【誤訳訂正書】
【提出日】平成29年1月27日(2017.1.27)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析計におけるイオンビームの行路を変えるため、複数の静電場を確立するよう配置された電場誘導体を含み、これによって、実質的に第1の行路に沿って移動しているイオンを偏向させて、実質的に第2の行路に沿って移動させることができる、イオンデフレクターであって、
前記電場誘導体は、複数の帯電可能エレメントを含む帯電可能コンポーネントと、
前記第１の行路上に、もしくはその周りに位置するように設けられ、イオンが偏向される前に接地エレメントに向かうように配置された、前記接地エレメントとを含み、
前記接地エレメントは、場合により必要な／望ましいバイアス電圧電位を該接地エレメントに提供することができるように、電圧源と共に配置され、
前記帯電可能コンポーネントは、前記接地エレメントにほぼ相対するように配置されるとともに、前記第1の行路および第2の行路の両方から離れて配置され、
前記複数の帯電可能エレメントのそれぞれが、電圧源と共に配置され、これによりそれぞれが正又は負のバイアス電圧電位を呈し、イオンのビームが、前記接地エレメントと前記帯電可能コンポーネントとの間の空間に沿って、前記帯電可能コンポーネントの外周部分を流れる、イオンデフレクター。
【請求項２】
前記それぞれの帯電可能エレメントが、帯電可能コンポーネントのセグメントとなる、請求項１に記載のイオンデフレクター。
【請求項３】
前記帯電可能エレメントがバイアス電圧電位を備えて提供される場合、生成される前記電場は単極電場であり、ここにおいて電場線の方向は、印加されているバイアス電圧電位が正であるか又は負であるかに依存する、請求項１に記載のイオンデフレクター。
【請求項４】
前記電場誘導体が、複数の単極電場を確立するよう配置される、請求項1〜請求項３のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項５】
前記帯電可能エレメントのそれぞれが、前記質量分析計に入る前記イオンの電位に対して実質的に負のバイアス電圧電位を備えて提供される、請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項６】
イオンの前記第1の行路及び第2の行路が、同じ面内、又は同じ流れ面内にある、請求項1〜請求項５のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項７】
前記帯電可能コンポーネントが、4つの帯電可能エレメントを含み、このそれぞれが、イオンのビームがそこから引き出されるイオン源で測定した電圧電位に対して実質的に負のバイアス電圧電位を備えて提供されるよう配置される、請求項２に記載のイオンデフレクター。
【請求項８】
前記帯電可能エレメントがペアになって動作可能に配置され、このペアの各半分が、他方に対して相対するよう構成されている、請求項７に記載のイオンデフレクター。
【請求項９】
構成する前記帯電可能エレメントにわたって印加されたバイアス差動電圧が、公称値又は所定の量で可変になるように、動作可能ペアの一方が配置され得る、請求項８に記載のイオンデフレクター。
【請求項１０】
それぞれの前記帯電可能エレメントペアの前記帯電可能コンポーネントが、前記イオンビーム流に対して幾何学的配置が構成されるように、互いに対して配置され、これによって、差動電圧が印加されたときに、イオンビームの望ましい方向への操作に影響を与える、請求項９に記載のイオンデフレクター。
【請求項１１】
前記帯電可能コンポーネントが円形であり、4つの等しい形状の帯電可能エレメントを含む、請求項７〜請求項10のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項１２】
前記帯電可能コンポーネントが、実質的に円錐形状、又はその一部分の形状で提供される、請求項７〜請求項11のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項１３】
前記帯電可能コンポーネントが、前記イオンビームに対して十分な間隔をあけて配置され、これにより、該イオンビームを所定の様相で偏向させることができる電場を形成する、請求項２に記載のイオンデフレクター。
【請求項１４】
前記接地エレメントに印加されているバイアス電圧電位は、正又は負の値をとる、請求項1〜請求項13のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項１５】
前記接地エレメントの外周形状が実質的にセグメント化されている、請求項14に記載のイオンデフレクター。
【請求項１６】
前記接地エレメントが実質的に曲線状である、請求項14又は請求項15に記載のイオンデフレクター。
【請求項１７】
前記電場誘導体が、前記第1の行路軸と第2の行路軸とが互いに実質的に90度の角度で配置されているとき、該行路軸の間でイオンが偏向するように、配置され得る、請求項1〜請求項16のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項１８】
前記電場誘導体は、前記第1の行路軸に沿っているイオンの流れを、意図される焦点の空間領域に向かって流れるように、複数の静電場を確立するよう配置され、これにより、下記(i),(ii)のいずれかの構成が実現されている、
請求項1〜請求項17のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
(i) 意図される焦点の空間領域を通って流れるイオンの空間的分布は、質量分析計に入るイオンに比べて、実質的に低減される。
(ii) 前記空間領域を通って流れるイオンのイオン束（ionic flux）は、質量分析計に入るイオンに比べて、実質的に大きい。
【請求項１９】
前記電場誘導体が、複数の単極静電場を確立するよう配置され、この重ね合わせにより、イオンが必要に応じて3次元空間内で選択的に操舵され得る、請求項1〜請求項18のいずれか一項に記載のイオンデフレクター。
【請求項２０】
質量分析計におけるイオンビームの行路を変えるための方法であって、電場誘導体を用いて、分光分析のために、実質的に第1の行路に沿って移動しているイオンを偏向させて、第2の行路に沿って移動させることが可能な、複数の静電場を確立する方法において、
前記電場誘導体に、複数の帯電可能エレメントを含む帯電可能コンポーネントを設ける工程と、
イオンが偏向される前に接地エレメントに向かうように、前記第１の行路上に、もしくはその周りに位置するように前記接地エレメントを設ける工程とを含み、
前記接地エレメントは、場合により必要な／望ましいバイアス電圧電位を該接地エレメントに提供することができるように、電圧源と共に配置され、
前記帯電可能コンポーネントは、前記接地エレメントにほぼ相対するように配置されるとともに、前記第1の行路および第2の行路の両方から離れて配置され、
前記複数の帯電可能エレメントのそれぞれが、電圧源と共に配置され、これによりそれぞれが正又は負のバイアス電圧電位を呈し、イオンのビームが、前記接地エレメントと前記帯電可能コンポーネントとの間の空間に沿って、前記帯電可能コンポーネントの外周部分を流れるようにする、方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
イオンデフレクターは更に、電気的に接地されるよう一般的に配置された接地エレメントを含み得る。いくつかの実施形態において、接地エレメントは、採用されている配置に応じて、わずかな電圧バイアスを有し得る。しかしながら、接地エレメントに印加されているバイアス電圧電位は、あったとしても、帯電可能エレメント又はそのそれぞれに印加されるものと同じ大きさにはならない。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００８８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００８８】
イオンデフレクター5は更に、電気的に接地されるよう一般的に配置された接地エレメント40を含む。いくつかの実施形態において、接地エレメント40は、採用されている電場誘電体配置に応じて、わずかな電圧バイアスを有する。しかしながら、接地エレメント40に印加されているバイアス電圧電位は、あったとしても、帯電可能エレメント124に印加されるものと同じ大きさにはならない。接地エレメント40に印加されるバイアス電圧電位は、正又は負であり得る。好ましくは、接地エレメントに印加されるどのバイアス電圧電位も負である。