(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ビームによって感光材料を走査露光する画像露光装置において、前記複数の光ビームの強度を調整する光強度調整方法であって、
幾何学的に互いに隣接しない光ビームの組をひとつのサブグループとして、前記複数の光ビームを複数のサブグループに分類する分類工程と、
前記複数の光ビームを各サブグループごとに照射して感光材料を露光する露光工程と、
前記試験用感光材料について副露光の影響を含む露光状態を測定する測定工程と、
測定された前記露光状態に基づいて前記複数の光ビームのそれぞれの強度を調整する調整工程と、
を備え、
前記露光工程が、前記複数のサブグループ内において、実際の画像露光の際の露光順に前記感光材料の露光を行う工程であることを特徴とする光強度調整方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光強度調整方法であって、
前記複数のサブグループが、前記複数の光ビームのうち、一つおきの光ビームの組であることを特徴とする光強度調整方法。
【請求項３】
請求項２に記載の光強度調整方法であって、
前記露光状態の測定が、前記複数のサブグループのそれぞれの光ビームによる複数の走査線の線幅の測定であり、
前記調整工程が、前記複数の走査線の線幅が前記複数のサブグループ内で共通の目標線幅に等しくなるように各光ビームの発光強度を調整する工程であることを特徴とする光強度調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数の光ビームによって感光材料を走査露光する画像露光装置において、前記複数の光ビームの強度を調整する光強度調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来からのマルチチャンネル型の画像露光装置は、ＬＥＤ等の発光素子（チャンネル）を複数備え、それぞれによって同時に光ビームを感光材料に照射することによって、同時に複数本の走査を行いつつ感光材料に画像を露光するものであるが、各チャンネルによる走査線幅にばらつきがあると線幅の太い走査線毎に画像にムラが生じ画像品質の低下を招くという問題があった。
【０００３】
この問題を解決するため、特開平７−３１９０８６号公報の装置では、各チャンネルによる光強度を測定する光強度分布測定手段により各チャンネルの光強度を個別に測定し、それをもとに各チャンネルの光強度を調整して各走査線幅を一定のものとするようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記の様な装置では感光材料において直接ビーム照射による露光（以下「本露光」という）が行われていない部分でも、他の部分でのビーム照射による露光（以下「副露光」という）が生じ、各チャンネルの発光量を個別に調整しても、他のチャンネルによる副露光の影響で各走査線の太さにバラツキが生じるという問題があった。
【０００５】
また、一般に感光材料には本露光と副露光の順序によって感度が異なるという特性がある。すなわち、本露光の前に副露光を受けるか、本露光の後に副露光を受けるかで感光材料の感度が異なり、露光結果も異なる。そして、上記のような画像露光装置に用いられる感光材料においては、相対的に先に本露光される走査線ほど後の露光の副露光の影響が強く働き、露光過多となり走査線幅が太くなる傾向があり、結果的に各走査線の太さにバラツキが生じるという問題もあった。
【０００６】
この発明は、従来技術における上述の問題の克服を意図しており、画像露光装置による画像露光のムラを抑える光強度調整方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、この発明の請求項１に記載の方法は、複数の光ビームによって感光材料を走査露光する画像露光装置において、前記複数の光ビームの強度を調整する光強度調整方法であって、幾何学的に互いに隣接しない光ビームの組をひとつのサブグループとして、前記複数の光ビームを複数のサブグループに分類する分類工程と、前記複数の光ビームを各サブグループごとに照射して感光材料を露光する露光工程と、前記試験用感光材料について副露光の影響を含む露光状態を測定する測定工程と、測定された前記露光状態に基づいて前記複数の光ビームのそれぞれの強度を調整する調整工程と、を備え、前記露光工程が、前記複数のサブグループ内において、実際の画像露光の際の露光順に前記感光材料の露光を行う工程であることを特徴とする。
【０００９】
また、この発明の請求項２に記載の方法は、請求項１に記載の光強度調整方法であって、複数のサブグループが、複数の光ビームのうち、一つおきの光ビームの組であることを特徴とする。
【００１０】
さらに、この発明の請求項３に記載の方法は、請求項２に記載の光強度調整方法であって、露光状態の測定が、複数のサブグループのそれぞれの光ビームによる複数の走査線の線幅の測定であり、調整工程が、複数の走査線の線幅が複数のサブグループ内で共通の目標線幅に等しくなるように各光ビームの発光強度を調整する工程であることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
＜１．装置構成＞
図１はこの発明の実施の形態における画像露光装置の概略構成を示す図である。以下、図１を用いてこの画像露光装置１について説明していく。
【００１２】
この画像露光装置は実際に製品として市場に出荷される画像露光装置１（以下「画像露光装置１」または「製品としての画像露光装置１」という。）と、それと以下で説明する要部について構造が同じであり、後述する補正係数算出処理においてのみ使用される試験用画像露光装置２を包含するものである。
【００１３】
画像露光装置は主走査モータ１０の回転により感光フィルムＦ（実際の画像露光用の感光フィルムＦおよび後述する試験用感光フィルムＦを含む）を巻き付けた回転ドラム２０が回転しつつ、マルチビームヘッド３０によって照射された複数の露光ビームによって感光フィルムＦ上にスパイラル走査（またはステップ走査）により画像露光を行う。
【００１４】
また、この画像露光装置におけるマルチビームヘッド３０はＬＥＤ（発光ダイオード）アレイ３１と変倍可能な結像レンズ系３２を備えている。図２は画像露光装置のＬＥＤアレイ３１の概略構成を示す図である。図示のようにＬＥＤアレイ３１は４個周期で互いに位置をずらして配列した合計１２０個のＬＥＤ素子からなり、各素子には走査線の並び順にチャンネルＣ１〜Ｃ１２０が対応付けされたものとなっている。そして、これら各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０はそれぞれが露光ビームとして、同時に１２０本の走査線を感光フィルムＦに露光することができるものとなっている。
【００１５】
また、マルチビームヘッド３０は図１に示すように、回転ドラム２０の回転軸と平行に設けられた副走査軸４０に刻まれている送りネジＴＳに螺合されており、その送りネジＴＳが回転軸に取り付けられた副走査モータ５０によって副走査軸４０が回転し、それによってマルチビームヘッド３０が回転ドラム２０の回転軸に平行（副走査方向）に送られることによって副走査が行われる。
【００１６】
そして、制御部６０は内部にメモリおよびＣＰＵを備えるとともに、指示入力を行うタッチパネル６１が電気的に接続されている。さらに、制御部６０は、それに電気的に接続された主走査モータ１０および副走査モータ５０内に設けられたエンコーダからの信号をもとに主走査位置および副走査位置を捉えつつ、電気的に接続されたＬＥＤアレイ３１を所定のタイミングで各チャンネルＯＮ／ＯＦＦ制御を行い、回転ドラム２０の外周面に取り付けられた感光フィルムＦに画像を露光していく。
【００１７】
図３はこの発明の実施の形態における線幅測定装置３の概略構成を示す図である。
【００１８】
この線幅測定装置３において、原稿台１５上には画像露光装置１または試験用画像露光装置２により露光された現像済みの試験用感光フィルムＦが載せられ、原稿台１５下方に設けられた透過光源２５が点灯されると、そこから発せられた光は試験用感光フィルムＦを透過して、結像レンズ３５により、その上方に設けられた２次元ＣＣＤカメラ４５に結像される。そして、後述するように２次元ＣＣＤカメラ４５に結像された試験用感光フィルムＦ上の露光画像は、そこで電気信号に変換され、画像メモリ５５に蓄えられる。
【００１９】
さらに、画像メモリ５５に蓄えられた画像データはマウス６５やキーボード７５といった指示入力手段およびグラフィックディスプレイ８５を備えるとともに、内部にメモリおよびＣＰＵを備えたコンピュータ９５に必要に応じて読み出され、後述するような処理および演算が行われる。
【００２０】
＜２．処理および効果＞
図４、図５および図６はそれぞれ、この実施の形態における発光強度調整処理全体、補正係数算出処理および最適電流値設定処理の手順を示すフローチャートである。以下、図４〜図６に従って発光強度調整処理について説明していく。
【００２１】
発光強度調整処理では最初に、補正係数算出処理が行われる（図４：ステップＳ１）。補正係数とは、初期電流による露光線幅から目標線幅になるように、電流値を補正するために用いる値であり、電流変化量と線幅変化量との関係から求める。この場合、ＬＥＤ駆動の基本電流とそれとわずかに値の異なる電流で露光したフィルムを用い、補正係数は、露光に用いられる最大及び最小の基本電流値に対して求める。従って、フィルムへの露光は、基本電流値とそれとわずかに値の異なる電流値、すなわち４種類の電流値によって行われる。この補正係数算出は以下のように行われる。
【００２２】
まず、試験用画像露光装置２において、露光に用いられる最大及び最小の基本電流値を作業者がタッチパネル６１により設定する（図５：ステップＳ１０）。これにより、上記の２種類の基本電流値は制御部６０内のメモリに記憶される。
【００２３】
つぎに、作業者が試験用感光フィルムＦを試験用画像露光装置２の回転ドラム２０に取り付ける（図５：ステップＳ１１）。この試験用感光フィルムＦとは製品としての画像露光装置により画像記録を行うための感光フィルムＦと全く同じ種類の感光フィルムであり、単にこの発光強度調整処理に用いるものを試験用感光フィルムＦと呼ぶ。
【００２４】
そして、画像露光装置１では各種の異なる感光フィルムＦに対して画像露光を行うことができるものとなっている。そのため、この試験用画像露光装置２でもそれと同種の様々な試験用感光フィルムＦに対して以下の処理を行うものとなっており、これにより、後述する画像露光装置１におけるＬＥＤアレイ３１の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の発光強度の調整をそれら感光フィルムＦの特性に対応したものとすることができる。
【００２５】
つぎに、試験用画像露光装置２において、上記２種類の基本電流値のうちの最小の基本電流値により間引き露光を行う（図５：ステップＳ１２）。
【００２６】
この発明では、画像露光装置１および試験用画像露光装置２における全光源による光ビームのうち、幾何学的に互いに隣接しない光ビームの組（したがって、現実には各チャンネルの組）を一つのサブグループとして、複数のサブグループに分類している。なお、ここで隣接とは特定の光ビームの両側の最も近い１つずつを表し、チャンネルでいえばチャンネル番号（参照符号のＣの後の数字）が「１」だけ大きいか小さいかのものを表している。
【００２７】
とくに、この実施の形態では図２に示すように画像露光装置１の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０のチャンネル番号が奇数のチャンネルによる光ビームを第１グループＧ１とし、偶数のチャンネルによる光ビームを第２グループＧ２とし、それらを各々独立に照射することにより、試験用感光フィルムＦに１本おきの走査線を露光する間引き露光を行う。
【００２８】
図７は間引き露光における各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による露光順序を説明するための図である。図中では、数字を記入した円は各チャンネルによる光ビームの副走査方向の位置をイメージしている。そして、図７（ａ）および図７（ｂ）のハッチングを付した光ビームがそれぞれ第１グループＧ１および第２グループＧ２の光ビームを表わしており、間引き露光では１枚の試験用感光フィルムＦに対して第１グループＧ１の全光ビームを照射して露光し、それとは別の試験用感光フィルムＦに対して第２グループＧ２の全光ビームを照射して露光する。そして、この間引き露光においても、１本おきの走査線を形成する以外は、製品としての画像露光装置１により感光フィルムＦに画像を露光する際と同様の相対的位置および順にスパイラル走査により走査線を形成していく。なお、走査線の例は後述の図８（ａ）に示されている。
【００２９】
すなわち、図７（ａ）または図７（ｂ）にハッチングを付して示すように、同時に第１グループＧ１または第２グループＧ２の全光ビームを照射しつつ、回転ドラム２０が回転することによって主走査が行われ、それとともにマルチビームヘッド３０が副走査方向に移動する。そして、回転ドラム２０が１回転すると、副走査方向の正側に隣接するように次の走査線が形成される。
【００３０】
また、図７の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の上に示した数字は、各走査線が露光される順序を表わしている。ただし、ここで同じ数字は同じタイミングで並列的な発光によって行われることを示している。すなわち、図２に示したように、ＬＥＤ素子は４個周期で互いに位置を主走査方向にずらして配列されているため、例えば第１グループの全チャンネルに関して露光する場合は、１列目のチャンネルＣ１、Ｃ５、Ｃ９、・・・、Ｃ１１７の露光が開始され、１列目による副露光が行われた後に、ずれ分だけ遅れて３列目のチャンネルＣ３、Ｃ７、Ｃ１１、・・・、Ｃ１１９の露光が開始される。
【００３１】
このように、この実施の形態は１本おきの走査線を露光して、以下に示すように、それらの各チャンネルによる光ビーム間の副露光の影響を補正しようとするものであるが、ここで、１本おきとしたことには以下のような理由がある。
【００３２】
隣接する光ビームにより露光された走査線、すなわち、露光された走査線が互いに接している場合は、走査線は分離されないので、各走査線幅を測定できない。しかし、１本おきの走査線を露光する場合、近隣のチャンネルからの露光により、微弱な露光を受け、これが副露光効果によって走査線幅に影響を及ぼす。そこで、このような微弱な副露光の影響を正確に捉えるために、このような各チャンネルを第１グループＧ１と第２グループＧ２とに分類し、それぞれ別々に１本おきの露光を行うのである。
【００３３】
つぎに、作業者が間引き露光が行われた試験用感光フィルムＦを現像する（図５：ステップＳ１３）。
【００３４】
つぎに、作業者が、間引き露光が行われた試験用感光フィルムＦ上の画像を線幅測定装置に読み取らせる（図５：ステップＳ１４）。具体的には、作業者が間引き露光が行われた試験用感光フィルムＦを線幅測定装置３の原稿台１５に載置し、マウス６５またはキーボード７５によりコンピュータ９５に画像読取りの指示を与えることにより試験用感光フィルムＦに記録された間引き露光画像を読み取らせる。
【００３５】
図８は線幅測定装置により読み取られた間引き露光画像の拡大画像の一例を示す図（図８（ａ））および、それを基に得られた透過率分布を示す図（図８（ｂ））であり、これらの図では第１グループＧ１による間引き露光の例を表している。線幅測定装置３は２次元ＣＣＤカメラ４５の各ＣＣＤ素子により図８（ａ）のような間引き露光画像を多数の画素に分割したデジタル信号として捉え、画像メモリ５５に保存する。
【００３６】
つぎに、作業者は線幅測定装置により各走査線の透過率分布を算出する（図５：ステップＳ１５）。
【００３７】
図８（ａ）に示すように、読み取られた間引き露光画像におけるそれぞれの各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０（図中にはチャンネルＣｎ，Ｃｎ＋２，Ｃｎ＋４，Ｃｎ＋６を表示）による走査線（図中にはチャンネルＣｎ，Ｃｎ＋２，Ｃｎ＋４，Ｃｎ＋６に対応する走査線Ｌｎ，Ｌｎ＋２，Ｌｎ＋４，Ｌｎ＋６を表示）はその太さが異なっている。このような走査線の走査線幅を数値的に捉えるため、線幅測定装置３では図８（ｂ）のように得られた間引き露光画像の各画素における透過率をそのデジタル信号から求め、それらを副走査方向の各画素位置において主走査方向（走査線の長さ方向）に加算した値を求めている。ここで、透過率を走査線の長さ方向に加算するのは、一般に走査線は、その長さ方向の位置によって微妙にその線幅が異なるため、一部のみの線幅を用いたのでは誤差が大きくなるので、その誤差を抑えるためである。
【００３８】
つぎに、作業者が線幅測定装置により、得られた透過率分布を基に各チャンネルの走査線幅を計測する（図５：ステップＳ１６）。
【００３９】
この実施の形態では図８（ｂ）に示すように走査線幅を数値的に検出するために、得られた各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の加算された透過率が所定のしきい値となる画素位置の間の距離（すなわち、しきい値が各チャンネルの透過率分布のグラフと交わる画素位置の間隔）を各走査線幅（図中には走査線Ｌｎ，Ｌｎ＋２，Ｌｎ＋４，Ｌｎ＋６に対応する走査線幅Ｗｎ，Ｗｎ＋２，Ｗｎ＋４，Ｗｎ＋６を表示）として求めている。
【００４０】
このような走査線幅を上記の間引き露光画像のそれぞれにおいて、各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による走査線について求める。
【００４１】
ここで求めた走査線幅はそのサブグループ内の近隣のチャンネルＣ１〜Ｃ１２０の光ビームによる副露光の影響を受けた走査線幅となっている。
【００４２】
また、チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の端のチャンネル、すなわち、チャンネルＣ１，Ｃ２…および…チャンネルＣ１１９，Ｃ１２０による走査線は近隣または隣接する走査線との間で露光順序の前後関係も生ずるので、副露光の順序による感光フィルムＦの感度の相違の影響を受けた走査線幅となっている。
【００４３】
また、チャンネルＣ１〜Ｃ１２０がＬＥＤ素子のずれ配置に応じた遅延時間を伴って露光されつつ、回転ドラム２０が回転すると、例えばチャンネルＣ２は隣りのチャンネルＣ１による走査線に隣接した位置を上記ずれ配置のずれ分だけわずかに遅れて走査することになる。このようなことはチャンネルＣ２とＣ３との間およびチャンネルＣ３とＣ４との間等、４個のＬＥＤ素子を１周期として同様の状況が生じる。そのため、それらの走査線を露光した光ビームが互いに副露光を及ぼしあい、前述のように、画像露光装置１および試験用画像露光装置２で用いる感光フィルムＦおよび試験用感光フィルムＦでは、先に本露光された走査線位置の方が後で本露光された走査線位置より感度がよくなる傾向にある。これは、間引き露光においても同様で、図８（ａ）では先に露光されたチャンネルＣｎ、Ｃｎ＋４、Ｃｎ＋８、・・・による走査線幅が太く、後に露光されたチャンネルＣｎ＋２、Ｃｎ＋６、Ｃｎ＋１０、・・・による走査線幅が細くなっている。このように、間引き露光においても実際の画像露光の際と同じ順序で露光されるため、それによって得られた画像は上記のような本露光と副露光との順序による感光フィルムＦの感度の相違の影響を含んだものとなっている。
【００４４】
そして、以上で、全ての電流値による上記ステップＳ１１〜Ｓ１６の処理が終了していれば、次のステップＳ１８に進み、終了していなければ、残りの電流値により上記ステップＳ１１〜Ｓ１６の処理を繰り返す（図５：ステップＳ１７）。
【００４５】
そして、全ての電流値による処理が終了していた場合には、作業者が、計測された各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による走査線幅を基に最大または最小の基本電流値に対する補正係数をチャンネルＣ１〜Ｃ１２０毎に算出し、任意の記憶手段により記憶する（図５：ステップＳ１８）。
【００４６】
次に、基本電流値での補正係数Ａの算出方法を説明する。
【００４７】
図９は最小の基本電流値２．５ｍＡ、それとわずかに異なる電流値３．５ｍＡにより露光されたチャンネルＣｎ，Ｃｎ＋２，Ｃｎ＋４，Ｃｎ＋６（ｎは１〜１２０のうちの任意の整数。以下同様。）の走査線幅を示す図である。ここで、補正係数Ａは次式で定義される。
【００４８】
補正係数Ａ＝目標走査線幅×電流変化量／走査線幅変化量  …式１
また、補正係数Ａは各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０毎に上記最大および最小の基本電流値のそれぞれに対して異なるものとして以下のようにして求められる。
【００４９】
まず、最小の基本電流値とそれとわずかに異なる電流値による走査線幅の差である走査線幅変化量を求める。図９のチャンネルＣｎの例では電流値３．５ｍＡおよび２．５ｍＡでの測定走査線幅はそれぞれ７．０μｍおよび４．０μｍであるので、走査線幅変化量は３．０μｍである。
【００５０】
また、電流変化量は、２．５ｍＡと３．５ｍＡとの差であるので、１．０ｍＡである。
【００５１】
また、目標走査線幅は各解像度に適した予め設定されている走査線幅であって、試験用画像露光装置２および各製品としての画像露光装置１のそれぞれの全てのチャンネルＣ１〜Ｃ１２０の光ビームによる走査線について共通の値となっている。したがって、当然ながら第１および第２グループＧ１，Ｇ２のそれぞれの各チャンネルによる光ビームによる走査線について共通の値となっている。
【００５２】
そして、求めた走査線幅変化量、電流変化量、さらに試験用画像露光装置２および各チャンネルで共通かつ、所定の目標走査線幅（図９の例では５．０μｍとしている）とから、式１を用いて補正係数Ａを求める。図９のチャンネルＣｎの例では補正係数Ａ＝１．６５となる。
【００５３】
その他のチャンネルについても同様にして求められる。
【００５４】
そして、以上で、最大および最小の基本電流値のそれぞれに対して上記図５のステップＳ１０〜Ｓ１８の処理が終了していれば、補正係数算出処理（図４：ステップＳ１）を終了し、図４のステップＳ２に進み、終了していなければ、残りの電流値により上記ステップＳ１０〜Ｓ１８の処理を繰り返す（図５：ステップＳ１９）。
【００５５】
つぎに、ステップＳ２（図４）では、製品としての画像露光装置１に実際に用いることが想定されている全感光フィルムＦと同種の試験用感光フィルムＦの全てに対して、以上の補正係数算出処理を繰り返して行い、それによりそれぞれの試験用感光フィルムＦに対する最大および最小の基本電流値に対する補正係数Ａが各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０に対して求められ、それらを任意の記憶手段に記憶しておく。そして、それが終了すると、次のステップＳ３に進む。
【００５６】
つぎに、ステップＳ３（図４）では試験用画像露光装置２ではなく、製品としての画像露光装置１により最適電流値設定処理を行う。以下、図６を用いて、最適電流値設定処理について説明していく。
【００５７】
まず、作業者が、上記所定の試験用感光フィルムＦのうちの対象となるものを画像露光装置１の回転ドラム２０に取り付ける（図６：ステップＳ３１）。
【００５８】
つぎに、画像露光装置１において、最大または最小の初期電流値により間引き露光を行う（図６：ステップＳ３２）。ここで、最大および最小の初期電流値とは、前述の補正係数設定処理における最大および最小の基本電流値とほぼ等しい所定の電流値であって、各チャンネルおよび各画像露光装置１に共通の値を用いている。また、ここでの画像露光装置１による間引き露光は、前述の補正係数設定処理において試験用画像露光装置２により行ったものと全く同様である。したがって、この最適電流値設定処理では最大および最小の初期電流値のそれぞれにより別々の感光フィルムＦに間引き露光を行う。なお、以下ステップＳ３３〜Ｓ３６までの処理も図５の補正係数設定処理におけるステップＳ１３〜１６と全く同様である。
【００５９】
つぎに、作業者が間引き露光が行われた試験用感光フィルムＦを現像する（図６：ステップＳ３３）。
【００６０】
つぎに、作業者が間引き露光が行われた試験用感光フィルムＦ上の画像を線幅測定装置で読み取る（図６：ステップＳ３４）。
【００６１】
つぎに、作業者が線幅測定装置により各走査線の透過率分布を算出する（図６：ステップＳ３５）。
【００６２】
つぎに、作業者が線幅測定装置により、得られた透過率分布を基に各チャンネルの走査線幅を計測する（図６：ステップＳ３６）。
【００６３】
つぎに、作業者が、最大または最小の初期電流値に対応する補正係数、目標走査線幅、計測された走査線幅に基づいて電流値の補正量をチャンネル毎に求め、初期電流値を補正して最大または最小の最適電流値をチャンネル毎に任意の記憶手段により記憶する（図６：ステップＳ３７）。
【００６４】
この電流値の補正量を求める式は次式で与えられる。
【００６５】
補正量＝Ａ×補正走査線幅／目標走査線幅  …式２
ここで、補正走査線幅は測定走査線幅と目標走査線幅との差として求められる。たとえば、任意のチャンネルＣｎにおいて初期電流値が２．５ｍＡ、目標走査線幅が５．０μｍ、測定走査線幅が４．０μｍおよび補正係数Ａが１．６５の場合について求めると、上記の定義より補正走査線幅は１．０μｍとなり、電流値の補正量は０．３３ｍＡとなる。
【００６６】
そして、こうして得られる電流値の補正量を初期電流値に加えることにより、それらを補正した最適電流値が求まる。上記の例では初期電流値が２．５ｍＡで、電流値の補正量が０．３３ｍＡであるので、そのチャンネルＣｎにおける最適電流値は２．８３ｍＡとなる。
【００６７】
ステップＳ３７では、このような計算を、作業者が各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０について行い、それにより得られた各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の最大または最小の最適電流値を任意の記憶手段により記憶する。
【００６８】
そして、以上で、最大および最小の最適電流値のそれぞれに対して上記図６のステップＳ３１〜Ｓ３７の処理が終了していなければ、他方の最適電流値に対して上記ステップＳ３１〜Ｓ３７の処理を繰り返して最大および最小の最適電流値の両方について行い、逆に終了していれば、ステップＳ３９に進む。
【００６９】
図１０はいずれかのチャンネルに対する最大および最小の最適電流値の設定の様子を示す概念図である。上記のようにして、各チャンネルの最大および最小の初期電流値のそれぞれに対して電流値の補正量を加算することによって、最大および最小の最適電流値が求まり、それにより対象となる画像露光装置１により露光される走査線幅は図示のように目標走査線幅に近づく。
【００７０】
つぎに、作業者は所望の解像度に対する最適電流値を、その解像度に相当する走査線幅に基づいて、最大および最小の最適電流値の補間によりチャンネル毎に求め、画像露光装置１に記憶させる（図６：ステップＳ３９）。
【００７１】
この実施の形態で対象としている画像露光装置１は図１に示すように、変倍可能なものとなっている。そのため、以上のような最適電流値を各解像度に対して求め、それらを各画像露光装置１に設定しなければならない。ところが、以上で求めた最大および最小の最適電流値は２種類の解像度のみの対応となっているため、その他の解像度に対しては最適電流値が求まっていない。
【００７２】
そこで、この実施の形態では、求められた最大および最小の最適電流値を線形補間し、他の解像度に対しては、それに相当する線幅が得られるような電流値を各チャンネルに対して算出している。図１１は一方のサブグループの任意のチャンネルＣｎ〜Ｃｎ＋６の各解像度における最適電流値算出の様子を示す図である。図示のように、この方法は最大の最適電流値とそれにより得られる走査線幅（図１０における目標走査線幅に相当）により決定される点と、最小の最適電流値とそれにより得られる走査線幅（図１０における目標走査線幅に相当）により決定される点との間を直線で結び、その直線上において求める解像度に相当する走査線幅での電流値をその解像度における最適電流値とするものである。なお、このような最適電流値を各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０に対して、変倍可能な全ての解像度に対して求め、対象となる画像露光装置１に設定する。
【００７３】
つぎに、ステップＳ４（図４）で所定の全試験用感光フィルムＦによる最適電流値設定処理が終了したかどうかを判定し、終了するまで、ステップＳ３の処理を繰り返し行う。これは、図４のステップＳ１〜Ｓ３において特定種類の試験用感光フィルムＦについて最適電流値を算出したのであるが、この画像露光装置１は前述のように各種感光フィルムＦに対して画像露光可能な装置となっているためであり、前述の補正係数算出処理において、補正係数Ａを求めた所定の各種試験用感光フィルムＦのそれぞれに対して、各解像度に対する最適電流値を設定する。
【００７４】
そして、所定の各種試験用感光フィルムＦに対して最適電流値設定処理が終了すればステップＳ５に進む。
【００７５】
さらに、ステップＳ５（図４）において、全画像露光装置１の設定が終了したかどうかを判定し、終了するまで上記ステップＳ３およびＳ４の処理を繰り返し行う。これは、製品としての画像露光装置１（通常、複数台）の全てに対して上記のような最適電流値の設定を行うものである。
【００７６】
そして、全画像露光装置１に対して以上の設定が終了すると光強度調整処理を終了する。
【００７７】
以上説明したように、この発明の実施の形態によれば、ＬＥＤアレイ３１の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による光ビームのうち、互いに隣接しない組である第１グループＧ１および第２グループＧ２のそれぞれにより、試験用感光フィルムＦを露光し、各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の光ビームによる走査線の走査線幅に基づいて各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の最適電流値を求めて、設定することにより各光ビームの強度を調整するため、各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０相互の副露光の影響を補正し、画像露光装置１を画像露光のムラを抑え、良質な画像露光を行うものとすることができる。
【００７８】
とくに、図４に示す発光強度調整処理におけるステップＳ２の試験用感光フィルムＦへの露光が各サブグループ内において、実際の画像露光の際の露光順に行うものであるため、感光フィルムＦにおける本露光と副露光の順序による感度の相違の影響を補正した発光強度の調整を行うことができるので、画像露光装置１を実際の画像露光のムラを一層、抑え、より良質な画像露光を行うものとすることができる。
【００７９】
また、各種感光フィルムＦに対して発光強度調整処理を行うので、感光フィルム（感光材料）の特性に応じた発光強度の調整を行うことができる。
【００８０】
さらに、第１グループＧ１と第２グループＧ２とが、チャンネル番号の奇数と偶数とに分けられた、一つおき光ビームの組であるため、微弱な副露光の影響をも補正でき、画像露光装置１を画像露光のムラを一層、抑え、さらに良質な画像露光を行うものとすることができる。
【００８１】
＜３．変形例＞
この実施の形態における画像露光装置はマルチビームにより副走査方向に順に走査していくものとしたが、この発明はこれに限られず、インターレース露光を行う画像露光装置に対しても適用することができる。以下、その際の間引き露光について説明していく。
【００８２】
図１２はインターレースによる間引き露光の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による露光順序を説明するための図である。各記号の意味は各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０による光ビームの上に示した数字以外は図７と同様である。
【００８３】
実際の画像露光におけるインターレース露光（間引き露光ではない）による最終的な画像では、図１２（ａ）および図１２（ｂ）に示すように、副走査方向にチャンネルＣ１２０からチャンネルＣ１による走査線がチャンネル番号の降順に並ぶ。そして、それらが露光される順序は図１２（ａ）の各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の上に示した番号の順である。ただし、ここで同じ数字は同じタイミングでの発光によって行われることを表わしている。すなわち、１２０個のチャンネルによるインターレース露光ではチャンネルＣ１２０による走査線から、チャンネル番号の降順にチャンネルＣ１による走査線までを１走査単位ＳＵとして、その内部で副走査方向の順（副走査方向の正側ほど時間的に後）に露光されており、このような走査単位ＳＵが副走査方向に繰り返されている。
【００８４】
間引き露光においても、このような位置関係および順序で走査線が形成されるのであるが、その際には図１２においてハッチングを付した位置における光ビームのみが走査線を形成し、他の光ビームはその際には照射されない。すなわち、図１２（ａ）は第１グループＧ１の各チャンネルのみが発光することを意味し、図１２（ｂ）は第２グループＧ２の各チャンネルのみが発光することを意味する。
【００８５】
そして、このような間引き露光の方法により上記実施の形態と同様にして、各画像露光装置１に対して各解像度に対する最適電流値を設定していけばよい。すなわち、試験用画像露光装置２により２種類の試験用電流値に対して上記のような間引き露光を行い、得られた画像をもとに各チャンネルの補正係数Ａを求め、さらに、製品としての画像露光装置１により同様に間引き露光を行って、最大、最小および所望の最適電流値を求め、設定していけばよい。
【００８６】
このような間引き露光を行うことで、インターレース露光を行う画像露光装置に対しても、実施の形態と同様の効果を有することができる。
【００８７】
また、この実施の形態における画像露光装置１は回転ドラム２０を用いるものとしたが、この発明はこれに限らず、平面型のスキャナとするなど他の走査方法によるものでもよく、また、画像露光を行う感光材料を印刷板等の感光フィルムＦ以外のものを対象とするものとしてもよい。
【００８８】
また、この実施の形態では１回の発光強度調整処理において複数の試験用感光フィルムＦにそれぞれ間引き露光を行うものとしたが、この発明はこれに限られず、１枚の試験用感光フィルムＦ内の複数部分に露光するものとしてもよい。
【００８９】
また、この実施の形態では間引き露光の際の間引きの間隔、すなわち、１つおきの光ビームにより露光するものとしたが、この発明はこれに限られず、２つおきとして３つのサブグループに分ける等、それ以上の間隔をもって間引くものとしてもよい。
【００９０】
また、この実施の形態では製品としての画像露光装置１における間引き露光の際に、各チャンネルに供給する最大および最小の初期電流値を各画像露光装置１間で同一のものとしたが、この発明はこれに限られず、１台目の製品としての画像露光装置１において求められた最大および最小の最適電流値を２台目以降の画像露光装置１における最大および最小の初期電流値として用いてもよい。
【００９１】
また、この実施の形態では、最適電流値設定処理において、所定の最大および最小の初期電流値に対して求められた各最適電流値をそのまま画像露光装置１に記憶させているが、この発明はこれに限られず、１度、最適電流値設定処理を行って得られた各最適電流値を初期電流値として再度、間引き露光を行い、式２により電流値の補正量を求めて各最適電流値を求めるといった処理を繰り返すことにより、一層適切な最適電流値を求める等としてもよい。
【００９２】
また、この実施の形態では第１グループＧ１と第２グループＧ２における目標走査線幅を共通の値とするものとしたが、この発明はこれに限られず、副露光の順序により感光フィルムＦの感度が異なることの影響を考慮して先に露光が行われる第２グループＧ２の目標走査線幅を小さく設定するもの等、異なる目標走査線幅を設定してもよい。
【００９３】
また、この実施の形態では各チャンネルＣ１〜Ｃ１２０の最大および最小の最適電流値を用いて線形補間により所望の最適電流値を求めるものとしたが、この発明はこれに限られず、線形補間以外にも３つ以上の解像度に対する最適電流値、最適補正係数Ａを求め、それぞれの間を直線で結んでそれをもとに所望の解像度に対する最適電流値を求めたり、多項式補間を用いる等のその他の補間方法により求めるものとしたり、さらには外挿法等により得られた解像度より大きいまたは小さい解像度に対して求める等としてもよい。
【００９４】
さらに、この実施の形態では全チャンネル数を１２０個と、偶数備えるものとしたが、この発明はこれに限られず、チャンネル数を奇数とするなどその他の数としてもよい。
【００９５】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１ないし請求項３の発明によれば、複数の光ビームのうち、互いに隣接しない光ビームを、その組であるサブグループごとに照射して感光材料を露光し、その露光状態を測定し、その測定された露光状態に基づいて複数の光ビームのそれぞれの強度を調整するため、複数の光ビームによる相互の副露光の影響を補正し、画像露光装置を画像露光のムラを抑え、良質な画像露光を行うものとすることができる。
【００９６】
また、請求項１ないし請求項３の発明によれば、露光工程が複数のサブグループ内において、実際の画像露光の際の露光順に感光材料の露光を行うものであるため、感光材料における本露光と副露光の順序によって感度が異なることの影響を補正した露光を行うことができるので、画像露光装置を画像露光のムラをさらに抑え、より良質な画像露光を行うものとすることができる。
【００９７】
さらに、請求項２の発明によれば、サブグループが、複数の光ビームのうち、一つおきの光ビームの組であるため、微弱な副露光の影響をも補正でき、画像露光装置を画像露光のムラを一層、抑え、さらに良質な画像露光を行うものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態における画像露光装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１におけるＬＥＤアレイの概略構造を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態における線幅測定装置の概略構成を示す図である。
【図４】発光強度調整処理の手順を示すフローチャートである。
【図５】補正係数算出処理の手順を示すフローチャートである。
【図６】最適電流値設定処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】間引き露光の各チャンネルによる露光順序を説明するための図である。
【図８】線幅測定装置により読み取られた画像および透過率分布を示す図である。
【図９】最小の基本電流値とわずかに異なる電流値により露光された走査線幅を示す図である。
【図１０】最大および最小の最適電流値の設定の様子を示す概念図である。
【図１１】各チャンネルの各解像度における最適電流値の算出の様子を示す図である。
【図１２】インターレースによる間引き露光の各チャンネルによる露光順序を説明するための図である。
【符号の説明】
１  画像露光装置
２  試験用画像露光装置
３  線幅測定装置
３０  マルチビームヘッド
３１  ＬＥＤアレイ
４５  ２次元ＣＣＤカメラ
６０  制御部
６１  タッチパネル
６５  マウス
７５  キーボード
９５  コンピュータ
Ｃ１〜Ｃ１２０  チャンネル
Ｇ１，Ｇ２  第１グループ，第２グループ（サブグループ）
Ｆ  感光フィルム，試験用感光フィルム（感光材料）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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