【手続補正書】
【提出日】平成27年6月11日(2015.6.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の眼底画像を取得する眼底画像取得手段と、
前記被検眼の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する特定手段と、
前記特定された不連続な箇所に対応する前記眼底画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記断層画像取得手段が、前記被検眼の断層輝度画像を取得し、
前記表示制御手段が、前記所定の領域を示す表示形態を前記断層輝度画像に重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記断層画像取得手段が、前記偏光断層画像に基づいて前記断層輝度画像を取得することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記偏光断層画像の取得位置と前記断層輝度画像の取得位置とが、前記被検眼の同一位置であることを特徴とする請求項２あるいは３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記表示制御手段が、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて表示された眼底画像を、前記被検眼のカラー眼底画像に重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記所定の領域に複数の不連続な箇所が存在する場合に、前記眼底画像における該複数の不連続な箇所のうち少なくとも一つを指示する指示手段を有し、
前記表示制御手段が、前記指示された位置の表示形態を他の不連続な箇所とは異なる表示形態で前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記表示制御手段が、前記指示手段の指示に応じて、前記指示された位置に対応する前記被検眼の断層輝度画像における不連続な箇所の表示形態を、他の不連続な箇所とは異なる表示形態に変更することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記断層画像取得手段が、前記被検眼の複数の２次元偏光断層画像から成る３次元偏光断層画像を取得し、
前記抽出手段が、前記３次元偏光断層画像から３次元層領域を前記所定の領域として抽出し、
前記特定手段が、前記３次元層領域に基づいて３次元不連続領域を前記不連続な箇所として特定し、
前記表示制御手段が、前記３次元不連続領域に対応する前記眼底画像の２次元領域に、該不連続な箇所を示す表示形態を重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記断層画像取得手段が、測定光を照射した前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検眼の３次元偏光断層画像を取得し、
前記眼底画像取得手段が、前記３次元偏光断層画像に基づいて、前記被検眼の偏光眼底画像を前記眼底画像として取得し、
前記表示制御手段が、前記特定された不連続な箇所に対応する前記偏光眼底画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記断層画像取得手段が、測定光を照射した前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検眼の３次元偏光断層画像を取得し、
前記抽出手段が、前記３次元偏光断層画像における偏光状態が解消された３次元領域を前記所定の領域として抽出し、
前記眼底画像取得手段が、前記抽出された３次元領域に基づいて、前記被検眼の偏光眼底画像を前記眼底画像として取得し、
前記表示制御手段が、前記特定された不連続な箇所に対応する前記偏光眼底画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
被検体の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する特定手段と、
光軸に交差する方向における前記特定された不連続な箇所に対応する位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１２】
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光を用いて得た前記被検体の３次元偏光断層画像に基づいて、前記被検体の偏光平面画像を取得する平面画像取得手段を更に有し、
前記表示制御手段が、前記特定された不連続な箇所に対応する前記偏光平面画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１１に記載の画像処理装置。
【請求項１３】
前記抽出された所定の領域に基づいて、前記被検体の偏光平面画像を取得する平面画像取得手段を更に有し、
前記表示制御手段が、前記特定された不連続な箇所に対応する前記偏光平面画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて表示手段に表示させることを特徴とする請求項１１に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる偏光の光を用いて得た前記被検体の３次元偏光断層画像における偏光状態が解消された３次元領域を前記所定の領域として抽出し、
前記平面画像取得手段が、前記抽出された３次元領域に基づいて、前記被検体の偏光平面画像を取得することを特徴とする請求項１３に記載の画像処理装置。
【請求項１５】
前記抽出手段が、前記偏光断層画像における偏光状態が解消された領域を前記所定の領域として抽出することを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１６】
前記不連続な箇所は、前記所定の領域における一部の領域が欠落している箇所であることを特徴とする請求項１乃至１５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１７】
被検眼の眼底画像を取得する工程と、
前記被検眼の偏光断層画像を取得する工程と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する工程と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する工程と、
前記特定された不連続な箇所に対応する前記眼底画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１８】
被検体の偏光断層画像を取得する工程と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する工程と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する工程と、
光軸に交差する方向における前記特定された不連続な箇所に対応する位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１９】
請求項１７あるいは１８に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明の画像処理装置の一つは、
被検眼の眼底画像を取得する眼底画像取得手段と、
前記被検眼の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する特定手段と、
前記特定された不連続な箇所に対応する前記眼底画像の位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を重ねて表示手段に表示させる表示制御手段と、を有する。
また、本発明の画像処理装置の一つは、
被検体の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における所定の領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出された所定の領域の不連続な箇所を特定する特定手段と、
光軸に交差する方向における前記特定された不連続な箇所に対応する位置に、前記不連続な箇所を示す表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段と、を有する。