【事件の表示】
　上記当事者間の特許第４４５２９１７号発明「電解コンデンサ用タブ端子」の特許無効審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　特許第４４５２９１７号の請求項１ないし１３に係る発明についての特許を無効とする。
　審判費用は、被請求人の負担とする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件特許第４４５２９１７号に係る発明についての出願は、平成１５年１２月２５日（優先権主張　平成１４年１２月２７日）の出願であって、平成２２年２月１２日にその発明について特許権の設定登録がなされた。
　以後の本件に係る手続の概要は、以下のとおりである。
　　平成２８年　９月１６日　本件無効審判の請求
　　　　　同年１１月３０日　審判事件答弁書
　　　　　同年１１月３０日　訂正請求書
　　　　　同年１２月１４日　手続補正書（方式）（被請求人）
　　平成２９年　１月２６日　上申書（請求人）
　　　　　同年　２月１６日　審判事件弁駁書
　　　　　同年　４月　７日　訂正拒絶理由通知書・職権審理結果通知書
　　　　　同年　５月１１日　意見書（被請求人）
　　　　　同年　５月１６日　上申書（請求人）
　　　　　同年　７月　４日　審理事項通知書
　　　　　同年　９月　６日　口頭審理陳述要領書（請求人）
　　　　　同年　９月　６日　口頭審理陳述要領書（被請求人）
　　　　　同年　９月２７日　口頭審理
　　　　　同年１０月１１日　上申書（被請求人）
　　平成３０年　２月　５日　審決予告
　　　　　同年　４月１０日　意見書
　　　　　同年　４月１０日　訂正請求書
　　　　　同年　４月２６日　手続補正書（方式）（被請求人）
　　　　　同年　７月　６日　訂正拒絶理由通知書・職権審理結果通知書
　　　　　同年　８月　９日　意見書（被請求人）
第２　当事者の主張
１　請求人
（１）請求の趣旨及び無効理由について
　請求人は、審判請求書において、「特許第４４５２９１７号の請求項１乃至１３に係る特許を無効とする、審判費用は被請求人の負担とする」との審決を求め、請求人が主張する無効理由は、概略、以下のとおりのものである。なお、「１−１」「１−２」等の無効理由の番号は当審で付与したものである。
ア　無効理由１−１
　本件発明１ないし６、８、１０ないし１３は、甲第１号証に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し特許を受けることができない。（審判請求書の「７（１）（１−１）」及び「７（４）（４−３）」）
イ　無効理由１−２
　本件発明１ないし６、８ないし１３は、甲第１号証に記載された発明、又は、それらに加えて本件特許の優先日前における技術常識に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。（審判請求書の「７（１）（１−１）」及び７「（４）（４−４）」）
ウ　無効理由２
　本件特許の発明の詳細な説明の記載は、本件発明１ないし１３について、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。（審判請求書の「７（１）（１−２）」及び「７（４）（４−５）」）
エ　無効理由３
　本件特許の特許請求の範囲の請求項１ないし１３の記載は、特許法第３６条第６項第１号に規定された要件を満たしていない。（審判請求書の「７（１）（１−３）」及び「７（４）（４−６）」）
オ　無効理由４
　本件特許の特許請求の範囲の請求項１ないし１０の記載は、特許法第３６条第６項第２号に規定された要件を満たしていない。（審判請求書の「７（１）（１−４）」及び「７（４）（４−７）」）
（２）訂正請求について
　請求人は、平成２８年１１月３０日付けの訂正請求について、審判事件弁駁書及び口頭審理陳述要領書において、請求項２に係る訂正事項２は、願書に添付した明細書または図面に記載した事項の範囲内の訂正ではなく、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に反してなされたものであるから、訂正は認められないと主張する。なお、平成２８年１１月３０日付け訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲の請求項２の記載内容は、平成３０年４月１０日付け訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲の請求項１の記載内容（下記「第３　２」を参照。）と同じである。
　また、平成３０年４月１０日付けの訂正請求については、同年７月６日付け職権審理結果通知書によって、同日付けの訂正拒絶理由に対する意見を求めたが、請求人からは意見書は提出されなかった。
（３）請求人が提出した証拠方法
ア　審判請求書に添付した証拠方法
　甲第１号証：特開２０００−２７７３９８号公報
　甲第２号証：特開平９−４５５７９号公報
　甲第３号証：特開平９−２１３５９２号公報
　甲第４号証：特開平９−１３９３２６号公報
　甲第５号証：化学辞典　第１版　第５２７頁、第７１５頁
　甲第６号証：特開平９−２７４０６０号公報
　甲第７号証：「錫めっきコンタクトの温度サイクルによる劣化メカニズムとその加速試験法」と題する記事
　甲第８号証：「端子圧着部における皮膜の電気的破壊についての一考察」と題する記事
　甲第９号証：特開２００４−２５３３１１号公報
　甲第１０号証：「すず真正ホイスカの発生と成長機構」と題する記事
　甲第１１号証：特開２００２−３０５３５９号公報
　甲第１２号証：特開平１０−５０７７４号公報
　甲第１３号証：特開２０００−１４４４４５号公報
　甲第１４号証：めっき基礎読本　第２４頁
　甲第１５号証：「東京地方裁判所平成２７年（ワ）第１９６６１号　特許権侵害差止等請求事件」において、平成２８年５月９日付けで原告（本件被請求人）が提出した準備書面（３）
　甲第１６号証：「東京地方裁判所平成２７年（ワ）第１９６６１号　特許権侵害差止等請求事件」において、平成２８年６月１７日付けで原告（本件被請求人）が提出した準備書面（４）
　甲第１７号証：「平成２７年（ワ）第１９６６１号　特許権侵害差止等請求事件」において、平成２８年３月７日付けで被告（本件請求人）が提出した証拠説明書１（差替え版）
イ　審判事件弁駁書に添付した証拠方法
　甲第１８号証：「電気・電子部品用Ｓｎめっき銅合金の表面変色」、菅原 章、片岡 正宏、花 佳武、ばね論文集第４２号（１９９７年）
２　被請求人
（１）答弁の趣旨及び無効理由について
　被請求人は、平成２８年１１月３０日付けで訂正請求をした上で、審判事件答弁書において、「本件審判請求は成り立たない。審判費用は請求人の負担とする。」との審決を求め、訂正後の請求項２、１０ないし１３に係る発明については、請求人による無効の主張はいずれも理由がないと主張する。
　また、被請求人は、上記無効理由１−１ないし４に対して、平成２８年１１月３０日付けの訂正請求が認められないとした場合について、意見は特にないと陳述した。（被請求人が提出した口頭審理陳述要領書の「５．（１）（１−３）」及び第１回口頭審理調書の「被請求人　６」。）
　さらに、被請求人は、平成３０年４月１０日付けで訂正請求をした上で、同日付の意見書において、訂正後の請求項１及びその従属請求項、請求項２、請求項３、請求項１７及びその従属請求項に係る発明については、甲第１号証に記載の発明に対して、新規性・進歩性を有すると主張する。
（２）訂正請求について
　被請求人は、平成２８年１１月３０日付けの訂正請求について、訂正請求書において、訂正事項が全ての訂正要件に適合していることを説明するとともに、平成２９年５月１１日付け意見書及び同年１０月１１日付け上申書において、訂正拒絶理由に対する反論を主張している。
　また、被請求人は、平成３０年４月１０日付けの訂正請求について、訂正請求書において、訂正事項が全ての訂正要件に適合していることを説明するとともに、同年８月９日付け意見書において、同年７月６日付け訂正拒絶理由に対する反論を主張しているが、詳細は後述する。
（３）被請求人が提出した証拠方法
ア　審判事件答弁書に添付した証拠方法
　乙第１号証：報告書（本件明細書の実施例に関する追加実験結果）
イ　平成２９年５月１１日付け意見書に添付した証拠方法
　乙第２号証：鑑定意見書（２０１７年５月９日付　国立大学法人　東京工業大学　教授　工学博士　高橋邦夫）
ウ　口頭審理陳述要領書に添付した証拠方法
　乙第３号証：ＪＩＳ　Ｃ−００５３（環境試験方法−電気・電子−　はんだ付け試験方法（平衡法）（本文及び付属書）
エ　平成３０年８月９日付け意見書に添付した証拠方法
　乙第４号証：特許第４９５４４０６号公報
　乙第５号証：特許第５３３７９４３号公報
第３　本件訂正請求について
１　訂正の趣旨
　平成３０年４月１０日付けの訂正請求書（以下、「本件訂正請求書」という。）における訂正（以下、「本件訂正」という。）の趣旨は、「特許第４４５２９１７号の特許請求の範囲を本件請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１ないし２３について訂正することを求める」ものである。
　なお、平成２８年１１月３０日付けの訂正の請求は、特許法第１３４条の２第６項の規定により取り下げられたものとみなす。 
２　訂正の内容
　上記本件訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲における請求項１ないし２３の記載は次のとおりである。（下線は、訂正箇所を示す。）
「【請求項１】
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ
り、
　
前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ
２
が含まれてなり、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以下であ
【請求項２】
　
芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であり、
　前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな
り、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．３５秒以下であ
、電解コンデンサ用
【請求項３】
　
芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、前記電解コンデンサ用
酸化スズ形成処理であり、
　
前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ
２
が含まれてな
（但し、前記電解コンデンサ用タブ端子について、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く。）
電解コンデンサ用
【請求項４】
　
（削除）
【請求項５】
　
（削除）
【請求項６】
　
（削除）
【請求項７】
　
（削除）
【請求項８】
　
（削除）
【請求項９】
　
（削除）
【請求項１０】
　
（削除）
【請求項１１】
　請求項
１
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接してタブ端子を準備する工程、および
　前記溶接されたタブ端子を、熱処理する工程、
を含んでなる、タブ端子の製造方法。
【請求項１２】
　前記熱処理が、６０〜１８０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１１に記載の製造方法。
【請求項１３】
　前記熱処理が、８０〜１５０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１１に記載の製造方法。
【請求項１４】
　請求項
１
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接する工程、および
　溶接直後に、前記溶接部分に溶剤を塗布して付着させる工程、
を含んでなり、
　前記溶剤が、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩、およびこれらの混合物からなる群から選択される無機酸塩を含んでなる水溶液であり、
　前記水溶液の濃度が、１〜１０重量％である、タブ端子の製造方法。
【請求項１５】
　前記溶剤が、さらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液である、請求項１４に記載の製造方法。
【請求項１６】
　前記溶接部分に溶剤を塗布する際の、溶接部分の温度が、８０〜２５０℃である、請求項１４または１５に記載の製造方法。
【請求項１７】
　
芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、前記電解コンデンサ用
酸化スズ形成処理であり、
　
前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ
２
が含まれてなり、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．８５秒以下である
電解コンデンサ用
【請求項１８】
　
請求項１７に記載のタブ端子の製造方法であって、
　
芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接してタブ端子を準備する工程、および
　
前記溶接されたタブ端子を、熱処理する工程、
を含んでなる、タブ端子の製造方法。
【請求項１９】
　
前記熱処理が、６０〜１８０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１８に記載の製造方法。
【請求項２０】
　
前記熱処理が、８０〜１５０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１８に記載の製造方法。
【請求項２１】
　
請求項１７に記載のタブ端子の製造方法であって、
　
芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接する工程、および
　
溶接直後に、前記溶接部分に溶剤を塗布して付着させる工程、
 
を含んでなり、
　
前記溶剤が、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩、およびこれらの混合物からなる群から選択される無機酸塩を含んでなる水溶液であり、
　
前記水溶液の濃度が、１〜１０重量％である、タブ端子の製造方法。
【請求項２２】
　
前記溶剤が、さらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液である、請求項２１に記載の製造方法。
【請求項２３】
　
前記溶接部分に溶剤を塗布する際の、溶接部分の温度が、８０〜２５０℃である、請求項２１または２２に記載の製造方法。
　ここで、上記訂正特許請求の範囲において独立請求項として記載されている請求項１、２、３、及び１７に係る訂正事項は以下のとおりである。
［訂正事項１（以下、「訂正事項Ａ」という。）］
　特許請求の範囲の請求項１に「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理である、電解コンデンサ用タブ端子。」とあるのを、上記訂正特許請求の範囲の請求項１のとおりに訂正する。
［訂正事項１３（以下、「訂正事項Ｂ」という。）］
　特許請求の範囲の請求項２に「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる、請求項１に記載のタブ端子。」とあるのを、独立項形式に書き換えるとともに、上記訂正特許請求の範囲の請求項２のとおりに訂正する。
［訂正事項２５（以下、「訂正事項Ｃ」という。）］
　特許請求の範囲の請求項３に「前記の酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる、請求項１または２に記載のタブ端子。」とあるのを、請求項１を引用する請求項３について独立項形式に書き換えるとともに、上記訂正特許請求の範囲の請求項３のとおりに訂正する。
［訂正事項３４（以下、「訂正事項Ｄ」という。）］
　特許請求の範囲の請求項３に「前記の酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる、請求項１または２に記載のタブ端子。」とあるのを、請求項２を引用する請求項３について独立項形式に書き換えるとともに、上記訂正特許請求の範囲の請求項１７のとおりに訂正する。
３　別の訂正単位とする求め
　被請求人は、上記訂正事項Ｂによって独立項形式に書き換えて引用関係の解消を行った訂正後の請求項２、上記訂正事項Ｃによって独立項形式に書き換えて引用関係の解消を行った訂正後の請求項３、上記訂正事項Ｄによって独立項形式に書き換えて引用関係の解消を行った訂正後の請求項１７とその従属請求項である請求項１８ないし２３について、それぞれ別の訂正単位とすることを求めている。
４　訂正拒絶理由について
　当審において平成３０年７月６日付けで通知した訂正拒絶理由は、概略、以下のとおりのものである。
（１）訂正事項Ａについて
　上記訂正事項Ａは、 
ａ）特許請求の範囲の減縮を目的として、訂正前の請求項２の「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな」るという発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ａ−ａ」という。）と、
ｂ）特許請求の範囲の減縮を目的として、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ａ−ｂ」という。）とを、
含むものである。
　しかしながら、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」の上限を「２．５０秒」とすることは記載も示唆もされておらず、また、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることも記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ａ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえないから、上記訂正事項Ａ−ｂを含む訂正事項Ａは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
（２）訂正事項Ｂについて
　上記訂正事項Ｂは、
ａ）請求項間の引用関係の解消を目的として、訂正前の請求項２が引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項を含むように請求項２の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｂ−ａ」という。）と、
ｂ）特許請求の範囲の減縮を目的として、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．３５秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｂ−ｂ」という。）とを、
含むものである。 
　しかしながら、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」の上限を「２．３５秒」とすることは記載も示唆もされておらず、また、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることも記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｂ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえないから、上記訂正事項Ｂ−ｂを含む訂正事項Ｂは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
　そうすると、上記訂正事項Ｂに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｂ−ａ）も認めることはできないから、請求項２について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
（３）訂正事項Ｃについて
　上記訂正事項Ｃは、
ａ）請求項間の引用関係の解消を目的として、訂正前の請求項３が引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項を含むように請求項３の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｃ−ａ」という。）と、
ｂ）特許請求の範囲の減縮を目的として、「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる（但し、前記電解コンデンサ用タブ端子について、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く。）」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｃ−ｂ」という。）とを、
含むものである。 
　しかしながら、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く」こと、又は、「ゼロクロス時間が２．５０秒未満である」ことは記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｃ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえないから、上記訂正事項Ｃ−ｂを含む訂正事項Ｃは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
　そうすると、上記訂正事項Ｃに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｃ−ａ）も認めることはできないから、請求項１を引用する請求項３について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
（４）訂正事項Ｄについて
　上記訂正事項Ｄは、
ａ）請求項間の引用関係の解消を目的として、訂正前の請求項３が引用していた請求項２がさらに引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項と、訂正前の請求項３が引用していた請求項２の「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな」るという発明特定事項とを含むように請求項３の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｄ−ａ」という。）と、
ｂ）特許請求の範囲の減縮を目的として、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．８５秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｄ−ｂ」という。）とを、
含むものである。
　しかしながら、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることは記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｄ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえないから、上記訂正事項Ｄ−ｂを含む訂正事項Ｄは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
　そうすると、上記訂正事項Ｄに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｄ−ａ）も認めることはできないから、請求項１を引用する請求項２を引用する請求項３（訂正後の請求項１７とその従属請求項である請求項１８ないし２３）について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
（５）請求項１ないし１６からなる一群の請求項に係る訂正請求について
　上記（１）ないし（４）のとおり、上記訂正事項ＡないしＤは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していないから、当該訂正事項ＡないしＤを含む、請求項１ないし１６からなる一群の請求項に係る訂正請求は、適法な訂正請求とはいえず、拒絶すべきものである。 
５　訂正の適否についての判断
（１）一群の請求項について
　訂正前の請求項１ないし１６において、請求項２ないし１６は、訂正する請求項１を直接又は間接的に引用しているものであるから、請求項１ないし１６は、特許法第１３４条の２第３項に規定する一群の請求項である。
　ただし、上記「３」のとおり、被請求人が別の請求単位とする求めを行っていることに鑑み、上記訂正特許請求の範囲において独立請求項として記載されている請求項１、２、３、及び１７に係る上記訂正事項ＡないしＤについてまず検討し、その後、請求単位毎の訂正の適否について検討する。
（２）訂正事項Ａについて
ア　訂正の目的について
　訂正事項Ａは、
ａ）訂正前の請求項２の「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな」るという発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ａ−ａ」という。）と、
ｂ）「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ａ−ｂ」という。）とを、
含むものである。 
　そして、上記訂正事項Ａ−ａは、「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな」るとの発明特定事項を他の発明特定事項に対して直列的に付加するものであるから、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　また、上記訂正事項Ａ−ｂも、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以下である」との発明特定事項を他の発明特定事項に対して直列的に付加するものであるから、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正であるか否かについて
　また、上記訂正事項Ａ−ａ及びＡ−ｂは、上記「ア」に示したとおり、発明特定事項を直列的に付加することによって、特許請求の範囲を減縮するものであるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
ウ　願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であるか否かについて
　上記訂正事項Ａ−ａは、訂正前の請求項２に記載されている事項であるから、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するものである。
　次に、上記訂正事項Ａ−ｂについて検討する。
（ア）願書に添付した明細書又は特許請求の範囲の記載
　願書に添付した明細書又は特許請求の範囲（以下、「本件特許明細書等」という。）には、ハンダ濡れ性に関して、次の事項が記載されている。（下線は当審で付与した。）
（ａ）「【発明の概要】
【００１１】
　本発明者らは、今般、
スズメッキさたリード線の表面に酸化スズを形成することにより、ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる
（ｂ）「【００２６】
　本発明では、６０〜１８０℃の温度範囲において、酸素雰囲気下で、タブ端子を熱処理することにより、タブ端子の溶接部分のスズを酸化して、酸化スズを形成するものである。当該熱処理は、タブ端子製造後（アルミ芯線とリード線との溶接後）に行う。溶接前にスズメッキされたリード線のみを熱処理し、その後にアルミ芯線と溶接することもできるが、溶接してタブ端子とした後に熱処理を行うことにより、溶接部分の表面に現れたスズを効率的に酸化できる。また、６０℃よりも低い温度において熱処理を行うとウィスカ発生抑制効果が十分には得られない。一方、
スズを酸化するためには高温で行うことが好ましいが、１８０℃を超える温度において熱処理を行うと、スズの酸化が進みすぎるため、リード線表面のメッキが変色するだけでなくハンダ濡れ性が低下してしまう。すなわち、酸素雰囲気下での熱処理により、溶接部の表面付近に存在する金属スズのうち一部が酸化スズ（ＳｎＯまたはＳｎＯ
２
）に変化するが、ウィスカ発生を抑制する目的からは酸化スズの存在は好ましいものの、金属スズのすべてが、酸化スズに酸化されてしまうと、ハンダ濡れ性が低下するため好ましくない。
熱処理温度同様に６０分を超えるとスズの酸化が進行しすぎて、ハンダ濡れ性に悪影響を及ぼす。
（ｃ）「【実施例】
【００３３】
　リード線としてスズ１００％のメッキを施した、鉄／銅からなる引き込み線（ＣＰ線）とアルミ芯線とを、それぞれ所定の長さに切断し、切断されたリード線とアルミ芯線とをアーク放電にて溶接した後、アルミ芯線部分をプレス加工により圧扁することによりタブ端子１を得た。得られたタブ端子１をパラフィン系溶剤により脱脂洗浄処理を行い、８０℃×１２分、熱風乾燥を行った。
【００３４】
　
脱脂処理を行ったタブ端子１を、表１に示す温度にて２０分間、恒温恒湿器（ＰＶＨ−１１０：タバイエスペック製）を用いて熱処理を行った（実施例１〜４、および比較例１）。また、熱処理を行わない試料を比較例２とした。
【００３５】
　次に、熱処理を行った試料（実施例）および熱処理を行わなかった試料（比較例）のウィスカを観察するため、６０℃×９０％ＲＨの条件において２５０時間加速試験を行った。加速試験後、各試料の溶接部に発生したウィスカを３０倍の光学顕微鏡を用いて観察し、タブ端子の溶接部分に発生したウィスカの長さを測定した。
【００３６】
　さらに、
上記の加速試験を行う前の各試料のハンダ濡れ性を調べるため、ＪＩＳ Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）によりゼロクロス時間（ＺＣＴ値）を測定した。測定結果を表１に示す。
【表１】　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
 」
（ｄ）「【００３７】
　次に、
上記のタブ端子１を、１．０重量％のメタ珪酸ナトリウム水溶液中に１２０℃で２分間浸漬して溶剤処理を行い、試料６を得た。
上記と同様にして溶液処理した試料のハンダ濡れ性を測定した。測定結果を表２に示す。
【００３８】
　また、
上記のリード線とアルミ芯線とをアーク放電にて溶接後３００ｍｓ以内に、溶接部分に５重量％のケイフッ化アンモニウム水溶液を塗布して付着させた。その後、上記と同様にしてアルミ芯線部分をプレス加工により圧扁することによりタブ端子２（試料７）を得た。
【００３９】
　
得られた試料６および７について、上記と同様にして加速試験を行い、ウィスカの長さ、およびハンダ濡れ性について測定を行った。
【００４０】 
　
結果は表２に示される通りであった。
【表２】  
」
（イ）「ゼロクロス時間」の測定方法について
　上記訂正事項Ａ−ｂには、電解コンデンサ用タブ端子の「ゼロクロス時間」は「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定された」ものであることが特定されているが、この点については、上記「（ア）（ｃ）」で摘示したように、本件特許明細書等に記載された事項である。
（ウ）「ゼロクロス時間」の数値範囲について
（ａ）数値範囲の上限について
　上記訂正事項Ａ−ｂには「ゼロクロス時間が２．５０秒以下である」と特定されているが、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間が２．５０秒以下である」旨の直接的な記載はなされていない。
　そこで、「ゼロクロス時間」の数値範囲を示唆する記載の有無についてさらに検討すると、本件特許明細書等には上記「（ア）（ｂ）」で摘示したように「スズを酸化するためには高温で行うことが好ましいが、１８０℃を超える温度において熱処理を行うと、スズの酸化が進みすぎるため、リード線表面のメッキが変色するだけでなくハンダ濡れ性が低下してしまう。」と記載されており、上記「（ア）（ｃ）」で摘示した表１に、１８０℃を超える温度である「２００°Ｃ」で熱処理した試料４（比較例１）の「ハンダ濡れ性」が「×」と評価されていることとも整合する。
　そうすると、「１８０°Ｃ」がハンダ濡れ性の観点での熱処理温度の上限であるから、上記表１の記載事項も総合すると、本件特許明細書等には、熱処理温度が「１８０°Ｃ」である試料３（実施例３）のＺＣＴ値である「２．８５秒」が、「ゼロクロス時間」の上限であることが示唆されているということができる。
　したがって、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」の上限が「２．５０秒」であることは記載も示唆もされていない。
　また、そもそも本件特許明細書等には、ウィスカの成長抑制処理が施された試料のゼロクロス時間が「２．５０秒」である実施例は記載されていない。したがって、境界値として「２．５０秒」という値は記載されていないし、境界値としての「２．５０秒」を採用することに関する課題や効果、特に、臨界的意義についても何ら記載されていない。なお、表１及び表２に記載の試料５（比較例２）のＺＣＴ値は「２．５０秒」であるが、当該試料５はウィスカの成長抑制処理が施されていないから、「ウィスカの成長抑制処理が施されてなり」かつ「ゼロクロス時間が２．５０秒」以下である訂正後の請求項１の技術範囲には含まれないものである。
　以上のとおりであるから、各実施例における測定結果を参酌しても、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」の上限が「２．５０秒」であることは記載も示唆もされていない。
　次に、この点に関する被請求人の主張について検討する。
（ｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（２）「ゼロクロス時間」の上限値について」において、
「確かに、明細書には、１８０℃を超える温度において熱処理を行うとハンダ濡れ性が低下することが記載されており（明細書の段落【００２６】）、また表１には１８０℃で熱処理を行ったタブ端子（試料３）のハンダ濡れ性が「○」であり、１８０℃を超える温度である２００℃で熱処理を行ったタブ端子（試料４）のハンダ濡れ性は「×」となっております。しかしながら、これらの記載をもって、１８０℃で熱処理を行ったタブ端子（試料３）のＺＣＴ値（２．８５秒）がＺＣＴ値の上限であるとまではいえません。すなわち、表１では、便宜的にハンダ濡れ性を「○」や「×」で表しているものの、明細書に「○」及び「×」の評価基準が明確に定義されている訳ではなく、当業者であればＺＣＴ値の数値によってハンダ濡れ性の程度を理解するはずであり、表１の評価結果に接した際に、ＺＣＴ値が２．８５秒（試料３）であるからハンダ濡れ性は良好であり、ＺＣＴ値が２．９９秒（試料４）であるからハンダ濡れ性は不良であるとは理解しません。本件明細書の表１に接した当業者であれば、各試料のＺＣＴ値の数値から、
　　　「試料２」＞「試料１」＞「試料５」＞「試料３」＞「試料４」
の順でハンダ濡れ性が良好であると理解するのであって、決して、試料１〜３及び試料５のハンダ濡れ性は良好であり試料４のハンダ濡れ性は不良であるというようには理解しません。実際、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験法（平衡法）（乙第３号証）においても、ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）がハンダ濡れ性の指標とされておりますが、ＺＣＴ値＝２．８５秒がハンダ濡れ性の善し悪しを決する境界であるなどとは説明されておりません。」
と主張する。
　確かに、本件特許明細書等には、「○」及び「×」の評価基準は記載されていない。しかしながら、本件特許の明細書の段落【００１１】等の記載によれば、本件特許明細書等に記載の課題は、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」タブ端子を提供することであり、かつ、試験結果の評価は当該課題に沿ってなされるのが普通であることを勘案すると、本件特許明細書等にハンダ濡れ性に関する「○」及び「×」の評価基準が明確に定義されていなくても、当業者であれば、当該「○」及び「×」の評価は課題を解決できているか否かによってなされたものであると解釈する、すなわち、「ハンダ濡れ性を損ねる」ことがなければ「○」で、「ハンダ濡れ性を損ねる」のであれば「×」であると解釈するのが普通である。
　また、表１において、試料４は「比較例」であって「実施例」ではないから、当該試料４が上記課題を解決できていないことは明らかであるが、試料４の「ウィスカ長さ」の値は、「実施例」である試料１ないし３の「ウィスカ長さ」の値よりも小さいから、当該試料４は上記課題のうちの「ウィスカの発生が抑制できる」点については満たしているといえる。そうすると、試料４が「実施例」ではなく「比較例」である理由は、上記課題のうち「ハンダ濡れ性を損ねることなく」という点を満たしていないからであることは当業者にとって明らかであり、そうすると、当業者であれば、表１の「ハンダ濡れ性」の欄の「○」及び「×」の記号は、「○」は「ハンダ濡れ性を損ねない」と解釈し、「×」は「ハンダ濡れ性を損ねる」と解釈するのが普通である。
　さらに、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」という上記課題を考慮せず、かつ、試料４及び試料５が実施例ではなく比較例であることや、「ハンダ濡れ性」の欄の「○」及び「×」という記載も考慮せずに、表１の「ＺＣＴ値」の欄の値の大小関係（「試料２」＞「試料１」＞「試料５」＞「試料３」＞「試料４」）のみに着目しなければならない合理的な根拠は認められない。
　そして、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験法（平衡法）（乙第３号証）において、ＺＣＴ値＝２．８５秒がハンダ濡れ性の善し悪しを決する境界であると記載されていなくても、上述のとおり、本件特許明細書等の記載から、試料１ないし試料４が、課題を解決できているか否かや、「○」及び「×」という記号の意味は、当業者であれば十分に理解できるものである。
　以上のとおりであるから、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｉｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（２）「ゼロクロス時間」の上限値について」において、上記（ｉ）の主張に続けて、本件特許の明細書の段落【００２６】の記載を摘示した上で、
「明細書の上記記載に接した当業者であれば、ウィスカ抑制の観点からはより多くの酸化スズを形成することが好ましいが、リード線表面のスズメッキ（金属スズ）の全てを酸化スズにしてしまうとハンダ濡れ性が低下するため、ウィスカ抑制とハンダ濡れ性との両立の観点からは、金属スズと酸化スズとを適度にバランスさせなければならないこと、そして、本件特許発明の効果（ウィスカ抑制とハンダ濡れ性との両立）がより一層奏されると考えられる好ましい実施形態によれば、タブ端子の熱処理温度は「８０〜１５０℃」の温度範囲で「１５〜３０分」の時間であると、理解します。
　そして、上記したとおり、当業者が「試料２」＞「試料１」＞「試料５」＞「試料３」＞「試料４」の順にハンダ濡れ性が良好であると理解していることを踏まえると、１８０℃で熱処理を行った試料３（実施例３）のタブ端子よりも、熱処理を行っていない試料５（比較例２）や１１０℃で熱処理を行っている試料１（実施例１）及び１３０℃で熱処理を行っている試料２（実施例２）の方が、ハンダ濡れ性が良好であると当業者は理解するはずであり、「１８０℃がハンダ濡れ性の観点での熱処理温度の上限である」といったような誤った理解をするはずはありません。」
と主張する。
　しかしながら、上記段落【００２６】には、「本発明では、６０〜１８０℃の温度範囲において、酸素雰囲気下で、タブ端子を熱処理することにより、タブ端子の溶接部分のスズを酸化して、酸化スズを形成するものである。」のように、温度範囲の上限が「１８０℃」であることは明記されている。さらに、上述したように、同段落の「スズを酸化するためには高温で行うことが好ましいが、１８０℃を超える温度において熱処理を行うと、スズの酸化が進みすぎるため、リード線表面のメッキが変色するだけでなくハンダ濡れ性が低下してしまう。」という記載や表１の「○」及び「×」の記載からみて、「１８０°Ｃ」がハンダ濡れ性の観点での熱処理温度の上限であるであると認められる。そうすると、「８０〜１５０℃」は、上記「６０〜１８０℃の温度範囲」内の「好ましい」温度範囲を記載したものにすぎないから、「１８０℃がハンダ濡れ性の観点での熱処理温度の上限である」という理解は誤りである旨の被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｉｉｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（３）訂正事項Ａ−ｂ（ゼロクロス時間が２．５０秒以下である）の根拠」において、
「しかしながら、上記のとおり、当業者が、ウィスカ抑制とハンダ濡れ性との両立を図ることができる熱処理温度として、「６０〜１８０℃」の範囲よりも「８０〜１５０℃」の範囲の方がより好ましいと理解していることを踏まえると、表１の記載に接した当業者であれば、１８０℃で熱処理を行った場合の試料３（ＺＣＴ値が２．８５秒）よりも、ウィスカ抑制とハンダ濡れ性との両立という観点からは、「２．８５秒よりも小さい値のＺＣＴ値」を有するタブ端子がより好ましい実施形態であると認識できます。
　そして、ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できるタブ端子を提供するという本件特許発明の課題（明細書の段落【００１１】）も参酌すれば、当該「２．８５秒よりも小さいＺＣＴ値」とは、ハンダ濡れ性を損ねない程度（当審注：「損ねない」には傍点が付されている。）、すなわち、ウィスカ抑制のための熱処理を行わない従来のタブ端子が有しているハンダ濡れ性を維持できる程度と理解するはずです。すなわち、本件特許の明細書に接した当業者は、技術常識に照らせば「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できるタブ端子」を実現するには、ウィスカの発生を抑制できるように酸化スズを形成しながら、従来のタブ端子（即ち、熱処理を行わなかった試料５）のＺＣＴ値と同程度の「２．５０秒」を少なくとも備えている必要があると理解します。」
と主張する。
　しかしながら、被請求人は、「ハンダ濡れ性を損ねない程度」という技術事項を、「すなわち、ウィスカ抑制のための熱処理を行わない従来のタブ端子が有しているハンダ濡れ性を維持できる程度」という技術事項に言い換えているが、本件特許明細書等に記載の課題は「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」ということであって、「試料５（比較例２）のＺＣＴ値（２．５０秒）を超えることなく」ということではないから、「ハンダ濡れ性を損ねない程度」とは、「ハンダ濡れ性を損ねることなく」という課題を解決できる程度と解すべきであって、被請求人が主張するように理解しなければならない合理的な根拠を見いだすことはできない。
　すなわち、表１の試料５（比較例２）は、熱処理を行った場合と行わない場合の比較をするための単なる一例にすぎず、本件特許明細書等には、試料５（比較例２）のＺＣＴ値（２．５０秒）を少なくとも備えている必要があることについては何ら記載も示唆もない。逆に、表１において、試料５（比較例２）のＺＣＴ値（２．５０秒）を超えるＺＣＴ値（２．８５秒）となった試料３が、比較例ではなく実施例とされていること、及び、そのハンダ濡れ性が「○」と評価されていることからみて、「タブ端子のＺＣＴ値と同程度の「２．５０秒」を少なくとも備えている必要がある」という技術思想を導き出すことは到底できない。
　なお、訂正事項Ｄ−ｂにおいては、試料５（比較例２）のＺＣＴ値（２．５０秒）を超えるＺＣＴ値を含む数値範囲（「２．８５秒以下」）になっているから、被請求人の「従来のタブ端子（即ち、熱処理を行わなかった試料５）のＺＣＴ値と同程度の「２．５０秒」を少なくとも備えている必要がある」という主張は、上記訂正事項Ｄ−ｂの内容と整合していない。
　したがって、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｉｖ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（３）訂正事項Ａ−ｂ（ゼロクロス時間が２．５０秒以下である）の根拠」において、上記（ｉｉｉ）の主張に続けて、
「また、ＪＩＳ　Ｃ−００５３　はんだ付け試験方法（平衡法）（乙第３号証）の「付属書Ｂ　はんだ付け試験に平衡法を適用する指針」の「Ｂ６．１．１　ぬれが始まる時間」の項（ＪＩＳ　Ｃ−００５３の第２７６頁）には、「それゆえ、ｔ０とＡとの時間間隔がぬれが始まる時間である。多数の部品を同時にはんだ付けする工程で取り付けられる部品の場合、この時間は、フラックスの種類と供試品の熱特性に依存するが、２．５秒以下にすることが望ましい。」（傍点は被請求人による。）（当審注：引用箇所中の「２．５秒以下」には傍点が付されている。）との記載があることからも明らかなように、当業者は、ウィスカ発生の抑制がなされていない従来のタブ端子は、ハンダ濡れ性の指標としてＺＣＴ値が２．５秒以下とされているという技術常識を有しております。また、ＪＩＳ　Ｃ−００５３　はんだ付け試験方法（平衡法）（乙第３号証）の「付属書Ｂ　はんだ付け試験に平衡法を適用する指針」の「Ｂ２．供試品の形状」の項（ＪＩＳ　Ｃ−００５３の２７４頁）には、「この規格は、横断面周りの全体がはんだでぬれるように設計された部品端子について試験するときに、この方法を適用することを指示している。」との記載もあります。
　そうすると、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できるタブ端子」を実現するために、ＺＣＴ値の上限を「２．５０秒」以下とすることについて、明細書に直接的な記載はなくとも、当業者であれば、日本工業規格（ＪＩＳ　Ｃ−００５３）でこの方法を適用することを指示されていることおよび上記のとおり「多数の部品を同時にはんだ付けする工程で取り付けられる部品は２．５秒以下にすることが望ましい。」（傍点は被請求人による。）（当審注：引用箇所中の「２．５秒以下」には傍点が付されている。）との指導的な記載もある（アルミ電解コンデンサの）当該技術分野における当然の技術常識を示しており、明らかに記載されているのと同じことであると理解します。
　以上のことから、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３　はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以下である」という発明特定事項は、明細書の全ての記載と上記の当該技術分野における当然の技術常識から導かれる技術的事項であることは明らかであり、何ら新たな技術的事項を導入するものではありません。」
と主張する。
　しかしながら、本件特許明細書等には、ＪＩＳ Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）によりゼロクロス時間（ＺＣＴ値）を測定することが記載されているだけであって（上記「（ア）（ｃ）」）、当該ＪＩＳ　Ｃ−００５３の付属書Ｂの「２．５秒以下にすることが望ましい。」という事項については記載も示唆もない。すなわち、本件特許明細書等には、ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）を測定するための方法として、ＪＩＳ Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）を用いることが単に記載されているだけであって、測定対象となる試料を作製する際に、当該ＪＩＳ　Ｃ−００５３の付属書Ｂの「２．５秒以下にすることが望ましい。」という事項を満たすように作製することや、当該ＪＩＳ　Ｃ−００５３の付属書Ｂの「２．５秒以下にすることが望ましい。」という事項を満たしているか否かを試験することは記載も示唆もない。
　また、本件特許の明細書の試料５（比較例２）のＺＣＴ値についても、ＪＩＳ　Ｃ−００５３の上記「２．５秒以下にすることが望ましい」という記載に基づいて、「２．５０秒」となるように調整されたものであることを示唆する記載もない。
　また、そもそも、ＪＩＳ　Ｃ−００５３　はんだ付け試験方法（平衡法）（乙第３号証）の「付属書Ｂ　はんだ付け試験に平衡法を適用する指針」の上記「Ｂ６．１．１　ぬれが始まる時間」の項には、「この時間は、
フラックスの種類と供試品の熱特性に依存する
望ましい
　なお、被請求人が平成３０年８月９日付け意見書に添付した乙第４号証（特許第４９５４４０６号公報）及び乙第５号証（特許第５３３７９４３号公報）に記載のものにおいても、ＺＣＴ値をＪＩＳ　Ｃ−００５３に記載の「２．５０秒以下」には制限してはいない。
　したがって、ＪＩＳ　Ｃ−００５３の付属書Ｂに「２．５秒以下にすることが望ましい」という記載があるからといって、本件特許明細書等にＺＣＴ値の上限を「２．５０秒」とするという技術思想が開示されているとまではいえないから、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｂ）数値範囲の下限について
　次に、「ゼロクロス時間」の数値範囲の下限について検討すると、訂正事項Ａ−ｂにはゼロクロス時間の下限は特定されていない。したがって、訂正事項Ａ−ｂによって特定される数値範囲は、例えば、試料２（実施例２）の「２．３０秒」（表１参照）よりも小さいゼロクロス時間も含むものである。
　ところで、上記「（ア）（ｃ）」で摘示した表１には、ウィスカの成長抑制処理として熱処理を行った場合の試料１ないし４（実施例１ないし３と比較例１）の熱処理温度とＺＣＴ値が記載されているが、それらの値の関係からみて、上記熱処理温度と上記ＺＣＴ値との間には、単調増加あるいは単調減少のような単調性が認められない。したがって、実際に測定された「１１０°Ｃ」「１３０°Ｃ」「１８０°Ｃ」「２００°Ｃ」以外の熱処理温度において、どのようなＺＣＴ値をとるのかを予測することは当業者といえども困難であるといわざるを得ない。
　また、本件特許明細書等には、「６０〜１８０℃の温度範囲において、酸素雰囲気下で、タブ端子を熱処理することにより」（上記「（ア）（ｂ）」参照）のように、試料１（実施例１）の上記「１１０°Ｃ」よりも低い熱処理温度で熱処理することが記載されている。しかしながら、熱処理温度を試料２（実施例２）の「１３０°Ｃ」から上記試料１（実施例１）の「１１０°Ｃ」に下げた場合、ＺＣＴ値は「２．３０秒」から「２．３５秒」に増加しており、かつ、熱処理を行っていない試料５（比較例２）の「２．５０秒」に近付いていることからみて、熱処理温度を上記「１１０°Ｃ」よりも低い熱処理温度、すなわち、「６０°以上１１０°未満」の温度としたとしても、ＺＣＴ値が試料２（実施例２）の「２．３０秒」よりも小さくなる蓋然性は極めて低いといわざるを得ない。
　そうすると、本件特許明細書等には、ウィスカの成長抑制処理として熱処理を行った場合において、ゼロクロス時間を２．３０秒未満とする技術、すなわち、ウィスカの成長を抑制しつつも、ハンダ濡れ性を実施例２の２．３０秒よりもさらに向上させる技術は記載も示唆もされていない。
　さらに、上記「（ア）（ｄ）」で摘示した表２には、ウィスカの成長抑制処理として溶剤処理を行った場合の試料６及び７（実施例４及び５）の処理溶剤とＺＣＴ値が記載されているが、いずれのＺＣＴ値も上記「２．３０秒」を上回っており、ＺＣＴ値が「２．３０秒」未満となる実施例は記載されておらず、かつ、それらの実施例からＺＣＴ値が「２．３０秒」未満となる具体的な処理溶剤を推測することもできない。
　以上のとおりであるから、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることは記載も示唆もされていない。
　次に、この点に関する被請求人の主張（反論）について検討する。
（ｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（６）「ゼロクロス時間」の下限値について」において、
「しかしながら、訂正前の特許請求の範囲の請求項１の範囲には、「ゼロクロス時間が２．５０秒以下である」実施態様、「ゼロクロス時間が２．８５秒以下である」等の実施態様はもちろんのこと、「ゼロクロス時間が２．３０未満である」実施態様も含まれていたものであり、ゼロクロス時間が２．３０未満である実施態様が、訂正事項Ａ−ｂないし訂正事項Ｄ−ｂによって新たにその範囲に含まれるようになったものではありません。すなわち、訂正事項Ａ−ｂないし訂正事項Ｄ−ｂはいずれも、訂正前の特許請求の範囲の請求項１のうち、ゼロクロス時間が特定の値よりも大きい実施態様を請求項から除外することを意図したものであり、本件特許明細書にはゼロクロス時間を２．３０秒未満とする実施態様が特許請求の範囲に含まれることは、訂正の前後を通して何ら変わりがありません。そのため、本件特許明細書にはゼロクロス時間を２．３０秒未満とする技術の記載の有無に拘わらず、訂正事項Ａ−ｂないし訂正事項Ｄ−ｂが法１３４条１項１号の要件を充足していることは明らかです。」
と主張する。
　しかしながら、訂正前の特許請求の範囲にゼロクロス時間に関して何ら特定がなされていないからと言って、ゼロクロス時間の全ての数値範囲を実現可能にする技術が本件特許明細書等に開示されているということはできないから、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｉｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（６）「ゼロクロス時間」の下限値について」において、上記（ｉ）の主張に続けて、
「また、ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）がハンダ濡れ性の指標として技術的意味を有するのは、「○○秒以下」という上限のみであり、「○○秒以上」というように下限値を規定することは、ハンダ濡れ性に関する技術的課題の解決手段として何の意味も持ちません。現に、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）（乙第３号証）の第２７６頁には、「それゆえ、ｔ０とＡとの時間間隔がぬれが始まる時間である。多数の部品を同時にはんだ付けする工程で取り付けられる部品の場合、この時間は、フラックスの種類と供試品の熱特性に依存するが、２．５秒以下にすることが望ましい。」（傍点は被請求人による。）（当審注：引用箇所中の「２．５秒以下」には傍点が付されている。）との記載がありますが、この記載はただ単に「２．５秒以下」という数値範囲を示しているに留まらず、「ハンダ濡れ性」という概念は、ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）がある一定値以下であるか否かという基準で評価されるという、当該技術分野における当然の技術常識を示しております（中略）。すなわち、明細書の実施例に接した当業者は、そこに記載されたそれぞれのＺＣＴ値について、その数値以下という技術的意味を読み取るのが通常であり、逆に、その数値以上ということに技術的意義を見いだすことは考えられません。よって、ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）の下限値を規定することは、本件発明の技術的課題の解決手段として全く無意味という他ありませんので、その意味においても、この点が訂正要件違反の根拠とはなり得ないことは明らかです。」
と主張する。
　しかしながら、本件特許明細書等に記載の課題は、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」タブ端子を提供することであるから、ウィスカの発生が抑制できるか否かを考慮せずにハンダ濡れ性のみに着目して、「ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）の下限値を規定することは、本件発明の技術的課題の解決手段として全く無意味」であるということはできない。特に、ウィスカの成長抑制処理とゼロクロス時間との間に、平成２９年１０月１１日付け意見書の第３頁において被請求人が図示するような関係があることを勘案すると、ＺＣＴ値の値が小さくなればウィスカ成長抑制効果も小さくなり、「ハンダ濡れ性を損ねることなく」という課題は解決できているが、「ウィスカの発生が抑制できる」という課題が解決できない場合も生じうるのであるから、「ゼロクロス時間（ＺＣＴ値）の下限値を規定することは、本件発明の技術的課題の解決手段として全く無意味」であるということはできない。
　したがって、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｉｉｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（６）「ゼロクロス時間」の下限値について」において、上記（ｉｉ）の主張に続けて、
「また、上記５（２）〜（５）において説明したとおり、本件訂正発明はハンダ濡れ性を維持しつつウィスカ発生抑制処理がなされたタブ端子を得ようとするものであって、ハンダ濡れ性が優れたタブ端子を得ようとするものではありません。すなわち、訂正事項Ａ−ｂの「ゼロクロス時間が２．５０秒以下」や訂正事項Ｂ−ｂの「ゼロクロス時間が２．３５秒以下」等の訂正事項は、可能な限りゼロクロス時間を０秒に近づけることを意図しているものではなく、ウィスカ発生抑制処理である酸化スズ形成処理において、酸化スズ形成度合いの上限を規定したものに他ならず、少なくとも本件訂正発明の技術的思想において「０秒以上、２．３０秒未満」のゼロクロス時間の範囲に、格別の技術的重要性がないことは明らかです。換言すれば、訂正事項Ａ−ｂは、タブ端子のゼロクロス時間が２．５０秒を超えない程度に、タブ端子の溶接部に酸化スズ形成処理（熱処理）を行うことを規定したものであり、ウィスカ発生抑制と無関係にゼロクロス時間ができるだけ小さい値を有する（ハンダ濡れ性が非常に優れた）タブ端子を実現することを規定したものではありません。したがって、この意味においても、ハンダ濡れ性を実施例２の２．３０秒よりもさらに向上させる技術が本件特許明細書に記載されているか否かが、訂正事項Ａ−ｂないし訂正事項Ｄ−ｂの適否に影響しないことは明らかです。」（当審注：上記「ハンダ濡れ性を維持」「ハンダ濡れ性が優れた」「２．５０秒を超えない程度」には、傍点が付されている。）
と主張する。
　しかしながら、本件特許明細書等に記載の課題は、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」タブ端子を提供することであり、数値範囲の技術的評価は上記課題を解決できているか否かでなされるべきものであるから、「０秒以上、２．３０秒未満」というゼロクロス時間の数値範囲において、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制でき」ているか否かを考慮することなく、「『０秒以上、２．３０秒未満』のゼロクロス時間の範囲に、格別の技術的重要性がない」及び「ハンダ濡れ性を実施例２の２．３０秒よりもさらに向上させる技術が本件特許明細書に記載されているか否かが、訂正事項Ａ−ｂないし訂正事項Ｄ−ｂの適否に影響しない」とする被請求人の上記主張は採用することができない。
　そして、「０秒以上、２．３０秒未満」というゼロクロス時間の数値範囲において、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制でき」ているか否かについて、本件特許明細書等には、当該「０秒以上、２．３０秒未満」に含まれる実施例の記載はなく、上述したように「０秒以上、２．３０秒未満」とするための具体的技術の開示もなく、さらに、ゼロクロス時間が「０秒以上、２．３０秒未満」である場合のウィスカの長さや評価等についても何ら記載されていないのであるから、本件特許明細書等には、ゼロクロス時間を「０秒以上、２．３０秒未満」とすることによって、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」という課題を解決することは開示されていないと言わざるをえない。
（ｉｖ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（６）「ゼロクロス時間」の下限値について」において、上記（ｉｉｉ）の主張に続けて、
特許第４９５４４０６号（乙第４号証）の請求項３、６、及び９に「ゼロクロスタイムが４．５秒以下である」という記載があること、及び、同じく特許第５３３７９４３号（乙第５号証）の請求項５に「はんだ濡れ性のゼロクロス時間が０．６５秒以下である」という記載があることに基づく主張を行っているが、本件とは別の特許明細書等においてゼロクロス時間の下限値が特定されていないからといって、本件特許明細書等において、ゼロクロス時間を「０秒以上、２．３０秒未満」とすることによって、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」という課題を解決することが開示されているということはできないから、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（エ）まとめ
　以上を総合すると、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」の上限を「２．５０秒」とすることは記載も示唆もされておらず、また、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることも記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ａ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえない。
　よって、上記訂正事項Ａ−ｂを含む訂正事項Ａは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
（３）訂正事項Ｂについて
ア　訂正の目的について
　訂正事項Ｂは、
ａ）訂正前の請求項２が引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項を含むように請求項２の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｂ−ａ」という。）と、
ｂ）「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．３５秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｂ−ｂ」という。）とを、 
含むものである。 
　そして、請求項２の記載を独立形式に書き換える上記訂正事項Ｂ−ａは、特許法第１３４条の２第１項ただし書第４号に規定する「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」を目的とする訂正である。
　また、上記訂正事項Ｂ−ｂは、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．３５秒以下である」との発明特定事項を他の発明特定事項に対して直列的に付加するものであるから、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｂ−ａは、請求項２を独立形式に書き換えているだけであって、何ら実質的内容の変更を伴うものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
　また、訂正事項Ｂ−ｂは、上記「ア」に示したとおり、発明特定事項を直列的に付加することによって、特許請求の範囲を減縮するものであるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
ウ　願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｂ−ａは、訂正前の請求項１に記載されている事項であるから、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するものである。
　次に、訂正事項Ｂ−ｂについて検討する。
（ア）「ゼロクロス時間」の測定方法について
　訂正事項Ｂ−ｂには、電解コンデンサ用タブ端子の「ゼロクロス時間」は「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定された」ものであることが特定されているが、この点については、上記「（２）ウ（ア）（ｃ）」で摘示したように、本件特許明細書等に記載された事項である。
（イ）「ゼロクロス時間」の数値範囲について
（ａ）数値範囲の上限について
　上記「（２）ウ（ア）（ｃ）」で摘示した表１には、熱処理温度が「１１０°Ｃ」である試料１（実施例１）のＺＣＴ値が「２．３５秒」でハンダ濡れ性が「○」であることが記載されており、また、上記「（２）ウ（ア）（ｄ）」で摘示した表２には、処理溶剤が「ケイフッ化アンモニウム」である試料７（実施例５）のＺＣＴ値が「２．３５秒」でハンダ濡れ性が「○」であることが記載されている。しかしながら、上記表１及び表２には、「２．３５秒」よりも大きいＺＣＴ値が測定された試料３（実施例３：２．８５秒）や試料６（実施例４：２．４０秒）のハンダ濡れ性も「○」と記載されているから、ＺＣＴ値の上限が「２．３５秒」であることを当該表１及び表２から読み取ることはできない。
　また、本件特許明細書等の上記表１及び表２以外の記載をみても、「２．３５秒」を数値範囲の上限とすることや、数値範囲の上限を「２．３５秒」とすることに関する課題や効果、特に、臨界的意義について何ら記載されていない。
　一方、上記「（２）ウ（ウ）（ａ）」で説示したように、本件特許明細書等には、熱処理温度が「１８０°Ｃ」である試料３（実施例３）のＺＣＴ値である「２．８５秒」が、「ゼロクロス時間」の上限であることが示唆されているということができる。
　以上を総合すると、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」の上限が「２．３５秒」であることは記載も示唆もされていない。
　次に、この点に関する被請求人の主張（反論）について検討する。
（ｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（４）訂正事項Ｂ−ｂ（ゼロクロス時間が２．３５秒以下である）の根拠」において、
「上記のとおり、明細書の記載及び技術常識を踏まえると、当業者であれば、本件特許発明の効果（ウィスカ抑制とハンダ濡れ性との両立）がより一層奏されると考えられる好ましい実施形態によれば、タブ端子の熱処理条件は「８０℃から１５０℃」の温度範囲で「１５分〜３０分」の時間であると理解します。そして、実施例の表１に示された評価結果も踏まえると、１１０℃で２０分間の熱処理を行った試料１（実施例１）が、ウィスカ長さが０．１６ｍｍと短く且つＺＣＴ値が２．３５秒と小さく、特に好ましい実施態様であると理解できます。
　以上を踏まえると、ハンダ濡れ性とウィスカ発生抑制とを両立できるタブ端子として記載されている試料１（実施例１）のＺＣＴ値を、本件特許発明の効果がより一層奏される実施態様、すなわち、ハンダ濡れ性とウィスカ発生抑制とをより一層高いレベルで実現できるタブ端子の指標とすることは、何ら新たな技術的事項を導入するものではありません。」
と主張する。
　しかしながら、本件特許明細書等に記載の課題は、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できる」タブ端子を提供することであることや、請求項２には酸化スズ形成処理がタブ端子を熱処理することにより行われることまでは特定されておらず、溶剤処理により行われることも含むものであることを勘案すると、試料１と同じウィスカ長さである試料３（実施例３）のＺＣＴ値（２．８５秒）や、試料１よりも短いウィスカ長さである試料６（実施例４）のＺＣＴ値（２．４０秒）を除外して、試料１のＺＣＴ値（２．３５秒）を上限とすることに、合理的な根拠を見いだすことはできないから、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｂ）数値範囲の下限について
　訂正事項Ｂ−ｂにはゼロクロス時間の下限は特定されていないから、訂正事項Ａ−ｂと同様に、訂正事項Ｂ−ｂによって特定される数値範囲も、例えば、試料２（実施例２）の「２．３０秒」（表１参照）よりも小さいゼロクロス時間も含むものである。 
　しかしながら、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で説示したように、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることは記載も示唆もされていない。 
　また、この点に関する被請求人の主張（反論）については、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で検討した内容と同じであり、採用することはできない。
（ウ）まとめ
　以上を総合すると、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」の上限を「２．３５秒」とすることは記載も示唆もされておらず、また、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることも記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｂ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえない。
　よって、上記訂正事項Ｂ−ｂを含む訂正事項Ｂは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
（４）訂正事項Ｃについて
ア　訂正の目的について
　訂正事項Ｃは、
ａ）訂正前の請求項３が引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項を含むように請求項３の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｃ−ａ」という。）と、
ｂ）「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる（但し、前記電解コンデンサ用タブ端子について、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く。）」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｃ−ｂ」という。）とを、 
含むものである。 
　そして、請求項３の記載を独立形式に書き換える上記訂正事項Ｃ−ａは、特許法第１３４条の２第１項ただし書第４号に規定する「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」を目的とする訂正である。
　また、上記訂正事項Ｃ−ｂは、「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる（但し、前記電解コンデンサ用タブ端子について、ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く。）」との発明特定事項を他の発明特定事項に対して直列的に付加するものであるから、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｃ−ａは、請求項３を独立形式に書き換えているだけであって、何ら実質的内容の変更を伴うものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
　また、訂正事項Ｃ−ｂは、上記「ア」に示したとおり、発明特定事項を直列的に付加することによって、特許請求の範囲を減縮するものであるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
ウ　願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｃ−ａは、訂正前の請求項１に記載されている事項であるから、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するものである。
　次に、訂正事項Ｃ−ｂについて検討する。
（ア）溶接部の成分について
　訂正事項Ｃ−ｂには、「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる」ことが特定されているが、これは、本件特許の明細書の段落【００２６】に記載された事項である。
（イ）「ゼロクロス時間」の測定方法について
　訂正事項Ｃ−ｂには、電解コンデンサ用タブ端子の「ゼロクロス時間」は「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定された」ものであることが特定されているが、この点については、上記「（２）ウ（ア）（ｃ）」で摘示したように、本件特許明細書等に記載された事項である。
（ウ）「ゼロクロス時間」の数値範囲について
　訂正事項Ｃ−ｂには、「ゼロクロス時間」の数値範囲について、「２．５０秒以上のものを除く」ことが特定されているが、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く」旨の直接的な記載はなされていない。
　そこで、「ゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く」ということが、「ゼロクロス時間が２．５０秒未満である」ことと実質的に同じことであるから、「ゼロクロス時間が２．５０秒未満である」ことが、本件特許明細書等に記載されているか否かについてさらに検討する。
（ａ）数値範囲の上限について
　上記「（２）ウ（ウ）（ａ）」で説示したように、本件特許明細書等には、熱処理温度が「１８０°Ｃ」である試料３（実施例３）のＺＣＴ値である「２．８５秒」が、「ゼロクロス時間」の上限であることが示唆されているということができる。そして、ハンダ濡れ性が「○」である上記試料３（実施例３）を除外することや除外する理由等について、本件特許明細書等には何ら記載されていない。また、「ゼロクロス時間」の上限が「２．８５秒」よりも小さい値でなければならない他の理由も何ら記載されていない。そうすると、「ゼロクロス時間が２．５０秒未満である」ことは、本件特許明細書等には記載されていない。
　次に、この点に関する被請求人の主張（反論）について検討する。
（ｉ）被請求人は、平成３０年８月９日付け意見書の「５」の「（５）訂正事項Ｃ−ｂ（ゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く）の根拠」において、
「上記のとおり、本件特許の明細書に接した当業者は、技術常識に照らせば「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できるタブ端子」を実現するには、ウィスカの発生を抑制できるように酸化スズを形成しながら、従来のタブ端子（即ち、熱処理を行わなかった試料５）のＺＣＴ値と同程度の「２．５０秒」を少なくとも備えている必要があると理解します。
　すなわち、当業者であれば、従来のタブ端子（即ち、熱処理を行わなかった試料５）のＺＣＴ値と同程度の「２．５０秒」よりも大きい値のＺＣＴ値を有するタブ端子は、「ハンダ濡れ性を損ねることなく、ウィスカの発生が抑制できるタブ端子」から除外されるべきものであると理解します。」
と主張する。
　しかしながら、上記「（２）ウ（ウ）（ａ）（ｉ）」で説示したとおり、本件特許の明細書に記載の「○」は「ハンダ濡れ性を損ねない」と解釈するのが普通であり、ＺＣＴ値が「２．８５秒」である試料３（実施例３）のハンダ濡れ性は「○」であると評価されていることからみて、ＺＣＴ値が従来のタブ端子のＺＣＴ値（２．５０秒）よりも大きいということのみをもって、「ハンダ濡れ性とウィスカ発生抑制とを両立し得ない」ということはできないし、従来のタブ端子のＺＣＴ値（２．５０秒）を少なくとも備えている必要があるということもできない。
　したがって、被請求人の上記主張を採用することはできない。
（ｂ）数値範囲の下限について
　訂正事項Ｃ−ｂにはゼロクロス時間の下限は特定されていないから、訂正事項Ａ−ｂと同様に、訂正事項Ｃ−ｂによって特定される数値範囲も、例えば、試料２（実施例２）の「２．３０秒」（表１参照）よりも小さいゼロクロス時間も含むものである。
　しかしながら、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で説示したように、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることは記載も示唆もされていない。
　また、この点に関する被請求人の主張（反論）については、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で検討した内容と同じであり、採用することはできない。
（エ）まとめ
　以上を総合すると、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間が２．５０秒以上のものを除く」こと、又は、「ゼロクロス時間が２．５０秒未満である」ことは記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｃ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえない。
　よって、上記訂正事項Ｃ−ｂを含む訂正事項Ｃは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
（５）訂正事項Ｄについて
ア　訂正の目的について
　訂正事項Ｄは、
ａ）訂正前の請求項３が引用していた請求項２がさらに引用していた請求項１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理であ」るという発明特定事項と、訂正前の請求項３が引用していた請求項２の「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてな」るという発明特定事項とを含むように請求項３の記載を書き替える訂正事項（以下、「訂正事項Ｄ−ａ」という。）と、
ｂ）「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．８５秒以下である」という発明特定事項を付加する訂正事項（以下、「訂正事項Ｃ−ｂ」という。）とを、 
含むものである。 
　そして、請求項３の記載を独立形式に書き換える上記訂正事項Ｄ−ａは、特許法第１３４条の２第１項ただし書第４号に規定する「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」を目的とする訂正である。
　また、上記訂正事項Ｄ−ｂは、「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定されたゼロクロス時間が２．８５秒以下である」との発明特定事項を他の発明特定事項に対して直列的に付加するものであるから、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｄ−ａは、請求項３を独立形式に書き換えているだけであって、何ら実質的内容の変更を伴うものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
　また、訂正事項Ｄ−ｂは、上記「ア」に示したとおり、発明特定事項を直列的に付加することによって、特許請求の範囲を減縮するものであるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第６項の規定に適合するものである。
ウ　願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であるか否かについて
　訂正事項Ｄ−ａは、訂正前の請求項１及び２に記載されている事項であるから、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するものである。
　次に、訂正事項Ｄ−ｂについて検討する。
（ア）「ゼロクロス時間」の測定方法について
　訂正事項Ｄ−ｂには、電解コンデンサ用タブ端子の「ゼロクロス時間」は「ＪＩＳ　Ｃ−００５３はんだ付け試験方法（平衡法）に準拠して測定された」ものであることが特定されているが、この点については、上記「（２）ウ（ア）（ｃ）」で摘示したように、本件特許明細書等に記載された事項である。
（イ）「ゼロクロス時間」の数値範囲について
（ａ）数値範囲の上限について
　上記「（２）ウ（ウ）（ａ）」で説示したように、明細書には、熱処理温度が「１８０°Ｃ」である試料３（実施例３）のＺＣＴ値である「２．８５秒」が、「ゼロクロス時間」の上限であることが示唆されているということができる。
　したがって、数値範囲の上限が「２．８５秒」であることは、本件特許明細書等に記載された事項である。
（ｂ）数値範囲の下限について
　訂正事項Ｄ−ｂにはゼロクロス時間の下限は特定されていないから、訂正事項Ａ−ｂと同様に、訂正事項Ｄ−ｂによって特定される数値範囲も、例えば、試料２（実施例２）の「２．３０秒」（表１参照）よりも小さいゼロクロス時間も含むものである。 
　しかしながら、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で説示したように、本件特許明細書等には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることは記載も示唆もされていない。　
　また、この点に関する被請求人の主張（反論）については、上記「（２）ウ（ウ）（ｂ）」で検討した内容と同じであり、採用することはできない。
（ウ）まとめ
　以上を総合すると、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲には、「ゼロクロス時間」を「２．３０秒」よりも小さい値とすることも記載も示唆もされていない。
　したがって、上記訂正事項Ｄ−ｂは、願書に添付した明細書又は特許請求の範囲に記載した事項の範囲内のものであるとはいえない。
　よって、上記訂正事項Ｄ−ｂを含む訂正事項Ｄは、特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
（６）訂正の請求単位について
　上記「（３）ウ（ウ）」で述べたとおり、請求項２に係る訂正事項Ｂは訂正要件を満たしていないから、上記訂正事項Ｂに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｂ−ａ）も認めることはできない。したがって、請求項２について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
　また、上記「（４）ウ（ウ）」で述べたとおり、請求項３に係る訂正事項Ｃは訂正要件を満たしていないから、上記訂正事項Ｃに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｃ−ａ）も認めることはできない。したがって、請求項１を引用する請求項３について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
　さらに、上記「（５）ウ（ウ）」で述べたとおり、請求項３に係る訂正事項Ｄは訂正要件を満たしていないから、上記訂正事項Ｄに含まれる引用関係の解消（訂正事項Ｄ−ａ）も認めることはできない。したがって、請求項１を引用する請求項２を引用する請求項３（訂正後の請求項１７とその従属請求項である請求項１８ないし２３）について、引用元の請求項と別の請求単位として扱わない。
　そうすると、本件訂正の請求単位は、請求項１ないし１６からなる一群の請求項である。
（７）請求項１ないし１６からなる一群の請求項に係る訂正の適否についての結論
　上記「（２）」ないし「（５）」で説示したとおり、上記訂正事項Ａ（訂正事項１）、訂正事項Ｂ（訂正事項１３）、訂正事項Ｃ（訂正事項２５）、及び訂正事項Ｄ（訂正事項３４）は、いずれも特許法第１３４条の２第９項で準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するものではない。
　したがって、他の訂正事項について判断するまでもなく、請求項１ないし１６からなる一群の請求項に係る訂正は、これを認めることができない。
第４　本件発明
　上記「第３」のとおり、本件訂正の請求を認めることができないから、特許第４４５２９１７号の請求項１ないし１６に係る発明（以下、「本件発明１」ないし「本件発明１６」という。）は、特許権の設定登録時の特許請求の範囲の請求項１ないし１６に記載された事項により特定されるものであるところ、本件発明１ないし１６はそれぞれ次のとおりのものである。
「【請求項１】
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線が溶接されてなる電解コンデンサ用タブ端子であって、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理である、電解コンデンサ用タブ端子。
【請求項２】
　前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる、請求項１に記載のタブ端子。
【請求項３】
　前記の酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる、請求項１または２に記載のタブ端子。
【請求項４】
　前記熱処理が、６０〜１８０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項３に記載のタブ端子。
【請求項５】
　前記熱処理が、８０〜１５０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項３に記載のタブ端子。
【請求項６】
　前記の酸化スズ形成処理が、溶剤処理により行われる、請求項１または２に記載のタブ端子。
【請求項７】
　前記溶剤処理が、リード線端部にアルミ芯線を溶接した直後に行われるものである、請求項６に記載のタブ端子。
【請求項８】
　前記溶剤が、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩、およびこれらの混合物からなる群から選択される無機酸塩を含んでなる水溶液である、請求項６に記載のタブ端子。
【請求項９】
　前記溶剤が、さらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液である、請求項８に記載のタブ端子。
【請求項１０】
　前記水溶液の濃度が、１〜１０重量％である、請求項８または９に記載のタブ端子。
【請求項１１】
　請求項１〜１０に記載のタブ端子の製造方法であって、
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接してタブ端子を準備する工程、および
　前記溶接されたタブ端子を、熱処理する工程、
を含んでなる、タブ端子の製造方法。
【請求項１２】
　前記熱処理が、６０〜１８０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１１に記載の製造方法。
【請求項１３】
　前記熱処理が、８０〜１５０℃の範囲において酸素雰囲気下で行われる、請求項１１に記載の製造方法。
【請求項１４】
　請求項１〜１０に記載のタブ端子の製造方法であって、
　芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接する工程、および
　溶接直後に、前記溶接部分に溶剤を塗布して付着させる工程、
を含んでなり、
　前記溶剤が、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩、およびこれらの混合物からなる群から選択される無機酸塩を含んでなる水溶液であり、
　前記水溶液の濃度が、１〜１０重量％である、タブ端子の製造方法。
【請求項１５】
　前記溶剤が、さらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液である、請求項１４に記載の製造方法。
【請求項１６】
　前記溶接部分に溶剤を塗布する際の、溶接部分の温度が、８０〜２５０℃である、請求項１４または１５に記載の製造方法。」
第５　無効理由に対する当審の判断
１　請求項１ないし６、８ないし１３に係る発明の特許について
　事案に鑑み、まず無効理由１−２（特許法第２９条第２項）から検討する。
　なお、上記「第２」の「２（１）」のとおり、被請求人は、平成２８年１１月３０日付けの訂正請求が認められないとした場合について、すなわち、上記本件発明１ないし６、８ないし１３について、上記無効理由１−２に対する意見は特にないと陳述している。
（１）引用発明
ア　甲第１号証の記載事項
　請求人が提出した甲第１号証（特開２０００−２７７３９８号公報）には、「コンデンサ用リード線の製造方法」に関して、図面とともに以下の記載がある。（下線は当審で付与した。）
（ア）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
すずめっきされた銅線とアルミニウム線とが溶接されたコンデンサ用リード線
（イ）「【０００４】本発明の課題は、
ウィスカの発生を防止することができるコンデンサ用リード線
（ウ）「【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、以下のような解決手段により、前記課題を解決する。すなわち、請求項１の発明は、
すずめっきされた銅線とアルミニウム線とが溶接されたコンデンサ用リード線の製造方法
前記コンデンサ用リード線をアルカリ性洗浄液で洗浄する洗浄工程
前記コンデンサ用リード線を高温加熱して、溶接部にウィスカが発生するのを防止する乾燥工程
【０００６】請求項２の発明は、請求項１に記載のコンデンサ用リード線の製造方法において、前記洗浄工程は、温度９０°Ｃ〜９９°Ｃで約１２分間洗浄する工程であり、
前記乾燥工程は、温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する工程
（エ）「【０００７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の実施形態についてさらに詳しく説明する。図１は、コンデンサ用リード線の一部を省略して示す図であり、図２は、リード線製造装置の概略構成図である。
コンデンサ用リード線１は、
極めて純度の高いすずがめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１とを溶接部１２で溶接したものである。
リード線製造装置２は、
洗浄装置２０と
乾燥装置２５
を備えている
（オ）「【０００８】
前記洗浄装置２０は、例えば、アルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって、コンデンサ用リード線１を洗浄する洗浄槽である。この洗浄装置２０は、
アルミニウム線１１を脱脂したり
（カ）「【００１０】
前記乾燥装置２５は、コンデンサ用リード線１を加熱して乾燥するとともに、溶接部１２にウィスカが発生するのを防止する装置である。この乾燥装置２５は、コンデンサ用リード線１を温度約１５０°で約２１分間加熱する。
（キ）「【００１１】次に、本発明の実施形態に係るコンデンサ用リード線の製造方法を説明する。図２に示すように、コンデンサ用リード線１が搬送ユニット２７ａ内に図中Ａ方向から搬入されると、この搬送ユニット２７ａを搬送装置２７が図中Ｂ方向に搬送する。
コンデンサ用リード線１は、洗浄装置２０内で洗浄されて、アルミニウム線１１が脱脂されるとともに、銅線１０とアルミニウム線１１とを溶接するときに発生するカーボンが除去される（洗浄工程）。
そして、コンデンサ用リード線１は、乾燥装置２５内で加熱乾燥され、ウィスカの発生が防止される（乾燥工程）。
（ク）「【００１２】本発明の実施形態に係るコンデンサ用リード線の製造方法は、以下に記載するような効果を有する。
（１）　本発明の実施形態では、
コンデンサ用リード線１をアルカリ性の洗浄液で洗浄し、
このコンデンサ用リード線１を加熱している。
アルカリ性の洗浄液で洗浄した後に、コンデンサ用リード線１を温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱して、溶接部１２にウィスカが発生するのを防止することができる。
（ケ）「【００１４】本発明は、以上説明した実施形態に限定するものではなく、種々の変形又は変更が可能であって、これらも本発明の範囲内である。例えば、本発明の実施形態では、
コンデンサ用リード線１を温度１５０°Ｃで２１分間加熱しているが、例えば、温度１００°Ｃ〜１２５°Ｃで４時間程度加熱してもよい。
（コ）「【００１５】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明によれば、
コンデンサ用リード線をアルカリ性洗浄液で洗浄し、
前記コンデンサ用リード線を加熱して、溶接部にウィスカが発生するのを防止するので、ウィスカの発生を防止することができる。
（サ）図１の記載からみて、すずめっきされた銅線１０の端部にアルミニウム線１１が溶接されている。
イ　甲第１号証に記載された発明（引用発明１ないし３）
（ア）引用発明１
　乾燥装置２５の乾燥工程において「コンデンサ用リード線１を温度約１５０°で約２１分間加熱する」こと（上記「ア（カ）」）に着目して、上記「ア」の「（ア）ないし（エ）、（カ）ないし（サ）」の記載事項及び図面の記載を総合すると、甲第１号証には、次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されている。
「すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１が溶接されたコンデンサ用リード線１であって、前記コンデンサ用リード線１は温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される、コンデンサ用リード線１。」
（イ）引用発明２
　洗浄装置２０の洗浄工程において「アルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって、コンデンサ用リード線１を洗浄する」こと（上記「ア（オ）」）に着目して、上記「ア」の「（ア）ないし（オ）、（キ）ないし（シ）」の記載事項及び図面の記載を総合すると、甲第１号証には、次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されている。
「すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１が溶接されたコンデンサ用リード線１であって、前記コンデンサ用リード線１はアルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって洗浄される、コンデンサ用リード線１。」
（ウ）引用発明３
　上記引用発明１の「コンデンサ用リード線１」について、その製造方法に着目して、上記「ア」の「（ア）ないし（エ）、（カ）ないし（シ）」の記載事項及び図面の記載を総合すると、甲第１号証には、次の発明（以下、「引用発明３」という。）が記載されている。
「『すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１が溶接されたコンデンサ用リード線１であって、前記コンデンサ用リード線１は温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される、コンデンサ用リード線１』（引用発明１）の製造方法であって、
　すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１を溶接する工程、および、すずめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１とが溶接されたコンデンサ用リード線１を、温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する工程、を含んでなるコンデンサ用リード線１の製造方法。」
（２）本件発明１について
ア　対比
　本件発明１と引用発明１とを対比する。
（ア）引用発明１の「銅線１０」は、本件発明１の「リード線」の「芯材」に相当し、また、引用発明１の前記「銅線１０」は「すずめっきされた」ものであるから、その「表面にスズからなる金属層が形成されて」いるといえる。そうすると、引用発明１の「すずめっきされた銅線１０」は、本件発明１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線」に相当する。
（イ）引用発明１の「アルミニウム線１１」は、本件発明１の「アルミ芯線」に相当する。
（ウ）引用発明１においては、コンデンサ用リード線１が「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことによって、すずめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１の溶接部１２も当然に加熱されると認められる。また、上記「（１）ア」の「（ウ）（カ）（ク）（コ）」によれば、そのような加熱によって「溶接部１２にウィスカが発生するのを防止する」ことができ、ウィスカが発生するのを防止することは、ウィスカの成長を抑制することに他ならない。そうすると、引用発明１においても、本件発明１と同様に、「溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されて」いるということができる。
　そうすると、本件発明１と引用発明１の一致点は、
「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、アルミ芯線が溶接されてなり、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなる」点
であり、次の各点において相違する。
＜相違点１＞
　本件発明１のアルミ芯線は「圧扁部」を有するのに対して、引用発明１のアルミニウム線１１がこれを有するか不明である点。
＜相違点２＞
　本件発明１は「電解コンデンサ用タブ端子」であるのに対して、引用発明１は「コンデンサ用リード線」である点。
＜相違点３＞
　本件発明１のウィスカ抑制処理は「酸化スズ形成処理」であるのに対して、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことが「酸化スズ形成処理」であるか不明である点。
イ　判断
　上記各相違点について検討する。
（ア）相違点１について
　コンデンサ用リード線に用いられるアルミニウム線に圧扁部を設けることは、本件優先日時点における周知技術にすぎず（請求人が提出した甲第３号証（特開平９−２１３５９２号公報）の【０００２】、図３等及び甲第４号証（特開平９−１３９３２６号公報）の【０００２】、図１等を参照のこと。）、これを引用発明１に適用することを妨げるべき事由は見当たらない。
　そうすると、引用発明１に上記周知技術を適用して、上記相違点１に係る構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
（イ）相違点２について
　すずめっきされた銅線とアルミニウム線が溶接されたコンデンサ用リード線をアルミ電解コンデンサ用のタブ端子とすることは、本件優先日時点における周知技術にすぎず（請求人が提出した甲第２号証（特開平９−４５５７９号公報）の【００１３】等、甲第３号証の【０００２】等、甲第４号証の【０００２】等を参照のこと。）、これを引用発明１に適用することを妨げるべき事由は見当たらない。
　そうすると、引用発明１に上記周知技術を適用して、上記相違点２に係る構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
（ウ）相違点３について
　請求人が提出した甲第５号証（化学辞典）には「スズは室温では空気中で安定であるが、高温では酸素と反応してＳｎＯ２となる。」（第７１５頁）と記載されており、甲第６号証（特開平９−２７４０６０号公報）には「錫メッキ層の表面には、時効によって、酸化錫の皮膜が形成される」（【００１４】）及び「室温の大気中に放置してその時効によって形成される酸化皮膜の厚さ、通常大気中で１５０℃という高温雰囲気下に１時間放置したときに形成される酸化皮膜の厚さ」（【００２０】）と記載されており、甲第７号証（「錫めっきコンタクトの温度サイクルによる劣化メカニズムとその加速試験法」と題する記事）には錫めっきコネクタについて「高温になると・・・露出した錫表面は高温のために急速に酸化される」（第５６頁）と記載されており、甲第８号証（「端子圧着部における皮膜の電気的破壊についての一考察」と題する記事）にはＣｕ−Ｓｎ−Ｆｅ−Ｐ合金にＣｕ（銅）下地めっきとＳｎ（スズ）めっきとを施したテスト端子を１２０°Ｃで１０００時間放置した場合に「Ｓｎめっき材料ではほとんどが酸化錫（４［当審注：原文の表記はローマ数字］）（ＳｎＯ２）であった」（第８２頁）と記載されており、それらの記載を総合すると、スズめっきを空気（大気）中で高温加熱すると、その表面に酸化スズ（ＳｎＯ２）が形成されることは、本件優先日当時の技術常識であったものと認められる。
　また、上記「（１）ア」の「（ウ）（キ）（ク）（コ）」によれば、引用発明１の上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことは、コンデンサ用リード線の洗浄工程後の乾燥工程で行われることである。そして、どのような雰囲気下で乾燥するのかについては、甲第１号証には断り（特定）はないものの、コンデンサ用リード線を洗浄した後の乾燥を、酸素を含む大気雰囲気下（すなわち、「酸素雰囲気下」）で行うことは極々一般的であるから、引用発明１の上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことを酸素雰囲気下で行うことはごく普通のことである。
　そうすると、引用発明１の上記コンデンサ用リード線１は「極めて純度の高いすずがめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１とを溶接部１２で溶接したものである。」（上記「（１）ア（エ）」）から、上記技術常識に照らせば、引用発明１のように「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことによって、溶接部１２に酸化スズが形成されることは当業者にとって明らかである。
　したがって、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことは、本件発明１の「酸化スズ形成処理」に当たるものであると認められるから、上記相違点３は実質的な相違点ではない。
（エ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明１は、甲第１号証に記載された引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（３）本件発明２について
ア　対比
　本件発明２と引用発明１とを対比すると、上記「（２）ア」で示した点で一致し、上記「（２）ア」で示した相違点１ないし３に加えて以下の点で相違する。
＜相違点４＞
　本件発明２は「前記の酸化スズ形成処理により、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれてなる」のに対して、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことにより、溶接部１２に少なくともＳｎＯまたはＳｎＯ２が含まれることになるか不明である点。
イ　判断
（ア）相違点１ないし３について
　上記「（２）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）相違点４について
　上記「（２）イ（ウ）」で述べた上記技術常識に照らせば、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことにより、溶接部１２に酸化スズ（少なくともＳｎＯ２）が形成されることは当業者にとって明らかである。したがって、上記相違点４は実質的な相違点ではない。
（ウ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明２は、甲第１号証に記載された引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（４）本件発明３について
ア　対比
　上記「（２）イ（ウ）」で述べたとおり、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことは、「酸化スズ形成処理」に当たるものであると認められるから、引用発明１も、本件発明３と同様に「酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる」ものである。
　そうすると、本件発明３と引用発明１は、上記「（２）ア」で示した相違点１ないし３で相違し、その余の点で一致する。
イ　判断
（ア）相違点１ないし３について
　上記「（２）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明３は、甲第１号証に記載された引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（５）本件発明４及び５について
ア　対比
　引用発明１は「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ものであり、その温度は本件発明４の「６０〜１８０℃」及び本件発明５の「８０〜１５０℃」の範囲内であるから、熱処理の温度の点に関しては、本件発明４及び５と引用発明１とは相違しない。
　一方、甲第１号証には、上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことが、どのような雰囲気下で行われるかについては記載されていない。
　そうすると、本件発明４及び５と引用発明１は、上記「（２）ア」で示した相違点１ないし３に加えて以下の点で相違し、その余の点で一致する。
＜相違点５＞
　本件発明４及び５は「熱処理」が「酸素雰囲気下で行われる」のに対して、引用発明１の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことが酸素雰囲気下で行われるか不明である点。
イ　判断
（ア）相違点１ないし３について
　上記「（２）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）相違点５について
　上記「（２）イ」の「（ウ）」で判断したとおり、甲第１号証にはどのような雰囲気下で乾燥するかについて特に断り（特定）がなく、かつ、コンデンサ用リード線を洗浄した後の乾燥を、酸素を含む大気雰囲気下（すなわち、「酸素雰囲気下」）で行うことは極々一般的であるから、引用発明１の上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことを酸素雰囲気下で行うことはごく普通のことである。
（ウ）まとめ 
　以上のとおりであるから、本件発明４及び５は、甲第１号証に記載された引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（６）本件発明６について
ア　対比
　本件発明６と引用発明２とを対比する。
（ア）上記「（２）ア」の「（ア）（イ）」で述べたのと同様に、引用発明２の「すずめっきされた銅線１０」は、本件発明６の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線」に相当し、引用発明２の「アルミニウム線１１」は、本件発明６の「アルミ芯線」に相当する。
（イ）引用発明２において、「アルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって洗浄される」ことは、「溶剤処理」であるということができるが、甲第１号証には、上記「洗浄液によって洗浄される」ことによって酸化スズが形成されることまでは記載されていない。
（ウ）引用発明２において、コンデンサ用リード線１が「洗浄液によって洗浄される」ことによって、すずめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１の溶接部１２も当然に洗浄液によって洗浄される。
　そうすると、本件発明６と引用発明２の一致点は、
「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、アルミ芯線が溶接されてなり、前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、溶剤処理が施されてなる」点
であり、次の各点において相違する。
＜相違点６＞
　本件発明６のアルミ芯線は「圧扁部」を有するのに対して、引用発明２のアルミニウム線１１がこれを有するか不明である点。
＜相違点７＞
　本件発明６は「電解コンデンサ用タブ端子」であるのに対して、引用発明２は「コンデンサ用リード線」である点。
＜相違点８＞
　本件発明６の「溶剤処理」が「酸化スズ形成処理」（すなわち「ウィスカ抑制処理」）であるのに対して、引用発明２の「アルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって洗浄される」ことが「酸化スズ形成処理」であるか不明である点。
イ　判断
（ア）相違点６について
　上記「（２）イ（ア）」で述べたのと同様に、コンデンサ用リード線に用いられるアルミニウム線に圧扁部を設けることは、本件優先日時点における周知技術にすぎず、これを引用発明２に適用することを妨げるべき事由は見当たらない。
　そうすると、引用発明２に上記周知技術を適用して、上記相違点６に係る構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
（イ）相違点７について
　上記「（２）イ（イ）」で述べたのと同様に、すずめっきされた銅線とアルミニウム線が溶接されたコンデンサ用リード線をアルミ電解コンデンサ用のタブ端子とすることは、本件優先日時点における周知技術にすぎず、これを引用発明２に適用することを妨げるべき事由は見当たらない。
　そうすると、引用発明２に上記周知技術を適用して、上記相違点７に係る構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
（ウ）相違点８について
　本件発明６の「溶剤処理」について、本件特許の明細書には、「本発明に用いられる処理溶剤としては、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、および硫酸塩からなる群から選択される無機酸塩を含む水溶液を用いることが好ましく、さらにアンモニウム塩を含む水溶液であることが好ましい。」（【００３１】）及び「上記の処理溶剤を用いることにより、ハンダ濡れ性に悪影響を及ぼさない程度にスズを酸化することができる。」（【００３２】）と記載されており、それらの記載からみて、電解コンデンサ用タブ端子を、珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、および硫酸塩からなる群から選択される無機酸塩を含む水溶液を用いて処理することにより、酸化スズが形成されると認められる。
　一方、引用発明２に「非エッチング型弱アルカリクリーナ」として挙げられている「ファインクリーナ３１５」は、請求人が提出した甲第９号証（特開２００４−２５３３１１号公報）の「アルカリ洗浄液は日本パーカライジング株式会社製のファインクリーナー３１５（ホウ酸ナトリウム（水和物）；６０〜６５質量％、縮合リン酸塩；２５〜３０質量％、界面活性剤；５〜１０質量％、キレート剤；１質量％以下）の３％水溶液を用いた。」（【００４１】）という記載によれば、縮合リン酸塩等を含み、アルカリ洗浄液（水溶液）として用いられるものであるから、引用発明２の洗浄液は、本件特許の明細書に記載の上記処理溶剤に含まれるものである。
　そうすると、引用発明２においても、「アルミニウム及びその合金用の非エッチング型弱アルカリクリーナ（商品名：ファインクリーナ３１５）などの洗浄液によって洗浄される」ことによって、すずめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１の溶接部１２に酸化スズが形成され、ウィスカの成長が抑制されると認められる。
　したがって、相違点８は実質的な相違点ではない。
（エ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明６は、甲第１号証に記載された引用発明２及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（７）本件発明８について
ア　対比
　上記「（６）イ（ウ）」で述べたとおり、引用発明２の「洗浄液」は縮合リン酸塩等を含むファインクリーナ３１５を用いているから、本件発明８の「珪酸塩、ホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩、およびこれらの混合物からなる群から選択される無機酸塩を含んでなる水溶液」に当たるものである。
　そうすると、本件発明８と引用発明２は、上記「（６）ア」で示した相違点６ないし８で相違し、その余の点で一致する。
イ　判断
（ア）相違点６ないし８について
　上記「（６）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明８は、甲第１号証に記載された引用発明２及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（８）本件発明９について
 ア　対比
　本件発明９と引用発明２とを対比すると、上記「（６）ア」で示した相違点６ないし８に加えて以下の点で相違し、その余の点で一致する。
＜相違点９＞
　本件発明９の溶剤が「さらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液である」であるのに対して、引用発明２の洗浄液はアンモニウム塩を含んでいない点。
イ　判断
（ア）相違点６ないし８について
　上記「（６）イ」の（ア）ないし（ウ）で判断したとおりである。
（イ）相違点９について
　リン酸塩等の無機酸塩にさらにアンモニウム塩を含んでなる水溶液を、金属材料の脱脂処理液として用いることは、本件優先日時点における周知技術にすぎず（請求人が提出した甲第１３号証（特開２０００−１４４４４５号公報）の【００１５】、表１及び２を参照のこと。）、かつ、引用発明２の洗浄液は、脱脂を目的の１つとするものであるから（上記「（１）ア（オ）」）、引用発明２の洗浄液に上記周知技術を適用してアンモニウム塩も含めるようにすることは、当業者が適宜なし得ることであり、そのようにすることの効果も、引用発明２及び上記周知技術の効果から当業者が予測し得る範囲内のものである。
（ウ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明９は、甲第１号証に記載された引用発明２及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（９）本件発明１０について
ア　対比
　本件発明１０と引用発明２とを対比すると、上記「（６）ア」で示した相違点６ないし８に加えて以下の点で相違し、その余の点で一致する。
＜相違点１０＞
　本件発明１０は「前記水溶液の濃度が、１〜１０重量％である」のに対して、引用発明２は洗浄液の濃度が不明である点。
イ　判断
（ア）相違点６ないし８について
　上記「（６）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）相違点１０について
　引用発明２における洗浄液は、ファインクリーナ３１５などを用いているが、甲第９号証の「アルカリ洗浄液は日本パーカライジング株式会社製のファインクリーナー３１５（ホウ酸ナトリウム（水和物）；６０〜６５質量％、縮合リン酸塩；２５〜３０質量％、界面活性剤；５〜１０質量％、キレート剤；１質量％以下）の３％水溶液を用いた。」（【００４１】）という記載によれば、ファインクリーナー３１５を用いたアルカリ洗浄液（水溶液）の濃度は３％としているから、引用発明２において、洗浄液（水溶液）の濃度を１〜１０重量％とすることは、当業者が普通になし得ることであって、格別のものではない。
（ウ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明１０は、甲第１号証に記載された引用発明２及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
 
（１０）本件発明１１について
ア　対比
　本件発明１１と引用発明３とを対比する。
（ア）本件発明１１の発明特定事項のうち、請求項１１が引用する請求項１に記載されている発明特定事項（すなわち、本件発明１の発明特定事項）については、本件発明１についての対比結果（上記「（２）ア」）と同様であり、上記相違点１ないし３で相違し、その余の点で一致する。
（イ）本件発明１１の発明特定事項のうち、請求項１１に記載されている製造方法に関する発明特定事項については、まず、引用発明３の「すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１を溶接する工程」は、加熱する対象となるコンデンサ用リード線１を「準備する」工程であるということができる。そうすると、本件発明１１の「芯材表面にスズからなる金属層が形成されてなるリード線端部に、圧扁部を有するアルミ芯線を溶接してタブ端子を準備する工程」と引用発明３の「すずめっきされた銅線１０の端部に、アルミニウム線１１を溶接する工程」は、上記「（２）ア」で示した相違点１（アルミ芯線が圧扁部を有するか否か）及び相違点２（電解コンデンサ用タブ端子であるかコンデンサ用リード線であるか）以外の点では相違しない。
　また、引用発明３の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する工程」は、「熱処理する工程」であるということができる。そうすると、本件発明１１の「前記溶接されたタブ端子を、熱処理する工程」と引用発明３の「すずめっきされた銅線１０とアルミニウム線１１とが溶接されたコンデンサ用リード線１を、温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する工程」についても、上記相違点１及び相違点２以外に相違する点は認められない。
　そうすると、本件発明１１と引用発明３は、上記「（２）ア」で示した相違点１ないし３で相違し、その余の点で一致する。
イ　判断
（ア）相違点１ないし３について
　上記「（２）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明１１は、甲第１号証に記載された引用発明３及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（１１）本件発明１２及び１３について
ア　対比
　引用発明３は「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する」ものであり、その温度は本件発明１２の「６０〜１８０℃」及び本件発明１３の「８０〜１５０℃」の範囲内であるから、熱処理の温度の点に関しては、本件発明１２及び１３と引用発明３とは相違しない。
　一方、甲第１号証には、上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことが、どのような雰囲気下で行われるかについては記載されていない。
　そうすると、本件発明１２及び１３と引用発明３とを対比すると、上記「（２）ア」で示した相違点１ないし３に加えて以下の点で相違し、その余の点で一致する。
＜相違点１１＞
　本件発明１２及び１３は「熱処理」が「酸素雰囲気下で行われる」のに対して、引用発明３の「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱する」ことが酸素雰囲気下で行われるか不明である点。
イ　判断
（ア）相違点１ないし３について
　上記「（２）イ」の「（ア）ないし（ウ）」で判断したとおりである。
（イ）相違点１１について
　相違点１１は上記相違点５と実質的に同じであるから、上記「（５）イ（イ）」と同様の理由で、引用発明３の上記「温度約１５０°Ｃで約２１分間加熱される」ことを酸素雰囲気下で行うことは、当業者がごく普通になし得ることである。
（ウ）まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明１２及び１３は、甲第１号証に記載された引用発明３及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（１２）請求項１ないし６、８ないし１３に係る発明の特許についてのまとめ
　以上のとおりであるから、本件発明１ないし６、８ないし１３は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。したがって、請求項１ないし６、８ないし１３に係る発明の特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであるから、無効理由１−１、２ないし４について検討するまでもなく、請求項１ないし６、８ないし１３に係る発明の特許は無効とすべきものである。
２　請求項７に係る発明の特許について
　上記「１」で検討した無効理由１−２の対象となっていない請求項７に係る発明（本件発明７）の特許に対しては、無効理由２ないし４が主張されており、まず、無効理由４（特許法第３６条第６項第２号）について検討する。
（１）請求人の主張
　審判請求書の「（１−４）　特許法第３６条第６項第２号（特許法第１２３条第１項第４号）」（第１０〜１１頁）において、請求人は、無効理由４について次のとおり主張する。（なお、４−ａないしｃという番号は当審で付与したものである。）
ア　無効理由４−ａ
「本件発明１は、「前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理である、」という構成要件を備えるものであり、ここで、「ウィスカ（成長）抑制処理」及び「酸化スズ形成処理」は、電解コンデンサ用タブ端子を製造するための一工程であると認められるため、本件発明１には、電解コンデンサ用タブ端子の製造方法が記載されていることは明らかである。また、本件特許の優先日前において、電解コンデンサ用タブ端子を、その構造又は特性により直接特定することが不可能であるか、又はおよそ実際的でないという事情が存在したとも認められない。
　したがって、本件発明１、及びそれに従属する本件発明２乃至１０は不明確である。」
イ　無効理由４−ｂ
「また、本件発明１は、「前記リード線と前記アルミ芯線との溶接部に、ウィスカの成長抑制処理が施されてなり、前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理である、」という構成要件を備えるものであるが、酸化スズの「形成量」については規定されておらず、「酸化スズ形成処理」が、スズが空気に晒されて形成される酸化スズと比べて、どの程度更に酸化スズを形成する処理なのかが明らかでない。仮に、「前記のウィスカ抑制処理が、酸化スズ形成処理である」という構成要件から、酸化スズの形成量を、「ウィスカの成長を抑制することができる程度の量」と解釈した場合であっても、どの程度ウィスカの成長を抑制した場合に「ウィスカの成長を抑制することができる」と判断できるのかが明確でないため、この場合も、「酸化スズ形成処理」による酸化スズの「形成量」を特定することができない。
　したがって、本件発明１、及びそれに従属する本件発明２乃至１０は不明確である。」
ウ　無効理由４−ｃ
「さらに、本件発明３は、「前記の酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる」という構成要件を備え、本件発明６は、「前記の酸化スズ形成処理が、溶剤処理により行われる」という構成要件を備える。ここで、「熱処理」及び「溶剤処理」は、電解コンデンサ用タブ端子を製造するための一工程であると認められるため、本件発明３及び６には、電解コンデンサ用タブ端子の製造方法が記載されていることは明らかである。また、本件特許の優先日前において、電解コンデンサ用タブ端子を、その構造又は特性により直接特定することが不可能であるか、又はおよそ実際的でないという事情が存在したとも認められない。
　したがって、本件発明３及びそれに従属する本件発明４乃至５並びに本件発明６及びそれに従属する請求項７乃至１０は不明確である。」
（２）当審の判断
　まず、上記無効理由４−ｃについて検討する。 
　本件発明１ないし１０は「電解コンデンサ用タブ端子」という物の発明であり、請求項１に記載の「酸化スズ形成処理」に関して、上記請求項１を引用する請求項３には、「前記の酸化スズ形成処理が、タブ端子を熱処理することにより行われる」と記載され、また、同じく上記請求項１を引用する請求項６には「前記の酸化スズ形成処理が、溶剤処理により行われる」と記載されている。
　そして、上記「タブ端子を熱処理することにより行われる」及び「溶剤処理により行われる」という事項は、電解コンデンサ用タブ端子の製造に関する技術的な特徴を表したものであるから、上記請求項３及び６にはその物の製造方法が記載されているといえる。
　ここで、物の発明に係る特許請求の範囲にその物の製造方法が記載されている場合において、当該特許請求の範囲の記載が特許法第３６条第６項第２号にいう「発明が明確であること」という要件に適合するといえるのは、出願時において当該物をその構造又は特性により直接特定することが不可能であるか、又はおよそ実際的でないという事情（以下「不可能・非実際的事情」という）が存在するときに限られると解するのが相当である（最高裁第二小法廷平成２７年６月５日　平成２４年（受）第１２０４号、平成２４年（受）第２６５８号）。 
　しかしながら、本件特許の明細書には不可能・非実際的事情について何ら記載がなく、当業者にとって不可能・非実際的事情が明らかであるとも言えない。
　また、被請求人は、請求項３ないし１０を削除する訂正事項を含む訂正を平成２８年１１月３０日付けで請求したため、同日付けの審判事件答弁書において、上記無効理由４−ｃについての反論や、不可能・非実際的事情の主張は行っていない。
　さらに、上記「第２」の「２（１）」で示したとおり、被請求人は、上記無効理由４に対して、平成２８年１１月３０日付けの訂正請求が認められないとした場合について、意見は特にないと陳述した。
　したがって、請求項３及び６に係る発明（本件発明３及び６）は明確でなく、上記請求項３を引用する請求項４及び５に係る発明（本件発明４及び５）並びに上記請求項６を引用する請求項７ないし１０に係る発明（本件発明７ないし１０）も明確でない。
（３）請求項７に係る発明の特許についてのまとめ
　以上のとおりであるから、少なくとも無効理由４−ｃの点で、請求項７に係る発明（本件発明７）は明確でないから、請求項７に係る発明の特許は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してなされたものである。よって、無効理由２及び３について検討するまでもなく、請求項７に係る発明の特許は無効とすべきものである。
第６　むすび
　上記「第５」の「１」で示したとおり、請求項１ないし６、８ないし１３に係る発明の特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであるから、同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきものである。また、上記「第５」の「２」で示したとおり、請求項７に係る発明の特許は、同法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してなされたものであるから、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきものである。
　審判に関する費用については、特許法第１６９条第２項で準用する民事訴訟法第６１条の規定により、被請求人が負担すべきものとする。
　よって、結論のとおり審決する。