【手続補正書】
【提出日】平成27年2月20日(2015.2.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる粒径の粒状材が混合した粒状材料を撒き出して全体画像及び所定拡大倍率の部分画像を撮影し，前記全体画像から検出下限粒径ｄ１以上の複数の所定粗粒径ｄｉについて当該粗粒径ｄｉ以上の粒状材の画像全体に対する面積割合である粒度インデクスＩｉを算出し且つ前記粒状材料の標本から求めた変換式により粗粒径ｄｉの粒度インデクスＩｉを加積通過率Ｐ（ｄｉ）に変換して粒径ｄ１以上の粗粒径加積曲線Ｐ（ｄ≧ｄ１）を作成し，前記部分画像から粒径ｄ１以下の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ前記変換式により細粒径ｄｊの粒度インデクスＩｊを加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下の細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ１）を作成し，前記粗粒径及び細粒径加積曲線を合成して粒径加積曲線Ｐ（ｄ）を作成してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項２】
請求項１の方法において，前記部分画像を，前記粒状材料から篩い分けした前記下限粒径ｄ１以下の粒状材を撒き出して撮影してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項３】
請求項１の方法において，前記粒状材料を前記下限粒径ｄ１以上の粗粒径粒状材と前記下限粒径ｄ１以下の細粒径粒状材とに篩い分けし，当該篩い分け後の粗粒径粒状材及び細粒径粒状材を別々に撒き出して前記全体画像及び部分画像を撮影してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項４】
請求項１から３の何れかの方法において，前記全体画像から検出下限粒径ｄ１を含む複数の所定粗粒径ｄｉの粒度インデクスＩｉを算出し，前記部分画像から粒径ｄ１を含む複数の所定細粒径ｄｊの粒度インデクスＩｊを算出してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項５】
請求項１から４の何れかの方法において，前記部分画像に所定拡大倍率の第１部分画像と当該第１画像より大きい所定拡大倍率の第２部分画像とを含め，前記第１画像から前記下限粒径ｄ１以下で第２下限粒径ｄ２以上の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下ｄ２以上の第１細粒径加積曲線Ｐ（ｄ２≦ｄ≦ｄ１）を作成し，前記第２画像から粒径ｄ２以下の所定細粒径ｄｋについて粒度インデクスＩｋを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｋ）に変換して粒径ｄ２以下の第２細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を作成し，前記粗粒径，第１細粒径及び第２細粒径加積曲線を合成してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項６】
請求項１から４の何れかの方法において，前記粒状材料の標本から第２下限粒径ｄ２以下の粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を当該粒径ｄ２の加積通過率Ｐ（ｄ２）の関数として求め，前記部分画像から前記粒径ｄ１以下で粒径ｄ２以上の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下ｄ２以上の第１細粒径加積曲線Ｐ（ｄ２≦ｄ≦ｄ１）を作成し，当該第１細粒径加積曲線の粒径ｄ２の加積通過率Ｐ（ｄ２）から前記関数により粒径ｄ２以下の第２細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を推定し，前記粗粒径，第１細粒径及び第２細粒径加積曲線を合成してなる粒状材料の粒度分布計測方法。
【請求項７】
異なる粒径の粒状材が混合した粒状材料を撒き出して全体画像及び所定拡大倍率の部分画像を撮影する撮影装置，前記全体画像から検出下限粒径ｄ１以上の複数の所定粗粒径ｄｉについて当該粗粒径ｄｉ以上の粒状材の画像全体に対する面積割合である粒度インデクスＩｉを算出し且つ前記粒状材料の標本から求めた変換式により粗粒径ｄｉの粒度インデクスＩｉを加積通過率Ｐ（ｄｉ）に変換して粒径ｄ１以上の粗粒径加積曲線Ｐ（ｄ≧ｄ１）を作成する粗粒径曲線作成手段，前記部分画像から粒径ｄ１以下の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ前記変換式により細粒径ｄｊの粒度インデクスＩｊを加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下の細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ１）を作成する細粒径曲線作成手段，並びに前記粗粒径及び細粒径加積曲線を合成して粒径加積曲線Ｐ（ｄ）を作成する合成手段を備えてなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【請求項８】
請求項６のシステムにおいて，前記粒状材料から前記下限粒径ｄ１以下の粒状材を篩い分けする分離装置を設け，当該分離装置による篩い分け後の粒径ｄ１以下の粒状材を撒き出して前記部分画像を撮影してなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【請求項９】
請求項６のシステムにおいて，前記粒状材料を前記下限粒径ｄ１以上の粗粒径粒状材と前記下限粒径ｄ１以下の細粒径粒状材とに篩い分けする分離装置を設け，当該分離装置による篩い分け後の粗粒径粒状材及び細粒径粒状材を別々に撒き出して前記全体画像及び部分画像を撮影してなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【請求項１０】
請求項７から９の何れかのシステムにおいて，前記粗粒径曲線作成手段により全体画像から検出下限粒径ｄ１を含む複数の所定粗粒径ｄｉの粒度インデクスＩｉを算出し，前記細粒径曲線作成手段により部分画像から粒径ｄ１を含む複数の所定細粒径ｄｊの粒度インデクスＩｊを算出してなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【請求項１１】
請求項７から１０の何れかのシステムにおいて，前記部分画像に所定拡大倍率の第１部分画像と当該第１画像より大きい所定拡大倍率の第２部分画像とを含め，前記細粒径曲線作成手段に，前記第１画像から前記下限粒径ｄ１以下で第２下限粒径ｄ２以上の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下ｄ２以上の第１細粒径加積曲線Ｐ（ｄ２≦ｄ≦ｄ１）を作成する手段と，前記第２画像から粒径ｄ２以下の所定細粒径ｄｋについて粒度インデクスＩｋを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｋ）に変換して粒径ｄ２以下の第２細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を作成する手段とを含め，前記合成手段により粗粒径，第１細粒径及び第２細粒径加積曲線を合成してなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【請求項１２】
請求項７から１０の何れかのシステムにおいて，前記粒状材料の標本から求めた第２下限粒径ｄ２以下の粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を粒径ｄ２の加積通過率Ｐ（ｄ２）の関数として記憶する記憶手段を設け，前記細粒径曲線作成手段により部分画像から前記粒径ｄ１以下で粒径ｄ２以上の所定細粒径ｄｊについて粒度インデクスＩｊを算出し且つ加積通過率Ｐ（ｄｊ）に変換して粒径ｄ１以下ｄ２以上の第１細粒径加積曲線Ｐ（ｄ２≦ｄ≦ｄ１）を作成し，当該第１細粒径加積曲線の粒径ｄ２の加積通過率Ｐ（ｄ２）から前記関数により粒径ｄ２以下の第２細粒径加積曲線Ｐ（ｄ≦ｄ２）を推定する推定手段を設け，前記合成手段により粗粒径，第１細粒径及び第２細粒径加積曲線を合成してなる粒状材料の粒度分布計測システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
好ましくは、図示例のように粒状材料Ｓから検出下限粒径ｄ１以下の粒状材を篩い分けする分離装置６を設け、分離装置６による篩い分け後の粒径ｄ１以下の粒状材を撒き出して部分画像Ｇ１を撮影する。或いは，粒状材料Ｓを下限粒径ｄ１以上の粗粒径粒状材と下限粒径ｄ１以下の細径粒状材とに篩い分けする分離装置６を設け，分離装置６による篩い分け後の粗粒径粒状材及び細粒径粒状材を別々に撒き出して全体画像Ｇ０及び部分画像Ｇ１を撮影する。望ましくは、粗粒径曲線作成手段２０により全体画像Ｇ０から検出下限粒径ｄ１を含む複数の所定粗粒径ｄｉの粒度インデクスＩｉを算出し、細粒径曲線作成手段３０により部分画像Ｇ１から粒径ｄ１を含む複数の所定細粒径ｄｊの粒度インデクスＩｊを算出する。