Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成27年1月28日(2015.1.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示面に画像が表示されるディスプレイと、
前記ディスプレイにおける表示面の反対の面側に配置されるバックシャーシと、
前記表示面側から前記バックシャーシ側へ回り込む状態で位置され一端部が前記ディスプレイの外周部の少なくとも一部に貼り付けられたカバーフィルムとを備え、
前記カバーフィルムによって前記ディスプレイが保持された
表示装置。
【請求項２】
前記カバーフィルムの少なくとも他端部が前記バックシャーシに貼り付けられた
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記バックシャーシに回路基板と前記回路基板を閉塞するリアカバーとが取り付けられ、
前記カバーフィルムの前記バックシャーシに貼り付けられた部分が前記リアカバーによって押さえられた
請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記ディスプレイに表示パネルと前記表示パネルの表面に貼り付けられた偏光フィルムとが設けられ、
前記偏光フィルムが前記カバーフィルムとして用いられた
請求項１、請求項２又は請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記ディスプレイの外周面の少なくとも一部を覆う保護部材が設けられ、
前記保護部材の外面に前記カバーフィルムが貼り付けられた
請求項１、請求項２、請求項３又は請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記ディスプレイに表示パネルと前記表示パネルの表面に貼り付けられた偏光フィルムとが設けられ、
前記偏光フィルムの外周部の少なくとも一部に前記カバーフィルムの一端部が貼り付けられた
請求項１、請求項２又は請求項３に記載の表示装置。
【請求項７】
前記ディスプレイに表示パネルと前記表示パネルの表面に貼り付けられた偏光フィルムとが設けられ、
前記偏光フィルムの外周面の少なくとも一部と前記カバーフィルムの一端面とが突き合わされた
請求項１、請求項２又は請求項３に記載の表示装置。
【請求項８】
前記カバーフィルムに補強フィルムが貼り付けられた
請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６又は請求項７に記載の表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３２】
（６）前記ディスプレイに表示パネルと前記表示パネルの表面に貼り付けられた偏光フィルムとが設けられ、前記偏光フィルムの外周部の少なくとも一部に前記カバーフィルムの一端部が貼り付けられた前記（１）から前記（３）の何れかに記載の表示装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３３】
（７）前記ディスプレイに表示パネルと前記表示パネルの表面に貼り付けられた偏光フィルムとが設けられ、前記偏光フィルムの外周面の少なくとも一部と前記カバーフィルムの一端面とが突き合わされた前記（１）から前記（３）の何れかに記載の表示装置。
【手続補正書】
【提出日】平成27年7月17日(2015.7.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＥＬ軸を円の中心とした二つの円弧状部材が対向して形成されたＥＬ回転構造部によって前記ＥＬ軸方向に回動させられる主鏡部を支持する主鏡支持構造において、
前記主鏡部の下方であって、前記二つの円弧状部材間に渡され、端部が前記円弧状部材に接続されたトラス構造枠体と、
このトラス構造枠体の上方に配置された前記主鏡部の円周上の１箇所または複数個所と前記トラス構造枠体とを各々が接続する複数の支持部材を含み、前記主鏡部の自重を前記トラス構造枠体に担わせて支持する主鏡支持構造部とを備え、
少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続され、
前記主鏡部の自重は、前記支持部材と前記トラス構造枠体とを介して前記円弧状部材に担われるものである主鏡支持構造。
【請求項２】
前記トラス構造枠体及び、前記主鏡支持構造部は、前記円弧状部材に比べて、荷重に対する変形が大きい
ことを特徴とする請求項１に記載の主鏡支持構造。
【請求項３】
少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部と反対側に屈曲して、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続される
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の主鏡支持構造。
【請求項４】
前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記円弧状部材と所定の距離を開け、前記円弧状部材に沿って下方に延伸し、この延伸した先が、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部と反対側に分岐して屈曲した
請求項１から請求項３までのいずれか１項に記載の主鏡支持構造。
【請求項５】
主鏡部と、
この主鏡部をＥＬ軸方向に回動させ、前記ＥＬ軸を円の中心とした二つの円弧状部材が対向して形成されたＥＬ回転構造部と、
このＥＬ回転構造部の円弧状部材を摺動可能に支持し、前記主鏡部をＡＺ軸方向に回動させるＡＺ回転構造部と、
前記主鏡部の下方であって、前記二つの円弧状部材間に渡され、端部が前記円弧状部材に接続されたトラス構造枠体と、
このトラス構造枠体の上方に配置された前記主鏡部の円周上の１箇所または複数個所と前記トラス構造枠体とを各々が接続する複数の支持部材を含み、前記主鏡部の自重を前記トラス構造枠体に担わせて支持する主鏡支持構造部とを備え、
少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続され、
前記主鏡部の自重は、前記支持部材と前記トラス構造枠体とを介して前記円弧状部材に担われるものである望遠鏡装置。
【請求項６】
前記トラス構造枠体及び、前記主鏡支持構造部は、前記円弧状部材に比べて、荷重に対する変形が大きい
ことを特徴とする請求項５に記載の望遠鏡装置。
【請求項７】
少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部と反対側に屈曲して、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続される
ことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の望遠鏡装置。
【請求項８】
前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記円弧状部材と所定の距離を開け、前記円弧状部材に沿って下方に延伸し、この延伸した先が、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部と反対側に分岐して屈曲した
請求項５から請求項７までのいずれか１項に記載の望遠鏡装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
この発明に係る主鏡支持構造は、ＥＬ軸を円の中心とした二つの円弧状部材が対向して形成されたＥＬ回転構造部によって前記ＥＬ軸方向に回動させられる主鏡部を支持する主鏡支持構造において、前記主鏡部の下方であって、前記二つの円弧状部材間に渡され、端部が前記円弧状部材に接続されたトラス構造枠体と、このトラス構造枠体の上方に配置された前記主鏡部の円周上の１箇所または複数個所と前記トラス構造枠体とを各々が接続する複数の支持部材を含み、前記主鏡部の自重を前記トラス構造枠体に担わせて支持する主鏡支持構造部とを備え、少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続され、前記主鏡部の自重は、前記支持部材と前記トラス構造枠体とを介して前記円弧状部材に担われるものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
この発明に係る望遠鏡装置は、主鏡部と、この主鏡部をＥＬ軸方向に回動させ、前記ＥＬ軸を円の中心とした二つの円弧状部材が対向して形成されたＥＬ回転構造部と、このＥＬ回転構造部の円弧状部材を摺動可能に支持し、前記主鏡部をＡＺ軸方向に回動させるＡＺ回転構造部と、前記主鏡部の下方であって、前記二つの円弧状部材間に渡され、端部が前記円弧状部材に接続されたトラス構造枠体と、このトラス構造枠体の上方に配置された前記主鏡部の円周上の１箇所または複数個所と前記トラス構造枠体とを各々が接続する複数の支持部材を含み、前記主鏡部の自重を前記トラス構造枠体に担わせて支持する主鏡支持構造部とを備え、少なくとも前記円弧状部材の最寄りの前記支持部材は、前記トラス構造枠体が前記円弧状部材に接続された端部とは異なる部分で前記トラス構造枠体と接続され、前記主鏡部の自重は、前記支持部材と前記トラス構造枠体とを介して前記円弧状部材に担われるものである。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
以上のように、この発明によれば、主鏡部（主鏡、反射鏡）の自重による撓みを最小限に抑えるために、主鏡部の自重による平行移動が可能なように主鏡部を支持することができる主鏡支持構造を得ることができる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
この発明によれば、主鏡部（主鏡、反射鏡）の自重による撓みを最小限に抑えるために、主鏡部の自重による平行移動が可能なように主鏡部を支持することができる望遠鏡装置を得ることができる。
【手続補正書】
【提出日】平成27年3月11日(2015.3.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくともコード名及び歌詞を表わす文字情報で構成されるコード譜から、コード進行情報を構成するコード名を抽出するコード抽出装置であって、
前記コード譜内の所定範囲に含まれる文字情報において、所定の条件を満足しない場合、当該所定範囲の文字情報を前記歌詞を表わす文字情報として識別する歌詞識別手段と、
前記コード譜内の文字情報から、前記歌詞識別手段により識別された前記歌詞を表わす文字情報を除いた文字情報を、コード進行情報を構成するコード名として抽出するコード進行情報抽出手段と、
を備えるコード抽出装置。
【請求項２】
請求項１に記載のコード抽出装置において、
前記コード譜から、基音及び３度の表記以外の文字列を除去する文字列除去手段をさらに有するコード抽出装置。
【請求項３】
請求項２に記載のコード抽出装置において、
前記文字列除去手段はさらに、基音（１度）と３度と５度の３音で構成される和音コードに付加される６度、７度、９度、１１度、又は１３度の音を表わす文字列、及び和音コードのベース音が基音と異なる場合に付加される文字列を除去するコード抽出装置。
【請求項４】
請求項１または２に記載のコード抽出装置において、
前記歌詞識別手段は、前記所定範囲に含まれる文字情報で表わされるコード名のコード構成音が、当該所定範囲の先頭の文字情報に基づいて決定される調の音階に含まれる場合に、前記所定の条件を満足すると判別するコード抽出装置。
【請求項５】
請求項４に記載のコード抽出装置において、
前記歌詞識別手段は、前記所定範囲の先頭の文字情報に基づいて決定される調の音階に含まれない場合には、当該コード名に基づいて前記調を再決定するとともに、当該再決定された調にて再度前記所定の条件を満足するか否か判別するコード抽出装置。
【請求項６】
請求項１または２に記載のコード抽出装置において、
前記読み出されたコード譜は、改行コード、タブコード及び特定の文字記号列の少なくともひとつが、前記所定範囲の間隔で挿入されているコード抽出装置。
【請求項７】
請求項２に記載のコード抽出装置においてさらに、
前記コード進行情報抽出手段により抽出されたコード進行情報を構成するコード名を表示する表示手段を有するコード抽出装置。
【請求項８】
請求項７に記載のコード抽出装置において、
前記表示手段はさらに、前記文字列除去手段にて除去された文字列及び前記歌詞識別手段にて前記歌詞を表わす文字情報として識別された文字情報を、前記コード進行情報を構成するコード名とは別の領域に表示するコード抽出装置。
【請求項９】
少なくともコード名及び歌詞を表わす文字情報で構成されるコード譜から、コード進行情報を構成するコード名を抽出するコード抽出方法であって、
前記コード譜内の所定範囲に含まれる文字情報において、所定の条件を満足しない場合、当該所定範囲の文字情報を前記歌詞を表わす文字情報として識別する歌詞識別ステップと、
前記コード譜内の文字情報から、前記識別された前記歌詞を表わす文字情報を除いた文字情報を、コード進行情報を構成するコード名として抽出するコード進行情報抽出ステップと、
を含むコード抽出方法。
【請求項１０】
少なくともコード名及び歌詞を表わす文字情報で構成されるコード譜から、コード進行情報を構成するコード名を抽出するコード抽出装置として用いられるコンピュータに、
前記コード譜内の所定範囲に含まれる文字情報において、所定の条件を満足しない場合、当該所定範囲の文字情報を前記歌詞を表わす文字情報として識別する歌詞識別ステップと、
前記コード譜内の文字情報から、前記識別された前記歌詞を表わす文字情報を除いた文字情報を、コード進行情報を構成するコード名として抽出するコード進行情報抽出ステップと、
を実行させるプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明の一態様のコード抽出装置は、
少なくともコード名及び歌詞を表わす文字情報で構成されるコード譜から、コード進行情報を構成するコード名を抽出するコード抽出装置であって、
前記コード譜内の所定範囲に含まれる文字情報において、所定の条件を満足しない場合、当該所定範囲の文字情報を前記歌詞を表わす文字情報として識別する歌詞識別手段と、
前記コード譜内の文字情報から、前記歌詞識別手段により識別された前記歌詞を表わす文字情報を除いた文字情報を、コード進行情報を構成するコード名として抽出するコード進行情報抽出手段と、
を備える。
【手続補正書】
【提出日】平成26年12月17日(2014.12.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
なお、図２には、複数の光路変更片３１のそれぞれに対応する複数の光線通過部３５が回転板３２に貫通口として設けられるとともに、光路変更片３１が回転板３２の光源側の面（以下、光源側面という）３６には設けられず、回転板３２の光源１１ａと反対側の面（以下、被計測体側面という）３７に光路変更片３１が設けられる場合の例について示した。このとき、この場合、開口部２５を通過した光は、貫通口としての光線通過部３５を通過してから、光路変更片３１を透過して被計測体１５に向かう。
【手続補正書】
【提出日】平成27年1月7日(2015.1.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（Ａ）画像生成装置、及び、
（Ｂ）画像生成装置からの光が入射され、導光され、観察者の瞳に向かって出射される導光手段、
を備え、
画像生成装置の中心から出射された光が導光手段に入射する点を点Ｏ、点Ｏを通る導光手段の部分における法線をＸ軸、点Ｏを通る導光手段の部分における導光手段の軸線をＹ軸、画像生成装置の中心から出射された光であって導光手段の点Ｏに入射する光の光軸をζ軸とし、ζ軸とＹ軸とが含まれる仮想平面をζＹ平面としたとき、画像生成装置から出射され、導光手段の点（０，Ｙ1，Ｚ1）に入射する光は、ζＹ平面と角度θZを成し、且つ、ＸＺ平面と角度θYを成し、
Ｚ1≠０である場合、θZ≠θYを満足する画像表示装置。
【請求項２】
Ｙ1の値に拘わらずθYの値は一定であり、
Ｚ1の絶対値が増加するに従い、θZの絶対値は増加する請求項１に記載の画像表示装置。
【請求項３】
Ｚ1の絶対値が増加するに従い、θZの絶対値は単調に増加し、又は、階段状に増加する請求項２に記載の画像表示装置。
【請求項４】
画像生成装置は、２次元マトリクス状に配列された発光部を有し、
画像生成装置には、複数のマイクロレンズが２次元マトリクス状に配列されて成るマイクロレンズアレイが配設されており、
各発光部から出射された光は、該発光部に対向するマイクロレンズを通して画像生成装置から出射され、
発光部の光軸と、該発光部に対向するマイクロレンズの光軸とのずれ量は、（０，Ｙ1，Ｚ1）の値に基づき規定される請求項２又は請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項５】
マイクロレンズは、円柱レンズ又はアナモルフィックレンズから成る請求項４に記載の画像表示装置。
【請求項６】
マイクロレンズから出射される光の放射角は、発光部から出射される光の放射角よりも小さい請求項４又は請求項５に記載の画像表示装置。
【請求項７】
画像生成装置には光出射角制御部材が備えられており、
画像生成装置から光出射角制御部材を通して導光手段へ光が出射される請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の画像表示装置。
【請求項８】
画像生成装置は、２次元マトリクス状に配列された発光部を有し、
光出射角制御部材は、複数のマイクロレンズが２次元マトリクス状に配列されて成るマイクロレンズアレイから成り、
各発光部から出射された光は、該発光部に対向するマイクロレンズを通して画像生成装置から出射される請求項７に記載の画像表示装置。
【請求項９】
発光部の光軸と、該発光部に対向するマイクロレンズの光軸とのずれ量は、（０，Ｙ1，Ｚ1）の値に基づき規定されている請求項８に記載の画像表示装置。
【請求項１０】
マイクロレンズは、円柱レンズ又はアナモルフィックレンズから成る請求項８又は請求項９に記載の画像表示装置。
【請求項１１】
マイクロレンズから出射される光の放射角は、発光部から出射される光の放射角よりも小さい請求項８乃至請求項１０のいずれか１項に記載の画像表示装置。
【請求項１２】
導光手段は、
（Ｂ−１）入射された光が内部を全反射により伝播した後、出射される導光板、
（Ｂ−２）導光板に入射された光が導光板の内部で全反射されるように、導光板に入射された光を偏向させる第１偏向手段、及び、
（Ｂ−３）導光板の内部を全反射により伝播した光を導光板から出射させるために、導光板の内部を全反射により伝播した光を複数回に亙り偏向させる第２偏向手段、
を備えている請求項１乃至請求項１１に記載の画像表示装置。
【請求項１３】
画像生成装置は、液晶表示装置、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、又は、発光素子アレイから成る請求項１乃至請求項１２に記載の画像表示装置。
【請求項１４】
入射された光が内部を全反射により伝播した後、出射される導光板、
導光板に入射された光が導光板の内部で全反射されるように、導光板に入射された光を偏向させる第１偏向手段、及び、
導光板の内部を全反射により伝播した光を導光板から出射させるために、導光板の内部を全反射により伝播した光を複数回に亙り偏向させる第２偏向手段、
を備えた導光手段に対して光を出射する画像生成装置であって、
画像生成装置の中心から出射された光が導光手段に入射する点を点Ｏ、点Ｏを通る導光手段の部分における法線をＸ軸、点Ｏを通る導光手段の部分における導光手段の軸線をＹ軸、画像生成装置の中心から出射された光であって導光手段の点Ｏに入射する光の光軸をζ軸とし、ζ軸とＹ軸とが含まれる仮想平面をζＹ平面としたとき、画像生成装置から出射され、導光手段の点（０，Ｙ1，Ｚ1）に入射する光は、ζＹ平面と角度θZを成し、且つ、ＸＺ平面と角度θYを成し、
Ｚ1≠０である場合、θZ≠θYを満足する画像生成装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９８】
即ち、画像表示装置１００に代表されるこのような画像表示装置にあっては、図２９の（Ｂ）に示したように、コリメート光学系１１２の光軸上にある画像生成装置１１１の中心から出射する中心入射光線ＣＬは、コリメート光学系１１２にて略平行光に変換された後、導光板１２１の第１面（入射面）１２２に入射する。そして、第１偏向手段１３０により第１面１２２と第２面１２３との間で全反射されながら、伝播方向Ａに沿って進む。続いて、この中心入射光線ＣＬは、第２偏向手段１４０により反射、回折され、導光板１２１の第１面１２２からＸＹ平面内において出射され、観察者２０の瞳２１に達する。
【手続補正書】
【提出日】平成26年11月14日(2014.11.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
車両に取り付けられる取付部材と、
該取付部材に移動可能に支持されディスクの両面に配置される一対の摩擦パッドと、
前記取付部材に対して前記ディスクの軸方向に移動可能に支持されるキャリパと、を備え、
前記キャリパが、
前記一対の摩擦パッドのうち一方の摩擦パッドを押圧するピストンが前記ディスクの回転方向に並んで複数設けられるシリンダ部と、
該シリンダ部から前記ディスクの外周を跨いで延出するブリッジ部と、
該ブリッジ部から前記ディスクの径方向の内方へ延出して前記一対の摩擦パッドのうち他方の摩擦パッドを押圧する反作用部と、
前記シリンダ部から前記ディスクの回転方向へ延出し、先端側に前記取付部材に案内されるスライドピンが取り付けられる腕部と、を有するディスクブレーキであって、
前記他方の摩擦パッドと前記反作用部との間には、前記他方の摩擦パッドに前記ディスクの回転方向に相対移動可能に係止されるシム板が配置され、
前記反作用部には、前記ピストンの中心に対し前記ディスクの回転方向にずれた位置に前記ディスクの径方向に延出して形成される３つ以上の爪部が設けられ、
前記シム板における前記反作用部への対向面側には、前記反作用部の爪部のうち中間に位置する爪部に対して当接可能に構成された少なくとも１つの移動規制片が前記ディスクの径方向に沿って前記ディスクから離間する方向に立設され、該移動規制片は、前記中間爪部に前記シム板を係止することを特徴とするディスクブレーキ。
【請求項２】
前記少なくとも１つの移動規制片は、前記シム板の一部が前記シム板の前記他方の摩擦パッドに対する対向面部から切り起こされて前記ディスクから離間する方向へ延出して形成され、前記ディスクの径方向外方側の端部が、前記取付部材に対して前記スライドピンを中心にして前記キャリパを回転させたときに、前記中間に位置する爪部が当接しない位置に形成されていることを特徴とする請求項１に記載のディスクブレーキ。
【請求項３】
前記移動規制片は、前記ディスクの回転方向における前記中間に位置する爪部の前記ディスクの回転方向両側に立設されていることを特徴とする請求項１または２に記載のディスクブレーキ。
【請求項４】
前記少なくとも１つの移動規制片は、前記ディスクの軸方向に対して前記中間に位置する爪部の前記ディスクの回転方向の中心に向かって傾いて延出し、先端側が前記中間に位置する爪部に当接することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のディスクブレーキ。
【請求項５】
前記少なくとも１つの移動規制片は、基端部から先端部に向かうに従って小さくなるように形成されていることを特徴とする請求項４に記載のディスクブレーキ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明は、摩擦パッドとキャリパの反作用部との間には、前記摩擦パッドにディスクの回転方向に相対移動可能に係止されるシム板が配置され、前記反作用部には、ピストンの中心に対し前記ディスクの回転方向にずれた位置に前記ディスクの径方向に延出して形成される複数の爪部が設けられ、前記シム板における前記反作用部への対向面側には、前記反作用部の爪部のうち中間に位置する爪部に対して当接可能に構成された少なくとも１つの移動規制片が前記ディスクの径方向に沿って前記ディスクから離間する方向に立設され、該移動規制片は、前記中間爪部に前記シム板を係止する構成とした。
【手続補正書】
【提出日】平成26年12月8日(2014.12.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５４】
記憶部１４は、撮影した撮影画像データを含む撮影履歴情報を格納しているメモリである。撮影履歴情報は撮影履歴テーブル４１として格納されている。撮影履歴テーブル４１の例を図４に示す。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
図４に示すように撮影履歴テーブル４１は、画像ＩＤ４１１、画像データ４１２、撮影日時４１３、検出物体（位置、サイズ、注目）４１４、およびユーザ４１５（ユーザ識別情報）が対応付けられたテーブルである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５７】
検出物体（位置、サイズ、注目）４１４は、撮影画像において検出された物体、当該物体のサイズ、当該物体の撮影画像における位置を示すものである。物体のサイズは、例えば、画素の数で示すことができる。また、物体の位置は、例えば、撮影画像における座標で示すことができる。また「注目」とは、撮影画像において当該物体がフォーカスを合わせた対象であったことを示す。撮影履歴テーブル４１では「ＡＦ」で示している。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
図４の撮影履歴テーブル４１に示す例では、画像ＩＤ４１１が「００１」、画像データ（履歴画像）４１２が「＊＊＊」、撮影日時４１３が「２０１２０２１８１６２０」、検出物体（位置（位置情報）、サイズ（サイズ情報）、注目）４１４が「Ａさん（（ｘ１，ｙ１），５０）、Ｂさん（（ｘ２，ｙ２），６０）、パグ（（ｘ３，ｙ３），２５）、ムーブ（（ｘ４，ｙ４），５０）ＡＦ」、ユーザ４１５が「α」が対応付けて格納されている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７７】
〔優先順位の設定方法４〕
優先順位設定部３１は、撮影履歴テーブル４１に格納されている撮影履歴における各撮影画像において、注目物体となった物体と注目物体とならなった物体との関係から、当該物体間の優先順位を決定する。例えば、図８の撮影画像例８１に示すように、撮影画像からＡさんとＢさんとが検出され、Ａさんが注目物体となった場合、ＡさんとＢさんとの間ではＡさんの優先順位を高く設定する。撮影画像例８２では、撮影画像からＡさんと犬とが検出され、犬が注目物体となっている。よって、この場合、優先順位設定部３１は、Ａさんと犬との間では犬の優先順位を高く設定する。また、同様に撮影画像例８３では、撮影画像からＢさんと犬とが検出され、Ｂさんが注目物体となっている。よって、この場合、優先順位設定部３１は、Ｂさんと犬との間ではＢさんの優先順位を高く設定する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図４】
2013190756.tif 000001
【手続補正書】
【提出日】平成27年3月11日(2015.3.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示パネルからなる表示ユニットを筐体に複数配列して構成される映像表示装置において、前記表示ユニットは、前記複数の表示パネルが取り付けられた固定用ブラケットと、前記固定用ブラケットの上部側に設けられた上部側ブラケットと、前記固定用ブラケットの下部側に設けられた下部側ブラケットと、前記下部側ブラケットに設けられた第１の係合体と、前記上部側ブラケットに設けられた前記第１の係合体と係合される第２の係合体と、前記上部側ブラケットに設けられ前記筐体に取り付ける固定用サポートとから構成されたことを特徴とする映像表示装置。
【請求項２】
前記第１の係合体は位置決め突起であり、前記第２の係合体は位置決め穴であることを特徴とする請求項1に記載の映像表示装置。
【請求項３】
前記表示ユニットの最下段は前記筐体のベースに係合されることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の映像表示装置。
【請求項４】
前記筐体のベースは曲面状に形成され、前記曲面状の前記ベースに対応して前記筐体のフレームを曲面状に形成し、前記表示ユニットを曲面状に配列したことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の映像表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
この発明に係わる映像表示装置は、複数の表示パネルからなる表示ユニットを筐体に複数配列して構成される映像表示装置において、前記表示ユニットは、前記複数の表示パネルが取り付けられた固定用ブラケットと、前記固定用ブラケットの上部側に設けられた上部側ブラケットと、前記固定用ブラケットの下部側に設けられた下部側ブラケットと、前記下部側ブラケットに設けられた第１の係合体と、前記上部側ブラケットに設けられた前記第１の係合体と係合される第２の係合体と、前記上部側ブラケットに設けられ前記筐体
に取り付ける固定用サポートとから構成されたものである。
【手続補正書】
【提出日】平成26年11月21日(2014.11.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検出対象ガスとの接触により電気的特性が変化するガス検知層、及び前記ガス検知層を加熱するヒータ層を少なくとも備えてなるセンサ素子と、前記ヒータ層へ所定の周期で通電を行って、前記ガス検知層の温度を変化させる通電駆動手段と、前記ヒータ層への通電時の前記ガス検知層の電気的特性に基づいて、前記検出対象ガスを検出するガス検出手段を備えて前記検出対象ガスの検出を行うガス検知装置において、
フィルタとして活性炭吸着層を設け、内部に前記センサ素子を収納したフィルタパッケージを有し、
前記ヒータ層を通電した時の前記ガス検知層の電気的特性に基づいて、前記ガス検知層の雰囲気中に存在する異種ガスを判別する異種ガス判別手段を備え、
前記異種ガス判別手段による判別結果により、前記フィルタパッケージの劣化を診断することを特徴とするガス検知装置。
【請求項２】
前記異種ガス判別手段は、前記検知対象外のガスであるにもかかわらず、前記ガス検知層の電気的特性が所定の値を割った場合には、前記フィルタパッケージの劣化と診断して報知することを特徴とする請求項１に記載のガス検知装置。
【請求項３】
前記通電駆動手段が前記検知対象外のガスを検知するためのヒータ温度に設定して通電したことを受けて、前記異種ガス判別手段が前記フィルタパッケージの劣化を診断することを特徴とする請求項２に記載のガス検知装置。
【請求項４】
前記通電駆動手段が前記検知対象外のガスを検知する場合に設定する前記ヒータ温度は、150℃〜350℃であることを特徴とする請求項３に記載のガス検知装置。
【請求項５】
前記センサ素子が、支持層に支持されたヒータ層と、該ヒータ層を覆う電気絶縁層と、該電気絶縁層の上に成膜された酸化物半導体からなるガス感知層と、該ガス感知層の抵抗を測定するための一対の感知層電極とを備えた薄膜ガスセンサにより構成され、該薄膜ガスセンサに設けられた前記ガス感知層を用いて前記ガス検知層の電気的特性を計測することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のガス検知装置。
【請求項６】
内蔵された電池からの電力供給により、前記センサ素子、前記通電駆動手段、前記ガス検出手段及び前記異種ガス判別手段が所定の周期で駆動されることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載のガス検知装置。
【請求項７】
検出対象ガスとの接触により電気的特性が変化するガス検知層、及び前記ガス検知層を
加熱するヒータ層を少なくとも備えてなるセンサ素子と、前記ヒータ層へ所定の周期で通
電を行って、前記ガス検知層の温度を変化させる通電駆動手段と、前記ヒータ層への通電
時の前記ガス検知層の電気的特性に基づいて、前記検出対象ガスを検出するガス検出手段
を備えて前記検出対象ガスの検出を行うガス検知装置において、
フィルタとして活性炭吸着層を設け、内部に前記センサ素子を収納したフィルタパッケージを有し、
前記ヒータ層を通電した時の前記ガス検知層の電気的特性に基づいて、前記ガス検知層
の雰囲気中に存在する異種ガスを判別する異種ガス判別手段を備え、
前記通電駆動手段から、故障診断用に前記ヒータ層へ一定の周期で通電し、その時のセンサ抵抗値が故障診断用の所定の値以下である場合に、前記異種ガス判別手段が、前記フィルタパッケージの劣化を診断することを特徴とするガス検知装置。
【請求項８】
前記通電駆動手段から、故障診断用にヒータ温度を一定の周期で出力し、前記ヒータ温度が、検知対象ガスのヒータ温度以下であることを特徴とする、請求項７に記載のガス検知装置。
【請求項９】
前記通電駆動手段から、故障診断用にヒータ温度を一定の周期で出力し、その時のセンサ抵抗値が故障診断用の所定の値以下であり、かつ、ある一定回数以上連続して計測した場合、前記異種ガス判別手段が、前記フィルタパッケージの劣化を診断することを特徴とする、請求項７に記載のガス検知装置。
【請求項１０】
前記ヒータ温度を50〜500ｍｓの一定期間、400〜500℃に保持し、少なくともクリーニングとメタンガス検知のいずれかを行った後、降温し、一酸化炭素を検知することを特徴とする、請求項７に記載のガス検知装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
そこで、図１に示したセンサ素子50を図６に示すようなキャップ30内に収納し、フィルタとして活性炭吸着層34を設けたフィルタパッケージの劣化を診断する方法としては、メタン以外の干渉ガスの存在を検知するために通電駆動手段60から例えば、ヒータ温度350℃、パルス幅200msを一定の周期（例えば30s毎）で故障診断用に追加し、そのときのセンサ抵抗値を異種ガス判別手段62で故障診断用の所定の値（例えばヒータ温度350℃でのエタノール4000ppm（図３の74）中抵抗値）以下である場合に、センサが、高濃度の干渉ガスにさらされてフィルタパッケージが劣化したと診断することができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
メタン以外の干渉ガスの存在を検知するために通電駆動手段60から例えば、ヒータ温度150℃、パルス幅200msを一定の周期（例えば30s毎）で故障診断用に追加し、そのときのセンサ抵抗値を異種ガス判別手段62で故障診断用の所定の値（例えばヒータ温度150℃でのエタノール4000ppm（図３の74）中抵抗値）以下である場合に、センサが、高濃度の干渉ガスにさらされてフィルタパッケージが劣化したと診断することができる。
【手続補正書】
【提出日】平成27年8月18日(2015.8.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】Ｘ線光学装置の調整方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
上記課題を解決するために、本発明は、Ｘ線源と、
間隔を空けて並べて配置された少なくとも３枚のＸ線反射基板からなり、前記Ｘ線反射基板に両側を挟まれた複数のＸ線通路にそれぞれ入射したＸ線が、各Ｘ線通路の両側のＸ線反射基板で反射され平行化されて前記各Ｘ線通路から出射されるＸ線反射構造体と、を備え、
前記Ｘ線反射構造体の一端面をＸ線の入口、他端面をＸ線の出口としたときに、前記出口のＸ線反射基板のピッチの方が前記入口のピッチよりも広くなっているＸ線光学装置の調整方法であって、
前記Ｘ線源が、前記入口にＸ線が入射するときの視射角が臨界角を超える位置にあるときに、前記各Ｘ線通路から出射されたＸ線の強度を検出し、前記検出されたＸ線の強度に基づいて、前記Ｘ線源と前記Ｘ線反射構造体の相対位置を調整することを特徴とするＸ線光学装置の調整方法を提供するものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
【図１】本発明における平行化原理の概念図である。
【図２】本発明に用いるＸ線反射構造体の一例を示す図である。
【図３】石英基板のＸ線反射率を示すグラフである。
【図４】本発明に用いるＸ線反射構造体の他の一例を示す図である。
【図５】本発明のＸ線光学装置の調整方法のフローチャートである。
【図６】本発明に係るＸ線光学装置の一例を示す図である。
【図７】光源中心位置とＸ線強度との関係、光源中心位置と半影量との関係を示すグラフである。
【図８】光源中心位置とＸ線強度の一次微分係数との関係を示すグラフである。
【図９】光源中心位置とＸ線強度の二次微分係数との関係を示すグラフである。
【図１０】従来技術の光学素子を示す図である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
まず、本発明に用いるＸ線反射構造体（以下、「スリットレンズ」という。）によるＸ線の平行化原理について、本発明をＸ線撮影装置に適用した場合で説明する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
次に、本発明のＸ線光学装置の調整方法の好適な実施形態を示す。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
ここで、光源サイズｓを１００μｍとした場合のＸ線源１とスリットレンズ３の相対位置のアライメントについて考える。図５に本発明のＸ線光学装置の調整方法のフローチャートを、図６（ａ）に本発明に係るＸ線光学装置の一例を、図６（ｂ）に図６（ａ）の光源位置駆動機構２１の一例を示す。１はＸ線源、２１は光源位置駆動機構、３はスリットレンズ、４はＸ線検出器である。光源位置駆動機構２１は図６（ｂ）に示すように、透過型ターゲット２５に照射する電子線２３を電場により偏向することで光源位置２８を変化させる。電子線源２２、電子線２３を収束させる電子レンズ２４（レンズ電極）、Ｘ線発生用の透過型ターゲット２５、電子線２３を偏向する偏向器２６、これらが真空容器２７の中に配置されている。電子線源２２から引き出された電子は電子レンズ２４により収束され、電子線２３として透過型ターゲット２５に入射する。透過型ターゲット２５に電子線２３が入射すると、電子線２３が入射した面の反対側の面からＸ線が放射される。よって、透過型ターゲット２５に電子線２３が入射した位置が光源位置２８となる。この際、偏向器２６により、ｙ方向に電子線２３を曲げることで、透過型ターゲット２５に入射する電子線２３の位置がｙ方向に移動し、光源位置２８をｙ方向に移動させることができる。このようなＸ線源１を使用することで、偏向器２６への電気的な操作で光源位置２８をスキャンすることができる。
【手続補正８】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線源と、
間隔を空けて並べて配置された少なくとも３枚のＸ線反射基板からなり、前記Ｘ線反射基板に両側を挟まれた複数のＸ線通路にそれぞれ入射したＸ線が、各Ｘ線通路の両側のＸ線反射基板で反射され平行化されて前記各Ｘ線通路から出射されるＸ線反射構造体と、を備え、
前記Ｘ線反射構造体の一端面をＸ線の入口、他端面をＸ線の出口としたときに、前記出口のＸ線反射基板のピッチの方が前記入口のピッチよりも広くなっているＸ線光学装置の調整方法であって、
前記Ｘ線源が、前記入口にＸ線が入射するときの視射角が臨界角を超える位置にあるときに、前記各Ｘ線通路から出射されたＸ線の強度を検出し、前記検出されたＸ線の強度に基づいて、前記Ｘ線源と前記Ｘ線反射構造体の相対位置を調整することを特徴とするＸ線光学装置の調整方法。
【請求項２】
前記Ｘ線反射構造体の位置を固定し、前記Ｘ線の強度を前記Ｘ線源の位置の関数としたとき、前記Ｘ線の強度が等しくなるときの前記Ｘ線源の位置をそれぞれ、ｙ１、ｙ２とすると、ｙ１とｙ２の平均位置に前記Ｘ線源の位置を移動させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【請求項３】
前記Ｘ線反射構造体の位置を固定し、前記Ｘ線の強度を前記Ｘ線源の位置の関数としたとき、前記関数の一次微分係数を求め、前記一次微分係数が最大、最小となるときの前記Ｘ線源の位置をそれぞれ、ｙ１、ｙ２とすると、ｙ１とｙ２の平均位置に前記Ｘ線源の位置を移動させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【請求項４】
前記Ｘ線反射構造体の位置を固定し、前記Ｘ線の強度を前記Ｘ線源の位置の関数としたとき、前記関数の二次微分係数を求め、前記二次微分係数がピークとなるときの前記Ｘ線源の位置をそれぞれ、ｙ１、ｙ２とすると、ｙ１とｙ２の平均位置に前記Ｘ線源の位置を移動させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【請求項５】
前記Ｘ線源内の電子線を偏向することで前記相対位置を変化させることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【請求項６】
前記Ｘ線源を移動させることで前記相対位置を変化させることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【請求項７】
前記Ｘ線反射構造体を移動させることで前記相対位置を変化させることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＸ線光学装置の調整方法。
【手続補正書】
【提出日】平成27年3月10日(2015.3.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基体と、
前記基体の表面に形成され、ピッチＰで配列され一方向に延在する凸部を有するダイヤモンドライクカーボン膜と、
前記凸部上に配置され、励起光に共鳴振動する自由電子を有する材料を含む金属ナノ粒子群と、を備え、
前記ピッチＰと、前記励起光の波長λと、前記金属ナノ粒子群に属する金属ナノ粒子の最大粒径ｄと、の間には「ｄ＜Ｐ＜λ」の関係が成立する
ことを特徴とするセンサーチップ。
【請求項２】
請求項１に記載のセンサーチップにおいて、前記凸部同士の間の間隔に対応して、前記金属ナノ粒子群の間隙が形成されることを特徴とするセンサーチップ。
【請求項３】
請求項１、または２に記載のセンサーチップにおいて、
金属ナノ粒子群は、前記凸部同士の間にも形成されている、センサーチップ。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載のセンサーチップにおいて、
前記金属ナノ粒子の最大粒径ｄは、１０ｎｍ〜２００ｎｎである、センサーチップ。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれか１項に記載のセンサーチップにおいて、
前記ピッチＰは、１０〜５ｎｍである、センサーチップ。
【請求項６】
請求項１ないし５のいずれか１項に記載のセンサーチップにおいて、
前記材料は、銀または金である、センサーチップ。
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれか１項に記載のセンサーチップと、
前記センサーチップに向かって前記励起光を出力する光源と、
前記励起光の照射に応じて前記金属ナノ粒子群から放射される光を検出する受光素子と、を備えることを特徴とする検出装置。
【請求項８】
請求項７に記載の検出装置において、前記励起光は前記凸部が延在する方向に平行な直線偏光を有することを特徴とする検出装置。
【請求項９】
基体上で広がるダイヤモンドライクカーボン膜に低フルーエンスで超短パルスレーザー光を照射し、前記ダイヤモンドライクカーボン膜の表面に特定のピッチＰで一方向に延在する凸部を形成する工程と、
前記凸部上に、励起光に共鳴振動する自由電子を有する材料を含む金属ナノ粒子群を形成する工程と、
を備えることを特徴とするセンサー基板の製造方法。
【請求項１０】
請求項９に記載のセンサー基板の製造方法において、斜め蒸着または斜めスパッタリングを用いて前記金属ナノ粒子群を形成することを特徴とするセンサー基板の製造方法。
【手続補正書】
【提出日】平成27年2月19日(2015.2.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気光学結晶を含み、光が伝搬するための光導波路と、
前記光導波路を光が伝搬することで前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波が伝搬する結合器と、
検出器と、を有し、
前記結合器は、前記光導波路と接する第１の面と、前記第１の面と対向しており且つ前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波が全反射する第２の面と、を有し、
前記検出器は、前記第２の面上に配置された被検体によって伝搬状態が変化したテラヘルツ波又は前記伝搬状態が変化したテラヘルツ波と相互作用した光を検出するセンサ装置。
【請求項２】
前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波と前記第２の面で反射されるテラヘルツ波が干渉しないように設定されていることを特徴とする請求項１に記載のセンサ装置。
【請求項３】
前記光導波路を伝搬する光は、フェムト秒オーダーの超短パルスであることを特徴とする請求項１または２に記載のセンサ装置。
【請求項４】
前記検出器は、前記結合器の部分のうち、前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波が全反射しない面に設置されていることを特徴とする請求項１から３の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項５】
前記光導波路は、外部から伝搬した光の伝搬方向を反射により変えて前記光導波路に結合させる斜めカット面を持つことを特徴とする請求項１から４の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項６】
前記第２の面は、前記光導波路と平行でない面を含むことを特徴とする請求項１から５の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項７】
前記第２の面には、導電層が密着もしくは近接して備えられており、前記導電層において表面プラズモン共鳴を誘起することを特徴とする請求項１から６の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項８】
前記光導波路は、前記光に対してコア部となる前記電気光学結晶とクラッド部となる低屈折率層とを含み、
前記低屈折率層の少なくとも１つの層は、前記電気光学結晶と前記結合器に挟まれており、
前記少なくとも１つの層の厚さdは、前記伝搬する光の前記電気光学結晶内における光強度の１／e２（eは自然対数の底）になる厚みをa、前記結合器を伝搬するテラヘルツ波の最大周波数における前記少なくとも１つの層での等価波長をλeqとしたとき、
a＜d＜λeq／１０
を満たすことを特徴とする請求項１から７の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項９】
前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波は、前記結合器内を全反射しながら伝搬する請求項１から８の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１０】
前記第２の面と前記被検体とは、略接触している請求項１から９の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１１】
前記第２の面の表面には膜が配置されており、
前記膜の厚さは、前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波のエバネッセント場の侵入長以下である請求項１から１０の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１２】
前記検出器が検出する前記光は、前記光導波路を伝搬した光である請求項１から１１の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１３】
光が入力される光導波路と、
前記光導波路の表面近傍に設けられている被検体を配置する領域と、
検出器と、を備え、
前記光導波路は、前記光が入力されることによりテラヘルツ波が発生する電気光学結晶を含み、
前記電気光学結晶の前記光に対する屈折率よりも、前記電気光学結晶の前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波に対する屈折率の方が高いセンサ装置。
【請求項１４】
前記検出器は、前記被検体を配置する前記領域とは異なり且つ前記光導波路の表面近傍の領域に配置されている請求項１３に記載のセンサ装置。
【請求項１５】
前記光は、２つの異なる周波数ν１及びν２の光を含み、
前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波の周波数は、｜ν１−ν２｜である請求項１３または１４に記載のセンサ装置。
【請求項１６】
前記被検体を配置する前記領域における前記光導波路の表面には膜が配置されており、
前記膜の厚さは、前記電気光学結晶から発生するテラヘルツ波のエバネッセント場の侵入長以下である請求項１３から１５の何れか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１７】
接触式のテラヘルツイメージングプローブであって、
一方の端部に、被検体に臨むための開口部を伴って請求項１から１６の何れか１項に記載のセンサ装置を備え、
前記センサ装置の光導波路を導波する光を該光導波路へと導く導波路と、前記センサ装置の検出器と電気的に接続された電気信号配線と、が内蔵されていることを特徴とするプローブ。
【請求項１８】
センシングもしくはイメージングを行うシステムであって、
請求項１から１６の何れか１項に記載のセンサ装置もしくは請求項１７に記載のプローブと、
前記光導波路において発生するテラヘルツ波の発生時と前記検出器におけるテラヘルツ波の検出時との間の遅延時間を調整するための遅延部と、
前記光導波路を伝搬する光を発生するための光源と、
前記検出器の出力から前記被検体と相互作用したテラヘルツ波の信号を取得して処理する処理部と、を備えることを特徴とするシステム。
【請求項１９】
請求項１から１６の何れか１項に記載のセンサ装置または請求項１７に記載のプローブまたは請求項１８に記載のシステムにおけるテラヘルツ波のセンシング方法であって、
前記結合器において全反射を経ていないテラヘルツ波パルス信号と前記結合器において全反射を経ているテラヘルツ波パルス信号とを前記検出器で検出するステップと、
前記全反射を経ていない信号と前記全反射を経ている信号を比較するステップと、
前記比較するステップでの比較結果から、前記結合器の全反射する部分への被検体の設置の有無に起因する変化の情報を得ることで被検体の性状を取得するステップと、を有することを特徴とするセンシング方法。
【手続補正書】
【提出日】平成27年3月11日(2015.3.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テラヘルツ波を発生又は検出し且つアレイ状に配置されている素子と、
前記素子を、被検体にテラヘルツ波を照射する照射部として動作させるか、又は、照射したテラヘルツ波の前記被検体からの反射波を受信する受信部として動作させるか、を切り替える切替部と、
前記受信部により受信した信号を基に、前記照射部から前記受信部までの伝搬時間を計算し、前記伝搬時間から前記被検体に存在する異常組織の位置を計算するためのデータ処理部と、を備え、
前記素子は、第１素子と、第１素子の周囲に配置されている複数の第２素子と、を有し、
前記切替部は、前記第１素子を前記照射部として動作させ、前記複数第２の素子のそれぞれを前記受信部として動作させることを特徴とする装置。
【請求項２】
前記照射部または前記受信部は光伝導素子で構成され、前記切替部は前記光伝導素子に照射するレーザ光の照射位置を可変にすることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項３】
前記切替部は、電気駆動型の素子を独立駆動またはマトリクス駆動することを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項４】
前記照射部および前記受信部が同一の基板上に集積化されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の装置。
【請求項５】
前記基板が被検体に接触させるためのプローブの先端部となっていることを特徴とする請求項４記載の装置。
【請求項６】
前記異常組織の位置を計算ために、被検体における異常組織の種類と位置と受信信号との関係を予め取得したデータを記憶する記憶部を備えたことを特徴とする請求項１及至５のいずれか１項に記載の装置。
【請求項７】
前記被検体は生体であり、異常組織が癌組織であることを特徴とする請求項１及至６のいずれか１項に記載の装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
そこで、本発明は、テラヘルツ波を発生又は検出し且つアレイ状に配置されている素子と、前記素子を、被検体にテラヘルツ波を照射する照射部として動作させるか、又は、照射したテラヘルツ波の前記被検体からの反射波を受信する受信部として動作させるか、を切り替える切替部と、前記受信部により受信した信号を基に、前記照射部から前記受信部までの伝搬時間を計算し、前記伝搬時間から前記被検体に存在する異常組織の位置を計算するためのデータ処理部と、を備え、前記素子は、第１素子と、第１素子の周囲に配置されている複数の第２素子と、を有し、前記切替部は、前記第１素子を前記照射部として動作させ、前記複数第２の素子のそれぞれを前記受信部として動作させる装置を提供するものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】