(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠点部を有する織物を構成する緯糸または経糸について、連続して糸幅、糸間隔、糸空間を計測し、得られたデータを、各々、欠点部を構成する相当糸本数で移動平均法により処理し、この移動平均値で描かれた線グラフに織物の欠点の発生位置を対比させ、糸幅の変動位置と織物欠点位置が合致する場合は糸因と判定し、糸間隔の変動位置と織物欠点位置が合致する場合は織機因と判定することを特徴とする織物の欠点の判定方法。
【請求項２】
糸幅、糸間隔の変動位置が共に織物の欠点発生位置と合致する場合において、糸空間と糸幅の相関係数（ｒＡ）と糸空間と糸間隔の相関係数（ｒＢ）を求め、ｒＡ＞ｒＢの場合には糸因、ｒＡ≦ｒＢの場合には織機因と判定することを特徴とする請求項１記載の織物の欠点の判定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は織物の欠点の内容を精度良く判定するための織物の欠点の判定方法に関するものであり、より詳しくは織物の欠点対策が的確かつ迅速に行え織物の不合格反を減少させる織物の欠点の判定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、織物欠点の判定は目視検査により行われている。目視検査では、欠点の有無は判別できるものの、欠点の内容の判定は難しく、そのため、ミスジャッジの結果対策が遅れて不合格反を多発させるという問題が生じている。例えば原糸の糸長方向での糸径むらで発生する「緯むら」と呼んでいる欠点と織機の緯糸打ち込み密度むらで発生する「機械段」と呼んでいる欠点との判別ができず、ミスジャッジの結果対策が遅れて不合格反を多発させるということが多くあった。また、原糸異常で発生する「経筋」欠点と織機の筬の異常で発生する「筬筋」欠点も判別も難しく、同様に不合格反の多発を招いている。このように目視検査では欠点の内容を精度良く判定することが難しい。
【０００３】
そこで、こうした欠点の判定方法としては密度測定メーター（商品名    ルノメーター）が実用化されている。この密度測定メーターの原理は織物構成糸の配列間隔に近く、かつその間隔が微少の変化していく直線的縞が描かれた、ガラスあるいはアクリル板を織物上に置くことで、その板上に干渉縞を発生させ、この干渉縞の変向点で織物の密度を調べるものである。ここで仮に織物密度が部分的に変化しているとその位置の干渉縞の配列に乱れが生じる。従って、この干渉縞の乱れによって織物の密度異常を検出する方法である。しかし、この方法では密度異常の度合が大きい場合でないと干渉縞が乱れないこと、また干渉縞の乱れ度合は人間が官能的に評価するため判定結果が曖昧になる等の欠点がある。一方、この干渉縞の原理をイメージセンサーに応用したもの（特開平２ー３０７００５号公報）の開示があるが、かかる技術では、糸間隔の変動による織機因欠点は検出できる場合があっても、原糸自体の異常は全く検出できない等の欠点がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、発生した織物の欠点内容につき原糸異常で発生したものか織機異常で発生したものかを迅速かつ精度良く判定することができる織物欠点判定方法を提供することにあり、この結果的確な織物欠点対策が迅速に行え織物不合格反の減少を可能にするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは上記目的を達成するために鋭意検討した結果、本発明に到達した。すなわち、本発明は、欠点部を有する織物を構成する緯糸または経糸について、連続して糸幅、糸間隔、糸空間を計測し、得られたデータを、各々、欠点部を構成する相当糸本数で移動平均法により処理し、この移動平均値で描かれた線グラフに織物の欠点の発生位置を対比させ、糸幅の変動位置と織物欠点位置が合致する場合は糸因と判定し、糸間隔の変動位置と織物欠点位置が合致する場合は織機因と判定することを特徴とする織物の欠点の判定方法であり、更に、糸幅、糸間隔の変動位置が共に織物の欠点発生位置と合致する場合において、糸空間と糸幅の相関係数（ｒＡ）と糸空間と糸間隔の相関係数（ｒＢ）を求め、ｒＡ＞ｒＢの場合には糸因、ｒＡ≦ｒＢの場合には織機因と判定することを特徴とする織物の欠点の判定方法である。以下、本発明について図面を用いて説明する。
【０００６】
図１に織物の拡大図を示すが、本発明における糸幅はＡ寸法、糸間隔はＢ寸法、糸空間はＣ寸法をさす。例えば、緯糸を計測する際には経糸長方向に緯糸１〜緯糸Ｎまでの糸幅Ａ、糸間隔Ｂを連続して計測することをいい、また糸空間Ｃ＝糸間隔Ｂ−糸幅Ａとする。計測に際しては、織物の拡大写真を撮影し、その写真上での寸法計測でもよいが、画像処理装置を用いた計測の方が計測所要時間が少なく効率的である。また、いずれの方法であっても計測精度は５ミクロン以下が必要である。
【０００７】
通常、織物の欠点部は数本の糸で構成されており、織物長さ（あるいは幅）方向に数ｍｍ間隔で発生するケースが多いことから、欠点部が３ケ所以上含まれる範囲を計測対象範囲とすると、最低でも１００本以上の糸を連続して測定することが必要である。これより複数の欠点カ所を対象に判定できるため判定精度が向上する。また、糸幅Ａ、糸間隔Ｂの計測は糸１本につき数カ所計測した平均値をとることが計測精度が向上する点から好ましい。
【０００８】
次に計測した糸幅Ａ、糸間隔Ｂ、糸空間Ｃのデーターを統計処理法の一つである移動平均法（鈴木義一郎著「データ解析術」実教出版）により処理し、線グラフ化することで欠点部の状態が正常部に対して定性、定量的に示される。すなわち、例えば糸幅については糸幅を縦軸に、糸配列を横軸にとり、糸間隔については糸間隔を縦軸に、糸配列を横軸にとって線グラフ化した原系列では線グラフの凹凸が（変動）が糸配列毎にかつ織物の正常部分にも見られるため、欠点部にのみ見られる特有の線グラフの変化を見いだすことが困難であり、従って、糸幅、糸間隔のいずれが欠点部を構成しているか判別できない。そこで、これらの原系列を移動平均法により処理し、糸幅については糸幅の移動平均値を縦軸に、糸配列を横軸にとり、糸間隔については糸間隔の移動平均値を縦軸に、横軸に糸配列を横軸にとって線グラフ化すると、原系列は平準化され、欠点部を構成している糸配列位置で共通した凹又は凸の変動を呈した線グラフが得られ、予め目視によって定めておいた欠点部の発生位置では、糸幅の凹又は凸が合致しているか、あるいは糸間隔の凹又は凸が合致しているかが容易にわかる。この時、糸幅の変動位置と織物の欠点部の位置とが合致する場合には、糸自体の番手変化や形態変化によるものであるから糸因と判断でき、糸間隔の変動位置と織物の欠点部の位置とが合致する場合には、糸間隔を変化させ得るのは織機の経糸送り出し機構、生機の巻取り機構、筬の緯糸打ち込み機構、織機本体の振動、筬羽の配列異常や製織時の筬羽たわみ等が原因となるため、織機因と判断できる。
【０００９】
なお、ここで、移動平均値（Ｆｔ）は、次式によって得られる。
【００１０】
【数１】
0003560407.tif 000002
【００１１】
通常、移動平均する糸本数は織物欠点部に含まれる相当糸本数とすることが欠点部をより精度よく検出でき、概して５〜９本程度となるが、織物の糸密度や欠点の範囲により選定の必要がある。移動平均する糸本数が少ないと計測値本来の変化の影響で欠点部と正常部の差を容易に読み取れない、一方項数が多いと異常部の程度が緩和された結果となる。
【００１２】
次に、糸幅と糸間隔の変動位置が共に欠点部の発生位置と合致する場合は、欠点発生位置での糸幅と糸間隔の変動の度合を比較する。ここで、糸空間Ｃ＝糸間隔Ｂ−糸幅Ａが成り立つことから、糸幅あるいは糸間隔の変動に伴い、糸空間の変動が必然的となる。従って、糸空間と糸幅の相関係数（ｒＡ）、糸空間と糸間隔の相関係数（ｒＢ）を比較することで、相関係数の高いほうが変動の度合が大きいことになり欠点の主要因と判定できる。尚、相関係数とは、二つの系列のデータの間の関連の度合いを示す相関関係の程度を数値化したものをいい、その算出は移動平均値を用いて以下のようになされる。
【００１３】
【数２】
0003560407.tif 000003
【００１４】
ｒＡ＞ｒＢでは、糸幅の変動が欠点の主要因となり糸因と判定できる。またｒＡ＜ｒＢでは、糸間隔の変動が欠点の主要因となり織機因と判定できる。一方ｒＡ＝ｒＢにおいて、糸間隔の変動が欠点の主要因である織機因と判定する理由としては、糸間隔は糸幅の変化に対し変化しない値であるが、糸幅は糸間隔の変化によって変化しうる値であるためである。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図２〜図７により説明する。
図２は本発明の評価方法のシステム構成を示す。１は織物ステージであり、織物２は透明のアクリル板３に挟まれステージに固定される。ステージ下部には光源４が備えてあり、これにより、織物２の糸隙間部にのみ光が通過した透過画像１０が得られる。更にアクリル板は水平Ｘ方向、Ｙ方向（Ｘと垂直で紙の手前から後ろへと向かう方向）に移動可能なようスライドレール５が備えてあるため、織物を取り外しての位置変更することなく多本数の画像取り込みが容易になる。６は織物を撮影する拡大レンズ取り付け式ＣＣＤカメラであり、カメラの分解能から計測精度５ミクロンを得るため、倍率１００倍のレンズを用いた。７は画像処理装置本体であり、糸端部を認識し各糸を配列順に糸幅、糸間隔、糸空間を計測し且つ、計測値を移動平均化する処理機能を合わせ持つ。８はプリンターであり線グラフ結果をアウトプットする。９は画像を写し出すモニターである。
【００１６】
ここで図３に、緯糸欠点部分を５ケ所含んで２００本の糸幅と糸間隔を計測し線グラフ化したものに予め目視により定めた欠点の発生位置を記した結果（ａ、ｂ）を示すが、計測値本来の変化が大きいため、欠点の発生位置の糸幅、糸間隔のいずれかが異常を示しているとは判定できない。次に図４に図３に示した線グラフを欠点部を構成する糸の本数７本で移動平均し、線グラフ化した結果（ｃ、ｄ）を示す。（ｃ）と（ｄ）より、（ｃ）においては依然としてグラフにおける糸幅の凹あるいは凸の位置と欠点の発生位置とが一致していないが、（ｄ）についてはグラフにおける糸間隔の凹の位置と欠点の発生位置とがほぼ一致していることがわかる。これより欠点の発生カ所は、糸間隔が狭く変動していることが容易に読み取れる。従って、この織物の欠点は本発明の特許請求の範囲の請求項１における織物欠点判定方法により織機因と判定できる。図５に、同判定方法で３ケ所の欠点発生位置では、グラフにおける糸幅の凸の位置と欠点の発生位置が一致した、糸因と判定できる線グラフ結果（ｅ）、（ｆ）を示す。
【００１７】
次に図６に織物欠点発生位置が糸幅、糸間隔の両者の変動に合致した場合の線グラフ結果（ｇ）、（ｈ）を示す。そこで、糸幅と糸間隔の変動の度合を比較するために、糸空間との相関係数（ｒ）をもとめる。図７に緯軸に糸空間の移動平均値、縦軸に糸幅と糸間隔の移動平均値をプロットした散布図と相関係数（ｉ、Ｊ）を示す。これより、ｒＡ≦ｒＢとなり欠点の主要因は糸間隔の変動となる。従ってこの織物欠点は本発明の特許請求の範囲の請求項２における織物欠点判定方法により織機因と判定できる。
【００１８】
【発明の効果】
本発明の織物の欠点の判定方法によれば、織物の欠点内容を迅速にかつ精度良く判定することができ、この結果的確な織物欠点対策が迅速に行え織物不合格反の減少を可能にするものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】織物拡大図により糸幅、糸間隔、糸空間を説明する図である。
【図２】本発明の評価方法に用いるシステムの構成を示す概略図である。
【図３】織機因欠点を有する織物の糸幅、糸間隔の計測結果を示す線グラフである。（ａ）は織物の糸幅の計測結果を示す線グラフであり、（ｂ）は糸間隔の計測結果を示す線グラフである。
【図４】（ｃ）は図３（ａ）の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフであり、（ｄ）は図３（ｂ）の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフである。
【図５】（ｄ）は糸因欠点を有する織物の糸幅の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフであり、（ｅ）は糸因欠点を有する織物の糸間隔の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフである。
【図６】（ｇ）は織機因を有する欠点を有する織物の糸幅の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフであり、（ｈ）は織機因を有する欠点を有する織物の糸間隔の計測値を移動平均処理した結果を示す線グラフである。
【図７】（ｉ）は実施例の相関係数ｒＡを、（ｊ）は実施例の相関係数ｒＢを算出するためのグラフである。
【符号の説明】
Ａ    糸幅
Ｂ  糸間隔
Ｃ    糸空間
１    織物ステージ
２    織物
３  アクリル板
４    光源
５    スライドレール
６    ＣＣＤカメラ
７    画像処理装置本体
８    プリンター
９    モニター
１０    透過画像
【図１】
0003560407.tif 000004
【図２】
0003560407.tif 000005
【図３】
0003560407.tif 000006
【図４】
0003560407.tif 000007
【図５】
0003560407.tif 000008
【図６】
0003560407.tif 000009
【図７】
0003560407.tif 000010