(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体装置の試験を行うためのテストプログラムの作成方法において、上記テストプログラムで呼び出される関数のうち、パラメータのチェックが可能な関数のパラメータのチェックを行うとともにその関数をパラメータチェック不要とした関数に置換するプログラムにより、上記テストプログラムのソースプログラムをチェックした後、オブジェクトプログラムに変換することを特徴とする半導体装置のテストプログラムの作成方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体装置の試験を行うためにテスターを制御するテストプログラムの作成方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図３は、従来のＬＳＩなどの半導体装置のテストプログラム作成における流れを示す概念図である。図において、１はＬＳＩのテストプログラムのソースプログラムを収納したテストプログラムソースファイル、２はソースプログラムを実行用のオブジェクトプログラムに変換するコンパイラ、３はコンパイラ２により変換されたオブジェクトプログラムを収納したテストプログラムオブジェクトファイルである。
テストプログラムはテスター命令、すなわち関数の呼び出しの集合から成る。テスター命令には、関数に設定されたパラメータを呼び出した時にチェックする機能がある。このパラメータチェックを、個々のＬＳＩの試験の実行時に行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
従来の半導体装置のテストプログラムの作成は、上記のようにして行っていたので、半導体装置の試験の実行時における関数のパラメータチェックに時間を要していた。半導体装置は一般に量産品で個数が多く、個々の半導体装置の試験毎にパラメータチェックを行うために、全体として多大な時間を要するという問題があった。
この発明は上記のような問題を解決するためになされたもので、関数のパラメータチェックを効率化し、半導体装置の試験時間を短縮することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る半導体装置のテストプログラムの作成方法は、テストプログラムで呼び出される関数のうち、パラメータのチェックが可能な関数のパラメータのチェックを行うとともにその関数をパラメータチェック不要とした関数に置換するプログラムにより、ソースプログラムをチェックした後、オブジェクトプログラムに変換するものである。
【０００５】
【発明の実施の形態】
半導体装置の試験、例えばメモリーやロジックなどの大規模集積回路（ＬＳＩ）の機能試験はＬＳＩテスターを用いて行っている。ＬＳＩテスターを使用してＬＳＩの試験を行うために、試験対象であるＬＳＩの機種に応じたテストプログラムを作成し、テスターシステム上でテストプログラムによりＬＳＩテスターを制御して動作させる。
【０００６】
テストプログラムは、テスター命令と呼ばれる、関数の呼び出しの集合という形式で構成され、例えば動作電源電圧や電流レンジの選定など、試験条件の規定等がなされる。テスターシステムにはこれらのテスター命令の実体、つまり関数の内容が収納されており、試験時にこれらの関数が呼び出され実行される。
関数のパラメータには、誤りが含まれている恐れがあり、そのため何らかの方法でパラメータチェックを行う必要がある。ここでは、テストプログラムのコンパイル前にパラメータチェックを行うことが可能な関数については、コンパイル前にパラメータチェックを行う。
【０００７】
図１はこの発明の一実施の形態におけるＬＳＩのテストプログラム作成の流れを示す概念図である。図において、１はソースプログラムを収納したテストプログラムソースファイルであり、ＬＳＩのテストプログラムを、例えばＣ言語で記述している。４はコンパイル前にソースプログラムをチェックするパラメータチェックフィルターであり、テストプログラムで呼び出される関数のパラメータのチェックを行う。しかしながら、関数のパラメータの中には、例えばＬＳＩの試験で得られた測定値から決められるパラメータがあり、このようなパラメータについてはＬＳＩの試験に先行してパラメータチェックを行うことができない。
【０００８】
そこで、コンパイルに先行した事前パラメータチェックが可能なものと不可能なものの２種類のパラメータの処理について説明する。
事前パラメータチェックが可能なものについては、パラメータチェックを行い、誤りがなければ元の関数を、試験実行時のパラメータチェックを不要とした別名の関数に置換する。予めパラメータチェックを済ませた関数に対しては、試験実行時に更なるパラメータチェックを行う必要がないからである。置換された関数はチェックの要・不要のみが変更され、その他は元の関数と同機能を保つ。チェックの結果、もし誤りが見つかれば、そのパラメータを正しいものに修正して、かつ、上記と同様パラメータチェック不要の別名の関数に置換する。
事前チェックが不可能なパラメータについては処理を加えず、そのままとする。
パラメータチェックフィルター４は上記のようなパラメータチェックおよび関数の置換を行うプログラムからなる。
【０００９】
２はパラメータチェックフィルター４による処理を経たテストプログラムを、実行用のオブジェクトプログラムに変換するコンパイラ、５はコンパイラ２により変換されたオブジェクトプログラムを収納したテストプログラムオブジェクトファイルである。
【００１０】
図２は従来技術とこの発明とを比較するためのテスター命令の概念図であり、（Ａ）は従来のものを、（Ｂ）はこの発明のものを示す。図は事前パラメータチェック可能の場合を示し、（Ａ）と比較して（Ｂ）では関数名が変更されるとともに、パラメータチェックが不要となっている。すなわち図中ｃｏｍｍａｎｄ（ｘ，ｙ）は実行時にパラメータチェックを要する関数であり、ｃｏｍｍａｎｄ＿ｎｏｎｃｈｋ（ｘ，ｙ）はチェック不要の関数である。また、図で実行処理とした個所は（Ａ）と（Ｂ）で同じ内容になっている。
【００１１】
以上のように、ＬＳＩの試験時のパラメータチェックが要のものと不要のものとの２種類の関数をテスターシステムが用意することになる。
そして、テストプログラムで呼び出して実行する関数がパラメータチェックが不要のものであれば、チェック時間の分だけ試験時間が短縮される。
【００１２】
【発明の効果】
この発明に係る半導体装置のテストプログラムの作成方法は、上記のように、パラメータチェックが可能な関数のパラメータチェックを行うとともにその関数をパラメータチェック不要とした関数に置換するプログラムにより、ソースプログラムをチェックした後、オブジェクトプログラムに変換するので、事前にチェックが行われた関数に対しては、半導体装置の試験時にパラメータチェックを行わずに済み、したがってパラメータチェックが効率化され、試験時間が短縮される。特に、試験対象である半導体装置の数が多い場合は試験時間短縮の効果が著しい。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施の形態におけるＬＳＩのテストプログラム作成の流れを示す概念図である。
【図２】この発明の一実施の形態において従来技術と比較したテスター命令の概念図である。
【図３】従来のＬＳＩのテストプログラム作成の流れを示す概念図である。
【符号の説明】
１  テストプログラムソースファイル、２  コンパイラ、
４  パラメータチェックフィルター、
５  テストプログラムオブジェクトファイル。
【図１】
0003587644.tif 000002
【図２】
0003587644.tif 000003
【図３】
0003587644.tif 000004