【事件の表示】
　特願２０１６−　３９９２４「粉末試料の観察方法およびその作製方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年　９月　７日出願公開、特開２０１７−１５６２２６、請求項の数（２）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２８年３月２日の出願であって、令和元年５月１６日付けで拒絶理由が通知され、同年６月２７日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同年１１月１２日付けで拒絶査定されたところ、令和２年１月２７日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。
第２　原査定の概要
　原査定（令和元年１１月１２日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。
　本願の請求項１〜２に係る発明は、以下の引用文献２〜３に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　特に、本願の請求項１に係る発明は、以下の引用文献３に記載された発明、及び引用文献２に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
引用文献等一覧
２．特表２０１３−１４２６２４号公報
３．特開２０１４−６６５８６号公報
第３　本願発明
　本願の請求項１〜２に係る発明（以下それぞれ「本願発明１」〜「本願発明２」という。）は、令和２年１月２７日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１〜２に記載された事項により特定される発明であり、以下のとおりの発明である。
「　【請求項１】
　粉末を構成する粒子の断面を観察する方法において、
　試料載台に設けられた凹みに金属粉末のみを入れた上で、当該凹みからはみ出た金属粉末に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより表出した粒子の断面をＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する、粉末試料の観察方法。
　【請求項２】
　粉末を構成する粒子の断面をＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握するためのＳＥＭ観察用粉末試料を作製する方法において、
　試料載台に設けられた凹みに金属粉末のみを入れた上で、当該凹みからはみ出た金属粉末に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより粒子の断面を表出させる、ＳＥＭ観察用粉末試料の作製方法。」
第４　引用文献の記載事項、引用発明
１　引用文献３について
（１）原査定の拒絶の理由に引用された上記引用文献３には、次の事項が記載されている（下線は当審で付加した。以下同様。）。
（３−ア）
「【技術分野】
【０００１】 
本発明は、
オージェ電子分光分析法によって絶縁性粉末試料の元素分析を行う
方法
（３−イ）
「【０００７】
ところで、上述したオージェ電子分光分析法と各種の断面加工技術を併用することで、試料の
断面部分の
【０００８】
しかしながら、オージェ電子分光分析法は、電子線をプローブとして用いるため、試料が絶縁性の場合には帯電現象を起こすという問題がある。試料に照射された電子は、試料が導電物である場合には金属製の試料ホルダーを通して系外へ流れ出るが、試料が絶縁性である場合には試料表面に照射電子や電子線照射によって生じた２次電子が溜まり、試料表面がマイナスに帯電する。特に、絶縁性粉末試料における粉末断面を分析したい場合、従来法では試料を樹脂中に埋め込んでクロスセクションポリッシャーや研磨等を用いて断面加工を行った後に分析を行うが、このオージェ電子分光分析法では、試料が絶縁性であるだけでなく周囲の樹脂も絶縁性であるため、測定領域内の余分な電子が測定領域外に逃げず、帯電現象を抑制することが非常に困難となる。」
（３−ウ）
「【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
そこで、本発明は、このような実情に鑑みて提案されたものであり、絶縁性の粉末試料を分析対象としたオージェ電子分光分析に際して、帯電現象を抑制して正確な分析を可能にする分析試料調製方法及び分析方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本件発明者は、上述した課題を解決するために鋭意検討を重ねた結果、絶縁性粉末の周囲に導電助剤を存在させることによって、測定領域内の余分な電子を効率よく試料外に逃して帯電を解消できることを見出し、本発明を完成させるに至った。」
（３−エ）
「【００２４】
　＜１．オージェ電子分光分析法に用いる分析試料の調製方法＞　本実施の形態に係る分析試料調製方法は、オージェ電子分光分析法によって試料の元素分析を行うための分析試料の調製方法であって、絶縁性であり且つ粉末の試料（以下、「絶縁性粉末」という。）を分析対象とする試料の調製方法である。
【００２５】
　具体的に、この分析試料調製方法は、
分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との
混合物を金属製の粉末ホルダーに充填し、混合物に対して断面加工を行うことにより分析断面を形成する
（３−オ）
「【００３８】
　図２は、絶縁性粉末２０と導電助剤２１とを混合して得られた混合物２２を粉末ホルダー１０に充填させたときの状態を示す模式図である。なお、図２（Ａ）が混合物２２を粉末ホルダー１０に充填させた状態の斜視図であり、図２（Ｂ）が粉末充填部１１に充填された混合物２２を通過する垂直断面図である。
【００３９】
　（断面加工（分析断面の形成））
　上述のようにして粉末ホルダーに絶縁性粉末と導電助剤との混合物を充填すると、次に、その混合物に対して断面加工を施して、オージェ電子分光分析による電子線の照射面となる分析断面を形成し、分析試料とする。
【００４０】
　混合物に対して施す断面加工方法としては、特に限定されないが、
クロスセクションポリッシャーにより
【００４１】
　クロスセクションポリッシャー法（ＣＰ法）は、試料に遮蔽板を密着させて遮蔽板から出ている部分を
アルゴンイオンのスパッタリングで削ることによって断面を作成する方法である
【００４２】
　図３は、粉末ホルダー１０に充填させた絶縁性粉末２０と導電助剤２１との混合物２２を断面加工して得られた分析試料３０の模式図である。なお、図３（Ａ）が分析試料３０の斜視図であり、図３（Ｂ）が断面加工した混合物２２を通過する垂直断面図である。」
（３−カ）
「【００４６】
　＜２．オージェ電子分光分析法による分析方法＞
　次に、
オージェ電子分光分析法による分析方法
分析断面を形成して得られた分析試料を用いて元素分析を行う。
（３−キ）
図２
（３−ク）
図３
（２）上記（３−ア）〜（３−ク）の記載を踏まえれば、上記引用文献３には、以下の発明（以下「引用発明３」という。）が記載されていると認められる。なお、参考のため、引用発明３の認定に使用した引用文献３の段落番号等を、付記してある。
「ａ）オージェ電子分光分析法によって絶縁性粉末試料の断面部分の元素分析を行う方法であって、【０００１】【０００７】
ｂ）分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物を金属製の粉末ホルダーに充填し、混合物に対してアルゴンイオンのスパッタリングで削ることによって断面を作成する方法であるクロスセクションポリッシャーにより断面加工を行うことにより分析断面を形成する、【００２５】【００４０】【００４１】
ｃ）上記方法。」
２　引用文献２について
（１）原査定の拒絶の理由に引用された上記引用文献２には、次の事項が記載されている。
（２−ア）
「【技術分野】
【０００１】 
本発明は、試料作製方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、環境問題、エネルギー問題等の理由で、電気自動車が注目されている。この電気自動車のバッテリーとしてリチウムイオン電池の開発が進められている。リチウム（Ｌｉ）、マンガン（Ｍｎ）、コバルト（Ｃｏ）、ニッケル（Ｎｉ）等を含むリチウムイオン電池粉体材料の断面の観察や元素分析は、リチウムイオン電池の開発を進めるうえで、重要である。リチウムイオン電池粉体材料の分析手法として、オージェ電子分光法（Ａｕｇｅｒ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ）は、リチウムのような軽い元素も分析できるため有効である。また、ＳＥＭ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）観察は、粉体の形状の観察に有効である。」
（２−イ）
「【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した粉体を樹脂等に固定して断面加工を行う方法を用いて、リチウム粉体を含む試料の試料作製を行った場合、固定用の樹脂にリチウムが吸収されたり、拡散してしまったりする場合があった。そのため、この方法を用いて断面加工された試料の観察や元素分析を行っても、存在するはずのリチウムが観察されなかったり、検出されなかったりする場合があった。さらに、試料が樹脂に固定されているため、分析や観察を行う際に照射される電子線等によって、試料が帯電（チャージアップ）してしまう場合があった。
【０００６】
このように、リチウム粉体を含む試料では、観察や元素分析に適した断面を作製することが困難であった。
【０００７】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、
リチウム粉体を含む試料に対して、観察
に適した断面を作製する
試料作製方法
（２−ウ）
「【０００９】
このような試料作製方法によれば、コロイド粒子を含む固定剤を用いることにより、当該固定剤が、試料が充填された窪み内に、浸透することを抑制することができる。そして、イオンビームによって、固定剤に触れた試料を除去して、固定剤の影響の少ない試料（例えば、固定剤に触れていない試料）の断面を得ることができる。したがって、試料に対する固定剤の影響を低減することができ、観察や元素分析に適した
リチウム粉体の断面
（２−エ）
「【００２３】
　次に、図２に示すように、
リチウム粉体を含む試料Ｓを基体１０に設けられた窪み１２に充填する
試料Ｓに含まれるリチウム粉体
【００２４】
　次に、図３に示すように、
窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように
固定剤を塗布する
【００２５】
　図４は、固定剤２０ａを塗布する工程を説明するための図である。なお、図４は、基体１０の窪み１２を模式的に示す断面図である。ここでは、固定剤２０ａとしてコロイダルグラファイトを用いた場合について説明する。本工程は、具体的には、まず、固定剤２０ａ（コロイダルグラファイト）を、窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように塗布する。図示の例では、固定剤２０ａは、
充填された試料Ｓ上および基体１０の側面１１上
次に、固定剤２０ａの溶媒（水またはアルコール）を蒸発させる。これにより、
窪み１２に充填された試料Ｓを覆う蓋２０を形成する
【００２６】
　ここで、固定剤２０ａはコロイド粒子（グラファイト）を含む。そのため、図４に示すように、固定剤２０ａを試料Ｓ上に塗布すると、コロイド粒子が繋がって、窪み１２の開口付近に層（グラファイトの層）が形成される。そのため、固定剤２０ａ（水またはアルコール等の溶媒を含む）が試料Ｓの粒子間を浸透しづらくなる。したがって、試料Ｓが充填された窪み１２内に、固定剤２０ａが浸透することを抑制できる。これにより、窪み１２に充填された試料Ｓのうち、窪み１２の開口付近の試料Ｓに固定剤２０ａが触れたとしても、その他の領域にある試料Ｓに固定剤２０ａが触れることを抑制することができる。図示の例では、
固定剤２０ａは、充填された試料Ｓの表面から１〜２層程度、浸透し
（２−オ）
「【００２７】
　次に、図５に示すように、
窪み１２に充填された試料ＳにイオンビームＢを照射して、リチウム粉体の断面を形成する
（２−カ）
「【００２９】
　本工程では、
窪み１２の開口付近の試料Ｓが削れてなくなるように、イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削る
蓋２０の一部が窪み１２上に残るように
【００３０】
　図６および図７は、イオンビームＢを照射した後の基体１０および試料Ｓの状態を示す図である。なお、図７は、図２に対応している。
【００３１】
　図６および図７に示すように、イオンビームＢにより基体１０の一部、蓋２０の一部、および試料Ｓの一部が削れて、窪み１２に充填された試料Ｓが露出している。そして、図７に示すように、試料Ｓを構成するリチウム粉体の一部には、断面が形成される。本工程において、窪み１２の開口付近の試料ＳをイオンビームＢで削って除去することにより、固定剤２０ａに触れた試料Ｓを除去して、固定剤２０ａの影響の少ない試料Ｓ（例えば、固定剤に触れていない試料）の断面を得ることができる。また、本工程において、図６に示すように、
蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくくする
窪み１２の内面１３，１４には、蓋２０の一部が残
試料Ｓを窪み１２から落ちにくくすること
（２−キ）
「【００３５】
　本実施形態によれば、基体１０の材質は、ベリリウム、ホウ素、炭素の少なくとも１つである。ベリリウム、ホウ素、炭素は、リチウムのオージェピークが検出されるエネルギー帯（３０〜５５ｅＶ）付近にオージェピークを有さない。したがって、本実施形態に係る試料作製方法で作製したリチウム粉体の断面をオージェ電子分光法で分析した場合に、基体１０の成分が検出されたとしてもリチウムのオージェピークと重ならず、その影響が少ない。そのため、オージェ電子分光法において、精度が高く、解釈の容易な測定が可能となる。
【００３６】
　さらに、ベリリウム、ホウ素、炭素は、高い電気伝導度を有するため、オージェ電子分光法での測定時や
ＳＥＭ観察
（２−ク）
図４
（２−ケ）
図５
（２−コ）
図６
（２−サ）
図７
（２）上記（２−ア）〜（２−サ）の記載を踏まえれば、上記引用文献２には、以下の発明（以下「引用発明２」という。）が記載されていると認められる。なお、参考のため、引用発明２の認定に使用した引用文献２の段落番号等を、付記してある。
「ａ）リチウム粉体を含む試料に対して、リチウム粉体の断面を作製し観察する方法であって、【０００７】【０００９】
ｂ）基体１０に設けられた窪み１２に、リチウム粉体を含む試料Ｓを充填し、【００２３】
ｃ）窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように、充填された試料Ｓ上および基体１０の側面１１上に固定剤を塗布し、固定剤を、充填された試料Ｓの表面から１〜２層程度、浸透させ、次に、固定剤の溶媒（水またはアルコール）を蒸発させることにより窪み１２に充填された試料Ｓを覆う蓋２０を形成し、【００２４】【００２５】【００２６】
ｄ）窪み１２に充填された試料ＳにイオンビームＢを照射して、窪み１２の開口付近の試料Ｓが削れてなくなるように、イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削り、蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、または、窪み１２の内面１３，１４に、蓋２０の一部が残ることにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくくし、リチウム粉体の断面を形成し、【００２７】【００２９】【００３１】
ｅ）ＳＥＭ観察する【００３６】
ｆ）上記方法。」
第５　対比・判断
１　本願発明１について
（１）本願発明１と引用発明３とを対比する。
ア　試料の分析方法について１
（ア）引用発明３の「ａ）」「絶縁性粉末試料」が多数の粒子から構成されることは自明である。
　また、引用発明３の「ａ）オージェ電子分光分析法によって絶縁性粉末試料の断面部分の元素分析を行う方法」は、「ｂ）」「形成」した「分析断面を」「元素分析」をとおして観察しているといえる。
（イ）そうすると、引用発明３の「ａ）オージェ電子分光分析法によって絶縁性粉末試料の断面部分の元素分析を行う方法」と、
　本願発明１の「粉末を構成する粒子の断面を観察する方法」とは、
　「粉末を構成する粒子の断面を観察する方法」で一致する。
イ　試料を凹部に入れる工程につて
（ア）引用発明３の「ｂ）」「金属製の粉末ホルダー」は、「分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物を」「充填」するものであるから、本願発明１の「凹み」が「設けられた」「試料載台」に相当する。
（イ）また、引用発明３の「ｂ）分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物」と、本願発明１の「金属粉末のみ」とは、「断面を作成する試料」で共通する。
（ウ）そうすると、引用発明３の「ｂ）分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物を金属製の粉末ホルダーに充填」することと、
　本願発明１の「試料載台に設けられた凹みに金属粉末のみを入れ」ることとは、
　「試料載台に設けられた凹みに断面を作成する試料を入れ」る点で共通する。
　
ウ　試料の断面を加工する工程につて
（ア）引用文献３の断面作成前の図２、断面作成後の図３から、断面作成前の金属製の粉末ホルダーの縁と作成後の試料の断面が同一平面上にあることが見てとれる。
　そうすると、引用発明３の「ｂ）分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物を金属製の粉末ホルダーに充填し、混合物に対してアルゴンイオンのスパッタリングで削ることによって断面を作成する方法であるクロスセクションポリッシャーにより断面加工を行うことにより」「形成」する「分析断面」は、「金属製の粉末ホルダー」に対して「分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物」を、擦り切り一杯の状態になるように「金属製の粉末ホルダー」からはみ出した部分を削っているといえる。
（イ）そうすると、上記イを踏まえれば、引用発明３の「ｂ）」「混合物に対してアルゴンイオンのスパッタリングで削ることによって断面を作成する方法であるクロスセクションポリッシャーにより断面加工を行うことにより」「形成」する「分析断面」と、
　本願発明１の「当該凹みからはみ出た金属粉末に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより表出した粒子の断面」とは、
　「当該凹みからはみ出た断面を作成する試料に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより表出した粒子の断面」で共通する。
　
エ　試料の分析方法について２
（ア）上記アを踏まえれば、引用発明３の「ｃ）上記方法。」と、
　本願発明１の「表出した粒子の断面をＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する、粉末試料の観察方法」とは、
　「表出した粒子の断面を観察する方法」で共通する。
（２）よって、本願発明１と引用発明３とは、
「粉末を構成する粒子の断面を観察する方法において、
　試料載台に設けられた凹みに断面を作成する試料を入れた上で、当該凹みからはみ出た断面を作成する試料に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより表出した粒子の断面を観察する方法」
の発明である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点）
　粉末を構成する粒子の断面の観察が、本願発明１では、「金属粉末のみ」を「ＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する」「観察」であるのに対して、引用発明３では、「絶縁性粉末と導電助剤との混合物」を「オージェ電子分光分析法に」より「元素分析」をとおしての「観察」である点。
（３）相違点についての判断
ア　相違点について検討する。
　引用文献２には、「窪み１２に充填されたリチウム単体の粉体を含む試料ＳにイオンビームＢを照射して、リチウム粉体の断面を形成」し「ＳＥＭ観察する」ことが記載されている。　
　しかし、引用発明３は、絶縁性の粉末試料の断面部分を分析対象としたオージェ電子分光分析に際して、帯電現象を抑制して正確な分析を可能にすることを課題とし、絶縁性粉末の周囲に導電助剤を存在させることによって、測定領域内の余分な電子を効率よく試料外に逃して帯電を解消するものである。
　そうすると、引用発明の絶縁性の粉末試料を「オージェ電子分光分析法に」よる「元素分析」をとおして「観察」することから、帯電現象を抑制する必要がなく上記課題が存在しない「金属粉末のみ」を「ＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する」「観察」とすることには、動機付けがあるとはいえない。
イ　したがって、引用発明３及び引用文献２の記載事項から、当業者であっても上記相違点に係る本願発明１の発明特定事項を容易に想起し得たとはいえない。
ウ　したがって、本願発明１は、当業者であっても引用発明３及び引用文献２の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
　
（４）本願発明１と引用発明２とを対比する。
ア　試料の分析方法について１
（ア）引用発明２の「ａ）リチウム粉体」、「リチウム粉体を含む試料」は、共に本願発明１の「粉末」に相当する。
　そして、引用発明２の「ａ）」「リチウム粉体の断面」は、粉体が多数の粒子からなることは自明であるから、補正発明１の「粉末を構成する粒子の断面」に相当する。
（イ）したがって、引用発明２の「ａ）リチウム粉体を含む試料に対して、リチウム粉体の断面を作製し観察する方法」は、本願発明１の「粉末を構成する粒子の断面を観察する方法」に相当する。
イ　試料を凹部に入れる工程につて
（ア）引用発明２の「ｂ）基体１０」及び「基体１０に設けられた窪み１２」は、それぞれ、本願発明１の「試料載台」及び「試料載台に設けられた凹み」に相当する。
（イ）また、リチウムは原子番号３のアルカリ金属元素の一種であるから、金属といえるので、引用発明２の「ｂ）」「リチウム粉体を含む試料Ｓ」は、金属単体の粉体を含む試料Ｓといえる。
　さらに、引用発明２は、「ｂ）基体１０に設けられた窪み１２に、リチウム粉体を含む試料Ｓを充填し」ているものであるから、「窪み１２」には、「リチウム粉体を含む試料Ｓ」をいれているといえる。
（ウ）そうすると、引用発明２の「ｂ）」「リチウム粉体を含む試料Ｓ」と、本願発明１の「金属粉末のみ」とは、「試料」で共通する。
（エ）以上より、引用発明２の「（ｂ）基体１０に設けられた窪み１２に、リチウム粉体を含む試料Ｓを充填し」、「ｃ）窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように、充填された試料Ｓ上および基体１０の側面１１上に固定剤を塗布し、固定剤を、充填された試料Ｓの表面から１〜２層程度、浸透させ、次に、固定剤の溶媒（水またはアルコール）を蒸発させることにより窪み１２に充填された試料Ｓを覆う蓋２０を形成」することと、
　本願発明１の「試料載台に設けられた凹みに金属粉末のみを入れ」ることとは、
　「試料載台に設けられた凹みに試料を入れ」る点で共通する。
　
ウ　試料の断面を加工する工程につて
（ア）引用発明２の「ｄ）」「リチウム粉体の断面」は、「窪み１２に充填された試料ＳにイオンビームＢを照射して、窪み１２の開口付近の試料Ｓが削れてなくなるように、イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削り、蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、または、窪み１２の内面１３，１４に、蓋２０の一部が残ることにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくくし、」「形成」するものであり、その「基体１０」も表面付近が削られた後の断面である。
　そして、「ｂ）」「リチウム粉体を含む試料Ｓ」の断面に粉体粒子の断面が表出することは自明である。
（イ）そうすると、引用発明２の「ｄ）窪み１２に充填された試料ＳにイオンビームＢを照射して、窪み１２の開口付近の試料Ｓが削れてなくなるように、イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削り、蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、または、窪み１２の内面１３，１４に、蓋２０の一部が残ることにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくくし、」「形成」する「リチウム粉体の断面」と、
　本願発明１の「当該凹みからはみ出た金属粉末に対してイオンビームにて擦り切り加工を行うことにより表出した粒子の断面」とは、
　「当該凹みに充填した試料に対してイオンビームにて断面加工を行うことにより表出した粒子の断面」で共通する。
　
エ　試料の分析方法について２
（ア）引用発明２の「ｄ）」「形成し」た「リチウム粉体の断面」を「ｅ）ＳＥＭ観察する」ことと、
　本願発明１の「粒子の断面をＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する」こととは、「粒子の断面をＳＥＭ観察」する点で共通する。
（５）よって、本願発明１と引用発明２とは、
「粉末を構成する粒子の断面を観察する方法において、
　試料載台に設けられた凹みに試料を入れた上で、当該凹みに充填した試料に対してイオンビームにて断面加工を行うことにより表出した粒子の断面をＳＥＭ観察する、粉末試料の観察方法。」
の発明である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点１）
　本願発明１では、「凹みに金属粉末のみを入れ」るのに対して、引用発明２では、「窪み１２に、リチウム粉体を含む試料Ｓを充填し、窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように、充填された試料Ｓ上および基体１０の側面１１上に固定剤を塗布し、固定剤を、充填された試料Ｓの表面から１〜２層程度、浸透させ、次に、固定剤の溶媒（水またはアルコール）を蒸発させることにより窪み１２に充填された試料Ｓを覆う蓋２０を形成」する点。
（相違点２）
　断面加工について、本願発明１では、「凹みからはみ出た金属粉末に対して」「擦り切り加工を行う」のに対して、引用発明２では、「イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削り、蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、または、窪み１２の内面１３，１４に、蓋２０の一部が残ることにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくく」する点。
（相違点３）
　粒子の断面をＳＥＭ観察することについて、本願発明１では、「粒子同士の凝集具合を把握する」のに対して、引用発明２では、観察内容を特定していない点。
（６）相違点についての判断
ア　相違点１について検討する。
　引用文献３には、「分析対象となる絶縁性粉末と導電助剤との混合物を金属製の粉末ホルダーに充填」することは記載されているが、「凹みに金属粉末のみを入れ」ることは記載されていない。
　仮に、「凹みに金属粉末のみを入れ」ることが記載された引用文献があるとしても、引用発明２は、「窪み１２に、リチウム粉体を含む試料Ｓを充填し」、その次に「窪み１２に充填された試料Ｓを覆うように、充填された試料Ｓ上および基体１０の側面１１上に固定剤を塗布し、固定剤を、充填された試料Ｓの表面から１〜２層程度、浸透させ、次に、固定剤の溶媒（水またはアルコール）を蒸発させることにより窪み１２に充填された試料Ｓを覆う蓋２０を形成し」、「イオンビームＢで基体１０、蓋２０、および試料Ｓを削り、蓋２０の一部を窪み１２上に残すことにより、または、窪み１２の内面１３，１４に、蓋２０の一部が残ることにより、試料Ｓを窪み１２から落ちにくく」するという効果を期待するものであるから、窪みに入れる対象として、試料である「金属粉末のみ」とすると、窪みに入った金属粉末を覆う蓋が形成されず、蓋の一部が残ることによる、試料を窪みから落ちにくくするという効果が期待できなくなるので、窪みに入れる対象として、試料である「金属粉末のみ」とすることには、阻害要因がある。
　
イ　してみると、引用発明２及び引用文献３の記載事項から、当業者であっても上記相違点１に係る本願発明１の発明特定事項を容易に想起し得たとはいえない。
ウ　したがって、本願発明１は、相違点２、３を検討するまでもなく、当業者であっても引用発明２及び引用文献３の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
（７）小括
　以上より、本願発明１は、当業者であっても引用発明２及び引用文献３の記載事項に基づいて、または引用発明３及び引用文献２の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
２　本願発明２について
　本願発明２は、本願発明１の粉末試料の作製方法を特定した粉末試料の観察方法の発明を、粉末試料の観察方法を特定した粉末試料の作製方法の発明に組み換えて構成した発明であるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明２及び引用文献３の記載事項に基づいて、または引用発明３及び引用文献２の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
第６　原査定について
　審判請求時の補正により、本願発明１〜２は「凹みに金属粉末のみを入れた上で、」「ＳＥＭ観察し、粒子同士の凝集具合を把握する」という特定事項を有するものとなっており、当業者であっても、原査定において引用された引用文献２〜３に基づいて、容易に発明できたものとはいえない。
　したがって、原査定の理由を維持することはできない
第７　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。