(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体装置等の電子機器をテストするために必要なテスト手段の組み合わせを選択する際に、少なくともコスト、性能、スループット等の選択要因および各選択要因に対する要因優先度の重み付けからなる条件を設定する条件設定手段と、
電子機器に対する要求テスト機能の情報、各テスト手段のテスト機能の情報、およびコスト、性能、スループット等の選択要因並びに該選択要因に対する要因優先度の情報を格納するテスト手段情報格納手段と、
設定された条件に基づいて前記テスト手段情報格納手段から、指定された電子機器に対する要求テスト機能を満足すると共に、指定された選択要因に対して要因優先度による重み付けがされたテスト手段の組み合わせを選択する選択手段と、
からなることを特徴とする電子機器のテスト手段情報提供システム。
【請求項２】
請求項１に記載の条件設定手段と同様の機能を有する条件設定手段を、インターネットを介して請求項１に記載の電子機器のテスト手段情報提供システムに接続したことを特徴とする電子機器のテスト手段情報提供システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器のテストに必要なテスト手段情報提供システムに係わり、特に、半導体装置等の電子機器をテストするために必要な最適のテストシステムやテスト装置等を選択するために必要な情報を提供する電子機器のテスト手段情報提供システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＬＳＩ等の半導体装置をテストするためには、半導体装置の設計情報を基に半導体装置のテストに必要な機能と性能を有するテストシステムやテスト装置を選択して行うという方法が採られている。その選択は、通常、半導体装置の開発終了段階で、テストシステムに熟知したテストエンジニアと半導体装置の設計仕様を熟知した設計エンジニアとの話し合いにより行われていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような従来の方法では、自社内の既存のテストシステムやテスト装置を使用してどのようにテストを行うかという観点から行われるのが一般的であり、そのため、半導体装置を開発する際に、自社以外のものをも含む幅広い選択肢の中から最適のテストシステムやテスト装置を選択し構築しながら開発を進めるということができないという問題があった。
【０００４】
本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供することのできる電子機器のテスト手段情報提供システムに関する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の課題を解決するために以下に示すような手段を採用した。
第１の手段は、図１の条件設定ＧＵＩ２３および図２に示すように、半導体装置等の電子機器をテストするために必要なテスト手段の組み合わせを選択する際に、少なくともコスト、性能、スループット等の選択要因および各選択要因に対する要因優先度の重み付けからなる条件を設定する条件設定手段と、図１の半導体装置情報２１、ライブラリー２２１〜２２ｎおよび図３乃至図６に示すように、電子機器に対する要求テスト機能の情報（図３）、各テスト手段のテスト機能の情報（図４および図５）、およびコスト、性能、スループット等の選択要因並びに該選択要因に対する要因優先度の情報（図６）を格納するテスト手段情報格納手段と、図１の選択エンジン２５、選択情報２６および図８に示すように、設定された条件に基づいて前記テスト手段情報格納手段から、指定された電子機器に対する要求テスト機能を満足すると共に、指定された選択要因に対して要因優先度による重み付けがされたテスト手段の組み合わせ（図８に示す、テストシステム１＋ＢＯＳＴ１＋ＢＯＳＴ２、テストシステム１＋ＢＯＳＴ１、テストシステム２）を選択する選択手段と、からなることを特徴とする電子機器のテスト手段情報提供システムである。
【０００６】
第２の手段は、図１の条件設定ＧＵＩ３１および図２に示すように、請求項１に記載の条件設定手段と同様の機能を有する条件設定手段を、インターネット（図１のインターネット１）を介して請求項１に記載の電子機器のテスト手段情報提供システムに接続したことを特徴とする電子機器のテスト手段情報提供システムである。
【０００７】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施形態を図１ないし図８を用いて説明する。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る半導体装置等のテスト手段情報提供システムの全体構成を示すシステム図である。
同図において、１はインターネット、２はインターネット１に接続され、リモートユーザ３等からの要求に応じて、半導体装置のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等のテスト手段が必要かの情報を選択ないし検索して提供するテスト手段情報提供サイト、３はインターネット１を介してテスト手段情報提供サイト２にアクセスして、開発しようとしているＬＳＩやＬＳＩとその周辺装置を含む半導体装置等のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が最適かの情報を求めるリモートユーザである。
【０００９】
なお、本実施形態では、ＬＳＩやＬＳＩとその周辺装置を含む半導体装置のテスト手段情報提供システムを対象としているが、半導体装置に限定されず半導体装置等を有する携帯電話等の各種の電子機器のテスト手段情報提供システムとして構成できることはいうまでもない。
【００１０】
また、上記のテスト手段としては、半導体装置についていえば、テスト機能がそれぞれ異なる複数種類の、テスト方法、テストシステム、半導体装置の内部への組み込み形式でない自己テスト機能を有するＢＯＳＴ（ｂｉｌｔ  ｏｕｔ  ｓｅｌｆ  ｔｅｓｔ）装置、半導体装置の内部への組み込み形式の自己テスト機能を有するＢＩＳＴ（ｂｉｌｔ  ｉｎ  ｓｅｌｆ  ｔｅｓｔ）装置、測定器（電圧電流測定器や各種のアナライザ等）等が含まれ、電子機器についていえば、テスト機能がそれぞれ異なる複数種類の、テスト方法、テストシステム、テスト装置、測定器（電圧電流測定器や各種のアナライザ等）等が含まれる。
【００１１】
ここで、テスト手段情報提供サイト２は、半導体装置のテストに必要な最適のテスト手段の情報を提供することのできるテスト手段情報提供システムを備え、このテスト手段情報提供システムは、テストの対象となる各種の半導体装置に係る情報を格納する半導体装置情報ファイル２１、各テストシステムやテスト装置等の各テスト手段単位にライブラリー情報を格納するライブラリー２２、テストすべき半導体装置の諸条件を入力し設定する条件設定ＧＵＩ（ｇｒａｐｉｃａｌｕｓｅｒ  ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２３、条件設定ＧＵＩ２３により設定された条件に基づいて後述する選択エンジン２５による選択処理により半導体装置情報ファイル２１からの半導体装置情報やライブラリー２２１〜２２ｎからのライブラリー情報を入力するデータベース２４、データベース２４に入力された半導体装置情報やライブラリー情報について所定のアルゴリズムに従う選択処理を行う選択エンジン２５、選択エンジン２５によって条件設定された半導体装置に対する選択された最適のテストシステムやテスト装置等の情報からなる選択情報ファイル２６とから構成される。
【００１２】
また、３１はリモートユーザ３側に備えられる情報機器の条件設定ＧＵＩであり、リモートユーザ３は、インターネット１を介してテスト手段情報提供サイト２にアクセスし、条件設定ＧＵＩ２３と同様の条件設定ＧＵＩ３１からの入力により設定条件に合致する最適のテストシステムやテスト装置等の情報を入手することができる。
【００１３】
図２は条件設定ＧＵＩ２３，３１から入力された設定条件の一例を示す図であり、同図に示すように、設定条件は、テストの対象となる（１）半導体装置名（例えば、ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）、（２）ライブラリー２２の中からテストの対象となるライブラリーの範囲（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２２２）、（３）設定されたライブラリーの範囲の中での優先度（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２２２の順）、（４）選択するために重きを置く選択要因（例えば、コスト，性能）、（５）選択された選択要因の重みを示す要因優先度（例えば、１００を最大値として５０，５０に設定）、（６）選択エンジン２５によって選択される所定の半導体装置のテストに必要なテストシステムおよびテスト装置等の組み合わせの最大選択数（例えば、３）、（７）選択されたテスト手段情報を出力する選択情報出力ファイル（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１．ＳＥＬ）、等からなる。
【００１４】
図３は、半導体装置情報ファイル２１の半導体装置情報の一例を示す図であり、同図において、各半導体装置に係る半導体装置情報には、半導体装置の名前、仕様データ、デザインデータ、テストデータの各情報、およびテストしようとする半導体装置に必要とされるテスト機能（例えば、ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／ＤＡ）情報が記録されている。
【００１５】
図４はライブラリー２２の中、テストシステムのライブラリー１２１の一例を示す図であり、同図に示すように、ライブラリー１２１は複数種類のテストシステム１〜テストシステム５のライブラリーからなり、テストシステム１についていえば、テストシステム１はＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮの各テスト機能を備えており、それぞれ要因優先度の重みが７０，９０，８０および２０，６０，５０である。
【００１６】
図５は、半導体装置において数あるテスト機能の中、ＥＱ１は半導体装置（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）が必要とするテスト機能（ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／ＤＡ）を示すと共に、各ライブラリー２２１〜２２ｎについて、ライブラリー２２１にある各テストシステムＴ１、Ｔ２・・・におけるテスト可能なテスト機能、ライブラリー２２２の各ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、ＢＯ２・・・におけるテスト可能なテスト機能、ライブラリー２２３の各ＢＩＳＴ装置ＢＩ１、ＢＩ２・・・におけるテスト可能なテスト機能を示している。
【００１７】
図６は、ライブラリー２２１の各テストシステムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、スループット（ｔｈｒｏｕｇｈｐｕｔ）の達成度の一例を示す図である。
【００１８】
図７は、選択エンジン２５における処理手順の一例を示す図であり、ステップ１にて、選択エンジン２５は、条件設定ＧＵＩ２３，３１からの設定条件に基づいて、半導体装置情報ファイル２１やライブラリー２２からデータベース２４に出力し選択テーブルを作成する。ステップ２、ステップ３にて選択エンジン２５は所定のアルゴリズムに従って縮退処理を行い、さらにはステップ４にて条件設定された要因を最も満足する要因値を探索し、選択処理された結果をデータベース２４から選択情報ファイル２６に出力する。
【００１９】
図８は、選択エンジン２５により選択処理された選択情報２６の一例を示す図であり、設定条件に対して３種類の組合わせからなる選択結果が出力されている。
【００２０】
次に、本実施形態に係る半導体装置等のテスト手段情報提供システムの全体の働きについて図１および図８を用いて説明する。
【００２１】
まず、リモートユーザ３等が所定の半導体装置について、最適のテストシステムやテスト装置等の情報を入手しようとする場合、まず図２に示すような、テスト手段情報提供サイト２の条件設定ＧＵＩ２３またはリモートユーザ３の条件設定ＧＵＩ３１からテストすべき半導体装置に係る条件を設定する。選択エンジン２５は、入力された設定条件に基づいて、図３に示すように、半導体装置情報ファイル２１から所定の半導体装置（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）についての要求テスト機能等の半導体装置情報を入手し、また、図５に示すようなライブラリー２２１〜２２ｎ、および図６に示すようなライブラリー２２１−１〜２２１−４の中から選択の可能性のある候補となるライブラリー情報を選択して、データベース２４に選択テーブルとして入力する。
【００２２】
次いで、選択エンジン２５は、作成された選択テーブルに基づいて、例えば、図５において、ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／ＤＡのテスト機能を満足するテストシステムやテスト装置の組合わせてとして、テストシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ２、テストシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、テストシステムＴ２について、図２の条件設定に示されたライブラリー優先度や選択要因や要因優先度等を、図６に示すライブラリー２２１−１〜２２１−４の情報等を参照し処理することにより、図８の選択情報に示すような順位での選択結果を得る。選択情報２６はインターネット１を介してリモートユーザ３に送信される。
【００２３】
このように、本実施形態の発明によれば、テスト手段情報提供システム２では、テスト手段情報提供システムの条件設定ＧＵＩ２３から所定の半導体装置をテストするために必要な条件を設定することにより、所定の半導体装置のテストに必要な最適のテスト方法、テストシステム、ＢＯＳＴ装置、ＢＩＳＴ装置、その他のテスト装置や計測器についての情報を自動的に入手することができる。
【００２４】
また、リモートユーザ３は、インターネット１を介してテスト手段情報提供サイト２にアクセスして、リモートユーザ３の情報機器の条件設定ＧＵＩ３１から所定の半導体装置をテストするために必要な条件を設定することにより、所定の半導体装置のテストに必要な最適のテスト方法、テストシステム、ＢＯＳＴ装置、ＢＩＳＴ装置、その他のテスト装置や計測器についての情報を自動的に入手することができる。
【００２５】
従って、今までのように、半導体装置のテストシステムやテスト装置を決定するに当たって必要としていたテストシステムやテスト装置を熟知したテストエンジニアを関与させる必要がなくなり、また設計エンジニアが開発する半導体装置をテストをするために必要なテスト装置を設計の早い段階から知ることができるため、開発業務の効率化、開発期間の短縮化、テストコストの低減化を図ることができる。
【００２６】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明によれば、テスト手段情報提供システムの条件設定ＧＵＩから所定の半導体装置等の電子機器をテストするために必要な条件を設定することにより、所定の電子機器のテストに必要な最適のテスト方法、テストシステム、テスト装置や計測器についての情報を自動的に入手することができる。
【００２７】
請求項２記載の発明によれば、リモートユーザは、インターネットを介してテスト手段情報提供サイトにアクセスして、リモートユーザの情報機器の条件設定ＧＵＩから所定の電子機器をテストするために必要な条件を設定することにより、所定の電子機器のテストに必要な最適のテスト方法、テストシステム、テスト装置や計測器についての情報を自動的に入手することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る半導体装置のテスト手段情報提供システムの全体構成を示すシステム図である。
【図２】図１に示す条件設定ＧＵＩ２３，３１から入力された設定条件の一例を示す図である。
【図３】図１に示す半導体装置情報ファイル２１の半導体装置情報の一例を示す図である。
【図４】図１に示すライブラリー２２の中、テストシステムのライブラリー１２１の一例を示す図である。
【図５】所定の半導体装置が必要とするテスト機能を示すと共に、各ライブラリー２２１〜２２ｎにおけるテスト可能なテスト機能を示す図である。
【図６】図１に示すライブラリー２２１の各テストシステムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、スループットの達成度の一例を示す図である。
【図７】図１に示す選択エンジン２５における処理手順の一例を示す図である。
【図８】図１に示す選択エンジン２５により選択処理された選択情報の一例を示す図である。
【符号の説明】
１  インターネット
２  テスト手段情報提供サイト
２１  半導体装置情報ファイル
２２  ライブラリー
２２１  テストシステムのライブラリー
２２１−１  テストシステムの機能に係るライブラリー
２２１−２  テストシステムのコストに係るライブラリー
２２１−３  テストシステムの性能に係るライブラリー
２２１−４  テストシステムのスループットに係るライブラリー
２２２  ＢＯＳＴ装置のライブラリー
２２３  ＢＩＳＴ装置のライブラリー
２３  条件設定ＧＵＩ
２４  データベース
２５  選択エンジン
２６  選択情報ファイル
３  リモートユーザ
３１  条件設定ＧＵＩ
【図１】
0003569237.tif 000002
【図２】
0003569237.tif 000003
【図３】
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【図４】
0003569237.tif 000005
【図５】
0003569237.tif 000006
【図６】
0003569237.tif 000007
【図７】
0003569237.tif 000008
【図８】
0003569237.tif 000009