【事件の表示】
　特許第５７３５７９０号発明「眼科撮影装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５７３５７９０号の明細書、特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正明細書、特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正することを認める。
　特許第５７３５７９０号の請求項１ないし５に係る特許を維持する。
【理　由】
 第１　手続の経緯 
 
　特許第５７３５７９０号の請求項１ないし５に係る特許についての出願は、平成２２年１２月２日に特許出願され、平成２７年４月２４日にその特許権の設定登録がされ、その後、特許異議申立人より特許異議の申立てがされ、平成２８年３月９日付けで取消理由通知がされ、その指定期間内である同年５月１３日に意見書の提出及び訂正の請求があり、その訂正の請求に対して同年７月７日に特許異議申立人から意見書が提出され、さらに、同年８月３０日付けで取消理由通知（決定の予告）がされ、その指定期間内である同年１０月２８日に意見書の提出及び訂正の請求があり、その訂正の請求に対して平成２９年１月１２日に特許異議申立人から意見書が提出され、さらに、同年２月１７日付けで取消理由通知（決定の予告）がされ、その指定期間内である同年４月２０日に意見書の提出及び訂正の請求（以下、当該訂正の請求を「本件訂正請求」といい、本件訂正請求による訂正を「本件訂正」という。）があり、本件訂正請求に対して同年７月３日に特許異議申立人から意見書が提出されたものである。
第２　訂正の適否についての判断  
１　訂正の要旨
　本件訂正請求は、本件特許の明細書及び特許請求の範囲を、訂正請求書に添付した訂正明細書及び特許請求の範囲について、以下のとおり訂正することを求めるものである。（下線部は、訂正箇所を示す。）  
  
（１）本件訂正の内容 
ア　訂正事項１  
　特許請求の範囲の請求項１に、  
　「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する検出手段と、  
　を備えることを特徴とする眼科撮影装置。」とあるものを、  
　「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　
始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される
前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって
であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像
前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、
検
　
前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、
　
前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される
 
イ　訂正事項２  
　特許請求の範囲の請求項２に、  
　「第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段を備えることを特徴とする請求項１記載の眼科撮影装置。」とあるものを、  
　「
被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、
　
前記
３次元
記第
３次元
複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で
と、
　を備えることを特徴とする
眼科撮影装置
 
ウ　訂正事項３  
　特許請求の範囲の請求項４に、  
　「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における被検者眼の視線方向の変化を考慮して前記連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出することを特徴とする請求項１〜３記載のいずれかの眼科撮影装置。」とあるものを、  
　「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における
前記固視標投影ユニットによる
量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて
検
３
の
 
エ　訂正事項４  
　本件特許明細書の段落【０００９】に、  
　「（１）  
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する検出手段と、  
　を備えることを特徴とする。」 とあるものを、  
　「（１）  
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　
始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される
前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって
であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像
前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、
検
　
前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、
　
前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される
　
（２）
　
被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、
　
前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、
　
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
  
（２）一群の請求項について 
  
ア　特許請求の範囲の請求項１〜５は、（特許権の設定登録時の）請求項１と請求項２〜５とが、特許法施行規則第４５条の４に規定する関係を有する一群の請求項であるから、訂正事項１〜３に係る本件訂正請求は、請求項１〜５からなる一群の請求項ごとに特許請求の範囲の訂正を請求するものである。  
  
イ　訂正事項４は、本件特許明細書の段落【０００９】の記載を、本件訂正後の請求項１及び２に対応させる訂正をするものであって、請求項１及び２、並びに請求項１又は２を直接又は間接的に引用する請求項３〜５に関係するものであるから、訂正事項４に係る本件訂正請求は、請求項１〜５からなる一群の請求項の全てについて行うものである。  
　 
２　訂正の目的の適否、新規事項の有無及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否 
 
（１）訂正事項１について  
 
ア　訂正の目的の適否  
　訂正事項１は、「検出手段」を、「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　また、訂正事項１は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。  
　また、訂正事項１は、請求項１に、「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」という新たな構成を直列的に付加したものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　また、訂正事項１は、請求項１に、「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」という新たな構成を直列的に付加したものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　よって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものである。  
 
イ　新規事項の有無  
　訂正事項１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する」ことは、本件特許明細書の段落【００３２】、【００３５】、【００３６】、【００５１】、【００６８】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　また、訂正事項１の「前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ことは、本件特許明細書の段落【００３７】、【００４１】、【００５３】、【００５５】、【００５８】、【００６２】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　また、訂正事項１の「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」は、本件特許明細書の段落【００３８】、【００４１】、【００５１】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　また、訂正事項１の「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」ことは、本件特許明細書の段落【００６７】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　よって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。  
 
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否  
　さらに、訂正事項１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。  
 
（２）訂正事項２について  
  
ア　訂正の目的の適否  
　訂正事項２は、請求項２を、請求項１を引用する引用請求項形式から、独立請求項形式に改めるものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第４号に掲げる「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」に該当する。  
　また、訂正事項２は、「検出手段」を、「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　また、訂正事項２は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。  
　また、訂正事項２は、「照射位置補正手段」を、「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　よって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号、第２号及び第４号に掲げる事項を目的とするものである。  
  
イ　新規事項の有無  
　訂正事項２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する」ことは、本件特許明細書の段落【００３２】、【００３５】、【００３６】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　また、訂正事項２の「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ことは、本件特許明細書の段落【００３７】、【００４１】、【００５３】、【００５５】、【００５８】、【００６２】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　また、訂正事項２の「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」は、本件特許明細書の段落【００３８】、【００４１】、【００５１】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　よって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。  
 
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否  
　さらに、訂正事項２は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。  
  
（３）訂正事項３について  
 
ア　訂正の目的の適否  
　訂正事項３は、多数項（請求項１〜３）を引用している請求項４の引用請求項を１項（請求項３）に減少するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　また、訂正事項３は、「前記検出手段」を、「第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。  
　また、訂正事項３は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。  
　よって、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものである。  
  
イ　新規事項の有無  
　訂正事項３の「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出すること」は、本件特許明細書の段落【００４６】、【００４７】、【００６４】等の記載に基づいて導き出せる構成である。  
　よって、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。  
 
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否  
　さらに、訂正事項３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。  
 
（４）訂正事項４について  
  
ア　訂正の目的の適否  
　訂正事項４は、訂正事項１及び２に伴って、本件特許明細書の記載を特許請求の範囲の請求項１及び２に整合させるものであるから、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる「明瞭でない記載の釈明」に該当する。  
　よって、訂正事項４は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる事項を目的とするものである。  
 
イ　新規事項の有無  
　訂正事項４は、上記「（１）イ」及び「（２）イ」で述べたとおり、本件特許明細書の記載に基づいて導き出せる構成であるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。  
 
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否  
　訂正事項４は、上記「（１）ウ」及び「（２）ウ」で述べたとおり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。  
 
３　本件訂正の適否についての判断のまとめ  
　以上のとおりであるから、本件訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号〜４号に掲げる事項を目的とするものに該当し、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項までの規定に適合するので、本件訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正を認める。  
 
第３　取消理由通知に記載した取消理由について  
 
１　取消理由の概要  
　甲第１号証：特開２０１０−２６４２２５号公報（以下、「甲１」という。）
　甲第２号証：特開２０１０−１２１０９号公報（以下、「甲２」という。）
１−１　平成２８年３月９日付け取消理由の概要
（１）取消理由１  
　本件発明（特許権の設定登録時の特許請求の範囲の請求項に係る発明）１、２及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。  
 
（２）取消理由２  
　本件発明３は、甲１発明及び周知の技術（例えば、甲２）に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。 
 
（３）取消理由３  
　本件特許明細書の発明の詳細な説明（段落【０００６】、【０００７】、【００１１】〜【００７３】）には、第１撮像領域及び第２撮像領域を、前記各撮像領域にて取得する断層画像の各々からパノラマ断層画像を得ることを目的として、眼底Ｅｆ上に隣接させ、前記各撮像領域の一部が互いに重複するように設定し（段落【００３２】、【００６７】などを参照。）、前記第１撮像領域にて取得された第１概略画像と、前記第２撮像領域にて取得された第２概略画像との重複部分を利用したマッチングを行い、そのマッチング結果に基づいて、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と、前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と、の間の連続性に関するずれを検出すること（段落【００４０】、【００４１】、【００６２】などを参照。）が、課題解決手段として記載されているが、本件発明１〜３及び５は、上記課題解決手段が反映されていない。  
　よって、本件発明１〜３及び５は、発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて特許を請求するものであり、請求項１ないし３及び５の記載は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。  
 
（４）取消理由４  
　本件発明４は、「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における被検者眼の視線方向の変化を考慮して前記連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する」ことを特定しているが、ここでの「被検者眼の視線方向の変化を考慮して」という表現が具体性に欠けるため、その結果、本件発明４は、具体的に何を特定しようとしているのか明確でない。  
　よって、本件発明４は明確であるとはいえないため、請求項４の記載は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。  
１−２　平成２８年８月３０日付け取消理由の概要
（１）取消理由１  
　本件訂正発明（平成２８年５月１３日付け訂正請求書に添付した特許請求の範囲の請求項に係る発明）１及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。  
（２）取消理由２  
　本件訂正発明３は、甲１発明及び周知の技術（例えば、甲２）に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
１−３　平成２９年２月１７日付け取消理由の概要
（１）取消理由１  
　本件訂正発明（平成２８年１０月２８日付け訂正請求書に添付した特許請求の範囲の請求項に係る発明）１及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。 
（２）取消理由２
　本件特許明細書の発明の詳細な説明には、段落【００６８】に、第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる第２の撮像領域での断層画像を取得することが記載されているのみであり、本件訂正発明１は、「第１撮像領域における断層画像」と「第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」との位置関係が、垂直方向（ｙ方向）を除外するものと解することはできない。
　よって、本件訂正発明１及び３〜５は、発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて特許を請求するものであり、請求項１及び３〜５の記載は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
２　本件訂正発明  
　本件訂正請求により訂正された訂正請求項１〜５に係る発明（以下、それぞれ「本件訂正発明１」〜「本件訂正発明５」という。）は、本件訂正後の請求項１〜５に記載された事項により特定される次のとおりのものである。
「【請求項１】  
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、  
　前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、  
　前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得されることを特徴とする眼科撮影装置。  
【請求項２】  
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、  
　前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、  
　を備えることを特徴とする眼科撮影装置。  
【請求項３】  
　前記眼科撮影装置は、  
　固視標を有し、複数の方向に被検者眼を誘導可能な固視標投影ユニットを備え、  
　前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスは、被検者眼眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子により検出して眼底の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスであり、  
　固視標投影ユニットを制御して各撮像領域に対応する位置に視標を呈示する制御手段と、  
　各撮像領域にて取得された断層画像のパノラマを得るパノラマ画像作成手段と、  
　を備えることを特徴とする請求項１〜２記載のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項４】  
　前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出することを特徴とする請求項３記載の眼科撮影装置。  
【請求項５】  
　前記検出手段は、  
　断層撮像位置を含む被検者眼の概略画像を取得するために被検者眼からの反射光を得る光学系と、  
　第１撮像領域に対応する第１概略画像を基準画像として、第２撮像領域にて取得された第２の概略画像に対して、第１概略画像と第２概略画像との重複部分を利用したマッチングを行い、そのマッチング結果に基づいて前記連続性に関するずれを検出することを特徴とする請求項１〜４記載のいずれかの眼科撮影装置。」 
３　甲１に基づく新規性・進歩性についての判断 
　上記「１−１」の取消理由１及び２、上記「１−２」の取消理由１及び２並びに上記「１−３」の取消理由は、いずれも甲１を主引用例としていることから、本件訂正発明１〜５が、甲１発明を出発点として新規性及び進歩性を有するかを検討する。 
 
（１）甲１の記載  
　本件特許出願の出願前に頒布された刊行物である甲１には、図面とともに、次の事項が記載されている。（下線は、当審において付加したものである。）  
 
ア　「【００２１】  
 ＜第１の実施形態＞  
［構成］  
　図１及び図２に示すように、
眼底観察装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。
【００２２】  
〔眼底カメラユニット〕  
　図１に示す
眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられている。
【００２３】  
　眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、被検者の顔が動かないように支えるための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、
ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳをＯＣＴユニット１００に導く。 
・・・  
【００２９】  
　
ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することが可能である。
・・・  
【００３６】  
　ガルバノミラー４４は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳをｘ方向に走査する。ガルバノミラー４３は、信号光ＬＳをｙ方向に走査する。これら
二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。
【００３７】  
〔ＯＣＴユニット〕  
　図２に示す
ＯＣＴユニット１００には、眼底Ｅｆの断層像を取得するための光学系が設けられている。
・・・  
【００３９】  
　
光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。
・・・  
【００４２】  
　
ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波する。これにより生成された干渉光ＬＣは、
ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影される。
・・・  
【００４５】  
〔演算制御ユニット〕  
　演算制御ユニット２００の構成について説明する。
演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。
・・・  
【００４７】  
　眼底カメラユニット２の制御として、
演算制御ユニット２００は、
ＬＣＤ３９の動作制御、
各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行う。
 
イ　「【０１１７】  
 ＜第２の実施形態＞  
　第１の実施形態では
断層像毎に位置ズレを補正する
【０１１８】  
　この実施形態の眼底観察装置は、第１の実施形態と同様の計測を実行して、
各走査点において眼底の深度方向に延びる１次元画像を形成する。この１次元画像をＡスキャン像と呼ぶことにする。断層像は、複数の走査点の配列に応じて当該複数のＡスキャン像を配列させることにより形成される。
【０１１９】  
　更に、
この眼底観察装置は、信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で眼底の位置を検出し、検出された眼底の位置の時間変化に基づいて眼底表面方向（ｘｙ方向）における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。
【０１２０】  
　ここで、Ａスキャン像の位置ズレについて図７を参照しつつ説明する。図７（Ａ）は、複数の走査点Ｒｉｊ（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ）の配列の一例を表している。信号光ＬＳは各走査点Ｒｉｊに向けて照射される。しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、図７（Ｂ）に示すように、信号光ＬＳの実際の照射位置Ｔｉｊが本来の走査点Ｒｉｊの位置からずれてしまう。  
【０１２１】  
　そうすると、走査点Ｒｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するべきＡスキャン像の位置がずれてしまう（つまり、実際の照射位置Ｔｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するＡスキャン像が得られてしまう）。これが、Ａスキャン像の位置ズレである。この実施形態では、このようなＡスキャン像の位置ズレの量（位置ズレ量）を求める。  
【０１２２】  
　
このとき、各Ａスキャン像の位置ズレ量を求めるようにしてもよいし、連続する所定数のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるようにしてもよい。なお、第１の実施形態は、各走査線Ｒｉ上のｎ個のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるものであり、後者の処理の一例である。
【０１２３】  
　Ａスキャン像の位置ズレ量はベクトル量である。つまり、この位置ズレ量には、走査点Ｒｉｊに対する実際の照射位置Ｔｉｊの変位方向を表す情報（ズレ方向情報）と変位量を表す情報（ズレ量情報）とが含まれる。  
【０１２４】  
［構成］  
　上記のような処理を実現するために、この実施形態に係る眼底観察装置は次のような構成を有する。まず、
この眼底観察装置は、第１の実施形態と同様のハードウェア構成を有する。
【０１２５】  
〔制御系〕  
　この眼底観察装置の制御系の構成について説明する。この眼底観察装置の制御系は、第１の実施形態のそれ（図３を参照）と一部が共通である。この眼底観察装置の制御系の構成の一例を図８に示す。なお、図８に示す構成要素において、第１の実施形態と共通のものには同じ符号が付してある。  
【０１２６】  
　画像処理部２３０以外の構成は第１の実施形態と同様である。画像処理部２３０には、特徴部位特定部２６１、演算部２６２、走査点特定部２６５及び補正部２６６が設けられている。以下、眼底表面方向における位置ズレ量の演算処理と、眼底Ｅｆの深度方向における位置ズレ量の演算処理とに分けて説明する。  
【０１２７】  
　特徴部位特定部２６１について説明する。この眼底観察装置は、観察光源１１やＣＣＤイメージセンサ３５を用いて眼底Ｅｆの観察画像Ｋ（動画像）を形成する。観察画像Ｋは、所定のフレームレートで眼底Ｅｆを撮影することにより得られる。このフレームレートの逆数は、この発明の「所定の時間間隔」に相当する。  
【０１２８】  
　特に、この眼底観察装置は、信号光ＬＳが走査されているときの眼底Ｅｆを撮影して観察画像Ｋを形成する。観察画像Ｋを形成するための構成（照明光学系１０や撮影光学系３０）は、この発明の「撮影手段」の一例である。 
【０１２９】  
　特徴部位特定部２６１は、観察画像Ｋを形成する各静止画像を解析して、眼底Ｅｆの特徴部位に画像領域を特定する。この処理については第１の実施形態で説明した。特徴部位特定部２６１は、この発明の「画像領域特定手段」の一例である。  
【０１３０】  
　更に、特徴部位特定部２６１は、各静止画像における特徴部位の画像領域の位置を眼底Ｅｆの位置として求める。つまり、各静止画像には２次元座標系が予め定義されており、特徴部位特定部２６１は、この２次元座標系における当該画像領域の座標値を眼底Ｅｆの位置とする。ここで、当該画像領域の座標値としては、たとえば、当該画像領域内の特徴点（中心点、重心点等）の座標値を用いることができる。なお、各静止画像は眼底表面方向（ｘｙ平面方向）に広がる画像であるから、この２次元座標系とｘｙ座標系とは互いに座標変換可能に対応付けられている。特に、この２次元座標系としてｘｙ座標系自体を用いることも可能である。  
【０１３１】  
　このような撮影手段及び画像領域特定手段は、この発明の「検出手段」の一例を構成する。  
【０１３２】  
　次に、演算部２６２について説明する。演算部２６２は、特徴部位特定部２６１により求められた眼底Ｅｆの位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。演算部２６２は、補正部２６６とともに、この発明の「演算手段」の一例を構成する。上記処理を実行するために、演算部２６２には位置特定部２６３と位置ズレ量算出部２６４が設けられている。  
【０１３３】  
　ここで、
眼底Ｅｆの位置検出を行う時間間隔（位置検出間隔）
【０１３４】  
　なお、一の走査線Ｒｉの最後の走査点Ｒｉｎに信号光ＬＳが照射されてから、次の走査線Ｒ（ｉ＋１）の最初の走査点Ｒ（ｉ＋１）１に信号光ＬＳが照射されるまでの時間間隔（走査線替え時間間隔）は、上記走査時間間隔と等しくてもよいし異なってもよい。異なる場合、走査線替え時間間隔に合わせて位置検出間隔を制御してもよい。また、位置検出間隔を制御する代わりに、走査線替え時間間隔を走査時間間隔の整数倍の値にすればよい。  
【０１３５】  
　この実施形態では、
位置検出間隔は、走査時間間隔の整数（Ｑ≧１）倍に設定される。つまり、この眼底観察装置は、複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ個の走査点を走査する度毎に眼底Ｅｆの位置を検出する。
【０１３６】  
　具体例として、Ｑ＝１の場合、この眼底観察装置は、各走査点Ｒｉｊに信号光ＬＳが照射される度に眼底Ｅｆの位置を検出する。また、
Ｑ＝２の場合、この眼底観察装置は、２個の走査点が走査される度に（つまり走査点１つおきに）眼底Ｅｆの位置を検出する。また、Ｑ＝ｎ（一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）の場合が第１の実施形態に相当する。
【０１３７】  
　一般に、この眼底観察装置は、走査点Ｑ個おきに眼底Ｅｆの位置を検出する。このような動作は、ＣＣＤイメージセンサ３５の蓄積時間の制御と、走査駆動部７０の制御とを同期させることにより実現される。  
【０１３８】  
　このような制御が実行されているときに、演算部２６２は、順次に形成される複数のＡスキャン像をＱ個毎のＡスキャン像群に分割する。この「分割」とは、複数のＡスキャン像をＱ個毎に実際に分ける（たとえば各Ａスキャン像群を別々に記憶する）ものであってもよいし、識別情報を付すなどして各Ａスキャン像群を識別可能にするものであってもよい。いずれにしても、以降の処理において個々のＡスキャン像群に対して処理を実行できるものであれば十分である。よって、位置検出間隔と走査時間間隔との比率（Ｑ）を記憶しておき、以降の処理において複数のＡスキャン像をＱ個毎に処理するような場合なども「分割」に包含される。以上の処理により、Ｑ個のＡスキャン像群と、Ｑ個の走査点群と、一つの眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられる。  
【０１３９】  
　位置特定部２６３は、各Ａスキャン像群に対応するＱ個の走査点が走査されていたときの眼底Ｅｆの位置の検出結果に基づいて各１次元画像群の位置を特定する。この処理についてより詳しく説明する。つまり、前述のように、Ａスキャン像群には走査点群と眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられているので、位置特定部２６３は、この対応付けを参照して、各Ａスキャン像群に対応する眼底Ｅｆの位置の検出結果を特定して当該Ａスキャン像群の位置とする。この処理は、図７（Ｂ）に示す実際の照射位置Ｔｉｊを特定することに相当する。」  
 
ウ　「【０１７５】  
（変形例２）  
　上記の実施形態では、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて、既に形成されたＡスキャン像の位置を補正している。一方、この変形例では、
Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて信号光ＬＳの走査をリアルタイムで制御する
【０１７６】  
　
信号光ＬＳが走査されているときに、画像処理部２３０は、所定の時間間隔で順次に検出される眼底Ｅｆの位置に基づいて位置ズレ量を順次に算出する。眼底Ｅｆの位置の検出は、上記実施形態と同様にして実行できる。また、各位置ズレ量を算出する処理についても上記実施形態と同様に実行される。 
【０１７７】  
　主制御部２１１は、順次に算出される位置ズレ量に基づいて走査駆動部７０を制御し、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する。主制御部２１１は、この発明の「制御手段」の一例である。  
【０１７８】  
　信号光ＬＳの照射位置の補正処理についてより詳しく説明する。各走査点Ｒｉｊに対するガルバノミラー４３、４４の位置（ミラー位置）は、実行される走査態様に基づいて予め設定されている。主制御部２１１は、走査駆動部７０を制御して、走査点Ｒｉｊの走査順序にしたがって各ミラー位置に順次にガルバノミラー４３、４４を移動させる。  
【０１７９】  
　しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、本来の走査点Ｒｉｊの位置、つまり本来の計測位置から外れた場所に信号光ＬＳが照射されてしまう。上記の実施形態では、このようにして生じた位置ズレを、既に取得されたＡスキャン像の位置を補正することによって修正していた。  
【０１８０】  
　一方、この変形例では、
算出された位置ズレ量に応じて信号光ＬＳの照射位置を補正する。つまり、主制御部２１１は、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、走査駆動部７０を制御する。
【０１８１】  
　この処理を順次に実行することで、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）の動きに信号光ＬＳの照射位置をリアルタイムで追従させることができ、それにより、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅが移動した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能となる。」  
 
（２）甲１に記載された事項の整理、及び甲１発明 
 
ア　上記（１）ウの変形例２は、第１の実施形態と同様なハードウェア構成を有する第２の実施形態（上記（１）イの段落【０１２４】参照。）の変形例（上記（１）ウの段落【０１７５】参照。）であるから、変形例２も、第１の実施形態のハードウェア構成を有していることは明らかである。  
 
イ　第２の実施形態は、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、段落【０１３５】に「この実施形態では、位置検出間隔は、走査時間間隔の整数（Ｑ≧１）倍に設定される。」と記載されているように、Ｑの上限は記載されていない。しかし、第２の実施形態は、第１の実施形態のＱ＝ｎの場合（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）を含むことが示されており、第１の実施形態のＱ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）の場合より、高精度の画像を形成することを目的とするもの（段落【０１１７】、【０１５８】などを参照。）であるから、Ｑの上限は、ｎであることが示唆されているといえる。この点を踏まえると、第２の実施形態は、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個のＡスキャン像群からなる断層像が含まれるといえる。  
　そして、変形例２は、段落【０１７５】に記載しているとおり、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて、既に形成されたＡスキャン像の位置を補正すること（第２の実施形態）に代えて、こらから形成しようとするＡスキャン像の位置を補正する（信号光ＬＳの走査をリアルタイムで制御する）ものであって、この点のみを変形したものであるから、変形例２においても、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個のＡスキャン像群からなる断層像を排除するものでないことは明らかである。  
 
ウ　上記イを踏まえると、変形例２の「演算制御ユニット２００」における眼底Ｅｆの位置の検出及び各位置ズレ量を算出する処理について、第２の実施形態の記載（段落【０１２２】、【０１２７】〜【０１３６】など）を考慮すると、変形例２の「演算制御ユニット２００」は、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する態様を含むことが理解できる。  
 
エ　上記ア〜ウを含めて上記（１）の記載を総合すると、甲１には、 
　「眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される眼底観察装置１であって、  
　眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられ、ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することが可能であり、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳをＯＣＴユニット１００に導き、二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳを眼底表面（ｘｙ平面）上の任意の方向に走査することができ、  
　ＯＣＴユニット１００には、信号光ＬＳが走査されているときに、複数の走査点ＲｉｊのそれぞれにおいてＡスキャン像（眼底の深度方向に延びる１次元画像）を取得するための光学系が設けられ、光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割され、ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波し、これにより生成された干渉光ＬＣは、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影され、  
　演算制御ユニット２００は、  
　ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成し、ＬＣＤ３９の動作制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行い、  
　複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出し、  
　順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する、  
　眼底観察装置１。」の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されている。  
 
（３）甲２の記載  
　本件特許出願の出願前に頒布された刊行物である甲２には、次の事項が記載されている。  
　「【０００３】  
　上述した、眼科撮影装置においては、例えば蛍光剤を注入し眼底上の血管に蛍光剤が広がっていく様子を撮影する蛍光撮影や、眼底の中心領域から周辺領域に対して複数の撮影を行い、これを繋げることにより広範囲な眼底領域を撮影するパノラマ撮影等、継続的に眼底を観察、撮影することがある。・・・」  
 
（４）本件訂正発明１について  
 
ア　対比  
　本件訂正発明１と甲１発明を対比する。  
 
（ア）光コヒーレンストモグラフィーデバイス  
ａ　甲１発明の「眼底Ｅｆ」、「光源ユニット１０１」及び「信号光ＬＳ」は、それぞれ本件訂正発明１の「被検者眼上」、「光源」及び「測定光」に相当する。  
　上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「光源ユニット１０１から」の「信号光ＬＳを眼底表面（ｘｙ平面）上の任意の方向に走査することができ」る「二つのガルバノミラー４３、４４」が、「Ａスキャン像（眼底の深度方向に延びる１次元画像）を取得する」ための「走査点Ｒｉｊ」位置を変更するものであることから、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」は、本件訂正発明１の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段」に相当する。  
 
ｂ　甲１発明の「信号光ＬＳの眼底反射光」、「参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲ」、「干渉光ＬＣ」、「ＣＣＤイメージセンサ１２０」及び「Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像」は、それぞれ本件訂正発明１の「被検者眼から反射された測定光」、「参照光」、「干渉状態」、「検出器」及び「断層画像」に相当する。  
　上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波し、これにより生成された干渉光ＬＣは、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影され」る「ＯＣＴユニット１００」は、「Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像」を撮像するものであるから、本件訂正発明１の「被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当する。  
 
ｃ　よって、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」と「ＯＣＴユニット１００」とを併せたものが、本件訂正発明１の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当するといえる。  
 
（イ）検出手段  
ａ　甲１発明の「信号光ＬＳ」は、本件訂正発明１の「測定光」に相当する。 
　上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射」させる「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点」は、「一の走査線Ｒｉ」であるから、本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャン」に相当するといえる。  
 
ｂ　甲１発明において、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に」、順次「取得」される「断層像」のうち、最初に取得される「断層像」と、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」とは、それぞれ連続する異なる撮像領域（最初の一の走査線と次の一の走査線のそれぞれに連続して異なる撮像領域が存在する。）であると理解できる。  
　この点を踏まえると、甲１発明の、最初に取得される「断層像」、及び、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」が、それぞれ本件訂正発明１の「第１撮像領域における断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」に相当する。 
 
ｃ　甲１発明の垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、最初に取得される「断層像」を撮像する際に「取得し」た「静止画像」と、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」を撮像する際に「取得し」た「静止画像」とに基づいて、「信号光ＬＳの照射位置」が「補正」されて撮像されるものである。そして、ここでの各「静止画像」は、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」、すなわち各「断層像」の最初の走査点を基準にして取得されたものであるから、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、最初に取得される「断層像」と、始点の水平方向（ｘ方向）位置が同じ位置となることから、始点となる端部同士が連続することになる。 
　よって、甲１発明の、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」と、本件訂正発明１の「第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像」とは、「第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像」である点で共通する。 
 
ｄ　甲１発明において、「眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」することは、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」ために、既に取得された「断層像」（最初に取得される「断層像」）と、これから取得しようとする「断層像」（垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」）と、の「位置ズレ量」を検出していることに他ならない。  
　この点を踏まえると、甲１発明の既に取得された「断層像」、及びこれから取得しようとする「断層像」は、それぞれ本件訂正発明１の「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像」、及び「前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像」に相当する。  
　そして、甲１発明の、ここでの「位置ズレ量」は、連続する「断層像」の間での「位置ズレ量」であるから、本件訂正発明１の「連続性に関するずれ」に相当する。  
　よって、甲１発明の「断層像単位で位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」は、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」に相当するといえる。 
 
ｅ　甲１発明において、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることは、これから取得しようとする「断層像」（垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」）のときに取得した「静止画像の特徴部位」と、既に取得された「断層像」（最初に取得される「断層像」）のときに取得した「静止画像の特徴部位」との重複部分「の位置」ズレ量を求めていることに他ならない。  
　そして、ここでの「静止画像」は、「特徴部位の画像領域の位置」が特定される程度にその概略を特定しうる画像であることは明らかであるから、甲１発明の、これから取得しようとする「断層像」のときに取得した「静止画像」、及び既に取得された「断層像」のときに取得した「静止画像」は、それぞれ本件訂正発明１の「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像」及び「先に取得された概略画像」に相当するといえる。  
　よって、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることは、本件訂正発明１の「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」に相当するといえる。 
 
ｆ　上記ａ〜ｅを踏まえると、
　甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、
　本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」とは、
　「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」である点で共通する。 
 
（ウ）照射位置補正手段  
　甲１発明の「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」「演算制御ユニット２００」は、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」に「信号光ＬＳの照射位置を補正する」ことが明らかであるから、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」に相当する。  
 
（エ）パノラマ  
　本件訂正発明１では、「断層画像のパノラマが取得される」ことが特定されており、本件特許明細書の段落【０００６】及び【０００７】によれば、パノラマ断層画像とは、複数の断層画像をスムーズに繋ぎ合わせた画像であると理解できる。  
　そのような理解に立つと、甲１発明は、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、「眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量」が補正されたものであるから、甲１発明は、最初に取得される「断層像」と垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」とに基づいて断層像のパノラマが形成されているといえる。  
　よって、甲１発明においても、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」ものである。  
 
（オ）眼科撮影装置  
　甲１発明の「眼底観察装置１」は、本件訂正発明１の「眼科撮影装置」に相当する。  
 
イ　一致点及び相違点
　よって、本件訂正発明１と甲１発明とは、　 
　「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、  
　前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、  
　前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される、眼科撮影装置。」 
の発明である点で一致し、次の点で相違する。  
 
（相違点）  
　第２撮像領域にて取得しようとする断層画像が、本件訂正発明１では、第１撮像領域における断層画像と端部同士が「横断方向において」連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像である、すなわち、第１のラインスキャンの終点と第２のラインスキャンの始点とが連続するのに対し、甲１発明では、第１撮像領域における断層画像と端部同士が「垂直方向（ｙ方向）において」連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像である、すなわち、第１のラインスキャンの始点と第２のラインスキャンの始点とが連続する点。  
ウ　当審の判断  
 
（ア）新規性  
　上記（相違点）が両発明の間にある以上、本件訂正発明１は、甲１に記載された発明であるとはいえない。  
 
（イ）進歩性  
　上記相違点について
 
　甲１発明は、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」ものであって、上記「位置ズレ量」算出のための「眼底Ｅｆの各静止画像を取得」する時点は、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」以外に、甲１には、「Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎」も記載されていることから、甲１の記載を総合すると、甲１から、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記Ｑ個のＡスキャン像群単位での位置ズレ量を順次に算出し、
　順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」という技術的事項についても把握できる。
　そして、甲１には、「位置ズレ量」算出のための「眼底Ｅｆの各静止画像を取得」する時点が、「Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎」の具体的として、Ｑ＝３の場合が以下のように記載されている。
「【０１６５】
　この推定処理の具体例について図９を参照しつつ説明する。この具体例ではＱ＝３とする。第１のＡスキャン像群に対応する第１の走査点群Ｕ１には３つの走査点Ｒｉ１〜Ｒｉ３が含まれ、第２のＡスキャン像群に対応する第２の走査点群Ｕ２には３つの走査点Ｒｉ４〜Ｒｉ６が含まれている。
【０１６６】
　各走査点群Ｕ１、Ｕ２において、最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに眼底Ｅｆの位置を検出するものとする。つまり、画像処理部２３０は、各走査点群Ｕ１、Ｕ２における最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに撮影された静止画像（観察画像Ｋのフレーム）に基づいて、各走査点群Ｕ１、Ｕ２に対応する位置ズレ量を求める。」
　ここで、上記記載からも理解できるように、甲１の上記技術的事項は、例えば、各走査点群Ｕ１の最初の走査点Ｒｉ１に信号光を既に照射した時点の眼底位置と、各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４に信号光をこれから照射しようとする時点の眼底位置とから位置ズレ量を算出し、本来の各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の位置から前記位置ズレ量を加えた位置に、信号光を照射するものであって、本来の各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の位置から位置ズレ量を加えた位置に、信号光を照射する際、各走査点群Ｕ１の最後の走査点Ｒｉ３を既に照射した時点の眼底位置と、各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４をこれから照射しようする時点の眼底位置とから位置ズレ量を算出するものでないことから、各走査点群Ｕ１の走査中、眼底位置が極端に動いた場合、各走査点群Ｕ１の最後の走査点Ｒｉ３の照射位置と、これから照射しようとする各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の照射位置との距離が極端に離れてしまうことになる。
　してみると、上記甲１には、各走査点群Ｕ１の終点と、各走査点群Ｕ２の始点とが横断方向において連続するように、各走査点群Ｕ２の始点の照射位置を補正することが記載されているとはいえないことから、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項について記載されているとはいえない。
　また、甲２及び特許異議申立人が証拠として提出している甲３：特開２００８−２９４６７号公報のいずれの文献にも、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項について記載も示唆もされていない。  
　よって、甲１発明において、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。
エ　本件訂正発明１のまとめ 
　以上のとおり、本件訂正発明１は、甲１に記載された発明であるとはいえないから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものとはいえない。  
　また、本件訂正発明１は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。
（５）本件訂正発明２について  
 
ア　対比  
　本件訂正発明２と甲１発明とを対比する。  
 
（ア）光コヒーレンストモグラフィーデバイス  
　上記「（４）ア（ア）」での対比を踏まえると、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」と「ＯＣＴユニット１００」とを併せたものが、本件訂正発明２の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当するといえる。  
 
（イ）検出手段  
ａ　上記「（４）ア（イ）ａ」での対比を踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射」させる「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点」は、「一の走査線Ｒｉ」であるから、本件訂正発明２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャン」に相当するといえる。  
 
ｂ　上記「（４）ア（イ）ｂ」での対比を踏まえると、甲１発明の、最初に取得される「断層像」、及び、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」と、本件訂正発明２の「第１撮像領域における３次元断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像」とは、「第１撮像領域における断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」である点で共通する。  
 
ｃ　上記「（４）ア（イ）ｄ」での対比を踏まえると、甲１発明の「断層像単位で位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」とは、「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」である点で共通するといえる。  
  
ｄ　上記「（４）ア（イ）ｅ」での対比を踏まえると、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることと、本件訂正発明２の「前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」とは、「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」である点で共通する。  
 
ｅ　上記ａ〜ｄを踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」とは、「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」である点で共通するといえる。  
  
（ウ）照射位置補正手段  
　上記「（４）ア（ウ）」での対比を踏まえると、甲１発明の「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」とは、「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段」である点で共通する。  
 
（エ）眼科撮影装置  
　甲１発明の「眼底観察装置１」は、本件訂正発明２の「眼科撮影装置」に相当する。  
 
イ　一致点及び相違点  
　よって、本件訂正発明２と甲１発明とは、  
 
　「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、  
　始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、
　前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段と、  
　を備える、眼科撮影装置。」  
の発明である点で一致し、次の２点で相違する。  
 
（相違点１）  
　検出手段が、本件訂正発明２では、「ラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」もの、すなわち第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出するものであるのに対し、甲１発明では、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」するもの、すなわち第１撮像領域にて既に取得された２次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする２次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出するものである点。  
 
（相違点２）  
　照射位置補正手段が、本件訂正発明２では、「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための」もの、すなわち第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で行うものであるのに対し、甲１発明では、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」もの、すなわち第２撮像領域での２次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、１回のラインスキャン単位（Ｑ＝ｎ）で行うものである点。  
 
ウ　当審の判断  
 
（ア）新規性  
　上記（相違点１）及び（相違点２）が両発明の間にある以上、本件訂正発明２は、甲１に記載された発明であるとはいえない。  
 
（イ）進歩性  
　上記相違点１及び２は、技術的に密接に連関する事項であることから、併せて判断することとする。  
 
　甲１発明は、検出手段により、第１撮像領域にて既に取得された２次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする２次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出し、この検出結果に基づいて、照射位置補正手段により、第２撮像領域での２次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、１回のラインスキャン単位（Ｑ＝ｎ）で行うものであり、甲１には、甲１全体の記載をみても、第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出し、この検出結果に基づいて、第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で行うものについて記載も示唆もされていない。  
　また、甲２及び特許異議申立人が証拠として提出している甲３：特開２００８−２９４６７号公報のいずれの文献にも、上記相違点１及び相違点２に係る本件訂正発明２の発明特定事項について記載も示唆もされていない。  
　よって、甲１発明において、上記相違点１及び相違点２に係る本件訂正発明２の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。  
 
エ　本件訂正発明２のまとめ 
　以上のとおり、本件訂正発明２は、甲１に記載された発明であるとはいえないから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものとはいえない。  
　また、本件訂正発明２は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。  
 
（６）本件訂正発明３〜５について  
　本件訂正発明３〜５は、本件訂正発明１又は本件訂正発明２の構成を全て含むものであるから、本件訂正発明３〜５も、上記（４）又は（５）と同様の理由により、新規性及び進歩性を有するものである。
 
４　サポート要件についての判断  
（１）上記「１−１」の取消理由３が解消しているか検討する。 
　本件特許明細書の段落【０００６】には、「位置ずれが生じた状態で取得された周辺部の断層像は、撮像位置が異なるため、中心部の断層像とのスムーズな繋ぎ合わせが困難となる」と記載され、当該記載から、第１撮像領域の断層画像（中心部の断層像）と第２撮像領域の断層画像（周辺部の断層像）との間の連続性が位置ずれによって確保できないという問題点を把握することができる。  
　そして、本件訂正発明１〜３及び５は、上記問題点を解決するための手段が反映されていないとはいえないので、上記「１−１」の取消理由３が解消されたといえる。
（２）上記「１−３」の取消理由２が解消しているか検討する。 
　本件訂正により、本件訂正発明１では、「第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得すること」が特定されたので、本件訂正発明１及び３〜５は、上記「１−３」の取消理由２が解消されたといえる。
５　明確性要件についての判断  
　上記「１−１」の取消理由４が解消しているか検討する。 
　本件訂正により、本件訂正発明４では、「変化を考慮して」という記載が削除され、「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」という表現に訂正された結果、「被検者眼の視線方向の変化」がどのように考慮されるのかが明確になった。  
　よって、本件訂正発明４では、上記「１−１」の取消理由４が解消されたといえる。
６　特許異議申立人の意見について
（１）特許異議申立人は平成２８年７月７日付け意見書（第１１頁第２０行〜第１２頁第６行）において、訂正により追加された本件訂正発明１及び２における「先に取得された概略画像」の記載では、過去のあらゆる時刻において得られた概略画像を含むことになり、第１撮像領域の断層画像（または３次元断層画像）の取得との関係が不明であるから、そのような概略画像と第２撮像領域を撮影する際の概略画像とからでは、第１撮像領域の断層画像と第２撮像領域の断層画像との連続性に関するずれを求めることはできない旨、主張している。  
　しかしながら、第１撮像領域での断層画像を取得するときに取得された概略画像は、１以上の「先に取得された概略画像」に基づいて直接又は間接的に求められることが理解できる。
　よって、「先に取得された概略画像」と「第２撮像領域を撮影する際の概略画像」から、第１撮像領域の断層画像と第２撮像領域の断層画像との連続性に関するずれを求めることができないとはいえず、上記主張は、採用することができない。  
 
（２）特許異議申立人は平成２８年７月７日付け意見書（第１２頁第７行〜末行）において、訂正により追加された本件訂正発明２では、「複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことも記載されており、複数回のラインスキャンごとに検出される位置ズレをどのように各ラインスキャン単位で補正するのか不明である旨、主張している。  
　しかしながら、本件訂正発明２は、「第２撮像領域での３次元断層画像を取得する」ための１回以上のラインスキャン単位ごとに取得される各「概略画像」と、第１撮像領域での３次元断層画像を取得するための１回以上のラインスキャン単位ごとに取得される各「概略画像」とから、「前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを」「検出する」する態様を含むものと理解でき、このような理解に立つと、検出結果に基づく照射位置は、「複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことになることは、技術的に明らかであり、上記主張は、採用することができない。  
（３）特許異議申立人は平成２９年１月１２日付け意見書（第１３頁第２２行〜第１６頁第４行）において、訂正により追加された本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が（横断方向において）連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際」における「少なくとも」１回という訂正事項は、本件特許明細書によりサポートされていない旨、主張している。
　しかしながら、本件特許明細書の発明の詳細な説明には、段落【００６８】及び図８に、２次元断層画像の端部同士における横断方向の連続性のずれについて記載されていることに加えて、上記（２）で説示したとおり、３次元断層画像同士の連続性のずれを、「複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことが記載されているといえることから、３次元断層画像の端部同士における横断方向の連続性のずれを、複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正することは、発明の詳細な説明に記載されているに等しい事項であるといえる。
　よって、本件訂正発明１の上記訂正事項は、本件特許明細書によりサポートされていないとまではいえないので、上記主張は、採用することができない。 
（４）特許異議申立人は平成２９年７月３日付け意見書（第６頁第６行〜第７頁第２２行）において、訂正により追加された本件訂正発明２の記載では、「概略画像」がどの領域の概略画像か不明確であるため、本件訂正発明２における２つの「概略画像」は三次元断層像の撮影領域が異なるにも関わらず全く同じ領域の概略画像をも含む表現となっているから、本件訂正発明２の訂正事項は、本件特許明細書の発明の詳細な説明に記載された範囲を超えている旨、主張している。
　しかしながら、本件訂正発明２における「概略画像」は、２つの「概略画像」の「重複部分を利用して位置ずれを検出する」できる領域であればよいことが理解でき、このことは本件特許明細書の発明の詳細な説明に記載されていることから、上記主張は、採用することができない。 
第５　取消理由通知で採用しなかった特許異議申立理由について 
　異議申立人は、特許異議申立書の申立て理由２（第１９頁第２４行〜第３０頁第１９行）として、請求項１〜５に係る発明は、甲３（特開２００８−２９４６７号公報）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであると主張しているが、上記「第３」で検討したとおり、本件訂正発明１の相違点、又は本件訂正発明２の相違点１及び２は、特許異議申立人が証拠として提出した甲１〜３のいずれにも記載も示唆もされていないことから、甲３に記載された発明を出発点にしても、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項、又は、上記相違点１及び２に係る本件訂正発明２の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。 
　よって、本件訂正発明１〜５は、甲３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。 
 
第６　むすび  
　以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件請求項１ないし５に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１ないし５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。  
【異議決定日】
平成２９年７月３１日（２０１７．７．３１）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
眼科撮影装置
　【技術分野】
　【０００１】
　本発明は、光コヒーレンストモグラフィーによって眼の断層像を撮影する眼科撮影装置に関する。
　【背景技術】
　【０００２】
　光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）を備える眼科撮影装置は、眼の断層画像（例えば、眼底の断層像）を取得できる。そして、得られた断層画像は、眼の状態の評価に利用される（特許文献１参照）。
　【０００３】
　また、眼底カメラは、眼底のパノラマ画像を得るため、固視標を移動させることによって眼を誘導し、異なる視標位置での正面像を順次撮影する。そして、得られた複数の正面像が繋ぎ合わされ、パノラマ画像が作成される（特許文献２参照）。
　【０００４】
　また、特許文献３の光コヒーレンストモグラフィーは、三次元断層像のパノラマ画像を得るため、固視標を移動させることによって眼を誘導し、異なる視標位置での三次元断層像を順次撮影する。そして、得られた複数の３次元断層像が繋ぎ合わされ、パノラマ画像が作成される。
　【先行技術文献】
　【特許文献】
　【０００５】
　【特許文献１】　特開２００８−２９４６７号公報
　【特許文献２】　特開平９−１７３２９８号公報
　【特許文献３】　特開２００９−１８３３３２号公報
　【発明の概要】
　【発明が解決しようとする課題】
　【０００６】
　しかしながら、光コヒーレンストモグラフィーを用いて周辺部の断層像を得る場合、中心部の撮影と比較すると、眼のぶれが生じやすく、撮影が困難である。そして、位置ずれが生じた状態で取得された周辺部の断層像は、撮像位置が異なるため、中心部の断層像とのスムーズな繋ぎ合わせが困難となる。
　【０００７】
　本発明は、上記問題点を鑑み、パノラマ断層画像を好適に撮影可能な眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。
　【課題を解決するための手段】
　【０００８】
　上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備える。
　【０００９】
　（１）
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される
前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって
であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像
前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、
検
　
前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、
　
前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される
眼科撮影装置
　
（２）
　
被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、
　
前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、
　
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
　【発明の効果】
　【００１０】
　本発明によれば、パノラマ断層画像を好適に撮影できる。
　【発明を実施するための形態】
　【００１１】
　以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。なお、本実施形態においては、被検者眼（眼Ｅ）の軸方向をＺ方向、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えても良い。
　【００１２】
　装置構成の概略を説明する。本装置は、被検者眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を撮影するための光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス）１０である。ＯＣＴデバイス１０は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００と、正面観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、演算制御部（ＣＰＵ）７０と、を含む。
　【００１３】
　ＯＣＴ光学系１００は、眼底に測定光を照射する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上における測定光の照射位置を変更する照射位置変更ユニット（例えば、光スキャナ１０８、固視標投影ユニット３００）を備える。制御部７０は、設定された撮像位置情報に基づいて照射位置変更ユニットの動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層画像を取得する。
　【００１４】
　＜ＯＣＴ光学系＞
　ＯＣＴ光学系１００は、いわゆる眼科用光断層干渉計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ　ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）の装置構成を持つ。ＯＣＴ光学系１００は、光源１０２から出射された光をカップラー１０４によって測定光と参照光に分割する。そして、ＯＣＴ光学系１００は、測定光学系１０６によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０に導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成による干渉光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
　【００１５】
　検出器１２０は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイルが取得される。例えば、Ｓｐｅｃｔｒａｌ−ｄｏｍａｉｎ　ＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、Ｓｗｅｐｔ−ｓｏｕｒｃｅ　ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）が挙げられる。また、Ｔｉｍｅ−ｄｏｍａｉｎ　ＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。
　【００１６】
　ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１０２として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器１２０には、干渉光を各周波数成分（各波長成分）に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
　【００１７】
　ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器１２０として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１０２は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
　【００１８】
　光源１０２から出射された光は、カップラー１０４によって測定光束と参照光束に分割される。そして、測定光束は、光ファイバーを通過した後、空気中へ出射される。その光束は、光スキャナ１０８、及び測定光学系１０６の他の光学部材を介して眼底Ｅｆに集光される。そして、眼底Ｅｆで反射された光は、同様の光路を経て光ファイバーに戻される。
　【００１９】
　光スキャナ１０８は、眼底上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構５０によって任意に調整される。
　【００２０】
　これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
　【００２１】
　参照光学系１１０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。
　【００２２】
　参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
　【００２３】
　＜正面観察光学系＞
　正面観察光学系２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第２の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の装置構成を持つ。
　【００２４】
　なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層画像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、３次元断層画像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値等）。
　【００２５】
　＜固視標投影ユニット＞
　固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。
　【００２６】
　例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。
　【００２７】
　固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。
　【００２８】
　＜制御部＞
　制御部７０は、各構成１００〜３００の各部材など、装置全体を制御する。また、制御部７０は、取得された画像を処理する画像処理部、取得された画像を解析する画像解析部、などを兼用する。制御部７０は、一般的なＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）等で実現される。
　【００２９】
　図２（ａ）は正面観察光学系２００によって得られる正面画像の例であり、図２（ｂ）はＯＣＴ光学系１００によって得られる断層画像の例である。例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００の検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層画像（ＯＣＴ画像）を取得すると共に、正面観察光学系２００の受光素子から出力される受光信号に基づいて正面画像を取得する。また、制御部７０は、固視標投影ユニット３００を制御して固視位置を変更する。
　【００３０】
　メモリ（記憶部）７２、モニタ７５、マウス（操作入力部）７６は、それぞれ制御部７０と電気的に接続されている。制御部７０は、モニタ７５の表示画面を制御する。取得された眼底像は、モニタ７５に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶される。メモリ７２は、例えば、撮影された断層画像、正面画像、各断層画像の撮影位置情報等の撮影に係る各種情報を記録する。制御部７０は、マウス７６から出力される操作信号に基づいて、ＯＣＴ光学系１００、正面観察光学系２００、固視標投影ユニット３００の各部材を制御する。なお、上記ＯＣＴデバイス１０の詳しい構成については、例えば、特開２００８−２９４６７号公報を参考にされたい。
　【００３１】
　＜動作説明＞
　図３（ａ）は３次元断層像のパノラマを得るために設定される撮像領域の例を示す図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の各撮像領域と，眼底との関係を示す図である。図４は、図３（ａ）の各撮像領域について立体的に説明するための図である。図５は、各撮像領域における重複領域を示す図である。
　【００３２】
　本実施形態において、制御部７０は、複数の３次元断層像から構成されるパノラマ断層像を得るため、眼底Ｅｆ上に複数の撮像領域（例えば、９つの撮像領域Ｓ１〜Ｓ９）を設定する。各撮像領域は、眼底Ｅｆ上の断層取得位置に関して異なる。隣接する２つの撮像領域は、撮像領域の一部が互いに重複する（図３、図４に示された破線により構成される小帯部分参照）。これらの撮像領域は、任意で設定されても良いし、予め設定されていてもよい。
　【００３３】
　制御部７０は、投影ユニット３００を制御し、各撮像領域に対応する位置に視標を呈示する。そして、制御部７０は、各撮像領域にて取得された断層画像のパノラマを得る。
　【００３４】
　撮像領域を変更するとき、制御部７０は、例えば、予め設定された順序にて視標位置を順次変更する。また、撮像領域は、マウス７６からの操作信号に基づいて任意に変更されてもよい。
　【００３５】
　ある位置にて視標が呈示されると、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、設定された各領域に対応する３次元断層像を取得すると共に、観察光学系２００を制御し、正面像を取得する。
　【００３６】
　三次元断層像を得るとき、制御部７０は、光スキャナ１０８の動作を制御し、撮像領域に対応する走査範囲において測定光をＸＹ方向に二次元的に走査させることにより３次元断層像を取得する。なお、走査パターンとして、例えば、ラスタースキャン、複数のラインスキャンが考えられる。
　【００３７】
　取得された断層像及び正面像は、モニタ７５上に観察像として動画にて表示される。また、取得された断層像及び正面像は、撮像領域と対応付けされ、静止画としてメモリ７２に記憶される。正面像の取得は、断層画像の取得と同時であってもよいし、断層画像の取得の前後であってもよい。
　【００３８】
　＜先に取得された画像を用いたＯＣＴトラッキング＞
　制御部７０は、第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，第１撮像領域とは異なる第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出する。そして、制御部７０は、その検出結果に基づいて、眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正する。
　【００３９】
　例えば、制御部７０は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における視線方向の変化を考慮して、連続性に関するずれを検出する。ずれを検出するため、制御部７０は、断層撮像位置を含む眼の正面像を取得する。
　【００４０】
　そして、制御部７０は、第１撮像領域に対応する第１正面像を基準画像とし、第２撮像領域にて取得された第２正面像に対して、第１正面像像と第２正面像との重複部分を利用したマッチングを行う。そして、制御部７０は、そのマッチング結果に基づいて連続性に関するずれを検出する。ここで、制御部７０は、第１正面像と第２正面像との間の眼底の表面方向（ＸＹ方向）に関するずれを検出する。
　【００４１】
　以下に、連続性に関するずれを検出する場合の一例を示す。例えば、先の撮像領域にて既に取得された正面像は、後の撮像領域にて３次元断層像を得るときのトラッキングに利用される。例えば、制御部７０は、先の撮像領域において既に取得された正面像に対し，眼Ｅの視線移動に応じた補正処理を行う。そして、制御部７０は、これを基準画像として設定し、後の撮像領域おいて取得される正面像との相対位置を検出する。そして、制御部７０は、眼の移動があっても眼底Ｅｆの所望された領域を測定できるように、検出結果に基づいてＯＣＴ走査位置を補正する。
　【００４２】
　以下に、隣接する２つの撮像領域（例えば、撮像領域Ｓ３と撮像領域Ｓ６）に関して断層画像を順次取得する場合について説明する。以下の説明では、撮像領域Ｓ６は第１の撮像領域、撮像領域Ｓ３は第２の撮像領域として説明する。第１の三次元断層像及び第１正面像は、第１の撮像領域Ｓ６に対応する固視位置にて取得された三次元断層像・正面像を指し、第２の三次元断層像及び第２正面像は、第２の撮像領域Ｓ３に対応する固視位置にて取得された三次元断層像・正面像を指す。
　【００４３】
　第１に、制御部７０は、第１の撮像領域Ｓ６に対応する視標を呈示し、第１の三次元断層像と、これに対応する第１正面像を取得する。次に、制御部７０は、第２の三次元断層像を得るため、視標の呈示位置を第２の撮像領域Ｓ３に対応する位置に切り換える。
　【００４４】
　図６（ａ）は第１の正面像の例、図６（ｂ）は第２正面像の例である。第１の正面像と第２正面像との間の相対位置の検出において、第１正面像と第２正面像は撮像領域に関して異なっていること、眼Ｅの視線方向が変化していることを考慮する必要がある。
　【００４５】
　例えば、トラッキングの基準画像を得るため、制御部７０は、第１の正面像において第２の正面像と撮像領域が重複する部分（重複部分Ｔ１）を抽出する（図６（ａ）参照）。ここで、眼Ｅが振られる角度は、既知であるから、各正面像における重複部分の座標位置は予めシミュレーション・実験等によって求められる。なお、重複部分Ｔ１を除く他の部分は、トリミングされる。
　【００４６】
　一方、第２の正面像において第１の正面像と撮像領域が重複する部分（重複部分Ｔ２）は、第１の撮像領域と隣接している側に現れる（図６（ｂ）参照）。別の言い方をすれば、重複部分Ｔ１と重複部分Ｔ２は、撮像領域の中心に関して対称な位置に現れる。なお、もし眼が動かない場合、重複部分Ｔ１と重複部分Ｔ２の相対位置は、投影ユニット３００によって誘導される眼Ｅの視線方向の変化量に対応する。
　【００４７】
　そこで、制御部７０は、視線方向の変化量に基づいて，重複部分Ｔ１に相当する画像を画像処理により仮想的に移動させる（図７（ａ）は重複部分Ｔ１が移動された後の第１の正面像である）。そして、制御部７０は、重複部分Ｔ１が移動された後の画像を，トラッキングの基準画像としてメモリ７２に記憶する。このとき、重複部分Ｔ１に相当する画像は、正面像の画像領域において上端から下端に移動される。
　【００４８】
　視標位置が変更されると、制御部７０は、メモリ７２に記憶された第１の正面像を基準画像に用いたトラッキングを開始する。制御部７０は、観察光学系２００を用いて第２の正面像を随時取得する。そして、制御部７０は、前述の基準画像を用いて第２の正面像に対しテンプレートマッチング（基準画像と計測画像との間の相互相関解析による評価）を行い、第２の正面像における基準画像の座標位置を検出する。
　【００４９】
　位置ずれが無い場合、基準画像は第１の正面像と同位置にて検出される（図６（ｂ）参照）。一方、位置ずれがある場合、基準画像は、ずれ方向及びずれ量に従って，同位置からずれた状態で検出される（図７（ｂ）参照）。そして、制御部７０は、検出された座標位置に基づいて走査位置のずれを検出する。
　【００５０】
　例えば、制御部７０は、第２の正面像において基準画像を水平／垂直／回転移動させ、相関値が最大となる箇所を検出する。そして、制御部７０は、基準画像に関して、相関値が最大となる箇所を中心座標位置として得る。その後、制御部７０は、基準画像と第２の正面像との間で、中心座標位置の移動情報（例えば、移動方向、移動量）を算出し、位置ずれ情報ΔＰとして得る。
　【００５１】
　＜次の走査位置の設定＞
　制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、トリガ信号に基づいて第２の三次元断層像を取得する。制御部７０は、位置ずれ検出信号（位置ずれ情報ΔＰ）に基づいて測定光の走査位置を補正する。ＸＹ方向に関して二次元走査を行う場合、制御部７０は、各ラインスキャンにおける走査位置を補正するのが好ましい。例えば、制御部７０は、予め設定された走査の始点と終点のそれぞれに対し、位置ずれ情報ΔＰを加え、補正位置として設定する。もちろん、走査位置は、複数のラインスキャン単位で補正されてもよいし、走査範囲全体として補正されてもよい。
　【００５２】
　以上のようにして第２の撮像領域Ｓ３における３次元断層像が取得されると、制御部７０は、投影ユニット３００を制御して、次の撮影領域に対応する位置にて視標を投影する。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、次の撮像領域での三次元断層像を得る。このようにして、制御部７０は、三次元断層像のパノラマを形成するための各三次元断層像を順次取得し、これらの画像をメモリ７５に記憶する。
　【００５３】
　例えば、図５（ａ）に示すように、撮像領域Ｓ５の三次元断層像を取得する場合、撮像領域Ｓ６に対応する正面像の左端部分と、撮像領域Ｓ５に対応する正面像の右端部分とが撮像領域に関して重複する。また、撮像領域Ｓ９の三次元断層像を取得する場合、撮像領域Ｓ９に対応する正面像の上端部分と、撮像領域Ｓ６に対応する正面像の上端部分とが撮像領域に関して重複する。したがって、これらの重複部分を利用して位置ずれが検出され、異なる撮像領域間でのトラッキングが行われる。
　【００５４】
　もちろん、トラッキングの基準画像は、撮像領域Ｓ６の正面像に限定されない。例えば、撮像領域Ｓ１に対応する断層像を得る場合、撮像領域Ｓ１と隣接する撮像領域の正面像として、撮像領域Ｓ２、Ｓ４、Ｓ５の少なくとも何れかが用いられる。この場合、複数の正面画像の合成画像が基準画像として用いられてもよい。
　【００５５】
　なお、特徴部（例えば、血管部）を多く持つ画像が基準画像として選択されるのが好ましい。また、固視が安定する中心固視位置にて取得される画像が基準画像として用いられるようにしてもよい。また、各撮像領域の撮像順についても特に限定されないが、特徴部（例えば、血管部）を多く持つ画像が初めに取得されるのが好ましい。また、中心固視位置での画像が初めに取得されても良い。
　【００５６】
　以上のようにして各撮像領域での３次元断層像が得られると、制御部７０は、メモリ７５に記憶された各画像の画像データを画像処理によって繋ぎ合わせることによりパノラマ３次元断層像を作成する。このようにして取得されたＯＣＴ画像のパノラマは、広範囲における被検者眼の眼底断層情報が含まれるため、眼の異常の早期発見などに利用される。
　【００５７】
　例えば、制御部７０は、パノラマ断層画像における網膜の層厚分布を画像処理により測定する。その後、制御部７０は、正常眼データベースに記憶された層厚分布と、眼Ｅの層厚分布と、を比較することにより、眼Ｅが正常か否かを判定する。これにより、眼底Ｅｆの広範囲にわたる層厚分布に基づく解析結果が得られるので、眼の異常の発見が容易となる。
　【００５８】
　このような場合、上記のように先に取得された正面画像を用いてトラッキングを行うことにより、パノラマ画像を構成する各３次元断層像は、的確な撮像位置にて取得されるため、良好なパノラマ画像が得られる。したがって、病変部が発見されやすく、病変部の検出精度が高まる。
　【００５９】
　なお、各断層画像の取得後、パノラマ断層画像を作成するとき、制御部７０は、断層画像の特徴部位（例えば、血管部分）がスムーズに繋ぎ合うように各３次元断層像間の位置合わせを行うようにしてもよい。例えば、各３次元画像に含まれる血管部分を利用して画像処理により位置合わせを行う。このようにすれば、画像取得時のトラッキングと、画像取得後の位置合わせとの組み合わせによって撮影位置のずれがいっそう解消される。なお、これらの位置合わせを行う場合、３次元断層像から形成されるＯＣＴ眼底像（例えば、積算画像）が利用されてもよいし、各３次元断層像に対応する正面画像が利用されてもよい。
　【００６０】
　また、制御部７０は、第１撮像領域にて取得された第１の３次元断層画像と、第２撮像領域にて取得された第２の３次元断層画像と、を相対的に回転させることにより各３次元断層画像間のずれを補正するようにしてもよい。
　【００６１】
　例えば、制御部７０は、３次元画像に含まれる網膜の各層がそれぞれスムーズに繋ぎ合うように画像処理によりずれを補正する。例えば、制御部７０は、第１の３次元断層画像に対し、ロール軸、ピッチ軸、ヨー軸に関して第２の３次元断層画像を画像処理により回転させればよい。
　【００６２】
　なお、上記実施形態において、トラッキングに利用される正面画像は、観察光学系２００によって取得された生画像であってもよいし、ある画像処理（例えば、血管抽出処理）が施された加工画像であってもよい。また、眼底の概略が特定される概略画像であれば、正面像には限定されない。例えば、概略画像として断層画像が用いられる。このとき、三次元断層像における特徴部位（例えば、乳頭、黄斑、病変部、網膜の各層、等）が利用されてもよい。
　【００６３】
　また、第１概略画像と第２概略画像は、異なる種類の概略画像であってもよい（例えば、画像処理前の正面像と画像処理後の正面像）。また、第１概略画像と第２概略画像は、異なる光学系によって取得された画像であってもよい（例えば、第１概略画像は、３次元断層像を形成するデータから取得された正面像であり、第２概略画像は、ＳＬＯ光学系によって取得される正面像）。
　【００６４】
　なお、上記実施形態において、視線方向の変化量を考慮して第１正面像と第２正面像との間の相対位置を検出する場合、制御部７０は、重複部分Ｔ１を移動させなくてもよい。例えば、制御部７０は、第２正面像において重複部分Ｔ１に相当する画像領域を探索し、重複部分Ｔ１に相当する画像領域の座標位置を検出する。そして、制御部７０は、検出された座標位置に対して視線方向の変化に対応するオフセットをかける。これにより、視線方向を考慮した相対位置が検出される。
　【００６５】
　なお、上記実施形態では、投影ユニット３００によって視標位置が変更されることにより撮像領域が変更された。この場合、眼底上において測定光の照射位置を変更可能な構成であれば、これに限定されない。例えば、制御部７０は、光スキャナ１０８によって測定ビームの進行方向を変更することにより撮像領域を変更してもよい。光スキャナ１０８と投影ユニット３００の組み合わせが利用されてもよい。
　【００６６】
　また、上記実施形態において、ＯＣＴ光学系１００によって取得される三次元断層像の撮像範囲と、観察光学系２００によって取得される正面像の撮像範囲は、同じサイズであってもよいし、異なるサイズであってもよい。
　【００６７】
　また、上記実施形態において、３次元断層像のパノラマの取得を例としたが、これに限定されない。制御部７０は、異なる撮像領域でのＯＣＴ断層像を取得し、取得された複数のＯＣＴ断層像に基づいてＯＣＴ断層像のパノラマを取得する。例えば、制御部７０は、ある横断方向に関する断層画像のパノラマを取得する。
　【００６８】
　図８はラインスキャンのパノラマを得るときの具体例を示す図である。ＬＳ１、ＬＳ２、ＬＳ３は、各スキャンラインを示す。例えば、制御部７０は、眼底の広範囲に亘るラインスキャン画像を得るため、隣接する断層像の端部同士が連続するように異なる撮像領域にてラインスキャン（ＬＳ１、ＬＳ２、ＬＳ３）を順次行う。この場合においても、制御部７０は、各断層像に対応する正面像を得る。そして、次の撮像領域の断層像を得るとき、制御部７０は、先に取得された正面像を用いてトラッキングを行う。そして、取得された各スキャンラインの断層像を繋ぎ合わせ、パノラマ画像を作成する。
　【００６９】
　なお、上記の実施形態では、制御部７０は、ずれ検出結果を用いて測定位置を補正した。なお、制御部７０は、ずれ検出結果をモニタ７５に表示するようにしてもよい（例えば、ずれ方向とずれ量が電子的に表示される）。この場合、検者は、モニタ７５を見ながら手動にて測定位置を補正できる。また、ずれ情報は、断層像の取得タイミングの参考となる。
　【００７０】
　なお、上記の実施形態では、眼底の断層像を得る装置が例示された。前述のパノラマ断層画像の取得手法は、眼の断層像を得る装置に関して用いられる。例えば、前眼部の断層像を得る装置においても用いられる。前眼部の場合、例えば、前眼部の正面を観察する光学系が設けられ、各撮像領域間の位置ずれを検出するための概略画像として前眼部の正面像が利用される。
　【００７１】
　２つの画像間の位置ずれを検出する手法としては、種々の画像処理手法（各種相関関数を用いる方法、フーリエ変換を利用する方法、特徴点のマッチングに基づく方法）を用いることが可能である。
　【００７２】
　例えば、基準画像又は計測画像（現在の眼底画像）を１画素ずつ位置ずれさせ、基準画像と対象画像を比較し、両データが最も一致したとき（相関が最も高くなるとき）の両データ間の位置ずれ方向及び位置ずれ量を検出する手法が考えられる。また、所定の基準画像及び対象画像から共通する特徴点を抽出し、抽出された特徴点の位置ずれ方向及び位置ずれ量を検出する手法が考えられる。
　【００７３】
　なお、テンプレートマッチングにおける評価関数は、類似度を示すＳＳＤ（Ｓｕｍ　ｏｆ　Ｓｑｕａｒｅｄ　Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）や相違度を示すＳＡＤ（Ｓｕｍ　ｏｆ　Ａｂｓｏｌｕｔｅ　Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）などを評価関数として用いてもよい。
　【図面の簡単な説明】
　【００７４】
　【図１】　本実施形態に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。
　【図２】　図２（ａ）は正面観察光学系２００によって得られる正面画像の例であり、図２（ｂ）はＯＣＴ光学系１００によって得られる断層画像の例である。
　【図３】　図３（ａ）は３次元断層像のパノラマを得るために設定された複数の撮像領域の例を示す図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の各撮像領域と，眼底との関係を示す図である
　【図４】　図３（ａ）の各撮像領域について立体的に説明するための図である。
　【図５】　各撮像領域における重複領域を示す図である。
　【図６】　図６（ａ）は第１の正面像の例、図６（ｂ）は第２正面像の例である。
　【図７】　図７（ａ）は重複部分Ｔ１が移動された後の第１の正面像、図７（ｂ）は位置ずれがある場合の重複部分の関係について説明する図である。
　【図８】　ラインスキャンのパノラマを得るときの具体例を示す図である。
　【符号の説明】
　【００７５】
　７０　制御部
　１００　光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ光学系）
　１０８　光スキャナ
　２００　正面観察光学系
　３００　固視標投影ユニット
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される
前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって
であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像
前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、
検
　
前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、
　
前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される
　【請求項２】
　
被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
　
始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、
　
前記
３次元
記第
３次元
複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で
と、
　を備えることを特徴とする
眼科撮影装置
　【請求項３】
　前記眼科撮影装置は、
　固視標を有し、複数の方向に被検者眼を誘導可能な固視標投影ユニットを備え、
　前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスは、被検者眼眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子により検出して眼底の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスであり、
　固視標投影ユニットを制御して各撮像領域に対応する位置に視標を呈示する制御手段と、
　各撮像領域にて取得された断層画像のパノラマを得るパノラマ画像作成手段と、
　を備えることを特徴とする請求項１〜２記載のいずれかの眼科撮影装置。
　【請求項４】
　前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における
前記固視標投影ユニットによる
量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて
検
３
の
　【請求項５】
　前記検出手段は、
　断層撮像位置を含む被検者眼の概略画像を取得するために被検者眼からの反射光を得る光学系と、
　第１撮像領域に対応する第１概略画像を基準画像として、第２撮像領域にて取得された第２の概略画像に対して、第１概略画像と第２概略画像との重複部分を利用したマッチングを行い、そのマッチング結果に基づいて前記連続性に関するずれを検出することを特徴とする請求項１〜４記載のいずれかの眼科撮影装置。