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　特願２００４−　９７８７７「接合線検出方法とその装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年１０月１３日出願公開、特開２００５−２８４７２５、請求項の数（２）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
１．本願発明
　本願の請求項１〜２に係る発明は、明細書の特許請求の範囲の請求項１〜２にその記載のあるとおりのものであるところ、本願特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
　
「【請求項１】　押し出し型材や板材などの被接合材を突き合わせて溶接などにて継手に接合する際の接合線を、ＣＣＤカメラなどの撮像手段により上方から撮影して多値画像を取得し、この多値画像に接合線方向のエッジを強調する微分フィルタをかけた微分画像を作成したのち、前記多値画像から前記微分画像を減算することにより接合線強調画像を作成し、
　この接合線強調画像を接合線方向に濃度投影して濃度投影結果を求めるとともに、この濃度投影結果の３次以上の近似曲線を最小二乗法により求め、求めた近似曲線をしきい値として前記濃度投影結果と大小関係を比較することにより接合線を検出することを特徴とする接合線検出方法。」
　
　なお、他の請求項２に記載された発明は、次のとおりである。
「【請求項２】　押し出し型材や板材などの被接合材を突き合わせて溶接により継手に接合する際に、その継手の接合線に沿って電極や接合工具などを倣わせる倣い制御装置において、前記接合線の検出に使用する接合線検出装置であって、
　前記接合線を上方から撮影するＣＣＤカメラなどの撮像手段と、この撮像手段により撮影した多値画像に接合線方向のエッジを強調する微分フィルタを加算して微分画像を作成する微分画像作成手段と、前記多値画像から前記微分画像を減算することにより接合線強調画像を作成する画像間演算手段と、前記接合線強調画像を接合線方向に濃度投影する濃度投影手段と、この濃度投影結果の３次以上の近似曲線を最小二乗法により求める近似曲線作成手段と、求めた近似曲線をしきい値として前記濃度投影結果と大小関係を比較することにより接合線の位置を検出する比較手段とを備えたことを特徴とする倣い制御装置の接合線検出装置。」
　　
２．引用例
（１）特開平１０−３０５３７９号公報
（平成１９年３月５日付けの拒絶理由通知書にて引用された。）
　「溶接対象部材の突合せ部が延びるｙ方向と直交し溶接対象材の表面に平行な方向ｘで、突合せ部の手前側と向こう側にあって、前記突合せ部を溶接対象材の表面に対して斜め方向から照明するための複数個ｍの投光手段；
　突合せ部を撮影する撮影手段；前記複数個ｍの投光手段の中の、ｍと同数かあるいはこれより少いｎ個の投光手段で突合せ部を照明し前記撮影手段の撮影画像上のエッジの明瞭度を検出し、照明する投光手段を切換えてすなわち照明モ−ドを切換えて、同様に撮影画像上のエッジの明瞭度を検出し、高い明瞭度を得た照明モ−ドを選択する照明モ−ド選択手段；および、
　選択された照明モ−ドで突合せ部を照明して、前記撮影手段の撮影画像上の突合せ部対応のエッジを突合せ位置と検出する突合せ位置検出手段；を備える突合せ位置検出装置。」
　
（２）特開昭６３−１０２７７号公報
（平成１９年３月５日付けの拒絶理由通知書にて引用された。）
　「被検査画像を走査し画信号を入力する画像読み取り部と、
　前記画信号を画像データとして画素ごとの多段階の濃度データに変換するＡＤ変換器と、
　前記濃度データを演算処理して被検査画像の各走査ラインまたは前記ラインに直交する画素ラインのそれぞれの全画素の濃度積算値のヒストグラムを作成し前記ヒストグラムから被検査画像の欠陥部分を検出する演算処理部
　を備えたことを特徴とする画質検査装置。」
　
（３）特開平５−５２７６７号公報
（平成１９年３月５日付けの拒絶理由通知書にて引用された。）
　「対象物の画像を撮像する撮像手段と、
　アナログ信号をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換手段と、
　デジタル画像データに対して画像演算を行う前処理画像演算手段と、
　前処理画像演算手段によって処理されたデジタル画像データを複数枚加算するデジタル画像加算手段と、
　デジタル加算手段により作成されたデジタル画像を記憶するフレームメモリーと、
　デジタル画像の流れを制御するデジタル画像手段と、
　フレームメモリーに記憶されたデジタル画像に対して特徴を抽出処理を行う特徴抽出手段を備え、
　そして、上記前処理画像演算手段が、繰り返しパターンを背景とする画像に対して、背景の繰り返し周期（横方向ｈ、縦方向ｖ）と一致する画素間隔の離れた画像データを平滑化するｈ×ｖのフィルター処理を行う画像フィルター処理部と、
　画像フィルター処理部で処理されたフィルター画像から一律に定数を減算したオフセット画像を作成するオフセット画像作成手段と、
　デジタル画像からオフセット画像を減算する画像減算手段
　を備えている事を特徴とする画像検査装置。」
　　
３．対比
　本願発明と引用例１（特開平１０−３０５３７９号公報）に記載された発明（以下、「引用例」及び「引用発明」という。）とを対比すると、本願発明と引用発明とは次の各点で相違する。
　
（相違点１）
　本願発明は、多値画像に接合線方向のエッジを強調する微分フィルタをかけた微分画像を作成したのち、前記多値画像から前記微分画像を減算することにより接合線強調画像を作成しているのに対し、
　引用発明は、１画面分を画像メモリに書き込む毎に、ｙ方向の画像データの差分値を算出し画面上のエッジ部を検出している点。
　
（相違点２）
　本願発明は、接合線強調画像を接合線方向に濃度投影して濃度投影結果を求めているのに対し、
　引用発明は、ｙ方向（副走査方向）の画像データの差分値をしきい値で２値化し、ｙ方向において同じアドレスにあり、しきい値以上の値となったｘ方向（主走査方向）上の画素の数をｙアドレス毎にカウントしｙ軸投影値を算出している点。
　すなわち、本願発明と引用発明とでは、第１に濃度投影の方向が相違し、第２に濃度投影する対象画像の性質が相違している点。
　
（相違点３）
　本願発明は、接合線方向への濃度投影結果に対して、３次以上の近似曲線を最小二乗法により求めているのに対し、
　引用発明は、ｙ軸投影値からしきい値を与える近似曲線を求めるようなことは一切していない点。
　
（相違点４）
　本願発明は、求めた近似曲線をしきい値として前記濃度投影結果と大小関係を比較することにより接合線を検出しているのに対して、
　引用発明は、ｙ軸投影値から近似曲線を求め該求めた近似曲線をしきい値としてｙ軸投影値と大小関係を比較することにより接合線を検出するようなことは一切していない点。
　
４．当審の判断
（相違点１について）
　前記相違点１、すなわち、「多値画像に接合線方向のエッジを強調する微分フィルタをかけた微分画像を作成したのち、前記多値画像から該微分画像を減算することにより接合線強調画像を作成する」ことは、他の引用例２，３にも記載されておらず、かつ周知な技術事項であるともいえない。つまり、元の画像から微分画像を減算すること自体が、引用例１に記載された発明及び引用例２，３に記載された周知技術事項とに基づいて当業者が容易に発明をすることができものとはいえない。
　何となれば、エッジを強調した画像を得るためには、エッジを強調した微分画像を元の画像に加算することが通常行われるからである。
　そして、本願発明は、多値画像に接合線方向のエッジを強調する微分フィルタをかけた微分画像を作成したのち、前記多値画像から該微分画像を減算することにより、接合線強調画像を作成しているから、汚れや傷などの外乱要因は、接合線に比べてより大きな値となって表れ、その後、接合線の値よりも、更により大きな値又は更により小さい値は、接合線を構成する画素とはみなされないようにしている（相違点３及び４に記載された構成参照。）から、接合線そのものを明瞭に画像認識することができるという明細書記載の顕著な効果を奏するものである。
　
　そして、以上の議論に基づけば、引用例と周知例とを組み合わせても本願発明を構成するに至るとはいえない。
　
　したがって、他の相違点を判断するまでもなく、本願発明は、引用発明及び他の引用例に記載された発明、そして周知事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたとすることはできない。
　そして、請求項２に係る発明も、請求項１に係る発明と同様の理由により当業者が容易に発明をすることができたものとすることはできない。
　また、他の拒絶理由も見いだせない。
　よって、結論の如く審決する。