【手続補正書】
【提出日】平成27年1月30日(2015.1.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各々が光電変換素子を有して２次元状に配置された複数の画素と、前記光電変換素子からの信号をサンプルホールドするサンプルホールド手段と、一の行の画素について複数回の非破壊読み出しを行った後に次の行の画素について読み出しを行うように走査し、前記サンプルホールド手段にサンプルホールドされた信号を行方向及び列方向に走査して読み出す読み出し手段と、を有するセンサと、
前記複数回の非破壊読み出しにより読み出された信号をアナログ／デジタル変換するＡ／Ｄ変換手段と、
前記Ａ／Ｄ変換手段によりアナログ／デジタル変換された信号を、画素毎に加算平均処理する加算平均処理手段と、
前記加算平均処理手段により加算平均処理された信号を用いて、ビニング処理を行うデジタルビニング手段と、
を有する撮像装置。
【請求項２】
欠陥画素の位置情報を一時的に保持する保持手段を有し、
前記デジタルビニング手段は、前記保持手段に保持されている欠陥画素の位置情報に基づいて、前記位置情報により示される前記欠陥画素の信号を除いた信号を用いて、ビニング処理を行うことを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記保持手段に保持される前記欠陥画素の位置情報が外部のメモリに格納されていることを特徴とする請求項２記載の撮像装置。
【請求項４】
前記保持手段に保持されている欠陥画素の位置情報を前記撮像装置の設定状態に応じて変更することを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【請求項５】
前記撮像装置の撮影モードにそれぞれ対応する複数の前記欠陥画素の位置情報が前記外部のメモリに格納されていることを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【請求項６】
前記デジタルビニング手段にてビニング処理を行うたびに、前記欠陥画素の位置情報を前記外部のメモリから読み込むことを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【請求項７】
前記撮像装置における撮影モードの設定時に、前記欠陥画素の位置情報を前記外部のメモリから読み込むことを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【請求項８】
前記撮像装置の電源投入時に、複数の前記欠陥画素の位置情報を前記外部のメモリから読み込むことを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【請求項９】
前記加算平均処理手段及び前記デジタルビニング手段が、同じ半導体装置に配置されていることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記加算平均処理手段及び前記デジタルビニング手段が配置された複数の半導体装置を有し、前記半導体装置のそれぞれを前記複数の画素が配置された撮像領域の互いに異なる部分領域に割り当てることを特徴とする請求項９記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記センサにおいて、行方向の走査は１行での列方向の走査よりも切り換え時間を長く要することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１２】
前記加算平均処理手段は、入力される１行分の信号を保持する容量を少なくとも有するバッファを有することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１３】
前記センサは、複数の画素をそれぞれ有する複数の半導体基板が貼り合わされており、
前記複数の画素の各々は、前記光電変換素子の電荷に基づいて信号を出力するアンプを更に有し、
前記サンプルホールド手段は、前記アンプから出力された前記信号をサンプルホールドすることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１４】
前記センサは、１つの信号として複数の画素からのアナログ信号を加算する画素加算手段を有し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は、前記画素加算手段により加算された信号をアナログ／デジタル変換することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１５】
前記センサは、１つの信号として複数の画素からのアナログ信号を加算する画素加算手段と、
前記画素加算手段により加算された信号を増幅する増幅手段とを有し、
前記Ａ／Ｄ変換手段は、前記増幅手段により増幅された信号をアナログ／デジタル変換することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１６】
欠陥画素の位置情報を一時的に保持する保持手段を更に有し、
前記デジタルビニング手段は、前記加算平均処理手段により加算平均処理された信号のうち、前記保持手段に保持されている欠陥画素の位置情報に基づいて前記位置情報により示される前記欠陥画素の信号を除いた信号を用いて、ビニング処理を行い、
前記センサは、複数の画素をそれぞれ有する複数の半導体基板が貼り合わされており、
撮像装置の撮影モードにそれぞれ対応する複数の前記欠陥画素の位置情報が外部のメモリに格納されていることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項１７】
前記撮像装置の撮影モードにそれぞれ対応する複数の前記欠陥画素の位置情報が外部のメモリに格納されており、前記撮像装置における撮影モードの設定に応じた前記欠陥画素の位置情報を前記外部のメモリから前記保持手段に読み込むことを特徴とする請求項１６記載の撮像装置。
【請求項１８】
各々が光電変換素子を有して２次元状に配置された複数の画素と、前記光電変換素子からの信号をサンプルホールドするサンプルホールド手段と、一の行の画素について複数回の非破壊読み出しを行った後に次の行の画素について読み出しを行うように走査し、前記サンプルホールド手段にサンプルホールドされた信号を行方向及び列方向に走査して読み出す読み出し手段とを有するセンサを有する撮像装置の撮像方法であって、
前記複数回の非破壊読み出しにより読み出された信号をアナログ／デジタル変換するＡ／Ｄ変換工程と、
前記Ａ／Ｄ変換工程にてアナログ／デジタル変換された信号を、画素毎に加算平均処理する加算平均処理工程と、
前記加算平均処理工程にて加算平均処理された信号を用いて、ビニング処理を行うデジタルビニング工程と、
を有する撮像方法。
【請求項１９】
光電変換素子と、該光電変換素子の電荷に基づく信号を出力するアンプと、該アンプからの信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路と、を有する画素が２次元状に複数配置されたセンサと、
前記複数の画素に対する前記信号のサンプルホールドを一括で行わせ、前記複数の画素のうち一の行の画素のサンプルホールド回路にサンプルホールドされた信号を非破壊で複数回読み出させ、その後に次の行の画素のサンプルホールド回路にサンプルホールドされた信号を非破壊で複数回読み出させる制御手段と、
前記非破壊で複数回読み出された信号を画素毎に加算平均する加算平均処理手段と、
前記加算平均処理手段により加算平均された前記非破壊で複数回読み出された信号をビニングするビニング手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２０】
前記非破壊で複数回読み出された信号をアナログ／デジタル変換するＡ／Ｄ変換手段を更に有し、
前記加算平均処理手段は、前記Ａ／Ｄ変換手段によってアナログ／デジタル変換された前記非破壊で複数回読み出された信号を画素毎に加算平均処理することを特徴とする請求１９記載の撮像装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】撮像装置及び撮像方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、撮像装置及び撮像方法に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の撮像装置は、各々が光電変換素子を有して２次元状に配置された複数の画素と、前記光電変換素子からの信号をサンプルホールドするサンプルホールド手段と、一の行の画素について複数回の非破壊読み出しを行った後に次の行の画素について読み出しを行うように走査し、前記サンプルホールド手段にサンプルホールドされた信号を行方向及び列方向に走査して読み出す読み出し手段と、を有するセンサと、前記複数回の非破壊読み出しにより読み出された信号をアナログ／デジタル変換するＡ／Ｄ変換手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段によりアナログ／デジタル変換された信号を、画素毎に加算平均処理する加算平均処理手段と、前記加算平均処理手段により加算平均処理された信号を用いて、ビニング処理を行うデジタルビニング手段と、を有する。