(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的に検出可能なマークの情報パターンが記録担体上の略々平行なトラックに記録され、これらトラックが上記マークを記録するための放射ビームにより走査され、前記光学的に検出可能なマークが前記放射ビームにより前記記録担体の適切な記録層を局所的に加熱することにより得られ、前記放射ビームのエネルギー量が前記放射ビームを用いて記録されたテスト情報パターンの誤り率に応じて設定され、前記放射ビームが強度設定範囲を持ち、前記放射ビームは上記設定範囲の中間に初期設定され、これに対応する記録強度でテスト情報パターンが記録され、その後このテスト情報パターンが読み出されるとともに該テスト情報パターンの誤り率が決定され、その後テスト情報パターンの書込み及びそれに続く読み出しがなされ、このようにして記録され且つ読み出されたテスト情報パターンの誤り率が求められ、前記放射ビームの強度の設定がこの求められた誤り率に基づいて訂正され、以上の各工程が前記誤り率の強度特性の角が求められるまで繰り返され、その後前記放射ビームの前記記録強度に対する最適強度設定が前記誤り率の強度特性の角により決定された最小記録強度を所定の値を用いて増加させることにより求められる、書込み可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法において、前記テスト情報パターンは所定のランダム的に選択可能なデータパターンであり且つ誤り検出及び訂正アルゴリズムにより符号化されるものであり、前記テスト情報パターンの読み出しの後前記データパターンにおける誤り率が誤り検出及び訂正アルゴリズムにより求められ、前記放射ビームが該放射ビームの設定範囲の中間に初期設定され、選択される記録強度の変更の所定の量が誤り率が決定される毎に減少され、前記放射ビームの強度に対する最適設定は前記決定された最小記録強度に定数を掛けることにより求められることを特徴とする重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法。
【請求項２】
請求項１に記載の装置において、前記減少は２による除算であることを特徴とする重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法。
【請求項３】
重ね書き可能な形式の記録担体上の略々平行なトラックに信号パターンを記録する記録装置であって、当該装置は前記信号パターンに対応する光学的に検出可能なマークの情報パターンを前記トラックに導入するために放射ビームを用いて前記トラックを走査する走査手段を有し、当該装置は供給されるべき設定信号に応じて前記記録強度を設定する設定手段を有し、前記設定信号が前記放射ビームを用いて記録されたテスト情報パターンの誤り率に依存し、当該記録装置は更に前記放射ビームを用いて記録された情報パターンを読み取る読み取り手段と、前記放射ビームの記録強度を該放射ビームの設定範囲内の所定の値に設定する前記設定手段用の初期設定信号を生成し、前記放射ビームの記録強度を所定の量だけ連続的に変化させる設定信号を生成するプログラムされたデータ処理手段とを有する装置において、前記プログラムされたデータ処理手段は更に、
誤り検出及び訂正アルゴリズムによりデータパターンを符号化し、
読み出された情報パターンに属する信号パターンにおける誤り率を決定し
誤り率の関数として設定信号を決定し、
各連続的なステップの後、前記記録強度の変更の所定の量が前記誤り率が決定される毎に減少されるように新たな設定信号を生成するようにプログラムされることを特徴とする記録装置。
【請求項４】
請求項３に記載の記録装置において、前記最初のステップサイズが前記設定範囲の１／４に略々等しいことを特徴とする記録装置。
【請求項５】
請求項４に記載の記録装置において、前記減少が２による除算であることを特徴とする記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法であって、光学的に検出可能なマークの情報パターンが該記録担体上の略々平行なトラックに記録され、該トラックは上記マークを記録する為の放射ビームにより走査され、上記光学的に検出可能なマークは上記放射ビームにより該記録担体の適切な記録層を局所的に加熱することにより得られ、上記放射ビームのエネルギー容量は該放射ビームを用いて記録されたテスト情報パターンにおける望ましくない信号の検出に応答して設定されるような方法に関する。
【０００２】
更に、本発明は重ね書き可能な形式の記録担体上の略々平行なトラックに信号を記録する記録装置であって、この記録装置は信号パターンに対応する光学的に検出可能なマークの情報パターンを該トラックに導入する為に放射ビームを用いて該トラックを走査する為の走査手段を有し、当該装置は供給される設定信号の補助により記録強度を設定する為の設定手段を有し、この設定信号が上記放射ビームを用いて記録されたテスト情報パターンにおける望ましくない信号の検出に依存するような装置に関する。
【０００３】
【従来の技術】
記録担体上に信号を記録する類似の方法及び装置はヨーロッパ特許出願公開第0400726号から既知である。上記ヨーロッパ特許出願に記載の方法及び記録装置はメディアに対する較正の為の処理手順を示し、この手順により記録強度が情報パターンを記録担体の記録層に導入する放射ビームに対して決定される。上記記載のメディアに対する較正は以下の処理ステップを有している。
ａ．  第１の周波数を持つ情報パターンが放射ビームの最大記録強度を用いてトラックに記録される。
ｂ．  次に、同一トラックにおいて第２の周波数を持つ第２の情報パターンが放射ビームの低い最小の記録強度を用いて記録される。
ｃ．  トラックに記録された情報が読み出され、その後読み出された信号は第１の信号の周波数に同調された検出機構に供給される。
ｄ．  第１の周波数を持つ第１の情報パターンの信号の残りが依然検出される場合はステップｂ乃至ｄが繰り返され、各繰り返しに対して記録強度は所望の特定の無作為に選択可能なステップにより増加される。
一旦上記第１の周波数を持つ第１の情報パターンの残りが処理ステップｄにおいて検出されなくなれば、記録され且つ次いで読み出されるべき情報パターンの最小の誤り率が保証されるような放射ビームの強度設定が得られる。
【０００４】
上記内容は前記特許出願の図７及び図８を参照して説明され、図８は記録に使用される放射ビームの強度の関数として誤り率特性を表している。前記特許出願で説明されているように、該出願に記載の方法及び装置は誤り率が低レベルである上記誤り率特性の平坦領域の中間に略々位置される放射強度の設定を可能にする。
【０００５】
前記ヨーロッパ特許出願第0400726 号で説明されている方法及び装置は非常に低い誤り率での情報パターンの非常に信頼がおける記録を可能にするが、それでも幾つか固有の欠点がある。例えば、以下の様なことである。
−  特別にデザインされたハードウェアが第１及び第２の周波数を持つ情報パターンを発生する為に、及び該第１の周波数を持つ第１の情報の残りを検出するために必要である。
−  更に不利な点は上記第１の周波数を持つ第１の情報パターンが放射ビームを発生するレーザーダイオードの最高の出力で記録されることにある。最高の出力でレーザーダイオードを動作させることは耐用寿命を短くする点で不利である。
【０００６】
【発明の目的及び概要】
本発明の目的の一つはレーザービームの最適な記録強度の設定を決定するために記録装置に余分なハードウェアを追加する必要がなく、それでもなお記録される情報パターンは所望の低さの誤り率を持つ様な方法及び記録装置を提供することにある。
【０００７】
本発明の他の目的は最小誤り率を持つ情報パターンを最小記録強度を用いて記録する事が出来る様な方法及び記録装置を提供することにある。
【０００８】
本発明による方法はテスト情報パターンが誤り検出及び訂正アルゴリズムにより符号化された所定の無作為に選択可能なデータパターンであり、このテスト情報パターンは放射ビームの選択された記録強度を用いて記録され、その後上記テスト情報パターンが読み出されるとともに前記データパターンにおける誤り率が誤り検出及び訂正アルゴリズムにより求められ、その後上記誤り率に応答して前記放射ビームの記録強度が情報パターンの記録に関して設定されることを特徴とする。
【０００９】
本発明による方法は、信号が記録される際に既に使用された誤り検出及び訂正アルゴリズムを利用している。無作為に又は自由に選択可能なデータパターンから得られるテスト情報パターンが記録された後に、記録された情報パターンが読み出され上記誤り検出及び訂正アルゴリズムにより処理された場合に、既知のデータパターンの誤り率の値を求めることが可能である。得られた誤り率により、放射ビームの設定を所望の強度方向に調整することが可能である。
【００１０】
本発明による記録装置は、該記録装置が更に放射ビームを用いて記録された情報パターンを読み取る読み取り手段と、誤り検出及び訂正アルゴリズムによりデータパターンを符号化するとともに読み出された情報パターンに属する信号パターンにおける誤り率を決定し且つ上記検出された誤り率に応じて調整信号を決定するプログラムされたデータ処理手段とを有することを特徴とする。
【００１１】
本発明による記録装置は該記録装置において既に使用された、誤り検出及び訂正アルゴリズムによりデータパターンを符号化するとともに該誤り検出及び訂正アルゴリズムにより記録された信号パターンを復号するプログラムされたデータ処理手段を利用している。読み出された情報パターンが復号される時、誤り率が決定され、この誤り率に基づいて、前記放射ビームの発生源のビーム強度を設定する設定手段に対する設定信号が求められる。
【００１２】
上記ビーム強度の自動最適設定機能を持つ実施例は、前記マークを記録することが例えば光磁気記録装置におけるように記録強度に強く依存する様な記録装置に特に適している。しかしながら、本発明は光磁気記録に限定されるのではなくその代わりとして他の記録原理のもの、例えば相変化タイプの記録担体上に重ね書きする事が出来る記録原理にも提供される。この様な相変化記録原理に対しては、放射ビームにより走査された際に放射方法に依存して非結晶質から結晶質に又はその逆に構造が変化され得るような記録担体が使用される。
【００１３】
【実施例】
図１は重ね書き可能な形式の記録担体１の実施例を示している。図１のａは上面図を示し、図１のｂは図１ａのｂ−ｂ線に沿う断面の小部分を示している。上記記録担体１は互いに略々同心状に位置される情報領域を与えるトラックパターンを有している。該領域は光学的に検出可能なマークの情報パターンの形で情報を記録する事を意図している。このトラックパターンは例えば上記情報領域の中央を示す連続螺旋状サーボトラック４のように構成してもよい。しかしながら、同心状情報領域は例えばオランダ特許出願公開第8702905 号に記載されている様な一般にサーボパターンと称される構造で示されてもよいであろう。記録を行なうために上記記録担体１は透明基盤５上に形成され保護皮膜７により覆われている記録層６を有している。この記録層６は光磁気記録に適した材料である。しかしながら、上記記録層６は又、例えば構造が適切な放射方法により非結晶質から結晶質、又はその逆に変化可能である様な、一般に相変化材料と称される異なる材料から構成してもよい。
【００１４】
図２は記録担体１上に情報を記録する本発明による光磁気記録装置１０の実施例を示している。この記録装置１０はターンテーブル１１及び軸１３の廻りに記録担体１を回転させる為の駆動モータ１２を有している。上記回転記録担体１に対向する様に光磁気記録及び読み出しに適する通常の形式の光読み書きヘッド１４が取り付けられている。このヘッドを用いて放射ビーム１５は前記記録層６上に焦点が合わされる。前記記録装置１０は例えばヨーロッパ特許出願公開第0265904 号及びオランダ特許出願公開第8800151 号に記載されている様に、前記サーボトラック４に焦点が合わされる様に上記放射ビーム１５を保つ通常のサーボトラッキング手段（図示せず）、記録層６に焦点が合わされる様に上記放射ビーム１５を保つ通常の焦点合わせ手段及び特定アドレスを介して検索を行なう為の通常のアドレッシング手段を有している。前記記録担体１の他方の側で上記読み書きヘッド１４に対向する様に磁界変調器１６が、上記放射ビーム１５により照射された前記記録層６の領域に該記録層６に対して略々直角の方向に磁界Ｈを発生するために取り付けられている。この磁界変調器１６はブラケット１７により上記読み書きヘッド１４に堅固に取り付けられている。磁界変調器１６と同様に読み書きヘッド１４は該磁界変調器１６が移動装置１８により前記記録担体に関して放射状に動かすことが可能であり、この場合ブラケット又は磁界変調記１６が読み書きヘッド１４と対向したままとなるようにする。この磁界変調器１６は発生される磁界の方向が２進記録信号Ｖｍに応じて変調することが可能な形式のものである。この様な磁界変調器は例えばオランダ特許出願第8702451 号に詳細に記載されている。
【００１５】
前記装置１０は更に前記読み書きヘッド１４及び移動装置１８を制御し前記記録信号Ｖｍを発生するための制御回路１９ａを有している。情報が記録される時は前記サーボトラック４は前記放射ビーム１５によって走査され、このビーム１５の強度は前記記録層６の材料のキューリ温度近傍まで該放射ビーム１５により走査される前記記録層６の部分を加熱するのに十分な程高い記録強度に設定されている。同時に、記録信号Ｖｍ、従って発生される磁界Ｈは記録される情報に応じて変調される。この結果、磁区の形のマークのパターンがサーボトラック４の走査された部分に生じ、該パターンは記録信号Ｖｍに対応している。この様に実現された磁区は更に詳細に記載されているように光学的に検出することが出来る。
【００１６】
本発明による記録装置１０に不可欠な物は双方向データバス１９ｃを介して制御回路１９ａに結合される信号処理手段１９ｂである。このデータバス１９ｃは直列（１ビット幅）又は並列（複数ビット幅）データバスでもよい。上記信号処理手段１９ｂはこのプログラムされた処理手段１９ｂにおいて誤り検出及び訂正アルゴリズム（ＣＩＲＣ又は他のリードソロモンコード）により符号化されるデータパターンを双方向（入力及び出力）バス１９ｄを介して入力する。このようにして得られる情報パターンは上記バス１９ｃを介して上記制御手段１９ａに供給され、放射ビーム１５の記録強度の設定もそのようにされる。この強度を用いて上記情報パターンが前記記録担体１の記録層６に記録される。
【００１７】
前記読み書きヘッドを用いて読み出され、信号形態Ｖ１を持つ情報パターンは制御回路１９ａにより前記バス１９ｃを介して前記誤り検出及び訂正アルゴリズムによりこの情報パターンからデータパターンの復号化を試みる処理手段１９ｂに転送される。上記処理手段１９ｂは上記データパターンにおいて生じる誤り率を求め、該誤り率を基に放射ビーム１５の記録強度を設定するための設定信号を決定する。前記制御回路１９ａは上記バス１９ｃを介して上記設定信号を入力する。
【００１８】
図３は記録信号Ｖｍ、これに対応する磁界Ｈ及びこの結果としての異なる磁化方向を持つ磁区のパターンの時間変化を示している。この異なる磁化方向を持つ磁区は異なる符号、即ち３０、３１により示されている。前記パターンが記録されるサーボトラック４の中央がライン４’により図示されている。磁区３０、３１のパターンは直線偏光された走査ビームを用いて該パターンを走査する前記読み書きヘッド４により読み出すことが出来る。放射されたビームの反射後、放射されたビームの偏光方向は記録層６の走査された部分の磁化方向により決定される方向に変化される。この方法で偏光方向の変化の変調パターンが得られる。該パターンは磁区３０、３１の走査パターンに対応している。この変調は例えばオランダ特許出願公開第8602304 号に記載されているように、例えばウォラストンプリズム、光電変換器及び該光電変換器の出力信号を読み出されたパターンを表す読み取り信号Ｖ１に変換する増幅回路の補助により前記読み書きヘッド１４において通常の方法で検出される。
【００１９】
記録する上で重要な事項の一つは記録された情報を再び読み出すことが出来る信頼性である。記録されたＣＤ−Ａ又はＣＤ−ＲＯＭ信号に対する上記読み取り信頼性を表すことが出来る既知の値は、いわゆる"(ブロック）誤り率"(( ＢＬ）ＥＲ）である。この値（ＢＬ）ＥＲは１以上の訂正が不可能な誤りが、前記誤り検出及び訂正アルゴリズムにより検出される単位時間当たりの（ＥＦＭ）ブロック数を示している。
【００２０】
図４は記録強度Ｐの関数としてのＢＬＥＲの値の動きを示している。この図から、Ｐmin からＰmax の範囲内ではＢＬＥＲの値は略々一定の最低値であるのに対しこの範囲外においてはＢＬＥＲの値は急激に増加しているのは明白である。Ｐmin 及びＰmax の値の間では前記読み取り信頼性は記録方式における多種多様な許容誤差の結果不可避である強度変化に対して実質的に反応を示さない。
【００２１】
又、図４は記録時の前記トラック４の特定の走査速度に対する記録強度Ｐの関数としての誤り率ＢＬＥＲを示している。このように最適記録強度はＰmin 及びＰmax の間の中間に位置するのではなく、丁度Ｐmin より僅かに上に位置する。最適記録強度の値は特定の記録担体に対して予め決定することが可能である。この記録担体上に情報を記録するよりも前に、記録装置の記録強度をこの場合に基本的に上記最適値に設定することが可能である。
【００２２】
しかしながら、以下の問題がここで生じる。
１）    たとえ同じ光磁気材料で作られたとしても、記録層の放射感受性に大きなばらつきがある。これは例えばスパッタリングの様な記録層を形成する通常使用されている方法に起因している。
２）    最適記録強度は走査速度に大きく影響される。例えば許容記録速度が１. ２m/sec 及び１. ４m/sec の間にあるＣＤ信号用記録装置を用いる場合がそうであるように、様々な記録装置に対して記録速度が著しく変化する場合にこの事は特に問題となる。
３）    絶対放射電力を正確に決定する事は実際には大きな問題である。電力計の相互のバラツキは１０％程度である。加えて、調整状態の違いが付加的な偏差を生じる原因となる。
４）    最後に、記録層６に放射される放射ビームによる走査スポットの形状及び該放射ビームの波長も同様に最適記録強度に影響する。
【００２３】
これら全ては、最適記録強度の変化があまりに大きいため、記録強度の固定設定に関しては、該記録強度が前記ＢＬＥＲの値がローレベルである当該記録担体の記録ウィンドウ内にあることは保証が出来ないということを意味している。
【００２４】
以下に前記最適記録強度を信頼性を持ち且つ簡単に設定可能にする方法が記載されている。最初に本発明による方法の好ましい実施例を該実施例のフローチャートを示す図５を参照して説明する。
【００２５】
図５は本発明による方法の好ましい実施例を表すフローチャートである。これにより図２に示される記録装置の放射ビーム１５に対する記録強度の最適な設定が得られる。最初のステップＳ1 において、記録強度Ｅの変化を表す初期ステップサイズΔＥと、本提案方法に対する初期記録強度ＥI が設定される。上記ステップサイズΔＥは（Ｅmax - Ｅmin ）／２である。ここでＥmax 及びＥmin はそれぞれ上記放射ビーム１５の強度Ｅの設定範囲の上限及び下限である。本方法の次のステップＳ2 において上記ステップサイズΔＥは半分にされる。これら２つのステップを用いて以下のことが実現される。前記初期記録強度ＥI は前記書込みヘッド１４の設定範囲の中間にあるように選ばれる。ステップＳ2 において前記ステップサイズΔＥを設定することにより、記録強度Ｅの次回の設定が最小強度Ｅmin + 全設定範囲の1/4 又は最大強度Ｅmax - 全設定範囲の1/4 のどちらか一方になる。第３ステップＳ3 において情報が上記で設定された記録強度Ｅで当該記録担体上に記録される。本方法の次のステップＳ4 において、上記情報が上記記録担体から読み出され、この読み出された情報に基づいて誤り率ＥＲが決定される。次のステップＳ5 において、上記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下であるかどうか決定される。次のステップＳ6 において、前記誤り率ＥＲが所望のレベルＡＣＣ以下である場合に前記ステップサイズΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小さいかどうかテストされる。もしそうでない時は、次のステップＳ7 において記録強度Ｅは上記ステップサイズΔＥを用いて調整される。この後前記ステップＳ2 、Ｓ3 、Ｓ4 及びＳ5 が繰り返される。依然ステップ５において誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも小さい場合には、再度ステップ６においてステップサイズΔＥが最小ステップサイズΔＥmin 以下であるかテストされる。もしそうである場合、誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下であるかどうかテストされるステップＳ14直後のステップＳ8 において所望の記録強度ＥW が設定される。この記録強度ＥW はこの時点で設定された記録強度Ｅに定数Ｒを掛けたものと等しくなる。この定数Ｒは１．１よりも大きく２．２よりも小さい係数である。光磁気記録においては、この係数は好ましくは１．５及び１．７を境とする間にある。一旦この所望の記録強度ＥW が設定されると、当該プログラムはステップＳ9 において停止する。以上で説明した本発明による方法の一部により図４に表される記録ウィンドウの最下部Ｐmin が決定される。なぜなら、前記記録強度の初期設定ＥI がＰmin 及びＰmax 間のウィンドウ内の何処かにあると仮定したからである。
【００２６】
図６は上記状況におけるＰmin 及びＰmax の間の記録ウィンドウに関する初期記録強度ＥI を示している。ステップＳ7 においては設定された記録強度がステップサイズΔＥにより常に減少されるので、一旦特定のステップが取られると、前記記録強度Ｅがその時点で記録ウィンドウの閾値Ｐmin 以下になるかも知れないことは明白である。このことはステップＳ4 における次回の誤り率の計算及び誤り率ＥＲが許容エラーレベルＡＣＣと比較するテストがなされるステップＳ5 でのテストにおいて生じる。この場合、ステップＳ5 には、カウンタが設定されているか及び"１"の値を有しているかどうかテストされるＳ10が後続する。以下においてこのことを更に説明する。上記カウンタが設定されていない場合には、記録強度のステップサイズΔＥが、取られるべき最小のステップサイズΔＥmin よりも小さいか又は等しいかどうかステップＳ11においてテストされる。もしそうでない場合は、記録強度Ｅは従属するステップＳ12において該ステップサイズΔＥにより増加される。この強度ステップサイズΔＥがステップＳ2 において調整された後に、上記新たに設定された記録強度Ｅを用いて、ステップＳ3 において情報の記録、ステップＳ4 において情報の読み取りが行われて再び誤り率ＥＲが決定され且つステップＳ5 において該誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下であるかどうかテストされる。以上で説明した方法により、誤り率特性における角(Corner)Ｐmin 及びそれに対応する記録強度Ｅが非常に短時間で得られる。このようにして得られた記録強度Ｅは該記録強度Ｅに定数Ｒを掛けることにより得られる所望の記録強度Ｅｗを決定するための基準として使用される。この結果、記録担体６上の情報は前記最低の記録強度Ｐmin を越える強度で記録されるが、この強度を用いても依然として許容誤り率ＡＣＣで該情報を読み出すことは可能である。
【００２７】
上記で説明した方法は前記初期記録強度ＥI が記録ウィンドウ中又は最小記録強度Ｐmin 以下にある間では正確に作用する。この初期記録強度ＥI が記録ウィンドウと誤り率特性の上昇部分との間の角Ｐmax 以上にある場合は、前記書込みヘッド１４は上記で説明した方法において前記放射ビーム１５にもっと高い記録強度が供給される様に設定されてしまう。このことは設定制御が誤った方法で実現されることを意味する。故に、前記強度ステップサイズΔＥが一定して減少される繰り返しステップが多数実行された後に、該ステップサイズΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小さい場合に、一旦ステップＳ11において該ステップサイズΔＥがテストされると、ステップＳ13において該ステップサイズΔＥは初期ステップサイズと再び等しくされ、一方ではステップＳ1 が基準として使用される。更に、カウントＣがステップＳ13において１と等しくされる。ここから上記記載の処理方法におけるステップＳ7 にループが戻る。このステップＳ7 において、上記記録強度Ｅに対する設定は修正され、故に該記録強度Ｅは減少される。言うまでもないが、前記既知のステップＳ2 、Ｓ3 、Ｓ4 及びＳ5 が続けて実行される。ここで再び二つの状況となるだろう。ここで得られた誤り率ＥＲが確かに許容レベルＡＣＣ以下である場合には、この結果として次回のテストに対して記録強度はステップＳ6 及びＳ7 を介して減少される。しかしながら、上記誤り率ＥＲが依然許容レベルＡＣＣ以上である場合には、前記カウントＣが実際に１と等しいかどうかステップＳ10においてテストされる。そのような場合であれば、本発明の処理はステップＳ6 及びＳ7 に戻される。故に、前記誤り率は許容レベルＡＣＣを越えるという事実にもかかわらず、次回のテストサイクルで記録強度Ｅは前回のテストサイクルの前回の記録強度よりも低くなる。言い換えると、ポイントＥI から最初の数回のテストサイクルは初期記録強度ＥI よりも大きい記録強度Ｅを用いて実施され、その後、上記記録強度ＥI よりも小さい記録強度Ｅにループが戻される。カウント"1" が設定されたカウンターはテストサイクルが常に減少する記録強度Ｅを用いて実行されるようにし、このようなテストサイクルの結果、誤り率特性がＰmax 及びＰmin との間の平坦な記録ウィンドウに向かって左に移動する。この平坦な記録ウィンドウに到達した場合は、記録強度Ｅの次回からの設定はそれぞれ最小調整可能記録強度Ｅmin （図７参照）に到達するか、又は最小記録強度Ｐmin に到達するまで低くなる。この場合には、この最小記録強度カーブの角は該角周辺における繰り返しステップを数回実行することにより十分正確に得られる。故に、ステップＳ5 において前記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも低いことが分かった後、前記カウンタのカウントをゼロにリセットする必要がある。このリセットはステップＳ5 とＳ6 との間でなされなければならず、一方ループの戻りはステップＳ10からＳ6 へなされなければならない。
【００２８】
好ましい実施例の方法に応じて記録強度の設定範囲の中間から始める事により及びテストサイクルを繰り返す毎にステップサイズを半分にしていくことにより、誤り率特性の角Ｐmin は一般的に４又は５回のステップが実行された後に正確さを持って得ることが出来る。本発明による方法の好ましい実施例では、この様にして書込みヘッド１４の記録強度に対する最適な設定が非常に短時間で得られる。
【００２９】
言うまでもないが、前記放射ビーム１５に対する最適記録強度を得るためには様々の方法がある。類似の方法を例として以下で説明する。
【００３０】
上記の様な方法の一つではメディアに対する較正が記録担体１の内側の縁部及び／又は外側の縁部上の定義された区域において実行される。当然最初に、記録されるべきテスト領域は先ず十分に高い消去力を用いて消去され、故にきれいなテスト領域で開始することが出来る。ここで記録強度の最小設定から開始し、例えば各々が５１２ユーザバイトの数セクタが各メディアの記録強度の設定に関して当該情報を十分に信頼性を持って考慮するために記録され、一方1/10ｍＷのステップが各々とられる。次に、この様に記録されたセクタは読み出され、これに対応する誤り率が各々の記録強度値に対して決定される。この場合、特定の記録強度に対して記録された数セクタのせいぜいただ一つに誤りがある、言い換えれば訂正出来ないことを許容するような評価基準としてもよい。このようにして、記録された情報が依然として十分信頼出来ると見ることが出来るような最小記録強度が一連の記録されたセクタから得ることが可能である。記録ウィンドウの下限に関する記録強度は書込みヘッド１４の最適記録強度を決定する為に前記で説明した方法で使用される。最小記録強度に対する最適記録強度の比率である被乗数Ｒは１．６周辺で選定されるべきである。
【００３１】
図５を参照して説明した方法は様々な方法で変形が可能であることは明白である。例えば、連続して繰り返される記録強度ΔＥのステップサイズは前記誤り率特性の角が得られるまで一定に保つことが可能である。その後、上記ステップサイズは減少可能であり、誤り率特性における上記得られた角が位置する放射強度の範囲をより小さいステップサイズでカバーすることが可能である。故に、前記カーブの角に属する記録強度はより正確に決定されると共に該角が位置するより小さな範囲が決定される。次いで、上記ステップサイズΔＥは所望の最小ステップサイズΔＥに達するまで再び減少することが可能である。明らかに、多数のステップが上記の様な変形例に対して必要である。このことは、ここで利用可能である記録担体に対する記録装置の調整がより長くかかる事を意味する。
【００３２】
更に、以上で説明した方法及び図５を参照して説明した方法の組合せが可能である。先ず、放射ビームの発生源の範囲設定が適度に大きなステップサイズΔＥを用いて実行され、故に、一旦ステップが数回実行されると前記誤り率特性の角及び該ステップサイズにより決定される経路は既知となる。ここで、この時点で設定された記録強度から開始し、図５を参照して説明されている方法を後続させることが出来る。この場合、図５に示されたフローチャートにおける当該方法のステップＳ10、Ｓ13、Ｓ14及びＳ15は省略することが可能である。
【００３３】
以上で説明した方法は例えば相変化材料又はＭＯの様な多数のメディアに対して応用が可能である。しかしながら、誤り率特性において比較的狭い範囲の記録ウィンドウを持つメディアのグループに限定される。この場合には、上記ウィンドウの下限を決定するだけではなく、同様の方法で該記録ウィンドウの上限を決定しなければならない。この後、これら上限及び下限の平均を最適な強度とすることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１のａ及びｂは記録担体を示す。
【図２】図２は本発明による光磁気装置を示す。
【図３】図３は記録信号及びこの信号に対応する情報パターンを示す。
【図４】図４は記録強度の関数としての読み取り信頼性を示す。
【図５】図５は本発明による記録強度を設定する方法の好ましい実施例のフローチャートを示す。
【図６】図６は誤り率特性の記録ウィンドウに関する初期記録強度の第１の状況を示す。
【図７】図７は記録ウィンドウに関する初期記録強度の他の状況を示す。
【符号の説明】
１…記録担体                  ４…サーボトラック
６…記録層                  １０…記録装置
１５…放射ビーム            １９ａ…制御回路
１９ｂ…信号処理手段            Ｖｍ…記録信号
Ｖ１…読み取り信号
【図１】
0003565886.tif 000002
【図２】
0003565886.tif 000003
【図３】
0003565886.tif 000004
【図４】
0003565886.tif 000005
【図６】
0003565886.tif 000006
【図７】
0003565886.tif 000007
【図５】
0003565886.tif 000008