(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象から発した光を分離して第１の光と第２の光を出力する分離光学系と、
前記第２の光の光路長に比較して長い光路長の光路を前記第１の光について設定する遅延光学系と、
前記分離光学系から出力された前記第２の光および前記遅延光学系から出力された前記第１の光それぞれが形成する前記測定対象の像を結像面上の互いに重ならない領域に結像する合成光学系と、
前記結像面上に結像された前記第１の光と前記第２の光それぞれが形成する前記測定対象の像を同時刻に撮像する撮像部と、
を備えることを特徴とする時間分解イメージング装置。
【請求項２】
前記撮像部で撮像された前記第１の光と前記第２の光それぞれが形成する前記測定対象の像を入力し、前記第１の光と前記第２の光それぞれが形成する前記測定対象の像に基づいて前記測定対象から発した光の時間変化特性を求める演算処理部を更に備える、ことを特徴とする請求項１記載の時間分解イメージング装置。
【請求項３】
前記遅延光学系は、前記第１の光について設定する光路の光路長を変化させる光路長可変手段を備える、ことを特徴とする請求項１記載の時間分解イメージング装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、パルス状の励起光が照射された蛍光物質から発生する蛍光のように時間変化する光学像の時間変化特性を測定する時間分解イメージング装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
蛍光物質を含む測定対象にパルス状の励起光を照射すると、その測定対象に含まれる蛍光物質から蛍光が発生する。その蛍光の強度は、励起光照射時刻からの経過時間に従って変化し次第に弱くなる。その蛍光の寿命を測定することにより、蛍光物質を同定することも可能である。又、測定対象から発する蛍光を２次元の像として捉え、蛍光像の各位置における蛍光寿命を測定することにより、測定対象中の蛍光物質の分布を知ることもできる。
【０００３】
従来の時間分解イメージング装置（例えば、Ｘｕｅ  Ｆｅｎｇ  Ｗａｎｇ，  ｅｔ  ａｌ．，  Ｃｒｉｔｉｃａｌ  Ｒｅｖｉｅｗｓ  ｉｎ  Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ，  ２３（５），  ３６９−３９５  （１９９２））は、このようにパルス状の励起光で照射された測定対象中の蛍光物質から発生する蛍光の強度が時間経過に従って減衰していく様子を、以下のようにして各時刻において２次元の像として撮像するものであった。即ち、高速シャッタカメラを用いて、測定対象にパルス状の励起光を照射した時刻を基準として各時刻に高速シャッタカメラのシャッタを開き、各時刻における蛍光像を撮像する。図６は、従来の時間分解イメージング法の説明図である。図６（ａ）は、蛍光強度の時間変化を示す図であり、図６（ｂ）は、パルス状の励起光の強度の時間変化を示す図であり、図６（ｃ）は、高速シャッタカメラで撮像される蛍光の強度の説明図であり、図６（ｄ）は、高速シャッタカメラのシャッタを開くタイミングの説明図である。尚、これらの図において、横軸は、パルス状の励起光が測定対象に照射された時刻を基準とする経過時間であり、スケールは同一である。
【０００４】
図６（ｂ）に示すようにパルス状の励起光が測定対象に照射されると、測定対象中の蛍光物質から蛍光が発生し、その蛍光の強度の時間変化は、図６（ａ）に示すように時間の経過に従って減衰する。蛍光が単一の寿命τを有するものであれば、その蛍光強度Ｆ（ｔ）は、
Ｆ（ｔ）＝Ａ・ｅｘｐ（−ｔ／τ）        …  （１）
のように指数関数で表される。ここで、ｔは、パルス状の励起光が測定対象に照射された時刻を基準とする時間変数である。
【０００５】
高速シャッタカメラに、図６（ｄ）に示すように時刻ｔｄ  からゲート幅ΔＴの期間にゲートパルスを入力すると、高速シャッタカメラのシャッタが、その時間の間だけ開き、図６（ｃ）に示すように、その時の蛍光強度Ｄｄを測定する。そこで、時刻ｔ１からゲート幅ΔＴの期間だけゲートパルスを高速シャッタカメラに入力してシャッタを開き蛍光強度Ｄ１を測定し、同様に、時刻ｔ２からゲート幅ΔＴの期間だけゲートパルスを高速シャッタカメラに入力してシャッタを開き蛍光強度Ｄ２を測定する。これら蛍光強度Ｄ１、Ｄ２は、（１）式をゲートパルス入力期間の間で積分した値となり、
Ｄ１＝Ａτ・ｅｘｐ（−ｔ１／τ）・（１−ｅｘｐ（−ΔＴ／τ））    …  （２）
Ｄ２＝Ａτ・ｅｘｐ（−ｔ２／τ）・（１−ｅｘｐ（−ΔＴ／τ））    …  （３）
で表される。これらから、蛍光寿命τと係数Ａは、
τ＝（ｔ２−ｔ１）／ｌｎ（Ｄ１／Ｄ２）                    …  （４）
Ａ＝Ｄ１／｛τ・ｅｘｐ（−ｔ１／τ）・（１−ｅｘｐ（−ΔＴ／τ））｝    …  （５）なる式で得られる。（４）式から分かるように、蛍光寿命τは、高速シャッタカメラに入力するゲートパルス幅ΔＴには依らず、時刻ｔ１、ｔ２、および、これらの各時刻における蛍光強度Ｄ１、Ｄ２とから求められる、
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の時間分解イメージング装置では、１パルスの励起光に対する各時刻における複数の蛍光像を撮像することは困難であるので、異なるパルスの励起光に対して各時刻における蛍光像を撮像する。しかし、蛍光物質に励起光が繰り返し照射されると褪色が起こり、その蛍光物質が励起光を吸収する割合が減少して、発生する蛍光も減少するので、励起光のパルス毎に蛍光強度が異なり、従って、蛍光寿命を正確に測定することはできないという問題点があった。又、生物試料に蛍光物質を与えた場合や、ブラウン運動をする測定対象に蛍光物質が含まれる場合のように、蛍光物質が時間経過とともに移動する場合には、励起光のパルス毎に蛍光物質の分布が異なり、従って、このような場合には更に蛍光寿命を正確に測定することはできないという問題点があった。
【０００７】
これらの問題点に対処するため、測定対象の蛍光物質から発生した蛍光をビームスプリッタ等の分離光学系で分離し、分離されたそれぞれの蛍光の強度を、複数台の高速シャッタカメラで互いに異なる時刻に測定することも考えられる。しかし、この場合、システムが複雑となり、又、高額になるという問題点がある。
【０００８】
本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、１パルスの励起光の照射で蛍光寿命分布を正確に測定することができる時間分解イメージング装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係る時間分解イメージング装置は、（１）測定対象から発した光を分離して第１の光と第２の光を出力する分離光学系と、（２）第２の光の光路長に比較して長い光路長の光路を第１の光について設定する遅延光学系と、（３）分離光学系から出力された第２の光および遅延光学系から出力された第１の光それぞれが形成する測定対象の像を結像面上の互いに重ならない領域に結像する合成光学系と、（４）結像面上に結像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像を同時刻に撮像する撮像部と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項１に係る時間分解イメージング装置は上述のように構成されるので以下のように作用する。測定対象から発した光は、分離光学系で分離されて、第１の光と第２の光が出力される。第１の光は、遅延光学系で、第２の光の光路長に比較して長い光路長の光路を伝搬する。分離光学系から出力された第２の光および遅延光学系から出力された第１の光は、合成光学系により、それぞれが形成する測定対象の像が結像面上の互いに重ならない領域に結像される。この時、結像面上に結像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像は、何れも測定対象から発した光の像であり、両者の像は、遅延光学系で与えられた遅延時間の時間差を有する。結像面上に結像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像は、撮像部で同時刻に撮像される。
【００１１】
請求項２に係る時間分解イメージング装置は、撮像部で撮像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像を入力し、これらの像に基づいて測定対象から発した光の時間変化特性を求める演算処理部を更に備える。この場合、撮像部で撮像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像は、演算処理部に入力されて、測定対象から発した光の時間変化特性が得られる。
【００１２】
請求項３に係る時間分解イメージング装置では、遅延光学系は、第１の光について設定する光路の光路長を変化させる光路長可変手段を備える。この場合、第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象が結像面に到達する時間差は任意に設定され、撮像部は、測定対象から発した光の任意の時間差を有する２つの像を撮像する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。尚、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１４】
図１は、本発明に係る時間分解イメージング装置を光学顕微鏡と共に用いた場合の構成図である。図２は、蛍光像の分離・合成の説明図である。
【００１５】
本発明に係る時間分解イメージング装置は、（１）光学顕微鏡２０から出力された蛍光を分離して第１の蛍光と第２の蛍光を出力する分離光学系３０と、（２）第２の蛍光の光路長に比較して長い光路長の光路を第１の蛍光について設定する遅延光学系４０と、（３）分離光学系３０から出力された第２の蛍光および遅延光学系４０から出力された第１の蛍光それぞれが形成する像を、撮像部６０の撮像面６１上の互いに重ならない領域に結像する合成光学系５０と、（４）撮像面６１上に結像された第１の蛍光と第２の蛍光それぞれが形成する像を同時刻に撮像する撮像部６０と、（５）撮像部６０で撮像された第１の蛍光と第２の蛍光それぞれが形成する像を入力し、蛍光の時間変化特性を求める演算処理部７０と、を備えて構成される。
【００１６】
又、本発明に係る時間分解イメージング装置と共に、（１）測定対象２４に照射する励起光を出力する励起光源１０と、（２）励起光を測定対象２４に導き、測定対象２４中の蛍光物質から発生する蛍光を出力する光学顕微鏡２０と、が用いられる。
【００１７】
励起光源１０は、測定対象２４に照射するパルス状の励起光を出力する。この励起光の波長は、測定対象２４に含まれる蛍光物質の吸収領域内に含まれる。光学顕微鏡２０は、励起光源１０から出力されたパルス状の励起光を測定対象２４に導き、測定対象２４中の蛍光物質から発生する蛍光を出力する。即ち、励起光源１０から出力された励起光は、ダイクロイックミラー２１で反射され、対物レンズ２２を透過し、試料台２３上に置かれた測定対象２４に照射される。測定対象２４には、励起光波長に吸収領域を有する蛍光物質が予め投入されている。測定対象２４にパルス状の励起光が照射されると、その測定対象２４に含まれる蛍光物質から蛍光が発生する。その蛍光は、対物レンズ２２を透過し、ダイクロイックミラー２１を透過し、分光フィルタ２５を透過し、ミラー２６で反射して、更に、レンズ２７によってスリット３１の位置に結像される。尚、測定試料２４に照射され散乱した励起光も対物レンズ２２を透過するが、その散乱光の大部分は、ダイクロイックミラー２１で反射され、更に、分光フィルタ２１で吸収されるので、ミラー２６で反射されて光学顕微鏡２０外部に出力される励起光の散乱光の光量は極めて僅かである。従って、スリット３１の位置には、測定試料２４から発生した蛍光の像が結像される。
【００１８】
ここで、スリット３１の作用について図２を用いて説明する。図２（ａ）は、スリット３１の位置に結像された蛍光像の形状等を示す図であり、図２（ｂ）は、スリット３１の形状を示す図であり、図２（ｃ）は、撮像部６０の撮像面６１における蛍光像を説明する図である。スリット３１の位置に結像される蛍光像は、図２（ａ）に示す円領域Ａであり、スリット３１が存在しないとした場合に撮像部６０で撮像可能な蛍光像の範囲は、図２（ａ）に示す長方形領域Ｂである。スリット３１は、その中央付近に、長方形領域Ｂのサイズの半分あるいは半分以下の面積を有する長方形の孔部Ｄを有する。従って、スリット３１位置に結像された蛍光像の内、孔部Ｄの部分だけが、スリット３１を通過する（図２（ａ）の領域Ｃの部分）。
【００１９】
分離光学系３０は、光学顕微鏡２０から出力されスリット３１の位置に一旦結像されスリット３１の孔部Ｄを通過した蛍光を分離して第１の蛍光と第２の蛍光を出力する。例えば、プリズムや偏光ビームスプリッタが用いられる。
【００２０】
遅延光学系４０は、分離光学系３０から出力された一方の第１の蛍光を入力し、第２の蛍光の光路長に比較して長い光路長の光路を第１の蛍光について設定する。例えば、レンズ、ミラー等を用いて適当に光路を設定することができる。
【００２１】
合成光学系５０は、分離光学系３０から出力された第２の蛍光および遅延光学系４０から出力された第１の蛍光それぞれを入力し、これらの蛍光それぞれが形成する測定対象２４の像を撮像部６０の撮像面６１上の互いに重ならない領域に結像する。例えば、プリズムや偏光ビームスプリッタが用いられる。
【００２２】
ここで、合成光学系５０によって撮像部６０の撮像面６１上に結像される蛍光像について、図２（ｃ）を用いて説明する。円領域Ｅは撮像面６１の光電面である。遅延光学系４０から出力された第１の蛍光が形成する測定対象２４の像は、その光電面の中央付近の長方形領域Ｆに、分離光学系３０から出力された第２の蛍光が形成する測定対象２４の像は、その光電面の中央付近の長方形領域Ｇに、それぞれ結像される。長方形領域Ｆと長方形領域Ｇは、互いに重ならない領域であって、共に光電面の有効領域（撮像部６０によって撮像可能な領域）内に含まれる。
【００２３】
撮像部６０は、このように撮像面６１上に結像された第１の蛍光と第２の蛍光それぞれが形成する測定対象２４の像を同時刻に撮像する。例えば、高速シャッタカメラが用いられる。演算処理部７０は、撮像部６０で撮像された第１の蛍光と第２の蛍光それぞれが形成する測定対象２４の像を入力し、測定対象２４から発した蛍光の時間変化特性を求める。
【００２４】
次に、本実施例に係る時間分解イメージング装置を用いた蛍光寿命測定方法について説明する。図３は、蛍光強度の時間変化の説明図である。図３（ａ）は、測定対象２４から発生した蛍光強度Ｆ０の時間変化を示す図であり、図３（ｂ）は、撮像部６０の撮像面６１における第２の蛍光の強度Ｆ２の時間変化を示す図であり、図３（ｃ）は、撮像部６０の撮像面６１における第１の蛍光の強度Ｆ１の時間変化を示す図であり、図３（ｄ）は、撮像部６０に与えられるゲートパルスのタイミングを示す図である。図３（ａ）ないし（ｄ）は何れも横軸が時間軸であり、図３（ａ）の時間軸は、測定対象２４にパルス状の励起光が照射された時刻を基準とし、図３（ｂ）ないし（ｄ）の時間軸は、第２の蛍光が分離光学系３０と合成光学系５０を経由して撮像装置６０の撮像面６１に到達する時刻を基準とする。
【００２５】
図３（ａ）に示すように、十分に短いパルス幅を有する励起光Ｅが励起光源１０から出力され測定対象２４に照射されると、測定対象２４中の蛍光物質から蛍光が発生する。その蛍光の強度Ｆ０は、前述の（１）式に示すように蛍光寿命τをもって時間ｔと共に減衰する。この蛍光強度変化の様子は、撮像部６０の撮像面６１においても同様である。但し、図３（ｂ）と図３（ｃ）に示すように、第１の蛍光の強度変化Ｆ１は、第２の蛍光の強度変化Ｆ２に比べて、遅延光学系４０で与えられた遅延時間δだけ遅れる。
【００２６】
そこで、図３（ｄ）に示すように、時刻ｔ２から時間ΔＴの期間だけ、撮像部６０にゲートパルス信号を入力し撮像部６０のシャッタを開き、その期間における撮像面６１上の像を撮像する。撮像部６０に与えられるゲートパルス信号は、例えば、励起光源１０におけるパルス状の励起光を出力するタイミングを表す信号を適当に遅延させることによって生成される。第２の蛍光の像については、励起光が測定対象２４に照射されて時間ｔ２経過後から時間ΔＴの期間の蛍光強度Ｆ２の積分値Ｄ２が、図２（ｃ）に示すように撮像面６１の長方形領域Ｇに得られる。第１の蛍光の像については、励起光が測定対象２４に照射されて時間ｔ１（＝ｔ２−δ）経過後から時間ΔＴの期間の蛍光強度Ｆ１の積分値Ｄ１が、図２（ｃ）に示すように撮像面６１の長方形領域Ｆに得られる。ここで、第１の蛍光の強度Ｆ１を測定する為に、ｔ１＝ｔ２−δ≧０であることが必要である。又、撮像部６０に入力するゲートパルス信号のタイミングｔ２と、遅延光学系４０によって第１の蛍光に与えられる遅延時間δとを適当に調整することによって、実時間の時間分解イメージングが実現される。
【００２７】
演算処理部７０は、このようにして得られた第１の蛍光の像の蛍光強度分布Ｄ１と第２の蛍光の像の蛍光強度分布Ｄ２とから、前述の（４）式を用いて、測定対象２４上の各位置における蛍光寿命τあるいは蛍光物質の分布を求めることができる。尚、（４）式の計算に際して、その分子にある遅延時間δ（＝ｔ２−ｔ１）は、遅延光学系４０において設定される光路の光路長から予め求めておくことができる。又、（４）式の分母にある自然対数関数の計算については、ルックアップテーブルを用いたり或いは専用ＬＳＩを用いることにより、高速に計算をすることができる。更に、割算についても、専用ボードや専用ＬＳＩを用いることにより高速に計算することができる。このようにして、（４）式の計算を高速で行うことができ、測定対象２４上の各位置における蛍光寿命τあるいは蛍光物質の分布を実時間（テレビレート）で観測することができる。
【００２８】
次に、演算処理部７０における演算結果として得られる蛍光寿命分布を説明する。図４は、演算処理部によって得られる蛍光寿命分布の模式図である。図４（ａ）は、演算処理部で得られた蛍光寿命の分布図であり、図４（ｂ）は、蛍光寿命が長い蛍光成分の減衰曲線であり、図４（ｃ）は、蛍光寿命が短い蛍光成分の減衰曲線である。図４（ａ）に示すように、蛍光寿命の長短に応じた濃淡で、蛍光寿命の分布が得られる。即ち、図４（ａ）で、淡い表示部分が、蛍光寿命が長い蛍光が発せられている箇所であり（図４（ｂ））、濃い表示部分が、蛍光寿命が短い蛍光が発せられている箇所である（図４（ｃ））。尚、蛍光寿命分布を濃淡でなくて色調で表示してもよい。
【００２９】
次に、分離光学系３０、遅延光学系４０および合成光学系５０について具体的に説明する。図５は、分離光学系、遅延光学系および合成光学系の構成図である。
【００３０】
分離光学系３０は、対物レンズＯＬ（焦点距離ｆ１）、偏光解消板ＰＲ、および、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１、からなる。遅延光学系４０は、フィールドレンズＦＬ２（焦点距離ｆ４）、リレーレンズＲＬ１（焦点距離ｆ５）、ミラーＭ１、フィールドレンズＦＬ４（焦点距離ｆ６）、ミラーＭ２、リレーレンズＲＬ２（焦点距離ｆ５）、および、フィールドレンズＦＬ３（焦点距離ｆ４）、からなる。合成光学系５０は、フィールドレンズＦＬ１（焦点距離ｆ３）、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２、および、結像レンズＩＬ（焦点距離ｆ２）、からなる。
【００３１】
スリット３１の孔部を通過した蛍光は、対物レンズＯＬを透過し、偏光解消板ＰＲを透過し、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１で第１の蛍光と第２の蛍光に分離される。ここで、偏光解消板ＰＲは、例えば、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１の光学軸に対し４５度の方向の直線偏光成分を出力する偏光子であり、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１は、この直線偏光の蛍光を入力して、蛍光のＰ成分をそのままの方向に出力し、蛍光のＳ成分を入射方向とは異なる方向に反射させる。或いは、偏光解消板ＰＲは、偏光子と４分の１波長板とを組み合わせたものであり、円偏光を出力するものとしてもよい。何れの場合も、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１から出力される第１の蛍光（Ｓ成分）と第２の蛍光（Ｐ成分）とは、互いに強度は等しくなる。
【００３２】
偏光ビームスプリッタＰＢＳ１から出力された第１の蛍光は、フィールドレンズＦＬ２を透過し、リレーレンズＲＬ１を透過し、ミラーＭ１で反射され、フィールドレンズＦＬ４を透過し、ミラーＭ２で反射され、リレーレンズＲＬ２を透過し、フィールドレンズＦＬ３を透過し、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２に入力する。
【００３３】
偏光ビームスプリッタＰＢＳ１から出力された第２の蛍光は、フィールドレンズＦＬ１を透過して、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２に入力する。
【００３４】
偏光ビームスプリッタＰＢＳ２に到達した第２の蛍光は、そのままの方向に透過し、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２に到達した第１の蛍光は反射されて、第１の蛍光と第２の蛍光とは偏光ビームスプリッタＰＢＳ２から同一の方向に出力され、結像レンズＩＬを透過して、撮像装置６０の撮像面６１上に、蛍光像Ｉ１、Ｉ２としてそれぞれ結像される。この時、結像レンズＩＬの光軸と、これを透過する第１の蛍光と第２の蛍光それぞれの光軸とが、スリット３１の孔部の幅ｄの半分の距離（ｄ／２）あるいはそれ以上に隔てられるように、各レンズや偏光ビームスプリッタＰＢＳ２を配置する。従って、撮像面６１上に第１の蛍光と第２の蛍光それぞれが形成する測定対象２４の像Ｉ１、Ｉ２は、互いに重なることはない。
【００３５】
ここで、スリット３１から対物レンズＯＬまでの光学距離をＬ１、対物レンズＯＬから偏光解消板ＰＲと偏光ビームスプリッタＰＢＳ１を経由してフィールドレンズＦＬ１までの光学距離をＬ２、フィールドレンズＦＬ１から偏光ビームスプリッタＰＢＳ２を経由して結像レンズＩＬまでの光学距離をＬ３、結像レンズＩＬから撮像面６１までの光学距離をＬ４、対物レンズＯＬから偏光解消板ＰＲと偏光ビームスプリッタＰＢＳ１を経由してフィールドレンズＦＬ２までの光学距離をＬ５、フィールドレンズＦＬ２からリレーレンズＲＬ１までの光学距離をＬ６、リレーレンズＲＬ１からミラーＭ１を経由してフィールドレンズＦＬ４までの光学距離をＬ７、フィールドレンズＦＬ４からミラーＭ２を経由してリレーレンズＲＬ２までの光学距離をＬ８、リレーレンズＲＬ２からフィールドレンズＦＬ３までの光学距離をＬ９、フィールドレンズＦＬ３から偏光ビームスプリッタＰＢＳ２を経由して結像レンズＩＬまでの光学距離をＬ１０、とする。
【００３６】
そして、スリット３１の位置で一旦結像された蛍光像を、撮像面６１の位置で再び結像させるために、各レンズの焦点距離と各レンズ間の光学距離との間の関係を以下のように設定する。即ち、対物レンズＯＬ（焦点距離ｆ１）について、Ｌ２＝Ｌ１・ｆ１／（Ｌ１−ｆ１）    …  （６）
Ｌ５＝Ｌ１・ｆ１／（Ｌ１−ｆ１）    …  （７）
フィールドレンズＦＬ２（焦点距離ｆ４）について、
Ｌ６＝Ｌ５・ｆ４／（Ｌ５−ｆ４）    …  （８）
リレーレンズＲＬ１（焦点距離ｆ５）について、
Ｌ７＝Ｌ６・ｆ５／（Ｌ６−ｆ５）    …  （９）
フィールドレンズＦＬ４（焦点距離ｆ６）について、
Ｌ８＝Ｌ７・ｆ６／（Ｌ７−ｆ６）    …  （１０）
リレーレンズＲＬ２（焦点距離ｆ５）について、
Ｌ８＝Ｌ９・ｆ５／（Ｌ９−ｆ５）    …  （１１）
フィールドレンズＦＬ３（焦点距離ｆ４）について、
Ｌ９＝Ｌ１０・ｆ４／（Ｌ１０−ｆ４）    …  （１２）
フィールドレンズＦＬ１（焦点距離ｆ３）について、
Ｌ３＝Ｌ２・ｆ３／（Ｌ２−ｆ３）    …  （１３）
結像レンズＩＬ（焦点距離ｆ２）について、
Ｌ１０＝Ｌ４・ｆ２／（Ｌ４−ｆ２）    …  （１４）
Ｌ３＝Ｌ４・ｆ２／（Ｌ４−ｆ２）    …  （１５）
更に、
Ｌ２＝Ｌ５                                                …  （１６）
Ｌ３＝Ｌ１０                                                …  （１７）
Ｌ６＝Ｌ９                                                …  （１８）
Ｌ７＝Ｌ８                                                …  （１９）
なる関係式を満たして各レンズは配置される。
【００３７】
このように各レンズが配置されると、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１を透過した第２の蛍光は、フィールドレンズＦＬ１の位置で結像し、更に、結像レンズＩＬによって撮像面６１の位置で結像する。偏光ビームスプリッタＰＢＳ１で反射した第１の蛍光は、フィールドレンズＦＬ２の位置で結像し、次に、リレーレンズＲＬ１によってフィールドレンズＦＬ４の位置で結像し、次に、リレーレンズＲＬ２によってフィールドレンズＦＬ３の位置で結像し、更に、結像レンズＩＬによって撮像面６１の位置で結像する。
【００３８】
又、スリット３１から撮像面６１までの第１の蛍光と第２の蛍光との間の遅延時間δは、
δ＝（Ｌ５＋Ｌ７＋Ｌ８＋Ｌ９）／ｃ    …  （２０）
で表される。ここで、ｃは光速である。この遅延時間δは、
Ｌ６＝Ｌ７＝Ｌ８＝Ｌ９＝２・ｆ５    …  （２１）
なる条件で最小となり、この時、遅延時間δは、
δ＝８・ｆ５／ｃ                                    …  （２２）
となる。
【００３９】
ここで、スリット３１、対物レンズＯＬ、偏光解消板ＰＲ、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１、フィールドレンズＦＬ１、フィールドレンズＦＬ２、フィールドレンズＦＬ３、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２、結像レンズＩＬ、及び、撮像部６０を、一体として固定台１００上に位置固定する。又、リレーレンズＲＬ１とＲＬ２とを移動台１１０上に載せ、ミラー１、フィールドレンズＦＬ４およびミラー２を別の移動台１２０上に載せて、移動台１１０および移動台１２０を上述の（６）式ないし（１９）式の関係を満たす範囲で光軸方向に移動可能にする。移動台１１０、１２０は、第１の蛍光について設定する光路の光路長を変化させることができる光路長可変手段である。
【００４０】
もし、当初（２１）式の関係を満たす位置にあった移動台１１０を、固定台１００の方向に距離Δｘだけ移動すると、移動台１２０も
0003554084.tif 000002
なる関係式を満たす位置に移動させる必要がある。但し、距離Δｘは、０≦Δｘ≦ｆ５である。ここで、Δｘ＝ｆ５とすると、（２１）式と（２３）式とから、距離Ｌ７とＬ８は無限大となり、遅延時間δも無限大となる。即ち、遅延時間δは、（２２）式で表される時間から無限大時間まで連続的に変化させることができる。しかし、距離Ｌ７とＬ８とを長くすれば、フィールドレンズＦＬ４の口径を大きくする必要があるので、現実的には、距離ΔｘをリレーレンズＲＬ１の焦点距離ｆ５以下の範囲にとどめる。
【００４１】
本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。分離光学系、遅延光学系および合成光学系は、図５で説明した構成に限られるものではない。例えば、分離光学系は、半透鏡と光減衰器とで構成してもよい。遅延光学系は、任意の個数のレンズや任意の個数のミラーとで構成してもよい。
【００４２】
又、本実施例では、蛍光物質から発した蛍光の蛍光寿命を測定するものとして説明したが、これに限られることなく、時間的に変化する任意の光学像を時間分解して撮像することができる。
【００４３】
又、撮像部で撮像するのは、異なる２つの時刻におけるそれぞれの像に限られることなく、分離光学系を複数段設けることにより、異なる３以上の時刻におけるそれぞれの像を撮像してもよい。
【００４４】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したとおり本発明によれば、測定対象から発した光を分離光学系で分離して第１の光と第２の光を出力し、遅延光学系により第２の光の光路長に比較して長い光路長の光路を第１の光について設定し、分離光学系から出力された第２の光および遅延光学系から出力された第１の光それぞれが形成する測定対象の像を合成光学系により撮像面上の互いに重ならない領域に結像し、撮像面上に結像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像を撮像部により同時刻に撮像する。これによって、時間変化する画像の異なる時刻における２つの像を撮像して、両者を比較観察することができる。更に、撮像部で撮像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像に基づいて演算処理部で処理することにより、測定対象から発した光の時間変化特性を求めることができる。又、遅延光学系が第１の光について設定する光路の光路長を変化させる光路長可変手段を備えることにより、撮像面上に結像された第１の光と第２の光それぞれが形成する測定対象の像の間に任意の遅延時間を設定することができる。
【００４５】
一方の光の像について遅延光学系によって遅延を与えるので、電気回路によって遅延を与える場合にみられるようなジッタが発生することがなく、正確な遅延を与えることができる。
【００４６】
蛍光の緩和過程のように寿命が短い映像であっても、１パルスの励起光が照射された後の蛍光発光について、時間差の短い異なる２つの時刻における像を撮像することが可能であり、これら２つの像から蛍光寿命を測定することができる。この場合、１パルスの励起光の照射に対する蛍光の２つの像を撮像し両者を比較するので、励起光照射により蛍光物質の褪色が発生しても問題とはならず、正確な蛍光寿命の測定が可能である。
【００４７】
又、生物試料に蛍光物質を与えた場合や、ブラウン運動をする測定対象に蛍光物質が含まれる場合のように、蛍光物質が時間経過とともに移動する場合であっても、１パルスの励起光の照射に対する蛍光の像を撮像するので、正確な蛍光寿命の測定が可能である。
【００４８】
更に、本発明では、１台の撮像部で同時に異なる２つの時刻における像を撮像するので、小型で安価な時間分解イメージング装置となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る時間分解イメージング装置を光学顕微鏡と共に用いた場合の構成図である。
【図２】蛍光像の分離・合成の説明図である。
【図３】蛍光強度の時間変化の説明図である。
【図４】演算処理部によって得られる蛍光寿命分布の模式図である。
【図５】分離光学系、遅延光学系および合成光学系の構成図である。
【図６】従来の時間分解イメージング法の説明図である。
【符号の説明】
１０…励起光源、２０…光学顕微鏡、２１…ダイクロイックミラー、２２…対物レンズ、２３…試料台、２４…測定対象、２５…分光フィルタ、２６…ミラー、２７…レンズ、３０…分離光学系、３１…スリット、４０…遅延光学系、５０…合成光学系、６０…撮像部、６１…撮像面、７０…演算処理部。
代理人弁理士  長谷川  芳樹
【図１】
0003554084.tif 000003
【図２】
0003554084.tif 000004
【図３】
0003554084.tif 000005
【図４】
0003554084.tif 000006
【図５】
0003554084.tif 000007
【図６】
0003554084.tif 000008