(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクのトラックに対して垂直な方向に少なくとも２分割された受光素子により、第１および第２の受光検出信号を検出する光ディスク装置において、
前記第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、前記第１の受光検出信号を減算する第１の演算手段と、
前記第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、前記第２の受光検出信号を減算する第２の演算手段と、
前記第１の演算手段と前記第２の演算手段の出力の差分を算出する算出手段と、
所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、前記カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、前記算出手段の出力信号を増幅する増幅手段と
を備え、
前記係数Ｋ1とＫ2それぞれは、前記カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、前記カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものである
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記増幅手段は、前記第１または第２の演算手段においてそれぞれ乗算される係数Ｋ1またはＫ2によるゲインの損失を補償する特性を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクのトラックに対して垂直な方向に少なくとも２分割された受光素子により、第１および第２の受光検出信号を検出する光ディスク装置のトラッキングエラー信号算出方法において、
前記第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、前記第１の受光検出信号を減算する第１の演算ステップと、
前記第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、前記第２の受光検出信号を減算する第２の演算ステップと、
前記第１の演算ステップと前記第２の演算ステップの出力の差分を算出する算出ステップと、
所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、前記カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、前記算出ステップの出力信号を増幅する増幅ステップと
を含み、
前記係数Ｋ1とＫ2それぞれは、前記カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、前記カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものである
ことを特徴とするトラッキングエラー信号算出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置およびトラッキングエラー信号算出方法に関し、特に、光ディスクのトラックに対して垂直な方向に少なくとも２分割された受光素子により、第１および第２の受光検出信号を検出する光ディスク装置およびトラッキングエラー信号算出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスク装置では、記録媒体である光ディスクに対して情報を記録または再生する場合、光ビームがトラック上を正確にトレースするように制御する必要がある。
【０００３】
従来の光ディスク装置においては、例えば、光ディスクからの反射光を、トラックに対して垂直な方向に２分割された受光素子等により電気信号に変換し、これらの信号の差分を算出してトラッキングエラー信号として使用する、いわゆる、プッシュプル方式などが使用されていた。
【０００４】
しかしながら、プッシュプル方式では、例えば、対物レンズの光軸のずれ、光ディスクの傾き、または、光ディスクの溝形状のアンバランスなどに起因してトラッキングエラー信号にオフセットが現れることがある。オフセットが現れた場合、トラッキングエラー信号が実際には０であっても、このオフセット成分に応じた分だけ、レーザビームの照射位置がずれを生ずることになるので、トラッキングが正確に実行できなくなるという問題があった。
【０００５】
そこで、このような問題を解決するために、前述の受光素子から出力されるそれぞれの信号から、それぞれの信号のピーク値に所定の係数Ｋを乗じた値を減算した信号をトラッキングエラー信号として用いる、いわゆる、トップホールドプッシュプル（以下、ＴＰＰと適宜略記する）方式が提案されている。
【０００６】
更に、このようなトップホールドプッシュプル方式の係数Ｋを、周波数が低い場合には値を大きく、また、周波数が高い場合には値を小さく設定することにより、アクセス性能を向上する方法も提案されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述のＴＰＰ方式において、係数Ｋが周波数特性を持つようにした場合、トラッキングエラーサーボ系のゲインが、例えば、図７に示すように、低周波帯域において減少することがあった。このような場合、例えば、偏心ディスクなどに対するトラッキング性能が低下するという課題があった。
【０００８】
本発明は、以上のような状況に鑑みてなされたものであり、係数Ｋに周波数特性を持たせたＴＰＰ方式のトラッキングエラーサーボ系が、偏心ディスクなどに対しても、トレースを正確に実行することを可能とするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の光ディスク装置は、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、第１の受光検出信号を減算する第１の演算手段と、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、第２の受光検出信号を減算する第２の演算手段と、第１の演算手段と第２の演算手段の出力の差分を算出する算出手段と、所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、算出手段の出力信号を増幅する増幅手段とを備え、係数Ｋ1とＫ2それぞれは、カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものであることを特徴とする。
【００１０】
請求項３に記載のトラッキングエラー信号算出方法は、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、第１の受光検出信号を減算する第１の演算ステップと、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、第２の受光検出信号を減算する第２の演算ステップと、第１の演算ステップと第２の演算ステップの出力の差分を算出する算出ステップと、所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、算出ステップの出力信号を増幅する増幅ステップを含み、係数Ｋ1とＫ2それぞれは、カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものであることを特徴とする。
【００１１】
請求項１に記載の光ディスク装置においては、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、第１の受光検出信号を第１の演算手段が減算し、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、第２の受光検出信号を第２の演算手段が減算し、第１の演算手段と第２の演算手段の出力の差分を算出手段が算出し、所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、算出手段の出力信号を増幅手段が増幅する。ここで、係数Ｋ1とＫ2それぞれは、カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものである。例えば、第１の演算手段が、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗算した結果から、第１の受光検出信号を減算し、また、第２の演算手段が、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗算した結果から、第２の受光検出信号を減算し、これら第１および第２の演算手段からの出力の差分を算出手段が算出し、算出手段からの出力信号を増幅手段が係数Ｋ1およびＫ2による損失分だけ増幅する。
【００１２】
請求項３に記載のトラッキングエラー信号算出方法は、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、第１の受光検出信号を第１の演算ステップが減算し、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、第２の受光検出信号を第２の演算ステップが減算し、第１の演算ステップと第２の演算ステップの出力の差分を算出ステップが算出し、所定のカットオフ周波数より低い周波数帯域で、カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように、算出ステップの出力信号を増幅ステップが増幅する。ここで、係数Ｋ1とＫ2それぞれは、カットオフ周波数より低い周波数帯域での値が、カットオフ周波数よりも高い周波数帯域での値より大となるものである。例えば、第１の演算ステップが、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗算した結果から、第１の受光検出信号を減算し、また、第２の演算ステップが、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗算した結果から、第２の受光検出信号を減算し、これら第１および第２の演算ステップからの出力の差分を算出ステップが算出し、算出ステップからの出力信号を増幅ステップが係数Ｋ1およびＫ2による損失分だけ増幅する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一実施の形態の光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【００１４】
この図において、ＤＲＡＭ１（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）は、入力されたデータを一時的に格納するようになされている。ＥＤＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）エンコード部２は、ＤＲＡＭ１から供給されたデータに、エラー検出のためのＥＤＣを付加して出力するようになされている。スクランブル部３は、ＥＤＣエンコード部２から出力されたデータをスクランブルするようになされている。ＩＤエンコード部４は、スクランブルされたデータに対してＩＤコードを付加するようになされている。
【００１５】
ＩＤエンコード部４より出力されたデータは、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）５に格納され、１ブロック分格納された時点で、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）エンコード部６により、エラー訂正のためのＥＣＣが付加される。変調部７は、ＳＲＡＭ５に格納されているデータを逐次読み出し、所定の変調を施した後、光ピックアップ１１に供給する。
【００１６】
光ピックアップ１１は、変調部７から供給されたデータに応じて、記録用のレーザビーム（再生用より強度が大きいビーム）をＣＤ−Ｒ１０に照射して情報を記録するとともに、再生用のレーザビームをＣＤ−Ｒ１０に照射し、ＣＤ−Ｒ１０から反射されたレーザビームを電気信号に光電変換し、再生ＲＦ信号として出力するようになされている。
【００１７】
復調部１２は、光ピックアップ１１から出力された再生ＲＦ信号に対して所定の復調処理を施し、得られたデータをＳＲＡＭ１３の所定の領域に格納するようになされている。ＥＣＣデコード部１４は、復調部１２から供給されたデータがＳＲＡＭ１３に１ブロック分格納された時点で、エラー訂正処理を実行するようになされている。
【００１８】
ＩＤデコード部１５は、ＳＲＡＭ１３に格納されているデータを読み出し、ＩＤコードを抽出する。デスクランブル部１６は、ＩＤデコード部１５から出力されたデータをデスクランブルするようになされている。ＥＤＣデコード部１７は、デスクランブル部１６から出力されたデータからＥＤＣを抽出し、再生されたデータにエラーが含まれているか否かを判定する。ＤＲＡＭ１８は、ＥＤＣデコード部１７から出力されたデータを一時的に格納し、出力するようになされている。
【００１９】
サーボ部２０は、フォーカス、トラッキング、および、スレッドなどのサーボ制御を行うようになされている。
【００２０】
図２は、図１のサーボ部２０に内蔵されているＴＰＰトラッキングエラー信号検出部の構成の一例を示している。
【００２１】
この図に示すように、ＴＰＰトラッキングエラー信号検出部は、トップホールド定数乗算回路４０、トップホールド定数乗算回路４１、差動増幅回路４２乃至４４、および、ローブーストフィルタ（以下、ＬＢＦと略記する）４５により構成されている。
【００２２】
トップホールド定数乗算回路４０，４１は、図１に示す光ピックアップ１１に内蔵されている受光部より出力される受光検出信号Ｅ，Ｆ（トラックに垂直な方向に分割された２つの受光部のそれぞれから出力される信号）とをそれぞれ入力してピーク値をホールドし、ホールドされたピーク値に対して定数Ｋを乗算した値を出力するようになされている。
【００２３】
なお、定数Ｋは、図３に示すような周波数特性を有しており、４１０Ｈｚ付近をカットオフ周波数として、それより低い周波数では、Ｋ＝０．６４となり、また、それよりも高い周波数では、Ｋ＝０．５となるように設定されている。
【００２４】
差動増幅回路４２は、トップホールド定数乗算回路４０の出力から、信号Ｅを減算し、所定のゲインで増幅して出力するようになされている。差動増幅回路４３も同様に、トップホールド定数乗算回路４１の出力から、信号Ｆを減算し、所定のゲインで増幅して出力するようになされている。
【００２５】
差動増幅回路４４は、差動増幅回路４３の出力から、差動増幅回路４２の出力を減算し、所定のゲインで増幅して出力するようになされている。
【００２６】
ＬＢＦ４５は、差動増幅回路４４の出力の低周波帯域を所定のゲインで増幅するようになされている。
【００２７】
図４は、図２に示すＬＢＦ４５の構成の一例を示す回路図である。この図に示すように、ＬＢＦ４５は、抵抗６０，６１、コンデンサ６２、および、増幅回路６３により構成されている。
【００２８】
図５は、図４に示すＬＢＦ４５の周波数特性を示す図である。この図に示すように、ＬＢＦ４５は、４１０Ｈｚ付近をカットオフ周波数として、それよりも低い周波数帯域を＋２．１ｄＢのゲインでブースト（増幅）するフィルタである。
【００２９】
次に、この実施の形態の動作について説明する。
【００３０】
入力されたデータは、ＤＲＡＭ１に一時的に格納された後、ＥＤＣエンコード部２に出力される。ＥＤＣエンコード部２は、ＤＲＡＭ１から出力されたデータに対してエラー検出用のＥＤＣを付加し、スクランブル部３に供給する。スクランブル部３は、ＣＤ−Ｒ１０に傷などがある場合に、エラーが所定のセクタやフレームに集中し、データの再生が不可能となることを防止するために、データに対してスクランブル処理（データの規則性をなくす処理）を施し、ＩＤエンコード部４に出力する。
【００３１】
ＩＤエンコード部４は、各セクタの先頭部分に、ＣＤ−Ｒ１０のアドレスを検出するためのＩＤコードを内挿した後、ＳＲＡＭ５に順次格納していく。ＥＣＣエンコード部６は、ＳＲＡＭ５に１ブロック分のデータが格納された時点で、ＥＣＣを付加する処理を行う。
【００３２】
ＥＣＣエンコード部６によりＥＣＣが付加されたデータは、ＳＲＡＭ５から逐次読み出され、変調部７に供給される。変調部７は、データに同期パターンを付加して所定の変調を施した後、光ピックアップ１１に出力する。光ピックアップ１１は、ＣＤ−Ｒ１０の所定の領域に対して記録用のレーザビームを照射する。
【００３３】
記録用のレーザビームを照射されたＣＤ−Ｒ１０は、ビームの熱により、その記録媒体が物理的な不可逆変化（例えば、記録媒体が昇華する等）を生じるので、情報が記録されることになる。なお、サーボ部２０の動作については後述する。
【００３４】
次に、以上のようにしてＣＤ−Ｒ１０に記録されたデータを再生する場合について説明する。
【００３５】
光ピックアップ１１は、ＣＤ−Ｒ１０の所定の領域に対して、記録用のレーザビームよりも強度が低い再生用のレーザビームを照射し、反射光を光電変換することにより、再生ＲＦ信号を生成する。再生ＲＦ信号は、復調部１２において復調された後、１ブロック単位でＳＲＡＭ１３に格納される。なお、この場合のサーボ部２０の動作も記録の場合と同様であり、その詳細については後述する。
【００３６】
ＳＲＡＭ１３に格納された１ブロック分のデータは、ＥＣＣデコード部１４によりエラー訂正が施された後、ＩＤデコード部１５により逐次読み出され、ＩＤコードが抽出される。デスクランブル部１６は、ＩＤデコード部１５が出力するデータを、抽出されたＩＤコードを参照してデスクランブルし、ＥＤＣデコード部１７に出力する。ＥＤＣデコード部１７は、デスクランブルされたデータからＥＤＣを検出し、再生されたデータがエラーを含んでいるか否かを判定する。その結果、エラーを含んでいないと判定した場合は、データをＤＲＡＭ１８に出力する。また、エラーを含んでいると判定した場合は、例えば、光ピックアップ１１を制御し、同じデータをＣＤ−Ｒ１０から再度読み出す。
【００３７】
ＤＲＡＭ１８は、ＥＤＣデコード部１７から出力されたデータを一旦格納した後、図示せぬ外部の装置のデータの読み込みスピードに同期して出力する。
【００３８】
次に、図２を参照してサーボ部２０の動作について説明する。
【００３９】
図示せぬＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）から射出された光ビームは、光ピックアップ１１に内蔵されている対物レンズ（図示せず）を介してＣＤ−Ｒ１０の記録面に照射される。記録面の状態に応じて、回折または反射された光ビームは、再び対物レンズを介して、トラックに垂直な方向に２分割された図示せぬ受光素子に入射される。
【００４０】
２分割された受光素子からの出力信号を、それぞれ、Ｅ，Ｆとする。図６は、この信号ＥのＲＦエンベロープ信号の波形を示している。
【００４１】
この図において、曲線ＣＶ１は、信号ＥのＲＦエンベロープの、対物レンズのずれや、スキューなどにより起因するピークの変化を示している。曲線ＣＶ２は、プッシュプル方式によりトラッキングサーボをかける場合に使用するトラッキングエラー信号ＴＥにローパスフィルタをかけたときの信号の波形を示している。また、曲線ＣＶ３は、実際に使用するトラッキングエラー信号のオフセットの変化を示しており、その信号をＡとし、その幅をｂとする。なお、信号Ｆも以上の場合と同様である。
【００４２】
以上のようなエンベロープ信号が、図２に示すＴＰＰトラッキングエラー信号検出部に入力されたとする。その場合、差動増幅回路４２からは、トップホールド定数乗算回路４０の出力から、信号Ｅを減算して所定のゲインで増幅したものが出力される。いま、差動増幅回路４２のゲインを０ｄＢとし、また、信号Ｅのピーク保持値をＥＴＰとする。そのとき、差動増幅回路４２の出力ＴＰＰ（Ｅ）は、以下の式で表すことができる。
【００４３】
ＴＰＰ（Ｅ）＝Ｋ×ＥＴＰ−Ｅ  ・・・（１）
【００４４】
同様にして、差動増幅回路４３の出力ＴＰＰ（Ｆ）は、以下のように表すことができる。
【００４５】
ＴＰＰ（Ｆ）＝Ｋ×ＦＴＰ−Ｆ  ・・・（２）
【００４６】
ここで、ＦＴＰは、信号Ｆのピーク保持値である。
【００４７】
従って、差動増幅回路４４の出力ＴＰＰ（ＴＥ）は、以下のように表すことができる。
【００４８】
ＴＰＰ（ＴＥ）＝（Ｅ−Ｆ）−Ｋ（ＥＴＰ−ＦＴＰ）  ・・・（３）
【００４９】
なお、係数Ｋは、次のようにして決定されている。即ち、図６において、オフセットｂが、係数Ｋとピークａとの乗算値となるように設定してある（ｂ＝Ｋ×ａ）。従って、オフセットがキャンセルされた信号は、（Ｅ−Ｋ×ａ）と表すことができる。
【００５０】
このとき、ピークａは、図６に示す曲線ＣＶ１（信号Ｅ）をトップホールドすることにより得られるＥＴＰである。従って、図２に示す差動増幅回路４２の出力ＴＰＰ（Ｅ）は、信号Ｅからオフセットを除いたものとなる。
【００５１】
また、同様にして、差動増幅回路４３の出力ＴＰＰ（Ｆ）も、信号Ｆからオフセットを除いたものとなる。
【００５２】
このようにして得られた、オフセットが除去された信号Ｅ，Ｆは、差動増幅回路４４において差分が求められ、トップホールドプッシュプル信号ＴＰＰ（ＴＥ）が生成される。
【００５３】
ところで、前述のように係数Ｋは、アクセス性能を向上させるために、図３に示すように低周波帯域で値が増大するように設定されている。このように係数Ｋを設定した場合、図７に示すように、トラッキングサーボの低周波帯域のゲインが減少することになる。
【００５４】
即ち、ＥＴＰとＦＴＰは、トップホールド信号であるので、オフセット成分のみならず、信号成分（信号Ｅまたは信号Ｆの成分）も含んでいる。従って、式（３）に示すように、信号成分（Ｅ−Ｆ）から係数Ｋが乗算された（ＥＴＰ−ＦＴＰ）が減算されると、係数Ｋの値が大きい場合には信号成分が減少することになる。即ち、係数Ｋの値が大きいほど、入力信号が実質的に減少することになり、その結果、系のゲインが低下する。従って、係数Ｋの値が大きい低周波領域（図３参照）において、トラッキングサーボ系のゲインが減少することになる。
【００５５】
なお、このような低周波帯域におけるトラッキングサーボ系のゲインの減少は、この実施の形態の場合、図７に示すように２．１ｄＢとなる。
【００５６】
そこで、本実施の形態では、差動増幅回路４４の後段にＬＢＦ４５を付加して、低域のゲインを補償する。即ち、図５に示すように、ＬＢＦ４５は、４１０Ｈｚ付近をカットオフ周波数として、それよりも低い帯域でゲインが＋２．１ｄＢ増加するように設定されている。これにより、係数Ｋに起因する低周波帯域のゲインの減少を補償することができる。
【００５７】
なお、図４に示す構成例の回路定数は以下のように決定する。
【００５８】
即ち、増幅回路６３のゲインをｇとすると、図４に示すＬＢＦ４５の伝達関数Ｔ（ｊω）は以下のように表すことができる。
【００５９】
Ｔ（ｊω）＝ｇ×（ｊωＣＲ２＋１）／（ｊωＣ（Ｒ１＋Ｒ２）＋１）・・・（４）
【００６０】
この式において、ω＝０のとき、即ち、周波数が０の場合のゲインＴ（０）はｇとなる。
【００６１】
また、ω→∞の場合のゲインは、Ｔ（∞）＝ｇ×Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）となる。
【００６２】
従って、低域におけるゲインが高域に比べて＋２．１ｄＢ増加するように、ｇ，Ｒ１，Ｒ２の値を設定するとともに、カットオフ周波数が４１０Ｈｚ付近となるように、Ｃの値を設定することにより、図５に示す周波数特性を有するＬＢＦ４５を実現することができる。
【００６３】
以上のような実施の形態によれば、係数Ｋが周波数特性を有する場合においても、トラッキングサーボ系の低周波帯域のゲインの減少を補償することが可能となるので、例えば、偏心ディスク等に対しても正確にトラッキングを行うことが可能となる。
【００６４】
なお、以上の実施の形態では、ＣＤ−Ｒ１０に情報を記録または再生する光ディスク装置を例に説明を行ったが、本発明は、このような場合のみに限定されるものではなく、例えば、ＭＤ（Ｍｉｎｉ  Ｄｉｓｋ）などに対しても適用可能であることは勿論である。
【００６５】
【発明の効果】
本発明によれば、第１の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ1を乗じた値から、第１の受光検出信号を減算し、第２の受光検出信号のピーク値に対して係数Ｋ2を乗じた値から、第２の受光検出信号を減算し、得られた信号の差分を算出した後、その算出された出力信号を、カットオフ周波数より低い周波数帯域で、カットオフ周波数より高い周波数帯域よりもゲインが所定の値だけ増加するように増幅するようにしたので、偏心ディスクに対してもトラッキングサーボを正確にかけることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク装置の一実施の形態の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】図１に示すサーボ部に内蔵されているＴＰＰトラッキングエラー信号生成部の構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図２に示すトップホールド定数乗算回路の係数Ｋの周波数特性を示す図である。
【図４】図２に示すＬＢＦの構成の一例を示す回路図である。
【図５】図４に示すＬＢＦの周波数特性を示す図である。
【図６】図１に示す光ピックアップ１１から出力される信号Ｅのエンベロープを示す図である。
【図７】図２に示すトップホールド定数乗算回路の係数Ｋに周波数特性を持たせた場合のトラッキングサーボ系の低域のゲインの減少を示す図である。
【符号の説明】
４０  トップホールド定数乗算回路（第１の演算手段），  ４１  トップホールド定数乗算回路（第２の演算手段），  ４４  差動増幅回路（算出手段），  ４５  ＬＢＦ（増幅手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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