【事件の表示】
　特願２００３−　９２８５２「レーザーアブレーション利用の試料測定方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年１０月２８日出願公開、特開２００４−３０１５７３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は，平成１５年３月２８日の出願であって，平成１９年３月２日付けで拒絶理由が通知され，これに対し，同年４月２７日付けで意見書及び手続補正書が提出された。その後，同年６月２１日付けで，この手続補正は特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしていないとして最後の拒絶理由が通知され，これに対して，同年８月９日付けで意見書及び手続補正書が提出されたが，同年９月２７日付けでこの手続補正が却下されるとともに拒絶査定がされた。そして，同年１０月３１日に拒絶査定不服審判の請求がされるとともに，同年１１月３０日付けで手続補正がされたものである。
　
第２　平成１９年１１月３０日付けの手続補正についての補正の却下の決定
　
　［補正却下の決定の結論］
　　平成１９年１１月３０日付けの手続補正を却下する。
　
　［理由］
１　補正後の本願発明
　平成１９年１１月３０日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）は，明細書を補正するものであって，そのうち特許請求の範囲の請求項１についてする補正は，補正前（平成１９年４月２７日付け手続補正書。以下同様。なお，本願については，平成１９年８月９日付けで手続補正がされたが，これは同年９月２７日付けの補正の却下の決定により却下された。）の特許請求の範囲の
「【請求項１】
試料が付着した金属製の基体表面に、1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光を当該基体に対するアブレーション閾値以下で前記試料に対するアブレーション閾値以上のエネルギー密度で照射し、前記試料のアブレーションによるプラズマ発光の分光分析により前記試料の構成物質を測定してなるレーザーアブレーション利用の試料測定方法。」
を，
「【請求項１】
試料が付着した金属製の基体表面に
、パ
200nsから数百nsの炭酸ガス
　
　上記補正は，補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「パルスレーザー光」について，「1064nmより長い発振波長」と発振波長の波長範囲によって限定されていたものを，「炭酸ガスパルスレーザー光」として，特定の発振波長となることとなる特定の種類のパルスレーザー光に限定し，「100ns以上」とされていた「パルス幅」を，「200nsから数百ns」と限定するものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下単に「平成１８年改正前」という。）の特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するものである。
　
　そこで，本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。
　
２　引用例
（１）引用例１
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平９−１８９６６１号公報（以下「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は当審にて付加した）。
　
ア　「【請求項２】（Ａ）
分析試料（１）にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成するプロセスと、（Ｂ）前記プラズマにより、分析試料（１）の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせるプロセスと、（Ｃ）前記発光スペクトルをマルチチャンネルアナライザ（１０）により検知するプロセス
分析試料１に含まれる複数の元素の発光スペクトル強度を同時に求めることにより、分析試料中の元素の濃度定量を行なうことを特徴とするレーザ発光分光分析方法
　
イ　「【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
溶液中の元素の濃度を定量する
分析方法
・・・
【０００７】すなわち本発明は、微小プラズマを瞬間的に生成させ、しかも発生する発光スペクトルを瞬時に計測することを特徴とする。そのために、分析試料はプラズマを生成する間だけ供給するだけで良く、定常的に供給する必要はないために、必要量は大幅に削減することができる。
【０００８】すなわち、本発明では、
分析試料を
金属板に
滴下し
その後にＹＡＧレーザをレンズで集光することによりプラズマを生成させ、試料を励起させる
【０００９】
生じた発光スペクトルを２００〜７００ｎｍのスペクトルを同時に観測可能なマルチチャンネルアナライザにより計測し、各元素に対応する発光スペクトルの強度を求めることにより濃度定量が可能になる
　
ウ　「【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図１に示す。分析試料１は、試料導入管２を通じてマイクロピペッタ３に導入される。グローブボックス４の中に設置した
金属板５には
分析試料が
滴下される
【００１１】
ＹＡＧレーザ６は、集光レンズ１２により集光され、石英光学窓７を通してグローブボックス内に導入される。そこで、分析試料は絶縁破壊され、微小プラズマが瞬間的に生じる
【００１２】
このプラズマによって試料中に含有されていた元素が励起され、発光スペクトルを生じる。生成した発光スペクトルは、石英光学窓８を通して集光レンズ９により集光され、マルチチャンネルアナライザ１０により検出される
　
　以上の記載を総合すると，引用例１には，
「金属板上の分析試料にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成し、
前記プラズマにより、分析試料の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせ、
前記発光スペクトルをマルチチャンネルアナライザにより計測し、分析試料に含まれる複数の元素の発光スペクトル強度を同時に求めることにより、分析試料中の元素の濃度定量を行なう、レーザ発光分光分析方法。」（以下，「引用発明」という。）
が記載されているものと認められる。
　
（２）引用例２
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平９−１８４８０８号公報（以下「引用例２」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【００６８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の実施形態で示すエアロゾル分析装置は、例えば高速増殖炉のナトリウムを内包する容器、機器、配管等からのナトリウム漏洩検出、工場排煙中の微量金属検出等に適用されるものである。
【００６９】図１は
本発明の第１実施形態によるエアロゾル分析装置
【００７０】本実施形態のエアロゾル分析装置は図１に示すように、
ブレークダウン生成用レーザ装置１
・・・
【００７６】本実施形態においては、
レーザ装置１から例えば１０
-9
ｓのパルス幅を有するパルスレーザ光２が出力１００ｍＪ／パルスで発せられ
【００７７】ここで電界強度は数ＭＶ／ｃｍとなり、レーザ光照射領域に存在するエアロゾル９は瞬時にプラズマ化され、エアロゾル９の構成元素は高励起状態で励起ないしイオン化されて基底状態へ遷移し、その際に元素特有の光反応点１２で蛍光１３が発せられる。
【００７８】光反応点１２で発した蛍光１３は、蛍光集光ミラー１４の内面で反射して一点に集光され、第２の光学窓７ｂから蛍光伝送用光ファイバ１５を介して光計測器１７に入力されて計測が行われ、エアロゾル９を構成する元素の含有量が測定される。本実施形態においては、光計測器１７が例えばバンドパスフィルタを設置した光電子増倍管、または分光器が適用されている。前者のバンドパスフィルタにおいては、単一の元素の測定のみ可能である。また、後者の光電子増倍管の場合には、蛍光波長を分光することにより同時にエアロゾルを構成する元素を分析することが可能である。この光計測においては、測定の時間タイミングでゲート設定器によりゲート処理が行われ、測定対象とする元素に対して最も感度の高い時間設定をすることにより、Ｓ／Ｎ比を改善することが可能となっている。
【００７９】なお、
レーザ光５によるプラズマ生成のポイントは、パルスあたりのエネルギおよびパルス時間で定まる。本実施形態ではプラズマ生成用レーザ光のパルスエネルギが最高で数１００ｍＪ程度である。パルス幅はナノ秒（１０
−９
ｓ）オーダ、あるいはそれ以下である
ブレークダウン用レーザ装置１は、Ｎｄ；ＹＡＧレーザ
ＣＯ
２
レーザ
等が適用されている
　
イ　「【００８７】図３は本発明の
第３実施形態によるエアロゾル分析装置の構成
その他の構成は図１に示した第１実施形態と同様である
【００８８】
本実施形態では、サンプリングセル６内にエアロゾルを捕獲するフィルタ２２が、エアロゾル９の流路とプラズマを生成用のレーザ光５の光路との交差点、すなわち光反応点１２を含む位置に設置されている
【００８９】
エアロゾル捕獲用のフィルタ２２としては
微細金属粉末を焼結した多孔質金属（例えば多孔質タングステン）が長期間のレーザ照射に好適である
【００９０】本実施形態によると、エアロゾル９を含むガスを単に気中放電させる前記第１実施形態と異なり、
エアロゾル９をガス流路に設置したフィルタ２２により捕獲し、この状態でレーザ光５を照射し、フィルタ２２の表面でプラズマを生成させる
【００９１】この後のプロセスについては第１実施形態と同様であり、
フィルタ２２に付着した元素はプラズマ化され、その構成元素は高励起状態へ励起ないしはイオン化され、それらはその元素の基底状態へある寿命を持って遷移する。その際、元素特有の波長の蛍光を発生するため、その蛍光信号を光計測器１７によって計測することによりエアロゾルを構成する元素の含有量を測定することができる
　
（３）引用例３
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平１０−３００６７１号公報（以下「引用例３」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばクリーンルーム内に浮遊する微粒子や純水中に含まれる
微粒子の元素分析を行なう微粒子計測装置
　
イ　「【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するために、本発明は、セル内に微粒子を導入する手段と、セル内の微粒子にレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射により発光する微粒子の原子発光を伝送する伝送手段と、伝送手段により伝送された光を分光する分光手段と、分光された光を受光する光検出器アレイと、からなり、レーザ光を微粒子の発光波長外の波長とするとともに、前記光伝送手段の前段にレーザ光の波長を阻止するフィルターを設けたことを特徴としている。
【０００９】また
、微粒子に照射するレーザ光はパルス光とし、レーザ光の出力密度を、微粒子の原子発光閾値よりも高く、かつ媒質の原子発光閾値よりも低く設定している
　
ウ　「【００１５】
【作用】セル内に導入された
微粒子はレーザ光を照射されブレークダウンにより発光する
【００１６】
パルス化されたレーザ光は出力密度の大きなものが得やすく、レーザ光のパワーを微粒子のブレークダウン閾値よりも高い密度で媒質のブレークダウン閾値よりも低い密度とすることにより、バックグランドのない出力を得ることができる
　
エ　「【００１９】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施の形態の一例を示す要部構成説明図である。図において、１は光を遮断した真空紫外光が減衰しないで伝搬できるキャビティであり、このキャビティ内には透明部材からなるセル２が配置されている。
３はレーザ生成手段であり、例えば光源としてＹＡＧレーザが用いられ、波長約１μｍ，強度１０〜４００ｍｊ／パルス，パルス幅０．１〜１００ｎｓ程度の出力のものを使用する。ここで、レーザの波長は測定対象となる元素の発光波長が０．１５〜０．９μｍ程度（図９参照）なので、レーザ光の波長を測定成分の波長に重畳しないような範囲外の波長の使用が望ましい
・・・
【００３１】上記の構成において、
レーザ光を微粒子が発光するブレークダウン閾値以上で、媒質（実施例ではＨｅ）のブレークダウン閾値以下のパワーに印加し、セルの絞り部分に照射する（微粒子は高密度の光の中に置かれると、ピコ秒からナノ秒で加熱されて白色発光する。その後粒子は個々の原子単位にまで分解し、励起状態におかれ、１０ナノ秒程度の間に蛍光発光する。この光はレーザブレークダウンと呼ばれる）
・・・
【００３４】各元素は大きさが同じであっても発光強度は異なるので、等価粒径を測定するにあたっては、予め既知の粒径の各元素（例えば５０種類）をレーザブレークダウンにより発光させ、元素の大きさと出力信号の関係を求めておくものとする。さらに、等価粒径の測定にあたっては複数個の微粒子を測定しその平均値をもとに等価粒径を推定する。なお、本実施の形態においては、微粒子を運ぶ媒体をＨｅとして説明したが、媒体は気体に限らず液体（例えば水）であってもよい。」
　
（４）引用例４
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平４−１５５４１号公報（以下「引用例４」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「２．特許請求の範囲
１
．粒子状物質を含有する試料に光を照射し、光の出力密度を試料中の粒子状物質（以下粒子という）のブレイクダウン閾値より高く、かつ媒質のブレイクダウン閾値より低く設定することにより粒子のみをブレイクダウンさせ
　上記試料に照射する照射光は、均一ビーム形成部材により、ブレイクダウン発生領域内におけるエネルギー分布を均一化する機能を有することを特徴とする粒子計数装置。」（第１頁左下欄第４行目から第１５行目。）
　
イ　「〔実施例〕
　以下、本発明の一実施例を図について説明する。第１図において、励起線源のＮｄ：ＹＡＧレーザ１は制御装置１６により制御されており、レーザから放出される光２はハフミラー３等によって一部を反射しフオトダイオード４等でレーザビーム２をモニタしておく、ハフミラー３を透過したレーザビーム５はアパーチヤ６を用いてビーム径を一定値に絞る。アパーチヤ６を通過したレーザビーム７は均一ビーム形成部材８により均一化され、セル９に入射する。セル９を通過した光は外部に洩れない構造をしているビームストツパー１０で吸収される。試料は導入口１１よりセル９に導入され、排出口１２より排出される。
試料中で光の作る電界強度を粒子のブレイクダウン閾値より大きく、媒質のブレイクダウン閾値より小さく設定すると、粒子のみがブレイクダウンされプラズマ化し、プラズマ化に伴い
発光が発生する
・・・
試料はセル中を流しておき、光出力密度を媒質のブレイクダウン閾値より小さく、粒子のブレイクダウン閾値より大きく設定しておくと、ビームウエスト内に粒子が存在すれば、ブレイクダウンが生じ信号を出す
　
（５）引用例７
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平８−２８５７７４号公報（以下「引用例７」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の方法は、常圧下の
対象固体材料表面にパルスレーザー等の光パルスを照射
【００１１】
【実施例】図１は、
本発明による測定装置の構成例であって、１は対象物体（純度９９．６％の銅板）
４はパルスレーザー光源（波長５３２ｎｍ、エネルギー出力２０ｍＪ／パルス、パルス幅約１０ｎｓ、繰り返し数毎秒１０、照射野面積０．１９ｃｍ
２
、照射野での実測エネルギー密度（ｆｌｕｅｎｃｅ）７７ｍＪ／ｃｍ
２
）
【００１２】図２は実施例において得られたレーザーパルス誘起電荷流信号の例である．トレース１は原銅板の信号であり、２、３、４は同銅板を大気圧空気中で１８０℃においてそれぞれ５、１０、２０分間加熱したものの信号である．各信号トレースはパターン差、強度差において明確に識別できる．このような熱処理によって銅板上には薄い亜酸化銅膜の成長することが知られており、本方法によって厚さ約１ｎｍの精度で銅板上の酸化膜厚の相対変化が検知されるといえる．
【００１３】
高密度レーザー光を照射した場合、光の波長、エネルギー密度の大きさ、パルス幅、毎秒当たりのパルス数および照射時間の長さの選択によって、固体表面に融解、クレータ生成等を生じることがある．パルス幅１０−１００ｎｓの場合、アブレーション（ａｂｌａｔｉｏｎ）はエネルギー密度約１Ｊ／ｃｍ
２
前後以上において急増することが知られている（例えばＲ．Ｗ．Ｄｒｅｙｆｕｓ、Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ａｐｐｌｉｅｄ  Ｐｈｙｓｉｃｓ  ６９巻ｐ．１７２１、１９９１年）
【請求項１】では、本発明のいう光の高エネルギー密度として１パルス当たり１０−６Ｊ／ｃｍ２ないし１Ｊ／ｃｍ２を指すこととした．」
　
（６）引用例８
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開２００２−２９６１８９号公報（以下「引用例８」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【００１１】
【発明の実施の形態】図１のブロック図は、本発明による地盤調査装置４の一実施例を示す。
調査装置４は、地盤１の被調査部位２にレーザ光６を照射するレーザ装置５と、レーザ光６の照射により発生したプラズマ７の発光のスペクトル強度分布10を測定する分光光度計８と、スペクトル強度分布10に基づき地盤１を調査するスペクトル分析装置12とを有する
【００１２】
レーザ光６は、地盤１へ照射したときにアブレーションによるプラズマ７を発生させ得る強度を有するものとする。パワー密度が大きいレーザ光６を得るため、レーザ装置５を例えばYAG（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）レーザ装置や炭酸ガス（CO
2
）レーザ装置等の出力が大きいものとすることが好ましい。また大きなパワー密度が得やすいように、レーザ光６をパルスレーザ光とし、所定パルス数のレーザ光６（以下、パルスレーザ光ということがある。）を地盤１の被調査部位２に照射してもよい
　
（７）引用例９
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開平１１−９６５４８号公報（以下「引用例９」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【０００８】レーザ光を物質加工や測定に応用する試みはレーザの発明当初から始まったと言えるが、昨今のレーザ光源の発達、開発は基本特性やハンドリング性の目覚ましい向上をもたらし、高エネルギー加工から超微細加工、精密測定まで利用技術の広い裾野を形成している。
レーザ光によって物質を成膜し、或いは物質表面を加工するレーザアブレーション（爆蝕）ないしレーザエッチングは８０年代から盛んに検討されている技術であり、これによって基板表面にテクスチャ加工を施す、所謂レーザテクスチャ技術
　
イ　「【００１８】
【発明の実施の形態】本発明においては、
レーザ光を、後述するパルス化技術によりパルス幅が１００〜１００００ｎｓとなるようにパルス化した上で基板表面に照射し、このガラス基板表面のレーザ光照射位置に突起を形成し、これによりテクスチャ加工を施した基板を得る
レーザ光源としては、ＣＯ
2
レーザ、ＣＯレーザ、ＹＡＧレーザ等を用いてよい
　
（８）引用例１０
　本願出願日前に頒布された刊行物である，特開２００３−２３２３０号公報（以下「引用例１０」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
レーザービーム等のエネルギービームを用いて基板上の導電性材料を除去して回路パターンを形成する基板製造方法
　
イ　「【００２２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態の一例について詳細に説明する。図１は、
本発明の基板製造方法に用いられるビーム加工装置
パルス状のエネルギービームとしてのパルスレーザ光を繰り返し出射するビーム源としてのＹＡＧレーザ装置１
【００２３】上記ＹＡＧレーザ装置１は、ＹＡＧロッド１０１ａ及びＱスイッチ１０１ｂを内蔵したレーザヘッド１０１と、Ｑスイッチ１０１ｂを駆動するＱスイッチ駆動部１０２と、レーザヘッド１０１内のＹＡＧロッド１０１ａにレーザ発振用の駆動電流を供給するレーザ電源１０３とを有している。
上記Ｑスイッチ駆動部１０２は、制御システム６から送られてきたレーザ制御信号に基づいて、レーザヘッド１０１内のＱスイッチ１０１ｂを駆動する。Ｑスイッチ１０１ｂをオンすると、レーザヘッド１０１から近赤外光（波長λ＝１０６４ｎｍ）からなるパルスレーザ光が出射される
、上記レーザ制御信号のパルス幅は８０〜５００ｎｓｅｃの範囲で変化させることができる
　
ウ　「【００５１】さらに、
上記実施形態では、Ｑスイッチを有するＮｄ：ＹＡＧレーザから出射されたパルス状の近赤外レーザビーム（波長λ＝１０６４ｎｍ）を用いた場合について説明したが
ＣＯ
２
レーザ
等のパルスレーザを用いる場合にも適用することができる
　　
３　対比
　本願補正発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「金属板上の分析試料にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成し、前記プラズマにより、分析試料の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせ」ることについて，まず，摘記事項（１）イに「分析試料をマイクロピペッタにより、金属板に数μｌ滴下し、電流を印加して試料を乾燥させる」と記載されるように，引用発明の「金属板」は，分析試料が付着した基体となるものであるから，本願補正発明の「試料が付着した金属製の基体」に相当する。
　また，引用発明は，「分析試料にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成し、前記プラズマにより、分析試料の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせ」ているのであるから，当該レーザ光は，分析試料をプラズマ化するために十分なエネルギー密度を有している，すなわち分析試料に対するアブレーション閾値以上のエネルギー密度を有していることは明らかである。
　そして，引用発明は，「分析試料にレーザ光を照射」しているのであり，分析試料は「金属板上」にあるのであるから，レーザ光が照射されるのは，金属板の表面となることも明らかである。
　してみると，引用発明の「金属板上の分析試料にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成し、前記プラズマにより、分析試料の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせ」ることは，本願補正発明の「試料が付着した金属製の基体表面に、パルス幅200nsから数百nsの炭酸ガスパルスレーザー光を当該基体に対するアブレーション閾値以下で前記試料に対するアブレーション閾値以上のエネルギー密度で照射」することと，「試料が付着した金属製の基体表面に、レーザー光を前記試料に対するアブレーション閾値以上のエネルギー密度で照射」する点で共通する。
（２）引用発明の「前記発光スペクトルをマルチチャンネルアナライザにより計測し、分析試料に含まれる複数の元素の発光スペクトル強度を同時に求めることにより、分析試料中の元素の濃度定量を行なう」ことについて，まず，「前記発光スペクトル」とは，「分析試料にレーザ光を照射することにより、プラズマを生成し、前記プラズマにより、分析試料の中の元素を励起して」生じさせた「発光スペクトル」であるから，分析試料のアブレーションによるプラズマ発光であることは明らかである。
　また，「前記発光スペクトルをマルチチャンネルアナライザにより計測」することが，分光分析を行っていることは明らかであり，「分析試料に含まれる複数の元素の発光スペクトル強度を同時に求めることにより、分析試料中の元素の濃度定量を行な」うことが，分析試料の構成物質を測定していることも明らかである。
　してみると，引用発明の「前記発光スペクトルをマルチチャンネルアナライザにより計測し、分析試料に含まれる複数の元素の発光スペクトル強度を同時に求めることにより、分析試料中の元素の濃度定量を行なう」ことは，本願補正発明の「試料のアブレーションによるプラズマ発光の分光分析により前記試料の構成物質を測定」することに相当する。
（３）引用発明の「レーザ発光分光分析方法」は，上記のとおり，レーザ光による分析試料のアブレーションを利用して，分析試料の測定を行うものであるから，本願補正発明の「レーザーアブレーション利用の試料測定方法」に相当する。
　
　そうすると，本願補正発明と引用発明とは，
「試料が付着した金属製の基体表面に、レーザー光を前記試料に対するアブレーション閾値以上のエネルギー密度で照射し、前記試料のアブレーションによるプラズマ発光の分光分析により前記試料の構成物質を測定してなるレーザーアブレーション利用の試料測定方法。」
である点で一致しており，次の点で相違する。
　
相違点１：レーザー光が，本願補正発明では「パルス幅200nsから数百nsの炭酸ガスパルスレーザー光」であるのに対し，引用発明ではそのようなレーザー光ではない点。
　
相違点２：レーザー光の照射が，本願補正発明では「基体に対するアブレーション閾値以下」のエネルギー密度で照射しているのに対し，引用発明ではそのような特定はされていない点。
　
４　判断
　上記各相違点について判断する。
（１）相違点２について
　まず，相違点２について判断する。
　粒子に対してレーザ光を照射し，粒子をブレークダウンさせ，ブレークダウンによる発光に基づいて測定を行う際に，レーザ光の出力密度を，粒子のブレークダウン閾値よりも高い密度で媒質のブレークダウン閾値よりも低い密度とすることは，引用例３及び４それぞれに記載されるように，周知の技術である。ここで，レーザブレークダウンとは，粒子にレーザ光を照射することで，加熱されて白色発光し，その後粒子は個々の原子単位にまで分解し，励起状態におかれ，１０ナノ秒程度の間に蛍光発光するというものであり（摘記事項（３）エ【００３１】），粒子をレーザ光の照射によりプラズマ化し，励起状態において，発光させるというものであるから，引用発明における，分析試料にレーザ光を照射し，プラズマを生成し，分析試料の中の元素を励起して発光スペクトルを生じさせることと，同様のことである。そして，上記周知の技術によれば，粒子のみブレークダウンさせ，媒質をブレークダウンさせないので，バックグラウンドのない出力を得たり（摘記事項（３）ウ【００１６】），粒子のみを計数することができる（摘記事項（４）イ）というものである。
　ここで，引用発明は，分析試料中の元素を測定しようとするものであり，分析試料に含まれる元素のみからプラズマを生成し，発光スペクトルを生じさせようとすることは，ノイズの少ない測定をしようとするための当業者における一般的な技術課題である。そして，そのような測定を行うためには，分析試料のみが適切にプラズマ化され，分析試料をその上に有する金属板がプラズマ化されないようにすることは，当業者における通常の技術的配慮である。
　そうすると，上記周知の技術を鑑み，引用発明において，レーザー光の照射エネルギー密度を，金属板がプラズマ化されないように，金属板に対するアブレーション閾値以下とすることは，当業者であれば容易に為し得たものである。
　
（２）相違点１について
　引用例１には，レーザー光として「ＹＡＧレーザ」を用いることが記載されている（摘記事項（１）イ【０００８】及び（１）ウ【００１１】）ものの，パルス幅がどの程度のものであるかについては記載されていない。
　一方，引用発明のように，レーザ光によるアブレーションを利用する際に，出力密度の大きなパルス化されたレーザ光が有利であることは，引用例３（摘記事項（３）ウ【００１６】）や引用例８（摘記事項（６）ア【００１２】）それぞれに記載されており，またそのようなレーザ光源装置として，ＹＡＧと並んで炭酸ガスレーザがあることも，引用例２（摘記事項（２）ア【００７９】）及び引用例８それぞれに記載されるように，従来知られている。さらに，レーザ光の波長を測定成分の波長に重畳しないようなものとすることは，例えば引用例３（摘記事項（３）エ【００１９】）にも記載されるように，当業者において通常為し得たものであり，引用例１に示される「生じた発光スペクトルを２００〜７００ｎｍのスペクトル」（摘記事項（１）イ【０００９】）より遙かに長い波長を有する炭酸ガスレーザを採用することは，当業者において通常為し得た範囲内のものである。すると，引用発明におけるレーザ光として，炭酸ガスパルスレーザを用いることは，当業者において容易に為し得たものである。
　そして，上記相違点２について示したように，引用発明において，レーザー光の照射エネルギー密度を，所定の範囲のものとすることは，当業者であれば容易に為し得たものであるところ，引用例２に「レーザ光５によるプラズマ生成のポイントは、パルスあたりのエネルギおよびパルス時間で定まる。本実施形態ではプラズマ生成用レーザ光のパルスエネルギが最高で数１００ｍＪ程度である。パルス幅はナノ秒（１０−９ｓ）オーダ、あるいはそれ以下である」（摘記事項（２）ア【００７９】），引用例３に「ＹＡＧレーザが用いられ、波長約１μｍ，強度１０〜４００ｍｊ／パルス，パルス幅０．１〜１００ｎｓ程度の出力のものを使用する」（摘記事項（３）エ【００１９】），引用例７に「パルス幅１０−１００ｎｓの場合、アブレーション（ａｂｌａｔｉｏｎ）はエネルギー密度約１Ｊ／ｃｍ２前後以上において急増することが知られている」（摘記事項（５）ア【００１３】）とそれぞれ記載されるように，レーザー光の照射エネルギ密度は，パルスレーザ光のエネルギ及びパルス幅で変わることが当業者には明らかであり，また，アブレーションの条件が，どのような物質を対象とするか，どのような波長のレーザ光を用いるかに応じて変わりうることも，当業者であれば当然に理解し得たものである。
　さらに，炭酸ガスレーザによるアブレーションを利用する際に，そのパルス幅を１００乃至１００００ｎｓあるいは８０乃至５００ｎｓとすることは，引用例９及び１０それぞれに記載されるように従来行われており，炭酸ガスレーザを用いた際に，この程度のパルス幅を選択することは，当業者においてアブレーションを行う対象物などに応じて，適宜に為し得たものである。
　してみると，引用発明において，炭酸ガスパルスレーザを採用した際に，そのパルス幅をどの程度のものとするかは当業者において適切に設定すべき事項であるといえ，引用例９あるいは１０に示されるようなパルス幅と同程度のパルス幅である，２００ｎｓから数百ｎｓのパルス幅を選択することは，当業者において適宜に設定し得た範囲内のものである。さらに，本願明細書の記載を参照しても，本願補正発明に示されるパルス幅を選択したことによる臨界的な意義は認められない。
　そして，本願補正発明の作用効果は，引用発明及び周知の技術から，当業者であれば予測できる範囲のものである。
　
（３）請求人の主張について
　請求人は，平成１９年１１月３０日付けの手続補正書により補正された審判請求書の請求の理由において，平成１９年３月２日付けの拒絶理由書及び平成１９年９月２７日付けの補正の却下の決定にて引用された文献（引用文献１乃至７）は，いずれも「パルス幅200nsから数百nsの炭酸ガスパルスレーザー光」を記載も示唆もせず，本願は当該構成を有することによりスペクトル分光分析のＳＮ比を高めることができ，進歩性を有する旨主張している。また請求人は，当審における審尋に対する，平成２１年３月２３日付け回答書において，炭酸ガスパルスレーザ光を用いることによりＳ／Ｎ比を改善することができ，パルス幅を２００ｎｓ〜数百ｎｓとしてパルスエネルギーを大きくしたことで，プラズマ分光分析のＳＮ比を改善することができる旨，主張している。
　しかし，上記相違点１について示したように，レーザ光によるアブレーションを利用する際に，出力密度の大きなパルス化されたレーザ光が有利であること，そのようなレーザ光源装置として炭酸ガスレーザがあることはいずれも当業者に周知であり，レーザー光の照射エネルギー密度がパルスあたりのエネルギおよびパルス時間で定まり，本願と同程度のパルス幅の炭酸ガスレーザによるアブレーションを行うことも当業者において周知であることからして，引用発明において，「パルス幅200nsから数百nsの炭酸ガスパルスレーザー光」を用いることが容易でないと言うことはできない。
　請求人は回答書において，参考図を示して，パルス幅を大きくしてパルスエネルギーを大きくしたことによる効果を主張しているが，その効果が，パルス幅を大きくしたことによる効果であるのか，パルスエネルギーを大きくしたことによる効果であるのか，一概に言うことはできない（パルスエネルギーを等しくして，ピーク値を大きくした例ではない）。また，当該参考図で示されるのはＰｂであり，本願において「本発明によれば炭素または炭素化合物以外の試料の測定」（【００２８】）と記載されるように，Ｐｂが検出対象外とされてはいないものの，本願において一貫して説明されているのは炭素あるいは炭素化合物の検出についてであって，参考図によってＰｂの検出について示されたとしても，そのことが直ちに本願における炭素などの検出を説明しているとは，上記相違点１について示したように，アブレーションの条件がどのような物質を対象とするかに応じて変わりうることが当業者に明らかであることからしても，認めることはできない。さらに，当該参考図を見ると，一見Ｐｂのピークが大きくなっているようには見えるが，縦軸のスケールが異なること，またＰｂのピークの左右における他のピークも大きくなっていることからして，当該参考図からＳＮが改善したと直ちに認めることはできない。
　してみると，請求人の主張は採用できない。
　
（４）まとめ
　以上のとおり，本願補正発明は，引用発明及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
５　むすび
　上記のとおり，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
１　原査定の拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由の概要は，次のとおりである。
　
「この出願については、平成１９年６月２１日付け拒絶理由通知書に記載した理由によって、拒絶をすべきものです。」
　
２　平成１９年６月２１日付け拒絶理由通知書
　平成１９年６月２１日付け拒絶理由通知書における拒絶の理由の概要は，次のとおりである。
　
　「平成１９年４月２７日付けでした手続補正は、下記の点で願書に最初に添付した明細書又は図面（以下『当初明細書等』という）に記載した事項の範囲内においてしたものでないから、特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしていない。
　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　
　補正により独立請求項である請求項１，請求項９及び、発明の詳細な説明における【００１６】、【００１８】、【００３４】において、照射されるレーザ波長及びパルス幅に関して『1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光』と限定がなされた。
　しかしながら、まず発振波長に関して、当初明細書等には1064nmのＹＡＧレーザでは明瞭な炭素ピークが得られなかったため、本願発明においては１０．６μｍのＴＥＡ−ＣＯ２レーザを用いたことについては記載されているが、1064nmより長波長であれば全て適当な波長であるとは認識されておず、良好なピークが得られるとの根拠も示されていない。
　また、パルス幅に関しても、当初明細書等には『１００ｎｓから数百ｎｓ程度』とすることについては考慮されているが、１００ｎｓ以上の全てのパルス幅を適当なものとして認識しているわけではない。
　よって、照射レーザ波長及びパルス幅に関する上記数値の限定は、当初明細書等に記載された内容を超えるものである。」
　
３　平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正の内容
　平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正の内容は，次のように記載を変更する補正を含むものである。（下線部分は補正箇所である。）
（１）特許請求の範囲
ア　「【請求項１】
試料が付着した
金属製の
、1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光を
エネルギー密度で
　
イ　「【請求項９】
測定すべき試料の付着部を有する
金属製
1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光を
エネルギー密度で
　
（２）明細書の発明の詳細な説明
ア　「【００１６】
　図１を参照するに、本発明のレーザーアブレーション利用の試料測定方法は、試料が付着した
金属製の
、1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光４を
エネルギー密度で
　
イ　「【００１８】
　また図１を参照するに、本発明のレーザーアブレーション利用の試料測定装置は、測定すべき試料の付着部２を有する
金属製
1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光４を
エネルギー密度で
　
ウ　「【００３４】
　　【発明の効果】
　以上説明したように、本発明のレーザーアブレーション利用の試料測定方法及び装置は、試料が付着した
金属製の
、1064nmより長い発振波長でパルス幅100ns以上のパルスレーザー光を
エネルギー密度で
　
４　出願当初の明細書又は図面の記載事項
　願書に最初に添付した明細書又は図面（以下，「当初明細書等」という。）には，上記３にて摘記した平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正の内容に関連する事項として，次の事項が記載されている。なお，下線は当審において付与した。
　
（１）「【００１０】
　本発明者は、プローブ上に付着した被調査部位の試料に対して特許文献３によるレーザーアブレーション利用の調査方法が適用できるか否かを確認するため、金属製プローブ上に炭素含有試料を付着させて大気圧下でレーザー光を照射し、アブレーションによるプラズマ発光のスペクトルを確認する実験を行なった。
金属製プローブ上の試料付着部に波長1064nm、パルス幅８ns
のYAG（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）レーザー光を照射したところ、図３（Ａ）に示すプラズマ発光の強度分布が得られた。図３（Ａ）の実験結果からは波長247.9nmの明瞭な炭素Ｃのスペクトル成分を検出することができなかった
　
（２）「【００１４】
　更に本発明者は、
同一物質に対するアブレーション閾値は、照射するレーザー光の発振波長により相違する
例えば金属鋼では、波長が長いほど光吸収率が小さく（光反射率が大きく）なるため、アブレーション閾値が大きくなる。波長の長いレーザー光を用いれば、上述したプローブ上に付着させた試料の分析をする場合に、試料のアブレーション閾値A1とプローブのアブレーション閾値A2との差を大きくすることが期待できる
波長10.6μm（＝10600nm）、パルス幅200ns
のTEA-CO
2
レーザ（Transversely Excited Atmospheric pressure laser、大気圧横方向放電励起レーザ）光を図３（Ａ）と同様に金属製プローブ上の炭素含有試料に照射したところ、図３（Ｂ）に示す発光強度分布が得られた。図３（Ｂ）の実験結果からは極めて鮮明な波長247.9nmの炭素Ｃのスペクトル成分が検出できる
【００１５】
　図３（Ａ）に比し図３（Ｂ）において試料の鮮明な炭素Ｃのスペクトル成分が観察できたのは、
YAGレーザー光に比しTEA-CO
2
レーザー光の発振波長が長く、金属性プローブに対するアブレーション閾値が大きいため、金属プローブ自体からはアブレーションを発生させず、金属表面に付着した試料のみに選択的にアブレーションを発生させるためである。このように波長の長いレーザー光を用いれば、試料のアブレーション閾値A1とプローブのアブレーション閾値A2との差が大きいため、プローブに対するアブレーション閾値以下で試料に対するアブレーション閾値以上の照射エネルギー密度を比較的広くすることができ、試料の波長成分のスペクトル成分を高ＳＮ比で検出することが可能である
　
（３）「【００１９】
　
好ましくは、レーザー光４を発振波長が長いものとし、プローブ１に対するアブレーション閾値A2と前記試料に対するアブレーション閾値A1との差（＝A2−A1）を大きくする
　
（４）「【００２１】
　レーザー光４は、照射エネルギー密度Ｅがプローブ１に対するアブレーション閾値A2以下で試料に対するアブレーション閾値A1以上の属性（A1＜Ｅ＜A2）のものである。
このようなレーザー光４の属性は、例えばレーザー光の発振波長とパルス幅と照射パワーとの組合せとして、プローブ１及び測定対象試料に対するアブレーション実験により実験的に定めることができる
レーザー光４の波長が長ければ試料のアブレーション閾値A1とプローブ１のアブレーション閾値A2との差が大きくなり、両閾値の間の属性の選択が容易化できるので、発振波長が長いレーザー光４を用いることが望ましい。また、パルス幅を100nsから数百ns程度と大きくすることが望ましい。パルス幅が小さいとアブレーションで発生する衝撃波の速度が大きくなり、その結果スペクトルのバックグラウンドが大きくなるからである。このような発振波長及びパルス幅のレーザー光４の一例は炭酸ガスレーザー光である
　
（５）「【００２４】
［実験例１］
　プローブ１を銅板製とし、レーザー装置３としてTEA-CO2レーザを用いて図１の測定装置を試作した。銅板製プローブ１をその付着部２と共に塩酸で洗浄した後、レーザー装置３から
波長10600nm、パルス幅200ns
の炭酸ガスレーザー光４をプローブ１の試料付着部２（この場合は、洗浄後の試料が付着していない付着部２）に向けて照射した
【００２５】
　次いでプローブ１の洗浄後の付着部２に軽く指先を触れた後、
同様な炭酸ガスレーザー光４をその付着部２へ照射して得たプラズマ発光６を分光分析したところ、図２に実線で示す結果が得られた。図２から分かるように、本発明の測定方法によれば、指先に残留する微量の脂肪酸等に由来する付着部２上の極微量な痕跡を炭素Ｃの発光線（247.9nm）として明瞭に測定することができ、金属プローブ１上に付着した微量な有機物を高ＳＮ比で検出可能であることを実証できた
　
（６）「【００３４】
　　【発明の効果】
　以上説明したように、本発明のレーザーアブレーション利用の試料測定方法及び装置は、試料が付着した基体表面に当該基体に対するアブレーション閾値以下で試料に対するアブレーション閾値以上の属性のレーザー光を照射し、試料のアブレーションによるプラズマ発光の分光分析により試料の構成物質を測定するので、次の顕著な効果を奏する。
【００３５】
（イ）微量の試料の構成物質を高ＳＮ比で簡易に測定できる。
（ロ）試料採取した現地で迅速に試料の構成物質を測定できるので、環境の調査、特に水質調査や土壌調査、空気中浮遊物質調査等に有利に利用できる。
（ハ）土壌の調査にプローブ差込み等の手法により簡易に適用できる。
（ニ）器具・設備の表面の清浄管理に有利に適用できる。
（ホ）気中にプローブを適宜曝するだけでクリーンルーム等の空気清浄度の管理に使用できる。
（ヘ）環境に存在する有害な有機性ガスの検出に使用できる。」
　
（７）図面第３図には，YAGレーザー光によるアブレーション発光と炭酸ガスレーザー光によるアブレーション発光との分光分析結果の相異を示す説明図として，発明の詳細な説明【００１０】段落に示されるYAGレーザを用いた場合の照射条件及び分光分析結果と，発明の詳細な説明【００１４】段落に示されるTEA-CO2レーザを用いた場合の照射条件及び分光分析結果が記載されている。
　
５　当審の判断
（１）発振波長の限定について
　平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正は，上記３にて示したように，特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の「課題を解決する手段」（【００１３】乃至【００１９】）の記載において，レーザー光の発振波長を「1064nmより長い発振波長」と限定することを含むものである。そして，発明の詳細な説明の「発明の効果」（【００３４】乃至【００３５】）においても，同様の限定を加え，発明の効果を奏する旨，記載している。
　一方，当初明細書等には，具体的なレーザ光の発振波長として，「波長1064nm・・・のYAG（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）レーザー光」では「炭素Ｃのスペクトル成分を検出することができなかった」こと（上記４（１）），「波長10.6μm（＝10600nm）・・・のTEA-CO2レーザ（Transversely Excited Atmospheric pressure laser、大気圧横方向放電励起レーザ）光」では「炭素Ｃのスペクトル成分が検出できる」こと（上記４（２）），「波長10600nm・・・の炭酸ガスレーザー光４をプローブ１の試料付着部２（この場合は、洗浄後の試料が付着していない付着部２）に向けて照射した」，「本発明の測定方法によれば、指先に残留する微量の脂肪酸等に由来する付着部２上の極微量な痕跡を炭素Ｃの発光線（247.9nm）として明瞭に測定することができ、金属プローブ１上に付着した微量な有機物を高ＳＮ比で検出可能であることを実証できた」こと（上記４（５））が，それぞれ記載されており，波長1064nmのレーザー光では所期の検出ができないこと及び波長10.6μmのレーザ光では所期の検出が行えることについては記載されている。しかしこれら２つ以外の具体的な波長については記載されていない。
　また，当初明細書等には，発振波長に関して，「同一物質に対するアブレーション閾値は、照射するレーザー光の発振波長により相違する・・・例えば金属鋼では、波長が長いほど光吸収率が小さく（光反射率が大きく）なるため、アブレーション閾値が大きくなる。波長の長いレーザー光を用いれば、上述したプローブ上に付着させた試料の分析をする場合に、試料のアブレーション閾値A1とプローブのアブレーション閾値A2との差を大きくすることが期待できる」こと，「このように波長の長いレーザー光を用いれば、試料のアブレーション閾値A1とプローブのアブレーション閾値A2との差が大きいため、プローブに対するアブレーション閾値以下で試料に対するアブレーション閾値以上の照射エネルギー密度を比較的広くすることができ、試料の波長成分のスペクトル成分を高ＳＮ比で検出することが可能である」こと（上記４（２）），「好ましくは、レーザー光４を発振波長が長いものとし、プローブ１に対するアブレーション閾値A2と前記試料に対するアブレーション閾値A1との差（＝A2−A1）を大きくする」こと（上記４（３）），「レーザー光４の波長が長ければ試料のアブレーション閾値A1とプローブ１のアブレーション閾値A2との差が大きくなり、両閾値の間の属性の選択が容易化できるので、発振波長が長いレーザー光４を用いることが望ましい」こと（上記４（４））がそれぞれ記載されるように，レーザー光の発振波長が長いことが望ましいことは記載されている。しかし，発振波長がどの程度長ければよいのかについては一切記載されていない。
　上記のレーザ光の具体的な波長についての記載と，レーザー光の発振波長が長いことが望ましいことの記載を併せみると，発振波長について，1064nmでは検出ができず，より長い波長の10.6μmを含む波長範囲の波長であることが望ましいことを示していると理解できるが，特にその下限の値を1064nmとすることについて，その波長より少しでも長ければよいこと，すなわち，1064nmを臨界値として，それより長い波長であれば発明の効果を奏することについては，当初明細書等には示されていない。
　
（２）パルス幅の限定について
　平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正は，上記３にて示したように，特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の「課題を解決する手段」（【００１３】乃至【００１９】）の記載において，レーザー光のパルス幅を「パルス幅100ns以上」と限定することを含むものである。そして，発明の詳細な説明の「発明の効果」（【００３４】乃至【００３５】）においても，同様の限定を加え，発明の効果を奏する旨，記載している。
　一方，当初明細書等には，具体的なレーザ光のパルス幅として，「パルス幅８ns・・・のYAG（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）レーザー光」では「炭素Ｃのスペクトル成分を検出することができなかった」こと（上記４（１）），「パルス幅200ns・・・のTEA-CO2レーザ（Transversely Excited Atmospheric pressure laser、大気圧横方向放電励起レーザ）光」では「炭素Ｃのスペクトル成分が検出できる」こと（上記４（２）），「パルス幅200ns・・・の炭酸ガスレーザー光４をプローブ１の試料付着部２（この場合は、洗浄後の試料が付着していない付着部２）に向けて照射した」，「本発明の測定方法によれば、指先に残留する微量の脂肪酸等に由来する付着部２上の極微量な痕跡を炭素Ｃの発光線（247.9nm）として明瞭に測定することができ、金属プローブ１上に付着した微量な有機物を高ＳＮ比で検出可能であることを実証できた」こと（上記４（５））が，それぞれ記載されており，パルス幅８nsのレーザー光では所期の検出ができないこと及びパルス幅200nsのレーザ光では所期の検出が行えることについては記載されている。しかしこれら２つ以外の具体的なパルス幅については記載されていない。
　また，当初明細書等には，パルス幅に関して，「パルス幅を100nsから数百ns程度と大きくすることが望ましい。パルス幅が小さいとアブレーションで発生する衝撃波の速度が大きくなり、その結果スペクトルのバックグラウンドが大きくなるからである」（上記４（４））との記載がある。このことを，上記のレーザ光の具体的なパルス幅についての記載と併せみると，８nsを含まず，200nsを含むようなパルス幅である100nsから数百ns程度の範囲のパルス幅であることが望ましいことを示していると理解できるが，上限が限定されない「パルス幅100ns以上」のようなパルス幅について，特に数百ns程度を超えた範囲のパルス幅については，発明の効果を奏するものであるか，当初明細書に示されているとは言えない。　
　
（３）まとめ
　したがって，平成１９年４月２７日付け手続補正書によるレーザ光の発振波長及びパルス幅について限定する補正は，当初明細書等に示された範囲を超えてなされたものであり，平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正は，願書に最初に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてされたものではない。
　
６　むすび
　以上のとおりであるから，平成１９年４月２７日付け手続補正書による補正は，平成１４年法律第２４号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしていない。
　よって，結論のとおり審決する。