【手続補正書】
【提出日】平成27年8月31日(2015.8.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記課題に鑑みて本発明に係る撮像装置は、
被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
光源と、
前記光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する検出手段と、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記参照光量が所定の範囲内となり且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内となるように前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
光源と、
前記光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する検出手段と、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記参照光量が所定の範囲内となり且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内となるように前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記参照光量と前記所定の範囲とを比較する比較手段を更に有し、
前記制御手段は、前記比較手段により前記参照光量が前記所定の範囲外であるとの比較結果を得た場合に、前記参照光量が前記所定の範囲内になるように、前記参照光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記比較手段は、検者が被検者を選択する、あるいは被検者の情報入力を行った後に、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記比較手段は、所定の時間間隔で、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項２または３に記載の撮像装置。
【請求項５】
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記参照光量と所定の範囲とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
前記参照光量が前記所定の範囲より高い場合に、前記制御手段は前記参照光量を下げるように前記参照光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記測定光の光路に配置され、前記被検査物に照射される測定光の光量を変更する測定光量変更手段を有し、
前記制御手段は、前記参照光量が前記所定の範囲内であり且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記測定光が前記被検査物に照射されるように、前記測定光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記測定光量変更手段は、開閉可能なシャッターであり、
前記制御手段は、前記シャッターが閉状態で前記参照光量が前記所定の範囲内である場合に、前記シャッターを開くことを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記参照光量が前記所定の範囲内で且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記断層画像を取得する断層画像取得手段を有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１０】
被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
光源と、
前記光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する検出手段と、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲外である場合に、前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲内となるように、前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１１】
前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲内である場合に、前記断層画像を取得する断層画像取得手段を有することを特徴とする請求項１０に記載の撮像装置。
【請求項１２】
前記断層画像の画質と前記所定の画質評価範囲とを比較する比較手段を更に有し、
前記制御手段は、前記比較手段により前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲外であるとの比較結果を得た場合に、前記参照光量を高くするように前記参照光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１０または１１に記載の撮像装置。
【請求項１３】
前記比較手段は、検者が被検者を選択する、あるいは被検者の情報入力を行った後に、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置。
【請求項１４】
前記比較手段は、所定の時間間隔で、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項１２または１３に記載の撮像装置。
【請求項１５】
前記参照光量変更手段は、前記参照光の光路に所定の角度傾いて配置されていることを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１６】
前記参照光量変更手段は、前記参照光の偏光状態とは独立して前記参照光量を変更することを特徴とする請求項１乃至１５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１７】
被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
光源と、
前記光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する検出手段と、
前記測定光の光路に配置され、前記被検査物に照射される前記測定光の光量を変更する測定光量変更手段と、
前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記測定光が前記被検査物に照射されるように、前記測定光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１８】
被検査物の断層画像を取得する撮像方法であって、
光源からの光を測定光と参照光とに分割する工程と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する工程と、
前記参照光の参照光量が所定の範囲内となり且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内となるように前記参照光量を変更する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項１９】
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する撮像方法であって、
前記参照光の参照光量と所定の範囲とを比較する工程と、
前記比較する工程における比較結果に基づいて前記参照光量を変更する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項２０】
前記参照光量が前記所定の範囲より高い場合に、前記参照光量を下げることを特徴とする請求項１８または１９に記載の撮像方法。
【請求項２１】
被検査物の断層画像を取得する撮像方法であって、
光源からの光を測定光と参照光とに分割する工程と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する工程と、
前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲外である場合に、前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲内となるように、前記参照光の参照光量を変更する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項２２】
被検査物の断層画像を取得する撮像方法であって、
光源からの光を測定光と参照光とに分割する工程と、
前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記参照光とを合波した合波光を検出する工程と、
前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記測定光が前記被検査物に照射されるように、前記測定光の測定光量を変更する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項２３】
請求項１８乃至２２のいずれか１項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。