(57)【要約】【課題】短時間でスライドガラスの傾きを測定できる画像取得装置およびスライド傾き測定方法を提供する。【解決手段】画像取得装置は、スライドガラスに検体を載せカバーガラスで覆ったスライドを載置可能なステージと、前記ステージを移動させるステージ移動部と、前記スライド上での前記検体の位置を検出する検出部と、前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側からレーザ光を照射して前記スライドガラスの傾きを検出可能なオートコリメータと、前記レーザ光が前記スライドの前記検体の位置に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記オートコリメータに前記傾きを検出させる制御部とを具備する。【選択図】図９
2014061227.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スライドガラスに検体を載せカバーガラスで覆ったスライドを載置可能なステージと、
前記ステージを移動させるステージ移動部と、
前記スライド上での前記検体の位置を検出する検出部と、
前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側からレーザ光を照射して前記スライドガラスの傾きを検出可能な光学的角度測定器と、
前記レーザ光が前記スライドの前記検体の位置に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる制御部と
を具備した画像取得装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像取得装置であって、
スライドガラスの前記傾きを補正する傾き補正部をさらに具備し、
前記制御部は、
前記傾き補正部に前記検出された傾きを補正させる
画像取得装置。
【請求項３】
請求項２に記載の画像取得装置であって、
前記検出部は、
検出する対象を前記検体の位置からラベル部分の位置に切り替えて検出し、
前記制御部は、
前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる
画像取得装置。
【請求項４】
請求項２に記載の画像取得装置であって、
前記検出部は、
前記検体の位置を検出できないとき、前記スライドのラベル部分の位置を検出し、
前記制御部は、
前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる
画像取得装置。
【請求項５】
請求項２に記載の画像取得装置であって、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、
前記制御部は、前記スライドガラスの周縁領域の４つの隅部を第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部および第４の隅部として、前記第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部に直角三角形の頂点にそれぞれ対応する３つの測定点として、第１の測定点、第２の測定点および第３の測定点を設定し、前記直角三角形の互いに直交する２辺のうち一方の辺に対応する第１の方向に設定された前記第１の測定点および第２の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとに前記スライドガラスの前記第１の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御し、
他方の辺に対応する第２の方向に設定された前記第２の測定点および第３の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとに前記スライドガラスの前記第２の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御する
画像取得装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像取得装置であって、
前記制御部は、
前記距離の測定に失敗した測定点が発生すると、
少なくとも、前記第４の隅部に、新たな第４の測定点を設定し、この第４の測定点に対する距離の測定を距離測定器に実行させる
画像取得装置。
【請求項７】
請求項６に記載の画像取得装置であって、
前記制御部は、
前記第1の測定点での測定に失敗したときは、前記第３の測定点と、前記第４の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正し、
前記第２の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、
前記第３の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、前記第５の測定点と、前記第２の隅部に新たに設定する第６の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正する
画像取得装置。
【請求項８】
請求項７に記載の画像取得装置であって、
前記距離測定器は、
前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側から距離を測定する
画像取得装置。
【請求項９】
請求項４に記載の画像取得装置であって、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、
前記制御部は、
前記光学的角度測定器による前記ラベル部分の裏側での前記傾きの検出に失敗したとき、
前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせる
画像取得装置。
【請求項１０】
請求項４に記載の画像取得装置であって、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、
前記制御部は、
前記光学的角度測定器による前記傾きの検出に加え、
前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせ、
前記検出された傾きの平均値により前記傾き補正部に前記傾きを補正させる
画像取得装置。
【請求項１１】
スライドガラスとカバーガラスとの間に検体を介在させたスライドをステージに載置し、
前記スライドにおける前記検体の位置を検出し、
前記検出された検体の位置に、前記スライドガラスの前記検体が載っている側と反対の側から光学的角度測定器よりレーザ光を照射して、前記ステージ上での前記スライドガラスの傾きを検出する
スライド傾き測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、医療、病理、生物等の分野において、スライドガラス上に載置された検体を撮像し病理画像を生成する際にスライドの傾きを補正する画像取得装置（スキャナ）およびスライド傾き測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療または病理等の分野において、光学顕微鏡により得られた、生体の細胞、組織、臓器等の画像をデジタル化し、そのデジタル画像に基づき、医師や病理学者等がその組織等を検査したり、患者を診断したりする病理診断のシステムが提案されている。バーチャルスライドスキャナ（以下、スキャナと略す。）は、そのシステムにおいて、スライドガラス上に載置された検体を撮影し、デジタル画像（バーチャルスライド）を生成するための装置である。【０００３】
病理診断の現場では、デジタル画像の画質に加えて、撮影スピードも要求される。何故なら、一般的に大病院では一日1000〜2000枚のスライドが作成され、診断される状況の中で、デジタル画像を生成するために用いられるスキャナでは、読み込みスピードとして、長くても１枚２〜３分以内で取り込まないと、診断が遅れてしまい実用的ではない。従って、スキャナでは、画質の向上だけではなく、スキャンスピードを向上させることも重要な技術開発事項となっている。【０００４】
スキャンスピードを向上させる方法の１つとして、大判のイメージセンサを用いる方法がある。大判とは、３５ｍｍフルサイズ（約３６ｍｍ×約２４ｍｍ）やＡＰＣ−Ｃサイズ（約２３．７ｍｍ×約１５．６ｍｍ）などの大型イメージセンサのことをいう。【０００５】
例えば、スライドガラス上の検体が置かれた領域として、１５ｍｍ×１５ｍｍの領域を撮影する場合、１．３Ｍピクセル、１／３インチサイズのイメージセンサを用いると約２０００回の撮影を行わなければならない。しかし、２４Ｍピクセル、３５ｍｍフルサイズのイメージセンサを用いると、約１００回の撮影で済む。【０００６】
このように、大判イメージセンサを用いることは、スキャンスピードの高速化には有効である。しかし、その反面、大判イメージセンサを用いると、片ぼけの発生やオートフォーカスの難易度が高くなるという問題点が出てくる。片ぼけとは、１度に撮影する領域が大きくなると、スライド中の検体が数ミクロン程度、上下方向にうねっている場合、撮影領域のいずれかの隅で検体が焦点深度（例えば０．２から０．６ミクロン程度）の中に入らず、ぼけて見えてしまう現象のことである。【０００７】
また、検体のうねりと同様に、スライドガラスの反りも同じ問題を発生させる。この反りは、スライドの作成時、スライドガラスとカバーガラスの間に充填する包埋材が硬化する際に収縮が発生するために起こる現象である。【０００８】
反りの発生したスライドを適切に撮影する方法として、撮影時にスライドごと傾けて、両隅のフォーカス位置が焦点深度に収まるように調整する方法がある。（例えば、特許文献１参照）。この方法では、スライドの傾きの平均値を算出し、その値に基づいてスライドを傾ける。【０００９】
そのため、スライドの傾き量を正確に測定することが重要である。３５ｍｍフルサイズのイメージセンサを用いる場合、およそ０．０３度傾くと影響が出る。従って傾きの検出精度としては、さらに１桁高い精度が要求される。【００１０】
スライドの傾きを検出する方法の１つとして、３か所に設置された光路差プリズムと専用のイメージセンサを用いて得られた合焦状態を表す信号に基づき、スライド上の検体の傾きを算出する方法がある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０１２−１３９９６号公報
【特許文献２】特開２０１１−２２１２８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
特許文献２に示されている方法では、実際に撮影する画像から合焦状態を検出するので確実に傾きを検出できる反面、一度傾きを調整してから再度撮影し、十分にボケの無い状態であることを確認する。その為、撮影時間がかかるという問題点がある。【００１３】
以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、短時間でスライドガラスの傾きを測定できる画像取得装置および傾き測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
（１）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置は、スライドガラスに検体を載せカバーガラスで覆ったスライドを載置可能なステージと、前記ステージを移動させるステージ移動部と、前記スライド上での前記検体の位置を検出する検出部と、前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側からレーザ光を照射して前記スライドガラスの傾きを検出可能な光学的角度測定器と、前記レーザ光が前記スライドの前記検体の位置に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる制御部とを具備する。【００１５】
本技術では、光学的角度測定器（オートコリメータ）を用いてスライドの１点のみを測定するので、短時間で傾きを測定することができる。また、オートコリメータからのレーザ光をスライドの検体部分に照射し検体部分を透過する光を弱めるので、測定を撹乱する要因となるカバーガラスからの反射光を抑えることができるので、オートコリメータを用いても正確に傾きを測定することができる。【００１６】
（２）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置は、スライドガラスの前記傾きを補正する傾き補正部をさらに具備し、前記制御部は、前記傾き補正部に前記検出された傾きを補正させる構成でもよい。【００１７】
（３）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置では、前記検出部は、検出する対象を前記検体の位置からラベル部分の位置に切り替えて検出し、前記制御部は、前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる構成でもよい。【００１８】
本技術では、光学的角度測定器（オートコリメータ）のレーザ光をスライドにあるラベル部分に裏側から照射するので、カバーガラスからの反射光による撹乱がなく、正確にスライドの傾きを検出することができる。【００１９】
（４）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置では、前記検出部は、前記検体の位置を検出できないとき、前記スライドのラベル部分の位置を検出し、前記制御部は、前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる構成でもよい。【００２０】
本技術では、最初に、光学的角度測定器（オートコリメータ）のレーザ光を検体部分に照射するために、スライド上での検体の位置の検出を試みるが、検体の位置が検出できない場合、次善の策として、ラベル部分の裏側にレーザ光を照射する。それ故、スライドの傾きを検出できる機会を増やすことができる。【００２１】
（５）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置は、前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、前記制御部は、スライドガラスの周縁領域の４つの隅部を第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部および第４の隅部として、前記第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部に直角三角形の頂点にそれぞれ対応する３つの測定点として、第１の測定点、第２の測定点および第３の測定点を設定し、前記直角三角形の互いに直交する２辺のうち一方の辺に対応する第１の方向に設定された前記第１の測定点および第２の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとにスライドガラスの前記第１の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御し、他方の辺に対応する第２の方向に設定された前記第２の測定点および第３の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとにスライドガラスの前記第２の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御する構成でもよい。【００２２】
本技術では、距離測定器を使ってスライド上の３点までの距離測定し、スライドの傾きを求める。３点のみの測定を行うので、短時間で傾きを測定することができる。【００２３】
（６）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置では、前記制御部は、前記距離の測定に失敗した測定点が発生すると、少なくとも、前記第４の隅部に、新たな第４の測定点を設定し、この第４の測定点に対する距離の測定を距離測定器に実行させる構成でもよい。【００２４】
本技術では、３つの測定点での距離が分からないと傾きの補正ができないので、距離の測定に失敗した点がある場合は、新たに測定点を設けて３点分の測定を行う。それ故、スライドの傾きを測定できる機会を増やすことができる。【００２５】
（７）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置では、前記制御部は、前記第1の測定点での測定に失敗したときは、前記第３の測定点と、前記第４の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正し、前記第２の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、前記第３の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、前記第５の測定点と、前記第２の隅部に新たに設定する第６の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正する構成でもよい。【００２６】
本技術では、距離の測定に失敗した点が３つの測定点のうちいずれで発生しても、新たに必要な数の測定点を設けて３点分の測定を行う。それ故、スライドの傾きを測定できる機会を増やすことができる。【００２７】
（８）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置では、前記距離測定器は、前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側から距離を測定する構成でもよい。【００２８】
本技術では、距離を測定するために、スライドガラスの、検体が載っている側と反対の側からレーザ光を当てて測定を行うので、検体や包埋材、カバーガラス、ラベルに光路を邪魔されることなく、容易にスライドガラスまでの距離を測定し、スライドガラスの傾きを算出することができる。【００２９】
（９）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置は、前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、前記制御部は、前記光学的角度測定器による前記ラベル部分の裏側での前記傾きの検出に失敗したとき、前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせる構成でもよい。【００３０】
本技術では、まず光学的角度測定器（オートコリメータ）での傾き測定を試みる。最初に検体の下側での測定を試みるが、検体の位置が特定できない場合、次にラベル部分での測定を試みる。ラベル部分でも測定に失敗した場合、オートコリメータでの測定は諦め、距離測定器での測定を行う。それ故、スライドの傾きを適切に測定する機会を増やすことができる。【００３１】
（１０）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る画像取得装置は、前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、前記制御部は、前記光学的角度測定器による前記傾きの検出に加え、前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせ、前記検出された傾きの平均値により前記傾き補正部に前記傾きを補正させる構成でもよい。
（１１）上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る傾き測定方法では、スライドガラスとカバーガラスとの間に検体を介在させたスライドをステージに載置し、前記スライドにおける前記検体の位置を検出し、前記検出された検体の位置に、前記スライドガラスの前記検体が載っている側と反対の側から光学的角度測定器よりレーザ光を照射して、前記ステージ上での前記スライドガラスの傾きを検出する。
【発明の効果】
【００３２】
以上のように、本技術によれば、短時間でスライドガラスの傾きを測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】スライドガラスの下側からオートコリメータ１０によりスライドの傾きを測定する様子を示す図である。
【図２】スライド１６における表面反射と裏面反射の様子を示す図である。
【図３】表面反射光Ａ’および裏面反射光Ｂ’の強度と位置の関係を示すグラフである。
【図４】大きくうねったカバーガラス１４により反射された裏面反射光Ｂ’の様子を示す図である。
【図５】表面スポットと裏面スポットとが重なって検出される場合に、スポットの重心が合成されてしまう様子を示す図である。
【図６】オートコリメータ１０をレーザ発射器１０Ａと検出器１０Ｂとに分離して、斜めから光を当てる方法を示す図である。
【図７】スライド１６のラベル部分１５の下側からオートコリメータ１０のレーザ光を照射して傾きを測定する様子を示す図である。
【図８】ラベル部分１５におけるスライドガラス１１の傾きと、検体１２がある部分のスライドガラス１１の傾きとが異なる場合を示した図である。
【図９】スライド１６の検体１２の下側からオートコリメータ１０のレーザ光を照射して傾きを測定する様子を示す図である。
【図１０】スライド１６上の検体１２の位置を特定して傾きの測定を行う処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】スライド１６上の検体１２の位置を特定した場合に傾きの測定を行う処理と特定できなかった場合に傾きの測定を行う処理とを組み合わせた流れを示すフローチャートである。
【図１２】スライドガラス１１の下側から４個の高さ測定器２０を用いてスライド１６の傾きを測定する様子を示す図である。
【図１３】高さ測定器を用いた従来の測定方法を示す図である。
【図１４】本技術における測定方法の基本的な考え方を表した図である。
【図１５】測定点に測定不能な点があり、新たに測定点を設けていく様子を示す図である。
【図１６】解決策を含めた本技術による測定方法の具体例の流れを説明するフローチャートである。
【図１７】湾曲がひどいスライド１６において傾きを複数の平面により近似して測定する方法を説明する図である。
【図１８】湾曲がひどいスライド１６において傾きを２次方程式により近似して測定する方法を説明する図である。
【図１９】オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる場合の流れを示すフローチャートである。
【図２０】オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる場合の別の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。
本技術では、スライドガラスの傾きを測定する方法として、２つの方法を説明する。１つの方法は、オートコリメータという傾き検出器を使う方法であり、もう一つの方法は、高さ測定器を使う方法である。
【００３５】
オートコリメータを用いる場合、傾きを高精度で正確にかつ高速に測定することができる反面、１点での傾きを測定するので局所的な傾きしか測定できず、スライドの表面反射と裏面反射の区別がつかず正確な測定ができない場合があったりする。
【００３６】
また、高さ測定器を用いる場合、本技術では最低３か所の高さを測定するので、スライドガラスの平均的な傾きを算出することができる反面、３か所の測定を行わなければならず、オートコリメータを用いる場合に比べ測定時間がかかってしまう。
【００３７】
なお、３箇所において高さ測定を行う為には、３個の高さ測定器を用いる方法と、ステージを移動させて３か所において１個の高さ測定器により測定する方法とがある。前者は３か所同時並行で測定を行うことが出来るので後者に比べて１／３以下の測定時間で済むが、高さ測定器３個分のコストがかかる。後者は、コストは低くなるがステージを移動させて高さ測定器の測定位置にスライドの測定点３箇所を合わせて順次測定しなければならず測定時間がかかる。
【００３８】
本技術に係るスキャナでは、オートコリメータと高さ測定器のうち、どちらか一方の方法を用いてもよいし、両方を備えたうえで、ユーザのニーズに基づいてこれらの方法を切り替えて用いたり、一方での測定に失敗した場合、もう一方での測定を行ったりしてもよい。
【００３９】
以下の説明では、最初にオートコリメータを用いる方法について詳述し、次いで高さ測定器を用いる方法について詳述し、最後にオートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる方法について詳述する。
【００４０】
＜オートコリメータを用いる方法＞
ここでは、オートコリメータを用いて顕微鏡のステージ上に載置されたスライドガラスの傾きを測定する方法について説明する。図１は、スライドガラスの下側からオートコリメータ１０によりスライドの傾きを測定する様子を示す図である。
【００４１】
オートコリメータは、レーザ光を測定対象の面に照射し、その反射光の反射角度を検出することにより測定面の傾きの測定を行う。それ故、上記のとおり、最低３点の高さを測り面合成して傾きを求める方法に比べ、１点のみの測定で傾きが分るので、高速に測定できるという特徴がある。
【００４２】
［表面反射と裏面反射の問題について］
オートコリメータは、鏡などの反射体の表面の傾き測定には向いているものの、スライドガラスの様な透明な対象物であると、表面反射と裏面反射が検出されてしまうという問題がある。図２は、スライド１６における表面反射と裏面反射の様子を示す図である。
【００４３】
オートコリメータ１０から射出されたレーザ光Ａは、主にスライドガラス１１の下側の表面において反射され（表面反射光Ａ’）、オートコリメータ１０に戻る。その際、一部のレーザ光がスライドガラス１１、検体１２、包埋材１３、カバーガラス１４を透過し（レーザ光Ｂ）、カバーガラス１４の上側の表面で反射する（裏面反射光Ｂ’）。スライドガラス１１と包埋材１３の屈折率はほぼ同じなので、その境界面での反射はあまり起こらない。
【００４４】
通常は、図３に示すように、表面反射光Ａ’の強度が裏面反射光Ｂ’の強度より強い（光量が多い）ので、強度の強いほうの反射光の中心点の位置を測定することにより、スライドガラス１１下面の傾きを測定することができる。
【００４５】
しかし、スライドガラス１１下側の表面にゴミや汚れがあったりすると、裏面反射光Ｂ’のほうが強くなり、間違って、カバーガラス１４側の傾きを測定してしまう可能性がある。
【００４６】
一般的に、スライドガラスは０．９ｍｍから１．７ｍｍ程度の厚みがあるのに対して、カバーガラスは０．１ｍｍから０．２ｍｍ程度の厚みしかない。そのため、カバーガラス１４は包埋材の硬化時の収縮の影響を強く受けやすく、図４に示すように、スライドガラス１１に比べ大きくうねってしまう可能性が高い。
【００４７】
そのため、裏面反射光Ｂ’のほうが強いと、カバーガラス１４の傾きを測定してしまい、スライド１６の傾きを適切に測定することはできないという問題があった。
【００４８】
また、表面反射光Ａ’がオートコリメータ１０に戻って形成するスポット（表面スポット）と、同じく裏面反射光Ｂ’が形成するスポット（裏面スポット）とが重なる場合に、正確に表面スポットの重心が計算されず適切に傾きが計算されないという問題があった。
【００４９】
図５は、表面スポットと裏面スポットとが重なって検出される場合に、スポットの重心が合成されてしまう様子を示す図である。本来ならば表面スポットのみの重心位置を求めなければ正確な傾きを測定できないが、この図にあるように、裏面スポットも含めた両方のスポットを１つと認識してしまい、合成された重心が求められてしまい誤差が生じるという問題があった。
【００５０】
以上のような問題があるため、オートコリメータ１０を用いてスライド１６の傾きを測定する場合には、表面反射光のみを検出する必要がある。
【００５１】
［表面反射光のみを利用する方法（その１）］
表面反射光のみを検出する方法として、図６に示すように、オートコリメータ１０をレーザ発射器１０Ａと検出器１０Ｂとに分離して、斜めから光を当てる方法がある。この方法では、図に示すように、裏面反射光は反射位置がずれて表面反射光と分離されるので、表面反射光だけを抽出できる。
【００５２】
しかし、レーザ発射器１０Ａと検出器１０Ｂとを分離しているため、より多くの設置スペースが必要となる点、光軸の調整が難しい点、被測定物までの距離に制限が加わる点などが問題となり、量産品には使用しづらい。そのため、本技術ではこの構成を採用しない。
【００５３】
［表面反射光のみを利用する方法（その２）］
次の表面反射光のみを利用する方法は、病理スライドの特徴を利用する方法である。
【００５４】
病理スライドでは、患者名やその他の情報を示すために、スライドガラス１１にラベルを貼ったり、ガラスのラベルに相当する部分をすりガラス状にして、そこにペンで情報を記載したり、プリンタを用いて印刷したりする。
【００５５】
これらラベルが貼られた部分やすりガラス状の部分（以下、ラベル部分１５という）では、スライド１６の下側からレーザ光を当てても裏面反射光は返ってこない。そのため、図７に示すように、この特徴を利用し、スライドガラス１１の傾きの測定を行うことが可能である。
【００５６】
しかしながら、一部のスライドでは、ラベル部分１５におけるスライドガラス１１の傾きと、検体１２がある部分のスライドガラス１１の傾きとが異なる場合がある。図８は、ラベル部分１５におけるスライドガラス１１の傾きと、検体１２がある部分のスライドガラス１１の傾きとが異なる場合を示した図である。このような状態は、ラベル部分１５やその近傍には包埋材１３が無い為に包埋材１３の硬化時の収縮の影響をあまり受けないため、また、包埋材１３の硬化収縮が強いために発生する。
【００５７】
このように、ラベル部分１５の下の傾きを測定する方法では、一部のスライドにおいて、検出したいスライド１６の傾きと実際に検出した傾きとに乖離が生じる場合があることを考慮しなければならない。
【００５８】
［表面反射光のみを利用する方法（その３）］
次の表面反射光のみを利用する方法も病理スライドの特徴を利用する方法である。
【００５９】
この方法では、図９に示すように、オートコリメータ１０のレーザ光を、スライド１６の検体１２がある位置に照射し、その位置の傾きを測定する。
【００６０】
この方法では、検体１２によりレーザ光が散乱するので、裏面反射の光量を減らしたり、光量を完全に無くしたりすることが可能となる。裏面反射光の光量を完全に無くすことが出来なくても、裏面反射光の光量が表面反射光の光量より確実に少ないことにより、上記の表面スポットと裏面スポットとの取り違えを防ぎ、適切な測定を行うことができる。
【００６１】
この方法ではスライド１６上の検体１２の位置を正確に特定する必要がある。そのため、以下に述べる処理を行う。図１０は、スライド１６上の検体１２の位置を特定して傾きの測定を行う処理の流れを示すフローチャートである。
【００６２】
なお、スキャナ（画像取得装置）は、サムネイル画像撮像部（撮像部）、制御部、画像認識部（検出部）、ステージ移動部、ステージ、オートコリメータ１０（光学的角度測定器）、傾き補正部を具備している。これらについては図示していない。
【００６３】
まず、サムネイル画像撮像部が、制御部の指示に従い、スライド１６の全体を撮影する（ステップＳ１）。この撮影は、透過光を用いて行う。ここで撮影されたスライド１６全体の画像をサムネイル画像と呼ぶ。
【００６４】
次に、画像認識部が、制御部の指示に従い、サムネイル画像の中から検体１２の存在する確率が高い部分の座標を算出する（ステップＳ２）。
【００６５】
画像認識部では具体的な画像認識処理として、透過光を用いて撮影されたサムネイル画像から、スライド１６のエッジ部分およびラベル部分１５を除いて最も輝度が低い部分の座標を検出する。最も輝度が低い部分では、検体１２がある可能性が高いと考えられるためである。
【００６６】
画像認識部は、ゴミなどを誤検出しないため、予め定められた閾値を設け、その閾値を超える輝度の部分を検出したときに、その部分の座標を検体１２の存在する確率が高い位置とする計算を行う。
【００６７】
次に、ステージ移動部が、制御部の指示に従い、スライド１６が載ったステージの移動を行い、オートコリメータ１０のレーザ光が照射される位置を、検体１２の存在する確率が高い位置に移動させる（ステップＳ３）。
【００６８】
最後に、オートコリメータ１０が、制御部の指示に従い、スライド１６の傾きを測定する（ステップＳ４）。
【００６９】
以上のように、検体１２の存在する確率が高い部分にレーザ光を照射することにより、裏面反射の光量が低下するので、スライド１６の傾きを短時間で正確に測定する事が可能になる。
【００７０】
なお、スライド１６の傾きが適切に測定された後、傾き補正部がスライド１６の傾きを補正して、片ぼけなどが発生していない適切な病理画像が撮影される。傾きの補正方法としては、スライドガラス１１のみを傾けたり、スライド１６が載置されたステージの傾きを補正したり、撮像する光学系側で傾きを補正したりする方法のいずれでもよい。
【００７１】
［表面反射光のみを利用する方法（組み合わせ）］
次に、上記の表面反射光のみを利用する方法（その２）と表面反射光のみを利用する方法（その３）の組み合わせについて説明する。
【００７２】
この方法は、検体１２が脂肪細胞など色の薄いものであったり、検体の切り出しが薄かったり、染色が薄かったりという理由により、どうしてもサムネイル画像から検体１２の存在する確率が高い位置を特定できない場合に有効である。
【００７３】
この方法では、検体１２の存在する確率が高い位置を特定できない場合、非常用としてオートコリメータ１０のレーザ光照射位置がラベル部分１５の下に来るようにステージを移動し傾きの測定を行う。
【００７４】
図１１は、スライド１６上の検体１２の位置を特定した場合に傾きの測定を行う処理と特定できなかった場合に傾きの測定を行う処理とを組み合わせた流れを示すフローチャートである。なお、ステップＳ１からＳ４までの処理は上記と同じなので、説明を省略する。
【００７５】
ステップＳ１およびステップＳ２の処理の後、すなわちステップＳ２において画像認識部がサムネイル画像に対して検体１２の存在する確率が高い位置の検出を試みた後、制御部は、検出が成功したか否かを判断する（ステップＳ５）。
【００７６】
ステップＳ５において、検体１２の検出が成功しなかったと判断された場合（ステップＳ５のＮｏ）、ステージ移動部は、制御部の指示に従い、スライド１６のラベル部分１５の下にオートコリメータ１０のレーザ光が照射されるように、ステージの移動を行う（ステップＳ６）。
【００７７】
次に、オートコリメータ１０が、スライド１６の傾きを測定する（ステップＳ７）。
【００７８】
以上のように、検体１２の存在する確率が高い部分が見つからなかった場合でも、ラベル部分１５での傾き測定を行うので、適切な傾きを得られる機会を増加させることが出来る。
【００７９】
以上、ここまで、オートコリメータ１０を用いて短時間でスライド１６の傾きを測定する方法について説明した。
【００８０】
＜高さ測定器を用いる方法＞
ここでは、高さ測定器を用いて顕微鏡のステージ上に載置されたスライドガラス１１の傾きを測定し補正する方法について説明する。図１２は、スライドガラス１１の下側から４個の高さ測定器２０を用いてスライド１６の傾きを測定する様子を示す図である。なお、この図では、４個の高さ測定器２０を用いているが、上述のとおり、最低３か所の高さを測定すればよく、必ずしも４個の高さ測定器２０が必要というわけではない。
【００８１】
なお、高さ測定器には、接触式の測定器と非接触式の測定器とが存在し、理論的にはどちらの方式を使っても高さを測定できる。しかし、測定箇所にゴミなどがあったときにその存在を知る手段を具備しているという点で、非接触式、中でも光学式の高さ測定器が好ましいので、本技術では、この光学非接触式の高さ測定器を用いる。
【００８２】
光学非接触式高さ測定器では、三角測量の原理により測定対象に、発光部から出射したレーザ光を当てその反射光を受光部にて受光し測定するので、測定箇所にゴミがある場合は反射光が減衰するか、もしくは反射光が全く返ってこなくなるため、ゴミの存在を知ることが可能である。
【００８３】
［従来の測定方法］
高さ測定器を用いる場合でも、本技術では短時間で測定できることを説明するために、まず、高さ測定器を用いた従来の測定方法について説明する。
【００８４】
図１３は、高さ測定器を用いた従来の測定方法を示す図である。従来は、スライド１６のうち、ラベル部分を除いた領域に対して均等に測定を行い、得られたそれぞれの高さに基づき最小二乗平面を計算し、傾きを求めていた。この図では、１５箇所の測定点において高さを測定し、測定結果に基づき、スライド１６の傾きを修整する。修正した傾きが基準値以内であれば傾きの調整を終了する。傾きが基準値以内に入らなければ、再度１５箇所の測定を行う。このように、従来の方法では、測定点が多いので精度が高い一方、１５×Ｎ回（Ｎは自然数）の測定が必要であり、短時間での傾きの測定と補正は不可能であった。
【００８５】
［本技術による測定方法（基本的な考え方）］
次に、本技術では短時間で傾きを測定し補正できる理由を説明する。その理由は、測定点を最低３箇所に絞った点と、スライド１６のＸ軸方向およびＹ軸方向の傾きをそれぞれ独立して測定および補正する点にある。図１４は、本技術における測定方法の基本的な考え方を表した図である。この図に基づいて以下説明を行う。
【００８６】
なお、以下の説明では、スキャナが備えている高さ測定器２０は１個である事を前提にしている。これは、高さ測定器２０を複数備える構成ではさらに短時間で傾きの測定ができるものの、コストが上がり現実的ではないためである。なお、３箇所の高さを測定するために以下の説明では、スライド１６が載置されたステージを移動させているが、この構成に限らず、高さ測定器２０のほうを移動させてもよい。
【００８７】
測定点を最低３点とした理由は、最低３点を測定すれば傾きを求める平面の方程式を生成することができる事と、高さ測定器２０の測定位置にスライド１６の測定点が来るようにステージを移動させる時間や測定点での測定時間を考えると、測定点の数は少ないほうがよい事である。
【００８８】
また、３つの測定点は、スライド１６に４つある隅の部分のうち、３つの隅の部分にそれぞれ設ける。これは、スライド１６の外側の隅に測定点を設けるほうが、測定点間の距離が長くなり、スライド１６の傾きを求める際に誤差を減らすことが出来るからである。
【００８９】
また、スライド１６の傾きの調整は、スライドガラスの長辺方向をＸ軸、短辺方向をＹ軸として、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に分けて行うとして、測定点とする３点は、スライドガラス表面上において直角三角形を形成し、その直角三角形の直交する２辺がそれぞれＸ軸およびＹ軸のいずれか一方の軸と平行になるように設定されることが好ましい。なお、以下では、スライドガラスの長辺方向であるＸ軸と、短辺方向であるＹ軸とは、ステージのＸ軸、Ｙ軸とそれぞれ一致しているとして説明を行っている。
【００９０】
なお、以下の処理では、測定点３点の高さをまとめて測定し、平面の傾きを測定するのではなく、測定点２点のみの高さを測定し直線補間することにより、平面の傾きの一方向、例えばＸ軸方向のみを測定し補正する。そして、直交する残りの方向での傾きを測定し補正する。
【００９１】
なお、スキャナ（画像取得装置）は、サムネイル画像撮像部（撮像部）、制御部、画像認識部（検出部）、ステージ移動部、ステージ、高さ測定器２０（距離測定器）、傾き補正部を具備している。これらについては図示していない。
【００９２】
まず、制御部は、ステージ移動部に指示し、サムネイル画像の画像認識により得られた測定点１の位置に高さ測定器２０の測定位置が来るようにステージを移動させ、測定点１において高さ測定器２０に高さの測定を行わせる。次いで、制御部は、ステージ移動部に指示し、測定点２の位置での測定ができるようにステージを移動させ、測定点２での高さを測定する。なお、測定点２の位置は、測定点１と測定点２を結ぶ線分がＸ軸と平行となる位置であることが好ましい。
【００９３】
次に、制御部は、測定した２つの高さより、Ｘ軸方向の傾きを算出し、この傾きが基準値以内に収まっているか否かを判断する。基準値は、スキャナが大判のイメージセンサを用いる場合に、片ぼけなどが発生しない傾きを予め調べて定められた値である。
【００９４】
測定された傾きが基準値以内に収まっていない場合は、収まるように、傾き補正部がスライド１６の傾きを補正する。なお、傾きの補正方法は、オートコリメータ１０を用いる上記の方法と同じく、スライドガラス１１のみを傾けたりチルトさせたり、スライド１６が載置されたステージの傾きを補正したり、撮像する光学系側で傾きを補正したりする方法のいずれでもよい。
【００９５】
次に、制御部は、高さ測定器２０に測定点２の高さを再度測定させ、測定点３の位置で測定ができるようステージを移動させ、高さ測定器２０に測定点３の高さを測定させる。測定点３の位置も、測定点２と測定点３を結ぶ線分がＹ軸と平行となる位置であることが好ましい。
【００９６】
そして、制御部は、測定した２つの高さより、Ｙ軸方向の傾きを算出し、この傾きが基準値以内に収まっているか否かを判断する。そして、測定された傾きが基準値以内に収まるように、傾き補正部がスライド１６の傾きを補正する。
【００９７】
このように、本技術では、基本的には、最低３箇所の測定点において測定を行うので、高さ測定は最低３回で済み、ステージの移動は最低２回で済む。なお、高さ測定の回数およびステージ移動の回数は、傾き補正が繰り返される毎に増加していく。
【００９８】
以上が本技術による測定方法の基本的な考え方である。
【００９９】
［本技術の基本的な考え方に関する問題点］
上記において説明した本技術による測定方法の基本的な考え方だけでは、問題点がある。スライド１６の測定点に、ゴミや埃、指紋、包埋材１３のはみ出しによる汚れなどが付着しており、高さ測定器２０からその測定点に光を当てても反射光が適切に戻らず、光量不足により正常に高さが測定できない場合がある点である。１つの測定点において高さが測定できないと、有効な測定点の個数が２個以下になり、平面の傾きを測定することが出来なくなってしまう。
【０１００】
［本技術の問題点に対する解決策］
上記の問題点に対し、本技術では、以下の解決策を採る。すなわち、最低３点の測定を行ううち、１点でも適切に高さの測定が行えなかった場合は、新たに別の測定点を設け、３点分の測定を行うことにより、平面の傾きを求め補正を行う。
【０１０１】
新たに設ける別の測定点は、まだ測定点を設けていない４つめの隅の部分に設ければよい。この場合も、上述のように、３つの測定点が直角三角形を形成し、直交する２辺がそれぞれＸ軸、Ｙ軸の一方と平行となるように、新たな測定点を設ける事が好ましい。
【０１０２】
もし、４つ目の測定点を設けても測定不能点がある場合は、最初の４つの測定点を結んでできる矩形よりも内周側に新たに測定点を設けて測定を続ける。
【０１０３】
別の測定点を設ける際のポイントは、測定不能であった点にはゴミなどが付着している事を想定し、そのゴミなどの影響が無いであろう位置に新たな測定点を設けることである。なお、測定不能とは、測定対象物からの反射光の光量が不足して測定できない場合に加え、高さ測定器が異常な値を高さとして示す場合も含む。
【０１０４】
図１５は、測定点に測定不能な点があり、新たに測定点を設けていく様子を示す図である。この図では、本技術による測定方法の基本的な考え方において説明したように、当初、スライド１６のラベル部分１５以外の領域の外周部において、測定点１から測定点３を用いて測定を試みる。しかし、これらの測定点の中に測定不能な点が存在していたので、次に、スライド１６の４隅のうちまだ測定点を設けていない右上の隅に測定点４を設け、スライド１６の測定点２から測定点４を用いて測定を試みる。
【０１０５】
測定点２から測定点４の中にも測定不能点が含まれていた場合、次に、スライド１６の右下隅、測定点１より内周側に、新たに測定点５を設け、測定点３から測定点５を用いて測定を試みる。
【０１０６】
なお、この図では、例えばスライド１６の右下隅に新たな測定点５を設ける場合に、測定点１より内周側に設けているが、これはあくまで例である。新たな測定点を設ける位置は、同じ隅において、内周側に限らなくてもよい。別の測定点を設ける際のポイントにおいて説明したように、測定不能点のゴミの影響が無いであろう位置であってもよい。
【０１０７】
但し、Ｘ軸方向の傾き成分やＹ軸方向の傾き成分を正確に測るためには、傾き測定に用いる２つの測定点を結んだ直線が、Ｘ軸またはＹ軸と平行になるように測定点を設けることが好ましい。
【０１０８】
同様にして、この図では、測定点８までを設けて測定をし直している。
【０１０９】
なお、本技術では、スライド１６の外周部の隅から測定を始めるが、これは、上述のとおり、スライド１６の外側の隅に測定点を設けるほうが、測定点間の距離が長くなり、スライド１６の傾きを求める際に誤差を減らすことが出来るからである。
【０１１０】
また、上記の説明では、スライド１６のうち、ラベル部分１５を除いた領域に測定点を設けているが、測定点は、スライドガラス１１の上側がラベル部分１５である領域を含んで設定されても構わない。但し、湾曲率が異なる２つの領域に亘って測定を行うので、測定されるスライド１６の傾きの精度は、ラベル部分１５を除いた領域のみに測定点を設ける場合に比べて劣る。
【０１１１】
また、上記の説明では、スライド１６の４つの隅の部分を順次使いながら測定点を設けていったが、この構成以外に、測定点を設ける隅の部分は３つだけに限り、測定不能点が発生した場合は、それら３つの隅の部分内において新たな測定点を設けていく構成でもよい。この構成でも、測定に用いる３点の位置関係が、上記の直角三角形の配置であることが好ましい。
【０１１２】
以上の解決策により、最低３箇所において高さを測定し、ゴミなどにより測定が不能な点が発生した場合のみ、測定不能な点に代わって追加して測定点を増やすので、必要最小限の測定回数でスライド１６の傾きを測定し補正することができる。
【０１１３】
［解決策を含めた本技術による測定方法の規則（具体例）］
次に、上記において説明した解決策を含んだ、本技術によるスライド１６の傾き測定および補正の基本的な規則を説明する。
【０１１４】
（１）測定点Ｎおよび測定点Ｎ＋１は、サムネイル画像の画像認識により求められた、ラベル部分１５を除いた領域の四隅に、順次内周側にいくように設定していく。
（２）傾きの測定は、測定点Ｎ（Ｎは自然数）と測定点Ｎ＋１における高さを測定して、一方向のみ行う。
（３）Ｎが奇数の時は、Ｘ軸方向の傾きを測定、補正する。なお、スライド１６の位置とＸ軸、Ｙ軸の関係は、図１５に示すとおりとする。
（４）Ｎが偶数の時は、Ｙ軸方向の傾きを測定、補正する。
（５）Ｘ軸方向、Ｙ軸方向それぞれにおいて傾きが基準値以内に収まれば測定および補正を終了する。
（６）傾きが基準値以内に収まらなければ、測定と補正を繰り返しリトライする。
（７）傾きが基準値以内に収まらない場合でも、リトライ回数が最大リトライ回数を超えたら、Ｎを１だけ増やし、新たな測定点で測定と補正を行う。
（８）測定点Ｎが測定不能の場合、Ｎを１だけ増やし、新たな測定点で測定と補正を行う。
（９）測定点Ｎ＋１が測定不能の場合、Ｎを２だけ増やし、新たな測定点で測定と補正を行う。
（１０）傾きが基準値以内に収まらない場合は、Ｎの値を増やしていくが、Ｎの値が、測定点限度値を超えたら、エラーとして測定および補正を終了する。
【０１１５】
以上が、問題の解決策を含めた本技術の測定方法の規則の具体例である。
【０１１６】
［解決策を含めた本技術による測定方法の流れ（具体例）］
次に、上記において説明した解決策を含んだ、本技術によるスライド１６の傾き測定および補正の具体的な処理の流れを説明する。図１６は、解決策を含めた本技術による測定方法の具体例の流れを説明するフローチャートである。
【０１１７】
まず、制御部は、Ｎを初期値０に設定する（ステップＳ１１）。
【０１１８】
次に、制御部は、Ｘ軸方向の傾きおよびＹ軸方向の傾きが基準値以内であるかを判断する（ステップＳ１２）。最初は傾きの値が測定されていないので、傾きは基準値以内ではないと判断される（ステップＳ１２のＮｏ）。
【０１１９】
次に、制御部は、Ｎの値を１だけ増やして１とし、リトライ回数を０に設定する（ステップＳ１３）。
【０１２０】
次に、制御部は、Ｎの値が奇数であるか否かを判断する（ステップＳ１４）。最初、Ｎは１であるので（ステップＳ１４のＹｅｓ）、ステップＳ１５の処理に進む。
【０１２１】
ステップＳ１５では、まず制御部が、測定点１において、高さ測定器を用いて高さを測定する。次いでステージ移動部に指示し、高さ測定器を測定点２に移動させ、高さ測定器を用いて高さを測定する。測定点１および測定点２の高さからＸ軸方向のスライド１６の傾きを測定し、測定した傾きが基準値以内であるか否かを判断する（ステップＳ１５）。
【０１２２】
ステップＳ１５において、測定した傾きが基準値以内ではない場合（ステップＳ１５のＮｏ）、制御部は、リトライ回数を１だけ増やすと共に、傾き補正部を用いて、スライド１６の傾きを補正する。そして、制御部が、測定点２において、高さ測定器を用いて高さを測定する。次いでステージ移動部に指示し、高さ測定器を測定点１に移動させ、高さ測定器を用いて高さを測定する。（ステップＳ１６）。
【０１２３】
次に、制御部は、測定点Ｎ＋１が測定不能であったかを判断する（ステップＳ１７）。
【０１２４】
測定点Ｎ＋１では適切に測定が行われた場合（ステップＳ１７のＮｏ）、制御部は、次に、測定点Ｎが測定不能であったかを判断する（ステップＳ１８）。
【０１２５】
測定点Ｎでは適切に測定が行われた場合（ステップＳ１８のＮｏ）、制御部は、次に、リトライ回数が最大リトライ回数に達したか否かを判断する（ステップＳ１９）。
【０１２６】
最大リトライ回数に達していない場合（ステップＳ１９のＹｅｓ）、制御部は、ステップＳ１５に戻って、新たに測定したＸ軸方向の傾きが、基準値以内であるかを判断する（ステップＳ１５）。
【０１２７】
ここで、ステップＳ１５において、Ｘ軸方向の傾きが基準値以内である場合（ステップＳ１５のＹｅｓ）、制御部は、処理をステップＳ１２に戻す。
【０１２８】
ステップＳ１２では、制御部は、Ｘ軸方向の傾きおよびＹ軸方向の傾きが基準値以内であるかを判断する（ステップＳ１２）。Ｙ軸方向の傾きの値はまだ測定されていないので、傾きは基準値以内ではないと判断され（ステップＳ１２のＮｏ）、ステップＳ１３の処理に進む。
【０１２９】
次に、制御部は、Ｎの値を１だけ増やして２とし、リトライ回数を０に設定する（ステップＳ１３）。
【０１３０】
次に、制御部は、Ｎの値が偶数であるか否かを判断する（ステップＳ１４）。今回、Ｎは２であるので（ステップＳ１４のＹｅｓ）、ステップＳ２０の処理に進む。
【０１３１】
ステップＳ２０からＳ２４までの処理は、ステップＳ１５からＳ１９までの処理と同様なので、説明は省略する。
【０１３２】
ステップＳ２０からＳ２４までにおいて、正常に測定および補正が行われた場合、制御部は、処理をステップＳ１２に戻す。
【０１３３】
ステップＳ１２では、Ｘ軸方向およびＹ軸方向の傾きが基準値以内となるので（ステップＳ１２のＹｅｓ）、制御部は、処理を終了する。
【０１３４】
なお、ステップＳ１６またはステップＳ２１において、測定点Ｎおよび測定点Ｎ＋１における高さを測定した後、測定点Ｎ＋１での測定が測定不能であった場合（ステップＳ１７のＹｅｓ、またはステップＳ２２のＹｅｓ）、制御部は、ステップＳ２５およびステップＳ１３においてＮの値を２だけ増加さて、傾き測定および補正の処理を繰り返す。
【０１３５】
また、ステップＳ１６またはステップＳ２１において、測定点Ｎおよび測定点Ｎ＋１における高さを測定した後、測定点Ｎでの測定が測定不能であった場合（ステップＳ１８のＹｅｓ、またはステップＳ２３のＹｅｓ）、制御部は、ステップＳ１３においてＮの値を１だけ増加さて、傾き測定および補正の処理を繰り返す。
【０１３６】
以上が、上記において説明した問題点の解決策を含めた、本技術による測定方法の具体例の流れである。
【０１３７】
＜高さ測定器を用いる方法の発展例１＞
次に、高さ測定器を用いる方法の発展例の１つとして、湾曲がひどいスライド１６において傾きを複数の平面により近似して測定する方法を説明する。
【０１３８】
図１７は、湾曲がひどいスライド１６において傾きを複数の平面により近似して測定する方法を説明する図である。
【０１３９】
（１）まず、制御部は、測定点１および測定点２において、高さの測定を行う。そして測定により得られた２つの高さを直線補間する。
（２）次に、制御部は、測定点３において高さの測定を行う。
ここで測定された高さと直線補間により得られる高さとの差が、予め定められた基準値以内である場合は、湾曲がひどくはないと判断して、上記において説明した高さ測定器を用いた方法によりスライド１６の傾きを測定し補正を行う。
もし、ここで測定された高さと直線補間により得られる高さとの差が、予め定められた基準値を超えている場合は、以下の処理に進む。
（３）制御部は、さらに測定点４および測定点５において高さの測定を行う。そして、測定点１、３、４の高さから、平面１の傾きを求める。また、測定点２、３、５の高さから平面２の傾きを求める。すなわち、スライド１６の湾曲を、スライドガラス１１の長辺（Ｘ軸）方向に、測定点１から測定点３までと、測定点３から測定点２までの２つの領域に分割し傾きを計算する。
（４）制御部は、検体１２を撮影するとき、平面１に含まれる領域と、平面２に含まれる領域とで、それぞれ最適な傾きに補正したのち、撮影を行う。
【０１４０】
なお、上記の説明では、測定の際に、測定不能点が発生しない場合を説明した。もし、測定不能点が発生した場合は、上記の方法と同様に新たな想定点を設けて複数の平面の傾きを求めればよい。
【０１４１】
以上、スライド１６の湾曲がひどい場合に、湾曲を複数の平面により近似してスライド１６の傾きを測定し補正する発展例について説明した。
【０１４２】
＜高さ測定器を用いる方法の発展例２＞
次に、高さ測定器を用いる方法の別の発展例として、湾曲がひどいスライド１６において傾きを２次方程式により近似して測定する方法を説明する。
【０１４３】
図１８は、湾曲がひどいスライド１６において傾きを２次方程式により近似して測定する方法を説明する図である。
【０１４４】
（１）まず、制御部は、測定点１、測定点２、および測定点３において高さを測定する。
（２）次に、制御部は、得られた３つの高さから、後述する方法により近似する２次方程式を求める。この２次方程式は、Ｘ軸方向の傾きを補正する際に用いられる。
（３）次に、制御部は、測定点４において高さを測定し、測定点３の高さも用いて直線補間を行い、Ｙ軸方向の傾きを求める。スライドガラス１１は、Ｙ軸方向に湾曲する事はほとんどないので、直線補間を用いることが出来る。
（４）制御部は、スライド１１の検体１２を撮影する際、２次方程式から得られるＸ軸方向の傾きと、直線補間により得られるＹ軸方向の傾きとを用いて傾きを補正し、撮影を行う。
【０１４５】
［２次方程式の導出について］
ここでは２次方程式の導出について説明を行う。
【０１４６】
まず、２次方程式の一般式の表現方法であるが、これには、以下に示すように、数式（１）で表す形式と、数式（２）で表す形式の２種類の形式がある。
ｙ＝ｐ（ｘ−ｑ）２＋Ｒ    （１）
ｙ＝ａｘ２＋ｂｘ＋ｃ    （２）
【０１４７】
これら数式（１）および（２）より、ｐ、ｑ、ｒは、それぞれ数式（３）のように表される。このｑが求める値である。
【数１】
2014061227.tif 000003
【０１４８】
また、数式（２）より、誤差関数δを定義すると、数式（４）のように表される。
【数２】
2014061227.tif 000004
【０１４９】
そこで、ｉ＝１からＮまでのＮ回測定した合計をａ、ｂ、ｃでそれぞれ偏微分すると、数式（５）、（６）、（７）が得られる。
【数３】
2014061227.tif 000005
【０１５０】
数式（５）、（６）、（７）を変形して数式（５’）、（６’）、（７’）が得られる。
【数４】
2014061227.tif 000006
【０１５１】
数式（５’）、（６’）、（７’）を行列式化すると、数式（８）が得られる。
【数５】
2014061227.tif 000007
【０１５２】
ここで、数式（８）は、行列Ａ、ベクトルｕ、ｖを用いて単純化して表すとＡｕ＝ｖの形である。
そこで、行列Ａが正則行列であるとすると、ｕ＝Ａ-1ｖとなり、ａ、ｂ、ｃが求まる。
【０１５３】
求められたａおよびｂの値から数式（３）によりｑを求めることができる。
【０１５４】
以上、２次方程式の導出について説明した。
【０１５５】
＜オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる方法（その１）＞
ここでは、オートコリメータ１０と高さ測定器２０とを組み合わせて用いる最初の方法について説明する。図１９は、オートコリメータ１０と高さ測定器２０を組み合わせて用いる場合の流れを示すフローチャートである。
【０１５６】
この組み合わせ方法では、まず測定時間の短いオートコリメータ１０を用いた方法により傾きを測定し、オートコリメータ１０での測定がうまくいかなかった場合のみ、高さ測定器２０を用いて傾きの測定を行う。
【０１５７】
なお、以下の説明では、オートコリメータと高さ測定器の両方を傾き測定に用いているが、上述のとおり、これらは必ず一緒に用いなければならないものではなく、それぞれ単独で用いることができることは言うまでもない。
【０１５８】
まず、制御部は、オートコリメータ１０を用いて、スライド１６の検体１２の部分での傾き測定を行う（ステップＳ１１）。
【０１５９】
次に、制御部は、検体１２部分での測定が成功したか否かを判断する（ステップＳ１２）。なお、検体１２部分での測定が失敗した状態とは、スライド１６上での検体１２の位置が特定できなかった場合に加え、例えば、スライド１６からの反射光の光量が不足し測定が行えなかった場合も含んでいる。
【０１６０】
測定が成功した場合（ステップＳ１２のＹｅｓ）は、測定された傾きに基づいて、スライドの傾きを調整する（ステップＳ１３）。
【０１６１】
測定が失敗した場合（ステップＳ１２のＮｏ）、制御部は、オートコリメータ１０を用いて、スライド１６のラベル部分１５の下側での測定を行う（ステップＳ１４）。
【０１６２】
次に、制御部は、ラベル部分１５での測定が成功したか否かを判断する（ステップＳ１５）。なお、ラベル部分１５での測定が失敗した状態とは、例えば、スライド１６からの反射光の光量が不足し測定が行えなかった場合である。
【０１６３】
測定が成功した場合（ステップＳ１５のＹｅｓ）、制御部は、測定された傾きに基づいて、スライドの傾きを調整する（ステップＳ１３）。
【０１６４】
測定が失敗した場合（ステップＳ１５のＮｏ）、制御部は、高さ測定器２０を用いて、スライド１６の傾きの測定を行う（ステップＳ１６）。
【０１６５】
次に、制御部は、高さ測定器２０による測定が成功したか否かを判断する（ステップＳ１７）。なお、高さ測定器２０による測定が失敗する状態とは、測定点に測定不能点が混じり、３点の測定が行えない状態のことである。
【０１６６】
測定が成功した場合（ステップＳ１７のＹｅｓ）、制御部は、測定された傾きに基づいて、スライドの傾きを調整する（ステップＳ１３）。
【０１６７】
測定が失敗した場合（ステップＳ１７のＮｏ）、制御部は、中心値を用いて、スライド１６の傾きを調整する（ステップＳ１８）。
【０１６８】
以上が、オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる最初の方法の流れである。
【０１６９】
＜オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる方法（その２）＞
ここでは、オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる次の方法について説明する。図２０は、オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる場合の別の流れを示すフローチャートである。なお、測定が失敗した状態の定義は上述のものと同じである。
【０１７０】
この組み合わせ方法でも、最初にオートコリメータ１０を用いて傾きの測定を行う。最初の方法との大きな違いは、オートコリメータ１０による測定が成功した場合でも、続けて高さ測定器２０による傾きの測定を行うことである。
【０１７１】
まず、制御部は、オートコリメータ１０を用いて、スライド１６の検体１２の部分での傾き測定を行う（ステップＳ２１）。
【０１７２】
次に、制御部は、検体１２部分での測定が成功したか否かを判断する（ステップＳ２２）。
【０１７３】
測定が失敗した場合（ステップＳ２２のＮｏ）のみ、制御部は、オートコリメータ１０を用いて、スライド１６のラベル部分１５の下側での測定を行う（ステップＳ２３）。
【０１７４】
次に、制御部は、高さ測定器２０を用いて、スライド１６の傾きを測定する（ステップＳ２４）。
【０１７５】
次に、制御部は、オートコリメータ１０および高さ測定器２０を用いて行った測定のうち、２つの測定が成功したか否かを判断する（ステップＳ２５）。
【０１７６】
成功した測定が２つである場合（ステップＳ２５のＹｅｓ）、制御部は、成功した測定により得られた２つの測定値を平均して傾きを算出し、傾きの調整を行う（ステップＳ２６）。
【０１７７】
成功した測定が１つである場合（ステップＳ２５のＮｏ、ステップＳ２７のＹｅｓ）、制御部は、成功した測定により得られた１つの測定値を用いて傾きの調整を行う（ステップＳ２８）。
【０１７８】
１つも測定が成功しなかった場合（ステップＳ２７のＮｏ）、制御部は、中心値に傾きの調整を行う（ステップＳ２９）。
【０１７９】
以上が、オートコリメータと高さ測定器を組み合わせて用いる次の方法の流れである。
【０１８０】
［本技術の別の構成］
なお、本技術は以下のような構成も採ることができる。
（１）
スライドガラスに検体を載せカバーガラスで覆ったスライドを載置可能なステージと、
前記ステージを移動させるステージ移動部と、
前記スライド上での前記検体の位置を検出する検出部と、
前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側からレーザ光を照射して前記スライドガラスの傾きを検出可能な光学的角度測定器と、
前記レーザ光が前記スライドの前記検体の位置に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる制御部と  を具備した画像取得装置。
（２）
前記（１）に記載の画像取得装置であって、
スライドガラスの前記傾きを補正する傾き補正部をさらに具備し、
前記制御部は、
前記傾き補正部に前記検出された傾きを補正させる
画像取得装置。
（３）
前記（１）または（２）に記載の画像取得装置であって、
前記検出部は、
検出する対象を前記検体の位置からラベル部分の位置に切り替えて検出し、
前記制御部は、
前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる
画像取得装置。
（４）
前記（１）または（２）に記載の画像取得装置であって、
前記検出部は、
前記検体の位置を検出できないとき、前記スライドのラベル部分の位置を検出し、
前記制御部は、
前記レーザ光が前記ラベル部分の裏側に照射されるように前記ステージ移動部を制御し、前記光学的角度測定器に前記傾きを検出させる
画像取得装置。
（５）
前記（４）に記載の画像取得装置であって、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、
前記制御部は、
前記光学的角度測定器による前記ラベル部分の裏側での前記傾きの検出に失敗したとき、
前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせる
画像取得装置。
（６）
前記（４）に記載の画像取得装置であって、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器をさらに具備し、
前記制御部は、
前記光学的角度測定器による前記傾きの検出に加え、
前記距離測定器に前記傾きの検出を行わせ、
前記検出された傾きの平均値により前記傾き補正部に前記傾きを補正させる
画像取得装置。
（７）
スライドガラスに検体を載せカバーガラスで覆ったスライドを載置可能なステージと、
前記ステージを移動させるステージ移動部と、
前記スライドの全体を撮像する撮像部と、
前記撮像された画像から前記検体の位置を検出する検出部と、
前記スライドガラスの面に設定された測定点にレーザ光を照射し、前記スライドガラスの面からの反射光を受光して、前記スライドガラスの面までの距離を測定する距離測定器と、
前記スライドガラスの周縁領域の４つの隅部を第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部および第４の隅部として、前記第１の隅部、第２の隅部、第３の隅部に直角三角形の頂点にそれぞれ対応する３つの測定点として、第１の測定点、第２の測定点および第３の測定点を設定し、前記直角三角形の互いに直交する２辺のうち一方の辺に対応する第１の方向に設定された前記第１の測定点および第２の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとに前記スライドガラスの前記第１の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御し、
他方の辺に対応する第２の方向に設定された前記第２の測定点および第３の測定点での前記距離測定器による測定結果をもとに前記スライドガラスの前記第２の方向の傾きを算出して補正するように傾き補正部を制御する制御部と
を具備する画像取得装置。
（８）
前記（７）に記載の画像取得装置であって、
前記制御部は、
前記距離の測定に失敗した測定点が発生すると、
少なくとも、前記第４の隅部に、新たな第４の測定点を設定し、この第４の測定点に対する距離の測定を距離測定器に実行させる
画像取得装置。
（９）
前記（８）に記載の画像取得装置であって、
前記制御部は、
前記第1の測定点での測定に失敗したときは、前記第３の測定点と、前記第４の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正し、
前記第２の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、
前記第３の測定点での測定に失敗したときは、前記第４の測定点と、前記第１の隅部に新たに設定する第５の測定点とから前記第２の方向の傾きを算出して補正し、前記第５の測定点と、前記第２の隅部に新たに設定する第６の測定点とから前記第１の方向の傾きを算出して補正する
画像取得装置。
（１０）
前記（７）から（９）のうちいずれか１つに記載の画像取得装置であって、
前記距離測定器は、
前記ステージに載置された前記スライドガラスの、前記検体が載っている側と反対の側から距離を測定する
画像取得装置。
（１１）
スライドガラスとカバーガラスとの間に検体を介在させたスライドをステージに載置し、
前記スライドにおける前記検体の位置を検出し、
前記検出された検体の位置に、前記スライドガラスの前記検体が載っている側と反対の側から光学的角度測定器よりレーザ光を照射して、前記ステージ上での前記スライドガラスの傾きを検出する
傾き測定方法。
【符号の説明】
【０１８１】
１０…オートコリメータ
１１…スライドガラス
１２…検体
１３…包埋材
１４…カバーガラス
１５…ラベル部分
１６…スライド
２０…高さ測定器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【国際調査報告】
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2014061227.tif 000029
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