【事件の表示】
　特願２０１７−５０１４２３「スイッチから構成されるパワーモジュールの動作を制御するためのシステムおよび方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２８年　６月　２日国際公開，ＷＯ２０１６／０８４３２４，平成２９年　８月　３日国内公表，特表２０１７−５２１９８９、請求項の数（８）〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は，特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は，２０１５年１１月１２日（パリ条約による優先権主張外国庁受理２０１４年１１月２６日（以下，「優先日」という。）　欧州特許庁）を国際出願日とする出願であって，その手続の経緯は以下のとおりである。
　平成２９年　１月１１日　　：翻訳文，手続補正書の提出
　平成３０年　３月１４日付け：拒絶理由通知                     
　平成３０年　５月３０日　　：意見書の提出
　平成３０年１０月３０日付け：拒絶理由通知
　平成３１年　１月１５日　　：意見書，手続補正書の提出
　令和　１年　６月　３日付け：拒絶査定
　令和　１年　９月１１日　　：審判請求書、手続補正書の提出
　令和　１年１１月　７日付け：拒絶理由（最後の拒絶理由）通知書
　令和　１年１２月２６日　　：意見書，手続補正書の提出
　令和　２年　５月１５日　　：前置報告書
　令和　２年　６月１７日　　：上申書の提出
　令和　２年　７月２２日付け：拒絶理由通知
　令和　２年　７月３０日　　：意見書，手続補正書の提出
　　
第２　本願発明
　本願請求項１乃至８に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」乃至「本願発明８」という。）は，令和２年７月３０日の手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１乃至８に記載された事項により特定される発明であり，本願発明１は以下のとおりの発明である。
「　　【請求項１】
　スイッチから構成されるパワーモジュールの動作を制御するためのシステムであって、
各スイッチは、並列に接続される複数のパワーダイから構成され、
　該システムは、
　前記パワーモジュールのパワーダイごとに前記パワーダイの温度を検知する温度センサと、
　前記パワーダイの前記検知された温度に基づいて、前記パワーダイの導通時間を短縮する１つのコントローラーと
　を備え、
　前記１つのコントローラーによって、前記複数のパワーダイのそれぞれの温度検知結果を入力として取得し、前記検知された温度が、前記複数のパワーダイ全てにわたる平均ダイ温度より高いパワーダイに関して前記導通時間を短縮する制御を行う
　ことを特徴とする、システム。」
　なお，請求項２乃至８の概要は以下のとおりである。
　本願発明２乃至７は，本願発明１を減縮した発明である。
　本願発明８は，本願発明１に対応する方法の発明であり，本願発明１とカテゴリ表現が異なるだけの発明である。
第３　引用文献，引用発明等
１　引用文献１について
ア　令和１年６月３日付けの拒絶査定（以下、「原査定」という。）の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献１（米国特許出願公開第２０１２／０３１３５９５号明細書）には，関連する図面とともに次の技術的事項が記載されている。
（当審注：下線は，参考のために当審で付与したものである。以下同様。） 
Ａ　「[0004] Technical advantages are generally achieved by embodiments of the present invention which provide 
a system
switching converter
当審訳；　「[0004]　技術的な利点は，一般に，dc-dc
スイッチング変換器の
システム
Ｂ　「[0025] Referring initially to FIG. 1, a block diagram of a power conversion scheme for providing regulated voltages is illustrated in accordance with an embodiment. In response to the detected voltages (not shown) at the outputs of a plurality of power blocks 100, a controller 102 is capable of generating a variety of control signals used to control the operation of each power block 100. The controller 102 may employ a variety of power converter control schemes such as current mode control, voltage mode control, hysteresis control, any combination thereof and the like. The controller 102 may control a power block 100. Alternatively, 
the controller 102 may control a plurality of power blocks 100
当審訳；　「[0025]　最初に図1を参照すると，一実施形態に従って図示される調整された電圧を提供するための電力変換方式のブロック図である。複数のパワーブロック100の出力において検出された電圧(図示せず)に応答して，コントローラ102は，各パワーブロック100の動作を制御するための各種制御信号を生成することができる。コントローラ102は，電流モード制御，電圧モード制御，ヒステリシス制御，およびそれらの任意の組合せなどのような電力変換器の制御方式を適用することができる。コントローラ102は，パワーブロック100を制御することができる。あるいは，
コントローラ102は，
複数のパワーブロック100を制御する
Ｂ　「[0029] As shown in FIG. 2, both high side switch SW1 and low side switch SW2 are n-type metal oxide semiconductor (NMOS) transistors. The high side switch SW1 has a drain coupled to the positive terminal of the input bus, and a source coupled to the drain of the low side switch SW2. It should be noted that the junction point between the high side switch SW1 and the low side switch SW2 is commonly referred to as the phase of a buck dc-dc converter. As shown in FIG. 2, 
both the gates of the high switch SW1 and the low side switch SW2 are controlled by the controller 102 through the driver 202.
[0030] FIG. 3 illustrates in further detail a schematic diagram of the power block 100 shown in FIG. 2. The power block 100 may comprise three power terminals, namely Vin, Vo and GND. In addition, the power block 100 comprises a variety of signal terminals including Io, Tj, ON/OFF, PWM, X1 and X2. The power block 100 may be able to measure the current flowing through the power block and report the measured current value through the signal terminal Io. Furthermore, 
the power block 100 is capable of reporting the junction temperature of the power block 100.
[0031] In accordance with an embodiment, 
the power block 100 may employ a
semiconductor die.
The driver 202 may comprise a temperature detection circuit to detect the junction temperature of the monolithic semiconductor die and report the junction temperature through the signal terminal Tj to an external thermal management unit
the power block enters an active mode in which both the high switch SW1 and the low side switch SW2 are controlled by the PWM signal from the controller 102
当審訳；　「[0029]　図2に示すように，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2は共にn型金属酸化物半導体(NMOS)トランジスタである。ハイサイドスイッチSW1は，入力バスの正極端子と接続されるドレインと，ローサイドスイッチSW2のドレインに結合されるソースとを有する。なお，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2との接続点は降圧型DC-DCコンバータの位相と呼ばれることに留意されたい。図2に示すように，
ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2のゲートはドライバ202を介してコントローラ102により制御される。
[0030]　図3は，図2に示したブロック100の概略図を更に詳細に示しているパワーブロック100は3個のパワー端子，即ちVin，VoとGNDとを含んでいてもよい。また，パワーブロック100は，Io，Tj，ON/OFF，PWM，X1およびX2を含む信号の種々の端末とを備えている。パワーブロック100は，パワーブロックに流れる電流を測定し，信号端子Ioにより測定された電流値を報告することができる。また，
パワーブロック100は，パワーブロック100のジャンクション温度を報告する
[0031]　一実施形態によれば，
パワーブロック100は，
半導体ダイを使用する
ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2およびドライバ202は，
半導体ダイ上に製造する
ドライバ202は，
半導体ダイのジャンクション温度を検出し，信号端子Tjを介してジャンクション温度を外部の熱管理装置
に報告する温度検出回路を備える
パワーブロックでは，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2との両方は，コントローラ102からのPWM信号によって制御される
Ｃ　「Figure 1
」
（図１を参照すると，“コントローラにパワーブロック100が並列に接続される”態様が読み取れる。）
Ｄ　「Figure 2
」
Ｅ　「Figure 3
」
イ　上記Ａ乃至Ｅの記載からすると，上記引用文献１には次の発明（以下，「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
「スイッチング変換器のシステムであって
　コントローラは，複数のパワーブロックを制御するものであり，
　ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2のゲートはドライバを介してコントローラにより制御され，
　パワーブロックは，パワーブロックのジャンクション温度を報告し，
　パワーブロックは，半導体ダイを使用するものであり，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2およびドライバは，半導体ダイ上に製造するものであって，
　ドライバは，半導体ダイのジャンクション温度を検出し，信号端子Tjを介してジャンクション温度を外部の熱管理装置に報告する温度検出回路を備え，
　パワーブロックでは，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2との両方は，コントローラからのPWM信号によって制御される，
システム。」
　
２　引用文献２について
ア　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献２（米国特許第７８３４５９８号明細書）には，関連する図面とともに次の技術的事項が記載されている。
Ｆ　「While this architecture is targeted for use in battery chargers, it can be applied to many different DC-DC 
converters
where the power switches are integrated.
If the power switches are integrated in the controller, the output current can be adjusted based on the thermal capacity of the IC package.
Using an on-chip thermal measurement
when the IC package reaches its upper temperature limit, the controller's frequency and/or the output current can be decreased.
the device optimizes itself based on junction temperature
当審訳；　「このアーキテクチャは，バッテリ充電器に使用することを目標とするが，それは高いデューティーサイクルで動作する多くの異なるDC-DC
コンバータ
電源スイッチが集積されている
コンバータ
　
電源スイッチは，コントローラに統合されている場合，出力電流は，ICパッケージの熱的容量に基づいて調整することができる。
オンチップ熱的測定を用いて，ICパッケージはその上限温度に達すると，制御装置の周波数および/または出力電流を低減する
装置は，
ジャンクション温度に基づいて，それ自体を最適化する。
Ｇ　「 FIG.6
」
イ　上記Ｆ及びＧの記載からすると，上記引用文献２には次の技術が記載されていると認められる。
「電源スイッチが集積されているコンバータであって，
　電源スイッチは，コントローラに統合されている場合，出力電流は，ICパッケージの熱的容量に基づいて調整することができるものであって，
　オンチップ熱的測定を用いて，ICパッケージはその上限温度に達すると，制御装置の周波数および/または出力電流を低減することによって，ジャンクション温度に基づいて，それ自体を最適化する，
　コンバータ。」
３　引用文献３について
ア　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献３（米国特許出願公開第２０１１／０１９３５４２号明細書）には，関連する図面とともに次の技術的事項が記載されている。
Ｈ　「[0009] Embodiments of the present invention relate to 
circuits
for regulating and/or controlling integrated circuits such as drivers and switching regulators.
当審訳；　「[0009]　本発明の実施形態は，
ドライバ及びスイッチング・レギュレータのような集積回路を調節し，及び／又は制御するための回路
Ｉ　「[0024] 
When the die temperature reaches the upper thermal limit threshold
, the duty-cycle of the LED channels are automatically limited
by pulse width modulation (PWM) control circuitry
and gradually reduced to lower on-chip power dissipation, keeping the die temperature at or slightly below the upper temperature limit.
当審訳；「[0024]　
ダイ温度は，上限温度閾値
に達すると，LEDチャネルのデューティサイクルは，パルス幅変調(PWM)制御回路
により自動的に制限され
，チップ上の電力消費を減らすように徐々に減少し，ダイ温度を上限温度か，それより少し低い温度に維持する。
Ｊ　「[0048] The IC 310 may constantly monitor the die temperature during operation (e.g., by use of thermal feedback logic 250 in FIG. 3, circuit 500 in FIG. 5A, or circuit 550 in FIG. 5B). 
If the die temperature exceeds the OTP threshold, the duty-cycle of all LED channels 320 will be reduced appropriately by PWM control logic 240 (FIG. 3) to maintain die temperature just below the OTP limit.
当審訳；　「[0048]　集積回路310は，動作中のダイ温度を常に監視しても良い (例えば，図3の熱フィードバック論理回路250，図5Aの回路500，又は図5Bの回路550を使用する)。
ダイ温度は，OTPの閾値を超える場合，全LEDチャンネル320のデューティサイクルは，ダイ温度がOTP限界より低くなるように，PWM制御ロジック240(図3)によって適切に低減される。
Ｋ　「 FIG.6
」
イ　上記Ｈ乃至Ｋの記載からすると，上記引用文献３には次の技術が記載されていると認められる。
「ドライバ及びスイッチング・レギュレータのような集積回路を調節し，及び／又は制御するための回路であって，
　ダイ温度は，上限温度閾値に達すると，LEDチャネルのデューティサイクルは，パルス幅変調(PWM)制御回路により自動的に制限され，チップ上の電力消費を減らすように徐々に減少し，ダイ温度を上限温度か，それより少し低い温度に維持するものであって，
　ダイ温度は，OTPの閾値を超える場合，全LEDチャンネルのデューティサイクルは，ダイ温度がOTP限界より低くなるように，PWM制御ロジックによって適切に低減される，
回路。」
４　引用文献５について
　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献５（米国特許出願公開第２００６／０２２１５２７号明細書）には，関連する図面とともに，次の技術的事項が記載されている。
Ｌ　「[0009] For example, FIG. 3 is a graph of transistor gate threshold voltage as a function of temperature, for a transistor such as the transistor Q of FIG. 1. As FIG. 3 shows, the transistor gate threshold voltage Vth has negative temperature coefficient. Consequently, when some locations of the die (particularly nearthe center) start running at a higher temperature, the Vth of these locations drops, and the transistor gain Gm forces a localized increase of currentdensity. The higher current causes further gain increase that ultimately results in the thermal runaway and catastrophic failure of the device.」
当審訳；　「[0009]　たとえば，図3は，図1のトランジスタQのようなトランジスタの場合の，温度の関数としてのトランジスタゲート閾値電圧のグラフである。図3に示されるように，トランジスタゲート閾値電圧Vthは，負の温度係数を有する。ダイのいくつかの場所（特に中央付近）が，他の場所よりも高い温度で動作し始めるとき，これらの場所のVthが降下し，トランジスタ利得Gmによって，電流密度が局所的に増加せざるを得なくなる。電流が多くなると，利得がさらに増加し，結果として，最終的には，デバイスに熱暴走及び壊滅的な故障が生じる。」
Ｍ　「[0094] In the example where the controllable semiconductor 102 is a MOSFET, as shown in FIG.8, the controllable semiconductor 102 is associated with various operating parameters, some of the parameters relating to parameters that can be externally controlled, some of the parameters being measurable (e.g., by asensor), and some of the parameters being associated with the controllable semiconductor 102 itself. For example, 
operating parameters of the controllable semiconductor 102 that can be measured include
die temperature
当審訳；　「[0094]　図8に示されるような，制御可能な半導体102がMOSFETである例では，制御可能な半導体102は種々の動作パラメータに関連付けられ，それらのパラメータのうちのいくつかは，外部から制御することができるパラメータに関連し，それらのパラメータのうちのいくつかは測定可能であり（たとえば、センサによる），それらのパラメータのうちのいくつかは，制御可能な半導体102そのものに関連付けられる。たとえば，
測定することができる制御可能な半導体102の動作パラメータは
ダイ温度
Ｎ　「 FIG.3
」
Ｏ　「 FIG.8      
」
５　引用文献ａについて
ア　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献ａ（特開２００９−１４８０３２号公報）には，関連する図面とともに，次の技術的事項が記載されている。
Ｐ　「【００２４】
　実施の形態３．
　図４は本発明にかかる
並列電源システム
各電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃは、それぞれ温度を検出する温度検出手段として、温度センサ２４を有している。
【００２５】
　図５に沿ってＣＰＵ装置２０の動作を説明する。ＣＰＵ装置２０は、システムの運転が始まるとバランス情報として、自電源装置５０Ａの検出温度の送信を行う（ステップＳ３１）。次いで、他電源装置５０Ｂ，５０Ｃから送られて来る検出温度を受信する（ステップＳ３２）。
【００２６】
　その後、
ＣＰＵ装置２０は、自他電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃの検出温度から平均温度を算出し
、この平均温度と自装置の検出温度との差分とから自電源装置の目標電圧値の補正をする。
平均温度と自装置の検出温度との差分に比例した値だけ目標電圧値を下げる
【００２７】
　このような構成の並列電源システムによれば、検出温度をバランス情報として送受信するとともに、自他装置の検出温度から平均温度を算出し、自電源装置の検出温度と平均温度との差分に基づいて目標電圧値を補正するので、システム内の複数台の電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃの内、異種の電源装置が存在しても、温度条件も考慮したバランス運転を容易に実現することができる。」
Ｑ　「図４
」
Ｒ　「図５
」
イ　上記Ｐ乃至Ｒの記載からすると，上記引用文献ａには次の技術が記載されていると認められる。
「並列電源システムであって，
　各電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃは，それぞれ温度を検出する温度検出手段として，温度センサを有しており，
　ＣＰＵ装置は，自他電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃの検出温度から平均温度を算出し，この平均温度と自装置の検出温度との差分とから自電源装置の目標電圧値の補正をするものであって，平均温度と自装置の検出温度との差分に比例した値だけ目標電圧値を下げる、
　並列電源システム。」
６　引用文献αについて
　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献α（国際公開第２０１４／０４１９２２号）には，関連する図面とともに，次の技術的事項が記載されている。
Ｓ　「[００３３]
　
制御装置９０は、
複数の昇降圧コンバータ４１を、同期制御する。
７　引用文献βについて
　原査定の拒絶の理由で引用され，本願の優先日前に既に公知である，引用文献β（特開２０００−１１６１４９号公報）には，関連する図面とともに，次の技術的事項が記載されている。
Ｔ　「【００２３】
　このような主回路構成及び
制御回路６により、各インバータ２２〜２Ｎの出力周波数及び位相をマスタインバータ２1のそれらに一致させた同期制御を得る
第４　対比・判断
１　本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
ア　引用発明は，「スイッチング変換器のシステム」であり，「コントローラは，複数のパワーブロックを制御するものであり，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2のゲートはドライバを介してコントローラにより制御され」るものである。
　ここで，引用発明の「コントローラ」，「ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2」，「システム」は，それぞれ本願発明１の「コントローラー」，「スイッチ」，「システム」に対応するものであって，引用発明の「パワーブロック」は，“パワーモジュール”であるといえるから，引用発明において，コントローラが，「複数のパワーブロックを制御」し，「ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2のゲート」をドライバを介して「制御」することは，“スイッチから構成されるパワーモジュールの動作を制御する”ことに他ならない。
　よって，本願発明１と引用発明とは，後記の点で相違するものの，“スイッチから構成されるパワーモジュールの動作を制御するためのシステム”であって、“コントローラーを備える”点で一致している。
イ　引用発明は，「パワーブロックは，半導体ダイを使用するものであり，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2およびドライバは，半導体ダイ上に製造する」ものであり，「半導体ダイ」は“パワーダイ”といえるから，「ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2」は“パワーダイから構成される”といえる。
　さらに，上記「第３　１　引用文献１について」のＣから，“コントローラにパワーブロック100が並列に接続される”態様が読み取れるので，“各スイッチ”は“並列に接続されるパワーダイから構成される”ものであるといえる。
　よって，本願発明１と引用発明とは，後記の点で相違するものの，“各スイッチは，並列に接続される複数のパワーダイから構成され”る点で一致している。
ウ　引用発明は，「パワーブロックは，半導体ダイを使用するものであり，ハイサイドスイッチSW1とローサイドスイッチSW2およびドライバは，半導体ダイ上に製造する」ものであることから，パワーブロックの半導体ダイごとにスイッチとドライバが設けられていることは明らかである。
　そして，引用発明は，「ドライバは，半導体ダイのジャンクション温度を検出し，信号端子Tjを介してジャンクション温度を外部の熱管理装置に報告する温度検出回路を備え」るものであるところ，前記「ジャンクション温度」とは，スイッチのジャンクション温度であって，スイッチが設けられている“パワーダイの温度”といえ，「温度検出回路」は“温度センサ”といえるから，引用発明では，“パワーダイごとに前記パワーダイの温度を検知する温度センサを備える”といえる。
　よって，本願発明１と引用発明とは，後記の点で相違するものの，“パワーモジュールのパワーダイごとに前記パワーダイの温度を検知する温度センサを備える”点で一致している。
　
　上記ア乃至ウの検討から，本願発明１と引用発明とは，次の一致点及び相違点を有する。
＜一致点＞
「　スイッチから構成されるパワーモジュールの動作を制御するためのシステムであって，
　　各スイッチは，並列に接続される複数のパワーダイから構成され，
　　該システムは，
　　前記パワーモジュールのパワーダイごとに前記パワーダイの温度を検知する温度センサと，
　　コントローラーと，
　　を備えることを特徴とする，システム。」
＜相違点１＞
　本願発明１の「コントローラー」は，「前記パワーダイの前記検知された温度に基づいて、ダイの導通時間を短縮する」ものであって，「前記複数のパワーダイのそれぞれの温度検知結果を入力として取得し、前記検知された温度が、前記複数のパワーダイ全てにわたる平均ダイ温度より高いパワーダイに関して前記導通時間を短縮する制御を行う」ものであるのに対して，引用発明の「コントローラ」は，「各パワーブロックの動作を制御する」ものの，本願発明１のような，検知された温度に基づいて，ダイの導通時間を短縮する制御を行うことが開示されていない点。
＜相違点２＞
　本願発明１では，コントローラは「１つ」としているのに対して，引用発明では，コントローラが１つであるとは特定していない点。
（２）相違点についての判断
　事案に鑑み，先に相違点１について検討する。
　上記引用文献２には，上記「第３　２　イ」に示したように，電源スイッチが集積されたコンバータにおいて，「オンチップ熱的測定を用いて，ICパッケージはその上限温度に達すると，制御装置の周波数および/または出力電流を低減することによって，ジャンクション温度に基づいて，それ自体を最適化する」技術が開示されており，スイッチから構成される電源回路において，オンチップ熱的測定を用いて測定されたスイッチのジャンクション温度が上限温度に達すると，制御装置の周波数又は出力電流を低減するという技術が記載されている。
　また，上記引用文献３には，上記「第３　３　イ」に示したように，ドライバ及びスイッチング・レギュレータのような集積回路を調節し，及び／又は制御するための回路において，「ダイ温度は，上限温度閾値に達すると，LEDチャネルのデューティサイクルは，パルス幅変調(PWM)制御回路により自動的に制限され，チップ上の電力消費を減らすように徐々に減少し，ダイ温度を上限温度か，それより少し低い温度に維持する」技術が開示されており，スイッチから構成される電源回路において，ダイ温度が上限温度閾値に達すると，パルス幅変調(PWM)制御回路によりデューティサイクルを減少させるという技術が記載されている。
　引用文献２，３に開示された上記技術は，いずれも，スイッチから構成される電源回路において，スイッチのダイ温度の測定結果が上限値に達すると温度が上昇しないように制御する技術であるといえるが，“平均ダイ温度より高いパワーダイに関して導通時間を短縮する制御”を行う技術を開示するものではない。
　また，上記引用文献ａには，上記「第３　５　イ」に示したように，並列電源システムにおいて，「自他電源装置５０Ａ，５０Ｂ，５０Ｃの検出温度から平均温度を算出し，この平均温度と自装置の検出温度との差分とから自電源装置の目標電圧値の補正をするものであって，平均温度と自装置の検出温度との差分に比例した値だけ目標電圧値を下げる」技術が開示されており，これは，複数の電源装置からなる並列電源システムにおいて，各電源装置の検出温度から平均温度を算出し，この平均温度と自装置の検出温度との差分に比例した値だけ目標電圧値を下げるという技術を示すものである。
　してみると，引用文献ａには，各電源装置の検出温度から算出した平均温度に基づいて電源装置の目標電圧値を制御するという技術は開示されているといえるが，“平均ダイ温度より高いパワーダイに関して導通時間を短縮する制御”を行う技術は開示されていない。
　さらに，上記引用文献５，引用文献α，引用文献βには，それぞれ，上記「第３　４」，「第３　６」「第３　７」に示される技術的事項が記載されているが，いずれも，“平均ダイ温度より高いパワーダイに関して導通時間を短縮する制御”を行う技術は開示されていない。
　したがって，本願発明の“平均ダイ温度より高いパワーダイに関して導通時間を短縮する制御”するという上記相違点１に係る構成は，引用発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術のいずれにも開示されておらず，本願優先日における周知技術を考慮しても，当業者であれば導き出すことが容易であるとする根拠も見いだせない。
　してみると，上記相違点２について判断するまでもなく，本願発明１は，当業者であっても，引用発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
２　本願発明２乃至４について
　本願発明２乃至７は，請求項１を引用するものであって，本願発明１と同じ理由により，当業者であっても，引用発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
３　本願発明８について
　本願発明６は，本願発明１とカテゴリ表現のみ異なるものであって，本願発明１と同じ理由により，当業者であっても，引用発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
第５　原査定の概要及び原査定についての判断
　原査定は，請求項１及び８について上記引用文献１乃至３，ａ，α，βに基づいて，請求項２乃至７について上記引用文献１乃至３，５，ａ，α，βに基づいて，当業者が容易に発明できたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというものである。
　しかしながら，令和２年７月３０日付けの手続補正により補正された請求項１，８には，それぞれ「前記１つのコントローラーによって，前記複数のパワーダイのそれぞれの温度検知結果を入力として取得し，前記検知された温度が，前記複数のパワーダイ全てにわたる平均ダイ温度より高いパワーダイに関して前記導通時間を短縮する制御を行う」という技術的事項，「前記パワーダイの導通時間を短縮するステップは，前記１つのコントローラーによって，前記複数のパワーダイのそれぞれの温度検知結果を入力として取得し，前記検知された温度が，前記複数のパワーダイ全てにわたる平均ダイ温度より高いパワーダイに関して前記導通時間を短縮する制御を行う」という技術的事項を有するものとなっており，上記のとおり，本願発明１乃至８は，引用文献１に記載された発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術に基づいて，当業者が容易に発明できたものではない。
　したがって，原査定を維持することはできない。
第６　当審拒絶理由について
１　特許法第３６条第６項第２号について
　当審では，請求項１乃至７の「デバイス」という記載の意味が不明確であるとの拒絶理由を通知しているが，令和２年７月３０日付けの手続補正において，「システム」と補正された結果，この拒絶理由は解消した。
第７　むすび
　以上のとおり，本願発明１乃至８は，当業者が，引用文献１に記載された発明，及び引用文献２，３，５，ａ，α，βに記載された技術に基づいて，当業者が容易に発明できたものではない。
　したがって，原査定の理由によっては，本願を拒絶することはできない。
　また，他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって，結論のとおり審決する。