(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に発熱抵抗体を有するとともにこの発熱抵抗体の所定方向両端部にリード線が接続されたサーマルヘッドプリンタの、上記発熱抵抗体にレーザ光を照射してその電気抵抗値を設定するサーマルプリンタヘッドの熱処理装置において、
上記レーザ光を出力するレーザ発振器と、上記レーザ光の照射によって変化する上記発熱抵抗体の抵抗値を測定する抵抗値測定手段と、上記レーザ光の照射によって変化する上記発熱抵抗体の温度を測定する温度測定手段と、上記抵抗値測定手段と上記温度測定手段からの測定値によって上記発熱抵抗体が所定の温度となったときの抵抗値を算出し、その算出値が所定値となるよう上記レーザ光の照射を制御する制御手段とを具備したことを特徴とするサーマルプリンタヘッドの熱処理装置。
【請求項２】
基板に発熱抵抗体を設ける工程と、この発熱抵抗体の所定方向両端部にリード線を接続する工程と、上記発熱抵抗体にレーザ光を照射して熱処理を加えてその電気抵抗値を設定する工程とを具備するサーマルプリンタヘッドの製造方法において、
上記発熱抵抗体にレーザ光を照射する工程と、レーザ光が照射される上記発熱抵抗体の抵抗値と温度を測定する工程と、測定された上記発熱抵抗体の抵抗値と温度とによってこの発熱抵抗体が所定の温度になったときの抵抗値を算出し、その算出値に応じて上記レーザ光の照射を制御する工程とを具備したことを特徴とするサーマルプリンタヘッドの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は薄膜からなる発熱抵抗体によって形成されるサ−マルプリンタヘッドの熱処理装置およびサーマルプリンタヘッドの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、サ−マルプリンタヘッドは基板に発熱抵抗体を設け、この発熱抵抗体の所定方向両端部にリ−ド線が接続されてなる。このようなサ−マルプリンタヘッドは、発熱抵抗体の材料としてＴａ−ＳｉＯ２  、Ｎｂ−ＳｉＯ２  、Ｚｒ−ＳｉＯ２  、Ｃｒ−ＳｉＯ２  などの金属とＳｉＯ２  を組み合わせたものをタ−ゲット材とし、スパッタリング法により膜厚２００〜５０００オングストロ−ムの上記発熱抵抗体が形成される。
【０００３】
上記発熱抵抗体は、スパッタリングしたままの状態ではサ−マルプリンタヘッドとしての使用時に発熱温度で抵抗値が低下して流れる電流が増加し、その電流によりさらに発熱量が増えるため、さらに電流が過大に流れる。その結果、最終的には発熱抵抗体がそれ自体の発熱により破壊されるに至ることがある。
【０００４】
このような現象は発熱抵抗体の結晶構造の微細粒子の組織が使用による経時変化を起こし、その発熱抵抗体の抵抗値が低下するためであると考えられている。そのため、上記発熱抵抗体を上述した方法で形成したならば、その発熱抵抗体の結晶化状態をより安定化させるために、通電エ−ジングまたは加熱炉内でのアニ−リングまたはレ−ザ光照射によるレ−ザアニ−ルなどの熱処理を行うようにしている。それによって、発熱抵抗体は発熱により抵抗値が低下するのをなくすことができる。
【０００５】
ところで、加熱炉においてアニ−リングした場合、発熱抵抗体の抵抗値は、アニ−ル温度と処理時間により制御される。しかしながら、このようなアニ−リングだけでは、基板上に設けられた多数の発熱抵抗体間に抵抗値のばらつきが生じる。
【０００６】
そこで、抵抗値の大きな発熱抵抗体だけをレ−ザ光でアニ−ル処理し、各発熱抵抗体間の抵抗値のばらつきを小さくするということが行われる。その場合、レ−ザ光を照射する前と後における上記発熱抵抗体の抵抗値を測定する必要がある。しかしながら、レ−ザ光の照射後における発熱抵抗体の抵抗値は、その発熱抵抗体の温度が室温に低下するまで安定せず、安定するまでに数秒の時間が掛かる。たとえば、１つの発熱抵抗体に数百パルスのレ−ザ光を照射してその抵抗値を調整する場合、その調整に数百秒の処理時間が必要となるから、その処理に多くの手間が掛かり、実用的でないということがある。
【０００７】
一方、サ−マルプリンタヘッドの動作時、従来の発熱抵抗体は温度上昇がその所定方向において一様であった。そのため、発熱抵抗体からの熱は、その所定方向両端部に接続されたリ−ド線に伝導し易いため、サ−マルプリンタヘッドの動作が長時間にわたるような場合、上記リ−ド線の蓄熱量が増大し、その熱で発熱抵抗体の、上記リ−ド線が接続された所定方向両端部が早期に劣化し易いということがあった。発熱抵抗体の両端部が劣化すると、印字品質の低下を招いたり、印字速度を向上させることができないなどのことが生じる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来は発熱抵抗体の抵抗値をレ−ザ光の照射によるアニ−リングで調整する場合、その調整に時間が掛かり過ぎるということがあった。
また、発熱抵抗体の所定方向における抵抗値が一定であると、リ−ド線が接続された所定方向両端部の温度が他の部分に比べて上昇し易いため、その部分が早期に劣化し易いということがあった。
【０００９】
この発明の第１の目的は、レ−ザ光による発熱抵抗体の抵抗値の調整を迅速に行えるようにしたサ−マルプリンタヘッドの熱処理装置およびサーマルプリンタヘッドの製造方法を提供することにある。
【００１０】
この発明の第２の目的は、発熱抵抗体のリ−ド線が接続された両端部分が発熱しずらいようにしたサ−マルプリンタヘッドの熱処理装置およびサーマルプリンタヘッドの製造方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載された発明は、基板に発熱抵抗体を有するとともにこの発熱抵抗体の所定方向両端部にリード線が接続されたサーマルヘッドプリンタの、上記発熱抵抗体にレーザ光を照射してその電気抵抗値を設定するサーマルプリンタヘッドの熱処理装置において、
上記レーザ光を出力するレーザ発振器と、上記レーザ光の照射によって変化する上記発熱抵抗体の抵抗値を測定する抵抗値測定手段と、上記レーザ光の照射によって変化する上記発熱抵抗体の温度を測定する温度測定手段と、上記抵抗値測定手段と上記温度測定手段からの測定値によって上記発熱抵抗体が所定の温度となったときの抵抗値を算出し、その算出値が所定値となるよう上記レーザ光の照射を制御する制御手段とを具備したことを特徴とするサーマルプリンタヘッドの熱処理装置である。
【００１２】
請求項２に記載された発明は、基板に発熱抵抗体を設ける工程と、この発熱抵抗体の所定方向両端部にリ−ド線を接続する工程と、上記発熱抵抗体にレ−ザ光を照射して熱処理を加えてその電気抵抗値を設定する工程とを具備するサーマルプリンタヘッドの製造方法において、
上記発熱抵抗体にレ−ザ光を照射する工程と、レ−ザ光が照射される上記発熱抵抗体の抵抗値と温度を測定する工程と、測定された上記発熱抵抗体の抵抗値と温度とによってこの発熱抵抗体が所定の温度になったときの抵抗値を算出し、その算出値に応じて上記レ−ザ光の照射を制御する工程とを具備したことを特徴とするサ−マルプリンタヘッドの製造方法である。
【００１６】
【作用】
請求項１と請求項２に記載された発明によれば、レ−ザ光によって照射された発熱抵抗体の温度が所定温度に低下する前に、低下後の抵抗値が算出され、それに基づいてレ−ザ光の照射が制御されるから、上記発熱抵抗体の温度低下を待たずにその抵抗値を調整することができる。
【００１８】
【実施例】
以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。
図１はこの発明の熱処理装置を示し、この熱処理装置はＬＤＹＡＧレ−ザ（レ−ザダイオ−ド励起によるＹＡＧレ−ザ）やＧＰＹＡＧレ−ザ（ジャイアントパルスＹＡＧレ−ザ）などのレ−ザ発振器１を備えている。このレ−ザ発振器１から出力されたパルス状のレ−ザ光Ｌはミラ−２で反射して光ファイバ３の一端に設けられた入射光学系４に入射する。
【００１９】
なお、上記光ファイバ３には、図示しないがレ−ザ光Ｌとともに、Ｈｅ−Ｎｅレ−ザなどから出力された目視可能なガイド光が光軸を同じにして入射するようになっている。
【００２０】
上記光ファイバ３の出射端には出射光学系５が設けられ、この出射光学系５から出射したレ−ザ光Ｌは対物光学系８によって集束されてサ−マルプリンタヘッド９を照射する。このサ−マルプリンタヘッド９はＹテ−ブル１１上に載置されている。このＹテ−ブル１１はＸテ−ブル１２上にＹ方向に沿って移動自在に設けられ、Ｙ駆動源１３によってＹ方向に駆動されるようになっている。上記Ｘテ−ブル１２はＸ方向に沿って移動自在に設けられ、Ｘ駆動源１４によってＸ方向に駆動されるようになっている。
【００２１】
上記サ−マルプリンタヘッド９は、図２に示すようにアルミナなどの絶縁性の基板９ａ上に帯状の多数の発熱抵抗体９ｂが上記基板９ａの長手方向に沿って所定の間隔で形成されていて、その発熱抵抗体９ｂの長手方向両端部にはそれぞれアルミニウム製のリ−ド線９ｃが接続されてなる。
【００２２】
上記レ−ザ光Ｌによる発熱抵抗体９ｂの照射部近傍は、図１に示すようにＣＣＤカメラ１５によって撮像される。このＣＣＤカメラ１５からの撮像信号は第１のＣＲＴ１６に表示されるとともに、第２のＣＲＴ１８と設定用キ−ボ−ド１９とを有するコントロ−ラ１７に入力される。上記ＣＣＤカメラ１５からの撮像信号は上記コントロ−ラ１７に入力され、それによって上記レ−ザ光Ｌによるサ−マルプリンタヘッド９の照射位置が制御されるようになっている。
【００２３】
上記発熱抵抗体９ｂの上記レ−ザ光Ｌによって照射される部位の近傍には、その照射部位の温度を非接触で検出する放射式の温度センサ２１が設けられている。この温度センサ２１からの検出信号は放射温度計２２に入力され、さらにこの放射温度計２２から上記コントロ−ラ１７へ入力されるようになっている。
【００２４】
上記サ−マルプリンタヘッド９の発熱抵抗体９ｂの抵抗値は固定プロ−バ２３と可動プロ−バ２４とによって測定される。つまり、固定プロ−バ２３は各発熱抵抗体９ｂの一端側のリ−ド線９ｃに連通して設けられている。各発熱抵抗体９ｂの一方のリ−ド線９ｃは図示しないコモンリ−ド線によってそれぞれ連通している。
【００２５】
上記可動プロ−バ２４はＺ駆動源２５によってＺ方向に駆動される載置体２６上に載置されていて、上記Ｙテ−ブル１１のＹ方向の移動に応じて各発熱抵抗体９ｂの他端側のリ−ド線９ｃに順次接触するようになっている。
【００２６】
上記固定プロ−バ２３と可動プロ−バ２４とは測定器２７に接続されている。この測定器２７は上記固定プロ−バ２３と可動プロ−バ２４とが接触したリ−ド線９ｃ間の発熱抵抗体９ｂの抵抗値を検出し、その検出信号を上記コントロ−ラ１７に入力するようになっている。
【００２７】
上記コントロ−ラ１７には駆動部２８が接続されている。この駆動部２８は上記コントロ−ラ１７からの信号に応じて上記Ｙ駆動源１３、Ｘ駆動源１４およびＺ駆動源２５を駆動する駆動信号を出力するようになっている。さらに、上記レ−ザ発振器１は、上記コントロ−ラ１７からの制御信号によってレ−ザ光Ｌの出力や発停が設定されるようになっている。
【００２８】
上記構成の熱処理装置は、上記コントロ−ラ１７の設定用キ−ボ−ド１９の操作によってサ−マルプリンタヘッド９の発熱抵抗体９ｂを２つの方法でアニ−リングすることができる。
【００２９】
まず、第１の方法は、サ−マルプリンタヘッド９を加熱炉などでアニ−リングした後で、各発熱抵抗体９ｂの抵抗値のばらつきを、レ−ザ光Ｌの照射によるアニ−リングして小さくする場合で、そのような場合のアニ−リングを図３と図４を参照して説明する。
【００３０】
まず、レ−ザ光Ｌを照射した後で、上記発熱抵抗体９ｂが室温になったときの抵抗値Ｒａ（この抵抗値を飽和抵抗値とする）を設定する。これをを図４にＳ１  で示す。
【００３１】
つまり、アニ−リング後の室温における飽和抵抗値Ｒａは、
Ｒａ＝Ｒ／ｆ  （Ｔ）                  …（１）式
で表すことができる。ただし、Ｒはアニ−リング時、つまりレ−ザ光Ｌを照射してから発熱抵抗体９ｂが室温（所定温度）に戻るまでの任意の時間における発熱抵抗体９ｂの抵抗値、ｆは温度に関する関数、Ｔはレ−ザ光Ｌを照射してから発熱抵抗体９ｂが室温に戻るまでの任意の時間における発熱抵抗体９ｂの温度である。
【００３２】
上記Ｒａ、Ｒ、Ｔは、図３に示すような関係にあることが実験によって確認されている。つまり、同図において、曲線Ａは発熱抵抗体９ｂの抵抗値の変化を示し、曲線Ｂは温度の変化を示す。時間０おいて、レ−ザ発振器１からパルスレ−ザ光Ｌを発振させて発熱抵抗体９ｂを照射すると、発熱抵抗体９ｂの温度は数秒後にピ−クとなり、所定時間経過後に室温まで低下する。
【００３３】
発熱抵抗体９ｂの抵抗値Ｒは図３に曲線Ａで示すようにレ−ザ光Ｌを照射する前の初期値Ｒｓが最も高く、照射後に急激に低下し、その後徐々に上昇して室温に戻る所定時間後には飽和抵抗値Ｒａで安定する。
【００３４】
したがって、発熱抵抗体９ｂのレ−ザ光Ｌを照射してから時間ｔｓｅｃ  後における上記発熱抵抗体９ｂの温度Ｔｔ  と抵抗値Ｒｔ  とを測定すれば、その時点で上記（１）式によってそのときのレ−ザ光Ｌの照射条件に応じた飽和抵抗値Ｒａ、つまり発熱抵抗体９ｂが室温に戻ったときの抵抗値を求めることができる。
【００３５】
図４に示すＳ１  で飽和抵抗値Ｒａを設定したならば、図４にＳ２  で示すようにレ−ザ光Ｌの照射条件、たとえばパルス幅やピ−ク値を設定する。Ｓ３  では上記コントロ−ラ１７からの駆動信号によってレ−ザ発振器１が作動され、パルスレ−ザ光Ｌが発振される。そのレ−ザ光Ｌはサ−マルプリンタヘッド９の発熱抵抗体９ｂを照射する。照射してから図３に示す所定時間ｔが経過した時点で、温度センサ２１と一対のプロ−バ２３、２４とによって上記発熱抵抗体９ｂの温度Ｔｔ  と抵抗値Ｒｔ  とが測定される。これを図４にＳ４  、Ｓ５  で示す。
【００３６】
Ｓ４  、Ｓ５  で測定された上記温度センサ２１と一対のプロ−バ２３、２４とからの測定値は、コントロ−ラ１７に入力される。それによって、Ｓ６  ではコントロ−ラ１７が上記（１）式に基づく演算を行い、その測定値にもとづく飽和抵抗値Ｒａ´を算出する。Ｓ７  ではその算出した飽和抵抗値Ｒａ´と、予め設定した飽和抵抗値Ｒａとが比較される。
【００３７】
ＲａとＲａ´とが等しければ、その発熱抵抗体９ｂのアニ−リングは終了し、Ｓ８  で示すようにＹ駆動源１３によってＹテ−ブル１１がＸ方向に所定寸法駆動されることで、つぎの発熱抵抗体９ｂのアニ−リングが行われる。
【００３８】
一方、ＲａとＲａ´とが等しくない場合には、Ｓ９  で示すようにレ−ザ光Ｌの照射条件が補正されたのち、レ−ザ光Ｌの照射が繰り返されることになる。それによって、発熱抵抗体９ｂの抵抗値を、予め設定された飽和抵抗値Ｒａに設定することができる。
【００３９】
すなわち、このようなアニ−リングによれば、レ−ザ光Ｌによって照射された発熱抵抗体９ｂが所定温度である、室温に戻る前に上記発熱抵抗体９の飽和抵抗値Ｒａ´を求め、その飽和抵抗値Ｒａ´が予め設定された飽和抵抗値Ｒａになるよう制御できるため、その抵抗値の調整を短時間で行うことができる。
【００４０】
この場合のレ−ザ発振器１としては１パルス当たりのエネルギが大きいＧＰＹＡＧレ−ザを用いることが好ましい。
発熱抵抗体９ｂの抵抗値は温度依存性をもっており、レ−ザ光Ｌからの入熱量が多い程、低くなる特性がある。そのため、算出された飽和抵抗値Ｒａ´が設定された飽和抵抗値Ｒａよりも高い場合にはレ−ザ光Ｌの照射が繰り返せされるが、低い場合にはレ−ザ光Ｌの照射が直に停止されることになる。
【００４１】
なお、ＲａとＲａ´とが等しくない場合には、Ｓ８  でレ−ザ光Ｌの照射条件を補正したが、照射条件を補正しないでレ−ザ光Ｌの照射を繰り返すだけであってもよく、要は発熱抵抗体９ｂが室温に戻る前の、その温度と抵抗値とから求められる飽和抵抗値Ｒａ´が、設定された飽和抵抗値Ｒａと等しくなるまで、レ−ザ光Ｌの照射を繰り返すだけでもよい。
【００４２】
つぎに、第２の方法は、発熱抵抗体９ｂの、リ−ド線９ｃが接続された所定方向における抵抗値に勾配を持たせるようにする場合で、その場合にはレ−ザ発振器１としては出力パワ−の低い、ＬＤＹＡＧレ−ザが好適し、そのレ−ザ光Ｌのスポットは発熱抵抗体９ｂの幅寸法に対して十分に小さく設定される。
【００４３】
コントロ−ラ１７に発熱抵抗体９ｂの中央部と両端部との抵抗値を設定する。その設定による中央部と両端部との抵抗値の差、つまり勾配に応じてＹテ−ブル１１のＹ方向に沿う駆動速度が設定される。
【００４４】
たとえば、発熱抵抗体９ｂの中央部と両端部との抵抗値の差が比較的小さい、所定の範囲内である場合には、上記Ｙテ−ブル１１のＹ方向の駆動速度が一定に設定され、またレ−ザ光Ｌのスポットが発熱抵抗体９ｂの所定方向一端から他端に到達したならば、Ｙテ−ブル１１をＸ方向に所定寸法駆動してから、上記レ−ザ光Ｌを発熱抵抗体９ｂの所定方向に沿うＹ方向に走査させるということを繰り返えす。この走査方式を図５（ａ）に示す。
【００４５】
つまり、レ−ザ光ＬをＹ方向に沿って往復走査させると、レ−ザ光Ｌが発熱抵抗体９ｂの端部に到達したときに、上記Ｙテ−ブル１１のＹ方向に沿う駆動方向が逆方向に切り換えられる。Ｙテ−ブル１１のＹ方向の駆動が切替えられる際、レ−ザ光の走査速度が低下する。それによって、レ−ザ光Ｌは、上記発熱抵抗体９ｂの両端部での走査速度が中央部分での走査速度に比べて遅くなる。
【００４６】
発熱抵抗体９ｂへの入熱量は、レ−ザ光Ｌの走査速度に逆比例する。つまり、発熱抵抗体９の両端部の入熱量が中央部の入熱量よりも多くなる。この入熱分布を図５（ｂ）に示す。
【００４７】
発熱抵抗体９ｂの抵抗値は、上述したように温度依存性をもっており、レ−ザ光Ｌからの入熱量が多い程、低くなる特性がある。したがって、レ−ザ光Ｌを発熱抵抗体９ｂの所定方向に沿って往復走査させてアニ−リングを行えば、その所定方向両端部の抵抗値が、中央部分の抵抗値よりも低くなるから、その所定方向に沿う抵抗値に勾配を持たせることができる。この抵抗値分布を図５（ｃ）に示す。
【００４８】
上記発熱抵抗体９ｂの所定方向の抵抗値は、固定プロ−バ２３と可動プロ−バ２４とによって測定できるものの、その所定方向に沿う抵抗値の勾配を測定することは難しい。
【００４９】
しかしながら、上記発熱抵抗体９ｂをアニ−リングすることで、その所定方向に沿う抵抗値は低下するから、上記各プロ−バ２３、２４が検出する抵抗値が所定の値に低下した時点で、上記コントロ−ラ１７からレ−ザ発振器１に制御信号を出力してレ−ザ光Ｌの発振を停止すれば、上記発熱抵抗体９ｂを両端部と中央部とで抵抗値に差を有する状態にアニ−リングすることができる。
【００５０】
このように、１つの発熱抵抗体９ｂのアニリ−ングが終了すると、Ｚ駆動源２５が作動して可動プロ−バ２４が上昇し、その先端がリ−ド線９ｃから離れ、ついでＹテ−ブル１１がＸ方向に所定寸法駆動されたのち、上記可動プロ−バ２４が下降してその先端がつぎの発熱抵抗体９ｂに接続されたリ−ド線９ｃに接触する。その状態で、その発熱抵抗体９ｂにレ−ザ光Ｌが走査されてアニ−リングが繰り返される。
【００５１】
このような熱処理が行われたサ−マルプリンタヘッド９によれば、動作時に通電されると、その発熱抵抗体９ｂは抵抗値の高い長さ方向中央部分が、抵抗値の低い両端部分に比べて発熱量が大きくなる。つまり、発熱抵抗体９ｂはリ−ド線９ｃが接続された長さ方向両端部分の温度上昇が抑制されることになるから、その両端部分の早期劣化が防止される。それによって、サ−マルプリンタヘッド９は、長期にわたり高品質の印字性能と印字速度の高速化とを維持することができる。
【００５２】
一方、上記発熱抵抗体９ｂの所定方向に沿う温度勾配が大きな場合には、コントロ−ラ１７に発熱抵抗体９ｂの中央部と両端部との抵抗値を設定すると、図６（ａ）に示すレ−ザ光Ｌの走査方式において、Ｙテ−ブル１１のＹ方向に沿う駆動は、発熱抵抗体９ｂの所定方向両端部で減速され、中央部で加速されるよう設定される。この速度設定を図６（ｂ）に示す。
【００５３】
つまり、レ−ザ光Ｌを一定速度で往復走査させた場合よりも、上記発熱抵抗体９ｂの所定方向中央部分と両端部分とにおける入熱量の差をさらに大きくすることができる。このときの入熱分布を図６（ｃ）に示す。
【００５４】
発熱抵抗体９ｂの所定方向中央部分と両端部分とにおける入熱量の差を大きくしてアニ−リングすれば、その抵抗値の分布も図６（ｄ）に示すように大きくすることができる。つまり、発熱抵抗体９ｂを大きな温度勾配でアニ−リングできる。
【００５５】
レ−ザ光Ｌを発熱抵抗体９ｂの所定方向に沿って走査させるのに、サ−マルプリンタヘッド９をＹテ−ブル１１によって駆動したが、光ファイバ３の出射端側に接続された出射光学系５と対物光学系８とをＸ、Ｙ方向に駆動することで、レ−ザ光Ｌを走査させるようにしてもよい。
【００５６】
【発明の効果】
以上述べたように請求項１と請求項２に記載された発明によれば、発熱抵抗体をレ−ザ光で照射してアニ−リングする場合、上記発熱抵抗体が所定温度に戻る前に、その所定温度における抵抗値を算出し、その算出値によって発熱抵抗体が所定温度に低下したときの抵抗値が所定値となるよう調整することができる。
【００５７】
したがって、発熱抵抗体が所定温度に戻ってからその抵抗値を測定するということをせずにアニ−リングを行えるから、生産性を大幅に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例の熱処理装置の全体構成を示す斜視図。
【図２】同じくサ−マルプリンタヘッドの一部分の拡大平面図。
【図３】同じく発熱抵抗体の温度と抵抗値の変化を示すグラフ。
【図４】同じく発熱抵抗体を所定の抵抗値にアニ−リングする際のフロ−チャ−ト。
【図５】同じく発熱抵抗体に抵抗の勾配をもつアニ−リングを行う際のレ−ザ光の走査方式と、入熱分布および抵抗値の分布の関係を示す説明図。
【図６】同じく図５の場合よりも発熱抵抗体に大きな抵抗の勾配をもつアニ−リングを行う際のレ−ザ光の走査方式、速度分布、入熱分布および抵抗値の分布の関係を示す説明図。
【符号の説明】
１…レ−ザ発振器、９…サ−マルプリンタヘッド、９ａ…基板、９ｂ…発熱抵抗体、９ｃ…リ−ド線、１７…コントロ−ラ（制御手段）、２１…温度センサ（温度測定手段）、２２…放射温度計（温度測定手段）、２３…固定プロ−バ（抵抗値測定手段）、２４…可動プロ−バ（抵抗値測定手段）、２７…測定器（抵抗値測定手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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