【事件の表示】
　特願２００４−２７６３５１「放射線検査装置及びそのタイミング補正方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１８年　４月　６日出願公開、特開２００６−　９０８２７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成１６年９月２４日の出願であって、平成１８年５月１７日付けで拒絶査定され、これに対し、同年６月２２日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同年７月２４日付けで手続補正がなされたものである。その後、当審において、平成２０年７月１日付けで通知した拒絶理由に対し、意見書が平成２０年９月８日に提出された。
　本願の請求項１〜１３に係る発明は、平成１８年７月２４日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜１３に記載されたとおりのものであって、その請求項１に係る発明は以下のとおりのものと認める。（以下、「本願発明」という。）
「　【請求項１】
　被検体を支持するベッドの周りに配置された複数の放射線検出器と、
　複数の放射線検出器に別々に接続された複数の信号処理装置と、
　複数の前記信号処理装置に対して模擬信号を出力する模擬信号発生装置と、
　前記模擬信号発生装置に接続され、前記複数の信号処理装置に別々に接続されて前記模擬信号を伝える複数の開閉装置と、
　予め設定された対になる、規準の前記信号処理装置と校正する前記信号処理装置の組み合わせ情報に基づいて、この対になる前記信号処理装置にそれぞれ接続された一対の前記開閉装置の開閉を制御する制御装置と、
　前記模擬信号をそれぞれ入力する前記一対の前記信号処理装置の、前記模擬信号により生成される出力に基づいて、各信号処理装置に対するそれぞれのタイミング校正データを生成する校正データ生成装置と、
　前記タイミング校正データに基づいて前記放射線検出器から出力される放射線検出信号のタイミング補正を行う手段を備えたことを特徴とする陽電子放射断層撮像装置。」
　
　
２．当審の拒絶理由
　当審において平成２０年７月１日付けで通知した拒絶の理由の概要は、本願発明１〜１３は、その出願前日本国または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというものである。
　
［刊行物］
引用例１．特開昭６１−１３２８８８号公報
引用例２．特表平　７−５０３０７７号公報
引用例３．特開平　２−　８２４３９号公報
引用例４．特開昭６１−　５７８７９号公報
　
　
３．刊行物に記載された発明
（１）引用例１
　当審の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開昭６１−１３２８８８号公報（以下、「引用例１」という。）には、下記の記載がある。
「（ハ）目的
この発明は、多数の検出器系での時間遅れの調整を容易化し同時に各検出器系でのゲインの調整をもできるよう改善したポジトロンＣＴ装置を提供することを目的とする。
（ニ）構成
この発明のポジトロンＣＴ装置では、単一の光源から発せられた短い光パルスを光分配器を介して少なくとも２本の光ファイバに分配し、この２本の光ファイバ中を伝搬する短い光パルスを各放射線検出器のシンチレータに送ることにより、この短い光パルスによって生じた各放射線検出器の出力信号により各検出器系での時間遅れおよびゲインの調整ができるよう構成されている。
（ホ）実施例
　図において、多数の放射線検出器１．ｌ、・・・が１つの平面内でリング型に配列されている。各放射線検出器ｌは、シンチレータ２と光電子増倍管３とを光結合したものから構成され、光電子増倍管３の各出力信号はプリアンプ及びタイミング回路４を経てそれぞれ出力される。そして、多数の検出器１、ｌ、・・・を２個ずつ組み合わせ、その組み合わせ毎に同時計数処理回路５が設けられる。
　被検体の断層像を撮影する場合は、このリング型配列の内部に図示しない被検体を置く。被検体の体内には予めポジトロン放出性核種を含む薬物が投与されており、放出されたポジトロンが消滅するとき１８０°方向に２本のγ線を放出し、この２本のγ線がリング型配列中の２つの検出器１、１に入射する。すると、この２つの検出器ｌ、１から同時に信号が生じるので、これらの信号が送られている１個の同時計数処理回路５から出力が生じる。どの同時計数処理回路５から出力が生じたかによって、どの検出器ｌの組で同時入射したか、つまりどの直線上でポジトロンが消滅したかが分る。そこで、この信号をＣＰＵ（図示しない）を介してメモリ（図示しない）に送り、このメモリの、上記の直線に対応するアドレスに「１」を加算する。こうして、ポジトロンが消滅されたとして検出された回数が各直線毎に計数される。得られた直線毎の計数値は、その直線の方向が同一のもの同士を集めて位置に応じて並べることにより、その方向での投影データとされ、各方向の投影データをフィルタ補正逆投影法などの画像再構成アルゴリズムで処理することにより、検出器ｌ、１、・・・がリング型に配列される平面内での、被検体中のポジトロン放出性核種の濃度分布画像が再構成される。
　この同時計数処理回路５が十分に機能するためには、シンチレータ２、光電子増倍管３、プリアンプ及びタイミング回路４等での時間遅れ、およびゲインが同じであることが必要である。そこで、駆動回路６に半導体レーザなどの光源７を接続して、これをパルス駆動して高速でスイッチングし、短い光パルスを発生させ、この光パルスを光分配器８により分配して、２本の光ファイバ９、９を介して２個の検出器１、１の各々のシンチレータ２、２に送る。この場合、光分配器８により光がｌ：１に分配され、しかも２本の光ファイバ９、９の長さを同じとすることにより、２つのシンチレータ２、２に同一タイミングで且つ同一レベルの光パルスを与える。
　そして、調整時にはこの構成を用いて、２本の光ファイバ９、９を通じて送られる光パルスにより２つの検出器１、１から生じプリアンプ及びタイミング回路４を経て出力される２つの出力信号の立ち上り時間およびレベルが同一になるように、プリアンプ及びタイミング回路４等を調整する。
　してがって、２つの検出器系における時間遅れおよびゲインを同じにするよう調整することが簡単且つ確実に行なえる。そして、この２本の光ファイバ９、９を任意の２つの検出器１、１のシンチレータ２、２に光学的に結合すれば、任意の２つの検出器系での調整ができ、これにより、全ての検出器系で時間遅れおよびゲインを同一にすることが簡単にできる。
　なお、上記では２本の光ファイバ９、９は同一の長さとしたが、両者の長さを変えて、同時計数処理回路５における同時検出の時間幅の調整もすることもできる。
　また、上記では２本の光ファイバを用いたが３本以上用いて３つ以上の検出器系での調整を一度に行なうようにしてもよい。光ファイバの出射端はシンチレータに光学的に結合されればよく、シンチレータの前面だけに限らず側面で結合してもよく、特に、シンチレータと光電子増倍管とが一体構造になっている場合は光ファイバの出射端をシンチレータの側面に埋め込むことも考えられる。」（第２頁右上欄第９行〜第３頁右上欄第１９行）
　これらの記載および図面によると、引用例１には、
「シンチレータ２と光電子増倍管３とを光結合したものから構成される多数の放射線検出器１、プリアンプ及びタイミング回路４、同時計数処理回路５、光パルスを発生する光源７、光パルスを分配する光分配器８、２個の検出器１、１の各々のシンチレータ２．２に光パルスを送る２本の光ファイバ９、９、が設けられたポジトロンＣＴ装置において、シンチレータ２、光電子増倍管３、プリアンプ及びタイミング回路４等での時間遅れ、およびゲインが同じであるようにするため、２本の光ファイバ９、９を通じて送られる光パルスにより２つの検出器１、１から生じプリアンプ及びタイミング回路４を経て出力される２つの出力信号の立ち上り時間およびレベルが同一になるように、プリアンプ及びタイミング回路４等を調整するポジトロンＣＴ装置。」の発明（以下「引用例１発明」という。）が記載されていると認められる。
　
（２）引用例２
　当審の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特表平７−５０３０７７号公報（以下、「引用例２」という。）には、下記の記載がある。
（ａ）「好ましい実施例の説明
　先ず図１を参照して説明する。ＰＥＴスキャナシステムにはガントリ１０が含まれている。ガントリ１０は、中央開口または内腔１２のまわりに検出器リング集合体を支持する。ガントリ１０の前に患者台１３が配置され、内腔１２の中心軸とそろえられる。直列通信リンク１６を介して操作者ワークステーション１５から受けた指令に応動して、患者台制御器（図示しない）が台ベッド１４を内腔１２の中へ動かす。ガントリ制御器１７がガントリ１０の中に取り付けられ、第２の直列通信リンク１８を介して操作者ワークステーション１５から受けた指令に応動してガントリを動作させる。たとえば、操作者からの指令でガントリを傾けて垂直方向からずらすことができる。ガントリは校正された放射性核種源と一緒に「透過型スキャン」を行うことにより、減衰測定値を取得することができる。。ガントリは「一致タイミング校正スキャン」を行うことにより、補正データを取得することができる。またはガントリは、陽電子消滅事象を計数する通常の「エミッション型スキャン」を行うことができる。」（第４頁左上欄第２２行〜同頁右上欄第１５行）
（ｂ）「　ＰＥＴスキャナシステムを一致タイミング校正モードにすると、ＰＥＴスキャナシステムはそれの正規のイメージングモードと大幅に異なる動作を行う。図４に示すように、基準陽電子源７６が内腔１２の中の円形の軌道７０で動かされ、一致事象がフロントエンド電子回路で検出され、一致検出器３２によって記録される。上記米国特許出願第９１９４５６号に述べられているように、分類器３４に伝えられる一致データパケットには、事象を発生する検出器チャネル２０の識別子だけでなく、時間差情報も含まれる。たとえば、一致検出器３２が互いに６ナノ秒内に生じる一対の事象を検出した場合、一致データパケットが分類器３４に対して作成され、これには６ナノ秒の時間差が含まれる。後で説明するようにこれらの時間差値は、検出器チャネル２０の対相互の間の時間オフセットを示すピークを有するスペクトルとして記憶される。
　１９９２年７月２７日に出願された米国特許出願第９２０３５０号、発明の名称「ＰＥＴスキャナ内の一致タイミング校正のための分類器」に述べられているように、分類器３４は通常のように検出器の位置情報を用いることにより、各ビュー（θ）の各射線（Ｒ）に於ける一致事象の数を示すＲ，θシノグラムを作成する。しかし、分類器３４は時間差データ（Ｔ）も使用してシノグラム上に第３の次元を発生する。このような三次元校正アレーが図５に示されている。図５で、視角（θ）および射線位置（Ｒ）は２つの次元であり、タイミング値（Ｔ）が第三の次元である。タイミング値は−３１から＋３２ナノ秒の範囲にあり得る。このタイミング次元（Ｔ）に沿った６４個の「ビン（ｂｉｎ）」の各々は可能な測定された時間差値の１つを表し、各ビンは射線θ，Ｒに沿って基準源により発生された、特定の時間差値を持つ一致事象の数の総計数値を記憶する。その結果、一致タイミング校正用データ取得完了時に、点線８５で示すように各射線（θ，Ｒ）に対して時間差値のヒストグラムが集められている。これらのヒストグラムを用いて、ガントリ１０の中の取得回路２５を校正する。この米国特許出願第９２０３５０号の開示は、ここに引用されている。
　特に図２を参照すると、検出器２０の３つのリングおよび４つの交差リングの各々に対して三次元の校正シノグラム４８が作成されて、メモリ４３に記憶される。後で更に詳しく説明するように、これらの三次元校正シノグラム４８を処理することにより、校正ファイルが作成される。この校正ファイルには、ガントリ１０の中の各取得回路２５に対する時間差値が入っている。ワークステーション１５からの指令に応動して、この校正ファイルが直列リンク１８を介して取得ＣＰＵ２９にダウンロードされる。取得ＣＰＵ２９は直列リンク５５を介して対応する取得回路２５に個別遅延時間値をダウンロードする。後で説明するように、取得回路２５が発生するＥＤＰパルスに各時間遅延値が印加される。各取得回路２５内の時間遅延に対するこれらの補正はもちろん、ＰＥＴスキャナの各フロントエンドチャネルでＥＤＰパルスに印加する時間遅延を等しくすることを意図している。実際上、タイミング校正スキャンを繰り返し、連続する４回の中３回、結果の校正ファイルをダウンロードすることにより、タイミング誤差が±２００ピコ秒より小さくなることがわかった。このプロセス全体が自動的であり、ワークステーションＣＰＵ５０が実行するプログラムの指示下にある。操作者は校正スキャンを開始し、校正ファイルの値が充分に小さくなるまでプロセスを繰り返えさせればよい。次に、システムはタイミング校正モードから出るように切り換えられて、イメージングの用意ができる。
　特に図６に示すように、ＰＥＴスキャナシステムのフロントエンド電子回路の各取得回路２５は比較器６０を含み、比較器６０は、その検出器チャネル２０から４つの信号２３Ａ−２３Ｄを受けて合算する。陽電子消滅事象が検出されると、比較器６０はその出力に論理低信号を発生し、これによりゲート発生器６１を作動する。ゲート発生器６１は、その出力にＥＤＰパルスを発生する。システムはこのＥＤＰパルスを用いて、陽電子消滅事象がいつ生じたかを正確に決定する。本発明の主題は、このＥＤＰパルスのタイミングであり、特にすべての検出器チャネルのタイミングか同じになるようにこのＥＤＰパルスを遅延させることである。
　ＥＤＰパルスは２つの時間遅延６２および６３を通過した後、事象ロケータ２７に伝えられる。遅延６２および６３は、長さが各々８ビツトである。粗遅延６２は２ナノ秒の遅延増分を与え、微遅延６３は２００ピコ秒の遅延増分を与える。粗遅延６２は粗調整ラッチ６４に記憶された８ビットの値によって設定され、微遅延６３は微調整ラッチ６５の８ビットの値によって設定される。ラッチ６４および６５の値は、直列リンク５５を介して校正ファイルの一部としてダウンロードされ、バス６６を介してリンクインタフェース６７によってラッチ６４および６５に結合される。したがって、ＥＤＰパルスに加えられる総遅延は、校正ファイル内のこの検出器チャネルに対する１６ビットの時間遅延値によって定められた通りに回路６２および６３により加えられる遅延の和である。
　特に図７および図８に示すように、校正スキャンの完了時に画像ＣＰＵ４２で実行されるプログラムの指示下で校正ファイルが作成される。実施例では分類器３４が、ガントリ１０内の３つの検出器リングの各々に対して、一対の三次元タイミングスペクトルアレー９０を作成する。更に、交差リングタイミング値に対して、４対の三次元タイミングスペクトルアレーが作成される。図７のプロセスブロック９１で示されるように第１のステップでは、これらの１４個の校正アレー９０の各々の中の各ヒストグラム８５のピーク時点（Ｔ）を判定し、対応する二次元時間差アレー９２を作成する。時間差アレー９２は、それらの要素（Ｒ，θ）の各々で、特定の射線Ｒ，θに沿った検出事象相互間の時間差を示す浮動小数点数を記憶する。上記米国特許出願第９２０３５０号に示されているように、これらの時間差アレー９２の１つは軌道陽電子源７６が中心の片側にある間に取得された値を表し、各対の他方のタイミングアレ−９２は軌道陽電子源７６が反対側にある間に取得された値を表す。プロセスブロック９３によって示されるように、これらのタイミングアレー９２の各々に導入される飛行時間差は、それらの対応する値を加算して単一の二次元時間差アレー９４を形成することによって精密に除去される。たとえば、１つのアレー９２の要素Ｒ，θに於ける＋３ナノ秒の値を他方のアレー９２の対応する要素Ｒ，θからの−２ナノ秒の値に加算することにより、二次元時間差アレー９４の要素Ｒ，θに対する値＋１ナノ秒が得られる。」（第５頁右下欄第２３行〜第７頁左上欄第９行）
　これらの記載によれば、引用例２には、特に（ａ）の記載より、
「内腔１２のまわりに検出器リング集合体を支持するガントリ１０を含み、台ベッド１４を内腔１２の中へ動かす、ＰＥＴスキャナシステム。」の発明（以下「引用例２発明ａ」という）が記載されていると認められる。
　また、特に（ｂ）の記載より、
「ゲート発生器６１は陽電子消滅事象がいつ生じたかを正確に決定するＥＤＰパルスを発生し、二次元時間差アレー９４を処理し、校正スキャンの完了時に画像ＣＰＵ４２で実行されるプログラムの指示下で校正ファイルが作成され、この校正ファイルが直列リンク１８を介して取得ＣＰＵ２９にダウンロードされ、取得ＣＰＵ２９は直列リンク５５を介して対応する取得回路２５に個別遅延時間値をダウンロードする一致タイミング校正モードとなるＰＥＴスキャナシステム。」の発明（以下「引用例２発明ｂ」という）が記載されていると認められる。
　
（３）引用例３
　当審の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開平２−８２４３９号公報（以下、「引用例３」という。）には、下記の記載がある。
（ａ）「［発明の目的］
　　（産業上の利用分野）
　　本発明は、荷電粒子エネルギーその他種々の信号を測定する多チャンネル信号測定装置に係わり、特に各チャンネル測定系を自動的にチェックする多チャンネル信号測定装置に関する。」（第１頁右下欄第５〜１０行）
（ｂ）「（発明が解決しようとする課題）
　従って、以上のようなデジタル変換モジュールのチェックは、各チャンネルごとにつなぎ換えを行いながら各チャンネルごとに模擬信号を入力するので、チェック作業に多くの時間と労力を必要とし、かつ、チェック作業の長時間化に伴って装置が本来行うべき仕事の稼働率を低下させる問題がある。また、定期的なチェック時にたまたま異常なチャンネル測定系があれば上位計算機でその異常チャンネル測定系を特定できるが、定期チェック以外のときには現場サイドでモジュールの異常状態を発見した場合にはどのチャンネルで異常状態が生じているか分らないので、モジュール全部を新しいモジュールと差し換える必要があるので一時的に装置を停止させなければならない。
　本発明は以上のような不具合を解決するためになされたもので、多数のチャンネル測定系およびモジュールをほとんど同時に自動的にチェックして異常チャンネル測定系を特定しうる多チャンネル信号測定装置を提供することを目的とする。」（第２頁右上欄第１〜２０行）
（ｃ）「（実施例）
　　以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。第１図は本発明装置の全体構成を示す図であって、これは複数の測定対象信号（例えば電荷量、時間差信号等）を個別に検出するための複数のチャンネル検出器１，・・・と、これら各チャンネル検出器１，・・・で検出された信号をデジタル信号に変換するデジタル変換モジュール１０と、このデジタル変換モジュール１０にチェック用信号を供給するチェック信号発生モジュール３０と、必要な指令信号を送出し、かつ、前記デジタル変換モジュール１０で得られたデジタル信号を取得し、さらに異常チャンネル測定系を判定してその判定結果の異常チャンネル測定系を特定して表示出力する制御手段４０とによって構成されている。
　前記デジタル変換モジュール１０においては、切換制御信号を出力するスイッチコントローラ１１、各チャンネル検出器１，・・・の出力信号をそれぞれ増幅する入力アンブ１２，・・・、各チャンネル検出器１，・・・と入力アンプ１２，・・・の間に設けられ常時はチャンネル検出器１の出力側を選択し、チェック時にはスイッチコントローラ１１からの切換制御信号を受けてチェック信号発生モジュール３０の出力側に接続する入力切換スイッチ１３，・・・、各入力アンプ１２，・・・から出力された電荷量を積分しこの積分値を電圧信号に変換してホールドする電荷量ホールド回路１４，・・・、各入力アンプ１１，・・・の出力を増幅し波高弁別して出力するディスクリミネータ１５，・・・、このディスクリミネータ１５，・・・の出力から外部トリガ信号入力までの時間差信号を得ると共にこの時間差信号を電圧信号に変換してホールドする時間差ホールド回路１６，・・・、各チャンネルごとの電荷量ホールド回路１４，・・・の出力および時間差ホールド回路１６，・・・の出力を、前記スイッチコントローラ１１からの切換制御信号を受けて順次切換て出力するアナログマルチプレクサ１７、このアナログマルチプレクサ１７を介して得られたホールド出力をデジタルデータに変換するＡ−Ｄ変換回路１８、そのデシダルデータを記憶するメモリ１９のほか、表示用レジスタ２０および例えばアラーム表示用ＬＥＤや音声出力を行う表示出力部２１等からなっている。
　一方、前記チェック信号発生モジュール３０は、タイミングコントローラ３１、模擬信号発生器３２、外部トリガ３３とタイミングコントローラ３１とを切換るスイッチ３４、常時はオフ状態にあってチェック時にオンするスイッチ３５等で構成されている。３６はアナログバスであってチェック信号発生モジュール３０から出力されるチェック信号を他のモジュールにも供給する機能を持っている。
　前記制御手段４０は、信号測定用およびチェック用プログラムに基づいて演算制御を実行するＣＰＵ４１およびデジタルデータ／コントロールバス４２等よりなっている。
　次に、以上のように構成された装置の動作のうち特に各チャンネル測定系のチェック動作について説明する。なお、各スイッチ１３，３４，３５の図示状態は信号測定時の状態を表わすものとする。チャンネル測定系のチェックに際し、外部から動作開始操作を行うとＣＰＵ４１からチェック用プログラムに基づいて入力切換スイッチ１３を切換えるための指令信号がデジタルデータ／コントローラバス４２を介してスイッチコントローラ１１に送出される。ここで、スイッチコントローラ１１は切換制御信号を送出するとその信号を受けて各入力切換スイッチ１３，・・・は同時に各入力アンプ１２の入力側をチェック信号発生モジュル３０の出力側に接続する。
　また、ＣＰＵ４１はチャンネル検出器１，・・・の出力および外部トリガ３３に代わる予め定めた模擬信号およびタイミング信号を模擬信号発生器３２およびタイミングコントローラ３１に設定した後、第２図に示す如く実行開始指令Ｓ１をタイミングコントローラ３１に導入する。ここで、タイミングコントローラ３１はスタート信号Ｓ２を出力し各スイッチ３４および３５を切換える。
　しかる後、模擬信号発生器３２は第２図に示す模擬信号（ｖ）Ｓ４を発生すると、この信号Ｓ４はアナログバス３６および入力切換スイッチ１３，・・・を経由して各入力アンプ１２，・・・に同時に導入され、またアナログバス３６を通して図示しないモジュールにも送出される。また、スタート信号Ｓ２出力後、時間ｔ経過後にタイミングコントローラ３１からも時間信号Ｓ３が送出され、これは図示するモジュール１０のほか、図示しない他のモジュールの各時間差ホールド回路１６，・・・にも供給される。
　ここで、各電荷量ホールド回路１４，・・・は入力アンプ１２，・・・の出力をそれぞれ積分し第２図の如くその積分値を電圧信号Ｓ５に変換してホールドし、また入力アンブ１２，・・・の出力はディスクリミネータ１５，・・・で波高弁別した後、スタート信号Ｓ２の発生から前記時間信号Ｓ３入力までの時間差を電圧信号Ｓ６（ｖｔ）に変換して時間差ホールド回路１６，・・・にホールドする。以上のようにしてホールドされた測定結果の信号は、スイッチコントローラ１１からの切換制御信号に基づいて順次取出してＡ−Ｄ変換回路１８に導入し、ここでデジタル信号に変換してメモリ１９に格納する。
　なお、ＣＰＵ４１は、時間信号Ｓ３および模擬信号Ｓ４を種々設定換えしてタイミングコントローラ３１および模擬信号発生器３１に供給し、前述同様にデジタル信号に変換してデータを収集する。
　そして、ＣＰＵ４１はメモリ１９の内容を読み出して各チャンネルのリニアリティを算出し、異常なチャンネル測定系例えば規定値以下に下がった場合には当該チャンネル表示情報を表示用レジスタ２０に入れて表示出力部２１に特定のチャンネル測定系が異常である旨を表示する。」（第３頁左上欄第１行〜第４頁右上欄第１３行）
　また、第１図には、模擬信号発生器３２からアナログバス３６を介して入力切換スイッチ１３に至る共有された配線が示されている。
　これらの記載および図面によれば、引用例３には、
「各チャンネルごとにつなぎ換えを行いながら各チャンネルごとに模擬信号を入力するのでチェック作業に多くの時間と労力を必要とする不具合を解決するために、複数のチャンネル検出器１、入力切換スイッチ１３、スイッチコントローラ１１、入力アンブ１２、入力切換スイッチ１３、電荷量ホールド回路１４、ディスクリミネータ１５、時間差ホールド回路１６、アナログマルチプレクサ１７、Ａ−Ｄ変換回路１８、メモリ１９等からなっているデジタル変換モジュール１０と、模擬信号発生器３２等で構成されているチェック信号発生モジュール３０と、ＣＰＵ４１等よりなっている制御手段４０と、模擬信号発生器３２から入力切換スイッチ１３への供給された配線によって構成されており、スイッチコントローラ１１が切換制御信号を送出するとその信号を受けて各入力切換スイッチ１３は同時に各入力アンプ１２の入力側をチェック信号発生モジュル３０の出力側に接続し、模擬信号発生器３２が模擬信号（ｖ）Ｓ４を発生すると各入力アンプ１２に同時に導入され、測定結果の信号がメモリ１９に格納され、ＣＰＵ４１はメモリ１９の内容を読み出して各チャンネルのリニアリティを算出する、各チャンネル測定系を自動的にチェックする多チャンネル信号測定装置。」の発明が記載されていると認めることができる。
　
（４）引用例４
　当審の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開昭６１−５７８７９号公報（以下、「引用例４」という。）には、以下の記載がある。
「〔発明の目的〕
　本発明の目的は、１回の模擬信号入力（又は、実照射）により簡単にゲイン、バイアス調整を行い保守点検時の調整作業時間を短縮することができる線量率計の自動調整装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
　本発明は、校正用模擬信号入力時の出力指示信号と目標とする指示値（校正用基準値）を記憶しておき、一次方程式を解くことにより調整すべきゲイン、バイアス値を演算し自動設定することにより１回の模擬信号入力により簡単にゲイン、バイアス調整を行い保守点検時の調整作業時間を短縮しようというものである。
〔発明の実施例〕
　以下、本発明の実施例について説明する。
　第１図には、本発明の一実施例が示されている。
　図において、検出器１は、電離箱検出器やＧＭ管検出器のような放射線量に感応する放射線検出器であり電流信号又はパルス信号を発生するものである。
　増幅部２、入力部３は、検出器ｌからの信号を演算部４で処理しやすい様、対数増幅及び、波形整形等を行なうものである。また、演算部４は、入力信号Ｘに対し、出力ｙをｙ＝ａ・ｘ＋ｂの演算を行なって出力するものである。すなわち、検光器１からの検出信号Ｘがｘ＝ｘ0の場合に演算部４は、前記の如き演算を行って出力値ｙとしてｙ＝ａｘ0＋ｂ　という値を出力する。
　この様に演算された出力ｙは、出力表示部５に線量率として表示する。
　また、模擬信号発生部１０は、放射線外側系を簡易的に校正するもので、実際に検出器１に照射した時の検出器からの出力と等価な信号を電気的に発生するものであり、校正信号（模擬信号）は２点以上有する。通常２点で校正する。もちろん、検出器１に実照射を２点行ない校正することも可能である。
　以下の説明では、模擬信号発生部１０からＩAとＩBの信号が発生できるものとして説明する。
　ＩAは検出器にＡ0ｍＲ／ｈの照射を模擬する値であり、ＩBは検出器１にＢ0ｍＲ／ｈの照射を模擬した値である。
　記憶部６は、目標値設定部７から設定されたＡ0，Ｂ0の値と、ＩAを入力した時の出力値Ａと、Ｉbを入力した時の出力値Ｂを記憶しておく。
　偏差補正部８は、記憶部６に入力される演算部４から出力されるＡ、Ｂの値から計測系の特性を求め演算部４の出力信号ｙが、目標値設定部７から出力されるＡ0、Ｂ0と同じＡ0、Ｂ0となるように、演算部４のゲインａ及びバイアスｂの値を算出し設定するものである。この設定は自動調整指令９により実行されゲイン、バイアス自動調整を行なう。」（第２頁左上欄第１６行〜同頁右下欄第９行）
　これらの記載によれば、引用例４には、
「放射線検出器である検出器１、検出器ｌからの信号を演算部４で処理しやすい様対数増幅及び、波形整形等を行なう増幅部２および入力部３、放射線外側系を簡易的に校正するもので、実際に検出器１に照射した時の検出器からの出力と等価な信号を電気的に発生するものである模擬信号発生部１０、ゲインａ及びバイアスｂの値を算出し設定する偏差補正部８よりなり、保守点検時の調整作業時間を短縮することができる線量率計の自動調整装置。」の発明が記載されていると認められる。
　
　
４．対比
　本願発明と引用例１発明を対比すると、引用例１発明の「ポジトロンＣＴ装置」は本願発明の「陽電子放射断層撮像装置」に相当する。また、引用例１発明の「多数の放射線検出器１」は本願発明の「複数の放射線検出器」に相当する。さらに、引用例１発明の「プリアンプ及びタイミング回路４」は、放射線検出器１を構成する光電子増倍管の各出力が経るものであるから、本願発明の「複数の放射線検出器に別々に接続された複数の信号処理装置」に相当する。そして、引用例１発明の「光源７」は、立ち上がり時間等が同一になるように、プリアンプ及びタイミング回路４等を調整するために用いる光パルスを発生するものであるから、本願発明の「模擬信号発生装置」と、タイミング校正を行うための信号を出力する「信号発生装置」である点で共通する。また、引用例１発明は「光分配器８」および「２本の光ファイバ９、９」を備えており、これらは、光源７および２個の検出器に接続されて、光パルス信号を送るものであり、その信号はプリアンプ及びタイミング回路４に伝えられるものであるから、本願発明と同様に、信号発生装置に接続され、前記複数の信号処理装置に検出器を介して別々に信号を伝える装置を有する点で共通する。加えて、引用例１発明は、対になる選択された２個の検出器の出力信号の立ち上がり時間等が同一になるように調整されるものであるから、本願発明と同様に予め設定された対になる検出器の一方を規準の装置、他方を校正する装置とし、信号により生成される出力に基づいて放射線検出器から出力される放射線検出信号のタイミング補正を行うものである点で共通する。
　したがって、両者は、
「複数の放射線検出器と、
　複数の放射線検出器に別々に接続された複数の信号処理装置と、
　信号を出力する信号発生装置と、
　前記信号発生装置に接続され、前記複数の信号処理装置に別々に前記信号を伝える装置と、
　前記信号により生成される出力に基づいて前記放射線検出器から出力される放射線検出信号のタイミング補正を行う陽電子放射断層撮像装置。」である点で一致し、以下の点で相違する。
［相違点１］複数の放射線検出器が、本願発明では被検体を支持するベッドの周りに配置されているのに対し、引用例１発明では多数の放射線検出器１のリング型配列の内部に被検体を置くとされているものの、この被検体の支持機構が明示されていない点。
［相違点２］信号発生装置が、本願発明では信号処理装置に対して模擬信号を出力するのに対し、引用例１発明では放射線検出器１に光パルスを送る点。
［相違点３］予め設定された対になる基準の装置および校正する装置の組み合わせを接続する構成が、本願発明は「前記模擬信号発生装置に接続され、前記複数の信号処理装置に別々に接続されて前記模擬信号を伝える複数の開閉装置」と「予め設定された対になる、規準の前記信号処理装置と校正する前記信号処理装置の組み合わせ情報に基づいて、この対になる前記信号処理装置にそれぞれ接続された一対の前記開閉装置の開閉を制御する制御装置」からなるのに対し、引用例１発明はこれらの装置および手段を有さない点。
［相違点４］タイミング補正を、本願発明では「模擬信号をそれぞれ入力する前記一対の前記信号処理装置の、前記模擬信号により生成される出力に基づいて、各信号処理装置に対するそれぞれのタイミング校正データを生成する校正データ生成装置」と「前記タイミング校正データに基づいて前記放射線検出器から出力される放射線検出信号のタイミング補正を行う手段」により行うのに対し、引用例１発明ではタイミング補正を行う装置および手段が明示されていない点。
　
　
５．当審の判断
　上記相違点について検討する。
［相違点１］について
　引用例２発明ａにはＰＥＴスキャナシステムにおいて、台ベッド１４を検出器リング集合体を支持するガントリ１０の内腔１２の中へ動かして用いることが開示されている。このように、陽電子放射断層像を測定する際に、測定対象を支持するベッドを用いることは、従来より行われていることであるから、引用例１発明においても被検体を支持するためにベッドを採用することは、当業者ならば容易に想到しうることである。
　
［相違点２］について
　引用例１発明に、時間遅れが放射線検出器１を構成するシンチレータ２および光電子増倍管３以外のプリアンプ及びタイミング回路４等で発生することが指摘されていることからみて、引用例１発明には、プリアンプ及びタイミング回路４自体のタイミング校正を行う必要性が示唆されているといえる。
　一方、引用例３には、引用例１発明と同様に複数の検出器１からなる測定装置において、各測定系を自動的にチェックするための構成として、入力アンプ１２に模擬信号を導入する模擬信号発生器３２を備えることが記載されており、ここで入力アンプ１２はチャンネル検出器１に接続された信号処理装置に相当するものであるから、測定系をチェックするための信号である模擬信号を、信号処理装置に対して導入することも従来行われていることである。また、模擬信号を点検時の校正に用いることも、例えば引用例４に示されるように通常行われることである。したがって、引用例１発明において、放射線検出器１に光パルスを送る代わりにプリアンプ及びタイミング回路４からなる信号処理装置に模擬信号を出力するように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
　
［相違点３］について
　引用例３には、引用例１発明と同様に多数の検出器を有する装置において、入力切換スイッチ１３、スイッチコントローラ１１、等からなるデジタル変換モジュール１０等によって構成された多チャンネル信号測定装置が開示されている。そうすると、同じ多数の検出器を有し予め設定された対になる基準の装置および校正する装置の組み合わせを接続する引用例１発明において、上記［相違点２］で検討したように、放射線検出器１に光パルスを送る代わりに、プリアンプ及びタイミング回路４からなる信号処理回路に、模擬信号を出力するように構成した際に、複数の放射線検出器のプリアンプ及びタイミング回路からなる信号処理回路の対となる２つの処理回路を接続するように制御して、模擬信号を供給することは当業者が容易になし得るものである。そして、引用例３に開示されるように、接続するための手段として、複数のスイッチ等の開閉装置および制御手段を用いることは技術常識であるから、本願発明のごとく、模擬信号を信号処理回路に伝えるための接続を複数の開閉装置および制御手段で行うように構成することは、格別のものではない。
　
［相違点４］について
　引用例２発明ｂには、一致タイミングの校正を画像ＣＰＵ４２および取得ＣＰＵ２９により行うことが記載されている。画像ＣＰＵ４２は校正ファイルを作成するものであるから、本願発明の校正データ生成装置に該当し、取得ＣＰＵ２９は取得回路２５に個別遅延時間値をダウンロードするものであるから、本願発明のタイミング補正を行う手段に該当するものである。
　タイミング補正を行うために、当該分野において従来知られた手段や装置を採用することは、当業者が適宜設計しうることであるから、引用例１発明において、引用例２発明ｂに開示されている、校正データ生成装置に該当する画像ＣＰＵ４２およびタイミング補正を行う手段に該当する取得ＣＰＵ２９を採用して、タイミング補正を行うことは、当業者が適宜なしうることである。
　
　そして、本願発明の効果は、引用例１〜３に記載された発明から当業者が予測できる範囲のものであって、格別なものであるとはいえない。
　
　なお、請求人は、［相違点２］に関し、平成２０年９月８日付けの意見書において、「両方の引用例に記載の無い模擬信号による一対の組に対するタイミング校正について、引用例１に引用例３を適用できる根拠として、引用例３の模擬信号を信号処理装置に対して導入している構成のみを取り上げて、引用例１の光源からの光パルスによる信号を処理信号装置に導入している構成へそのまま置換できるとするのは根拠としては不足していると思われる。」と主張している。しかし、引用例１発明は、一対の組に対するタイミング校正を、試料から得られる信号とは別の信号を用いて行うものであり、一方チェックや構成を行うための信号として、試料から得られる信号とは別の信号である模擬信号は従来知られているものであるから、信号として模擬信号を採用するのに格別の困難性は存在しない。したがって、請求人の主張は採用できない。
　
　
６．まとめ
　以上のとおり、本願発明は、引用例１〜３に記載された発明および周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その他の請求項に係る発明について言及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。