(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に照射する光を射出する光源と、
光源からの光束の強度をモニタするための第１の受光素子と、
記録媒体からの反射光束を受光する第２の受光素子と、
光学素子を有し、
入射面から入射した前記光源により射出された光束の一部は前記光学素子の第１面より第１の光束として前記第１の受光素子に向けて射出され、入射光束の一部は前記光学素子の第２面より第２の光束として前記記録媒体に向けて射出され、前記記録媒体からの反射光束は、前記光学素子の前記第２面より入射して第３面より第３の光束として前記第２の受光素子側に向けて射出され、前記第２の受光素子はウォラストンプリズムおよび回折格子を介して分割された前記第３の光束を受光しサーボ信号およびデータ信号を生成する光情報記録・再生装置において、
前記入射光および前記光学素子から射出された前記第１、第２および第３の光束の光軸は同一の平面上にあって、
前記第１の光束と前記第１面、前記第２の光束と第２面、および前記第３の光束と第３面が、それぞれ０度でない所定の角度をなし、前記ウォラストンプリズムの光束分離の方向は前記平面とほぼ垂直な方向であり、前記回折格子の回折による光束分離の方向は前記平面とほぼ平行な方向であることを特徴とする、光情報記録・再生装置。
【請求項２】
前記第１の光束および第２の光束の光軸がなす角、前記第２の光束および第３の光束の光軸がなす角はそれぞれ前記平面上で９０度であることを特徴とする、請求項１の光情報記録・再生装置。
【請求項３】
前記光学素子は、２つの三角プリズムを接合した６面体で、接合面がハーフミラーとなっており、前記入射光束は前記ハーフミラー面に４５度の入射角で入射し、一部が前記第１面に向けて反射されることを特徴とする、請求項１の光光情報記録・再生装置。
【請求項４】
前記第２の受光素子は、前記ウォラストンプリズムおよび前記回折格子により分割された前記第３の光束をそれぞれ受光する複数の受光部を有し、前記複数の受光部は前記分割された前記第３の光束のみを受光するよう配置されていること、を特徴とする、請求項１から３のいずれかに記載の光情報記録・再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、光磁気記録媒体を用いて情報の記録・再生を行う光情報記録・再生装置に関し、さらに詳しくは、不要光を除去して情報信号のみを検出するための光情報記録・再生装置の光学系の構成に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光磁気ヘッド装置として、従来より、光ディスク及び光カードなどの光磁気記録媒体にレーザ光を照射し、反射レーザ光を、サーボ信号用光束とデータ信号用光束に分離して利用する光情報記録・再生装置が知られている。このサーボ信号用光束は、例えば周知のスポットサイズ法によれば、さらに２分割されてそれぞれ受光素子に入力され、合焦状態を維持するために利用される。すなわち、ディスク面でビームが合焦している時に２分割された光束のスポット径が同一となるよう構成され、スポット径が同一となるようにサーボがかけられる。一方、データ信号用光束は、複屈折光学素子を用いて偏光状態が異なる光束に分割され、別の受光素子に入力されてデータ信号（光磁気記録信号ＭＯ）が得られる構成となっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
このような基本構成を持つ光情報記録・再生装置においては、光路の途中から入り込む迷光や、光学系の光学素子内部でのレーザ光の反射などにより発生する不要光（迷光）成分が、サーボ信号やデータ信号に悪影響を及ぼすことが知られている。このような不要光による悪影響は、光磁気ディスクからの反射光が弱い場合に特に問題となるものであり、不要光の除去が望まれていた。
【０００４】
【発明の目的】
本発明は、簡単な構成で受光素子の配置も単純な光学系を有し、データ信号とサーボ信号分割して信号検出を行い、しかも不要光による悪影響を取り除くことのできるする光情報記録・再生装置の提供を目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
このため、本発明の光情報記録・再生装置は、記録媒体に照射する光を射出する光源と、光源からの光束の強度をモニタするための第１の受光素子と、記録媒体からの反射光束を受光する第２の受光素子と、光学素子を有し、入射面から入射した前記光源により射出された光束の一部は前記光学素子の第１面より第１の光束として前記第１の受光素子に向けて射出され、入射光束の一部は前記光学素子の第２面より第２の光束として前記記録媒体に向けて射出され、前記記録媒体からの反射光束は、前記光学素子の前記第２面より入射して第３面より第３の光束として前記第２の受光素子側に向けて射出され、前記第２の受光素子はウォラストンプリズムおよび回折格子を介して分割された前記第３の光束を受光しサーボ信号およびデータ信号を生成する光情報記録・再生装置において、入射光および光学素子から射出された第１、第２および第３の光束の光軸は同一の平面上にあって、前記第１の光束と前記第１面、前記第２の光束と第２面、および前記第３の光束と第３面が、それぞれ０度でない所定の角度をなし、前記ウォラストンプリズムの光束分離の方向は前記平面とほぼ垂直な方向であり、前記回折格子の回折による光束分離の方向は前記平面とほぼ平行な方向であることを特徴としている。
【０００６】
【実施例】
以下図示実施例に基づいて本発明を説明する。
【０００７】
図１は、本発明の実施例としての光磁気ヘッド装置の信号検出系を示す斜視図である。この光磁気ヘッド装置の信号検出系は、光源部１１と、プリプリズムブロック１２と、対物光学系１３と、信号検出部１４と、処理部１５とを備えている。
【０００８】
光源部１１は、発散光束を発生させる半導体レーザ１６と、この半導体レーザ１６からの発散光束を平行光束にするコリメータレンズ１７と、このコリメータレンズ１７からの光束の形状を整形するアナモフィックプリズム１８とを備えている。
【０００９】
プリズムブロック１２は、アナモフィックプリズム１８からの光束の形状を整形して光束の断面を円形にする、アナモフィックプリズム１９、及び、このアナモフィックプリズム１９に接合された集光レンズ２１と直角プリズム２０とを備えている。アナモフィックプリズム１９と直角プリズム２０の接合面はハーフミラー面２２とされている。このプリズムブロック１２は、不要光の悪影響を防止するために特殊な形状、配置となっており、その詳細は後に説明する。
【００１０】
光源部１１からの光束の一部は、ハーフミラー面２２で反射して集光レンズ２１により受光素子５０に集光される。他の光束は、ハーフミラー面２２を透過して、立ち上げミラープリズム２３で反射される。受光素子５０は、入射した光束の強度に応じて、半導体レーザ１６の自動出力調整用の信号を生成する。
【００１１】
対物光学系１３は、プリズムブロック１２を透過した光束を光磁気ディスク２４に向けて反射する立ち上げミラープリズム２３と、この立ち上げミラープリズム１９からの光束を光磁気ディスク（光磁気記録媒体）２４に収束させる対物レンズ２５とを備えている。この対物レンズ２５と、立ち上げミラープリズム２３とは、光磁気ディスク２４の半径方向Ｘに沿って移動されるヘッド（図示せず）内に設けられている。さらに、対物レンズ２５は、該ヘッド内のアクチュエータ（図示せず）により、その光軸方向Ｚ及び光磁気ディスク２４の半径方向Ｘに沿って駆動される。
【００１２】
光磁気ディスク２４からの反射光は、対物レンズ２５を通り、立ち上げミラープリズム２３でプリズムブロック１２に向けて反射され、さらにハーフミラー面２２で反射されて、信号検出部１４に入射される。
【００１３】
信号検出部１４は、ウォラストンプリズム（光束分離手段）２６と、ホログラム板（回折素子）２７と、集光レンズ２８と、複合センサ２９とを備えている。
【００１４】
ウォラストンプリズム２６は、複屈折性を有する結晶性偏光素子である。図４に示すように、光磁気ディスク２４からの反射レーザ光（光束Ｌ）を偏光方向ａの直線偏光とすると、特定平面内（プリズムブロック１２の入・出射光を含む平面と垂直な平面内）において、入射光束を偏光方向の異なる３光束、Ａ１、Ｂ１およびＣ１に分離する。光束Ａ１は、光束Ｌの偏光方向ａとほぼ平行な方向の偏光成分からなる光束であり、光束Ｃ１は、光束Ｌの偏光方向ａとほぼ直交する方向ｂの偏光成分からなる光束である。また、光束Ａ１と光束Ｃ１との間に位置する光束Ｂ１は、これらａ、ｂ両方向の偏光成分を共に有する光束である。
【００１５】
次にホログラム板２７について説明する。ホログラムは種々の波面（デフォーカス波面やチルト波面等）を干渉パターンとして記録したものと言うことができる。例えば、デフォーカス波面の記録パターンは、同心円状で、外周部へ行くほど２次関数的にピッチが密になるパターンとして記録される。チルト波面は、ピッチの等しい直線状のパターンとして記録される。
【００１６】
本実施例のホログラム板２７は、上記の２種のパターンが組み合わされたようなパターンを有している。図２において、透明部材３０は、上述のデフォーカス波面に対応する干渉パターンを有している。同心円状の凹凸部３０ａおよび３０ｂは、図示しないｘ軸上の中心点から外周部へ行くほど２次関数的にピッチが密になっており、ある一部分（ｘ軸断面）における隣り合うピッチ間におけるデューティー比はほぼ１対１となっている（図３参照）。ホログラム板２７はこの透明部材３０の同心円状の干渉パターンの中心から所定量ずれた位置の円形の部分と同一のパターンを有している。図２において、ホログラム板２７の干渉パターンは左方に行くほど密となっている。
【００１７】
このような構造により、ホログラム板２７は入射光束の光軸を正負に傾けるチルト成分を与え、同時にその正負のチルト成分に、光軸方向における正負のデフォーカス成分を与える機能を有している。
なお、ホログラム板２７は上述のパターンを外形が四角形状の透明基材２７Ｐの円形の領域内に形成した構成となっている。
【００１８】
ホログラム板２７によって分割された一対の光束は、光磁気ディスク２４の信号記録面に対してレーザ光束が適正に収束（合焦）したときスポット形状がほぼ同じ円形となるように設定されている。光磁気ディスク２４が光学系に対し接近したり、離れたりして、レーザ光束が適正に収束していないときには、一対のスポット形状が互いに変化するため、スポット形状が一致するよう、収束状態が調整される。なお、本実施例のホログラム板２７の断面形状は矩形であるが、これに限定されるものではなく、正弦波形状や、階段型の形状でも良い。また、図３に示す溝深さｄを変えることにより、所望の光量比率にすることができる。
【００１９】
ウォラストンプリズム２６によって図４上下方向（Ｙ’方向）において３つに分離された光束Ａ１、Ｂ１、Ｃ１がホログラム２７に入射する。入射光束Ａ１、Ｂ１、Ｃ１は、プリズムブロック１２の入射・出射光束の光軸を含む平面と平行な方向（Ｘ’方向）において２つの光束群Ａ２、Ｂ２、Ｃ２およびＡ２’、Ｂ２’、Ｃ２’に分割される。この時、２分割された光束群には、光軸Ｏ方向に関する正負方向のデフォーカスが生じる。この３対の光束、Ａ２とＡ２’、Ｂ２とＢ２’、Ｃ２とＣ２’のうち、光束Ａ２およびＡ２’、Ｃ２およびＣ２’はそれぞれ、データ信号である光磁気記録信号ＭＯ、プリフォーマット信号ＲＯとして使用される。光束Ｂ２およびＢ２’は、サーボ信号であるフォーカスエラー信号ＦＥおよびトラッキングエラー信号ＴＥとして使用される。
【００２０】
複合センサ２９に３対の光束が照射するとき、３対の光束、Ａ２とＡ２’、Ｂ２とＢ２’、Ｃ２とＣ２’のスポット径は、レーザ光が非合焦状態の時には図４における左右方向で（すなわち各対で）異なるが（デフォーカスが与えられているため）、図４の上下方向においては、合焦・非合焦にかかわらずほぼ同じである。なお、図４中のＯは、信号検出系の光軸（中心線）である。
【００２１】
複合センサ２９は、集光レンズ２８を透過した、３対の分割された光束をそれぞれ受光して電気信号に変換するデータ用受光素子３１ａ、３１ｂ、３３ａ、３３ｂと、サーボ用受光素子３２ａ、３２ｂとを備えている。この６つの受光素子３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、３３ａ、３３ｂは、６分割された光束Ａ２、Ａ２’、Ｂ２、Ｂ２’、Ｃ２、Ｃ２’をそれぞれが受光できる配置となっている。すなわち、図４のＸ’方向に並ぶ対が、上下方向（Ｙ’方向）において３段に配置されている。
【００２２】
一対のデータ用受光素子３１ａ、３１ｂは、光磁気記録信号ＭＯおよびプリフォーマット信号ＲＯの検出に用いられるものである。データ用受光素子３１ａは、ホログラム板２７からの偏光方向ａの光束を受光したとき出力ｈ１を出力する。データ用受光素子３１ｂは、ホログラム板２７からの偏光方向ｂの光束を受光したとき出力ｈ２を出力する。
【００２３】
一対のデータ用受光素子３３ａ、３３ｂは、光磁気記録信号ＭＯおよびプリフォーマット信号ＲＯの検出に用いられるものである。データ用受光素子３３ａは、ホログラム板２７からの偏光方向ａの光束を受光したとき出力ｋ１を出力する。データ用受光素子３３ｂは、ホログラム板２７からの偏光方向ｂの光束を受光したとき出力ｋ２を出力する。なお、各データ用及びサーボ用受光素子３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、３３ａ、３３ｂの配置は、図４に示す配置に限定されるものではない。例えば、データ用受光素子３１ａ、３１ｂ、及びデータ用受光素子３３ａ、３３ｂの２組のうち少なくとも一方は、２つに分割することなく１つの受光素子として構成することができる。
【００２４】
一対のサーボ用受光素子３２ａ、３２ｂは、フォーカスエラー信号ＦＥおよびトラッキングエラー信号ＴＥの検出に用いられるものである。サーボ用受光素子３２ａ、３２ｂは、それぞれの受光面が、ディスク２４のトラックと平行な（図４中、Ｙ’軸方向に３分割された）分割面に３分割されている。サーボ用受光素子３２ａは、ホログラム板２７からの光束を分割面ｄ１、ｅ１、ｆ１で受光したとき、各分割面ｄ１、ｅ１、ｆ１に対応した出力ｉ１、ｉ２、ｉ３を発生する。サーボ用受光素子３２ｂは、ホログラム板２７からの光束を分割面ｄ２、ｅ２、ｆ２で受光したとき、各分割面ｄ２、ｅ２、ｆ２に対応した出力ｊ１、ｊ２、ｊ３を発生する（図５参照）。
【００２５】
一対のサーボ用受光素子３２ａ、３２ｂに入射する光束のスポット位置は、対物レンズ２５が光磁気ディスク２４に近い場合には図６のようになり、合焦状態の場合に図７、対物レンズ２５が光磁気ディスク２４から遠い場合に図８のようになる。
【００２６】
処理部１５は、図５に示すように、加算回路３６、３７、３８、３９、４０、４１、４４と、減算回路４２、４３、４５とを備えている。
【００２７】
加算回路３６は、サーボ用受光素子３２ａの分割面ｄ１で受光したときの出力ｉ１と、分割面ｆ１で受光したときの出力ｉ３と、サーボ用受光素子３２ｂの分割面ｅ２で受光したときの出力ｊ２との和を演算して減算回路４２に送る。
【００２８】
加算回路３７は、サーボ用受光素子３２ａの分割面ｅ１で受光したときの出力ｉ２と、サーボ用受光素子３２ｂの分割面ｄ２で受光したときの出力ｊ１と、分割面ｆ２で受光したときの出力ｊ３との和を演算して減算回路４２に送る。
【００２９】
減算回路４２は、加算回路３６、３７からの出力の差を演算して、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥは、次式、
ＦＥ＝（ｉ１＋ｉ３＋ｊ２）−（ｉ２＋ｊ１＋ｊ３）
によって与えられる。
【００３０】
加算回路３８は、サーボ用受光素子３２ａの分割面ｆ１で受光したときの出力ｉ３と、サーボ用受光素子３２ｂの分割面ｄ２で受光したときの出力ｊ１との和を演算して減算回路４３に送る。
【００３１】
加算回路３９は、サーボ用受光素子３２ａの分割面ｄ１で受光したときの出力ｉ１と、サーボ用受光素子３２ｂの分割面ｆ２で受光したときの出力ｊ３との和を演算して、減算回路４３に送る。
【００３２】
減算回路４３は、加算回路３８、３９からの出力の差を演算して、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。すなわち、トラッキングエラー信号ＴＥは、次式、
ＴＥ＝（ｉ３＋ｊ１）−（ｉ１＋ｊ３）
によって与えられる。
【００３３】
加算回路４０は、データ用受光素子３３ａで受光したときの出力ｋ１と、データ用受光素子３３ｂで受光したときの出力ｋ２との和を演算して、加算回路４４と減算回路４５に送る。
【００３４】
加算回路４１は、データ用受光素子３１ａで受光したときの出力ｈ１と、データ用受光素子３１ｂで受光したときの出力ｈ２との和を演算して、加算回路４４と減算回路４４は、４５に送る。
【００３５】
加算回路４４は、加算回路４０と４１からの出力の和を演算して、プリフォーマット信号ＲＯを生成する。
【００３６】
減算回路４４は、加算回路４０と４１からの出力の差を演算して、光磁気記録信号ＭＯを生成する。
すなわち、プリフォーマット信号ＲＯおよび光磁気記録信号ＭＯはそれぞれ、次式、
ＲＯ＝（ｋ１＋ｋ２）＋（ｈ１＋ｈ２）
ＭＯ＝（ｋ１＋ｋ２）−（ｈ１＋ｈ２）
によって与えられる。
【００３７】
これらのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、プリフォーマット信号ＲＯ、および光磁気記録信号ＭＯは、再生回路（図示せず）及びサーボ回路（図示せず）にそれぞれ出力され、処理される。
【００３８】
図１に示すように、半導体レーザ１６から射出されたレーザ光はコリメータレンズで平行光となり、アナモフィックプリズム１８で整形されてアナモフィックプリズム１９へ入射する。また、図９に示すように、アナモフィックプリズム１９と直角プリズム２０の接合面（すなわちハーフミラー部）２２への入射光束はハーフミラー面２２に対し入射角４５で入射する。この角度は従来の構成と同様であるが、本実施例においては、図に示すように、直角プリズム２０の頂角が４５度ではなく、４４度及び４６度に設定されている。このため、プリズムの材質をＢＫ７材（屈折率１．５１）とすると、ハーフミラー面２２を透過した光束は、図中プリズム２０のａ面に入射角１度で入射し、ａ面に立てた垂線に対し、時計方向に１．５１度傾いた光路で出射して対物レンズへと向かう。一方、ハーフミラー面２２で反射された光束は、ａ面と直角なｂ面に立てた垂線に対し、時計方向に１．５１度傾いた光路でＡＰＣセンサへと向かう。これらの光は、光磁気信号の記録再生信号として用いられる信号用光束である。なお、ここでは、入射・出射角が極めて小さいことから、プリズム内部の入射角／プリズムからの出射角＝屈折率という関係が成り立っている。
【００３９】
プリズムブロック１２のａ、ｂ面において、プリズム内部への反射光が発生する。もしも、ハーフミラー面２２からａ面、ｂ面に向かう光線の光軸がそれぞれの面に垂直であれば不要な迷光（反射光）は信号光と同一にサーボ及びデータ用複合センサへと戻ることになり、常に一定の光量がセンサに入射して、信号検出結果に悪影響を与えることになる。本実施例のように、直角プリズム２０のａ面とアナモフィックプリズム１９のｂ面を、接合面であるハーフミラー面２２に対して、−１度と＋１度ずつそれぞれ傾け、４４度と４６度になるように構成することにより、ａ、ｂ面で内部反射する光束（不要光１、２となる）は、レーザダイオード側から進行してくる光束（入射光束）に対して２度の角度差を持って反射進行することになる。
【００４０】
ここで、直角プリズム２０のａ面で反射された不要光は、再びハーフミラー面２２に４３度の入射角で入射し、同じく４３度の反射角で反射されて直角プリズム２０のｄ面へと向かう。このｄ面に入射する角度は、３度であり、結果的に集光レンズ側へ向かう信号光とは、約３度の偏角をもって信号検知部１４へと出射する。アナモフィックプリズム１９のｂ面で反射された不要光は、ハーフミラー面２２を透過し、直角プリズム２０のｄ面へ１度の入射角で入射し、ｄ面で屈折後、集光レンズ側へ向かう信号光とは約３度の偏角をもって同様に信号検知部へと出射する。これら不要光成分は信号光を基準として互いに反対側に約３度傾いている。
【００４１】
従って、本来の目的である、信号光に対して、ハーフミラープリズムｄ面を出射後は、不要光は、それぞれ±３度の傾きを正負に持ちながら出射して、ウォラストンプリズム２６に入射する。
【００４２】
前述のように、ウォラストンプリズム２６と集光レンズを透過した信号光は、ホログラム素子、集光レンズを経て、複合センサ上で所定の大きさにそれぞれ集光される。不要光も信号光に対して、±３度の傾きを持ってウォラストンプリズム２６、ホログラム素子２７を経て、集光レンズ２８によって複合センサ２９上にそれぞれ集光される。このようにして複合センサ２９上に集光された信号光および不要光を図１０に示す。Ｓ（−１）、Ｓ（＋１）は信号光の−１次回折光および＋１次回折光、Ａ（０）、Ａ（−１）は直角プリズム２０のａ面で反射された不要光の０次および−１次回折光であり、Ｂ（０）、Ｂ（＋１）はアナモフィックプリズム２０のｂ面からの不要光の０次および＋１次回折光である。直角プリズム２０のａ面で反射された不要光の＋１次回折光及び、アナモフィックプリズム２０のｂ面からの不要光の−１次回折光は複合センサ２９の外側で収束している。
【００４３】
上述のように、本実施例の光情報記録・再生装置においては、光学素子およびセンサの配置は、往路光学系において光学素子の内部反射により発生する不要光（迷光）が、センサの信号検出エリア内に入らないようになっている。なお、プリズムの頂角、４６度と４４度、及びプリズム全体を約１．５１度、Ｘ−Ｙ（部分系でのＸ’−Ｙ’）平面内で回転する方向をそれぞれ逆にすれば、図６内の不要光の場所も左右が入れ替わる。
【００４４】
さらに、通常、ホログラム素子を透過する光は±１次回折光だけではなく、製作上の公差・誤差により回折角を有せずに単にホログラム素子を透過するだけの０次光も含まれる。この０次光は、単に集光レンズに斜めに入射した光束としてセンサ上に集光される。
【００４５】
このように、本実施例の光磁気ヘッド装置は、光磁気ディスク２４からの光束Ｌを、特定平面内において偏光方向の異なる３光束Ａ１、Ｂ１、Ｃ１に分離し、そのうちの１光束Ｂ１をサーボ信号用光束とし、２光束Ａ１、Ｃ１をデータ信号用光束とするウォラストンプリズム２６を有し、このウォラストンプリズム２６で分離された３光束Ａ１、Ｂ１、Ｃ１をさらにそれぞれ該ウォラストンプリズム２６による光束分離方向とは直交する方向に２分割するためのホログラム板を有して、各２分割光束Ａ２、Ｂ２、Ｃ２およびＡ２’、Ｂ２’、Ｃ２’を生成している。そして、ホログラム板２７により分割されたサーボ信号用光束の２分割光束Ｂ２およびＢ２’を受光するために、光軸Ｏ方向の同一位置における平面内に位置する一対のサーボ用受光素子３２ａ、３２ｂを有し、ホログラム板２７により分割された２とのデータ信号用光束の２分割光束Ａ２、Ａ２’およびＣ２、Ｃ２’をそれぞれに受光するために、サーボ用受光素子３２ａ、３２ｂと同一の光軸方向位置における平面内に位置する一対ずつのデータ用受光素子３１ａ、３１ｂおよび３３ａ、３３ｂを有している。さらに、ビームスプリッタとしてのプリズムブロック１２は、ホログラム板２７の回折方向と平行な方向において内部反射光が信号光と異なる角度で出射するような構成となっており、センサの受光領域は、信号光のみを受光するよう配置されている。
【発明の効果】
本発明によると、データ信号用の受光素子とサーボ信号用の受光素子とを完全に分離させ、不要光の悪影響を受けることなく、サーボ信号、光磁気記録信号ＭＯ、プリフォーマット信号ＲＯをそれぞれ別個に検出することができ、信号処理及び回路構成が簡易な光学系を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施例の光情報記録・再生装置の光学系を示す図である。
【図２】ホログラム板のパターンを説明するための図である。
【図３】ホログラム板の断面図である。
【図４】プリズムブロックから出射された光束の進路を示す図である。
【図５】センサの各受光領域の出力信号と、その演算回路を示す図である。
【図６】スポット形状を示す図である。
【図７】スポット形状を示す図である。
【図８】スポット形状を示す図である。
【図９】プリズムブロックの構成を示す図である。
【図１０】不要光および信号光のセンサ上での集光状態を示す図である。
【符号の説明】
１２  プリズムブロック
１６  半導体レーザ
２０  アナモフィックプリズム
２１  直角プリズム
２２  ハーフミラー面
２４  光磁気ディスク
２５  対物レンズ
２６  ウォラストンプリズム
２７  ホログラム板
２９  複合センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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