【事件の表示】
　特願２００５−　１２００７「回路パターン検査装置およびその方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１８年　８月　３日出願公開、特開２００６−２００９９３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は、平成１７年１月１９日の出願であって、平成１９年６月１１日付け（発送日：平成１９年６月１９日）で拒絶査定がなされ、これに対して平成１９年７月１９日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、平成１９年８月３日付けで特許請求の範囲、明細書を対象とする手続補正がなされたものであって、当審において、平成１９年８月３日付け手続補正を、平成２１年２月２３日付けの補正の却下の決定により却下した後、同日付け（発送日：平成２１年２月２４日）で拒絶の理由（以下、「当審拒絶理由」という。）を通知したところ、これに対して平成２１年４月１７日付けで意見書が提出されるとともに、同日付けで特許請求の範囲、明細書を対象とする手続補正がなされたものである。
　
２　当審拒絶理由の概要
　
　本件出願の請求項１乃至１６に係る発明は、その出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
（中略）
　
　　　　　　　　　　　　引　用　文　献　等　一　覧
　
１．特開２００１−２５１０２６号公報
２．特開２０００−２７５２９５号公報
３．特開２００２−３５０４８１号公報
４．特開２０００−２０６１６８号公報
　
３　本願発明
　本願の請求項１に係る発明は、平成２１年４月１７日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲、明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された以下のとおりのものと認める。（以下「本願発明」という。）
　
「【請求項１】
　基板上に延設された導電パターンの断線状態を検査する回路パターン検査装置であって、
　前記導電パターンの一方の端部側に非接触で容量結合して１つの交流信号からなる検査信号を供給する信号供給手段と、
　前記導電パターンの前記一方の端部側から他方の端部側に向かう前記延設の方向で前記信号供給手段に近接して配置され、前記検査信号が供給された導電パターンに非接触で容量結合して前記検査信号を検出する検出手段と、
　前記検出手段で検出された前記検出信号と基準値とを比較し、該検出信号が該基準値以上か否かで前記導電パターンの断線を識別する識別手段と、
を備えることを特徴とする回路パターン検査装置。」
　
４　引用刊行物に記載された発明
　当審拒絶理由で引用され、本願の出願前の平成１３年９月１４日に頒布された刊行物である特開２００１−２５１０２６号公報（以下、「引用刊行物１」という。）には、「制御盤」の発明に関して、図面とともに以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項１＞
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はプリント基板に係り、特にプリント基板の正規機能を損なう前に、腐食やマイグレーションの進行を検知するプリント基板の構成方法に関わる。」
　
＜記載事項２＞
「【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成するために、他の配線より幅の狭いパターンや、絶縁距離の狭いパターンをプリント基板に設けた。
【０００９】このように構成することによって、パターンの腐食による断線やマイグレーション等によるショートなどが、他のパターンよりも確実に最初に起こるようになり、これらのパターンをセンサとして取り込むことにより、プリント基板の正規の機能を損なう前に事前・検知することを可能とする。」
　
＜記載事項３＞
「【００１５】なお、「パターン」とは、基板上の配線を意味するものとする。
【００１６】同図においてマイコン１，パラレルポート２，電源３１，３２，抵抗４１，４２，アース５、他のパターンよりも幅の狭いパターン６１、他のパターンよりも絶縁距離の狭いパターン６２ａ，６２ｂ、さらに６１，６２ａ，６２ｂ、を設置するプリント基板７を備えている。ここでプリント基板７とは、図５で説明したＭＰＵ基板７１，Ｉ／Ｏ基盤７２，主回路基盤７３，自動遠隔診断装置基盤７４の全てにあてはまるものである。またマイコン１には、本発明による判定部のみ記載してある。この判定部とは、ある周期でマイコン１がパラレルポート２の入力電圧を検査しにいき、条件が成立した場合は、異常信号を発報する為の処理を行うものである。ここでパターン６１には、電源３１により抵抗４１を介してアース５に一定電流が流れている。通常パラレルポート２にはパターン６１の電圧が入力されている為、パラレルポート２の入力電圧は“Ｌ”レベルであるが、腐食による断線が起こると、パターン６１はアース５と接続しなくなる為に、パラレルポート２の入力電圧は“Ｈ”レベルとなり、それをセンサとしてマイコン１にある判定部によって検知する。またパターン６２ａには、電源３２により抵抗４２を介して一定電流が流れている。通常パラレルポート２は電源３２に接続されている為、パラレルポート２の入力電圧は“Ｈ”レベルであるが、マイグレーション等によるショートが起こると、パターン６２ａとパターン６２ｂが接続されることによりアース５に接続するので、パラレルポート２の入力電圧は“Ｌ”レベルとなり、それをセンサとしてマイコン１にある判定部によって検知する。これらの検知方法に関しては、ＡＤコンバータやコンパレータを用いて上記パターンの抵抗変化を検出し、前記抵抗値が所定値以上となったときに、それをセンサとしてマイコン１にある判定部によって検知する方法もある。このような構成とすることによりパターン６１，６２ａ，６２ｂは、他のどのパターンよりも先に腐食や断線が起こるので、プリント基板の正規の機能を損なう前に、事前・検知し、故障となる前に保守することが可能となる。」
　
　上記記載事項３には、図１に示された装置について、「ここでパターン６１には、電源３１により抵抗４１を介してアース５に一定電流が流れている。通常パラレルポート２にはパターン６１の電圧が入力されている為、パラレルポート２の入力電圧は“Ｌ”レベルであるが、腐食による断線が起こると、パターン６１はアース５と接続しなくなる為に、パラレルポート２の入力電圧は“Ｈ”レベルとなり、それをセンサとしてマイコン１にある判定部によって検知する。」と記載されており、パターンの電圧がＨレベルになると断線と検知しているから、上記装置はパターンの断線を検知する装置であることが読み取れる。
　
　上記記載事項３、図１から、電源３１から抵抗４１を介して電流が流れる導線とパターンの一方の端部側との接続部分（以下、「接続部分Ａ」という。）から一定電流がパターンに供給されること、及び前記接続部分Ａの近傍にあり、前記一定電流が供給されたパターンと判定部を有するマイコンとを接続する導線との接続部分（以下、「接続部分Ｂ」という。）から、パターンの断線の判定を行うための出力電圧が出力されること、即ち、パターンの一方の端部側に設けられ一定電流をパターンに供給する接続部分Ａと、前記接続部分Ａの近傍にあり、前記一定電流が供給されたパターンに設けられパターンの断線の判定を行うための出力電圧を出力する接続部分Ｂを読み取ることができる。
　
　よって、前記記載事項１乃至３及び図面の記載からみて、引用刊行物１には、以下の発明が記載されているものと認められる。
「基板上の配線を意味するパターンの断線を検知するパターンの断線検知装置であって、
　前記パターンの一方の端部側に設けられ一定電流をパターンに供給する接続部分Ａと、
　前記接続部分Ａの近傍にあり、前記一定電流が供給されたパターンに設けられパターンの断線の判定を行うための出力電圧を出力する接続部分Ｂと
　前記接続部分Ｂが出力した前記パターンの出力電圧がＨレベルのときに前記パターンの断線を検知する判定部と、
　を備えるパターンの断線検知装置。」（以下、「引用発明１」という。）
　
５　対比
　本願発明と引用発明１とを対比する。
　
　引用発明１の「配線を意味するパターン」は、本願発明の「導電パターン」に相当し、基板上に延設されていることは明らかであることから、引用発明１の「基板上の配線を意味するパターン」は、本願発明の「基板上に延設された導電パターン」に相当する。
　引用発明１の「断線を検知する」と本願発明の「断線状態を検査する」とは、「断線状態を検知する」という点で共通する。
　したがって、引用発明１の「基板上の配線を意味するパターンの断線を検知するパターンの断線検知装置」と本願発明の「基板上に延設された導電パターンの断線状態を検査する回路パターン検査装置」とは、「基板上に延設された導電パターンの断線状態を検知する回路パターンの断線検知装置」という点で共通する。
　
　引用発明１の「パターンの一方の端部側に設けられ」と本願発明の「導電パターンの一方の端部側に非接触で容量結合して」とは、「導電パターンの一方の端部側に設けられ」という点で共通する。
　引用発明１において、パターンに供給される一定電流は、断線を検知するためのものであるから、引用発明１の「一定電流」と本願発明の「１つの交流信号からなる検査信号」とは、「検査信号」という点で共通する。
　引用発明１の一定電流をパターンに供給する手段である「接続部分Ａ」は、本願発明の「信号供給手段」に相当する。
　よって、引用発明１の「前記パターンの一方の端部側に設けられ一定電流をパターンに供給する接続部分Ａ」と本願発明の「前記導電パターンの一方の端部側に非接触で容量結合して１つの交流信号からなる検査信号を供給する信号供給手段」とは、「前記導電パターンの一方の端部側に設けられ検査信号を供給する信号供給手段」という点で共通する。
　
　引用発明１の「前記接続部分Ａの近傍にあり」と本願発明の「前記導電パターンの前記一方の端部側から他方の端部側に向かう前記延設の方向で前記信号供給手段に近接して配置され」とは、「前記信号供給手段に近接して配置され」という点で共通する。
　引用発明１の「前記一定電流が供給されたパターンに設けられ」と本願発明の「前記検査信号が供給された導電パターンに非接触で容量結合して」とは、「前記検査信号が供給された導電パターンに設けられて」という点で共通する。
　引用発明１の「パターンの断線の判定を行うための出力電圧を出力する」、「接続部分Ｂ」は、本願発明の「検査信号を検出する」、「検出手段」に相当する。
　よって、引用発明１の「前記接続部分Ａの近傍にあり、前記一定電流が供給されたパターンに設けられパターンの断線の判定を行うための出力電圧を出力する接続部分Ｂ」と、本願発明の「前記導電パターンの前記一方の端部側から他方の端部側に向かう前記延設の方向で前記信号供給手段に近接して配置され、前記検査信号が供給された導電パターンに非接触で容量結合して前記検査信号を検出する検出手段」とは、「前記信号供給手段に近接して配置され、前記検査信号が供給された導電パターンに設けられて前記検査信号を検出する検出手段」という点で共通する。
　
　引用発明１の「判定部」は、パターンの出力電圧のレベルに応じて、パターンが断線しているか否かを識別しているといえるから、本願発明の「識別手段」に相当する。
　引用発明１において、出力電圧がＨレベルのときか否かを判定するためには、基準値と比較して基準値以上か否かで判定することは明らかであるから、引用発明１の「前記接続部分Ｂが出力した前記パターンの出力電圧がＨレベルのときに前記パターンの断線を検知する判定部」は、本願発明の「前記検出手段で検出された前記検出信号と基準値とを比較し、該検出信号が該基準値以上か否かで前記導電パターンの断線を識別する識別手段」に相当する。
　
　引用発明１の対象である「パターンの断線検知装置」と本願発明の対象である「回路パターン検査装置」とは、「回路パターンの断線検知装置」という点で共通する。
　
　したがって、本願発明と引用発明１の両者は、以下の一致点で一致し、以下の相違点で相違する。
　
＜一致点＞
「基板上に延設された導電パターンの断線状態を検知する回路パターンの断線検知装置であって、
　前記導電パターンの一方の端部側に設けられ検査信号を供給する信号供給手段と、
　前記信号供給手段に近接して配置され、前記検査信号が供給された導電パターンに設けられて前記検査信号を検出する検出手段と、
　前記検出手段で検出された前記検出信号と基準値とを比較し、該検出信号が該基準値以上か否かで前記導電パターンの断線を識別する識別手段と、
を備えることを特徴とする回路パターンの断線検知装置。」
　
＜相違点１＞
　本願発明の対象が、回路パターン検査装置であるのに対して、引用発明１の対象が、パターンの断線検知装置である点。
　
＜相違点２＞
　導電パターンの一方の端部側に設けられ検査信号を供給する信号供給手段が、本願発明では、非接触で容量結合して１つの交流信号からなる検査信号を供給しているのに対して、引用発明１では、そのように限定されていない点。
　
＜相違点３＞
　信号供給手段に近接して配置され、検査信号が供給された導電パターンに設けられて前記検査信号を検出する検出手段が、本願発明では、導電パターンの一方の端部側から他方の端部側に向かう延設の方向で前記信号供給手段に近接して配置され、前記検査信号が供給された導電パターンに非接触で容量結合して前記検査信号を検出しているのに対して、引用発明１では、そのように限定されていない点。
　
６　判断
（１）相違点１
　回路パターン断線検査装置は、引用例を示すまでもなく周知であり、回路パターンが断線しているか否かを検知する手段を有していることは明らかであるから、引用発明１のパターンの断線を検知する構成を、回路パターン検査装置に用いることは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　したがって、上記相違点１に係る本願発明の発明特定事項は、格別なものではない。
　
（２）相違点２
　回路パターンの断線を検出する装置において、非接触で回路パターンと容量結合された信号供給手段から１つの交流信号を供給し、その交流信号を非接触で回路パターンと容量結合された検出手段により検出することは、特開２００２−３５０４８１号公報、特開２０００−２０６１６８号公報に記載されているように周知技術に過ぎないから、引用発明１においてパターンの断線を検知するために、前記周知技術である非接触で回路パターンと容量結合された信号供給手段及び検出手段を適用することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　したがって、上記相違点２に係る本願発明の発明特定事項は、引用刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に想到し得るものである。
　
（３）相違点３
　信号供給手段及び検出手段を導電パターンに非接触で容量結合する点については、上記「（２）相違点２」において述べたとおりである。その際、引用発明１において基板上の延設パターンに前記両手段を非接触で容量結合させるためには、特開２０００−２０６１６８号公報に示されるように、基板上に延設されたパターンに沿って、前記両手段を近接させて配置することが必要となる。
　また、信号供給手段に近接して配置される検出手段を、本願発明のように、信号供給手段が設けられる導電パターンの一方の端部側から他方の端部側に向かう延設の方向に配置したことで格別顕著な作用効果が奏するとは認められないから、信号供給手段に近接して配置される検出手段を、前記信号供給手段に対していずれの方向に配置するかは、当業者が適宜に定める設計事項に過ぎない。
　
　したがって、上記相違点３に係る本願発明の発明特定事項は、引用刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に想到し得るものである。
　
　そして、本願発明によって奏される効果は、引用刊行物１の記載及び周知技術から、当業者が予測し得る程度のものに過ぎない。
　
　したがって、本願発明は、引用刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
７　むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。