(57)【要約】      （修正有）【課題】絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続の欠陥のマーキングにかかる時間を短縮できる絵画の欠陥識別システムを提供する。【解決手段】絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、可変光源ユニットの端部に設置し、絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、画像キャプチャユニットに電気的に接続し、原画像及び欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、画像処理ユニットは、原画像及び欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュール、及び位置決め座標に基づいて原画像中の欠陥画像をマーキングし、欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールを含む。【選択図】図１
0003230218.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、
前記可変光源ユニットの端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、
前記画像キャプチャユニットに電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、
前記画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、
前記画像処理ユニットは、
前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュールと、
前記画像位置決めモジュールに電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールと、をさらに含むことを特徴とする、
絵画の欠陥識別システム。
【請求項２】
前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えていることを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項３】
前記可変光源ユニットは紫外線光（ＵＶ）を含む異なるスペクトルの光源を提供することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項４】
前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えていることを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項５】
前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項６】
前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項７】
前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項８】
前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。
【請求項９】
前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示することを特徴とする請求項１に記載の絵画の欠陥識別システム。  
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、絵画の欠陥識別システムに関し、更に詳しくは、可変光源を利用して絵画の欠陥を取得した後、自動的にその位置をマーキングする絵画の欠陥識別システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
絵画の損壊の原因は非常に複雑であり、自然的な劣化や、人為的原因等がある。所謂自然劣化による損壊とは、画家が選択した材料または画法が絵画の創作技法に適合しておらず、損壊の原因となることを指す。即ち、絵画は完成した際に、将来的に保存しやすいか否かの運命が定まっている。人的原因による損壊は複雑で、好ましくない保存環境、天災、展覧時の事故、間違った保存修復方式等、様々あり、また西洋の歴史の中ではさらに戦争や政治、宗教的な原因により破壊されることがあり、これらも全て人的な損壊原因に含まれる。このような損壊が絵画の損壊や欠陥の発生に繋がった。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、現在の絵画の創作過程や保存修復過程で発生する欠陥の多くは、物理試験を行って絵画の欠陥を検知するものであり、物理試験は可視及び不可視の２種類の方法を含む。可視試験は画像の照明（断面光、ナトリウム蒸気等）、画像の拡大（拡大撮影、接写術、顕微鏡写真術等）等であり、不可視試験は紫外線放射、赤外線放射、及びＸ線を指し、肉眼では見えない部分の研究を可能にし、絵画の欠陥箇所を検知した後に絵画の関連する位置をマーキングして位置決めする。しかし、絵画の欠陥の検査過程で絵画の欠陥位置を確認できず、絵画上に直接マーキングできないため、このような過程では後続の処理が困難になる。
【０００４】
そこで、本考案者は上記の欠点が改善可能と考え、鋭意検討を重ねた結果、合理的設計で上記の課題を効果的に改善する本考案の提案に至った。
【０００５】
本考案は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、絵画の欠陥識別システムを提供することにある。これにより、絵画の欠陥位置を確認するマーキング方式を改善し、全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画に欠陥があることを発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。こうして絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続の欠陥のマーキングにかかる時間を効果的に短縮する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するための主たる考案は、絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、前記可変光源ユニットの端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、前記画像キャプチャユニットに電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、前記画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、前記画像処理ユニットは、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュールと、前記画像位置決めモジュールに電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールと、をさらに含むことを特徴とする絵画の欠陥識別システムである。
【０００７】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、本考案の一実施例では、上述の絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えていることを特徴とする。
【０００８】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の可変光源ユニットは紫外線光（ＵＶ）を含む異なるスペクトルの光源を提供することを特徴とする。
【０００９】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えていることを特徴とする。
【００１０】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得することを特徴とする。
【００１１】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成することを特徴とする。
【００１２】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする。
【００１３】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする。
【００１４】
また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示することを特徴とする。
【００１５】
また、本考案の別の態様は、絵画の欠陥識別方法である。この方法は、可変光源ユニットにより絵画に対して可変光源を提供するステップと、画像キャプチャユニットにより絵画の原画像及び欠陥画像を取得するステップと、画像処理ユニットの画像位置決めモジュールにより前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成するステップと、前記画像処理ユニットのマーキングモジュールにより前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するステップと、前記画像処理ユニットに電気的に接続する表示ユニットにより、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像処理ユニットを表示するステップと、を含む。
【考案の効果】
【００１６】
本考案によれば、次のような効果がある。
全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画の欠陥を発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。
このように絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続のマーキングにかかる時間を効果的に短縮することができる。
【００１７】
本明細書及び図面の記載により、少なくとも、以下の事項が明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムを模式的に示したブロック図である。
【図２】本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別方法を示したフローチャートである。
【図３】本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムの装置を示した概略図である。
【考案を実施するための形態】
【００１９】
以下、本考案の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、本考案は以下の例に限定されるものではなく、本考案の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更可能であることは言うまでもない。
【００２０】
図１は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムを模式的に示したブロック図である。図１に示されるように、絵画の欠陥識別システムは、絵画に対し可変光源を提供する可変光源ユニット１１０と、前記可変光源ユニット１１０の端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニット１２０と、前記画像キャプチャユニット１２０に電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニット１３０と、前記画像処理ユニット１３０に電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニット１４０と、を備えている。
前記画像処理ユニット１３０は、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュール１３１と、前記画像位置決めモジュール１３１に電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュール１３２と、をさらに含む。
【００２１】
本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。
【００２２】
本実施例では、前記可変光源ユニット１１０は、紫外線光（ＵＶ）を含む異なるスペクトルの光源を提供する。
【００２３】
本実施例では、前記可変光源ユニット１１０は、複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。
【００２４】
本実施例では、前記画像キャプチャユニット１２０は、前記可変光源ユニット１１０により前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。
【００２５】
本実施例では、前記画像処理ユニット１３０は前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。
【００２６】
本実施例では、前記画像位置決めモジュール１３１は、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００２７】
本実施例では、前記画像位置決めモジュール１３１は、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００２８】
本実施例では、前記表示ユニット１４０は前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。
【００２９】
図２は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別方法を示したフローチャートである。ステップは以下のとおりである。
【００３０】
可変光源ユニットにより絵画に対して可変光源を提供する（ステップＳ２１０）。
【００３１】
画像キャプチャユニットにより絵画の原画像及び欠陥画像を取得する（ステップＳ２２０）。
【００３２】
画像処理ユニットの画像位置決めモジュールにより前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する（ステップＳ２３０）。
【００３３】
前記画像処理ユニットのマーキングモジュールにより前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成する（ステップＳ２４０）。
【００３４】
前記画像処理ユニットに電気的に接続する表示ユニットにより、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像処理ユニットを表示する（ステップＳ２５０）。
【００３５】
本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。
【００３６】
本実施例では、前記可変光源ユニットは、紫外線光（ＵＶ）を含む異なるスペクトルの光源を提供する。
【００３７】
本実施例では、前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。
【００３８】
本実施例では、前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。
【００３９】
本実施例では、前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。
【００４０】
本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００４１】
本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００４２】
本実施例では、前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。
【００４３】
図３は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムの装置を示した概略図である。図３に示されるように、絵画の欠陥識別システムは、絵画３１１に対して可変光源を提供する可変光源ユニット３１０と、前記可変光源ユニット３１０の端部に設置し、前記絵画３１１の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニット３２０と、前記画像キャプチャユニット３２０に電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニット３３０と、前記画像処理ユニット３３０に電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニット３４０と、を備えている。
【００４４】
本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。
【００４５】
本実施例では、前記可変光源ユニットは、紫外線光（ＵＶ）を含む異なるスペクトルの光源を提供する。
【００４６】
本実施例では、前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。
【００４７】
本実施例では、前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。
【００４８】
本実施例では、前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。
【００４９】
本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００５０】
本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。
【００５１】
本実施例では、前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。
【００５２】
以上を総合すると、本考案は全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画の欠陥を発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。こうして絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続のマーキングにかかる時間を効果的に短縮する。
【００５３】
上述の実施形態は本考案の技術思想及び特徴を説明するためのものにすぎず、当該技術分野を熟知する者に本考案の内容を理解させると共にこれをもって実施させることを目的とし、本考案の実用新案登録請求の範囲を限定するものではない。従って、本考案の精神を逸脱せずに行う各種の同様の効果をもつ改良又は変更は、実用新案登録請求の範囲に含まれるものとする。
【符号の説明】
【００５４】
１１０  可変光源ユニット
１２０  画像キャプチャユニット
１３０  画像処理ユニット
１３１  画像位置決めモジュール
１３２  マーキングモジュール
１４０  表示ユニット
Ｓ２１０  ステップ
Ｓ２２０  ステップ
Ｓ２３０  ステップ
Ｓ２４０  ステップ
Ｓ２５０  ステップ
３１０  可変光源ユニット
３１１  絵画
３２０  画像キャプチャユニット
３３０  画像処理ユニット
３４０  表示ユニット
【図１】
0003230218.tif 000003
【図２】
0003230218.tif 000004
【図３】
0003230218.tif 000005