(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に情報を記録する記録手段と、
テスト信号の光記録媒体上の記録場所を検出する記録場所検出手段と、
光記録媒体にテスト信号を記録するために記録手段にさまざまな記録条件を与える記録条件可変手段と、
光記録媒体に記録されたテスト信号を読み出すことにより、前記各記録場所ごとに最適記録条件を決定する記録条件決定手段と、
前記記録場所および各記録場所における最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶手段とが備えられており、
この記録条件マップ記憶手段が、光記録媒体における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設定された記録場所における最適記録条件を記憶することを特徴とする光記録再生装置。
【請求項２】
上記記録条件マップ記憶手段に記憶されたテスト信号の記録場所および各記録場所における最適記録条件の中、ある記録場所における最適記録条件を、その記録場所付近における最適記録条件を基に補間する補間手段が備えられていることを特徴とする請求項１に記載の光記録再生装置。
【請求項３】
上記複数の記録場所は、各円周上において同一の角度分布で設定されることを特徴とする請求項１に記載の光記録再生装置。
【請求項４】
各円周上に設定されている記録場所の数が、外周となるほど増加するようになっていることを特徴とする請求項１に記載の光記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、記録条件の補正を行う光記録再生装置及び、これに適した光記録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクでは、線速度の大きさや記録層の膜厚等のさまざまな要因に応じて、記録条件を補正している。
【０００３】
特開昭６０−２５８７３２号公報に開示された光ディスク装置の記録回路では、トラックの線速度に応じて記録光の光量を補正している。補正値は、予め記憶されている。さらに、記録膜の膜厚に応じて記録光の光量を補正している。記録膜の膜厚の半径分布は、再生信号の振幅から求めている。
【０００４】
特開平２−９８８２９号公報に開示された光記録媒体の記録方法では、複屈折の大きさに応じて記録条件を補正している。複屈折の半径分布は、予め記憶されている。
【０００５】
特開昭６０−２５８７３２号公報に開示された光ディスクの記録再生制御方法では、光ディスクが交換された場合に対応できるように、記録条件を光ディスク毎に予め記録している。そして、光ディスクから読み出された記録条件の下で記録を行っている。
【０００６】
特開平３−１０２６０１号公報に開示された光記録媒体の記録方法では、図８に示すように、光制御手段２１と、記録条件決定手段２２と、種々の記録条件を出力する記録条件可変手段２６と、記録条件決定手段２２からの記録条件または記録条件可変手段２６からの記録条件のいずれかを選択して光制御手段２１に送るスイッチ２７とを備えた光記録再生装置が用いられる。
【０００７】
記録条件決定手段２２は、より詳細には例えば、光ディスク２５からテスト信号を読み出す記録状態検出手段２８と、読み出されたテスト信号の振幅またはＡＧＣ（自動利得制御）用の制御信号レベルを一時記憶する記録状態記憶手段２９と、記憶された振幅またはレベルに基づいて最適の記録条件を決定する演算手段３０からなっている。
【０００８】
この記録方法では、まず、光制御手段２１によって記録光の強度を変化させながら、光ディスク５にテスト信号を記録する。それから、図９に示すように、記録条件決定手段２２でテスト信号を読み出すことにより、最良のテスト信号が得られたときの記録光の強度、すなわち、最適な記録条件を求める。こうして決定された記録条件の下で所望の情報を記録する。これにより、光ディスク毎に記録条件を正確に補正でき、かつ、光記録再生装置の使用温度等の環境に応じて、記録条件を正確に補正できる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の構成では、光ディスク２５の記録膜の特性の半径分布に応じて記録条件を補正しているが、トラック方向（円周方向）の分布に応じて記録条件を補正していない、あるいは、トラック方向の分布に応じて記録条件を補正することは困難であるという問題点を有している。
【００１０】
また、光ディスク２５にたまたま欠陥部分があり、その欠陥部分から読み出された再生信号に基づいて最良の記録条件を決定した場合、最良の記録条件が得られないという問題点を有している。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
第１光記録再生装置は、上記の課題を解決するために、光記録媒体に情報を記録する記録手段と、テスト信号の光記録媒体上の記録場所を検出する記録場所検出手段と、光記録媒体にテスト信号を記録するために記録手段にさまざまな記録条件を与える記録条件可変手段と、光記録媒体に記録されたテスト信号を読み出すことにより、前記各記録場所ごとに最適記録条件を決定する記録条件決定手段と、前記記録場所および各記録場所における最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶手段とが備えられており、この記録条件マップ記憶手段が、光記録媒体における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設定された記録場所における最適記録条件を記憶することを特徴としている。
【００１２】
第２光記録再生装置は、上記の課題を解決するために、第１光記録再生装置であって、上記記録条件マップ記憶手段に記憶されたテスト信号の記録場所および各記録場所における最適記録条件の中、ある記録場所における最適記録条件を、その記録場所付近における最適記録条件を基に補間する補間手段が備えられていることを特徴としている。
【００１３】
第３光記録再生装置は、上記の課題を解決するために、第１光記録再生装置であって、上記複数の記録場所は、各円周上において同一の角度分布で設定されることを特徴としている。
【００１４】
第４光記録再生装置は、上記の課題を解決するために、第１光記録再生装置であって、各円周上に設定されている記録場所の数が、外周となるほど増加するようになっていることを特徴としている。
【００１５】
第１光記録媒体は、上記の課題を解決するために、光記録媒体の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光記録媒体上における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられていることを特徴としている。
【００１６】
第２光記録媒体は、上記の課題を解決するために、光記録媒体の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光記録媒体上における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられている光記録媒体であって、上記領域に応じた最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶領域が光記録媒体上に設けられていることを特徴としている。
【００１７】
第３光記録媒体は、上記の課題を解決するために、第１光記録媒体であって、上記領域が、各円周上において同一の角度分布で設けられていることを特徴としている。
【００１８】
第４光記録媒体は、上記の課題を解決するために、第１光記録媒体であって、各円周上に設けられている上記領域の数が、外周となるほど増加するようになっていることを特徴としている。
【００１９】
【作用】
第１光記録再生装置の構成によれば、光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を記録条件マップ記憶手段に記憶することができる。すなわち、光記録媒体の最適記録条件の半径分布だけでなく、角度分布も記憶することができる。したがって、記録条件マップ記憶手段から光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、光記録媒体上のすべての場所において、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００２０】
第２光記録再生装置の構成によれば、光記録媒体にたまたま欠陥があったため、その場所における正確な記録条件が得られなかったとしても、その場所の前後の最適記録条件を基に補間することができる。これにより、光記録媒体に欠陥があったとしても、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００２１】
第１および第２記録媒体の構成によれば、光記録媒体の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する領域を光記録媒体上に設けたので、テスト信号を読み出すことにより最適記録条件を求めることが可能になる。
【００２２】
また、第２記録媒体の構成によれば、光記録媒体上の記録条件マップ記憶領域に光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を記憶することが可能になる。したがって、記録条件マップ記憶領域から光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００２３】
【実施例】
本発明の一実施例について図１ないし図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００２４】
本実施例の光磁気ディスク装置（光記録再生装置）は、図１に示すように、入力された記録条件に基づいて光磁気ディスク５（光記録媒体）にテスト信号等の情報を記録する記録手段１と、光磁気ディスク５からテスト信号を読み出すことにより、最良のテスト信号が得られたときの記録条件、つまり、最適記録条件を求める記録条件決定手段２と、テスト信号が記録された光磁気ディスク５上の場所を求める記録場所検出手段４と、光磁気ディスク５上の場所と共にその場所における最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶手段３と、種々の記録条件を出力する記録条件可変手段６と、記録条件可変手段６からの記録条件または記録条件マップ記憶手段３からの記録条件を切り替えて記録手段１に送るスイッチ７を備えている。
【００２５】
上記の記録手段１および記録条件可変手段６は、光ビームの強度を変えて光磁気ディスク５にテスト信号を記録するように構成されていても良いし、外部磁場の強度を変えて光磁気ディスク５にテスト信号を記録するように構成されていても良い。また、光ビームまたは外部磁場の、パルスの繰り返し周期、パルス間隔を変えて光磁気ディスク５にテスト信号を記録するように構成されていても良い。
【００２６】
上記の記録条件決定手段２は、例えば、光磁気ディスク５からテスト信号を読み出す記録状態検出手段８と、記録状態検出手段８で読み出されたテスト信号の振幅またはＡＧＣ（自動利得制御）用の制御信号レベルを一時記憶する記録状態記憶手段９と、記憶された振幅またはレベルに基づいて最適の記録条件を決定する演算手段１０から構成されている。
【００２７】
上記の記録場所検出手段４は、テスト信号が記録された光磁気ディスク５上の場所を求めることができるように、セクター番号等の番地情報を検出する構成になっていても良いし、光ビームスポットの、光磁気ディスク５上の半径位置をリニアセンサー（図示されていない）で検出し、光磁気ディスク５上の円周位置をスピンドルモーター（図示されていない）に取り付けられた回転位置検出手段（図示されていない）で検出する構成になっていても良い。
【００２８】
上記の構成において、光磁気ディスク５を交換すると、まず、スイッチ７を記録条件可変手段６側に切り替える。
【００２９】
それから、図２のフローチャートに示すように、ステップ１（以下、ステップをＳと略す）として、テスト信号を記録する光磁気ディスク５上の場所を記録場所検出手段４によって求める。
【００３０】
Ｓ２では、記録条件可変手段６により記録条件を変えながら、記録手段１によりテスト信号を光磁気ディスク５に記録する。それから、記録条件決定手段２により光磁気ディスク５からテスト信号を読み出すことにより、最良のテスト信号が得られたときの記録条件、つまり、最適記録条件を求める。
【００３１】
Ｓ３では、記録場所検出手段４により求められた光磁気ディスク５上の場所と、記録条件決定手段２により求められた、その場所における最適記録条件を、記録条件マップ記憶手段３に格納する。
【００３２】
Ｓ４では、光磁気ディスク５上の所定の場所すべての最適記録条件が記録条件マップ記憶手段３に記憶されたかどうかを判断し、所定の場所すべての最適記録条件が記録条件マップ記憶手段３に格納されていない場合、Ｓ１に戻る。これにより、所定の場所すべての最適記録条件が記録条件マップ記憶手段３に格納されるまで、Ｓ１〜Ｓ３が繰り返し実行される。
【００３３】
Ｓ５では、実測された場所毎の最適記録条件に基づいて、実測されていない場所の最適記録条件を、補間により求める。補間により求められた場所毎の最適記録条件も記録条件マップ記憶手段３に格納する。
【００３４】
以上のようにして、光磁気ディスク５上の場所毎の最適記録条件、すなわち、二次元の記録条件マップが得られる。
【００３５】
この後、スイッチ７を記録条件マップ記憶手段３側に切り替える。
【００３６】
Ｓ６では、記録条件マップ記憶手段３に格納された最適記録条件の下で、記録手段１により所望の情報が記録される。
【００３７】
なお、上記では記録条件マップを記憶する例を示したが、これに限らず記録条件検出手段８からの記録状態検出信号をマップ化しておき、通常記録時にマップを読み出して演算手段１０によって演算しながら記録条件を決定してもよい。
【００３８】
上記の記録条件マップ記憶手段３に記憶された記録条件マップの一例を図３に示す。
【００３９】
図３の記録光量Ａ1 〜Ａ8 は、図４に示すように、光磁気ディスク５の内側の円周上において最適記録条件を与える値であり、記録光量Ｂ1〜Ｂ8 は、光磁気ディスク５のほぼ中央の円周上において最適記録条件を与える値であり、記録光量Ｃ1 〜Ｃ8は、光磁気ディスク５の外側の円周上において最適記録条件を与える値である。
【００４０】
なお、図４では同一角度のマップを示したが、外周になるほど、場所を増やしていくことにより、均等に配置するようにしてもよい。
【００４１】
これらの記録光量Ａ1 〜Ａ8 、Ｂ1 〜Ｂ8 、Ｃ1 〜Ｃ8は、図５（ａ）〜（ｃ）に示すように、光磁気ディスク５の半径毎に異なっていると共に、円周毎にも異なっている。したがって、最適記録条件は、本実施例のように、光磁気ディスク５の半径毎だけでなく、円周毎にも応じて決定されるべきである。
【００４２】
以上の実施例では、記録状態検出手段８で読み出されたテスト信号の振幅またはＡＧＣ（自動利得制御）用の制御信号レベルを記録状態記憶手段９に一時記憶させたが、特開昭６０−１３３３４号公報に開示された２次高調波や、特開昭５５−８９９１９号公報に開示された再生信号の波形の幅や大きさを記憶させるようにしてもよい。
【００４３】
また、記録条件マップ記憶手段３は、図６に示すように、少なくとも記録条件マップを記憶できる記憶手段１１を備えておれば良いが、記録条件マップのエラー訂正を行う補間手段１２を追加することにより、光磁気ディスク５の欠陥部分より得られた、エラーを有する最適記録条件データを、その欠陥部分の前後左右（つまり、円周方向や半径方向）の正常部分から得られた、正しい最適記録条件データを基に修正することが可能になる。
【００４４】
補間手段１２によるエラー訂正方法としては、例えば、ラジオ技術社から１９８７年８月１０日に発行された「新版ディジタルオーディオ」の２０９頁に開示されている方法を用いることができる。
【００４５】
記憶手段１１としては、半導体メモリーあるいは、図７に示すように、光磁気ディスク５上に設けた記録条件マップ記憶領域１３を使用できる。
【００４６】
光磁気ディスク５上の５１２点の最適記録条件を記憶する場合、記録光量等の最適記録条件を１バイトで表したとすると、必要な記録条件マップの大きさは５１２バイトとなる。したがって、光磁気ディスク５上に記録条件マップ記憶領域１３を設けたことによる光磁気ディスク５の記憶容量（数百ＭＢ）の減少はきわめてわずかである。
【００４７】
また、図４における各場所を、記録条件決定のための専用の領域として確保すれば、情報データの記録領域と区別することが可能となり、データを破壊せずに安心して記録条件の決定ができる。前記専用の領域は例えば特定の番号のセクターでもよく、あるいはセクター以外の独立な領域としてもよい。
【００４８】
さらに、同一ロットの光磁気ディスク５…における記録条件マップは同一になるため、製造時に記録条件マップを記録条件マップ記憶領域１３に記録しておくことも可能である。また、記録条件マップ記憶領域１３に複数の記録条件マップと共に、ロット番号、ディスクの種類等を記録しておくことにより、ロット番号、ディスクの種類等を読み出すことにより、記録条件マップを選択することも可能である。
【００４９】
記憶手段１１としては、上記の半導体メモリーや光磁気ディスク５上の記録条件マップ記憶領域１３の他、光磁気ディスクのカートリッジに取り付けた磁気記録媒体を用いることもできる。
【００５０】
また、周囲の環境条件（温度等）が変化した場合は、上記記録条件マップに環境条件分をプラスして、記録条件を設定することも可能である。
【００５１】
以上の実施例では、光磁気ディスク装置を例に挙げて説明したが、光磁気カード装置、光磁気テープ装置にも本発明を応用できる。また、光磁気型の光記録再生装置だけでなく、追記型、相変化型の光記録再生装置にも本発明を広く応用できる。
【００５２】
第１光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置は、光磁気ディスク５に情報を記録する記録手段１と、テスト信号の光磁気ディスク５上の記録場所を検出する記録場所検出手段４と、光磁気ディスク５にテスト信号を記録するために記録手段１にさまざまな記録条件を与える記録条件可変手段６と、光磁気ディスク５に記録されたテスト信号を読み出すことにより、各記録場所ごとに最適記録条件を決定する記録条件決定手段２と、前記記録場所および各記録場所における最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶手段３とが備えられており、この記録条件マップ記憶手段３が、光磁気ディスク５における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設定された記録場所における最適記録条件を記憶する構成である。
【００５３】
これによれば、光磁気ディスク５上の場所に応じた最適記録条件を記録条件マップ記憶手段３に記憶することができる。すなわち、光磁気ディスク５の最適記録条件の半径分布だけでなく、角度分布も記憶することができる。したがって、記録条件マップ記憶手段３から光磁気ディスク５上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、光磁気ディスク５上のすべての場所において、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００５４】
第２光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置は、第１光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置であって、記録条件マップ記憶手段３に記憶されたテスト信号の記録場所および各記録場所における最適記録条件の中、ある記録場所における最適記録条件を、その記録場所付近における最適記録条件を基に補間する補間手段１２が備えられている構成である。
【００５５】
これによれば、光磁気ディスク５にたまたま欠陥があったため、その場所における正確な記録条件が得られなかったとしても、その場所の前後の最適記録条件を基に補間することができる。これにより、光磁気ディスク５に欠陥があったとしても、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００５６】
第３光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置は、第１光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置であって、上記複数の記録場所は、各円周上において同一の角度分布で設定される構成である。
【００５７】
第４光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置は、第１光記録再生装置に対応する光磁気ディスク装置であって、各円周上に設定されている記録場所の数が、外周となるほど増加するようになっている構成である。
【００５８】
第１記録媒体に対応する光磁気ディスク５は、光磁気ディスク５の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光磁気ディスク５における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられている構成である。
【００５９】
これによれば、テスト信号を読み出すことにより最適記録条件を求めることが可能になる。
【００６０】
第２記録媒体に対応する光磁気ディスク５は、光磁気ディスク５の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光磁気ディスク５における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられている光磁気ディスク５であって、上記領域に応じた最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶領域１３が光磁気ディスク５上に設けられている構成である。
【００６１】
これによれば、光磁気ディスク５上の記録条件マップ記憶領域１３に光磁気ディスク５上の場所に応じた最適記録条件を記憶することが可能になる。したがって、記録条件マップ記憶領域１３から光磁気ディスク５上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、精密な記録条件の補正が可能になる。
【００６２】
第３記録媒体に対応する光磁気ディスク５は、第１記録媒体に対応する光磁気ディスク５あって、上記領域が、各円周上において同一の角度分布で設けられている構成である。
【００６３】
第４記録媒体に対応する光磁気ディスク５は、第１記録媒体に対応する光磁気ディスク５あって、各円周上に設けられている上記領域の数が、外周となるほど増加するようになっている構成である。
【００６４】
【発明の効果】
第１光記録再生装置は、以上のように、光記録媒体に情報を記録する記録手段と、テスト信号の光記録媒体上の記録場所を検出する記録場所検出手段と、光記録媒体にテスト信号を記録するために記録手段にさまざまな記録条件を与える記録条件可変手段と、光記録媒体に記録されたテスト信号を読み出すことにより、前記各記録場所ごとに最適記録条件を決定する記録条件決定手段と、前記記録場所および各記録場所における最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶手段とが備えられており、この記録条件マップ記憶手段が、光記録媒体における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設定された記録場所における最適記録条件を記憶するようになっているので、光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を記録条件マップ記憶手段に記憶することができる。すなわち、光記録媒体の最適記録条件の半径分布だけでなく、角度分布も記憶することができる。したがって、記録条件マップ記憶手段から光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、光記録媒体上のすべての場所において、精密な記録条件の補正が可能になるという効果を奏する。
【００６５】
第２光記録再生装置は、以上のように、第１光記録再生装置であって、上記記録条件マップ記憶手段に記憶されたテスト信号の記録場所および各記録場所における最適記録条件の中、ある記録場所における最適記録条件を、その記録場所付近における最適記録条件を基に補間する補間手段が備えられているので、光記録媒体にたまたま欠陥があったため、その場所における正確な記録条件が得られなかったとしても、その場所の前後の最適記録条件を基に補間することができる。これにより、光記録媒体に欠陥があったとしても、精密な記録条件の補正が可能になるという効果を奏する。
【００６６】
第３光記録再生装置は、以上のように、第１光記録再生装置であって、上記複数の記録場所は、各円周上において同一の角度分布で設定される構成である。
【００６７】
第４光記録再生装置は、以上のように、第１光記録再生装置であって、各円周上に設定されている記録場所の数が、外周となるほど増加するようになっている構成である。
【００６８】
第１光記録媒体は、以上のように、光記録媒体の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光記録媒体上における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられているので、テスト信号を読み出すことにより最適記録条件を求めることが可能になるという効果を奏する。
【００６９】
第２光記録媒体は、以上のように、光記録媒体の記録条件マップを得るためのテスト信号を記録する専用領域が、光記録媒体上における半径の異なる複数の円周上に複数個ずつ設けられている光記録媒体であって、上記領域に応じた最適記録条件を記憶する記録条件マップ記憶領域が光記録媒体上に設けられているので、光記録媒体上の記録条件マップ記憶領域に光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を記憶することが可能になる。したがって、記録条件マップ記憶領域から光記録媒体上の場所に応じた最適記録条件を読み出すことにより、精密な記録条件の補正が可能になるという効果を奏する。
【００７０】
第３光記録媒体は、以上のように、第１光記録媒体であって、上記領域が、各円周上において同一の角度分布で設けられている構成である。
【００７１】
第４光記録媒体は、以上のように、第１光記録媒体であって、各円周上に設けられている上記領域の数が、外周となるほど増加するようになっている構成である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光磁気ディスク装置の概略の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の光磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】図１の光磁気ディスク装置で得られた  記録条件マップの一例を示すグラフである。
【図４】図３の記録条件マップの最適記録光量が得られた光磁気ディスク上の場所を示す説明図である。
【図５】図３の記録条件マップの最適記録光量を半径毎にプロットしたグラフであり、（ａ）〜（ｃ）はそれぞれ光磁気ディスクの内側、中央、外側に対応する。
【図６】図１の光磁気ディスク装置における記録条件マップ記憶手段の一例を示すブロック図である。
【図７】図１の光磁気ディスク装置の光磁気ディスクに設けられた記録条件マップ記憶領域を示す説明図である。
【図８】従来の光磁気ディスク装置の概略の構成を示すブロック図である。
【図９】図８の光磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１    記録手段
２    記録条件決定手段
３    記録条件マップ記憶手段
４    記録場所検出手段
５    光磁気ディスク（光記録媒体）
６    記録条件可変手段
１１    記憶手段
１２    補間手段
１３    記録条件マップ記憶領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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