【事件の表示】
　特願２０００−１９８２２３「走査形プローブ顕微鏡」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　１月１８日出願公開，特開２００２−　１４０２６〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成１２年６月３０日の特許出願であって，平成１９年３月６日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年４月２７日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに，同年５月２８日付けで手続補正（以下，「本件補正」という。）がなされたものである。　
　　
第２　本件補正についての補正却下の決定　
［補正却下の決定の結論］　
　　平成１９年５月２８日付けの手続補正を却下する。　
［理由］　
１　補正後の請求項１に記載された発明　
　本件補正により，補正前の特許請求の範囲（平成１９年１月１９日付けで補正されたもの。以下，同様。）の請求項１は，次のとおりに補正された。（下線は，補正箇所を示す。）　
「【請求項１】像観察を行なうための試料室に配置された試料を冷却できるように構成された走査形プローブ顕微鏡において、試料周りを囲い込むように前記試料室に配置された冷却カバーと、該冷却カバーを冷却するための手段を備え
、前記冷却カバーは金メッキが施された銅板で形成されている
　　
　上記補正は，補正前の請求項１に係る発明を特定するために必要な事項である「冷却カバー」について，「金メッキが施された銅板で形成されている」と限定する補正であるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。　
　　
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下，「補正発明」という。）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下検討する。　
　　
２　引用刊行物の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開平１０−１１５６２４号公報（以下，「引用例１」という。）には，「走査形プローブ顕微鏡」について図面と共に次の事項が記載されている。　
　　
（１−ア）　
「【特許請求の範囲】
【請求項１】  観察用試料ステージによって移動されるスキャナに試料が載置され、この試料に対向して配置される探針を有するカンチレバーに、光源から放出される光線を照射するとともに、前記カンチレバーにおいて反射した前記光線の反射光をフォトディテクタによって受光させながら前記スキャナを走査することにより、前記試料の観察を行うようになっている走査形プローブ顕微鏡において、
装置本体のハウジング内を真空排気可能とするとともに、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記スキャナ上に前記試料を交換可能にする試料導入機構と、前記ハウジング内で前記観察用試料ステージの近傍に設置され、前記試料を割断する割断手段と、前記装置本体に設けられ、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記割断手段および前記試料を冷却する冷却手段と、前記ハウジング内に設けられ、前記試料を前記割断手段によって割断するために前記試料を移動させる割断用ステージとを備えていることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。
【請求項２】  前記観察用試料ステージと前記割断用ステージとが１つの試料ステージで兼用されていることを特徴とする請求項１記載の走査形プローブ顕微鏡。
【請求項３】  前記割断手段は、前記カンチレバーを保持するカンチレバーホルダに取り付けられていることを特徴とする請求項１または２記載の走査形プローブ顕微鏡。
【請求項４】  前記前記冷却手段の冷熱を、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記割断手段および前記試料に伝達するヒートコンダクタを備えていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１記載の走査形プローブ顕微鏡。
【請求項５】  試料ステージによって移動されるスキャナに、試料を保持した試料ホルダが載置され、前記試料に対向して配置される探針を有するカンチレバーに、光源から放出される光線を照射するとともに、前記カンチレバーにおいて反射した前記光線の反射光をフォトディテクタによって受光させながら前記スキャナを走査することにより、前記試料の観察を行うようになっている走査形プローブ顕微鏡において、
装置本体のハウジング内を真空排気可能とするとともに、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記スキャナ上に前記試料を交換可能にする試料導入機構と、前記装置本体に設けられ、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記試料を冷却する冷却手段と、前記ハウジング内で前記試料を劈開する劈開手段とを備えていることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。
【請求項６】  前記試料ホルダが、前記試料を保持した下側ホルダと、この下側ホルダとの間に前記試料を挟み込む上側ホルダとからなり、前記割断手段は、前記上、下側ホルダの間に前記試料を挟み込みかつこれらの上、下側ホルダおよび試料を凍結し、更に前記下側ホルダを前記スキャナに装着した状態で前記上側ホルダを劈開することにより前記試料を割断する劈開手段であることを特徴とする請求項５記載の走査形プローブ顕微鏡。」　
　　
（１−イ）　
「【０００１】　
【発明の属する技術分野】本発明は、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）等の試料からの力を受けて試料表面を測定する走査形プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）の技術分野に属し、特に真空排気が可能でかつ試料の冷却が可能な走査形プローブ顕微鏡の技術分野に属するものである。」　
　　
（１−ウ）　
「【００２４】更にＡＦＭ装置本体のハウジング１２には、冷却手段用ハウジング１４が気密に取り付けられているとともに、冷却手段用ハウジング１４内には液体窒素タンク１５が収容されている。この液体窒素タンク１５には熱伝導棒１６が連結されており、この熱伝導棒１６は気密を保持されてＡＦＭ装置本体のハウジング１２内に延設されている。そして、この熱伝導棒１６とかんな台７ａとが、銅製の薄膜を重ね合わせて作られた第１ヒートコンダクタ１７によって熱伝導的に接続されている。
【００２５】更にＡＦＭ装置本体には、カンチレバーホルダ１８が取り付けられたＡＦＭヘッド１９がスキャナ７の上方に位置して取り付けられている。図３に示すようにカンチレバーホルダ１８はＬ字形に形成されており、このカンチレバーホルダ１８のＬ字形の一辺に、先端に探針をカンチレバー４が取り付けられているとともに、Ｌ字形の他辺にカッター刃２１が熱絶縁材（不図示）を介して取り付けられている。その場合、カンチレバーホルダ１８はＬ字形の一辺がＸ軸方向にまた他辺がＹ軸方向にそれぞれなるように配設されており、したがってカッター刃２１はＸ軸と直交するように配置されている。このカッター刃２１も、前述のかんな台７ａと同様に銅製の薄膜を重ね合わせて作られた第２ヒートコンダクタ２２を介して熱伝導棒１６に熱伝導的に接続されている。」　
　　
（１−エ）　
「【００２９】次いで、手動により試料ステージ１０がＸ-Ｙ-Ｚ方向の粗動機構により、生体試料５の表面がカッター刃２１の近傍に移動される。更に、生体試料５がＸ方向に移動されることにより、生体試料５の表面がカッター刃２１により割断される。その場合、この生体試料５のカッター刃２１による割断は、試料表面に観察可能な平面が現れるまで、Ｚ方向に生体試料５を上げながら少しずつ繰り返して行われる。そして、観察可能なある程度の割断面が現れたところで、この生体試料５の割断が終了されるとともに、試料ステージ１０は、生体試料５がカンチレバー４の探針に対向する位置までＸ-Ｙ-Ｚ方向に移動される。このとき、生体試料５の搬送がハウジング１２内で真空度が劣化しない状態で行われるとともに、かんな台７ａおよびカッター刃２１がともに液体窒素の冷熱で冷却されているため生体試料５の温度が上昇しなく、その結果生体試料５の割断表面に霜が付着することはない。その後、従来のＡＦＭ観察と同様のＡＦＭ観察が行われる。」　
　　
（１−オ）　
「【００３１】この例のＡＦＭ１によれば、ＡＦＭ装置本体に設けられた液体窒素タンク１５の液体窒素の冷熱により生体試料５の凍結状態を保持させながら、凍結割断された生体試料５の割断表面のＡＦＭ観察を、レプリカを作製することなく直接行うことができるようになる。その場合、ＡＦＭ装置本体のハウジング１２内の真空排気を行うことができるようになっていて、ＡＦＭ装置内の割断位置および観察位置への生体試料５の搬送に伴う真空度の劣化をなくすことができるとともに、液体窒素の冷熱により生体試料５の温度上昇を抑制できるので、生体試料５の表面に霜が付着することがなくなり、試料５の観察をより正確に行うことができるようになる。」　
　　
　上記記載事項（１−ア）〜（１−オ）および図面を総合すると，引用例１には，以下の発明が記載されていると認められる。　
「観察用試料ステージによって移動されるスキャナに試料が載置され、この試料に対向して配置される探針を有するカンチレバーに、光源から放出される光線を照射するとともに、前記カンチレバーにおいて反射した前記光線の反射光をフォトディテクタによって受光させながら前記スキャナを走査することにより、前記試料の観察を行うようになっている走査形プローブ顕微鏡において、
装置本体のハウジング内を真空排気可能とするとともに、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記スキャナ上に前記試料を交換可能にする試料導入機構と、前記ハウジング内で前記観察用試料ステージの近傍に設置され、前記試料を割断する割断手段と、前記装置本体に設けられ、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記割断手段および前記試料を冷却する冷却手段と、前記ハウジング内に設けられ、前記試料を前記割断手段によって割断するために前記試料を移動させる割断用ステージとを備えている走査形プローブ顕微鏡。」（以下，「引用発明」という。）　
　　
３　補正発明について　
（１）対比　
　補正発明と引用発明とを対比すると，引用発明は，「前記試料の観察を行うようになっている走査形プローブ顕微鏡」であるから，補正発明と同様に「像観察を行なうための・・・・・走査形プローブ顕微鏡」であり，そして，引用発明は，「装置本体のハウジング内を真空排気可能とするとともに、前記ハウジング内の真空を保持した状態で前記スキャナ上に前記試料を交換可能にする」のであるから，補正発明と同様に「試料」が「試料室に配置され」ていることは明らかである。また，引用発明は，「前記ハウジング内の真空を保持した状態で・・・・・前記試料を冷却する冷却手段・・・・・を備えている」であるから，補正発明と同様に「試料を冷却できるように構成され」ているといえる。　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「像観察を行なうための試料室に配置された試料を冷却できるように構成された走査形プローブ顕微鏡」　
である点で一致し，次の点で相違する。　
　　
（相違点）　
　補正発明では「試料周りを囲い込むように前記試料室に配置された冷却カバーと、該冷却カバーを冷却するための手段を備え、前記冷却カバーは金メッキが施された銅板で形成されている」のに対し，引用発明はそのような構成を備えていない点。　
　　
（２）判断　
　そもそも，真空中で試料を観察する顕微鏡の技術分野において，「試料の周りを囲い込むように配置された冷却カバーにより，ガスをトラップする」ことは，本願出願前周知の技術であるといえる。　
　例えば，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開平４−２４５３２号公報の２頁左上欄２０行〜同頁右上欄４行には「冷却用フィン（９）は熱伝導部材（８）に接続されているので非常に低温に冷却される。すると、試料（４）の周囲の気体は、コールド　トラップ現象により冷却された冷却用フィン（９）に吸着される。」と記載され，また，本願出願前に頒布された刊行物である実公昭６４−３１７１号公報の１頁２欄２５〜２７行には，「・・・・・該試料は互いに熱絶縁された汚染防止用の冷却トラップ３と熱シールド用の冷却体４との二重の冷却部材によって囲まれている。」と記載され，さらに，本願出願前に頒布された刊行物である実願昭６３−１５７３４０号（実開平２−７７８４２号）のマイクロフィルムの明細書２頁１２行〜同３頁２行には「前記試料処理室７内に設けられた冷却トラップ８は液体窒素などの導入された冷媒槽９によって冷却されている。そのため、該トラップ内の試料台１０上にセットされた試料１２は冷却ナイフ１３による割断時や蒸着源１４による蒸着処理時においても、着霜を受け難くなる。また、試料室２内の対物レンズ３近傍に設けられた冷却フィン５は液体窒素などの導入された冷媒槽６によって冷却されており、走査電子顕微鏡内の観察位置における試料への着霜防止を図ると共に、電子線照射時における試料の汚染防止を図っている。」と記載されている。
　また，本願出願前に頒布された刊行物である特開平１０−９７００号公報の段落【００２７】に「次に冷却ヘッド１２ａと１２ｂに無酸素銅に金メッキを施した冷却ステージ１６をＩｎ−Ｇａ合金で接合し冷却ヘッド１２ａと１２ｂを連結する。・・・・・金メッキは酸化による熱伝導率の低下、熱射出率の増加を抑制するためである。・・・・・」と記載され，また，同様な刊行物である特開平８−３０６７２１号公報の段落【００２０】に「放熱板１は、・・・・・銅の素材に金メッキしたもの等が考えられる・・・・・」と記載されているように，「冷却部を金メッキが施された銅板で形成される」ことも本願出願前周知の技術事項であるといえる。　
　　
　してみると，引用発明において，上記周知の事項を適用して，相違点における本願発明の構成とすることは，当業者が必要に応じて容易に想到し得る事項であるというべきである。　
　　
　そして，本願明細書に記載された相違点に係る構成を採用したことによる効果は，当業者が予測し得る範囲内のものであり，格別顕著なものといえない。　
　　
　したがって，補正発明は，引用発明および前記周知の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により，特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。　
　　
　なお，平成２０年１２月１５日付け回答書において，請求人は，「『冷却カバーを試料より低温に保持するために、冷却カバー側だけに金メッキを施す』という本願発明の特徴は、何れの引用文献にも開示および示唆されておりません。」旨主張している。　
　しかしながら，補正発明には「試料ホルダ」について，金メッキを施すか否かの限定はなく，また，「冷却カバー
側だけ
　　
４　まとめ　
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。　
　　
第３　本願発明について　
１　本願発明　
　本件補正が上記のとおり却下されることとなったので，本願の請求項１〜４に係る発明は，平成１９年１月１９日付けの手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜４に記載されたとおりのものと認められ，その請求項１は，次のとおりである。（以下，「本願発明」という。）　
　　
「【請求項１】像観察を行なうための試料室に配置された試料を冷却できるように構成された走査形プローブ顕微鏡において、試料周りを囲い込むように前記試料室に配置された冷却カバーと、該冷却カバーを冷却するための手段を備えていることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡」　
　　
２　引用刊行物の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用した引用例１およびその記載事項は，前記「第２　２　引用刊行物の記載事項」に記載したとおりである。　
　　
３　本願発明について　
　本願発明は，補正発明における「冷却カバー」について「金メッキが施された銅板で形成され」るという限定がないものである。そうすると，本願発明は，前記「第２　３　補正発明について」において検討した補正発明の構成要件を全て含むものであって，補正発明が前記「第２　３　補正発明について　（２）判断」において検討したとおり，引用発明および前記周知の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も，同様の理由により，引用発明および前記周知の事項に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。　
　　
４　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　よって，結論のとおり審決する。