【手続補正書】
【提出日】平成29年3月17日(2017.3.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
第１のトランスミッタ及び第２のトランスミッタと電気的に結合されたパルス発生器と；前記パルス発生器及び前記第１のトランスミッタは、第１のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、前記パルス発生器及び前記第２のトランスミッタは、第２のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記第１のトランスミッタと電気的に結合され、前記第１のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第１のバンドパス・フィルタと、
前記第２のトランスミッタと電気的に結合され、前記第２のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第２のバンドパス・フィルタと、
前記第１のバンドパス・フィルタ及び前記第２のバンドパス・フィルタと電気的に結合されたコンバイナと；前記コンバイナは、前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を合成して、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイスに電気的に結合された出力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと；前記メインラインは、順方向に伝搬する前記合成パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達し、且つ、前記テスト対象デバイスから反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されており；前記方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており；前記方向性カプラは、さらに、前記メインラインを前記反射方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており；前記反射方向チャネル出力部は、前記メインラインを前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号をノッチ・フィルタに供給するように構成されており、
前記ノッチ・フィルタは、前記反射方向チャネル出力部に電気的に結合されており、且つ、前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号から前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を減衰させるように構成されており、
前記ノッチ・フィルタと電気的に結合された低ノイズ・ゲイン・ステージと；前記低ノイズ・ゲイン・ステージは、前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号を増幅するように構成されており、
前記低ノイズ・ゲイン・ステージと電気的に結合され、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されている受信・分析回路とを備えていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項２】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
第１のトランスミッタ及び第２のトランスミッタと電気的に結合されたパルス発生器と；前記パルス発生器及び前記第１のトランスミッタは、第１のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、前記パルス発生器及び前記第２のトランスミッタは、第２のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記第１のトランスミッタと電気的に結合され、前記第１のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第１のバンドパス・フィルタと、
前記第２のトランスミッタと電気的に結合され、前記第２のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第２のバンドパス・フィルタと、
前記第１のバンドパス・フィルタ及び前記第２のバンドパス・フィルタと電気的に結合されたコンバイナと；前記コンバイナは、前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を合成して、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており；前記コンバイナは、テスト対象デバイスに電気的に結合されており、前記合成パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達するように構成されており、
前記テスト対象デバイスに電気的に結合された入力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと；前記方向性カプラは、さらに、前記テスト対象デバイスから前記メインラインを順方向に伝搬する信号を受信するように構成されており；前記方向性カプラは、前記順方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成された順方向サンプル・ポートをさらに備えており；前記順方向サンプル・ポートは、ノッチ・フィルタに向かって前記順方向に伝搬する前記サンプル信号を出力するように構成されており、
前記ノッチ・フィルタは、前記順方向サンプル・ポートに電気的に結合されており、且つ、前記順方向に伝搬する前記サンプル信号から前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を減衰させるように構成されており、
前記ノッチ・フィルタと電気的に結合された低ノイズ・ゲイン・ステージと；前記低ノイズ・ゲイン・ステージは、前記順方向に伝搬する前記サンプル信号を増幅するように構成されており、
前記低ノイズ・ゲイン・ステージと電気的に結合され、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されている受信・分析回路とを備えていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項３】
前記パルス発生器、第１のパルス・パワーアンプ、第２のパルス・パワーアンプ、及び、前記受信・分析回路と電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、
前記プロセッサは、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、前記受信・分析回路で受信した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されており、
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されており、前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項１または２に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項４】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項３に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項５】
前記プロセッサと電気的に結合されたキーパッドをさらに備えており、
前記キーパッドは、ユーザが前記速度係数値を入力するように、または、前記プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体を選択するように構成されており、
前記プロセッサと電気的に結合されたディスプレイを備えており、
前記ディスプレイは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項４に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項６】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項５に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項７】
前記ＤＣ電源は、バッテリと、前記バッテリを充電するように構成された回路とから構成されており、
前記受信・分析回路は、前記テスト対象デバイスの前記ＰＩＭ源によって生成された前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを分析するために、レシーバ、スペクトラム・アナライザ、及び／または、ＰＩＭアナライザのうち少なくとも１つを用いる請求項６に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項８】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
方向性カプラと電気的に結合されたパルス状信号発生器と；前記パルス状信号発生器は、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記方向性カプラは、前記コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイスに電気的に結合された出力部を備えたメインラインを有し、；前記メインラインは、順方向に伝搬する前記合成パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達し、且つ、前記テスト対象デバイスから反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されており；前記方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており；前記方向性カプラは、さらに、前記メインラインを前記反射方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており；前記反射方向チャネル出力部は、前記メインラインを前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号を受信・分析回路に供給するように構成されており、
前記受信・分析回路は、前記方向性カプラと電気的に結合されており、前記受信・分析回路は、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項９】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
コンバイナと電気的に結合されたパルス状信号発生器と；前記コンバイナは、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており；前記コンバイナは、テスト対象デバイスに電気的に結合されており、前記剛性パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達するように構成されており、
前記テスト対象デバイスに電気的に結合された入力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと；前記方向性カプラは、前記テスト対象デバイスから前記メインラインを順方向に伝搬する信号を受信するように構成されており、前記方向性カプラは、前記順方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成された順方向サンプル・ポートをさらに備えており、前記順方向サンプル・ポートは、受信・分析回路に向かって前記順方向に伝搬する前記サンプル信号を出力するように構成されており、
前記受信・分析回路は、前記方向性カプラと電気的に結合されており、前記受信・分析回路は、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１０】
前記パルス発生器及び前記受信・分析回路と電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、
前記プロセッサは、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記合成パルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、前記受信・分析回路で受信した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている請求項８または９に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１１】
前記合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなり、
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されており、前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項１０に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１２】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項１１に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１３】
前記プロセッサと電気的に結合されたユーザＩ／Ｏをさらに備えており、
前記ユーザＩ／Ｏは、ユーザが前記速度係数値を入力するように、または、前記プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体を選択するように構成されており、
前記ユーザＩ／Ｏは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項１２に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１４】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項１３に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１５】
前記ＤＣ電源は、バッテリと、前記バッテリを充電するように構成された回路とから構成されており、
前記受信・分析回路は、前記テスト対象デバイスの前記ＰＩＭ源によって生成された前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを分析するために、レシーバ、スペクトラム・アナライザ、及び／または、ＰＩＭアナライザのうち少なくとも１つを用いる請求項１４に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１６】
テスト対象デバイスのパッシブ相互変調（ＰＩＭ）の決定方法であって、
ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステムを準備する準備ステップと、
合成パルス状刺激信号を発生させる発生ステップと、
前記テスト対象デバイスに、前記合成パルス状刺激信号を印加する印加ステップと、
前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する受信ステップと、
前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する測定ステップとからなることを特徴とするＰＩＭの決定方法。
【請求項１７】
前記合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなり、
前記測定した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を用いて、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するステップをさらに含み、前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項１６に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項１８】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算する距離演算ステップをさらに含んでおり、
前記合成パルス状刺激信号は、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記ＰＩＭテストシステムによって印加され、且つ、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトは、時間Ｔ２A-Nにおいて、受信・分析回路によって受信される請求項１７に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項１９】
前記速度係数値は、ユーザが、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムのユーザＩ／Ｏに前記速度係数値を入力することで、または、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体をユーザＩ／Ｏを用いて選択することで与えられる請求項１８に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２０】
前記ユーザＩ／Ｏは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項１９に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２１】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項２０に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２２】
前記ＤＣ電源は、バッテリと、前記バッテリを充電するように構成された回路とから構成されており、
前記受信・分析回路は、前記テスト対象デバイスの前記ＰＩＭ源によって生成された前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを分析するために、レシーバ、スペクトラム・アナライザ、及び／または、ＰＩＭアナライザのうち少なくとも１つを用いる請求項２１に記載のＰＩＭの決定方法。