(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクター用配線基板の一面に形成される多数の入力側電極の各々と多数の出力側電極の個々のものとの対を互いに電気的に接続するための接続用配線路の経路を配線路形成域において設定する方法であって、
入力側電極および出力側電極の一方および他方が、標準格子点配列に従って配列されたグリッド電極および検査対象回路基板の被検査電極に対応して配置された検査点電極であり、
配線路形成域において、入力側電極の各々の位置から任意の出力側電極の位置に到る仮接続線を、１つの入力側電極に係属する仮接続線が単一であり、かつ、１つの出力側電極に係属する仮接続線が単一である状態で描くことにより、仮配線経路を決定する仮配線経路決定工程と、
配線路形成域を縦横に並ぶ多数の矩形の区分領域に分割した場合において、複数の仮接続線が交叉する交点が位置する区分領域を修正対象領域として選定する修正対象領域選定工程と、
或る修正対象領域において、交点を有する２本の仮接続線の各々が当該修正対象領域の輪郭の４辺と交叉する４つの交点を頂点とする四辺形を想定し、当該四辺形における互いに隣接しない２辺であって、その各辺の両端が入力側電極および出力側電極に到るものを実配線経路として選ぶ仮配線経路修正操作を、すべての修正対象領域のすべての交点について行う仮配線経路修正工程と、
を含むことを特徴とするコネクター用配線基板の配線路設定方法。
【請求項２】
コネクター用配線基板は、その一面に格子点配列に従ってグリッド電極が配置され、他面に検査対象回路基板の被検査電極の配列に対応して検査点電極が配置された構成を有し、グリッド電極と検査点電極がコネクター用配線基板の厚み方向に伸びる貫通導電路により電気的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載のコネクター用配線基板の配線路設定方法。
【請求項３】
配線路形成域を縦横に並ぶ多数の矩形の区分領域に分割する縦横に引かれた分割ラインの間隔が、グリッド電極のピッチと同様の間隔であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のコネクター用配線基板の配線路設定方法。
【請求項４】
配線路を設定すべきコネクター用配線基板における入力側電極、出力側電極および配線路形成域の配列パターンと同等の配列パターンの模擬イメージを用意し、当該模擬イメージにおいて、請求項１〜請求項３のいずれかに記載の仮配線経路決定工程、修正対象領域選定工程および仮配線経路修正工程と対応する操作を行うことにより、コネクター用配線基板において、互いに電気的に接続されるべき入力側電極と出力側電極との対を選定してそれらを結ぶ配線路の経路を設定することを特徴とするコネクター用配線基板の配線路設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コネクター用配線基板の配線路設定方法、具体的には、プリント回路基板などの電気的性能を検査するために用いられるコネクター用配線基板において、同一の表面に配置された検査側電極とグリッド側電極とを電気的に接続するための配線路の経路を設定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に集積回路などが組み込まれるプリント回路基板、その他の回路基板においては、形成された回路の電気的な性能を検査することが必要であり、この検査を実行するために、電気的コネクターを介して検査対象回路基板をテスターに電気的に接続させ、この状態でテスターにより所要の検査を行う方法が知られている。そして、このような目的で用いられる電気的コネクターとして、絶縁性基板に、検査対象回路基板の被検査電極に対応する検査点電極と、テスターの検査用接続部に接続されるグリッド電極とが形成されてなるコネクター用配線基板が知られている。
【０００３】
図７はそのようなコネクター用配線基板の一例を示す説明図であって、矩形の絶縁性基板本体１０の表面には、その外周縁に沿って多数のグリッド電極Ｇ（一部のみが示されている。）が並んで配置されており、例えばこのグリッド電極Ｇによって囲まれた中央領域が、検査対象回路基板の被検査面が対接される領域となる。検査対象回路基板の被検査面には、集積回路チップなどの機能素子配置領域の周縁に沿って多数の端子電極および接続部などが形成されており、これらが被検査電極とされる。
【０００４】
図７において、矩形の枠で示されている領域は、対接された検査対象回路基板の機能素子配置領域によって覆われる覆蓋領域Ｒであって、通常、配線禁止領域とされる。そして、検査対象回路基板の被検査電極に対応する位置となるよう、覆蓋領域Ｒの周縁に沿って検査点電極Ｔが配置されている。
以上において、グリッド電極Ｇの配列は、例えばピッチ間隔が２．５４ｍｍのいわゆる標準格子点配列に従った配列とされている。
一方、検査点電極Ｔの配列パターンは、具体的な目的に応じて設計されたパターンに従って配置された検査対象回路基板の被検査電極の当該配列に対応したものとされることから、定型的なものではなく、またそのピッチは非常に小さくて例えば０．２ｍｍ以下とされており、しかもこのピッチは更に小さくすることが要請されている。
【０００５】
そして、この検査点電極Ｔの各々とグリッド電極Ｇの個々のものとの対を電気的に接続するため、通常は細い帯状の金属膜よりなる配線路が基板本体１０の覆蓋領域Ｒ以外の配線路形成域に形成されることにより、コネクター用配線基板が構成される。
【０００６】
以上のようなコネクター用配線基板の設計においては、検査点電極Ｔの各々といずれかのグリッド電極Ｇと個々とが対となるよう、換言すればそれらが１対１の関係で電気的に接続されることが必要であり、この状態は、１つの検査点電極Ｔに係属する配線路が１本であり、かつ１つのグリッド電極Ｇに係属する配線路が単一である状態である。
そして、すべての検査点電極Ｔがいずれかのグリッド電極Ｇに接続されることが必要ではあるが、或る検査点電極Ｔが特定のグリッド電極Ｇに接続されることは必要とされず、上記の条件が満足されるのであればいずれのグリッド電極Ｇに接続されてもよい。これは、特定の検査点電極に接続されたグリッド電極がいずれのものであっても、テスターにおいて、当該グリッド電極を当該特定の検査点電極に係るものとして情報を処理することができるからである。
【０００７】
以上の説明からも理解されるように、検査点電極Ｔとグリッド電極Ｇとを電気的に接続する配線路は検査点電極Ｔと同じ数だけ必要であり、またすべての配線路が他の配線路と交叉することがないように設定されることが必要である。
然るに、従来、配線路の経路を設定するための特定の方法、あるいは或る１個の検査点電極Ｔと、これと対となるべき１個のグリッド電極Ｇとを選定する方法は知られておらず、実際には、いわゆるトライ・アンド・エラー方式で配線路の経路を設定する作業が行われているのが実情である。
【０００８】
具体的に説明すると、例えば図８に示すように、１個の検査点電極Ｔａについて任意の１個のグリッド電極、通常は検査点電極Ｔａに最も近い位置にあるグリッド電極Ｇａを試しに対として選び、それらを直接的に接続する経路Ｖａを決定する、という操作を順次の検査点電極Ｔについて実行し、すべての検査点電極Ｔについて経路を決定する。
【０００９】
しかしながら、検査点電極Ｔは非常に多数であってその配列が複雑でしかも配置密度が大きいため、実際上は、上記の経路決定作業が比較的進行した段階において、２つの経路Ｖｍ，Ｖｎが交叉して交点Ｐが形成されてしまうことが珍しくない。この場合は、それまでの作業が殆ど無駄となり、再度、他の態様で対となるべき検査点電極Ｔとグリッド電極Ｇとを選定するという試行を最初から行うことが必要である。
【００１０】
以上のように、従来のトライ・アンド・エラー方式による配線路設定方法は、検査対象回路基板における機能素子配置領域の配置や被検査電極の配列パターンが複雑になるに従って、また検査点電極の数が増大するに従って、エラーが発生する確率がいわば指数関数的に増加するため、実際に所要の配線路のすべてについて経路が決定されるまでには非常に膨大な時間と労力とが必要となり、きわめて非効率的な作業となる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、特定の操作を順次に行うことにより、コネクター用配線基板において、互いに交叉することのない配線路によって電気的に接続することのできる入力側電極と出力側電極との対を、必要とされるすべての入力側電極または出力側電極について確実に選定することができ、その結果、容易にかつ確実に所要の配線路の経路を設定することのできるコネクター用配線基板の配線路設定方法を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明のコネクター用配線基板の配線路設定方法は、コネクター用配線基板の一面に形成される多数の入力側電極の各々と多数の出力側電極の個々のものとの対を互いに電気的に接続するための接続用配線路の経路を配線路形成域において設定する方法であって、
入力側電極および出力側電極の一方および他方が、標準格子点配列に従って配列されたグリッド電極および検査対象回路基板の被検査電極に対応して配置された検査点電極であり、
配線路形成域において、入力側電極の各々の位置から任意の出力側電極の位置に到る仮接続線を、１つの入力側電極に係属する仮接続線が単一であり、かつ、１つの出力側電極に係属する仮接続線が単一である状態で描くことにより、仮配線経路を決定する仮配線経路決定工程と、
配線路形成域を縦横に並ぶ多数の矩形の区分領域に分割した場合において、複数の仮接続線が交叉する交点が位置する区分領域を修正対象領域として選定する修正対象領域選定工程と、
或る修正対象領域において、交点を有する２本の仮接続線の各々が当該修正対象領域の輪郭の４辺と交叉する４つの交点を頂点とする四辺形を想定し、当該四辺形における互いに隣接しない２辺であって、その各辺の両端が入力側電極および出力側電極に到るものを実配線経路として選ぶ仮配線経路修正操作を、すべての修正対象領域のすべての交点について行う仮配線経路修正工程と、
を含むことを特徴とする。
【００１３】
本発明の方法は、配線路を設定すべきコネクター用配線基板における入力側電極、出力側電極および配線路形成域の配列パターンと同等の配列パターンの模擬イメージを用意し、当該模擬イメージにおいて、上記の仮配線経路決定工程、修正対象領域選定工程および仮配線経路修正工程と対応する操作を行うことにより、コネクター用配線基板において、互いに電気的に接続されるべき入力側電極と出力側電極との対を選定してそれらを結ぶ配線路の経路を設定するようにして実施することが、実際上、好ましい。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のコネクター用配線基板の配線路設定方法について具体的に説明する。
なお、以下の説明においては、便宜上、検査点電極が入力側電極とされ、グリッド電極が出力側電極とされているが、接続されるべき対の電極のいずれが入力側電極とされ、または出力側電極とされるかは、単に両者の相対的な電気的位置関係によって定まるものである。
【００１５】
本発明の方法においては、図１に示すように、基板本体１０の表面において形成された検査点電極Ｔの各々の位置から伸びて、いずれか１つの任意のグリッド電極Ｇに到達するよう、直線、曲線または屈曲部を有する直線状線分群による仮接続線Ｆ（図では破線で示されている）を描き、この仮接続線Ｆの経路を仮配線経路とする（仮配線経路決定工程）。この仮配線経路決定工程においては、１本の仮接続線Ｆに係る検査点電極Ｔおよびグリッド電極Ｇはいずれも単一、すなわち１個でなければならない。
【００１６】
このようにしてすべての検査点電極Ｔについて仮配線経路が決定された状態では、通常、従来のトライ・アンド・エラー方式の場合と同様に、いずれかの経路が交叉して仮接続線Ｆに交点が生じている。
この図１に示されている検査点電極とグリッド電極の基本的な配列状態は図７と同様であり、具体的には、検査点電極Ｔ１およびグリッド電極Ｇ１を結ぶ経路Ｖ１と、検査点電極Ｔ２およびグリッド電極Ｇ２を結ぶ経路Ｖ２との交点Ｐ１が形成され、また同様に他の交点Ｐ２が形成されている。
【００１７】
一方、基板本体１０の表面を、適宜の大きさの間隔を置いて縦横に引かれた分割ラインＬにより分割することにより、各々縦横に並んだ多数の微小な矩形の区分領域Ｄを形成する（区分領域形成工程）。
【００１８】
この区分領域形成工程と上記の仮配線経路決定工程とは、その実行の先後は自由であり、いずれの工程を先行して行ってもよいし、両工程を同時にあるいは平行して行うこともできる。
また、分割ラインＬの間隔は自由に設定することができる。この間隔が大きい場合には、１つの区分領域Ｄに位置する仮接続線Ｆの交点の数が多くなる可能性が増大し、一方間隔が小さい場合には区分領域Ｄの総数が増加する。実際上は、例えばグリッド電極Ｇのピッチと同様の間隔とすることができる。
【００１９】
この状態において、前記区分領域Ｄのうち、単一の矩形領域内に２本の仮接続線Ｆが交叉して形成された交点Ｐが存在する修正対象領域Ｚを選定する（修正対象領域選定工程）。図１の例では交点Ｐ１が位置されている区分領域Ｄが修正対象領域Ｚ１、並びに交点Ｐ２が位置されている区分領域Ｄが修正対象領域Ｚ２として示されている。
【００２０】
次に、選定された修正対象領域Ｚ毎に、交点Ｐを消去するための仮配線経路修正操作を次のようにして行う。
すなわち、修正対象領域Ｚ１の仮配線経路修正操作においては、図２に示すように、当該修正対象領域Ｚ１において、互いに交叉する経路Ｖ１および経路Ｖ２が当該修正対象領域Ｚ１の輪郭の４辺と交叉する４つの交点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを頂点とする四辺形ＡＢＣＤを想定する。
この図２において、経路Ｖ１が修正対象領域Ｚ１の左辺および右辺と交わる点がそれぞれＡおよびＣ、経路Ｖ２が上辺および下辺と交わる点がそれぞれＢおよびＤとされ、点ＡおよびＢがグリッド電極に到る点であり、点ＣおよびＤが検査点電極に到る点である。
【００２１】
そして、当該修正対象領域Ｚ１において、互いに交叉する経路Ｖ１および経路Ｖ２の修正対象領域内部分の代わりに、四辺形ＡＢＣＤにおいて、互いに隣接しない２辺であってその各辺に係る線分の両端が検査点電極およびグリッド電極に到るもの、すなわち太線で示す辺ＡＤおよび辺ＢＣの２辺をそれぞれ実配線経路Ｍ１およびＭ２として選ぶ（仮配線経路修正操作）。
【００２２】
その結果、この修正操作前には検査点電極Ｔ１が経路Ｖ１の修正対象領域内部分によってグリッド電極Ｇ１と結ばれ、かつ検査点電極Ｔ２が経路Ｖ２の修正対象領域内部分によってグリッド電極Ｇ２と結ばれていた状態が、互いに交叉しない実配線経路Ｍ１およびＭ２を介して、検査点電極Ｔ１がグリッド電極Ｇ２と結ばれ、かつ検査点電極Ｔ２がグリッド電極Ｇ１と結ばれた状態に修正される。従って、この仮配線経路修正操作がなされた修正対象領域Ｚ１については、実配線経路Ｍ１およびＭ２に従って配線路を設定することにより、グリッド電極が交換された状態となって配線路の交叉を回避することができる。
【００２３】
更に、同様の仮配線経路修正操作を、他の修正対象領域Ｚのすべてについて行う（仮配線経路修正工程）。
例えば図３（イ）は、検査点電極Ｔｍがグリッド電極Ｇｍと、並びに検査点電極Ｔｎがグリッド電極Ｇｎと対を構成するものとして、交叉する仮接続線Ｆｍ，Ｆｎによってそれぞれ結ばれている状態を示す。この状態の修正対象領域Ｚに対して、上記と同様の仮配線経路修正操作が行われることにより、図３（ロ）に示すように四辺形ａｂｃｄが想定され、この四辺形ａｂｃｄにおいて、この場合は点ａとｂ、点ｃとｄを結ぶ実配線経路Ｍｍ，Ｍｎが設定されることにより、図３（ハ）に示すように、検査点電極Ｔｍとグリッド電極Ｇｎ、並びに検査点電極Ｔｎとグリッド電極Ｇｍがそれぞれ対として選定され、これらの対は、それぞれ交叉しない実配線経路Ｍｍ，Ｍｎによってそれぞれ互いに干渉されることなしに接続され得る状態となる。
【００２４】
図２に示された状態は、仮接続線による経路Ｖ１およびＶ２が修正対象領域Ｚ１の４辺の各々に１つの交点を有する場合であり、図３（イ）の状態は、仮接続線Ｆｍ，Ｆｎが修正対象領域Ｚの左辺および右辺においてそれぞれ２つの交点を有する場合であるが、仮配線経路修正操作において、仮接続線Ｆｍ，Ｆｎの４つの交点が修正対象領域Ｚのいずれの辺上に存在するかは問題ではない。
例えば、図４（イ）は仮接続線Ｆｍ，Ｆｎが修正対象領域Ｚの上辺および左辺に各１つ、並びに右辺に２つの交点を有する場合であるが、同図（ロ）〜（ハ）に示すように、図３（イ）〜（ハ）の場合と全く同様の操作によって実配線経路Ｍｍ，Ｍｎを設定することができる。
【００２５】
更に、図５（イ）は、同一の修正対象領域Ｚにおいて、３本の仮接続線Ｆｍ，Ｆｎ，Ｆｑが２つの交点Ｐｘ，Ｐｙを有する場合を示す。この場合には、各交点について順次に上記と同様の仮配線経路修正操作を行えばよい。
すなわち、図５（ロ）に示すように、先ず仮接続線Ｆｍ，Ｆｎによる交点Ｐｘについて、四辺形ａｂｄｆを想定して辺ａｂおよび辺ｄｆに沿ってそれぞれ実配線経路Ｍｍおよび二次仮接続線Ｆｐを設定する。
【００２６】
この状態では、図５（ハ）に示すように、交点Ｐｘが解消されるが、交点Ｐｙの代わりに仮接続線Ｆｑと二次仮接続線Ｆｐとが交叉して交点Ｐｚが生じた状態となる。
従って、図６（ニ）に示すように、四辺形ｆｃｄｅを想定して辺ｆｃおよび辺ｄｅに沿ってそれぞれ実配線経路Ｍｎ，Ｍｑを設定すると、図６（ホ）に示すように、実配線経路Ｍｍ，ＭｎおよびＭｑによって、検査点電極Ｔｍとグリッド電極Ｇｎ、検査点電極Ｔｎとグリッド電極Ｇｑ、並びに検査点電極Ｔｑとグリッド電極Ｇｍが対とされ、交点が全く存在しない状態となる。
このように、１つの修正対象領域Ｚに複数の交点が存在する場合には、交点の各々について仮配線経路修正操作を行えばよい。
【００２７】
このようにして、すべての修正対象領域のすべての交点について仮配線経路修正操作を行うことにより、仮配線経路修正工程が行われ、これにより、すべての設定された経路において交点の存在しない状態となる。
従って、修正対象領域においては仮接続線が修正された実配線経路に従い、それ以外の区分領域では仮接続線による経路を経由することにより、すべての検査点電極についての所要の配線路を、交点が全く存在しない状態で設定することができる。
【００２８】
基板本体１０の表面における実際の配線路の形成においては、上記のようにして設定された経路に従って、例えば金属膜が設置されて配線路が設けられるが、この配線路は、上記の方法によって設定された経路に厳密に従って設置される必要はない。すなわち、上記の各工程によって設定された経路によれば、対となるべき検査点電極とグリッド電極が選定された状態であり、この状態は、これらの対となる両者電極を直接接続するための配線路を、他の配線路と交叉することなしに形成することが可能な、連続した配線路形成領域の存在が確認された状態である。
従って、他の配線路と接触するなどの問題がなければ、相当程度の自由度をもって実際の配線路の設置位置を調整することができる。
【００２９】
例えば、図２の状態において、一連の工程によって検査点電極Ｔ１とグリッド電極Ｇ２、並びに検査点電極Ｔ２とグリッド電極Ｇ１とが対となるものであることが判明した場合には、検査点電極Ｔ１とグリッド電極Ｇ２とを、他に支障がない限り、例えば直線的に伸びる配線路で電気的に接続できる場合もある。尤も、実際には配線路形成域の形態によって設置位置が制約を受けるため、１またはそれ以上の屈曲部を有する直線状線分群による配線路を設置するのが実際上有利である。
【００３０】
以上の仮配線経路修正操作において、分割ラインＬによって形成された区分領域Ｄの辺上において仮接続線Ｆが交叉する場合には、当該交点が領域内に位置されることとなる別の態様による区分領域を形成し、これによって上記と同様の仮配線経路修正操作を行えばよい。ここに、他の態様による区分領域を形成するためには、分割ラインＬの間隔を変化させる手法、あるいは同じ間隔の分割ラインＬを一方向に適当な距離だけ変位させる手法が有効である。
【００３１】
以上の仮配線経路決定工程、区分領域形成工程を含む修正対象領域選定工程および仮配線経路修正工程の実際の作業は、実際の基板本体において実行することは必要ではない。すなわち、配線路を設定すべきコネクター用配線基板における検査点電極、グリッド電極および配線路形成域の配列パターンに対応する、二次元的配列として同等の配列パターンによる模擬イメージを例えばコンピュータの画面上に形成し、当該模擬イメージにおいて、上記の各工程に対応する操作を行うことにより、実際のコネクター用配線基板における、互いに電気的に接続されるべき検査点電極とグリッド電極との対を選定することができ、これにより、所要の配線路の経路を設定することができる。
【００３２】
また、このような模擬イメージを利用する方法によれば、実際に配線路を設置する位置に適宜調整を加えることを容易に行うことができ、従って実用上きわめて有利である。
そして、模擬イメージが形成される媒体としては、特に電子的に制御することのできる画像形成装置を用いることが便利であるが、これに限定されるものではなく、例えば筆記可能な紙を媒体として用いても、全く同様の操作を実行することができる。
【００３３】
以上、本発明の方法を、検査点電極とグリッド電極とが同一表面上に形成された構成のコネクター用配線基板の場合について説明したが、実用に供されるコネクター用配線基板としては、その一面に格子点配列でグリッド電極が配置され、他面に被検査電極の配列に対応して検査点電極が配置された構成を有するものが普通であり、本発明の方法は、このようなコネクター用配線基板の一面または他面の各々において、互いに電気的に接続されるべき電極の対、すなわち入力側電極と出力側電極を接続するための配線路の設定に適用することができる。
【００３４】
具体的に説明すると、代表的なコネクター用配線基板においては、その一面において、縦横に並ぶ格子点配列で形成されたグリッド電極の一部が実際にテスターに接続される接続電極とされ、残りのグリッド電極の一部または全部がテスター側中継電極として利用されてそれらを接続する配線路が形成されると共に、コネクター用配線基板の他面においては、被検査電極の配列に対応して形成された検査点電極の他、適宜の検査側中継電極が形成され、検査点電極と中継電極を接続する配線路および中継電極同士を接続する配線路が形成される。そして、検査点電極の各々が、同一表面の検査側中継電極を介してまたは介さずに、コネクター用配線基板の厚み方向に伸びる貫通導電路により、反対面の接続電極またはテスター側中継電極に電気的に接続された状態とされる。
【００３５】
このようなコネクター用配線基板において、その一面においては、接続電極とテスター側中継電極とを接続する配線路およびテスター側中継電極同士を接続する配線路が必要であり、他面においては、検査点電極と検査側中継電極および検査側中継電極同士を接続する配線路が必要であるところ、このような各面における配線路の設定のために本発明の方法を有利に適用することができる。
従って、この明細書において、「入力側電極」とは、被検査電極に対応する検査点電極または検査点電極に直接接続されたまたは接続されるべき電極を包含する概念であり、「出力側電極」とは、グリッド電極またはグリッド電極に直接接続されたまたは接続されるべき電極を包含する概念である、として理解され得る互いに相対的な関係にあるものである。
【００３６】
以上の説明から明らかなように、本発明の方法により設定される配線路によって接続されるべき対の電極は、一方が検査点電極であって他方がグリッド電極である態様のみでなく、一方が検査点電極に接続されたまたは接続されるべき電極であって他方がグリッド電極である態様、一方が検査点電極であって他方がグリッド電極に接続されたまたは接続されるべき電極である態様、並びに一方が検査点電極に接続されたまたは接続されるべき電極であって他方がグリッド電極に接続されたまたは接続されるべき電極である態様のいずれであってもよい。
【００３７】
【実施例】
表面にピッチ２．５４ｍｍ、総数４０７０個のグリッド電極が配列され、反対面に最小ピッチ０．３ｍｍ、総数３０２０個の検査点電極が配列されてなるコネクター用配線基板について、本発明の方法により配線路の設定作業を実際に行ったところ、１０分間で処理が完了した。
一方、市販のＣＡＤシステムによる場合には、同等の処理を完了するまでに合計３．５時間の時間が必要であった。
【００３８】
【発明の効果】
本発明のコネクター用配線基板の配線路設定方法によれば、仮配線経路決定工程、区分領域形成工程を含む修正対象領域選定工程および仮配線経路修正工程という特定の方式に従う工程を順次に行うことにより、任意に設定された仮接続線が交叉する交点について、想定された区分領域による四辺形を利用して、一の入力側電極（上記の説明では検査点電極）に接続されるべき出力側電極（上記の説明ではグリッド電極）を合理的に交換することにより、当該経路が交叉する状況を解消することができる。
従って、コネクター用配線基板において、互いに交叉することのない配線路によって電気的に接続することのできる入力側電極と出力側電極との対（上記の説明では検査側電極とグリッド側電極との対）を、すべての入力側電極について、確実に選定することができ、その結果、容易にかつ確実に所要の配線路の経路を設定することができる。
【００３９】
また、模擬イメージを利用する方法は、きわめて実際的であり、しかも大きな自由度が得られると共に、必要な調整を加えることが容易となるので非常に有利である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のコネクター用配線基板の配線路設定方法における仮配線経路決定工程および区分領域形成工程を含む修正対象領域選定工程を示す説明図である。
【図２】本発明の仮配線経路修正工程における仮配線経路修正操作についての説明図である。
【図３】（イ）〜（ハ）は、仮配線経路修正操作の他の例を工程の順に示す説明図である。
【図４】（イ）〜（ハ）は、仮配線経路修正操作の更に他の例を工程の順に示す説明図である。
【図５】（イ）〜（ハ）は、同一の修正対象領域に複数の交点が存在する場合の仮配線経路修正操作の前段についての説明図である。
【図６】（ニ）および（ホ）は、同一の修正対象領域に複数の交点が存在する場合の仮配線経路修正操作の後段についての説明図である。
【図７】コネクター用配線基板の一例の構成を示す説明図である。
【図８】コネクター用配線基板の検査点電極とグリッド電極とを電気的に接続する配線路の経路についての説明図である。
【符号の説明】
１０  基板本体            Ｔ  検査点電極
Ｇ  グリッド電極          Ｆ  仮接続線
Ｌ  分割ライン            Ｄ  区分領域
Ｚ  修正対象領域          Ｖ  経路
Ｍ  実配線経路            Ｐ  交点
Ｒ  覆蓋領域
【図１】
0003575156.tif 000002
【図２】
0003575156.tif 000003
【図３】
0003575156.tif 000004
【図４】
0003575156.tif 000005
【図５】
0003575156.tif 000006
【図６】
0003575156.tif 000007
【図７】
0003575156.tif 000008
【図８】
0003575156.tif 000009