【事件の表示】
　特許第３１９４２５０号「２軸レーザ加工機」の請求項１乃至請求項３に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３１９４２５０号の請求項１乃至請求項３に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　本件発明
　特許第３１９４２５０号（平成１０年１２月２５日出願、同１３年６月１日設定登録。）の請求項１乃至請求項３に係る発明（以下「本件発明１乃至本件発明３」という。）は、登録時の明細書及び図面の記載からみて、それぞれ、その特許請求の範囲の請求項１乃至請求項３に記載された事項により特定される以下のとおりのものであると認める。
「【請求項１】　レーザ光を発生するレーザ発振器と、前記レーザ光を２分岐するビームスプリッタと、該ビームスプリッタによって分岐された前記レーザ光をそれぞれ独立して走査するための第１及び第２のガルバノスキャナと、前記第１及び前記第２のガルバノスキャナからのレーザ光を被加工物に垂直に照射するためのｆθレンズと、前記第１及び前記第２のガルバノスキャナからのレーザ光をともに前記ｆθレンズに入射させるためのミキサーとを備え、前記分岐された２つのレーザ光を前記被加工物の互いに異なる位置に照射するようにしたことを特徴とする２軸レーザ加工機。
【請求項２】　前記ビームスプリッタが、前記レーザ光をＰ波とＳ波とに分岐する偏光ビームスプリッタであり、前記ミキサーが、前記Ｐ波と前記Ｓ波とをともに前記ｆθレンズへ導くための偏光ミキサーであることを特徴とする請求項１の２軸レーザ加工機。
【請求項３】　前記レーザ発振器が、ＣＯ2ガスレーザ発振器であることを特徴とする請求項１または２の２軸レーザ加工機。」
第２　特許異議申立ての理由の概要
　特許異議申立人伊藤剛雄は、本件特許の出願前に日本国内において頒布された刊行物である下記の証拠を提出して、本件の請求項１乃至請求項３に係る特許は、特許法第２９条の規定に違反してされたものであるから取り消すべきものである旨主張している。
証拠
　甲第１号証　特開平１０−　８０７８６号公報
　甲第２号証　特開平　９−１９７３１０号公報
第３  特許異議申立ての理由の検討
１　甲各号証の記載内容
　甲第１号証及び甲第２号証には、それぞれ下記の技術的事項が記載されていると認める。
(1) 甲第１号証
ア　第３頁右欄第７〜４９行
「【００１９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明を更に詳細に説明する。図１は、本発明のビーム線分割装置の一実施例を示す構成図である。ビーム分割装置１０は、第１および第２のビームスプリッタ１および２と、第１および第２の全反射ミラー４および５から構成される。図示しない光源から必要に応じて変調器を介して入射されるビーム１００は、第１のビームスプリッタ１により、紙面に平行な偏波面を有する第１偏光成分１０１と、紙面に垂直な偏波面を有する第２偏光成分１０２に分割される。
【００２０】第２偏光成分１０２は第１のビームスプリッタ１によりその光路を９０度変えて第１の全反射ミラー４に入射する。そして第１の全反射ミラー４と第２の全反射ミラー５で２度反射する間に、第１のビームスプリッタから第１の全反射ミラー４への光路と微小に平行でない光路を通って第２のビームスプリッタへ入射するようにその光軸を微小角度偏寄される。この偏寄角度は第１および第２の全反射ミラーの設置角度により設定する。
【００２１】一方、第１偏光成分１０１は第１のビームスプリッタ１を透過して第２のビームスプリッタ２に入射する。第２のビームスプリッタ２においては第２偏光成分は反射し、第１偏光成分１０１はそのまま透過する。この際、第２の偏光成分１０２はもとの光軸とは微小角ずれた光軸となるため、２つのビームが出力される。
【００２２】図２は、ビーム分割装置の別の実施例を示す図である。本実施例においてビーム分割装置１１は、ビーム分割手段および合成手段として第１および第２の複屈折結晶６および７を、一方のビームの光軸を微小角度偏寄させる手段として微小角プリズム８をそれぞれ用いている。
【００２３】即ち、ビーム１００は第１の複屈折結晶６に入射し、２つの偏光成分１０３および１０４に分割される。そして、一方の偏光成分、例えば第２の偏光成分１０４は微小角プリズム８により光軸の角度を微小角度偏寄される。
【００２４】２つの偏光成分１０３および１０４は、第２の複屈折結晶７に入射する。第２の偏光成分１０４は微小角プリズム８により光軸が微小角変化しているため、第２の複屈折結晶７を出射する際に第１の偏光成分１０３とその光路が一致しない。このようにしてビーム１００は２つに分割される。」
イ　第４頁左欄第３３行〜同頁右欄第１３行
「【００３１】図５は、本発明のビーム分割装置を用いたレーザテキスチャ装置の構成例を示す図である。本実施例においてはビーム分割手段として図１構成の物を１つ用いた例を示す。レーザテキスチャ装置は、少なくともビーム発生手段２０、集光レンズ１３およびスピンドルモータ１５から構成される。Ｑスイッチレーザー等のレーザ光源１２から発生するレーザビームは、ビーム分割手段１０により２分割され、集光レンズ１３に入射する。集光レンズ１３はそれぞれのビームを集光し、スピンドルモータ１５に回転可能に支持された基板１４上に２つのビームスポットを形成する。このビームスポットによりＣＳＳ特性に適した突起を形成する。
【００３２】ビームの間隔はビーム分割手段１０に含まれる全反射ミラー４および５の角度（図２構成のビーム分割手段１１を用いる際には微小角プリズムで偏寄する角度）を変化させることにより調整可能である。全反射ミラーの角度は数十秒単位で容易に可能で、その結果スポットの間隔もμｍ単位で調整できる。」
(2) 甲第２号証
ア　第３頁左欄第２５行〜同頁右欄第２５行
「【００１３】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態のマルチビーム走査装置を説明する。図１は、実施の形態における光学系概略を示した説明図である。このマルチビーム走査装置は、発光手段（光源）として２つのレーザダイオードＬＤ１とＬＤ２、コリメータレンズ７，８、λ／２板５、偏光ビームスプリッタ６、角度変位ユニット１４、シリンドリカルレンズ１０，１１、ポリゴンミラー９、ｆθレンズ１１などから構成される。
【００１４】レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２からの光ビームは、コリメータレンズ７，８によって、それぞれ平行光束となる。ここで、レーザダイオードＬＤ１からの光ビーム３は、図２に示したように、Ｐ波としてλ／２板５に入射し、λ／２板５により偏光方向が９０゜変えられてＳ波として出射され、偏向ビームスプリッタ６に入射される。また、レーザダイオードＬＤ２からの光ビーム４は、Ｐ波としてλ／２板５に入射する。
【００１５】偏向ビームスプリッタ６は、Ｓ波は透過、Ｐ波は反射するように作られている。このため、レーザダイオードＬＤ１からの光ビーム３は、偏向ビームスプリッタ６を通過する。この場合における透過率は、具体的には例えば９０％以上となる。光ビーム３は、その後、シリンドリカルレンズ１０を通過し、また光偏向器として使用されるポリゴンミラー９により副走査方向に集光される。
【００１６】なお、シリンドリカルレンズ１０は、ポリゴンミラー９における面倒れ補正用とレーザダイオードＬＤ１とＬＤ２の非点隔差調整用及び発散角補正用として配置され、副走査方向に屈折力を有するものである。また、ポリゴンミラー９は、主走査方向に偏向するための偏向器である。
【００１７】そして、光ビーム３は、ポリゴンミラー９の面で反射し、また平面走査時において偏向角を像面で直線偏向するｆθレンズ１１を通り、さらに結像面上での倒れ補正用のシリンドリカルレンズ１２を通過して、感光材Ｐの走査感材面１３に結像する。なお、感光材Ｐとしては、例えば、ＯＰＣ（Ｏｒｇａｎｉｃ　Ｐｈｏｔｏｃｏｎｄｕｃｔｏｒ：有機光導電体）版が用いられる。
【００１８】一方、レーザダイオードＬＤ２から出射されたビーム４は、コリメータレンズ８にて平行光束となった後、角度変位調整ユニット１４を通過し、微小角度光軸よりズレた状態で、偏向ビームスプリッタ６の入射面にＰ波として入射する。偏向ビームスプリッタ６は、光ビーム４をその反射面で反射する。この場合における反射率は、具体的には例えば９０％以上となる。光ビーム４は、その後は、光ビーム３と同等の光路を通り、すなわち、シリンドリカルレンズ１０を透過し、ポリゴンミラー９の面で反射した後、ｆθレンズ１１とシリンドリカルレンズ１２を通過して走査感材面１３に結像する。」
イ　第３頁右欄第３３〜４８行
「【００２０】また、角度変位調整ユニット１４は、図３と図４を参照して、ウェジプリズム１６を２枚組み合わせてなるカイロプリズム１５から構成されている。そして、、互いの偏角を打ち消すように、光ビームが直進する位置を原点とし、２枚のウェジプリズム１６を逆方向へ同一角度で回転させることができる構成となっている。このための具体的な構成例を図５に示す。
【００２１】このような構成とすることで、副走査方向における光ビームの振れを調節することができて、光ビームを副走査方向に偏向することが可能である。つまり、例えば図６に示したように、結像面において、レーザダイオードＬＤ２からの光ビームによる結像を、レーザダイオードＬＤ１からの光ビームの結像に対して副走査方向Ｍに調整することが可能となる。なお、図６（ａ）は調整前の、また図６（ｂ）は調整後を示したものである。」
ウ　第４頁右欄第２０〜２４行
「【００３０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明のマルチビーム走査装置によれば、光ビーム間のピッチ間隔を容易に調節でき、またこれにより、複数の光ビームの走査間隔を容易に調整することが可能となる。」
２　対比・判断　
(1) 本件発明１について
　本件発明１と甲第１号証及び甲第２号証記載のものとを対比すると、甲第１号証及び甲第２号証記載のものは、それぞれ本件発明１と一部共通する構成を備えているものの、いずれも本件発明１の「ビームスプリッタによって分岐された前記レーザ光をそれぞれ独立して走査するための第１及び第２のガルバノスキャナ」（以下「構成Ａ」という。）を備えていない。
　なお、特許異議申立人は、特許異議申立書の第６頁第６〜１４行で、甲第１号証における全反射ミラー４，５を周知の光軸偏寄手段である一対のガルバノミラーに置き換えることは容易である旨主張しているが、全反射ミラー４，５をガルバノミラーに置き換えたとしても走査できるのは第２偏光成分１０２だけであって、第１偏光成分１０１を走査することはできない。
　そして、本件発明１は、構成Ａを備えることにより、登録時の明細書記載の「効率の高い加工が可能な、安価で小型の２軸レーザ加工機が得られる。」という効果を奏するものである。
　したがって、本件発明１は、構成Ａについて些かも開示するところのない甲第１号証及び甲第２号証記載のものに基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとすることはできない。
(2) 本件発明２及び本件発明３について　
　本件発明２及び本件発明３は、本件発明１を直接的または間接的に引用してその構成を更に限定するものであるから、本件発明１と同様、甲第１号証及び甲第２号証記載のものに基づいて当業者が容易に想到し得たものではない。
　したがって、本件の請求項１乃至請求項３に係る特許は、特許法第２９条の規定に違反してされたものであるから取り消すべきものであるとする特許異議申立人の主張は採用できない。
第４　むすび
　以上のとおり、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件の請求項１乃至請求項３に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件の請求項１乃至請求項３に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１４年５月１６日（２００２．５．１６）