(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンの一部を、画像入力手段により光学的に撮り込んで寸法検査する際に、該画像入力手段の視野を移動させる目標位置とする現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定することを特徴とする微細加工製品の検査ポイントマーキング方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記検査ポイントマーカとして、ＣＡＤデータ上の頂点又はエッジ上で特定できる特徴点を４点設定することを特徴とする微細加工製品の検査ポイントマーキング方法。
【請求項３】
請求項２において、
前記検査ポイントマーカを、リードフレームのインナリード先端部に対応するＣＡＤデータ上の先端の２つの頂点と、ボンディング位置を通る、先端辺に平行な直線が両エッジと交差する２つの交点との計４点で設定することを特徴とする微細加工製品の検査ポイントマーキング方法。
【請求項４】
製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンの一部を、画像入力手段により光学的に撮り込んで寸法検査する際に、該現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定すると共に、設定した検査ポイントマーカで特定される現物パターンの検査ポイントを目標位置として画像入力手段の視野を移動させ、該現物パターンの一部を光学的に撮り込み、ＣＡＤデータ上に設定された検査ポイントマーカと、画像入力された現物パターン上のマーカ対応点とに基づいて寸法検査すること特徴とする微細加工製品の自動寸法検査方法。
【請求項５】
請求項４において、
画像入力手段の視野中心を、複数の検査ポイントマーカの重心に一致させるステップと、
ＣＡＤデータ上に設定されている検査ポイントマーカが有するＣＡＤ座標系のマーカ座標を、画像入力手段の視野中心を基準とした視野座標系に変換するステップと、
視野中心が検査ポイントマーカの重心に一致している状態で、画像入力した視野内の現物パターンの画像を２値画像に変換するステップと、
変換された２値画像中に存在する現物に相当する閉領域の中から、視野中心に最も近い閉領域を選択するステップと、
選択された閉領域の輪郭を抽出すると共に、視野座標系に変換された前記マーカ座標に対応する該輪郭上のマーカ対応点を算出するステップと、
視野座標系の上記マーカ対応点の座標を、ＣＡＤ座標系に逆変換するステップと、
ＣＡＤデータ上に設定した前記マーカ座標と、ＣＡＤ座標系に逆変換した上記マーカ対応点の座標とを対比して寸法計測を実行するステップと、を有していることを特徴とする微細加工製品の自動寸法検査方法。
【請求項６】
請求項５において、
画像入力手段の視野中心を移動させ、該視野中心を複数の検査ポイントマーカの重心に一致させる際、物理的移動量の実測値に基づいて、視野座標系に変換する前記マーカ座標を補正するステップを、更に有していることを特徴とする微細加工製品の自動寸法検査方法。
【請求項７】
製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンを画像入力する画像入力手段と、
入力された現物パターンの画像データを上記ＣＡＤデータに重ね合せて照合する現物照合手段と、を備えている微細加工製品の自動寸法検査装置であって、
ＣＡＤデータに規定されている基準点に対応する現物パターンの基準点を算出する手段と、
現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定する手段と、
上記両基準点を参照しながら、設定された上記検査ポイントマーカで特定される現物パターンの検査ポイントを目標位置とし、該検査ポイントを撮り込める位置に、画像入力手段の視野を移動させるナビゲーション手段と、
ナビゲーション手段により移動させた上記視野を、検査ポイントを撮り込める位置に固定して現物パターンを画像入力し、その入力画像を画像処理して現物パターンの寸法計測を行う画像計測手段と、を備えていることを特徴とする微細加工製品の自動寸法検査装置。
【請求項８】
請求項７において、
ナビゲーション手段が、画像入力手段の視野中心を、複数の検査ポイントマーカの重心に一致させる機能を有していると共に、
画像計測手段が、
ＣＡＤデータ上に設定されている検査ポイントマーカが有するＣＡＤ座標系のマーカ座標を、画像入力手段の視野中心を基準とした視野座標系に変換する手段と、
視野中心が検査ポイントマーカの重心に一致している状態で、画像入力した視野内の現物パターンの画像を２値画像に変換する手段と、
変換された２値画像中に存在する現物に相当する閉領域の中から、視野中心に最も近い閉領域を選択する手段と、
選択された閉領域の輪郭を抽出すると共に、視野座標系に変換された前記マーカ座標に対応する該輪郭上のマーカ対応点を算出する手段と、
視野座標系の上記マーカ対応点の座標を、ＣＡＤ座標系に逆変換する手段と、
ＣＡＤデータ上に設定した前記マーカ座標と、ＣＡＤ座標系に逆変換した上記マーカ対応点の座標とを対比して寸法計測を実行する手段と、を備えていることを特徴とする微細加工製品の自動寸法検査装置。
【請求項９】
請求項８において、
ナビゲーション手段が画像入力手段の視野中心を移動させ、該視野中心を複数の検査ポイントマーカの重心に一致させる際、物理的移動量の実測値に基づいて、視野座標系に変換する前記マーカ座標を補正する手段を備えていることを特徴とする微細加工製品の自動寸法検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、リードフレーム等のＣＡＤを用いて２次元パターンを設計し、その設計データに基づいてエッチング加工やプレス加工を行って製造した製品の微細パターンを寸法計測する際に適用して好適で、試作品の寸法検査や出荷品の抜き取り寸法検査等に有効に利用できる、微細加工製品の検査ポイントマーキング方法、自動寸法検査方法及び自動寸法検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ  ）を用いて設計し、製造する２次元の微細パターンを有するものにエッチング製品があり、このエッチング製品としては、搭載するＩＣ（集積回路）チップと電気的に接続するために用いるリードフレームがある。
【０００３】
図２２は、一方の面から見た１チップ分のリードフレームの一例を示したもので、中心にはチップ（図示せず）を取り付けるためのダイパッド（アイランド）１０が位置し、該ダイパッド１０は、外枠１２にタブ吊りバー１４を介して支持されており、その周囲にはインナリード１６が先端をダイパッド１０に近接させて配置されていると共に、該インナリード１６に連続するアウタリード１８がダムバー２０等を介して上記外枠１２に支持されている。又、上記インナリード１６には、該リード１６の変形を防止するためにプラスチックからなる固定用テープ２２が貼り付けられている。なお、図中破線はモールドラインである。
【０００４】
上記リードフレームを例に、エッチング製品の設計から製品完成までの工程の概略を示すと、図２３のようになる。
【０００５】
上記のようにリードフレームのパターン設計はＣＡＤを用いて行われ、まずＣＡＤ１の製品パターン設計工程で目標とする製品の寸法と同一の（Ａ）製品寸法ＣＡＤデータを作成し、次いでＣＡＤ２のエッチング補正工程で、実際のエッチング工程でレジストパターンの幅より余分に削られてしまうサイドエッチング分の補正代を、上記（Ａ）製品寸法ＣＡＤデータに加算してレジストパターンの原型となる（Ｂ）加工寸法ＣＡＤデータを作成し、次のパターン製造工程でこの加工寸法ＣＡＤデータをレーザプロッタでガラス乾板に描画して（Ｃ）ガラス原版パターンを作成する。この原版パターンは、リードフレームの表裏両面についてそれぞれ作成される。
【０００６】
その後、上記ガラス原版をマスクとして用いて、リードフレームの基材である銅板等の金属材料にコーティングされているレジストを露光（焼付け）し、現像し、バーニング（硬化）して（Ｄ）製版パターン（レジストパターン）を作成し、次いで露出部分の金属材料を除去するエッチングを行い、その後付着しているレジストを剥離することにより、最終的にリードフレーム、即ち（Ｅ）製品パターンが得られる。
【０００７】
上記リードフレームの製造工程では、（Ｅ）製品パターンは、設計パターンである（Ａ）製品寸法ＣＡＤデータと同一になることが望ましい。そのためにこの（Ａ）に補正代を加えて設計される（Ｂ）加工寸法ＣＡＤデータ（これは（Ｃ）ガラス原版パターン、（Ｄ）製版パターンと基本的に同一寸法パターンである）と上記（Ｅ）との寸法差は大きく、通常数十μｍの差がある。
【０００８】
同様に微細加工される他のエッチング製品として、カラーテレビ用のシャドウマスクがあるが、これに比較してリードフレームは形状が不規則である上に、エッチング終了後に行う後工程が複雑であるという特徴を有している。
【０００９】
又、リードフレームの特徴として、チップが取り付けられるアイランド１０とワイヤボンディングされるインナリードの先端との間にギャップ（エッチング除去される空間）があり、そこにエッチング液が入り易いために、インナリードの先端部のエッチングが進み易く、先細りになり易い反面、ワイヤボンディングのためには十分な先端幅の寸法が要求される。
【００１０】
このように加工が難しいリードフレームをエッチングする際のマスクとなる（Ｄ）の製版パターンを作成するための（Ｂ）加工寸法ＣＡＤデータは、上述した如くレジストパターンより余分にサイドエッチングされる寸法を、補正代として（Ａ）の製品寸法ＣＡＤデータに加算する補正を行って作成される。従来は、上記エッチング補正に使用する補正代は、経験に基づいて設定されていた。
【００１１】
又、実際に作成された製品について、例えばインナリード先端部の寸法が、公差（目標値からの許容範囲）内であることを認証する等のために寸法測定を行う必要がある。この場合、従来は一部のリードについて行う局所的な寸法計測を行うことが多かったが、中には全リードについての要望もある。
【００１２】
リードフレーム等のエッチング製品の微細パターンの寸法計測には、手動測定であるアナログ方式の（１）拡大投影機による測定方法、（２）スケール付光学顕微鏡による測定方法、それに自動測定が可能なディジタル方式の（３）測定顕微鏡（光学自動寸法測定機）による測定方法が知られている。
【００１３】
具体的には、上記（１）は、実際の現物パターンを透過光で拡大投影し、その投影図に定規を当てて寸法を計測する方法で、上記（２）は、スケールが付設されている光学顕微鏡と簡単な画像処理を組合せ、パターン像を拡大しながら計測する方法である。又、上記（３）は、光学顕微鏡とＸＹステージとが連動し、且つ撮り込んだ拡大画像を画像処理してディジタル計測を行う方法で、撮り込み領域を予めティーチングしておくことにより、目標の領域を画像計測できるようになっている。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記（１）、（２）のアナログ計測方式の場合は、測定精度が悪い上に、オペレータが試料を手作業でセットし、移動させて視野を目標位置に一致させなければならないため、作業効率が悪く、２０８ピン等の多ピンリードフレームについて全ピン計測を行うとなると１日仕事になってしまう。
【００１５】
又、前記（３）の光学自動寸法測定機は、測定したい点を指示してティーチングしてやれば、自動的に計測できるが、そのためには予め、プログラミングする必要があり、このプログラミングが非常に難しいため、自動測定は十分に機能していないのが現状である。又、上記検査に加えて、計測データと設計寸法のＣＡＤ図面とを重ね合せる照合を行い、各リードの計測データが公差（許容寸法）内に入っているか否かの良否判定を手作業で行わなければならないため、作業負荷が極めて大きいという問題もある。
【００１６】
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、能率良く、しかも高精度で微細パターンの寸法計測を行うことができる、微細加工製品の検査ポイントマーキング方法、それを利用した自動寸法検査方法及びその方法に使用できる自動寸法検査装置を提供することを課題とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、請求項１のように、製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンの一部を、画像入力手段により光学的に撮り込んで寸法検査する際に、該画像入力手段の視野を移動させる目標位置とする現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定することを特徴とする微細加工製品の検査ポイントマーキング方法を提供することにより、前記課題を解決したものである。
【００１８】
本発明は、又、請求項４のように、製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンの一部を、画像入力手段により光学的に撮り込んで寸法検査する際に、該現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定すると共に、設定した検査ポイントマーカで特定される現物パターンの検査ポイントを目標位置として画像入力手段の視野を移動させ、該現物パターンの一部を光学的に撮り込み、ＣＡＤデータ上に設定された検査ポイントマーカと、画像入力された現物パターン上のマーカ対応点とに基づいて寸法検査すること特徴とする微細加工製品の自動寸法検査方法を提供することにより、同様に前記課題を解決したものである。
【００１９】
本発明は、更に、請求項７のように、製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工されたエッチング製品の現物パターンを画像入力する画像入力手段と、入力された現物パターンの画像データを上記ＣＡＤデータに重ね合せて照合する現物照合手段と、を備えている微細加工製品の自動寸法検査装置であって、ＣＡＤデータに規定されている基準点に対応する現物パターンの基準点を算出する手段と、現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定する手段と、上記両基準点を参照しながら、設定された上記検査ポイントマーカで特定される現物パターンの検査ポイントを目標位置とし、該検査ポイントを撮り込める位置に、画像入力手段の視野を移動させるナビゲーション手段と、ナビゲーション手段により移動させた上記視野を、検査ポイントを撮り込める位置に固定して現物パターンを画像入力し、その入力画像を画像処理して現物パターンの寸法計測を行う画像計測手段と、を備えた構成とすることにより、同様に前記課題を解決したものである。
【００２０】
即ち、前記請求項１の検査ポイントマーキング方法においては、現物（製品）パターンの一部を光学的に撮り込んで寸法検査する際に、その現物パターンの設計データであるＣＡＤデータ上に、現物について検査を希望する検査ポイント（検査箇所）を特定するための検査ポイントマーカを設定するようにしたので、該マーカが設定されたＣＡＤデータを現物パターンを寸法検査するために撮り込む際の案内役として使用することが可能となる。
【００２１】
従って、このようにＣＡＤデータ上に検査ポイントマーカを設定することにより、このデータをフォーマット変換等の簡単な処理を施すだけで、前記（３）に示した従来の光学自動寸法測定機等の既存の測定装置の自動化用のティーチングデータとして利用することが可能となるため、従来のような自動化のための面倒なプログラミング作業を不要とすることが可能となる。
【００２２】
又、前記請求項４の自動寸法検査方法においては、請求項１の発明の方法で検査ポイントマーカを設定したＣＡＤデータを、現物パターンの検査箇所を光学的に撮り込む際のナビゲータに利用できるため、希望する箇所だけを自動的に寸法検査することが可能となる。
【００２３】
更に、前記請求項７の自動寸法検査装置においては、上記請求項４の自動寸法検査方法を確実に実行することができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００２５】
図１は、本発明に係る一実施形態のＣＡＤシステム（自動寸法検査装置）の概略構成を示すブロック図である。
【００２６】
上記ＣＡＤシステムは、サンプル（現物）を装着するサンプル装着装置３０と、該装着装置３０にセットされたサンプルを拡大する光学顕微鏡３２と、該顕微鏡３２による観察像を受光してカラーのビデオ信号に変換するＣＣＤカメラ３４と、該ＣＣＤカメラ３４からのカラービデオ信号を処理する画像処理装置３６と、該画像処理装置３６で処理した画像データをカラー表示できるＴＶモニタ３８と、通常の作図機能の他に上記画像処理装置３６から入力される画像データからＣＡＤデータを生成させるためのラスタ・ベクタ変換機能や、２以上のＣＡＤデータの重ね合せや、それらの相互の位置移動（シフト）、寸法測定等の機能を有するＣＡＤ装置を構成するエンジニアリングワークステーション（ＥＷＳ）４０とを備えている。
【００２７】
又、上記ＣＡＤシステムでは、サンプル装着装置３０が、サンプル装着部（図示せず）を有する手動の回転ステージ４２と、サンプルを平面方向に移動させるＸＹステージ４４と、サンプルを垂直方向に移動させるＺステージ４６で構成され、ＸＹステージ４４及びＺステージ４６は、ワークステーション４０からインタフェイスＲＳ２３２Ｃを介して指令を受けて作動するＸＹステージコントローラ４８及びオートフォーカスコントローラ５０によりそれぞれ駆動制御されるようになっている。又、上記ＸＹステージ４４にはレーザ位置検出器が取り付けられ、そのＸＹ方向の位置計測が同じくワークステーション４０からの指令により作動するレーザスケールカウンタ５２により行われ、その実測値がワークステーション４０にフィードバックされ、ＸＹステージコントローラ４８によるＸＹステージ４４の位置計測値の修正が行われるようになっている。
【００２８】
又、上記オートフォーカスコントローラ５０には、ＣＣＤカメラ３４からオートフォーカスに使用する画像信号が直に入力されるようになっており、顕微鏡３２を介して取り込まれた画像を別に設けてあるオートフォーカス用モニタ（図示せず）で直接見ることができるようになっていると共に、該オートフォーカスコントローラ５０からＴＶモニタ３８にもモノクロ（Ｂ／Ｗ）のビデオ信号が入力されるようになっている。
【００２９】
図２は、上記装着装置３０、光学顕微鏡３２及びＣＣＤカメラ３４の外観を示した斜視図であり、前記図１に示したＸＹステージ４４は、Ｘステージ４４ＡとＹステージ４４Ｂからなり、それぞれ前記ステージコントローラ４８に接続されているＸ駆動モータ５４Ａ、Ｙ駆動モータ５４ＢによりＸ方向、Ｙ方向に移動可能になされ、Ｙステージ４４Ｂの上にはサンプルを装着する回転ステージ４２が取り付けられ、手動で回転できるようになっている。
【００３０】
又、Ｘステージ４４Ａ及びＹステージ４４Ｂの側面には、それぞれ微細回折格子からなるスケールパターン５６Ａ、５６Ｂが付設され、且つ上記Ｘ駆動モータ５４Ａ、Ｙ駆動モータ５４Ｂで移動された両ステージ４４Ａ、４４Ｂの位置をレーザ光をスケールパターン５６Ａ、５６Ｂに照射して検出するためのＸ位置検出器５８Ａと、Ｙ位置検出器５８Ｂとが設置され、これら両検出器５８Ａ、５８Ｂは前記レーザスケールカウンタ５２に接続されている。
【００３１】
又、上記Ｘステージ４４Ａの下には、前記Ｚステージ４６が配置され、該Ｚステージ４６はＺ駆動モータ５４Ｃにより垂直方向に進退動可能になっており、該Ｚ駆動モータ５４Ｃは前記オートフォーカスコントローラ５０に接続され、該コントローラ５０からの制御信号に基づいて光学顕微鏡３２の対物レンズ３２Ａとサンプルとの間の距離を増減して、該顕微鏡３２に対するオートフォーカスが行われるようになっている。
【００３２】
又、上記Ｚステージ４６の下には支持台を兼ねた透過光源ユニット６０が配置され、該ユニット６０には顕微鏡３２に対して下から投光する透過光源（図示せず）が内蔵され、且つその側壁には透過光源スイッチ６０Ａと光量調整ボリューム６０Ｂとが付設されている。
【００３３】
更に、前記顕微鏡３２には落射光源ユニット６２が取り付けられ、該ユニット６２には落射光源（図示せず）が内蔵され、該ユニット６２の側壁には落射光源スイッチ６２Ａと光量調整ボリューム６２Ｂとが付設されている。
【００３４】
従って、サンプルの顕微鏡画像をＣＣＤカメラ３４で取り込む際には、透過及び落射の少なくとも一方の光源を使用することが可能になっている。
【００３５】
次に、図３を用いて前記画像処理装置３６の構成の特徴と処理機能について説明する。なお、この処理装置３６としては、画像入力・処理・２値化の処理機能を有する、例えば、セイコー電子工業（株）製のＳＶ−２１１０（商品名）を利用することができる。
【００３６】
この画像処理装置３６は、ＣＣＤカメラ３４から入力されるＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各信号を１画面毎に記憶することができる、それぞれ四角形で囲んで示すＲ画像、Ｇ画像、Ｂ画像用の３つのフレームメモリと、Ｙ（輝度）信号を記憶するモノクロのＢ／Ｗ画像用の１つのフレームメモリと、前記Ｒ、Ｇ、Ｂ信号を３×３マトリックス演算部で処理して得られるＨ（色相）、Ｓ（彩度）、Ｖ（輝度）のそれぞれの画像データを記憶するＨ、Ｓ、Ｖの各画像用の３つのフレームメモリと、Ｒ信号とＢ信号を画像算術演算部で処理して得た両者の差分画像データを記憶するＲ−Ｂ差分画像用フレームメモリの、合計８個のフレームメモリを備えている。
【００３７】
このように異なる色信号を採用する理由は、図４の表に示すように、現物試料（現物パターン）によって使用されている材料や要求される画像の種類が異なることがあるため、使用に適した光源の種類や最適な色信号が異なることにある。
【００３８】
即ち、原版パターンは、リードフレームの表用と裏用の２種類あり、いずれもガラス乾板（ガラス板に不透明なフィルムでパターンが形成されている）であるため、白黒の透過像が良好なコントラストで得られることから、Ｂ／Ｗ画像のフレームメモリが最適プレーンである。
【００３９】
又、製版パターンは、リードフレームの表面及び裏面に形成されるレジストパターンであるため、金属材料及びレジストの種類によって異なると共に、落射光源を使用して反射像を受光する必要がある。
【００４０】
レジストとしてカゼインを使用している場合には、現像後の加熱硬化の段階でレジストが赤系統の色になっているため、材料が銀白色の４２アロイでは最適プレーンとしてＢ画像のフレームメモリを使用できるが、銅（Ｃｕ）材ではそれ自体が赤系統の色であるため、Ｂ画像ではその差が明瞭でないため、Ｖ画像のフレームメモリが最適のプレーンとなる。
【００４１】
又、レジストとしてブルー系のドライフィルムを使用する場合は、４２アロイではＲ画像が最適であるが、銅材ではＲ−Ｂ差分画像のフレームメモリが最適プレーンとなる。
【００４２】
エッチングが終了し、レジスト膜を除去した後の製品パターンの場合は、貫通形状の透過像と表裏両面それぞれの反射像とを受光することができ、透過像は前述した如く黒白のＢ／Ｗ画像が、反射像の場合はＨ（色相）画像が最適プレーンとなる。
【００４３】
又、製品パターンの中でも、前記図２２に示したようにインナリードにポリイミド樹脂からなる固定用テープ２２（表にはＴＰと記す）が貼り付けられている場合には、テープは赤系統で透明度が高いため、テープが画像入力されない完全透過像を得るためには、Ｂ／Ｗ画像が最適プレーンとなる。但し、後述する２値化の閾値を適切に設定する必要がある。
【００４４】
逆に、テープを含めた透過像を撮り込むためには、テープに対しても不透過のブルーが好適であるため、Ｂ画像が最適プレーンとなる。
【００４５】
更に、テープ部分のみを撮り込みたい場合は、落射光源を用いる反射像に対してＨ画像が最適プレーンとなる。
【００４６】
上述した如く、画像として撮り込む対象に応じて最適な使用プレーンを選択すると、前記８個のフレームメモリの中から対応する画像信号が２値化処理部に入力される。この２値化処理部で入力された画像データについて２値化処理を行う。その際に設定する閾値は、例えば０から２５５の階調値の中から任意に設定することができる。
【００４７】
上記２値化処理部で２値化された画像データに対して、現物パターンの表面の微細な粗さ等が原因で生じる画像上の黒スポット又は白スポットを除去するためのモフォロジー処理を行う。但し、透過像の場合はこのようなスポットは発生しないので行う必要はない。
【００４８】
除去する対象のスポットが白又は黒のいずれであるかを設定し、所定のモフォロジー回数を設定して、その回数の画像の膨脹・収縮処理を行ってスポットの除去を行う。
【００４９】
次いで、上記処理を行って得られた２値画像は、ＣＡＤ装置として機能するワークステーション４０に入力され、ここで該２値画像をラスタ・ベクタ変換部で処理してＣＡＤデータに変換する。このワークステーション４０としては、通常のＣＡＤソフト（例えばコンピュータビジョン社のＣＡＤソフトＭｅｄｕｓａ  （商品名））と現物照合ＣＡＤソフト（特願平７−５３４０で提案）が稼働する、例えばサンマイクロシステムズ社のＳｐａｒｃ  Ｓｔａｔｉｏｎ１０（商品名）を利用することができる。
【００５０】
上記ラスタ・ベクタ変換部には、一般的なアウトラインのＣＡＤデータに変換する方式と、詳細説明は省略するが、白又は黒の領域の画像データを台形エリアのＣＡＤデータに変換する方式とがある。このラスタ・ベクタ変換部で信号の変換処理を行う場合には、直線近似の精度を決めるためのＲＶ頂点間引係数を設定する。この係数が小さい程アウトラインの場合は、線のギザギザが少なく、台形エリアの場合は抽出される台形を細かくすることができる。
【００５１】
又、上記２つの変換方式のいずれかを選定すると共に、台形エリア変換方式を選定する場合には、白又は黒のいずれかを選定し、台形エリア処理の対象領域を決めてやる必要がある。
【００５２】
又、本実施形態のＣＡＤシステムは、前述した如く、前記図１、図２に示したハード機構からなる、製品設計寸法パターンのＣＡＤデータに基づいて加工された製品の現物パターンを高精度で画像入力する画像入力手段と、入力された現物パターンの画像データを上記ＣＡＤデータに重ね合せて照合する現物照合手段と、を備えていると共に、ワークステーション４０には、現物パターンの検査ポイントを特定するための検査ポイントマーカを、上記ＣＡＤデータ上に１以上の点で設定する手段と、上記両基準点を参照しながら、設定された上記検査ポイントマーカで特定される現物パターンの検査ポイントを撮り込める位置に、画像入力手段の視野を移動させるナビゲーション手段と、ナビゲーション手段により移動させた上記視野を、検査ポイントを撮り込める位置に固定して現物パターンを画像入力し、その入力画像を画像処理して現物パターンの寸法計測を行う画像計測手段とが構築されている。
【００５３】
又、本実施形態では、前記ワークステーション４０に構築されているナビゲーション手段が、画像入力手段の視野中心を、複数の検査ポイントマーカの重心に一致させる機能を有していると共に、画像計測手段が、ＣＡＤデータ上に設定されている検査ポイントマーカが有するＣＡＤ座標系のマーカ座標を、画像入力手段の視野中心を基準とした視野座標系に変換する手段と、視野中心が検査ポイントマーカの重心に一致している状態で、画像入力した視野内の現物パターンの画像を２値画像に変換する手段と、変換された２値画像中に存在する現物に相当する閉領域の中から、視野中心に最も近い閉領域を選択する手段と、選択された閉領域の輪郭を抽出すると共に、視野座標系に変換された前記マーカ座標に対応する該輪郭上のマーカ対応点を算出する手段と、視野座標系の上記マーカ対応点の座標を、ＣＡＤ座標系に逆変換する手段と、ＣＡＤデータ上に設定した前記マーカ座標と、ＣＡＤ座標系に逆変換した上記マーカ対応点の座標とを対比して寸法計測を実行する手段とを備えている。
【００５４】
又、本実施形態では、上記ナビゲーション手段が画像入力手段の視野中心を移動させ、該視野中心を複数の検査ポイントマーカの重心に一致させる際、物理的移動量の実測値に基づいて、視野座標系に変換する前記マーカ座標を補正することができるようになっている。
【００５５】
次に、本実施形態の作用を、全体の流れを大まかに示した図５のフローチャート等を参照しながら説明する。
【００５６】
まず、具体的な操作を開始する前に、システムの機能の基本的な設定と調整とを行っておく。特に、顕微鏡３２のレンズやカメラ３４を交換したときには、カメラ３４とＸＹステージ４４の直交調整を行う必要がある。これはカメラマウント部を手動で回転させて行う。この直交調整は、図６にモニタ画面を模式的に示すように、サンプル装着部にある、×印で示す微小なマーク（微小なゴミでもよい）を基準点とし、これがモニタ画面から外れない範囲で左右のＸ方向に水平移動させた場合に、モニタ上の基準線（水平線）から上記基準点がズレなければＯＫとすることで行うことができる。
【００５７】
又、画像計測機能を与えるために、１画素当りの寸法と、画面送りピッチを測定しておく必要がある。これは、１画面サイズ（本実施形態では、５１２×４８０画素）に対応するステージ送り値を測定することにあたり、具体的には、モニタ３８の画面を示した図７に示すように、×印で示す基準点を、画面上のＸ方向及びＹ方向のいずれにも１／４、３／４の位置にある基準線上の４ポイントに動かし、そのときのＸ方向、Ｙ方向のステージ移動距離を、前記レーザスケールカウンタ５２によるカウント値を用いることにより高精度に測定することができる。この場合、１画素当りの寸法はＸｓ／２５６、Ｙｓ／２４０となり、Ｘ方向、Ｙ方向それぞれの画面送りピッチは２Ｘａ、２Ｙｓとして計算される。なお、上記寸法、ピッチの測定には、レーザスケールカウンタを使用せずに、ＸＹステージの駆動モータ（ステップモータ）による送り量（最小単位は、例えば１μｍ）を使用してもよい。
【００５８】
以上の準備操作が完了していることを前提に、前記図５のフローチャートに従って以下の処理を実行する。
【００５９】
まず、ステップＳ１０で画像処理条件の設定を行う。ここでは、（１）資料セッティング、直交補正、（２）アイランド中心測定、（３）ＡＦ条件、画像処理条件設定等の操作を実行し、その結果を設定ファイルＸＹ、ＳＶ、ＡＦにそれぞれ格納する。
【００６０】
次いで、ステップＳ２０で、検査個所のマーキングを行う。ここでは、リードフレームの設計図にあたる製品設計寸法パターンのＣＡＤデータ（以下、単にＣＡＤデータともいう）上で、各検査ポイント毎に４つの点を検査ポイントマーカとして設定し、その座標を設定ファイルＰＮＴに格納する。
【００６１】
その後、ステップＳ３０で自動寸法検査を行う。ここでは、前記ステップＳ２０で設定したマーカから特定される検査ポイントを目標位置としてカメラ視野をナビゲーションし、その画像を入力しながら、各検査ポイント毎の寸法検査を自動的に実行し、その結果を設定ファイルＩＮＳに格納すると共に、表やグラフとして出力する。
【００６２】
上記ステップＳ１０〜Ｓ３０の処理を更に詳述すると、ステップＳ１０の画像処理条件の設定は、図８に示したステップＳ１〜Ｓ６のフローチャートに従って実行される。
【００６３】
即ち、ステップＳ１でサンプルのセッティングを行う。具体的には、前記図２に示したように、回転ステージ４２の所定位置にサンプル（リードフレーム）を装着し、オペレータがモニタ３８に表示されているカメラ３４から撮り込まれたサンプルの画像を見ながら、上記回転ステージ４２を操作して、サンプルの直交調整を行う。
【００６４】
上述したＸＹステージ４４との直交調整が既に終了しているＣＣＤカメラ３４により入力されたサンプルの水平エッジを表示したモニタ画面が、図９のようであるとすれば、ＸＹステージ４４をＸ軸方向に大きく動かした場合でも水平基準線から上記エッジがズレないような位置に、回転ステージ４２を手動で回転させ、サンプルとＸＹステージ４４との間の直交調整を行う。
【００６５】
次いで、ステップＳ２で、使用光源の選択と、その光量調整を行う。即ち、スイッチ６０Ａ又は６２Ａのいずれかをオンにすることにより、透過光源又は落射光源を選択する。希望する光源を選択し、オートフォーカス装置のモニタを見て輝度信号が規定範囲に入るように６０Ｂ又は６２Ｂの光量ボリュームにより、光量の調整を行う。なお、場合によっては上記両光源を同時に使用することもできる。
【００６６】
次いで、ステップＳ３で、実測値に基づいて更に正確な補正をするために、試料の直交度測定を行う。ここでは、次に説明するアイランド中心測定と同様に、水平と思われる２点と、垂直と思われる２点の座標を測定する。
【００６７】
図１０は、上記各２点の測定点Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、Ｖ２と、各点の画像を撮り込んでいるときのＣＣＤカメラ３４の視野を示し、斜線部分がフレーム（現物）にあたる。ここでは、水平方向の２点Ｈ１、Ｈ２としてフレームのエッジ上の点を、垂直方向の２点Ｖ１、Ｖ２として、エッチングを促進するために設けられている縦溝のエッジ上の点を利用している。このステップでは、資料の直交度が、ステップＳ１で回転ステージ等を操作して既にできる限り合わせてあることが前提になる。即ち、Ｈ１の点で視野の中央付近に見えていたエッジが、ステージを水平方向に移動させてＨ２の点に視野を移したときにも、そのほぼ中央に見え、上下に僅かに動く程度に抑えておく。補正するとは言え、視野から外れる位に直交がズレているのは好ましくない。
【００６８】
以上の条件の下で測定された、上記４点の座標が、
Ｈ１（ＸＨ１，ＹＨ１），Ｈ２（ＸＨ２，ＹＨ２）
Ｖ１（ＸＶ１，ＹＶ１），Ｖ２（ＸＶ２，ＹＶ２）
であり、次に求めるアイランド中心の座標を、（Ｘｃ，Ｙｃ）とすると、図１０中にＰで表わした点の測定座標（ｘ，ｙ）は、次の（１）、（２）式で補正された（ｘ′，ｙ′）として得られる。
【００６９】
ｘ′＝−｛（ＸＶ２−ＸＶ１）／（ＹＶ２−ＹＶ１）｝×（ｙ−Ｙｃ）＋ｘ…（１）
ｙ′＝−｛（ＹＨ２−ＹＨ１）／（ＸＨ２−ＸＨ１）｝×（ｘ−Ｘｃ）＋ｙ…（２）
【００７０】
上述したステップＳ３の直交補正のための測定が終わった後、ステップＳ４でアイランド中心指定、ステップＳ５でＡＦ条件設定、ステップＳ６で画像処理条件設定をそれぞれ実行する。
【００７１】
このステップＳ４からＳ６までは、例えば図１１〜図１３に模式的に示したような、モニタ画面に表示されるメニュー画面（それぞれ同一画面にウィンドウ表示することもできる）でメニューを選択することにより実行される。
【００７２】
まず、ステップＳ４で、本実施形態の装置が有する原点算出機能を用いて、画像として取り込まれたアイランド（ダイパッド）の中心指定（原点算出）を行う。
【００７３】
本実施形態では、図１４にアイランド１０を拡大して示すと共に、その右側にモニタ画面を示すように、該アイランド１０の上端の点ＰＴ  、及び下端の点ＰＢ  をそれぞれカメラ入力画面のＹ軸方向中心に一致させて入力することにより、それぞれのＹ座標値ＹＴ  、ＹＢ  が算出され、左側端の点ＰＬ  及び右側端の点ＰＲ  をそれぞれ画面のＸ方向中心に一致させて入力することにより、それぞれＸ座標値ＸＬ  、ＸＲ  が算出されるようになっている。従って、これら４箇所の白黒（黒の部分は斜線で示した）の境界にあたるエッジ位置の座標値から、位置合せ原点となるアイランド中心の座標（Ｘｃ、Ｙｃ）が次式で算出される。
【００７４】
Ｘｃ＝（ＸＲ  ＋ＸＬ  ）／２，    Ｙｃ＝（ＹＴ  ＋ＹＢ  ）／２      …（３）
【００７５】
なお、本実施形態のＣＡＤシステムにはエッジ検出機能があり、エッジの自動認識が可能であるため、上述のように左右上下の白黒の境界のエッジを、画面上のＸ座標、Ｙ座標の中心に一致させなくとも、単に各エッジ部分を画面内に取り込むだけで、各エッジの座標値を検出し、自動的に上記式により計算が実行され、同様の中心指定を行うことができる。このように入力画像のアイランドの中心を特定することにより、該中心をＣＡＤデータの設計パターンのアイランドの中心に一致させる位置合せを行うことにより重ね合せ表示を正確に行うことが可能となる。
【００７６】
通常１チップ分のリードフレームは、アイランドの中心を原点として、基本的には左右上下対称に設計されるため、ＣＡＤデータはアイランド中心を原点として記述（設計）されているか、原点の座標がデータ内に明示されているので、前述した方法で算出された原点を、ＣＡＤ装置上でＣＡＤデータのアイランド中心に一致させることにより、寸法差が大きい、例えば加工寸法パターンとエッチングパターンでも、自動的に正確に位置合せを行うことが可能となる。
【００７７】
以上のステップＳ３で測定された試料直交度、Ｓ４で指定された画像上のアイランドの中心に関する情報は、設定ファイルＸＹに格納される。
【００７８】
次いで、ステップＳ５でオートフォーカス（ＡＦ）の条件設定を行う。ここでは、モードを選択し、リミット値を設定する。このモードには、平坦なサンプルに適用するＺ軸方向に１つの基準点（位置）を決め、その点から上下にＺステージ４６を微小移動させながら合焦させる２ＷＡＹ方式と、凹凸の大きい表面に適用する、合焦点を越える所定の下方位置迄Ｚステージ４６を下降させた状態から、該ステージ４６を徐々に上昇させてサンプルをレンズに近付けて合焦させる１ＷＡＹ方式と、対物レンズ（本実施形態では５種類）の中からの使用レンズの選択とがある。
【００７９】
リミットは、オートフォーカス時にレンズとサンプルとの衝突を防止するために設定する接近限界距離である。なお、ここでは、モードとして凹凸の激しい製品サンプルでは１ＷＡＹを、激しくない場合は２ＷＡＹを選択する、レンズとして分解能１μｍ／１画素で取り込むために２０倍対物レンズを用い、そのためのフォーカスパラメータ設定ファイルを使用する、リミット値として原点より２ｍｍ、フォーカス作動距離の最大値をリミットの１／２にする、等の通常デフォルト値を設定する。このステップで設定した条件は、設定ファイルＡＦに格納される。
【００８０】
ＡＦモードとして２ＷＡＹ方式を選択する場合、試料のエッジ部分（平坦部分）が画面に入るようにし、オートフォーカスを起動するか、あるいはマニュアルでＺステージ４６を移動するかして、フォーカス原点（基準点のＺ座標値）も設定する。オートフォーカスは、上述の如くこの位置を基準にＺステージ４６を上下微小移動して実行される。
【００８１】
次のステップＳ６では、画像処理の条件を設定する。その内容は、使用する色が異なる前記図３に示した８種類の画像フレームメモリの中から使用する入力プレーンの選択と、２値画像を作成する際の２値化閾値の設定、白又は黒の不要な点を画像データから除くために行うモフォロジー条件である。このステップで設定した条件は、設定ファイルＳＶに格納される。
【００８２】
次いで、ステップＳ２０で実行する検査箇所（検査ポイント）のマーキングを、図１５を用いて説明する。この図１５は、リードフレームの設計ＣＡＤデータを拡大表示したＣＡＤ画面であり、図中Ｐ１、Ｐ２は、ＣＡＤデータ上のインナーリード先端部にある検査ポイントを示している。
【００８３】
本実施形態では、インナーリード先端部のみを検査ポイントとし、その検査ポイントを特定するために１〜４で示した４点の検査ポイントマーカを設定する。この作業を必要なピン数だけ行う。
【００８４】
インナーリードの場合は、点１、２の先端２点は、ＣＡＤデータ上の頂点データをそのまま使用できる。点３、４は、両者の中心にあるボンディング位置（ＢＰ）を通り、且つ点１、２を通る先端辺に平行な直線とリードの両エッジとの交点である。ボンディング位置は、ＣＡＤ図面上で特定されている既知情報であるため、上記点３、４の各点は簡単に求めることができる。従って、リード先端部の上記４点のマーキングは自動的に行うことができる。
【００８５】
次に、上述したマーキングが終了した後に行うステップＳ３０の自動寸法検査について、検査ポイントが図１５に示したＰ２である場合を例に説明する。なお、以下の説明では、ｘ，ｙは、アイランド中心を原点としたＣＡＤ座標系、Ｘ，ＹはＸＹステージ上のステージ座標系、Ｕ，Ｖはカメラの視野の水平方向と垂直方向のそれぞれの寸法、ｕ，ｖはカメラの視野中心を原点とする視野座標系をそれぞれ表わしている。
【００８６】
まず、ＣＡＤ座標系で、検査ポイントマーカとして設定した前記１〜４の各点の座標（ｘ１  ，ｙ１  ）、（ｘ２  ，ｙ２  ）、（ｘ３  ，ｙ３  ）、（ｘ４  ，ｙ４  ）から検査ポイントの重心（ｘＧ  ，ｙＧ  ）を次の（４）、（５）式で求める。
【００８７】
ｘＧ  ＝（ｘ１  ＋ｘ２  ＋ｘ３  ＋ｘ４  ）／４        …（４）
ｙＧ  ＝（ｙ１  ＋ｙ２  ＋ｙ３  ＋ｙ４  ）／４        …（５）
【００８８】
次いで、上記重心（ｘＧ  ，ｙＧ  ）にカメラ３４の視野中心が一致するように、ＸＹステージを移動させるナビゲーションを実行し、両者が一致した状態で現物パターンの画像入力を行う。これにより、マーカ１〜４の全てを画面内に確実に入れることができる。
【００８９】
図１６は、上記重心（ｘＧ  ，ｙＧ  ）に視野中心が一致した状態で画像入力した現物パターンであり、カメラの視野寸法はＵ×Ｖである。このときの視野中心にあたるステージ移動座標（Ｘ，Ｙ）は、アイランド中心座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を用いて、次の（６）式で与えられる。
【００９０】
Ｘ＝Ｘｃ＋ｘＧ  ，Ｙ＝Ｙｃ＋ｙＧ                …（６）
【００９１】
次いで、ＣＡＤ座標系の前記１〜４の各点のマーカ座標をカメラの視野中心を原点として設定される視野座標系に変換する。１〜４の各点の視野座標系の座標を、（ｕ１  ，ｖ１  ）、（ｕ２  ，ｖ２  ），（ｕ３  ，ｖ３  ）、（ｕ４  ，ｖ４  ）とする。
【００９２】
なお、実際の座標変換にあたっては、ステージを移動させたときに誤差が生じている場合には、その補正も同時に行われるようにする。即ち、ステージ移動後、前記レーザースケールカウンタ５２で座標計測し、直交補正を行った結果、図１７に示すように、前記（６）式に示したステージ上の中心座標（Ｘ，Ｙ）が実際には（Ｘ′，Ｙ′）であったとすると、ＣＡＤ座標系の上記１の点のマーカ座標（ｘ１  ，ｙ１  ）は、視野座標系には、次の（７）、（８）式で変換することにより、同時に補正することができる。なお、Ｍはカメラ３４の水平方向の画素数、Ｎは垂直方向の画素数で、ここではＭ＝５１２、Ｎ＝４８０、Ｖ＝４９６ｍｍ、Ｖ＝４６４ｍｍである。
【００９３】
0003589512.tif 000002
（ｕ２  ，ｖ２  ）、（ｕ３  ，ｖ３  ）、（ｕ４  ，ｖ４  ）の各座標は、上記（７）、（８）と同様の式により求めることができる。
【００９４】
なお、上記（８）式のＹ軸上下反転は、一般に、カメラでは画素系で上が原点であるのに、ＣＡＤ座標系では下が原点にとってあるため、Ｙ軸方向には−１倍して反転させていることを表わしている。
【００９５】
次いで、入力画像を２値画像（図示せず）に変換し、且つその２値画像の中から視野中心に最も近い重心を持つ閉領域（現物パターンの非孔部）のみを選択し、上記図１７中に一部が表示されている上方と下方にある現物パターンを除去し、選択された中央部の閉領域についてのみ輪郭抽出を実行する。図１８は、このようにして抽出された閉領域の輪郭を示したものである。
【００９６】
なお、上記閉領域の重心は、画像処理装置３６が有する重心計算用プロセッサを用いて、該閉領域を構成する全ての黒点の平均値として算出される。但し、輪郭線が求まっていれば、その線上の点の平均として求めてもよい。
【００９７】
次いで、ＣＡＤデータ上のマーカに相当する視野座標系の１〜４の４点からの距離が最小となる輪郭上の１′〜４′をマーカ対応点として求め、各座標を（ｕ１  ′，ｖ１  ′），（ｕ２  ′，ｖ２  ′）、（ｕ３  ′，ｖ３  ′），（ｕ４  ′，ｖ４  ′）とする。この計算は、画像処理により自動的に実行することができる。
【００９８】
次いで、上記１′〜４′の各マーカ対応点の座標を、視野座標系からＣＡＤ座標系へ逆変換する。この逆変換は、（ｕ１  ′，ｖ１  ′）を（ｘ１  ′，ｙ１  ′）に変換する場合であれば、前記（７）、（８）を変形した式に相当する次の（９）、（１０）式で行うことができる。他の（ｕ２  ′，ｖ２  ′）〜（ｕ４  ′，ｖ４  ′）も同様の式で逆変換し、対応する（ｘ２  ′，ｙ２  ′）〜（ｘ４  ′，ｙ４  ′）の各座標を求めることができる。
【００９９】
ｘ１  ′＝（Ｕ／Ｍ）（ｕ１  ′−Ｍ／２）＋ｘＧ  ＋Ｘ′−Ｘ−Ｘｃ…（９）
ｙ１  ′＝（Ｖ／Ｎ）（Ｎ／２−ｖ１  ′）＋ｙＧ  ＋Ｙ′−Ｙ−Ｙｃ…（１０）
【０１００】
図１９は、（ｘ１  ′，ｙ１  ′）〜（ｘ４  ′，ｙ４  ′）の各座標を有する１′〜４′の各マーカ対応点を、（ｘ１  ，ｙ１  ）〜（ｘ４  ，ｙ４  ）の各座標を有する１〜４のマーカ座標と共に示した、前記図１５に相当するＣＡＤ画面である。
【０１０１】
このようにＣＡＤ座標上で、それぞれ座標が求められたら、各マーカ１〜４とマーカ対応点１′〜４′との間の距離Ｌ１  〜Ｌ４  を算出する。Ｌ１  は、次の（１１）式で、又Ｌ２  〜Ｌ４  も同様の式で算出することができる。
【０１０２】
Ｌ１  ＝｛（ｘ１  ′−ｘ１  ）２  ＋（ｙ１  ′−ｙ１  ）２  ｝１／２        …（１１）
【０１０３】
以上のようにＬ１  〜Ｌ４  の算出が終了したら、検査ポイントＮｏ２について、次の表１のような測定データを作成し、これをファイルに出力する。なお、表中、Ｚ値は、画像入力時に実行したオートフォーカスで求められる、アイランド中心を基準にしたＺ座標値である。
【０１０４】
【表１】
0003589512.tif 000003
【０１０５】
予め指定してある他の検査ポイントについても、前述した方法で順次寸法検査を実行し、それぞれ検査結果を出力する。検査項目としては、以下のものを挙げることができる。
【０１０６】
（１）ボンディング位置
ＣＡＤ：｛（ｘ３  ＋ｘ４  ）／２，（ｙ３  ＋ｙ４ ）／２｝
現物：｛（ｘ３  ′＋ｘ４  ′）／２，（ｙ３  ′＋ｙ４  ′）／２｝
誤差：（１／２）｛（ｘ３  ＋ｘ４  −ｘ３  ′−ｘ４  ′）２  ＋（ｙ３  ＋ｙ４  −ｙ３  ′−ｙ４  ′）２  ｝１／２  
（２）先端幅
ＣＡＤ：｛（ｘ３  −ｘ４  ）２  ＋（ｙ３  −ｙ４  ）２  ｝１／２  
現物：｛（ｘ３  ′−ｘ４  ′）２  ＋（ｙ３  ′−ｙ４  ′）２  ｝１／２  
誤差：上記両者の差
（３）先端Ｒ
｛（ｘ１  ′−ｘ１  ）２  ＋（ｙ１  ′−ｙ１  ）２  ｝１／２  
｛（ｘ２  ′−ｘ２  ）２  ＋（ｙ２  ′−ｙ２  ）２  ｝１／２  
（４）先端トップ位置
ＣＡＤ：｛（ｘ１  ＋ｘ２  ）／２，（ｙ１  ＋ｙ２  ）／２｝
現物：｛（ｘ１  ′＋ｘ２  ′）／２，（ｙ１  ′＋ｙ２  ′）／２｝
誤差：｛（ｘ１  ＋ｘ２  −ｘ１  ′−ｘ２  ′）２  ＋（ｙ１  ＋ｙ２  −ｙ１  ′−ｙ２  ′）２  ｝１／２  
（５）リード先端の浮き
アイランド中心を基準としたＺ座標
【０１０７】
又、前記（１）ボンディング位置については、この誤差を全ピンについて、横軸にピン番号をとった図２０のグラフや、ピン番号を３６０°の放射状にとって表現した図２１のグラフで出力することができる。このように、全ピンについて実際のボンディング位置の設計図上の位置からの誤差（ズレ）が表示できるようにする場合には、その誤差が自動ワイヤボンディング可能許容値以内の位置精度であるか否かを正確に判定できる。
【０１０８】
ボンディング位置精度は、従来１ピン毎に画像処理しながら行っているワイヤボンディング作業の負荷に影響し、精度が良い場合には画像処理を省略することが可能となるため、自動位置決めによる作業の完全自動化を行うことが可能となる。従って、全ピンについて精度が保証できる場合には、ボンディング作業の能率を大幅に向上することが可能となる。
【０１０９】
以上詳述した如く、本実施形態においては、ＣＡＤと連動して画像処理が行える環境を実現し、リードフレームの場合はアイランド中心を基準にＣＡＤデータと現物パターンの位置決めを行い、ＣＡＤ上で検査ポイントをティーチングして画像入力できるようにし、しかも検査ポイントを選択的に画像処理し、ＣＡＤデータとポイント間照合しながら検査データを出力できるようにした。
【０１１０】
従って、本実施形態によれば、ＣＡＤによる検査ポイントのティーチングを行うことができると共に、ＣＡＤデータと画像入力した検査ポイントとの比較を行うことができるため、ティーチング作業の効率向上と、検査結果から製品の良否判定を速やかに行うことができる。
【０１１１】
又、画像処理を検査に必要なポイントのみに選択的に行うことができることから、エリア指定して画像入力し、１視野分全体を画像処理する場合に比べ、大幅に能率向上を図ることができる。
【０１１２】
又、画像処理は視野内の全てのパターン（閉領域）に対して行うのではなく、検査に必要な領域のみを選択して行うことから、処理時間を大幅に短縮することができる。
【０１１３】
又、ＣＡＤデータ上で設定した検査ポイントマーカからなるティーチングデータは、例えば既存の前記光学自動寸法測定器向けにフォーマット変換することにより、既存機の稼働率を向上することもできる。
【０１１４】
以上、本発明について具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【０１１５】
例えば、製品としては、リードフレームに限らず、ＣＡＤで２次元パターンを設計して製造されるエッチング製品であれば、特に制限されない。
【０１１６】
又、マーカ対応点は、検査ポイントマーカから最短距離にある輪郭上の点に限らず、マーカを通る直線が直交する点として求めてもよい。
【０１１７】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、ＣＡＤデータ上に設定した検査ポイントマーカを、必要な検査ポイントを画像入力するためのティーチング情報として利用することができるため、ポイント計測を能率良く、正確に、しかも自動的に行うことができる。
【０１１８】
又、ＣＡＤデータに設定した検査ポイントマーカと画像入力した対応する検査ポイントの現物パターンとの比較に基づいて正確に寸法測定が可能であるため、設計上の目標値からの正確な誤差情報を元に検査データを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る一実施形態のＣＡＤシステムの概略構成を示すブロック図
【図２】ＣＡＤシステムのサンプル装着装置、顕微鏡、ＣＣＤカメラを示す斜示図
【図３】ＣＡＤシステムの画像処理装置が有するフレームメモリと、処理機能を示すブロック図
【図４】サンプル別の最適入力プレーンを求めて示す図表
【図５】実施形態の作用全体の流れを示すフローチャート
【図６】カメラとＸＹステージの直交調整時のモニタ画面を示す説明図
【図７】画素当りの寸法と画面送りピッチの算出時のモニタ画面を示す説明図
【図８】画像処理条件の設定の処理手順を示すフローチャート
【図９】サンプルとＸＹステージの直交調整時のモニタ画面を示す説明図
【図１０】試料の直交補正方法を示す説明図
【図１１】ＣＡＤシステムのメニュー画面を例示する説明図
【図１２】ＣＡＤシステムのメニュー画面を例示する他の説明図
【図１３】ＣＡＤシステムのメニュー画面を例示する更に他の説明図
【図１４】アイランドの中心指定の方法の一例を示す説明図
【図１５】検査ポイントマーカの設定方法を示す説明図
【図１６】検査ポイントを画像入力した状態を示す説明図
【図１７】ＣＡＤ座標系を視野座標系に変換する方法を示す説明図
【図１８】閉領域の選択と最短距離点の決定方法を示す説明図
【図１９】最短距離点のＣＡＤ座標系への逆変換した状態を示す説明図
【図２０】ボンディング位置ズレのグラフ表示例を示す説明図
【図２１】ボンディング位置ズレのグラフ表示例を示す他の説明図
【図２２】リードフレームの一例を示す平面図
【図２３】リードフレームの製造過程を概念的に示す説明図
【符号の説明】
３０…サンプル装着装置
３２…光学顕微鏡
３４…ＣＣＤカメラ
３６…画像処理装置
３８…ＴＶモニタ
４０…ワークステーション（ＥＷＳ）
４２…回転ステージ
４４…ＸＹステージ
４４Ａ…Ｘステージ
４４Ｂ…Ｙステージ
４６…Ｚステージ
４８…ＸＹステージコントローラ
５０…オートフォーカスコントローラ
５２…レーザスケールカウンタ
５４Ａ…Ｘ駆動モータ
５４Ｂ…Ｙ駆動モータ
５４Ｃ…Ｚ駆動モータ
５６Ａ、５６Ｂ…スケールパターン
５８Ａ…Ｘ位置検出器
５８Ｂ…Ｙ位置検出器
６０…透過光源ユニット
６０Ａ…透過光源スイッチ
６０Ｂ…光量調整ボリューム
６２…落射光源ユニット
６２Ａ…落射光源スイッチ
６２Ｂ…光量調整ボリューム
【図１】
0003589512.tif 000004
【図２】
0003589512.tif 000005
【図３】
0003589512.tif 000006
【図４】
0003589512.tif 000007
【図５】
0003589512.tif 000008
【図６】
0003589512.tif 000009
【図７】
0003589512.tif 000010
【図８】
0003589512.tif 000011
【図９】
0003589512.tif 000012
【図１０】
0003589512.tif 000013
【図１１】
0003589512.tif 000014
【図１２】
0003589512.tif 000015
【図１３】
0003589512.tif 000016
【図１４】
0003589512.tif 000017
【図１５】
0003589512.tif 000018
【図１６】
0003589512.tif 000019
【図１７】
0003589512.tif 000020
【図１８】
0003589512.tif 000021
【図１９】
0003589512.tif 000022
【図２０】
0003589512.tif 000023
【図２１】
0003589512.tif 000024
【図２２】
0003589512.tif 000025
【図２３】
0003589512.tif 000026