(57)【要約】  本発明の情報記録媒体は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、前記データ列をトラックに記録するための記録条件を記録することのできる記録条件記録領域とを含む情報記録媒体であって、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
2010038397.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、
前記データ列をトラックに記録するための記録条件を記録することのできる記録条件記録領域と
を含む情報記録媒体であって、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録条件は、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される、
情報記録媒体。
【請求項２】
前記所定の長さは前記データ列における前記記録マークの最短の長さである請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第２のスペースの長さとの組み合わせの分類において、
前記第１のスペースの長さの種類数は、前記第２のスペースの長さの種類数より多い請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
前記記録条件は、前記第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの前方に隣接するスペースである、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項５】
前記記録条件は、前記第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの後方に隣接するスペースである、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項６】
請求項１に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、
前記再生装置は、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備えた再生装置。
【請求項７】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備え、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録条件は、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される、
記録装置。
【請求項８】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録パラメータは、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する、再生信号処理部を備える評価装置。
【請求項９】
請求項８に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【請求項１０】
記録条件が記録可能な記録条件記録領域を含み、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列が記録される情報記録媒体であって、
前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている、
情報記録媒体。
【請求項１１】
請求項１０に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、
前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備えた再生装置。
【請求項１２】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備えし、
前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている、
記録装置。
【請求項１３】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体の評価する評価装置であって、
前記記録パラメータは、
前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部を備える評価装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【請求項１５】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、
前記データ列をトラックに記録するための記録条件が記録されたＰＩＣ領域及び前記記録条件が記録された前記トラックのウォブリングの少なくとも一方と、
を含む情報記録媒体であって、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている、情報記録媒体。
【請求項１６】
請求項１５に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える再生装置。
【請求項１７】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備え、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている、記録装置。
【請求項１８】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、
前記評価装置は、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部とを備える評価装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的に情報を記録する情報記録媒体及び記録再生装置に関し、特に、記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体及び記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
映像の録画や音響の録音、パソコンのデータ保存などのため、種々の記録可能な情報記録媒体が実用化されている。例えば、主として音響の録音やパソコンのデータ保存に用いられるＣＤ、映像の録画やパソコンのデータ保存に用いられるＤＶＤが普及しており、近年ではデジタル放送をはじめとする高画質のハイビジョン映像を録画することのできるＢＤ（Blu-ray Disc）が発売されている。【０００３】
上述の映像、音響、あるいはパソコンのデータと言った情報は、ユーザデータとして情報記録媒体に記録される。具体的には、ユーザデータにまず、誤り訂正符号が付加され、所定の範囲の長さを有する記録マーク及びスペースによって構成されるデータ列に変調される。データ列は、光ビームを用いて情報記録媒体のトラックに記録される。また、情報記録媒体に記録された情報は、トラックに光ビームを照射し、データ列、つまり、記録マーク及びスペースに対応する情報を含む反射光からアナログの再生信号を生成する。再生信号から２値化信号であるデータ列が生成され、復号された後、エラー訂正が施されることによってユーザデータが得られる。【０００４】
図１は、情報記録媒体に記録マークを形成するため各種の信号を示している。図１の（ａ）部分は、記録データ作成時の基準信号となる、周期Ｔｗのチャネルクロック信号を示している。図１の（ｂ）部分は、チャネルクロック信号に基づいて、記録すべき情報が変調された変調符号であるＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverting）信号を示している。【０００５】
たとえばＢＤの場合、ＮＲＺＩ信号は、周期Ｔｗを基準として２Ｔ（２×Ｔｗ）から８Ｔの長さの記録マーク及びスペースを用いて、記録すべき情報を変調することにより得られる。図１の（ｂ）部分では、ＮＲＺＩ信号の部分的な一例として、２Ｔマーク−２Ｔスペース−４Ｔマークのパターンを示している。【０００６】
図１の（ｃ）部分及び（ｄ）部分は、ＮＲＺＩ信号に基づき、生成される記録レーザの記録パルス列及び情報記録媒体に形成されるデータ列（記録マーク列）をそれぞれ示している。【０００７】
各長さの記録マークは、少なくともファーストパルス（先頭パルスとも言う）を含む記録パルス列によって形成される。記録マークは、長さに応じて、ラストパルス、及び、ファーストパルスとラストパルスとの間に位置する１以上の中間パルスをさらに含む。ファーストパルスのパルス幅Ｔｔｏｐ及びラストパルスのパルス幅Ｔｌｐは、記録マークの長さに応じてそれぞれ設定される。中間パルスのパルス幅Ｔｍｐはいずれの長さの記録マークにおいても同じに設定される。【０００８】
記録パルス列のレベル、つまり、レーザ強度は、記録マークの形成に必要となる加熱効果のあるピークパワーＰｐ２０１、冷却効果のあるボトムパワーＰｂ２０２及びクーリングパワーＰｃ２０３及びスペース部における記録パワーであるスペースパワーＰｓ２０４に分類される。ピークパワーＰｐ２０１、ボトムパワーＰｂ２０２、クーリングパワーＰｃ２０３及びスペースパワーＰｓ２０４は、レーザ光の消光時に検出される消光レベル２０５を基準レベルに対して設定される。【０００９】
なお、ボトムパワーＰｂ２０２とクーリングパワーＰｃ２０３は通常同等のレーザパワーに設定される。しかし、クーリングパワーＰｃ２０３は記録マーク終端部の熱量調整のために、ボトムパワーＰｂ２０２と異なる値に設定されてもよい。また、スペース部では記録マークを形成する必要がないために、一般的にスペースパワーＰｓ２０４は低いレーザパワー（例えば再生パワーやボトムパワーなどと同等）に設定される。しかし、書き換え型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥ）では、既存の記録マークを消去してスペース部を形成する必要がある。また、追記型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲやＢＤ−Ｒ）では次の記録マークを形成するための予熱パワーを与える場合がある。このため、スペースパワーＰｓ２０４を、高めのレーザパワーに設定してもよい。ただし、この場合でも、スペースパワーＰｓ２０４がピークパワーＰｐ２０１よりも高い値に設定されることはない。【００１０】
所定のパワーレーザを照射した場合に形成される記録マークは、情報記録媒体の情報記録層の特性に依存する。このため、情報記録媒体には、その情報記録層に適した記録パルス列の各レーザパワー値及びパルス幅など、記録時のレーザ発光条件が記録されている。従って、情報記録媒体内部に記録された記録パルスの各レーザパワー及びパルス幅を適切に再現し、レーザ光を情報記録媒体の情報記録層に照射することができれば、記録マーク列を形成することができる。【００１１】
ただし、情報記録媒体の情報記録層の特性や記録装置レーザ発光特性には、情報記録媒体ごと、及び、記録装置ごとのバラつきがある。また、使用環境によって熱の影響も異なる。また、隣接する記録マークからの熱干渉を受ける場合もある。このため、通常、記録装置は、少なくとも新しい情報記録媒体が装填されるたびに、正しく記録マークを形成することができるように、テスト記録を行って、得られる再生信号を評価し、評価結果に基づき、記録レーザのパルス形状を微調整する。例えば、各長さの記録マークにおいて、記録マークの始端位置を調整するための記録開始位置オフセットｄＴｔｏｐ、終端位置を調整するための記録終了位置オフセットｄＴｓが設定され、テスト記録の際これらのオフセット値が調整される。【００１２】
なお、記録パルス列を構成する記録パルスは、上述したマルチパルス波形以外にも、図２の（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）部分に示すように、モノパルス波形、Ｌ型パルス波形またはキャッスル型パルス波形であってもよい。一般にモノパルス波形では、記録マークが長くなるほど蓄積される熱量は多くなり、Ｌ型パルス波形では、記録マークが長くなるほど蓄積される熱量は低下する。キャッスル型パルス波形では、記録マーク終端部における熱量が調整されている。マルチパルス波形では、記録マークの長さによらず蓄積される熱量は一定である。これらの点を考慮し、情報記録媒体の情報記録層の膜特性、特に、蓄積される熱量の特性に応じて、適切な波形が選択される。【００１３】
近年、映像の高精細化にとなって、より大容量の情報記録媒体が求められている。こうした情報記録媒体の記録密度を高めるためには、情報を記録する記録マークの大きさをより微小にする必要がある。しかし、記録マークが小さくなると、記録マークの最短マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大及びＳＮＲ（Signal Noise Ratio）の劣化がより顕著となる。その結果、記録マークの始端エッジ及び終端エッジの位置を正しく検出することができず、再生信号から、記録された情報を正しく復号することが困難となる。【００１４】
このため、微小な記録マークによって情報が記録された情報記録媒体から情報を再生する場合、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）方式等を用いて、再生信号を処理することが一般的になってきた。ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が生じた場合の再生信号の波形を推定し、推定される波形から最も確からしい波形の再生信号系列を選択する方式である。【００１５】
また、記録マークが小さくなると、記録マークの終端の熱がスペース部分を伝導して次の記録マークの始端の温度上昇に影響を与えたり、逆に次の記録マークの始端の熱が前の記録マークの終端の冷却過程に影響を与えたりする熱干渉が生じる。このような熱干渉が生じる場合、テスト記録行って、スペース補償を行う必要がある。スペース補償とは、前方のスペースあるいは後方のスペースの長さに応じて、記録パルスの記録パラメータ（例えばｄＴｔｏｐ）を変化させることである。【００１６】
符号間干渉や熱干渉の影響を考慮した従来の記録パルスの制御方法として、例えば特許文献１及び特許文献２が挙げられる。【００１７】
特許文献１に開示された方法によれば、正しく復調された場合に得られる正解ビット列と、正解ビット列の１ビットがシフトした最も誤りやすい誤りビット列とを用いて、再生信号と両ビット列とのユークリッド距離をそれぞれ算出することにより適応等化された再生信号を評価し、パターンごとのエッジのずれ方向とずれ量を検出する。そして、形成すべき記録マークのマーク長と前後のスペース長とによって分類された適応的な記録パラメータが、パターンごとに対応した前記エッジのずれ方向及びずれ量に応じて最適化される。【００１８】
特許文献２では、正解ビット列及び誤りビット列に対して１ビットシフトするエッジ部分において、適応等化された再生信号の振幅値と両ビット列で算出される振幅期待値との差分を定量化することにより、エッジのずれ方向とずれ量を検出する。特許文献１と同様に、前後のスペース長とマーク長によってテーブル化された適応的な記録パラメータが前記パターンごとに対応した前記エッジのずれ方向及びずれ量に応じて最適化される。【００１９】
特許文献１及び特許文献２では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式により再生信号が処理されている。特許文献１に開示された記録パルスの制御について、図３を用いてさらに説明する。【００２０】
情報記録媒体１から読み出した情報は、光ヘッド２によりアナログ再生信号として生成される。アナログ再生信号は、プリアンプ部３によって増幅され、ＡＣカップリングされた後にＡＧＣ部４に入力される。ＡＧＣ部４では後段の波形等化部５の出力が一定振幅となるように振幅調整される。振幅調整されたアナログ再生信号は波形等化部５によって波形整形され、Ａ／Ｄ変換部６に入力される。Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ部７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ部７は、Ａ／Ｄ変換部６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。【００２１】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、記録時及び再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えばＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるようにデジタル再生信号の周波数を調整する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。ＰＲ等化部８及び最尤復号部９を組み合わせた再生信号処理技術がＰＲＭＬ方式である。【００２２】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。エッジシフト検出部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を求める。また、エッジシフト検出部１０は、２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに信頼性を割り当て、記録補償パラメータの最適値からのずれ（以下、エッジシフト）を求める。【００２３】
所定の記録パターンを有するデータ列を用いてテスト記録を行い、情報記録制御部１５は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された情報に従って、設定変更可能な記録パラメータを変更する。設定変更可能な記録パラメータは予め決定されており、例えば記録マークの始端エッジ部では記録開始位置オフセットｄＴｔｏｐ、終端エッジ部では記録終了位置オフセットｄＴｓである。例えば、情報記録制御部１５は、図４に示す記録パラメータのテーブルに従って、記録パラメータを変更する。図４は、記録マーク及び前方スペースの長さによって分類された始端エッジに関する記録パラメータ及び記録マーク及び前方スペースの長さによって分類された終端エッジに関する記録パラメータを示す。【００２４】
図４において、記録マークＭ（ｉ）、前方スペースＳ（ｉ−１）、後方スペースＳ（ｉ＋１）の各記号は、図５に示すような記録マーク及びスペースの時系列を意味している。記号Ｍは記録マーク、記号Ｓはスペース、任意の記録マーク及びスペースの時系列は記号ｉを用いて表している。【００２５】
図４で示すように分類された記録パラメータに対応する記録マークをＭ（ｉ）で表す。図５に示すように、記録マークＭ（ｉ）の前方スペースはＳ（ｉ−１）、さらに前方の記録マークはＭ（ｉ−２）、さらに前方のスペースはＳ（ｉ−３）であり、記録マークＭ（ｉ）の後方スペースはＳ（ｉ＋１）、さらに後方の記録マークはＭ（ｉ＋２）、さらに後方のスペースはＳ（ｉ＋３）である。【００２６】
始端エッジは、記録マークＭ（ｉ）と前方スペースＳ（ｉ−１）の間に位置し、ｄＴｔｏｐの値は、図４に示すように、これらの長さの組み合わせに応じたパターンで分類される。例えば、前方スペースの長さが３Ｔであり、記録マークの長さが４Ｔである場合、パターン３Ｔｓ４Ｔｍとなる。終端エッジは、記録マークＭ（ｉ）と後方スペースＳ（ｉ＋１）の間に位置し、ｄＴｓの値は、図４に示すように、これらの長さの組み合わせに応じたパターンで分類される。例えば、記録マークの長さが３Ｔであり、後方スペースの長さが２Ｔである場合、パターン３Ｔｍ２Ｔｓとなる。図４に示すように、始端エッジ及び終端エッジで合計３２通りの記録パラメータ値が存在する。【００２７】
情報記録制御部１５は、例えば、前方スペースが３Ｔで記録マークが４Ｔである記録マークの始端エッジを調整するには、３Ｔｓ４Ｔｍの記録パラメータ（例えばｄＴｔｏｐ）を変更し、後方スペースが２Ｔで記録マークが３Ｔである記録マークの終端エッジを調整するには、３Ｔｍ２Ｔｓの記録パラメータ（例えばｄＴｓ）を変更する。【００２８】
記録パターン発生部１１は、入力された記録すべき情報で変調されたＮＲＺＩ信号を生成する。記録補償部１２は、情報記録制御部１５で変更される記録パラメータをもとに、ＮＲＺＩ信号に従って記録パルス列を生成する。記録パワー設定部１４は、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、記録パルス列及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。【００２９】
このように、情報記録媒体１に対してテスト記録を行い、エッジシフト量が減少するように記録パルス形状が制御される。従って、ＰＲＭＬ方式及び記録パラメータのスペース補償を用いた記録制御方法により、より適切な記録マーク及びスペースを形成することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３０】
【特許文献１】特開２００４−３３５０７９号公報
【特許文献２】特開２００８−１１２５０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００３１】
情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉及びＳＮＲ劣化がさらに問題となる。このため、情報記録媒体から得られる再生信号を、より高次のＰＲＭＬ方法によって処理することが必要となる。【００３２】
この場合、高次のＰＲＭＬ方法によって、情報記録媒体に記録された情報が適切に再生されるために、テスト記録によって記録マークのエッジ位置をより高い精度で調整し、信号再生時のエラーレートを低減するように記録条件を調整する必要がある。【００３３】
本発明は、高次のＰＲＭＬ方式を考慮し、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体及び記録再生装置を提供することを目的とする。より具体的には、高密度記録を行う場合におきて、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムの実現を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
本発明の情報記録媒体は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、前記データ列をトラックに記録するための記録条件を記録することのできる記録条件記録領域とを含む情報記録媒体であって、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。【００３５】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは前記データ列における前記記録マークの最短の長さである。【００３６】
ある好ましい実施形態において、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第２のスペースの長さとの組み合わせの分類において、前記第１のスペースの長さの種類数は、前記第２のスペースの長さの種類数より多い。【００３７】
ある好ましい実施形態において、前記記録条件は、前記第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの前方に隣接するスペースである。【００３８】
ある好ましい実施形態において、前記記録条件は、前記第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの後方に隣接するスペースである。【００３９】
本発明の再生装置は、上記いずれかに規定される情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、前記再生装置は、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。【００４０】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。【００４１】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録パラメータは、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する、再生信号処理部を備える。【００４２】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。【００４３】
本発明の情報記録媒体は、記録条件が記録可能な記録条件記録領域を含み、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列が記録される情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている。【００４４】
本発明の再生装置は、上記情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。【００４５】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている。【００４６】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体の評価する評価装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部を備える。【００４７】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。【００４８】
本発明の情報記録媒体は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、前記データ列をトラックに記録するための記録条件が記録されたＰＩＣ領域及び前記記録条件が記録された前記トラックのウォブリングの少なくとも一方とを含む情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている。【００４９】
本発明の再生装置は、上記情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。【００５０】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている。【００５１】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部とを備える。【００５２】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。【００５３】
本発明の記録制御装置は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御装置であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を有し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００５４】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００５５】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。【００５６】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００５７】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。【００５８】
また、本発明の記録制御装置は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御装置であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を有し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００５９】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第１の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００６０】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類する。【００６１】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第２のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００６２】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。【００６３】
本発明の記録制御方法は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御方法であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００６４】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施することを特徴とする。【００６５】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。【００６６】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００６７】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。【００６８】
また、本発明の記録制御方法は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御方法であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００６９】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第１の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００７０】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類する。【００７１】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第２のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。【００７２】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。【００７３】
本発明の記録再生装置は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理部と、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御部を備えた記録再生装置であって、前記記録制御部は、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００７４】
また、本発明の記録再生装置は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理部と、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御部を備えた記録再生装置であって、前記記録制御部は、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００７５】
ある好ましい実施形態において、前記再生信号処理部は、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記差分メトリックを割り当て、各パターンに対して記録パラメータの最適値からのエッジシフトを求めるエッジシフト検出部を備え、前記エッジシフトが所定の目標値に近づくように、前記記録パラメータを調整する。【００７６】
ある好ましい実施形態において、前記記録補償パラメータ決定部におけるデータパターンの分類と、前記エッジシフト検出部におけるパターンの分類が同じである。【００７７】
本発明の記録再生方法は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理ステップと、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御ステップを備えた記録再生方法であって、前記記録制御ステップは、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定ステップを備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００７８】
また、本発明の記録再生方法は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理ステップと、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御ステップを備えた記録再生方法であって、前記記録制御ステップは、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定ステップを備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。【００７９】
ある好ましい実施形態において、前記再生信号処理ステップは、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記差分メトリックを割り当て、各パターンに対して記録パラメータの最適値からのエッジシフトを求めるエッジシフト検出ステップを備え、前記エッジシフトが所定の目標値に近づくように、前記記録パラメータを調整する。【００８０】
ある好ましい実施形態において、前記記録補償パラメータ決定ステップにおけるデータパターンの分類と、前記エッジシフト検出ステップにおけるパターンの分類が同じである。
【発明の効果】
【００８１】
本発明によれば、データ列をトラックに記録するための記録条件を記録の対象となる記録マークの長さ及び前方または後方に隣接するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合、さらに後方または前方に隣接するスペースの長さも用いて分類する。このため、記録マークが微小化し、情報記録媒体の記録密度が高くなっても、隣接する記録マークを形成する際の熱の影響を考慮し、より高精度に適切な形状を有する記録マークを適切な位置に記録することができる。【００８２】
従って、本発明により記録条件を調整することによって、高次のＰＲＭＬ方式が必要となる高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】記録マーク及びスペースを含むデータ列を形成するための記録パルス波形及び記録パワーを説明する図である。
【図２】記録パルス形状の例を説明する図である。
【図３】従来の記録制御装置を説明する図である。
【図４】従来の記録パラメータのテーブルを説明する図である。
【図５】記録マーク及びスペースの時系列を説明する図である。
【図６】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図７】図６に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図８】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図９】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図１０】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図１１】図８に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１２】図９に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１３】図１０に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１４】ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いた信号評価装置の説明図である。
【図１５】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１４の差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１６】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ａの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１７】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ｂの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１８】本発明の実施形態による記録パラメータのパターンテーブルを示している。
【図１９】図１８に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２０】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２１】図２０に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２２】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２３】図２２に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２４】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２５】図２４に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２６】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２７】図２６に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２８】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２９】図２８に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３０】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図３１】図３０に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３２】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図３３】図３２に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３４】本発明の実施形態による情報記録再生装置を示すブロック図である。
【図３５】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の一例を示す図である。
【図３６】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【図３７】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【図３８】本発明を適用することが可能な情報記録媒体の構成例示す模式図である。
【図３９】単層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４０】２層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４１】３層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４２】４層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４３】情報記録媒体の物理的構成を示す模式図である。
【図４４】レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す模式図である。
【図４５】レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す他の模式図である。
【図４６】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す模式図である。
【図４７】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。
【図４８】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す別なグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００８４】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。
【００８５】
本発明では、情報記録媒体の記録密度を高めるため、レーザビームの走査速度、つまり、線速度を遅くすることによって、記録マーク及びスペースを短くする。これにより、例えば、例えば、１２ｃｍの光ディスクにおいて、情報記録層１層当たり、２５ＧＢの記録容量を３３．３ＧＢにまで高めることができる。
【００８６】
また、本発明では、再生信号の波形から最も確からしい信号系列を選択するために、より高次のＰＲＭＬ方式を採用する。具体的にはＰＲ１２２２１ＭＬ方式で処理し、情報記録媒体に記録された情報を再生する。
【００８７】
高次のＰＲＭＬ方式を採用する場合、再生信号の評価にもより高度な方法が必要となる。情報記録媒体が高密度化すると、検出系の分解能よりも短い記録マークやスペースが現れ、情報記録媒体の記録品質が記録マーク及びスペースの位置ずれのみではなく、記録マーク自身の位置ずれ、スペース自身の位置ずれと、少なくとも１つずつ以上の記録マークとスペースとの組み合わせを一組とした位置ずれも考慮する必要があるからである。これらのずれには、複数のエッジを含むパターンが検出されることになる。例えば、記録マーク自身の位置ずれでは、記録マークの始端及び終端の両隣にスペースが存在するため、始端のエッジと終端のエッジとが同時に検出される。また、記録マークＡ−スペースＢのような１つずつのマークとスペースの組み合わせを一組とした位置ずれでは、スペースＡ−マークＡ−スペースＢ−マークＢとそれぞれの隣にさらに１つずつスペースとマークが存在するため、全部で３つのエッジが検出される。
【００８８】
従来のＰＲ１２２１ＭＬ方式では、再生信号のエッジ位置を評価するために、１つのエッジが検出された場合についての記録品質を評価することは考慮されていたが、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式では、先述したような複数のエッジずれを含むパターンが検出されたときの記録品質を評価する必要がある。本発明では、本願と同じ譲受人によってなされた米国特許出願１１／９６４，８２５及び国際公開第２００８／０８１８２０Ａ１号パンフレットに開示された、ＭＬＳＥ（Maximum Likelihood Sequence Error）を指標として再生信号のエッジ位置を評価する。米国特許出願１１／９６４，８２５の開示全体をここに参照として援用する。
【００８９】
まず、図６及び図７を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図６は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図７は、図６に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００９０】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【００９１】
図６に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図７に示すトレリス図が得られる。
【００９２】
図７に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。しかしながらエラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。この特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンは、図８、図９及び図１０に示すようにまとめることができる。
【００９３】
図８から図１０の第１番目の列は、エラーを起こしやすい２つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移（Ｓｍk-9→Ｓｎk）を表す。
【００９４】
第２番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列（ｂk-i，・・・，ｂk）を表す。遷移データ列中のＸは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このＸ数（！Ｘも同様）がエラー数となる。遷移データ列の中で、Ｘが１もしくは０となった一方が、最も確からしい第１の状態遷移列に対応し、もう一方が２番目に確からしい第２の状態遷移列に対応する。図９及び図１０において、！ＸはＸのビット反転を表している。
【００９５】
ビタビ復号部が復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較（Ｘの箇所はDon’t care）を行うことでエラーを起こしやすい最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列を抽出することができる。
【００９６】
３番目の列は、第１の状態遷移列及び第２の状態遷移列を表している。
【００９７】
４番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）を示しており、５番目の列は、この２つの理想信号のユークリッド距離の２乗（パス間のユークリッド距離）を示している。
【００９８】
図８は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離の２乗が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、光ディスクの記録マークとスペースの切り替わり部分（記録マークの始端エッジ及び終端エッジ）に該当する。言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。
【００９９】
一例として、図７に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１００】
図１１は、図８に示す記録系列のＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図８に示す記録系列のＰＲ等化理想波形を図１１のＡパス波形として示す。同様に、図１２は、図９に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図１３は、図１０に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【０１０１】
図１１、図１２及び図１３において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【０１０２】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。
【０１０３】
図７に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０４】
このパスのＰＲ等価理想波形を図１１において、Ｂパス波形として示す。図８に示すユークリッド距離が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれている点が特徴である。
【０１０５】
図９は、ユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。
【０１０６】
一例として、図７で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１２にＡパス波形として示す。
【０１０７】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１２にＢパス波形として示す。図９に示すユークリッド距離が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がり及び立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【０１０８】
図１０は、もう一種類のユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移列パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。
【０１０９】
一例として、図７で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１３にＡパス波形として示す。
【０１１０】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１３にＢパス波形として示す。図１０に示すユークリッド距離の２乗が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【０１１１】
図１４は、再生信号をＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いて処理する場合における、再生信号の品質を評価する信号評価装置の構成を示している。再生信号の品質は、記録マークのエッジ位置によって評価される。図１４の信号評価装置において、図３の記録制御装置と同じ構成要素には同じ参照符号を付し、同様の説明は省略する。また、記録符号はＲＬＬ（１，７）符号のＲＬＬ（Run Length Limited）符号とする。
【０１１２】
図１４において、エッジシフト検出部１０は、図８（１４パターン）、図９（１２Ａパターン）、図１０（１２Ｂパターン）に対応したパターンを検出する１４パターン検出部７０１、１２Ａパターン検出部７０４、１２Ｂパターン検出部７０７と、各パターンのメトリック差を演算する差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８と、前記差分メトリック演算部で演算された各パターンの位置ずれ指標を累積し保持するメモリ部７０３、７０６、７０９とを備えている。また、ここでのＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性がＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性となるように設定された周波数特性を有している。
【０１１３】
パターン検出部７０１、７０４、７０７は図８、図９、図１０の遷移データ列と２値化データを比較して、この２値化データが図８、図９、図１０の遷移データ列と一致する場合は、図８、図９、図１０に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０１１４】
この選択結果に基づき、差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８では、状態遷移列の理想値（ＰＲ等化理想値：図８、図９、図１０参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算され、更に２つの状態遷移列から演算されたメトリック同士の差が演算され、更に、このメトリック差は、プラスとマイナスの値を持つために絶対値処理が行われる。
【０１１５】
また、パターン検出部７０１、７０４、７０７は、２値化データに基づいて、図１５、図１６、図１７に示す記録マークの始端エッジ及び終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成して、メモリ部７０３、７０６、７０９に出力する。
【０１１６】
メモリ部７０３、７０６、７０９は、パターン検出部７０１、７０４、７０７から出力されたパルス信号に基づいて、差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８で求められたそれぞれのパターンのメトリック差を、図１５、図１６、図１７で示したパターンごとに累積加算する。
【０１１７】
ここで、図１５、図１６、図１７の詳細なパターン分類について詳細な説明をする。図１５、図１６、図１７における記号Ｍ及びＳは、先述した図５で示した記録マーク及びスペースの時系列を表している。記号！２Ｔｍは、記録マークが２Ｔマーク以外（例えば３Ｔマーク）であることを表している。同様に、スペース長が２Ｔスペース以外では！２Ｔｓとなる。記号ｘＴｍは任意の長さを有する記録マーク、記号ｘＴｓは任意のスペースであり、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合では２Ｔ〜８Ｔの長さとなる。また、各パターン番号は、それぞれ図８、図９、図１０に記載のパターンの番号に対応している。
【０１１８】
図１５に示すように、１４検出パターンでは、１つのスペースと１つのマークからなる１つのエッジずれを分類している。１４検出パターンの始端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ−１のスペースに関するエッジずれを示し、１４検出パターンの終端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ＋１のスペースに関するエッジずれを示している。
【０１１９】
図１６に示すように、１２Ａ検出パターンでは、図１４の１４検出パターンにおける２Ｔマーク及び２Ｔスペースの場合の分類を、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。
【０１２０】
１２Ａ検出パターンの始端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのずれを時刻ｉ＋１のスペースの長さによって分類、または、時刻ｉと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉ−１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類している。１２Ａ検出パターンの終端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのずれを時刻ｉ−１のスペースの長さによって分類、または、時刻ｉと時刻ｉ＋２のマークに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類している。
【０１２１】
図１７に示す１２Ｂ検出パターンでは、図１６の１２Ａ検出パターンにおける２Ｔマークと２Ｔスペースが連続するパターンの場合の分類を、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。具体的には、１つのマークと１つのスペースに挟まれた、２つ連続した２Ｔマークと２Ｔスペースの連続２Ｔのずれを分類している。
【０１２２】
１２Ｂ検出パターンの始端とは、時刻ｉ＋２のマークと時刻ｉ−１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類、または時刻ｉ−３のスペースと時刻ｉのマークに挟まれた時刻ｉ−２の２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−３のマークの長さによって分類している。
【０１２３】
１２Ｂ検出パターンの終端とは、時刻ｉ＋１のスペースと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類、または時刻ｉのマークと時刻ｉ＋３のスペースに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースと時刻ｉ＋２の２Ｔマークのずれを時刻ｉ＋３のマークの長さによって分類している。
【０１２４】
このように、図１４に示す装置により、１つのエッジずれを含むマークとスペースの位置ずれに加えて、２つのエッジずれを含むマーク自身のずれ、スペース自身のずれと、３つのエッジずれを含む１つずつのマークとスペースの組み合わせを一組としたずれをそれぞれのデータパターンごとに指標化することが可能となる。
【０１２５】
これにより、複数のエッジずれを含むパターンを検出した際に、最も確からしいパスに対してどのようにエッジがずれているかを判断することで記録品質の評価が可能となり、エラーレートが高いパターンを判断することが可能となる。
【０１２６】
ただし、本発明は情報記録媒体へ記録マークを形成する場合の記録条件の調整方法に関しており、再生信号の評価方法は上述した方法に限られない。ＳＡＭ（Sequence Amplitude Margin）と呼ばれる指標値など他の指標値や評価方法を用いて、エッジずれの程度を評価し評価結果に基づいて記録マークのエッジずれを調整してもよい。
【０１２７】
本発明は、このようにして求められる記録マークのエッジずれに関する指標を評価基準として、記録マークのエッジずれが小さくなるように記録条件を調整する。記録マークのエッジは記録マークとスペースとの境界である。このため、従来技術によれば、図４を参照して説明したように、エッジに隣接する記録マーク及びスペースの長さに応じて、記録条件を分類していた。
【０１２８】
これに対し本発明では、記録マークが微小化することによって、隣接する記録マークを形成する際に加えられた熱の影響を考慮し、エッジを調整する記録マーク、隣接するスペース、及びそのスペースに隣接する記録マークのそれぞれの長さ、あるいは、エッジを調整する記録マーク及びこれを挟む前後のスペースのそれぞれの長さによって、記録パラメータを変更する。以下、本発明による記録制御方法及び記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体、記録再生装置の実施形態を順に説明する。
【０１２９】
（第１の実施形態）
本実施形態では、記録制御方法及び記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体を説明する。以下の説明では、調整すべき記録条件として、記録パルス条件を説明するが記録パワー条件など他の記録パラメータであってもよい。また、以下、記録マークの始端エッジ及び終端エッジの位置の制御条件を説明するが、始端エッジ及び終端エッジで決まる記録パルス幅（例えばＴｔｏｐ）であってもよい。本実施の形態では、再生信号の処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用い、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Run Length Limited）符号を用いる。
【０１３０】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法１−１＞
本記録条件の調整方法１−１は、始端エッジに関しており、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１３１】
図１８は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図１８において、記録パラメータの対象となる記録マークは、上述した図４を参照して説明したように記録マークＭ（ｉ）で表す。その他のスペースまたは記録マークに関しても同様の記号を用いる。図１６において、Ｍ（ｉ−２）における記号！２Ｔｍは、記録マークが２Ｔマーク以外（例えば３Ｔマーク）であることを表現している。同様に、スペース長が２Ｔスペース以外では！２Ｔｓとなる。記号ｘＴｍは、記録マークの長さを特に限定する必要がないことを表している。以下の説明における記号ｘＴｓに関しても同様に、スペースの長さを特に限定する必要がないことを表している。但し、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合では２Ｔ〜８Ｔの長さとなる。
【０１３２】
図４と異なる記号表現を説明する。本実施形態では、パターンテーブル内における記録マークとその前後のスペースまたは記録マークの関係の表現が複雑になる。そのため、各パターンの表現において、記録パラメータの対象となる記録マークＭ（ｉ）に関してのみＴを付与する。例えば、前方スペースＳ（ｉ−１）が３Ｔスペース、記録マークＭ（ｉ）が２Ｔマークのとき、パターン３ｓ２Ｔｍと表現する。さらに、図４と同様のパターン表現に関しては、カッコ（  ）を付与する。従って、パターン３ｓ２Ｔｍは、パターン（３ｓ２Ｔｍ）と表現される。これらの記号は、以下において説明する他の記録条件の調整方法で用いるパターンテーブルでも用いる。
【０１３３】
図１８のパターンテーブルに示すように、前方スペースＳ（ｉ−１）が最短スペース（２Ｔｓ）以外、すなわち、３Ｔスペース以上の場合は従来のパターンテーブル図４と同じである。前方スペースが最短スペースとなる場合のみ、さらに前方のマークＭ（ｉ−２）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短スペース前方のマーク長の違いにより、記録パラメータを異ならせる設定を行う。
【０１３４】
これは、前方スペースが最短スペースである場合、前方スペースのさらに前にはる記録マークを形成する際の熱の影響を最も受けやすいからである。さらに、高密度記録における最短マークの大きさは非常に小さいことにも起因する。ＢＤの記録再生システムにおける最短マーク長及び最短スペース長は、２５ＧＢ記録では約１４９ｎｍ、３３．４ＧＢ記録では約１１２ｎｍとなる。ビームスポットの大きさ約２５０ｎｍに対して、３３．４ＧＢ記録では最短マーク及び最短スペースが連続したパターン２ｍ２ｓでもビームスポット内に含まれる。また、高密度記録で、記録マーク長が短くなると、記録マークの幅方向の広がりも極端に小さくなる。最短マークの形成時では、記録膜内に蓄積される熱量が最も少なくなり、次の記録マークに与える熱量も少なくなる。そのため、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短スペースのさらに前方のマーク長の違いによって、記録パラメータを分離している。
【０１３５】
なお、本実施例では、前方のマーク長の違いを、最も熱干渉の影響を受けやすい最短マーク２Ｔｍとそれ以外の記録マーク！２Ｔｍで分類したが、これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔマーク以上の記録マークを個別に分離して設定できることが望ましい。
【０１３６】
特に、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔマーク以上である場合において、前方の記録マーク長が最短マーク２Ｔｍであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、前方の記録マーク長が最短マーク以外！２Ｔｍであれば、遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１３７】
図１９に、前方のスペースが最短スペースである記録マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図１９の（ａ）部分はパターン２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｂ）部分はパターン２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｃ）部分はパターン４ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｄ）部分はパターン４ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｅ）部分はパターン２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｆ）部分はパターン２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｇ）部分はパターン４ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｈ）部分はパターン４ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｉ）部分はパターン２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｊ）部分はパターン２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９（ｋ）部分はパターン４ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｌ）部分はパターン４ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、１９の（ｍ）部分はパターン２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｎ）部分はパターン２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｏ）部分はパターン４ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｐ）部分はパターン４ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０１３８】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図１９の（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図１９の（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図１９の（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図１９の（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図１９の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、記録パラメータを調整する対象となる記録マーク（いずれも２Ｔマーク）の前方スペースがいずれも最短スペースであるが、さらに前方の記録マークの長さが、最短マークである２Ｔマークであるかそれ以外のマークであるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図１９（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。図１９の（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１３９】
ここでは、記録マークの始端エッジは、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ１及びファーストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＴｐｅ１の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。従って、ｄＴｐｓ１及びｄＴｐｅ１は、それぞれ図１８に示すパターンテーブルに従って分類された値を持つことになる。つまり、ｄＴｐｓ１のテーブル及びｄＴｐｅ１のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、ｄＴｐｓ１及びｄＴｐｅ１の記録パラメータにより記録マークの始端エッジが調整されるが、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ１のみを変化させてもよい。
【０１４０】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法１−２＞
本記録条件の調整方法１−２も始端エッジに関しており、調整方法１−１において、前方の記録マークが最短マークである場合に、さらに前方のスペースの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。つまり、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さと、第１の記録マーク及び第１のスペースには隣接せず、第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１４１】
図２０は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２０における太枠が図１８のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１４２】
図２０に示すように、記録条件の調整方法１−２では、前方の記録マークＭ（ｉ−２）が最短マークである場合に、さらに前方のスペースＳ（ｉ−３）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、スペースＳ（ｉ−３）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）の前方に位置する２Ｔ連続パターン２ｍ２ｓが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｓ２ｍ２ｓである場合と、２Ｔが２連続のパターン！２ｓ２ｍ２ｓである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１４３】
図２１に、前方のスペースが最短スペースかつ前方の記録マークが最短マークである記録マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２１の（ａ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｂ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｃ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｄ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｅ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｆ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｇ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｈ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｉ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｊ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｋ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｌ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｍ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｎ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｏ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｐ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１４４】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２１（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２１（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２１（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２１（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２１の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方の記録マークが最短マークである２Ｔマークに対してさらに前方のスペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースであるかそれ以外のスペース（ここでは３Ｔスペース）であるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２１（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。図２１（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１４５】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法２−１＞
本記録条件の調整方法２−１は、始端エッジに関しており、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１４６】
より具体的には第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。一方、第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、第１の記録マークの長さと、第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【０１４７】
図２２は、本記録条件の調整方法２−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２２に示すように、記録マークが最短マーク以外、すなわち、３Ｔマーク以上であれば、記録条件の分類は図４に示す分類と同じであることがわかる。記録マークＭ（ｉ）が最短マークとなる場合のみ、後方のスペースＳ（ｉ＋１）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短マーク後方のスペースの長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。図２２に示すように、記録マークＭ（ｉ）が最短マークである場合、記録パラメータは、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、また、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔかそれ以外であるかの２種類によって分類されている。また、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔ以上である場合、記録パラメータは、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、後方スペースＳ（ｉ＋１）は分類されず１種類である。従って、記録マークＭ（ｉ）の長さに関わらず、前方スペースの長さの種類数は後方スペースの長さの種類数より多い。
【０１４８】
上述したように、高密度記録における最短マークの大きさは他の記録マークよりも小さくなる。このため、前方スペースが長くても後方スペースが短い場合には、後方の記録マーク形成時の熱量が伝導することになる。つまり、記録マークを形成した後、後に形成される記録マークの熱の影響により、先に形成した記録マークが変形する。この場合、熱の影響は、一般的には記録マークの終端エッジに関係するが、高密度記録では非常に記録マークが小さいために、終端エッジだけではなく、始端エッジにも影響する。従って、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短マークのさらに後方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分類している。
【０１４９】
つまり、本記録条件は、第１の記録マークの長さごとに分類されるが、記録条件が、第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであるにかかわらず、第１の記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つ、つまり第１の記録マークの長さが所定の長さ以下である場合には、第１の記録マークの後方に隣接する第２のスペースの長さが、所定の長さ以下か、所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類される。
【０１５０】
なお、本条件では、後方のスペース長の違いを、熱伝導の影響が大きい最短スペース２Ｔｓとそれ以外のスペース！２Ｔｓで分類している。これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔスペース以上のスペースを個別に分類して設定できることが望ましい。
【０１５１】
特に、前方のスペースＳ（ｉ−１）が３Ｔスペース以上である場合において、後方のスペース長が最短スペース２Ｔｓであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、後方のスペース長が最短スペース以外！２Ｔｓであれば遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１５２】
図２３に、前方スペース及び後方スペースにはさまれた最短マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２３の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｃ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｄ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｅ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｆ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｇ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｈ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｉ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｊ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｍ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｎ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｏ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｐ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０１５３】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースは、図２３の（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図２３の（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図２３の（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図２３の（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。
【０１５４】
図２３の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースがいずれも最短スペース（２Ｔスペース）であるが、後方スペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースであるかそれ以外のスペースであるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２３（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。
【０１５５】
ここでは、記録マークの始端エッジは、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ２及びファーストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＴｐｅ２の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。従って、ｄＴｐｓ２及びｄＴｐｅ２は、それぞれ図２２に示すパターンテーブルに従って分類された値を持つことになる。つまり、ｄＴｐｓ２のテーブル及びｄＴｐｅ２のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、ｄＴｐｓ２及びｄＴｐｅ２の記録パラメータにより記録マークの始端エッジが調整されるが、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ２のみを変化させてもよい。
【０１５６】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法２−２＞
本記録条件の調整方法２−２も始端エッジに関しており、調整方法２−１において、後方のスペースが最短スペースである場合に、さらに後方の記録マークの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。
【０１５７】
つまり、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さと、第１の記録マークと第１のスペースには隣接せず、第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１５８】
図２４は、本記録条件の調整方法２−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２４における太枠が図２２のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１５９】
図２４に示すように、記録条件の調整方法２−２では、後方のスペースＳ（ｉ＋１）が最短スペースである場合に、さらに後方の記録マークＭ（ｉ＋２）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、後方の記録マークＭ（ｉ＋２）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）と後方スペースで構成される２Ｔ連続パターン２ｍ２ｓが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｍ２ｓ２ｍである場合と、２Ｔが２連続のパターン２ｍ２ｓ！２ｍである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１６０】
図２５に、前方スペース及び最短スペースの後方スペースにはさまれた最短マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２５の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｃ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｄ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｅ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｆ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｇ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｈ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｉ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｊ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｍ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｎ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｏ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｐ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１６１】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースは、図２５（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図２５（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図２５（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図２５（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。図２５の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方の記録マークが最短マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは３Ｔマーク）の違いを表している。
【０１６２】
そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２５（ｂ）及び図２５（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２５（ｂ）及び図２５（ｄ）では前方スペースが２Ｔスペースであるが、他の前方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１６３】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法１−１＞
本記録条件の調整方法１−１は、終端エッジに関しており、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１６４】
図２６は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２６のパターンテーブルに示すように、後方スペースＳ（ｉ＋１）が最短スペース（２Ｔ）以外、すなわち、３Ｔスペース以上の場合は従来のパターンテーブル図４と同じである。後方スペースが最短スペースとなる場合のみ、さらに後方のマークＭ（ｉ＋２）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短スペース後方のマーク長の違いにより、記録パラメータが異なる設定を行う。
【０１６５】
これは、前方スペースが最短スペースである場合と同様に、後方スペースにおいても、熱干渉の影響が最短スペースのときに最も大きいためである。特に、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔマーク以上である場合において、後方の記録マーク長が最短マーク２Ｔｍであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、後方の記録マーク長が最短マーク以外！２Ｔｍであれば、遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続に関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１６６】
図２７に、後方のスペースが最短スペースである記録マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２７の（ａ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｂ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｃ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｄ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｅ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｆ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｇ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｈ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｉ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｋ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｌ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｍ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｎ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｏ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｐ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１６７】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２７（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２７（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２７（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２７（ｍ）及び５（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２７（ａ）及び（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方スペースが最短スペースである２Ｔスペースに対してさらに後方の記録マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは４Ｔマーク）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２７（ｂ）及び図２７（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２７（ｂ）及び図２７（ｄ）では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１６８】
ここでは、記録マークの終端エッジは、記録終了位置オフセットｄＣｐ１の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図２４のパターンテーブルは、前記ｄＣｐ１のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、前記ｄＣｐ１の記録パラメータにより記録マークの終端エッジが調整されるが、ラストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＬｐｅ（図２７（ｂ）のみ記載）を変化させてもよい。但し、モノパルスである２Ｔマークに関しては、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２とパルス設定条件が競合する。従って、モノパルス記録におけるパルスの立下りエッジ位置ｄＬｐｅは、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２を適用しない場合に使用可能である。
【０１６９】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法１−２＞
本記録条件の調整方法１−２も終端エッジに関しており、調整方法１−１において、後方の記録マークが最短マークである場合に、さらに後方のスペースの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。つまり、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さと、第１の記録マーク及び第１のスペースには隣接せず、第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１７０】
図２８は、本記録条件の調整方法１−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２８における太枠が図２６のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１７１】
図２８に示すように、記録条件の調整方法１−２では、後方の記録マークＭ（ｉ＋２）が最短マークである場合に、さらに後方のスペースＳ（ｉ＋３）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、後方のスペースＳ（ｉ＋３）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）の後方に位置する２Ｔ連続パターン２ｓ２ｍが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｓ２ｍ２ｓである場合と、２Ｔが２連続のパターン２ｓ２ｍ！２ｓである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１７２】
図２９に、後方のスペースが最短スペースかつ後方の記録マークが最短マークである記録マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２９の（ａ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｂ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｃ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｄ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｅ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｆ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｇ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｈ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｉ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｋ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｌ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｍ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｏ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｐ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１７３】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２９（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２９（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２９（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２９（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２９（ａ）及び（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方の記録マークが最短マークである２Ｔマークに対してさらに後方のスペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースとそれ以外のスペース（ここでは３Ｔスペース）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２９（ｂ）及び（ｄ）部分の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２９（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１７４】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法２−１＞
本記録条件の調整方法２−１は、終端エッジに関しており、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１７５】
より具体的には第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。一方、第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、第１の記録マークの長さと、第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【０１７６】
図３０は、本記録条件の調整方法２−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図３０に示すように、記録マークが最短マーク以外、すなわち、３Ｔマーク以上であれば、記録条件の分類は図４に示す分類と同じであることがわかる。記録マークＭ（ｉ）が最短マークとなる場合のみ、前方のスペースＳ（ｉ−１）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短マーク前方のスペース長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。図３０に示すように、記録パラメータは、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、また、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔかそれ以外であるかの２種類によって分類されている。記録マークＭ（ｉ）が３Ｔ以上である場合、記録パラメータは、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、前方スペースＳ（ｉ−１）は分類されず１種類である。従って、記録マークＭ（ｉ）の長さに関わらず、前方スペースの長さの種類数は後方スペースの長さの種類数より多い。
【０１７７】
上述したように、高密度記録における最短マークの大きさは他の記録マークよりも小さくなる。このため、後方スペースが長くても前方スペースが短い場合には、さらに前方の記録マーク形成時の熱量が伝導することになる。つまり、先に形成された記録マークの熱の影響を受ける。この場合、熱の影響は一般的には記録マークの先端エッジに関係するが、高密度記録では非常に記録マークが小さいために、始端エッジだけではなく、終端エッジにも影響する。従って、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短マークのさらに前方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分類している。
【０１７８】
つまり、本記録条件は、第１の記録マークの長さごとに分類されるが、記録条件が、第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであるにかかわらず、第１の記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つ、つまり第１の記録マークの長さが所定の長さ以下である場合には、第１の記録マークの前方に隣接する第２のスペースの長さが、所定の長さ以下か、所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類される。
【０１７９】
なお、本実施例では、前方のスペース長の違いを、熱伝導の影響が大きい最短スペース２Ｔｓとそれ以外のスペース！２Ｔｓで分類している。これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔスペース以上のスペースを個別に分類して設定できることが望ましい。
【０１８０】
特に、後方のスペースＳ（ｉ＋１）が３Ｔスペース以上である場合において、前方のスペース長が最短スペース２Ｔｓであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、前方のスペース長が最短スペース以外！２Ｔｓであれば遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１８１】
図３１に、前方スペース及び後方スペースにはさまれた最短マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図３１の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｃ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｄ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｅ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｆ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｇ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｈ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｉ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｊ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｍ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｎ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｏ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｐ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１８２】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの後方スペースは、図３１（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図３１（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図３１（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図３１（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。
【０１８３】
図３１の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方スペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースとそれ以外のスペース（ここでは４Ｔスペース）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図３１（ｂ）及び図３１（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図３１（ｂ）及び図３１（ｄ）では後方スペースが２Ｔスペースであるが、他の後方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１８４】
ここでは、記録マークの終端エッジは、記録終了位置オフセットｄＣｐ２の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図２８のパターンテーブルは、前記ｄＣｐ２のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、前記ｄＣｐ２の記録パラメータにより記録マークの終端エッジが調整されるが、ラストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＬｐｅ（図３１（ｂ）のみ記載）を変化させてもよい。但し、モノパルスである２Ｔマークに関しては、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２とパルス設定条件が競合する。従って、モノパルス記録におけるパルスの立下りエッジ位置ｄＬｐｅは、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２を適用しない場合に使用可能である。
【０１８５】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法２−２＞
本記録条件の調整方法２−２も始端エッジに関しており、調整方法２−１において、前方のスペースが最短スペースである場合に、さらに前方の記録マークの長さに応じて記録パラメータを分離することを特徴とする。
【０１８６】
つまり、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さと、第１の記録マークと第１のスペースには隣接せず、第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１８７】
図３２は、本記録条件の調整方法２−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図３２における太枠が図３０のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１８８】
図３２に示すように、記録条件の調整方法２−２では、前方のスペースＳ（ｉ−１）が最短スペースである場合に、さらに前方の記録マークＭ（ｉ−２）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、前方の記録マークＭ（ｉ−２）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）と前方スペースで構成される２Ｔ連続パターン２ｓ２ｍが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｍ２ｓ２ｍである場合と、２Ｔが２連続のパターン！２ｍ２ｓ２ｍである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１８９】
図３１に、後方スペース及び最短スペースの前方スペースにはさまれた最短マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図３１の（ａ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｂ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｃ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｄ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｅ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｆ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｇ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｈ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｉ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｊ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｋ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｌ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｍ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｎ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｏ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｐ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１９０】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの後方スペースは、図３１（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図３１（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図３１（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図３１（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。図３１の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方の記録マークが最短マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは３Ｔマーク）の違いを表している。
【０１９１】
そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図３１（ｂ）及び（ｄ）部分の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図３１（ｂ）及び（ｄ）部分では後方スペースが２Ｔスペースであるが、他の後方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１９２】
このように本実施形態によれば、データ列をトラックに記録するための記録条件を記録の対象となる記録マークの長さ及び前方または後方に隣接するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合、さらに後方または前方に隣接するスペースの長さも用いて分類する。このため、記録マークが微小化し、情報記録媒体の記録密度が高くなっても、隣接する記録マークを形成する際の熱の影響を考慮し、より高精度に適切な形状を有する記録マークを適切な位置に記録することができる。
【０１９３】
また、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合にのみ記録条件の分類を細分化するため、分類が冗長とならず、適切なパラメータ規模で記録条件の調整ができる。従って、記録調整に要する記録装置の回路規模や記録パラメータを格納する領域が大きくなりすぎることなく、また、記録条件の調整に要する時間も長くなりすぎることがない。
【０１９４】
（第２の実施形態）
以下本発明による記録装置、再生装置、評価装置、記録方法及び再生方法の実施形態を説明する。
【０１９５】
図３４は、記録装置、再生装置及び評価装置として機能する情報記録再生装置１００の構成を示すブロック図である。情報記録再生装置１００は、記録制御部１０１と再生信号処理部１０２を備える。
【０１９６】
記録制御部１０１は、光ヘッド２、記録パターン発生部１１、記録補償部１２、レーザ駆動部１３、記録パワー設定部１４、情報記録制御部１５、記録補償パラメータ決定部１６を含む。再生信号処理部１０２は、光ヘッド２、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９、エッジシフト検出部１０を含む。
【０１９７】
情報記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生が行われる情報記録媒体であり、例えば光ディスクである。
【０１９８】
光ヘッド２は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体１の情報記録層上のトラックに収束させる。記録を行う場合には所定の記録パワーのレーザ光を用いることによって記録マークがトラックに形成される。再生を行う場合には、再生パワーのレーザ光がトラックを照射することにより得られる反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。レーザ光の波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【０１９９】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ部４へ出力する。ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【０２００】
波形等化部５は、再生信号の高域を遮断するＬＰＦ特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生信号の波形を所望の特性に整形し、Ａ／Ｄ変換部６へ出力する。ＰＬＬ部７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０２０１】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ部７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングし、アナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７及びＡＧＣ部４へ出力する。
【０２０２】
ＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制及び意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して最尤復号部９へ出力する。ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Finite Impulse Response）フィルタを備え、ＬＭＳ（The Least-Mean Square）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（「適応信号処理アルゴリズム」培風館  参照）。
【０２０３】
最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号し、２値化データを出力する。２値化データが復調されることによって情報記録媒体１に記録されていた情報であるユーザデータが得られえる。
【０２０４】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号を受け取る。エッジシフト検出部１０は、図８から図１０に示される遷移データ列と２値化信号を比較して、この２値化信号が図８から図１０に示される遷移データ列と一致する場合は、図８から図１０に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０２０５】
この選択結果に基づき、状態遷移列の理想値（ＰＲ等化理想値：図８から図１０参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算される。さらに、２つの状態遷移列から演算されたメトリックの差が演算される。最後に、エッジシフト検出部１０は、２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記メトリック差を割り当て、各パターンに対して記録補償パラメータの最適値からのエッジシフトを求める。
【０２０６】
記録補償パラメータ決定部１６は、複数の記録マーク及び複数の記録マークの間のそれぞれに設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに分類し、データパターンごとに記録条件を決定する。
【０２０７】
具体的には、データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類し、分類されたデータパターンごとに記録条件を割り当てる。
【０２０８】
あるいは、データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、第１の記録マークのまたは後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類し、分類されたデータパターンごとに記録条件を割り当てる。
【０２０９】
すなわち、記録補償パラメータ決定部１６は、データパターンごとに分類された記録条件である記録パラメータのパターンテーブルを決定する。なお、このパターンテーブルの決定は、記録動作ごとに決定する必要はなく、記録する情報記録媒体１の種類や記録倍速などの条件、及び再生信号処理のＰＲＭＬ方式に応じて一意的に決定される。
【０２１０】
情報記録制御部１５は、記録補償パラメータ決定部１６で決定されたパターンテーブルに従って記録パラメータの設定変更を行う。
【０２１１】
但し、情報記録制御部１５は、エッジシフト検出部１０で検出されたエッジシフト量から、記録パラメータの設定変更が必要な箇所を判断する。そのため、エッジシフト検出部１０におけるパターン分類と、記録補償パラメータ決定部１６のパターンテーブルの分類が同じであることが望ましい。
【０２１２】
記録パターン発生部１１は、記録すべき情報を変調し、データ列であるＮＲＺＩ信号を生成する。記録補償部１２は、情報記録制御部１５で変更される記録パラメータをもとに、ＮＲＺＩ信号に従って記録パルス列を生成する。記録パワー設定部１４は、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、記録パルス列及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。
【０２１３】
次に、情報記録再生装置１００の動作を詳細に説明する。図３４に示すように、情報記録媒体１が装填されると、光ヘッド２は最適な記録パラメータを調整するための記録領域に移動する。この記録領域は、例えば情報記録媒体の最内周に設けられた記録パワー及び記録パルス調整用のテスト記録領域（ＯＰＣ領域）である。
【０２１４】
記録パターン発生部１１は、テスト記録のために、データ列として、記録調整用パターンを生成し、記録補償部１２に出力する。情報記録制御部１５は、記録補償パターン決定部１６で決定されたパターンテーブルの記録条件に、記録再生装置内部（例えばメモリ）に記憶されている初期記録条件を適用させ、記録パルス形状及び記録パワーの記録パラメータの設定を行う。記録条件は、情報記録媒体１のＰＩＣ領域に記録されていてもよい。この場合には、ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、情報記録媒体１から記録条件の情報を取得して、初期記録条件に適用してもよい。
【０２１５】
記録補償部１２は、情報記録制御部１５から出力された記録パラメータの記録パルス形状をもとに、記録調整用パターンに従って、レーザ発光波形の記録パルス列を生成する。
【０２１６】
記録パワー設定部１４は、情報記録制御部１５の初期記録条件に応じて、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。
【０２１７】
レーザ駆動部１３は、記録補償部１２で生成された記録パルス列、及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御して、情報記録媒体１に記録データを記録する。
【０２１８】
次に、情報記録再生装置１００は記録した記録データを再生する。
【０２１９】
光ヘッド２は情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ部３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ部４に入力される。ＡＧＣ部４では後段の波形等化部５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ部４から出力されたアナログ再生信号は波形等化部５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換部６に出力される。Ａ／Ｄ変換部６はＰＬＬ部７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ部７はＡ／Ｄ変換部６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。
【０２２０】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、デジタル再生信号の波形を整形する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。
【０２２１】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。さらに、エッジシフト検出部１０は、記録補償パラメータの最適値からのずれであるエッジシフトを求める。エッジシフトは、情報記録制御部１５に出力される。
【０２２２】
情報記録制御部１５は、エッジシフト検出部１０で検出されたエッジシフト量と、情報記録再生装置内部（例えばメモリ）に記憶されているエッジシフトの目標値との比較結果から、例えば目標値との差分が所定値（例えば誤差２０％）よりも大きい記録パラメータが存在するなどのように、設定変更が必要と判断された記録パラメータを変更する。エッジシフトは記録パラメータの最適値からのずれであるため、目標値は０であることが望ましい。
【０２２３】
以上の動作により、本実施の形態における情報記録再生装置１００は、情報記録媒体１に対して記録動作を行い、記録した情報を再生してエッジシフト量を検出し、エッジシフト量が目標値に近づくように記録条件を更新して調整することにより、記録条件の最適化を行うことができる。
【０２２４】
なお、上記記録動作は、第１の実施形態で説明したように、高次のＰＲＭＬ方式を考慮したパターンテーブルに従って記録動作を行うため、従来のように１つのスペースと記録マークに対するエッジずれに対する記録ではなく、複数のマークとスペースのエッジ部を考慮した記録となっている。そのため、高次のＰＲＭＬ方式が必要となる高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【０２２５】
本実施の形態では、記録再生動作を説明するために、再生信号処理部１０２を含めた情報記録再生装置としたが、記録制御だけを行う記録制御部１０１のみを有する記録装置として構成されてもよい。
【０２２６】
以上、上記実施形態におけるパターンテーブルは、５Ｔ以上の記録マーク及びスペースの長さを一つにまとめたが、５Ｔから最長マークまでの記録マーク及びスペースに対して各々設定しても構わない。
【０２２７】
また、上記実施形態では、各パターンに対して記録パルスのエッジ位置を変化させたが、パターンに応じて記録パルス全体をシフトさせても構わない。この場合、記録調整に使用する記録パラメータが削減されるため、記録パラメータを保存する情報記録再生装置内のメモリ容量を減少させることができる。
【０２２８】
また、上記パターンテーブルで分類された記録条件は、情報記録媒体内に記載されてもよい。これにより、記録補償パラメータ決定部１６は、情報記録媒体の種類や記録倍速ごとに対するパターンテーブルを決定する必要がなくなり、回路規模の削減が可能となる。また、前記情報記録媒体に対する最適な記録条件がパターンテーブルに従って記載されている場合では、記録パラメータの調整削減、または調整時間の短縮を行うことができる。
【０２２９】
上記実施形態では、エッジシフトの目標値は０としたが、各メーカーの情報記録媒体の種類や記録倍速ごと、あるいはパターンテーブルに含まれる特定パターンごとに設定されてもよい。目標値は、例えば情報記録再生装置の製造工程において記憶される。また、新たに開発される情報記録媒体に応じた目標値をさらに記憶させていくことで、新規情報記録媒体に対する対応が可能となるため、目標値は書き換え型のメモリに記憶されることが望ましい。また、新規情報記録媒体に対する目標値は、情報記録再生装置１００が最適となる記録パラメータで形成された記録マークを再生することで決定できる。
【０２３０】
上記実施形態では、最短マーク長さが２である符号と等化方式ＰＲ（１、２、２、２、１）から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。
【０２３１】
例えば、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合や最短マーク長さが３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０２３２】
なお、上記実施形態では、各パターンテーブルにおいて、最短マーク長さのマークやスペースのみについて、詳細な分類を行なっているが、本発明はこれに限定されない。例えば、最短マーク長さでなくても、最短マークの次に長いマークやスペース、さらに長いマークやスペースについても適用できる。
【０２３３】
上記実施形態における情報記録媒体は、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光ディスクに限定されず、ＭＯ（Magneto-Optical Disc）などの光磁気媒体や、デジタル信号の記録符号（０または１）が連続する長さである極性間隔に応じて形成される情報（本実施形態では記録マーク及びスペース）の長さまたは位相を変化させて情報を記録する情報記録媒体に対しても適用できる。
【０２３４】
さらに、本発明における記録再生装置の一部は、情報記録媒体に情報を記録するための記録パルス形状を調整する記録条件調整装置として、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部の機能として製造され得る。なお、記録再生装置の一部が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、記録パラメータを調整するための信号処理時間を大幅に短縮することができる。記録再生装置の各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
【０２３５】
（記録波形について）
上記実施形態では、記録パルス列を構成する記録パルスはマルチパルス波形を有していたが、他の波形の記録パルスを用いてもよい。以下、図３５から図３７を参照しながら本発明で利用可能な記録パルスについてマルチパルス波形を含めて説明する。
【０２３６】
情報記録媒への記録は、所定の変調則に従って、記録すべき情報（ユーザデータ、あるいはソースデータ）を変調して複数の記録変調符号を生成し、パルス状の光ビームを照射し、複数の記録変調符号にそれぞれ対応する長さを有する複数の記録マーク、及びスペース（記録マークと記録マーク間のスペース）を形成することによって行われる。どのような記録波形に基づいてパルス状の光ビームを発光するかについて、以下で３つの例を説明する。図３５から図３７のいずれにおいても、説明の便宜上、最短マークが２Ｔ（Ｔは基準クロック、変調の基準周期）の場合を用いるが、これに限るものではない。また、図１の説明において、記録マーク及びスペースの長さは２Ｔ〜８Ｔと説明しているが、図３５から図３７は９Ｔを含んだものとなっている。この９Ｔはシンクコード（同期符号系列）として使用されるパターンである。
【０２３７】
通常、データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２３８】
一方、フレーム間に挿入されるシンクコード／同期符号系列には前述の所定の変調則は適用されないので、その変調則によって拘束される符号長以外のパターンを含ませることが可能となる。このシンクコード／同期符号系列は、記録されたデータを再生するときの再生処理タイミングを決定するものである。所定の変調則として、例えば１−７変調の場合、マークの長さは２Ｔ〜８Ｔに制限されるため、そのシンクコードに含まれるパターンとして、その１−７変調では出現しない９Ｔを用いている。
【０２３９】
＜Ｎ−１ストラテジ＞
図３５は、第１の記録波形を示している。この第１の記録波形は、マルチパルス型のストラテジ、つまり、複数のパルスを含み（マルチパルス）、複数のパルスのうち、先頭に配置されるファーストパルス（ファーストパルスとも言う、幅Ｔｔｏｐ）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅Ｔｌｐ）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルス（幅Ｔｍｐ）で構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、Ｐｗは記録パワー、Ｐｂｗはボトムパワー、Ｐｃはクーリングパワー（冷却パワー）、Ｐｓ及びＰｅはバイアスパワー（追記型：Ｐｓはスペースパワー，書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。記録パワーＰｗはピークパワーＰｐとも言う。ボトムパワーＰｂｗはＰｂとも示される。
【０２４０】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは次々最短マーク（４Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、１Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数も１つ増える。この第１の記録波形の特徴の一つは、ｎＴマーク（ｎは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｎ−１）個となる点である。
【０２４１】
各種パラメータは、以下のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４２】
また、ラストパルスの幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の２つに分類して設定してもよい。
【０２４３】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２４４】
＜Ｎ／２ストラテジ＞
図３６は、第２の記録波形を示した図である。この第２の記録波形もマルチパルス型のストラテジである。最短マーク（２Ｔ）及び次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）及び次々々最短マーク（５Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは５番目に短いマーク（６Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、２Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数が１つ増える。この第２の記録波形の特徴の一つは、ｍＴマーク（ｍは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｍ÷２）の商の数となる点である。
【０２４５】
各種パラメータは、以下のように記録マークの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４６】
また、中間パルスの立ち上がり位置であるｄＴｍｐは、例えば、記録マークの長さが「６Ｔ、８Ｔ」、「７Ｔ、９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。
【０２４７】
また、ラストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｌｐや幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、ｄＴｌｐに関して、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。
【０２４８】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４９】
＜キャッスル型＞
図３７は、第３の記録波形を示した図である。この第３の記録波形は、マルチパルス型のストラテジである第１、２の記録波形とは異なり、記録パワーＰｗが設定されるパルス間のパワーレベルをボトムパワーＰｂｗまで低下させずに、一定の中間パワーＰｍをとる形状となっている（キャッスル（ｃａｓｔｌｅ）型のストラテジ）。先頭に配置されるファーストパルス（幅Ｔｔｏｐ）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅Ｔｌｐ）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルスで構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、Ｐｗは記録パワー、Ｐｍは中間パワー、Ｐｃはクーリングパワー（冷却パワー）、Ｐｓ及びＰｅはバイアスパワー（追記型：Ｐｓはスペースパワー、書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。
【０２５０】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）以上の記録マークを記録するための記録波形から、ラストパルスと中間パルスがともに含まれる。また、（３Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）ファーストパルスの終了位置と中間パルスの開始位置は一致し、（４Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）中間パルスの終了位置とラストパルスの開始位置は一致している。
【０２５１】
なお、キャッスル型のストラテジにはいくつかの形状がある。具体的には、キャッスル形状（casttle-shape）、Ｌ形状（L-shape）及び単一パルス形状（Mono pulse-shape）がある。キャッスル形状は、記録マークを形成するための記録パルスが１つのパルスで構成され、前記記録パルスの開始位置から第一のパワーレベル（記録パワーＰｗ）が設定される第一の区間と、前記第一の区間の終了位置から前記第一のパワーレベルより低い第二のパワーレベル（中間パワーＰｍ）が設定される第二の区間と、前記第二の区間の終了位置から前記第二のパワーレベルよりも高く、かつ、前記第一のパワーレベルと同じパワーレベル（記録パワーＰｗ）又は低いパワーレベルが設定される第三の区間を含んだ形状を有する。Ｌ形状は、キャッスル形状において、第三の区間のパワーレベルを第二の区間のパワーレベルと同じにした形状を有する。単一パルス形状は、キャッスル形状において、第一の区間と第二の区間と第三の区間のパワーレベルを全て同じにした形状を有する。
【０２５２】
また、図３７では説明の便宜上複雑にならないよう、第一の区間のパワーレベルと第三の区間のパワーレベルを一致させているが、異なるレベルを設定しても構わない。先の説明では、第一の区間のパワーレベルが設定されたパルスをファーストパルスと表現し、第二の区間のパワーレベルが設定されたパルスを中間パルスと表現し、第三の区間のパワーレベルが設定されたパルスをラストパルスと表現したものであり、以降の説明においても、先の説明（ファーストパルス，中間パルス、ラストパルス）の表現を用いることとする。
【０２５３】
各種パラメータは、以下のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、例えば、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５４】
また、ラストパルスの幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ以上」の１つに分類して設定（ラストパルスを含む４Ｔ以上すべてにおいて同じ幅を設定）してもよい。
【０２５５】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する開始位置であるｄＴｃは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５６】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５７】
上述した本発明で利用可能なＮ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形における各パラメータの分類は、説明の便宜上、上記実施形態の分類とは異なっている。例えば、記録マークの長さのみによる分類や、記録マークの長さとそれに隣接する一方のスペースのみの長さとの組み合わせによって分類されている。しかし、これらの記録パルスの波形に、上記実施形態の分類を好適に用いることができる。
【０２５８】
具体的には、例えば図２２及び図２３で示すように、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形において、「記録マークの始端エッジを調整するための記録パラメータを、記録マーク：Ｍ（ｉ）の長さと、前方スペース：Ｓ（ｉ−１）の長さとの組み合わせで分類し、Ｍ（ｉ）が所定の長さ以下（例えば最短マーク）の場合は、更に、後方スペース：Ｓ（ｉ＋１）の長さも組み合わせて分類し、そのＳ（ｉ＋１）の長さの分類として、Ｓ（ｉ＋１）が所定の長さ以下（例えば最短スペース）か、所定の長さより長いかによって分類」してもよい。
【０２５９】
あるいは、例えば図２８と図２９で示すように、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形において、「記録マークの終端エッジを調整するための記録パラメータを、記録マーク：Ｍ（ｉ）の長さと、後方スペース：Ｓ（ｉ＋１）の長さとの組み合わせで分類し、Ｍ（ｉ）が所定の長さ以下（例えば最短マーク）の場合は、更に、前方スペース：Ｓ（ｉ−１）の長さも組み合わせて分類し、そのＳ（ｉ−１）の長さの分類として、Ｓ（ｉ−１）が所定の長さ以下（例えば最短スペース）か、所定の長さより長いかによって分類」してもよい。
【０２６０】
また、記録密度（１層あたり２５ＧＢと、１層あたり３２ＧＢ及び／又は３３．４ＧＢ）や記録媒体の種別（追記記録型、書換記録型など）によって、この分類のさせ方を異ならせてもよい。
【０２６１】
また、各パルスの設定や各パワーレベルの設定の際に、その位置や幅は、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型のいずれの記録パルスにおいても、Ｔ／１６を単位として調整してもよい。あるいは、更に細かくＴ／３２を単位としてもよい。また、記録密度（１層あたり２５ＧＢと、１層あたり３２ＧＢ及び／又は３３．４ＧＢ）や記録媒体の種別（追記記録型、書換記録型など）によって、この調整単位を異ならせてもよい。設定可能な分解能が小さいほうが、より記録マークの微調整が可能となるため、より高精度な記録調整が望まれる場合に、設定可能な分解能は変更される。このため、記録パルス設定の分解能（より好ましくは記録パルス設定の分解能が小さくなる設定）に応じて記録パルス条件を設定することにより、より適切な記録マークを形成することができる。
【０２６２】
記録速度との観点では、これらの記録パルスの波形記録波形と記録速度との関係については、Ｎ−１ストラテジの記録波形よりもＮ／２ストラテジの記録波形の方が高速な記録に適し、Ｎ／２ストラテジの記録波形よりもキャッスル型の記録波形の方がより高速な記録に適していることが言える。なぜなら、キャッスル型の記録波形よりもＮ／２ストラテジの記録波形の方が、またＮ／２ストラテジの記録波形よりもＮ−１ストラテジの記録波形の方が、記録パワーＰｗの発光回数が多くなり、つまり、パルスの立ち上がり時間と立ち下がり時間に要する累積が多くなり、高速処理に影響を及ぼすためである。この点を考慮して、光ディスクに記録条件を格納する場合に、次のようにしてもよい。
【０２６３】
まず、記録速度：１ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納を必須とし、第２の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。また更に、記録速度：１ｘの場合は、例えば、第３の記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６４】
また、記録速度：２ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納をオプションとし、Ｎ／２ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納をオプションとし、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。また更に、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータとＮ／２ストラテジの記録波形に関するパラメータの少なくとも一方の格納を必須とするようにしてもよい。
【０２６５】
また、記録速度：４ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよい。また更に、記録速度：４ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６６】
また、記録速度：６ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよい。また更に、記録速度：６ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６７】
また、記録速度：８ｘ以上に対応する記録条件を格納する場合、例えば、記録速度：４ｘ及び６ｘと同じ条件、つまり、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよく、また更に、記録速度：６ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６８】
また、上記の記録条件の格納に関して、ＨＴＬ（High to Low：記録部の反射率が未記録部の反射率よりも低い）の場合と、ＬＴＨ（Low to High：記録部の反射率が未記録部の反射率よりも高い）の場合とで、同じ内容を格納しても、異なる内容を格納しても構わない。
【０２６９】
また、記録速度（記録線速度）の設定に応じて、記録パルス条件を設定してもよい。同一光学条件において、記録速度を低下させて記録を行った場合、単位面積当たりの情報量が増加し、記録密度は高まる。しかし、記録密度が高まると前後の記録マークによる熱量の影響を受けやすくなり。このため、線速度の設定（より好ましくは線速度が低くなる設定）に応じて記録パルス条件を設定することにより、より適切な記録マークを形成することができる。
【０２７０】
（ブルーレイディスクについて）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、ここでＢＤを詳細に説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ、書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがある。本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２７１】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光及び開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、情報記録層が１層または２層設けられている。情報記録層の記録面がレーザ光入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２７２】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（または０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（または６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（または２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（または２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（または５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（または５４．０４０ＧＢ））である。
【０２７３】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２７４】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（または、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）及び８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃ及び３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２７５】
なお、上述の諸条件は既に商品化がなされている、主に１層当たり約２５ＧＢ（または約２７ＧＢ）の１層または２層のＢＤに関するものである。ＢＤの記録容量を高めるために、１層あたりの記録容量が略３２ＧＢまたは略３３．４ＧＢである高密度なＢＤや、層数を３層または４層としたＢＤも検討されている。以下このようなＢＤの例を説明する。
【０２７６】
＜情報記録層の多層化＞
レーザ光を保護層（カバー層）の側から入射して情報が再生及び／または記録される片面ディスクの構成をとる場合、情報記録層を２層以上にするためには基板と保護層との間には複数の情報記録層が設ける必要がある。このような多層ディスクの構成例を図３８に示す。図３８に示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２を備える（ｎは０以上の整数）。具体的には、光ディスクには、レーザ光２００が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、及び基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２のそれぞれの間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように情報記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２７７】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から情報記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２７８】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向、スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。パラレル・パスでは、すべての情報記録層において、スポットの進行方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全情報記録層にて内周から外周の方向へ、または全情報記録層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２７９】
一方、オポジット・パスでは、ある情報記録層とその情報記録層に隣接する情報記録層とで、スポットの進行方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）におけるスポットの進行方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、情報記録層Ｌ１におけるスポットの進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、情報記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、スポットの進行方向は、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２８０】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がり、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５、ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば情報記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、２層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。
【０２８１】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図３９に、２層ディスクの構成例を図４０に、３層ディスクの構成例を図４１に、４層ディスクの構成例を図４２に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、いずれのディスクにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）であり、基板５００の厚さは略１．１ｍｍである。また、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図３９に示す単層ディスク（図３８においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍである。また、図４０の２層ディスク（図３８においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍであり、中間層５３０２の厚さは略０．０２５ｍｍである。また、図４１の３層ディスク（図３８においてｎ＝２の場合）や、図４２の４層ディスク（図３８においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１４の厚さ、及び／または、中間層５３０４の厚さをさらに薄くしてもよい。
【０２８２】
また、このようにＮＡの高い対物レンズを有する光学ヘッドを用いた記録再生装置では、ディスクの光照射表面から情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差が情報記録層上に絞り込まれるレーザ光の品質に大きく影響を及ぼす。そのため、厚さによって発生する収差を補正する手段が設けられている。
【０２８３】
収差補正手段は、光情報記録媒体の保護層表面から、情報を記録再生する情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差成分を補正するために、各情報記録層で発生する収差成分を打ち消すような収差を与える。この収差補正手段は、本来、単層構造媒体の情報記録層に対して収差が小さくなるような光学設計がなされており、２層構造の情報記録媒体の記録再生における収差も考慮されている。設計上の最小収差位置は、保護層表面から約８０μｍから９０μｍ程度に設定されている。そのため、最小収差位置と異なる厚さの情報記録層に記録再生光を絞り込むときは、収差補正手段を制御し、各情報記録層にあった収差補正値を設定して補正する必要がある。
【０２８４】
＜ＢＤの物理的構成＞
図４３は、本発明が適用可能な光ディスク５１０の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク５１０には、例えば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック５１１が形成されており、各トラック５１２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック５１２には予め定められたサイズのブロック５１３を単位としてデータが記録される。データは、実際には、記録すべき情報を変調することによって得られた複数の記録マーク及び複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列としてトラックに記録される。
【０２８５】
光ディスク５１０は、内周側にＰＩＣ（Permanent Information & Control data)領域５１４及びＯＰＣ（Optimum Power Control）領域５１５を備える。ＯＰＣ領域５１５は、ユーザデータを記録する前に、テスト記録を行ってディスクあるいは各情報記録層に最適な記録パワーや記録パルス列の条件を求めるために用いられる領域である。学習領域と呼ばれることもある。また、光ディスク装置の個々のばらつきや、急激な温度変動、ゴミや埃などの付着等の環境変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス列の変動分などを調整するために、テスト記録を行う領域でもある。ＰＩＣ領域５１４は、再生専用領域であって、溝を高速に変調することによってディスク管理情報を記録している。ディスク管理情報としては、最適記録パワーを求めるのに必要なＯＰＣパラメータや、ライトストラテジタイプ、レーザパルスの発生のタイミング及び長さ等（第１及び第２の実施形態で説明した記録条件）の推奨値、記録線速度、再生パワー、バージョン番号などが記録されている。
【０２８６】
光ディスク５１０は、従来の光ディスク（例えば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、例えば、光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さを言う。なお、光ディスク５１０は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２８７】
トラック５１２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロック５１３に分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロック５１３は、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２８８】
＜記録密度＞
次に、記録密度について、図４４、図４５、図４６及び図４７を用いて説明する。
【０２８９】
図４４は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ光２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Numerical Aperture；ＮＡ）は０．８５である。
【０２９０】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック５１２上に物理変化のマーク列５２０、５２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク５２１が最短マークである。
【０２９１】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク５２１の物理的長さは０．１４９μｍである。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０２９２】
図４６は、トラック５１２上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット２１０の直径は、約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット２１０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２９３】
例えば、図４５は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Numerical Aperture；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列５２４、５２５のうち、最短マーク５２５の物理的長さは０．１１１５μｍである。図４４と比較すると、スポット径は同じ約０．３９μｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２９４】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Optical Transfer Function)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（cutoff）という。
【０２９５】
図４７は、２５ＧＢの記録容量のＢＤにおける、ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、若しくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０２９６】
そのため、図４５の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０２９７】
図４８は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図４８において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０２９８】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
高記録密度光ディスクにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０２９９】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとし、（最短マーク長＋最短スペース長）を”Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いた場合、以下の不等式を満たすまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超える。
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
【０３００】
ＮＡ＝０．８５、λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、以下の式によって求められる。なお、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡを満たす場合、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い。
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
【０３０１】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０３０２】
以上、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録線密度を説明した。さらにＢＤの高密度化が進んだ場合、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係から、上述したのと同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度、記録容量）を設定することができる。
【０３０３】
＜記録密度及び層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ、開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ、あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，または３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３０４】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３０５】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）であり、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０３０６】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０３０７】
ここで、光ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするかの選択肢が生じる。多層化には、各情報記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する情報記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０３０８】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０３０９】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０３１０】
いずれの構成をＢＤで採用する場合でも、ＢＤに記録する記録マークの記録条件を調整するために、本発明を好適に用いることができる。この場合、情報記録媒体の情報記録層の数または情報記録層間の距離に応じて記録パルス条件を異ならせてもよい。
【０３１１】
上述したように情報記録層の数が多くなっても光入射面から最も離れた情報記録層Ｌ０の位置は変わらないため、情報記録層の数が多くなるにつれて、情報記録層間の距離が短くなり、層間クロストークが増大する。その結果、再生信号が局所的または全体的に変動する。この変動は、同一の情報記録層では記録マークの長さに依存しない。しかし、記録マークが短いほど相対的に変動による影響が大きくなる。このため短い記録マークほど記録マークの調整精度が高いことが好ましい。
【０３１２】
従って、本発明を多層のＢＤに適用する場合、情報記録媒体の情報記録層の数または情報記録層間の距離に応じて記録パルス条件を設定すれば、より適切な記録マークを形成することができる。また、情報記録層の数が多くなると、各情報記録層における反射率を低下させる必要がある。このため、反射率が低い場合に本発明を適用してもよい。
【０３１３】
また、情報記録層の記録に用いる記録パワー設定範囲に応じて、記録パルス条件を設定してもよい。ピークパワーなどの記録パワー設定範囲は、情報記録媒体の情報記録層の層数に応じて変更することができる。これは、層数の違いにより、情報記録層を透過させるレーザ光の強度を変化させる必要があるためである。同一速度で記録を行う場合、記録パワーが大きくなるほど、レーザの応答特性から記録バラつきが大きくなる。従って、記録パワーが大きくなるほど、より高精度に記録調整を行うことが好ましい。
【０３１４】
例えば、情報記録層を１層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を２層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定できる。同様に、情報記録層を２層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を３層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定でき、情報記録層を３層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を４層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定できる。
【０３１５】
従って、本発明を多層のＢＤに適用する場合、情報記録媒体の記録パワー設定範囲に応じて記録パルス条件を設定すれば、より適切な記録マークを形成することができる
【産業上の利用可能性】
【０３１６】
本発明は、レーザ光や電磁力などによってデータ信号の記録を行う種々の情報記録媒体、例えばＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥやその他の情報記録媒体において、前記情報記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置、例えばＤＶＤドライブ、ＤＶＤレコーダー、ＢＤレコーダーやその他の機器における記録動作に利用するなどその他の用途に対しても適用できる。
【符号の説明】
【０３１７】
１  情報記録媒体
２  光ヘッド
３  プリアンプ部
４  ＡＧＣ部
５  波形等化部
６  Ａ／Ｄ変換部
７  ＰＬＬ部
８  ＰＲ等化部
９  最尤復号部
１０  エッジシフト部
１１  記録パターン発生部
１２  記録補償部
１３  レーザ駆動部
１４  記録パワー設定部
１５  情報記録制御部
１６  記録補償パラメータ決定部
１００  情報記録再生装置
１０１  記録制御部
１０２  再生信号処理部
２０１  ピークパワー
２０２  ボトムパワー
２０３  クーリングパワー
２０４  スペースパワー
２０５  消光レベル
７０１、７０４、７０７  パターン検出部
７０２、７０５、７０８  差分メトリック演算部
７０３、７０６、７０９  メモリ部
【図１】
2010038397.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【手続補正書】
【提出日】平成22年5月21日(2010.5.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的に情報を記録する情報記録媒体及び記録再生装置に関し、特に、記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体及び記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
映像の録画や音響の録音、パソコンのデータ保存などのため、種々の記録可能な情報記録媒体が実用化されている。例えば、主として音響の録音やパソコンのデータ保存に用いられるＣＤ、映像の録画やパソコンのデータ保存に用いられるＤＶＤが普及しており、近年ではデジタル放送をはじめとする高画質のハイビジョン映像を録画することのできるＢＤ（Blu-ray Disc）が発売されている。
【０００３】
上述の映像、音響、あるいはパソコンのデータと言った情報は、ユーザデータとして情報記録媒体に記録される。具体的には、ユーザデータにまず、誤り訂正符号が付加され、所定の範囲の長さを有する記録マーク及びスペースによって構成されるデータ列に変調される。データ列は、光ビームを用いて情報記録媒体のトラックに記録される。また、情報記録媒体に記録された情報は、トラックに光ビームを照射し、データ列、つまり、記録マーク及びスペースに対応する情報を含む反射光からアナログの再生信号を生成する。再生信号から２値化信号であるデータ列が生成され、復号された後、エラー訂正が施されることによってユーザデータが得られる。
【０００４】
図１は、情報記録媒体に記録マークを形成するため各種の信号を示している。図１の（ａ）部分は、記録データ作成時の基準信号となる、周期Ｔｗのチャネルクロック信号を示している。図１の（ｂ）部分は、チャネルクロック信号に基づいて、記録すべき情報が変調された変調符号であるＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverting）信号を示している。
【０００５】
たとえばＢＤの場合、ＮＲＺＩ信号は、周期Ｔｗを基準として２Ｔ（２×Ｔｗ）から８Ｔの長さの記録マーク及びスペースを用いて、記録すべき情報を変調することにより得られる。図１の（ｂ）部分では、ＮＲＺＩ信号の部分的な一例として、２Ｔマーク−２Ｔスペース−４Ｔマークのパターンを示している。
【０００６】
図１の（ｃ）部分及び（ｄ）部分は、ＮＲＺＩ信号に基づき、生成される記録レーザの記録パルス列及び情報記録媒体に形成されるデータ列（記録マーク列）をそれぞれ示している。
【０００７】
各長さの記録マークは、少なくともファーストパルス（先頭パルスとも言う）を含む記録パルス列によって形成される。記録マークは、長さに応じて、ラストパルス、及び、ファーストパルスとラストパルスとの間に位置する１以上の中間パルスをさらに含む。ファーストパルスのパルス幅Ｔｔｏｐ及びラストパルスのパルス幅Ｔｌｐは、記録マークの長さに応じてそれぞれ設定される。中間パルスのパルス幅Ｔｍｐはいずれの長さの記録マークにおいても同じに設定される。
【０００８】
記録パルス列のレベル、つまり、レーザ強度は、記録マークの形成に必要となる加熱効果のあるピークパワーＰｐ２０１、冷却効果のあるボトムパワーＰｂ２０２及びクーリングパワーＰｃ２０３及びスペース部における記録パワーであるスペースパワーＰｓ２０４に分類される。ピークパワーＰｐ２０１、ボトムパワーＰｂ２０２、クーリングパワーＰｃ２０３及びスペースパワーＰｓ２０４は、レーザ光の消光時に検出される消光レベル２０５を基準レベルに対して設定される。
【０００９】
なお、ボトムパワーＰｂ２０２とクーリングパワーＰｃ２０３は通常同等のレーザパワーに設定される。しかし、クーリングパワーＰｃ２０３は記録マーク終端部の熱量調整のために、ボトムパワーＰｂ２０２と異なる値に設定されてもよい。また、スペース部では記録マークを形成する必要がないために、一般的にスペースパワーＰｓ２０４は低いレーザパワー（例えば再生パワーやボトムパワーなどと同等）に設定される。しかし、書き換え型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥ）では、既存の記録マークを消去してスペース部を形成する必要がある。また、追記型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲやＢＤ−Ｒ）では次の記録マークを形成するための予熱パワーを与える場合がある。このため、スペースパワーＰｓ２０４を、高めのレーザパワーに設定してもよい。ただし、この場合でも、スペースパワーＰｓ２０４がピークパワーＰｐ２０１よりも高い値に設定されることはない。
【００１０】
所定のパワーレーザを照射した場合に形成される記録マークは、情報記録媒体の情報記録層の特性に依存する。このため、情報記録媒体には、その情報記録層に適した記録パルス列の各レーザパワー値及びパルス幅など、記録時のレーザ発光条件が記録されている。従って、情報記録媒体内部に記録された記録パルスの各レーザパワー及びパルス幅を適切に再現し、レーザ光を情報記録媒体の情報記録層に照射することができれば、記録マーク列を形成することができる。
【００１１】
ただし、情報記録媒体の情報記録層の特性や記録装置レーザ発光特性には、情報記録媒体ごと、及び、記録装置ごとのバラつきがある。また、使用環境によって熱の影響も異なる。また、隣接する記録マークからの熱干渉を受ける場合もある。このため、通常、記録装置は、少なくとも新しい情報記録媒体が装填されるたびに、正しく記録マークを形成することができるように、テスト記録を行って、得られる再生信号を評価し、評価結果に基づき、記録レーザのパルス形状を微調整する。例えば、各長さの記録マークにおいて、記録マークの始端位置を調整するための記録開始位置オフセットｄＴｔｏｐ、終端位置を調整するための記録終了位置オフセットｄＴｓが設定され、テスト記録の際これらのオフセット値が調整される。
【００１２】
なお、記録パルス列を構成する記録パルスは、上述したマルチパルス波形以外にも、図２の（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）部分に示すように、モノパルス波形、Ｌ型パルス波形またはキャッスル型パルス波形であってもよい。一般にモノパルス波形では、記録マークが長くなるほど蓄積される熱量は多くなり、Ｌ型パルス波形では、記録マークが長くなるほど蓄積される熱量は低下する。キャッスル型パルス波形では、記録マーク終端部における熱量が調整されている。マルチパルス波形では、記録マークの長さによらず蓄積される熱量は一定である。これらの点を考慮し、情報記録媒体の情報記録層の膜特性、特に、蓄積される熱量の特性に応じて、適切な波形が選択される。
【００１３】
近年、映像の高精細化にとなって、より大容量の情報記録媒体が求められている。こうした情報記録媒体の記録密度を高めるためには、情報を記録する記録マークの大きさをより微小にする必要がある。しかし、記録マークが小さくなると、記録マークの最短マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大及びＳＮＲ（Signal Noise Ratio）の劣化がより顕著となる。その結果、記録マークの始端エッジ及び終端エッジの位置を正しく検出することができず、再生信号から、記録された情報を正しく復号することが困難となる。
【００１４】
このため、微小な記録マークによって情報が記録された情報記録媒体から情報を再生する場合、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）方式等を用いて、再生信号を処理することが一般的になってきた。ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が生じた場合の再生信号の波形を推定し、推定される波形から最も確からしい波形の再生信号系列を選択する方式である。
【００１５】
また、記録マークが小さくなると、記録マークの終端の熱がスペース部分を伝導して次の記録マークの始端の温度上昇に影響を与えたり、逆に次の記録マークの始端の熱が前の記録マークの終端の冷却過程に影響を与えたりする熱干渉が生じる。このような熱干渉が生じる場合、テスト記録行って、スペース補償を行う必要がある。スペース補償とは、前方のスペースあるいは後方のスペースの長さに応じて、記録パルスの記録パラメータ（例えばｄＴｔｏｐ）を変化させることである。
【００１６】
符号間干渉や熱干渉の影響を考慮した従来の記録パルスの制御方法として、例えば特許文献１及び特許文献２が挙げられる。
【００１７】
特許文献１に開示された方法によれば、正しく復調された場合に得られる正解ビット列と、正解ビット列の１ビットがシフトした最も誤りやすい誤りビット列とを用いて、再生信号と両ビット列とのユークリッド距離をそれぞれ算出することにより適応等化された再生信号を評価し、パターンごとのエッジのずれ方向とずれ量を検出する。そして、形成すべき記録マークのマーク長と前後のスペース長とによって分類された適応的な記録パラメータが、パターンごとに対応した前記エッジのずれ方向及びずれ量に応じて最適化される。
【００１８】
特許文献２では、正解ビット列及び誤りビット列に対して１ビットシフトするエッジ部分において、適応等化された再生信号の振幅値と両ビット列で算出される振幅期待値との差分を定量化することにより、エッジのずれ方向とずれ量を検出する。特許文献１と同様に、前後のスペース長とマーク長によってテーブル化された適応的な記録パラメータが前記パターンごとに対応した前記エッジのずれ方向及びずれ量に応じて最適化される。
【００１９】
特許文献１及び特許文献２では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式により再生信号が処理されている。特許文献１に開示された記録パルスの制御について、図３を用いてさらに説明する。
【００２０】
情報記録媒体１から読み出した情報は、光ヘッド２によりアナログ再生信号として生成される。アナログ再生信号は、プリアンプ部３によって増幅され、ＡＣカップリングされた後にＡＧＣ部４に入力される。ＡＧＣ部４では後段の波形等化部５の出力が一定振幅となるように振幅調整される。振幅調整されたアナログ再生信号は波形等化部５によって波形整形され、Ａ／Ｄ変換部６に入力される。Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ部７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ部７は、Ａ／Ｄ変換部６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。
【００２１】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、記録時及び再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えばＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるようにデジタル再生信号の周波数を調整する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。ＰＲ等化部８及び最尤復号部９を組み合わせた再生信号処理技術がＰＲＭＬ方式である。
【００２２】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。エッジシフト検出部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を求める。また、エッジシフト検出部１０は、２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに信頼性を割り当て、記録補償パラメータの最適値からのずれ（以下、エッジシフト）を求める。
【００２３】
所定の記録パターンを有するデータ列を用いてテスト記録を行い、情報記録制御部１５は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された情報に従って、設定変更可能な記録パラメータを変更する。設定変更可能な記録パラメータは予め決定されており、例えば記録マークの始端エッジ部では記録開始位置オフセットｄＴｔｏｐ、終端エッジ部では記録終了位置オフセットｄＴｓである。例えば、情報記録制御部１５は、図４に示す記録パラメータのテーブルに従って、記録パラメータを変更する。図４は、記録マーク及び前方スペースの長さによって分類された始端エッジに関する記録パラメータ及び記録マーク及び後方スペースの長さによって分類された終端エッジに関する記録パラメータを示す。
【００２４】
図４において、記録マークＭ（ｉ）、前方スペースＳ（ｉ−１）、後方スペースＳ（ｉ＋１）の各記号は、図５に示すような記録マーク及びスペースの時系列を意味している。記号Ｍは記録マーク、記号Ｓはスペース、任意の記録マーク及びスペースの時系列は記号ｉを用いて表している。
【００２５】
図４で示すように分類された記録パラメータに対応する記録マークをＭ（ｉ）で表す。図５に示すように、記録マークＭ（ｉ）の前方スペースはＳ（ｉ−１）、さらに前方の記録マークはＭ（ｉ−２）、さらに前方のスペースはＳ（ｉ−３）であり、記録マークＭ（ｉ）の後方スペースはＳ（ｉ＋１）、さらに後方の記録マークはＭ（ｉ＋２）、さらに後方のスペースはＳ（ｉ＋３）である。
【００２６】
始端エッジは、記録マークＭ（ｉ）と前方スペースＳ（ｉ−１）の間に位置し、ｄＴｔｏｐの値は、図４に示すように、これらの長さの組み合わせに応じたパターンで分類される。例えば、前方スペースの長さが３Ｔであり、記録マークの長さが４Ｔである場合、パターン３Ｔｓ４Ｔｍとなる。終端エッジは、記録マークＭ（ｉ）と後方スペースＳ（ｉ＋１）の間に位置し、ｄＴｓの値は、図４に示すように、これらの長さの組み合わせに応じたパターンで分類される。例えば、記録マークの長さが３Ｔであり、後方スペースの長さが２Ｔである場合、パターン３Ｔｍ２Ｔｓとなる。図４に示すように、始端エッジ及び終端エッジで合計３２通りの記録パラメータ値が存在する。
【００２７】
情報記録制御部１５は、例えば、前方スペースが３Ｔで記録マークが４Ｔである記録マークの始端エッジを調整するには、３Ｔｓ４Ｔｍの記録パラメータ（例えばｄＴｔｏｐ）を変更し、後方スペースが２Ｔで記録マークが３Ｔである記録マークの終端エッジを調整するには、３Ｔｍ２Ｔｓの記録パラメータ（例えばｄＴｓ）を変更する。
【００２８】
記録パターン発生部１１は、入力された記録すべき情報で変調されたＮＲＺＩ信号を生成する。記録補償部１２は、情報記録制御部１５で変更される記録パラメータをもとに、ＮＲＺＩ信号に従って記録パルス列を生成する。記録パワー設定部１４は、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、記録パルス列及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。
【００２９】
このように、情報記録媒体１に対してテスト記録を行い、エッジシフト量が減少するように記録パルス形状が制御される。従って、ＰＲＭＬ方式及び記録パラメータのスペース補償を用いた記録制御方法により、より適切な記録マーク及びスペースを形成することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３０】
【特許文献１】特開２００４−３３５０７９号公報
【特許文献２】特開２００８−１１２５０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００３１】
情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉及びＳＮＲ劣化がさらに問題となる。このため、情報記録媒体から得られる再生信号を、より高次のＰＲＭＬ方法によって処理することが必要となる。
【００３２】
この場合、高次のＰＲＭＬ方法によって、情報記録媒体に記録された情報が適切に再生されるために、テスト記録によって記録マークのエッジ位置をより高い精度で調整し、信号再生時のエラーレートを低減するように記録条件を調整する必要がある。
【００３３】
本発明は、高次のＰＲＭＬ方式を考慮し、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体及び記録再生装置を提供することを目的とする。より具体的には、高密度記録を行う場合におきて、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムの実現を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
本発明の情報記録媒体は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、前記データ列をトラックに記録するための記録条件を記録することのできる記録条件記録領域とを含む情報記録媒体であって、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【００３５】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは前記データ列における前記記録マークの最短の長さである。
【００３６】
ある好ましい実施形態において、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第２のスペースの長さとの組み合わせの分類において、前記第１のスペースの長さの種類数は、前記第２のスペースの長さの種類数より多い。
【００３７】
ある好ましい実施形態において、前記記録条件は、前記第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの前方に隣接するスペースである。
【００３８】
ある好ましい実施形態において、前記記録条件は、前記第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの後方に隣接するスペースである。
【００３９】
本発明の再生装置は、上記いずれかに規定される情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、前記再生装置は、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。
【００４０】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【００４１】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録条件が記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、前記記録条件は、前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する、再生信号処理部を備える。
【００４２】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。
【００４３】
本発明の情報記録媒体は、記録条件が記録可能な記録条件記録領域を含み、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列が記録される情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている。
【００４４】
本発明の再生装置は、上記情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。
【００４５】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている。
【００４６】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録条件が記録された情報記録媒体の評価する評価装置であって、前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部を備える。
【００４７】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。
【００４８】
本発明の情報記録媒体は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、前記データ列をトラックに記録するための記録条件が記録されたＰＩＣ領域及び前記記録条件が記録された前記トラックのウォブリングの少なくとも一方とを含む情報記録媒体であって、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている。
【００４９】
本発明の再生装置は、上記情報記録媒体を再生する再生装置であって、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える。
【００５０】
本発明の記録装置は、情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部とを備え、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている。
【００５１】
本発明の評価装置は、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部とを備える。
【００５２】
本発明の記録再生装置は、上記評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行う。
【００５３】
本発明の記録制御装置は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御装置であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を有し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００５４】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００５５】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【００５６】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００５７】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。
【００５８】
また、本発明の記録制御装置は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御装置であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を有し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００５９】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第１の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００６０】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類する。
【００６１】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第２のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００６２】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。
【００６３】
本発明の記録制御方法は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御方法であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００６４】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第１のスペースの長さが、所定の長さ以下の場合にのみ実施することを特徴とする。
【００６５】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類する。
【００６６】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第２の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００６７】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。
【００６８】
また、本発明の記録制御方法は、情報記録媒体に情報を記録する記録制御方法であって、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類し、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００６９】
ある好ましい実施形態において、前記第２のスペースの長さによる分類は、前記第１の記録マークの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００７０】
ある好ましい実施形態において、前記データパターンの分類において、前記第１の記録マークと前記第１のスペースには隣接せず、前記第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類する。
【００７１】
ある好ましい実施形態において、前記第２の記録マークの長さによる分類は、前記第２のスペースの長さが、前記所定の長さ以下の場合にのみ実施する。
【００７２】
ある好ましい実施形態において、前記所定の長さは、前記データ列における最短の長さとする。
【００７３】
本発明の記録再生装置は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理部と、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御部を備えた記録再生装置であって、前記記録制御部は、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００７４】
また、本発明の記録再生装置は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理部と、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御部を備えた記録再生装置であって、前記記録制御部は、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定部を備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００７５】
ある好ましい実施形態において、前記再生信号処理部は、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記差分メトリックを割り当て、各パターンに対して記録パラメータの最適値からのエッジシフトを求めるエッジシフト検出部を備え、前記エッジシフトが所定の目標値に近づくように、前記記録パラメータを調整する。
【００７６】
ある好ましい実施形態において、前記記録補償パラメータ決定部におけるデータパターンの分類と、前記エッジシフト検出部におけるパターンの分類が同じである。
【００７７】
本発明の記録再生方法は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理ステップと、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御ステップを備えた記録再生方法であって、前記記録制御ステップは、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定ステップを備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１の記録マークには隣接せず、前記第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００７８】
また、本発明の記録再生方法は、情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成及び２値化信号を復号する再生信号処理ステップと、前記デジタル信号及び２値化信号に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録パラメータを調整し、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録制御ステップを備えた記録再生方法であって、前記記録制御ステップは、記録するデータ列に対して、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに記録条件を分類する記録補償パラメータ決定ステップを備え、前記データパターンごとの記録条件の分類は、前記データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに記録条件を分類して、情報記録媒体に情報を記録する。
【００７９】
ある好ましい実施形態において、前記再生信号処理ステップは、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列との、再生信号との差である差分メトリックを算出し、前記２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記差分メトリックを割り当て、各パターンに対して記録パラメータの最適値からのエッジシフトを求めるエッジシフト検出ステップを備え、前記エッジシフトが所定の目標値に近づくように、前記記録パラメータを調整する。
【００８０】
ある好ましい実施形態において、前記記録補償パラメータ決定ステップにおけるデータパターンの分類と、前記エッジシフト検出ステップにおけるパターンの分類が同じである。
【発明の効果】
【００８１】
本発明によれば、データ列をトラックに記録するための記録条件を記録の対象となる記録マークの長さ及び前方または後方に隣接するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合、さらに後方または前方に隣接するスペースの長さも用いて分類する。このため、記録マークが微小化し、情報記録媒体の記録密度が高くなっても、隣接する記録マークを形成する際の熱の影響を考慮し、より高精度に適切な形状を有する記録マークを適切な位置に記録することができる。
【００８２】
従って、本発明により記録条件を調整することによって、高次のＰＲＭＬ方式が必要となる高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】記録マーク及びスペースを含むデータ列を形成するための記録パルス波形及び記録パワーを説明する図である。
【図２】記録パルス形状の例を説明する図である。
【図３】従来の記録制御装置を説明する図である。
【図４】従来の記録パラメータのテーブルを説明する図である。
【図５】記録マーク及びスペースの時系列を説明する図である。
【図６】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図７】図６に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図８】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図９】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図１０】ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンを示す図である。
【図１１】図８に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１２】図９に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１３】図１０に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【図１４】ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いた信号評価装置の説明図である。
【図１５】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１４の差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１６】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ａの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１７】ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの検出パターン１２Ｂの差分メトリックの詳細パターンごとの分類を示す図である。
【図１８】本発明の実施形態による記録パラメータのパターンテーブルを示している。
【図１９】図１８に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２０】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２１】図２０に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２２】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２３】図２２に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２４】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２５】図２４に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２６】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２７】図２６に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図２８】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図２９】図２８に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３０】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図３１】図３０に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３２】本発明の実施形態による記録パラメータの他のパターンテーブルを示している。
【図３３】図３２に示すパターンテーブルに対応する記録パルスを説明する図である。
【図３４】本発明の実施形態による情報記録再生装置を示すブロック図である。
【図３５】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の一例を示す図である。
【図３６】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【図３７】本発明で使用することが可能な記録パルス波形の他の例を示す図である。
【図３８】本発明を適用することが可能な情報記録媒体の構成例示す模式図である。
【図３９】単層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４０】２層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４１】３層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４２】４層の情報記録媒体の構成を示す模式図である。
【図４３】情報記録媒体の物理的構成を示す模式図である。
【図４４】レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す模式図である。
【図４５】レーザビーム光のスポットとトラックに記録されたマークとを示す他の模式図である。
【図４６】トラック上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す模式図である。
【図４７】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。
【図４８】ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す別のグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００８４】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。
【００８５】
本発明では、情報記録媒体の記録密度を高めるため、レーザビームの走査速度、つまり、線速度を遅くすることによって、記録マーク及びスペースを短くする。これにより、例えば、例えば、１２ｃｍの光ディスクにおいて、情報記録層１層当たり、２５ＧＢの記録容量を３３．３ＧＢにまで高めることができる。
【００８６】
また、本発明では、再生信号の波形から最も確からしい信号系列を選択するために、より高次のＰＲＭＬ方式を採用する。具体的にはＰＲ１２２２１ＭＬ方式で処理し、情報記録媒体に記録された情報を再生する。
【００８７】
高次のＰＲＭＬ方式を採用する場合、再生信号の評価にもより高度な方法が必要となる。情報記録媒体が高密度化すると、検出系の分解能よりも短い記録マークやスペースが現れ、情報記録媒体の記録品質が記録マーク及びスペースの位置ずれのみではなく、記録マーク自身の位置ずれ、スペース自身の位置ずれと、少なくとも１つずつ以上の記録マークとスペースとの組み合わせを一組とした位置ずれも考慮する必要があるからである。これらのずれには、複数のエッジを含むパターンが検出されることになる。例えば、記録マーク自身の位置ずれでは、記録マークの始端及び終端の両隣にスペースが存在するため、始端のエッジと終端のエッジとが同時に検出される。また、記録マークＡ−スペースＢのような１つずつのマークとスペースの組み合わせを一組とした位置ずれでは、スペースＡ−マークＡ−スペースＢ−マークＢとそれぞれの隣にさらに１つずつスペースとマークが存在するため、全部で３つのエッジが検出される。
【００８８】
従来のＰＲ１２２１ＭＬ方式では、再生信号のエッジ位置を評価するために、１つのエッジが検出された場合についての記録品質を評価することは考慮されていたが、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式では、先述したような複数のエッジずれを含むパターンが検出されたときの記録品質を評価する必要がある。本発明では、本願と同じ譲受人によってなされた米国特許出願１１／９６４，８２５及び国際公開第２００８／０８１８２０Ａ１号パンフレットに開示された、ＭＬＳＥ（Maximum Likelihood Sequence Error）を指標として再生信号のエッジ位置を評価する。米国特許出願１１／９６４，８２５の開示全体をここに参照として援用する。
【００８９】
まず、図６及び図７を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図６は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図７は、図６に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００９０】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【００９１】
図６に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図７に示すトレリス図が得られる。
【００９２】
図７に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。しかしながらエラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。この特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移列パターンは、図８、図９及び図１０に示すようにまとめることができる。
【００９３】
図８から図１０の第１番目の列は、エラーを起こしやすい２つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移（Ｓｍk-9→Ｓｎk）を表す。
【００９４】
第２番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列（ｂk-i，・・・，ｂk）を表す。遷移データ列中のＸは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このＸ数（！Ｘも同様）がエラー数となる。遷移データ列の中で、Ｘが１もしくは０となった一方が、最も確からしい第１の状態遷移列に対応し、もう一方が２番目に確からしい第２の状態遷移列に対応する。図９及び図１０において、！ＸはＸのビット反転を表している。
【００９５】
ビタビ復号部が復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較（Ｘの箇所はDon’t care）を行うことでエラーを起こしやすい最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列を抽出することができる。
【００９６】
３番目の列は、第１の状態遷移列及び第２の状態遷移列を表している。
【００９７】
４番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）を示しており、５番目の列は、この２つの理想信号のユークリッド距離の２乗（パス間のユークリッド距離）を示している。
【００９８】
図８は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離の２乗が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、光ディスクの記録マークとスペースの切り替わり部分（記録マークの始端エッジ及び終端エッジ）に該当する。言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。
【００９９】
一例として、図７に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１００】
図１１は、図８に示す記録系列のＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図８に示す記録系列のＰＲ等化理想波形を図１１のＡパス波形として示す。同様に、図１２は、図９に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図１３は、図１０に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【０１０１】
図１１、図１２及び図１３において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【０１０２】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。
【０１０３】
図７に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。
【０１０４】
このパスのＰＲ等価理想波形を図１１において、Ｂパス波形として示す。図８に示すユークリッド距離が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれている点が特徴である。
【０１０５】
図９は、ユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。
【０１０６】
一例として、図７で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１２にＡパス波形として示す。
【０１０７】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１２にＢパス波形として示す。図９に示すユークリッド距離が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がり及び立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【０１０８】
図１０は、もう一種類のユークリッド距離の２乗が１２となる状態遷移列パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。
【０１０９】
一例として、図７で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１３にＡパス波形として示す。
【０１１０】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。このパスのＰＲ等価理想波形を図１３にＢパス波形として示す。図１０に示すユークリッド距離の２乗が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【０１１１】
図１４は、再生信号をＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いて処理する場合における、再生信号の品質を評価する信号評価装置の構成を示している。再生信号の品質は、記録マークのエッジ位置によって評価される。図１４の信号評価装置において、図３の記録制御装置と同じ構成要素には同じ参照符号を付し、同様の説明は省略する。また、記録符号はＲＬＬ（１，７）符号のＲＬＬ（Run Length Limited）符号とする。
【０１１２】
図１４において、エッジシフト検出部１０は、図８（１４パターン）、図９（１２Ａパターン）、図１０（１２Ｂパターン）に対応したパターンを検出する１４パターン検出部７０１、１２Ａパターン検出部７０４、１２Ｂパターン検出部７０７と、各パターンのメトリック差を演算する差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８と、前記差分メトリック演算部で演算された各パターンの位置ずれ指標を累積し保持するメモリ部７０３、７０６、７０９とを備えている。また、ここでのＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性がＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性となるように設定された周波数特性を有している。
【０１１３】
パターン検出部７０１、７０４、７０７は図８、図９、図１０の遷移データ列と２値化データを比較して、この２値化データが図８、図９、図１０の遷移データ列と一致する場合は、図８、図９、図１０に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０１１４】
この選択結果に基づき、差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８では、状態遷移列の理想値（ＰＲ等化理想値：図８、図９、図１０参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算され、更に２つの状態遷移列から演算されたメトリック同士の差が演算され、更に、このメトリック差は、プラスとマイナスの値を持つために絶対値処理が行われる。
【０１１５】
また、パターン検出部７０１、７０４、７０７は、２値化データに基づいて、図１５、図１６、図１７に示す記録マークの始端エッジ及び終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成して、メモリ部７０３、７０６、７０９に出力する。
【０１１６】
メモリ部７０３、７０６、７０９は、パターン検出部７０１、７０４、７０７から出力されたパルス信号に基づいて、差分メトリック演算部７０２、７０５、７０８で求められたそれぞれのパターンのメトリック差を、図１５、図１６、図１７で示したパターンごとに累積加算する。
【０１１７】
ここで、図１５、図１６、図１７の詳細なパターン分類について詳細な説明をする。図１５、図１６、図１７における記号Ｍ及びＳは、先述した図５で示した記録マーク及びスペースの時系列を表している。記号！２Ｔｍは、記録マークが２Ｔマーク以外（例えば３Ｔマーク）であることを表している。同様に、スペース長が２Ｔスペース以外では！２Ｔｓとなる。記号ｘＴｍは任意の長さを有する記録マーク、記号ｘＴｓは任意のスペースであり、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合では２Ｔ〜８Ｔの長さとなる。また、各パターン番号は、それぞれ図８、図９、図１０に記載のパターンの番号に対応している。
【０１１８】
図１５に示すように、１４検出パターンでは、１つのスペースと１つのマークからなる１つのエッジずれを分類している。１４検出パターンの始端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ−１のスペースに関するエッジずれを示し、１４検出パターンの終端とは時刻ｉのマークと時刻ｉ＋１のスペースに関するエッジずれを示している。
【０１１９】
図１６に示すように、１２Ａ検出パターンでは、図１４の１４検出パターンにおける２Ｔマーク及び２Ｔスペースの場合の分類を、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。
【０１２０】
１２Ａ検出パターンの始端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのずれを時刻ｉ＋１のスペースの長さによって分類、または、時刻ｉと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉ−１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類している。１２Ａ検出パターンの終端とは、時刻ｉ−１と時刻ｉ＋１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークのずれを時刻ｉ−１のスペースの長さによって分類、または、時刻ｉと時刻ｉ＋２のマークに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類している。
【０１２１】
図１７に示す１２Ｂ検出パターンでは、図１６の１２Ａ検出パターンにおける２Ｔマークと２Ｔスペースが連続するパターンの場合の分類を、さらに１つ前の時刻、または１つ後の時刻のマークやスペースによって場合分けしている。具体的には、１つのマークと１つのスペースに挟まれた、２つ連続した２Ｔマークと２Ｔスペースの連続２Ｔのずれを分類している。
【０１２２】
１２Ｂ検出パターンの始端とは、時刻ｉ＋２のマークと時刻ｉ−１のスペースに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ＋２のマークの長さによって分類、または時刻ｉ−３のスペースと時刻ｉのマークに挟まれた時刻ｉ−２の２Ｔマークと時刻ｉ＋１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−３のマークの長さによって分類している。
【０１２３】
１２Ｂ検出パターンの終端とは、時刻ｉ＋１のスペースと時刻ｉ−２のマークに挟まれた時刻ｉの２Ｔマークと時刻ｉ−１の２Ｔスペースのずれを時刻ｉ−２のマークの長さによって分類、または時刻ｉのマークと時刻ｉ＋３のスペースに挟まれた時刻ｉ＋１の２Ｔスペースと時刻ｉ＋２の２Ｔマークのずれを時刻ｉ＋３のマークの長さによって分類している。
【０１２４】
このように、図１４に示す装置により、１つのエッジずれを含むマークとスペースの位置ずれに加えて、２つのエッジずれを含むマーク自身のずれ、スペース自身のずれと、３つのエッジずれを含む１つずつのマークとスペースの組み合わせを一組としたずれをそれぞれのデータパターンごとに指標化することが可能となる。
【０１２５】
これにより、複数のエッジずれを含むパターンを検出した際に、最も確からしいパスに対してどのようにエッジがずれているかを判断することで記録品質の評価が可能となり、エラーレートが高いパターンを判断することが可能となる。
【０１２６】
ただし、本発明は情報記録媒体へ記録マークを形成する場合の記録条件の調整方法に関しており、再生信号の評価方法は上述した方法に限られない。ＳＡＭ（Sequence Amplitude Margin）と呼ばれる指標値など他の指標値や評価方法を用いて、エッジずれの程度を評価し評価結果に基づいて記録マークのエッジずれを調整してもよい。
【０１２７】
本発明は、このようにして求められる記録マークのエッジずれに関する指標を評価基準として、記録マークのエッジずれが小さくなるように記録条件を調整する。記録マークのエッジは記録マークとスペースとの境界である。このため、従来技術によれば、図４を参照して説明したように、エッジに隣接する記録マーク及びスペースの長さに応じて、記録条件を分類していた。
【０１２８】
これに対し本発明では、記録マークが微小化することによって、隣接する記録マークを形成する際に加えられた熱の影響を考慮し、エッジを調整する記録マーク、隣接するスペース、及びそのスペースに隣接する記録マークのそれぞれの長さ、あるいは、エッジを調整する記録マーク及びこれを挟む前後のスペースのそれぞれの長さによって、記録パラメータを変更する。以下、本発明による記録制御方法及び記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体、記録再生装置の実施形態を順に説明する。
【０１２９】
（第１の実施形態）
本実施形態では、記録制御方法及び記録条件を調整することができ、安定して高密度記録を実現することができる情報記録媒体を説明する。以下の説明では、調整すべき記録条件として、記録パルス条件を説明するが記録パワー条件など他の記録パラメータであってもよい。また、以下、記録マークの始端エッジ及び終端エッジの位置の制御条件を説明するが、始端エッジ及び終端エッジで決まる記録パルス幅（例えばＴｔｏｐ）であってもよい。本実施の形態では、再生信号の処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用い、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Run Length Limited）符号を用いる。
【０１３０】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法１−１＞
本記録条件の調整方法１−１は、始端エッジに関しており、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１３１】
図１８は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図１８において、記録パラメータの対象となる記録マークは、上述した図４を参照して説明したように記録マークＭ（ｉ）で表す。その他のスペースまたは記録マークに関しても同様の記号を用いる。図１８において、Ｍ（ｉ−２）における記号！２Ｔｍは、記録マークが２Ｔマーク以外（例えば３Ｔマーク）であることを表現している。同様に、スペース長が２Ｔスペース以外では！２Ｔｓとなる。記号ｘＴｍは、記録マークの長さを特に限定する必要がないことを表している。以下の説明における記号ｘＴｓに関しても同様に、スペースの長さを特に限定する必要がないことを表している。但し、ＲＬＬ（１，７）記録符号の場合では２Ｔ〜８Ｔの長さとなる。
【０１３２】
図４と異なる記号表現を説明する。本実施形態では、パターンテーブル内における記録マークとその前後のスペースまたは記録マークの関係の表現が複雑になる。そのため、各パターンの表現において、記録パラメータの対象となる記録マークＭ（ｉ）に関してのみＴを付与する。例えば、前方スペースＳ（ｉ−１）が３Ｔスペース、記録マークＭ（ｉ）が２Ｔマークのとき、パターン３ｓ２Ｔｍと表現する。さらに、図４と同様のパターン表現に関しては、カッコ（  ）を付与する。従って、パターン３ｓ２Ｔｍは、パターン（３ｓ２Ｔｍ）と表現される。これらの記号は、以下において説明する他の記録条件の調整方法で用いるパターンテーブルでも用いる。
【０１３３】
図１８のパターンテーブルに示すように、前方スペースＳ（ｉ−１）が最短スペース（２Ｔｓ）以外、すなわち、３Ｔスペース以上の場合は従来のパターンテーブル図４と同じである。前方スペースが最短スペースとなる場合のみ、さらに前方のマークＭ（ｉ−２）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短スペース前方のマーク長の違いにより、記録パラメータを異ならせる設定を行う。
【０１３４】
これは、前方スペースが最短スペースである場合、前方スペースのさらに前にはる記録マークを形成する際の熱の影響を最も受けやすいからである。さらに、高密度記録における最短マークの大きさは非常に小さいことにも起因する。ＢＤの記録再生システムにおける最短マーク長及び最短スペース長は、２５ＧＢ記録では約１４９ｎｍ、３３．４ＧＢ記録では約１１２ｎｍとなる。ビームスポットの大きさ約２５０ｎｍに対して、３３．４ＧＢ記録では最短マーク及び最短スペースが連続したパターン２ｍ２ｓでもビームスポット内に含まれる。また、高密度記録で、記録マーク長が短くなると、記録マークの幅方向の広がりも極端に小さくなる。最短マークの形成時では、記録膜内に蓄積される熱量が最も少なくなり、次の記録マークに与える熱量も少なくなる。そのため、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短スペースのさらに前方のマーク長の違いによって、記録パラメータを分離している。
【０１３５】
なお、本実施例では、前方のマーク長の違いを、最も熱干渉の影響を受けやすい最短マーク２Ｔｍとそれ以外の記録マーク！２Ｔｍで分類したが、これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔマーク以上の記録マークを個別に分離して設定できることが望ましい。
【０１３６】
特に、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔマーク以上である場合において、前方の記録マーク長が最短マーク２Ｔｍであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、前方の記録マーク長が最短マーク以外！２Ｔｍであれば、遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１３７】
図１９に、前方のスペースが最短スペースである記録マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図１９の（ａ）部分はパターン２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｂ）部分はパターン２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｃ）部分はパターン４ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｄ）部分はパターン４ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｅ）部分はパターン２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｆ）部分はパターン２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｇ）部分はパターン４ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｈ）部分はパターン４ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｉ）部分はパターン２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｊ）部分はパターン２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９（ｋ）部分はパターン４ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｌ）部分はパターン４ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｍ）部分はパターン２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｎ）部分はパターン２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図１９の（ｏ）部分はパターン４ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図１９の（ｐ）部分はパターン４ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０１３８】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図１９の（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図１９の（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図１９の（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図１９の（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図１９の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、記録パラメータを調整する対象となる記録マーク（いずれも２Ｔマーク）の前方スペースがいずれも最短スペースであるが、さらに前方の記録マークの長さが、最短マークである２Ｔマークであるかそれ以外のマークであるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図１９（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。図１９の（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１３９】
ここでは、記録マークの始端エッジは、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ１及びファーストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＴｐｅ１の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。従って、ｄＴｐｓ１及びｄＴｐｅ１は、それぞれ図１８に示すパターンテーブルに従って分類された値を持つことになる。つまり、ｄＴｐｓ１のテーブル及びｄＴｐｅ１のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、ｄＴｐｓ１及びｄＴｐｅ１の記録パラメータにより記録マークの始端エッジが調整されるが、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ１のみを変化させてもよい。
【０１４０】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法１−２＞
本記録条件の調整方法１−２も始端エッジに関しており、調整方法１−１において、前方の記録マークが最短マークである場合に、さらに前方のスペースの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。つまり、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さと、第１の記録マーク及び第１のスペースには隣接せず、第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１４１】
図２０は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２０における太枠が図１８のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１４２】
図２０に示すように、記録条件の調整方法１−２では、前方の記録マークＭ（ｉ−２）が最短マークである場合に、さらに前方のスペースＳ（ｉ−３）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、スペースＳ（ｉ−３）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）の前方に位置する２Ｔ連続パターン２ｍ２ｓが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｓ２ｍ２ｓである場合と、２Ｔが２連続のパターン！２ｓ２ｍ２ｓである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１４３】
図２１に、前方のスペースが最短スペースかつ前方の記録マークが最短マークである記録マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２１の（ａ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｂ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｃ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｄ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ２ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｅ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｆ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｇ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｈ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ３ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｉ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｊ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｋ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｌ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ４ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｍ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｎ）部分はパターン２ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２１の（ｏ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号、図２１の（ｐ）部分はパターン３ｓ２ｍ２ｓ５ＴｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１４４】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２１（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２１（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２１（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２１（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２１の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方の記録マークが最短マークである２Ｔマークに対してさらに前方のスペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースであるかそれ以外のスペース（ここでは３Ｔスペース）であるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２１（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。図２１（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１４５】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法２−１＞
本記録条件の調整方法２−１は、始端エッジに関しており、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１４６】
より具体的には第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。一方、第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、第１の記録マークの長さと、第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【０１４７】
図２２は、本記録条件の調整方法２−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２２に示すように、記録マークが最短マーク以外、すなわち、３Ｔマーク以上であれば、記録条件の分類は図４に示す分類と同じであることがわかる。記録マークＭ（ｉ）が最短マークとなる場合のみ、後方のスペースＳ（ｉ＋１）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短マーク後方のスペースの長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。図２２に示すように、記録マークＭ（ｉ）が最短マークである場合、記録パラメータは、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、また、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔかそれ以外であるかの２種類によって分類されている。また、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔ以上である場合、記録パラメータは、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、後方スペースＳ（ｉ＋１）は分類されず１種類である。従って、記録マークＭ（ｉ）の長さに関わらず、前方スペースの長さの種類数は後方スペースの長さの種類数より多い。
【０１４８】
上述したように、高密度記録における最短マークの大きさは他の記録マークよりも小さくなる。このため、前方スペースが長くても後方スペースが短い場合には、後方の記録マーク形成時の熱量が伝導することになる。つまり、記録マークを形成した後、後に形成される記録マークの熱の影響により、先に形成した記録マークが変形する。この場合、熱の影響は、一般的には記録マークの終端エッジに関係するが、高密度記録では非常に記録マークが小さいために、終端エッジだけではなく、始端エッジにも影響する。従って、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短マークのさらに後方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分類している。
【０１４９】
つまり、本記録条件は、第１の記録マークの長さごとに分類されるが、記録条件が、第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであるにかかわらず、第１の記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つ、つまり第１の記録マークの長さが所定の長さ以下である場合には、第１の記録マークの後方に隣接する第２のスペースの長さが、所定の長さ以下か、所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類される。
【０１５０】
なお、本条件では、後方のスペース長の違いを、熱伝導の影響が大きい最短スペース２Ｔｓとそれ以外のスペース！２Ｔｓで分類している。これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔスペース以上のスペースを個別に分類して設定できることが望ましい。
【０１５１】
特に、前方のスペースＳ（ｉ−１）が３Ｔスペース以上である場合において、後方のスペース長が最短スペース２Ｔｓであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、後方のスペース長が最短スペース以外！２Ｔｓであれば遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１５２】
図２３に、前方スペース及び後方スペースにはさまれた最短マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２３の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｃ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｄ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｅ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｆ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｇ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｈ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｉ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｊ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｍ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｎ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２３の（ｏ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図２３の（ｐ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０１５３】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースは、図２３の（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図２３の（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図２３の（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図２３の（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。
【０１５４】
図２３の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースがいずれも最短スペース（２Ｔスペース）であるが、後方スペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースであるかそれ以外のスペースであるかの違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２３（ｂ）及び（ｄ）の部分に示すように、ＮＲＺＩ信号のパターンに応じて、記録パルスの記録パラメータが各々設定される。
【０１５５】
ここでは、記録マークの始端エッジは、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ２及びファーストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＴｐｅ２の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。従って、ｄＴｐｓ２及びｄＴｐｅ２は、それぞれ図２２に示すパターンテーブルに従って分類された値を持つことになる。つまり、ｄＴｐｓ２のテーブル及びｄＴｐｅ２のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、ｄＴｐｓ２及びｄＴｐｅ２の記録パラメータにより記録マークの始端エッジが調整されるが、ファーストパルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓ２のみを変化させてもよい。
【０１５６】
＜始端エッジに関する記録条件の調整方法２−２＞
本記録条件の調整方法２−２も始端エッジに関しており、調整方法２−１において、後方のスペースが最短スペースである場合に、さらに後方の記録マークの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。
【０１５７】
つまり、調整すべき始端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さと、第１の記録マークと第１のスペースには隣接せず、第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１５８】
図２４は、本記録条件の調整方法２−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２４における太枠が図２２のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１５９】
図２４に示すように、記録条件の調整方法２−２では、後方のスペースＳ（ｉ＋１）が最短スペースである場合に、さらに後方の記録マークＭ（ｉ＋２）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、後方の記録マークＭ（ｉ＋２）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）と後方スペースで構成される２Ｔ連続パターン２ｍ２ｓが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｍ２ｓ２ｍである場合と、２Ｔが２連続のパターン２ｍ２ｓ！２ｍである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１６０】
図２５に、前方スペース及び最短スペースの後方スペースにはさまれた最短マークの始端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２５の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｃ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｄ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｅ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｆ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｇ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｈ）部分はパターン３ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｉ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｊ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｍ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｎ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２５の（ｏ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号、図２５の（ｐ）部分はパターン５ｓ２Ｔｍ２ｓ３ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１６１】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの前方スペースは、図２５（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図２５（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図２５（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図２５（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。図２５の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方の記録マークが最短マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは３Ｔマーク）の違いを表している。
【０１６２】
そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２５（ｂ）及び図２５（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２５（ｂ）及び図２５（ｄ）では前方スペースが２Ｔスペースであるが、他の前方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１６３】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法１−１＞
本記録条件の調整方法１−１は、終端エッジに関しており、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１６４】
図２６は、本記録条件の調整方法１−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２６のパターンテーブルに示すように、後方スペースＳ（ｉ＋１）が最短スペース（２Ｔ）以外、すなわち、３Ｔスペース以上の場合は従来のパターンテーブル図４と同じである。後方スペースが最短スペースとなる場合のみ、さらに後方のマークＭ（ｉ＋２）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短スペース後方のマーク長の違いにより、記録パラメータが異なる設定を行う。
【０１６５】
これは、前方スペースが最短スペースである場合と同様に、後方スペースにおいても、熱干渉の影響が最短スペースのときに最も大きいためである。特に、記録マークＭ（ｉ）が３Ｔマーク以上である場合において、後方の記録マーク長が最短マーク２Ｔｍであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、後方の記録マーク長が最短マーク以外！２Ｔｍであれば、遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続に関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１６６】
図２７に、後方のスペースが最短スペースである記録マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２７の（ａ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｂ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｃ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｄ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｅ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｆ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｇ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｈ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｉ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｋ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｌ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｍ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｎ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２７の（ｏ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号、図２７の（ｐ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ４ｍのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１６７】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２７（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２７（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２７（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２７（ｍ）及び５（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２７（ａ）及び（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方スペースが最短スペースである２Ｔスペースに対してさらに後方の記録マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは４Ｔマーク）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２７（ｂ）及び図２７（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２７（ｂ）及び図２７（ｄ）では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１６８】
ここでは、記録マークの終端エッジは、記録終了位置オフセットｄＣｐ１の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図２４のパターンテーブルは、前記ｄＣｐ１のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、前記ｄＣｐ１の記録パラメータにより記録マークの終端エッジが調整されるが、ラストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＬｐｅ（図２７（ｂ）のみ記載）を変化させてもよい。但し、モノパルスである２Ｔマークに関しては、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２とパルス設定条件が競合する。従って、モノパルス記録におけるパルスの立下りエッジ位置ｄＬｐｅは、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２を適用しない場合に使用可能である。
【０１６９】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法１−２＞
本記録条件の調整方法１−２も終端エッジに関しており、調整方法１−１において、後方の記録マークが最短マークである場合に、さらに後方のスペースの長さに応じて記録パラメータを分類することを特徴とする。つまり、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さと、第１の記録マーク及び第１のスペースには隣接せず、第２の記録マークに隣接して位置する第２のスペースとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１７０】
図２８は、本記録条件の調整方法１−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図２８における太枠が図２６のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１７１】
図２８に示すように、記録条件の調整方法１−２では、後方の記録マークＭ（ｉ＋２）が最短マークである場合に、さらに後方のスペースＳ（ｉ＋３）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、後方のスペースＳ（ｉ＋３）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）の後方に位置する２Ｔ連続パターン２ｓ２ｍが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｓ２ｍ２ｓである場合と、２Ｔが２連続のパターン２ｓ２ｍ！２ｓである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１７２】
図２９に、後方のスペースが最短スペースかつ後方の記録マークが最短マークである記録マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図２９の（ａ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｂ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｃ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｄ）部分はパターン２Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｅ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｆ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｇ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｈ）部分はパターン３Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｉ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｋ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｊ）部分はパターン４Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｌ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｍ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図２９の（ｏ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図２９の（ｐ）部分はパターン５Ｔｍ２ｓ２ｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１７３】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークは、図２９（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔマーク、図２９（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔマーク、図２９（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔマーク、図２９（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔマークである。図２９（ａ）及び（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、後方の記録マークが最短マークである２Ｔマークに対してさらに後方のスペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースとそれ以外のスペース（ここでは３Ｔスペース）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図２９（ｂ）及び（ｄ）部分の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図２９（ｂ）及び（ｄ）部分では記録マークが２Ｔマークであるが、他の記録マークに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１７４】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法２−１＞
本記録条件の調整方法２−１は、終端エッジに関しており、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１７５】
より具体的には第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。一方、第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、第１の記録マークの長さと、第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される。
【０１７６】
図３０は、本記録条件の調整方法２−１に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図３０に示すように、記録マークが最短マーク以外、すなわち、３Ｔマーク以上であれば、記録条件の分類は図４に示す分類と同じであることがわかる。記録マークＭ（ｉ）が最短マークとなる場合のみ、前方のスペースＳ（ｉ−１）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、この最短マーク前方のスペース長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって、異なる記録パラメータが設定される。図３０に示すように、記録パラメータは、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、また、前方スペースＳ（ｉ−１）が２Ｔかそれ以外であるかの２種類によって分類されている。記録マークＭ（ｉ）が３Ｔ以上である場合、記録パラメータは、後方スペースＳ（ｉ＋１）が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の４種類によって分類され、前方スペースＳ（ｉ−１）は分類されず１種類である。従って、記録マークＭ（ｉ）の長さに関わらず、前方スペースの長さの種類数は後方スペースの長さの種類数より多い。
【０１７７】
上述したように、高密度記録における最短マークの大きさは他の記録マークよりも小さくなる。このため、後方スペースが長くても前方スペースが短い場合には、さらに前方の記録マーク形成時の熱量が伝導することになる。つまり、先に形成された記録マークの熱の影響を受ける。この場合、熱の影響は一般的には記録マークの先端エッジに関係するが、高密度記録では非常に記録マークが小さいために、始端エッジだけではなく、終端エッジにも影響する。従って、本実施の形態では、高密度記録においてより適切な記録マークが形成できるように、最短マークのさらに前方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分類している。
【０１７８】
つまり、本記録条件は、第１の記録マークの長さごとに分類されるが、記録条件が、第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであるにかかわらず、第１の記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つ、つまり第１の記録マークの長さが所定の長さ以下である場合には、第１の記録マークの前方に隣接する第２のスペースの長さが、所定の長さ以下か、所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類される。
【０１７９】
なお、本実施例では、前方のスペース長の違いを、熱伝導の影響が大きい最短スペース２Ｔｓとそれ以外のスペース！２Ｔｓで分類している。これは記録パラメータを有する回路の規模を考慮した場合であり、回路規模を無視できる場合は、３Ｔスペース以上のスペースを個別に分類して設定できることが望ましい。
【０１８０】
特に、後方のスペースＳ（ｉ＋１）が３Ｔスペース以上である場合において、前方のスペース長が最短スペース２Ｔｓであれば、本記録条件は、遷移データ列のパターンが図１０に示す１２Ｂパターン（厳密に言うと、２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンも含む）に対する記録条件であり、前方のスペース長が最短スペース以外！２Ｔｓであれば遷移データ列のパターンは図９に示す２Ｔ連続パターンに関係しない１２Ａパターンに対する記録条件となる。従って、上述したＭＬＳＥを指標とした評価を行う場合において、１２Ａパターン（２Ｔ連続パターンに関係しない）と１２Ｂパターン（２Ｔ連続パターンに関係する１２Ａパターンを含む）を別々に評価することができ、かつ、これら２つのパターンの記録条件を独立して調整することが可能となる。
【０１８１】
図３１に、前方スペース及び後方スペースにはさまれた最短マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図３１の（ａ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｂ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｃ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｄ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｅ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｆ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｇ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｈ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｉ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｊ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｋ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｌ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｍ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｎ）部分はパターン２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３１の（ｏ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３１の（ｐ）部分はパターン４ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１８２】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの後方スペースは、図３１（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図３１（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図３１（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図３１（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。
【０１８３】
図３１の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方スペースの長さが、最短スペースである２Ｔスペースとそれ以外のスペース（ここでは４Ｔスペース）の違いを表している。そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図３１（ｂ）及び図３１（ｄ）の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図３１（ｂ）及び図３１（ｄ）では後方スペースが２Ｔスペースであるが、他の後方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１８４】
ここでは、記録マークの終端エッジは、記録終了位置オフセットｄＣｐ２の記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図２８のパターンテーブルは、前記ｄＣｐ２のテーブルが存在することになる。本実施の形態では、前記ｄＣｐ２の記録パラメータにより記録マークの終端エッジが調整されるが、ラストパルスの立ち下がりエッジ位置ｄＬｐｅ（図３１（ｂ）のみ記載）を変化させてもよい。但し、モノパルスである２Ｔマークに関しては、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２とパルス設定条件が競合する。従って、モノパルス記録におけるパルスの立ち下りエッジ位置ｄＬｐｅは、前記ｄＴｐｅ１及び前記ｄＴｐｅ２を適用しない場合に使用可能である。
【０１８５】
＜終端エッジに関する記録条件の調整方法２−２＞
本記録条件の調整方法２−２も始端エッジに関しており、調整方法２−１において、前方のスペースが最短スペースである場合に、さらに前方の記録マークの長さに応じて記録パラメータを分離することを特徴とする。
【０１８６】
つまり、調整すべき終端エッジを有する記録マークを第１の記録マークとした場合、第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの後方に隣接して位置する第１のスペースの長さと、第１のスペースには隣接せず、第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さと、第１の記録マークと第１のスペースには隣接せず、第２のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによって記録条件を分類することを特徴とする。
【０１８７】
図３２は、本記録条件の調整方法２−２に用いられる記録条件の具体的な分類方法を示す記録パラメータのテーブルである。図３２における太枠が図３０のテーブルに対して拡張されたパターンである。この拡張されたパターンについて説明する。
【０１８８】
図３２に示すように、記録条件の調整方法２−２では、前方のスペースＳ（ｉ−１）が最短スペースである場合に、さらに前方の記録マークＭ（ｉ−２）の長さに応じて、異なる記録パラメータが設定される。具体的には、前方の記録マークＭ（ｉ−２）の長さが２Ｔであるかそれ以外であるかによって異なる記録パラメータが設定される。これにより、例えば、記録マークＭ（ｉ）と前方スペースで構成される２Ｔ連続パターン２ｓ２ｍが全体的にビットシフトするエラーにおいて、２Ｔが３連続のパターン２ｍ２ｓ２ｍである場合と、２Ｔが２連続のパターン！２ｍ２ｓ２ｍである場合とで異なる記録パラメータを設定することができる。従って、２Ｔ連続パターンに対する記録パラメータをより適切に設定することができ、エラー原因である２Ｔ連続パターンのシフトずれを減少させることができる。
【０１８９】
図３３に、後方スペース及び最短スペースの前方スペースにはさまれた最短マークの終端エッジに関する記録パラメータを変更させる記録パルスを示す。図３３の（ａ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｂ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｃ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｄ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ２ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｅ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｆ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｇ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｈ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ３ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｉ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｊ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｋ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｌ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ４ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｍ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｎ）部分はパターン２ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルス、図３３の（ｏ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号、図３３の（ｐ）部分はパターン３ｍ２ｓ２Ｔｍ５ｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスである。
【０１９０】
記録パラメータを調整する対象となる記録マークの後方スペースは、図３３（ａ）及び（ｃ）部分では２Ｔスペース、図３３（ｅ）及び（ｇ）部分では３Ｔスペース、図３３（ｉ）及び（ｋ）部分では４Ｔスペース、図３３（ｍ）及び（ｏ）部分では５Ｔスペースである。図３３の（ａ）及（ｃ）部分に示す２つのＮＲＺＩ信号は、前方の記録マークが最短マークの長さが、最短マークである２Ｔマークとそれ以外の記録マーク（ここでは３Ｔマーク）の違いを表している。
【０１９１】
そのため、同じ２Ｔマークを記録する際にも、図３３（ｂ）及び（ｄ）部分の各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。図３３（ｂ）及び（ｄ）部分では後方スペースが２Ｔスペースであるが、他の後方スペースに関しても同様に、各パターンに応じて記録パラメータが各々設定される。
【０１９２】
このように本実施形態によれば、データ列をトラックに記録するための記録条件を記録の対象となる記録マークの長さ及び前方または後方に隣接するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合、さらに後方または前方に隣接するスペースの長さも用いて分類する。このため、記録マークが微小化し、情報記録媒体の記録密度が高くなっても、隣接する記録マークを形成する際の熱の影響を考慮し、より高精度に適切な形状を有する記録マークを適切な位置に記録することができる。
【０１９３】
また、記録の対象となる記録マークの長さが所定の長さ以下である場合にのみ記録条件の分類を細分化するため、分類が冗長とならず、適切なパラメータ規模で記録条件の調整ができる。従って、記録調整に要する記録装置の回路規模や記録パラメータを格納する領域が大きくなりすぎることなく、また、記録条件の調整に要する時間も長くなりすぎることがない。
【０１９４】
（第２の実施形態）
以下本発明による記録装置、再生装置、評価装置、記録方法及び再生方法の実施形態を説明する。
【０１９５】
図３４は、記録装置、再生装置及び評価装置として機能する情報記録再生装置１００の構成を示すブロック図である。情報記録再生装置１００は、記録制御部１０１と再生信号処理部１０２を備える。
【０１９６】
記録制御部１０１は、光ヘッド２、記録パターン発生部１１、記録補償部１２、レーザ駆動部１３、記録パワー設定部１４、情報記録制御部１５、記録補償パラメータ決定部１６を含む。再生信号処理部１０２は、光ヘッド２、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９、エッジシフト検出部１０を含む。
【０１９７】
情報記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生が行われる情報記録媒体であり、例えば光ディスクである。
【０１９８】
光ヘッド２は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体１の情報記録層上のトラックに収束させる。記録を行う場合には所定の記録パワーのレーザ光を用いることによって記録マークがトラックに形成される。再生を行う場合には、再生パワーのレーザ光がトラックを照射することにより得られる反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。レーザ光の波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【０１９９】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ部４へ出力する。ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【０２００】
波形等化部５は、再生信号の高域を遮断するＬＰＦ特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生信号の波形を所望の特性に整形し、Ａ／Ｄ変換部６へ出力する。ＰＬＬ部７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０２０１】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ部７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングし、アナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７及びＡＧＣ部４へ出力する。
【０２０２】
ＰＲ等化部８は、再生系の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制及び意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して最尤復号部９へ出力する。ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Finite Impulse Response）フィルタを備え、ＬＭＳ（The Least-Mean Square）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（「適応信号処理アルゴリズム」培風館  参照）。
【０２０３】
最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号し、２値化データを出力する。２値化データが復調されることによって情報記録媒体１に記録されていた情報であるユーザデータが得られえる。
【０２０４】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号を受け取る。エッジシフト検出部１０は、図８から図１０に示される遷移データ列と２値化信号を比較して、この２値化信号が図８から図１０に示される遷移データ列と一致する場合は、図８から図１０に基づいて最も確からしい状態遷移列１と２番目に確からしい状態遷移列２を選択する。
【０２０５】
この選択結果に基づき、状態遷移列の理想値（ＰＲ等化理想値：図８から図１０参照）とデジタル再生信号との距離であるメトリックが演算される。さらに、２つの状態遷移列から演算されたメトリックの差が演算される。最後に、エッジシフト検出部１０は、２値化信号に基づいて記録マークの始終端エッジのパターンごとに前記メトリック差を割り当て、各パターンに対して記録補償パラメータの最適値からのエッジシフトを求める。
【０２０６】
記録補償パラメータ決定部１６は、複数の記録マーク及び複数の記録マークの間のそれぞれに設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を、少なくとも１つの記録マークと、少なくとも１つのスペースを含んだデータパターンごとに分類し、データパターンごとに記録条件を決定する。
【０２０７】
具体的には、データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、第１の記録マークには隣接せず、第１のスペースに隣接して位置する第２の記録マークの長さによってさらに分類し、分類されたデータパターンごとに記録条件を割り当てる。
【０２０８】
あるいは、データ列に含まれる第１の記録マークの長さと、第１の記録マークのまたは後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類し、第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さによってさらに分類し、分類されたデータパターンごとに記録条件を割り当てる。
【０２０９】
すなわち、記録補償パラメータ決定部１６は、データパターンごとに分類された記録条件である記録パラメータのパターンテーブルを決定する。なお、このパターンテーブルの決定は、記録動作ごとに決定する必要はなく、記録する情報記録媒体１の種類や記録倍速などの条件、及び再生信号処理のＰＲＭＬ方式に応じて一意的に決定される。
【０２１０】
情報記録制御部１５は、記録補償パラメータ決定部１６で決定されたパターンテーブルに従って記録パラメータの設定変更を行う。
【０２１１】
但し、情報記録制御部１５は、エッジシフト検出部１０で検出されたエッジシフト量から、記録パラメータの設定変更が必要な箇所を判断する。そのため、エッジシフト検出部１０におけるパターン分類と、記録補償パラメータ決定部１６のパターンテーブルの分類が同じであることが望ましい。
【０２１２】
記録パターン発生部１１は、記録すべき情報を変調し、データ列であるＮＲＺＩ信号を生成する。記録補償部１２は、情報記録制御部１５で変更される記録パラメータをもとに、ＮＲＺＩ信号に従って記録パルス列を生成する。記録パワー設定部１４は、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、記録パルス列及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。
【０２１３】
次に、情報記録再生装置１００の動作を詳細に説明する。図３４に示すように、情報記録媒体１が装填されると、光ヘッド２は最適な記録パラメータを調整するための記録領域に移動する。この記録領域は、例えば情報記録媒体の最内周に設けられた記録パワー及び記録パルス調整用のテスト記録領域（ＯＰＣ領域）である。
【０２１４】
記録パターン発生部１１は、テスト記録のために、データ列として、記録調整用パターンを生成し、記録補償部１２に出力する。情報記録制御部１５は、記録補償パターン決定部１６で決定されたパターンテーブルの記録条件に、記録再生装置内部（例えばメモリ）に記憶されている初期記録条件を適用させ、記録パルス形状及び記録パワーの記録パラメータの設定を行う。記録条件は、情報記録媒体１のＰＩＣ領域に記録されていてもよい。この場合には、ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、情報記録媒体１から記録条件の情報を取得して、初期記録条件に適用してもよい。
【０２１５】
記録補償部１２は、情報記録制御部１５から出力された記録パラメータの記録パルス形状をもとに、記録調整用パターンに従って、レーザ発光波形の記録パルス列を生成する。
【０２１６】
記録パワー設定部１４は、情報記録制御部１５の初期記録条件に応じて、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。
【０２１７】
レーザ駆動部１３は、記録補償部１２で生成された記録パルス列、及び記録パワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御して、情報記録媒体１に記録データを記録する。
【０２１８】
次に、情報記録再生装置１００は記録した記録データを再生する。
【０２１９】
光ヘッド２は情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ部３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ部４に入力される。ＡＧＣ部４では後段の波形等化部５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ部４から出力されたアナログ再生信号は波形等化部５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換部６に出力される。Ａ／Ｄ変換部６はＰＬＬ部７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ部７はＡ／Ｄ変換部６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。
【０２２０】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、デジタル再生信号の波形を整形する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。
【０２２１】
エッジシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。さらに、エッジシフト検出部１０は、記録補償パラメータの最適値からのずれであるエッジシフトを求める。エッジシフトは、情報記録制御部１５に出力される。
【０２２２】
情報記録制御部１５は、エッジシフト検出部１０で検出されたエッジシフト量と、情報記録再生装置内部（例えばメモリ）に記憶されているエッジシフトの目標値との比較結果から、例えば目標値との差分が所定値（例えば誤差２０％）よりも大きい記録パラメータが存在するなどのように、設定変更が必要と判断された記録パラメータを変更する。エッジシフトは記録パラメータの最適値からのずれであるため、目標値は０であることが望ましい。
【０２２３】
以上の動作により、本実施の形態における情報記録再生装置１００は、情報記録媒体１に対して記録動作を行い、記録した情報を再生してエッジシフト量を検出し、エッジシフト量が目標値に近づくように記録条件を更新して調整することにより、記録条件の最適化を行うことができる。
【０２２４】
なお、上記記録動作は、第１の実施形態で説明したように、高次のＰＲＭＬ方式を考慮したパターンテーブルに従って記録動作を行うため、従来のように１つのスペースと記録マークに対するエッジずれに対する記録ではなく、複数のマークとスペースのエッジ部を考慮した記録となっている。そのため、高次のＰＲＭＬ方式が必要となる高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【０２２５】
本実施の形態では、記録再生動作を説明するために、再生信号処理部１０２を含めた情報記録再生装置としたが、記録制御だけを行う記録制御部１０１のみを有する記録装置として構成されてもよい。
【０２２６】
以上、上記実施形態におけるパターンテーブルは、５Ｔ以上の記録マーク及びスペースの長さを一つにまとめたが、５Ｔから最長マークまでの記録マーク及びスペースに対して各々設定しても構わない。
【０２２７】
また、上記実施形態では、各パターンに対して記録パルスのエッジ位置を変化させたが、パターンに応じて記録パルス全体をシフトさせても構わない。この場合、記録調整に使用する記録パラメータが削減されるため、記録パラメータを保存する情報記録再生装置内のメモリ容量を減少させることができる。
【０２２８】
また、上記パターンテーブルで分類された記録条件は、情報記録媒体内に記載されてもよい。これにより、記録補償パラメータ決定部１６は、情報記録媒体の種類や記録倍速ごとに対するパターンテーブルを決定する必要がなくなり、回路規模の削減が可能となる。また、前記情報記録媒体に対する最適な記録条件がパターンテーブルに従って記載されている場合では、記録パラメータの調整削減、または調整時間の短縮を行うことができる。
【０２２９】
上記実施形態では、エッジシフトの目標値は０としたが、各メーカーの情報記録媒体の種類や記録倍速ごと、あるいはパターンテーブルに含まれる特定パターンごとに設定されてもよい。目標値は、例えば情報記録再生装置の製造工程において記憶される。また、新たに開発される情報記録媒体に応じた目標値をさらに記憶させていくことで、新規情報記録媒体に対する対応が可能となるため、目標値は書き換え型のメモリに記憶されることが望ましい。また、新規情報記録媒体に対する目標値は、情報記録再生装置１００が最適となる記録パラメータで形成された記録マークを再生することで決定できる。
【０２３０】
上記実施形態では、最短マーク長さが２である符号と等化方式ＰＲ（１、２、２、２、１）から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。
【０２３１】
例えば、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合、最短マーク長さが２または３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合や最短マーク長さが３である符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０２３２】
なお、上記実施形態では、各パターンテーブルにおいて、最短マーク長さのマークやスペースのみについて、詳細な分類を行なっているが、本発明はこれに限定されない。例えば、最短マーク長さでなくても、最短マークの次に長いマークやスペース、さらに長いマークやスペースについても適用できる。
【０２３３】
上記実施形態における情報記録媒体は、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光ディスクに限定されず、ＭＯ（Magneto-Optical Disc）などの光磁気媒体や、デジタル信号の記録符号（０または１）が連続する長さである極性間隔に応じて形成される情報（本実施形態では記録マーク及びスペース）の長さまたは位相を変化させて情報を記録する情報記録媒体に対しても適用できる。
【０２３４】
さらに、本発明における記録再生装置の一部は、情報記録媒体に情報を記録するための記録パルス形状を調整する記録条件調整装置として、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部の機能として製造され得る。なお、記録再生装置の一部が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、記録パラメータを調整するための信号処理時間を大幅に短縮することができる。記録再生装置の各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
【０２３５】
（記録波形について）
上記実施形態では、記録パルス列を構成する記録パルスはマルチパルス波形を有していたが、他の波形の記録パルスを用いてもよい。以下、図３５から図３７を参照しながら本発明で利用可能な記録パルスについてマルチパルス波形を含めて説明する。
【０２３６】
情報記録媒への記録は、所定の変調則に従って、記録すべき情報（ユーザデータ、あるいはソースデータ）を変調して複数の記録変調符号を生成し、パルス状の光ビームを照射し、複数の記録変調符号にそれぞれ対応する長さを有する複数の記録マーク、及びスペース（記録マークと記録マーク間のスペース）を形成することによって行われる。どのような記録波形に基づいてパルス状の光ビームを発光するかについて、以下で３つの例を説明する。図３５から図３７のいずれにおいても、説明の便宜上、最短マークが２Ｔ（Ｔは基準クロック、変調の基準周期）の場合を用いるが、これに限るものではない。また、図１の説明において、記録マーク及びスペースの長さは２Ｔ〜８Ｔと説明しているが、図３５から図３７は９Ｔを含んだものとなっている。この９Ｔはシンクコード（同期符号系列）として使用されるパターンである。
【０２３７】
通常、データ（オリジナルのソースデータ／変調前のバイナリデータ）を記録媒体に記録する場合、所定のサイズに分割され、さらに所定のサイズに分割されたデータは所定の長さのフレームに分割され、フレーム毎に所定のシンクコード／同期符号系列が挿入される（フレームシンク領域）。フレームに分割されたデータは、記録媒体の記録再生信号特性に合致した所定の変調則に従って変調されたデータ符号系列として記録される（フレームデータ領域）。
【０２３８】
一方、フレーム間に挿入されるシンクコード／同期符号系列には前述の所定の変調則は適用されないので、その変調則によって拘束される符号長以外のパターンを含ませることが可能となる。このシンクコード／同期符号系列は、記録されたデータを再生するときの再生処理タイミングを決定するものである。所定の変調則として、例えば１−７変調の場合、マークの長さは２Ｔ〜８Ｔに制限されるため、そのシンクコードに含まれるパターンとして、その１−７変調では出現しない９Ｔを用いている。
【０２３９】
＜Ｎ−１ストラテジ＞
図３５は、第１の記録波形を示している。この第１の記録波形は、マルチパルス型のストラテジ、つまり、複数のパルスを含み（マルチパルス）、複数のパルスのうち、先頭に配置されるファーストパルス（ファーストパルスとも言う、幅Ｔｔｏｐ）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅Ｔｌｐ）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルス（幅Ｔｍｐ）で構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、Ｐｗは記録パワー、Ｐｂｗはボトムパワー、Ｐｃはクーリングパワー（冷却パワー）、Ｐｓ及びＰｅはバイアスパワー（追記型：Ｐｓはスペースパワー，書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。記録パワーＰｗはピークパワーＰｐとも言う。ボトムパワーＰｂｗはＰｂとも示される。
【０２４０】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは次々最短マーク（４Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、１Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数も１つ増える。この第１の記録波形の特徴の一つは、ｎＴマーク（ｎは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｎ−１）個となる点である。
【０２４１】
各種パラメータは、以下のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４２】
また、ラストパルスの幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の２つに分類して設定してもよい。
【０２４３】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２４４】
＜Ｎ／２ストラテジ＞
図３６は、第２の記録波形を示した図である。この第２の記録波形もマルチパルス型のストラテジである。最短マーク（２Ｔ）及び次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）及び次々々最短マーク（５Ｔ）を記録するための記録波形には、中間パルスは含まれない。中間パルスは５番目に短いマーク（６Ｔ）を記録するための記録波形から含まれ、２Ｔ増加する毎に、中間パルスのパルス数が１つ増える。この第２の記録波形の特徴の一つは、ｍＴマーク（ｍは自然数）を記録するための記録波形に含まれるパルス数は（ｍ÷２）の商の数となる点である。
【０２４５】
各種パラメータは、以下のように記録マークの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４６】
また、中間パルスの立ち上がり位置であるｄＴｍｐは、例えば、記録マークの長さが「６Ｔ、８Ｔ」、「７Ｔ、９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。
【０２４７】
また、ラストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｌｐや幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の２つに分類して設定してもよい。また更に、ｄＴｌｐに関して、例えば、前者の分類では基準クロック位置と一致させ、後者の分類では基準クロック位置からＴ／２ずらしてもよい。
【０２４８】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ」、「５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ」の４つに分類して、設定してもよい。
【０２４９】
＜キャッスル型＞
図３７は、第３の記録波形を示した図である。この第３の記録波形は、マルチパルス型のストラテジである第１、２の記録波形とは異なり、記録パワーＰｗが設定されるパルス間のパワーレベルをボトムパワーＰｂｗまで低下させずに、一定の中間パワーＰｍをとる形状となっている（キャッスル（ｃａｓｔｌｅ）型のストラテジ）。先頭に配置されるファーストパルス（幅Ｔｔｏｐ）と、最後尾に配置されるラストパルス（幅Ｔｌｐ）と、ファーストパルスとラストパルスの間に配置される中間パルスで構成される。なお、記録パワーに関するパラメータとして、Ｐｗは記録パワー、Ｐｍは中間パワー、Ｐｃはクーリングパワー（冷却パワー）、Ｐｓ及びＰｅはバイアスパワー（追記型：Ｐｓはスペースパワー、書換型：Ｐｅは消去パワー）を示す。
【０２５０】
最短マーク（２Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスと中間パルスは含まれず、次最短マーク（３Ｔ）を記録するための記録波形には、ラストパルスは含まれず、次々最短マーク（４Ｔ）以上の記録マークを記録するための記録波形から、ラストパルスと中間パルスがともに含まれる。また、（３Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）ファーストパルスの終了位置と中間パルスの開始位置は一致し、（４Ｔ以上の記録マークを記録するための記録波形における）中間パルスの終了位置とラストパルスの開始位置は一致している。
【０２５１】
なお、キャッスル型のストラテジにはいくつかの形状がある。具体的には、キャッスル形状（casttle-shape）、Ｌ形状（L-shape）及び単一パルス形状（Mono pulse-shape）がある。キャッスル形状は、記録マークを形成するための記録パルスが１つのパルスで構成され、前記記録パルスの開始位置から第一のパワーレベル（記録パワーＰｗ）が設定される第一の区間と、前記第一の区間の終了位置から前記第一のパワーレベルより低い第二のパワーレベル（中間パワーＰｍ）が設定される第二の区間と、前記第二の区間の終了位置から前記第二のパワーレベルよりも高く、かつ、前記第一のパワーレベルと同じパワーレベル（記録パワーＰｗ）又は低いパワーレベルが設定される第三の区間を含んだ形状を有する。Ｌ形状は、キャッスル形状において、第三の区間のパワーレベルを第二の区間のパワーレベルと同じにした形状を有する。単一パルス形状は、キャッスル形状において、第一の区間と第二の区間と第三の区間のパワーレベルを全て同じにした形状を有する。
【０２５２】
また、図３７では説明の便宜上複雑にならないよう、第一の区間のパワーレベルと第三の区間のパワーレベルを一致させているが、異なるレベルを設定しても構わない。先の説明では、第一の区間のパワーレベルが設定されたパルスをファーストパルスと表現し、第二の区間のパワーレベルが設定されたパルスを中間パルスと表現し、第三の区間のパワーレベルが設定されたパルスをラストパルスと表現したものであり、以降の説明においても、先の説明（ファーストパルス，中間パルス、ラストパルス）の表現を用いることとする。
【０２５３】
各種パラメータは、以下のように、記録マークや隣接するスペースの長さに応じて分類して設定してもよい。まず、ファーストパルスの立ち上がり位置であるｄＴｔｏｐや幅であるＴｔｏｐは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、又は／更に、例えば、隣接する先行スペースの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５４】
また、ラストパルスの幅であるＴｌｐは、例えば、記録マークの長さが「４Ｔ以上」の１つに分類して設定（ラストパルスを含む４Ｔ以上すべてにおいて同じ幅を設定）してもよい。
【０２５５】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する開始位置であるｄＴｃは、例えば、記録マークの長さが「３Ｔ」、「４Ｔ」、「５Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５６】
また、冷却パワーレベルＰｃを設定する終了位置（バイアスパワーレベル：Ｐｓ及びＰｅを設定する開始位置）であるｄＴｓは、例えば、記録マークの長さが「２Ｔ」、「３Ｔ」、「４Ｔ以上」の３つに分類して、設定してもよい。
【０２５７】
上述した本発明で利用可能なＮ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形における各パラメータの分類は、説明の便宜上、上記実施形態の分類とは異なっている。例えば、記録マークの長さのみによる分類や、記録マークの長さとそれに隣接する一方のスペースのみの長さとの組み合わせによって分類されている。しかし、これらの記録パルスの波形に、上記実施形態の分類を好適に用いることができる。
【０２５８】
具体的には、例えば図２２及び図２３で示すように、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形において、「記録マークの始端エッジを調整するための記録パラメータを、記録マーク：Ｍ（ｉ）の長さと、前方スペース：Ｓ（ｉ−１）の長さとの組み合わせで分類し、Ｍ（ｉ）が所定の長さ以下（例えば最短マーク）の場合は、更に、後方スペース：Ｓ（ｉ＋１）の長さも組み合わせて分類し、そのＳ（ｉ＋１）の長さの分類として、Ｓ（ｉ＋１）が所定の長さ以下（例えば最短スペース）か、所定の長さより長いかによって分類」してもよい。
【０２５９】
あるいは、例えば図２８と図２９で示すように、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型の記録パルスの波形において、「記録マークの終端エッジを調整するための記録パラメータを、記録マーク：Ｍ（ｉ）の長さと、後方スペース：Ｓ（ｉ＋１）の長さとの組み合わせで分類し、Ｍ（ｉ）が所定の長さ以下（例えば最短マーク）の場合は、更に、前方スペース：Ｓ（ｉ−１）の長さも組み合わせて分類し、そのＳ（ｉ−１）の長さの分類として、Ｓ（ｉ−１）が所定の長さ以下（例えば最短スペース）か、所定の長さより長いかによって分類」してもよい。
【０２６０】
また、記録密度（１層あたり２５ＧＢと、１層あたり３２ＧＢ及び／又は３３．４ＧＢ）や記録媒体の種別（追記記録型、書換記録型など）によって、この分類のさせ方を異ならせてもよい。
【０２６１】
また、各パルスの設定や各パワーレベルの設定の際に、その位置や幅は、Ｎ−１ストラテジ、Ｎ／２ストラテジ及びキャッスル型のいずれの記録パルスにおいても、Ｔ／１６を単位として調整してもよい。あるいは、更に細かくＴ／３２を単位としてもよい。また、記録密度（１層あたり２５ＧＢと、１層あたり３２ＧＢ及び／又は３３．４ＧＢ）や記録媒体の種別（追記記録型、書換記録型など）によって、この調整単位を異ならせてもよい。設定可能な分解能が小さいほうが、より記録マークの微調整が可能となるため、より高精度な記録調整が望まれる場合に、設定可能な分解能は変更される。このため、記録パルス設定の分解能（より好ましくは記録パルス設定の分解能が小さくなる設定）に応じて記録パルス条件を設定することにより、より適切な記録マークを形成することができる。
【０２６２】
記録速度との観点では、これらの記録パルスの波形記録波形と記録速度との関係については、Ｎ−１ストラテジの記録波形よりもＮ／２ストラテジの記録波形の方が高速な記録に適し、Ｎ／２ストラテジの記録波形よりもキャッスル型の記録波形の方がより高速な記録に適していることが言える。なぜなら、キャッスル型の記録波形よりもＮ／２ストラテジの記録波形の方が、またＮ／２ストラテジの記録波形よりもＮ−１ストラテジの記録波形の方が、記録パワーＰｗの発光回数が多くなり、つまり、パルスの立ち上がり時間と立ち下がり時間に要する累積が多くなり、高速処理に影響を及ぼすためである。この点を考慮して、光ディスクに記録条件を格納する場合に、次のようにしてもよい。
【０２６３】
まず、記録速度：１ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納を必須とし、第２の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。また更に、記録速度：１ｘの場合は、例えば、第３の記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６４】
また、記録速度：２ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納をオプションとし、Ｎ／２ストラテジの記録波形に関するパラメータの格納をオプションとし、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納をオプションとしてもよい。また更に、例えば、Ｎ−１ストラテジの記録波形に関するパラメータとＮ／２ストラテジの記録波形に関するパラメータの少なくとも一方の格納を必須とするようにしてもよい。
【０２６５】
また、記録速度：４ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよい。また更に、記録速度：４ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６６】
また、記録速度：６ｘに対応する記録条件を格納する場合、例えば、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよい。また更に、記録速度：６ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６７】
また、記録速度：８ｘ以上に対応する記録条件を格納する場合、例えば、記録速度：４ｘ及び６ｘと同じ条件、つまり、キャッスル型の記録波形に関するパラメータの格納を必須としてもよく、また更に、記録速度：６ｘの場合は、例えば、Ｎ−１ストラテジ及びＮ／２ストラテジの記録波形は適用させないようにしてもよい。
【０２６８】
また、上記の記録条件の格納に関して、ＨＴＬ（High to Low：記録部の反射率が未記録部の反射率よりも低い）の場合と、ＬＴＨ（Low to High：記録部の反射率が未記録部の反射率よりも高い）の場合とで、同じ内容を格納しても、異なる内容を格納しても構わない。
【０２６９】
また、記録速度（記録線速度）の設定に応じて、記録パルス条件を設定してもよい。同一光学条件において、記録速度を低下させて記録を行った場合、単位面積当たりの情報量が増加し、記録密度は高まる。しかし、記録密度が高まると前後の記録マークによる熱量の影響を受けやすくなり。このため、線速度の設定（より好ましくは線速度が低くなる設定）に応じて記録パルス条件を設定することにより、より適切な記録マークを形成することができる。
【０２７０】
（ブルーレイディスクについて）
本発明が適用可能な記録媒体の一例として、ブルーレイディスク（ＢＤ）や他の規格の光ディスクがあるが、ここでＢＤを詳細に説明する。ＢＤには、記録膜の特性に応じて、追記記録型・ライトワンス型であるＢＤ−Ｒ、書換記録型であるＢＤ−ＲＥなどのタイプがある。本発明は、ＢＤや他の規格の光ディスクにおけるＲ(追記型・ライトワンス型)、ＲＥ(書換型)のいずれのタイプの記録媒体にも適用可能である。ブルーレイディスクの主な光学定数と物理フォーマットについては、「ブルーレイディスク読本」（オーム社出版）やブルーレイアソシエーションのホームページ（http://www.blu-raydisc.com/）に掲載されているホワイトペーパに開示されている。
【０２７１】
ＢＤでは、波長が略４０５ｎｍ（標準値４０５ｎｍに対して誤差範囲の許容値を±５ｎｍとすれば、４００〜４１０ｎｍ）のレーザ光及び開口数（ＮＡ：Numerical Aperture）が略０．８５（標準値０．８５に対して誤差範囲の許容値を±０．０１とすれば、０．８４〜０．８６）の対物レンズを用いる。ＢＤのトラックピッチは略０．３２μｍ（標準値０．３２０μｍに対して誤差範囲の許容値を±０．０１０μｍとすれば、０．３１０〜０．３３０μｍ）であり、情報記録層が１層または２層設けられている。情報記録層の記録面がレーザ光入射側から片面１層あるいは片面２層の構成であり、ＢＤの保護層の表面から記録面まで距離は７５μｍ〜１００μｍである。
【０２７２】
記録信号の変調方式は１７ＰＰ変調を利用し、記録されるマークの最短マーク（２Ｔマーク：Ｔは基準クロックの周期（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期））のマーク長は０．１４９μｍ（または０．１３８μｍ）（チャネルビット長：Ｔが７４．５０ｎｍ（または６９．００ｎｍ））である。記録容量は片面単層２５ＧＢ（または２７ＧＢ）（より詳細には、２５．０２５ＧＢ（または２７．０２０ＧＢ））、または、片面２層５０ＧＢ（または５４ＧＢ）（より詳細には、５０．０５０ＧＢ（または５４．０４０ＧＢ））である。
【０２７３】
チャネルクロック周波数は、標準速度（ＢＤ１ｘ）の転送レートでは６６ＭＨｚ（チャネルビットレート６６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）であり、４倍速（ＢＤ４ｘ）の転送レートでは２６４ＭＨｚ（チャネルビットレート２６４．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、６倍速（ＢＤ６ｘ）の転送レートでは３９６ＭＨｚ（チャネルビットレート３９６．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）、８倍速（ＢＤ８ｘ）の転送レートでは５２８ＭＨｚ（チャネルビットレート５２８．０００Ｍｂｉｔ／ｓ）である。
【０２７４】
標準線速度（基準線速度、１ｘ）は４．９１７ｍ／ｓｅｃ（または、４．５５４ｍ／ｓｅｃ）である。２倍（２ｘ）、４倍（４ｘ）、６倍（６ｘ）及び８倍（８ｘ）の線速度は、それぞれ、９．８３４ｍ／ｓｅｃ、１９．６６８ｍ／ｓｅｃ、２９．５０２ｍ／ｓｅｃ及び３９．３３６ｍ／ｓｅｃである。標準線速度よりも高い線速度は一般的には、標準線速度の正の整数倍であるが、整数に限られず、正の実数倍であってもよい。また、０．５倍（０．５ｘ）など、標準線速度よりも遅い線速度も定義し得る。
【０２７５】
なお、上述の諸条件は既に商品化がなされている、主に１層当たり約２５ＧＢ（または約２７ＧＢ）の１層または２層のＢＤに関するものである。ＢＤの記録容量を高めるために、１層あたりの記録容量が略３２ＧＢまたは略３３．４ＧＢである高密度なＢＤや、層数を３層または４層としたＢＤも検討されている。以下このようなＢＤの例を説明する。
【０２７６】
＜情報記録層の多層化＞
レーザ光を保護層（カバー層）の側から入射して情報が再生及び／または記録される片面ディスクの構成をとる場合、情報記録層を２層以上にするためには基板と保護層との間には複数の情報記録層が設ける必要がある。このような多層ディスクの構成例を図３８に示す。図３８に示された光ディスクは、（ｎ＋１）層の情報記録層５０２を備える（ｎは０以上の整数）。具体的には、光ディスクには、レーザ光２００が入射する側の表面から順に、カバー層５０１、（ｎ＋１）枚の情報記録層（Ｌｎ〜Ｌ０層）５０２、及び基板５００が積層されている。また、（ｎ＋１）枚の情報記録層５０２のそれぞれの間には、光学的緩衝材として働く中間層５０３が挿入されている。つまり、光入射面から所定の距離を隔てた最も奥側の位置（光源から最も遠い位置）に基準層（Ｌ０）を設け、基準層（Ｌ０）から光入射面側に層を増やすように情報記録層を積層（Ｌ１，Ｌ２，・・・，Ｌｎ）している。
【０２７７】
ここで、単層ディスクと比較した場合、多層ディスクにおける光入射面から基準層Ｌ０までの距離を、単層ディスクにおける光入射面から情報記録層までの距離とほぼ同じ（例えば０．１ｍｍ程度）にしてもよい。このように層の数に関わらず最奥層（最遠層）までの距離を一定にする（すなわち、単層ディスクにおける場合とほぼ同じ距離にする）ことで、単層か多層かに関わらず基準層へのアクセスに関する互換性を保つことができる。また、層数の増加に伴うチルト影響の増加を抑えることが可能となる。チルト影響の増加を抑えることが可能になるのは、最奥層が最もチルトの影響を受けるが、最奥層までの距離を、単層ディスクとほぼ同じ距離とすることで、層数が増加しても最奥層までの距離が増加することがなくなるからである。
【０２７８】
また、スポットの進行方向（あるいは、トラック方向、スパイラル方向とも言う）に関しては、パラレル・パスとしても、オポジット・パスとしてもよい。パラレル・パスでは、すべての情報記録層において、スポットの進行方向が同一である。つまり、スポットの進行方向は、全情報記録層にて内周から外周の方向へ、または全情報記録層にて外周から内周の方向へ進行する。
【０２７９】
一方、オポジット・パスでは、ある情報記録層とその情報記録層に隣接する情報記録層とで、スポットの進行方向が逆になる。つまり、基準層（Ｌ０）におけるスポットの進行方向が、内周から外周へ向かう方向である場合、情報記録層Ｌ１におけるスポットの進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、情報記録層Ｌ２では内周から外周へ向かう方向である。すなわち、スポットの進行方向は、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では内周から外周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では外周から内周へ向かう方向である。あるいは、情報記録層Ｌｍ（ｍは０及び偶数）では外周から内周へ向かう方向であって、情報記録層Ｌｍ＋１では内周から外周へ向かう方向である。
【０２８０】
保護層（カバー層）の厚さは、開口数ＮＡが上がり、焦点距離が短くなるのに伴って、またチルトによるスポット歪みの影響を抑えられるよう、より薄く設定される。開口数ＮＡは、ＣＤでは０．４５、ＤＶＤでは０．６５に対して、ＢＤでは略０．８５に設定される。例えば情報記録媒体の総厚み１．２ｍｍ程度のうち、保護層の厚さを１０〜２００μｍとしてもよい。より具体的には、１．１ｍｍ程度の基板に、単層ディスクならば０．１ｍｍ程度の透明保護層、２層ディスクならば０．０７５ｍｍ程度の保護層に０．０２５ｍｍ程度の中間層（ＳｐａｃｅｒＬａｙｅｒ）が設けられてもよい。
【０２８１】
＜１層から４層の各構成例＞
ここで、単層ディスクの構成例を図３９に、２層ディスクの構成例を図４０に、３層ディスクの構成例を図４１に、４層ディスクの構成例を図４２に示す。前述のように、光照射面から基準層Ｌ０までの距離を一定にする場合、いずれのディスクにおいても、ディスクの総厚みは略１．２ｍｍ（レーベル印刷なども含んだ場合、１．４０ｍｍ以下にするのが好ましい）であり、基板５００の厚さは略１．１ｍｍである。また、光照射面から基準層Ｌ０までの距離は略０．１ｍｍとなる。図３９に示す単層ディスク（図３８においてｎ＝０の場合）においては、カバー層５０１１の厚さは略０．１ｍｍである。また、図４０の２層ディスク（図３８においてｎ＝１の場合）においては、カバー層５０１２の厚さは略０．０７５ｍｍであり、中間層５０３２の厚さは略０．０２５ｍｍである。また、図４１の３層ディスク（図３８においてｎ＝２の場合）や、図４２の４層ディスク（図３８においてｎ＝３の場合）においては、カバー層５０１４の厚さ、及び／または、中間層５０３４の厚さをさらに薄くしてもよい。
【０２８２】
また、このようにＮＡの高い対物レンズを有する光学ヘッドを用いた記録再生装置では、ディスクの光照射表面から情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差が情報記録層上に絞り込まれるレーザ光の品質に大きく影響を及ぼす。そのため、厚さによって発生する収差を補正する手段が設けられている。
【０２８３】
収差補正手段は、光情報記録媒体の保護層表面から、情報を記録再生する情報記録層までの厚さによって発生する球面収差などの収差成分を補正するために、各情報記録層で発生する収差成分を打ち消すような収差を与える。この収差補正手段は、本来、単層構造媒体の情報記録層に対して収差が小さくなるような光学設計がなされており、２層構造の情報記録媒体の記録再生における収差も考慮されている。設計上の最小収差位置は、保護層表面から約８０μｍから９０μｍ程度に設定されている。そのため、最小収差位置と異なる厚さの情報記録層に記録再生光を絞り込むときは、収差補正手段を制御し、各情報記録層にあった収差補正値を設定して補正する必要がある。
【０２８４】
＜ＢＤの物理的構成＞
図４３は、本発明が適用可能な光ディスク５１０の物理的構成を示す。円盤状の光ディスク５１０には、例えば同心円状またはスパイラル状に多数のトラック５１１が形成されており、各トラック５１２には細かく分けられた多数のセクタが形成されている。なお、後述するように、各トラック５１２には予め定められたサイズのブロック５１３を単位としてデータが記録される。データは、実際には、記録すべき情報を変調することによって得られた複数の記録マーク及び複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列としてトラックに記録される。
【０２８５】
光ディスク５１０は、内周側にＰＩＣ（Permanent Information & Control data)領域５１４及びＯＰＣ（Optimum Power Control）領域５１５を備える。ＯＰＣ領域５１５は、ユーザデータを記録する前に、テスト記録を行ってディスクあるいは各情報記録層に最適な記録パワーや記録パルス列の条件を求めるために用いられる領域である。学習領域と呼ばれることもある。また、光ディスク装置の個々のばらつきや、急激な温度変動、ゴミや埃などの付着等の環境変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス列の変動分などを調整するために、テスト記録を行う領域でもある。ＰＩＣ領域５１４は、再生専用領域であって、溝を高速に変調することによってディスク管理情報を記録している。ディスク管理情報としては、最適記録パワーを求めるのに必要なＯＰＣパラメータや、ライトストラテジタイプ、レーザパルスの発生のタイミング及び長さ等（第１及び第２の実施形態で説明した記録条件）の推奨値、記録線速度、再生パワー、バージョン番号などが記録されている。
【０２８６】
光ディスク５１０は、従来の光ディスク（例えば２５ＧＢのＢＤ）よりも情報記録層１層あたりの記録容量が拡張されている。記録容量の拡張は、記録線密度を向上させることによって実現されており、例えば、光ディスクに記録される記録マークのマーク長をより短くすることによって実現される。ここで「記録線密度を向上させる」とは、チャネルビット長を短くすることを意味する。このチャネルビットとは、基準クロックの周期Ｔ（所定の変調則によってマークを記録する場合における、変調の基準周期Ｔ）に相当する長さを言う。なお、光ディスク５１０は多層化されていてもよい。ただし、以下では説明の便宜のため、１つの情報記録層にのみ言及する。また、複数の情報記録層が設けられている場合において、各情報記録層に設けられたトラックの幅が同一であるときでも、層ごとにマーク長が異なり、同一層中ではマーク長が一様であることで、層ごとに記録線密度を異ならせてもよい。
【０２８７】
トラック５１２は、データの記録単位６４ｋＢ（キロバイト）毎にブロック５１３に分けられて、順にブロックアドレス値が割り振られている。ブロック５１３は、所定の長さのサブブロックに分割され、３個のサブブロックで１ブロックを構成している。サブブロックは、前から順に０から２までのサブブロック番号が割り振られている。
【０２８８】
＜記録密度＞
次に、記録密度について、図４４、図４５、図４６及び図４７を用いて説明する。
【０２８９】
図４４は２５ＧＢのＢＤの例を示す。ＢＤでは、レーザ光２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Numerical Aperture；ＮＡ）は０．８５である。
【０２９０】
ＤＶＤ同様、ＢＤにおいても、記録データは光ディスクのトラック５１２上に物理変化のマーク列５２０、５２１として、記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものを「最短マーク」という。図では、マーク５２１が最短マークである。
【０２９１】
２５ＧＢ記録容量の場合、最短マーク５２１の物理的長さは０．１４９μｍである。これは、ＤＶＤの約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ(０．８５)を変えて、レーザの分解能を上げても、光ビームが記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。
【０２９２】
図４６は、トラック５１２上に記録されたマーク列に光ビームを照射させている様子を示す。ＢＤでは、上記光学系パラメータにより光スポット２１０の直径は、約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度向上させる場合、光スポット２１０のスポット径に対して記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２９３】
例えば、図４５は、２５ＧＢのＢＤよりも高記録密度の光ディスクの例を示す。このディスクでも、レーザ２００の波長は４０５ｎｍ、対物レンズ２２０の開口数（Numerical Aperture；ＮＡ）は０．８５である。このディスクのマーク列５２４、５２５のうち、最短マーク５２５の物理的長さは０．１１１５μｍである。図４４と比較すると、スポット径は同じ約０．３９μｍである一方、記録マークが相対的に小さくなり、かつ、マーク間隔も狭くなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０２９４】
光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Optical Transfer Function)という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下する。信号振幅がゼロとなる再生の限界周波数を、ＯＴＦカットオフ（cutoff）という。
【０２９５】
図４７は、２５ＧＢの記録容量のＢＤにおける、ＯＴＦと最短記録マークとの関係を示すグラフである。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフに対して８０％程度であり、ＯＴＦカットオフに近い。また、最短マークの再生信号の振幅も、検出可能な最大振幅の約１０％程度と非常に小さくなっているこが分かる。ＢＤの最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフに非常に近い場合、すなわち、再生振幅がほとんど出ない場合の記録容量は、ＢＤでは、約３１ＧＢに相当する。最短マークの再生信号の周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近である、または、それを超える周波数であると、レーザの分解能の限界、若しくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮ比が急激に劣化する領域となる。
【０２９６】
そのため、図４５の高記録密度光ディスクの記録線密度は、再生信号の最短マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近の場合（ＯＴＦカットオフ周波数以下だがＯＴＦカットオフ周波数を大きく下回らない場合も含む）からＯＴＦカットオフ周波数以上の場合が想定できる。
【０２９７】
図４８は、最短マーク（２Ｔ）の空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数よりも高く、かつ、２Ｔの再生信号の振幅が０であるときの、信号振幅と空間周波数との関係の一例を示したグラフである。図４８において、最短マーク長の２Ｔの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数の１．１２倍である。
【０２９８】
＜波長と開口数とマーク長との関係＞
高記録密度光ディスクにおける波長と開口数とマーク長／スペース長との関係は以下の通りである。
【０２９９】
最短マーク長をＴＭｎｍ、最短スペース長をＴＳｎｍとし、（最短マーク長＋最短スペース長）を”Ｐ”で表すと、Ｐは、（ＴＭ＋ＴＳ）ｎｍである。１７変調の場合、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔとなる。レーザ波長λ（４０５ｎｍ±５ｎｍ、すなわち４００〜４１０ｎｍ）、開口数ＮＡ（０．８５±０．０１すなわち０．８４〜０．８６）、最短マーク＋最短スペース長Ｐ（１７変調の場合、最短長は２Ｔとなるため、Ｐ＝２Ｔ＋２Ｔ＝４Ｔ）の３つのパラメータを用いた場合、以下の不等式を満たすまで基準Ｔが小さくなると、最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数を超える。
Ｐ  ≦  λ／２ＮＡ
【０３００】
ＮＡ＝０．８５、λ＝４０５としたときの、ＯＴＦカットオフ周波数に相当する基準Ｔは、以下の式によって求められる。なお、Ｐ  ＞  λ／２ＮＡを満たす場合、最短マークの空間周波数はＯＴＦカットオフ周波数より低い。
Ｔ  ＝  ４０５／（２ｘ０．８５）／４  ＝  ５９．５５８ｎｍ
【０３０１】
このように、記録線密度を上げるだけでも、光学的な分解能の限界によりＳＮ比が劣化する。よって、情報記録層の多層化によるＳＮ比劣化は、システムマージンの観点で、許容できない場合がある。特に、上述のように、最短記録マークの周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数を越える辺りから、ＳＮ比劣化が顕著になる。
【０３０２】
以上、最短マークの再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数を比較して記録線密度を説明した。さらにＢＤの高密度化が進んだ場合、次最短マーク（更には次々最短マーク（更には次最短マーク以上の記録マーク））の再生信号の周波数とＯＴＦカットオフ周波数との関係から、上述したのと同様の原理に基づき、それぞれに対応した記録密度（記録線密度、記録容量）を設定することができる。
【０３０３】
＜記録密度及び層数＞
ここで、波長４０５ｎｍ、開口数０．８５等のスペックを有するＢＤにおける１層あたりの具体的な記録容量としては、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近である場合、例えば、略２９ＧＢ（例えば、２９．０ＧＢ±０．５ＧＢ、あるいは２９ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３０ＧＢ（例えば、３０．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３０ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３１ＧＢ（例えば、３１．０ＧＢ±０．５ＧＢ，または３１ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３０４】
また、最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数以上における、１層あたりの記録容量としては、例えば、略３２ＧＢ（例えば、３２．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３２ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３ＧＢ（例えば、３３．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．３ＧＢ（例えば、３３．３ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．３ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３３．４ＧＢ（例えば、３３．４ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３３．４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３４ＧＢ（例えば、３４．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３４ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、または略３５ＧＢ（例えば、３５．０ＧＢ±０．５ＧＢ，あるいは３５ＧＢ±１ＧＢなど）若しくはそれ以上、などを想定することが可能である。
【０３０５】
特に、記録密度が略３３．３ＧＢである場合、３層で約１００ＧＢ（９９．９ＧＢ）の記録容量が実現でき、略３３．４ＧＢとすると３層で１００ＧＢ以上（１００．２ＧＢ）の記録容量が実現できる。これは、２５ＧＢのＢＤを４層にした場合の記録容量とほぼ同じになる。例えば、記録密度を３３ＧＢとした場合、３３ｘ３＝９９ＧＢで１００ＧＢとの差は１ＧＢ（１ＧＢ以下）であり、３４ＧＢとした場合、３４ｘ３＝１０２ＧＢで１００ＧＢとの差は２ＧＢ（２ＧＢ以下）、３３．３ＧＢとした場合、３３．３ｘ３＝９９．９ＧＢで１００ＧＢとの差は０．１ＧＢ（０．１ＧＢ以下）、３３．４ＧＢとした場合、３３．４ｘ３＝１００．２ＧＢで１００ＧＢとの差は０．２ＧＢ（０．２ＧＢ以下）となる。
【０３０６】
なお、記録密度が大幅に拡張されると、先に述べたように、最短マークの再生特性の影響により、精密な再生が困難になる。そこで、記録密度の大幅な拡張を抑えつつ、かつ１００ＧＢ以上を実現する記録密度としては、略３３．４ＧＢが現実的である。
【０３０７】
ここで、光ディスクの構成を、１層あたり２５ＧＢの４層構造とするか、１層あたり３３〜３４ＧＢの３層構造とするかの選択肢が生じる。多層化には、各情報記録層における再生信号振幅の低下（ＳＮ比の劣化）や、多層迷光（隣接する情報記録層からの信号）の影響などが伴う。そのため、２５ＧＢの４層ディスクではなく、３３〜３４ＧＢの３層ディスクとすることにより、そのような迷光の影響を極力抑えつつ、より少ない層数（４層ではなく３層）で、約１００ＧＢを実現することが可能となる。そのため、多層化を極力避けつつ約１００ＧＢを実現したいディスクの製造者は、３３〜３４ＧＢの３層化を選択することが可能となる。一方、従来のフォーマット（記録密度２５ＧＢ）のまま約１００ＧＢを実現したいディスク製造者は、２５ＧＢの４層化を選択することが可能となる。このように、異なる目的を有する製造者は、それぞれ異なる構成によって、それぞれの目的を実現することが可能となり、ディスク設計の自由度を与えることができる。
【０３０８】
また、１層あたりの記録密度を３０〜３２ＧＢ程度とすると、３層ディスクでは１００ＧＢに届かないものの（９０〜９６ＧＢ程度）、４層ディスクでは１２０ＧＢ以上が実現できる。そのうち、記録密度を略３２ＧＢとすると、４層ディスクでは約１２８ＧＢの記録容量が実現できる。この１２８という数字はコンピュータで処理するのに便利な２のべき乗（２の７乗）に整合した数値でもある。そして、３層ディスクで約１００ＧＢを実現する記録密度のものと比べると、最短マークに対する再生特性はこちらの方が厳しくない。
【０３０９】
このことから、記録密度の拡張にあたっては、記録密度を複数種類設けることで（例えば略３２ＧＢと略３３．４ＧＢなど）、複数種類の記録密度と層数との組み合わせにより、ディスクの製造者に対して設計の自由度を与えることが可能となる。例えば、多層化の影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては３３〜３４ＧＢの３層化による約１００ＧＢの３層ディスクを製造するという選択肢を与え、再生特性を影響を抑えつつ大容量化を図りたい製造者に対しては、３０〜３２ＧＢの４層化による約１２０ＧＢ以上の４層ディスクを製造するという選択肢を与えることが可能となる。
【０３１０】
いずれの構成をＢＤで採用する場合でも、ＢＤに記録する記録マークの記録条件を調整するために、本発明を好適に用いることができる。この場合、情報記録媒体の情報記録層の数または情報記録層間の距離に応じて記録パルス条件を異ならせてもよい。
【０３１１】
上述したように情報記録層の数が多くなっても光入射面から最も離れた情報記録層Ｌ０の位置は変わらないため、情報記録層の数が多くなるにつれて、情報記録層間の距離が短くなり、層間クロストークが増大する。その結果、再生信号が局所的または全体的に変動する。この変動は、同一の情報記録層では記録マークの長さに依存しない。しかし、記録マークが短いほど相対的に変動による影響が大きくなる。このため短い記録マークほど記録マークの調整精度が高いことが好ましい。
【０３１２】
従って、本発明を多層のＢＤに適用する場合、情報記録媒体の情報記録層の数または情報記録層間の距離に応じて記録パルス条件を設定すれば、より適切な記録マークを形成することができる。また、情報記録層の数が多くなると、各情報記録層における反射率を低下させる必要がある。このため、反射率が低い場合に本発明を適用してもよい。
【０３１３】
また、情報記録層の記録に用いる記録パワー設定範囲に応じて、記録パルス条件を設定してもよい。ピークパワーなどの記録パワー設定範囲は、情報記録媒体の情報記録層の層数に応じて変更することができる。これは、層数の違いにより、情報記録層を透過させるレーザ光の強度を変化させる必要があるためである。同一速度で記録を行う場合、記録パワーが大きくなるほど、レーザの応答特性から記録バラつきが大きくなる。従って、記録パワーが大きくなるほど、より高精度に記録調整を行うことが好ましい。
【０３１４】
例えば、情報記録層を１層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を２層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定できる。同様に、情報記録層を２層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を３層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定でき、情報記録層を３層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限よりも情報記録層を４層含む情報記録媒体に対する設定パワー値の上限を大きく設定できる。
【０３１５】
従って、本発明を多層のＢＤに適用する場合、情報記録媒体の記録パワー設定範囲に応じて記録パルス条件を設定すれば、より適切な記録マークを形成することができる
【産業上の利用可能性】
【０３１６】
本発明は、レーザ光や電磁力などによってデータ信号の記録を行う種々の情報記録媒体、例えばＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥやその他の情報記録媒体において、前記情報記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置、例えばＤＶＤドライブ、ＤＶＤレコーダー、ＢＤレコーダーやその他の機器における記録動作に利用するなどその他の用途に対しても適用できる。
【符号の説明】
【０３１７】
１  情報記録媒体
２  光ヘッド
３  プリアンプ部
４  ＡＧＣ部
５  波形等化部
６  Ａ／Ｄ変換部
７  ＰＬＬ部
８  ＰＲ等化部
９  最尤復号部
１０  エッジシフト部
１１  記録パターン発生部
１２  記録補償部
１３  レーザ駆動部
１４  記録パワー設定部
１５  情報記録制御部
１６  記録補償パラメータ決定部
１００  情報記録再生装置
１０１  記録制御部
１０２  再生信号処理部
２０１  ピークパワー
２０２  ボトムパワー
２０３  クーリングパワー
２０４  スペースパワー
２０５  消光レベル
７０１、７０４、７０７  パターン検出部
７０２、７０５、７０８  差分メトリック演算部
７０３、７０６、７０９  メモリ部
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、
前記データ列をトラックに記録するための記録条件を記録することのできる記録条件記録領域と
を含む情報記録媒体であって、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録条件は、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される、
情報記録媒体。
【請求項２】
前記所定の長さは前記データ列における前記記録マークの最短の長さである請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第２のスペースの長さとの組み合わせの分類において、
前記第１のスペースの長さの種類数は、前記第２のスペースの長さの種類数より多い請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
前記記録条件は、前記第１の記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの前方に隣接するスペースである、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項５】
前記記録条件は、前記第１の記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータであって、前記第１のスペースは、前記第１の記録マークの後方に隣接するスペースである、請求項１に記載の情報記録媒体。
【請求項６】
請求項１に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、
前記再生装置は、前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備えた再生装置。
【請求項７】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備え、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録条件は、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類される、
記録装置。
【請求項８】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録条件が記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、
前記データ列に含まれ、前記記録条件に基づいて前記トラックに形成すべき記録マークを第１の記録マークとした場合、
前記記録条件は、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さより長い場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１の記録マークの前方または後方に隣接して位置する第１のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類され、
前記第１の記録マークの長さが所定の長さ以下の場合、
前記第１の記録マークの長さと、前記第１のスペースの長さと、前記第１のスペースには隣接せず、前記第１の記録マークに隣接して位置する第２のスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する、再生信号処理部を備える評価装置。
【請求項９】
請求項８に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【請求項１０】
記録条件が記録可能な記録条件記録領域を含み、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列が記録される情報記録媒体であって、
前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている、
情報記録媒体。
【請求項１１】
請求項１０に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記情報記録媒体は、前記情報記録媒体に関するディスク情報を格納するためのＰＩＣ領域を含み、
前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備えた再生装置。
【請求項１２】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備えし、
前記記録条件は、前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されている、
記録装置。
【請求項１３】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録条件が記録された情報記録媒体の評価する評価装置であって、
前記記録条件は、
前記記録マークの長さごとに分類され、
前記記録条件が、前記記録マークの始端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの後方に隣接する後方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記記録条件が、前記記録マークの終端エッジの位置を調整するためのパラメータである場合には、
前記記録マークの長さごとに分類された記録条件の少なくとも１つは、前記記録マークの前方に隣接する前方スペースの長さが、所定の長さ以下か、前記所定の長さより長いかにより、さらに２つに分類されており、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部を備える評価装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【請求項１５】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するトラックと、
前記データ列をトラックに記録するための記録条件が記録されたＰＩＣ領域及び前記記録条件が記録された前記トラックのウォブリングの少なくとも一方と、
を含む情報記録媒体であって、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている、情報記録媒体。
【請求項１６】
請求項１５に記載の情報記録媒体を再生する再生装置であって、
前記ＰＩＣ領域にレーザ光を照射して、前記ディスク情報を再生すること、及び、前記トラックにレーザ光を照射して、前記記録条件に基づいて記録された情報を再生することの少なくともいずれか１つを実行する再生信号処理部を備える再生装置。
【請求項１７】
情報記録媒体に記録された記録条件に基づいて、複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を前記情報記録媒体に記録する記録装置であって、
前記情報記録媒体に、光ビームを照射し、前記記録条件を再生する再生信号処理部と、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する記録制御部と、
を備え、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されている、記録装置。
【請求項１８】
複数の記録マーク及び前記複数の記録マークの間にそれぞれ設けられた複数のスペースによって構成されるデータ列を記録するための記録パラメータが記録された情報記録媒体を評価する評価装置であって、
前記記録条件は、前記記録マークを形成するための記録パルス波形における冷却パルスの終端位置を調整するためのパラメータを含み、
前記パラメータは、前記記録マークの長さと、前記記録マークの前方または後方に隣接して位置するスペースの長さとの組み合わせを用いて分類されており、
前記評価装置は、
前記情報記録媒体から再生した信号からＰＲＭＬ信号処理方式を用いてデジタル信号の生成し、前記デジタル信号から２値化信号を復号し、前記２値化信号から最も確からしい第１の状態遷移列及び２番目に確からしい第２の状態遷移列と、再生信号との差である差分メトリックをそれぞれ算出してエッジシフトとして検出し、前記エッジシフトに基づいて、前記情報記録媒体が所定の品質を満たすか否かを判定する再生信号処理部とを備える評価装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の評価装置によって所定の品質を満たすと判定された情報記録媒体に対して、再生または記録の少なくともいずれか一方を行うための記録再生装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
2010038397.tif 000052
【図３】
2010038397.tif 000053
【図４】
2010038397.tif 000054
【図５】
2010038397.tif 000055
【図６】
2010038397.tif 000056
【図７】
2010038397.tif 000057
【図８】
2010038397.tif 000058
【図９】
2010038397.tif 000059
【図１０】
2010038397.tif 000060
【図１１】
2010038397.tif 000061
【図１２】
2010038397.tif 000062
【図１３】
2010038397.tif 000063
【図１４】
2010038397.tif 000064
【図１５】
2010038397.tif 000065
【図１６】
2010038397.tif 000066
【図１７】
2010038397.tif 000067
【図１８】
2010038397.tif 000068
【図１９】
2010038397.tif 000069
【図２０】
2010038397.tif 000070
【図２１】
2010038397.tif 000071
【図２２】
2010038397.tif 000072
【図２３】
2010038397.tif 000073
【図２４】
2010038397.tif 000074
【図２５】
2010038397.tif 000075
【図２６】
2010038397.tif 000076
【図２７】
2010038397.tif 000077
【図２８】
2010038397.tif 000078
【図２９】
2010038397.tif 000079
【図３０】
2010038397.tif 000080
【図３１】
2010038397.tif 000081
【図３２】
2010038397.tif 000082
【図３３】
2010038397.tif 000083
【図３４】
2010038397.tif 000084
【図３５】
2010038397.tif 000085
【図３６】
2010038397.tif 000086
【図３７】
2010038397.tif 000087
【図３８】
2010038397.tif 000088
【図３９】
2010038397.tif 000089
【図４０】
2010038397.tif 000090
【図４１】
2010038397.tif 000091
【図４２】
2010038397.tif 000092
【図４３】
2010038397.tif 000093
【図４４】
2010038397.tif 000094
【図４５】
2010038397.tif 000095
【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【国際調査報告】
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