【手続補正書】
【提出日】平成29年11月17日(2017.11.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のサンプル・ウェルからなるアッセイ・チップとインターフェース接続するための機器であって、前記複数のサンプル・ウェルのそれぞれのサンプル・ウェルは、サンプルを収容し、前記機器は、
前記複数のサンプル・ウェルの少なくとも一部分の前記サンプルを励起するように構成されている少なくとも１つの励起光供給源と、
複数のセンサーであって、前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーは、前記複数のサンプル・ウェルのサンプル・ウェルに対応しており、前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーは、それぞれのサンプル・ウェルの中の前記サンプルからのエミッション・エネルギーを検出する、複数のセンサーと、
前記複数のサンプル・ウェルのそれぞれのサンプル・ウェルからの前記エミッション・エネルギーを前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーに向けて方向付けする、少なくとも１つの光学エレメントと、
からなる、機器。
【請求項２】
前記アッセイ・チップのフレームに着脱自在に結合されるハウジングをさらに備え、前記ハウジングは開口部を有し、前記アッセイ・チップは前記フレームが前記ハウジングに結合しているときに前記開口と位置合わせするように形成されている、請求項１に記載の機器。
【請求項３】
前記開口部の近傍に設けられ、かつ前記フレームが前記ハウジングに結合するときに前記アッセイ・チップを前記開口部に位置合わせするための少なくとも１つの磁気コンポーネントをさらに備える、請求項２に記載の機器。
【請求項４】
前記少なくとも１つの励起光供給源からの励起光を前記アッセイ・チップに向けて反射し、及び、前記複数のサンプル・ウェルからの前記エミッション・エネルギーを前記複数のセンサーに向けて透過させるポリクロイック・ミラーをさらに含む、請求項１に記載の機器。
【請求項５】
前記少なくとも１つの光学エレメントが、リレー・レンズからなる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項６】
前記少なくとも１つの励起光供給源が、複数の光供給源からなり、前記複数の光供給源のそれぞれの光供給源は、複数の波長のうちの１つ又は複数において励起光を放出し、前記機器は前記複数の光供給源のそれぞれから放出される光を空間的に重ね合わせるための波長コンバイナーをさらに含んでなる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項７】
前記少なくとも１つの励起光供給源が、パルス光供給源からなる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項８】
少なくとも１つのスペクトル・フィルターをさらに含んでなり、前記少なくとも１つのスペクトル・フィルターは、前記エミッション・エネルギーを透過させ、及び、前記少なくとも１つの励起光供給源からの励起光の吸収又は反射の少なくとも一方を生じさせる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項９】
第１の波長のエミッション・エネルギーを第２の波長のエミッション・エネルギーから空間的に分離するための少なくとも１つのスペクトル・ソーティング・エレメントをさらに含んでなる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項１０】
前記少なくとも１つのスペクトル・ソーティング・エレメントが、回折光学素子からなり、前記回折光学素子が、前記エミッション・エネルギーを色彩的に分散させること、及び、前記エミッション・エネルギーの焦点を合わせるように形成されている、請求項９に記載の機器。
【請求項１１】
前記少なくとも１つのスペクトル・ソーティング・エレメントが、光フィルタリング・エレメントである、請求項９に記載の機器。
【請求項１２】
制御システムをさらに含んでなり、前記制御システムは、（ｉ）直接励起光を前記複数のサンプル・ウェルに方向付けし、（ｉｉ）前記複数のセンサーにおいて、前記複数のサンプル・ウェルからの信号を検出し、（ｉｉｉ）前記信号の空間的な分布パターンを使用し、前記サンプル及び前記サンプルのサブユニットのうちの少なくとも一方を特定するようにプログラムされている、請求項１〜４のいずれか１項に記載の機器。
【請求項１３】
複数のピクセルからなるアッセイ・チップであって、前記複数のピクセルのそれぞれは、
サンプルを受け入れるように構成されているサンプル・ウェルであって、前記サンプルは、励起されると、エミッション・エネルギーを放出する、サンプル・ウェル、
前記サンプル・ウェルからの前記エミッション・エネルギーを特定の方向に方向付けするための少なくとも１つのエレメントであって、屈折エレメント、回折エレメント、プラズモニック・エレメント、及び共振器からなる群から選択される、少なくとも１つのエレメント、ならびに、
光路であって、前記光路に沿って前記エミッション・エネルギーが前記サンプル・ウェルからセンサーに向けて進む、光路、
からなる、アッセイ・チップと、
前記アッセイ・チップとインターフェース接続するように構成されている機器であって、
前記サンプルを励起するように構成されている少なくとも１つの励起光供給源、
複数のセンサーであって、前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーは、それぞれのサンプル・ウェルに対応しており、前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーは、前記それぞれのサンプル・ウェルからの前記エミッション・エネルギーを検出するように構成されている、複数のセンサー、ならびに、
それぞれのサンプル・ウェルからの前記エミッション・エネルギーを前記複数のセン
サーのそれぞれのセンサーに向けて方向付けするように構成されている、少なくとも１つの光学エレメント、
からなる、機器と、
からなる、装置。
【請求項１４】
前記アッセイ・チップが、前記機器に接続され、及び、前記機器から除去され、前記アッセイ・チップが前記機器に接続されているときに、前記複数のサンプル・ウェルのサンプル・ウェルと前記複数のセンサーの対応するセンサーとの間の前記光学的な距離が、３０ｃｍ未満である、請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
前記サンプルが、複数の波長帯域のうちの１つの波長帯域の中の前記エミッション・エネルギーを放出する発光性タグからなり、
前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーが、前記複数の波長帯域を検出するサブ・センサーからなる、請求項１３に記載の装置。
【請求項１６】
前記複数のセンサーのそれぞれのセンサーが、少なくとも２つのサブ・センサーからなる、請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記機器が、少なくとも１つの波長依存エレメントをさらに含み、前記少なくとも１つの波長依存エレメントは、第１の波長のエミッション・エネルギーを前記少なくとも２つのサブ・センサーの第１のサブ・センサーに向けて方向付けし、第２の波長のエミッション・エネルギーを前記少なくとも２つのサブ・センサーの第２のサブ・センサーに向けて方向付けする、請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
前記少なくとも１つの波長依存エレメントが、回折光学素子及びスペクトル・フィルターを含んでなる、請求項１７に記載の装置。
【請求項１９】
前記少なくとも１つの励起供給源が、パルス光を放出する、請求項１６〜１８のいずれか１項に記載の装置。
【請求項２０】
第１のサンプルに関連付けられる第１の発光性タグは、第１の波長の光によって励起されるが、第２の波長の光によって励起されず、
第２のサンプルに関連付けられる第２の発光性タグは、前記第２の波長の光によって励起されるが、前記第１の波長の光によって励起されない、請求項１６〜１８のいずれか１項に記載の装置。