(57)【要約】  本発明の電子回路は、複数の電子部品からなる電子回路において、上記複数の電子部品のうち、少なくとも一つの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）とし、残りの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）としたとき、上記主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）に接続され、該主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）の動作によって得られた信号の出力のための配線に、上記補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が接続されている。これにより、回路配線の断線検出のための回路構成を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各素子の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を提供する。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子部品からなる電子回路において、
上記複数の電子部品のうち、少なくとも一つの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品とし、残りの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品としたとき、
上記主部品に接続され、該主部品の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力のための配線に、上記補助部品が接続されていることを特徴とする電子回路。
【請求項２】
上記主部品は、電子回路の所期の機能を実現するために必須の電子部品であることを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項３】
上記主部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であることを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項４】
上記配線は、入力信号配線であり、
上記補助部品は、上記主部品と上記入力信号配線における信号の入力端子との間に接続されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項５】
上記入力信号配線は、一本の入力ラインで構成され、
上記入力ラインに、上記主部品は一つのみ接続されていることを特徴とする請求項４に記載の電子回路。
【請求項６】
上記入力信号配線は、一本の入力ラインで構成され、
上記主部品が専用の電子部品であるとき、
上記専用の電子部品は、複数の入力信号で動作し、
入力ライン数よりも上記専用の電子部品の数を減らしたことを特徴とする請求項４に記載の電子回路。
【請求項７】
上記配線は、入力信号配線であり、
上記入力信号配線は、信号の入力側とは反対側が一本のラインから少なくとも２つに分岐した分岐ラインからなり、
上記分岐ラインの少なくとも一方の分岐ラインに上記補助部品が接続され、この補助部品が接続された分岐ライン以外の分岐ラインに上記主部品が接続されていることを特徴とする請求項２に記載の電子回路。
【請求項８】
上記配線は、出力信号配線であり、
上記補助部品は、上記主部品と上記出力信号配線における信号の出力端子との間に接続されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項９】
上記出力信号配線は、一本の出力ラインで構成され、
上記出力ラインに、上記主部品は一つのみ接続されていることを特徴とする請求項８に記載の電子回路。
【請求項１０】
上記出力信号配線は、一本の出力ラインで構成され、
上記主部品が専用の電子部品であるとき、
上記専用の電子部品は、複数の入力信号で動作し、
出力ライン数よりも上記専用の電子部品の数を減らしたことを特徴とする請求項８に記載の電子回路。
【請求項１１】
上記配線は、出力信号配線であり、
上記出力信号配線は、信号の出力側とは反対側が一本のラインから少なくとも２つに分岐した分岐ラインからなり、
上記分岐ラインの少なくとも一方の分岐ラインに上記補助部品が接続され、この補助部品が接続された分岐ライン以外の分岐ラインに上記主部品が接続されていることを特徴とする請求項２に記載の電子回路。
【請求項１２】
上記配線は、入力端子および出力端子の何れにも接続されておらず、
上記配線に上記主部品が２つ接続されると共に、これら主部品の間に上記補助部品が接続されていることを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項１３】
上記２つの主部品のうち、少なくとも一方の主部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であることを特徴とする請求項１２に記載の電子回路。
【請求項１４】
上記配線は、両端で抵抗測定可能な一本の配線ラインからなり、
上記配線ラインに上記主部品が２つ以上接続されていることを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項１５】
上記主部品のうち、少なくとも一つの主部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であることを特徴とする請求項１４に記載の電子回路。
【請求項１６】
請求項１〜１５のいずれか１項に記載の電子回路を備えた電子装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の電子部品を備えた電子回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の電子部品を備えた電子回路において、各電子部品の不具合や配線の断線を検出することは動作確認を行ううえで必要である。【０００３】
例えば、特許文献１には、電子回路の一種である定電流電源回路の定電流状出力ラインに直列に光結合素子の発光素子を接続し、受光素子に発生する電圧を検出することにより、簡単且つ安価な構成で定電流出力ラインの断線を検出する技術が開示されている。【０００４】
また、特許文献２には、電子回路として半導体基板上の入出力端子間に複数のインバータを直列に接続し、途中段のインバータからテスト用パッドを導出して、このテスト用パッドを用いて配線の断線を検出する技術が開示されている。【０００５】
ところで、特許文献１では、配線の断線を検出するために発光素子及び受光素子を別途設ける必要があるので、回路基板を製造するための工程が増えるという問題が生じる。【０００６】
また、特許文献２においても、配線の断線を検出するために、テスト用パッドを別途設ける必要があるので、回路基板を製造するための工程が増えるという問題が生じる。【０００７】
そこで、特許文献３には、電子回路における回路配線を示す画像データに基づいて、回路配線の断線等を検出することで、特許文献１，２等のように、回路基板に断線検出用の部材を別途設ける必要がない技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】日本国公開特許公報「特開昭６０−  １２５１１１号公報（１９８５年０７月０４日公開）」
【特許文献２】日本国公開特許公報「特開昭６０−  １７０９５５号公報（１９８５年０９月０４日公開）」
【特許文献３】日本国公開特許公報「特開２００３−２５５００８号公報（２００３年０９月１０日公開）」
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献３に開示された技術では、回路基板から回路配線を示す画像データを取得する装置が別途必要となるので、結果として、回路配線の断線を検出のための装置が大型化するという問題が生じる。【００１０】
さらに、特許文献３に開示された技術では、回路配線の断線確認を行うことができるものの、各素子の配線ミスを確認することはできない。【００１１】
本発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、回路配線の断線検出のための回路の構成要素を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各素子の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の電子回路は、上記の問題点を解決するために、複数の電子部品からなる電子回路において、上記複数の電子部品のうち、少なくとも一つの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品とし、残りの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品としたとき、上記主部品に接続され、該主部品の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力のための配線に、上記補助部品が接続されていることを特徴としている。【００１３】
上記構成によれば、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品が接続された配線上に、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品が接続されていることで、この補助部品を介して主部品の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力を行うことになる。【００１４】
ところで、上記補助部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない電子部品であるので、補助部品の不具合あるいは、補助部品への配線に断線が生じていても、電子回路としては正常に動作をしているかのように振舞う。このため、電子回路の通常動作確認だけでは、補助部品の不具合あるいは補助部品への配線に断線が生じているかまでは分からない。【００１５】
しかしながら、上記構成であれば、上記補助部品が動作しない状態、例えば補助部品が故障している状態、あるいは補助部品への配線に断線が生じている状態では、上記主部品への信号の供給あるいは上記主部品からの信号の出力が行われないことになり、電子回路が正常に動作しないことになる。【００１６】
これにより、通常行われる電子回路の動作確認をして、電子回路が正常に動作しないと判断されれば、主部品の不具合、主部品への配線に断線が生じている場合に加えて、補助部品の不具合、補助部品への配線に断線が生じている場合も含まれることになる。【００１７】
従って、通常行われる電子回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、補助部品に不具合が発生している場合、該補助部品への配線に生じる断線した場合も含めて、正常動作しない場合の原因に含めることができるので、別途、補助部品の不具合や補助部品への配線に断線が生じていることを検出するための検査を行う必要がない。【００１８】
以上のことから、上記構成によれば、回路配線の断線検出のための回路構成を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各部品の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を実現できる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明は、複数の電子部品からなる電子回路において、上記複数の電子部品のうち、少なくとも一つの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品とし、残りの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品としたとき、上記主部品に接続され、該主部品の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力のための配線に、上記補助部品が接続されていることで、回路配線の断線検出のための回路構成を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各部品の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を実現できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本願発明の電子回路における回路配線の特徴部分の説明図であり、（ａ）〜（ｃ）は、本発明の特徴的構成を説明するための概略ブロック図である。
【図２】シフトレジスタ回路の比較例についての説明図であり、（ａ）（ｂ）は、シフトレジスタ回路の回路図である。
【図３】図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路における理想的な波形イメージを示す波形図である。
【図４】図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路における実際の波形イメージを示す波形図である。
【図５】図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路における波形イメージであって、図２の（ａ）に示す段のシフトレジスタ回路における配線に断線が生じた場合の波形イメージを示す波形図である。
【図６】本発明の実施例１に係るシフトレジスタ回路の回路図である。
【図７】図６に示すシフトレジスタ回路における実際の波形イメージを示す波形図である。
【図８】図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路に対して一つトランジスタを追加したシフトレジスタ回路の回路図である。
【図９】本発明の実施例２に係るシフトレジスタ回路の回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
本願発明の電子回路における回路配線の特徴部分について以下に説明する。
【００２２】
図１の（ａ）は、回路における入力（入力端子）に接続された第１回路配線１０１を示し、図１の（ｂ）は、回路内部の第２回路配線１０２を示し、図１の（ｃ）は、回路における出力に接続された第３回路配線１０３を示す。
【００２３】
上記第１回路配線１０１は、図１の（ａ）に示すように、入力と主部品１０１ａとの間に、３つの補助部品１０１ｂが直列に接続された回路配線である。
【００２４】
ここで、上記主部品１０１ａとは、第１回路配線１０１に接続されていないと、該第１回路配線１０１を含む電子回路が動作しない場合の素子である。つまり、上記主部品１０１ａは、電子回路の所期の機能を実現するために必須の電子部品（素子）である。
【００２５】
また、上記補助部品１０１ｂとは、第１回路配線１０１に接続されていなくても、該第１回路配線１０１を含む電子回路が動作する場合のある電子部品である。
【００２６】
通常、電子回路において、補助部品１０１ｂを接続している配線が断線していても、回路全体としては動作する場合があるので、この断線は見つけ難い。
【００２７】
しかしながら、上記のように、第１回路配線１０１に接続されていないと動作しない主部品１０１ａと入力との間に補助部品１０１ｂを直列に接続することで、該補助部品１０１ｂが接続されている配線の断線がそのまま主部品１０１ａの断線となる。このような場合、主部品１０１ａが動作しなければ、第１回路配線１０１における各素子間のいずれかの配線で断線が生じていることになり、第１回路配線１０１を含んだ回路が正常に動作しないことになる。
【００２８】
つまり、第１回路配線１０１を含んだ回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、第１回路配線１０１における各素子間のいずれかの配線で断線が生じているか否かを判断することができる。
【００２９】
上記の場合は、入力と主部品１０１ａとの間に補助部品１０１ｂを直列に接続した例について説明しているが、図１の（ｂ）に示す第２回路配線１０２のように、回路内部の主部品１０２ａ・１０２ａ間に、２つの補助部品１０２ｂが直列に接続されている回路配線の場合であっても、上記のような配線の断線を判断することができる。ここで、上記主部品１０２ａは、上記主部品１０１ａと同じ機能とし、上記補助部品１０２ｂは、上記補助部品１０１ｂと同じ機能とする。
【００３０】
つまり、上記構成の第２回路配線１０２においても、上記第１回路配線１０１と同様に、第２回路配線１０２を含んだ回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、第２回路配線１０２における各素子間のいずれかの配線で断線が生じているか否かを判断することができる。
【００３１】
さらに、図１の（ｃ）に示す第３回路配線１０３のように、主部品１０３ａと出力との間に、３つの補助部品１０３ｂが直列に接続されている回路配線の場合であっても、上記のような配線の断線を判断することができる。ここで、上記主部品１０３ａは、上記主部品１０１ａと同じ機能とし、上記補助部品１０３ｂは、上記補助部品１０１ｂと同じ機能とする。
【００３２】
つまり、上記構成の第３回路配線１０３においても、上記第３回路配線１０３と同様に、第３回路配線１０３を含んだ回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、第３回路配線１０３における各素子間のいずれかの配線で断線が生じているか否かを判断することができる。
【００３３】
通常、回路内部において断線を見つけ難い素子（補助部品１０１ｂ等）の配線に断線が生じている場合では、素子に悪影響を与える虞のある検査環境において特別な検査を行わなければ、上記の断線を発見することができないが、上記構成の回路配線によれば、当該回路配線を含む回路が正常に動作するか否かを判断するだけで、回路配線内に断線が生じているか否かを確認できるので、特別な検査を行う必要がない。
【００３４】
以上のように、上記構成の第１回路配線１０１、第２回路配線１０２、第３回路配線１０３によれば、これら回路配線を含む電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａが接続された配線上に、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂが接続されていることで、この補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂを介して主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａの動作に必要な信号の供給あるいは該主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａの動作によって得られた信号の出力を行うことになる。
【００３５】
ところで、上記補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂは、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない電子部品であるので、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂの不具合あるいは、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に断線が生じていても、電子回路としては正常に動作をしているかのように振舞う。このため、電子回路の通常動作確認だけでは、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂの不具合あるいは補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に断線が生じているかまでは分からない。
【００３６】
しかしながら、上記構成であれば、上記補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂが動作しない状態、例えば補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂが故障している状態、あるいは補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に断線が生じている状態では、上記主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａへの信号の供給あるいは上記主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａからの信号の出力が行われないことになり、電子回路が正常に動作しないことになる。
【００３７】
これにより、通常行われる電子回路の動作確認をして、電子回路が正常に動作しないと判断されれば、主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａの不具合、主部品１０１ａ，１０２ａ，１０３ａへの配線に断線が生じている場合に加えて、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂの不具合、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に断線が生じている場合も含まれることになる。
【００３８】
従って、通常行われる電子回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂに不具合が発生している場合、該補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に生じる断線した場合も含めて、正常動作しない場合の原因に含めることができるので、別途、補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂの不具合や補助部品１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂへの配線に断線が生じていることを検出するための検査を行う必要がない。
【００３９】
以上のことから、上記構成によれば、回路配線の断線検出のための回路構成を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各部品の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を実現できる。
【００４０】
なお、例えば上記回路配線１０１，１０２，１０３は、両端で抵抗測定可能な一本の配線ラインからなり、上記配線ラインに上記主部品が２以上接続されていてもよい。
【００４１】
ここで、本願発明の電子回路の回路配線の具体的な説明を行う。ここでは、回路配線として、アモルファスＴＦＴ（Thin Film Transistor）のゲートドライバモノリシックパネルに含まれるシフトレジスタ回路を例に以下に説明する。以下の説明では、上述した主部品を主素子、補助部品を補助素子として説明する。
【００４２】
まず、シフトレジスタ回路の比較例について説明する。
【００４３】
図２の（ａ）（ｂ）は、シフトレジスタ回路を示し、同図の（ａ）はｎ段目のシフトレジスタ回路、同図の（ｂ）はｎ＋１段目のシフトレジスタ回路を示す。なお、図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路は一般的な回路であるので、詳細な説明は省略する。
【００４４】
上記シフトレジスタ回路において、この素子が接続されていないとシフトレジスタ回路として正常に動作しない主素子は、４つのトランジスタＴｒＡ，ＴｒＢ，ＴｒＣ，ＴｒＤであり、この素子が接続されていなくてもシフトレジスタ回路として動作する補助素子は、コンデンサＣである。
【００４５】
図２の（ａ）に示すｎ段目のシフトレジスタ回路では、クロック信号ＣＫ１、ｎ−１段目のシフトレジスタ回路の出力ｎ−１、ｎ＋１段目のシフトレジスタ回路の出力ｎ＋１が入力されることで、出力ｎを得るようになっている。
【００４６】
図２の（ｂ）に示すｎ＋１段目のシフトレジスタ回路においても、ｎ段目のシフトレジスタ回路と同様に、クロックＣＫ２、ｎ段目のシフトレジスタ回路の出力ｎ、ｎ＋２段目のシフトレジスタ回路の出力ｎ＋２が入力されることで、出力ｎ＋１を得るようになっている。
【００４７】
つまり、ある段のシフトレジスタ回路においては、クロック信号と前後の段のシフトレジスタ回路の出力とが入力されないと、出力を得ることができない。
【００４８】
上記構成のシフトレジスタ回路において、主素子であるトランジスタＴｒＡ、トランジスタＴｒＢへの配線が断線した場合、シフトレジスタ回路は確実に動作しないので、出力は無くなる。また、トランジスタＴｒＣ、トランジスタＴｒＤへの配線が断線した場合、シフトレジスタ回路は動作するものの、出力が正常でなくなる。つまり、主素子への配線が断線すれば、シフトレジスタ回路の動作が正常でなくなるので、該シフトレジスト回路内で断線が発生していることを容易に認識できる。
【００４９】
しかしながら、シフトレジスタ回路において、各素子の配置効率のみを考慮した場合、図２の（ａ）に示すコンデンサＣに接続されている出力配線（出力信号配線）１１上の×印のところで、断線が発生しやすい。この場合、通常動作確認では、シフトレジスタ回路は正常に動作しているように振舞うので、不具合を見落す可能性がある。
【００５０】
つまり、上記の補助素子であるコンデンサＣへの配線が断線した場合、各トランジスタの大きさによっては、寄生容量が生じてコンデンサＣの機能を代替するので、シフトレジスタ回路は正常に動作しているように振舞う。このような場合の配線の断線を検出することは難しい。
【００５１】
以下に、図３〜図５に示す波形図を参照しながら上記の問題点について説明する。
【００５２】
各波形図において、内部配線１２は、各段のシフトレジスタ回路を構成するトランジスタＴｒＢのドレイン電極と、トランジスタＴｒＤのソース電極とに接続されると共に、トランジスタＴｒＡのゲート電極とコンデンサＣとに接続された配線を示す。
【００５３】
図３は、図２の（ａ）（ｂ）に示すシフトレジスタ回路における理想的な波形イメージを示す波形図である。このように、理想的な波形イメージの波形図では、内部配線１２における信号Ｓｎ、Ｓｎ＋１、出力信号ｎ，ｎ＋１のｈｉｇｈ期間における立ち上がり、立下りになまりが生じておらず、また、ｌｏｗ期間においてもｌｏｗ電位が安定した状態となっている。
【００５４】
しかしながら、実際の波形イメージは、図４に示すような波形図となる。すなわち、内部配線１２における信号においては、配線抵抗と容量により、ｈｉｇｈ期間ａの立ち上がり部分に少しなまりが生じ、また、本来、ローレベルで維持されるべきｌｏｗ期間ｂにおいても、クロック信号ＣＫ１，ＣＫ２の影響を受けて、ローレベルで維持されない状態となっている。
【００５５】
さらに、図４に示す波形図において、出力信号ｎ，ｎ＋１は、内部配線１２の信号の影響と出力先の負荷の影響とを受けて、ｈｉｇｈ期間ｃの立ち上がり部分においてなまりが生じ、ローレベルで維持されるべきｌｏｗ期間ｄにおいてローレベルが維持されない状態となる。
【００５６】
ここでは、図４に示す波形図は、シフトレジスタ回路において配線の断線が生じていない場合の実際の波形イメージを示している。
【００５７】
これに対して、図５に示す波形図は、図２の（ａ）に示すシフトレジスタ回路においてコンデンサＣの出力配線１１上の×部分が断線した場合の波形イメージを示す。
【００５８】
図５に示す波形図において、内部配線１２における信号Ｓｎのｈｉｇｈ期間ｅにおける立下り部分の立下り方向への傾斜が大きくなる。これは、コンデンサＣが機能しないことにより、電位保持力が無くなり、電位の下がり方が大きくなるからである。
【００５９】
この内部配線１２における信号Ｓｎの影響により、出力信号ｎのｈｉｇｈ期間ｆにおける立下り部分の立下り方向への傾斜も大きくなる。さらに、次段のシフトレジスタ回路における内部配線１２における信号Ｓｎ＋１においては、ｈｉｇｈ期間ｇにおける立ち上がり部分の前半部から後半部への切り替わり部分に影響（傾斜が生じる）を与える。しかしながら、次の段であるｎ＋１段のシフトレジスタ回路においては断線が生じていないことを想定しているので、次段の内部配線１２における信号Ｓｎ＋１のｈｉｇｈ期間における立下り及び、出力信号ｎ＋１には影響を及ぼさない。
【００６０】
以上のように、シフトレジスタ回路において、補助素子であるコンデンサＣへの配線に断線が生じている場合には、図５に示す波形図のように波形イメージに若干影響を与えるものの、断線が生じていない場合の図４に示す波形図の波形イメージとあまり相違しないことが分かる。このため、通常のシフトレジスタ回路の動作確認だけでは、断線が生じていることを見つけ難いことが分かる。
【００６１】
そこで、このような補助素子への配線の断線の有無を確実に判断するためには、通常のシフトレジスタ回路の動作環境から、検査環境や駆動パルスの周期や電位を通常とは異なる条件での動作環境に変更する必要がある。このような特殊な検査環境や駆動パルスの周期や電位は、シフトレジスタ回路内の素子に悪影響を与えやすく、素子の劣化を早める虞がある。
【００６２】
そこで、シフトレジスタ回路としての機能はそのままに、各素子の配線を工夫することで、通常動作確認で簡単に補助素子への配線の断線の有無を確実に判断することが可能な回路配線として、例えば、図６に示すシフトレジスタ回路がある。
【００６３】
〔実施例１〕
図６は、図２の（ａ）と同じ段のシフトレジスタ回路を構成する各素子を有しているものの素子間の配線の引き回しを異ならせたシフトレジスタ回路を示している。図６中、破線円は、個々の素子を示しており、円内の各分岐は素子経由で配線されているものとする。
【００６４】
図６に示すシフトレジスタ回路において、一本の出力ラインからなる出力配線１１に接続されているのは、補助素子であるコンデンサＣのみであり、主素子であるトランジスタＴｒＡ、トランジスタＴｒＣは直接接続されていない。つまり、出力配線１１と主素子であるトランジスタＴｒＡやトランジスタＴｒＣとの間には、補助素子であるコンデンサＣが接続される形となる。
【００６５】
上記シフトレジスタ回路は、図６に示すように、４つのトランジスタＴｒＡ，ＴｒＢ，ＴｒＣ，ＴｒＤと、一つのコンデンサＣとを含んだ構成となり、特徴的な回路配線を形成している。
【００６６】
すなわち、上記トランジスタＴｒＡは、ソース電極がクロック信号ＣＫ１が入力される一本の入力ラインからなる配線（入力信号配線）１３に接続され、ゲート電極が内部配線１２に接続され、ドレイン電極が隣接するトランジスタＴｒＣのソース電極に配線１４を介して接続されている。
【００６７】
上記トランジスタＴｒＣは、ソース電極が上記配線１４に接続されると共に、別の配線１５を介してコンデンサＣの一方の端子に接続されている。このように、上記配線１４と配線１５とはトランジスタＴｒＣのソース電極から分岐して、分岐ラインを形成している。
【００６８】
また、上記トランジスタＴｒＣは、ドレイン電極が配線１６を介して、トランジスタＴｒＤのドレイン電極に接続され、ゲート電極が配線１７を介して、トランジスタＴｒＤのゲート電極に接続されている。ここで、トランジスタＴｒＤのゲート電極には、次段のシフトレジスタ回路の出力信号ｎ＋１が入力される配線１８に接続されているので、このゲート電極に接続された配線１８からの出力信号ｎ＋１が、上記配線１７を介して接続されている、上記トランジスタＴｒＣのゲート電極にも入力されることになる。
【００６９】
上記トランジスタＴｒＤは、ソース電極が隣接するトランジスタＴｒＢのドレイン電極に接続されると共に、上記内部配線１２も接続されている。このように、内部配線１２は、トランジスタＴｒＤのソース電極から分岐した配線である。
【００７０】
また、上記トランジスタＴｒＤは、ドレイン電極がローレベル（ｌｏｗ）に接続されると共に、上述した配線１６に接続されている。これにより、トランジスタＴｒＣのドレイン電極から出力される信号と、トランジスタＴｒＤのドレイン電極から出力される信号とがローレベルに維持される。
【００７１】
最後に、上記トランジスタＴｒＢは、ソース電極が前段のシフトレジスタ回路からの出力信号ｎ−１が入力される配線１９に接続され、ゲート電極が上記配線１９に接続され、ドレイン電極が上記トランジスタＴｒＤのソース電極に接続されている。ここで、トランジスタＴｒＤのソース電極には、上述したとおり、内部配線１２が接続されているので、上記トランジスタＴｒＢのドレイン電極から出力信号は、内部配線１２に出力される。
【００７２】
シフトレジスタ回路において、図６に示すような回路配線にすることで、どこの素子間の配線、すなわち出力配線１１、内部配線１２、他の配線１３〜１９の何れかが断線した場合、トランジスタＴｒＡ、トランジスタＴｒＢ、トランジスタＴｒＣ、トランジスタＴｒＤは、入出力配線（出力配線１１、配線１３、配線１８，１９）または内部配線１２から分断されることになる。
【００７３】
これにより、シフトレジスタ回路内の各素子への配線の断線がそのまま出力が正常とならないことになるので、通常条件でのシフトレジスタ回路の駆動検査にて断線の有無が判定できる。つまり、補助素子であるコンデンサＣへの配線（上記の出力配線１１）が断線した場合であっても、シフトレジスタ回路内のどの配線に生じた断線であっても通常動作確認によって判断できるので、素子の劣化を招来するような特殊な検査を必要としないので、素子の長寿命化が可能となり、結果として、シフトレジスタ回路としての寿命を長く、且つ安定して動作させることができるという効果を奏する。
【００７４】
ところで、図６に示す回路配線のシフトレジスタ回路の場合、温度やノイズなどの外部要因、回路自身や出力先の容量、駆動周期、電圧などの条件により、内部配線１２における信号や出力信号ｎに悪影響を及ぼし、前記の図４に示した実際の波形イメージの波形図の説明で述べたような各影響は大きくなる。例えば、温度上昇による悪影響を受けた波形イメージの波形図を図７に示す。
【００７５】
図７に示すように、温度上昇により各トランジスタＴｒのｏｆｆ抵抗が低下すると、例えば、クロック信号ＣＫ１の影響がトランジスタＴｒＡを介して、内部配線１２における信号Ｓｎのｌｏｗ期間ｈ及び出力信号ｎのｌｏｗ期間ｉを不安定にさせるようになり、その出力信号ｎは次段の内部配線１２における信号のｌｏｗ期間ｊ及び出力信号ｎ＋１のｌｏｗ期間ｋへも影響を与える様になる。これが酷くなっていけば、シフトレジスタ回路の何段目かには誤動作することになる。つまり、後段になればなるほどシフトレジスタ回路の内部配線１２における信号のｌｏｗ期間における電位、出力信号のｌｏｗ期間における電位が上昇し、最終的に誤動作を招くことになる。
【００７６】
〔実施例２〕
そこで、図８に示すシフトレジスト回路においては、内部配線における信号のｌｏｗ期間と出力信号のｌｏｗ期間におけるｌｏｗ電位を安定化させるために、トランジスタＴｒＥを追加している。この図８に示すシフトレジスタ回路は、図２の（ａ）（ｂ）に示したシフトレジスタ回路に対して、上記トランジスタＴｒＥを追加したものである。
【００７７】
トランジスタＴｒＥは、次段のクロック信号ＣＫ２を利用して、出力信号ｎのｌｏｗ期間の電位をｌｏｗ電位に引く効果を奏する。
【００７８】
但し、出力信号ｎが安定しているとき（影響があっても動作可能範囲にあるとき）、例えばトランジスタＴｒＥへの配線が断線していても動作上問題はないので、シフトレジスタ回路に対する通常の駆動検査では、上記トランジスタＴｒＥへの配線の断線の有無を判断することはできない。
【００７９】
そこで、前記実施例１で示した図６に示すシフトレジスタ回路と同様に、各素子の配線を工夫することで、通常動作確認で簡単にトランジスタＴｒＥへの配線の断線の有無を確実に判断することが可能な回路配線として、例えば、図９に示すシフトレジスタ回路がある。
【００８０】
図９に示すシフトレジスタ回路では、トランジスタＴｒＥを設けた以外は、図６に示すシフトレジスタ回路と同じ素子を有しているものの素子間の配線の引き回しを異ならせている。図９中、破線円は、個々の素子を示しており、円内の各分岐は素子経由で配線されているものとする。
【００８１】
すなわち、上記シフトレジスタ回路は、図９に示すように、上記トランジスタＴｒＥが新たに追加されており、該トランジスタＴｒＥのソース電極には、コンデンサＣの一方の端子に接続された配線１５ａに接続されている。この配線１５ａは、トランジスタＴｒＥのドレイン電極から分岐し、分岐ラインを形成し、トランジスタＴｒＣのソース電極に接続された配線１５ｂに接続されている。また、トランジスタＴｒＥのゲート電極には、次段のクロック信号ＣＫ２が入力されるようになっている。
【００８２】
さらに、上記トランジスタＴｒＥのドレイン電極には、トランジスタＴｒＣのドレイン電極に接続された配線１６に接続されている。この配線１６は、トランジスタＴｒＤのドレイン電極から分岐したｌｏｗ引きのための配線２０に接続されている。
【００８３】
これにより、トランジスタＴｒＣのドレイン電極、トランジスタＴｒＤのドレイン電極、トランジスタＴｒＥのドレイン電極は、ｌｏｗ電位に維持されるので、シフトレジスト回路においては、内部配線における信号のｌｏｗ期間と出力信号のｌｏｗ期間におけるｌｏｗ電位を安定化させることができる。
【００８４】
ここで、図９に示すｎ段目のシフトレジスタ回路において、配線１２上の（１）の部分に断線が生じた場合には、当然トランジスタＴｒＡが動作しないので、出力信号ｎは出力されない。
【００８５】
また、図９に示すｎ段目のシフトレジスタ回路において、配線１５ａ上の（２）の部分に断線が生じた場合、すなわちトランジスタＴｒＡと出力端子ｎ間に断線が生じた場合、トランジスタＴｒＡ，ＴｒＣ，ＴｒＥが正常に動作していても出力端子ｎへは信号が出力されなくなる。
【００８６】
これにより、シフトレジスタ回路内のトランジスタＴｒＥへの配線の断線がそのまま出力が正常とならないことになるので、通常条件でのシフトレジスタ回路の駆動検査にて上記の断線の有無が判定できる。
【００８７】
なお、図９に示すシフトレジスタ回路においては、図６に示す回路配線と同様の回路配線となっているので、どこかの素子間の配線、すなわち出力配線１１、内部配線１２、他の配線１３〜２０の何れかが断線した場合、トランジスタＴｒＡ、トランジスタＴｒＢ、トランジスタＴｒＣ、トランジスタＴｒＤ及びトランジスタＴｒＥは、入出力配線（出力配線１１、配線１３、配線１８〜２０）または内部配線１２から分断されることになる。
【００８８】
これにより、シフトレジスタ回路内の各素子への配線の断線がそのまま出力が正常とならないことになるので、通常条件でのシフトレジスタ回路の駆動検査にて断線の有無が判定できる。つまり、補助素子であるコンデンサＣへの配線（上記の出力配線１１）が断線した場合であっても、シフトレジスタ回路内のどの配線に生じた断線であっても通常動作確認によって判断できるので、素子の劣化を招来するような特殊な検査を必要としない。この結果、素子の長寿命化が可能となり、シフトレジスタ回路としての寿命を長く、且つ安定して動作させることができるという効果を奏する。
【００８９】
以上の説明では、シフトレジスタ回路（電子回路）において、主部品としてトランジスタＴｒＡ等の当該シフトレジスタ回路において機能を奏するための部材を使用しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、上記主部品として、シフトレジスタ回路（電子回路）が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であってもよい。
【００９０】
この場合、複数の入力信号に対し引き回されるラインの接続先を、専用の電子部品である専用素子へ集約することで、不具合確認作業数を減らすことができるという効果を奏する。
【００９１】
以上のように、上記の説明では、本願発明の回路配線をＴＦＴパネルを駆動するための駆動回路内のシフトレジスタ回路に適用した例について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、主素子、補助素子の関係にある電子部品同士を接続する配線であっても本願発明は適用可能である。
【００９２】
本願発明は、例えば、上述したアモルファスＴＦＴのゲートドライバモノリシックパネルだけではなく、その他のフラットパネルディスプレイの駆動回路はもちろんのこと、基板上に回路を形成するもの（素子の形成、搭載に関わらず）であれば何れも適用される。
【００９３】
更に、基板上でなくても実態配線を伴うもの、例えば自動車の配線、設備の配線、電化製品等々に対しても、主部品は補助部品経由するように配線することで、接続ミス等を容易に検出することが可能となる。複数の電子部品を備えた電子装置も同様に本願発明を実施することができる。
【００９４】
本発明の電子回路は、複数の電子部品からなる電子回路において、上記複数の電子部品のうち、少なくとも一つの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）とし、残りの電子部品を、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）としたとき、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）に接続され、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力のための配線に、補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が接続されている。
【００９５】
上記構成によれば、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要な主部品が接続された配線上に、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない補助部品が接続されていることで、この補助部品を介して主部品の動作に必要な信号の供給あるいは該主部品の動作によって得られた信号の出力を行うことになる。
【００９６】
ところで、補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定に必要でない電子部品であるので、補助部品の不具合あるいは、補助部品への配線に断線が生じていても、電子回路としては正常に動作をしているかのように振舞う。このため、電子回路の通常動作確認だけでは、補助部品の不具合あるいは補助部品への配線に断線が生じているかまでは分からない。
【００９７】
しかしながら、上記構成であれば、補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が動作しない状態、例えば補助部品が故障している状態、あるいは補助部品への配線に断線が生じている状態では、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）への信号の供給あるいは主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）からの信号の出力が行われないことになり、電子回路が正常に動作しないことになる。
【００９８】
これにより、通常行われる電子回路の動作確認をして、電子回路が正常に動作しないと判断されれば、主部品の不具合、主部品への配線に断線が生じている場合に加えて、補助部品の不具合、補助部品への配線に断線が生じている場合も含まれることになる。
【００９９】
従って、通常行われる電子回路が正常に動作しているか否かを確認するだけで、補助部品に不具合が発生している場合、該補助部品への配線に生じる断線した場合も含めて、正常動作しない場合の原因に含めることができるので、別途、補助部品の不具合や補助部品への配線に断線が生じていることを検出するための検査を行う必要がない。
【０１００】
以上のことから、上記構成によれば、回路配線の断線検出のための回路構成を増やさずに、回路配線の断線を適切に検出し、且つ各部品の配線ミスを容易に検出し得る電子回路を実現できる。
【０１０１】
主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）は、電子回路の所期の機能を実現するために必須の電子部品であってもよい。
【０１０２】
この場合、電子部品を新たに設ける必要がないので、断線等の不具合を検査することによる回路の増大化を抑制できる。
【０１０３】
主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であってもよい。
【０１０４】
この場合、専用の電子部品を使用するので、上記のような既存の電子部品を使用する場合と比較して配線の引き回しを簡単にできる。
【０１０５】
配線１３は、入力信号配線であり、補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）は、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）と上記入力信号配線における信号の入力端子との間に接続されていてもよい。
【０１０６】
この場合、主部品の動作に必要な信号の供給の有無により、断線を判断することができる。
【０１０７】
上記入力信号配線は、一本の入力ラインで構成され、上記入力ラインに、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）は一つのみ接続されていてもよい。
【０１０８】
この場合、１つの入力信号に対し引き回されるラインを1本とすることで、断線時に分断されてしまう主部品が１つとなり、不具合症状を１つのみの確認で断線を判断できる。
【０１０９】
上記入力信号配線は、一本の入力ラインで構成され、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）が専用の電子部品であるとき、上記専用の電子部品は、複数の入力信号で動作し、入力ライン数よりも上記専用の電子部品の数を減らしてもよい。
【０１１０】
この場合、複数の入力信号に対し引き回されるラインの接続先を、専用の電子部品である専用素子へ集約することで、不具合確認作業数を減らすことができる。
【０１１１】
上記入力信号配線は、信号の入力側とは反対側が一本のラインから少なくとも２つに分岐した分岐ラインからなり、上記分岐ラインの少なくとも一方の分岐ラインに補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が接続され、この補助部品が接続された分岐ライン以外の分岐ラインに主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）が接続されていてもよい。
【０１１２】
この場合、電子回路の構成上、電子部品の引き回しが困難な場合であっても、配線の断線を検出することができる。
【０１１３】
出力配線１１は、出力信号配線であり、補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）は、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）と上記出力信号配線における信号の出力端子との間に接続されていてもよい。
【０１１４】
この場合、主部品から出力される信号の有無により、断線を判断することができる。
【０１１５】
上記出力信号配線は、一本の出力ラインで構成され、上記出力ラインに、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）は一つのみ接続されていてもよい。
【０１１６】
この場合、１つの出力信号に対し引き回されるラインを1本とすることで、断線時に分断されてしまう主部品が１つとなり、不具合症状を１つのみの確認で断線を判断できる。
【０１１７】
上記出力信号配線は、一本の出力ラインで構成され、主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）が専用の電子部品であるとき、上記専用の電子部品は、複数の入力信号で動作し、出力ライン数よりも上記専用の電子部品の数を減らしてもよい。
【０１１８】
この場合、複数の入力信号に対し引き回されるラインの接続先を、専用の電子部品である専用素子へ集約することで、不具合確認作業数を減らすことができる。
【０１１９】
上記出力信号配線は、信号の出力側とは反対側が一本のラインから少なくとも２つに分岐した分岐ラインからなり、上記分岐ラインの少なくとも一方の分岐ラインに補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が接続され、この補助部品が接続された分岐ライン以外の分岐ラインに主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）が接続されていてもよい。
【０１２０】
この場合、電子回路の構成上、電子部品の引き回しが困難な場合であっても、配線の断線を検出することができる。
【０１２１】
上記配線は、入力端子および出力端子の何れにも接続されておらず、上記配線に上記主部品が２つ接続されると共に、これら主部品の間に補助部品（１０１ｂ，１０２ｂ，１０３ｂ）が接続されていてもよい。
【０１２２】
上記２つの主部品のうち、少なくとも一方の主部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であってもよい。
【０１２３】
上記配線は、両端で抵抗測定可能な一本の配線ラインからなり、上記配線ラインに主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）が２つ以上接続されていてもよい。
【０１２４】
この場合、配線の両端で抵抗測定を行う際に、不具合確認回数を削減できる。
【０１２５】
主部品（１０１ａ，１０２ａ，１０３ａ）のうち、少なくとも一つの主部品は、電子回路が正常に動作しているか否かの判定するための専用の電子部品であってもよい。
【０１２６】
電子装置は、上記の何れかの構成の電子回路を備えていてもよい。
【０１２７】
例えば、電子回路を、複数の回路基板（ＴＦＴ基板と実装基板や、複数基板から構成される回路等）間において、適用した電子装置であってもよい。
【０１２８】
また、電子回路を、機械設備などの実態配線を組む際に、機器間の接続方法へ適用した電子装置であってもよい。
【０１２９】
さらに、電子回路を、回路基板及び機器類や機械設備等、複合的に組み付けられた電子装置であってもよい。
【０１３０】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１３１】
本発明は、複数の電子部品を備えた電子回路全般に利用することができる。
【符号の説明】
【０１３２】
１１  出力配線
１２  内部配線
１３  配線
１４  配線
１５  配線
１６  配線
１７  配線
１８  配線
１９  配線
２０  配線
１０１  第１回路配線
１０１ａ  主部品
１０１ｂ  補助部品
１０２  第２回路配線
１０２ａ  主部品
１０２ｂ  補助部品
１０３  第３回路配線
１０３ａ  主部品
１０３ｂ  補助部品
Ｃ  コンデンサ
ＣＫ１  クロック信号
ＣＫ２  クロック信号
ｎ      出力信号
Ｓｎ  信号
ＴｒＡ  トランジスタ
ＴｒＢ  トランジスタ
ＴｒＣ  トランジスタ
ＴｒＤ  トランジスタ
ＴｒＥ  トランジスタ
【図１】
2010103696.tif 000003
【図２】
2010103696.tif 000004
【図３】
2010103696.tif 000005
【図４】
2010103696.tif 000006
【図５】
2010103696.tif 000007
【図６】
2010103696.tif 000008
【図７】
2010103696.tif 000009
【図８】
2010103696.tif 000010
【図９】
2010103696.tif 000011
【国際調査報告】
2010103696.tif 000012
2010103696.tif 000013
2010103696.tif 000014
2010103696.tif 000015