(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥領域の発生時、交替領域のブロックに交替してデータを記録し、主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）と２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）とを含む欠陥管理領域（ＤＭＡ）を用いて光記録媒体の欠陥領域を管理する方法において、
フォーマッティング時、主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）により識別される欠陥ブロックの位置情報を主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に登録するとともに、２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）により識別される欠陥ブロックの位置情報を主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）または２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録し、
前記２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）により識別される欠陥ブロックの位置情報は、２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている欠陥ブロックの位置情報と２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されていない欠陥交替ブロックの位置情報とを含み、
前記２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている最後の正常交替ブロックの位置情報の前にこの２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に未登録の位置情報があれば、この未登録の位置情報を前記欠陥交替ブロックの位置情報として推測し、主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に登録することを特徴とする光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【請求項２】
前記ユーザー領域内の欠陥ブロックの位置情報を、まず、欠陥管理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換した後、交替領域内の欠陥ブロックの位置情報を前記主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【請求項３】
前記交替領域内の欠陥ブロックの位置情報をまず、欠陥管理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換した後、ユーザー領域内の欠陥ブロックの位置情報を前記主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【請求項４】
前記ユーザー領域内の欠陥ブロックの位置情報と交替領域内の欠陥ブロックの位置情報とを交互に欠陥管理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【請求項５】
データ記録時、交替ブロックの欠陥可否を確認して、前記交替ブロックに欠陥が発生するときは、その交替ブロックの位置情報を２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録し、フォーマッティング時に主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【請求項６】
欠陥領域の発生時、交替領域のブロックに交替してデータを記録し、主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）と２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）とを用いて光記録媒体の欠陥領域を管理する方法において、
交替されたブロックの欠陥可否を確認する第１のステップと、
前記交替ブロックに欠陥が発生したときは、前記欠陥の発生した交替ブロックの位置の後に位置する利用可能な正常交替ブロックの位置情報が２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている間は、前記欠陥の発生した交替ブロックの位置情報を２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録しない第２のステップと、
２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている欠陥ブロックのデータを検証しないでこの２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）の登録情報を主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換するフォーマッティングモード時に、前記２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている欠陥ブロックの位置情報を主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に登録する第３のステップと
を含み、さらに、フォーマッティングの前に２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されている交替ブロックの位置情報を参照することにより識別される、前記第２のステップで２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されない前記欠陥の発生した交替ブロックの位置情報を主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に登録する第４のステップを含むことを特徴とする光記録媒体の欠陥領域管理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は書換え可能な光記録媒体に関するもので、特に、欠陥領域を管理できる光記録媒体の欠陥領域管理方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、繰り返して再記録できるディスクとしては、書換え可能コンパクトディスク（Rewritable Compact Disc ：ＣＤ−ＲＭ）と書換え可能ディジタル多機能ディスク(Rewritable Digital Versatile Disc：ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ＋ＲＷ）などがある。
【０００３】
このような書換え可能型光ディスの場合は、情報の記録／再生作業が繰り返して行われるが、これによって光ディスクに情報記録のために形成された記録層を構成する混合物の混合比率が、初期の混合比率と異なるようになり、その特性が悪くなり情報の記録／再生時に間違いが発生することがある。
【０００４】
このような現象を劣化というが、この劣化した領域は、光ディスクのフォーマット、記録、再生命令遂行時に欠陥領域（Defect Area)とされる。
また、書換え可能な型光ディスクの欠陥領域は、劣化現象以外にも表面のキズ、塵などの微塵、製作時のミスなどによって発生する。
したがって、前記のような欠陥領域にデータを記録／再生することを防止するためには、その欠陥領域の管理が必要である。
【０００５】
そのために、図１に示すように、光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ）のリードーイン領域とリードアウト領域に欠陥管理領域(Defect Management Area：以下ＤＭＡ）を備え、光ディスクの欠陥領域を管理している。また、データ領域はグループ別に分けて管理するが、各グループは実際のデータが記録されるユーザー領域とユーザー領域に欠陥が発生したときに用いるためのスペア領域とに分かれている。
【０００６】
一般的に一つのディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ）には、四つのＤＭＡが存在するが、二つのＤＭＡはリードーイン領域に存在し、残り二つのＤＭＡはリードーアウト領域に存在する。欠陥領域の管理は重要であるので、データ保護のために四つのＤＭＡに同一の内容が繰り返して記録されている。
ここで、各ＤＭＡは二つのブロックからなり、全体で３２セクタからなる。すなわち、一つのブロックは１６セクタからなる。そして、各ＤＭＡの第１ブロック（ＤＤＳ／ＰＤＬブロックという）はＤＤＳ（Disc Definition Structure)とＰＤＬ(Primary Defect List）とを含み、各ＤＭＡの第２ブロック（ＳＤＬブロックという）はＳＤＬ(Secondary Defect List)を含む。
この際、ＰＤＬは主欠陥（初期欠陥）データ格納部を意味し、ＳＤＬは２次欠陥データ格納部を意味する。
【０００７】
一般的に、ＰＤＬはディスク製作過程で生じた欠陥、そして、ディスクをフォーマット、すなわち、最初のフォーマッティングと再フォーマッティング時に確認されるすべての欠陥セクタのエントリを格納する。ここで、各エントリは図２ａに示すように、エントリタイプと欠陥セクタに対応するセクタ番号とで構成されている。セクタ番号は上がり順番でリストされる。そして、エントリタイプは欠陥セクタの発生原因ごとにリスとされるが、一例としてはＰ−リスト、Ｇ１−リスト、Ｇ２−リストに分類される。
すなわち、ディスク製造業者で生じた欠陥セクタ、例えば、ディスク製作過程で生じた欠陥セクタはＰ−リストに格納し、ディスクのフォーマット時、検証過程（Certification process)の間に発見された欠陥セクタはＧ１−リストに格納し、検証せずにＳＤＬから変換された欠陥セクタはＧ２−リストに格納する。
【０００８】
一方、ＳＤＬはブロック単位でリストされ、フォーマットの後に発生する欠陥領域やフォーマットの間にＰＤＬに格納できなかった欠陥領域のエントリを格納する。各ＳＤＬエントリは、図２ｂに示すように、欠陥セクタが発生したブロックの第１セクタのセクタ番号と、それと交替する交替ブロックの第１セクタのセクタ番号とを格納する。また、ＦＲＭのための１ビットが割り当てられている。その値が０であれば、交替ブロックが割り当てられ欠陥のないことを意味し、１であれば、交替ブロックが割り当てられていないかまたは割り当ての交替ブロックに欠陥があることを意味する。
【０００９】
ディスクを初期化する方法としては、初期フォーマッティングと再フォーマッティングとで分かれるが、一例で、再フォーマッティングはまた初期フォーマッティングのような全体のフォーマッティングと、部分的に初期化を行う部分フォーマッティングと、フォーマット時間の短縮のために、検証なしでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに移すフォーマッティング（ conversion ofＳＤＬ to Ｇ２-リスト）が知られている。Ｐ−リストはどのようなフォーマッティング後にも変化せず、ＳＤＬの欠陥ブロックはＧ２−リストに欠陥セクタとして格納される。したがって、検証されていないのでＧ２リストには正常セクタも含まれ得る。
【００１０】
また、部分フォーマッティングは一例で、図３ａに示すように、フォーマット前のＰ−リストとＧ１-リストのセクタはフォーマット後にもそのままＰ−リストとＧ１−リストに残るが、フォーマット前の旧Ｇ２−リストと旧ＳＤＬにリストされた欠陥ブロックは検証の過程を経る。そして、Ｇ２−リストとＳＤＬ内のエントリをすべて消した後、検証過程で発見された欠陥セクタをＧ１−リストに登録する。これは、Ｇ２−リストやＳＤＬにある欠陥ブロックには、欠陥のないセクタも含まれているからである。
【００１１】
この際、Ｇ１−リストにオーバーフローが発生すると、入りきれなかった残りはまた新たなＳＤＬにリストされ、Ｇ２−リストにはナルデータが挿入される。オーバーフローが発生するのは、ＤＭＡでは、ＰＤＬが１５セクタで構成されるので、ＰＤＬに登録され得るエントリの数が限られているからである。
【００１２】
また、検証せずにＳＤＬをＧ２−リストに変換するフォーマットは、図３ｂに示すように、フォーマット前のＰ−リストとＧ１−リスト、Ｇ２−リスト内のセクタはフォーマット後にもそのままＰ１−リストとＧ１−リスト、Ｇ２−リストに維持される。一方、ＳＤＬエントリは１６ＰＤＬエントリに変換した後、Ｇ２−リストに登録する。このとき、Ｇ２−リストにオーバーフローが発生すると、Ｇ２−リストに登録されなかったＳＤＬの残りのエントリは新たなＳＤＬに残る。
【００１３】
一方、データ領域内の欠陥領域（すなわち、欠陥セクタまたは欠陥ブロック）は正常な領域に交替されるが、交替方法としては、スリップ交替とリニア交替がある。
スリップ交替方法は、欠陥領域がＰＤＬに登録されている場合に適用される方法で、図４ａに示したように、実際のデータが記録されるユーザー領域に欠陥セクタが存在すると、その欠陥セクタを飛ばし、その欠陥セクタの次の正常なセクタにデータを記録する。
従って、データが記録されるユーザー領域は、飛ばした欠陥セクタだけスペア領域に入り込む。たとえば、ＰＤＬのＰ−リストやＧ１−リストに二つの欠陥セクタが記録されてあれば、データはスペア領域へ２セクタだけ押し込まれて記録される。
【００１４】
リニア交替方法は、欠陥領域がＳＤＬに登録されている場合に適用される方法で、図４ｂに示すように、ユーザー領域に欠陥ブロックが存在すると、スペア領域に割り当てられたブロック単位の交替領域に交替されデータを記録する。もし、ＳＤＬに記録された交替ブロックが後で欠陥と判断されると、ダイレクトポインタ方法（Direct pointer method)がＳＤＬ登録に適用される。すなわち、ダイレクトポイント方法により欠陥交替ブロックは新たな交替ブロックに変わり、欠陥交替ブロックが登録されたＳＤＬエントリは新しく変わった交替ブロックの第１セクタのセクタ番号に修正される。
【００１５】
図５、６はこのような過程を示した光ディスクの構造であって、図５ａはディスク上に現れられる欠陥領域および管理状態を示しており、図５ｂないし図６ｉは図５ａに表れた各状態説明のために示されている。すなわち、図５ｂは図５ａのディスクがブロック（＝１６セクタ）単位でモデリングされていることを意味し、図５ｃは欠陥が発生した１セクタがＰＤＬのＰ−リストまたはＧ１−リストに記録されていることを意味する。図５ｄは欠陥が発生した１ブロックの１６セクタすべてがＰＤＬのＧ２−リストに記録されたのを意味する。
図５ｅは欠陥のあるセクタが発見され、そのブロックがＳＤＬに記録されたていることことを意味する。ここで、（１，ｓｂｌｋＡ，０）は、図２ｂのようなＳＤＬエントリを表すが、ＦＲＭ、欠陥ブロックの第１セクタのセクタ番号、交替ブロックの第１セクタのセクタ番号を順次に表している。
【００１６】
図６ｆは、欠陥が発生したデータ領域の１ブロックをスペア領域の他のブロックに交替し、これをＳＤＬエントリに記録した状態を表す。例えば、（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）は欠陥のない交替ブロックが割り当てられており、ユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＢ）に記録されるデータがスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＤ）に交替され記録されることを意味する。
【００１７】
図６ｇはユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）を交替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に欠陥が発見されたときのＳＤＬエントリを示す。従って、このときには、ダイレクトポインタ方法を使用してスペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に変えて新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に対する情報でＳＤＬエントリを修正する。図５ｈはこの過程を表している。そのとき、スペア領域で発見された欠陥ブロックの（ｓｂｌｋＣ）に対する情報は保管せずに捨てる。すなわち、ＳＤＬに残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）と（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）になる。
【００１８】
また、ディスクの論理セクタの数は決められているため、これを考慮してディスクを再フォーマッティングするとき、特に、部分フォーマッティングまたはＳＤＬをＧ２−リストへ移すフォーマッティング過程においてスリップによってスペア領域がユーザー領域に割り当てられ得る。
例えば、５ａのように、データが記録されたディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変える再フォーマッティングを行うとき、スペア領域の欠陥ブロックに対する情報がないので、スペア領域の欠陥ブロックと関係なく決められた論理セクタの数のみを考慮してユーザー領域の欠陥領域、たとえばＰＤＬに新たに登録されるユーザー領域の欠陥セクタや欠陥ブロックだけスペア領域にスリップされてユーザー領域が図６ｉのように割り当てられる。
すなわち、スペア領域のブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロックであるにもかかわらず、ＳＤＬエントリに情報がないため、ユーザー領域の正常ブロックに含まれる。
【００１９】
一方、Ａ／Ｖ用のように実時間記録が必要な場合に対する欠陥領域管理方法が最近提案されている。そのうちの一つがＳＤＬを使用するとき、リニア交替方法を使用しないで、スリップ交替方法と類似なスキッピング方式を使用することがある。すなわち、ＳＤＬ使用時に入力されるデータが実時間記録を必要としない場合には、図７ａのようにリニア交替方法を使用し、実時間記録を必要とする場合には、図７ｃのようにスキッピング方法を使用する。
【００２０】
このとき、図７ａのようにユーザー領域のブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）が欠陥ブロックであり、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）の交替ブロックであったスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥ブロックであって、ユーザ領域のブロック（ｓｂｌｋＡ）がスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＦ）にさらに交替され、ユーザー領域の（ｓｂｌｋＢ）がスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＤ）にさらに交替されたと仮定すると、残りのＳＤＬは図７ｂのように（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）と（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）になる。すなわち、スペア領域で発見された欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の情報は保管せずに無くしてしまう。
【００２１】
そして、７ａのようなディスク状態で、再フォーマッティングせずに実時間記録のため図７ｃのようにスキッピング方式でデータを再記録すれば、スペア領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）はＳＤＬエントリで必要なくなる。また、スキッピング方式で記録されたデータを再生する場合にはスキッピング方式でしなければならない。
この際にもＳＤＬエントリにスペア領域の交替ブロックに対する情報が残るようになれば、リニア交替方法のような方式でデータが再生されて間違った再生が行われるので、スペア領域の交替ブロックに対する情報はＳＤＬエントリから無くなるべきである。
【００２２】
従って、図７ｃのようにデータが記録されたディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変えるフォーマッティングを行うと、スペア領域に対する情報がないため、スペア領域の欠陥ブロックとは関係なく、ユーザー領域の欠陥ブロックだけスペア領域にスリップされてユーザー領域が図７ｄのように割り当てられる。同様に、スペア領域のブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロックであるにもかかわらず、ＳＤＬエントリに情報がないため、ユーザー領域の正常ブロックに含まれる。
【００２３】
従って、前記のように再フォーマッティングされたディスクにスキッピングまたはリニア交替でデータを検証しないで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）がユーザー領域の正常的なブロックに拡張されているので、一応データが記録される。ここで、検証せずにデータのみを記録する場合には、記録時にＳＤＬが作られなく、記録後のデータ再生時にＳＤＬが作られる。
これは、データ再生時にエラーが発生する。すなわち、既にデータが記録されたブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロックであるので、データの再生時、このブロック（ｓｂｌｋＣ）でデータがリードされない確率は非常に大きく、もし、データがリードされなければ、そのブロックに記録されたデータを無くしてしまうことになる。特に、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）にファイルシステム情報のような重要な情報が記録されておれば、この情報を無くしてしまい、使用者に致命的であり得る。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前記のような問題を解決するためのもので、本発明の目的は次のようである。
（１）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤＭＡに格納して、再フォーマット後に発生するエラーを防止する光記録媒体の欠陥領域管理方法を提供する。
（２）再フォーマッティング時にユーザ領域に含まれた交替欠陥ブロックの情報をＤＭＡに登録させ、再フォーマット後に発生するエラーを防止する光記録媒体の欠陥領域管理方法を提供する。
（３）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報を再フォーマット前にＳＤＬエントリにすべて登録させ、再フォーマット後に発生するエラーを防止する光記録媒体の欠陥領域管理方法を提供する。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
上記のような目的を達成するための本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法は、フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロックの情報やスリップによる拡張によりユーザー領域に含まれることになる交替欠陥ブロックの情報を欠陥管理領域（ＤＭＡ）に格納することを特徴とする。
【００２６】
ＤＭＡにオーバーフローが発生しないと、スリップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報はすべてＰＤＬに格納することが望ましい。
ＤＭＡにオーバーフローが発生すると、スリップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報のうち、ＰＤＬに格納されてない情報はＳＤＬに格納することが望ましい。
【００２７】
ユーザー領域の欠陥ブロックの情報はＳＤＬに登録され、交替欠陥ブロックの情報は前記ＳＤＬに登録された交替ブロックから推測が可能であることが望ましい。
【００２８】
ユーザー領域内の欠陥ブロックの情報をＤＭＡ内のＰＤＬに変換した後、交替領域内の欠陥ブロックの情報を前記ＰＤＬに変換することが望ましい。
交替領域内の欠陥ブロックの情報をまず、ＤＭＡ内のＰＤＬに変換した後、 ユーザ領域内の欠陥ブロックの情報を前記ＰＤＬに変換することが望ましい。
ユーザー領域内の欠陥ブロックの情報と交替領域内の欠陥ブロックの情報とを交互にＤＭＡ内のＰＤＬに変換することが望ましい。
【００２９】
オーバーフローはフォーマッティング時、ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックだけではなく、交替領域の推測された欠陥ブロックに対する情報をすべてＰＤＬに格納できない場合に発生するものである。
【００３０】
検証なしでＳＤＬの欠陥ブロックをＰＤＬに変換するフォーマッティング時、ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、交替領域に存在する欠陥ブロックの情報は格納しないことが望ましい。
検証によりＳＤＬの欠陥ブロックをＰＤＬに変換するフォーマッティング時、ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、スリップによって新たにブロック境界が指定された交替領域のうち、未使用交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置情報を新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
【００３１】
ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、スリップによって新たにブロック境界が指定された交替領域のうち、新たなＳＤＬに登録された交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置情報は格納しないことが望ましい。
【００３２】
検証によるフォーマッティング時、交替領域は欠陥のあるブロックに対してのみ検証することが望ましい。
【００３３】
データ記録時に交替されたブロックの欠陥の可否を確認して、交替ブロックに欠陥が発生するときは、その交替ブロックの情報をＳＤＬに格納し、フォーマッティング時にＰＤＬに変換することが望ましい。
【００３４】
データの記録時、欠陥の発生した交替ブロックの情報のみをＳＤＬに格納し、新たに交替させるブロックの情報は格納しないことが望ましい。
【００３５】
本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法は、フォーマッティング時にＳＤＬに登録された欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格納するステップと、ＳＤＬに登録された交替ブロックから推測された交替領域の欠陥ブロックの情報のうち、スリップによる拡張でユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格納するステップとを含むことを特徴とする。
【００３６】
ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、スリップによる拡張でユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報のうち、ＰＤＬに登録されてない欠陥ブロックの情報は、新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
【００３７】
本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法は、交替ブロックの欠陥の可否を確認するステップと、交替ブロックに欠陥が発生するときは、欠陥情報をＳＤＬに格納するステップと、フォーマッティング時にＳＤＬに格納された欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格納するステップとからなることを特徴とする。
【００３８】
フォーマッティングステップでオーバーフローが発生すると、ＰＤＬに変換されてない欠陥ブロックの情報は新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
【００３９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
本発明の目的はスペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤＭＡに格納することにあり、そのＤＭＡに格納する過程を第１ないし第３実施形態それぞれについて説明する。
【００４０】
（第１実施形態）
リニア交替アルゴリズムによるデータの記録時、欠陥ブロックが発見されると、ＳＤＬにスペア領域が順次登録される。ＳＬＤに登録された最後の交替ブロックの前にＳＤＬに登録されていないブロックがあれば、これを欠陥ブロックと推測する。
【００４１】
従って、本発明の第１実施形態は、ＳＤＬをＧ２−リストに変換する再フォーマッティング時、旧ＳＤＬに登録されていたユーザー領域の欠陥ブロックだけではなく、スペア領域の推測された欠陥ブロックもＰＤＬのＧ２−リストに変換する。その際、ＰＤＬのＧ２−リストにオーバーフローが発生すると、ユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックに対する情報のみを新たなＳＤＬエントリに登録させる。すなわち、再フォーマッティングの後、ユーザー領域に含まれないスペア領域の欠陥ブロックは新たなＳＤＬエントリにより推測できるので格納しない。ここで、オーバーフローとは、ＳＤＬに登録されたユーザー領域のエントリだけではなく、ＳＤＬを用いて推測できるスペア領域の欠陥ブロックに対するエントリまでＰＤＬに変換できない場合を言う。
【００４２】
図８はこのような本発明の第１実施形態による欠陥領域管理方法の流れ図であり、図９はユーザー領域で多数の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ〜ｓｂｌｋＧ）が発生し、この欠陥ブロックがスペア領域の欠陥のない交替ブロックに割り当てられる過程を示す。図１０はこのときのＳＤＬエントリを示している。
ここで、ユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の交替ブロック（ｓｂｌｋＨ）が欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）の交替ブロック（ｓｂｌｋＩ）より早い理由は、ｓｂｌｋＣで先に欠陥が発見され交替ブロックが割り当てられた後に、ｓｂｌｋＡで欠陥が発見され交替ブロックが割り当てられたからである。
または、割り当てられた交替ブロックに欠陥が発生してダイレクトポインタ方法により新たな交替ブロックが再割り当てられた場合も同様に後になる。残りのブロックも同様に適用される。
【００４３】
この際、ユーザー領域で七つの欠陥ブロックが発生し、ＳＤＬエントリにユーザー領域の欠陥ブロックとスペア領域の欠陥のない交替ブロックとの情報が図１０のように登録されているので、図１０のＳＤＬエントリを用いてスペア領域における欠陥ブロックを図１１のように推測できる。すなわち、スペア領域の最後の交替ブロックはｓｂｌｋＳであるので、そのブロックの前にＳＤＬエントリに登録されている交替ブロックを除くと、交替欠陥ブロックが求められる。
ここで、図１１は推測だけであり、ＳＤＬには登録されていない。そして、ブロックｓｂｌｋＳの次が、再ホーマッティングの後第１に使用可能なスペア領域になる。
【００４４】
このような状態で検証なしでＳＤＬをＧ２−リストに変換する再フォーマッティングを行う場合、まず、ＰＤＬとＳＤＬとがある旧ＤＭＡ情報を読み込む（ステップ１０１）。そして、図１０のような旧ＳＤＬエントリを１６ＰＤＬエントリに変換した後、これをＰＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０２）。同時に図１１のように推測されたスペア領域の欠陥ブロックの各セクタも１６ＰＤＬエントリに変換した後、これをＰＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０３）。
【００４５】
この際、旧ＳＤＬに登録された欠陥ブロックとスペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬのＧ２−リストに登録する順序は多様であり、これは設計者による。
例えば、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックから順番にＰＤＬのＧ２−リストに登録した後、推測されたスペア領域の欠陥ブロックを登録することもでき、推測されたスペア領域の欠陥ブロックから順番にＧ２−リストに登録した後、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックを登録することもできる。または、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを見ながら同時にＰＤＬのＧ２−リストに登録することもでき、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを交互に登録することもできる。
【００４６】
本発明では、実施形態として旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックから順番にＰＤＬのＧ２−リストに登録した後、スペア領域の推測された欠陥ブロックを登録するとして説明している。
この際、ＰＤＬのＧ２−リストに登録できるエントリの数は制限されるので、オーバーフローが発生し得る（ステップ１０４）。ここで、オーバーフローとは図１０のようにＳＤＬに登録されたエントリだけではなく、図１１のようにスペア領域の推測された欠陥ブロックに対するエントリまでの全てをＰＤＬのＧ２−リストに変換できない場合をいう。
もし、オーバーフローが発生したならば、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとスペア領域の推測された欠陥ブロックとのうち、一部だけがＰＤＬのＧ２−リストに変換される。
【００４７】
例えば、オーバーフローにより図１０のような旧ＳＤＬで三つのエントリのみをＰＤＬのＧ２−リストに変換する場合、再フォーマッティングが完了すると、スリップによって図１２のようにスペア領域のｓｂｌｋＬまでがユーザー領域に含まれる。ここで、ブロックｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫは既に知られている欠陥ブロック、すなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロックであるので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられない。
【００４８】
従って、旧ＳＤＬに残っているエントリ例えば、ｓｂｌｋＤ〜ｓｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリに残っているべきである。この際、スペア領域のスタートブロック位置がｓｂｌｋＮに変わったので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対するスペア領域の交替ブロックは、図１２のように新たに割り当てるべきである。ここでも、ブロックｓｂｌｋＭはすでに知られている欠陥ブロックすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロックであるので、スペア領域のスタートブロックの位置と指定されない。
【００４９】
新たなＳＤＬエントリは（（０，ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＮ）（０、ｓｂｌｋＥ、ｓｂｌｋＯ）（０，ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＱ）（０，ｓｂｌｋＧ、ｓｂｌｋＳ））である。
この際、前記のように、登録されたＳＤＬエントリのみを用いてユーザー領域にデータを検証過程なしで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）がユーザー領域の正常なブロックとして割り当てられているので、一応データが記録される。ここで、検証なしでデータを記録する場合には、記録時にＳＤＬが作られず、記録後のデータ再生時にＳＤＬが作られる。従って、従来技術の問題が同様に発生することができる。
すなわち、既にデータが記録されたブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）が欠陥ブロックであるため、データの記録時、このブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）でデータがリードされない確率は非常に大きく、もし、データがリードされないと、そのブロックに記録されたデータを無くしてしまう。
【００５０】
従って、本発明はユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロックの情報もフォーマッティングの後ＳＤＬエントリに登録する（ステップ１０６）。すなわち、図１２のようにユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロックｓｂｌｋＪはスペア領域の交替ブロックｓｂｌｋＴに交替し、欠陥交替ブロックｓｂｌｋＫはスペア領域の交替ブロックｓｂｌｋＵに交替し、この状態を図１３のＳＤＬエントリに（０，ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＴ）、（０，ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＵ）として追加登録する。
【００５１】
そして、前記のような過程でＳＤＬに欠陥ブロックの情報を登録した後、データを検証なしで記録する場合、ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）はＳＤＬに登録されているので、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）にデータを記録せず各交替ブロック（ｓｂｌｋＴ、ｓｂｌｋＵ）に交替されてデータを記録したり（非実時間記録用データである場合）、それとも、次に来る正常ブロックにスキップしてデータを記録する（実時間記録用データである場合）。
従って、再生時に欠陥ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）の情報を読むことがないので、エラーが発生しない。
【００５２】
この際、再フォーマッティングにより新しく指定されたスペア領域に含まれる欠陥ブロック（ｓｂｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、ｓｂｌｋＲ）に対する情報は、ＳＤＬに記録しない。同様に、図１３のような新たなＳＤＬエントリを用いると、スペア領域の欠陥ブロックを推測できるためである。
【００５３】
一方、図１０のような旧ＳＤＬエントリはすべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されたが、オーバーフローにより、図１１のようにスペア領域の推測された欠陥ブロックのうち、一つの欠陥ブロックのみをＰＤＬのＧ２−リストに変換する場合、再フォーマットが完了すると、スペア領域のｓｂｌｋＴまでがユーザー領域に含まれる。従って、この場合にもフォーマッティングが完了すると、ユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、ｓｂｌｋＲ）とこれを交替する交替ブロック（ｓｂｌｋＴ、ｓｂｌｋＵ、ｓｂｌｋＶ、ｓｂｌｋＷ、ｓｂｌｋＸ）とを新たなＳＤＬエントリに図１４のように登録する。
【００５４】
もし、ステップ１０４でオーバーフローが発生しなかったら、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックおよびスペア領域の推測された欠陥ブロックがすべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されるので、再フォーマッティングの後スペア領域の欠陥ブロックがユーザ領域に割り当てられることはない。
【００５５】
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態は、部分フォーマッティング過程でオーバーフローが発生すると、ユーザー領域に含まれた交替欠陥ブロックまたは使用するスペア領域の欠陥ブロックを新たなＳＤＬエントリに登録する例である。
このとき、新たなＳＤＬにより使用されたスペア領域内の欠陥ブロックに対する情報は新たなＳＤＬエントリにより推測が可能であるので、格納しない。
すなわち、部分フォーマッティング時のスペア領域の欠陥ブロックは次の三つのうちのある一つに含まれる。例えば、ユーザー領域に含まれることもでき、新たなＳＤＬ領域に含まれることもできる。また、以前のＳＤＬでは使用されたが、新たなＳＤＬエントリで用いられてない使用可能なスペア領域に含まれることもできる。
【００５６】
図１５は本発明の第２実施形態による欠陥領域管理方法の流れ図であり、図１６はユーザー領域で多数の欠陥ブロックが発生し、その欠陥ブロックがスペア領域の欠陥のない交替ブロックに割り当てられる過程をフォーマット前とフォーマット後で表している。
すなわち、ＰＤＬのＧ２−リストとＳＤＬとに対して検証の過程を経る部分フォーマッティングを行う場合、まず、ＰＤＬとＳＤＬのある旧ＤＭＡ情報を読む（ステップ２０１）。
【００５７】
そして、旧ＳＤＬとＧ２−リストとに登録された欠陥ブロックを検証する（ステップ２０２）。同時に、スペア領域も検証するが、フォーマット時間の短縮のために、スペア領域は欠陥ブロックに対してのみ検証の過程を経る（ステップ２０３）。この際にもスペア領域の欠陥ブロックは、旧ＳＤＬを利用すると推測できる。
【００５８】
次にＰＤＬのＧ２−リストのエントリと旧ＳＤＬのエントリを消去した後、検証過程の間に発見される欠陥セクタのみをＰＤＬのＧ１−リストに登録する（ステップ２０４）。ここには、スペア領域の推測された欠陥ブロックに含まれた欠陥セクタもＰＤＬのＧ１−リストに登録される。
この際、ＰＤＬのＧ１−リストに登録できるエントリの数も制限されるので、オーバーフローが発生する（ステップ２０５）。ここで、オーバーフローとはフォーマット過程で旧ＳＤＬに登録されたエントリのみならず、スペア領域の推測された欠陥ブロックに対するエントリのすべてをＰＤＬのＧ１−リストに変換できない場合を意味する。
【００５９】
従って、オーバーフローが発生しなかったら、旧ＳＤＬと旧ＰＤＬのＧ２−リストに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックおよびＳＤＬに登録されていないすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロックがすべてＰＤＬのＧ１−リストに変換される。
【００６０】
一方、オーバーフローが発生したならば、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとスペア領域の推測された欠陥ブロックのうちの一部のみがＰＤＬのＧ１−リストに変換される。このとき、旧ＳＤＬに残っているエントリは新たなＳＤＬエントリに登録するが（ステップ２０６）、フォーマッティングによりスペア領域のスタート位置およびブロック境界が新しく変わったので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対するスペア領域の交替ブロックは新たに割り当てられる。
この部分フォーマッティングは、旧ＳＤＬやスペア領域の欠陥ブロックに含まれた欠陥セクタのみがＧ１−リストに変換されるので、フォーマッティング後にユーザー領域に含まれるスペア領域はセクタ単位となる。
【００６１】
もし、オーバーフローにより二つのセクタのみをＰＤＬのＧ１−リストに変換でき、二つのＳＤＬエントリでそれぞれ一つずつ欠陥セクタが発見されたと仮定すると、部分フォーマッティングが完了されると、スリップによりユーザー領域はスペア領域の２セクタまで拡張される。
この際、スペア領域のスタートブロックが欠陥ブロックであり、この欠陥ブロックの第１セクタや２番目のセクタで欠陥があったら、拡張されたユーザー領域の最後のブロックは欠陥のあるブロックになる。すなわち、ユーザー領域に交替欠陥ブロックが含まれる。そして、部分フォーマッティングによりスペア領域に拡張したユーザー領域がセクタ単位であるので、フォーマッティングが完了すると、スペア領域のブロック境界は図１６の（ｃ）のようにセクタ単位、例えば、２セクタずつスリップされて新しく指定される。
【００６２】
従って、部分フォーマットが完了すると、旧ＳＤＬに残っているエントリ例えば、ｓｂｌｋＣ〜ｓｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリに残るべきだが、この際、スペア領域のスタート位置およびブロック境界が再び指定されたので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対するスペア領域の交替ブロックは、図１６の（ｃ）のように新しく割り当てられる。
【００６３】
この際にも同様に、ユーザー領域にデータを検証過程なしで記録すれば、フォーマット前のスペア領域の欠陥ブロックが、フォーマット後にユーザー領域の正常ブロックに割り当てられているので、このブロックに一応データが記録される。従って、後でデータを再生する場合、既に欠陥ブロックにデータが記録されている状態なので、このブロックからデータがリードされない確率は非常に大きく、もし、データがリードされないと、そのブロックに記録されたデータを無くしてしまうことになる。
【００６４】
従って、この場合にも、部分フォーマットによりユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロックの位置情報のうち、ＰＤＬのＧ１−リストに変換してない情報はフォーマッティング後に新たなＳＤＬエントリに登録する（ステップ２０７）。
すると、前記のような部分フォーマッティングによりデータを検証なしで記録する場合、ＳＤＬに登録された欠陥ブロックにはデータを記録せず交替ブロックに交替されてデータを記録したり（非実時間記録用データである場合）、又は、次に来る正常ブロックに飛ばしてデータを記録する（実時間記録用データである場合）ので、再生時に欠陥ブロックの情報を読み込む必要がなく、エラーが発生しない。
【００６５】
また、フォーマット後に、ユーザー領域に含まれないスペア領域の欠陥ブロックの第１セクタと２番目セクタではない所で、図１６の（ｂ）のように欠陥セクタが発見されたならば、フォーマット後のスペア領域のブロックは図１６の（ｃ）のように再割り当てられる。すなわち、フォーマット前の欠陥ブロックの先頭部分と重なるフォーマット後のスペア領域のブロックは欠陥のないブロックになる。もし、重なる部分に欠陥セクタが存在したなら、そのブロックは欠陥のあるブロックになる。これは一つのセクタでのみ欠陥が発見されてもそのブロック全体を欠陥のあるブロックとして見るためである。
例えば、部分フォーマッティング過程でスペア領域の欠陥ブロックに対する検証が終わると、欠陥ブロックを組み合わせることも分離することもできるが、通常欠陥ブロックの数は少なくなる。
【００６６】
従って、フォーマット前には使用されていたスペア領域が、フォーマット後にユーザー領域の欠陥ブロックがすべて交替されても、使用するスペア領域、すなわち、未使用スペア領域として残ることができる。すなわち、新たなＳＤＬエントリの交替ブロックの最も大きな値が旧ＳＤＬエントリの交替ブロックの最も大きな値より小さくできる。
例えば、図１６の（ｃ）を見ると、使用するスペア領域に欠陥ブロックが含まれていることが分かる。この際には、新たなＳＤＬに登録された最後の交替ブロック以後で欠陥が発生したため、新たなＳＤＬを見て前記欠陥ブロックを推測することはできない。従って、検証なしでデータを記録する場合は、前記で言及された問題が一様に発生する。
【００６７】
従って、この場合も欠陥ブロックにデータを記録できないように、新たなＳＤＬエントリに欠陥ブロックに対する情報を登録させる（ステップ２０８）。登録させる方法としては、欠陥状態のみを登録させることもでき、欠陥ブロックと交替ブロックとを一緒に登録させることもできる。
また、この際にも既に新たなＳＤＬで使用されたスペア領域内の欠陥ブロックは新たなＳＤＬを利用して推測できるので、この時の欠陥ブロックに対する情報はＳＤＬに格納しない。
【００６８】
（第３実施形態）
本発明の第３実施形態はスペア領域の欠陥のある交替ブロックに対する情報をフォーマット前にＳＤＬエントリに全て記録する。した後、その欠陥のある交替ブロックに対する情報を登録したＳＤＬを再フォーマッティング時にＰＤＬのＧ２−リストに変換する。この際、従来と互換性を維持するのが非常に重要であるので、欠陥のある交替ブロックに対する情報をＳＤＬに登録する。
【００６９】
このような本発明の第３実施形態は、スペア領域に対する情報を無くしてしまったり、残っていない状態、例えば、スキッピング方式により実時間記録された光ディスクを再フォーマッティングするとき効果的である。特に、旧ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロックを推測できない場合に効果的である。
【００７０】
そのために、まず、リニア交替アルゴリズムを用いてデータを記録するうちに、前記した図６ｇのようにユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）を交替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に欠陥が発見されると、図１７ａのように、欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬエントリ（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）を修正しながら、欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も別のＳＤＬエントリ（一例で、１，ｓｂｌｋＣ、０）に登録する。
前記ＳＤＬエントリの（１，ｓｂｌｋＣ、０）のうち、１は交替ブロックが割り当ててないことを意味する。すなわち、スペア領域で発見された欠陥ブロックの（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も登録するので、ＳＤＬに残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）と、（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）と、（１，ｓｂｌｋＣ、０）とになる。
【００７１】
従って、ＳＤＬを検証なしでＰＤＬのＧ２−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）のみならず、スペア領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の情報も移す。故に、再フォーマッティング後にスリップにより割り当てられるユーザー領域は、決められた論理セクタの数を考慮して、図１７ｂに示すように、スペア領域のブロック（ｓｂｌｋＥ）までになる、すなわち、スペア領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）は欠陥領域としてＰＤＬに登録されるので、スリップ時、ユーザー領域に割り当てられない。もし、ＰＤＬのＧ２−リストにオーバーフローが発生すると、スペア領域の欠陥ブロックの情報を含む旧ＳＤＬに残っているエントリは、新たなＳＤＬに交替ブロックが再割り当てられ登録される。
【００７２】
そして、前記のような過程で再フォーマッティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブロック（ｓｂｌｋＣ）はＰＤＬのＧ２−リストに記録されているので、ブロック（ｓｂｌｋＣ）にデータを記録せずに、次に来る正常ブロックにスキッピングしてデータを記録する。
従って、再生時にもそのＰＤＬ情報によって欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）ではデータを読まないので、このブロック（ｓｂｌｋＣ）により発生するエラーはない。
【００７３】
一方、Ａ／Ｖ用のように実時間記録が必要であってＳＤＬを使用するときにスキッピング方式でデータを記録する場合にも同一に適用される。
すなわち、図７ａのようにユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）を交替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に欠陥が発見されると、図１８ａにように、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＤ）に変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬエントリ（（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）、（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ））を各々修正しながら欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に対する情報も捨てずに別のＳＤＬエントリ（一例で、（１，ｓｂｌｋＣ、０）、（１，ｓｂｌｋＥ、０））に登録する。
【００７４】
それから、図７ａのようなディスク状態で再フォーマッティングなしで実時間記録のため、図７ｃのようにスキッピング方式でデータを再記録する場合、スペア領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）はスキッピング方法による再生などのためにＳＤＬエントリで無くし、スペア領域の欠陥交替ブロックに対する情報（例えばｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）はそのまま維持させる。一例としては、ＳＤＬエントリには（１、ｓｂｌｋＡ、０）、（1、ｓｂｌｋＢ、０）、（１，ｓｂｌｋＣ、０）、（１、ｓｂｌｋＥ、０）が残るようになる。
【００７５】
従って、ＳＤＬを検証なしで、ＰＤＬのＧ２−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｋｌＡ、ｓｂｌｋＢ）のみならず、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の情報も移すので、再フォーマッティング後にスリップにより割り当てられるユーザー領域は、図１８ｂに示すように、既に決められる論理セクタの数を考慮してスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＦ）までになる。すなわち、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥セクタとしてＰＤＬに登録されるので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられない。
【００７６】
そして、前記のような過程で再ファーマッティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の位置情報はＰＤＬのＧ２−リストに登録されているので、ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）にデータを記録せず、次に来る正常ブロック（ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）にスキッピングしてデータを記録する。
従って、再生時にもＰＤＬ情報によって欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）ではデータを読まないので、このブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）により発生するエラーはない。
【００７７】
このように、本発明の第３実施形態は、スペア領域の情報がＳＤＬエントリに残っていない場合、フォーマット前にスペア領域の欠陥ブロックに対する情報をＳＤＬエントリにすべて記録することで、再フォーマッティング時に前記スペア領域の欠陥ブロックがユーザー領域の正常ブロックに割り当てられる問題を防止する。
【００７８】
【発明の効果】
上述したように、本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法によれば、ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロックに対して推測が可能な場合には、検証なしでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変換する再フォーマッティング時に旧ＳＤＬに登録された欠陥ブロックとスペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬに変換するときに、オーバーフローが発生すると、スリップによってユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックのうち、ＰＤＬに登録されてない情報を新たなＳＤＬエントリに格納する。また、検証の過程を経る部分フォーマッティング時にオーバーフローが発生すると、ユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報のうちＧ１−リストに変換されてない情報と使用するスペア領域の欠陥ブロックの情報とを新たなＳＤＬエントリに格納することで、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止することができる。
【００７９】
また、ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロックに対する推測が不可能な場合には、データ記録時、スペア領域の欠陥ブロックに対する情報をＳＤＬに別に登録し、再フォーマッティング過程で欠陥ブロックに対する情報もＰＤＬに記録することで、既存の方式と互換性を維持しながら、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止できる。特に、スペア領域の欠陥ブロックに対する情報を推測できない場合に有効である。
【００８０】
以上で説明した内容から、当業者ならば本発明の技術思想を越えない範囲で多様な変更および修正が可能であることが分かるだろう。
従って、本発明の技術的範囲は、実施形態に記載の内容に限られるのでなく、特許請求の範囲により決められるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的な光ディスクのデータ領域を示す図。
【図２】一般的なＰＤＬエントリ（ａ）と、ＳＤＬエントリ（ｂ）の構造を示す図。
【図３】一般的なフォーマッティング方法のうち、部分フォーマッティング方法を示す図（ａ）と、検証なしでＳＤＬリストをＧ２−リストに変換する方法を示す図（ｂ）。
【図４】一般的なスリップ交替方法（ａ）と、リニア交替方法（ｂ）を示す図。
【図５】一般的な光ディスクで表す欠陥領域の管理や再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
【図６】一般的な光ディスクで表す欠陥領域の管理や再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
【図７】実時間記録のためのデータ記録時の欠陥領域の管理や再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
【図８】本発明の第１実施形態による光記録媒体の欠陥領域管理方法を示す流れ図。
【図９】図８でユーザー領域の欠陥ブロックがスペア領域の交替ブロックに交替される過程をディスク上で示す図。
【図１０】図９の交替過程でＳＤＬエントリに残る情報の一例を示す図。
【図１１】図９の交替過程においてＳＤＬエントリを用いてスペア領域の推測された欠陥ブロックの情報に対するエントリの一例を示す図。
【図１２】図７で再フォーマッティングによってユーザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域の欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられる例をディスク上で示す図。
【図１３】図１２の再フォーマッティング後、新たなＳＤＬエントリに登録される情報の一例を示す図。
【図１４】図１２の再フォーマッティング後、新たなＳＤＬエントリに登録される情報の他の例を示す図。
【図１５】本発明の第２実施形態による光記録媒体の欠陥領域管理方法を示す流れ図。
【図１６】図１５で再フォーマッティングによってユーザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域の欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられる例をディスク上で示す図。
【図１７】本発明の第３実施形態による光記録媒体の欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の一例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領域管理方法によって再フォーマッティングされたディスク状態の一例（ｂ）を示す図。
【図１８】本発明の第３実施形態による光記録媒体の欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の他の例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領域管理方法によって再フォーマッティングされたディスク状態の他の例（ｂ）を示す図。
【図１】
0003542744.tif 000002
【図２】
0003542744.tif 000003
【図３】
0003542744.tif 000004
【図４】
0003542744.tif 000005
【図５】
0003542744.tif 000006
【図６】
0003542744.tif 000007
【図７】
0003542744.tif 000008
【図８】
0003542744.tif 000009
【図９】
0003542744.tif 000010
【図１０】
0003542744.tif 000011
【図１１】
0003542744.tif 000012
【図１２】
0003542744.tif 000013
【図１３】
0003542744.tif 000014
【図１４】
0003542744.tif 000015
【図１５】
0003542744.tif 000016
【図１６】
0003542744.tif 000017
【図１７】
0003542744.tif 000018
【図１８】
0003542744.tif 000019