【誤訳訂正書】
【提出日】平成27年5月13日(2015.5.13)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
本発明の更に別の模範的な実施例によれば、情報を平均化することにより、スペックル雑音が情報内のスペックル雑音よりも小さい結果データを生成可能である。第１の構造は、カテーテル構造内に存在可能である。第２の構造は、サンプルアームから少なくとも第１及び第２波面を、そして、基準アームから更なる電磁放射を受信可能である干渉計構造を包含可能である。第１及び第２波面は、サンプルの一部内の略同一の焦点容積と関連するものであってよい。第２の構造は、共焦点顕微鏡構造を包含可能である。電磁放射の第２波面の特性は、第２波面の位相であってよく、この場合に、位相は、最大で約２πだけ変更可能である。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプルの少なくとも１つの部分に関係する情報であって平均化された画像である情報を生成するシステムにおいて、
少なくとも１つの部分から受信しまたは前記少なくとも１つの部分に伝送した少なくとも１つの電磁放射の波面を空間的に変更するように構成されたマイクロ変形可能ミラーを備える、少なくとも１つの第１の構造を備え、前記少なくとも１つの第１の構造は、
ｉ）前記少なくとも１つの電磁放射の、前記少なくとも１つの部分からの受信または前記少なくとも１つの部分への伝送の少なくとも１つを実行し、
ｉｉ）少なくとも１つの第１伝送波面を生成するために、前記少なくとも１つの部分から受信された又は前記少なくとも１つの部分に対して伝送されたいずれかの前記少なくとも１つの電磁放射の少なくとも１つの第１波面を提供し、
ｉｉｉ）前記第１伝送波面を生成した後に、前記マイクロ変形可能ミラーを用いて、前記第１伝送波面とは異なる少なくとも１つの第２変更波面を生成するために、前記少なくとも１つの部分から受信された又は前記少なくとも１つの部分に対して伝送されたいずれかの前記少なくとも１つの電磁放射の少なくとも１つの第２波面の少なくとも１つの特性を変更するように形成され、前記サンプルに入る場合の前記少なくとも１つの第２変更波面の伝送方向は、前記サンプルを退出する場合の前記少なくとも１つの第２変更波面の伝送方向と反対である、前記第１の構造と、
前記第１伝送波面に関連する第１スペックル画像と前記第２伝送波面に関連する第２スペックル画像とを生成する為に、前記部分を横方向にスキャンし又は深度スキャンを実行するように構成された、他の構造と、さらに
前記第１伝送波面に関連する前記第１スペックル画像及び前記第２変更波面に関連する前記第２スペックル画像に基づいて前記平均化された画像を生成するべく構成された少なくとも１つの第２の構造と、
を有するシステム。
【請求項２】
前記少なくとも１つの第１の構造の前記マイクロ変形可能ミラーは、前記少なくとも１つの第２波面の前記少なくとも１つの特性の前記変更の前に、前記少なくとも１つの第１波面の少なくとも１つの特性を変更することにより、第１変更波面を生成する、請求項１記載のシステム。
【請求項３】
前記少なくとも１つの第２の構造は、前記第１及び第２変更波面に基づいて前記情報を生成する、請求項２記載のシステム。
【請求項４】
前記少なくとも１つの第２の構造は、前記第１及び第２変更波面に基づいて更なる情報を生成し、前記更なる情報は、前記少なくとも１つの電磁放射を受信する前記少なくとも１つの部分の焦点容積よりも小さい前記少なくとも１つの部分の特定の容積と関連している、請求項２記載のシステム。
【請求項５】
前記少なくとも１つの第１の構造は、電気光学空間光変調構造、回転又は並進、反射又は透過性の要素、又は、動的に変更可能な特性を有する装置であって前記少なくとも１つの電磁放射の波面を能動的に変更するように構成された装置のうちの、少なくとも１つを有する、請求項１記載のシステム。
【請求項６】
前記少なくとも１つの第２の構造は、前記情報を平均化することにより、スペックル雑音が前記情報内のスペックル雑音よりも小さい合成データを生成するべく構成されている、請求項１記載のシステム。
【請求項７】
前記少なくとも１つの第１の構造は、カテーテル構造内に存在している、請求項１記載のシステム。
【請求項８】
前記少なくとも１つの第２の構造は、サンプルアームから少なくとも前記第１及び第２波面を、そして、基準アームから更なる電磁放射を受信する干渉計構造を有する、請求項１記載のシステム。
【請求項９】
前記第１及び第２波面は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分内の略同一の焦点容積と関連している、請求項１記載のシステム。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの第２の構造は、共焦点顕微鏡構造を有する、請求項１記載のシステム。
【請求項１１】
前記少なくとも１つの電磁放射の前記少なくとも１つの第２波面の前記少なくとも１つの特性は、前記少なくとも１つの第２波面の位相であり、この場合に、前記少なくとも１つの第１の構造の前記マイクロ変形可能ミラーは、最大で約２πだけ前記位相を変更する、請求項１記載のシステム。
【請求項１２】
前記少なくとも１つの第１の構造は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分又は前記第１の構造又は前記第２の構造の少なくとも１つの内部の光ビーム経路の少なくともいずれかと関連する既定の波面歪みを補償するべく更に構成されている、請求項１記載のシステム。
【請求項１３】
前記少なくとも１つの第１の構造は、少なくとも１本の光ファイバ又はピンホールを具備した構造の少なくともいずれかである少なくとも１つの第３の構造を更に有しており、この場合に、前記少なくとも１つの第３の構造は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分から受信した前記少なくとも１つの電磁放射の少なくとも１つの部分を選択するべく構成されている、請求項１記載のシステム。
【請求項１４】
前記情報は、前記少なくとも１つの部分の反射率、その内部における動き、又は偏光特性のうちの、少なくとも１つと関連している、請求項１記載のシステム。
【請求項１５】
前記少なくとも１つの電磁放射を使用して前記少なくとも１つの部分をスキャンすることにより、前記少なくとも１つの部分の二次元画像又は三次元画像の少なくともいずれかと関連する更なる情報を生成するべく構成された、更なる構造を更に有する、請求項１記載のシステム。
【請求項１６】
前記サンプルは、解剖学的な構造を含む請求項１記載のシステム。
【請求項１７】
サンプルの少なくとも１つの部分と関連する情報であって平均化された画像である情報を生成する方法において、
ａ）前記少なくとも１つの部分から少なくとも１つの電磁放射を受信するか、又は前記少なくとも１つの部分に対して少なくとも１つの電磁放射を伝送する段階と、
ｂ）少なくとも１つの第１伝送波面を生成するために、前記少なくとも１つの部分から受信された又は前記少なくとも１つの部分に対して伝送された、少なくともいずれかの前記少なくとも１つの電磁放射の少なくとも１つの第１波面を提供する段階と、
ｃ）前記第１伝送波面を生成した後に、マイクロ変形可能ミラーによって、前記第１伝送波面とは異なる少なくとも１つの第２変更波面を生成するために、前記少なくとも１つの部分から受信された又は前記少なくとも１つの部分に対して伝送されたいずれかの少なくとも１つの電磁放射の少なくとも１つの第２波面の少なくとも１つの特性を変更する段階であって、前記サンプルに入る場合の前記少なくとも１つの第２変更波面の伝送方向は、前記サンプルを退出する場合の前記少なくとも１つの第２変更波面の伝送方向とは反対である、前記特性を変更する段階と、
ｃ−１）前記第１伝送波面に関連する第１スペックル画像と前記第２伝送波面に関連する第２スペックル画像とを生成する為に、前記部分を横方向にスキャンし又は深度スキャンを実行する段階と、および
ｄ）前記第１伝送波面に関連する前記第１スペックル画像及び前記第２変更波面に関連する前記第２スペックル画像に基づいて前記平均化された画像を生成する段階と、
を有する方法。
【請求項１８】
ｅ）前記マイクロ変形可能ミラーによって、前記少なくとも１つの第２波面の前記少なくとも１つの特性の前記変更の前に、前記少なくとも１つの第１波面の少なくとも１つの特性を変更することにより、第１変更波面を生成する段階であって、この場合に、前記情報は、前記第１及び第２変更波面に基づいて生成される、段階を更に有する、請求項１７記載の方法。
【請求項１９】
ｆ）前記情報を平均化することにより、スペックル雑音が前記情報内のスペックル雑音よりも小さい合成データを生成する段階を更に有する、請求項１７記載の方法。
【請求項２０】
ｇ）前記サンプルの前記少なくとも１つの部分又は段階（ａ）〜（ｄ）のうちの少なくとも１つを実行するべく構成された少なくとも１つの構造内の光ビーム経路の少なくともいずれかと関連する既定の波面歪みを補償する段階、
を更に有する、請求項１７記載の方法。
【請求項２１】
ｈ）前記第１及び第２変更波面に基づいて更なる情報を生成する段階であって、前記更なる情報は、前記少なくとも１つの電磁放射を受信する前記少なくとも１つの部分の焦点容積よりも小さい前記少なくとも１つの部分の特定の容積と関連している、段階、
を更に有する、請求項１７記載の方法。