【事件の表示】
　特願２００２−　３７６０２「プラズマディスプレイ装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　８月２９日出願公開、特開２００３−２４２８９２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は、平成１４年２月１５日の出願であって、平成１８年１１月３０日付けで拒絶査定がなされ、これに対して平成１８年１２月２７日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。
　
２　本願発明について
　本願の請求項１に係る発明は、平成１８年１１月６日付けの手続補正により補正された明細書及び図面の記載からみて、請求項１に記載された事項によって特定される以下のとおりのものと認める。（以下「本願発明」という。）
　
「【請求項１】
すくなくとも複数の放電セルを構成要素とするプラズマディスプレイパネルを有するプラズマディスプレイ装置の、
上記放電セルは、該放電セルに電圧を印加するための電極と、該電極を少なくとも部分的に覆う保護膜と、放電を形成するための放電ガスを少なくとも構成要素の一部とし、
上記放電ガスは、キセノン（Xe）ガスを少なくとも構成要素の一部とし、
上記保護膜のXe+イオンに関する２次電子放出係数gXe+が0.05以上であり、
さらに、上記放電ガス中の上記Xeガスの組成比が8%以上であることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。」
　
３　引用刊行物に記載された発明
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１１−３６６５号公報（以下、「引用刊行物１」という。）には、「プラズマディスプレイパネル及びその製造方法」の発明に関して、図面とともに以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項１＞
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示デバイスなどに用いるプラズマディスプレイパネル及びその製造方法に関するものであって、特に、高品位用のプラズマディスプレイパネルに関する。」
　
＜記載事項２＞
「【００２２】…〔実施の形態１〕
（ＰＤＰの全体的な構成及び製法）図１は、本実施の形態に係る交流面放電型ＰＤＰの概略断面図である。なお、図１ではセルＣＬが１つだけ示されているが、赤，緑，青の各色を発光するセルが多数配列されてＰＤＰが構成されている。
【００２３】このＰＤＰは、前面ガラス基板（フロントカバープレート）１１上に放電電極（表示電極）１２と誘電体ガラス層１３が配された前面パネル１０と、背面ガラス基板（バックプレート）２１上にアドレス電極２２，誘電体ガラス層２３，隔壁２４，蛍光体層２５が配された背面パネル２０とを張り合わせ、前面パネル１０と背面パネル２０の間に形成される放電空間３０内に放電ガスが封入された構成となっており、以下に示すように作製される。なお、図１では便宜上断面で示しているが、放電電極１２とアドレス電極２２とは実際には直交して設けられている。
【００２４】前面パネル１０の作製：前面パネル１０は、前面ガラス基板１１上に放電電極（表示電極）１２を形成し、その上を鉛系の誘電体ガラス層１３で覆い、更に誘電体ガラス層１３の表面上に微細な凹凸のある保護層１４を形成することによって作製する。…」
　
＜記載事項３＞
「【００２８】…また、封入する放電ガスの組成は、従来から用いられているＮｅ−Ｘｅ系であるが、Ｘｅの含有量を１０体積％以上に設定するとともに、封入圧力を５００〜７６０Ｔｏｒｒの範囲に設定することによりＸｅの濃度を高め、セルの発光輝度の向上を図っている。」
　
＜記載事項４＞
「【００３９】…このように、表面に凹凸が形成されているため実質上の表面積が大きいこと及び結晶が（１００）面あるいは（１１０）面に配向していることの２点は何れも２次電子放出係数γを大きくする作用を有するが、両者が合わさることにより保護層１４の２次電子の放出係数（γ値）は、従来と比べて相乗的に大きくなると考えられる。これがＰＤＰの放電電圧（放電開始電圧や放電維持電圧）の低下及び発光輝度の向上に大きく寄与するものと言える。」
　
　図１には、セルＣＬが、放電電極（表示電極）１２と、放電電極（表示電極）１２を覆う保護層１４と、放電空間３０を少なくとも有していることが示されている。
　
　上記記載事項１及び図１から、セルＣＬの放電空間３０内に放電ガスが封入されているから、セルＣＬが放電ガスを有していることを読み取れる。
　
　したがって、上記記載事項１乃至４、図面に基づけば、引用刊行物１には、
「発光するセルＣＬが多数配列されて構成されるＰＤＰを有するプラズマディスプレイパネルが用いられた表示デバイスの、
上記セルＣＬは、放電電極（表示電極）１２と、該電極を覆う保護層１４と、放電ガスを少なくとも有し、
上記放電ガスは、Ｎｅ−Ｘｅ系のガスであり、
上記保護層１４の２次電子放出係数γが大きくされたものであり、
さらに、上記放電ガス中のＸｅの含有量が１０体積％以上であるプラズマディスプレイパネルが用いられた表示デバイス。」
の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されている。
　
（２）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である「Yasushi Motoyama、Hideomi Matsuzaki、Hiroshi Murakami，A Study of the Secondary Electron Yield γ of Insulator Cathodes for Plasma Display Panels，IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES，US，Institute of Electrical and Electronics Engineers，2001，Vol. 48，No. 8，pp.1568-1574」（以下、「引用刊行物２」という。）には、「プラズマディスプレイパネルに用いられる陰極の絶縁体の２次電子放出係数γに関する研究」に関して図面とともに以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項５＞
「To reduce power consumption,it is necessary to improve luminous efficiency.One way of doing this is to reduce the discharge voltage.Therefore,the secondary electron yield γ of the cathode, which closely relates to the discharge voltage,has become an important object of study[4],[5].」（１５６８頁左欄第２７−３２行）
（邦訳）
「消費電力低減のために、発光効率向上は必要である。放電電圧を下げることは一つの手段である。それ故に、放電電圧と密接に関連する陰極の２次電子放出係数γは重要な研究対象となる。」
　
＜記載事項６＞
「In recent years,color ac PDPs,which use the vacuum ultraviolet radiation from Xe gas to excite phosphors,have been put to practical use.Therefore,it has become more important to study γ of insulators for various noble gases.」（１５６８頁左欄第３９行−右欄第２行）
（邦訳）
「近年、キセノンガスに由来する真空紫外放射線を蛍光体の励起に用いるカラーＡＣ型ＰＤＰが実用化されている。それ故に、いろいろな希ガスに対する絶縁体のγの研究はますます重要となってきている。」
　
＜記載事項７＞
「The γ values of BaO and MgO for all noble gas ions and metastable atoms were calculated by using the formulas in the previous section.Table III shows these results.…As for MgO,the calculated γi values for Kr and Xe ions become zero….This result is remarkable,since the Xe ions are considered principal incident particles toward cathodes for practical color PDPs.
　
　
」（１５７１頁右欄第１−１６行、１５７２頁）
（邦訳）
「全ての希ガスイオンと準安定原子に対するＢａＯとＭｇＯのγ値は、前節の式を用いて計算される。表３はこれらの結果を表している。…ＭｇＯに関して言えば、クリプトンやキセノンイオンに対する計算によって求められたγｉ値はゼロになる…。この結果は注目すべきである。実用化されているカラーＰＤＰにおいて、キセノンイオンは陰極へ入射する粒子の主たるものだからである。
　
表３　希ガスのＥｉ、Ｅｍ値と、ＢａＯとＭｇＯのγの理論計算値」
　
＜記載事項８＞
「In general,the measurement of γ of insulators is not always easy…. Therefore ,it is useful to clarify the theoretical values of insulators without impurity levels as a first step.These results should act as a useful guideline in the search for the optimum cathode materials for a PDP.」（１５７３頁右欄第９−１０行）
（邦訳）
「一般に、絶縁体のγの測定は…簡単ではない。それ故に、第１段階として、不純物順位のない絶縁体のγの理論値を明らかにすることは有用である。これらの結果はＰＤＰの光学的な陰極材料の探索の役立つ指針となる。」
　
　したがって、引用刊行物２には以下の事項が記載されている。（以下、「引用発明２」という。）
　
ア　キセノンガスに由来する紫外線を利用して蛍光体を発光させるＰＤＰにおいて、発光効率の改善、放電電圧の低下には陰極の絶縁体の２次電子放出係数γが重要であり、また陰極に入射する主たる粒子であるキセノンイオンに対するγ値が重要であること。（記載事項５−７）
　
イ　キセノンイオン、ネオンイオンに対する２次電子放出係数γの理論計算値は、ＭｇＯよりＢａＯの方が大きく、ＢａＯのキセノンイオンに対するγ値は０．０９２であること。（記載事項７）
　
ウ　γの理論値は、ＰＤＰの陰極材料の探索の指針となること。（記載事項８）
　
４　対比
　本願発明と引用発明１とを対比すると、引用発明１における「プラズマディスプレイパネルが用いられた表示デバイス」、「該電極を覆う保護層１４」、「少なくとも有し」、「放電ガスは、Ｎｅ−Ｘｅ系のガスであり」は、それぞれ本願発明の「プラズマディスプレイ装置」、「該電極を少なくとも部分的に覆う保護膜」、「少なくとも構成要素の一部とし」、「放電ガスは、キセノン（Xe）ガスを少なくとも構成要素の一部とし」に相当する。
　
　ＰＤＰにおいて、放電ガスを封入したセルの放電電極（表示電極）に電圧を印加するとセル内に放電が生じ発光することは技術常識であるから、引用発明１における「発光するセルＣＬが多数配列されて構成されるＰＤＰ」、「セルＣＬ」、「放電電極（表示電極）１２」、「放電ガス」は、それぞれ本願発明の「すくなくとも複数の放電セルを構成要素とするプラズマディスプレイパネル」、「放電セル」、「放電セルに電圧を印加するための電極」、「放電を形成するための放電ガス」に相当する。
　
　引用発明１の「保護層１４の２次電子放出係数γが大きくされたものであり」と、本願発明の「保護膜のXe+イオンに関する２次電子放出係数gXe+が0.05以上であり」とは、保護膜の２次電子放出係数が所定の範囲の値である点で共通する。
　
　一般に、混合ガスにおける個々のガスの体積％は、組成比で表しても同じ百分率で表されることから、引用発明１の「放電ガス中のＸｅの含有量が１０体積％以上である」と、本願発明の「放電ガス中の上記Xeガスの組成比が8%以上である」とは、放電ガス中の上記Xeガスの組成比が所定の範囲の値である点で共通する。
　
　したがって、本願発明と引用発明１とは以下の点で一致し、以下の点で相違する。
　
＜一致点＞
「すくなくとも複数の放電セルを構成要素とするプラズマディスプレイパネルを有するプラズマディスプレイ装置の、
上記放電セルは、該放電セルに電圧を印加するための電極と、該電極を少なくとも部分的に覆う保護膜と、放電を形成するための放電ガスを少なくとも構成要素の一部とし、
上記放電ガスは、キセノン（Xe）ガスを少なくとも構成要素の一部とし、
上記保護膜の２次電子放出係数が所定の範囲の値であり、
さらに、上記放電ガス中の上記Xeガスの組成比が所定の範囲の値であることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。」
　
＜相違点１＞
　保護膜の２次電子放出係数について、本願発明では、Xe+イオンに関する２次電子放出係数gXe+が0.05以上であるのに対して、引用発明１では、そのような限定がされていない点。
　
＜相違点２＞
　プラズマディスプレイパネルにおける放電ガスに関し、本願発明では、放電ガス中のXeガスの組成比が8%以上であるのに対して、引用発明１では、放電ガス中のＸｅの含有量が１０体積％以上である点。
　
５　判断
（１）相違点１
　引用刊行物１には、ＰＤＰの放電電圧（放電開始電圧で放電維持電圧）の低下等に寄与するために、ＰＤＰの放電電極を覆う保護層１４の２次電子の放出係数（γ値）は大きい方が良い旨が記載されている（上記記載事項４）。そして、上述したように、引用刊行物２には、キセノンガスの紫外線を利用して蛍光体を発光させるＰＤＰにおいて、発光効率の改善、放電電圧の低下には陰極の２次電子放出係数γが重要であり、陰極に入射する主たる粒子であるキセノンイオンに対するγ値が重要であること（上記３（２）のア）、キセノンイオン、ネオンイオンに対する２次電子放出係数γは、ＭｇＯよりＢａＯの方が大きく、ＢａＯのγ値は０．０９２であること（上記３（２）のイ）、γの理論値は陰極材料の探索の指針となること（上記３（２）のウ）が記載されている。
　引用発明１及び引用発明２は、いずれもキセノンガスを放電ガスとして用いたＰＤＰの技術分野に属し、放電電圧を下げるという共通の課題を有するものであるから（上記記載事項４と、上記３（２）のア）、前記課題を解決するために、引用発明１におけるＸｅの含有量が１０体積％以上であるＮｅ−Ｘｅ系のガスに接する「保護層１４」の材料として、引用刊行物２に挙げられているＢａＯ、ＭｇＯから、キセノンイオン、ネオンイオンに対する２次電子放出係数γがＭｇＯより大きく、キセノンイオンに対するγ値が０．０９２の材料であるＢａＯを選択することは、当業者であれば当然のことといえる。
　
　また、本願明細書及び図面の記載を参酌しても、本願発明において、保護膜の材料を特定せず、Xe+イオンに関する２次電子放出係数gXe+を0.05以上と限定したことに、技術的な意義があるとはいえない。
　
　よって、プラズマディスプレイの放電セルの保護膜を、Xe+イオンに関する２次電子放出係数gXe+が0.05以上の保護膜とすることは、引用刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に想到し得ることである。
　
　したがって、上記相違点１に係る本願発明の発明特定事項は、引用刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に想到し得ることである。
　
（２）相違点２
　引用発明１において、放電ガス中のXeの含有量を１０体積％以上に設定するのは、Xeの濃度を高めセルの発光輝度の向上を図るためであるから（記載事項３）、放電ガス中のXeの含有量をどのくらいとするかは、所望とする発光輝度に応じて、当業者が適宜に定めることに過ぎず、放電ガス中のXeの含有量を８体積％以上、すなわち本願発明のように放電ガス中のXeガスの組成比を8%以上とすることは、当業者が適宜になし得ることである。
　
　また、本願明細書及び図面の記載を参酌しても、本願発明において、放電ガス中のXeガスの組成比の下限値を８％と限定したことに、臨界的な意義があるとはいえない。
　
　したがって、上記相違点２に係る本願発明の発明特定事項は、引用刊行物１に記載された発明に基づいて当業者が適宜に想到し得る事項である。
　
　そして、本願発明によって奏される効果は、引用刊行物１、２の記載から当業者が予測し得る程度のものに過ぎない。
　
　したがって、本願発明は、引用刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
６　むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　よって、結論のとおり審決する。