(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号発生部（５）から出力される信号を測定対象端末（１０）へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータ（６）で測定しかつその信号のスプリアス成分（３）をスペクトラムアナライザ（７ａ）で測定する移動端末試験システムにおいて、
前記受信した信号のスプリアス成分の周波数（ｆＳ）を前記スペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段（４４）と、
この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を前記信号発生部から出力させて、前記パワーメータ及び前記スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段（４５）と、
このパワーメータ及びスペクトラムアナライザで測定された基準信号の各信号レベルに基づいて前記スペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段（４６）と、
前記スペクトラムアナライザで前記受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して前記校正値で補正して出力する信号レベル測定手段（４７）と
を備えた移動端末試験システム。
【請求項２】
信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号のスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験システムにおいて、
前記受信した信号のスプリアス成分（３）の周波数（ｆＳ）を前記スペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段（４４）と、
この測定された周波数及び既知の所定レベルを有した基準信号を前記信号発生部から出力させて、前記スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段（４５）と、
このスペクトラムアナライザで測定された基準信号の信号レベル及び前記既知の所定レベルに基づいて前記スペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段（４６）と、
前記スペクトラムアナライザで前記受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して前記校正値で補正して出力する信号レベル測定手段（４７）と
を備えた移動端末試験システム。
【請求項３】
信号発生部（５）から出力される信号を測定対象端末（１０）へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルのスプリアス成分（３）をＹＴＦ（２２ａ）を有するスペクトラムアナライザ（７ａ）で測定する移動端末試験システムにおいて、
前記受信した信号のスプリアス成分の周波数（ｆＳ）を前記スペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段（４４）と、
この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を前記信号発生部から出力させて、前記スペクトラムアナライザに印加し、前記ＹＴＦを前記周波数に同調させ、該スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段（４５）と、
前記ＹＴＦを前記周波数に同調させたままで、前記測定対象端末から送信された信号のスペクトラム成分の信号レベル及びスプリアス成分を前記スペクトラムアナライザで測定させる信号レベル測定制御手段（４７）と
を備えた移動端末試験システム。
【請求項４】
前記信号発生部から出力された前記測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号をパワーメータで測定し、該パワーメータ及び前記スペクトラムアナライザで測定された基準信号の信号レベルに基づいて前記スプリアス成分の測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段（４６）を備えた請求項３記載の移動端末試験システム。
【請求項５】
信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータで測定しかつその信号のスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験方法において、
前記受信した信号のスプリアス成分の周波数を前記スペクトラムアナライザで測定するステップと、
この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を前記信号発生部から出力させて、前記パワーメータ及び前記スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定するステップと、
このパワーメータ及びスペクトラムアナライザで測定された基準信号の各信号レベルに基づいて前記スペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出するステップと、
前記スペクトラムアナライザで前記受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して前記校正値で補正して出力するステップと
を備えた移動端末試試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば携帯電話等に代表される移動端末を試験する移動端末試験システム及び移動端末試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
移動体通信システムに用いられる例えば携帯電話等の移動端末と基地局との間で送受信される信号は例えば数ＧＨｚにも達する高周波であり、かつＷ−ＣＤＭＡ変調方式に代表される非常に複雑な変調方式を採用している。これは、有限な電波の周波数資源を有効に使用する必要があるからである。したがって、図６に示すように、各移動端末の信号に割当てられた周波数帯域１のバンド幅ＷＦは非常に狭く、かつ隣接する周波数帯域１ａとの間も非常に狭い。したがって、一つの周波数帯域１内で伝送される信号の周波数特性（電力スペクトラム）２のうち隣接する周波数帯域１ａへ漏れる電力成分であるスプリアス成分３を極力抑制する必要がある。
【０００３】
したがって、新規に携帯電話等の移動端末を開発した場合における各種の性能試験項目のうち、この信号に含まれるスプリアス成分３の周波数と信号レベルとを高い精度で測定して、これらの値が規定値以下であることを確認することは非常に重要ことである。
【０００４】
ちなみに、Ｗ―ＣＤＭＡ（Ｗｉｄｅｂａｎｄ  Ｃｏｄｅ  Ｄｉｖｉｓｉｏｎ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ａｃｃｅｓｓ）変調方式を採用した移動体通信システムにおける試験規格である３ＧＰＰ（３ｒｅｄ  ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ  Ｐａｒｔｎｅｒｓｈｉｐ  Ｐｒｏｊｅｃｔ）規格によると、９ｋＨｚ〜２．２ＧＨｚの周波数範囲で±１．５ｄＢ以下、２．２ＧＨｚ〜４ＧＨｚの周波数範囲で±２．０ｄＢ以下、４ＧＨｚ〜１２．７５ＧＨｚの周波数範囲で±４ｄＢ以下の各精度で測定することが要求されている。
【０００５】
この移動端末から出力される信号（変調信号）に含まれるスプリアス成分３の測定も可能である移動端末試験システムは例えば図７に示すように構成されている。
すなわち、この移動端末試験システム４内には、信号発生部５と、パワーメータ６とスペクトラムアナライザ７とが組込まれ送信機テスタ８と、インタフェースユニット９とが設けられている。このインタフェースユニット９に対して測定対象端末１０が接続される。さらに、この測定対象端末１０に対して誤り測定装置１１が接続されている。
【０００６】
前記インタフェースユニット９は、信号発生部５から出力された試験用の信号を測定対象端末１０へ導くとともに、測定対象端末１０から送信されてきた信号（変調信号）を送信機テスタ８へ導く複数の切換スイッチが組込まれた回路網で構成されている。
【０００７】
このような移動端末試験システム４において、信号発生部５は、測定対象端末１０に採用されている例えばＷ―ＣＤＭＡ方式の試験用の変調信号をインタフェースユニット９を介して測定対象端末１０へ送出する。測定対象端末１０は受信した試験用の変調信号を復調して、元のデジタルの試験データを得て、誤り測定装置１１へ送出する。誤り測定装置１１は、測定対象端末１０で復調されたデジタルの試験データの誤り率を測定する。
【０００８】
また、測定対象端末１０から送信された変調信号はインタフェースユニット９で受信されて、送信機テスタ８のパワーメータ６とスペクトラムアナライザ７へ送信される。パワーメータ６は受信した測定対象端末１０からの変調信号のパワーレベルを測定する。スペクトラムアナライザ７は、測定対象端末１０からの変調信号の図６で示した周波数特性（電力スペクトラム）２を測定する。
【０００９】
スペクトラムアナライザ７は、この変調信号の周波数特性（電力スペクトラム）２を測定する過程で、この変調信号に含まれる図６で示したスプリアス成分３を測定する。すなわち、送信機テスタ８は、測定対象端末１０の基地局に対する送信機としての特性を測定する。
【００１０】
周波数特性（電力スペクトラム）２及びスプリアス成分３を測定するスペクトラムアナライザ７は、例えば図８に示すように構成されている。
入力端子１２から入力された測定対象端末１０からの変調信号は切換スイッチ１３を介してＬＰＦ（ローパスフィルタ）１４で高周波の雑音が除去されたのち、ミキサ回路１５ａへ入力される。ミキサ回路１５ａにはＹＴＯ（Ｙｔｔｒｉｕｍ  ＩｒｏｎＧａｒｎｅｔ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）２０から出力される局部発振信号が印加されており、ミキサ回路１５ａは、入力した高周波の変調信号を中間周波数信号に周波数変換して、次のＢＰＦ（バンドパスフィルタ）１６ａへ送出する。このＢＰＦ１６ａで通過周波数成分が制御された後の中間周波数信号は整流器１７ａで直流信号に変換されたのち、切換スイッチ１８を介して表示器１９のＹ軸（縦軸）端子へ入力される。表示器１９のＸ軸（横軸）端子には、掃引回路２１から掃引信号が入力される。
【００１１】
掃引回路２１から出力される掃引信号はＹＴＯ２０にも印加される。ＹＴＯ２０は掃引信号の信号レベルの変化に応じて出力する局部発振信号の周波数を可変する。その結果、中間周波数信号の周波数値も変化するので、表示器１９の表示画面には、横軸を周波数とし、縦軸を信号レベル（パワーレベル）とする図６に示す周波数特性（電力スペクトラム）２が得られる。この周波数特性（電力スペクトラム）２から、該当変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳと信号レベルＬＳを測定する。
【００１２】
この変調信号のスプリアス成分３の信号レベルＬＳを測定する場合、先ず、周波数特性（電力スペクトラム）２を測定し、スプリアス成分３の周波数ｆＳを特定する。そして、横軸の周波数をスプリアス成分３の周波数ｆＳに固定した状態で、すなわち、掃引信号レベルを固定して、一定時間スプリアス成分３の信号レベルを継続して測定して、例えば平均値をスプリアス成分３の信号レベルＬＳとしている。
【００１３】
なお、このスペクトラムアナライザ７においては、入力端子１２から入力された高周波の変調信号に含まれるイメージレスポンスなどの要因となる不要信号を除去するためのプリセレクタとしてのＹＴＦ（Ｙｔｔｒｉｕｍ  Ｉｒｏｎ  Ｇａｒｎｅｔ  Ｔｕｎｅｄ  Ｆｉｌｔｅｒ）２２を装備し、このＹＴＦ２２の使用を例えば切換スイッチ１３、１８で選択可能にしている。
【００１４】
すなわち、入力端子１２から入力された高周波の変調信号は、切換スイッチ１３を介してＹＴＦ２２で不要信号が除去されたのち、ミキサ回路１５ｂへ入力される。ミキサ回路１５ｂにはＹＴＯ２０から出力される局部発振信号が印加されており、ミキサ回路１５ｂから出力された中間周波数信号がＢＰＦ１６ｂで周波数制御された後、整流器１７ｂで直流信号に変換され、切換スイッチ１８を介して表示器１９のＹ軸（縦軸）端子へ入力される。表示器１９のＸ軸（横軸）端子には、掃引回路２１から掃引信号が入力される。掃引回路２１から出力される掃引信号はＹＴＯ２０及びＹＴＦ２２にも印加される。
【００１５】
このように、スペクトラムアナライザ７においては、切換スイッチ１３、１８で、ＹＴＦ２３の経路を選択することによって、このＹＴＦ２３をプリセレクタとして使用できるので、スペクトラムアナライザ７の解析精度の向上を図ることができる。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図８に示すようなスペクトラムアナライザ７を用いて測定対象端末１０から出力される変調信号のスプリアス成分３を測定する移動端末試験システムにおいても、まだ改良すべき次のような課題があった。
【００１７】
すなわち、図６にも示すように、変調信号のスプリアス成分３の信号レベルＬＳは、この変調信号の周波数特性（電力スペクトラム）２の信号レベル（ピークレベル）ＬＰに比較して格段に小さいので、スペクトラムアナライザ７が設置された場所の温度、湿度等の測定環境や、工場出荷時におけるレベル調整時点からの経時変化の影響を受けやすい。
【００１８】
したがって、このスペクトラムアナライザ７単体で測定された変調信号のスプリアス成分３の信号レベルＬＳの測定精度を前述した試験規格で定められた精度以上に向上させることは非常に困難であった。
【００１９】
さらに、このスペクトラムアナライザ７において、解析精度の向上を図るために、ＹＴＦ２２を選択した場合においては、さらに次のような課題が生じる。  ＹＴＦ２２は、周知のように、ＹＩＧ単結晶の直流磁場を直線的に変化させた時に共鳴する周波数が直性的に変化する特性を利用した掃引バンドパスフィルタである。そして、その周波数特性２４ａにおいては、図９に示すように、全通過帯域幅に亘って平坦でなくて、大きく変化する。したがって、このＹＴＦ２２に入力された変調信号の周波数特性（電力スペクトラム）２が、この周波数特性２４ａ内のどの周波数位置に位置するかで、このＹＴＦ２２を通過した変調信号の各周波数における信号レベルが変化する。
【００２０】
このような不都合を解消するために、ＹＴＦ２２における周波数の掃引動作を停止させて、変調信号の特定周波数の信号レベルを測定する場合には、周波数のオートチューナ機能が作動するように構成されている。この周波数のオートチューナ機能とは、このＹＴＦ２２を通過する周波数特性２４ａ内に存在する周波数特性（電力スペクトラム）２のピーク点の周波数（ピーク周波数）ｆＰが、ＹＴＦ２２の周波数特性２４ａのピーク点Ｐに一致するように、ＹＴＦ２２の周波数特性２４ａ全体が自動的に移動する機能を示す。この図９の例においては、周波数特性２４ａが矢印２５方向に移動（シフト）して、周波数特性２４ｂになったことを示す。
【００２１】
その結果、周波数特性（電力スペクトラム）２のピーク点の周波数（ピーク周波数）ｆＰが、ＹＴＦ２２の周波数特性２４ｂのピーク点Ｐに常に一致する。
【００２２】
このように、オートチューナ機能を採用することにより、常に最大の信号レベルで、周波数特性（電力スペクトラム）２のピーク点の信号レベルＬＰを測定できる。
【００２３】
しかしながら、周波数特性（電力スペクトラム）２を測定し、スプリアス成分３の周波数ｆＳを特定したのち、掃引信号レベルを固定して、横軸の周波数をスプリアス成分３の周波数ｆＳに固定した状態でスプリアス成分３の信号レベルを測定する場合にオートチューナ機能が作用すると次のような問題が生じる。
【００２４】
すなわち、スプリアス成分３の信号レベルＬＳは変調信号の周波数特性（電力スペクトラム）２のピーク点の信号レベルＬＰに比較して格段に低いので、このスプリアス成分３に対してオートチューナ機能が働かずに、図９に示すように、スプリアス成分３の周波数ｆＳがＹＴＦ２２の周波数特性２４ｂのピーク点Ｐより大きく外れて周波数特性２４ｂの周辺部に対応する。
【００２５】
したがって、このＹＴＦ２２を通過することにより、スプリアス成分３の信号レベルがさらに低下して、測定精度がより一層低下する。また、周波数特性２４ａ、２４ｂの周波数位置が変動することになり、さらに測定精度が低下する。
【００２６】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、スペクトラムアナライザの測定値を、自己に組込まれた試験用の信号を発生する信号発生部の信号を用いて測定の都度、自動補正することによって、測定作業能率を低下させることなく、かつ新規に校正用の回路部材を組込むことなく、測定対象端末から送出される信号のスプリアス成分を高い精度で測定できる移動端末試験システム、及び移動端末試験方法を提供することを目的とする。
【００２７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータで測定しかつその信号のスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験システムに適用される。
【００２８】
そして、上記課題を解消するために、本発明の移動端末試験システムにおいては、受信した信号のスプリアス成分の周波数をスペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段と、この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を信号発生部から出力させて、パワーメータ及びスペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段と、このパワーメータ及びスペクトラムアナライザで測定された基準信号の各信号レベルに基づいてスペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段と、スペクトラムアナライザで受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して校正値で補正して出力する信号レベル測定手段とを備えている。
【００２９】
このように構成された移動端末試験システムにおいては、先ず、この試験システムに組込まれたスペクトラムアナライザで、測定対象端末から送信された信号のスプリアス成分の周波数を測定する。次に、この測定した周波数と、スプリアス成分の信号レベルより格段に高い一定信号レベルとを有した基準信号を信号発生部から出力させてパワーメータ及びスペクトラムアナライザへ印加させる。そして、このパワーメータ及びスペクトラムアナライザでスプリアス成分の周波数を有した基準信号の信号レベルを測定する。
【００３０】
パワーメータは、例えば、熱電対等で構成され、その信号レベルの測定精度は、スペクトラムアナライザにおける信号レベルの測定精度に比較して格段に高いので、このパワーメータで測定された基準信号の信号レベルを正しい信号レベルとみなして、スペクトラムアナライザの測定値に対する校正値が求まる。しかし、パワーメータが高い測定精度を得るには、高いレベルで測定する必要がある。したがって、スプリアス成分の信号レベルより格段に高い一定信号レベルを有した基準信号を用いて高い精度の校正値を求めている。
【００３１】
したがって、測定対象端末から受信した信号のスプリアス成分の信号レベルをスペクトラムアナライザで測定して校正値で補正することによって、スプリアス成分の信号レベルを高い精度で測定することが可能となる。
【００３２】
なお、スペクトラムアナライザに前述したＹＴＦが組込まれ、このＹＴＦを用いる場合においては、スプリアス成分と同一周波数を有し、かつスプリアス成分より格段に高い信号レベルを有した基準信号を用いるので、基準信号に対して十分にオートチューナ機能が働き、基準信号の周波数、すなわちスプリアス成分の周波数にＹＴＦの周波数特性のピーク点を合わせることが可能となる。両者の周波数が一致した時点でオートチューナ機能を停止させて、ＹＴＦの周波数を固定すればよい。
【００３３】
また、別の発明は、信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号のスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験システムに適用される。
【００３４】
そして、上記課題を解消するために、本発明の移動端末試験システムにおいては、受信した信号のスプリアス成分の周波数をスペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段と、この測定された周波数及び既知の所定レベルを有した基準信号を信号発生部から出力させて、スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段と、このスペクトラムアナライザで測定された基準信号の信号レベル及び既知の所定レベルに基づいてスペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段と、スペクトラムアナライザで受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して校正値で補正して出力する信号レベル測定手段とを備えている。
【００３５】
このように構成された移動端末試験システムにおいては、測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルを測定するパワーメータは設けられていない。しかし、信号発生部から出力する一定信号レベルを有した基準信号の信号レベルが既知であれば、パワーメータでこの基準信号の信号レベルを測定する必要はない。そして、スペクトラムアナライザで測定された基準信号の信号レベルと先の一定信号レベルに基づいてスペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出すればよい。
【００３６】
また、別の発明は、信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルのスプリアス成分をＹＴＦを有するスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験システムに適用される。
【００３７】
そして、上記課題を解消するために、本発明の移動端末試験システムにおいては、受信した信号のスプリアス成分の周波数をスペクトラムアナライザで測定させる周波数測定制御手段と、この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を信号発生部から出力させて、スペクトラムアナライザに印加し、ＹＴＦを前記周波数に同調させ、該スペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定させる基準信号測定制御手段と、ＹＴＦを前記周波数に同調させたままで、測定対象端末から送信された信号のスペクトラム成分の信号レベル及びスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定させる信号レベル測定制御手段とを備えている。
【００３８】
さらに、別の発明は、上述した発明の移動端末試験システムに対して、さらに、信号発生部から出力された測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号をパワーメータで測定し、該パワーメータ及びスペクトラムアナライザで測定された基準信号の信号レベルに基づいてスプリアス成分の測定値に対する校正値を算出する校正値算出手段を付加している。
【００３９】
さらに、別の発明は、信号発生部から出力される信号を測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータで測定しかつその信号のスプリアス成分をスペクトラムアナライザで測定する移動端末試験方法である。
【００４０】
そして、この移動端末試験方法においては、先ず、受信した信号のスプリアス成分の周波数をスペクトラムアナライザで測定する。次に、この測定された周波数であり、かつ所定の出力レベルを有した基準信号を信号発生部から出力させて、パワーメータ及びスペクトラムアナライザでこの基準信号の信号レベルを測定する。そして、このパワーメータ及びスペクトラムアナライザで測定された基準信号の各信号レベルに基づいてスペクトラムアナライザの測定値に対する校正値を算出する。最後に、スペクトラムアナライザで受信した信号のスプリアス成分の信号レベルを測定して校正値で補正して出力する。
【００４１】
このように構成された移動端末試験方法においても、先に説明した移動端末試験システムとほぼ同じ作用効果を奏することが可能である。
【００４２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施形態を図面を用いて説明する。
（第１実施形態）
図１は本発明の第１実施形態の移動端末試験方法が採用された移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図である。図７に示す従来の移動端末試験システムと同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略する。
【００４３】
この第１実施形態の移動端末試験システム内には、信号発生部５と、パワーメータ６とスペクトラムアナライザ７ａとが組込まれた送信機テスタ８と、インタフェースユニット２６と、コンピュータ等の情報処理装置からなる制御部２７とが設けられている。インタフェースユニット２６の出力端子２８に対して測定対象端末１０が接続される。さらに、この測定対象端末１０に対して誤り測定装置１１が接続されている。
【００４４】
前記インタフェースユニット２６内には、例えば４個の切換スイッチ２９、３０、３１、３２が組込まれている。そして、切換スイッチ３２、３１を切換制御することによって、信号発生部５から出力端子２８までの間に、信号発生部５から測定対象端末１０へ試験信号を送信するための送信経路３４ａを形成することが可能である。また、切換スイッチ３１、３０、２９を切換制御することによって、出力端子２８から送信機テスタ８までの間に、測定対象端末１０から受信した変調信号を送信機テスタ８へ導くための受信経路３４ｂを形成することが可能である。さらに、切換スイッチ３２、２９を切換制御することによって、信号発生部５から送信機テスタ８までの間に、信号発生部５から送信機テスタ８へ基準信号を送信するための校正経路３４ｃを形成することが可能である。
【００４５】
さらに、このインタフェースユニット２６内には、測定対象端末１０から変調信号を受信している状態で、切換スイッチ２９を校正経路３４ｃ側に切換えた場合に、切換スイッチ２９位置で反射波が発生して測定対象端末１０へ逆送されること防止するために、切換スイッチ２９の切換動作に同期して切換スイッチ３０を終端回路３３側に切換る機能が付加されている。
【００４６】
インタフェースユニット２６内に形成される各経路３４ａ、３４ｂ、３４ｃのうちどの経路を選択するかは、制御部２７からの経路選択信号３５にて指示される。
【００４７】
送信機テスタ８内に設けられたスペクトラムアナライザ７ａは、例えば図２に示すように構成されている。図２のスペクトラムアナライザ７ａにおいて、図８に示す従来のスペクトラムアナライザ７と同一部分には同一符号を付して、重複する部分の詳細説明を省略する。
【００４８】
入力端子１２から入力された測定対象端末１０からの変調信号は減衰器３６で信号レベルが調整され、切換スイッチ１３を介してＬＰＦ（ローパスフィルタ）１４で高周波の雑音が除去されたのち、ミキサ回路１５ａへ入力され、中間周波数信号に周波数変換されて、次のＢＰＦ（バンドパスフィルタ）１６ａへ送出される。このＢＰＦ１６ａで周波数制限された後の中間周波数信号は、２段目のミキサ回路３７ａへ入力される。２段目のミキサ回路３７ａは、局部発振器３９ａからの局部発振信号を用いて、入力された中間周波数信号の周波数をさらに低下させる。
【００４９】
２段目のミキサ回路３７ａから出力された中間周波数信号は、ＢＰＦ３８ａで再度、周波数制限され、整流器１７ａで直流信号に変換されたのち、切換スイッチ１８を介して表示器１９のＹ軸（縦軸）端子へ入力される。表示器１９のＸ軸（横軸）端子には、掃引回路２１から掃引信号が入力される。
【００５０】
掃引回路２１から出力される掃引信号はＹＴＯ２０及び局部発振器３９ａにも印加される。ＹＴＯ２０及び局部発振器３９ａは掃引信号の信号レベルの変化に応じて出力する局部発振信号の周波数を可変する。その結果、表示器１９の表示画面には、横軸を周波数とし、縦軸を信号レベル（パワーレベル）とする図６に示す周波数成分特性（電力スペクトラム）２が得られる。この周波数成分特性（電力スペクトラム）２から、該当変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳと信号レベルＬＳを測定することが可能である。
【００５１】
この変調信号のスプリアス成分３の信号レベルＬＳ（ＤＥ）を測定する場合、先ず、周波数特性（電力スペクトラム）２を測定し、スプリアス成分３の周波数ｆＳを特定する。そして、横軸の周波数をスプリアス成分３の周波数ｆＳに固定した状態で、すなわち、掃引信号レベルを固定して、一定時間継続してスプリアス成分３の信号レベルを測定して、例えば平均値をスプリアス成分３の信号レベルＬＳ（ＤＥ）としている。
【００５２】
さらに、入力端子１２から入力された高周波の変調信号は、減衰器３６で信号レベルが調整され、切換スイッチ１３を介してＹＴＦ２２ａで不要信号が除去されたのち、ミキサ回路１５ｂへ入力される。ミキサ回路１５ｂにはＹＴＯ２０から出力され増幅器４０を経た局部発信信号が印加されており、ミキサ回路１５ｂから出力された中間周波数信号は、ＢＰＦ１６ｂで周波数制限された後、２段目のミキサ回路３７ｂで、局部発振器３９ｂからの局部発振信号を用いて、さらに周波数が低下される。
【００５３】
２段目のミキサ回路３７ｂから出力された中間周波数信号は、ＢＰＦ３８ｂで再度、周波数制限され、整流器１７ｂで直流信号に変換され、切換スイッチ１８を介して表示器１９のＹ軸（縦軸）端子へ入力される。表示器１９のＸ軸（横軸）端子には、掃引回路２１から掃引信号が入力される。掃引回路２１から出力される掃引信号はＹＴＯ２０及びＹＴＦ２２ａにも印加される。
【００５４】
なお、ＹＴＦ２２ａは、周波数の掃引動作を停止している期間は、オートチューナ機能が稼働しているが、制御部２７からの停止信号４１にて、そのオートチューナ機能を一時的に停止させることが可能である。
【００５５】
コンピュータ等の情報処理装置からなる制御部２７内には、測定された変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳと補正後の信号レベルＤＧを記憶する測定値メモリ４１、スペクトラムアナライザ７ａの測定値に対する校正値ＤＣを記憶する校正値メモリ４２が設けられている。
【００５６】
さらに、この制御部２７内には、アプリケーション・プログラム上にソフト的に形成された、経路切換部４３、周波数測定部４４、基準信号測定部４５、校正値算出部４６、信号レベル測定部４７が設けられている。
【００５７】
そして、制御部２７の各部４３〜４７は図３に示す流れ図に従って、測定対象端末１０から送信されたＷ―ＣＤＭＡ方式で変調された変調信号のスプリアス成分３の測定処理を実施する。
【００５８】
なお、この場合、スペクトラムアナライザ７ａにおいて、ＹＴＦ２２ａを使用するか否かは操作者の指示に基づくが、この実施形態においては、切換スイッチ１３、１８を切換制御して、ＹＴＦ２２ａを使用する場合を例に説明する。
【００５９】
先ず、測定対象端末１０がインタフェースユニット２６の出力端子２８に接続された状態において、Ｓ（ステップ）１において、経路切換部４３が起動して、経路選択信号３５をインタフェースユニット２６へ送出して受信経路３４ｂを形成させる。この状態において、この測定対象端末１０から送信されたＷ―ＣＤＭＡ方式で変調された変調信号は、受信経路３４ｂを経由して送信機テスタ８へ入力される。
【００６０】
次に、周波数測定部４４が起動して、スペクトラムアナライザ７ａで、受信した変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳを測定する（Ｓ２）。具体的には、図６に示す周波数特性（電力スペクトラム）２を測定して、この周波数特性（電力スペクトラム）２から、該当変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳを求める。この測定した該当変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳを測定値メモリ４１へ一旦書込む（Ｓ３）。
【００６１】
次に、経路切換部４３が起動して、経路選択信号３５をインタフェースユニット２６へ送出して校正経路３４ｃを形成させる（Ｓ４）。この状態においては、信号発生部５が校正経路３４ｃを介して送信機テスタ８へ接続される。
【００６２】
基準信号測定部４５が起動して、信号発生部５に、測定値メモリ４１に書込んだスプリアス成分３の周波数ｆＳ、前記ＹＴＦ２２ａのオートチューナ機能が十分機能し、かつ該当変調信号の周波数特性（電力スペクトラム）２のピークＰの信号レベルＬＰに対しても十分高い例えば０ｄＢｍ等の一定信号レベルＤＳ、正弦波形を指定する（Ｓ５）。そして、信号発生部５に基準信号の出力を指示する（Ｓ６）。その結果、信号発生部５から、周波数ｆＳ、一定信号レベルＤＳ、正弦波形を有する基準信号が出力され、校正経路３４ｃを介して送信機テスタ８のパワーメータ６及びスペクトラムアナライザ７ａへ印加される。
【００６３】
送信機テスタ８のパワーメータ６は、入力した校正信号の正しい信号レベルＤＡを測定する（Ｓ７）。この状態においては、スペクトラムアナライザ７ａの掃引回路２１が指定する周波数はスプリアス成分３の周波数ｆＳである。したがって、周波数ｆＳを有する一定信号レベルの校正信号がスペクトラムアナライザ７ａへ入力している状態においては、ＹＴＦ２２ａはオートチューニング機能が稼働しており、このＹＴＦ２２ａの周波数特性２３と校正信号の周波数特性４８との関係は、図４に示すように、ＹＴＦ２２ａの周波数特性２３のピーク点Ｐが校正信号の周波数ｆＳに一致している状態である。
【００６４】
そして、ＹＴＦ２２ａへオートチューナ機能の停止指令４１を送出して、現在のオートチューニング周波数を固定する（Ｓ８）。すなわち、ＹＴＦ２２ａの周波数特性２３のピーク点Ｐを校正信号の周波数ｆＳに固定する。
【００６５】
この状態において、スペクトラムアナライザ７ａで、周波数ｆＳの校正信号の信号レベルＤＢを測定する（Ｓ９）。そして、校正値算出部４６が起動して、パワーメータ６で測定された正しい信号レベルＤＡとスペクトラムアナライザ７ａで測定された信号レベルＤＢとから、スペクトラムアナライザ７ａの測定値に対する校正値ＤＣを算出する（Ｓ１０）。
ＤＣ＝ＤＢ―ＤＡ
算出した校正値ＤＣを校正値メモリ４２へ書込む（Ｓ１１）。
【００６６】
次に、経路切換部４３が起動して、インタフェースユニット２６に対して、受信経路３４ｂの経路選択信号３５を送出して、インタフェースユニット２６内に受信経路３４ｂを再度形成させる（Ｓ１２）。その結果、スペクトラムアナライザ７ａには、再度、測定対象端末１０から受信している図４（ｂ）に示す周波数特性（電力スペクトラム）２を有する変調信号が入力する。この状態においては、ＹＴＦ２２ａの周波数特性２３のピーク点Ｐが校正信号の周波数ｆＳに固定されているので、図４（ｂ）に示すように、ＹＴＦ２２ａの周波数特性２３のピーク点Ｐが変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳに一致している。
【００６７】
この状態において、信号レベル測定部４７が起動して、スペクトラムアナライザ７ａは、周波数ｆＳを有するスプリアス成分３の信号レベルＤＥを測定する（Ｓ１３）。そして、この測定された信号レベルＤＥを校正値メモリ４２に記憶されている校正値ＤＣで補正して、正しい信号レベルＤＧを求める（Ｓ１４）。
ＤＧ＝ＤＥ―ＤＣ
補正後の正しい信号レベルＤＧを測定値メモリ４１へ書込む（Ｓ１５）。そして、ＹＴＦ２２ａへ送出しているオートチューナ機能の停止指令４１を解除する。
【００６８】
このように構成された第１実施形態の移動端末試験システムにおいては、インタフェースユニット２６内に受信経路３４ｂを形成させて、測定対象端末１０から変調信号を継続して送出させる。そして、スペクトラムアナライザ７ａで、測定対象端末１０から送信された変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳを測定する。
【００６９】
次に、インタフェースユニット２６内に校正経路３４ｃを形成させて、この周波数ｆＳと一定信号レベルＤＳとを有した基準信号を信号発生部５から出力させてパワーメータ６及びスペクトラムアナライザ７ａへ印加させる。そして、このパワーメータ６及びスペクトラムアナライザ７ａでスプリアス成分３の周波数ｆＳを有した基準信号の各信号レベルＤＡ、ＤＢを測定する。この各信号レベルＤＡ、ＤＢから校正値ＤＣが算出される。この校正値ＤＣを用いて、スペクトラムアナライザ７ａで測定された周波数ｆＳを有したスプリアス成分３の信号レベルＤＥが補正されて正しい信号レベルＤＧが求まる。
【００７０】
この場合、校正値ＤＣは、信号レベルが十分高い基準信号を用いて算出されるので、この校正値ＤＣは高い精度で求まる。したがって、測定対象端末１０から受信した信号のスプリアス成分３の信号レベルＤＥをスペクトラムアナライザ７ａで測定して、校正値ＤＣで補正することによって、スプリアス成分３の信号レベルを高い精度で測定することが可能となる。
【００７１】
なお、スペクトラムアナライザ７ａにおいてＹＴＦ２２ａを利用した場合においては、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、ＹＴＦ２２ａの周波数特性２３が十分信号レベルが高い基準信号の周波数ｆＳでオートチューニングされた状態に固定されるので、スプリアス成分３の周波数ｆＳにＹＴＦ２２ａの周波数特性２３のピーク点Ｐを合わせることが可能となる。よって、スペクトラムアナライザ７ａにおいて、スプリアス成分３の信号レベルを最良の条件で測定できるので、測定精度をさらに向上できる。
【００７２】
なお、実施形態システムにおいては、スプリアス成分３の信号レベルの測定精度を４ＧＨｚ以上の周波数領域において、±２ｄＢ以下に低減できた。
【００７３】
さらに、信号発生部５、パワーメータ６、スペクトラムアナライザ７ａは、移動端末試験システム内に元々組込まれている部材あるので、スペクトラムアナライザ７ａの測定された信号レベルを補正するために新たな回路部材を組込む必要がないので、製造費用が大幅に上昇することはない。
【００７４】
（第２実施形態）
図５は本発明の第２実施形態に係わる移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図である。図１に示す第１実施形態の移動端末試験システムと同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略する。
【００７５】
この第２実施形態の移動端末試験システムにおいては、送信機テスタ８内にパワーメータ６は組込まれていない。
【００７６】
このような構成の第２実施形態の移動端末試験システムにおいて、先に説明した第１実施形態の移動端末試験システムと同様に、インタフェースユニット２６内に受信経路３４ｂを形成させて、測定対象端末１０から変調信号を継続して送出させる。そして、スペクトラムアナライザ７ａで、測定対象端末１０から送信された変調信号のスプリアス成分３の周波数ｆＳを測定する。
【００７７】
次に、インタフェースユニット２６内に校正経路３４ｃを形成させて、この周波数ｆＳと一定信号レベルＤＳとを有した基準信号を信号発生部５から出力させてスペクトラムアナライザ７ａへ印加させる。そして、スペクトラムアナライザ７ａでスプリアス成分３の周波数ｆＳを有した基準信号の信号レベルＤＢを測定する。この各信号レベルＤＢと先の一定信号レベルＤＳから校正値ＤＣが算出される。
【００７８】
ＤＣ＝ＤＢ―ＤＳ
この校正値ＤＣを用いて、スペクトラムアナライザ７ａで測定された周波数ｆＳを有したスプリアス成分３の信号レベルＤＥが補正されて正しい信号レベルＤＧが求まる。
【００７９】
ＤＧ＝ＤＥ―ＤＣ
このように構成された第２実施形態の移動端末試験システムにおいては、信号発生部５から出力する一定信号レベルを有した基準信号の信号レベルＤＳが既知でかつ十分正確であれば、パワーメータでこの基準信号の信号レベルを測定する必要はない。
【００８０】
したがって、制御部２７の処理内容を簡素化できるとともに、パワーメータが組込まれていない移動端末試験システムにおいても、スプリアス成分３の信号レベルを十分高い精度で測定できる。
【００８１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の移動端末試験システム及び移動端末試験方法においては、スプリアス成分の測定時点において、自己に組込まれた試験用の信号を発生する信号発生部から出力される基準信号を用いて校正値を求め、スペクトラムアナライザの測定値をこの校正値で自動的に補正している。
【００８２】
したがって、測定作業能率を低下させることなく、かつ新規に校正用の回路部材を組込むことなく、測定対象端末から送出される信号のスプリアス成分の信号レベルを高い精度で測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係わる移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図
【図２】同実施形態の移動端末試験システムに組込まれたスペクトラムアナライザの概略構成を示すブロック図
【図３】同実施形態の移動端末試験システムの制御部のスプリアス成分の測定処理動作を示す流れ図
【図４】同実施形態の移動端末試験システムのスペクトラムアナライザに組込まれたＹＴＦの周波数特性を示す図
【図５】本発明の第２実施形態に係わる移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図
【図６】変調信号の周波数特性とスプリアス成分との関係を示す図
【図７】従来の移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図
【図８】同従来の移動端末試験システムに組込まれたスペクトラムアナライザの概略構成を示すブロック図
【図９】同従来のスペクトラムアナライザに組込まれたＹＴＦの問題点を説明するための図
【符号の説明】
２…周波数特性（電力スペクトラム）
３…スプリアス成分
５…信号発生部
６…パワーメータ
７、７ａ…スペクトラムアナライザ
８…送信機テスタ
１０…測定対象端末
１１…誤り測定装置
２０…ＹＴＯ
２１…掃引回路
２２、２２ａ…ＹＴＦ
２３…周波数特性
２６…インタフェースユニット
２７…制御部
３４ｂ…受信経路
３４ｃ…校正経路
４３…経路切換部
４４…周波数測定部
４５…基準信号測定部
４６…校正値算出部
４７…信号レベル測定部
【図１】
0003563051.tif 000002
【図２】
0003563051.tif 000003
【図３】
0003563051.tif 000004
【図４】
0003563051.tif 000005
【図５】
0003563051.tif 000006
【図６】
0003563051.tif 000007
【図７】
0003563051.tif 000008
【図８】
0003563051.tif 000009
【図９】
0003563051.tif 000010