【事件の表示】
　特願２００２−１２８４２６「高速パルス高速時間応答測定方法並びに装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年１１月１４日出願公開、特開２００３−３２２６２８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は，平成１４年４月３０日の出願であって，平成１８年７月３日付けの最後の拒絶理由通知に対し，同年９月８日付けで手続補正書が提出されたところ，平成１９年４月４日付けで当該補正書による補正について補正の却下の決定がされると共に，同日付で拒絶査定がされた。これに対し，前記補正の却下の決定及び拒絶査定を不服として，平成１９年５月１７日に拒絶査定不服審判の請求がされたものである。
　
２．平成１９年４月４日付け補正の却下の決定の当否に対する判断
　
２−１．補正の却下の決定の概要
　平成１９年４月４日付けの補正の却下の決定は，要するに，最後の拒絶理由通知に対してなされた手続補正書による特許請求の範囲についての補正は，請求項の削除及び限定的減縮を目的とするものであるが，補正後の請求項１−８に係る発明は，後述の引用文献１乃至５に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，独立特許要件を満たさず，補正の却下をするというものである。 
　
２−２．補正の内容 
　平成１８年９月８日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）は，補正の内容として，請求項５を削除すると共に，特許請求の範囲の請求項８について，補正前（平成１８年３月２３日付け手続補正書）の
「【請求項９】　測定対象励起用パルス光を測定対象に照射する一方、プローブパルス光を該測定対象に照射して、励起パルス光による該測定対象の状態変化に対応したプローブ光の該測定対象照射後の変化を観測する高速パルス高速時間応答測定装置において、
　測定対象励起用パルス光としてパルス光が周期的に発振される光源を用意し、別個にプローブパルス光として励起光と等しい周期で発振するパルス光源を用意し、
　前記２台の光源のそれぞれに、周期的にパルス光が発振するレーザーを用い、
　前記測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号と前記プローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の同期を取り、基準信号間の位相差を制御することで励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御し、
　励起パルス光の測定対象照射時に対するプローブ用パルス光の測定対象照射時刻の差を電気的に制御することにより、励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を検出することを特徴とする高速パルス高速時間応答測定装置。」を，
「【請求項
８
　測定対象励起用パルス光としてパルス光が周期的に発振される光源を用意し、別個にプローブパルス光として励起光と等しい周期で発振するパルス光源を用意し、
　前記２台の光源のそれぞれに、周期的にパルス光が発振するレーザーを用い、
　前記測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号と前記プローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の同期を取り、基準信号間の位相差を制御することで励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御し、
　励起パルス光の測定対象照射時に対するプローブ用パルス光の測定対象照射時刻の差を電気的に制御することにより、励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を
検出して、測定対象の温度上昇をサーモリフレクタンス法により
　
　上記補正は，補正前の請求項９に記載した発明を特定するために必要な事項である「励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を検出すること」について，当該検出により，「測定対象の温度上昇をサーモリフレクタンス法により検出する」との限定を付して請求項８として記載したものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するものである。
　
　そこで，本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。
　
２−３．引用例
２−３−１．引用例１
　原審における補正の却下の決定の理由に引用された，本願出願日前に頒布された刊行物である，S. A. Crooker et al.，Femtosecond synchronization of two passively mode-locked Ti:sapphire lasers，Rev. Sci. Instrum.，米国，American Institute of Physics，１９９６年６月，Vol. 67, No. 6，p2068-2071（以下「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した。また，邦訳は当審による）。
　
（ア）「Ｉ．イントロダクション
　
超高速レーザーが，動的現象のフェムト秒分解能での光学的分光分析を直接時間ドメインで行うことを可能とした。
典型的なポンプ・プローブあるいは波長混合実験の時間分解能は，究極的には，用いるレーザーシステムの時間特性によって決定される
　
（イ）「ＩＩ．実験
　
実験配置は，第１図に示されるように，コヒーレント社のシンクロロックを用いて同期された２つの異なったチタンサファイヤレーザーシステムからなる
シンクロロックは
２つの共振器長を能動的に合わせ安定化させる
ロックイン技法を用いたポンププローブ実験
　
（ウ）「ＩＩＩ．結果・議論
　第４（ａ）図は２つの独立したレーザーの間のタイミングジッターを減少させる装置の効果を表現している。
レーザーのパルス列がシンクロロックによりロックされ
光学的相互相関の半値幅から〜３ｐｓのタイミングジッターが観測された。この観測はコンピュータ制御されたディレイラインを走査することで行われ
　
　以上の記載を総合すると，引用例１には，「ポンプ・プローブにより動的現象のフェムト秒分解能での光学的分光分析を直接時間ドメインで行う装置において，
２つの異なったチタンサファイヤレーザーシステムと，
それらの同期をとるシンクロロックと，
コンピュータ制御されたディレイラインとを備えた装置。」（以下，「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
２−３−２．引用例２
　原審における補正の却下の決定の理由に引用された，本願出願日前に頒布された刊行物である，竹歳尚之ら，ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱拡散率計測システムの開発（７），第２２回日本熱物性シンポジウム講演論文集，日本，日本熱物性学会，２００１年１１月１９日，p73-75（以下「引用例２」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
（エ）「１　緒言
　薄膜の熱拡散率を測定するために、産業技術総合研究所では継続的にピコ秒サーモリフレクタンス法薄膜熱拡散率計測システムの開発を行い、これまでに「表面加熱・表面測温」型計測システム[1-2]や図１に示すようなレーザフラッシュ法と同様の配置である「裏面加熱・表面測温」型の計測システムを開発した[3-7]。試料表面の温度変化はプローブ光の反射率変化によって測定されるが、その変化量は10-4/K程度と微小であるために、繰り返し発振される加熱光パルスに強度変調を加え、ロックインアンプの振幅成分を用いて検出される。」（第７３頁左欄第１行目から第１１行目。）
　
２−３−３．引用例３
　原審における補正の却下の決定の理由に引用された，本願出願日前に頒布された刊行物である，Gong-Ru Lin，Optoelectronic delay-time controller for laser pulses，Optics Letters，米国，Optical Society of America，２０００年６月１日，Vol. 25, No. 11，p799-801（以下「引用例３」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した。また，邦訳は当審による）。
　
（オ）「
超高速レーザは，結晶や半導体，有機物のような様々な物質の超高速現象の調査に用いられるポンプ−プローブシステムに，広く実用化されている
ポンプとプローブパルスとの間のピコ秒からナノ秒の相対的遅延時間範囲は，たいてい光機械的真時間ディレイライン（ＴＴＤＬ）を用いて調整される
以前は多くの超高速時間分解測定はこの不利を受けていた。後に，ポンププローブシステムの遅延時間の調整は，ＴＴＤＬを用いるのではなく，モードロックレーザのクロック信号の位相シフトをすることで，改善された
　
２−３−４．引用例４
　原審における補正の却下の決定の理由に引用された，本願出願日前に頒布された刊行物である，R. P. S. M. Lobo et al.，Subnanosecond, time-resolved, broadband infrared spectroscopy using synchrotron radiation，REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS，米国，American Institute of Physics，２００２年１月，Vol. 73, No. 1，p1-10（以下「引用例４」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した。また，邦訳は当審による）。
　
（カ）「
ポンプとプローブとの間の可変遅延は時間分解測定を実行するために必要である
光学的技法は実用的でない。代わりに
レーザへの電気的遅延を採用した。この配置では，高周波参照信号への電圧制御された位相シフタが９．４５ｎｓまでの連続した可変遅延を与える
　
２−３−５．引用例５
　原審における補正の却下の決定の理由に引用された，本願出願日前に頒布された刊行物である，Carey K. Johnson et al.，Picosecond time-resolved laser spectrometer with expanded delay range，REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS，米国，American Institute of Physics，１９８８年１１月，Vol. 59, No. 11，p2375-2379（以下「引用例５」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した。また，邦訳は当審による）。
　
（キ）「イントロダクション
ピコ秒レーザ研究で採用される最も有用な技法のいくつかは，１つは励起（ポンプパルス）に，もう一つはポンプパルス後所定の遅延時間の後に，試料のプローブ（プローブパルス）に用いられる，２つのパルスの順番の繰り返しである
ポンプとプローブパルスの間の時間遅延は
光学ディレイラインによって生成される。実際的な理由により，光学ディレイラインは，３ｍほどの長さに制限され，最大時間遅延は２０ｎｓほどである
　
しかし，多くの化学及び生物学のシステムにおいて，一連の物理的及び化学的現象はピコ秒からナノ秒の領域に制限されない時間領域で起こる
　
（ク）「ＩＩ．同期及びタイミング
　
Ｑスイッチ及びキャビティダンパのトリガはマスタータイミング回路で制御される。１３．２ｎｓの分解能を電気的タイミングで達成する
０から繰り返し周期の逆数（０．５−１０ｍｓ）となるまでの時間遅延は，１３．２ｎｓを単位として可能である
　
２−４．対比
　本願補正発明と引用発明とを対比する。
　引用発明における「ポンプ・プローブにより動的現象のフェムト秒分解能での光学的分光分析を直接時間ドメインで行う装置」について，「ポンプ・プローブ」により「動的現象」の「光学的分光分析」を行うことは，ポンプ光すなわち励起光による測定対象の状態変化をプローブ光によって光学的に測定を行うことであることは当業者には明らかであり，ポンプ光及びプローブ光がパルス光であること，これらの測定が高速時間領域で行われることも明らかであるから，引用発明の「ポンプ・プローブにより動的現象のフェムト秒分解能での光学的分光分析を直接時間ドメインで行う装置」は，本願補正発明の「測定対象励起用パルス光を測定対象に照射する一方、プローブパルス光を該測定対象に照射して、励起パルス光による該測定対象の状態変化に対応したプローブ光の該測定対象照射後の変化を観測する高速パルス高速時間応答測定装置」に相当する。
　また，引用発明の「チタンサファイヤレーザーシステム」は，周期的なパルス光源であることは明らかであり，「シンクロロック」により同期がとられていることから，引用発明の「２つの異なったチタンサファイヤレーザーシステム」は，本願補正発明の「測定対象励起用パルス光としてパルス光が周期的に発振される光源を用意し、別個にプローブパルス光として励起光と等しい周期で発振するパルス光源を用意し、前記２台の光源のそれぞれに、周期的にパルス光が発振するレーザーを用い」ることに相当する。
　そして，引用発明においては「シンクロロック」により「２つの異なったチタンサファイヤレーザーシステム」の同期をとってはいるものの，２つのレーザパルスの間の時間差を制御しているのは「コンピュータ制御されたディレイライン」であるから，引用発明の
「それらの同期をとるシンクロロックと，コンピュータ制御されたディレイライン」は，本願補正発明の「前記測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号と前記プローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の同期を取り、基準信号間の位相差を制御することで励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御」することと，「前記測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号と前記プローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の同期を取り、励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御」する点で共通している。
　さらに，引用発明で「コンピュータ制御されたディレイライン」を走査することで測定しているのは，光学的相互相関によるタイミングジッター（摘記事項（ウ）参照）であり，測定対象の温度上昇ではないが，ポンプ光とプローブ光との間の時間差を走査して変化する信号を検出しているものであるから，この点は本願補正発明の「励起パルス光の測定対象照射時に対するプローブ用パルス光の測定対象照射時刻の差を電気的に制御することにより、励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を検出して、測定対象の温度上昇をサーモリフレクタンス法により検出する」ことと，「励起パルス光の測定対象照射時に対するプローブ用パルス光の測定対象照射時刻の差を電気的に制御することにより、励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を検出して、測定を行う」点で共通している。
　
　そうすると，本願補正発明と引用発明とは，
「測定対象励起用パルス光を測定対象に照射する一方、プローブパルス光を該測定対象に照射して、励起パルス光による該測定対象の状態変化に対応したプローブ光の該測定対象照射後の変化を観測する高速パルス高速時間応答測定装置において、
　測定対象励起用パルス光としてパルス光が周期的に発振される光源を用意し、別個にプローブパルス光として励起光と等しい周期で発振するパルス光源を用意し、
　前記２台の光源のそれぞれに、周期的にパルス光が発振するレーザーを用い、
　前記測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号と前記プローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の同期を取り、励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御し、
　励起パルス光の測定対象照射時に対するプローブ用パルス光の測定対象照射時刻の差を電気的に制御することにより、励起パルス光とプローブパルス光の時間差に依存して変化する信号を検出して、測定を行う、高速パルス高速時間応答測定装置。」
である点で一致しており，次の点で相違する。
　
相違点１：励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御するために，本願補正発明では，測定対象励起用のパルスレーザーに送る周期の基準信号とプローブ用パルスレーザーに送る周期の基準信号の「基準信号間の位相差を制御する」ことで制御しているのに対し，引用発明では「コンピュータ制御されたディレイライン」を用いている点。
　
相違点２：本願補正発明は「測定対象の温度上昇をサーモリフレクタンス法により検出する」ものであるのに対し，引用発明ではこのような検出について記載されていない点。
　
２−５．判断
　上記各相違点について判断する。
　相違点１について。
　上記引用例３乃至５それぞれに記載されるように，ポンププローブにより超高速現象の測定を行う際に，ポンプパルスとプローブパルスの間に時間遅延を与える必要があること，光学的ディレイラインを用いると遅延時間が必要な量に対して少ししか得られないこと，電気的な遅延を用いることで必要な量の遅延が得られることは，当業者に周知である。また，電気的に時間遅延を与えるために，位相を制御することも，引用例３にモードロックレーザのクロック信号の位相シフトをすることが記載され，引用例４にレーザへの電気的遅延を与える位相シフタを用いることが記載されるように，周知の技術である。
　そうすると，引用発明においては，励起パルスとプローブパルスの照射する時間差を制御するために光学的なディレイラインを用いているが，引用発明において２つのチタンサファイヤレーザーシステムの同期をとるシンクロロックはマスタクロックに基づく電気的な制御によって同期をとっているものであるから（摘記事項（イ）参照），上記周知の技術を鑑みれば，引用発明における２つのチタンサファイヤレーザーシステムの同期をとる信号の位相をシフトさせることで時間差の制御を行うようにすることは，当業者であれば容易に為し得たものである。
　
　相違点２について。
　ポンプ・プローブ光を用いて，サーモリフレクタンス法により，試料表面の温度変化を測定することは，引用例２に記載されている。
　引用発明では測定，検出対象について特に特定はされていないが，ポンプ・プローブにより動的現象のフェムト秒分解能での光学的分光分析を行うものであり，引用発明をサーモリフレクタンス法による試料表面の温度変化の測定に適用することは，引用例２に接した当業者であれば特段の困難なく為し得たものである。
　
　そして，上記のように電気的に時間遅延を与えることで，光学的なディレイラインを用いるより遅延時間を拡大したポンプ・プローブの構成により，サーモリフレクタンス法により試料表面の温度変化を測定するものであれば，光学的なディレイラインだけを用いたものより，観測時間領域が拡大されることは，当業者であれば予測し得たものであり，本願補正発明の作用効果は，引用発明，引用例２に示された技術的事項及び周知の技術から，当業者であれば予測できる範囲のものである。
　
２−６．補正の却下の決定の当否についてのむすび
　以上の通り，本願補正発明は，引用発明，引用例２に示された技術的事項及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下するとした原審における補正の却下の決定は妥当なものである。
　
３．本願発明について
３−１．本願発明
　平成１９年４月４日付け補正の却下の決定は，上記のとおり妥当なものであるから，本願の請求項１乃至９に係る発明は，平成１８年３月２３日付けの手続補正書によって補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１乃至９に記載された事項によって特定されるとおりのものであって，その請求項９に係る発明は，上記２−２．に記載したとおりのものと認める（以下「本願発明」という）。
　
３−２．引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例１乃至５及びその記載事項は，上記２−３．に記載したとおりである。
　
３−３．対比・判断
　本願発明は，上記２．で検討した本願補正発明において，「測定対象の温度上昇をサーモリフレクタンス法により検出する」との限定を省いたものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が，上記２−５．に述べたとおり，引用発明，引用例２に示された技術的事項及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，引用発明，引用例２に示された技術的事項及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３−４．むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用発明，引用例２に示された技術的事項及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　
　したがって、その余の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　
　よって，結論のとおり審決する。