(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクへの情報記録時に、当該光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求める光ディスク記録方法において、
ピット部を生成するパワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出し、ピット部を生成しないパワーで照射したレーザ光のスペース部からの反射光強度を光強度レベルＳｓとして検出し、次式
Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｓｓ／Ｐｗ１２
によって前記指数Ｒｍを求め、
当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように前記パワーＰｗ１を制御する、
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項２】
前記光ディスクの少なくとも１周分について前記指数Ｒｍを求め、更にこれらの指数Ｒｍの平均値を求め、その平均値を真の指数Ｒｍとする、
請求項１記載の光ディスク記録方法。
【請求項３】
前記光ディスクの少なくとも１周分について前記Ｓｐ、前記Ｓｓ及び前記Ｐｗ１を検出し、これらのＳｐ、Ｓｓ及びＰｗ１の平均値を求め、更にこれらの平均値を用いて前記指数Ｒｍを算出する、
請求項１記載の光ディスク記録方法。
【請求項４】
光ディスクへの情報記録時に、当該光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求める光ディスク記録方法において、
ピット部を生成するパワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度が安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出し、次式
Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｐｗ１２
によって前記指数Ｒｍを求め、
当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように前記パワーＰｗ１を制御する、
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項５】
前記光ディスクの少なくとも１周分について前記指数Ｒｍを求め、更にこれらの指数Ｒｍの平均値を求め、その平均値を真の指数Ｒｍとする、
請求項４記載の光ディスク記録方法。
【請求項６】
前記光ディスクの少なくとも１周分について前記Ｓｐ及び前記Ｐｗ１を検出し、更にこれらのＳｐ及びＰｗ１の平均値を求め、これらの平均値を用いて前記指数Ｒｍを算出する、
請求項４記載の光ディスク記録方法。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれかに記載の光ディスク記録方法を用いてＯＰＣ（Optimum Power Calibration）時に前記指数Ｒｍを測定し、当該指数Ｒｍを前記目標値とする、
光ディスク記録方法。
【請求項８】
請求項１乃至６のいずれかに記載の光ディスク記録方法を用いて、ＰＣＡ（Power Calibration Area）に最適記録パワーで試し書きする際に前記指数Ｒｍを測定し、当該指数Ｒｍを前記目標値とする、
ディスク記録方法。
【請求項９】
請求項１乃至６のいずれかに記載の光ディスク記録方法を用いてデータ領域実記録開始直後に前記指数Ｒｍを測定し、当該指数Ｒｍを前記目標値とする、
光ディスク記録方法。
【請求項１０】
光ディスクへの情報記録時に当該光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求め、当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように、ピット部を生成するパワーＰｗ１を制御する、光ディスク記録装置において、
前記パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出する手段と、
ピット部を生成しないパワーで照射したレーザ光のスペース部からの反射光強度を光強度レベルＳｓとして検出する手段と、
次式
Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｓｓ／Ｐｗ１２
によって前記指数Ｒｍを求める手段と、
当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように前記パワーＰｗ１を制御する手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】
光ディスクへの情報記録時に当該光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求め、当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように、ピット部を生成するパワーＰｗ１を制御する、光ディスク記録装置において、
前記パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出する手段と、
次式
Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｐｗ１２
によって前記指数Ｒｍを求める手段と、
当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように前記パワーＰｗ１を制御する手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクへの情報記録時に光ディスクの記録状態を検出する指数を求める光ディスク記録方法及び光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクの記録状態を示すパラメータとして、記録波形を再生したＲＦ波形のアシンメトリ（非対称性）を示す「シンメトリ値」と「β値」とがある。
【０００３】
シンメトリ値は、図８（１）に示すＩ３Ｌ，Ｉ３ｐ，Ｉ１１Ｌ，Ｉ１１ｐで表すと次式で与えられる。
シンメトリ値＝−｛（Ｉ１１Ｌ−Ｉ１１Ｐ）−（Ｉ３Ｌ−Ｉ３Ｐ）｝／２（Ｉ１１Ｌ−Ｉ１１Ｐ）                                  ・・・（６）
図８に示すように、シンメトリ値は、記録パワーを上げると小さくなり、記録パワーを下げると大きくなる。
【０００４】
β値は、光ディスクの記録波形のアシンメトリを示す指数であり、図８（２）に示す記録波形を再生したＲＦ波形において、ＡＣ−ＧＮＤからＲＦ波形上端（ランドレベル）までの振幅値Ａ１と、ＡＣ―ＧＮＤからＲＦ波形下端（ピットレベル）までの振幅値Ａ２とに基づき、次式で与えられる。
β値＝（Ａ１−Ａ２）／（Ａ１＋Ａ２）              ・・・（７）
図８に示すように、β値は、シンメトリ値とは逆に、記録パワーを上げると大きくなり、記録パワーを下げると小さくなる。
【０００５】
このβ値（又はシンメトリ値、以下同じ。）とジッタとには、図９に示すような関係がある。β値が大きすぎたり小さすぎたりすると、ジッタが悪化する。許されるジッタ値以下に対応するβ値の幅を、一般にパワーマージンと呼ぶ。このパワーマージンは光ディスクの種類によって様々である。特にパワーマージンが狭い光ディスクでは、β値の変動が大きな問題となるので、光ディスク全面において安定した均一なβ値の記録状態になることが要求される。近年、高倍速記録化が進んできており、このような高倍速記録の場合はより一層パワーマージンが狭くなる傾向がある。そのため、光ディスク全面において安定した均一なβ値の記録状態が、より一層要求されるようになってきている。
【０００６】
このような背景の中で、通常の光ディスクへの記録方法では、光ディスク内の所定の試し書き領域（Power Calibration Area、以下「ＰＣＡ」という。）において最適記録パワーを校正するための動作（OptimumCalibration、以下「ＯＰＣ」という。）を予め行っておき、続いてデータ記録領域への実記録動作をＯＰＣで求めた最適記録パワーで固定して行う。
【０００７】
しかし、以下に挙げるような原因により、ＯＰＣで求めた最適パワーで記録しているにもかかわらず、光ディスクの記録状態が最適ではなくなるという問題がある。
１）光ディスクの特性の面内変化。
２）光ヘッドのレーザ光線の光軸と光ディスク記録面の機械的な傾きとのズレの面内変化。（ラジアルＳＫＥＷの面内変化や、ディスク反りなどによる。）
３）ＯＰＣ時と実記録時とで温度が変化することによる、光ディスクの特性の変化。
４）ＯＰＣ時と実記録時とで温度が変化することによる、半導体レーザ素子の波長変化による記録特性の変化。
【０００８】
これらの問題を解決するために、記録時に様々な方法で記録状態を検出し、これに基づいて記録パワーを補正し、ＯＰＣ時の記録状態を維持する動作（これを一般に「ランニングＯＰＣ」と呼ぶ。）を行う場合がある。
【０００９】
このランニングＯＰＣには、例えば特開２０００−２１５４５４号公報（以下「第一従来例」という。）、特開平９‐２７０１２８号公報（以下「第二従来例」という。）、及び特開平９―９１７０５号公報（以下「第三従来例」という。）に開示された技術が知られている。
【００１０】
第一従来例では、記録時ピット反射光レベルのＰＥＡＫ値（以下「ＰＥＡＫ値」という。）と、記録時ピット反射光後半のサンプリングホールドレベル（以下「Ｂ値」という。）とに基づき、次式により記録状態を検出し記録パワーを補正する。
記録状態検出指数＝（Ｂ値）／（ＰＥＡＫ値）          ・・・（１１）
すなわち、ＯＰＣ時に記録状態検出指数を上式に基づき測定し、これを記録状態検出指数の目標値とするとともに、データ記録領域への記録時に測定する記録状態検出指数が目標値になるように記録パワーを制御する。
【００１１】
第二従来例では、ＰＥＡＫ値とＢ値とに基づき、次式により記録状態を検出し記録パワーを補正する。
記録状態検出指数＝（ＰＥＡＫ値）／Ｎ―（Ｂ値）      ・・・（１２）
上式中のＮは、光ディスクの種類別に求めた実験値である。
【００１２】
第三従来例では、第一及び第二従来例と異なり、ＰＥＡＫ値を演算パラメータに使用しない。すなわち、記録時ピット反射光レベルと記録パワーとに基づき、次式により記録状態を検出し記録パワーを補正する。
記録状態検出指数＝（記録時ピット反射光レベル）／（記録パワー）                                                        ・・・（１３）
すなわち、データ記録領域への記録し始めに記録状態検出指数を上式で測定し、この記録状態検出指数の目標値とし、以降の記録時に測定する記録状態検出指数が目標値になるように記録パワーを制御する。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、第一乃至第三従来例では、次のような問題があった。
【００１４】
第一及び第二従来例において、式（１１）及び式（１２）に含まれるＰＥＡＫ値は、反射光検出回路の周波数特性の影響が大きく、温度変化によっても周波数特性が変化する。そのため、安定した測定が困難である。また、Ｂ値を得るためにピークホールド回路が必要であるので、回路コストが高価になる。更に、式（１１）及び式（１２）で得られる記録状態検出指数に基づいて記録パワーを制御する方法では、様々な要因によって、記録状態変動に対する追従性能が悪い。更にまた、光ディスクの種類によっては、記録状態検出指数の検出能力が低い。
【００１５】
第二従来例では、式（１２）に含まれるＮが光ディスクの種類別に与えられるため、多種類の光ディスクに対応するのが困難である。しかも、光記録装置ごとによってもＮが変わるために、量産には不向きである。
【００１６】
第三従来例において、式（１３）で求める記録状態検出指数は、光ディスクの種類によっては、記録パワーに対する変化量が小さいために検出感度が悪く、ランニングＯＰＣの精度をあげることが困難である。また、式（１３）で得られる記録状態検出指数に基づいて記録パワーを制御する方法では、様々な要因によって、記録状態変動に対する追従性能が悪い。
【００１７】
図１０は、第三従来例によってランニングＯＰＣを行った結果を示すグラフである。記録パワー固定つまりランニングＯＰＣを行わないで光ディスク全面に記録した場合は、内周と外周とでβ値が約１０％小さくなってしまう。この光ディスクに、このランニングＯＰＣを行って全面記録した場合は、内周と外周とでβ値が約５％大きくなっている。この実験では、このランニングＯＰＣによりβ値変動量が−１０％から＋５％までにしか改善されなかった。しかしながら、理想は変動量０％である。
【００１８】
【発明の目的】
そこで、本発明の目的は、温度変動等に対する安定性及び記録状態の検出感度を向上させた記録状態検出指数を得る光ディスク記録方法及び光ディスク記録装置を提供することにある。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光ディスク記録方法は、光ディスクへの情報記録時に当該光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求めるものである。すなわち、ピット部を生成するパワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出し、ピット部を生成しないパワーで照射したレーザ光のスペース部からの反射光強度を光強度レベルＳｓとして検出し、次式Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｓｓ／Ｐｗ１２…（１）によって指数Ｒｍを求める。又は、ピット部を生成するパワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出し、次式Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｐｗ１２…（２）によって指数Ｒｍを求める。そして、当該指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように、パワーＰｗ１を制御する。
【００２０】
パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度のＰＥＡＫ値を用いないので、温度変動等に影響されない安定した記録状態検出指数が得られる。これに加え、パワーＰｗ１２を用いることにより、記録パワーに対する変化量を大きくできるので、記録状態の検出感度を向上させた記録状態検出指数が得られる。
【００２１】
このとき、光ディスクの少なくとも１周分について指数Ｒｍを求め、更にこれらの指数Ｒｍの平均値を求め、その平均値を真の指数Ｒｍとする、としてもよい。又は、光ディスクの少なくとも１周分についてＳｐ、Ｓｓ及びＰｗ１を検出し、これらのＳｐ、Ｓｓ及びＰｗ１の平均値を求め、更にこれらの平均値を用いて指数Ｒｍを算出する、としてもよい。これらの場合は、記録状態検出指数の精度が向上する。
【００２２】
このとき、目標値は、前述の記録状態検出指数の算出方法を用いて、ＯＰＣ時に測定した指数Ｒｍ、ＰＣＡに最適記録パワーで試し書きする際に測定した指数Ｒｍ、又はデータ領域実記録開始直後に測定した指数Ｒｍ、としてもよい。
【００２３】
本発明に係る光ディスク記録装置は、光ディスクへの情報記録時に光ディスクの記録状態を検出する指数Ｒｍを求め、指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるように、ピット部を生成するパワーＰｗ１を制御するものである。すなわち、パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出する手段と、ピット部を生成しないパワーで照射したレーザ光のスペース部からの反射光強度を光強度レベルＳｓとして検出する手段と、次式Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｓｓ／Ｐｗ１２…（１）によって指数Ｒｍを求める手段と、指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるようにパワーＰｗ１を制御する手段とを備えている。又は、パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度の安定した部分を光強度レベルＳｐとして検出する手段と、次式Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｐｗ１２…（２）によって指数Ｒｍを求める手段と、指数Ｒｍとその目標値との差が最小になるようにパワーＰｗ１を制御する手段とを備えている。
【００２４】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係る光ディスク記録方法の一実施形態を示す説明図である。以下、この図面に基づき説明する。
【００２５】
まず、記録時の光ディスクからの反射光のうちピット生成記録パワー照射時の反射光レベルが安定した後半部分をサンプルホールドしたレベル（以下、「記録時ピット反射光レベルＳｐ」という。）と、記録時の光ディスクからの反射光のうちピット生成しない再生パワー照射時のスペース部反射光をサンプルホールドしたレベル（以下、「記録時スペース反射光レベルＳｓ」という。）とを検出する。そして、これらの検出値Ｓｐ，Ｓｓと、記録時に半導体レーザ素子からのレーザ光が光ヘッドの対物レンズから出射される記録パワーＰｗ１とから、次式によって光ディスクの記録状態を検出する指数を求める。
（記録状態検出指数Ｒｍ）＝（記録時ピット反射光レベルＳｐ）／（記録時スペース反射光レベルＳｓ）／（記録パワーＰｗ１）２      ・・・（１）
この記録状態検出指数Ｒｍに基づいて、記録パワーを制御する。
【００２６】
また、回路の簡略化のために、記録時スペース反射光レベルＳｓを使用しない次式によって記録状態検出指数Ｒｍを求める方法も可能である。
（記録状態検出指数Ｒｍ）＝（記録時ピット反射光レベルＳｐ）／（記録パワーＰｗ１）２                                          ・・・（２）
【００２７】
そしてデータ記録領域への実記録の前に、光ディスク内の所定の試し書き領域（ＰＣＡ）において、最適記録パワーＰｗ０を校正するための動作（ＯＰＣ）を行うと同時に、最適パワーＰｗ０による記録時に式（１）又は式（２）により記録状態検出指数Ｒｍを測定する。これを記録状態検出指数の目標値Ｒｔとして記憶しておき、以降のデータ領域への実記録時に測定する記録状態検出指数Ｒｍとその目標値Ｒｔとの差である記録状態検出指数誤差ΔＲｍが最小になるように、記録パワーＰｗ１を制御する。このように記録状態を検出しながら記録パワーを制御する動作を「ランニングＯＰＣ」という。
【００２８】
ランニングＯＰＣを行わない記録の場合、予めＯＰＣにより求めておいた最適記録パワーに固定してデータ領域に記録するため、様々な要因によりＯＰＣで求めた最適記録パワーが必ずしも最適ではなくなる。その結果、記録状態が変動し記録品質の悪化が起こる。ここでいう「記録状態の変動」とは、記録波形を再生した波形のアシンメトリの変動のことをいい、アシンメトリは前述したようにシンメトリ値又はβ値で表される。
【００２９】
本実施形態では、ランニングＯＰＣ制御方法を行った記録の場合、図２に示すようにＯＰＣによって求めた最適記録パワーＰｗ０による記録状態（すなわちシンメトリ値又はβ値）を、常に安定に維持して記録を行える。そのため、光ディスク全面において安定した記録品質（すなわち均一なシンメトリ値又はβ値）を実現することができる。
【００３０】
図３は、本発明に係る光ディスク記録装置の一実施形態を示すブロック図である。以下、この図面に基づき説明する。同時に、本発明に係る光ディスク記録方法の他の実施形態についても説明する。
【００３１】
スピンドルモータ２によって回転するターンテーブル２２上に光ディスク１が装着され、光ディスク１のデータは光ヘッド３によって読み書きされる。光ヘッド３内の半導体レーザ素子４から出力されたレーザビームは、ハーフミラー２３によって反射され、対物レンズ５によって光ディスク１上に焦点を結ぶ。光ディスク１からのレーザビーム反射光は、再び光ヘッド３に戻り複数に分割された信号検出用受光素子８により反射光量を検出され、電流−電圧変換アンプ１４により電圧信号に変換され各ブロックに供給される。この複数の電圧信号のうち主ビームの和信号はＲＦ信号２１として、光ディスク１上の記録波形を読み出したり、記録時の記録状態を検出したりするために使用される。
【００３２】
また、電流−電圧変換アンプ１４により電圧信号に変換された複数の電圧信号のマトリクスは、サーボ制御用検出信号２５となる。サーボ制御用検出信号２５は、光ディスク１上にレーザビームの焦点を合わせるフォーカス機構や、光ディスク１上のトラックにレーザビームスポットを追従させるトラッキング機構を、制御するためのものである。
【００３３】
光ディスク１にデータを記録する際には、光ディスク１上にピットを生成するために、レーザビームを記録パワーと再生パワーとで交互に照射する（図１(2)）。そのため、再生パワー照射時のみの反射光電圧信号を、サンプルホールド回路１５により保持しサーボ制御信号とする。このサーボ制御信号は、サーボ制御回路１６により処理され、光ヘッド３のトラッキング／フォーカス機構６を駆動することにより対物レンズ５を制御して、レーザビームスポットを光ディスク１上の所定の位置にサーボ制御する。また、図示していないが光ディスク内周／外周へ光ヘッド３を移動させるスレッド機構も設けられており、大まかなトラックへの追従はこのスレッド機構が行う。
【００３４】
一方、半導体レーザ素子４から出力されたレーザビームのうちハーフミラー２３を透過する分は、フロントモニタ受光素子７に直接照射される。これにより、半導体レーザ素子４のレーザビーム強度が、電流−電圧変換アンプ９によって電圧信号（フロントモニタ検出信号２４）に変換される。このフロントモニタ検出信号２４は、レーザビーム強度を常に設定された強度に保つための自動パワー制御（Auto Power Control、以下「ＡＰＣ」という。）を行うために使用される。
【００３５】
光ディスク記録時において、光ディスク１上にピットを生成するため、レーザビームを記録パワーと再生パワーとで交互に出射する。そのため、再生パワー出射時の瞬間と記録パワー出射時の瞬間とのフロントモニタ検出信号２４は、それぞれサンプルホールド回路１０，１１によって保持され、それぞれ再生ＡＰＣ回路１２と記録ＡＰＣ回路１３とに入力される。各ＡＰＣ回路１２，１３は、記録パワー／再生パワー制御部２０によって出射パワー目標値が設定され、レーザビーム強度がこの設定パワーになるように、フロントモニタ検出信号２４の各サンプルホールド信号に基づいてＡＰＣ制御する。
【００３６】
そして、再生時の光ディスク１からの反射光電圧信号２１は、アシンメトリ検出回路１７に入力される。その結果、再生波形のアシンメトリを示すシンメトリ値又はβ値が検出される。
【００３７】
また、光ディスク１からの反射光電圧信号２１は、ピット反射光サンプルホールド回路１８にも入力され、記録時は図１(3)に示すような波形になる。ピット反射光サンプルホールド回路１８は、記録パワー照射時にピット生成が飽和して反射光レベルが安定する反射光電圧信号２１の後半部分を、サンプルホールドして記録時ピット反射光信号２６とする。
【００３８】
同様に、反射光電圧信号２１は、スペース反射光サンプルホールド回路１９にも入力され、記録時は図１(3)に示すような波形になる。スペース反射光サンプルホールド回路１９は、再生パワー照射時の反射光レベルが安定する反射光電圧信号２１の部分を、サンプルホールドして記録時スペース反射光信号２７とする。
【００３９】
これらの記録時ピット反射光信号２６と記録時スペース反射光信号２７とが、記録状態検出指数演算部２０に入力される。そして、記録状態検出指数演算部２０が「記録状態検出指数」を求める。この記録状態検出指数に基づいて記録パワーを制御し、ランニングＯＰＣを実行する。
【００４０】
図４乃至図７は、本実施形態の光ディスク記録装置における動作の一例を示すフローチャートである。以下、図１乃至図７に基づき説明する。
【００４１】
まず、図４に示すように、データ領域への実記録動作前に光ディスク１の所定の試し書き領域（ＰＣＡ）において、最適記録パワーＰｗ０を校正するための動作（ＯＰＣ）を行う。
【００４２】
これは、記録パワー制御部２０により、記録パワーを段階的に変化させながら記録し（ステップ１００）、その波形を再生して各記録パワーに対応するアシンメトリ（又はβ）をアシンメトリ検出回路１７により測定して、光ディスク１毎に定められた目標アシンメトリ（又は目標β）相当の記録パワーＰｗ０を演算より求め、その最適記録パワーＰｗ０に記録パワーＰｗ１を設定する（ステップ１０２）。このときの記録動作と同時に、ピット反射光サンプルホールド回路１８とスペース反射光サンプルホールド回路１９とにより、記録時ピット反射光レベルＳｐと記録時スペース反射光レベルＳｓとを測定して記憶しておく（ステップ１０１）。
【００４３】
これら各検出信号のタイミングは、図１に示す通りである。記録中のＲＦ信号２１は、図１(2)のような波形になり、ピット生成記録パワー照射時の最初はピットがまだ形成されていないため波形レベルが高い。そして、徐々にピットが形成されると反射光量は次第に低くなり、一定時間経過してピット生成が飽和し始めると信号レベルも飽和して安定する。このピット生成記録パワー照射時後半の反射光レベルが安定したレベルを、図１(4)のタイミングでピット反射光サンプルホールド回路１８によりサンプルホールドする。そのレベルが記録時ピット反射光レベルＳｐとなる。一方、記録時の再生パワー照射時の図１(2)の波形を、スペース反射光サンプルホールド回路１９によりサンプルホールドしたレベルが、記録時スペース反射光レベルＳｓである。
【００４４】
このようにして測定した各検出値Ｓｐ、Ｓｓに基づき記録状態検出指数演算部２０によって、ＯＰＣで求めた最適記録パワーＰｗ０に相当する記録状態検出指数Ｒｍを式（１）又は式（２）により求めて（ステップ１０３）、これを記録状態検出指数の目標値Ｒｔとして記憶する（ステップ１０４）。
（記録状態検出指数Ｒｍ）＝（記録時ピット反射光レベルＳｐ）／（記録時スペース反射光レベルＳｓ）／（記録パワーＰｗ１）２      ・・・（１）
（記録状態検出指数Ｒｍ）＝（記録時ピット反射光レベルＳｐ）／（記録パワーＰｗ１）２                                          ・・・（２）
【００４５】
式（２）の場合は、記録時スペース反射光レベルＳｓを演算パラメータに使用しないために、スペース反射光サンプルホールド回路１９が不必要になる。そのために回路コストを下げられる利点と、記録時の検出回路や演算回路の負荷を軽くすることができる利点とがある。しかし、光ディスク１の反射率が変動するような場合に、記録状態維持制御に誤差を生じるという問題がある。
【００４６】
この問題に対してもより良い記録特性を実現できる方法が、式（１）により記録状態検出指数Ｒｍを求める方法である。式（１）の場合は、光ディスク１の反射率が変動するような場合に効果を発揮する。例えば、温度変動により反射率変動が大きい光ディスクにはより有効である。
【００４７】
また、記録状態検出指数の目標値Ｒｔを求める別な方法として、図５に示すような方法もある。
【００４８】
ＯＰＣにより最適記録パワーＰｗ０を求め（ステップ１１０）、その最適記録パワーＰｗ０に記録パワーＰｗ１を設定し（ステップ１１１）、ＰＣＡ数フレームにその最適記録パワー（Ｐｗ１＝Ｐｗ０）で試し書きを行う（ステップ１１２）。この記録動作と同時に、ピット反射光サンプルホールド回路１８とスペース反射光サンプルホールド回路１９とにより、記録時ピット反射光レベルＳｐと記録時スペース反射光レベルＳｓとを測定し（ステップ１１３）、各検出値から記録状態検出指数Ｒｍを式（１）（又は式（２））により求めて（ステップ１１４）、これを目標値Ｒｔとして記憶する（ステップ１１５）。
【００４９】
目標値Ｒｔを求める更に別な方法として、図６に示すような方法もある。
【００５０】
ＯＰＣにより最適記録パワーを求め（ステップ１２０）、その最適記録パワーＰｗ０に記録パワーＰｗ１を設定し（ステップ１２１）、データ記録領域の実記録をこの記録パワー（Ｐｗ１＝Ｐｗ０）で開始する（ステップ１２２）。続いて、開始直後にピット反射光サンプルホールド回路１８とスペース反射光サンプルホールド回路１９とにより、記録時ピット反射光レベルＳｐと記録時スペース反射光レベルＳｓとを測定し（ステップ１２３）、各検出値から記録状態検出指数Ｒｍを式（１）（又は式（２））により求めて（ステップ１２４）、これを目標値Ｒｔとして記憶する（ステップ１２５）。
【００５１】
これまでに説明した図４〜図６のいずれかのフローチャートによって、目標値Ｒｔが求められる。以降のデータ記録領域への実記録では、図７に示す記録パワー制御（ランニングＯＰＣ）が行われる。
【００５２】
まず、既に定められている記録パワーＰｗ１でデータ記録領域に記録を行う（ステップ１３１）。そして、ピット反射光サンプルホールド回路１８とスペース反射光サンプルホールド回路１９とにより図１(2)の波形をサンプルホールドし、記録時ピット反射光レベルＳｐと記録時スペース反射光レベルＳｓとを測定する（ステップ１３２）。このとき、光ディスク回転周期に伴う検出値の変動を吸収するために最低ディスク１回転以上測定を行い、それぞれ平均した検出値を使用する。
【００５３】
続いて、記録状態検出指数演算部２０により記録状態検出指数Ｒｍを式（１）（又は式（２））により求め（ステップ１３３）、記録状態検出指数Ｒｍとその目標値Ｒｔとの差「記録状態検出誤差ΔＲｍ」を次式により求める（ステップ１３４）。
（記録状態検出誤差ΔＲｍ）＝（記録状態検出指数Ｒｍ）―（目標値Ｒｔ）                                                        ・・・（３）
【００５４】
続いて、以下のＡ〜Ｃのいずれかの処理を実行する。
【００５５】
Ａ．記録状態検出誤差ΔＲｍと記録パワー制御しきい値Ｈｓとを比較し（ステップ１３５）、ΔＲｍがＨｓ以上である場合は、「記録状態を維持するためには記録パワーが低い」と判断できるので、次式により記録パワーＰｗ１を記録パワーステップ幅ΔＰｗ分上げる（ステップ１３６）。
（記録パワーＰｗ１）←（記録パワーＰｗ１）＋（記録パワーステップ幅ΔＰｗ）                                                  ・・・（４）
【００５６】
Ｂ．記録状態検出誤差ΔＲｍと負の記録パワー制御しきい値−Ｈｓとを比較し（ステップ１３７）、ΔＲｍが−Ｈｓ以下である場合は、「記録状態を維持するためには記録パワーが高い」と判断できるので、次式により記録パワーＰｗ１を記録パワーステップΔＰｗ分下げる（ステップ１３８）。
（記録パワーＰｗ１）←（記録パワーＰｗ１）−（記録パワーステップ幅ΔＰｗ）                                                  ・・・（５）
【００５７】
Ｃ．上記Ａ，Ｂのいずれにも当てはまらない場合、つまり
−Ｈｓ＜ΔＲｍ＜＋Ｈｓ
の場合は、記録パワーＰｗ１は変化させない。
【００５８】
以上の図７に示す動作を、データ記録が継続される限り繰り返し行う（ステップ１３９）。
【００５９】
なお、本発明は、いうまでもなく、上記実施形態に限定されるものではない。例えば、ピット反射光サンプルホールド回路１８やスペース反射光サンプルホールド回路１９の代わりに、記録時反射光をＡＤ変換して演算により記録時ピット反射光量や記録時スペース反射光量を求めてもよい。
【００６０】
また、記録状態検出指数の演算式は式１又は式２であり、いずれも分母が（記録パワー）２である。ここで、記録パワーは、実質的に同じもの、すなわち記録パワー相当の信号を使用してもよい。例えば、作動プッシュプル方式のようにサブビームを持つ場合であれば、フロント側のサブビームの反射光量を記録パワーに置き換えることができる。又は、フロントモニタ信号レベルを記録パワーの代わりに置き換えることもできる。
【００６１】
【発明の効果】
本発明に係る光ディスク記録方法及び装置によれば、ピット部を生成するパワーＰｗ１の二乗、パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度が安定した部分の光強度レベルＳｐ、及びピット部を生成しないパワーで照射したレーザ光のスペース部からの反射光強度の光強度レベルＳｓを用いて、Ｒｍ＝Ｓｐ／Ｓｓ／Ｐｗ１２又はＲｍ＝Ｓｐ／Ｐｗ１２に基づき指数Ｒｍを求めることにより、次の効果を奏する。パワーＰｗ１で照射したレーザ光の反射光強度のＰＥＡＫ値を用いないので、温度変動等に影響されない安定した記録状態検出指数を得ることができる。これに加え、パワーＰｗ１の二乗を用いることにより、記録パワーに対する変化量を大きくできるので、記録状態の検出感度を向上させた記録状態検出指数を得ることができる。
【００６２】
また、前述の記録状態検出指数の算出方法を用いることにより、温度変動等に対する安定性及び記録状態の検出感度を向上させた記録状態検出指数を得ることができるので、記録状態変動に対する追従性能を向上できる。換言すると、最適記録状態時の記録状態検出指数をその目標値Ｒｔとして測定しておき、データ領域への実記録中に常に記録状態検出指数Ｒｍを測定して、ＲｍとＲｔの差が最小になるように記録パワーＰｗ１を制御しているので、常に安定した最適記録状態を維持することができる。つまり、光ディスク全面にわたって、常に安定して均一な最適β値（シンメトリ値）の記録品質を維持することができる。
【００６３】
本発明の効果を確かめるための実験結果を、図２のグラフに示してある。この実験は本発明に係る機能を有効にした場合と無効にした場合との環境を同一にするために、同一の光ディスクに本発明に係る機能の有効／無効を交互に選択して光ディスク全面に記録を行っている。この場合、記録パワーを固定して光ディスク全面に記録した場合、つまりランニングＯＰＣを行わないで記録をした場合、光ディスクの面内感度差によりディスク内周と外周とでの記録波形のβ値が約９％下がっている。これに対して本発明に係るランニングＯＰＣを行って記録した場合は、内周と外周とのβ値変動が約±１％に収まっている。
【００６４】
また、従来のランニングＯＰＣで測定が困難となる原因であった「記録時ピット反射光のＰＥＡＫ値」を使用しないために、記録時ピット反射光のＰＥＡＫ値測定誤差による記録状態検出指数の誤差はない。
【００６５】
更に、光ディスクの色素の種類によっては、記録パワーを上げていくと記録状態検出指数の変化量が徐々に小さくなって記録状態検出指数が飽和していくという問題があった。これに対し、本発明に係る記録状態検出指数の演算式の分母は「記録パワーの二乗」であるために、分母が「記録パワーの一乗」である従来技術に比べて記録状態検出指数の飽和する記録パワーを高くできるので、制御範囲を広くできる。
【００６６】
しかも、記録状態検出指数の分母が「記録パワーの一乗」である従来技術に比べて、本発明では分母が「記録パワーの二乗」であるので、図２のグラフに示すように記録状態変動に対する追従性が良いという実験結果が得られている。
【００６７】
したがって、本発明によれば、従来のランニングＯＰＣ方法に比べて、安定した良好な特性のランニングＯＰＣを簡単に実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスク記録方法の一実施形態を示す説明図である。
【図２】本発明におけるランニングＯＰＣの結果を示すグラフである。
【図３】本発明に係る光ディスク記録装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図４】図３の光ディスク記録装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】図３の光ディスク記録装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】図３の光ディスク記録装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図７】図３の光ディスク記録装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図８】シンメトリ値及びβ値を説明するためのグラフであり、図８（１）は記録パワー高の場合、図８（２）は記録パワー中の場合、図８（３）は記録パワー低の場合である。
【図９】β値とジッタとの関係の一例を示すグラフである。
【図１０】第三従来例におけるランニングＯＰＣの結果を示すグラフである。
【符号の説明】
Ｓｐ  記録時ピット反射光レベル
Ｓｓ  記録時スペース反射光レベル
Ｐｗ１  記録パワー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
0003539388.tif 000005
【図５】
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【図６】
0003539388.tif 000007
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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