(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピットの両端に情報を持たせたエッジ記録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記録する光記憶装置において、
最適記録パワーを検出する時の記録パターンを記録する第１の工程と、
前記第１の工程で記録した信号を再生する第２の工程と、
通常の再生時に再生波形をコンパレートするスライスレベル補正回路を働かせないようにして、データスライスレベルを一定値に固定するとともに、この一定値に固定されたデータスライスレベルでコンパレートした信号からデータを検出するデータ検出ウインドウを前記通常の再生時よりも狭く設定する第３の工程と、
第２の工程で再生された信号を、第３の工程で設定された前記データスライスレベルと前記データ検出ウインドウによって検出して、エラーレートを検出する第４の工程と、
前記第１の工程で記録する記録パワーを変更するとともに、前記第１乃至第４の肯定を繰り返して、エラーレートの底部分の記録パワーを最適記録パワーとする第５の工程と、
を有することを特徴とする最適記録パワー検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光記録装置における最適記録パワー検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ピットの両端に情報を持たせたエッジ記録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記録する光記録装置において、従来この種の最適記録パワー検出手段は、記録パワーをパラメータとし、通常の再生と同様の検出で信号を記録した時のエラーの個数をカウントし行っており、この方法だと、記録パワーに対するエラー数の変化が少なく最適記録パワーの検出に誤差が生じた。また、最適記録パワーを検出する半径位置は一枚のディスクで数ヶ所に及んでいた。
一方、最適パワー検出においては、記録レーザパワーを設定し、テストセクタに対し書込み、その後再生しエラーの個数をカウントする、同様の動作を記録パワーを一定値ずらし繰返し行う、というシーケンスをとっていた。記録後再生を行うには少なくともディスクの一周の回転を待たねばならず、これを繰返し行う最適記録パワー検出は非常に時間のかかる動作になる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記課題を解決するためのものであり、最適記録パワー検出時のエラーの発生を急峻にし、しかも、ディスクで３箇所以内のテストゾーンのみで最適記録パワーの検出工程を行えば、ディスク全体の最適記録パワーの設定を行うことができる。また、連続消去、記録、再生を行うことで、最適記録パワーの検出を従来の半分以下の時間で行うことを主な目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明の最適記録パワー検出方法は、
ピットの両端に情報を持たせたエッジ記録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記録する光記憶装置において、
最適記録パワーを検出する時の記録パターンを記録する第１の工程と、
前記第１の工程で記録した信号を再生する第２の工程と、
通常の再生時に再生波形をコンパレートするスライスレベル補正回路を働かせないようにして、データスライスレベルを一定値に固定するとともに、この一定値に固定されたデータスライスレベルでコンパレートした信号からデータを検出するデータ検出ウインドウを前記通常の再生時よりも狭く設定する第３の工程と、
第２の工程で再生された信号を、第３の工程で設定された前記データスライスレベルと前記データ検出ウインドウによって検出して、エラーレートを検出する第４の工程と、
前記第１の工程で記録する記録パワーを変更するとともに、前記第１乃至第４の肯定を繰り返して、エラーレートの底部分の記録パワーを最適記録パワーとする第５の工程と、
を有することを特徴とする。
【００１０】
【作用】
通常再生時には、アナログ信号をコンパレートするデータスライスレベルを、信号の変化に合わせスライスレベル補正を行い、信号のエンベロープ変化等に対し安定した検出が得られる方法を用いている。このデータスライスレベルを固定値にすると、記録パワーの変化によるアシンメトリの発生に追従できなくなり、記録パワーに対し急激にエラーの発生個数が変化し、精度良い最適記録パワー検出が可能になる。さらに、この一定値に固定されたデータスライスレベルでコンパレートした信号からデータを検出するデータ検出ウインドウを通常再生時よりも狭く設定することによっても、エラーの発生個数が変化し、一層精度良い最適記録パワー検出が可能になる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
（実施例１）
図１は本発明の実施例１における記録波形を示す概略図である。
図１（ａ）にはアナログ再生波形を示す。記録パターンは、１ー７変調で最短パターンである２Ｔを５Ｔ信号で挟んだ、５Ｔ、２Ｔ、の繰返しである（Ｔは検出ウィンドウの時間幅である。）。１０１は記録パワーの小さい時の再生波形、１０２は記録パワーの大きい時の再生波形を示す。ここで通常の再生時にはデータスライスレベルはスライスレベル補正回路が働くために、記録パワーの小さい時のスライスレベルは１０４のレベルに補正され、記録パワーの大きい時のスライスレベルは１０５のレベルに補正され、記録パワー変動に対しエラーが起こりにくい回路となっている。そこで、スライスレベル補正回路を働かせないようにして、データスライスレベルを一定値に固定すると、再生信号が変化してもデータスライスレベルは変化せず、１０３のデータスライスレベルとなる。（ｂ）には（ａ）のアナログ波形を１０３でデータスライスした後のデジタル波形を示す。１０６はアナログ波形１０１のスライスされたデジタル波形で、１０７はアナログ波形１０２のスライスされたデジタル波形である。このように最短パターンは記録パワーによって、データスライス後のパルス幅が大きく変化しエラーの出る確率が急激に変化する。
【００１４】
図２に記録パワーによる１セクター当りのエラーバイト数を示す。２０１はデータスライスレベル補正回路を働かせた場合のエラーバイト数を示し、２０２はデータスライスレベルを一定値に固定した場合のエラーバイト数を示す。このようにデータスライスレベルを一定値に固定した場合の記録パワーに対する変化は非常に急峻となり、最適記録パワー検出を非常に精度よく行える。
【００１５】
図３にアナログ波形とエンベロープ検出波形を示す。アナログ波形３０１は、反射率の変動等の変動によりＡＣ、及びＤＣ成分の変動を起す。エンベロープ検出回路により、３０２、３０３に示す波形が得られる。図４にエンベロープ検出回路のブロック図を示す。ブロック図の上半分がエンベロープのトップレベル検出回路、下半分がエンベロープのボトムレベル検出回路を示す。これらはピーク検出を応用した回路の一例であり、信号３０１をＡ／Ｄ変換した後計算によりエンベロープを算出する方法もとることが出来る。
【００１６】
図５に最適パワー検出に用いるデータスライスレベル生成回路のブロック図を示す。アナログ信号３０１からエンベロープのトップレベル検出回路によりトップレベル３０２が出力される。一方、アナログ信号３０１からエンベロープのボトムレベル検出回路によりボトムレベル３０３が出力される。抵抗５０１、５０２によりトップレベルとボトムレベルは抵抗分割されデータスライスレベル５０３を生成する。この実施例では抵抗５０１は８．２ｋΩ、抵抗５０２は１２ｋΩとし、トップレベルとボトムレベルの約６０％のレベルをデータースライスレベルとした。
【００１７】
図６に最適パワー検出に用いる、Ａ／Ｄ回路を使用するデータスライスレベル生成回路ブロック図を示す。アナログ信号３０１からエンベロープのトップレベル検出回路によりトップレベル３０２が出力される。一方、アナログ信号３０１からエンベロープのボトムレベル検出回路によりボトムレベル３０３が出力される。アナログのトップレベル信号はＡ／Ｄ６０１によりデジタル化され、ボトムレベル信号はＡ／Ｄ変換６０２によりデジタル化される。Ａ／Ｄ変換６０１，６０２より出力されたデータを演算器６０３によりデータースライスレベルのデータを算出し、Ｄ／Ａ変換６０４によりデータスライスレベル６０５を生成する。この実施例では、演算部６０３でのトップレベルとボトムレベルに対するデータスライスレベルを６０％とする演算を行っている。
（実施例２）
図７に最適パワー検出に用いる、Ａ／Ｄ回路を使用するもう一つの実施例に基づくデータスライスレベル生成回路ブロック図を示す。アナログ信号３０１からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器７０１でアナログ／デジタル変換を行い、デジタル信号を処理する演算部７０２で、トップレベルとボトムレベルを検出する工程を経て、データースライスレベルの算出を行う。その演算出力をＤ／Ａ変換器７０３によりデータスライスレベル７０４を生成する。ここでのデータスライスレベルは演算部で行うので、演算部にヘッドの現在の位置情報または、ゾーン情報を与え、その情報によりデータスライスレベルをきめ細かく設定している。ゾーンとは、ディスクを径方向に複数に分割したときのそれぞれの領域をいう。
【００１８】
図８に記録パワーに対するエラーバイト数を、通常の再生時（データスライスレベル補正時）と最適記録パワー検出時で示す。（ａ）は内周、（ｂ）は外周を示す。まず、内周において（ａ）で説明する。８０１に通常の再生時の記録パワーに対するエラーバイト数を示す。８０２に最適記録パワー検出時で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示し、８０３に最適記録パワー検出時で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示す。このように、内周の最適パワーは、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一致しない。ここに、最適記録パワーとは、エラーバイト数が最小となる底部分の中心部の記録パワーのことである。
【００１９】
一方、外周における現象を（ｂ）で説明する。８０４に通常の再生時の記録パワーに対するエラーバイト数を示す。８０５に最適記録パワー検出時で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示し、８０６に最適記録パワー検出時で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示す。このように、内周の最適パワーは、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一致しない。このように内周と外周での最適記録パワーの検出時のデータスライスレベルの違いにより検出する最適記録パワーが変化していることから、内周と外周でデータスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対する比を変える必要がある。この実施例ではデータスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％と６３％の２種類持ち、内周では６３％、外周では６０％のスライスレベルとした。具体的な回路の一例を図９に示す。アナログ信号３０１よりエンベロープ検出回路により生成されたトップ信号３０２とボトム信号３０３を直列に接続された抵抗９０１、９０２、９０３の両端に接続し、抵抗９０１と９０２の間と抵抗９０２と９０３の間、２つをアナログスイッチ９０４に入力し、どちらか一方を制御線９０６で選択する。アナログスイッチ９０４によって選択された信号がデータスライスレベル９０５として得られる。
【００２０】
図１０に各ゾーンにおける最適記録パワーを示す。内周のテストゾーンにおける最適記録パワーを１００１に，外周のテストゾーンにおける最適記録パワーを１００２に示す。各ゾーンにおける最適記録パワーを黒丸印の１００３に示す。予め標準ディスクで求めておいた近似式の２次の係数，０．０１と内外周のテストゾーンで求めた最適記録パワーによって，式
【００２１】
【数４】
0003551171.tif 000002
【００２２】
の係数Ａ，Ｂの値を求めることが出来る。ここで求めた近似式による各ゾーンの最適記録パワーの値を実線１００４で示す。このように内外周のみの最適記録パワーの検出のみで各ゾーンの最適記録パワーが精度±０．１ｍＷで求めることが出来る。図１１に各ゾーンの最適記録パワー設定工程を示す。内外周のテストゾーンにより最適記録パワーを求め，予めメモリに貯えておいた２次の係数とにより，２次式の１次以下の係数を算出し，２次式を完成させる。その後，ゾーンの情報を与えることによりそのゾーンの最適記録パワーを算出を行う。
【００２３】
ゾーンに対する最適記録パワーの近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合を図１２に示す。ディスクＡは２次の係数が小さく，ディスクＢは大きい。従って，予め標準ディスクで２次の係数を求めることができない。この場合，中周（ゾーン５）のテストゾーンも内外周に加え最適記録パワー検出を行い，その３点により，２次以下の係数３つを算出する。ディスクＡでは，内，中，外周の最適パワー検出により最適記録パワー１２０１，１２０２，１２０３を求め２次近似式の係数を算出し各ゾーンの最適記録パワー１２０７を得る。また２次の係数の大きいディスクＢでは，内，中，外周の最適パワー検出により最適記録パワー１２０４，１２０５，１２０６を求め２次近似式の係数を算出し各ゾーンの最適記録パワー１２０８を得る。このように近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合は，内，中，外最適パワー検出により２次の係数も同時に算出する。但，２次の係数の算出は，ディスク挿入時のみ行い，その後の温度変化，経時変化に対応した最適記録パワー検出の時点では，２次の係数はディスク挿入時の値を用い，内外周のみの最適記録パワー検出で１次以下の係数を算出して２次近似式を得る。つまり，ディスク挿入時は内，中，外周の３点で最適記録パワーを検出し，２次以下の係数を算出し，２次の係数をメモリに貯えておく。その後一定時間経過毎の，温度変化及び経時変化に対応した最適記録パワー検出は，メモリに貯えた２次の係数を用い内外周のみで行われる。
（実施例３）
図１３にパルストレイン記録を行う時の４値記録パルス波形を示す。１３０１はプリヒートパワー：Ｐａで，１３０２は記録パワー１：Ｐｗ１，１３０３は記録パワー２：Ｐｗ２，１３０４は熱遮断パワー：Ｐｃである。これらはエッジ記録の時エッジにおける熱制御を行う為に設定されたパワーである。この実施例では熱干渉を抑える目的で，
【００２４】
【数５】
0003551171.tif 000003
【００２５】
という比に設定した。また，線速が変化に応じて絶対パワーは変化させるが，上記のパルストレイン内でのパワー比は変化させていない。図１４に内外周におけるパルストレイン波形を示す。線速の遅い内周は１４０１の波形になり，線速の速い外周では１４０２になる。この場合両者とも，プリヒートパワー：Ｐａ，記録パワー１：Ｐｗ１，記録パワー２：Ｐｗ２，熱遮断パワー：Ｐｃ，の比は同じである。
【００２６】
本実施例におけるエラー検出工程の概略図を図１５に示す。記録パワーを例えば５ｍＷ〜８ｍＷまで間隔０．２ｍＷで５セクター単位で記録し，記録パワー毎のエラー数を検出する。まず１５０１に示す工程でエラー訂正を中止し再生を行う。工程１５０２では検出したセクター毎のエラーバイト数を計測する。その結果，表１５０３に示した，セクター番号に対するエラー数となる。工程１５０４によりエラーバイト数の多い方から２番目までのセクターを除外し，工程１５０５で残りの３セクターのエラーバイト数を合計する。工程１５０６により記録パワーと工程１５０５で求めたエラーバイト数を対でメモリに格納する。この一連の工程を各記録パワー毎に繰返し，一番エラーバイト数の少なかった記録パワーを最適記録パワーとする。
【００２７】
図１６に本実施例で示した記録パワーに対するエラーバイト数のグラフを示す。この図を基に最適記録パワー検出工程を説明する。まず記録パワー７．８ｍＷのエラーバイト数が５となり最小値となっている。その隣記録パワーの低い７．６ｍＷでのエラーバイト数は７となっておりエラーバイト数は２増加している。また，７．４ｍＷはエラーバイト数１８と１３増加となり，７．２ｍＷはエラーバイト数２３と１８増加となる。一方，パワーその隣記録パワーの高い８．０ｍＷでのエラーバイト数は６となっておりエラーバイト数は１増加している。また，８．２ｍＷはエラーバイト数１２と７増加となり，８．４ｍＷはエラーバイト数２３と１８増加となる。このように，エラーバイト数が最少のエラーバイト数に対する増加が５バイト以内である記録パワーが複数個存在する場合，５バイト以内である記録パワーの１ステップ小さい記録パワー，ここでは７．４ｍＷと，２ステップ小さい記録パワー７．２ｍＷのエラーバイト数が単調増加していて，且つ，１ステップ大きい記録パワー８．２ｍＷと２ステップ大きい記録パワー８．４ｍＷにおいてのエラーバイト数も単調増加しているという条件を満足すれば，最少のエラーバイト数に対する増加が５バイト以内の記録パワーの平均を最適記録パワーとする。
【００２８】
図１７にテストゾーンにおける最適記録パワー検出に用いるセクターを示す。テストゾーンは，トラックに沿って開始位置１７０１を先頭に外側に向かって終了位置１７０２まで設定されている。最適記録パワー検出にはその一部を用いる。本実施例では，２ｍＷのレンジで０．２ｍＷステップで記録パワーを設定し各記録パワーで８セクター記録エリアを持つ方法をとる。記録パワー設定のため２セクター要するので，１記録パワーステップ当り１０セクターを使用する。従って最適記録パワー検出には，１００セクター必要となる。最適記録パワー検出は，先頭セクター位置１７０３から終了セクター位置１７０４となる。テストゾーンのセクター数より少なく最適記録パワー検出に要するセクターを十分少なくなるよう設定してあるので，最適記録パワー検出の先頭セクターは，テストゾーン開始セクター位置から，最適記録パワー検出の終了セクター１７０４がテストゾーン終了位置１７０２と一致する時の記録パワー検出開始セクター位置までの間で，設定可能となる。実際の最適記録パワー検出開始セクターは上記の設定可能セクター位置の範囲内でランダムに設定される。
【００２９】
図１８に最適記録パワー検出工程の工程内容を示す。工程１８０１では最適記録パワー検出開始セクターを設定可能セクター位置の範囲内でランダムに設定する。次の工程１８０２において，最適記録パワー検出開始セクターから終了セクターまで連続消去を行う。１８０３で示したルーチンでは，連続記録を行う。即ち，２セクター通過する時間を用い記録パワーを設定した後８セクター記録し，その後シーク及びトラックジャンプを行わず連続して記録パワー設定，記録を指定された記録パワーになるまで繰返す。ルーチン１８０３終了後，最適記録パワー検出開始セクターに戻り，１８０４に示す連続再生工程を行う。この再生時に実施例２で示したエラーバイト数検出を行い最適記録パワーを得る。
【００３０】
図１９に最適記録パワー検出時の再生方法を示す。ディスクにおけるセクター内容を１９０１〜１９０５に示す。セクターの先頭には，アドレス情報があるＩＤ部１９０１があり，１９０２のギャップ，１９０３のＶＦＯ，１９０４のシンクパターン，１９０５のデータ部の順番に配列されている。１９０６で示したＩＤ部からデータ記録エリアのシンクパターンまでは，通常の再生をとる。つまり，上記の間はデータスライスレベルもデーターパターンに追従させしかもデータ検出ウインドウも１００％とする。これにより，アドレスデータを読み誤ることが無く，しかもデーター領域でのＰＬＬも良好に動作する。その後，１９０７で示した領域では，データスライスレベルを固定し，データ検出ウインドウも３０％程度狭く設定して，エラー検出を行う。この領域は最適記録パワー検出の為の長短の繰返しの特殊パターンが記録されている。この設定の組合わせにより，最適記録パワー検出のために，記録パワーを故意に変動させた時にもアドレス情報，精度の良いＰＬＬ，及び，シンクパターンの確実な検出が行え，確実で精度の良い最適記録パワー検出が出来る。
【００３１】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、以下の効果が得られる。
通常再生時には、アナログ信号をコンパレートするデータスライスレベルを、信号の変化に合わせスライスレベル補正を行い、信号のエンベロープ変化等に対し安定した検出が得られる方法を用いている。このデータスライスレベルを固定値にすると、記録パワーの変化によるアシンメトリの発生に追従できなくなり、記録パワーに対し急激にエラーの発生個数が変化し、精度良い最適記録パワー検出が可能になる。
さらに、この一定値に固定されたデータスライスレベルでコンパレートした信号からデータを検出するデータ検出ウインドウを通常再生時よりも狭く設定することによっても、エラーの発生個数が変化し、一層精度良い最適記録パワー検出が可能になる。
このようにして、短時間で精度良く、最適記録パワーを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例１の再生波形を示す概略図である。
【図２】本発明の実施例１の記録パワーに対するエラー数を示す図である。
【図３】本発明の実施例１のアナログ波形のエンベロープ検出波形を示図である。
【図４】本発明の実施例１のエンベロープ検出回路のブロック図を示す。
【図５】本発明の実施例１のデータスライスレベル生成回路のブロック図である。
【図６】本発明の実施例１のＡ／Ｄ回路を用いたデータスライスレベル生成回路のブロック図である。
【図７】本発明の実施例２のＡ／Ｄ回路を用いたデータスライスレベル生成回路のブロック図である。
【図８】本発明の実施例２の記録パワーに対するエラーバイト数を示す図である。
【図９】本発明の実施例２のデータスライスレベル生成回路のブロック図である。
【図１０】本発明の実施例２の各ゾーンにおける最適記録パワーを示す図である。
【図１１】本発明の実施例２の最適記録パワー設定工程を示す図である。
【図１２】本発明の実施例２の最適記録パワーの近似式にばらつきがある場合のを示す図である。
【図１３】本発明の実施例３のパルストレイン記録波形を示す図である。
【図１４】本発明の実施例３の内外周におけるパルストレイン記録波形を示す図である。
【図１５】本発明の実施例３のエラー数検出工程を示す概略図である。
【図１６】本発明の実施例３の記録パワーに対するエラーバイト数を示す図である。
【図１７】本発明の実施例３のテストゾーンにおける最適記録パワー検出に用いるセクターを示す図である。
【図１８】本発明の実施例３の最適記録パワー検出工程内容を示す概略図である。
【図１９】本発明の実施例３の最適記録パワー検出時の再生方法を示す図である。
【符号の説明】
５０１，５０２・・・・スライスレベル設定用抵抗
５０３・・・・・・・・データスライスレベル
６０１，６０２・・・・アナログ／デジタル変換器
６０３・・・・・・・・演算器
６０４・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器
６０５・・・・・・・・データスライスレベル
７０１・・・・・・・・アナログ／デジタル変換器
７０２・・・・・・・・演算器
７０３・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器
７０４・・・・・・・・データスライスレベル
８０１・・・・・・・・内周通常再生時
８０２・・・・・・・・データスライスレベル６０％時
８０３・・・・・・・・データスライスレベル６３％時
８０４・・・・・・・・外周通常再生時
８０５・・・・・・・・データスライスレベル６０％時
８０６・・・・・・・・データスライスレベル６３％時
９０４・・・・・・・・アナログスイッチ
９０６・・・・・・・・位置信号制御線
１７０１・・・・・・・テストゾーン開始セクター
１７０２・・・・・・・テストゾーン終了セクター
１７０３・・・・・・・最適記録パワー検出開始セクター
１７０４・・・・・・・最適記録パワー終了セクター
１８０３・・・・・・・連続記録工程
１８０４・・・・・・・連続再生工程
１９０６・・・・・・・通常再生モード時
１９０７・・・・・・・最適記録パワー検出モード時
【図１】
0003551171.tif 000004
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
0003551171.tif 000013
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
0003551171.tif 000018
【図１６】
0003551171.tif 000019
【図１７】
0003551171.tif 000020
【図１８】
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【図１９】
0003551171.tif 000022