(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
中央処理装置と回線制御装置とを含む交換機に、複数の試験セル発生装置を設け、該試験セル発生装置からの試験セルによって交換機の試験を行う試験制御方法に於いて、
前記中央処理装置の負荷値を計測し、計測した負荷値が予め設定した規制負荷値を超えないように、前記試験セル発生装置の使用台数を算出し、算出された使用台数の試験セル発生装置を同時に使用して前記交換機の試験を行う過程を含む
ことを特徴とする交換機の試験制御方法。
【請求項２】
前記規制負荷値として、規制開始負荷値と試験中止負荷値とを設定し、前記中央処理装置の負荷値が、前記規制開始負荷値を超えない範囲で前記試験セル発生装置の使用台数が多くなるように選択し、且つ前記規制開始負荷値を超えた時に前記試験中止負荷値を超えない範囲で前記試験セル発生装置の使用台数を最小台数として前記交換機の試験を継続する過程を含むことを特徴とする請求項１記載の交換機の試験制御方法。
【請求項３】
前記中央処理装置の負荷値が前記試験中止負荷値を超えた時に試験を中止し、所定のタイミングで前記中央処理装置の負荷値が低下したか否かを判定し、低下した時に試験を再開する過程を含むことを特徴とする請求項１又は２記載の交換機の試験制御方法。
【請求項４】
前記中央処理装置の負荷値が前記規制開始負荷値を超えない範囲で、前記試験セル発生装置の使用台数が最大となるように選択し、該試験セル発生装置の使用台数が最小の時点で、前記中央処理装置の負荷値が前記規制開始負荷値を超えた時に、試験を一時中止する過程を含むことを特徴とする請求項１記載の交換機の試験制御方法。
【請求項５】
前記交換機の試験時に使用する前記試験セル発生装置の最大台数及び最小台数と、前記規制開始負荷値及び前記試験中止負荷値とを登録し、前記中央処理装置の負荷値を計測し、該負荷値と前記規制開始負荷値及び前記試験中止負荷値と比較して前記試験セル発生装置の使用台数を前記最大台数と前記最小台数との間の台数に選定する過程を含むことを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項記載の交換機の試験制御方法。
【請求項６】
重要ルート実施制御モード及び重要ルートを設定し、前記中央処理装置の負荷値が前記規制開始負荷値を超えた時に、前記重要ルート実施制御モードが重要ルート優先実施の場合に、設定した重要ルートの試験を優先させ、重要ルートのみ実施の場合に、設定した重要ルートのみについて試験を実行する過程を含むことを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項記載の交換機の試験制御方法。
【請求項７】
前記試験セル発生装置の使用台数が最小台数で、且つ前記中央処理装置の負荷値が前記規制開始負荷値を超えた時に、前記重要ルート実施制御モードが重要ルート優先実施の場合に、設定した重要ルートの試験を優先させ、重要ルートのみ実施の場合に、設定した重要ルートのみについて試験を実行する過程を含むことを特徴とする請求項６記載の交換機の試験制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、交換機内で折返試験を行う交換機の試験制御方法に関する。
近年、ＬＡＮ間相互接続，大容量ファイル伝送，高速高精度ファクシミリ伝送等の高速データ通信や、テレビ会議，テレビ電話，ケーブルテレビ等の映像・音声通信等に対して、それぞれ各種の要求が生じている。又データ，音声，映像の組合せによるマルチメディア通信も普及し、このような各種の通信方式に適用できる広帯域ＩＳＤＮ交換機（ＡＴＭ交換機）の需要が高まっている。このＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ  ）交換機を定期的に試験して正常性を確保することが要望されている。
【０００２】
【従来の技術】
各種データ，音声信号，映像信号等をセル化して伝送するＡＴＭ方式に於いては、４８バイトの情報フィールドと５バイトのヘッダとからなる５３バイトのセルを用いるものであり、このセルを交換処理する交換機は、各部を制御する中央処理装置と、回線対応部及びスイッチ部を含む回線制御装置とからなり、加入者セルは、ヘッダの仮想パス識別子（ＶＰＩ）と仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）とに対応したルートが回線対応部とスイッチ部とに形成されて透過される。
【０００３】
又交換機の正常性を確認する為に試験セルを通過させ、正常に通過したか否かを判定することになるが、この試験セルを発生する専用の試験セル発生装置を設け、中央処理装置から試験セル発生装置を起動し、この試験セル発生装置で発生した試験セルを、指定した折返個所で折返して抽出することにより、試験セルが指定ルートを正常に通過した否かを検出して中央処理装置に報告し、正常に通過した場合は、その指定ルートは正常であると判定する。この場合の折返試験セルのセルロス，セルエラー，ビットエラー等の検出を行うことにより、試験セルが正常に通過した否かを判定する。
【０００４】
このような試験を、少なくとも一定期間毎に交換機内の全ルートについて行う必要があるが、その場合、交換機内のルート数が非常に多数となる。例えば、スイッチ部は複数段構成を有し、各段に於ける交点数も多数であるから、各交点を通過するルート数は段数が多くなればなる程多数となる。従って、全ルートについて試験セルを通過させて折返すことによる試験は、比較的長時間を要するものであった。
【０００５】
そこで、複数の試験セル発生装置を設け、試験時に複数のルートについて折返個所を指定し、複数の試験セル発生装置を起動してそれぞれ試験セルを発生させて、指定された折返個所で折返した試験セルを抽出することにより、複数のルートについて並列的に試験を行わせて、試験所要時間の短縮を図る試験方法が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
交換機の中央処理装置は、回線制御装置を制御して、呼の接続，切断等の制御を行うと共に、前述のように、複数の試験セル発生装置を起動して全ルートについて定期的な試験の制御も行うものである。その為に、次のような問題点があった。
１）．呼の接続，切断の多発により中央処理装置の負荷が大きい時に、複数の試験セル発生装置を起動して定期試験を実行した場合、中央処理装置の負荷が更に増大し、輻輳状態となる可能性が大きい。
２）．定期試験中は、中央処理装置に於いて固定負荷が継続することになり、定期試験中に呼の接続，切断が多発すると、中央処理装置の負荷が大きくなって輻輳を引き起こす可能性がある。
３）．呼の接続，切断により中央処理装置の負荷が長時間大きい時に、複数の試験セル発生装置を起動して定期試験を行うと、中央処理装置の負荷が更に増大して輻輳状態となり、その結果、定期試験が予定時刻までに完了しないでキャンセルされる。それにより、重要ルートに対する定期試験が実行されない場合が生じ、正常性の確認ができないことがある。
本発明は、中央処理装置の負荷状態と関連して試験セル発生装置の使用台数を選択し、輻輳を発生させることなく、試験を実行できるようにし、且つ重要ルートについては優先的に試験を実行させることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の交換機の試験制御方法は、（１）中央処理装置３１と回線制御装置３２とを含む交換機に、複数の試験セル発生装置を設け、この試験セル発生装置からの試験セルによって交換機の試験を行う試験制御方法に於いて、中央処理装置３１の負荷値を計測し、この計測した負荷値が予め設定した規制負荷値を超えないように、試験セル発生装置の使用台数を算出し、この算出された使用台数の試験セル発生装置を同時に使用して交換機の試験を行う過程を含むものである。従って、中央処理装置３１の負荷値が小さい場合に、試験セル発生装置の使用台数を多くして試験所要時間を短縮し、中央処理装置３１の負荷値が大きい場合に、試験セル発生装置の使用台数を少なくして、中央処理装置３１が輻輳状態とならないように、試験セル発生装置の使用台数を選定して交換機の試験を行う。
【０００８】
又（２）規制負荷値として、規制開始負荷値と試験中止負荷値とを設定し、中央処理装置３１の負荷値が、規制開始負荷値を超えない範囲で試験セル発生装置の使用台数が多くなるように選択し、且つ規制開始負荷値を超えた時に試験中止負荷値を超えない範囲で、試験セル発生装置の使用台数を最小台数として、交換機の試験を継続する過程を含むことができる。
【０００９】
又（３）中央処理装置３１の負荷値が、試験中止負荷値を超えた時に試験を中止し、所定のタイミングで中央処理装置３１の負荷値が低下したか否かを判定し、低下した時に試験を再開する過程を含むことができる。
【００１０】
又（４）中央処理装置３１の負荷値が、規制開始負荷値を超えない範囲で、試験セル発生装置の使用台数が最大となるように選択し、この試験セル発生装置の使用台数が最小の時点で、中央処理装置３１の負荷値が、規制開始負荷値を超えた時に、試験を一時中止する過程を含むことができる。
【００１１】
又（５）交換機の試験時に使用する試験セル発生装置の最大台数及び最小台数と、規制開始負荷値及び試験中止負荷値とを登録し、中央処理装置３１の負荷値を計測し、この負荷値と前記規制開始負荷値及び前記試験中止負荷値と比較して、試験セル発生装置の使用台数を、最大台数と最小台数との間の台数に選定する過程を含むことができる。
【００１２】
又（６）重要ルート実施制御モード及び重要ルートを設定し、中央処理装置の負荷値が規制開始負荷値を超えた時に、重要ルート実施制御モードが重要ルート優先実施の場合に、設定した重要ルートの試験を優先させ、重要ルートのみ実施の場合に、設定した重要ルートのみについて試験を実行する過程を含むことができる。それによって、中央処理装置の負荷値が増大している状態に於ける試験に於いても、重要ルートについての試験を行うことが可能となる。
【００１３】
又（７）試験セル発生装置の使用台数が最小台数で、且つ中央処理装置の負荷値が規制開始負荷値を超えた時に、重要ルート実施制御モードが重要ルート優先実施の場合に、設定した重要ルートの試験を優先させ、重要ルートのみ実施の場合に、設定した重要ルートのみについて試験を実行する過程を含むことができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の原理説明図であり、中央処理装置３１と回線制御装置３２とによる交換機の要部を示し、３３は回線制御部、３４は定期試験実行部、３５はスイッチ部、３６は回線対応部、３７は試験セル発生装置を示す。この試験セル発生装置３７は複数設けられている。交換機の試験に任意の時点で行うことができるものであるが、以下予め設定した時刻に試験を開始する定期試験の場合について説明する。
【００１５】
又中央処理装置３１の回線制御部３３は、回線制御装置３２のスイッチ部３５や回線対応部３６を制御するものであり、このような呼制御やその他の制御に伴った中央処理装置３１の負荷値、例えば、単位時間内の処理数等の使用率によるシステム負荷値を回線制御部３３に於いて計測する。又試験セル発生装置３７を用いた試験過程に於ける中央処理装置３１の負荷値も併せて計測される。
【００１６】
又定期試験実行部３４は、定期的に試験セル発生装置３７に試験指示を送出し、試験セル発生装置３７からの試験セルをスイッチ部３５，回線対応部３６の指定折返個所から折返すことにより、導通試験や交点試験を行うものである。その場合に、システム負荷値が、予め設定した規制負荷値を超えないように試験セル発生装置３７の使用台数を算出し、その算出された台数の試験セル発生装置３７を同時に使用して試験を行うものである。
【００１７】
又システム負荷値が規制負荷値を超える状態の場合は、試験セル発生装置３７の使用台数を少なくして、中央処理装置３１の負荷値の増加を抑制する。又中央処理装置３１が輻輳状態となれば、試験は中止する。又重要ルートを設定し、中央諸多装置３１の負荷値が増加した場合でも、重要ルートについての試験を行うように制御することができる。
【００１８】
図２は本発明の実施の形態の台数制御の説明図であり、縦軸は試験セル発生装置台数、横軸はシステム負荷値Ｓを示し、前述の中央処理装置３１の呼制御や試験時の制御による単位時間内の処理数等を計測した中央処理装置３１の負荷値、即ち、システム負荷値Ｓに対応して、使用し得る試験セル発生装置の台数の関係の一例を示す。
【００１９】
この場合、定期試験規制開始システム負荷値をＸ、１台の試験セル発生装置を使用して試験を実行した時に発生するシステム負荷値をα、輻輳レベルのシステム負荷値をＦ、計測したシステム負荷値をＳ、定期試験に使用可能の試験セル発生装置の最大台数をＭＡＸ、使用可能の最小台数をＭＩＮとすると、計測したシステム負荷値Ｓが、
Ｓ≦Ｘ−α×ＭＩＮ                                        …（１）
の場合、定期試験に使用する試験セル発生装置の台数ＴＳ１は、
ＴＳ１＝（Ｘ−Ｓ）／α                                    …（２）
とする。但し、最大台数ＭＡＸが上限であり、整数値をとるものとする。
【００２０】
又計測したシステム負荷値Ｓが、
Ｘ−α×ＭＩＮ＜Ｓ≦Ｆ−α×ＭＩＮ                        …（３）
の場合、定期試験に使用する試験セル発生装置の台数ＴＳ２は、
ＴＳ２＝ＭＩＮ                                            …（４）
とする。即ち、試験セル発生装置の使用可能の最大台数ＭＡＸと最小台数ＭＩＮとの間の台数を使用して交換機の試験を行うことになる。
【００２１】
又計測したシステム負荷値Ｓが、
Ｆ−α×ＭＩＮ＜Ｓ                                        …（５）
の場合、即ち、輻輳レベルのシステム負荷値Ｆより小さいＦ−α×ＭＩＮのシステム負荷値を、試験中止負荷値とした場合に相当し、この試験中止負荷値を超えると、定期試験を中止し、所定のＷ時間後に、（１）又は（３）式の条件を満たすか否かを判定し、満たす場合は定期試験を再開し、満たさない場合は、所定のＲ回リトライし、それでも満たさない場合は、定期試験の実行をスキップする。又輻輳レベルのシステム負荷値Ｆを試験中止負荷値とすることもできる。
【００２２】
図２に於いては、計測したシステム負荷値Ｓが増大するに従って、試験セル発生装置の台数を最大台数ＭＡＸから次第に台数を低減し、（３）式の条件となると、最小台数ＭＩＮに低減して定期試験を実行し、計測したシステム負荷値Ｓが、Ｘ−α×ＭＩＮを超えると、定期試験を中止する場合を示している。従って、複数の試験セル発生装置を設けて定期試験を行う構成に於いて、システム負荷値Ｓが小さい時は、試験セル発生装置の使用台数を多くして、試験所要時間の短縮を図り、システム負荷値Ｓが大きくなった時は、試験セル発生装置の使用台数を少なくして、中央処理装置の輻輳発生を回避することができる。
【００２３】
図３は本発明の実施の形態の輻輳レベルまで試験実行継続の説明図であり、規制負荷値として、規制開始負荷値と試験中止負荷値とを設定して交換機の試験に於ける試験セル発生装置の使用台数の選定を行うと共に、輻輳発生を回避して、呼制御の継続を可能とするものであり、規制開始負荷値として定期試験規制開始システム負荷値Ｘ、試験中止負荷値として輻輳レベルのシステム負荷値Ｆをそれぞれ設定し、試験セル発生装置の最大台数ＭＡＸと最小台数ＭＩＮとを設定した場合に於いて、システム負荷値Ｓが、定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えない範囲では、試験セル発生装置の台数を最大台数ＭＡＸとして試験を実行する。従って、短時間で試験を終了することができる。又システム負荷値Ｓが増加して定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えると、試験セル発生装置の台数を低減して、システム負荷値Ｓが定期試験によって増加することを回避する。
【００２４】
しかし、それによっても呼制御等の負荷増加によりシステム負荷値Ｓが定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超える状態の場合、順次試験セル発生装置の台数を低減する。この試験セル発生装置の台数が最小台数ＭＩＮ（例えば、１台）となると、システム負荷値Ｓが定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えても試験実行を継続する。そして、システム負荷値Ｓが増加して輻輳レベルのシステム負荷値Ｆを超えると、試験を中止する。即ち、システム負荷値Ｓが試験中止負荷値を超えることになるから、試験を中止して、システム負荷値Ｓが輻輳レベルを超えないようにする。従って、システム負荷値Ｓが増加する場合には、定期試験時の試験セル発生装置の使用台数は実線矢印で示すように変化することになる。
【００２５】
又定期試験開始時点で試験セル発生装置の台数を最小台数ＭＩＮとした場合、輻輳レベルのシステム負荷値Ｆとなり、その後、システム負荷値Ｓが減少した時は、定期試験規制開始システム負荷値Ｘ以下にシステム負荷値Ｓが減少するまで、最小台数ＭＩＮで定期試験を継続する。そして、システム負荷値Ｓが定期試験規制開始システム負荷値Ｘ以下になると、順次試験セル発生装置の台数を増加する。それによっても、システム負荷値Ｓが定期試験規制開始システム負荷値Ｘ以下となると、試験セル発生台数を最大台数ＭＡＸとする。即ち、点線矢印で示すように、定期試験時の試験セル発生装置の使用台数が変化することになる。
【００２６】
従って、システム負荷値Ｓが定期試験中に増加する場合も減少する場合も、輻輳レベルのシステム負荷値Ｆを超えないように定期試験を継続し、且つ定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えないように、試験セル発生装置の台数をできるだけ多く使用できるように制御し、システム負荷値Ｓが小さい時は試験セル発生装置の台数を最大台数として、試験所要時間を短縮することができる。
【００２７】
図４は本発明の実施の形態の輻輳レベル前に試験を中止する場合の説明図であり、規制負荷値として、規制開始負荷値と試験中止負荷値とを設定して交換機の試験に於ける試験セル発生装置の使用台数の選定を行うと共に、輻輳発生を回避して、呼制御の継続を可能とするものであり、この場合、規制開始負荷値と試験中止負荷値とを同一の値とした場合に相当する。なお、Ｆは輻輳レベルのシステム負荷値を示す。
【００２８】
又前述の場合と同様に、規制開始負荷値として定期試験規制開始システム負荷値Ｘを設定し、中央処理装置の負荷値を計測したシステム負荷値Ｓが、定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えない範囲では、前述の場合と同様に、試験セル発生装置の台数を最大台数ＭＡＸとして試験を実行する。そして、システム負荷値Ｓが増加して定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超える状態となると、試験セル発生装置の台数を低減する。
【００２９】
そして、試験セル発生装置の台数を低減し、最小台数ＭＩＮ（例えば、１台）としてもシステム負荷値Ｓが増加する場合は、試験を中断する。従って、システム負荷値Ｓが次第に増加する場合の試験セル発生装置の台数は実線矢印で示すように変化する。反対に、試験開始に於いて、定期試験規制開始システム負荷値Ｘからシステム負荷値Ｓが次第に減少する場合は、点線矢印で示すように、試験セル発生装置の台数が変化する。
【００３０】
従って、システム負荷値Ｓが定期試験中に増加する場合も減少する場合も、定期試験規制開始システム負荷値Ｘを超えないように試験セル発生装置の台数を制御し、輻輳レベルのシステム負荷値Ｆに近づく前に定期試験を中止して、中央処理装置による呼制御等に影響を与えてないようにすることができる。又システム負荷値Ｓが小さい場合は、試験セル発生装置の台数を増加して、試験所要時間を短縮することができる。
【００３１】
図５は本発明の実施の形態の機能ブロック図であり、１はコマンド受付部、２は定期試験スケジュールデータ設定部、３は定期試験スケジュール制御部、４は定期試験実行制御部、５は同時試験数算出処理部、６は定期試験用ＣＰＵ負荷の周期監視処理部、７は実行判定処理部、８は負荷監視部、９は試験実行シナリオ制御部、１０は試験実行処理部、１１は試験セル発生装置、１２は保守用端末、１３は重要ルート実施制御部、１４は重要ルートシナリオソート部、１５は試験シナリオ実行処理部、１６は試験処理部、１７はスイッチ部、１８は回線対応部、２１は定期試験スケジュールデータ、２２は試験制御情報、２３は試験実行シナリオ、３１は中央処理装置（ＣＰＵ）、３２は回線制御装置を示す。
【００３２】
図５に於いては、図１に於ける中央処理装置３１と回線制御装置３２との機能を示し、回線制御部３３の機能は図示を省略している。又試験セル発生装置１１は複数設けるものであるが、簡略化の為に１台のみ図示している。又点線枠内の定期試験スケジュールデータ２１と試験制御情報２２と試験実行シナリオ２３とは、図示を省略したメモリ等に格納されたデータを示す。
【００３３】
保守用端末１２から定期試験スケジュール登録コマンドを保守者が投入する。その際、定期試験開始時刻，定期試験規制開始システム負荷値（規制開始負荷値），定期試験中止システム負荷値（試験中止負荷値），試験セル発生装置の使用最大台数ＭＡＸ，定期試験規制開始システム負荷値超過時の試験セル発生装置使用最小台数ＭＩＮ，定期試験中止開始システム負荷値超過時の待ち合わせ時間を指定する。又重要ルート実施制御モードと重要ルート指定とを含めて入力することができる。これらの入力コマンドはコマンド受付部１から定期試験スケジュールデータ処理部２に転送されて、図示を省略したメモリに登録される。
【００３４】
定期試験スケジュール制御部３は、定期試験スケジュールデータ設定部２より通知された開始時刻を監視し、定期試験開始時刻になった時に、定期試験実行制御部４を起動する。定期試験実行制御部４は、試験実行条件をチェックする。例えば、複数の試験セル発生装置１１の状態をチェックして、使用可能な試験セル発生装置１１を抽出する。
【００３５】
又負荷監視部８は、実行判定処理部７からの要求に従って中央処理装置３１の使用率等による負荷値を求めて応答する。又同時試験数算出処理部５は、定期試験実行制御部４が起動されて試験を実行する時に、同時試験数を求めるものであり、それによって、試験セル発生装置１１の使用台数が選定される。
【００３６】
図６及び図７は本発明の実施の形態の定期試験実行処理シーケンス説明図であり、３〜１０は図５に於ける定期試験スケジュール制御部３，定期試験実行制御部４，同時試験数算出処理部５，周期監視処理部６，実行判定処理部７，負荷監視部８，試験実行シナリオ制御部９，試験実行処理部１０を示す。以下図５も参照して定期試験実行処理のシーケンスを説明する。
【００３７】
定期試験スケジュール制御部３は、前述のように時刻を監視しており、定期試験開始の例えば午前０時の定刻に定期試験実行制御部４を起動する。定期試験実行制御部４は、前述のように、試験実行条件をチェックする。この場合、使用可能な試験セル発生装置（ＢＴＳＵ）１１を抽出し、同時試験数算出部５を起動し、同時試験数算出要求を行う。同時試験数算出部５は、周期監視処理部６を起動し、現在の中央処理装置（ＣＰＵ）の使用率に基づく試験処理の同時実行数を求める。周期監視処理部６は、起動された時点から定期試験終了までの間、一定時間単位毎に実行判定処理部７を起動し、試験実行数の算出／制御を依頼し、その応答情報を分析し、その結果を試験制御情報２２に随時登録する。
【００３８】
実行判定処理部７は、負荷監視部８に中央処理装置（ＣＰＵ）の使用率を問い合わせ、現在の使用率（システム負荷値）を得ることにより、〔処理１〕に従って、定期試験スケジュールデータ２１内の定期試験規制開始システム負荷値及び定期試験中止開始システム負荷値と比較し、現状に於ける実施可能の同時試験数を算出し、定期試験実行制御部４に通知する。
【００３９】
定期試験制御部４は、同時試験数を付加して試験実行シナリオ生成要求を試験実行シナリオ制御部９に対して行う（図７参照）。それにより、試験実行シナリオ制御部９は、定期試験実行ルートを同時試験数分に分割した試験シナリオを生成して、定期試験制御部４に応答する。定期試験制御部４は、各シナリオ単位毎に試験実行処理部１０を起動する。試験実行処理部１０は、割当てられた試験シナリオに基づいて、個々の試験パターンを実行する。
【００４０】
その場合、試験セル発生装置１１は、試験実行処理部１０の指示に従って、指定された試験ルートに対して一定個数の試験セルを送信し、指定される試験ルートの折返個所（スイッチ部１７や回線対応部１８に指定した折返個所）から折返された試験セルを抽出し、折返試験と同様に試験セルの照合結果を試験実行処理部１０に転送する。
【００４１】
図８は本発明の実施の形態の〔処理１〕のシーケンス説明図であり、図６に於ける〔処理１〕の内容を示す。実行判定処理部７は、（現使用率＋最大台数×１試験当たりの負荷）が定期試験規制開始システム負荷値より大きいか否かを判定し、大きい場合は、（現使用率＋最小台数×１試験当たりの負荷）が定期試験中止開始システム負荷値より大きいか否かを判定し、大きい場合は、実行判定の結果がＮＧとなり、周期監視処理部６に通知し、周期監視処理部６は同時試験数算出処理部５に通知し、同時試験数算出処理部５から定期試験実行制御部４に通知する。
【００４２】
なお、リトライ回数は、定期試験規制開始／中止システム負荷値と同時に指定される定期試験中止開始システム負荷値超過時の待ち合わせ時間と試験中止時の定期試験実行制御部４が待ち合わせにて待ち合わせるタイミング時間とより算出される、つまり、定期試験規制開始／中止システム負荷値が設定されない場合、リトライ回数は０となる。
【００４３】
定期試験実行制御部４は（図６参照）、定期試験スケジュールデータ２１内の試験中止時のリトライ回数が０か否かを判定し、リトライ回数が０でない場合は、待ち合わせを行った後、再チェックを行って、再度、同時試験数算出処理部５に同時試験数算出要求を送出する。又リトライ回数が０の場合は、試験中止とし、試験終了とする。
【００４４】
又（現使用率＋最小台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験中止開始システム負荷値）でない場合は、最小試験台数の同時試験数を周期監視処理部６に通知する。周期監視処理部６は、実行チェックの周期登録処理を行い、同時試験数を同時試験数算出処理部５に通知し、同時試験数算出処理部５は定期試験実行制御部４に、最小試験台数の同時試験数を通知する。
【００４５】
又（現使用率＋最大台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験規制開始システム負荷値）の条件でない場合は、最大試験台数の同時試験数を周期監視処理部６に通知する。周期監視処理部６は、実行チェックの周期登録処理を行い、同時試験数を同時試験数算出処理部５に通知し、同時試験数算出処理部５は定期試験実行制御部４に、最大試験台数の同時試験数を通知する。
【００４６】
図９は本発明の実施の形態の試験実行中のシーケンス説明図であり、周期監視処理部６と、実行判定処理部７と、負荷監視部８とについて示し、定期試験実行中は、一定周期で周期監視処理部６が起動される。そして、実行判定処理部７に実行チェック要求を行い、実行判定処理部７は負荷監視部８に使用率（システム負荷値）を問い合わせ、応答として使用率を受信する。
【００４７】
そして、実行判定処理部７は〔処理２〕を実行する。即ち、（現使用率＋最大台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験規制開始システム負荷値）の条件について判定し、条件を満たさない場合は、現実施試験数が最大試験数か否かを判定し、最大試験数の場合は周期監視処理部６に終了を通知し、最大試験数でない場合は、試験制御情報２２内の試験実行数変更フラグをＯＮとして、周期監視処理部６に終了を通知する。
【００４８】
又（現使用率＋最大台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験規制開始システム負荷値）の条件を満たす場合は、（現使用率＋最小台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験中止開始システム負荷値）の条件について判定し、条件を満たさない場合は、現実施試験数が最小試験数か否かを判定し、最小試験数の場合は周期監視処理部６に終了を通知し、最小試験数でない場合は、試験制御情報２２内の試験実行数変更フラグをＯＮとして、周期監視処理部６に終了を通知する。
【００４９】
又（現使用率＋最小台数×１試験当たりの負荷）＞（定期試験中止開始システム負荷値）の条件を満たす場合は、試験制御情報２２内の試験停止フラグをＯＮとして、周期監視処理部６に終了を通知する。この試験停止フラグＯＮを識別することにより、定期試験を中断することになる。
【００５０】
図１０は本発明の実施の形態の規制処理シーケンス説明図であり、定期試験実行中に於いて、試験実行処理部１０は、試験制御情報２２内の試験停止フラグ＝ＯＮか否かを判定し、ＯＮの場合は実行中の試験を中止し、定期試験実行制御部４に試験終了を通知する。定期試験実行制御部４は、試験終了通知により、リトライ回数が０か否かを判定し、０の場合は試験を中止する。又０でない場合は、図８に示す〔処理１〕を実施する。この〔処理１〕は、タイミングをとって、リトライ回数分繰り返すことになる。
【００５１】
又試験実行処理部１０に於ける試験制御情報２２内の試験停止フラグの判定に於いて、ＯＮでない場合は、試験制御情報２２内の試験実行数変更フラグがＯＮか否かを判定する。ＯＮでない場合は同時試験数による試験を継続する。即ち、同時試験数に従った試験セル発生装置の使用台数として試験を継続する。又ＯＮの場合は、実行中試験が終了次第、シナリオ実行処理を中止し、定期試験実行制御部４に試験終了通知を行う。定期試験実行制御部４は、試験制御情報２２内の試験実行数を基に再スケジューリングを行い、試験実行シナリオ制御部９に同時試験数を付加した試験実行シナリオ生成要求を行う。
【００５２】
試験実行シナリオ制御部９は試験実行シナリオ２３内の未実行ルートのみを抽出し、シナリオ再分割を行って、定期試験実行制御部４に通知する。定期試験実行制御部４は、試験実行処理部１０にシナリオ単位毎に起動する試験実行要求を行い、割当てられた試験シナリオに基づいて個々の試験パターンを実行する。
【００５３】
図１１は本発明の実施の形態の重要ルート実施処理シーケンス説明図であり、定期試験実行制御部４と、試験実行シナリオ制御部９と、重要ルート実施制御部１３と、重要ルート実施シナリオソート部１４と、試験実行処理部１０とについて示す。この重要ルートの定期試験の場合、保守用端末１２（図１参照）から定期試験スケジュール登録コマンドを投入する時に、重要ルート実施制御モード指定及び重要ルート指定を含ませる。
【００５４】
重要ルート実施制御モード指定は、「通常制御」，「重要ルート優先実施」，「重要ルートのみ実施」の何れかを選択して設定することになる。又重要ルート指定は、保守者が重要と考えるルートを指定して設定することになる。このようなコマンドは、コマンド受付部１（図１参照）を介して、定期試験スケジュールデータ設定処理部２に転送され、定期試験スケジュールデータ２１として登録される。
【００５５】
定期試験実行制御部４は、前述のように、同時試験数を求めた後、この同時試験数を付加した試験実行シナリオ生成要求を試験実行シナリオ制御部９に送出する。試験実行シナリオ制御部９は、試験ルートの抽出及び試験シナリオの生成を行い、定期試験スケジュールデータ２１内に重要ルート実施制御機能が有効（定期試験スケジュールデータ２１内の重要ルート実施制御モード，重要ルートが指定されている）か否かを判定し、有効としている場合は、重要ルート実施制御部１３に重要ルート実施制御要求を行う。
【００５６】
重要ルート実施制御部１３は、定期試験負荷制御機能が有効（定期試験スケジュールデータ２１内の定期試験負荷規制開始システム負荷値が指定されている）か否かを判定し、有効の場合は、試験制御情報２２内の同時試験数が０か否かを判定し、０の場合、及び定期試験負荷制御機能が無効の場合、重要ルート実施シナリオソート部１４に重要ルート実施制御試験シナリオソート要求を行う。即ち、定期試験負荷制御機能が無効でも、同時試験数が０でない場合は、重要ルート実施シナリオソート部１４を起動する。
【００５７】
重要ルート実施シナリオソート部１４は、重要ルート実施制御モードに従って分岐処理を行うものであり、「重要ルートのみ実施」の場合は、試験シナリオから重要ルート指定されたもの以外を排除した内容の重要ルート実施制御試験シナリオソート結果として応答し、又「重要ルート優先実施」の場合は、試験シナリオを、重要ルート指定されたものが先頭になるようにソートした内容の重要ルート実施制御試験シナリオソート結果として応答し、又「通常制御」の場合は試験シナリオはそのままとして応答する。この応答を重要ルート実施制御部１３に送出する。
【００５８】
重要ルート実施制御部１３からこの応答を試験実行シナリオ制御部９に転送し、試験実行シナリオ制御部９は、定期試験起動中の場合は同時試験数算出処理部５から得られた結果を基に、或いは定期試験実行中ならば試験制御情報２２内の同時試験数を基に、定期試験実行ルートを同時試験数分に分割し、定期試験実行制御部４に通知する。従って、システム負荷値が定期試験システム負荷規制開始負荷値を超えるような状態に於いても、重要ルート実施制御モードの設定を「重要ルート優先実施」とすることにより、指定された重要ルートを優先して試験し又「重要ルートのみ実施」とすることにより、指定された重要ルートのみを確実に試験することができる。
【００５９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、セルの交換処理を行う交換機に、複数の試験セル発生装置３７を設け、中央処理装置３１の負荷値を計測し、この負荷値が規制負荷値を超えないように、試験セル発生装置の使用台数を選定して、交換機の試験を行うものであり、呼制御数が少なく、中央処理装置３１の負荷値が小さい時は、試験セル発生装置の使用台数を多くすることにより、試験所要時間を短縮し、中央処理装置３１の負荷値が大きい場合は、試験セル発生装置の使用台数を少なくし、輻輳発生を回避して試験を行うことができる。従って、中央処理装置３１の負荷値に対応して、できるだけ多くの試験セル発生装置を使用して交換機の試験を行うことができ、加入者に対するサービス低下を引き起こすことなく、非常に多数のルートを含む交換機の全ルートについて、任意の時点或いは定期的に試験を実行して、交換機の正常性を確認することができる。
【００６０】
又重要ルート実施制御モード及び重要ルートを設定し、中央処理装置３１の負荷値が規制開始負荷値（定期試験規制開始システム負荷値）を超えた時に、重要ルート実施制御モードが、「重要ルート優先実施」に設定されている場合は、設定された重要ルートを優先的に試験し、又「重要ルートのみ実施」に設定されている場合は、設定された重要ルートに対してのみ試験を実行することにより、非常に多数のルートの中の重要ルートについては必ず定期的な試験を実行することが可能となり、交換機の信頼性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の実施の形態の台数制御の説明図である。
【図３】本発明の実施の形態の輻輳レベルまで試験実行継続の説明図である。
【図４】本発明の実施の形態の輻輳レベル前に試験を中止する場合の説明図である。
【図５】本発明の実施の形態の機能ブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態の定期試験実行処理シーケンス説明図である。
【図７】本発明の実施の形態の定期試験実行処理シーケンス説明図である。
【図８】本発明の実施の形態の〔処理１〕のシーケンス説明図である。
【図９】本発明の実施の形態の試験実行中のシーケンス説明図である。
【図１０】本発明の実施の形態の規制処理シーケンス説明図である。
【図１１】本発明の実施の形態の重要ルート実施処理シーケンス説明図である。
【符号の説明】
３１  中央処理装置
３２  回線制御装置
３３  回線制御部
３４  定期試験実行部
３５  スイッチ部
３６  回線対応部
３７  試験セル発生装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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