(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体から第１のデータを読み出し、該第１のデータからクロックを抽出すると共に該クロックに同期した第２のデータを作成し、該第２のデータから復号された第３のデータをエラー訂正するデータ再生方法において、
前記第２のデータの数が前記第１のデータが記録されている記録領域より定められるデータの数より少ない場合であって、
同一データブロック内で連続して複数ビットの抜けが発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の所定の擬似データを、前記第２のデータの予め特定されたデータ抜け箇所に挿入して補正データを作成し、
同一データブロック内の複数箇所で単一ビットの抜けが発生した場合には、１クロック分の擬似データを、前記第２のデータの予め特定された複数のデータ抜け箇所に挿入して補正データを作成し、
前記第２のデータの数が前記第１のデータが記録されている記録領域より定められるデータの数より多い場合であって、
同一データブロック内で連続して複数ビットのデータ過多が発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の過多データを、前記第２のデータの予め特定されたデータ過多箇所から削除して補正データを作成し、
同一データブロック内の複数箇所で単一ビットのデータ過多が発生した場合には、１クロック分の過多データを、前記第２のデータの予め特定された複数のデータ過多箇所から削除して補正データを作成し、
前記補正データを復号して第３のデータとし、該第３のデータをエラー訂正することを特徴とするデータ再生方法。
【請求項２】
複数の記録領域を有する記録媒体の該記録領域を検出し、該記録領域内に記録されたデータ数を計測し計測予定数として出力する記録領域計測部と、
該記録媒体から該記録領域毎に読み出されたデータを保持するデータ保持手段と、
読み出された前記データのエラー発生位置を特定するエラー位置特定手段と、
前記エラー位置特定手段より特定されたエラー位置を複数記憶しておくエラー位置記憶手段と、
クロック抜け補正部又は／及びクロック過多補正部とを有し、
前記クロック抜け補正部は、
読み出された前記データの数が前記計測予定数より少ない場合であって、
同一データブロック内で連続して複数ビットの抜けが発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の所定の擬似データを、前記エラー位置特定手段からの位置情報に従って、前記データ保持手段に保持されているデータに挿入し、
同一データブロック内の複数箇所で単一ビットの抜けが発生した場合には、１クロック分の擬似データを、前記エラー位置特定手段からの位置情報に従って、前記データ保持手段に保持されているデータに挿入するものであり、
前記クロック過多補正部は、
読み出された前記データの数が前記計測予定数より多い場合であって、
同一データブロック内で連続して複数ビットのデータ過多が発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の過剰データを、前記エラー位置特定手段からの位置情報に従って、前記データ保持手段に保持されているデータから削除し、
同一データブロック内の複数箇所で単一ビットのデータ過多が発生した場合には、データ過多発生箇所毎に１クロック分の過剰データを、前記エラー位置特定手段からの位置情報に従って、前記データ保持手段に保持されているデータから削除するものであることを特徴とするデータ再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ記録再生方法および装置に係り、特に磁気テープ等記憶媒体上に書込まれたＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）  符号データを読み取る時に発生するデータ重複やデータ抜けに起因するリードエラーの救済処置に関する。
【０００２】
近年の記憶装置は、小型・大容量のために高記憶密度、高速データ転送等が要求されており、そのためにわずかな媒体上のキズやゴミ、ノイズ等の影響によってリードエラーをひき起こし、データの信頼性を高めることが非常に困難になってきている。
【０００３】
特に高い信頼性が要求されるデータ再生装置の場合には、媒体記録データはコード変換（デコード）  された後、ＥＣＣ  （Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）等の手段によりデータエラーをリカバリー（エラー訂正）しているが、前述の理由により発生したリードエラーの場合には、ランダム誤りがバースト誤りになり、誤りが大きくなるためＥＣＣ  等の手段でも救済できない場合がある。そのため、ＥＣＣ  等の手段にデータを送出する前にリードデータを修復する必要がある。
【０００４】
【従来の技術】
従来の記憶装置のＥＣＣ  では、記録媒体上にＲＬＬ  符号で書かれたデータをデコードした結果に対して訂正していた。媒体上に書かれたＲＬＬ  符号はいったんデコードされるため、その時点でリードビットに抜け等が発生した場合には、ＲＬＬ  符号の性質上  ＥＣＣでも訂正不可能なデータにもなりかねない。
【０００５】
例えば、１−７ＲＬＬ符号の場合には、デコードするときに前データブロックの最終ビットと後データブロックの最前ビットとを参照してデコードするために、その参照すべき位置にずれが生じた場合、誤ったデコードを行なってしまうことになる。
【０００６】
そのため、従来の装置においては、再リードを行なう（リトライ動作）等のリカバリー処置を行なうことによって信頼性の向上に努めていたが、それでも正常リードできない場合には、訂正不可能として、その部分を破棄していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明したように、従来は重要な書込みデータでも訂正が不可能であるために破棄されてしまうものがあり、データの信頼性を低下させるという問題点があった。
【０００８】
本発明は、媒体上の書込みデータのリードミスを検出することによって、不適当なデータを修復し、それをデコードしＥＣＣ  部に送出することでＥＣＣ  の訂正効率を向上させ、装置の信頼性を向上させることを目的としたものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は記録媒体から第１のデータを読み出し、該第１のデータからクロックを抽出すると共に該クロックに同期した第２のデータを作成し、該第２のデータから復号された第３のデータをエラー訂正するデータ再生方法において、前記第２のデータの数が前記第１のデータが記録されている記録領域より定められるデータの数より少ない場合であって、同一データブロック内で連続して複数ビットの抜けが発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の所定の擬似データを、前記第２のデータの予め特定されたデータ抜け箇所に挿入して補正データを作成し、同一データブロック内の複数箇所で単一ビットの抜けが発生した場合には、１クロック分の擬似データを、前記第２のデータの予め特定された複数のデータ抜け箇所に挿入して補正データを作成し、前記第２のデータの数が前記第１のデータが記録されている記録領域より定められるデータの数より多い場合であって、同一データブロック内で連続して複数ビットのデータ過多が発生した場合には、両者の差の数に対応するデータ長の過多データを、前記第２のデータの予め特定されたデータ過多箇所から削除して補正データを作成し、同一データブロック内の複数箇所で単一ビットのデータ過多が発生した場合には、１クロック分の過多データを、前記第２のデータの予め特定された複数のデータ過多箇所から削除して補正データを作成し、前記補正データを復号して第３のデータとし、該第３のデータをエラー訂正することを特徴とする。以下、具体的に説明する。
以上
【００１０】
図１は、磁気テープに於ける記録領域付近のデータフォーマットを示す図である。なお、磁気ディスク、光磁気ディスクも同様に扱えるため、それらの場合についての記載は省略する。ＩＢＧ（Ｉｎｔｅｒ  Ｂｌｏｃｋ  Ｇａｐ）部はデータブロックとデータブロックとの間のギャップであり、テープ走行速度が一定になるまでの時間を保証するためのギャップである。データブロックには、  ＲＬＬ符号化されたデータパターンが記録されている。
【００１１】
図２は、本発明に係るデータ記録再生装置の構成図を示す。同構成の装置は磁気装置（または、磁気ディスク装置、光磁気ディスク装置）であり、ある記録媒体に対して、ＰＬＬ  クロック周波数とほぼ同周波数の基準クロック（書き込み時に使用するクロック）  により記録領域を計測する手段（記録領域計測部１）を持ち、その記録領域計測部は、記録領域の先頭を検出する手段である記録領域検出部４（ＩＢＧ  検出等）による先頭検出タイミングから動作を開始する。
【００１２】
記録コードデータは、そのデータ自体から作られたＰＬＬ  クロックにより、その記録コードデータを同期し（ＰＬＬ２およびデータ同期部３）  、順次データ記憶送出手段（データ保持手段５）  を経由して、その記録データ（復調対象データ）をデコードするためのデコーダ７に送り込み、デコーダでデコードされたデータをＥＣＣエラー訂正部６にてエラー訂正する。上記構成に、クロック抜け補正部８と、クロック過多補正部９とを追加し、データ保持手段５出力のデータを補正することによってデータ補正が実現可能となる。
【００１３】
なお、クロック抜け検出およびクロック過多検出は、記録領域計測部１にて基準クロックを計測することにより得られた予定される記録領域の大きさと、クロック抜け補正部８またはクロック過多補正部９にてＰＬＬ  クロックを計測することにより得られた実際のデータの大きさとを比較する（差分をとる）  ことにより、行われる。その結果、その差分のデータが誤データの数となる。
【００１４】
また、エラー位置特定手段１０によりエラー発生位置を特定し、その特定した位置から上記差分のデータの数だけ、データ保持手段５を操作することによって疑似データに置き換える。なお、エラー発生位置の特定は、後述する如く既知の手段で行えばよい。
【００１５】
図３は、図１に対するクロック抜け時のデータの一例を示す。図２中の記録領域計測部１にて記録領域中のビット数を計測し、その結果、計測予定数よりもビット数が少ない場合には、ＰＬＬ  のクロック抜けによるエラー信号（以下ビット抜けエラー信号）  が発生したと認識される。エラー信号発生位置（矢印（１））は、ＲＬＬ  コードのデコードエラーにより特定される。次に、記録領域計測部１による計測予定数（範囲（２）  で示す記録領域データ数のこと）から、その領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数（範囲（３）  と範囲（４）  からなる）を差し引いた値、すなわち、
クロック抜け数＝範囲（２）  −〔範囲（３）  ＋範囲（４）  〕
を保持する。
【００１６】
そのクロック抜け数分の疑似データを、上記のビット抜けエラー信号発生位置（矢印（１））に挿入することにより、ビット抜け位置部分より後のデータを救済できる可能性がある。当然、復調データのビット数と記録領域計測手段のビット数とを必ず一致させなければならない。
【００１７】
上記説明が基本的なクロック抜け時のデータ補正方法であるが、以下のような事態のために任意に設定できる手段を使用し対応する。
第１は、ＰＬＬ  データ極性反転によってデータ保持手段内のデータを反転する場合である。この場合は、挿入する疑似データを任意に変更することにより対応する。
【００１８】
第２は、ビット抜けエラー信号が正確に発生されない場合である。すなわち、エラー信号が発生するのはエラーが発生してからであるが、エラー信号が発生する位置（時間）がエラーが発生した丁度の時刻でない場合がある。その場合には以下の方法で対応する。
【００１９】
例えば、エラー位置検出手段の特性が悪く、実際にエラーが発生した位置よりも後ろとしてエラー信号を発生した場合、その遅れてエラー検出した時間分、早めにデータを訂正する必要がある。エラー位置検出手段が実際にエラー信号として発生する時間（エラー信号発生の遅延時間）は、理論的に求めることができるし、実験でも調べることもできる。その決まっているエラー信号発生の遅延時間のデータ分だけ、エラー位置検出手段から発生されるエラー発生位置より早く疑似データを挿入することによって、データ補正の微調整ができる。
【００２０】
第３は、あるデータ塊内に複数のエラー位置が存在する場合である。この場合は、エラー位置検出（ＲＬＬ  デコード時）  を複数記憶しておく手段を持つことにより対応する。
【００２１】
図４は、図１に対するクロック過多時のデータの一例を示す。図２中の記録領域計測部１にて記録領域中のビット数を計測し、その結果、計測予定数よりもビット数が多い場合には、ＰＬＬ  の外部ノイズ等の影響で発生するクロック過多に起因するエラー信号（以下ビット過多エラー信号と呼ぶ）  が発生していると認識する。そのエラー位置の検出は、ＲＬＬ  コードのデコードエラーにより行なっている（矢印（５））。
【００２２】
次に、記録領域計測部１による計測予定数（範囲（６）  で示す記録領域データ数のこと）をその領域内にて発生したＰＬＬ  クロック（範囲（７）  で示される）から差し引いた値であるクロック過多数、すなわち、
クロック過多数＝範囲（７）  −範囲（６）
を保持する。
【００２３】
そのクロック過多数分のデータ数を、エラー信号発生位置（矢印（５））以降のデータ（ビット過多位置部分のデータ）から差し引くことにより、ビット過多位置部分より後のデータを救済できる可能性がある。当然、復調データのビット数と記録領域計測手段のビット数とは必ず一致させなければならない。
【００２４】
上記説明が基本的なクロック過多時のデータ補正方法であるが、以下のような事態のために任意に設定できる手段を使用し対応する。
第１は、ビット過多エラー信号が正確に発生されない場合である。すなわち、エラー信号が発生するのはエラーが発生してからであるが、エラー信号が発生する位置が、エラーが発生した丁度の時刻でない場合、以下の方法で対応する。
【００２５】
例えば、エラー位置検出手段の特性が悪く、実際にエラーが発生した位置よりも後ろとしてエラー信号を発生した場合、その遅れてエラー検出した時間分、早めにデータを訂正する必要がある。エラー位置検出手段が実際にエラー信号として発生する時間（エラー信号発生の遅延時間）  は、理論的に求めることができるし、実験等でも調べることができる。
【００２６】
その決まっているエラー信号発生の遅延時間分のデータ分だけ、エラー位置検出手段から発生されるエラー発生位置より早く過多データを差し引くことによって、データ補正の微調整ができる。
【００２７】
第２は、あるデータ塊内に複数のエラー位置が存在する場合であり、この場合には、エラー位置検出（ＲＬＬ  デコード時）  を複数記憶しておく手段を設けることにより対応する。
【００２８】
上記２方法、すなわち、クロック抜けのある場合の対応方法と、クロック過多の場合の対応方法は、記録領域計測手段による計測予定数（記録領域データ数範囲（２），または（６））と、その領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数とを比較することにより、ビット抜け用手段とビット過多用手段を切り換えられる。したがって、従来  ＥＣＣによる訂正が不可能であったデータが、訂正される可能性が高くなり、装置の信頼性を向上させることができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
図５のブロック図Ａは、本発明のクロック抜け補正部８の一構成例と周辺部よりなるブロック図である。図６のタイミングチャートＡ１は、同一データブロック内で連続して複数ビットの抜けが発生した場合の各部のデータの関係を示し、図７のタイミングチャートＡ２は、同一データブロック内の複数箇所で単一ビットの抜けが発生した場合について示す。
【００３０】
ＰＬＬ  のクロック抜けに起因する  ＲＬＬコードずれにより発生するビット抜けエラー信号（ア）  の発生手段は既知の手段を用いて構成することができる。例えば、  ＰＬＬ搬送周波数の数倍のクロックを使用し、  ＰＬＬ周期を計る手段を用いても構わないし、デコーダから出力されるデータからエラーを判断する手段を用いても構わない。そのエラー信号発生位置は、記録領域計測部１中のカウンタ１２（記録領域計測用）が、ＰＬＬ  とほぼ同周波数の基準クロックを用いて計測する。カウンタによる計測結果は、ＦＦ１３にてラッチされ、位置把握に用いられる。
【００３１】
カウンタ１２は、  ＩＢＧ（または記録領域の先頭）  が検出されたとき（ＩＢＧ検出信号（イ））、再ロードされる。エラー信号発生が複数回ある場合に対応し、そのＦＦ１３を複数種類  （例えばＦＦ１４  （図示しない），  ＦＦ１５  等を）  設けてもかまわない。また、ＦＦ１６は次記録領域でも（すなわち、次のデータの読み出し中にも）、ＦＦ１３が現在保持している値を保持するものである。
【００３２】
次に、記録領域計測部１（カウンタ１２）  で定まったデータ計測予定数（記録領域データ数）  に対応して、ＣＭＰ１９  が予定数分のイネーブルを作る。なお、予定数はＭＰＵ  等から任意に設定することができる。その領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数は、  ＰＬＬクロックを計測するカウンタ２０を使用し、ＣＭＰ１９  のイネーブルが有効な時にＰＬＬ  クロック数を計測する。そのイネーブルが有効な領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数と、データ計測予定数とを比較器等２１を使用して比較し、ＰＬＬ  クロック数が少なければ当クロック抜け補正部が選択されるようにする。
【００３３】
また、比較と同時に、  ＡＬＵ２２（減算器でもよい）を用い、データ計測予定数からカウンタ２０にて計測されたＰＬＬ  クロック数を差し引いた値（クロック抜け数）  が求められ、その値は  ＦＦ２３  により保持される。そのＦＦ２３により保持されたクロック抜け数相当の疑似データを、上記のビット抜けエラー信号発生位置に挿入する。その手段として、ＭＵＸ２４  はデータ保持手段５からエラー訂正部にデータを出力するタイミングにおいて、  ＦＦ１６  にて位置把握されていたエラー発生位置に対応する位置に、  ＦＦ２３  によるクロック抜け数の疑似データを切替え挿入する。
【００３４】
ＭＵＸ２４を切り替える疑似データ挿入用イネーブル対応のＣＭＰ２５  は、ＦＦ１６とＦＦ２３とデータ保持手段を管理するカウンタ２６により管理される。このカウンタ２６は、データ保持手段５からエラー訂正部へデータ送信するためのアドレスを管理する（アップ）カウンタであり、データ保持手段アドレスをデータ計測予定数までインクリメントしていくものである。  ＣＭＰ２５のイネーブル作成方法としては、カウンタ２６出力とＦＦ１６が同じになった時に  ＣＭＰ２５のイネーブルを有効として、ＦＦ２３のデータ数をエラー訂正部に送った後  ＣＭＰ２５のイネーブルを無効にする。このＦＦ２３のデータ数分を計測する手段として、カウンタ３５を設けているが、図５においては、カウンタ３５のカウントアップにて  ＣＭＰ２５のイネーブルは無効となる。このイネーブルが有効中は、カウンタ２６は停止する。ＭＵＸ２４  において挿入する疑似データは、  ＭＰＵなどからプログラマブルに変更することができるよう、  ＲＡＭ２７に作成される。
【００３５】
また、  ＭＰＵなどからプログラマブルに任意に変更できる値（設定値）  を、ＦＦ１６の出力から引くために、ＡＬＵ２８  （減算器でもよい）  を設ける。このように構成することにより、エラー発生位置（ＦＦ１６出力）に対して、設定値分少ないＡＬＵ  出力である位置、即ちエラー発生位置より任意クロック分前の位置から、疑似データを挿入することができるようになる。
【００３６】
さらに、エラーが複数箇所にある場合、ＦＦ１７（図示せず）、ＦＦ１８等を用いて、エラー位置検出をし、なおかつエラー箇所個数を計測するカウンタ２９を持ち、そのカウンタ出力と、ＦＦ２３にて保持されているクロック抜け数とを比較する。比較した結果、両者が等しい場合には、ＦＦ１６がそれぞれ示す位置に１クロック分の疑似データを挿入する。等しくない場合には、補正不可能エラーとして、上位にエラー報告をする。その報告に基づいて、上位はリードのリトライ等の処理をする。各々のエラー箇所に１クロック分だけの疑似データを挿入する理由は、１箇所のエラーに対して１個のデータ抜けの可能性が高いからである。複数箇所のエラー発生位置に、各々１クロック分だけカウンタ２６を止めるようにし、その時、ＭＵＸ２４  にて切替え、疑似データを挿入する。
【００３７】
図８のブロック図Ｂは、本発明のクロック過多補正部９の一構成例と周辺部よりなるブロック図である。図９のタイミングチャートＢ１は、同一データブロック内で連続して複数ビットの過多が発生した場合の各部のデータの関係を示し、図１０のタイミングチャートＢ２は、同一データブロック内の複数箇所で単一ビットの過多が発生した場合について示す。
【００３８】
クロック過多に起因する  ＲＬＬコードずれで発生するビット過多エラー信号（ウ）  の発生手段も、図５の場合と同様に、公知の手段を用いて構成することが出来る。またクロック抜け時同様、そのエラー信号発生位置は、カウンタ１２が  ＰＬＬとほぼ同周波数の基準クロックを用いて計測するカウンタによる計測結果はＦＦ１３にてラッチされ、エラー発生位置の把握に用いられる。
【００３９】
エラー信号発生が複数回ある場合も、クロック抜けの場合と同様に、ＩＢＧ  または記録領域の先頭が検出された時（ＩＢＧ検出信号  （イ））、再ロードされる。エラー信号発生が複数回ある場合に対応し、そのＦＦ１３を複数種類  （例えばＦＦ１４  （図示しない），  ＦＦ１５  等を）  もっても構わない。また、ＦＦ１６は次記録領域でも（すなわち、次のデータの読み出し中にも）ＦＦ１３の値を保持するものである。
【００４０】
次に記録領域計測部１によるデータ計測予定数（記録領域データ数）  は、カウンタ１２を使用して、予定数分のイネーブルを  ＣＭＰ１９に作る。その領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数は、ＰＬＬ  クロックを計測するカウンタ２０を使用し、  ＣＭＰ１９のイネーブルが有効な時にＰＬＬ  クロック数を計測する。そのイネーブルが有効な領域内にて発生したＰＬＬ  クロック数と、データ計測予定数を  ＣＭＰ２１を使用して比較し、ＰＬＬ  クロック数が多ければクロック過多補正部が選択されるようにする。また、比較と同時に、ＡＬＵ３０  （減算器でもよい、ＡＬＵ２２（ブロック図Ａ）  と共用する場合、ＡＬＵ  出力は負の数となる）  を用い、カウンタ２０にて計測されたＰＬＬ  クロック数からデータ計測予定数を差し引いた値（クロック過多数）  が求められ、その値はＦＦ２３により保持される。
【００４１】
そのＦＦ２３により保持されたクロック過多分のデータを、上記のビット過多エラー信号発生位置から削除する。そのために、データ保持手段からエラー訂正部にデータ出力するためのアドレスを管理する（アップ）カウンタ３６の出力と、ＦＦ１６にて位置把握されていたエラー発生位置が同じになった時、その時点からＦＦ２３にて保持されていたデータ数分のクロック分だけ、カウンタ３６出力にＡＬＵ３１  （加算器でも構わない）にて加算し、その加算出力３２が示す番地のデータをデータ保持手段５からエラー訂正部へ送出する。この加算を行うことにより、クロック過多部分のデータをエラー訂正部に出力しないようにできる。その後加算出力３２はインクリメントされるが、その加算出力３２はＦＦ３７の出力と同じになるまでインクリメントが続けられる。なお、ＦＦ３７は、ＣＭＰ１９  でイネーブルが有効な時にカウンタ２０にて計測された  ＰＬＬクロック数の最大値を、次記録領域でも保持するものである。
【００４２】
又、ＦＦ１６の出力から、  ＭＰＵなどからプログラマブルに任意に変更できる値（設定値）  を引くようにするための  ＡＬＵ２８（減算器でもよい）  を持つ。こうすることにより、エラー発生位置に対して（ＦＦ１６  出力）  、設定値分少ないＡＬＵ  出力である位置、即ちエラー発生位置より任意クロック分前の位置から、データ補正できるようになる。
【００４３】
クロック抜け時とクロック過多時でエラー発生位置を別に設定できるよう、設定値保存用のＲＡＭ（図示せず）  を各場合専用に２つに分けて構成してもよいが、共通して使用する構成にしてもよい。
【００４４】
さらに、エラーが複数箇所にある場合、  ＦＦ１７（図示せず）  、ＦＦ１８等にてエラー位置検出し、なおかつエラー箇所個数を計測するカウンタ２９を持ち、そのカウンタ出力と、ＦＦ２３にて保持されているクロック過多数とを比較する。比較した結果、両者が等しければ、加算出力３２が示す番地のデータをデータ保持手段５からエラー訂正部へ送出する。この動作をエラー箇所個数分だけ繰り返す。両者が等しくなければ、補正不可能エラーとして、上位にエラー報告する。上位はリードのリトライ等の処理をする。各々のエラー箇所に１クロック分だけのデータを削除する理由は、１箇所のエラーに対して１個のデータ過多の可能性が高いからである。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、従来ＥＣＣ  でもエラー訂正不可能であったＲＬＬ  コードデータのビット抜けや、ビット重複によって起こるリードエラーに対して、適当なビットを挿入もしくは、削除することによって、ＥＣＣ  で訂正できる可能性が高くなり、記憶装置のデータ記憶の信頼性の向上に寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図１】データフォーマット
【図２】構成図
【図３】クロック抜けのデータ
【図４】クロック過多のデータ
【図５】ブロック図Ａ
【図６】タイミングチャートＡ１
【図７】タイミングチャートＡ２
【図８】ブロック図Ｂ
【図９】タイミングチャートＢ１
【図１０】タイミングチャートＢ２
【符号の説明】
１は記録領域計測部、
２はＰＬＬ、
３はデータ同期部、
４は記録領域検出部、
５はデータ保持手段、
６はＥＣＣエラー訂正部、
７はデコーダ、
８はクロック抜け補正部、
９はクロック過多補正部、
１０はエラー位置特定手段、
１１はエラー検出、
１２、２０、２６、２９、３５、３６はカウンタ、
１３、１５、１６、１８、２３、３７はＦＦ、
１９、２１、２５は比較器（ＣＭＰ）、
２２、２８、３０、３１、３８はＡＬＵ、
２４はＭＵＸ、
２７はＲＡＭ、
３２は加算出力。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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