(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
カソード、このカソードを加熱するヒータおよび上記カソードから蛍光体スクリーン方向に配置された複数の電極からなる電子銃を備え、上記カソード、ヒータおよび複数の電極に所定の電圧を印加してエミッション特性を検査する陰極線管のエミッション特性検査方法において、
上記ヒータに定格よりも低い電圧を印加してエミッション特性を検査することを特徴とする陰極線管のエミッション特性検査方法。
【請求項２】
カソード、このカソードを加熱するヒータおよび上記カソードから蛍光体スクリーン方向に配置された複数の電極からなる電子銃を備え、上記カソード、ヒータおよび複数の電極に所定の電圧を印加してエミッション特性を検査する陰極線管のエミッション特性検査方法において、
上記カソードにバイアス電圧を印加してエミッション特性を検査することを特徴とする陰極線管のエミッション特性検査方法。
【請求項３】
カソード、このカソードを加熱するヒータおよび上記カソードから蛍光体スクリーン方向に配置された複数の電極からなる電子銃を備え、上記カソード、ヒータおよび複数の電極に所定の電圧を印加してエミッション特性を検査する陰極線管のエミッション特性検査方法において、
上記ヒータに定格よりも低い電圧を印加するとともに、上記カソードにバイアス電圧を印加してエミッション特性を検査することを特徴とする陰極線管のエミッション特性検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、カラー受像管などの陰極線管のエミッション特性検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に陰極線管は、外囲器のネック内に電子銃が設けられ、この電子銃から放出される電子ビームを偏向装置により偏向して、画像表示部の内面に設けられた蛍光体スクリーンを水平、垂直走査することにより、画像を表示する構造に形成されている。
【０００３】
その一例として、図４にカラー受像管を示す。このカラー受像管は、パネル１および漏斗状のファンネル２からなる外囲器を有し、そのパネル１の内面にシャドウマスク３に対向して、３色蛍光体層からなる蛍光体スクリーン４が設けられている。一方、ファンネル２のネック５内に３電子ビーム６を放出する電子銃７が配設されている。
【０００４】
その電子銃７は、３個のカソードＫ、これらカソードＫを各別に加熱する３個のヒータＨおよび上記カソードＫから蛍光体スクリーン４方向に順次配置された複数個（図示例では４個）の電極からなる。この電子銃７は、蛍光体スクリーン４側に位置する最終加速電極などには、ファンネル２の径大部に設けられた陽極端子９からファンネル２の内面に設けられた導電膜１０などを介して高電圧が印加されるが、カソードＫ、ヒータＨおよびカソードＫ側に位置する上記最終加速電極以外の電極には、ネック５端部を封止しているステム１１を貫通するステムピン１２を介して、それぞれ所定の電圧が印加される。
【０００５】
概してこのような陰極線管は、外囲器内に蛍光体スクリーンなどの各種管内部材を設けたのち、ネック内に電子銃を封止し、この電子銃の封止された外囲器を排気し、その後、外囲器内を高真空にするゲッターフラッシュ、電子銃の電極間の耐電圧を高める高圧処理、カソードの電子放出能を安定化させるカソードエージングなどを施したのち、特性検査がおこなわれる。この特性検査の１項目として、エミッション特性の検査がある。
【０００６】
このエミッション特性の良否は、良好なカソードの最大エミッション電流ＭＩＫ  と実測されたカソード電流ＩＫ  との比φ（カソード・クオリティ・ファクタ：Ｃａｈｏｄｅ  Ｑｕａｌｉｔｙ  Ｆａｃｔｏｒ  ）で判定される。その最大エミッション電流ＭＩＫ  は、（１）式に示すように、電子銃のカットオフ電圧ＥＫＣｏ  の３／２乗に比例するので、φは、（２）式で表される。
0003556356.tif 000002
したがって、製造された陰極線管のカソード電流ＩＫ  とカットオフ電圧ＥＫＣｏ  を測定することにより、エミッション特性の良否を判定することができる。
【０００７】
そのカソード電流ＩＫ  は、ヒータおよび各電極に定格の電圧を印加し、カソードを０Ｖにして測定される。またカットオフ電圧ＥＫＣｏ  は、そのカソード電流ＩＫ  を減少させてゆき、たとえば０．１μＡとなったときのバイアス電圧を測定することにより得られる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、陰極線管の特性検査の１項目としておこなわれるエミッション特性の検査は、ヒータおよび各電極に定格の電圧を印加し、カソードを０Ｖにしてカソード電流ＩＫ  を測定し、さらにそのカソード電流ＩＫ  を減少させてゆき、たとえば０．１μＡとなったときのバイアス電圧を測定して、（２）式から得られるφ値により判定される。このφ値が所定値よりも小さい場合は、不良と判定される。
【０００９】
しかし上記検査方法のようにカソードを０Ｖにしてカソード電流ＩＫ  を測定すると、図５に示すように、カソードＫからエミッションを取出す面積Ｓが第１グリッドＧ１  の電子ビーム通過孔１４とほぼ同面積になるため、カソードＫの電子放出部１５の中央部にエミッションを取出す面積Ｓよりも小さい異物１６が付着したりあるいはイオン衝撃などで劣化した部分ができても、そのまわりから放出されるエミッションのために、φが所定値以上となって、良品と判定されるという問題がある。
【００１０】
この発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、本質的にエミッション特性に欠陥をもちながら、従来のエミッション特性の検査方法では除去できない陰極線管も、簡単に検出できるエミッション特性検査方法を得ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
カソード、このカソードを加熱するヒータおよびカソードから蛍光体スクリーン方向に配置された複数の電極からなる電子銃を備え、上記カソード、ヒータおよび複数の電極に所定の電圧を印加してエミッション特性を検査する陰極線管のエミッション特性検査方法において、ヒータに定格よりも低い電圧を印加してエミッション特性を検査するようにした。
【００１２】
また、カソードにバイアス電圧を印加してエミッション特性を検査するようにした。
【００１３】
さらに、ヒータに定格よりも低い電圧を印加するとともに、カソードにバイアス電圧を印加してエミッション特性を検査するようにした。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明の実施の形態を説明する。
【００１５】
図１にその一形態であるカラー受像管のエミッション特性検査方法を示す。この一形態でのカラー受像管は、カソードＫ、このカソードＫを加熱するヒータＨおよび上記カソードＫからパネル１の内面に形成された蛍光体スクリーン４方向に順次配置された第１ないし第４電極Ｇ１  〜Ｇ４  からなる電子銃７を備える。その蛍光体スクリーン４側に位置する第４電極Ｇ４  （最終加速電極）には、ファンネル２の径大部に設けられた陽極端子９およびファンネル２の内面に塗布形成された導電膜１０などを介して高電圧が印加され、この第４電極Ｇ４  以外のヒータＨ、カソードＫおよび第１ないし第３電極Ｇ１  〜Ｇ３  には、ネック５端部のステムを貫通する複数本のステムピン（図示せず）を介して、所定の電圧（定格電圧）が印加される構造に形成されている。なお、図１において、３はシャドウマスクである。
【００１６】
エミッション特性の検査は、第４電極Ｇ４  に陽極端子９および導電膜１０などを介して、電源２０から定格の高電圧を印加し、第２、第３電極Ｇ２  ，Ｇ３  にステムピンを介して、電源２１，２２から定格の電圧を印加し、第１電極Ｇ１  をステムピンを介してアースに接続する。そしてヒータＨにステムピンを介して、電源２３から定格電圧の７０〜８０％の電圧を印加する。またカソードＫにステムピンを介して、電源２４からカットオフ電圧の５０％程度の電圧をバイアス電圧として印加する。そしてこのときのカソード電流Ｉｋ  を測定する。
【００１７】
上記のようにヒータＨの電圧を下げると、カソードＫの温度が下がり、カソード電流Ｉｋ  が大幅に低下する。すなわち、図２に欠陥のない良好なカソードおよび欠陥をもつカソードについてヒータ電圧とカソード電流との関係を示したように、曲線２６に示す欠陥のない良好なカソードに対して、欠陥をもつカソードは、曲線２７のようになり、ヒータＨに定格の電圧を印加した場合は、カソード電流Ｉｋ  に大差はないが、定格電圧の７０〜８０％まで下げると、大きな差が生ずる。
【００１８】
一方、カソードＫにカットオフ電圧の５０％程度のバイアス電圧を印加すると、図３に示すように、カソードＫを０Ｖにしてカソード電流を測定する場合（図５参照）にくらべて、カソードＫからエミッションを取出す面積Ｓが狭くなる。そのため、カソードＫの電子放出部１５の中央部に小さな異物１６が付着したり、あるいはイオン衝撃などにより劣化した微小部分ができても、カソード電流Ｉｋ  は極端に低下する。
【００１９】
したがって、上記のようにヒータＨに定格電圧の７０〜８０％の電圧を印加し、カソードＫにカットオフ電圧の５０％程度の電圧をバイアス電圧として印加してカソード電流Ｉｋ  を測定することにより、従来のエミッション特性の検査方法では、検出できなかった欠陥も容易に検出できるようになり、セットメーカーや市場におけるエミッション不良の発生を大幅に低減することができる。
【００２０】
なお、上記実施の形態では、ヒータに定格の電圧よりも低い電圧を印加するとともに、カソードにバイアス電圧を印加してカソード電流を測定したが、ヒータの電圧を下げるかあるいはカソードにバイアス電圧を印加するのみでも、同様の効果が得られる。
【００２１】
なおまた、上記実施の形態では、カラー受像管について説明したが、この発明は、カラー受像管ばかりでなく、他の陰極線管のエミッション特性の検査にも適用して、同様の効果が得られる。
【００２２】
【発明の効果】
陰極線管のエミッション特性検査方法において、ヒータに定格よりも低い電圧を印加するか、あるいはカソードにバイアス電圧を印加するか、さらにはヒータに定格よりも低い電圧を印加するとともにカソードにバイアス電圧を印加して、エミッション特性を検査すると、従来のエミッション特性の検査方法では、検出できなかった欠陥も容易に検出できるようになり、セットメーカーや市場におけるエミッション不良の発生を大幅に低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の一形態であるカラー受像管のエミッション特性検査方法を説明するための図である。
【図２】欠陥のない良好なカソードおよび欠陥をもつカソードについてヒータ電圧とカソード電流との関係を示す図である。
【図３】ヒータに定格よりも低い電圧を印加するとともにカソードにバイアス電圧を印加した場合のカソードのエミッション取出面積を説明するための図である。
【図４】カラー受像管の構成を示す図である。
【図５】ヒータに定格の電圧を印加し、カソードを０Ｖにしてカソード電流を測定する場合のカソードのエミッション取出面積を説明するための図である。
【符号の説明】
４…蛍光体スクリーン
７…電子銃
１５…電子放出部
１６…異物
Ｇ１  …第１電極
Ｇ２  …第２電極
Ｇ３  …第３電極
Ｇ４  …第４電極
Ｈ…ヒータ
Ｋ…カソード
【図１】
0003556356.tif 000003
【図２】
0003556356.tif 000004
【図３】
0003556356.tif 000005
【図４】
0003556356.tif 000006
【図５】
0003556356.tif 000007