【手続補正書】
【提出日】平成29年5月15日(2017.5.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線／ガンマ線撮像装置であって、  入射したＸ線／ガンマ線の波長の光子を直接電気信号に変換するように構成された要素を含むＸ線／ガンマ線の検出器と、  被試験物質のための位置と、  Ｘ線／ガンマ線の線源と、  Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された構造と、 を備え、  Ｘ線／ガンマ線の検出器、被試験物質のための位置、Ｘ線／ガンマ線の線源、及び前記構造のそれぞれは、共通軸上に位置し、  Ｘ線／ガンマ線の線源は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルが共通軸に沿って方向づけられ、要素、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された前記構造、及び位置決めされた被試験物質に当たるように配置され、 前記構造は、Ｘ線／ガンマ線の線源と要素との間に、かつ被試験物質のための位置の一方の側に存在し、 前記構造は、共通軸に交差し、 前記構造は、少なくとも３つの隣接領域を含み、  各領域は、すぐ隣りの領域とは異なっており、かつＸ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを異なる様式で擾乱させるように構成されることを特徴とするＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２】
Ｘ線／ガンマ線の線源は、広帯域線源であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項３】
前記構造の少なくとも３つの領域は、互いの横方向に位置することを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項４】
前記構造の少なくとも３つの領域は、２つの直交する方向において、互いの横方向に位置することを特徴とする請求項３に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項５】
前記構造の少なくとも３つの領域は、アレイ状に形成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項６】
アレイは、ｘ×ｙのアレイを含み、ｘ及びｙの倍数は、３以上であることを特徴とする請求項５に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項７】
前記構造において、アレイは、反復することを特徴とする請求項５に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項８】
前記構造は、多数のアレイを含むことを特徴とする請求項５に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項９】
個々の領域は、１つ又は２つ以上のＸ線／ガンマ線擾乱素子をそれぞれ含むことを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１０】
Ｘ線／ガンマ線擾乱素子が、同一であるか、又は異なっていることを特徴とする請求項９に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１１】
前記構造は、平坦であるか、又は非平坦であることを特徴とする請求項１〜１０のいずれか一項に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１２】
前記構造は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルのエネルギー分布と強度の両方を擾乱させるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１３】
前記構造の隣接領域間の差異は、隣接領域における前記構造の材料の厚さの差異を含むことを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１４】
領域の厚さは、前記構造にわたって、少なくとも１つの方向において、連続的に変化することを特徴とする請求項１３に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１５】
領域の厚さは、前記構造にわたって、２つの直交する方向において、連続的に変化することを特徴とする請求項１４に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１６】
隣接領域間の差異は、前記構造の個々の隣接領域の形成材料の差異を含むことを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１７】
前記構造の個々の領域は、個別の層を含むことを特徴とする請求項１３に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１８】
前記個別の層の厚さは、領域間、及び／又は１つの領域内で異なることを特徴とする請求項１７に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項１９】
前記構造は、複数の個別の層を含み、個別の層のうちの少なくとも１つは、少なくとも１つの開口部を有することを特徴とする請求項１７に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２０】
前記複数の個別の層は、少なくとも１つの開口部を有し、 前記構造内の異なる層の開口部は、寸法が異なることを特徴とする請求項１９に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２１】
前記構造は、カウントレートを擾乱させる一方で、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルのエネルギー分布を保持するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２２】
前記構造は、コリメータであり、前記構造の少なくとも３つの領域のそれぞれは、すぐ隣りの領域の開口部とは異なった大きさの開口部を有し、  隣接する開口部は、Ｘ線／ガンマ線を吸収する材料によって分離され、 前記構造は、少なくとも２つの異なる大きさの開口部を有することを特徴とする請求項２１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２３】
前記構造は、Ｘ線／ガンマ線を吸収する材料からなる板を有し、板には開口部が形成されていることを特徴とする請求項２２に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２４】
前記構造は、タングステン、金、又は鉛のうち選択された一種から形成されることを特徴とする請求項２１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２５】
Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルに吸収端及び蛍光ピークを生成する手段を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２６】
Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルに吸収端及び蛍光ピークを生成する手段は、前記構造内に含まれていることを特徴とする請求項２５に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２７】
前記構造の少なくとも３つの領域は、異なった吸収端及び蛍光ピークをそれぞれ有することを特徴とする請求項２６に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項２８】
物質の物質特性を判定する方法であって、  ａ）請求項１に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置内に物質を位置決めする工程と、  ｂ）Ｘ線／ガンマ線の線源に、共通軸に沿ってＸ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを方向づけさせる工程と、  ｃ）入射したＸ線／ガンマ線の波長の光子を電気信号に変換するように構成された要素によって、出射された電気信号を分析する工程と、  ｄ）要素のダイナミックレンジ外の電気信号を消去する工程と、  を含むことを特徴とする方法。
【請求項２９】
要素を画素化することで得られた画素についての電気信号を分析する工程と、  要素のダイナミックレンジ外の電気信号を消去する工程と、  を更に含むことを特徴とする請求項２８に記載の方法。
【請求項３０】
電気信号が消去された要素の各画素に、要素のダイナミックレンジ内の、隣接する画素の電気信号を割り当てる工程を更に含むことを特徴とする請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
電気信号が消去された要素の各画素に、周囲の画素の電気信号から内挿及び外挿の一方をした電気信号を割り当てる工程を更に含むことを特徴とする請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
最も近くに隣接する画素、又は同一の物質特性を有する領域に関連した最も近くに隣接する画素から、電気信号の選択、内挿又は外挿を行うことを特徴とする請求項３０に記載の方法。
【請求項３３】
入射したＸ線／ガンマ線の波長の光子を直接電気信号に変換するように構成された要素を含むＸ線／ガンマ線の検出器と、 被試験物質のための位置と、 Ｘ線／ガンマ線の線源と、 Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された構造と、 を備え、 Ｘ線／ガンマ線の検出器、被試験物質のための位置、Ｘ線／ガンマ線の線源、及び前記構造のそれぞれは、共通軸上に位置し、 Ｘ線／ガンマ線の線源は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルが共通軸に沿って方向づけられ、要素、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された前記構造、及び位置決めされた被試験物質に当たるように配置され、 前記構造は、Ｘ線／ガンマ線の線源と要素との間に、かつ被試験物質のための位置の一方の側に存在し、 前記構造は、共通軸に交差し、 前記構造は、少なくとも３つの隣接領域を含み、 各領域は、すぐ隣りの領域とは異なっており、かつＸ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを異なる様式で擾乱させるように構成されるＸ線／ガンマ線撮像装置であって、 ａ）Ｘ線／ガンマ線撮像装置内に物質を位置決めする工程と、 ｂ）Ｘ線／ガンマ線の線源に、共通軸に沿ってＸ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを方向づけさせる工程と、 ｃ）入射したＸ線／ガンマ線の波長の光子を電気信号に変換するように構成された要素によって、出射された電気信号を分析する工程と、 ｄ）要素のダイナミックレンジ外の電気信号を消去する工程と、 を含む方法を行うように構成された画像処理ソフトウェアと、  データ処理装置と、  を更に備えることを特徴とするＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項３４】
データベースを更に備えることを特徴とする請求項３３に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。
【請求項３５】
データ記録手段を更に備えることを特徴とする請求項３３に記載のＸ線／ガンマ線撮像装置。