【手続補正書】
【提出日】平成26年11月21日(2014.11.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
照射手段から照射された放射線を検出する検出手段で得られた画像を処理する画像処理装置であって、
入射線量と該入射線量に応じて出力される画素値との関係を示す画素の入出力特性に応じて、画像の第１の画素値と、当該第１の画素値とは異なる少なくとも１つの第２の画素値とに対する重みづけ係数を制御する重みづけ制御手段と、
前記第１の画素値と、前記第２の画素値と、前記重みづけ係数とに基づいて前記第１の画素値を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
入射線量に応じて出力される画素値の関係を示す入出力特性を取得する取得手段を更に有し、
前記取得手段はさらに、前記入出力特性に基づいて前記第１の画素値を出力した画素が飽和状態を示す線量または画素値のいずれかの値を飽和特性値として取得することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記重みづけ制御手段は、前記飽和特性値が閾値より小さい画素の前記第１の画素値に対する重みづけ係数を、前記飽和特性値が閾値より大きい画素の前記第１の画素値に対する重みづけ係数よりも小さくすることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記重みづけ制御手段は、前記飽和特性値と前記第１の画素値に対応する線量相当値との差分の大きさが所定の閾値よりも小さい場合には前記第２の画素に対する重みづけ係数の大きさを正値とすることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記重みづけ制御手段は、前記第１の画素値に対応する線量相当値が前記飽和特性値よりも所定の閾値以上に大きい場合には、前記第２の画素に対する重みづけ係数を、前記所定の閾値以上には大きくない場合の前記第２の画素値に対する重みづけ係数よりも大きくすることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第２の画素値は、前記第１の画素値を出力した画素に隣接する画素が出力した前記画像における画素値を含むことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記画像が複数のフレーム画像からなる動画像である場合、
前記第２の画素値は、前記第１の画素値を出力した画素が出力した、前記第１の画素値を含むフレーム画像とは異なるフレームにおける画素値を含むことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記第２の画素値は、前記第１の画素値を出力した画素に隣接する画素が出力した、前記第１の画素値を含むフレーム画像とは異なるフレームにおける画素値を含むことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記検出手段の画素から出力される画素値に基づいて、前記照射手段から照射され前記画素に入射する入射線量の相当値を計測する計測手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、
計測手段で計測された前記第１の画素値に対応する入射線量と、前記飽和特性値との差分が、第１の基準より大きくなる場合、前記第１の画素の出力値に対する重み付けを０に設定し、前記第２の画素の出力値に対する正値の重みづけの値を算出することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記制御手段は、
前記計測手段で計測された前記第１の画素値に対応する入射線量と、前記飽和特性値との差分が、第１の基準値以下であり、かつ、前記第１の基準値より小さい第２の基準値を超える場合、前記第１の画素値を補正するために、前記第１の画素値に対する正値の重みづけの値と、前記第１の画素値を出力する画素に隣接する周辺画素の出力値である前記第２の画素に対する正値の重みづけの値と、を算出することを特徴とする請求項１０に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
前記制御手段は、
前記計測手段で計測された前記第１の画素値に対応する入射線量と、前記飽和特性値との差分が第２の基準値以下になる場合、前記補正をせずに前記第１の画素値をそのまま出力させることを特徴とする請求項１１に記載の画像処理装置。
【請求項１３】
複数の画素を一つのまとまりとし、当該一つのまとまりの画素データを画素平均として出力する画素ビニングを撮影条件として設定する設定手段を更に備えることを特徴とする請求項１１に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
前記画素ビニングにより出力される一つのまとまりを構成する複数の画素のうち、前記第１の画素値と前記飽和特性値との差分が第１の基準値より大きくなる場合、前記制御手段は、前記第１の画素値に対する重み付けを０に設定し、前記第１の画素値を出力する画素に隣接する周辺画素の出力値である前記第２の画素値に対する正値の重みづけの値を算出することを特徴とする請求項１３に記載の画像処理装置。
【請求項１５】
前記画素ビニングにより出力される一つのまとまりを構成する複数の画素のうち、前記第１の画素値と前記飽和特性値との差分が第１の基準値以下であり、かつ、前記第１の基準値より小さい第２の基準値を超える場合、前記制御手段は、前記第１の画素の出力値を補正するために、前記第１の画素に対する正値の重みづけの値と前記一の画素に隣接する周辺画素の出力値に対する正値の重みづけの値とを算出することを特徴とする請求項１４に記載の画像処理装置。
【請求項１６】
前記画素ビニングにより出力される一つのまとまりを構成する複数の画素のうち、前記第１の画素値と前記飽和特性値との差分が前記第２の基準値以下になる場合、
前記制御手段は、前記補正をせずに前記第１の画素値をそのまま出力させることを特徴とする請求項１５に記載の画像処理装置。
【請求項１７】
前記第１の画素値を出力する画素に隣接する周辺画素の前記第２の画素値には、前記画素ビニングにより出力される一つのまとまりを構成する画素値と、前記一つのまとまりを構成していない画素値と、が使用されることを特徴とする請求項１５または１６に記載の画像処理装置。
【請求項１８】
複数の画素が二次元的に配置された検出器から得られる放射線画像を処理する画像処理装置であって、
放射線画像を取得する取得手段と、
前記検出器の第一の画素の放射線線量特性と前記検出器に照射された放射線線量とに応じて、前記第一の画素の第一の画素値に対する第一の重みづけ係数と、前記第一の画素とは異なる第二の画素の第二の画素値に対する第二の重みづけ係数とを制御する制御手段と、
前記第一の画素値、前記第一の重みづけ係数、前記第二の画素値、および前記第二の重みづけ係数に基づいて、前記取得された放射線画像における前記第一の画素値を補正する補正手段と、を備え、
前記第二の画素は前記第一の画素の周辺画素である
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１９】
コンピュータを、請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【請求項２０】
照射手段から照射された放射線を検出する検出手段で得られた画像を処理する画像処理方法であって、
入射線量と該入射線量に応じて出力される画素値との関係を定める入出力特性に応じて、画像の第１の画素値と、当該第１の画素値とは異なる少なくとも１つの第２の画素値とに対する重みづけ係数を制御するステップと、
前記第１の画素値と、前記第２の画素値と、前記重みづけ係数とに基づいて前記第１の画素値を補正するステップと、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項２１】
複数の画素が二次元的に配置された検出器から得られる放射線画像を処理する画像処理装置の画像処理方法であって、
放射線画像を取得するステップと、
前記検出器の第一の画素の放射線線量特性と前記検出器に照射された放射線線量とに応じて、前記第一の画素の第一の画素値に対する第一の重みづけ係数と、前記第一の画素とは異なる第二の画素の第二の画素値に対する第二の重みづけ係数とを制御するステップと、
前記第一の画素値、前記第一の重みづけ係数、前記第二の画素値、および前記第二の重みづけ係数に基づいて、前記取得された放射線画像における前記第一の画素値を補正するステップと、を有し、
前記第二の画素は前記第一の画素の周辺画素であることを特徴とする画像処理方法。