(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザを記録データに応じた記録パワーで駆動して記録媒体に記録を行なう記録手段と、
この記録手段による記録パワーを制御する記録パワー制御手段と、
前記記録手段によってあらかじめ記録された試し書きデータから得られる再生信号のピーク値とボトム値を検出するピークボトム検出手段と、
このピークボトム検出手段からの情報に基づき再生波形のスライスレベルを生成するスライスレベル生成手段と、
このスライスレベル生成手段の出力の変化が予め定められた基準値内または基準値外に有することを検出するスライスレベル変化検出手段と、
このスライスレベル変化検出手段の出力に応じて、前記記録パワー制御手段の最適な記録パワーレベルを確定するパワーレベル確定手段と、
を具備し、
前記試し書きデータの記録は、前記記録パワーを段階的に変化させて行なうようにし、前記試し書きデータの中に各記録パワー段階のパワーレベルに応じた情報を混入し、このパワーレベルに応じた情報と前記スライスレベル変化検出手段の情報とを用いて、前記記録パワー制御手段の最適な記録パワー段階を確定することを特徴とする光磁気記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は記録媒体に記録再生を行う情報記録再生装置に係わり、特に熱的記録によって高精度で記録媒体に記録データを記録する光磁気記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光磁気記録や相変化記録のように、記録データに応じて記録パワーの強度を変化させて記録する熱的記録方法においては、記録媒体の膜特性や形状、環境温度変化によって記録媒体に対する記録感度が変動することにより記録マークの形状が変化して、再生信号の読み取りエラーが増大するという問題がある。このような問題を解決するために、特開平５−２９８７３７号公報は、予め記録媒体の所定の位置に試し書きを行い、試し書きにより得られる再生信号と試し書きデータを比較して、記録パワーを最適記録条件に適合させた後、正規の情報の記録を行う方法を開示している。
【０００３】
以下にこの従来例について図７を参照して説明する。
【０００４】
図７は従来の光磁気記録装置の構成を示すもので、情報を記憶させるための記録媒体７０と、記録再生を実現すべくレーザ７２から出射される光を記録媒体７０上に絞り込む光ヘッド７１と、この光ヘッド７１から得られた再生信号を情報に変換する処理系から構成される。
【０００５】
情報の記録時には入力データビット列が符号器７６に入力され、符号器７６から出力される記録符号列が記録波形発生器７５に導かれ、記録波形生成器７５によって得られる図８のような記録波形がＡＰＣ（記録パワー制御手段）７４に入力され、レーザ駆動器７３を介して記録符号に応じた記録パワーのレーザがレーザ７２から出力されて記録が行われる。再生時には、記録媒体７０から反射された光が受光器８０に導かれて電気信号に変換され、再生アンプ８１に入力された後、波形等化器８２と入力切替器８３に出力される。入力切替器８３は、試し書き指令信号に応じて、再生アンプ８１と波形等化器８２とを通過した信号、または再生アンプ８１のみを通過した信号を整形器８４に出力して２値化パルス信号を得る。
【０００６】
該パルス信号は、弁別器８５とＰＬＬ７９に入力され、ＰＬＬ７９から出力されるパルス信号に同期したクロック信号も弁別器８５に入力される。弁別器８５は、上記パルス信号と同期クロック信号から再生符号列を生成し、復号器８６によりデータビット列を出力する。また、弁別器８５の再生符号列は比較判別器７７に出力される。比較判別器７７は試し書き指令信号により動作する試し書き器７８からの試し書きデータの符号列と弁別器８５からの再生符号列とを比較して、両符号列の差異が無くなるようにＡＰＣ７４を制御して記録パワーを制御する。
【０００７】
なお、上述のような例では比較判別器７７による符号の判別が複雑となるため、２値化する前の再生波形のエンベロープ上側包絡線と下側包絡線から再生波形の中心値を演算して、記録パワー変動による再生波形の平均ＤＣレベル変化を利用して記録パワーの制御を簡易的に行なう方法についても記載している。
【０００８】
即ち、最密パターンと最疎パターンとを試し書き信号として記録し、再生した最密パターンの中心値と最疎パターンの中心値とを検出保持する。次に最密パターンの中心電圧と最疎パターンの中心電圧との差電圧を求め、この差電圧をアナログデジタル変換して図示せぬドライブ制御回路に取り込み、該差電圧が０となるようにドライブ制御回路よりＡＰＣ７４を制御する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の試し書き手段による記録パワーの制御方法では、前記の再生信号の中心値を利用した制御方法を用いたとしても以下のような問題がある。
【００１０】
すなわち、試し書きに用いる最密パターンと最疎パターンの再生信号の上側包絡線及び下側包絡線より再生波形の中心値を演算検出して保持する場合に、各パターン区間で中心値を保持する機能及び保持するためのドライブ制御回路等の外部からのタイミング信号が必要となる。このため、記録パワー制御手段の外部からの制御も複雑となり、最適な記録パワーレベルの制御のための回路が複雑になったり、低コスト化や小型化が困難になる問題があった。また、再生信号の中心値データを演算して保持する機能が必要なため、短時間に精度の高い記録パワー制御を行なうことができない問題があった。
【００１１】
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたもので、記録パワー制御手段の外部からの制御に必要なタイミング信号を減らして簡単な回路構成でかつ最適な記録パワーレベルの検出を高速で行える光磁気記録装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明の光磁気記録装置は、半導体レーザを記録データに応じた記録パワーで駆動して記録媒体に記録を行なう記録手段と、この記録手段による記録パワーを制御する記録パワー制御手段と、前記記録手段によってあらかじめ記録された試し書きデータから得られる再生信号のピーク値とボトム値を検出するピークボトム検出手段と、このピークボトム検出手段からの情報に基づき再生波形のスライスレベルを生成するスライスレベル生成手段と、このスライスレベル生成手段の出力の変化が予め定められた基準値内または基準値外に有することを検出するスライスレベル変化検出手段と、このスライスレベル変化検出手段の出力に応じて、前記記録パワー制御手段の最適な記録パワーレベルを確定するパワーレベル確定手段とを具備し、前記試し書きデータの記録は、前記記録パワーを段階的に変化させて行なうようにし、前記試し書きデータの中に各記録パワー段階のパワーレベルに応じた情報を混入し、このパワーレベルに応じた情報と前記スライスレベル変化検出手段の情報とを用いて、前記記録パワー制御手段の最適な記録パワー段階を確定する。
【００１５】
【作用】
すなわち、本発明の光磁気記録装置は、記録パワーを制御しつつ記録データに応じた記録パワーで半導体レーザを駆動して記録媒体に記録を行なうにあたって、試し書きデータをあらかじめ記録し、この試し書きデータから得られる再生信号のピーク値とボトム値を検出する。次に、検出されたピーク値とボトム値に関する情報に基づき再生波形のスライスレベルを生成し、生成されたスライスレベルの変化が予め定められた基準値内または基準値外に有することを検出して、この検出結果に応じて最適な記録パワーレベルを確定するものである。このとき、前記試し書きデータの記録は、前記記録パワーを段階的に変化させて行なうようにし、前記試し書きデータの中に各記録パワー段階のパワーレベルに応じた情報を混入し、このパワーレベルに応じた情報と前記スライスレベル変化検出手段の情報とを用いて、前記記録パワー制御手段の最適な記録パワー段階を確定する。
【００１８】
したがって、再生信号のスライスレベルの変化を検出するのみで、試し書きデータを書いた時の最適な記録パワーのデータ位置を容易に確定することが可能となり、簡単な回路構成で短時間での記録パワー制御が可能となる。
【００１９】
また、記録パワー制御手段以外からの制御を簡素化して、ドライブ制御回路の負担を軽減できる。
【００２０】
【実施例】
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。まず、本発明の第１実施例を説明する。
【００２１】
図１は本発明の第１実施例の回路構成を示す図である。光ヘッド２は半導体レーザ４から出射される光を記録媒体１上に絞り込む。情報の記録時は入力データビット列が記録データ符号器１８に入力され、この記録データ符号器１８から出力される記録符号列はスイッチ２３を介して記録波形発生器１６に入力され、記録波形発生器１６からは図８に示すような記録データに応じてパルス幅、パルス振幅の変化する記録波形が出力される。
【００２２】
即ち、記録マークのエッジ部分に情報を持たせるマークエッジ記録を行う場合は、記録データにより書き込みマークの長さや幅が変化するため、一定振幅の光パルスでは、媒体上に蓄積される熱の影響等により媒体上の温度をデータの長さによらず一定に制御することができない。したがって、図９に例として示すような記録データにより、最適な発光パルス幅、パルス間隔を選んでデータによらず一定の幅、一定の長さのマークを形成できるような記録波形発生器１６が必要となる。記録波形発生器１６から出力された記録波形は、ＡＰＣ１５により半導体レーザ４からの発光振幅がドライブコントローラ１９からの指示値に従って制御されてレーザドライバ１４に伝えられ、記録媒体１に記録される。
【００２３】
一方、情報の再生時には、記録媒体１から反射された光が受光素子３に導かれて再生信号に変換される。該再生信号は再生アンプ５を通過した後、ＡＧＣ回路６により一定の振幅に制御される。ここで、通常のデータ再生時は、ＡＧＣ回路６の後に波形等価器７を通すことにより、光ヘッド２で劣化した再生信号の高周波成分を補正するが、補正する前の再生信号の方が記録マークの情報を忠実に反映するので、試し書きデータ再生時には、波形等価器６を通さない信号を後段の２値化コンパレータ９に入力できるように、試し書き指令信号により切り替わるスイッチ８が従来例と同じく設けてある。
【００２４】
２値化はアナログ再生信号を２値化コンパレータ９によりスライスレベルと比較することにより行われ、２値化された信号はＰＬＬ１０にも入力されて、再生信号と同期したクロックを生成することにより該クロックと比較されて２値化データが弁別読みだされ、復号器１１で符号コード変換されて出力データビットを得る。なお、本実施例では従来例に記載されている弁別部分は省略している。
【００２５】
この時、正確なマーク長さを検出するための最適スライスレベルは、マークエッジ記録において、一般に最密パターンの振幅の中央値のレベルが良いとされている。従って、図２のようなスライスレベル生成回路１３において、包絡線検出回路４１，４２によって最密パターンが続く部分（例えばディスクのＶＦＯ領域）の上下の包絡線を検出して加算回路４３で加算することにより再生信号振幅の中央値を求め、次にホールド回路４４によりこの中央値をホールドして、他のデータ部分をこの中央値でスライスする方法が一般に用いられている。
【００２６】
以上の回路構成は従来例とほぼ同じであるが、本実施例では、試し書き時に最適な記録パワーレベルを設定するために以下のような従来に無い回路を備えている。
【００２７】
即ち、試し書き命令信号により、ホールド回路４４のホールド状態を解いて再生信号の中央値を連続的に出力することが可能なスライスレベル生成器１３と、試し書き時には、再生信号に追従して連続して変化するスライスレベルの変化をある一定のしきい値と比較してスライスレベルの変化が一定量以上または以下になった時にスライスレベル判定信号としてのフラグ信号を出力するスライスレベル変化検出回路２０と、前記スライスレベル変化検出回路２０より出力されるフラグ信号とＰＬＬ１０より得られる再生信号に同期したクロック信号（再生クロック）を基に最適な記録パワーレベルを確定する最適パワー検出回路（パワーレベル確定手段）２１とが設けられている。
【００２８】
以下、本実施例の動作について、図４を参照しながら説明する。
【００２９】
図４において、（ａ）は試し書き時の記録パターンの一例を示しており、８Ｔの繰り返し最疎パターン（Ｔはデータのクロック間隔で、符号変調方式によりパターン長さは異なる）と、２Ｔの繰り返し最密パターンとの組み合わせで構成されている。
【００３０】
本実施例では８Ｔ列−２Ｔ列−８Ｔ列を一組として、図４（ｂ）に示すようにＰ１、Ｐ２、Ｐ３と段階的に記録パワーを変化させて試し書きを行っている。なお、データ列の組み合わせはこれに限定されるものではなく、他の組み合わせでも良い。
【００３１】
このようなデータパターンで記録すると、再生信号は（ｃ）のような再生エンベロープ波形となり、一般に記録パワーかオーバーパワーになる程、最密パターンの中心値は最疎パターンの中心値に対して上側にシフトするような傾向となる。
【００３２】
つまり、記録パワーが大きくなり最適な記録パワーレベルを上回ると、マーク長がマーク間隔よりも大きくなるが、最密パターンの再生時には光学的な分解能の限界により、正弦波のＤＣレベルが増えるような状態になる。一方、最疎パターンではマーク部とマーク間隔部のピークレベルは変化しないため、最密パターンの中心値よりも上側にシフトする。
【００３３】
従って、最適な記録パワーレベルでの記録時には、マーク間隔とマーク長はほぼ同じになるのでピークボトム検出等により求めた再生振幅の中央値に相当するスライスレベルの変化を連続的に検出すると図４（ｃ）に示すように変化する。これにより、スライスレベルの変動が予め設定した一定のしきい値内に入ったらパルスが出るように、図３に示すようなウインドウコンパレータ５０と再生エンベロープの谷を検出するための検出回路５１とのＡＮＤを取る回路５２を用いれば、図４（ｅ）のような最密パターンの中央値が最疎パターンの中央値と一致したことを示すフラグ信号を検出できる。
【００３４】
次に、最適パワー検出回路２１で、試し書きパターンの開始位置に対するフラグ信号の位置を再生クロック信号をカウントする事等により求めれば、フラグが記録パワー段階（記録パワーステップ）のどの位置で発生したかを知ることが可能となり、最適な記録パワーレベルの段階に関する情報をドライブコントローラ１９に伝えて保持させることが可能となる。
【００３５】
以上のように第１実施例に係る光磁気記録装置の記録制御方法を用いれば、２値化のためのスライスレベルの変化を検出することにより、容易に試し書き時の最適な記録パワーレベルを検出することが可能となり、ドライブコントローラ（例えば、ドライブ全体の制御を行うＣＰＵ）との情報交換は、試し書き命令と、最適な記録パワーレベルの設定信号のみで良く、従来のようなピークボトムホールドのためのタイミング信号や再生信号の振幅中心値のアナログデジタル変換信号等の多くの情報交換を必要としないので、ドライブコントローラの負担を大幅に軽減できる上、再生信号の処理を行うリードＩＣの回路規模も縮小することができる。
【００３６】
次に本発明の第２実施例について説明する。図５は、第２実施例の回路構成を示すものである。基本的な構成は第１実施例と同じであるが、試し書き時の記録パワーの指示及び最適な記録パワーレベルの検出が記録パワー設定回路５３のみで行われ、ドライブコントローラ１９を介することなく、記録パワー設定回路５３が直接、記録パワーを制御するＡＰＣ１５を制御している点が、第１実施例とは異なっている。
【００３７】
まず、記録パワー設定回路５３は、ドライブコントローラ１９より試し書き命令が来ると、図４（ａ），（ｂ）に示すような試し書きパターンをパワー指示値を段階的に変化させる指示信号をＡＰＣ１５に出力する。次に試し書き信号を再生した時、記録パワー設定回路５３はスライスレベル変化検出回路２０より検出した最適な記録パワー段階に関する情報を再生クロックをカウントすることにより割り出し、先に出力した記録パワー段階のうちどの段階であったかを判断し、その記録パワーレベルをホールドする。以後、次に試し書きを行うまでは半導体レーザ４を駆動するための最適な記録パワーレベルを記録パワー設定回路５３が出力する。
【００３８】
以上のような第２実施例のパワー制御方法を用いればドライブコントローラの判断を仰ぐこと無く、記録パワー設定回路が直接、試し書き時における記録パワーレベルの設定から最適な記録パワーレベルの決定，該記録パワーレベルの保持を行うため、第１実施例よりさらにドライブコントローラの負担が軽減できる上、記録パワー設定回路をリードＩＣ内に内蔵することも可能で、試し書きのための機能を単純な回路構成で実現できる。
【００３９】
さらに、ドライブコントローラとの情報交換の量を大幅に減らして、リードライト系の回路のみで最適な記録パワーレベルを直接設定できるようにしたため、より短時間で試し書きから最適な記録パワーレベルの設定までができるようになる。
【００４０】
次に本発明の第３実施例について説明する。第３実施例の回路構成は、第１実施例または第２実施例と同じであるが、試し書きパターンと、第１実施例の最適パワー検出回路２１及び第２実施例の記録パワー設定回路５３における最適な記録パワーレベルの設定方法とが第１及び第２実施例と異なる。
【００４１】
即ち、本実施例においては、図６に示すようなステップパターンを含んだ試し書きパターンを用いて記録を行う。ここでステップパターンとは、各記録パワーの段階を再生信号上で識別するために試し書きパターンの中に混入するもので、例えば、記録パワーの段階の違いにより繰り返しパルス幅の異なる信号を用いる。
【００４２】
このような試し書きパターンを用いれば、試し書き信号の再生時に、再生クロックをカウントしなくても、スライスレベル変化検出回路で最適なパワーポイントを検出した時点のステップパターンを見ることにより、容易にかつ迅速に最適な記録パワーの段階を判定することができるようになる。
【００４３】
【発明の効果】
本発明の光磁気記録装置によれば、再生信号のスライスレベルの変化を検出するのみで、試し書きデータを書いた時の最適な記録パワーレベルを容易に確定することが可能となり、簡単な回路構成で短時間に記録パワーの設定が可能となる。
【００４４】
また、ドライブ制御回路に対する入出力の情報量も減らすことが可能となり、ドライブ制御回路の負担を軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例に係る光磁気記録装置の構成を示す図である。
【図２】スライスレベル生成回路の構成を示す図である。
【図３】スライスレベル変化検出回路の構成を示す図である。
【図４】本発明の第１実施例の動作を説明するための図である。
【図５】本発明の第２実施例に係る光磁気記録装置の構成を示す図である。
【図６】本発明の第３実施例を説明するための図である。
【図７】従来の光磁気記録装置の構成を示す図である。
【図８】記録波形生成器によって生成される記録波形を示す図である。
【図９】データによらず一定の幅、一定の長さのマークを形成する方法を説明するための図である。
【符号の説明】
９…２値化コンパレータ、１２…ピークボトム検出回路、１３…スライスレベル検出回路、１４…レーザドライバ、１５…記録パワー制御手段（ＡＰＣ）、２０…スライスレベル変化検出回路、２１…最適パワー検出回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0003544578.tif 000008
【図８】
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【図９】
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