(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のタンタル固体電解コンデンサを並列に接続し、直流電源より所定の直流電圧を印加して上記各タンタル固体電解コンデンサをエージングするタンタル固体電解コンデンサのエージング方法において、
インダクタンスが３６０μＨ〜７２０ｍＨのチョークコイルと、アノード側が上記直流電源の正極側に向けて接続されるダイオードとを用い、上記各タンタル固体電解コンデンサと上記直流電源との間に、上記チョークコイルと上記ダイオードとを直列に接続して、上記直流電源より上記各タンタル固体電解コンデンサに所定の直流電圧を印加することを特徴とするタンタル固体電解コンデンサのエージング方法。
【請求項２】
上記タンタル固体電解コンデンサの各々に上記ダイオードが直列に接続され、上記タンタル固体電解コンデンサの並列回路に対して上記チョークコイルが直列に接続されることを特徴とする請求項１に記載のタンタル固体電解コンデンサのエージング方法。
【請求項３】
上記タンタル固体電解コンデンサの各々に上記チョークコイルと上記ダイオードとがそれぞれ直列に接続されることを特徴とする請求項１に記載のタンタル固体電解コンデンサのエージング方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明はタンタル固体電解コンデンサのエージング方法に関し、さらに詳しく言えば、電源投入時の同コンデンサに対する突入電流を抑制するようにしたタンタル固体電解コンデンサのエージング方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般にコンデンサの分野においては、製品組み立て後、陽極酸化被膜を完全にするため、エージングを行なうようにしている。このエージングは使用最高温度（場合によっては、それよりもさらに高い温度）下で直流電圧を印加することにより行なわれる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、タンタル固体電解コンデンサは特に突入電流に弱いため、実際の使用時には、その個々に所定の電流制限用の保護抵抗を直列に接続して使用している。製造時のエージング工程でも、そのエージング電源の投入時には比較的大きな突入電流が流れるが、エージング時に保護抵抗を入れてしまうと、欠陥品を除去するというエージング本来の目的が達成されず、良品中に欠陥品が紛れ込むおそれがある。
【０００４】
このような理由により、従来ではタンタル固体電解コンデンサに保護抵抗を入れることなくエージングを行なうようにしている。これによれば、ユーザー危険率が低く高い品質が保証されるが、他方において、コンデンサの不要な破壊により製造工程内の歩留まりが低下することを意味し、メーカー側にとっては必ずしも好ましいことではない。
【０００５】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたもので、その目的は、エージング電源投入時の突入電流を抑えてタンタル固体電解コンデンサの不要な破壊を防止し、かつ、欠陥品を確実に除去することができ、しかも同コンデンサを複数個並列にして同時にエージングする場合、ショートなどが発生したコンデンサから他のコンデンサを保護し得るタンタル固体電解コンデンサのエージング方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、複数のタンタル固体電解コンデンサを並列に接続し、直流電源より所定の直流電圧を印加して上記各タンタル固体電解コンデンサをエージングするタンタル固体電解コンデンサのエージング方法において、インダクタンスが３６０μＨ〜７２０ｍＨのチョークコイルと、アノード側が上記直流電源の正極側に向けて接続されるダイオードとを用い、上記各タンタル固体電解コンデンサと上記直流電源との間に、上記チョークコイルと上記ダイオードとを直列に接続して、上記直流電源より上記各タンタル固体電解コンデンサに所定の直流電圧を印加することを特徴としている。
【０００７】
この場合、上記タンタル固体電解コンデンサの各々に上記ダイオードを接続し、上記タンタル固体電解コンデンサの並列回路に対して上記チョークコイルを直列に接続してもよいし、また、上記タンタル固体電解コンデンサの各々に上記チョークコイルと上記ダイオードをそれぞれ直列に接続するようにしてもよい。
【０００８】
上記チョークコイルのインダクタンスが３６０μＨ未満であると、突入電流を十分に抑えるだけの時間が得られず、これに対して同インダクタンスが７２０ｍＨを超えると直流電圧が安定するまでの時間が長くなり過ぎ、エージング上好ましくない。
【０００９】
【作用】
上記構成によれば、タンタル固体電解コンデンサの静電容量Ｃに対して、チョークコイルのインダクタンスＬが接続されるため、そのＬＣ時定数によりエージング電源投入時の同コンデンサに対する突入電流が抑えられる。
【００１０】
また、そのＬＣ時定数経過時間後に電圧が安定することにより、保護抵抗がないに等しい状態でエージングが行なわれるため、欠陥品をほぼ完全に排除することができる。
【００１１】
さらには、各コンデンサにはダイオードがそれぞれ接続されているため、その中のコンデンサにショートなどが発生しても、それによる過電流が他のコンデンサに突入電流として流れ込むことはない。
【００１２】
【実施例】
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明する。図１には、複数、この実施例では３個のタンタル固体電解コンデンサ１の各々にダイオード２をそれぞれ直列に接続するとともに、これらを互いに並列に接続し、この並列回路をチョークコイル３およびスイッチ５を介して直流電源４に接続してエージングする状態が示されている。
【００１３】
《実施例１》
最終的に組み立てられた定格６．３Ｖ６８μＦのタンタル固体電解コンデンサを１２０００個用意し、その各々にダイオードをそれぞれ直列に接続し、それらを互いに並列に接続した後、３６０ｍＨのチョークコイルを介して図１のように直流電源に接続し、周囲温度８５℃のもとにおいて、同直流電源より７．８Ｖの直流電圧を印加して７５分間エージングを行なった。しかる後、漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は３．５７％であった。
【００１４】
〈比較例１Ａ〉
実施例１と同じ定格６．３Ｖ６８μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、ダイオードおよびチョークコイルを接続することなく、それらを互いに並列に接続し、実施例１と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は４．３９％であった。
【００１５】
〈比較例１Ｂ〉
実施例１と同じ定格６．３Ｖ６８μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、実施例１のチョークコイルに代えて１Ω／１Ｖの保護抵抗を接続した後、実施例１と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は５．１６％であった。
【００１６】
《実施例２》
最終的に組み立てられた定格１０Ｖ２２μＦのタンタル固体電解コンデンサを１２０００個用意し、その各々にダイオードをそれぞれ直列に接続し、それらを互いに並列に接続した後、４８０ｍＨのチョークコイルを介して図１のように直流電源に接続し、周囲温度８５℃のもとにおいて、同直流電源より１１．５Ｖの直流電圧を印加して７５分間エージングを行なった。しかる後、漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は１．８４％であった。
【００１７】
〈比較例２Ａ〉
実施例２と同じ定格１０Ｖ２２μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、ダイオードおよびチョークコイルを接続することなく、それらを互いに並列に接続し、実施例２と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は２．０７％であった。
【００１８】
〈比較例２Ｂ〉
実施例２と同じ定格１０Ｖ２２μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、実施例２のチョークコイルに代えて１Ω／１Ｖの保護抵抗を接続した後、実施例２と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は２．４７％であった。
【００１９】
《実施例３》
最終的に組み立てられた定格１０Ｖ４７μＦのタンタル固体電解コンデンサを１２０００個用意し、その各々にダイオードをそれぞれ直列に接続し、それらを互いに並列に接続した後、１８０ｍＨのチョークコイルを介して図１のように直流電源に接続し、周囲温度８５℃のもとにおいて、同直流電源より１１．５Ｖの直流電圧を印加して７５分間エージングを行なった。しかる後、漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は２．５９％であった。
【００２０】
〈比較例３Ａ〉
実施例３と同じ定格１０Ｖ４７μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、ダイオードおよびチョークコイルを接続することなく、それらを互いに並列に接続し、実施例３と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は３．４４％であった。
【００２１】
〈比較例３Ｂ〉
実施例３と同じ定格１０Ｖ４７μＦのタンタル固体電解コンデンサ１２０００個について、実施例３のチョークコイルに代えて１Ω／１Ｖの保護抵抗を接続した後、実施例３と同一の条件にてエージングを行ない、エージング後の漏れ電流不良品を検査したところ、その不良率は３．７９％であった。
【００２２】
上記各実施例および各比較例の比較を容易にするため、それらの漏れ電流不良率を表１に示すが、本発明によれば、ダイオードおよびチョークコイルなしの場合に比べて漏れ電流不良率が約２３％改善され、また、保護抵抗を入れたものに対しては約４３％程度漏れ電流不良率が改善されることが分かった。
【００２３】
【表１】
0003543865.tif 000002
なお、上記各実施例では、図１のように各タンタル固体電解コンデンサ１にそれぞれダイオード２を直列に接続し、そのコンデンサの並列回路と直流電源４との間にチョークコイル３を直列に接続するようにしているが、場合によっては図２に示されているように、各タンタル固体電解コンデンサ１にそれぞれダイオード２およびチョークコイル３を直列に接続し、それらを互いに並列に接続するようにしてもよい。
【００２４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、複数のタンタル固体電解コンデンサを並列に接続し、直流電源より所定の直流電圧を印加して同コンデンサをエージングするにあたって、同コンデンサと上記直流電源との間にダイオードおよびチョークコイル（インダクタンスが３６０μＨ〜７２０ｍＨのもの）を直列に接続するようにしたことにより、同コンデンサとチョークコイルによるＬＣ時定数にてエージング電源投入時の突入電流が抑えられ、同コンデンサの突入電流による不要な破壊が防止される。
【００２５】
また、その後は直流抵抗分がほとんどない状態でエージングが行なわれるため、エージング本来の目的が達成され、欠陥品を確実に排除することができる。
【００２６】
さらには、各コンデンサにはダイオードがそれぞれ直列に接続されているため、その中のコンデンサにショートなどが発生しても、それによる過電流が他のコンデンサに突入電流として流れ込むことがなく、したがって類損を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した概略的な回路図。
【図２】本発明の他の実施例を示した概略的な回路図。
【符号の説明】
１  タンタル固体電解コンデンサ
２  ダイオード
３  チョークコイル
４  直流電源
【図１】
0003543865.tif 000003
【図２】
0003543865.tif 000004