【事件の表示】
　特願２０１５−１８０７４４「寿命推定回路およびそれを用いた半導体装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年　３月２３日出願公開、特開２０１７−　５８１４６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２７年９月１４日の特許出願であって、平成３０年９月２０日に手続補正書が提出され、平成３１年１月２４日付けで拒絶査定がなされ、平成３１年１月２９日に拒絶査定の謄本が送達された。
　これに対して、平成３１年３月２２日に拒絶査定不服審判の請求及び手続補正書の提出がなされ、その後、令和元年６月２４日に上申書が提出されたものである。
第２　平成３１年　３月２２日にされた補正の却下の決定
　［補正の却下の決定の結論］
　平成３１年３月２２日にされた補正（以下「本件補正」という。）を却下する。
　［理由］
１　本件補正の内容
　本件補正により、特許請求の範囲が補正された。本件補正前（平成３０年９月２０日にされた補正の後をいう。以下同じ。）及び本件補正後の請求項１の記載は、以下のとおりである。下線は、補正箇所を示す。
　
（１）本件補正前
　「パワー素子の寿命を推定する寿命推定回路であって、
　前記パワー素子の温度を検出する温度検出器と、
　前記温度検出器の検出結果に基づいて、前記パワー素子の温度変化の変曲点を検出する変曲点検出部と、
　前記変曲点検出部によって今回検出された変曲点における前記パワー素子の温度と前回検出された変曲点における前記パワー素子の温度との差の絶対値を求める演算部と、
　前記演算部によって求められた温度差の絶対値が第１のしきい値温度に到達した第１の温度変化の回数をカウントするカウント回路と、
　前記カウント回路のカウント値に基づいて、前記パワー素子の寿命に関連する信号を出力する信号発生部とを備え、
　前記変曲点は、前記パワー素子の温度が上昇から下降に転じる点、あるいは当該温度が下降から上昇に転じる点であり、
　前記カウント回路は、前記温度差が下限値よりも小さい場合、前記パワー素子の温度変化をカウントしない、寿命推定回路。」
（２）本件補正後
　「パワー素子の寿命を推定する寿命推定回路であって、
　前記パワー素子の温度を検出する温度検出器と、
　前記温度検出器の検出結果に基づいて、前記パワー素子の温度変化の変曲点を検出する変曲点検出部と、
　前記変曲点検出部によって今回検出された変曲点における前記パワー素子の温度と前回検出された変曲点における前記パワー素子の温度との差の絶対値を求める演算部と、
　前記演算部によって
今回
より大きい場合、
インクリメントし、前記今回求められた温度差の絶対値が前記第１のしきい値温度よりも小さい場合、前記第１の温度変化の回数を維持
　前記カウント回路のカウント値に基づいて、前記パワー素子の寿命に関連する信号を出力する信号発生部とを備え、
　前記変曲点は、前記パワー素子の温度が上昇から下降に転じる点、あるいは当該温度が下降から上昇に転じる点であ
る
２　本件補正の目的
　本件補正前の請求項１に係る発明では、「カウント回路」は、「演算部によって求められた温度差の絶対値が第１のしきい値温度に到達した第１の温度変化の回数をカウントする」一方、「前記温度差が下限値よりも小さい場合、前記パワー素子の温度変化をカウントしない」とされていた。すなわち、「温度差の絶対値」が「第１のしきい値温度」に到達しない（「第１のしきい値温度」より小さい）が「下限値」よりは大きい場合、温度変化をカウントするか否かは任意であった。
　これに対して、本件補正後の請求項１に係る発明では、「カウント回路」は、「演算部によって今回求められた温度差の絶対値が第１のしきい値温度より大きい場合、第１の温度変化の回数をインクリメントし、前記今回求められた温度差の絶対値が前記第１のしきい値温度よりも小さい場合、前記第１の温度変化の回数を維持する」とされている。これは、「今回求められた温度差の絶対値が第１のしきい値温度より大きい場合」は「第１の温度変化の回数」をカウントし、「第１のしきい値温度よりも小さい場合」はカウントしないことを意味する。
　そうすると、本件補正は、「温度差の絶対値」が「第１のしきい値温度」に到達しない（「第１のしきい値温度」より小さい）場合、それが「下限値」より大きければ、温度変化をカウントするか否かは任意としていたものを、温度変化を必ずカウントするものに限定する趣旨と解される。そして、本件補正前の請求項１に記載された発明と、本件補正後の請求項１に記載される発明とでは、産業上の利用分野及び解決しようとする課題は同一である。
　したがって、本件補正は、特許法第１７条の２第５項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　そこで、本件補正後の請求項１に記載される発明（以下「本件補正発明」という。）が同条第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合するか（特許出願の際、独立して特許を受けることができるものであるか）について、以下、検討する。
３　独立特許要件についての判断
（１）本件補正発明
　本件補正発明は、上記１（２）に記載したとおりのものである。
（２）引用文献
　以下の引用文献は、いずれも原査定の拒絶の理由で引用された公開特許公報であり、その公開日は、いずれも本願の出願日より前である。
　引用文献１：特開平８−１２６３３７号公報
　引用文献２：特開２０１４−１１９０４号公報
（３）引用文献に記載された事項
ア　引用文献１
（ア）引用文献１には、以下の記載がある。下線は、当合議体が付した。
「【０００３】図８および図９は、例えば特開平３−２６１８７７号公報に示された従来のインバータ装置の構成図および
電力用半導体素子の寿命を判定するインバータ装置内の制御部の構成図であり、電力用半導体素子内のジャンクション温度の上昇、下降による熱疲労により電力用半導体素子の寿命を推定し、寿命に達した部品を表示することにより、作業者が容易に判断できるようになり、故障を未然に防ぐというもの
【０００４】図８において、１００はインバータ装置、２００は交流電源、３００はインバータ装置１００の負荷としての誘導電動機、１０１は交流電源２００からの交流電力を直流電力に変換するコンバータ部、１０２は直流電力を交流電力に変換するインバータ部、１０３はコンバータ部１０１またはインバータ部１０２で生ずる電圧リプルを吸収する平滑回路部、１０４はコンバータ部１０１、インバータ部１０２及び平滑回路部１０３とから構成される主回路部である。
主回路部１０４内において、１０５は整流ダイオード、１０６は平滑コンデンサ、１０７はトランジスタ、１０８はトランジスタ１０７と逆並列に接続される帰還ダイオードであり、整流ダイオード１０５、トランジスタ１０７及び帰還ダイオード１０８を以下電力用半導体素子と記す
【０００５】また、１１０はインバータ装置１００の出力電流を検出する電流検出部、１２０はインバータ装置の放熱フィン（図示せず）に取付けられた温度検出部、
１３０は主回路部１０４を駆動するための制御信号を与える制御部
主回路部１０４を構成する電力用半導体素子
【０００６】図９において１１０は電力用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出する電流検出部、１２０は放熱フィンの温度を検出する放熱フィン温度検出部、
２０は電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フィン温度検出部１２０より得られる検出温度よりトランジスタのジャンクション温度を推定するトランジスタ温度推定部、２１はトランジスタのジャンクション温度の変化幅を検出し、トランジスタの疲労程度を示す熱ストレス回数を求めるトランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部、２２は熱ストレス回数が疲労限界に達したことを判定するトランジスタ寿命判定部、１４０は熱ストレス回数が疲労限界に達したときアラームを表示する表示部である。
「【０００８】また、図１１はトランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１及びダイオード温度変化幅熱ストレス演算部３１の演算のフローチャートである。以下、図１１を中心に図８ないし図１０のトランジスタ１０７を例として動作の説明をする。
図９のトランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１では、トランジスタ温度推定部２０で推定した図８のトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔ
j 
の変化が図１０の曲線１５０に示すように上昇から下降、または下降から上昇との極値となったかを確認し、温度変化値の最大値、または最小値と判断し、温度変化幅を求め、この温度変化幅より熱ストレスを演算している。
【０００９】また、トランジスタジャンクション温度Ｔj が最大または最小の場合はＹＥＳに進み、
ステップ４１２に於て最小値と次の最大値の差または最大値と次の最小値の差ΔＴ
jW
を求め、即ち、図１０の、ΔＴ
jW1
 ，ΔＴ
jW2
 ，ΔＴ
jW3
 を求め、次のステップ４１３で図８のトランジスタ１０７の寿命を、温度変化に起因する熱ストレスと置換え、１回の温度変化幅に対する熱ストレスを次式により算出し、熱ストレス回数とする。
　ΔＳｔ
1 
＝（ΔＴ
jW
／ΔＴ
js
）
2
 ・１／２
ここで、ΔＳｔ
1 
は１回の温度変化幅に対する熱ストレス回数、ΔＴ
jW
は温度変化幅、ΔＴ
js
は主回路部１０４のトランジスタ１０７の寿命を許容する熱ストレス回数と置き換える際の基準となる基準温度差である。
【００１０】次にステップ４１４により
累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ
1
に、１回の温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ
1
を加算し、
Ｓｔ
1
←Ｓｔ
1
＋ΔＳｔ
1
Ｓｔ
1
を演算し、エンドとなる。上記の様に、トランジスタのジャンクション温度Ｔ
j
が極値となる毎に、トランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ
1
が更新される
【００１１】次いで、図９のトランジスタ寿命判定部２２において、上記
トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１で演算したトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ
1
とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔ
max
と比較することにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定
表示部１４０にてトランジスタ１０７が寿命となった旨アラーム表示をする。
「【図８】
【図９】
【図１０】
」
（イ）上記記載から、引用文献１には、次の技術的事項が記載されているものと認められる。
ａ　インバータ装置１００内の制御部１３０は、電力用半導体素子内のジャンクション温度の上昇、下降による熱疲労により、電力用半導体素子の寿命を判定するものであって、インバータ装置１００は、電力変換を行う主回路部１０４と、主回路部１０４を駆動するための制御信号を与える制御部１３０とを含み、主回路部１０４を構成する電力用半導体素子は、整流ダイオード１０５、トランジスタ１０７及び帰還ダイオード１０８を含み、制御部１３０は、トランジスタ温度推定部２０、トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１、トランジスタ寿命判定部２２を含むものである。（【０００３】−【０００６】、【図８】−【図９】）。
ｂ　トランジスタ温度推定部２０は、電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フィン温度検出部１２０より得られる検出温度より、電力用半導体素子を構成するトランジスタ１０７のジャンクション温度を推定するものである（【０００４】、【０００６】、【図８】−【図９】）。
ｃ　トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１は、トランジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj の変化が上昇から下降、または下降から上昇との極値となったかを確認して温度変化値の最大値または最小値と判断し、トランジスタ１０７のジャンクション温度の変化幅を検出して温度変化幅を求め、トランジスタのジャンクション温度Ｔj が極値となる毎に、１回の温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ1 を累積して、累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算し、トランジスタの疲労程度を示す熱ストレス回数Ｓｔ1 を求めるものである（【０００６】、【０００８】−【００１０】、【図１０】）。
ｄ　トランジスタ寿命判定部２２は、前記したトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔmax と比較することにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定するものである。（【０００６】、【００１１】）。
ｅ　さらに、トランジスタ寿命判定部２２は、熱ストレス回数が疲労限界に達したときに、表示部１４０にてトランジスタ１０７が寿命となった旨アラーム表示させるものである（【０００６】、【００１１】）。
（ウ）上記（イ）から、引用文献１には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
「電力変換を行う主回路部１０４と、主回路部１０４を駆動するための制御信号を与える制御部１３０とを含むインバータ装置１００内において、
　主回路部１０４を構成し、整流ダイオード１０５、トランジスタ１０７及び帰還ダイオード１０８を含む電力用半導体素子の寿命を判定するインバータ装置内の制御部１３０であって、
　電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フィン温度検出部１２０より得られる検出温度より、電力用半導体素子を構成するトランジスタ１０７のジャンクション温度を推定するトランジスタ温度推定部２０と、
　トランジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj の変化が上昇から下降、または下降から上昇の極値となったかを確認して温度変化値の最大値または最小値と判断し、
　トランジスタ１０７のジャンクション温度の変化幅を検出し、
　トランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj の１回の温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ1 を、トランジスタのジャンクション温度Ｔj が極値となる毎に累積して、累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算し、トランジスタの疲労程度を示す熱ストレス回数Ｓｔ1 を求めるトランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１と、
　トランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔmax とを比較することにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定し、熱ストレス回数が疲労限界に達したときに、トランジスタ１０７が寿命となった旨を表示部１４０にアラーム表示させるトランジスタ寿命判定部２２とを含む、
　インバータ装置内の制御部１３０。」
イ　引用文献２
（ア）引用文献２には、以下の記載がある。下線は、当合議体が付した。
「【０００４】各電圧変換回路の劣化の進み具合は、単純な使用頻度だけで決まるものではない。
電圧変換回路の劣化を進める一つの要因に熱ストレスがある。
温度変化が激しいと劣化が進む。電圧変換回路自身の温度変化が熱ストレスに相当する。
「【００２４】全ての電圧変換回路は同じ構成を有するので、電圧変換回路３１について説明する。
電圧変換回路３１は、リアクトル２２Ｕ、スイッチング素子２６Ｕ、ダイオード２８Ｕ、２９Ｕ、及び、温度センサ２７Ｕで構成される。
「【００３３】先に述べたように、
コントローラ６０は、多相コンバータ２０を駆動している間、定期的に各電圧変換回路の温度をモニタする。そして、多相コンバータ２０を停止した後、各電圧変換回路について、温度変化の変曲点を特定し、隣接する変曲点の間での温度差ｄＴを算出する。そして、温度差ｄＴのヒストグラムを記憶する。
コントローラ６０は、隣接する変曲点の間の温度差ｄＴ１、ｄＴ２、ｄＴ３を特定する。コントローラ６０は、特定した複数の温度差を、過去のヒストグラムのデータに加える。即ち、ヒストグラムを更新する（Ｓ３２）。
【００３４】コントローラ６０には、また、温度差閾値が予め記録されている。
コントローラ６０は、温度差閾値以上の温度差におけるヒストグラムの出現頻度の和を算出する。
「【００３９】実施例では、多相コンバータ２０を停止した後に変曲点間の温度差を特定した（図３のステップＳ３２）。
コントローラ６０は、多相コンバータの駆動中に変曲点を検知し、検知する毎に温度差を特定してもよい。
「【図１】
」
（イ）上記記載から、引用文献２には、次の技術的事項が記載されているものと認められる。
ａ　電圧変換回路３１の温度を直接的に測定するために、電圧変換回路自体に温度センサ２７Ｕが設けられている。（【００２４】、【図１】）
ｂ　コントローラ６０は、定期的に電圧変換回路の温度を温度センサでモニタし、温度変化の変曲点を特定し、隣接する変曲点の間での温度差を算出し、算出された変曲点間の温度差が閾値以上の温度差におけるヒストグラムの出現頻度の和、すなわち、変曲点間の温度差がしきい値を超えた回数の積算値を、電圧変換回路の劣化の進度の指標として用いている。（【０００４】、【００３３】−【００３４】）
ｃ　多相コンバータの駆動中に変曲点を検知し、検知する毎に温度差を特定してもよいとされている。（【００３９】）
（４）引用発明との対比
ア　本件補正発明と引用発明とを対比する。
（ア）引用発明の「電力用半導体素子」は、「主回路部１０４を構成」するものであって、「主回路部１０４」は「電力変換を行う」ものであるから、本件補正発明の「パワー素子」に相当する。
（イ）引用発明の「トランジスタ温度推定部２０」及び「トランジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj 」と本件補正発明の「パワー素子の温度を検出する温度検出器」及び「温度検出器の検出結果」とは、ともに、パワー素子の温度を取得するための手段及び当該手段から取得された結果であるから、「パワー素子の温度を取得する温度取得手段」及び「温度取得手段の取得結果」である点で共通する。
（ウ）引用発明の「トランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔjの変化が上昇から下降」の「極値」は、本件補正発明の「変曲点は、パワー素子の温度が上昇から下降に転じる点」に相当し、引用発明の「トランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔjの変化が」「下降から上昇の極値」は、本件補正発明の「変曲点は、パワー素子の温度が」「下降から上昇に転じる点」に相当するから、引用発明の「極値」は本件補正発明の「変曲点」に相当する。
（エ）引用発明の「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」は、まず、「トランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔjの変化が上昇から下降、または下降から上昇の極値となったかを確認し、温度変化値の最大値または最小値と判断」するものであるから、本件補正発明の「パワー素子の温度変化の変曲点を検出する変曲点検出部」に相当する。
（オ）引用発明の「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」は、さらに、温度変化値の最大値または最小値から「トランジスタ１０７のジャンクション温度の変化幅を検出」するものであるから、本件補正発明の「変曲点検出部によって今回検出された変曲点におけるパワー素子の温度と前回検出された変曲点におけるパワー素子の温度との差の絶対値を求める演算部」にも相当する。
（カ）引用発明の「トランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj の１回の温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ1 」と本件補正発明の「温度差の絶対値が第１のしきい値温度より大きい場合」の「第１の温度変化の回数」とは、ともに「パワー素子の寿命に関連する指標」である点で共通しているから、それらを「累積」する引用発明の「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」と、「インクリメント」する本件補正発明の「カウント回路」とは、ともに「パワー素子の寿命に関連する指標を積算する積算手段」である点で共通し、それらを積算した値である引用発明の「累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1」と本件補正発明の「カウント値」とは、ともに「積算値」である点で共通する。
（キ）引用発明の「トランジスタ寿命判定部２２」は、「トランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 （積算値）とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔmax と比較することにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定し、熱ストレス回数が疲労限界に達したときに、トランジスタ１０７が寿命となった旨を表示部１４０にアラーム表示させる」ものであるから、本件補正発明の「パワー素子の寿命に関連する信号を出力する信号発生部」に相当する。
（ク）引用発明の「インバータ装置内の制御部１３０」は、電力用半導体素子の寿命を判定するものであるから、本件補正発明の「寿命推定回路」に相当する。
　
イ　以上のことから、本件補正発明と引用発明との一致点及び相違点は、次のとおりである。
【一致点】
　「パワー素子の寿命を推定する寿命推定回路であって、
　前記パワー素子の温度を取得する温度取得手段と、
　前記温度取得手段の取得結果に基づいて、前記パワー素子の温度変化の変曲点を検出する変曲点検出部と、
　前記変曲点検出部によって今回検出された変曲点における前記パワー素子の温度と前回検出された変曲点における前記パワー素子の温度との差の絶対値を求める演算部と、
　前記演算部によって今回求められた温度差の絶対値から、パワー素子の寿命に関連する指標を積算する積算手段と、
　前記積算手段の積算値に基づいて、前記パワー素子の寿命に関連する信号を出力する信号発生部とを備え、
　前記変曲点は、前記パワー素子の温度が上昇から下降に転じる点、あるいは当該温度が下降から上昇に転じる点である、寿命推定回路。」
【相違点１】
　「パワー素子の温度を取得する温度取得手段」及び「温度取得手段の取得結果」が、本件補正発明は、「パワー素子の温度を検出する温度検出手段」及び「温度検出器の検出結果」（パワー素子の温度そのもの）であるのに対し、引用発明は、「電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フィン温度検出部１２０より得られる検出温度より、電力用半導体素子を構成するトランジスタ１０７のジャンクション温度を推定するトランジスタ温度推定部２０」及び「トランジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj 」（温度推定値）である点。
【相違点２】
　「パワー素子の寿命に関連する指標」が、本件補正発明は、「演算部によって
今回
より大きい場合
【相違点３】
　「パワー素子の寿命に関連する指標を積算する積算手段」が、本件補正発明は、「演算部によって
今回
より大きい場合、
インクリメントし、前記今回求められた温度差の絶対値が前記第１のしきい値温度よりも小さい場合、前記第１の温度変化の回数を維持
【相違点４】
　「積算手段の積算値」が、本件補正発明は、「カウント回路のカウント値」であるのに対し、引用発明は、「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」が累積した「累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 」である点。
（５）相違点についての判断
ア　相違点１について
　取得対象となる温度を直接測定するか、間接的に推定するかは当業者が適宜選択し得た事項であって、例えば引用文献２には、上記（３）イ（イ）ａのとおり、電圧変換回路３１の温度を直接測定するために、電圧変換回路自体に温度センサ２７Ｕが設けたことが記載されている。そうすると、引用発明においても、例えば引用文献２記載の技術のように、取得対象となる温度を直接測定することは、当業者が容易になし得たことである。
　そして、「パワー素子の温度を取得する温度取得手段」について、引用発明において、パワー素子の温度を直接測定する構成を採用すれば、引用発明の「トランジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７のジャンクション温度Ｔj 」は、本件補正発明の「温度検出器の検出結果」に相当するものになる。
イ　相違点２−４について
　引用文献２には、上記（３）イ（イ）ｂ−ｃのとおり、定期的に電圧変換回路の温度を温度センサでモニタし、温度変化の変曲点を特定し、隣接する変曲点の間での温度差を算出し、算出された変曲点間の温度差が閾値以上の温度差におけるヒストグラムの出現頻度の和、すなわち、変曲点間の温度差がしきい値を超えた回数の積算値を、電圧変換回路の劣化の進度の指標として用いること、及び、多相コンバータの駆動中に変曲点を検知し、検知する毎に温度差を特定してもよいこと、が記載されている。
　引用発明と、引用文献２に記載された技術とは、いずれも、電子回路の寿命／劣化に関する指標を用いる点で共通するものであって、しかも、多相コンバータの駆動中にデータ更新しても良いとされているものであるから、「パワー素子の寿命に関連する指標」について、引用発明において、引用文献２に記載された、変曲点間の温度差がしきい値を超えた回数を採用することは、当業者が容易に想到し得たことである。
　そして、「パワー素子の寿命に関連する指標」について、引用発明において、変曲点間の温度差がしきい値を超えた回数を採用すれば、引用発明の「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」は、本件補正発明の「カウント回路」に相当するものとなり、引用発明の「累積値であるトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 」は、本件補正発明の「カウント回路のカウント値」に相当するものとなる。
ウ　作用効果について
　本件補正発明の奏する作用効果は、引用発明及び引用文献２に記載された技術の奏する作用効果から予測される範囲内のものであって、格別顕著なものということはできない。
（６）請求人の主張
　請求人は、審判請求書及び上申書において、主として、引用文献２に開示されている構成と本件補正発明の「カウント回路」とでは、その構成や作用が全く異なるので、引用文献２の記載から本件補正発明の「カウント回路」を導き出すことは不可能である旨を主張している。
　しかしながら、上記（４）−（５）で検討したとおり、「パワー素子の寿命に関連する指標」について、引用発明において、引用文献２に記載された指標を採用することは当業者が容易になし得たことであって、引用発明において引用文献２に記載された指標を採用すれば、引用発明の「トランジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１」は、本件補正発明の「カウント回路」と同等の機能を奏するものとなるのであるから、請求人の主張は採用できない。
（７）独立特許要件についての判断の結論
　そうすると、本件補正発明は、引用発明及び引用文献２に記載された技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
４　補正の却下の決定のむすび
　したがって、本件補正は、特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　よって、補正の却下の決定の結論のとおり決定する。
第３　本願発明について
１　本願発明
　本件補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし１４に係る発明は、本件補正前の特許請求の範囲の請求項１ないし１４に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、前記第２［理由］１（１）に記載のとおりのものである。
２　原査定における拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由は、本願発明は、その出願前に日本国内又は外国において頒布された刊行物である以下の引用文献に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、というものである。
　引用文献１：特開平８−１２６３３７号公報（再掲）
　引用文献２：特開２０１４−１１９０４号公報（再掲）
３　引用文献の記載事項
　引用文献１及び２の記載事項は、前記第２［理由］３（３）に記載したとおりである。
４　対比・判断
　本願発明は、前記第２［理由］３で検討した本件補正発明から、「温度差の絶対値が第１のしきい値温度よりも小さい場合、第１の温度変化の回数を維持する」（温度変化の回数としてカウントしない）との限定をはずし、温度差の絶対値が下限値と第１のしきい値温度との間である場合について、温度変化の回数としてカウントするかしないかを任意としたものである。
　そして、本願発明の発明特定事項を全て含み、さらに上記の限定を付加した本件補正発明は、前記第２［理由］３（４）−（５）に記載したとおり、引用発明及び引用文献２に記載された技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　そうすると、本願発明も、引用発明及び引用文献２に記載された技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
第４　むすび
　以上のとおり、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。