【事件の表示】
　特願２００１−　９０６４８「ＴＣＰ用ハンドラ」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年１０月　３日出願公開、特開２００２−２８６７９８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は、平成１３年３月２７日にされた特許出願であって、平成１９年４月１３日付け（同年４月１７日発送）で拒絶査定がされたところ、これに対して、平成１９年５月１６日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同日付けで明細書を補正対象とする手続補正書が提出されたものである。
　
２　平成１９年５月１６日付け手続補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　平成１９年５月１６日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
（１）補正の内容
　平成１９年５月１６日提出の手続補正（以下、「本件補正」という。）は、補正前の特許請求の範囲の請求項１の記載
「【請求項１】　ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置に接続された 測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラであって、
　各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）と、
　ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）と、
　所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）と、
　該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）と、を具備し、
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）を作動させることを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ。」
　を、
「【請求項１】　ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置に接続された 測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラであって、
　各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）と、
　ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）と、
　所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）と、
　該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）と、を具備し、
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動し、位置調整を連続して行わないことを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ。」
　と補正する内容を含むものである。
　
（２）補正の目的の適合性
　本件補正により、補正前の「所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動させる」を「所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動
し、位置調整を連続して行わない
　
（３）独立特許要件
　本件補正後の請求項１ないし１５に係る発明は、平成１９年５月１６日付けの手続補正により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１５に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明は、以下のとおりである。
「【請求項１】　ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置に接続された 測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラであって、
　各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）と、
　ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）と、
　所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）と、
　該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）と、を具備し、
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動し、位置調整を連続して行わないことを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ。」（以下、「本件補正発明」という。）
　
　そこで、本件補正発明が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について、以下検討する。
　
（４）引用例に記載された発明
　原査定の拒絶の理由で引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である実願昭６３−５９２３１号（実開平１−１６３３３５号）のマイクロフィルム（以下、「引用例」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
（ア）「(b)従来技術と問題点
　最初に、ＴＡＢの外観を第８図で説明する。
　ＴＡＢ１は基板が写真のフィルム状になっており、各コマにデバイス１Ａを構成している。
　デバイス１Ａを試験するためには、測定ピンを端子１Ｂに接触させる。
測定ピンは電極に取り付けられているので、ＴＡＢと電極を正確に位置決めしなければならない。
　ＴＡＢと電極の接触機構については、例えば、実願昭62-130232号明細書にも記載されている。
　しかし、この従来技術では、位置決めピンでＴＡＢと電極の位置決めをしており、スプロケットと位置決めピンとの間には、わずかの隙間があるので、精密に位置合わせをするのは困難である。」（明細書第２頁第１０行−第３頁第３行。）
　
（イ）「(c)考案の目的
　この考案は、ＴＡＢの固定機構全体を微動できるようにし、最初に電極の上に移動したＴＡＢを正確に位置決めし、このときのＴＡＢの特定シンボルを撮像管で撮影して表示器に表示しておき、次のＴＡＢを電極の上に移動したときは、表示器に表示されている特定シンボルと次のＴＡＢの特定シンボルがオーバーラップするように固定機構全体を微動して、ＴＡＢと電極を精密に位置合わせをすることができるようにした位置決め機構の提供を目的とする。
　(d)考案の実施例
　次に、この考案による実施例の構成図を第１図に示す。
　第１図の１はＴＡＢ、２はプッシャ、３はクランプ、４はＸＹ移動機構、５は撮像管、６は表示器、７は電極、８は測定ピンである。
　ＴＡＢ１はプーリ９Ａ・９Ｂの間を通過する。
　プッシャ２はボールネジ１０の回転でＺ方向に移動する。
　クランプ３は、ＴＡＢ１に対し、プッシャ２の反対側に配置されている。
　ＸＹ移動機構４は、プッシャ２とクランプ３をＸＹ方向に微動させる。ＸＹ移動機構４には、ＸＹ軸パルスステージなどを使用することができる。
　撮像管５は、後述のＴＡＢ１の特定シンボル１１を撮影する。
　表示器６は、撮像管５で撮影した特定シンボル１１を表示する。」（明細書第３頁第４行−第４頁第１２行。）
　
（ウ）「次に、第１図の要部分解図を第２図に示す。第２図のプッシャ２を下に移動してクランプ３とプッシャ２でＴＡＢ１を挟む。
　クランプ３には、ＴＡＢ１に接触する４個の凸部３Ａがあり、中央部分には電極７が入るように穴３Ｂがあけられている。
　プッシャ２とクランプ３でＴＡＢ１を挟んだ状態で、第１図のＸＹ移動機構４を駆動し、電極７の測定ピン８とＴＡＢ１の端子１Ｂが最適の位置になるように調節する。この調節は手動でもよい。
　この状態で、後述のＴＡＢ１の特定シンボル１１を撮像管５で撮影する。」（明細書第４頁第１３行−第５頁第４行。）
　
（エ）「次に、第１図の状態からＴＡＢ１を電極７の測定ピン８に接触させるまでの要部の状態を第３図から第５図で説明する。
　第３図は、プッシャ２を上にあげ、ＴＡＢ１をフリーの状態にしているところを示す。
　第４図は、第３図の状態からプッシャ２を下にさげ、プッシャ２とクランプ３とでＴＡＢ１を挟んだ状態を示す。
　第４図の状態で、第１図のＸＹ移動機構４を駆動して、または手動で、ＴＡＢ１を微動し、電極７とＴＡＢ１を正確に位置決めする。
　そして、第１図の撮像管５で、このときのＴＡＢ１の特定シンボル１１を撮影し、この特定シンボル１１を表示器６に表示する。
　次に、表示器６に表示された特定シンボル１１の例を第６図に示す。
　第６図は、第８図の端子１Ｂとデバイス１Ａの間のリード線の一部の幅を太くした部分を特定シンボル１１として表示したものである。
　第５図は、第４図の状態からさらにプッシャ２を下にさげ、プッシャ２とクランプ３で挟んだＴＡＢ１を電極７の測定ピン８に接触させている状態を示す。
　第５図では、プッシャ２がＴＡＢ１を押しながら下にさがるので、クランプ３も下にさがるように、クランプ３に連結しているバー３Ａが下にさがり、その分、ばね３Ｂが縮むようになっている。
　すなわち、第３図から第４図になるときは、プッシャ２だけが下にさがっていくが、第４図から第５図になるときは、プッシャ２とクランプ３が一体となって下にさがっていく。
　第５図の状態で、電極７の測定ピン８をＴＡＢ１に接触させ、ＴＡＢ１の１コマのデバイス１Ａを試験する。
　試験が終ると、プッシャ２を上にあげ、第３図の状態にしてＴＡＢ１をフリーにし、次のＴＡＢ１が電極７の上にくるように、ＴＡＢ１を送り出す。
　そして、第３図から第４図までを繰り返し、次のＴＡＢ１を電極７の位置に移動させる。」（明細書第５頁第５行−第７頁第４行。）
　
（オ）「　次のＴＡＢ１が電極７の上にきたときは、表示器６に表示されている特定シンボル１１と次のＴＡＢ１の特定シンボル１２が一致するようにＸＹ移動機構４を微動させる。
　次に、表示器６に表示された特定シンボル１２の例を第７図に示す。
　第７図は、第６図と同じ部分を特定シンボルとして表示したものであるが、第６図に比べて位置が右にずれている状態を示している。
　第７図の特定シンボル１２が第６図の特定シンボル１１とオーバーラップするように、ＸＹ移動機構４を微動すれば、次のＴＡＢ１と電極７は正確に位置決めされたことになる。」（明細書第７頁第５行−第７頁第１７行。）
　
（カ）図面の第２図から、所定位置に固定配置された撮像管を、見て取ることができる。
　
　上記摘記事項（ア）及び（エ）から、各コマにデバイス（１Ａ）を構成してなり、各コマが写真のフィルム状に連接されたＴＡＢ（１）を用いて各コマを繰り返し送り出すことにより、各コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるＴＡＢ（１）を試験するための装置を、読み取ることができる。
　
　上記摘記事項（エ）から、各コマが測定ピン（８）の上にくるように、試験が終わるたびにＴＡＢ（１）を繰り返し送り出すための手段を、読み取ることができる。
　
　上記摘記事項（エ）及び当該技術分野の技術常識から、ＴＡＢ（１）が止まった状態において、コマを挟み、さらに、コマを挟んだまま押し下げることにより、当該コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるプッシャ（２）とクランプ（３）とからなる手段を、読み取ることができる。
　
　上記摘記事項（エ）及び第２図から、所定位置に固定配置され、各コマのデバイス（１Ａ）を撮像する撮像管（５）を、読み取ることができる。
　
　上記摘記事項（ウ）ないし（オ）から、撮像管（５）が撮影した特定シンボル（１２）と測定ピン（８）とコマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）に対する最適な位置を示す特定シンボル（１１）とが一致するようにコマを位置調整するＸＹ移動機構（４）を、読み取ることができる。
　
　上記摘記事項（イ）及び（エ）、（オ）から、最初のコマについてＸＹ移動機構（４）による正確な位置決めが終了すると、それ以降の各コマについては、特定シンボル（１２）と特定シンボル（１１）がとが一致するようにＸＹ移動機構（４）を微動させるＴＡＢ（１）を試験するための装置を、読み取ることができる。
　
　したがって、上記摘記事項（ア）ないし（オ）及び図面の記載からみて、引用例には、以下の発明が記載されているものと認められる。　
「各コマにデバイス（１Ａ）を構成してなり、各コマが写真のフィルム状に連接されたＴＡＢ（１）を用いて各コマを繰り返し送り出すことにより、各コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるＴＡＢ（１）を試験するための装置であって、
　各コマが測定ピン（８）の上にくるように、試験が終わるたびにＴＡＢ（１）を繰り返し送り出すための手段と、
　ＴＡＢ（１）が止まった状態において、コマを挟み、さらに、コマを挟んだまま押し下げることにより、当該コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるプッシャ（２）とクランプ（３）とからなる手段と、
　所定位置に固定配置され、各コマのデバイス（１Ａ）を撮像する撮像管（５）と、
　撮像管（５）が撮影した特定シンボル（１２）と測定ピン（８）とコマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）に対する最適な位置を示す特定シンボル（１１）とが一致するようにコマを位置調整するＸＹ移動機構（４）と、を備え、
　最初のコマについてＸＹ移動機構（４）による正確な位置決めが終了すると、それ以降の各コマについては、特定シンボル（１２）と特定シンボル（１１）がとが一致するようにＸＹ移動機構（４）を微動させるＴＡＢ（１）を試験するための装置。」（以下、「引用発明」という。）
　
（５）対比
　本件補正発明と引用発明とを対比する。
（ア）引用発明の「コマ」は、本件補正発明の「ＴＣＰ（１）」に相当し、以下同様に、「ＴＡＢ（１）」は「ＴＣＰテープ（Ｘ）」に、「端子（１Ｂ）」は「テストパッド（１ｂ）」に、「測定ピン（８）」は「測定ピン（９）」に、「ＴＡＢ（１）を試験するための装置」は「ＴＣＰ用ハンドラ」に相当するから、引用発明の「各コマにデバイス（１Ａ）を構成してなり、各コマが写真のフィルム状に連接されたＴＡＢ（１）を用いて各コマを繰り返し送り出すことにより、各コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるＴＡＢ（１）を試験するための装置」は、本件補正発明の「ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置に接続された 測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラ」と、「ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラ」との限りにおいて一致する。
（イ）引用発明の「各コマが測定ピン（８）の上にくるように、試験が終わるたびにＴＡＢ（１）を繰り返し送り出すための手段」は、本件補正発明の「各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）」に相当する。
（ウ）引用発明の「ＴＡＢ（１）が止まった状態において、コマを挟み、さらに、コマを挟んだまま押し下げることにより、当該コマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）を測定ピン（８）に接触させるプッシャ（２）とクランプ（３）とからなる手段」は、本件補正発明の「ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）」に相当する。
（エ）引用発明の「所定位置に固定配置され、各コマのデバイス（１Ａ）を撮像する撮像管（５）」は、本件補正発明の「所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）」に相当する。
（オ）引用発明の「特定シンボル（１２）」は、本件補正発明の「撮影画像（Ｇ1）」に相当し、同様に、「特定シンボル（１１）」は「基準画像（Ｇ2）」に相当するから、引用発明の「撮像管（５）が撮影した特定シンボル（１２）と測定ピン（８）とコマのデバイス（１Ａ）の端子（１Ｂ）に対する最適な位置を示す特定シンボル（１１）とが一致するようにコマを位置調整するＸＹ移動機構（４）」は、本件補正発明の「該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）」に相当する。
（カ）引用発明の「最初のコマについてＸＹ移動機構（４）による正確な位置決めが終了すると、それ以降の各コマについては、特定シンボル（１２）と特定シンボル（１１）がとが一致するようにＸＹ移動機構（４）を微動させるＴＡＢ（１）を試験するための装置」は、本件補正発明の「最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動し、位置調整を連続して行わないことを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ」と、「最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整（を行う）ＴＣＰ用ハンドラ」との限りにおいて一致する。
　
　したがって、本件補正発明と引用発明の両者は、 以下の一致点で一致し、以下の相違点で相違する。
　
＜一致点＞
「ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラであって、
　各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）と、
　ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）と、
　所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）と、
　該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）と、を具備し、
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整を行うＴＣＰ用ハンドラ。」
　
＜相違点１＞
　測定ピンが、本件補正発明においては、「半導体集積回路試験装置に接続され」ているのに対して、引用発明では、そのように限定されていない点。
　
＜相違点２＞
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、本件補正発明においては、「これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動し、位置調整を連続して行わない」のに対して、引用発明では、そのように限定されていない点。
　
（６）判断
　上記相違点１について検討する。
　原査定の拒絶の理由で引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である実願平５−６５３２号（実開平６−６２３８０号）のＣＤ−ＲＯＭ（以下、「周知例１」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
（ア）「【００１３】
  図１は本考案によるＴＡＢ用測定機構の実施例を示す構成図である。図１において、１はＬＳＩチップをプラスチックフィルムにテープ状に実装したＴＡＢ、２はＴＡＢ１に実装されたＬＳＩチップの各端子と接触するプローブ２ａをＴＡＢ１側に有するプローブカードである。また、３はＸＹθ微調整ステージ６に固定されているコンタクトリング、３ａはプローブカード２とテストヘッド５を電気的に接続するコンタクトプローブ、４は位置決めピンである。テストヘッド５は、ＴＡＢ１に実装された各ＬＳＩチップを順次検査・測定する測定器であり、その中心に穴１５が空けられている。
【００１４】
  位置決めピン４は、コンタクトリング３をテストヘッド５に固定するピンであり、コンタクトリング３に連結され、これの位置規制を行っている。コンタクトリング３はプローブカード２およびプローブ２ａを保持しており、ＸＹθ微調整ステージ６に固定されている。すなわち、プローブ２ａ、プローブカード２、コンタクトリング３、位置決めピン４、テストヘッド５は一体化されており、ＸＹθ微調整ステージ６は図示されない微調整機構により動作することになるので、電気的、機械的に接続を解くことなくプローブ２ａとＴＡＢ１を位置合わせできる。
【００１５】
  プローブ２ａとＴＡＢ１の位置合わせの状態は、テストヘッド５の下方（コンタクトリングと反対側）に設けられたモニタ部１１により撮像され、その映像信号がモニタテレビ（図示せず）により表示される。モニタ部１１はレンズ７、照明８およびＣＣＤカメラ９により構成されている。照明８はレンズ７およびＣＣＤカメラ９と一体化された照明である。モニタ部１１にはまた多数のボールキャスタ１０がテストヘッド５側に取り付けられている。このボールキャスタ１０のそれぞれの回転部分がテストヘッド５と接触することにより、テストヘッド５はＸＹθのいずれの方向にも自在に動くことが可能なようになっている。」
　
　上記周知例１に示されているように、ＴＡＢ（１）を試験するための装置において、プローブ（２ａ）（引用例の「測定ピン（８）」に相当する。）が、ＴＡＢに実装された各ＬＳＩチップを順次検査・測定する測定器であるテストヘッドに接続されていることは、技術常識にすぎない。
　よって、上記相違点１は、実質的な相違点ではない。
　
　次に、上記相違点２について検討する。
　本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１−１４００７５号公報（以下、「周知例２」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
　（イ）「（１）ＩＣを装着したテープキャリヤの電極端子とプローブ体を位置合わせし接続させ上記ＩＣの電気特性を検査する方法において、検査後に上記テープキャリヤを撮像しこの撮像出力からテープキャリヤに付けられたプローブ体の接触跡を認識することを特徴とするテープキャリヤの検査方法。
（２）プローブ体の接触跡を認識しテープキャリヤの電極端子とプローブ体の位置合わせを補正することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のテープキャリヤの検査方法。」（公報第１頁左下欄第５行−同欄第１４行。）
　
（ウ）「上述したように、ＩＣを装着したテープキャリヤをリール・ツゥー・リール方式でピッチ送りして検査後、テープキャリヤを撮像し、この撮像出力からテープキャリヤに付けられたプローブ体の跡を認識し、位置合わせを補正することにより、信頼性の高い検査結果を得ることが可能となる。」（公報第５頁左上欄第１４行−同欄第１９行。）
　
（エ）「又、プローブ針跡の認識は、不良部のみに限定して実行するのではなく、所定数検査毎や、全数チエツクを実行してもかまわない。」（公報第５頁右下欄第３行−同欄第６行。）
　
　本願の出願前に頒布された刊行物である特開平７−７０２８号公報（以下、「周知例３」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
　（オ）「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体チップを基板やリードフレーム等にボンディングするチップボンディング装置における半導体位置合せ方法の改良に関するもので、主としてマウンタ、ＴＡＢボンダ、フリップチップボンダ等の半導体位置合せ方法に用いられるものである。」
　
（カ）「【００１６】続いて、第２段階として、所定回数又は所定時間、通常の方法で基板４に対して半導体チップ３をボンディングする。すなわち、第２の認識カメラ１２にて半導体チップ３の位置認識を行い、第１の認識カメラ６にて基板４の位置認識を行い、演算に基づいた位置の基板４上に半導体チップ３を接合するのである。
【００１７】第３段階として、所定回数又は所定時間の後、相対的位置関係の変化の検出が行われる。即ち、基準位置設定動作で記憶された基準位置に、第１の認識カメラ６と第２の認識カメラ１２、及び特定マーク１４を設けたターゲット１５を移動させ、両認識カメラ６、１２により特定マーク１４の画像取込を行なう。
【００１８】この時、特定マーク１４の認識位置が基準位置より変化していれば、それは熱膨張による影響、即ちずれである。このずれ量はターゲット１５と第１の認識カメラ６との相対的ずれ量と、ターゲット１５と第２の認識カメラ１２の相対的ずれ量として検出される。そして、該ターゲット１５と第１の認識カメラ６との相対的ずれ量と該ターゲット１５と第２の認識カメラ１２の相対的ずれ量から第１の認識カメラ６と第２の認識カメラ１２の相対的ずれ量を演算する。このずれ量を補正量としてＸテーブル１１及びＹテーブル１０の移動量に加えることにより熱膨張による誤差を取り除くのである。
【００１９】尚、本発明では、ボンディングツール５をＸ軸方向及びＹ軸方向に移動させて、半導体位置合せを行うことも、上記実施例のごとく、ボンディングツール５の移動によらず、Ｘテーブル１１及びＹテーブル１０の移動により行うことも、又はボンディングツール５とＸテーブル１１及びＹテーブル１０の両方の移動により半導体位置合せ動作を行うことも可能である。」
　
　本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１１−１４５０４８号公報（以下、「周知例４」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
（キ）「【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、露光装置が設置されたクリーンルームの床は、露光装置全体の重量に十分耐えられる強度を有していることが理想であるが、経時変化により、床の平面度に変化が生じてしまうことがある。また床の補強構造によっては露光装置設置面の全面が均一の耐荷重であるとは限らないため、経時変化により床の平面度に変化が生じてしまうと、上記のような基板搬送系と露光部とが別個のベース上にそれぞれ設置されているような露光装置の場合、基板搬送系と露光部との間に相対的な位置ずれや傾きが生じてしまう。ところが、そのような状態では、露光装置の設置調整時に設定した基板受け渡しのための位置関係がずれてしまうので、レチクルやウェハの搬送における基板搬送系と露光部との基板受け渡し動作を正常に行うことができず、基板受け渡しエラーの発生により露光装置の稼動を停止せざるを得ず、装置のスループット低下の原因となってしまうという問題を生じる。また、基板搬送系と露光部との基板受け渡し位置が大幅にずれているような場合には、そのまま基板受け渡し動作を実行してしまうとレチクルやウェハを破損してしまうという問題も生じる。
【０００６】このような事態を回避するには、基板受け渡し動作状態の検査を頻繁に行う必要が生じるが、クリーンルームの床の平面度の経時変化を予測することは困難であり、また検査のための作業や装置の停止は作業効率の面で多大な負荷となる。
【０００７】本発明は、上記従来の技術が有している技術的課題を解決するためになされたものであり、その目的は、露光装置が設置されているクリーンルームの床が経時変化により、露光装置の基板搬送系と露光部との間に相対的な位置ずれを生じさせる程度にその平面度が変化しても、基板搬送系と露光部との間の基板搬送動作を維持できる露光装置を提供することにある。」
　
（ク）「【００３４】なお、位置検出センサ部（２４、２６）、（３０、３２）からの位置情報は、定期的に所定のサンプリング間隔で取得するようにしてもよいし、また、レチクルＲあるいはウェハＷを搬送する直前の位置情報を取得するようにしてもよい。さらに、レチクルＲやウェハＷの搬送動作中に所定のサンプリング間隔で取得するようにしてもよい。」
　
　上記周知例２ないし４の記載事項によれば、対象物を移動させた上で位置合わせをして各種処理を行う装置において、毎回位置合わせを行うのではなく、所定数の処理を行った後に位置合わせを行う技術は、平成１９年４月１３日付け拒絶査定において、審査官が「また、チェック（位置調整）を全ての対象について行うことも、適当に間隔をおいてチェック（位置調整）を行うことも慣用的に行われていることであって、必要に応じて適宜設定される選択的事項にすぎない」とも言及しているように、周知技術にすぎず、また、一般に、精度とスループットなどとの兼ね合いに応じて、当業者が実施時に適宜選択しうる単なる設計的な事項にすぎない。
　してみると、上記周知技術と同様に、対象物を移動させた上で位置合わせをして処理を行う装置に関する発明である引用発明において、単に上記周知技術を採用し、所定個数間隔で位置合わせを行い、位置合わせを連続して行わない構成とすることは、当該技術分野の専門家にとって通常の創作能力の発揮程度のことにすぎない。
　
　よって、上記相違点２に係る本件補正発明の発明特定事項は、引用発明に上記周知技術を適用することにより当業者が容易に想到し得たものである。
　
　そして、本件補正発明の奏する効果も、引用例１の記載及び周知例１ないし４に記載された事項から当業者が予測可能な範囲内のものである。
　したがって、本件補正発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
（７）独立特許要件についてのむすび
　したがって、本件補正発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（８）むすび
　以上のとおりであるから、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
 　
３　本願発明
　平成１９年５月１６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし１５に係る発明は、平成１８年１０月２３付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１ないし１５に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に記載された発明（以下「本願発明」という。）は、次のとおりである。
「【請求項１】　ＴＣＰ（１）が複数連接された帯状のＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置に接続された 測定ピン（９）に接触接続するＴＣＰ用ハンドラであって、
　各ＴＣＰ（１）が前記測定ピン（９）に対向する位置で停止するように、ＴＣＰテープ（Ｘ）を順次間欠送りする移送手段（４，５）と、
　ＴＣＰテープ（Ｘ）が停止した状態においてＴＣＰ（１）を押圧することにより当該ＴＣＰ（１）のテストパッド（１ｂ）を前記測定ピン（９）に接触させる押圧手段（２，３，６）と、
　所定位置に固定配置され、各ＴＣＰ（１）を撮像する撮像手段（１０）と、
　該撮像手段（１０）の撮影画像（Ｇ1）とＴＣＰ（１）の測定ピン（９）に対する標準位置を示す基準画像（Ｇ2）とが一致するようにＴＣＰ（１）を位置調整する位置調整手段（７，１１，１２）と、を具備し、
　最初のＴＣＰ（１）について位置調整手段（７，１１，１２）によるＴＣＰ（１）の位置調整が終了すると、これ以降の各ＴＣＰ（１）については所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）を作動させることを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ。」
　
４　引用例に記載された発明
　原査定の拒絶の理由で引用され、本願の出願前に頒布された引用例及びその引用発明は、「２（４）引用例に記載された発明」の項に記載したとおりである。
　
５　対比・判断
　本願発明は、上記「２（２）補正の目的の適合性」で検討した本件補正発明の「所定個数間隔で位置調整手段（７，１１，１２）が作動
し、位置調整を連続して行わない
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、さらに他の発明特定事項を付加したものに相当する本件補正発明が、上記「２（６）判断」に記載したとおり、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様に、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
６　むすび
　以上のとおりであるから、本件出願の請求項１に係る発明（本願発明）は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであり、その余の請求項２ないし１５に係る発明についての判断を示すまでもなく、本件出願は、拒絶をすべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。