(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
縫製品の縫い目の皺を評価するシームパッカリング判定方法であって、各等級の判定用標準立体レプリカに付いて縫い目の近傍の該縫い目と平行な測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する波形データから前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出し、各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求めて該比が所定値を超える谷および山を抽出し、該抽出された山および谷の数を計数して該計数値の各等級に付いての判定基準を定めるとともに、
前記縫製品の縫い目の近傍の該縫い目と平行な測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する波形データから前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出し、各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求めて該比が所定値を超える谷および山を抽出し、該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値を前記各等級の判定基準と比較して等級の評価を行うことを特徴とするシームパッカリング判定方法。
【請求項２】
縫製品の縫い目の皺を評価するシームパッカリング判定方法であって、各等級の判定用標準立体レプリカに付いて縫い目の近傍の該縫い目と対称かつ平行な複数の測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する全ての測定部の波形データに付いて前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出して各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求め、該比が所定値を超える山および谷を抽出して該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値の各等級に付いての判定基準を定めるとともに、
前記縫製品の縫い目の近傍の該縫い目と対称かつ平行な複数の測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する全ての測定部の波形データに付いて前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出して各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求め、該比が所定値を超える山および谷を抽出して該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値を前記各等級の判定基準と比較して等級の評価を行うことを特徴とするシームパッカリング判定方法。
【請求項３】
前記抽出された山または谷の個数に周期長に応じた補正係数を乗じて判定指数を算出し、該判定指数の合算値に基づき等級の評価を行うようにした請求項１または請求項２記載のシームパッカリング判定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、縫い目の皺を評価するシームパッカリング判定方法、詳しくは、縫い目の皺を表面高低差としてセンサにより検出し、このセンサの出力信号から皺を定量的に評価するシームパッカリング判定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
繊維製品のシームパッカリング評価方法は、標準写真を用いる方法と、プラスチック製のシームパッカリング標準立体レプリカを使用する方法とがＪＩＳ  Ｌ１９０５に規定される。これら方法はいずれも、サンプル布と標準物とを目視により比較することにより行われている。ところが、これらいずれの評価方法も、検査員の目視による比較で行うため、検査員の感覚に依存せざるをえず、客観的、定量的な評価を得ることが困難であった。
【０００３】
そこで、本発明者は、機械的に評価を行えるシームパッカリング評価方法として、以下に述べる方法（以下、便宜上、先行技術と称する）を試みた。この方法は、標準立体レプリカの縫い目の近傍をレーザー変位測定器等の表面高さ測定器で縫い目と平行に走査して表面高さ変化、すなわち、皺による布表面の波を検出し、この表面高さ測定器の出力信号から周期長別に波を取り出して周期長が所定範囲内の波の全てに付いて振幅の標準偏差を算出し、また同様に、評価対象である縫製品に付いても振幅の標準偏差を算出し、この標準偏差を標準立体レプリカの標準偏差と比較して評価を行うものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した先行技術にあっては、皺の周期長が短く、また、その高さが小さくなると明瞭な判定が困難で４級や５級の高い等級の判定が不安定となり、信頼性に欠けるという問題があった。
この発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、検査員の感覚に依存することなく機械的に皺を評価でき、かつ、その評価に高い信頼性が得られるシームパッカリング方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明は、縫製品の縫い目の皺を評価するシームパッカリング判定方法であって、各等級の判定用標準立体レプリカに付いて縫い目の近傍の該縫い目と平行な測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する波形データから前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出し、各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求めて該比が所定値を超える谷および山を抽出し、該抽出された山および谷の数を計数して該計数値の各等級に付いての判定基準を定めるとともに、
前記縫製品の縫い目の近傍の該縫い目と平行な測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する波形データから前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出し、各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求めて該比が所定値を超える谷および山を抽出し、該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値を前記各等級の判定基準と比較して等級の評価を行うように構成した。
【０００６】
また、請求項２記載の発明は、縫製品の縫い目の皺を評価するシームパッカリ１グ判定方法であって、各等級の判定用標準立体レプリカに付いて縫い目の近傍の該縫い目と対称かつ平行な複数の測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する全ての測定部の波形データに付いて前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出して各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求め、該比が所定値を超える山および谷を抽出して該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値の各等級に付いての判定基準を定めるとともに、
前記縫製品の縫い目の近傍の該縫い目と対称かつ平行な複数の測定部の表面高さ変化を表面高さ測定器により検出し、前記表面高さ測定器が出力する全ての測定部の波形データに付いて前記高低差変化を周期長別に分別し、該周期長が所定範囲内の全ての高低差変化の周期長と振幅を算出して各高低差変化に付いて周期長に対する山の極大値および谷の極小値の比を求め、該比が所定値を超える山および谷を抽出して該抽出された山および谷の数を計数し、該計数値を前記各等級の判定基準と比較して等級の評価を行うように構成した。
【０００７】
そして、請求項１および請求項２記載の発明は、前記谷または山の個数に周期長に応じた補正係数を乗じて判定指数を算出し、該判定指数の合算値に基づき評価を行う態様（請求項３）に構成することができる。
【０００８】
【作用】
請求項１および請求項２記載の発明のシームパッカリング判定方法は、各等級の判定用標準立体レプリカに付いて測定部の皺を表面高さ測定器により検出し、この表面高さ測定器が出力する波形データから周期長が所定の範囲内にある波、すなわち、皺として認識される波を取り出し、これらの波に付いて、周期長に対する山の極大値と谷の極小値の比を求め、この比が所定を超える谷および山の数を計数し、この計数値の判定基準を各等級に付いて作成する。そして、評価対象である縫製品に対しても判定用標準立体レプリカと同様に測定部の皺を検出して周期長に対する極大値の比が所定値を超える山と極小値が所定値を超える谷の数を計数し、この計数値を判定基準と比較して等級を判定する。このため、皺の程度を定量的に比較でき、人間の感覚に依存しない客観的な評価を機械的に行うことができる。
【０００９】
特に、請求項２記載の発明は、縫製品の縫い目を中心として対称な複数箇所を測定し、これら複数の測定箇所のデータを合算して評価するため、皺の偏在や測定ミス等の影響を排除でき、より正確な評価が行える。
また、請求項３記載の発明は、人間の感覚に合致させるための補正係数を乗じた値に基づき評価するため、より人間の感覚に近い評価が行える。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図１から図５はこの発明の一の実施の形態にかかるシームパッカリング判定方法の説明図であり、図１が測定方法を説明する模式斜視図、図２が縫製品サンプルの縫い目の部分を示す平面図、図３が表面高さ測定器の出力信号波形を示す図、図４が同出力信号を処理して得られる信号の波形を示す図、図５ａ，ｂが同処理信号をさらに処理して得られる信号波形を示す図である。
【００１１】
この実施の形態においては、各等級の判定用標準立体レプリカから各等級に付いての判定基準となる判定用データを作成し、また、評価対象である縫製品のサンプルから評価データを作成し、この評価データを判定用データと比較して等級を判定する。
なお、述べるまでもないが、判定用標準立体レプリカ１０はシングル１級から５級までの各等級、ダブル１級から５級までの各等級が用いられ、これらの等級全てに付いて判定用データが作成される。
【００１２】
先ず、このシームパッカリング判定方法を実施するために構成の概要を説明すると、図１に示すように、表面高さ測定器としてレーザー変位測定器２０を用い、このレーザー変位測定器２０を処理・判定装置（図示せず）に接続する。詳細な説明は割愛するが、レーザー変位測定器２０はレーザーにより表面の凹凸を検出するものが用いられ、また、処理・判定装置は、マイクロコンピュータ等を有し、レーザー変位測定器２０の出力信号を演算処理して等級を判定するものが用いられる。
【００１３】
そして、判定用データの作成は、レーザー変位測定器２０を所定位置に設置し、標準立体レプリカ１０をレーザー変位測定器２０に対して下方に一定の速度で直線移動（走査）させつつ、あるいは、レーザー変位測定器２０を移動させつつ、レーザー変位測定器２０から所定の所定のサンプリング周期でレーザーを発射して縫い目１１の近傍の皺を検出する（図１参照）。ここで、このレーザー変位測定器２０による検出に際しては、図２に示すように、標準立体レプリカ１０の縫い目１１を中心とした帯状の所定の領域を特定し、この領域内の縫い目１１に対して対称な複数（本実施の形態では６）の測定箇所（測定部）ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６において測定する。
【００１４】
なお、このレーザー変位測定器２０による測定間隔は縫い目１１のピッチ等に応じて適宜選択されるが、通常、０．６７ｍｍ程度の間隔が採用され、具体的には、標準立体レプリカ１０を２５０ｍｍ／分程度の速度で移動させ、また、レーザー変位測定器２０のサンプリングレートとしては６．２５回／秒程度が採用される。
また、上述した測定箇所ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６の縫い目１１に対する位置、互いの間隔は適宜選択できるが、通常、互いの間隔は１．２５ｃｍ以上で２ｃｍ以下に定められ、一例を挙げれば、ＤＡＴＡ１，３間およびＤＡＴＡ４，６間を２ｃｍ、ＤＡＴＡ２，３間およびＤＡＴＡ４，５間を１．２５ｃｍとする。そして、標準立体レプリカ１０の縫い目１１に対する測定箇所の位置（間隔）と後述する縫製品サンプルの縫い目に対する測定箇所の位置とは一致させる。
【００１５】
そして、各測定箇所ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６についてのレーザー変位測定器２０の出力信号を処理・判定装置により処理する。なお、以下の処理は上記６つの測定箇所ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６から得られる信号に付いて行うが、１つの測定箇所で代表して説明する。すなわち、処理・判定装置は、先ず、レーザー変位測定器２０の出力信号を基に図３に示すような波状に連続した信号を作成する。同図に示すように、この信号はレーザー変位測定器２０の走査方向をＸ軸、変位の大きさ（凹凸の深さや高さ）をＹ軸とする２次元的なデータを表す。次に、これらの信号に付いて回帰直線を用いてＹ座標変換を行い、図４に示すような波形データに変換する。
なお、上記図３および図４はシングル１級の標準立体レプリカを測定したデータを示す。
【００１６】
続いて、図４の波形データから周期長τ別に波を分解、分離し、縫い目１１の縫いピッチａ１  に満たない周期長τの波と、周期長τが皺と認識されない程度の長さａ２  （例えば、５０ｍｍ）を超える波を排除する。そして、周期長τが所定範囲（ａ１  ≦τ≦ａ２  ）内の波、すなわち、図５ａ，ｂに示すように、周期長τが縫い目１１のピッチａ１  以上で所定長さａ２  以下の全ての波に対してそれぞれ、周期長τに対する山の極大値ｐ１  と谷の極小値ｐ２  の比Ｒ（Ｒ＝ｐ１  ／τ，Ｒ＝ｐ２  ／τ）を算出し、この比Ｒが所定値Ｒ０  を超える山と谷（以下、抽出凹凸と称する）の数を特定し、同様に、周期長τ２  の波についても山の極大値ｐ１  と谷の極小値ｐ２  の比Ｒが所定値Ｒ０  を超える波を特定して計数する。そして、以上の処理を各測定箇所ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６から得られる全ての信号に付いて行う。
なお、上記判定基準となる比Ｒ０  は周期長τに応じて異ならせることも可能である。
【００１７】
次に、各測定箇所ＤＡＴＡ１〜ＤＡＴＡ６から得られた全ての信号に付いて、上記抽出凹凸の数に周期長τ別に周期長τに応じた補正係数ｋを乗じたものを合算して判定指数Ｓを算出する。すなわち、例えば、周期長τ１  の波に比Ｒが所定値Ｒ０  を超える抽出凹凸がｎ１  個存在し、また、周期長τ２  （τ２  ＞τ１  ）の波に比Ｒが所定値Ｒ０  を超える抽出凹凸がｎ２  個存在した場合、周期長τ１  に対応する補正係数ｋ１  と周期長τ２  に対応する補正係数ｋ２  （ｋ２  ＞ｋ１  ）を用い、判定指数Ｓが（ｎ１  ×ｋ１  ＋ｎ２  ×ｋ２  ）として算出される。上記補正係数ｋ１  ，ｋ２  としては周期長τが大きいほど皺として認識されやすくなるため周期長τ１  ，τ２  に対して比例的に増大する一次関数的な特性等を有するものが用いられ、この補正係数ｋ１  ，ｋ２  は判定装置のＲＯＭ等にデータテーブルとして記録される。
ただし、補正係数ｋ１  ，ｋ２  の特性は上記一次関数的な特性のものに限らず、人間の感覚に適合する種々の特性を採用することが可能であり、また、上記所定値Ｒ０  も周期長τ等に応じて異なる数値を採用することも可能である。
【００１８】
続いて、各等級の標準立体レプリカ１０に付いて算出された判定指数Ｓから各等級の判定範囲を決定する。すなわち、５級の標準立体レプリカの判定指数ＳがＳ５  であれば５級の判定範囲Ｈ５  として指数Ｓ５  を含む所定の範囲（Ｈ５  ≦ｉ５  ）が決定され、以下同様に、４級の標準立体レプリカの判定指数ＳがＳ４  であれば４級の判定範囲Ｈ４  として指数Ｓ４  を含む所定の範囲（ｉ５  ＜Ｈ４  ≦ｊ４  、ただし、ｉ５  ＜Ｓ４  ≦ｊ４  ）が、３級の標準立体レプリカの判定指数ＳがＳ３  であれば３級の判定範囲Ｈ３  として所定の範囲（ｊ４  ＜Ｈ３  ≦ｉ３  ）が、２級の標準立体レプリカの判定指数ＳがＳ２  であれば２級の判定範囲Ｈ２  として指数Ｓ２  を含む所定の範囲（ｉ３  ＜Ｈ４  ≦ｊ２  ）が、１級の標準立体レプリカの判定指数ＳがＳ１  であれば４級の判定範囲Ｈ１  として指数Ｓ１  を含む所定の範囲（ｊ２  ＜Ｈ４  ）が決定される。そして、これら範囲が判定用データとして評価・判定装置のＲＯＭ等に記録される。
【００１９】
そして、縫製品の評価を行う場合は、縫製品サンプルに付いて上記標準立体レプリカと同様にして判定指数Ｓを求める。すなわち、縫製品サンプルの縫い目の近傍部分の縫い目と平行な測定部の表面高低差をレーザー変位測定器２０により検出し、このレーザー変位測定器２０の出力データを処理して判定指数Ｓを算出する。ここで、レーザー変位測定器２０による測定部の位置、すなわち、測定部と縫い目との間隔は標準立体レプリカの測定の場合と同一の値に整合させることが好ましく、より望ましくは、測定箇所として規格化することが好ましい。
【００２０】
そして、縫製品サンプルの判定指数Ｓが上記標準立体レプリカから求められた範囲Ｈ１  〜Ｈ５  のいずれに属するかを判断し、縫製品サンプルの判定指数Ｓが属する範囲の等級を評価等級とする。すなわち、縫製品サンプルの判定指数Ｓが所定範囲Ｈ１  であれば１級、判定指数Ｓが所定範囲Ｈ２  であれば２級、判定指数Ｓが所定範囲Ｈ３  であれば３級、判定指数Ｓが所定範囲Ｈ４  であれば４級、判定指数Ｓが所定範囲Ｈ５  であれば５級と、判定する。したがって、検査員の感覚に影響を受けることなく、定量的な評価を機械的に高い信頼性をもって行うことができる。
【００２１】
なお、上述した実施の形態では、複数の測定箇所のデータを合算して評価を行うが、１の測定部のデータから評価を行うことも可能である。ただし、１の測定部のデータから評価を行う場合は、全ての縫製品サンプルについて、縫い目に対する測定部の位置を規定することが好ましい。
また、上述した実施の形態では、抽出凹凸の数に周期長に応じた補正計数ｋを乗じて人間の感覚に合致させるための重み付けを行うが、重み付けを行うことなく抽出凹凸の個数により評価することも可能である。
【００２２】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明にかかるシームパッカリング判定方法によれば、標準立体レプリカの皺を表面高低差として表面高さ測定器により検出し、この表面高さ測定器が出力する波形データから周期長が所定の範囲内にある波、すなわち、皺として認識される波を取り出し、これらの波に付いて、周期長に対する山の極大値と谷の極小値の比を求め、この比が所定値を超える谷および山の数を計数して該計数値を判定用データとして保存し、また、評価対象である縫製品サンプルについても標準立体レプリカと同様にして計数値を求め、この計数値を標準立体レプリカから作成された判定用データと比較して皺の評価を行うため、皺の程度を定量的に表すことができ、人間の感覚に依存しない客観的な等級評価を行える。
【００２３】
また、請求項２記載の発明にかかるシームパッカリング測定方法によれば、標準立体レプリカと縫製品サンプルに付いて縫い目を中心として対称な複数箇所を測定し、これら複数の測定箇所のデータに付いて請求項１と同様の処理を行って合算して評価するため、皺の偏在や測定ミス等の影響を排除でき、より正確な評価が行える。
さらに、請求項３記載の発明にかかるシームパッカリング判定方法によれば、比が所定値を超える山や谷の数に補正係数を乗じて人間の感覚に合致する指数を算出し、この指数に基づき評価するため、より人間の感覚に近い評価が行える。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一の実施の形態に係るシームパッカリング判定方法の測定作業を説明する模式斜視図である。
【図２】同シームパッカリング判定方法における測定箇所を示すための縫製品の模式平面図である。
【図３】同シームパッカリング判定方法における表面高さ測定器の出力信号波形を示す図である。
【図４】同表面高さ測定器の出力信号を処理して得られる信号波形を示す図である。
【図５】ａ，ｂが同信号をさらに処理して得られる信号の波形を示す図である。
【符号の説明】
１０        標準立体レプリカ
１１        縫い目
２０        レーザー変位測定器（表面高さ測定器）
ＤＡＴＡ    測定箇所
τ          周期長
ｐ１          極大値
ｐ２          極小値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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