(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップからレーザ光を光ディスクの記録面上に照射して、当該光ディスクから信号を再生する光ディスク装置において、
上記光ピックアップの出力信号のレベルを補正するブースト補正部と、
上記光ピックアップの出力信号のレベルを上記ブースト補正部が補正する際のブースト値を順次変更するブースト値変更部と、
上記ブースト値変更部が順次変更したブースト値に応じて上記ブースト補正部がレベルを補正した後の出力信号のジッタ値を測定すると共に、測定中に得られた最低ジッタ値に所定比率を乗算した値以上のジッタ値が所定回数連続して測定されたとき、当該ジッタ測定動作を終了するジッタ測定部と、
上記ジッタ測定部によるジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に所定比率を乗算して所定のジッタ閾値を設定し、上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値から、上記所定のジッタ閾値に略々等しい二つのジッタ値を求め、それら二つのジッタ値のうち一方のジッタ値に対応したブースト値を第１のブースト値とし、他方のジッタ値に対応するブースト値を第２のブースト値として決定し、上記第１のブースト値と第２のブースト値と所定の係数とに基づいて最適ブースト値を設定する最適ブースト値設定部とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記最適ブースト値設定部は、上記第１のブースト値から第２のブースト値までの間を複数分割した各分割ポイントの中から、上記所定の係数に応じた分割ポイントを決定し、その分割ポイントに対応するブースト値を上記最適ブースト値として設定することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記ブースト値変更部は、ブースト値の初期値から減少又は増加する方向の何れか一方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したときに当該ブースト値の変更動作を終了し、次いで、上記初期値から他方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したとき当該ブースト値の変更動作を終了することを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記ジッタ測定部は、上記ブースト値変更部が順次変更した１つのブースト値につき複数のジッタ値を測定し、それら複数のジッタ値のうち最大ジッタ値を除く残りの各ジッタ値の合計を、上記１つのブースト値に対するジッタ値として設定することを特徴とする請求項１から請求項３のうち、何れか一項記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値のばらつきを平滑化する平滑化部を有し、
上記最適ブースト値設定部は、上記平滑化部が平滑化した後の各ジッタ値から上記二つのジッタ値を求めることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記所定比率は、０〜１４０の範囲内の１０おきの整数の中から設定された値、若しくは、上記ジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に０．５を乗算した値の何れかであることを特徴とする請求項１から請求項５のうち、何れか一項記載の光ディスク装置。
【請求項７】
光ピックアップの出力信号のレベルをブースト補正部が補正する際のブースト値を調整するブースト調整方法において、
上記光ピックアップの出力信号のレベルを上記ブースト補正部が補正する際のブースト値を、ブースト値変更部が順次変更するステップと、
上記ブースト値変更部が順次変更したブースト値に応じて上記ブースト補正部がレベルを補正した後の出力信号のジッタ値を、ジッタ測定部が測定すると共に、その測定中に得られた最低ジッタ値に所定比率を乗算した値以上のジッタ値が所定回数連続して測定されたとき、ジッタ測定部が当該ジッタ測定動作を終了するステップと、
最適ブースト値設定部が、上記ジッタ測定部によるジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に所定比率を乗算して所定のジッタ閾値を設定し、上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値から、上記所定のジッタ閾値に略々等しい二つのジッタ値を求め、それら二つのジッタ値のうち一方のジッタ値に対応したブースト値を第１のブースト値とし、他方のジッタ値に対応するブースト値を第２のブースト値として決定し、上記第１のブースト値と第２のブースト値と所定の係数とに基づいて最適ブースト値を設定するステップとを有する
ことを特徴とするブースト調整方法。
【請求項８】
上記最適ブースト値設定のステップにおいて、上記最適ブースト値設定部は、上記第１のブースト値から第２のブースト値までの間を複数分割した各分割ポイントの中から、上記所定の係数に応じた分割ポイントを決定し、その分割ポイントに対応するブースト値を上記最適ブースト値として設定することを特徴とする請求項７記載のブースト調整方法。
【請求項９】
上記ブースト値変更のステップにおいて、上記ブースト値変更部は、ブースト値の初期値から減少又は増加する方向の何れか一方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したときに当該ブースト値の変更動作を終了し、次いで、上記初期値から他方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したとき当該ブースト値の変更動作を終了することを特徴とする請求項７又は請求項８記載のブースト調整方法。
【請求項１０】
上記ジッタ値測定のステップにおいて、上記ジッタ測定部は、上記ブースト値変更部が順次変更した１つのブースト値につき複数のジッタ値を測定し、それら複数のジッタ値のうち最大ジッタ値を除く残りの各ジッタ値の合計を、上記１つのブースト値に対するジッタ値として設定することを特徴とする請求項７から請求項９のうち、何れか一項記載のブースト調整方法。
【請求項１１】
上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値のばらつきを、平滑化部が平滑化するステップを有し、
上記最適ブースト値設定のステップにおいて、上記最適ブースト値設定部は、上記平滑化部が平滑化した後の各ジッタ値から上記二つのジッタ値を求めることを特徴とする請求項７記載のブースト調整方法。
【請求項１２】
上記所定比率は、０〜１４０の範囲内の１０おきの整数の中から設定された値、若しくは、上記ジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に０．５を乗算した値の何れかであることを特徴とする請求項７から請求項１１のうち、何れか一項記載のブースト調整方法。
【請求項１３】
光ピックアップの出力信号のレベルをブースト補正部が補正する際のブースト値を調整する処理をコンピュータに実行させるブースト調整プログラムにおいて、
上記光ピックアップの出力信号のレベルを上記ブースト補正部が補正する際のブースト値を、ブースト値変更部が順次変更する処理と、
上記ブースト値変更部が順次変更したブースト値に応じて上記ブースト補正部がレベルを補正した後の出力信号のジッタ値を、ジッタ測定部が測定すると共に、その測定中に得られた最低ジッタ値に所定比率を乗算した値以上のジッタ値が所定回数連続して測定されたとき、ジッタ測定部が当該ジッタ測定動作を終了する処理と、
最適ブースト値設定部が、上記ジッタ測定部によるジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に所定比率を乗算して所定のジッタ閾値を設定し、上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値から、上記所定のジッタ閾値に略々等しい二つのジッタ値を求め、それら二つのジッタ値のうち一方のジッタ値に対応したブースト値を第１のブースト値とし、他方のジッタ値に対応するブースト値を第２のブースト値として決定し、上記第１のブースト値と第２のブースト値と所定の係数とに基づいて最適ブースト値を設定する処理とを
コンピュータに実行させることを特徴とするブースト調整プログラム。
【請求項１４】
上記最適ブースト値設定の処理の際に、上記最適ブースト値設定部が、上記第１のブースト値から第２のブースト値までの間を複数分割した各分割ポイントの中から、上記所定の係数に応じた分割ポイントを決定し、その分割ポイントに対応するブースト値を上記最適ブースト値として設定する処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１３記載のブースト調整プログラム。
【請求項１５】
上記ブースト値変更の処理の際に、上記ブースト値変更部が、ブースト値の初期値から減少又は増加する方向の何れか一方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したときに当該ブースト値の変更動作を終了し、次いで、上記初期値から他方へ順次ブースト値を変更し、その変更後のブースト値が規定値に達したとき当該ブースト値の変更動作を終了する処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１３又は請求項１４記載のブースト調整プログラム。
【請求項１６】
上記ジッタ値測定の処理の際に、上記ジッタ測定部が、上記ブースト値変更部が順次変更した１つのブースト値につき複数のジッタ値を測定し、それら複数のジッタ値のうち最大ジッタ値を除く残りの各ジッタ値の合計を、上記１つのブースト値に対するジッタ値として設定する処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１３から請求項１５のうち、何れか一項記載のブースト調整プログラム。
【請求項１７】
上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値のばらつきを、平滑化部が平滑化する処理をコンピュータに実行させ、
上記最適ブースト値設定の処理の際に、上記最適ブースト値設定部が、上記平滑化部が平滑化した後の各ジッタ値から上記二つのジッタ値を求める処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１３記載のブースト調整プログラム。
【請求項１８】
上記所定比率は、０〜１４０の範囲内の１０おきの整数の中から設定された値、若しくは、上記ジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に０．５を乗算した値の何れかであることを特徴とする請求項１３から請求項１７のうち、何れか一項記載のブースト調整プログラム。
【請求項１９】
請求項１３から請求項１８のうち、何れか一項記載のブースト調整プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップからのレーザ光を光ディスクの記録面上に照射して、当該光
ディスクから信号を再生する光ディスク装置、光ピックアップの出力信号のレベルを補正
する際のブースト値を調整するブースト調整方法、ブースト調整プログラム、及び、その
ブースト調整プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えばＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＣＤ−ＲＯＭ（ＣＤ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（ＤＶＤ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ（ＣＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ／ＣＤ−ＲｅＷｒｉｔｂｌｅ）などの各種の光ディスクを扱う光ディスク装置は、一般に、光ディスクの記録面上にレーザ光を照射して信号読み取り／書き込みを行う光ピックアップと、当該光ピックアップを光ディスク上の所望のトラック位置若しくはその近傍まで移動させる光ピックアップ移動機構などを備えている。
【０００３】
また、光ディスク装置の中には、光ディスクの記録面と光ピックアップ間の相対距離（フォーカス）や相対角度（スキュー角）等を最適な値に調整する自動調整機構を備えているものもある。
【０００４】
上記自動調整の手法には種々あるが、その一例として、上記スキュー角やフォーカスバイアス等の各サーボ特性をそれぞれ決定する定数を、変数として例えば所定単位毎に順次変化させるようにし、それら各所定単位毎に変化する変数値に対応して得られるジッタ値（光ディスクから読み取ったＲＦ信号に生じるジッタ値）を測定し、それらのジッタ値に基づいて、上記各サーボ特性を決定する定数の最適値を決定するような手法がある。
【０００５】
すなわち例えば図１４に示すように、過去に行った測定により得られた最低ジッタ値Ｊａｌに対して固定の基準量αだけ大きいジッタ値をジッタ閾値Ｊαｔｈとして設定し、サーボ特性を決定する定数（変数ＳＶ）を例えば所定単位毎に小さい値から大きい値へ順次変化させて各ジッタ値（図中曲線Ｌ）を測定し、それらの各ジッタ値のうちで上記ジッタ閾値Ｊαｔｈを越える図中Ａ点の第１のジッタ値に対応する第１の変数値ＳＶａと図中Ｂ点の第２のジッタ値に対応する第２の変数値ＳＶｂとを求め、さらに、それら第１の変数値ＳＶａと第２の変数値ＳＶｂの例えば中間の値である第３の変数値ＳＶｃを、上記サーボ特性を決定する定数の最適値として設定するようなことが行われている。なお、上記サーボ特性を決定する定数とは、上記光ディスクの記録面と光ピックアップ間の相対距離や相対角度の値などに相当する。また、上記基準量αは、例えば光ディスクから読み出されたデータの誤り訂正が可能なジッタ値の上限値（すなわちジッタ閾値Ｊαｔｈ）を元に決定された固定値である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、上記ジッタ閾値Ｊαｔｈは、上述したように、過去に測定した最低ジッタ値Ｊａｌから固定の基準量αだけ大きい値として設定されているものであるが、例えば上記固定の基準量αを予め少ない量に設定しておき、上記ジッタ閾値Ｊαｔｈが小さい値になるようにしておくと、上記第１の変数値ＳＶａと第２の変数値ＳＶｂから上記最適値を設定するまでの測定時間を短くすることができることになる。すなわち、上記変数ＳＶを小さい値から大きい値へ順次変化させて測定したジッタ値から上記第１の変数値ＳＶａと第２の変数値ＳＶｂを求める場合に、上記ジッタ閾値Ｊαｔｈが小さな値であれば、特に上記第２の変数値ＳＶｂが早く得られることになり、その結果、上記第３の変数値ＳＶｃ（最適値）を早く求めることが可能となる。
【０００７】
ところが、上記光ディスクはその記録面の反射特性などにばらつきがあり、また、光ディスク再生装置も各構成要素の特性にばらつきがある。このため、それらばらつきの存在により、例えば上記サーボ特性を決定する定数が同じであったとしても、上記ＲＦ信号に生じるジッタ値が異なってしまうことが多い（良い値になる場合や悪い値になる場合がある）。特に、ジッタ値が悪くなった場合は、図１５中の曲線Ｌｄのように、ジッタの最も低い部分の値が高くなるだけでなく、上記変数値の変化量に対するジッタ値の変化量も大きくなる。
【０００８】
したがって、例えば上記最適値の設定時間を短くしようとして、図１５に示すように上記固定の基準量を予め少ない量αｄに設定し、上記ジッタ閾値を小さな値Ｊαｄｔｈになるようしていた場合に、例えば図中曲線Ｌｄに示すようにジッタ値が悪くなってしまうと、上記最適値を設定するのに十分な値の第１の変数値ＳＶａｄと第２の変数値ＳＶｂｄを得ることができなくなる恐れがある。特に、例えば光ディスク上の傷やジッタ測定中の振動等の外乱によって、曲線Ｌｄで示すジッタ値の中に突発的な変動Ｄが発生し、その変動Ｄのジッタ値が上記ジッタ閾値Ｊαｄｔｈを越えてしまったような場合には、当該変動Ｄのジッタ値に対応する変数値ＳＶｄが第２の変数値として誤って検出されることになる。その結果として、当該誤った変数値ＳＶｄ（誤った第２の変数値）と第１の変数値ＳＶａｄとの中点の変数値ＳＶｅを上記サーボ特性を決定する定数の最適値（第３の変数値）として誤設定してしまうことになる。
【０００９】
一方で、例えば上記固定の基準量αを予め大きな量αｇに設定しておき、上記ジッタ閾値が大きい値Ｊαｇｔｈになるようにしておくと、上記最適値を設定するのに十分な値の第１の変数値及び第２の変数値を得ることができることになる。つまり、ジッタ閾値Ｊαｇｔｈを用いれば、図１５の曲線Ｌｄ中の突発的なジッタ変動Ｄが発生したとしても、その変動Ｄのジッタ値に対応する変数値ＳＶｄを第２の変数値として誤って検出するようなことがなくなるため、誤りのない第２の変数値と第１の変数値との中点の変数値（第３の変数値）を上記サーボ特性を決定する定数の最適値として設定できることになる。
【００１０】
しかしながら、このように固定の基準量αを予め大きな量αｇに設定しておき、上記ジッタ閾値が大きい値Ｊαｇｔｈになるようにしておくと、例えば図中曲線Ｌｇのようにジッタが良いような場合には、上記最適値を求めるための測定に時間がかかってしまうことになる。つまり、ジッタ値が良くなると、図１５中の曲線Ｌｇは、ジッタの最も低い部分の値が小さくなるだけでなく、上記変数値の変化量に対するジッタ値の変化量も小さな曲線になる。これにより、ジッタ閾値Ｊαｇｔｈを越える最小ジッタ値Ａｇと最大ジッタ値Ｂｇとの間が広がって、それらジッタ値ＡｇとＢｇが得られるまでの時間が長くなり、その結果、第２の変数値ＳＶｂｇと第１の変数値ＳＶａｇとの中点の第３の変数値ＳＶｆが得られるまでの時間も非常に長くなってしまう。
【００１１】
そこで、本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、サーボ特性のうち、特にブースト補正のための最適なブースト値を迅速かつ正確に検出し、良好なブースト調整を実現する光ディスク装置、ブースト調整方法、ブースト調整プログラム、及びブースト調整プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光ピックアップの出力信号のレベルを補正する際のブースト値を順次変更し、ブースト値の変更に応じてレベル補正された出力信号のジッタ値を測定し、その測定中に得られた最低ジッタ値に所定比率を乗算した値以上のジッタ値が所定回数連続して測定されたとき、当該ジッタ測定動作を終了する。そして、ジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に所定比率を乗算して所定のジッタ閾値を設定し、上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値から、上記所定のジッタ閾値に略々等しい二つのジッタ値を求め、それら二つのジッタ値のうち一方のジッタ値に対応したブースト値を第１のブースト値とし、他方のジッタ値に対応するブースト値を第２のブースト値として決定し、上記第１のブースト値と第２のブースト値と所定の係数とに基づいて最適ブースト値を設定する。
【００１４】
【発明の実施の形態】
［光ディスク装置の概略構成］
図１には、本発明が適用される一実施の形態の光ディスク装置の概略構成を示す。
【００１５】
この図１において、光ディスク５０は、スピンドルモータ５２の回転軸５１の先端に設けられた図示しないチャッキング部材によりチャッキングされ、上記スピンドルモータ５２により回転駆動される。
【００１６】
光ピックアップ５３は、例えばレーザダイオード等のレーザ光源と、そのレーザ光を上記光ディスク５０の記録面上に集光照射させると共に上記記録面からの反射光を受光面上に導く光学系と、所定パターンの上記受光面を備え上記光学系により導かれた上記反射光の強弱を電圧の強弱に変換するフォトディテクタ等の光電変換素子と、上記光学系に含まれる対物レンズ５４を光ディスク５０の記録面に対して平行方向及び垂直方向に移動させる図示しない二軸アクチュエータ等から構成されている。
【００１７】
また、光ピックアップ５３には、当該光ピックアップ５３を光ディスク半径方向に移動させるスライド送り機構５７と、上記光ピックアップ５３から出射されたレーザ光が光ディスク５０の記録面に垂直に入射するように光ピックアップ５３の角度を調整するスキュー調整機構５６とが併設されている。なお、公知であるため詳細な構成の図示は省略するが、上記スライド送り機構５７は、例えば光ディスク５０の径方向に沿って延びるラック及びこのラックに噛合する歯車からなるスレッド機構と、この歯車を回転させるステッピングモータなどからなり、上記光ピックアップ５３は上記ラック上に設けられている。同じく詳細な構成の図示は省略するが、上記スキュー調整機構５６は、光ピックアップ５３の光ディスク５０に対する角度を基準位置から最大送り位置の範囲内で変化させるスキュー角変更機構と、当該スキュー角変更機構の駆動源となるステッピングモータなどからなる。
【００１８】
上述した光ピックアップ５３の出力信号は、フォーカス／トラッキングエラー信号検出ブロック７７とＲＦ補正ブロック７０に入力する。上記ＲＦ補正ブロック７０は、上記光ピックアップ５３からの入力信号のレベル及び周波数特性等を補正する。すなわち、上記光ピックアップ５３から出力された信号は、いわゆるＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）等の影響により信号周波数がフラットな特性でないこと、及び、後段の信号処理系で処理するにはその信号のレベルが適切でないこと等の理由からそれらの補正が必要であり、上記ＲＦ補正ブロック７０は、それらの補正を行うようになされている。上記ＲＦ補正ブロック７０で行われる補正の項目は各種あるが、本実施の形態ではその一つの項目としてブースト（ｂｏｏｓｔ）補正を例に挙げている。当該ブースト補正とは、上記光ピックアップ５３からのＲＦ信号を後段の信号処理ブロック９０で処理できるレベルまで増幅するような補正である。このブースト補正の詳細については後述する。なお、本実施の形態のような光ディスク再生系において、光ピックアップ５３の光学系が光ディスク５０の記録面上の反射率の変化（信号ピットの有無による反射率変化）を読み取る際の、空間位置の変化に対する反射率の変化の度合いを空間周波数といい、当該空間周波数によって上記光ピックアップ５３からの出力信号の大きさが変わる。この関数を数式で表したものが上記ＭＴＦであり、一般的には空間周波数が高いほど出力信号は小さくなり、ある一定以上の空間周波数で出力信号は０となる。
【００１９】
上記ＲＦ補正ブロック７０の出力信号は、信号処理ブロック９０へ入力すると共に、本実施の形態にかかるサーボ特性を決定する定数の自動調整のためのサーボ定数調整ブロック８０へも入力する。上記サーボ定数調整ブロック８０の構成及び動作の詳細については後述する。
【００２０】
上記信号処理ブロック９０では、上記ＲＦ補正ブロック７０からの信号を２値化部７１により２値化し、さらに光ディスク５０への記録時に施されている信号変調処理に対応する信号復調処理を復調部７２にて行う。図示は省略するが、上記復調された信号は、その後、誤り訂正処理やデコード処理等が施されることになる。
【００２１】
上記フォーカス／トラッキングエラー信号検出ブロック７７は、光ピックアップ５３の出力信号から、例えばいわゆる非点収差法等によるフォーカスエラー信号と、例えばいわゆるプッシュプル法等によるトラッキングエラー信号を検出する。これらフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号はメカコントローラ１９０に送られる。
【００２２】
上記メカコントローラ１９０は、ドライブブロック１８０を制御して、上述した光ピックアップ５３のフォーカス、トラッキング、スライド送り、スキューなどの各種サーボや、光ディスク回転駆動用のスピンドルモータ５２の回転サーボを行う。すなわち、メカコントローラ１９０は、上記フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号に基づいて、上記ドライブブロック１８０のフォーカスドライブＩＣ５９とトラッキングドライブＩＣ６０が出力するフォーカスバイアス，トラッキングバイアス値を制御して上記光ピックアップ５３の二軸アクチュエータを駆動させることにより、光ディスク５０の記録面上に対物レンズ５４の焦点を合わせると共に所望のトラック上にレーザスポットを合わせる。また、メカコントローラ１９０は、上記ドライブブロック１８０のスピンドルドライブＩＣ５８が出力するスピンドルモータ駆動信号を制御して上記光ディスク回転駆動用のスピンドルモータ５２を回転駆動させることにより、上記光ディスク５０を一定若しくは可変の回転速度で回転させる。また、メカコントローラ１９０は、ドライブブロック１８０のスライド送りドライブＩＣ６１を制御して前記スレッド送り機構のステッピングモータを駆動させて歯車を回転させることにより、上記光ピックアップ５３を光ディスク５０の径方向に沿って移動させる。さらに、メカコントローラ１９０は、ドライブブロック１８０のスキュードライブＩＣ６２を制御して上記スキュー角変更機構のステッピングモータを駆動させることにより、上記光ピックアップ５３を光ディスク５０の記録面と正対するようなセンター位置に位置決めする。なお、上記センター位置とは、光ディスク装置の製造時に、基準ディスクを用いて設定された動作中心位置である。
【００２３】
［サーボ定数調整ブロックの構成及び動作］
次に、上記サーボ定数調整ブロック８０は、主要な構成要素として、上記ＲＦ補正ブロック７０の出力信号から後述するようにしてジッタを測定するジッタ測定部７４と、上記測定されたジッタを後述するように平滑化するスムージング処理部７５と、上記スムージング処理後のジッタから上記サーボ特性を決定する定数を設定するサーボ特性設定部７６とを有する。上記サーボ特性設定部７６により決定されたサーボ特性の定数は、例えばフォーカスやトラッキング、スキュー、ＲＦ信号のブースト補正などの各種のサーボ特性を決定する定数であり、それら各サーボ特性の定数が、それぞれ対応するＲＦ補正部７０やメカコントローラ１９０に送られる。
【００２４】
すなわち、例えばＲＦ補正部７０には、上記サーボ特性設定部７６から例えばＲＦ信号のブースト補正値を決定する定数などが送られ、当該ＲＦ補正部７０ではその定数値に応じてＲＦ信号のブースト補正などが行われる。また、メカコントローラ１９０には、上記サーボ特性設定部７６からスキュー、フォーカスバイアス等のサーボ特性を決定する定数が送られ、当該メカコントローラ１９０ではその定数値に応じてスキューやフォーカスバイアスの制御信号が生成される。
【００２５】
上述のように、上記サーボ定数調整ブロック８０において調整される定数は、スキューやフォーカスバイアス、ＲＦ信号のブースト補正などの各種のサーボ特性を決定する定数であるが、以下、本実施の形態では、それらの一例として、ＲＦ信号のブースト補正のための定数（以下、適宜ブースト値とする）を例に挙げて説明する。
【００２６】
｛ブースト値とジッタ値及びエラーレートの関係｝
先ず、図２を用いて、ＲＦ信号のレベルを補正（増幅）するためのブースト値に対するジッタ値（図中曲線ＬＪ）とデータエラーレート（図中曲線ＬＥ）の一般的な関係を説明する。
【００２７】
上記ジッタ又はエラーレートはその値が小さいほど良く、一般的には、あるブースト値の時にそれらジッタ値又はエラーレートが最小値をとることが知られている。
【００２８】
ここで、本実施の形態のような光ディスク装置において、一番良い信号特性が得られるのは、エラーレートが一番良いときであると考えられる。但し、一番良いエラーレートが得られるブースト値の時に、一番良いジッタ値が得られるとは限らない。すなわち、図２の例のように、曲線ＬＪで示すジッタ値が最も小さくなる点Ｐｊｂに対応するブースト値ＢＴｊと、曲線ＬＥで示すエラーレートが最も少なくなる点Ｐｅｂに対応するブースト値ＢＴｅは、必ずしも一致しない。
【００２９】
また、光ディスク装置はその構成上、ジッタ値を測定することは可能であるが、エラーレートを測定することはできない。
【００３０】
このようなことから、ＲＦ信号のブースト補正の最適な定数を求めるためには、例えば各ブースト値毎のジッタ値を測定し、それら測定したジッタ値とブースト値の関係を求め、さらに、予め経験により得られているジッタ値とエラーレートの関係に基づいて、上記エラーレートが最良となるブースト値を予測し、その予測により得られたブースト値を、上記ブースト補正のための最適な定数として設定するような手法が考えられる。
【００３１】
特に本実施の形態では、ＲＦ信号のブースト補正の最適な定数を求めるための手法として、例えば光ディスク５０が装填される毎或いは光ディスク５０の再生等を行う毎に最低ジッタ値を測定し、その最低ジッタ値に所定の比率βを乗算した値をジッタ閾値Ｊβｔｈとして求め、さらに所定単位毎の各ブースト値に対応するジッタのうち、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈを超えた点の第１，第２のジッタ値に対応する第１のブースト値（第１の変数値）と第２のブースト値（第２の変数値）とを求め、それら第１のブースト値と第２のブースト値に基づいてエラーレートが最も少なくなると思われる最適なブースト値を設定するようにしている。なお、上記所定の比率βは、サーボ調整項目毎に予め設定された比率であり、その具体的な値については後述する。
【００３２】
すなわち本実施の形態によれば、例えば前述した図１４で説明したような過去の測定により得られた固定の最低ジッタ値Ｊａｌに固定の基準量αを加算したジッタ値をジッタ閾値Ｊαｔｈとするのではなく、上述したように、光ディスク５０の装填毎或いは光ディスク５０の再生毎に測定した最低ジッタ値に所定の比率βを乗算したジッタ値をジッタ閾値Ｊβｔｈとしている。つまり、本実施の形態の場合、最低ジッタ値が可変値となり、その結果、当該最低ジッタ値に所定の比率βを乗算したジッタ閾値Ｊβｔｈも可変な値になっている。したがって、例えばジッタ値が悪くなって最低ジッタ値が大きくなれば、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈも大きな値に設定されることになり、前記図１５で説明したようにジッタ値が悪くなって突発的な変動Ｄが発生したとしても、その変動Ｄのジッタ値を誤検出するようなことが無く、その結果、ブースト値の最適値を誤設定してしまうこともない。逆に、例えばジッタ値が良くなって最低ジッタ値が小さくなれば、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈも小さな値に設定されることになり、前記図１５で説明したようにジッタ値が良くなった場合でもブースト値の最適値設定までの時間を短縮することができる。
【００３３】
なお、本実施の形態のように測定により得られた最低ジッタ値へ所定値αを加算してジッタ閾値を設定するようなことも考えられる。しかしながら、測定により得られた最低ジッタ値へ所定値αを加算するようにした場合は、本実施の形態のように最低ジッタ値に所定の比率βを乗算する場合に比べて、最低ジッタ値の変化量に対するジッタ閾値の変化量が少なくなる。このため、上記最低ジッタ値へ所定値を加算するようにしただけでは、例えばジッタ値が悪くなったときに最適ブースト値を誤設定してしまうおそれがあり、また逆に、ジッタ値が良くなったときに最適ブースト値設定までの時間をさほど短縮することができない。これに対して、本実施の形態のように、最低ジッタ値に所定の比率βを乗算してジッタ閾値を設定するようなことを行えば、最低ジッタ値の変化量に対するジッタ閾値の変化量が大きくなるため、ジッタ値が悪くなったときでも最適ブースト値の誤設定が無くなり、また、ジッタ値が良くなったときには最適ブースト値設定までの時間を短縮することができる。
【００３４】
｛ブースト調整手順｝
以下、本実施の形態の光ディスク装置の上記サーボ定数調整ブロック８０において、ＲＦ信号からジッタを測定し、そのジッタ値に基づいて最良のブースト補正を行うための定数（ブースト値）を設定する具体的な調整手順について説明する。
【００３５】
図３には、本実施の形態の光ディスク装置におけるブースト値の調整手順の概略的な流れを示す。
【００３６】
この図３において、先ず、サーボ定数調整ブロック８０のジッタ測定部７４では、ステップＳ１のジッタ測定前処理として、例えば光ディスク５０の記録層構造に応じたフィルタカットオフ周波数の設定やその他の初期設定を行う。また、このステップＳ１のジッタ測定前処理時には、サーボ特性設定部７６においてＲＦ補正ブロック７０のブースト値の初期化設定も行われる。なお、当該ステップＳ１のジッタ測定前処理の詳細については図４を用いて後述する。
【００３７】
次に、ステップＳ２のプラス方向ジッタ測定処理として、サーボ特性設定部７６では、予め決められたセンターブースト値からプラス方向（ブースト値が大きくなる方向）へ所定単位毎にブースト値を増加させ、ジッタ測定部７４では、それら各所定単位毎のブースト値に対応したジッタ値を測定すると共に、最低ジッタ値の更新とジッタ閾値の決定を行い、それら各ジッタ値、最低ジッタ値、ジッタ閾値を、ＲＡＭ７８のジッタ測定用ＲＡＭ領域へ格納する。なお、当該ステップＳ２のプラス方向ジッタ測定処理の詳細については図５及び図７，図８を用いて後述する。
【００３８】
上記プラス方向ジッタ測定処理が終了すると、次に、ステップＳ３のマイナス方向ジッタ測定処理として、サーボ特性設定部７６では、上記センターブースト値からマイナス方向（ブースト値が小さくなる方向）へ所定単位毎にブースト値を減少させ、ジッタ測定部７４では、それら各所定単位毎のブースト値に対応したジッタ値を測定すると共に、最低ジッタ値の更新とジッタ閾値の決定を行い、それら各ジッタ値、最低ジッタ値、ジッタ閾値をジッタ測定用ＲＡＭ領域へ格納する。なお、当該ステップＳ３のマイナス方向ジッタ測定処理の詳細については図６及び図７，図８を用いて後述する。
【００３９】
次に、ステップＳ４のスムージング処理として、上記ジッタ測定部７４が測定した各ジッタ値がスムージング処理部７５に送られ、当該スムージング処理部７５において、上記各ジッタ値のばらつきを平滑化するスムージング処理を行う。なお、上記スムージング処理は必ずしも必要ないが、当該スムージング処理を行うことで、ジッタ値のばらつきによる悪影響を少なくすることができる。当該ステップＳ４のスムージング処理の詳細については図９及び図１０を用いて後述する。
【００４０】
上記ステップＳ４のスムージング処理が終了すると、次に、ステップＳ５の最適ブースト値決定処理として、サーボ特性設定部７６では、上記ジッタ測定用ＲＡＭ領域に蓄積している各ジッタ値と、それら各ジッタ値に対応するブースト値とを用いて、エラーレートが最小になると思われる最適ブースト値を求め、さらにステップＳ６のブースト値設定処理として、上記ステップＳ５で求めた最適ブースト値をＲＦ補正部７０におけるブースト補正のための定数として設定する。なお、上記ステップＳ５の最適ブースト値決定処理の詳細については図１１及び図１２を用いて後述し、また、上記ステップＳ６のブースト値設定処理の詳細については図１３を用いて後述する。
【００４１】
｛ジッタ測定前処理の流れ｝
次に、図４を用いて、上記図３のステップＳ１におけるジッタ測定前処理の流れを説明する。
【００４２】
当該ジッタ測定前処理がスタートすると、先ず、ステップＳ１０の処理として、ジッタ測定部７４は、当該光ディスク装置に装填された光ディスク５０が単層の記録面を有するシングルレイヤーディスクであって当該シングルレイヤーディスクについてジッタ測定を行うのか、或いは、光ディスク５０が２層の記録面を有するデュアルレイヤーディスクである場合に、第１層の記録面についてジッタ測定を行うのか、若しくは第２層の記録面についてジッタ測定を行うのかに応じて、上記ＲＦ信号から信号成分を取り出すためのフィルタのカットオフ周波数を設定する。
【００４３】
また、サーボ特性設定部７６は、ステップＳ１１の処理として、ＲＦ補正ブロック７０におけるブースト値を、例えばＥＥＰＲＯＭ７９等に予め保存されているセンターブースト値に初期化する。
【００４４】
次に、ジッタ測定部７４は、ステップＳ１２の処理として所定の待ち時間（例えば１０ｍｓ）の経過を待った後、ステップＳ１３の処理として、ＲＡＭ７８内に設けられているジッタ測定値用ＲＡＭ領域を初期値（０ｘｆｆｆｈ：ｈは１６進数表記を表す）に設定する。
【００４５】
さらに、ジッタ測定部７４は、ステップＳ１４の処理として、ジッタ最小値を、初期値として理論上の最大値に設定する。
【００４６】
このステップＳ１４の処理後は図３のステップＳ２の処理へ進む。
【００４７】
｛プラス方向ジッタ測定処理の流れ｝
次に、図５を用いて、上記図３のステップＳ２におけるプラス方向ジッタ測定処理の流れを説明する。
【００４８】
上記ジッタ測定前処理が終了してプラス方向ジッタ測定処理に進むと、サーボ特性設定部７６では、先ずステップＳ２０の処理として、上記図４のステップＳ１１で初期化されたセンターブースト値からプラス方向（ブースト値が増加する方向）へ所定単位毎にブースト値を増加させる。同時に、ジッタ測定部７４では、それら所定単位毎のブースト値に対応したジッタ値を測定すると共に、ステップＳ２１の処理として、上記所定単位のブースト値毎に測定したジッタ値を上記ジッタ測定値記憶用ＲＡＭ領域に格納する。なお、当該ステップＳ２０のジッタ測定処理の詳細については図７及び図８を用いて後述する。
【００４９】
またこのときのジッタ測定部７４は、ステップＳ２２の処理として、各所定単位のブースト値毎に測定したジッタ値が、それまでに測定したジッタの最低値より小さいか否か判定し、小さいと判定されたときにはステップＳ２３として当該測定したジッタ値を最低値（最低ジッタ値）として更新し、一方、小さいと判定されなかったときにはステップＳ２４以降のプラス方向ジッタ測定終了判断処理に進む。
【００５０】
ステップＳ２４の処理に進むと、サーボ特性設定部７６は、現時点でのブースト値がプラス方向のブースト値として予め決められている既定値（例えばブースト補正が可能な最大値）になったか否か判定し、当該既定値になっていないと判定した場合はステップＳ２５の処理へ進み、一方、既定値になったと判定した場合は、ステップＳ２７にてブースト値をセンターブースト値に戻した後、次のマイナス方向ジッタ測定処理へ進む。
【００５１】
また、ステップＳ２４からステップＳ２５の処理へ進むと、ジッタ測定部７４は、前述したように最低ジッタ値に所定の比率βを乗算して求めたジッタ閾値Ｊβｔｈを用い、上記測定したジッタ値が３回連続して、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈ以上となったか否か判定し、３回連続してジッタ閾値Ｊβｔｈ以上になっていないと判定した場合はステップＳ２６の処理へ進み、一方、３回連続してジッタ閾値Ｊβｔｈ以上となったと判定した場合は、ステップＳ２７にてジッタ測定を停止し、次のマイナス方向ジッタ測定処理へ進む。なお、当該ステップＳ２５のジッタ閾値Ｊβｔｈを用いたジッタ測定終了判断処理の詳細については図８を用いて後述する。
【００５２】
上記ステップＳ２５からステップＳ２６の処理へ進むと、サーボ特性設定部７６は、ブースト値を所定単位の１ステップ分（１単位分）だけ増加させる。その後は、ステップＳ２０の処理に戻り、上述したプラス方向ジッタ測定処理を繰り返す。
【００５３】
｛マイナス方向ジッタ測定処理の流れ｝
図６を用いて、上記図３のステップＳ３におけるマイナス方向ジッタ測定処理の流れを説明する。
【００５４】
上記プラス方向ジッタ測定処理が終了してマイナス方向ジッタ測定処理に進むと、サーボ特性設定部７６では、先ずステップＳ３０の処理として、上記図５のステップＳ２７で戻されたセンターブースト値からマイナス方向（ブースト値が減少する方向）へ所定単位毎にブースト値を減少させる。同時に、ジッタ測定部７４では、それら所定単位毎のブースト値に対応したジッタ値を測定すると共に、ステップＳ３１の処理として、上記所定単位のブースト値毎に測定したジッタ値を上記ジッタ測定値記憶用ＲＡＭ領域に格納する。なお、当該ステップＳ３０のジッタ測定処理の詳細については図７及び図８を用いて後述する。
【００５５】
またこのときのジッタ測定部７４は、ステップＳ３２の処理として、各所定単位のブースト値毎に測定したジッタ値が、それまでに測定したジッタの最低値より小さいか否か判定し、小さいと判定されたときにはステップＳ３３として当該測定したジッタ値を最低値（最低ジッタ値）として更新し、一方、小さいと判定されなかったときにはステップＳ３４以降のマイナス方向ジッタ測定終了判断処理に進む。
【００５６】
ステップＳ３４の処理に進むと、サーボ特性設定部７６は、現時点でのブースト値がマイナス方向のブースト値として予め決められている既定値（例えばブースト補正が可能な最小値）になったか否か判定し、当該既定値になっていないと判定した場合はステップＳ３５の処理へ進み、一方、既定値になったと判定した場合は、当該マイナス方向ジッタ測定処理の次の処理である図３のステップＳ４のスムージング処理へ進む。
【００５７】
また、ステップＳ３４からステップＳ３５の処理へ進むと、ジッタ測定部７４は、前述した最低ジッタ値に所定の比率βを乗算して求めたジッタ閾値Ｊβｔｈを用い、上記測定したジッタ値が３回連続して、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈ以上となったか否か判定し、３回連続してジッタ閾値Ｊβｔｈ以上になっていないと判定した場合はステップＳ３６の処理へ進み、一方、３回連続してジッタ閾値Ｊβｔｈ以上となったと判定した場合は、次の処理である図３のステップＳ４のスムージング処理へ進む。なお、当該ステップＳ３５のジッタ閾値Ｊβｔｈを用いたジッタ測定終了判断処理の詳細については図８を用いて後述する。
【００５８】
上記ステップＳ３５からステップＳ３６の処理へ進むと、サーボ特性設定部７６は、ブースト値を所定単位の１ステップ分（１単位分）だけ減少させる。その後は、ステップＳ３０の処理に戻り、上述したマイナス方向ジッタ測定処理を繰り返す。
【００５９】
｛ジッタ測定の具体例｝
ここで、上述したプラス方向ジッタ測定処理のステップＳ２０とマイナス方向ジッタ測定処理のステップＳ３０で行われるジッタ測定の具体例を説明する。
【００６０】
本実施の形態では、一つのブースト値に対するジッタ測定を、光ディスク５０の最内周での１倍速再生を前提に、以下のようにして行っている。なお、光ディスク５０がシングルレイヤーのＤＶＤである場合、ディスク最内周半径は２４ｍｍであり、また当該最内周での１倍速再生時の線速度は３．４９ｍ／ｓ、ディスク１回転に要する時間は４３．２ｍｓとなる。
【００６１】
本実施の形態では、図７に示すように、ディスク最内周の１トラックＴＲディスク１周につき同一ブースト値で１０回のジッタ測定、すなわちディスクが１回転する間に４ｍｓ間隔で同一ブースト値に対するジッタ測定を行って１０個のジッタ値ＭＪを求める。なお、図中のジッタ値ＭＪの矢印位置はジッタ測定ポイントを表し、矢印の大きさはジッタ値の大きさを表している。
【００６２】
さらに、本実施の形態では、上記ディスクが１回転することにより得られる１０個のジッタ値ＭＪのうち、最大値ＭＪｍａｘを除く９個のジッタ値の合計を、そのブースト値のジッタ値とする。なお、上記最大値を除くのは、例えば光ディスク面上の傷などの外乱によりジッタが異常に悪くなる場合があり、そのようなブースト値以外の要因（外乱等）によるジッタ値の変化の影響を取り除くのが目的である。
【００６３】
｛ジッタ測定終了判断処理｝
次に、上述したプラス方向ジッタ測定処理のステップＳ２５とマイナス方向ジッタ測定処理のステップＳ３５でのジッタ閾値Ｊβｔｈを用いたジッタ測定終了判断処理の具体例を説明する。
【００６４】
本実施の形態では、上記プラス方向ジッタ測定処理及びマイナス方向ジッタ測定処理の際のジッタ測定の終了判断において、前述したように、測定したジッタ値がジッタ閾値Ｊβｔｈを３回連続して越えた場合に、当該ジッタ測定処理を終了するようにしている。
【００６５】
ここで、一般に、最適なブースト値から遠のくとジッタ値も悪くなる考えられるが、例えば１回でもジッタ値がジッタ閾値Ｊβｔｈを超えたときに、ジッタ値の測定（ブースト値の増減）を終了してしまうようにすると、例えば図８に示すように、外乱が殆ど無い状態で測定されたジッタ値（曲線ＬＪｎ）の場合は良いが、例えば、図中曲線ＬＪｔのように、なんらかの原因（例えば振動、ディスクの傷、電磁ノイズ等）で突然悪いジッタ値（図中ＣＴ部分）が測定されたような場合にもジッタ値の測定を止めてしまうことになる。このように、図中ＣＴ部分のような突発的なジッタ値の悪化でジッタ測定を止めてしまうと、後に最適ブースト値を求める際に、誤ったブースト値を最適値として設定してしまうおそれがある。
【００６６】
そこで、本実施の形態では、そのような突発的なジッタ値の悪化によって、ジッタ測定を誤って終了してしまうのを防ぐために、上記３回連続してジッタ値がジッタ閾値Ｊβｔｈを超えたときに、ジッタ値の測定（ブースト値の増減）を終了するようにしている。すなわち、本実施の形態では、ブースト値に対するジッタ値のチャタリング除去を行っている。
【００６７】
また、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈは、前述のように測定により得られた最低ジッタ値×所定の比率βにより求められるものである。なお、上記所定の比率βは、例えば「０」〜「１４０」範囲内の「１０」おきの整数か、若しくは、最低ジッタ値×０．５の値とする。これら所定比率βは、例えばＥＰＲＯＭ７９に予め保存された値から、サーボ調整項目に応じて設定されるものである。
【００６８】
｛スムージング処理の流れ｝
次に、図９を用いて、上記図３のステップＳ４におけるスムージング処理の流れを説明する。
【００６９】
上記プラス方向ジッタ測定処理及びマイナス方向ジッタ測定処理が終了してスムージング処理に進むと、スムージング処理部７５は、ステップＳ４０の処理として、あるブースト値ｘ（０≦ｘ≦ｘｍａｘ）におけるジッタ値をＪ（ｘ）とし、スムージング処理後の新たなジッタ値をＪｓ（ｘ）とし、以下の式（１）〜式（３）により、新たなジッタ値Ｊｓ（ｘ）を求め、このジッタ値Ｊｓ（ｘ）をスムージング処理後の値として出力する。
【００７０】
Ｊｓ（０）＝｛３Ｊ（０）＋Ｊ（１）｝／４                  （１）
Ｊｓ（ｘ）＝｛Ｊ（ｘ−１）＋２Ｊ（ｘ）＋Ｊ（ｘ＋１）｝／４      （２）
Ｊｓ（ｘｍａｘ）＝｛Ｊ（ｘｍａｘ−１）＋３Ｊ（ｘｍａｘ）｝／４      （３）
ここで、上記式（１）は最小ブースト値であるブースト値０に対応する新たなジッタ値（スムージング処理後のジッタ値）Ｊｓ（０）を求めるための式であり、式（２）は最小ブースト値０と最大ブースト値ｘｍａｘを除く各ブースト値に対応する新たなジッタ値Ｊｓ（ｘ）を求めるための式であり、式（３）は最大ブースト値ｘｍａｘに対応する新たなジッタ値Ｊｓ（ｘｍａｘ）を求めるための式である。なお、式（１）中の３Ｊ（０）の係数「３」と、式（２）中の２Ｊ（ｘ）の係数「２」、式（３）中の３Ｊ（ｘ）の係数「３」は、それぞれ重み付けの値であり、分母の４はデータ数を表している。
【００７１】
図１０には、ブースト値ｘとスムージング処理前のジッタ値Ｊ（ｘ）のプロットｐ（ｘ）とスムージング処理後のジッタ値Ｊｓ（ｘ）のプロットｐｓ（ｘ）、及び、それら各プロットのデータについての最小二乗法による４次曲線に近似した曲線ＬＲを示している。
【００７２】
この図１０から分かるように、スムージング処理前のプロットｐ（ｘ）はジッタ値のばらつきが大きい。これに対し、上述のスムージング処理後のプロットｐｓ（ｘ）はジッタ値のばらつきが少なくなっている。
【００７３】
このことから、スムージング処理を行うことにより、ジッタ値のばらつきの影響を少なくし、例え外乱があったとしても、外乱の無い時のブースト値ｘに対するジッタ値の関係に近づけることができる。
【００７４】
｛最適ブースト値決定処理の流れ｝
次に、本実施の形態における上記最適ブースト値決定処理として、前述したように、ジッタ閾値Ｊβｔｈを超えた点の第１，第２のジッタ値に対応する第１のブースト値，第２のブースト値に基づいて、エラーレートが最も少なくなると思われる最適なブースト値を設定するようにした場合の流れを、図１１を用いて説明する。
【００７５】
サーボ特性設定部７６は、ステップＳ５０の処理として、先のスムージング処理により得られた各ジッタ値のうち、図１２に示すように、上記ジッタ閾値Ｊβthを超えた小さい方の第１のジッタ値Ａβに対応するブースト値を第１のブーストＢＴminとし、ステップＳ５１の処理として、大きい方の第２のジッタ値Ｂβに対応するブースト値を第２のブーストＢＴmaxとして設定する。
【００７６】
次に、サーボ特性設定部７６は、ステップＳ５２の処理として、上記第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘ、及び、ＥＥＰＲＯＭ７９に予め用意されている所定の係数値ｒとを用いた式（４）により、エラーレートが最小になると思われる最適なブースト値ＢＴｂｅｓｔを決定する。
【００７７】
ＢＴｂｅｓｔ＝ＢＴｍｉｎ＋（ＢＴｍａｘ−ＢＴｍｉｎ）ｒ／１６        （４）
なお、上記係数ｒは、図１２のように、第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘの間を０〜１５に１６分割して表したときに、それら１６個の各ブースト値のうち、どのポイントのブースト値を最適なブースト値ＢＴｂｅｓｔとするかを決定するために、予めＥＥＰＲＯＭ７９内に用意されている０〜１５の範囲の整数である。この係数ｒは、各種の調整項目に応じて選択されるものであり、例えば第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘの間の中点のブースト値を最適ブースト値ＢＴｂｅｓｔにする場合にはｒ＝８が選択され、また例えば第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘの間の１／４のブースト値を最適ブースト値ＢＴｂｅｓｔにする場合にはｒ＝４が選択される。また、上記式（４）の分母の「１６」は図１２のように第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘの間の分割数に対応する。
【００７８】
上述のようにして最適ブースト値ＢＴｂｅｓｔが決定された後は、図３のステップＳ６のブースト値設定処理へ進む。
【００７９】
｛ブースト値設定処理の流れ｝
次に、図１３を用いて、上記図３のステップＳ６におけるブースト値設定処理の流れを説明する。
【００８０】
サーボ特性設定部７６は、上記ステップＳ５の処理により最適ブースト値ＢＴｂｅｓｔが決定されると、図１３のステップＳ６０の処理として、上記式（４）で求めた最適ブースト値ＢＴｂｅｓｔを、上記ＲＦ補正ブロック７０におけるブースト値に設定する。
【００８１】
また、上記設定されたブースト値は上記ＲＦ補正ブロック７０のブースト補正以外の処理でも使用可能である。このため、サーボ特性設定部７６は、ステップＳ６１の処理として、上記設定したブースト値をＲＡＭ７８に保存する。
【００８２】
これにより、本実施の形態の光ディスク装置におけるブースト値の調整手順が終了する。
【００８３】
｛本実施の形態のまとめ｝
以上説明したように、本実施の形態によれば、光ディスク５０が装填される毎或いは光ディスク５０の再生等を行う毎に最低ジッタ値を測定し、その最低ジッタ値に所定比率βを乗算してジッタ閾値Ｊβｔｈを決定し、上記ジッタ閾値Ｊβｔｈを超えた第１，第２のジッタ値Ａβ，Ｂβに対応する第１のブースト値ＢＴｍｉｎと第２のブースト値ＢＴｍａｘを用いた所定の計算式によって最適なブースト値ＢＴｂｅｓｔを設定するようにしているため、例えばＲＦ補正のための最適なブースト値ＢＴｂｅｓｔを迅速かつ正確に検出し、良好なブースト補正を実現することが可能となっている。
【００８４】
なお、上述した実施の形態の説明は、本発明の一例である。このため、本発明は上述の実施の形態に限定されることなく、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることはもちろんである。上述した実施の形態では、ＲＦ補正のためのブースト値の調整を例に挙げたが、本発明はそれに限定されるものではなく、スキューやフォーカスバイアス等の調整にも適用可能である。
また、上述の実施の形態の光ディスク装置のサーボ調整方法は、プログラム化し、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に保存しても良い。そして、サーボ調整を実行する際は、この記録媒体をコンピュータシステムに読み込ませ、コンピュータシステム内のメモリ等の記憶部にプログラムを格納し、プログラムを演算装置で実行することにより、本発明の実施の形態となる光ディスク装置のサーボ調整方法を実現することができる。なお、ここでいう記録媒体には、例えば、半導体メモリ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、磁気テープ等のプログラムを記録することができるコンピュータ読み取り可能な記録媒体が含まれる。
【００８５】
【発明の効果】
本発明は、順次変更されたブースト値に応じてレベル補正された信号のジッタ値を測定すると共に、その測定中に得られた最低ジッタ値に所定比率を乗算した値以上のジッタ値が所定回数連続して測定されたときには当該ジッタ測定動作を終了し、そして、そのジッタ測定の終了時点における最低ジッタ値に所定比率を乗算して所定のジッタ閾値を設定し、上記ジッタ測定部が測定した各ジッタ値から、上記所定のジッタ閾値に略々等しい二つのジッタ値を求め、それら二つのジッタ値のうち一方のジッタ値に対応したブースト値を第１のブースト値とし、他方のジッタ値に対応するブースト値を第２のブースト値として決定し、上記第１のブースト値と第２のブースト値と所定の係数とに基づいて最適ブースト値を設定するようにしているため、最適なブースト値を迅速かつ正確に検出でき、良好なブースト調整を実現可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明実施の形態の光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】ＲＦ信号のレベルを補正するためのブースト値に対するジッタ値とデータエラーレートの関係を説明に用いる図である。
【図３】本実施の形態の光ディスク装置におけるブースト値調整手順の概略的な流れを示すフローチャートである。
【図４】本実施の形態のブースト値調整手順のうち、ジッタ測定前処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図５】本実施の形態のブースト値調整手順のうち、プラス方向ジッタ測定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図６】本実施の形態のブースト値調整手順のうち、マイナス方向ジッタ測定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図７】プラス方向ジッタ測定処理及びマイナス方向ジッタ測定処理中に行われるジッタ測定の具体例の説明に用いる図である。
【図８】プラス方向ジッタ測定処理及びマイナス方向ジッタ測定処理中に行われるジッタ測定終了判断処理の説明に用いる図である。
【図９】本実施の形態のブースト値の調整手順のうち、スムージング処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図１０】スムージング処理前後のジッタ値のばらつきの変化の説明に用いる図である。
【図１１】本実施の形態のブースト値の調整手順のうち、最適ブースト値決定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図１２】最適ブースト値決定処理の具体例の説明に用いる図である。
【図１３】本実施の形態のブースト値の調整手順のうち、ブースト値設定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図１４】従来の光ディスク装置における自動調整手法の説明に用いる図である。
【図１５】従来の光ディスク装置における自動調整手法の欠点の説明に用いる図である。
【符号の説明】
５０…光ディスク、５２…スピンドルモータ、５３…光ピックアップ、７０…ＲＦ補正ブロック、７４…ジッタ測定部、７５…スムージング処理部、７６…サーボ特性設定部、７７…フォーカス／トラッキングエラー信号検出ブロック、７８…ＲＡＭ、７９…ＥＥＰＲＯＭ、８０…サーボ定数調整ブロック、９０…信号処理ブロック、１８０…ドライブブロック、１９０…メカコントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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