(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶媒体の情報を読み取るヘッドにより前記記憶媒体から読みだされた位置情報から前記ヘッドを位置決めするための制御量を作成し、且つ制御量をサーボゲイン値により補正する情報記憶装置のサーボゲイン補正方法において、
前記情報記憶装置の温度を周期的に測定するステップと、
測定した温度と前回測定した温度との差が一定値以上かを判定するステップと、
前記差が一定値以上でない場合には、第１のサーボゲイン特性に基づいて前記測定した温度に対応するサーボゲイン値を求める第１のステップと、
前記差が一定値以上である場合には、第２のサーボゲイン特性に基づいて前記測定した温度に対応するサーボゲイン値を求める第２のステップとを有することを
特徴とする情報記憶装置のサーボゲイン補正方法。
【請求項２】
請求項１の情報記憶装置のサーボゲイン補正方法において、
前記第１のステップは、測定した温度の基準温度に対する温度勾配係数から前記測定した温度のサーボゲイン値を算出するステップからなることを
特徴とする情報記憶装置のサーボゲイン補正方法。
【請求項３】
請求項１の情報記憶装置のサーボゲイン補正方法において、
前記第２のステップは、測定した温度の基準温度に対する温度勾配係数から前記測定した温度のサーボゲイン値を算出するステップからなることを
特徴とする情報記憶装置のサーボゲイン補正方法。
【請求項４】
請求項２の情報記憶装置のサーボゲイン補正方法において、
前記情報記憶装置の電源投入時に、アクチュエータを一定の駆動電流で一定時間駆動するステップと、
前記ヘッドの位置情報から前記駆動による変位量を測定するステップと、
前記変位量から装置固有の前記サーボゲインの基準値を算出するステップとを有し、
前記第１のステップは、前記基準値と前記温度勾配係数とから前記サーボゲイン値を算出するステップからなることを
特徴とする情報記憶装置のサーボゲイン補正方法。
【請求項５】
請求項３の情報記憶装置のサーボゲイン補正方法において、
前記情報記憶装置の電源投入時に、アクチュエータを一定の駆動電流で一定時間駆動するステップと、
前記ヘッドの位置情報から前記駆動による変位量を測定するステップと、
前記変位量から装置固有の前記サーボゲインの基準値を算出するステップとを有し、
前記第２のステップは、前記基準値と前記温度勾配係数とから前記サーボゲイン値を算出するステップからなることを
特徴とする情報記憶装置のサーボゲイン補正方法。
【請求項６】
記憶媒体の情報を読み取るヘッドを前記記憶媒体から読みだされた位置情報に基づいて位置決めするための制御量を作成し、該制御量をサーボゲイン値により補正する情報記憶装置において、
前記情報記憶装置の温度を測定する温度検出手段と、
第１のサーボゲイン特性を格納する第１のテーブルと、
第２のサーボゲイン特性を格納する第２のテーブルと、
前記温度検出手段によって測定される温度の所定時間間隔における変化を認識し、変化量が一定値以上でない場合は第１のテーブルを参照し、一定値以上である場合は第２のテーブルを参照して、測定された温度に対応するサーボゲイン値を求める制御回路と、
を有することを特徴とする情報記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記憶媒体からヘッドにより情報を読み取る又は読み取り／書き込む情報記憶装置において、シーク動作時及び位置決め時のサーボゲインを補正するサーボゲイン補正方法及び装置に関し、特に、測定温度に対応したサーボゲインを設定するサーボゲイン補正方法及び装置に関する。
【０００２】
磁気ディスク装置等の情報記憶装置は、コンピュータ等の記憶装置として広く利用されている。このような情報記憶装置は、ヘッドからの位置信号に応じて、アクチュエータを駆動するサーボループを有する。
【０００３】
磁気ヘッドを動かすためのボイスコイルモータ（ＶＣＭ）の磁石の特性やコイルの特性のバラツキは、サーボ制御系のループゲインのバラツキの要因となる。又、パワーアンプ等の制御ループ系回路のゲインのバラツキも、サーボ制御系のループゲインのバラツキとなる。このＶＣＭの特性のバラツキと、制御系回路のゲインのバラツキを纏めて、制御系のサーボループゲインのバラツキとして見なすことができる。
【０００４】
磁気ディスク装置では、シーク動作時及び目標トラックでの位置決め動作時に、このバラツキを補正（ゲイン補正）して、サーボ制御を行う。このサーボゲイン値は、装置の環境温度により変化するため、一定時間毎（５分〜１０分間隔）にサーボゲインを補正する必要がある。
【０００５】
この方法として、キャリブレーションシーク方法が一般的である。キャリブレーションシークは、ＶＣＭに一定値の駆動電流を一定時間流し、ＶＣＭをシークする。このシーク時に、磁気ヘッドの位置情報から変位量を測定し、変位量からサーボゲインを測定する方法である。このキャリブレーションシーク方法は、その時点の正確なサーボゲイン値を測定できる。しかし、シーク動作するため、その間、ホストの要求を待たせる必要がある。このため、ホストの要求を待たせることなく、サーボゲインを補正する技術が必要となる。
【０００６】
【従来の技術】
図７は、従来技術の構成図、図８は、従来技術の説明図である。
【０００７】
図７に示すように、磁気ディスクドライブ９１は、磁気ディスク９２と、磁気ヘッド９０とを有する。磁気ディスク９２は、セクター毎にサーボ信号が記録され、スピンドルモータ９３により回転される。磁気ヘッド９０は、磁気ディスク９１の情報を読み取り／書き込む。
【０００８】
磁気ヘッド９０は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）９８により、磁気ディスク９１のトラックを横断する方向に、移動される。制御回路９６は、磁気ヘッド９０からの位置信号に応じて、ヘッドの現在位置を把握し、シークすべき位置との距離に応じた制御値を作成する。
【０００９】
ＶＣＭ９８やパワーアンプ９５の特性のバラツキを補正するため、この制御値には、サーボゲイン値を乗算される。この駆動値により、パワーアンプ９５に出力して、ＶＣＭ９８を駆動する。
【００１０】
このサーボゲイン値は、温度により変化する。このため、メモリ９７に、各温度のサーボゲイン値を格納したパラメータテーブルを用意しておく。このパラメータテーブルは、図８に示すように、温度毎のサーボゲイン値を格納する。又、磁気ディスクドライブ９１に、ドライブ９１の温度を検出する温度センサー９４を設ける。
【００１１】
このような構成において、制御回路９６は、周期的に、温度センサー９４により、ドライブの温度を測定する。そして、制御回路９６は、測定した温度からメモリ９７のパラメータテーブルを参照して、サーボゲインを求める。そのサーボゲインにより、サーボ制御を行う。
【００１２】
このようにして、従来は、キャリブレーションシークを行うことなく、装置の温度に応じたサーボゲインに補正するようにしていた。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来技術では、次の問題があった。
【００１４】
磁気ディスク装置の小型化により、ポータブルコンピュータ等の電子機器に磁気ディスク装置が内蔵される。この場合に、磁気ディスク装置は、電子機器の他のユニット（例えば、ホストプロセッサ、表示ユニット）からの熱を受ける。他のユニットは、動作している時に、発熱し、動作していない時は、発熱しない。
【００１５】
このため、磁気ディスク装置の環境温度は、変化する。小型の磁気ディスク装置では、熱容量が小さいため、環境温度により、温度変化する。温度センサーは、装置の温度により、ＶＣＭやパワーアンプの特性を測定するものである。この環境温度の変化が急激であるときには、ＶＣＭやパワーアンプの特性は、温度変化に追従しない。
【００１６】
従って、ＶＣＭやパワーアンプの発熱による温度変化を予定して、作成されたテーブルのサーボゲインを使用すると、ＶＣＭやパワーアンプの特性に合ったサーボゲインに補正できないという問題があった。
【００１７】
本発明の目的は、温度変化が急激であっても、正確なサーボゲインに補正するための情報記憶装置及び情報記憶装置のサーボゲイン補正方法を提供することにある。
【００１８】
本発明の他の目的は、温度変化がどんな状態であっても、正確なサーボゲインに補正するための情報記憶装置及び情報記憶装置のサーボゲイン補正方法を提供することにある。
【００１９】
本発明の更に他の目的は、温度変化に応じて、ＶＣＭやパワーアンプの特性に正確に一致したサーボゲインに補正するための情報記憶装置及び情報記憶装置のサーボゲイン補正方法を提供することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
本発明の情報記憶装置は、記憶媒体と、記憶媒体の情報を読み取るヘッドと、ヘッドを移動するアクチュエータと、ヘッドにより記憶媒体から読みだされた位置情報からヘッドを位置決めするための制御量を作成し、且つ制御量をサーボゲイン値により補正した駆動量を算出する制御回路と、駆動量によりアクチュエータを駆動する駆動回路とを有する。
【００２１】
そして、本発明の一形態によれば、情報記憶装置の温度を測定する温度検出手段から温度を周期的に測定するステップと、測定した温度と前回測定した温度との差が一定値以上かを判定するステップと、差が一定値以上でない場合には、第１のサーボゲイン特性を格納した第１のテーブルを参照して、測定した温度に対応するサーボゲイン値を求める第１のステップと、差が一定値以上である場合には、第２のサーボゲイン特性を格納した第２のテーブルを参照して、前記測定した温度に対応するサーボゲイン値を求める第２のステップとを有する。
【００２２】
この本発明の一形態では、温度変化が急激でない場合の各温度のサーボゲインを格納した第１のテーブルと、温度変化が急激である場合の各温度のサーボゲインを格納した第２のテーブルを設けている。そして、温度変化が急激かどうかを判定する。温度変化が急激でない場合には、第１のテーブルを参照して、サーボゲインを補正する。温度変化が急激である場合には、第２のテーブルを参照する。
【００２３】
このため、環境温度が変化した場合等の温度変化が急激であっても、正確なサーボゲインに補正できる。しかも、キャリブレーションシークを行うことがないため、ホストの要求を待たせることがない。
【００２７】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一実施の形態の構成図、図２は、図１の補正テーブルの構成図、図３は、図１の補正テーブルの説明図である。
【００２８】
図１に示すように、磁気ディスクドライブ２は、磁気ディスク３と、磁気ヘッド１とを有する。磁気ディスク３は、データトラック中にサーボ信号が埋め込まれたデータ面を有する。磁気ヘッド１は、磁気ディスク３の情報を読み取り／書き込む。磁気ディスク３は、スピンドルモータ４により、回転される。
【００２９】
ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）５は、磁気ヘッド１を磁気ディスク３のトラック横断方向に移動する。パワーアンプ６は、ＶＣＭ５を駆動する。制御回路は、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）７と、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）８からなる。
【００３０】
ＭＰＵ７は、ドライブ全体の制御を行う。ＤＳＰ８は、磁気ヘッド１からの位置信号に応じて、ヘッドの現在位置を把握し、シークすべき位置との距離に応じた制御値を作成する。更に、ＤＳＰ８は、この制御値に、メモリ１１のサーボゲイン値を乗算して、駆動値を作成する。デジタル／アナログ変換器９は、この駆動値をアナログの駆動量に変換して、パワーアンプ６に出力する。
【００３１】
アナログ／デジタル変換器１０は、磁気ヘッド１のサーボ信号をデジタルの位置信号に変換する。メモリ１１は、ＭＰＵ７に接続されている。メモリ１１は、前回の測定温度と、温度測定時間（周期）と、サーボゲイン値を格納する。メモリ１１には、第１の補正テーブル１１ー１と第２の補正テーブル１１ー２が設けられている。温度センサー１２は、磁気ディスクドライブ２の温度を検出する。
【００３２】
図２及び図３を用いて、補正テーブル１１ー１と１１ー２について、説明する。
【００３３】
第１の補正テーブル１１ー１には、温度変化が急激でない場合の各温度に対するサーボゲイン値を格納する。図２（Ａ）に示すように、２０°Ｃから４０°Ｃまでの５°Ｃ間隔で、各温度におけるゲイン値（ーβ１〜α３）を格納する。図３の実線ｍに示すように、このゲイン値は、２５°Ｃを基準値「０」として、各温度の相対ゲイン値（温度勾配値）を示す。
【００３４】
一方、第２の補正テーブル１１ー２は、温度変化が急激な場合の各温度に対するサーボゲイン値を格納する。図２（Ｂ）に示すように、２０°Ｃから４０°Ｃまでの５°Ｃ間隔で、各温度におけるゲイン値（ーｂ１〜ａ３）を格納する。図３の点線ｎに示すように、このゲイン値は、２５°Ｃを基準値「０」として、各温度の相対ゲイン値（温度勾配値）を示す。
【００３５】
温度変化が急激の場合には、ＶＣＭやパワーアンプの特性がその温度に追従しないため、第２の補正テーブル１１ー２のゲイン値の特性である温度勾配は、第１の補正テーブル１１ー１のゲイン値の特性である温度勾配より小さく設定されている。
【００３６】
これらの補正テーブル１１ー１、１１ー２は、多数の磁気ディスクドライブを各温度で、キャリブレーションシークして、測定したサーボゲイン値の平均値により予め作成される。
【００３７】
図４は、本発明の一実施の形態のサーボ制御処理フロー図、図５は、図４の基準値測定動作の説明図である。
【００３８】
（Ｓ１）ドライブの工場出荷時又は／及び電源投入時に、サーボゲイン（パラメータ）の基準値を測定する。図５に示すように、第１の補正テーブル１１ー１及び第２の補正テーブル１１ー２は、２５°Ｃの基準値を「０」にして、各ドライブに共通に使用している。しかし、装置毎に、この基準値Ａ２５は異なるため、ＭＰＵ７は、２５°Ｃにおける装置固有の基準値を算出する。
【００３９】
このため、ＭＰＵ７は、キャリブレーションシークを指示する。これにより、ＤＳＰ８から一定時間一定の駆動値の駆動信号が出力され、ＶＣＭ５を駆動する。ＭＰＵ７は、この駆動による磁気ヘッド１の変位量を、磁気ヘッド１の位置信号から測定する。そして、変位量からサーボゲイン値Ａを算出する。又、ＭＰＵ７は、この時のドライブの温度Ｔを温度センサー１２から測定する。
【００４０】
そして、ＭＰＵ７は、第１の補正テーブル１１ー１のゲイン値ーβ１〜α３を用いて、２５°Ｃでの装置固有のサーボゲイン値（基準値）Ａ２５を、以下の式により、算出する。
【００４１】
２５°Ｃ＞Ｔ≧２０°Ｃの場合には、
Ａ２５＝ーβ１（Ｔー２０）／５＋Ａ                            （１）
３０°Ｃ＞Ｔ≧２５°Ｃの場合には、
Ａ２５＝α１（Ｔー２５）／５＋Ａ                              （２）
３５°Ｃ＞Ｔ≧３０°Ｃの場合には、
Ａ２５＝α２（Ｔー３０）／５＋Ａ                              （３）
４０°Ｃ＞Ｔ≧３５°Ｃの場合には、
Ａ２５＝α３（Ｔー３５）／５＋Ａ                              （４）
これをメモリ１１に保存する。又、前述の測定したサーボゲイン値Ａを、現在のサーボゲイン値としてメモリ１１に保存する。
【００４２】
（Ｓ２）ＭＰＵ７は、メモリ１１に保存されたサーボゲイン値をＤＳＰ８に通知する。これにより、ＤＳＰ８は、このサーボゲイン値によりサーボ制御を行う。
【００４３】
（Ｓ３）ＭＰＵ７は、内蔵するタイマーの値が、メモリ１１の温度測定時間に到達したかを判定する。温度測定間隔は、５分〜１０分である。ＭＰＵ７は、温度測定時間に到達していない時は、ステップＳ２に戻る。一方、ＭＰＵ７は、温度測定時間に到達したと判定すると、温度センサー１２から温度ｔを測定する。
【００４４】
（Ｓ４）ＭＰＵ７は、メモリ１１に記憶してある前回測定時の測定温度ｔ０を読みだした後、前回測定温度ｔ０と、今回の測定温度ｔとの差を算出する。そして、ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えているかを判定する。
【００４５】
（Ｓ５）ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えていない場合は、温度変化が急激でないと判定する。そして、ＭＰＵ７は、第１の補正テーブル１１ー１を用いて、サーボゲイン値を算出する。即ち、第１の補正テーブル１１ー１は、５°Ｃ置きのゲイン値であるから、直線補間して、その温度ｔのゲイン値を算出する。このため、ＭＰＵ７は、第１の補正テーブル１１ー１のゲイン値ーβ１〜α３を用いて、測定温度ｔでのサーボゲイン値Ａｔを、以下の式により、算出する。
【００４６】
２５°Ｃ＞ｔ≧２０°Ｃの場合には、
Ａｔ＝ーβ１（ｔー２０）／５＋Ａ２５                        （５）
３０°Ｃ＞ｔ≧２５°Ｃの場合には、
Ａｔ＝α１（ｔー２５）／５＋Ａ２５                          （６）
３５°Ｃ＞ｔ≧３０°Ｃの場合には、
Ａｔ＝α２（ｔー３０）／５＋Ａ２５                          （７）
４０°Ｃ＞ｔ≧３５°Ｃの場合には、
Ａｔ＝α３（ｔー３５）／５＋Ａ                              （８）
（Ｓ６）ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えている場合は、温度変化が急激であると判定する。そして、ＭＰＵ７は、第２の補正テーブル１１ー２を用いて、サーボゲイン値を算出する。即ち、第２の補正テーブル１１ー１は、５°Ｃ置きのゲイン値であるから、直線補間して、その温度ｔのゲイン値を算出する。このため、ＭＰＵ７は、第２の補正テーブル１１ー２のゲイン値ーｂ１〜ａ３を用いて、測定温度ｔでのサーボゲイン値Ａｔを、以下の式により、算出する。
【００４７】
２５°Ｃ＞ｔ≧２０°Ｃの場合には、
Ａｔ＝ーｂ１（ｔー２０）／５＋Ａ２５                        （９）
３０°Ｃ＞ｔ≧２５°Ｃの場合には、
Ａｔ＝ａ１（ｔー２５）／５＋Ａ２５                          （１０）
３５°Ｃ＞ｔ≧３０°Ｃの場合には、
Ａｔ＝ａ２（ｔー３０）／５＋Ａ２５                          （１１）
４０°Ｃ＞ｔ≧３５°Ｃの場合には、
Ａｔ＝ａ３（ｔー３５）／５＋Ａ                              （１２）
（Ｓ７）ＭＰＵ７は、メモリ１１のサーボゲイン値を計算したサーボゲイン値に更新する。又、メモリ１１の前回の測定温度を今回の測定温度に更新する。そして、ステップＳ２に戻る。
【００４８】
このようにして、温度変化が急激か急激でないかを判定して、その温度に対する補正ゲイン値を変化するので、温度変化が急激であっても、正確なＶＣＭやパワーアンプの特性を反映したサーボゲイン値を得ることができる。
【００４９】
又、テーブルを参照しているので、運用中に、キャリブレーションシークを行うことがないため、ホストの要求を待たせることを防止できる。
【００５０】
更に、電源投入時の運用前に、キャリブレーションシークして、装置の基準値（固有値）を測定しているので、装置個々に対応した温度特性を付与できる。
【００５１】
図６は、本発明の他の実施の形態のサーボ制御処理フロー図である。
【００５２】
この例では、メモリ１１から第２の補正テーブル１１ー２が削除されている。その他の構成は、図１のものと同一である。
【００５３】
（Ｓ１１）ステップＳ１と同様に、ドライブの工場出荷時又は／及び電源投入時に、サーボゲイン（パラメータ）の基準値を測定する。このため、ＭＰＵ７は、キャリブレーションシークを指示する。これにより、ＤＳＰ８から一定時間一定の駆動値の駆動信号が出力され、ＶＣＭ５を駆動する。ＭＰＵ７は、この駆動による磁気ヘッド１の変位量を、磁気ヘッド１の位置信号から測定する。そして、変位量からサーボゲイン値Ａを算出する。又、ＭＰＵ７は、この時のドライブの温度Ｔを温度センサー１２から測定する。
【００５４】
そして、ＭＰＵ７は、メモリ１１の補正テーブル１１ー１（図１参照）のゲイン値ーβ１〜α３を用いて、２５°Ｃでの装置固有のサーボゲイン値（基準値）Ａ２５を、上記した（１）式〜（４）式により、算出する。
【００５５】
これをメモリ１１に保存する。又、前述の測定したサーボゲイン値Ａを、現在のサーボゲイン値としてメモリ１１に保存する。
【００５６】
（Ｓ１２）ＭＰＵ７は、メモリ１１に保存されたサーボゲイン値をＤＳＰ８に通知する。これにより、ＤＳＰ８は、このサーボゲイン値によりサーボ制御を行う。
【００５７】
（Ｓ１３）ＭＰＵ７は、内蔵するタイマーの値が、メモリ１１の温度測定時間に到達したかを判定する。温度測定間隔は、５分〜１０分である。ＭＰＵ７は、温度測定時間に到達していない時は、ステップＳ１２に戻る。一方、ＭＰＵ７は、温度測定時間に到達したと判定すると、温度センサー１２から温度ｔを測定する。
【００５８】
（Ｓ１４）ＭＰＵ７は、メモリ１１に記憶してある前回測定時の測定温度ｔ０を読みだした後、前回測定温度ｔ０と、今回の測定温度ｔとの差を算出する。そして、ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えているかを判定する。
【００５９】
（Ｓ１５）ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えていない場合は、温度変化が急激でないと判定する。そして、ＭＰＵ７は、メモリ１１の補正テーブル１１ー１を用いて、サーボゲイン値を算出する。即ち、補正テーブル１１ー１は、５°Ｃ置きのゲイン値であるから、直線補間して、その温度ｔのゲイン値を算出する。このため、ＭＰＵ７は、補正テーブル１１ー１のゲイン値ーβ１〜α３を用いて、測定温度ｔでのサーボゲイン値Ａｔを、ステップＳ５で説明した（５）式〜（８）式により、算出する。
【００６０】
（Ｓ１６）ＭＰＵ７は、その差が判定値を越えている場合は、温度変化が急激であると判定する。この場合は、ＭＰＵ７は、キャリブレーションシークを行い、サーボゲイン値を測定する。ＭＰＵ７は、ＤＳＰ８にキャリブレーションシークを指示する。これにより、ＤＳＰ８から一定時間一定の駆動値の駆動信号が出力され、ＶＣＭ５を駆動する。ＭＰＵ７は、この駆動による磁気ヘッド１の変位量を、磁気ヘッド１の位置信号から測定する。そして、変位量からサーボゲイン値Ａを算出する。
【００６１】
（Ｓ１７）ＭＰＵ７は、メモリ１１のサーボゲイン値を計算したサーボゲイン値に更新する。又、メモリ１１の前回の測定温度を今回の測定温度に更新する。そして、ステップＳ１２に戻る。
【００６２】
このようにして、温度変化が急激か急激でないかを判定して、その温度に対する補正ゲイン値を変化するので、温度変化が急激であっても、正確なＶＣＭやパワーアンプの特性を反映したサーボゲイン値を得ることができる。
【００６３】
又、温度変化が急激な時は、キャリブレーションシークして、サーボゲイン値を測定するため、正確なサーボゲイン値に変更できる。更に、温度変化が急激な場合のみキャリブレーションシークするため、ホストの要求を待たせる機会が少ない。
【００６４】
しかも、電源投入時の運用前に、キャリブレーションシークして、装置の基準値（固有値）を測定しているので、装置個々に対応した温度特性を付与できる。
【００６５】
上述の実施の態様の他に、本発明は、次のような変形が可能である。
【００６６】
（１）  情報記憶装置を、磁気ディスク装置で説明したが、光磁気ディスク装置、光ディスク装置等他の情報記憶装置に適用できる。
【００６７】
（２）  記憶媒体をディスク媒体で説明したが、カード媒体等の他の記憶媒体にも適用できる。
【００６８】
（３）  サーボゲインの補正テーブルが、サーボゲイン値として、基準値からの温度勾配値（相対値）を格納しているが、絶対値を格納しても良い。
【００６９】
この場合、補正テーブルは、工場出荷時にディスク装置個別に各温度でキャリブレーションシークして測定した各装置固有のサーボゲイン値により予め作成される。従って使用前にサーボゲインの基準値を計算する必要はない。
【００７０】
以上、本発明の実施の形態により説明したが、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【００７１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、次の効果を奏する。
【００７２】
（１）  温度変化が急激かどうかを判定して、温度変化に応じて、サーボゲイン値を変化するため、温度変化が急激であっても、適切なサーボゲイン値に補正できる。
【００７３】
（２）  温度変化が急激でない場合には、第１の補正テーブルを参照して、サーボゲインを補正し、温度変化が急激である場合には、第１の補正テーブルを参照して、サーボゲインを補正するため、補正時間が短くなり、ホストの要求を待たせることがない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の構成図である。
【図２】図１の補正テーブルの構成図である。
【図３】図１の補正テーブルの説明図である。
【図４】本発明の一実施の形態のサーボ制御処理フロー図である。
【図５】図４の処理の基準値の説明図である。
【図６】本発明の他の実施の形態のサーボ制御処理フロー図である。
【図７】従来技術の構成図である。
【図８】従来技術の説明図である。
【符号の説明】
１    磁気ヘッド
２  磁気ディスクドライブ
３  磁気ディスク
４  スピンドルモータ
５  ボイスコイルモータ
６  パワーアンプ
７  プロセッサ
８  ＤＳＰ
１１  メモリ
１１ー１  第１の補正テーブル
１１ー２  第２の補正テーブル
１２  温度センサー
【図１】
0003550024.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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