(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを発光するレーザダイオードと、
前記レーザダイオードの発光パワーの調整をしながら媒体に試し書きを行い、その再生結果により最適記録パワーを決定すると共に、前記隣接トラック確認部の試し書きに使用する記録パワーの初期値を前記最適記録パワーに基づいて設定する記録パワー調整部と、
前記記録パワー調整部で設定した前記記録パワーの初期値による前記レーザダイオードの発光駆動で少なくとも隣接する２トラックに第１テストパターンと第２テストパターンを順番に試し書きした後に先に第１テストパターンを試し書きした隣接トラックを再生してデータ破壊の有無を確認する隣接トラック確認部と、
データ破壊がなかった場合に前記所定の記録パワーに基づく最適記録パワーの設定を行う設定部と、
を少なくとも備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、媒体の隣接する複数トラックに第１テストパターン試し書きし、次に前記複数トラックの中の同一トラックの同一位置に第２テストパターンを試し書きした後に先に試し書きした隣接トラック位置を再生してデータ破壊を確認することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項３】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、媒体の最内周又は最外周に存在するユーザ未使用領域の一部で試し書きして隣接トラックのデータ破壊の有無を判断することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項４】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、前記記録パワー調整部で決定した最適記録パワーより高めの記録パワー初期値を設定して試し書きすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項５】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記記録パワー調整部は、前記レーザダイオードの記録パワーを段階的に徐々に低下させながら所定のテストパターンを所定領域に試し書きを行い、再生したものと元のテストパターンと比較してデータの不一致個数を計数し、該不一致個数が所定の閾値を超える記録パワーを下限記録パワーとして検出し、該下限記録パワーに所定のオフセットを加算した値を最適記録パワーに決定することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項６】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの再生確認が正常に終了後に、試し書きした全トラックを初期化記録（イレーズ）することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項７】
請求項１の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックから再生したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規定値以上であることを検出してデータ破壊と判断することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項８】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの記録データと再生データを比較し、ビット誤り個数が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項９】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１０】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、試し書きにより隣接トラックのデータ破壊を判断した場合は、所定の記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させながら試し書きを繰り返して隣接トラックのデータが破壊されない記録パワーを求めることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１１】
請求項１０記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、媒体上での位置を変えながら２回目以降の試し書きにより隣接トラックのデータ破壊の有無を確認することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１２】
請求項１０記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、前記記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返しても隣接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の異なる位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処理を最初からやり直すことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１３】
請求項１２記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、記録パワーを求める処理を最初からやり直す際に、最適フォーカス点をサーチして自動焦点制御のオフセット値を最適化した後にやり直すことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１４】
請求項１３記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出されたトラッキングエラー信号が最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォーカス点とすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１５】
請求項１１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出されたＲＦ再生信号の最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォーカス点とすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１６】
請求項１３記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光を電気信号に変換する４分割ディテクタの総和信号が最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォーカス点とすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１７】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、媒体のテスト領域の全トラックに、前記第１テストパターンとして最長マーク長パターンを試し書きすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１８】
請求項１７記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、前記最長マーク長パターンの試し書きが済んだ媒体のテスト領域の特定トラックの特定セクタ位置を指定して、前記第２テストパターンとして最短マーク長パターンを試し書きすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項１９】
請求項１７記載の光学的記憶装置に於いて、前記隣接トラック確認部は、前記最長マーク長パターンの試し書きが済んだ媒体のテスト領域の特定トラックの特定セクタ位置を指定して、前記第２テストパターンとして装置動作上の最高パワーを初期値としたＤＣ発光パターンにより試し書きすることを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２０】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記設定部は、装置内温度変化が規定値以上の時に、試し書きして記録パワーを再設定することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２１】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記設定部は、前回の試し書きからの経過時間を監視し、所定の試し書き有効時間経過後に試し書きにより記録パワーを再設定することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２２】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記設定部は、上位からの指示によって試し書きして記録パワーを再設定することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２３】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記設定部は、試し書きする媒体の位置を毎回変えながら行われた試し書きにより記録パワーを再設定することを特徴とする光学的記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＭＯカートリッジ等の書替え可能な媒体を用いた光学的記憶装置に関し、特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発光パワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクは、近年急速に発展するマルチメディアの中核となる記憶媒体として注目されており、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあっては、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体も提供されつつある。このため、光ディスクドライブとしては、現在入手できる１８０ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢといった全ての媒体を使用できることが望まれる。
【０００３】
ところで、光ディスクドライブに使用するＭＯカートリッジにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角速度記録）を採用している。ＭＯ媒体のゾーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０ＭＢ媒体では１０ゾーンとなっているが、近年実用化された５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度のＰＷＭ記録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラックピッチが狭くなり、ゾーン数も増加している。
【０００４】
即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンと少ないが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーンとなっている。通常、ＭＯカートリッジを使用する光ディスク媒体の場合、媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローディングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記録パワーに調整する発光調整を行っている。
【０００５】
また従来の１２８ＭＢや２３０ＭＢ媒体は、ピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階の変化でよい。これに対し５４０ＭＢや６４０ＭＢのＰＷＭ媒体では、記録密度を高めるためにパルストレインによる記録を採用している。パルストレイン記録では、発光パワーを、イレーズパワー、第１ライトパワー、及び第２ライトパワーの３段階に変化させている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスク媒体の高密度化を実現するためにトラック間ピッチを狭めた場合、隣接トラックに対して熱伝導が起こりやすくなるため、レーザダイオードによる試し書きによって最適な記録パワーを決めていても、目的トラックに対する記録は適切にできるが、隣接トラックを消去してしまったり、隣接トラックのデータが漏れ込んでしまう等の問題が発生する可能性が考えられる。
【０００７】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので、記録時の隣接するトラックへの漏れ込みによるデータ破壊を起すことのなく最適な記録パワーを設定できるようにした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
図１は本発明の原理説明図である。
本発明の光学的記憶装置は、図１（Ａ）のように、ビーム光を発光するレーザダイオードを有し、隣接トラック確認部２０５により、所定の発光パワーによるレーザダイオードの発光駆動で、少なくとも隣接する２トラックに第１テストパターンと第２テストパターンを順番に試し書きした後に、先に第１テストパターンを試し書きした隣接トラックを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きした発光パワーを記録パワーとすることを特徴とする。
【０００９】
また本発明の変形にあっては、隣接トラック確認部２０５により、所定の発光パワーによるレーザダイオードの発光駆動で少なくとも隣接する３トラックの中央のトラックに第１テストパターンを、両側の２トラックに第２テストパターンを順番に試し書きした後に、先に第１テストパターンの試し書きした隣接トラックを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きした発光パワーを記録パワーとしてもよい。
【００１０】
このような本発明の光学的記憶装置によれば、記録パワーが決定された後に、決定された記録パワーで試し書きを行って隣接トラックのデータ破壊がないことを確認して初めて実際の媒体記録に使用する有効な記録パワーとして設定され、トラック間隔を狭めて高密度化した媒体であっても、設定された記録パワーにより隣接トラックのデータを破壊したり、隣接トラックからのデータの漏れ込みを受けることなく、最適な記録が実現できる。
【００１１】
隣接トラック確認部２０５は、図１（Ｂ）のように、テストライト領域２４０を最初に第１テストパターンで試し書きし、次のその中の特定トラックの同一位置２４２を予め定めた回数だけ第２テストパターンで試し書きした後に、先に第１テストパターンを試し書きした隣接トラック位置２４４を再生してデータ破壊を確認する。隣接トラック確認部２０５は、媒体の最内周又は最外周に存在するユーザ未使用領域の一部で試し書きによる隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する。したがって、最適パワーを決定する試し書きを行ってもユーザデータは保証される。
【００１２】
更に、発光ダイオードの発光パワーの調整により最適記録パワーを決定して隣接トラック確認部２０５の試し書きに使用する記録パワー初期値を決定する記録パワー調整部２０４を設ける。隣接トラック確認部２０５は、記録パワー調整部で決定した最適記録パワーそのものを初期値として試し書きしてもよいし、最適記録パワーよりも高めの記録パワーを初期値として試し書きしてもよい。
【００１３】
記録パワー調整部２０４は、発光ダイオードの発光パワーを調整して媒体に試し書きしながら最適記録パワーを決定する、即ち、記録パワー調整部２０４は、レーザダイオードの記録パワーを段階的に徐々に低下させながら所定のテストパターンを媒体に試し書きした後に再生して元のテストパターンと比較してデータの不一致個数を計数し、この不一致個数が所定の閾値を超える記録パワーを下限記録パワーとして検出し、下限記録パワーに所定のオフセットを加算した値を最適記録パワーに決定する。
【００１４】
隣接トラック確認部２０５は、隣接トラックの再生確認が正常に終了した場合、テストライト領域２４０を初期化記録（イレーズ）する。
隣接トラック確認部２０５は、隣接トラックのデータ破壊の判断としては次のいずれかとする。
▲１▼隣接トラックから再生したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規定値以上であることを検出してデータ破壊と判断する。
【００１５】
▲２▼隣接トラックの記録データと再生データを比較し、ビット誤り個数が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断する。
▲３▼隣接トラックの再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断する。
隣接トラック確認部２０５は、試し書きにより隣接トラックのデータ破壊を確認した場合は、所定の記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させながら試し書きを繰り返して隣接トラックのデータが破壊されない記録パワーを求める。この場合、隣接トラック確認部２０５は、媒体上での位置を変えながら２回目以降の試し書きにより隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する。
【００１６】
隣接トラック確認部２０５は、記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返しても隣接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の異なる位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処理を最初からやり直す。このとき、隣接トラック確認部は、最適フォーカス点をサーチして自動焦点制御のオフセット値（目標値）を最適化した後にやり直す。
【００１７】
最適フォーカス点のサーチは次のいずれかとする。
▲１▼対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出されたトラッキングエラー信号が最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォーカス点とする。
▲２▼対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出されたＲＦ再生信号の最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォーカス点とする。
【００１８】
▲３▼対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光を電気信号に変換する４分割ディテクタの総和信号が最大となるレンズ位置をを与えるオフセット値最適フォーカス点とする。
隣接トラック確認部２０５は、媒体のテストライト領域２４０の全トラックに、第１テストパターンとして最長マーク長パターンを最初に試し書きする。このテストライト領域２４０の全トラックに対する最長マーク長パターンの試し書きが済んだら、トラックＴ１の特定セクタ２４２を指定して第２テストパターンとして最短マーク長パターンを規定回数試し書きし、その後に隣接セクタ２４４の最長マーク長記録パターンを再生してデータ破壊の有無を判断する。
【００１９】
また第２テストパターンとしては、最短マーク長パターンの代わりに装置動作上の最高パワーを初期値としたＤＣ発光パターンを使用して規定回数の試し書きを行い、その後に隣接トラックの最長マーク長記録パターンを再生してデータ破壊の有無を判断してもよい。
このような相関の小さい最長マーク長パターンと最短マーク長パターンを隣接した２つのトラックに試し書きすることで、隣接トラックにおけるデータ破壊の有無の確認が少ないデータ量で効率良くできる。
【００２０】
隣接トラック確認部２０５による試し書きによる記録パワーの設定タイミングは、次のようになる。
▲１▼装置温度により媒体の最適記録パワーが変化することから、装置の環境温度変化が規定値以上の時に、試し書きして記録パワーを再設定する。
▲２▼装置の使用時間の増加に伴って最適な記録パワーがずれてくる可能性があるため、前回の試し書きからの経過時間を監視し、所定の試し書き有効時間経過後に再度試し書きして記録パワーを再設定する。
【００２１】
▲３▼上位装置からのアクセスに対しオーバタイム等のエラーが発生した場合に対処するため、上位装置からのコマンド指示によって試し書きして記録パワーを再設定する。
更に、隣接トラック確認部２０５は、▲１▼〜▲３▼のタイミングで記録パワーの調整を実行する際には、試し書きする媒体の位置を毎回変えながら、試し書きにより記録パワーを再設定する。
【００２２】
【発明の実施の形態】
＜目  次＞
１．装置構成
２．発光調整
３．最適ライトパワー調整
４．隣接トラック確認処理
１．装置構成
図２は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成される。コントローラ１０には光ディスクドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド及びデータのやり取りを行なうインタフェースコントローラ１６、光ディスク媒体へのライトデータのフォーマット処理とリードデータに対するＥＣＣ処理を行うフォーマッタ１８、ＭＰＵ１４，インタフェースコントローラ１６及びフォーマッタ１８で共用されるバッファメモリ２０を備える。
【００２３】
フォーマッタ１８に対してはライト系統としてエンコーダ２２とレーザダイオード制御回路２４が設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力はエンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダイオードユニット３０に与えられている。レーザダイオードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光素子を一体に備える。
【００２４】
レーザダイオードユニット３０を使用して記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカートリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのいずれかを使用することができる。このうち１２８ＭＢ及び２３０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、媒体上のマークの有無に対応してデータを記録するピットポジション記録（ＰＰＭ記録）を採用している。また媒体の記録フォーマットは、ＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾーン、２３０ＭＢは１０ゾーンである。
【００２５】
一方、高密度記録となる５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパルス幅記録  （ＰＷＭ記録）を採用している。ここで、６４０ＭＢと５４０ＭＢの記憶容量の差はセクタ容量の違いによるもので、セクタ容量が２ＫＢのとき６４０ＭＢとなり、一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢとなる。また媒体の記録フォーマットはＺＣＡＶであり、６４０ＭＢは１１ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
【００２６】
このように本発明の光ディスクドライブは、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ５４０ＭＢまたは６４０ＭＢの各記憶容量のＭＯカートリッジに対応可能である。したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジをローディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰＰＭ記録に対応したフォーマット処理を行い、５４０ＭＢまたは６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従ったフォーマット処理を行うことになる。
【００２７】
フォーマッタ１８に対するリード系統としては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられる。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されている。
【００２８】
リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬＬ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０による媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用していることから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われている。
【００２９】
ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種別に応じ、１２８ＭＢ及び２３０ＭＢについてはＰＰＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられる。一方、５４０及び６４０ＭＢの媒体については、ＰＷＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられる。
ＭＰＵ１４に対しては、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路２４におけるリード、ライト、イレーズの各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１４は、ドライバ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピンドルモータ４０を制御する。
【００３０】
ＭＯカートリッジの記録フォーマットはＺＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば３６００ｒｐｍの一定速度で回転させる。またＭＰＵ１４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設けた電磁石４４を制御する。電磁石４４は装置内にローディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁界を供給する。
【００３１】
ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオード３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光する４分割ディテクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー信号検出回路）４８が、４分割ディテクタ４６の受光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５に入力している。ここで４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、フォーカスエラー信号Ｅ１は、
Ｅ１＝（Ｅａ＋Ｅｃ）−（Ｅｂ＋Ｅｄ）
として検出される。
【００３２】
このフォーカスエラー信号Ｅ１は、ＤＳＰ１５に与えられ、ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部でフォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするフォーカスアクチュエータ５６のフィードバック制御が行われる。ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部は、制御ループをオフした状態で対物レンズの位置を順次移動しながら最適フォーカス点となるオフセット値（目標値）求め、この最適フォーカス点のオフセット値を自動焦点制御ループに設定し、オフセット値で決まる位対物レンズの位置（最適フォーカス点）を基準にフォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするようにフィードバック制御される。この最適フォーカス点ヲ与えるオフセット値の決めとしては、トラッキングエラー信号Ｅ２が最大となるレンズ位置、ＲＦ再生信号が最大となるレンズ位置、及び４分割ディテクタ４６の総和信号が最大となるレンズ位置の３つがある。
【００３３】
ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信号検出回路）５０は、４分割ディテクタ４６の受光出力からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５に入力している。即ち、トラッキングエラー信号Ｅ２は、４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、
Ｅ２＝（Ｅａ＋Ｅｂ）−（Ｅｃ＋Ｅｄ）
となる。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に入力している。
【００３４】
更にエンクロージャ１２側には、媒体に対しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力している。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆動している。
【００３５】
ここで光ディスクドライブにおけるエンクロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレットドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入することで、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００３６】
ローディングされたＭＯカートリッジ７０のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けられている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからのビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の媒体面にビームスポットを結像している。
【００３７】
対物レンズ８０は図２のエンクロージャ１２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０により媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラックの範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。
２，ＬＤ発光調整
図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオード制御回路２４の回路ブロック図である。図４において、レーザダイオードユニット３０にはレーザダイオード１００とモニタフォトダイオード１０２が一体に設けられている。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖｃｃにより駆動電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレーザビームを生成して媒体面に照射して記録再生を行う。
【００３８】
モニタフォトダイオード１０２はレーザダイオード１００からの光の一部を入射し、レーザダイオード１００の発光パワーに比例した受光電流Ｉ０  を出力する。レーザダイオード１００に対しては、リードパワー電流源１０４、イレーズパワー電流源１０６、第１ライトパワー電流源１０８、第２ライトパワー電流源１１０が並列接続されており、それぞれリードパワー電流Ｉ０  、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を流すようにしている。
【００３９】
即ち、リードパワー発光時にはリードパワー電流Ｉ０  が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパワー電流Ｉ０  にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流（Ｉ０  ＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ０  ＋Ｉ１＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ０  及びイレーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ０  ＋Ｉ１＋Ｉ３）が流れる。
【００４０】
リードパワー電流源１０４に対しては、自動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設けられている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジスタ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパワーが設定されている。
イレーズパワー電流源１０６に対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジスタ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１電流ＤＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ１４４が設けられる。
【００４１】
このため各電流源１０４，１０６，１０８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットすることで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成されている。
ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオード１０２の受光電流ｉ０  から得られたモニタ電流ｉｍ  が目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に一致するようにフィードバック制御を行う。このためモニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパワー相当のモニタ電流ｉｍ  をＡＰＣに帰還するため、差引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
【００４２】
イレーズパワー用差引電流源１１２に対しては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定することができる。
【００４３】
この３つの差引電流源ｉ１，ｉ２，ｉ３の発光モードにおけるモニタ電流ｉｍ  は次のようになる。
▲１▼リード発光時          ；ｉｍ  ＝ｉ０
▲２▼イレーズ発光時        ；ｉｍ  ＝ｉ０  −ｉ１
▲３▼第１ライトパワー発光時；ｉｍ  ＝ｉ０  −（ｉ１＋ｉ２）
▲４▼第２ライトパワー発光時；ｉｍ  ＝ｉ０  −（ｉ１＋ｉ３）
したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあっても、対応する差引電流を受光電流ｉ０  から引くことで、モニタ電流ｉｍ  はリードパワー相当の電流としてモニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還される。
【００４４】
このためＡＰＣ１３８は発光パワーの如何に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定のイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーの自動パワー制御が実現される。この差引電流についても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引電流源回路が構成されている。
【００４５】
モニタ電流ｉｍ  に対応したモニタ電圧検出抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉｍ  の測定部を構成する。
【００４６】
図５は図４のレーザダイオード制御回路２４におけるＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイムチャートである。いま図５（Ａ）のライトゲートに同期して図５（Ｂ）のライトデータが与えられたとすると、図５（Ｃ）のライトクロックに同期してライトデータは図５（Ｄ）のパルス幅データに変換される。このパルス幅データに基づき、図５（Ｅ）のように消去パルスが生成され、更に図５（Ｆ）のように第１ライトパルスが生成される。更に図５（Ｇ）の第２ライトパルスが生成される。
【００４７】
この第２ライトパルスは図５（Ｄ）のパルス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次のパルス幅データは３クロックである。これに対応して図５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライトパルスに続いて先頭データの４クロック幅については２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルスであり、３番目の３クロック幅については１パルスを発生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしている。
【００４８】
図５（Ｈ）は図５（Ｅ）（Ｆ）及び（Ｇ）の消去パルス、第１ライトパルス及び第２ライトパルスに基づいた発光電流とパワーであり、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのオーバライト媒体でのＰＷＭ記録を例にとっている。まずリード電流は常時流してリードパワーＲＰでＤＣ発光させている。このため、消去パルスに同期して発光電流（Ｉ０  ＋Ｉ１）が流れ、これによってイレーズパワーＥＰ分アップとなり、第１ライトパルスのタイミングで発光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷＰ１分アップとなり、更に第２ライトパルスのタイミングで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ０  ＋Ｉ１＋Ｉ３）となって第２ライトパワーＷＰ２分アップする。
【００４９】
この図５（Ｈ）の発光電流に同期して、図５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１１４，１１６に流れる。即ち、イレーズパワーＥＰ分のアップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライトパワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライトパワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
【００５０】
このため図５（Ｊ）のモニタ電流ｉｍ  は、図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電流ｉ０  から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値となり、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。
尚、１２８ＭＢ及び２３０ＭＢのオーバライト媒体のＰＷＭ記録にあっては、図５（Ｈ）における（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）がイレーズパワーとなり、また（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）がライトパワーとなる。更に、（ＲＰ＋ＥＰ）はアシストパワーとして図５（Ｅ）の消去パルスに同期して発光され、イレーズパワー及びライトパワーへの立ち上げを高速にできるようにしている。
【００５１】
図６はＰＰＭ媒体の記録時の信号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイミングチャートである。図６（Ａ）のライトゲートに同期して図６（Ｂ）のライトデータが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライトクロックに同期して図６  （Ｄ）のピットエッジパルスが生成される。このピットエッジパルスに対応して、図６（Ｅ）の消去パルスと図６（Ｆ）の第１ライトパルスが作られる。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第２ライトパルスは使用されない。
【００５２】
このような消去パルス及び第１ライトパルスによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオードに流すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録にあっては、消去パワーはリードパワーＲＰと同じであることから、消去パルスのタイミングであってもリードパワー電流Ｉ０  によるリードパワーＲＰによる発光が維持される。第１ライトパルスのタイミングでは発光電流が（Ｉ１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１分にイレーズパワーＥＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）のモニタ電流ｉｍ  は常にリードパワーの受光電流相当に維持される。
３．記録パワー調整
図７は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実現されるレーザダイオードによる記録パワー（ライトパワーとイレーズパワー）を最適値に設定するための記録パワー調整機能の機能ブロック図である。
【００５３】
図７において、ＭＰＵ１４によって記録パワー調整部２００が構成され、記録パワー調整部２００には調整タイミング判定部２０２、発光パワー調整部２０４、隣接トラック確認部２０５、及びパワーテーブル作成部２０６が設けられている。記録パワー調整部２００に対しては、レジスタ２０８によって装置内温度が入力される。また記録パワー調整部２００に対してはパワーテーブル格納部２１０が設けられる。
【００５４】
パワーテーブル格納部２１０にはデフォルトイレーズパワーテーブル２１２、デフォルトライトパワーテーブル２１４及び温度補正係数テーブル２１６が設けられる。例えばデフォルトイレーズパワーテーブル２１２としては、図８のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応してデフォルトイレーズパワーが３．０〜４．５ｍＷとして格納されている。
【００５５】
またデフォルトライトパワーテーブル２１４は、図９のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応してデフォルトライトパワー＝６．０〜１１．０ｍＷが格納されている。更に温度補正係数テーブル２１６は図１０のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応して温度補正係数Ｋｔ＝−０．１．〜０．１０が格納されている。尚、図１０の温度補正係数テーブル２１６の温度補正係数Ｋｔは、装置内温度Ｔ＝２５℃の場合の値である。
【００５６】
パワーテーブル格納部２１０には、更にイレーズパワーテーブル２１８、第１ライトパワーテーブル２２０及び第２ライトパワーテーブル２２２が設けられている。このため記録パワー調整部２００で決定された最適ライトパワーを与えるデフォルト倍率をゾーン番号に対応するデフォルトイレーズパワーテーブル２１２、デフォルトライトパワーテーブル２１４に掛け合わせることで、イレーズパワーテーブル２１８及び第１ライトパワーテーブル２２０の各パワーを算出して登録することができる。
また第２ライトパワーテーブル２２２については、予め第１ライトパワーを基準とした規定のパワー比率が定まっていることから、デフォルトライトパワーテーブル２１４からゾーン番号に対応して求めた第１ライトパワーに規定のパワー比率を乗ずることで、第２ライトパワーを得ることができる。更にイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーのそれぞれについては、そのときの装置内温度Ｔに基づいた温度補正係数テーブル２１６の温度補正係数を用いた温度補正された値を使用する。
【００５７】
このような記録パワー調整部２００で決定された最適ライトパワーのデフォルト値を用いたイレーズパワーテーブル２１８、第１ライトテーブル２２０及び第２ライトパワーテーブル２２２の作成は、パワーテーブル作成部２０６により行われる。
パワーテーブル格納部２１０に対してはパワー設定処理部２２４が設けられる。パワー設定処理部２２４は最適ライトパワーの調整が終了した後に上位装置からのアクセスを受けた際、レジスタ群２２６に示される装置内温度、媒体種別、ライトまたはイレーズのアクセスモード、更にアクセストラックを示すゾーン番号に基づいて、レーザダイオードの発光制御による各種のパワー設定を行う。
【００５８】
このパワー設定の際にパワー設定処理部２２４は、装置内温度、媒体種別、ライトまたはイレーズのアクセスモード、更にゾーン番号によって、パワーテーブル格納部２１０のイレーズパワーテーブル２１８、第１ライトパワーテーブル２２０、第２ライトパワーテーブル２２２及び温度補正係数テーブル２１６を参照し、テーブルから検索されたデータに基づいて、図４に示したレーザダイオード制御回路２４の各レジスタに対する電流指示値を算出して出力する。
【００５９】
記録パワー調整部２００に設けた調整タイミング判定部２０２は、発光パワー調整部２０４による記録パワー調整タイミングを判定して起動する。調整タイミング判定部２０２は、光ディスクドライブに媒体がローディングされた直後は記録パワーの調整処理を起動せず、光ディスクドライブの初期化処理が終了して上位装置から最初のライトコマンドが発行された際に、これを判断して記録パワー調整部２０４を起動して媒体試し書きを伴う最初の発光パワー調整処理を行わせ、続いて隣接トラック確認部２０５を起動して決定された記録パワーによる試し書きで隣接トラックのデータ破壊の有無を確認させる。
【００６０】
一度、発光パワー調整部２０４及び隣接トラック確認部２０５による記録パワー調整処理が終了すると、その後はライトパワー調整結果の有効時間を算出し、調整終了からの経過時間が算出した有効時間に達したとき、次の記録パワー調整のため発光パワー調整部２０４及び隣接トラック確認部２０５の処理を順次起動する。また経過時間が有効時間に達するまでの間、レジスタ２０８から入力する装置内温度Ｔが例えば±３℃を超えたときには、強制的に発光パワー調整部２０４及び隣接トラック確認部２０５の起動による記録パワー調整を行わせる。
【００６１】
記録パワー調整部２０４はローディングされた媒体のユーザ未使用領域の任意のテストライト領域を指定し、予め定めたテストパターンを媒体にライトパワーを段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読み出して、元のテストパターンと比較してデータの不一致個数を計数する処理を繰り返す。この試し書き処理において、計数された不一致個数が予め定めた最大数例えば１０００個を超えるときのライトパワーを限界ライトパワーとして検出する。
【００６２】
このようにライトパワーを段階的に低下させながら限界ライトパワーを検出したならば、この限界ライトパワーに所定のオフセットを加算した値を最適ライトパワーと決定する。発光パワー調整部２０４におけるライトパワーの設定は、そのときのライトパワーデフォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行われる。したがって限界ライトパワーも、限界ライトパワーを示すデフォルト比率として検出され、これに所定のオフセット比を加算した値を最適ライトパワーのデフォルト比として決定することになる。
【００６３】
隣接トラック確認部２０５は、発光パワー調整部２０４で決定されたライトパワーおよびイレーズパワーを使用したレーザダイオードの発光駆動で媒体のテストライト領域での試し書きを行った後に、隣接トラックを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きし使用したライトパワー及びイレーズパワーを最適記録パワーとする。
【００６４】
即ち、記録パワーが決定された後に、決定された記録パワーで試し書きを行って隣接トラックのデータ破壊がないことを確認して始めて実際の媒体記録に使用する有効な記録パワーとして設定する。このためトラック間隔を狭めて高密度化した５４０ＭＢや６４０ＭＢの高密度記録の媒体であっても、設定された記録パワーにより隣接トラックのデータを破壊したり、隣接トラックからのデータの間り込みを受けることなく、最適な記録が実現できる。
【００６５】
隣接トラック確認部２０５の処理手順は、
▲１▼テストライト領域の全トラックに第１テストパターンを試し書き：
▲２▼テストライト領域の特定トラックの特定セクタ位置に第２テストパターンを規定回数回数例書き；
▲３▼第２テストパターンを試し書きしたセクタの隣接セクタを再生してデータ破壊の有無を確認：
とする。また隣接トラック確認処理が正常に終了したら、テストライト領域を初期化記録（イレーズ）しておく。
【００６６】
隣接トラック確認部２０５による隣接トラックのデータ破壊の判断としては、再生したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規定値以上であること、再生データを元の記録データ比較しテビット誤り個数が規定値以上に増加したこと、或いは、再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断する。
【００６７】
更に、隣接トラック確認部２０５は、試し書きにより隣接トラックのデータ破壊を確認した場合は、発光パワー調整部２０４での試し書きで求めた記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返しながら隣接トラックのデータが破壊されない記録パワーを求める。この場合、媒体上での確認位置を変えながら２回目以降の試し書きにより隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する。
【００６８】
隣接トラック確認部２０５は、記録下限パワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返しても隣接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の異なる位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処理を最初からやり直す。このとき、隣接トラック確認部２０５は最適フォーカス点検出部２０７を起動し、最適フォーカス点をサーチして自動焦点制御の目標値を与えるオフセット値を最適化した後にやり直す。
【００６９】
隣接トラック確認部２０５の試し書きに使用する第１テストパターンとしては例えば最長マーク長パターンを使用し、第２テストパターンとして最長マーク長パターンに対し相関の小さい最短マーク長パターンを使用し、これによって隣接トラックでのデータ破壊の有無の確認が少ないデータ量で効率良くできるようにする。また第２テストパターンとしては、装置動作上の最高パワーを初期値としたＤＣ発光パターンを使用してもよい。
【００７０】
次に、図７の発光パワー調整部２００による最適ライトパワーを決定するための調整処理の詳細をフローチャートを参照して説明する。
図１１は本発明の光ディスクドライブに媒体をローディングした際のディスク起動処理である。本発明の光ディスクドライブとして使用する媒体には、ＰＰＭ記録媒体である１２８ＭＢ媒体と２３０ＭＢ媒体、及びＰＷＭ記録媒体である５４０ＭＢ媒体と６４０ＭＢ媒体の４種類がある。図１１において、ステップＳ１で媒体のロードを行って、図３に示したようにスピンドルモータ４０にセットして一定速度で回転する。
【００７１】
続いてステップＳ２で、発光調整要求フラグＦＬをセットする。更にステップＳ３で現在時刻を初期化し、ステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出して、起動時の記録パワーの調整に必要な処理を終了する。またディスク起動処理にあっては、この記録パワー決定のための準備処理以外に、図７に示したＬＤ発光処理部１６０の機能によるレーザダイオード制御回路に設けている電流指示用のＤＡＣの各係数テーブルの作成、及び発光パワーのデフォルト値を格納するパワーテーブルの作成が行われ、結果として図８，図９及び図１０に示したデフォルトイレーズパワーテーブル２１２、デフォルトライトパワーテーブル２１４及び温度補正係数テーブル２１６が準備されることになる。
【００７２】
図１２は光ディスクドライブ起動後の発光パワー調整処理のフローチャートである。この発光パワー調整処理にあっては、ステップＳ１で上位装置からの発光調整要求の有無をチェックしており、もし要求があればステップＳ４に進んでテストライトによる調整処理を実行する。通常時にあっては上位装置からの発光調整の要求はないことから、ステップＳ２に進み、調整の必要性を判断する。
【００７３】
この発光調整の必要性の判断は、図７の調整タイミング判定部２０２が行っている。ステップＳ３で発光調整の必要性が判断されると、ステップＳ４に進み、発光パワー調整部２０４が試し書きを実行してライトパワー及びイレーズパワーを決定する。
次にステップＳ５に進み、ステップＳ４で決定したライトパワーとイレースパワーを使用した試し書きにより、隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する処理を行い、隣接トラックにデータ破壊を起さない最適なライトパワーとイレーズパワーを求める。
【００７４】
続いてステップＳ６で現在時刻を更新し、発光調整と隣接トラック確認により最適記録パワーが決定された時刻を保持する。次にステップＳ７で現在温度を更新し、最適記録パワーが決定されたときの装置内温度を保持する。
図１３は図１２のステップＳ３における発光調整の必要性判断処理のフローチャートである。発光調整の必要性判断処理にあっては、まずステップＳ１で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスクドライブの起動から前回の発光調整までの時間Ａを算出する。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め定めた一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数Ｂに変換する。
【００７５】
ステップＳ４にあっては、単位時間数Ｂが８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａが１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。
時間Ａが８０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを３０秒にクリップして、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進む。ステップＳ７では、前回の発光調整で決定されている最適記録パワーの使用を保証する有効時間Ｃを算出する。
【００７６】
この場合、有効時間Ｃは２０秒×２Ｂ  （単位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒にリミットされる。この結果、発光調整で決定された最適記録パワーを保証する有効時間Ｃは、起動から最初の発光調整までの時間Ａが１６０秒未満であれば２Ｂ  に対応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合には、一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
【００７７】
このような有効時間Ｃの算出は、光ディスクドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させている。即ち、媒体をローディングした直後の初期段階にあっては、媒体と装置内の温度の間には差があることから、この段階では装置内温度に基づいた記録パワーの調整は有効にできないことから、起動時には記録パワーの調整は行わない。
【００７８】
ローディングした媒体の温度は１〜２分程度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光ディスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマンドが発行されたタイミングに同期して最初の発光パワー調整を行う。起動後、上位装置からライトコマンドが発行されるタイミングは様々であることから、図４１のステップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初の発光調整までの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の発光調整タイミング判別のための有効時間Ｃを決めるようにしている。
【００７９】
ステップＳ７で有効時間Ｃが算出できたならば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテストライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えたか否か判定する。現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んでテス発光調整フラグをオンし、図１２のステップＳ３にリターンする。
【００８０】
ステップＳ９で現在時刻が有効判定時刻Ｄに達していない場合には、ステップＳ１７で発光調整フラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂが８以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０に進み、現在時刻から前回の発光調整時刻を引いた時間が１時間未満か否かチェックする。１時間未満であればステップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ１２で前回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否かチェックする。３℃以内であれば、ステップＳ１３で発光調整フラグをオフし、発光調整は行わない。
【００８１】
前回温度に対し±３℃の範囲を超える温度変動があった場合には、ステップＳ１４で発光調整フラグをオンし、発光調整を実行する。またステップＳ１０で現在時刻と前回の発光調整時刻との差が１時間以上の場合には、ステップＳ１４で強制的に発光調整フラグをオンして発光調整を実行する。なお、この発光調整必要性判断処理で整定されている各閾値時間は必要に応じて適宜に定めることができる。
【００８２】
図１４は図４０のステップＳ４で行う試し書きを伴う発光調整処理であり、図３５の発光調整部２０４により行われる。まずステップＳ１で装置内温度Ｔを測定する。続いてステップＳ２で、図２のコントローラ１０に設けているバッファメモリ２０上にライトパターン『５９６５９５』と『ＦＥＤＣ，・・・３２１０』の各１６進のテストパターンを生成する。テストパターン『５９６５９５』はエラー発生が最も大きいことが予想される最悪パターンであり、『ＦＥＤＣ，・・・３２１０』は１６進の各ワードの全パターンである。
【００８３】
続いてステップＳ３に進み、試し書きを行うテストライト実行セクタを生成する。テストライト実行セクタは、後の説明で明らかにするように、媒体の非ユーザ領域に定めたテスト領域を指定してセクタアドレスを発生する。次にステップＳ４で、装置内温度からスタートライトパワーＷＰのデフォルト比ＷＰＯを計算する。次にステップＳ５で、デフォルトライトパワー比ＷＰＯにそのときのデフォルトライトパワーＤＷＰを掛け合わせることでライトパワーＷＰを計算する。
【００８４】
次にステップＳ６で、デフォルト比ＷＰＯを用いてイレーズパワーＥＰを計算する。デフォルトイレーズパワーＥＰの計算は、ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯから１．０を引いた値に係数０．７を掛けた値を１に足したイレーズパワーのデフォルト比を用いて、これをデフォルトイレーズパワーＤＥＰに掛け合わせることで、イレーズパワーＥＰを計算する。即ち、ライトパワーに対しイレーズパワーの変動比を抑えるようにしている。
【００８５】
次にステップＳ７で、算出されたライトパワーＷＰとイレーズパワーＥＰを使用して、ステップＳ２でバッファメモリに生成された２種のライトパターンの媒体のテスト領域に対する試し書きのデータライトを行う。このとき媒体が１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ媒体であればＰＰＭ記録を行い、５４０ＭＢ媒体または６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録を行う。
【００８６】
試し書きのデータライトが済んだならば、ステップＳ８でテストパターンのデータリードを行い、ステップＳ９でリードパターンをバッファメモリの元のライトパターンと比較し、データ不一致をワード単位に計数する。ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００未満であれば、ライト低パワー限界点に達していないことからステップＳ１１に進み、ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯを所定値０．０５減少させ、再びステップＳ５に戻り、０．０５だけ減らしたデフォルト比ＷＰＯを用いた発光調整を行う。
【００８７】
このようなライトパワーのデフォルト比ＷＰＯを低下させながら試し書きのデータライトを繰り返し、ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００以上になるとライトパワーが下方の限界点に達したものと判定し、ステップＳ１２で２５℃の下限パワーのデフォルト比（ＷＰＯ−ＥＤＧ）に校正する。
即ち、現在温度から２５℃を差し引いた値に温度補正係数を乗じた値をステップＳ１０で判定したライトパワー下限（ＷＰＯ−ＥＤＧ）に加えて校正する。次にステップＳ１３で、この温度校正値に所定のオフセット比ΔＷＰＯを加算して最適パワーのデフォルト比率ＷＰＯを算出し、ステップＳ１４で、決定された最適ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯに基づいた各ゾーンのライトパワーの設定を行う。
【００８８】
図１５は図１４における発光調整における発光パワーを段階的に低下させたときのデータ不一致数である。まずスタート点２２８のデフォルトライトパワーＤＷＰの設定により発光調整を開始し、スタートデフォルト比１．０から０．０５ずつ減らしながら発光調整を行って不一致数を求める。
ライトパワーＷＰが下限ライトパワーＷＰに近付くと不一致数は増加し、予め定めた閾値例えば１０００回に達したときに下限２３０として検出する。そして、このときの下限３３０における下限ライトパワーＷＰに対応したデフォルト比ＷＰＯ−ｌｉｍｉｔに対し所定のオフセット比ΔＷＰＯを加えることで、最適ライトパワーＷＰを与えるデフォルト比ＷＰ−ｂｅｓｔ  を決定する。
【００８９】
図１６は、図１４のステップＳ１３で限界パワーのデフォルト比に加算するオフセット比ΔＷＰＯの温度Ｔに対する温度補正係数Ｋｔを示している。図１６の温度Ｔに対するオフセット比ΔＷＰＯを補正するための温度補正係数Ｋｔは、温度Ｔ＝２５℃の補正係数Ｋｔ＝１．０とした直線近似の関係式Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂの係数である傾きＡとｙ軸交点Ｂにより定められている。
【００９０】
そこで、そのときの装置内温度Ｔを関係式に代入することで、対応する温度係数Ｋｔの値を求め、これに温度Ｔ＝２５℃で求めているデフォルトオフセット比ΔＷＰＯを掛け合わせることで、最適ライトパワーの算出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることができる。
図１７は、図１４のステップＳ１３で使用するオフセット比ΔＷＰＯのゾーン番号に対するゾーン補正係数Ｋｉの直線近似の関係式である。この関係式はＫｉ＝Ｃ・ｉ＋Ｄで決まり、その係数として傾きＣとｙ軸交点Ｄが準備されている。またゾーン補正係数Ｋｉは中央のゾーン番号ｉ＝６で１．０としていることから、ゾーン番号６におけるデフォルトオフセット比ΔＷＰＯが準備されている。
【００９１】
このため、任意のゾーン番号ｉに対し関係式Ｋｉ＝Ｃ・ｉ＋Ｄからゾーン補正係数Ｋｉを求め、ゾーン番号ｉのデフォルトオフセット比ΔＷＰＯに掛け合わせることで、ステップＳ１３の最適ライトパワーの算出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることができる。
図１８は、媒体７２の領域であり、本発明の発光調整の際の試し書きに使用するテストライト領域として、ユーザ領域２３４に対するインナ側の非ユーザ領域２３６またはアウタ側の非ユーザ領域２３８をパワー調整領域に割り当てる。
【００９２】
図１９（Ａ）（Ｂ）は、図１８のアウタ側の非ユーザ領域２３８であり、非ユーザ領域２３８の中の所定トラックＴ１，Ｔ２，Ｔ３・・・の範囲についてテストライト領域２４０を設定している。このため図１４のステップＳ１にあっては、このテストライト領域２４０の任意のトラックアドレスとセクタ番号を指定して試し書きを行うセクタを指定することになる。
【００９３】
テストライトを行うセクタ指定の方法は、特定のセクタにテストライトが集中することを避けるため、乱数を使用してランダムテストセクタを指定するか、或いは所定の順番にテストセクタを指定する。また発光調整が済んだら、試し書きを行ったテストセクタは、イレーズにより初期化記録しておく。この試し書きを行う媒体のテスト領域については、発光調整により記録パワーを求めた後に行なう隣接トラック確認の際にも同様にして使用される。
４．隣接トラック確認処理
図２０は図１２のステップＳ５における試し書き（テストライト）を伴う隣接トラック確認処理のフローチャートである。まず隣接トラック確認処理に先立ち、ステップＳ１で、図７の隣接トラック確認部２０５に設けている最適フォーカス点検出部２０７によって最適フォーカス点を与えるオフセット値をサーチして自動焦点制御ループに設定する。
【００９４】
この最適フォーカス点検出部２０７の機能は、図２のコントローラ１０に設けているＤＳＰ１５により実行される。即ちＤＳＰ１５は、自動焦点制御ループをオフした状態でフォーカスアクチュエータ５６に対しドライバ５４を介してフォーカスオフセットの値を段階的に増加させながら、そのときのトラッキングエラー信号Ｅ１またはディテクタ３２から検出されるＲＦ再生信号から最適フォーカス点を与えるオフセット値を判定する。具体的には、次の３つのいずれかとする。
【００９５】
▲１▼トラッキングエラー信号Ｅ２が最大となるオフセット値を最適フォーカス点とする。
▲２▼ディテクタ３２からヘッドアンプ３４を介して得られたＭＯ信号またはＩＤ信号のいずれかのＲＦ再生信号の振幅が最大となるオフセット値を最適フォーカス点とする。
【００９６】
▲３▼４分割ディテクタ４６の総和信号（Ｅａ＋Ｅｂ＋Ｅｃ＋Ｅｄ）が最大となるオフセット値を最適フォーカス点とする。
このようにステップＳ１で最適フォーカス点をサーチして求めたオフセット値を自動焦点制御ループにセットして自動焦点制御を行うことで、媒体に対するビームスポットを最適とした状態で隣接トラック確認処理に入る。
【００９７】
ステップＳ２では、図１８の媒体７２の非ユーザ領域、例えば再アウタ側の非ユーザ領域２３８の中に例えば図１９（Ａ）のようにライトテスト領域２４０を設定し、テストライト領域２４０の中の例えば全てのトラックＴ１、Ｔ２，・・・に、斜線のようにセクタ単位に第１テストパターンを、そのとき設定されているライトパワー及びイレーズパワーを含む記録パワーによるレーザダイオードの駆動で書き込む。このときの第１テストパターンは例えば最長マーク長パターンを使用する。
【００９８】
続いてステップＳ３で、確認対象トラックＴ１の隣接トラックＴ２に書き込んだ第１テストパターンをリードして再生信号を確認する。続いてステップＳ４で、確認対象トラックＴ１の特定のセクタ例えばセクタ２４２−１を指定して、現在の記録パワーによるレーザダイオードの発光駆動により、隣接トラックＴ２のセクタ２４４−１の再生データの破壊の有無を確認するために、第２テストパターンを予め定めた規定回数例書きする。このときの第２テストパターンは例えば最短マーク長パターンを使用する。
【００９９】
続いてステップＳ５で、第２テストパターンの規定回数のライトが行われたトラックＴ１のセクタ２４２−１に隣接する隣接トラックＴ２のセクタ２４４−１をリードして、再生信号からデータ破壊があるか否かを判断する。このステップＳ５における再生信号のデータ破壊の判断は、次の３つのいずれかとする。
▲１▼再生したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規定値未満であればデータ破壊がないと判断し、レベル変化が規定値以上であることを検出するとデータ破壊と判断する。
【０１００】
▲２▼記録データと再生データをビット単位に比較し、ビット誤り個数が規定値未満であればデータ破壊はないと判断し、規定値以上に増加していたことを検出した場合にはデータ破壊と判断する。
▲３▼再生データに対する図２のコントローラ１０に設けているフォーマッタ１１８のＥＣＣ回路におけるＥＣＣ誤り訂正数が、例えば訂正可能な規定値未満であればデータ破壊はないと判断し、規定値以上であればデータ破壊と判断する。
【０１０１】
このようなステップＳ５における隣接トラックの再生信号の状態からデータ破壊の有無を判断し、ステップＳ６で隣接トラックのデータ破壊がなかった場合には、図１９（Ａ）のテストライト領域２４０の全トラックをイレーズする初期化記録を行った後、ステップＳ８で、このときの試し書きににより確認できた記録パワーに基づく最適パワーの設定を行う。
【０１０２】
一方、ステップＳ６で隣接トラックの再生データの破壊が判断された場合には、ステップＳ９に進み、図１５に示した発光調整の際に求めたパワー下限２３０以下か否かチェックする。下限パワーより大きければステップＳ１０に戻って、記録パワーを予め定めた所定比率α分だけ減少させた後、確認セクタの位置を例えば図１９（Ａ）のセクタ２４２−２に変更し、ステップＳ４に戻る。
【０１０３】
そして、変更した確認セクタ２４２−２に対し、ステップＳ１０で変更した記録パワーによるレーザダイオードの発光駆動により第２テストパターンを規定回数試し書きし、ステップＳ５，Ｓ６により隣接トラックＴ２の隣接セクタ２４４−２をリードして再生信号のデータ破壊を判断する。そして、隣接トラックの再生信号のデータ破壊が解消されない場合には、ステップＳ９で記録パワーＷＰを下限パワー以下となるまで減少させながら、同じ処理を繰り返す。
【０１０４】
媒体欠陥や特別な異常がなければ、通常はステップＳ１０で記録パワーを所定比率αずつ減少させながら書込対象トラックの確認セクタに対する第２テストパターンの規定回数の試し書きと隣接トラックのセクタ再生信号の確認を繰り返すと、再生信号のデータが破壊されない記録パワーが求まり、ステップＳ７でテストライト領域２４０を初期化記録した後に、ステップＳ８で隣接トラックの再生信号のデータ破壊を起こさなかった記録パワーに基づく最適パワーの設定ができる。
【０１０５】
しかしながら、ステップＳ９で記録パワーを下限パワー以下としても隣接トラックのセクタ再生信号にデータ破壊が起きていた場合には、ステップＳ１２で、ステップＳ１と同様最適フォーカス点のサーチによりオフセット値を再設定し直した後、ステップＳ１３で実行回数が規定値に達するまで、ステップＳ２に戻って最初から隣接トラック確認処理を繰り返す。ステップＳ２からの隣接トラック確認処理の実行回数が規定値に達するまで隣接トラック確認処理を繰り返しても、隣接トラックのデータ破壊が解消できなかった場合には、ステップＳ１３からステップＳ１４に進み、この場合は異常終了とする。
【０１０６】
図１９（Ａ）は、テストライト領域２４０の隣接する２トラック、例えばトラックＴ１，Ｔ２を対象とした第１テストパターンと第２テストパターンの試し書きで再生信号のデータ破壊を起こさなかった記録パワーに基づく最適パワーの設定を行っているが、図１９（Ｂ）のように、テスト領域の中の３トラック、例えばトラックＴ１〜Ｔ３を指定した試し書きによって再生信号のデータ破壊を起こさなかった記録パワーに基づく最適パワーの設定を行ってもよい。
【０１０７】
即ち、図１９（Ｂ）にあっては、所定のイレーズパワーとライトパワーを含む記録パワーによるレーザダイオードの発光駆動で少なくとも隣接する３トラックＴ１，Ｔ２，Ｔ３の中央のトラックＴ２に第１テストパターンを試し書きし、続いて両側の２トラックＴ１，Ｔ３に第２テストパターンを順番に試し書きした後に、先に第１テストパターンの試し書きした隣接トラックＴ２を再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きした記録パワーを最適な記録パワーとする。
【０１０８】
勿論、図１９（Ｂ）についても、図１９（Ａ）と同様、隣接する３トラックＴ１，Ｔ２，Ｔ３の全てに第１テストパターンを試し書きし、続いて両側の２トラックＴ１，Ｔ３の特定セクタに第２テストパターンを順番に試し書きした後に、第２テストパターンの書込みセクタに隣接する先に第１テストパターンを試し書きした隣接トラックＴ２のセクタを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きした記録パワーを最適な記録パワーとしてもよい。
【０１０９】
図２１は図２０の隣接トラック確認処理で使用するテストパターン及びその発光パワーのタイムチャートである。図２１（Ａ）〜（Ｅ）は、最初にテスト領域２４０の全域に試し書きする第１テストパターンのライトデータ、ＰＷＭデータ、第１ライトパルス、第２ライトパルス及び発光パワーを表しており、図２１  （Ｂ）のＰＷＭデータから明らかなように、最長マーク長パターンとしている。
【０１１０】
この最長マーク長パターンは、ライトデータとしてのビットパターンで見ると「１１１１・・・・１１０」となる。図２１（Ｂ）のＰＷＭデータは、図２１  （Ｃ）の第１ライトパルスが１つと、その後ろに図２１（Ｄ）の第２ライトパルスが最長マーク長に応じた数だけ並び、図２１（Ｅ）のような発光パワーによってテストライト領域２４０の全トラックに最初に試し書きされる。
【０１１１】
図２１（Ｆ）〜（Ｊ）は、確認対象トラックの特定セクタに規定回数試し書きする第２テストパターンのライトデータ、ＰＷＭデータ、第１ライトパルス、第２ライトパルス及び発光パワーであり、図２１（Ｇ）のＰＷＭデータから明らかなように、最短マーク長パターンとしている。即ち、ＰＷＭデータは１パターン長の先頭位置に１ビット幅の最短マークを持っており、図２１（Ｆ）のライトデータのビットパターンで表すと「１００００・・・０」となる。
【０１１２】
この最短マーク長パターンのＰＷＭデータの書込みについては、図２１（Ｈ）の第１ライトパルスが１つ生成され、図２１（Ｉ）の第２ライトパルスは出されず、その結果、図２１（Ｊ）の発光パワーのように、基本的には（ＥＰ＋ＰＲ）のイレーズパワーであり、途中に第１ライトパルスに対応した最短マーク長に対応するライトパワーＷＰ１だけアップした部分をもっている。
【０１１３】
また図２１（Ｆ）〜（Ｊ）の第２テストパターンしての最短マーク長パターンにビットパターンとして「１０００・・・０」を使用しているが、マーク長が０となるオール０のビットパターンとしてもよい。このオール０のビットパターンにあっては、確認対象トラックに対する発光パワーは（ＥＰ＋ＰＲ）のイレーズパワーによるＤＣ発光パターンであり、装置の動作上、最高となるイレーズパワーを初期値としたＤＣ発光パターンを使用する。
【０１１４】
このイレーズパワーのＤＣ発光パターンを第２テストパターンとした場合についても、隣接トラックの再生データにデータ破壊があったときには、ステップＳ１０でイレーズパワーを規定比率αずつ減らしながら再生信号のデータ破壊のないイレーズパワーＥＰを求め、ステップＳ８で、求めたイレーズパワーＥＰに対する他の第１ライトパワー、第２ライトパワーの設定を行う。
【０１１５】
また図１９ではライトテスト領域２４０の全域に第１テストパターンとして最長マーク長パターンを最初に試し書きしているが、隣接トラックの確認処理には、少くとも２本の隣接したトラックに第１テストパターンを試し書きし、その後に一方のトラックの特定セクタを確認セクタに指定して第２テストパターンを規定回数試し書きして隣接セクタのデータ破壊を確認してもよい。
【０１１６】
更に、ライトテスト領域２４０の全域に逆に最短マーク長パターンを第１トストパターンとして最初に試し書きし、その後に特定トラックの特定セクタを確認セクタに指定して最長マーク長パターンを第２テストパターンとして規定回数試し書きして隣接セクタのデータ破壊を確認してもよい。
更にまた、図２１はＰＷＭ記録による試し書きを例にとっているが、図６のＰＰＭ記録についても、同様に最長マーク長パターンと最短マーク長パターンを第１及び第２テストパターンとして使用した試し書きにより、隣接トラックのデータ破壊の有無の確認を起ってもよい。
【０１１７】
図２２は、試し書きによる隣接トラックの確認処理が済んだ後に図２０のステップＳ８で最終的に行われる記録パワー設定処理、即ちパワーテーブル作成処理のフローチャートである。パワーテーブル作成処理にあっては、ステップＳ１でゾーンごとのイレーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１のデフォルトパワーテーブルを装置内温度から計算する。
【０１１８】
続いてステップＳ２でゾーン番号ｉのライトパワー（ＷＰ）ｉを設定し、ライトパワー調整に求めた最適デフォルト比ＷＰＯをデフォルトライトパワーＤＷＰｉに掛け合わせ、更に温度補正を行ってライトパワーを算出する。
次にステップＳ３で、ＰＷＭ媒体か否かチェックする。もしＰＷＭ媒体であった場合にはステップＳ４に進み、ゾーン番号ｉのパワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）にステップＳ２で求めた第１ライトパワーに相当するライトパワー（ＷＰ１）ｉを乗じ、第２ライトパワー（ＷＰ２）ｉを算出する。最終的にステップＳ５で、ゾーン番号ｉのイレーズパワー（ＥＰ）ｉを設定する。
【０１１９】
このイレーズパワーの算出にあっては、ライトパワー調整で得られた最適ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯから１．０を引いた値に変動分を抑えるための係数０．７を乗じ、これを１．０に加えてデフォルトイレーズパワーＤＰｉに掛け合わせる。
もちろん、そのときの測定温度による温度補正を施す。このような図２２のパワーテーブル作成処理により、図７のパワーテーブル格納部２１０に示したイレーズパワーテーブル２１８、第１ライトパワーテーブル２２０及び第２ライトパワーテーブル２２２が作成されることになる。
【０１２０】
そして、それ以降の上位装置からのライトアクセスに対しゾーン番号に対応したパワーを読み出し、そのときの装置内温度に従った温度補正を施した後、図４のレーザダイオード制御回路のレジスタに対するＤＡＣ指示値を算出してセットし、レーザダイオード１００の発光制御を行うことになる。
【０１２１】
【発明の効果】
以上説明してきたように本発明によれば、媒体の非ユーザ領域に第１テストパターンを試し書きした後、試し書きで使用した記録パワーもしくはそれより高いパワーにより所定トラックの同一位置に第２テストパターンを規定回数試し書きしてその隣接トラック位置の再生信号からデータ破壊の有無を判断し、データ破壊がなければ適正な記録パワーとして設定し、データ破壊があった場合には記録パワーを下げながら試し書きを行って、隣接トラックにデータ破壊を起こさない適切な記録パワーを設定することができ、媒体のトラック間隔が狭まって高密度化した際の記録パワーの調整を最適化して、隣接トラックのデータを破壊することなく最適な記録を実現することができる。
【０１２２】
また隣接トラックのデータ破壊を試し書きにより判断する際に最適フォーカス点のサーチを取り込むことで、フォーカス点がずれてビームが太くなっていることによる隣接トラックのデータ破壊を最適パワーの設定から区別し、記録パワーの強さによる隣接トラックのデータ破壊の有無の正確な判断ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明による光ディスクドライブのブロック図
【図３】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部構造の説明図
【図４】図２のレーザダイオード制御回路のブロック図
【図５】本発明のＰＷＭ記録における信号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図６】本発明のＰＰＭ記録における信号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図７】図２のＭＰＵで実現される最適ライトパワー調整部の機能ブロック図
【図８】図７のデフォルトイレーズパワーテーブルの説明図
【図９】図７のデフォルトライトパワーテーブルの説明図
【図１０】図７の温度補正係数テーブルの説明図
【図１１】図７の発光パワー調整に先立つディスク起動処理のフローチャート
【図１２】図７の隣接トラック確認を含む記録パワー調整処理のフローチャート
【図１３】図７の記録パワー調整の必要性判断のフローチャート
【図１４】試し書きによる図７の記録パワー調整処理のフローチャート
【図１５】図１４における限界パワーの検出と最適パワーの設定の説明図
【図１６】図１４の限界パワーに加算して最適パワーを求めるオフセット比の温度を補正する温度補正係数の説明図
【図１７】図１４の限界パワーに加算して最適パワーを求めるオフセット比のゾーン位置に対する補正係数の説明図
【図１８】媒体の領域説明図
【図１９】図１８の非ユーザ領域に割り当てられたテストライト領域の説明図
【図２０】図７の隣接トラック確認処理のフローチャート
【図２１】隣接トラック確認処理で使用する第１及び第２テストパターンのタイムチャート
【図２２】最適ライトパワーの調整結果を用いたパワーテーブル設定処理のフローチャート
【符号の説明】
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ
１５：ＤＳＰ
１６：インタフェースコントローラ
１８：フォーマッタ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４６：４分割ディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５２：レンズ位置センサ
５６：フォーカスアクチュエータ
６０：レンズアクチェータ
６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：レーザダイオード（ＬＤ）
１０２：モニタフォトダイオード（ＰＤ）
１０４：リードパワー電流源
１０６：イレーズパワー電流源
１０８：第１ライトパワー電流源
１１０：第２ライトパワー電流源
１１２：イレーズパワー差引電流源
１１４：第１ライトパワー差引電流源
１１６：第２ライトパワー差引電流源
１１８：モニタ電圧検出抵抗
１２０：目標ＤＡレジスタ（目標ＤＡＣレジスタ）
１２２：イレーズパワー電流レジスタ（ＥＰ電流ＤＡＣレジスタ）
１２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流ＤＡＣレジスタ）
１２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ）
１２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引ＤＡＣレジスタ）
１３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ）
１３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ）
１３４：モニタＡＤＣレジスタ
１３６，１４０，１４２，１４４，１４６，１４８，１５０  ：ＤＡコンバータ（ＤＡＣ）
１３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ）
１５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ）
２００：パワー調整部
２０２：調整タイミング判定部
２０４：発光パワー調整部
２０５：隣接トラック確認部
２０６：パワーテーブル作成部
２０７：最適フォーカス点検出部
２１０：パワーテーブル格納部
２１２：デフォルトイレーズパワーテーブル
２１４：デフォルトライトパワーテーブル
２１６：温度補正係数テーブル
２１８：イレーズパワーテーブル
２２０：第１ライトパワーテーブル
２２２：第２ライトパワーテーブル
２２４：パワー設定処理部
２２６：レジスタ群
２２８：開始点
２３０：限界点
２３２：最適点
２３４：ユーザ領域
２３６，２３８：非ユーザ領域
２４０：テストライト領域
２４２−１，２４２−２：確認セクタ位置
２４４−１，２４４−２：隣接セクタ位置
【図１】
0003579214.tif 000002
【図２】
0003579214.tif 000003
【図３】
0003579214.tif 000004
【図４】
0003579214.tif 000005
【図５】
0003579214.tif 000006
【図６】
0003579214.tif 000007
【図７】
0003579214.tif 000008
【図８】
0003579214.tif 000009
【図９】
0003579214.tif 000010
【図１０】
0003579214.tif 000011
【図１１】
0003579214.tif 000012
【図１２】
0003579214.tif 000013
【図１３】
0003579214.tif 000014
【図１４】
0003579214.tif 000015
【図１５】
0003579214.tif 000016
【図１６】
0003579214.tif 000017
【図１７】
0003579214.tif 000018
【図１８】
0003579214.tif 000019
【図１９】
0003579214.tif 000020
【図２０】
0003579214.tif 000021
【図２１】
0003579214.tif 000022
【図２２】
0003579214.tif 000023