【事件の表示】
　特願２００１−６９７０「感光体、それを用いた画像形成装置、画像形成方法及びプロセスカートリッジ」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年９月２８日出願公開、特開２００１−２６５０１４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯等
　本願は平成１３年１月１５日（優先権主張：平成１２年１月１４日）の出願であって、平成１８年３月２３日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年４月２８日に拒絶査定に対する審判請求がなされ、同年１１月１０日付けで当審において拒絶理由が通知され、平成１９年１月１０日付けで意見書とともに手続補正書が提出されたものであり、「感光体、それを用いた画像形成装置、画像形成方法及びプロセスカートリッジ」に関するものである。
　
２．当審から通知した拒絶理由の概要
　平成１８年１１月１０日付けで当審から通知した拒絶の理由の概要は、次のとおりである。
　
『本件出願は、明細書及び図面の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第４項及び第６項に規定する要件を満たしていない。 
 　 
　　　　　　　　　　　　　　　　記 
（１）本願の請求項１に係る発明は次のとおりである。（請求項２ないし請求項２０については記載を省略する。） 
「基体上に少なくとも感光層を設けた感光体において、感光層の基体側界面の断面曲線を水平方向にΔｔ［μｍ］の間隔で、Ｎ個サンプリングした断面曲線の高さｘ（ｔ）［μｍ］のデータ群に対し下式（数１）に従い離散的なフーリエ変換を行い、下式（数２）により導出したパワースペクトルＳから、下式（数３）により計算したＩ（Ｓ）が６．０×１０−３以上であることを特徴とする感光体。 
【数１】 
 
（ここで、ｎ、ｍは整数、Ｎ＝２ｐ、ｐは整数である） 
【数２】 
 
【数３】 
 」 
 　 
（２）上記【数１】、【数２】は、物体表面の粗さをサンプリングして検出し、離散的フーリエ変換により波長毎のパワースペクトルを算出してその分布状態の解析を行うことによって物質表面の光学的特性等を評価する際に通常用いられる計算式である。 
　そして、物体表面の粗さの性質を調べるためにパワースペクトル分布の解析を行うこと自体は、特開平６−２５８０５８号公報、特開平６−２２１８３８号公報、特開平７−１２８０３７号公報、特開平９−１７８４７０号公報、特開平１１−５５０７１号公報、特開平１１−２６５５０５号公報、特開平１１−２２６６０６号公報に記載されているように周知である。 
　上記特開平６−２２１８３８号公報、特開平７−１２８０３７号公報、特開平９−１７８４７０号公報や下記特開平８−２７５５６号公報、特開平５−１４１９４１号公報の記載から理解されるように、パワースペクトル解析を行う際に重要とされるのは個々の波長のパワースペクトルの大きさまたはその総和ではなく、特定の波長のパワースペクトルの大きさである。 
　また、所定範囲の波長毎のパワースペクトルの和などを判断指標として物質表面が所望の光学的特性等を有しているか否かを評価することは、特開平８−２７５５６号公報、特開平８−１３２７５１号公報、特開平９−５９５３号公報、特開平５−１４１９４１号公報、特開平３−５４４１２号公報、特開平３−２３４３０１号公報、特開平４−３７４０４号公報、特開平８−５４７７４号公報、特開昭６３−２６６３４３号公報、特開平１１−１１００７号公報に記載されているように周知である。 
　ところで、上記請求項１や他の請求項には、サンプリングの幅やサンプリング数、パワースペクトルが評価される波長の範囲について何ら記載されていない。 
　また、請求項１ではパワースペクトルの総和の下限値が規定されているだけで、上限値は規定されていないから、感光層の基体界面に対して請求項１で規定している数値よりもＩ（ｓ）が大きくなるような粗面化加工を施した感光体はすべて請求項１に含まれることは明らかである。 
　本願明細書の段落【０００９】の記載によると、本願発明の目的は、濃淡縞画像の発生を防止することであると記載されている。 
　しかしながら、請求項１に係る発明のように、周波数成分の範囲を特定しないで、感光体の基体側界面の断面曲線のパワースペクトルの総和が６×１０−３（注：単位が記載されていない）より大きいというだけで、濃淡縞画像の発生を防止するという本願発明の目的が達成できることの理由が全く不明である。 
　さらに、【数３】において、Ｓ（ｎ／Ｎ／Δｔ）をＮで除したものをＩ（ｓ）としているが、Ｎで除している理由が不明である。 
　【数２】において、Ｓ（ｎ／Ｎ／Δｔ）は、Ｘ（ｎ／Ｎ／Δｔ）を各サンプル点毎に二乗して総和したものをＮで除し、サンプル間の長さに対して正規化したものである。該サンプル間の長さに対して正規化したＳ（ｎ／Ｎ／Δｔ）の総和をさらにＮで除することの意義が不明である。 
　例えば、本願【図４】、【図６】、【図８】、【図１０】に記載されているような波長が短いもののパワースペクトルが波長の長いものと比較して無視できる程度に小さいものでは、サンプル数４０９６でＩ（Ｓ）がほぼ６．０×１０−３のものは、サンプル数が半分の２０４９ではほぼ１２．０×１０−３となるのに対してサンプル数が倍の８１９２ではほぼ３．０×１０−３　となり、【数３】で規定しているＩ（Ｓ）は、サンプル数Ｎによって大きく変動する。 
　本来、パワースペクトルは、被測定面の単位長さ当たり（例えば１μｍ）のものとして正規化されなければならない筈であるが、【数２】、【数３】ではこの点について何ら考慮されておらず、【数２】、【数３】の技術的意義が不明である。 
 　 
（３）請求項１や他の請求項には、感光体の基体側界面の断面曲線のパワースペクトルの総和が６×１０−３より大きいことが規定されているだけであるので、本願明細書の段落【０００６】で従来例として記載されている特開平１０−３０１３１１号公報の他に、特開昭５７−１６５８４４号公報、特開平２−２２６１６１号公報、特開平７−２１９２４６号公報、特開平７−３３３８７８号公報、特開平７−１９１４８６号公報、特開平６−３５２１８号公報に記載されている、感光体の基体側界面を粗面化することにより濃淡縞画像の発生を防止するようにしたものはすべてその粗面の断面曲線を測定して、請求項１に記載の【数１】ないし【数３】を用いて各周波数成分のパワースペクトルの和を計算すれば、６×１０−３より大きくなる蓋然性が高いから、これら周知例に記載されている感光体は請求項１に係る発明であると考えられる。 
　もし、周知例に係る感光体が請求項１や他の請求項に係る感光体ではないと反論するのであれば、その根拠が明確に示されるべきである。 
 　 
（４）本願明細書に記載の各実施例及び各比較例は、特定の露光構成、特定の構成の感光体において感光体の基体側界面に特定の粗面化加工を行い、特定の複写機の機種を用いて画像形成を行った結果を評価したものにすぎない。 
　しかも、すべて特定のサンプリング間隔（０．３１μｍ）、特定のサンプリング数（４０９６）であって、全長約１２７０μｍについて測定を行って評価した結果である。 
　これらの実施例の結果により、一般的に感光体の基体側界面の断面曲線のパワースペクトルの総和が６×１０−３より大きいものはすべて濃淡縞画像の発生を防止することができるという効果を奏するということができる根拠が不明である。 
　また、通常の表面粗面化加工において重要なパラメータが表面粗さであることは当業者にとって技術常識であるにもかかわらず、表面粗さ（Ｒｚ）について記載してる実施例または比較例は、【表２】に記載のものだけであり、その他の表面粗さを有するものとしたときについて、同様の実験結果が得られることは確認できない。 
 　　 
（５）段落【００５４】の【表１】に、Ｉ（Ｓ）が１０．９×１０−３、６．８×１０−３のものがそれぞれ比較例４、比較例５として記載されているが、比較例とされているものが請求項１に係る発明である理由が不明である。 
 　 
（６）【図４】、【図６】、【図８】、【図１０】に各実施例により得られたパワースペクトル分布が示されている。 
　感光体の基体側界面の断面曲線には、濃淡縞画像の発生を防止させるのに有効な波長成分とともに、有効でない成分が含まれている。 
　上記各図に示されたパワースペクトルについて、どの波長成分のパワースペクトルを大きくすることが有効であるかについて何ら検討されておらず、したがって、どのような工具や加工法を採用すれば良いのか不明であるので、当業者が各実施例について容易に追試することができない。 
　なお、段落【００２９】に、書き込み光のスポット径の１／２以上の光が重要であると記載されている点に留意されたい。 
 　 
（７）まとめ 
　上記（２）ないし（６）に示した理由により、本願特許請求の範囲の請求項１ないし２０に係る発明は、発明の詳細な説明に記載したものでないとともに、特許を受けようとする発明が明確でない。 
　また、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は、当業者が発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものでない。』
　
３．審判請求人による手続補正、及び、意見書における主張
（３−１）上記拒絶理由に対し、審判請求人は、平成１９年１月１０日付けで特許請求の範囲の請求項の数を１４とするとともに、請求項１に係る発明を以下のものとすることを含む手続補正書を提出した。
（下線部は補正箇所を示す。請求項２ないし請求項１４については記載を省略。）
　
「基体上に少なくとも感光層を設けた感光体において、基体表面の断面
曲線を水平方向にΔｔ［μｍ］の間隔で、Ｎ個サンプリングした断面曲線の高さｘ（ｔ）［μｍ］のデータ群に対し、前記Δｔを０．０１μｍ〜５０．００μｍ、前記Ｎを２０４８以上とし、下式（数１０）に従い離散的なフーリエ変化を行い、下式（数１１）により導出したパワースペクトルＳから、下式（数１２）により計算したＩ’（Ｓ）が６．０×１０−３以上１００．０×１０−３以下であることを特徴とする感光体。
【数１０】
（ここで、ｎ、ｍは整数、Ｎ＝２ｐ、ｐは整数である）
【数１１】
【数１２】
（ここでｊはＮ・Δｔ／ｊ≧φ／２を満たす最大の整数、φは画像形成のためのス書き込み光のスポット径［μｍ］である）」
　
（３−２）また、審判請求人は、平成１９年１月１０日付けの意見書において、以下のように主張している。（下線は当審で付与。）
　
『II．理由（特許法第３６条第４項、同条第６項；記載）について
　本発明者らは、パワースペクトルが、感光体の感光層の基体側界面を評価する上で、非常に重要なことを見出しました。
　そして、サンプリング間隔Δｔ及びサンプリング数Ｎを一定にして測定し評価する場合は、パワースペクトルの積算値であっても、パワースペクトルの積算値をＮで除したＩ（Ｓ）であっても相対的な評価が可能でありました。
　しかし、測定条件（特にＮ）を変えると、パワースペクトルの積算値は変化してしまう一方、パワースペクトルの積算値をＮで除したＩ（Ｓ）は一定の値となることが分かりました。
　それを検証するために、ｘ（ｔ）＝０．４・ｓｉｎ（２πｔ／１００）のモデル波（波長１００μｍ、振幅０．４μｍの波）をそれぞれの測定条件で計算したときのパワースペクトルの積算値とＩ（Ｓ）の値を下表に示します。なお、Ｉ（Ｓ）は無単位です。
　
＜測定条件（Δｔ、Ｎ）とパワースペクトルの積算値、Ｉ（Ｓ）の関係＞
x(t) = 0.4・sin(2πt/100)のモデル波を解析
　以上より、Ｎを変化させると、パワースペクトルの積算値は変化してしまいますが、パワースペクトルの測定値をＮで除したＩ（Ｓ）は、Δｔ、Ｎが変化しても一定の値となることがご理解いただけるものと思料されます。
　即ち、パワースペクトルの測定値をＮで除したＩ（Ｓ）は、断面曲線の状態を示す、普遍的な指標であります。
　したがって、【数３】で規定しているＩ（Ｓ）は、サンプル数Ｎによって、変動するものではないことがご理解いただけるものと思料され、パワースペクトルの積算値をＮで除したものをＩ（Ｓ）としている【数３】の技術的意義がご理解いただけるものと思料されます。
　しかし、請求人（出願人）は、上記「サンプル数Ｎ」の他、必須の要件である旨ご指摘を受けました「被測定面の単位長Δｔ」、「Ｉ（Ｓ）の上限値」を規定した元の請求項７に大幅に減縮する補正を行いましたので、本願発明における感光体のＩ（Ｓ）の範囲はオープンエンドではなく、さらに、本願発明は感光体の基体の断面曲線を構成する波のうち、濃淡縞画像の発生に関与する書き込み光のスポット径φ／２以上の波長の波のパワースペクトルから計算したＩ’（Ｓ）を規定したものでありますから、周知例として引用されました特開平１０−３０１３１１号公報、特開昭５７−１６５８４４号公報、特開平２−２２６１６１号公報、特開平７−２１９２４６号公報、特開平７−３３３８７８号公報、特開平７−１９１４８６号公報、特開平６−３５２１８号公報に記載されている感光体が、本願発明の要件を具備する蓋然性が高いとは云えないと思料されます。
　また、書き込み光のスポット径φ／２以上の波長の波のパワースペクトルから計算したＩ’（Ｓ）について規定したものではない元の請求項１乃至６をすべて削除しましたので、これらの請求項に対応する比較例４，５も、本願発明の要件を具備するものではありません。
　さらに、「表面粗さ（Ｒｚ）が分かるものは、【表２】に記載の実施例及び比較例だけであり、その他の表面粗さを有するものとしたときについて、同様の実験結果が得られることは確認できない」旨のご指摘を受けておりますが、十点平均粗さと画像評価とは、全く相関性のないもの（本件明細書段落【００５６】）であるため、本件発明はＩ’（Ｓ）について規定したものでありますから、十点平均粗さではなくＩ’（Ｓ）を測定しさえすれば、濃淡縞画像の発生を防止できるか否かを確認できるものであります。
　加えて、審判請求の理由でも述べましたように、本件明細書、段落【００３３】や各実施例には、本件発明に係る感光体の製造方法が具体的に明示され、また、本件発明の感光体を製造する上で重要な製造工程の１工程であるバイト加工またはホーニング加工やスプレー塗工自体は、感光体を作成する上で普通に行われている加工法であって、ダイヤモンドバイトによる切削のバイトの形状、寸法、当接角度、送り速度等、またホーニング加工の吐出粒の材質、形状、粒径、吐出量や噴射速度、圧力、距離等による調整方法自体も当業者に良く知られており、また、下引き層を形成する場合の、下引き層塗布液の濃度、ガンの圧力、移動速度及び吐出量等による調整方法自体も当業者に良く知られているものであります。
　したがって、どのような加工法で製造するかが記載されていれば、当業者はパワースペクトルを６．０×１０−３以上１００．０×１０−３以下にすることができますので、本件発明を容易に実施することができると思料しております。』
　
４．当審の判断（下線は当審で付与。）
（４−１）本願の、実施例１の感光体のアルミニウムドラム表面の断面曲線を示す図とされる【図１】、及び、実施例１の断面曲線から求めたパワースペクトルを示す図とされる【図２】は、それぞれ、以下に示すものである。
　　　　　　　　【図１】
　　　　　　　　【図２】
　上記【図１】及び【図２】は、
サンプリング間隔Δｔが０．３１μｍ、サンプル数が４０９６であって、サンプル区間の長さが１２７０μｍ（＝０．３１×４０９６）であり
　
そして、上記【図２】を実測すると、実施例１に係る感光体は、周波数ｋが約１５．６のときのパワースペクトルが約２３．６であって、他の周波数のパワースペクトルはほぼ０である
　また、段落【００５４】に他の実施例として、サンプリング間隔Δｔが２５００／４０９６（≒０．６１）μｍ、サンプル数が４０９６であって、サンプル区間の長さが２５００μｍのものが記載されている。
　
（４−２）請求項１ないし請求項１４に係る発明について
　上記３．（３−１）において摘記した請求項１の【数１１】は、パワースペクトルであるとされているから、１／Ｎ倍でなく１／Ｎ２倍する必要があり、【数１２】において１／Ｎ倍しているのは間違いであるが、【数１０】ないし【数１２】を総合してみるとＩ’（Ｓ）の値は変わらないので、上記【図２】のようなパワースペクトル分布を有するものでは、Ｉ’（Ｓ）は一定値に収束すると考えられるから、差し支えない瑕疵といえる。
　本願の発明の詳細な説明に記載の実施例としては、サンプリング間隔Δｔが０．３１μｍと０．６１μのものであって、サンプリング数Ｎが４０９６として実験が行われ評価されたものしか記載されていない。
　そして、上記拒絶理由通知の（２）において指摘したように、パワースペクトル解析を行う際に重要とされるのは個々の波長のパワースペクトルの大きさまたはその総和ではなく、特定の波長の範囲のパワースペクトルの大きさであるのに対して、補正前の請求項１や他の請求項には、サンプリング間隔Δｔやサンプリング数、パワースペクトルが評価される波長の範囲について何ら記載されていない。
　上記指摘に対して、審判請求人は、手続補正により、「
前記Δｔを０．０１μｍ〜５０．００μｍ、前記Ｎを２０４８以上とし、
　そこで、上記規定を加えたことにより、請求項１や他の請求項に記載された発明が、発明の詳細な説明に記載されたものとなり、また、それらの発明が明確となったのものであるかについて以下に検討する。
　物質の表面をサンプリングして高さを測定し、離散的フーリエ変換により物質の表面の粗面状態を評価するに際して、サンプリング間隔Δｔやサンプリング数の大きさにより、評価できる周波数の範囲が決まることは周知であって、このことは【数１０】や上記【図１】、【図２】をみても理解される事項である。
　例えば、サンプリング数を２０４８としたときに、サンプリング間隔が０．３１μｍのものは、【図１】においてサンプル区間の長さが６３５μｍであるから、パワースペクトルを評価できる正弦波の最大波長は、６３５μｍであり、最小波長は０．６２μｍ（＝０．３１×２）である。
　これに対して、請求項１や他の請求項に含まれる、
サンプリング数が２０４８でサンプリング間隔Δｔが５０．００μｍのものは、パワースペクトルを評価できる正弦波の最大波長は１０２．４ｍｍ（＝５０×２０４８÷１０００）であるのに対して、最小波長は１００μｍ（＝５０×２）である
　そして、波長１００μｍに相当するのは上記【図２】において、周波数ｋが１２．７のものであって、サンプリング間隔Δｔが５０μｍのものはそれ以下の周波数に対するパワースペクトルの分布しか得ることができないのに対して、【図２】の実施例１に係る感光体は、周波数ｋが約１５．６のときに約２３．６の大きさのパワースペクトルＳを有するのであるから、サンプリング間隔を５０μｍとしたのでは、実施例１に係る感光体の表面を測定することにより【図２】や、【図４】、【図６】、【図８】、【図１０】、【図１２】に記載されているようなパワースペクトルの分布を得ることができないことは明らかである。
　
逆に、サンプリング数が２０４８でサンプリング間隔が０．０１μｍのものは、評価できる正弦波の最大波長が２０．４８μｍ（＝０．０１×２０４８）であり、【図２】において、周波数ｋが約６２（＝１２７０÷２０．４８）より大きいもののパワースペクトル分布しか得ることができず、実施例１に係る周波数ｋが１５．６にパワースペクトルを有するものは評価できない
　また、【図２】において、周波数ｋが約１５．６でなく、周波数ｋが任意であって、パワースペクトルの値が６．０×１０−３以上１００，０×１０−３以下であって、その他の周波数のパワースペクトルが０の感光体は全て良好な特性を有するとする根拠が不明である。
　要するに、本願の発明の詳細な説明には、特定のサンプリング間隔Δｔ（０．３１μｍと０．６１μ）で、特定の範囲の周波数についてパワースペクトルの値を計算して評価したことが記載されているが、請求項１や他の請求項に係る発明は、発明の詳細な説明に記載されていない、実施することにより効果を確認したものでないサンプリング間隔Δｔとするものを含み、また、発明の詳細な説明に効果を有するものと記載したものでないパワースペクトル分布を有するものでありながら、【数１２】を満たす感光体を含むものである。
　
したがって、請求項１ないし請求項１４に記載された発明は、依然として発明の詳細な説明に記載したものでなく、また、効果が不明なものを含むものであって、請求項１ないし請求項１４に係る発明は明確でない
　
（４−３）発明の詳細な説明における記載不備について
　拒絶理由の（６）で指摘したように、感光体の基体側界面の断面曲線には、濃淡縞画像の発生を防止させるのに有効な波長成分とともに、有効でない成分が含まれているのに対して、どの波長成分のパワースペクトルを大きくすることが有効であるかについて何ら検討されていない。
　例えば、サンプリング間隔Δｔが５０μｍであって、波長が５００μｍの正弦波のパワースペクトルのみが０でなく、６。０×１０−３より大きいものは、所望の効果を奏するのであるか確認することができない。
　
したがって、発明の詳細な説明は、当業者が請求項１ないし請求項１４に記載された発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものでない
　
（４−４）審判請求人の主張について
　審判請求人は、意見書において、「したがって、どのような加工法で製造するかが記載されていれば、当業者はパワースペクトルを６．０×１０−３以上１００．０×１０−３以下にすることができますので、本件発明を容易に実施することができると思料しております。」と主張している。
　しかしながら、パワースペクトルの総和を６．０×１０−３以上１００．０×１０−３以下と規定したことにより、個々の周波数についてのパワースペクトルの分布を規定することができないことは当然であると同時に、請求項１等に係る発明は、【図２】等に記載されている周波数より小さい周波数のパワースペクトルのみが大きいことにより、上記規定を満たすようにしたもの等を含むのであって、このようなものが所望の効果を奏することが確認されていないのであるから、審判請求人の上記主張を採用することはできない。
　
５．むすび
　以上のとおり、本願の発明の詳細な説明は、当業者が請求項１ないし請求項１４に係る発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものでないから、本願は、特許法第３６条第４項に規定する要件を満たして
いない。
　また、本願の特許請求の範囲の請求項１ないし請求項１４に係る発明は、発明の詳細な説明に記載したものでないものを含むとともに、発明が明確でないから、本願は、特許法第３６条第６項第１号及び同項第２号に規定する要件を満たしていない。
　したがって、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。