(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度分布に応じて各ビット毎に相違させることにより前記第１のパルス信号に重み付けを付与する重み付け付与手段と、
前記第１のパルス信号のレベルを、所定ビット毎に加算して出力する信号レベル加算手段と、
前記重み付け付与手段によって最大の重み付けを付与されたビットのレベルを入力し、そのレベルの立上り時間と立下り時間とを遅延させるパルス信号遅延手段と、
前記信号レベル加算手段からの信号レベル加算値と、前記パルス信号遅延手段からの信号レベルとの比較結果に基づき、前記レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変するパルス幅可変手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
【請求項２】
請求項１記載の記録装置において、
前記重み付け付与手段は、前記所定ビット数に対応する数の可変抵抗を備える可変抵抗回路であることを特徴とする記録装置。
【請求項３】
請求項１記載の記録装置において、
前記パルス信号遅延手段は、前記最大の重み付けを付与されたビットのレベルを時間により積分することによって前記レベルの立上りと立下りとに対応する斜向波を生成する積分器と、この積分器からの斜向波の振幅を制限するリミッタ回路とを備えることを特徴とする記録装置。
【請求項４】
記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、所定ビット毎に加算して出力する信号レベル加算手段と、
前記第１のパルス信号の、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度の最大部位に対応するビットのレベルを入力し、そのレベルの立上り時間と立下り時間とを遅延させるパルス信号遅延手段と、
前記信号レベル加算手段からの出力信号のオフセットを調節するオフセット調節手段と、
前記オフセット調節手段を介して前記信号レベル加算手段から出力される信号レベル加算値と、前記パルス信号遅延手段からの信号レベルとの比較結果に基づき、前記レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変するパルス幅可変手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
【請求項５】
請求項４記載の記録装置において、
記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度分布に応じて各ビット毎に相違させることにより前記第１のパルス信号に重み付けを付与する重み付け付与手段として、前記第１のパルス信号のビット数に対応する数の可変抵抗を有する可変抵抗回路を更に備えることを特徴とする記録装置。
【請求項６】
光ディスクに対し情報を記録できる光ディスクドライブにおいて、
記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度分布に応じて各ビット毎に相違させることにより前記第１のパルス信号に重み付けを付与する重み付け付与手段と、
前記第１のパルス信号のレベルを、所定ビット毎に加算して出力する信号レベル加算手段と、
前記重み付け付与手段によって最大の重み付けを付与されたビットのレベルを入力し、そのレベルの立上り時間と立下り時間とを遅延させるパルス信号遅延手段と、
前記信号レベル加算手段からの信号レベル加算値と、前記パルス信号遅延手段からの信号レベルとの比較結果に基づき、前記レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変するパルス幅可変手段と、
を備えることを特徴とする光ディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録装置に関し、特に光ディスクを量産するための光ディスクスタンパー（金型）の製造装置や、光ディスクドライブに好適な記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクは、再生専用型ディスクと記録再生型ディスクとに分類され、後者は、ディスク面上のデータ領域の記録方式により追記型ディスクと書換え可能型ディスクとに大別される。また、ディスク面上に形成する溝設計の態様によりイングルーブ方式とオンランド方式とに分類することもできる。上記各ディスクは、通常、以下のような工程を経て製造される。即ち、ガラス原板にフォトレジストを塗布して成るレジスト原盤を、カッティング（記録）用レーザビームにより露光し、このレジスト原盤を現像して記録信号に対応するピット配列を形成した金属原盤（ニッケルマスター）を作製し、これに電鋳を行って金属スタンパーを作製する。そして、この金属スタンパーを用いて大量の光ディスクを複製する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記カッティング用レーザビームは、光ディスクに記録する情報を形成する各記録信号（ディジタル信号）のパルス幅に見合った長さのピットが、ディスク面上に配列されるよう、制御してレジスト原盤に照射する必要がある。しかし、カッティング用レーザビームは、所定の直径を持ったレーザスポットを有し、その断面内の光強度分布は矩形波ではなく、通常、ガウシアンビームと称されるガウス関数（正規分布）で近似できるものであり、符号間干渉を生じ易い。  そのため、記録信号のパルス幅に応じて制御したレーザビームを照射しても、レジスト原盤上には記録信号のパルス幅にレーザスポットの直径分を加算した長さのピットが形成されることとなり、レーザスポットの直径分の誤差を生じる。このような誤差は、近年、記録密度向上の要求に応じて開発された高密度光ディスクにおいて特に顕著となる。高密度光ディスクの場合、従来のディスクと比較してピットの長さがカッティング用や読出し用レーザのビームスポット径より相対的に小さいために、上記のような誤差が更に生じ易くなる。
【０００４】
一方、記録情報の再生は、読出し用レーザビームをディスク面上のピット配列に照射し、ピットの有無（ピットの両エッジの位置）をディスクの種類に応じて反射率、反射光量、カー効果、ファラデー効果等の光学的手法を用いて判断することにより行う。しかし、読出し用レーザビームは、カッティング用レーザビームの直径より大きいレーザスポットを有し、その断面内の光強度分布も、ガウス関数で近似できるものであるから、符号間干渉を生じ易い。そのため、上記誤差を含んでディスク面上に形成されたピットは、その長さに更に読出し用レーザビームのレーザスポットの直径を加算した長さの記録信号として読み出されてしまうことになる。よって、ディスクに記録される情報の正確な再生ができない。
【０００５】
上述した記録情報の正確な再生ができない理由としては、上記以外にもフォーカシングの変動に起因するレーザパワーの不均一、レジスト原盤に対する現像処理の不均一、金属原盤からディスクの完成に至るまでに行われる複数段の転写の正確度等多くの要因がある。また、上述した高密度光ディスクの場合には、従来のディスクと比較してピットの長さがカッティング用や読出し用レーザのビームスポット径より相対的に小さくなるから、従来のディスクよりも符号間干渉の影響を大きく受けることも理由として挙げられる。そのため、高密度光ディスクでは、符号間干渉の成分を小さくする必要が生じる。更には、光ディスクドライブにおける電気的なノイズや機械的な振動等の外乱も理由として想定され得る。しかし、これら多くの要因を予測して、記録情報を構成する各記録信号のパルス幅に見合ったピットの長さを、計算により正確に求めるのは現実には困難であった。
【０００６】
従って本発明の目的は、記録情報の読取りがより正確に行えるようにすることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の第１の側面に従う記録装置は、重み付け付与手段と、信号レベル加算手段と、パルス信号遅延手段と、パルス幅可変手段とを備える。重み付け付与手段は、記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度分布に応じて各ビット毎に相違させることにより第１のパルス信号に重み付けを付与する。信号レベル加算手段は、第１のパルス信号のレベルを、所定ビット毎に加算して出力する。パルス信号遅延手段は、重み付け付与手段によって最大の重み付けを付与されたビットのレベルを入力し、そのレベルの立上り時間と立下り時間とを遅延させる。パルス幅可変手段は、信号レベル加算手段からの信号レベル加算値と、パルス信号遅延手段からの信号レベルとの比較結果に基づき、レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変する。
【０００８】
本発明の第１の側面によれば、信号レベル加算値と、斜向波の信号レベルとの比較結果に基づき、レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変することとしたので、それによって符号間干渉等に起因する記録情報の読取りエラーが生じるのを防止できる。また、読取りエラーの生じ易いスペースの短い部位があるピット配列パターンにおいて、スペースの短い部位が再生用レーザビームのレーザスポットの光強度が最大になる部位及びその近傍に位置するのを防止することも可能である。
【０００９】
第１の側面に係る好適な実施形態では、重み付け付与手段として、所定ビット数に対応する数の可変抵抗を備える可変抵抗回路が用いられる。また、パルス信号遅延手段として、最大の重み付けを付与されたビットのレベルを時間により積分することによってレベルの立上りと立下りとに対応する斜向波を生成する積分器と、この積分器からの斜向波の振幅を制限するリミッタ回路とが用いられる。
【００１０】
本発明の第２の側面に従う記録装置は、信号レベル加算手段と、パルス信号遅延手段と、オフセット調節手段と、パルス幅可変手段とを備える。信号レベル加算手段は、記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、所定ビット毎に加算して出力する。パルス信号遅延手段は、第１のパルス信号の、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度の最大部位に対応するビットのレベルを入力し、そのレベルの立上り時間と立下り時間とを遅延させる。オフセット調節手段は、信号レベル加算手段からの出力信号のオフセットを調節する。パルス幅可変手段は、オフセット調節手段を介して信号レベル加算手段から出力される信号レベル加算値と、パルス信号遅延手段からの信号レベルとの比較結果に基づき、レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変する。
【００１１】
本発明の第２の側面によれば、オフセットが調節された信号レベル加算値と、斜向波の信号レベルとの比較結果に基づき、レーザ光を制御するための第２のパルス信号のパルス幅を可変することとしたので、第２のパルス信号のパルス幅を一律に減少させることができる。そして、これによりスペースの短い部位が再生用レーザビームのレーザスポットの光強度が最大になる部位及びその近傍に位置するのを防止でき、それによって符号間干渉等に起因する記録情報の読取りエラーが生じるのを防止できる。
【００１２】
第２の側面に係る好適な実施形態では、記録すべき情報を表わしたビット列である第１のパルス信号のレベルを、情報を媒体に記録するためのレーザ光スポットの光強度分布に応じて各ビット毎に相違させることにより前記第１のパルス信号に重み付けを付与する重み付け付与手段として、第１のパルス信号のビット数に対応する数の可変抵抗を有する可変抵抗回路が更に備えられる。これにより、重み付け付与の自由度が増大する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面により詳細に説明する。
【００１４】
図１は、本発明が適用されるマスタリングプロセスの概要を示す。
【００１５】
本発明は、図１に記載した各工程中の、符号１で示す工程、即ち、プリマスタリング（記録信号の準備）工程及びカッティング（記録）工程に適用されるものである。マスタリングプロセスは、高密度の情報記録媒体（メモリ）としての光ディスクを（樹脂）成型の手法によって量産するのに用いられる金型を作るための技術であり、既に公知であるのでその詳細な説明は省略する。
【００１６】
図２は、本発明の第１の実施形態に係るカッティング装置（レーザ記録装置）の全体構成を示す。
【００１７】
上記装置は、図１の工程１において用いられるもので、その基本構成要素として、記録光源及び制御信号用光源としてのレーザー装置３、レーザー光を記録すべき情報信号や制御信号によって変調する光変調器５、レーザー光をレジスト原盤９上に導く光学系７を備える。上記装置は、更に、光学系７の集光レンズ１１をサブミクロンの精度でレジスト原盤９に追従させるためのフォーカスサーボシステム１３、レジスト原盤９を高精度で回転させまた光学系７と相対的移動をさせるための移送機構１５、情報の信号変復調装置をも備える。光変調器５には、電界印加による屈折率変化を利用する電気光学効果（Ｅ／Ｏ）光変調器５ａと、媒体中の音響波と光波との関わり合いを利用する音響光学効果（Ａ／Ｏ）光変調器５ｂとがある。本発明の第１の実施形態に係る記録信号補正装置からの出力信号は、電気光学効果（Ｅ／Ｏ）光変調器５ａに印加されるものである。
【００１８】
図３は、本発明の第１の実施形態に係る記録信号補正装置の全体構成を示す。
【００１９】
上記装置は、図示のように、記録信号発生器２１と、シフトレジスタ２３と、重み付け回路２５と、加算回路２７と、ランプ回路２９と、比較回路３１とを備える。
【００２０】
記録信号発生器２１は、所定周波数のクロックパルスを生成してシフトレジスタ２３に出力する。記録信号発生器２１は、また、複製するディスクに記録すべき情報を読込んでこの情報に基づきディジタル信号を生成し、各ディジタル信号を上記クロックパルスと同期させてシフトレジスタ２３に出力する。
【００２１】
本実施形態では、シフトレジスタ２３には、例えばＴＴＬの８ビットシフトレジスタが採用されており、この８ビットシフトレジスタを用いて直列入力・並列出力シフトレジスタを構成している。シフトレジスタ２３は、記録信号発生器２１から出力されるクロックパルスと同期して駆動する。即ち、このクロックパルスをシフトパルスとして、図３の左端のビットＢ１から直列入力されるデータを１ビットずつ右方にシフトさせる。そして、全部のビットＢ１〜Ｂ８にデータが書込まれると、これらデータを同時に（並列データとして）出力する。
【００２２】
重み付け回路２５は、シフトレジスタ２３の各ビットＢ１〜Ｂ８に夫々対応してチャネルＢ１〜Ｂ８を備えている。重み付け回路２５も上記クロックパルスと同期して駆動し、シフトレジスタ２３から出力される並列データを読込んでこの並列データに対し予め設定された各ビットＢ１〜Ｂ８に対応する重み付けパターンに基づいて各チャネルＢ１〜Ｂ８毎にデータの重み付けを行う。上記重み付けには、一例として、図４（ａ）に示すカッティング用レーザビームのレーザスポット断面内の光強度分布を示す曲線（ガウス関数＝正規分布で近似できる）２４より得られる重み付け係数２６が用いられる（図４（ｂ）参照）。この重み付け係数２６は、図４（ｂ）に示すように、上記レーザスポット断面内の光強度分布に対応するよう設定されるものである。重み付け係数２６は、光強度分布の中央に位置していて光強度値が最大になるビットＢ４、Ｂ５で最大になり、光強度分布の両端に向うにつれて小さくなって光強度値が最小になるビットＢ１、Ｂ８で最小になるよう設定される。従って重み付け回路２５では、シフトレジスタ２３から出力されるデータに対し、各チャネルＢ１〜Ｂ８毎に対応する重み付け係数を付与して出力することとなる。
【００２３】
加算回路２７は、重み付け回路２５によって上記のような重み付け係数が各チャネルＢ１〜Ｂ８毎に夫々付与された並列データを入力する。そして、各チャネルＢ１〜Ｂ８のデータ（即ち、ディジタル信号の電圧レベル）を順次加算（又は減算）する演算処理を行って上記並列データを階段波の直列データに変換した後、比較回路３１に出力する。
【００２４】
ランプ回路２９は、シフトレジスタ２３の各ビットＢ１〜Ｂ８から出力される並列データのうち、ビットＢ４のデータ（＝パルス信号）のみを読込んでこれに対応するランプ電圧（斜向電圧）を比較回路３１に出力するものである。ランプ回路２９は、図５に示すように、積分器３３と、その出力側に接続されたリミッタ回路３５とを備える。積分器３３は、演算増幅器３３ａと、その負帰還回路に接続されたコンデンサ３３ｂと、入力抵抗３３ｃと、出力抵抗３３ｄとから構成される。リミッタ回路３５は、互いに逆方向に直列接続された２個の定電圧ダイオード３５ａ、３５ｂから成っている。
【００２５】
なお、上記リミッタ回路３５の第１の変形例としては、図６に示すような同一方向に接続されたダイオード３７ａ、３７ｂ、３７ｃの直列体と、いずれもそれとは逆方向に接続されたダイオード３７ｄ、３７ｅ、３７ｆの直列体とを並列接続した構成のリミッタ回路３７がある。
【００２６】
また、上記リミッタ回路３５の第２の変形例としては、図７に示すような演算増幅器３９ａ、３９ｂと、演算増幅器３９ａの出力側にアノード端子が接続されたダイオード３９ｃと、演算増幅器３９ｂの出力側にカソード端子が接続されたダイオード３９ｄとを備えた構成のリミッタ回路３９もある。リミッタ回路３９については、演算増幅器３９ａの非反転側入力端子には負のリファレンス電圧が、また、演算増幅器３９ｂの非反転側入力端子には上記リファレンス電圧と絶対値が等しい正のリファレンス電圧が夫々印加される。
【００２７】
再び図３に戻って、比較回路３１は、加算回路２７からの出力信号（階段波）の電圧レベルと、ランプ回路２９からの出力信号（ランプ波）の電圧レベルとを比較する。そして、ランプ回路２９の出力信号の立上り側の傾斜と加算回路２７の出力信号とのクロスポイントに同期して立上り、ランプ回路２９の出力信号の立下り側の傾斜と加算回路２７の出力信号とのクロスポイントに同期して立下るパルス信号を生成して図２のＥ／Ｏ変調器５ａ（又は、Ａ／Ｏ変調器５ｂ）に出力する。
【００２８】
次に、上述した重み付け回路２５、加算回路２７、ランプ回路２９、及び比較回路３１の動作を、各回路からの出力波形とディスク面上に形成されるピット配列との時系列的、及び空間的な位置関係を示すタイミングチャートである図８を参照しながら説明する。
【００２９】
図８（ａ）〜（ｃ）において、図の縦方向に平行に等間隔で引かれている複数本の破線によって区切られる各領域Ｔ１は、夫々上述した各ビットＢ１〜Ｂ８に対応する時間間隔を示している。また、図８（ｄ）において、図の縦方向に平行に等間隔で引かれている複数本の破線によって区切られる各領域Ｔ２は、夫々上述した各ビットＢ１〜Ｂ８に対応するレジスト原盤上での空間的な間隔を示している。
【００３０】
まず、シフトレジスタ２３のビットＢ４からランプ回路２９に出力される信号の波形は、図８（ａ）において符号１０１で示すように、図の横方向に延びる一点鎖線で示すゼロ点を中心として電圧レベルが正／負に切替るものである。このビットＢ４からの出力波形のパルス幅の長短は、その電圧レベルの絶対値の大きさに対応している。シフトレジスタ２３の各ビットＢ１〜Ｂ８から上述した並列データが出力されると、ランプ回路２９は、立上りがビットＢ４の出力波形１０１の極性が負から正に切替るタイミングに、また、立下りが上記出力波形１０１の極性が正から負に切替るタイミングに、夫々同期したランプ波を生成すべく動作する。
【００３１】
即ち、積分器３３とリミッタ回路３５とにより、ビットＢ４の出力波形１０１の極性が負から正に切替る時刻ｔ０、ｔ５、ｔ１０等においてランプ波の立上りを、ビットＢ４の出力波形１０１の極性が正から負に切替る時刻ｔ２、ｔ８、ｔ１３等においてランプ波の立下りを夫々生成すべく出力波形１０１の信号処理を実行する。この信号処理は、積分器３３での出力波形１０１の時間による積分と、リミッタ回路３５でのランプ波形の振幅制限とによって実行される。その結果、図８（ｂ）において符号１０５で示すような、一点鎖線で示すゼロ点を中心として電圧レベルが正／負に切替るランプ波（斜向波）がランプ回路２９からの出力信号として、比較回路３１に印加されることとなる。
【００３２】
一方、加算回路２７は、重み付け回路２５から出力される上記並列データを各チャネルＢ１〜Ｂ８毎に加算する。その結果、図８（ｂ）において符号１０３で示すような、上記ゼロ点を中心として電圧レベルが正／負に切替る階段波が、加算回路２７からの出力信号として比較回路３１に印加されることとなる。
【００３３】
比較回路３１は、ランプ波１０５の電圧レベルと、階段波１０３の電圧レベルとを比較する。そして、ランプ波１０５と階段波１０３とのクロスポイントｊ（時刻ｔ１に対応）、ｌ（時刻ｔ７に対応）、ｎ（時刻ｔ１１に対応）等に同期した立上り、及びクロスポイントｋ（時刻ｔ３に対応）、ｍ（時刻ｔ９に対応）、ｐ（時刻ｔ１５に対応）等に同期した立下りを有するパルス信号１０７（図８（ｃ））を生成する。このパルス信号１０７は、図２に示したＥ／Ｏ変調器５ａ（又は、Ａ／Ｏ変調器５ｂ）に出力される。これにより、図２のカッティング装置において、図８（ｄ）の符号１０９で示すような、両エッジの空間的な位置がパルス信号１０７の立上り、立下りの時系列的な位置に一致するようなピット配列でレジスト原盤上に露光されることとなる。
【００３４】
ここで、パルス信号１０７の立下りをランプ波１０５と図８（ｂ）のゼロ点とのクロスポイントｋ´（時刻ｔ４に対応）、ｐ´（時刻ｔ１４に対応）に同期させ、次の立上りをランプ波１０５と図８（ｂ）のゼロ点とのクロスポイントｌ´（時刻ｔ６に対応）、ｎ´（時刻ｔ１２に対応）に同期させた場合について検討する（クロスポイントｍ、ｍ´については、時刻ｔ９で略同一である）。
【００３５】
まず、ピット１０９ａの右側のエッジは、時刻ｔ３に対応する位置から時刻ｔ４に対応する位置に、また、ピット１０９ｃの左側のエッジは、時刻ｔ７に対応する位置から時刻ｔ６に対応する位置に夫々ずれることとなる。そのため、ピット１０９ａ、１０９ｃ間のスペース１０９ｂは、その左側において（ｔ３−ｔ４）分、その右側において（ｔ６−ｔ７）分夫々縮まることとなる。一方、ピット１０９ｅの長さは、その左側において（ｔ１１−ｔ１２）分、その右側において（ｔ１４−ｔ１５）分夫々縮まることとなる。このようにスペース１０９ｂやピット１０９ｅが縮んだ状態でピット配列を形成したディスクからの記録情報の読取りは、読出し用レーザビームがカッティング用レーザビームの直径より大きいレーザスポットを有し、その断面内の光強度分布もガウス関数で近似できるから符号間干渉を生じ易く記録情報の正確な再生ができなくなる。
【００３６】
しかも、読出し用レーザビームのレーザスポットの光強度が最大となる部分、即ち、前記ビットＢ４、Ｂ５とピット１０９ａの右側のエッジやピット１０９ｃの左側のエッジとが位置的に重なった場合には、光強度が最小となる部分、即ち、前記ビットＢ１又はＢ８と位置的に重なった場合よりも、遥かに符号間干渉が生じ易い。これは、ピット１０９ｅの場合についても同様である。
【００３７】
そこで本実施形態では、上述したような態様で各チャネルＢ１〜Ｂ８のデータに対して夫々重み付けを行うと共に、ガウシアンビームにおける光強度分布が最大になる部位に対応するビットＢ４からの出力波形（＝パルス信号）１０１よりランプ波１０５を生成することとした。そして、ランプ波１０５の各立上りと階段波１０３とのクロスポイントｊ、ｌ、ｎに立上りを、また、ランプ波１０５の各立下りと階段波１０３とのクロスポイントｋ、ｍ（＝ｍ´）、ｐに立下りを、夫々同期させたパルス信号１０７を比較回路１０７で生成することにより、上記ズレ量（ｔ３−ｔ４）、（ｔ６−ｔ７）、（ｔ１１−ｔ１２）、（ｔ１４−ｔ１５）を補正したものである。
【００３８】
なお、ピット配列１０９において、階段波１０３の極性が正の領域ではピット１０９ａ、１０９ｃのような比較的長いピットが形成されるのに対して、スペース１０９ｂのような比較的短いスペースが形成され、一方、階段波１０３の極性が負の領域ではピット１０９ｅのような比較的短いピットが形成されるのに対して、スペース１０９ｄのような比較的長いスペースが形成される。
【００３９】
ここで、上述した各ズレ量（ｔ３−ｔ４）、（ｔ６−ｔ７）、（ｔ１１−ｔ１２）、（ｔ１４−ｔ１５）は、ランプ波１０５と階段波１０３とのクロスポイントにおける階段波１０３の電圧レベルの絶対値の大きさに比例する。
【００４０】
図９は、比較回路３１からの出力波形を模式的に示したものである。図においてΔＴは、本実施形態に係る記録信号補正装置からの出力信号における補償されたタイミングを示すもので、このタイミングは下記の（１）式により表わされる。
【００４１】
ΔＴ＝Σαｉ・Ｂｉ…………（１）
なお、αｉは回路上で任意に設定できる重み（重み付け係数）であり、Ｂｉはシフトレジスタ２３の電圧レベルの状態（Ｈｉ＝１、Ｌｏ＝−１）を示す。
【００４２】
次に、本実施形態の記録装置からのレジスト原盤に基づいて複製された光ディスクの方が、従来の記録装置からのレジスト原盤に基づいて複製された光ディスクよりも符号間干渉を生じにくく記録情報の読取りエラーを生じにくい理由を、図１０及び図１１を参照して説明する。
【００４３】
図１０は、再生用レーザビームのレーザスポットの光強度が最大になる部位に一方のピットのエッジが存在する複数のピット配列パターンと、それらの再生信号との関係を示したものである。
【００４４】
図１０において、スペースが最も長いパターンＤのピット配列では、再生信号は、符号２０３ｄで示すように符号間干渉が殆ど無く、リファレンス電圧レベルとのクロスポイント誤差が殆ど無い理想クロス位置にくる。これに対して、パターンＣのピット配列では、パターンＤのピット配列よりスペースが短いために、再生信号は符号２０３ｃで示すように、再生信号２０３ｄよりも波形が下方に歪められて大きく潰れている。また、パターンＢのピット配列では、パターンＣのピット配列よりスペースが短いために、再生信号は符号２０３ｂで示すように、再生信号２０３ｃよりも波形が下方に歪められて大きく潰れている。更に、パターンＡのピット配列では、パターンＢのピット配列よりスペースが短いために、再生信号は符号２０３ａで示すように、再生信号２０３ｂよりも波形が下方に歪められて大きく潰れており、ガウシアンビームに類似した波形となる。このことから、スペースが短いピット配列のパターンほど、それらの再生信号は波形が下方に歪められて大きく潰れてしまい、再生信号のレベルが下方にシフトして時間的なズレが生じるのが明らかとなる。
【００４５】
これにより、各再生信号２０３ａ〜２０３ｄの立上りの勾配は、符号２０４で示す円で囲った部分を拡大図示した図１１のように、再生信号２０３ｄの勾配が最も急峻であり、再生信号２０３ａの勾配が最もなだらかである。そのため、各再生信号とそのリファレンス電圧を示す閾値レベルとのクロスポイントは、再生信号２０３ｄが理想クロスポイントに、再生信号２０３ａに至っては最も理想クロスポイントから遠い位置になるので、理想クロスポイントと実際のクロスポイントとの差分Δｔｄは、再生信号２０３ａの差分を示すΔｔｄａが最も大きく、次いでΔｔｄｂ、Δｔｄｃの順に小さくなる。
【００４６】
これは、スペースの短い部位が、再生用レーザビームのレーザスポットの光強度が最大になる部位及びその近傍に位置したとき符号間干渉等によって記録情報の読取りエラーが最も大きくなり、上記部位が、レーザスポットの光強度の小さい部位に位置したときは、上記不具合はそれほど問題とならないことを示している。そこで、本実施形態では、重み付け回路２５において上述したようにレーザスポットの光強度分布（ガウシアンビーム）に対応した重み付け係数を各チャネルＢ１〜Ｂ８のデータに付与し、既述のような信号処理を行ったものである。
【００４７】
以上説明したように、本発明の第１の実施形態によれば、重み付け回路２５によりシフトレジスタ２３のビット数分（８ビット分）の重み付けを行うことにより、全てのピット配列パターンにおける読取り誤差の補償量を決定できるので、補償量の調整の簡単化、調整作業の短時間化を図ることができる。
【００４８】
これは、記録補償器をディジタル回路（ファームウエアを含むこともある）で構成し、各ピット配列パターンに対応する補償量を予めメモリ上にテーブルとして作成しておき、動作時にディジタル回路等でピット配列パターンを認識し、それに対応する補償量をテーブルから検索し、それによりカッティング用レーザ光を変調するためのパルス信号のエッジタイミングを制御する従来方法より優れている。この方法では、全てのピット配列パターンに対して補償量を設定しなければならず、非常な手間が掛かるからである。
【００４９】
図１２は、本発明の第２の実施形態に係る記録信号補正装置の全体構成を示す。
【００５０】
上記装置は、図３に示した重み付け回路２５に代えて波形整形回路５１と可変抵抗回路５３とを設け、且つ、加算回路２７の出力側にオフセット調節回路５９を接続した点で第１の実施形態に係る記録信号補正装置と構成が相違している。なお、記録信号発生器２１、シフトレジスタ２３、加算回路２７、ランプ回路２９、及び比較回路３１については、図３で示したものと同一であるので、これらの詳細な説明を省略する。
【００５１】
波形整形回路５１は、シフトレジスタ２３の各ビットＢ１〜Ｂ８に対応してチャネルＢ１〜Ｂ８を備えている。波形整形回路５１は、各ビットＢ１〜Ｂ８から出力されるシフトレジスタ２３のＴＴＬレベルの波形から、サージ、オーバーシュート、及びアンダーシュート等の各状態での電位の変動を除去する。そして、この信号処理された後の各ビットＢ１〜Ｂ８からの出力波形を、複流信号（接地レベルを中心にＨｉがプラス電位に、Ｌｏがマイナス電位になる信号）に変換し、各チャネルＢ１〜Ｂ８から可変抵抗回路５３に並列データとして出力する。
【００５２】
可変抵抗回路５３は、波形整形回路５１のチャネルＢ１〜Ｂ８に夫々接続される８個の可変抵抗５３ａ〜５３ｈを備えている。これらの可変抵抗５３ａ〜５３ｈを、カッティング装置のオペレータが手動操作することにより、波形整形回路５１からの並列データに対して各チャネルＢ１〜Ｂ８毎に所望の重み付け（例えば、図４（ｂ）で示したような重み付け）を付与することが可能である。
【００５３】
オフセット調節回路５９は、加算回路５９ａと、リファレンス電圧Ｖｒｅｆが印加される端子５９ｂと、リファレンス電圧Ｖｒｅｆを分圧して加算回路５９ａのリファレンス電圧入力端子に印加するための可変抵抗５９ｃとを備える。加算回路５９ａは、加算回路２７から出力される直列データ（階段波）を入力し、リファレンス電圧Ｖｒｅｆを可変抵抗５９ｃにより分圧して得られた入力電圧に基づいて、この直列データのオフセットを調節し比較回路３１に出力する。
【００５４】
次に、上述した加算回路２７、ランプ回路２９、オフセット調節回路５９、及び比較回路３１の動作を、各回路からの出力波形を示すタイミングチャートである図１３を参照しながら説明する。
【００５５】
図１３（ａ）は、ランプ回路２９からの出力波形と、オフセット調節回路５９によりオフセットが調節される前と後とにおける加算回路２７からの出力波形とを示す。
【００５６】
符号３０５は、ランプ回路２９からの出力波形（ランプ波）を示している。このランプ波３０５は、波形整形回路５１から出力される並列データ（いずれも第１の実施形態におけるような重み付け係数が付与されていない）中の、チャネルＢ４のデータの波形を時間について積分することにより生成されるものである。また、符号３０３ｂは、オフセット調節回路５９によるオフセット調節前のゼロ点３０７ｂに対応する加算回路２７からの出力波形（階段波）を示している。更に、符号３０３ａは、オフセット調節後のゼロ点３０７ａに対応する出力波形（階段波）を示している。なお、これらの階段波３０３ａ、３０３ｂは、第１の実施形態におけると同様、加算回路２７において波形整形回路５１から出力される上記並列データを各チャネル毎に加算する（直列データに変換する）ことによって生成されるものである。
【００５７】
図から明らかなように、オフセット調節によって階段波のゼロ点を符号３０７ｂで示すレベルから符号３０７ａで示すレベルにシフトさせることにより、階段波も符号３０３ｂで示した位置から符号３０３ａで示した位置にレベルシフトする。そのため、ランプ波３０５と階段波との各クロスポイントも変更される。
【００５８】
その結果、比較回路３１から出力されるパルス信号も、オフセット調節前のパルス信号３０９ｂ（図１３（ｃ）参照）から、オフセット調節後のパルス幅の狭いパルス信号３０９ａ（図１３（ｂ）参照）に変更される。即ち、パルス信号３０９ｂとパルス信号３０９ａとを比較すると、夫々の第１のパルス同士の間では立下りにおいてΔｔｄ１の差が生じ、夫々の第２のパルス同士の間では立上りにおいてΔｔｄ２の差が、立下りにおいてΔｔｄ３の差が夫々生じる。更に、夫々の第３のパルス同士の間では立上りにおいてΔｔｄ４の差が生じることとなる（ここで、Δｔｄ１＝Δｔｄ３、Δｔｄ２＝Δｔｄ４の関係が成立する）。
【００５９】
以上説明したように、本発明の第２の実施形態によれば、オフセット調節によって階段波のゼロ点を符号３０７ｂで示すレベルから符号３０７ａで示すレベルにシフトさせることにより、比較回路３１から出力されるパルス信号のパルス幅を一律に減少させることができ、これによってディスクからの記録情報の再生時に再生用レーザビームに符号間干渉が生じて読取りエラーが起こるのを防止することが可能となる。よって、本実施形態は、記録信号のパルス幅にレーザスポットの直径分の誤差が一律に生じるような不具合に対して有効に機能するものである。
【００６０】
図１４は、上述した本発明の第１の実施形態が適用される光ディスクドライブの全体構成を示すブロック図である。
【００６１】
この光ディスクドライブは、図示のように、記録信号発生器２１と、エッジタイミング制御器６１と、レーザドライバ６３と、半導体レーザ６５と、カップリングレンズ６７と、再生信号発生器６９と、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）７１と、対物レンズ７３とを備える。エッジタイミング制御器６１は、夫々図３に示したシフトレジスタ２３と、重み付け回路２５と、加算回路２７と、ランプ回路２９と、比較回路３１とを内蔵している。
【００６２】
エッジタイミング制御器６１を、上記のような各回路によって構成することにより、光ディスク７５のディスク面上への記録情報８１の書込み、或いはディスク面上からの記録情報８１の再生を行うに際して、レーザスポットの符号間干渉によって記録情報の読取りエラーが生じるのを防止することが可能になる。なお、エッジタイミング制御器６１以外の各部については、構成及び機能が周知であるので、それらの詳細な説明を省略する。
【００６３】
上述した内容はあくまで本発明の各実施形態に関するものであって、本発明が上記内容のみに限定されることを意味するものでないのは勿論である。第１の実施形態において行われた重み付け回路２５による各チャネルＢ１〜Ｂ８のデータに対する重み付けの方法は、上記態様以外にも種々の態様が想定され得る。
【００６４】
例えば、特定の重み付けパターンのテーブルを用いてスタンパ及びディスクを実際に作製し、作製したディスクの記録情報の再生信号をオシロスコープ又はタイムインターバルアナライザで観測する。そして、再生信号とディスク面上のピット配列パターンとの間のズレ量をチェックし、これに基づいて上記重み付けパターンにおける各ビットの  重み付け係数を修正する。この作業を幾度も繰返すことによって上記ズレ量が最小となる重み付けパターンを得ることが可能になる。
【００６５】
また、本明細書では、シフトレジスタ２３、重み付け回路２５、加算回路２７、ランプ回路２９、波形整形回路５１、可変抵抗回路５３を８ビット対応としたが、本発明は、これに限定されるものではない。
【００６６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、記録情報の読取りがより正確に行えるようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用されるマスタリングプロセスの概要図。
【図２】本発明が適用されるカッティング装置の全体構成のブロック図。
【図３】第１の実施形態の記録信号補正装置の全体構成のブロック図。
【図４】レーザビームの光強度分布及び記録信号補正用の重み付け係数を示す図。
【図５】第１の実施形態のランプ回路の内部構成を示す図。
【図６】図５のリミッタ回路の第１の変形例を示す図。
【図７】図５のリミッタ回路の第２の変形例を示す図。
【図８】図３の装置の各部の動作とディスク面上に形成されるピットとの時系列的な位置関係を示すタイミングチャート。
【図９】図３の比較回路の出力波形を模式的に示した図。
【図１０】再生用レーザビームのレーザスポットと、複数のピット配列パターンと、それらの再生信号との関係を示す説明図。
【図１１】図１０の部分拡大図。
【図１２】第２の実施形態の記録信号補正装置の全体構成のブロック図。
【図１３】図１２の装置の各部の動作を示すタイミングチャート。
【図１４】第１の実施形態が適用される光ディスクドライブの全体構成のブロック図。
【符号の説明】
２１  記録信号発生器
２３  シフトレジスタ
２５  重み付け回路
２７  加算回路
２９  ランプ回路
３１  比較回路
３３、３５、３７  リミッタ回路
５１  波形整形回路
５３  可変抵抗回路
５９  オフセット調節回路
６１  エッジタイミング制御器
６３  レーザドライバ
６５  半導体レーザ
６９  再生信号検出器
７５  光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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