(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
（a）１つ以上のピンカードを含む１つ以上のハードウエアモジュールを有する回路試験テスタと、
（b）前記回路試験テスタに接続され、当該回路試験テスタの前記ハードウエアモジュールにおける前記ピンカードの使用状況を監視し、前記ハードウエアモジュールにおける前記ピンカードの前記使用状況に基づいて使用クレジットプールから使用クレジットの数を引き落とす使用料支払式モジュールと
を備えていることを特徴とする電子回路試験システム。
【請求項２】
さらに、前記回路試験テスタを特定のレベルで動作させるのに十分なクレジットが前記使用クレジットプール中にあるかを判定する手段を含み、
前記使用料支払式モジュールは、基本レベルでは前記使用クレジットプールからの引き落としを必要とすることなく前記回路試験テスタの動作を許可し、前記基本レベル以外のレベルでは、前記使用クレジットプール中のクレジットが不十分である場合、前記回路試験テスタでの試験を許可しない請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項３】
さらに、前記使用クレジットプールを含む１つ以上の許可ボタンを備え、
前記１つ以上の許可ボタンに所定数のクレジットがロードされ、前記使用クレジットプールが改ざんおよび／または無許可のユーザによる変更から保護されている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項４】
さらに、前記使用料支払式モジュールが、回路基板試験に関する情報を格納するための統計モジュールと、その統計モジュールに接続され、前記情報の全てをまとめてレポートを生成するレポートモジュールとを備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項５】
前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に使用されるピンカードの数を検出する手段を備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項６】
さらに、前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に使用されるハードウエアモジュールの数を検出する手段を備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項７】
さらに、前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に使用され被配線ピンの数を検出する手段を備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項８】
さらに、前記使用料支払式モジュールが、電子回路内に存在するノードの数を検出する手段を備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項９】
さらに、前記使用料支払式モジュールが、電子回路内に存在する被プローブノードの数を検出する手段を備えている請求項１記載の電子回路試験システム。
【請求項１０】
前記回路試験テスタが、電子回路に複数の速度でテストベクトルを印加する能力を有し、前記使用料支払式モジュールが、前記回路試験テスタを監視し、さらに前記回路試験テスタが前記ベクトルを印加する前記速度に基づいて前記使用クレジットプールから前記使用クレジットの数を引き落とす請求項１記載の電子回路試験システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は一般に、電子回路基板の試験に関し、特に、回路基板テスタへのアクセスを制御するための使用料支払式のシステムおよびその方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、回路基板は、マイクロプロセッサ、メモリチップ、カウンタチップ、制御チップ、アナログ構成部品その他の多数の相互接続された半導体チップからなる。組み立てられた回路基板は、それを使用したり製品に組み込んだりする前に、その試験を行って、必要な電気的接続が全て正しく完了していること、および、必要な電気的構成部品が全て基板の適切な位置に適切な向きで取り付けられていることが確認されなければならない。また試験の目的には、適切な構成部品が使用されているかどうかの判定および確認が含まれる。また、それぞれの構成部品が適切に（即ち仕様通りに）機能するかの判定も必要である。電気的構成部品の中には、配設後に調整を必要とするものもある。
【０００３】
自動回路基板試験は、回路基板試験装置を用いて行なわれる。回路基板試験装置は当業界で周知のものである。例えば、周知の一連の回路基板試験装置としては、ヒューレット・パッカード・カンパニーのＭｏｄｅｌ  ＨＰ−３０７０シリーズの回路基板テスタがある。ＨＰ−３０７０シリーズのテスタは、回路基板の様々なピンに同時に選択的に接続してその基板の構成部品の測定を行うことのできるピンを有している（使用されるピンの数は試験される基板によって異なる）。このＨＰ−３０７０シリーズの基板テスタについては、ヒューレット・パッカード・カンパニーから入手可能な「ＨＰ−３０７０  Ｆａｍｉｌｙ  Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  ａｎｄ  Ｓｅｒｖｉｃｅ  Ｍａｎｕａｌｓ」に詳しく説明されている。
【０００４】
市場には、その他の様々な回路基板テスタが出回っている。使用される回路基板テスタの種類とテスタの構成は、回路基板に対して実施すべき試験の種類と回路基板の大きさによって決まる。例えば、回路基板テスタＨＰ−３０７２Ｕは、アナログ回路基板上で簡単なアナログ試験を行う場合、またはソフトウエアＨＰ−ＴｅｓｔＪｅｔを用いたＳＭＴ開路試験を行う場合に使用される。標準的な回路内アナログ試験、簡単なディジタル回路内試験、またはアナログ機能試験を含む試験には、回路基板テスタＨＰ−７０７２Ｐが必要となる。更に複雑なディジタル回路内試験が必要な場合には、ＨｙｂｒｉｄＰｌｕｓ−６カードおよび回路内ソフトウエアが追加されている回路基板テスタＨＰ−３０７３が必要である。最後に、標準的な回路内ディジタルおよびアナログ試験、アナログ機能試験、ディジタルバックトレース（ｂａｃｋｔｒａｃｉｎｇ）、故障辞書試験、およびタイミング設定試験が必要な場合には、ＨｙｂｒｉｄＰｌｕｓ−６カードと複合ソフトウエアとを備えた回路基板テスタＨＰ−３０７５が使用される。上記の回路基板テスタは何れも、１モジュールにつき最大９つのピンカードを有することができる１〜４つのピンカードモジュールと共に購入することが可能なものであり、これにより、システムの総ノード容量を変えることができる。回路基板テスタの構成（モジュールおよびピンカードの数）は、試験すべき最大の基板の大きさによって決まる。例えば、ノード数の多い基板には、３または４モジュールのＨＰ−３０７０シリーズテスタが必要であり、それよりもノード数の少ない基板は、１または２モジュールのＨＰ−３０７０シリーズテスタしか必要としない。上記回路基板テスタは全て、ヒューレット・パッカード・カンパニー（Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ，  Ｐａｌｏ  Ａｌｔｏ）から入手可能なものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
回路基板テスタのコストは、そのテスタが実行できる試験の種類、および、試験できる最大の基板の大きさの関数となる。基板の種類が異なれば、異なる能力とテスタ資源とが必要になる。多数の異なる種類の基板の製造および試験に関わる製造業者では、回路基板が１種類である場合に比べて遥かに多くの機能と資源とが必要となる。このような場合、製造業者として、最も大きな基板について最も複雑な試験を行うことのできる回路基板テスタを全て維持することは、コスト効率が悪い。
【０００６】
回路基板の製造および試験に係るビジネスは非常に競合の激しいものである。会社が競合力を持つためには、可能な限り効率良くテスタ資源を利用しなければならない。製造現場に配置されているが使用頻度の低い装置に出費を行うことは、資源の効率的利用とはいえない。しかし、試験能力またはテスタ資源がないためにビジネスチャンスを逸したのでは新しいビジネスにはつながらない。
【０００７】
このため、基板試験ハードウエアに関して多くの製造業者が難しい状況に置かれている。製造業者は、様々な大きさの基板について任意時点で複雑な試験を実行するのに十分な、または、幅広い顧客にアピールするのに十分なモジュールおよびピンカードを備えた１つのシステム上で完全な複合テスタの機能（即ち、ＨＰ−３０７５の機能）を持つことを所望している。これと同時に、製造業者は、最大基板に対応するだけのノード容量を有する完全な複合テスタに投資するだけの余裕がないことが多い。例えば、請負製造業者の顧客のうち、複合試験機能を必要とし、またはノード数の多い基板の試験を必要とする顧客が、１０のうち１だけとなる場合がある。そして、残りの９の顧客の基板の検査には回路内機能だけしか必要なく、また、それら基板が１または２モジュールのテスタに容易に適合するものとなる場合がある。この請負製造業者は、１０の顧客の全てに適応さることを所望するが、複雑な試験や一層多くのノード数が操業時間の１０％しか必要とされない場合には、３または４モジュールの複合テスタにかかるコストは適正なものとはいえない。
【０００８】
これに対する従来の対策は、特定の回路基板試験システムについてのコスト／パフォーマンスの向上を目的とするものであった。かかる対策では、回路基板試験システムの性能または価格が特定の市場のニーズに合うように調整されている。これは「一時的な（ｐｏｉｎｔ）」対策としては良い対策である。しかし、今日、電子機器製造業者は、様々なサイズの基板について広範な製造技術を用いた多種多様な回路基板の複雑性に起因する様々な故障に直面している。ポイント対策は、かかるニーズを満たすのには適さないものである。「一時的な」対策の場合には、類似してはいるが同一ではない試験装置を複数作成しなければならなくなり、また、マルチベンダで試験を行う上での対策、トレーニング上の多数の要件、および多数のサービスおよびメンテナンス業者や請負業者が必要になり、これらは全て試験のコストの増大につながるものとなる。
【０００９】
したがって、製造者が、高価な回路基板テスタの購入に関連するコストを必要とすることなく、回路基板テスタの多数の電子的試験機能と必要な最大限のテスタ（ハードウエア）資源とを利用することのできるシステムが必要である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、単一の回路基板テスタの多数の試験機能およびハードウエア資源へのアクセスを制御するように構成された使用料支払式回路基板試験システムを提供する。使用料支払式アクセスモジュールが回路試験システムに結合される。その使用料支払式アクセスモジュールにより、ハードウエアの使用と、回路試験システムの機能とのソフトウエアによる制御が可能になる。
【００１１】
使用料支払式アクセスモジュールは、回路基板の初期設定時に幾つかのチェックを行う。かかるチェックによって、回路基板試験システムの試験ヘッドを使用料支払式モードで動作させるべきか否か、および、回路基板テスタ上に必要なハードウエアが全て存在するか否かが判定される。回路基板が装着されると、使用対象となる基板試験機能と必要とされるテスタ資源との両方から課金レートが決定される。基本システム機能だけしか使用されない場合には、課金レートはゼロとなる。回路基板試験セグメントの始まりが検出され、使用クレジットプールに使用クレジットがまだ残っていると判定された場合には、タイマが始動する。回路基板試験セグメントの終わりが検出された場合には、タイマが停止し、利用可能な使用クレジットプールが適宜デクリメントされる。タイマはまた、テスタが実際には試験を実行していない（即ち、基板の取り外しや手動によるオペレータの介入のために一時停止状態になっている）と判定された場合にも、停止される。
【００１２】
ユーザは、使用クレジットの残りが少ないことを知らせる３つのレベルのアラームを設定することができる。それらのアラームは、緊急性のレベルが増していく順に発せられる（状態アラーム、警告アラーム、臨界アラーム）。ユーザは、各レベルのアラームに適したクレジット残高（即ち、残りの試験時間）を決定する。利用可能な使用クレジットのプールが空になった場合には、臨界レベルの第４のアラームが発せられ、それ以降の基板に対して試験を開始することはできない。
【００１３】
基板試験の実行中、実行中の試験の課金レベルと消費された使用クレジットとに関する統計が維持される。この情報は、レポートという形でユーザが入手できるものとなる。
【００１４】
使用料支払式アクセスにより、電子機器製造業者が、高性能でノード数の多い試験ハードウエアを、低性能でノード数の少ない試験ハードウエアに対する加入価格で購入することが可能となる。製造業者は、性能およびテスタ資源の増強が必要な場合にのみ、かかる機能について課金されることになる。これは、基板単位で管理される。１つの試験プラットフォームのみを維持することにより、電子機器製造業者は、例えば、ハードウエアおよびソフトウエアの契約上の負債を低減させ、あらゆる試験技術者に対するトレーニング要件を一律にし、試験オペレータの作業手順を標準化させるといったことにより、試験の全体的なコストを低減させることができる。
【００１５】
【実施例】
図１を参照する。本発明は、１つの回路基板テスタの多数の試験機能、多数のハードウエア資源、および多数のパターン速度へのアクセスを制御するように構成された使用料支払式回路基板試験システム１００を提供するものである。一好適実施例で用いられる回路基板テスタは、ＨＰ−３０７５およびＨＰ−３１７５回路基板テスタである。
【００１６】
回路基板テスタＨＰ−３０７５，ＨＰ−３１７５の多数の試験機能の例としては、標準的な回路内ディジタルおよびアナログ試験、アナログ機能試験、表面実装技術（ＳＭＴ）の開路試験、ディジタルバックトレース、故障辞書試験、およびタイミング設定試験がある。これら機能を備えたテスタは、複合テスタと呼ばれる。
【００１７】
一般に、回路基板テスタは、所定の位置で導体に接触して試験信号を印加してプリント回路基板上の特定ノードにおける応答を検出するよう機能する複数のコネクタピンを有している。１つのノードは、２つ以上の部品が接続されることになる回路中の一点である。回路基板テスタはまた、試験動作および分析を行うのに必要な信号生成器および信号処理装置を備えている。
【００１８】
「ノード数」という用語は、試験を必要とする回路上の特定のノードの数を指すものである。ノード数の多い基板ほど、コネクタピン数の多いテスタを必要とする。「ピンカード」という用語は、ここでは、回路基板の試験中に試験信号を印加して応答を検出する一部のハードウエアを指すものである。全てのピンカードが同数のコネクタピンを持っているわけではない。また、テスタはピンカードの動作を調和させるプロセッサを有する。「モジュール」という用語は、ここでは単一のプロセッサの元で動作する１つ以上のピンカードを指している。回路基板テスタＨＰ−３０７０，ＨＰ−３１７５上のモジュールは、最大で９つのピンカードを有することができる。また、回路基板テスタＨＰ−３０７５は、最大で４つのモジュールを有することができる。回路基板テスタＨＰ−３１７５は、最大で２つのモジュールを有することができる。テスタが有しているモジュールおよびピンカードの数によって、回路基板上の試験可能なノードの数が決まる。テスタのコストは、そのテスタに含まれるモジュールおよびピンカードの数に伴って増大する。したがって、各製造業者は、モジュールおよびピンカードの数を、最も大きな基板に必要とされる最小限の値に制限しようとすることになる。
【００１９】
回路基板の試験中には、全てのノードが試験されるわけではない。実際に試験されるノードは、「被プローブノード」と呼ばれる。更に、回路基板の試験中には、ピンカードの全てのピンが使用されるわけではない。「被配線ピン」という用語は、試験中に実際に使用されるピンを指すものである。以下で詳述するように、使用料は、被プローブノードの数または被配線ピンの数、またはその両方に基づいて判定することができる。
【００２０】
本明細書では、「試験機能」という用語は、テスタの全体的なソフトウエア機能を指している。当業者には明らかなように、本発明は、回路基板を試験するためのソフトウエア以外のソフトウエア機能を考察したものである。更に、「ハードウエア資源」という用語は、テスタに取り付けられるハードウエア部品または資源（例えば、モジュール、ピンカードその他）を指している。当業者には明らかなように、本発明は、使用料支払式の概念を、モジュール、ピンカード、およびテスタの速度機能以外のハードウエア部品に適用することを意図したものである。
【００２１】
本発明を利用することにより利益を得ることのできる製造業者には、幾つかの種類の製造業者がある。その１つは、回路基板の製造および試験を自ら行う基板製造業者である。もう１つは、回路基板を製造する他社のために回路基板試験を行う請負試験ハウスである。更にもう１つは、他社のために回路基板の製造および試験を行う請負基板製造業者である。これらの種類の製造業者を以下の説明では包括的に製造業者と称することにする。
【００２２】
本発明は、複合テスタハードウエアと組み合わせられたソフトウエアインターフェイスを提供する。即ち、本発明の使用料支払式システムは、単一の試験プラットフォームとインターフェイスされる。このシステムは、使用クレジットのプールを管理することにより、その単一の試験プラットフォームの多数の試験機能および資源へのアクセスを制御する。この使用料支払式システムは、多数の試験機能およびテスタ資源の使用を監視し、その多数の電子的試験機能およびテスタ（ハードウエア）資源の使用に基づいて使用クレジットプールからの使用クレジット数を勘定につける（ｄｅｂｉｔ）ように構成されている。
【００２３】
例えば、ある製造業者は、４つのピンカードモジュールを備えた複合回路基板テスタ（即ち、多数の機能を有するテスタ）と使用クレジットのプールとを購入する。しかし、この複合回路基板テスタは、追加料金を支払わなければ低レベルの機能（例えば、標準的な非通電試験やＳＭＴ開路試験）へのアクセスしか提供しないようになっている。即ち、その製造業者は、その複合テスタの低レベルの試験機能に利用が制限されることになる。クレジットプール中の使用クレジットが勘定につけられると、一層高レベルの機能（例えば、制限通電（ｌｉｍｉｔｅｄ−ｐｏｗｅｒｅｄ）試験機能、回路内試験機能、複合試験機能）およびハードウエア資源へのアクセスがユーザに提供される。使用クレジットプールは、基板試験に用いられた最も高レベルの試験機能およびテスタ（ハードウエア）資源の利用に見合ったレートで勘定につけられる。使用クレジットは、回路基板テスタによって試験が実行された際に勘定につけられる。
【００２４】
本実施例では、ヒューレット・パッカード・カンパニーにより製造販売される回路基板試験装置が用いられているが、本発明があらゆる種類の回路基板テスタと共に利用可能なものであることが当業者には理解されよう。更に本発明は、２つ以上の機能レベルを有するあらゆるハードウエア／プラットフォームソフトウエアパッケージと共に使用可能なものである。
【００２５】
図１は、本発明に従って動作する回路基板テスタ１００を示す高レベルの概略図である。プリント回路基板１１０は、複数のアナログ・ディジタル両方の構成部品１２０を有している。それら構成部品１２０が、それらの構成要素であるリードにより複数の導体１４０に接続されてプリント回路基板１１０上に回路が形成されている。テストベッド１６０は複数のコネクタピン１８０を有している。それらコネクタピン１８０は、所定位置で導体１４０に接触して、試験信号を印加し、プリント回路基板１１０内の所定位置における応答を検出する働きをするものである。導体１３０は、それらコネクタピン１８０を試験システム１７０に接続する。試験システム１７０は、試験動作および分析を実行してユーザ１９０に情報を提供するのに必要な信号生成器および信号処理装置を備えている。その情報は、プリント回路基板１１０に関する試験結果を表すものである。
【００２６】
試験システム１７０には、試験に関する監視制御を提供する試験プランがロードされる。この試験プランは、例えば、試験のシーケンス管理、結果のロギング、基板／治具インターフェイスの制御、試験用電源の制御その他を含むものである。即ち、この試験プランは、回路基板テスタ１００内の試験の実行を制御するプログラムである。
【００２７】
使用料支払式アクセスモジュール１５０は、試験システム１７０に接続されている。使用料支払式アクセスモジュール１５０は、回路基板の初期設定時に幾つかのチェックを行う。かかるチェックによって、回路基板テスタ１００を使用料支払いモードで動作させるべきか否か、および、回路基板テスタ１００上に全ての必要なハードウエアが存在するか否かが判定される。回路基板情報が試験ヘッド１６０にロードされる際に、使用される基板試験機能と、その基板に適応させるのに必要なテスタ資源の量とから、課金レート（即ち、単位時間あたりのクレジット数）が決定される。回路基板試験セグメントの始まりが試験開始機能によって検出され、利用可能な使用クレジットが使用クレジットプール中にまだ存在すると判定された際に、タイマが始動される。回路基板試験セグメントの終わりが試験停止機能によって検出されると、タイマが停止され、利用可能な使用クレジットプールが適宜デクリメントされる。タイマはまた、テスタが実際には試験を実行していない（例えば、基板の取り外しまたはデータ入力のために一時停止状態になっている）と判定された場合にも停止される。この機能については、後に詳しく説明することとする。
【００２８】
図３において、許可ボタン３００は、クレジットのカウント（即ち、試験システム１７０の使用料支払式アクセス）並びにシステムのセキュリティに関する他の目的に使用されるものである。この許可ボタン３００は、試験システム１７０への実行権を制御する保護（ｓｅｃｕｒｅ）マイクロチップである。即ち、許可ボタン３００は、ソフトウエアをコピーする権利ではなく実行する権利を制御する。
【００２９】
一般に、許可ボタンは、安価な市販の装置であり、アプリケーションソフトウエアによるアクセスのためのシリアルまたはパラレルポートに取り付けられたボタンホルダ（図示せず）中に挿入される。そのＩ／Ｏポートは、他のアプリケーションやオペレーティングシステムにより利用可能なままとすることができる。一好適実施例では、許可ボタン３００には最小クレジット購入量（例えば５０，０００単位）がロードされる。許可ボタン３００は、いかなる顧客またはいかなるハードウエアにも限定されないものである。即ち、顧客は、許可ボタンを各試験ヘッド間で自由に移動させることができる。
【００３０】
テスタの最低限の試験機能またはハードウエア資源を越えるものを必要とする試験プランは、許可ボタン３００に少なくとも幾つかのクレジットが残っている場合にのみ実行される。試験プランセグメントが完了した（即ち、停止タイミングポイントに達した）際に、許可ボタン３００から適当なクレジット数が差し引かれる。
【００３１】
ボタンホルダによっては、２つ以上のボタンを保持できるものがある。多数のクレジットボタンが装着されており、そのうちの１つが空である場合には、次のボタンに切り替えられていること、および、ユーザが空のボタンの交換を確認すべきことを知らせるメッセージがスクリーン上に現われる。クレジットが残っている限り、回路基板試験の開始は許可される。（全てのボタンの）残りのクレジットが試験中に全て使い果たされた場合には、新しいボタンがボタンホルダに挿入されるまで、回路基板試験を行うことはできない。許可ボタン３００が見つからない場合、また、許可ボタン３００にクレジットが存在しない場合には、テスタは、最小限の機能レベル（例えば非通電試験）でしか動作しないことになる。
【００３２】
ボタンアクセスルーチンは、ボタンの現在のクレジット残高を読み出し、新しい残高をボタンに書き込み、並びにシステムのセキュリティを確認する、といった能力を提供する。
【００３３】
本好適実施例は、Ｄａｌｌａｓ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ（Ｄａｌｌａｓ，  Ｔｅｘａｓ）により製造されている許可ボタンを使用している。この許可ボタン３００は、改ざん防止のための１６ｍｍのステンレススチール製の容器に入っている。許可ボタン３００に物理的に手を加えると、その内容が破壊されて役に立たなくなる。一好適実施例で用いた許可ボタン３００は、パスワードによって保護された不揮発性リード／ライトメモリを備えている。これにより、このボタンがエンドユーザの現場（即ち、チップ製造業者または請負製造業者）にある場合に、情報（即ち、クレジット情報）を更新する能力が提供される。
【００３４】
一好適実施例では、許可ボタン３００は、やはりＤａｌｌａｓ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒにより販売されているボタンホルダＤＳ１４１（図示せず）を介してテスタにインターフェイスされている。
【００３５】
許可ボタン３００との通信は、これと一致した単線インターフェイスを介して行なわれる。許可ボタン３００のボタン３１０はデータピンであり、フランジ３２０は接地される。許可ボタン３００との対話は、パルス幅変調プロトコルを介して行なわれる。Ｄａｌｌａｓ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒにより提供されるインターフェイスのプログラム用のアプリケーションにより、使用料支払式システムのアクセスモジュール１５０と許可ボタン３００との間のリンクが提供される。そのアクセス用ソフトウエアは、単線インターフェイスを管理し、ポート上に存在する全ての許可ボタンを識別するものである。このアクセス用ソフトウエアに関する詳細情報は、Ｄａｌｌａｓ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒから入手可能な「ＤＳ１４１ｘＫ  Ｂｕｔｔｏｎ  Ｄｅｖｅｌｏｐｅｒ’ｓ  Ｋｉｔ」に見ることができる。許可ボタン３００についての説明書もＤａｌｌａｓ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒから入手することができる。
【００３６】
多数のハードウエア資源への使用料支払式モデルの適用は、特定の回路基板の試験に必要なハードウエアに基づくユーザへの課金を伴うものである。ハードウエア資源のカウントには幾つかの方法がある。一実施例では、特定の基板に使用されるピンカードの数がカウントされる。別の実施例では、使用されるカード上のコネクタピンの総数がカウントされる。更に別の実施例では、使用されるカード上の配線されたコネクタピンの数だけがカウントされる。他の実施例では、回路基板上のノードの総数がカウントされる。また別の実施例では、回路基板上の試験されたノードの数のみがカウントされる。更に別の実施例では、特定の回路基板の試験に必要とされたモジュールの数がカウントされる。一好適実施例では、（上記方法の１つを用いて決定された）カウント値を単独で使用して、または他のテスタ機能と共に使用して、使用料支払式動作モードの課金レートが決定される。
【００３７】
回路基板テスタは、ディジタル試験において異なる速度でベクトル（またはパターン）を印加する能力を持つことが可能である。例えば、回路基板テスタＨＰ−３０７５，ＨＰ−３１７５は、６ＭＨｚ、１２ＭＨｚまたは２０ＭＨｚでパターンを印加することができる。一代替実施例では、このパターン速度を単独で使用し、または他のテスタ機能と共に使用して、使用料支払式動作モードにおける課金レートが決定される。
【００３８】
使用料支払式の回路基板試験システム１００は、２つの方法で実施可能である。第１の方法は、３つの傾斜課金モードの各々で利用可能な特定の試験時間量に相当する使用クレジットブロックの料金を予め支払うよう製造業者に要求する、という方法である。本実施例では３セットの傾斜課金モードを用いるが、本発明は、傾斜課金モードの数または傾斜課金モードのセットの数について如何なる数にも限定されないものであることに留意されたい。また、第２の方法は、４セットの傾斜課金モードの各々でのテスタの使用状況を測定して、顧客に定期的に請求を行う、という方法である。一好適実施例では、前払方式が実施され、これについては後に詳細に説明する。
【００３９】
使用料支払式の回路基板試験システム１００はまた、（テスタの使用時間を計時するのではなく）選択された試験が実行される回数をカウントし、その試験回数とその試験に用いられた機能のレベルおよびハードウエア資源とに基づいてクレジットを差し引く、という方式を用いても実施可能である。一好適実施例では、前記のタイマ方式が実施される。これについては後に詳細に説明する。
【００４０】
図２は使用料支払式アクセスシステム１５０を詳細に示すブロック図である。ユーザ１９０は、使用料支払式アクセスシステム１５０の異なる機能にアクセスすることができ、（試験プランで規定されている）所定のコマンドセットを用いてそれら機能にアクセスする。
【００４１】
ユーザは、回路基板の試験の準備段階で、基板に関する情報および試験プランを試験システム１７０にロードする。基板に関する情報がロードされると、使用料支払式システム１５０が、その回路基板の試験に必要なテスタの機能および資源を判定する。
【００４２】
各ハードウエア資源（またはハードウエア資源グループ）は、それぞれの課金レートを有している。各課金レートは、使用される試験のレベルに応じて異なる課金レベルに分かれている。本発明は、（１）非通電試験と、（２）簡単な制限された電力での試験と、（３）完全な回路内試験と、（４）複合試験とからなる４つのレベルの試験を提供するものであり、利用されるテスタ資源の数に基づいて４つの課金レートが設定される（好適実施例では非通電試験は無料であることに留意されたい）。基板全体についての課金レベルは、使用される最も高度な機能（基板説明情報により判定される）と、使用されるテスタ資源の数とに基づくものである。換言すれば、使用料支払式システム１５０は、基板の試験に使用されるテスタ資源の数を判定し、その情報から、どの課金レートを用いるかを決定する。次いで使用料支払式システム１５０は、利用される試験機能を参照して、前記の選択された課金レートから課金レベルを適宜設定する。この課金レベルは、使用料支払式システム初期設定モジュール２１５に格納される。使用クレジット残高更新モジュール２４５（以下、残高モジュール２４５と称す）は、使用料支払式ソフトウエアの初期設定中に、接続部２１７を介して現在の課金レベルで更新される。
【００４３】
課金レベルが決定されて回路基板が装填されると、ユーザは、（ライン２１２を介して）「試験開始」コマンド２１０を実行することにより回路基板の試験を開始させる。このコマンドにより、モジュール２２０に示すように、（線２１４を介して）タイマの開始がトリガされる。
【００４４】
開始モジュール２２０は、ライン２０２を介して使用クレジットプール２４０にアクセスする。その使用クレジットプールは、利用可能な使用クレジットを格納している。開始モジュール２２０は、利用可能な使用クレジットが使用クレジットプール２４０内に十分に存在しない場合には課金可能な回路基板試験の開始を阻止するように構成されている。使用クレジットプール２４０の現在の内容は、ライン２０４を介してレポート表示モジュール２７０に提供することができる。次いでその情報はユーザによりアクセス可能なものとなる。
【００４５】
タイマは、回路基板の試験中に経過した時間の量の記録を維持する。このタイマは、モジュール２３０に示すように、ユーザが「ｐａｕｓｅ」、「ｂｒｅａｋ」、「ｅｘｉｔ」等の「試験停止」コマンド２２５を（ライン２１６を介して）実行することによって（ライン２１８を介して）停止させることができる。試験停止コマンド２２５の１つが実行されると、テスタがアイドル状態になり、タイマが試験の計時を停止する。即ち、使用料支払式システム１５０が、使用クレジットプール２４０からクレジットを差し引かなくなる。
【００４６】
ブロック２３０に示すように、試験停止コマンドはタイマを停止させる。タイマが停止されると、残高モジュール２４５が（ライン２４４を介して）アクセスされて、ユーザの使用クレジットが更新される。上述のように、この残高モジュール２４５は、システムの初期設定中にモジュール２１５により現在の課金レベルで前もって更新されている。残高モジュール２４５は、双方向ライン２４４を介して使用クレジットプール２４０にアクセスして、更新された使用クレジット残高を計算する。
【００４７】
詳細には、残高モジュール２４５は、課金レベルにタイマ内の総経過時間を乗算することにより、更新された残高を計算する。その数値が、使用クレジットプール２４０中に格納されている総使用クレジットから減算されて、更新された残高が得られる。この更新された残高は、使用クレジットプール２４０に再び格納される。その更新された残高はまた、ライン２６７を介して（後に説明する）基板統計モジュール２８０にも提供される。その後に試験開始コマンド２１０が実行されると、タイマが再び始動し、回路基板の試験を続行することができる。使用料支払式システム１５０は、テスタが回路基板を能動的に試験している時間についてのみ課金を行う。基板の変更やデータの入力のためのアイドル時間については、ユーザに課金されることはない。
【００４８】
使用料支払式システム１５０はまた、状態アラーム２５０を提供する。一好適実施例では、そのアラームは、３つのデフォルトアラームレベルを提供するようにプログラムされる。ユーザは、アプリケーションプログラム２６０を用いてそのデフォルトアラームレベルを変更することができる。これをライン２６２に示す。次いでその変更は、ライン２５６を介してアラームデータファイル２５５に格納される。
【００４９】
アラームレベルがどのように設定されているか（即ち、デフォルト値であるかユーザの設定によるか）にかかわらず、アラームレベルはアラームデータファイル２５５に格納される。アラームデータファイル２５５は、その情報を、ライン２５９を介してクレジット残高モジュール２４５に提供し、ライン２６１を介してレポートモジュール２７０に提供し、ライン２６３を介して初期設定モジュール２１５に提供する。
【００５０】
第１のレベルのアラームは状態アラームと呼ばれる。この状態アラームは、クレジット数が第１のアラームレベルに達したこと（例えば、残り使用クレジット数が４０時間になったこと）を示すものである。このような場合には、使用クレジットの数をできる限り早く増やさなければならない。第２のレベルのアラームは警告アラームと呼ばれる。この警告アラームは、クレジット数が第２のアラームレベルに達したこと（例えば、残り使用クレジット数が２０時間になったこと）を示すものである。最後の第３のアラームレベルは臨界（ｃｒｉｔｉｃａｌ）アラームと呼ばれる。一好適実施例では、この臨界アラームは、クレジット数がテスタを１シフトだけ動作させるのに必要なクレジット数よりも僅かに大きい（例えば、８時間より僅かに大きい）場合を示すものである。
【００５１】
１時間分の使用に相当するクレジット数は、アラームがトリガされた際にその時点で試験が行われている回路基板の課金レベルによって決定される。
【００５２】
一好適実施例では、使用料支払式システム１５０は、各アラームレベルに達した際に（ライン２１１を介して）ユーザに警告を与えるようにプログラムされる。その各警告レベルは、それぞれに固有の色でユーザ１９０に対して表示される。使用料支払式システム１５０は、使用料支払式システムソフトウエアの初期設定後または残高更新の実行後にアラーム条件をチェックする。アラームファイルは、初期設定中にはライン２０６を介してチェックされ、残高更新中にはライン２０８を介してチェックされる。
【００５３】
一好適実施例では、本システムはクレジットの「予備タンク」の設置を可能にするものとなる。これにより、空のボタンに代わるボタンが購入されて設置されている間は、その「予備タンク」ボタン（図示せず）を用いて試験を続行することが可能となる。しかし、試験を傾斜課金モードで開始または続行させるためには、常に正のクレジット残高が存在しなければならない。
【００５４】
また、一好適実施例では、ランタイム試験システム１７０が、許可クレジットボタン３００に関する情報を受信する。ランタイム試験ソフトウエア（図示せず）は、使用料支払式アクセスシステム１５０の許可クレジットボタン３００との接続が解除された場合、または許可ボタン３００が接続されるアダプタがなくなった場合、または許可ボタン３００が空である場合に、例外的に停止する。一好適実施例では、「非通電専用」の試験プランが実行されている（即ち、クレジットプールに対して勘定を付ける試験が使用されない）場合には、使用料支払式システム１５０は試験システム１７０に許可ボタンを取り付けることを必要としない、ということに留意されたい。
【００５５】
残高の更新中に製造業者が許可ボタン３００へのアクセスやそのアクセスの切断を行おうとすることに対する保護を提供するために、本発明は、セキュリティ上の目的のための「更新保留」法を実施する。この更新保留法は、残高の更新が行なわれようとしており、許可ボタンの試験システム１７０への接続を使用料支払式システム１５０が検出していない場合に実施される。使用料支払式システム１５０は、新しい開始コマンドが与えられるまで更新情報を保管し、その新しい開始コマンドが与えられた時点で、使用料支払式システムが、再度取り付けられた許可ボタン３００内のクレジット残高を更新した後、試験の再開を可能にする。
【００５６】
使用料支払式試験システム１５０内の最後のモジュールセットは、回路基板試験統計の中心となるものである。回路基板試験統計は全てデータファイル２８０に格納される。基板試験統計の例としては、回路基板の識別番号（ＩＤ）、そのＩＤを有する基板が試験された最初の日付、そのＩＤを有する基板が試験された最後の日付、その回路基板に対して課金することになる試験のレベル、および、そのＩＤを有する回路基板の試験に使用された総クレジット数等が挙げられる。これらの情報が全てライン２７２を介してモジュール２７０に送られ、そのモジュール２７０がそれらの全ての情報をまとめて使用料支払式アクセスシステム１５０に関するレポートを作成する。そのレポートは、ユーザ１９０により入手可能なものとなる。
【００５７】
ライン２８８に示すように、基板統計消去プログラム２８５がユーザ１９０に提供される。そのプログラム２８５により、ユーザが、ライン２８６を介して基板統計データファイル２８０を、完全にまたは基板ＩＤ単位で消去することが可能になる。
【００５８】
レポートプログラム２７０は、使用料支払式アクセスシステム１５０の全ての側面に関するデータを提供する。そのレポートプログラム２７０は、現在の日付、検出された全てのクレジットボタン内の現在の使用クレジット残高、および、各クレジットボタンの現在の使用クレジット残高に基づく各クレジットボタン毎の残りの総試験時間を提供する。この試験時間データは、考えられる各課金レート毎に計算される。レポートプログラム２７０はまた、ユーザにより定義可能なアラーム設定と、基板統計との現在値を印刷する。レポートプログラム２７０は、ライン２７４を介してその情報をユーザ１９０に提供する。
【００５９】
一好適実施例では、使用料支払式システムのユーザは、実際の試験時間についてのみ課金される。換言すれば、プログラム開発、試験中のデータ入力のための一時停止、システム診断その他については課金されない。
【００６０】
システムのセキュリティおよび／または完全性は極めて重要である。クレジットボタンが使用不能になった場合には警告が出され、試験を続行するには新しいボタンを挿入しなければならなくなる。本発明は、所有者のアクセス用パスワードを設けることにより、顧客が作成したクレジットボタンからの保護を行う。このパスワードを知らなければ、製造業者は、使用料支払式システム１５０によって認識されるクレジットボタンを作成することはできない。こうして、製造業者が回路基板テスタの傾斜試験能力にアクセスすることができなくなる。また、顧客が使用料支払式ソフトウエアをオフにすることができないことも重要である。更に、許可ボタン３００が取り付けられたポートとの間の通信を傍受することによりクレジットボタンのセキュリティを破ることはできない。
【００６１】
顧客は、使用される試験機能またはハードウエア要件が実際にプログラムされているものより少なく見えるように基板構成を変更することにより課金レベルを下げることはできない。試験オブジェクトがランタイム中にチェックされ、そのランタイム中に基板構成で指定された試験機能およびハードウエア資源と、その試験オブジェクトが作成された際に指定された試験機能およびハードウエア資源との一致が保証されるようになっている。
【００６２】
使用料支払式試験システム１５０の独創性は、電子機器製造業者が試験時間を買う態様を変えたことにある。第１に、使用料支払方式は、初期投資を低減させ、運転費用を増大させるものである。この経済モデルは、製造業者によるテスタの使用形態に合致したものである。テスタの投資コストを僅かに低減させる（値引きする）だけでは不十分である。これは、その低減量が、試験ベンダの収入上の損失によって制限されたものとなるからである。使用料支払方式によれば、出資金の流れが生じ、これにより、試験装置の初期投資コストが大幅に低減され、試験ベンダの収入上の損失が、試験システムの実際の使用に伴なう「経費」の年金支払いへと時間の経過と共に置き代わるようになる。使用料支払式アクセスにより、電子機器製造業者が高性能でノード数の多い試験ハードウエアを低性能でノード数の少ないものに相当する加入価格で購入することが可能となる。製造業者は、性能やノード容量を上げようとする場合にのみ、かかる機能に対して課金される。これは基板単位で管理される。１つの試験プラットフォームのみを維持することにより、電子機器製造業者は、例えば、ハードウエアおよびソフトウエアの契約上の負債を低減させ、あらゆる試験技術者に対するトレーニング要件を一律にし、試験オペレータの作業手順を標準化させるといったことにより、試験の全体的なコストを低減させることができる。
【００６３】
好適実施例では、基板についての課金レベルの決定にテスタ資源と必要なテスタ機能とを用いることを説明したが、テスタ資源は、課金レベルを設定するための唯一の決定要因としても用いることが可能であり、これにより、回路基板テスタの他の多数の電子的試験機能への制限のないアクセスが提供される、ということが容易に理解されよう。
【００６４】
本発明をその特定の好適実施例に関して図示および説明してきたが、本発明の思想および範囲から逸脱することなく、その形態や細部に様々な変更を加えることが可能である、ということが当業者には理解されよう。
【００６５】
以下においては、本発明の種々の構成要件の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。
【００６６】
１．電子回路試験システムであって、このシステムが、
（ａ）１つ以上のピンカードを含む１つ以上のハードウエアモジュールを有する回路基板試験プラットフォームと、
（ｂ）その回路基板試験プラットフォームに接続された使用料支払式モジュールであって、その回路基板プラットフォームの前記ハードウエアモジュールにおける前記ピンカードの使用状況を監視し、前記ハードウエアモジュールにおける前記ピンカードの前記使用状況に基づいて使用クレジットプールからの使用クレジットの数を勘定につける、前記使用料支払式モジュールと
を備えていることを特徴とする、電子回路試験システム。
【００６７】
２．前記使用料支払式モジュールが、前記使用クレジットプールを勘定につけることを必要としない基本レベルで動作可能なものであり、前記使用クレジットプール中のクレジットが不十分である場合には、前記基本レベルでの動作時を除いて前記回路基板試験プラットフォームでの試験を許可しないものである、前項１記載のシステム。
【００６８】
３．前記使用クレジットプールを含む１つ以上の許可ボタンを備えており、その１つ以上の許可ボタンに所定数のクレジットがロードされており、前記使用クレジットプールが改ざんおよび／または無許可のユーザによる変更から保護されている、前項１記載のシステム。
【００６９】
４．前記使用料支払式モジュールが、回路基板試験開始機能を開始させることにより起動され、回路基板試験停止機能を開始させることにより停止されるタイマを備えており、そのタイマが回路基板試験の実行の経過時間の記録を維持する、前項１記載のシステム。
【００７０】
５．前記使用料支払式モジュールが、
前記使用クレジットプールを格納するための許可手段と、
前記タイマと前記許可手段とに接続され、課金レベルと前記タイマにより記録された時間量とに基づいて使用クレジットの差引高を計算し、その差引高が前記使用クレジットプールから差し引かれる、残高モジュールと、
前記残高モジュールに接続され、使用クレジットの残高がアラームレベルに達したときを示す、状態アラームと
を備えている、前項４記載のシステム。
【００７１】
６．前記使用料支払式モジュールが、
回路基板試験に関する情報を格納するための統計モジュールと、
その統計モジュールに接続され、前記情報の全てをまとめてレポートを生成する、レポートモジュールと
を備えている、前項１記載のシステム。
【００７２】
７．前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に用いられるピンカードの数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７３】
８．前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に用いられるハードウエアモジュールの数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７４】
９．前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に用いられる被配線ピンの数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７５】
１０．前記使用料支払式モジュールが、電子回路内に存在するノードの数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７６】
１１．前記使用料支払式モジュールが、電子回路内に存在する被プローブノードの数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７７】
１２．前記使用料支払式モジュールが、電子回路の試験に用いられるピンカードのピンの総数を検出する手段を備えている、前項１記載のシステム。
【００７８】
１３．前記使用料支払式モジュールが、
選択された回路基板試験を開始することによってインクリメントされるカウンタであって、前記回路基板試験プラットフォームにより実行された前記選択された回路基板試験の回数の記録を維持する、前記カウンタと、
前記使用クレジットプールを格納するための許可手段と、
前記カウンタと前記許可手段とに接続され、課金レベルと前記カウンタにより記録された前記選択された回路基板試験の回数とに基づいて使用クレジットの差引高を計算する、残高モジュールと
を備えている、前項１２記載のシステム。
【００７９】
１４．前記回路基板試験プラットフォームが、電子回路にベクトルを複数の速度で印加する能力を有するものであり、前記使用料支払式モジュールが、前記回路基板試験プラットフォームを監視し、前記回路基板試験プラットフォームが前記ベクトルを印加する前記速度に基づいて前記使用クレジットプールからの前記使用クレジットの数を勘定につける、前項１記載のシステム。
【００８０】
１５．電子回路試験システムであって、このシステムが、
（ａ）多数の電子的試験機能と１つ以上のピンカードを含む１つ以上のハードウエアモジュールとを有する回路基板試験プラットフォームと、
（ｂ）その回路基板試験プラットフォームに接続された使用料支払式モジュールであって、前記多数の電子的試験機能と前記回路基板プラットフォームの前記ハードウエアモジュールにおける前記１つ以上のピンカードとの使用状況を監視し、前記多数の電子的試験機能の前記使用状況と前記ハードウエアモジュールにおける前記１つ以上のピンカードの前記使用状況とに基づいて使用クレジットプールからの使用クレジットの数を勘定につける、前記使用料支払式モジュールと
を備えていることを特徴とする、電子回路試験システム。
【００８１】
１６．使用クレジットのプールがロードされたクレジットプールが接続された回路基板テスタの多数の機能と１つ以上のピンカードの１つ以上のモジュールとへのアクセスを制御する、コンピュータによる実施方法であって、この方法が、
（１）試験プランに従って回路基板試験セグメントを開始させ、
（２）前記回路基板試験を実行するのに前記回路基板テスタのどの機能が必要であるかを前記試験プランに基づいて決定し、
（３）前記回路基板試験を実行するのに前記回路基板テスタのどのモジュールのどのピンカードが必要であるかを前記試験プランに基づいて決定し、
（４）前記必要な機能と前記必要なピンカードとに基づいて課金レベルを決定し、
（５）回路基板試験開始機能と回路基板試験停止機能とによって決定される前記回路基板試験セグメントの実行のための経過時間を決定し、
（６）前記経過時間と前記課金レベルとに基づいて、前記回路基板試験セグメントの実行のために前記使用クレジットのプールから差し引くべき使用クレジット数を計算し、
（７）その使用クレジット数を前記使用クレジットプールから差し引き、
（８）前記使用クレジットのプール内の使用クレジットの数がアラーム値を下回った場合に状態アラームを提供する、
という各ステップを含むことを特徴とする、前記のコンピュータによる実施方法。
【００８２】
１７．回路基板試験ついての各種のレポートを提供するステップを含む、前項１６記載の方法。
【００８３】
１８．改ざんが検出された場合に前記使用クレジットプールの内容を破壊するステップを含む、前項１６記載の方法。
【００８４】
１９．前記使用クレジットプール中のクレジット数が不十分である場合に前記多数の試験機能のうちの少なくとも１つに試験を制限するステップを含む、前項１６記載の方法。
【００８５】
２０．回路基板テスタの多数の機能および資源へのアクセスについて使用料支払方式でユーザに課金するシステムであって、このシステムが、
（ａ）使用クレジットプールを格納するための許可手段と、
（ｂ）回路基板プラットフォームに接続された使用料支払式モジュールであって、前記回路基板プラットフォームの多数の電子的試験機能と資源との使用状況を監視し、前記多数の電子的試験機能と前記資源との前記使用状況に基づいて前記使用クレジットプールからの使用クレジットの数を勘定につける、前記使用料支払式モジュールと
を備えていることを特徴とする、前記のシステム。
【００８６】
２１．前記使用料支払式モジュールが、
（１）回路基板試験開始機能を開始させることにより起動され、回路基板試験停止機能を開始させることにより停止され、前記回路基板試験の実行中に経過した時間量の記録を維持する、タイマと、
（２）  前記タイマと前記許可手段とに接続され、課金レベルと前記タイマにより記録された時間量とに基づいて使用クレジットの差引高を計算し、その差引高が前記使用クレジットプールから差し引かれる、残高モジュールと、
（３）その残高モジュールに接続され、使用クレジットの残高がアラームレベルに達したことを示す、状態アラームと
を備えている、前項２０記載のシステム。
【００８７】
【発明の効果】
本発明は上述のように構成したので、高価な回路基板テスタの購入に関連するコストを必要とすることなく、回路基板テスタの多数の電子的試験機能と最大限のハードウエア資源とを利用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】回路基板試験システムを示す上位レベルの概略図である。
【図２】回路基板試験ハードウエアに接続された使用料支払式試験システム１００を示すブロック図である。
【図３】許可ボタンを概略的に示す側面図および正面図である。
【符号の説明】
１００            回路基板テスタ
１１０            プリント回路基板
１３０            導体
１５０            使用料支払式アクセスモジュール
１６０            テストベッド
１８０            コネクタピン
１７０            試験システム
【図１】
0003561312.tif 000002
【図２】
0003561312.tif 000003
【図３】
0003561312.tif 000004