(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を持つ光ディスクを記録及び再生する記録及び再生装置でＤＭＡ情報の生成または更新をテストするためのテストモードを行った後、前記ＤＭＡ情報が正常に生成または更新されるかどうかを確認する方法において、
前記生成または更新されるＤＭＡ情報を読み出す段階と、
前記テストモードのために予め定まった基準ＤＭＡ情報を用いて読み出された前記生成または更新されたＤＭＡ情報を確認し、確認の結果を提供する段階とを含む確認方法。
【請求項２】
前記生成または更新されるＤＭＡ情報をＤＭＡミラーファイルの形にて読み出すことを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項３】
前記生成または更新されるＤＭＡ情報をテストディスクのＤＭＡ領域から直接読み出すことを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項４】
前記テストモードは、欠陥の検証を行わない初期化モード及び欠陥の検証を行う初期化モードを持つ第１テストモード、欠陥の検証を行う再初期化モード、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）変換を持つ再初期化モードとＧ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードを持つ第２テストモード、追加余裕空間の拡張の可否を確認する第３テストモード、誤ったＤＭＡ情報を基に記録が行われたかどうかを確認する第４テストモードのうちいずれか一つであることを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項５】
前記方法は、
前記第１テストモードでは、情報を持っていないブランクディスクの所定位置に物理的な欠陥を形成して第１テストディスクを得て使用し、
前記第２テストモードでは、前記第１テストディスク上に予め定まった内容のＤＭＡを記録し、追加余裕空間は使用済みとなった状態の第１ミラーファイルを記録した第２テストディスクを使用し、
前記第３テストモードでは、前記第１テストディスク上に予め定まった内容のＤＭＡを記録し、追加余裕空間が使用済みとなった程度の十分なＳＤＬ欠陥を持っている状態の第２ミラーファイルを記録した第３テストディスクを使用し、
前記第４テストモードでは、第１テストディスク上に予め定まったＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクタの番号が故意に誤って記録された状態を持つ第３ミラーファイルが記録された第４テストディスクを使用することを特徴とする請求項４に記載の確認方法。
【請求項６】
前記確認段階は、前記光ディスク上の複数の位置に記録された複数のＤＭＡが同一のデータを持つかどうかを確認する段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項７】
前記確認段階は、前記ＤＭＡ内のＤＤＳを確認する段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項８】
前記ＤＤＳ確認は、ＤＤＳ識別子、ディスク検証フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ（１次欠陥リスト）更新カウンター、グループの数、地域の数、１次余裕空間の位置、第１番目の論理セクター番号の位置、各地域の開始論理セクター番号の位置などをチェックすることを含むことを特徴とする請求項７に記載の確認方法。
【請求項９】
前記ＤＤＳ識別子のチェックは、前記ＤＤＳ識別子が所定の値であるかどうかをチェックすることを含み、
前記ディスク検証フラグのチェックは所定のテストモードによってディスク検証フラグのうち進行中であるかどうかを表わすビット値と、ディスクメーカの検証を表わすビット値と、使用者検証を表わすビット値をチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターのチェックは所定のテストモードによって前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値と所定のテスト前後の前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの差を表わすＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値をチェックすることを含み、
前記グループ数のチェックは、ディスクタイプによるグループの数をチェックすることを含み、
前記地域数のチェックは、ディスクタイプによる地域数をチェックすることを含み、
前記１次余裕空間の位置チェックは前記１次余裕空間の第１番目のセクター番及び最後のセクター番号をチェックすることを含む請求項８に記載の確認方法。
【請求項１０】
前記ディスク検証フラグのチェックは、
前記ディスク検証フラグのうち進行中であるかどうかを表わすビット位置ｂ７の値が"０ｂ"であるかどうかをチェックし、前記ビット位置ｂ７の値が"０ｂ"であれば、フォーマットが完了したことを表わし、"１ｂ"であれば、フォーマットが進行中であることを表わすため、もし、"１ｂ"であれば、フォーマットに失敗したことを知らせる段階と、
前記ディスク検証フラグのうち予備されているビット位置ｂ６〜ｂ２がいずれも"０ｂ"であるかどうかをチェックする段階と、
前記ディスク検証フラグのうち使用者検証フラグを表わすビット位置ｂ１の値が検証を行わない初期化モードでは"０ｂ"であるかどうかをチェックし、検証を行う初期化モード、検証を行わない再初期化モード及び検証を行う再初期化モードでは"１ｂ"であるかどうかをチェックする段階と、
前記ディスク検証フラグのうちディスクメーカ検証フラグを表わすビット位置ｂ０の値が検証を行わない初期化モード及び検証を行う初期化モードでは"０ｂ"であるかどうかをチェックし、検証を行わない再初期化モード及び検証を行う再初期化モードでは"１ｂ"であるかどうかをチェックする段階とを含む請求項９に記載の確認方法。
【請求項１１】
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターのチェックは、
検証を行わない初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値及びＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"０"であるかどうかをチェックし、検証を行う初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"０"であり、所定のテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの差を表わすＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、検証を行わない再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、検証を行う再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかと、所定のテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの差を表わすＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"２"であるかどうかをチェックすることを特徴とする請求項９に記載の確認方法。
【請求項１２】
前記確認段階は、前記ＤＭＡ内のＰＤＬの構造を確認する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の確認方法。
【請求項１３】
前記ＰＤＬ構造の確認段階は、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックすることを含む請求項１２に記載の確認方法。
【請求項１４】
前記方法は、
前記ＰＤＬ識別子のチェックは、前記ＰＤＬ識別子が所定の値であるかどうかをチェックすることを含み、
前記ＰＤＬ項目数のチェックは、前記ＰＤＬ内の項目数が所定の数であるかどうかをチェックすることを含み、
前記ＰＤＬ項目の構成状態は、
第１番目の論理セクター番号の位置が前記ＰＤＬに登録された項目数により正確に設定されているかどうかをチェックし、
各地域の開始論理セクター番号が前記ＰＤＬに登録された項目数により正確に設定されているかどうかをチェックすることを含む請求項１３に記載の確認方法。
【請求項１５】
前記ＰＤＬ項目数のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モードでは、ＰＤＬ内の項目の数が"０"の値を持ち、欠陥の検証を行う初期化モード、欠陥の検証を行わない再初期化モード及び欠陥の検証を行う再初期化モードでは、ＰＤＬ内の項目数は既に知られている物理的な欠陥及びディスクの製造過程でディスクごとに異なって生じる欠陥を含む数を表わすかどうかをチェックすることを含む請求項１４に記載の確認方法。
【請求項１６】
前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モードでは、各ＰＤＬ項目のタイプ及び項目が貯蔵される領域には未使用領域であるかどうかことを表わすかをチェックし、欠陥の検証を行う初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプが使用者検証時に検出された欠陥セクターであるＧ１リストを表わす"１０ｂ"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行う再初期化モードとＧ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプが所定位置に物理的欠陥が形成された欠陥セクターであるＰリストを表わす"００ｂ"であるか、使用者検証時に検出した欠陥セクターのＧ１リストを表わす"１０ｂ"であるかどうかをチェックし、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプがＰリストを表わす"００ｂ"であるか、使用者検証時に検出した欠陥セクターのＧ１リストを表わす"１０ｂ"であるか、ＳＤＬの更新後にＧ２リストを表わす"１１ｂ"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を持つ初期化モード、欠陥の検証を持つ再初期化モード、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードとＧ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＰＤＬ項目の内容が貯蔵される領域には既に知られている物理的な欠陥の数に該当するＰＤＬ項目がいずれも記入され、ディスクの製造過程でディスクごとに異なって生じる欠陥セクターに関する情報がいずれも記入された後に残った未使用領域は"ＦＦｈ"であるかどうかをチェックすることを含む請求項１４に記載の確認方法。
【請求項１７】
欠陥の検証を行わない初期化モードで、前記第１番目の論理セクター番号（ＬＳＮ０）の位置及び前記地域の開始論理セクター番号のチェックは、前記第１番目の論理セクター番号の位置及び各地域の前記第１番目の論理セクター番号の位置が欠陥のない場合に該当する所定の論理セクター番号であるかどうかをチェックすることを含む請求項１４に記載の確認方法。
【請求項１８】
前記確認段階は、前記ＤＭＡ内のＳＤＬ構造を確認することを含む請求項１に記載の確認方法。
【請求項１９】
前記ＳＤＬ構造の確認は、
ＳＤＬ識別子をチェックする段階と、
ＳＤＬ更新カウンター値とテスト前後のＳＤＬ更新カウンターとの差を表わすＳＤＬ更新カウンターの増分値をチェックする段階と、
ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値とテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターとの差を表わすＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値をチェックする段階と、
２次余裕空間（ＳＳＡ）の論理セクター番号、論理セクターの総数をチェックする段階と、
余裕空間フルフラグをチェックする段階と、
ＳＤＬ内の項目数をチェックする段階と、
ＳＤＬ項目の構成状態をチェックする段階とを含む請求項１８に記載の確認方法。
【請求項２０】
前記ＳＤＬ更新カウンター及びＳＤＬ更新カウンターの増分値のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モードでは、４ヶ所のＳＤＬ更新カウンター値及びＳＤＬ更新カウンターの増分値がいずれも"０"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行う初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンター値が"０"であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行わない再初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行う再初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかとＳＤＬ更新カウンターの増分値が"２"であるかどうかをチェックすることを含む請求項１９に記載の確認方法。
【請求項２１】
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値及びＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値及びＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値がいずれも"０"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行う初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"０"であり、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行わない再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"１"であるかどうかをチェックし、欠陥の検証を行う再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が"以前値"であるかどうかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値が"２"であるかどうかをチェックすることを含む請求項１９に記載の確認方法。
【請求項２２】
前記ＳＳＡの論理セクター番号のチェックは、前記ＳＳＡの開始セクター番号は、初期化モードまたは再初期化モードで使用者が指定したＳＳＡの大きさに該当する開始セクター番号を持っているかどうかをチェックすることを含み、前記論理セクターの総数のチェックは、初期化モードまたは再初期化モードで使用者が指定したＳＳＡの大きさに該当するように設定された論理セクターの総数を持っているかどうかをチェックすることを含む請求項１９に記載の確認方法。
【請求項２３】
前記余裕空間フルフラグのチェックは、
前記ＰＤＬ項目の数によってＰＳＡフルフラグが設定されているかどうかをチェックする段階と、
前記ＳＤＬ項目の数によってＳＳＡフルフラグが設定されているかどうかをチェックする段階とを含む請求項１９に記載の確認方法。
【請求項２４】
前記余裕空間フルフラグのチェックは、初期化モード及び再初期化モードにおいて、ＳＳＡ余裕空間フルフラグはフルではない状態に設定され、追加余裕空間の拡張の可否を確認するモードでは、前記追加余裕空間の拡張を行った後、前記ＳＳＡフルフラグがフルではない状態に設定されたかどうかをチェックすることを含む請求項２３に記載の確認方法。
【請求項２５】
前記ＳＤＬ項目数のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モード、欠陥の検証を行う初期化モード、欠陥の検証を行う再初期化モードとＧ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＳＤＬ内の項目数が"０"に記録されているかどうかをチェックし、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードでは、ＳＤＬ内の項目数がＧ２リストに変換できずに残ったＳＤＬ項目の数が設定されているかどうかをチェックすることを含む請求項２３に記載の確認方法。
【請求項２６】
前記ＳＤＬ項目の構成状態のチェックは、欠陥の検証を行わない初期化モード、欠陥の検証を行う初期化モード、欠陥の検証を行う再初期化モード、Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＳＤＬ項目の構成状態及び余裕空間状態を表わすバイトの位置には情報が存在しない必要があるため、未使用の余裕空間を表わす"ＦＦｈ"となっているかどうかをチェックし、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードでは、ＳＤＬ項目の構成状態にはＧ２リストの項目に変換できなかったＳＤＬ項目が含まれうるため、残りのＳＤＬ項目の構成状態及び余裕空間状態を表わすバイトの位置には情報が存在しない必要があるため、未使用の余裕空間を表わす"ＦＦｈ"となっているかどうかをチェックすることを含む請求項１９に記載の確認方法。
【請求項２７】
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録または前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置において、前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新するかどうかを検証する方法において、
テストモードによってテストの基準を設定する段階と、
前記テストモードによって前記記録及び再生装置により生成または更新された実際の欠陥といかなる関係も持たないＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テストモードにおいて、前記テスト基準を用いて前記テスト情報を検証するためのテストを実行する段階とを含む検証方法。
【請求項２８】
前記方法は、
ブランクディスク上に予め知られている物理的な欠陥を形成して第１テストディスクを得る段階と、
前記第１テストディスクに予め定まった内容のＤＭＡを記録し、前記第１テストに前記テストモードによってミラーファイルを記録して第２テストディスクを得、前記テスト情報を生成するに当たって、前記第２テストディスクを使用する段階とをさらに含む請求項２７に記載の方法。
【請求項２９】
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録したり、或いは前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置で前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新するかどうかを検証する方法において、
テストモードによって前記記録及び再生装置により生成または更新される実際の欠陥と関係ないＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記ＤＭＡ情報を検証するために、テスト基準を用いてテスト情報を検証する段階とを含む検証方法。
【請求項３０】
前記テスト情報は、ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項２９に記載の検証方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録／再生分野に係り、特に、記録／再生が可能な光ディスクの欠陥管理領域情報を確認する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）ディスクは、ディスク上の欠陥領域を正常な記録領域と置換できる欠陥管理機能をもっており、欠陥領域の管理に必要な情報をディスク上の欠陥管理領域（Ｄｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ：ＤＭＡ）という場所に貯蔵している。ＤＭＡは、ディスク上のリードイン領域及びリードアウト領域に各々２ヶ所ずつ、合計４つの情報が繰り返し記録されている。ＤＭＡ情報はさらに、ＤＤＳ（Ｄｉｓｃ  Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ  Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ）、ＰＤＬ（Ｐｒｉｍａｒｙ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｌｉｓｔ）及びＳＤＬ（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｌｉｓｔ）で構成される。
【０００３】
このようなＤＭＡ情報は、ディスクを初期化しつつ検証したり、或いはディスクを使用中に発見された欠陥に関する情報だけでなく、余裕空間に関する情報及び各地域別の開始論理セクター番号（Ｓｔａｒｔ  Ｌｏｇｉｃａｌ  ＳｅｃｔｏｒＮｕｍｂｅｒ）に関する重要な情報を含んでいる。
【０００４】
ＤＭＡに含まれている情報は直ちに読み取って使用することもできるが、ディスク上の欠陥の位置及び個数などにより変わる情報も含まれている。すなわち、例えば、各地域の開始論理セクター番号または第１番目の論理セクター番号の位置情報はＤＭＡに登録されている欠陥情報を基に与えられたアルゴリズムによる複雑な計算を通じてのみ得られる。
【０００５】
これらのＤＭＡ情報は、データの物理的な記録位置と密接な関係をもっているため、ある記録／再生装置でＤＭＡ情報を生成または更新したディスクを他の記録／再生装置でも使用できる、すなわち、光ディスクのように移動が可能な記録媒体はＤＭＡ情報に誤りが生じる場合、記録／再生装置間に互換できない場合もある。この問題を解決するために、記録／再生装置がディスクからＤＭＡ情報を正確に解読し、かつディスク上にＤＭＡ情報を正確に記録するかどうかを確認する手段または方法が必要である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明の目的は、ディスク上の欠陥を検出し、欠陥に関する情報をＤＭＡに記録する光ディスク記録／再生装置において、ディスク上のＤＭＡ情報が正確に記録／更新されているかどうかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００７】
本発明の他の目的は、ディスク上の欠陥を検出し、欠陥に関する情報をＤＭＡに記録する反復的に記録／再生が可能なＤＶＤ−ＲＡＭディスク記録／再生装置において、ディスク上のＤＭＡ情報が正確に記録／更新されているかどうかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００８】
本発明のさらに他の目的は、実際に欠陥と関係ない予め定まった欠陥情報を使用するテストディスクを用いて、光ディスク記録／再生装置が、欠陥情報が形成されているディスクの実際の状態に影響されずに常に同一の条件で正常に欠陥情報を解読し、かつ処理できるかどうかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００９】
本発明の追加的な目的及び利点は後述され、詳細な説明から明らかになり、本発明の実施により知られる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために、本発明は、ＤＭＡ情報を持つ光ディスクを記録または再生する記録及び再生装置でＤＭＡ情報が生成または更新されたかどうかをテストするためのテストモードを行った後、ＤＭＡ情報が正常に生成または更新されるかどうかを確認する方法を提供する。その方法は、生成または更新されるＤＭＡ情報を読み出す段階と、読み出された生成または更新されたＤＭＡ情報をテストモードのために予め定まった基準ＤＭＡ情報を用いて確認し、確認の結果を提供する段階とを含む。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき、本発明の望ましい実施形態について詳細に説明する。ここで、同一の構成要素には同一の参照番号を使用する。
【００１２】
本発明で用いられる光ディスクは、例えば、４．７ＧＢの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭディスクである。ＤＶＤ−ＲＡＭディスクは、再記録可能なディスクバージョン２．０のためのＤＶＤ規格書（ＤＶＤ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ  ｆｏｒ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ  ｄｉｓｃ  ｖｅｒｓｉｏｎ  ２．０．）に規定されている。
【００１３】
ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合、全ての欠陥管理はドライブで処理することになっているため、ファイルシステムやホストインタフェースは物理的な欠陥管理情報を知らなくても、ファイルを記録／再生する。従って、ほとんどのドライブは使用者がＤＭＡに記録または再生できないようになっているだけでなく、このＤＭＡに記録／再生するための標準命令も備わっていない。しかし、このような欠陥管理領域の情報が正常に形成されているかどうかを判断するためには、いかなる形でもこれを分析できるコンピュータにてデータを読み取り可能な状況にしなければならない。また、標準テストディスクを製作するためには、該当ＤＭＡに適切な情報を記録できなければならない。
【００１４】
ここで、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録／再生装置の記録／再生系をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録／再生装置とを結ぶホストインタフェース階層、物理的な信号を記録／再生する物理的なドライブ階層及び記録媒体階層などのように区分し、記録媒体及び物理的なドライブによりディスクの物理的なセクター番号が割り当てられ、ホストインタフェース及びファイルシステムによりディスクの論理的なセクター番号が割り当てられるため、ＤＭＡ情報に対する記録及び判読は物理的なドライブ階層以下でなされる。
【００１５】
しかし、実際のファイルシステムで使用者データを記録する時には、論理的なセクター番号だけを用いて使用者データを記録／再生装置に伝送し、記録／再生装置は論理的なセクター番号を実際のデータが記録される物理的なセクター番号に変える過程で欠陥管理情報を使用することになる。従って、一つの記録／再生装置で欠陥管理情報を誤って判読したり、或いは誤って記録した場合には、他の記録／再生装置で正しいデータを読み取ったり、或いは書き込めない問題が生じてしまう。
【００１６】
本発明は、検証を行わない初期化モード及び検証を行う初期化モードではいかなる情報も入っていないブランクディスク上に知られた物理的な欠陥を持つ第１テストディスクを使用する。検証を行う再初期化モード、ＳＤＬリストの更新を伴う再初期化モードと、Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、第１テストディスク上に予め定まった内容のＤＭＡが記録され、追加余裕空間は使用済みとなった状態の第１ミラーファイルが記録された第２テストディスクを使用する。追加余裕空間の拡張の可否を確認するモードでは、第１テストディスク上に予め定まった内容のＤＭＡが記録され、追加余裕空間が使用済みとなった程度の十分なＳＤＬ欠陥をもっている状態の第２ミラーファイルが記録された第３テストディスクを使用する。誤ったＤＭＡ情報による記録遂行の可否を確認するモードでは、第１テストディスク上に予め定まったＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクター番号が故意に誤って記録された状態を持つ第３ミラーファイルが記録された第４テストディスクを使用する。従って、前述した各モードによってＤＭＡ情報が正常に生成または更新されたかどうかを確認する。ここで、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードと、Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードは、検証を行わない再初期化モードと指称でき、検証を行わない初期化モードではいかなるデータも記録されていない単純なブランク状態の第１テストディスクが使われうる。第１テストディスクに記録された情報が無く、よく知られた物理的な欠陥が存在する限り、第１テストディスクはブランクのものと見なされうる。
【００１７】
前述した各確認モードで生成または更新されたＤＭＡ情報としては、ＤＭＡ構造、ＤＤＳ構造、ＰＤＬ構造、ＳＤＬ構造などがある。
【００１８】
ＤＭＡ構造を確認するためのチェック項目としては、図１に示されたように、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター、ＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンター、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容などである。
【００１９】
ＤＭＡエラー状態の項目は、リードイン領域及びリードアウト領域に各々２ヶ所ずつ存在するＤＭＡにエラーが存在するかどうかをチェックするものである。４ヶ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂正できないエラーが存在してはいけない。もし、一つのＤＭＡさえにも訂正できなかったエラーがあれば、この確認は失敗したものとなり、新しいディスクを使用してテストを再び試さなければならない。
【００２０】
ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウンターの項目を確認するために検証を行わない初期化モードでは、４ヶ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値と、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値を表わすＭの値とテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター”Ｍ”との差を表わすＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値がいずれも”０”であるかどうかをチェックし、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの８つの値がいずれも同一かどうかをチェックする。ここで、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値はＤＤＳ／ＰＤＬブロックのための更新及び再記入動作の総回数を表わし、初期化の開始時には”０”にセットされる必要があり、ＤＤＳ／ＰＤＬブロックが更新或いは再記入されるとき、１ずつインクリメントされる必要がある。ＤＤＳ／ＰＤＬ及びＳＤＬブロックは初期化が完了すればいずれも同一の更新カウンター値を持たなければならない。また、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンター値を表わすＮの値及びカウンターの増分値を表わすｋの値がいずれも”０”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの４つの値がいずれも同一かどうかをチェックすることになる。
【００２１】
しかし、検証を行わない初期化モードでは、一回に限ってＤＭＡ情報が生成されるため、更新が行われない。従って、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値は最初のＤＭＡを記録するときに設定した”０”と設定される必要がある。
【００２２】
検証を行う初期化モードでは、４ヶ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値と、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値を表わすＭの値は”０”であり、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値は”１”であるかどうかをチェックする。また、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンター値を表わすＮの値は”０”であり、テスト前後のＳＤＬ更新カウンターの差を表わすＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値が”１”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの４つの値がいずれも同一かどうかをチェックすることになる。
【００２３】
これは、ディスクの欠陥を検出するために、検証を始める前にＤＭＡの基本構造を記録する。検証を始める前にＤＭＡのＤＤＳ内のディスク検証フラグのうち”Ｉｎ−Ｐｒｏｇｒｅｓｓ”を表わすビット値が”１ｂ”と設定された状況で、更新カウンターの値が最初の値である”０”の時に検証を始める。検証が完了してＤＭＡに欠陥に関する情報を記録してＤＭＡを更新するとき、更新カウンターの値が１ずつインクリメントされる。
【００２４】
検証を行わない再初期化モードでは、４ヶ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値と、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値を表わすＭの値は”以前値”であるかどうかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックする。以前値はテスト前のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値を意味する。ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの８つの値がいずれも同一かどうかをチェックする。また、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンター値を表わすＮの値は”以前値”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値は”１”であるかどうかをチェックする。
【００２５】
以前値はテスト前のＳＤＬ更新カウンターの値を意味する。ＳＤＬ更新カウンターの４つの値がいずれも同一かどうかをチェックすることになる。
【００２６】
検証を行う再初期化モードでは、４ヶ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値と、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値を表わすＭの値は”以前値”であるかどうかと、カウンターの増分値を表わすｋの値が”２”であるかどうかをチェックし、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの８つの値がいずれも同一かどうかをチェックする。また、４ヶ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンター値を表わすＮの値は”以前値”であるかどうかと、カウンターの増分値を表わすｋの値は”２”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの４つの値がいずれも同一かどうかをチェックすることになる。
【００２７】
また、ＤＭＡ内容を確認するためには、４ヶ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４の内容がいずれも同一かどうかをチェックする。
【００２８】
一方、ＤＭＡ内のＤＤＳを確認するためのチェック項目としては、図２に示されたように、ＤＤＳ識別子（ＩＤ）、ディスク検証フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター、グループ数、地域数、１次余裕空間の位置、第１番目の論理セクター番号（ＬＳＮ０）の位置、各地域の開始論理セクター番号などがある。
【００２９】
すなわち、ＤＤＳ識別子が”０Ａ０Ａｈ”であるかどうかを確認する。１バイトのディスク検証フラグのうち進行中であるかどうかを表わすビット位置ｂ７の値が”０ｂ”であるかどうかをチェックする。このとき、ビット位置ｂ７の値が”０ｂ”であれば、フォーマットが完了することを表わす。ビット位置ｂ７の値が”１ｂ”であれば、フォーマットが進行中であることを表わす。従って、ビット位置ｂ７の値が”１ｂ”であれば、フォーマットに失敗したことを表わす。
【００３０】
また、ディスク検証フラグのうち予備されているビット位置ｂ６〜ｂ２がいずれも”０ｂ”であるかどうかをチェックする。ディスク検証フラグのうち使用者検証フラグを表わすビット位置ｂ１の値が検証を行わない初期化モードでは”０ｂ”であるかどうかをチェックし、検証を行う初期化、検証を行わない再初期化及び検証を行う再初期化モードでは”１ｂ”であるかどうかをチェックする。ディスク検証フラグのうちディスクメーカ検証フラグを表わすビット位置ｂ０の値が検証を行わない初期化及び検証を行う初期化モードでは”０ｂ”であるかどうかをチェックし、検証を行わない再初期化及び検証を行う再初期化モードでは”１ｂ”であるかどうかをチェックする。
【００３１】
ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター項目を確認するためには、検証を行わない初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭの値及びカウンターの増分値を表わすｋの値がいずれも”０”であるかどうかをチェックする。検証を行う初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭの値が”０”であるかどうかと、カウンターの増分を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックし、検証を行わない再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭの値が”以前値”であるかどうかと、カウンターの増分を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックし、検証を行う再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭの値が”以前値”であるかどうかと、カウンターの増分を表わすｋの値が”２”であるかどうかをチェックする。
【００３２】
グループの数が１つを表わす”０００１ｈ”であるかと、地域数が３５であるかどうかを表わす”００２３ｈ”であるかどうかをチェックする。１次余裕空間（ＰＳＡ）の位置を確認するために、ＰＳＡの第１番目のセクター番号が”０３１０００ｈ”であるかどうかと、最後のセクターのセクター番号が”０３４１Ｆｆｈ”であるかどうかをチェックする。
【００３３】
第１番目の論理セクター番号（ＬＳＮ０）の位置が検証を行わない初期化モードではいかなる欠陥がない場合に該当する予め定まった論理セクター番号であるかどうかをチェックし、検証を行う初期化、検証を行わない再初期化、検証を行う再初期化モードでは、ＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されるかどうかをチェックする。
【００３４】
各地域の開始論理セクター番号、すなわち、第２番目の地域（Ｚｏｎｅ  １）から第３５番目の地域（Ｚｏｎｅ  ３４）の開始論理セクター番号は、検証を行わない初期化モードではいかなる欠陥もない場合に該当する予め定まった論理セクター番号であるかどうかをチェックする。検証を行う初期化、検証を行わない再初期化、検証を行う再初期化モードでは、ＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されるかどうかをチェックする。ここで、第１テストディスクの予め知られた全ての欠陥セクターに関する情報はＰＤＬに登録されてこそ、ＰＤＬの構造が正確になっているかどうかだけでなく、テストしようとするドライブが正常に欠陥を検出するかどうかも検査できる。
【００３５】
ここで、誤ったＤＭＡ情報による記録遂行の可否を確認するモードでは、各地域の開始セクター番号が故意に誤って記録されている。
【００３６】
ＤＤＳ構造の予備されている残りの領域（バイト位置３９６〜２０４７）がいずれも”００ｈ”であるかどうかを確認する。
【００３７】
ＤＭＡ内のＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は、図３に示されたように、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態などである。
【００３８】
ＰＤＬ識別子が”０００１ｈ”であるかどうかをチェックし、検証を行わない初期化モードではＰＤＬ内の項目の数は”０”の値を持つかどうかをチェックする。その他のモードでは、ＰＤＬ内の項目数は既に知られている物理的な欠陥及び製造過程でディスクごとに異なって生じる欠陥を含む数を表わすかどうかをチェックする。
【００３９】
検証を行わない初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプ及び項目が貯蔵される領域には情報が存在しない必要があるため、未使用の領域を表わす”ＦＦｈ”であるかどうかをチェックする。
【００４０】
検証を行う初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプは使用者検証時に検出した欠陥セクターのＧ１リストを表わす”１０ｂ”であるかどうかをチェックする。ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号が低い順番で記入される。既に知られている物理的な欠陥の数に該当するＰＤＬ項目がいずれも記入され、ディスクの製造過程でディスクごとに異なって生じる欠陥セクターに関する情報がいずれも記入された後に残った未使用領域は”ＦＦｈ”であるかどうかをチェックする。
【００４１】
ここで、製造者により検出された欠陥セクターをＰリストとし、使用者検証時に検出した欠陥セクターをＧ１リストとし、再初期化時に、再初期化以前の旧ＳＤＬを変換したのをＧ２リストとする。Ｐリスト、Ｇ１リスト及びＧ２リストはＰＤＬに属する。
【００４２】
検証を行う再初期化モードの場合、ＰＤＬ項目のタイプは既に知っているＰリストを表わす”００ｂ”であるか、或いは使用者検証時に生じた欠陥セクターのＧ１リストを表わす”１０ｂ”であるかどうかをチェックする。ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号が低い順番で記入される。
【００４３】
ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプは前述した３種のタイプのうちいずれかを表わすことができる。すなわち、ＰＤＬ項目のタイプはＰリストを表わす"００ｂ"であるか、或いは使用者検証時に生じた欠陥セクターのＧ１リストを表わす"１０ｂ"であるか、或いはＳＤＬの更新後に得られたＧ２リストを表わす"１１ｂ"でありうる。ＰＤＬの欠陥セクターの番号はセクター番号が低い順番で記入される。
【００４４】
ここで、ＳＤＬの更新を伴う再初期化モードは、線形置換アルゴリズムにより処理されたＳＤＬ項目を無くし、ＳＤＬ項目で欠陥ブロックに含まれた１６個の再割り当てられたセクターを飛び越し置換アルゴリズムにより処理して得られたＰＤＬ項目、すなわち、Ｇ２リストに変えるモードである。Ｐリスト及び旧Ｇ１リストはそのまま維持され、旧Ｇ２リスト及び旧ＳＤＬ項目は新しいＧ２リストに登録される。新しいＳＤＬは空きヌルの状態である。しかし、変換されたＧ２リストがオーバフローされれば、すなわち、ＰＤＬに登録できる最大の項目数を超えた場合、残りのＳＤＬ項目は新しいＳＤＬに登録できる。
【００４５】
Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＰＤＬ項目のタイプが既に知っているＰリストを表わす”００ｂ”であるか、或いは使用者検証時に生じた欠陥セクターであるＧ１リストを表わす”１０ｂ”であるかどうかをチェックし、ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号が低い順番で記入される。
【００４６】
ここで、Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードはディスクを使用中にＰリストだけを用いてディスクを初期化したり、或いは線形置換のための再割り当てられたセクターを除去して最近の検証された状態に戻る。このモードにおいて、ＰＤＬのＧ２リスト及びＳＤＬを整理し、更新されたＰＤＬはＰリスト及びＧ１リストを含む。前述した３種の再初期化モードの定義は再記録可能なディスクバージョン２．０のためのＤＶＤ規格書に規定されている。
【００４７】
ＤＭＡ内のＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は、図４に示されたように、ＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンター、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開始セクター番号、論理セクターの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目の数、ＳＤＬ項目の状態、未使用空間、予備空間などである。
【００４８】
すなわち、ＳＤＬ識別子が”０００２ｈ”であるかどうかをチェックする。ＳＤＬ更新カウンターを確認するために、検証を行わない初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンターを表わすＮ値及びＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値がいずれも”０”であるかどうかをチェックする。検証を行う初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンターを表わすＮ値が”０”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックする。検証を行わない再初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンターを表わすＮ値が”以前値”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックする。検証を行う再初期化モードでは、ＳＤＬ更新カウンターを表わすＮ値が”以前値”であるかどうかと、ＳＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値が”２”であるかどうかをチェックする。
【００４９】
対応するＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを確認するために、検証を行わない初期化モードではＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭ値と、カウンターの増分値を表わすｋの値がいずれも”０”であるかどうかをチェックする。検証を行う初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭ値が”０”であるかどうかと、カウンターの増分値を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックする。検証を行わない再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭ値が”以前値”であるかどうかと、カウンターの増分値を表わすｋの値が”１”であるかどうかをチェックする。検証を行う再初期化モードでは、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターを表わすＭ値が”以前値”であるかとうかと、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの増分値を表わすｋの値が”２”であるかどうかをチェックする。
【００５０】
検証を行わない初期化モードでは、ＳＳＡの開始セクター番号及び論理セクターの総数は初期化時に使用者が指定したＳＳＡの大きさに該当する開始セクター番号及びこれに相応するように設定された論理セクターの総数を持っている必要がある。余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目の数、ＳＤＬ項目の状態及び余裕空間の状態を表わすバイトの位置には、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しない必要があるため、余裕空間フルフラグはフルではない状況と設定される。ＳＤＬの項目数は”０”と記録されなければならない。また、ほとんどの場合においては、ＳＤＬ項目の構成状態及び余裕空間の構成状態を表わす領域には情報が存在しない必要があるため、未使用の余裕空間を表わす”ＦＦｈ”となっているかどうかをチェックする。しかし、テストに使用するＣ−１ディスクの状態が極めて悪い場合には、ＳＤＬ項目が生じうる。従って、Ｃ−１ディスクの状態が十分に良好なものを使用することが望ましい。
【００５１】
検証を行う初期化及び検証を行う再初期化モードでは、ＳＳＡの開始論理セクター番号、論理セクターの総数は初期化持に使用者により指定されたＳＳＡの大きさによって適切な値を持つかどうかをチェックする。余裕空間フルフラグはＳＳＡが使用済みとなった状態を表わし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しない状態を表わす”０”と記録されなければならない。ＳＤＬの使われた総空間を知っているため、ＳＤＬの項目数をチェックすれば、ＳＤＬの未使用空間の大きさを判断できる。従って、テストディスクＤＭＡミラーファイルの未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数に基づいたＳＤＬの未使用された空間の大きさと同じかどうかをチェックし、未使用された空間は”ＦＦｈ”と設定されているかどうかをチェックする。また、全ての予備空間の期待値は”００ｈ”であるかどうかをチェックする。
【００５２】
ＳＤＬリスト変換を持つ再初期化モードでは、ＳＳＡの開始論理セクター番号、論理セクターの総数は再初期化時に使用者により指定されたＳＳＡの大きさによって適切な値を持つかどうかをチェックする。余裕空間フルフラグは２次余裕空間が使用済みとなった状態を表わし、ＳＤＬ内の項目の数はＧ２リストに変換できずに残ったＳＤＬ項目の数が記録でき、ＳＤＬ項目の構成状態にはＧ２リストに変換されなかったＳＤＬ項目が記録できる。残りのＳＤＬ項目の構成状態及び余裕空間状態を表わすバイトの位置には情報が存在しない必要があるため、未使用の余裕空間を表わす”ＦＦｈ”となっているかどうかをチェックする。
【００５３】
Ｇ２リスト及びＳＤＬをクリアする再初期化モードでは、ＳＳＡの開始論理セクター番号、論理セクターの総数は再初期化時に使用者により指定されたＳＳＡの大きさによって適切な値を持つかどうかをチェックする。余裕空間フルフラグはＳＳＡが使用済みとなった状態を表わし、ＳＤＬ内の項目の数は存在しない状態を表わす”０”と記録されなければならない。ＳＤＬ項目の構成状態及び余裕空間状態を表わすバイトの位置には情報が存在しない必要があるため、未使用の余裕空間を表わす”ＦＦｈ”となっているかどうかをチェックする。
【００５４】
追加余裕空間の拡張の可否を確認するモードでは、１バイトの余裕空間フルフラグのうち追加余裕空間フルフラグを表わすビットの位置”ｂ１”がフル状態を表わす”１ｂ”であるかどうかをチェックする。追加余裕空間の開始セクター番号が３２の倍数と割り当てられ、ＥＣＣブロックの第１番目のセクターに該当するセクター番号であるかどうかをチェックする。
【００５５】
また、１バイトの余裕空間フラグのうち１次余裕空間フルフラグを表わすビット位置”ｂ０”には検証を行う初期化、検証を行わない再初期化及び検証を行う再初期化モードでは、１次余裕空間がフルの状態であれば”１ｂ”であり、そうでなければ”０ｂ”を表わす。
【００５６】
図５Ａないし図５Ｄには、本発明の実施形態による光ディスクのＤＭＡの情報確認方法の一実施形態によるフローチャートであって、各種のテストモードでＤＭＡ情報の生成または更新動作を行った後、ＤＭＡ情報が正常に生成または更新されたかどうかを確認するための方法が開示されている。
【００５７】
図５Ａないし図５Ｄを参照すれば、ステップ１０１において、リードイン領域及びリードアウト領域に各々２ヶ所ずつ、合計４ヶ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４領域のデータがいずれも一致するかどうかをチェックする。もし、４ヶ所のＤＭＡのうちいずれか一つでも一致しなければ、ステップ１０２においてＤＭＡ検証を中止する。ステップ１０１において、図１に示されたＤＭＡの全ての内容をチェックする。
【００５８】
ステップ１０１において、４ヶ所のＤＭＡに貯蔵されるデータがいずれも一致すれば、ステップ１０３において、ＤＤＳの識別子（ＩＤ）をチェックする。もし、ＤＤＳ  ＩＤが定まったＤＤＳのＩＤと同一でなければ、使用者にステップ１０４においてＩＤに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１０５へ進む。
【００５９】
ステップ１０３において、ＤＤＳのＩＤが予め定まったＩＤと一致すれば、ステップ１０５において、初期化モードによるディスク検証フラグをチェックする。初期化モードによるディスク検証フラグが正常に設定されていなければ、ステップ１０６において、使用者にディスク検証フラグに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１０７へ進む。
【００６０】
ステップ１０５において、初期化モードによってディスク検証フラグが正常に設定されていれば、ステップ１０７において、初期化モードによるＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターをチェックする。ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターが正常に設定されていなければ、ステップ１０８において、使用者にＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１０９へ進む。
【００６１】
ステップ１０７において、各初期化モードによるＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターの値が正常に設定されていれば、ステップ１０９において、ディスク別のグループ数をチェックする。もし、グループ数が正常に設定されていなければ、ステップ１１０において、使用者にグループの数に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１１１へ進む。
【００６２】
ステップ１０９において、ディスクタイプ別のグループ数が正常に設定されていれば、ステップ１１１において、ディスク別の地域数をチェックする。もし、地域の数が正常に設定されていなければ、ステップ１１２において、使用者に地域の数に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１１３へ進む。本発明の一実施形態では、ディスクのタイプはＤＶＤ−ＲＡＭディスクであり、グループの数は１つであり、地域の数は３５である。
【００６３】
ステップ１１１において、ディスクタイプ別の地域数が正常に設定されていれば、ステップ１１３において、ディスク別の１次余裕空間（ＰＳＡ）の位置をチェックする。もし、ＰＳＡの位置が正常に設定されていなければ、ステップ１１４において、使用者にＰＳＡの位置に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１１５へ進む。
【００６４】
ステップ１１３において、ディスクのタイプによってＰＳＡの位置が正常に設定されていれば、ステップ１１５において、ＰＤＬのＩＤをチェックする。もし、ＰＤＬのＩＤが正常に設定されていなければ、ステップ１１６において、使用者にＰＤＬのＩＤに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１１７へ進む。
【００６５】
ステップ１１５において、ＰＤＬのＩＤが正常に設定されていれば、ステップ１１７において、ＰＤＬ内の項目数をチェックする。もし、ＰＤＬ内の項目の数が正常に設定されていなければ、ステップ１１８において、使用者にＰＤＬ内の項目の数に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１１９へ進む。
【００６６】
ステップ１１７において、ＰＤＬ内の項目数が正常に設定されていれば、ステップ１１９において、初期化モードによって各ＰＤＬ項目別に適切に設定されているかどうかをチェックする。もし、ＰＤＬ項目が正常に設定されていなければ、ステップ１２０において、使用者にＰＤＬ項目に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１２１へ進む。
【００６７】
ステップ１１９において、初期化モードによって各ＰＤＬ項目別に適切に設定されていれば、ステップ１２１において、ＤＤＳの各地域別の開始論理セクター番号をチェックする。もし、ＤＤＳの各地域別の開始論理セクター番号が正常に設定されていなければ、ステップ１２２において、使用者に地域別の開始論理セクター番号に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１２３へ進む。
【００６８】
ステップ１２１において、ＤＤＳの各地域別の開始論理セクター番号が正常に設定されていれば、ステップ１２３において、第１番目の論理セクター番号（ＬＳＮ０）の位置をチェックする。もし、ＬＳＮ０が正常に設定されていなければ、ステップ１２４において、使用者にＬＳＮ０の位置に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１２５へ進む。
【００６９】
ここで、ＤＤＳの各地域別の開始論理セクター番号及び第１番目の論理セクター番号はＰＤＬに登録されている欠陥の数によって決定されるため、ＰＤＬ項目の適法性をチェックするステップ１１９を行った後に、各領域に対する開始ＬＳＮ及びＬＳＮ０の位置をチェックする段階を行う。
【００７０】
ステップ１２３において、ＬＳＮ０の位置が正常に設定されていれば、ステップ１２５において、ＳＤＬのＩＤをチェックする。もし、ＳＤＬのＩＤが正常に設定されていなければ、ステップ１２６において、ＳＤＬ  ＩＤに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１２７へ進む。
【００７１】
ステップ１２５において、ＳＤＬのＩＤが正常に設定されていれば、ステップ１２７において、初期化モードによるＳＤＬ更新カウンターをチェックする。もし、ＳＤＬ更新カウンターが正常に設定されていなければ、ステップ１２８において、ＳＤＬ更新カウンター値に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１２９へ進む。
【００７２】
ステップ１２７において、初期化モードによるＳＤＬ更新カウンター値が正常に設定されていれば、ステップ１２９において、初期化モードによってＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターをチェックする。もし、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターが正常に設定されていなければ、ステップ１３０において、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンターに誤りが生じたことを知らせて、ステップ１３１へ進む。
【００７３】
ステップ１２９において、初期化モードによってＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンター値が正常に設定されていれば、ステップ１３１において、ＳＤＬ内の項目の数をチェックする。もし、ＳＤＬ内の項目の数が正常に設定されていなければ、ステップ１３２において、ＳＤＬ内の項目の数に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１３３へ進む。
【００７４】
ステップ１３１において、ＳＤＬ内の項目の数が正常に設定されていれば、ステップ１３３において、ＳＳＡの開始セクター番号をチェックする。もし、ＳＳＡの開始セクター番号が正常に設定されていなければ、ステップ１３４において、ＳＳＡの開始論理セクター番号に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１３５へ進む。
【００７５】
ステップ１３３において、ＳＳＡの開始論理セクター番号が正常に設定されていれば、ステップ１３５において、論理セクターの総数をチェックする。もし、論理セクターの総数が正常に設定されていなければ、ステップ１３６において、論理セクターの総数に誤りが生じたことを知らせ、ステップ１３７へ進む。
【００７６】
ステップ１３５において、論理セクターの総数が正常に設定されていれば、ステップ１３７において、ＰＳＡフルフラグをチェックする。もし、ＰＳＡフルフラグが正常に設定されていなければ、ステップ１３８において、余裕空間フルフラグに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１３９へ進む。
【００７７】
ステップ１３７においては、ステップ１１７でチェックされたＰＤＬの項目数がＰＳＡフル状態であることを表せば、ＰＳＡフルフラグが”１ｂ”と設定され、そうでなければ、ＰＳＡフルフラグが”０ｂ”と設定されているかどうかをチェックすることになる。
【００７８】
ステップ１３７において、ＰＳＡフルフラグが正常に設定されていれば、ステップ１３９において、ＳＳＡフルフラグをチェックする。もし、ＳＳＡフルフラグが正常に設定されていなければ、ステップ１４０において、余裕空間フルフラグに誤りが生じたことを知らせ、ステップ１４１へ進む。
【００７９】
ステップ１３９においては、ステップ１３１でチェックされたＳＤＬの項目数がＳＳＡフル状態であれば、ＳＳＡフルフラグが”１ｂ”と設定され、そうでなければ、ＳＳＡフルフラグが”０ｂ”と設定されているかどうかをチェックすることになる。
【００８０】
ステップ１３９において、ＳＳＡがフルフラグが正常に設定されていれば、ステップ１４１において、初期化モードによって各ＳＤＬの項目別に適切に設定されているかどうかをチェックする。もし、ＳＤＬの項目が正常に設定されていなければ、ステップ１４２において、ＳＤＬの項目に誤りが生じたことを知らせ、正常に設定されていれば、本発明の確認方法を終了する。
【００８１】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明は、テストのタイプによって実際に欠陥を持つディスクの代わりに、実際に欠陥と関係ない予め定まった欠陥情報を持つテストディスクを用い、記録／再生装置で欠陥情報を正常に生成または更新するかどうかを容易に確認できるという効果がある。
【００８２】
さらに、本発明は、テストモードによって実際に欠陥を持つディスクの代わりに、実際に欠陥と関係ない予め定まった欠陥情報をミラーファイルとして生成するテストディスクを用い、記録／再生装置で欠陥情報を正常に判読し、かつ処理できるかどうかを容易に確認できるという効果がある。
【００８３】
本発明は前述した実施形態に限定されることなく、本発明の思想内であれば、当業者による変形が可能なのは言うまでもない。よって、本発明で権利を請求する範囲は詳細な説明の範囲内に決まるのではなく、後述する請求の範囲に限定される。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＤＭＡ構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図２】ＤＤＳ構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図３】ＰＤＬ構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図４】ＳＤＬ構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図５】本発明によるＤＭＡ情報の確認方法の一実施形態によるフローチャートである。
【符号の説明】
ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４  欠陥管理領域
【図１】
0003579001.tif 000002
【図２】
0003579001.tif 000003
【図３】
0003579001.tif 000004
【図４】
0003579001.tif 000005
【図５】
0003579001.tif 000006
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0003579001.tif 000008
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