(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定試料より一対の測定リードを介して得られる被測定信号をＡ／Ｄ変換して取り込む測定データ検出回路と、その測定データに所定の演算を施して上記被測定試料のパラメータ値などを算出する制御手段としてのＣＰＵと、上記パラメータ値などを表示するディスプレイとを含み、かつ、素子定数測定モードのほかにショート／オープン補正モードを備えたＬＣＲメータにおいて、ショート／オープン補正モード時、上記ＣＰＵは、上記一対の測定リード間を短絡もしくは開放した状態で上記検出回路を介して取り込まれた補正値と、あらかじめ設定されている比較判定用の基準値とを比較し、上記ディスプレイに上記補正値の有効、無効のメッセージとともに、その補正値自体を併せて表示するようにしたことを特徴とするＬＣＲメータ。
【請求項２】
上記素子定数測定モード時においても、上記ディスプレイの所定表示領域に少なくとも上記補正値が表示されることを特徴とする請求項１に記載のＬＣＲメータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＬＣＲメータに関し、さらに詳しく言えば、ショート／オープン補正モードを備えたＬＣＲメータに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
抵抗値が小さな抵抗を測定する場合には、測定リードの抵抗値やその接触抵抗などの影響を考慮する必要がある。また、抵抗値がきわめて大きい抵抗を測定する場合には、その測定に先だって測定リードの開放電圧を知る必要性がある。
【０００３】
このため、通常のＬＣＲメータにおいては、素子定数測定モードのほかにショート／オープン補正モードを備えている。このショート／オープン補正モード時においては、一対の測定リード（測定端子）を短絡もしくは開放した状態で、その補正値の取り込みが行なわれる。
【０００４】
そして、この補正値とあらかじめ機器ごとに設定されている比較判定用の基準値との比較が行なわれ、この補正値が有効範囲内かが判断される。有効範囲内であれば、その補正値をメモリなどに保存し、以後の素子定数測定モード時における測定値に対して、その補正値によるショート／オープン補正が行なわれる。
なお、補正値が有効範囲以外の場合はその補正値が無効とされ、以後の素子定数測定モード時においてショート／オープン補正は行なわれない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
これによれば、ユーザーは補正値の取り込みが成功であったか、失敗であったかの判断はつくが、成功であったとしても補正値としての測定リードなどのインピーダンスが実際にどの程度の値であるかまでは知ることができなかった。
【０００６】
このことは、手動で測定レンジを選択する場合に影響をおよぼす。すなわち、分かりやすい例として、例えば被測定抵抗値が１０Ωで、これに対してリードなどによる抵抗値が１ｋΩであったとすると、本来１ｋΩのレンジで測定すべきところ、これが分からないため、簡単には適正レンジを決めることができない。
また、補正値の取り込みに失敗した場合でも、その補正値の実際の値が不明であるため、その原因を突き止めにくい、という問題があった。
【０００７】
本発明は、このような従来の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、ショート／オープン補正モードにおいて、その補正値の有効、無効と併せて同補正値自体の実際の値をも知ることができるようにしたＬＣＲメータを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、被測定試料より一対の測定リードを介して得られる被測定信号をＡ／Ｄ変換して取り込む測定データ検出回路と、その測定データに所定の演算を施して上記被測定試料のパラメータ値などを算出する制御手段としてのＣＰＵと、上記パラメータ値などを表示するディスプレイとを含み、かつ、素子定数測定モードのほかにショート／オープン補正モードを備えたＬＣＲメータにおいて、ショート／オープン補正モード時、上記ＣＰＵは、上記一対の測定リード間を短絡もしくは開放した状態で上記検出回路を介して取り込まれた補正値と、あらかじめ設定されている比較判定用の基準値とを比較し、上記ディスプレイに上記補正値の有効、無効のメッセージとともに、その補正値自体を併せて表示するようにしたことを特徴としている。
【０００９】
この場合、素子定数測定モード時においても、ディスプレイの所定表示領域（例えば子画面）に補正値を表示することが好ましい。この補正値表示は常時行なってもよいし、ユーザーからの指示にもとづいて適宜表示するようにしてもよい。
【００１０】
いずれにしても、本発明によれば補正値の実際の値が分かるため、手動で測定レンジを選択する場合、簡単にその測定レンジを決めることが可能となる。また、補正値の取り込みに失敗した場合でも、その値からエラーの原因を推測しやすくなる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の技術的思想をよりよく理解するうえで、図面を参照しながらその実施の形態について説明する。
【００１２】
図１にその概略が例示されているように、このＬＣＲメータは、一対の測定リード１１，１１を介して被測定試料Ｘから被測定信号としての電流および／または電圧信号を検出するデータ検出回路１２を備えている。なお、素子定数測定モード時においては、図示しない測定信号源から被測定試料Ｘに対して所定の測定信号が印加される。
【００１３】
この場合、データ検出回路１２はＡ／Ｄ変換機能を有し、制御手段としてのＣＰＵ（中央演算処理ユニット）１３はそのＡ／Ｄ変換された測定データに所定の演算を施して被測定試料Ｘの各パラメータ値を算出する。なお、これら測定データおよびパラメータ値はデータ格納用ＲＡＭ１４に保存される。
【００１４】
この測定データやパラメータ値などは、操作部１５でのキー操作もしくはＧＰ−ＩＢなどの外部インターフェイス１６からのＣＰＵ１３に対する指示により、ＲＡＭ１４から読み出され、表示手段としてのディスプレイ１７に表示される。
【００１５】
次に、ショート／オープン補正モード時の動作について説明する。まず、測定リード１１，１１間を短絡もしくは開放とする。そして、操作部１５のキー操作もしくは外部インターフェイス１６からＣＰＵ１３にショート／オープン補正の指示を与えると、測定リード１１，１１間が短絡もしくは開放された状態での測定値データが検出回路１２に取り込まれる。
【００１６】
このデータの取り込み終了後、ＣＰＵ１３はそのデータに基づいて補正値を算出し、その補正値とこのＬＣＲメータにあらかじめ設定されている基準値とを比較する。
【００１７】
その結果、補正値が有効範囲、例えばショート補正であれば、その補正値（インピーダンス｜Ｚ｜値）が基準値以下、であれば図２（ａ）に例示されているように、ディスプレイ１７に補正値の取り込みが成功した旨を意味する「ＣＯＭＰＬＥＴＥＤ  ＮＯＲＭＡＬＬＹ」なるメッセージを表示するとともに、併せて補正値を表示する。この例では、その補正値が「Ｚ；１０．０００ＭΩ，θ；１．００°」と表示されている。
【００１８】
これに対して、補正値が有効範囲外、すなわち無効の場合には図２（ｂ）に例示されているように、ディスプレイ１７に補正値の取り込みが失敗であった旨を意味する「ＺＥＲＯ  ＡＤＪＵＳＴＭＥＮＴ  ＦＡＩＬＵＲＥ」なるメッセージを表示するとともに、失敗に終わったその補正値、この例では「Ｚ；１００．００Ω，θ；０．０１°」を併せて表示する。
【００１９】
このように、補正値の有効（補正値の取込み成功）、無効（補正値の取込み失敗）とともに、その補正値の実際の値をディスプレイ１７に併せて表示することにより、補正値が有効な場合には、その値を参考にして測定レンジを適確に設定することが可能となる。これに対して、補正値無効の場合でも、その実際の値が表示されることから、そのエラー原因を推測する手掛かりが得られる。
【００２０】
上記実施例では、ショート／オープン補正モード時の判定結果を図２（ａ）（ｂ）のように、ディスプレイ１７にその専用画面として表示しているが、その後の素子定数測定モード時においても、ディスプレイ１７の所定の表示領域に子画面を用意し、その子画面内に少なくとも補正値を表示することもできる。その場合の補正値表示は、常時表示であってもよいし、ユーザーからの指示があった場合のみの限定的表示のいずれであってもよい。
【００２１】
なお、この実施例では補正値の有効、無効を上記のメッセージ形式としているが、同メッセージに代えて単なる記号、もっとも一般的には「ＯＫ」「ＮＧ」などの記号表示を採用してもよいことはもちろんである。要は、補正値の有効、無効をユーザーが判別できる表示であればよい。
【００２２】
また、その補正値を外部インターフェイス１６を介してパーソナルコンピュータなどの外部機器に送信するようにすることも可能である。さらには、上記のようにして得られた補正値と、その後の素子定数測定モード時における実際の測定条件下での補正値とが異なる場合には、その補正データを表示するなどして、ユーザーに注意を喚起するようにすることもできる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ショート／オープン補正モード時、一対の測定リード間を短絡もしくは開放した状態で検出回路を介して取り込まれた補正値と、あらかじめ設定されている比較判定用の基準値とを比較し、ディスプレイにその補正値の有効、無効のメッセージとともに、その補正値自体を併せて表示するようにしたことにより、補正値の実際の値が分かるため、手動で測定レンジを選択する場合、簡単にその測定レンジを決めることが可能となる。また、補正値の取り込みに失敗した場合でも、その値からエラーの原因を推測しやすくなる、という効果が奏される
【００２４】
また、素子定数測定モード時においても、ディスプレイの所定表示領域（例えば子画面）に補正値を適宜表示することにより、常にその補正値を参照しながら、被測定素子の定数、すなわち各パラメータ値を適確に把握することができ、より正確に被測定試料のＬＣＲ測定を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＬＣＲメータの一構成例を概略的に例示したブロック線図。
【図２】本発明のショート／オープン補正モード時における補正値取込みの成否メッセージおよび補正値表示例を示したディスプレイの画面図。
【符号の説明】
１１  測定リード
１２  データ検出回路
１３  ＣＰＵ（制御手段）
１４  ＲＡＭ（データ格納用メモリ）
１５  操作部
１６  外部インターフェイス
１７  ディスプレイ
【図１】
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【図２】
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