(57)【要約】一実施形態に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法は、光透過性を有する被検査フィルムＳに、照明光としての直線偏光光を照射しながら、直線偏光光の振動面に対して直交する方向に対して吸収軸Ａ１２Ｂが交差する状態で被検査フィルムと撮像装置１３の間に配置された直線偏光板１２Ｂを介して、撮像装置によって被検査フィルムを撮影することによって、被検査フィルムである光透過性フィルムの欠陥を検査する方法であって、被検査フィルムに直線偏光光が照射された際に、被検査フィルム及び直線偏光板を透過して撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である。
2016194874.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光透過性を有する被検査フィルムに、照明光としての直線偏光光を照射しながら、前記直線偏光光の振動面に対して直交する方向に対して吸収軸が交差する状態で前記被検査フィルムと撮像装置の間に配置された直線偏光板を介して、撮像装置によって前記被検査フィルムを撮影することによって、前記被検査フィルムである光透過性フィルムの欠陥を検査する方法であって、
前記被検査フィルムに前記直線偏光光が照射された際に、前記被検査フィルム及び前記直線偏光板を透過して前記撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、前記撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である、
光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項２】
前記入射光が緑色光である、
請求項１に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項３】
前記照明光が緑色光である、
請求項２に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項４】
前記照明光は白色光であり、
前記撮像装置に、前記被検査フィルムと前記撮像装置との間に配置される光学フィルタであって緑色光を選択的に通過させる前記光学フィルタを通過した光を前記入射光として入射させる、
請求項２に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項５】
前記直線偏光板は、前記直線偏光板の吸収軸が前記直線偏光光の振動面に直交する方向に対して８５°〜９０°または９０°〜９５°の角度で交差する状態で配置されている、
請求項１〜４の何れか一項に記載の欠陥検査方法。
【請求項６】
吸収軸を有しており前記吸収軸の方向と直交する方向に振動する直線偏光光を透過する光透過性を有する被検査フィルムに対して直線偏光板を、前記被検査フィルムの吸収軸と前記直線偏光板の吸収軸とが交差する状態で配置し、照明光を前記被検査フィルムに照射しながら、前記被検査フィルムを撮像装置で撮影することによって、前記被検査フィルムである光透過性フィルムの欠陥を検査する方法であって、
前記被検査フィルムに前記照明光が照射された際に、前記被検査フィルム及び前記直線偏光板を透過して前記撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、前記撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である、
光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項７】
前記入射光が緑色光である、
請求項６に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項８】
前記照明光が緑色光である、
請求項７に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項９】
前記照明光は白色光であり、
前記撮像装置に、前記被検査フィルムと前記撮像装置との間に配置される光学フィルタであって緑色光を選択的に通過させる前記光学フィルタを通過した光を前記入射光として入射させる、
請求項７に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法。
【請求項１０】
前記直線偏光板は、前記直線偏光板の吸収軸が前記被検査フィルムの吸収軸に対して８５°〜９０°または９０°〜９５°の角度で交差する状態で配置されている、
請求項６〜９の何れか一項に記載の欠陥検査方法。
【請求項１１】
光透過性を有する原料フィルムを用いて直線偏光子フィルムを製造する方法であって、
前記原料フィルムに直線偏光特性を付与する偏光特性付与工程と、
前記偏光特性付与工程前の前記原料フィルム、前記偏光特性付与工程中の前記原料フィルム、及び前記偏光特性付与工程後の前記原料フィルムのうち少なくとも一つを、被検査フィルムとして欠陥検査をする、少なくとも一つの欠陥検査工程と、
を備え、
前記欠陥検査工程において、前記偏光特性付与工程前の前記原料フィルム及び前記偏光特性付与工程中の前記原料フィルムの少なくとも一方を前記被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合、請求項１〜５の何れか一項に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法である第１の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行い、
前記欠陥検査工程において、前記偏光特性付与工程後の前記原料フィルムを前記被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合、請求項６〜１０の何れか一項に記載の光透過性フィルムの欠陥検査方法である第２の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行う、
直線偏光子フィルムの製造方法。
【請求項１２】
前記偏光特性付与工程は、
前記原料フィルムを一軸延伸する延伸工程と、
前記延伸工程で一軸延伸された前記原料フィルムを二色性色素によって染色する染色処理工程と、を有し、
前記欠陥検査工程は、前記延伸工程と前記染色処理工程との間において、前記延伸工程で一軸延伸された前記原料フィルムを前記被検査フィルムとして実施される、
請求項１１に記載の直線偏光子フィルムの製造方法。
【請求項１３】
前記偏光特性付与工程は、
前記原料フィルムを二色性色素によって染色する染色処理工程と、
前記染色処理工程で染色された前記原料フィルムを延伸する延伸工程と、を有し、
前記欠陥検査工程は、前記染色処理工程と前記延伸工程との間において、前記染色処理工程中の前記原料フィルム又は前記染色処理工程で染色された前記原料フィルムを前記被検査フィルムとして実施される、
請求項１１に記載の直線偏光子フィルムの製造方法。
【請求項１４】
前記直線偏光特性が付与された前記原料フィルムの少なくとも片面に保護フィルムを貼合する保護フィルム貼合工程を更に備え、
前記欠陥検査工程は、前記保護フィルム貼合工程を経た前記原料フィルムを前記被検査フィルムとして、実施される、請求項１１〜１３の何れか一項に記載の直線偏光子フィルムの製造方法。
【請求項１５】
請求項１１〜１３の何れか一項に記載の直線偏光子フィルムの製造方法で直線偏光子フィルムを製造する偏光子フィルム製造工程と、
前記偏光子フィルム製造工程で製造された前記直線偏光子フィルムの少なくとも片面に保護フィルムを貼合して積層偏光子フィルムを得る保護フィルム貼合工程と、
前記積層偏光子フィルムから製品としての偏光板を切り出す切出工程と、
を備える、偏光板の製造方法。
【請求項１６】
前記切出工程の前に、前記積層偏光子フィルムを被検査フィルムとして、前記第２の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行う、
請求項１５に記載の偏光板の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光透過性フィルムの欠陥検査方法に関し、直線偏光子フィルムの製造方法及び偏光板の製造方法にも関する。
【背景技術】
【０００２】
直線偏光子フィルム及び位相差フィルム等に例示される光透過性フィルムの欠陥検出方法として、特許文献１記載の技術が知られている。特許文献１では、互いの吸収軸（又は透過軸）が実質的に９０°で交差する状態で配置された第１及び第２偏光板の間に光学フィルム（光透過性フィルム）を配置している。そして、第１偏光板を通して照明光を光学フィルムに照射しながら、第２偏光板を介して光学フィルムを撮像装置で撮影する。この場合、光学フィルムには、第１偏光板を透過した照明光が照射されるので、直線偏光光が光学フィルムに照射される。一方、第２偏光板は第１偏光板に対して第１編光板の吸収軸が第２編光板の吸収軸に対して実質的に９０°で交差する状態で配置されているので、第１偏光板を透過した後の直線偏光光のうち、光学フィルムにおいて欠陥が生じていない正常部分を透過した光は、第２偏光板に吸収される。これに対して、光学フィルムにおいて欠陥が生じている欠陥部分では、直線偏光光の偏光状態が擾乱されるので、欠陥部分を透過した後の直線偏光光の一部が第２偏光板を透過する。よって、撮像装置で撮影された画像では、欠陥部分と正常部分とで輝度に差が生じる。これにより、理論的には、欠陥を検出可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２９８５５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に開示されているような従来の欠陥検査方法では、欠陥を確実に検出できない場合があった。【０００５】
そこで、本発明は、欠陥をより確実に検出可能な光透過性フィルムの欠陥検査方法及びその検査方法を利用した偏光子フィルムの製造方法及び偏光板の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一側面に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法（以下、「第１の欠陥検査方法」とも称する場合がある）は、光透過性を有する被検査フィルムに、照明光としての直線偏光光を照射しながら、被検査フィルムと撮像装置の間に直線偏光光の振動面に対して直交する方向に対して吸収軸が交差する状態で配置された直線偏光板を介して、撮像装置によって被検査フィルムを撮影することによって、被検査フィルムである光透過性フィルムの欠陥を検査する方法であって、被検査フィルムに直線偏光光が照射された際に、被検査フィルム及び直線偏光板を透過して撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である。【０００７】
上記第１の欠陥検査方法では、直線偏光板が直線偏光光に対しての振動面に対して直交する方向に対して吸収軸が交差する状態で配置されている。そのため、照明光としての直線偏光板が光透過性フィルムである被検査フィルムに照射されると、被検査フィルムにおいて欠陥が生じていない部分（以下、「正常部分」とも称す）を透過した光は直線偏光板を透過しにくい。一方、被検査フィルムにおいて欠陥が生じている部分（以下、「欠陥部分」とも称す）では、直線偏光板の偏光状態が擾乱されるので、被検査フィルムにおいて欠陥部分を透過した光は、正常部分を透過した光より多く、直線偏光板を透過する。そして、被検査フィルム及び直線偏光板を透過して撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下であることから、直線偏光板を介して撮像装置によって被検査フィルムを撮影すると、上記入射光を感度良く検出可能である。これにより、撮像装置で撮影した画像において、正常部分と欠陥部分との区別がし易く、結果として、被検査フィルムに欠陥が生じている場合に、その欠陥をより確実に検出可能である。【０００８】
上記直線偏光板は、直線偏光板の吸収軸が直線偏光光の振動面に直交する方向に対して８５°〜９０°または９０°〜９５°、好ましくは、８９°〜９０°または９０°〜９１°の角度で交差する状態で配置されていてもよい。この場合、正常部分を透過した光は直線偏光板を更に透過し難いことから、正常部分と欠陥部分とをより区別し易い。【０００９】
本発明の他の側面に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法（以下、「第２の欠陥検査方法」とも称する場合がある）は、吸収軸を有しており吸収軸の方向と直交する方向に振動する直線偏光光を透過する光透過性を有する被検査フィルムに対して直線偏光板を、被検査フィルムの吸収軸と直線偏光板の吸収軸とが交差する状態で配置し、照明光を被検査フィルムに照射しながら、被検査フィルムを撮像装置で撮影することによって、被検査フィルムである光透過性フィルムの欠陥を検査する方法であって、被検査フィルムに照明光が照射された際に、被検査フィルム及び直線偏光板を透過して撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、前記撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である。【００１０】
上記構成では、被検査フィルムにおいて欠陥が生じていない正常部分に入射した照明光は、撮像装置に入射し難い。一方、被検査フィルムにおいて欠陥が生じている欠陥部分では、被検査フィルムの直線偏光特性が乱されているため、被検査フィルムの欠陥部分に入射した照明光は、正常部分に入射した照明光より多く撮像装置に入射する。そして、被検査フィルム及び直線偏光板を透過して撮像装置に入射する入射光の最大強度波長と、撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下であることから、撮像装置で、被検査フィルムを撮影すると、上記入射光を感度良く検出可能である。これにより、撮像装置で撮影した画像において、正常部分と欠陥部分との区別がし易く、結果として、被検査フィルムに欠陥が生じている場合に、その欠陥をより確実に検出可能である。【００１１】
上記直線偏光板を、直線偏光板の吸収軸が被検査フィルムの吸収軸に対して８５°〜９０°または９０°〜９５°、好ましくは、８９°〜９０°または９０°〜９１°の角度で交差する状態で配置してもよい。【００１２】
上記入射光は緑色光であってもよい。【００１３】
入射光の最大強度波長と、撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下であることから、入射光が緑色光である場合、撮像装置も緑色光に対して高い感度を有する。そして、上記入射光が緑色光で、緑色光に感度を有する撮像装置で物体を撮影すると、画像においてコントラストが高くなる傾向にある。そのため、入射光が緑色光である上記形態では、欠陥をより明瞭に認識し易い。なお、入射光は、赤色光、黄色光又は青色光であってもよい。【００１４】
入射光が緑色光である形態では、照明光が緑色光であってもよい。或いは、照明光は白色光であり、被検査フィルムと撮像装置との間に配置される光学フィルタであって緑色光を選択的に通過させる光学フィルタを通過した光を入射光として撮像装置に入射させてもよい。【００１５】
本発明の他の側面に係る直線偏光子フィルムの製造方法は、光透過性を有する原料フィルムを用いて直線偏光子フィルムを製造する方法であって、原料フィルムに直線偏光特性を付与する偏光特性付与工程と、偏光特性付与工程前の原料フィルム、偏光特性付与工程中の原料フィルム、及び偏光特性付与工程後の原料フィルムのうち少なくとも一つを、被検査フィルムとして欠陥検査をする、少なくとも一つの欠陥検査工程と、を備え、欠陥検査工程において、偏光特性付与工程前の原料フィルム及び偏光特性付与工程中の原料フィルムの少なくとも一方を被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合、上記第１の欠陥査方法によって、欠陥検査を行い、欠陥検査工程において、偏光特性付与工程後の原料フィルムを被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合、上記第２の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行う。【００１６】
上記直線偏光子フィルムの製造方法では、偏光特性付与工程において、原料フィルムに直線偏光特性を付与することで、直線偏光子フィルムとすることができる。そして、偏光特性付与工程前の原料フィルム、偏光特性付与工程中の原料フィルム、及び偏光特性付与工程後の原料フィルムのうち少なくとも一つを、被検査フィルムとして欠陥検査を行う。この欠陥検査工程において、偏光特性付与工程前の原料フィルム及び偏光特性付与工程中の原料フィルムの少なくとも一方を被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合には、上述した第１の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行い、欠陥検査工程において、偏光特性付与工程後の原料フィルムを被検査フィルムとして欠陥検査を行う場合には、上述した第２の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行う。そのため、被検査フィルムの欠陥を感度良く検出できる。その結果、例えば、欠陥部分の位置を記録しておけば、製造した直線偏光子フィルムを用いて、例えば直線偏光子フィルムに直線偏光子フィルムを保護するための偏光子保護フィルムを貼合するなどして、偏光板を製造する際に、欠陥部分を含まない偏光板を製造し易い。【００１７】
上記偏光特性付与工程は、原料フィルムを二色性色素によって染色する染色処理工程と、染色処理工程で染色された原料フィルムを延伸する延伸工程と、を有してもよい。この場合、上記欠陥検査工程は、染色処理工程と延伸工程との間において、染色処理工程中の原料フィルム又は染色処理工程で染色された原料フィルムを被検査フィルムとして実施されてもよい。【００１８】
延伸工程前の原料フィルムの一部に、例えば、点状の欠陥があった場合、延伸工程でその欠陥も延伸され筋状の欠陥（筋状欠陥）になる場合があり得る。延伸工程後に欠陥検査工程を実施する形態では、延伸工程で生じる上記筋状欠陥を検出可能である。欠陥検査工程では、本発明の一側面に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法で、被検査フィルムとしての原料フィルムを検査しているので、上記筋状欠陥もより確実に検出し得る。【００１９】
一実施形態における直線偏光子フィルムの製造方法では、直線偏光特性が付与された原料フィルムの少なくとも片面に保護フィルムを貼合する保護フィルム貼合工程を更に備えてもよい。この場合、欠陥検査工程は、保護フィルム貼合工程を経た原料フィルムを被検査フィルムとして、実施されてもよい。【００２０】
この場合、保護フィルム自体の欠陥も検出可能である。【００２１】
本発明の更に他の側面に係る偏光板の製造方法は、本発明の他の側面に係る直線偏光子フィルムの製造方法で直線偏光子フィルムを製造する偏光子フィルム製造工程と、偏光子フィルム製造工程で製造された直線偏光子フィルムの少なくとも片面に保護フィルムを貼合して積層偏光子フィルムを得る保護フィルム貼合工程と、積層偏光子フィルムから製品としての偏光板を切り出す切出工程とを備える。【００２２】
この方法では、本発明の他の側面に係る直線偏光子フィルムの製造方法で直線偏光子フィルムを製造しているので、直線偏光子フィルムは、欠陥検査工程で欠陥検査が行われている。そのため、欠陥検査が行われた直線偏光子フィルムに保護フィルムを貼合して得られる積層偏光子フィルムから製品としての偏光板を切り出す際、例えば、欠陥部分を除いて偏光板を切り出すことが可能である。或いは、偏光板を切り出した後に、欠陥部分を有する偏光板を仕分けることが可能である。その結果、良品としての偏光板を効率的に得やすい。【００２３】
一実施形態において、切出工程の前に、積層偏光子フィルムを被検査フィルムとして、上記第２の欠陥検査方法によって、欠陥検査を行ってもよい。【００２４】
この場合、保護フィルム貼合工程において生じる欠陥又は保護フィルム自体の欠陥も検出可能であり、その結果に基づいて、偏光板を製造可能である。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、欠陥をより確実に検出可能な光透過性フィルムの欠陥検査方法及びその検査方法を利用した偏光子フィルムの製造方法及び偏光板の製造方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１は、第１の実施形態に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法を説明するための模式図である。
【図２】図２は、図１に示した光透過性フィルムの欠陥検査方法で使用する照明光の分光スペクトルの一例を示す図面である。
【図３】図３は、図１に示した光透過性フィルムの欠陥検査方法で使用する撮像装置の検出感度特性の一例を示す図面である。
【図４】図４は、照明光の最大強度波長と撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である場合の欠陥検出結果を示す図面である。
【図５】図５は、照明光の最大強度波長と撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍを超えている場合の欠陥検出結果を示す図面である。
【図６】図６は、第２の実施形態に係る光透過性フィルムの欠陥検査方法を説明するための模式図である。
【図７】図７は、第３の実施形態に係る直線偏光子フィルムの製造方法の一例を示すフローチャートである。
【図８】図８は、図７に示した直線偏光子フィルムの製造方法における延伸工程と欠陥検査工程とを説明するための図面である。
【図９】図９は、図７に示した直線偏光子フィルムの製造方法における膨潤処理工程から乾燥工程までを説明するための図面である。
【図１０】図１０は、図７に示した直線偏光子フィルムの製造方法において、染色処理工程後に欠陥検査工程を実施する場合の変形例を説明するための図面である。
【図１１】図１１は、図７に示した直線偏光子フィルムの製造方法において、保護フィルム貼合工程を更に実施する場合の変形例を示すフローローチャートである。
【図１２】図１２は、図１１に示したフローチャートで示す変形例での保護フィルム貼合工程を説明するための図面である。
【図１３】図１３は、第４の実施形態における偏光板の製造方法で製造される偏光板の構成を示す模式図である。
【図１４】図１４は、第４の実施形態における偏光板の製造方法の一例を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、光透過性フィルムの欠陥検査方法の他の例を説明するための模式図である。
【図１６】図１６は、図１５に示した光透過性フィルムの欠陥検査方法を利用した、撮像装置への入射光の最大強度波長と撮像装置の最大感度波長との差が２０ｎｍ以下である場合の欠陥検出結果を示す図面である。
【図１７】図１７は、実験で使用した青色ＬＥＤから出力される青色光の分光スペクトルを示す図面である。
【図１８】図１８は、実験で使用した赤色ＬＥＤから出力される赤色光の分光スペクトルを示す図面である。
【図１９】図１９は、照明光の最大強度波長と撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である場合の欠陥検出結果を示す図面である。
【図２０】図２０は、照明光の最大強度波長と撮像装置の最大感度波長との差が５０ｎｍ以下である場合の欠陥検出結果を示す図面である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。同一の要素には同一符号を付する。重複する説明は省略する。図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。説明中、「上」、「下」等の方向を示す語は、図面に示された状態に基づいた便宜的な語である。
【００２８】
（１）第１の実施形態
第１の実施形態では、図１の（ａ）に模式的に示す第１検査装置１０１を用いて、光透過性フィルムである被検査フィルムＳの欠陥を検査する方法（第１の欠陥検査方法）について説明する。
【００２９】
第１の実施形態において、被検査フィルムＳは、所定の直線偏光光を透過する直線偏光特性を有する直線偏光子フィルムの製造に用いられる原料フィルムである。原料フィルムの例は、ポリビニルアルコール（以下「ＰＶＡ」と称す場合もある）系樹脂フィルム、ポリ酢酸ビニル樹脂フィルム、エチレン／酢酸ビニル（以下「ＥＶＡ」と称する場合がある）樹脂フィルム、ポリアミド樹脂フィルム及びポリエステル樹脂フィルムを含む。通常、二色性染料の吸着性及び配向性の観点からＰＶＡ系樹脂フィルム、特にビニルアルコール単独を繰り返し単位とするＰＶＡフィルムが用いられる。被検査フィルムＳとしての原料フィルムの厚みは通常１μｍ以上５０μｍ以下である。
【００３０】
直線偏光子フィルムは、原料フィルムに直線偏光特性を付与する偏光特性付与処理を経て製造される。偏光特性付与処理は、原料フィルムを一軸延伸することと共に、二色性色素で染色することを含む。第１検査装置１０１で検査される原料フィルムは、偏光特性付与処理が施される前のものであってもよいし、偏光特性付与処理中のものであってもよい。
【００３１】
検出する欠陥の例は、筋状欠陥、凹み及び微小な異物を含む。「筋状欠陥」は、一方向に僅か（例えば、１μｍ程度）に盛り上がった欠陥である。「凹み」は、直径５００μｍ〜７００μｍ及び深さが０．２μｍ〜０．５μｍ程度の凹部であり、凹みの例は、直径５００μｍ且つ深さが０．５μｍ程度の小さく且つ深い凹部及び直径７００μｍ且つ深さが０．２μｍ程度の比較的大きく且つ浅い凹部を含む。「微小な異物」の例は、直径５００μｍ程度の異物を含む。
【００３２】
図１の（ａ）に示したように、第１検査装置１０１は、一対の直線偏光板１２Ａ，１２Ｂと、光源１１と、撮像装置１３と、画像処理装置１４とを備える。説明の便宜のため、図１に示したように、ＸＹＺ座標系を設定する。Ｚ軸方向は、直線偏光板１２Ａ，１２Ｂの厚み方向であり、Ｙ軸方向は、図１の（ａ）において左右方向である。
【００３３】
一対の直線偏光板１２Ａ，１２Ｂは、互いに平行に配置される。直線偏光板１２Ａと直線偏光板１２Ｂとは、図１の（ｂ）に模式的に示したように、直線偏光板１２Ａの吸収軸Ａ１２Ａと、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂとが第１の所定角度θ１で互いに交差するように配置される。吸収軸Ａ１２Ａと吸収軸Ａ１２Ｂとが交差するとは、被検査フィルムＳの厚さ方向（Ｚ軸方向）から見た場合にそれらが交差していることを意味しており、図１の（ｂ）は、被検査フィルムＳの厚さ方向（Ｚ軸方向）から見た場合の吸収軸Ａ１２Ａと吸収軸Ａ１２Ｂの交差状態を示している。第１の所定角度θ１は、被検査フィルムＳを撮像装置１３で撮像して得た画像において欠陥を容易に検出しうる角度が選択される。一実施形態において、第１の所定角度θ１は、８５°〜９０°、好ましくは、８９°〜９０°、より好ましくは８９．４°以上である。或いは、一実施形態において、第１の所定角度θ１は、９０°〜９５°、好ましくは９０°〜９１°、より好ましくは９０．６°以下である。
【００３４】
被検査フィルムＳの検査時には、一対の直線偏光板１２Ａ，１２Ｂの間に、被検査フィルムＳが、直線偏光板１２Ａ，１２Ｂに平行に配置される。直線偏光板１２Ａ，１２ＢのＸ軸方向の長さは、例えば、被検査フィルムＳのＸ軸方向の長さと同様とし得る。直線偏光板１２Ａ，１２ＢのＹ軸方向の長さは、通常、撮像装置１３の撮影領域のＹ軸方向の長さ以下であり、通常、被検査フィルムＳのＹ軸方向の長さより短い。
【００３５】
光源１１は、直線偏光板１２Ａからみて直線偏光板１２Ｂと反対側（図１の（ａ）において直線偏光板１２Ａの下方）に配置されており、被検査フィルムＳを照明するための照明光を出力する。光源１１から出力される照明光は無偏光光である。光源１１の例は、照明光として緑色光を出力する緑色ＬＥＤである。照明光が緑色光である場合の照明光の波長範囲の例は、４４０ｎｍ〜５９０ｎｍである。照明光が緑色光である形態では、一例として、光源１１からの出力光を照度計で直接的に（集光光学系を介さずに）検出した場合、照明光は、受光面積φ（直径）１ｍｍ当たり１８５０ルクス以上の光としてもよい。
【００３６】
撮像装置１３は、直線偏光板１２Ｂを介して被検査フィルムＳを撮影する。撮像装置１３は、通常、白黒カメラである。撮像装置１３の例は、光検出器がライン状に配置されたラインセンサカメラ及び光検出器が二次元状に配置されたエリアセンサカメラを含む。撮像装置１３は、撮影結果を画像処理装置１４に入力する。
【００３７】
画像処理装置１４は、コンピュータを有しており、撮像装置１３での撮影結果を示す信号を処理して、撮影画像を形成する。この際、被検査フィルムＳにおいて、欠陥が生じている欠陥部分と、それ以外の正常部分とを区別するように撮影画像を形成する。欠陥部分と正常部分とを画像上で区別するために、例えば、それらの間に濃淡差を付与してもよい。画像処理装置１４は、形成した撮影画像に基づいて欠陥部分を抽出する画像処理機能を備えてもよい。欠陥部分の抽出は、例えば、欠陥部分を着色することを含む。画像処理装置１４は、形成した画像を表示するディスプレイを有し得る。或いは、画像処理装置１４とは別に、画像処理装置１４が形成した画像を表示するディスプレイを第１検査装置１０１は有してもよい。通常、撮像装置１３の撮影画像は、白黒（モノクロ）画像である。
【００３８】
第１検査装置１０１において、光源１１及び撮像装置１３は、光源１１から出力される照明光の最大強度に対応する波長である最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度に対応する波長である最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下であるという関係を満たす光源１１及び撮像装置１３である。最大強度波長λｍｓは、照明光の分光スペクトルにおいて光強度の極大値に対応する波長でもある。撮像装置１３の最大感度波長λｍｄは、具体的には、撮像装置１３が有する光検出器の最大感度波長λｍｄである。上記最大強度波長λｍｓと最大感度波長λｍｄとの差は、２０ｎｍ以下であることが好ましい。
【００３９】
光源１１から出力される照明光の例は、光強度が極大且つ最大である最大強度波長λｍｓが波長範囲５１５．５ｎｍ〜５１６．５ｎｍにある緑色光であって、緑色光のスペクトルの半値全幅が通常５０ｎｍ以下、好ましくは４０ｎｍ以下であり、通常は１０ｎｍ以上である光である。照明光の例は、可視光領域において、最大強度波長λｍｓから通常７５ｎｍ以上、好ましくは６０ｎｍ以上下回る波長範囲とλｍｓから通常７５ｎｍ以上、好ましくは６０ｎｍ以上上回る波長範囲における光強度が、最大強度の通常２５％以下、好ましくは１０％以下である光である。撮像装置１３の最大感度波長λｍｄ、より具体的には、撮像装置１３が有する光検出器の最大感度波長λｍｄの例は、５００ｎｍである。
【００４０】
次に、第１検査装置１０１で被検査フィルムＳの欠陥を検査する方法について説明する。被検査フィルムＳの欠陥を検査する場合、一対の直線偏光板１２Ａ，１２Ｂの間に被検査フィルムＳを配置する。そして、光源１１から照明光を出力しながら、撮像装置１３で、直線偏光板１２Ｂを介して被検査フィルムＳを撮影する。
【００４１】
光源１１からの照明光は、直線偏光板１２Ａを通って直線偏光光として被検査フィルムＳに照射される。そのため、被検査フィルムＳには、直線偏光板１２Ａを透過した直線偏光光が照明光として照射される。そして、被検査フィルムＳを透過した光が、直線偏光板１２Ｂに入射される。直線偏光板１２Ｂは直線偏光板１２Ａに対して、吸収軸Ａ１２Ａ，Ａ１２Ｂが第１の所定角度θ１で交差する状態で配置されている。すなわち、直線偏光板１２Ｂは、吸収軸Ａ１２Ｂが、被検査フィルムＳに照射される照明光である直線偏光光の振動面に対して第１の所定角度θ１で交差するように配置されている。よって、被検査フィルムＳにおいて欠陥が生じていない正常部分では、被検査フィルムＳを透過した光は、直線偏光板１２Ｂを透過し難い。一方、被検査フィルムＳに欠陥があると、欠陥部分を透過する直線偏光光の偏光が擾乱される。これにより、欠陥部分を透過した光は直線偏光板１２Ｂを透過し易い。そのため、正常部分を透過した光に対して欠陥部分を透過した光の方がより多く撮像装置１３に入射される。
【００４２】
従って、被検査フィルムＳに欠陥がある場合、正常部分と欠陥部分とにおいて輝度差が生じるので、欠陥を検出できる。例えば、所定の閾値以上の輝度信号は欠陥部分に対応していると設定しておくことで、欠陥部分と正常部分とを判別し得る。よって、画像処理装置１４が、例えば、正常部分と欠陥部分とを輝度に応じた濃淡によって表した撮影画像を形成することで、欠陥部分を確認できる。
【００４３】
第１の実施形態において、被検査フィルムＳに照射される照明光が有する最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は５０ｎｍ以下である。
【００４４】
このように、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとが近いため、第１検査装置１０１を利用した欠陥検査方法では、欠陥を高感度で検出可能である。
【００４５】
照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍを超えていると、欠陥のうち、例えば、一方向に延びており僅かに隆起した欠陥である筋状欠陥を検出できない。これに対して、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下であれば、筋状欠陥を検出可能である。
【００４６】
更に、緑色光を照明光として撮影するとコントラストの高い画像（特に濃淡画像）を得やすい。そして、照明光に緑色光を使用している場合、撮像装置１３も緑色光に高い感度を有する。そのため、光源１１から出力される光が緑色光であることにより、欠陥部分と正常部分とをより明瞭に区別し得るので、結果として、欠陥部分、特に、従来では検出できなかった筋状欠陥をより確実に検出できる。
【００４７】
直線偏光板１２Ａ，１２Ｂは、緑色光を吸収し易い傾向にある。そのため、光源１１から緑色光を出力する形態では、光源１１から出力される照明光の照度が高いと、例えば、照度が受光面積φ１ｍｍ当たり１８５０ルクス以上であると、欠陥を検出し易い。
【００４８】
第１の所定角度θ１が８５°〜９０°、好ましくは８９°〜９０°、更に好ましくは８９．４°以上である形態、或いは、９０°〜９５°、好ましくは９０°〜９１°、更に好ましくは９０．６°以下である形態では、吸収軸Ａ１２Ａと吸収軸Ａ１２Ｂとは、実質的に９０°で交差している。そのため、撮像装置１３には、欠陥部分を透過した光が入射する一方、正常部分を透過した光は実質的に入射しない。よって、正常部分と欠陥部分とをより区別し易い。
【００４９】
実験結果を利用して、第１検査装置１０１によって、欠陥をより確実に検出できる点について説明する。実験として実験Ｅ１と実験Ｅ２とを行った。実験Ｅ１，Ｅ２の説明では、説明の便宜のため、第１検査装置１０１の構成要素に対応する構成要素には同じ符号を付す。
【００５０】
実験Ｅ１，Ｅ２のいずれにおいても、図１の（ａ）に示した構成の第１検査装置１０１を採用した。実験Ｅ１では、光源１１として、緑色光を出力する緑色ＬＥＤを用いた。実験Ｅ１で用いた緑色ＬＥＤから出力される照明光の分光スペクトルは図２に示す通りである。図２の横軸は波長（ｎｍ）を示しており、縦軸は、相対光強度（任意単位）を示している。図２より、実験Ｅ１での照明光の最大強度波長λｍｓは、５１６ｎｍであり、スペクトルの半値全幅が３９．５ｎｍである緑色光である。実験Ｅ２では、光源１１として、白色光を出力する白色ＬＥＤを用いた。実験Ｅ２の光源１１からの出力される照明光の最大強度波長λｍｓは、４２５ｎｍである。
【００５１】
実験Ｅ１，Ｅ２における撮像装置１３は同じものを使用した。撮像装置１３の検出感度特性は、図３に示す通りである。図３において、横軸は波長（ｎｍ）を示しており、縦軸は、最大感度で規格化した相対値を示している。図３に示したように、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄは５００ｎｍである。
【００５２】
上記実験Ｅ１，Ｅ２の第１検査装置１０１の条件から理解されるように、実験Ｅ１では、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は１６ｎｍである。すなわち、実験Ｅ１では、最大強度波長λｍｓと最大感度波長λｍｄとの差は、５０ｎｍ以下であり、より具体的には、２０ｎｍ以下である。一方、実験Ｅ２では、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は７５ｎｍである。すなわち、実験Ｅ２では、最大強度波長λｍｓと最大感度波長λｍｄとの差は５０ｎｍを超えている。
【００５３】
実験Ｅ１，Ｅ２において、被検査フィルムＳは、一軸延伸されたポリビニールアルコール(ＰＶＡ)フィルムである。ＰＶＡフィルムは、水分を吸収して皺などが生じ易いため、実験Ｅ１，Ｅ２では、同じ条件で製造したＰＶＡフィルムをそれぞれ準備した。被検査フィルムＳとしてのＰＶＡフィルムの厚さは、実験Ｅ１及び実験Ｅ２のいずれにおいても８μｍであった。
【００５４】
実験Ｅ１，Ｅ２では、それぞれの被検査フィルムＳを直線偏光板１２Ａ，１２Ｂの間に配置した後、光源１１から照明光を出力した。そして、直線偏光板１２Ｂを介して撮像装置１３で被検査フィルムＳを撮像することによって、欠陥を検査した。実験Ｅ１，Ｅ２では、直線偏光板１２Ａ，１２Ｂを、第１の所定角度θ１が９０°であるように配置した。
【００５５】
実験Ｅ１では、撮像装置１３の撮像画像である図４に示すように、筋状欠陥が明瞭に写っており、筋状欠陥を検出できることがわかる。一方、実験Ｅ２では、撮像装置１３の撮像画像である図５に示すように、図４と比較して、筋状欠陥を著しく検出し難いことがわかる。
【００５６】
このように、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差を５０ｎｍ以下とすることで、欠陥をより確実に検出可能であり、特に、筋状欠陥を適切に検出できることが理解される。
【００５７】
（２）第２の実施形態
第２の実施形態では、図６の（ａ）に模式的に示す第２検査装置１０２を用いて、光透過性フィルムである被検査フィルムＳの欠陥を検査する方法（第２の欠陥検査方法）について説明する。第２の実施形態でも、説明の便宜のため、図１の（ａ）に示したＸＹＺ座標系と同様のＸＹＺ座標系を用いて説明する場合もある。
【００５８】
第２の実施形態で検査する被検査フィルムＳは、直線偏光特性、すなわち、吸収軸ＡＳを有する光透過性フィルムである。このような光透過性フィルムの例は、吸収軸ＡＳの方向と直交する方向に偏光した直線偏光光を透過する直線偏光子フィルム、及び、直線偏光子フィルムの少なくとも片面に保護フィルムが積層された積層偏光子フィルムを含む。
【００５９】
保護フィルムは透明な光透過性フィルムであり、保護フィルムの例は、トリアセチルセルロース（以下、「ＴＡＣ」とも称す場合がある）系フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ナイロンフィルム、ポリカーボネートフィルム及びポリエチレンフィルム等を含む。通常、光学異方性が小さいＴＡＣ系フィルム、特に、トリアセチルセルロースのホモポリマーからなるＴＡＣフィルムが用いられる。
【００６０】
被検査フィルムＳとしての積層偏光子フィルムの厚みは通常５μｍ〜３００μｍ（０．３ｍｍ）である。
【００６１】
第２検査装置１０２は、直線偏光板１２Ａを備えない点で、第１検査装置１０１と主に相違する。この相違点を中心にして第２検査装置１０２について説明する。第２検査装置１０２では、被検査フィルムＳと直線偏光板１２Ｂとを、図６の（ｂ）に模式的に示すように、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂが被検査フィルムＳの吸収軸ＡＳに対して第２の所定角度θ２で交差する状態で配置する。吸収軸ＡＳと吸収軸Ａ１２Ｂとが交差するとは、被検査フィルムＳの厚さ方向（Ｚ軸方向）から見た場合にそれらが交差していることを意味しており、図６の（ｂ）は、被検査フィルムＳの厚さ方向（Ｚ軸方向）から見た場合の吸収軸ＡＳと吸収軸Ａ１２Ｂの交差状態を示している。第２の所定角度θ２は、被検査フィルムＳを撮像装置１３で撮像して得た画像において欠陥を容易に検出しうる角度が選択され得る。一実施形態において、第２の所定角度θ２は、第１の所定角度θ１と同じであってもよい。例えば、第２の所定角度θ２は、８５°〜９０°、好ましくは、８９°〜９０°、より好ましくは８９．４°以上とし得る。或いは、第２の所定角度θ２は、９０°〜９５°、好ましくは９０°〜９１°、より好ましくは９０．６°以下とし得る。
【００６２】
第２検査装置１０２を用いた被検査フィルムＳの検査方法について説明する。被検査フィルムＳの欠陥を検査する場合、光源１１から照明光を被検査フィルムＳに照射する。被検査フィルムＳは、直線偏光特性を有するため、被検査フィルムＳにおいて欠陥が生じていない正常部分を透過した光は直線偏光光である。この場合、直線偏光板１２Ｂは被検査フィルムＳに対して、第２の所定角度θ２で交差する状態で配置されているので、被検査フィルムＳの正常部分を透過してきた直線偏光光の多くは、直線偏光板１２Ｂに吸収され、これを透過しない。すなわち、正常部分を透過してきた直線偏光光は直線偏光板１２Ｂを透過し難い。
【００６３】
一方、被検査フィルムＳにおいて欠陥が生じている欠陥部分があると、欠陥部分において、被検査フィルムＳの直線偏光特性が乱されている。その結果、欠陥部分を透過した光には、被検査フィルムＳにおいて生成される直線偏光と異なる偏光成分の光も含まれる。この場合、被検査フィルムＳの欠陥部分を透過してきた光は、直線偏光板１２Ｂを透過し易い。これにより、正常部分を透過した光より欠陥部分を透過した光の方が多く直線偏光板１２Ｂを透過して撮像装置１３に入射光として入射される。
【００６４】
このように、正常部分と欠陥部分とにおいて、撮像装置１３に入射する光の量の差が生じていると共に、被検査フィルムＳに照射される照明光が有する最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は５０ｎｍ以下である。従って、被検査フィルムＳに欠陥がある場合、正常部分と欠陥部分とにおいて輝度差がより明確に生じる。その結果、第１の実施形態の場合と同様にして、欠陥を検出できる。
【００６５】
第２検査装置１０２においても、被検査フィルムＳと直線偏光板１２Ｂとは、吸収軸ＡＳ，Ａ１２Ｂが第２の所定角度θ２で交差する状態で配置されており、被検査フィルムＳに照射される照明光が有する最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は５０ｎｍ以下であることから、第２検査装置１０２によって、第１検査装置１０１の場合と同様にして、被検査フィルムＳの欠陥を検査できる。そのため、第２検査装置１０２を利用した欠陥検査方法は、第１の実施形態における第１検査装置１０１を利用した場合の欠陥検査方法と少なくとも同様の作用効果を有する。
【００６６】
（３）第３の実施形態
第３の実施形態として、第１及び第２の実施形態で説明した欠陥検査方法の少なくとも一つを利用した直線偏光子フィルムの製造方法について説明する。
【００６７】
直線偏光子フィルムは、未延伸及び未染色の原料フィルムに直線偏光特性を付与する偏光特性付与処理を施して製造される。直線偏光子フィルムを製造するための原料フィルムの例は、第１の実施形態で例示したフィルムと同様である。原料フィルムとしては、通常、例えば、ＰＶＡ系フィルム、特に、ＰＶＡフィルムが用いられる。直線偏光子フィルムを製造する場合、原料フィルムは、帯状であって、ロール状に巻かれた状態で準備される傾向にある。そのため、原料フィルム１は、原反フィルムでもある。
【００６８】
図７に示したように、直線偏光子フィルムの製造方法は、原料フィルムを一軸延伸する延伸工程Ｓ１０と、一軸延伸された原料フィルムの欠陥を検査する欠陥検査工程Ｓ１１と、一軸延伸された原料フィルムを二色性色素で染色する染色処理工程Ｓ１３とを有する。原料フィルムを延伸すると共に、原料フィルムを二色性色素で染色することによって、原料フィルムに直線偏光特性が付与されるので、延伸工程Ｓ１０と染色処理工程Ｓ１３とが、原料フィルムに偏光特性付与処理を実施する偏光特性付与工程を構成している。
【００６９】
一実施形態において、図７に示したように、染色処理工程Ｓ１３の前に、膨潤処理工程Ｓ１２を有し、染色処理工程Ｓ１３の後に、ホウ酸処理工程Ｓ１４、水洗処理工程Ｓ１５及び乾燥工程Ｓ１６を有してもよい。図８及び図９を参照しながら、図７に例示した各工程について説明する。以下では、膨潤処理工程Ｓ１２、ホウ酸処理工程Ｓ１４及び水洗処理工程Ｓ１７及び乾燥工程Ｓ１６を含む形態を例示して説明する。
【００７０】
（３−１）延伸工程
延伸工程Ｓ１０では、図８に示したように、帯状の原料フィルム１がロール状に巻かれた第１原料フィルムロール２から原料フィルム１を繰り出し、搬送ローラにより、原料フィルム１を延伸装置２０に搬送する。延伸装置２０内で、乾式の延伸方法によって、原料フィルム１を一軸延伸した後、延伸装置２０から、一軸延伸された原料フィルム１を搬出する。
【００７１】
具体的には、延伸装置２０は、熱ロール２１と、原料フィルム１の搬送方向において、熱ロール２１の前後に配置された搬送ローラ２２Ａ，２２Ｂとを有する。原料フィルム１の厚み方向において、搬送ローラ２２Ａ，２２Ｂの位置と、熱ロール２１の位置とは、異なっている。延伸装置２０内では、原料フィルム１を、熱ロール２１に掛け渡し、原料フィルム１の搬送方向において熱ロール２１の前後の搬送ローラ２２Ａ，２２Ｂによって、原料フィルム１の搬送方向（長手方向）にテンションをかけて原料フィルム１を一軸延伸する。延伸倍率の例は、３倍〜８倍である。
【００７２】
延伸装置２０では、熱ロール２１を用いて原料フィルム１を一軸延伸しているが、例えば、搬送ローラ２２Ａの周速と、搬送ローラ２２Ｂの周速とを異なる値とすることによって、原料フィルム１を一軸延伸してもよい。
【００７３】
（３−２）欠陥検査工程
欠陥検査工程Ｓ１１では、図８に示したように、延伸装置２０から搬出された原料フィルム１を被検査フィルムＳとして、原料フィルム１の欠陥検査を行う。図７に示したように、延伸工程Ｓ１０と、染色処理工程Ｓ１３との間で、欠陥検査を行う場合、原料フィルム１には、直線偏光特性が付与されていない。そのため、延伸工程Ｓ１０と、染色処理工程Ｓ１３との間で、欠陥検査を行う場合、第１の実施形態で説明した第１検査装置１０１を利用した欠陥検査方法によって、欠陥の検査を行う。
【００７４】
第１検査装置１０１は、図８に示したように、延伸装置２０の下流において、原料フィルム１の搬送路上に配置される。具体的には、吸収軸Ａ１２Ａ，Ａ１２Ｂが第１の所定角度θ１で交差する状態で配置された直線偏光板１２Ａ，１２Ｂの間に原料フィルム１を搬送しながら通す。その際、光源１１から照明光を出力しておき、撮像装置１３で、直線偏光板１２Ｂを介して原料フィルム１を撮影する。撮像装置１３での撮影結果に基づいて画像処理装置１４において撮像画像を形成する。この撮影画像を見て、欠陥の有無を判断し得る。
【００７５】
第１の実施形態で説明したように、２つの直線偏光板１２Ａ，１２Ｂは第１の所定角度θ１で交差する状態で配置されているので、被検査フィルムＳにおいて、欠陥がない正常部分を透過した光は、撮像装置１３に入射し難い。一方、原料フィルム１に欠陥部分がある場合、その欠陥部分において、直線偏光板１２Ａを透過した直線偏光光が擾乱されるので、被検査フィルムＳとしての原料フィルム１を透過した光は、直線偏光板１２Ｂを透過して撮像装置１３に入射し易い。すなわち、原料フィルム１に欠陥部分がある場合、欠陥部分を透過した光の方が正常部分を透過した光より多く撮像装置１３に入射する。そして、被検査フィルムＳに照射される照明光が有する最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は５０ｎｍ以下である。その結果、原料フィルム１に欠陥がある場合、欠陥部分と他の正常部分との間の輝度差をより明確に検出でき、結果として、欠陥が更に確実に検出され得る。
【００７６】
欠陥検査工程Ｓ１１で、欠陥が検出された場合、例えば、欠陥の位置を記録しておく。欠陥位置は、例えば、電子的に記録媒体に記録してもよいし、原料フィルム１の欠陥部分にマーカーなどによってマークを施すことによって記録してもよい。記録媒体としては、例えば、画像処理装置１４における記憶部でもよいし、他のコンピュータの記憶部、又は、ＵＳＢメモリ及びＤＶＤ等の着脱可能な外部記録媒体でもよい。
【００７７】
第１検査装置１０１を通過した原料フィルム１は、ロール状に巻き取られる。延伸済みの原料フィルム１が巻き取られたロールを第２原料フィルムロール３と称す。
【００７８】
（３−３）膨潤処理工程
膨潤処理工程Ｓ１２では、図９に示したように、第２原料フィルムロール３から繰り出された一軸延伸済みの原料フィルム１を膨潤槽３０内の処理浴に浸漬することによって、原料フィルム１に膨潤処理を行う。この膨潤処理は、フィルム表面の異物除去、フィルム中の可塑剤除去、後工程での易染色性の付与、原料フィルム１の可塑化などの目的で行われる。膨潤処理の条件は、これらの目的が達成できる範囲で、かつ原料フィルム１の極端な溶解、失透などの不具合が生じない範囲で決定され得る。膨潤処理工程Ｓ１２では、原料フィルム１を、例えば、温度１０〜５０℃、好ましくは２０〜５０℃の処理浴に浸漬することにより、膨潤処理が行われる。膨潤処理の時間は、５〜３００秒程度であり、好ましくは２０〜２４０秒程度である。
【００７９】
膨潤槽３０で使用する処理浴は、純水の他、特開平１０−１５３７０９号公報に記載されるようなホウ酸、特開平６−２８１８１６号公報に記載されるような塩化物、また、その他の無機酸、その他の無機塩、水溶性有機溶媒、アルコール類などを０.０１〜１０重量％の範囲で添加した水溶液であることができる。ただし、この膨潤槽３０では、実質的に溶解成分のない純水が好ましく用いられる。
【００８０】
（３−４）染色処理工程
染色処理工程Ｓ１３では、膨潤処理工程Ｓ１２を経た原料フィルム１を染色槽３１内の二色性色素の水溶液に浸漬することによって、原料フィルム１を二色性色素で染色する。通常の二色性色素による染色処理は、原料フィルム１に二色性色素を吸着させるなどの目的で行われる。処理条件はこのような目的が達成できる範囲で、かつ原料フィルム１の極端な溶解、失透などの不具合が生じない範囲で決定される。染色に使用される二色性色素の例は、ヨウ素及び二色性染料である。
【００８１】
二色性色素としてヨウ素を用いる場合は、例えば１０〜５０℃、好ましくは２０〜４０℃の温度で、かつ、水１００重量部に対して、ヨウ素を０.００３〜０.２重量部及びヨウ化カリウムを ０.１〜１０重量部含む水溶液中に、１０〜６００秒間、好ましくは３０〜２００秒間、原料フィルムを浸漬することにより、染色処理が行われる。ヨウ化カリウムに代えて他のヨウ化物、例えば、ヨウ化亜鉛などを用いてもよい。また、他のヨウ化物をヨウ化カリウムと併用してもよい。さらに、ヨウ化物以外の化合物、例えば、ホウ酸、塩化亜鉛、塩化コバルトなどを共存させてもよい。ホウ酸を添加する場合でも、ヨウ素を含む点で、この後のホウ酸処理と区別される。水１００重量部に対し、ヨウ素を０.００３重量部以上含んでいる浴であれば、染色浴とみなすことができる。
【００８２】
二色性色素として水溶性二色性染料を用いる場合は、例えば２０〜８０℃、好ましくは３０〜６０℃の温度で、かつ、水１００重量部に対して二色性染料を ０.００１〜０.１ 重量部含む水溶液中に、１０〜６００秒間、好ましくは２０〜３００秒間、原料フィルム１を浸漬することにより、染色処理が行われる。使用する二色性染料の水溶液は、染色助剤などを含有していてもよく、例えば、硫酸ナトリウムの如き無機塩、界面活性剤などを含有していてもよい。二色性染料は１種類だけ用いてもよいし、所望される色相に応じて２種類以上の二色性染料を併用することもできる。
【００８３】
図７に示したように、延伸工程Ｓ１０の後に、染色処理工程Ｓ１３が行われる形態では、染色処理工程Ｓ１３を経ることによって、一軸延伸の延伸方向に二色性色素が原料フィルム１に吸着配向され、原料フィルム１に直線偏光特性が付与される。そのため、図７に示したフローチャートに沿った製造方法では、染色処理工程Ｓ１３後の原料フィルム１が直線偏光子フィルム４である。ただし、染色処理工程Ｓ１３以降の各工程も連続して順次実行されるので、染色処理工程Ｓ１３以降の各工程で処理されるフィルムも原料フィルム１として説明する。
【００８４】
（３−５）ホウ酸処理
ホウ酸処理工程Ｓ１４では、図９に示したように、染色処理工程Ｓ１３を経た原料フィルム１を、ホウ酸槽３２内の水溶液に浸漬することでホウ酸処理を施す。このホウ酸処理は、水１００重量部に対してホウ酸を約１〜１０重量部含有する水溶液に、二色性色素で染色された原料フィルム１を浸漬することにより行われる。二色性色素としてヨウ素を用いた場合、このホウ酸処理浴は、ホウ酸に加え、水１００重量部に対してヨウ化物を約０.１〜３０重量部含有するのが好ましい。ヨウ化物としては、ヨウ化カリウムやヨウ化亜鉛などが挙げられる。
【００８５】
このホウ酸処理は、架橋による耐水化や色相調整（青味がかるのを防止すること）等のために行われる。架橋による耐水化を目的とする場合には、必要に応じて、ホウ酸とともに、グリオキザールやグルタルアルデヒドなどの架橋剤を使用することができる。なお、耐水化のためのホウ酸処理は、耐水化処理、架橋処理、固定化処理などと呼称されることもある。また、ホウ酸処理を色相調整のためと捉え、補色処理、調色処理などと呼称されることもある。
【００８６】
このホウ酸処理は、その目的によって、ホウ酸及びヨウ化物の濃度や処理浴の温度を適宜変更して行われる。耐水化のためのホウ酸処理と色相調整のためのホウ酸処理は、特に区別されるものではないが、好ましくは以下のような条件で実施される。
【００８７】
原料フィルム１に、膨潤、染色、及びホウ酸処理を順次施す場合で、ホウ酸処理が架橋による耐水化を目的とするときは、水１００重量部に対して、ホウ酸を約３〜１０重量部及びヨウ化物を約１〜２０重量部含有する水溶液をホウ酸処理浴とし、通常５０〜７０℃、好ましくは５３〜６５℃の温度で行われる。処理時間は、通常１０〜６００秒程度、好ましくは２０〜３００秒、より好ましくは２０〜１００秒である。
【００８８】
耐水化のためのホウ酸処理を行った後、色相調整のためのホウ酸処理をさらに行ってもよい。例えば、二色性染料がヨウ素の場合、この目的のためには、水１００重量部に対して、ホウ酸を約１〜５重量部及びヨウ化物を約３〜３０重量部含有する水溶液をホウ酸処理浴とし、通常１０〜４５℃程度の温度で行われる。浸漬時間は、通常、１〜３００秒程度、好ましくは２〜１００秒である。色相調整のためのホウ酸処理は、耐水化のためのホウ酸処理に比べて、通常、低い温度で行われる。
【００８９】
そこで、このホウ酸処理は複数の槽で行ってもよく、通常は１〜５の槽を配置することが多い。複数の槽を配置した場合は、原料フィルム１が順次各槽を通過し、その原料フィルム１にホウ酸処理が施される。複数の槽を配置する場合、使用する各ホウ酸処理槽の水溶液組成や温度は、上記の範囲内で同じであっても、異なっていてもよい。上記耐水化のためのホウ酸処理、色相調整のためのホウ酸処理をそれぞれ複数の槽で行ってもよい。
【００９０】
（３−６）水洗処理工程
水洗処理工程Ｓ１５では、ホウ酸処理工程Ｓ１４を経た原料フィルム１を水洗槽３３内の水に浸漬して、ホウ酸処理工程Ｓ１４後の原料フィルム１を水洗いする。ただし、水洗処理は、水をシャワーとして噴霧する方法、或いは、浸漬と噴霧を併用する方法などによって行ってもよい。水洗処理における水の温度は、通常２〜４０℃程度であり、処理時間は、通常２〜１２０秒程度である。
【００９１】
（３−７）乾燥工程
乾燥工程Ｓ１６では、水洗処理工程Ｓ１５を経た原料フィルム１を乾燥装置３４に搬送し、乾燥装置３４内で原料フィルム１を乾燥させる。この乾燥は、約４０〜１００℃の温度に保たれた乾燥装置３４の中で、約３０〜６００秒程度行われる。図９では、乾燥装置３４を模式的に示している。乾燥装置３４は、乾燥工程Ｓ１６までに原料フィルム１に付着した水分を乾燥できれば特に限定されず、直線偏光子フィルムの製造において、通常、使用される公知のものでよい。
【００９２】
上記製造方法によれば、延伸工程Ｓ１０の後に、欠陥検査工程Ｓ１１を実施している。そのため、第１原料フィルムロール２から繰り出された後、第１検査装置１０１に到達するまでの原料フィルム１に生じた欠陥を検査することができる。
【００９３】
欠陥検査工程Ｓ１１では、第１の実施形態で説明した検査方法で欠陥検査を行っている。そのため、原料フィルム１に欠陥が存在する場合、欠陥部分をより確実に検出可能である。
【００９４】
未延伸の原料フィルム１自体の製造工程において、搬送ロール又は巻取りロールなどの表面に付着していた異物に起因して、未延伸の原料フィルム１に欠陥（例えば、点状の欠陥）が生じている場合がある。このような欠陥を含む原料フィルム１を延伸工程Ｓ１０において一軸延伸すると、筋状欠陥となる場合がある。
【００９５】
このような筋状欠陥は、従来の検査方法では検出できなかった。これに対して、第１の実施形態で説明したように、最大強度波長λｍｓと最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下であるという関係を満たす照明光と撮像装置１３とを使用して欠陥検査を行っていることにより、欠陥検査工程Ｓ１１では、上記筋状欠陥も検出可能である。照明光が緑色光である形態では、筋状欠陥をより検出し易い。
【００９６】
そして、図７に示したように、欠陥検査工程Ｓ１１を延伸工程Ｓ１０の後に設けているので、上記筋状欠陥を確実に検出できる。
【００９７】
欠陥検査によって、欠陥が検出された場合、前述したように、電子的に欠陥位置を記録するか、又は、原料フィルム１の欠陥部分にマークをすることが可能である。欠陥検査工程Ｓ１１を行いながら或いは欠陥検査工程Ｓ１１の後に、上述したような記録処理（記録工程）を行うことにより、例えば、直線偏光子フィルム４を利用して偏光板を製造する場合、欠陥部分を避けて偏光板を製造すること、或いは、製造した偏光板から欠陥部分を含むものを容易に仕分けることが可能である。その結果、良品としての偏光板を得やすい。
【００９８】
或いは、原料フィルム１における欠陥状態（例えば、欠陥部分の数又は大きさ等）が許容範囲を超えている場合、例えば、直線偏光子フィルム４の製造を中断して、第１原料フィルムロール２を取り替えてもよい。この場合、欠陥状態が許容範囲を超えている原料フィルム１に対して、後工程を省略できるので、良品としての直線偏光子フィルム４を効率的に製造できる。直線偏光子フィルム４の製造を中断するか否かの判断は、例えば、欠陥検査工程Ｓ１１において画像処理装置１４で形成される撮影画像を見ながら行ってもよいし、或いは、第２原料フィルムロール３を形成した後、第２原料フィルムロール３に巻かれている原料フィルム１の全長に渡る欠陥状態を勘案して行ってもよい。
【００９９】
[変形例１]
欠陥検査工程Ｓ１１は、延伸工程Ｓ１０と膨潤処理工程Ｓ１２との間に設けられていなくてもよく、原料フィルム１に直線偏光特性付与する偏光特性付与工程が行われている間であればよい。
【０１００】
例えば、図７に示したように膨潤処理工程Ｓ１２を備える形態では、欠陥検査工程Ｓ１１は、膨潤処理工程Ｓ１２と染色処理工程Ｓ１３との間に行ってもよい。この場合、第１検査装置１０１は、膨潤槽３０から染色槽３１までの原料フィルム１の搬送路上に設けられる。膨潤処理工程Ｓ１２と染色処理工程Ｓ１３との間に欠陥検査工程Ｓ１１を設けた場合、膨潤処理工程Ｓ１２までに生じた欠陥を検査することが可能であり、その検査結果に応じて、直線偏光子フィルム４の製造の可否を判断できる。
【０１０１】
［変形例２］
欠陥検査工程Ｓ１１は、延伸工程Ｓ１０の前、すなわち、原料フィルム１に直線偏光特性を付与する偏光特性付与工程前に設けてもよい。この場合、第１原料フィルムロール２に巻かれている原料フィルム１自体を検査することになる。これにより、原料フィルム１が製造された際の欠陥を高感度で検査することが可能である。そして、変形例２の欠陥検査工程Ｓ１１において、原料フィルム１に許容範囲を超える欠陥がある場合、例えば、第１原料フィルムロール２を取り替えれば、延伸工程Ｓ１０以降の工程を、許容範囲を超えた原料フィルム１の代わりに、より適切な原料フィルム１を使用して行うことができる。その結果、直線偏光子フィルム４の製造効率が向上する。
【０１０２】
[変形例３]
欠陥検査工程Ｓ１１は、染色処理工程Ｓ１３の後、すなわち、原料フィルム１に直線偏光特性を付与する偏光特性付与工程後に設けてもよい。この場合、延伸工程Ｓ１０及び染色処理工程Ｓ１３を経ているので、原料フィルム１に直線偏光特性が付与された直線偏光子フィルム４を検査することになる。そのため、第２の実施形態で説明した第２検査装置１０２を使用した検査方法で、欠陥検査を行う。例えば、図１０に示したように、乾燥装置３４の下流に第２検査装置１０２を配置して、直線偏光子フィルム４を被検査フィルムＳとし、直線偏光子フィルム４の欠陥検査を行う。
【０１０３】
延伸工程Ｓ１０では、図９を利用して説明したように、原料フィルム１の搬送方向、すなわち、原料フィルム１の長手方向に原料フィルム１を一軸延伸している。吸収軸ＡＳの方向は延伸方向に一致するので、原料フィルム１に対して延伸工程Ｓ１０及び染色処理工程Ｓ１３を施すことによって原料フィルム１に付与された吸収軸ＡＳの方向は、実質的に、原料フィルム１（或いは、直線偏光子フィルム４）の搬送方向と想定され得る。
【０１０４】
従って、第２検査装置１０２を、直線偏光子フィルム４の搬送方向に配置する際、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂが搬送方向に対して第２の所定角度θ２で交差するように配置すれば、搬送される直線偏光子フィルム４に対して直線偏光板１２Ｂが、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂが直線偏光子フィルム４の吸収軸ＡＳに対して第２の所定角度θ２で交差する状態で配置されることになる。
【０１０５】
ここでは、原料フィルム１の搬送方向を吸収軸ＡＳの方向と想定した場合を例示したが、例えば、変形例３における欠陥検査工程Ｓ１１の前に、吸収軸ＡＳの方向を検出し、その検出結果を用いて、直線偏光板１２Ｂの配置を調整してもよい。
【０１０６】
第２検査装置１０２を利用した、直線偏光子フィルム４である被検査フィルムＳの欠陥検査の方法は、第２の実施形態で説明した通りであるので、説明を省略する。
【０１０７】
変形例３においても、欠陥検査工程Ｓ１１においては、最大強度波長λｍｓと最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下である照明光と撮像装置１３とを使用しているので、欠陥の検出感度がよい。そのため、欠陥をより確実に検出可能であり、特に、延伸工程Ｓ１０で生じる可能性のある筋状欠陥を検出可能である。照明光が緑色光である形態では、より筋状欠陥をより検出し易い。
【０１０８】
変形例３では、直線偏光子フィルム４を製造するまでの工程で生じた欠陥を高感度で検出可能である。その結果、直線偏光特性が付与された原料フィルム１が、製品としての直線偏光子フィルム４として適切か否か、又は、直線偏光子フィルム４を、直線偏光子フィルム４の製造に引き続いて行う直線偏光板の製造に使用可能か否かを、より適切に判断することができる。
【０１０９】
図１０では、乾燥装置３４の後段に第２検査装置１０２を配置し、第２検査装置１０２を利用して欠陥検査工程Ｓ１１を実施している。しかしながら、延伸工程Ｓ１０及び染色処理工程Ｓ１３を経ると、原料フィルム１に直線偏光特性が付されるので、染色処理工程Ｓ１３以降に、変形例３で説明した欠陥検査工程Ｓ１１を実施すればよい。例えば、染色槽３１から水洗槽３３への原料フィルム１の搬送路上に第２検査装置１０２を設けて欠陥検査工程Ｓ１１を実施してもよい。
【０１１０】
［変形例４］
図１１に示すように、乾燥工程Ｓ１６の後に、直線偏光子フィルムに保護フィルムを貼合する保護フィルム貼合工程Ｓ１７を設けてもよい。
【０１１１】
図１２を参照して、保護フィルム貼合工程Ｓ１７を説明する。保護フィルム５は、直線偏光子フィルム４を保護するための透明フィルムである。保護フィルム５の例は、第２の実施形態において保護フィルムについて例示したフィルムと同様である。保護フィルム５としては、ＴＡＣ系フィルム、特に、ＴＡＣフィルムが用いられる。保護フィルム５の厚さの例は１０μｍ〜１００μｍである。保護フィルム５において、直線偏光子フィルム４との接着面は、ケン化処理などで親水化処理されていてもよい。
【０１１２】
図１２に示したように、保護フィルム５がロール状に巻かれた保護フィルムロール６から保護フィルム５を繰り出し、ロールトゥロール（ｒｏｌｌ−ｔｏ―ｒｏｌｌ）法によって搬送されている直線偏光子フィルム４に保護フィルム５を積層する。図１２では、直線偏光子フィルム４の両面に保護フィルム５を積層しているが、片面のみに保護フィルム５を積層してもよい。保護フィルム５を直線偏光子フィルム４に積層する際、その界面には、通常、それらを接着するための水溶性の接着剤を塗布しておく。そのため、通常、保護フィルム５を直線偏光子フィルム４に積層した後、乾燥装置４０に搬入して接着剤を乾かし、保護フィルム５と直線偏光子フィルム４とを貼合わせる。これにより、保護フィルム５が積層された直線偏光子フィルム４としての積層偏光子フィルム７が得られる。図１２では、乾燥装置４０を模式的に示している。乾燥装置４０は、積層偏光子フィルム７を乾燥し得るものであれば特に限定されず、直線偏光子フィルムの製造に使用される公知のものとし得る。
【０１１３】
［変形例５］
変形例４で説明したように、保護フィルム貼合工程Ｓ１７を設ける場合、図１２に例示しているように、乾燥装置４０の下流に、第２検査装置１０２を配置して、欠陥検査工程Ｓ１１を実施してもよい。積層偏光子フィルム７を第２検査装置１０２で検査する方法は、第２の実施形態及び変形例３で説明した場合と同様とし得る。
【０１１４】
積層偏光子フィルム７を被検査フィルムＳとして、第２の実施形態で説明した欠陥検査方法で検査する場合、保護フィルム５自体の欠陥も含めて積層偏光子フィルム７を製造するまでの工程で生じた欠陥を高感度で検出可能である。その結果、保護フィルム５が積層された直線偏光子フィルム４としての積層偏光子フィルム７が、製品としての直線偏光子フィルムとして適切か否か、又は積層偏光子フィルム７を用いた偏光板の製造に使用可能か否かを、より適切に判断することができる。
【０１１５】
保護フィルム貼合工程Ｓ１７の後に、欠陥検査工程Ｓ１１を行う場合、保護フィルム貼合工程Ｓ１７までに欠陥検査工程Ｓ１１を、別途、実施していてもよいし、或いは、実施しなくてもよい。
【０１１６】
［変形例６］
図７に示したフローチャートでは、延伸工程Ｓ１０の後に染色処理工程Ｓ１３を行っている。しかしながら、染色処理工程Ｓ１３の後に、延伸工程Ｓ１０を行ってもよい。染色処理工程Ｓ１３を延伸工程Ｓ１０の前に行う場合、通常、膨潤処理工程Ｓ１２、ホウ酸処理工程Ｓ１４、水洗処理工程Ｓ１５及び乾燥工程Ｓ１６も延伸工程Ｓ１０の前に行う。
【０１１７】
変形例６では、延伸工程Ｓ１０の後に、欠陥検査工程Ｓ１１を実施すればよい。染色処理工程Ｓ１３の後に延伸工程Ｓ１０を実施する場合は、図８において、第１原料フィルムロール２４から繰り出される原料フィルム１の代わりに、染色されると共に、乾燥された原料フィルム１を延伸装置２０に搬入すればよい。そして、図８に示した第１検査装置１０１の代わりに、第２検査装置１０２を使用すればよい。
【０１１８】
［変形例７］
延伸工程Ｓ１０は、染色処理工程Ｓ１３中に実施してもよい。例えば、原料フィルム１の搬送方向において、染色槽３１の前後の搬送ローラの周速を互いに異なる周速とすることで、原料フィルム１を染色槽３１内に二色性色素の水溶液に浸漬して染色処理を施しながら、原料フィルム１をその長手方向（搬送方向）に一軸延伸することが可能である。同様に、延伸工程Ｓ１０は、ホウ酸処理工程Ｓ１４中に実施してもよいし、染色処理工程Ｓ１３とホウ酸処理工程Ｓ１４とに渡って実施してもよい。
【０１１９】
（４）第４の実施形態
第４の実施形態として、図１３に示すような直線偏光子フィルムを含む偏光板を製造する方法について説明する。
【０１２０】
偏光板５０は、図１３に示したように、直線偏光子フィルム４とその両面に貼合された保護フィルム５とから成る積層偏光子フィルム７と、一方の保護フィルム５上に設けられたプロテクトフィルム５１と、他方の保護フィルム５上に設けられた粘着層５２と、粘着層５２上に設けられたセパレートフィルム５３とを有する。偏光板５０の平面視形状（厚さ方向から見た形状）は、偏光板５０が適用される装置などに応じたものであればよい。偏光板５０の平面視形状の例は、長方形又は正方形である。
【０１２１】
直線偏光子フィルム４は、第３の実施形態で説明したように保護フィルム５を貼合する前の工程を経て製造されたものである。保護フィルム５は、第３の実施形態の変形例４で説明した保護フィルムと同様であるため、説明を省略する。
【０１２２】
プロテクトフィルム５１は、積層偏光子フィルム７の表面を保護するための表面保護フィルムである。プロテクトフィルム５１の厚さの例は、３０μｍ〜１００μｍである。プロテクトフィルム５１の材料の例は、ポリエチレン、ポリプロピレン及びポリエステルを含む。
【０１２３】
粘着層５２は、製品としての偏光板５０を液晶セル等の他の部材に貼り合わせるためのものである。粘着層５２の厚さの例は５μｍ〜３０μｍである。粘着層５２を構成する粘着剤の例はアクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤及びシリコーン系粘着剤を含む。
【０１２４】
セパレートフィルム５３は、製品としての偏光板５０が使用されるまで、粘着層５２にゴミなどが付着することを防止するためのフィルムである。セパレートフィルム５３の厚さの例は３０μｍ〜１００μｍである。
【０１２５】
通常、偏光板５０を製造する場合、セパレートフィルム５３の一表面に粘着層５２を形成したものを保護フィルム５に貼り合わせる。そのため、セパレートフィルム５３の一表面に粘着層５２を形成した部材を、粘着層付きセパレートフィルム５４とも称す。
【０１２６】
偏光板５０の製造方法は、図１４に示したように、直線偏光子フィルム４を製造する直線偏光子フィルム製造工程Ｓ２０と、直線偏光子フィルム４の両面に保護フィルム５を貼合する第１貼合工程（保護フィルム貼合工程）Ｓ２１と、第１貼合工程Ｓ２１を経た積層偏光子フィルム７の一方の表面にプロテクトフィルム５１を貼合すると共に、他方の表面に粘着層付きセパレートフィルム５４を貼合する第２貼合工程Ｓ２２と、第２貼合工程Ｓ２２を経た積層偏光子フィルム７から製品としての偏光板５０を切り出す切出工程Ｓ２３とを有する。各工程について説明する。
【０１２７】
（４−１）直線偏光子フィルム製造工程
直線偏光子フィルム製造工程Ｓ２０では、図７に例示した製造方法によって直線偏光子フィルム４を製造する。製造方法は、第３の実施形態で説明したとおりであるので、説明を省略する。
【０１２８】
（４−２）第１貼合工程
第１貼合工程Ｓ２１は、第３の実施形態における変形例５で説明した直線偏光子フィルム４への保護フィルム５の保護フィルム貼合工程Ｓ１７と同様であるため説明を省略する。
【０１２９】
（４−３）第２貼合工程
第２貼合工程Ｓ２２では、第１貼合工程Ｓ２１を経た積層偏光子フィルム７に対して、プロテクトフィルム５１と、粘着層付きセパレートフィルム５４とを貼合する。
【０１３０】
具体的には、図１２を利用して説明した保護フィルム５を直線偏光子フィルム４に貼合した場合と同様の方法により、プロテクトフィルム５１を積層偏光子フィルム７の一方の表面に積層し、他方の表面に粘着層付きセパレートフィルム５４を積層する。
【０１３１】
すなわち、図１２において、乾燥装置４０の下流において、直線偏光子フィルム４の一方の表面に保護フィルム５を積層する場合と同様にして、プロテクトフィルム５１を積層偏光子フィルム７に、ロールトゥロール法によって積層する。この際、プロテクトフィルム５１において積層偏光子フィルム７と面する表面には、接着剤を塗布しておけばよい。
【０１３２】
直線偏光子フィルム４の他方の表面に保護フィルム５を積層する場合と同様にして、粘着層付きセパレートフィルム５４を積層偏光子フィルム７に、ロールトゥロール法によって積層する。この場合、粘着層付きセパレートフィルム５４において粘着層５２が積層偏光子フィルム７と接するように、粘着層付きセパレートフィルム５４を積層偏光子フィルム７に積層すればよい。
【０１３３】
（４−４）切出工程
切出工程Ｓ２３では、第２貼合工程Ｓ２２を経た積層偏光子フィルム７を、製品としての偏光板５０の大きさに切断して、偏光板５０を得る。この際、直線偏光子フィルム４の製造過程における欠陥検査工程Ｓ１１（図７参照）の検査結果に応じて、欠陥部分を含まないように、積層偏光子フィルム７から偏光板５０を切り出してもよい。
【０１３４】
上記偏光板５０の製造方法では、積層偏光子フィルム７が有する直線偏光子フィルム４を、図７に例示した製造方法で製造している。そのため、直線偏光子フィルム４は、欠陥検査工程Ｓ１１（図７参照）を経て製造されている。
【０１３５】
そのため、切出工程Ｓ２３において、欠陥検査工程Ｓ１１での欠陥検出結果に基づき、欠陥が生じていない部分を選択して偏光板５０を切り出すことが可能である。その結果、欠陥を含まない偏光板５０を製造し易い。欠陥検査工程Ｓ１１で欠陥が検出された場合、欠陥位置を記録しておけば、欠陥が生じていない部分を選択して偏光板５０を切り出しやすい。
【０１３６】
或いは、切出工程Ｓ２３において偏光板５０を切り出した後に、欠陥部分を含まない偏光板５０を仕分けしてもよい。例えば、欠陥検査工程Ｓ１１の検査結果を、被検査フィルムＳにマークしておけば、欠陥部分を含まない偏光板５０を仕分けやすく、良品の偏光板５０を得やすい。
【０１３７】
上記偏光板５０の製造方法では、直線偏光子フィルム４を、図７に例示した方法で製造しているので、第３の実施形態で説明した直線偏光子フィルム４の製造方法と同様の作用効果も有する。
【０１３８】
直線偏光子フィルム製造工程Ｓ２０では、図７に例示した製造方法で直線偏光子フィルム４を製造しているとしたが、例えば、第３の実施形態で例示した変形例のうち保護フィルム貼合工程Ｓ１７を含まない変形例の形態で、直線偏光子フィルム４を製造してもよい。
【０１３９】
第２貼合工程Ｓ２２と切出工程Ｓ２３との間において、第３の実施形態の変形例６で説明した欠陥検査と同様にして、積層偏光子フィルム７の欠陥検査を実施してもよい。このように、積層偏光子フィルム７の欠陥検査をした場合、切出工程Ｓ２３では、積層偏光子フィルム７の欠陥検査結果を利用して、偏光板５０を切り出し得る。
【０１４０】
図１４に示した製造方法は、第２貼合工程Ｓ２２を有するが、偏光板の製造方法は、第２貼合工程Ｓ２２を含まなくてもよい。この場合、積層偏光子フィルム７から直接、製品としての偏光板が切り出される。このようにして製造される偏光板は、図１３に示した偏光板５０において、プロテクトフィルム５１、粘着層５２及びセパレートフィルム５３を含まない構成である。
【０１４１】
以上、本発明の種々の実施形態及び変形例を説明したが、例示した種々の実施形態及び変形例に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【０１４２】
例えば、第１の実施形態において被検査フィルムＳは、直線偏光子フィルムを製造するための原料フィルムとしたが、これに限定されない。例えば、位相差フィルムでもよいし、複屈折性を有しない光透過性を有する光学フィルムでもよい。
【０１４３】
第１の実施形態では、光源１１から無偏光光を出力し、直線偏光板１２Ａを通して、被検査フィルムＳに直線偏光光を照明光として照射している。しかしながら、直線偏光光を出力する光源を用いてもよい。この場合、被検査フィルムＳに照射される直線偏光光の振動方向に対して直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂの方向が平行になっていればよい。直線偏光光を出力する光源の例は、図１の（ａ）に例示した光源１１と直線偏光板１２Ａとを一つの照明ユニットとする光源であり得る。
【０１４４】
第１及び第２の実施形態では、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下として説明したが、被検査フィルムＳを透過して撮像装置１３に入射する入射光の最大強度波長λｍｓと撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差が５０ｎｍ以下であればよい。
【０１４５】
第１及び第２の実施形態では、照明光の一例として緑色光を例示した。しかしながら、撮像装置１３に入射する入射光が緑色光であればよい。例えば、光透過性フィルムの欠陥検査は、図１５に示した第３検査装置１０３を用いて行ってもよい。
【０１４６】
第３検査装置１０３では、直線偏光板１２Ｂと被検査フィルムＳとの間に、緑色光を選択的に通す光学フィルタである緑色フィルタ１５を配置している点で、第１検査装置１０１と主に相違する。図１５に例示した第３検査装置１０３では、直線偏光板１２Ａの吸収軸Ａ１２Ａが図１の（ａ）に示したＹ軸方向に向いており、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂが図１の（ａ）に示したＸ軸方向に向いている。直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ｂは上記Ｘ軸方向を向いていることから、図１５では、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ａの方向を模式的に黒点で示している。この場合、光源１１から出力される照明光は白色光であっても、撮像装置１３には緑色光が入射される。白色光には緑色光も含まれているので、実質的に緑色光で被検査フィルムＳを照射していることになる。従って、第１の実施形態等で緑色光を照明光として使用した場合と同様の理由により、欠陥をより明瞭に検出できる。
【０１４７】
この点を実験結果に基づいて説明する。第３検査装置１０３を使用した実験として実験Ｅ３を行った。実験Ｅ３では、第１の実施形態で説明した実験Ｅ１の場合において、第１検査装置１０１の代わりに、第３検査装置１０３を使用した。また、光源１１としては、実験Ｅ２で使用した白色ＬＥＤを用いた。更に、緑色フィルタ１５によって透過する緑色光、すなわち、撮像装置１３への入射する入射光の最大強度波長λｍｓは、５３２ｎｍであった。この場合、実験Ｅ１，Ｅ２で使用した撮像装置１３の最大感度波長λｍｄと、撮像装置１３への入射光の最大強度波長λｍｓとの差は、３２ｎｍであり、５０ｎｍ以下である。被検査フィルムＳには、実験Ｅ１，Ｅ２の場合と同じ条件で製造された、厚さ８μｍのＰＶＡフィルムを用いた。
【０１４８】
実験方法は、実験Ｅ１，Ｅ２の場合と同様である。実験Ｅ３では、撮像装置１３の撮像画像である図１６に示したように、実験Ｅ１の場合と同様に、筋状欠陥が写っており、筋状欠陥を検出できていた。
【０１４９】
第３検査装置１０３では、白色光のうち緑色以外が緑色フィルタ１５で光がカットされるので、光源１１からの照明光は、高い照度の照明光であることが好ましい。例えば、光源１１からの出力光を照度計で直接的に（すなわち、集光光学系を介さずに）検出した場合、照明光は、受光面積φ１ｍｍ当たり１８５０ルクス以上の光とし得る。
【０１５０】
緑色フィルタ１５は、直線偏光板１２Ｂと撮像装置１３の間に配置されていてもよい。また、第２検査装置１０２において、第３検査装置１０３を用いて説明したように、緑色光を選択的に通す緑色フィルタ１５を配置してもよい。
【０１５１】
図６の（ａ）に示した第２検査装置１０２では、被検査フィルムＳと撮像装置１３との間に直線偏光板１２Ｂを配置しているが、直線偏光板１２Ｂを設けずに、被検査フィルムＳ及び光源１１との間に直線偏光板１２Ａを配置してもよい。この場合、直線偏光光が被検査フィルムＳに照射される。
【０１５２】
第２検査装置１０２において、直線偏光板１２Ｂに加えて、被検査フィルムＳと光源１１との間に、図１の（ａ）に示した第１検査装置１０１のように、直線偏光板１２Ａを配置してもよい。この場合、直線偏光板１２Ａの吸収軸Ａ１２Ａの方向と、被検査フィルムＳの吸収軸ＡＳの方向を平行にするか、又は、直線偏光板１２Ｂの吸収軸Ａ１２Ａの方向と、被検査フィルムＳの吸収軸ＡＳの方向を平行にすればよい。
【０１５３】
第３の実施形態として、変形例を含めて説明した種々の形態では、直線偏光子フィルム４の製造工程において、基本的に一つの欠陥検査工程Ｓ１１を備えている。しかしながら、直線偏光子フィルム４の製造方法は、複数の欠陥検査工程Ｓ１１を備えてもよい。例えば、第３の実施形態における変形例１で例示したように、延伸工程Ｓ１０前の欠陥検査工程Ｓ１１と、図７に例示したように、延伸工程Ｓ１０後の欠陥検査工程Ｓ１１と、変形例４で例示したように、染色処理工程Ｓ１３を経た後の欠陥検査工程Ｓ１１とを有してもよい。
【０１５４】
このように、複数の欠陥検査工程Ｓ１１を備える場合、後工程側の欠陥検査工程Ｓ１１を実施すると、累積的な欠陥状態（欠陥の数及び大きさ等）を把握することができる。そのため、欠陥状態が許容範囲を超えている場合、例えば、直線偏光子フィルム４の製造を中断し、第１原料フィルムロール２を取り替えて、より適切な原料フィルム１で直線偏光子フィルム４を製造し得る。或いは、複数の欠陥検査工程Ｓ１１を備える場合、一つの欠陥検査工程Ｓ１１と、次の欠陥検査工程Ｓ１１との間での欠陥を把握することができるので、欠陥の原因をより確実に把握することも可能である。
【０１５５】
第１〜第３検査装置１０１〜１０３は、画像処理装置１４を有していたが、例えば、撮像装置１３からの信号強度の変化と、被検査フィルムＳにおける検出位置とが対応付けられており、欠陥部分を特定できれば、画像処理装置１４を有さなくてもよい。
【０１５６】
図８及び図９に例示した製造方法では、一軸延伸後の原料フィルム１を巻き取り、第２原料フィルムロール３としていた。しかしながら、第２原料フィルムロール３を形成せず、一軸延伸された原料フィルム１を搬送して膨潤槽３０内の処理浴に浸漬してもよい。
【０１５７】
これまでの説明では、撮像装置１３に入射する入射光として緑色光を例示した。しかしながら、入射光の最大強度に対応する波長である最大強度波長と、撮像装置１３の最大感度に対応する波長である最大感度波長との差が５０ｎｍ以下であるという関係を満たせば、上記入射光は、赤色光、又は青色光であってもよい。
【０１５８】
ここで、入射光が青色光又は赤色光である場合の実験例について説明する。入射光が青色光である場合の実験を実験Ｅ４と称し、入射光が赤色光である場合の実験を実験Ｅ５と称す。
【０１５９】
実験Ｅ４における装置構成は、実験Ｅ１と同様、すなわち、図１の（ａ）に示した構成の第１検査装置１０１を採用した。被検査フィルムＳには、実験Ｅ１，Ｅ２の場合と同じ条件で製造された厚さ８μｍのＰＶＡフィルムを用いた。実験Ｅ４では、光源１１として、青色光を出力する青色ＬＥＤを用いた。実験Ｅ４で用いた青色ＬＥＤから出力される照明光の分光スペクトルは図１７に示す通りである。図１７の横軸は波長（ｎｍ）を示している。図１７の縦軸は、青色ＬＥＤの最大光出力を１００％とした場合の相対光出力（％）を示している。実験Ｅ４での照明光の最大強度波長λｍｓは、４７０ｎｍであり、スペクトルの半値全幅は、２６．７ｎｍであった。実験Ｅ４では、最大感度波長λｍｄが４４５ｎｍである撮像装置１３を用いた。
【０１６０】
上記実験Ｅ４の第１検査装置１０１の条件から理解されるように、実験Ｅ４では、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は、２５ｎｍであり、５０ｎｍ以下であった。そして、実験Ｅ４においても、撮像装置１３の撮像画像である図１９に示したように、筋状欠陥が写っており、筋状欠陥を検出できていた。
【０１６１】
実験Ｅ５における装置構成は、実験Ｅ１と同様、すなわち、図１の（ａ）に示した構成の第１検査装置１０１を採用した。被検査フィルムＳには、実験Ｅ１，Ｅ２の場合と同じ条件で製造された厚さ８μｍのＰＶＡフィルムを用いた。実験Ｅ５では、光源１１として、赤色光を出力する赤色ＬＥＤを用いた。実験Ｅ５で用いた赤色ＬＥＤから出力される照明光の分光スペクトルは図１８に示す通りである。図１８の横軸は波長（ｎｍ）を示している。図１８の縦軸は、赤色ＬＥＤの最大光出力を１００％とした場合の相対光出力（％）を示している。実験Ｅ５での照明光の最大強度波長λｍｓは、６３３．３ｎｍであり、スペクトルの半値全幅は、１６．７ｎｍであった。実験Ｅ５では、最大感度波長λｍｄが６５０ｎｍである撮像装置１３を用いた。
【０１６２】
上記実験Ｅ５の第１検査装置１０１の条件から理解されるように、実験Ｅ５では、照明光の最大強度波長λｍｓと、撮像装置１３の最大感度波長λｍｄとの差は、１６．７ｎｍであり、５０ｎｍ以下であった。そして、実験Ｅ５においても、撮像装置１３の撮像画像である図２０に示したように、筋状欠陥が写っており、筋状欠陥を検出できていた。
【０１６３】
実験Ｅ４及び実験Ｅ５では、光源１１から青色光又は赤色光が出力されていたが、緑色光の場合と同様に、撮像装置１３に入射する入射光が青色光又は赤色光であればよい。また、入射光の最大強度に対応する波長である最大強度波長と、撮像装置１３の最大感度に対応する波長である最大感度波長との差が５０ｎｍ以下であるという関係を満たせば、上記入射光は、黄色光であってもよい。
【符号の説明】
【０１６４】
１…原料フィルム（光透過性フィルム）、４…直線偏光子フィルム（光透過性フィルム）、５…保護フィルム、７…積層偏光子フィルム、１２Ａ，１２Ｂ…直線偏光板、１３…撮像装置、１５…緑色フィルタ（光学フィルタ）、５０…偏光板、Ｓ…被検査フィルム。
【図１】
2016194874.tif 000003
【図２】
2016194874.tif 000004
【図３】
2016194874.tif 000005
【図４】
2016194874.tif 000006
【図５】
2016194874.tif 000007
【図６】
2016194874.tif 000008
【図７】
2016194874.tif 000009
【図８】
2016194874.tif 000010
【図９】
2016194874.tif 000011
【図１０】
2016194874.tif 000012
【図１１】
2016194874.tif 000013
【図１２】
2016194874.tif 000014
【図１３】
2016194874.tif 000015
【図１４】
2016194874.tif 000016
【図１５】
2016194874.tif 000017
【図１６】
2016194874.tif 000018
【図１７】
2016194874.tif 000019
【図１８】
2016194874.tif 000020
【図１９】
2016194874.tif 000021
【図２０】
2016194874.tif 000022
【国際調査報告】
2016194874.tif 000023
2016194874.tif 000024
2016194874.tif 000025
2016194874.tif 000026