(57)【要約】  本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含する。最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、最短マークのエッジズレ量は、最短マークに隣接し且つ最短スペースには隣接しないスペースの長さが、最短スペースよりも長い第１のパターンと、最短スペースに隣接し且つ最短マークには隣接しないマークの長さが、最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得る。
2010038427.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、
前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップと
を包含し、
最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、
前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、
前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンと
の一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得る、再生信号評価方法。
【請求項２】
前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、
前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、
前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る、請求項１に記載の再生信号評価方法。
【請求項３】
前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、
前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、
前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る、請求項１に記載の再生信号評価方法。
【請求項４】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、
前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップと
を包含し、
最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、
前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、
前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンと
の一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得る、情報記録媒体。
【請求項５】
請求項４に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項６】
請求項４に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【請求項７】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、再生信号評価方法。
【請求項８】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、情報記録媒体。
【請求項９】
請求項８に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項１０】
請求項８に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【請求項１１】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、再生信号評価方法。
【請求項１２】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、情報記録媒体。
【請求項１３】
請求項１２に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項１４】
請求項１２に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号を用いた信号処理方法および、最尤復号を用いて情報記録媒体を評価する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報記録媒体の高密度化により、記録マークの最短マーク長が検出系に依存する分解能の限界に近づいている。【０００３】
例えば、情報記録媒体が光ディスク媒体である場合では、検出系に依存する分解能とはレーザ光を集光した光スポットの大きさによる光学的な分解能を指す。【０００４】
その分解能の限界のため、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となり、信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を用いることが一般的になりつつある。【０００５】
ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が起こることを前提に再生波形から最も確からしい信号系列を選択する方式である。【０００６】
このため、従来のレベル判定方式よりも復号性能が向上することが知られている（例えば、非特許文献１）。【０００７】
一方、信号処理方式がレベル判定方式からＰＲＭＬ方式へ移行することで、再生信号の評価方法に課題が出てきた。【０００８】
従来から用いられてきた再生信号評価指標であるジッターは、レベル判定方式の信号処理を前提とするため、レベル判定とは信号処理のアルゴリズムが異なるＰＲＭＬ方式の復号性能との相関がない場合が出てきた。【０００９】
そこで、ＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のある新たな指標が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２）。【００１０】
ここで、記録再生品質が図２５に示すような分布となって検出された場合を考える。【００１１】
図２５の分布は、３Ｔという長さのマークと、２Ｔ，３Ｔ，４Ｔ，５Ｔという長さのスペースで４つに分類した差分メトリックの分布と、それらの合計の分布を表している。Ｔはチャネルクロックを表している。【００１２】
図２５は例として３Ｔ長さのみを分類しているが、本来は３Ｔ以外の長さのマークに対しても分類を行なう。【００１３】
図２５（ａ）に示すように、マーク長さとスペース長さで分類しても全ての組み合わせで分布の幅にあたるＳＮ成分が支配的である場合と、図２５（ｂ）に示すようにマーク長さとスペース長さで分類すると、パターンごとでのＳＮ成分は良いが、分布の中心からのずれにあたるシフト成分がパターンごとに異なっており、それぞれの分布を合計するとＳＮ成分が悪いかのように見えている場合が存在する。【００１４】
特許文献１の指標では、差分メトリックの分布がＳＮ成分によるものか、シフト成分によるものかを切り分けることができなかった。【００１５】
この課題を解決したのが、特許文献３である。【００１６】
特許文献３で提案されている指標は、マーク長さとスペース長さの組み合わせによって、マークとスペースの位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる。【００１７】
つまり、特許文献１に提案されている指標で求められた記録再生品質を、ＳＮ成分とシフト成分とに切り分けることができる。【００１８】
このＳＮ成分とシフト成分の切り分けにより、どのパターンでどのようなエラーが起こっているかを解析することが可能となった。【００１９】
先に述べたように、情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮ劣化がさらに問題となる。【００２０】
情報記録再生装置のシステムマージンを維持するためには、ＰＲＭＬ方式を高次の方式にすることで対応可能と非特許文献１に記載されている。【００２１】
例えば、１２ｃｍの光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用することで、システムマージンを維持することができた。【００２２】
しかし、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢの場合では、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが説明されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２３】
【特許文献１】特開２００３−１４１８２３号公報
【特許文献２】特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献３】特開２００４−３３５０７９号公報
【非特許文献】
【００２４】
【非特許文献１】図解  ブルーレイディスク読本  オーム社
【非特許文献２】適応信号処理アルゴリズム  培風館
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
特許文献３には、情報記録媒体の記録再生品質を表す、１つのマークと１つのスペースの組み合わせによる位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる指標が提案されている。【００２６】
しかしながら、情報記録媒体が高密度化すると、検出系の分解能よりも極端に短いマークやスペースが現れるため、１つずつ以上のマークとスペースの組み合わせによる複数のエッジを含んだ位置ずれを考慮する必要がある。【００２７】
以下、複数のエッジを含んだ位置ずれについて説明する。【００２８】
例えば、４０５ｎｍの波長を有する青色レーザを用いた１２ｃｍの光ディスク媒体で説明する。【００２９】
非特許文献１によれば、青色レーザを用いた光ディスク媒体で、レーザ光を集光させた光スポットサイズは３９０ｎｍであり、記録符号にＲＬＬ（１，７）を用いた記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合、最短マークの長さは１４９ｎｍとなる。【００３０】
また、この光ディスク媒体で、１層当たりの記録容量を３３．３ＧＢとした場合、最短マークの長さは１１２ｎｍとなる。更なる高密度化を測ろうとすれば、さらに最短マークの長さは短くなる。【００３１】
同じ検出系を使用した場合、図２６（ａ）に示すように、記録容量２５ＧＢでは、光スポット２０１の中に最短マーク２．６個分が入る大きさであったものが、図２６（ｂ）に示すように、記録容量３３．３ＧＢでは、光スポット２０１の中に最短マーク３．５個分入る大きさとなり、光ディスク媒体の検出系となる光スポットサイズに対してのマークの長さが短くなる。【００３２】
このため、光スポットサイズに入ってくるマークとスペースの組み合わせが、マークとスペースが１つずつのパターンだけでなく、複数のマークとスペースを有するパターンとなるものもある。【００３３】
故に、光スポットサイズに入ってくるマークとスペースの数によって、複数のエッジを含んだ位置ずれの影響を受けた信号が検出されることになる。【００３４】
例えば、図２７（ａ）に示すように、２つのスペースに挟まれた１つのマークのパターンと、図２７（ｂ）に示すように、２つのマークに挟まれた１つのスペースのパターンでは、２つのエッジを含んでいる。また、図２７（ｃ）に示すように２つのマークと２つのスペースを含むパターンでは、３つのエッジを含んでいる。【００３５】
特許文献３に記載されている情報記録媒体の記録再生品質の評価指標は、マーク長さとスペース長さの組み合わせによる１つのエッジずれを含む場合のみについて考慮したものとなっており、複数のエッジを有する位置ずれについての記録再生品質を評価することが考慮されていない。【００３６】
また、非特許文献１に、前述の青色レーザを用いた１２ｃｍの光ディスク媒体で、１層当たりの記録容量を３３．３ＧＢにし、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが記載されており、特許文献３には、ＰＲ１２２２１ＭＬについても適用が可能と記載されている。【００３７】
記録符号にＲＬＬ（１，７）を用いた光ディスク媒体に、ＰＲ１２２２１ＭＬを用いた場合、最短マークが連続し、最も確からしい状態遷移列と２番目に確からしい状態遷移列という２つの理想的な信号のユークリッド距離の２乗が１２となるパターンが存在する。【００３８】
このユークリッド距離の２乗が１２となるパターンの詳細については、本明細書内にて後述する。【００３９】
上記のユークリッド距離の２乗が１２となるパターンでは、最短マークが含まれており、図２７のように複数のエッジを含むパターンとして検出される。【００４０】
しかしながら、ＰＲＭＬ信号処理によって検出された複数のエッジずれ情報を含む検出信号を指標化することは可能だが、それぞれのエッジがどのようにずれているかを指標化することについて考慮されていない。【００４１】
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、高密度化した情報記録媒体の記録マークの符号間干渉や、情報記録媒体に情報が記録された際の熱干渉による様々な位置ずれについて、複数のエッジを含む検出信号をパターンごとに分類し指標化することで、記録再生品質を評価する方法と装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００４２】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。【００４３】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。【００４４】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。【００４５】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。【００４６】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。【００４７】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。【００４８】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。【００４９】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。【００５０】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。【００５１】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。【００５２】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。【００５３】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。【００５４】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。【００５５】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【発明の効果】
【００５６】
本発明によれば、２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を、２Ｔ／２Ｔ部分の前または後ろに３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンの差分メトリックを算出することにより得る。これにより、２Ｔ／２Ｔ部分の信号振幅変動が十分に得られない場合でも、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を検出することができる。【００５７】
本発明によれば、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することが可能となり、少なくとも１つ以上のエッジを含むデータパターンごとのエッジずれを指標化することが可能となる。【００５８】
また本発明によれば、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することが可能となり、少なくとも１つ以上のエッジを含むデータパターンごとのエッジずれを指標化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図３】図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図４】本発明の実施形態による表１に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による表２に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図６】本発明の実施形態による表３に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図７】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１４の差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図８】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ａの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図９】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ｂの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの差分メトリックの分布を示す図である。
【図１１】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの各ユークリッド距離パターンにおける差分メトリックの分布を示す図である。
【図１２】本発明の実施形態による表１に示す検出パターン１４のＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１３】本発明の実施形態による表２に示す検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１４】本発明の実施形態による表１に示す検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１５】本発明の実施形態による多層ディスクの構成例を示す図である。
【図１６】本発明の実施形態による単層ディスクの構成例を示す図である。
【図１７】本発明の実施形態による二層ディスクの構成例を示す図である。
【図１８】本発明の実施形態による三層ディスクの構成例を示す図である。
【図１９】本発明の実施形態による四層ディスクの構成例を示す図である。
【図２０】本発明の実施形態による光ディスクの物理的構成を示す図である。
【図２１】（ａ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤの例を示す図であり、（ｂ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す図である。
【図２２】本発明の実施形態によるトラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す図である。
【図２３】本発明の実施形態による２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークの関係を示す図である。
【図２４】本発明の実施形態による最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０になっている例を示す図である。
【図２５】パターンごとの差分メトリックの分布の一例を示す図である。
【図２６】光スポットサイズとマーク長さとの関係の一例を示す図である。
【図２７】光スポットサイズと複数のエッジを含むパターンとの関係の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００６０】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。
【００６１】
本発明の実施形態によるＰＲＭＬ方式を用いた光ディスク装置（信号評価装置）について図１を用いて説明する。光ディスク装置は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、そのデータ列を再生して得られる信号の評価を、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて行う。光ディスク装置において、再生系の信号処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いる。まず、図２および図３を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図２は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図３は、図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００６２】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【００６３】
図２に示すＰＲ１２２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図３に示すトレリス図が得られる。
【００６４】
図３に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。しかしながらエラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。この特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンは、表１、表２および表３に示すようにまとめることができる。
【００６５】
【表１】
2010038427.tif 000003
【００６６】
【表２】
2010038427.tif 000004
【００６７】
【表３】
2010038427.tif 000005
【００６８】
表１〜表３の第１番目の列は、エラーを起こしやすい２つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移（Sｍk-9→Sｎk）を表す。
【００６９】
第２番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列（ｂk-i，・・・，ｂk）を表す。
【００７０】
復調データ列中のＸは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このＸ数（!Ｘも同様）がエラー数となる。
【００７１】
遷移データ列の中で、Ｘが１もしくは０となった一方が、最も確からしい第１の状態遷移列に対応し、もう一方が２番目に確からしい第２の状態遷移列に対応する。
【００７２】
表２および表３において、！ＸはＸのビット反転を表している。
【００７３】
ビタビ復号部が復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較（ＸはＤｏｎ'ｔ  ｃａｒｅ）を行うことでエラーを起こしやすい最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列を抽出することができる。
【００７４】
３番目の列は、第１の状態遷移列および第２の状態遷移列を表している。
【００７５】
４番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）を示しており、５番目の列は、この２つの理想信号のユークリッド距離の2乗（パス間のユークリッド距離）を示している。
【００７６】
表１は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離の２乗が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。
【００７７】
これらのパターンは、光ディスク媒体のマークとスペースの切り替わり部分（波形のエッジ部分）に該当する。
【００７８】
言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。
【００７９】
一例として、図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【００８０】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００８１】
図４は、表１に示す上記記録系列のＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。上記示した記録系列のＰＲ等化理想波形を図４のＡパス波形として示す。
【００８２】
同様に、図５は、表２で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【００８３】
図６は、表３で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【００８４】
図４、図５および図６において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【００８５】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。
【００８６】
図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００８７】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図４にＢパス波形として示す。
【００８８】
表１に示すユークリッド距離の２乗が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれている点が特徴である。
【００８９】
表２は、ユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。
【００９０】
これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。
【００９１】
一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【００９２】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００９３】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＡパス波形として示す。
【００９４】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００９５】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＢパス波形として示す。
【００９６】
表２に示すユークリッド距離の２乗が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【００９７】
表３は、もう一種類のユークリッド距離の2乗が１２となる状態遷移列パターンを示し、１８種類ある。
【００９８】
これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。
【００９９】
一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【０１００】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０１】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＡパス波形として示す。
【０１０２】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０３】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＢパス波形として示す。
【０１０４】
表３に示すユークリッド距離の２乗が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【０１０５】
状態遷移列パターンが、２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ（「最短マーク／最短スペース」または「最短スペース／最短マーク」）を含む場合でも、１層当たりの記録容量が２５ＧＢでは、エッジ判別が十分可能な程度の信号振幅変動が得られていた。しかし、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢ以上となるような高密度の記録層になると、図６からわかるように、２Ｔ／２Ｔ部分では波形がほぼフラットになり、十分な信号振幅変動が得られないことが分かった。しかし本願発明者らが研究を重ねた結果、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出するためには、この２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンを用いて、差分メトリックを算出するのが有効であることを見出した。このようなパターンは、
「最短マーク／最短スペース／次最短以上のマーク」、
または「次最短以上のスペース／最短マーク／最短スペース」、
または「最短スペース／最短マーク／次最短以上のスペース」、
または「次最短以上のマーク／最短スペース／最短マーク」
である。
【０１０６】
上記のパターンは、言い換えると、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短マークに隣接し且つその最短スペースには隣接しないスペースの長さが、最短スペースよりも長いパターンである。あるいは、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短スペースに隣接し且つその最短マークには隣接しないマークの長さが、最短マークよりも長いパターンである。このような本発明の特徴のさらなる詳細は、図１４を参照しながら後述する。
【０１０７】
なお、本願明細書中において、“最短マーク”または“最短スペース”のことを単に“最短”と標記する場合がある。例えば、“最短／最短”と記載した場合は、“最短マーク”の後方に“最短スペース”が隣接していること、または“最短スペース”の後方に“最短マーク”が隣接していることを意味している。
【０１０８】
また、例えば「○／次最短以上／最短／最短／△」と記載した場合は、
任意の長さのマーク（またはスペース）、
次最短以上のスペース（またはマーク）、
最短マーク（またはスペース）、
最短スペース（またはマーク）、
任意の長さのマーク（またはスペース）
が順に並んだデータ列を意味している。なお、“次最短”とは“最短”の次に長い長さを表しており、ここでは３Ｔである。例えば、“次最短以上のスペース”は、“３Ｔ以上の長さのスペース”を意味している。
【０１０９】
（実施形態１）
次に、本発明の実施形態による光ディスク装置を説明する。
【０１１０】
図１は、本発明の第１の実施形態による光ディスク装置１００を示す図である。
【０１１１】
光ディスク装置１００は、搭載された情報記録媒体１から情報の再生を行うか、または、情報記録媒体１へ情報の記録を行う装置である。
【０１１２】
情報記録媒体１は、例えば光ディスク媒体である。
【０１１３】
光ディスク装置１００は、光ヘッド部２と、プリアンプ部３と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）部４と、波形等化部５と、Ａ／Ｄ変換部６と、ＰＬＬ部７と、ＰＲ等化部８と、最尤復号部９と、信号評価指標検出部１０と、光ディスクコントローラ部１５を備える。
【０１１４】
光ヘッド部２は、情報記録媒体のトラックにレーザ光を照射する照射部と、トラックからの反射光を受光する受光部とを備える。プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９は、上記受光により得られた信号に基づいてデータ列を再生する再生部として機能する。
【０１１５】
信号評価指標検出部１０は、上記表１（１４パターン）、表２（１２Ａパターン）、表３（１２Ｂパターン）に対応したパターンを検出する１４パターン検出部１０１、１２Ａパターン検出部１０４、１２Ｂパターン検出部１０７と、各パターンのメトリック差を演算する差分メトリック演算部１０２、１０５、１０８と、差分メトリック演算部１０２、１０５、１０８で演算された各パターンの位置ずれ指標を累積し保持するメモリ部１０３、０６、１０９とから構成されている。
【０１１６】
光ヘッド部２は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体１の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。
【０１１７】
レーザ光の波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【０１１８】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ４へ出力する。
【０１１９】
ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【０１２０】
波形等化部５は、再生信号の高域を遮断するＬＰＦ特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形を所望の特性に整形させてＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０１２１】
ＰＬＬ回路７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０１２２】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ回路７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７およびＡＧＣ部４へ出力する。
【０１２３】
ＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制および意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して最尤復号部９へ出力する。
【０１２４】
また、ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ構成を備え、ＬＭＳ（Ｔｈｅ  Ｌｅａｓｔ−Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（非特許文献２参照）。
【０１２５】
最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号して２値化データを出力する。
【０１２６】
この２値化データは、復調２値化信号として後段の光ディスクコントローラ１５へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報が再生される。
【０１２７】
信号評価指標検出部１０には、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とが入力される。
【０１２８】
パターン検出部１０１、１０４、１０７は表１、２、３の遷移データ列と２値化データを比較して、この２値化データが表１、２、３の遷移データ列と一致する場合は、表１、２、３に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０１２９】
この選択結果に基づき、差分メトリック演算部１０２、１０４、１０８では、状態遷移列の理想値（PR等化理想値：表１、２、３参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算され、更に２つの状態遷移列から演算されたメトリック同士の差が演算され、更に、このメトリック差は、プラスとマイナスの値を持つために絶対値処理が行われる。
【０１３０】
また、パターン検出部１０１、１０４、１０７は、２値化データに基づいて、図７、図８、図９で示したマークの始終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成して、メモリ部１０３、１０６、１０９に出力する。
【０１３１】
メモリ部１０３、１０６、１０９は、パターン検出部１０１、１０４、１０７から出力されたパルス信号に基づいて、差分メトリック演算部１０２、１０４、１０８で求められたそれぞれのパターンのメトリック差を、図７、図８、図９で示したパターンごとに累積加算する。
【０１３２】
ここで、図７、図８、図９の詳細なパターン分類について詳細な説明をする。
【０１３３】
図７、図８、図９内で、「Ｍ」はマーク、「Ｓ」はスペースを示している。
【０１３４】
また、ｉは時刻を示しており、例えば、（２Ｓ（ｉ−１）、３Ｍ（ｉ）、４Ｓ（ｉ＋１）とあれば、基準となる３Ｔマークの前に２Ｔスペース、後に４Ｔスペースがあることを意味する。
【０１３５】
図７、図８、図９の各パターン番号は、それぞれ表１、表２、表３に記載のパターンの番号に対応している。
【０１３６】
例えば、表１のパターン[１４]１Ａであれば、遷移データ列（０、０、０、０、１、１、１、０、０）から、０がスペース、１がマークだとすると、（４Ｔスペース以上、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上）というパターンになる。
【０１３７】
これのパターンは、図７の（ｗＳ（ｉ−３）、ｘＭ（ｉ−２）、４Ｓ（ｉ−１）、３Ｍ（ｉ）、ｙＳ（ｉ＋１），ｚＭ（ｉ＋２））となるセルに当てはまる。
【０１３８】
ｗ、ｘ、ｙ、ｚはマークやスペースのとりうる長さの任意の数値が入る。
【０１３９】
例えば、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合、は２〜９の任意の数値が入る。
【０１４０】
まず、図７の１４検出パターンの詳細なパターン分類は、１つのスペースと１つのマークからなる１つのエッジずれを分類している。１４検出パターンの始端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ−１のスペースに関するエッジずれを示し、１４検出パターンの終端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ＋１のスペースに関するエッジずれを示している。
【０１４１】
次に、図８の１２Ａ検出パターンの詳細なパターン分類は、図７の１４検出パターンの２Ｔマークと２Ｔスペースの分類に関して、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。
【０１４２】
１２Ａ検出パターンの始端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのズレを時刻ｉ＋１のスペースの長さによって分類、または時刻ｉと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類している。
【０１４３】
１２Ａ検出パターンの終端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのズレを時刻ｉ−１のスペースの長さによって分類、または時刻ｉと時刻ｉ＋２のマークに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類している。
【０１４４】
最後に、図９の１２Ｂ検出パターンの詳細なパターン分類は、図８の１２Ａ検出パターンの２Ｔマークと２Ｔスペースが連続するパターンの分類に関して、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって、場合分けしており、１つのマークと１つのスペースに挟まれた、２つ連続した２Ｔマークと２Ｔスペースの連続２Ｔのズレを分類している。
【０１４５】
１２Ｂ検出パターンの始端とは、時刻ｉ＋２のマークと時刻ｉ−１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類、または時刻ｉ−３のスペースと時刻ｉのマークに挟まれた時刻ｉ−２の２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−３のスペースの長さによって分類している。
【０１４６】
１２Ｂ検出パターンの終端とは、時刻ｉ＋１のスペースと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類、または時刻ｉのマークと時刻ｉ＋３のスペースに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースと時刻ｉ＋２の２Ｔマークのズレを時刻ｉ＋３のスペースの長さによって分類している。
【０１４７】
なお、図７、図８、図９中の各分類パターンの下に表記された“ｘ”、“０”、“１”で表されるビット列は、それぞれのパターンに対応したデータ列を表している。ここで、“０”はデータ列中のスペースに対応する２値化データを表し、“１”はデータ列中のマークに対応する２値化データを表わしている。データ列の基準周期をＴとした場合、一つの“０”は１Ｔ相当分のスペースに対応する２値化データを表し、一つの“１”は１Ｔ相当分のマークに対応する２値化データを表している。“ｘ”は“０”または“１”を表わしている。
【０１４８】
上述したパターン（最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短マークに隣接し且つその最短スペースには隣接しないスペースの長さが、最短スペースよりも長いパターン）の２値化データは、例えば「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ１１００１１０００ｘ」と表される。
【０１４９】
また、上述したパターン（最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短スペースに隣接し且つその最短マークには隣接しないマークの長さが、最短マークよりも長いパターン）の２値化データは、例えば「ｘ００１１００１１１ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」と表される。
【０１５０】
このような、２値化データから所定のパターンを認識する動作は、パターン検出部１０１、１０４、１０７が行う。例えば、上記の１２Ｂ検出パターンを検出する場合、パターン検出部１０７は、２値化データに基づき、データ列に含まれる第１のマークと、その第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、その第１のマークには隣接せず且つその第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識する。そして、その第１のスペースおよびその第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、その第１のマークには隣接せず且つその第２のマークに隣接する第２のスペースが、上記所定の長さよりも長いか否かを認識する。長い場合は、１２Ｂ検出パターンを検出する。所定の長さは例えば２Ｔであるがそれに限定されない。
【０１５１】
また、別の例では、上記の１２Ｂ検出パターンを検出する場合、パターン検出部１０７は、２値化データに基づき、データ列に含まれる第１のマークと、その第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、その第１のスペースには隣接せず且つその第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識する。そして、その第１のマークおよびその第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、その第１のスペースには隣接せず且つその第３のスペースに隣接する第３のマークが、上記所定の長さよりも長いか否かを認識する。長い場合は、１２Ｂ検出パターンを検出する。
【０１５２】
この例のように２値化信号に基づいて１２Ｂ検出パターンを検出した場合は、最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列を１２Ｂ検出パターンから選択する。差分メトリック演算部１０８は、これら第１および第２の状態遷移列とデジタル再生信号とを用いて差分メトリックを算出する。差分メトリックの演算結果を用いて再生信号品質を評価することができる。例えば、上述した２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出して品質を評価することができる。
【０１５３】
再生信号品質（記録品質）を評価するプロセスを以下、詳細に説明を行う。
【０１５４】
エラーレートと、より高い相関のある信号評価指標とするためには、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理において、エラーが発生する可能性が高いパターンをすべて考慮した評価方法が必要となる。
【０１５５】
図１０は、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理における差分メトリックの分布図である。
【０１５６】
横軸は、ユークリッド距離の２乗とし、縦軸は、その頻度を示している。
【０１５７】
ユークリッド距離の２乗が小さい分布ほど、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理において、エラーとなる可能性を秘めていることを示している。
【０１５８】
この図から、ユークリッド距離の２乗が１２と１４の部分に分布の群を持ち、それより高いユークリッド距離の２乗は、３０以上しかないことが分かる。
【０１５９】
すなわち、エラーレートと高い相関のある信号指標とするためには、ユークリッド距離の２乗が１２と１４の群に着目すれば十分であることがわかる。
【０１６０】
この群は、すなわち、表１及と表２と表３のパターンである。
【０１６１】
このパターンを識別するのが、パターン検出部１０１、１０４、１０７である。
【０１６２】
この識別されたパターンからメトリック差を演算する差分メトリック演算部の動作を以下に更に詳しく説明する。
【０１６３】
ＰＲＭＬ処理によりディスクより再生された再生信号から２値化信号を生成する。
【０１６４】
その２値化信号から表１の遷移データ列のパターンのいずれかを検出すると、状態遷移列１および２のＰＲ等化理想値が決定される。
【０１６５】
例えば、表１において、２値化信号として（０，０，０，０，Ｘ，１，１，０，０）が復調された場合、もっとも確からしい状態遷移列１としては、パターン[１４]１Ａ（Ｓ０，Ｓ１、Ｓ２，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ６）が選択され、２番目に確からしい状態遷移列２としてはパターン[１４]１Ｂ（Ｓ０，Ｓ０、Ｓ１，Ｓ２，Ｓ９，Ｓ６）が選択される。
【０１６６】
このとき、状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値は、（１，３，５，６，５）となる。
【０１６７】
一方、状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値は、（０，１，３，４，４）となる。
【０１６８】
次に、再生信号系列と状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値との差の２乗値を求め、それをＰａとし、同様に再生信号系列と状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値との差の２乗値を求め、それをＰｂとし、その差分の絶対値が差分メトリックＤ14＝｜Ｐａ14−Ｐｂ14｜となる。
【０１６９】
この処理を行うのが差分メトリック演算部の動作である。
【０１７０】
Ｐａ14の演算を式（１）に、Ｐｂ14の演算を式（２）に示す。
ここで、ａkは状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値、ｂkは状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値、ｙkは再生信号系列である。
【数１】
2010038427.tif 000006
【数２】
2010038427.tif 000007
【数３】
2010038427.tif 000008
【０１７１】
図１１の（Ａ）に差分メトリック演算部１０２の出力頻度分布を示す。
【０１７２】
同様に差分メトリック演算部１０５の出力を式（４）〜（６）に、差分メトリック演算部１０８の出力を式（７）〜（９）に示す。
【数４】
2010038427.tif 000009
【数５】
2010038427.tif 000010
【数６】
2010038427.tif 000011
【数７】
2010038427.tif 000012
【数８】
2010038427.tif 000013
【数９】
2010038427.tif 000014
【０１７３】
図１１（Ｂ）は、差分メトリック演算部１０５の出力頻度分布であり、図１１（Ｃ）は、差分メトリック演算部１０８の出力頻度分布である。
【０１７４】
図１１（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の分布は、その頻度と中心位置がそれぞれ異なっている。  また、これらのパターンがエラーを起こした際に発生するエラービット数も異なる。
【０１７５】
ユークリッド距離の２乗が１４の表１パターンは、１ビットエラーが発生するパターンであり、ユークリッド距離の２乗が１２の表２パターンは、２ビットエラーが発生するパターンであり、ユークリッド距離の２乗が１２の表３パターンは、３ビット以上のエラーが発生するパターンである。
【０１７６】
特に、表３パターンは、２Ｔ連続個数に依存し、例えば、６個連続まで許容されている記録変調符号であれば、最大６ビットエラーが発生するパターンとなる。
【０１７７】
表３では、６ビットエラーまで表現はしていないが、２Ｔの連続するパターンを拡張すればよい。
【０１７８】
しかし、本実施の形態では省略している。
【０１７９】
次に、上記差分メトリック演算を用いた、各検出パターンを詳細なパターンに分類する方法について説明する。
【０１８０】
まず、図１２は、１４パターンの例として、図４に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０１８１】
図１２（ａ）は、パスＡ２１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ２２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０１８２】
また、点線△印の再生波形２３は、パスＡ２１を基準に、パスＢ２２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０１８３】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ２１の理想のスペースとマークの位置をスペース２４とマーク２５で示し、再生波形２３が得られるスペースとマークの位置をスペース２６とマーク２７で示す。
【０１８４】
再生波形２３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、４．７、５．７、４．７）とする。
【０１８５】
このとき、パスＡ２１とパスＢ２２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、５、６、５），ｂk＝（０、１、３、４、４）である。
【０１８６】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形２３とパスＡ２１の距離Ｐa14、再生波形２３とパスＢ２２の距離Ｐｂ14は、式（１０）および式（１１）のように求まる。
【数１０】
2010038427.tif 000015
【数１１】
2010038427.tif 000016
【０１８７】
式（３）から、差分メトリックＤ14は式（１２）のように求まる。
【数１２】
2010038427.tif 000017
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ14とすると、Ｐａ14＝０となるときのＰｂ14の値になるので、Ｐｓｔｄ14は１４となる。
【０１８８】
最も確からしい状態遷移列パスＡ２１からの再生波形のズレ量Ｅ14は、以下の式（１３）で求められる。
【数１３】
2010038427.tif 000018
【０１８９】
式（１３）から求まるＥ14の絶対値がズレ量であり、その符号がズレ方向である。
【０１９０】
次に、Ｅ14の符号がどのようなズレ方向をあらわしているかを説明する。
【０１９１】
同様に、図１２（ｂ）は、点線△印の再生波形２９が、パスＡ２１を基準に、パスＢ２２から遠ざかる信号レベルを有する場合である。
【０１９２】
再生波形２９の信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（１．３、３．３、５．３、６．３、５．３）とし、Ｅ14（３２）を求めると、Ｅ14（３２）＝４．８と算出される。
【０１９３】
図１２（ｃ）、（ｄ）では、パスＢ２２が最も確からしい状態遷移列であるとした場合を示している。
【０１９４】
また、（ｃ）は、点線△印の再生波形３３が、パスＢ２２を基準に、パスＡ２１から遠ざかる信号レベルを有する場合を示し、（ｄ）は、点線△印の再生波形３９が、パスＢ２２を基準に、パスＡ２１に少し近づいた信号レベルを有する場合を示している。
【０１９５】
それぞれの再生波形３３、３９の信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０、０．７、２．７、３．７、３．７）、（０．３、１．３、３．３、４．３、４．３）とし、Ｅ14（３８）、Ｅ14（４２）を求めると、Ｅ14（３８）＝４．２、Ｅ14（４２）＝−４．８と算出される。
【０１９６】
以上のことから、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ14の値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ14の値の符号がプラスになる。
【０１９７】
図１３に、１２Ａパターンの例として、図５に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０１９８】
図１３は、パスＡ５１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ５２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０１９９】
また、点線△印の再生波形５３は、パスＡ５１を基準に、パスＢ５２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０２００】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ５１の理想のスペースとマークの位置をスペース５４、５６とマーク５５で示し、再生波形５３が得られるスペースとマークの位置をスペース５７、５９とマーク５８で示す。
【０２０１】
再生波形５３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-6、ｙk-5、ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、３．７、４、３．３、１．３、０．３）とする。
【０２０２】
このとき、パスＡ５１とパスＢ５２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、４、４、３、１、０），ｂk＝（０、１、３、４、４、３、１）である。
【０２０３】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形５３とパスＡ５１の距離Ｐａ12A、再生波形５３とパスＢ５２の距離Ｐｂ12Aは、式（１４）および式（１５）のように求まる。
【数１４】
2010038427.tif 000019
【数１５】
2010038427.tif 000020
【０２０４】
式（３）から、差分メトリックＤ12Aは式（１６）のように求まる。
【数１６】
2010038427.tif 000021
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ12Aとすると、Ｐａ12A＝０となるときのＰｂ12Aの値になるので、Ｐｓｔｄ12Aは１２となる。
【０２０５】
最も確からしい状態遷移列パスＡ５１からの再生波形のズレ量Ｅ12Aは、以下の式（１７）で求められる。
【数１７】
2010038427.tif 000022
【０２０６】
パターン１２Ａでもパターン１４と同様に、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ12Aの値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ12Aの値の符号がプラスになる。
【０２０７】
なお、図１３の例では、マーク５５とマーク５８が同じ長さのままズレることを述べているが、１２Ａパターンでのズレは、理想のマークと再生波形のマークの長さが異なる場合にも適用できる。
【０２０８】
図１４に、１２Ｂパターンの例として、図６に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０２０９】
図１４は、パスＡ７１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ７２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０２１０】
また、点線△印の再生波形７３は、パスＡ７１を基準に、パスＢ７２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０２１１】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ７１の理想のスペースとマークの位置をスペース７４、７６とマーク７５、７７で示し、再生波形７３が得られるスペースとマークの位置をスペース７８、８０とマーク７９、８１で示す。
【０２１２】
再生波形７３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-8、ｙk-7、ｙk-6、ｙk-5、
ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、３．７、４、４、４、４．７、５．７、４．７）とする。
【０２１３】
このとき、パスＡ７１とパスＢ７２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、４、４、４、４、５、６、５），ｂk＝（０、１、３、４、４、４、４、４、４）である。
【０２１４】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形７３とパスＡ７１の距離Ｐａ12B、再生波形７３とパスＢ７２の距離Ｐｂ12Bは、式（１８）および式（１９）のように求まる。
【数１８】
2010038427.tif 000023
【数１９】
2010038427.tif 000024
【０２１５】
式（３）から、差分メトリックＤ12Bは式（２０）のように求まる。
【数２０】
2010038427.tif 000025
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ12Bとすると、Ｐａ12B＝０となるときのＰｂ12Bの値になるので、Ｐｓｔｄ12Bは１２となる。
【０２１６】
最も確からしい状態遷移列パスＡ７１からの再生波形のズレ量Ｅ12Bは、以下の式（２１）で求められる。
【数２１】
2010038427.tif 000026
【０２１７】
パターン１２Ｂについても、パターン１４と同様に、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ12Bの値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ12Bの値の符号がプラスになる。
【０２１８】
なお、図１４の例では、マーク７５、スペース７６と、マーク７９、スペース８０のそれぞれの長さが同じままズレることを述べているが、１２Ｂパターンでのズレは、理想波形と再生波形で、マークやスペースの長さがそれぞれ異なる場合にも適用できる。
【０２１９】
また、上記で図６を参照しながら説明したが、状態遷移列パターンが２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ部分を含む場合、図１４からもわかるように、２Ｔ／２Ｔ部分では、十分な信号振幅変動が得られない。そのため、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出するためには、この２Ｔ／２Ｔ部分の前または後ろに、３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンを用いて、差分メトリックを算出するのが有効となる。このようなパターンは、
「最短マーク／最短スペース／次最短以上のマーク」、
または「次最短以上のスペース／最短マーク／最短スペース」、
または「最短スペース／最短マーク／次最短以上のスペース」、
または「次最短以上のマーク／最短スペース／最短マーク」
である。
【０２２０】
より具体的に説明すると、パスＡは、「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）／３Ｔマーク（７７）／２Ｔ以上のスペース」と示され、２Ｔ連続部分を含んでいる。このようなパスＡにおける、最短マーク（２Ｔマーク（７５））のエッジのズレ量は、「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）」のパターンの差分メトリックを算出することで得ることができる。そのような「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）のパターン」は、「２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上のマークまたはスペースを含むパターン」に該当する。
【０２２１】
また、パスＢは、「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペース／２Ｔマーク／２Ｔ以上のスペース」と示され、２Ｔ連続部分を含んでいる。このようなパスＢにおける、最短マーク（２Ｔマーク）のエッジのズレ量は、「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペース」のパターンの差分メトリックを算出することで得ることができる。そのような「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペースのパターン」は、「２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上のマークまたはスペースを含むパターン」に該当する。
【０２２２】
なお、上記で図６を参照しながら説明したように、ユークリッド距離の２乗が１２のパターンは、エッジ情報が少なくとも３つ含まれている。つまり、「○／次最短以上／最短／最短／△」または「○／最短／最短／次最短以上／△」のパターンを用いて最短マークのエッジのズレ量を算出することは、１２Ｂパターンに適用できるだけでなく、１２Ａパターンにも同様に適用できる。
【０２２３】
なお、上記の例では、十分な信号振幅変動が得られないパターンとして最短連続（例えば２Ｔ連続）を含むパターンを説明した。しかし、後述する記録密度やスポット径のサイズとの関係により、必ずしも２Ｔ連続部分だけが十分な信号振幅変動が得られないパターンに該当するとは限らない。そのような場合は、データ列に、十分な信号振幅変動が得られない長さ以下のマークとスペースの並び（所定長以下のマークと所定長以下のスペースの並び）があるかどうかを認識して、さらに、その並びに隣接したマークまたはスペースが上記所定長より長いか否かを識別するようにしてもよい。
【０２２４】
以上のように、本実施形態１によれば、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理を用いて、最も確からしい状態遷移列と２番目に確からしい状態遷移列という２つの理想的な信号のユークリッド距離の２乗が１２と１４となるパターンの差分メトリックを計算し、複数のエッジを含んだ検出信号において、それぞれのエッジがどのようにずれているかを、エラーレートと相関のある指標で表すことが可能となり、高密度な情報記録媒体において記録再生品質を評価することが可能となる。
【０２２５】
また、その評価指標を用いることで、高密度な情報記録媒体において、情報の再生時や記録時に、再生補償部や記録補償部へ記録品質評価結果をフィードバックし、再生時のエラー低減や、エラーの少ない記録品質の良い記録を行なうことが可能となる。
【０２２６】
本実施例で図１に示したプリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５は１つの、アナログ集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。
【０２２７】
プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９、信号評価指標検出部１０、光ディスクコントローラ部１５、アナログデジタル混載の１つの集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。
【０２２８】
なお、上述した光ディスク装置１００は、情報記録媒体を再生する再生装置であったが、記録再生装置や記録装置であってもよい。
【０２２９】
この場合は、記録のための回路が追加される構成となるが、本実施例において詳細な説明は省略する。例えば、光ディスク装置１００は、情報記録媒体１に情報を記録するための記録部を備える。記録部は、レーザ光の照射によりトラックにマークを形成し、マークとマーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する。記録部は、例えば、パターン発生部、記録補償部およびレーザ駆動部を備える。パターン発生部は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部は、光ディスクコントローラ部から受け取った記録パラメータと、記録パターンとに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。光ヘッド部２はトラックにレーザ光を照射し、トラックにマークが形成され、マークとスペースとが交互に並べられたデータ列が記録される。
【０２３０】
これら光ディスク装置の構成例は、本発明を限定するものではなく、他の構成であってもよい。
【０２３１】
なお、上記実施の形態では、最短マーク長さが２である符号と等化方式ＰＲ（１、２、２、２、１）から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。
【０２３２】
例えば、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合や最短マーク長さが３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０２３３】
なお、上記実施の形態では、各検出パターンにおいて、最短マーク長さのマークやスペースのみについて、詳細な分類を行なっているが、本発明はこれに限定されない。
【０２３４】
例えば、最短マーク長さでなくても、最短マークの次に長いマークやスペース、所定の長さよりも短いマークやスペースについても適用できる。
【０２３５】
次に、本発明の情報記録媒体についてより詳細に説明する。
【０２３６】
（主要パラメータ）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、ここではＢＤに関して説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ，書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがあり、本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲＯＭ(再生専用型)，Ｒ(追記型・ライトワンス型)，ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２３７】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、記録層が１層または２層設けられている。記録層の記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２３８】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（又は０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（又は６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（又は２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（又は２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（又は５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（又は５４．０４０ＧＢ））である。
【０２３９】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２４０】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（又は、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２４１】
なお、上記は既に商品化が進んでいる、主に１層当たり約２５ＧＢ（又は約２７ＧＢ）の１層又は２層のＢＤに関するものであるが、更なる大容量化として、１層あたりの記録容量を略３２ＧＢ又は略３３．４ＧＢとした高密度なＢＤや、層数を３層又は４層としたＢＤも検討されており、以降では、それらに関しても説明する。
【０２４２】
（多層について）
レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層ディスクの一般的な構成例を図１５に示す。図示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２で構成されている（ｎは０以上の整数）。その構成を具体的に説明すると、光ディスクには、レーザ光５０５が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、そして基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２の層間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２４３】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２４４】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向，スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。
【０２４５】
パラレル・パスでは、全ての層において、再生方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全層にて内周から外周の方向へ、又は全層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２４６】
一方、オポジット・パスでは、ある層とその層に隣接する層とで、再生方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）における再生方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、記録層Ｌ１における再生方向は外周から内周へ向かう方向であり、記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、再生方向は、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２４７】
保護層（カバー層）の厚みは、開口数ＮＡが上がることで、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５，ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚みを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚みはさらに薄くしてもよい。
【０２４８】
（１層から４層の各構成例）
ここで、単層ディスクの構成例を図１６に、二層ディスクの構成例を図１７に、三層ディスクの構成例を図１８に、四層ディスクの構成例を図１９に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、図１７から図１９のいずれにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）、基板５００の厚みは略１．１ｍｍ、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図１６の単層ディスク（図１５においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚みは略０．１ｍｍ、また、図１７の二層ディスク（図１５においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚みは略０．０７５ｍｍ、中間層５３０２の厚みは略０．０２５ｍｍ、また、図１８の三層ディスク（図１５においてｎ＝２の場合）や図１９の四層ディスク（図１５においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１３，５０１４の厚み、及び／又は、中間層５３０３，５３０４の厚みは、更に薄くなる。
【０２４９】
（光ディスクの製造方法）
これらの単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）は、以下のような工程により製造することができる。
【０２５０】
つまり、厚みが略１．１ｍｍの基板上に、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射することにより情報が再生可能なｋ個の記録層が形成される。
【０２５１】
次に、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層が形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は形成されない。
【０２５２】
次に、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層が形成される。
【０２５３】
そして、記録層を形成する工程において、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの内周側から外周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の偶数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの外周側から内周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす奇数であるｉは“１”しか存在しないため、ｉ番目の記録層としては１つの記録層しか形成されず、また、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす偶数であるｊは存在しないため、ｊ番目の記録層は形成されないことになる。
【０２５４】
そして、記録層におけるトラックには、各種の領域が割り当て可能となる。
【０２５５】
（光ディスクの再生装置）
このような単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）の再生は、以下のような構成を有する再生装置によって行われる。
【０２５６】
ディスクの構成としては、厚みが略１．１ｍｍの基板と、前記基板上にｋ個の記録層と、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層と（なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は存在しない）、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層と、を有する。ｋ個の記録層のそれぞれにはトラックが形成され、そのうちの少なくとも１つのトラックには、各種の領域が割り当て可能である。
【０２５７】
そして、前記保護層の表面側から、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射する光ヘッドによりｋ個の記録層のそれぞれから情報の再生が可能となる。
【０２５８】
そして、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの内周側から外周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｉ番目の記録層から情報を再生することができる。
【０２５９】
また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの外周側から内周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｊ番目の記録層から情報を再生することができる。
【０２６０】
（変調）
次に、記録信号の変調方式について述べる。データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２６１】
ここで変調則としては、マーク長が制限されるＲＬＬ（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈＬｉｍｉｔｅｄ）符号化方式などでもよく、ＲＬＬ（ｄ，ｋ）と表記した場合、１と１の間に出現する０が最小ｄ個，最大ｋ個であることを意味する（ｄおよびｋは、ｄ＜ｋを満たす自然数である）。例えばｄ＝１，ｋ＝７の場合、Ｔを変調の基準周期とすると、最短が２Ｔ、最長が８Ｔの記録マーク及びスペースとなる。またＲＬＬ（１，７）変調に更に次の［１］［２］の特徴を加味した１−７ＰＰ変調としてもよい。１−７ＰＰの“ＰＰ”とは、Parity preserve／Prohibit Repeated Minimum Transition Lengthの略で、［１］最初のＰであるParity preserveは、変調前のソースデータビットの“１”の個数の奇偶（すなわちParity）と、それに対応する変調後ビットパターンの“１”の個数の奇偶が一致していることを意味し、［２］後ろの方のＰであるProhibit Repeated Minimum Transition Lengthは、変調後の記録波形の上での最短マーク及びスペースの繰り返し回数を制限（具体的には、２Ｔの繰り返し回数を最大６回までに制限）する仕組みを意味する。
【０２６２】
なお、記録密度が向上すると、光ディスク媒体の記録密度は複数種類存在する可能性が生じることになる。この場合は、上記の各種のフォーマットや方式に関して、記録密度に応じて、その一部のみを採用したり、一部を別のフォーマットや方式に変更したりしてもよい。
【０２６３】
次に、光ディスクの物理的構成について説明する。
【０２６４】
図２０は、本実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク１には、たとえば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック２Ａが形成されており、各トラック２Ａには細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック２Ａには予め定められたサイズのブロック３Ａを単位としてデータが記録される。
【０２６５】
本実施形態による光ディスク１は、従来の光ディスク（たとえば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、たとえば光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク１は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２６６】
トラック２Ａは、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロックに分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロックは、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２６７】
（記録密度について）
次に、記録密度について、図２１、図２２および図２３を用いて説明する。
【０２６８】
図２１（ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ１２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０２６９】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック２Ａ上に物理変化のマーク列１２０、１２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク１２１が最短マークである。
【０２７０】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク１２１の物理的長さは０．１４９ｕｍとなっている。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０２７１】
図２２は、トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット３０Ａは、約０．３９ｕｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット３０Ａのスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２７２】
たとえば図２１（ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ１２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列１２５、１２４のうち、最短マーク１２５の物理的長さは０．１１１５ｕｍとなっている。図２１（ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９ｕｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２７３】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０２７４】
図２３は、２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０２７５】
そのため、図２１（ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０２７６】
図２４は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図２４において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０２７７】
（波長と開口数とマーク長との関係）
また、高記録密度のディスクＢにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０２７８】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとしたとき、（最短マーク長＋最短スペース長）を“Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いると、
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
となるまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超えることになる。
【０２７９】
ＮＡ＝０．８５，λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
となる（なお、逆に、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡ  である場合は、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い）。
【０２８０】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０２８１】
なお、以上では、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録密度に関して述べたものであるが、更に高密度化が進んだ場合には、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係により、以上と同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度，記録容量）を設定してもよい。
【０２８２】
（記録密度及び層数）
ここで、波長４０５ｎｍ，開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合においては、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，又は３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０２８３】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０２８４】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０２８５】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０２８６】
ここで、ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、即ち、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成をによって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０２８７】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０２８８】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０２８９】
以上、説明したように、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【０２９０】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【０２９１】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【０２９２】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【０２９３】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０２９４】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０２９５】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０２９６】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０２９７】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０２９８】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０２９９】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０３００】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０３０１】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０３０２】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０３０３】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分算出ステップと、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するステップを有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３０４】
ある実施形態では、前記第２のマークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０５】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のマークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【０３０６】
ある実施形態では、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０７】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分算出ステップと、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するステップを有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３０８】
ある実施形態では、前記第３のスペースの長さによる分類は、前記第１のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０９】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第３のスペースに隣接して位置する第３のマークの長さによってさらに分類する。
【０３１０】
ある実施形態では、前記第３のマークの長さによる分類は、前記第３のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１１】
ある実施形態では、前記所定の長さは、前記データ列の最短マーク長さとする。
【０３１２】
また、本発明の情報再生装置は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する情報再生装置であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分メトリック演算部と、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するパターン検出部を有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３１３】
ある実施形態では、前記第２のマークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１４】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のマークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【０３１５】
ある実施形態では、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１６】
また、本発明の情報再生装置は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する情報再生装置であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分メトリック演算部と、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するパターン検出部を有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３１７】
ある実施形態では、前記第３のスペースの長さによる分類は、前記第１のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１８】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第３のスペースに隣接して位置する第３のマークの長さによってさらに分類する。
【０３１９】
ある実施形態では、前記第３のマークの長さによる分類は、前記第３のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３２０】
ある実施形態では、前記所定の長さは、前記データ列の最短マーク長さとする。
【産業上の利用可能性】
【０３２１】
本発明は、最尤復号法を用いて信号処理を行う技術分野において特に有用である。
【符号の説明】
【０３２２】
１    情報記録媒体
２    光ヘッド部
３    プリアンプ部
４    ＡＧＣ部
５    波形等化部
６    Ａ／Ｄ変換部
７    ＰＬＬ部
８    ＰＲ等化部
９    最尤復号部
１０  信号評価指標検出部
１５  光ディスクコントローラ部
１００  光ディスク装置
１０１、１０４、１０７  パターン検出部
１０２、１０５、１０８  差分メトリック演算部
１０３、１０６、１０９  メモリ部
２１、２２  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形
２３、２９、３３、３９  検出パターン１４の再生波形
２４、３４  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形のスペース
２５、３５  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形のマーク
２６、３０、３６、４０  検出パターン１４の再生波形のスペース
２７、３１、３７、４１  検出パターン１４の再生波形のマーク
２８、３２、３８、４２  検出パターン１４のズレ量
５１、５２  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形
５３  検出パターン１２Ａの再生波形
５４、５６  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形のスペース
５５  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形のマーク
５７、５９  検出パターン１２Ａの再生波形のスペース
５８  検出パターン１２Ａの再生波形のマーク
６０  検出パターン１２Ａのズレ量
７１、７２  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形
７３  検出パターン１２Ｂの再生波形
７４、７６  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形のスペース
７５、７７  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形のマーク
７８、８０  検出パターン１２Ｂの再生波形のスペース
７９、８１  検出パターン１２Ｂの再生波形のマーク
８２  検出パターン１２Ｂのズレ量
２０１  光スポットサイズ
【図１】
2010038427.tif 000027
【図２】
2010038427.tif 000028
【図３】
2010038427.tif 000029
【図４】
2010038427.tif 000030
【図５】
2010038427.tif 000031
【図６】
2010038427.tif 000032
【図７】
2010038427.tif 000033
【図８】
2010038427.tif 000034
【図９】
2010038427.tif 000035
【図１０】
2010038427.tif 000036
【図１１】
2010038427.tif 000037
【図１２】
2010038427.tif 000038
【図１３】
2010038427.tif 000039
【図１４】
2010038427.tif 000040
【図１５】
2010038427.tif 000041
【図１６】
2010038427.tif 000042
【図１７】
2010038427.tif 000043
【図１８】
2010038427.tif 000044
【図１９】
2010038427.tif 000045
【図２０】
2010038427.tif 000046
【図２１】
2010038427.tif 000047
【図２２】
2010038427.tif 000048
【図２３】
2010038427.tif 000049
【図２４】
2010038427.tif 000050
【図２５】
2010038427.tif 000051
【図２６】
2010038427.tif 000052
【図２７】
2010038427.tif 000053
【手続補正書】
【提出日】平成22年5月24日(2010.5.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号を用いた信号処理方法および、最尤復号を用いて情報記録媒体を評価する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報記録媒体の高密度化により、記録マークの最短マーク長が検出系に依存する分解能の限界に近づいている。
【０００３】
例えば、情報記録媒体が光ディスク媒体である場合では、検出系に依存する分解能とはレーザ光を集光した光スポットの大きさによる光学的な分解能を指す。
【０００４】
その分解能の限界のため、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となり、信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を用いることが一般的になりつつある。
【０００５】
ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が起こることを前提に再生波形から最も確からしい信号系列を選択する方式である。
【０００６】
このため、従来のレベル判定方式よりも復号性能が向上することが知られている（例えば、非特許文献１）。
【０００７】
一方、信号処理方式がレベル判定方式からＰＲＭＬ方式へ移行することで、再生信号の評価方法に課題が出てきた。
【０００８】
従来から用いられてきた再生信号評価指標であるジッターは、レベル判定方式の信号処理を前提とするため、レベル判定とは信号処理のアルゴリズムが異なるＰＲＭＬ方式の復号性能との相関がない場合が出てきた。
【０００９】
そこで、ＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のある新たな指標が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２）。
【００１０】
ここで、記録再生品質が図２５に示すような分布となって検出された場合を考える。
【００１１】
図２５の分布は、３Ｔという長さのマークと、２Ｔ，３Ｔ，４Ｔ，５Ｔという長さのスペースで４つに分類した差分メトリックの分布と、それらの合計の分布を表している。Ｔはチャネルクロックを表している。
【００１２】
図２５は例として３Ｔ長さのみを分類しているが、本来は３Ｔ以外の長さのマークに対しても分類を行なう。
【００１３】
図２５（ａ）に示すように、マーク長さとスペース長さで分類しても全ての組み合わせで分布の幅にあたるＳＮ成分が支配的である場合と、図２５（ｂ）に示すようにマーク長さとスペース長さで分類すると、パターンごとでのＳＮ成分は良いが、分布の中心からのずれにあたるシフト成分がパターンごとに異なっており、それぞれの分布を合計するとＳＮ成分が悪いかのように見えている場合が存在する。
【００１４】
特許文献１の指標では、差分メトリックの分布がＳＮ成分によるものか、シフト成分によるものかを切り分けることができなかった。
【００１５】
この課題を解決したのが、特許文献３である。
【００１６】
特許文献３で提案されている指標は、マーク長さとスペース長さの組み合わせによって、マークとスペースの位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる。
【００１７】
つまり、特許文献１に提案されている指標で求められた記録再生品質を、ＳＮ成分とシフト成分とに切り分けることができる。
【００１８】
このＳＮ成分とシフト成分の切り分けにより、どのパターンでどのようなエラーが起こっているかを解析することが可能となった。
【００１９】
先に述べたように、情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮ劣化がさらに問題となる。
【００２０】
情報記録再生装置のシステムマージンを維持するためには、ＰＲＭＬ方式を高次の方式にすることで対応可能と非特許文献１に記載されている。
【００２１】
例えば、１２ｃｍの光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用することで、システムマージンを維持することができた。
【００２２】
しかし、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢの場合では、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが説明されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２３】
【特許文献１】特開２００３−１４１８２３号公報
【特許文献２】特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献３】特開２００４−３３５０７９号公報
【非特許文献】
【００２４】
【非特許文献１】図解  ブルーレイディスク読本  オーム社
【非特許文献２】適応信号処理アルゴリズム  培風館
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
特許文献３には、情報記録媒体の記録再生品質を表す、１つのマークと１つのスペースの組み合わせによる位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる指標が提案されている。
【００２６】
しかしながら、情報記録媒体が高密度化すると、検出系の分解能よりも極端に短いマークやスペースが現れるため、１つずつ以上のマークとスペースの組み合わせによる複数のエッジを含んだ位置ずれを考慮する必要がある。
【００２７】
以下、複数のエッジを含んだ位置ずれについて説明する。
【００２８】
例えば、４０５ｎｍの波長を有する青色レーザを用いた１２ｃｍの光ディスク媒体で説明する。
【００２９】
非特許文献１によれば、青色レーザを用いた光ディスク媒体で、レーザ光を集光させた光スポットサイズは３９０ｎｍであり、記録符号にＲＬＬ（１，７）を用いた記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合、最短マークの長さは１４９ｎｍとなる。
【００３０】
また、この光ディスク媒体で、１層当たりの記録容量を３３．３ＧＢとした場合、最短マークの長さは１１２ｎｍとなる。更なる高密度化を測ろうとすれば、さらに最短マークの長さは短くなる。
【００３１】
同じ検出系を使用した場合、図２６（ａ）に示すように、記録容量２５ＧＢでは、光スポット２０１の中に最短マーク２．６個分が入る大きさであったものが、図２６（ｂ）に示すように、記録容量３３．３ＧＢでは、光スポット２０１の中に最短マーク３．５個分入る大きさとなり、光ディスク媒体の検出系となる光スポットサイズに対してのマークの長さが短くなる。
【００３２】
このため、光スポットサイズに入ってくるマークとスペースの組み合わせが、マークとスペースが１つずつのパターンだけでなく、複数のマークとスペースを有するパターンとなるものもある。
【００３３】
故に、光スポットサイズに入ってくるマークとスペースの数によって、複数のエッジを含んだ位置ずれの影響を受けた信号が検出されることになる。
【００３４】
例えば、図２７（ａ）に示すように、２つのスペースに挟まれた１つのマークのパターンと、図２７（ｂ）に示すように、２つのマークに挟まれた１つのスペースのパターンでは、２つのエッジを含んでいる。また、図２７（ｃ）に示すように２つのマークと２つのスペースを含むパターンでは、３つのエッジを含んでいる。
【００３５】
特許文献３に記載されている情報記録媒体の記録再生品質の評価指標は、マーク長さとスペース長さの組み合わせによる１つのエッジずれを含む場合のみについて考慮したものとなっており、複数のエッジを有する位置ずれについての記録再生品質を評価することが考慮されていない。
【００３６】
また、非特許文献１に、前述の青色レーザを用いた１２ｃｍの光ディスク媒体で、１層当たりの記録容量を３３．３ＧＢにし、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが記載されており、特許文献３には、ＰＲ１２２２１ＭＬについても適用が可能と記載されている。
【００３７】
記録符号にＲＬＬ（１，７）を用いた光ディスク媒体に、ＰＲ１２２２１ＭＬを用いた場合、最短マークが連続し、最も確からしい状態遷移列と２番目に確からしい状態遷移列という２つの理想的な信号のユークリッド距離の２乗が１２となるパターンが存在する。
【００３８】
このユークリッド距離の２乗が１２となるパターンの詳細については、本明細書内にて後述する。
【００３９】
上記のユークリッド距離の２乗が１２となるパターンでは、最短マークが含まれており、図２７のように複数のエッジを含むパターンとして検出される。
【００４０】
しかしながら、ＰＲＭＬ信号処理によって検出された複数のエッジずれ情報を含む検出信号を指標化することは可能だが、それぞれのエッジがどのようにずれているかを指標化することについて考慮されていない。
【００４１】
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、高密度化した情報記録媒体の記録マークの符号間干渉や、情報記録媒体に情報が記録された際の熱干渉による様々な位置ずれについて、複数のエッジを含む検出信号をパターンごとに分類し指標化することで、記録再生品質を評価する方法と装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００４２】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【００４３】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【００４４】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【００４５】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【００４６】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【００４７】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【００４８】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【００４９】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【００５０】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【００５１】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【００５２】
本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【００５３】
本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【００５４】
本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【００５５】
本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【発明の効果】
【００５６】
本発明によれば、２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を、２Ｔ／２Ｔ部分の前または後ろに３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンの差分メトリックを算出することにより得る。これにより、２Ｔ／２Ｔ部分の信号振幅変動が十分に得られない場合でも、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を検出することができる。
【００５７】
本発明によれば、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することが可能となり、少なくとも１つ以上のエッジを含むデータパターンごとのエッジずれを指標化することが可能となる。
【００５８】
また本発明によれば、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することが可能となり、少なくとも１つ以上のエッジを含むデータパターンごとのエッジずれを指標化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図３】図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図４】本発明の実施形態による表１に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による表２に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図６】本発明の実施形態による表３に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図７】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１４の差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図８】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ａの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図９】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ｂの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの差分メトリックの分布を示す図である。
【図１１】本発明の実施形態によるＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの各ユークリッド距離パターンにおける差分メトリックの分布を示す図である。
【図１２】本発明の実施形態による表１に示す検出パターン１４のＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１３】本発明の実施形態による表２に示す検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１４】本発明の実施形態による表１に示す検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形、再生波形とマークのズレとの相関の一例を示す図である。
【図１５】本発明の実施形態による多層ディスクの構成例を示す図である。
【図１６】本発明の実施形態による単層ディスクの構成例を示す図である。
【図１７】本発明の実施形態による二層ディスクの構成例を示す図である。
【図１８】本発明の実施形態による三層ディスクの構成例を示す図である。
【図１９】本発明の実施形態による四層ディスクの構成例を示す図である。
【図２０】本発明の実施形態による光ディスクの物理的構成を示す図である。
【図２１】（ａ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤの例を示す図であり、（ｂ）は本発明の実施形態による２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す図である。
【図２２】本発明の実施形態によるトラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す図である。
【図２３】本発明の実施形態による２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークの関係を示す図である。
【図２４】本発明の実施形態による最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０になっている例を示す図である。
【図２５】パターンごとの差分メトリックの分布の一例を示す図である。
【図２６】光スポットサイズとマーク長さとの関係の一例を示す図である。
【図２７】光スポットサイズと複数のエッジを含むパターンとの関係の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００６０】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。
【００６１】
本発明の実施形態によるＰＲＭＬ方式を用いた光ディスク装置（信号評価装置）について図１を用いて説明する。光ディスク装置は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、そのデータ列を再生して得られる信号の評価を、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて行う。光ディスク装置において、再生系の信号処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いる。まず、図２および図３を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図２は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図３は、図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００６２】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【００６３】
図２に示すＰＲ１２２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図３に示すトレリス図が得られる。
【００６４】
図３に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。しかしながらエラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。この特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンは、表１、表２および表３に示すようにまとめることができる。
【００６５】
【表１】
2010038427.tif 000054
【００６６】
【表２】
2010038427.tif 000055
【００６７】
【表３】
2010038427.tif 000056
【００６８】
表１〜表３の第１番目の列は、エラーを起こしやすい２つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移（Sｍk-9→Sｎk）を表す。
【００６９】
第２番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列（ｂk-i，・・・，ｂk）を表す。
【００７０】
復調データ列中のＸは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このＸ数（!Ｘも同様）がエラー数となる。
【００７１】
遷移データ列の中で、Ｘが１もしくは０となった一方が、最も確からしい第１の状態遷移列に対応し、もう一方が２番目に確からしい第２の状態遷移列に対応する。
【００７２】
表２および表３において、！ＸはＸのビット反転を表している。
【００７３】
ビタビ復号部が復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較（ＸはＤｏｎ'ｔ  ｃａｒｅ）を行うことでエラーを起こしやすい最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列を抽出することができる。
【００７４】
３番目の列は、第１の状態遷移列および第２の状態遷移列を表している。
【００７５】
４番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）を示しており、５番目の列は、この２つの理想信号のユークリッド距離の2乗（パス間のユークリッド距離）を示している。
【００７６】
表１は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離の２乗が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。
【００７７】
これらのパターンは、光ディスク媒体のマークとスペースの切り替わり部分（波形のエッジ部分）に該当する。
【００７８】
言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。
【００７９】
一例として、図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【００８０】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００８１】
図４は、表１に示す上記記録系列のＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。上記示した記録系列のＰＲ等化理想波形を図４のＡパス波形として示す。
【００８２】
同様に、図５は、表２で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【００８３】
図６は、表３で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【００８４】
図４、図５および図６において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【００８５】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。
【００８６】
図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００８７】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図４にＢパス波形として示す。
【００８８】
表１に示すユークリッド距離の２乗が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれている点が特徴である。
【００８９】
表２は、ユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。
【００９０】
これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。
【００９１】
一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【００９２】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００９３】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＡパス波形として示す。
【００９４】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【００９５】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＢパス波形として示す。
【００９６】
表２に示すユークリッド距離の２乗が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【００９７】
表３は、もう一種類のユークリッド距離の2乗が１２となる状態遷移列パターンを示し、１８種類ある。
【００９８】
これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。
【００９９】
一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【０１００】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０１】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＡパス波形として示す。
【０１０２】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０３】
そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＢパス波形として示す。
【０１０４】
表３に示すユークリッド距離の２乗が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【０１０５】
状態遷移列パターンが、２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ（「最短マーク／最短スペース」または「最短スペース／最短マーク」）を含む場合でも、１層当たりの記録容量が２５ＧＢでは、エッジ判別が十分可能な程度の信号振幅変動が得られていた。しかし、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢ以上となるような高密度の記録層になると、図６からわかるように、２Ｔ／２Ｔ部分では波形がほぼフラットになり、十分な信号振幅変動が得られないことが分かった。しかし本願発明者らが研究を重ねた結果、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出するためには、この２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンを用いて、差分メトリックを算出するのが有効であることを見出した。このようなパターンは、
「最短マーク／最短スペース／次最短以上のマーク」、
または「次最短以上のスペース／最短マーク／最短スペース」、
または「最短スペース／最短マーク／次最短以上のスペース」、
または「次最短以上のマーク／最短スペース／最短マーク」
である。
【０１０６】
上記のパターンは、言い換えると、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短マークに隣接し且つその最短スペースには隣接しないスペースの長さが、最短スペースよりも長いパターンである。あるいは、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短スペースに隣接し且つその最短マークには隣接しないマークの長さが、最短マークよりも長いパターンである。このような本発明の特徴のさらなる詳細は、図１４を参照しながら後述する。
【０１０７】
なお、本願明細書中において、“最短マーク”または“最短スペース”のことを単に“最短”と標記する場合がある。例えば、“最短／最短”と記載した場合は、“最短マーク”の後方に“最短スペース”が隣接していること、または“最短スペース”の後方に“最短マーク”が隣接していることを意味している。
【０１０８】
また、例えば「○／次最短以上／最短／最短／△」と記載した場合は、
任意の長さのマーク（またはスペース）、
次最短以上のスペース（またはマーク）、
最短マーク（またはスペース）、
最短スペース（またはマーク）、
任意の長さのマーク（またはスペース）
が順に並んだデータ列を意味している。なお、“次最短”とは“最短”の次に長い長さを表しており、ここでは３Ｔである。例えば、“次最短以上のスペース”は、“３Ｔ以上の長さのスペース”を意味している。
【０１０９】
（実施形態１）
次に、本発明の実施形態による光ディスク装置を説明する。
【０１１０】
図１は、本発明の第１の実施形態による光ディスク装置１００を示す図である。
【０１１１】
光ディスク装置１００は、搭載された情報記録媒体１から情報の再生を行うか、または、情報記録媒体１へ情報の記録を行う装置である。
【０１１２】
情報記録媒体１は、例えば光ディスク媒体である。
【０１１３】
光ディスク装置１００は、光ヘッド部２と、プリアンプ部３と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）部４と、波形等化部５と、Ａ／Ｄ変換部６と、ＰＬＬ部７と、ＰＲ等化部８と、最尤復号部９と、信号評価指標検出部１０と、光ディスクコントローラ部１５を備える。
【０１１４】
光ヘッド部２は、情報記録媒体のトラックにレーザ光を照射する照射部と、トラックからの反射光を受光する受光部とを備える。プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９は、上記受光により得られた信号に基づいてデータ列を再生する再生部として機能する。
【０１１５】
信号評価指標検出部１０は、上記表１（１４パターン）、表２（１２Ａパターン）、表３（１２Ｂパターン）に対応したパターンを検出する１４パターン検出部１０１、１２Ａパターン検出部１０４、１２Ｂパターン検出部１０７と、各パターンのメトリック差を演算する差分メトリック演算部１０２、１０５、１０８と、差分メトリック演算部１０２、１０５、１０８で演算された各パターンの位置ずれ指標を累積し保持するメモリ部１０３、１０６、１０９とから構成されている。
【０１１６】
光ヘッド部２は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体１の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。
【０１１７】
レーザ光の波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【０１１８】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ４へ出力する。
【０１１９】
ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【０１２０】
波形等化部５は、再生信号の高域を遮断するＬＰＦ特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形を所望の特性に整形させてＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０１２１】
ＰＬＬ回路７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０１２２】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ回路７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７およびＡＧＣ部４へ出力する。
【０１２３】
ＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制および意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して最尤復号部９へ出力する。
【０１２４】
また、ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ構成を備え、ＬＭＳ（Ｔｈｅ  Ｌｅａｓｔ−Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（非特許文献２参照）。
【０１２５】
最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号して２値化データを出力する。
【０１２６】
この２値化データは、復調２値化信号として後段の光ディスクコントローラ１５へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報が再生される。
【０１２７】
信号評価指標検出部１０には、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とが入力される。
【０１２８】
パターン検出部１０１、１０４、１０７は表１、２、３の遷移データ列と２値化データを比較して、この２値化データが表１、２、３の遷移データ列と一致する場合は、表１、２、３に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０１２９】
この選択結果に基づき、差分メトリック演算部１０２、１０４、１０８では、状態遷移列の理想値（PR等化理想値：表１、２、３参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算され、更に２つの状態遷移列から演算されたメトリック同士の差が演算され、更に、このメトリック差は、プラスとマイナスの値を持つために絶対値処理が行われる。
【０１３０】
また、パターン検出部１０１、１０４、１０７は、２値化データに基づいて、図７、図８、図９で示したマークの始終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成して、メモリ部１０３、１０６、１０９に出力する。
【０１３１】
メモリ部１０３、１０６、１０９は、パターン検出部１０１、１０４、１０７から出力されたパルス信号に基づいて、差分メトリック演算部１０２、１０４、１０８で求められたそれぞれのパターンのメトリック差を、図７、図８、図９で示したパターンごとに累積加算する。
【０１３２】
ここで、図７、図８、図９の詳細なパターン分類について詳細な説明をする。
【０１３３】
図７、図８、図９内で、「Ｍ」はマーク、「Ｓ」はスペースを示している。
【０１３４】
また、ｉは時刻を示しており、例えば、（２Ｓ（ｉ−１）、３Ｍ（ｉ）、４Ｓ（ｉ＋１）とあれば、基準となる３Ｔマークの前に２Ｔスペース、後に４Ｔスペースがあることを意味する。
【０１３５】
図７、図８、図９の各パターン番号は、それぞれ表１、表２、表３に記載のパターンの番号に対応している。
【０１３６】
例えば、表１のパターン[１４]１Ａであれば、遷移データ列（０、０、０、０、１、１、１、０、０）から、０がスペース、１がマークだとすると、（４Ｔスペース以上、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上）というパターンになる。
【０１３７】
これのパターンは、図７の（ｗＳ（ｉ−３）、ｘＭ（ｉ−２）、４Ｓ（ｉ−１）、３Ｍ（ｉ）、ｙＳ（ｉ＋１），ｚＭ（ｉ＋２））となるセルに当てはまる。
【０１３８】
ｗ、ｘ、ｙ、ｚはマークやスペースのとりうる長さの任意の数値が入る。
【０１３９】
例えば、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合、は２〜９の任意の数値が入る。
【０１４０】
まず、図７の１４検出パターンの詳細なパターン分類は、１つのスペースと１つのマークからなる１つのエッジずれを分類している。１４検出パターンの始端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ−１のスペースに関するエッジずれを示し、１４検出パターンの終端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ＋１のスペースに関するエッジずれを示している。
【０１４１】
次に、図８の１２Ａ検出パターンの詳細なパターン分類は、図７の１４検出パターンの２Ｔマークと２Ｔスペースの分類に関して、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。
【０１４２】
１２Ａ検出パターンの始端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのズレを時刻ｉ＋１のスペースの長さによって分類、または時刻ｉと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類している。
【０１４３】
１２Ａ検出パターンの終端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのズレを時刻ｉ−１のスペースの長さによって分類、または時刻ｉと時刻ｉ＋２のマークに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類している。
【０１４４】
最後に、図９の１２Ｂ検出パターンの詳細なパターン分類は、図８の１２Ａ検出パターンの２Ｔマークと２Ｔスペースが連続するパターンの分類に関して、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって、場合分けしており、１つのマークと１つのスペースに挟まれた、２つ連続した２Ｔマークと２Ｔスペースの連続２Ｔのズレを分類している。
【０１４５】
１２Ｂ検出パターンの始端とは、時刻ｉ＋２のマークと時刻ｉ−１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類、または時刻ｉ−３のスペースと時刻ｉのマークに挟まれた時刻ｉ−２の２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−３のスペースの長さによって分類している。
【０１４６】
１２Ｂ検出パターンの終端とは、時刻ｉ＋１のスペースと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのズレを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類、または時刻ｉのマークと時刻ｉ＋３のスペースに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースと時刻ｉ＋２の２Ｔマークのズレを時刻ｉ＋３のスペースの長さによって分類している。
【０１４７】
なお、図７、図８、図９中の各分類パターンの下に表記された“ｘ”、“０”、“１”で表されるビット列は、それぞれのパターンに対応したデータ列を表している。ここで、“０”はデータ列中のスペースに対応する２値化データを表し、“１”はデータ列中のマークに対応する２値化データを表わしている。データ列の基準周期をＴとした場合、一つの“０”は１Ｔ相当分のスペースに対応する２値化データを表し、一つの“１”は１Ｔ相当分のマークに対応する２値化データを表している。“ｘ”は“０”または“１”を表わしている。
【０１４８】
上述したパターン（最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短マークに隣接し且つその最短スペースには隣接しないスペースの長さが、最短スペースよりも長いパターン）の２値化データは、例えば「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ１１００１１０００ｘ」と表される。
【０１４９】
また、上述したパターン（最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンであって、その最短スペースに隣接し且つその最短マークには隣接しないマークの長さが、最短マークよりも長いパターン）の２値化データは、例えば「ｘ００１１００１１１ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」と表される。
【０１５０】
このような、２値化データから所定のパターンを認識する動作は、パターン検出部１０１、１０４、１０７が行う。例えば、上記の１２Ｂ検出パターンを検出する場合、パターン検出部１０７は、２値化データに基づき、データ列に含まれる第１のマークと、その第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、その第１のマークには隣接せず且つその第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識する。そして、その第１のスペースおよびその第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、その第１のマークには隣接せず且つその第２のマークに隣接する第２のスペースが、上記所定の長さよりも長いか否かを認識する。長い場合は、１２Ｂ検出パターンを検出する。所定の長さは例えば２Ｔであるがそれに限定されない。
【０１５１】
また、別の例では、上記の１２Ｂ検出パターンを検出する場合、パターン検出部１０７は、２値化データに基づき、データ列に含まれる第１のマークと、その第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、その第１のスペースには隣接せず且つその第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識する。そして、その第１のマークおよびその第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、その第１のスペースには隣接せず且つその第３のスペースに隣接する第３のマークが、上記所定の長さよりも長いか否かを認識する。長い場合は、１２Ｂ検出パターンを検出する。
【０１５２】
この例のように２値化信号に基づいて１２Ｂ検出パターンを検出した場合は、最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列を１２Ｂ検出パターンから選択する。差分メトリック演算部１０８は、これら第１および第２の状態遷移列とデジタル再生信号とを用いて差分メトリックを算出する。差分メトリックの演算結果を用いて再生信号品質を評価することができる。例えば、上述した２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出して品質を評価することができる。
【０１５３】
再生信号品質（記録品質）を評価するプロセスを以下、詳細に説明を行う。
【０１５４】
エラーレートと、より高い相関のある信号評価指標とするためには、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理において、エラーが発生する可能性が高いパターンをすべて考慮した評価方法が必要となる。
【０１５５】
図１０は、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理における差分メトリックの分布図である。
【０１５６】
横軸は、ユークリッド距離の２乗とし、縦軸は、その頻度を示している。
【０１５７】
ユークリッド距離の２乗が小さい分布ほど、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理において、エラーとなる可能性を秘めていることを示している。
【０１５８】
この図から、ユークリッド距離の２乗が１２と１４の部分に分布の群を持ち、それより高いユークリッド距離の２乗は、３０以上しかないことが分かる。
【０１５９】
すなわち、エラーレートと高い相関のある信号指標とするためには、ユークリッド距離の２乗が１２と１４の群に着目すれば十分であることがわかる。
【０１６０】
この群は、すなわち、表１及と表２と表３のパターンである。
【０１６１】
このパターンを識別するのが、パターン検出部１０１、１０４、１０７である。
【０１６２】
この識別されたパターンからメトリック差を演算する差分メトリック演算部の動作を以下に更に詳しく説明する。
【０１６３】
ＰＲＭＬ処理によりディスクより再生された再生信号から２値化信号を生成する。
【０１６４】
その２値化信号から表１の遷移データ列のパターンのいずれかを検出すると、状態遷移列１および２のＰＲ等化理想値が決定される。
【０１６５】
例えば、表１において、２値化信号として（０，０，０，０，Ｘ，１，１，０，０）が復調された場合、もっとも確からしい状態遷移列１としては、パターン[１４]１Ａ（Ｓ０，Ｓ１、Ｓ２，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ６）が選択され、２番目に確からしい状態遷移列２としてはパターン[１４]１Ｂ（Ｓ０，Ｓ０、Ｓ１，Ｓ２，Ｓ９，Ｓ６）が選択される。
【０１６６】
このとき、状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値は、（１，３，５，６，５）となる。
【０１６７】
一方、状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値は、（０，１，３，４，４）となる。
【０１６８】
次に、再生信号系列と状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値との差の２乗値を求め、それをＰａとし、同様に再生信号系列と状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値との差の２乗値を求め、それをＰｂとし、その差分の絶対値が差分メトリックＤ14＝｜Ｐａ14−Ｐｂ14｜となる。
【０１６９】
この処理を行うのが差分メトリック演算部の動作である。
【０１７０】
Ｐａ14の演算を式（１）に、Ｐｂ14の演算を式（２）に示す。
ここで、ａkは状態遷移列１に対応するＰＲ等化理想値、ｂkは状態遷移列２に対応するＰＲ等化理想値、ｙkは再生信号系列である。
【数１】
2010038427.tif 000057
【数２】
2010038427.tif 000058
【数３】
2010038427.tif 000059
【０１７１】
図１１の（Ａ）に差分メトリック演算部１０２の出力頻度分布を示す。
【０１７２】
同様に差分メトリック演算部１０５の出力を式（４）〜（６）に、差分メトリック演算部１０８の出力を式（７）〜（９）に示す。
【数４】
2010038427.tif 000060
【数５】
2010038427.tif 000061
【数６】
2010038427.tif 000062
【数７】
2010038427.tif 000063
【数８】
2010038427.tif 000064
【数９】
2010038427.tif 000065
【０１７３】
図１１（Ｂ）は、差分メトリック演算部１０５の出力頻度分布であり、図１１（Ｃ）は、差分メトリック演算部１０８の出力頻度分布である。
【０１７４】
図１１（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の分布は、その頻度と中心位置がそれぞれ異なっている。  また、これらのパターンがエラーを起こした際に発生するエラービット数も異なる。
【０１７５】
ユークリッド距離の２乗が１４の表１パターンは、１ビットエラーが発生するパターンであり、ユークリッド距離の２乗が１２の表２パターンは、２ビットエラーが発生するパターンであり、ユークリッド距離の２乗が１２の表３パターンは、３ビット以上のエラーが発生するパターンである。
【０１７６】
特に、表３パターンは、２Ｔ連続個数に依存し、例えば、６個連続まで許容されている記録変調符号であれば、最大６ビットエラーが発生するパターンとなる。
【０１７７】
表３では、６ビットエラーまで表現はしていないが、２Ｔの連続するパターンを拡張すればよい。
【０１７８】
しかし、本実施の形態では省略している。
【０１７９】
次に、上記差分メトリック演算を用いた、各検出パターンを詳細なパターンに分類する方法について説明する。
【０１８０】
まず、図１２は、１４パターンの例として、図４に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０１８１】
図１２（ａ）は、パスＡ２１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ２２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０１８２】
また、点線△印の再生波形２３は、パスＡ２１を基準に、パスＢ２２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０１８３】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ２１の理想のスペースとマークの位置をスペース２４とマーク２５で示し、再生波形２３が得られるスペースとマークの位置をスペース２６とマーク２７で示す。
【０１８４】
再生波形２３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、４．７、５．７、４．７）とする。
【０１８５】
このとき、パスＡ２１とパスＢ２２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、５、６、５），ｂk＝（０、１、３、４、４）である。
【０１８６】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形２３とパスＡ２１の距離Ｐa14、再生波形２３とパスＢ２２の距離Ｐｂ14は、式（１０）および式（１１）のように求まる。
【数１０】
2010038427.tif 000066
【数１１】
2010038427.tif 000067
【０１８７】
式（３）から、差分メトリックＤ14は式（１２）のように求まる。
【数１２】
2010038427.tif 000068
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ14とすると、Ｐａ14＝０となるときのＰｂ14の値になるので、Ｐｓｔｄ14は１４となる。
【０１８８】
最も確からしい状態遷移列パスＡ２１からの再生波形のズレ量Ｅ14は、以下の式（１３）で求められる。
【数１３】
2010038427.tif 000069
【０１８９】
式（１３）から求まるＥ14の絶対値がズレ量であり、その符号がズレ方向である。
【０１９０】
次に、Ｅ14の符号がどのようなズレ方向をあらわしているかを説明する。
【０１９１】
同様に、図１２（ｂ）は、点線△印の再生波形２９が、パスＡ２１を基準に、パスＢ２２から遠ざかる信号レベルを有する場合である。
【０１９２】
再生波形２９の信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（１．３、３．３、５．３、６．３、５．３）とし、Ｅ14（３２）を求めると、Ｅ14（３２）＝４．８と算出される。
【０１９３】
図１２（ｃ）、（ｄ）では、パスＢ２２が最も確からしい状態遷移列であるとした場合を示している。
【０１９４】
また、（ｃ）は、点線△印の再生波形３３が、パスＢ２２を基準に、パスＡ２１から遠ざかる信号レベルを有する場合を示し、（ｄ）は、点線△印の再生波形３９が、パスＢ２２を基準に、パスＡ２１に少し近づいた信号レベルを有する場合を示している。
【０１９５】
それぞれの再生波形３３、３９の信号レベル（ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０、０．７、２．７、３．７、３．７）、（０．３、１．３、３．３、４．３、４．３）とし、Ｅ14（３８）、Ｅ14（４２）を求めると、Ｅ14（３８）＝４．２、Ｅ14（４２）＝−４．８と算出される。
【０１９６】
以上のことから、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ14の値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ14の値の符号がプラスになる。
【０１９７】
図１３に、１２Ａパターンの例として、図５に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０１９８】
図１３は、パスＡ５１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ５２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０１９９】
また、点線△印の再生波形５３は、パスＡ５１を基準に、パスＢ５２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０２００】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ５１の理想のスペースとマークの位置をスペース５４、５６とマーク５５で示し、再生波形５３が得られるスペースとマークの位置をスペース５７、５９とマーク５８で示す。
【０２０１】
再生波形５３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-6、ｙk-5、ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、３．７、４、３．３、１．３、０．３）とする。
【０２０２】
このとき、パスＡ５１とパスＢ５２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、４、４、３、１、０），ｂk＝（０、１、３、４、４、３、１）である。
【０２０３】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形５３とパスＡ５１の距離Ｐａ12A、再生波形５３とパスＢ５２の距離Ｐｂ12Aは、式（１４）および式（１５）のように求まる。
【数１４】
2010038427.tif 000070
【数１５】
2010038427.tif 000071
【０２０４】
式（３）から、差分メトリックＤ12Aは式（１６）のように求まる。
【数１６】
2010038427.tif 000072
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ12Aとすると、Ｐａ12A＝０となるときのＰｂ12Aの値になるので、Ｐｓｔｄ12Aは１２となる。
【０２０５】
最も確からしい状態遷移列パスＡ５１からの再生波形のズレ量Ｅ12Aは、以下の式（１７）で求められる。
【数１７】
2010038427.tif 000073
【０２０６】
パターン１２Ａでもパターン１４と同様に、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ12Aの値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ12Aの値の符号がプラスになる。
【０２０７】
なお、図１３の例では、マーク５５とマーク５８が同じ長さのままズレることを述べているが、１２Ａパターンでのズレは、理想のマークと再生波形のマークの長さが異なる場合にも適用できる。
【０２０８】
図１４に、１２Ｂパターンの例として、図６に示したパターンについての再生波形とマークのずれとの相関を示す。
【０２０９】
図１４は、パスＡ７１が最も確からしい状態遷移列であり、パスＢ７２が２番目に確からしい状態遷移列である。
【０２１０】
また、点線△印の再生波形７３は、パスＡ７１を基準に、パスＢ７２に少し近づいた信号レベルを有する情報記録媒体のデータを再生した際の再生波形を示す。
【０２１１】
また、最も確からしい状態遷移列のパスＡ７１の理想のスペースとマークの位置をスペース７４、７６とマーク７５、７７で示し、再生波形７３が得られるスペースとマークの位置をスペース７８、８０とマーク７９、８１で示す。
【０２１２】
再生波形７３の各サンプル点での信号レベル（ｙk-8、ｙk-7、ｙk-6、ｙk-5、
ｙk-4、ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（０．７、２．７、３．７、４、４、４、４．７、５．７、４．７）とする。
【０２１３】
このとき、パスＡ７１とパスＢ７２のそれぞれの信号レベルは、ａk＝（１、３、４、４、４、４、５、６、５），ｂk＝（０、１、３、４、４、４、４、４、４）である。
【０２１４】
上記の各信号レベルと、式（１）および式（２）から、再生波形７３とパスＡ７１の距離Ｐａ12B、再生波形７３とパスＢ７２の距離Ｐｂ12Bは、式（１８）および式（１９）のように求まる。
【数１８】
2010038427.tif 000074
【数１９】
2010038427.tif 000075
【０２１５】
式（３）から、差分メトリックＤ12Bは式（２０）のように求まる。
【数２０】
2010038427.tif 000076
ここで、パスＡとパスＢの距離をＰｓｔｄ12Bとすると、Ｐａ12B＝０となるときのＰｂ12Bの値になるので、Ｐｓｔｄ12Bは１２となる。
【０２１６】
最も確からしい状態遷移列パスＡ７１からの再生波形のズレ量Ｅ12Bは、以下の式（２１）で求められる。
【数２１】
2010038427.tif 000077
【０２１７】
パターン１２Ｂについても、パターン１４と同様に、再生波形が最も確からしい状態遷移を基準に、２番目に確からしい状態遷移列に距離が近づく信号レベルを有しているときにＥ12Bの値の符号がマイナスになり、再生波形が最も確からしい状態遷移列を基準に、２番目に確からしい状態遷移列から距離が遠ざかる信号レベルを有しているときにＥ12Bの値の符号がプラスになる。
【０２１８】
なお、図１４の例では、マーク７５、スペース７６と、マーク７９、スペース８０のそれぞれの長さが同じままズレることを述べているが、１２Ｂパターンでのズレは、理想波形と再生波形で、マークやスペースの長さがそれぞれ異なる場合にも適用できる。
【０２１９】
また、上記で図６を参照しながら説明したが、状態遷移列パターンが２Ｔ連続パターンである２Ｔ／２Ｔ部分を含む場合、図１４からもわかるように、２Ｔ／２Ｔ部分では、十分な信号振幅変動が得られない。そのため、２Ｔ／２Ｔ部分の最短マークのエッジのズレ量を算出するためには、この２Ｔ／２Ｔ部分の前または後ろに、３Ｔ以上の長さのマークまたはスペースを含むパターンを用いて、差分メトリックを算出するのが有効となる。このようなパターンは、
「最短マーク／最短スペース／次最短以上のマーク」、
または「次最短以上のスペース／最短マーク／最短スペース」、
または「最短スペース／最短マーク／次最短以上のスペース」、
または「次最短以上のマーク／最短スペース／最短マーク」
である。
【０２２０】
より具体的に説明すると、パスＡは、「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）／３Ｔマーク（７７）／２Ｔ以上のスペース」と示され、２Ｔ連続部分を含んでいる。このようなパスＡにおける、最短マーク（２Ｔマーク（７５））のエッジのズレ量は、「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）」のパターンの差分メトリックを算出することで得ることができる。そのような「４Ｔ以上のスペース（７４）／２Ｔマーク（７５）／２Ｔスペース（７６）のパターン」は、「２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上のマークまたはスペースを含むパターン」に該当する。
【０２２１】
また、パスＢは、「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペース／２Ｔマーク／２Ｔ以上のスペース」と示され、２Ｔ連続部分を含んでいる。このようなパスＢにおける、最短マーク（２Ｔマーク）のエッジのズレ量は、「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペース」のパターンの差分メトリックを算出することで得ることができる。そのような「５Ｔ以上のスペース／２Ｔマーク／２Ｔスペースのパターン」は、「２Ｔ／２Ｔの前または後ろに３Ｔ以上のマークまたはスペースを含むパターン」に該当する。
【０２２２】
なお、上記で図６を参照しながら説明したように、ユークリッド距離の２乗が１２のパターンは、エッジ情報が少なくとも３つ含まれている。つまり、「○／次最短以上／最短／最短／△」または「○／最短／最短／次最短以上／△」のパターンを用いて最短マークのエッジのズレ量を算出することは、１２Ｂパターンに適用できるだけでなく、１２Ａパターンにも同様に適用できる。
【０２２３】
なお、上記の例では、十分な信号振幅変動が得られないパターンとして最短連続（例えば２Ｔ連続）を含むパターンを説明した。しかし、後述する記録密度やスポット径のサイズとの関係により、必ずしも２Ｔ連続部分だけが十分な信号振幅変動が得られないパターンに該当するとは限らない。そのような場合は、データ列に、十分な信号振幅変動が得られない長さ以下のマークとスペースの並び（所定長以下のマークと所定長以下のスペースの並び）があるかどうかを認識して、さらに、その並びに隣接したマークまたはスペースが上記所定長より長いか否かを識別するようにしてもよい。
【０２２４】
以上のように、本実施形態１によれば、ＰＲ１２２２１ＭＬ信号処理を用いて、最も確からしい状態遷移列と２番目に確からしい状態遷移列という２つの理想的な信号のユークリッド距離の２乗が１２と１４となるパターンの差分メトリックを計算し、複数のエッジを含んだ検出信号において、それぞれのエッジがどのようにずれているかを、エラーレートと相関のある指標で表すことが可能となり、高密度な情報記録媒体において記録再生品質を評価することが可能となる。
【０２２５】
また、その評価指標を用いることで、高密度な情報記録媒体において、情報の再生時や記録時に、再生補償部や記録補償部へ記録品質評価結果をフィードバックし、再生時のエラー低減や、エラーの少ない記録品質の良い記録を行なうことが可能となる。
【０２２６】
本実施例で図１に示したプリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５は１つの、アナログ集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。
【０２２７】
プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９、信号評価指標検出部１０、光ディスクコントローラ部１５は、アナログデジタル混載の１つの集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。
【０２２８】
なお、上述した光ディスク装置１００は、情報記録媒体を再生する再生装置であったが、記録再生装置や記録装置であってもよい。
【０２２９】
この場合は、記録のための回路が追加される構成となるが、本実施例において詳細な説明は省略する。例えば、光ディスク装置１００は、情報記録媒体１に情報を記録するための記録部を備える。記録部は、レーザ光の照射によりトラックにマークを形成し、マークとマーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する。記録部は、例えば、パターン発生部、記録補償部およびレーザ駆動部を備える。パターン発生部は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部は、光ディスクコントローラ部から受け取った記録パラメータと、記録パターンとに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。光ヘッド部２はトラックにレーザ光を照射し、トラックにマークが形成され、マークとスペースとが交互に並べられたデータ列が記録される。
【０２３０】
これら光ディスク装置の構成例は、本発明を限定するものではなく、他の構成であってもよい。
【０２３１】
なお、上記実施の形態では、最短マーク長さが２である符号と等化方式ＰＲ（１、２、２、２、１）から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。
【０２３２】
例えば、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合や最短マーク長さが３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０２３３】
なお、上記実施の形態では、各検出パターンにおいて、最短マーク長さのマークやスペースのみについて、詳細な分類を行なっているが、本発明はこれに限定されない。
【０２３４】
例えば、最短マーク長さでなくても、最短マークの次に長いマークやスペース、所定の長さよりも短いマークやスペースについても適用できる。
【０２３５】
次に、本発明の情報記録媒体についてより詳細に説明する。
【０２３６】
（主要パラメータ）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、ここではＢＤに関して説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、再生専用型であるＢＤ−ＲＯＭ，追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ，書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがあり、本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲＯＭ(再生専用型)，Ｒ(追記型・ライトワンス型)，ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２３７】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光および開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、記録層が１層または２層設けられている。記録層の記録面がレーザ入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２３８】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（又は０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（又は６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（又は２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（又は２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（又は５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（又は５４．０４０ＧＢ））である。
【０２３９】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２４０】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（又は、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）および８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃおよび３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２４１】
なお、上記は既に商品化が進んでいる、主に１層当たり約２５ＧＢ（又は約２７ＧＢ）の１層又は２層のＢＤに関するものであるが、更なる大容量化として、１層あたりの記録容量を略３２ＧＢ又は略３３．４ＧＢとした高密度なＢＤや、層数を３層又は４層としたＢＤも検討されており、以降では、それらに関しても説明する。
【０２４２】
（多層について）
レーザ光を保護層の側から入射して情報が再生及び／又は記録される片面ディスクとすると、記録層を二層以上にする場合、基板と保護層の間には複数の記録層が設けられることになるが、その場合における多層ディスクの一般的な構成例を図１５に示す。図示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２で構成されている（ｎは０以上の整数）。その構成を具体的に説明すると、光ディスクには、レーザ光５０５が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、そして基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２の層間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２４３】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２４４】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向，スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。
【０２４５】
パラレル・パスでは、全ての層において、再生方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全層にて内周から外周の方向へ、又は全層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２４６】
一方、オポジット・パスでは、ある層とその層に隣接する層とで、再生方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）における再生方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、記録層Ｌ１における再生方向は外周から内周へ向かう方向であり、記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、再生方向は、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２４７】
保護層（カバー層）の厚みは、開口数ＮＡが上がることで、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５，ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚みを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、二層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。三層以上のディスクならば、保護層及び／又は中間層の厚みはさらに薄くしてもよい。
【０２４８】
（１層から４層の各構成例）
ここで、単層ディスクの構成例を図１６に、二層ディスクの構成例を図１７に、三層ディスクの構成例を図１８に、四層ディスクの構成例を図１９に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、図１７から図１９のいずれにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）、基板５００の厚みは略１．１ｍｍ、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図１６の単層ディスク（図１５においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚みは略０．１ｍｍ、また、図１７の二層ディスク（図１５においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚みは略０．０７５ｍｍ、中間層５３０２の厚みは略０．０２５ｍｍ、また、図１８の三層ディスク（図１５においてｎ＝２の場合）や図１９の四層ディスク（図１５においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１３，５０１４の厚み、及び／又は、中間層５３０３，５３０４の厚みは、更に薄くなる。
【０２４９】
（光ディスクの製造方法）
これらの単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）は、以下のような工程により製造することができる。
【０２５０】
つまり、厚みが略１．１ｍｍの基板上に、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射することにより情報が再生可能なｋ個の記録層が形成される。
【０２５１】
次に、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層が形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は形成されない。
【０２５２】
次に、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層が形成される。
【０２５３】
そして、記録層を形成する工程において、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの内周側から外周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の偶数）の記録層が形成される際には、再生方向がディスクの外周側から内周側の方向となるように同心円状又はスパイラル状のトラックが形成される。なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす奇数であるｉは“１”しか存在しないため、ｉ番目の記録層としては１つの記録層しか形成されず、また、ｋ＝１における１以上、ｋ以下を満たす偶数であるｊは存在しないため、ｊ番目の記録層は形成されないことになる。
【０２５４】
そして、記録層におけるトラックには、各種の領域が割り当て可能となる。
【０２５５】
（光ディスクの再生装置）
このような単層又は多層のディスク（ｋ層の記録層を有するディスク，ｋは１以上の整数）の再生は、以下のような構成を有する再生装置によって行われる。
【０２５６】
ディスクの構成としては、厚みが略１．１ｍｍの基板と、前記基板上にｋ個の記録層と、記録層と記録層との間にはｋ−１個の中間層と（なお、単層ディスクの場合、ｋ＝１となるので、ｋ−１＝０となり中間層は存在しない）、基板側から数えてｋ番目の記録層（多層ディスクの場合は、基板から最も遠い記録層）の上に、厚みが０．１ｍｍ以下の保護層と、を有する。ｋ個の記録層のそれぞれにはトラックが形成され、そのうちの少なくとも１つのトラックには、各種の領域が割り当て可能である。
【０２５７】
そして、前記保護層の表面側から、開口数が０．８４以上、０．８６以下の対物レンズを介して、波長が４００ｎｍ以上、４１０ｎｍ以下のレーザを照射する光ヘッドによりｋ個の記録層のそれぞれから情報の再生が可能となる。
【０２５８】
そして、基板側から数えてｉ番目（ｉは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの内周側から外周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｉ番目の記録層から情報を再生することができる。
【０２５９】
また、基板側から数えてｊ番目（ｊは１以上、ｋ以下の奇数）の記録層では、同心円上又はスパイラル状のトラックが形成されており、ディスクの外周側から内周側の方向に再生する制御部により、再生方向を制御することで、ｊ番目の記録層から情報を再生することができる。
【０２６０】
（変調）
次に、記録信号の変調方式について述べる。データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２６１】
ここで変調則としては、マーク長が制限されるＲＬＬ（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈＬｉｍｉｔｅｄ）符号化方式などでもよく、ＲＬＬ（ｄ，ｋ）と表記した場合、１と１の間に出現する０が最小ｄ個，最大ｋ個であることを意味する（ｄおよびｋは、ｄ＜ｋを満たす自然数である）。例えばｄ＝１，ｋ＝７の場合、Ｔを変調の基準周期とすると、最短が２Ｔ、最長が８Ｔの記録マーク及びスペースとなる。またＲＬＬ（１，７）変調に更に次の［１］［２］の特徴を加味した１−７ＰＰ変調としてもよい。１−７ＰＰの“ＰＰ”とは、Parity preserve／Prohibit Repeated Minimum Transition Lengthの略で、［１］最初のＰであるParity preserveは、変調前のソースデータビットの“１”の個数の奇偶（すなわちParity）と、それに対応する変調後ビットパターンの“１”の個数の奇偶が一致していることを意味し、［２］後ろの方のＰであるProhibit Repeated Minimum Transition Lengthは、変調後の記録波形の上での最短マーク及びスペースの繰り返し回数を制限（具体的には、２Ｔの繰り返し回数を最大６回までに制限）する仕組みを意味する。
【０２６２】
なお、記録密度が向上すると、光ディスク媒体の記録密度は複数種類存在する可能性が生じることになる。この場合は、上記の各種のフォーマットや方式に関して、記録密度に応じて、その一部のみを採用したり、一部を別のフォーマットや方式に変更したりしてもよい。
【０２６３】
次に、光ディスクの物理的構成について説明する。
【０２６４】
図２０は、本実施形態による光ディスク１の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク１には、たとえば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック２Ａが形成されており、各トラック２Ａには細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック２Ａには予め定められたサイズのブロック３Ａを単位としてデータが記録される。
【０２６５】
本実施形態による光ディスク１は、従来の光ディスク（たとえば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、たとえば光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さをいう。なお、光ディスク１は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２６６】
トラック２Ａは、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロックに分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロックは、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２６７】
（記録密度について）
次に、記録密度について、図２１、図２２および図２３を用いて説明する。
【０２６８】
図２１（ａ）は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ１２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。
【０２６９】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック２Ａ上に物理変化のマーク列１２０、１２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク１２１が最短マークである。
【０２７０】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク１２１の物理的長さは０．１４９ｕｍとなっている。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０２７１】
図２２は、トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット３０Ａは、約０．３９ｕｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット３０Ａのスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２７２】
たとえば図２１（ｂ）は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ１２３の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列１２５、１２４のうち、最短マーク１２５の物理的長さは０．１１１５ｕｍとなっている。図２１（ａ）と比較すると、スポット径は同じ約０．３９ｕｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２７３】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。
【０２７４】
図２３は、２５ＧＢ記録容量の場合のＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０２７５】
そのため、図２１（ｂ）の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０２７６】
図２４は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図２４において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０２７７】
（波長と開口数とマーク長との関係）
また、高記録密度のディスクＢにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０２７８】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとしたとき、（最短マーク長＋最短スペース長）を“Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いると、
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
となるまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超えることになる。
【０２７９】
ＮＡ＝０．８５，λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
となる（なお、逆に、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡ  である場合は、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い）。
【０２８０】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０２８１】
なお、以上では、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録密度に関して述べたものであるが、更に高密度化が進んだ場合には、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係により、以上と同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度，記録容量）を設定してもよい。
【０２８２】
（記録密度及び層数）
ここで、波長４０５ｎｍ，開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合においては、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，又は３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０２８３】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、又は略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０２８４】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０２８５】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０２８６】
ここで、ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするか、の選択肢が生じる。多層化には、各記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、即ち、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成をによって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０２８７】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０２８８】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０２８９】
以上、説明したように、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【０２９０】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【０２９１】
ある実施形態によれば、前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る。
【０２９２】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップとを包含し、最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンとの一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得ることを特徴とする。
【０２９３】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０２９４】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０２９５】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０２９６】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０２９７】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０２９８】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０２９９】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０３００】
また、本発明の情報記録媒体は、マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、前記所定の方法は、前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップとを包含し、前記認識ステップは、前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップとを含むことを特徴とする。
【０３０１】
また、本発明の再生装置は、前記情報記録媒体を再生するための再生装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部とを備える。
【０３０２】
また、本発明の記録装置は、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部とを備える。
【０３０３】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分算出ステップと、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するステップを有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３０４】
ある実施形態では、前記第２のマークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０５】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のマークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【０３０６】
ある実施形態では、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０７】
また、本発明の再生信号評価方法は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する信号評価方法であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分算出ステップと、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するステップを有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３０８】
ある実施形態では、前記第３のスペースの長さによる分類は、前記第１のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３０９】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第３のスペースに隣接して位置する第３のマークの長さによってさらに分類する。
【０３１０】
ある実施形態では、前記第３のマークの長さによる分類は、前記第３のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１１】
ある実施形態では、前記所定の長さは、前記データ列の最短マーク長さとする。
【０３１２】
また、本発明の情報再生装置は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する情報再生装置であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分メトリック演算部と、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するパターン検出部を有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のマークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２のマークの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３１３】
ある実施形態では、前記第２のマークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１４】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のマークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【０３１５】
ある実施形態では、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１６】
また、本発明の情報再生装置は、マークとスペースが交互に並べられたデータ列を有する情報記録媒体において、前記データ列を再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成し、前記２値化信号の確かさを評価する情報再生装置であって、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出する差分メトリック演算部と、前記差分メトリックを、少なくとも１つのマークと、少なくとも１つのスペースを含んだ、複数のデータパターンごとに分類するパターン検出部を有し、前記データパターンごとの分類は、前記データ列に含まれる第１のマークの長さと、前記第１のマークの前または後ろに隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１のマークに隣接して位置する第３のスペースの長さによってさらに分類することで、情報記録媒体の再生信号品質を評価することを特徴とする。
【０３１７】
ある実施形態では、前記第３のスペースの長さによる分類は、前記第１のマークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３１８】
ある実施形態では、前記データパターンの分類において、前記第１のマークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第３のスペースに隣接して位置する第３のマークの長さによってさらに分類する。
【０３１９】
ある実施形態では、前記第３のマークの長さによる分類は、前記第３のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【０３２０】
ある実施形態では、前記所定の長さは、前記データ列の最短マーク長さとする。
【産業上の利用可能性】
【０３２１】
本発明は、最尤復号法を用いて信号処理を行う技術分野において特に有用である。
【符号の説明】
【０３２２】
１    情報記録媒体
２    光ヘッド部
３    プリアンプ部
４    ＡＧＣ部
５    波形等化部
６    Ａ／Ｄ変換部
７    ＰＬＬ部
８    ＰＲ等化部
９    最尤復号部
１０  信号評価指標検出部
１５  光ディスクコントローラ部
１００  光ディスク装置
１０１、１０４、１０７  パターン検出部
１０２、１０５、１０８  差分メトリック演算部
１０３、１０６、１０９  メモリ部
２１、２２  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形
２３、２９、３３、３９  検出パターン１４の再生波形
２４、３４  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形のスペース
２５、３５  検出パターン１４のＰＲ等化理想波形のマーク
２６、３０、３６、４０  検出パターン１４の再生波形のスペース
２７、３１、３７、４１  検出パターン１４の再生波形のマーク
２８、３２、３８、４２  検出パターン１４のズレ量
５１、５２  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形
５３  検出パターン１２Ａの再生波形
５４、５６  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形のスペース
５５  検出パターン１２ＡのＰＲ等化理想波形のマーク
５７、５９  検出パターン１２Ａの再生波形のスペース
５８  検出パターン１２Ａの再生波形のマーク
６０  検出パターン１２Ａのズレ量
７１、７２  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形
７３  検出パターン１２Ｂの再生波形
７４、７６  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形のスペース
７５、７７  検出パターン１２ＢのＰＲ等化理想波形のマーク
７８、８０  検出パターン１２Ｂの再生波形のスペース
７９、８１  検出パターン１２Ｂの再生波形のマーク
８２  検出パターン１２Ｂのズレ量
２０１  光スポットサイズ
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体より、前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、
前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップと
を包含し、
最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、
前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、
前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンと
の一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得る、再生信号評価方法。
【請求項２】
前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、
前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、
前記２値化データが「ｘ０００１１００１１ｘ」または「ｘ００１１００１１１ｘ」（“ｘ”は、“０”または”１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る、請求項１に記載の再生信号評価方法。
【請求項３】
前記データ列の基準周期をＴとしたとき、前記最短マークおよび前記最短スペースのそれぞれの長さは２Ｔであり、
前記最短マークと前記最短スペースとが隣接するパターンの２値化データを“０”と“１”とで表したとき、
前記２値化データが「ｘ１１００１１０００ｘ」または「ｘ１１１００１１００ｘ」（“ｘ”は、“０”または“１”）となるパターンに対して算出した差分メトリックから前記最短マークのエッジズレ量を得る、請求項１に記載の再生信号評価方法。
【請求項４】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記情報記録媒体より前記データ列を再生して得られる信号から、ＰＲＭＬ信号処理方式を用いて２値化信号を生成するステップと、
前記２値化信号に基づいて得られた最も確からしい第１の状態遷移列および２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号とを用いて差分メトリックを算出する差分算出ステップと
を包含し、
最短マークの前方または後方に最短スペースが隣接するパターンにおける、前記最短マークのエッジズレ量は、
前記最短マークに隣接し且つ前記最短スペースには隣接しないスペースの長さが、前記最短スペースよりも長い第１のパターンと、
前記最短スペースに隣接し且つ前記最短マークには隣接しないマークの長さが、前記最短マークよりも長い第２のパターンと
の一方のパターンに対して算出した差分メトリックから得る、情報記録媒体。
【請求項５】
請求項４に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項６】
請求項４に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【請求項７】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、再生信号評価方法。
【請求項８】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第１のスペースに隣接する第２のマークとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のスペースおよび前記第２のマークのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のマークには隣接せず且つ前記第２のマークに隣接する第２のスペースが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、情報記録媒体。
【請求項９】
請求項８に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項１０】
請求項８に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【請求項１１】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体から得られた再生信号を評価する方法であって、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、再生信号評価方法。
【請求項１２】
マークとスペースとを組み合わせたデータ列が記録可能な情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、前記データ列を記録するためのトラックを有し、
前記情報記録媒体の再生信号は所定の方法を用いて評価され、
前記所定の方法は、
前記データ列の中から所定のパターンを認識する認識ステップと、
前記認識されたパターンに対応した再生信号の評価を行う評価ステップと
を包含し、
前記認識ステップは、
前記データ列に含まれる第１のマークと、前記第１のマークの前方または後方に隣接する第１のスペースと、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第１のマークに隣接する第３のスペースとを含むパターンを認識するステップと、
前記第１のマークおよび前記第３のスペースのそれぞれの長さが所定の長さ以下である場合に、前記第１のスペースには隣接せず且つ前記第３のスペースに隣接する第３のマークが、前記所定の長さよりも長いか否かを認識するステップと
を含む、情報記録媒体。
【請求項１３】
請求項１２に記載の情報記録媒体を再生するための再生装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射されたレーザ光の反射光を受光する受光部と、
前記受光により得られた信号に基づいて前記データ列を再生する再生部と
を備えた、再生装置。
【請求項１４】
請求項１２に記載の情報記録媒体に情報を記録するための記録装置であって、
前記トラックにレーザ光を照射する照射部と、
前記照射により前記トラックにマークを形成し、前記マークと前記マーク間のスペースとが交互に並べられたデータ列を記録する記録部と
を備えた、記録装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2010038427.tif 000078
【図２】
2010038427.tif 000079
【図３】
2010038427.tif 000080
【図４】
2010038427.tif 000081
【図５】
2010038427.tif 000082
【図６】
2010038427.tif 000083
【図７】
2010038427.tif 000084
【図８】
2010038427.tif 000085
【図９】
2010038427.tif 000086
【図１０】
2010038427.tif 000087
【図１１】
2010038427.tif 000088
【図１２】
2010038427.tif 000089
【図１３】
2010038427.tif 000090
【図１４】
2010038427.tif 000091
【図１５】
2010038427.tif 000092
【図１６】
2010038427.tif 000093
【図１７】
2010038427.tif 000094
【図１８】
2010038427.tif 000095
【図１９】
2010038427.tif 000096
【図２０】
2010038427.tif 000097
【図２１】
2010038427.tif 000098
【図２２】
2010038427.tif 000099
【図２３】
2010038427.tif 000100
【図２４】
2010038427.tif 000101
【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【国際調査報告】
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