(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
交換可能な光記録媒体を記録媒体として用いるとともに、データ記録時には、記録パルスのパルス幅を、記録変調時のパルス幅から補正した状態でデータ記録動作を行う光記録装置の制御方法において、
記録パルスの補正値を所定の初期値に設定する初期設定処理と、
光記録媒体の所定領域に記録マークの長さが短い第１の記録パターンと、記録マークの長さが長い第２の記録パターンをそれぞれ記録し、上記第１の記録パターンと上記第２の記録パターンをそれぞれ再生して、上記第１の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第１の振幅値と上記第２の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第２の振幅値をおのおの検出するとともに、上記第１の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第１の中点値と上記第２の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第２の中点値をおのおの検出する振幅中点値検査処理と、
この振幅中点値検査処理によって得た上記第１の振幅値を上記第２の振幅値で除算して得た商の値が、所定値以上になっていることを判定する振幅値比率判定処理と、
上記振幅中点値検査処理によって得た上記第１の中点値を上記第２の中点値から減算して得た差の絶対値が、所定値以下になっていることを判定する中点値差分判定処理と、
上記振幅値比率判定処理で上記商の値が所定値以上になっていないと判定され、かつ、上記中点値差分判定処理で上記差の絶対値が所定値以下になっていないと判定されたとき、上記差の符号に基づいて上記記録パルスの補正値を再設定した後に、上記振幅値検査処理を繰り返し実行する制御処理からなることを特徴とする光記録装置の制御方法。
【請求項２】
前記初期設定処理から開始される一連の処理は、装置に電源が投入された直後に実行されることを特徴とする請求項１記載の光記録装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、交換可能な光記録媒体を記録媒体として用いるとともに、データ記録時には、記録パルスのパルス幅を、記録変調時のパルス幅から補正した状態でデータ記録動作を行う光記録装置の制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光磁気ディスクなどの交換可能なディスク状光記録媒体（以下、光ディスクという）を記録媒体として用いる光ディスク装置では、高密度にデータ記録する方法として、マークエッジ記録方法（マーク長記録方法）が用いられている。
【０００３】
このマークエッジ記録方法では、例えば、図１３（ａ）〜（ｃ）に示すように、記録データを（１，７，２，３）ＲＬＬの変調規則で変調した後に、その変調後の記録データにＮＲＺＩ変調方法を適用して記録信号（記録パルス）を形成し、その記録信号によって光ピックアップ装置の半導体レーザ素子を駆動することで、記録信号に対応した記録マークを光ディスクに形成し、それによって、データを記録している。
【０００４】
また、記録マークを再生して得た再生信号（図１３（ｄ）参照）、所定の閾値ＴＬで二値化処理して、二値化パルス（同図（ｅ）参照）に変換し、この二値化パルスのエッジ位置に基づいて記録データを再生するようにしている。
【０００５】
ところで、光ディスク装置に装着される光ディスクは、例えば、メーカによってその材質などが異なるために、（例えば、規格上の）許容範囲内で熱伝導率がある程度ばらつく。また、同一メーカの同一種類の光ディスクでも、個体によってある程度熱伝導率がばらつく。
【０００６】
このようにして、光ディスクの熱伝導率がばらついているため、次のような不都合を生じる。
【０００７】
すなわち、図１４（ａ）に示したように、半導体レーザ素子にあるパルス幅の記録パルスを印可したときに、熱伝導率が小さい光ディスクには、同図（ｂ）に示したような記録マークＭＫａが形成され、また、熱伝導率が大きい光ディスクには、同図（ｃ）に示したように、記録マークＭＫｂが形成される。
【０００８】
ここで、熱伝導率が大きい場合には、レーザビームのスポットにより加熱される範囲が熱伝導率が小さい場合に比べて大きくなるために、記録マークＭＫａの長さＬＡよりも記録マークＭＫｂの長さＬＢが長くなるという事態を生じ、そのために、データ再生時にマークエッジを適切に検出できずにデータエラーが発生することがあった。
【０００９】
そこで、このような不都合を解消するために、例えば、図１５（ａ）〜（ｃ）に示したように、記録パルスのパルス幅を短縮した補正記録パルスを形成し、この補正された記録パルスを用いてデータ記録を行うようにして、記録マークの長さを適切な値にするようにしたものが提案されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来装置では、特定の種類の光ディスクについては、記録マークの長さを理論値に近づけることができるが、光ディスクの種類によっては、データ誤りを解消できないという問題がある。
【００１１】
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであり、光ディスクの状態にかかわらずデータ記録時に記録マークの長さを理論値にすることができる光記録装置の制御方法を提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、交換可能な光記録媒体を記録媒体として用いるとともに、データ記録時には、記録パルスのパルス幅を、記録変調時のパルス幅から補正した状態でデータ記録動作を行う光記録装置の制御方法において、記録パルスの補正値を所定の初期値に設定する初期設定処理と、光記録媒体の所定領域に記録マークの長さが短い第１の記録パターンと、記録マークの長さが長い第２の記録パターンをそれぞれ記録し、上記第１の記録パターンと上記第２の記録パターンをそれぞれ再生して、上記第１の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第１の振幅値と上記第２の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第２の振幅値をおのおの検出するとともに、上記第１の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第１の中点値と上記第２の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第２の中点値をおのおの検出する振幅中点値検査処理と、この振幅中点値検査処理によって得た上記第１の振幅値を上記第２の振幅値で除算して得た商の値が、所定値以上になっていることを判定する振幅値比率判定処理と、上記振幅中点値検査処理によって得た上記第１の中点値を上記第２の中点値から減算して得た差の絶対値が、所定値以下になっていることを判定する中点値差分判定処理と、上記振幅値比率判定処理で上記商の値が所定値以上になっていないと判定され、かつ、上記中点値差分判定処理で上記差の絶対値が所定値以下になっていないと判定されたとき、上記差の符号に基づいて上記記録パルスの補正値を再設定した後に、上記振幅値検査処理を繰り返し実行する制御処理からなるものである。
また、前記初期設定処理から開始される一連の処理は、装置に電源が投入された直後に実行されるものである。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００１６】
図１は、本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置の要部構成を示している。なお、同図では、本発明に直接関係しない部分（例えば、磁気ヘッド機構など）については、省略している。
【００１７】
同図において、スピンドルモータ１の回転軸２に固設されたターンテーブル３には、光磁気ディスク４が着脱自在に取り付けられており、この光磁気ディスク４の記録面には、光ピックアップ装置５により、データが記録／再生／消去される。また、光ピックアップ装置５には、光磁気ディスク４の半径方向に移動するためのシーク機構６が付設されている。
【００１８】
また、光磁気ディスク４は、ディスクカートリッジ（図示略）に収容された状態で取り扱われる。また、この光磁気ディスク装置には、ディスクカートリッジおよび光磁気ディスク４を所定位置に配置するとともに排出するためのローディング機構（図示略）が設けられている。また、光ピックアップ装置５には、レーザビームを発生する半導体レーザ素子などの周知の光源光学系、レーザビームを光磁気ディスク４の記録面に集束するための周知の対物レンズ系、光磁気ディスク４からの反射光を受光して各種の信号を形成するための周知の検出光学系などが設けられている。また、対物レンズ系には、対物レンズをフォーカシング方向およびトラッキング方向に移動するための周知の対物レンズ移動機構が付設されている。
【００１９】
また、図２（ａ）に示すように、光磁気ディスク４の記録領域には、所定位置に、データ記録条件を検査するためなどに用いることができる検査領域ＣＫｚが設けられている。
【００２０】
また、光磁気ディスク４の記録面には、所定間隔で記録トラックが多数形成されており、おのおのの記録トラックには、図２（ｂ）に示したように、所定数ｍのセクタが形成されている。また、おのおののセクタは、同図（ｃ）に示したように、そのセクタを識別するためのセクタアドレスや、データ記録状態などをあらわすフラグデータが記録されるヘッダ領域ＨＤＡと、ユーザデータを記録可能なユーザデータ領域ＵＤＡから構成されている。
【００２１】
さて、本実施例では、次のようにして、データ記録時の記録パルスのパルス幅の補正値を決定する。
【００２２】
例えば、記録データを（１，７，２，３）ＲＬＬの変調規則で変調した後に、その変調後の記録データにＮＲＺＩ変調方法を適用して記録パルス（ＮＲＺＩコードデータ）を形成し、その記録信号に対応した記録マークを光ディスクに記録する場合、記録マークの最短繰り返しパターンと、最長繰り返しパターンの２種類のパターンを記録し、これらのパターンの再生信号に基づいて、光磁気ディスク４にデータ記録するときの記録パルスのパルス幅の最適な補正値を判断するようにしている。
【００２３】
この（１，７，２，３）ＲＬＬ変調規則における最短繰り返しパターンは、「０１０１０１・・・」であり、最長繰り返しパターンは、「０１０００００００１０００００００１・・・・」である。
【００２４】
ここで、図３（ａ）〜（ｅ）に示したように、補正後の記録パルス（以下、これをライトパルスという）が適切なパルス幅の状態で、最短繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＡ１とし、再生信号のエンベロープの中点（振幅の中間値）をＣＡ１とする。
【００２５】
また、図４（ａ）〜（ｅ）に示したように、補正後のライトパルスが適切なパルス幅の状態で、最長繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＢ１とし、再生信号のエンベロープの中点をＣＢ１とする。
【００２６】
また、図５（ａ）〜（ｅ）に示したように、ライトパルスの補正が過小なパルス幅の状態で、最短繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＡ２とし、再生信号のエンベロープの中点をＣＡ２とする。
【００２７】
また、図６（ａ）〜（ｅ）に示したように、ライトパルスの補正が過小なパルス幅の状態で、最長繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＢ２とし、再生信号のエンベロープの中点をＣＢ２とする。
【００２８】
また、図７（ａ）〜（ｅ）に示したように、ライトパルスの補正が過大なパルス幅の状態で、最短繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＡ３とし、再生信号のエンベロープの中点をＣＡ３とする。
【００２９】
また、図８（ａ）〜（ｅ）に示したように、ライトパルスの補正が過大なパルス幅の状態で、最長繰り返しパターンを記録して対応する記録マークを光磁気ディスク４に形成したとき、その再生信号の振幅をＶＢ３とし、再生信号のエンベロープの中点をＣＢ３とする。
【００３０】
そして、（ＶＡ１／ＶＢ１），（ＶＡ２／ＶＢ２），（ＶＡ３／ＶＢ３）を算出して、おのおのの値を比較すると、（ＶＡ１／ＶＢ１）の値が最も大きい値となる。それとともに、ＣＡ１＝ＣＢ１，ＣＡ２＜ＣＢ２，ＣＡ３＞ＣＢ３の関係が成り立つ。
【００３１】
以上のことから、最短繰り返しパターンの再生信号の振幅値を最長繰り返しパターンの再生信号の振幅値で除算して得た商の値が最も大きい値になるように記録パルスのパルス幅の補正量を調整すると、最適なライトパルスを得ることができる。
【００３２】
また、最短繰り返しパターンの再生信号のエンベロープの中点と、最長繰り返しパターンの再生信号のエンベロープの中点との差分を算出し、その差分が所定範囲に含まれるように記録パルスのパルス幅の補正量を調整すると、最適なライトパルスを得ることができる。また、その差分の符号が正のときには、過大な補正状態であるので、パルス幅の補正量を減少するとパルス幅の補正量を最適な状態に近づけることができ、一方、差分の符号が負のときには、過小な補正状態であるので、パルス幅の補正量を増大すると、パルス幅の補正量を最適な状態に近づけることができる。
【００３３】
図９は、本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置の制御系の要部を示している。
【００３４】
同図において、ホストインタフェース１１は、この光磁気ディスク装置を外部記憶装置として用いるホスト装置（図示略）と接続して、ホスト装置と制御部１２との間で記録／再生データおよび種々の制御データをやりとりするためのものである。
【００３５】
制御部１２は、この光磁気ディスク装置の各部の動作制御を実行するとともに、ホスト装置との間でデータのやりとりの制御を実行するためのものである。変調回路１３は、制御部１２から出力される記録データＳ１を所定の変調規則（例えば、（１，７，２，３）ＲＬＬ）で変調するものであり、その出力は、記録パルスＳ２としてライトパルス補正回路１４に加えられている。
【００３６】
ライトパルス補正回路１４は、制御部１２から加えられているパルス幅補正量データＳＣに基づいて、記録パルスＳ２のパルス幅を補正するためのものであり、その出力は、ライトパルスＳ３として半導体レーザ駆動制御部１５に加えられる。
【００３７】
半導体レーザ駆動制御部１５は、ライトパルスＳ３に対応して変調した記録電流Ｓ４を出力するものであり、その記録電流Ｓ４は、光ピックアップ装置５の半導体レーザ素子に加えられている。
【００３８】
光ピックアップ装置５の検出光学系で検出された各種の受光信号Ｓ５は、信号演算部１６に加えられている。信号演算部１６は、受光信号Ｓ５に所定の演算処理を適用して、所定の再生信号Ｓ６、トラッキング誤差信号Ｓ７、フォーカシング誤差信号Ｓ８、および、セクタアドレス信号Ｓ９を算出するものであり、再生信号Ｓ６は波形等化回路１７に加えられ、トラッキング誤差信号Ｓ７はトラッキングサーボ制御部１８に加えられ、フォーカシング誤差信号Ｓ８はフォーカシングサーボ制御部１９に加えられ、セクタアドレス信号Ｓ９はシーク制御部２０に加えられている。
【００３９】
トラッキングサーボ制御部１８は、光磁気ディスク４の記録トラックにレーザビームを追従するトラッキングサーボ制御を実行するものであり、トラッキング誤差信号Ｓ７の値をゼロに近づける方向に、対物レンズ移動機構のトラッキングアクチュエータ２１の動作を制御する。また、トラッキングサーボ制御部１８は、制御部１２との間で、種々の信号をやりとりしている。
【００４０】
フォーカシングサーボ制御部１９は、光磁気ディスク４の記録トラックにレーザビームの焦点を合わせるフォーカシングサーボ制御を実行するものであり、フォーカシング誤差信号Ｓ８の値をゼロに近づける方向に、対物レンズ移動機構のフォーカシングアクチュエータ２２の動作を制御する。また、フォーカシングサーボ制御部１９は、制御部１２との間で、種々の信号をやりとりしている。
【００４１】
シーク制御部２０は、制御部１２から指令された記録トラックに、レーザビームを位置させるためのものであり、セクタアドレス信号Ｓ９に基づいて指令された記録トラックとの位置誤差を判定し、その位置誤差をゼロにする方向にシーク機構６のシークモータ２３を駆動する。また、シーク制御部２０は、シーク動作が完了したことを制御部１２に通知する。
【００４２】
波形等化回路１７は、再生信号Ｓ６から波形間干渉などの影響を除去した信号を形成するものであり、その出力は、補正再生信号Ｓ１０として二値化回路２４、および、アナログ／デジタル変換器２５に加えられている。
【００４３】
二値化回路２４は、補正再生信号Ｓ１０を二値化処理するものであり、その出力は、二値化パルスＳ１１として、データ弁別復調回路２７、および、ＰＬＬ回路２８に加えられている。
【００４４】
ＰＬＬ回路２８は、二値化パルスＳ１１に位相同期したクロック信号Ｓ１２を形成するものであり、そのクロック信号Ｓ１２は、データ弁別復調回路２７に加えられている。
【００４５】
データ弁別復調回路２７は、クロック信号Ｓ１２に同期して二値化パルスＳ１１をサンプリングし、そのサンプリング結果に基づいてデータ再生するとともに、再生したデータを復調して、再生データＳ１３を形成するものであり、その再生データＳ１３は、制御部１２に加えられている。
【００４６】
アナログ／デジタル変換器２５は、補正再生信号Ｓ１０を対応するデジタル信号に変換するものであり、その出力は、デジタル再生信号Ｓ１４として、上ピーク値検出部２９および下ピーク値検出部３０に加えられている。
【００４７】
上ピーク値検出部２９は、デジタル再生信号Ｓ１４の１つの振幅における上に凸の部分のピーク値を検出するものであり、その出力は、上ピーク検出値Ｓ１５として、振幅値演算部３１および中点値演算部３２に加えられている。
【００４８】
下ピーク値検出部３０は、デジタル再生信号Ｓ１４の１つの振幅における下に凸の部分のピーク値を検出するものであり、その出力は、下ピーク検出値Ｓ１６として、振幅値演算部３１および中点値演算部３２に加えられている。
【００４９】
振幅値演算部３１は、上ピーク検出値Ｓ１５および下ピーク検出値Ｓ１６に基づいて、デジタル再生信号Ｓ１４の振幅の値を算出するものであり、その出力は、振幅検出値Ｓ１７として制御部１２に加えられている。
【００５０】
中点値演算部３２は、上ピーク検出値Ｓ１５および下ピーク検出値Ｓ１６に基づいて、デジタル再生信号Ｓ１４のエンベロープの中点のレベルを算出するものであり、その出力は、中点検出値Ｓ１８として制御部１２に加えられている
スピンドルモータ制御部３４は、スピンドルモータ１の動作を制御するものであり、ローディング機構部３５は、ローディング機構に含まれる電気系統であり、例えば、光磁気ディスク４が装着されていることを検出するメディアセンサや、ディスクカートリッジに付加されている種々のマークの状態などを検出する検出信号が、ローディング機構３５から制御部１２に出力されている。また、温度センサ３６は、光磁気ディスク４が装着されている付近の温度を検出するものであり、その検出値は、制御部１２に加えられている。
【００５１】
以上の構成で、制御部１２は、この光磁気ディスク装置に電源が投入された直後に、光磁気ディスク４が装着されていることを検出しているとき、光磁気ディスク４が一旦排出された後で光磁気ディスク４が装着されたことを検出したとき、および、温度センサ３６の検出値が記録マークの形成に影響があらわれる程度の温度範囲になっていることを検出したとき、ライトパルス補正処理を実行して、そのときの光磁気ディスク４の特性、および、半導体レーザ素子の状態に応じて、最適な記録マークを形成できるようにする。
【００５２】
このときに、制御部１２が実行するライトパルス補正処理の一例を、図１０に示す。
【００５３】
同図において、光磁気ディスク４に設定されている検査領域ＣＫｚをシークし（処理１０１）、パルス幅補正量データＳＣの値に、所定の初期値をセットする（処理１０２）。
【００５４】
その状態で、上述した最短繰り返しパターンデータを所定のセクタ数記録し（処理１０３）、次いで、上述した最長繰り返しパターンを所定のセクタ数記録する（処理１０４）。
【００５５】
そして、最短繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの振幅検出値Ｓ１７の値を変数ＶＡにセットする（処理１０５）とともに、最長繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの振幅検出値Ｓ１７の値を変数ＶＢにセットする（処理１０６）。
【００５６】
次いで、変数ＶＡの値を変数ＶＢの値で割り算した結果の値を変数ＲＶにセットして（処理１０７）、その変数ＲＶの値が所定値Ｎａ以上になっているかどうかを調べる（判断１０８）。
【００５７】
判断１０８の結果がＹＥＳになるときには、パルス幅補正量データＳＣの値が適切な状態なので、この動作を終了する。また、判断１０８の結果がＮＯになるときには、パルス幅補正量データＳＣの値が適切な状態ではないので、パルス幅補正量データＳＣの値を所定値だけ変化し（処理１０９）、再度、上述した検査動作を実行するために、処理１０３に戻る。
【００５８】
図１１は、制御部１２が実行するライトパルス補正処理の他の例を示している。
【００５９】
同図において、光磁気ディスク４に設定されている検査領域ＣＫｚをシークし（処理２０１）、パルス幅補正量データＳＣの値に、所定の初期値をセットする（処理２０２）。
【００６０】
その状態で、上述した最短繰り返しパターンデータを所定のセクタ数記録し（処理２０３）、次いで、上述した最長繰り返しパターンを所定のセクタ数記録する（処理２０４）。
【００６１】
そして、最短繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの中点検出値Ｓ１８の値を変数ＣＡにセットする（処理２０５）とともに、最長繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの中点検出値Ｓ１８の値を変数ＣＢにセットする（処理２０６）。
【００６２】
次いで、変数ＣＡの値から変数ＣＢの値を減算した結果の値を変数ΔＣにセットして（処理２０７）、その変数ΔＣの絶対値が所定値Ｎｂ以下になっているかどうかを調べる（判断２０８）。判断２０８の結果がＹＥＳになるときには、パルス幅補正量データＳＣの値が適切な状態なので、この動作を終了する。
【００６３】
また、判断２０８の結果がＮＯになるときには、変数ΔＣの値が正の符号をもつかどうかを調べる（判断２０９）。判断２０９の結果がＹＥＳになるときは、パルス幅の補正が過大になっている状態なので、パルス幅補正量データＳＣの値を所定の１ステップ値だけ減少し（処理２１０）、再度、上述した検査動作を実行するために、処理２０３に戻る。また、判断２０９の結果がＮＯになるときは、パルス幅の補正が過小になっている状態なので、パルス幅補正量データＳＣの値を所定の１ステップ値だけ増大し（処理２１１）、再度、上述した検査動作を実行するために、処理２０３に戻る。
【００６４】
図１２は、制御部１２が実行するライトパルス補正処理のさらに他の例を示している。
【００６５】
同図において、光磁気ディスク４に設定されている検査領域ＣＫｚをシークし（処理３０１）、パルス幅補正量データＳＣの値に、所定の初期値をセットする（処理３０２）。
【００６６】
その状態で、上述した最短繰り返しパターンデータを所定のセクタ数記録し（処理３０３）、次いで、上述した最長繰り返しパターンを所定のセクタ数記録する（処理３０４）。
【００６７】
そして、最短繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの振幅検出値Ｓ１７の値を変数ＶＡにセットするとともに、中点検出値Ｓ１８の値を変数ＣＡにセットする（処理３０５）。次に、最長繰り返しパターンデータを記録したセクタに対してデータ読み出し動作して、そのときの振幅検出値Ｓ１７の値を変数ＶＢにセットするとともに、中点検出値Ｓ１８の値を変数ＣＢにセットする（処理３０６）。
【００６８】
次いで、変数ＶＡの値を変数ＶＢの値で割り算した結果の値を変数ＲＶにセットし（処理３０７）、変数ＣＡの値から変数ＣＢの値を減算した結果の値を変数ΔＣにセットする（処理３０８）。
【００６９】
そして、変数ＲＶの値が所定値Ｎａ以上になっているかどうかを調べる（判断３０９）。判断３０９の結果がＹＥＳになるときには、変数ΔＣの絶対値が所定値Ｎｂ以下になっているかどうかを調べる（判断３１０）。判断３１０の結果がＹＥＳになるときには、パルス幅補正量データＳＣの値が適切な状態なので、この動作を終了する。
【００７０】
また、判断３０９の結果がＮＯになるとき、または、判断３１０の結果がＮＯになるときには、変数ΔＣの値が正の符号をもつかどうかを調べる（判断３１１）。判断３１１の結果がＹＥＳになるときは、パルス幅の補正が過大になっている状態なので、パルス幅補正量データＳＣの値を所定の１ステップ値だけ減少し（処理３１２）、再度、上述した検査動作を実行するために、処理３０３に戻る。また、判断３１１の結果がＮＯになるときは、パルス幅の補正が過小になっている状態なので、パルス幅補正量データＳＣの値を所定の１ステップ値だけ増大し（処理３１３）、再度、上述した検査動作を実行するために、処理３０３に戻る。
【００７１】
なお、光磁気ディスク４の検査領域ＣＫｚは、複数記録トラックが確保されているので、パルス幅補正量データＳＣの値を変更した後では、別の記録トラックに対して検査動作を実行するようにするとよい。
【００７２】
また、上述した実施例では、最短繰り返しパターンおよび最長繰り返しパターンを用いて、パルス幅補正値データＳＣの調整動作を行っているが、この調整動作を、通常のデータ記録時（ベリファイ動作）で平行して実行することもできる。
【００７３】
また、上述した実施例では、（１，７，２，３）ＲＬＬ変調規則を用いた場合について説明したが、それ以外の変調規則を用いた場合についても、本発明を同様にして適用することができる。
【００７４】
また、上述した実施例では、光磁気ディスク装置について本発明を適用した場合を説明したが、本発明は、相変化型の光ディスク装置や追記型の光ディスク装置についても同様にして適用することができる。
【００７５】
また、上述した実施例では、光磁気ディスクの記録領域には、媒体特性検査用の検査領域を設けたが、この検査領域を特に設けない場合でも、本発明を同様にして適用することができる。その場合には、記録領域の空き領域を適宜に用いてよい。
【００７６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、交換可能な光記録媒体を記録媒体として用いるとともに、データ記録時には、記録パルスのパルス幅を、記録変調時のパルス幅から補正した状態でデータ記録動作を行う光記録装置の制御方法において、記録パルスの補正値を所定の初期値に設定する初期設定処理と、光記録媒体の所定領域に記録マークの長さが短い第１の記録パターンと、記録マークの長さが長い第２の記録パターンをそれぞれ記録し、上記第１の記録パターンと上記第２の記録パターンをそれぞれ再生して、上記第１の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第１の振幅値と上記第２の記録パターンの再生信号の振幅に対応した第２の振幅値をおのおの検出するとともに、上記第１の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第１の中点値と上記第２の記録パターンの再生信号のエンベロープの中点に対応した第２の中点値をおのおの検出する振幅中点値検査処理と、この振幅中点値検査処理によって得た上記第１の振幅値を上記第２の振幅値で除算して得た商の値が、所定値以上になっていることを判定する振幅値比率判定処理と、上記振幅中点値検査処理によって得た上記第１の中点値を上記第２の中点値から減算して得た差の絶対値が、所定値以下になっていることを判定する中点値差分判定処理と、上記振幅値比率判定処理で上記商の値が所定値以上になっていないと判定され、かつ、上記中点値差分判定処理で上記差の絶対値が所定値以下になっていないと判定されたとき、上記差の符号に基づいて上記記録パルスの補正値を再設定した後に、上記振幅値検査処理を繰り返し実行する制御処理を行うようにしたので、記録マークの長さを所定の値に規定することができ、データ再生時のデータエラーなどを抑制することができるという効果を得る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置の要部の構成を例示した概略図。
【図２】光磁気ディスクの記録領域のフォーマットの一例を示した概略図。
【図３】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が適正な場合）。
【図４】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が適正な場合）。
【図５】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が過大な場合）。
【図６】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が過大な場合）。
【図７】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が過小な場合）。
【図８】本発明の原理を説明するための概略図（パルス幅の補正量が過小な場合）。
【図９】本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置の制御系の要部を示したブロック図。
【図１０】制御部が実行するライトパルス補正処理の一例を示したフローチャート。
【図１１】制御部が実行するライトパルス補正処理の他の例を示したフローチャート。
【図１２】制御部が実行するライトパルス補正処理のさらに他の例を示したフローチャート。
【図１３】マークエッジ記録法について説明するための説明図。
【図１４】従来装置の不都合を説明するための概略図。
【図１５】従来装置の不都合を説明するための概略図。
【符号の説明】
１２  制御部
１４  ライトパルス補正回路
２９  上ピーク値検出部
３０  下ピーク値検出部
３１  振幅値演算部
３２  中点値演算部
３５  ローディング機構部
３６  温度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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