(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
一定長のビット片群を具える読出し信号の品質を表す品質信号を取出す品質信号取出し方法であって、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記読出し信号が、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表す光学的に検出可能の効果片の情報パターンを読み出すことによって取得され、第１の方向において基準値を超える前記読出し信号の第１の読出し信号部分が、そのように読み出された情報パターンの効果片に対応し、前記品質信号が前記第１の読出し信号部分に基づいて取得される品質信号取出し方法において、連続ｎビット片の群を表わす前記第１読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度を決定し、所定の読出しパラメータ変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の感度に比べて大きくなるようｎの値を選択することを特徴とする品質信号取出し方法。
【請求項２】
連続ｍビット片の群を表わす読出し信号部分の長さの偏差に対する第２の尺度を決定し、前記品質信号が第１と第２との尺度の相違を表わし、前記パラメータ変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し部分の感度に比べて小さくなるようｍの値を選択することを特徴とする請求項１記載の品質信号取出し方法。
【請求項３】
ｎを３に等しい値にするとともに、ｍを５以上７以下にすることを特徴とする請求項２記載の品質信号取出し方法。
【請求項４】
一定長のビット片群を具える２値情報信号を記録層に記録する記録装置であって、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記記録層を放射ビームによって走査する走査手段と、所定の記録ストラテジに従いながら前記情報信号に応答して前記放射ビームの強度を変調する手段とを具え、その結果として、光学的に検出可能の効果片の情報パターンが前記記録層に記録され、その効果片が、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表し、読出し信号を発生するために前記情報パターンを光学的に読出し、第１の方向において基準値を超える前記読出し信号の第１の読出し信号部分が、読み出された情報パターンの効果片に対応する読出し手段と、前記第１の読出し信号部分を分析するとともに、行われた分析の結果を表す品質信号を生成する分析手段と、前記品質信号に基づいて前記記録ストラテジに適合させる適合手段とを更に具える記録装置において、前記適合手段が、連続ｎビット片の群を表わす前記第１読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度を取得する取得手段を具え、前記品質信号が前記第１の尺度を表し、前記記録ストラテジの変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の書込みの偏差の感度に比べて大きくなるようｎの値を選択することを特徴とする記録装置。
【請求項５】
前記解析手段が、連続ｍビット片の群を表わす第１の読出し信号部分の長さの偏差に対する第２の尺度を決定する決定手段と、前記第１の尺度と前記第２の尺度との相違を決定する決定手段とを具え、前記品質信号が前記相違を表し、前記記録ストラテジの変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の長さの偏差の感度に比べて小さくなるようにｍの値を選択することを特徴とする請求項４記載の記録装置。
【請求項６】
ｎを３に等しい値にするとともに、ｍを５以上７以下にすることを特徴とする請求項５記載の記録装置。
【請求項７】
前記変調手段が、放射ビームの強度をパルス状に変調する記録ストラテジを実行する手段を具え、前記適合手段を、各放射パルスの始端を過ぎた所定の時間周期に位置する時間における放射パルスの強度を適合させるように配置し、前記第１の読出し信号部分の平均長が、読み出された信号の第１の読出し信号部分間に配置された第２の読出し信号部分の平均長にほぼ等しくなるように、前記基準値を設定する設定手段を更に具えることを特徴とする請求項４から６のうちのいずれか１項に記載の記録装置。
【請求項８】
記録中に記録層によって反射された放射を検出する検出手段と、各放射パルスの始端における時間周期中に前記放射ビームの強度レベルを設定する設定手段とを具え、その強度レベルを、前記放射パルスの始端における前記時間周期中に前記記録層によって反射された前記放射の強度のふるまいに応じて設定することを特徴とする請求項７記載の記録装置。
【請求項９】
記録層から情報パターンを読み出す読出し装置であって、その情報パターンが、一定長のビット片群を具える２値情報信号を表し、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記情報パターンが、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表す光学的に検出可能な効果片群を具え、前記情報パターンを光学的に読み出し、第１の方向において基準値を超える第１の読出し信号部分が読出し情報パターンの効果片に対応する信号を読み出す読出し手段と、特定の周波数領域の部分とその特定の周波数領域外の部分との利得係数の比を設定し得るようにして読取り信号を濾波する濾波手段と、読取り信号における連続ｎビット片の群を表わす第１の読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度となる品質信号を決める解析手段と、その品質信号によって前記利得係数相互間の比を適合させる適合手段とを具え、前記ビット片の長さのｎ倍の読出し信号部分の周波数が前記周波数の範囲内にあるようにｎの値を選択したことを特徴とする読取り装置。
【請求項１０】
前記解析手段が、連続ｍビット片の群を表わす第１の読出し信号部分の長さの偏差に対する第２の尺度を決める決定手段と、前記第１の尺度と前記第２の尺度との相違を決める決定手段とを具え、前記品質信号が前記相違を表わすとともに、前記ビット片の長さのｍ倍の読出し信号部分の周波数が前記周波数の範囲外にあるようにｍの値を選択したことを特徴とする請求項９記載の読取り装置。
【請求項１１】
ｎを３に等しい値にするとともに、ｍを５以上７以下にすることを特徴とする請求項１０記載の読取り装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、一定長のビット片群を具える読出し信号の品質を表す品質信号を取出す品質信号取出し方法であって、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記読出し信号が、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表す光学的に検出可能の効果片の情報パターンを読み出すことによって取得され、第１の方向において基準値を超える前記読出し信号の第１の読出し信号部分が、そのように読み出された情報パターンの効果片に対応し、前記品質信号が前記第１の読出し信号部分に基づいて取得される品質信号取出し方法に関するものである。本発明は、さらに、かかる方法を用いた記録装置および読取り装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
上述した種類の方法および読取り装置は、「研究開発」誌、１９９２年８月刊、第34,002号から知られている。この文献には、通称ＣＤ方式に使用する、通例、ＥＦＭ変調信号と呼ばれるものを記録する方法が記載されており、読取り信号が表わす情報を信頼性よく再生するために、読取り信号がある標準を満たすことを基本にしている。この文献に記載の品質標準によれば、読出した信号における第１の読取り信号部分の長さは、本質的に、ビット片の長さの整数倍に等しい不連続の値をとっており、品質信号は、この品質標準が満たされている程度を示す。この従来周知の方法では、小さい個数、この場合には３個のビット片に対応する第１読取り信号部分が品質信号を取出すのに選定されており、したがって、この選定された第１読取り信号部分のふらつきの尺度となる信号が品質信号として取出されている。この品質信号が品質標準は満たされていないことを示した場合には、記録ストラテジを適合させ、その結果、情報パターンを適合させ、したがって、読取り信号の品質も適合させることになる。この場合の記録ストラテジは、記録に用いる記録ビーム変調と記録すべき情報との関係として理解すべきものである。従来の装置では、３ビット片に対応する長さを有してＩ3 効果片とも呼ばれる効果片を２ビット片の長さの放射パルスで記録するようにした記録ストラテジが用いられており、放射パルスの末端部の強度が始端部の強度より低くなっている。より大きい個数のビット片を表わす効果片は、放射パルスを拡張し、拡張した部分の放射強度を低く保つことによって得られる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
記録ストラテジの適合が望まれる場合、従来の装置では、専ら、放射パルスの末端部の強度を適合させることによってこの適合を成し遂げていた。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は、読取り信号の品質をよりよく示す品質信号を発生させる方法を提供することにある。方法について言えば、この目的は、連続ｎビット片の群を表わす前記第１読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度を決定し、所定の読出しパラメータ変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の感度に比べて大きくなるようｎの値を選択することを特徴とする品質信号取出し方法によって達成される。
【０００５】
長さの偏差が記録ストラテジの変化に対して敏感な効果片にそれぞれ対応する読取り信号部分における長さの偏差を検出することにより、正しい記録ストラテジが用いられていたか否かを信頼性よく確立することができる。
【０００６】
本発明方法の一実施例は、連続ｍビット片の群を表わす読出し信号部分の長さの偏差に対する第２の尺度を決定し、前記品質信号が第１と第２との尺度の相違を表わし、前記パラメータ変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し部分の感度に比べて小さくなるようｍの値を選択することを特徴とする。
【０００７】
この実施例では長さの偏差の相互間の相違を決めるのであるから、長さの偏差の決定に悪影響を与えるパラメータの変化によっても得られる結果の損害は少ない。
【０００８】
読取ったＣＤ信号の品質を決定するのに特に好適な方法の実施例は、ｎを３に等しい値にするとともに、ｍを５以上７以下にすることを特徴とする。
【０００９】
本発明による方法は、一定長のビット片群を具える２値情報信号を記録層に記録する記録装置であって、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記記録層を放射ビームによって走査する走査手段と、所定の記録ストラテジに従いながら前記情報信号に応答して前記放射ビームの強度を変調する手段とを具え、その結果として、光学的に検出可能の効果片の情報パターンが前記記録層に記録され、その効果片が、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表し、読出し信号を発生するために前記情報パターンを光学的に読出し、第１の方向において基準値を超える前記読出し信号の第１の読出し信号部分が、読み出された情報パターンの効果片に対応する読出し手段と、前記第１の読出し信号部分を分析するとともに、行われた分析の結果を表す品質信号を生成する分析手段と、前記品質信号に基づいて前記記録ストラテジに適合させる適合手段とを更に具える記録装置において、前記適合手段が、連続ｎビット片の群を表わす前記第１読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度を取得する取得手段を具え、前記品質信号が前記第１の尺度を表し、前記記録ストラテジの変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の書込みの偏差の感度に比べて大きくなるようｎの値を選択することを特徴とする記録装置に用いるのが有利である。
【００１０】
本発明による記録装置の他の実施例は、前記解析手段が、連続ｍビット片の群を表わす第１の読出し信号部分の長さの偏差に対する第２の尺度を決定する決定手段と、前記第１の尺度と前記第２の尺度との相違を決定する決定手段とを具え、前記品質信号が前記相違を表し、前記記録ストラテジの変化に対する長さの偏差の感度が他の第１の読出し信号部分の長さの偏差の感度に比べて小さくなるようにｍの値を選択することを特徴とする。
【００１１】
この方法は、放射パルスの始端部における強度変化を適合させない記録ストラテジを利用するのであるから、比較的長い効果片の長さとは反対に、短い効果片の長さは変化せず、その結果として、効果片群相互間の比は変化しない。その結果として生じ得る記録パターンの如何なる非対称性、すなわち、効果片の平均長と効果片間の領域の平均長との比が１に等しくないことは、読取り信号に及ぼす影響は基準値をずらすことによって抑圧し得るのであるから、欠点とはならない。異なる種類の長さの効果片相互間の比が、読出した信号から情報を再生し得るようになっていることが重要である。
【００１２】
この実施例においては、放射パルスの始端部の強度は適合させないのであるから、そのエネルギー内容の同様な制御を放射パルスの記録ストラテジの設定を変えた場合にも適用することができる。
【００１３】
それを実現した実施例は、記録中に記録層によって反射された放射を検出する検出手段と、各放射パルスの始端における時間周期中に前記放射ビームの強度レベルを設定する設定手段とを具え、その強度レベルを、前記放射パルスの始端における前記時間周期中に前記記録層によって反射された前記放射の強度のふるまいに応じて設定することを特徴とする。
【００１４】
本発明の方法は、読取り装置に適用するのにも特に好適であり、その場合には、読取り信号を品質信号に基づいて適切に処理し得るのであるから、如何なる長さの相違が情報パターンに生じても、その結果を補償することができる。
【００１５】
そのことは、記録層から情報パターンを読み出す読出し装置であって、その情報パターンが、一定長のビット片群を具える２値情報信号を表し、そのビット片群がそれぞれ第１又は第２の論理値を有し、前記情報パターンが、前記第１の論理値を有する連続ビット片群を表す光学的に検出可能な効果片群を具え、前記情報パターンを光学的に読み出し、第１の方向において基準値を超える第１の読出し信号部分が読出し情報パターンの効果片に対応する信号を読み出す読出し手段と、特定の周波数領域の部分とその特定の周波数領域外の部分との利得係数の比を設定し得るようにして読取り信号を濾波する濾波手段と、読取り信号における連続ｎビット片の群を表わす第１の読出し信号部分の実際の長さとビット片の長さのｎ倍との長さの偏差に対する第１の尺度となる品質信号を決める解析手段と、その品質信号によって前記利得係数相互間の比を適合させる適合手段とを具え、前記ビット片の長さのｎ倍の読出し信号部分の周波数が前記周波数の範囲内にあるようにｎの値を選択したことを特徴とする読取り装置で実現される。
【００１６】
（実施例）以下に図面を参照して実施例につき本発明を詳細に説明する。すなわち、例えばＣＤ信号を記録するのに用いるいわゆるＥＦＭ変調信号を記録再生するのに好適な実施例について本発明を以下に詳述するが、本発明の適用分野はＥＦＭ変調信号の記録再生に限定されるものではなく、一定長のビット片を備えた他の信号の記録再生にも同様に適用することができる。
【００１７】
説明のために、図３ａにＥＦＭ変調信号３１を示す。このＥＦＭ変調信号３１は、２値信号であって、一定長Ｔを有するビット片３０を備えている。同一論理値を有する連続ビット片の最小個数は、ＥＦＭ変調信号については、３に等しく、最大個数は１１に等しい。かかる信号は、十分な強度の放射に記録層に曝すことによって光学的に検出可能の変化をおこさせ得る種類の記録層を備えた記録担体に記録することができる。かかる記録層は、光学的に検出可能の変化によって反対の変化が生ずる種類のものであるが、光学的に検出可能の磁化の変化をおこし得るいわゆる磁気光学層も用いることができる。ＥＦＭ変調信号３１は、光学的に検出可能の変化を受けない間隙３３と交互に位置する光学的に検出可能の変化が生じた効果片３２のパターンの形で記録される。
【００１８】
図３ｂに示すパターンにおいて、効果片３２は論理値“１”を有するビット片を表わし、間隙３３は論理値“０”を有するビット片を表わす。効果片３２および間隙３３の長さは、それぞれが表わすビット片の個数に対応するが、ｎビット片の群が表わす効果片を、以下では簡単のために有効片と呼ぶことにする。
【００１９】
有効片は、記録すべき信号に対応する強度を適切な記録ストラテジを使用して変調した放射ビームにより一定速度で記録層を走査することによって記録層中に実現することができる。
【００２０】
記録ストラテジは、ここでは、記録に用いる記録ビームの変調と記録すべき情報との関係であると理解すべきものである。説明のために、図２ａに適切な記録ストラテジを示す。この記録ストラテジによれば、長さ（ｎ−１）Ｔを有する放射パルスを一連のｎビット片を表わす有効片を記録するのに用い、放射パルスの強度をその始端部における 1.5Ｔの期間においては値Ｉ１に設定し、その 1.5Ｔの期間の後では、強度ＩをＩ２のレベルに設定する。
【００２１】
効果片２２の記録パターンは、一定強度の放射ビームでそのパターンを走査することにより読出すことができ、記録層で反射した放射が、走査されたパターンに対応した適応した変調を表わし、この変調を慣用の態様で検出して読取り信号に変換することができる。説明のために、図４ａには効果片３２のパターンを示し、図４ｂにはこれに対応した読取り信号Ｖｌを示す。参照数字４０は、基準レベルＶref の読取り信号Ｖｌとの交点を示すものである。２値読取り信号Ｖｌ′は、読取り信号Ｖｌの信号値が基準値を超えたときに信号値“１”を形成し、読取り信号が基準値以下のときに信号値“０”を形成することによって得られ、かかる２値読取り信号Ｖｌ′を図４ｃに示す。この２値読取り信号Ｖｌ′を信頼性よく復調するには、同じ論理値を有する読取り信号成分の長さが、明瞭な制限の範囲内で、ビット片長Ｔの整数倍に対応するようにするのが望ましい。一般に、読取り信号成分は、正確ではないがビット片長の整数倍に等しいけれども、実際の長さと最良の長さとの間には長さの偏差が存在し、図４ｃでは、この長さの偏差をｄＴとしている。かかる長さの偏差は、効果片３２と間隙３３との記録パターンにおける非対称性、すなわち、効果片長が平均して間隙長に比べて短か過ぎること、あるいは、その逆によって生ずる。かかる非対称性の影響は、基準レベルＶref をずらすことによって低減することがたでき、如何なる非対称性も２値読取り信号に何ら影響を及ぼさない値に基準レベルを設定する極めて簡単な方法は、いわゆる交流変調信号とすることであり、すなわち、論理値“０”を有するビット片の個数を論理値“１”を有するビット片の個数に等しくすることである。ＥＦＭ変調信号も含めて、かかる交流変調信号においては、読取り信号中の直流成分が本質的に０に等しくなる値に基準レベルを設定する。
【００２２】
基準レベルＶref の適合による非対称性のかかる低減は、効果片の異なった長さに関する偏差ｄＴがあまり大きくなければ、うまく作用する。偏差ｄＴが大きい場合には、記録ストラテジが記録層に良好に適合していないのであるから、記録ストラテジを適合させることが望ましい。
【００２３】
この適合は、長さが異なる効果片に対する放射パルスのエネルギー内容相互の割合いを変化させることによって達成される。
【００２４】
読取り信号の短い効果片に対応する部分がより長い効果片に比べて短か過ぎる場合には、この変化を記録ストラテジの適合によって遂行することができるので、短い効果片の記録に対する放射パルスのエネルギー内容を増大させるのに反し、より長い効果片の記録に対する放射のエネルギー内容はほぼ同じに保たれる。その結果として、短い効果片がより長い効果片に比べてより長くなる。しかしながら、短い効果片がより長い効果片に比べて短か過ぎる場合には、短い効果片の記録に対して放射のエネルギー内容を変化させないままにするとともに、より長い効果片に対する放射のエネルギー内容を低減させるのが魅力的であり、したがって、短い効果片の長さは同じままとなる。しかしながら、より長い効果片の長さが小さくなるので、種々異なる効果片の長さの偏差ｄＴ相互間の差違が小さくなる。しかしながら、記録ストラテジのかかる適合の結果はやゝ非対称になることがある。さきに説明したように、かかる非対称性の読取り２値信号Ｖｌ′に及ぼす影響は、基準レベルＶref の適合によってほぼ０まで低減される。使用した記録ストラテジの正しさは、読取り信号の使用した記録ストラテジに長さが相対的に強く依存する効果片に対応する部分の長さの偏差を検出することにより、簡単かつ信頼性よく決定することができる。実際には、短い効果片の長さが使用した記録ストラテジに強く依存するように見える。説明のために、図５，６および７には、読取り信号の効果片に対応する部分の長さの偏差を、同じ論理値を有する種々異なる個数の連続ビット片群について示す。
【００２５】
曲線５０，６０および７０上の各点は、図２ａに示した記録ストラテジの実施により効果片を記録してあるそれぞれ異なる３種類の記録層における長さの偏差ｄＴを示したものである。曲線５０の上の各点が示す長さの偏差相互の差違は小さいが、これは、使用した記録ストラテジが記録層に十分に適合していたことを意味する。
【００２６】
しかしながら、曲線６０上に位置する長さの偏差相互の差違は大きく、長さ３Ｔを有する読取り信号部分に対する長さの偏差は、他の長さの偏差に比べて大きい負値を有しており、これは、使用した記録ストラテジが記録層に十分に適合していなかったことを示す。長さの偏差相互の差違を小さくするには、記録ストラテジを変えるべきであり、適切な記録ストラテジは図２ｃに示すものである。この記録ストラテジによれば、強度Ｉ２は、図２ａに示したとおりの原記録ストラテジに比べて低減される。この適合により、より長い効果片はわずかに短くなり、短い効果片の長さはほぼ同じままであるから、長さの偏差相互の差違は小さくなる。さきに考察したように、その結果としてわずかな非対称性が生ずるが、その影響は、基準レベルＶref をずらすことによって中和することができる。これを説明するために、図６では、図２ａに示した記録ストラテジを用いた場合における長さの偏差を曲線６１上に示す。
【００２７】
曲線７１上に位置する長さの偏差相互の差違は大きいが、長さ３Ｔを有する読取り信号部分に対する長さの偏差は、他の長さの偏差に比べて大きい正値を有しており、これは、使用した記録ストラテジが記録層に十分に適合してはいないことを指摘している。
【００２８】
さらによく適合した記録ストラテジは図２ｂに示したものである。この記録ストラテジによれば、強度Ｉ２は、図２ａに示したとおりの原記録ストラテジに比べて増大している。この適合により、より長い効果片はわずかに長くなるのに反し、短い効果片の長さはほぼ同じままであるので、長さの偏差相互の差違は小さくなる。さきに考察したように、これによりわずかな非対称性が生ずるが、その影響は、基準レベルＶrefをずらすことによって中和することができる。説明のために、図７では、図２ｂに示した記録ストラテジを用いた場合における長さの偏差を曲線７１上に示す。
【００２９】
本発明による方法を用いれば、使用した記録ストラテジの正しさは、長さの偏差相互間に大きい差違があったか否かを種々異なる長さを有する効果片について示す品質信号を取出すことによって決定される。
【００３０】
この尺度により、記録ストラテジは適合され、あるいは、適合されない。本発明による方法の一実施例においては、効果片３２のテスト・パターンを図２ａに示した記録ストラテジによって記録しているので、効果片Ｉ３の長さの偏差が特定の最小値と特定の最大値とで決めたある許容範囲内にあるか否かが決まる。長さの偏差の大きさが許容最小値以下であることを品質信号が示したときには、そのときから図２ｃに示した記録ストラテジが用いられ、長さの偏差の大きさが許容最大値以上であることを品質信号が示したときには、そのときから図２ｂに示した記録ストラテジが用いられる。
【００３１】
上述した実施例においては、３種類の記録ストラテジを選択することができ、その３種類のうちのある記録ストラテジによって記録した効果片Ｉ３に属する長さの偏差に応じて、他の記録ストラテジのいずれかを以後使用することになるが、長さの偏差相互の差違に対する尺度に基づいて選択すべき記録ストラテジの種類数は３に限らず、基本的に無制限であることは当業者にとっては明らかなことである。
【００３２】
なお、上述した実施例においては、読取り２値信号Ｖｌ′の効果片Ｉ３に対応する信号部分の長さの偏差を偏差相互間の差違の尺度として用いている。
【００３３】
実際には、かかる効果片Ｉ３は、より長い効果片よりも記録ストラテジの適合に対して高感度であるように見える。しかしながら、長さの偏差相互間の差違は、他の方法でも決定することができることも明らかであり、例えば、記録ストラテジの適合に比較的敏感な効果片に属する長さの偏差を記録ストラテジの適合に比較的不感の効果片に属する長さの偏差と比較するのも魅力的である。
【００３４】
一般に、最短の効果片に属する長さの偏差は、その他の効果片に属する長さの偏差とは最も相違している。しかしながら、より長い効果片に属する長さの偏差が最大の長さの偏差を呈するような記録層が存在しており、かかる記録層においては、記録ストラテジの正しさが、より長い効果片に属する長さの偏差に基づいて最もよく決定されることは明らかであろう。
【００３５】
図１には、本発明による方法に対応した記録ストラテジを適合させた記録装置の構成例を示す。図示の構成において、円板状記録担体１は、慣用の種類の記録層３を被着した透明基板２を備え、その記録層３に光学的に検出可能の変化を起こさせるのに十分な強さを有する放射にその記録層を曝すことにより、光学的に検出可能の効果片を実現させることができる。
【００３６】
記録担体１は、駆動モータ１０により軸１１の周囲を回転駆動させ、その回転記録担体１に書込み・読取り用光学ヘッド１２を対向配置する。その光学ヘッド１２には、放射源４を備えて放射ビーム５を発生させ、その放射ビーム５を光学系により記録層３上に集束し、その光学系に含まれている焦点手段８により記録層３上に小さい走査スポット９を結ばせる。放射源４は、制御信号により付勢し、その制御信号は、慣用の種類の制御回路６により発生させる。その制御回路６は、情報入力端１３にＥＦＭ変調信号を受入れるとともに、制御入力端１４に、使用する記録ストラテジを指示する設定信号を受入れる。制御回路６から入来し、放射源４に適用される制御信号の電力は受入れたＥＦＭ変調信号の電力に対応し、そのＥＦＭ変調信号は記録ストラテジによって変調されており、その記録ストラテジは設定入力端１４で受入れた設定信号により決定されるが、図２に示した記録ストラテジの他にも、多数の記録ストラテジが適用可能である。適用可能の記録ストラテジおよび提供された制御信号は、例えば、ＵＳ− 4,774,522 ( PHN 11.915)、ＤＥ−Ａ− 37.27.681 ,ＵＳ− 4,646,103 ,ＥＰ−Ａ 0.317.193およびＥＰ−Ａ 0.288.114 (PHQ 88.006 )の各明細書から知られており、ここではこれらの文献を併せて参照する。
【００３７】
制御回路６は、さらに、書込み・読取り制御入力端１５を有しており、その制御入力によって書込み状態、あるいは、読取り状態になる。書込み状態においては、制御回路６は、前述したように、電力変調制御信号を放射源４に印加し、その結果として、放射源４が放射ビームを発生させ、その放射強度を、記録層３に光学的に検出可能の変化をおこさせる高レベルと、光学的に検出可能の変化をおこさせない低レベルとの間で交互に切換える。
【００３８】
一方、読取り状態においては、制御回路６は、放射源４に、放射ビームの強度を記録層３に光学的に検出可能の変化をおこさせない値になる一定の低電力レベルの制御信号を印加する。
【００３９】
記録ストラテジを設定するとともに書込みもしくは読取りの状態を選択するために、制御回路６の入力端１４および１５を、例えば、適切なソフトウエアを備えた慣用のプログラム可能の型の制御ユニット１７に結合させる。
【００４０】
使用した記録ストラテジの正しさを確定するために、制御回路６を制御ユニット１７によって書込みの状態にし、その結果として、受入れたＥＦＭ変調信号に対応した効果片３２と間隙３３とのパターンを記録層３に記録する。ついで、制御回路６を読取りの状態にし、制御ユニット１７の制御のもとに、記録したパターンを放射ビーム５により低強度で走査する。記録層３で反射した放射ビームは、走査したパターンに対応した変調状態を呈示する。この放射ビームの変調状態を検出するために、反射した放射ビームを慣用の型の高感度放射検出器１８に導き、走査したパターンに対応した読取り信号Ｖｌを形成し、その読取り信号Ｖｌを検出回路１９において基準レベルＶref と比較して２値検出信号Ｖｌ′に変換する。検出回路１９の詳細構成については、例えば、ＧＢ−Ａ2.109.187 を参照するのがよい。ついで、読取り２値信号Ｖｌ′を解析回路２０に供給して品質信号Ｖm を取出し、長さの偏差相互間の差違の尺度とする。この品質信号Ｖm を制御ユニット１７に印加して、適切な決定基準に基づき、使用した記録ストラテジが正しかったか否かを確定し、正しくなかった場合には、品質信号に基づき、記録ストラテジを如何様に適合させるべきかを決定して、その決定に従った信号を制御回路６の設定入力端に印加する。
【００４１】
図８には、図２に示した記録ストラテジの一つを使用して効果片を記録し得るようにした制御回路６の構成例を示す。
【００４２】
図８に示す制御回路６には遅延素子８０を備え、その入力端を情報入力端１３に結合させてＥＦＭ変調信号を受入れる。遅延回路８０は、ＥＦＭ変調信号のビット片の長さに対応する時間周期だけその入力端に受入れた信号を遅延させ、その遅延信号を二重入力ＡＮＤゲート８１の一方の入力端に供給するとともに、他方の入力端には、入力端１３から受入れたＥＦＭ変調信号をそのまま供給する。ＥＦＭ変調信号は、二重入力ＡＮＤゲート８２の非反転入力端にも供給し、その反転入力端には遅延素子８０の出力遅延信号を供給する。ＡＮＤゲート８２の出力信号は、ＯＲゲート８３の一方の入力端に供給し、その他方の入力端にはＡＮＤゲート８１の出力信号を供給する。ＡＮＤゲート８１の出力信号は、ＥＦＭ変調信号と１ビット片長だけ遅延したＥＦＭ変調信号とがともに論理値“１”を有するときに、論理値“１”をとるが、これは、ＥＦＭ変調信号が論理値“１”を有する連続ｎビット片を呈する場合に、論理値“１”を有する連続ｎ−ビット片がＡＮＤゲート８１の出力端に呈示されることを意味する。連続ｎビット片群の最先の１ビット片が入力端１３に受入れられたときに、論理値“１”がＡＮＤゲート８２の出力端に呈示される。２個のＡＮＤゲート８１および８２の出力信号はＯＲゲート８３の供給してあるので、論理値“１”を有する連続ｎ−ビット片群がＯＲゲート８３の出力端に呈示される。ＯＲゲート８３の出力信号はＡＮＤゲート８４を介してスイッチ８５の制御入力端に供給する。ＡＮＤゲート８４の第２入力端は書込み・読出し制御入力端１５に接続してあるので、その入力端に受入れる信号が論理値“１”を有する場合には、制御回路６が書込みの状態になるとともに、スイッチ８５の出力端が、ＯＲゲート８３が供給する信号に応じて、入力端８６ａと８７ａとに交互に接続される。入力端８６ａには、放射ビームの書込み強度を表わす信号ＶＩ′S を供給してあり、入力端８７ａには、放射ビームの読出し強度を表わす信号ＶＩｌを供給してある。スイッチ８５の出力信号は、増幅回路８６に供給して放射源４の制御信号を取出しているので、放射源４で発生する放射ビームの強度は、ＯＲゲート８３の出力信号によって決まるスイッチパターンのとおりに、信号ＶＩ′s とＶＩｌとが表わす強度の相互間で切換わる。
【００４３】
図２ａに示した記録ストラテジにおいては、各放射パルスの始端部における 1.5Ｔの時間周期に記録強度が値Ｖｌとなり、放射パルスの残余の期間には記録強度が値Ｉ２となる。かかる強度パターンを実現するために、制御回路６はスイッチ８７を備えて、そのスイッチ８７をフリップフロップ８８の出力信号によって制御してあり、そのフリップフロップ８８の入力端は、ＯＲゲート８３の出力端に接続して、ビット片長の 1.5倍の期間にＯＲゲート８３の出力端が“０”から“１”に遷移するのに応じ、スイッチ８７の制御入力端に論理値“１”の信号が呈示されるように構成してある。スイッチ８７は、制御入力端に印加した論理値“１”の信号に応じて入力端の一方８９を出力端に接続する型のものであり、他方の入力端９０は制御入力“０”に応じて出力端に接続する。スイッチ８７の入力端８９には入力端９１を介して受入れた信号ＶＩｌを供給する。強度レベルＩ２を表わす信号ＶＩ２は、信号レベル・アダプタ９２により信号ＶＩｌから取出して、その出力端９０に現れるようにする。そのためには、信号レベル・アダプタ９２の一方の入力端を制御回路６全体の入力端９１に結合させるとともに、他方の入力端を設定入力端１４に結合させる。信号レベル・アダプタ９２は、慣用の型のものであり、その出力端に、入力端９１に受入れた信号ＶＩｌの特定の百分率の達する信号レベルを有する信号を形成し、その百分率を入力端１４に受入れた設定信号によって決める。図２に示したとおりの記録ストラテジによって信号を記録するように制御回路６を構成した場合には、入力端１４に受入れた設定信号に応じて、その百分率を８０％、７０％もしくは１００％に設定する。
【００４４】
スイッチ８７の出力信号は、スイッチ８５の入力端８６ａに信号ＶＩｓ′として印加するので、強度変化は図２に示したような所望の形態を示す。
【００４５】
本発明が、図８に示したような構成の制御回路の使用に限るものではないことは明らかであり、その替わりに、可能な記録ストラテジがそれぞれ自前の制御信号を有し、それらの制御信号の一つを選んで、入力端１４に受入れた設定信号に応じ、放射源に印加するようにした制御回路を使用することもできる。
【００４６】
図９には、読取り２値信号Ｖｌ′から品質信号Ｖm を取出すための解析回路として可能な構成例を示す。図示の解析回路２０は、記録ストラテジの適合に比較的敏感な効果片を表わす信号部分を読取り信号から分離するための検出回路１００を備えている。この構成例においては、効果片Ｉ３を表わすのは読取り信号部分であり、分離した読取り信号部分の長さは、測定回路１０１の助けをかりて決まる。その測定回路１０１は、分離した読取り信号部分の平均長を表わす信号を比較回路１０２に供給する。その比較回路１０２は、ビット片長Ｔの３倍に等しい基準長を設けた測定回路１０１によって決めた平均長を備えており、比較回路１０２によって形成した品質信号が上述のようにして決定した分離信号部分の平均長と基準長との差違を表わす。この基準長は、固定値を有することもできるが、読取り信号ＶＩ′から取出すのが好ましい。
【００４７】
基準長を読取り信号から取出し得る回路を図９に破線で示す。図示の回路は、記録ストラテジの適合には寧ろ不感の読取り信号部分を分離するための検出回路１０３を備えている。この構成例において、効果片Ｉ６を表わすのは読取り信号部分であり、検出回路１０３によって分離した読取り信号部分の長さは測定回路１０４によって決定される。この測定回路１０４は、分離した読取り信号部分の長さの平均値から基準長を取出す。
【００４８】
図２に示した記録ストラテジにおいて、放射パルスの始端部の強度はＩｌに等しいが、その値は、記録層が異なれば異なって来る。記録ストラテジにおいて初期強度を正しい値に設定するためには、例えば、この値Ｉｌを表わす情報を予め記録層に記録しておくことができる。しかしながら、実際の記録に先立って行なうべきかかる目盛づけを行なった場合にこの値を決定することも択一的に可能である。かかる目盛づけの実施例は、併わせて参照すべき文献としてＥＰ−Ａ− 0,404,251の明細書に詳述してある。この文献には、記録動作中に、各放射パルスの始端部における反射放射ビームの強度変化に応じてＩｌの値を適合させる方法も記載されている。
【００４９】
ついで、効果片を形成する際の速度を表わす尺度を反射放射ビームの動作から決定する。この尺度は、例えば、目盛づけの際に決めた基準値と比較し、測定結果と基準値との差違に応じて、放射パルスの始端部における強度を適合させる。
【００５０】
図１０には、効果片を形成する際の速度を表わす信号Ｖａの関数として信号ＶＩｌを適合させる回路の構成例を示す。この回路例には、効果片形成の際に検出器１８で形成した信号から信号Ｖａを取出すための測定回路１１０を備えてあり、その測定回路１１０の詳細説明についても前述の文献ＥＰ−Ａ−0,404,251 を参照する。比較器回路１１１においては、信号Ｖａを基準信号Ｖａｒと比較して、その比較の結果を示す出力信号を形成し、その出力信号を積分型の制御回路１１２に印加する。その制御回路１１２の出力信号と基準値ＶＩref とを信号結合回路１１３により結合させて信号ＶＩｌとする。
【００５１】
図１１には、ＥＦＭ変調信号用の品質信号を取出すための解析回路２０の他の構成例を示す。
【００５２】
この解析回路２０には、読取り２値信号Ｖｌ′のビット周波数の２倍に等しい周波数の基準クロック信号ＣＫを供給する。その基準クロック信号ＣＫは、自走発振器（図示せず）で発生させるが、ここで、自走とは、そのクロック信号が読取り２値信号と同期していないことを意味する。
【００５３】
読取り２値信号Ｖｌ′は、クロック信号ＣＫにより制御して、それぞれ、クロック信号ＣＫの１，２，３クロック周期の遅延時間を有する３個のフリップフロップ 120, 121, 122の縦続接続により遅延させ、それらの遅延信号をそれぞれＡ，Ｂ，Ｃとするが、信号Ａは１クロック周期Ｔ、信号Ｂは２クロック周期２Ｔ、信号Ｃは３クロック周期３Ｔだけ、それぞれ遅延している。読取り２値信号Ｖｌ′および各遅延信号Ａ，Ｂ，Ｃを図１２に、時間ｔにつき描いて示す。
【００５４】
各入力端に遅延信号ＡおよびＢ並びにクロック信号ＣＫをそれそれ供給したＡＮＤゲート１２４は、信号Ａおよび計数信号Ｂがともに論理値“１”となる計数期間Ｔt 中に、カウンタ１２３の入力端１２５にクロック信号ＣＫを転送する。そのＡＮＤゲート１２４の出力信号をＲとする。計数期間Ｔt に位置する時間間隔では、計数値を信号Ｕによって零にする。その信号Ｕは、ＡＮＤゲート１２６およびＤフリップフロップ１２７により遅延信号ＡおよびＣから取出したものである。すなわち、信号ＡをＡＮＤゲート１２６の反転入力端に印加するとともに、信号Ｂを非反転入力端に印加し、その出力信号をＴとする。その出力信号Ｔを、クロック信号ＣＫにより制御するＤ−フリップフロップ１２７により１クロック周期だけ遅延させると、その遅延出力信号が、カウンタ１２３の計数値を零に設定するのに用いる信号Ｕとなる。
【００５５】
カウンタ１２３は、時間間隔Ｔt で発生するクロックパルスＣＫの数を常時計数するが、その計数値は、読取り２値信号Ｖｌ′において論理値“１”を有する連続ビット片の個数ｎを示すものである。
【００５６】
図１３には、計数値ＣＯとビット片の個数との関係を示す。Ｑ1 ，Ｑ2 ，Ｑ3，Ｑ4 およびＱ5 は、計数値の各ビットを表わし、Ｑ1 は最下位ビット、Ｑ5 は最上位ビットをそれぞれ示す。ここで注意すべきこととして、最下位ビットＱ1が“０”の計数値は、明白に数値ｎを示していない。
【００５７】
計数値ＣＯを表わす各ビットＱ1 〜Ｑ5 は、信号Ｘ0 , Ｘ3 およびＸ6 をそれぞれ供給する３個の出力端を有する復号回路１２８に印加するが、信号Ｘ0 は、計数値ＣＯが零に等しいことを表わし、信号Ｘ3 は、計数値ＣＯが読取り２値信号Ｖｌ′の長さ３ビット片の信号部分であることを示し、信号Ｘ6 は、計数値ＣＯが読取り２値信号Ｖｌ′の長さ６ビット片の信号部分であることを示す。復号回路１２８は、各信号Ｘ0 , Ｘ3 およびＸ6 の呈示を禁止する禁止入力端ＩＮＨと一般に称するものを備えており、その禁止入力端ＩＮＨには、カウンタ１２３の出力端における最下位ビットＱ1 と反転入力端を有するＡＮＤゲート１２９を介した信号Ｔとから取出した信号Ｚを供給してあり、ＡＮＤゲート１２９の出力信号は、時間間隔Ｔの一部をなす短い時間周期だけ遅延回路１３０により遅延させてあり、その遅延出力信号が信号Ｚである。
【００５８】
復号回路１２８の出力端における各信号Ｘ0 ，Ｘ3 およびＸ6 はつぎのようにして取出す。ＡＮＤゲート１２４は、時間周期Ｔt 中にクロック信号ＣＫを転送し、その転送クロックパルスを計数する。計数値ＣＯが、明確に、Ｑ1 ＝“１”の連続ビット片の個数となると、時間周期Ｔt に引続き、復号回路１２８の禁止入力端ＩＮＨに加わる信号Ｚが、信号Ｔに応じて“０”に等しくなり、その結果として、復号回路１２８は最早禁止状態ではなくなる。計数値が“５”に等しい場合には、信号Ｘ3 が復号回路１２８の作動期間中提示され、計数値が“１１”に等しい場合には、信号Ｘ6 が復号回路１２８の作動期間中提示される。信号Ｔが論理値“１”となった後のクロック周期に、信号Ｕが“１”に転じて、その信号Ｕによりカウンタ１２３が零に設定され、計数値が“０”に等しくなる。これは、最下位ビットＱ1 が“０”になり、したがって、信号Ｚが再び“１”に転じて、復号回路１２８が不作動状態になることを意味する。
【００５９】
信号Ｚは遅延回路１３０を介して印加されるので、復号回路１２８は、カウンタ１２３が零に設定された後、その遅延期間に等しい時間期間に不作動状態になり、信号Ｘ0 が発生する。
【００６０】
これを要約すれば、読取り２値信号Ｖｌ′において論理値“１”を有する連続ビット片の個数が“３”に等しい場合には、復号回路１２８の出力端に、信号Ｘ3 がほぼ１クロック周期のわずかな期間だけ発生し、その信号Ｘ3 の発生の直後に信号Ｘ0 が発生し、かかる信号Ｘ3 およびＸ0 の発生は、読取り２値信号（Ｖｌ′）が“０”になる時間期間に行なわれる。これと同様に、読取り２値信号Ｖｌ′が６ビット片を有する場合には、信号Ｘ6 および信号Ｘ0 が読取り２値信号Ｖｌ′が再び“０”になる時間期間に連続して発生する。
【００６１】
図１１において破線枠１３１で囲んだ回路部分が、長さの偏差の決定に用いるものであり、ともに反転および非反転の入力端を備えた２個のＡＮＤゲート１３２および１３３を備えている。
【００６２】
読取り２値信号Ｖｌ′をＡＮＤゲート１３２の非反転入力端およびＡＮＤゲート１３３の反転入力端に印加するとともに、信号Ｖｌ′に対して遅延した信号ＡをＡＮＤゲート１３２の反転入力端およびＡＮＤゲート１３３の非反転入力端に印加する。ＡＮＤゲート１３２の出力信号は、読取り２値信号Ｖｌ′において論理値“１”を有する連続ビット片の各群の始端部で論理値“１”となる。
【００６３】
図１２においては、読取り２値信号Ｖｌ′の始端部のこの部分を長さＴ6 を有する陰影部分１５０として示す。ＡＮＤゲート１３３の出力信号は、遅延信号Ａが論理値“１”となる時間周期の終端部において論理値“１”となる。
【００６４】
図１２において、ＡＮＤゲート１３３の出力信号が論理値“１”となる遅延信号Ａの部分を長さＴｅを有する陰影部分１５１として示す。
【００６５】
信号部分１５０と１５１との長さの差違は、長さの偏差の程度を表わし、この差違を決定するために、図示の回路には容量素子１３４を備えてある。期間Ｔｂにおいて、ＡＮＤゲート１３２に制御されたスイッチ１３６は、容量素子１３４を電流源１３５に接続して、電流Ｉで容量素子１３４を充電する。
【００６６】
期間周期Ｔｅの間、ＡＮＤゲート１３３に制御されたスイッチ１３８は、電流源１３７を容量素子１３４に接続して、その容量素子１３４から電流Ｉを引出す。その結果の容量素子１３４の端子間電圧の変化は、時間差Ｔｂ−Ｔｅに対する尺度となり、したがって、長さの偏差の尺度となる。
【００６７】
容量素子１３４は、信号Ｘ0 に制御されたスイッチ１３９を介して定電位点１４０に接続され、さらに、信号Ｘ3 に制御されたスイッチ１４１を介して容量素子１４２に接続されるとともに、信号Ｘ6 に制御されたスイッチ１４３を介して容量素子１４４に接続される。容量素子１４２および１４４の容量は、容量素子１３４の容量の多数倍になるように選定する。
【００６８】
読取り２値信号Ｖｌ′が再度零になった度毎に、スイッチ１３９が信号Ｘ0 に制御されるので、容量素子の端子間電圧は定電位点１４０の電圧に等しくなる。したがって、読取り２値信号Ｖｌ′の論理値“１”を有する次の信号部分の長さの偏差は、容量素子１３４によって測定される。長さの偏差を決める長さがビット片長の３倍に相当することを検出すると、スイッチ１４１は、信号Ｘ3 の影響を受けて閉路し、容量素子１３４および１４２は一時並列接続になる。
【００６９】
長さの偏差が決定された信号部分の長さがビット片長の６倍に相当すると、スイッチ１４３は、信号Ｘ6 に応じて閉路し、容量素子１３４および１４４は一時並列接続となり、その結果として、容量素子１４４の両端間電圧は、並列接続にしたときの容量素子１３４および１４４の両端間電圧の線形結合値となる。容量素子１４４の容量は、容量素子１３４の容量の多数倍に選定してあるので、容量素子１４４が並列接続に包含される前に有していた電圧は、容量素子１３４が並列接続に包含される前に有していた電圧より遥かに多く並列接続によって得られる電圧に寄与している。そのために、容量素子１４４の両端間電圧は、３ビット片に相当する信号部分に対する平均的長さの偏差に相当する値をとることになり、容量素子１４２の両端間電圧は、６ビット片に相当する信号部分に対する平均的長さの偏差に相当する値をとることになる。
【００７０】
容量素子１４２の両端間電圧が示す平均的長さの偏差と容量素子１４４の両端間電圧が示す平均的長さの偏差との差を表わす品質信号は、差動増幅器１４５によって決定される。
【００７１】
図１１に示した解析回路２０の構成例において、長さの偏差は、３ビット片の長さに対応する読取り信号部分および６ビット片の長さに対応する読取り信号部分に対して決定される。他のビット片数の長さに対応する読取り信号部分に対する平均的長さの偏差も同様にして得られることは明らかである。
【００７２】
図１４には、本発明による方法の他の実施例を示す。この実施例は読取り装置に関するものであり、慣用型の光学的読取りヘッド１６０によって読取り信号Ｖｌを形成する。その読取り信号Ｖｌは、読取り信号スペクトルの高域周波数領域における周波数成分を強調する等化フィルタ１６１に供給する。小型円板ＣＤ上の情報パターンを取扱うようにして情報パターンを光学的に読出す場合には、強調すべき周波数を１ＭＨｚ程度にする。図１５には、小型円板ＣＤの読取りに慣用の等化フィルタの周波数特性を示す。効果片Ｉ３に対応する周波数は、0.72ＭＨｚにほぼ等しい。
【００７３】
高域周波数を強調することにより、光学的に読取りの際に生ずるようなＭＩＦ特性と呼ぶこともある読取り周波数特性の低落に対して補償を行なわれる。かかる高域周波数の強調は、比較的短い効果片、特に効果片Ｉ３に対応する読取り信号部分における長さの偏差の低減を達成する。
【００７４】
等化フィルタ１６１により濾波した読取り信号は、検出回路１９により読取り２値信号Ｖｌ′に変換し、その読取り２値信号Ｖｌ′から解析回路２０が品質信号Ｖm を取出す。この品質信号Ｖm は短い効果片に対応する読取り信号部分の長さの偏差がどの程度ばらついているかを表わすものであり、この品質信号Ｖm を制御回路１６２に印加して、高域周波数が等化フィルタ１６１によって強調される程度を設定する。高域周波数を強調する程度は、短い効果片に対応する読取り信号の長さの偏差が小さいことを品質信号Ｖm が表わす値に設定する。
【００７５】
等化フィルタの適合は、低域周波数に対する利得係数はそのまま保って高域周波数に対する利得係数を適合させることによって実現することができる。しかしながら、高域周波数に対する利得係数はそのまま保ったた低域周波数に対する利得係数の適合も択一的に可能であり、高域周波数の利得係数と低域周波数の利得係数との比を品質信号の関数として適合させることのみが重要である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の記録装置の構成例を示すブロック線図である。
【図２】ａ，ｂ，ｃは種々異なる記録ストラテジを示す線図である。
【図３】ａおよびｂは情報信号およびその情報信号に対応する効果片のパターンをそれぞれ示す線図である。
【図４】ａ，ｂ，ｃは効果片パターン、対応する読取り信号、対応する読取り２値信号をそれぞれ示す線図である。
【図５】種々異なる記録ストラテジにそれぞれ対応する効果片の長さの偏差をそれぞれ示す線図である。
【図６】種々異なる記録ストラテジにそれぞれ対応する効果片の長さの偏差をそれぞれ示す線図である。
【図７】種々異なる記録ストラテジにそれぞれ対応する効果片の長さの偏差をそれぞれ示す線図である。
【図８】本発明の記録装置に用いる制御回路の構成例を示すブロック線図である。
【図９】本発明の記録装置に用いる解析回路を示すブロック線図である。
【図１０】記録ストラテジに用いる放射パルスの初期強度を制御する回路の構成例を示すブロック線図である。
【図１１】解析回路の他の構成例を示すブロック線図である。
【図１２】図１１に示した解析回路の各部信号波形を示す線図である。
【図１３】解析回路の動作を説明するための図表である。
【図１４】本発明の読取り装置を示すブロック線図である。
【図１５】本発明の読取り装置に用いるに適した等化フィルタの伝達特性を示す線図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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