(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測光素子を用いて被写界の測光を行う測光回路と、
前記測光回路の複数の時間的に異なる出力を平均して測光出力を演算する演算回路と
を含む測光装置であって、
前記演算回路は、第１のフリッカー周期を持つ光源を、その第１のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光値を平均する平均回数に応じて異なる測光誤差の最大値と、第２のフリッカー周期を持つ光源を、その第２のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光値を平均する平均回数に応じて異なる測光誤差の最大値との、大きい方の測光誤差の最大値が極小値を取るような測光周期によって、前記測光回路の出力を平均すること
を特徴とする測光装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測光装置において、
前記測光回路は、蓄積型の測光素子を用いること
を特徴とする測光装置。
【請求項３】
請求項２に記載の測光装置において、
前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間が所定値よりも短いときに、前記周期によって前記測光回路の出力を平均すること
を特徴とする測光装置。
【請求項４】
請求項１に記載の測光装置において、
前記演算回路は、複数の周期を選択して用いること
を特徴とする測光装置。
【請求項５】
請求項２に記載の測光装置において、
前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間の長さに応じて、前記周期を切り替えること
を特徴とする測光装置。
【請求項６】
請求項２に記載の測光装置において、
前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間の長さに応じて、平均回数を切り替えること
を特徴とする測光装置。
【請求項７】
請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の測光装置と、
前記測光装置の出力に基づいて、フィルムへの露出制御を行う露出制御装置とを備えたこと
を特徴とするカメラ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、被写体の輝度を測定する測光装置及びその測光装置により自動露出制御を行うカメラに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の測光装置としては、特開昭６２−７５３２３号公報等に記載されているようなものがあった。この測光装置は、図１８に示したように、複数の測光素子の出力を時系列的にＡ／Ｄ変換して測光演算を行う場合に、照明用ＡＣ光源のフリッカー周期を１演算周期として、測光素子の出力を時系列的にＡ／Ｄ変換し、それらのＡ／Ｄ変換値の１周期内の平均値などによって測光出力を求めようというものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、照明用ＡＣ光源のフリッカー周期の原因となる電源周波数は、全世界的に見て５０Ｈｚと６０Ｈｚの２種類があり、日本国内においても、これらの２種類に分かれているのが現状である。従って、上記装置において、測光周期を５０Ｈｚに合わせた場合には、６０Ｈｚの地方において測光誤差が大きくなり、６０Ｈｚに合わせた場合には、５０Ｈｚの地方での測光誤差が大きくなってしまう、という問題点があった。
【０００４】
例えば、測光素子の分割数が非常に多くなり、１回当たりの測光値を読み出す時間がフリッカーの周期程度まで長くなってしまう場合がある。
図５（ａ）は、５０Ｈｚ電源において、測光周期が１０ｍＳ、２回の測光値の平均を取る場合の測光タイミングを示している。また、図５（ｂ）は、（ａ）と同じ条件で、フリッカーの位相が異なる場合である。このように、測光周期がフリッカー周期とほぼ等しい場合には、フリッカー周期の位相によって、（ａ）に示すように、フリッカーの谷で測光してしまったり、（ｂ）に示すように、フリッカーの山で測光してしまう場合があり、何れの場合にも、平均的な測光値からかなり誤差の大きい測光結果となってしまう。
【０００５】
そこで、測光周期をフリッカー周期の１．５倍とし、平均値が実効値に近くなるようにしたのが、図５（ｃ）である。
しかし、この場合であっても、図５（ｄ）に示すように、電源周波数が６０Ｈｚの場合には、フリッカー周期の１．５倍とならないために、測光誤差が大きくなってしまう。
【０００６】
図６は、電源周波数が５０Ｈｚ、６０Ｈｚの各々の場合において、測光周期を１５ｍＳとしたときの任意の位相での測光誤差を示した図である。なお、照明のフリッカーは、近似的にサイン波の絶対値としている。
図６（ａ）は、電源周波数が５０Ｈｚのときを示したものである。例えば、横軸が０ｍＳの場合には、照明の強さは０であり、測光結果は、横軸が０ｍＳのときと、その１５ｍＳ後の照明の強さである１との平均であるので、０．５を示している。また、横軸が５ｍＳのときには、照明の強さは１であり、測光結果は５ｍＳのときの１と、２０ｍＳのときの０との平均であるので０．５となる。
このように、電源周波数が５０Ｈｚの場合に測光周期１５ｍＳで測光したときには、任意のフリッカー位相で測光を開始しても、測光結果はフリッカーの平均強度から最大０．３５ＥＶまでしかずれることはない。
ところが、図６（ｂ）に示すように、電源周波数が６０Ｈｚの場合には、測光開始の位相によっては、最大１．１１ＥＶまで測光結果が平均値からずれてしまう。
【０００７】
また、図５（ｅ）、（ｆ）のように、測光周期を電源周波数６０Ｈｚの場合のフリッカー周期の１．５倍に合わせて１２．５ｍＳにすると、図７（ｂ）に示すように、６０Ｈｚの場合には最大誤差０．３５ＥＶであるが、５０Ｈｚの場合には、図７（ａ）のように、最大誤差が０．８５ＥＶと大きくなってしまう。
【０００８】
なお、５０Ｈｚと６０Ｈｚの中間である５５Ｈｚに測光周期を合わせて、両方からの誤差を小さくするという方法も考えられるが、このような場合においても図８に示すように、５０Ｈｚ、６０Ｈｚ共に最大で０．４８ＥＶの測光誤差が生じてしまうという、問題点があった。
【０００９】
本発明の目的は、異なる電源周波数の何れの地域においても共に測光誤差の小さい測光装置を提供することである
本発明の他の目的は、異なる電源周波数の何れの地域においても共に測光誤差が小さく、正確な露出制御が可能なカメラを提供することである
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、請求項１の発明は、測光素子を用いて被写界の測光を行う測光回路と、前記測光回路の複数の時間的に異なる出力を平均して測光出力を演算する演算回路とを含む測光装置であって、前記演算回路は、第１のフリッカー周期を持つ光源を、その第１のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光値を平均する平均回数に応じて異なる測光誤差の最大値と、第２のフリッカー周期を持つ光源を、その第２のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光値を平均する平均回数に応じて異なる測光誤差の最大値との、大きい方の測光誤差の最大値が極小値を取るような測光周期によって、前記測光回路の出力を平均することを特徴としている。
【００１１】
請求項２の発明は、請求項１に記載の測光装置において、前記測光回路は、蓄積型の測光素子を用いることを特徴としている。
【００１２】
請求項３の発明は、請求項２に記載の測光装置において、前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間が所定値よりも短いときに、前記周期によって前記測光回路の出力を平均することを特徴としている。
【００１３】
請求項４の発明は、請求項１に記載の測光装置において、前記演算回路は、複数の周期を選択して用いることを特徴としている。
【００１４】
請求項５の発明は、請求項２に記載の測光装置において、前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間の長さに応じて、前記周期を切り替えることを特徴としている。
【００１５】
請求項６の発明は、請求項２に記載の測光装置において、前記演算回路は、前記測光素子の蓄積時間の長さに応じて、平均回数を切り替えることを特徴としている。
【００１６】
請求項７の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の測光装置と、前記測光装置の出力に基づいて、フィルムへの露出制御を行う露出制御装置とを備えたことを特徴としている。
【００１７】
【作用】
本発明においては、演算回路は、第１のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光出力の実効値からの誤差の最大値と、第２のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光出力の実効値からの誤差の最大値との大きい方の値が極小値を取るような周期で測光回路の出力を平均するようにしたので、どちらの電源周波数の地域で測光を行っても、共に誤差の小さい測光結果を得ることができる。
【００１８】
請求項１の発明では、電源周波数が異なる２つの地域でも共に測光誤差の少ない測光が行える。
請求項２の発明では、蓄積型の測光素子を用いるので、測光領域数の多い測光装置が実現することができる。
請求項３の発明では、電源周波数の影響を受けやすい短い蓄積時間のときに正確な測光が行うことができる。
請求項４の発明では、複数の周期を選択して用いるようにしたので、測光周期を柔軟に変更することが可能になる。
請求項５の発明では、蓄積時間の長さに応じて周期を切り替えるようにしたので、測光周期を柔軟に変更することが可能となる。
請求項６の発明では、蓄積時間の長さに応じて平均回数を切り替えるようにしたので、測光周期を柔軟に変更可能となる。
請求項７の発明では、前述のような測光装置を露出制御に用いるので、正確な露出制御が可能となる。
【００１９】
【実施例】
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する。
図１は、本発明の一実施例に係わるカメラの測光装置の概略の構成を示すブロック図である。
マイクロプロセッサ（以下、マイコンと略す）１０は、カメラ内の各種制御及び演算を全て行う制御回路である。このマイコン１０は、演算を実行する演算回路１１と、アナログ電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１２と、メモリ１３と、タイマー１４等を内蔵している。マイコン１０の動作は、全てメモリ１３内に格納されたプログラムに従って制御されている。
【００２０】
測光回路１５の出力は、Ａ／Ｄ変換器１２によってＡ／Ｄ変換された後に、メモリ１３へ格納される。演算回路１１は、１回目の測光と同時にタイマー１４のカウントを開始し、所定時間経過後に次の測光データを測光回路１５からＡ／Ｄ変換器１２を通して読み込み、再び、メモリ１３へ格納する。演算回路１１は、所定回数の測光データを読み込んだ後に、メモリ１３内の各測光領域毎のデータの平均値を求め、測光値を算出する。マイコン１０内のプログラムについては、後に詳しく説明する。
また、演算回路１１は、算出した測光値に基づいて適正露出値を演算して、シャッタ１６及び絞り１７を駆動制御する（露出制御装置）。
【００２１】
図２は、本実施例に係る測光装置が内蔵されるカメラの光学系を示すブロック図である。
撮影レンズ１を通過した光束は、クイックリターンミラー２、拡散スクリーン３、コンデンサレンズ４、ペンタプリズム５、接眼レンズ６を通って、撮影者の目に到達する。一方、光束の一部は、拡散スクリーン３によって拡散された後に、コンデンサレンズ４、ペンタプリズム５、測光用プリズム７、測光用レンズ８を通して、受光素子９へ到達する。
【００２２】
図３は、測光素子９の分割状態を被写界に照らし合わせて示した図である。
測光素子９は、例えば、ＣＣＤ等の蓄積型センサーによって構成されており、上下方向に１５分割、左右方向に６７分割された合計１００５領域より成っている。
【００２３】
図４は、測光素子９の内部状態を分かりやすく示した模式図である。
各測光データは、１５本のＨレジスタＨ１〜Ｈ１５によって１画素づつＶレジスタに送られ、Ｖレジスタの先端から１画素ずつ出力される。また、ＨレジスタＨ１の隣には、更にデータ補正用の３本のＨレジスタが設けられており、図示されていないダミー画素を含めると、１画面のデータを出力するためには、１４２８画素分のデータを出力する程の時間を要する。
【００２４】
ここで、１画素分のデータを出力する時間をデータレートと呼ぶが、そのデータレートの長さは、主にデータを受け取るＡ／Ｄ変換器１２の変換の速さに依存している。現在、Ａ／Ｄ変換器１２の速さは、速いものでも約１０μＳの時間を要するので、１画面のデータを読み込むのに１４．２８ｍＳの時間を要することになる。また、測光時間には、データを読み出す時間の他に、蓄積時間を考慮しなければならないので、測光サイクルは少なくともこれ以上の時間である必要がある。
【００２５】
図５は、２回の測光値の平均を取る場合の測光タイミングを示した図である。（ａ）、（ｂ）は、５０Ｈｚ電源での照明を、１０ｍＳのインターバルで測光したときを示している。このように、フリッカーのサイクルと測光サイクルとが等しいと、２回の測光が共にフリッカーの同位相に来てしまうので、測光開始のフリッカーの位相によって測光結果がフリッカーの平均値から大幅にずれてしまう。また、（ｃ）のように、測光サイクルをフリッカーサイクルの１．５倍にすると、５０Ｈｚの場合には平均値が実効値に近くなる。ところが、この場合でも図５（ｄ）のように、電源周波数が６０Ｈｚの場合にはフリッカー周期の１．５倍とならないために、測光誤差が大きくなってしまう。
【００２６】
図６は、電源周波数が５０Ｈｚ、６０Ｈｚの各々の場合において、測光周期を１５ｍＳ、平均回数を２回としたときの任意の位相でのフリッカーの平均値からの測光誤差を示したグラフである。なお、測光の際の蓄積時間は十分に短いと仮定し、照明のフリッカーは、近似的にサイン波の絶対値とし、出力値は最大を１に規格化してある。
図６（ａ）は、電源周波数が５０Ｈｚのときを示した線図である。例えば、横軸が０ｍＳの場合には照明の強さは０であり、測光結果は横軸が０ｍＳのときと、その１５ｍＳ後の照明の強さである１との平均であるので、０．５を示している。また、横軸が５ｍＳのときには照明の強さは１であり、測光結果は５ｍＳのときの１と、２０ｍＳのときの０との平均であるので、０．５となる。このように、電源周波数が５０Ｈｚの場合であって、測光周期１５ｍＳで測光したときには、任意のフリッカー位相で測光を開始しても、測光結果はフリッカーの平均強度から最大０．３５ＥＶまでしかずれることはない。
ところが、図６（ｂ）に示すように、電源周波数が６０Ｈｚの場合には、測光開始の位相によっては、最大１．１１ＥＶまで測光結果が平均値からずれてしまう。
【００２７】
また、図５（ｅ）、（ｆ）のように、測光周期を電源周波数６０Ｈｚの場合のフリッカー周期の１．５倍に合わせて１２．５ｍＳにすると、図７（ｂ）に示すように、６０Ｈｚの場合には最大誤差０．３５ＥＶであるが、５０Ｈｚの場合には、図７（ａ）のように、最大誤差が０．８５ＥＶと大きくなってしまう。ここで、単位であるＥＶとは、基準とする値（この場合はフリッカーの平均値）との比を、２を底とする対数で表したものである。
【００２８】
図８は、測光周期を５０Ｈｚと６０Ｈｚの中間である５５Ｈｚの１．５倍、すなわち１３．６３ｍＳに合わせて２回の測光値を平均した線図である。このような場合においても、５０Ｈｚ、６０Ｈｚ共に最大で０．４８ＥＶの測光誤差が生じてしまう。
【００２９】
図９は、測光周期を４５．４５ｍＳにして２回の測光値を平均した線図である。この場合では、５０Ｈｚ、６０Ｈｚ共に、平均値からの最大誤差が０．３６ＥＶとなっており、どの位相から測光を開始しても誤差の少ない測光ができる。
【００３０】
なお、ここでの平均値とは、フリッカーであるサイン波の絶対値を全位相にわたって平均した値である。従って、この平均値は、サイン波の絶対値のグラフと水平軸とが作る面積を、等しい面積の長方形で置き換えたときの垂直軸の高さを示しており、いわゆる実効値とは異なる。しかし、その差はわずかであるということと、平均値から実効値への補正は容易であることから、これらの差は問題とはならない。
【００３１】
図１０は、平均回数が４回の場合であって、測光周期が５５Ｈｚの１．５倍の１３．６３ｍＳのときの測光誤差を示した線図である。この場合は、５０Ｈｚ、６０Ｈｚ共に最大０．３９ＥＶの誤差となっている。
【００３２】
図１１は、平均回数が４回の場合であって、測光周期が５０Ｈｚのフリッカーの１．２５倍の１２．５ｍＳにしたときの測光誤差を示した線図である。この場合は、５０Ｈｚでは最大誤差０．０８ＥＶと小さいが、６０Ｈｚの場合には０．３５ＥＶとなっておりやや大きい。
【００３３】
図１２は、平均回数が４回の場合であって、測光周期が６０Ｈｚのフリッカーの１．２５倍の約１０．４２ｍＳにしたときの測光誤差を示した線図である。この場合は、６０Ｈｚでは最大誤差０．０８ＥＶと小さいが、５０Ｈｚの場合には２．２９ＥＶと非常に大きくなってしまう。
【００３４】
図１３は、平均回数が４回の場合であって、測光周期が２２．７３ｍＳにしたときの測光誤差を示した線図である。この場合は、５０Ｈｚでの最大誤差０．１６ＥＶ、６０Ｈｚでの最大誤差０．１５ＥＶと、両周波数に対してバランスの取れた値となっている。
【００３５】
以上の結果から、５０Ｈｚ、６０Ｈｚのいずれに対しても測光誤差の小さい測光周期というものが存在することが予想される。
図１４は、平均回数が２回の場合の最大測光誤差を測光周期を横軸に０ｍＳから５０ｍＳまで取ってシミュレーションした線図である。最も上のグラフは、５０Ｈｚの電源に対するものであり、２番目のグラフは、６０Ｈｚ電源に対するものである。また、最も下のグラフは、５０Ｈｚの誤差と６０Ｈｚの誤差の大きい方を取ったものである。
グラフから分かるように、フリッカー周期の整数倍に近い測光周期では測光誤差が大きくなる。この理由は、前述したように、フリッカー周期と測光周期が近いといつもフリッカーの同じ位相で測光してしまうためである。最も下のグラフを見ると、５０Ｈｚ、６０Ｈｚ共に誤差の小さくなる点、つまりグラフの極小点が何カ所かあることが分かる。このように、グラフの極小点付近の測光サイクルにより測光を行えば、どちらのフリッカー周期に対して、任意の位相で測光を開始しても、誤差の少ない測光値を得ることができる。
グラフ内には６カ所の極小点が見られるが、それらの値は、それぞれ、４．５４ｍＳ、１３．６４ｍＳ、２２．７３ｍＳ、２７．２７ｍＳ、３６．３６ｍＳ、４５．４５ｍＳであり、もっとも誤差の小さい測光周期は、４．５４ｍＳと４５．４５ｍＳである。
【００３６】
図１５は、平均回数が４回の場合の測光周期と測光誤差との関係を示した線図である。この場合のグラフは複雑であるが、最も下のグラフでの主な極小点は、２．２７ｍＳ、４７．７３ｍＳ、２７．２７ｍＳ、２２．７３ｍＳ等である。
また、図１６は、平均回数が８回の場合であるが、この場合の主な極小点は、３６．３６ｍＳ、１３．６４ｍＳ、３１．２６ｍＳ、６．２６ｍＳ等である。
【００３７】
図１７は、マイコン１０のプログラムを示したフローチャートである。
不図示のカメラのレリーズボタンが半押しされることによってカメラの電源が入り、本プログラムが実行される。
まず、ステップＳ１０１において、測光回数をカウントする変数ｉを１に初期化する。次に、ステップＳ１０２において、測光のための蓄積時間ｔを算出する。蓄積時間ｔの求め方は、本出願人による特開平６−９５２００等に詳しく記述されているので、ここでは説明を省略する。
【００３８】
次に、ステップＳ１０３において、蓄積時間ｔが２０ｍＳより長いか否かを判定し、長い場合には、ステップＳ１０４へ進んで測光平均回数ｎを１、すなわち平均せずに１回の測光を持って測光結果とする。この理由は、蓄積時間がフリッカー周期より十分に長い場合にはフリッカーの影響を受けにくいためと、測光が速く終了するので都合が良いからである。
【００３９】
ステップＳ１０３が否定された場合には、ステップＳ１０５において、蓄積時間ｔが１０ｍＳより長いか否かを判定し、長い場合にはステップＳ１０６へ進んで測光平均回数ｎを２とし、ステップＳ１０７において、測光周期ｗｔを４５．４５ｍＳに設定する。蓄積時間がフリッカー周期に対して長い場合には、フリッカーの影響を受けにくいので、平均回数が少なくても測光誤差が出にくい。また、前述したように、測光データの読み出しに１４．２８ｍＳの時間を要するので、蓄積時間の１０ｍＳと合わせると測光時間は２４．２８ｍＳ以上になるので、測光周期はそれ以上の値でなければならない。
【００４０】
ステップＳ１０５が否定の場合には、ステップＳ１０８において、ｔが５ｍＳより長いか否かを判定し、長い場合にはステップＳ１０９で平均回数ｎを４、ステップＳ１１０で測光周期を２７．２７ｍＳとする。
ステップＳ１０８が否定の場合には、ステップＳ１１１において、平均回数ｎを４、ステップＳ１１２において、測光周期を２２．７３ｍＳとする。この理由は、蓄積時間の長さによって測光時間が決まってしまうので、蓄積時間長によって最適な測光周期を選択するためである。
【００４１】
次に、ステップＳ１１３において、測光周期を測定するためのタイマーのカウントを開始する。さらに、ステップＳ１１４では、定められた蓄積時間ｔに従って測光し、測光データの読み出しを行う。ステップＳ１１５では、測光回数を示す変数ｉをインクリメントし、ステップＳ１１６ではｉがｎより大であるか否かを判別する。
【００４２】
ステップＳ１１６が否定の場合には、ステップＳ１１７において、タイマーのカウント値が測光周期ｗｔになるまで待ち、ステップＳ１１８でタイマーをリセットして、再びステップＳ１１３へ戻る。
ステップＳ１１９では、測光データの平均値を求め、その値を測光結果とする。ステップＳ１２０では、測光結果を基にして適正露出値の演算を行う。適正露出値演算に関しても、上記公報に、その求め方が詳しく記載されているので、ここでは、その説明を省略する。
【００４３】
【発明の効果】
以上詳しく説明したように、本発明によれば、第１のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光出力の実効値からの誤差の最大値と、第２のフリッカー周期の任意の位相を測光開始点として測光したときの測光出力の実効値からの誤差の最大値との大きい方の値が極小値を取るような周期で測光回路の出力を平均するようにしたので、どちらの電源周波数の地域で測光を行っても共に誤差の小さい測光結果を得ることができる。
【００４４】
すなわち、請求項１では、電源周波数が異なる２つの地域でも共に測光誤差の少ない測光を行うことができる。
請求項２では、蓄積型の測光素子を用いるので、測光領域数の多い測光装置が実現できる。
請求項３では、電源周波数の影響を受けやすい短い蓄積時間のときに、正確な測光を行うことができる。
請求項４では、複数の周期を選択して用いるようにしたので、測光周期を柔軟に変更することが可能になる。
請求項５では、蓄積時間の長さに応じて周期を切り替えるようにしたので、測光周期を柔軟に変更することが可能となる。
請求項６では、蓄積時間の長さに応じて平均回数を切り替えるようにしたので、測光周期を柔軟に変更可能となる。
請求項７の発明では、前述のような測光装置を露出制御に用いるので、正確な露出制御が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による測光装置の実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】本実施例に係る測光装置の光学系を示した図である。
【図３】本実施例に係る測光装置の測光部の分割状態を示す図である。
【図４】本実施例に係る測光装置の測光素子の内部構成を示す図である。
【図５】測光周期を説明する線図である。
【図６】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図７】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図８】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図９】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図１０】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図１１】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図１２】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図１３】フリッカーによる測光誤差をシミュレーションして示す線図である。
【図１４】測光誤差の極小点をシミュレーションして示す線図である。
【図１５】測光誤差の極小点をシミュレーションして示す線図である。
【図１６】測光誤差の極小点をシミュレーションして示す線図である。
【図１７】本実施例に係る測光装置のアルゴリズムを示す流れ図である。
【図１８】従来例に係る測光装置を説明するための線図である。
【符号の説明】
１  撮影レンズ
２  クイックリターンミラー
３  拡散スクリーン
４  コンデンサレンズ
５  ペンタプリズム
６  接眼レンズ
７  測光用プリズム
８  測光用レンズ
９  受光素子
１０  マイクロプロセッサ
１１  演算回路
１２  Ａ／Ｄ変換器
１３  メモリ
１４  タイマー
１５  測光回路
１６  シャッタ
１７  絞り
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
0003564759.tif 000017
【図１７】
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【図１８】
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