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　特願２００２−５５１５６９「Ｘ線回折計」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　６月２７日国際公開、ＷＯ０２／５０５１９、平成１６年　６月　３日国内公表、特表２００４−５１６４７１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本願発明
　本願は、２００１年１２月６日（パリ条約による優先権主張外国庁受理２０００年１２月２０日、英国）を国際出願日とする出願であって、平成１８年１０月６日付けで拒絶査定がされ、これに対し、平成１９年１月１５日に拒絶査定不服審判の請求がされたものである。
　本願の請求項１〜７に係る発明は、平成１８年８月１６日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜７に記載された事項により特定されるとおりのものであり、その請求項１に係る発明は以下のとおりのものと認める。
「　　【請求項１】
　軸まわりに回転可能であり、試料を取り付ける試料ステージ、
　前記試料ステージにおける試料にＸ線放射を向ける二重ピンホールコリメーター、
　前記試料によって回折されるＸ線を検出する検出器、及び、
　前記試料ステージ及び前記検出器の間に配置され、前記試料によって回折されたＸ線を前記検出器上に向ける平坦な分析器結晶
を含むＸ線回折計であって、
　前記分析器結晶及び前記検出器は、前記試料ステージの回転の軸と同軸である軸まわりに回転可能であり、
　当該Ｘ線回折計は、１：２の回転角度の比で前記試料ステージ並びに前記検出器及び前記分析器結晶を回転させる駆動装置をさらに含む、
Ｘ線回折計。」（以下、「本願発明」という。）
　
　
第２　引用刊行物記載の発明
（１）引用例１
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平９−２２２４０１号公報（以下、「引用例１」という。）には、以下の記載がある。
（ア）「【０００５】この発明は上述のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、試料上のＸ線照射領域のうちの限られた微小領域だけからの回折Ｘ線を検出できるようにした微小領域Ｘ線回折装置を提供することにある。」
（イ）「【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の微小領域Ｘ線回折装置は、試料の回折Ｘ線を湾曲結晶モノクロメータで反射してから検出することにより、試料のＸ線照射領域のうちの限られた微小領域からのＸ線回折情報だけを取り出すことができるものである。すなわち、この微小領域Ｘ線回折装置は、Ｘ線源と、このＸ線源から放出されるＸ線を細いビームに絞って試料に照射するコリメータと、前記試料を少なくとも二つの回転軸線の回りに回転可能に保持する試料台と、前記試料からの回折Ｘ線を反射させるヨハンソン型の湾曲結晶モノクロメータと、前記湾曲結晶モノクロメータからの反射Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備え、前記湾曲結晶モノクロメータの集中円が前記試料のＸ線照射領域を通過するように前記湾曲結晶モノクロメータが配置されていることを特徴とする。」
（ウ）「【００１２】
【発明の実施の形態】図１は、この発明の一実施形態を示す正面断面図である。試料台３４には試料３６が載っており、Ｘ線源３８から放出されたＸ線は、コリメータ４０で細いビームに絞られて試料３６に照射される。コリメータ４０の孔の内径は例えば１０μｍである。試料３６を取り囲むように円弧形状のＸ線遮蔽体４４が配置されている。このＸ線遮蔽体４４は、目的の回折Ｘ線以外の散乱線がＸ線検出器５２に入るのを防いでいる。Ｘ線遮蔽体４４に形成された貫通孔４６の部分には、ヨハンソン型の湾曲結晶モノクロメータ４８が配置されている。この湾曲結晶モノクロメータ４８は、その集中円５０が試料３６のＸ線照射領域を通過するように、配置されている。そして、このＸ線照射領域のうちで集中円５０が通過する点が目標点４２となる。この目標点４２からの回折Ｘ線５８だけが湾曲結晶モノクロメータ４８で反射する。この反射Ｘ線６２が検出できる位置にＸ線検出器５２が配置されている。Ｘ線検出器５２としては、比例計数管やシンチレーション検出器を使うことができる。
【００１３】Ｘ線遮蔽体４４と湾曲結晶モノクロメータ４８とＸ線検出器５２は、共通の揺動回転台に搭載されていて、目標点４２を中心として、矢印６６の方向に、一体的に揺動回転できる。この揺動回転台を回転させることにより、測定したい回折ピークが検出できるように湾曲結晶モノクロメータ４８の位置を変更できる。また、測定したい回折ピークの近傍で揺動回転台を微小角度だけ走査すれば、回折ピークのプロファイルが測定できる。」
（エ）「【００２１】次に、本発明の微小領域Ｘ線回折装置において、Ｘ線照射領域のうちの限られた微小領域からの回折Ｘ線だけを取り出せる原理を説明する。図２において、入射Ｘ線５６が試料３６上の目標点４２に当たると、そこからの回折Ｘ線５８が、試料によって定まる特定の回折角２θａの方向に出て行く。この回折角の方向には、あらかじめ湾曲結晶モノクロメータ４８が配置されている。目標点４２からの回折Ｘ線５８は、湾曲結晶モノクロメータ４８の表面に対して入射角θｂで入射し、同じ反射角θｂで反射して、Ｘ線検出器５２で検出される。なお、この湾曲結晶モノクロメータ４８は対称反射のものである。」
（オ）「【００２７】ところで、湾曲結晶モノクロメータで回折Ｘ線を反射させると、その強度は著しく減少する。したがって、一つの回折ピークのプロファイルを測定するだけでも、１００〜５００時間かかる。したがって、この微小領域Ｘ線回折装置では、広い回折角度にわたって微小領域の回折パターンを測定することは現実的ではない。むしろ、既知の一つの回折ピークについて、サブミクロン領域の回折測定を実施することに現実的な意味がある。」
（カ）図１には、孔を２つ有するコリメータ４０が記載されている。
　上記（ア）、（ウ）、（エ）および（カ）の記載によれば、引用例１には、
「試料台３４には試料３６が載っており、Ｘ線源３８から放出されたＸ線は、１０μｍの内径の孔を２つ有するコリメータ４０で細いビームに絞られて試料３６に照射され、入射Ｘ線５６が試料３６上の目標点４２に当たると、そこからの回折Ｘ線５８が、試料によって定まる特定の回折角２θａの方向に出て行き、目標点４２からの回折Ｘ線５８だけが湾曲結晶モノクロメータ４８で反射し、この反射Ｘ線６２が検出できる位置にＸ線検出器５２が配置されており、湾曲結晶モノクロメータ４８とＸ線検出器５２は、共通の揺動回転台に搭載されていて、目標点４２を中心として、矢印６６の方向に、一体的に揺動回転でき、測定したい回折ピークの近傍で揺動回転台を微小角度だけ走査すれば、回折ピークのプロファイルが測定できるＸ線回折装置。」の発明（以下、「引用例１発明」という。）が記載されていると認められる。
　
（２）引用例２
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平８−３２７５６５号公報（以下、「引用例２」という。）には、以下の記載がある。
（ア）「【特許請求の範囲】
【請求項１】  試料を保持する回転軸を駆動する第１のモータと、前記試料にＸ線を照射するＸ線発生部と、前記試料の回りに放射される回折Ｘ線を検出する検出器を保持しこれを前記試料保持軸のまわりに回転駆動する第２のモータとを備え、前記検出器の回転量が前記試料保持軸の回転量の２倍の関係を保つように前記第１と第２のモータの各回転量を制御するθ−２θ連動制御手段を有するＸ線回折装置において、前記第１のモータの入力側に、前記試料保持軸を所定の角度範囲だけ回転振動させるための制御手段を付設したことを特徴とするＸ線回折装置。」
（イ）「【０００２】
【従来の技術】粉末試料などの定性・定量分析あるいは結晶構造を解析する場合には、ゴニオメータの中心に置かれた試料に適当な開き角を持ったＸ線ビームを照射する一方、Ｘ線検出器を試料の回りで回動させながら試料から放射される回折Ｘ線の強度を測定する、いわゆるゴニオメータ法が通常用いられている。そのとき、Ｘ線発生部とゴニオメータ中心（すなわち試料中心）を結ぶ方向を角度のゼロ方向として、試料の角度位置をθとすると、検出器の角度位置は試料の角度位置のちょうど２倍の２θとなるように連動して走査する方法、いわゆるθ−２θ連動の方法が通常用いられている。」
　
　
第３　対比
　本願発明と引用例１発明とを対比する。
　引用例１発明の「試料台３４」は、、試料３６が載っているものであるから、本願発明の「試料を取り付ける試料ステージ」に相当する。また、引用例１発明の「１０μｍの内径の孔を２つ有するコリメータ４０」は、Ｘ線を細いビームに絞って試料３６に照射するものであるから、本願発明の「試料ステージにおける試料にＸ線放射を向ける二重ピンホールコリメーター」に相当する。さらに、引用例１発明の「Ｘ線検出器５２」は、本願発明の「試料によって回折されるＸ線を検出する検出器」に相当する。そして、引用例１発明の目標点４２からの回折Ｘ線５８だけが反射し、この反射Ｘ線６２が検出できる位置にＸ線検出器５２が配置されている「湾曲結晶モノクロメータ４８」と本願発明の「試料ステージ及び前記検出器の間に配置され、前記試料によって回折されたＸ線を前記検出器上に向ける平坦な分析器結晶」とは、「試料ステージ及び前記検出器の間に配置され、前記試料によって回折されたＸ線を前記検出器上に向ける分析器結晶」である点で共通する。さらに、引用例１発明の「湾曲結晶モノクロメータ４８とＸ線検出器５２は、共通の揺動回転台に搭載されていて、目標点４２を中心として、矢印６６の方向に、一体的に揺動回転でき、測定したい回折ピークの近傍で揺動回転台を微小角度だけ走査すれば、回折ピークのプロファイルが測定できる」と本願発明の「前記分析器結晶及び前記検出器は、前記試料ステージの回転の軸と同軸である軸まわりに回転可能であり、当該Ｘ線回折計は、１：２の回転角度の比で前記試料ステージ並びに前記検出器及び前記分析器結晶を回転させる駆動装置をさらに含む」とは、「前記分析器結晶及び前記検出器は、前記試料ステージの回転の軸と同軸である軸まわりに回転可能であり、当該Ｘ線回折計は、前記検出器及び前記分析器結晶を回転させる」点で共通する。
　したがって、両者は、
「試料を取り付ける試料ステージ、
　前記試料ステージにおける試料にＸ線放射を向ける二重ピンホールコリメーター、
　前記試料によって回折されるＸ線を検出する検出器、及び、
　前記試料ステージ及び前記検出器の間に配置され、前記試料によって回折されたＸ線を前記検出器上に向ける分析器結晶
を含むＸ線回折計であって、
　前記分析器結晶及び前記検出器は、前記試料ステージの回転の軸と同軸である軸まわりに回転可能であり、
　当該Ｘ線回折計は、前記検出器及び前記分析器結晶を回転させるＸ線回折計。」である点で一致し、以下の点で相違している。
［相違点１］試料ステージおよび駆動装置が、本願発明では試料ステージが軸まわりに回転可能であり、駆動装置が１：２の回転角度の比で前記試料ステージ並びに前記検出器及び前記分析器結晶を回転させるのに対し、引用例１発明では、試料３６からの回折Ｘ線５８が、試料によって定まる特定の回折角２θａの方向に出て行くように配置されているものの、試料台３４が回転可能とされておらず、１：２の回転角度の比で回転させる駆動手段を含んでいない点。
［相違点２］分析器結晶が、本願発明では平坦であるのに対し、引用例１発明では湾曲している点。
　
　
第４　当審の判断
（１）［相違点１］について
　引用例２の（ア）および（イ）に記載されているように、回折Ｘ線の強度を測定する際に、試料の角度位置をθとすると、検出器の角度位置は試料の角度位置のちょうど２倍の２θとなるように連動して走査するθ−２θ連動の方法は通常用いられている方法であり、試料を保持する回転軸を駆動する第１のモータと検出器を試料保持軸のまわりに回転駆動する第２のモータを備えるθ−２θ連動制御手段は従来より知られている。
　したがって、引用例１発明において、測定したい回折ピークの近傍で揺動回転台を微小角度だけ走査して回折ピークのプロファイルを測定する際に、Ｘ線回折装置において従来知られたθ−２θ連動制御手段を採用し、試料台を軸まわりに回転可能とし、１：２の回転角度の比で回転させることは当業者が容易に想到しうることである。
　なお、請求人は審判請求書の請求の理由において、引用例１の（オ）の「広い回折角度にわたって微小領域の回折パターンを測定することは現実的ではない。」との記載は、引用例２に開示されるようなθ−２θ連動制御手段の構成を採用することを妨げるものであると主張しているが、引用例１の（ウ）の「測定したい回折ピークの近傍で揺動回転台を微小角度だけ走査すれば、回折ピークのプロファイルが測定できる。」という記載から理解されるように、引用例１発明は回折角度のプロファイルを測定することを否定しているのではなく、
広い
　
（２）［相違点２］について
　Ｘ線回折計に用いられる分析器結晶として、平坦な分析器結晶は周知である。例えば、特開平４−２３２８４３号公報の図１には平坦なモノクロメータ７が、特表平１１−５０２３１２号公報の図１には平坦なモノクロメーター結晶５２が、それぞれ記載されており、これらはＸ線が照射された範囲全体を測定対象としている。そして、引用例１発明は、引用例１の（ア）に記載されているように、試料上のＸ線照射領域のうちの限られた微小領域だけからの回折Ｘ線を検出できるようにすることを課題とし、その課題を解決するために（イ）に記載されているように湾曲した結晶モノクロメータを採用したものであるが、回折Ｘ線を測定するにあたり、測定領域をどの程度の範囲とするかは、当業者が必要に応じて適宜設定すべき事項である。
　したがって、引用例１発明において、従来行われていたように試料上のＸ線照射領域をそのまま測定領域とし、従来周知である平坦な結晶モノクロメータを採用することは、当業者が測定対象に応じて適宜選択し得ることである。
　
（３）本願発明の効果について
　引用例１発明は、１０μｍの内径の孔を２つ有するコリメータ４０と結晶モノクロメータ４８を含むものであるから、本願発明と同様に回折計の設定及び調整の速度を速めるという効果を奏するものであり、本願発明の効果は引用例１，２および上記周知技術から当業者が予測しうる範囲のものであって、格別なものであるとはいえない。
　
　
第５　むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１，２および上記周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その他の請求項に係る発明について言及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。