(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、
希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、
第一補正係数を第二測定手段で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定手段で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項２】
補正手段は、第一補正係数を希望波成分除去後の干渉波電力に乗算する、
ことを特徴とする請求項１記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項３】
第一補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項１記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項４】
第一補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項１記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項５】
第一補正係数は、受信アンテナ数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項１記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項６】
受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、
希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、
第二補正係数を第一測定手段で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定手段で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項７】
補正手段は、第二補正係数を干渉波成分除去後の希望波電力に乗算する、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項８】
第二補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項９】
第二補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１０】
第二補正係数は、受信アンテナ数に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１１】
第二補正係数は、ドップラー周波数の大きさに応じて決定される、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１２】
第二補正係数は、無線通信装置間の周波数オフセット量に応じて決定される、
ことを特徴とする請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１３】
補正手段は、希望波対干渉波電力比算出手段で算出された希望波対干渉波電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固有のバイアス誤差を補正する、
ことを特徴とする請求項１または請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１４】
第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力比を測定する第三測定手段と、
前記第一区間より短い第二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測定する第四測定手段と、
前記第一希望波対干渉波電力比と、補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波対干渉波電力比とから、前記第一区間において平均したバイアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、
前記第一区間において平均したバイアス誤差を用いて、前記第二希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去する除去手段と、
をさらに具備することを特徴とする請求項１または請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
【請求項１５】
請求項１から請求項１４のいずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを特徴とする基地局装置。
【請求項１６】
請求項１から請求項１４のいずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを特徴とする通信端末装置。
【請求項１７】
受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出工程と、
第一補正係数を第二測定工程で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定工程で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出工程で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正工程と、
を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定方法。
【請求項１８】
受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出工程と、
第二補正係数を第一測定工程で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定工程で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出工程で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正工程と、
を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、希望波対干渉波電力比ＳＩＲの測定方法としては、  特開平１１−２３７４１９号公報に記載されているものがある。このＳＩＲ測定方法では、まず合成前の受信信号ごとに希望波電力および干渉波電力を求めておき、次に合成方法に応じて合成後のＳＩＲを算出するようにしている。これにより、精度の高いＳＩＲを簡単な演算で測定することができるとされている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、本発明者が行ったシミュレーションにより、上記従来のＳＩＲ測定方法で測定したＳＩＲには、熱雑音、希望波電力に含まれる干渉波成分および干渉波電力に含まれる希望波成分等により生じるバイアス誤差が含まれていることが判明した。つまり、上記従来のＳＩＲ測定方法では、正確なＳＩＲを測定することができないということが判明した。
【０００４】
また、バイアス誤差の大きさは、ＳＩＲ測定に使用する逆拡散信号数および逆拡散信号に含まれるシンボル数等に応じて変化するため、それらの数を考慮することなくＳＩＲを測定する上記従来のＳＩＲ測定方法では、ＳＩＲの測定誤差が逆拡散信号数やシンボル数等に応じて大きくなってしまうという問題がある。
【０００５】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、第一補正係数を第二測定手段で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定手段で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、を具備する構成を採る。
【００１０】
この構成によれば、希望波電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大きくなる領域においてバイアス誤差を補正することができる。
【００１１】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、第一補正係数を希望波成分除去後の干渉波電力に乗算する構成を採る。
【００１２】
この構成によれば、補正手段で除去される干渉波成分は、すでに希望波成分が除去された干渉波成分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【００１３】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、第二補正係数を第一測定手段で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定手段で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、を具備する構成を採る。
【００１４】
この構成によれば、干渉波電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大きくなる領域においてバイアス誤差を補正することができる。
【００１５】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、第二補正係数を干渉波成分除去後の希望波電力に乗算する構成を採る。
【００１６】
この構成によれば、補正手段で除去される希望波成分は、すでに干渉波成分が除去された希望波成分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【００１７】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される構成を採る。
【００１８】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受信信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００１９】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される構成を採る。
【００２０】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、シンボル数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００２１】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、受信アンテナ数に応じて決定される構成を採る。
【００２２】
この構成によれば、受信アンテナ数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００２３】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第二補正係数が、ドップラー周波数の大きさに応じて決定される構成を採る。
【００２４】
この構成によれば、ドップラー周波数の大きさに応じて第二補正係数を決定するため、ドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００２５】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第二補正係数が、無線通信装置間の周波数オフセット量に応じて決定される構成を採る。
【００２６】
この構成によれば、周波数オフセット量に応じて第二補正係数を決定するため、周波数オフセット量に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００２７】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、希望波対干渉波電力比算出手段で算出された希望波対干渉波電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固有のバイアス誤差を補正する構成を採る。
【００２８】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正することができる。
【００２９】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力比を測定する第三測定手段と、前記第一区間より短い第二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測定する第四測定手段と、前記第一希望波対干渉波電力比と補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波対干渉波電力比とから前記第一区間において平均したバイアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、前記第一区間において平均したバイアス誤差を用いて前記第二希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去する除去手段と、を具備する構成を採る。
【００３０】
この構成によれば、第一区間における平均的なバイアス誤差を算出し、その平均的なバイアス誤差を用いて第一区間よりも短い第二区間で平均した希望波対干渉波電力比のバイアス誤差を補正するため、第二区間で平均した希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる。
【００３１】
本発明の基地局装置は、上記いずれかの希望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。また、本発明の通信端末装置は、上記いずれかの希望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。
【００３２】
これらの構成によれば、基地局装置や通信端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御（例えば、送信電力制御）の精度を向上させることができる。
【００３６】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明者が行った測定ＳＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフである。すなわち、図１は、正しい希望波対干渉波電力比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差（つまり、バイアス誤差）を示す希望波対干渉波電力比の特性図である。なお、測定ＳＩＲの平均値を算出するにあたっては、数千シンボル区間の平均値を用いた。
【００３７】
本発明者がこのシミュレーション結果を解析したところ、以下のことが判明した。
（ｉ）ＳＩＲが比較的低い低ＳＩＲ領域では、測定した希望波電力に含まれる干渉波成分の影響により、測定ＳＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて高くなる。
（ｉｉ）ＳＩＲが比較的高い高ＳＩＲ領域では、測定した干渉波電力に含まれる希望波成分の影響により、測定ＳＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて低くなる。
（ｉｉｉ）希望波電力および干渉波電力の測定方法により、ＳＩＲの全領域に渡り各ＳＩＲ測定回路に固有の固定的なバイアス誤差が存在する。
【００３８】
そこで、本発明者は以下の式に従ってＳＩＲを測定することにより、上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。なお、以下の式（１）〜（４）において、’ＳＩＲ’は測定ＳＩＲの平均値、’Ｓ’は測定した希望波電力の平均値、’Ｉ’は測定した干渉波電力の平均値、’ａ’は希望波電力の補正係数、’ｂ’は干渉波電力の補正係数、’ｃ’は固定バイアス誤差の補正係数である。
【００３９】
まず、本発明者は、以下の式（１）に従ってＳＩＲを測定することにより、上記（ｉ）に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数１】
0003559237.tif 000002
すなわち、上式（１）では、干渉波電力の平均値Ｉに補正係数ａを乗じた値を希望波電力の平均値Ｓから減ずることによって、希望波電力に含まれる干渉波成分を除去している。
【００４０】
次いで、本発明者は、以下の式（２）に従ってＳＩＲを測定することにより、上記（ｉｉ）に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数２】
0003559237.tif 000003
すなわち、上式（２）では、希望波電力の平均値Ｓに補正係数ｂを乗じた値を干渉波電力の平均値Ｉから減ずることによって、干渉波電力に含まれる希望波成分を除去している。
【００４１】
なお、上式（１）と上式（２）とは適応領域が異なるため、以下の式（３）にまとめることができる。
【数３】
0003559237.tif 000004
【００４２】
さらに、本発明者は、以下の式（４）に従ってＳＩＲを測定することにより、上記（ｉｉｉ）に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数４】
0003559237.tif 000005
すなわち、上式（４）では、上記（ｉ）および上記（ｉｉ）に示したバイアス誤差が補正されたＳＩＲに補正係数ｃを乗じることによって、ＳＩＲの全領域に渡って含まれる固定的なバイアス誤差を補正している。
【００４３】
ここで、ＣＤＭＡ（Ｃｏｄｅ  Ｄｉｖｉｓｉｏｎ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ａｃｃｅｓｓ）方式の移動体通信システムにおいてＳＩＲを測定する場合について考えると、補正係数ａおよび補正係数ｂは、ＳＩＲの測定に使用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数に応じて決定するようにする。また、ＳＩＲの測定に使用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数が時々刻々変化する場合には、それらの変化に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを適応的に変化させるようにする。
【００４４】
図２は、上式（４）に従って測定したＳＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフである。このグラフより、上式（４）に従ってＳＩＲを測定することにより、ＳＩＲの全領域に渡りバイアス誤差が補正され、ほぼ正しいＳＩＲが測定できることが判明した。なお、低ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差の補正は、上式（４）中の上式（１）に相当する部分によるものである。また、高ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差の補正は、上式（４）中の上式（２）に相当する部分によるものである。なお、図２に示したシミュレーション結果は、固定バイアス誤差補正係数ｃ＝１とした場合であるため、さらに固定バイアス誤差補正係数ｃを適切な値に設定すれば、全領域において測定ＳＩＲの平均値を正しいＳＩＲにほぼ一致させることが可能である。
【００４５】
以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【００４６】
（実施の形態１）
本実施の形態では、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明する。図３は、本発明の実施の形態１に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。
【００４７】
図３に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部１０１は、受信信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。干渉波電力測定部１０２は、受信信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。
【００４８】
低ＳＩＲ領域補正部１０３は、乗算器１０３１と加算器１０３２とから構成され、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正する。
【００４９】
ＳＩＲ算出部１０４は、低ＳＩＲ領域補正部１０３で求められた値と干渉波電力測定部１０２で算出された値との比を算出する。
【００５０】
次いで、上記構成を有する希望波対干渉波電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平均値が算出され、加算器１０３２に出力される。また、干渉波電力測定部１０２で、干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、乗算器１０３１およびＳＩＲ算出部１０４に出力される。ここで、希望波電力測定部１０１から出力される希望波電力の平均値は上式（１）の’Ｓ’に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力される干渉波電力の平均値は上式（１）の’Ｉ’に相当する。
【００５１】
また、平均値算出時の所定区間は、ＳＩＲの使用目的に合わせて適宜設定される。例えば、ＳＩＲが移動体通信での送信電力制御等に使用される場合には数シンボルから数十シンボル区間程度に設定され、移動体通信での回線状況の把握等のために使用される場合には数百シンボルから数千シンボル区間程度に設定される。
【００５２】
乗算器１０３１では、干渉波電力の平均値に補正係数ａが乗算され、加算器１０３２に出力される。この補正係数ａは、上式（１）の’ａ’に相当する。加算器１０３２では、希望波電力の平均値から補正係数ａ乗算後の干渉波電力の平均値が減算される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式（１）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００５３】
ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が干渉波電力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（１）に従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得られる。
【００５４】
このように本実施の形態によれば、希望波電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大きくなる低ＳＩＲ領域においてＳＩＲのバイアス誤差を補正することができる。
【００５５】
（実施の形態２）
本実施の形態では、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明する。図４は、本発明の実施の形態２に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図４において図３と共通する構成部分には図３と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００５６】
図４に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、高ＳＩＲ領域補正部１０５は、乗算器１０５１と加算器１０５２とから構成され、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正する。ＳＩＲ算出部１０４は、希望波電力測定部１０１で算出された値と高ＳＩＲ領域補正部１０５で求められた値との比を算出する。
【００５７】
次いで、上記構成を有する希望波対干渉波電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平均値が算出され、乗算器１０５１およびＳＩＲ算出部１０４に出力される。また、干渉波電力測定部１０２で、干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、加算器１０５２に出力される。ここで、希望波電力測定部１０１から出力される希望波電力の平均値は上式（２）の’Ｓ’に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力される干渉波電力の平均値は上式（２）の’Ｉ’に相当する。
【００５８】
乗算器１０５１では、希望波電力の平均値に補正係数ｂが乗算され、加算器１０５２に出力される。この補正係数ｂは、上式（２）の’ｂ’に相当する。加算器１０５２では、干渉波電力の平均値から補正係数ｂ乗算後の希望波電力の平均値が減算される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式（２）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００５９】
ＳＩＲ算出部１０４では、希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（２）に従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得られる。
【００６０】
ここで、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差は、フィルタにより生じる符号間干渉成分の影響以外にも、無線通信装置間の周波数オフセットやドップラー効果の影響により生じるものと考えられるため、周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて補正係数ｂを適応的に変化させるようにしてもよい。このように補正係数ｂを周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて決定することにより、周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化する高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００６１】
このように本実施の形態によれば、干渉波電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大きくなる高ＳＩＲ領域においてＳＩＲのバイアス誤差を補正することができる。
【００６２】
（実施の形態３）
本実施の形態では、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方を補正する場合について説明する。つまり、上記実施の形態１と上記実施の形態２とを組み合わせた場合について説明する。図５は、本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図５において図３または図４と共通する構成部分には図３または図４と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００６３】
低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、ＳＩＲ算出部１０４および高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器１０５１に出力される。
【００６４】
高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。ここで、高ＳＩＲ領域補正部１０５で除去される希望波成分は、すでに低ＳＩＲ領域補正部１０３で干渉波成分が除去された希望波成分となっているため、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上記実施の形態２に比べさらに精度よく高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正することができる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００６５】
ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩＲが得られる。
【００６６】
なお、上記構成では、まず低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正して、次に高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するようにしたが、以下に示す構成にして、まず高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正して、次に低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するようにしてもよい。
【００６７】
図６は、本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図である。但し、図６において図５と共通する構成部分には図５と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００６８】
高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、ＳＩＲ算出部１０４および低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３１に出力される。
【００６９】
低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。ここで、低ＳＩＲ領域補正部１０３で除去される干渉波成分は、すでに高ＳＩＲ領域補正部１０５で希望波成分が除去された干渉波成分となっているため、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上記実施の形態１に比べさらに精度よく低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正することができる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００７０】
ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩＲが得られる。
【００７１】
このように本実施の形態によれば、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方を補正することができる。また、上記実施の形態１および上記実施の形態２に比べさらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【００７２】
（実施の形態４）
本実施の形態では、ＳＩＲの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正する場合について説明する。図７は、本発明の実施の形態４に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図７において図５と共通する構成部分には図５と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００７３】
ＳＩＲ算出部１０４からは、上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力される。つまり、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩＲが出力される。
【００７４】
固定バイアス誤差補正部１０６では、ＳＩＲ算出部１０４から出力された平均ＳＩＲに、ＳＩＲの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差を補正するための補正係数ｃが乗算される。よって、固定バイアス誤差補正部１０６からは上式（４）に従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差、およびＳＩＲの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得られる。
【００７５】
このように本実施の形態によれば、ＳＩＲの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正することができる。
【００７６】
（実施の形態５）
ＣＤＭＡ方式の移動体通信システムにおいてＳＩＲを測定する場合について考えると、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差の大きさおよび高ＳＩＲ領域のバイアス誤差の大きさは、ＳＩＲの測定に使用する逆拡散信号数やその逆拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数に応じて変化する。そこで、まず本実施の形態では、逆拡散信号数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定する場合について説明する。図８は、本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図８において図７と共通する構成部分には図７と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００７７】
図８に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部２０１は、逆拡散信号１〜Ｍの希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器１０３２に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、逆拡散信号の各々について希望波電力の所定区間における平均値を求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、逆拡散信号の各々について測定された希望波電力を所定区間においてすべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００７８】
干渉波電力測定部２０２は、逆拡散信号１〜Ｍの干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【００７９】
低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数ａは、乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、逆拡散信号数乗算後の補正係数ａを用いて上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【００８０】
また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、逆拡散信号数乗算後の補正係数ｂを用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【００８１】
なお、補正係数ａおよび補正係数ｂに乗算される逆拡散信号数は、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が予め定まっている場合には固定値とし、また、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
【００８２】
また、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々変化する場合には、所定区間で平均化した数を用いることも可能である。このように逆拡散信号数を平均化することにより、受信される逆拡散信号数が一時的に急激に変動した場合でも、補正係数ａおよび補正係数ｂは急激に変動しないため、逆拡散信号数の一時的な変動によりＳＩＲが大きく変動してしまうことを防止することができる。
【００８３】
このように本実施の形態によれば、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定するため、逆拡散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００８４】
なお、本実施の形態では、図９に示す構成を採ることによりＲＡＫＥ合成後の信号を用いてＳＩＲを測定することも可能である。図９は、本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図である。但し、図９において図８と共通する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００８５】
図９に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、ＲＡＫＥ合成部３０１は、逆拡散信号１〜ＭをＲＡＫＥ合成して希望波電力測定部３０２および干渉波電力測定部３０３に出力する。希望波電力測定部３０２は、ＲＡＫＥ合成後の信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。干渉波電力測定部３０３は、ＲＡＫＥ合成後の信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。
【００８６】
本実施の形態に係る希望波対干渉波電力比測定回路を図９に示す構成とすることにより、ＲＡＫＥ合成後の信号を用いてＳＩＲを測定する場合にも、逆拡散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００８７】
（実施の形態６）
本実施の形態では、ＳＩＲの測定に使用するシンボル数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定する場合について説明する。図１０は、本発明の実施の形態６に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図１０において図８と共通する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００８８】
図１０に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部４０１は、逆拡散信号の希望波成分の電力をシンボル毎に測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器１０３２に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、各スロット内の同一箇所に位置するシンボルについて複数スロット分の平均値をそれぞれ求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、各スロット内の同一箇所に位置するシンボルについて各々測定された希望波電力を複数スロット分加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００８９】
干渉波電力測定部４０２は、逆拡散信号の干渉波成分の電力をシンボル毎に測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【００９０】
低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用されるシンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数ａは、乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、シンボル数乗算後の補正係数ａを用いて上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、シンボル数分除去される。
【００９１】
また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用されるシンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、シンボル数乗算後の補正係数ｂを用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、シンボル数分除去される。
【００９２】
なお、補正係数ａおよび補正係数ｂに乗算されるシンボル数は、ＳＩＲの測定に使用されるシンボル数が予め定まっている場合には固定値とし、また、ＳＩＲの測定に使用されるシンボル数が変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
【００９３】
このように本実施の形態によれば、ＳＩＲの測定に使用されるシンボル数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定するため、シンボル数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【００９４】
（実施の形態７）
本実施の形態では、受信アンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定する場合について説明する。図１１は、本発明の実施の形態７に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図１１において図８と共通する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００９５】
図１１に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部５０１は、アンテナ１〜Ｎで受信された信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器１０３２に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、アンテナ毎に希望波電力の所定区間における平均値を求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、アンテナ毎に測定された希望波電力を所定区間においてすべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００９６】
干渉波電力測定部５０２は、アンテナ１〜Ｎで受信された信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【００９７】
低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３３では、補正係数ａに受信アンテナ数が乗算される。受信アンテナ数乗算後の補正係数ａは、乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、受信アンテナ数乗算後の補正係数ａを用いて上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、受信アンテナ数分除去される。
【００９８】
また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器１０５３では、補正係数ｂに受信アンテナ数が乗算される。受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂを用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、受信アンテナ数分除去される。
【００９９】
このように本実施の形態によれば、受信アンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定するため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【０１００】
（実施の形態８）
本実施形態では、長区間（数百シンボルから数千シンボル区間程度）で平均したバイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均したバイアス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間（数シンボルから数十シンボル区間程度）で平均したＳＩＲのバイアス誤差を補正する場合について説明する。
【０１０１】
移動体通信での送信電力制御等に使用されるＳＩＲは、通常数シンボルから数十シンボル区間程度の短区間での平均値が使用される。しかし、短区間で平均された希望波電力および短区間で平均された干渉波電力は分散が大きいため、上式（１）における分子の減算結果および上式（２）における分母の減算結果が負になることがある。このため、上記実施の形態１〜７のバイアス誤差補正方法では、バイアス誤差補正後の平均ＳＩＲが負の値となってしまうことがあり、ＳＩＲを算出することができない場合が生じることがある。そこで本実施の形態では、数百シンボルから数千シンボル区間程度の長区間で平均した分散の小さいＳＩＲから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて数シンボルから数十シンボル区間程度の短区間で平均したＳＩＲのバイアス誤差を補正するようにした。
【０１０２】
図１２は、本発明の実施の形態８に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図１２において図７と共通する構成部分には図７と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【０１０３】
図１２に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、短区間希望波電力測定部６０１は、受信信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の短区間（数シンボルから数十シンボル区間程度）における平均値を算出する。算出された希望波電力の短区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区間平均部６０４に出力される。
【０１０４】
短区間干渉波電力測定部６０２は、受信信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の短区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の短区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区間平均部６０５に出力される。
【０１０５】
ＳＩＲ算出部６０３は、短区間希望波電力測定部６０１で求められた値と短区間干渉波電力測定部６０２で求められた値との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲが算出される。バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲは、バイアス誤差除去部６０８に出力される。
【０１０６】
長区間平均部６０４は、短区間希望波電力測定部６０１で求められた値をさらに長区間（数百シンボルから数千シンボル区間程度）平均する。算出された希望波電力の長区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０６および加算器１０３２に出力される。
【０１０７】
長区間平均部６０５は、短区間干渉波電力測定部６０２で求められた値をさらに長区間平均する。算出された干渉波電力の長区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０６、乗算器１０３１および加算器１０５２に出力される。
【０１０８】
ＳＩＲ算出部６０６は、長区間平均部６０４で求められた値と長区間平均部６０５で求められた値との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の長区間平均ＳＩＲが算出される。バイアス誤差補正前の長区間平均ＳＩＲは、バイアス誤差算出部６０７に出力される。
【０１０９】
低ＳＩＲ領域補正部１０３では、希望波電力の長区間における平均値に含まれる干渉波成分が除去される。また、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、干渉波電力の長区間における平均値に含まれる希望波成分が除去される。
【０１１０】
ＳＩＲ算出部１０４では、低ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差および高ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが算出される。そして、固定バイアス誤差補正部１０６では、ＳＩＲの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正される。よって、固定バイアス誤差補正部１０６からは、すべてのバイアス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが出力される。
【０１１１】
バイアス誤差算出部６０７は、固定バイアス誤差補正部１０６から出力されたバイアス誤差補正後の長区間平均ＳＩＲとＳＩＲ算出部６０６から出力されたバイアス誤差補正前の長区間平均ＳＩＲとの差を算出することにより、精度の高いバイアス誤差を算出する。
【０１１２】
バイアス誤差除去部６０８は、バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲからバイアス誤差算出部６０７で算出されたバイアス誤差を減ずることにより短区間平均ＳＩＲのバイアス誤差を補正する。
【０１１３】
なお、上記説明では一例として、短区間を数シンボルから数十シンボル区間とし、長区間を数百シンボルから数千シンボル区間として説明したが、この例に限られるものではなく、短区間が長区間よりも短い区間でさえあれば同様に実施可能である。
【０１１４】
このように本実施の形態によれば、長区間で平均したバイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均したバイアス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間で平均したＳＩＲのバイアス誤差を補正するため、短区間で平均するＳＩＲの測定精度を向上させることができる。
【０１１５】
なお、上記実施の形態１〜８は適宜組み合わせて実施することも可能である。
【０１１６】
また、上記実施の形態１〜８に係る希望波対干渉波電力比測定回路を移動体通信システムにおいて使用される基地局装置や、この基地局装置と無線通信を行う通信端末装置に搭載することが可能である。搭載された場合には、基地局装置や通信端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御（例えば、送信電力制御）の精度を向上させることができる。
【０１１７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】測定ＳＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフ
【図２】式（４）に従って測定したＳＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフ
【図３】本発明の実施の形態１に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図４】本発明の実施の形態２に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図６】本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図７】本発明の実施の形態４に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図８】本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図１０】本発明の実施の形態６に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態７に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図１２】本発明の実施の形態８に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【符号の説明】
１０１、２０１、３０２、４０１、５０１  希望波電力測定部
１０２、２０２、３０３、４０２、５０２  干渉波電力測定部
１０３  低ＳＩＲ領域補正部
１０４、６０３、６０６  ＳＩＲ算出部
１０５  高ＳＩＲ領域補正部
１０６  固定バイアス誤差補正部
３０１  ＲＡＫＥ合成部
６０１  短区間希望波電力測定部
６０２  短区間干渉波電力測定部
６０４、６０５  長区間平均部
６０７  バイアス誤差算出部
６０８  バイアス誤差除去部
【図１】
0003559237.tif 000006
【図２】
0003559237.tif 000007
【図３】
0003559237.tif 000008
【図４】
0003559237.tif 000009
【図５】
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【図６】
0003559237.tif 000011
【図７】
0003559237.tif 000012
【図８】
0003559237.tif 000013
【図９】
0003559237.tif 000014
【図１０】
0003559237.tif 000015
【図１１】
0003559237.tif 000016
【図１２】
0003559237.tif 000017