【事件の表示】
　特許第５８１１２５９号発明「光線路監視システム」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５８１１２５９号の請求項１及び２に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件特許第第５８１１２５９号（以下「本件特許」という。）の請求項１及び２に係る特許についての出願は、平成２７年１０月２日付けでその特許権の設定登録がされ、その後、特許異議申立人鈴木真理子及び特許異議申立人川部典子より特許異議の申立てがなされ、平成２８年７月８日付けで取消理由が通知され、平成２８年９月１日に意見書の提出がなされ、平成２８年９月２９日付けで取消理由通知（決定の予告）がされ、平成２８年１１月２５日に意見書の提出がなされたものである。
第２　本件発明
　特許第５８１１２５９号の請求項１及び２に係る発明（以下、それぞれの請求項に係る特許発明を、「本件特許発明１及び２」という。）は、それぞれ、特許掲載公報の特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定される次のとおりのものである。
　　「【請求項１】
　Ｎ本の光ファイバ線路それぞれにパルス試験光を伝搬させて、そのパルス試験光の伝搬の際に生じる後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記Ｎ本の光ファイバ線路を監視するシステムであって、
　前記パルス試験光を出力するとともに、前記後方散乱光を入力して、前記後方散乱光の強度の時間変化を検出する光パルス試験器と、
　ポートＰおよびポートＰ０〜ＰＮを有し、前記光パルス試験器から出力された前記パルス試験光を前記ポートＰに入力して、前記ポートＰ０〜ＰＮのうちの選択された一つから前記パルス試験光を出力する光スイッチと、
　前記光スイッチの前記ポートＰ０から出力された前記パルス試験光を入力して、このパルス試験光をＮ分岐して出力するスプリッタと、
　前記スプリッタにより前記パルス試験光がＮ分岐されて出力された光のうちの第ｎ分岐パルス試験光、および、前記光スイッチの前記ポートＰｎから出力されたパルス試験光の何れかを、前記Ｎ本の光ファイバ線路のうちの第ｎ光ファイバ線路に伝搬させる光結合部と、
　前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられ、その設置位置と前記光パルス試験器との間の光路長が互いに異なり、前記パルス試験光を反射させる反射部と、
　を備え、
　前記光パルス試験器，前記光スイッチ，前記スプリッタおよび前記光結合部がセンタ内に設けられ、
　前記光スイッチが前記ポートＰに入力した前記パルス試験光を前記ポートＰ０から選択的に出力するときに、前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられた前記反射部それぞれでの反射を前記光パルス試験器において相互に分解できるようにパルス試験光のパルス幅を小さくして、前記光スイッチの前記ポートＰ０から前記スプリッタおよび前記光結合部を経て前記Ｎ本の光ファイバ線路に前記パルス試験光を伝搬させ、前記Ｎ本の光ファイバ線路で生じた後方散乱光が前記光結合部，前記スプリッタおよび前記光スイッチを経て前記光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記Ｎ本の光ファイバ線路を一括監視し、
　前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられている前記反射部で生じた後方散乱光の強度に基づいて何れかの第ｎ光ファイバ線路において故障が生じたと前記一括監視により判断された場合に、前記光スイッチが前記ポートＰに入力した前記パルス試験光を前記ポートＰｎから選択的に出力し、前記光スイッチの前記ポートＰｎから前記光結合部を経て前記第ｎ光ファイバ線路に前記パルス試験光を伝搬させ、前記第ｎ光ファイバ線路で生じた後方散乱光が前記光結合部および前記光スイッチを経て前記光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記第ｎ光ファイバ線路を個別監視する、
　ことを特徴とする光線路監視システム（ただし、Ｎは２以上の整数、ｎは１以上Ｎ以下の各整数）。
【請求項２】
　前記反射部が、
　前記Ｎ本の光ファイバ線路のうち何れかの光ファイバ線路の遠端に設けられ、第１ポート，第２ポートおよび第３ポートを有し、前記第１ポートが光ファイバ線路の遠端に接続され、前記第１ポートに入力された光を前記第２ポートから出力し、前記第３ポートに入力された光を前記第１ポートから出力する光カプラと、
　前記光カプラの前記第２ポートと前記第３ポートとの間を光学的に接続する光導波路と、
　を含むことを特徴とする請求項１に記載の光線路監視システム。」
第３　取消理由の概要
　当審において、本件特許発明１及び２に対して平成２８年７月８日付けで通知した取消理由及び平成２８年９月２９日付けの取消理由通知（決定の予告）の要旨は、次のとおりである。
１　本件特許発明１は、下記引用例１ないし３記載の技術及び引用例４ないし５に記載の周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
２　本件特許発明２は、下記引用例１ないし３記載の技術、引用例４ないし５に記載の周知技術及び引用例６ないし７に記載の周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
　　　　　　　　　　　　　　記
引用例１：特表平０４−５０２２１０号公報
引用例２：特開平１０−１７０３９６号公報
引用例３：特開平０４−１１６４４１号公報
引用例４：特開２００１−１３６１１０号公報
引用例５：特開２００２−３２８０７０号公報
引用例６：特開平０８−０７５６０６号公報
引用例７：特開２００４−２８７１０５号公報
（尚、引用例１は、鈴木真理子申立による甲第１号証、引用例２ないし５は、鈴木真理子申立による甲第６ないし９号証、引用例６は、鈴木真理子申立による甲第１１号証、引用例７は、川部典子申立による甲第４号証である。）
第４　甲各号証の記載
１　特許異議申立人鈴木真理子申立による甲各号証の記載
甲第１号証には、光ファイバ障害点検出装置に関する発明が記載されている。
甲第２号証には、光スプリッタ及び光スプリッタ監視システムに関する発明が記載されている。
甲第３号証には、光線路監視用デバイスに関する発明が記載されている。
甲第４号証には、光スイッチと光スイッチを用いたファイバレーザに関する発明が記載されている。
２　特許異議申立人川部典子申立による甲各号証の記載
甲第１号証には、損失検出に関する発明が記載されている。
甲第２号証には、多分岐光線路試験装置に関する発明が記載されている。
甲第３号証には、光分岐線路の監視システム及び監視装置に関する発明が記載されている。
甲第４号証には、受動分岐型光ファイバ線路の障害点検出システムに関する発明が記載されている。
甲第５号証には、光スプリッタを用いた光ファイバ線路網に関する発明が記載されている。
甲第６号証には、光線路の試験方法及び光線路試験システムに関する発明が記載されている。
甲第７号証には、分岐光線路の試験方法に関する発明が記載されている。
甲第８号証には、伝送路の障害検出装置及び方法に関する発明が記載されている。
甲第９号証には、光線路試験装置、光線路試験システム及び光線路試験方法に関する発明が記載されている。
甲第１０号証には、光線路監視装置及び方法に関する発明が記載されている。
甲第１１号証には、光ファイバ線路の監視方法に関する発明が記載されている。
第５　判断
１　平成２８年７月８日付けで通知した取消理由及び平成２８年９月２９日付けの取消理由通知（決定の予告）の取消理由（以下、「本件取消理由」という。）について
（１）引用例１に記載の事項及び引用例１に記載の発明（下線は、当審にて付した。）
ア　「第１の光ファイバおよび第１の光ファイバにそれぞれ結合された複数の第２の光ファイバを含み、第１の光ファイバは主ラインを構成し、第２の光ファイバはブランチラインを構成するブランチされた
光ファイバ回路網における損失検出装置において、主ラインにパルスを発射する手段と、各ブランチラインにおいてパルスの通路に配置された各反射器と、反射器から復帰する反射信号の減衰の変化のために主ラインを監視する手段
イ　「
光ファイバ中の故障は、ＯＴＤＲ（光時間ドメインリフレクトメータ）によって位置を知ることができる。ＯＴＤＲはファイバに光のパルスを発射し、後方散乱された光は故障を示す突然の変化に対して監視され、発射端におけるパルス発射と光の検出との間の時間は故障が発生するファイバに沿った距離を示す。
ウ　「図面を参照すると、図１は主光ファイバ伝送ライン１、結合アレイ２、および複数のブランチライン３によって構成されたブランチされた回路網を示す。
結合アレイ２は典型的に２×２個のカップラのアレイを含んでもよく、それによって主ライン１はｎ個の出力（ブランチ）ライン３に分割され、各出力ラインは主ラインによって伝送された情報を含んでいる。パルス発生器及び復帰信号監視器によって構成された、市販されているＯＴＤＲ４は主ライン１の入力端部に接続されている。
エ　「
主ライン１に発射されたパルスは結合アレイ２に進み、ブランチライン３にｎ個の通路を分割される。各ブランチライン３における反射器５において、パルスはＯＴＤＲ４に反射される。
オ　「
図２は、ＯＴＤＲ４に戻る信号を表示することによって得られる典型的なＯＴＤＲオシロスコープ軌跡を示す。最初に信号は信号パルスが主ライン１に沿って進んだときに戻った後方散乱光に対応した１次レベル６である。それに続いて信号レベルにおける降下が結合アレイ２における損失によって発生させられ、復帰信号は各ブランチライン３に沿って進んだときに、分割されたパルスの結合された後方散乱信号に対応した第２の低いレベル７で続く。最後に、反射器５における反射からの復帰信号に対応した一連のピーク８が示されている。
カ　「示された軌跡において、
ピーク８は間隔を隔てられて示されており、これは個々のブランチライン３が異なる長さである場合であり、反射は異なる時間で発生する。実際のピークの間隔はパルス幅（広いパルスは反射ピークを拡大する）および異なるブランチライン３における反射器５まで伝播する距離の差に依存する。約２００ｎｍのパルス幅により、４０メータ程度のブランチライン長の差がピーク分離を提供するために要求される。１００ｎｍのパルス幅を使用することは、例えば要求される通路長の差を２０メータ程度に減少させることを可能にする。
キ　「
どのブランチライン３が故障しているかが知られると、故障のラインに沿った距離が通常のＯＴＤＲ後方散乱監視によって設定されることができる。
故障ブランチライン３の反対側の端部のような異なる位置から行われる。
ク　図２
ケ「ブランチされた回路網において、
多くの多様化された端部から各ラインを別々に監視することは非常に高価である。したがって、交換機のような集中位置からブランチラインを監視することができることが望ましい。
またブランチされた回路網においてもまた外向パルスのパワーはブランチラインに分割される。したがって、任意のブランチラインに関連した情報はその他全てのブランチラインからの情報に重ねられたブランチラインにおいてパルスの一部分からの後方散乱に関連した強度だけを有し、これは分解能を減少させ、それによって装置のダイナミック範囲および特定のブランチラインにおける減衰測定の感度を減少させる。
したがって、ブランチラインが実質的な長いおよび、または異なっている場合、通常のＯＴＤＲ方法によって回路網全体を監視することは不可能である。
　本発明の目的は、ブランチ点から上流にブランチされた回路網中のブランチラインの個々の監視を可能にすることである。」（第２頁左上欄第２０行−右上欄第１７行）
コ　上記アないしケの記載より、以下の点が理解される。
（ア）上記イより、ＯＴＤＲは、ファイバに光のパルスを発射し、後方散乱された光を監視するものである点が理解され、上記ウより、本願発明の「ＯＴＤＲ４」は、パルス発生器及び復帰信号監視器によって構成され市販されているものである点が理解されるから、「ＯＴＤＲ４」は、ファイバに光のパルスを発射し、後方散乱された光を監視するものである点が理解される。
（イ）上記オより、図２は、「ＯＴＤＲ４」に戻る信号を表示することによって得られる典型的なＯＴＤＲオシロスコープ軌跡を示すものであることが理解され、最初の信号は信号パルスが「主ライン１」に沿って進んだときに戻った後方散乱光に対応した１次レベル６であり、それに続いて、復帰信号が各「ブランチライン３」に沿って進んだときに、分割されたパルスの結合された後方散乱信号に対応した第２の低いレベル７で続き、最後に、反射器５における反射からの復帰信号に対応した一連のピーク８が示されているものである点が理解される。そして、上記クにより、図２は、信号強度の時間変化を表していることが見て取れるから、「ＯＴＤＲ４」は、パルスの伝搬の際に生じる後方散乱光の強度の時間変化を検出している点、及び、「主ライン１」及び各「ブランチライン３」は、その検出結果に基づいて監視されている点が理解される。
（ウ）上記ウより、「ブランチライン３」はｎ個あることが理解される。
（エ）上記エより、「結合アレイ２」は、「主ライン１」からのパルスをｎ個に分割して、「ブランチライン３」に出力する点が理解される。
（オ）上記（ア）ないし（エ）を総合すると、ｎ個の「ブランチライン３」にパルスを伝搬させパルスの伝搬の際生じる後方散乱光の強度の時間変化に基づいてｎ個の「ブランチライン３」を監視する方法が理解される。
（カ）上記エより、各「ブランチライン３」には、パルスを反射する「反射器５」が設けられている点が理解され、上記カの、「示された軌跡において、ピーク８は間隔を隔てられて示されており、これは個々のブランチライン３が異なる長さである場合であり」、「実際のピークの間隔は」「異なるブランチライン３における反射器５まで伝播する距離の差に依存する」との記載より、「ＯＴＤＲ４」から「反射器５」までのパルスが伝搬する距離は、それぞれの「ブランチライン３」において互いに異なる点が理解される。
（キ）上記オより、「ピーク８」は「反射器５」における反射からの復帰信号に対応したものが示されている点が理解され、上記カの記載より、「ピークの間隔」が「パルス幅」と「異なるブランチラインにおける反射器まで伝播する距離の差」に依存し、パルス幅を約２００ｎｍから１００ｎｍにすることによって、ピーク分離を提供するために要求される通路長の差を４０メ一タ程度から、２０メ一タ程度に減少させることが可能であることが理解できるから、これらのことより、「反射器５」における反射からの復帰信号に対応した「ピーク８」のピーク分離のために、パルス幅を小さくした点が理解される。
（ク）上記（イ）において検討したように、「ＯＴＤＲ４」は、パルスの伝搬の際に生じる後方散乱光の強度の時間変化に基づいて「主ライン１」及び各「ブランチライン３」を監視しており、上記（ウ）及び（エ）を総合すると、「主ライン１」に発射されたパルスは、「結合アレイ２」に進み、「結合アレイ２」により、ｎ個全ての「ブランチライン３」に分割され伝搬しているものであることが理解される。そして、上記オより、「ＯＴＤＲ４」には、復帰信号が各「ブランチライン３」に沿って進んだときの結合された後方散乱信号が入力されているから、ｎ個の「ブランチライン３」で生じた後方散乱光が、「結合アレイ２」を経て「ＯＴＤＲ４」に入力されている点が理解される。そうすると、「主ライン１」から「結合アレイ２」を経てｎ個の「ブランチライン３」にパルスを伝搬させ、ｎ個の「ブランチライン３」で生じた後方散乱光が、「結合アレイ２」を経て「ＯＴＤＲ４」に入力され、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて、ｎ個全ての「ブランチライン３」を監視する点が理解される。
（ケ）上記キの記載より、特定の「ブランチライン３」に故障が発生したと判断される場合に、故障のラインに沿った距離が通常のＯＴＤＲ後方散乱監視によって設定される点が理解される。
（コ）　小括
　上記（ア）ないし（ケ）から総合すると、引用例１には、次の発明が記載されていると認められる。（以下、引用発明１という。）
「ｎ個のブランチライン３にパルスを伝搬させパルスの伝搬の際生じる後方散乱光の強度の時間変化に基づいてｎ個のブランチライン３を監視する方法であって、
　パルスを発射し、後方散乱光を監視して、後方散乱光の強度の時間変化を検出するＯＴＤＲ４と、
　主ライン１からのパルスをｎ個に分割して、ブランチライン３に出力する結合アレイ２と
　ｎ個のブランチライン３に設けられ、その設置位置とＯＴＤＲ４との間のパルスが伝搬する距離が互いに異なり、パルスを反射する反射器５と、
　を備え、
　パルスを主ライン１に発射するときに、ｎ個のブランチライン３に設けられた反射器５における反射からの復帰信号に対応したピーク８のピーク分離のために、パルス幅を小さくして、主ライン１から結合アレイ２を経てｎ個のブランチライン３にパルスを伝搬させ、ｎ個のブランチライン３で生じた後方散乱光が、結合アレイ２を経てＯＴＤＲ４に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいてｎ個全てのブランチライン３を監視し、
　特定のブランチライン３に故障が発生したと判断される場合に、故障のラインに沿った距離が通常のＯＴＤＲ後方散乱監視によって設定される方法」
（２）対比
ア　本件特許発明１について
　本件特許発明１と引用発明１とを対比する
（ア）引用発明１の「ｎ個のブランチライン３」、「パルス」、「結合アレイ２」、「パルスが伝搬する距離」、「反射器５」及び「ＯＴＤＲ４」は、それぞれ、本件特許発明１の「Ｎ本の光ファイバ線路」、「パルス試験光」、「スプリッタ」、「光路長」、「反射部」及び「光パルス試験器」に相当する。
（イ）引用発明１の「後方散乱光の強度の時間変化に基づいてｎ個全てのブランチライン３を監視」することは、本件特許発明１の、「後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記Ｎ本の光ファイバ線路を一括監視」することに相当する。
（ウ）以上のことから、本件特許発明１と引用発明１とは、つぎの一致点で一致し、つぎの相違点で相違するものである。
＜一致点＞
「Ｎ本の光ファイバ線路それぞれにパルス試験光を伝搬させて、そのパルス試験光の伝搬の際に生じる後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記Ｎ本の光ファイバ線路を監視するシステムであって、
　前記パルス試験光を出力するとともに、前記後方散乱光を入力して、前記後方散乱光の強度の時間変化を検出する光パルス試験器と、
　前記パルス試験光を入力して、このパルス試験光をＮ分岐して出力するスプリッタと、
　前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられ、その設置位置と前記光パルス試験器との間の光路長が互いに異なり、前記パルス試験光を反射させる反射部と、
　を備え、
　前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられた前記反射部それぞれでの反射を前記光パルス試験器において相互に分解できるようにパルス試験光のパルス幅を小さくして、前記スプリッタを経て前記Ｎ本の光ファイバ線路に前記パルス試験光を伝搬させ、前記Ｎ本の光ファイバ線路で生じた後方散乱光が、前記スプリッタを経て前記光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて前記Ｎ本の光ファイバ線路を一括監視する、
　ことを特徴とする光線路監視システム。」
＜相違点１＞
　本件特許発明１には、ポートＰおよびポートＰ０〜ＰＮを有し、光パルス試験器から出力されたパルス試験光をポートＰに入力して、ポートＰ０〜ＰＮのうちの選択された一つからパルス試験光を出力する光スイッチと、
　スプリッタによりパルス試験光がＮ分岐されて出力された光のうちの第ｎ分岐パルス試験光、および、光スイッチのポートＰｎから出力されたパルス試験光の何れかを、Ｎ本の光ファイバ線路のうちの第ｎ光ファイバ線路に伝搬させる光結合部と、
　光スイッチがポートＰに入力した前記パルス試験光を前記ポートＰ０から選択的に出力するときに、Ｎ本の光ファイバ線路で生じた後方散乱光が光結合部，スプリッタおよび光スイッチを経て光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいてＮ本の光ファイバ線路を一括監視し、
　Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられている反射部で生じた後方散乱光の強度に基づいて何れかの第ｎ光ファイバ線路において故障が生じたと一括監視により判断された場合に、光スイッチがポートＰに入力したパルス試験光をポートＰｎから選択的に出力し、光スイッチのポートＰｎから光結合部を経て第ｎ光ファイバ線路にパルス試験光を伝搬させ、第ｎ光ファイバ線路で生じた後方散乱光が光結合部および光スイッチを経て光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて第ｎ光ファイバ線路を個別監視するのに対し、引用発明１には、そのような構成が記載されていない点。
＜相違点２＞
　本件特許発明１は、光パルス試験器，光スイッチ，スプリッタおよび光結合部がセンタ内に設けられているのに対し、引用発明１には、光スイッチが記載されておらず、また、光パルス試験器、スプリッタおよび光結合部を何処に配置したか記載されていない点。
イ　本件特許発明２について
　本件特許発明２は、本件特許発明１の「反射部」を
「前記Ｎ本の光ファイバ線路のうち何れかの光ファイバ線路の遠端に設けられ、第１ポート，第２ポートおよび第３ポートを有し、前記第１ポートが光ファイバ線路の遠端に接続され、前記第１ポートに入力された光を前記第２ポートから出力し、前記第３ポートに入力された光を前記第１ポートから出力する光カプラと、
　前記光カプラの前記第２ポートと前記第３ポートとの間を光学的に接続する光導波路」という構成に限定したものであるから、本件特許発明２と引用発明１とを比較すると、上記相違点１及び２に加え、以下の相違点があり、その余の点では一致しているといえる。
＜相違点３＞
　光線路監視システムの反射部は、
　本件特許発明２は、「第１ポート，第２ポートおよび第３ポートを有し、前記第１ポートが光ファイバ線路の遠端に接続され、前記第１ポートに入力された光を前記第２ポートから出力し、前記第３ポートに入力された光を前記第１ポートから出力する光カプラと、
　前記光カプラの前記第２ポートと前記第３ポートとの間を光学的に接続する光導波路」とを有する構成であるのに対し、
　引用発明１は、どの様な構成となっているか不明である点。
（３）判断
（ア）相違点１について
　上記相違点１において、本件特許発明１及び２は、「光スイッチがポートＰに入力した前記パルス試験光を前記ポートＰ０から選択的に出力するときに、Ｎ本の光ファイバ線路で生じた後方散乱光が光結合部，スプリッタおよび光スイッチを経て光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいてＮ本の光ファイバ線路を一括監視し、
　Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられている反射部で生じた後方散乱光の強度に基づいて何れかの第ｎ光ファイバ線路において故障が生じたと一括監視により判断された場合に、光スイッチがポートＰに入力したパルス試験光をポートＰｎから選択的に出力し、光スイッチのポートＰｎから光結合部を経て第ｎ光ファイバ線路にパルス試験光を伝搬させ、第ｎ光ファイバ線路で生じた後方散乱光が光結合部および光スイッチを経て光パルス試験器に入力されて、この後方散乱光の強度の時間変化に基づいて第ｎ光ファイバ線路を個別監視」しているから、本件特許発明１の「光スイッチ」は、一括監視と個別監視の切替えと、個別監視における第ｎ光ファイバへの切替えとを行っており、また、本件特許発明１は、「ポートＰ」に入力される「パルス試験光」により「一括監視」も「個別監視」も行っているから、本件特許発明１は「一括監視と個別監視との切り替えと、個別監視における第ｎ光ファイバへの切替えとを同じ光スイッチで行い、一括監視と個別監視とを同じ光源で行う構成」（以下、「本件特許構成Ａ」という。）を有しているといえる。
　本件取消理由において引用した引用例２及び３には、特定の光分岐路（本件特許発明の「光ファイバ線路」に相当）を光スイッチにより選択し、該選択された光分岐路に、光パルス試験器からの光パルス試験光（本件特許発明１の「パルス試験光」に相当）を、光方向性結合器（本件特許発明の「光結合部」に相当）を介して送信することにより、それぞれの光分岐路を個別に試験（本件特許発明１の「監視」に相当）する方法が記載されているおり、該方法を、引用発明１に適用し、一括監視と個別監視とを行う構成とする程度の事は、当業者が容易に想到できたものであるといえる。
　そして、引用発明１に、引用例２及び３に記載された個別監視の構成を適用することにより想到される一括監視と個別監視とを行う構成において、「パルス試験光」を発生させる光源は、一括監視用と個別監視用とのそれぞれの別に用意されているものであるといえる。そして、一括監視と個別監視とを切り替える手段と、個別監視のためにファイバ線路を切り替える光スイッチとは、別途用意されている構成になるといえる。
　これらの構成から、上記本件特許構成Ａが導き出すためには、一括監視用の光源と個別監視用の光源とを共用した上で、更に一括監視と個別監視とを切り替える手段と、個別監視光のためにファイバ線路を切り替える光スイッチとを共用するか、又は、一括監視と個別監視とを切り替える手段と、個別監視のための光スイッチとを共用した上で、更に一括監視用の光源と個別監視用の光源とを共用することとなる。
　そうすると、引用発明１に、引用例２及び３に記載された発明を適用した構成から、本件特許構成Ａを想到するには、平成２８年１１月２５日付け意見書において特許権者が主張するとおり、論理が飛躍しているといわざるを得ない。
　また、本件取消理由で引用した引用例４ないし７にも、上記本件特許構成Ａは記載も示唆もされていない。
　そうすると、本件特許発明１及び２は、他の相違点を検討するまでもなく、引用発明１、引用例２及び３に記載された発明及び引用例４ないし７に記載された周知技術から、本件特許発明１の相違点１にかかる構成を容易に想到できたとはいえない。
（イ）本件取消理由において採用しなかった甲各号証について
　上記取消理由で採用しなかった、川部典子申立による甲第１号証ないし甲第３号証及び鈴木真理子申立による甲第２号証ないし甲第５号証並びに甲第１０号証のいずれの証拠にも上記本件特許構成Ａが記載も示唆もされていないし、例え、これらの証拠を主引例として検討したとしても、本件特許発明１及び２を容易に想到できたとはいえない。
（ウ）小括
　以上のとおりであるから、本件特許発明１及び２は、引用発明１、引用例２及び３記載の発明及び引用例４ないし７に記載の周知技術から当業者が容易になし得るものではない。  
（２）本件取消理由通知において採用しなかった特許異議申立理由について
　特許異議申立人川部典子は、特許異議申立書において、請求項１に記載の「前記光スイッチが前記ポートＰに入力した前記パルス試験光を前記ポートＰ０から選択的に出力するときに、前記Ｎ本の光ファイバ線路それぞれに設けられた前記反射部それぞれでの反射を前記光パルス試験器において相互に分解できるようにパルス試験光のパルス幅を小さくして」の「前記光パルス試験器において相互に分解できるようにパルス試験光のパルス幅を小さくして」は、「パルス幅」の下限が不明確であるから、特許請求の範囲の記載は特許を受けようとする発明が不明確であり、特許法第３６条第６項第２号の要件を満たさないと主張しているが、パルス試験光のパルス幅を極端に小さくすると、パルス試験光の強度が小さくなり、後方散乱光や反射光を検出することが困難になることは技術常識であるから、「パルス幅」の下限は、この技術常識を考慮して、後方散乱光や反射光を検出できる程度に十分に小さい幅であることが理解できるから、かかる主張は理由がない。
第６　むすび
　したがって、請求項１及び２に係る特許は、平成２８年７月８日付けで通知した取消理由、平成２８年９月２９日付けの取消理由通知（決定の予告）の取消理由及び特許異議申立書に記載された特許異議申立理由によっては、取り消すことができない。
　また、他に請求項１及び２に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成２９年１月３１日（２０１７．１．３１）