(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
周波数の異なる２つの光と、該２つの光より得られる参照ビート信号を形成し、該２つの光のうち一方の光は参照面にて反射させ、他方の光は被測定面上に被測定物の最大面傾斜角度以上の半開角を有するレンズ系を介して被測定面にて反射させ、双方の反射光を干渉させて、複数の素子を有する光検出器で検出して測定ビート信号を得、該参照ビート信号と該測定ビート信号との位相差を測定する事により被測定面の面形状を測定する面形状測定装置において、
該レンズ系と光検出器は筐体内に収納しており、該測定ビート信号は、マルチプレクサによって該光検出器の素子の中から被測定面により正反射する光束を受光する素子とこの素子の近傍の素子とを選択することにより得られたビート信号を加算する事により得られ、該参照ビート信号と該測定ビート信号の位相差が一定となるように該筐体と被測定面の間隔を光軸方向に制御し、該筐体と被測定面を光軸直交方向に相対位置変化させたときの該筐体の位置情報を測長手段にて読みとることにより被測定面の面形状を測定することを特徴とする面形状測定装置。
【請求項２】
前記測定ビート信号は、前記被測定物の測定位置の移動に伴う面傾斜の変化に対して、選択すべき光検出器の素子の切り替えを行うことにより得られ、該切り替えにより選択される光検出器の素子は、切り替えを行う前に選択されていた素子と、その一部が重複していることを特徴とする請求項１の面形状測定装置。
【請求項３】
前記光検出器より測定ビート信号は、複数のマルチプレクサを用いて受光素子を選択し、アナログ加算器を用いて加算演算することにより得られることを特徴とする請求項１の面形状測定装置。
【請求項４】
前記他方の光は、前記被測定面上においてｄｅｆｏｃｕｓする様に入射させていることを特徴とする請求項１の面形状測定装置。
【請求項５】
前記他方の光を前記被測定面上において同心円又はスパイラル状にスキャンすることにより該被測定面の３次元形状を求めていることを特徴とする請求項１の面形状測定装置。
【請求項６】
前記光検出器は２次元のエリアセンサであることを特徴とする請求項４に記載の面形状測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、面形状測定装置及びこれに好適な干渉測定装置に関し、例えば、カメラ、ビデオ、半導体素子製造装置などに用いられる比較的大口径のレンズ、ミラー、金型などの滑らかに連続した物体の面形状を計測する装置において、特に通常の干渉計では測定困難な、非球面形状等を高精度に計測するのに好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より非球面形状等の物体の面形状を測定する装置として光の干渉現象を利用した干渉装置が多く利用されている。図８は光学第１２巻第６号（１９８３年１２月）ｐ４５０−４５４に開示された面形状測定装置の要部概略図である。
【０００３】
同図において９０１は光源ゼーマンレーザー、９０２はビームスプリッタ、９０３、９０４は各々第１、第２の偏光ビームスプリッタ、９０５ａ、ｂはλ／４板、９０６は対物レンズ、９０７は参照面、９０８はワーク（被測定物）、９０９はワークステージ、９１０はフォーカス検出器、９１１ａ、９１１ｂはビート信号検出器である。
【０００４】
同図においては光源であるところのゼーマンレーザー９０１から射出された偏光方位が直交する周波数ｆ１、ｆ２のわずかに周波数の異なる２つの光をｆ１、ｆ２とすると、これらの光はビームスプリッタ９０２で２分され、このうちビームスプリッタ９０２を通過した光は第１の偏光ビームスプリッタ９０３にて空間的に分離される。
このうち光ｆ１の光は直進して第２の偏光ビームスプリッタ９０４を通過してλ／４板９０５ａで円偏光に変換され対物レンズ９０６にて被測定物（ワーク）９０８の表面に焦点を結ぶように照射され、いわゆるＣａｔ’ｓ  Ｅｙｅ反射で対物レンズ９０６にもどり、λ／４板９０５ａを再び通過して直線偏光に変換されるが、反射前の直線偏光とは９０°方位が回転した状態で第２の偏光ビームスプリッタ９０４に入射する。
【０００５】
この第２の偏光ビームスプリッタ９０４は、特殊なコーティングが施されており、戻ってきた光を２分割して一方は透過させて第１の偏光ビームスプリッタ９０３へ、もう一方は反射させてフォーカス検出器９１０へと導く。
【０００６】
フォーカス検出器９１０からの信号を用いて前記対物レンズ９０６を矢印で示す光軸方向にサーボしワークが光軸と直交方向に移動しても常にワーク表面上に焦点を結ぶようにしている。
【０００７】
一方第１の偏光ビームスプリッタ９０３で反射された光ｆ２の光はλ／４板９０５ｂにて円偏光に変換され、レンズ、ミラーを介してワークステージ上に配置された参照面９０７で反射されて第１の偏光ビームスプリッタ９０３に戻るが、λ／４板９０５ｂをもう一度通るため、偏光方位が９０°回転した直線偏光となっており、第１の偏光ビームスプリッタ９０３を透過してビート信号検出器９１１ｂへ向かう。
【０００８】
ワーク９０８で反射して第１の偏光ビームスプリッタ９０３に戻ってきた光もビート信号検出器９１１ｂへ向かうため、参照面９０７で反射した光と干渉し、測定ビート信号（Ｆ１−Ｆ２）がビート信号検出器９１１ｂにて検出される。
【０００９】
光源９０１から射出直後の光ｆ１、ｆ２をビームスプリッタ９０２で反射させて、干渉させて、ビート信号検出器９１１ａで参照ヒント信号を得ている。ヒント信号検出器９１１ｂで得られる測定ヒント信号と、ビート信号検出器９１１ａにて得られる参照ビート信号との位相差を測定し、ワーク９０８を光軸に直交する方向に走査させたときの位相差を積分することでワーク９０８の面形状を測定している。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
図８に示す面形状測定装置では、被測定物９０８の表面上に光をフォーカスさせて反射してきた反射光の波面情報を取得している。この方法では、被測定面９０８上に小さなゴミやキズ等があると、反射光が散乱するため、検出器９１１ｂに戻る光量、位相が極端に変化し測定困難となるという問題があり、積算カウンタエラーによりその地点で測定が中断してしまうという問題点があった。
【００１１】
本発明は、被測定面上に小さなゴミやキズ等があっても測定されるビート信号が途切れることなく、常に高精度に面形状を測定することができる面形状測定装置の提供を目的とする。
【００１２】
本発明は干渉状態に応じて常に適切に干渉信号を得ることができる干渉測定装置の提供を他の目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明の面形状測定装置は、周波数の異なる２つの光と、該２つの光より得られる参照ビート信号を形成し、該２つの光のうち一方の光は参照面にて反射させ、他方の光は被測定面上に被測定物の最大面傾斜角度以上の半開角を有するレンズ系を介して被測定面にて反射させ、双方の反射光を干渉させて、複数の素子を有する光検出器で検出して測定ビート信号を得、該参照ビート信号と該測定ビート信号との位相差を測定する事により被測定面の面形状を測定する面形状測定装置において、
該レンズ系と光検出器は筐体内に収納しており、該測定ビート信号は、マルチプレクサによって該光検出器の素子の中から被測定面により正反射する光束を受光する素子とこの素子の近傍の素子とを選択することにより得られたビート信号を加算する事により得られ、該参照ビート信号と該測定ビート信号の位相差が一定となるように該筐体と被測定面の間隔を光軸方向に制御し、該筐体と被測定面を光軸直交方向に相対位置変化させたときの該筐体の位置情報を測長手段にて読みとることにより被測定面の面形状を測定することを特徴としている。
【００１４】
請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記測定ビート信号は、前記被測定物の測定位置の移動に伴う面傾斜の変化に対して、選択すべき光検出器の素子の切り替えを行うことにより得られ、該切り替えにより選択される光検出器の素子は、切り替えを行う前に選択されていた素子と、その一部が重複していることを特徴としている。
【００１５】
請求項３の発明は、請求項１の発明において、前記光検出器より測定ビート信号は、複数のマルチプレクサを用いて受光素子を選択し、アナログ加算器を用いて加算演算することにより得られることを特徴としている。
【００１６】
請求項４の発明は、請求項１の発明において、前記他方の光は、前記被測定面上においてｄｅｆｏｃｕｓする様に入射させていることを特徴としている。
【００１７】
請求項５の発明は、請求項１の発明において、前記他方の光を前記被測定面上において同心円又はスパイラル状にスキャンすることにより該被測定面の３次元形状を求めていることを特徴としている。
【００１８】
請求項６の発明は、請求項４の発明において、前記光検出器は２次元のエリアセンサであることを特徴としている。
【００２３】
【発明の実施の形態】
（第１の実施例）
図１  は本発明の実施形態１の要部概略図、図２は図１の測定光学ヘッド（測定ヘッド）の部分説明図である。
【００２４】
同図において、１は光源であり、レーザーより成っている。２はＡＯＭ周波数シフターであり、レーザ１からのレーザ光を周波数の異なる２つの波長に変換している。３は偏波面保存作用のある光ファイバーであり、ＡＯＭ周波数シフター２からのレーザ光を測定光学ヘッド７に導光している。測定光学ヘッド７は図２に示す構成より成り、被測定物としての８の面形状を後述する方法で測定している。
【００２５】
１０１はベース定盤であり、各部材を載置している。１０２はコラム、１０３はｒ移動テーブルであり、図中ｒ方向へ移動している。１０４はＺ移動テーブルであり、図中Ｚ方向（光軸方向）に移動している。１０５はワークホルダ、１０６はθ回転テーブルであり、図中θ方向に回転している。、１０７ａ、１０７ｂはボールねじ、１０８ａ、１０８ｂ、はテーブル駆動モーターであり、これらによってｒ移動テーブル１０３、Ｚ移動テーブル１０４を所定方向に駆動させている。
【００２６】
２０１はレーザー測長器ヘッド、２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃはレーザー測長用干渉計（測長手段）、２０３はレーザー測長器用の光ファイバー、２０４、２０５は位置測定用の基準平面ミラーであり、これらの各要素でｒ移動テーブル１０３、Ｚ移動テーブル１０４の移動情報（位置情報）を検出している。
【００２７】
本実施形態では図１に示すように、測定機上にｒ、θ、Ｚの円筒座標系を想定したとき、測定光学ヘッド７はｒ移動テーブル１０３上に配置されたＺ移動テーブル１０４上に配置されており、測定光学ヘッド７の測定光軸がＺ軸に平行となっている。ワーク８はθ回転テーブル１０６上に配置されたワークホルダ１０５上に載置されている。
【００２８】
このうちｒ移動テーブル１０３とＺ移動テーブル１０４の位置はレーザー測長器ヘッド２０１から射出した光を、光ファイバー２０３にて、レーザー測長器用干渉計２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃ等に導くことにより、それぞれ位置測定用基準ミラー２０４、２０５との相対位置が精密に測定されている。
【００２９】
また、これらの移動テーブル１０３、１０４はボールねじ１０７ａ、１０７ｂやテーブル駆動モーター１０８ａ、１０８ｂ、１０８ｃの作用により、自在に移動可能となっている。
【００３０】
またθ回転テーブル１０６には不図示の回転角検出エンコーダが具備されている。
【００３１】
このような構成により測定光学ヘッド７と、ワーク８は、それらの相対位置関係がこのｒ、θ、Ｚ円筒座標系において任意に変化可能となっており、かつその位置関係が精密に測定可能となっている。
【００３２】
次に図２を用いて、測定光学ヘッド７とその周辺部の構成とその動作を説明する。
【００３３】
光源１から射出したレーザー光は、ＡＯＭシフタ２の作用で偏光方位が直交する２つのわずかに周波数が異なる光（２周波光）Ｌａに変換され、偏波面保存光作用のある光ファイバー３に入射し、ファイバー線を伝送して測定光学ヘッド７へ導かれ、末端部より偏光方位を維持した状態で２周波光Ｌａを射出する。
【００３４】
光ファイバー３から射出された光は発散光であるため、コリメータレンズ７１で平行光として偏光ビームスプリッタ７２に入射し、２周波光のうち一方の光Ｌａ１は反射されて参照平面７４側へ、もう一方の光Ｌａ２は透過してワーク８側へ進む。
【００３５】
参照平面７４側へ進んだ光Ｌａ１はλ／４板７３ａで円偏光に変換されて参照平面７４で正反射され、再びλ／４板７３ａを通って直線偏光に変換されて偏光ビームスプリッタ７２に戻るが、偏光方位が９０°回転しているために、今度は透過して一次元アレイから成る光検出器９側へ進む。
【００３６】
ワーク８側へ進んだ光Ｌａ２は同様にλ／４板７３ｂで円偏光に変換されて対物レンズ７５で収斂光となってワーク８表面で焦点を結び、いわゆるＣａｔ’ｓ  Ｅｙｅ（キャッツアイ）反射されて対物レンズ７５、λ／４板７３ｂ、と戻り、直線偏光に変換されて光ビームスプリッタ７２に戻るが、偏光方位が９０°回転しているために、今度は反射して光検出器９側へ進む。
【００３７】
このとき、対物レンズ７５はワークの最大面傾斜角よりも大きな半開角を有し、また対物レンズ７５に入射させる光も、この半開角いっぱいに入れている。
【００３８】
参照平面７４と、ワーク８で反射されたそれぞれの光を偏光板７６を介して円偏光とし、この作用で干渉させ、拡散レンズ７８を通して１次元アレイより成る光検出器（センサ）９の幅いっぱいに入射させる。この１次元アレイより成るセンサ９の各素子からは、２つの周波数の差に相当する周波数のいわゆるビート信号が観測されるが、ワーク８の面傾斜に対応するために被測定面８から正反射してくる光束に相当する素子からの信号をマルチプレクサ８０で高速に切り替えて、あたかも連続したデータのように取り出している。
【００３９】
なお、ここで言うマルチプレクサとは多数の入力信号の中からアドレスされた信号のみを出力線に導く高速なスイッチ機能を有する素子を意味するものである。
【００４０】
この測定されたビート信号（以下測定ビート信号）と基準となるビート信号（以下基準ビート信号）との位相差を測定することにより、参照平面７４側に向かった光とワーク８側に向かった光の光路長差の変化を求めている。このとき逆に位相が一定になるように測定光学ヘッド７を光軸方向にサーボしておき（位相ロックサーボ）、ワーク８と測定光学ヘッド７の相対位置を光軸に直交する面内で変化させながら、その移動量を別の直交座標測定系で読むことによりワーク８の表面の３次元形状を原理的に測定している。例えば各要素を収納した筐体ＴＳの面ＴＳａからワーク８の表面までの距離情報を得ている。
【００４１】
本実施形態では参照ビート信号はＡＯＭドライバ４からミキサ回路を通して２つのドライブ周波数の差（ｆ１−ｆ２）を得ている。この参照ビート信号を位相計５に入力している。尚、従来例のように干渉計に入射する直前の光を干渉させて基準ビート信号としても良い。
【００４２】
図１の構成で示したように、ワーク８と測定光学ヘッド７（筐体ＴＳの面ＴＳａ）の相対位置は装置上の円筒座標系内で任意に移動かつ測定可能となっている。例えばＺステージ１０４を測定光学ヘッド７からの信号によりサーボしながらθ移動ステージ１０６を回転させるとともに、ｒ移動ステージ１０３にてワーク半径方向ｒに移動させて、ワーク８の表面を同心円またはスパイラル状にスキャンして、各移動ステージの位置を読み取ることにより３次元形状を測定している。
【００４３】
本実施形態において、ワーク８の表面に小さなゴミやキズがあった場合、対物レンズ７５で完全にフォーカスした状態だと光のスポット径は、波長ＮＡに依存するが、スポット径が数μｍとゴミ、キズと同レベルとなるとワーク８の表面からの信号を失い、データ飛びを起こすことになる。
【００４４】
そこで、本実施形態では、ワーク８と測定光学ヘッド７の間隔をわずかに移動させ、いわゆるｄｅｆｏｃｕｓを故意に与え、光のスポット径を拡大している。
【００４５】
今、対物レンズ７５の半開角をＰとするとき、光軸方向にｄｅｆｏｃｕｓ量ｄを与えると、スポット径ｕは
φｕ＝２ｆ・ｔａｎＰ
で表される。このとき図３に示すように反射光波面は湾曲し、干渉縞にしてＷ（本）の同心円状縞を生じることになる。
【００４６】
【数１】
0003584151.tif 000002
例えば、半開角３０°の対物レンズ７５を用いるとき、光の波長をλ＝６３３とすればｄｅｆｏｃｕｓ＝０．１ｍｍを与えるとスポット径は１１５μｍとなり、この時の波面湾曲は干渉縞約４２本相当を生じる。ｄｅｆｏｃｕｓによる波面変化はほぼ２次式で近似できるから同心円の中心部１０％の波面変化は約０．４本となる。すなわち、スポットの中心１１μｍの波面変化は０．４本と小さく、対応するアレイセンサ９からの信号を加算してもビート信号の強度低下はさほど起きない。
【００４７】
このように本実施形態においては、キズの大きさとｄｅｆｏｃｕｓ量とは所定の関係にあり、例えば想定されるゴミ、キズの大きさ２倍以上のエリアから信号をとれば信号とびは回避されるとすれば、１〜２μｍのゴミ、キズに対してφ５μｍ程度のエリアから信号をとれば良く、ｄｅｆｏｃｕｓ＝０．０５ｍｍを与えればスポット径はφ５８μｍとなり、その約１０％であるφ５μｍ内での波面変化は０．２本となり、十分なビート信号が得られる。
【００４８】
従って、測定初期位置に於いて、故意に０．０５ｍｍのｄｅｆｏｃｕｓを与え、そのときの位相を保持するようにサーボをかけると良いことになる。
【００４９】
アレイセンサの結線は、例えば図４に示すように４８素子より成るアレイセンサ（光検出器）９からの出力信号を３個の１６ｃｈマルチプレクサ８０（ＭＰＸ１〜３）の入力チャンネルに端から順番に１、２、３、１、２、３…と結線しておき、出力線をアナログ加算器８９に結線しておく。各マルチプレクサの出力信号はアドレス信号（ＤＡ１〜ＤＡ４、ＤＢ１〜ＤＢ４、ＤＣ１〜ＤＣ４）により任意に選択できるから、不図示のコンピュータからの指令でアレイセンサ９の内の任意の連続する３素子からの出力の加算信号を得ることができる。
【００５０】
加算する素子数を増加したいときはマルチプレクサ８０の数を増やせば良いことは明らかである。
【００５１】
またアレイセンサ９の素子数が多い場合は入力チャンネル数の多いマルチプレクサ８０を用いるか、マルチプレクサ８０を多段に接続し、１段目で選択した出力からさらに２段目で選択するといった方法で対応が可能である。
【００５２】
本実施例で示したようにアレイセンサ９とマルチプレクサ８０を接続しておき、連続する素子からの出力を加算して出力とする場合、滑らかに連続した面を測定する場合、測定面傾斜に応じて中心とする素子を切り替えるときに測定信号が失われないという利点がある。例えば図４の例だと連続する３素子の加算を行う場合、ある測定位置の面傾斜に対応する素子が５番目の素子であったとし、その前後の素子を加算する信号とすれば、４、５、６番目の素子を加算して出力とするが、次の測定位置で面傾斜に対応する素子が６番目となったときは、素子５、６、７を用いており、このとき４番目の信号を７番目の信号に切り替えるだけでよく、この切り替えの間も５、６番目の信号は出力されている。
【００５３】
このように、本実施形態では、複数の素子５、６、７の一部５が前回用いた複数の素子４、５、６の一部５と重複するようにしている。これにより測定する面が滑らかに連続した面であれば面傾斜に対応する素子も滑らかに変化するはずだから、測定領域全体において、このような切り替えを可能としている。
【００５４】
尚、本測定は位相測定なので、瞬間的にビート信号の振幅が変化しても位相の変化への影響は小さい。
【００５５】
図５は本発明の実施形態２の測定光学ヘッドとその周辺の説明図である。
【００５６】
本実施形態は、図１、図２の実施形態１に比べて、測定座標系が直交座標系に変わるとともに、面傾斜に対応する素子配置が２次元状になり、したがって測定ビート信号を検出する手段が１次元のアレイセンサ９から２次元のエリアセンサ９１に置き換わった点が異なっており、その他の構成は同じである。
【００５７】
このような配置を取ることにより、軸対称でない任意の形状に対しても良好に形状を測定することができるようにしている。
【００５８】
実施形態１で説明したのと同様に、ワーク８上のゴミ、キズによる影響を避けるために、測定光学ヘッド７と、ワーク８間の距離をＣａｔ’ｓ  Ｅｙｅ位置よりわずかにずらし、ワーク８上のスポット径を大きくするとともに、測定信号センサであるところの２次元エリアセンサ９１の面傾斜に対応する素子近傍の信号を加算している。
【００５９】
エリアセンサのうち図６に示すような対応素子を中心とする９素子を加算する場合、後段のマルチプレクサの配線は図７のようなものが適用可能である。
【００６０】
すなわち、エリアセンサ９１の行番号をＡ、Ｂ、Ｃ…、列番号を１、２、３…をしたとき、Ａ行のセンサ出力を３つのマルチプレクサの入力端子に列番号順に結線しておき、この３つのマルチプレクサの出力を３チャンネルの加算器の入力端子に結線しておく。このようにしておくことで、一つの行について見たとき、連続する３つの素子の加算結果が得られる。
【００６１】
同様に、Ｂ、Ｃ…行についても配線し、それぞれの加算器出力を後段の３つのマルチプレクサ入力に行番号順に結線しておき、この３つの後段マルチプレクサの出力を３チャンネルの後段加算器の入力端子に結線しておく。このようにすることで連続する３行の加算結果をさらに加算する事ができる。
【００６２】
したがって、これらマルチプレクサ群のアドレスを適切に指定することで面傾斜に対応する素子とその近傍素子９個の出力の加算結果を得ることができる。
【００６３】
もちろん、４×４の１６素子の加算やそれ以上の素子の加算も同様の考え方で対応可能である。
【００６４】
エリアセンサ９１の場合もアレイセンサ９と同様に面傾斜に対応する中心素子を切り替えるとき、加算する全素子を切り替える必要は無いため、切り替え時に信号が途絶えることが無いという効果を生じる。
【００６５】
当然のことながら、多くの素子信号を加算することで、受光量は増えるため信号強度の増大も期待できる。又、干渉状態に応じて常に適切に干渉信号を得ることができる干渉測定装置を達成することができる。
【００６６】
【発明の効果】
本発明によれば、以上のように各要素を設定することにより
被測定面上に小さなゴミやキズ等があっても測定されるビート信号が途切れることなく、常に高精度に面形状を測定することができる面形状測定装置を達成することができる。又、干渉状態に応じて常に適切に干渉信号を得ることができる干渉測定装置を達成することができる。
【００６７】
この他、本発明では、
（Ａ１）わずかに周波数の異なる２つの光（ヘテロダイン光）を測定光学ヘッドへ導く。
（Ａ２）ヘテロダイン光の一方の光は参照面にて正反射させ、他方の光は被測定面上に被測定物の最大面傾斜角度以上の開口数（ＮＡ）を有するレンズを用いてフォーカスさせ、Ｃａｔ’ｓ  Ｅｙｅ反射で戻ってきた両方の光を干渉させてビート信号が検出できる１次元または２次元アレイ光検出器に入射させる。
（Ａ３）このとき、測定光学ヘッドと被測定物間距離を調整して被測定面上で光束をわずかにｄｅｆｏｃｕｓさせ、広い面積の情報を拾えるようにしておく。
（Ａ４）前記ビート信号は被測定面上で垂直反射して帰ってきた光束に対応する光検出器画素を中心とする近傍画素によって得られるビート信号を加算して得るものとし、測定位置の変化に伴って垂直反射光束に対応する光検出器画素を高速に切り替える。
（Ａ５）参照信号と測定信号の位相差が一定となるように該測定光学ヘッドと被測定物の間隔を光軸方向に制御する。
（Ａ６）該測定光学ヘッドもしくは被測定物に移動装置を設けておき、直交座標系において相対位置が変化可能とし、該直交座標系の一つの軸（例えばＺ軸）を該ヘテロダイン干渉計の測定光軸と一致させ、被測定物の存在範囲をＸ、Ｙに走査して移動させたときの移動物体のＸ、Ｙ、Ｚ位置を別に設けた測長装置にて正確に読み取ることにより被測定物の３次元形状を測定する。
等の構成をとることにより
（Ｂ１）被測定面に小さなゴミ、キズがあっても測定されるビート信号が完全に途切れることが少なくなり、安定した測定が可能となった。
（Ｂ２）連続する素子の加算結果を使用するので、素子の切り替え時に加算している全素子を切り替える必要がなく、素子切り替え時の信号途切れが無くなった。
（Ｂ３）多くの素子信号を加算するため多くの光量が集められ、信号強度が向上した。
等の効果を得ている。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１の全体構成をあらわす正面図
【図２】本発明の実施形態１の光学ヘッド部分を表す詳細図
【図３】本発明の実施形態１のｄｅｆｏｃｕｓに対する動作説明図
【図４】本発明の実施形態１の信号処理系の説明図
【図５】本発明の実施形態２の光学ヘッド部分を表す詳細図
【図６】本発明の実施形態２の信号処理系の説明図
【図７】本発明の実施形態２の信号処理系の説明図
【図８】従来の面形状測定装置の要部概略図
【符号の説明】
１      レーザーヘッド
２      ＡＯＭ周波数シフター
３      偏波面保存光ファイバー
４      ＡＯＭドライバー
５      位相計
６      サーボドライバー
７      測定光学ヘッド
８      ワーク
９      １次元アレイセンサ
１１    コンピュータ
７１    コリメータレンズ
７２    偏光ビームスプリッタ
７３ａ、７３ｂ
λ／４板
７４    参照平面版
７５    対物レンズ
７６    偏光板
７８    拡散レンズ
８０    マルチプレクサ
８９    加算演算器
９１    ２次元エリアセンサ
１０１  ベース定盤
１０２  コラム
１０３  ｒ移動テーブル
１０４  Ｚ移動テーブル
１０５  ワークホルダー
１０６  θ移動ホルダー
１０７ａ、１０７ｂ
ボールねじ
１０８ａ、１０８ｂ、１０８ｃ、１０８ｄ
モーター
１０９  エンコーダ
２０１  レーザ測長器ヘッド
２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃ
レーザー測長器用干渉計
２０３  レーザー測長器用光ファイバー
２０４、２０５
位置測定基準ミラー
【図１】
0003584151.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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