(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気配線システムに形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報として記憶する基準情報記憶手段と、
上記電気配線システムの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、基準回路が短絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶する短絡情報記憶手段と、
短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として、基準情報を等価回路情報に変換する情報変換手段と、
上記電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報として読み取る読取手段と、
読取情報から、上記短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点とする被検査情報を形成する情報形成手段と、
上記被検査情報を等価回路情報と照合して、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを判別する判別手段と
を備えていることを特徴とする導通検査装置。
【請求項２】
電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点を、互いに導通されるもの同士のグループ毎に読取情報として採取するとともに、採取された読取情報を、当該電気配線システムに形成されるべき基準回路の基準情報と照合することにより、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを検査する導通検査方法において、
上記基準回路が、導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として照合することを特徴とする導通検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は導通検査装置および導通検査方法に関し、特に、ワイヤーハーネスの導通検査に最適な導通検査装置および導通検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、多数の電気回路を形成する電気配線システムを製造する際には、各部品の外観検査の他、電気的な導通を検査し、構成されるべき電気回路が正規に接続されているか否かをチェックする。特に、ワイヤーハーネスのように、複数の製造工程を経て多数の電線をコネクタハウジングに接続することにより電気回路を形成するものにおいては、最終工程に至るまでに導通検査を複数回行ない、コネクタハウジングに対する電線の誤り接続を防止するようにしている。
【０００３】
上述のような導通検査は、導通チェッカを用いて行われる（例えば、実開昭５９−３４３６８号参照）。
図６は、ワイヤーハーネスの導通を検査する場合の導通チェッカの概略図であり、図７は、図６の導通チェッカに採用されている導通ユニットの回路構成図である。
【０００４】
図６を参照して、一般的な導通チェッカは、ワイヤーハーネスＷＨのコネクタＷＨ１〜ＷＨ４と接続される検査ユニット１と、検査ユニット１に対し、配線２を通して微弱電流を送って導通状態を検出する導通ユニット３とを備えている。図７に示すように、導通ユニット３は、コントローラ３１、デマルチプレクサ３２、マルチプレクサ３３、複数のインバータ３４、および複数のプルアップ抵抗３５を有している。上記デマルチプレクサ３２の各出力は、複数のインバータ３４を介し、該インバータ３４に対応して設けられたプローブピンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈからなる上記検査ユニット１にそれぞれ接続される。この検査ユニット１の各プローブピンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈには、当該ワイヤーハーネスＷＨに形成されている電気回路を構成する端子（接点）が、導通されるグループＧ１０〜Ｇ１３に対応した組み合わせで接続される。
【０００５】
上記コントローラ３１には、検査されるワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３に対応する基準情報がそれぞれメモリ３１Ａに記憶されているとともに、マルチプレクサ３３を経て送られる各グループＧ１０〜Ｇ１３の読取情報を記録するメモリ３１Ｂを備えている。
基準情報は、ワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ１３を構成する接点の導通状態が記憶されている。例えば、図７の例では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する基準情報をそれぞれｇ１０〜ｇ１３とすると、
ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）                        （１）
ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）                        （２）
ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）                        （３）
ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）                        （４）
と記憶されている。
【０００６】
他方、読取情報は、ワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ１３を構成する接点の導通状態が検出される。図７の例では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する読取情報をそれぞれＧ１０〜Ｇ１３とすると、ワイヤーハーネスＷＨが正常な場合には
Ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）                        （５）
Ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）                        （６）
Ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）                        （７）
Ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）                        （８）
が検出される。
【０００７】
この構成では、コントローラ３１がデマルチプレクサ３２に信号を送って、微弱電流を流すことにより、各プローブピンａ、ｂ、ｃ、…ｈの電位がマルチプレクサ３３に検出され、読取情報としてコントローラ３１に伝送される。コントローラ３１は、伝送された読取情報をメモリ３１Ｂに記憶するとともに、これをメモリ３１Ａに記憶されている基準情報とグループＧ１０〜Ｇ１３毎に比較し、この基準情報と一致すれば正常と、一致しなければ断線若しくは短絡の異常があるものと判定する。
【０００８】
例えば、上述の構成の場合、読取情報が（５）〜（８）式の通りであれば、基準情報の（１）〜（４）式と同一であるから、正常と判定される。これに対し、読取情報のうち、例えばグループＧ１０が
Ｇ１０＝（▲１▼、▲６▼）                        （９）
である場合、（９）式中の接点▲６▼が基準情報の（１）式と不一致であるから、異常があるものと判定する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述のような電気配線システムを製造する際には、最終的に形成される電気回路が、当該電気配線システムの製品規格や製品仕様とされている電気回路（以下、「基準回路」という）と等価であれば、具体的な配線形態については差異があっても許容される場合がある。
【００１０】
しかし、従来の導通検査装置では、この等価回路を含めての検査が行えず、初期設定した一回路パターンに検査が行われるため、この初期設定した回路パターンに含めたワイヤーハーネスＷＨの配線形態を作る必要があった。
上述した図７のワイヤーハーネスＷＨを例に説明すると、このワイヤーハーネスＷＨは、図８（Ａ）に示す回路ＣＡを形成しており、コネクタＷＨ３、ＷＨ４が、それぞれジョイントコネクタＪＣ１、ＪＣ２で最終的に短絡されるものである。この場合、グループＧ１０は、接点▲５▼と接点▲６▼とが短絡されることから、図８（Ｂ）（Ｄ）に示すように、接点▲１▼を接点▲６▼と接続して形成されるグループＧ１０Ａと最終的に等価となる。すなわち
Ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）＝Ｇ１０Ａ＝（▲１▼、▲６▼）  （１０）
同様に、グループＧ１１は、図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグループＧ１１Ａと、グループＧ１２は、図８（Ｂ）（Ｄ）に示すグループＧ１２Ａと、グループＧ１３は、図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグループＧ１３Ａと最終的に等価となる。すなわち
Ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）＝Ｇ１１Ａ＝（▲２▼、▲８▼）  （１１）
Ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）＝Ｇ１２Ａ＝（▲３▼、▲５▼）  （１２）
Ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）＝Ｇ１３Ａ＝（▲４▼、▲７▼）  （１３）
従って、図８（Ａ）に示すワイヤーハーネスＷＨの回路ＣＡは、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）に示す回路ＣＢ〜ＣＤと同じ接続状態になり、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）の回路ＣＢ〜ＣＤも製品として正規に許容される場合がある。
【００１１】
しかるに、上述したように、従来の導通チェッカにおいては、単に接点▲１▼〜▲８▼の対応関係を基準情報に特定されている接点▲１▼〜▲８▼の対応関係と照合して、電気配線システムの合否を判定しているに過ぎなかった。従って、ジョイントコネクタＪＣ１、ＪＣ２が接続される前のワイヤーハーネスＷＨを検査した場合、ある接点とそれが基準回路を形成するために接続されるべき接点との対応関係のみが判別され、上記ある接点が当該基準回路の等価回路を形成する接点と接続されている場合でも、その導通を許容するように検査を行うことができなかった。このため、図８の例では、（１０）〜（１３）式を合格と認定することができず、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）に示す等価の配線については、不合格と判別される結果、必要以上に配線を修正することを余儀なくされていた。このような修正を繰り返すことは、無駄な工程を増加させ、生産効率を低下させる原因となっていた。また、配線の修正に伴い、部品が損傷して、製品の信頼性を却って損ねる等の不具合も考えられる。
【００１２】
上述のような不具合を解決するために、導通チェッカのコントローラ３１に、予め等価回路を全て記憶させておくことも考えられる。しかし、その場合には、基準回路の回路数が増加するに伴って等価回路も大幅に増加し、プログラム作業が複雑になる等の不具合があったため、実用化されるには至っていなかった。
本発明は上記不具合に鑑みてなされたものであり、電気配線システムの導通検査を行う際に、当該電気配線システムの基準回路を形成すべき接点が、当該基準回路の等価回路を形成することを許容した状態で、電気配線システムの合否を簡素な構成で判別することのできる導通検査装置および導通検査方法を提供することを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１記載の構成は、
電気配線システムに形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報として記憶する基準情報記憶手段と、
上記電気配線システムの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、基準回路が短絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶する短絡情報記憶手段と、
短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として、基準情報を等価回路情報に変換する情報変換手段と、
上記電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報として読み取る読取手段と、
読取情報から、上記短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点とする被検査情報を形成する情報形成手段と、
上記被検査情報を等価回路情報と照合して、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを判別する判別手段と
を備えていることを特徴とする導通検査装置である。
【００１４】
また、請求項２記載の構成は、
電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点を、互いに導通されるもの同士のグループ毎に読取情報として採取するとともに、採取された読取情報を、当該電気配線システムに形成されるべき基準回路の基準情報と照合することにより、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを検査する導通検査方法において、
上記基準回路が、導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として照合することを特徴とする導通検査方法である。
【００１５】
【作用】
請求項１または２記載の構成では、製造された電気配線システムの導通情報である読取情報を基準回路の導通情報である基準情報と照合するに当たり、基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡されるべき接点同士が任意に互換可能な任意接点として照合されるので、電気配線システムに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる。
【００１６】
【実施例】
以下、添付図面を参照しつつ本発明の好ましい実施例について詳述する。
先ず、図２を参照して、本実施例により検査される電気配線システムの一例としてのワイヤーハーネスＷＨについて説明する。図２は、製造されるべきワイヤーハーネスＷＨの仕様を例示して示す配線図である。
【００１７】
このワイヤーハーネスＷＨは、複数の電線Ｗの両端に端子Ｔ１〜Ｔ１６を圧着し、コネクタＷＨ１〜ＷＨ６の各極に挿入することにより、複数の電気回路を形成しているものである。
図２のワイヤーハーネスＷＨの場合、各端子Ｔ１〜Ｔ１６は以下のグループＧ１〜Ｇ５の通りに接続されている。すなわち
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２）  （１）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（２）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）                    （３）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）                    （４）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）                  （５）
なお、本実施例では、端子Ｔ４には、端子Ｔ４への電流の流入を許容し、端子Ｔ４からの電流の流出を阻止するためのダイオードＷＨ７が、端子Ｔ１５には、端子Ｔ１５からの電流の流出を許容し、端子Ｔ１５への電流の流入を阻止するダイオードＷＨ８が、それぞれ接続されている。
【００１８】
ここで、図２に示すワイヤーハーネスＷＨのコネクタＷＨ１〜ＷＨ６のうち、端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８が挿入されているコネクタＷＨ３は、ジョイントコネクタＪＣ１により、端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１が挿入されているコネクタＷＨ４は、ジョイントコネクタＪＣ２により、端子Ｔ１２、Ｔ１３、Ｔ１４が挿入されているコネクタＷＨ５は、ジョイントコネクタＪＣ３により、端子Ｔ１５、Ｔ１６が挿入されているコネクタＷＨ６は、ジョイントコネクタＪＣ４により、それぞれ最終的に短絡されるように設計されている。
【００１９】
次に、図３を参照して、本実施例に係る導通ユニット１０の回路構成について説明する。図３は、本発明の一実施例に係る導通ユニット１０の回路構成図である。
本実施例に係る導通ユニット１０は、基本的には、一般的な従来の導通チェッカと同様に周知の検査ユニット１と接続されて用いられる構成であり、コントローラとしてのＣＰＵ１１、デマルチプレクサ１２、インバータ回路１３、比較回路１４、およびマルチプレクサ１５を備えている。
【００２０】
上記デマルチプレクサ１２は、ＣＰＵ１１からの入力情報が４ビット、インバータ回路１３への出力情報が１６ビットのデコード回路１２Ａを所定個だけ含んでいる。各デコード回路１２Ａは、ＣＰＵ１１から指令を受けるデコーダ１２Ｄに接続されており、このデコーダ１２Ｄによって選択可能に構成されている。これとともに、各デコード回路１２Ａは、インバータ回路１３の各インバータ１３Ａに対する出力を選択することにより、ワイヤーハーネスＷＨの端子（接点）の導通情報を特定できるようになっている。
【００２１】
上記インバータ回路１３は、上記デコード回路１２Ａと同数のゲート回路１３Ａで構成されており、各ゲート回路１３Ａのインバータ１３Ｂは、それぞれ対応するデコード回路１２Ａの出力側と同数だけ設けられて、接続されている。
各インバータ１３Ｂの出力側は、上記周知の検査ユニット１のプローブピンを介して、ワイヤーハーネスＷＨの端子Ｔ１〜Ｔ１６と接続されており、さらに、上記比較回路１４の入力側に接続されている。
【００２２】
上記比較回路１４は、上記インバータ回路１３のゲート回路１３Ａと同数のゲート回路１４Ａで構成されており、各ゲート回路１４Ａは、上記インバータ１３Ｂと同数の比較器１４Ｂが設けられている。各比較器１４Ｂは、対応するインバータ１３Ｂの出力を基準電圧と比較することにより、各端子が導通しているか否かを判別するようになっている。
【００２３】
上記マルチプレクサ１５は、上記比較回路１４のゲート回路１４Ａと同数のゲート回路１５Ａで構成されている。各ゲート回路１５Ａは、ＣＰＵ１１から指令を受けるデコーダ１５Ｄに接続されており、このデコーダ１５Ｄによって選択可能に構成されている。これとともに、各ゲート回路１５Ａには、上記比較器１４Ｂと同数のインバータ１５Ｂが設けられている。各インバータ１５Ｂは、対応する比較器１４Ｂの出力に基づいて、ＣＰＵ１１に対し、ワイヤーハーネスＷＨの読取情報を入力するためのものである。
【００２４】
上記ＣＰＵ１１には、通信用インターフェイス１６を介して操作ボックス１７と接続されており、上記ＣＰＵ１１は、この操作ボックス１７によって操作されるものである。また、ＣＰＵ１１には、バス１８を介してＲＯＭ１９、ＲＡＭ２０、ＤＲＡＭ２１が接続されているとともに、フロッピーディスクドライブ２２および検査結果を表示する表示装置２３とも接続されている。
【００２５】
本実施例において、ＲＯＭ１９は、ＣＰＵ１１を制御するためのプログラムを記憶するためのものであり、ＲＡＭ２０は、ワークメモリおよびバックアップメモリを記憶するためのものであり、ＤＲＡＭ２１は、フロッピーディスクドライブ２２によって読み出されるフロッピーディスクから、ワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報として記憶するエリア２１Ａと、ワイヤーハーネスＷＨの電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報として記憶するエリア２１Ｂと、ワイヤーハーネスＷＨの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合（図２のワイヤーハーネスＷＨにおいては、端子Ｔ６〜Ｔ１６）に、基準回路が短絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶するエリア２１Ｃとを備えたものである。
【００２６】
以上のような構成において、図１、図４、および図５を参照しつつ本実施例の作用について説明する。図１は、本実施例における導通ユニット１０の検査プロセスを示すフローチャートである。また、図４、図５は、製造されたワイヤーハーネスＷＨＲ、ＷＨ＊  の配線図である。
先ず、ステップＳ１において、ＲＯＭ１９に記憶されているプログラムが展開され、製造されるべきワイヤーハーネスＷＨに関する基準情報が展開される。例えば、図２に示すワイヤーハーネスＷＨの場合、この基準情報は、
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２）  （６）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（７）
ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）                    （８）
ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）                    （９）
ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）                  （１０）
となる。
【００２７】
次に、ステップＳ２において、検査対象となっているワイヤーハーネスＷＨＲの導通情報が読取情報として、デマルチプレクサ１２、インバータ回路１３、比較回路１４、およびマルチプレクサ１５により、読み取られる。例えば、図４に示すワイヤーハーネスＷＨＲの場合、コネクタＷＨ３の端子Ｔ６とＴ７が入れ代わっており、規格のものと相違している。従って、このワイヤーハーネスＷＨＲの読取情報は、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７＊  、Ｔ９、Ｔ１２）  （１１）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６＊  、Ｔ１０、Ｔ１３）（１２）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）                      （１３）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）                      （１４）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）                    （１５）
となる。
【００２８】
次に、ステップＳ３において、ジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡されることのない端子だけを照合するために、ステップＳ１の基準情報のうち、最終的にジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡される端子については、ステップＳ２の読取情報の端子と同一に書き換える。この書換えは、ＤＲＡＭ２１のエリア２１Ｃに記憶されている短絡情報に基づいて、ＣＰＵ１１により行われる。図２のワイヤーハーネスＷＨにおいて、短絡情報は、
Ｊ１＝Ｔ６＝Ｔ７＝Ｔ８                      （Ｊ１）
Ｊ２＝Ｔ９＝Ｔ１０＝Ｔ１１                  （Ｊ２）
Ｊ３＝Ｔ１２＝Ｔ１３＝Ｔ１４                （Ｊ３）
Ｊ４＝Ｔ１５＝Ｔ１６                        （Ｊ４）
である。（Ｊ１）〜（Ｊ４）式中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、ジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４によって短絡される互換可能な接点（以下、「任意接点」という）を意味している。この短絡情報に基づき、短絡されない端子を特定するために、基準情報のうち（６）式と（７）式とがそれぞれ
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７＊  、Ｔ９、Ｔ１２）    （１６）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６＊  、Ｔ１０、Ｔ１３）  （１７）
と変換される。
【００２９】
そして、ステップＳ４において、図４に示す上記ワイヤーハーネスＷＨの読取情報が変換後の基準情報と照合される。
ステップＳ５において、照合された読取情報が変換後の基準情報と同一であるか否かが判別され、同一でない場合には、ステップＳ６において、不良判定がなされ、ステップＳ７において、表示装置２３に不良表示がなされる。他方、照合された読取情報が変換後の基準情報と同一である場合には、ステップＳ８に移行する。
【００３０】
ステップＳ８においては、短絡される端子Ｔ６〜Ｔ１６の導通を検査するために、ＤＲＡＭ２１のエリア２１Ａに、再び（６）〜（１０）式に示す基準情報が展開される。
次に、ステップＳ９において展開された基準情報と、（Ｊ１）〜（Ｊ４）式に示す上記短絡情報から等価回路情報Ｄｓが形成される。本実施例においては、
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）            （１８）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）            （１９）
ｇ３＝（Ｊ１、Ｊ２）                            （２０）
ｇ４＝（Ｔ５、Ｊ４）                          （２１）
ｇ５＝（Ｔ１４、Ｊ４）                        （２２）
が等価回路情報Ｄｓとして形成されることになる。式中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、上述した任意接点を意味している。すなわち、ジョイントコネクタＪＣ１によって最終的に短絡される端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ１として、ジョイントコネクタＪＣ２によって最終的に短絡される端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ２として、ジョイントコネクタＪＣ３によって最終的に短絡される端子Ｔ１２、Ｔ１３、Ｔ１４については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ３として、ジョイントコネクタＪＣ４によって最終的に短絡される端子Ｔ１５、Ｔ１６については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ４として、後述する被検査情報Ｄｄと比較されるのである。
【００３１】
他方、ステップＳ１０において、ワイヤーハーネスＷＨの読取情報および短絡情報から被検査情報Ｄｄが形成される。この読取情報および短絡情報から被検査情報Ｄｄを形成する際に、各端子Ｔ１〜Ｔ１６のうち、最終的に短絡されるものについては、等価回路情報Ｄｓを形成する場合と同様に、短絡情報に基づいて任意接点Ｊ１〜Ｊ４に変換される。従って、上記読取情報が（１１）〜（１５）の場合、被検査情報Ｄｄは、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）          （２３）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）          （２４）
Ｇ３＝（Ｊ１、Ｊ２）                          （２５）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｊ４）                        （２６）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｊ４）                      （２７）
となる。
【００３２】
次に、被検査情報Ｄｄを導通されるグループＧ１〜Ｇ５毎に等価回路情報Ｄｓと照合するために、ステップＳ１１において、被検査情報Ｄｄのうち、一つのグループ（例えば（23) 式のＧ１）が選択され、これをＧとする。そして、ステップＳ１２において、等価回路情報Ｄｓのうち、選択されたグループと同じグループ構成のものの有無が判別され、同じグループ構成のものがある場合には、それをステップＳ１３において、ｇとする。例えば、Ｇ＝Ｇ１の場合、ｇ＝ｇ１とされる。仮に、このステップＳ１２において、同一のグループ構成のものがなかった場合、フローは、周知の不良解析に移行し（ステップＳ２４）、不良表示を行って（ステップＳ２５）終了する。例えば、図５に示すワイヤーハーネスＷＨ* の場合、端子Ｔ５と端子Ｔ１５の配線が誤っているために、いわゆるダイオード余剰という誤り接続になっている。このワイヤーハーネスＷＨ* の電気回路における読取情報は、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ１５* 、Ｔ１２）  （28）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）    （29）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）                        （30）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ９* ）                        （31）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）                      （32）
となり、被検査情報Ｄｓは、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、J1、J4* 、J3）            （33）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、J1、J2、J3）              （34）
Ｇ３＝（J1、J2）                              （35）
Ｇ４＝（Ｔ５、J2* ）                          （36）
Ｇ５＝（J3、J4）                              （37）
となるから、（33）式および（36）式のグループＧ１、Ｇ４に対応するグループが検出されない結果、ステップＳ２４に移行し、いわゆるダイオード余剰がステップＳ２５で表示されて終了する。
【００３３】
次に、ステップＳ１４において、Ｇがｇと照合され、ここで、任意接点を構成する端子の導通検査が行われる。（２３）式と（１８）式のように、Ｇがｇと同一の導通状態である場合、ステップＳ１５において、合格したＧとｇとがＲＡＭ２０に記憶（マーク）され、次のグループの判別に移行する。すなわち、ステップＳ１６において、未検査のグループの有無が判別され、ステップＳ１７において、未検査のグループが選択された後、ステップＳ１２に戻って上述した照合作業を各グループＧ２〜Ｇ５毎に繰り返す。そして、全てのグループＧ１〜Ｇ５の照合が終了し、何れも等価回路情報Ｄｓのグループｇ１〜ｇ５と同一である場合には、ステップＳ１８において、表示装置２３に合格表示がなされる。
【００３４】
ここで、上述したように、本実施例においては、基準回路が導通検査後にジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４によって短絡される接点としての端子Ｔ６〜Ｔ１６を含んでいるものである場合に、短絡されるべき端子同士を任意に互換可能な任意接点として、ジョイントされるもの毎に変換された被検査情報Ｄｄおよび等価回路情報Ｄｓを形成し、照合しているので、ワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき基準回路と最終的に等価な電気回路についても、これを合格と判定することが可能になる。
【００３５】
上述した図４のワイヤーハーネスＷＨを検査する場合には、基準回路を形成する図２のワイヤーハーネスＷＨに対し、コネクタＷＨ３に係る端子Ｔ６と端子Ｔ７とが入れ変わっているにも拘らず、これらは最終的に短絡されるものであることから、合格と判定される。
ステップＳ１４において、Ｇがｇと同一の導通状態ではなかった場合、ステップＳ１９において、未検査のグループが検索され、ステップＳ２０において、別のグループとの照合が行われる。また、ステップＳ１９において、未検査のグループが存在しなかった場合には、ステップＳ２１において、ｇのデータをそれに対応するＧのポイント位置に移動し、ステップＳ２２において、不良判定がなされ、ステップＳ２３において、表示装置２３に不良表示がなされる。
【００３６】
以上説明したように、本実施例の構成では、ワイヤーハーネスＷＨに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる結果、そのような等価回路を形成することが許容されている製品については、その導通検査を容易に行うことができ、生産効率を向上させることが可能になる等、顕著な効果を奏する。
【００３７】
また、等価回路の基準情報を全て記憶する必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、容易に実施することができるという利点もある。
上述した実施例は、本発明の好ましい具体例に過ぎず、本発明は、上記実施例に限定されない。例えば、図３に例示した装置以外の装置を用いて、上記導通検査を行うことも勿論可能である。その他、本発明の要旨を変更しない範囲内で種々の設計変更や被検査物の変更を行うことができることは、云うまでもない。
【００３８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の導通検査装置および導通検査方法では、電気配線システムに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる結果、そのような等価回路を形成することが許容されている製品については、その導通検査を容易に行うことができ、生産効率を向上させることが可能になる等、顕著な効果を奏する。また、これにより、多品番生産での効率を向上させることも可能になるという利点がある。
【００３９】
また、等価回路の基準情報を全て記憶する必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、容易に実施することができるという利点もある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施例における導通ユニットの検査プロセスを示すフローチャートである。
【図２】製造されるべきワイヤーハーネスの仕様を例示して示す配線図である。
【図３】本発明の一実施例における導通ユニットの回路構成図である。
【図４】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。
【図５】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。
【図６】ワイヤーハーネスの導通を検査する場合の導通チェッカの概略図である。
【図７】図６の導通チェッカに採用されている導通ユニットの回路構成図である。
【図８】図６の導通チェッカで検査されるワイヤーハーネス配線図である。
【符号の説明】
１  検査ユニット
１０  導通ユニット
１１  ＣＰＵ
１２  デマルチプレクサ
１３  インバータ回路
１４  判別回路
１５  マルチプレクサ
２１  ＤＲＡＭ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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