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　特願２００２−　１１４９８「波長検出装置、レーザ装置及び波長検出方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　７月３０日出願公開，特開２００３−２１４９５８〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成１４年１月２１日の特許出願であって，平成１８年９月２８日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年１１月１日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，同年１１月３０日付けで手続補正がなされたものである。さらに，平成２０年５月２日付けで審尋がなされ，回答書が同年７月１日付けで請求人より提出されたものである。　
　　
第２　平成１８年１１月３０日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）についての補正却下の決定　
［補正却下の決定の結論］　
　　本件補正を却下する。　
［理由］　
１　補正後の請求項１に記載された発明　
　本件補正は，特許請求の範囲の請求項１を，次のとおりに補正するものである。　
「【請求項１】　置換ガスを導入するためのポートを備えたシールされた筐体と、　
　前記筐体の内部に設置され
て前記筐体の外部から紫外線レーザ光を入射するエアギャップエタロンであって
前記
　前記筐体の内部において放出される水分を少なくとも吸着するための吸着部と、　
　
前記吸着部に入射する紫外線レーザ光を遮り、且つ気体が前記吸着部へ到達し得る遮光壁と、
　　
　上記補正は，補正前の請求項１の発明を特定する事項である「エアギャップエタロン」について，「前記筐体の外部から紫外線レーザ光を入射する」と限定するとともに，「前記吸着部に入射する紫外線レーザ光を遮り、且つ気体が前記吸着部へ到達し得る遮光壁」をさらに付加することにより補正前の「波長検出装置」を限定したものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。　
　　
　そこで，補正発明が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下に検討する。　
　　
２　引用刊行物およびその記載事項　
　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開平３−１５４３９０号公報（以下，「刊行物１」という。）には，「エキシマレーザ用波長選択装置」について，図面とともに次の事項が記載されている。 　
　　
（１−ア）　
「２．特許請求の範囲　
　一方の面に誘電体多層膜からなる高反射膜を形成した一対の合成石英基板を、上記高反射膜を対向させると共に一定間隔を有して接合しているエタロンを備えているエキシマレーザ用波長選択装置において、吸着剤、ウィンドウ、及び、清浄にされた不活性ガス導入手段を備えている気密ホルダー内に、上記エタロンを収納していることを特徴とするエキシマレーザ用波長選択装置。」（１頁左下欄４〜１２行）　
　　
（１−イ）　
「［従来の技術］　
　従来のこの種のエキシマレーザ用波長選択装置の一例を示すと第２図に示されているような、例えば特開昭６２−１９８１８２号公報に示されているものがある。　
　図において、符号（１）は全反射ミラー、（２）は出射ミラーであり、上記全反射ミラー（１）と出射ミラー（２）とからなる共振器を備えたエキシマレーザのキャビティ（６）内に、波長選択素子としてのエアギャップエタロン（４）が１個配置されている。　
　次に（３）はウィンドウ（５）（５’）によって密閉されているチャンバであり、チャンバ（３）にはレーザ媒質として例えばアルゴンとふっ素の混合ガス、クリプトンとふっ素の混合ガスなどが充填されている。　
　また、エアギャップエタロン（４）は、第３図に示すように、一方の面に高反射膜（４３）を、他方の面に反射防止膜（４４）を形成した２枚の合成石英基板（４１）を、高反射膜（４３）の面同士が対向するように、間にスペーサ（４２）を介して接合したものであり、この対向した２個の高反射膜（４３）の面の間で光が多重反射し干渉することによって、波長選択性が得られる。なお、上記高反射膜（４３）及び反射防止膜（４４）は誘電体多層膜で構成されている。　
　次にその動作について説明する。　
　レーザ媒質の充填されているチャンバ（３）内で放電を行なうと、全反射ミラー（１）と出射ミラー（２）との間でレーザ発振する。このとき、全反射ミラー（１）と出射ミラー（２）との間にエアギャップエタロン（４）が挿入されているので、波長が選択され、スペクトル幅の狭いレーザ光が出射する。」（１頁左下欄１９行〜２頁左上欄１０行）　
　　
（１−ウ）　
「［発明が解決しようとする課題］　
　従来のエキシマレーザ用波長選択装置は、以上のように構成され作用するので、大気中の水分がエタロン（４）に吸着され、高反射膜（４３）中に入ることによって、高反射膜（４３）の反射率が変動してしまい、従って、エタロンとしての光学特性が変化するという問題点があった。」（２頁左上欄１１〜１７行）　
　　
（１−エ）　
「　また、水分以外に、パーティクル、油の蒸気、発生ガス等も付着するので、レーザ光により高反射膜（４３）上で発熱したり、付着、吸着物と高反射膜（４３）とが反応することによってもエアギャップエタロン（４）の特性は低下する。　
　このように、従来装置は、上記のような水分を吸着し、パーティクル等の付着、吸着によって光学特性が変化するという問題点を有しており、このような問題点を解決したいという課題を有していた。　
　この発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、パーティクル、水、油の蒸気、あるいは活性ガス等を付着、吸着させることなく、初期特性を長期間維持できるエタロンを備えているエキシマレーザ用波長選択装置を得ることを目的とする。」（２頁左下欄６行〜同頁右下欄１行）　
　　
（１−オ）　
「　［課題を解決するための手段］　
　この発明に係るエキシマレーザ用波長選択装置は、エタロンを気密ホルダー内に格納し、気密ホルダー内はフィルター、吸着剤、ウィンドウ等によって高度に乾燥かつ清浄に保つようにしているものである。　
　［作　用］　
　この発明におけるエキシマレーザ用波長選択装置は、エタロンを、内部を清浄かつ乾燥した状態にしている気密ホルダー内に格納しているので、水分や不純物の付着あるいは吸着もなく、従って、これらによって特性が低下することもない。」（２頁右下欄２〜１３行）　
　　
（１−カ）　
「　［実施例］　
　以下、この発明をその一実施例を示す図に基づいて説明する。　
　第１図において、符号（１０）はエタロン（４）を気密に格納している気密ホルダー、（１１）は気密ホルダー（１０）に設けられているウィンドウ、（１２）は気密ホルダー（１０）の内部に設けられている活性ガスの吸着剤（１３）は気密ホルダー（１０）に充填する不活性ガスの不活性ガス導入手段であるガス導入パイプ、（１４）は上記不活性ガス導入手段を構成するガス導出パイプ、（１５）及び（１６）は気密ホルダー（１０）内に清浄な不活性ガスを導入、導出するための同様のバルブ、（１７）は導入ガス中及び気密ホルダー内のパーティクルを除去するフィルタであり、上記ガス導入パイプ（１３）、ガス導出パイプ（１４）、バルブ（１５）（１６）及びフィルタ（１７）によって不活性ガス導入手段（１８）が構成される。　
　上記のように構成されているこの発明によるエキシマレーザ用波長選択装置においては、ガス導入パイプ（１３）より、不活性ガス例えばＮ２、Ｈｅ、Ｎｅなどの高純度ガスをフィルタ（１７）を介して気密ホルダー（１０）内に導入する。これにより、エタロン（４）周囲の雰囲気は非常に乾燥し、かつ、パーティクルや活性ガスのない清浄な状態になる。」（２頁右下欄１４行〜３頁左上欄１７行）　
　　
（１−キ）　
「気密ホルダー（１０）の外側からシール部等を透過して侵入してくる水分や、気密ホルダー（１０）の内部の構成部品から発生する活性ガスは、吸着剤（１２）によって吸着除去されるので、気密ホルダー（１０）内に常に清浄に保たれる。　
　なお、吸着剤（１２）としては、合成ゼオライト、シリカゲル、活性炭、又は、これらの混合物などを用いるとよい。」（３頁左上欄末行〜右上欄７行）　
　　
（１−ク）　
「［発明の効果］　
以上のようにこの発明によれば、内部に吸着剤を設けている気密ホルダーなにエタロンを気密に格納すると共に不活性ガス導入手段を設けて気密ホルダー内を乾燥しかつ清浄な不活性雰囲気としているので、エタロンの周囲は乾燥していると共に清浄な不活性ガスで充満され、従って、エタロンは水分を吸着したり、パーティクルを吸着することもなく、その結果、エタロンの初期特性を維持できるエキシマレーザ用波長選択装置が得られる効果を有している。」（３頁右上欄末行〜左下欄９行）　
　　
　同様に，本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開２０００−１１４６２１号公報（以下，「刊行物２」という。）には，「波長モニタ及びそのガス交換方法」について，図面とともに次の事項が記載されている。　
　　
（２−ア）　
「【０００２】　
【従来の技術】従来から、縮小投影露光装置の光源としての、狭帯域化されたエキシマレーザの発振波長の中心値（以下、これを中心波長と呼ぶ）を計測する中心波長計測技術が知られており、例えば、実開平１−１３５７５６号公報に示されている。図７は、同公報に開示された中心波長を計測するための波長モニタの構成図を表しており、以下同図に基づいて従来技術を説明する。　
【０００３】同図において、狭帯域化エキシマレーザ１から発振したレーザ光２は、その一部がミラー３で図中下向きに反射され、光遮蔽箱４に入射する。光遮蔽箱４は、ファブリーペローエタロン６を備えており、これに入射したレーザ光２はその中心波長に対応した間隔を有する干渉縞を生じる。この干渉縞を、レンズ７で撮像素子８に投影し、その間隔を撮像素子８で計測することによって、レーザ光２の中心波長を検出する。　
【０００４】このとき、ファブリーペローエタロン６の周囲の気体の圧力や温度が変化すると、ファブリーペローエタロン６のギャップ間の気体の屈折率が変化するため、このファブリーペローエタロン６を透過した光が形成する干渉縞の間隔が変動し、中心波長の計測に誤差が生じる。このため、ファブリーペローエタロン６を密閉型の封入容器９内に収納し、その内部に不活性ガスを封入することによって、気体の圧力や温度を常に一定にし、中心波長計測の精度を向上させている。　
【０００５】ところが、紫外線光であるレーザ光２を長期間照射することにより、封入容器９内に密封した構成部品から不純ガスが発生することがある。そして、この不純ガスが固体化した不純物がファブリーペローエタロン６等の光学部品に付着して光学部品を劣化させ、その寿命を短くするという問題が生じている。このため、前記同公報では、ファブリーペローエタロン６を収納した封入容器９を、清浄な不活性ガスが流通する雰囲気中に配設することによって、不純ガスを封入容器９内から外部に追い出し、不純物の光学部品への付着を防いでいる。」　
　　
（２−イ）　
「【００１６】まず、図１〜図５に基づいて、第１の実施形態を説明する。図１は、本実施形態に係わる波長モニタの構成図を示している。同図において、狭帯域化エキシマレーザ１は、レーザガスを封止したチャンバ１Ａと、レーザ光２を狭帯域化する狭帯域化ユニット１Ｂとを備えている。狭帯域化エキシマレーザ１から発振したレーザ光２は、その一部をビームスプリッタ３（従来技術のミラー３に相当）で図中下向きに反射され、波長検出器４に入射する。　
【００１７】この波長検出器４は、レーザ光を散乱させるすりガラス１１、入射した光の波長に応じた間隔の干渉縞１２を形成するモニタエタロン６（従来技術のファブリーペローエタロン６に相当）、モニタエタロン６から出射した干渉縞１２を集光して光位置検出器８（従来技術の撮像素子８に相当）上に結像する集光レンズ７（従来技術のレンズ７に相当）、及び結像された干渉縞１２の間隔を計測し、その値を波長コントローラ１５に出力する光位置検出器８を備えている。この波長検出器４は、密閉容器９（従来技術の封入容器９に相当）に収納されており、この密閉容器９はＯリング等の封止手段によって封止され、その内部には所定圧力の不活性ガス（本実施形態では窒素）が封入されている。また、波長モニタは、密閉容器９内部の圧力Ｐと温度Ｔとをそれぞれ測定する圧力センサ１９と温度センサ２０とを密閉容器９内部に備えている。さらに、光位置検出器８は、中心波長の測定をコントロールする波長コントローラ１５に接続されている。　
【００１８】また、この密閉容器９には、密閉容器９内に窒素を導入する配管１６Ａ、及び密閉容器９内部の窒素を排出する配管１６Ｂのそれぞれ一端が接続されている。そして、これらの配管１６Ａ，１６Ｂの他端は、それぞれ給気バルブ１７Ａ及び排気バルブ１７Ｂに接続され、さらに給気バルブ１７Ａは配管を介して窒素ボンベ１８に接続されている。また、給気バルブ１７Ａ及び排気バルブ１７Ｂは、ガス系統をコントロールするガスコントローラ２２と接続され、ガスコントローラ２２からの出力によって開閉可能となっている。尚、これらの給排気用の配管１６Ａ，１６Ｂ、給気バルブ１７Ａ、排気バルブ１７Ｂ、及びガスコントローラ２２を、ガス交換手段と呼ぶ。」　
　　
　そして，刊行物２における「波長モニタ」は狭帯域化されたエキシマレーザから発振した紫外線光であるレーザ光の中心波長を計測するための装置であるから，「波長検出装置」であるといえる。　
　そうすると，これらの記載と図面を総合すると，刊行物２には，次の発明が記載されていると認められる。　
　　
「Ｏリング等の封止手段によって封止され，その内部には所定圧力の不活性ガスが封入されている密閉容器９に収納されており，紫外線光であるレーザ光を散乱させるすりガラス１１，入射した光の波長に応じた間隔の干渉縞１２を形成するモニタエタロン６，該モニタエタロン６から出射した干渉縞１２を集光して光位置検出器８上に結像する集光レンズ７，該結像された干渉縞１２の間隔を計測し，その値を波長コントローラ１５に出力する光位置検出器８を備えている波長検出器。」（以下，「刊行物２発明」という。）　
　　
　同様に，本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開２０００−２６６６０５号公報（以下，「刊行物３」という。）には，「紫外レーザの波長測定装置」について，図面とともに次の事項が記載されている。　
　　
（３−ア）　
「【０００２】　
【従来の技術】従来から、ＫｒＦレーザ（２４８nm）やＦ2レーザ（１５７nm）等の、紫外線領域のレーザ光を発振させる紫外レーザが知られている。これらの紫外レーザをレーザリソグラフィ等の微細加工に利用する際には、加工の品質を向上させるために、レーザ光の中心波長を安定させ、かつ波長のスペクトル幅を狭くする狭帯域化が行なわれている。この狭帯域化を精度よく行なうためには、狭帯域化されたレーザ光の中心波長及びスペクトル幅（これらを波長特性と総称する）を精密に測定する技術が必須となっている。　
【０００３】図５に、従来技術に係る波長測定装置の構成図を示す。同図において、紫外レーザ１から出射したレーザ光１１は、光軸上に設けられたビームスプリッタ１２によって一部を図中下方に反射され、波長特性を測定する波長測定装置３に入射する。波長測定装置３は、光拡散板３７と、モニタエタロン３８と、結像レンズ４２と、ラインセンサ等のパターン検出器１９と、波長コントローラ２０とを備えている。波長測定装置３に入射したレーザ光１１は、光拡散板３７で拡散され、さまざまな入射角θを有して分光素子であるモニタエタロン３８に入射する。　
【０００４】以下に、このモニタエタロン３８を使用して、レーザ光１１の真空における中心波長λexを検出する手順を説明する。図６に、モニタエタロン３８の構成図を示す。モニタエタロン３８は、２枚の光学ガラス４８，４９を、所定のギャップ長ｄを有するスペーサ５３を介して、互いに平行に配置している。光学ガラス４８，４９の対向する面４８Ａ，４９Ａには、それぞれ部分反射コーティングが施されており、入射したレーザ光１１は、ギャップ５０の内部で部分反射を繰り返しながら、出射光Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３……（以下、出射光Ｔｉと総称する）となってモニタエタロン３８から出射する。」　
　　
（３−イ）　
「【００１２】　
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従来技術には、次に述べるような問題点がある。　
【００１３】即ち、従来技術の１）によれば、気密容器４７の内部を真空引きしても、気密容器４７の内部を完全な真空にすることはできず、ギャップ５０内にはごく微量ではあるが、気体が残存している。従って、温度変化等によって微少な屈折率ｎの変動が起きることがあり、この屈折率ｎの変動により、中心波長λexの測定時に誤差が生じる。また、気密容器の内壁等には、有機物等の不純物が微量付着していることがある。この不純物に紫外線のレーザ光１１が照射されると、不純物が紫外線で分解されて気体となり、気密容器の内部の圧力が上昇する。そのため、上述したように屈折率ｎの変動により、中心波長λexの測定時に誤差が生じる。・・・・」　
　　
３　当審の判断　
（１）対比　
　補正発明と刊行物２発明とを対比すると，その機能・構造からみて，刊行物２発明の「その内部には所定圧力の不活性ガスが封入されている密閉容器９」，「紫外線光であるレーザ光」および「波長検出器」は，それぞれ，補正発明の「置換ガスを導入するためのポートを備えたシールされた筐体」，「紫外線レーザ光」および「波長検出装置」に相当することは明らかである。また，刊行物２発明の「モニタエタロン６」と補正発明の「エアギャップエタロン」とは，「エタロン」である点で共通するといえる。　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「置換ガスを導入するためのポートを備えたシールされた筐体と，　
　前記筐体の内部に設置されて前記筐体の外部から紫外線レーザ光を入射するエタロンと，　
を具備する波長検出装置。」　
点で一致し，次の点で相違する。　
　　
（相違点１）　
　「エタロン」について，補正発明では「各々に部分反射膜が形成された２つの光学基板であって該部分反射膜の形成面が対向するように配置された前記２つの光学基板を有するエアギャップエタロン」であるのに対して，刊行物２発明では「モニタエタロン」の種類が不明である点。　
　　
（相違点２）　
　補正発明では，「筐体の内部において放出される水分を少なくとも吸着するための吸着部と，前記吸着部に入射する紫外線レーザ光を遮り，且つ気体が前記吸着部へ到達し得る遮光壁」を具備するのに対して，刊行物２発明では，そのような構成を具備していない点。　
　　
（２）相違点についての判断　
　まず，相違点１を検討するに，　
上記記載事項（２−イ）の「【０００４】このとき、ファブリーペローエタロン６の周囲の気体の圧力や温度が変化すると、ファブリーペローエタロン６のギャップ間の気体の屈折率が変化するため、このファブリーペローエタロン６を透過した光が形成する干渉縞の間隔が変動し、中心波長の計測に誤差が生じる。」からみて，該「ファブリーペローエタロン」が補正発明の「エアギャップエタロン」に相当するものであることは明らかである。
　そして，上記記載事項（２−イ）に「モニタエタロン６（従来技術のファブリーペローエタロン６に相当）」と記載されていることからみて，刊行物２発明の「モニタエタロン」は「エアギャップエタロン」であり，相違点１は，実質的な相違点でないというべきである。　
　　
　次に，相違点２を検討するに，
上記記載事項（１−ア）〜（１−ク）からみて，「２つの光学基板の対向する面に各々形成された高反射膜（部分反射膜）が水分，その他の発生ガス，油の蒸気等を吸着，付着して，エアギャップエタロンの特性を低下させる」こと，および，「エアギャップエタロンを格納した気密ホルダー内に不活性ガス導入手段を設けるとともに吸着剤を設けて，該気密ホルダー内を高度に乾燥かつ清浄に保つことにより，エアギャップエタロンの特性低下を防止する」という技術的事項が，刊行物１に記載されているといえる。　
　そして，刊行物２発明の「モニタエタロン」についても同様の課題があることは明らかであるから，刊行物１記載の上記技術的事項に基づき，密閉容器内に吸着剤を設けることは，当業者ならば容易になし得る範囲内の事項であるといえる。　
　一方，刊行物２発明の「モニタエタロン」を内部に設けた「筐体」には，レーザ光が「すりガラス１１」を介して拡散されて入射されることとなるので，「筐体」の内部には「紫外線光であるレーザ光」が照射される領域が拡散により増加した状態となり，「紫外線光であるレーザ光」を長期間照射することにより，封入容器内に密封した構成部品から不純ガスが発生するといえる（上記記載（２−ア）の【０００５】参照。）。また，刊行物３にも「気密容器の内壁等には，有機物等の不純物が微量付着していることがある。この不純物に紫外線のレーザ光１１が照射されると，不純物が紫外線で分解されて気体となり，気密容器の内部の圧力が上昇する。そのため，上述したように屈折率ｎの変動により，中心波長λexの測定時に誤差が生じる。」と記載されている（上記記載（３−イ）参照。）。　
　そうすると，前述したように，「吸着剤」が刊行物２発明の「筐体」内に設置された際には，該「吸着剤」が，「筐体」内部に密封した構成部品となり，「紫外線レーザ光」の照射により波長の計測誤差を生じる不純ガスの発生源となり得ることは，技術常識であるといえる。そうすると，「吸着剤」の設置と同時に，不純ガスの発生をできるだけ少なくするように，該「吸着剤」に入射する紫外線レーザ光を遮り，且つ，当然のことながら「吸着剤」での吸着を妨げないように気体が該「吸着剤」へ到達し得るような「遮光壁」を具備するように構成することは，当業者ならば上記吸着剤の適用の際に，当然に想到し得る程度の技術的配慮であるといえる。　
　してみると，刊行物２発明において，刊行物１に記載の「エアギャップエタロンを格納した気密ホルダー内に不活性ガス導入手段を設けるとともに吸着剤を設けて，該気密ホルダー内を高度に乾燥かつ清浄に保つことにより，エアギャップエタロンの特性低下を防止する」という技術的事項および上記技術常識を適用して，相違点２における補正発明の構成とすることは，当業者ならば何ら困難性なく，容易に想到し得る事項であるといえる。　　
　　
　そして，本願明細書に記載された効果も，刊行物２発明および刊行物１，３記載の技術的事項ならび上記技術常識から，当業者が予測し得る範囲のものであり，格別顕著なものといえない。　
　　
　したがって，補正発明は，本願出願前に国内において頒布された上記刊行物１〜３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきであり，特許法第２９条第２項の規定により，特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。　
　　
４　まとめ　
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。　
　　
第３　本願発明について　
１　本願発明　
　本件補正は，上記のとおり却下されることとなるので，本願の請求項１ないし１５に係る発明は，平成１７年１１月８日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１５に記載された事項により特定されたものであって，その請求項１に係る発明は，次のとおりであると認める。　
　　
「【請求項１】　置換ガスを導入するためのポートを備えたシールされた筐体と，　
　前記筐体の内部に設置され
，各々に部分反射膜が形成された２つの光学基板であって該部分反射膜の形成面が対向するように配置された前記２つの光学基板を有するエアギャップ
　前記筐体の内部において放出される水分を少なくとも吸着するための吸着部と，　
を具備する波長検出装置。」（以下，「本願発明」という。）　
　　
２　引用刊行物およびその記載事項　
　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用した刊行物１〜３およびその記載事項は，上記「第２　２」に記載したとおりである。　
　　
３　当審の判断　
　本願発明は，上記「第２　１」において検討したとおり，補正発明の「エアギャップエタロン」および「波長検出装置」について，それぞれ，「前記筐体の外部から紫外線レーザ光を入射するエアギャップエタロンであって」および「前記吸着部に入射する紫外線レーザ光を遮り，且つ気体が前記吸着部へ到達し得る遮光壁」を具備するとの限定がないものであるといえる。　
　そうすると，本願発明は，補正発明の構成要件を全て含むものであって，上記「第２　３」において検討したとおり，補正発明が刊行物１〜３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も，同様の理由により，刊行物１〜３に記載された発明に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。　
　　
第４　まとめ　
　以上のとおり，本願発明は，本願出願前に頒布された刊行物１〜３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。　
　したがって，その他の請求項について言及するまでもなく，本願出願は拒絶されるべきものである。　
　よって，結論のとおり審決する。