(57)【要約】  本発明の塗工膜の幅の検査方法は、シート状基材１０上に長手方向に亘って形成された塗工膜２０の該長手方向と交差する横方向の幅Ｗ１を検出する方法であって、以下の工程：塗工膜２０の横方向への厚みプロファイルを計測する工程；計測した厚みプロファイルに基づき、塗工膜２０の横方向の両端部近傍領域２４ａ、２４ｂにおいて距離Ｘと厚さＹとの関数の近似曲線Ｌ１，Ｌ２を作成する工程；および得られた近似曲線Ｌ１，Ｌ２と予め設定しておいた基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域２４ａの近似曲線Ｌ１から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域２４ｂの近似曲線Ｌ２から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、所定の計測点における塗工膜２０の横方向の幅Ｗ１として算出する工程；を包含する。
2010082335.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する方法であって、以下の工程：
ａ）．前記長手方向における所定の計測点において、前記塗工膜の前記横方向への厚みプロファイルを計測する工程、ここで前記厚みプロファイルは、前記幅に関する基準点Ｘ０からの前記横方向の距離Ｘに対する前記厚みに関する基準点Ｙ０からの塗工膜の厚さＹとして規定される；ｂ）．前記計測した厚みプロファイルに基づき、前記塗工膜の前記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域において前記距離Ｘと前記厚さＹとの関数の近似曲線を作成する工程；および
ｃ）．前記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域について得られた近似曲線と、予め設定しておいた前記基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを前記横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、前記所定の計測点における前記塗工膜の横方向の幅として算出する工程；
を包含する、塗工膜の幅の検査方法。
【請求項２】
前記長手方向に亘って塗工膜が形成された前記長尺なシート状基材を所定のローラで搬送する途上での所定の計測点において前記厚みプロファイルを計測し、
ここで前記ローラにおける前記シート状基材と当接する表面を、前記厚みに関する基準点Ｙ０に設定する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記厚みプロファイルの計測は、前記基材上に形成した塗工膜が乾燥する前の湿潤状態のときに行われる、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記厚みプロファイルの計測は、前記所定の計測点において前記塗工膜の横方向に沿ってレーザを照射しつつレーザ変位センサを使用して行われる、請求項１〜３のいずれかに記載の方法。
【請求項５】
長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する装置であって、
前記長手方向における所定の計測点において、前記塗工膜の前記横方向への厚みプロファイルを計測する厚みプロファイル計測部、ここで前記厚みプロファイルは、前記幅に関する基準点Ｘ０からの前記横方向の距離Ｘに対する前記厚みに関する基準点Ｙ０からの塗工膜の厚さＹとして規定される；と、
前記厚みプロファイル計測部に接続された制御部と
を備え、
前記制御部は、前記厚みプロファイル計測部から入力された前記所定の計測点における厚みプロファイルに基づき、前記塗工膜の前記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域において前記距離Ｘと前記厚さＹとの関数の近似曲線を作成し、かつ、前記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域について得られた近似曲線と、予め設定しておいた前記基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを前記横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、前記所定の計測点における前記塗工膜の横方向の幅として算出するように構成されている、塗工膜の幅の検査装置。       
【請求項６】
前記長手方向に亘って塗工膜が形成された前記長尺なシート状基材を搬送するローラを備え、
前記厚みプロファイル計測部は、前記ローラで搬送する途上での所定の計測点において前記厚みプロファイルを計測するように配置され、
ここで前記ローラにおける前記シート状基材と当接する表面が、前記厚みに関する基準点Ｙ０として設定される、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記厚みプロファイル計測部は、前記基材上に形成した塗工膜が乾燥する前の湿潤状態での前記厚みプロファイルを計測する、請求項５又は６に記載の装置。
【請求項８】
前記厚みプロファイル計測部は、前記所定の計測点において前記塗工膜の横方向に沿ってレーザを照射するレーザ変位センサである、請求項５〜７のいずれかに記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する方法および該検査方法に用いる検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、リチウムイオン電池、ニッケル水素電池その他の二次電池は、車両搭載用電源、或いはパソコンおよび携帯端末の電源として重要性が高まっている。特に軽量で高エネルギー密度が得られるリチウムイオン電池は車両搭載用高出力電源として好ましく用いられるものとして期待されている。【０００３】
リチウムイオン電池の一つの典型的な構成では、渦巻き状構造を有する捲回電極体を備えた電池構造が知られている。かかる捲回電極体は、シート状電極（シート状正極およびシート状負極）とシート状セパレータとから構成され、各シートを重ねて捲回することにより製造されている。リチウムイオン電池用のシート状電極は、金属製のシート状基材の片面あるいは両面に電極活物質を含む電極活物質層が形成された構成を有する。そして、シート状電極は、その一部に非塗工部分（電極活物質層が形成されずにシート状基材の表面を露出させた部分）が設けられ、該非塗工部分に電極のリード（集電箔など）が取り付けられるようになっている。【０００４】
シート状電極に非塗工部分を設ける塗工方法として、例えば、シート状基材の長さ方向に電極活物質層を所定の間隔で連続ストライプ塗工するという方法がある。そのような塗工用途に対しては、ダイコータ等による塗工手段が好ましく用いられ、例えば、シート状基材の搬送路中にダイを配して、電極活物質層を塗工する方法が採用されている。なお、この種の塗工膜の厚み（高さ）を測定する従来技術としては特許文献１、２等が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−２５７５０６号公報
【特許文献２】特開２００６−７１６２５号公報
【発明の開示】
【０００５】
ところで、上記のようなダイコータ等により塗工されたシート状電極では、電極活物質層と非塗工部分との境界において、電極活物質層の厚さが不均一になり易いという問題がある。すなわち、基材上に電極活物質層を塗工した際に、電極活物質層の塗工端部分において塗液のダレが生じるため、ダイ形状や塗液の粘度調整を行っても、横方向の厚さが均一にならず、電極活物質層の塗工端部分の厚みは、塗工中央部分に比べて薄くなる傾向がある。厚みが薄くなった電極活物質層の塗工端部分は、単位面積あたりの塗工重量（目付け量）が小さくなるため、所要の塗工重量を満たさない不適な塗工部になり得る。リチウムイオン二次電池では、限られた電池内空間において、できるだけ多くの電極活物質を効率的に詰め込むことで高容量化を図っている。そのため、電極活物質層の塗工工程においては、上記のような所要の塗工重量を満たさない不適切な塗工部分をなるべく排除して、電極活物質層の塗工幅（電極活物質の収量）を管理することが重要になってくる。
【０００６】
本発明はかかる点を鑑みてなされたものであり、その主な目的は、長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する方法であって、塗工膜の塗工重量（目付け量）を考慮した塗工膜の幅の検査方法を提供することである。また、本発明の他の目的は、そのような塗工膜の幅の検査方法を好ましく実現することができる塗工膜の幅の検査装置を提供することである。
【０００７】
本発明によって提供される方法は、長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する方法であって、以下の工程：ａ）．上記長手方向における所定の計測点において、上記塗工膜の前記横方向への厚みプロファイルを計測する工程、ここで上記厚みプロファイルは、上記幅に関する基準点Ｘ０からの上記横方向の距離Ｘに対する上記厚みに関する基準点Ｙ０からの塗工膜の厚さＹとして規定される；ｂ）．上記計測した厚みプロファイルに基づき、上記塗工膜の上記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域において上記距離Ｘと上記厚さＹとの関数の近似曲線を作成する工程；およびｃ）．上記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域について得られた近似曲線と、予め設定しておいた上記基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを上記横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、上記所定の計測点における上記塗工膜の横方向の幅として算出する工程；を包含する。
【０００８】
かかる検査方法によれば、長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出するに際して、横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域について、所望の塗工重量を満たさない不適な塗工部分を除いて、塗工膜の横方向の幅を算出することができる。そのため、塗工重量を考慮した塗工膜の横方向の幅を得ることができる。結果、かかる塗工幅の形状値を、例えば塗工膜の品質管理や塗工プロセス評価などに好ましく用いることができる。
【０００９】
ここで開示される方法のある好適な一態様において、上記長手方向に亘って塗工膜が形成された上記長尺なシート状基材を所定のローラで搬送する途上での所定の計測点において上記厚みプロファイルを計測し、ここで上記ローラにおける上記シート状基材と当接する表面を、上記厚みに関する基準点Ｙ０に設定する。かかる検査方法によれば、計測時に位置変動が少ないローラの表面を、厚みに関する基準点Ｙ０に設定しているので、基材の表面に皺やよれが発生した場合でも、これに影響されず、精度よく（安定して）塗工膜の幅を算出することができる。
【００１０】
ここで開示される方法のある好適な一態様において、上記厚みプロファイルの計測は、上記基材上に形成した塗工膜が乾燥する前の湿潤状態のときに行われる。かかる検査方法によれば、塗工重量を考慮した塗工膜の横方向の幅を精度よく（安定して）算出することができる。
【００１１】
ここで開示される方法のある好適な一態様において、上記厚みプロファイルの計測は、上記所定の計測点において上記塗工膜の横方向に沿ってレーザを照射しつつレーザ変位センサを使用して行われる。かかる検査方法によれば、上記厚みプロファイルの計測を非接触で行うことができる。
【００１２】
また、本発明は、上記塗工膜の幅の検査方法を好ましく実現することができる塗工膜の幅の検査装置を提供する。この装置は、長尺なシート状基材上に該基材の長手方向に亘って形成された塗工膜の該長手方向と交差する横方向の幅を検出する装置であって、上記長手方向における所定の計測点において、上記塗工膜の前記横方向への厚みプロファイルを計測する厚みプロファイル計測部と、上記厚みプロファイル計測部に接続された制御部とを備える。上記制御部は、上記厚みプロファイル計測部から入力された上記所定の計測点における厚みプロファイルに基づき、上記塗工膜の上記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域において上記距離Ｘと上記厚さＹとの関数の近似曲線を作成し、そして、上記横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域について得られた近似曲線と、予め設定しておいた上記基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域の近似曲線から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを上記横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、上記所定の計測点における上記塗工膜の横方向の幅として算出するように構成されている。かかる検査装置によれば、上記塗工膜の幅の検査方法を好ましく実現することができる。
【００１３】
ここで開示される装置のある好適な一態様において、上記長手方向に亘って塗工膜が形成された上記長尺なシート状基材を搬送するローラを備える。この場合、上記厚みプロファイル計測部は、上記ローラで搬送する途上での所定の計測点において上記厚みプロファイルを計測するように配置するとよい。その場合、上記ローラにおける上記シート状基材と当接する表面が、上記厚みに関する基準点Ｙ０として設定されることが好ましい。
【００１４】
また、上記厚みプロファイル計測部は、上記基材上に形成した塗工膜が乾燥する前の湿潤状態での前記厚みプロファイルを計測するように構成するとよい。かかる厚みプロファイル計測部は、上記所定の計測点において上記塗工膜の横方向に沿ってレーザを照射するレーザ変位センサであってもよい。この場合、上記厚みプロファイルの計測を非接触で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係る塗工膜形成装置の構成を模式的に示す外観模式図である。
【図２】図２は、本発明の一実施形態に係る厚みプロファイルの計測結果を示す図である。
【図３】図３は、本発明の一実施形態に係る厚みプロファイルの計測結果の要部を示す図である。
【図４】図４は、本発明の一実施形態に係る塗工膜の幅算出方法を説明するための図である。
【図５】図５は、本発明の一実施形態に係る塗工膜の幅算出方法を説明するための図である。
【図６】図６は、本発明の他の一実施形態に係る電極シートを模式的に示す上面模式図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図面を参照しながら、本発明による実施の形態を説明する。以下の図面においては、同じ作用を奏する部材・部位には同じ符号を付して説明している。なお、本発明は以下の実施形態に限定されない。また、各図における寸法関係（長さ、幅、厚さ等）は実際の寸法関係を反映するものではない。
＜実施形態１＞【００１７】
図１を参照しながら本実施形態に係る塗工膜の幅の検査方法に使用される塗工膜形成装置１００について説明する。塗工膜形成装置１００は、ローラ３０と、塗工部５０と、塗工膜の幅を検出する装置（塗工膜幅検査装置）４０とを備えている。【００１８】
ローラ３０は、図１に示すように、長尺なシート状基材１０を長手方向に搬送する装置である。この実施形態では、シート状基材１０は、複数のローラ３０に順に架け渡され、該シート状基材１０に一定のテンションが掛るようになっている。一部のローラ３０には、該ローラを回動させる駆動装置に取り付けられている。塗工膜形成装置１００は、ローラ３０を一方向に回動させることにより、シート状基材１０を搬送している。【００１９】
塗工部５０は、長尺なシート状基材１０上に該基材の長手方向に亘って塗工膜２０を形成する装置である。この実施形態では、塗工部５０は、塗工膜２０を形成する材料（ここではウェット状の塗液）を吐出するスリット孔を有するダイ５０と、該ダイ５０に塗液を所定の圧力で供給する塗液供給部（図示せず）を備えている。ダイ５０は、ローラ３０で搬送されるシート状基材１０の表面に対向するように配され、該基材１０の表面に塗液を吐出して塗工膜２０を形成するようになっている。この実施形態では、ダイ５０は、シート状基材１０の長手方向と交差する横方向に所定間隔で３つ設けられ、ローラ３０で搬送される途上でのシート状基材１０の長手方向に３列の塗工膜２０を形成する。【００２０】
塗工膜幅検査装置４０は、このように形成された塗工膜２０の塗工幅を測定する装置である。すなわち、塗工膜幅検査装置４０は、長尺なシート状基材１０上に該基材１０の長手方向に亘って形成された塗工膜２０の該長手方向と交差する横方向の幅を検出するようになっている。具体的には、塗工膜幅検査装置４０は、シート状基材１０の長手方向における所定の計測点において、塗工膜２０の横方向への厚みプロファイルを計測する厚みプロファイル計測部４２と、該厚みプロファイル計測部４２に電気的に接続された制御部４６とを備えている。【００２１】
厚みプロファイル計測部４２は、この実施形態では、上記所定の計測点において塗工膜２０の横方向に沿ってレーザを照射するレーザ変位センサである。レーザ変位センサ４２は、基材１０の表面に対してレーザ光を照射して、該基材１０の表面に直交する厚み（断面）における基材１０の厚みプロファイルを計測する。レーザ変位センサ４２は、シート状基材１０の横方向に平行に配列された走査機構４４に取り付けられており、該走査機構４４によってシート状基材１０の横方向に走査されるようになっている。また、レーザ変位センサ４２は、ローラ３０で搬送する途上での所定の計測点においてシート状基材１０の厚みプロファイルを計測するように構成されている。【００２２】
制御部４６は、レーザ変位センサ４２および走査機構４４に電気的に接続されている。制御部４６は、走査機構４４を駆動させ、レーザ変位センサ４２をシート状基材１０の横方向に移動しながら、シート状基材１０の厚みプロファイルを一定ピッチ毎に計測する。かかるレーザ変位センサ４２による計測は、シート状基材１０の全幅にわたって行われ、これにより基材１０上に形成された塗工膜２０の厚みプロファイルについても、基材１０の横方向に沿って計測することができる。この実施形態では、制御部４６は、レーザ変位センサ４２により基材１０上に形成した塗工膜２０が乾燥する前の湿潤状態での厚みプロファイルを計測する。【００２３】
このようにして計測した厚みプロファイルの一例を示すと、図２および図３に示すとおりである。図２では、略平坦な基材１０の表面１２上に、３つの塗工膜２０が所定間隔で並列に形成されており、各塗工膜２０の間、および、基材１０の横方向の両方の端部それぞれには、塗工膜２０が形成されていない非塗工部分（基材１０の表面１２が露出した部分）６０が形成されている。【００２４】
厚みプロファイルの計測は、基材１０上に形成した塗工膜が乾燥する前の湿潤状態のときに行われる。そのため、かかる塗工膜２０と非塗工部分６０との境界部分においては塗液ダレなどが生じ、横方向の厚さが均一にならない。例えば図３に示すように、塗工膜２０の厚みプロファイルは略台形状をなしており、塗工膜２０の横方向の両方の端部近傍領域２４ａ、２４ｂの厚みが幅中央部分２８に比べて薄くなっている。このように中央部分２８に比べて厚みが薄くなった塗工膜２０の横方向の両方の端部近傍領域２４ａ、２４ｂの一部は、単位面積あたりの塗工重量（目付け量）が小さくなる。そのため、必要とされる塗工重量を満たさない不適な塗工部分２６ａ、２６ｂになる場合がある。【００２５】
本実施形態では、制御部４６は、図３のように横方向の厚さが不均一となった塗工膜２０の厚みプロファイルを演算処理して、所望の塗工重量を満たさない不適な塗工部分２６ａ、２６ｂを除いて、塗工重量を考慮した横方向の幅を算出するように構成されている。塗工重量を考慮した横方向の幅の算出は、具体的には以下のようにすればよい。【００２６】
計測した厚みプロファイルは、図４に示すように、幅に関する基準点Ｘ０からの横方向の距離Ｘに対する厚みに関する基準点Ｙ０からの塗工膜の厚さＹとして規定される。この実施形態では、塗工膜２０が形成されるシート状基材１０の表面１２を、幅に関する基準点Ｘ０および厚みに関する基準点Ｙ０に設定する。すなわち、計測した厚みプロファイルに基づき、シート状基材１０の表面１２に対応する任意の点を基準点（Ｘ０，Ｙ０）として設定する。【００２７】
まず、制御部４６は、厚みプロファイル計測部（レーザ変位センサ）４２から入力された所定の計測点における厚みプロファイルに基づき、塗工膜２０の横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂにおいて距離Ｘと厚さＹとの関数の近似曲線を作成する。具体的には、一方の端部近傍領域２４ａの各点について、距離Ｘと厚さＹの座標を計測し、得られた各点の距離Ｘと厚さＹの座標に一次回帰分析法（典型的には最小二乗法）を適用して直線近似することにより、近似直線Ｌ１を求めるとよい。また、他方の端部近傍領域２４ｂの各点について、距離Ｘと厚さＹの座標を計測し、得られた各点の距離Ｘと厚さＹの座標に一次回帰分析法（典型的には最小二乗法）を適用して直線近似することにより、近似直線Ｌ２を求めるとよい。【００２８】
次に、制御部４６は、横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂについて得られた近似曲線Ｌ１，Ｌ２と、予め設定しておいた基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域２４ａの近似曲線Ｌ１から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域２４ｂの近似曲線Ｌ２から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、所定の計測点における塗工膜２０の横方向の幅Ｗ１として算出する。【００２９】
かかる方法によれば、長尺なシート状基材１０上に該基材１０の長手方向に亘って形成された塗工膜２０の該長手方向と交差する横方向の幅を検出するに際して、横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂについて、所望の塗工重量を満たさない不適な塗工部分２６ａ、２６ｂを除いて、塗工膜２０の横方向の幅Ｗ１を算出することができる。そのため、塗工重量を考慮した塗工膜２０の横方向の幅を得ることができる。結果、かかる塗工幅２０の形状値を、例えば塗工膜の品質管理や塗工プロセス評価などに好ましく用いることができる。【００３０】
なお、制御部４６は、図示しない記憶部に電気的に接続されている。制御部４６は、記憶部に格納された幅算出処理プログラムに従い、上述した幅算出処理を実行する。また、基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔは、制御部４６に接続された記憶部に予め格納しておくとよい。【００３１】
この場合、制御部４６は、厚みプロファイル計測部から入力された厚みプロファイルに基づき、塗工膜２０の横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂにおいて距離Ｘと厚さＹとの関数の近似曲線Ｌ１，Ｌ２を作成するように構成するとよい。そして、制御部４６は、横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂについて得られた近似曲線Ｌ１，Ｌ２と、記憶部に格納された厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域２４ａの近似曲線Ｌ１から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域２４ｂの近似曲線Ｌ２から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、所定の計測点における塗工膜２０の横方向の幅Ｗ１として算出するように構成するとよい。得られた塗工膜２０の横方向の幅Ｗ１は、必要に応じて記憶部に記憶することができる。
＜実施形態２＞【００３２】
本実施形態は、実施形態１に係る塗工膜の幅検査装置と概ね同様の構成を有し、ただし、ローラ３０におけるシート状基材１０と当接する表面３２を、厚みに関する基準点Ｙ０に設定する点において、上述した実施形態１とは相違する。すなわち、この実施形態では、図５に示すように、計測した厚みプロファイルに基づき、ローラ３０の表面３２に対応する任意の点を基準点（Ｘ０，Ｙ０）として設定する。【００３３】
この場合、制御部４６は、横方向の両方の端部それぞれの端部近傍領域２４ａ、２４ｂについて得られた近似曲線Ｌ１，Ｌ２と、ローラ３０におけるシート状基材１０と当接する表面３２を厚みに関する基準点Ｙ０とした当該基準点Ｙ０からの厚み閾値Ｙｔとに基づいて、一方の端部近傍領域２４ａの近似曲線Ｌ３から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ１と、他方の端部近傍領域２４ｂの近似曲線Ｌ４から求められた厚み閾値Ｙｔに対応する距離Ｘｅ２とを横方向の両方の端部とみなし、該Ｘｅ１とＸｅ２との差：Ｘｅ１−Ｘｅ２の絶対値を、所定の計測点における塗工膜２０の横方向の幅Ｗ２として算出するように構成すると良い。【００３４】
シート状基材１０の表面１２を厚みに関する基準点Ｙ０に設定すると、シート状基材１０がアルミニウム箔などの皺が発生し易い素材で形成される場合、基材１０の表面の皺状態の違いによって幅測定の基準が変動する。そのため、幅の算出結果にばらつきが生じがちとなる。これに対し、上記構成によれば、計測時に位置変動が少ないローラ３０の表面３２を、厚みに関する基準点Ｙ０に設定しているので、基材１０の表面１２に皺やよれが発生した場合でも、これに影響されず、精度よく（安定して）塗工幅Ｗ２を算出することができる。【００３５】
以上、本発明を好適な実施形態により説明してきたが、こうした記述は限定事項ではなく、勿論、種々の改変が可能である。【００３６】
例えば、図５の示した実施形態では、ローラ３０におけるシート状基材１０と当接する表面３２を、厚みに関する基準点Ｙ０に設定したが、これに限定されない。ローラ３０の表面３２に限らず、計測時に位置変動が少ない部材であれば、厚みに関する基準点Ｙ０として好ましく設定することができ、基材１０の表面１２に皺やよれが発生した場合でも、これに影響されず、精度よく（安定して）塗工幅を算出することができる。【００３７】
また、上述した例では、厚みプロファイルの計測は、所定の計測点において塗工膜２０の横方向に沿ってレーザを照射しつつレーザ変位センサ４２を使用して行われるが、本発明はこれに限定されない。レーザ変位センサ４２以外の計測装置を用いて厚みプロファイルの計測を行ってもよい。【００３８】
上述した塗工幅検査装置４０を備えた塗工膜形成装置１００は、例えば、リチウムイオン二次電池などの電池の捲回電極体の構成要素となる帯状（シート状）電極（正極および負極の何れにも適用できる。）に電極活物質を含む塗工膜（電極活物質層）を形成する工程に好ましく適用することができる。この際、上述した塗工膜の幅の検査装置を用いることにより、塗工重量（目付け量）を考慮した電極活物質層の横方向の幅測定を行うことができ、電極活物質の目付け量の管理や評価を好ましく行うことができる。【００３９】
例えば、リチウムイオン二次電池では、塗工膜（電極活物質層）２０の塗工パターンは、図６に示すように、電極のリード（集電箔など）取り付け部分を確保するための非塗工部分６０を含むストライプ状に形成され得る。このとき、電極活物質層２０と非塗工部分６０との境界においては、横方向の厚さが均一にならならず、図２に示したように、電極活物質層２０の横方向の両方の端部近傍領域２４ａ、２４ｂの厚みが幅中央部分２８に比べて薄くなり、目付け量が減少する。【００４０】
かかる場合において、本実施形態に係る塗工膜の幅検査装置４０を用いれば、所望の塗工重量を満たさない不適な塗工部分を除いて、塗工重量を考慮した電極活物質層２０の塗工幅を算出することができ、得られた電極活物質層２０の幅の形状値を、例えば電極活物質層２０の品質管理や塗工プロセス評価などに好ましく用いることができる。【００４１】
なお、本発明に係る塗工幅測定装置４０および塗工幅測定方法は、上述したリチウム二次電池などの電池の捲回電極体の構成要素となる帯状電極を作製する工程（詳しくはシート状基材上に電極活物質層を塗工する工程）に限らず、基材に塗工膜を形成する用途に広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
本発明によれば、塗工膜の塗工重量を考慮した塗工膜の幅の検査方法を提供することができる。また、本発明によれば、そのような塗工膜の幅の検査方法を好ましく実現することができる塗工膜の幅の検査装置を提供することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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