(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
合成樹脂あるいは架橋ゴムからなる試験片を挟持するため直線上に配置された入力棒及び出力棒と、この入力棒に取り付けられた第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージと、出力棒に取り付けられた第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージとを備え、
上記入力棒の前端が打撃された時に入力棒に生じる入射ひずみ波と反射ひずみ波が上記第一ひずみゲージと第二ひずみゲージで測定され、入力棒より試験片を経て出力棒に伝わる透過ひずみ波が上記第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージによって測定される粘弾性特性値測定装置であって、
上記入力棒の長さを１５００ｍｍ以上２０００ｍｍ以下の範囲、出力棒の長さを７００ｍｍ以上２０００ｍｍ以下の範囲、上記第一ひずみゲージの取付位置を入力棒後端から５００ｍｍ地点と１１００ｍｍ地点との間、第二ひずみゲージの取付位置を入力棒後端から２５０ｍｍ地点と７５０ｍｍ地点との間、第一ひずみゲージと第二ひずみゲージとの間隔が２００ｍｍ以上で、且つ、上記入力棒および試験片を通過し試験片後端で入力棒側へ反射した第３の反射ひずみ波のひずみ値が０になった後に上記入力棒後端で反射後に入力棒の前端で再反射した第２の反射ひずみ波のピークが第一ひずみゲージで測定されるように、上記入力棒と出力棒の長さおよび第一ひずみゲージと第二ひずみゲージの取付位置を特定し、
かつ、上記入力棒及び出力棒は、それらのひずみの伝播速度が上記試験片のひずみ伝播速度との差が少なくなる１２００ｍ／ｓ以上１８００ｍ／ｓ以下であるポリアセタール、ポリエチレン、ポリプロピレンを用いていることを特徴とする粘弾性特性値測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の粘弾性特性値測定装置を用い、
入力棒後端と出力棒前端とに試験片を挟持させ、入力棒前端を打撃し、
上記打撃によって生じた入力棒、試験片及び出力棒に伝播するひずみ波のうち、入力棒側の第一ひずみゲージと第二ひずみゲージで入射ひずみ波と反射ひずみ波を測定し、出力棒側の第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージで透過ひずみ波を測定し、
上記各ひずみ波の時刻歴を用いて入力棒後端における入射ひずみ波時刻歴、入力棒後端における反射ひずみ波時刻歴及び出力棒前端における透過ひずみ波時刻歴を推定し、
上記推定された入射ひずみ波時刻歴、反射ひずみ波時刻歴及び透過ひずみ波時刻歴から、試験片のひずみ速度時刻歴、ひずみ時刻歴及び応力時刻歴を算出して、応力−ひずみ曲線を決定し、
上記応力−ひずみ曲線から、ヤング率、損失係数等の粘弾性特性値を算出することを特徴とする粘弾性特性値測定方法。
【請求項３】
上記第一ひずみゲージ、第二ひずみゲージ、第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージによって実測された入射ひずみ波、反射ひずみ波、透過ひずみ波に、ローパスフィルターを用いて１０ｋＨｚ以上の高周波を除去する補正を行っている請求項１に記載の粘弾性特性値測定方法。
【請求項４】
上記試験片の長さが１ｍｍ以上５ｍｍ以下である請求項３または請求項４に記載の粘弾性特性値測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、合成樹脂、架橋ゴム等の粘弾性材料のヤング率、損失係数等の粘弾性特性値を測定するための粘弾性特性値測定装置及び粘弾性特性値測定方法に関し、詳しくは、所謂スプリットホプキンソン棒法が用いられ、特に軟質な粘弾性材料の粘弾性特性値を精度よく測定するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、物体が衝撃を受けた場合の変形挙動を解析するのに、実測ではなくシミュレーションが用いられることが多い。シミュレーションでは、ヤング率、損失係数等、物体の粘弾性特性値（パラメータ）の代入が必要である。パラメータは静的パラメータと動的パラメータとに大別されるが、変形挙動は動的なものであるので、この変形挙動に近い状態で測定された動的パラメータが、シミュレーションには有効である。また、シミュレーションに限らず、物体の特性を把握する上でも、動的パラメータの測定は重要である。
【０００３】
動的パラメータを測定する手段としてスプリットホプキンソン棒測定機が知られており、金属材料の分野等で賞用されている（例えば、昭和６３年１０月２８日、日刊工業新聞社発行の「衝撃工学」第１７３頁から第１８３頁参照）。この測定機では、金属製の打撃棒、入力棒及び出力棒が直線上に配置され、入力棒の後端と出力棒の前端との間に試験片が挟持される。入力棒及び出力棒（以下、これら入力棒と出力棒とをまとめて「応力棒」とも称す）には、それぞれひずみゲージが取り付けられる。そして、入力棒の前端に打撃棒が衝突させられる。この際生じたひずみ波は、入力棒から試験片及び出力棒に伝播する。入力棒中を入力棒後端に向かって進む入射ひずみ波、この入射ひずみ波が入力棒後端から及び試験片通過後試験片後端から反射して前端に向かう反射ひずみ波、及び入力棒から試験片を透過して出力棒の後端へ向かう透過ひずみ波がひずみゲージで測定され、試験片の粘弾性特性値が算出される。
なお、以下、入射ひずみ波、反射ひずみ波、透過ひずみ波をまとめて記載する際は「ひずみ波」と略称する。
【０００４】
この測定機では金属材料の特性値は測定が可能であるが、合成樹脂、架橋ゴム等の高分子材料の粘弾性特性値は測定が困難である。高分子材料が試験片である場合、金属製である応力棒と試験片との特性インピーダンスが大きく異なるので、反射ひずみ波が生じる。そのため、高分子材料の粘弾性特性値の測定には、試験片との特性インピーダンス差が少ない応力棒が選択される必要がある。
【０００５】
社団法人日本設計工学会中国支部講演論文集Ｎｏ．１６の第２５頁から第２９頁には、ポリメチルメタアクリレート製の応力棒が用いられた粘弾性特性値測定装置が、広島大学の中川等によって開示されている。応力棒としてポリメチルメタアクリレート等の高分子材料が用いられることにより、高分子材料の試験片と応力棒とのインピーダンス差が少なくなり、高分子材料の試験片の粘弾性特性値が測定可能となる。
【０００６】
しかし、高分子材料からなる応力棒では、金属製のものとは異なり、ひずみ波が減衰を伴う。例えば、入力棒中を試験片に向かって進む入射ひずみ波は、入力棒に取り付けられたひずみゲージで測定された後、入力棒後端に至るまでに若干減衰する。従って、入力棒後端における入射ひずみ波を正確に実測することはできない。同様に、入力棒後端から及び試験片通過後試験片後端からそれぞれ入力棒前端に向かって反射される反射ひずみ波、及び試験片後端から出力棒に透過される透過ひずみ波も、正確に測定することができない。
【０００７】
そこで、中川等によって開示された前述の粘弾性特性値測定装置では、入力棒及び出力棒にそれぞれ２個ずつのひずみゲージが取り付けられることにより、高分子材料からなる応力棒の減衰の問題が解決されている。即ち、２個のひずみゲージで測定された上記入射ひずみ波、反射ひずみ波、透過ひずみ波から伝達関数が導出され、この伝達関数によって入力棒後端における入射ひずみ波、入力棒後端における反射ひずみ波及び出力棒前端における透過ひずみ波の各ひずみ量が推定される。この粘弾性特性値測定装置では、例えば最大ひずみ速度が秒速１００から８０００、最大変形量が０．１％から３０％といった高速大変形時の粘弾性特性値の測定も可能である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この粘弾性特性値測定装置では、比較的硬質な高分子材料の粘弾性特性値は正確に測定されるが、特に軟質な高分子材料の粘弾性特性値の場合は、測定精度上で問題があるため、誤差が大きくなり、正確な粘弾性特性値を得るのは困難である。この理由として、試験片中のひずみの伝播速度と、その前後の入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度との差が、試験片が軟質になるほど大きくなることが挙げられる。
【０００９】
即ち、特に軟質な試験片の場合、入力棒にて測定される反射ひずみ波（入力棒後端から及び試験片通過後試験片後端から、それぞれ入力棒前端に向かって反射される反射ひずみ波）が、第２の反射ひずみ波（入力棒後端から前端に向かって反射後入力棒の前端に向かって進んで入力棒の前端で再度反射）と干渉し、上記反射ひずみ波の測定が困難となってしまう。
【００１０】
詳細に説明すると、試験片が特に軟質である場合、入力棒のひずみゲージで測定される上記した反射ひずみ波のうち、試験片通過後試験片後端から入力棒前端に向かって反射する反射ひずみ波（以後、第３の反射ひずみ波と称する）の減衰が終了しないうちに、上記第２の反射ひずみ波が入力棒のひずみゲージで測定されてしまい、両者が干渉しあって、第２と第３の反射ひずみ波の正確な測定が困難となってしまう。
【００１１】
また、特に軟質な試験片の場合、試験片を通過した透過ひずみ波は、試験片を通過することにより、その周期が長くなるため、出力棒にて測定される透過ひずみ波の減衰が終了しないうちに、この透過ひずみ波が出力棒の後端で反射され、ひずみゲージで測定されてしまい、両者が干渉しあって透過ひずみ波の正確な測定が困難となる場合がある。
【００１２】
本発明は上記した問題に鑑みてなされたものであり、特に軟質な試験片であっても、その粘弾性特性値が正確に測定されうる粘弾性特性値測定装置及び粘弾性特性値測定方法を提供することを課題としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は、合成樹脂あるいは架橋ゴムからなる試験片を挟持するため直線上に配置された入力棒及び出力棒と、この入力棒に取り付けられた第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージと、出力棒に取り付けられた第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージとを備え、
上記入力棒の前端が打撃された時に入力棒に生じる入射ひずみ波と反射ひずみ波が上記第一ひずみゲージと第二ひずみゲージで測定され、入力棒より試験片を経て出力棒に伝わる透過ひずみ波が上記第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージによって測定される粘弾性特性値測定装置であって、
上記入力棒の長さを１５００ｍｍ以上２０００ｍｍ以下の範囲、出力棒の長さを７００ｍｍ以上２０００ｍｍ以下の範囲、上記第一ひずみゲージの取付位置を入力棒後端から５００ｍｍ地点と１１００ｍｍ地点との間、第二ひずみゲージの取付位置を入力棒後端から２５０ｍｍ地点と７５０ｍｍ地点との間、第一ひずみゲージと第二ひずみゲージとの間隔が２００ｍｍ以上で、且つ、上記入力棒および試験片を通過し試験片後端で入力棒側へ反射した第３の反射ひずみ波のひずみ値が０になった後に上記入力棒後端で反射後に入力棒の前端で再反射した第２の反射ひずみ波のピークが第一ひずみゲージで測定されるように、上記入力棒と出力棒の長さおよび第一ひずみゲージと第二ひずみゲージの取付位置を特定し、
かつ、上記入力棒及び出力棒は、それらのひずみの伝播速度が上記試験片のひずみ伝播速度との差が少なくなる１２００ｍ／ｓ以上１８００ｍ／ｓ以下であるポリアセタール、ポリエチレン、ポリプロピレンを用いていることを特徴とする粘弾性特性値測定装置を提供している。
【００１４】
この粘弾性特性値測定装置では、入力棒の長さが１０００ｍｍ以上であり、入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度が１２００ｍ／ｓ以上１８００ｍ／ｓ以下であるので、上述した第２の反射ひずみ波（入力棒後端から前端に向かって反射後入力棒の前端に向かって進んで入力棒の前端で再度反射）が、上記第一、第二ひずみゲージに到達するのに時間がかかる。従って、この第２の反射ひずみ波が第一、第二ひずみゲージに到達する前に、上述した第３の反射ひずみ波（試験片通過後試験片後端から、入力棒前端に向かって反射する反射ひずみ波）を、第二、第一ひずみゲージで測定することができ、第３と第２の反射ひずみ波の干渉が抑えられ、第３の反射ひずみ波の正確な測定が可能となる。この観点より、入力棒の長さは１５００ｍｍ以上が特に好ましい。
【００１５】
入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度を１２００ｍ／ｓ以上１８００ｍ／ｓ以下としているのは、ひずみの伝播速度が１２００ｍ／ｓ未満となるような材質のものはないことに因り、また、入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度が１８００ｍ／ｓを越えると、試験片中のひずみの伝播速度との差が大きくなり（試験片中のひずみの伝播速度に比べ速くなる）すぎて、入力棒、試験片を通過し試験片後端で入力棒側へ反射した第３の反射ひずみ波が第二、第一ひずみゲージで測定され、その減衰が終了しないうちに、入力棒の後端で反射後入力棒の前端で再度反射した第２の反射ひずみ波が第一、第二ひずみゲージで測定されてしまい、両者（第２と第３の反射ひずみ波）が干渉しあって精度良く解析できないことに因る。
また、第３の反射ひずみ波のように、試験片を通過するひずみ波は、試験片の材質によっては、試験片を通過後、ひずみ波の周期が長くなる場合がある。第３の反射ひずみ波の周期が長くなると、それだけ減衰するのに時間がかかるため、上記第２と第３の反射ひずみ波の干渉が起こりやすくなるが、このような場合でも、入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度を上記範囲とすると、第３の反射ひずみ波に対して第２の反射ひずみ波が、遅れて第一、第二ひずみゲージに到達するため、両者の干渉が起こらない。
【００１６】
入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度は、入力棒及び出力棒の材質のヤング率と比重（あるいは密度）により決定され、入力棒及び出力棒の形状には依存しない。該伝播速度は、ヤング率が大きいと速くなり、また、比重が小さくなると速くなる。該伝播速度の測定は、入力棒に衝撃を与えた際の、入力棒及び出力棒に取り付けた各ひずみゲージ間の距離及び通過時間から算出する。
なお、入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度Ｃ０（ｍ／ｓ）と、入力棒及び出力棒のヤング率Ｅ（Ｎ／ｍ２）、入力棒及び出力棒の密度ρ（ｋｇ／ｍ３）とは、Ｃ０＝（Ｅ／ρ）１／２の関係にあると定義することができる。
【００１７】
また、この粘弾性特性値測定装置では、出力棒の長さが７００ｍｍ以上であるので、透過ひずみ波が出力棒の後端で反射されて、出力棒に取り付けられたひずみゲージに到達するのに時間がかかる。従って、試験片を通過することにより、透過ひずみ波の周期が長くなった場合でも、この透過ひずみ波が出力棒の後端で反射されひずみゲージに到達する前に、試験片から透過した透過ひずみ波をひずみゲージで測定でき（透過ひずみ波の減衰が先に終了している）、干渉が抑えられて、透過ひずみ波の測定が正確となる。この観点より、出力棒の長さは１５００ｍｍ以上が好ましい。
【００１８】
この粘弾性特性値測定装置では、入力棒の長さは２５００ｍｍ以下、出力棒の長さは２２００ｍｍ以下とされている。これは、入力棒及び出力棒（応力棒）が長すぎると自重によって応力棒に撓みが生じ、応力棒側面が撓むこととなる。撓みはひずみ波にノイズを発生する原因となる。入力棒と出力棒との軸線の一致も困難となり、かえって測定精度が低下してしまうからである。この観点からは、応力棒の長さは２０００ｍｍ以下が、さらに好ましい。
【００１９】
本発明において、入力棒及び出力棒（応力棒）は高分子材料から構成されるのが好ましい。材質としてポリアセタール、ポリエチレン、ポリプロピレンが挙げられる。これにより、合成樹脂、架橋ゴム等の高分子材料からなる試験片と応力棒とのひずみの伝播速度の差が少なくなる。
【００２０】
本発明において、入力棒に取り付けられる第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージが試験片に近づきすぎると、第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージにおいて、入射ひずみ波の減衰が終了しないうちに第二ひずみゲージ及び第一ひずみゲージで入力棒の後端で反射された反射ひずみ波が測定されてしまい、両者が干渉しあって入射ひずみ波の正確な測定が困難となる。
逆に、第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージが試験片から遠ざかりすぎる（すなわち入力棒の前端に近づきすぎる）と、試験片通過後試験片後端から入力棒前端に向かって反射された第３の反射ひずみ波が、入力棒前端に向かって前進して第二、第一ひずみゲージで測定され、その第３の反射ひずみ波の減衰が終了しないうちに、第一ひずみゲージ及び第二ひずみゲージで上記第２の反射ひずみ波が測定されてしまい、両者が干渉しあって第３の反射ひずみ波の正確な測定が困難となる。
これらの観点より、第一ひずみゲージは入力棒後端から５００ｍｍ地点と１１００ｍｍ地点との間に設けられるのが好ましく、第二ひずみゲージは入力棒後端から２５０ｍｍ地点と７５０ｍｍ地点との間に設けられるのが好ましい。なお、第一ひずみゲージと第二ひずみゲージとの距離が近づきすぎると伝達関数の精度が低下するので、両者は２００ｍｍ以上の間隔を隔てて取り付けられるのが好ましい。
【００２１】
この粘弾性特性値測定装置を用いて粘弾性特性値を得るには、まず入力棒後端と出力棒前端とに試験片を挟持させ、入力棒前端を打撃する。すると、打撃によって生じたひずみ波が、入力棒、試験片及び出力棒に伝播する。入力棒側の第一ひずみゲージと第二ひずみゲージで入射ひずみ波と反射ひずみ波（入力棒後端から及び試験片通過後試験片後端から、それぞれ入力棒前端に向かって反射される反射ひずみ波）を測定し、出力棒側の第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージで透過ひずみ波を測定する。次に、上記各ひずみ波の時刻歴を用いて入力棒後端における入射ひずみ波時刻歴、入力棒後端における上記反射ひずみ波時刻歴及び出力棒前端における透過ひずみ波時刻歴を推定する。次に、推定された入射ひずみ波時刻歴、上記反射ひずみ波時刻歴及び透過ひずみ波時刻歴から、試験片のひずみ速度時刻歴、ひずみ時刻歴及び応力時刻歴を算出し、応力−ひずみ曲線を決定する。そして、この応力−ひずみ曲線から、ヤング率、損失係数等の粘弾性特性値を算出する。
【００２２】
本発明の測定法において実際に各ひずみゲージで測定される波形には、打撃により生じるひずみ波の他に、打撃によって生じる散乱波が合成されている。ひずみ波の周波数は、１．５ｋＨｚから５．０ｋＨｚ程度であるが、散乱波はその周波数が１０ｋＨｚ以上の高周波である。この高周波はノイズであるので、このノイズを含んだ合成波を用いて応力−ひずみ曲線を画くと、得られる粘弾性特性値の精度が低下してしまう。精度向上のためには、合成波に対して補正を行うのが好ましい。具体的には、第一ひずみゲージ、第二ひずみゲージ、第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージによって実測されたひずみ波（合成波）をローパスフィルターに通し、１０ｋＨｚ以上の高周波を除去している。
【００２３】
試験片が軟質であることに起因する入力棒と出力棒との軸ズレを抑えるには、試験片の長さを１ｍｍ以上５ｍｍ以下とするのが好ましい。試験片の長さが上記範囲未満であると、試験片と応力棒との接面における摩擦力及び試験片内部での半径方向での慣性力が無視できなくなり、測定誤差が大きくなってしまうことがある。逆に、試験片の長さが上記範囲を超えると、得られるひずみ時刻歴及び応力時刻歴の曲線が凹凸状となってしまうことがある。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図１は、本発明の一実施形態にかかる粘弾性特性値測定装置が示された模式的正面図である。この粘弾性特性値測定装置は、打撃棒１、入力棒３及び出力棒５を備えている。入力棒３には、第一ひずみゲージ７及び第二ひずみゲージ９が取り付けられている。出力棒５には、第三ひずみゲージ１１及び第四ひずみゲージ１３が取り付けられている。入力棒３の後端３ａと出力棒５の前端５ａとの間には、円盤状の試験片２０が挟持されている。
【００２５】
打撃棒１、入力棒３及び出力棒５はポリアセタール製の円柱であり、入力棒３及び出力棒５中のひずみの伝播速度は１４５０ｍ／ｓであり、断面直径は２０ｍｍである。打撃棒１の長さは、１００ｍｍである。入力棒３及び出力棒５の長さは、２０００ｍｍである。第一ひずみゲージ７は入力棒３の後端３ａから９００ｍｍの位置に取り付けられており、第二ひずみゲージ９は入力棒３の後端３ａから６００ｍｍの位置に取り付けられている。また、第三ひずみゲージ１１は出力棒５の前端５ａから３００ｍｍの位置に取り付けられており、第四ひずみゲージ１３は出力棒５の前端５ａから６００ｍｍの位置に取り付けられている。試験片２０の長さ（すなわち入力棒３の後端３ａと出力棒５の前端５ａとの距離）は４ｍｍであり、試験片２０の断面直径は１８ｍｍである。
【００２６】
この粘弾性特性値測定装置によって粘弾性特性値を測定する場合、まず、試験片２０の前後両端面を入力棒３の後端３ａと出力棒５の前端５ａの密接させた状態で入力棒３と出力棒５の間に挟持する。この状態で、打撃棒１を入力棒３の前端３ｂに衝突させる。これによって、入力棒３に入射ひずみ波が生じ、この入射ひずみ波は入力棒３の後端３ａに向かって進む。この入射ひずみ波の一部は、入力棒３の後端３ａ及び試験片２０通過後試験片２０の後端から、それぞれ反射し、反射ひずみ波となって入力棒３の前端３ｂに向かって進む。入射ひずみ波の一部は、入力棒３の後端３ａから試験片２０を透過し、さらに出力棒５に伝播して透過ひずみ波となり、出力棒５の後端５ｂに向かって進む。
【００２７】
入射ひずみ波は、第一ひずみゲージ７及び第二ひずみゲージ９によって実測される。実測された入射ひずみ波はローパスフィルターに通され、１０ｋＨｚ以上の高周波が除去される。さらに入射ひずみ波の時刻歴は、そのベースライン値をゼロとするゼロ補正が施される。こうして得られた第一ひずみゲージ７及び第二ひずみゲージ９における時間軸ひずみのそれぞれがフーリエ変換され、周波数軸ひずみが求められる。そして、第一ひずみゲージ７及び第二ひずみゲージ９における周波数軸ひずみから、伝達関数が導出される。第一ひずみゲージ７と入力棒３の後端３ａとの距離Ｘ１と、第二ひずみゲージ９と入力棒３の後端３ａとの距離Ｘ２との比（Ｘ１：Ｘ２）が考慮されつつ、上記伝達関数に基づいて、入力棒３の後端３ａにおける周波数軸ひずみが推定される。この周波数軸ひずみがフーリエ逆変換されることにより、入力棒３の後端３ａにおける入射ひずみ波の時間軸ひずみ（ひずみの時刻歴）εｉが得られる。
【００２８】
同様に、入力棒３の後端３ａ及び試験片通過後試験片後端で反射して前端３ｂに向かう反射ひずみ波が第二ひずみゲージ９及び第一ひずみゲージ７によって実測される。この実測された反射ひずみ波から、入力棒３の後端３ａにおける反射ひずみ波の時間軸ひずみ（ひずみの時刻歴）εｒが得られる。
【００２９】
また、出力棒５の第三ひずみゲージ１１及び第四ひずみゲージ１３によって、試験片２０をへて出力棒５に伝播される透過ひずみ波を実測し、この実測した透過ひずみ波から、出力棒５の前端５ａにおける透過ひずみ波の時間軸ひずみ（ひずみの時刻歴）εｔが得られる。
【００３０】
こうして得られたεｉ、εｒ及びεｔから、下記数式（１）によって、試験片２０のひずみ速度ε’が算出される。
ε’＝（Ｃ０／Ｌ）・（εｉ−εｒ−εｔ）      −−−（１）
（数式（１）において、Ｃ０は応力棒中のひずみの伝播速度（ｍ／ｓ）を表し、Ｌは試験片の長さ（ｍ）を表す）
【００３１】
また、εｉ、εｒ及びεｔから、下記数式（２）によって試験片２０のひずみεが算出される。
【００３２】
0003562637.tif 000002
【００３３】
（数式（２）において、Ｃ０は応力棒中のひずみの伝播速度（ｍ／ｓ）を表し、Ｌは試験片の長さ（ｍ）を表す）
【００３４】
さらに、εｉ、εｒ及びεｔから、下記数式（３）によって試験片２０の応力σが算出される。
σ＝（Ｅ・Ａ／（２Ａｓ））・（εｉ＋εｒ＋εｔ）
＝（Ｅ・Ｄ２／（２（Ｄｓ）２））・（εｉ＋εｒ＋εｔ）    −−−（３）
（数式（３）において、Ｅは応力棒のヤング率（Ｎ／ｍ２）を表し、Ａは応力棒の断面積（ｍ２）を表し、Ａｓは試験片の断面積（ｍ２）を表し、Ｄは応力棒の直径（ｍ）を表し、Ｄｓは試験片の直径（ｍ）を表す）
【００３５】
図２は、典型的な応力−ひずみ曲線が示されたグラフである。この応力−ひずみ曲線から、下記の数式（４）を用いて、試験片２０のヤング率Ｅｓが算出される。
Ｅｓ＝σｍａｘ／εｍａｘ      −−−（４）
【００３６】
また、図２の応力−ひずみ曲線から、下記の数式（５）を用いて、位相角δが算出される。
δ＝ｓｉｎ−１（（σａ−σｂ）／σｍａｘ）      −−−（５）
そして、この位相角δより、損失係数（ｔａｎδ）が算出される。
【００３７】
［実施例］
図１に示された粘弾性特性値測定装置（入力棒と出力棒の長さが共に２０００ｍｍ）を用い、ＪＡ硬度が７０の合成樹脂を試験片として、粘弾性特性値の測定を行った。打撃棒の衝突速度は、１４ｍ／ｓとした。測定は、室温２３℃、相対湿度５０％の条件下で行った。第一ひずみゲージ、第二ひずみゲージで測定された入射ひずみ波及び反射ひずみ波、第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージで測定された透過ひずみ波が、図３に示されている。入力棒、出力棒の材質は、ポリアセタール（ひずみの伝播速度１４５０ｍ／ｓ）とした。
【００３８】
［比較例］
入力棒、出力棒の材質は、ポリメチルメタクリレート（ひずみの伝播速度２２００ｍ／ｓ）とした以外は、前述と同様の方法にて、粘弾性特性値を測定した。第一ひずみゲージ、第二ひずみゲージ、第三ひずみゲージ及び第四ひずみゲージで測定されたひずみ波が、図４に示されている。
【００３９】
比較例の測定結果を示す図４では、入力棒・試験片を通過し試験片後端で入力棒側へ反射した第３の反射ひずみ波のピークＰｓｒ１と、入力棒の後端で反射後入力棒の前端で再度反射した第２の反射ひずみ波のピークＰｒｒ１が第一ひずみゲージで測定されていた。この測定結果を見ると、第３の反射ひずみ波の減衰が終了しないうちに第一ひずみゲージで第２の反射ひずみ波が測定されており、第２と第３の反射ひずみ波の干渉が生じている可能性があることが確認できた。
【００４０】
これに対し、本発明の実施例の測定結果は図３に示す通りで、応力棒中のひずみの伝播速度を１４５０ｍ／ｓとしているため、入力棒・試験片を通過し試験片後端で入力棒側へ反射した第３の反射ひずみ波のピークＰｓｒ１の減衰が完全に終了（ひずみの値が０になる）した後に、入力棒の後端で反射後入力棒の前端で再度反射した第２の反射ひずみ波のピークＰｒｒ１が第一ひずみゲージで測定されており、第２と第３の反射ひずみ波は干渉していないことが確認できた。また、入力棒及び出力棒の長さも規定範囲内であるため、その他のひずみ波の干渉も起こっておらず、精度良く各ひずみ波を測定できていることが確認できた。
【００４１】
【発明の効果】
以上の説明より明らかなように、本発明によれば、最大ひずみ速度が秒速１００から８０００、最大変形量が０．１％から３０％の高速大変形時における比較的硬質な高分子材料の粘弾性特性値は、従来のスプリットホプキンソン棒式測定装置により正確に測定できたが、軟質なゴムや樹脂からなる高分子材料ではひずみゲージで検出されるひずみ波が重なって正確に測定できなかった問題点を、本発明のスプリットホプキンソン棒式測定装置によれば、入力棒及び出力棒の長さ及び入力棒及び出力棒中のひずみの伝播速度を規定して、これら入力棒及び出力棒に取り付けたひずみゲージで検出するひずみ波が重ならないようにしているため、正確に粘弾性特性値を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態にかかる粘弾性特性値測定装置が示された模式的正面図である。
【図２】典型的な応力−ひずみ曲線が示されたグラフである。
【図３】本発明の実施例にかかる粘弾性特性値測定装置で測定されたひずみ波が示されたグラフである。
【図４】本発明の比較例にかかる粘弾性特性値測定装置で測定されたひずみ波が示されたグラフである。
【符号の説明】
１    打撃棒
３    入力棒
５    出力棒
７    第一ひずみゲージ
９    第二ひずみゲージ
１１  第三ひずみゲージ
１３  第四ひずみゲージ
２０  試験片
【図１】
0003562637.tif 000003
【図２】
0003562637.tif 000004
【図３】
0003562637.tif 000005
【図４】
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