【手続補正書】
【提出日】平成29年4月17日(2017.4.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イメージング装置によってイメージング被検体に関して取得されたイメージングデータから生成される測定されたサイノグラムを処理するために単一散乱シミュレーション（ＳＳＳ）を使用して、散乱寄与の形状を表す単一散乱サイノグラムを作成するよう構成される、散乱シミュレーションプロセッサと、
短いモンテカルロシミュレーションを利用して、モンテカルロシミュレーションされたサイノグラムにおけるイベントペアの合計数に対する散乱されたイベントペアの合計数の比率に基づいて散乱フラクションを決定し、前記単一散乱サイノグラムをスケール変更して、前記測定されたサイノグラム内の前記散乱寄与にマッチするスケール変更された散乱サイノグラムを生成するよう構成される、散乱スケール変更プロセッサと、
散乱補正のために前記スケール変更された散乱サイノグラムを使用して、前記イメージングデータを画像表現へと再構成するよう構成される、再構成プロセッサと、
を含む、画像処理装置。
【請求項２】
前記散乱スケール変更プロセッサは、前記比率の安定に応答して、前記モンテカルロシミュレーションを終了するよう構成される、請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記イメージング装置は陽電子放出型断層撮影（ＰＥＴ）スキャナであり、前記ＰＥＴスキャナによって前記イメージング被検体から取得される前記イメージングデータは同時イベントペアであること、
前記イメージング装置はガンマカメラであり、前記ガンマカメラによって前記イメージング被検体から取得される前記イメージングデータは単光子放出型コンピュータ断層撮影（ＳＰＥＣＴ）データであること、及び
前記イメージング装置は透過型コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナであり、前記ＣＴスキャナによって前記イメージング被検体から取得される前記イメージングデータはＣＴデータであること、
のうち１つである、請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記イメージング装置によって生成される被検体の同時イベントペアをサイノグラムに変換するよう構成される、サイノグラム再構成プロセッサ、
をさらに含む、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記モンテカルロシミュレーションは、各サイノグラムに対する寄与を、本来のイベントペアと単一散乱イベントペアと複数散乱イベントペアとから決定する、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
決定された線源分布と減衰マップとが、前記モンテカルロシミュレーションにおいて使用される、請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記サイノグラム再構成プロセッサは、前記サイノグラムから線源分布マップを生成するように構成される、請求項４に記載の画像処理装置。
【請求項８】
放射線減衰データから前記被検体の減衰マップを生成するように構成される減衰補正再構成プロセッサをさらに含む、請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記短いモンテカルロシミュレーションは、各サイノグラムにおけるイベントの合計数に対する前記散乱されたイベントペアの合計数の前記比率が安定するまで行われる、請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記再構成プロセッサは、リストモードデータ上で動作するよう構成される、請求項１乃至９のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記再構成プロセッサは、前記測定されたサイノグラム上で動作するよう構成される、請求項１乃至９のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
画像処理の方法であって、
イメージング装置によってイメージング被検体に関して取得されたイメージングデータから生成される測定されたサイノグラムを処理するために単一散乱シミュレーション（ＳＳＳ）を使用して、前記測定されたサイノグラムにおける散乱寄与の形状を表す散乱サイノグラムを作成するステップと、
モンテカルロシミュレーションを利用して、シミュレーションされたサイノグラムにおけるイベントペアの合計数に対する散乱されたイベントペアの合計数の比率に基づいて散乱フラクションを決定し、前記散乱サイノグラムをスケール変更して、前記散乱寄与の前記形状にマッチするスケール変更された散乱サイノグラムを生成するステップと、
散乱補正のための前記スケール変更された散乱サイノグラムを使用して、前記イメージングデータを画像表現へと再構成するステップと、
を含む方法。
【請求項１３】
前記イメージング装置は陽電子放出型断層撮影（ＰＥＴ）スキャナであり、前記ＰＥＴスキャナによって前記イメージング被検体から取得される前記イメージングデータは同時イベントペアである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
再構成すべき、前記イメージング装置によって生成される被検体の複数の同時イベントペアを生成するステップと、
前記同時イベントペアを前記測定されたサイノグラムに変換するステップと、
をさらに含む請求項１２又は１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記モンテカルロシミュレーションは、散乱されたイベントペアに起因する、各測定されたサイノグラムに対する寄与を決定する、請求項１２乃至１４のうちいずれか１項に記載の方法。
【請求項１６】
前記被検体の決定された線源分布と減衰マップとが、前記モンテカルロシミュレーションにおいて使用される、請求項１２乃至１５のうちいずれか１項に記載の方法。
【請求項１７】
前記サイノグラムから線源分布マップを生成するステップ、
をさらに含む、請求項１２乃至１６のうちいずれか１項に記載の方法。
【請求項１８】
放射線減衰データから減衰マップを生成するステップ、
をさらに含む、請求項１２乃至１７のうちいずれか１項に記載の方法。
【請求項１９】
前記モンテカルロシミュレーションは、前記比率が安定するまで行われる、請求項１２乃至１８のうちいずれか１項に記載の方法。
【請求項２０】
１又は複数のプロセッサに、請求項１２乃至１９のうちいずれか１項の方法を実行させるコンピュータプログラム。
【請求項２１】
同時イベントのペアを受け取り、
前記同時イベントのペアから、測定されたサイノグラムを生成し、
前記同時イベントのペアに基づいて単一散乱サイノグラムを生成することであって、散乱寄与の形状を表す単一散乱サイノグラムを生成し、
モンテカルロシミュレーションを実行して、前記受け取った同時イベントにおける単一散乱イベントと複数散乱イベントの双方をシミュレートする、シミュレーションされたサイノグラムを生成し、
前記モンテカルロシミュレーションにおいて使用される同時イベントの合計数に対する、単一散乱及び複数散乱イベントを含む散乱されたイベントの比率を計算して、シミュレーションされたサイノグラムを生成し、
前記比率が安定すると、前記モンテカルロシミュレーションを終了し、
前記比率を用いて単一散乱サイノグラムをスケール変更して、スケール変更されたサイノグラムを生成し、
前記スケール変更された散乱サイノグラムを使用して、前記測定されたサイノグラムを再構成し、散乱を補正するよう画像表現を生成する、
ようにプログラムされる１つ以上のコンピュータプロセッサを備える、
画像処理装置。
【請求項２２】
前記の再構成され、散乱が補正される画像表現を表示するように、前記１つ以上のプロセッサによって制御される、ディスプレイデバイスをさらに含む、
請求項２１に記載の画像処理装置。
【請求項２３】
前記同時イベントのペアを生成するよう構成される陽電子放出型断層撮影スキャナをさらに含む、
請求項２２に記載の画像処理装置。