(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データを所定のパーシャルレスポンス特性の記録規則に従って変調することにより得られる信号を記録した記録媒体からの再生信号をクロックに信号に同期してサンプリングし、該サンプリング値を用いてビタビ復号アルゴリズムに従って当該記録データを再生するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記サンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量を演算する位相誤差演算手段を有し、該位相誤差演算手段にて得られた位相誤差量に基づいて上記クロック信号の位相調整を行い、
上記位相誤差演算手段は、連続的にサンプリングされる３つのサンプリング値の前２つのサンプリング値の差の絶対値と後２つのサンプリング値の差の絶対値との差に基づいて位相誤差量を演算することを特徴とするデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項２】
請求項１記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記位相誤差演算手段は、最密パターンデータを再生するアクイジションモードでは、連続して得られるすべてのサンプリング値を対象として連続的に位相誤差量を演算するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項３】
請求項１記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
再生信号のサンプリング値の変化に基づいて当該再生信号のエッジ部分を検出するエッジ検出手段を有し、
上記位相誤差演算手段は、上記エッジ検出手段にて検出された再生信号のエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項４】
請求項３記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記エッジ検出手段は、当該再生信号の立上りエッジ部分を検出する立上り検出手段を有し、
上記位相誤差演算手段は、上記立上り検出手段にて検出された再生信号の立上りエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項５】
請求項３記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記エッジ検出手段は、当該再生信号の立下りエッジ部分を検出する立下り検出手段を有し、
上記位相誤差演算手段は、上記立下り検出手段にて検出された再生信号の立下りエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項６】
請求項３乃至５いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記エッジ検出手段は、連続するサンプリング値が所定のしきい値より小さい値から大きい値に変化するときに、再生信号のエッジ部分であると判定するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項７】
請求項６記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記エッジ検出手段は、連続する３つのサンプリング値のうち前２つのサンプリング値の差の符号と後２つのサンプリング値の差の符号が同じとなり、かつ、最初のサンプリング値と最後のサンプリング値との間に上記所定のしきい値があるときに、再生信号のエッジ部分であると判定するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項８】
請求項６または７記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記エッジ検出手段は、再生信号のエンベロープ変動に対応したオフセット量を演算するオフセット量演算手段を有し、上記再生信号のエッジ部分の判定に用いられる所定のしきい値が、上記オフセット量演算手段にて演算されたオフセット量に従って変化するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項９】
請求項６乃至８いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記所定のしきい値を設定するしきい値設定手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１０】
請求項３乃至９いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記位相誤差演算手段は、再生信号からサンプリングされる全てのサンプリング値を対象として連続的に位相誤差量を演算するアクイジション動作モードと、エッジ検出手段にて検出される再生信号のエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するトラッキング動作モードとを有し、アクイジション動作モードにて上記位相誤差演算手段によって演算する位相誤差量が所定の範囲に収束した状態で所定時間継続したときに、位相誤差演算手段の動作モードをトラッキング動作モードに切換える動作モード切換え手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１１】
請求項１０記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記動作モード切換え手段は、動作モードの切換えの基準となる上記所定時間を設定する収束時間設定手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１２】
請求項１０または１１記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記動作モード切換え手段は、動作モードの切換えの基準となる上記位相誤差量が収束したことを表す所定の範囲を設定する収束範囲設定手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１３】
請求項１０乃至１２いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記位相誤差演算手段にて演算される位相誤差量に対してゲイン調整を行うゲイン調整手段を有し、該ゲイン調整手段にてゲイン調整された位相誤差量を用いてクロックの位相調整を行うようにし、上記位相誤差演算手段がアクイジション動作モードにて位相誤差演算を行う際に上記ゲイン調整手段に対して第一のゲインを設定し、上記位相誤差演算手段がトラッキング動作モードにて位相誤差演算を行う際に上記ゲイン調整手段に対して上記第一のゲインより小さい第二のゲインを設定するゲイン切換え手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１４】
請求項１０乃至１３いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記データ再生システムは、再生信号のサンプリング値の波形等化処理を行うイコライザを有し、トラッキング動作モードにおいて、上記位相誤差演算手段は、上記イコライザでの波形等化処理後のサンプリング値の変化の状態に基づいて位相誤差量を演算するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１５】
請求項１４記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記位相誤差演算手段が位相誤差量を演算するために使用するサンプリング値を上記イコライザでの波形等化処理後のサンプリング値に切換える前後の所定時間に演算される位相誤差量をクロックの位相調整に使用することを禁止する手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１６】
請求項１乃至１５いずれか記載のデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、
上記位相誤差演算手段にて演算される位相誤差量を、クロック信号の位相調整に係るフィードバックループの伝達関数が一定に保持されるように、正規化する正規化手段を有するデータ再生システムにおけるクロック調整装置。
【請求項１７】
記録データを所定のパーシャルレスポンス特性の記録規則に従って変調することにより得られる信号を記録した光ディスク記録媒体からの再生信号をクロックに信号に同期してサンプリングし、該サンプリング値を用いてビタビ復号アルゴリズムに従って当該記録データを再生すると共に、上記クロック信号の位相調整を行うクロック調整手段を備えたデータ再生システムを有する光ディスク装置において、
上記クロック調整手段は、上記サンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量を演算する位相誤差演算手段を有し、該位相誤差演算手段にて得られた位相誤差量に基づいて上記クロック信号の位相調整を行い、
上記位相誤差演算手段は、連続的にサンプリングされる３つのサンプリング値の前２つのサンプリング値の差の絶対値と後２つのサンプリング値の差の絶対値との差に基づいて位相誤差量を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置や光磁気ディスク或いは磁気ディスク装置等のデータ記録装置における記録媒体のデータ再生システムに用いられるクロック調整装置に関する。例えば、光磁気ディスク装置に用いられる光磁気ディスクは、高密度化及び転送レートと共に高信頼性への要請もあり、より高精度なデータの記録・再生手法が望まれている。その手法の１つに、記録データ信号をパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形に変調して光磁気ディスクに記録する処理と、この光磁気ディスクからの再生信号を所定周期でサンプリングした後、いわゆるビタビ復号（最尤復号：ＭＬＳＥ）処理して最も確からしいデータを検出する処理とを、組合せた手法（以下、ＰＲＭＬ方式とする）が採用されている。
【０００２】
このＰＲＭＬ方式では、量子化後の再生信号をクロック信号に同期してサンプリングできるように位相補償を行うことが重要である。
【０００３】
【従来の技術】
記録媒体からの再生信号をクロック信号に同期してサンプリングし、そのサンプリング値からビタビ復号アルゴリズムに従って記録データを再生するようにしたデータ再生用システムでは、最適なサンプリング値が得られるようにクロック信号の位相を調整する必要がある。
【０００４】
このデータ再生システムにおける従来のクロック調整装置では、ビタビ復号アルゴリズムに従って記録データを再生するための処理の過程で得られる演算値（例えば、再生信号の中心値等）を用いてクロック信号の位相誤差量を演算し、その位相誤差量を用いてクロック信号の位相制御を行うようにしている。
このようなクロック調整装置によれば、ビタビ復号アルゴリズムに従ったデータ再生のための処理過程で得られる演算値を用いてクロック信号の位相誤差量を得ていることから、当該クロック調整装置を含めたデータ再生システム全体の構成を簡略化できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述したデータ再生システムでは、記録媒体上の記録データの高密度化により、より高速なクロック信号が必要となる。
しかし、従来のクロック調整装置では、ビタビ復号アルゴリズムに従ったデー―タ再生のための処理過程で得られる演算値を用いてクロック信号の位相誤差量を得ていることから、その演算値を得るための時間的な遅れのために、適正な位相にて再生信号のサンプリングを保証し得る高速なクロック信号を得ることが困難であった。
【０００６】
そこで、本発明の第一の課題は、適正な位相にて記録媒体からの再生信号のサンプリングを保証し得る高速なクロック信号を創出できるようにしたクロック調整装置を提供することである。
また、本発明の第二の課題は、このようなクロック調整装置を備えたデータ再生システムを有する光ディスク装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記第一の課題を解決するために、本発明は、請求項１に記載されるように、記録データを所定のパーシャルレスポンス特性の記録規則に従って変調することにより得られる信号を記録した記録媒体からの再生信号をクロックに信号に同期してサンプリングし、該サンプリング値を用いてビタビ復号アルゴリズムに従って当該記録データを再生するようにしたデータ再生システムにおけるクロック調整装置において、上記サンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量を演算する位相誤差演算手段を有し、該位相誤差演算手段にて得られた位相誤差量に基づいて上記クロック信号の位相調整を行うように構成される。
【０００８】
記録媒体には、記録データを所定のパーシャルレスポンス特定の記録規則に従って変調することにより得られる信号が記録されている。従って、その記録媒体から得られる再生信号の波形は、上記所定のパーシャルレスポンス特性に依存する。また、そのような再生信号を適切な位相のクロック信号にてサンプリングすると、得られるサンプリング値の変化の状態も、上記所定のパーシャルレスポンス特性に依存する。そのことから、再生信号の上記クロック信号に同期してサンプリングされたサンプリング値の変化の状態と本来パーシャルレスポンス特性に対応したサンプリング値の変化の状態との差異の程度から当該クロック信号の位相誤差を得ることができる。
【０００９】
上記クロック調整装置では、上記位相誤差演算手段が、上記のような理論に従って、サンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量を演算する。そして、その位相誤差量に基づいて再生信号のサンプリングタイミングを決めるクロック信号の位相調整がなされる。パーシャルレスポンス特性に対応した再生信号から本来サンプリングされるべきサンプリング値となる期待値が各サンプリングタイミングにおいて等間隔に変化する場合、容易に位相誤差量を演算できるという観点から、本発明は、上記クロック調整装置において、上記位相誤差演算手段は、連続的にサンプリングされる３つのサンプリング値の前２つのサンプリング値の差の絶対値と後２つのサンプリング値の差の絶対値との差に基づいて位相誤差量を演算するように構成する。
【００１０】
より早期に適正な位相にクロックを調整できるという観点から、本発明は、請求項２に記載されるように、上記各クロック調整装置において、相誤差演算手段は、最密パターンデータを再生するアクイジションモードでは、連続して得られるすべてのサンプリング値を対象として連続的に位相誤差量を演算するように構成する。
【００１１】
このようなクロック調整装置では、最密パターンデータを再生して得られる再生信号についてのすべてのサンプリング値を対象として連続的に位相誤差量が演算されるので、クロックの位相調整のために位相誤差量をフィードバックする頻度が多くなり、より早期にクロックを適正な位相に調整できるようになる。
特に、再生信号のエッジ部分に波形歪みが生じやすい記録媒体からデータを再生する場合に、その再生信号のエッジ部分でクロックの位相はずれを防止する観点から、本発明は、請求項３に記載されるように、上記クロック調整装置において、再生信号のサンプリング値の変化に基づいて当該再生信号のエッジ部分を検出するエッジ検出手段を有し、上記位相誤差演算手段は、上記エッジ検出手段にて検出された再生信号のエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するように構成することができる。
【００１２】
特に、再生信号の立上りエッジ部分に注目してクロックの位相はずれを防止するという観点から、本発明は、請求項４に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記エッジ検出手段は、当該再生信号の立上りエッジ部分を検出する立上り検出手段を有し、上記位相誤差演算手段は、上記立上り検出手段にて検出された再生信号の立上りエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するように構成することができる。
【００１３】
また、特に、再生信号の立下りエッジ部分に注目してクロックの位相はずれを防止するという観点から、本発明は、請求項５に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記エッジ検出手段は、当該再生信号の立下りエッジ部分を検出する立下り検出手段を有し、上記位相誤差演算手段は、上記立下り検出手段にて検出された再生信号の立下りエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するように構成することができる。
【００１４】
再生信号のエッジ部分を離散的なサンプリング値に基づいて容易に検出できるという観点から、本発明は、請求項６に記載されるように、上記各クロック調整装置において、上記エッジ検出手段は、連続するサンプリング値が所定のしきい値より小さい値から大きい値に変化するときに、再生信号のエッジ部分であると判定するように構成することができる。
【００１５】
更に、具体的なエッジ検出手法を提供するという観点から、本発明は、請求項７に記載されるように、上記エッジ検出手段は、連続する３つのサンプリング値のうち前２つのサンプリング値の差の符号と後２つのサンプリング値の差の符号が同じとなり、かつ、最初のサンプリング値と最後のサンプリング値との間に上記所定のしきい値があるときに、再生信号のエッジ部分であると判定するように構成することができる。
【００１６】
ディスク状の記録媒体の偏心等により再生信号にエンベロープ変動が生じても、上記しきい値に基づいてより正確に再生信号のエッジ部分を検出できるという観点から、本発明は、請求項８に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記エッジ検出手段は、再生信号のエンベロープ変動に対応したオフセット量を演算するオフセット量演算手段を有し、上記再生信号のエッジ部分の判定に用いられる所定のしきい値が、上記オフセット量演算手段にて演算されたオフセット量に従って変化するように構成することができる。
【００１７】
再生すべき記録媒体などに応じて再生信号の波形が変化しても、より正確に再生信号のエッジ部分を検出することができるという観点から、本発明は、請求項９に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記所定のしきい値を設定するしきい値設定手段を有するように構成することができる。
このようなクロック調整装置では、しきい値設定手段にて当該記録媒体に適したしきい値が設定されるクロック信号の調整を効率的に行うという観点から、本発明は、請求項１０に記載されるように、上記各クロック調整装置において、位相誤差演算手段は、再生信号からサンプリングされる全てのサンプリング値を対象として連続的に位相誤差量を演算するアクイジション動作モードと、エッジ検出手段にて検出される再生信号のエッジ部分でのサンプリング値を対象として位相誤差量を演算するトラッキング動作モードとを有し、アクイジション動作モードにて上記位相誤差演算手段によって演算する位相誤差量が所定の範囲に収束した状態で所定時間継続したときに、位相誤差演算手段の動作モードをトラッキング動作モードに切換える動作モード切換え手段を有するように構成することができる。
【００１８】
このようなクロック調整装置では、位相調整の初期段階においては、アクイジション動作モードにより、位相誤差量を頻度高く演算して、そのより多く得られた位相誤差量に基づいてクロックの位相調整がなされる。このアクイジション動作モードにてクロックの位相誤差量が所定の範囲に収束した状態が所定時間継続したときには、クロックの位相が正規の位相に近づいたとして、トラッキング動作モードにて、再生信号のエッジ部分でのサンプリング値に基づいて演算された位相誤差量に基づいてクロックの位相調整がなされる。その結果、トラッキング動作モードでは、クロックの位相が所定の範囲からはずれることが防止される。
【００１９】
記録媒体の特性などに応じて、動作モードの切換えタイミングが調整できるとう観点から、本発明は、請求項１１に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記動作モード切換え手段は、動作モードの切換えの基準となる上記所定時間を設定する収束時間設定手段を有するように構成することができる。
また、同様の観点から、本発明は、請求項１２に記載されるように、上記クロック調整装置において、上記動作モード切換え手段は、動作モードの切換えの基準となる上記位相誤差量が収束したことを表す所定の範囲を設定する収束範囲設定手段を有するように構成することができる。
【００２０】
上記アクイジション動作モードにおいて早期にクロックの位相を正規の位相に調整し、その後のトラッキング動作モードにおいて、発振することなく安定したクロックの位相調整が可能となるという観点から、本発明は、請求項１３に記載されるように、上記各クロック調整装置において、位相誤差演算手段にて演算される位相誤差量に対してゲイン調整を行うゲイン調整手段を有し、該ゲイン調整手段にてゲイン調整された位相誤差量を用いてクロックの位相調整を行うようにし、上記位相誤差演算手段がアクイジション動作モードにて位相誤差演算を行う際に上記ゲイン調整手段に対して第一のゲインを設定し、上記位相誤差演算手段がトラッキング動作モードにて位相誤差演算を行う際に上記ゲイン調整手段に対して上記第一のゲインより小さい第二のゲインを設定するゲイン切換え手段を有するように構成することができる。
【００２１】
トラッキング動作モードにおいて、本来再生されるべき再生信号波形により近い波形の再生信号に対応したサンプリング値に基づいてクロックの位相誤差量が演算んできるという観点から、本発明は、請求項１４に記載されるように、上記各クロック調整装置において、上記データ再生システムは、再生信号のサンプリング値の波形等化処理を行うイコライザを有し、トラッキング動作モードにおいて、上記位相誤差演算手段は、上記イコライザでの波形等化処理後のサンプリング値の変化の状態に基づいて位相誤差量を演算するように構成することができる。
【００２２】
また、上記イコライザでの波形等化処理後のサンプリング値の変化の状態に基づいて演算される位相誤差量に基づいてクロックの位相調整を行う動作に切換わる場合、イコライザでの波形等化処理による遅延が位相誤差演算に影響を与えないようにするという観点から、本発明は、請求項１５に記載されるように、上記クロック調整装置において、位相誤差演算手段が位相誤差量を演算するために使用するサンプリング値を上記イコライザでの波形等化処理後のサンプリング値に切換える前後の所定時間に演算される位相誤差量をクロックの位相調整に使用することを禁止する手段を有するように構成することができる。
【００２３】
再生信号の振幅が変化しても、適正なクロックの位相調整ができるという観点から、本発明は、請求項１６に記載されるように、上記各クロック調整装置において、位相誤差演算手段にて演算される位相誤差量を、クロック信号の位相調整に係るフィードバックループの伝達関数が一定に保持されるように、正規化する正規化手段を有するように構成することができる。
【００２４】
上記第二の課題を解決するため、本発明は、請求項１７に記載されるように、記録データを所定のパーシャルレスポンス特性の記録規則に従って変調することにより得られる信号を記録した光ディスク記録媒体からの再生信号をクロックに信号に同期してサンプリングし、該サンプリング値を用いてビタビ復号アルゴリズムに従って当該記録データを再生すると共に、上記クロック信号の位相調整を行うクロック調整手段を備えたデータ再生システムを有する光ディスク装置において、上記クロック調整手段は、上記サンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量を演算する位相誤差演算手段を有し、該位相誤差演算手段にて得られた位相誤差量に基づいて上記クロック信号の位相調整を行い、上記位相誤差演算手段は、連続的にサンプリングされる３つのサンプリング値の前２つのサンプリング値の差の絶対値と後２つのサンプリング値の差の絶対値との差に基づいて位相誤差量を演算するように構成する。
【００２５】
上記光ディスク記録媒体は、光ディスク、光磁気ディスクなど、光学的に信号の読み出しがなされる媒体であれば、特に限定されない。
【００２６】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
本発明を適用した実施例に係る光ディスク装置は、例えば図１に示すように構成される。この光ディスク装置は、記録媒体として光磁気ディスクを使用する光磁気ディスク装置である。
【００２７】
図１において、この光磁気ディスク装置は、記録媒体となる光磁気ディスク１０、光学ヘッド２０、アンプ２１、再生系ユニット２５、書込み系ユニット２６、電磁石２７、制御ユニット（ＭＰＵ）２８、サーボ系ユニット２９及びモータ３０を有している。光磁気ディスク１０には、所定のパーシャルレスポンス特性（例えば、拘束長２のパーシャルレスポンスＰＲ（１，１））の記録規則に従ったデータの記録がなされ、また、この光磁気ディスク１０からデータの再生が行われる。
【００２８】
ＭＰＵ２８は、コネクタ３２、インターフェース回路３１を介して供給される外部ユニット（図示せず）からのデータ再生命令及びデータ書込み命令に従って、再生系ユニット２５、書込み系ユニット２６及びサーボ系ユニット２９を制御する。ＭＰＵ２８による再生系ユニット２５の制御に関しては後に詳述する。
上記光磁気ディスク装置では、データ再生命令が供給されたときに、光学ヘッド２０が光磁気ディスク１０を光学的に走査し、その際光学ヘッド２０から出力される再生信号がアンプ２１を介して再生系ユニット２５に供給される。この再生系ユニット２５は、供給される再生信号を量子化すると共に、その量子化データから最尤（ＭＬ）復号アルゴリズム（例えば、ビタビ復号アルゴリズム）に従って出力デ―タを生成する。この出力データが、ＭＰＵ２８に供給され、さらにＭＰＵ２８からインターフェース回路３１及びコネクタ３２を介して外部ユニットに出力される。
【００２９】
一方、ＭＰＵ２８は、外部ユニットから記録データと共に書込み命令を受信すると、この記録データを所定の記録規制（例えば、パーシャルレスポンスＰＲ（１，１））に従って変調し、その変調されたデータを書込み系ユニット２６に供給する。書込み系ユニット２６は、供給されたデータに従って光学ヘッド２０の駆動制御を行い、更にＭＰＵ２８がその記録データの変調にて得られたデータに基づいて電磁石２７を制御する。その結果、光磁気ディスク１０に上記所定の記録規則に従ったデータが書込まれる。
【００３０】
なお、ＭＰＵ２８にて制御されるサーボ系ユニット２９は、モータ３０を駆動させて光磁気ディスク１０を所定の速度で回転させると共に、光学ヘッド２０を光磁気ディスク１０の記録／再生位置に位置付ける。
上記再生系ユニット２５は、例えば、図２に示すように構成される。
図２において、再生系ユニット２５は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３、デジタル等化器（ＥＱ：イコライザ）２４、ビタビ検出器１００及びクロック生成回路２００を有している。
【００３１】
図１に示したアンプ２１にて増幅された再生信号は、ローパスフィルタ２２によって波形成形され、クロック生成回路２００からのクロック信号に同期してデジタル信号に変換される。即ち、上記再生信号はクロック信号に同期して作動するアナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３にてサンプリングされることにより再生信号の量子化が行われる。
【００３２】
アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３がクロック生成回路２００のクロック信号に同期して連続的にサンプリング行い、デジタル化して出力する再生信号のサンプリング値は、デジタルイコライザ２４によって波形等化処理され、等化出力データ（量子化データ）として出力される。このデジタルイコライザ２４からの等化出力データが上記クロック信号に同期してビタビ検出器１００に供給される。ビタビ検出器１００は、クロック信号に同期して順次供給される等化出力データからビタビ復号アルゴリズムに従って記録データを検出し、再生データとして出力する。なお、図示していないが上記アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３及びビタビ検出器１００もクロック生成回路２００のクロック信号に同期して作動する。
【００３３】
上記ビタビ検出器１００は、一般的なビタビ検出器と同様に、ブランチメトリック計算ユニット（ＢＭ）１０１、ＡＣＳユニット１０２、パスメトリックメモリ（ＰＭＭ）１０３及びパスメモリ（ＰＭ）１０４を有している。
ブランチメトリック計算ユニット（ＢＭ）１０１は、パーシャルレスポンス特性に依存して再生信号において本来取り得るべき値となる各期待値と再生信号のサンプリング値との差に対応したブランチメトリック値（ＢＭ値）を演算する。ＡＣＳユニット１０２は、上記ブランチメトリック値とパスメトリックメモリ（ＰＭＭ）１０３に格納された１クロック前の（前回演算した）パスメトリック値（ＰＭ値）とを加算（Ａｄｄ）し、この加算後のパスメトリック値（ＰＭ値）を２つずつ比較して（Ｃｏｍｐａｒｅ）、小さい方のパスメトリック値（ＰＭ値）を選択（Ｓｅｌｅｃｔ）する。この選択されたパスメトリック値（ＰＭ値）が新たなパスメトリック値（ＰＭ値）としてパスメトリックメモリ（ＰＭＭ）１０３に格納される。上記処理の結果、パスメトリック値（ＰＭ値）は、ブランチメトリック値（ＢＭ値）の積算値となる。
【００３４】
上記のように小さい方のパスメトリック値（ＰＭ値）を選択するということは、ビタビ復号アルゴリズムにおける状態遷移のパスを選択することに相当する。すなわち、ＡＳＣユニット１０２では、常にパスメトリック値（ＰＭ値）が最少となるようにパスが選択される。上記のように選択されたパスに相当するデータ（２値データ）がＡＳＣユニット１０２からパスメモリ（ＰＭ）１０４に供給される。パスメモリ（ＰＭ）１０４では、選択された各パスに対応したデータが順次シフトされると共に、その過程で、選択されなかった各パスに対応するデータが順次シフトされると共に、その過程で、選択されなかった各パスに対応するデータが順次淘汰されて生き残りパスに相当するデータがパスメモリ（ＰＭ）１０４からデータ出力として出力される。このように、パーシャルレスポンス（ＰＲ）波形にてデータを記録すると共に、ビタビ検出器１００を用いて最もらしい（ＭＬ）データを検出することにより、高密度記録された光磁気ディスク１０から高精度にてデータを再生することが可能となる。
【００３５】
上記クロック生成回路２００は、位相誤差検出手段としての位相誤差検出ユニット２３０、及びデジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２４０、位相調整発振ユニット２５０を備えている。
位相誤差検出ユニット２３０は、後述するようにビタビ検出器１００によりビタビ処理される前の再生信号をデジタル処理した後のサンプリング値に基づいて上記クロック信号の位相誤差量を検出する。そして、アナログ・デジタル変換器２３により量子化されイコライザ２４で処理される前のサンプリング値（第１サンプリング値）と、イコライザ２４で処理され後のサンプリング値（第２サンプリング値）とが位相誤差検出ユニット２３０へ供給される。この第１サンプリング値及び第２サンプリング値が、位相誤差検出ユニット２３０においてクロック信号の位相誤差量の算出に用いられる。
【００３６】
位相誤差検出ユニット２３０で検出されたクロック信号の位相誤差量は、デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２４０によって電圧レベル（アナログ値）に変換される。位相調整発振ユニット２５０はループフィルタ（ＬＦ）及び電圧制御発振器（ＶＣＯ）を有しており、デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２４０からの位相誤差量に対応した電圧レベルにより位相誤差量を低減するように所定の発信クロック信号の位相制御を行う。そして、位相調整発振ユニット２５０にて位相調整されたクロック信号が再生信号のサンプリング処理を行う上述したアナログ・デジタル変換器２３に供給される。
【００３７】
図３は、図２の位相誤差検出ユニット２３０の構成を示す図である。なお、この位相誤差検出ユニット２３０に複数の制御信号を入力する上記ＭＰＵ２８も合わせて示している。
位相差検出ユニット２３０は、２つのモード即ちアクイジションモード及びトラッキングモードにより、クロック信号の位相誤差の検出を行う。アクイジションモードは引き込みのモードであり、このモードにおいて光磁気ディスク１０の各トラックの先頭に配置されているＶＦＯ領域を用いた引き込みの動作が行われる。アクイジションモードではゲインを高く（Ｈｉ）に設定して早めの引き込み動作を行うことが好ましい。上記ＶＦＯ領域にはパーシャルレスポンス特性に従って変調した連続的な繰返しパターンが記録されており、この繰返しパターンに対応して位相調整することでクロック信号の位相誤差を低減することができる。
【００３８】
一方、トラッキングモードはアクイジションモードによる引き込みに制御が完了し、位相誤差量が小さくなり、ゲインを低く（Ｌｏｗ）設定して緩やかに位相誤差の制御を行うモードである。このトラッキングモードは、ＶＦＯ領域の後に存在している記録データ（ＤＡＴＡ）領域で用いられる。記録データ領域には、所望のデータをパーシャルレスポンス特性に従って変調して得られるデータ信号が記録されている。
【００３９】
上記位相誤差検出ユニット２３０は、マルチプレクサ（ＭＵＸ）２３１、位相誤差検出部２３３、エッジ検出部２３５、オア回路２３６、アンド回路２３７、ゲイン調整部２３８及びアンド回路２３９を有している。位相誤差検出ユニット２３０は、ＭＰＵ２８から入力される種々の制御信号に従ってクロック信号の位相誤差量を検出する。
【００４０】
図２で示したイコライザ２３前後から連続的に出力される第１サンプリング値Ｓ１と第２サンプリング値Ｓ２は、マルチプレクサ（ＭＵＸ）２３１へ入力される。ＭＰＵ２８は、トラッキングモードの時には第１サンプリング値Ｓ１を、アクイジションモードの時には第２サンプリング値Ｓ２をマルチプレクサ（ＭＵＸ）２３１から出力するようにサンプリング値選択信号（Ｓ１＿Ｓ２＿ＳＥＬ）をＭＵＸ２３１へ入力する。また、ＭＰＵ２８は、全サンプル点で位相誤差量を出力する場合”  １”  、エッジ部のみで位相誤差量を出力する場合は”  ０”  とするモード切換え信号（Ｍ＿ＳＥＬ）をオア回路２３６へ入力する。
【００４１】
上記位相誤差検出部２３３は、アクイジションモード及びトラッキングモードにおいて、後述する演算を行ってクロック信号の位相誤差量を算出し、その出力信号をアンド回路２３７へ入力する。エッジ検出部２３５はトラッキングモードにおいて、再生信号の記録データにおける立上がり或いは立下りのエッジ検出を行い、その出力信号はオア回路２３６を介してアンド回路２３７へ入力される。
【００４２】
アンド回路２３７は、位相誤差検出部２３３及びエッジ検出部２３５からの出力信号を受け、アンド条件に従ってゲイン調整部２３８へ出力をおこなう。このとき、ＭＰＵ２８はそのときのモードに対応したゲイン調整信号ＧＡをゲイン調整部２３８へ入力して所定のゲインを設定する。例えば、アクイジションモードにおいてはハイ（Ｈｉ）ゲインを設定し、トラッキングモードにおいてはロー（Ｌｏｗ）ゲインを設定する。
【００４３】
上記位相誤差検出ユニット２３０の動作を大略すると、アクイジションモードにおいては第１サンプリング値Ｓ１がマルチプレクサ２３１を介して位相誤差検出部２３３へ入力され、後述する所定演算処理により位相誤差量が算出され、その出力信号がアンド回路２３７に入力される。このときマルチプレクサ２３１からの出力信号はエッジ検出部２３５へも供給されるが、オア回路２３６に対してＭＰＵ２８からモード切換え信号（Ｍ＿ＳＥＬ）として常に”  １”  （アクイジションモード）が入力されているので、アクイジションモードでは位相誤差検出部２３３からの出力信号はアンド回路２３７を通過しゲイン調整部２３８へ入力されることになる。即ち、アクイジションモードにおいては、ピーク点（最大値）、ボトム点（最小値）、立ち上がり、立下り及び中点を含めた最密の再生データにいて位相誤差量が検出される。そして、アンド回路２３７からの出力信号はゲイン調整部２３８でハイ状態にゲイン調整された後、位相誤差量として出力される。
【００４４】
上記ゲイン調整部２３９でのゲイン調整処理のなされた位相誤差量は、アンド回路２３９を介して図２に示すデジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）に供給される。このアンド回路２３９は、後述するようなマスク信号（ＰＥＯＵＴ＿ＥＮ）にてゲート制御される。ローレベルのマスク信号（ＰＥＯＵＴ＿ＥＮ）がアンド回路２３９に供給される状態では、ゲイン調整部２３８からの位相誤差量は、後段のデジタル・アナログ変換器２４０には供給されない。
【００４５】
また、トラッキングモードにおいては第２サンプリング値Ｓ２がマルチプレクサ２３１を介して位相誤差検出部２３３に入力されると共にエッジ検出部２３５へも入力される。位相誤差検出部２３３では所定演算処理により位相誤差量が算出され、その出力信号がアンド回路２３７へ供給される。エッジ検出部２３５は後述する所定のエッジ検出処理を行いエッジであると判定した時には”  １”  の検出信号を出力し、エッジではないとの判定をした時には”  ０”  の検出信号を出力する。このエッジ検出信号はオア回路２３６へ供給される。このとき、オア回路２３６に対してＭＰＵ２８からモード切換え信号（Ｍ＿ＳＥＬ）として”  ０”  （トラッキングモード）が入力されている。よって、エッジ検出信号が”  １”  の時には、位相誤差検出部２３３から出力信号はアンド回路２３７を通過する。よって、エッジ部のみの位相誤差量をゲイン調整部２３８へ供給することになる。このときの位相誤差量はゲイン調整部２３８でロー状態にゲイン調整された後に出力される。
【００４６】
次に、位相誤差検出部２３３において行われる位相誤差量の演算について説明する。図４は位相誤差検出部２３３の構成を示すブロック図である。
図４において、例えば時刻ｔにおける第１のサンプリング値Ｙｔ、その前の時刻ｔ−１における第２のサンプリング値Ｙｔ−１  、さらにその前の時刻ｔ−２における第３のサンプリング値Ｙｔ−２  が位相誤差検出部２３３に順次入力した場合を想定する。
【００４７】
位相誤差検出部２３３は、時刻ｔにおいてサンプリング値Ｙｔ  を検出した時に、それ以前のサンプリング値Ｙｔ−１  とサンプリング値Ｙｔ−２  のそれぞれが並列的にセットされるフィリップフロップ３３１、３３２、及び減算器３３３、３３４、符号計算器３３５、３３６、乗算器３３７、３３８、減算器３３９を有している。
【００４８】
上記位相誤差検出部２３３では、下記数式に基づいて位相誤差量を算出するための演算が行われる。
0003597433.tif 000002
上記数式は、サンプリングを行った再生信号の波形にピーク値、中点及びボトム値が存在することから、これらいずれの状態におけるサンプリング値に基づいても位相誤差量を適性に検出することができるように遷移方向を補正する符号ｈａｔを備えている。
【００４９】
上記サンプリング値Ｙtとフィリップフロップ３３１にセットされていたサンプリング値Ｙt-1は減算器３３３へ入力される。減算器３３３ではＹt−Ｙt-1の減算を行い第１差値を求める。これと並列に、フィリップフロップ３３１にセットされていたサンプリング値Ｙt-1とフィリップフロップ３３２にセットされていたサンプリング値Ｙt-2は減算器３３４へ入力される。減算器３３４ではＹt-1−Ｙt-2の減算を行い第１差値を求める。減算器３３３による第１差値は符号計算器３３５へ出力され、符号計算器３３５はＹt−Ｙt-1の符号計算（ｈａｔt、t-1を決定する）を行い、このｈａｔt、t-1を乗算器３３７へ出力する。これと並列に減算器３３４による第１差値は符号計算器３３６へ出力され、符号計算器３３６はＹt-1−Ｙt-2の符号計算（ｈａｔt-1、t-2を決定する）を行い、このｈａｔt-1、t-2を乗算器３３８へ出力する。乗算器３３７、３３８の算出値は減算器３３９へ出力される。そして、最終的に減算器３３９において上記数式の演算を行って位相誤差量を得る。即ち、減算器３３９において上記のように遷移方向を補正する符号（ｈａｔ）を掛けて絶対値化した２つの第１差値から、さらにその差を求めて第２差値を得、これを位相誤差量とする。
【００５０】
図５は上記数式の演算により求められる位相誤差量を説明するために、一例としてのビタビ処理前の再生信号Ｒについて示す図である。この再生信号Ｒに対してクロック信号に同期してサンプリングが行われ、そのサンプリング値Ｙを取得する。図５において、丸印で示したボトム点、中点、ピーク点となる時刻ｔ、ｔ−１、ｔ−２でクロック信号を発してサンプリングが行うことが理想的である。仮に、時刻ｔ、ｔ−１、ｔ−２でサンプリングが行われたとして、上記数式により位相誤差量を求めると、
0003597433.tif 000003
となり、位相誤差量が無いことが確認できる。
【００５１】
次に、図５において位相誤差が生じている場合について説明する。三角印で示した時刻Ｔ、Ｔ−１、Ｔ−２でクロック信号を発してサンプリングを行っているが、ボトム点、中点、ピーク点から外れた位置である。例えばＹT＝０．１、ＹT-1＝０．７、ＹT-2＝１．９とする。この場合について、上記数式により位相誤差量を求めると、
0003597433.tif 000004
となる。この結果からクロック信号が０．６の位相誤差量をもって遅れ過ぎていることが算出されており、この位相誤差量０．６を修正するように位相誤差の制御が行われる。本計算例では立下り途中の中点を含む例を示したがこの逆に立上がり途中の中点を含む場合、ボトム点或いはピーク点を含むエッジ部分についても同様に位相誤差量を算出できる。第１差値すなわち実際のサンプリング値の差値（ＹT−ＹT-1）、（Ｙt-1−ＹT-2）に遷移方向を補正するための符号ｈａｔt、t-1又はｈａｔt-1、t-2を掛け合わせることにより、サンプリング値がサンプリングされた位置に拘わらず第１差値に基づいて適性な位相誤差量を検出できるように絶対値化し、この絶対値化した２つの第１差値の差を更に求めて第２差値を得、この第２差値を位相誤差量として位相補償の制御に用いている。
【００５２】
次に、図６から図８に基づいて、上記エッジ検出部２３５によるトラッキングモードにおけるエッジ検出について説明する。エッジ検出部２３５は順次取得したサンプリング値から立上がりエッジ又は立下りエッジを検出する。上述したと同様に時刻ｔにおける第１のサンプリング値Ｙｔ、その前の時刻ｔ−１における第２のサンプリング値Ｙｔ−１  、さらにその前の時刻ｔ−２における第３のサンプリング値Ｙｔ−２  とする。立上がりエッジを検出する場合は、（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）＞０  かつ（Ｙｔ  −Ｙｔ−１  ）＞０とする。
【００５３】
トラッキングモードでサンプリング対象とされる再生信号はデータ信号であり、ばらつきがありエッジを誤検出する虞がある。そこで図６に示すようにエッジ誤検出防止のために閾値Ｔを設定することが好ましい。立上がりエッジの場合、第３のサンプリング値Ｙｔ−２  が閾値Ｔより小（Ｙｔ−２  ＜閾値Ｔ）で、第１のサンプリング値Ｙｔが閾値Ｔより大（Ｙｔ＞閾値Ｔ）との条件を設定することで、エッジ部の誤検出を抑制することができる。図６において、（ａ）は立上がりエッジとして検出するが、（ｂ）及び（ｃ）はエッジではないとして除外される。なお、ここでの閾値Ｔは、例えば上記ＭＰＵ２８からの制御信号により設定される。
【００５４】
また、、立下りエッジ部に関しても同様に誤検出防止の条件を設定できる。この場合は立上がりエッジを検出する場合の条件と逆にすればよい。即ち、（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）＜０  かつ  （Ｙｔ  −Ｙｔ−１  ）＜０であり、さらに第３のサンプリング値Ｙｔ−２  が閾値Ｔより大（Ｙｔ−２  ＞閾値Ｔ）で、第１のサンプリング値Ｙｔが閾値Ｔより小（Ｙｔ＜閾値Ｔ）との条件とする。
【００５５】
さらに、データ信号のエッジ検出に関してはデータ波形に対称性が無い場合を考慮する必要がある。例えば上段に示すようなデータ波形では、上記したエッジ検出の条件式を当てはめても、楕円内に示されるような隣接する２つのサンプリング値を誤ってそれぞれをエッジとして検出してしまう場合がある。このように検出してしまうと図７中の中段で示すようなエッジが連続する誤った再生データ波形となる。これを防止するめに、サンプリング値間の差が一定値（これをマスク閾値ｍＴとする）より小さいときには一方のエッジにマスク処理を施すことが好ましい。このマスク閾値ｍＴについても、例えば上記ＭＰＵ２８からの制御信号によって設定することができる。
【００５６】
ここでのマスク閾値ｍＴによるマスク処理として、絶対値｜（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）｜＜ｍＴ或いは絶対値｜（Ｙｔ  −Ｙｔ−１  ）｜＜ｍＴであるときに一方のサンプリング値にマスクをすることで、図７中の下段で示すような好ましい再生データ波形を得ることができる。
上記閾値Ｔは、通常ＭＰＵ２８により設定される固定値である。データ信号はエンベロープ変動等により振幅方向にオフセットしている場合がある。そこで、エンベロープ変動等によるオフセット量を算出できるようにして、閾値Ｔにオフセット量を加味してエッジ検出を行うことがより好ましい。すなわち、エンベロープ変動等に追従可能となるように、オフセット量計算器により算出したオフセット量と閾値Ｔとを加算器により加算してエッジ検出部２３５に入力することが好ましい。これにより、エッジ検出のための閾値Ｔとして最適なレベルを保つことができる。
【００５７】
図８は、上記オフセットも加味した閾値Ｔ及びマスク閾値ｍＴを設定してあるエッジ検出部２３５の構成を示す図である。
エッジ検出部２３５は、時刻ｔにおいてサンプリング値Ｙｔ  を検出した時に、それ以前のサンプリング値Ｙｔ−１  とサンプリング値Ｙｔ−２  のそれぞれが並列的にセットされるフィリップフロップ３５１、３５２、及びオフセット量計算器３５３、加算器３５４、減算器３５６、３５７を有している。エッジ検出部２３５は、さらに立上がりエッジ検出用の比較器３６１〜３６４、絶対値演算回路３７１、３７２、比較器３７３、３７４、アンド回路３７５、３７７及び、立下がりエッジ検出用の比較器３６５〜３６８、アンド回路３７６、３７８等を有している。
【００５８】
ここで、立上がりエッジの検出と立下りエッジの検出の違いは、条件がほぼ反対となるだけでその処理内容は同様であるので、立上がりの場合について説明する。
立上がりのデータであるかの判定を行う。サンプリング値Ｙｔとフィリップフロップ３５１にセットされていたサンプリング値Ｙｔ−１  とが減算器３５６に入力され、これと並列的にフィリップフロップ３５１にセットされていたサンプリング値Ｙｔ−１  とフィリップフロップ３５２にセットされていたサンプリング値Ｙｔ−２  とが減算器３５７に入力される。減算器３５６の演算結果は比較器３６１へ出力され（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）が０より大か、否かが判定され、０より大のときにはアンド回路３７５へ”  １”  が出力され、反対に０以下のときにはアンド回路３７５へ”  ０”  が出力される。これと並列的に減算器３５７の演算結果は比較器３６２へ出力され（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）が０より大か、否かが判定され、０より大のときにはアンド回路３７５へ”  １”  が出力され、反対に０以下のときにはアンド回路３７５へ”  ０”  が出力される。即ち、比較器３６１及び比較器３６２からの出力が共に”  １”  であるときに、立上がりエッジであるとの検出がされることになる。
【００５９】
次に、ＭＰＵ２８で設定された閾値Ｔを跨ぐサンプリング値となっているか、すなわち閾値Ｔを間にしてサンプリング値Ｙｔとサンプリング値Ｙｔ−２  が存在しているかの判定が行われる。比較器３６３にサンプリング値ＹｔとＭＰＵ２８からの閾値Ｔが入力される。その際、データ信号にオフセットがあるときにはオフセット量計算器３５３で算出されたオフセット量とＭＰＵ２８からの閾値Ｔとが加算器３５４で加算され修正された閾値Ｔを比較器３６３へ入力する。
【００６０】
比較器３６３では閾値Ｔとサンプリング値Ｙｔの比較を行い、サンプリング値Ｙｔが閾値Ｔより大きいときにはアンド回路３７５へ”  １”  が出力し、反対にサンプリング値Ｙｔが閾値Ｔ以下のときにはアンド回路３７５へ”  ０”  を出力する。
これと並列的に比較器３６４では閾値Ｔとサンプリング値Ｙｔ−２の比較を行い、サンプリング値Ｙｔ−２が閾値Ｔより小さいときにはアンド回路３７５へ”  １”  を出力し、反対にサンプリング値Ｙｔ−２が閾値Ｔ以上のときにはアンド回路３７５へ”  ０”  を出力する。即ち、比較器３６３及び比較器３６４からの出力が共に”  １”  であるときに、適性なエッジであるとの検出がされることになる。
【００６１】
次に、ＭＰＵ２８から設定されるマスク閾値ｍＴに基づきマスク処理の必要の有無の判定が行われる。（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）の減算を行う減算器３５６の出力は絶対値演算回路３７１へも入力される。絶対演算回路３７１で算出された｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜とＭＰＵ２８から入力されるマスク閾値ｍＴとが比較器３７３に入力される。比較器３７３では、｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜とマスク閾値ｍＴとの比較を行い、｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜がマスク閾値ｍＴより大きい時には”  １”  をアンド回路３７５へ出力し、｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜がマスク閾値ｍＴ以下の時には”  ０”  をアンド回路３７５へ出力する。よって、絶対値｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜がマスク閾値ｍＴ以下の時にはエッジではないとの判定がなされ、一方のサンプリング値がマスク処理される。これと並列的に（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）の減算を行う減算器３５７の出力は絶対値演算回路３７２にも入力される。絶対演算回路３７２で算出された｜（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）｜とＭＰＵ２８からのマスク閾値ｍＴとが比較器３７４に入力される。比較器３７４では、｜（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）｜とマスク閾値ｍＴと比較を行い、｜（Ｙｔ−１  −Ｙｔ−２  ）｜がマスク閾値ｍＴより大きい時には”  １”  をアンド回路３７５へ出力し、｜（Ｙｔ−Ｙｔ−１  ）｜がマスク閾値ｍＴ以下の時には”  ０”  をアンド回路３７５へ出力してエッジではないとして同様にマスク処理を行う。
【００６２】
上述したような複数の入力信号を受けるアンド回路３７５では全ての入力信号が”  １”  のときに出力”  １”  をアンド回路３７７へ出力する。立上りエッジを選択する場合には、ＭＰＵ２８から”  １”  となる立上り選択信号がアンド回路３７７に供給される。そして、アンド回路３７７からの出力はオア回路３７９に入力される。
【００６３】
立下りエッジの場合についても、比較器３６５〜３６８、絶対値演算回路３７１、３７２、比較器３７３、３７４、アンド回路３７６にて同様に処理される。立下りエッジを選択する場合、ＭＰＵ２８から”  １”  となる立下り選択信号がアンド回路３７８に供給される。このアンド回路３７８を介した立下りエッジ検出信号は、アンド回路３７８からの出力はオア回路３７９へ入力される。よって、立上がり又は立下りエッジが検出されたときにはオア回路３７９からエッジ検出信号が出力される。即ち、図３で示したエッジ検出部２３５からオア回路２３６へ”  １”  が出力される。
【００６４】
図９は本実施例のクロック信号の位相誤差が収束して行く様子を示した図である。上記ＭＰＵ２８はアクイジションモードからトラッキングモードへの切換え動作を行う際の判定基準として、検出された位相誤差量が所定振幅の範囲内にあり、かつ所定時間Ｃを超えたかの基準により収束判定を行う。この収束判定で位相誤差量が所定範囲に収束したと判定された以降において、アクイジションモードからトラッキングモードへ切換えることで円滑なモード切換を可能とする。
【００６５】
ここでの収束判定処理は上述したＭＰＵ２８により行われるように設定することができ、収束したとの判定があった時にＭＰＵ２８から上記モード切換え信号（Ｍ＿ＳＥＬ）を出力することで、自動的にアクイジションモードからトラッキングモードへ切換を行うことができる。さらに、このモード切換に伴って、ＭＰＵ２８からゲイン調整部２３８へ入力するゲイン調整信号ＧＡについても上記収束が確認された以降において自動的にハイ（Ｈｉ）からロー（Ｌｏｗ）へ切換えるように設定してもよい。
【００６６】
図９において、位相誤差量の所定振幅は例えばＨからＬの範囲とされる。位相誤差検出部２３３で検出された位相誤差量がＨからＬの範囲に入った時に時間の計数が開始される。図９で時間Ｃ１の場合は所定時間Ｃを超えないのでモード切換えは実行されず、アクイジションモードが維持される。一方、時間Ｃ２の場合は所定時間Ｃを超えるのでモード切換が実行され、アクイジションモードからトラッキングモードへの切換えが実行され、ゲインもハイからローに切換えられる。これ以降はトラッキングモードが維持される。
【００６７】
図１０はクロック信号の位相誤差量を検出するために用いるサンプリング信号の切換えについて示している。前述したようアクイジションモードではアナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３後の第１サンプリング値Ｓ１を位相誤差量の算出に用いている。一方、トラッキングモードではイコライザ２４で処理された後の第２サンプリング値Ｓ２を位相誤差量の算出に用いている。イコライザ２４で処理された第２ビタビ処理前サンプリング値をアクイジションモード及びトラッキングモードで用いることも可能であるが、速やかな引き込み動作を実行する観点からはアクイジションモードではＡＤＣ２３後の第１サンプリング値を用いることが好ましい。このように２種類のビタビ処理前のサンプリング値を選択的に用いることで、ＰＲＭＬによる実際のサンプリング値に対し効率的な位相制御を行うことができる。
【００６８】
しかし、アクイジションモードからトラッキングモードへの切換え時においては、それまで取り込んでいた第１ビタビ処理前サンプリング値と第２サンプリング値とが混在して位相誤差量を算出する時点が存在する。前述したようにアクイジションモードとトラッキングモードとでは、サンプリングを行う条件が大きく異なっており、このモード切換え時の位相誤差出力値を用いると誤動作の虞が生じる。そこで、本実施では位相誤差量の算出基準を第１サンプリング値から第２サンプリング値へ切換えたとき、所定時間の間、位相誤差出力をマスク信号（ＰＥＯＵＴ＿ＥＮ）にてマスクするようにしている。これにより誤動作を防止することができる。具体的には、このマスク信号（ＰＥＯＵＴ＿ＥＮ）はＭＰＵ２８から図３に示すアンド回路２３９にゲート制御信号として供給される。
【００６９】
なお、前述したように入力されるサンプル値をイコライザ前（Ｓ１）からイコライザ後（Ｓ２）に切り換えを行う信号（Ｓ１＿Ｓ２＿ＳＥＬ）は、ＭＰＵ２８から出力されている。その際、図１０に示すように、サンプル値切り換え後、しばらくしてからゲインをハイからローに変更することが出来る。
図１１は位相誤差出力の正規化について示した図である。アクイジションモードの終了時におけるピーク点（最大値）或いはボトム点（最小値）から、入力値の振幅からクロック生成回路２００の伝達関数における位相比較器のゲインＫΦが一定になるような位相誤差量のゲインを定めることが好ましい。このように位相誤差量の出力値が一定となるようにゲイン調整することで、積分器の定数を変更することなく振幅の相違する入力に対応することが可能となる。このゲイン調整は、図３に示すゲイン調整部２３８にてなされる。
【００７０】
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【００７１】
【発明の効果】
以上詳述したところから明らかなように、請求項１から１６に記載の発明によれば、ビタビ復号アルゴリズムに従った記録データの再生に用いられるサンプリング値を複数取得して、そのサンプリング値の変化の状態に基づいてクロック信号の位相誤差量が検出される。
【００７２】
上記のようなクロック調整装置の動作の過程では、ビタビ復号アルゴリズムに従った記録データの再生のための処理過程で得られる演算値を用いることなく、ビタビ処理前の複数のサンプリング値からクロック信号の位相誤差量を算出してクロック信号の位相制御がなされるので、速やかに位相誤差を解消して位相補償を行うことができる。
【００７３】
請求項１７に記載の発明によれば、適性かつ高速にクロック信号の位相誤差を解消するよに位相誤差を補償するクロック調整装置を有するので、高精度かつ高信頼のデータ再生が可能な光ディスク装置として提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した実施例に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】実施例装置内の再生系ユニットの構成を示す図である。
【図３】図２に示した位相誤差検出ユニットの構成を示す図である。
【図４】図３に示した位相誤差検出部の構成を示すブロック図である。
【図５】数式の演算により求められる位相誤差量を説明するために、一例としてのビタビ処理前の再生信号Ｒについて示す図である。
【図６】エッジ誤検出防止のための閾値Ｔについて説明する図である。
【図７】マスク閾値ｍＴについて説明する図である。
【図８】図３に示したエッジ検出部の構成を示すブロック図である。
【図９】本実施例のクロック信号の位相誤差が収束して行く様子を示した図である。
【図１０】クロック信号の位相誤差量を検出するために用いるサンプリング信号の切換えについて示した図である。
【図１１】位相誤差出力の正規化について示した図である。
【符号の説明】
１０  光磁気ディスク
２３  アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）
２４  デジタル等化器（ＥＱ：イコライザ）
２５  再生系ユニット
２８  制御ユニット（ＭＰＵ）
１００  ビタビ検出器
２００  クロック再生回路
２３０  位相誤差検出ユニット
２３３  位相誤差検出部
２３５  エッジ検出部
【図１】
0003597433.tif 000005
【図２】
0003597433.tif 000006
【図３】
0003597433.tif 000007
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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