(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
プログラマブル論理デバイスの内部又は外部のメモリをリングバッファ回路構成にし、かつ前記メモリに前記プログラマブル論理デバイス内部で不具合現象が誘発される可能性のある信号線を接続し、
自身の前記プログラマブル論理デバイスの内部、又は他の前記プログラマブル論理デバイスの内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を前記信号線を通してトリガ信号として入力して前記リングバッファ回路を停止させ、
この後、前記リングバッファ回路に書き込まれたデータを診断用のデータとして読み出す、
ことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断方法。
【請求項２】
前記リングバッファ回路に書き込まれた前記データの読み出しは、前記プログラマブル論理デバイス内に設けられた読み出し回路、又は当該読み出し回路が設けられていなければ、前記リングバッファ回路内の前記データを別のプログラマブル論理デバイスに転送して当該論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出すことを特徴とする請求項１記載のプログラマブル論理デバイスの診断方法。
【請求項３】
複数のプログラマブル論理デバイスを基板上に実装してなり、前記各プログラマブル論理デバイスは、内部のメモリをリングバッファ回路構成にし、かつ前記メモリに対して自身以外の前記プログラマブル論理デバイスの内部で不具合現象が誘発される可能性のある信号線を接続し、
前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外の前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を前記信号線を通してトリガ信号として入力して前記リングバッファ回路を停止させ、
この後、前記リングバッファ回路に書き込まれたデータを自身のプログラマブル論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出し、又は当該読み出し回路が設けられていなければ、前記リングバッファ回路内の前記データを別のプログラマブル論理デバイスに転送して当該論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出すことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断方法。
【請求項４】
前記トリガ信号が入力してから所定時間経過後に前記リングバッファ回路を停止させることを特徴とする請求項１又は３記載のプログラマブル論理デバイスの診断方法。
【請求項５】
プログラマブル論理デバイスの診断を行なうプログラマブル論理デバイスの診断装置において、
リングバッファ回路構成のメモリと、
内部で不具合現象が誘発される可能性のある自身以外の前記プログラマブル論理デバイスと前記メモリとを接続する信号線と、
前記メモリに書き込まれたデータの読み出しを行なう読み出し回路と、
自身の前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外の前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を前記信号線を通してトリガ信号として入力して前記リングバッファ回路を停止させて前記リングバッファ回路に書き込まれたデータを前記読み出し回路を動作させて読み出し、かつ読み出しの回路の設けられていない自身以外の前記プログラマブル論理デバイスの前記メモリに書き込まれたデータを前記読み出し回路を動作させて読み出す診断回路と、
を具備したことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断装置。
【請求項６】
プログラマブル論理デバイスの診断を行なうプログラマブル論理デバイスの診断装置において、
リングバッファ回路構成のメモリと、
内部で不具合現象が誘発される可能性のある自身以外の前記プログラマブル論理デバイスと前記メモリとを接続する信号線と、
自身の前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外の前記プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を前記信号線を通してトリガ信号として入力して前記リングバッファ回路を停止させ、前記リングバッファ回路内の前記データを読み出し回路が設けられている別のプログラマブル論理デバイスに転送する診断回路と、
を具備したことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断装置。
【請求項７】
前記診断回路は、前記トリガ信号が入力してから所定時間経過後に前記リングバッファ回路を停止させることを特徴とする請求項５又は６記載のプログラマブル論理デバイスの診断装置。
【請求項８】
請求項５又は６記載のプログラマブル論理デバイスの診断装置が備えられたことを特徴とするプログラマブル論理デバイス。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プログラマブル論理デバイス（ＰＬＤ）の診断を行なうプログラマブル論理デバイスの診断方法及びその装置、プログラマブル論理デバイスに関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＬＤは、年々ゲート数が増加しており、殆どの回路構成はＰＬＤの内部回路で実現できる。これにより、かなり複雑な回路を構成する場合でも、１個又は複数個のＰＬＤを連結させることで、所望の複雑な回路を構成できる。
【０００３】
又、このようなＰＬＤ内のデバック環境は、論理シミュレータ等により動作確認ができるようになっており、これによりＰＬＤの設計段階での検証ができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ＰＬＤの設計段階での検証ができるが、この検証の結果などに基づいて作成したＰＬＤ内部の論理回路が実際に正常に動作するかどうかは別で、一旦ＰＬＤ内部で不具合が生じたときには、ＰＬＤの中はブラックボックスとして不明となってしまうことが多い。
【０００５】
そこで本発明は、ＰＬＤ内部の論理回路の動作確認ができるプログラマブル論理デバイスの診断方法及びその装置、プログラマブル論理デバイスを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、プログラマブル論理デバイスの内部又は外部のメモリをリングバッファ回路構成にし、かつメモリにプログラマブル論理デバイス内部で不具合現象が誘発される可能性のある信号線を接続し、自身のプログラマブル論理デバイスの内部、又は他のプログラマブル論理デバイスの内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を信号線を通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路を停止させ、この後、リングバッファ回路に書き込まれたデータを診断用のデータとして読み出すことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断方法である。
【０００７】
本発明は、上記本発明のプログラマブル論理デバイスの診断方法において、リングバッファ回路に書き込まれたデータの読み出しは、プログラマブル論理デバイス内に設けられた読み出し回路、又は当該読み出し回路が設けられていなければ、リングバッファ回路内のデータを別のプログラマブル論理デバイスに転送して当該論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出す。
【０００８】
本発明は、複数のプログラマブル論理デバイスを基板上に実装してなり、各プログラマブル論理デバイスは、内部のメモリをリングバッファ回路構成にし、かつメモリに対して自身以外のプログラマブル論理デバイスの内部で不具合現象が誘発される可能性のある信号線を接続し、プログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外のプログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を信号線を通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路を停止させ、この後、リングバッファ回路に書き込まれたデータを自身のプログラマブル論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出し、又は当該読み出し回路が設けられていなければ、リングバッファ回路内のデータを別のプログラマブル論理デバイスに転送して当該論理デバイスに設けられた読み出し回路により読み出すことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断方法である。
【０００９】
本発明は、上記本発明のプログラマブル論理デバイスの診断方法において、トリガ信号が入力してから所定時間経過後にリングバッファ回路を停止させる。
【００１０】
本発明は、プログラマブル論理デバイスの診断を行なうプログラマブル論理デバイスの診断装置において、リングバッファ回路構成のメモリと、内部で不具合現象が誘発される可能性のある自身以外のプログラマブル論理デバイスとメモリとを接続する信号線と、メモリに書き込まれたデータの読み出しを行なう読み出し回路と、自身のプログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外のプログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を信号線を通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路を停止させてリングバッファ回路に書き込まれたデータを読み出し回路を動作させて読み出し、かつ読み出しの回路の設けられていない自身以外のプログラマブル論理デバイスのメモリに書き込まれたデータを読み出し回路を動作させて読み出す診断回路とを具備したことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断装置である。
【００１１】
本発明は、プログラマブル論理デバイスの診断を行なうプログラマブル論理デバイスの診断装置において、リングバッファ回路構成のメモリと、内部で不具合現象が誘発される可能性のある自身以外のプログラマブル論理デバイスとメモリとを接続する信号線と、自身のプログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象、又は自身以外のプログラマブル論理デバイス内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を信号線を通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路を停止させ、リングバッファ回路内のデータを読み出し回路が設けられている別のプログラマブル論理デバイスに転送する診断回路とを具備したことを特徴とするプログラマブル論理デバイスの診断装置である。
【００１２】
本発明は、上記本発明のプログラマブル論理デバイスの診断装置において、診断回路は、トリガ信号が入力してから所定時間経過後にリングバッファ回路を停止させる。
【００１３】
本発明は、上記本発明のプログラマブル論理デバイスの診断方法において、上記プログラマブル論理デバイスの診断装置が備えられたことを特徴とするプログラマブル論理デバイスである。
【００１４】
【発明の実施の形態】
（１）以下、本発明の第１の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１５】
図１はプログラマブル論理デバイス（ＰＬＤ）の診断装置を組み込んだＰＬＤ１の構成図である。基板２上には、複数のＰＬＤ１が実装されている。これらＰＬＤ１には、図１上の右側の機能ブロック図に示すようにＰＬＤ１の本来の処理回路３と、診断回路４とが設けられている。なお、これらＰＬＤ１のうち診断する対象のＰＬＤ１を被ＰＬＤと称する。
【００１６】
これらＰＬＤ１は、図２に示すようにリングバッファ回路構成のメモリ（以下、リングバッファ回路と称する）５が設けられている。最近のＰＬＤ１は、より応用範囲を広げる目的でメモリを搭載するようになっている。本発明では、このメモリをリングバッファ回路構成として用いる。このリングバッファ回路５は、所定のメモリ容量に形成され、入力される各データを順次時系列で書き込み、かつ新たなデータが書き込まれる毎に古いデータから順に消去していくものである。
【００１７】
又、リングバッファ回路５は、複数のピン（信号線）ｐのうち所定の１本のピンｐｔと接続され、このピンｐｔを通して他のＰＬＤ１に誘発された不具合現象の異常信号をトリガ信号として入力するものとなっている。
【００１８】
読み出し・書き込み回路６は、リングバッファ回路５との間でデータバス７を介して接続され、リングバッファ回路５に書き込まれたデータを読み出す機能を有する。
【００１９】
上記診断回路４は、図３に示す診断フローチャートに従い、自身の被ＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路５を停止させ、このリングバッファ回路５に書き込まれたデータを読み出し・書き込み回路６を動作させて読み出し、かつ読み出しの回路の設けられていない自身以外のＰＬＤ１のリングバッファ回路５に書き込まれたデータを読み出し・書き込み回路６を動作させて読み出す機能を有する。
【００２０】
なお、自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力するが、この異常信号を出力するＰＬＤ１は、自身のリングバッファ回路５からデータを読み出す読み出し・書き込み回路６が設けられていないものである。
【００２１】
診断回路４は、自身の被ＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象の検出を、例えば入力信号に対する応答の期待値を予め記述しておき、入力信号に対する応答が期待値から外れたときに不具合現象（異常）が発生したとして検出する機能を有する。
【００２２】
診断回路４は、自身以外のＰＬＤ１からのトリガ信号が入力してから所定時間経過後にリングバッファ回路５を停止させる機能を有する。
【００２３】
次に、上記の如く構成された装置の作用について図３に示す診断フローチャートに従って説明する。
【００２４】
診断回路４は、ステップ＃１において、自身の被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生したか、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力したか否かを判断する。
【００２５】
自身の被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生、又は自身以外のＰＬＤ１からの異常信号がトリガ信号としてピンｐｔを通して入力すると、診断回路４は、ステップ＃２に移り、被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生、又はトリガ信号が入力してから所定期間経過後にリングバッファ回路５を停止する。
【００２６】
次に、診断回路４は、ステップ＃３において、リングバッファ回路５をデータバス７を介して読み出し・書き込み回路６に切り替える。
【００２７】
次に、診断回路４は、ステップ＃４において、読み出し・書き込み回路６を動作させ、リングバッファ回路５に書き込まれているデータを読み出す。
【００２８】
一方、診断回路４は、ステップ＃５において、自身以外のＰＬＤ１からデータ転送があるか否かを判断する。この判断により自身以外のＰＬＤ１からデータ転送があると、診断回路４は、ステップ＃６に移り、自身以外のＰＬＤ１から転送されてきたデータを読み出し・書き込み回路６を動作させて読み出す。
【００２９】
この読み出し・書き込み回路６により読み出されたデータは、例えば２本のピンｐｒからＰＬＤ１の外部に出力される。この出力データは、例えばパーソナルコンピュータ等に送られてデータ解析され、ＰＬＤ１の内部の論理回路の動作確認が行われる。
【００３０】
このように上記第１の実施の形態においては、ＰＬＤ１のメモリ５をリングバッファ回路構成にし、かつリングバッファ回路５に自身以外のＰＬＤ１で不具合現象が誘発される可能性のある信号線ｐｔを接続し、ＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象又は自身以外のＰＬＤ１からの異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路５を停止させ、この後、リングバッファ回路５に書き込まれたデータを診断用データとして読み出すので、このリングバッファ回路５に書き込まれているデータを読み出すことにより、このデータに基づいてＰＬＤ１の内部の論理回路の動作確認、特に不具合（デバック）発生時の動作が確認できる。
【００３１】
リングバッファ回路５に書き込まれているデータが複数層に構造であれば、これら層のデータをも読み出すことによってＰＬＤ１の内部の論理回路の動作確認を詳細に解析して不具合発生の原因等を確認できる。
【００３２】
又、ロジックアナライザ必須のプローブが不要であり、プローブの電気的な影響を受けずに、より正確に不具合発生の現象を捕らえることができる。
【００３３】
（２）次に、本発明の第２の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１及び図２と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
【００３４】
図４はＰＬＤ１の診断装置を組み込んだＰＬＤの構成図である。被ＰＬＤ１には、シリアル変換回路８が設けられている。この被ＰＬＤ１は、自身のリングバッファ回路５からデータを読み出す読み出し・書き込み回路６が設けられていないものである。
【００３５】
なお、この実施の形態では、読み出し・書き込み回路６が設けられたＰＬＤ１をＰＬＤ１ａとし、読み出し・書き込み回路６が設けられていないＰＬＤ１を被ＰＬＤ１ｂとする。
【００３６】
シリアル変換回路８は、読み出し・書き込み回路６書き込まれたデータをシリアル変換し、２本の出力ピンｐｏから出力する機能を有する。この場合、被ＰＬＤ１ｂの２本のピンｐｏとＰＬＤ１ｂの２本のピンｐｉとの間は、２ラインの信号線９により接続される。
【００３７】
被ＰＬＤ１ｂの診断回路４は、図５に示す診断フローチャートに従い、自身の被ＰＬＤ１ｂの内部で生じた不具合現象、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力してリングバッファ回路５を停止させ、次にこのリングバッファ回路５内のデータを信号線９を通して読み出し回路６が設けられている別のＰＬＤ１ａに転送する機能を有する。
【００３８】
次に、上記の如く構成された装置の作用について図５に示す診断フローチャートに従って説明する。
【００３９】
診断回路４は、ステップ＃１０において、自身の被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生したか、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をピンｐｔを通してトリガ信号として入力したか否かを判断する。
【００４０】
自身の被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生、又は自身以外のＰＬＤ１からの異常信号がトリガ信号としてピンｐｔを通して入力すると、診断回路４は、ステップ＃１１に移り、被ＰＬＤ１の内部で不具合現象が発生、又はトリガ信号が入力してから所定期間経過後にリングバッファ回路５を停止する。
【００４１】
次に、被ＰＬＤ１ｂのシリアル変換回路８は、ステップ＃１２において、リングバッファ回路５に書き込まれたデータをシリアル変換し、ステップ＃１３において、２本の出力ピンｐｏを通してデータ転送する。このシリアル変換されたデータは、２ラインの信号線９を通してＰＬＤ１ａにデータ転送される。
【００４２】
このＰＬＤ１ａでは、シリアル変換回路８によりデータ転送されてきたシリアルデータを元のデータ形式に変換し、読み出し・書き込み回路６によってデータを読み取る。
【００４３】
このように上記第２の実施の形態においては、被ＰＬＤ１ｂの内部で生じた不具合現象、又は被ＰＬＤ１ｂ以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号をトリガ信号として入力してリングバッファ回路５を停止させ、このリングバッファ回路５内のデータを読み出し・書き込み回路６が設けられている別のＰＬＤ１ａにデータ転送するので、読み出し・書き込み回路６が設けられていない被ＰＬＤ１ｂであっても、この被ＰＬＤ１ｂのリングバッファ回路５に書き込まれているデータを読み出すことができ、このデータに基づいてＰＬＤ１の内部の論理回路の動作確認、特に不具合発生時の動作が確認できる。
【００４４】
（３）次に、本発明の第３の実施の形態について図面を参照して説明する。本発明の第３の実施の形態は、上記第１と第２の実施の形態の組み合わせである。図１に示す基板２上には、複数のＰＬＤ１が実装されているが、これらＰＬＤ１は、読み出し・書き込み回路６が設けられているＰＬＤ１（１ａ）と設けられていないＰＬＤ１（１ｂ）とが混在する。
【００４５】
従って、ＰＬＤ１ａの診断回路４は、図３に示す診断フローチャートに従い、自身の被ＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を１本のピンｐｔを通してトリガ信号として入力してから所定期間経過後にリングバッファ回路５を停止させ、このリングバッファ回路５に書き込まれたデータを読み出し・書き込み回路６を動作させて読み出し、かつ読み出しの回路の設けられていない自身以外のＰＬＤ１のリングバッファ回路５に書き込まれたデータを読み出し・書き込み回路６を動作させて読み出す機能を有する。
【００４６】
ＰＬＤ１ｂの診断回路４は、図５に示す診断フローチャートに従い、自身の被ＰＬＤ１ｂの内部で生じた不具合現象、又は自身以外のＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象により出力される異常信号を１本のピンｐｔを通してトリガ信号として入力してから所定期間経過後にリングバッファ回路５を停止させ、次にトリガ信号を１本のピンから隣接する別のＰＬＤ１に渡すと共に、リングバッファ回路５内のデータを信号線９を通して隣接する別のＰＬＤ１に転送し、最終的に読み出し・書き込み回路６が設けられているＰＬＤ１ａに転送する機能を有する。
【００４７】
このような構成であれば、図６に示すＰＬＤ１ｂ−１で不具合が発生すると、このＰＬＤ１ｂ−１の診断回路４は、自身の被ＰＬＤ１の内部で生じた不具合現象によりリングバッファ回路５を停止させ、トリガ信号を１本のピンから隣接する別のＰＬＤ１に渡すと共に、リングバッファ回路５内のデータを信号線９を通して隣接するＰＬＤ１−２に転送する。このデータ転送は、上記第２の実施の形態と同様に、シリアル変換して行なう。
【００４８】
このＰＬＤ１−２は、ＰＬＤ１ｂ−１からのトリガ信号を入力すると共に、転送されてきたデータを入力し、自身のリングバッファ回路５に書き込み、かつ同リングバッファ回路５を停止させる。このＰＬＤ１−２は、自身の読み出し・書き込み回路６が設けられていないので、ＰＬＤ１ｂ−１の診断回路４と同様に、トリガ信号を隣接するＰＬＤ１−３に渡すと共に、リングバッファ回路５内のデータとを信号線９を通して隣接するＰＬＤ１−３に転送する。
【００４９】
このＰＬＤ１−３もＰＬＤ１−２と同様に、ＰＬＤ１ｂ−２からのトリガ信号を入力すると共に、転送されてきたデータを入力し、自身のリングバッファ回路５に書き込み、かつ同リングバッファ回路５を停止させる。このＰＬＤ１−３も自身の読み出し・書き込み回路６が設けられていないので、ＰＬＤ１ｂ−２の診断回路４と同様に、トリガ信号を隣接するＰＬＤ１ａに渡すと共に、リングバッファ回路５内のデータとを信号線９を通して隣接するＰＬＤ１ａに転送する。
【００５０】
このＰＬＤ１ａは、データ転送されてきたシリアルデータを元のデータ形式に変換し、読み出し・書き込み回路６によってデータを読み取る。
【００５１】
このように上記第３の実施の形態によれば、基板２上に、読み出し・書き込み回路６が設けられているＰＬＤ１ａと設けられていないＰＬＤ１ｂとが混在しても、例えばＰＬＤ１ｂ−１のリングバッファ回路５に書き込まれているデータを各ＰＬＤ１ｂ−１、１ｂ−２、１ｂ−３、１ａに順次データ転送し、読み出し・書き込み回路６が設けられたＰＬＤ１ａにおいて読み出すことができ、このデータに基づいてＰＬＤ１ｂ−１の内部の論理回路の動作確認、特に不具合発生時の動作が確認できる。
【００５２】
なお、本発明は、上記第１乃至第３の実施の形態に限定されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。
【００５３】
さらに、上記各実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
【００５４】
上記各実施の形態におけるリングバッファ回路５は、ＦＩＦＯ（ｆａｓｔ  ｉｎ  ｆａｓｔ  ｏｕｔ）回路により構成してもよい。このＦＩＦＯ回路を用いた場合は、入出力が独立しているので、動作中、停止後に接続先を切り替える必要がない。
【００５５】
リングバッファ回路５は、ＰＬＤ１に内蔵されているメモリを利用しているが、専用のバッアァメモリを用意してこれを用いてもよい。
【００５６】
リングバッファ回路５を停止させるタイミングは、被ＰＬＤ１の中で固定してもよいし、被ＰＬＤ１内で変更可能に、又は別のＰＬＤ１により被ＰＬＤ１での停止タイミングを変更するようにしてもよい。
【００５７】
不具合現象を誘発する可能性がある複数の信号線は随時書き替えてもよいし、又被ＰＬＤ１の主要な信号線を予め全て接続しておいてもよい。
【００５８】
ＰＬＤ１間の外部信号でもＰＬＤ内の回路の入力部で確認できるので、ロジックアナライザの代替として利用できる。
【００５９】
【発明の効果】
以上詳記したように本発明によれば、ＰＬＤ内部の論理回路の動作確認ができるプログラマブル論理デバイスの診断方法及びその装置、プログラマブル論理デバイスを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係わるプログラマブル論理デバイス（ＰＬＤ）の診断装置の第１の実施の形態を組み込んだＰＬＤの構成図。
【図２】本発明に係わるプログラマブル論理デバイスの診断装置の第１の実施の形態におけるＰＬＤの内部構成図。
【図３】本発明に係わるプログラマブル論理デバイスの診断装置の第１の実施の形態における診断フローチャート。
【図４】本発明に係わるプログラマブル論理デバイスの診断装置の第２の実施の形態を組み込んだＰＬＤの構成図。
【図５】本発明に係わるプログラマブル論理デバイスの診断装置の第２の実施の形態における診断フローチャート。
【図６】本発明に係わるプログラマブル論理デバイスの診断装置の第３の実施の形態を組み込んだ基板の構成図。
【符号の説明】
１：ＰＬＤ
２：基板
３：処理回路
４：診断回路
５：メモリ（リングバッファ回路）
６：読み出し・書き込み回路
７：データバス
８：シリアル変換回路
９：信号線
ｐ，ｐｔ，ｐｒ：ピン（信号線）
【図１】
0003597825.tif 000002
【図２】
0003597825.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
0003597825.tif 000007