(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極活物質、導電材、および気孔を含む二次電池用電極を用意するステップと、
イオンミリング装置のイオンビームを前記二次電池用電極に照射して電極断面試料を製造するステップと、
走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、前記電極断面試料の前記電極活物質、導電材、および気孔の抵抗値データを取得するステップと、
前記抵抗値データをログスケールに変更して、ログスケールイメージを取得するステップと、
前記抵抗値データを線形スケールに変更して、線形スケールイメージを取得するステップと、
前記ログスケールイメージと前記線形スケールイメージとを併合して、併合イメージを取得するステップと、を含む電池用電極の分析方法。
【請求項２】
前記併合イメージを分析して、前記電極断面試料の前記電極活物質の領域、前記導電材の領域、および前記気孔の領域を区別し、定量化するステップをさらに含む、請求項１に記載の電池用電極の分析方法。
【請求項３】
前記電極断面試料を製造するステップの前に、
エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極に含浸して、前記二次電池用電極の内部気孔に前記エポキシ基を含む高分子を満たすステップをさらに含む、請求項１または２に記載の電池用電極の分析方法。
【請求項４】
前記電極断面試料の気孔に満たされた前記エポキシ基を含む高分子の抵抗値を測定するステップをさらに含む、請求項３に記載の電池用電極の分析方法。
【請求項５】
前記イオンビームは、アルゴンイオンビームである、請求項１から４のいずれか一項に記載の電池用電極の分析方法。
【請求項６】
前記イオンミリング装置のイオンビーム電流は、１００μＡ以上２５０μＡ以下である、請求項１から５のいずれか一項に記載の電池用電極の分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２０１８年１０月１９日付で韓国特許庁に提出された韓国特許出願第１０−２０１８−０１２５４８０号の出願日の利益を主張し、その内容のすべては本発明に組み込まれる。本発明は、電池用電極の分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次電池は大別して電極、分離膜、および電解液から構成されており、電極は負極と正極に分類される。電極には活物質、導電材、バインダーなどの構成物質が３次元的に分布しているため、これらの隙間には複数の気孔が存在している。電極の性能を向上させるために、電極をなしている構成物質の分布を定量化して分析することが極めて重要である。
【０００３】
特に、導電材は、電極をなす構成物質に対して伝導度によってのみ区別が容易で、導電材を区別するために走査型広がり抵抗顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｓｐｒｅａｄｉｎｇ  Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ；ＳＳＲＭ）を用いた、定量化分析法が使用されている。ただし、電極では構成物質の抵抗値の大きさ分布が非常に広いため、電極の断面のＳＳＲＭを用いて取得したデータから、導電材、活物質、および気孔などの電極構成物質の領域を正確に区別しにくいという問題がある。
【０００４】
そこで、ＳＳＲＭを用いて電極をなす構成物質をより容易に区別できる技術が必要になる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、電極をなす構成物質をより容易に区別できる電池用電極の分析方法を提供する。
【０００６】
ただし、本発明が解決しようとする課題は上述した課題に制限されず、言及されていないさらに他の課題は下記の記載から当業者に明確に理解されるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一実施態様は、電極活物質、導電材、および気孔を含む二次電池用電極を用意するステップと、イオンミリング装置のイオンビームを前記二次電池用電極に照射して電極断面試料を製造するステップと、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、前記電極断面試料の前記電極活物質、導電材、および気孔の抵抗値データを取得するステップと、前記抵抗値データをログスケールに変更して、ログスケールイメージを取得するステップと、前記抵抗値データを線形スケールに変更して、線形スケールイメージを取得するステップと、前記ログスケールイメージと前記線形スケールイメージとを併合して、併合イメージを取得するステップと、を含む電池用電極の分析方法を提供する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の一実施態様に係る電池用電極の分析方法は、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、電極に含まれる電極活物質、導電材、および気孔などの構成物質を容易に区別できるという利点がある。
【０００９】
本発明の効果は上述した効果に限定されるものではなく、言及されていない効果は本願明細書および添付した図面から当業者に明確に理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施例１による併合イメージおよび併合イメージから取得したヒストグラムを示すものである。
【図２】比較例１による線形スケールイメージおよび線形スケールイメージから取得したヒストグラムを示すものである。
【図３】比較例２によるログスケールイメージおよびログスケールイメージから取得したヒストグラムを示すものである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本明細書において、ある部分がある構成要素を「含む」時、これは、特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くのではなく、他の構成要素をさらに包含できることを意味する。
【００１２】
本明細書において、ある部材が他の部材の「上に」位置している時、これは、ある部材が他の部材に接している場合のみならず、２つの部材の間にさらに他の部材が存在する場合も含む。
【００１３】
本明細書において、使われる程度の用語「〜（する）ステップ」または「〜のステップ」は、「〜のためのステップ」を意味しない。
【００１４】
本発明者らは、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて取得した電極の断面の抵抗値データにおいて、抵抗値を用いて計算した電流（ｃｕｒｒｅｎｔ）値の大きさが、１０ｐＡ〜１０μＡの範囲で１０６の分布を有しており、抵抗値データをイメージで表示する場合に、各ピクセル（Ｐｉｘｅｌ）のスケール（Ｓｃａｌｅ）は２５６段階で表示されるので、抵抗値の分布が実際より圧縮表示され、線形スケール（Ｌｉｎｅａｒ  Ｓｃａｌｅ）またはログスケール（Ｌｏｇ  Ｓｃａｌｅ）のいずれを用いるかによって異なるイメージを得ることを確認した。このため、抵抗値の大きさによって、電極に含まれる構成物質の領域を区別することが困難であった。
【００１５】
具体的には、抵抗値を線形スケールに変更してイメージで表示する場合、導電材は、イメージ内で電極活物質または気孔と明確に区別される領域（０．１μＡ以上）が存在するため区別しやすいが、電極活物質と気孔はその領域を明確に区別することが困難であることを確認した。また、抵抗値をログスケールに変更してイメージで表示する場合、イメージ内で気孔は明確に区別される領域（１００ｐＡ以下）があって区別しやすいが、電極活物質と導電材はその領域を明確に区別することが困難になることを確認した。
【００１６】
そこで、本発明者らは、抵抗値データをログスケールに変更して取得したログスケールイメージ、抵抗値データを線形スケールに変更して取得した線形スケールイメージを併合したイメージを形成し、これを分析する場合に、電極に含まれる電極活物質、導電材、および気孔の領域をそれぞれ容易に区別できることを見出して、下記の発明を開発するに至った。
【００１７】
以下、本明細書についてより詳細に説明する。
【００１８】
本発明の一実施態様は、電極活物質、導電材、および気孔を含む二次電池用電極を用意するステップと、イオンミリング装置のイオンビームを前記二次電池用電極に照射して電極断面試料を製造するステップと、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、前記電極断面試料の前記電極活物質、導電材、および気孔の抵抗値データを取得するステップと、前記抵抗値データをログスケールに変更して、ログスケールイメージを取得するステップと、前記抵抗値データを線形スケールに変更して、線形スケールイメージを取得するステップと、前記ログスケールイメージと前記線形スケールイメージとを併合して、併合イメージを取得するステップと、を含む電池用電極の分析方法を提供する。
【００１９】
本発明の一実施態様に係る電池用電極の分析方法は、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて、電極に含まれる電極活物質、導電材、および気孔などの構成物質を容易に区別できるという利点がある。
【００２０】
本発明の一実施態様に係る電池用電極の分析方法は、二次電池用電極を分析するものであってもよい。具体的には、前記電池用電極の分析方法は、二次電池用正極を分析するものであってもよい。
【００２１】
本発明の一実施態様によれば、前記二次電池用電極は、電極活物質、導電材、および気孔を含む。また、前記二次電池用電極は、その性能を向上させることができるバインダーなどの各種添加物をさらに含んでもよい。前記電極活物質、バインダー、導電材などは二次電池用電極内に３次元的に分布しており、その隙間に複数の気孔（ｐｏｒｅ）が存在し得る。すなわち、電極活物質、バインダー、導電材などの電極構成物質と複数の気孔とが、前記二次電池用電極を構成することができる。
【００２２】
前記二次電池用電極に含まれる電極活物質、バインダー、および導電材などとして、当分野で通常使用される物質を特別な制限なく採用することができる。具体的には、前記二次電池用電極が負極の場合、前記バインダーとして、カルボキシメチルセルロース（ＣＭＣ）、ブタジエンなどのジエン系バインダー、アクリル系バインダーなどを用いることができる。また、前記負極活物質として、リチウムの挿入および脱離が可能な人造黒鉛、天然黒鉛、またはハードカーボンを含む多様な形態の炭素系物質、ケイ素（Ｓｉ）が含まれた非炭素素物質、リチウムチタン酸化物（Ｌｉｔｈｉｕｍ  Ｔｉｔａｎｉｕｍ  Ｏｘｉｄｅ：ＬＴＯ）などを用いることができる。
【００２３】
本発明の一実施態様に係る電池用電極の分析方法は、前記電極断面試料を製造するステップの前に、エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極に含浸して、前記二次電池用電極の内部気孔に前記エポキシ基を含む高分子を満たすステップをさらに含んでもよい。
【００２４】
具体的には、前記二次電池用電極の内部気孔にエポキシ基を含む高分子を満たすステップは、エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極に含浸して、エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極の気孔に浸透させるものであってもよい。前記エポキシ基を含む高分子として、液状の高分子を用いることができる。エポキシ基を含む液状の高分子を用いて、前記二次電池用電極の気孔にエポキシ基を含む高分子をより効果的に満たすことができる。前記二次電池用電極の気孔にエポキシ基を含む高分子を含浸させる方法は、当業界における通常の方法で行われる。例えば、前記エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極上に塗布するか、前記エポキシ基を含む高分子溶液に、前記二次電池用電極を浸す方式などにより、前記エポキシ基を含む高分子を前記二次電池用電極の気孔に含浸させることができる。
【００２５】
本発明の一実施態様によれば、前記電池用電極の分析方法は、前記電極断面試料の気孔に満たされた前記エポキシ基を含む高分子の抵抗値を測定するステップをさらに含んでもよい。前記二次電池用電極の内部気孔をエポキシ基を含む高分子で満たすことにより、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて電極断面試料内の気孔の抵抗値を取得することができる。具体的には、前記気孔を満たしている高分子物質の抵抗値を測定して抵抗値データを取得することができる。これによって、気孔が位置する領域を確認することができ、併合イメージからより正確に電極断面試料の前記電極活物質領域、前記導電材領域、および前記気孔領域を区別することができる。
【００２６】
本発明の一実施態様によれば、前記エポキシ基を含む高分子は、公知の方法で製造されるか、市販中のエポキシ基含有高分子であってもよい。例えば、前記エポキシ基を含む高分子は、エポキシエタン（エチレンオキシド）、１，３−エポキシプロパン（トリメチレンオキシド）、およびビスフェノール−Ａ−エピクロロヒドリン（Ｂｉｓｐｈｅｎｏｌ−Ａ−ｅｐｉｃｈｌｏｒｏｈｙｄｒｉｎ）のうちの少なくとも１つを含むことができるが、前記エポキシ基を含む高分子の種類を限定するわけではない。また、前記エポキシ基を含む高分子は、重量平均分子量が７００ｇ／ｍｏｌ以下であってもよい。さらに、前記二次電池用電極の内部気孔を満たすために、エポキシ基を含む高分子溶液を用いることができ、前記エポキシ基を含む高分子溶液は、エポキシ基含有高分子の他に硬化剤を含むことができる。
【００２７】
また、前記エポキシ基を含む高分子として、エポキシ基を２つ以上有する高分子を用いることができる。前記２つ以上のエポキシ基を有するエポキシ基含有高分子は、分子内に２つ以上のエポキシ基を有する化合物であり、前記エポキシ基含有高分子として、芳香族または脂肪族；または直鎖状または分枝鎖状のエポキシ基含有高分子を用いることができる。例えば、分子構造内に環状構造を含むエポキシ樹脂高分子を用いることができ、具体的には、芳香族基（例えば、フェニル基）を含むエポキシ樹脂高分子を用いることができる。前記芳香族基を含むエポキシ基含有高分子の具体例として、ビフェニル型エポキシ基含有高分子、ジシクロペンタジエン型エポキシ基含有高分子、ナフタレン型エポキシ基含有高分子、ジシクロペンタジエン変性フェノール型エポキシ基含有高分子、クレゾール系エポキシ基含有高分子、ビスフェノール系エポキシ基含有高分子、キシロック系エポキシ基含有高分子、多官能エポキシ基含有高分子、フェノールノボラックエポキシ基含有高分子、トリフェノールメタン型エポキシ基含有高分子、およびアルキル変性トリフェノールメタンエポキシ基含有高分子などの１種または２種以上の混合であってもよいが、これに限定されるものではない。
【００２８】
本発明の一実施態様によれば、イオンミリング装置のイオンガンで生成されたイオンビームを前記二次電池用電極上に照射することにより、電極物質がスパッタリング（ｓｐｕｔｔｅｒｉｎｇ）される。これによって、物理的損傷のない綺麗な断面を有する電極断面試料を製造することができる。前記電極断面試料が物理的損傷のない綺麗な断面を有することにより、前記二次電池用電極の気孔と電極活物質、バインダーをより明確に区分することができる。
【００２９】
本発明の一実施態様によれば、前記イオンビームは、アルゴンイオンビームであってもよい。アルゴンイオンビームを前記二次電池用電極に照射することにより、より安定して前記電極断面試料を製造することができる。
【００３０】
本発明の一実施態様によれば、前記イオンミリング装置のイオンビーム電流は、１００μＡ以上２５０μＡ以下であってもよい。具体的には、前記イオンミリング装置のイオンビーム電流は、１１０μＡ以上１５０μＡ以下、または２００μＡ以上２３０μＡ以下であってもよい。前記イオンミリング装置のイオンビーム電流を前述した範囲に調節することにより、前記電極断面試料の製造時間を短縮させることができ、試料の断面に電極物質が再蒸着（ｒｅｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）される現象を防止することで、より綺麗な断面を有する電極断面試料を製造することができる。これによって、二次電池用電極の電極活物質の被覆率をより正確に計算することができる。
【００３１】
本発明の一実施態様によれば、前記イオンミリング装置の放電電流は、２５０μＡ以上４５０μＡ以下であってもよい。具体的には、前記イオンミリング装置の放電電流は、３７０μＡ以上４５０μＡ以下、または４００μＡ以上４３０μＡ以下であってもよい。前記イオンミリング装置の放電電流を前述した範囲内に調節することにより、前記イオンミリング装置の作動効率が減少するのを防止することができ、前記電極断面試料を製造する時間を最小化することができる。
【００３２】
本発明の一実施態様によれば、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて前記電極断面試料を分析することにより、前記電極断面試料に含まれる電極活物質、導電材、および気孔などのそれぞれの抵抗値の分布を２次元的に計測することができ、これを可視化してイメージを取得することができ、これらの抵抗値がまとめられた抵抗値データを得ることができる。
【００３３】
本発明の一実施態様によれば、当業界における電極断面試料を分析するための走査型広がり抵抗顕微鏡の駆動条件を利用して、本発明の一実施態様に係る電極断面試料を分析することができる。例えば、本発明では、走査型広がり抵抗顕微鏡として、ＳＳＲＭ  ｍｏｄｕｌｅを用いるＮＸ−１０  ＡＦＭ  ｓｙｓｔｅｍ（Ｐａｒｋ  Ｓｙｓｔｅｍｓ社）を用いることができ、駆動ソフトウェアとして、ＳｍａｒｔＳｃａｎ（Ｐａｒｋ  Ｓｙｓｔｅｍｓ社）を用いることができる。具体的な駆動条件として、コンタクトモード（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｍｏｄｅ）を設定し、取得するイメージピクセルを１０２４×１０２４に設定することができ、スキャン速度（Ｓｃａｎ  ｒａｔｅ）は０．２Ｈｚ以上０．２５Ｈｚ以下に設定することができ、バイアス（Ｂｉａｓ）は２．０Ｖ以下に設定することができ、セットポイント（Ｓｅｔ  ｐｏｉｎｔ）を１．０Ｖ以下に設定することができる。
【００３４】
また、ＡＦＭの探針（Ｐｒｏｂｅ）として、長さが４６５μｍ、幅は５０μｍ、厚さは５μｍであり、ホウ素ドーピングされた多結晶ダイヤモンド（Ｂ−ｄｏｐｅｄ  ｐｏｌｙｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ  ｄｉａｍｏｎｄ）材質のＳｏｌｉｄ  ｄｉａｍｏｎｄ  ＡＦＭ  ｐｒｏｂｅｓ（ＩＭＥＣ社）を用いることができる。
【００３５】
本発明の一実施態様によれば、前記走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて取得した抵抗値データをログスケール（Ｌｏｇ  Ｓｃａｌｅ）に加工、および変更して、ログスケールイメージを取得することができる。また、前記走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて取得した抵抗値データを線形スケール（Ｌｉｎｅａｒ  Ｓｃａｌｅ）に加工、および変更して、線形スケールイメージを取得することができる。
【００３６】
上述のように、前記ログスケールイメージの場合には、電極活物質と導電材を区別することが容易でなく、前記線形スケールイメージの場合には、電極活物質と気孔を区別することが容易でない。
【００３７】
ただし、本発明の一実施態様に係る電池用電極の分析方法は、前記抵抗値データから取得したログスケールイメージと線形スケールイメージとを併合して得た併合イメージを分析することにより、前記電極断面試料に含まれる電極活物質、導電材、および気孔をより明確に区別できるという利点がある。
【００３８】
本発明の一実施態様によれば、前記電池用電極の分析方法は、前記併合イメージを分析して、前記電極断面試料の前記電極活物質領域、前記導電材領域、および前記気孔領域を区別し、定量化するステップをさらに含んでもよい。また、前記電池用電極の分析方法は、前記併合イメージを分析して、前記電極断面試料の前記電極活物質領域、前記導電材領域、前記気孔領域、および前記バインダー領域を区別し、定量化するステップをさらに含んでもよい。
【００３９】
本発明の一実施態様によれば、前記定量化するステップは、前記併合イメージを分析して、電極断面試料を構成する物質が区分されて表示されるヒストグラム（Ｈｉｓｔｏｇｒａｍ）を取得することを含むことができる。具体的には、取得したヒストグラム上で各ピクセル（ｐｉｘｅｌ）の相当する領域が、電極活物質領域、導電材領域、および気孔領域であるかを決定することができ、当該領域が決定された各ピクセルの情報を用いて、前記併合イメージにおける電極活物質領域、導電材領域、気孔領域の面積および分布を容易に定量化することができる。
【実施例】
【００４０】
以下、本発明を具体的に説明するために実施例を挙げて詳細に説明する。しかし、本発明に係る実施例は種々の異なる形態に変形可能であり、本発明の範囲が以下に述べる実施例に限定されると解釈されない。本明細書の実施例は、当業界における平均的な知識を有する者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。
【００４１】
実施例１
正極断面試料の製造
正極活物質（ＮＣＭ６２２、Ｎｉｃｈｉａ社）、導電材（ＦＸ３５、Ｄｅｎｋａ社）を含む二次電池用正極（ＬＧ  ＣＨＥＭ社）を用意した。また、エポキシ基を含む高分子として、重量平均分子量が約７００ｇ／ｍｏｌ以下のエポキシ系高分子を含む溶液を用意した。二次電池用正極を用意されたエポキシ系高分子溶液に含浸させて、二次電池用正極の気孔をエポキシ基を含む高分子で満たした。この後、アルゴンイオンビームを照射するイオンミリング装置（ＩＭ４０００、Ｈｉｔａｃｈｉ社）を用いて、前記二次電池用正極に集束アルゴン（Ａｒ）イオンビームを照射して表面を削り出して、綺麗な断面を有する正極断面試料を製造した。アルゴンイオンビームの照射時、放電電流を４００μＡ、イオンビーム電流を１３０μＡにして行い、気体流量（ｇａｓ  ｆｌｏｗ）は１ｃｍ３／分であり、３時間行った。
【００４２】
併合イメージの取得
走査型広がり抵抗顕微鏡（ＮＸ−１０  ＡＦＭ  ｓｙｓｔｅｍ；Ｐａｒｋ  Ｓｙｓｔｅｍｓ社）を用いて、前記製造された正極断面試料から正極活物質の抵抗値、導電材の抵抗値、および気孔を満たしたエポキシ基を含む高分子の抵抗値を測定した。この時、走査型広がり抵抗顕微鏡の駆動条件として、コンタクトモード（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｍｏｄｅ）に設定し、取得するイメージピクセルを１０２４×１０２４に設定し、スキャン速度（Ｓｃａｎ  ｒａｔｅ）は０．２Ｈｚに設定し、バイアス（Ｂｉａｓ）は２．０Ｖ、セットポイント（Ｓｅｔ  ｐｏｉｎｔ）は１．０Ｖに設定した。
【００４３】
この後、走査型広がり抵抗顕微鏡に具備されたＸＥＩ  Ｓｏｆｔｗａｒｅ（Ｐａｒｋ  Ｓｙｓｔｅｍｓ社）を用いて、前記取得した抵抗値データをログスケールに変更して、ログスケールイメージを取得し、前記抵抗値データを線形スケールに変更して、線形スケールイメージを取得した。
【００４４】
この後、Ａｖｉｚｏ  Ｓｏｆｔｗａｒｅ（ＦＥＩ社）を用いて、取得したログスケールイメージと線形スケールイメージとを併合して併合イメージを取得し、併合イメージからヒストグラムを取得した。
【００４５】
比較例１
前記実施例１と同様の方法で正極断面試料を製造し、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて抵抗値データを取得した。この後、前記実施例１と同様の方法で前記取得した抵抗値データを線形スケールに変更して、線形スケールイメージを取得し、線形スケールイメージからヒストグラムを取得した。
【００４６】
比較例２
前記実施例１と同様の方法で正極断面試料を製造し、走査型広がり抵抗顕微鏡を用いて抵抗値データを取得した。この後、前記実施例１と同様の方法で前記取得した抵抗値データをログスケールに変更して、ログスケールイメージを取得し、ログスケールイメージからヒストグラムを取得した。
【００４７】
図１は、本発明の実施例１による併合イメージ（ａ）、および併合イメージから取得したヒストグラム（ｂ）を示すものである。また、図２は、比較例１による線形スケールイメージ（ａ）、および線形スケールイメージから取得したヒストグラム（ｂ）を示すものである。また、図３は、比較例２によるログスケールイメージ（ａ）、およびログスケールイメージから取得したヒストグラム（ｂ）を示すものである。
【００４８】
図１を参照すれば、ログスケールイメージと線形スケールイメージとを併合した併合イメージから取得したヒストグラム上で正極活物質、導電材、および気孔に相当するピクセルが明確に区分されることを確認した。すなわち、当該領域が決定された各ピクセルの情報を用いて、前記併合イメージにおける電極活物質領域、導電材領域、気孔領域の面積および分布を容易に定量化できることが分かる。
【００４９】
これに対し、図２を参照すれば、線形スケールイメージから取得したヒストグラム上で正極活物質と気孔に相当するピクセルが明確に区分されていないことを確認した。また、図３を参照すれば、ログスケールイメージから取得したヒストグラム上で正極活物質と導電材に相当するピクセルが明確に区分されていないことを確認した。
【００５０】
すなわち、既存の線形スケールイメージまたはログスケールイメージのみを用いて電池用電極を分析する方法は、電極活物質領域、導電材領域、気孔領域の面積および分布を正確に定量化できないことが分かる。
【図１】
0006988042.tif 000002
【図２】
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【図３】
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