周側向きであるＬ１層については、パワー学習用５１の部分は内周側から外周側の向きに、Ｌ１層に対して割り当てられた部分の内周側境界位置を先頭として使用される。
【０１４２】
一方でストラテジ学習用５２の部分は、各記録層において使用する領域を重なって使用する。具体的には、全ての記録層においてトラックパスには関係なく同一方向（例えば外周側から内周側の向き）に向かって使用する。
【０１４３】
なお、パワー学習用５１とストラテジ学習用５２の割り当て配分については、例えば均等配分でもよい。あるいは、光ディスク１がパワーマージンの狭い（小さい）メーカーのものであるといった場合には、パワー学習用５１がストラテジ学習用５２よりも大きなサイズとなるように配分しても良い。あるいは、最適パワーはある程度予測で算出可能であるがストラテジについては実際に記録学習を行わないと求めるのが困難である場合などでは、逆にストラテジ学習用５２がパワー学習用５１よりも大きくなるように配分しても良い。
【０１４４】
なお、本発明の実施の形態３では、リードイン領域１３にＯＰＣ領域５０が配置されている場合を例に説明したが、例えばさらにリードアウト領域１５にもＯＰＣ領域が配置されても良い。またこの場合、リードイン領域１３に配置されたＯＰＣ領域とリードアウト領域１５に配置されたＯＰＣ領域とでパワー学習用５１およびストラテジ学習用５２の割り当て比を変えたりしても良い。
【０１４５】
なお、本発明の実施の形態３では、ＯＰＣ領域５０からパワー学習用５１の領域とストラテジ学習用５２の領域を割り当てる例を示したが、例えばこの他にも別の用途で用いる領域（例えばマージン確認用の領域等）を割り当てたりしても良い。
【０１４６】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
本発明の実施の形態３においても、本発明の実施の形態１および実施の形態２の（３）で説明したのと同様に、追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【０１４７】
図１７は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なお図１７では、図１５に示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【０１４８】
ＤＤＳ７０１には、識別子７１０、ＤＦＬ位置情報７１１に加えてさらに、各記録層における記録学習用の関連情報として、パワー学習用５１の部分に関する終端位置情報および次に使用可能な位置情報、ストラテジ学習用５２の部分に関する終端位置情報および次に使用可能な位置情報とを記録層の数分だけ備える。つまりＬ０層用の情報としてＬ０パワー学習終端位置情報１７０１、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２、Ｌ０ストラテジ学習終端位置情報１７０３、Ｌ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４、Ｌ１層用の情報としてＬ１パワー学習終端位置情報１７０５、Ｌ１パワー学習次使用位置情報１７０６、Ｌ１ストラテジ学習終端位置情報１７０７、Ｌ１ストラテジ学習次使用位置情報１７０８、Ｌ２層用の情報としてＬ２パワー学習終端位置情報１７０９、Ｌ２パワー学習次使用位置情報１７１０、Ｌ２ストラテジ学習終端位置情報１７１１、Ｌ２ストラテジ学習次使用位置情報１７１２をそれぞれ備える。
【０１４９】
上述したように、各記録層におけるパワー学習用５１とストラテジ学習用５２の割り当て、およびパワー学習用５１における各記録層用の割り当ては、ＯＰＣ領域５０を最初に使用する前（例えばＩｎｉｔｉａｌｉｚｅ  Ｆｏｒｍａｔ時など）にそれぞれ任意のサイズで決定されるため、各記録層のパワー学習終端位置情報、ストラテジ学習終端位置情報はこのタイミングで確定し、さらにパワー学習次使用位置情報、ストラテジ学習次使用位置情報は領域割り当て時には割り当てられた部分の先頭位置を指し示すことになる。また、終端位置情報と次使用位置情報とが同一位置を指し示す場合、もしくは終端位置情報と次使用位置情報との間隔（＝残サイズ）が１回の学習で使用するサイズに満たない場合には、その記録層における学習用の領域が枯渇したと判断する。
【０１５０】
なお、終端位置情報および次使用位置情報はそれぞれ、例えばＰＢＡで示されるが、例えば半径位置のような情報で示しても良い。
【０１５１】
なお、終端位置情報を持つ形で説明を行ったが、終端位置情報の代わりに割り当てられた部分に関する使用可能なサイズを示す残サイズ情報を持っても、同様の効果を得ることが出来る。
【０１５２】
なお、終端位置情報を保持する場合には、一旦パワー学習用５１およびストラテジ学習用５２の割り当てが実施されたら、その時点で確定される情報で以降は変化しないことになるが、本発明の実施の形態１や実施の形態２で説明したような再割り当てを行う場合などのタイミングで変化する場合もありうる。一方で残サイズ情報を持つ場合には、使用するたびに次使用位置情報と同じく、残サイズ情報についても更新されることになる。
【０１５３】
なお本発明の実施の形態１、実施の形態２でも説明したように、次に使用可能な位置情報を示す場合には、ディスクの貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響を考慮する必要があるため、例えば、特に他記録層の記録状態に影響を受けるパワー学習領域に関する次使用位置情報などは、実際に使用完了した位置よりも上述したオフセットサイズ分を加算した位置情報を示すか、あるいは実際に記録に使用する際にオフセットサイズ分を加算した位置から使用するように考慮する必要がある。
【０１５４】
（４）記録再生装置
本発明の実施の形態３における記録再生装置は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと同じであるため、ここでの説明は省略する。
【０１５５】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態３における記録学習方法の手順は、本発明の実施の形態１の（５）で図１０を用いて説明したものとステップ１００２、およびステップ１００４、ステップ１００６を除いて同じであるため、ここでは本発明の実施の形態１の場合と異なるこれらのステップについてのみ説明を行う。
【０１５６】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＳから最新のＴＤＭＳに含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２およびＬ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０１５７】
ステップ１００４：パワー学習次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２）を更新する。
【０１５８】
ステップ１００６：ストラテジ学習次使用位置情報を更新する。具体的には、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００５にてストラテジ学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、ストラテジ学習を行った記録層に相当するストラテジ学習次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４）を更新する。
【０１５９】
なお、本発明の実施の形態３でも、パワー学習で使用する領域を他の記録層で使用済みの領域と重ならないように割り当てる例を説明したが、必ずしも全ての記録層のパワー学習領域において使用する領域の半径位置が異なるように割り当てられなくとも良い。より具体的には、本発明の実施の形態１で図１１を用いて説明したのと同様、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば最低限隣接する記録層においてパワー学習に使用した領域は異なる半径位置になるように使用するが、隣接でない記録層のパワー学習で使用する領域は重なるように（同一半径位置を含むように）割り当てて使用しても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）においてパワー学習に使用する領域は重ならないように割り当てて使用する一方で、ストラテジ学習領域は同一半径位置に割り当てる場合でも、本発明の実施の形態３で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１６０】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、パワー学習領域（またはパワー学習用５１の部分）をパワー学習に用いる領域、ストラテジ学習領域（またはストラテジ学習用５２の部分）をストラテジ学習に用いる領域とし、さらにパワー学習に用いる領域は隣接する記録層で同一半径位置に重ならない領域、ストラテジ学習に用いる領域は同一半径位置に重なる部分を含む領域として説明を行ったが、より厳密に言えば、隣接する記録層で同一半径位置に重ならないパワー学習に用いる領域とは、光ディスク１に適した記録パワーとは保証できないような記録パワーも含めて（ある範囲内において）自由な記録パワーで記録（例えばパワー学習）を行っても良い領域のことであり、隣接する記録層で同一半径位置に重なる領域を含むストラテジ学習に用いる領域とは光ディスク１に適した記録パワーと保証できる記録パワー、言い換えればそのパワーで記録した領域の透過率が透過率バランスを崩さない程度に所定の範囲に収まるような記録パワーで記録を行う領域のことである。そして、これらの領域が各記録層に別々に配置されれば良い。つまり、使用する記録パワーが光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で記録パワーを変化させた階段記録を行なことが保証できる場合は、パワー学習を、隣接する記録層で同一半径位置に重なる領域を含むストラテジ学習領域（またはストラテジ学習用５２の部分）で行っても良い。あるいはパワー学習やストラテジ学習に限らず、例えば記録学習結果が本当に最適な条件となっているかどうかについて、学習算出記録パワーを中心に光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で増加・減少させたパワーなどで記録を行なって最適パワーの微調整を行うマージン確認を、重なる部分を備えるストラテジ学習領域を用いて行ったりしても良い。このような方法を用いれば、重ならない領域を使用する回数を抑えることが可能となり、その結果、各記録層に備えられる重ならない領域のサイズを小さく抑えることができるため、その分重なる部分を含む領域のサイズを大きくすることができ、記録学習に使用可能な回数を増やすことができるといったメリットも出てくる。
【０１６１】
この具体的方法について、いくつか詳細を記載する。
【０１６２】
例えば記録対象の光ディスク１が、光ディスク記録再生装置１００においてチューニング済みの光ディスク１として登録されている場合には、記録パワーは保障できるものとして隣接する記録層で同一半径位置に重なる部分を含むストラテジ学習領域でパワー学習およびストラテジ学習を行っても良い。あるいは、以前に当該光ディスク記録再生装置１００で、対象の記録層において実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合、つまり履歴情報を用いた学習を行う場合には、その記録層への記録パワーは保障できるものとして、その記録層における記録学習時はストラテジ学習領域でパワー学習とストラテジ学習を行っても良い。あるいは、すべての記録層における記録学習結果が学習履歴としての残されている場合には、その学習履歴からある基準とする記録層と他の記録層とのパワー比やストラテジ変化量などを求め、ある基準とする記録層において実際の記録学習（パワー学習やストラテジ学習）を実施し、その他の記録層では実際に記録学習は実施せず、実学習を実施したある基準とする記録層での学習結果と学習履歴から求めたパワー比やストラテジ変化量を用いて演算で学習値を求めるといった方法を用いることで、記録学習に用いるパワー学習領域やストラテジ学習領域の消費量を抑えるといった方法も有効である。またこの場合、履歴学習なので実際に記録学習を行うのは隣接する記録層で同一半径位置に重なる部分を含むストラテジ学習領域を用いて行うこととし、かつある基準となる記録層は例えば光ディスク１のディスク表面から最も奥の記録層（例えば図３Ａに示す光ディスク１の場合はＬ０層）を基準層として、最も奥の記録層側から順に使用していき、その記録層でのストラテジ学習領域が枯渇した場合には次に最も遠い記録層（例えば図３Ａに示す光ディスク１の場合はＬ１層）のストラテジ学習領域を基準層として使用していくといった方法を用いても良い。この方法を用いれば、光ディスク１に適したパワーで記録するストラテジ学習領域についても、ある記録層で学習を行う場合に、それよりもレーザ光を照射する側にある記録層におけるストラテジ学習領域も未使用（追記型光ディスクの場合は未記録）のままにしておくことができるため、透過率の影響を一切気にする必要は無くなるといった効果もある。
【０１６３】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、記録学習を行うための記録学習領域（ＯＰＣ領域）を例にとって、パワー学習用の領域とストラテジ学習用の領域を各記録層に異なる領域として別々に確保する場合について説明したが、この考え方は記録学習領域に限ったものではない。より詳細に言えば、本発明の基本的な考え方は、記録学習におけるパワー学習のように記録パワーを変化させながら記録にある程度適した条件に絞り込むといった粗い調整を行うための粗調整領域、及び記録学習におけるストラテジ学習のように、記録に最適な条件に絞り込むといった精調整（微調整）を行うための精調整領域とを各記録層に別々の領域として備えるという考え方である。これに加えて、さらに本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では記録パワーの調整を対象としているが故に他記録層の記録状態（透過率バランス）を考慮してパワー学習に用いる粗調整領域は異なる半径位置に配置するというものである。つまり、粗調整領域と精調整領域を各記録層に別々の領域として備えるという基本的な考え方は、記録学習以外の各種調整にも適用できるものである。
【０１６４】
以上で述べたように、光ディスク記録再生装置１００のような装置（ドライブ）は、上述した記録パワーの制約を満たす限りにおいてストラテジ学習領域を学習に利用可能な領域として利用することができる。ただし、この領域で実施される学習はストラテジ学習に限られることはない。ドライブは用途を問わず、任意の学習をストラテジ学習領域で行うことができる。ストラテジ学習領域はドライブが任意の学習に使用できる領域であるため、上述したパワー学習領域のように同一半径位置に重ならないように配置する必要はない。
【０１６５】
上述したようにパワー学習領域で使用される記録パワーは（ある範囲内において）自由な記録パワーで記録を行っても良い。しかしながら、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーは、パワー学習後に決定された後に、所定の範囲に収まる記録パワーで記録を行う領域である。これは、パワー学習領域で使用される記録パワーの振り幅に比べて、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの振り幅は小さいことを意味する。言い換えると、ストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅は、パワー学習領域において使用される記録パワーの変動率幅以下またはそれより小さいという制約がある。ここでいう「記録パワーの変動率幅」とは、基準パワー、もしくは最適パワーを１００％とした場合の、最大記録パワーの変動率及び／または最小記録パワーの変動率の割合として定義される。
【０１６６】
これについて、具体例を用いて説明する。図２８の（Ａ）〜（Ｄ）は、それぞれ、パワー学習領域及びストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅の関係を示す説明図である。
【０１６７】
図２８では、パワー学習領域で使用する記録パワーにおける基準パワーを「Ｐｂｐ」、ストラテジ学習領域で使用する記録パワーにおける基準パワーを「Ｐｂｓ」と表記している。ここで「基準パワー」とは、その光ディスクへの記録に使用する記録パワーの基準値のことである。一般的にはこの基準パワーは、光ディスク１上のコントロール領域などに埋め込まれている記録パワーに関する情報から算出できる。その他、基準パワーは、光ディスク記録再生装置１００が予め保持している光ディスク１の種類ごとに適した記録パワーに関する情報から算出され、光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ）等に残された学習履歴を元に算出されることもある。
【０１６８】
この基準パワーは、同じ光ディスク１であっても、記録に使用する記録倍速や各記録層によって値が異なることがある。一般的には高倍速になるほど記録パワーも大きくなる。そのため、上述したような基準パワーに関する情報は、記録倍速や記録層毎に用意される場合もある。パワー学習領域で使用される基準パワーＰｂｐと、ストラテジ学習領域で使用される基準パワーＰｂｓは、同じであっても良いし、異なっていても良い。
【０１６９】
図２８（Ａ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅の一例を示す。
【０１７０】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｐを１００％とした場合、上限側に＋１０％、下限側に−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲（この範囲を「変動率幅」と呼ぶ。）である。一方、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側はパワー学習領域同様−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８５％の変動率幅の範囲である。パワー学習領域およびストラテジ学習領域を利用した記録学習時において、ドライブは、上述したそれぞれの変動率幅でパワーを振ることが出来る。
【０１７１】
このように、基準パワーが同じであるのに対して、下限パワーの範囲は同じである。しかしながら、上限パワーの範囲はストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い。つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値のいずれも、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値よりも小さい。
【０１７２】
図２８（Ｂ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅の他の一例を示す。
【０１７３】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、図２８（Ａ）と同様、基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲であるとする。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側に−１２％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８８％の範囲である。この例では、パワー学習領域とストラテジ学習領域とでそれぞれ使用される基準パワーは同じであるのに対して、上限パワーの範囲、下限パワーの範囲ともにストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い、つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値のいずれも、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値よりも小さい。
【０１７４】
図２８（Ｃ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅のさらに他の一例を示す。パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、図２８（Ａ）と同様、基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲である。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋５％、下限側に−１８％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０５％から８２％の範囲である。この場合、基準パワーから上限パワーまでの範囲についてはパワー学習領域の方がストラテジ学習領域よりも大きいが、基準パワーから下限パワーまでの範囲についてはパワー学習領域の方がストラテジ学習領域よりも小さい。
【０１７５】
しかし、つまりパワー学習領域において使用される上限パワーと下限パワーとの範囲、つまり上限パワーと下限パワーとの変動率の差分は、パワー学習領域が２５％（１１０％−８５％＝２５％）、ストラテジ学習領域が２３％（１０５％−８２％＝２３％）と、パワー学習領域の変動率幅よりもストラテジ学習領域の変動率幅の方が小さい。
【０１７６】
図２８（Ｄ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが異なっているときの、各記録パワーが変動する幅の一例を示す。このときは、パワー学習領域で使用される基準パワーＰｂｐより、ストラテジ学習領域で使用される基準パワーＰｂｓの方が大きい。これは例えば、パワー学習領域で学習（記録）を行う際の記録倍速よりもストラテジ学習領域で学習（記録）を行う際の記録倍速が大きい場合が当てはまる。
【０１７７】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｐを１００％とした場合、上限側に＋１０％、下限側に−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲（この範囲を変動率幅とする）である。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側はパワー学習領域同様−１２％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８８％の範囲である。
【０１７８】
図２８の（Ａ）から（Ｃ）の場合とは異なり、基準パワーＰｂｐとＰｂｓが異なる（Ｐｂｐ＜Ｐｂｓ）ため、この例の場合ではパワー学習領域で使用される記録パワーの上限値よりも、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの上限値の方が大きくなる。しかしながら、基準パワーに対する記録パワーの変動率幅としては、上限パワーの範囲、下限パワーの範囲ともにストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い。つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅よりも小さい。
【０１７９】
つまりこれらの関係を式であらわすと、
Ｋｐｍａｘ  ≧  Ｋｓｍａｘ    または    Ｋｐｍｉｎ  ≦  Ｋｓｍｉｎ
かつ
（Ｋｐｍａｘ−Ｋｐｍｉｎ）  ≧  （Ｋｓｍａｘ−Ｋｓｍｉｎ）
となる。
【０１８０】
上記式では、パワー学習領域の基準パワーは「Ｐｂｐ」、上限側への変動率（上限パワーと基準パワーとの比率）は「Ｋｐｍａｘ」、下限側への変動率（下限パワーと基準パワーとの比率）は「Ｋｐｍｉｎ」、ストラテジ学習領域の基準パワーは「Ｐｂｓ」、上限側への変動率は「Ｋｓｍａｘ」、下限側への変動率は「Ｋｓｍｉｎ」としている。
【０１８１】
このように、記録パワーの変動率幅を抑えることで、各記録層で同一半径位置に配置されるストラテジ学習領域での透過率バランスを確保し、学習の精度を確保することが出来るという効果がある。
【０１８２】
なお、図２８で示した例はあくまで一例であり、上限・下限の範囲（値）もこれに限ったものでは無い。言い換えると、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅が、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅よりも小さい（あるいは以下）という条件を満たしていれば良い。
【０１８３】
なお、図２８に関連して、例えば同一条件（例えば同じ記録倍速、あるいは同一記録層など）下においてパワー学習領域で使用される記録パワーの絶対値よりも、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの絶対値を小さく（もしくは以下に）制限する、つまり
Ｐｂｐ×Ｋｐｍａｘ  ≧  Ｐｂｓ×Ｋｓｍａｘ
とするという方法も、各記録層で同一半径位置に学習領域が存在するストラテジ学習領域に対しては効果的である。
【０１８４】
ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの大きさを制限することは、積層される記録層の数が増えるほど効果的である。上述のとおり、本発明の実施の形態では各記録層で同一半径位置にストラテジ学習領域が存在する。したがって、レーザ光の入射面から深い位置の記録層における学習時ほど、その記録層より浅い位置の記録層で学習されたストラテジ学習領域の透過率バランスの影響を受けやすい。ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの大きさを制限することにより、浅い位置の記録層において透過率バランスが崩れることを抑制できる。これは記録層の数が増えるほど顕著である。
【０１８５】
本来は、記録層の数が多くなるほど同一半径位置に学習領域を重ねることが不利になる。それにもかかわらず、本発明では同一半径位置にストラテジ学習領域を配置している。これは、従来意識されてこなかった記録パワーの大きさを制限することを大きな要因として実現されたといえる。
【０１８６】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では記録層を３層備えた光ディスク１を例にとって説明を行ったが、記録層が３層である必要は無く、例えば記録層を６層や８層備えた場合にも同様の効果を得ることが出来ることは言うまでも無い。
【０１８７】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では追記型情報記録媒体を例に取って説明したが、上書き可能な書換え型情報記録媒体に適用しても、同様の効果を得られる。
【０１８８】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２では各記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域のサイズが同一である場合を例に、実施の形態３ではＯＰＣ領域５０のサイズが同一である場合を例にとって説明したが、これらの領域のサイズが記録層毎に異なっていても良い。具体的には、例えば各記録層のリードイン領域１３やリードアウト領域１５等に含まれる管理情報領域（図示せず）のサイズに応じてパワー学習領域およびストラテジ学習領域のサイズを変えたり、あるいはデータ領域１４の欠陥ブロック等に対する交替領域等としてデータ領域１４中に備えられるスペア領域（図示せず）のサイズに応じて変えるなどしても良い。
【０１８９】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、全ての記録層に対して同じタイミングで記録学習を行う場合を説明したが、必ずしも同じタイミングで行われなくとも良く、少なくとも対象の記録層への記録を行なう前に対象記録層での記録学習を行うようにできれば良い。また、必ずしも全ての記録層で実際に学習を行わなくとも、例えば最低ある１つの記録層では記録学習を行うが、他の記録層へはある１つの記録層での学習結果をもとに演算して求めることで実際の学習を実施したものと見なすといった方法でも構わない。またこの際、ある１つの記録層の選び方として、例えば記録学習用の領域（パワー学習領域、ストラテジ学習領域、ＯＰＣ領域）の残サイズが最も大きい記録層を選ぶ、あるいは記録学習用領域自体のサイズが最も大きい記録層を選ぶといった方法を用いても良い。
【０１９０】
これについて効果を含めて詳細に説明する。本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３で示したように、例えば複数の記録層を有する光ディスク１装着後、最初にホストからユーザデータ領域１４への記録要求を受け付けた場合に、全ての記録層に対して同じタイミングで記録学習を行っておくという方法を採用すると、そのタイミングでの記録学習に大きく時間を要してしまうというデメリットがある。その一方、以下のメリットがある。
・以降、例えば連続記録を行なっている最中に記録層が変わる場合などでも記録学習を行う必要が無いため、ドライブシステムとしての記録処理パフォーマンスを一定に保つことが出来る。
・全ての記録層に対する記録倍速を、全ての記録層で記録学習に成功した一番高い倍速などで共通化できるため、記録層毎に異なる記録倍速管理を行う必要が無く、ドライブ制御処理を簡素化できる。
【０１９１】
この手法は、例えば記録開始する前にある程度時間の余裕を確保できるシステムで、かつ連続記録中に記録処理が遅延して記録データの欠落等が発生しては困るシステム、つまり予約録画機能を持ち、記録途中の映像が欠落すると困るレコーダシステムなどに対して有効である。
【０１９２】
一方で、上述したように、例えば複数の記録層を有する光ディスク１装着後、最初にホストからユーザデータ領域１４への記録要求を受け付けた場合に、記録要求を受けた記録層に対してのみ記録学習を行うことも考えられる。この場合、連続記録を行う場合には記録層が変わる場合などのタイミングでその記録層に対する記録学習が走るため、記録処理パフォーマンスが場合によって変化するというデメリットがある。その一方、以下のメリットがある。
・最初の記録要求を受け付けた時点での記録学習時間を短縮できる。（記録要求に対する最大応答時間を短縮することが出来る）
・記録を行なわない記録層に対して記録学習を実施することがなくなるため、例えば記録層Ｌ０にしかユーザデータ記録を行なわないで光ディスク１を排出したような場合など、不要な記録層で記録学習を行うことが無くなり、記録学習領域の使用効率を最大限に高めることが出来る。
【０１９３】
この手法は、例えばホストからの記録要求に対してタイムアウトが設けられており、所定の時間内で応答する必要があるＰＣドライブシステムなどに対して有効である。
【０１９４】
なお後者の方法を採用すると、記録要求を受け付けた記録層での記録学習に加えて、ユーザデータ記録に伴って更新された管理情報の記録が必要になる。よって、次に管理情報を記録する管理情報領域（例えばＤＭＡや、追記型光ディスクの場合はＴＤＭＡなど）を含む記録層での記録学習も同じタイミングで行ってもよい。
【０１９５】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３の（３）では、使用可能な位置（つまり使用済みおよび未使用領域の位置）を識別するための情報として、次に使用可能な位置に関する情報を備える方法を説明したが、その他にも、例えば使用済み領域と未使用領域とをビットマップで管理するといった方法でも同様の効果を得ることが出来る。
【０１９６】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３で説明したように、例えばパワー学習領域が枯渇した際にストラテジ学習領域の一部をパワー学習領域として割り当てしなおす方法を実現するために、各領域の最終使用可能位置（終端位置）情報や残サイズ、使用方向等といった情報をさらに備えても良い。あるいは、パワー学習領域を使用した後で他の記録層における同一半径位置に配置される予備領域を使用する方法も考えると、パワー学習領域やストラテジ学習領域が１つの記録層に複数存在するとして扱い、次使用位置情報に加えて、パワー学習領域およびストラテジ学習領域の先頭位置およびサイズを領域数分含んだリスト形式で保持しておくなどといった方法も有効である。
【０１９７】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３においては、パワー学習領域はトラックパスとは逆向きに、ストラテジ学習領域は全ての記録層で同じ向きに使用するといった例を説明したが、これはあくまで一例である。
【０１９８】
たとえば、パワー学習領域において過大パワーで記録を行うことにより、トラックが破壊されることがある。このようなトラック破壊を考慮に入れた学習方法を、記録学習処理共通の思想としてストラテジ学習領域にも適用してもよい。すると、記録時におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向は、同一記録層において同じ方向になる。たとえば、Ｌ０層ではパワー学習領域とストラテジ学習領域共に外周側から内周側の方向、つまりトラックパスとは逆の向きに使用してもよい。
【０１９９】
あるいは、例えば単純に、パワー学習領域はトラックパスとは逆向きに使用するが、光ディスク１に大よそ適した記録パワーで記録されるストラテジ学習領域はトラックパスと同じ向きに使用するという使い方も可能である。この場合には、パワー学習領域における領域破壊にも対応可能であり、さらにストラテジ学習領域については、ストラテジ学習中にメディア欠陥等による記録失敗が発生したとしても、前の記録に引き続いてリトライ処理を行えるなど、アクセスパフォーマンスの向上といった効果を得ることが出来たり、あるいは学習中の記録が途中で失敗したような場合にトラックパスと逆向きに使用していた場合には学習領域中に記録済み領域と未記録領域が混在して残ってしまうことになり、異常時の未記録と記録済みの境界位置探索が困難になるといった課題があるのに対して、トラックパスの方向に使用することで、この課題も解決することが出来る。
【０２００】
あるいは、例えばパワー学習領域が破壊される可能性について前述したが、メディアの特性によっては、多少の高パワーでの記録が行われた場合でもウォブル等で埋め込まれたＰＢＡが取得できないような状態になることはまず無いと言えるものもあるため、パワー学習領域に対しても仕様方向の制限を付けず、例えば単純にパワー学習領域、ストラテジ学習領域ともトラックパスと同一方向に使用するといった方法も考えられる。こうすることで、仮にパワー学習中、またはストラテジ学習中ともに前述したアクセスパフォーマンスを向上させるといった効果を得ることが出来る。
【０２０１】
またさらに書換え型情報記録媒体を考えた場合には、上書き及びランダムアクセスが可能であるため、領域の使い方に関しては追記型情報記録媒体のように必ずしも制限を加えなくても良いが、当然ここで説明したのと同様の使い方を適用することも可能であり、その場合には追記型情報記録媒体の場合と同様の効果を得ることが出来る。
【０２０２】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、パワー学習用の領域とストラテジ学習用の領域が重ならない場合の例を示したが、例えばストラテジ学習で使用された領域を透過してパワー学習を行ったりしても良い。具体的には、例えばＬ０層のパワー学習を行おうとした場合で、Ｌ１層の同一半径位置相当の領域が一定パワーで記録されるストラテジ学習で使用済みの領域であったような場合であれば、透過率の影響は低いため、そのままＬ０層の領域をパワー学習に用いたりしても良い。
【０２０３】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、光ディスク１がオポジットパスと呼ばれるトラッキング方法が採用されているものとして説明を行ったが、例えば全ての記録層で内周側から外周側に向かって昇順（あるいは降順）に物理アドレスが割り振られるパラレルパスであっても、同様の効果を得ることが出来る。
【０２０４】
（実施の形態４）
（１）領域配置
図２１は本発明の実施の形態４における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０２０５】
光ディスク１のリードイン領域１３には、記録層ごとに、記録学習用にそれぞれ別々の領域である記録学習領域Ａ（Ｌ０層が記録学習領域Ａ６０、Ｌ１層が記録学習領域Ａ６１、Ｌ２層が記録学習領域Ａ６２）と、記録学習領域Ｂ（Ｌ０層が記録学習領域Ｂ７０、Ｌ１層が記録学習領域Ｂ７１、Ｌ２層が記録学習領域Ｂ７２）を備える。記録学習領域Ａ（Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０、Ｌ１層の記録学習領域Ａ６１、Ｌ２層の記録学習領域Ａ６２）はそれぞれ同一半径位置に重なる領域を含んで配置されている。また記録学習領域Ｂ（Ｌ０層の記録学習領域Ｂ７０、Ｌ１層の記録学習領域Ｂ７１、Ｌ２層の記録学習領域Ｂ７２）もそれぞれ同一半径位置に重なる領域を含んで配置されている。なお、ここで言う同一半径位置とは厳密な意味での同一半径位置とはならない場合もある。つまり、本発明の実施の形態１で示した同一半径範囲位置のことであり、記録層の貼り合わせ誤差や、レーザ光の特性を考慮する必要がある。
【０２０６】
記録学習領域Ａとは、本発明の実施の形態１で説明したパワー学習領域等と同様の領域で、記録パワーに制限が無く、任意の記録パワーで記録学習（以後、これを記録学習Ａと呼ぶこともある）を行っても良い領域である。例えば、記録パワーを段階的に変えたパターンでの記録（階段記録）伴うパワー学習などを行っても良い。
【０２０７】
ここで記録学習領域Ａは各記録層で同一半径位置に重なる領域を含んで配置されるが、任意のパワーでの記録が許容される領域であるため、記録学習を行う際にレーザ光が通過する他の記録層の領域が階段記録を伴うパワー学習が行われた領域であった場合などには、透過率がばらついてしまい、学習結果に支障が出てしまう恐れがある。これを防ぐため記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い位置に配置される記録層から順番に使用していくという使用制限が付けられた領域である。つまり例えば図２１の光ディスク１の場合、レーザ光の入射側にある記録層がＬ２層であり、遠い位置に配置される記録層はＬ０層であるため、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０から順番に使用され、この記録学習領域Ａ６０が使い尽くされた場合には、続いてＬ１層の記録学習領域Ａ６１、続いてＬ２層の記録学習領域Ａ６２と順に使われていくことになる。このようにすることで、使用する記録学習領域Aよりもレーザ入射側にある記録層の記録学習領域Aは常に未使用（未記録）状態とすることが出来、透過率ばらつきによる記録学習結果への影響等を防ぐことが出来る。
【０２０８】
記録学習領域Ｂとは、本発明の実施の形態１で説明したストラテジ学習領域等と同様の領域で、光ディスク１に大よそ適した記録パワーと保証できる記録パワー、言い換えればそのパワーで記録した領域の透過率が透過率バランスを崩さない程度に所定の範囲に収まるような記録パワーで記録（以後、これを記録学習Bと呼ぶこともある）を行う領域のことである。例えば、パルス幅の調整を行うために、パワー学習で得られた光ディスク１に大よそ適した記録パワーで固定してパルス幅を変動させた記録を伴うストラテジ学習等を行なっても良い。
【０２０９】
ここで記録学習領域Ｂも各記録層で同一半径位置に重なる領域を含んで配置されるが、この領域はパワー学習で求められた記録パワーなど光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が行なわれる領域であるため、記録済みの他の記録層における記録学習領域Ｂをレーザ光を通過させて記録を行なっても、他層の記録状態による透過率の影響をほとんど受けない（無視できる程度に抑えることができる）と言えるため、記録学習領域Ａとは異なり、使用順番などの制約は無い。つまり他の記録層における記録学習領域Ｂの状態に関わらず、使用したいタイミングにおいて任意の記録層での記録学習領域Ｂを使用しても良い。
【０２１０】
なお図２１では、記録学習領域Ａは全て同一半径位置に重なる領域を備える（同一半径位置に配置される）例を示したが、全ての記録層の記録学習領域Ａが同一半径位置に重なる領域を備えて無くても良い。つまり図２１に示す領域配置が、リードイン領域１３（もしくはリードアウト領域１５）において記録学習用の領域を最も効率的に配置できる方法であるが、例えば図２２に示すように、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０だけ、他の記録層の記録学習領域Ａとは異なる半径位置に配置されたりしても、多少リードイン領域１３（またはリードアウト領域１５）に占める記録学習用領域の割合が図２１の場合と比べて大きくなるものの、記録学習領域Ａの使用順番の制限を同じように設ければ、図２１に示した場合と同様の効果を得ることが出来る。なお、記録学習領域Ｂについても、記録学習領域Ａと同様、全ての記録層における記録学習領域Ｂが同一半径位置に重なる領域を含んでいなくても同様の効果を得ることが出来る。
【０２１１】
（２）領域の使い方
記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂの使い方について、より詳細に図２１を用いて説明する。なお図２１中に示す矢印は、記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂの使用方向（記録方向）を示している。
【０２１２】
同じ１つの記録層においては、記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂ（例えばＬ０層の記録学習領域Ａ６０及び記録学習領域Ｂ７０）はともに追記記録される。つまり、それぞれ所定の方向（例えば記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂともにトラックパスとは逆の方向。つまり図２１の場合には、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０および記録学習領域Ｂ７０はディスクの外周から内周側の方向）に向かって順に使用される。これは本発明の実施の形態１の（２）領域の使い方において説明したように、任意のパワーでの階段記録を伴うパワー学習を行う段階ではまだパワー調整が出来ていない状態であるため、どのようなパワーで記録されるかが保証出来ず、非常に高いパワーで記録を行なってトラック１１を壊してしまう場合もあり得ることを考慮したものである。
【０２１３】
上述したように、記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い（奥の）位置に配置される記録層から順番に使用していくという使用制限が付けられた領域である。つまり例えば図２１の光ディスク１の場合、レーザ光の入射側から遠い（奥の）位置にある記録層であるＬ０層の記録学習領域Ａ６０から順番に使用され、この記録学習領域Ａ６０が使い尽くされた場合には、続いてＬ１層の記録学習領域Ａ６１、続いてＬ２層の記録学習領域Ａ６２と順に使われていく。
【０２１４】
なお図２１に記載した各記録層における記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂの使用方向はあくまで一例であり、これに限ったものではない。つまり図２１では、トラックパスと逆の方向に向かって、同じ記録層に含まれる記録学習領域Ａと記録学習領域Ｂは同じ向きに使用される例を挙げたが、例えば記録パワーが保証できない記録学習領域Ａはトラックパスと逆の方向に向かって使用されるのに対して、光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が保証できる記録学習領域Ｂはトラックパスの方向に使用するといった使い方でも良い。この場合、記録学習領域Ａについてはパワー学習における領域破壊にも対応可能であり、さらに記録学習領域Ｂについては、ストラテジ学習中にメディア欠陥等による記録失敗が発生したとしても、前の記録に引き続いてリトライ処理を行えるなど、アクセスパフォーマンスの向上といった効果を得ることが出来たり、あるいは学習中の記録が途中で失敗したような場合にトラックパスと逆向きに使用していた場合には学習領域中に記録済み領域と未記録領域が混在して残ってしまうことになり、異常時の未記録と記録済みの境界位置探索が困難になるといった課題があるのに対して、トラックパスの方向に使用することで、この課題も解決することが出来るといったメリットがある。その他、例えば記録学習領域Ａについても領域破壊によるアドレス取得失敗が発生する可能性が極めて低いメディアの場合などでは全てトラックパスの方向に使用されても良く、あるいは本発明の実施の形態１等で記述した領域再割り当てを考慮して記録学習領域Ｂは全ての記録層で同一の方向（例えば内周側から外周側）に使用されたりしても良い。
【０２１５】
ここで、レーザ入射側から遠い記録層から使用されるという制限のついた記録学習領域Ａの使われ方について、その一例を、図２３を用いて説明する。
【０２１６】
図２３（Ａ）は、これから記録学習を行おうとする追記型の光ディスク１の状態を示す。使用順番に制限のついた記録学習領域Ａは、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０が使用中で、使用中のＬ０層の記録学習領域Ａ６０の使用可能な残りサイズはＲブロック（クラスタ）であり、記録学習領域Ａで行う学習（例えばパワー学習）に通常使用するサイズがＬブロック（クラスタ）であるとする。ここで学習に通常使用するサイズというのは、リトライなど学習における異常系を除いた、学習で最低限使用するサイズ（ブロック数）のことであるとする。
【０２１７】
記録学習で使用するサイズ：Ｌが、使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）の残りサイズ：Ｒよりも少ない（小さい）もしくは等価（同じサイズ）の場合は、そのまま対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）で図中の次使用開始位置が示す位置から記録学習を行えばよい。
【０２１８】
しかし図２３に示すように記録学習で使用するサイズ：Ｌが、使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）の残りサイズ：Ｒよりも多い（大きい）場合は、対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）だけでは記録学習を完結することができない。このような場合、使用可能なサイズ分だけ使用して対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）で記録学習を行い、学習に足りなかったサイズ分を次の使用可能な記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ１層の記録学習領域Ａ６１）で行うという方法も有りうるが、１つの記録学習（例えばパワー学習）の途中で記録層が変わってしまうと、記録層の記録特性の違いによる学習結果のずれや学習時間、学習結果の判断のやり方など非常に複雑困難になってしまう。そこでこのような場合には、図２３（Ｂ）に示すように、図中の次使用開始位置が示す使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合はＬ０層の記録学習領域Ａ６０）のサイズ：Ｒ分の空き領域は使用できない領域として扱い、次の使用可能な記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合には、Ｌ１層の記録楽手領域Ａ６１）にて必要なサイズ：Ｌ分の学習をすべて実施する方法が効果的である。
【０２１９】
なおこの場合、使用せずに残した領域については、そのまま未使用（未記録）状態のままとしておいても良いし、あるいは任意のパワー・データで意味を持たないデータを記録して記録済み状態にしたりしても良い。
【０２２０】
なお、実際に記録学習に用いたサイズ（セクタ数、またはブロック数）が、学習実施前に記録学習に必要なサイズとして認識しているサイズ：Ｌよりも大きくなってしまう場合も考えられる。つまり例えばパワー学習の処理の中で記録に失敗したりしてリトライを行うようなケースもあり、このような場合には１回の学習においてＬブロックよりも大きなサイズの領域を使用してしまうケースもありうる。このような場合、リトライも想定して、学習に必要なサイズ：Ｌを、最低限必要なサイズ（セクタ数、またはブロック数）ではなく、マージンを持たせたサイズとしておくのも１つの方法であるし、あるいはサイズ：Ｌは最低限必要なサイズのままとして、リトライによって対象記録層の記録学習領域Ａだけでは完結しなくなったような場合には、その時点で次に使用可能な記録層の記録学習領域Ａでリトライの学習から行うというのも１つの方法である。
【０２２１】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
図２４は、追記型光ディスクにおける記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂに関する情報の例である。なおここでは、図２１に示す光ディスク１の領域構造の場合を例に取って説明する。なお図２４においても、本発明の実施の形態１（３）と同様に、記録学習に関する情報の説明であるため、記録が可能なタイミング、つまりファイナライズまでの過渡的に交信記録された情報であるＴＤＭＳ７００を例に取って説明を行う。
【０２２２】
ＴＤＭＡには、欠陥位置や交替記録に関する情報であるＤＦＬ７０２などのディスク管理情報と、ＤＦＬ７０２の位置情報や光ディスクの領域に関する位置情報などを含むＤＤＳ７０１とを備えたＴＤＭＳ７００が記録される。
【０２２３】
ＤＤＳ７０１は、この情報がＤＤＳであることを示す識別子７１０や、ＤＦＬ７０２が記録されている位置であるＤＦＬ位置情報７１１に加えて、さらに記録学習領域Ａを備えた全記録層の記録学習領域Ａに渡って１つの、次に使用することが可能な位置情報（ポインタ情報）である記録学習領域Ａ次使用位置情報８００（以降、ＮＡＰＡ８００と呼ぶ）と、各記録層の記録学習領域Ｂに対して存在する次の使用可能な位置情報（ポインタ情報）である、Ｌ０層記録学習領域Ｂ７０用のＬ０記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０１（以降、Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１と呼ぶ）、Ｌ１層記録学習領域Ｂ７１用のＬ１記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０２（以降、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２と呼ぶ）、Ｌ２層記録学習領域Ｂ７０用のＬ２記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０３（以降、Ｌ２−ＮＡＰＢ８０３と呼ぶ）とを備えている。記録学習領域Ｂ用の情報と異なり、記録学習領域Ａについては、記録学習領域Ａを備えた全記録層の記録学習領域Ａに渡って１つの情報しか保持しないのは、記録学習領域Ａがレーザ入射側から遠い記録層から使用されるという使用順番に制限が付いている領域であるためで、情報としては各記録層における開始位置情報として保持しておく必要が無いためである。
【０２２４】
なお、ＴＤＭＳ（ＤＭＳ）を構成する情報としては、ディスク管理情報であるＤＦＬ７０２とその位置情報を含むＤＤＳ７０１のみとは限らない。具体的には例えば、ディスク管理情報としてＤＦＬ７０２の他に、光ディスク１におけるデータ領域１４中のトラック（ＳＲＲ）の配置や使用状態を示す情報であるＳＲＲＩや、ランダム記録の際に用いられる記録未記録状態を示すＳＢＭなどの情報を含む場合もある。
【０２２５】
なおＤＦＬ７０２とＤＤＳ７０１とは必ずしも連続して記録されるとは限らない。つまり例えば以前ＴＤＭＡに記録されたＤＦＬ７０２が存在し、その情報が更新する必要が無いままＤＤＳ７０１内のデータのみ更新する必要が発生した場合などには、ＤＦＬ位置情報７１１として以前記録されたＤＦＬ７０２の位置を指した形でＤＤＳ７０１のみ記録されるような場合もあり得るためである。
【０２２６】
図２５は、図２４で説明した次使用位置情報についての説明図である。
【０２２７】
記録学習領域Ａについて、記録学習領域Ａを備えた全記録層におけるＮＡＰＡ８００が図２５に示すようにＬ１層の記録学習領域Ａ６１の途中の位置を指している場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０はすべて使い尽くされ（使用可能なサイズ分の領域が残っておらず）、かつ内周から外周側に向かって使用されるＬ１層の記録学習領域Ａ６１については、記録学習領域Ａ６１の内周側境界位置からＮＡＰＡ８００が示す位置の手前までが使用済みで、次の記録学習領域Ａを用いた学習を行う場合には、ＮＡＰＡ８００が示す位置を先頭に外周側に向かって記録学習領域Ａ６１が使用可能であることを示す。
【０２２８】
記録学習領域Ｂについては使用順番等の制限は無いため、外周から内周側に向かって使用されるＬ０層の記録学習領域Ｂ７０、およびＬ２層の記録学習領域Ｂ７２については、それぞれ、記録学習領域Ｂ７０の外周側境界位置からＬ０−ＮＡＰＢ８０１が示す位置の手前まで、記録学習領域Ｂ７２の外周側境界位置からＬ２−ＮＡＰＢ８０３が示す位置の手前までが使用済みであり、また内周から外周側に向かって使用されるＬ１層の記録学習領域Ｂ７１については、記録学習領域Ｂ７１の内周側境界位置からＬ１−ＮＡＰＢ８０２が示す位置の手前までが使用済みであることを示す。
【０２２９】
このように記録学習領域Ｂについては、光ディスク１が備える記録層が増減すれば、その分だけ必要になる情報の数も増減することになるが、記録学習領域Ａについては記録層が増減しても必要になる情報の数は変わらず１つのままで良いということになる。
【０２３０】
なおこれらの次使用位置情報は、例えば光ディスク１における位置情報であるＰＢＡなどで示される。
【０２３１】
（４）記録再生装置
図２６は、本発明の実施の形態４における光ディスク１への記録再生を行う光ディスク記録再生装置１００に関する構成を示す。
【０２３２】
本発明の実施の形態４における光ディスク記録再生装置１００は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと、記録学習部１５１を構成する記録学習部Ａ１５７および記録学習部Ｂ１５８を除いて同じであるため、同じ部分についてはここでの説明は省略する。
【０２３３】
記録学習部Ａ１５７は、記録学習領域Ａでの記録学習（記録学習Ａ）を制御するブロックであり、階段記録を伴うパワー学習のような任意の記録パワーでの記録学習を制御する。
【０２３４】
記録学習部Ｂ１５８は、記録学習領域Ｂでの記録学習（記録学習Ｂ）を制御するブロックであり、パルス幅の調整を行うストラテジ学習や、光ディスク１に大よそ適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で増加・減少させたパワーなどで記録を行なって最適パワーの微調整を行うマージン確認のような、光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる範囲のパワーでの記録学習を制御する。
【０２３５】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態４における光ディスク１に対する記録学習方法について説明する。
【０２３６】
まず任意の記録パワーでの記録が可能な記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い記録層から順番に使用される領域であり、パワーを段階的に変化させる階段記録を伴うパワー学習などを行うことができる領域である。記録学習領域Ａは他の記録層と同一半径位置を含むように重ねて配置されているが、レーザ光の入射側から遠い記録層から順番に使用されるため、仮に過大な記録パワーなどでの記録が行われたとしても、それより遠い（奥側）の記録層の記録学習領域Ａは存在しない、もしくは既に使用済みであることが保証できるため、他の記録層での記録学習結果に影響を与えることは無い。
【０２３７】
しかし例えば記録学習領域Ａでパワー学習を行うとした場合、すべての記録層で同じタイミングで記録学習領域Ａを用いたパワー学習を行うことはできず、ある１つの記録層でのみパワー学習を行うことが可能なだけである。そのため、実際にパワー学習を行った記録層を除く記録層では、光ディスク１におけるその記録層に適した記録パワーを、パワー学習を実施して求めることは出来ない。
【０２３８】
これに対する１つの方法として、ある１つの記録層での記録学習（パワー学習）結果と、ディスク製造時にあらかじめリードイン領域またはリードアウト領域のコントロール領域（或いは物理管理情報領域と呼ぶ）（図示せず）内に記録されている推奨記録パワーとを用いることでこの問題を解決する。
【０２３９】
光ディスク１にはコントロール領域（ＢＤディスクの場合にはＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ＆  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｄａｔａ）領域）などと呼ばれるディスク製造時にその光ディスク１に関する各種パラメータがあらかじめ埋め込まれた領域が存在し、例えばこの中に、その光ディスク１における各記録層、あるいは各記録倍速に応じた推奨記録パワーや推奨ストラテジ等に関する情報なども埋め込まれている。そのため本来はこのコントロール領域内に存在する推奨記録パワーや推奨ストラテジにて記録すれば記録学習などを行わなくても良いということになるが、実際に光ディスク１へ記録を行う際の温度や湿度、光ディスク記録再生装置１００における光レーザを照射する光ヘッド１２０の個体差や、光ヘッド１２０もしくは光ディスク１へ付着した埃や汚れなどによって、実際に記録を行う際に記録に適した記録パワーや記録パルス幅は必ずしもコントロール領域に埋め込まれた記録パワーなどと合致するとは限らないため、実際に当該光ディスク記録再生装置１００において光ディスクを使用する際にパワー学習やストラテジ学習といった記録学習を行う。しかし上述したように、実際に記録学習を行う目的は、記録を行う際の各種環境に適した状態に合わせこむことが目的であり、光ディスク１の記録層ごとの記録特性に変化が生じるようなことはまず無いといえる。つまり、ある１つの記録層において実際にパワー学習を行い、パワー学習で求まった記録パワーと、光ディスク１のコントロール領域に埋め込まれた推奨記録パワーとの差異（変化率）を求め、この変化率と、実際にパワー学習を行うことが出来なかった他の記録層における推奨記録パワーとを用いる（例えば乗算する）ことで、実際にパワー学習を行うことが出来なかった他の記録層に適した記録パワーとして演算によって算出することで、実際に当該記録層でパワー学習を行ったのと同等程度の大よそ適した記録パワーを求めることが出来る。そしてこのようにして求めた記録パワーを用いて、記録パワーに制限があるが使用順番には制限の無い各記録層の記録学習領域Ｂを用いてストラテジ学習や、パワー微調整のためのマージン確認などを行うことで、実際に記録学習領域Ａでパワー学習を行った記録層以外の記録層に適した記録パワーや記録パルス幅（記録ストラテジ）といった記録パラメータを確定する。
【０２４０】
上記で説明した方法を、図２７に示すフロー図を用いて説明する。
【０２４１】
ステップ２７０１：記録学習に必要な情報を取得する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＡから最新のＤＭＳ７００に含まれる最新のＤＤＳ７０１を、さらにコントロール領域から物理管理情報（ＰＩＣなどの情報）をメモリ１７０中に読み出す。さらに以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、この情報を読み出したりもする。そして読み出した最新のＤＤＳ７０１をもとにアクセス位置管理部１５４は、記録学習領域Ａの次に使用可能な位置情報であるＮＡＰＡ８００、および各記録層の記録学習領域Ｂにおける次に使用可能な位置情報（Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２、Ｌ２−ＮＡＰＢ８０３）を取得するとともに、物理管理情報をもとに記録学習部１５１は、これから実施する記録学習条件に合致した記録パラメータ（例えば、ＮＡＰＡ８００が指し示す位置に相当する記録層において、記録学習を行う倍速に相当する推奨記録パワー等の情報）を取得する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０２４２】
ステップ２７０２：記録学習領域Ａで記録学習Ａ（例えばパワー学習）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、ＮＡＰＡ８００が指し示す位置に相当する記録層Ｌｎ（ｎは層番号で、０以上の正数）の記録学習領域Ａ（例えば図２５のような場合はＮＡＰＡ８００は記録層Ｌ１の位置を指しているため、ｎは１であり、記録層Ｌ１における記録学習領域Ａ６１）のＮＡＰＡ８００が指す位置を基準にパワー学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ａ１５７は対象記録層・記録倍速等に応じたレーザ照射パワー（例えば階段記録を行うための複数パターンのレーザパワー等）を判断してレーザ制御部１３０に設定し、さらに所定のストラテジ（例えばコントロール領域に記載されているストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス制御部１５４によって算出されたパワー学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ）から最適記録パワー（例えば複数パターンのレーザパワーの中で最も変調度が期待値に近いパワー）を求める。そして、パワー学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、記録学習領域Ａ次使用位置情報（ＮＡＰＡ）８００を更新する。
【０２４３】
なお、本発明の実施の形態４（２）で図２３を用いて説明したように、ＮＡＰＡ８００が指し示す記録層の記録学習領域Ａの使用可能サイズによっては、必ずしもＮＡＰＡ８００が指し示す記録層の記録学習領域Ａでパワー学習を行うとは限らない。
【０２４４】
なお、もし万が一パワー学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０２を繰り返して実施しても良い。
【０２４５】
ステップ２７０３：パワー変化率を算出する。具体的には記録学習部１５１は、メモリ１７０中に読み出した記録層Ｌｎにおけるコントロール領域の推奨記録パワー（Ｐｗｉとする）と、ステップ２７０２にて得られた最適記録パワー（Ｐｗｏとする）とのパワー変化率２７００（例えばＰｗｏ／Ｐｗｉの値）をメモリ１７０に記憶する。なおこの際、パワー変化率２７００が所定の範囲内（例えば９５％〜１００％の範囲）でなかった場合には、得られたパワーは光ディスク１に対して適したパワーでは無いと判断し、リトライとしてステップ２７０２からやり直しても良い。
【０２４６】
なおパワー変化率２７００は必ずしもＰｗｏをＰｗｉで除算した値でなくとも良く、パワー変化率が分かる値であればどのような値でも良い。
【０２４７】
ステップ２７０４：記録学習領域Ａを用いた学習を行った記録層Ｌｎの記録学習領域Ｂで記録学習Ｂ（ストラテジ学習、マージン確認等。以下記録学習Ｂではストラテジ学習を行うものとして説明を行う。）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、ステップ２７０２で記録学習領域Ａを用いた学習を行った記録層Ｌｎにおける記録学習領域Ｂの次使用位置情報であるＬｎ−ＮＡＰＢ（例えばＮＡＰＡ８００が図２５のような場合、記録学習Ａ（パワー学習）を行ったＬ１記録層における記録学習領域Ｂ７１に関する次使用位置情報であるＬ１−ＮＡＰＢ８０２）が指す位置を基準にストラテジ学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ｂ１５８はステップ２７０２でのパワー学習で求められた最適記録パワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス制御部１５４によって算出されたストラテジ学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させ記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。そして、ストラテジ学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、Ｌｎ記録学習領域Ｂ次使用位置情報（ｎが１（記録層Ｌ１）の場合は、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２）を更新する。
【０２４８】
なお、もし万が一ストラテジ学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０４を繰り返して実施しても良い。
【０２４９】
ステップ２７０５：後述するステップ２７０６からステップ２７０７の処理（記録学習領域Ｂでの記録学習処理）を、ステップ２７０４にて記録学習領域Ｂを行った記録層（Ｌｎ層）を除く全ての記録層Ｌｍ（ｍは層番号で、ｎ≠ｍである０以上の正数）に対して繰り返す。例えば図２５に示す状態の光ディスク１の場合、記録学習領域Ａを用いた記録学習Ａ（パワー学習）は記録層５（Ｌ１層）で実施されるため、ステップ２７０４での記録学習ＢもＬ１層で実施された状態である。そのため、この記録層を除く記録層３（Ｌ０層）及び記録層７（Ｌ２層）に対して繰り返す。
【０２５０】
ステップ２７０６：記録層Ｌｍにおける最適記録パワーを求める。具体的には記録学習部１５１は、ステップ２７０３にて算出されたパワー変化率２７００と、メモリ１７０中に読み出した記録層Ｌｍにおけるコントロール領域の推奨記録パワーとを乗算することで、記録層Ｌｍにおける最適記録パワー（厳密に言えば、演算で求めることになるので、大よそ適した記録パワー）を求める。
【０２５１】
ステップ２７０７：記録層Ｌｍの記録学習領域Ｂで記録学習Ｂ（ストラテジ学習、マージン確認等。以下記録学習Ｂではストラテジ学習を行うものとして説明を行う。）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、記録層Ｌｍにおける記録学習領域Ｂの次使用位置情報であるＬｍ−ＮＡＰＢ（例えばｍが０（記録層Ｌ０）の場合、記録学習領域Ｂ７０に関する次使用位置情報であるＬ０−ＮＡＰＢ８０１）が指す位置を基準にストラテジ学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ｂ１５８はステップ２７０６にて求められた最適記録パワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス制御部１５４によって算出されたストラテジ学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させ記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。そして、ストラテジ学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、Ｌｍ記録学習領域Ｂ次使用位置情報（ｍが０（記録層Ｌ０）の場合は、Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１）を更新する。
【０２５２】
なお、もし万が一ストラテジ学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０７を繰り返して実施しても良い。
【０２５３】
ステップ２７０８：前述したステップ２７０６からステップ２７０７の処理をステップ２７０４にて記録学習領域Ｂを行った記録層Ｌｎを除く全ての記録層Ｌｍに対して繰り返す。記録学習が完了していない記録層が存在する場合には、ステップ２７０５に戻る。ステップ２７０４にて記録学習領域Ａで学習を行った記録層を除く全ての記録層における記録学習が完了した場合には、ステップ２７０９へ進む。
【０２５４】
ステップ２７０９：記録学習が完了したら、ＴＤＭＡに最新の管理情報を記録（更新）する。具体的にはシステム制御部１５０は記録制御部１５５を用いて、メモリ１７０中に格納されている、上記ステップ２７０２、ステップ２７０４、ステップ２７０７において更新された新しい次使用位置情報を含むＤＤＳ相当のデータを新たなＴＤＭＳ７００として、ＴＤＭＡに追記記録する。なお、このタイミング（現実的には、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａの使用位置を示すポインタ情報をもＤＤＳ７０１が含むため、ＴＤＭＡ（ＤＤＳ７０１）の更新よりも前のタイミング）で、必要に応じて光ディスク記録再生装置１００が実施した学習結果（学習履歴）を記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）へ記録しても良い。
【０２５５】
なお管理情報更新は必ずしも記録学習後のタイミングで行わずとも、光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００から排出されるまでの間に実施されれば良い。
【０２５６】
以上で記録学習処理が完了する。
【０２５７】
このように、記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂにおける次の使用可能な位置（ポインタ）情報を管理情報（ＤＤＳ７０１）に含めておくことで、記録学習を行うたびに次に使用可能な位置の探索を行う必要がなくなり、上記ステップ２７０１においてアクセス位置管理部１５４が効率的に記録学習位置を求めることが出来るため、記録学習処理全体の処理効率も上がる（記録学習の所要時間が短縮できる）。特に記録学習領域Ａについては、レーザ光の入射側から遠い記録層から順に使用されるため、次に使用可能な位置を実際に探索しようとすると、最悪で全ての記録層における記録学習領域Ａへのアクセスが発生する可能性があるため、全ての記録層の記録学習領域Ａに対して１つのポインタ情報で管理することでより効果を発揮することが出来る。
【０２５８】
記録学習領域Ｂは光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が行なわれる領域という制限があるため、少なくとも記録学習領域Ａでの記録学習Ａ（パワー学習）が実施されるよりも後で使用される必要があり、実際にこれらの領域での学習を行う記録学習部１５１（記録学習部Ａ１５７および記録学習部１５８）に対して学習実施の順番をシステム制御部１５０にて制御している。
【０２５９】
なお、上記の図２７の説明においては、システム制御部１５０が記録学習における一連の処理の手順を含めた全体制御を行う位置づけであり、記録学習部１５１（記録学習部Ａ１５７および記録学習部Ｂ１５８）は記録学習におけるパワー学習やストラテジ学習などの学習動作を実施する処理部の位置づけとして説明したが、上記ステップに相当する処理（機能）を実現する手段が存在すれば同様の効果を得ることが出来ることは言うまでも無い。つまり、例えば記録学習部１５１が記録学習全体制御を行ったりしても良いし、１つの手段が複数のステップ（機能）を実現したりしても良い。
【０２６０】
なお、ステップ２７０５における記録層Ｌｍ（ｍは層番号で、ｎ≠ｍである０以上の正数）で行うという処理判定条件を、ｎ＝ｍの記録層も含めた全ての記録層に対して処理を実施するようにして、記録学習領域Ａを実施した記録層Ｌｎにおける記録学習領域Ｂを用いた学習を行うというステップ２７０４をなくし、ステップ２７０６からステップ２７０７の処理に共通化して実施しても良い。
【０２６１】
なお、例えば以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、ステップ２７０２におけるパワー学習時のストラテジ初期値を学習履歴に残されたストラテジとしたりしても良い。あるいは、学習履歴が存在する場合には、記録学習領域Ａを用いた記録学習（パワー学習）を行った記録層での記録学習Ｂ（ストラテジ学習等）を行うというステップ２７０４、あるいは全ての記録学習Ｂに関するステップ２７０４およびステップ２７０７は実施しないなどといった制御を行っても構わない。あるいは、学習履歴に以前求めたパワー変化率２７００に相当する情報やそれに関連する情報（例えば以前の学習実施時の温度情報など）を残しておき、今回記録学習を行う場合の条件が学習履歴に残された条件を満たす場合には、ステップ２７０２における記録学習領域Ａでの記録学習Ａをスキップするといった制御を行っても良い。
【０２６２】
なお、ステップ２７０５では、記録学習Ｂを、Ｌｎ層を除く全ての記録層に対して実施すると記載したが、少なくともデータ領域１４やリードイン領域１３等の管理情報領域へのデータ記録が行われる記録層において記録学習Ｂまでが実施されれば良く、必ずしも全ての記録層に対して実施されなくとも良い。
【０２６３】
なお、全ての記録層における記録学習領域Ａで新たな学習が行えるだけの空き領域が無くなった（枯渇した）時点で、その光ディスク１は新たな記録学習が出来ないため記録禁止として扱われる。同様に、ステップ２７０４、およびステップ２７０７で記録学習領域Ｂを用いた記録学習Ｂ（ストラテジ学習等）を行う必要がある場合で、対象層の記録学習領域Ｂで新たな学習が行えるだけの空き領域が無くなった（枯渇した）時点で、その光ディスク１（厳密に言えば、少なくとも対象記録層）は新たな記録学習が出来ないため記録禁止として扱われる。
【０２６４】
なお、以前に当該光ディスク記録再生装置１００で、対象の記録層において実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合、つまり履歴情報を用いた学習を行う場合には、その記録層への記録パワーは保障できるものとして扱うことが出来る場合など、記録学習領域Ｂでの記録学習で調整可能な場合などは、記録学習領域Ｂに使用可能な領域が残っていれば、記録学習領域Ａが枯渇したからといって、必ずしも記録禁止として扱わなくとも良い。
【０２６５】
なお、本発明の実施の形態４では、追記型光ディスクを例にとって説明したが、同様の考え方を書換え型光ディスクに適用しても良い。つまり、各記録層とも記録学習領域Ａと記録学習領域Ｂを備え、記録学習領域Ａはレーザ入射側から遠い記録層（例えばＬ０層の記録学習領域Ａ６０）から使用していき、その記録層での記録学習領域Ａがサイクル劣化等で使用が危ういと判断された場合などに次の記録層における記録学習領域Ａ（例えばＬ１層の記録学習領域Ａ６１）を使用するといった制限を設け、記録学習領域Ｂは光ディスク１に大よそ適した記録パワーで記録されるという形でも、上述したのと同様の効果を得ることが出来る。但し書換え型光ディスクの場合には記録学習領域も書換え可能な領域であるため、記録学習領域内であれば任意の場所で記録学習を行っても構わない。そのため書換え型光ディスクの場合には、次使用位置情報（ＮＡＰＡ８００やＬ０−ＮＡＰＢ８０１等）は保持しなくとも良いが、記録学習領域Ａの使用順番に制限をつけるため、次に使用可能な記録学習領域Ａの位置情報（物理アドレス、または記録層番号など）を保持する必要がある。
【０２６６】
（実施の形態５）
＜主要パラメータ＞
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがある。以下ではＢＤに関して説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ，書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがあり、本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおける、Ｒ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２６７】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、記録層が１層または２層設けられている。記録層の記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２６８】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（又は０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（又は６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（又は２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（又は２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（又は５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（又は５４．０４０ＧＢ））である。
【０２６９】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２７０】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（又は、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍である。しかしながら、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２７１】
なお、上記は既に商品化が進んでいる、主に１層当たり約２５ＧＢ（又は約２７ＧＢ）の１層又は２層のＢＤに関するものである。更なる大容量化として、１層あたりの記録容量を略３２ＧＢ又は略３３．４ＧＢとした高密度なＢＤや、層数を３層又は４層としたＢＤも検討されており、以降では、それらに関しても説明する。
【０２７２】
＜変調＞
次に、記録信号の変調方式について述べる。
【０２７３】
データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２７４】
ここで変調則としては、マーク長が制限されるＲＬＬ（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈＬｉｍｉｔｅｄ）符号化方式などでもよく、ＲＬＬ（ｄ，ｋ）と表記した場合、１と１の間に出現する０が最小ｄ個，最大ｋ個であることを意味する（ｄおよびｋは、ｄ＜ｋを満たす自然数である）。例えばｄ＝１，ｋ＝７の場合、Ｔを変調の基準周期とすると、最短が２Ｔ、最長が８Ｔの記録マーク及びスペースとなる。またＲＬＬ（１，７）変調に更に次の［１］［２］の特徴を加味した１−７ＰＰ変調としてもよい。１−７ＰＰの“ＰＰ”とは、Parity preserve／Prohibit Repeated Minimum Transition Lengthの略で、［１］最初のＰであるParity preserveは、変調前のソースデータビットの“１”の個数の奇偶（すなわちParity）と、それに対応する変調後ビットパターンの“１”の個数の奇偶が一致していることを意味し、［２］後ろの方のＰであるProhibit Repeated Minimum Transition Lengthは、変調後の記録波形の上での最短マーク及びスペースの繰り返し回数を制限（具体的には、２Ｔの繰り返し回数を最大６回までに制限）する仕組みを意味する。
【０２７５】
＜フレームシンクパターン＞
一方、フレーム間に挿入されるシンクコード／同期符号系列には前述の所定の変調則は適用されないので、その変調則によって拘束される符号長以外のパターンを含ませることが可能となる。このシンクコード／同期符号系列は、記録されたデータを再生するときの再生処理タイミングを決定するもののため、次のようなパターンが含まれてもよい。
【０２７６】
データ符号系列との識別を容易にするという観点からは、データ符号系列には出現しないパターンを含ませてもよい。例えば、データ符号系列に含まれる最長マーク／スペースよりも長いマーク又はスペースやそのマークとスペースの繰り返しである。変調方式が１−７変調の場合、マークやスペースの長さは２Ｔ〜８Ｔに制限されるので、８Ｔよりも長い９Ｔ以上のマーク又はスペース（９ＴＭ and/or ９ＴＳ）や９Ｔマーク／スペースの繰り返し（９Ｔ／９Ｔ）等である。
【０２７７】
同期引き込み等の処理を容易にするという観点からは、マーク／スペースの遷移（ゼロクロス点）を多く発生させるパターンを含ませてもよい。例えば、データ符号系列に含まれるマーク／スペースの内、比較的短いマーク又はスペースやそのマークとスペースの繰り返しである。変調方式が１−７変調方式の場合、最短である２Ｔのマーク又はスペース（２ＴＭ and/or ２ＴＳ）や２Ｔマーク／スペースの繰り返し（２Ｔ／２Ｔ）や、次最短である３Ｔのマーク又はスペース（３ＴＭ and/or ３ＴＳ）や３Ｔマーク／スペースの繰り返し（３Ｔ／３Ｔ）等である。なお、波長、開口数、チャネルビット長、記録密度などによっては、十分な再生特性が得られない長さのマーク及び／又はスペースが含まれることもあるので、そのような場合には、十分な再生特性が得られない長さ以下のマーク及び／又はスペース（例えば最短のマーク及び／又はスペース）を除いてもよい。
【０２７８】
＜フレームシンクの符号間距離＞
前述の同期符号系列とデータ符号系列を含む領域を仮にフレーム領域と呼び、そのフレーム領域を複数（例えば３１個）含む単位を仮にセクタ（又はアドレスユニット（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｕｎｉｔ））と呼ぶことにすると、あるセクタにおいて、そのセクタの任意のフレーム領域に含まれる同期符号系列と、その任意のフレーム領域以外のフレーム領域に含まれる同期符号系列との符号間距離を２以上にしてもよい。ここで符号間距離とは、２つの符号系列を比較した場合、符号系列中の異なるビットの個数を意味する。この様に符号間距離を２以上にすることで、再生時のノイズの影響などにより一方の読み出し系列が１ビットシフト誤りを起こしても、もう一方と誤識別することがない。また、特に、そのセクタの先頭に位置するフレーム領域に含まれる同期符号系列と、先頭以外に位置するフレーム領域に含まれる同期符号系列との符号間距離を２以上にしてもよく、この様にすることで、先頭箇所か否か／セクタの区切り箇所か否かの識別を容易にすることができる。
【０２７９】
なお符号間距離は、ＮＲＺ記録のときは符号系列をＮＲＺ表記した場合、ＮＲＺＩ記録の時は符号系列をＮＲＺＩ表記した場合、における符号間距離の意味を含んでいる。そのため、もしＲＬＬ変調を採用した記録の場合、このＲＬＬとはＮＲＺＩの記録波形の上で高レベル又は低レベルの信号が続く個数を制限することを意味するものであるため、ＮＲＺＩ表記における符号間距離が２以上ということを意味する。
【０２８０】
＜記録方式：Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖ／Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ＞
また記録方式に関しては、媒体に溝を形成することによって、溝部と、溝と溝との間の溝間部と、が形成されることになるが、溝部に記録するか、溝間部に記録するか、溝部と溝間部の両方に記録するか、様々な方式がある。ここで、溝部と溝間部のうち、光入射面から見て凸部となる側に記録する方式をＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式といい、光入射面から凹部となる側に記録する方式をＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式という。本発明において、記録方式として、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、両方式のどちらか一方を許可する方式とするかは特に問わない。
【０２８１】
なお、両方式のどちらか一方を許可する方式の場合、その媒体が、どちらの記録方式であるかを容易に識別できるように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかを示した記録方式識別情報を媒体に記録してもよい。多層情報記録媒体については、各層についての記録方式識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録方式識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録方式識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録方式識別情報を記録してもよい。
【０２８２】
また記録方式識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
【０２８３】
またウォブルの開始方向に関しては、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とで互いに逆となるようにしてもよい。つまり、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの内周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの外周側から開始するようにし（、又は、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの外周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの内周側から開始するようにし）てもよい。このように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とでウォブルの開始方向互いに逆となるようにすることで、どちらの方式にしてもトラッキングの極性を同一にすることができる。なぜなら、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凸部となる側に記録を行うのに対して、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凹部となる側に記録を行うため、仮に両者で溝の深さが同じである場合、トラッキング極性は逆の関係となる。そこで、両者でウォブルの開始方向も互いに逆とすることにより、トラッキング極性を同じにすることができる。
【０２８４】
＜記録特性と反射率：Ｈｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗ，Ｌｏｗ ｔｏ Ｈｉｇｈ＞
また、記録膜の特性に関しては、記録部分と未記録部分との反射率の関係により、以下の２つの特性のものがある。つまり、未記録部分が記録済部分よりも高反射率（Ｈｉｇｈ−ｔｏ−Ｌｏｗ）であるＨｔｏＬ特性と、未記録部分が記録済部分よりも低反射率（Ｌｏｗ−ｔｏ−Ｈｉｇｈ）であるＬｔｏＨ特性である。本発明において、媒体の記録膜特性として、ＨｔｏＬであるか、ＬｔｏＨであるか、どちらか一方を許可するものであるかは特に問わない。
【０２８５】
また、どちらか一方を許可するものの場合、どちらの記録膜特性であるかを容易に識別できるように、ＨｔｏＬであるかＬｔｏＨであるかを示した記録膜特性識別情報を媒体に記録してもよい。多層情報記録媒体については、各層についての記録膜特性識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録膜特性識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録膜特性識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録膜特性識別情報を記録してもよい。
【０２８６】
また、記録膜特性識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
【０２８７】
＜多層について＞
レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層ディスクの構成例を図２９に示す。図示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２で構成されている（ｎは０以上の整数）。その構成を具体的に説明すると、光ディスクには、レーザ光５０５が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、そして基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２の層間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２８８】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２８９】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向，スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。
【０２９０】
パラレル・パスでは、全ての層において、再生方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全層にて内周から外周の方向へ、又は全層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２９１】
一方、オポジット・パスでは、ある層とその層に隣接する層とで、再生方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）における再生方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、記録層Ｌ１における再生方向は外周から内周へ向かう方向であり、記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、再生方向は、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２９２】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がることで、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５，ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば記録媒体の全体の厚さ１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚さはさらに薄くしてもよい。
【０２９３】
なお、以上の各種のフォーマットや方式に関しては、記録密度（１層あたりの記録容量）が向上すると、複数の記録密度が存在する可能性が生じることになる。記録密度の違いや記録層の数により、その一部を採用し、一部を採用せずに別のフォーマットや方式を採用してもよい。以下では、多層（特に３層以上の場合）や高記録密度（例えば、１層あたり３０ＧＢ以上の場合）について述べる。
【０２９４】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図３０に、二層ディスクの構成例を図３１に、三層ディスクの構成例を図３２に、四層ディスクの構成例を図３３に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、図３１から３３のいずれにおいても、ディスクの総厚さは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）、基板５００の厚さは略１．１ｍｍ、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図３０の単層ディスク（図２９においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍ、また、図３１の二層ディスク（図２９においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍ、中間層５０３２の厚さは略０．０２５ｍｍ、また、図３２の三層ディスク（図２９においてｎ＝２の場合）や図３３の四層ディスク（図２９においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１３，５０１４の厚さ、及び／又は、中間層５０３３，５０３４の厚さは、更に薄くなる。
【０２９５】
（実施の形態６）
図３４は、本実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク６０１には、たとえば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック６０２が形成されており、各トラック６０２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック６０２には予め定められたサイズのブロック６０３を単位としてデータが記録される。
【０２９６】
本実施形態による光ディスク６０１は、従来の光ディスク（たとえば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、たとえば光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク１は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２９７】
トラック６０２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロックに分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロックは、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２９８】
＜記録密度について＞
次に、記録密度について、図３５、図３６および図３７を用いて説明する。
【０２９９】
図３５（Ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ６２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０３００】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック６０２上に物理変化のマーク列６２０、６２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク６２１が最短マークである。
【０３０１】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク６２１の物理的長さは０．１４９ｕｍとなっている。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０３０２】
図３６は、トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット６３０は、約０．３９ｕｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット６３０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０３０３】
たとえば図３５（Ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ６２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ７２０の開口数ＮＡは０．８５である。このディスクのマーク列６２５、６２４のうち、最短マーク６２５の物理的長さは０．１１１５ｕｍとなっている。図３５（Ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９ｕｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０３０４】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０３０５】
図３７は、２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０３０６】
そのため、図３５（Ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０３０７】
図３８は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図３８において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０３０８】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
また、高記録密度のディスクＢにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０３０９】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとしたとき、（最短マーク長＋最短スペース長）を“Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いると、
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
となるまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超えることになる。
【０３１０】
ＮＡ＝０．８５，λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
となる（なお、逆に、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡ  である場合は、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い）。
【０３１１】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０３１２】
なお、以上では、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録密度に関して述べたものである。更に高密度化が進んだ場合には、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係により、以上と同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度，記録容量）を設定してもよい。
【０３１３】
＜記録密度及び層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ，開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合においては、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，又は３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３１４】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３１５】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０３１６】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０３１７】
ここで、ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、即ち、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０３１８】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０３１９】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０３２０】
本発明にかかる情報記録媒体は、記録層を複数備えた追記型、および書換え型光ディスクに対して適用できる。【０３２１】
本発明にかかる情報記録再生方法は、記録層を複数備えた追記型、および書換え型光ディスクを記録再生可能な光ディスクドライブ装置などに適用できる。
【符号の説明】
【０３２２】
１    ディスク基板
２、４、６    記録層
３、５        中間層
７    カバー層
１１    トラック
１２    ブロック
１３    リードイン領域
１４    データ領域
１５    リードアウト領域
２０、２１、２２、２３    パワー学習領域
３０、３１、３２    ストラテジ学習領域
４０    予備領域
５０    ＯＰＣ領域
５１    パワー学習用
５２    ストラテジ学習用
６０、６１、６２    記録学習領域Ａ
７０、７１、７２    記録学習領域Ｂ
１００    光ディスク記録再生装置
１１０    命令処理部
１２０    光ヘッド
１３０    レーザ制御部
１４０    記録補償回路
１５０    システム制御部
１５１    記録学習部
１５２    パワー学習部
１５３    ストラテジ学習部
１５４    アクセス位置管理部
１５５    記録制御部
１５６    再生制御部
１５７    記録学習部Ａ
１５８    記録学習部Ｂ
１６０    メカ制御部
１７０    メモリ
１８０    Ｉ／Ｏバス
２００    第１の記録学習領域
２０１    第２の記録学習領域
２１０    リザーブ領域
４００    記録対象領域
４０１、４０２  レーザ光影響範囲
４１０、４１１  レーザ光照射範囲
７００    ＴＤＭＳ
７０１    ＤＤＳ
７０２    ＤＦＬ
７１０    識別子
７１１    ＤＦＬ位置情報
７１２、７１３、７１４  パワー学習領域次使用位置情報
７１５、７１６、７１７  ストラテジ学習領域次使用位置情報
７１８    その他の情報
８００    記録学習領域Ａ次使用位置情報
８０１、８０２、８０３    記録学習領域Ｂ次使用位置情報
１３０１  パワー学習領域内周側次使用位置情報
１３０２  パワー学習領域外周側次使用位置情報
１７０１、１７０５、１７０９  パワー学習最終位置情報
１７０２、１７０６、１７１０  パワー学習次使用位置情報
１７０３、１７０７、１７１１  ストラテジ学習最終位置情報
１７０４、１７０８、１７１２  ストラテジ学習次使用位置情報
２７００    パワー変化率
【図１】
2010035444.tif 000003
【図２】
2010035444.tif 000004
【図３Ａ】
2010035444.tif 000005
【図３Ｂ】
2010035444.tif 000006
【図３Ｃ】
2010035444.tif 000007
【図３Ｄ】
2010035444.tif 000008
【図３Ｅ】
2010035444.tif 000009
【図３Ｆ】
2010035444.tif 000010
【図４】
2010035444.tif 000011
【図５】
2010035444.tif 000012
【図６】
2010035444.tif 000013
【図７】
2010035444.tif 000014
【図８】
2010035444.tif 000015
【図９】
2010035444.tif 000016
【図１０】
2010035444.tif 000017
【図１１】
2010035444.tif 000018
【図１２】
2010035444.tif 000019
【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【手続補正書】
【提出日】平成23年2月3日(2011.2.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録調整（すなわち記録学習）用の領域を含む複数の記録層を備えた情報記録媒体、その記録媒体に対する記録再生方法、および、記録再生装置に関する。より具体的には、本発明は、複数の記録層を備えた、ＢＤ−Ｒなどの追記型光ディスク、ＢＤ−ＲＥなどの書換型光ディスク等に有効な情報記録媒体、そのような情報記録媒体を利用した情報の記録再生方法、および、記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、大容量で交換可能な情報記録媒体、およびそれを扱うディスクドライブ装置が広く普及している。
【０００３】
従来の大容量で交換可能な情報記録媒体としては、ＤＶＤやＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（以下、ＢＤとも記載する。）といった光ディスクが良く知られている。光ディスクドライブ装置は、レーザ光を用いて光ディスク上に微小なピット（記録マーク）を形成することによって記録再生を行う装置であり、大容量で交換可能な情報記録に適している。ＤＶＤは赤色レーザ光、ＢＤは赤色レーザより波長が短い青色レーザ光を用いることが特徴であり、それによりＢＤはＤＶＤよりも記録密度を高め、大容量化を実現している。
【０００４】
更に近年では、より大容量化を実現するための１つの方法として多層化、つまり記録膜を複数備えるような光ディスクの開発が盛んで、既にＤＶＤやＢＤでは記録層を２層備えた２層ディスクが商品化されており、今後も６層や８層といった更なる多層化が予想される。
【０００５】
図１は、記録層を３層備えた３層光ディスクの概念図である。光ディスク１は基板２の上に記録層３、記録層５、記録層７が積み重ねられ、更に各記録層の間には記録層の保護的な役割を担う中間層４、中間層６を備え、ディスク表面はポリカーボネート樹脂等で形成されたカバー層８で覆われた形で形成されている。光レーザはディスク表面であるカバー層８側から照射される。また、基板２に接して形成された記録層、つまりディスク表面から遠い記録層を基準とし、基準層側から順に、記録層３はＬ０層、記録層５はＬ１層、記録層７はＬ２層と呼ばれる。以降、本明細書ではこの呼び方を採用する。なおこの呼び方はあくまで一例であり、ディスク表面に近い側からＬ０層、Ｌ１層と呼ぶような場合もある。
【０００６】
図２は、一般的な光ディスクの記録層における領域構成図である。円盤状の光ディスク１の記録層には、スパイラル状に多数のトラック１１が形成されており、各トラック２には細かく分けられた多数のブロック１２が形成されている。
【０００７】
ここで、トラック１１の幅（トラックピッチ）は、例えばＢＤでは０．３２μｍである。またブロック１２は、エラー訂正の単位であり、記録および再生動作が行われる最小の単位である。例えば、ＤＶＤの場合には１ＥＣＣ（サイズ：３２ＫＢｙｔｅ）、ＢＤの場合には１クラスタ（サイズ：６４Ｋｂｙｔｅ）といったサイズであり、光ディスクのデータの最小単位であるセクタ（サイズ：２ＫＢｙｔｅ）という単位を用いて説明すると、１ＥＣＣ＝１６セクタ、１クラスタ＝３２セクタとなる。
【０００８】
各記録層は、リードイン領域１３とデータ領域１４とリードアウト領域１５から構成される。
【０００９】
データ領域１４とは、音楽やビデオなどのリアルタイムデータや文章やデータベースな
どのコンピュータデータなど、ユーザによって任意の情報が記録可能な領域である。
【００１０】
リードイン領域１３は、光ディスク１の径方向に向かってデータ領域１４より内周側に位置する。またリードアウト領域１５は光ディスク１の径方向に向かってデータ領域１４より外周側に位置する。これらの領域は、光ディスク１に関する管理情報を記録するための領域（ＤＭＡ領域や一時的ＤＭＡ領域）や、記録パワーなどの調整用領域（ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域）等を備えており、さらに光ピックアップ（図示せず）のオーバーランを防ぐ役割を果たす。
【００１１】
ところで、このような光ディスクへの記録においては、最適な記録条件（例えば記録パワーや、「ストラテジ」と呼ばれるパルスの発生タイミングやパルスの長さ等）で記録することが記録再生品質の観点からも重要であり、そのために光ディスクの所定の領域において試し記録（以降、記録学習と呼ぶ）を行なうことで最適なパワー、ストラテジを求めるという方法が広く用いられている（例えば特許文献１）。
【００１２】
記録学習は、リードイン領域１３やリードアウト領域１５などに備えられた記録学習領域（以降、ＯＰＣ領域とも呼ぶ）において実施される。
【００１３】
図１８は、一般的な記録学習手順を示したフロー図である。
【００１４】
ステップ１８０１：記録パワーの調整（以降、パワー学習と呼ぶ）を行う。具体的には、記録パワーを段階的に変えながらの記録（階段記録）を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ（Ｂｌｏｃｋ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）等）を測定し、記録品質が最も良くなる最適なパワーを求める。
【００１５】
ステップ１８０２：記録パワーを固定して、記録ストラテジの調整（以降、ストラテジ学習と呼ぶ）を行う。具体的には、ステップ１８０１で求めた最適パワーで記録パワーを固定させ、パルス幅を変えながら記録を行ない、記録した領域の記録品質を測定し、記録品質が最も良くなる最適なストラテジを求める。
【００１６】
ＢＤなどの光ディスクでは、光レーザを記録層に照射し、例えばアモルファス状態から結晶状態に変化させることによってデータが記録される。このように記録層の状態が変化するため、光の透過率と反射率（つまり光学特性）が変化する。すなわち記録済みの領域と未記録の領域では、光学特性が異なるという特徴を持つ。
【００１７】
そのため記録層を２層以上備えた光ディスクでは、最適な記録パワーの学習を行う際に、他層の記録状態（記録済み状態か未記録の状態か）によって求まるパワーに差が生じるという課題がある。具体的には、例えば記録パワーの調整の際に過大なパワーでの記録を行なってしまい、学習に用いた領域を破壊してしまうことで、破壊した領域に対応する他層の領域の記録特性に影響を与えることもある。また破壊に至るような極端に大きな記録パワーでなくとも、記録されたパワーの大小によっても透過率は異なる。特に、ディスクに適した記録パワーではないパワーで記録を行なった領域は、ディスクに適したパワーで記録を行なった領域と比べて透過率の変化が大きくなり、その影響を受けやすい。
【００１８】
多層光ディスクでは、レーザ光が通過する記録層の記録状態によってレーザ光の透過率が変動する。そのため、レーザ光の入射面から数えて２層目より深い（入射面から遠い）位置の記録層では、その記録層の手前（レーザ光の入射面側）の記録層の記録状態によって、同じ記録層内であっても記録特性に差が生じてしまう。特にパワーを変えながら記録を行うパワー学習を行なった領域は、パワー学習の際には最適な記録パワーを求めるために光ディスクに適した範囲を超える記録パワーで記録が行われる可能性もある。パワー学習を行った領域は最も透過率に影響を与える領域の１つである。
【００１９】
そのため、ある記録層に情報を記録するために、より浅い他層でのパワー学習で使用された領域をレーザ光が通過する場合には、レーザ光は他層の透過率バランスの影響を大きく受けてしまうことになる。そのような透過率がばらついた状態で記録された領域の記録品質から最適な記録パワーを求めようとしても、正しい適正パワーを求めることが出来ない。そのため、これらの課題を回避する方法として、ＯＰＣ領域の配置に制約を設ける方法が良く知られている（例えば特許文献２や特許文献３）。
【００２０】
図１９は、記録層を２層備えた光ディスクにおけるＯＰＣ領域の配置を示した図である。記録層Ｌ０に配置される第１の記録学習領域２００と記録層Ｌ１に配置される第２の記録学習領域２０１とが異なる半径範囲内の位置に配置されている。さらに記録学習領域とディスク表面（レーザ光の入射面）との間に存在する他層の領域は、リザーブ領域（未使用領域のことで、予備領域とも呼ぶ）として確保されている。図１９の例では、記録層Ｌ１では、第１の記録学習領域２００と同じ半径範囲の領域（第１の記録学習領域２００に対応する記録層Ｌ１の領域）がリザーブ領域２１０（未使用領域）として確保されている。例えば１回のみ記録可能な追記型メディアの場合、未使用領域であるリザーブ領域は未記録な状態となる。これにより、どちらの記録層の記録学習領域を使用する場合にも記録学習領域にレーザ光が届くまでの間に記録済み領域が存在しないため、他記録層の透過率の影響を受けず、常に同一条件下で記録学習が出来る。
【００２１】
また記録層が２層より多くなった場合も考慮し、例えば特許文献３は、奇数番目の記録層におけるＯＰＣ領域と、これに隣接する偶数番目の記録層のＯＰＣ領域とが異なる半径範囲位置に配置される構成が例示されている。つまり、奇数層同士、偶数層同士は同一半径範囲位置に各ＯＰＣ領域が配置されても良い。または、各層とも異なる半径範囲位置にＯＰＣ領域が配置される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２２】
【特許文献１】特開２００７−３０５１８８号公報
【特許文献２】特開２００５−０３８５８４号公報
【特許文献３】特表２００７−５２１６０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
しかしこの方法では、記録層が増えていった場合に次のような問題が生じる。最も大きな問題は、記録層が増えていくに従って、ＯＰＣ領域、予備領域の確保が困難になるという点である。
【００２４】
図２０（Ａ）および（Ｂ）は、従来例の方法で記録層が３層の場合のＯＰＣ領域の配置を示した図である。説明の都合上、各記録層のＯＰＣ領域のサイズを一定サイズ（例えば、Ｓクラスタ）であるとして説明を行う。図２０（Ａ）に示すように、異なる半径位置に各層のＯＰＣ領域を確保しようとした場合は、３層ディスクの場合は各層は３×Ｓクラスタ分のサイズを要してしまう。そのうち、予備領域に相当する２×Ｓクラスタ分の領域が使用出来ない領域となる。リードイン領域１３もしくはリードアウト領域１５のサイズが有限であることを考えると、層が増えるに従って予備領域、つまり使用出来ない領域のサイズが増えてしまう。また、記録層の数が増えると、予備領域が増加する影響で、リードイン領域またはリードアウト領域内にＯＰＣ領域を確保することが困難になることが予想される。
【００２５】
また図２０（Ｂ）に示すように、奇数層同士、偶数層同士は同一半径位置に配置する場合を考えると、必要になる領域サイズは記録層を２層備えた場合と同じ２×Ｓであるが、この場合は上述したように他層の記録状態によって求まるパワーに差が生じるという課題を解消できない。
【００２６】
またこれとは別の方法として、例えばＯＰＣ領域を確保するためにリードイン領域１３、あるいはリードアウト領域１５のサイズを大きくするという方法も考えられる。しかしながら、これらの領域のサイズが大きくなれば、その分データ領域１４のサイズが小さくなってしまう。つまりＯＰＣ領域のサイズを確保するためにデータ領域１４のサイズを削ってしまった場合には、ユーザデータを記録できる容量が減ってしまい、ユーザにとってデメリットが生じてしまう。よって、リードイン領域１３、リードアウト領域１５のサイズは出来るだけ小さい方が好ましい。
【００２７】
またさらに、図２０の（Ａ）のように各層のＯＰＣ領域を異なる半径位置に確保するための方法として、ＯＰＣ領域のサイズを小さくすることが考えられる。これにより、リードイン領域１３、もしくはリードアウト領域１５に占めるＯＰＣ領域（プラス予備領域）の割合を抑えることが可能となる。しかしながら、ＯＰＣ領域のサイズが小さくなるとそれだけ記録学習を行うことが出来る回数が減ってしまう。一般的に記録学習が出来ないメディア（記録層）では記録パワー等が保証できないため、情報の記録が禁止されることが多い。ＯＰＣ領域のサイズを小さくし、記録学習が出来なくなった場合には、もはやそれ以上記録できなくなるため、ユーザにとってデメリットを生ずる可能性が高まり、これも好ましくない。
【００２８】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、その目的は、複数の記録層のそれぞれに備えられる記録学習用の領域（記録学習領域またはテスト領域）でパワー学習やストラテジ学習などの記録学習（テスト記録）を行う際に、他の記録層での記録学習に及ぼす影響を最小化させることにある。また他の目的は、記録学習領域が備えられるリードイン領域やリードアウト領域において、記録学習領域を効率的に配置することでリードイン領域やリードアウト領域の増加や（ユーザ）データ領域の減少を防ぐことが可能な領域配置の情報記録媒体およびその使用方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明による情報記録媒体は、一方の面から入射したレーザ光により複数の記録層うちの少なくとも１層にデータが記録される情報記録媒体であって、前記複数の記録層は、第１の記録層と、前記第１の記録層から前記レーザ光が入射する入射面の方向に順に配置された第２〜第Ｎの記録層（Ｎは３以上の整数）を含み、前記複数の記録層のそれぞれは、第１の学習領域と、前記第１の学習領域よりも外周側に位置する第２の学習領域とを備え、前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第１の学習領域は、他の記録層の第１の記録学習領域とは異なる半径位置に配置され、前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第２の学習領域は、他の記録層の第２の記録学習領域と同一の半径位置に配置される。
【００３０】
前記第２の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、前記第１の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅以下であってもよい。
【００３１】
前記第１〜第Ｎの記録層のそれぞれには、物理アドレスが割り振られており、前記第１の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第２の記録層の物理アドレスは、外周側から内周側に向かって昇順に割り振られ、前記第３の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第１の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用され、前記第２の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、内周側から外周側の方向に使用され、前記第３の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用されてもよい。
【００３２】
本発明による記録方法は、上述の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、前記第１の学習領域および前記第２の学習領域の少なくとも一方において、記録学習を行うステップと、前記記録学習の結果に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するステップとを包含する。
【００３３】
本発明による再生方法は、上述の情報記録媒体から情報を再生する再生方法であって、前記情報記録媒体の前記１〜第Ｎの記録層のうちの少なくとも１層は、前記情報記録媒体に関する情報が記録されているコントロール領域を有し、前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップを包含する。
【００３４】
本発明による記録方法は、上述の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、前記複数の記録層はそれぞれ、最適な記録条件を求めるための記録学習を行うための記録学習領域を備え、前記記録方法は、第ｋの記録層（ｋは１以上かつＮ以下の整数）において最初に記録を行うタイミングで、前記第ｋの記録層においてのみ、前記記録学習を行う。
【発明の効果】
【００３５】
記録層を複数備えた記録媒体において、記録パワー学習のように最適な記録パワーとは保証できないパワーで記録パワーを変化させた記録をおこなうために、その領域を通過するレーザ光の透過率に大きく影響するような学習を行うための領域と、記録ストラテジ学習のように最適なパワーに記録パワーを固定させた記録を行なうために、その領域を通過するレーザ光の透過率への影響が小さいような学習を行うための領域を分割し、さらに最適な記録パワーとは保証できないパワーで記録パワーを変化させた学習を行うための領域についてはいずれの記録層とも異なる半径位置に配置する。これにより、記録学習用のＯＰＣ領域（および予備領域）が要する領域サイズを最小限に抑えつつ、かつ他の記録層の学習結果に及ぼす影響も最小化することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】記録層を３層備えた一般的な光ディスクの構成図である。
【図２】一般的な光ディスクにおける記録層の説明図である。
【図３Ａ】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域構成図である。
【図３Ｂ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｃ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｄ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｅ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図３Ｆ】光ディスクの領域構成の変形例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１、２、３、４におけるレーザ光の照射影響範囲説明図である。
【図５】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図６】本発明の実施の形態１における光ディスクのパワー学習領域使用手順説明図である。
【図７】本発明の実施の形態１における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図８】本発明の実施の形態１における光ディスクのパワー学習関連情報説明図である。
【図９】本発明の実施の形態１、２、３における光ディスク記録再生装置の構造図である。
【図１０】本発明の実施の形態１、２、３における記録学習手順説明図である。
【図１１】本発明の実施の形態１における光ディスクの領域構成の別例を示す説明図である。
【図１２】本発明の実施の形態２における光ディスクの領域構成図である。
【図１３】本発明の実施の形態２における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図１４】本発明の実施の形態２における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図１５】本発明の実施の形態３における光ディスクの領域構成図である。
【図１６】本発明の実施の形態３における光ディスクの領域使用方法説明図である。
【図１７】本発明の実施の形態３における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図１８】一般的な記録学習手順概念説明用のフロー図である。
【図１９】従来例における光ディスクの領域構造図である。
【図２０】従来例を、記録層を３層備えた光ディスクに適用した場合の領域構造図である。
【図２１】本発明の実施の形態４における光ディスクの領域構成図である。
【図２２】本発明の実施の形態４における光ディスクの領域構成の別例を示す説明図である。
【図２３】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習領域Ａの使用方法説明図である。
【図２４】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習関連情報データ構造説明図である。
【図２５】本発明の実施の形態４における光ディスクの記録学習関連情報の具体例を示す説明図である。
【図２６】本発明の実施の形態４における光ディスク記録再生装置の構造図である。
【図２７】本発明の実施の形態４における記録学習手順説明図である。
【図２８】パワー学習領域及びストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅の関係を示す説明図である。
【図２９】多層ディスクの構成例を示す図である。
【図３０】単層ディスクの構成例を示す図である。
【図３１】二層ディスクの構成例を示す図である。
【図３２】三層ディスクの構成例を示す図である。
【図３３】四層ディスクの構成例を示す図である。
【図３４】実施の形態５による光ディスク６０１の物理的構成を示す図である。
【図３５】（Ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す図、（Ｂ）は２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す図である。
【図３６】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す図である。
【図３７】２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークの関係を示す図である。
【図３８】最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０になっている例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３７】
以下、添付の図面を参照しながら、本発明による情報記録媒体、情報の記録および／または再生を行うための装置および方法の実施形態を説明する。
【００３８】
本発明の実施の形態の説明においては、情報記録媒体として１回のみ記録可能な媒体である追記型情報記録媒体を用いて説明を行う。
【００３９】
（実施の形態１）
（１）領域配置
図１は、記録層を３層有する追記型光ディスク１の積層構造を示している。
【００４０】
図１に示すように、光ディスク１は、レーザ光が照射される光ディスク１のカバー層８から遠い順に（つまり基板２からレーザ光が入射するカバー層８に向かって順に）Ｌ０層（記録層３）、Ｌ１層（記録層５）、Ｌ２層（記録層７）を備える。
【００４１】
各記録層は、図２に示すように、リードイン領域１３、データ領域１４、リードアウト領域１５から構成されている。
【００４２】
図３Ａは、本発明の実施の形態１における、記録層を３層備えた追記型光ディスク１の領域構成図である。各記録層のリードイン領域１３は、記録学習用のＯＰＣ領域として、パワー学習領域およびストラテジ学習領域を備えている。図示されている例では、Ｌ０層はパワー学習領域２０およびストラテジ学習領域３０を有し、Ｌ１層はパワー学習領域２１およびストラテジ学習領域３１を有し、Ｌ２層はパワー学習領域２２およびストラテジ学習領域３２を有している。また、ある記録層のパワー学習領域と同一半径範囲位置に存在する他の記録層の領域は、予備領域４０として割り当てられる。
【００４３】
パワー学習領域は、記録パワーの学習（パワー学習）を行うための領域である。パワー学習領域は、主に、記録パワーを変動させるなどして記録を行い、最適な記録パワーを求めるために使用される。図３Ａに示すように、各記録層に存在するパワー学習領域２０、パワー学習領域２１、パワー学習領域２２は他の記録層のパワー学習領域とは半径方向に重なる領域を含まないように、つまり異なる半径位置に配置される。これは上述したように、他層の記録状態によって生ずる透過率、反射率（特に半径位置が重なる他層の領域がパワーを変動させながら記録を行なうパワー学習で使用された領域だった場合の透過率、反射率）などの光学特性の差が、記録パワーに大きく影響を与えるためである。特に記録学習を行う際に、レーザ光が通過する他層の領域が、記録パワーを変えながらの記録を伴うパワー学習が行われた領域と重ならないようにずらすことを目的としている。その一例として、他層の記録状態を一定とする（予備領域４０を未使用の状態とする）ことで、光学特性による差が生じるのを防ぐことが出来る。
【００４４】
ストラテジ学習領域は、記録パルス幅の学習（ストラテジ学習）を行うための領域である。ストラテジ学習領域は、記録パワーはパワー学習で求められた光ディスク１に適した記録パワーで固定してパルス幅を変動させるなどして記録を行い、最適なストラテジを求めるために主に使用される。図３Ａに示すように、各記録層に存在するストラテジ学習領域３０、ストラテジ学習領域３１、ストラテジ学習領域３２は、パワー学習領域とは異なる領域として確保され、他の記録層のストラテジ学習領域と半径方向に重なる領域を含むように、つまり例えば図３Ａに示すように同一半径位置に配置される。このような配置は、ストラテジ学習はパワー学習の後に行われること、すなわち、各記録層に大よそ適した記録パワーが決定された後に行われることに起因している。光ディスク１の各記録層に大よそ適した記録パワーで記録された領域の透過率バランスは大きく崩れることは無く、透過率をある所定の範囲に抑えることが出来るという特性がある。ストラテジ学習では光ディスク１の各記録層に適した記録パワーで記録が行われるため、他層のストラテジ学習を行った領域をレーザ光を通過させて記録を行なっても、他層の記録状態による透過率の影響をほとんど受けない（無視できる程度に抑えることができる）。
【００４５】
ここで、図３Ａに示す各記録層のパワー学習領域と予備領域との境界位置は、表記上、隣接する記録層の間ではきっちり同一半径位置になるよう記載している。しかしながら、実際にはきっちり同一半径位置とならなくてもよい。たとえば、ディスク製造時の各記録層の貼り合わせ誤差や、レーザ光の特性による影響により、隣接する記録層の間でパワー学習領域と予備領域との境界位置がずれてもよい。
【００４６】
なお、本発明の実施の形態１ではリードイン領域１３に記録学習用のＯＰＣ領域を備えた例で説明を行うが、これに限定されるものでは無い。つまり記録学習用のＯＰＣ領域をリードイン領域１３の他に更にリードアウト領域１５に備えても良いし、あるいは記録層毎にリードイン領域１３もしくはリードアウト領域１５のいずれか一方に設ける等でも良い。
【００４７】
また、本実施形態ではリードイン領域１３にＯＰＣ領域全体（パワー学習領域およびストラテジ学習領域の両方）を配置した。しかしながら本実施形態においては、パワー学習領域とストラテジ学習領域とが同じ記録層上に設けられていれば、各々が設けられる位置は任意である。その理由は、本実施形態で問題としているのは複数の記録層の各々に設けられたパワー学習領域の相互の位置関係であり、同様に、複数の記録層の各々に設けられたストラテジ学習領域の相互の位置関係だからである。パワー学習領域およびストラテジ学習領域が同じ記録層上に設けられているという条件を満たしていれば、必ずしも両方が同じ領域（リードイン領域１３、あるいはリードアウト領域１５など）に配置されなくても良い。例えばパワー学習領域をリードイン領域１３に設け、ストラテジ学習領域をリードアウト領域１５に設けるなど、パワー学習領域とストラテジ学習領域とをそれぞれ異なる領域内に分離して配置しても良い。
【００４８】
次に予備領域４０を説明する。ある記録層に着目すると、その記録層のパワー学習領域が使用されるまでは、その記録層とディスク表面（レーザ光入射面）との間に存在する他の記録層の予備領域４０は、未使用の状態で維持される。追記型光ディスクの場合には、予備領域４０は未記録の状態で維持される。
【００４９】
なお、図３Ａの各領域の配置は一例であり、各領域を異なる位置に配置してもよい。
【００５０】
例えば図３Ａでは、パワー学習領域をＬ０からＬ２に向かって内周側から外周側に配置しているが、あくまでこれは一例である。パワー学習領域が他の記録層とも異なる半径位置に配置され、かつ他の記録層のパワー学習領域と同一半径位置に相当する領域がパワー学習領域使用時に未使用状態であることを満足できる領域配置であれば良い。例えば、図３Ｂ〜図３Ｆ(ｂ)〜（ｆ）に示すように各記録層のパワー学習領域を配置してもよい。図３Ｂ〜図３Ｆのいずれについても、各記録層に配置されたパワー学習領域は、他の記録層のパワー学習領域とは異なる半径位置に配置されていることが理解される。
【００５１】
図４は、レーザ光による各記録層の影響を説明するための説明図である。図に示すように、例えばＬ０層の領域４００へ連続して記録を行なう場合を考える。レーザ光はＬ０層に集光されて、範囲４１０から範囲４１１までの間を動くことになる。そのため、Ｌ０層の領域４００への情報の記録に対しては、Ｌ１層の領域４０１、Ｌ２層の領域４０２の各記録状態による光学特性が影響する。ある記録層に対して情報を記録する際には、その記録層よりも浅い記録層ほど（すなわちレーザ光の入射面に近い記録層ほど）、当該浅い記録層を透過するレーザ光の面積が大きくなる。よって、レーザ光が透過する当該浅い記録層の予備領域の光学特性を一定に保つ、つまり記録状態を未使用状態のまま一定に保つためには、予備領域のサイズは、各記録層の位置に応じたレーザ光の広がり分程度は必要となる。よって実際のパワー学習領域の配置については、半径位置に加えて、これらの影響を考慮して配置する必要がある。
【００５２】
なお本来は完全な同一半径位置にはならないが、本明細書においては説明の都合上、特に明記しない限りはこれらの影響については説明しないことに留意されたい。つまり、明記していなくとも、貼り合わせ誤差やレーザ光の広がりによる影響がある範囲へも考慮が必要である。ただし、当業者であればその影響する範囲の予測が可能であるため、そのような影響を考慮したパワー学習領域の配置、予備領域の配置およびストラテジ領域の配置が可能である。また本明細書においては、この貼り合わせ誤差やレーザ光による影響を含んだ同一半径位置に相当する位置を、明示的に同一半径範囲位置と呼ぶ場合もあるが、同一半径位置と記載していても、これらの影響を含んでいる。
【００５３】
上述のように、パワー学習領域は、最適な記録パワーであるとは保証できないパワーでパワーを変化させて記録を行う領域である。その際に使用される記録パワーは最適な記録パワーよりも強いまたは弱い可能性があり、記録済みのパワー学習領域を通過するレーザ光の透過率は一定にならない（透過率バランスが崩れる）可能性がある。つまり、ある記録層での記録学習時に、他層のパワー学習実施済み領域をレーザ光が通過してしまうと、特に入射面よりも深い（遠い）記録層での記録学習結果に対して大きな影響を及ぼしてしまう可能性がある。一方、ストラテジ学習領域は、最適なストラテジ等を求めるために最適な記録パワー、もしくはおおよそ適していると保証できる記録パワーで記録を行う領域であるため、他層の記録状態による透過率の影響がほとんど無視できる領域である。
【００５４】
本発明の実施の形態１に示すように、パワー学習領域は他の記録層と異なる半径位置に配置し、ストラテジ学習領域は例えば全ての記録層とも同一半径位置に配置する。これにより、全ての記録層における記録学習結果に対して、他層の記録状態による影響を防ぐことが出来る。また、記録層が増えることで必要になるＯＰＣ領域として確保しなくてはならない領域サイズ（パワー学習領域とストラテジ学習領域と予備領域が占める合計サイズ）を最小限に抑えることが出来る。その結果、記録学習に必要な領域を確保することが出来、ユーザが使用可能（＝記録学習が実施可能）な回数が減るという問題も解決できる。さらに、リードイン領域１３やリードアウト領域１５の増加を抑えることが出来、データ領域１４のサイズが減ってユーザが使用可能な領域サイズが減るという課題も解決できる。
【００５５】
なお、予備領域４０は基本的に未使用のままの領域と記載したが、条件によっては使用しても良い。具体的には、この領域の目的は他層のパワー学習領域が使用される際に未使用状態（追記型光ディスクならば未記録状態）にしておければ良く、言いかえれば同一半径位置に配置される他の記録層のパワー学習領域が使用された後であれば使用しても影響は無い。よって例えば、ストラテジ学習領域の空き容量が少なくなったり無くなったりしたような場合などには、ストラテジ学習領域として割り当てしなおして使用するなどしても良い。
【００５６】
また、予備領域４０に限らず、例えばパワー学習領域が枯渇したがストラテジ学習領域はまだ空いているような場合には、他層の記録状態が同じ（未使用）であるという前提において、空いているストラテジ学習領域の一部をパワー学習領域として割り当てしなおして用いてもよい。ただし、またその逆の場合も同様である。あるいは予備情報領域は、記録学習に限らず、例えば管理情報の更新記録用の領域として用いたり、記録を行った記録装置固有の情報を保存する領域等として用いても良い。
【００５７】
（２）領域の使い方
一般的に光ディスク１には、記録層上に物理的に振られるアドレス（物理アドレス：以下「ＰＢＡ」と略す。）を用いてアクセスが行われる。なお物理アドレスには大きく分けて、ディスク上のトラック１１、つまり記録溝の壁面に波打たせる形（ウォブル）等の方法で物理的に埋め込まれたものと、ディスク上に記録したデータ中に付与されるものがあるが、以降本明細書では特に明記しない限り、前者の記録溝のウォブル等を用いて物理的に埋め込まれたものを示す。
【００５８】
物理アドレス（ＰＢＡ）は、ディスクのトラックパスの方向に沿って昇順に割り振られる。より具体的には、例えば記録層を２つ（Ｌ０層とＬ１層）持つ記録型２層ディスクの場合には、一般的にオポジットパスと呼ばれるアドレッシング方法が採用されており、Ｌ０層ではディスク内周側から外周側に向かって昇順に、Ｌ１層では外周側から内周側に向かって昇順に物理アドレスが割り振られる。
【００５９】
図５は、本発明の実施の形態１における追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方法の一例を示す説明図である。なお図５では、図３Ａに示す領域構造と同じ領域構造である場合を例に取って説明する。しかしながら、以下に説明するパワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方法は、図３Ｂ〜３Ｆのいずれの領域構造に対しても適用可能である。
【００６０】
図５中の矢印は、パワー学習領域及びストラテジ学習領域の使用方向（記録方向）を示している。
【００６１】
図５に示すように、パワー学習領域はトラックパスとは逆に向かって使用する。これはパワー学習を行う段階では、当然まだパワー調整が出来ていない状態であるため、どのようなパワーで記録されるかが保証出来ない。そのため、非常に高いパワーで記録を行なってトラック１１を壊してしまう場合もあり得ることを考慮したものである。
【００６２】
図６は、パワー学習領域の使用例をより具体的に説明するための説明図である。トラックパスとは逆に向かって使用する方法について説明する。なお図６では、Ｌ０層のパワー学習領域２０を例に取って説明する。
【００６３】
Ｌ０層のトラックパスは内周側から外周側向きであるのに対して、パワー学習領域２０は外周側から内周側に向かって使用される。つまり、最初にパワー学習領域２０を使う場合には、図６（ａ）に示すようにパワー学習領域２０の外周側境界位置から使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行なう。
【００６４】
次にパワー学習領域２０を使用する場合には、図６（ｂ）に示すように、図６（ａ）で記録した先頭位置を終端にして、そこから使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行なう。以降、これを繰り返す形で使用していく。その結果、図６（ｃ）に示すように、パワー学習領域２０がＮ回使用された後でも、より内周側に位置するトラックパスの開始位置は未記録の状態が維持される。
【００６５】
一方、ストラテジ学習領域は、図５に示すように、一定の方向に使用される。
【００６６】
このような使用方法を採用する理由を、詳細に説明する。光ディスクへのアクセスはＰＢＡを用いて行われ、かつ連続した記録等のアクセスはＰＢＡ昇順に行うことになる。またある目的アドレスに対して記録等のアクセスを行う場合には、アクセス位置の確定処理（同期化）を行うために、まず目的アドレスの領域よりも手前に光ヘッド（図示せず）を移動（シーク）させる。その後、フォーカスサーボによって、光ディスク１の回転を利用してトラック１１からの反射光を頼りにトラック１１に沿って目的のアドレスに辿り着き、目的アドレスからの記録再生用レーザ発行の準備を行う。
【００６７】
このようなアクセス方法を採用しているため、仮にパワー学習領域をトラックパスと同じくＰＢＡ昇順方向に使用した場合、上記のようにトラック破壊が起きてしまうと、次にパワー学習領域を使う場合、目的アドレスの手前の領域が破壊されてアドレスが取得できない。これでは、手前の領域へシークすることが出来ず、結果として目的アドレスに対してアクセスできない状態に陥る。
【００６８】
一方、ストラテジ学習領域はパワー学習後、つまりパワー調整が行われた後に使用されるため、光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が保証される。そのためパワー学習領域のようにトラックパスとは逆向きに使用するといった制限を付ける必要は無い。そのため１つの使用方法として、図５に示すように、全ての記録層のストラテジ学習領域を同一方向（例えば記録層のトラックパスの方向によらず、全て外周側から内周側）に向かって使用するといった方法が考えられる。
【００６９】
このように使用することで、もし万が一パワー学習領域が枯渇してしまったような場合で全ての記録層におけるストラテジ学習領域にまだ空きがある場合には、上述したようにパワー学習用に割り当てて使用することも可能になる。より具体的には、ストラテジ学習領域は全ての記録層において外周側から内周側に向かって使用されるため、全ての記録層のストラテジ学習領域に空きがある場合には、ストラテジ学習領域の最内周側の一部（最内周側は全ての記録層において未使用状態であるため、パワー学習領域と同一条件を保証できる）をパワー学習用のパワー学習領域として割り当てしなおすといった使い方も可能になる。
【００７０】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
ＢＤ−ＲＥのような書換え型光ディスクの場合、ＯＰＣ領域についてもランダムに使用することが可能である。一方でＢＤ−Ｒのような追記型光ディスクの場合には、ＯＰＣ領域についても１回のみ使用可能な追記記録対象の領域である。また上述したように、ＯＰＣ領域、特にパワー学習領域については最適なパワーで記録されるとは限らないため、領域をどこまで使用しているかをメディアの記録状態からでは判断できない場合も想定される。また記録層や領域の数が増えると、全ての領域に対して使用状態を毎回確認するのも無駄である。そのため追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【００７１】
図７は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なおここでは、図３Ａに示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【００７２】
光ディスク１には、ＤＭＡ（Ｄｉｓｃ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  ＡｒｅａもしくはＤｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ）と呼ばれる、管理情報を記録するための管理情報領域（図示せず）がリードイン領域１３やリードアウト領域１５等に備えられている。なお追記型光ディスクの場合には、ＤＭＡはファイナライズされる際に最終的な管理情報（ＤＭＳ）が記録される領域であり、ファイナライズまでの過渡的な管理情報が追記更新できるようにＤＭＡ領域とは別の一時的ＤＭＡ領域（図示せず。以下、ＴＤＭＡと呼ぶ）が確保されている場合もある。
【００７３】
ＴＤＭＡには、欠陥位置や交替記録に関する情報であるＤＦＬ７０２と、ＤＦＬ７０２の位置情報や光ディスクの領域に関する位置情報などを含むＤＤＳ７０１とを備えたＴＤＭＳ７００が記録される。ＤＤＳはディスク定義構造とも呼ばれる。なお、ＴＤＭＳもＤＭＳも基本的に同じ種類のデータが記録されるが、ＴＤＭＳとＤＭＳとではＤＦＬ７０２とＤＤＳ７０１の配置が逆になるといった特徴があったりする。図７では、記録学習に関する情報の説明であるため、記録が可能なタイミング、つまりファイナライズまでの過渡的に交信記録された情報であるＴＤＭＳ７００を例に取って説明を行う。
【００７４】
なお、ＤＭＡ、もしくはＴＤＭＡはそれぞれ光ディスク１上に複数個所存在する場合もある。具体的には例えばＤＭＡはリードイン領域１３やリードアウト領域１５中に、ＴＤＭＡ領域はリードイン領域１３中や、データ領域１４中に確保される交替記録用のスペア領域（図示せず）中に確保されたりもする。
【００７５】
なお、ＴＤＭＳ（ＤＭＳ）を構成する情報としては、ディスク管理情報であるＤＦＬ７０２とその位置情報を含むＤＤＳ７０１のみとは限らない。具体的には例えば、ディスク管理情報としてＤＦＬ７０２の他に、光ディスク１におけるデータ領域１４中のトラック（ＳＲＲ）の配置や使用状態を示す情報であるＳＲＲＩや、ランダム記録の際に用いられる記録未記録状態を示すＳＢＭなどの情報を含む場合もある。
【００７６】
ＤＤＳ７０１は、この情報がＤＤＳであることを示す識別子７１０や、ＤＦＬ７０２が記録されている位置であるＤＦＬ位置情報７１１に加えて、さらにパワー学習領域２０において次に使用することが可能な位置情報であるＬ０パワー学習領域次使用位置情報（Power Calibration Area Next Available Position Information）７１２、パワー学習領域２１において次に使用することが可能な位置情報であるＬ１パワー学習領域次使用位置情報７１３、パワー学習領域２２において次に使用することが可能な位置情報であるＬ２パワー学習領域次使用位置情報７１４、およびストラテジ学習領域３０において次に使用することが可能な位置情報であるＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５、ストラテジ学習領域３１において次に使用することが可能な位置情報であるＬ１ストラテジ学習領域次使用位置情報７１６、ストラテジ学習領域３２において次に使用することが可能な位置情報であるＬ２ストラテジ学習領域次使用位置情報７１７を備えている。
【００７７】
図８は、次使用位置情報について説明した説明図である。なお図８では、Ｌ０層におけるパワー学習領域２０を例にとって説明する。
【００７８】
パワー学習領域２０が図８に示すように外周側から内周側に向かって使われる領域であるとすると、パワー学習領域２０が全く使用されていない状態においては、図８（ａ）に示すようにＬ０パワー学習領域次使用位置情報はパワー学習領域２０の最外周側の位置であるＰＢＡ：Ａを示す。パワー学習領域２０が１回使用されると、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報は図８（ｂ）のようにＰＢＡ：Ｂを示し、さらにもう１回使用された後では、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報は図８（ｃ）のようにＰＢＡ：Ｃを示すように変化していくことになる。
【００７９】
なおこれらの位置情報は、例えば光ディスク１における位置情報であるＰＢＡで示される。
【００８０】
このように、記録層ごとにパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置に関する情報を備えることが可能である。このような構成を採用する場合には、記録層が増減すれば、その分だけ必要になる情報の数も増減することになる。
【００８１】
（４）記録再生装置
図９は、本発明の実施の形態１における光ディスク１への記録再生を行う光ディスク記録再生装置１００に関する構成を示す。
【００８２】
光ディスク記録再生装置１００は、Ｉ／Ｏバス１８０を介して上位制御装置（図示せず）に接続される。上位制御装置は、例えば、ホストコンピュータ（ホストＰＣ）である。
【００８３】
光ディスク記録再生装置１００は、上位制御装置からの命令を処理する命令処理部１１０と、光ディスク１に対して記録再生を行うためにレーザ光を照射する光ヘッド１２０と、光ヘッド１２０から出力されるレーザパワーの制御を行うレーザ制御部１３０と、指定されたパルス幅（ストラテジ）をピット形成に適した記録パルス信号に変換する記録補償回路１４０と、光ヘッド１２０を目的位置へ移動したりサーボ制御を行うためのメカ制御部１６０と、光ディスク１からの記録再生処理などのシステム処理全般の統括制御や記録学習処理全般の制御を行うシステム制御部１５０と、データを一時的に記憶するためのメモリ１７０とを備える。
【００８４】
システム制御部１５０はさらに、光ディスク１における記録学習処理を行う記録学習部１５１と、光ディスク１に関する管理情報などから記録再生を行う位置を求めるアクセス位置管理部１５４と、ホストからの命令やシステム制御部１５０からの命令等に応じてユーザデータやＴＤＭＡなどの管理情報の記録再生を行うための記録制御部１５５、再生制御部１５６を備え、記録学習部１５１はさらに、パワー学習の制御を行うパワー学習部１５２とストラテジ学習の制御を行うストラテジ学習部１５３とを備える。
【００８５】
光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００に挿入されると、レーザ制御部１３０、メカ制御部１６０により、光ヘッド１２０が所定の照射パワーにより記録層Ｌ０のリードイン領域１３の予め光ディスク１に埋め込まれた当該光ディスク１に関する情報を有するコントロール領域（図示せず）を再生し、記録層Ｌ０、記録層Ｌ１、記録層Ｌ２に記録する際の照射パワー情報等の記録パラメータ情報を読み取る。
【００８６】
上位制御装置からの記録要求があると、光ディスク記録再生装置１００におけるシステム制御部１５０中の記録学習部１５１は、各記録層に備えられているＯＰＣ領域において記録学習を実施した後、求まった記録パワーにおいて対象となる記録層に対する記録を行なう。
【００８７】
記録学習の際には、記録学習部１５１におけるパワー学習部１５２が各記録層におけるパワー学習領域を用いて最適パワーを求めるためのパワー学習を行い、ストラテジ制御部１５３が各記録層におけるストラテジ学習領域を用いて最適ストラテジを求めるためのストラテジ学習を行って最適な記録パラメータを求める。各領域において記録学習用に記録を行う位置は、例えば光ディスク１が追記型光ディスクの場合には、本発明の実施の形態１の（４）で示した管理情報等を再生制御部１５６によってメモリ１７０に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４が次に記録学習において使用可能な位置を判断する。あるいは、光ディスク１が書換え型光ディスクの場合には、各記録層に備えられたパワー学習領域、ストラテジ学習領域の範囲内からアクセス位置管理部１５４において任意の位置を求める。
【００８８】
（５）記録学習方法
図１０は、本発明の実施の形態１における追記型の光ディスク１に対する記録学習手順を示すフロー図である。なおここでは、光ディスク１の領域構造は図３Ａに示す領域構造である場合を例に取って説明する。
【００８９】
ステップ１００１：後述するステップ１００２からステップ１００７の処理を全ての記録層に対して繰り返す。例えば図３Ａに示す領域構造を持った光ディスク１の場合ならば、記録層３（Ｌ０層）、記録層５（Ｌ１層）及び記録層７（Ｌ２層）に対して繰り返す。なお、記録学習を実施する順番としては、ディスク表面（レーザ光の入射面）から遠い記録層からディスク表面に近い記録層に向かって順番に記録学習を実施する場合を例として説明を行う。なおこの記録学習実施の順番はあくまで一例であって、これに限ったものではない。
【００９０】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＡから最新のＤＭＳ７００に含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報７１２およびＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【００９１】
ステップ１００３：パワー学習を行う。具体的には、記録学習部１５１におけるパワー学習部１５２は記録学習を行う記録層におけるレーザ照射パワー（例えば複数パターンのレーザパワー）を判断してレーザ制御部１３０に設定し、さらに所定のストラテジ（例えばコントロール領域に記載されているストラテジ）を記録補償回路１４０に設定する。そして、パワー学習部１５２は、ステップ１００２で求めたパワー学習用の記録を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行わせ、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ）から最適な記録パワー（例えば複数パターンのレーザパワーの中で最も変調度が期待値に近いパワー）を求める。
【００９２】
なお、もし万が一パワー学習用の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ１００３を繰り返して実施しても良い。
【００９３】
ステップ１００４：パワー学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０パワー学習領域次使用位置情報７１２）を更新する。
【００９４】
ステップ１００５：ストラテジ学習を行う。具体的には、記録学習部１５１におけるストラテジ学習部１５３は、ステップ１００３で求めた記録学習を行う記録層における最適レーザパワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定する。そして、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００２で求めたストラテジ学習用の記録を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行わせ、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。
【００９５】
なお、もし万が一ストラテジ学習用の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ１００５を繰り返して実施しても良い。
【００９６】
ステップ１００６：ストラテジ学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００５にてストラテジ学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、ストラテジ学習を行った記録層に相当するストラテジ学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を更新する。
【００９７】
ステップ１００７：前述したステップ１００２からステップ１００６の処理を全ての記録層に対して繰り返す。記録学習が完了していない記録層が存在する場合には、ステップ１００１に戻る。全ての記録層における記録学習が完了した場合には、ステップ１００８へ進む。
【００９８】
ステップ１００８：管理情報を更新する。具体的にはシステム制御部１５０は記録制御部１５５を用いて、メモリ１７０中に格納されている、上記ステップ１００４、ステップ１００６において更新された新しいＤＤＳ相当のデータを新たなＴＤＭＳ７００として、ＴＤＭＡに追記記録する。
【００９９】
なお管理情報更新は必ずしも記録学習後のタイミングで行わずとも、光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００から排出されるまでの間に実施されれば良い。
【０１００】
なおこの場合に使用されるレーザパワー、及びストラテジは、上述の記録学習にて求められたものをベースにする。
【０１０１】
以上の手順で記録学習が実施される。
【０１０２】
なお図１０では、記録層全てにおいて同じタイミングで記録学習を行う場合を説明したが、必ずしも同じタイミングで行われなくとも良く、少なくとも対象の記録層への記録を行なう前に対象記録層での記録学習を行うようにできれば良い。また、必ずしも全ての記録層で実際に学習を行わなくとも、例えば最低ある１つの記録層では記録学習を行うが、他の記録層へはある１つの記録層での学習結果をもとに演算して求めることで実際の学習を実施したものと見なすといった方法でも構わない。
【０１０３】
なお、図１０には記載しなかったが、パワー学習およびストラテジ学習の後に、これらの学習で求めたパラメータが本当に最適なパラメータかどうかを確認するマージン確認処理などを行っても良い。
【０１０４】
なお、ステップ１００３のパワー学習、およびステップ１００５のストラテジ学習は、必ずしも両方とも実施しなくとも良い。具体的には、例えば以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、ストラテジ学習は実施しない（つまりパワー学習のみ実施する）などといった制御を行っても構わない。
【０１０５】
なお、図１０では追記型光ディスクを例にとって説明したが、書換え型光ディスクに対しても同様の方法を用いて実現できる。但しこの場合、ステップ１００２における記録学習位置の算出がパワー学習領域、およびストラテジ学習領域内からそれぞれランダムに選択される点、およびステップ１００４、ステップ１００６、ステップ１００７の管理情報の更新処理が不要な点が追記型光ディスクの場合と異なる点である。
【０１０６】
なお本発明の実施の形態１では、記録学習用のＯＰＣ領域がリードイン領域１３に備えられている場合を例にとって説明したが、例えばリードアウト領域１５に同様にＯＰＣ領域が備えられている場合には、必要に応じてリードアウト領域１５におけるＯＰＣ領域でも上記の要領で記録学習を行うことになる。
【０１０７】
なお、本発明の実施の形態１では、全ての記録層におけるパワー学習領域が異なる半径位置に配置される例を説明したが、必ずしも全ての層のパワー学習領域が異なる半径位置に無くとも良い。より具体的には、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば図１１に示すように、最低限隣接する記録層のパワー学習領域（例えばＬ１層のパワー学習領域２１を基準にして考えた場合、Ｌ０層のパワー学習領域２０およびＬ２層のパワー学習領域２２）は異なる半径位置に配置され、隣接でない記録層（例えばＬ０層のパワー学習領域２０とＬ２層のパワー学習領域２２）のパワー学習領域は半径位置が重なるように配置されても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）におけるパワー学習領域は異なる半径位置に配置され、ストラテジ学習領域は同一半径位置に配置されるような場合でも、本発明の実施の形態１で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１０８】
（６）製造方法
次に、本実施の形態の情報記録媒体の製造方法について、以下に簡単に説明する。
【０１０９】
まず、表面にアドレス信号やコントロールデータに応じた、情報信号を記録するためのトラックが設けられたディスク基板２を形成または用意する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層３をディスク基板２上に形成できる。
【０１１０】
次に、中間層４の記録層５が形成される側の表面にも、情報信号を記録するためのトラックを形成する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層５を中間層４上に形成できる。
【０１１１】
次に、中間層６の記録層７が形成される側の表面にも、情報信号を記録するためのトラックを形成する。これにより、学習領域が図３Ａ〜図３Ｆのいずれかに示す配置となる記録層７を中間層６上に形成できる。
【０１１２】
記録層７を形成した後、カバー層８を形成する。
【０１１３】
（実施の形態２）
（１）領域配置
図１２は本発明の実施の形態２における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０１１４】
本発明の実施の形態２では、図１２に示す通り、パワー学習領域２３の配置位置が見た目ではストラテジ学習領域３０、ストラテジ学習領域３１、ストラテジ学習領域３２と同様に、全記録層を通じて共通である所定の半径位置に配置される点が、各記録層におけるパワー学習領域があらかじめ他の記録層と異なる半径位置に配置されていた本発明の実施の形態１（図３Ａ〜図３Ｆで説明）と異なること、またこれに伴って予備領域に相当する領域が確保されていないことを除いては、本発明の実施の形態１で説明したものと同じである。ただし、本発明の実施の形態１でも説明したように、パワー学習に用いる領域においては、他の記録層の記録状態に左右されないように（つまり同一半径位置が重なって記録に使用されないように）制御することが望まれることに変わりはないため、パワー学習領域の使われ方に特徴がある。これについては、（２）で説明を行う。
【０１１５】
なお、本発明の実施の形態２においては、パワー学習領域２３に対しての領域使用方法として説明を行ったが、当然ストラテジ学習領域等においても同様の使用方法を適用しても良い。
【０１１６】
なお、本発明の実施の形態２においては追記型光ディスクを例にとって説明したが、本発明の実施の形態１の（２）でも説明したように、書換え型情報記録媒体に対して同様の管理方法を適用しても、追記型光ディスクの場合と同様の効果を得ることが出来る。但し書換え型メディアに適用する場合には、学習領域をランダムに使用することになるため、他の記録層を未使用（未記録）状態のままに制御するのは困難である。そのため、各記録層におけるパワー学習領域及び予備領域が均一な記録状態（例えば全て０データで記録されている等）にするといった方法が有効である。
【０１１７】
以上、本発明の実施の形態２に示すように、最適な記録パワーとは保証できないパワーでパワーを変化させた記録を行なうために他層の記録状態による透過率バランスの影響を大きく受ける記録パワーの学習を行うためのパワー学習領域は同一半径位置に重ならないように使用し、最適な記録パワーでパワーを固定した記録を行なうために他層の記録状態の影響を受け難いストラテジなどの調整を行うストラテジ学習領域は例えば全ての記録層とも同一半径位置に配置する領域構造とすることで、全ての記録層におけるパワー学習結果に対して他の記録層の記録状態による影響を防ぐことが出来るとともに、記録層が増えることで必要になるＯＰＣ領域として確保しなくてはならない領域サイズ（パワー学習領域とストラテジ学習領域が占める合計サイズ）を最小限に抑えることが出来るため、記録学習に必要な領域を確保することが出来、ユーザが使用可能（＝記録学習が実施可能）な回数が減るという問題も解決できるとともに、リードイン領域１３やリードアウト領域１５の増加を抑えることが出来、データ領域１４のサイズが減ってユーザが使用可能な領域サイズが減るという課題も解決できる。
【０１１８】
（２）領域の使い方
本発明の実施の形態２における記録学習用の領域の使用方法については、パワー学習領域２３の使い方が本発明の実施の形態１と異なる点を除いては、本発明の実施の形態１と同じである。
【０１１９】
図１３は、本発明の実施の形態２におけるパワー学習領域の使用例を示す図である。なお、各記録層におけるパワー学習領域２３の使い方は、本発明の実施の形態１の（２）において図５を用いて説明したようにトラックパスとは逆向きに使用する場合を例にとって説明する。つまり、Ｌ０層およびＬ２層では外周側から内周側に向かって、Ｌ１層は内周側から外周側に向かって使用されるものとする。また記録学習を行う順番は、Ｌ０層から順番に、続いてＬ１層、最後にＬ２層の順番で行われると仮定して説明を行う。
【０１２０】
未使用状態のパワー学習領域２３に対して、まずトラックパスが内周側から外周側向きであるＬ０層でのパワー学習の際には、（ａ）に示すように、パワー学習領域２３の外周側境界位置から使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。次にトラックパスが外周側から内周側向きであるＬ１層でのパワー学習においては、（ｂ）に示すように、パワー学習領域２３の内周側境界位置から使用したいサイズ分外周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。そして最後に、Ｌ０層と同じくトラックパスが内周側から外周側向きであるＬ２層でのパワー学習の際には、（ｃ）に示すように、（ａ）に示すＬ０層で使用した先頭位置を終端にして、そこから使用したいサイズ分内周側の位置を先頭に、トラックパスの方向に記録を行う。以降、各記録層においてこれを繰り返す形で使用していく。
【０１２１】
このように、他の記録層で使用する領域とは異なる半径位置の領域を使用する、つまり他の記録層で使用済みの領域と重ならないようにパワー学習用の記録を行なうことで、いずれの記録層でのパワー学習の場合にも記録状態を同じ状態に保ちながら使用することが出来る。なお、内周側から使用する領域の半径位置と外周側から使用する領域の半径位置が重なったら、パワー学習領域２３は枯渇した状態となる。
【０１２２】
なお、図１３では記録層全てに対して同じタイミングで連続して記録パワー学習を行う例を記載したが、ある特定の記録層においてのみパワー学習領域２３を用いた学習を行う場合であっても使い方、および得られる効果は上述の場合と同じである。
【０１２３】
なお、本発明の実施の形態１の（１）にて説明したように、例えば上記（ｃ）の場合に使用する領域は、厳密には（ａ）で使用した先頭位置と同一半径位置ではなく、貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響分を考慮する必要がある。そのため、これらの影響による考慮分サイズ（以降、オフセットと呼ぶ）分だけ（ａ）で使用した領域の先頭位置から、さらにオフセット分内周側の位置を終端位置として、そこから学習で使用したい分だけ内周側の位置を先頭位置として扱う必要がある。
【０１２４】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
本発明の実施の形態２においても、本発明の実施の形態１の（３）で説明したのと同様に、追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【０１２５】
図１４は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なお図１４では、図１２に示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【０１２６】
ストラテジ学習領域に関する情報は、本発明の実施の形態１の（３）で説明したのと同様に、記録層毎に次使用位置情報を備えている。
【０１２７】
一方でパワー学習領域用の情報としては、全ての記録層共通の情報として、パワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１とパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２とを備える。図１３の例で言えば、外周側から内周側に向かってパワー学習領域を使用するＬ０層、およびＬ２層のパワー学習において使用・更新される情報がパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２であり、内周から外周側に向かってパワー学習領域を使用するＬ１層において使用・更新される情報がパワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１である。ここでこれらの情報は全記録層共通の位置情報であるため、本発明の実施の形態１の（３）で説明したように単にＰＢＡ情報で表明するだけでは不十分で、例えば半径位置に関する情報で表明する、もしくは直前に使用した記録層におけるＰＢＡで表明して、実際に記録に使用する際に、該当する記録層におけるＰＢＡに変換して使用するといった必要がある。
【０１２８】
なお本実施の形態２の（２）でも説明したように、次に使用可能な位置情報を示す場合には、ディスクの貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響を考慮する必要があるため、内周側次使用位置情報および外周側次使用位置情報とも、実際に使用完了した位置よりも上述したオフセットサイズ分を加算した位置情報を示すか、あるいは実際に記録に使用する際にオフセットサイズ分を加算した位置から使用するように考慮する必要がある。
【０１２９】
（４）記録再生装置
本発明の実施の形態２における記録再生装置は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと同じであるため、ここでの説明は省略する。
【０１３０】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態２における記録学習方法の手順は、本発明の実施の形態１の（５）で図１０を用いて説明したものとステップ１００２、およびステップ１００４を除いて同じであるため、ここでは本発明の実施の形態１の場合と異なるこれらのステップについてのみ説明を行う。
【０１３１】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＳから最新のＴＤＭＳに含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２およびＬ０ストラテジ学習領域次使用位置情報７１５）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０１３２】
ステップ１００４：パワー学習領域次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習領域次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２）を更新する。
【０１３３】
なお、本発明の実施の形態２においても、本発明の実施の形態１の（１）で説明したのと同様に、パワー学習領域２３において他層で使用済みの半径位置に相当する領域、つまりパワー学習領域２３における内周境界位置からパワー学習領域内周側次使用位置情報１３０１までの領域、及びパワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２からパワー学習領域２３における外周境界位置までの間の領域については、実際のその半径位置を使用した記録層以外の記録層においては例えばストラテジ学習領域として、或いは管理情報領域としてなど、パワー学習のように他の記録層の記録状態に影響を受けやすい処理以外のデータ記録に対して使用しても良い。但し、実際にその半径位置を使用した記録層か否かの判定は困難であるため、例えば、パワー学習領域２３を内周側から使用するＬ１層においては、パワー学習領域外周側次使用位置情報１３０２からパワー学習領域２３における外周境界位置までの間の領域を使用可能な領域として用いるといった方法が有効的である。
【０１３４】
なお、本発明の実施の形態２においては、パワー学習領域２３のサイズは各記録層とも貼り合わせ誤差等の影響分を除いて同一となるようにする必要があるが、各記録層のストラテジ学習領域のサイズに関しては、各記録層において必ずしも同一で無くとも良い。例えば、各記録層において同一方向、例えば外周側から内周側に向かって使用する場合を考えれば、各記録層のストラテジ学習領域における外周側の境界位置は同一半径位置となるようにすべきだが、内周側の境界位置については必ずしも同一とならなくとも良い。
【０１３５】
なお、本発明の実施の形態２でも、パワー学習で使用する領域を他の記録層で使用済みの領域と重ならないように使用する例を説明したが、必ずしも全ての記録層のパワー学習領域において使用する領域の半径位置が異なっていなくとも良い。より具体的には、本発明の実施の形態１で図１１を用いて説明したのと同様、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば最低限隣接する記録層においてパワー学習に使用した領域は異なる半径位置になるように使用するが、隣接でない記録層のパワー学習で使用する領域は重なるように（同一半径位置を含むように）使用しても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）においてパワー学習に使用する領域は重ならないように使用する一方で、ストラテジ学習領域は同一半径位置に配置される場合でも、本発明の実施の形態２で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１３６】
（実施の形態３）
（１）領域配置
図１５は本発明の実施の形態３における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０１３７】
光ディスク１のリードイン領域１３には、記録学習用のＯＰＣ領域５０を備える。
【０１３８】
ＯＰＣ領域５０は、全記録層を通じて共通で所定の半径位置に配置され、パワー学習やストラテジ学習を実施するための領域である。但し、本発明の実施の形態１、および実施の形態２とは異なり、明確にパワー学習領域、ストラテジ学習領域という形で予め分割配置されていないことが特徴である。その代わりにＯＰＣ領域５０は、最初にこの領域を使った記録が行われる前に、任意のサイズでパワー学習用５１とストラテジ学習用５２の部分が割り当てられる。この詳細については、後述の（２）において説明する。
【０１３９】
（２）領域の使い方
図１６は、本発明の実施の形態３における追記型光ディスクにおけるＯＰＣ領域５０の使用方法の一例を示す説明図である。なお図１６では、図１５に示す領域構造と同じ領域構造である場合を例に取って説明する。
【０１４０】
ＯＰＣ領域５０は、初めてこの領域への記録が行われる前に、任意のサイズ（割り当て比）でパワー学習用５１、ストラテジ学習用５２が割り当てられる。またパワー学習用５１の部分についてはさらに、各記録層において使用する領域が重ならないよう（同一半径位置とならないよう）に、これも任意のサイズ（割り当て比）にて割り当てされる。一方でストラテジ学習用５２の部分については、使用する領域が重なっても良いので、記録層によらず重なった位置（同一半径位置）のままとする。
【０１４１】
パワー学習用５１の部分は、本発明の実施の形態１および実施の形態２と同様に、トラックパスとは逆の向きに使用する。具体的には、トラックパスが内周側から外周側向きであるＬ０層、Ｌ２層については、パワー学習用５１の部分は外周側から内周側の向きに、各記録層に対して割り当てられた部分の外周側境界位置を先頭として使用され、トラックパスが外周側から内周側向きであるＬ１層については、パワー学習用５１の部分は内周側から外周側の向きに、Ｌ１層に対して割り当てられた部分の内周側境界位置を先頭として使用される。
【０１４２】
一方でストラテジ学習用５２の部分は、各記録層において使用する領域を重なって使用する。具体的には、全ての記録層においてトラックパスには関係なく同一方向（例えば外周側から内周側の向き）に向かって使用する。
【０１４３】
なお、パワー学習用５１とストラテジ学習用５２の割り当て配分については、例えば均等配分でもよい。あるいは、光ディスク１がパワーマージンの狭い（小さい）メーカーのものであるといった場合には、パワー学習用５１がストラテジ学習用５２よりも大きなサイズとなるように配分しても良い。あるいは、最適パワーはある程度予測で算出可能であるがストラテジについては実際に記録学習を行わないと求めるのが困難である場合などでは、逆にストラテジ学習用５２がパワー学習用５１よりも大きくなるように配分しても良い。
【０１４４】
なお、本発明の実施の形態３では、リードイン領域１３にＯＰＣ領域５０が配置されている場合を例に説明したが、例えばさらにリードアウト領域１５にもＯＰＣ領域が配置されても良い。またこの場合、リードイン領域１３に配置されたＯＰＣ領域とリードアウト領域１５に配置されたＯＰＣ領域とでパワー学習用５１およびストラテジ学習用５２の割り当て比を変えたりしても良い。
【０１４５】
なお、本発明の実施の形態３では、ＯＰＣ領域５０からパワー学習用５１の領域とストラテジ学習用５２の領域を割り当てる例を示したが、例えばこの他にも別の用途で用いる領域（例えばマージン確認用の領域等）を割り当てたりしても良い。
【０１４６】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
本発明の実施の形態３においても、本発明の実施の形態１および実施の形態２の（３）で説明したのと同様に、追記型光ディスクの場合などには、領域をどこまで使用したかを示すポインタ情報を管理情報として備えるのが有効である。
【０１４７】
図１７は、追記型光ディスクにおけるパワー学習領域及びストラテジ学習領域に関する情報の例である。なお図１７では、図１５に示す領域構造の場合を例に取って説明する。
【０１４８】
ＤＤＳ７０１には、識別子７１０、ＤＦＬ位置情報７１１に加えてさらに、各記録層における記録学習用の関連情報として、パワー学習用５１の部分に関する終端位置情報および次に使用可能な位置情報、ストラテジ学習用５２の部分に関する終端位置情報および次に使用可能な位置情報とを記録層の数分だけ備える。つまりＬ０層用の情報としてＬ０パワー学習終端位置情報１７０１、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２、Ｌ０ストラテジ学習終端位置情報１７０３、Ｌ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４、Ｌ１層用の情報としてＬ１パワー学習終端位置情報１７０５、Ｌ１パワー学習次使用位置情報１７０６、Ｌ１ストラテジ学習終端位置情報１７０７、Ｌ１ストラテジ学習次使用位置情報１７０８、Ｌ２層用の情報としてＬ２パワー学習終端位置情報１７０９、Ｌ２パワー学習次使用位置情報１７１０、Ｌ２ストラテジ学習終端位置情報１７１１、Ｌ２ストラテジ学習次使用位置情報１７１２をそれぞれ備える。
【０１４９】
上述したように、各記録層におけるパワー学習用５１とストラテジ学習用５２の割り当て、およびパワー学習用５１における各記録層用の割り当ては、ＯＰＣ領域５０を最初に使用する前（例えばＩｎｉｔｉａｌｉｚｅ  Ｆｏｒｍａｔ時など）にそれぞれ任意のサイズで決定されるため、各記録層のパワー学習終端位置情報、ストラテジ学習終端位置情報はこのタイミングで確定し、さらにパワー学習次使用位置情報、ストラテジ学習次使用位置情報は領域割り当て時には割り当てられた部分の先頭位置を指し示すことになる。また、終端位置情報と次使用位置情報とが同一位置を指し示す場合、もしくは終端位置情報と次使用位置情報との間隔（＝残サイズ）が１回の学習で使用するサイズに満たない場合には、その記録層における学習用の領域が枯渇したと判断する。
【０１５０】
なお、終端位置情報および次使用位置情報はそれぞれ、例えばＰＢＡで示されるが、例えば半径位置のような情報で示しても良い。
【０１５１】
なお、終端位置情報を持つ形で説明を行ったが、終端位置情報の代わりに割り当てられた部分に関する使用可能なサイズを示す残サイズ情報を持っても、同様の効果を得ることが出来る。
【０１５２】
なお、終端位置情報を保持する場合には、一旦パワー学習用５１およびストラテジ学習用５２の割り当てが実施されたら、その時点で確定される情報で以降は変化しないことになるが、本発明の実施の形態１や実施の形態２で説明したような再割り当てを行う場合などのタイミングで変化する場合もありうる。一方で残サイズ情報を持つ場合には、使用するたびに次使用位置情報と同じく、残サイズ情報についても更新されることになる。
【０１５３】
なお本発明の実施の形態１、実施の形態２でも説明したように、次に使用可能な位置情報を示す場合には、ディスクの貼り合わせ誤差やレーザ光の特性による影響を考慮する必要があるため、例えば、特に他記録層の記録状態に影響を受けるパワー学習領域に関する次使用位置情報などは、実際に使用完了した位置よりも上述したオフセットサイズ分を加算した位置情報を示すか、あるいは実際に記録に使用する際にオフセットサイズ分を加算した位置から使用するように考慮する必要がある。
【０１５４】
（４）記録再生装置
本発明の実施の形態３における記録再生装置は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと同じであるため、ここでの説明は省略する。
【０１５５】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態３における記録学習方法の手順は、本発明の実施の形態１の（５）で図１０を用いて説明したものとステップ１００２、およびステップ１００４、ステップ１００６を除いて同じであるため、ここでは本発明の実施の形態１の場合と異なるこれらのステップについてのみ説明を行う。
【０１５６】
ステップ１００２：記録学習に使用する位置を算出する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＳから最新のＴＤＭＳに含まれる最新のＤＤＳ７０１をメモリ１７０中に読み出し、読み出したデータをもとにアクセス位置管理部１５４は記録学習を行う記録層のパワー学習領域、およびストラテジ学習領域における次に使用可能な位置情報（例えばＬ０層の場合なら、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２およびＬ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４）を取得する。そしてこの情報を元に、パワー学習、およびストラテジ学習にて記録して使用するサイズ、および記録学習を行う記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向を判断して、次にパワー学習用の記録を行う先頭位置、およびストラテジ学習用の記録を行なう先頭位置を算出する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０１５７】
ステップ１００４：パワー学習次使用位置情報を更新する。具体的には、パワー学習部１５２は、ステップ１００３にてパワー学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、パワー学習を行った記録層に相当するパワー学習次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０パワー学習次使用位置情報１７０２）を更新する。
【０１５８】
ステップ１００６：ストラテジ学習次使用位置情報を更新する。具体的には、ストラテジ学習部１５３は、ステップ１００５にてストラテジ学習用の記録を行なった位置から、メモリ１７０中に読み出したＤＤＳ７０１相当のデータにおける、ストラテジ学習を行った記録層に相当するストラテジ学習次使用位置情報（例えばＬ０層の場合には、Ｌ０ストラテジ学習次使用位置情報１７０４）を更新する。
【０１５９】
なお、本発明の実施の形態３でも、パワー学習で使用する領域を他の記録層で使用済みの領域と重ならないように割り当てる例を説明したが、必ずしも全ての記録層のパワー学習領域において使用する領域の半径位置が異なるように割り当てられなくとも良い。より具体的には、本発明の実施の形態１で図１１を用いて説明したのと同様、他の記録層の記録特性（透過率等）の影響を顕著に受けるのは隣接する記録層の記録状態である。よって例えば最低限隣接する記録層においてパワー学習に使用した領域は異なる半径位置になるように使用するが、隣接でない記録層のパワー学習で使用する領域は重なるように（同一半径位置を含むように）割り当てて使用しても、パワー学習結果に大きな影響は与えない。つまり、隣接する記録層（言い換えれば、トラックパスの向きが逆である記録層）においてパワー学習に使用する領域は重ならないように割り当てて使用する一方で、ストラテジ学習領域は同一半径位置に割り当てる場合でも、本発明の実施の形態３で説明したものと同様の効果を得ることが出来る。また、記録層が６層や８層など更に増えた場合には、パワー学習領域が同一半径位置に重なっても良い記録層の数をＮ（Ｎは０以上の正数）に制限するといった方法でも良い。
【０１６０】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、パワー学習領域（またはパワー学習用５１の部分）をパワー学習に用いる領域、ストラテジ学習領域（またはストラテジ学習用５２の部分）をストラテジ学習に用いる領域とし、さらにパワー学習に用いる領域は隣接する記録層で同一半径位置に重ならない領域、ストラテジ学習に用いる領域は同一半径位置に重なる部分を含む領域として説明を行ったが、より厳密に言えば、隣接する記録層で同一半径位置に重ならないパワー学習に用いる領域とは、光ディスク１に適した記録パワーとは保証できないような記録パワーも含めて（ある範囲内において）自由な記録パワーで記録（例えばパワー学習）を行っても良い領域のことであり、隣接する記録層で同一半径位置に重なる領域を含むストラテジ学習に用いる領域とは光ディスク１に適した記録パワーと保証できる記録パワー、言い換えればそのパワーで記録した領域の透過率が透過率バランスを崩さない程度に所定の範囲に収まるような記録パワーで記録を行う領域のことである。そして、これらの領域が各記録層に別々に配置されれば良い。つまり、使用する記録パワーが光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で記録パワーを変化させた階段記録を行なことが保証できる場合は、パワー学習を、隣接する記録層で同一半径位置に重なる領域を含むストラテジ学習領域（またはストラテジ学習用５２の部分）で行っても良い。あるいはパワー学習やストラテジ学習に限らず、例えば記録学習結果が本当に最適な条件となっているかどうかについて、学習算出記録パワーを中心に光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で増加・減少させたパワーなどで記録を行なって最適パワーの微調整を行うマージン確認を、重なる部分を備えるストラテジ学習領域を用いて行ったりしても良い。このような方法を用いれば、重ならない領域を使用する回数を抑えることが可能となり、その結果、各記録層に備えられる重ならない領域のサイズを小さく抑えることができるため、その分重なる部分を含む領域のサイズを大きくすることができ、記録学習に使用可能な回数を増やすことができるといったメリットも出てくる。
【０１６１】
この具体的方法について、いくつか詳細を記載する。
【０１６２】
例えば記録対象の光ディスク１が、光ディスク記録再生装置１００においてチューニング済みの光ディスク１として登録されている場合には、記録パワーは保障できるものとして隣接する記録層で同一半径位置に重なる部分を含むストラテジ学習領域でパワー学習およびストラテジ学習を行っても良い。あるいは、以前に当該光ディスク記録再生装置１００で、対象の記録層において実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合、つまり履歴情報を用いた学習を行う場合には、その記録層への記録パワーは保障できるものとして、その記録層における記録学習時はストラテジ学習領域でパワー学習とストラテジ学習を行っても良い。あるいは、すべての記録層における記録学習結果が学習履歴としての残されている場合には、その学習履歴からある基準とする記録層と他の記録層とのパワー比やストラテジ変化量などを求め、ある基準とする記録層において実際の記録学習（パワー学習やストラテジ学習）を実施し、その他の記録層では実際に記録学習は実施せず、実学習を実施したある基準とする記録層での学習結果と学習履歴から求めたパワー比やストラテジ変化量を用いて演算で学習値を求めるといった方法を用いることで、記録学習に用いるパワー学習領域やストラテジ学習領域の消費量を抑えるといった方法も有効である。またこの場合、履歴学習なので実際に記録学習を行うのは隣接する記録層で同一半径位置に重なる部分を含むストラテジ学習領域を用いて行うこととし、かつある基準となる記録層は例えば光ディスク１のディスク表面から最も奥の記録層（例えば図３Ａに示す光ディスク１の場合はＬ０層）を基準層として、最も奥の記録層側から順に使用していき、その記録層でのストラテジ学習領域が枯渇した場合には次に最も遠い記録層（例えば図３Ａに示す光ディスク１の場合はＬ１層）のストラテジ学習領域を基準層として使用していくといった方法を用いても良い。この方法を用いれば、光ディスク１に適したパワーで記録するストラテジ学習領域についても、ある記録層で学習を行う場合に、それよりもレーザ光を照射する側にある記録層におけるストラテジ学習領域も未使用（追記型光ディスクの場合は未記録）のままにしておくことができるため、透過率の影響を一切気にする必要は無くなるといった効果もある。
【０１６３】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、記録学習を行うための記録学習領域（ＯＰＣ領域）を例にとって、パワー学習用の領域とストラテジ学習用の領域を各記録層に異なる領域として別々に確保する場合について説明したが、この考え方は記録学習領域に限ったものではない。より詳細に言えば、本発明の基本的な考え方は、記録学習におけるパワー学習のように記録パワーを変化させながら記録にある程度適した条件に絞り込むといった粗い調整を行うための粗調整領域、及び記録学習におけるストラテジ学習のように、記録に最適な条件に絞り込むといった精調整（微調整）を行うための精調整領域とを各記録層に別々の領域として備えるという考え方である。これに加えて、さらに本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では記録パワーの調整を対象としているが故に他記録層の記録状態（透過率バランス）を考慮してパワー学習に用いる粗調整領域は異なる半径位置に配置するというものである。つまり、粗調整領域と精調整領域を各記録層に別々の領域として備えるという基本的な考え方は、記録学習以外の各種調整にも適用できるものである。
【０１６４】
以上で述べたように、光ディスク記録再生装置１００のような装置（ドライブ）は、上述した記録パワーの制約を満たす限りにおいてストラテジ学習領域を学習に利用可能な領域として利用することができる。ただし、この領域で実施される学習はストラテジ学習に限られることはない。ドライブは用途を問わず、任意の学習をストラテジ学習領域で行うことができる。ストラテジ学習領域はドライブが任意の学習に使用できる領域であるため、上述したパワー学習領域のように同一半径位置に重ならないように配置する必要はない。
【０１６５】
上述したようにパワー学習領域で使用される記録パワーは（ある範囲内において）自由な記録パワーで記録を行っても良い。しかしながら、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーは、パワー学習後に決定された後に、所定の範囲に収まる記録パワーで記録を行う領域である。これは、パワー学習領域で使用される記録パワーの振り幅に比べて、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの振り幅は小さいことを意味する。言い換えると、ストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅は、パワー学習領域において使用される記録パワーの変動率幅以下またはそれより小さいという制約がある。ここでいう「記録パワーの変動率幅」とは、基準パワー、もしくは最適パワーを１００％とした場合の、最大記録パワーの変動率及び／または最小記録パワーの変動率の割合として定義される。
【０１６６】
これについて、具体例を用いて説明する。図２８の（Ａ）〜（Ｄ）は、それぞれ、パワー学習領域及びストラテジ学習領域において使用される記録パワーの変動率幅の関係を示す説明図である。
【０１６７】
図２８では、パワー学習領域で使用する記録パワーにおける基準パワーを「Ｐｂｐ」、ストラテジ学習領域で使用する記録パワーにおける基準パワーを「Ｐｂｓ」と表記している。ここで「基準パワー」とは、その光ディスクへの記録に使用する記録パワーの基準値のことである。一般的にはこの基準パワーは、光ディスク１上のコントロール領域などに埋め込まれている記録パワーに関する情報から算出できる。その他、基準パワーは、光ディスク記録再生装置１００が予め保持している光ディスク１の種類ごとに適した記録パワーに関する情報から算出され、光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ）等に残された学習履歴を元に算出されることもある。
【０１６８】
この基準パワーは、同じ光ディスク１であっても、記録に使用する記録倍速や各記録層によって値が異なることがある。一般的には高倍速になるほど記録パワーも大きくなる。そのため、上述したような基準パワーに関する情報は、記録倍速や記録層毎に用意される場合もある。パワー学習領域で使用される基準パワーＰｂｐと、ストラテジ学習領域で使用される基準パワーＰｂｓは、同じであっても良いし、異なっていても良い。
【０１６９】
図２８（Ａ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅の一例を示す。
【０１７０】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｐを１００％とした場合、上限側に＋１０％、下限側に−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲（この範囲を「変動率幅」と呼ぶ。）である。一方、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側はパワー学習領域同様−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８５％の変動率幅の範囲である。パワー学習領域およびストラテジ学習領域を利用した記録学習時において、ドライブは、上述したそれぞれの変動率幅でパワーを振ることが出来る。
【０１７１】
このように、基準パワーが同じであるのに対して、下限パワーの範囲は同じである。しかしながら、上限パワーの範囲はストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い。つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値のいずれも、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値よりも小さい。
【０１７２】
図２８（Ｂ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅の他の一例を示す。
【０１７３】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、図２８（Ａ）と同様、基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲であるとする。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側に−１２％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８８％の範囲である。この例では、パワー学習領域とストラテジ学習領域とでそれぞれ使用される基準パワーは同じであるのに対して、上限パワーの範囲、下限パワーの範囲ともにストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い、つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値のいずれも、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅、パワーの絶対値よりも小さい。
【０１７４】
図２８（Ｃ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが同じときの、各記録パワーが変動する幅のさらに他の一例を示す。パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、図２８（Ａ）と同様、基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲である。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋５％、下限側に−１８％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０５％から８２％の範囲である。この場合、基準パワーから上限パワーまでの範囲についてはパワー学習領域の方がストラテジ学習領域よりも大きいが、基準パワーから下限パワーまでの範囲についてはパワー学習領域の方がストラテジ学習領域よりも小さい。
【０１７５】
しかし、つまりパワー学習領域において使用される上限パワーと下限パワーとの範囲、つまり上限パワーと下限パワーとの変動率の差分は、パワー学習領域が２５％（１１０％−８５％＝２５％）、ストラテジ学習領域が２３％（１０５％−８２％＝２３％）と、パワー学習領域の変動率幅よりもストラテジ学習領域の変動率幅の方が小さい。
【０１７６】
図２８（Ｄ）は、パワー学習領域で使用される基準パワーとストラテジ学習領域で使用される基準パワーとが異なっているときの、各記録パワーが変動する幅の一例を示す。このときは、パワー学習領域で使用される基準パワーＰｂｐより、ストラテジ学習領域で使用される基準パワーＰｂｓの方が大きい。これは例えば、パワー学習領域で学習（記録）を行う際の記録倍速よりもストラテジ学習領域で学習（記録）を行う際の記録倍速が大きい場合が当てはまる。
【０１７７】
パワー学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｐを１００％とした場合、上限側に＋１０％、下限側に−１５％まで、つまり基準パワーＰｂｐに対して１１０％から８５％の範囲（この範囲を変動率幅とする）である。一方ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの範囲は、基準パワーＰｂｓを１００％とした場合、上限側に＋８％、下限側はパワー学習領域同様−１２％まで、つまり基準パワーＰｂｓに対して１０８％から８８％の範囲である。
【０１７８】
図２８の（Ａ）から（Ｃ）の場合とは異なり、基準パワーＰｂｐとＰｂｓが異なる（Ｐｂｐ＜Ｐｂｓ）ため、この例の場合ではパワー学習領域で使用される記録パワーの上限値よりも、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの上限値の方が大きくなる。しかしながら、基準パワーに対する記録パワーの変動率幅としては、上限パワーの範囲、下限パワーの範囲ともにストラテジ学習領域の方がパワー学習領域よりも狭い。つまりストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅よりも小さい。
【０１７９】
つまりこれらの関係を式であらわすと、
Ｋｐｍａｘ  ≧  Ｋｓｍａｘ    または    Ｋｐｍｉｎ  ≦  Ｋｓｍｉｎ
かつ
（Ｋｐｍａｘ−Ｋｐｍｉｎ）  ≧  （Ｋｓｍａｘ−Ｋｓｍｉｎ）
となる。
【０１８０】
上記式では、パワー学習領域の基準パワーは「Ｐｂｐ」、上限側への変動率（上限パワーと基準パワーとの比率）は「Ｋｐｍａｘ」、下限側への変動率（下限パワーと基準パワーとの比率）は「Ｋｐｍｉｎ」、ストラテジ学習領域の基準パワーは「Ｐｂｓ」、上限側への変動率は「Ｋｓｍａｘ」、下限側への変動率は「Ｋｓｍｉｎ」としている。
【０１８１】
このように、記録パワーの変動率幅を抑えることで、各記録層で同一半径位置に配置されるストラテジ学習領域での透過率バランスを確保し、学習の精度を確保することが出来るという効果がある。
【０１８２】
なお、図２８で示した例はあくまで一例であり、上限・下限の範囲（値）もこれに限ったものでは無い。言い換えると、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの変動率幅が、パワー学習領域で使用される記録パワーの変動率幅よりも小さい（あるいは以下）という条件を満たしていれば良い。
【０１８３】
なお、図２８に関連して、例えば同一条件（例えば同じ記録倍速、あるいは同一記録層など）下においてパワー学習領域で使用される記録パワーの絶対値よりも、ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの絶対値を小さく（もしくは以下に）制限する、つまり
Ｐｂｐ×Ｋｐｍａｘ  ≧  Ｐｂｓ×Ｋｓｍａｘ
とするという方法も、各記録層で同一半径位置に学習領域が存在するストラテジ学習領域に対しては効果的である。
【０１８４】
ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの大きさを制限することは、積層される記録層の数が増えるほど効果的である。上述のとおり、本発明の実施の形態では各記録層で同一半径位置にストラテジ学習領域が存在する。したがって、レーザ光の入射面から深い位置の記録層における学習時ほど、その記録層より浅い位置の記録層で学習されたストラテジ学習領域の透過率バランスの影響を受けやすい。ストラテジ学習領域で使用される記録パワーの大きさを制限することにより、浅い位置の記録層において透過率バランスが崩れることを抑制できる。これは記録層の数が増えるほど顕著である。
【０１８５】
本来は、記録層の数が多くなるほど同一半径位置に学習領域を重ねることが不利になる。それにもかかわらず、本発明では同一半径位置にストラテジ学習領域を配置している。これは、従来意識されてこなかった記録パワーの大きさを制限することを大きな要因として実現されたといえる。
【０１８６】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では記録層を３層備えた光ディスク１を例にとって説明を行ったが、記録層が３層である必要は無く、例えば記録層を６層や８層備えた場合にも同様の効果を得ることが出来ることは言うまでも無い。
【０１８７】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では追記型情報記録媒体を例に取って説明したが、上書き可能な書換え型情報記録媒体に適用しても、同様の効果を得られる。
【０１８８】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２では各記録層におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域のサイズが同一である場合を例に、実施の形態３ではＯＰＣ領域５０のサイズが同一である場合を例にとって説明したが、これらの領域のサイズが記録層毎に異なっていても良い。具体的には、例えば各記録層のリードイン領域１３やリードアウト領域１５等に含まれる管理情報領域（図示せず）のサイズに応じてパワー学習領域およびストラテジ学習領域のサイズを変えたり、あるいはデータ領域１４の欠陥ブロック等に対する交替領域等としてデータ領域１４中に備えられるスペア領域（図示せず）のサイズに応じて変えるなどしても良い。
【０１８９】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、全ての記録層に対して同じタイミングで記録学習を行う場合を説明したが、必ずしも同じタイミングで行われなくとも良く、少なくとも対象の記録層への記録を行なう前に対象記録層での記録学習を行うようにできれば良い。また、必ずしも全ての記録層で実際に学習を行わなくとも、例えば最低ある１つの記録層では記録学習を行うが、他の記録層へはある１つの記録層での学習結果をもとに演算して求めることで実際の学習を実施したものと見なすといった方法でも構わない。またこの際、ある１つの記録層の選び方として、例えば記録学習用の領域（パワー学習領域、ストラテジ学習領域、ＯＰＣ領域）の残サイズが最も大きい記録層を選ぶ、あるいは記録学習用領域自体のサイズが最も大きい記録層を選ぶといった方法を用いても良い。
【０１９０】
これについて効果を含めて詳細に説明する。本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３で示したように、例えば複数の記録層を有する光ディスク１装着後、最初にホストからユーザデータ領域１４への記録要求を受け付けた場合に、全ての記録層に対して同じタイミングで記録学習を行っておくという方法を採用すると、そのタイミングでの記録学習に大きく時間を要してしまうというデメリットがある。その一方、以下のメリットがある。
・以降、例えば連続記録を行なっている最中に記録層が変わる場合などでも記録学習を行う必要が無いため、ドライブシステムとしての記録処理パフォーマンスを一定に保つことが出来る。
・全ての記録層に対する記録倍速を、全ての記録層で記録学習に成功した一番高い倍速などで共通化できるため、記録層毎に異なる記録倍速管理を行う必要が無く、ドライブ制御処理を簡素化できる。
【０１９１】
この手法は、例えば記録開始する前にある程度時間の余裕を確保できるシステムで、かつ連続記録中に記録処理が遅延して記録データの欠落等が発生しては困るシステム、つまり予約録画機能を持ち、記録途中の映像が欠落すると困るレコーダシステムなどに対して有効である。
【０１９２】
一方で、上述したように、例えば複数の記録層を有する光ディスク１装着後、最初にホストからユーザデータ領域１４への記録要求を受け付けた場合に、記録要求を受けた記録層に対してのみ記録学習を行うことも考えられる。この場合、連続記録を行う場合には記録層が変わる場合などのタイミングでその記録層に対する記録学習が走るため、記録処理パフォーマンスが場合によって変化するというデメリットがある。その一方、以下のメリットがある。
・最初の記録要求を受け付けた時点での記録学習時間を短縮できる。（記録要求に対する最大応答時間を短縮することが出来る）
・記録を行なわない記録層に対して記録学習を実施することがなくなるため、例えば記録層Ｌ０にしかユーザデータ記録を行なわないで光ディスク１を排出したような場合など、不要な記録層で記録学習を行うことが無くなり、記録学習領域の使用効率を最大限に高めることが出来る。
【０１９３】
この手法は、例えばホストからの記録要求に対してタイムアウトが設けられており、所定の時間内で応答する必要があるＰＣドライブシステムなどに対して有効である。
【０１９４】
なお後者の方法を採用すると、記録要求を受け付けた記録層での記録学習に加えて、ユーザデータ記録に伴って更新された管理情報の記録が必要になる。よって、次に管理情報を記録する管理情報領域（例えばＤＭＡや、追記型光ディスクの場合はＴＤＭＡなど）を含む記録層での記録学習も同じタイミングで行ってもよい。
【０１９５】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３の（３）では、使用可能な位置（つまり使用済みおよび未使用領域の位置）を識別するための情報として、次に使用可能な位置に関する情報を備える方法を説明したが、その他にも、例えば使用済み領域と未使用領域とをビットマップで管理するといった方法でも同様の効果を得ることが出来る。
【０１９６】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３で説明したように、例えばパワー学習領域が枯渇した際にストラテジ学習領域の一部をパワー学習領域として割り当てしなおす方法を実現するために、各領域の最終使用可能位置（終端位置）情報や残サイズ、使用方向等といった情報をさらに備えても良い。あるいは、パワー学習領域を使用した後で他の記録層における同一半径位置に配置される予備領域を使用する方法も考えると、パワー学習領域やストラテジ学習領域が１つの記録層に複数存在するとして扱い、次使用位置情報に加えて、パワー学習領域およびストラテジ学習領域の先頭位置およびサイズを領域数分含んだリスト形式で保持しておくなどといった方法も有効である。
【０１９７】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３においては、パワー学習領域はトラックパスとは逆向きに、ストラテジ学習領域は全ての記録層で同じ向きに使用するといった例を説明したが、これはあくまで一例である。
【０１９８】
たとえば、パワー学習領域において過大パワーで記録を行うことにより、トラックが破壊されることがある。このようなトラック破壊を考慮に入れた学習方法を、記録学習処理共通の思想としてストラテジ学習領域にも適用してもよい。すると、記録時におけるパワー学習領域およびストラテジ学習領域の使用方向は、同一記録層において同じ方向になる。たとえば、Ｌ０層ではパワー学習領域とストラテジ学習領域共に外周側から内周側の方向、つまりトラックパスとは逆の向きに使用してもよい。
【０１９９】
あるいは、例えば単純に、パワー学習領域はトラックパスとは逆向きに使用するが、光ディスク１に大よそ適した記録パワーで記録されるストラテジ学習領域はトラックパスと同じ向きに使用するという使い方も可能である。この場合には、パワー学習領域における領域破壊にも対応可能であり、さらにストラテジ学習領域については、ストラテジ学習中にメディア欠陥等による記録失敗が発生したとしても、前の記録に引き続いてリトライ処理を行えるなど、アクセスパフォーマンスの向上といった効果を得ることが出来たり、あるいは学習中の記録が途中で失敗したような場合にトラックパスと逆向きに使用していた場合には学習領域中に記録済み領域と未記録領域が混在して残ってしまうことになり、異常時の未記録と記録済みの境界位置探索が困難になるといった課題があるのに対して、トラックパスの方向に使用することで、この課題も解決することが出来る。
【０２００】
あるいは、例えばパワー学習領域が破壊される可能性について前述したが、メディアの特性によっては、多少の高パワーでの記録が行われた場合でもウォブル等で埋め込まれたＰＢＡが取得できないような状態になることはまず無いと言えるものもあるため、パワー学習領域に対しても仕様方向の制限を付けず、例えば単純にパワー学習領域、ストラテジ学習領域ともトラックパスと同一方向に使用するといった方法も考えられる。こうすることで、仮にパワー学習中、またはストラテジ学習中ともに前述したアクセスパフォーマンスを向上させるといった効果を得ることが出来る。
【０２０１】
またさらに書換え型情報記録媒体を考えた場合には、上書き及びランダムアクセスが可能であるため、領域の使い方に関しては追記型情報記録媒体のように必ずしも制限を加えなくても良いが、当然ここで説明したのと同様の使い方を適用することも可能であり、その場合には追記型情報記録媒体の場合と同様の効果を得ることが出来る。
【０２０２】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、パワー学習用の領域とストラテジ学習用の領域が重ならない場合の例を示したが、例えばストラテジ学習で使用された領域を透過してパワー学習を行ったりしても良い。具体的には、例えばＬ０層のパワー学習を行おうとした場合で、Ｌ１層の同一半径位置相当の領域が一定パワーで記録されるストラテジ学習で使用済みの領域であったような場合であれば、透過率の影響は低いため、そのままＬ０層の領域をパワー学習に用いたりしても良い。
【０２０３】
なお、本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３では、光ディスク１がオポジットパスと呼ばれるトラッキング方法が採用されているものとして説明を行ったが、例えば全ての記録層で内周側から外周側に向かって昇順（あるいは降順）に物理アドレスが割り振られるパラレルパスであっても、同様の効果を得ることが出来る。
【０２０４】
（実施の形態４）
（１）領域配置
図２１は本発明の実施の形態４における、記録層を３層備えた追記型光ディスクの領域構成図である。
【０２０５】
光ディスク１のリードイン領域１３には、記録層ごとに、記録学習用にそれぞれ別々の領域である記録学習領域Ａ（Ｌ０層が記録学習領域Ａ６０、Ｌ１層が記録学習領域Ａ６１、Ｌ２層が記録学習領域Ａ６２）と、記録学習領域Ｂ（Ｌ０層が記録学習領域Ｂ７０、Ｌ１層が記録学習領域Ｂ７１、Ｌ２層が記録学習領域Ｂ７２）を備える。記録学習領域Ａ（Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０、Ｌ１層の記録学習領域Ａ６１、Ｌ２層の記録学習領域Ａ６２）はそれぞれ同一半径位置に重なる領域を含んで配置されている。また記録学習領域Ｂ（Ｌ０層の記録学習領域Ｂ７０、Ｌ１層の記録学習領域Ｂ７１、Ｌ２層の記録学習領域Ｂ７２）もそれぞれ同一半径位置に重なる領域を含んで配置されている。なお、ここで言う同一半径位置とは厳密な意味での同一半径位置とはならない場合もある。つまり、本発明の実施の形態１で示した同一半径範囲位置のことであり、記録層の貼り合わせ誤差や、レーザ光の特性を考慮する必要がある。
【０２０６】
記録学習領域Ａとは、本発明の実施の形態１で説明したパワー学習領域等と同様の領域で、記録パワーに制限が無く、任意の記録パワーで記録学習（以後、これを記録学習Ａと呼ぶこともある）を行っても良い領域である。例えば、記録パワーを段階的に変えたパターンでの記録（階段記録）伴うパワー学習などを行っても良い。
【０２０７】
ここで記録学習領域Ａは各記録層で同一半径位置に重なる領域を含んで配置されるが、任意のパワーでの記録が許容される領域であるため、記録学習を行う際にレーザ光が通過する他の記録層の領域が階段記録を伴うパワー学習が行われた領域であった場合などには、透過率がばらついてしまい、学習結果に支障が出てしまう恐れがある。これを防ぐため記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い位置に配置される記録層から順番に使用していくという使用制限が付けられた領域である。つまり例えば図２１の光ディスク１の場合、レーザ光の入射側にある記録層がＬ２層であり、遠い位置に配置される記録層はＬ０層であるため、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０から順番に使用され、この記録学習領域Ａ６０が使い尽くされた場合には、続いてＬ１層の記録学習領域Ａ６１、続いてＬ２層の記録学習領域Ａ６２と順に使われていくことになる。このようにすることで、使用する記録学習領域Aよりもレーザ入射側にある記録層の記録学習領域Aは常に未使用（未記録）状態とすることが出来、透過率ばらつきによる記録学習結果への影響等を防ぐことが出来る。
【０２０８】
記録学習領域Ｂとは、本発明の実施の形態１で説明したストラテジ学習領域等と同様の領域で、光ディスク１に大よそ適した記録パワーと保証できる記録パワー、言い換えればそのパワーで記録した領域の透過率が透過率バランスを崩さない程度に所定の範囲に収まるような記録パワーで記録（以後、これを記録学習Bと呼ぶこともある）を行う領域のことである。例えば、パルス幅の調整を行うために、パワー学習で得られた光ディスク１に大よそ適した記録パワーで固定してパルス幅を変動させた記録を伴うストラテジ学習等を行なっても良い。
【０２０９】
ここで記録学習領域Ｂも各記録層で同一半径位置に重なる領域を含んで配置されるが、この領域はパワー学習で求められた記録パワーなど光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が行なわれる領域であるため、記録済みの他の記録層における記録学習領域Ｂをレーザ光を通過させて記録を行なっても、他層の記録状態による透過率の影響をほとんど受けない（無視できる程度に抑えることができる）と言えるため、記録学習領域Ａとは異なり、使用順番などの制約は無い。つまり他の記録層における記録学習領域Ｂの状態に関わらず、使用したいタイミングにおいて任意の記録層での記録学習領域Ｂを使用しても良い。
【０２１０】
なお図２１では、記録学習領域Ａは全て同一半径位置に重なる領域を備える（同一半径位置に配置される）例を示したが、全ての記録層の記録学習領域Ａが同一半径位置に重なる領域を備えて無くても良い。つまり図２１に示す領域配置が、リードイン領域１３（もしくはリードアウト領域１５）において記録学習用の領域を最も効率的に配置できる方法であるが、例えば図２２に示すように、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０だけ、他の記録層の記録学習領域Ａとは異なる半径位置に配置されたりしても、多少リードイン領域１３（またはリードアウト領域１５）に占める記録学習用領域の割合が図２１の場合と比べて大きくなるものの、記録学習領域Ａの使用順番の制限を同じように設ければ、図２１に示した場合と同様の効果を得ることが出来る。なお、記録学習領域Ｂについても、記録学習領域Ａと同様、全ての記録層における記録学習領域Ｂが同一半径位置に重なる領域を含んでいなくても同様の効果を得ることが出来る。
【０２１１】
（２）領域の使い方
記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂの使い方について、より詳細に図２１を用いて説明する。なお図２１中に示す矢印は、記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂの使用方向（記録方向）を示している。
【０２１２】
同じ１つの記録層においては、記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂ（例えばＬ０層の記録学習領域Ａ６０及び記録学習領域Ｂ７０）はともに追記記録される。つまり、それぞれ所定の方向（例えば記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂともにトラックパスとは逆の方向。つまり図２１の場合には、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０および記録学習領域Ｂ７０はディスクの外周から内周側の方向）に向かって順に使用される。これは本発明の実施の形態１の（２）領域の使い方において説明したように、任意のパワーでの階段記録を伴うパワー学習を行う段階ではまだパワー調整が出来ていない状態であるため、どのようなパワーで記録されるかが保証出来ず、非常に高いパワーで記録を行なってトラック１１を壊してしまう場合もあり得ることを考慮したものである。
【０２１３】
上述したように、記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い（奥の）位置に配置される記録層から順番に使用していくという使用制限が付けられた領域である。つまり例えば図２１の光ディスク１の場合、レーザ光の入射側から遠い（奥の）位置にある記録層であるＬ０層の記録学習領域Ａ６０から順番に使用され、この記録学習領域Ａ６０が使い尽くされた場合には、続いてＬ１層の記録学習領域Ａ６１、続いてＬ２層の記録学習領域Ａ６２と順に使われていく。
【０２１４】
なお図２１に記載した各記録層における記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂの使用方向はあくまで一例であり、これに限ったものではない。つまり図２１では、トラックパスと逆の方向に向かって、同じ記録層に含まれる記録学習領域Ａと記録学習領域Ｂは同じ向きに使用される例を挙げたが、例えば記録パワーが保証できない記録学習領域Ａはトラックパスと逆の方向に向かって使用されるのに対して、光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が保証できる記録学習領域Ｂはトラックパスの方向に使用するといった使い方でも良い。この場合、記録学習領域Ａについてはパワー学習における領域破壊にも対応可能であり、さらに記録学習領域Ｂについては、ストラテジ学習中にメディア欠陥等による記録失敗が発生したとしても、前の記録に引き続いてリトライ処理を行えるなど、アクセスパフォーマンスの向上といった効果を得ることが出来たり、あるいは学習中の記録が途中で失敗したような場合にトラックパスと逆向きに使用していた場合には学習領域中に記録済み領域と未記録領域が混在して残ってしまうことになり、異常時の未記録と記録済みの境界位置探索が困難になるといった課題があるのに対して、トラックパスの方向に使用することで、この課題も解決することが出来るといったメリットがある。その他、例えば記録学習領域Ａについても領域破壊によるアドレス取得失敗が発生する可能性が極めて低いメディアの場合などでは全てトラックパスの方向に使用されても良く、あるいは本発明の実施の形態１等で記述した領域再割り当てを考慮して記録学習領域Ｂは全ての記録層で同一の方向（例えば内周側から外周側）に使用されたりしても良い。
【０２１５】
ここで、レーザ入射側から遠い記録層から使用されるという制限のついた記録学習領域Ａの使われ方について、その一例を、図２３を用いて説明する。
【０２１６】
図２３（Ａ）は、これから記録学習を行おうとする追記型の光ディスク１の状態を示す。使用順番に制限のついた記録学習領域Ａは、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０が使用中で、使用中のＬ０層の記録学習領域Ａ６０の使用可能な残りサイズはＲブロック（クラスタ）であり、記録学習領域Ａで行う学習（例えばパワー学習）に通常使用するサイズがＬブロック（クラスタ）であるとする。ここで学習に通常使用するサイズというのは、リトライなど学習における異常系を除いた、学習で最低限使用するサイズ（ブロック数）のことであるとする。
【０２１７】
記録学習で使用するサイズ：Ｌが、使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）の残りサイズ：Ｒよりも少ない（小さい）もしくは等価（同じサイズ）の場合は、そのまま対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）で図中の次使用開始位置が示す位置から記録学習を行えばよい。
【０２１８】
しかし図２３に示すように記録学習で使用するサイズ：Ｌが、使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）の残りサイズ：Ｒよりも多い（大きい）場合は、対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）だけでは記録学習を完結することができない。このような場合、使用可能なサイズ分だけ使用して対象層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０）で記録学習を行い、学習に足りなかったサイズ分を次の使用可能な記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合は、Ｌ１層の記録学習領域Ａ６１）で行うという方法も有りうるが、１つの記録学習（例えばパワー学習）の途中で記録層が変わってしまうと、記録層の記録特性の違いによる学習結果のずれや学習時間、学習結果の判断のやり方など非常に複雑困難になってしまう。そこでこのような場合には、図２３（Ｂ）に示すように、図中の次使用開始位置が示す使用中の記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合はＬ０層の記録学習領域Ａ６０）のサイズ：Ｒ分の空き領域は使用できない領域として扱い、次の使用可能な記録層の記録学習領域Ａ（この図の場合には、Ｌ１層の記録楽手領域Ａ６１）にて必要なサイズ：Ｌ分の学習をすべて実施する方法が効果的である。
【０２１９】
なおこの場合、使用せずに残した領域については、そのまま未使用（未記録）状態のままとしておいても良いし、あるいは任意のパワー・データで意味を持たないデータを記録して記録済み状態にしたりしても良い。
【０２２０】
なお、実際に記録学習に用いたサイズ（セクタ数、またはブロック数）が、学習実施前に記録学習に必要なサイズとして認識しているサイズ：Ｌよりも大きくなってしまう場合も考えられる。つまり例えばパワー学習の処理の中で記録に失敗したりしてリトライを行うようなケースもあり、このような場合には１回の学習においてＬブロックよりも大きなサイズの領域を使用してしまうケースもありうる。このような場合、リトライも想定して、学習に必要なサイズ：Ｌを、最低限必要なサイズ（セクタ数、またはブロック数）ではなく、マージンを持たせたサイズとしておくのも１つの方法であるし、あるいはサイズ：Ｌは最低限必要なサイズのままとして、リトライによって対象記録層の記録学習領域Ａだけでは完結しなくなったような場合には、その時点で次に使用可能な記録層の記録学習領域Ａでリトライの学習から行うというのも１つの方法である。
【０２２１】
（３）ＯＰＣ領域に関する情報の備え方
図２４は、追記型光ディスクにおける記録学習領域Ａ及び記録学習領域Ｂに関する情報の例である。なおここでは、図２１に示す光ディスク１の領域構造の場合を例に取って説明する。なお図２４においても、本発明の実施の形態１（３）と同様に、記録学習に関する情報の説明であるため、記録が可能なタイミング、つまりファイナライズまでの過渡的に交信記録された情報であるＴＤＭＳ７００を例に取って説明を行う。
【０２２２】
ＴＤＭＡには、欠陥位置や交替記録に関する情報であるＤＦＬ７０２などのディスク管理情報と、ＤＦＬ７０２の位置情報や光ディスクの領域に関する位置情報などを含むＤＤＳ７０１とを備えたＴＤＭＳ７００が記録される。
【０２２３】
ＤＤＳ７０１は、この情報がＤＤＳであることを示す識別子７１０や、ＤＦＬ７０２が記録されている位置であるＤＦＬ位置情報７１１に加えて、さらに記録学習領域Ａを備えた全記録層の記録学習領域Ａに渡って１つの、次に使用することが可能な位置情報（ポインタ情報）である記録学習領域Ａ次使用位置情報８００（以降、ＮＡＰＡ８００と呼ぶ）と、各記録層の記録学習領域Ｂに対して存在する次の使用可能な位置情報（ポインタ情報）である、Ｌ０層記録学習領域Ｂ７０用のＬ０記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０１（以降、Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１と呼ぶ）、Ｌ１層記録学習領域Ｂ７１用のＬ１記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０２（以降、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２と呼ぶ）、Ｌ２層記録学習領域Ｂ７０用のＬ２記録学習領域Ｂ次使用位置情報８０３（以降、Ｌ２−ＮＡＰＢ８０３と呼ぶ）とを備えている。記録学習領域Ｂ用の情報と異なり、記録学習領域Ａについては、記録学習領域Ａを備えた全記録層の記録学習領域Ａに渡って１つの情報しか保持しないのは、記録学習領域Ａがレーザ入射側から遠い記録層から使用されるという使用順番に制限が付いている領域であるためで、情報としては各記録層における開始位置情報として保持しておく必要が無いためである。
【０２２４】
なお、ＴＤＭＳ（ＤＭＳ）を構成する情報としては、ディスク管理情報であるＤＦＬ７０２とその位置情報を含むＤＤＳ７０１のみとは限らない。具体的には例えば、ディスク管理情報としてＤＦＬ７０２の他に、光ディスク１におけるデータ領域１４中のトラック（ＳＲＲ）の配置や使用状態を示す情報であるＳＲＲＩや、ランダム記録の際に用いられる記録未記録状態を示すＳＢＭなどの情報を含む場合もある。
【０２２５】
なおＤＦＬ７０２とＤＤＳ７０１とは必ずしも連続して記録されるとは限らない。つまり例えば以前ＴＤＭＡに記録されたＤＦＬ７０２が存在し、その情報が更新する必要が無いままＤＤＳ７０１内のデータのみ更新する必要が発生した場合などには、ＤＦＬ位置情報７１１として以前記録されたＤＦＬ７０２の位置を指した形でＤＤＳ７０１のみ記録されるような場合もあり得るためである。
【０２２６】
図２５は、図２４で説明した次使用位置情報についての説明図である。
【０２２７】
記録学習領域Ａについて、記録学習領域Ａを備えた全記録層におけるＮＡＰＡ８００が図２５に示すようにＬ１層の記録学習領域Ａ６１の途中の位置を指している場合は、Ｌ０層の記録学習領域Ａ６０はすべて使い尽くされ（使用可能なサイズ分の領域が残っておらず）、かつ内周から外周側に向かって使用されるＬ１層の記録学習領域Ａ６１については、記録学習領域Ａ６１の内周側境界位置からＮＡＰＡ８００が示す位置の手前までが使用済みで、次の記録学習領域Ａを用いた学習を行う場合には、ＮＡＰＡ８００が示す位置を先頭に外周側に向かって記録学習領域Ａ６１が使用可能であることを示す。
【０２２８】
記録学習領域Ｂについては使用順番等の制限は無いため、外周から内周側に向かって使用されるＬ０層の記録学習領域Ｂ７０、およびＬ２層の記録学習領域Ｂ７２については、それぞれ、記録学習領域Ｂ７０の外周側境界位置からＬ０−ＮＡＰＢ８０１が示す位置の手前まで、記録学習領域Ｂ７２の外周側境界位置からＬ２−ＮＡＰＢ８０３が示す位置の手前までが使用済みであり、また内周から外周側に向かって使用されるＬ１層の記録学習領域Ｂ７１については、記録学習領域Ｂ７１の内周側境界位置からＬ１−ＮＡＰＢ８０２が示す位置の手前までが使用済みであることを示す。
【０２２９】
このように記録学習領域Ｂについては、光ディスク１が備える記録層が増減すれば、その分だけ必要になる情報の数も増減することになるが、記録学習領域Ａについては記録層が増減しても必要になる情報の数は変わらず１つのままで良いということになる。
【０２３０】
なおこれらの次使用位置情報は、例えば光ディスク１における位置情報であるＰＢＡなどで示される。
【０２３１】
（４）記録再生装置
図２６は、本発明の実施の形態４における光ディスク１への記録再生を行う光ディスク記録再生装置１００に関する構成を示す。
【０２３２】
本発明の実施の形態４における光ディスク記録再生装置１００は、本発明の実施の形態１の（４）で図９を用いて説明したものと、記録学習部１５１を構成する記録学習部Ａ１５７および記録学習部Ｂ１５８を除いて同じであるため、同じ部分についてはここでの説明は省略する。
【０２３３】
記録学習部Ａ１５７は、記録学習領域Ａでの記録学習（記録学習Ａ）を制御するブロックであり、階段記録を伴うパワー学習のような任意の記録パワーでの記録学習を制御する。
【０２３４】
記録学習部Ｂ１５８は、記録学習領域Ｂでの記録学習（記録学習Ｂ）を制御するブロックであり、パルス幅の調整を行うストラテジ学習や、光ディスク１に大よそ適した記録パワーであることが保証できる（記録後の透過率が所定の範囲に収まる）範囲で増加・減少させたパワーなどで記録を行なって最適パワーの微調整を行うマージン確認のような、光ディスク１に適した記録パワーであることが保証できる範囲のパワーでの記録学習を制御する。
【０２３５】
（５）記録学習方法
本発明の実施の形態４における光ディスク１に対する記録学習方法について説明する。
【０２３６】
まず任意の記録パワーでの記録が可能な記録学習領域Ａは、レーザ光の入射側から遠い記録層から順番に使用される領域であり、パワーを段階的に変化させる階段記録を伴うパワー学習などを行うことができる領域である。記録学習領域Ａは他の記録層と同一半径位置を含むように重ねて配置されているが、レーザ光の入射側から遠い記録層から順番に使用されるため、仮に過大な記録パワーなどでの記録が行われたとしても、それより遠い（奥側）の記録層の記録学習領域Ａは存在しない、もしくは既に使用済みであることが保証できるため、他の記録層での記録学習結果に影響を与えることは無い。
【０２３７】
しかし例えば記録学習領域Ａでパワー学習を行うとした場合、すべての記録層で同じタイミングで記録学習領域Ａを用いたパワー学習を行うことはできず、ある１つの記録層でのみパワー学習を行うことが可能なだけである。そのため、実際にパワー学習を行った記録層を除く記録層では、光ディスク１におけるその記録層に適した記録パワーを、パワー学習を実施して求めることは出来ない。
【０２３８】
これに対する１つの方法として、ある１つの記録層での記録学習（パワー学習）結果と、ディスク製造時にあらかじめリードイン領域またはリードアウト領域のコントロール領域（或いは物理管理情報領域と呼ぶ）（図示せず）内に記録されている推奨記録パワーとを用いることでこの問題を解決する。
【０２３９】
光ディスク１にはコントロール領域（ＢＤディスクの場合にはＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ＆  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｄａｔａ）領域）などと呼ばれるディスク製造時にその光ディスク１に関する各種パラメータがあらかじめ埋め込まれた領域が存在し、例えばこの中に、その光ディスク１における各記録層、あるいは各記録倍速に応じた推奨記録パワーや推奨ストラテジ等に関する情報なども埋め込まれている。そのため本来はこのコントロール領域内に存在する推奨記録パワーや推奨ストラテジにて記録すれば記録学習などを行わなくても良いということになるが、実際に光ディスク１へ記録を行う際の温度や湿度、光ディスク記録再生装置１００における光レーザを照射する光ヘッド１２０の個体差や、光ヘッド１２０もしくは光ディスク１へ付着した埃や汚れなどによって、実際に記録を行う際に記録に適した記録パワーや記録パルス幅は必ずしもコントロール領域に埋め込まれた記録パワーなどと合致するとは限らないため、実際に当該光ディスク記録再生装置１００において光ディスクを使用する際にパワー学習やストラテジ学習といった記録学習を行う。しかし上述したように、実際に記録学習を行う目的は、記録を行う際の各種環境に適した状態に合わせこむことが目的であり、光ディスク１の記録層ごとの記録特性に変化が生じるようなことはまず無いといえる。つまり、ある１つの記録層において実際にパワー学習を行い、パワー学習で求まった記録パワーと、光ディスク１のコントロール領域に埋め込まれた推奨記録パワーとの差異（変化率）を求め、この変化率と、実際にパワー学習を行うことが出来なかった他の記録層における推奨記録パワーとを用いる（例えば乗算する）ことで、実際にパワー学習を行うことが出来なかった他の記録層に適した記録パワーとして演算によって算出することで、実際に当該記録層でパワー学習を行ったのと同等程度の大よそ適した記録パワーを求めることが出来る。そしてこのようにして求めた記録パワーを用いて、記録パワーに制限があるが使用順番には制限の無い各記録層の記録学習領域Ｂを用いてストラテジ学習や、パワー微調整のためのマージン確認などを行うことで、実際に記録学習領域Ａでパワー学習を行った記録層以外の記録層に適した記録パワーや記録パルス幅（記録ストラテジ）といった記録パラメータを確定する。
【０２４０】
上記で説明した方法を、図２７に示すフロー図を用いて説明する。
【０２４１】
ステップ２７０１：記録学習に必要な情報を取得する。具体的には、システム制御部１５０における再生制御部１５６は、光ディスク１のＴＤＭＡから最新のＤＭＳ７００に含まれる最新のＤＤＳ７０１を、さらにコントロール領域から物理管理情報（ＰＩＣなどの情報）をメモリ１７０中に読み出す。さらに以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、この情報を読み出したりもする。そして読み出した最新のＤＤＳ７０１をもとにアクセス位置管理部１５４は、記録学習領域Ａの次に使用可能な位置情報であるＮＡＰＡ８００、および各記録層の記録学習領域Ｂにおける次に使用可能な位置情報（Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２、Ｌ２−ＮＡＰＢ８０３）を取得するとともに、物理管理情報をもとに記録学習部１５１は、これから実施する記録学習条件に合致した記録パラメータ（例えば、ＮＡＰＡ８００が指し示す位置に相当する記録層において、記録学習を行う倍速に相当する推奨記録パワー等の情報）を取得する。ここで、最新のＤＤＳ７０１と記載したのは、ＴＤＭＡは過渡的に管理情報が更新される領域であるため、その領域の中に含まれるＤＭＳ７００の中で最新のものに含まれるＤＤＳ７０１を取得するという意味である。
【０２４２】
ステップ２７０２：記録学習領域Ａで記録学習Ａ（例えばパワー学習）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、ＮＡＰＡ８００が指し示す位置に相当する記録層Ｌｎ（ｎは層番号で、０以上の正数）の記録学習領域Ａ（例えば図２５のような場合はＮＡＰＡ８００は記録層Ｌ１の位置を指しているため、ｎは１であり、記録層Ｌ１における記録学習領域Ａ６１）のＮＡＰＡ８００が指す位置を基準にパワー学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ａ１５７は対象記録層・記録倍速等に応じたレーザ照射パワー（例えば階段記録を行うための複数パターンのレーザパワー等）を判断してレーザ制御部１３０に設定し、さらに所定のストラテジ（例えばコントロール領域に記載されているストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス位置管理部１５４によって算出されたパワー学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させて記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度やＢＥＲ）から最適記録パワー（例えば複数パターンのレーザパワーの中で最も変調度が期待値に近いパワー）を求める。そして、パワー学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、記録学習領域Ａ次使用位置情報（ＮＡＰＡ）８００を更新する。
【０２４３】
なお、本発明の実施の形態４（２）で図２３を用いて説明したように、ＮＡＰＡ８００が指し示す記録層の記録学習領域Ａの使用可能サイズによっては、必ずしもＮＡＰＡ８００が指し示す記録層の記録学習領域Ａでパワー学習を行うとは限らない。
【０２４４】
なお、もし万が一パワー学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０２を繰り返して実施しても良い。
【０２４５】
ステップ２７０３：パワー変化率を算出する。具体的には記録学習部１５１は、メモリ１７０中に読み出した記録層Ｌｎにおけるコントロール領域の推奨記録パワー（Ｐｗｉとする）と、ステップ２７０２にて得られた最適記録パワー（Ｐｗｏとする）とのパワー変化率２７００（例えばＰｗｏ／Ｐｗｉの値）をメモリ１７０に記憶する。なおこの際、パワー変化率２７００が所定の範囲内（例えば９５％〜１００％の範囲）でなかった場合には、得られたパワーは光ディスク１に対して適したパワーでは無いと判断し、リトライとしてステップ２７０２からやり直しても良い。
【０２４６】
なおパワー変化率２７００は必ずしもＰｗｏをＰｗｉで除算した値でなくとも良く、パワー変化率が分かる値であればどのような値でも良い。
【０２４７】
ステップ２７０４：記録学習領域Ａを用いた学習を行った記録層Ｌｎの記録学習領域Ｂで記録学習Ｂ（ストラテジ学習、マージン確認等。以下記録学習Ｂではストラテジ学習を行うものとして説明を行う。）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、ステップ２７０２で記録学習領域Ａを用いた学習を行った記録層Ｌｎにおける記録学習領域Ｂの次使用位置情報であるＬｎ−ＮＡＰＢ（例えばＮＡＰＡ８００が図２５のような場合、記録学習Ａ（パワー学習）を行ったＬ１記録層における記録学習領域Ｂ７１に関する次使用位置情報であるＬ１−ＮＡＰＢ８０２）が指す位置を基準にストラテジ学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ｂ１５８はステップ２７０２でのパワー学習で求められた最適記録パワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス位置管理部１５４によって算出されたストラテジ学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させ記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。そして、ストラテジ学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、Ｌｎ記録学習領域Ｂ次使用位置情報（ｎが１（記録層Ｌ１）の場合は、Ｌ１−ＮＡＰＢ８０２）を更新する。
【０２４８】
なお、もし万が一ストラテジ学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０４を繰り返して実施しても良い。
【０２４９】
ステップ２７０５：後述するステップ２７０６からステップ２７０７の処理（記録学習領域Ｂでの記録学習処理）を、ステップ２７０４にて記録学習領域Ｂを行った記録層（Ｌｎ層）を除く全ての記録層Ｌｍ（ｍは層番号で、ｎ≠ｍである０以上の正数）に対して繰り返す。例えば図２５に示す状態の光ディスク１の場合、記録学習領域Ａを用いた記録学習Ａ（パワー学習）は記録層５（Ｌ１層）で実施されるため、ステップ２７０４での記録学習ＢもＬ１層で実施された状態である。そのため、この記録層を除く記録層３（Ｌ０層）及び記録層７（Ｌ２層）に対して繰り返す。
【０２５０】
ステップ２７０６：記録層Ｌｍにおける最適記録パワーを求める。具体的には記録学習部１５１は、ステップ２７０３にて算出されたパワー変化率２７００と、メモリ１７０中に読み出した記録層Ｌｍにおけるコントロール領域の推奨記録パワーとを乗算することで、記録層Ｌｍにおける最適記録パワー（厳密に言えば、演算で求めることになるので、大よそ適した記録パワー）を求める。
【０２５１】
ステップ２７０７：記録層Ｌｍの記録学習領域Ｂで記録学習Ｂ（ストラテジ学習、マージン確認等。以下記録学習Ｂではストラテジ学習を行うものとして説明を行う。）を実施する。具体的にはアクセス位置管理部１５４は、記録層Ｌｍにおける記録学習領域Ｂの次使用位置情報であるＬｍ−ＮＡＰＢ（例えばｍが０（記録層Ｌ０）の場合、記録学習領域Ｂ７０に関する次使用位置情報であるＬ０−ＮＡＰＢ８０１）が指す位置を基準にストラテジ学習を行う先頭位置を確定し、記録学習部Ｂ１５８はステップ２７０６にて求められた最適記録パワーをレーザ制御部１３０に設定し、さらにストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ）を記録補償回路１４０に設定し、アクセス位置管理部１５４によって算出されたストラテジ学習を行う先頭位置に対してメカ制御部１６０を用いて光ヘッド１２０を移動させ記録を行い、記録した領域の記録品質（例えば変調度や位相誤差）から最適な記録ストラテジ（例えば複数パターンのストラテジ条件の中で最も位相誤差が小さいストラテジ）を求める。そして、ストラテジ学習に使用した分だけ、メモリ１７０内のＤＤＳ７０１に相当するデータのうち、Ｌｍ記録学習領域Ｂ次使用位置情報（ｍが０（記録層Ｌ０）の場合は、Ｌ０−ＮＡＰＢ８０１）を更新する。
【０２５２】
なお、もし万が一ストラテジ学習の際の記録に失敗したような場合には、先の記録を行なった位置を基準として再度アクセス位置管理部１５４にてアクセス位置を求め、リトライとして再び本ステップ２７０７を繰り返して実施しても良い。
【０２５３】
ステップ２７０８：前述したステップ２７０６からステップ２７０７の処理をステップ２７０４にて記録学習領域Ｂを行った記録層Ｌｎを除く全ての記録層Ｌｍに対して繰り返す。記録学習が完了していない記録層が存在する場合には、ステップ２７０５に戻る。ステップ２７０４にて記録学習領域Ａで学習を行った記録層を除く全ての記録層における記録学習が完了した場合には、ステップ２７０９へ進む。
【０２５４】
ステップ２７０９：記録学習が完了したら、ＴＤＭＡに最新の管理情報を記録（更新）する。具体的にはシステム制御部１５０は記録制御部１５５を用いて、メモリ１７０中に格納されている、上記ステップ２７０２、ステップ２７０４、ステップ２７０７において更新された新しい次使用位置情報を含むＤＤＳ相当のデータを新たなＴＤＭＳ７００として、ＴＤＭＡに追記記録する。なお、このタイミング（現実的には、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａの使用位置を示すポインタ情報をもＤＤＳ７０１が含むため、ＴＤＭＡ（ＤＤＳ７０１）の更新よりも前のタイミング）で、必要に応じて光ディスク記録再生装置１００が実施した学習結果（学習履歴）を記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）へ記録しても良い。
【０２５５】
なお管理情報更新は必ずしも記録学習後のタイミングで行わずとも、光ディスク１が光ディスク記録再生装置１００から排出されるまでの間に実施されれば良い。
【０２５６】
以上で記録学習処理が完了する。
【０２５７】
このように、記録学習領域Ａおよび記録学習領域Ｂにおける次の使用可能な位置（ポインタ）情報を管理情報（ＤＤＳ７０１）に含めておくことで、記録学習を行うたびに次に使用可能な位置の探索を行う必要がなくなり、上記ステップ２７０１においてアクセス位置管理部１５４が効率的に記録学習位置を求めることが出来るため、記録学習処理全体の処理効率も上がる（記録学習の所要時間が短縮できる）。特に記録学習領域Ａについては、レーザ光の入射側から遠い記録層から順に使用されるため、次に使用可能な位置を実際に探索しようとすると、最悪で全ての記録層における記録学習領域Ａへのアクセスが発生する可能性があるため、全ての記録層の記録学習領域Ａに対して１つのポインタ情報で管理することでより効果を発揮することが出来る。
【０２５８】
記録学習領域Ｂは光ディスク１に大よそ適した記録パワーでの記録が行なわれる領域という制限があるため、少なくとも記録学習領域Ａでの記録学習Ａ（パワー学習）が実施されるよりも後で使用される必要があり、実際にこれらの領域での学習を行う記録学習部１５１（記録学習部Ａ１５７および記録学習部１５８）に対して学習実施の順番をシステム制御部１５０にて制御している。
【０２５９】
なお、上記の図２７の説明においては、システム制御部１５０が記録学習における一連の処理の手順を含めた全体制御を行う位置づけであり、記録学習部１５１（記録学習部Ａ１５７および記録学習部Ｂ１５８）は記録学習におけるパワー学習やストラテジ学習などの学習動作を実施する処理部の位置づけとして説明したが、上記ステップに相当する処理（機能）を実現する手段が存在すれば同様の効果を得ることが出来ることは言うまでも無い。つまり、例えば記録学習部１５１が記録学習全体制御を行ったりしても良いし、１つの手段が複数のステップ（機能）を実現したりしても良い。
【０２６０】
なお、ステップ２７０５における記録層Ｌｍ（ｍは層番号で、ｎ≠ｍである０以上の正数）で行うという処理判定条件を、ｎ＝ｍの記録層も含めた全ての記録層に対して処理を実施するようにして、記録学習領域Ａを実施した記録層Ｌｎにおける記録学習領域Ｂを用いた学習を行うというステップ２７０４をなくし、ステップ２７０６からステップ２７０７の処理に共通化して実施しても良い。
【０２６１】
なお、例えば以前に当該光ディスク記録再生装置１００で実施した学習結果（学習履歴）が記録学習対象の光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合には、ステップ２７０２におけるパワー学習時のストラテジ初期値を学習履歴に残されたストラテジとしたりしても良い。あるいは、学習履歴が存在する場合には、記録学習領域Ａを用いた記録学習（パワー学習）を行った記録層での記録学習Ｂ（ストラテジ学習等）を行うというステップ２７０４、あるいは全ての記録学習Ｂに関するステップ２７０４およびステップ２７０７は実施しないなどといった制御を行っても構わない。あるいは、学習履歴に以前求めたパワー変化率２７００に相当する情報やそれに関連する情報（例えば以前の学習実施時の温度情報など）を残しておき、今回記録学習を行う場合の条件が学習履歴に残された条件を満たす場合には、ステップ２７０２における記録学習領域Ａでの記録学習Ａをスキップするといった制御を行っても良い。
【０２６２】
なお、ステップ２７０５では、記録学習Ｂを、Ｌｎ層を除く全ての記録層に対して実施すると記載したが、少なくともデータ領域１４やリードイン領域１３等の管理情報領域へのデータ記録が行われる記録層において記録学習Ｂまでが実施されれば良く、必ずしも全ての記録層に対して実施されなくとも良い。
【０２６３】
なお、全ての記録層における記録学習領域Ａで新たな学習が行えるだけの空き領域が無くなった（枯渇した）時点で、その光ディスク１は新たな記録学習が出来ないため記録禁止として扱われる。同様に、ステップ２７０４、およびステップ２７０７で記録学習領域Ｂを用いた記録学習Ｂ（ストラテジ学習等）を行う必要がある場合で、対象層の記録学習領域Ｂで新たな学習が行えるだけの空き領域が無くなった（枯渇した）時点で、その光ディスク１（厳密に言えば、少なくとも対象記録層）は新たな記録学習が出来ないため記録禁止として扱われる。
【０２６４】
なお、以前に当該光ディスク記録再生装置１００で、対象の記録層において実施した学習結果（学習履歴）が光ディスク１のドライブ固有情報領域（Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａとも呼ぶ）等に残されている場合、つまり履歴情報を用いた学習を行う場合には、その記録層への記録パワーは保障できるものとして扱うことが出来る場合など、記録学習領域Ｂでの記録学習で調整可能な場合などは、記録学習領域Ｂに使用可能な領域が残っていれば、記録学習領域Ａが枯渇したからといって、必ずしも記録禁止として扱わなくとも良い。
【０２６５】
なお、本発明の実施の形態４では、追記型光ディスクを例にとって説明したが、同様の考え方を書換え型光ディスクに適用しても良い。つまり、各記録層とも記録学習領域Ａと記録学習領域Ｂを備え、記録学習領域Ａはレーザ入射側から遠い記録層（例えばＬ０層の記録学習領域Ａ６０）から使用していき、その記録層での記録学習領域Ａがサイクル劣化等で使用が危ういと判断された場合などに次の記録層における記録学習領域Ａ（例えばＬ１層の記録学習領域Ａ６１）を使用するといった制限を設け、記録学習領域Ｂは光ディスク１に大よそ適した記録パワーで記録されるという形でも、上述したのと同様の効果を得ることが出来る。但し書換え型光ディスクの場合には記録学習領域も書換え可能な領域であるため、記録学習領域内であれば任意の場所で記録学習を行っても構わない。そのため書換え型光ディスクの場合には、次使用位置情報（ＮＡＰＡ８００やＬ０−ＮＡＰＢ８０１等）は保持しなくとも良いが、記録学習領域Ａの使用順番に制限をつけるため、次に使用可能な記録学習領域Ａの位置情報（物理アドレス、または記録層番号など）を保持する必要がある。
【０２６６】
（実施の形態５）
＜主要パラメータ＞
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがある。以下ではＢＤに関して説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ，書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがあり、本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおける、Ｒ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２６７】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、記録層が１層または２層設けられている。記録層の記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２６８】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（又は０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（又は６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（又は２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（又は２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（又は５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（又は５４．０４０ＧＢ））である。
【０２６９】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２７０】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（又は、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍である。しかしながら、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２７１】
なお、上記は既に商品化が進んでいる、主に１層当たり約２５ＧＢ（又は約２７ＧＢ）の１層又は２層のＢＤに関するものである。更なる大容量化として、１層あたりの記録容量を略３２ＧＢ又は略３３．４ＧＢとした高密度なＢＤや、層数を３層又は４層としたＢＤも検討されており、以降では、それらに関しても説明する。
【０２７２】
＜変調＞
次に、記録信号の変調方式について述べる。
【０２７３】
データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２７４】
ここで変調則としては、マーク長が制限されるＲＬＬ（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈＬｉｍｉｔｅｄ）符号化方式などでもよく、ＲＬＬ（ｄ，ｋ）と表記した場合、１と１の間に出現する０が最小ｄ個，最大ｋ個であることを意味する（ｄおよびｋは、ｄ＜ｋを満たす自然数である）。例えばｄ＝１，ｋ＝７の場合、Ｔを変調の基準周期とすると、最短が２Ｔ、最長が８Ｔの記録マーク及びスペースとなる。またＲＬＬ（１，７）変調に更に次の［１］［２］の特徴を加味した１−７ＰＰ変調としてもよい。１−７ＰＰの“ＰＰ”とは、Parity preserve／Prohibit Repeated Minimum Transition Lengthの略で、［１］最初のＰであるParity preserveは、変調前のソースデータビットの“１”の個数の奇偶（すなわちParity）と、それに対応する変調後ビットパターンの“１”の個数の奇偶が一致していることを意味し、［２］後ろの方のＰであるProhibit Repeated Minimum Transition Lengthは、変調後の記録波形の上での最短マーク及びスペースの繰り返し回数を制限（具体的には、２Ｔの繰り返し回数を最大６回までに制限）する仕組みを意味する。
【０２７５】
＜フレームシンクパターン＞
一方、フレーム間に挿入されるシンクコード／同期符号系列には前述の所定の変調則は適用されないので、その変調則によって拘束される符号長以外のパターンを含ませることが可能となる。このシンクコード／同期符号系列は、記録されたデータを再生するときの再生処理タイミングを決定するもののため、次のようなパターンが含まれてもよい。
【０２７６】
データ符号系列との識別を容易にするという観点からは、データ符号系列には出現しないパターンを含ませてもよい。例えば、データ符号系列に含まれる最長マーク／スペースよりも長いマーク又はスペースやそのマークとスペースの繰り返しである。変調方式が１−７変調の場合、マークやスペースの長さは２Ｔ〜８Ｔに制限されるので、８Ｔよりも長い９Ｔ以上のマーク又はスペース（９ＴＭ and/or ９ＴＳ）や９Ｔマーク／スペースの繰り返し（９Ｔ／９Ｔ）等である。
【０２７７】
同期引き込み等の処理を容易にするという観点からは、マーク／スペースの遷移（ゼロクロス点）を多く発生させるパターンを含ませてもよい。例えば、データ符号系列に含まれるマーク／スペースの内、比較的短いマーク又はスペースやそのマークとスペースの繰り返しである。変調方式が１−７変調方式の場合、最短である２Ｔのマーク又はスペース（２ＴＭ and/or ２ＴＳ）や２Ｔマーク／スペースの繰り返し（２Ｔ／２Ｔ）や、次最短である３Ｔのマーク又はスペース（３ＴＭ and/or ３ＴＳ）や３Ｔマーク／スペースの繰り返し（３Ｔ／３Ｔ）等である。なお、波長、開口数、チャネルビット長、記録密度などによっては、十分な再生特性が得られない長さのマーク及び／又はスペースが含まれることもあるので、そのような場合には、十分な再生特性が得られない長さ以下のマーク及び／又はスペース（例えば最短のマーク及び／又はスペース）を除いてもよい。
【０２７８】
＜フレームシンクの符号間距離＞
前述の同期符号系列とデータ符号系列を含む領域を仮にフレーム領域と呼び、そのフレーム領域を複数（例えば３１個）含む単位を仮にセクタ（又はアドレスユニット（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｕｎｉｔ））と呼ぶことにすると、あるセクタにおいて、そのセクタの任意のフレーム領域に含まれる同期符号系列と、その任意のフレーム領域以外のフレーム領域に含まれる同期符号系列との符号間距離を２以上にしてもよい。ここで符号間距離とは、２つの符号系列を比較した場合、符号系列中の異なるビットの個数を意味する。この様に符号間距離を２以上にすることで、再生時のノイズの影響などにより一方の読み出し系列が１ビットシフト誤りを起こしても、もう一方と誤識別することがない。また、特に、そのセクタの先頭に位置するフレーム領域に含まれる同期符号系列と、先頭以外に位置するフレーム領域に含まれる同期符号系列との符号間距離を２以上にしてもよく、この様にすることで、先頭箇所か否か／セクタの区切り箇所か否かの識別を容易にすることができる。
【０２７９】
なお符号間距離は、ＮＲＺ記録のときは符号系列をＮＲＺ表記した場合、ＮＲＺＩ記録の時は符号系列をＮＲＺＩ表記した場合、における符号間距離の意味を含んでいる。そのため、もしＲＬＬ変調を採用した記録の場合、このＲＬＬとはＮＲＺＩの記録波形の上で高レベル又は低レベルの信号が続く個数を制限することを意味するものであるため、ＮＲＺＩ表記における符号間距離が２以上ということを意味する。
【０２８０】
＜記録方式：Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖ／Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ＞
また記録方式に関しては、媒体に溝を形成することによって、溝部と、溝と溝との間の溝間部と、が形成されることになるが、溝部に記録するか、溝間部に記録するか、溝部と溝間部の両方に記録するか、様々な方式がある。ここで、溝部と溝間部のうち、光入射面から見て凸部となる側に記録する方式をＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式といい、光入射面から凹部となる側に記録する方式をＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式という。本発明において、記録方式として、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とするか、両方式のどちらか一方を許可する方式とするかは特に問わない。
【０２８１】
なお、両方式のどちらか一方を許可する方式の場合、その媒体が、どちらの記録方式であるかを容易に識別できるように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式であるかを示した記録方式識別情報を媒体に記録してもよい。多層情報記録媒体については、各層についての記録方式識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録方式識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録方式識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録方式識別情報を記録してもよい。
【０２８２】
また記録方式識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
【０２８３】
またウォブルの開始方向に関しては、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とで互いに逆となるようにしてもよい。つまり、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの内周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの外周側から開始するようにし（、又は、もしＯｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式にてウォブルの開始方向がディスクの外周側から開始する場合には、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式ではウォブルの開始方向をディスクの内周側から開始するようにし）てもよい。このように、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とＩｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式とでウォブルの開始方向互いに逆となるようにすることで、どちらの方式にしてもトラッキングの極性を同一にすることができる。なぜなら、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凸部となる側に記録を行うのに対して、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ方式では、光入射面から凹部となる側に記録を行うため、仮に両者で溝の深さが同じである場合、トラッキング極性は逆の関係となる。そこで、両者でウォブルの開始方向も互いに逆とすることにより、トラッキング極性を同じにすることができる。
【０２８４】
＜記録特性と反射率：Ｈｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗ，Ｌｏｗ ｔｏ Ｈｉｇｈ＞
また、記録膜の特性に関しては、記録部分と未記録部分との反射率の関係により、以下の２つの特性のものがある。つまり、未記録部分が記録済部分よりも高反射率（Ｈｉｇｈ−ｔｏ−Ｌｏｗ）であるＨｔｏＬ特性と、未記録部分が記録済部分よりも低反射率（Ｌｏｗ−ｔｏ−Ｈｉｇｈ）であるＬｔｏＨ特性である。本発明において、媒体の記録膜特性として、ＨｔｏＬであるか、ＬｔｏＨであるか、どちらか一方を許可するものであるかは特に問わない。
【０２８５】
また、どちらか一方を許可するものの場合、どちらの記録膜特性であるかを容易に識別できるように、ＨｔｏＬであるかＬｔｏＨであるかを示した記録膜特性識別情報を媒体に記録してもよい。多層情報記録媒体については、各層についての記録膜特性識別情報を記録してもよい。その場合、各層についての記録膜特性識別情報を基準層（光入射面から見てもっとも遠い側の層（Ｌ０）又は最も近い層や、起動時に最も最初にアクセスされるように決められている層など）にまとめて記録してもよいし、各層にその層のみに関する記録膜特性識別情報を記録してもよいし、各層に全ての層に関する記録膜特性識別情報を記録してもよい。
【０２８６】
また、記録膜特性識別情報を記録する領域としては、ＢＣＡ（ＢｕｒｓｔＣｕｔｔｉｎｇＡｒｅａ）やディスク情報領域（データ記録領域よりも内周側又は／及び外周側にあり、主に制御情報を格納する領域、なお再生専用領域でデータ記録領域よりもトラックピッチが広くなっていることがある）やウォブル（ウォブルに重畳して記録）等があり、いずれかの領域又はいずれか複数の領域又は全ての領域に記録してもよい。
【０２８７】
＜多層について＞
レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層ディスクの構成例を図２９に示す。図示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２で構成されている（ｎは０以上の整数）。その構成を具体的に説明すると、光ディスクには、レーザ光５０５が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、そして基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２の層間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２８８】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２８９】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向，スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。
【０２９０】
パラレル・パスでは、全ての層において、再生方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全層にて内周から外周の方向へ、又は全層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２９１】
一方、オポジット・パスでは、ある層とその層に隣接する層とで、再生方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）における再生方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、記録層Ｌ１における再生方向は外周から内周へ向かう方向であり、記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、再生方向は、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２９２】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がることで、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５，ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば記録媒体の全体の厚さ１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚さはさらに薄くしてもよい。
【０２９３】
なお、以上の各種のフォーマットや方式に関しては、記録密度（１層あたりの記録容量）が向上すると、複数の記録密度が存在する可能性が生じることになる。記録密度の違いや記録層の数により、その一部を採用し、一部を採用せずに別のフォーマットや方式を採用してもよい。以下では、多層（特に３層以上の場合）や高記録密度（例えば、１層あたり３０ＧＢ以上の場合）について述べる。
【０２９４】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図３０に、二層ディスクの構成例を図３１に、三層ディスクの構成例を図３２に、四層ディスクの構成例を図３３に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、図３１から３３のいずれにおいても、ディスクの総厚さは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）、基板５００の厚さは略１．１ｍｍ、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図３０の単層ディスク（図２９においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍ、また、図３１の二層ディスク（図２９においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍ、中間層５０３２の厚さは略０．０２５ｍｍ、また、図３２の三層ディスク（図２９においてｎ＝２の場合）や図３３の四層ディスク（図２９においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１３，５０１４の厚さ、及び／又は、中間層５０３３，５０３４の厚さは、更に薄くなる。
【０２９５】
（実施の形態６）
図３４は、本実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク６０１には、たとえば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック６０２が形成されており、各トラック６０２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック６０２には予め定められたサイズのブロック６０３を単位としてデータが記録される。
【０２９６】
本実施形態による光ディスク６０１は、従来の光ディスク（たとえば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、たとえば光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク１は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２９７】
トラック６０２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロックに分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロックは、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２９８】
＜記録密度について＞
次に、記録密度について、図３５、図３６および図３７を用いて説明する。
【０２９９】
図３５（Ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ６２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０３００】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック６０２上に物理変化のマーク列６２０、６２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク６２１が最短マークである。
【０３０１】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク６２１の物理的長さは０．１４９ｕｍとなっている。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０３０２】
図３６は、トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット６３０は、約０．３９ｕｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット６３０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０３０３】
たとえば図３５（Ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ６２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ７２０の開口数ＮＡは０．８５である。このディスクのマーク列６２５、６２４のうち、最短マーク６２５の物理的長さは０．１１１５ｕｍとなっている。図３５（Ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９ｕｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０３０４】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０３０５】
図３７は、２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０３０６】
そのため、図３５（Ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０３０７】
図３８は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図３８において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０３０８】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
また、高記録密度のディスクＢにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０３０９】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとしたとき、（最短マーク長＋最短スペース長）を“Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いると、
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
となるまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超えることになる。
【０３１０】
ＮＡ＝０．８５，λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
となる（なお、逆に、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡ  である場合は、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い）。
【０３１１】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０３１２】
なお、以上では、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録密度に関して述べたものである。更に高密度化が進んだ場合には、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係により、以上と同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度，記録容量）を設定してもよい。
【０３１３】
＜記録密度及び層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ，開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合においては、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，又は３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３１４】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３１５】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０３１６】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０３１７】
ここで、ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、即ち、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０３１８】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０３１９】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０３２０】
本発明にかかる情報記録媒体は、記録層を複数備えた追記型、および書換え型光ディスクに対して適用できる。
【０３２１】
本発明にかかる情報記録再生方法は、記録層を複数備えた追記型、および書換え型光ディスクを記録再生可能な光ディスクドライブ装置などに適用できる。
【符号の説明】
【０３２２】
１    光ディスク
２    基板
３、５、７    記録層
４、６        中間層
８    カバー層
１１    トラック
１２    ブロック
１３    リードイン領域
１４    データ領域
１５    リードアウト領域
２０、２１、２２、２３    パワー学習領域
３０、３１、３２    ストラテジ学習領域
４０    予備領域
５０    ＯＰＣ領域
５１    パワー学習用
５２    ストラテジ学習用
６０、６１、６２    記録学習領域Ａ
７０、７１、７２    記録学習領域Ｂ
１００    光ディスク記録再生装置
１１０    命令処理部
１２０    光ヘッド
１３０    レーザ制御部
１４０    記録補償回路
１５０    システム制御部
１５１    記録学習部
１５２    パワー学習部
１５３    ストラテジ学習部
１５４    アクセス位置管理部
１５５    記録制御部
１５６    再生制御部
１５７    記録学習部Ａ
１５８    記録学習部Ｂ
１６０    メカ制御部
１７０    メモリ
１８０    Ｉ／Ｏバス
２００    第１の記録学習領域
２０１    第２の記録学習領域
２１０    リザーブ領域
４００    記録対象領域
４０１、４０２  レーザ光影響範囲
４１０、４１１  レーザ光照射範囲
７００    ＴＤＭＳ
７０１    ＤＤＳ
７０２    ＤＦＬ
７１０    識別子
７１１    ＤＦＬ位置情報
７１２、７１３、７１４  パワー学習領域次使用位置情報
７１５、７１６、７１７  ストラテジ学習領域次使用位置情報
７１８    その他の情報
８００    記録学習領域Ａ次使用位置情報
８０１、８０２、８０３    記録学習領域Ｂ次使用位置情報
１３０１  パワー学習領域内周側次使用位置情報
１３０２  パワー学習領域外周側次使用位置情報
１７０１、１７０５、１７０９  パワー学習最終位置情報
１７０２、１７０６、１７１０  パワー学習次使用位置情報
１７０３、１７０７、１７１１  ストラテジ学習最終位置情報
１７０４、１７０８、１７１２  ストラテジ学習次使用位置情報
２７００    パワー変化率
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の面から入射したレーザ光により複数の記録層うちの少なくとも１層にデータが記録される情報記録媒体であって、
前記複数の記録層は、第１の記録層と、前記第１の記録層から前記レーザ光が入射する入射面の方向に順に配置された第２〜第Ｎの記録層（Ｎは３以上の整数）を含み、
前記複数の記録層のそれぞれは、
第１の学習領域と、前記第１の学習領域よりも外周側に位置する第２の学習領域とを備え、
前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第１の学習領域は、他の記録層の第１の記録学習領域とは異なる半径位置に配置され、
前記第１〜第Ｎの記録層それぞれに配置された前記第２の学習領域は、他の記録層の第２の記録学習領域と同一の半径位置に配置される、情報記録媒体。
【請求項２】
前記第２の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅は、前記第１の学習領域で使用される記録パワーの変動率幅以下である、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記第１〜第Ｎの記録層のそれぞれには、物理アドレスが割り振られており、
前記第１の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、前記第２の記録層の物理アドレスは、外周側から内周側に向かって昇順に割り振られ、前記第３の記録層の物理アドレスは、内周側から外周側に向かって昇順に割り振られ、
前記第１の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用され、前記第２の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、内周側から外周側の方向に使用され、前記第３の記録層に配置された前記第１の記録学習領域および前記第２の記録学習領域は、外周側から内周側の方向に使用される、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
請求項１に記載の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、
前記第１の学習領域および前記第２の学習領域の少なくとも一方において、記録学習を行うステップと、
前記記録学習の結果に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するステップと
を包含する記録方法。
【請求項５】
請求項１に記載の情報記録媒体から情報を再生する再生方法であって、
前記情報記録媒体の前記１〜第Ｎの記録層のうちの少なくとも１層は、前記情報記録媒体に関する情報が記録されているコントロール領域を有し、
前記コントロール領域から前記情報記録媒体に関する情報を再生するステップを包含する再生方法。
【請求項６】
請求項１に記載の情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、
前記複数の記録層はそれぞれ、最適な記録条件を求めるための記録学習を行うための記録学習領域を備え、
前記記録方法は、第ｋの記録層（ｋは１以上かつＮ以下の整数）において最初に記録を行うタイミングで、前記第ｋの記録層においてのみ、前記記録学習を行う、情報記録方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
2010035444.tif 000047
【図３Ａ】
2010035444.tif 000048
【図３Ｂ】
2010035444.tif 000049
【図３Ｃ】
2010035444.tif 000050
【図３Ｄ】
2010035444.tif 000051
【図３Ｅ】
2010035444.tif 000052
【図３Ｆ】
2010035444.tif 000053
【図４】
2010035444.tif 000054
【図５】
2010035444.tif 000055
【図６】
2010035444.tif 000056
【図７】
2010035444.tif 000057
【図８】
2010035444.tif 000058
【図９】
2010035444.tif 000059
【図１０】
2010035444.tif 000060
【図１１】
2010035444.tif 000061
【図１２】
2010035444.tif 000062
【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
2010035444.tif 000069
【図２０】
2010035444.tif 000070
【図２１】
2010035444.tif 000071
【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
2010035444.tif 000080
【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【国際調査報告】
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