(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ジャイロ；
ロ−ルの曲面に当てるための先端が同一平面上に位置する、４個の接触子；
前記ジャイロおよび接触子を支持する部材；
角度ずれ情報の生成を指示する生成指示入力手段；および、
前記ジャイロおよび生成指示入力手段に接続され、該生成指示入力手段の指示に応答して該ジャイロの信号に基づいて前記指示部材の角度変化に応じた角度ずれ情報を生成する角度ずれ情報生成手段；
を備えるロ−ル平行度測定装置。
【請求項２】
動作電源が投入されてからウオームアップしそれから角度信号が所定速度でリニアにドリフトするジャイロ；
ロ−ルの曲面に当てるための先端が同一平面上に位置する、４個の接触子；
前記ジャイロおよび接触子を支持する部材；
セット指示入力手段；
角度ずれ情報の生成を指示する生成指示入力手段；
表示手段；および、
前記セット指示入力手段のセット指示に応答して前記ジャイロに動作電源を投入しウオームアップ時間後にドリフト速度の計測を開始して保持指示情報を前記表示手段に表示し、所定時間後にドリフト速度の計測を終了し前記表示手段に移動指示情報を表示し、前記生成指示入力手段の指示に応答して、前記ドリフト速度の計測を終了したときから該指示があったときまでの前記ジャイロの角度信号ならびに計測したドリフト速度に基づいて、前記ドリフト速度の計測を終了したときから該指示があったときまでの前記支持部材の角度変化に応じた角度ずれ情報を生成する角度ずれ情報生成手段；
を備えるロ−ル平行度測定装置。
【請求項３】
前記ジャイロは２組のジャイロであり、１組は垂直軸廻りの角速度を検出して垂直軸廻りの角度信号を発生し、もう一組は水平軸廻りの角速度を検出して水平軸廻りの角度信号を発生し；前記角度ずれ情報生成手段は、前記支持部材の垂直軸廻りの角度ずれ情報と水平軸廻りの角度ずれ情報を生成する；請求項１又は２に記載のロ−ル平行度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、平行に配列された複数のロ−ル間の平行度のずれ測定に関し、特に、複数ロ−ルの１つの中心軸線に対する他のロ−ルの中心軸線のなす角（平行からの偏角）の測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
鋼板などの帯状物を連続搬送する設備には、複数の搬送ロ−ルが装備され該帯状物を支持もしくは誘導したり、あるいは送り駆動する目的で使用されている。これらの搬送ロ−ルの各軸が相互に平行でないと、帯状物を所望の方向に搬送することが出来ず、帯状物が蛇行したり、あるいは帯状物にしわや疵を生じたり、場合によっては帯状物が破断したりすることもあり、帯状物の生産上，品質上に問題を生じ易い。
【０００３】
例えば、図７に示すように、帯状鋼板をある場所で４本のロ−ル１ｓ，１ｍ１〜１ｍ３で搬送又は支持もしくは案内する場合、ここでは鋼板がまず最初に到達するロ−ル１ｓの姿勢が、鋼板移動方向で上流側の搬送ロ−ル（図示せず）と実質上平行となるように設定され、ロ−ル１ｍ１〜１ｍ３は、ロ−ル１ｓに対して平行に設定される。４本のロ−ル１ｓ，１ｍ１〜１ｍ３において、ロ−ル１ｓが基準ロ−ルである。搬送対象物（鋼板）の種類，サイズ，搬送対象物に加わる張力ならびに搬送対象物に対する加工の内容等によって、ロ−ルの形状が定められる。ロ−ル形状には、例えば、図７の（ｂ）において（１）として示すストレ−ト，（２）として示すサインクラウン，（３）として示すテ−パクラウンあるいは（４）として示すナロ−ボディなどがある。
【０００４】
ロ−ル形状によって蛇行を生じ易い，生じにくいなどの程度差はあるが、基準ロ−ル１ｓに対してロ−ル１ｍ１〜１ｍ３の平行度がずれている（傾斜している）と、蛇行を生じ易くしかも、鋼板の幅方向に張力差を生じ、しわや疵を生じたり、場合によっては破断したりすることもある。
【０００５】
帯状物の蛇行防止のために、「ロ−ルステアリングによる蛇行制御」や、「ロ−ルクラウンによる蛇行制御」などの対処方法もあるが、搬送ロ−ルの軸方向のミスアライメントに起因する蛇行に関しては、ロ−ル相互の平行度（水平、又は垂直面上でロ−ルが「ハ」の字状配列になっていないか）を測定し、測定に基づいて、ロ−ル間を相互に平行に調整することが基本である。この方法として、先ずロ−ル軸の水平度（上下方向の傾き）を測定し、ロ−ル軸が水平になる様にロ−ル軸のアライメントを取る。すなわち、ロ−ル軸の両端を支持しているベアリングの取付位置を調整することにより軸位置を変更しロ−ルを水平にする。次にロ−ル軸の水平面上での方向のずれ（左右方向の傾き）を測定し、ロ−ル軸の向きが帯状物長手方向と直角方向になる様にロ−ル軸のアライメントを取る。すなわち、ロ−ル軸の両端を支持しているベアリングの取付位置を調整することにより軸位置を変更し、複数ロ−ルの平行度を調整する。
【０００６】
ロ−ルアライメント測定（平行度測定）に関する従来技術として、例えば特開平６−３０７８４５号公報による方法は、レ−ザ又は超音波検出器をロ−ル列の中間位置に設置し、該検出器を回転しつつビ−ムを複数のロ−ルに向けて発信（及び受信）する。そして各ロ−ル表面までの距離を測定し、該検出器の回転角及び測定距離に基づいて検出器から各ロ−ルまでの最短距離を演算し、ロ−ル位置を得ている。
【０００７】
また、特開平７−１０３７０５号公報による方法及び装置は、Ｌ型断面の細長な帯状接触部と、この帯状接触部の上部に回転自在に取り付けたロ−ル接触部から成る角度計を使用する。すなわち帯状接触部を帯状物の長手方向エッジに当接し、ロ−ル接触部をロ−ル長手方向表面に当接し、両者の角度差を目盛板より読み取るものである。
【０００８】
また一組／２個のロ−ル間の平行度を求める方法として、両ロ−ル間に糸をル−プ状に一巡させる方法がある。先ずロ−ル中央部付近において両ロ−ル間に糸をル−プ状に一巡させ糸長を測定しロ−ル間距離を求める。次にロ−ル端部付近において両ロ−ル間に糸をル−プ状に一巡させ糸長を測定する。更にロ−ルの他端部においても同様にして糸長を測定し、糸長の差からロ−ル平行度を求めロ−ルアライメントを取る方法である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら特開平６−３０７８４５号公報による方法は、装置の構成が複雑であり、測定時の装置の設置に時間を要し、また測定原理上、使用出来る場が制約される可能性がある。また、特開平７−１０３７０５号公報による方法及び装置を使用した場合には、要求精度を満足する測定は困難が予想される。例えば、幅が２ｍのロ−ルを使用した帯状鋼板の搬送装置において、その端部における許容偏位量は０．５ｍｍ程度であり、角度に直すと約(1.5/100)°であるので、該装置の測定精度では十分とは言えない。また糸を使用してロ−ルアライメントを取る方法は、糸の延び等による誤差が含まれ、ロ−ルアライメントを取る際のアクセスも容易でない（ロ−ル上部に足場を組む必要がある）。
【００１０】
この様に、現状においてはロ−ルアライメントを測定することは実際上困難がある。一方、帯状鋼板製造の、特に冷薄ラインでは薄手化及び幅広化に対応し、安定した通板（連続搬送）を達成することが重要な課題となっている。
【００１１】
本発明は、ロ−ル間の平行度を、迅速かつ高精度に測定することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
（１）本発明の第１態様のロ−ル平行度測定装置は、
ジャイロ(A,B)；
ロ−ル(1s,1m)の曲面に当てるための先端が同一平面上に位置する、４個の接触子(4a〜7a又は4b〜7b)；
前記ジャイロ(A,B)および接触子(4a〜7a又は4b〜7b)を支持する部材(3)；
角度ずれ情報の生成を指示する生成指示入力手段(21)；および、
前記ジャイロ(A,B)および生成指示入力手段(21)に接続され、該生成指示入力手段(21)の指示(オン)に応答して該ジャイロ(A,B)の信号に基づいて前記支持部材(3)の角度変化に応じた角度ずれ情報を生成する角度ずれ情報生成手段(15)；
を備える。
【００１３】
なお、理解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述する実施例の対応要素又は対応事項に付した符号を、参考までに付記した。
【００１４】
これによれば、作業者が支持部材(3)を、４個の接触子(4a〜7a)の先端が同時に第１ロ−ル(1s)の周面に当接するように、第１ロ−ル(1s)に装着すると、第１ロ−ル(1s)の中心軸線に対して４個の接触子(4a〜7a)の先端が位置する平面が平行となる。すなわち自動的に、支持部材(3)が第１ロ−ル(1s)の中心軸線に対して所定姿勢（平行）となる。
【００１５】
作業者は、支持部材(3)を第１ロ−ル(1s)に対して所定姿勢に当接し、次いで支持部材(3)の接触子(4a〜7a又は4b〜7b)を第２ロ−ル(1m)に対して所定姿勢に当接することにより、第１ロ−ル(1s)の姿勢に対する第２ロ−ル(1m)の姿勢ずれ(θ,φ)を容易かつ迅速に測定することができる。ジャイロ(A,B)による角度測定の精度は高いので、高精度な平行度測定値(θ,φ)を得ることができる。ところで、連続搬送設備に使用されるロ−ルは、蛇行制御のために様々な表面形状を持ったロ−ルが使用されている。ロ−ル表面形状としては図７の（ｂ）に示す様に、ストレ−トクラウンロ−ル，ｓｉｎクラウンロ−ル，テ−パクラウンロ−ル，ナロ−ボディロ−ル等がある。しかし何れのタイプのロ−ルでも、中心線（中間点）に対し対称な形状を持つので、上述のロ−ル平行度測定を実施する場合には、４個接触子（4a〜7a又は4b〜7b）を、それら（４点）の中心がロ−ルの中心線（中間点）に合致するように当接すれば、誤差なく測定することが出来る。
【００１６】
（２）本発明の第２態様のロ−ル平行度測定装置は、
動作電源が投入されてからウオームアップしそれから角度信号が所定速度でリニアにドリフトするジャイロ(A,B)；
ロ−ル(1s,1m)の曲面に当てるための先端が同一平面上に位置する、４個の接触子(4a〜7a又は4b〜7b)；
前記ジャイロおよび接触子を支持する部材(3)；
セット指示入力手段(12)；
角度ずれ情報の生成を指示する生成指示入力手段(21)；
表示手段(13)；および、
前記セット指示入力手段(12)のセット指示に応答して前記ジャイロに動作電源を投入しウオームアップ時間(3分)後にドリフト速度の計測を開始して保持指示情報(HOLD)を前記表示手段(13)に表示し、所定時間(5分)後にドリフト速度の計測を終了し前記表示手段(13)に移動指示情報(MOVE)を表示し、前記生成指示入力手段(21)の指示(オン)に応答して、前記ドリフト速度の計測を終了したときから該指示があったときまでの前記ジャイロの角度信号ならびに計測したドリフト速度に基づいて、前記ドリフト速度の計測を終了したときから該指示があったときまでの前記支持部材(3)の角度変化に応じた角度ずれ情報(θ，φ)を生成する角度ずれ情報生成手段(15)；
を備えるロ−ル平行度測定装置。
【００１７】
誤差が非常に小さい理想的なジャイロを使用してロ−ル平行度のずれ角を測定する場合でも、測定中に時間が経過すると地球自転によるジャイロ歳差（α）を生じる。すなわち、α＝３６０／２４×ｓｉｎＬ［度／時間］（但し、Ｌ；緯度）であるので、赤道以外の緯度においては、時間と共に歳差を生ずる。また、ジャイロ自体に温度ドリフトがある。
【００１８】
しかし、本発明の第２態様のロ−ル平行度測定装置では、角度ずれ情報生成手段(15)が、ジャイロの角度信号のドリフト速度(RVθ,RVφ)を自動測定し該ドリフト速度(RVθ,RVφ)に対応して角度ずれ情報(θ,φ)を修正する。図３に、支持部材(3)が静止しているときの、ファイバ・オプティック・ジャイロが発生する角度信号ドリフトの一例を示す。この例では、ジャイロに電源を投入してから３分間はジャイロが発生する測定信号（図示例では角度信号）は不安定である。３分経過後は所定の上昇速度で（実質上リニアに）角度信号レベルが上昇し、そして１５分経過後に角度信号レベルが飽和傾向となり、非線形となる。そこで本発明の後述の実施例では、ジャイロに電源を投入してから３分経過後から８分経過までの間（校正期間）で、角度信号のドリフト速度(RVθ,RVφ)を算出する。そしてドリフト速度が実質上一定の８分経過から１５分経過までに、ロ−ル平行度の測定(第１ロ−ル(1s)の姿勢に対する第２ロ−ル(1m)の姿勢ずれ量の算出)を行なって、得た姿勢ずれ量(θ,φ)を校正期間に算出したドリフト速度(RVθ,RVφ)に対応して補正し、補正値(RMθ,RMφ)をロ−ル平行度測定値とする。
【００１９】
【発明の実施の形態】
（３）前記ジャイロは２組のジャイロ(A,B)であり、１組は垂直軸廻りの角速度を検出して垂直軸廻りの角度信号(θ)を発生し、もう一組は水平軸廻りの角速度を検出して水平軸廻りの角度信号(φ)を発生し；前記角度ずれ情報生成手段(15)は、前記支持部材(3)の垂直軸廻りの角度ずれ情報(RMθ)と水平軸廻りの角度ずれ情報(RMφ)を生成する；上記（１）又は（２）に記載のロ−ル平行度測定装置。
【００２０】
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【００２１】
【実施例】
図２の（ａ）に本発明のロ−ル平行度測定装置の一実施例の外観を示す。測定器２の筐体３内にジャイロユニット８を内蔵している。筐体３は長方形状であり、その一壁面（以下対物面と称す）に、接触子４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂを固着している。対物面と脚４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂの先端との距離は同一であり、接触子４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂの先端は、同一平面上にある。
【００２２】
図１の（ａ）に、筐体３の背面（対物面に対向する面）側から見た、ロ−ル１ｓとそれに当接した筐体３の背面を示し、図１の（ｂ）にそれらの側面を示す。
【００２３】
図２の（ａ）および図１の（ａ）に示すように、接触子４ａ〜７ａの各先端をそれぞれロ−ル１ｓの周面（曲面）に当接させた状態では、筐体３の対物面がロ−ル１ｓの中心軸線Ｌ１ｓと平行となる。筐体３の基準線Ｌ２は対物面に平行であるので、筐体３の基準線Ｌ２がロ−ル１ｓの中心軸線Ｌ１ｓと平行となる。なお、図７の（ｂ）に、（２）〜（４）として示すように、ロ−ル端部にカ−ブ又はテ−パがある場合には、接触子４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂのいずれも該端部に対向しないように、筐体３の長手方向（Ｌ２）方向の中央点を、ロ−ルの中間線（図７の（ｂ）上の一点鎖線）に合せて、接触子４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂのそれぞれを同時にロ−ル周面に当接することにより、ロ−ル形状によらず、筐体３の基準線Ｌ２がロ−ル１ｓの中心軸線Ｌ１ｓと平行となる。この状態を、ロ−ル１ｓに対して筐体３が所定の姿勢にある、と表現する。
【００２４】
この実施例では、ロ−ル幅２０００ｍｍ、ロ−ル径２００ｍｍの、例えば図７の（ａ）に示すように平行に複数本が配列されたロ−ル列の、ロ−ル間平行度測定に適するように、測定器２の筐体３の大きさは２８０（高さ）×２８０（奥行）×１０００（幅）ｍｍとした。筐体３の幅は、前述の如く接触子間の間隔を十分に広く取るために測定するロ−ル幅の略半分に定めてある。
【００２５】
この実施例では、接触子４ａ〜７ａを基準ロ−ル１ｓの周面に当接した時の筐体３の姿勢に対する、接触子４ａ〜７ａ、又は４ｂ〜７ｂを比較ロ−ル１ｍ１〜１ｍ３（以下において、それぞれを単に１ｍと表記する）の周面に当接した時の筐体３の姿勢の偏差（平行度のずれ：基準ロ−ル１ｓの中心軸線に対する比較ロ−ル１ｍの中心軸線のなす角）を、ｘ，ｚ垂直面に対する基準線Ｌ２の角度の相対差（以下水平偏角θと称す）と、ｘ，ｙ水平面に対する基準線Ｌ２の角度の相対差（以下垂直偏角φと称す）で表わす。図１の（ｃ）および（ｄ）に示すように、比較ロ−ル１ｍを平行移動して基準ロ−ル１ｓの位置に移動させたと仮定すると、水平偏角θは図１の（ｄ）に示すように、基準および比較ロ−ル１ｓ，１ｍの中心軸線をｘ，ｙ水平面に投影したときの、投影線のなす角度θである。垂直偏角φは図１の（ｃ）に示すように、基準および比較ロ−ル１ｓ，１ｍの中心軸線をｘ，ｚ垂直面に投影したときの、投影線のなす角度φである。水平偏角θと垂直偏角φは方向が異なる（直交方向である）ので、２個のジャイロＡ，Ｂをジャイロユニット８に装備して、ジャイロＡで水平偏角θを、ジャイロＢで垂直偏角φを測定するようにした。
【００２６】
図４に、ジャイロユニット８内のジャイロＡ，Ｂの配置を示す。ジャイロＡ，Ｂは、それぞれ、日本航空電子工業株式会社製のファイバ・オプティック・ジャイロ  ＪＧ−３５ＦＤ型、である。各ジャイロは、縦及び横二軸に対して回転自由度を有するジンバルを介して筐体３により支持されており、測定器２（筐体３）の基準線Ｌ２が水平軸ｘ−ｘに平行になるように筐体３の姿勢を定めると、ジンバルによりジャイロ自体は自重により鉛直方向に垂下する。このときの筐体３の姿勢は略、図２の（ａ），図１の（ａ）および（ｂ）に示す姿勢であるが、ジャイロＡは垂直軸ｚ廻りの角速度ωθを検出し、角速度ωθ（の積分）により角度θを算出し、ジャイロＢは水平軸ｙ廻りの角速度ωφを検出し、角速度ωφ（の積分）により角度φを算出する。
【００２７】
なお、ファイバ・オプティック・ジャイロ  ＪＧ−３５ＦＤ型  は、円筒上に巻いた光ファイバ（ファイバコイル）の一端にレ−ザ光を導き入れ右回り光と成し、他端にも同様にレ−ザ光を導き入れ同左回りの光とした場合、この光学系全体を回転すると光ル−プを伝搬した左右両回りの２光波間に位相差が生じるという「サニャック効果」を利用している。この位相差は角速度と比例するため、このジャイロでは、この位相差を角速度に変換し、また角速度を積分して角度（リセット入力時点からの角速度積分値）を得て、角速度情報および角度情報を出力する。
【００２８】
再度図２の（ａ）を参照すると、ジャイロユニット８にワイヤハ−ネス２０を介して処理器１０が接続されている。この実施例では、使用時の利便性を考慮して、ロ−ル平行度測定装置を、測定器２と処理器１０に分離し、両者間をワイヤハ−ネス２０で接続している。処理器１０の操作パネルには、デジタル表示器１３，電源スイッチ１１，セットスイッチ１２等が配置されており、処理器１０の内部には、ファイバ・オプティック・ジャイロ及び処理器１０に使用するためのバッテリ１４（装置電源）がある。加えて、地球自転によるジャイロ歳差の自動測定，ロ−ル測定及び表示制御のために、プログラム，計算式及び文字デ−タをメモリしたＲＯＭ１７，ＣＰＵ１５，ＲＡＭ１６等から成る制御回路を備えている。測定器２の筐体３内には、ファイバ・オプティック・ジャイロＡ，Ｂ及びジンバルしか内蔵していないので軽量であり、ロ−ルへの当接あるいは保持を容易に行なうことが出来る。ファイバ・オプティック・ジャイロの特性上、ジャイロＡ，Ｂの電源を投入してから、測定を終了するまでに時間的制約がある。
【００２９】
図３に、ジャイロＡ，Ｂのドリフト特性を示す。図３においてジャイロＡ，Ｂの電源を投入してから３分経過まではジャイロが安定するまでのウォ−ムアップ時間である。３分経過後から８分経過までの５分間は、ジャイロを使用する位置（緯度）における地球自動率（Earth Rate）を自動計測する期間（校正時間）である。この期間に、角度測定値のドリフト速度（°/sec）を算出する。８分経過から１５分経過までの７分間は、ジャイロＡ，Ｂを使用して、基準ロ−ル１ｓに対する比較ロ−ル１ｍ（１ｍ１〜１ｍ３）の水平偏角θと垂直偏角φを計測することが出来る期間である。これ以上時間が経過すると、レ−ザ光によりジャイロＡ，Ｂのファイバ・オプティック部が発熱するためジャイロの測定精度が低下する。すなわちジャイロのリニアドリフト領域は、電源投入後３分から１５分迄である。もし、比較ロ−ルの本数が多く、全比較ロ−ルの水平偏角θ，垂直偏角φを計測するのに７分以上要する場合には、一旦ジャイロ電源をオフとしてファイバ冷却後、残りの比較ロ−ルに関する測定を再開する方法を取る。
【００３０】
図５および図６に、図２の（ｂ）に示すＣＰＵ１５の制御，演算処理の概要を示す。まず測定者は、ロ−ル平行度測定装置の測定器２を基準ロ−ル１ｓの中央部周面に装着し、処理器１０の操作盤にある電源スイッチ１１を「オン」にする。電源スイッチ１１のオンにより、処理器１０内の電気要素に所要の電圧が加わり、ＣＰＵ１５は動作電圧が加わったことにより、初期化を実行する。すなわちレジスタ，テ−ブル（メモリ領域：ＣＰＵ１５の内部ＲＡＭおよびＲＡＭ１６に割り当てている）のデ−タを初期値に設定し、出力ポ−トを待機時の信号レベルに設定する（ステップ１）。以下、カッコ内には、「ステップ」という語を略してステップ番号のみを表記する。ＣＰＵ１５は次に、セットスイッチ１２がオフからオンに切換わるのを待つ（２）。セットスイッチ１２がオンになると、ジャイロＡ，Ｂへの動作電圧を印加する（３）。すなわち、ジャイロＡ，Ｂの電源をオンにする（３）。これによりジャイロＡ，Ｂの内部のコントロ−ラが角速度の算出と角速度の積分を開始する（図３の横軸の０点）。ＣＰＵ１５は、ジャイロＡ，Ｂの電源をオンにすると同時に計時Ａ（経過時間の計測。計時値がＡ）を開始する（４）。そして計時値Ａが１８０秒（３分）になるのを待つ（５）。精度の高い偏角測定を行なうためには、ファイバ・オプティック・ジャイロＡ，Ｂが安定するまでウォ−ムアップする必要があり、この１８０秒の間、ＣＰＵ１５は表示器１３に「ＷＡＩＴ」を表示する（４）。表示デ−タは、ＣＰＵ１５がＲＯＭ１７より読出し、Ｉ／Ｏ ＆ バッファを介して表示器１３に与える。
【００３１】
測定者はこの「ＷＡＩＴ」の期間を利用して、測定器２の筐体３の対物面より突出する１組４個の接触子４ａ〜７ａの先端が全て基準ロ−ル１ｓのロ−ル周面に接するように筐体３の姿勢を整え（接触子４ａ〜７ａのすべてがガタつかない位置を探して）、その姿勢に測定器２を保持する。これを「ＷＡＩＴ」期間中に完了する必要がある。
【００３２】
計時値Ａが１８０秒になると、ＣＰＵ１５は、ジャイロＡおよびＢに角度デ−タθおよびφの転送を指示し、ジャイロＡおよびＢはこれに応答してそのときの角度デ−タθおよびφ（角速度ωθおよびωφの積分値）をＣＰＵ１５に転送し、ＣＰＵ１５は、得た角度デ−タθおよびφをそれぞれレジスタＲＩθおよびＲＩφに書込み、「ＨＯＬＤ」と角度デ−タθおよびφを表示器１３に表示する（６）。これらの角度デ−タは、図３の横軸の３分の位置での角度値である。
【００３３】
ＣＰＵ１５はそこで計時値が４８０秒（８分）になるのを待つ（７）。計時値Ａが４８０秒になると、ＣＰＵ１５は、ジャイロＡおよびＢに角度デ−タθおよびφの転送を指示し、ジャイロＡおよびＢはこれに応答してそのときの角度デ−タθおよびφ（角速度ωθおよびωφの積分値）をＣＰＵ１５に転送し、ＣＰＵ１５は、得た角度デ−タθおよびφをそれぞれレジスタＲＥθおよびＲＥφに書込む（８）。これらの角度デ−タは、図３の横軸の８分の位置での角度値である。
【００３４】
ＣＰＵ１５は次に、ドリフト速度
（ＲＥθ−ＲＩθ）／（４８０−１８０），
（ＲＥφ−ＲＩφ）／（４８０−１８０）
を算出してそれぞれレジスタＲＶθおよびＲＶφに書込む（９）。これらのドリフト速度は、図３の横軸の３分位置と８分位置の角度値の差を、両位置間の時間差で割った値であり、校正期間（３分位置〜８分位置）の間のドリフト速度を表わす。
【００３５】
ＣＰＵ１５は次に、ジャイロＡおよびＢにリセットを指示する（１０）。これに応じてジャイロＡおよびＢは角速度積分値を零に初期化し、０からの積分を再スタ−トする。これにより、筐体３をその４個の接触子４ａ〜７ａが基準ロ−ル１ｓに当接した姿勢している状態が角度基準値（０）に定められたことになる。
【００３６】
ＣＰＵ１５は、計時値ＡをレジスタＲＴＳにセ−ブし（１１）、表示中の角度値（θおよびφ）を０に更新すると共に、表示中の「ＨＯＬＤ」を「ＭＯＶＥ」に更新する（１２）。そしてＣＰＵ１５はメモリスイッチ２１がオンになるのを待つ（１３）。測定者は、筐体３を基準ロ−ル１ｓから離し、そして例えば第１比較ロ−ル１ｍ１に対して、４個の接触子４〜７がすべてロ−ル１ｍ１の周面に当接した姿勢に設定し、その状態でメモリスイッチ２１を１回オンとする。
【００３７】
測定者が筐体３を基準ロ−ル１ｓから離して第１比較ロ−ル１ｍ１に当接するまで、ジャイロＡ，Ｂが継続して、筐体３に発生した角速度ωθ，ωφを積分しているので、測定者が上述のようにメモリスイッチ２１をオンにしたとき、ジャイロＡ，Ｂの角度デ−タ（積分値）は、基準ロ−ル１ｓの中心軸線Ｌ１ｓに対する第１比較ロ−ル１ｍ１の中心軸線Ｌ１ｍの水平偏角θおよび垂直偏角φを表わすものになっている。ただし、ステップ１１でレジスタＲＴＳに書込んだ時刻（計時値Ａ）からここまでの時間経過の間のドリフト量
ＲＶθ×（現在の計時値Ａ−ＲＴＳ），
ＲＶφ×（現在の計時値Ａ−ＲＴＳ）
が含まれる。ＲＴＳはレジスタＲＴＳのデ−タが表わす時間値である。
【００３８】
図６を参照する。メモリスイッチ２１がオンになるとＣＰＵ１５は、ジャイロＡおよびＢに角度デ−タθおよびφの転送を指示し、ジャイロＡおよびＢはこれに応答してそのときの角度デ−タθおよびφ（角速度ωθおよびωφの積分値）をＣＰＵ１５に転送し、ＣＰＵ１５は、得た角度デ−タθおよびφよりドリフト量を減算した修正値
θ−ＲＶθ・（現在の計時値Ａ−ＲＴＳ），
φ−ＲＶφ・（現在の計時値Ａ−ＲＴＳ）
を算出してレジスタＲＭθおよびＲＭφに書込み、角度表示値をレジスタＲＭθおよびＲＭφのデ−タが表わす値ＲＭθおよびＲＭφに更新する（１４）。これらの値が、基準ロ−ル１ｓに対する第１比較ロ−ル１ｍ１の、ジャイロドリフトを自動修正した、水平偏角θおよび垂直偏角φである。
【００３９】
ＣＰＵ１５は次に、ＲＡＭ１６の１メモリ領域に割り当てているテ−ブルの、読込書きアドレスを１インクリメントして（１５）、そこに、レジスタＲＭθおよびＲＭφのデ−タを書込む（１７）。
【００４０】
ただし、その前に計時値Ａが９００秒未満であるかをチェックして（１６）、９００秒未満であるときに、上述のデ−タ書込みを行ない、計時値Ａが９００秒以上（図３のリニアドリフト域の外側）であると、測定誤差が大きくなるので、「ＥＲＲＯＲ」を書込み（２１）、表示中の「ＭＯＶＥ」ならびに角度表示を「ＥＲＲＯＲ」に変更する（２２）。なお、このようになったときには、測定者は、セットスイッチ１２をオフにして、ジャイロＡ，Ｂの冷却を待ち、十分に冷却した後に、筐体３を基準ロ−ル１ｓに再装着してセットスイッチ１２を再度オンにすればよい。これにより、上述のステップ３以下が上述のように実行されるので、表示が「ＨＯＬＤ」から「ＭＯＶＥ」に変わったときに、筐体３を、「ＥＲＲＯＲ」表示となった比較ロ−ル１ｍｉに再装着し、メモリスイッチ２１を一度オンにすればよい。
【００４１】
さて、まだ計時値Ａが９００秒未満であるとして前述のステップ１７に続く処理を説明する。測定者は次に、筐体３を第１比較ロ−ル１ｍ１から離し、そして例えば第２比較ロ−ル１ｍ２に対して、４個の接触子４〜７がすべてロ−ル１ｍ２の周面に当接した姿勢に設定し、その状態でメモリスイッチ２１をオン（第２回目のオン）とする。ＣＰＵ１５はステップ１７の処理（前述）を経ると、スイッチ２１がオンになるのを待っており（１８〜２０）、スイッチ２１の第２回目のオンに応答して、上述のステップ１４〜１７を実行して、基準ロ−ル１ｓに対する第２比較ロ−ル１ｍ２の、ジャイロドリフトを自動修正した、水平偏角θおよび垂直偏角φを算出して、表示を更新し（１４）、かつテ−ブルに追加書込みする（１５〜１７）。このようにして、表示が「ＥＲＲＯＲ」になるまで、測定者は、筐体３を順次に第３比較ロ−ル１ｍ３，第４比較ロ−ル１ｍ４，・・・と移してロ−ルに対して上述の所定の姿勢に設定してメモリスイッチ２１をオンとする操作を繰返すことにより、基準ロ−ル１ｓに対する各比較ロ−ルの水平偏角θおよび垂直偏角φ（ドリフト補正済のもの）が表示器１３に表示され、かつＲＡＭ１６上のメモリテ−ブルに書込まれる。
【００４２】
表示器１３に「ＥＲＲＯＲ」が表示されると、測定者はそこでセットスイッチ１２をオフにして、所定の冷却時間の後に筐体３を基準ロ−ル１ｓに再装着してセットスイッチ１２を再度オンにし、その後表示が「ＨＯＬＤ」から「ＭＯＶＥ」に変わったときに、筐体３を、「ＥＲＲＯＲ」表示となった比較ロ−ル１ｍｉから測定を再開すればよい。
【００４３】
電源スイッチ１１がオンの間、測定デ−タがメモリテ−ブル（ＲＡＭ１６）に保持されている。所要ロ−ルすべての測定を終えた後、あるいは「ＥＲＲＯＲ」表示となったときに（測定途中に）、セットスイッチ１２をオフにして（必ずしもオフにする必要はないが、ジャイロＡ，Ｂの冷却を行なうためにオフにするのが好ましい）、リコ−ルスイッチ２２ならびにアップ，ダウンスイッチ２３，２４を用いて、表示器１３に、メモリテ−ブルの全測定デ−タを順次に表示して読み取ることができる。
【００４４】
リコ−ルスイッチ２２がオフからオンに切換わるとＣＰＵ１５は、メモリテ−ブルの読み書きアドレスＲＭＡを１（第１番に測定した比較ロ−ル：上述の説明によれば比較ロ−ル１ｍ１）として（１９，２３〜２５）、該アドレスのデ−タ（ドリフト補正した水平偏角θおよび垂直偏角φ：ステップ１７で書込んだデ−タ）を読出して表示器１３に表示する（２６）。
【００４５】
リコ−ルスイッチ２２がオンのときにアップスイッチ２３が１回オンになるとＣＰＵ１５は、メモリテ−ブルの読み書きアドレスＲＭＡを１インクリメントして（２３，２７，２８）、該アドレスのデ−タを読出して表示器１３に表示する（２９）。したがって、アップスイッチ２３の１回オンを繰返すことにより、測定した順番に、メモリテ−ブルの測定デ−タが順次表示される。リコ−ルスイッチ２２がオンのときにダウンスイッチ２４が１回オンになるとＣＰＵ１５は、メモリテ−ブルの読み書きアドレスＲＭＡを１デクリメントして（２３，２７，３１，３２）、該アドレスのデ−タを読出して表示器１３に表示する（３３）。したがって、ダウンスイッチ２３の１回オンを繰返すことにより、測定した順番と逆順に、メモリテ−ブルの測定デ−タが順次表示される。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）は、図２に示す測定器２を基準ロ−ル１ｓに所定の姿勢で装着した状態を示す背面図、（ｂ）は側面図である。（ｃ）は基準ロ−ル１ｓの位置に比較ロ−ル１ｍを平行移動した場合の、基準ロ−ル１ｓに対する比較ロ−ル１ｍの垂直偏角φを示す正面図であり、（ｄ）は基準ロ−ル１ｓに対する比較ロ−ル１ｍの水平偏角θを示す平面図である。
【図２】（ａ）は本発明の一実施例の外観を示す斜視図、（ｂ）は該実施例の電気系統の構成を示すブロック図である。
【図３】図２の（ｂ）に示すファイバ・オプティック・ジャイロＡ，Ｂの、時間に対するドリフト量を示したグラフである。
【図４】図２の（ｂ）に示すファイバ・オプティック・ジャイロＡ，Ｂを鉛直に支持するジンバルを示す斜視図である。
【図５】図２の（ｂ）に示すＣＰＵ１５の測定制御および演算処理の一部を示すフロ−チャ−トである。
【図６】図２の（ｂ）に示すＣＰＵ１５の測定制御および演算処理の残部を示すフロ−チャ−トである。
【図７】（ａ）は帯状鋼板搬送設備の鋼板及びロ−ルの配置を示す斜視図であり、（ｂ）は使用されるロ−ルの形状例を示す平面図である。
【符号の説明】
１ｓ：基準ロ−ル                １ｍ，１ｍ１〜１ｍ３：比較ロ−ル
２：測定器                      ３：筐体（ジャイロ支持部材）
４ａ〜７ａ，４ｂ〜７ｂ：接触子  ８：ジャイロユニット
１０：処理器                    １１：電源スイッチ
１２：セットスイッチ            １３：表示器
１４：バッテリ                  １５：ＣＰＵ
１６：ＲＡＭ                    １７：ＲＯＭ
２０：ワイヤハ−ネス            ２１：メモリスイッチ
２２：リコ−ルスイッチ          ２３：アップスイッチ
２４：ダウンスイッチ
【図１】
0003587415.tif 000002
【図２】
0003587415.tif 000003
【図３】
0003587415.tif 000004
【図４】
0003587415.tif 000005
【図５】
0003587415.tif 000006
【図６】
0003587415.tif 000007
【図７】
0003587415.tif 000008