(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、
前記被検体を透過したＸ線を電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、
前記Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、
前記信号読出し範囲内の前記Ｘ線検出素子に蓄積された電荷情報を読出す読出手段と、
１画像当たりのＸ線曝射時間を設定するものであり、前記信号読出し範囲に基づいて設定可能なＸ線曝射時間の最大値を変更する曝射時間設定手段と、
１画像当たりのＸ線曝射時間が、前記曝射時間設定手段で設定されたＸ線曝射時間となるように前記Ｘ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項２】
被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、
前記被検体を透過したＸ線を電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、
前記Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、
垂直ブランキング期間を示す垂直ブランキング信号を発生するものであり、設定された前記信号読出し範囲の広さに基づいて前記垂直ブランキング信号のパルス幅を換える同期信号発生手段と、
前記垂直ブランキング信号に同期して前記信号読出し範囲内の前記Ｘ線検出素子に蓄積された電荷情報を読み出す読出手段と、
前記垂直ブランキング信号に基づいて、前記垂直ブランキング期間内にＸ線曝射を行うように前記Ｘ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項３】
前記Ｘ線画像検出器は、Ｘ線検出素子を行と列とを有するマトリックス状に配列し、前記視野設定手段は、前記信号読出し範囲を行単位又は列単位の少なくとも一方で行うことを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれか１項記載のＸ線診断装置。
【請求項４】
被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、
前記被検体を透過したＸ線電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、
１画像当たりのＸ線曝射時間を設定する曝射時間設定手段と、
設定された前記Ｘ線曝射時間に基づいて、前記Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、
前記信号読出し範囲内の前記Ｘ線検出素子に蓄積された電荷情報を読出す読出手段と、
１画像当たりのＸ線曝射時間が、前記曝射時間設定手段で設定された前記Ｘ線曝射時間となるように前記Ｘ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項５】
前記Ｘ線源により発生されたＸ線の曝射範囲を制限するＸ線絞り手段と、設定された前記信号読出し範囲にＸ線の曝射範囲が一致するように、前記Ｘ線絞り手段を制御するＸ線絞り制御手段とを備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
【請求項６】
設定された前記信号読出し範囲を表示する表示手段を備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載されたＸ線診断装置。
【請求項７】
前記Ｘ線検出素子は、Ｘ線を光に変換するＸ線・光変換手段と、前記光を電気信号に変換する光・電気変換手段と、この光・電気変換手段から出力された電気信号を電荷として蓄積するコンデンサとを備えたものであることを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載されたＸ線診断装置。
【請求項８】
前記Ｘ線検出素子は、Ｘ線を電気信号に変換するＸ線・電気変換手段と、このＸ線・電気変換手段から出力された電気信号を電荷として蓄積するコンデンサとを備えたものであることを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載されたＸ線診断装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、Ｘ線を放射させるＸ線発生器及びＸ線を直接又はそのＸ線により発生した光を介して検出するＸ線検出素子を２次元的に配列した２次元走査型の画像検出器を備え、Ｘ線発生器から放射されたＸ線を被診断対象に照射すると共にこの被診断対象を透過したＸ線を画像検出器により検出するＸ線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線を被診断対象に照射し、この被診断対象を透過したＸ線を検出して、被診断対象の内部状態を診断するＸ線診断装置において、Ｘ線の照射時間をパルス状に制限し、この１パルスの間に被診断対象を透過したＸ線を２次元的（  画像として  ）に検出して、その１パルス間の被診断対象の内部状態を診断するものがある。
【０００３】
このようなＸ線診断装置は、２次元走査型画像検出器を備えて、パルス状に照射されるＸ線による撮影を連続して複数回行うようになっている。
２次元走査型画像検出器としては、例えば図１７に示すように構成されている。
【０００４】
すなわち、２次元走査型画像検出器を形成するＸ線検出素子は、図１８に示すように、入射光量に応じて信号電流を流すフォトダイオード１０１と、このフォトダイオード１０１からの信号電流により電荷を蓄積するコンデンサ（  以下蓄積用コンデンサと称する  ）１０２と、この蓄積用コンデンサ１０２に蓄積された電荷を外部に電流として出力するためのＴＦＴ（  薄膜トランジスタ  ）１０３とから構成されている。
【０００５】
なお、フォトダイオード１０１のカソード端子とコンデンサ１０２の一方の端子との接続点は逆バイアス電源（  −Ｖｎ  ）に接続され、フォトダイオード１０１のアノード端子と蓄積用コンデンサ１０２の他方の端子との接続点はＴＦＴ１０３の入力端子へ接続されている。
【０００６】
２次元走査型画像検出器は、このＸ線検出素子を列（Ｃｏｌｕｍｎ）及びライン（Ｒｏｗ）  にアレイ状に構成している。さらに、ＴＦＴ１０３のゲート端子は、ライン毎に共通に接続され、ゲートドライバ１０４の各ライン出力端子に接続されている。
【０００７】
このゲートドライバ１０４の各ライン出力端子から、それぞれ時間系列的に順番にパルス状の制御信号が出力するようになっており、このパルス状の制御信号により、同じラインのＴＦＴ１０３は同時にオン動作するが、異なるラインのＴＦＴ１０３はそれぞれ時間系列的に順番にオン動作する。
【０００８】
また、ＴＦＴ１０３の出力端子は、列毎に共通に接続され、リードアウトアンプ（Ｒｅａｄ−ｏｕｔ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）１０５とコンデンサ１０６とリセットスイッチ１０７とからなる積分回路を介して、マルチプレクサ１０８の各入力端子に接続されている。
【０００９】
このマルチプレクサ１０８は、前記ゲートドライバ１０４の各ライン出力端子から出力される１パルスの間に各入力端子に入力される信号をそれぞれ時間系列的に順番に１つずつ取込んでその出力端子から出力するようになっている。
【００１０】
従って、ゲートドライバ１０４の各ライン出力端子から出力されたパルス状の制御信号により、１ラインのＴＦＴ１０３が同時のオン動作すると、蓄積用コンデンサ１０２に蓄積された電荷がＴＦＴ１０３を通過して出力され、この電流は積分回路にを介して電圧に変換され、マルチプレクサ１０８により順番に１つずつ（  １ラインの１画素ずつ  ）出力される。このようにして１ラインの読取りが終了すると、次のラインの読取りが開始される。
すなわち、テレビジョンの走査線のように、ライン毎に各Ｘ線検出素子１個ずつ（  １画素ずつ  ）順番に検出信号を読取って、１画面分の撮像データ（  ビデオ信号  ）として出力するようになっている。
【００１１】
ところで、連続して複数枚のＸ線画像を撮像する場合に、上述したような走査による１画面分の検出信号の読取りのタイミングを制御する信号としてＶＢＬ信号（  垂直ブランキング信号  ）がある。これは、図１９に示すように、各Ｘ線検出素子から１画面分の検出信号を読取る垂直有効期間Ａの間に、読取りを行わない垂直ブランキング期間Ｂが設けられている。
【００１２】
従って、図１９の下部に示すＸ線の照射タイミングに示すように、Ｘ線の照射は垂直ブランキング期間Ｂ内に制限される。これは１画面分の検出信号の読取りで、走査の最初に読取られるＸ線検出素子と走査の最後に読取られるＸ線検出素子でＸ線の照射量が異ならないようにするためである。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
Ｘ線の照射量は、Ｘ線を発生するＸ線管の管電流を大きくすれば、増加させることはできるが、Ｘ線管に流す管電流にも上限があり、Ｘ線量を管電流を大きくせずに増加させる方法としては照射時間を長くする方法がある。
【００１４】
しかし、上述したように、従来のＸ線診断装置ではＸ線の照射タイミングは、ＶＢＬ信号の垂直ブランキング期間Ｂ内に制限されていたため、Ｘ線の照射時間Ｃを垂直ブランキング期間よりも長くできないので、例えば被検者の体厚が大きい場合に、十分に明瞭な投影Ｘ線画像を得るためには、Ｘ線照射量が不足するという問題があった。
そこでこの発明は、Ｘ線照射量の不足を改善することができるＸ線診断装置を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、被検体を透過したＸ線を電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、信号読出し範囲内のＸ線検出素子に蓄積された電荷情報を読出す読出手段と、１画像当たりのＸ線曝射時間を設定するものであり、信号読出し範囲に基づいて設定可能なＸ線曝射時間の最大値を変更する曝射時間設定手段と、１画像当たりのＸ線曝射時間が、曝射時間設定手段で設定されたＸ線曝射時間となるようにＸ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたものである。
【００１６】
請求項２記載の発明は、被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、被検体を透過したＸ線を電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、垂直ブランキング期間を示す垂直ブランキング信号を発生するものであり、設定された信号読出し範囲の広さに基づいて垂直ブランキング信号のパルス幅を換える同期信号発生手段と、垂直ブランキング信号に同期して信号読出し範囲内のＸ線検出素子に蓄積された電荷情報を読み出す読出手段と、垂直ブランキング信号に基づいて、垂直ブランキング期間内にＸ線曝射を行うようにＸ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたものである。
【００１７】
請求項３記載の発明は、請求項１乃至請求項２のいずれか１項に記載された発明において、Ｘ線画像検出器は、Ｘ線検出素子を行と列とを有するマトリックス状に配列し、視野設定手段は、信号読出し範囲を行単位又は列単位の少なくとも一方で行うものである。
【００１８】
請求項４記載の発明は、被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、被検体を透過したＸ線電荷信号に変換して蓄積する複数のＸ線検出素子を２次元的に配列したＸ線画像検出器と、１画像当たりのＸ線曝射時間を設定する曝射時間設定手段と、設定されたＸ線曝射時間に基づいて、Ｘ線検出素子群の信号読出し範囲を設定する視野設定手段と、信号読出し範囲内のＸ線検出素子に蓄積された電荷情報を読出す読出手段と、１画像当たりのＸ線曝射時間が、曝射時間設定手段で設定されたＸ線曝射時間となるようにＸ線源を駆動するＸ線源駆動手段とを備えたものである。
【００１９】
請求項５記載の発明は、請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載された発明において、Ｘ線源により発生されたＸ線の曝射範囲を制限するＸ線絞り手段と、設定された信号読出し範囲にＸ線の曝射範囲が一致するように、Ｘ線絞り手段を制御するＸ線絞り制御手段とを備えたものである。
【００２０】
請求項６記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載された発明において、設定された信号読出し範囲を表示する表示手段を備えたものである。
【００２１】
請求項７記載の発明は、請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載された発明において、Ｘ線検出素子は、Ｘ線を光に変換するＸ線・光変換手段と、光を電気信号に変換する光・電気変換手段と、この光・電気変換手段から出力された電気信号を電荷として蓄積するコンデンサとを備えたものである。
【００２２】
請求項８記載の発明は、請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載された発明において、Ｘ線検出素子は、Ｘ線を電気信号に変換するＸ線・電気変換手段と、このＸ線・電気変換手段から出力された電気信号を電荷として蓄積するコンデンサとを備えたものである。
【００２３】
【発明の実施の形態】
この発明の第１の実施の形態を図１乃至図８を参照して説明する。
図１は、この発明を適用したＸ線診断装置の要部回路構成を示すブロック図である。
【００２４】
１は、図示しないがＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ  ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  ｕｎｉｔ  ）、ＲＯＭ（  ｒｅａｄ  ｏｎｌｙ  ｍｅｍｏｒｙ  ）、ＲＡＭ（ｒａｎｄｏｍ  ａｃｃｅｓｓ  ｍｅｍｏｒｙ）及び各種インターフェイス回路等から構成された制御部で、特に、後述する各種周辺装置のタイミングを制御するタイミング制御部１−１を備えている。
【００２５】
前記制御部１は、オペレータの操作部２による操作指示に基づいて、Ｘ線の発生源であるＸ線管３の電力制御を行い、このＸ線管３から放射されたＸ線の照射方向を制限するＸ線絞り４の開閉を制御し、前記Ｘ線管３から前記Ｘ線絞り４を介して被検体に照射され、さらに透過したＸ線を検出するＸ線検出器５の駆動を制御する。
【００２６】
また、前記制御部１は、Ｘ線検出器５からの検出信号（  アナログ信号  ）をＡ／Ｄ（ａｎａｌｏｇｕｅ／ｄｉｇｉｔａｌ）変換部６を介してデジタルデータに変換し、このデジタルデータを画像メモリ７に記憶させ、この画像メモリ７に記憶されたデジタルデータをＤ／Ａ（ｄｉｇｉｔａｌ／ａｎａｌｏｇｕｅ）変換部８を介して再びアナログ信号に変換し、このアナログ信号によりＣＲＴ（ｃａｔｈｏｄｅ  ｒａｙ  ｔｕｂｅ）ディスプレイ９によりＸ線画像を表示させる。
【００２７】
なお、前記Ｘ線検出器５は、従来の技術で説明したように（  図１７及び図１８参照  ）、２次元走査型画像検出器であり、フォトダイオード、コンデンサ（  蓄積用コンデンサ  ）、ＴＦＴから構成されたＸ線検出素子をマトリックス状に配置し、ゲートドライバによりライン方向のＸ線検出素子のＴＦＴを制御し、Ｘ線検出素子から出力される検出信号は、リードアウトアンプ、蓄積用コンデンサ及びリセットスイッチからなる積分回路を介して、マルチプレクサにより列方向に順次読取られて出力される。
【００２８】
前記タイミング制御部１−１は、前記Ｘ線検出器５に対して、そのリセットスイッチをＯＮさせるアンプリセット信号、そのゲートドライバの読取りのためのパルスを出力するポート（  ライン  ）を選択するラインセレクト信号、そのマルチプレクサの信号を取込むポート（  列  ）を選択する列セレクト信号を供給している。また、前記Ａ／Ｄ変換部６及び前記Ｄ／Ａ変換部８に対しては、変換のためのタイミング信号（  サンプリング信号  ）を供給し、前記画像メモリ７に対しては、データの読取り／書込みを制御するリード／ライトタイミング信号を供給している。
【００２９】
また前記操作部２には、前記Ｘ線絞り４及び前記Ｘ線検出器５における視野を設定する視野設定部２−１及び前記Ｘ線管３におけるＸ線の照射時間（  照射パルス幅  ）を設定する照射時間設定部２−２が設けられている。
【００３０】
このような構成の第１の実施の形態においては、図２に示すような処理の流れにしたがって撮像条件が設定され、この設定された撮像条件に基づいて実際の撮像が行われる。
【００３１】
図２は、制御部１が撮像動作前に行う撮像条件設定処理の流れを示す図である。
まず、ステップ１（  ＳＴ１  ）の処理として、操作部２の照射時間設定部２−２によりＸ線パルス幅の指定入力があるか否かを判断する。ここで、Ｘ線パルス幅の指定入力はないと判断すると、ステップ２（  ＳＴ２  ）の処理として、操作部２の視野設定部２−１により読取ラインの指定入力（  読取ライン数及び読取開始ラインの指定入力  ）があるか否かを判断する。ここで、読取ラインの指定入力はないと判断すると、ステップ３（  ＳＴ３  ）の処理として、操作部２により全視野を読取範囲とする入力があるか否かを判断する。ここで、全視野を読取り範囲とする入力もないと判断すると、再び前述したステップ１の処理へ戻るようになっている。
【００３２】
また、前述したステップ１の処理で、Ｘ線パルス幅の指定入力があると判断すると、ステップ４（  ＳＴ４  ）の処理として、その指定入力されたＸ線パルス幅を実際にＸ線管３に通電するパルス幅として設定する。
【００３３】
ステップ５（  ＳＴ５  ）の処理として、このＸ線パルス幅に基づいて、可能な読取ライン数を算出し、この算出により得た可能読取ライン数を示す表示をＣＲＴディスプレイ９に表示する。
ステップ６（  ＳＴ６  ）の処理として、視野設定部２−１により読取ラインの指定入力があるまでの待機状態となる。
【００３４】
このステップ６の処理で、読取ラインの指定入力があると、ステップ７（  ＳＴ７  ）の処理として、この指定入力されたライン（  指定入力された読取開始ラインから読取ライン数分のライン  ）を読取ラインとして設定する。
この読取ラインの設定が終了すると、この撮像条件設定処理を終了するようになっている。
【００３５】
また、前述したステップ２の処理で、読取ラインの指定入力があると判断すると、ステップ８（  ＳＴ８  ）の処理として、この指定入力されたラインを読取ラインとして設定する。
次に、ステップ９（  ＳＴ９  ）の処理として、設定された読取ラインに基づいて、Ｘ線パルス幅の最大値を算出して設定し、後述するステップ１０（  ＳＴ１０  ）の処理へ移行するようになっている。
【００３６】
また、前述したステップ３の処理で、全視野を読取範囲とする入力があると判断すると、ステップ１１（  ＳＴ１１  ）の処理として、全ラインを読取ラインとして設定する。
次に、ステップ１２（  ＳＴ１２  ）の処理として、Ｘ線パルス幅の最大値を通常値に設定し、次のステップ１０の処理へ移行するようになっている。
【００３７】
ステップ１０の処理は、設定されているＸ線パルス幅の最大値をＣＲＴディスプレイ９に表示して、Ｘ線パルス幅（  Ｘ線照射時間  ）の指定入力を要求する表示を行う。
【００３８】
次に、ステップ１３（  ＳＴ１３  ）の処理として、照射時間設定部２−２によりＸ線パルス幅の指定入力があるまでの待機状態となる。
Ｘ線パルス幅の指定入力が行われると、ステップ１４（  ＳＴ１４  ）の処理として、この指定入力されたＸ線パルス幅を実際にＸ線管３に通電するパルス幅として設定する。このＸ線パルス幅の設定画終了すると、この撮像条件設定処理を終了するようになっている。
【００３９】
例えば図３に示すように、上から（  ｘ＋１  ）番目のラインを読取開始ラインとして、全ライン数ｎからライン数ｘを減算したライン数（  ｎ−ｘ  ）を読取ライン数として設定すると、（  ｘ＋１  ）番目のラインからｎ番目のラインまでの領域Ｄが読取ラインとなる。
【００４０】
このとき、新・ＶＢＬ信号（  読取ライン数の制限による変更された垂直ブランキング信号  ）とＸ線の照射タイミングとは図４に示すようになる。
垂直ブランキング期間Ｅは、従来の垂直ブランキング期間Ｂより、本来０番目のラインからｘ番目のラインまでを読取る期間Ｆ分延長される。従って、垂直有効期間Ｇは、従来の垂直有効期間（  Ａ  ）から期間Ｆが削られたものである。
【００４１】
従って、Ｘ線の照射タイミングの照射時間（  Ｘ線パルス  ）Ｈは、垂直ブランキング期間Ｅの最初の部分に設けられたリセット期間Ｊを除く期間Ｋ内に制限される。すなわち、照射時間Ｈの最大値は期間Ｋである。
【００４２】
なお、リセット期間Ｊは、読取りを行わないライン上のＸ線検出素子（  画素  ）に散乱線やベーリングクレア（  シンチレータによるＸ線散乱  ）等による光入射やＸ線検出素子自体から発生する暗電流の影響により蓄積された電荷及び、読出しラインの画素に暗電流の影響により蓄積された電荷を適切なタイミングで放電するように設けられている。
なお、このリセット期間Ｊは、Ｘ線照射を行う前に行えば良い。またＸ線照射を行った後に行っても良いものである。
【００４３】
このリセット期間Ｊでは、対象となる全てのラインに対してゲートドライバからパルスを同時又はさらに組分けした各組毎にパルスを供給して読取りが行われる。当然、読取ったデータは全て無効として処理される。
【００４４】
また図５に示すように、上から（  ｙ＋１  ）番目のラインを読取開始ラインとして、全ライン数ｎからライン数ｙを減算したライン数（  ｎ−ｙ  ）より小さいライン数ｚ（  ＜ｎ−ｙ  ）を読取ライン数として設定すると、（  ｙ＋１  ）番目のラインから（  ｙ＋ｚ  ）番目のラインまでの領域Ｄが読取ラインとなる。
【００４５】
このとき、新・ＶＢＬ信号とＸ線の照射タイミングとは図６に示すようになる。
なお、この図６中の記号（  アルファベット  ）は、図４と同一内容の期間には同一記号を付して、その説明は省略する。
期間Ｆ１は、本来０番目のラインからｙ番目のラインまでを読取る期間であり、期間Ｆ２は、本来（  ｙ＋ｚ＋１  ）番目のラインからｎ番目のラインまでを読取る期間である。
【００４６】
また、例えば被検体の体厚からＸ線の照射時間を最初に決定した場合、このＸ線の照射時間が先に設定され、この設定された照射時間（  Ｘ線パルス幅  ）に基づいて、垂直ブランキング期間を算出され、垂直有効期間Ｇが算出され、最終的に可能な読取ライン数が算出されて表示される。
【００４７】
オペレータは、この表示された可能な読取ライン数以下で読取ラインの設定を行えば、所望の照射時間でＸ線が被検体に照射され、設定された読取ラインで読取が行われる。
【００４８】
さらに、この第１の実施の形態では、読取ラインを任意に設定することができたが、例えば視野を全ラインとする通常動作（  視野１００％  ）に対して、図７（  ａ  ）に示すように、視野を全ラインの９０％に制限する第１視野制限動作（  視野９０％  ）、図７（  ｂ  ）に示すように、視野を全ラインの７０％に制限する第２視野制限動作、図７（  ｃ  ）に示すように、視野を全ラインの５０％に制限する第３視野制限動作を予め設定しておき、これらの動作を切換により選択指定するようにしても良いものである。なお、各動作におけるＶＢＬ信号は図８に示すようになる。もちろん、図７では読取りができる領域Ｄは中央に設定されているが、視野の範囲内であればその位置を自由に移動させることができる。
【００４９】
このように第１の実施の形態によれば、読取ライン数を制限することによりＶＢＬ信号の垂直有効期間のうち、制限により読取の対象外となったラインについての読取時間を削減することができ、その削減した時間分垂直ブランキング期間に加えることにより、Ｘ線の照射時間を長くすることができる。また、Ｘ線の照射時間を長く設定した時には、可能な読取ライン数を算出して表示し、読取ラインの設定を要求することにより、所望の照射時間でＸ線の撮像を行うことができる。
すなわち、Ｘ線照射量の不足を改善することができる。
【００５０】
この発明の第２の実施の形態を図９乃至図１１を参照して説明する。なお、この第２の実施の形態のＸ線診断装置の要部回路構成は、前述した第１の実施の形態とほとんど同一なので、同一部材には同一符号を付してその説明は省略する。
【００５１】
このＸ線診断装置は、図９に示すような処理の流れにしたがって、撮像条件が設定され、この設定された撮像条件に基づいて実際の撮像が行われる。
図９は、制御部１が撮像動作前に行う撮像条件処理の流れを示す図である。
【００５２】
まず、ステップ２１（  ＳＴ２１  ）の処理として、操作部２の照射時間設定部２−２によりＸ線パルス幅の指定入力があるか否かを判断する。ここで、Ｘ線パルス幅の指定入力はないと判断すると、ステップ２２（  ＳＴ２２  ）の処理として、操作部２の視野設定部２−１により読取範囲の指定入力（  読取ライン数、読取開始ライン及び読取開始列、読取終了列の指定入力  ）があるか否かを判断する。ここで、読取範囲の指定入力はないと判断すると、ステップ２３（  ＳＴ２３  ）の処理として、操作部２により全視野を読取範囲とする入力があるか否かを判断する。ここで、全視野を読取り範囲とする入力もないと判断すると、再び前述したステップ２１の処理へ戻るようになっている。
【００５３】
また、前述したステップ２１の処理で、Ｘ線パルス幅の指定入力があると判断すると、ステップ２４（  ＳＴ２４  ）の処理として、その指定入力されたＸ線パルス幅を実際にＸ線管３に通電するパルス幅として設定する。
【００５４】
ステップ２５（  ＳＴ２５  ）の処理として、このＸ線パルス幅に基づいて、可能な読取ライン数及び可能な読取列数を算出し、この算出により得た可能読取ライン数及び読取列数を示す標準的な読取範囲をＣＲＴディスプレイ９の画面に表示する。
ステップ２６（  ＳＴ２６  ）の処理として、視野設定部２−１により読取範囲の指定入力があるまでの待機状態となる。
【００５５】
このステップ２６の処理で、読取範囲の指定入力があると、ステップ２７（  ＳＴ２７  ）の処理として、この指定入力されたライン（  指定入力された読取開始ラインから読取ライン数分のライン  ）を読取ラインとして設定し、この指定入力された列（  指定入力された読取開始列から読取終了列までの列  ）を読取ライン列として設定する。
【００５６】
この読取範囲（  読取ライン及び読取列  ）の設定が終了すると、ステップ２８（  ＳＴ２８  ）の処理として、その設定された読取範囲を示す表示をＣＲＴディスプレイ９の画面に表示し、この撮像条件設定処理を終了するようになっている。
【００５７】
また、前述したステップ２２の処理で、読取範囲の指定入力があると判断すると、ステップ２９（  ＳＴ２９  ）の処理として、この指定入力されたラインを読取ラインとして設定し、この指定入力された列を読取ライン列として設定する。
【００５８】
この読取範囲の設定が終了すると、ステップ３０（  ＳＴ３０  ）の処理として、その設定された読取範囲を示す表示をＣＲＴディスプレイ９の画面に表示する。
次に、ステップ３１（  ＳＴ３１  ）の処理として、設定された読取範囲に基づいて、Ｘ線パルス幅の最大値を算出して設定し、後述するステップ３２（  ＳＴ３２）の処理へ移行するようになっている。
【００５９】
また、前述したステップ２３の処理で、全視野を読取範囲とする入力があると判断すると、ステップ３３（  ＳＴ３３  ）の処理として、全ラインを読取ラインとして設定し、全列を読取列として設定する。
次に、ステップ３４（  ＳＴ３４  ）の処理として、Ｘ線パルス幅の最大値を通常値に設定し、次のステップ３２の処理へ移行するようになっている。
【００６０】
ステップ３２の処理は、設定されているＸ線パルス幅の最大値をＣＲＴディスプレイ９に表示して、Ｘ線パルス幅（  Ｘ線照射時間  ）の指定入力を要求する表示を行う。
【００６１】
次に、ステップ３５（  ＳＴ３５  ）の処理として、照射時間設定部２−２によりＸ線パルス幅の指定入力があるまでの待機状態となる。
Ｘ線パルス幅の指定入力が行われると、ステップ３６（  ＳＴ３６  ）の処理として、この指定入力されたＸ線パルス幅を実際にＸ線管３に通電するパルス幅として設定する。このＸ線パルス幅の設定が終了すると、この撮像条件設定処理を終了するようになっている。
【００６２】
例えば図１０に示すように、上から（  ｙ＋１  ）番目のラインを読取開始ラインとして、全ライン数ｎからライン数ｙを減算したライン数（  ｎ−ｙ  ）より小さいライン数ｚ（  ＜ｎ−ｙ  ）を読取ライン数として設定すると、（  ｙ＋１  ）番目のラインから（  ｙ＋ｚ  ）番目のラインまでが読取ラインとなる。
また、左から（  ｓ＋１  ）番目の列（  画素  ）を読取開始列、左から（  ｓ＋ｔ  ）番目の列を読取終了列として設定すると、（  ｓ＋１  ）番目の列から（  ｓ＋ｔ  ）番目の列までが読取列となる。
この読取ライン及び読取列により囲まれる領域Ｄが読取範囲となる。
【００６３】
図１１は、従来のＨＢＬ信号（  水平ブランキング信号  ）と上述したように読取範囲を設定したときの新・ＨＢＬ信号を示す図である。
このＨＢＬ信号（  新・ＨＢＬ信号  ）は、ＶＢＬ信号の垂直有効期間Ｇ（  Ａ  ）に関係するもので、ＶＢＬ信号の垂直有効期間Ｇ（  Ａ  ）が１枚分の撮像画像の各ラインを読取るための期間であるのに対して、ＨＢＬ信号の水平有効期間Ｌ（  新・ＨＢＬ信号の水平有効期間Ｍ  ）は、その１ライン分の画素を読取るための期間である。
【００６４】
すなわち、１画素を読取るためにかかる時間に１ライン分の画素数を乗算したものが水平有効期間Ｌであり、この水平有効期間Ｌに１枚分の撮像画像のライン数と乗算したものが垂直有効期間Ａである。
【００６５】
そして、上述したように読取範囲を設定した場合では、１画素を読取るためにかかる時間に１ライン分の画素のうちの読取列として設定された画素数を乗算したものが水平有効期間Ｍとなり、さらにこの水平有効期間Ｍに１枚分の撮像画像のラインのうちの読取ラインとして設定されたライン数を乗算したものが垂直有効期間となる。
【００６６】
従って、全ラインを読取ラインとして設定しても、列（  画素  ）により読取範囲を制限すると、水平有効期間が短縮し、それにつれて垂直有効期間が短縮し、この短縮分が垂直ブランキング期間の延長分となる。その結果、Ｘ線パルス幅の最大値が長くなる。
【００６７】
このようにこの第２の実施の形態によれば、前述した第１の実施の形態における効果を得ることができると共に、読取範囲を列でも制限することができるので、より効率的にＸ線の照射時間を長くすることができる。すなわち、Ｘ線照射量の不足をより効率的に改善することができる。
【００６８】
さらに、設定した読取範囲をＣＲＴディスプレイ９の画面に表示することにより、設定した読取範囲を容易に確認することができるので、読取範囲の設定の操作性の向上を図ることができ、確実に所望の部位（  例えば患部、検査組織  ）のＸ線撮像を行うことができる。
【００６９】
この発明の第３の実施の形態を図１２乃至図１６を参照して説明する。なお、この第３の実施の形態のＸ線診断装置の要部回路構成も、前述した第１の実施の形態とほとんど同一なので、同一部材には同一符号を付してその説明は省略する。
【００７０】
特に、この第３の実施の形態では、Ｘ線の照射部分を目視により確認できるように、Ｘ線管３の内部に可視光源が内蔵されている。
このＸ線診断装置は、図１２に示すような処理の流れにしたがって、撮像条件が設定され、この設定された撮像条件に基づいて実際の撮像が行われる。
この図１２に示す撮像条件設定処理と前述した第２の実施の形態における撮像条件設定処理（  図９参照  ）とで、異なる点は以下に説明する部分だけである。
【００７１】
すなわち、ステップ２７（  ＳＴ２７  ）及びステップ２９（  ＳＴ２９  ）の読取範囲の設定（  指定ライン設定、指定列設定  ）の処理とステップ２８（  ＳＴ２８  ）及びステップ３０（  ＳＴ３０  ）の読取範囲画面表示の処理との間に、次の２つの処理がそれぞれ順番に挿入される。
【００７２】
まず、ステップ４１（  ＳＴ４１  ）及びステップ４２（  ＳＴ４２  ）の処理として、ステップ２７及びステップ２９で設定された読取範囲に基づいて、その設定された読取範囲以外にはＸ線が照射されないように、Ｘ線絞り４を調節する。
【００７３】
例えば、Ｘ線絞り４の開度を調節すると、図１３（  ａ  ）及び図１３（  ｂ  ）に示すように、Ｘ線の照射範囲（  有効視野  ）が調節される。図１３（  ａ  ）の開度Ｌに対しては照射範囲Ｍが形成され、この開度Ｌより絞った開度Ｎに対しては、照射範囲Ｍより狭い照射範囲Ｐが形成される。
従って、ここでは、読取視野と照射範囲とが一致するように、Ｘ線絞り４の開度が調節される。なお、被検体はＸ線絞り４とＸ線検出器５との間に位置する。
【００７４】
またＸ線は可視ではないが、この第３の実施の形態では、Ｘ線管３の内部に可視光源１１が内蔵されているので、そのＸ線の照射範囲が、図１３に示すように、可視光源１１からの（  可視  ）光の照射範囲と一致するので、目視により確認することができる。
【００７５】
次に、ステップ４３（  ＳＴ４３  ）及びステップ４４（  ＳＴ４４  ）の処理として、Ｘ線管３に内蔵された可視光源１１を点灯させる。
また、ステップ３３（  ＳＴ３３  ）の全ライン・全列設定の処理とステップ３４（  ＳＴ３４  ）のＸ線パルス幅の最大値を通常値に設定する処理との間に、次の２つの処理がそれぞれ順番に挿入される。
【００７６】
まず、ステップ４５（  ＳＴ４５  ）の処理として、Ｘ線絞り４を通常開度に調整する。
次に、ステップ４６（  ＳＴ４６  ）の処理として、可視光源１１を点灯させる。
【００７７】
従って、読取範囲の設定の処理が行われると、その設定された読取範囲に合せて、Ｘ線絞り４が調節される。すなわち、読取範囲外にはＸ線が照射されないようになる。
さらに、可視光源１１が点灯して、このときのＸ線の照射範囲、すなわち読取範囲がＸ線検出器５の検出面（  Ｘ線受光面  ）に可視光の照射により示される。
【００７８】
ところで、ステップ２８（  ＳＴ２８  ）及びステップ３０（  ＳＴ３０  ）の読取範囲画面表示の処理で、その設定された読取範囲をＣＲＴディスプレイ９の画面に表示する一例を図１４に示す。ここでは、ＣＲＴディスプレイ９の画面の一部にウインドウ１２を開いて読取範囲を表示する。
【００７９】
このように第３の実施の形態によれば、前述した第２実施例と同様な効果を得ることができ、さらに、読取範囲の設定に合せて、Ｘ線絞り４を調節することにより、その設定された読取範囲の外側へのＸ線の照射を防止することができる。
【００８０】
従って、被検体へ不要なＸ線の被曝を避けることができ、被検体（  検診者、患者  ）への負担が軽減されるという効果を得ることができる。
また、Ｘ線管３に可視光源１１を内蔵したことにより、設定した読取範囲に一致するＸ線の照射範囲が可視光源１１からの光により、Ｘ線検出器５の検出面（  被検体  ）に直接示すことができるので、読取範囲の設定の操作性の向上を図ることができ、より確実に所望の部位（  例えば患部、検査組織  ）のＸ線撮像を行うことができる。
【００８１】
なお、読取範囲あるいはＸ線の照射範囲を表示について、上述した可視光源１１を使用した方法及びＣＲＴディスプレイ９の画面に表示する方法以外には、例えば図１５に示すように、Ｘ線検出器５の裏面（  検出面の反対側の面  ）に幾つかの代表的な読取範囲に合せて配置された複数個の発光ダイオードを設けて、読取範囲が設定されたときに、該当する位置に配置された発光ダイオードを発光させて、読取範囲を表示する方法もある。
また、図１６に示すようにＸ線検出器５の検出面（  Ｘ線受光面  ）に、代表的な読取範囲を示す印刷を施すという方法もある。
このようにこの発明は、以上詳述した実施の形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で変更しても良いものである。
【００８２】
【発明の効果】
以上詳述したようにこの発明によれば、複数個のＸ線検出素子から構成されるＸ線検出器の読取範囲を制限することにより、垂直ブランキング信号の垂直ブランキング期間のパルス幅の割合を大きくすることによりＸ線の照射パルス幅の最大値を大きくして、Ｘ線照射量の不足を改善することができるＸ線診断装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１の実施の形態のＸ線診断装置の要部回路構成を示すブロック図。
【図２】同実施の形態のＸ線診断装置で撮像動作前に行われる撮像条件設定処理の流れを示す図。
【図３】同実施の形態のＸ線診断装置における読取ラインの設定の第１の例を示す図。
【図４】同実施の形態のＸ線診断装置における図３の第１の例に対応する垂直ブランキング信号とＸ線の照射タイミングを示す図。
【図５】同実施の形態のＸ線診断装置における読取ラインの設定の第２の例を示す図。
【図６】同実施の形態のＸ線診断装置における図５の第２の例に対応する垂直ブランキング信号とＸ線の照射タイミングを示す図。
【図７】同実施の形態のＸ線診断装置における読取ラインの３通りの設定の一例を示す図。
【図８】同実施の形態のＸ線診断装置における図７の読取ラインの３通りの設定の一例に対応する垂直ブランキング信号のタイミングの変化を示す図。
【図９】この発明の第２の実施の形態のＸ線診断装置で撮像動作前に行われる撮像条件設定処理の流れを示す図。
【図１０】同実施の形態のＸ線診断装置における読取範囲の設定の一例を示す図。
【図１１】同実施の形態のＸ線診断装置における通常（  従来  ）の水平ブランキング信号（  ＨＢＬ  ）と図１０の一例に対応する水平ブランキング信号（  新・ＨＢＬ  ）野タイミングを示す図。
【図１２】この発明の第３の実施の形態のＸ線診断装置で撮像動作前に行われる撮像条件設定処理の流れを示す図。
【図１３】同実施の形態のＸ線診断装置の読取範囲の設定に対するＸ線絞りの状態を示す斜視図。
【図１４】同実施の形態のＸ線診断装置のＣＲＴディスプレイの画面の一部に表示された読取範囲を示す図。
【図１５】同実施の形態のＸ線診断装置の読取範囲の設定状態（  有効視野  ）の表示方法の第１の例を示す斜視図。
【図１６】同実施の形態のＸ線診断装置の読取範囲の設定状態（  有効視野  ）の表示方法を示す第２の例を示す図。
【図１７】従来例の２次元走査型画像検出器の構成を示す一部回路を含むブロック図。
【図１８】同従来例の２次元走査型画像検出器を形成するＸ線検出素子を示す回路図。
【図１９】同従来例の２次元走査型画像検出器における垂直ブランキング信号（  ＶＢＬ信号  ）とＸ線の照射タイミングを示す図。
【符号の説明】
１…制御部、
１−１…タイミング制御部、
２…操作部、
２−１…視野設定部、
２−２…照射時間設定部、
３…Ｘ線管、
４…Ｘ線絞り、
５…Ｘ線検出器、
９…ＣＲＴディスプレイ、
１１…可視光源。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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