【事件の表示】
　特願２００２−　６９１８１「複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法及び蛍光Ｘ線分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　９月２５日出願公開、特開２００３−２７０１７７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は，平成１４年３月１３日の出願であって，平成１８年１０月２６日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年１２月１５日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，平成１９年１月１２日付けで手続補正がなされたものである。
　
２　平成１９年１月１２日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）について
　本件補正は，明細書の特許請求の範囲の請求項１，２およびこれに対応する明細書の発明の詳細な説明の記載を補正するものである。
　すなわち，補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載されていた特定事項である「低い管電圧での測定時間と高い管電圧での測定時間とを設定し，しかる後，低い管電圧での測定および高い管電圧での測定を行なう」が，「低い管電圧での測定時間と高い管電圧での測定時間とを
自動的に
軽元素を検出するための
重元素を検出するための
それぞれ行い，それら測定の結果を組み合わせて当該測定試料に含まれている多元素を定性するとともに，定量計算する
軽元素を検出するための
重元素を検出するための重元素を検出するための
それぞれ行い、それら測定の結果を組み合わせて当該測定試料に含まれている多元素を定性するとともに、定量計算する
　そして，本件補正は，平成１４年法律第２４号改正附則第２条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項４号に規定する明りょうでない記載の釈明を目的とするものに該当し，適法なものであると認められる。 
　
３　本願発明 
　本願の請求項１〜２に係る発明は，本件補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜２に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められ，その請求項１に係る発明は，次のとおりのものである。
「【請求項１】低い管電圧および高い管電圧でＸ線管から発せられた一次Ｘ線が測定試料に照射され，当該測定試料から発せられる蛍光Ｘ線を検出器で検出し，その信号を信号処理手段を経てエネルギースペクトルとして読み取ることで当該測定試料に含まれている軽元素および重元素を，それぞれ当該低い管電圧および高い管電圧で測定する複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法であって，予め一定の測定時間を設定し，続いて，メモリに予め記憶されている前記軽元素の検出効率および前記重元素の検出効率に基づいて前記設定された一定の測定時間内における前記低い管電圧での測定にかける時間と前記高い管電圧での測定にかける時間との比率を計算して低い管電圧での測定時間と高い管電圧での測定時間とを
自動的に
軽元素を検出するための
重元素を検出するための
それぞれ行い，それら測定の結果を組み合わせて当該測定試料に含まれている多元素を定性するとともに，定量計算する
　　
４　引用例記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願日前に頒布された刊行物である特開昭５２−１１７６９３号公報（以下，「引用例」という。）には，図面とともに次の記載がある。
　
ア　「２．特許請求の範囲
  重元素を主成分とする合金あるいは化合物の分析に際し，重元素は励起されず軽元素は励起される電圧に重元素をも励起される高電圧を小時間間歇的に印可することを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。」（１頁左下欄３〜８行）
　
イ　「３．発明の詳細な説明
　この発明は，蛍光Ｘ線分析方法に関するものである。
　蛍光Ｘ線分析は鉄鋼材料の分析に広く使用されている。その場合，最も問題になるのは合金による含有成分量の差があり，しかも蛍光Ｘ線の発生能は元素によって異なることである。この発生量は一般に，第３図及び第６のように物質の含有重量％（Ｗ），蛍光Ｘ線放出確率（ω），質量吸収係数（μ／Ｐ）に比例する。この図表から明らかなように，蛍光Ｘ線の発生効率は，原子番号の小さい元素，すなわち軽元素たとえばＡｌ，Ｓｉ，Ｐ，Ｓでは著しく低下するものである。そして軽元素ほど試料自体による吸収の影響を大きく受ける。・・・ところで，近年半導体検出素子を用いて，全元素を同時に単一の検出器により分析を行うことが可能となった。・・・この発明は，分析に際し，重元素は励起されず軽元素は励起される電圧に，重元素をも励起される高電圧を小時間間歇的に印可することを特徴とするものである。」（１頁左下欄９行〜２頁左上欄９行）
　
ウ　「ここで通常電圧源３からは、１．５〜５ＫＶ程度の低電圧を発生し，また高電圧発生器４からは，たとえば２０〜５０ＫＶの電圧範囲，１００パルス／ｓｅｃのパルス発生数，０．１〜１．０ｍｓｅｃ（パルス発生時間率１／１００〜１／１０）のパルス電圧を低電圧に印可することができるよう構成されている。」（２頁左上欄１５〜２０行）
　
　これらの記載によれば，引用例には，以下の発明が記載されていると認められる。
「重元素は励起されず軽元素は励起される電圧に，重元素をも励起される高電圧を０．１〜１．０ｍｓｅｃ（パルス発生時間率１／１００〜１／１０）の小時間間歇的に印可し，単一の検出器により合金あるいは化合物の分析を行う蛍光Ｘ線分析における前記両電圧の測定時間設定方法。」（以下，「引用発明」という。）
　
５　対比
　そこで，本願発明と引用発明とを対比すると，引用発明の（ａ）「重元素は励起されず軽元素は励起される電圧」，（ｂ）「重元素をも励起される高電圧」，（ｃ）「合金あるいは化合物」は，それぞれ，本願発明の（ａ）「（軽元素を検出するための）低い管電圧」，（ｂ）「（重元素を検出するための）高い管電圧」，（ｃ）「測定試料」に相当することが明らかである。
　また，引用発明の（ｄ）「蛍光Ｘ線分析」は，本願発明と同様に重元素は励起されず軽元素は励起される電圧と重元素をも励起される高電圧という複数の条件でＸ線を発生させているので，本願発明の（ｄ）「複数条件蛍光Ｘ線分析」に相当するといえる。
　そして，引用発明においては「高電圧を０．１〜１．０ｍｓｅｃ（パルス発生時間率１／１００〜１／１０）の小時間間歇的に印可」されているのであるから，引用発明においては，「予め一定の測定時間を設定し，続いて，前記設定された一定の測定時間内における前記低い管電圧での測定にかける時間と前記高い管電圧での測定にかける時間との比率を計算して低い管電圧での測定時間と高い管電圧での測定時間とを設定」しているといえる。
　さらに，蛍光Ｘ線分析方法が「Ｘ線管から発せられた一次Ｘ線が測定試料に照射され，当該測定試料から発せられる蛍光Ｘ線を検出器で検出」し「その検出器で検出された信号を信号処理手段を経てエネルギースペクトルとして読み取る」ことは技術常識であり，分析として「測定の結果から当該測定試料に含まれている多元素を定性するとともに，定量計算する」ことは，本願の出願日前周知の技術事項であるといえるから，引用発明においても，そのような構成を有しているとみるのが相当である。
　
　そうすると，両者は，
（一致点）
「低い管電圧および高い管電圧でＸ線管から発せられた一次Ｘ線が測定試料に照射され，当該測定試料から発せられる蛍光Ｘ線を検出器で検出し，その信号を信号処理手段を経てエネルギースペクトルとして読み取ることで当該測定試料に含まれている軽元素および重元素を，それぞれ当該低い管電圧および高い管電圧で測定する複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法であって，予め一定の測定時間を設定し，続いて，前記設定された一定の測定時間内における前記低い管電圧での測定にかける時間と前記高い管電圧での測定にかける時間との比率を計算して低い管電圧での測定時間と高い管電圧での測定時間とを設定し，しかる後，軽元素を検出するための低い管電圧での測定および重元素を検出するための高い管電圧での測定をそれぞれ行い，それら測定の結果を組み合わせて当該測定試料に含まれている多元素を定性するとともに，定量計算する複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法。」
で一致し，次の相違点で相違するといえる。
　
（相違点）
「低い管電圧での測定にかける時間と前記高い管電圧での測定にかける時間との設定」について，本願発明では「メモリに予め記憶されている前記軽元素の検出効率および前記重元素の検出効率に基づいて自動的に設定」するのに対して，引用発明では低い電圧での測定中に高い電圧で０．１〜１．０ｍｓｅｃ（パルス発生時間率１／１００〜１／１０）の小時間間歇的に印可し測定をするが，それぞれの測定時間の設定法については不明である点。
　
６　相違点の判断
　そもそも，「軽元素の検出効率および重元素の検出効率に基づいて軽元素の測定にかける時間と重元素の測定にかける時間を適宜設定する」ことも本願出願前周知の事項であるといえる。
　例えば，本願出願前に頒布された刊行物である特開平１−１５６６４６号公報には，「重元素分析用と軽元素分析用のターゲットのいずれか一方のみに偏って測定することがなくなるために，微量成分のものでも精度良く分析することが可能となる。」（２頁右下欄８〜１１行）および「混合試料に含まれる重元素と軽元素の配分比率に応じて各ターゲット２ａ、２ｂに割り当てた時間Ｔ１、Ｔ２を適宜調整することができる。」（２頁右下欄１５〜１７行）と記載されている。
　そして，引用発明において「０．１〜１．０ｍｓｅｃ（パルス発生時間率１／１００〜１／１０）」と設定されているのは，軽元素の含有量が微量な金属を分析対象としているからであり，分析対象の軽元素の含有量が多い場合に軽元素の測定にかける時間の比率を多くすることは，当業者において自明の事項であるといえる。
　また，分析分野において，その設定等を「自動化」することは一般的な課題であって，「自動化」する場合に，必要なデータ等をメモリに記憶しておき適宜計算することは，当業者ならば必要に応じて適宜選択し得る設計事項に過ぎない。
　そうすると，引用発明において，上記周知の事項を適用して，相違点における本願発明の構成とすることは，当業者ならば何ら困難性がなく，容易に想到し得る程度の事項であるといえる。
　
　そして，本願発明の作用効果も，引用発明および周知の事項から当業者であれば予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　したがって，本願発明は，引用発明および周知の事項に基づいて，当業者が容易に発明することができたものであるというべきである。 
　
７　むすび
　以上のとおり，本願の請求項１に係る発明は，本願の出願日前に頒布された刊行物である引用例に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に想到をすることができたものであるので，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，請求項２に係る発明について言及するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。