【手続補正書】
【提出日】平成27年10月8日(2015.10.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
波長λのレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、
該電子写真感光体は、導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、
該導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、
前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が、下記式（１）（式（１）中、Ｔ１は、前記レーザ光が前記導電性支持体に到達するまでの透過率を示す）を満たし、
【数１】
2013015823.tif 000001
該導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、
前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、
前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、
第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数２】
2013015823.tif 000002
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）
を満たすことを特徴とする電子写真装置。
【請求項２】
波長λのレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、
該電子写真感光体は、樹脂導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、
該樹脂導電性支持体を第０層とし、該樹脂導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、
前記樹脂導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、
前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、
第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数３】
2013015823.tif 000003
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記樹脂導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記樹脂導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）
を満たすことを特徴とする電子写真装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の一態様によれば、波長λのレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、該電子写真感光体は、導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、該導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が、下記式（１）（式（１）中、Ｔ１は、前記レーザ光が前記導電性支持体に到達するまでの透過率を示す）を満たし、
【数１】
2013015823.tif 000004
該導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数２】
2013015823.tif 000005
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）を満たすことを特徴とする電子写真装置が提供される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
また、本発明の他の態様によれば、波長λのレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、該電子写真感光体は、樹脂導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、該樹脂導電性支持体を第０層とし、該樹脂導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、前記樹脂導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数３】
2013015823.tif 000006
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記樹脂導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記樹脂導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）を満たすことを特徴とする電子写真装置が提供される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
すなわち、本発明の電子写真装置は、例えば、波長λのレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、電子写真感光体が、導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有する場合、導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ））の算出長さ（Ｌ（μｍ））依存性を示すグラフにおいて、  
（１）：平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ））の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ（μｍ））が発現した算出長さ（Ｌｍ（μｍ））に対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、 最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上の Ｒｍｋ が発現し、且つ、  
（２）：平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が、下記式（１）  
【数５】
2013015823.tif 000007
（式（１）中、T１はレーザ光が導電性支持体に到達するまでの透過率を示す）を満たすことを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
「平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ））の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ（μｍ））が発現した算出長さ（Ｌｍ（μｍ）に対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上の Ｒｍｋ が発現する」ような表面粗し形状では、干渉縞を効率的に防止できる。ここで言う「効率的に防止」は、同じ十点平均粗さＲｚを持つ表面形状同士を比較したときに、上記の特徴を満たすかどうかで、発現する干渉縞レベルが異なる、という意味である。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
したがって、基体表面粗さ形状のランダムネスの大小を知るには、Ｒｍｋ（Ｌ）のグラフにおけるピークの鋭さを見ればよい。これを客観的に数値化すると、「平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ））の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ（μｍ））が発現した算出長さ（Ｌｍ（μｍ））に対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上の Ｒｍｋ が発現する」という表現になる。つまり、この特徴を持つ粗さ形状はランダムネスが大きく、この特徴を持たない粗さ形状はランダムネスが小さい、と定義される。 
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
波長λ（μｍ）のレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、該電子写真感光体は、導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、該導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ））の算出長さ（Ｌ（μｍ））依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ（μｍ）)の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ（μｍ））が、下記式（１）（式（１）中、Ｔ１は、前記レーザ光が前記導電性支持体に到達するまでの透過率を示す）を満たし、
【数７】
2013015823.tif 000008
該導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（(Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数８】
2013015823.tif 000009
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）を満たすことを特徴とする電子写真装置。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
波長λ（μｍ）のレーザ光を発振するためのレーザ光源を有する露光手段、帯電手段、現像手段、転写手段および電子写真感光体を有する電子写真装置であり、該電子写真感光体は、樹脂導電性支持体上に少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とをこの順で有しており、該樹脂導電性支持体を第０層とし、該樹脂導電性支持体上に接触して設けられた層を第１層とし、その上に接触して設けられた層を第２層として前記電荷発生層に至るまで名前付けした場合、前記樹脂導電性支持体は、表面形状が、平均局所高低差（Ｒｍｋ）の算出長さ依存性を示すグラフにおいて、前記平均局所高低差（Ｒｍｋ）の最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）以下かつ前記最大値（Ｒｍｋ，ｍａｘ）の３分の２以上のＲｍｋが発現し、第ｉ層と第ｉ＋１層（ｉは１以上の整数）との界面の形状が、下記式（２）
【数９】
2013015823.tif 000010
（式（２）中、Ｔｉ＋１は、前記レーザ光が前記樹脂導電性支持体上の第ｉ層に到達するまでの透過率を示し、ｎｉ、ｎｉ＋１は、それぞれ前記樹脂導電性支持体上に接触して設けられた第ｉ層と第ｉ＋１層の屈折率を示す）を満たすことを特徴とする電子写真装置。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１４２】
得られた支持体の粗面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察したところ、図２（ｉ）（ｄ）に示した形状と同様のものが形成されていることを確認できた。Ｒｍｋ（Ｌ）を計算したところ、図２（ｉｉ）（ｄ）に示したグラフと同様のものが得られた。結果を図９（ｉ）に示す。Ｒｍｋ は、算出長さＬｍ＝６．０μｍにおいて、最大値０．０５７μｍとなった。次に、Ｌｍ＝０．６μｍにおいて、０．０３８μｍのＲｍｋが得られていることから、Ｒｍｋ，ｍａｘ が発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘ以下かつ Ｒｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していることが判る。すなわち、ランダムネスの有る粗さ形状であった。また、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｌ、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｓ、Ｒｍｋ，ａｖｅ、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｍｄｒ、はそれぞれ０．０３４（μｍ）、０．０５８（μｍ）、０．０４７（μｍ）、０．０２７（μｍ）であった。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１４６】
得られた中間層の表面形状を、走査型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察したところ、図２（ｉ）（ｄ）に示した形状と同様のものが形成されていることを確認できた。Ｒｍｋ（Ｌ）を計算したところ、図２（ｉｉ）（ｄ）に示したグラフと同様のものが得られ、Ｒｍｋ の最大値Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、 Ｒｍｋ，ｍａｘ以下かつ Ｒｍｋ，ｍａｘの２分の１以上の Ｒｍｋ が発現した。すなわち、ランダムネスの有る粗さ形状であった。また、Ｒｍｋ，ｍａｘと Ｒｍｋ，ｍａｘが発現する算出長さＬｍ、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｌ、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｓ、Ｒｍｋ，ａｖｅ，ｍｄｒはそれぞれ０．５１（μｍ）、６．０（μｍ）、０．０３１（μｍ）、０．０５２（μｍ）、０．０４２（μｍ）、０．０２４（μｍ）であった。中間層の表面形状データを表２にまとめて示す。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１５９】
得られた支持体の表面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察し、Ｒｍｋ（Ｌ）を計算した結果を図９（ｉｉ）に示す。Ｒｍｋ，ｍａｘは０．０９４、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現する算出長さＬｍは３．９μｍであった。図９（ｉｉ）より、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して０．１倍以下である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していることが判る。すなわち、ランダムネスの有る粗さ形状であった。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１９２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１９２】
得られた支持体の表面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察し、Ｒｍｋ（Ｌ）を計算した結果を図９（ｉｉｉ）に示す。Ｒｍｋ，ｍａｘは０．１１０、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現する算出長さＬｍは６．７μｍであった。図９（ｉｉｉ）に示したグラフより、Ｒｍｋの最大値Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していないことが判る。すなわち、ランダムネスの無い粗さ形状であった。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１９８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１９８】
得られた支持体の表面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察し、Ｒｍｋ（Ｌ）を計算した結果を図９（ｉＶ）に示す。Ｒｍｋ，ｍａｘは０．１７１、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現する算出長さＬｍは５．９μｍであった。図９（ｉＶ）に示したグラフより、Ｒｍｋの最大値Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していないことが判る。すなわち、ランダムネスの無い粗さ形状であった。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２０８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２０８】
得られた導電層の粗面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察し、Ｒｍｋ（Ｌ）を計算した結果を図９（Ｖ）に示す。グラフより、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して０．１倍以下或いは１０倍以上である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘ以下かつＲｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していることが判る。すなわち、ランダムネスの有る粗さ形状であった。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２２６】
得られた支持体の表面形状を、操作型プローブ顕微鏡ネオス（ブルーカー・ナノ社製）で拡大観察し、Ｒｍｋ（Ｌ）を計算した結果を図９（Ｖｉ）に示す。Ｒｍｋ，ｍａｘは０．０４１、Ｒｍｋ，ｍａｘが発現する算出長さＬｍは０．９μｍであった。図９（ｉＶ）に示したグラフより、Ｒｍｋの最大値Ｒｍｋ，ｍａｘが発現した算出長さに対して１０倍以上である算出長さにおいて、Ｒｍｋ，ｍａｘの３分の２以上のＲｍｋが発現していないことが判る。すなわち、ランダムネスの無い粗さ形状であった。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２４１】
（実施例１〜３６および比較例１〜１８）
作製した電子写真感光体を、以下の評価装置に装着して画像出力を行った。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２５６】
【表４】
2013015823.tif 000011