(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁石コア及び２つの離間した電磁石磁極とで構成され、これら２つの磁極の中心を結ぶ線の方向に磁場を発生する電磁石手段と、２つの磁極間に配置され、かつ、これらの磁極間の自由空間磁場の方向に垂直な磁束密度を検知する第１の磁気センサと、電磁石手段の磁極間の磁気回路部分の磁気抵抗を検知する第２の磁気センサと、電磁石手段に交流磁場を発生させる手段とを備えたプローブを使用し、強磁性体の表面上のある位置に磁極が隣接するようにプローブを配置し、電磁石手段及び強磁性体に、磁気飽和より低い最大振幅で変動させて交流磁場を発生させ、強磁性体における交流磁場が連続して複数の異なる方向に指向するようにプローブを回転させ、複数の異なる方向における磁場で第１の磁気センサからの信号を検知し、第１の磁気センサからの信号の最大及び最小における磁場の方向から、主応力軸線の方向を特定し、少なくとも、磁場の方向が主応力軸線の方向に向いたときの、第２の磁気センサからの信号を検知し、プローブが応力の無視できる位置に隣接するときにゼロ信号を与えるようにバックオフさせることによって、第２の磁気センサからの信号を処理し、引き続き、抵抗とリアクタンスとに相応する成分を表すインピーダンス平面における、材料の面からのリフトオフの影響に対して直角をなす方向に信号を分解して出力DEP信号を得、更に、磁場の方向を主応力軸線の方向に向けた場合における出力DEP信号の値を用いて、材料の応力を測定すべき位置における主応力の値を特定し、
上記工程において、第２の磁気センサからの信号に適用すべき上記のバックオフの値は、前記強磁性体と同じものの試料であって応力の無視できる材料を用いて行う初期化工程において決定及び固定され、また、表面からのリフトオフの影響はまた、この初期化工程において決定され、
また、装置の調整を、主応力の値を特定する前に、前記強磁性体と同じもののサンプルに、該サンプルのｘ軸及びｙ軸に平行な広範囲の引張及び圧縮応力を作用させ、プローブを一方の主応力軸線に平行に整列させた二軸応力のDEP信号の変動、及び、プローブを他方の主応力軸線に平行に整列させた二軸応力のDEP信号の変動を示す等位線を得て、前記強磁性体のサンプルに、該サンプルのｘ軸及びｙ軸に平行な広範囲の引張及び圧縮応力を作用させて行い、
また、前記強磁性体のその位置の主応力軸線の方向における応力の値は、対応する等位線が応力面にどこで交差するかを見つけることによって、DEPの測定値から決定される、ことを特徴とする強磁性体における応力測定方法。
【請求項２】
磁場を発生する周波数を変えて測定の浸透深さを変える、ことを特徴とする請求項１に記載の強磁性体における応力測定方法。
【請求項３】
第１の磁気センサからの信号が主応力の値を特定するのに用いられる、ことを特徴とする請求項１又は２に記載の強磁性体における応力測定方法。
【請求項４】
第２の磁気センサからの信号を、複数の異なる方向において検知し、更に、すべての方向において出力DEP信号の値を使用して、磁場の方向を主応力軸線（ｘ又はｙ）の方向に向けた場合における出力DEP信号の値を特定する、ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の強磁性体における応力測定方法。
【発明の詳細な説明】
本発明は、強磁性体における応力の測定方法及び装置に関する。
強磁性体である鋼は構造体材料として広く用いられている。構造体の安全性を評価するため、（例えば超音波を利用して）欠陥を検出することができるだけでなく、材料における応力、例えば欠陥の生じ得る作用に影響する欠陥の周囲の応力も測定するのが望ましい。従って全体応力（残留、印加、静的及び動的成分を含む）を、信頼できる非破壊法で測定するのが望ましい。磁気測定は通常微細構造のような他の材料特性によって影響を受けるが、応力に対してある感度を示す種々の磁気的技術が知られており、それらには、例えば、磁気音響放射、バルクハウゼン放射、保磁性、応力誘導磁気異方性、指向性をもつ有効透磁率、または全磁気サイクルにわたる透磁率の増加がある。また、超音波測定、Ｘ線回折及び中性子回折によっても、微細構造及び／又は応力についての情報を得ることができる。さらに例えばOT NEWS 1992年11月には、複数の磁気技法を組合わせることにより残留応力の影響を分離できることが提案されている。
本発明によれば、電磁石コア及び２つの離間した電磁石磁極を構成する電磁石手段と、２つの磁極間に配置され、これらの磁極間の自由空間磁場の方向に垂直な磁束密度を検知するように配置された磁極間の第１の磁気センサと、電磁石手段の磁極間の磁気回路部分の磁気抵抗を検知するように配置された第２の磁気センサと、電磁石手段に交流磁場を発生する手段とを備えたプローブを使用し、強磁性体の表面上のある位置に磁極が隣接するようにプローブを配置し、電磁石手段及び強磁性体に交流磁場を発生させ、強磁性体における交流磁場が連続して複数の異なる向きに指向するようにプローブを回転させ、複数の異なる方向の磁場を有する第１、第２の磁気センサからの信号に基づき、上記材料の位置における主応力軸線の方向及び主応力の値を決定することから成る、強磁性体における応力の測定方法が提供される。
第１の磁気センサは、材料が正確に等方性である場合には信号を検出しないが、しかしながら応力により材料の磁気的性質に異方性が生じ、従って第１の磁気センサで受ける信号は、この応力により誘導された磁気異方性（SMA）の測定値である。プローブの回転によるSMA信号の変動により、主応力軸線の方向を正確に決定することができる。
第１の磁気センサは、好ましくは第１の検知コイルから成り、また、測定した信号はこの第１の検知コイルにemf誘導されたものである。この形式の磁気測定の利用に関しては、PCT 出願WO89/01613（Langman）に開示されている。
第２の磁気センサは、磁極間の磁気回路部分の磁気抵抗を検知し、従って磁束の通る材料の透磁率を測定する。プローブを回転させると、この第２の磁気センサは、異なる方向における材料の有効透磁率を表す信号を発生し、この有効透磁率は指向性有効透磁率（DEP）と称される。第２の磁気センサは、好ましくは第２の検知コイルから成り、そして好ましくは磁心に巻回される。この場合、コイルからの信号は、完全な磁気回路の磁気抵抗に係わるものである。被測定パラメータとしては、コイルのインピーダンスであってもよい。交流磁場は好ましくはコイルによって発生され、このコイルは第２の検知コイルであってもよいが、SN比を良くするため、別個のコイルであることが好ましく、この場合、被測定パラメータは誘導起電力であるのが好ましい。代りに、第２の磁気センサを磁極間に設けて自由空間磁場に平行な磁束密度を検出するようにしてもよく、この場合磁束密度は、透磁率が増大するにつれて減少する。DEP信号により応力の値を決定することができ、この応力の値の決定には、応力軸線を正確に特定するためSMA信号が必要であり、また主応力の値を決定するのにもSMA信号を利用することができる。
本発明は、また上記の方法に用いるのに適した装置を提供し、この装置は、電磁石コア及び２つの離間した電磁石磁極を構成する電磁石手段と、２つの磁極間に配置され、これらの磁極間の自由空間磁場の方向に垂直な磁束密度を検知するように配置された２つの磁極間の第１の磁気センサと、電磁石手段の磁極間の磁気回路部分の磁気抵抗を検知する第２の磁気センサと、電磁石手段に交流磁場を発生させる手段とを備えたプローブを有し、さらに第１の磁気センサによって検知された磁束密度と、第２の磁気センサによって検知された磁気抵抗とを表す出力信号を発生する手段を有している。
好ましくは、DEP測定を行う前に、プローブは、応力の無視できる（または任意の既知の値の）表面領域に隣接して配置され、そして信号の値はバックオフされてゼロ信号を発生する。従って応力によるDEPの小さな変化を容易に測定することができる。
DEP信号は交流磁場を発生する電流と同相の成分及びそれと直角位相の成分として分解され、これらの成分はインピーダンス平面における抵抗及びリアクタンスに相応している。表面とプローブとの間の間隔（リフトオフ）が変化すると、DEP信号に影響する。この変化は、リフトオフ角度と称される方向に向いたインピーダンス平面の方向に対応している。従って、リフトオフの変化による疑似影響を避けるため、出力DEP信号は、インピーダンス平面におけるリフトオフ方向に直角方向に分解したものである。バックオフ及びリフトオフの初期化は、測定が行われる前に行う必要がある。
電磁石手段は積層変圧器鋼（例えば列理配向けい素鋼）のＣ字型またはＵ字型コアを有してもよい。良好な透磁率及び十分に高い磁気飽和をもっていれば、ミューメタル（mu−metal）のような他の材料を使用することもできる。ワイヤのコイルはコアの回りに巻回され、そして適当な交流電源に接続される。上記で述べたように、このコイルは、それのインピーダンスが試験中の材料の透磁率と共に変化するので、第２のセンサとして用いられてもよい。しかしながら、コアに２つのコイルを巻回し、一方のコイルを電源に接続し、他方のコイルを第２センサとして機能させることにより、感度を向上させることができ、すなわちこのように構成することによりSN比を改善することができる。動作において、電流による磁場は変動し、磁気飽和より十分に低い最大振幅（典型的には数A/cm）をもつ小さなヒステリシスループを介して試験中の材料を駆動させる。動作周波数は望ましくは50Hz〜1000Hzであり、最も好ましくは100Hz〜500Hzである。周波数が下がるにつれて、表面下の磁気変化の有効浸透深さは大きくなる。
プローブの寸法は小さいのがの望ましく、例えば外径50mm以下、好ましくは20mm以下の円筒状ケーシング内に嵌合するようにされてもよい。これにより良好な空間的分解能が得られる（というのは、磁気特性が２つの磁極に隣接したプローブの端部の領域にわたって有効に平均化されるからである）。さらにプローブの直径が小さくなると、材料の表面のいかなる曲率の影響も小さくなる。
SMA及びDEPの測定は同時に行われてもよい。代りに、SMA及びDEPの測定は連続して行ってもよく、この場合、それらの測定は異なる周波数の交流電流（及び磁場）例えばDEPに対しては300Hz、またSMAに対しては68Hzを用いて行われてもよい。好ましくは、交流電流の振幅は、磁場がSMA及びDEPの両方の測定に対して同じ値となるようにされる。理想的には両測定は、同じ浸透深さを達成するために同じ周波数でなされる。しかしながら、DEPの応力に対する感度は、周波数が高くなるにつれて高くなるので、実際にはDEPを測定する際の周波数は感度と浸透とを考慮して妥協して決められる。実際、周波数は、浸透深さを変えるために変化させてもよい。
プローブは、一回転にわたって回転され、SMA及びDEPの両方の測定は連続して、または複数の角度方向で例えば10゜毎に行われてもよい。この回転は手動でまたはモータによって行なわれてもよく、プローブには、好ましくはそれの方向を表す信号を発生するセンサが組合わされる。SMAの測定値はプローブの角度方向に対してほぼ正弦波状に変化し、材料における磁場の方向が表面に垂直な平面における主応力軸線間の角度の二等分線と整列した時に最大及び最小となる。従って、SMAの測定値が最大及び最小となるプローブの向きを決定することによって、主応力軸線の方向を決定することができる。
DEPを測定する際には、磁場の方向（すなわち２つの磁極の中心を結ぶ線）を主応力軸線に向けることが必要であり、この方向においてDEPの測定値は最大及び最小となる。好ましくは、DEPの測定は複数の異なった向きで行われ、DEPが向きと共に変化する公知の仕方に基いて、すべての測定値を用いて主応力軸線における値を比較的正確に評価することができる。
本発明のプローブは、鋼構造体における残留応力を含む応力を、鋼構造体の少なくとも表面に近い領域において非破壊的に測定することができる。プローブを表面上で走査することによって、応力が位置によって、例えば溶接部付近においてどのように変化するかを知ることができる。プローブは、例えばオイルリグの海中部分を検査するため、潜水人が水中で容易に使用できるようにすることができる。
以下単に例として添付図面を参照して本発明をさらに説明する。
第１図は応力を測定する装置を示す概略線図である。
第２図は第１図の装置に用いられるプローブを示す縦断面図である。
第３図は、第２図のプローブを回転させて測定したSMA及びDEPの信号の変化を示すグラフである。
第４図は、プローブを主応力軸線に平行に整列させて実験的に測定した二軸応力のDEP信号の変動を示すグラフである。
第５図は、プローブを別の主応力軸線に平行に整列させて実験的に測定した二軸応力のDEP信号の変動を示すグラフである。
第６図は、実験的に測定した二軸応力のSMA信号の変動を示すグラフである。
第１図を参照すると、応力測定装置10はセンサプローブ12を備えており、このセンサプローブ12はSMA（応力誘導磁気異方性）センサとDEP（指向性有効透磁率）サンサとから成っている。センサプローブ12は電動機14に取り付けられ、電動機14は、作業者が保持するかまたは支持機構（図示してない）によって保持されてもよく、応力を測定することになる鋼物体16の表面にプローブ12の一端を隣接させた状態で、プローブ12を回転させる。センサプローブ12及び電動機14は、2mの長さの臍帯状ケーブル17により信号状態調整・プローブ駆動ユニット18に接続されている。このユニット18自体は（例えば長さ300mまでの）長い臍帯状ケーブル19によてマイクロコンピュータ20内のインターフェースユニットに接続され、マイクロコンピュータ20はキーボード21を備えている。応力測定装置10の動作はマイクロコンピュータ20におけるソフトウエアによって制御される。
マイクロコンピュータ20内のインターフェースユニットは、ソフトウエアによって選択可能な角周波数で正弦波及び余弦波関数を発生し、正弦波形をバッファしてプローブ12を駆動するためのユニット18に伝送する。伝送波形の振幅もソフトウエアによって選択可能である。またユニット18は、電動機14を介してセンサプローブ12の角位置を制御する制御信号を発生する。インターフェースユニットは、またユニット18に制御信号を供給し、プローブ12からの利用できる信号のうちどの信号を分析のために伝送すべきかを選択させる。そして選択した入力信号（SMAまたはDEP）を復調して、それの同相及び直角位相成分を発生させ、復調信号をろ波して高周波成分を除去しかつ雑音を低減させ、さらにアナログ信号をマイクロコンピュータ20の入力に合ったデジタル信号に変換する。また電動機14における位置エンコーダー（図示してない）からの信号によりプローブ12の角位置を検出する。
長い臍帯状ケーブル19は、選択した信号（SMAまたはDEP）を伝送する同軸ケーブル及びどの信号を選択するかを制御し、電動機14を制御し、位置エンコーダーからの信号を伝送し、正弦波形を伝送し、そして電力を搬送するそれぞれの線を備えている。ユニット18は、プローブ12に対する駆動波形を電圧から電流駆動に変換し、プローブからのSMA及びDEP信号をバッファしかつ増幅し、そしてマイクロコンピュータ20に伝送すべき信号を選択する。また位置エンコーダーからの信号をバッファして伝送し、そして制御信号に応じて電動機14を駆動する。
次に第２図を参照すると、プローブ12は電動機14から外されて縦断面図で示され、内部構成要素は立面図で示されている。プローブ12は、外径16.5mm、全高60mmの円筒状の黄銅ケーシング24を有し、この黄銅ケーシング24の上半分は縮径され、電動機14に取り付けられる。黄銅ケーシング24の上半分はヘッド増幅器25を収容している。黄銅ケーシング24の下半分は、積層ミューメタル（高透磁性のニッケル・鉄・銅合金）のＵ字型コア26を収容し、磁極28は幅7.5mmの隙間で分離されており、そして各々幅2.3mm、厚さ10mm（図面の平面から外れる方向）である。これらの磁極28はケーシング24の下端の平面に位置している。Ｕ字型コア26の上端のまわりには巻型が設けられ、この巻型に２つのコイル30が重畳して巻回されている。一方のコイル30（200巻回）にはユニット18から正弦波駆動電流が供給され、他方のコイル30（70巻回）はDEP信号を供給する。２つの磁極28間には矩形の樹脂含浸紙積層巻型が設けられ、この巻型には、下から見て高さ4mm、幅6mm、6mm平方程度の1670巻回の矩形コイル32が巻回され、巻線は図面の平面に平行であり、従ってコイル32の長手方向軸線は磁極28の中心間の線に垂直である。コイル32は、Ｕ字型コア26のアーム間に固定した支持板34によって支持され、それでコイル32の下面は磁極28の平面に位置している。コイル32はSMA信号を発生する。SMA及びDEP信号の両方は、ヘッド増幅器25で増幅してからユニット18へ伝送される。
装置10の動作において、電動機14は、プローブ12の下端が物体16の表面に近接しかつプローブ12の長手方向軸線が表面に垂直となるように支持される。プローブ12はまず、応力の無視できる物体16の領域に隣接して配置される。駆動コイル30には所望の周波数及び振幅の交流電流が供給される。マイクロコンピュータ20で受けた同相及び直角位相DEP信号はまずゼロにバックオフされ、そしてバックオフした値を固定しておき、次にプローブ12を僅かに持ち上げ、そしてDEP信号の変化からインピーダンス平面におけるリフトオフ角が決められる。
その後プローブ12は応力の測定されることになる領域に隣接して配置される。磁極28の中心を結ぶ線の向き（プローブ12の向きと称する）は表面上の一定方向に対して特定される。そして電動機14を付勢し、プローブ12を、例えば一度に10゜づつステップ状に全体で380゜の角度にわたって回転させる。プローブ12の各方向において、直角位相SMA信号が（68Hzの駆動電流周波数で）測定され、リフトオフ方向に垂直なインピーダンス平面における方向のDEP信号は（同じ磁場を発生するような駆動電流でしかも300Hzの周波数で）測定される。電流は代表的には300〜400mAの範囲である。
第３図を参照すると、鋼試料において実験的に決められた初期方向からの角度で表されるプローブ12の種々の方向における（バックオフし、リフトオフ角に直角に分離した）DEP信号及び直角位相SMA信号の値がグラフで示されている。グラフから認められように、SMA信号値はプローブ12の方向と共に正弦波状に変化し、SMA信号値が最大及び最小となる方向は容易に特定できる。これら２つの方向の間の中間の方向は主応力軸線の方向である。DEP信号値は正確ではない（プロット点を通る垂直線は測定の不確定さを表している）が、それらの値はプローブ12の方向と共に正弦波状に変化するので、主応力の方向におけるDEP信号値を特定することができる。
主応力軸線の方向における応力の値は、これらの方向におけるDEPの実験的測定値及びプローブ12の回転中のSMA信号における変動の大きさから特定できる。これには、物体16と同じ形式の材料のサンプルにおいて種々の異なる応力を与えながら上記の仕方で測定を行う装置10の調整が必要となる。これは十字型のサンプルを用いて行うことができ、十字型のサンプルのアームは試験リグの軸線と整列され、SMA及びDEPの測定は、主応力の方向が試験リグの軸線と整列するサンプルの中央において行われる。
次に、第４図及び第５図を参照すると、これらの図面にはDEPの測定値を等位線で示す。第４図はサンプルのｘ軸線に最近接した主応力軸線上のDEPの値を示し、第５図はサンプルのｙ軸線に最近接した主応力軸線上のDEPの値を示している。これらの値は、サンプルのｘ軸線及びｙ軸線に平行な広範囲の引張及び圧縮応力を作用させた鋼板で得られた。第６図を参照すると、同じ鋼サンプルに同じ範囲の応力を作用させて、プローブ12の回転中の直角位相SMA信号の最大値と最小値との差の測定値が同様に示されている。
理想的には、応力平面において相応した等位線がどこで交差するかを考察することによって、これらのパラメータの２つのパラメータの測定値から、物体16における二軸応力を特定することができる。しかしながら、実際には測定値及び調整測定値には幾分不確定さがある。物体16における二軸応力のより正確な評価は次のようにして行うことができる。応力平面における各位置について、パラメータの測定値と調整中に得られた値との標準偏差の総数を（パラメータ及び調整マップにおける標準誤差を考慮して）計算する。この値の小さい応力平面における領域は適当な等位線と同じであるが、領域の幅は完全な整合からの標準偏差の数で定量化される。この計算は２つの測定パラメータそして好ましくは三つすべての測定パラメータについて行われ（第４図、第５図及び第６図に示すように）、すべてのパラメータについての標準偏差の平均数は、応力平面における各位置について計算される。物体16における二軸応力の値は、標準偏差の平均数が例えば２以下である応力平面における位置の中心であるとされる。二軸応力のこの値における不確定さの評価は、応力平面におけるその位置における標準偏差の平均数で与えられる。
本発明の装置は上記の実施例と異なってもよいことが認められる。例えば、SMA信号はセンサコイル以外のホール効果センサまたはマグネト抵抗によって検知することもできる。プローブ12を回転させる電動機はプローブ12の上端部からはずれていてもよい。プローブ12はまた付加的なセンサ、例えば自由空間磁場方向に平行な磁極間の磁束密度を検知する磁気センサを備えることもできる。ヘッド増幅器25はプローブ12にではなくユニット18内に配置されていてもよい。また交流駆動電流の周波数は上記の周波数と異なってもよく、そして信号を判断する仕方も上記の仕方と異なってもよい。これらの変更の幾つかについて以下詳細に説明する。
プローブ12を用いて、試験物体16の透磁率の増大と共に増大するコア26における磁束密度を検知することによりDEPの測定値を得ることができることが認められる。代りに、DEPの測定値はＵ字型コア26のアーム間に空気コア付きコイル（図示してない）を使用することによって得るようにすることもでき、その場合コイルの長手方向軸線は自由空間磁場方向に平行にされる。そのようなコイルは試験物体16の透磁率の増大と共に減少する漏れ磁束を検出する。このようなコイルが磁極28の平面に近接している場合には、該コイルは、リフトオフによってはほとんど影響されず、応力によって影響を受ける信号を発生する。またこのようなコイルが磁極28から離れていて、例えば支持板34の上方に位置している場合には、コイルは、磁極28の平面に近接したコイルと同程度にリフトオフによって影響されるが、試験物体16における応力にはほとんど感応しない。従って、代わりのプローブでは２つのそのようなコイルが利用され、一方のコイルは磁極28の平面に近接して配置され、他方のコイルは磁極28から離れて配置される。信号は相互に引き算され、ほとんどの雑音を除去し、そして結果として、信号のバックオフはほとんど必要なく、すなわち要求されたバックオフを最小にするため、上方コイルの巻回は磁極の平面に近接したコイルの巻回より少なくしてもよい。このようなプローブは応力に対する感度を大きくでき、SN比もプローブ12より改善できるが、より複雑となる。
プローブ12においては、リフトオフについてSMA信号を修正する試みはなされてない。この信号修正は、Ｕ字型コア26のアーム間で支持板34の上方に空気コア付き基準コイル（図示してない）を設けることによって達成でき、コイルの長手方向軸線は、上述のように自由空間磁場方向に平行である。SMAの測定中この基準コイルからの信号を監視することにより、SMA信号の大きさはリフトオフについて簡単に修正できる。このためにはリフトオフによるSMA信号の減衰及びこのコイルからの信号を調整する必要があり、実験的測定によれば、これらは直線的に関連することが示される。例えば、基準コイルは矩形巻型に巻かれた200巻回の銅線から成ることができる。またこのような基準コイルからの信号は、利得、磁場強度または周波数の任意の変動に対してSMA及びDEP信号を標準化するのにも使用できる。
上述のように、装置10の調整は、広範囲の異なる二軸応力を受けた時に、物体16を構成している材料の十字形のサンプルにおいて多くの測定を行うことによりなされ得る。代わりに、装置の調整は、４つまたは５つの異なる一軸応力を受ける簡単な棒状サンプルを使用し、そしてそのような調整測定を二軸応力に対するSMA及びDEPの変動のパラメトリックモデルと組合わせることによって行うこともできる。こうして物体16内の応力を特定することができる。この調整方法は、比較的簡単な材料サンプルでよく、調整測定が非常に少なく、また比較的簡単な応力でよいという利益をもたらす。
いかなる調整方法を適用しても、物体16の結晶構造が変化すると例えばフェライトより機械的及び磁気的の両方において硬いマルテンサイトでは間違った結果となる。DEPの測定の場合のように、透磁率は結果として低く、そのため計算した応力値は真の値より低くなる。このような微細構造の変化の存在は、物体16の保磁力を測定することにより検出できる。これは、駆動コイル30を使用し、DEPコイルから得られた信号を測定することによりなされ得る。
一つの方法は、大きなピーク電流（例えば1.5A）の駆動コイル30に低周波数（例えば0.05Hz）の電流を与えることにあり、それによりプローブ12に隣接した物体16の領域は別の方向に飽和される。DEPコイルからの信号emfは各半周期毎にピーク値をもち、このピーク値の生じる駆動電流の値（または一層正確には、一周期においてピーク値が生じる駆動電流の２つの値の大きさの平均値）は保磁力に正比例する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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