【事件の表示】
　特願２０１７−　１８７０６「表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年　８月２４日出願公開、特開２０１７−１４６３０２、請求項の数（６）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２９年２月３日（優先権主張　平成２８年２月１２日）の出願であって、令和元年６月７日付けで拒絶理由が通知され、同年８月１日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同月２９日付けで拒絶査定（以下「原査定」という。）されたところ、同年１０月３０日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。
第２　原査定の概要
　原査定の概要は、補正前の本願請求項１−５、７に係る発明は、以下の引用文献１−３に基づいて、補正前の本願請求項６及び８に係る発明は、以下の引用文献１-４に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというものである。
引用文献等一覧
１．特開２０１５−０６４３０１号公報
２．国際公開第２０１２／００５３３７号
３．特許第２９６２１２５号公報
４．特開平１１−２４２００５号公報
第３　審判請求時の補正について
１　審判請求時の補正
　審判請求時の補正によって、請求項１に「表面欠陥検査装置」が、「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置」「を備え」、「前記撮像装置は、前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されており」、「前記補助照明装置によって前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を、所定の撮像周期で連続的に撮像し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項が追加され、請求項６に、「撮像装置」を「前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置」し、「前記撮像ステップは、前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置によって、前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を撮像し、前記画像処理ステップは、前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項が追加された。
２　特許法第１７条の２第３項について
　審判請求時の補正によって追加された事項は、当初明細書の請求項６、段落【００６０】及び【００６１】に記載されているから、当初明細書等に記載された事項であり、新たな技術的事項を導入するものでないといえる。
３　特許法第１７条の２第４項について
　上記請求項１に係る発明に対する補正は、請求項１に係る発明の「表面欠陥検査装置」に必要な事項を追加するものであり、上記請求項６に係る発明に対する補正は、請求項６に係る発明の「表面欠陥検査方法」に必要な事項を追加する補正であるから、これらの補正により特別な技術的特徴が変更されたとはいえない。
４　特許法第１７条の２第５項について
　「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置」「を備え」、「前記撮像装置は、前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されており」、「前記補助照明装置によって前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を、所定の撮像周期で連続的に撮像し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項を追加する補正は、請求項１に係る発明の「表面欠陥検査装置」を限定する補正である。
　また、「撮像装置」を「前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置」し、「前記撮像ステップは、前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置によって、前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を撮像し、前記画像処理ステップは、前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項を追加する補正当は、請求項６に係る発明の「表面欠陥検査方法」を限定する補正である。
　すると、いずれも、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
５　特許法第１７条の２第６項について
　「第４　本願発明」から「第６　対比・判断」までに示すように、補正後の請求項１〜６に係る発明は、独立特許要件を満たすものである。
６　小括
　したがって、上記補正は、特許法第１７条の２第３項から第６項に規定される要件を満たすものである。
第４　本願発明
　本願請求項１〜６に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」〜「本願発明６」という。）は、令和元年１０月３０日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１〜６に記載された事項により特定される発明であり、以下のとおりの発明である。（下線は補正部分を示す。）
「　　【請求項１】
　円筒状または円柱状の被検査体を撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置によって撮像された複数の画像の輝度変化に基づいて前記被検査体の表面欠陥を検出する画像処理装置と、
　を備える表面欠陥検査装置において、
　製造ライン上に設けられ、前記被検査体を所定の傾斜に沿って転動させながら搬送する搬送装置と、
　前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され、前記被検査体を照明する間接照明装置と、
　
前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置と、
　を備え、
　前記撮像装置は、
　
前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されており、
　前記搬送装置によって搬送されており
、前
おり、かつ前記補助照明装置によって前記撮像装置とは反対側から照明されて
し、
　
前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている
　　【請求項２】
　前記間接照明装置は、
　凹面側が光の反射面となる半円筒状の反射材と、
　前記反射材の反射面側に配置された光源と、
　を備え、
　前記光源からの光を前記反射材の反射面で反射することにより、前記搬送装置によって搬送されている前記被検査体を照明することを特徴とする請求項１に記載の表面欠陥検査装置。
　　【請求項３】
　前記反射材は、その軸方向が前記被検査体の軸方向と平行になるように配置され、
　前記反射材においてその軸方向と直交する方向の幅は、前記被検査体の周長よりも大きいことを特徴とする請求項２に記載の表面欠陥検査装置。
　　【請求項４】
　前記光源は、前記反射材の軸方向に線状に設けられていることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の表面欠陥検査装置。
　　【請求項５】
　前記撮像装置は、前記反射材の軸方向および幅方向の中心に配置されたエリアセンサカメラであることを特徴とする請求項２から請求項４のいずれか一項に記載の表面欠陥検査装置。
　　【請求項６】
　円筒状または円柱状の被検査体を、
前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置された
　前記撮像ステップにおいて撮像された複数の画像の輝度変化に基づいて前記被検査体の表面欠陥を検出する画像処理ステップと、
　を含む表面欠陥検査方法において、
　前記撮像ステップは、製造ライン上に設けられた搬送装置によって、所定の傾斜に沿って転動しながら搬送され、かつ間接照明装置によって照明されている前記被検査体を撮像
し、
　
前記撮像ステップは、前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置によって、前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を撮像し、
　
前記画像処理ステップは、前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出し、
　
前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている
第５　引用文献、引用発明等
１　引用文献１について
（１）引用文献１に記載された事項
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている。（下線は当審にて付した。以下同様である。）
（引１ａ）「【００２６】
　図１は、この発明の実施の形態にかかる表面欠陥検査装置の構成を示す模式図である。図１に示すように、この
表面欠陥検査装置１は、
円筒体の鋼管２を検査対象とし
鋼管２の軸に垂直な方向に滑らずに転動させつつ鋼管２を搬送する斜面が形成された斜路１０と、斜路１０の撮像領域Ｅ上の鋼管２に光を照射する線状光源１１，１２と、撮像領域Ｅ上の鋼管２を連続撮像する撮像部１３と、鋼管２が撮像領域Ｅに進入したか否かを検出する進入検出部としての近接センサＳ１と、鋼管２が撮像領域Ｅに進入した後、鋼管２の進入から退出までの間、撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御する撮像制御部１４と、撮像制御部１４が撮像した連続画像をもとに鋼管２の表面欠陥を検出する画像処理を行う画像処理部１５と、画像処理部１５による検査結果を表示出力する表示部１６とを有する
【００２７】
　斜路１０の表面は、撮像画像上において鋼管２との識別を容易にするため、鋼管２の表面と色調が異なり、かつ反射を抑えた材質が好ましい。例えば、艶消しの白色、または黒色に塗装し、あるいは黒いゴム板で覆うことが好ましい。
【００２８】
　図２は、表面欠陥検査装置の平面図である。図１及び図２に示すように、一対の線状光源１１，１２は、斜路１０の上方に設けられ、斜路１０上を転動する鋼管２に光を照射する。特に、線状光源１１，１２は、斜路１０上の撮像領域Ｅに均一な光を照射する。線状光源１１，１２は、蛍光灯やライトガイド、あるいは配列されたＬＥＤ素子によって実現される。
【００２９】
　また、撮像部１３は、斜路１０の上方で、線状光源１１，１２間に設けられ、一対の線状光源１１，１２によって照射された撮像領域Ｅを転動する鋼管２の表面の画像を連続撮像する。
撮像部１３は、
鋼管２の軸方向に沿って４つの撮像部１３−１〜１３−４が配列され
（引１ｂ）「【００３６】
　図４は、撮像制御部１４の制御のもとに撮像部１３が撮像した撮像画像の一例を示す図である。図４に示すように、
撮像部１３は、撮像領域Ｅ内で、鋼管２が所定幅Ｗ´分、移動する毎に撮像し、ｎ個
の撮像画像Ｉ１〜Ｉｎを取得する。
【００３７】
　
画像処理部１５は、
画像内の輝度変化部分を欠陥部２１として抽出する。
（引１ｃ）「【００４０】
　この実施の形態では、
鋼管２の製造ライン上に
表面欠陥検査装置１を設け
（引１ｄ）図１「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（２）引用文献１に記載された発明
ア　上記（引１ｄ）より、「線状光源１１，１２」は、「撮像部１３」と同じ側から、「鋼管２」に光を直接照明する点が見て取れる。
イ　上記アを踏まえると、上記（引1ａ）〜（引１ｄ）より、引用文献１には、以下の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
「円筒体の鋼管２を検査対象とする表面欠陥検査装置１は、
　鋼管２の軸に垂直な方向に滑らずに転動させつつ鋼管２を搬送する斜面が形成された斜路１０と、
　斜路１０の撮像領域Ｅ上の鋼管２に撮像部１３と同じ側から光を直接照射する線状光源１１，１２と、
　撮像領域Ｅ上の鋼管２を連続撮像する撮像部１３と、
　鋼管２が撮像領域Ｅに進入したか否かを検出する進入検出部としての近接センサＳ１と、
　鋼管２が撮像領域Ｅに進入した後、鋼管２の進入から退出までの間、撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御する撮像制御部１４と、
　撮像制御部１４が撮像した連続画像をもとに鋼管２の表面欠陥を検出する画像処理を行う画像処理部１５と、
　画像処理部１５による検査結果を表示出力する表示部１６とを有し、
　撮像部１３は、
　鋼管２の軸方向に沿って４つの撮像部１３−１〜１３−４が配列され、
　撮像領域Ｅ内で、鋼管２が所定幅Ｗ´分、移動する毎に撮像し、ｎ個の撮像画像Ｉ１〜Ｉｎを取得し、
　画像処理部１５は、画像内の輝度変化部分を欠陥部２１として抽出する、
　鋼管２の製造ライン上に設けられた
表面欠陥検査装置１。」
２　引用文献２について
（１）引用文献２に記載された事項について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献２には、図面とともに次の事項が記載されている。
（引２ａ）「［００２５］　このような
間接照明装置１を用いた物品検査システムでは、カメラＣが筺体２の外側に設置され、筺体２の中心位置近傍に配置された物品Ｍを撮像して検査することができる。すなわち、照明灯３を点灯すると、照明灯３の直接光の一部は、反射面２ａによって反射され、その反射された光（間接光）は物品Ｍにいろいろな方向から照射される。
（引２ｂ）「［００３１］　次に、本発明の第２の実施形態に係る間接照明装置１’を説明する。この
間接照明装置１’は、
筺体２’と、筐体２’の下部内方に設けられた照明灯３’と、を備え
筺体２’は、内方側に、照明灯３’の直接光を筺体２’の中心位置近傍に反射する反射面２ａ’を有し
筺体２’の中心位置近傍に物品Ｍが配置されると、反射面２ａ’により反射されてきた間接光が物品Ｍに照射され
［００３２］　
筺体２’は、外観形状が略半円筒状をなし
［００３３］　照明灯３’は、筺体２’の下部内方に、直線状のものが略半円筒状の筺体２’の軸線（長尺方向に延びる中心線）に対して対称に配設されている。そして、この照明灯３’も、先の実施形態の照明灯３と同様に、ＬＥＤで構成するのが最適であり、また、２列以上に隣接したＬＥＤを直線状のものとして配置することも可能である。
［００３４］　また、図において、符号４’はＬＥＤを実装する配線基板、符号５’は配線基板４’を固定するための台座であり、符号６’は筺体２’の中心位置近傍に配置され検査される物品Ｍに照明灯３’の直接光が当たるのを阻む遮蔽板である。
［００３５］　この
間接照明装置１’は、間接照明装置１を用いた前述の物品検査システムと同様な物品検査システムを構成することができ
（引２ｃ）「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（２）引用文献２に記載された技術事項
ア　上記（引２ｃ）より、「間接照明装置１’」は、「カメラＣ」と「物品Ｍ」との間にある点が見て取れる。
イ　上記（引２ｂ）より、引用文献２の「間接照明装置１’は、間接照明装置１を用いた前述の物品検査システムと同様な物品検査システムを構成することができ」るから、上記（引２ａ）の「照明灯３を点灯」し、「照明灯３の直接光の一部」を、「反射面２ａによって反射」し、「その反射された光（間接光）」を「物品Ｍにいろいろな方向から照射」することにより「カメラＣが筺体２の外側に設置され、筺体２の中心位置近傍に配置された物品Ｍを撮像して検査する」「間接照明装置１を用いた物品検査システム」は、「間接照明装置１’」を用いた場合は、「照明灯３’を点灯し、照明灯３’の直接光の一部を、反射面２ａ’によって反射し、その反射された光（間接光）を、物品Ｍにいろいろな方向から照射することによりカメラＣが筺体２’の外側に設置され、筺体２’の中心位置近傍に配置された物品Ｍを撮像して検査する間接照明装置１’を用いた物品検査システム」となる。
ウ　上記ア及びイを踏まえると、上記（引２ａ）〜（引２ｃ）より、引用文献２には、以下の技術事項（以下「技術事項２」という。）が記載されている。
「外観形状が略半円筒状の筺体２’と、筐体２’の下部内方に設けられた照明灯３’と、を備え、
　筺体２’は、内方側に、照明灯３’の直接光を筺体２’の中心位置近傍に反射する反射面２ａ’ を有し、
　筺体２’の中心位置近傍に物品Ｍが配置されると、反射面２ａ’により反射されてきた間接光が物品Ｍに照射され、
　照明灯３’を点灯し、照明灯３’の直接光の一部を、反射面２ａ’によって反射し、その反射された光（間接光）を、物品Ｍにいろいろな方向から照射することによりカメラＣが筺体２’の外側に設置され、筺体２’の中心位置近傍に配置された物品Ｍを撮像して検査するカメラＣと物品Ｍとの間に配置された間接照明装置１’を用いた物品検査システム。」
３　引用文献３について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献３には、図面とともに次の事項が記載されている。
（引３ａ）「【０００９】集光ライト８は、図２にも示すように、
ランプハウス８ａに取り付けられたハロゲンランプや蛍光灯などからなる光源８ｂと、該光源８ｂの後方に設けられた円弧状鏡面８ｃとを有し、光源８ｂから発する光が鏡面８ｃにより反射されて、鋼管１の側縁部１ｂを集中的に照明する
【００１０】また、光源８ｂは、鋼管１の軸心Ｏに沿って長く延びているから、鋼管１の側縁部１ｂを広範囲にわたって照明することができ、図３に示すように、テレビ受像機５に映しだされた鋼管１の側縁部１ｂの全体をほぼ均等に明るく照らすことができる。
【００１１】上記構成において、
鋼管１の表面の傷痕６などの有無を検査する場合には、回転ローラ２を回転駆動することにより鋼管１をその軸心Ｏを中心に回転させ、該鋼管１を照明装置３及び集光ライト８で照明する
照明装置３は上方から鋼管１を少なくとも径方向において全体的に照明し、集光ライト８は光源８ｂのハロゲンランプから発する光を鏡面により反射させて集中的に照射することにより、鋼管１の側縁部１ｂを斜め上方から照明する
【００１２】この場合、集光ライト８で鋼管１の側縁部１ｂを集中的に照明しており、テレビ受像機５に映し出された鋼管１の頂部１ａ及び側縁部１ｂの輝度をほぼ均等にして、その頂部１ａのハレーション及び側縁部１ｂの暗色を消すことができるから、画像処理装置による画像処理時間を大幅に短縮して、鋼管１の表面の傷痕６などの有無を能率的に検査することができる。」
４　引用文献４について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献４には、図面とともに次の事項が記載されている。
（引４ａ）「【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態では、被検査物品搬送ライン上の被検査物品の上部にストロボ照明光を照射してカメラで撮影した映像を画像処理システムで処理し、異物混入、付着を検出して不良品或いは欠陥品の識別が流れ作業ででき、しかも
光源からの照明光を被写体の被検査物品に上下両方から当てて陰影や光斑が発生することなく、被検査物品間の隙間も光を受けて異物検査が最適な映像となり、高い精度で安定した信頼性ある検査を確保し、また物品面ばかりでなく周囲の異物をも容易に検出し、検査項目の拡大化と、被検査物品の多様化にも容易に対応する検査ができ
【０００６】
【実施例】本発明の実施例を図１乃至図３の例で説明すると、
ストロボなどの光源１と、ドーム状反射板２とからなる照明機構３と、画像処理システム５に接続されるカメラ４、例えばビデオカメラ或いはＣＣＤカメラとからなり、前記照明機構の光源１からの照明光の照射により被検査物品Ａの映像をカメラ４で取って画像処理する物品外観検査装置
前記透光性搬送ベルト９の下方より透光性搬送ベルト９を介して被検査物品Ａに照明光を照射する下部照明機構１０とを設け
【０００７】
前記上部照明機構３としては、頂面中央で前記カメラ４のレンズ４１  に対向部位に５０％透光性のハーフミラー７を備えてもよく、集光性を良好として光斑がなく被検査物品Ａの被写体全体が暗くならないで均等に光が当るように考慮してあり
　また、前記光源１としては、ストロボ照明を用いてあるが、蛍光燈、ハロゲン灯などを用いてもよく、いずれにしても
被写体に当る直接光は光量全体の約４０％以下とし透過光を含む間接光を主として図２に示すように被検査物品Ａの上部に均等に当るように反射面を配慮し
【０００８】なお、前記透光性搬送ベルト９は、透光率３０〜６０％好ましくは４５〜６０％の透光性搬送ベルトであって、無端状に動輪１３に架装されて走行するものを用いて流れ作業の搬送行程中に検査ができるようにしてあり、供給部１４から搬入される被検出物Ａを連続的に検査し、搬出受部１５に搬送されると共に、異物などは除去回収される。また、
前記上下照明機構３，１０が調光可能の光源１，１１を備えたものであって、上部照明機構３と、下部照明機構１０との照明輝度を５０〜７０：１００好ましくは６０：７０／１００とし、錠剤や粒状物体中の異物検査に対して最適状態とするのがよい
【０００９】さらに、前記上部照明機構３は、リング状蛍光管の光源を備え、面発光照明光源１１からなる下部照明に対設してあり、頂面中央に透孔を有し、頂面から下方に屈折する反射光が生ずるドーム状反射板２と、該反射板内周下方にリング状蛍光管１とから構成され、前記ドーム状反射板２は、取付枠体８で搬送ラインの透光性ベルト９上で高速で走行される検査位置に間隔をあけてスタンド、その他の固定フレームに固定されて配備されるが、自動搬送行程後或いは検査台上の取付場所にセットとして被検査物品Ａの粒状面或いは錠面やその周囲のシール不良、シート異物を検査するようにしてある。」
（引４ｂ）「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
第６　対比・判断
１　本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
ア　引用発明の「表面欠陥検査装置１」、「撮像部１３」、「画像処理部１５」は、それぞれ、本願発明１の「表面欠陥検査装置」、「撮像装置」、「画像処理装置」に相当する。
イ　引用発明の「鋼管２」は、「検査対象」であって、「円筒体」であるから、引用発明の「検査対象」である「円筒体の鋼管２」は、本願発明１の「円筒状または円柱状の被検査体」に相当する。そして、引用発明の「撮像部１３」は、「撮像領域Ｅ上の鋼管２を連続撮像する」ものであるから、引用発明の「撮像領域Ｅ上の鋼管２を連続撮像する撮像部１３」は、本願発明１の「円筒状または円柱状の被検査体を撮像する撮像装置」に相当する。
ウ　引用発明の「撮像制御部１４」は「撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御するものであるから、「撮像制御部１４が撮像した連続画像」は、「撮像制御部１４が」「撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御する」ことにより「撮像した」ものであるから、「撮像部１３」が「鋼管２」を「連続撮像」したものであるといえる。そして、引用発明の「画像処理部１５」は、「撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御する撮像制御部１４」が「撮像した連続画像をもとに鋼管２の表面欠陥を検出する画像処理を行う」ものであって、「画像処理部１５」は、「画像内の輝度変化部分を」検出される「表面欠陥」である「欠陥部２１として抽出する」ものであるから、引用発明の「撮像部１３による鋼管２の連続撮像を制御する撮像制御部１４」が「撮像した連続画像をもとに」「画像内の輝度変化部分を欠陥部２１として」、「鋼管２の表面欠陥を検出する画像処理を行う」「画像処理部１５」は、本願発明１の「前記撮像装置によって撮像された複数の画像の輝度変化に基づいて前記被検査体の表面欠陥を検出する画像処理装置」に相当する。
エ　引用発明の「表面欠陥検査装置１」は、「鋼管２の製造ライン上に設けられ」、「斜路１０」は、「表面欠陥検査装置１」にあるものであるから、引用発明の「斜路１０」は、「鋼管２の製造ライン上に設けられ」たものであるといえる。そして、引用発明の「斜路１０」は、「鋼管２の軸に垂直な方向に滑らずに転動させつつ鋼管２を搬送する斜面が形成された」ものであるから、引用発明の「鋼管２の製造ライン上に設けられ」た「鋼管２の軸に垂直な方向に滑らずに転動させつつ鋼管２を搬送する斜面が形成された斜路１０」は、本願発明１の「製造ライン上に設けられ、前記被検査体を所定の傾斜に沿って転動させながら搬送する搬送装置」に相当する。
オ　引用発明の「鋼管２に光を直接照射する線状光源１１，１２」は、本願発明１の「間接照明装置」と、「照明装置」である点で共通する。そして、引用発明の「線状光源１１，１２」は、「斜路１０の撮像領域Ｅ上の鋼管２に撮像部１３と同じ側から光を直接照射する」ものであるから、引用発明の「斜路１０の撮像領域Ｅ上の鋼管２に撮像部１３と同じ側から光を直接照射する線状光源１１，１２」と、本願発明１の「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され、前記被検査体を照明する間接照明装置」とは、「前記搬送装置に対して前記撮像装置と同じ側に配置され、前記被検査体を照明する照明装置」である点で共通する。
カ　引用発明の「撮像部１３」は、「鋼管２の軸方向に沿って４つの撮像部１３−１〜１３−４が配列され」ているから、引用発明の「撮像部１３」と、本願発明１の「撮像装置」とは、「前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されて」いる点で一致する。
キ　引用発明の「撮像部１３」は、「撮像領域Ｅ内で、鋼管２が所定幅Ｗ´分、移動する毎に撮像し、ｎ個の撮像画像Ｉ１〜Ｉｎを取得し」ており、この「取得」された「ｎ個の撮像画像Ｉ１〜Ｉｎ」は、「撮像領域Ｅ内で、鋼管２が所定幅Ｗ´分、移動する毎に撮像」されたものであることから、引用発明の「撮像部１３」は、「鋼管２」を所定の撮像周期で連続的に撮像しているといえる。
　そうすると、引用発明の「撮像部１３」と、本願発明１の「撮像装置」とは、「前記被検査体を、所定の撮像周期で連続的に撮像し」ている点で一致する。
ク　引用発明の「鋼管２」は、「斜面が形成された斜路１０」によって「搬送」され、「線状光源１１，１２」によって「光」が「直接照射」されているから、引用発明の斜面が形成された斜路１０」によって「搬送」され、「線状光源１１，１２」によって「光」が「直接照射」される「鋼管２」と、本願発明１の「前記搬送装置によって搬送されており、前記間接照明装置によって照明されており、かつ前記補助照明装置によって前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体」とは、「前記搬送装置によって搬送されており、前記照明装置によって照明されている前記被検査体」である点で共通する。
ケ　以上ア〜クより、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点及び相違点がある。
（一致点）
「円筒状または円柱状の被検査体を撮像する撮像装置と、
　前記撮像装置によって撮像された複数の画像の輝度変化に基づいて前記被検査体の表面欠陥を検出する画像処理装置と、
　を備える表面欠陥検査装置において、
　製造ライン上に設けられ、前記被検査体を所定の傾斜に沿って転動させながら搬送する搬送装置と、
　前記搬送装置に対して前記撮像装置と同じ側に配置され、前記被検査体を照明する照明装置と、
　を備え、
　前記撮像装置は、
　前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されており、
　前記搬送装置によって搬送されており、前記照明装置によって照明されている前記被検査体を、所定の撮像周期で連続的に撮像する表面欠陥検査装置。」
（相違点）前記被検査体を照明する照明装置について、本願発明１は、「前記搬送装置に対して前記撮像装置と同じ側に配置され、前記被検査体を照明する照明装置」が「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され」た「間接照明装置」であり、さらに「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられ」、「一台の撮像装置につき一台」「が視野に入るように複数配置され」、「前記被検査体」を「前記撮像装置とは反対側から照明」する「補助照明装置」を有しているのに対し、引用発明は、「前記搬送装置に対して前記撮像装置と同じ側に配置され、前記被検査体を照明する照明装置」が「光を直接照射する線状光源１１，１２」であって、斜路１０と撮像部１３との間に配置することは特定されておらず、本願発明１の「補助照明装置」に相当する構成については何ら特定されていない点。
（２）判断
　上記相違点について検討する。
ア　上記（引４ｂ）より、引用文献４の「照明機構３」は、「前記透光性搬送ベルト９」と「カメラ４」との間に配置されている点が見て取れる。また、引用文献４の「照明機構３」は、「被写体に当る直接光は光量全体の約４０％以下とし透過光を含む間接光を主として図２に示すように被検査物品Ａの上部に均等に当るように反射面を配慮し」ているから、引用文献４の「照明機構３」は、本願発明１の「間接照明装置」に相当する。そして、引用発明４の「前記透光性搬送ベルト９」及び「カメラ４」は、本願発明１の「前記搬送装置」及び「前記撮像装置」に相当する。
　すると、引用発明４の「前記透光性搬送ベルト９」と「カメラ４」との間に配置されている「照明機構３」は、本願発明１の「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され」た「間接照明装置」に相当するといえる。
　また、引用文献４の「物品外観検査装置」には、「前記透光性搬送ベルト９の下方より透光性搬送ベルト９を介して被検査物品Ａに照明光を照射する下部照明機構１０」が設けてあり、この「下部照明機構１０」は、本願発明１の「前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され」、「前記被検査体」を「前記撮像装置とは反対側から照明」する「補助照明装置」に相当する。
　しかしながら、この引用文献４の「物品外観検査装置」は、「光源からの照明光を被写体の被検査物品に上下両方から当てて陰影や光斑が発生することなく、被検査物品間の隙間も光を受けて異物検査が最適な映像となり、高い精度で安定した信頼性ある検査を確保し、また物品面ばかりでなく周囲の異物をも容易に検出し、検査項目の拡大化と、被検査物品の多様化にも容易に対応する検査ができ」るものであるから、引用文献４の「物品外観検査装置」に設けてある「照明機構３」及び「下部照明機構１０」は、「被検査物品」を透過する光により異物を検出するためのもであるといえる。
　そうすると、引用発明の「鋼管２」は、光を透過しないものであるから、引用文献４の「被検査物品」を透過する光により異物を検出する「照明機構３」及び「下部照明機構１０」を、引用発明の光を透過しない「鋼管２」の欠陥検出に適用する動機付けはなく、また、阻害要因があるといえる。
イ　技術事項２の「間接照明装置１’」及び「カメラＣ」は、それぞれ、本願発明１の「間接照明装置」及び「撮像装置」に相当する。そして、技術事項２の「間接照明装置１’」は、「カメラＣと物品Ｍとの間に配置」され、「物品Ｍ」は、通常搬送装置上にあるものであるから、技術事項２の「カメラＣと物品Ｍとの間に配置された間接照明装置１’」は、本願発明１の「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され」た「間接照明装置」に相当するから、技術事項２は、本願発明１の「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され」た、「間接照明装置」に相当する構成を有しているといえる。しかしながら、「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられ」、「一台の撮像装置につき一台」「が視野に入るように複数配置され」、「前記被検査体」を「前記撮像装置とは反対側から照明」する「補助照明装置」については記載されていない。
　そうすると、技術事項２は、上記相違点に係る構成を有しているとはいえない。
ウ　引用文献３の「該鋼管１」を「照明する」「照明装置３及び集光ライト８」は、間接照明であるとはいえないので、引用文献３には、本願発明１の「前記搬送装置と前記撮像装置との間に配置され」た、「間接照明装置」に相当する構成は記載されていないし、さらに、本願発明１の「補助照明装置」についても記載されていない。
エ　以上ア〜ウより、上記相違点に係る構成は、技術事項２が有している構成又は、引用文献３に記載されている構成であるとはいえず、また、引用文献４に記載された技術事項を引用発明に適用する動機付けはなく、さらに、阻害要因があるといえるから、本願発明１は、当業者であっても引用発明、技術事項２並びに引用文献３及び４に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
２　本願発明２〜５について
　本願発明２〜５は、本願発明１を引用するものであって、上記相違点に係る構成を有しているものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても、引用発明、技術事項２並びに引用文献３及び４に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものとはいえない。
３　本願発明６について
　本願発明６は、本願発明１の「表面欠陥検査装置」を使用した「表面欠陥検査方法」であって、本願発明６の「前記画像処理ステップ」において、「補助照明装置」が「被検査体の位置を検出」する旨さらに限定したものであるから、本願発明６と引用発明とは、以下の相違点’で相違する。
（相違点’）撮像ステップ及び画像処理ステップが、本願発明６は、撮像ステップが、「間接照明装置によって照明されている前記被検査体を撮像し」、「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置によって、前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を撮像し」、画像処理ステップが、「前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出」するものであって、「前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」のに対し、引用発明は、撮像ステップが、「鋼管２に光を直接照射する線状光源１１，１２」により照明されている「鋼管２を連続撮像する」ものであるとともに、画像処理ステップが、「前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出」するものであって、「前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」旨の特定がない点。
　上記（相違点’）について検討すると、上記１（２）アで検討したとおり、引用文献４の「被検査物品」を透過する光により異物を検出する「照明機構３」及び「下部照明機構１０」を、引用発明の光を透過しない「鋼管２」の欠陥検出に適用する動機付けはなく、また、阻害要因があるといえる。また、上記１（２）イで検討したとおり、技術事項２は、本願発明６の「補助照明装置」に相当する構成を有しているとはいえないし、該構成は、上記１（２）ウで検討したとおり、引用文献３にも記載されているとはいえない。
　そうすると、本願発明６は、当業者であっても、引用発明、技術事項２並びに引用文献３及び４に記載された技術事項に基づいて容易に発明をすることができたものとはいえない。
第７　原査定について
　審判請求時の補正により、本願発明１は、「表面欠陥検査装置」が、「前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置」「を備え」、「前記撮像装置は、前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置されており」、「前記補助照明装置によって前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を、所定の撮像周期で連続的に撮像し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項を、本願発明６は、「撮像装置」を「前記被検査体の軸方向に沿って複数台配置」し、「前記撮像ステップは、前記撮像装置の視野内において、前記被検査体に対して前記撮像装置とは反対側に配置され、かつ前記被検査体の転動方向と平行に設けられた補助照明装置によって、前記撮像装置とは反対側から照明されている前記被検査体を撮像し、前記画像処理ステップは、前記補助照明装置によって照明されている前記被検査体の画像に基づいて、前記被検査体の位置を検出し、前記補助照明装置は、一台の撮像装置につき一台の補助照明装置が視野に入るように複数配置されている」という事項をそれぞれ有するものとなっており、当業者であっても、拒絶査定において引用された引用文献１〜４に基づいて、容易に発明できたものとはいえない。
　したがって、原査定の理由を維持することはできない。
第８　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。