(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を測定した測定波形データを表示部に波形表示する波形観測装置において、
前記入力信号を測定し、測定波形データを発生する測定部と、
この測定部からの測定波形データを複数格納する記憶部と、
前記表示部に表示された測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波形データを２以上選択する選択手段と、
この選択手段により選択された測定波形データを前記記憶部から入力し、入力された測定波形データにアベレージ処理を行い平均波形データを発生するアベレージ手段と、
このアベレージ手段からの平均波形データを前記表示部に表示するデータ制御手段と、
を備えたことを特徴とする波形観測装置。
【請求項２】
前記データ制御手段は、前記測定波形データと前記平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載の波形観測装置。
【請求項３】
前記データ制御手段は、前記選択手段によって選択された任意の前記測定波形データを前記表示部に表示するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載の波形観測装置。
【請求項４】
前記データ制御手段は、前記アベレージ手段に入力された前記測定波形データを前記表示部に表示するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載の波形観測装置。
【請求項５】
前記記憶部は、前記平均波形データを格納するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載の波形観測装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、入力信号を波形表示する波形観測装置に関し、特にアベレージ手段を改善することによって、任意の測定波形データを用いてアベレージ処理を行うことを可能とした波形観測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の波形観測装置、例えばデジタルオシロスコープは、入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去するアベレージ手段を備えている。
【０００３】
アベレージ手段は、予め定められたｎ回の測定を行い、ここで得られたｎ個の測定波形データの各サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均波形データを発生し、入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去するものである。
【０００４】
図３は上述したアベレージ手段によって３回の測定によって得られた測定波形データ３１〜３３にアベレージ処理を施し、平均波形データ３４を発生した図である。アベレージ処理を行うとその測定波形データに含まれている繰り返し信号は平均化しても値は変わらないがランダムノイズ成分は平均化するとその性質上、値はゼロに近づく。従って、従来の波形観測装置では、入力信号の測定波形データをアベレージ処理することによって、入力信号に含まれるランダムノイズ成分を除去した平均波形データを発生し、この平均波形データを用いて入力信号の解析を行っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら従来の波形観測装置では、予め定められた連続するｎ回の測定によって得られたｎ個の測定波形データを用いて平均波形データを発生することによりアベレージ処理を行っていたため、ｎ回の測定中に例えば測定ミス等よって他の測定波形データと大きく異なる異常な測定波形データが記憶手段に記憶された場合、これを含んで発生された平均波形データに誤差を生ずる場合があるという問題点があった。
【０００６】
また、従来の波形観測装置では、アベレージ処理に用いた測定波形データは、平均波形データを求めた時点で消去されてしまうため、アベレージ処理に用いた測定波形データを解析することができないという問題点があった。
【０００７】
本発明は、上記課題を解決するもので、アベレージ処理に用いる測定データを記憶手段に格納すると共に、この記憶手段に記憶された測定データの中から任意の測定データを選択し、ここで選択された測定波形データを用いてアベレージ処理を行うことが可能な波形観測装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために請求項１に記載の発明では、
入力信号を測定した測定波形データを表示部に波形表示する波形観測装置において、
前記入力信号を測定し、測定波形データを発生する測定部と、
この測定部からの測定波形データを複数格納する記憶部と、
前記表示部に表示された測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波形データを２以上選択する選択手段と、
この選択手段により選択された測定波形データを前記記憶部から入力し、入力された測定波形データにアベレージ処理を行い平均波形データを発生するアベレージ手段と、
このアベレージ手段からの平均波形データを前記表示部に表示するデータ制御手段と、
を備えたことを特徴とするものである。
【０００９】
このような構成によれば、記憶手段に複数の測定波形データを格納することが可能になるとともに、ここに格納された複数の測定波形データから任意の測定波形データを選択しアベレージ処理を施すことが可能となる。
【００１０】
また、請求項２のようには、測定波形データと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示することによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同一画面上で比較することが可能となる。
【００１１】
更に請求項３のように、記憶部に格納された複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測定波形データを選択可能とすることによって、解析したい測定波形データのみを表示部に表示させることが可能となる。
【００１２】
また、請求項４のようにアベレージ処理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同一画面上に表示させることによって、どのような測定波形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握できる。
【００１３】
このようにして得られた平均波形データを請求項５のように記憶部に格納することによって、アベレージ処理後の波形を保存することが可能となる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。図１は本発明に係る波形観測装置の一実施例を示す構成図である。
【００１５】
図１において、測定部１は入力信号を測定し、デジタルデータすなわち測定波形データを発生する。ヒストリメモリ２は記憶部で、測定値１から入力される測定波形データを複数格納する。
【００１６】
データ制御手段３はヒストリメモリ２から測定波形データを読み出し、表示部４例えば、ＣＲＴやＬＣＤに波形表示を行う。そして、データ制御手段３はアベレージ手段３１を具備している。
【００１７】
アベレージ手段３１は、ヒストリメモリに記憶された複数の測定波形データの中から２以上の波形測定データを選択し、この２以上の波形測定データに対して各サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均波形データを発生し、表示部４に表示する。
【００１８】
選択手段５は、例えば、キー等でアベレージ手段３１に入力するヒストリメモリ２の測定波形データを選択すると共に、表示器４に表示させる測定波形データ及び平均波形データを選択する。
【００１９】
このように構成された装置の動作を以下に説明する。
【００２０】
測定部１は、入力信号を測定し、ヒストリメモリ２にトリガ回数分の測定波形データを格納する。データ制御手段３は、ヒストリメモリ２から格納された測定波形データを読み出し、表示手段４に読み出した測定波形データを重ね書きする。これによって入力信号の測定波形データを表示部４に表示することができる。これが本発明のデータ観測装置における通常測定の動作である。
【００２１】
次に選択手段５により、アベレージ手段が選択された場合、上記の動作によって表示部４に表示された測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波形データを、例えば、表示部４の画面上に表示された測定波形データの番号等を用いて選択する。
【００２２】
ここで選択された測定波形データは、ヒストリメモリ２からアベレージ手段３１に入力され、ここで各測定波形データの各サンプル点のデータの平均値が算出され、平均波形データが求められる。この平均波形データが入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去された入力信号の波形である。
【００２３】
データ制御手段３は、ここで得られた平均波形データを表示部４に測定波形データと共に同時表示する。これが本発明のデータ観測装置におけるアベレージ手段の動作である。
【００２４】
図２は、表示部４に表示された測定波形データと平均波形データの表示例である。同図において、上部の領域４１はヒストリメモリ２に格納された測定波形データを表示する領域であり、下部の領域４２は平均波形データを表示する領域である。また、領域４１に表示する測定波形データはアベレージ処理に用いられた測定波形データを選択表示することも可能であるし、選択手段５によって任意の測定波形データを表示することも可能である。
【００２５】
また、上記の説明ではアベレージ処理に用いる測定波形データを選択手段５によって選択する方法について説明したが、ヒストリメモリ２に予め設定された数の測定波形データが格納された時点でヒストリメモリ２に格納された測定波形データをアベレージ手段３１に入力することによってアベレージ処理を自動化する構成としても良い。これは、例えば、ランダムノイズが多く混入した入力信号を測定する場合のようにアベレージ処理後の波形しか必要としない場合に有効である。
【００２６】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【００２７】
例えば、ヒストリメモリ２を測定波形データの格納用領域と平均波形データ格納用領域の２つに分割し、アベレージ処理後の平均波形データをヒストリメモリ２の平均波形データ格納用領域へ保存できるように構成された波形観測装置も本発明の範囲である。
【００２８】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項１に記載の発明では、記憶手段に格納された複数の測定波形データから任意の測定波形データを選択してアベレージ処理を行うことが可能となる。従って、記憶手段に格納された複数の測定波形データから異常な測定波形データを除外し最適な複数の測定波形データを選択してアベレージ処理を施すことが可能となる。
【００２９】
請求項２に記載の発明では、測定波形データと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示することによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同一画面上で比較することが可能となる。
【００３０】
請求項３に記載の発明では、記憶部に格納された複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測定波形データを選択可能とすることによって、解析したい測定波形データのみを表示部に表示させることが可能となる。
【００３１】
請求項４に記載の発明では、アベレージ処理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同一画面上に表示させることによって、どの測定波形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握できる。
【００３２】
請求項５に記載の発明では、アベレージ処理後の波形を保存することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る波形観測装置の一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明に係る波形観測装置の画面表示例である。
【図３】アベレージ処理を説明する図である。
【符号の説明】
１  測定部
２  ヒストリメモリ
３  データ制御手段
４  表示部
５  選択手段
３１  アベレージ手段
【図１】
0003565414.tif 000002
【図２】
0003565414.tif 000003
【図３】
0003565414.tif 000004