(57)【要約】本発明は、チップの両面をはんだ接続するパワーモジュールに関し、はんだの未接続やチップの位置ずれの原因である台座部側面へのはんだの濡れ上がりを防止し、かつチップ破壊やはんだの寿命低下の原因であるモールド樹脂の剥離を防止する。一方のリードフレームに台座部を一体形成し、その台座部の側面及びそのリードフレーム本体についてはその表面を粗化することによりはんだの濡れ性を低減させ、一方、台座部のはんだ接続面は粗化せずはんだの濡れ性を確保する構造とする。これにより、はんだ接続時の不具合を低減し、かつ高信頼なパワーモジュールを得る（図５参照）。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体素子と、
前記半導体素子の一主面にはんだにより接続された第１のリードフレームと、
前記半導体素子の反対面にはんだにより接続された第２のリードフレームと、を有し、
前記第１のリードフレームと第２のリードフレームとの間には、モールド樹脂が充填されており、
前記第２のリードフレームは、当該第２のリードフレームと一体形成され、前記半導体素子との接続部分となる台座部を有し、
前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面以外の部分の表面粗さは、前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面の表面粗さよりも大きいことを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記台座部おける、前記半導体素子を接続するはんだ接触面と当該はんだ接触面以外の部分の表面とは、同材質であることを特徴とする半導体装置。
【請求項３】
請求項１において、
前記第２のリードフレームの前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面以外の部分には、粗化処理が施されていることを特徴とする半導体装置。
【請求項４】
請求項１において、
前記第２のリードフレームの前記モールド樹脂と接続される部分の粗さと前記台座部の前記はんだ接触面以外の部分の粗さは同程度であることを特徴とする半導体装置。
【請求項５】
第１のリードフレーム上に、半導体素子の接続面をはんだで挟んで位置決めする第１の工程と、
台座部が一体形成されたリードフレームであって、前記台座部の表面のうちはんだとの接続面以外の部分が前記台座部のはんだとの接触面よりも粗い第２のリードフレームの前記台座部を、前記第１の工程で前記半導体素子を挟んだはんだのうち前記第１のリードフレームに接続されたはんだとは異なるはんだの接触面に位置決めする第２の工程と、
前記第２の工程後に、位置決めされた前記第１及び第２のリードフレームをスクラブさせて、前記第１及び第２のリードフレームと前記半導体素子を接続する第３の工程と、
前記第１のリードフレームと前記第２のリードフレームとの間の空間にモールド樹脂を充填する第４の工程と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項６】
請求項５において、
前記第２のリードフレームの前記モールド樹脂と接続される部分の粗さと前記台座部の前記はんだ接触面以外の部分の粗さを同程度とすることを特徴とする半導体装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置及びその製造方法に関し、例えば、リード端子に対し半導体部品をはんだにより接続して構成する半導体パワーモジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電力の変換や制御を行うパワーモジュールでは、チップの片面を基板上にはんだ接続し、もう一方の面をワイヤボンディングにより接続することにより、電気的な接続及び基板への放熱を実現していた。【０００３】
ところが、パワーモジュールの小型化や高放熱化の要求から、チップの表裏両面をはんだ接続し、チップの両面から冷却する方法が採用されている。図１は、このようなチップ１をその両面からリードフレーム３及びフィン５によって冷却する構造を採用しているモジュールの例を示している。【０００４】
また、特許文献１乃至３においても、この放熱方法を採用している。なお、この両面冷却パワーモジュールでは、はんだ接続の後モールド樹脂により封止され、その外側に冷却部を設けることにより、モジュールが形成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−３５２０２３号公報
【特許文献２】特開２００５−２４４１６６号公報
【特許文献３】特開２００２−１１０８９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
前述したようなパワーモジュールを作成する場合、高放熱性の要求から、チップはＣｕ等の熱伝導率の高い材料により作られたリードフレーム上にチップをはんだ接続する。このとき、チップ両面に対し平らなリードフレームを接続する場合、一方の面のはんだが他方の面のはんだに接触しショートが発生する懸念がある。図２は、はんだによってショートが発生した場合の例を示している。【０００７】
この回避策として、特許文献３は、リードフレーム３のはんだ接続部に台座部やスペーサを別体として設け、それとチップ電極とをはんだ接続する構造を提供している（図３参照）。これにより、チップ１の両面のはんだ２が接近することを防ぎ、ショートを防止することが可能である。【０００８】
しかし、この台座部３ａをリードフレーム３に別体として設ける場合（リードフレーム３と台座部３ａがはんだ２によって接着されている）、台座部３ａ自体のはんだ濡れ性が重要である。その台座部３ａのはんだ接続面と、台座部側面及びその周囲部の濡れ性が等しい場合、はんだ接続中に台座部３ａの側面にはんだ２の濡れ上がりが発生する。図４は、はんだ２が濡れ上がった場合の様子を示している。この濡れ上がりが生ずる場合、リードフレーム３（台座部３ａ）／チップ１間の接続部のはんだ２が不足するため、未接続の部分が発生する。また、濡れ上がったはんだ２は、その表面張力によりチップ１を引っ張るため、チップ１の位置ずれを生じさせる。これらの不具合により、その後の組み立て性や信頼性、性能を損なうため、これらの不具合が発生しないよう防止する必要がある。【０００９】
一方、前述のパワーモジュールは、リードフレーム３に対しチップ１をはんだ接続した後モールド樹脂により封止する構造を採っている。このモールド樹脂は、リードフレーム３やチップ１に対して確実に密着する必要があり、密着によりチップ１の信頼性を確保し、かつはんだ接続部の寿命を長くすることが可能となる。【００１０】
したがって、モールド樹脂には高い密着性が要求される。密着性が低く、リードフレームとモールド樹脂が剥離してしまうと、剥離が進展してチップ破壊に至る可能性がある。また、はんだ接続部のクラック進展速度が上昇し、疲労寿命が低下する懸念がある。【００１１】
特許文献１及び２はこれらの課題を解決する発明が開示されていない。また、特許文献３は、スペーサとなるブロック（台座部３ａ）をリードフレーム３とチップ１の間に、はんだ２を介して提供している（図３参照）。また、このブロック（台座部３ａ）の側面には酸化面を形成し、はんだ２の濡れ上がりを防止するとともにモールド樹脂との密着性を向上させている。さらに、スペーサ（台座部３ａ）周辺部のリードフレーム３にはＮｉめっきを施し、モールドとの密着性を高めている。ただし、特許文献３の場合、スペーサ（台座部３ａ）をはんだ２によりリードフレーム３に接続するため、はんだ接続箇所が増加し、プロセスの難易度が高くなるデメリットを有している。また、スペーサ（台座部３ａ）の側面及び周辺部において、酸化面とＮｉめっきという異なる２つの処理を施しているため、リードフレーム３の作成工程が複雑化し、高コストになると予想される。【００１２】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、はんだの未接続やチップの位置ずれの原因である台座部側面へのはんだの濡れ上がりを防止し、かつチップ破壊やはんだの寿命低下の原因であるモールド樹脂の剥離を防止して、高信頼の半導体装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために、本発明による半導体装置は、半導体素子と、半導体素子の一主面にはんだにより接続された第１のリードフレームと、半導体素子の反対面にはんだにより接続された第２のリードフレームと、を有している。ここで、第１のリードフレームと第２のリードフレームとの間には、モールド樹脂が充填されている。また、第２のリードフレームは、当該第２のリードフレームと一体形成された台座部を有し、この台座部は、半導体素子との接続部分となる接続面を有している。そして、第２のリードフレームのモールド樹脂と接続される部分の表面粗さは、台座部における半導体素子を接続するためのはんだ接触面（接続面）の表面粗さよりも大きくなっている。【００１４】
なお、第２のリードフレームのモールド樹脂と接続される部分は、粗化処理が施されることによって表面が粗くなっている。また、第２のリードフレームのモールド樹脂と接続される部分の粗さと台座部のはんだ接触面以外の部分の粗さは同程度となるようにしても良い。
【発明の効果】
【００１５】
本発明により、はんだの未接続やチップの位置ずれの原因である台座部側面へのはんだの濡れ上がりを防止し、かつチップ破壊やはんだの寿命低下の原因であるモールド樹脂の剥離を防止して、高信頼の半導体装置を提供することができる。【００１６】
本発明に関連する更なる特徴は、本明細書の記述、添付図面から明らかになるものである。また、本発明の態様は、要素及び多様な要素の組み合わせ及び以降の詳細な記述と添付される特許請求の範囲の様態により達成され実現される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】チップの両面から冷却する方法を採用しているモジュールの例を示した図である。
【図２】平らなリードフレームを用い、はんだによるショートが発生した場合の例の模式図である。
【図３】一方のリードフレームに台座を接着して設けた場合のはんだ接続部構造の例を示した模式図である。
【図４】はんだ接続中に台座部側面へはんだが濡れ上がった場合の模式図である。
【図５】本発明の実施形態による半導体装置の基本構造を示す模式図である。
【図６】はんだ接続プロセスを説明するための図である。
【図７】実施例１において、不具合の発生したサンプル数についてまとめた結果を示す図である。
【図８】実施例２において、不具合の発生したサンプル数についてまとめた結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。添付図面では、機能的に同じ要素は同じ番号で表示される場合もある。なお、添付図面は本発明の原理に則った具体的な実施形態と実装例を示しているが、これらは本発明の理解のためのものであり、決して本発明を限定的に解釈するために用いられるものではない。
【００１９】
本実施形態では、当業者が本発明を実施するのに十分詳細にその説明がなされているが、他の実装・形態も可能で、本発明の技術的思想の範囲と精神を逸脱することなく構成・構造の変更や多様な要素の置き換えが可能であることを理解する必要がある。従って、以降の記述をこれに限定して解釈してはならない。
【００２０】
＜半導体装置の構造＞
図５は、本発明の実施形態による半導体装置の構造を示す図である。
【００２１】
本実施形態による半導体装置では、リードフレーム３−１及び３−２とチップ１とをはんだ２で接続する構成を採用している。また、当該半導体装置では、半導体素子であるチップ１、リードフレーム３−１及び３−２の間に形成された空間にモールド樹脂が充填されている。
【００２２】
図５に示されるように、リードフレーム３−２は、それに一体化されて形成された台座部（凸部）３ａを有している。このように、特許文献３が開示するリードフレームと台座部（図３参照）とは異なり、本発明の実施形態では、台座部３ａがリードフレーム３−２に一体的に形成されているので、半導体装置の製造工程をより簡素化することが可能となっている。
【００２３】
また、当該半導体装置では、リードフレーム３−２のはんだ接合面以外の表面６が粗化処理されており、その部分においてはんだ２が濡れにくくするようにしている。また、リードフレーム３−１についても、はんだ２の接合部分以外の領域を粗化処理するようにしても良い。このような粗化処理によって、はんだ２の濡れ性が低い領域を設け、はんだ２と接合対象部材との密着度をコントロールすることができる。
【００２４】
なお、台座部３ａのはんだ２との接合部分は粗化処理が施されていないか、台座部３ａ以外の部分よりも粗化処理により粗化度が小さくなるようにしている。これにより、台座部おいて半導体素子と接続するためのはんだと接続される部分は、粗化されていないか、粗化度が小さくなっているので、はんだの濡れ性が高くなっている。また、はんだの未接続やチップの位置ずれの原因である台座部側面へのはんだの濡れ上がりを防止し、かつチップ破壊の原因であるモールド樹脂の剥離を防止することが可能である。
【００２５】
なお、リードフレーム３−２の表面において、台座３ａが設けられていない領域の表面と台座部３ａの側面の粗化処理を同程度の粗化度で行うことにより、モールド樹脂を充填した場合の密着度がバランス良く実現できるという効果がある。ただし、粗化処理を、台座３ａの側面のみに施し、それ以外のリードフレーム３−２の表面には施さないようにしても良い。
【００２６】
＜粗化処理＞
ここで、リードフレーム上に施す粗化処理について説明する。はんだの濡れ性の制御及びモールド樹脂の密着性の要求から、粗化処理の凹凸は数μｍ程度が望ましい。
【００２７】
粗化処理は、エッチングのような化学的に表面に凹凸を形成させるものが好適であるが、サンドブラスト等のように物理的に表面に凹凸を形成させるものでも可能である。また、化学的な凹凸形成による粗化では、単純な酸によるエッチングの他、黒化還元処理や孔食マスクを用いたエッチングを用いても良い。
【００２８】
粗化処理は、台座部３ａのあるリードフレーム３−２において、台座部３ａ側面とリードフレーム３−２本体に施される。なお、さらなる高信頼化のために台座部３ａを備えない一方のリードフレーム３−１にも粗化処理を施しても良い。
【００２９】
上述のように、リードフレーム３−２に対して、モールド樹脂４と接触する部分へ粗化を施し、かつはんだ２との接続面には粗化されないよう部分的に粗化を形成する。この粗化処理のプロセスは、はんだ２との接続面へのマスキングの他、リードフレーム３−２全体を粗化した後に、はんだ２との接続面を研磨等の機械加工により除去する方法が好適である。また、全体を粗化したリードフレームのはんだ接続面に対し、チップ接続の前に予めリードフレーム側にはんだを接続しておいても良い。
【００３０】
＜はんだについて＞
はんだ２に関しては、チップ１やリードフレーム３−１及び３−２の仕様を考慮して、はんだ材、接続方法、接続条件を慎重に選定する必要がある。
【００３１】
（i）はんだ材
はんだ材に関しては、一般的なＳｎ系はんだが好適である。濡れ性を向上させる場合には、Ｓｎ−Ａｇ系のはんだを用いてもよい。チップのＮｉメタライズ消失が問題になる場合には、Ｓｎ−Ｃｕ系のはんだを用いても良い。
【００３２】
（ii）はんだ接続方法
はんだ接続方法については、従来技術のダイボンディングプロセスのうち、はんだシート、はんだワイヤ供給、溶融したはんだの直接供給等が望ましい。チップ１あるいはリードフレーム３−１及び３−２上に錘を載せる、チップ１やリードフレーム３−１及び３−２を供給するときにスクラブさせる等の方法を付加しても良い。
【００３３】
より具体的に、図６を用いてはんだ接続プロセス（リフロー接続プロセス）について説明する。ここでは、リフローは、真空リフロー装置を用いている。
【００３４】
まず、リードフレーム３−１をリードフレーム用固定治具によって固定し、リードフレーム３−１上にチップ１とはんだ２を重ねる。そして、そのチップ１とはんだ２をチップ・はんだ供給用治具で固定する（図６Ａ参照）。
【００３５】
図６Ａとは別の工程により、リードフレーム３−２の表面（台座部３ａのはんだ接着面以外）６に粗化処理を施しておく（図示せず）。
【００３６】
次に、チップ１とはんだ２を位置決めした後、このチップ１とはんだ２が動かないように、チップ・はんだ供給用治具を取り除き、その上に粗化処理済のリードフレーム３−２を供給し、リフローに接続する（図６Ｂ参照）。
【００３７】
リフロープロセス中は水素還元雰囲気とし、加熱前後に雰囲気置換を行う。Ｈ２還元雰囲気に置換後昇温を開始し、２５０℃ピークの温度プロファイルを用いて接続する。また、ピーク温度到達後真空脱気を行い、はんだ中のボイドを除去する。リフローによりはんだ２は溶解して表面張力が働くようになるため、図６Ｃでは、はんだ２の部分の形状が変化している。冷却後雰囲気を置換しリフロー接続プロセスを終了する（図６Ｃ参照）。
【００３８】
最後に、リードフレーム３−１及びリードフレーム３−２の間の空間をモールド樹脂で充填する（図示せず）。
【００３９】
（iii）接続条件
接続条件に関しては、採用するはんだの融点直上から３５０℃程度までの間から選定すればよい。濡れ性を向上させる場合には高温側の温度、チップ１表面のＮｉメタライズ消失が問題になる場合には低温側の温度が好適である。接続時の雰囲気は、大気中よりもＮ２雰囲気の方が望ましい。さらに、濡れ性を向上させるためには、Ｈ２や蟻酸等の還元雰囲気とすべきである。
【００４０】
＜実施形態の効果＞
上述したような本発明の半導体装置の構造により、リードフレーム３−２（第２のリードフレーム）には台座部が一体的に形成されて（分離したものをはんだ等で接続した構造ではないことを意味する）設けられており、かつその側面及びリードフレーム本体のモールド樹脂と接触する部分には表面が粗化されている。このため、はんだの未接続やチップの位置ずれの原因であるはんだの濡れ上がりを防止することが可能である。また、その後封止に用いるモールド樹脂とリードフレームの密着性が向上し、チップ破壊やはんだ接続部寿命低下の原因であるモールド樹脂の剥離を防止することが可能である。これにより、はんだ接続時の不具合を低減し、かつ高信頼なパワーモジュールを得ることができる。
【実施例】
【００４１】
［実施例１］
本発明の実施例１を以下に示す。ここでは、サンプルとして台座部を一体形成したＣｕリードフレームを用いた。リードフレームは、粗化の無いＣｕ無垢表面を有しているもの、及び台座部側面及びリードフレーム本体に部分的に粗化を施したもの、の２種類を用いた。【００４２】
リードフレームの部分的な粗化は、一度リードフレーム全体に粗化した後、研磨により台座部のはんだ接続面の粗化を除去することにより形成した。また、はんだはシート状のＳｎ３Ａｇ０．５Ｃｕはんだを用いた。リフローは真空リフロー装置を用い、２５０℃ピークの温度プロファイルを用いて接続した。【００４３】
それぞれ２０個のサンプルに対しはんだ接続を行い、はんだの濡れ上がり、はんだ未接続、チップ位置ずれの発生の有無を確認した。【００４４】
図７は、これらをまとめた結果を示している。図７からも分かるように、粗化処理を施していないリードフレームを用いる場合には前述の不具合が発生しているが、粗化処理を施したリードフレームを用いる場合には不具合は発生しなかった。【００４５】
また、その後このチップ接続されたリードフレームに対し、樹脂モールドを行った。その後、温度サイクル試験を行った。粗化の無いリードフレームでは、全てのサンプルにおいて樹脂の剥離が発生し、２０個中５個のサンプルにおいてチップの割れが発生した。【００４６】
一方、部分的な粗化のあるリードフレームでは、全てのサンプルにおいてチップの割れが発生しなかった。また、はんだの疲労寿命も、粗化の無いリードフレームに比べて部分的な粗化のあるリードフレームの方が進展しているクラック進展している部分が小さく、長寿命であった。【００４７】
［実施例２］
本発明の実施例２を以下に示す。実施例１と同様、サンプルとして台座部を一体形成したＣｕリードフレームを用いた。実施例１と同様、台座部側面及びリードフレーム本体に粗化を施したもの、及びそれぞれ粗化がなくＣｕ無垢表面を有しているものの２種類を用いた。リードフレームは、はんだ接続面をマスクした後リードフレームを酸に浸漬して部分的な粗化を形成し、その後マスクを剥離させてはんだ接続に用いた。はんだはシート状のＳｎ３Ａｇ０．５Ｃｕはんだを用いた。リフローは真空リフロー装置を用い、２５０℃ピークの温度プロファイルを用いて接続した。【００４８】
それぞれ２０個のサンプルに対しはんだ接続を行い、はんだの濡れ上がり、はんだ未接続、チップ位置ずれの発生の有無を確認した。【００４９】
図８は、これらをまとめた結果を示している。粗化処理を施していないリードフレームを用いた場合には前述の不具合が発生しているが、粗化処理を施したリードフレームを用いた場合には不具合は発生しなかった。【００５０】
また、その後このチップ接続されたリードフレームに対し、樹脂モールドを行った。その後、温度サイクル試験を行った。粗化の無いリードフレームでは、全てのサンプルにおいて樹脂の剥離が発生し、２０個中７個のサンプルにおいてチップの割れが発生した。一方、部分的な粗化のあるリードフレームでは、全てのサンプルにおいてチップの割れが発生しなかった。また、はんだの疲労寿命も、粗化の無いリードフレームに比べて部分的な粗化のあるリードフレームの方が進展しているクラック進展している部分が小さく、長寿命であった。
【産業上の利用可能性】
【００５１】
今後の高度情報化社会において電気エネルギーの需要は高い。また、環境問題における省エネや、ＣＯ２排出の低減を目的とした化石燃料削減によるオール電化等の要求もある。このような事情から、電力を高効率で使用するパワーエレクトロニクスの役割がますます重要になると考えられる。【００５２】
電力を高効率で使用するため、パワーエレクトロニクス分野においては、モジュールの小型化、高放熱化の要求が大きく、これらの検討が必須である。【００５３】
本発明は、チップの両面をはんだ接続する全てモジュールに対し有効であると考えられる。
【符号の説明】
【００５４】
１・・・チップ
２・・・はんだ
３・・・リードフレーム
３ａ・・・リード台座部（台座部）
４・・・モールド樹脂
５・・・ＣＡＮ状冷却フィン
６・・・粗化処理部分
【図１】
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【図２】
2014038587.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2014038587.tif 000007
【図６】
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【図７】
2014038587.tif 000009
【図８】
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【手続補正書】
【提出日】平成28年4月25日(2016.4.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体素子と、
前記半導体素子の一主面にはんだにより接続された第１のリードフレームと、
前記半導体素子の反対面にはんだにより接続された第２のリードフレームと、を有し、
前記第１のリードフレームと第２のリードフレームとの間には、モールド樹脂が充填されており、
前記第２のリードフレームは、当該第２のリードフレームと一体形成され、前記半導体素子との接続部分となる台座部を有し、
前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面以外の部分の表面粗さは、前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面の表面粗さよりも大きく、
前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面以外の部分の表面粗さは、前記第２のリードフレームの前記台座部以外の一部の表面粗さよりも大きいことを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記台座部おける、前記半導体素子を接続するはんだ接触面と当該はんだ接触面以外の部分の表面とは、同材質であることを特徴とする半導体装置。
【請求項３】
請求項１において、
前記第２のリードフレームの前記台座部における前記半導体素子を接続するはんだ接触面以外の部分には、粗化処理が施されていることを特徴とする半導体装置。
【請求項４】
請求項１において、
前記第２のリードフレームの前記モールド樹脂と接続される部分の粗さと前記台座部の前記はんだ接触面以外の部分の粗さは同程度であることを特徴とする半導体装置。
【請求項５】
第１のリードフレーム上に、半導体素子の接続面をはんだで挟んで位置決めする第１の工程と、
台座部が一体形成されたリードフレームであって、前記台座部の表面のうちはんだとの接続面以外の部分が前記台座部のはんだとの接触面よりも粗く、前記台座部以外の一部よりも粗い第２のリードフレームの前記台座部を、前記第１の工程で前記半導体素子を挟んだはんだのうち前記第１のリードフレームに接続されたはんだとは異なるはんだの接触面に位置決めする第２の工程と、
前記第２の工程後に、位置決めされた前記第１及び第２のリードフレームをスクラブさせて、前記第１及び第２のリードフレームと前記半導体素子を接続する第３の工程と、
前記第１のリードフレームと前記第２のリードフレームとの間の空間にモールド樹脂を充填する第４の工程と、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項６】
請求項５において、
前記第２のリードフレームの前記モールド樹脂と接続される部分の粗さと前記台座部の前記はんだ接触面以外の部分の粗さを同程度とすることを特徴とする半導体装置の製造方法。
【国際調査報告】
2014038587.tif 000011
2014038587.tif 000012
2014038587.tif 000013
2014038587.tif 000014