(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の部品移動ルートを移動する電子部品が、所定位置を通過したときに検出信号を出力する電子部品検出装置であって、
前記部品移動ルートの所定位置に電子部品がある間は感知信号を出力する部品センサ手段と、
前記部品センサ手段から感知信号を一つ受ける毎に予め設定された時間幅の単発信号を一つ出力する単発信号発生手段と、
前記感知信号及び単発信号を入力信号として両信号の論理和信号を前記検出信号として出力する論理和演算手段と
を備えていることを特徴とする電子部品検出装置。
【請求項２】
部品センサ手段及び単発信号発生手段が、電子部品検出に伴って応動するコントローラに直接接続されているとともに、論理和演算手段がコントローラの制御用コンピュータプログラムの中に予め組み込まれた論理和演算プロセスとして構成されていることを特徴とする請求項１記載の電子部品検出装置。
【請求項３】
コントローラには複数台の電子部品検出装置の部品センサ手段及び単発信号発生手段が接続されているとともに、制御用コンピュータプログラムの中に各電子部品検出装置の論理和演算手段としての論理和演算プロセスが予め組み込まれていることを特徴とする請求項２記載の電子部品検出装置。
【請求項４】
単発信号発生手段がワンショットマルチバイブレータであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の電子部品検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品が部品移動ルートの所定位置を通過したときに検出信号を出力する電子部品検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
電子部品選別装置の部品取入口などに設置され、電子部品の取り込みがあったことを確認するために用いられる電子部品検出装置の一つに、例えば、部品導入用ルートを電子部品が移動して部品取入口を通る毎に、電子部品検出装置から検出信号が出されるとともに、電子部品検出に伴ってコントローラが応動し、コントローラから電子部品選別装置に対して必要な指令制御がなされるように構成されたものがある。
このような電子部品検出装置においては、通常、電子部品は、部品取入口を短時間で通過するので、電子部品検出装置の部品センサ部から出力される感知信号はごく短時間で消滅する時間幅の短い信号となる。特に電子部品が微小な場合は部品センサ部から出力される信号の時間幅がさらに短くなり、電子部品の検出ミスが生じる恐れがある。
そのため、部品センサ部から出力される感知信号をワンショットマルチバイブレータを経由させて、常に十分な時間幅のある検出信号が出力されるようにしている。
【０００３】
しかし、部品センサ部からの感知信号をワンショットマルチバイブレータで引き延ばして電子部品の検出信号として出力する従来の電子部品検出装置には、部品詰まりが起こったことを検知することができないという問題点がある。
すなわち、部品詰まりが起こると感知信号がいつまでも出力され続けることになるが、ワンショットマルチバイブレータから出される検出信号は予め設定された時間が経過すると消滅してしまうため、従来の電子部品検出装置においては、部品詰まりの有無にかかわらず、検出信号の出力態様が同一となるので、部品詰まりが起こったとしても、検出信号に基づいて部品詰まりが起こったことを検知することができない。
【０００４】
本発明は、上記問題点を解決するものであり、微小な電子部品をも確実に検出することが可能で、しかも、検出信号に基づいて部品詰まりの起こったことを確実に検知することが可能な電子部品検出装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の電子部品検出装置は、
所定の部品移動ルートを移動する電子部品が、所定位置を通過したときに検出信号を出力する電子部品検出装置であって、
前記部品移動ルートの所定位置に電子部品がある間は感知信号を出力する部品センサ手段と、
前記部品センサ手段から感知信号を一つ受ける毎に予め設定された時間幅の単発信号を一つ出力する単発信号発生手段と、
前記感知信号及び単発信号を入力信号として両信号の論理和信号を前記検出信号として出力する論理和演算手段と
を備えていることを特徴としている。
【０００６】
また、部品センサ手段及び単発信号発生手段が、電子部品検出に伴って応動するコントローラに直接接続されているとともに、論理和演算手段がコントローラの制御用コンピュータプログラムの中に予め組み込まれた論理和演算プロセスとして構成されていることを特徴としている。
【０００７】
また、コントローラには複数台の電子部品検出装置の部品センサ手段及び単発信号発生手段が接続されているとともに、制御用コンピュータプログラムの中に各電子部品検出装置の論理和演算手段としての論理和演算プロセスが予め組み込まれていることを特徴としている。
【０００８】
また、単発信号発生手段がワンショットマルチバイブレータであることを特徴としている。
【０００９】
【作用】
本発明の電子部品検出装置においては、電子部品が部品移動ルートの所定位置を通過したときに、部品センサ手段から感知信号が単発信号発生手段と論理和演算手段の両方へ送出されるとともに、感知信号を受けた単発信号発生手段から予め設定された時間幅の単発信号が論理和演算手段へ同時に送出される。さらに、感知信号と単発信号の両信号が入力される論理和演算手段は、両信号の論理和信号を検出信号として出力する。その結果、感知信号の時間幅が単発信号の時間幅よりも短い場合には単発信号が検出信号として出力され、逆に、感知信号の時間幅が単発信号の時間幅よりも長い場合には感知信号が検出信号として出力されることになる。
【００１０】
一方、部品移動ルートの所定位置を微小な電子部品が短時間で通過する場合、所定位置での電子部品の存在時間が極めて短いため、部品移動ルートの所定位置に電子部品がある間は感知信号を出力する部品センサ手段からの感知信号は、時間幅の極めて短い信号となる。他方、単発信号発生手段からの単発信号は常に予め設定された同一時間幅の信号である。その結果、微小な電子部品が短時間で所定位置を通過する場合は、感知信号の時間幅が単発信号の時間幅より短くなるので、論理和演算手段からは単発信号が検出信号として出力される。すなわち、微小な電子部品が短時間で所定位置を通過し、部品センサ手段から時間幅の極めて短い感知信号しか出力されないような場合でも、最終的には十分な時間幅をもつ単発信号が検出信号として出力される。
【００１１】
また、部品詰まりがあって部品移動ルートの所定位置に電子部品が滞留し続ける場合には、部品センサ手段は感知信号を出し続ける。一方、単発信号発生手段からの単発信号は予め設定された同じ時間幅の信号であり、設定された時間が経過すると消滅する。その結果、感知信号の時間幅が単発信号の時間幅より長くなり、論理和演算手段からは感知信号が検出信号となって出力され続けることになる。
したがって、部品詰まりがある場合は、予め設定された単発信号の時間幅に相当する時間が経過した後も、論理和演算手段からは感知信号が検出信号として出力され続けることになり、この検出信号に基づいて部品詰まりを確実に検知することができる。
【００１２】
また、電子部品検出装置の論理和演算手段を、電子部品検出に伴って応動するコントローラの制御用コンピュータプログラム中に予め組み込まれた論理和演算プロセスとしてソフトウエア的に構成した場合、論理和演算手段用のハードウエアが不要となり、省部品化を実現することが可能になる。
【００１３】
また、複数台の電子部品検出装置の各論理和演算手段のそれぞれを、コントローラの内部で実行される論理和演算プロセスとしてソフトウエア的に構成した場合、各論理和演算手段用のハードウエアが全て不要となり、各電子部品検出装置について省部品化を実現することが可能になる。
【００１４】
また、単発信号発生手段として、ワンショットマルチバイブレータ（以下、適宜「ワンショットマルチ」と略記）を用いた場合、ワンショットマルチが既に汎用電子部品として市場で容易に入手することが可能なデバイスであることから、コストの低減を図ることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
［実施形態１］
図１は本発明の一実施形態にかかる電子部品検出装置が用いられている電子部品選別システムを示す図である。
この実施形態の電子部品選別システムでは、電子部品検出装置が、（電子部品）選別装置の部品取入口及び部品取出口にそれぞれ設けられている。なお、電子部品選別システムにおいて選別対象となる電子部品の種類や選別形態には特別の制約はないが、例えば、選別対象としてはコンデンサが挙げられ、選別形態としては部品表面の傷の有無を検査して良品・不良品を区別するための選別や、静電容量値などを計測した結果に基づく容量別ランク分けを行うための選別などが挙げられる。
【００１６】
図１に示す電子部品選別システムでは、２台の電子部品検出装置１，１が選別装置２の部品取入口（所定位置）３及び部品取出口（所定位置）４にそれぞれ配設されているとともに、各電子部品検出装置１による電子部品検出に伴って応動し、選別装置２に対して必要な指令制御を行うコントローラ５が配設されている。以下、各部の構成を具体的に説明する。
【００１７】
選別装置２の一端側には、ベルトコンベアなどで予め設定された部品導入用ルート（部品移動ルート）６が配設されており、選別対象の電子部品Ｐ，…，Ｐが、部品導入用ルート６を移動して、部品取入口３から選別装置２の中へ取り込まれるように構成されている。
また、選別装置２の他端側にはベルトコンベアなどで予め設定された部品導出用ルート（部品移動ルート）７が配設されており、部品取出口４から選別済の電子部品Ｐ，…，Ｐが部品導出用ルートに出てくるように構成されている。
【００１８】
また、部品取入口３と部品取出口４に設置された２台の電子部品検出装置１は、いずれも同じ構成を有しており、部品取入口３あるいは部品取出口４に電子部品Ｐがある間は感知信号を出力する部品センサ部（部品センサ手段）８と、感知信号を一つ受ける毎に予め設定された時間幅の単発信号を一つ出力するワンショットマルチ（単発信号発生手段）９と、感知信号及び単発信号を入力信号として両信号の論理和信号を検出信号として出力するＯＲ回路（論理和演算手段）１０とを備えている。なお、部品センサ部８には光電式物体感知手段や静電容量式物体感知手段などが用いられる。
【００１９】
また、コントローラ５は、電子部品検出装置１から送られてくる検出信号を受信するとともに、受信した検出信号に基づいて、選別処理に必要な指令制御信号を選別装置２に送出したり、あるいは、部品詰まりを検知して警報を発したりする構成を具備している。
なお、図１のシステムでは選別装置２とコントローラ５が別体として構成されているが、コントローラ５が選別装置２に組み込まれて両者が一体化した構成とすることも可能である。
【００２０】
次に、上記のように構成された電子部品選別システムにおける電子部品検出装置１の部品検出動作を、図１〜図４を参照しながら説明する。なお、２台の電子部品検出装置１の部品検出動作は同一であるため、ここでは、部品取入口３に設置された電子部品検出装置１について説明を行う。
【００２１】
部品取入口３を１個の電子部品Ｐが通る毎に、電子部品検出装置１の部品センサ部８から、図２（ａ）に示すように、時間幅Ｔａを有する１個のパルス状の感知信号Ｓａが、ワンショットマルチ９及びＯＲ回路１０にそれぞれ送出され、同時に、図２（ｂ）に示すように、感知信号Ｓａを受けたワンショットマルチ９から予め設定された時間幅Ｔｂを有する単発信号Ｓｂが１個だけＯＲ回路１０に送出される。
そして、単発信号Ｓｂの時間幅Ｔｂの方が感知信号Ｓａの時間幅Ｔａよりも長い場合には、図２（ｃ）に示すように、ＯＲ回路１０から、単発信号Ｓｂが検出信号Ｓｃとしてコントローラ５へ送出される。
【００２２】
なお、感知信号Ｓａの時間幅Ｔａは、電子部品Ｐの寸法に正比例し移動速度に反比例する。したがって、微小な電子部品Ｐが短時間で部品取入口３を通過した場合、感知信号Ｓａの時間幅Ｔａは極めて短くなる。しかし、時間幅Ｔａが時間幅Ｔｂより短い場合、ＯＲ回路１０からは必ず単発信号Ｓｂが検出信号Ｓｃとして出力されるので、部品取入口３を微小な電子部品Ｐが素早く通過した場合でも、時間幅Ｔｂ（＝Ｔｃ）を有する検出信号Ｓｃが必ず出力される。その結果、電子部品Ｐの検出が確実に行われ、コントローラ５が誤動作することはない。
【００２３】
なお、通常は、選別対象の電子部品Ｐの大きさと移動速度を勘案し、電子部品Ｐが正常に移動するときの感知信号Ｓａの時間幅Ｔａの最大値を単発信号Ｓｂの時間幅Ｔｂが少し越えるように時間幅を設定したワンショットマルチ９が用いられる。したがって、電子部品Ｐが正常に移動しているときは、時間幅Ｔａが必ず時間幅Ｔｂよりも短くなり、単発信号Ｓｂが検出信号Ｓｃとして出力されるため、検出信号Ｓｃの時間幅は常にワンショットマルチ９で予め設定された単発信号の時間幅Ｔｂと同じになる。
なお、選別対象の電子部品Ｐの大きさや移動速度は、通常、電子部品Ｐの種類によって異なるので、ワンショットマルチ９としては、設定する時間幅を変更することが可能なものを用いることが望ましい。
【００２４】
また、図３に示すように、部品取入口３で部品詰まりが生じ、部品取入口３に電子部品Ｐが滞留すると、図４（ａ）に示すように、感知信号Ｓａが出力され続けることになる。一方、ワンショットマルチ９からは、図４（ｂ）に示すように、通常の時間幅Ｔｂの単発信号Ｓｂが一つ出力される。したがって、図４（ｃ）に示すように、ＯＲ回路１０からは時間幅が無限の感知信号Ｓａが検出信号Ｓｃとして出力されることになる。
【００２５】
コントローラ５では、一つの検出信号Ｓｃの継続時間が計測され、この継続時間と基準時間の比較が行われる。なお、コントローラ５においては、単発信号Ｓｂの時間幅Ｔｂに所定の変動幅を見込んで一定時間が加えられた基準時間が予め設定されている。そして、継続時間が基準時間を越えたときは、コントローラ５から直ちに警報が出され、部品詰まりが起きたことが報知される。
【００２６】
上述のように、この実施形態の電子部品検出装置１では、微小な電子部品Ｐを確実に検出することができるばかりではなく、検出信号Ｓｃに基づいて部品詰まりが発生したことを検知することができる。
また、この実施形態の場合、単発信号発生手段に汎用電子部品であるワンショットマルチ９が用いられているので、装置コストの低減を図ることができる。
【００２７】
［実施形態２］
次に、本発明の他の実施形態にかかる電子部品検出装置について説明する。
図５は、本発明の他の実施形態にかかる電子部品検出装置が用いられている電子部品選別システムを示す図である。この実施形態の電子部品検出装置１１においては、部品センサ部８及びワンショットマルチ９が、コントローラ５に直接接続されているとともに、論理和演算手段が、上記の実施形態１の場合のように、ハードウエア（ＯＲ回路）ではなく、コントローラ５の制御用コンピュータプログラム中に予め組み込まれた論理和演算プロセス（ソフトウエア）として構成されている。なお、その他の構成は、実施形態１と同様であるため、構成の異なる部分だけを説明し、他の部分の説明は省略する。なお、図５においては、図１と同一又は相当する部分に同一符号を付している。
【００２８】
コントローラ５は、演算処理用のマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）１２、制御用コンピュータプログラムなどが書き込み記憶されているＲＯＭ１３、及び、各種データの一時的な記憶や制御用コンピュータプログラムのロードがおこなわれるＲＡＭ１４などを具備している。
そして、２台の電子部品検出装置１１の部品センサ部８及びワンショットマルチ９が、コントローラ５に接続されているため、感知信号Ｓａと単発信号Ｓｂが、コントローラ５へ直接に送り込まれる。感知信号Ｓａ及び単発信号Ｓｂの入力があれば、マイクロプロセッサ１２が、制御用コンピュータプログラムにセットされている論理和プロセスを実行し、感知信号Ｓａと単発信号Ｓｂの論理和信号を検出信号Ｓｃとして作成することになる。検出信号Ｓｃが得られた後の動作は、実施形態１の場合と同じである。
【００２９】
この実施形態においては、コントローラ５における制御用コンピュータプログラム及びマイクロプロセッサ１２やＲＯＭ１３及びＲＡＭ１４などを構成の一部として利用するようにしているので、論理和演算手段用のハードウエアが不要となる。特に、図５に示す場合は、複数台の電子部品検出装置の各論理和演算手段用のハードウエアが不要となり、各電子部品検出装置について省部品化を達成することができる。
【００３０】
なお、上記の各実施形態の電子部品検出装置は、部品選別装置の部品取入口及び部品取出口を出入りする電子部品を検出対象としていたが、部品検出位置は、部品取入口や部品取出口以外の位置であってもよい。
また、実施形態２においては、コントローラにソフトウエア構成で配設された電子部品検出装置の論理和演算手段が２個である場合を例にとって説明したが、論理和演算手段を３個以上の多数個とすることも可能である。
【００３１】
本発明はさらにその他の点においても上記実施形態に限定されるものではなく、単発信号発生手段、コントローラなどの構成、電子部品検出装置からの検出信号の利用形態などに関し、本発明の要旨の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。
【００３２】
【発明の効果】
上述したように、本発明の電子部品検出装置は、部品移動ルートの所定位置を微小な電子部品が短時間で移動し、部品センサ手段から時間幅の短い感知信号しか得られない場合でも、最終的に十分な時間幅をもつ単発信号が検出信号として出力されるように構成されているので、微小な電子部品をも確実に検出することができる。
また、部品詰まりがある場合は検出信号が消滅せず、継続して出力されるように構成されているので、検出信号に基づいて部品詰まりを確実に検知することができる。
【００３３】
また、電子部品検出装置の論理和演算手段を、電子部品検出に伴って応動するコントローラの制御用コンピュータプログラム中に予め組み込まれた論理和演算プロセスとしてソフトウエア的に構成した場合、論理和演算手段用のハードウエアが不要となり、コストダウンやコンパクト化を図ることが可能になる。
【００３４】
また、複数台の電子部品検出装置の各論理和演算手段のそれぞれを、コントローラの内部で実行される論理和演算プロセスとしてソフトウエア的に構成した場合、各論理和演算手段用のハードウエアが全て不要となり、各電子部品検出装置について省部品化を実現することが可能になる。
【００３５】
また、単発信号発生手段として、ワンショットマルチバイブレータ（以下、適宜「ワンショットマルチ」と略記）を用いた場合、ワンショットマルチが既に汎用電子部品として市場で容易に入手することが可能なデバイスであることから、コストの低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態にかかる電子部品検出装置が用いられた電子部品選別システムを示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる電子部品検出装置の動作を説明する図であって、部品詰まりのないときの各信号の経時変化を示すグラフである。
【図３】図１のシステムで部品詰まりが発生した状況を示す部分ブロック図である。
【図４】本発明の一実施形態にかかる電子部品検出装置の動作を説明する図であって、部品詰まりのあるときの各信号の経時変化を示すグラフである。
【図５】本発明の他の実施形態にかかる電子部品検出装置が用いられた電子部品選別システムを示すブロック図である。
【符号の説明】
１，１１            電子部品検出装置
２            選別装置
３                        部品取入口（所定位置）
４                        部品取出口（所定位置）
５                        コントローラ
６                        部品導入用ルート（部品移動ルート）
７                        部品導出用ルート（部品移動ルート）
８                        部品センサ部
９                        ワンショットマルチバイブレータ（単発信号発生手段）
１０                    ＯＲ回路（論理和演算手段）
１２          マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
１３          ＲＯＭ
１４          ＲＡＭ
Ｐ                        電子部品
Ｓａ                    感知信号
Ｓｂ                    単発信号
Ｓｃ                    検出信号
Ｔａ          感知信号の時間幅
Ｔｂ          単発信号の時間幅
Ｔｃ          検出信号の時間幅
【図１】
0003554776.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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