【事件の表示】
　平成　８年特許願第５０１６３１号「光要素をマッピングする方法および装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　７年１２月２１日国際公開、ＷＯ９５／３４８００、平成１０年　７月２８日国内公表、特表平１０−５０７８２５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件は、平成７年６月１３日（パリ条約による優先権主張１９９４年（平成６年）６月１４日、１９９５年（平成７年）３月２８日、イスラエル（ＩＬ））を国際出願日とする特許出願（平成８年特許願第５０１６３１号。以下「本件出願」という。）につき、拒絶査定が平成１９年９月２８日にされた（発送日：同年１０月９日）ところ、拒絶査定不服審判が平成２０年１月７日に請求されるとともに同日付けで手続補正書が提出されたものである。
　なお、本件出願は、パリ条約による優先権の主張をするものであるが、そのうちの１９９４年（平成６年）６月１４日の出願に基づく優先権主張のものは、下記「第３　本願発明について」の本件出願の請求項１に係る発明に含まれる「否均一な要素の配列を有する少なくとも１つの領域を備えている該ビーム分離器」の構成を含まない出願であることから、パリ条約による優先権の主張を認めることができない。
　　　　　　　　　　
第２　平成２０年１月７日付けの手続補正について
　（１）平成２０年１月７日付けの手続補正書による手続補正（以下「本件補正」という。）の内容は、本件補正前の平成１９年３月１３日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜４３のうちの請求項２〜４３を削除したものである。
　　　　　　
　（２）　本件補正の目的について
　本件補正前の請求項２〜４３は削除されているので、本件補正は、特許法第１７条の２第５項第１号に規定する請求項の削除を目的とする補正に該当する。
　　
第３　本願発明について
　（ア）本件補正は、上記のとおり特許請求の範囲の請求項２〜４３の削除に該当するものであり、請求項１は実質的に補正されていないことから、以下に、本件補正後の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される発明が特許を受けることができるものであるかについて検討する。
　　
　（イ）本件出願に係る発明
　　本件出願の請求項１に係る発明は（以下、「本願発明」という。）、平成２０年１月７日付け手続補正書で補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される以下のとおりのものと認める。
　　　　　　　　　　　　　　
「【請求項１】光要素をマッピングする装置において、
　光ビームを光要素に向けて伝送するように配置された光源と、
　前記光ビ一ムを対応する複数の光ビーム部分へ分離するよう働く、前記光要素の前又は後ろに配置された複数のビーム分離要素を含むビーム分離器であって、該ビーム分離器は否均一な要素の配列を有する少なくとも１つの領域を備えている該ビーム分離器と、
　前記複数のビーム分離要素と対応する複数の光スポットを含む光スポット・マップを前記複数の光ビーム部分から生成するよう働く光検知装置と、
　前記光スポット・マップから前記光要素の少なくとも1つの特性を取得するよう働き、否均一のスポットの配列を有する少なくとも１つの領域が存在することから得られる情報に少なくとも部分的に基づいて個々の光スポットと対応する前記ビーム分離要素を識別する装置とを含む光要素特性計算装置と、
を備える装置。」
　　
第４　引用刊行物記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本件出願の平成７年３月２８日の優先権主張日前に頒布された特開平２−２３８３３８号公報（以下、「引用刊行物Ａ」という。）には、次の事項が図面とともに記載されている。（下線は、当審で付加した。）
　　　　
（Ａ−１）「２．特許請求の範囲
１．
被検査体である単レンズに光を照射する為の点光源となる照明手段と、該照明手段から出射された発散光を平行光束とする為のコリメートレンズと、前記レンズによつて得られる平行光束中に等間隔に配置されたピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）と、前記隔板から出射された光線群の位置を識別する為の移動機構を持つた遮へい板、該遮へい板によつて位置の判つた光線群が被検査体である単レンズを透過し、収束、発散する光の位置を認識する為の移動機構を持つた撮像手段と、前記撮像手段の信号を処理し演算する演算処理手段と、演算処理結果を出力し作画する手段を具備したことを特徴とするレンズ検査装置
　　　　　
（Ａ−２）〔産業上の利用分野〕
　
本発明は
　　　　　　　　　　
（Ａ−３）「〔実施例〕
　以下、本発明の一実施例を第１図により説明する．
　まず全体構成を説明する。１はレーザ光を発するレーザ発振器、２はレーザ発振器１からのレーザ光を集光し発散させる顕微鏡用対物レンズ、３は集光レンズ２の焦点に配置し回折によるノイズを除去するピンホール、４は発散光を平行光にするコリメートレンズ、５は平行光束中に垂直に配置する多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）、６は上下、左右２方向に移動できる機構を持ち隔板から発したレーザ光を走査させる遮へい板、７は被測定レンズ、８は隔板によって生じる多数の光線が照射した位置が画素単位で識別可能なＭＯＳカメラの撮像面、９は撮像面を移動させる移動機構、１０は遮へい板６と撮像面９の移動をコントロールする為の制御回路と測定結果を演算処理するコンピュータ、１１は演算処理結果を作画するプロツター、１２は測定データ、演算内容をプリントアウトするプリンターである。」（２頁左上欄１７行〜右上欄１６行）
　　　　
（Ａ−４）「第３図（ａ）にも示したように、
ピンホールは
多数並んでおり
収差曲線ｌ（当審注：「ｌ」は「エル」の文字）（ｈ）が得られる
これら一連の演算処理はコンピュータ１０で行なわれ、その結果はプロツタ１１、プリンタ１２に出力される。
球面収差の測定例を第４図（ｂ）に示す
　　　　　　　
（Ａ−５）「次に隔板（ハルトマン板）５の形状を第３図、第５図で説明する。第３図（ａ）に示す隔板は径方向の４直径について測定する為の隔板である。
ピンホールの各点毎の撮像面８での位置を測定したい時は第３図（ｂ）に示す様な中央部にピンホールより若干大きな穴を一ケ設けた遮へい板を用いれば良く、この遮へい板を径方向にピンホールのピッチ毎に走査する。
　　　　　　　
（Ａ−６）「次に被測定レンズの表面形状の球面収差が歪みを測定する場合の構成において説明する。測定データの演算処理については前記透過光収差と同様である。被測定レンズ７の表面が凹面の場合の構成を第６図に示す。レーザ発振器１から出射したレーザ光は対物レンズ２により収束・発散光となり、回折光のノイズ成分を除去するピンホール３を通り、コリートレンズ４で平行光となり、等間隔のピンホールを多数持つ隔板を経て、光線群となり、集光レンズ７′で収束光となり、ミラー２２、ハーフミラー２３で反射し、被測定レンズ７の表面で反射し、ビームスプリツタ２３を透過し撮像面８に達する。
遮へい板６を上下、左右２方向移動する事によって隔板５のピンホール位置と撮像面８での光点位置が対応づけられコンピュータ１０で演算処理し被測定レンズ７の表面形状によって生ずる収差が測定できる。
　　　　　　　
（Ａ−７）「被測定レンズ７の表面が凸面の場合の構成を第８図に示す。レーザ発振器１より出射したレーザ光は対物レンズ２で収束発散する。ピンホール３によって回折によるノイズ光成分が除去されコリメートレンズ４によって平行光束となり隔板５に達する。隔板５には等間隔の多数のピンホールがあり、ピンホールを通過した光線群はハーフミラー２５を透過し、無収差の集光レンズ７′により被測定レンズ７の表面に達する。被測定レンズ７の表面で反射した光線群はハーフミラー２５で反射し、集光レンズ２４で撮像面８に達する。遮へい板６を上下、左右２方向移動し、隔板５のピンホール位置と撮像面８での光線位置を対応づけて、コンピュータ１０で演算処理被測定レンズ７の表面形状によって生ずる収差を測定する。」（３頁右下欄２〜１７行）
　　　　　　　
（Ａ−８）「〔発明の効果〕
　本発明によれば
ハルトマン法
　　　
　上記（Ａ−１）〜（Ａ−８）の記載を参照すると、上記引用刊行物Ａには、
「レンズ検査装置であって、
　被検査体である単レンズに光を照射する為の点光源となる照明手段と、
　照明手段から出射された発散光を平行光束とする為のレンズと、
　レンズによって得られる平行光束中に等間隔に配置された多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）と、
　隔板から出射された光線群の位置を識別する為の移動機構を持つた遮へい板と、
　遮へい板によつて位置の判った光線群が被検査体である単レンズを透過し、収束、発散する光の位置を認識する為の移動機構を持った撮像手段と、
　遮へい板を上下、左右２方向移動する事によって、撮像手段の信号から隔板の多数のピンホール位置と撮像手段の撮像面での光点位置とが対応づけられ演算処理する演算処理手段と、
　演算処理結果を出力し収差曲線を作画する手段とからなるハルトマン法を用いたレンズ検査装置。」
　の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているものと認める。
　　　　　　　　　　　
　また、同じく、原査定の拒絶の理由に引用され、本件出願の平成７年３月２８日の優先権主張日前に頒布された、「田中　済、外１名，“シャック・ハルトマン鏡面測定装置のデータ処理”，国立天文台報，平成６年１０月，第２巻，Ｐ４３１〜４４０」には、次の事項が記載されている。（当審注：文末の「．」は「。」に直した。また、下線は、当審で付加した。）
　　　　　　　
（Ｂ−１）「定量的な
鏡面測定
ハルトマン法
ック・ハルトマン法
マイクロレンズ・アレイをおいてハルトマン板のかわりをさせる。
マイクロレンズ・アレイでつくられた多数の星像の重心位置検出をして，参照光の像の位置と比較する。位置の差
を積分をすることで瞳位置の波面すなわち鏡面の形状がわかる。
　　　　　　　
（Ｂ−２）「参照光スポットと測定光スポットの対応づけはマイクロレンズに印をつけると容易になる（図３ａ，ｂ参照）。６２ｃｍ鏡の実験では
マイクロレンズ・アレイの離れた２カ所を黒く塗って光を遮断した
ずれの大部分は
スポット位置の平行移動となってあらわれ
２点（例えば光が遮断された場所の隣のスポット）の位置の差から平行移動分とスケール比を計算して参照スポットの座標から測定スポットの座標を推定する
　　　　
第５　対比・判断
　（５−１）　本願発明と引用発明との対比
　（i）引用発明の「レンズ検査装置」が、被検査体である単レンズに光を照射して、単レンズの収差曲線を作画する装置であるから、本願発明の「光要素をマッピングする装置」に相当する。
　（ii）引用発明の「被検査体である単レンズに光を照射する為の点光源となる照明手段」及び「照明手段から出射された発散光を平行光束とする為のレンズ」が、本願発明の「光ビームを光要素に向けて伝送するように配置された光源」に相当する。　
　（iii）引用発明の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」及び「遮へい板」が、本願発明の「ビーム分離器」に相当する。
　そして、引用発明の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」が、照明手段から出射された発散光を平行光束とするレンズによって得られる平行光束中に等間隔に配置された多数のピンホールを持つことから、引用発明の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」及び「遮へい板」が、本願発明の「ビーム分離器」と同様に、「光ビ一ムを対応する複数の光ビーム部分へ分離するよう働く」ことは明らかである。
　さらに、引用発明の「レンズ検査装置」では、隔板から出射された光線群が、遮へい板を介して被検査体である単レンズを透過することから、引用発明の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」及び「遮へい板」は、本願発明の「ビーム分離器」と同様に、「光要素の前に配置された複数のビーム分離要素を含む」ことは明らかである。
　そうすると、引用発明の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」及び「遮へい板」と本願発明の「ビーム分離器」とは、「光ビ一ムを対応する複数の光ビーム部分へ分離するよう働く、光要素の前に配置された複数のビーム分離要素を含むビーム分離器」である点で共通する。
　（iv）引用発明の「撮像手段」が、本願発明の「光検知装置」に相当する。
　そして、引用発明の「レンズ検査装置」は、演算処理手段と、収差曲線を作画する手段を用いて、撮像手段の信号から隔板の多数のピンホール位置と撮像手段の撮像面での光点位置とが対応づけられ演算処理し、演算処理結果を出力し収差曲線を作画することから、引用発明の「撮像手段」は、本願発明の「光検知装置」と同様に「複数のビーム分離要素と対応する複数の光スポットを含む光スポット・マップを前記複数の光ビーム部分から生成するよう働く」ものであることは明らかである。
　（v）引用発明の「演算処理手段」が、本願発明の「光要素特性計算装置」に相当する。
　そして、引用発明の「演算処理手段」は、撮像手段の信号から隔板のピンホール位置と撮像手段の撮像面での光点位置とが対応づけられ演算処理し、収差曲線を作画するための演算処理結果を出力することから、引用発明の「演算処理手段」と本願発明の「光要素特性計算装置」とは「光スポット・マップから光要素の１つの特性を取得するよう働」く点で共通するものである。
　（vi）引用発明の「レンズ検査装置」は、本願発明の「装置」に相当する。
　　　　　　　　
　そうすると、本願発明と引用発明とは、
　「光要素をマッピングする装置において、
　光ビームを光要素に向けて伝送するように配置された光源と、
　前記光ビ一ムを対応する複数の光ビーム部分へ分離するよう働く、前記光要素の前に配置された複数のビーム分離要素を含むビーム分離器と、
　前記複数のビーム分離要素と対応する複数の光スポットを含む光スポット・マップを前記複数の光ビーム部分から生成するよう働く光検知装置と、
　光スポット・マップから前記光要素の少なくとも１つの特性を取得するよう働く光要素特性計算装置と、
を備える装置。」
　である点で一致し、次の相違点（あ）で相違している。
　　　　　　　
・相違点（あ）
　本願発明は、ビーム分離器が「ビーム分離器は否均一な要素の配列を有する少なくとも１つの領域を備えて」おり、さらに、光要素特性計算装置が「否均一のスポットの配列を有する少なくとも１つの領域が存在することから得られる情報に少なくとも部分的に基づいて個々の光スポットと対応する前記ビーム分離要素を識別する装置とを含む」のに対して、引用発明はそのような構成を備えていない点。
　　　　　　　　
　（５−２）当審の判断
　そこで、上記相違点（あ）について判断する。
　（５−２ａ）上記引用刊行物Ｂの上記摘記事項（Ｂ−１）及び（Ｂ−２）の記載を参照すると、上記引用刊行物Ｂには、「ハルトマン板の代わりに、離れた２カ所を黒く塗って光を遮断するマイクロレンズ・アレイを設け、参照光スポットと測定光スポットの対応づけを、光が遮断された場所の隣の２つのスポットの位置の差から平行移動分とスケール比を計算して参照スポットの座標から測定スポットの座標を推定して鏡面の形状を求めるシャック・ハルトマン鏡面測定装置。」の発明（以下、「引用刊行物Ｂに記載された発明」という。）が記載（特に、付与した下線の記載を参照）されており、引用刊行物Ｂに記載された発明の「離れた２カ所を黒く塗って光を遮断するマイクロレンズ・アレイ」が本願発明の「否均一な要素の配列を有する少なくとも１つの領域を備えている該ビーム分離器」に相当することは明らかである。
　そして、引用刊行物Ｂに記載された発明において、「光が遮断された場所の隣の２つのスポットの位置」を特定するには、離れた２カ所を黒く塗って光を遮断するマイクロレンズ・アレイの位置を特定したうえで、隣の２つのスポットの位置を特定するための手段が必要であり、さらに、光が遮断された場所の隣の「２つのスポットの位置」の差から平行移動分とスケール比を計算して参照スポットの座標から測定スポットの座標を推定する際には、「２つのスポットの位置」の差のみから平行移動分とスケール比を計算して参照スポットの座標と測定スポットの座標を推定するものであって、光が遮断された場所の位置からは参照スポットの座標と測定スポットの座標を推定しないから、引用刊行物Ｂに記載された発明の「シャック・ハルトマン鏡面測定装置」には、本願発明の「装置」と同様に、「均一のスポットの配列を有する少なくとも１つの領域が存在することから得られる情報に少なくとも部分的に基づいて個々の光スポットと対応する前記ビーム分離要素を識別する装置」を有することは明らかである。
　（５−２ｂ）ところで、引用発明の「レンズ検査装置」において、多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）と、遮へい板とを具備し、遮へい板を上下、左右２方向移動する事によって、撮像手段の信号から隔板のピンホール位置と撮像手段の撮像面での光点位置とが対応づけて収差曲線を作画することも、引用刊行物Ｂに記載された発明の「シャック・ハルトマン鏡面測定装置」において、離れた２カ所を黒く塗って光を遮断するマイクロレンズ・アレイを設け、参照光スポットと測定光スポットの対応づけをして鏡面の形状を求めることも、ともに、光要素の特性を求める点で共通するものであり、さらに、引用刊行物Ｂに記載された発明の「シャック・ハルトマン鏡面測定装置」の「マイクロレンズ・アレイ」は、引用発明の「ハルトマン法を用いたレンズ検査装置」の「多数のピンホールを持つ隔板（ハルトマン板）」の代わりに用いられるものであるから、引用発明において、隔板（ハルトマン板）と、遮へい板とを用いて、撮像手段の信号から隔板のピンホール位置と撮像手段の撮像面での光点位置とを対応づける代わりに、引用刊行物Ｂに記載された発明の「離れた２カ所を黒く塗って光を遮断するマイクロレンズ・アレイ」を用いることにより、隔板（ハルトマン板）と遮へい板とを用いた場合のハルトマン法の隔板のピンホール位置の代わりとなる、マイクロレンズの位置と、撮像手段の撮像面での光点位置とを対応づけ、本願発明のごとく、ビーム分離器が「ビーム分離器は否均一な要素の配列を有する少なくとも１つの領域を備えて」おり、さらに、光要素特性計算装置が「否均一のスポットの配列を有する少なくとも１つの領域が存在することから得られる情報に少なくとも部分的に基づいて個々の光スポットと対応する前記ビーム分離要素を識別する装置とを含む」ようにすることは当業者が容易なし得るものである。
　　　　
　そして、本願発明によってもたらされる効果は、引用発明及び引用刊行物Ｂに記載された発明から予測される範囲内のものであって、格別のものではない。 
　したがって、本願発明は、引用発明及び引用刊行物Ｂに記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　　　　　
第６　むすび 
　以上のとおり、本願発明は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、本件出願は、拒絶をすべきものである。
  よって、結論のとおり審決する。