【手続補正書】
【提出日】平成27年6月11日(2015.6.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記平面画像と前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像とを並べて表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記表示制御手段が、前記平面画像と前記少なくとも１つの偏光断層画像とを前記表示手段の同一画面に並べて表示させることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記少なくとも１つの偏光断層画像を解析する解析手段を更に有し、
前記表示制御手段が、前記解析手段による解析結果を示す表示形態を、前記平面画像と前記少なくとも１つの偏光断層画像と共に前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記被検体が、被検眼であり、
前記解析手段が、前記少なくとも１つの偏光断層画像に含まれる前記被検眼の網膜層のセグメンテーションを行うことを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記表示制御手段が、前記網膜層の層厚を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記複数の偏光断層画像が、リターデーション画像、ＤＯＰＵ画像を含むことを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記表示手段に表示させる画像として、前記リターデーション画像、前記ＤＯＰＵ画像、前記被検体の断層輝度画像とのいずれかを選択する選択手段を更に有し、
前記表示制御手段が、前記選択された画像と前記選択された画像の種類を示す表示形態とを前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記表示制御手段が、
前記平面画像と前記リターデーション画像と前記ＤＯＰＵ画像とを並べて前記表示手段に表示させ、
前記リターデーション画像及び前記ＤＯＰＵ画像それぞれの画像に対応付けて、該画像の種類を示す表示形態を前記表示手段に表示させ、
前記リターデーション画像及び前記ＤＯＰＵ画像の取得位置を前記平面画像に重畳して前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記表示制御手段が、前記表示された少なくとも１つの偏光断層画像の種類を示す表示形態を、前記表示された少なくとも１つの偏光断層画像に関連された状態で前記表示手段に表示されることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
測定光を照射した前記被検体からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光を分割して得た互いに異なる第一の偏光の光及び第二の偏光の光に基づいて、前記第一の偏光及び前記第二の偏光に対応する断層画像を生成する手段を更に有し、
前記表示制御手段が、前記平面画像と共に、前記第一の偏光に対応する断層画像と前記第二の偏光に対応する断層画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記平面画像取得手段が、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、該被検体の偏光平面画像を取得することを特徴とする請求項１乃至１０の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
前記表示制御手段が、前記被検体における前記少なくとも１つの偏光断層画像の位置を示す指標を前記平面画像に重ねて表示させることを特徴とする請求項１乃至１１の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１３】
被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の偏光断層画像を並べて表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１４】
被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像と前記被検体の断層輝度画像とを取得する断層画像取得手段と、
前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像と前記断層輝度画像とを並べて表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１５】
前記被検体を撮影する撮影装置に通信可能に接続され、
前記断層画像取得手段は、前記撮影装置により前記被検体を撮影して得た前記複数の偏光断層画像を取得することを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１６】
前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項１乃至１５の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１７】
被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
走査手段を介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像の位置を示す指標を前記平面画像に重ねて表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記平面画像上で前記指標の位置の変更を指示する指示手段と、
前記平面画像上で前記指示された位置に対応する前記被検体の位置で前記測定光が走査されるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項１８】
前記平面画像取得手段が、光を照射した前記被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の偏光平面画像及び平面輝度画像の少なくとも１つを前記平面画像として取得することを特徴とする請求項１７に記載の撮影装置。
【請求項１９】
前記断層画像取得手段が、前記被検体の３次元の偏光断層画像を取得し、
前記平面画像取得手段が、前記３次元の偏光断層画像に基づいて前記被検体の偏光平面画像を前記平面画像として取得することを特徴とする請求項１７に記載の撮影装置。
【請求項２０】
前記断層画像取得手段が、前記互いに異なる偏光の光に基づいて前記被検体の３次元の断層輝度画像を取得し、
前記平面画像取得手段が、前記３次元の断層輝度画像に基づいて前記被検体の平面輝度画像を前記平面画像として取得することを特徴とする請求項１７に記載の撮影装置。
【請求項２１】
被検体の偏光平面画像を取得する平面画像取得手段と
走査手段を介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、前記被検体の断層輝度画像を取得する断層画像取得手段と、
前記断層輝度画像の位置を示す指標を前記偏光平面画像に重ねて表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記偏光平面画像上で前記指標の位置の変更を指示する指示手段と、
前記偏光平面画像上で前記指示された位置に対応する前記被検体の位置で前記測定光が走査されるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項２２】
前記断層画像取得手段が、前記合波光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記断層輝度画像と前記被検体の複数の２次元の偏光断層画像から成る３次元の偏光断層画像とを取得し、
前記平面画像取得手段が、前記３次元の偏光断層画像に基づいて前記偏光平面画像を取得することを特徴とする請求項２１に記載の撮影装置。
【請求項２３】
第１の測定光を照射した被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる第１及び第２の偏光の光を検出する第１の検出手段と、
前記検出された第１及び第２の偏光の光に基づいて前記被検体の平面輝度画像を取得する平面画像取得手段と、
第２の測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記第２の測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光を分割して得た互いに異なる第３及び第４の偏光の光を検出する第２の検出手段と、
前記検出された第３及び第４の偏光の光に基づいて前記被検体の断層輝度画像を取得する断層画像取得手段と、
前記取得された平面輝度画像と前記取得された断層輝度画像とを表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項２４】
前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項１７乃至２３の何れか１項に記載の撮影装置。
【請求項２５】
被検体の平面画像を取得する工程と、
前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する工程と、
前記平面画像と前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像とを並べて表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項２６】
被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する工程と、
前記複数の偏光断層画像を並べて表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項２７】
被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像と前記被検体の断層輝度画像とを取得する工程と、
前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像と前記断層輝度画像とを並べて表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項２８】
請求項２５乃至２７の何れか１項に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２９】
被検体の平面画像を取得する工程と、
走査手段を介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光を分割して得た互いに異なる偏光の光に基づいて、前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する工程と、
前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像の位置を示す指標を前記平面画像に重ねて表示手段に表示させる工程と、
前記平面画像上で前記指標の位置の変更の指示を受ける工程と、
前記平面画像上で前記指示された位置に対応する前記被検体の位置で前記測定光が走査されるように、前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする撮影方法。
【請求項３０】
被検体の偏光平面画像を取得する工程と
走査手段を介して測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、前記被検体の断層輝度画像を取得する工程と、
前記断層輝度画像の位置を示す指標を前記偏光平面画像に重ねて表示手段に表示させる工程と、
前記偏光平面画像上で前記指標の位置の変更の指示を受ける工程と、
前記偏光平面画像上で前記指示された位置に対応する前記被検体の位置で前記測定光が走査されるように、前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする撮影方法。
【請求項３１】
第１の測定光を照射した被検体からの戻り光を分割して得た互いに異なる第１及び第２の偏光の光を検出する工程と、
前記検出された第１及び第２の偏光の光に基づいて前記被検体の平面輝度画像を取得する工程と、
第２の測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記第２の測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光を分割して得た互いに異なる第３及び第４の偏光の光を検出する工程と、
前記検出された第３及び第４の偏光の光に基づいて前記被検体の断層輝度画像を取得する工程と、
前記取得された平面輝度画像と前記取得された断層輝度画像とを表示手段に表示させる工程と、
を有することを特徴とする撮影方法。
【請求項３２】
請求項２９乃至３１の何れか１項に記載の撮影方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】画像処理装置、画像処理方法、撮影装置及び撮影方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、被検体の画像を処理する画像処理装置及び画像処理方法、被検体を撮影する撮影装置及び撮影方法に関し、特に、被検眼の断層画像を処理する画像処理装置及び画像処理方法、被検眼の断層画像を撮影する撮影装置及び撮影方法に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本発明の画像処理装置の一つは、
被検体の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記平面画像と前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像とを並べて表示手段に表示させる表示制御手段と、を有する。
また、本発明の画像処理方法の一つは、
被検体の平面画像を取得する工程と、
前記被検体の異なる偏光特性を示す複数の偏光断層画像を取得する工程と、
前記平面画像と前記複数の偏光断層画像の少なくとも１つの偏光断層画像とを並べて表示手段に表示させる工程と、を有する。