(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査装置において、
（ａ）検査用基板（３１）であって、
第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割され、
各グループ毎の検査用端子が配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続される検査用基板（３１）と、
（ｂ）前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別する判別手段と、
（ｃ）前記配線に検査信号を与える信号出力手段と、
（ｄ）前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換える切換接続手段とを含み、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項２】
第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査方法において、
（ａ）検査用基板（３１）を準備し、
この検査用基板は、第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割されており、
各グループ毎の検査用端子は配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続されており、
（ｂ）表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互いに対向するようにして、前記検査用基板を表示装置に貼合わせ、
（ｃ）前記検査用基板の複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別し、
（ｄ）導通状態と判別された配線に検査信号を与え、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、複数の電極端子が配設された表示装置の表示動作の良否を検査するために用いられる表示装置の検査装置および検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
表示装置、たとえば液晶表示装置は、パネル基板の周辺部に、一定間隔で複数の電極端子が配列され、複数の表示用電極からの引出し線が個別的に前記電極端子に接続されている。このような液晶表示装置の動作の良否を検査するときには、前記電極端子の配列ピッチと同じ配列ピッチで配線パターンおよびプローブが形成された検査用基板を前記電極端子に接触させ、検査信号を前記プローブを介して各電極端子に入力する。液晶表示装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づく表示状態によって判断される。
【０００３】
このような表示装置の検査のために使用される検査用基板の典型的な従来技術は、たとえば特開平４−２９７８７６号公報に開示されている。前記公報によれば、表示パネルの電極と同一ピッチで配列される配線が形成されたフレキシブル配線基板の前記配線に、接続端側が電気的に接続され、上記フレキシブル配線基板とともにプローブを挟むように設けられたフィルムのプローブカード部分に測定すべき電極に合わせて取付けられたプローブの先端を挿入して積層構造とし、上記プローブの先端にバネ性を持たせるための弾性体を介して上記のような積層構造からなるプローブをプローブ取付体に一体的に取付けて、表示パネルの全電極に対して同時に電気的接触を得る構造になっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来技術では前述のように、表示パネルの電極端子の配列ピッチと同じ配列ピッチでプローブが配列された検査用基板が用いられ、検査用基板のプローブを表示パネルの電極端子に接触させている。
【０００５】
しかしながらこのような検査用基板では、表示パネルの電極端子と検査用基板のプローブとが１対１で対応しているため、両者の間に位置ずれが生じると、電極端子とプローブとの接触が断たれたり、接触圧力不足などで十分な接触状態が得られないという不具合が生じる。このため、検査装置側から表示パネル側に検査信号を与えても所望とする動作状態が得られず、表示パネルには異常がないにもかかわらず動作不良と判定される。前記位置合わせ不良や端子の接触圧力不足による接触不良は検出することができないので、検査効率および製品歩留りを低下させるという問題が生じる。特に、表示容量の増大によって高精細化された表示装置においては、表示装置に異常がないにもかかわらず動作不良であると判断されることは、製造コストが比較的高いことから製品歩留りを著しく低下させてしまう。
【０００６】
本発明の目的は、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれによる端子の接触不良を確実になくすことができるとともに、検査用基板上の配線が簡略化された表示装置の検査装置および前記検査装置を用いた表示装置の検査方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査装置において、
（ａ）検査用基板（３１）であって、
第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割され、
各グループ毎の検査用端子が配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続される検査用基板（３１）と、
（ｂ）前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別する判別手段と、
（ｃ）前記配線に検査信号を与える信号出力手段と、
（ｄ）前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換える切換接続手段とを含み、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査装置である。
【０００９】
また本発明は、第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査方法において、
（ａ）検査用基板（３１）を準備し、
この検査用基板は、第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割されており、
各グループ毎の検査用端子は配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続されており、
（ｂ）表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互いに対向するようにして、前記検査用基板を表示装置に貼合わせ、
（ｃ）前記検査用基板の複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別し、
（ｄ）導通状態と判別された配線に検査信号を与え、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査方法である。
【００１１】
【作用】
本発明に従えば、表示装置の検査装置は、検査用基板と、判別手段と、信号出力手段と、切換接続手段とを含んで構成される。表示装置は、複数の電極端子を有し、当該電極端子からの表示信号によって表示を行う。前記表示装置の動作の良否を検査する際には、前記表示装置の検査装置を用いて、表示装置の複数の電極端子から検査信号が入力される。
【００１２】
すなわち、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互いに対向するようにして検査用基板が表示装置に貼合わせられる。検査用基板の検査用端子は複数個あり、その検査用端子ｍ１〜ｍ１３の第２ピッチＣは、表示装置に第１ピッチＡで形成されている各電極端子の幅Ｂよりも小さく選ばれる。したがって、表示装置の電極端子には少なくとも２つの検査用端子が接触することとなり、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれがなくなる。
【００１３】
また、複数の検査用端子５ａ〜５ｄ毎に、第１配列方向２６に隣接する各電極端子５ｂ，５ｃに、それぞれ接触する各検査用端子（ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９）を、複数のグループに分割し、各グループに属する検査用端子は共通の配線３８ａ〜３８ｆによってそれぞれ接続される。複数の検査用端子はいくつかのグループに分割されて、グループ毎に設けられる配線によって共通に接続されるので、検査用端子毎に配線を設ける場合と比較すると、配線の本数が低減するとともに、配線パターンを簡略化することが可能となる。
【００１４】
このような検査用基板を表示装置の電極端子部分に貼合わせた後、前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別手段によって判別し、導通状態と判別された配線に信号出力手段からの検査信号を与える。切換接続手段は、前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換える。表示装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づく表示状態によって判断される。
【００１６】
上述した複数の検査用端子は、隣接する２つの電極端子ピッチ内に配置される６つの検査用端子によって６つのグループに分割される。このため、前記配線は６本設けられる。このような検査用基板を用いると、隣接する電極端子には互いに異なる配線に接続される検査用端子が接触するので、前記隣接する電極端子に互いに異なる検査信号を与えることが可能となる。また、隣接する電極端子に接触する検査用端子を接続する互いに異なる配線間の導通／非導通状態を判別することによって、隣接する電極端子間の短絡状態を判断することが可能となる。
【００１７】
【実施例】
図１は、本発明の前提となる構成である表示装置の検査装置１の構成を示すブロック図である。検査装置１は、検査用基板１１，１２、切換接続回路１３、判別手段である接続検出回路１４、信号出力回路１５、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１６およびメモリ１７を含む。ＣＰＵ１６は、検査装置１全体の動作を制御する。検査用基板１１，１２は検査用ケーブル１８，２０を介して切換接続回路１３に接続され、接続検出回路１４は接続ケーブル２２を介して切換接続回路１３に接続され、信号出力回路１５は出力ケーブル１９，２１を介して切換接続回路１３に接続される。
【００１８】
表示動作が検査される表示パネル２には、表示用の複数の走査電極３と複数のデータ電極４とが互いに直交するように配列され、電極３，４は電極端子部６，８に配設されている複数の走査電極端子５と複数のデータ電極端子７とにそれぞれ個別的に接続されている。表示パネル２の検査時には前記検査装置１が準備されて、表示パネル２の電極端子部６，８に検査装置１の検査用基板１１，１２が貼合わせられる。
【００１９】
検査時において、前記電極端子部６，８に貼合わせられる検査用基板１１，１２は、前記電極端子部６，８に対応して、本実施例では２つ設けられる。検査用基板１１，１２には、前記複数の電極端子５，７と接触する複数の検査用端子と複数の配線とが後述するようにしてそれぞれ設けられている。以後、一方の検査用基板１１の構成と、検査手順について説明する。なお、他方の検査用基板１２についても一方の検査用基板１１と同様であり、説明は省略する。
【００２０】
図２〜図４は、前記検査用基板１１の構成を示す図であり、それぞれ表示パネル２の電極端子部６と検査用基板１１とを貼合わせる際に位置ずれが生じた場合を示している。
【００２１】
電極端子部６には複数の電極端子５ａ〜５ｄが配列ピッチＡで設けられており、電極端子５ａ〜５ｄの幅はともにＢに選ばれる。検査用基板１１には、複数の検査用端子２５が配列ピッチＣで設けられる。なお、検査用端子２５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜５ｄの幅Ｂよりも小さく選ばれる（Ｃ＜Ｂ）。また、検査用端子２５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの３分の１に選ばれる（Ｃ＝Ａ／３）。したがって、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの長さの中には、３つの検査用端子２５が配置され、当該検査用端子２５の配列ピッチＣは電極端子５ａ〜５ｄの幅Ｂよりも小さいことから、貼合わせ時には電極端子５ａ〜５ｄにそれぞれ２つの検査用端子２５が接触する。
【００２２】
また、複数の検査用端子２５は、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡと検査用端子２５の配列ピッチＣとに基づいて、複数のグループに分割される。本実施例では、検査用端子２５は電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの長さの中に配置される３つの検査用端子２５によって３つのグループに分割される。すなわち、図２〜図４紙面上で左から順に符号ｎ１〜ｎ１３で示した検査用端子２５は、ｎ１，ｎ４，ｎ７，ｎ１０，ｎ１３によって第１グループが構成され、ｎ２，ｎ５，ｎ８，ｎ１１によって第２グループが構成され、ｎ３，ｎ６，ｎ９，ｎ１２によって第３グループが構成される。
【００２３】
検査用基板１１に設けられる配線２７ａ〜２７ｃは、前記３つのグループに属する検査用端子２５をそれぞれ共通に接続するために３本設けられ、当該３本の配線２７ａ〜２７ｃは、貼合わせ時において電極端子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間隔をあけて設けられる。
【００２４】
切換接続回路１３は、スイッチ２３ａ〜２３ｃおよびスイッチ２４ａ〜２４ｃを含んで構成され、スイッチ２３ａ〜２３ｃは検査用基板１１の配線２７ａ〜２７ｃの接続を接続検出回路１４および信号出力回路１５との接続／遮断を切換えるスイッチ２４ａ〜２４ｃのうちのいずれか一方に切換える。検査用基板１１の配線２７ａは配線１８ａによってスイッチ２３ａに接続され、配線２７ｂは配線１８ｂによってスイッチ２３ｂに接続され、配線２７ｃは配線１８ｃによってスイッチ２３ｃに接続される。前記配線１８ａ〜１８ｃによって前記検査用ケーブル１８が構成される。配線２７ａの接続は、スイッチ２３ａによって切換えられ、配線２７ｂの接続はスイッチ２３ｂによって切換えられ、配線２７ｃの接続はスイッチ２３ｃによって切換えられる。
【００２５】
スイッチ２３ａの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は配線２２によって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ２４ａに接続される。また、スイッチ２３ｂ，２３ｃの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ｂによって接続検出回路１４と接続され、スイッチ２３ｂ，２３ｃの他方の端子はそれぞれスイッチ２４ｂ，２４ｃに接続される。配線２２ａ，２２ｂによって前記接続ケーブル２２が構成される。スイッチ２４ａは配線１９ａによって信号出力回路１５に接続され、スイッチ２４ｂは配線１９ｂによって信号出力回路１５に接続され、スイッチ２４ｃは配線１９ｃによって信号出力回路１５に接続される。配線１９ａ〜１９ｃによって出力ケーブル１９が構成される。
【００２６】
表示パネル２の動作の良否を検査する際には、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１が、前記電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用基板１１の複数の検査用端子２５とが対向するようにして貼合わせられる。ＣＰＵ１６は、切換接続回路１３および接続検出回路１４を制御し、接続検出回路１４は、検査用基板１１の各グループ毎に設けられる配線２７ａ〜２７ｃのうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別する。
【００２７】
すなわち、第１グループに対応した配線２７ａと第２グループに対応した配線２７ｂとの間の状態を、スイッチ２３ａ，２３ｂを接続検出回路１４側に切換えて判別し、同様にして、第２グループに対応した配線２７ｂと第３グループに対応した配線２７ｃとの間の状態を、スイッチ２３ｂ，２３ｃを接続検出回路１４側に切換えて判別し、第１グループに対応した配線２７ａと第３グループに対応した配線２７ｃとの間の状態を、スイッチ２３ａ，２３ｃを接続検出回路１４側に切換えて判別する。このとき、スイッチ２４ａ〜２４ｃは遮断される。これによって、接続検出回路１４は、１つの組合わせの導通状態を検出する。たとえば、図２に示されるように電極端子５ａ〜５ｄに第２グループおよび第３グループの検査用端子２５が接触している場合、第２グループに対応した配線２７ｂと第３グループに対応した配線２７ｃとの間が導通状態となり、他の配線間の状態は非導通状態となる。
【００２８】
接続検出回路１４の判別結果は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）などで実現されるメモリ１７に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内容に基づいて、切換接続回路１３のスイッチ２４ａ〜２４ｃを接続する。この場合、スイッチ２４ｂ，２４ｃを接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ２３ｂ，２３ｃをスイッチ２４ｂ，２４ｃ側に切換える。
【００２９】
続いてＣＰＵ１６は、信号出力回路１５を制御する。信号出力回路１５からは検査用の信号が出力される。出力された検査用信号は、切換接続回路１３、および検査用基板１１の第２および第３グループの検査用端子２５を介して、前記電極端子５ａ〜５ｄから表示パネル２に入力される。表示パネル２の動作の良否は、入力された検査用の信号に基づく表示状態によって判断される。たとえば、複数の帯状の走査電極３のうちの１つに断線が生じていた場合、当該電極にかかわる表示不良が生じる。
【００３０】
また、図３に示されるように、電極端子５ａ〜５ｄに第１および第３グループの検査用端子２５が接触していた場合、接続検出回路１４は同様の判別動作を行い、第１および第３グループに対応した配線２７ａ，２７ｃ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ２４ａ，２４ｃを接続し、スイッチ２３ａ，２３ｃをスイッチ２４ａ，２４ｃ側に切換える。さらに、前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００３１】
さらに、図４に示されるように、電極端子５ａ〜５ｄに第１および第２グループの検査用端子２５が接触している場合、出力検出回路１４は第１および第２グループに対応した配線２７ａ，２７ｂ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ２４ａ，２４ｂを接続し、スイッチ２３ａ，２３ｂをスイッチ２４ａ，２４ｂ側に切換える。さらに前述したのと同様にして信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００３２】
この構成によれば、検査時において１つの電極端子５ａ〜５ｄには２つの検査用端子２５が必ず接触する。また、検査用端子２５を３つのグループに分割して、各グループ毎に設けられる３本の配線２７ａ〜２７ｃのうちの２本の配線間の導通／非導通状態が、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別されて、電極端子５ａ〜５ｄと検査用端子２７ａ〜２７ｃとの接触、導通によって、導通状態の配線に検査信号が与えられる。
【００３３】
したがって、少なくとも検査時における位置ずれによる接触不良をなくすことができる。また、検査用基板１１上の複数の検査用端子２５は、３本の配線２７ａ〜２７ｃによって接続され、当該配線２７ａ〜２７ｃを介して接続検出回路１４による判別および検査用信号の供給が行われるので、複数の検査用端子２５にそれぞれ配線を設ける必要がなく、検査用基板１１上の配線パターンが簡略化される。
【００３４】
図５〜図７は、本発明の一実施例である検査装置の検査用基板３１の構成を示す図であり、それぞれ表示パネル２の電極端子部６と検査用基板３１とを貼合わせる際に位置ずれが生じた場合を示している。本実施例の検査装置は、前記検査装置１とほぼ同様に構成され、検査用基板１１および切換接続回路１３に代わって検査用基板３１および切換接続回路３４が設けられる以外は同様であり、同じ参照符を付して示す。
【００３５】
検査用基板３１には、前述した検査用端子２５と同様に、配列ピッチＣで複数の検査用端子３３が設けられる。本実施例においても、貼合わせ時には電極端子５ａ〜５ｄにはそれぞれ２つの検査用端子３３が接触する。また、前記複数の検査用端子３３は６つのグループに分割される。すなわち図５〜図７紙面上で左から順に符号ｍ１〜ｍ１３で示した検査用端子３３は、ｍ５，ｍ１１によって第１グループが、ｍ６，ｍ１２によって第２グループが、ｍ１，ｍ７，ｍ１３によって第３グループが、ｍ２，ｍ８によって第４グループが、ｍ３，ｍ９によって第５グループが、ｍ４，ｍ１０によって第６グループがそれぞれ構成される。
【００３６】
検査用基板３１に設けられる配線３８ａ〜３８ｆは、前記６つのグループに属する検査用端子３３をそれぞれ共通に接続するために６本設けられ、当該６本の配線３８ａ〜３８ｆは貼合わせ時において、電極端子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間隔をあけて設けられる。
【００３７】
切換接続回路３４は、スイッチ３５ａ〜３５ｆおよびスイッチ３６ａ〜３６ｆを含んで構成される。スイッチ３５ａ〜３５ｆは、前記スイッチ２３ａ〜２３ｃと同様に、検査用基板３１の配線３８ａ〜３８ｆの接続を接続検出回路１４および信号出力回路１５との接続／遮断を切換えるスイッチ３６ａ〜３６ｆのうちのいずれか一方に切換える。検査用基板３１の配線３８ａ〜３８ｆは、配線３２ａ〜３２ｆによってスイッチ３５ａ〜３５ｆにそれぞれ接続される。本実施例では、配線３２ａ〜３２ｆによって前記検査用ケーブル１８が構成される。
【００３８】
配線３８ａ〜３８ｆの接続は、スイッチ３５ａ〜３５ｆによってそれぞれ切換えられる。スイッチ３５ａ，３５ｄ，３５ｅの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ａによって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ３６ａ，３６ｄ，３６ｅに接続される。また、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，３５ｆの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ｂによって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｆに接続される。スイッチ３６ａ〜３６ｆは、配線３７ａ〜３７ｆによってそれぞれ信号出力回路１５に接続される。本実施例では、配線３７ａ〜３７ｆによって前記出力ケーブル１９が構成される。
【００３９】
表示パネル２の動作の良否を検査する際には、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１が、電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用基板３１の複数の検査用端子３３とが対向するようにして貼合わせられる。接続検出回路１４は、前述したのと同様に、各グループ毎に設けられる配線３８ａ〜３８ｆのうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を、それぞれの配線３８ａ〜３８ｆにおいて判別する。これによって、接続検出回路１４は、２つの組合わせの導通状態を検出する。
【００４０】
たとえば図５に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第４および第５グループの検査用端子３３が接触し、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第２グループの検査用端子３３が接触して貼合わせられたとすると、第１および第２グループに対応した配線３８ａ，３８ｂ間および第４および第５グループに対応した配線３８ｄ，３８ｅ間が導通状態となり、他の配線間は非導通状態となる。
【００４１】
接続検出回路１４の判別結果はメモリ１７に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内容に基づいて切換接続回路３４のスイッチ３６ａ〜３６ｆを接続する。この場合、スイッチ３６ａ，３６ｂ，３６ｄ，３６ｅを接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ３５ａ，３５ｂ，３５ｄ，３５ｅをスイッチ３６ａ，３６ｂ，３６ｄ，３６ｅ側に切換える。続いて、信号出力回路１５から検査用の信号が出力され、出力された検査用信号は切換接続回路３４および検査用基板３１の第１，第２，第４および第５グループの検査用端子３３を介して電極端子５ａ〜５ｄから表示パネル２に入力される。
【００４２】
また、図６に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第３および第４グループの検査用端子３３が、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第６グループの検査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回路１４は同様の判別動作を行い、第１および第６グループに対応した配線３８ａ，３８ｆ間および第３および第４グループに対応した配線３８ｃ，３８ｄ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ３６ａ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｆを接続し、スイッチ３５ａ，３５ｃ，３５ｄ，３５ｆをスイッチ３６ａ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｆ側に切換える。さらに、前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００４３】
さらに、図７に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第５および第６グループの検査用端子３３が、電極端子５ｂ，５ｄに第２および第３グループの検査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回路１４は、第２および第３グループに対応した配線３８ｂ，３８ｃ間および第５および第６グループに対応した配線３８ｅ，３８ｆ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆを接続し、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，３５ｅ，３５ｆをスイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆ側に切換える。さらに前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００４４】
以上のように本実施例によれば、前述した構成と同様に少なくとも検査時における位置ずれによる接触不良をなくすことができ、検査用基板３１上の配線パターンが簡略化される。さらに、本実施例によれば、６本の配線３８ａ〜３８ｆのうちの２本の配線間の導通／非導通が判別されて、２つの導通状態の配線の組合わせが検出される。この２組の導通状態の配線によって接続される検査用端子３３が接触する電極端子５ａ〜５ｄは、一方の組合わせによるものと、他方の組合わせによるものとが互いに交互になっている。したがって、信号出力回路１５からの信号を選ぶことによって、電極端子５ａ〜５ｄに交互に異なる検査用の信号を与えることが可能となる。
【００４５】
また、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ間において短絡が発生しているか否かを検査することが可能となる。たとえば、図５を参照して、第１グループに対応した配線３８ａまたは第２グループに対応した配線３８ｂと、第４グループに対応した配線３８ｄまたは第５グループに対応した配線３８ｅとの間の導通／非導通状態を判別することによって、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ間において短絡が発生しているか否かを検査することができ、導通していた場合に短絡が発生していると判断される。
【００４６】
図８は、図２に示される切断面線Ｉ−Ｉにおける断面図である。このように検査用基板１１に設けられる配線２７ａ〜２７ｃおよび検査用端子２５は、たとえば絶縁性を有する樹脂製の基板１１の一方表面１１ａと他方表面１１ｂとに設けられる。配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５との接続は、基板１１の前述したような所定の位置に挿通孔１１ｃを設け、この挿通孔１１ｃによって配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５とを導電性を有する金属などで接続することによって実現される。
【００４７】
なお、配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５とを基板１１の一方表面にのみ形成することも可能であり、この場合、配線２７ａ〜２７ｃ上に検査用端子２５が設けられ、検査用端子２５が設けられていない配線部分は、たとえば絶縁層で覆われる。また、前記検査用基板１１と同様にして検査用基板３１上の配線３８ａ〜３８ｆおよび検査用端子３３も形成される。
【００４８】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、表示装置の動作の良否を検査する際において、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれによる接触不良を確実になくすことができる。したがって、検査時において、表示装置と検査用基板との位置ずれを考慮する必要がなくなり、検査が比較的容易となる。また、検査用基板の検査用端子は、いくつかのグループに分割されて、グループ毎に共通の配線によって接続される。たとえば、３つのグループに分割されて各グループ毎に共通の３本の配線によって接続される。したがって、配線の本数が低減し、配線パターンが簡略化される。
【００４９】
また本発明によれば、２つの電極端子ピッチ内に配置される６つの検査用端子によって６つのグループに分割することによって、隣接する電極端子に互いに異なる検査信号を与えることが可能となる。また、隣接する電極端子間で短絡が発生しているか否かを判断することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の前提となる構成である表示装置の検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】前記検査装置１の検査用基板１１の構成を示し、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合の一例を示す図である。
【図３】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合の他の例を示す図である。
【図４】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。
【図５】本発明の一実施例である検査装置の検査用基板３１の構成を示し、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合の一例を示す図である。
【図６】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合の他の例を示す図である。
【図７】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。
【図８】前記検査用基板１１の断面図である。
【符号の説明】
１  検査装置
２  表示パネル
５，５ａ〜５ｄ，７  電極端子
６，８  電極端子部
１１，１２，３１  検査用基板
１３，３４  切換接続回路
１４  接続検出回路
１５  信号出力回路
１６  ＣＰＵ
１７  メモリ
２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，３５ａ〜３５ｆ，３６ａ〜３６ｆ  スイッチ
２５，３３  検査用端子
２７ａ〜２７ｃ，３８ａ〜３８ｆ  配線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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