【事件の表示】
　特許第３２４０８４６号「光ヘッド」の請求項１ないし１７に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３２４０８４６号の請求項１ないし１７に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許第３２４０８４６号（平成６年８月１２日出願、平成１３年１０月１９日設定登録）の請求項１乃至１７に係る発明は、その特許請求の範囲の請求項１乃至１７に記載された事項により特定される次のとおりのものである。（以下「本件発明」という。）
　「【請求項１】互いに基材厚の異なる第１及び第２の光ディスクから情報を記録再生するための光ヘッドであって、
　前記第１の光ディスクの情報を記録再生するための第１の光ビームを出射する第１の光源と、
　前記第１の光源とは波長の異なる光源であって、前記第２の光ディスクの情報を記録再生するための第２の光ビームを出射する第２の光源と、
　前記第１の光ビームを前記第１の光ディスクに所定値以下の波面収差で焦点を結ぶように設定された光収束手段と、
　前記第１の光ディスクからの反射光を受光する第１の光検出器と、
　前記第２の光ディスクからの反射光を受光する第２の光検出器とを備え、
　前記第１の光ディスクあるいは前記第２の光ディスクに対応して、前記第１の光源あるいは前記第２の光源のいずれか一方の光源から光ビームを出射し、かつ、前記第１の光源と前記第１の光検出器の組み合わせ、あるいは前記第２の光源と前記第２の光検出器の組み合わせのうち、少なくともいずれか一方の組み合わせが一体に構成され、かつ、前記第２の光ビームの前記第２の光ディスク上に収束する波面収差が所定値以下になるように前記第２の光源と前記光収束手段との間の距離を設定する構成を有することを特徴とする光ヘッド。
　【請求項２】前記第１の光ビームが前記第１の光ディスクに結ばれる焦点の波面収差の前記所定値は１０ｍλであり、前記第２の光ビームが前記第２の光ディスク上に収束する波面収差の前記所定値は１０ｍλであることを特徴とする請求項１に記載の光ヘッド。
　【請求項３】前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームの光路上に配置され、前記第１の光ビームを透過し前記第２の光ビームを反射する光合成分離手段を有することを特徴とする請求項１または２に記載の光ヘッド。
　【請求項４】前記第１の光源と前記光合成分離手段との間に配置され、前記第１の光ディスクで反射された前記第１の光ビームを分離する光分離手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の光ヘッド。
　【請求項５】前記光合成分離手段と前記第１の光ディスクあるいは前記第２の光ディスクとの間に位置するように配置され、前記第１の光ビームに対して１／４波長の位相差を生じさせ、前記第２の光ビームに対しては１／２波長の位相差を生じさせる波長板を備えたことを特徴とする請求項４に記載の光ヘッド。
　【請求項６】前記光分離手段と前記光合成分離手段との間に配置され、前記第１の光ビームに対して１／４波長の位相差を生じさせる波長板を備えたことを特徴とする請求項４に記載の光ヘッド。
　【請求項７】前記光合成分離手段と前記第１の光ディスクとの間に位置するように配置され、前記第１の光ディスクからの反射光を分離する光分離手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の光ヘッド。
　【請求項８】前記光分離手段と前記第１の光ディスクとの間に位置するように配置され、前記第１の光ビームに対して１／４波長の位相差を生じさせる波長板を備えたことを特徴とする請求項７に記載の光ヘッド。
　【請求項９】前記光収束手段が、前記第１の光ビームを略平行光に集光する集光レンズと、前記略平行光を前記第１の光ディスクに収束する対物レンズを有することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ヘッド。
　【請求項１０】前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームの開口を制限する開口制御手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の光ヘッド。
　【請求項１１】前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームの開口を制限する開口制御手段を備え、前記開口制御手段が前記対物レンズと一体に移動可能に構成されたことを特徴とする請求項９に記載の光ヘッド。
　【請求項１２】前記光収束手段が前記第１の光ビームの開口を制限する第１の開口制限手段を備え、前記光合成分離手段と前記第２の光源との間に、前記第２の光ビームの開口を前記第１の光ビームの開口よりも小さく制限する第２の開口制限手段を設けたことを特徴とする請求項３に記載の光ヘッド。
　【請求項１３】前記第１の光ビームと前記第２の光ビームのうち、波長が長いほうの光ビームの開口数が、波長が短いほうの光ビームの開口数よりも小さいことを特徴とする請求項１０から１２のうち１項に記載の光ヘッド。
　【請求項１４】前記第２の光源と前記光合成分離手段との間に配置され、前記第２の光ビームの外周部から少なくとも２本の回折光ビームを発生する環状の回折格子を備え、前記第２の光ディスクからの反射光を前記第２の光源と一体に構成された前記第２の光検出器で受光することを特徴とする請求項１０または１２に記載の光ヘッド。
　【請求項１５】前記回折格子の内部の開口が、前記光収束手段に設けられた開口よりも小さいことを特徴とする請求項１４に記載の光ヘッド。
　【請求項１６】前記回折格子の０次光透過率を１０％以下にしたことを特徴とする請求項１４または１５に記載の光ヘッド。
　【請求項１７】前記第２の光ディスクからの反射光のうち前記第２の光検出器へ入射する光ビームが前記回折格子に入射しないように構成されたことを特徴とする請求項１４に記載の光ヘッド。」
　
２．申立の理由の概要
　申立人　松村雄一は、請求項１〜１７に係る発明は、甲第１号証（特開平４−９５２２４号公報），甲第２号証（特開平４−２８９５３０号公報），甲第３号証（特開平５−２９０４０２号公報），甲第４号証（応用物理学会・光学懇話会編「光ディスクシステム」朝倉書店），甲第５号証（特開平２−７２３９号公報），甲第６号証（特開平５−２４２５２０号公報），甲第７号証（特開昭６０−１５７７３０号公報），甲第８号証（特開平５−３０７７６４号公報），甲第９号証（特開平１−２１１３３１号公報），甲第１０号証（特開平５−１２０７２０号公報），甲第１１号証（特開昭６２−６７７７３７号公報），甲第１２号証（特開平２−２８２９３４号公報），甲第１３号証（特開平２−２７３３３６号公報）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから特許法第１１３条第１項第２号の規定により取り消すべきものであると主張している。
　
３．甲各号証記載の発明
　請求項１に対するものとして
　甲第１号証には、
（１−１）「ディスク装置の厚さの異なるＮ（Ｎ≧２）個の光ディスクに対応したＮ個の集束光学系を備え、それぞれの光ディスクに応じて前記Ｎ個の集束光学系の中から一個を選択する光ディスク装置」（特許請求の範囲の請求項１）
（１−２）「本発明はかかる点に鑑み、ディスク基板の厚さの異なるＮ個の光ディスクに、信号を記録，再生または消去可能な光ディスク装置を提供することを目的とする。」（第３頁左上欄第１〜４行目）
（１−３）「３と５は第１の光ヘッドおよび第２の光ヘッドであり、それぞれ図示しない対物レンズ，半導体レーザ，フォトディテクタ，ビームスプリッタなどからなる集束光学系と、ベースおよびアクチュエータなどで構成される。」（第３頁右上欄第７〜１１行目）
（１−４）「ここで、第１の光ディスクは、従来のＣＤまたは同等の記録密度を有するもので、第４図（ａ）に示すようにディスク基板の厚さをｄ１とする。例えばｄ１＝１．２ｍｍである。また、第２の光ディスクはそれよりも高密度に記録が可能な光ディスクであり、第４図（ｂ）に示すようにディスク基板の厚さをｄ２とする。チルトずれによる集光スポットの収差を小さくするために、ｄ２はｄ１よりも小さく設計されており、例えばｄ２＝０．３ｍｍとする。　これに対し、第１の光ヘッド３は、例えば波長７８０ｎｍの半導体レーザに対しＮＡが０．４５の対物レンズを用いており、このときのディスクにおける集光スポット径は約φ２．１μｍとなる。しかも、対物レンズの光学設計は、厚さ１．２ｍｍのディスク基板による収差を補正するようになされている。」（第３頁右下欄第９行目〜第４頁左上欄第９行目）
（１−５）「さらに、第６図は本発明の第２の実施例における第３の光ヘッド２０の詳細な構成図を示すものである。……２３は第１の半導体レーザ２２からの光を平行化する第１のコリメートレンズ、……２６は光を光ディスク１上に集光する第１の対物レンズ、……２８は集光された反射光から情報再生信号やフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を得るための第２のフォトディテクタであり、第１の実施例で述べた第１の集光光学系２１を構成している。また、……３８は集光された反射光から情報再生信号やフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を得るための第２のフォトディテクタであり、第１の実施例で述べた第２の集光光学系３１を構成している。」（第４頁右下欄第１６行目〜第５頁右上欄第１行目）
（１−６）「カートリッジ２が本実施例の光ディスク装置に装着されると、……コントローラ１３は、装着されたカートリッジ２の中身が第２の光ディスクであると判断し、第３の光ヘッド２０の第２の集束光学系３１を選択し、第２の半導体レーザ３２および第２のフォトディテクタ３８を動作させるよう、第３の光ヘッド２０およびサーボ回路１１に制御信号を出力する。すなわち、第２の集束光学系３１では、第２の半導体レーザ３２の放射した光が第２のコリメータレンズ３３によって平行光にされ、第２のビームスプリッタ３４，第２のミラー３５を経て第２の対物レンズ３６によって、第２の光ディスク上に集光される。……一方、フォトダイオード９が透過光を検出しないときは、コントローラ１３はカートリッジ２の中身を前述の第１の光ディスクであると判断し、第３の光ヘッド２０の第１の集束光学系２１を選択し、第１の半導体レーザ２２および第１のフォトディテクタ２８を動作させるよう、第３の光ヘッド２０及びサーボ回路１１に制御信号を出力する。」（第５頁左下欄第２行目〜第６頁左上欄第４行目）と記載されている。
　甲第２号証には、
（２−１）「図１に本発明を二レーザ光ヘッドに適用した一実施例の系統図を示す。図１において、１ａは波長λ1のレーザ光を出射する半導体レーザ素子、１ｂはλ1とは異なる波長λ2 のレーザ光を出射する半導体レーザ素子、」（段落【０００８】）
（２−２）「図３は、本発明の第二の実施例の主要部を示す系統図である。……図３の実施例では、光束１００ａ，１００ｂが平行光の状態で出射するコリメートレンズの位置を基準位置とし、コリメートレンズ２ａ，２ｂのうちのどちらか一方または両方をその基準位置から光軸方向に所定距離だけ変位させることにより、そのコリメートレンズを出射して対物レンズに入射する光束を所定の収束光状態，または，発散光状態に変換する。すなわち、図１の実施例で収束レンズ５０により所定の収束光状態に変換された光束１００ａに関しては、図３(ａ)に示すように、コリメートレンズ２ａを基準位置Ｐａに対して半導体レーザ素子１ａから離れる方向（図の＋方向）に所定距離δａだけ変位させることにより、次式で表される焦点距離ｆ'1の収束レンズ５０を出射した光束１０１ａと同様の収束光状態にすることができる。」（段落【００２３】）と記載されている。
　甲第３号証には、
（３−１）「また、半導体レーザからの出射光を反射する面が、シリコン基板と一体形成されているとともに反射面の高さは低くてもよいので、シリコン基板の製造が容易である。また、半導体レーザとシリコン基板とを同一面に固定したので、シリコン基板に対する半導体レーザの高さ位置精度がよい。　また、半導体レーザをシリコン基板の光検出器が形成されている面の裏面に固定することにより、シリコン基板と半導体レーザとを一体化でき製造しやすくなる。」（段落【００４４】）と記載されている。
　そして、請求項１を引用する請求項２〜１７項に対するものとして、
　甲第４号証には、光ディスクにおける最良集光位置の評価法が記載され、
　甲第５号証には、「記録用ビーム（２）は偏光ビームスプリッタ（１０）を透過する。そして１／４波長板（１１）、対物レンズ（１２）を介し情報記録媒体（１３）面上に記録スポット（１４）として集光され、情報の記録に用いられる。」（第２頁右上欄第１８行目〜左下欄第２行目）と記載され、
　甲第６号証には、与えられた光ディスクの最小ピットサイズに応じて結像するための開口絞りに関する発明が記載され、
　甲第７号証には、１つの対物レンズで２つのスポットを生じさせるものにおいて波長選択プリズムと１／４板を用いたものが記載され、
　甲第８号証には、光ディスクの傾き検出方法に関し波長の異なる２つのビームを波長選択ミラーで混合した後、ハーフミラーを透過してディスクに照射するとともに、回折格子により、回折光を発生させたものが記載され、
　甲第９号証には、偏光ビームスプリッタと光ディスクとの間に１／４波長板を介在させた発明が記載され、
　甲第１０号証には、対物レンズと一体になった開口径可変手段の発明が記載され、
　甲第１１号証には、光ビームの周辺部のみが回折される回折格子を設けた発明が記載され、
　甲第１２号証には、回折格子の周期を調節することにより回折効率を調節する発明が記載され、
　甲第１３号証には、光源から出射された光が、回折素子により回折されて３分割され、更に別の回折格子により回折されて記録媒体に照射され、反射光は回折格子により回折されて受光素子に導かれるようにされた構成が記載されている。
　
４．対比・判断
　そこで本件発明と、甲１〜１３号証に記載された発明とを対比すると、甲各号証のいずれに記載された発明も、本件発明の構成を特定する事項である、厚さの異なる光ディスクに対応して光源と光収束手段との間の距離を設定する構成を有しておらず、この構成により、本件発明は基材厚の異なる光ディスクを１つの対物レンズで再生できるという顕著な効果を奏するものであり、本件発明が、甲第１〜１３号証に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものとすることはできない。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立の理由及び証拠によっては、本件請求項１乃至１７に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１４年９月６日（２００２．９．６）