(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
アーク溶接用のフラックス入りワイヤのフラックス充填状態を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して検出するフラックス充填状態検出装置において、
走行している被検査ワイヤをそのコイル内を通過させる被検査ワイヤ用コイルと、
フラックスが適正充填された基準ワイヤを静止させた状態でそのコイル内を通している基準ワイヤ用コイルと、
前記被検査ワイヤ用コイルと前記基準ワイヤ用コイルとがブリッジの４辺のうち直列接続された２辺をなし、接地点に対して前記両コイルの接続点を出力端とし、交流電流が流されるブリッジ回路と、
被検査ワイヤの走行速度を検出し、その走行速度信号を出力するワイヤ走行速度検出器と、
前記ブリッジ回路の出力信号から、前記基準ワイヤ用コイルのインピーダンスとフラックス充填状態によって変化する前記被検査ワイヤ用コイルのインピーダンスとの差に対応したフラックス充填状態検出出力を取り出す一方、前記ワイヤ走行速度検出器の出力に基づいて被検査ワイヤの走行自体による前記フラックス充填状態検出出力の低下分に相当する補正出力を得、この補正出力により補正したフラックス充填状態検出出力を出力する信号処理回路と、
前記信号処理回路の出力と予め設定された比較レベルとを比較して、被検査ワイヤのフラックス充填状態の良否を判断する良否判断回路と、を備えたことを特徴とするフラックス入りワイヤのフラックス充填状態検出装置。
【請求項２】
前記信号処理回路が、前記ブリッジ回路に印加される交流励磁電圧信号に対して位相を変化させた信号を得るための位相調節回路と、前記ブリッジ回路の出力信号を前記位相調節回路からの信号を用いて位相弁別し、被検査ワイヤのフラックス充填状態に対応したフラックス充填状態検出出力だけを取り出す位相弁別回路と、前記フラックス充填状態検出出力に加算すべく、前記ワイヤ走行速度検出器の出力を受けてこの出力に対して比例関係を有し、かつ被検査ワイヤの走行立上がり期間でその１つの折点後に勾配が緩くなるように折れ線状に立ち上がる出力を補正出力として出す充填状態検出出力補正回路とを有して構成されていることを特徴とする請求項１記載のフラックス入りワイヤのフラックス充填状態検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、アーク溶接用のフラックス入りワイヤのフラックス充填状態を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して検出するフラックス充填状態検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
アーク溶接用のフラックス入りワイヤは、ワイヤ断面形状の例を示す図の図７に示すように、鋼製外皮などからなる金属製外皮Ｍの内側にフラックスＦを充填したものである。図８はフラックス入りワイヤを製造するためのワイヤ成形伸線工程の説明図である。同図に示すように、薄肉鋼帯などからなり連続的に供給される金属帯板Ｍ′を成形ローラ５１によって円形状断面を持つ金属製外皮Ｍになるように帯板幅方向の両側から曲げ成形しながら、その曲げ成形されつつある金属製外皮Ｍ内にフラックスを充填し、次いで、このワイヤ状に成形したフラックス入りワイヤを伸線機５２によってワイヤ径を細くすることにより、所要径に線引きされたフラックス入りワイヤを得るようにしている。そして、このワイヤ成形伸線工程で得られた前記所要径のフラックス入りワイヤを次のワイヤ伸線工程で線引きすることにより、製品としてのワイヤ径（一般に０．９〜１．６ｍｍφ）を持つフラックス入りワイヤが製造されている。
【０００３】
さて、前記ワイヤ成形伸線工程で得られるフラックス入りワイヤでは、ワイヤ断線等により、フラックスの無い部分や、フラックス充填率（単位長さ当たりのワイヤ全重量に対するフラックスの重量％）が基準値に満たない低い部分が発生することがある。このため、溶接品質に悪影響を及ぼすこのようなフラックス無し部分を検出し、製品として混入しないように排除する必要がある。
【０００４】
従来、ワイヤ成形伸線工程などに適用され、フラックス入りワイヤのフラックス充填率を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して測定するフラックス充填率測定装置として、例えば特公平４−１５９０４号公報に提案されたものがある。以下、この従来のフラックス充填率測定装置について説明する。
【０００５】
まず、フラックス入りワイヤの金属製外皮の肉厚とフラックス充填率との関係について説明する。フラックス入りワイヤは、ワイヤ外径側を規制されつつ伸線（線引き）されることから、内径側に膨出しようとする傾向があるので、充填されたフラックス量が少ない場合には金属製外皮の肉厚が厚くなり、また逆にフラックス量が多い場合には金属製外皮が厚くなろうとしてもフラックスが障害となってそれを果たすことができず、金属製外皮の肉厚が薄くなる。すなわち、ワイヤ径（外径）が一定のフラックス入りワイヤでは、金属製外皮の肉厚とフラックス充填率とが反比例の関係にあり、フラックス充填率が低いほど金属製外皮の肉厚が厚く、フラックス充填率が高いほど金属製外皮の肉厚が薄くなっている。
【０００６】
さて従来のフラックス充填率測定装置は、図９に示すように、貫通形のコイルＬ、コンデンサＣ１，Ｃ２及びトランジスタＴ等より構成されるＬＣ発振回路６１と、コイルＬのインピーダンスの変化に対応して変化する発振強度を、ＬＣ発振回路６１から直流の出力電圧（フラックス充填状態検出出力）として取り出すための整流回路６２とを備えている。コイルＬを有する検査ヘッドは、前記図８に示すワイヤ成形伸線工程の巻取機（巻取りボビン）５３の入側位置に、例えば数百ｍ／ｍｉｎの速度で走行している被検査ワイヤがコイルＬ内を通過するように設けられるものである。そして、コイルＬに高周波数の交流電流を流すと、被検査ワイヤの金属製外皮には電磁誘導により渦電流が発生し、この渦電流によって発生する磁界のためにコイルＬのインピーダンスが変化する。
【０００７】
そして、フラックス充填率が低くなると、金属製外皮の肉厚が厚くなる分だけ大きな渦電流が発生し、コイルＬのインピーダンスが大幅に低下し、フラックス充填状態検出出力（フラックス充填率測定装置の出力電圧）は小さくなり、逆にフラックス充填率が高くなると、肉厚が小さくなる分だけコイルＬのインピーダンスの低下度合いも小さくなってフラックス充填率が低いときに比べて検出出力は大きくなる。このように電磁誘導現象を利用することにより、フラックス充填率に比例した大きさのフラックス充填状態検出出力が得られている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、フラックス入りワイヤのフラックス充填状態を電磁誘導現象を利用して検出する場合、コイルに対して被検査ワイヤを走行させると、被検査ワイヤが静止している状態に比べてコイルのインピーダンスが小さくなって、フラックス充填状態検出出力（出力電圧）は、フラックス充填率に変化がなくても低下し、被検査ワイヤの走行速度にほぼ反比例して小さくなる。
【０００９】
すなわち、ワイヤ成形伸線工程では、コイル内を通過している被検査ワイヤの走行速度は、図１０（ａ）に示すようにワイヤ製造開始後スロープ状に徐々に速くなり、時間２０〜３０ｓ程度の走行立ち上がり期間ｔを経て一定値の速度に到達する。前述した従来の測定装置のフラックス充填状態検出出力は、フラックス充填率が一定であるにもかかわらず、図１０（ｂ）に実線で示すように変化する。このようなフラックス充填率が一定にもかかわらず発生する被検査ワイヤの走行自体による検出出力低下の原因は（図１０（ｂ）に実線で示すように出力低下の傾きが期間ｔの途中で変化することをも含めて）、明確ではないが、ワイヤ引き抜き（伸線）によって被検査ワイヤに張力がかかること等が考えられる。なお、図１０（ｂ）に破線で示す部分は被検査ワイヤのフラックス無し部分の検出出力を示す。
【００１０】
このため、前記従来のフラックス充填率測定装置では、これをワイヤ成形伸線工程に適用し、フラックス充填状態検出出力と予め設定された比較レベルとを比較し、検出出力が比較レベル以下のときには、フラックス無し部分であると判断するようにした場合、図１０（ｂ）に示すように、走行立ち上がり期間ｔでは比較レベルが不適切で小さすぎるため、走行立ち上がり期間ｔにおけるフラックス無し部分の検出ができないことがあるという問題点があった。
【００１１】
この発明は、前記従来の問題点を解消するためになされたもので、フラックス入りワイヤのフラックス充填状態を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して検出する装置において、ワイヤ製造開始時やワイヤ断線後の製造再開時などでの被検査ワイヤの走行立ち上がり期間においてもフラックス充填状態を確実に検出することができる、フラックス入りワイヤのフラックス充填状態検出装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、この発明によるフラックス入りワイヤのフラックス充填状態検出装置は、アーク溶接用のフラックス入りワイヤのフラックス充填状態を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して検出するフラックス充填状態検出装置において、（Ａ）  走行している被検査ワイヤをそのコイル内を通過させる被検査ワイヤ用コイルと、（Ｂ）  フラックスが適正充填された基準ワイヤを静止させた状態でそのコイル内を通している基準ワイヤ用コイルと、（Ｃ）  前記被検査ワイヤ用コイルと前記基準ワイヤ用コイルとがブリッジの４辺のうち直列接続された２辺をなし、接地点に対して前記両コイルの接続点を出力端とし、交流電流が流されるブリッジ回路と、（Ｄ）  被検査ワイヤの走行速度を検出し、その走行速度信号を出力するワイヤ走行速度検出器と、（Ｅ）  前記ブリッジ回路の出力信号から、前記基準ワイヤ用コイルのインピーダンスとフラックス充填状態によって変化する前記被検査ワイヤ用コイルのインピーダンスとの差に対応したフラックス充填状態検出出力を取り出す一方、前記ワイヤ走行速度検出器の出力に基づいて被検査ワイヤの走行自体による前記フラックス充填状態検出出力の低下分に相当する補正出力を得、この補正出力により補正したフラックス充填状態検出出力を出力する信号処理回路と、（Ｆ）  前記信号処理回路の出力と予め設定された比較レベルとを比較して、被検査ワイヤのフラックス充填状態の良否を判断する良否判断回路と、を備えたことを特徴とするものである。
【００１３】
また、前記信号処理回路が、前記ブリッジ回路に印加される交流励磁電圧信号に対して位相を変化させた信号を得るための位相調節回路と、前記ブリッジ回路の出力信号を前記位相調節回路からの信号を用いて位相弁別し、被検査ワイヤのフラックス充填状態に対応したフラックス充填状態検出出力だけを取り出す位相弁別回路と、前記フラックス充填状態検出出力に加算すべく、前記ワイヤ走行速度検出器の出力を受けてこの出力に対して比例関係を有し、かつ被検査ワイヤの走行立上がり期間でその１つの折点後に勾配が緩くなるように折れ線状に立ち上がる出力を補正出力として出す充填状態検出出力補正回路とを有して構成されていることを特徴とするものである。
【００１４】
この発明によるフラックス充填状態検出装置では、被検査ワイヤの走行速度を検出するワイヤ走行速度検出器を設け、このワイヤ走行速度検出器の検出出力（図４（ａ）参照）に基づいて被検査ワイヤの走行自体によるフラックス充填状態検出出力の低下分に相当する補正出力を得（図４（ｂ）参照）、ブリッジ回路の出力信号から取り出したフラックス充填状態検出出力（図５（ａ）にて破線で示す）に前記補正出力を加算することにより、フラックス充填率が一定にもかかわらず発生する被検査ワイヤの走行自体による検出出力低下分を補充して補正が施されたフラックス充填状態検出出力（図５（ａ）にて実線で示す）が得られる。これにより、図５（ｂ）に示すように、信号処理回路から出力される前記補正が施されたフラックス充填状態検出出力と予め設定された比較レベルとを比較することにより、ワイヤ製造開始時やワイヤ断線後の製造再開時などでの被検査ワイヤの走行立ち上がり期間ｔにおいてもフラックス充填状態の良否を確実に検出することができる。
【００１５】
また、この発明による充填状態検出装置では、基準ワイヤ用コイル内に静止させた状態で置かれる標準になるべき試料として、フラックスが充填されていないフラックス無しワイヤではなく、フラックスが適正充填された基準ワイヤを用いるようにしている。フラックス無しワイヤを用いる場合、被検査ワイヤと同一生産ロットにおいてフラックス無し部分を含むフラックス入りワイヤを作製し、前記フラックス無し部分を探し出す必要があることから、フラックス無しワイヤを用意するのに手間がかかる。これに対して前記基準ワイヤを用いる場合には、被検査ワイヤと同一生産ロットにて作製され、被検査ワイヤとの形状差がほとんどないものが容易に得られる。なお、被検査ワイヤと基準ワイヤとの形状差は、フラックス充填状態に対応する信号以外のノイズとなる信号の原因となるものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。図１はこの発明の一例によるフラックス充填状態検出装置の電気的構成を示す図である。
【００１７】
図１において、４は走行している被検査ワイヤ１をそのコイル内を通過させる貫通形の被検査ワイヤ用コイル、５はフラックスが適正充填された基準ワイヤ２を静止させた状態でそのコイル内を通している貫通形の基準ワイヤ用コイルである。これらのコイル４，５を組み込んだ図示しない検査ヘッドは、前記した図８に示すワイヤ成形伸線工程の巻取機５３の入側位置に配設されるようになっている。
【００１８】
ブリッジ回路３は、直列接続された隣接する２辺を被検査ワイヤ用コイル４と基準ワイヤ用コイル５とで構成し、残りの隣接する２辺を抵抗６，７で構成したものである。このブリッジ回路３には発振器８からこの例では１０ｋＨｚの交流電流が供給される。ブリッジ回路３では接地点に対して両コイル４，５同士の接続点が出力端とされており、この出力端がブリッジ外に導出されて位相弁別回路１１のトランジスタ増幅回路１２に接続されている。なお、図示しない電圧バイアス回路によってバイアス電圧を印加することで、ブリッジ回路３の出力はその値が正になるようになされている（図２▲２▼、図３▲２▼参照）。１８は被検査ワイヤ１の走行速度を検出し、その走行速度信号を出力するこの例では直流式の速度発電機（タコジェネレータ）で構成されるワイヤ走行速度検出器である。ワイヤ走行速度検出器１８は、前記検査ヘッドのワイヤ入側のヘッド直前位置に配設されたワイヤ走行速度検出用ローラ（図示せず）に取り付けられている。
【００１９】
１０は発振器８からブリッジ回路３に印加される交流励磁電圧信号に対して位相を変化させた信号を得るための位相調節回路である。また、１１はブリッジ回路３の出力信号を位相調節回路１０からの信号を用いて位相弁別する位相弁別回路である。すなわち、この位相弁別回路１１は、ブリッジ回路３の出力信号から、ワイヤ引き抜き（伸線）による被検査ワイヤ１の温度変化等に基づく信号を除去して、基準ワイヤ用コイル５のインピーダンスとフラックス充填状態によって変化する被検査ワイヤ用コイル４のインピーダンスとの差に対応したフラックス充填状態検出出力（出力電圧）を取り出す回路である。１７は充填状態検出出力補正回路であり、フラックス充填率が一定にもかかわらず発生する被検査ワイヤ１の走行自体による前記検出出力の低下分を補充するため、ワイヤ走行速度検出器１８の出力に基づいてフラックス充填状態検出出力に加算するための補正出力を出力する回路である。
【００２０】
なお図１に示すように、前記位相弁別回路１１は、ブリッジ回路３の出力信号が入力されるトランジスタＱ１（図示せず）を備えたトランジスタ増幅回路１２と、位相調節回路１０から入力される一方の信号を受けてオン動作し、かつ前記トランジスタＱ１に直列接続されたトランジスタＱ２（図示せず）を備えたトランジスタスイッチング回路１３と、前記一方の信号とは位相の異なる他方の信号を位相調節回路１０から受けてオン動作し、かつ前記トランジスタＱ１に直列接続されたトランジスタＱ３（図示せず）を備えたトランジスタスイッチング回路１４と、オペアンプ（図示せず）で構成されており、前記トランジスタＱ２がオン動作しているときのブリッジ回路３の出力に対応する信号が抵抗Ｒ１を介してプラス入力端子に入力され、前記トランジスタＱ３がオン動作しているときのブリッジ回路３の出力に対応する信号が抵抗Ｒ２を介してマイナス入力端子に入力される差動増幅回路１５と、差動増幅回路１５のプラス入力端子に正のバイアス電圧を供給する電圧バイアス回路１６とにより構成されている。
【００２１】
前記の位相調節回路１０、位相弁別回路１１及び補正回路１７は、信号処理回路９、すなわち、ブリッジ回路３の出力信号からフラックス充填状態検出出力を取り出す一方、ワイヤ走行速度検出器１８の出力に基づいて被検査ワイヤ１の走行自体による前記検出出力の低下分に相当する補正出力を得、この補正出力により補正されたフラックス充填状態検出出力を出力する回路を構成している。
【００２２】
１９は信号処理回路９の出力と予め設定された比較レベルとを比較して、被検査ワイヤ１のフラックス充填状態の良否を判断する良否判断回路、２０は被検査ワイヤ１にフラックス無し部分が発生した時に、ランプを点灯したり、あるいはベルを鳴動させたりして警報を発する警報回路である。２１は信号処理回路９の出力を記録するペンレコーダ等の記録計である。
【００２３】
次に、前記構成になるフラックス充填状態検出装置の動作を、図面を参照しながら説明する。図２は図１に示すフラックス充填状態検出装置において被検査ワイヤのフラックス充填状態良好部分が被検査ワイヤ用コイル内を通過しているときの各点での電圧波形を示す図、図３は図１に示すフラックス充填状態検出装置において被検査ワイヤに発生したフラックス無し部分が被検査ワイヤ用コイル内を通過しているときの各点での電圧波形を示す図である。
【００２４】
図２▲１▼及び図３▲１▼に示すような、発振器８からの正弦波の交流励磁電圧信号（この例では１０ｋＨｚ）は、ブリッジ回路３に印加されるとともに、位相調節回路１０に与えられる。位相調節回路１０は、図２▲３▼及び図３▲３▼に示すように、ブリッジ回路３に印加される前記交流励磁電圧信号に対して位相を９０°進めた矩形波信号と、図２▲４▼及び図３▲４▼に示すように位相を９０°遅らせた矩形波信号とを発生し、これらは位相弁別回路１１に与えられる。
【００２５】
ここでまず、図１と図２を参照しながら、被検査ワイヤ１のフラックス充填状態良好部分が被検査ワイヤ用コイル４内を通過しているときの位相弁別回路１１の動作について説明する。このときには、ブリッジ回路３の出力信号は、図２▲２▼に示すように、図２▲１▼の交流励磁電圧信号と同相となる。そして、位相弁別回路１１において、前記のブリッジ回路３の出力信号がトランジスタ増幅回路１２の前記トランジスタＱ１のベースに入力される一方、トランジスタスイッチング回路１３の前記トランジスタＱ２のベースに前記の図２▲３▼に示す矩形波信号が入力されるとともに、トランジスタスイッチング回路１４の前記トランジスタＱ３のベースに前記の図２▲４▼に示す矩形波信号が入力される。
【００２６】
このことにより、差動増幅回路１５のプラス入力端子に抵抗Ｒ１と図示しない平滑回路とを介して入力されるプラス入力端子側電圧（点▲５▼の電圧）の波形は、図２▲５▼に示すものとなる。また、差動増幅回路１５のマイナス入力端子に抵抗Ｒ２を介して入力されるマイナス入力端子側電圧（点▲６▼の電圧）の波形は、図２▲６▼に示すものとなる。
【００２７】
この結果、位相弁別回路１１の点▲５▼と点▲６▼との差電圧は、図２の最下段に実線で示す波形のように平均電圧値がゼロとなる。ここで、差動増幅回路１５のプラス入力端子に電圧バイアス回路１６により正のバイアス電圧Ｅｂを供給しているので、図２の最下段に破線で示すように、差動増幅回路１５は、フラックス充填状態検出出力として大きさｅ１の正の直流電圧を出力する。なお、差動増幅回路１５のプラス入力端子と抵抗Ｒ１との間、及び、マイナス入力端子と抵抗Ｒ２との間には図示しない平滑回路が設けられているので、差動増幅回路１５の出力電圧波形は、実際には微小リップルを持つ直線状の波形となる。このようにして、被検査ワイヤ１のフラックス充填状態良好部分が被検査ワイヤ用コイル４内を通過しているときのフラックス充填状態検出出力が得られる。
【００２８】
次に、図１と図３を参照しながら、被検査ワイヤ１に発生したフラックス無し部分が被検査ワイヤ用コイル４内を通過しているときの位相弁別回路１１の動作について説明する。このときには、ブリッジ回路３の出力信号は、図３▲２▼に示すように、図３▲１▼の交流励磁電圧信号に対して９０°進み位相（図３▲３▼の矩形波信号と同相）となる。このことにより、差動増幅回路１５のプラス入力端子側電圧（回路１１の点▲５▼の電圧）の波形は、図３▲５▼に示すものとなる。また、オペアンプＡ１のマイナス入力端子側電圧（点▲６▼の電圧）の波形は、図３▲６▼に示すものとなる。
【００２９】
この結果、位相弁別回路１１の点▲５▼と点▲６▼との差電圧は、図３の最下段に実線で示す波形のように平均電圧値が負の値となる。この差電圧に前記の正のバイアス電圧Ｅｂが加えられるので、図３の最下段に破線で示すように、差動増幅回路１５は、フラックス充填状態検出出力として前記のｅ１より小さい値の正の直流電圧ｅ２を出力する。このようにして、被検査ワイヤ１に発生したフラックス無し部分が被検査ワイヤ用コイル４内を通過しているときには、位相弁別回路１１からは、フラックス充填状態良好部分が通過しているときに比べて小さい値の正の直流電圧が出力される。
【００３０】
次に、前記位相弁別回路１１の差動増幅回路１５のプラス入力端子に補正電圧を入力する充填状態検出出力補正回路１７について説明する。ワイヤ成形伸線工程においてワイヤの製造が開始され、伸線機で伸線された被検査ワイヤ１の先頭部分が、被検査ワイヤ用コイル４のワイヤ入側の直前位置に配設されたワイヤ走行速度検出用ローラ（図示せず）に達すると、前記ローラに取り付けられたワイヤ走行速度検出器１８は、図４（ａ）に示すように、時間２０〜３０ｓ程度の走行立ち上がり期間ｔを経て一定値の定常速度に到達する被検査ワイヤ１の走行速度に対応する電圧を出力し、これを補正回路１７へ与える。
【００３１】
補正回路１７は、先に説明したように被検査ワイヤ１の走行自体によるフラックス充填状態検出出力の低下分を補充すべく、図４（ｂ）に示すように、前記速度検出器１８の出力を受けてこの出力に対して比例関係を有し、かつ被検査ワイヤ１の走行立上がり期間ｔでその勾配（傾き）がΔＥ１からΔＥ２に緩くなるように折れ線状に立ち上がる出力を補正出力として出し、これを差動増幅回路１５のプラス入力端子に印加している。この図４（ｂ）に示すような折れ線特性は、例えば、抵抗とツェナーダイオードなどを用いて実現することができる。なお、走行立ち上がり期間ｔにおける、補正なしのときのフラックス充填状態検出出力は、先の図１０（ｂ）では折れ線により近似して表したが、より厳密には折れ線近似可能な二次関数曲線により表される。したがって、補正回路１７を関数演算回路によって構成し、速度検出器１８の出力を受けて走行立ち上がり期間ｔでは二次関数曲線状に立ち上がる出力を補正出力として出すようにしてもよい。
【００３２】
このようにして、フラックス充填率が一定にもかかわらず発生する被検査ワイヤ１の走行自体による検出出力低下分を補充して、図５（ａ），（ｂ）に実線で示すような、補正が施されたフラックス充填状態検出出力が信号処理回路９から出力される。
【００３３】
図６は図１に示す良否判断回路１９の動作を説明するための電圧波形図である。信号処理回路９は、図６（ａ）に示すような補正が施されたフラックス充填状態検出出力を出力し、これを良否判断回路１９に与える。この例では良否判断回路１９は、コンデンサと抵抗とで構成されて信号処理回路９の出力を微分する微分器（図示せず）と、比較器としての比較用オペアンプ（図示せず）とを有している。
【００３４】
良否判断回路１９では、信号処理回路９の出力が低下して立ち下がると微分器から微分パルスが出力され、この微分パルスと予め設定された比較レベルとしての比較用設定値Ｒとが比較用オペアンプで比較される（図６（ｂ）参照）。比較の結果、信号処理回路９の出力低下度合いを表す微分パルスの大きさが比較用設定値Ｒより大のときは、被検査ワイヤ１にフラックス無し部分が発生し、被検査ワイヤ用コイル４にそのフラックス無し部分が到達したと判断して警報回路２０に警報を発生させる。このフラックス無し部分の終端は、図６（ｂ）に示すように、低下していた信号処理回路９の出力の立ち上がり部分で出力される微分パルスと比較用設定値Ｒとの比較結果から認識することができる。これにより、フラックス無し部分の始端と終端とがマーキングされて、例えばワイヤ巻替え工程などにおいて被検査ワイヤ１のフラックス無し部分が取り除かれることになる。なおこの例では、良否判断回路１９では、フラックス充填状態の良否検出をより確実に行うために前記微分器を設けたが、微分器を省略し、比較用オペアンプを用いて信号処理回路９の出力と比較用の設定値とを比較するようにしてもよい。信号処理回路９の出力は、記録計２１にも与えられて記録される。
【００３５】
このように、この例によるフラックス充填状態検出装置では、ワイヤ成形伸線工程において、ワイヤ製造開始時やワイヤ断線後の製造再開時などでの被検査ワイヤの走行立ち上がり期間ｔにおいてもフラックス充填状態の良否を確実に検出することができる。
【００３６】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明によるフラックス入りワイヤのフラックス充填状態検出装置によると、フラックス入りワイヤのフラックス充填状態を前記ワイヤを走行させながら電磁誘導現象を利用して検出する装置において、被検査ワイヤ用コイルを有するブリッジ回路の出力信号からフラックス充填状態検出出力を取り出す一方、被検査ワイヤのワイヤ走行速度検出器の出力に基づいて、フラックス充填率が一定にもかかわらず発生する被検査ワイヤの走行自体による前記フラックス充填状態検出出力の低下分に相当する補正出力を得、この補正出力により前記検出出力の低下分を補充するようにしたものであるから、ワイヤ製造開始時やワイヤ断線後の製造再開時などでの被検査ワイヤの走行立ち上がり期間においてもフラックス充填状態の良否を確実に検出することができ、これによって製品への不良ワイヤの混入を確実になくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一例によるフラックス充填状態検出装置の電気的構成を示す図である。
【図２】図１に示すフラックス充填状態検出装置において被検査ワイヤのフラックス充填状態良好部分が被検査ワイヤ用コイル内を通過しているときの各点での電圧波形を示す図である。
【図３】図１に示すフラックス充填状態検出装置において被検査ワイヤに発生したフラックス無し部分が被検査ワイヤ用コイル内を通過しているときの各点での電圧波形を示す図である。
【図４】図１における充填状態検出出力補正回路の動作を説明するための図である。
【図５】図１における信号処理回路の出力を説明するための図である。
【図６】図１における良否判断回路の動作を説明するための電圧波形図である。
【図７】フラックス入りワイヤのワイヤ断面形状の例を示す図である。
【図８】フラックス入りワイヤを製造するワイヤ成形伸線工程の説明図である。
【図９】従来のフラックス充填率測定装置の構成説明図である。
【図１０】被検査ワイヤの走行自体によるフラックス充填状態検出出力の低下を説明するための図である。
【符号の説明】
１…被検査ワイヤ  ２…基準ワイヤ  ３…ブリッジ回路  ４…被検査ワイヤ用コイル  ５…基準ワイヤ用コイル  ６，７…抵抗  ８…発振器  ９…信号処理回路  １０…位相調節回路  １１…位相弁別回路  １７…充填状態検出出力補正回路  １８…ワイヤ走行速度検出器  １９…良否判断回路  ２０…警報回路  ２１…記録計
【図１】
0003553761.tif 000002
【図２】
0003553761.tif 000003
【図３】
0003553761.tif 000004
【図４】
0003553761.tif 000005
【図５】
0003553761.tif 000006
【図６】
0003553761.tif 000007
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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