(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録速度で光ディスクに情報を記録可能な光ディスク装置において、
前記複数の記録速度に対応して記録トラッキングオフセット量の可変情報が予め記録されたテーブルを含む記録部と、
テスト記録時に記録速度に対応する前記記録トラッキングオフセット量の可変情報を前記記録部のテーブルから読み出し、読み出された該可変情報を用いて前記記録トラッキングオフセット量を可変して光ディスクの複数フレームにテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記複数フレームのテスト記録部分を再生した再生信号のフレーム毎の特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出する最適記録トラッキングオフセット量算出手段とを
有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記テスト記録手段は、前記記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行い、
前記最適記録トラッキングオフセット量算出手段は、前記記録トラッキングオフセット量が同一となる各フレームの特性値の平均を求め、フレーム毎の平均特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２記載の光ディスク装置において、
前記テスト記録手段は、前記記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行う際に、各回で前記記録トラッキングオフセット量が同一となるフレームの記録位置を、前記光ディスクの異なる回転角度位置とすることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置に関し、特に、光ディスクを再生または記録再生する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ），ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）等の追記型光ディスクには、予めガイド用のグルーブ（溝）が設けられている。このような光ディスクは、グルーブまたはランド（グルーブとグルーブとの間の部分）をトラックと決定し、このトラックに沿って光ビームを照射することにより、トラック上にピットを形成して情報を記録される。なお、光ビームをトラックに沿って照射するためのトラッキングサーボは光ビームの光軸中心がトラックの中心線上となるように制御する。
【０００３】
グルーブは中心周波数２２．０５ｋＨｚで極僅かにラジアル方向にウォブル（蛇行）しており、ＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）と呼ばれる記録時のアドレス情報（即ち時間情報）が、最大偏位±１ｋＨｚでＦＳＫ変調により多重されて記録されている。このウォブル信号は振幅が微小であるのでトラッキングサーボの障害とはならない。また、ウォブル信号周波数もトラッキングサーボの制御周波数帯域外であるため、光ビームの光軸中心は平均的にトラックの中心線上をトレースする。
【０００４】
これにより、光ディスク装置では光ディスクの半径方向に２分割した受光面を持つ光検出器で光ディスクで反射された光ビームを受光し、この２分割した受光面の光電変換信号を差動増幅することにより、ウォブル信号を検出する。そして、ウォブル信号の周波数２２．０５ｋＨｚの搬送波信号を基準としてスピンドルモータを回転駆動し、光ディスクを所定の回転速度で回転させる。更に、上記ウォブル信号を復調してアドレス情報を検出する。
【０００５】
これに対し、再生時には光ビームの光軸中心がトラックの中心線上となるように制御して、光ディスクのトラック上に形成されたピットに光ビームを照射し、光ディスクの半径方向に２分割した受光面を持つ光検出器で光ディスクで反射された光ビームを受光し、この２分割した受光面の光電変換信号を加算することにより、既記録信号を検出する。この加算でウォブル信号成分は相殺される。
【０００６】
図１３は、追記型光ディスクであるＣＤ−Ｒの信号記録フォーマットを示す図である。同図中、ディスクの中心部から順に最適記録パワーを記録・測定するためのパワーキャリブレーションエリア（ＰＣＡ）、インフォメーションエリアが設けられている。インフォメーションエリアは、追記途中における信号記録情報やスキップ情報を一時的に記録するプログラムメモリエリア（ＰＭＡ）、リードインエリア、ユーザデータエリア、リードアウトエリアで構成されている。
【０００７】
ＣＤ−Ｒでは、レーザビームの最適記録パワーを設定するために、実際の情報の記録に先立ってＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）動作を行う。ＯＰＣ動作は、記録特性を測定する動作であり、ディスクの所定位置に設けられたパワーキャリブレーションエリアでおこなわれる。パワーキャリブレーションエリアには１００回分のテストエリア（パーティション：Ｐ１００〜Ｐ００１）が設けられている。各パーティションは１５フレーム（Ｆ０１〜Ｆ１５）から構成される。各フレームには１５段階の異なる記録パワーでテスト信号が記録され、各フレームに記録されたテスト信号はそれぞれ再生される。テスト信号のピーク、ボトム値に基づいて最適か否かが判定される。この判定結果の１５段階の記録パワーのうち、ディスクに最も適した記録パワーが設定される。このような最適記録パワーの設定は、ディスクの製造元によってディスクの記録特性が異なるために必要となる。
【０００８】
図１４は、ＣＤ−Ｒに記録された信号を再生した時のＡＣ結合したＲＦ（高周波）信号のエンベロープのピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）を説明するための図である。ＡＣ結合したＲＦ信号は、再生信号からＤＣ成分を除去し、交流成分だけとした信号である。ＯＰＣでは、１フレームに１つの記録パワーを割り振り、最小パワーから最大パワーまで１５段階のパワーでテストエリアに記録を行ったのち、テストエリアから再生した図１４に示すＲＦ信号のエンベロープのピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）を検出する。
【０００９】
ここで、ボトム値（Ｂ）はマイナスの値であり、ピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）との値が同じ時、Ｐ＋Ｂ＝０となり、β＝０となる。β＝０は、ピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）が上下対称を意味する。次に、β＝（Ｐ＋Ｂ）／（Ｐ−Ｂ）で得た特性値βが所定値（例えば０．０４）を超えたと判断された段階の記録パワーを最適記録パワーとみなして、その後の信号記録を行っている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、レーザダイオードから出射される光ビームは、リードパワーとライトパワーとでパワーが異なるために光軸がずれることが起こり得る。図１５に示すように、レーザダイオードから出射されるリードパワー時の光ビームは実線で示ようになり、ライトパワー時の光ビームは破線で示すようになり、角度θだけの光軸のずれが生じる。この光軸のずれ方向がグルーブの幅方向であると、記録時においてもリードパワータイミングでトラッキングエラー信号が生成されるため、ライトパワーで記録されるピットが図１６に示すように、トラックの中心線上からずれてしまう。
【００１１】
グルーブをトラックとした場合に、記録時にグルーブ中心からずれて光ビームが照射されると、グルーブにはウォブルが施されているのでウォブルにより光ビームがグルーブの中心近くにくる場合と、グルーブの中心から大きくはずれる場合とがウォブル周期で発生する。光ビームがグルーブの中心近くに照射されると記録は通常通りであるが、グルーブの中心から大きくはずれて照射されるとグルーブの端部の影響を受けて記録が不十分になってしまう。これにより、ピットはウォブル周期で影響を受けることになる。
【００１２】
再生時はピットとグルーブとからトラッキングエラー信号が生成され、光ビームはほぼピットの中心付近を通るが、記録時の影響により再生ＲＦ信号にはウォブル周波数の振幅変動や波形歪みが生じる。この影響は記録信号の周期が短いほど大きく、ＣＤ−Ｒでは３Ｔ（基準時間幅Ｔは標準速度、つまり１倍速にて周波数４．３２ＭＨｚの１周期で約２３０ｎｓｅｃ）の信号が最も影響を受ける。この場合に再生ＲＦ信号は図１７に示すようになる。
【００１３】
このように再生ＲＦ信号のエンベロープがウォブル信号成分のために上下に変動すると、再生ＲＦ信号を２値化するときに再生ジッタが発生し、コンパレータ１２の出力する２値化信号はウォブル信号成分を含んだものとなるという問題があった。
【００１４】
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、記録時に最適なトラッキングオフセットを行うことができ、再生時のジッタを低減することができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、複数の記録速度で光ディスクに情報を記録可能な光ディスク装置において、
前記複数の記録速度に対応して記録トラッキングオフセット量の可変情報が予め記録されたテーブルを含む記録部と、
テスト記録時に記録速度に対応する前記記録トラッキングオフセット量の可変情報を前記記録部のテーブルから読み出し、読み出された該可変情報を用いて前記記録トラッキングオフセット量を可変して光ディスクの複数フレームにテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記複数フレームのテスト記録部分を再生した再生信号のフレーム毎の特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出する最適記録トラッキングオフセット量算出手段とを有することにより、
記録時に最適なトラッキングオフセットを行うことができ、光ビームがグルーブの中心近くに照射されるのでピットがウォブル周期で影響を受けることを防止でき、再生ジッタの発生を低減することができる。
【００１６】
請求項２に記載の発明は、請求項１記載の光ディスク装置において、
前記テスト記録手段は、前記記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行い、
前記最適記録トラッキングオフセット量算出手段は、前記記録トラッキングオフセット量が同一となる各フレームの特性値の平均を求め、フレーム毎の平均特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出することにより、
光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを低減することができる。
【００１７】
請求項３に記載の発明は、請求項２記載の光ディスク装置において、
前記テスト記録手段は、前記記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行う際に、各回で前記記録トラッキングオフセット量が同一となるフレームの記録位置を、前記光ディスクの異なる回転角度位置とすることにより、
光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを更に低減することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の光ディスク装置の一実施例のブロック構成図を示す。同図中、光ディスク２０はスピンドルモータにより駆動され軸２２を中心として回転する。マイクロコンピュータ２４は上位装置から供給される書き込み／読み出し命令に基づいてサーボ回路２６に命令を供給する。
【００１９】
サーボ回路２６は上記スピンドルモータのＣＬＶ（線速度一定）サーボを行うと共に、光ピックアップ２８のスレッドモータの回転制御を行って光ディスク２０の所望のブロックに移動させ、かつ、光ピックアップ２８のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行う。
【００２０】
光ピックアップ２８から照射されたレーザビームは、光ディスク２０の記録面上で反射され、反射ビームが光ピックアップ２８で検出される。光ピックアップ２８で得られた再生ＲＦ信号は再生回路３０に供給され、ここで増幅された再生ＲＦ信号はサーボ回路２６に供給されると共に、再生回路３０内でＥＦＭ復調を受けた後、ＡＴＩＰ信号が分離されてＡＴＩＰデコーダ３２に供給される。また、同期が取られた復調信号は、デコーダ３４に供給されてＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）デコード、エラー訂正の後、再生データとして出力される。ＡＴＩＰデコーダ３２はＩＤナンバや各種パラメータ等のＡＴＩＰ情報をデコードしてマイクロコンピュータ２４及びサーボ回路２６に供給する。
【００２１】
また、再生回路３０の出力する再生信号はピーク検出回路３８及びボトム検出回路４０に供給される。ピーク検出回路３８は、再生信号のピーク値Ｐを検出してマイクロコンピュータ２４に供給し、ボトム検出回路４０は再生信号のボトム値Ｂを検出してマイクロコンピュータ２４に供給する。
【００２２】
マイクロコンピュータ２４は、ＯＰＣ動作により最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量を算出して、これらを内蔵ＲＡＭ２４ａに記憶する。マイクロコンピュータ２４は上記最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量等に基づいて記録パワー制御信号及び最適トラッキングオフセット制御信号を生成する。この記録パワー制御信号はＤ／Ａコンバータ４２でアナログ化されて記録パワー制御電圧として記録回路４４に供給され、最適トラッキングオフセット制御信号はサーボ回路２６内の図２に示すトラッキングエラー検出回路に記録時オフセットとして供給されトラッキング制御信号に重畳される。
【００２３】
エンコーダ４６はマイクロコンピュータ２４の制御に基づいて、入力される記録信号をＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）エンコードを行って記録回路４４に供給する。
【００２４】
記録回路４４は、記録時にエンコーダ４６から供給される信号をＥＦＭ変調し、この変調信号を記録パワー制御電圧に応じた記録パワーに制御して光ピックアップ２８内のレーザダイオード（ＬＤ）に供給して駆動する。これによりレーザビームが光ディスク２０に照射されて信号記録が行われる。
【００２５】
なお、マイクロコンピュータ２４の内蔵するＲＡＭ２４ａには過去ＯＰＣ（記録パワーキャリブレーション）履歴、つまり、過去に測定された最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量が記憶される。このＯＰＣ履歴はある一定時間保持される。
【００２６】
更にマイクロコンピュータ２４の内蔵するＲＯＭ２４ｂには、光ディスクの種類（ＩＤナンバ）と記録速度（１，２，４，６，８，１２，１６倍速等）に応じた特性値βが記録されたテーブルと、記録速度（１，２，４，６，８，１２，１６倍速等）に応じたＯＰＣのスタートパワーとステップパワーが設定されたテーブル、及びトラッキングオフセット量のスタート値とステップ値が設定されたテーブル等が設定されている。また、操作キー５０からの指示入力はマイクロコンピュータ２４に供給される。
【００２７】
図２は、サーボ回路２６に内蔵される差動プッシュプル法を用いたトラッキングエラー検出回路の一実施例の回路構成図を示す。差動プッシュプル法ではグルーブにメイン光ビームスポットを照射すると共に、先行サブ光ビームスポット及び後続サブ光ビームスポットをグルーブの幅方向に所定長だけ逆方向に変位させて照射する。そのメイン光ビームスポットの反射ビームをグルーブの幅方向に２分割した光ピックアップ２８内の光検出器６０Ａ，６０Ｂで検出し、先行サブ光ビームスポットの反射ビームをグルーブの幅方向に２分割した光ピックアップ２８内の光検出器６２Ａ，６２Ｂで検出し、後続サブ光ビームスポットの反射ビームをグルーブの幅方向に２分割した光ピックアップ２８内の光検出器６４Ａ，６４Ｂで検出する。
【００２８】
光検出器６０Ａ，６０Ｂそれぞれの検出信号はサンプル・ホールド回路６６を経て減算回路６８の非反転入力端子，反転入力端子に供給され、減算回路６８の出力する差信号は減算回路７０の非反転入力端子に供給される。なお、サンプル・ホールド回路６６は光検出器６０Ａ，６０Ｂ，６２Ａ，６２Ｂ，６４Ａ，６４Ｂそれぞれの検出信号をリードパワーのタイミングでサンプリングしライトパワーの期間にホールドする。
【００２９】
光検出器６２Ａ，６２Ｂそれぞれの検出信号はサンプル・ホールド回路６６を経て加算回路７２，７４の一方の入力端子に供給され、光検出器６４Ａ，６４Ｂそれぞれの検出信号はサンプル・ホールド回路６６を経て加算回路７２，７４の他方の入力端子に供給される。加算回路７２は供給される２つの信号を加算して減算回路７６の非反転入力端子に供給し、加算回路７４は供給される２つの信号を加算して減算回路７６の反転入力端子に供給する。差動プッシュプル法を行うために、減算回路７６の出力する差信号はアンプ７８で例えばゲイン７で増幅された後、減算回路７０の反転入力端子に供給される。
【００３０】
減算回路７０の出力する誤差信号は加算器８０に供給され、ここでスイッチ８２から供給される再生時オフセットまたは記録時オフセットを加算され、トラッキングエラー信号とされて端子８４より出力される。このトラッキングエラー信号がゼロになるようにトラッキング制御することにより、メイン光ビームスポットがグルーブを追従するようなトラッキングが行われる。
【００３１】
図３は、マイクロコンピュータ２４が実行する記録時処理の一実施例のフローチャートを示す。同図中、記録（ＲＥＣ）が開始されると、ステップＳ１でサーボ回路２６に命令を供給し、光ピックアップ２８のスレッドモータの回転制御を行って、光ピックアップ２８を光ディスク２０の所望のフレームに移動させる等のセットアップ動作が行われる。ステップＳ２では、ＯＰＣ動作を実行するか否かを判別し、既にＯＰＣ動作が実行されている場合、ＯＰＣ動作を行わずにＲＥＣ動作が続行される。
【００３２】
ＯＰＣ動作が実行されていない場合、ステップＳ４でＯＰＣ動作が実行され、最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量が設定される。ＯＰＣ動作により最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量が設定されると、ステップＳ６で記録動作が要求されているか否かが判別される。記録動作が要求されると、ステップＳ８でＯＰＣ動作により設定された最適記録パワー及び最適記録トラッキングオフセット量を読み出し、光ディスク２０への記録動作を行う。
【００３３】
図４は、ステップＳ４で実行するＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートを示す。同図中、ステップＳ１０で記録速度を操作キー５０からの操作で指定した値に設定する。ステップＳ１２では内蔵メモリ内のＲＡＭ２４ａにＯＰＣの履歴が記憶されているか否かを判別し、ＯＰＣの履歴が記憶されていれば、履歴の記録パワーを設定してこの処理を終了する。
【００３４】
ＯＰＣの履歴が記憶されていなければステップＳ１４に進み、光ディスク２０に記録されているＩＤナンバを読み込み、ステップＳ１６でＲＯＭ２４ｂに格納されている図５に示すようなテーブルから上記ＩＤナンバと操作キー５０から指定された記録速度に応じて特性値βを目標特性値βｏ  として読み出す。例えば、ディスクの種類が「Ｄ１」、記録速度が「８倍速」とすると、特性値β４が目標特性値βｏ  として読み出される。次に、ステップＳ１８でＲＯＭ２４ｂに格納されている図６に示すようなテーブルから記録速度に応じたＯＰＣのスタートパワーとステップパワーを読み出す。例えば、記録速度が「８倍速」とすると、スタートパワーはＰｓｔｔ８、パワーステップはＰｓｔｐ８が読み出される。
【００３５】
次に、ステップＳ２０では、ＯＰＣ動作における最小パワーから最大パワーまでを、均等に分割した図７に示す第１〜第１５段階（ステップ）のパワーのうち、等間隔で離れた、第２，第５，第８，第１１，第１４段階のパワー（図中、ハッチングで示す）を選択して、光ディスク２０のパワーキャリブレーションエリアの１回分のテストエリア（１５フレーム）における第１〜５フレームに上記の粗いステップでパワーを可変してテスト記録を行う。
【００３６】
次に、ステップＳ２２で上記テストエリアの第１〜５フレームを再生して、各段階（フレーム）それぞれでの特性値βを計算する。ここでは、再生信号エンベロープのピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）から次式により特性値βを算出する。
【００３７】
β＝（Ｐ＋Ｂ）／（Ｐ−Ｂ）
次に、ステップＳ２４に進んで、図８に示すように、算出されたβが目標特性値βｏ（例えば０．０４）に隣接する段階（第８段階，第１１段階）の記録パワーＰｃ，Ｐｄから、上記目標特性値βｏ  を得るための粗調パワーＰｓを算出する。
【００３８】
この後、ステップＳ２６で、ＲＯＭ２４ｂに格納されているテーブルから記録速度に応じたトラッキングオフセット量のスタート値とステップ値を読み出し、ステップＳ２８で１回分のテストエリアの第６〜１０フレームにトラッキングオフセット量をスタート値からステップ値分だけ増加して順次テスト記録を行う。このときの記録パワーは粗調パワーＰｓを用いる。なお、この５フレームそれぞれのトラッキングオフセット量ＴＯ１，ＴＯ２，ＴＯ３，ＴＯ４，ＴＯ５は、ＴＯ１，ＴＯ２（＞ＴＯ１）が負の値、ＴＯ３＝０、ＴＯ４（＝−ＴＯ２），ＴＯ５（＝−ＴＯ１）が正の値とされる。
【００３９】
次に、ステップＳ３０で上記テストエリアの第６〜１０フレームを再生して各フレームでの特性値βを計算し、２次曲線近似を行って例えば図９に実線で示すようなトラッキングオフセット量と特性値βとの関係であるトラッキングオフセット特性を求める。そして、ステップＳ３２で、このトラッキングオフセット特性で最大値βｍａｘとなる点のトラッキングオフセット量ｘを最適記録トラッキングオフセット量としてＲＡＭ２４ａに書き込む。
【００４０】
なお、図９の一点鎖線はトラッキングオフセット量が０で特性値βが最大値βｍａｘとなる場合であり、再生パワーと記録パワーとで光軸のずれがなくトラッキングオフセットをかけなくてもトラック中心線上にピットが形成される場合を表す。トラッキングエラー信号は記録時であっても再生パワーの反射光をサンプリングして生成するため、トラッキングエラー信号だけでトラッキング制御しても記録パワー時に光軸のずれによるオフセットが発生し、トラック中心線上からずれてピットが形成される。トラッキングオフセットを可変しトラッキングエラー信号に重畳して記録を行うと、トラック中心線上からずれてピットが形成され記録特性が悪化するほど特性値βが低下する。このため、最大値βｍａｘのときに、ピットがトラック中心線上に記録されていると判断し、このときのトラッキングオフセット量を最適記録トラッキングオフセット量としている。
【００４１】
次に、ステップＳ３４で、最適記録トラッキングオフセット量から最適トラッキングオフセット制御信号を生成してサーボ回路２６に供給した上で、図１０に示すように、上記粗調パワーＰｓを中心として上下等間隔に５段階の記録パワーＰｆ，Ｐｇ，Ｐｓ，Ｐｈ，Ｐｉを設定し、光ディスク２０のパワーキャリブレーションエリアの１回分のテストエリアの第１１〜１５フレームに細かいステップでパワーが変化する５段階の記録パワーＰｆ，Ｐｇ，Ｐｓ，Ｐｈ，Ｐｉそれぞれでテスト記録を行う。
【００４２】
次のステップＳ３６では上記テストエリアの第１１〜１５フレームを再生してそれぞれの特性値βを計算し、これらの特性値βを結ぶ直線（または曲線）上における目標特性値βｏ  位置から、目標特性値βｏ  を得るための最適記録パワーを算出する。そして、ステップＳ３８で、この最適記録パワーをＲＡＭ２４ａにＯＰＣ履歴として記憶し処理を終了する。
【００４３】
なお、ステップＳ３４では、ステップＳ２０と同様に、ＯＰＣ動作における最小パワーから最大パワーまでを、均等に分割した第１〜第１５段階（ステップ）のパワーのうち、等間隔で離れた、第２，第５，第８，第１１，第１４段階のパワーを選択してテスト記録を行ってもよい。また、ステップＳ２０，Ｓ３４では光ディスクのＡＴＩＰ情報から推奨記録パワーを読み取り、この推奨記録パワーを中心とする複数の記録パワーでテスト記録を行い、これを再生して最適記録パワーを求めてもよい。この推奨記録パワーは１倍速記録時のものであるが、記録速度がＭ倍速の場合の記録パワーは推奨記録パワーのＭ１／２倍として求める。
【００４４】
このように、トラッキングオフセット量を可変したテスト記録を行い、最適記録トラッキングオフセット量を得ているので、記録時に最適なトラッキングオフセットを行うことができ、光ビームがグルーブの中心近くに照射されるのでピットがウォブル周期で影響を受けることを防止でき、再生ジッタの発生を低減することができる。
【００４５】
ところで、ＯＰＣでは９フレーム分のテスト記録が光ディスク２０の約１回転分に相当する。そこで、ステップＳ２８，Ｓ３０，Ｓ３４，Ｓ３６を次のように変更しても良い。
【００４６】
ステップＳ２８では、１回分のテストエリアの第６〜１４フレームに、２フレーム分のダミーに続けてトラッキングオフセット量をスタート値からステップ値分だけ増加して７フレーム分のテスト記録（１回目）を行い、さらに、１回分のテストエリアの第１５フレームと次の１回分のテストエリアの第１〜８フレームに、２フレーム分のダミーに続けてトラッキングオフセット量をスタート値からステップ値分だけ増加して７フレーム分のテスト記録（１回目）を繰り返す。図１１に、トラッキングオフセット量の可変の様子を示す。このときの記録パワーは粗調パワーＰｓを用いる。なお、ダミーを除く７フレームそれぞれのトラッキングオフセット量ＴＯ１〜ＴＯ７は、ＴＯ１，ＴＯ２（＞ＴＯ１），ＴＯ３（＞ＴＯ２）が負の値、ＴＯ４＝０，ＴＯ５（＝−ＴＯ３），ＴＯ６（＝−ＴＯ２），ＴＯ７（＝−ＴＯ１）が正の値とされる。
【００４７】
そして、ステップＳ３０で第６〜１４フレームを再生してトラッキングオフセット量の異なる７フレーム分の特性値βを計算し、第１５フレームと次の１回分のテストエリアの第１〜８フレームを再生してトラッキングオフセット量の異なる７フレーム分の特性値βを計算し、１回目及び２回目の同一トラッキングオフセット量における特性値βの平均値を計算し、この平均特性値βについて２次曲線近似を行ってトラッキングオフセット特性を求める。そして、ステップＳ３４，Ｓ３６では、次の１回分のテストエリアの第９〜１３フレームに記録パワーを可変したテスト記録及び再生を行う。
【００４８】
このように、トラッキングオフセット量を可変したテスト記録を２回繰り返すことで、光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを低減することができる。
【００４９】
なお、上記変形例のステップＳ２８において、トラッキングオフセット量の可変の仕方は図１２に示すようにしても良い。１回目の９フレームでトラッキングオフセット量がスタート値からステップ値分だけ順次増加するように可変する。つまり、１回目の１フレーム目ではトラッキングオフセット量ＴＯ１で、１回目の９フレーム目ではトラッキングオフセット量ＴＯ９となる。２回目の９フレームでは１回目の最後のトラッキングオフセット量ＴＯ９から順次減少して、最後にトラッキングオフセット量ＴＯ１となるように可変する。
【００５０】
このようにすれば、１回目と２回目とで同一トラッキングオフセット量（例えばＴＯ１）で記録されるフレームの光ディスク２０における回転角度位置が異なるため、光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを更に低減することができる。
【００５１】
なお、ステップＳ２８が請求項記載のテスト記録手段に対応し、ステップＳ３０が最適記録トラッキングオフセット量算出手段に対応する。
【００５２】
【発明の効果】
上述の如く、請求項１に記載の発明は、複数の記録速度で光ディスクに情報を記録可能な光ディスク装置において、前記複数の記録速度に対応して記録トラッキングオフセット量の可変情報が予め記録されたテーブルを含む記録部と、テスト記録時に記録速度に対応する前記記録トラッキングオフセット量の可変情報を前記記録部のテーブルから読み出し、読み出された該可変情報を用いて前記記録トラッキングオフセット量を可変して光ディスクの複数フレームにテスト記録を行うテスト記録手段と、複数フレームのテスト記録部分を再生した再生信号のフレーム毎の特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出する最適記録トラッキングオフセット量算出手段とを有することにより、記録時に最適なトラッキングオフセットを行うことができ、光ビームがグルーブの中心近くに照射されるのでピットがウォブル周期で影響を受けることを防止でき、再生ジッタの発生を低減することができる。
【００５３】
請求項２に記載の発明では、テスト記録手段は、記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行い、最適記録トラッキングオフセット量算出手段は、記録トラッキングオフセット量が同一となる各フレームの特性値の平均を求め、フレーム毎の平均特性値に基づいて最適記録トラッキングオフセット量を算出することにより、光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを低減することができる。
【００５４】
請求項３に記載の発明では、テスト記録手段は、記録トラッキングオフセット量を同様に可変させて複数フレームのテスト記録を複数回行う際に、各回で前記記録トラッキングオフセット量が同一となるフレームの記録位置を、光ディスクの異なる回転角度位置とすることにより、光ディスクの面ぶれや偏心等による特性値βの測定ばらつきを更に低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク装置の一実施例のブロック構成図である。
【図２】差動プッシュプル法を用いたトラッキングエラー検出回路の一実施例の回路構成図である。
【図３】マイクロコンピュータ２４が実行する記録時処理の一実施例のフローチャートである。
【図４】ＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートである。
【図５】特性値βのテーブルを示す図である。
【図６】スタートパワーとパワーステップのテーブルを示す図である。
【図７】テストエリアの記録を説明するための図である。
【図８】目標値βｏ  を得るための粗調パワーＰｓの算出を説明するための図である。
【図９】トラッキングオフセット特性を示すである。
【図１０】５段階の記録パワーの設定を説明するための図である。
【図１１】トラッキングオフセット量の可変の様子を示す図である。
【図１２】トラッキングオフセット量の可変の様子を示す図である。
【図１３】光ディスクの信号記録フォーマットを示す図である。
【図１４】光ディスクに記録された信号を再生した時のＲＦ（高周波）信号のエンベロープのピーク値（Ｐ）とボトム値（Ｂ）を説明するための図である。
【図１５】レーザダイオードから出射される光ビームの光軸のずれを説明するための図である。
【図１６】トラックの中心線上からずれて記録されたピットを示す図である。
【図１７】ウォブル信号成分が重畳された再生ＲＦ信号の波形図である。
【符号の説明】
２０  光ディスク
２２  軸
２４  マイクロコンピュータ
２４ａ  ＲＡＭ
２４ｂ  ＲＯＭ
２６  サーボ回路
２８  光ピックアップ
３０  再生回路
３２  ＡＴＩＰデコーダ
３４  デコーダ
３８  ピーク検出回路
４０  ボトム検出回路
４２  Ｄ／Ａコンバータ
４４  記録回路
４６  エンコーダ
５０  操作キー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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