【事件の表示】
　特許第５７９５６５８号発明「周波数ドメイン干渉測定を利用して光学撮像を実行する方法および装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５７９５６５８号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１−４、９、１１−１３、１５−１９〕、５、６、７、〔８、１０〕、１４について訂正することを認める。
　特許第５７９５６５８号の請求項１ないし６、８ないし１９に係る特許を維持する。
　特許第５７９５６５８号の請求項７に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
【理　由】
第１　手続の経緯
　特許第５７９５６５８号(以下、「本件特許」という。)の請求項１ないし１９に係る特許についての出願は、２００４年（平成１６年）９月８日を国際出願日とする特願２００６−５３６６２２号（パリ条約による優先権主張外国庁受理　２００３年１０月２７日　米国）の一部を平成２３年８月１日に新たな特許出願とした特願２０１１−１６８８０２号の一部を平成２６年４月８日に新たな特許出願としたものであって、平成２７年８月２１日にその特許権の設定登録がされ、平成２８年３月２３日付けで山下勝(以下、「申立人」という。)から特許異議申立書(以下、「申立書」という。)が提出され、本件特許の請求項１〜１９に対して特許異議の申立てがなされているものである。
　その後、当審より平成２８年７月１３日付けで取消理由(以下、「１回目の取消理由」という。）が通知され、特許権者から同年１０月１７日に意見書及び訂正請求書が提出され、同年１２月１５日付けで申立人から意見書が提出された。
　さらに、当審より平成２９年１月６日付けで取消理由(以下、「２回目の取消理由」という。）が通知され、特許権者から同年４月１２日付けで意見書が提出され及び同日付けで訂正請求(以下、「本件訂正請求」という。)がなされ、これに対して同年５月２６日付けで申立人から意見書が提出されたものである。
第２　訂正の適否についての判断
１　訂正の内容
　本件訂正請求による訂正の内容は以下のとおりであり、訂正前の請求項の引用関係からみて、(i)第１訂正単位(請求項１ないし請求項５、及び、請求項７ないし１９)、(ii)第２訂正単位(請求項６)の２つの訂正単位がある。
　なお、下線は訂正箇所を示す。また、訂正前の事項及び訂正後の事項については、当審において、特定事項の区切りで行換えをし、a)、a-i)などの見出しを付した。
（１）　第１訂正単位についての訂正事項
ア　訂正事項１(請求項１に関する訂正)
　請求項１に
「【請求項１】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ）前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２構造と、を含むものと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
を備える装置。」
とあるのを
「【請求項１】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ
)
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２
レーザ利得媒体
a-iii)　
iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連し
た１
c)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と、
を備える装置。」
と訂正する。
イ　訂正事項２(請求項２ないし４に関する訂正)
　請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項２ないし請求項４も請求項１と同様に訂正する。
ウ　訂正事項３(請求項５に関する訂正)
　請求項５に
「【請求項５】
f)　更に、往復長さが５ｍより短いレーザキャビティを備える、請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項５】
a)　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　
ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　
ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　
iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
f)　
往
と、
を備え
る装
と訂正する。
エ　訂正事項４(請求項７に関する訂正)
　請求項７を削除する。
オ　訂正事項５(請求項８に関する訂正)
　請求項８に
「【請求項８】
l)　更に、前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され、さらに、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える、請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項８】
a)　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　
ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　
ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　
iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
l)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され、さらに、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメント
と、
を備え
る装
と訂正する。
カ　訂正事項６(請求項９に関する訂正)
　請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項９も請求項１と同様に訂正する。
キ　訂正事項７(請求項１０に関する訂正)
　請求項８に係る訂正事項５の訂正に伴い、請求項８を引用する請求項１０も請求項８と同様に訂正する。
ク　訂正事項８(請求項１１ないし請求項１３に関する訂正)
　請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項１１並びに請求項１１を引用する請求項１２及び請求項１３も請求項１と同様に訂正する。
ケ　訂正事項９(請求項１４に関する訂正)
　請求項１４に
「【請求項１４】
p)　更に、前記電磁放射線の偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器を備える、請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項１４】
a)　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　
ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　
ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　
iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
p)　
前
と、
を備え
る装
と訂正する。
コ　訂正事項１０(請求項１５ないし請求項１９に関する訂正)
　請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項１５ないし請求項１９も請求項１と同様に訂正する。
（２）　第２訂正単位についての訂正事項
ア　訂正事項１１(請求項６に関する訂正)
　請求項６に
「【請求項６】
g)　電磁放射線の間の干渉を検出する装置の動作を制御する方法であって、
h)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し、
i)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせ、
j)　前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせ、及び、
k)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する、
ことを備える方法。」
とあるのを
「【請求項６】
g)　電磁放射線の間の干渉を検出する装置の動作を制御する方法であって、
h)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し、
i)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせ、
j)　前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさ
せ、
k)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出
し、及び、
s)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する、
こ
と訂正する。
２　訂正に対する当審の判断
（１）　第１訂正単位についての当審の判断
ア　訂正事項１（請求項１に関する訂正）についての判断
（ア）　請求項１のa-i)の訂正事項
　訂正前のa-i)に「ｉ）」とあったのを「ｉ
)
　そして、係る訂正事項は、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
（イ）　請求項１のa-ii)の訂正事項
　訂正前のa-ii)に「周波数ダウンシフトを生じさせる第２構造」とあったのを「周波数ダウンシフトを生じさせる第２
レーザ利得媒体
　そして、係る訂正事項は、本件特許明細書の「【００８９】　キャビティ内
レーザ
ＳＯＡ利得媒体（例えば図７のＳＯＡ２２４）を通過するにつれて、その光スペクトルにおいて周波数ダウンシフトが
生じ得る
（ウ）　請求項１のa-iii)の訂正事項
　訂正前のa-ii)に「周波数ダウンシフトを生じさせる第２構造」とあったのを、訂正により、「第２構造」に対して限定を加え、「a-iii)　
iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、
　そして、かかる訂正事項は、
【図７】
及び
「キャビティ内レーザ光が
ＳＯＡ利得媒体
を通過するにつれて、その光スペクトルにおいて周波数ダウンシフトが
生じ得る
周波数ダウンシフトが生じたとき
プラス波長スキャンはレーザスペクトルの同調を促し、それで、より高い出力パワーを生み出す
フィルタ２１０は格子２３２及び多角形ミラー２３６
多角形ミラー１９４
波長アップ（プラス）スキャン
プラスの波長掃引を生じさせる。
　ここでいう、「プラスの波長掃引」(【００７９】)とは、「波長アップ（プラス）スキャン」(【００７９】)のことであるから、短波長から長波長へと波長掃引することを意味する。
　そうすると、「プラスの波長掃引を生じさせる」(【００７９】)ように駆動される「格子２３２及び多角形ミラー２３６」(【００８４】)を含む図７の「フィルタ２１０」が、当該訂正事項の「短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長フィルタアレンジメント」に相当する。
　また、 図７の「ＳＯＡ利得媒体２２４」と「フィルタ２１０」を併せた構造が当該訂正事項の「第２レーザ利得媒体構造」に相当する。
　よって、当該訂正事項は、本件特許明細書、特許請求の範囲又は図面（以下、「本件特許明細書等」という。）に記載された範囲内の事項であり、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
（エ）　請求項１のb)の訂正事項
　訂正前に「少なくとも１つの第３電磁放射線」とあった事項から、「少なくとも」を削除し「１つの第３電磁放射線」と訂正することは、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものであることは明らかである。
（オ）　請求項１のc)の訂正事項
　c)の訂正事項は、訂正前の請求項７にあった事項を加え「c)　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器
（カ）　拡張・変更の有無
　訂正事項１により、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更されることとはならないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
イ　訂正事項２(請求項２ないし４に関する訂正)について
　訂正事項２は、請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項２ないし４が訂正されるものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項２は、特許請求の範囲の減縮及び明瞭でない記載の釈明を含む訂正事項１の訂正に伴うものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
ウ　訂正事項３(請求項５に関する訂正)について
　訂正事項３は、訂正前に請求項１を引用していた請求項５に対し、請求項１を引用しないものとし、さらに、特定事項a)及びb)に対して訂正事項１と同じ限定を加えたものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第４号に掲げる他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること、並びに、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　そして、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合する。
　さらに、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
エ　訂正事項４(請求項７に関する訂正)について
　訂正事項４は、請求項７を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであって、同条第９項において準用する１２６条第５項及び第６項に規定する要件に適合するものである。
オ　訂正事項５(請求項８に関する訂正)について
　訂正事項５は、訂正前に請求項１を引用していた請求項８に対し、請求項１を引用しないものとし、さらに、特定事項a)及びb)に対して訂正事項１と同じ限定を加えたものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第４号に掲げる他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること、並びに、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　そして、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合する。
　さらに、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
カ　訂正事項６(請求項９に関する訂正)について
　訂正事項６は、請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項９が訂正されるものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項６は、特許請求の範囲の減縮及び明瞭でない記載の釈明を含む訂正事項１の訂正に伴うものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
キ　訂正事項７(請求項１０に関する訂正)について
　訂正事項７は、請求項８に係る訂正事項５の訂正に伴い、請求項８を引用する請求項１０が訂正されるものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項７は、特許請求の範囲の減縮及び明瞭でない記載の釈明を含む訂正事項５の訂正に伴うものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
ク　訂正事項８(請求項１１ないし請求項１３に関する訂正)について
　訂正事項８は、請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項１１が訂正され、加えて、請求項１１を引用する請求項１２及び請求項１３が訂正されるものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項８は、特許請求の範囲の減縮及び明瞭でない記載の釈明を含む訂正事項１の訂正に伴うものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
ケ　訂正事項９(請求項１４に関する訂正)について
　訂正事項９は、訂正前に請求項１を引用していた請求項１４に対し、請求項１を引用しないものとし、さらに、特定事項a)及びb)に対して訂正事項１と同じ限定を加えたものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第４号に掲げる他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないもとすること、並びに、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　そして、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合する。
　さらに、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
コ　訂正事項１０(請求項１５ないし請求項１９に関する訂正)について
　訂正事項１０は、請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い、請求項１を引用する請求項１５ないし請求項１９が訂正されるものであって、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項１０は、特許請求の範囲の減縮及び明瞭でない記載の釈明を含む訂正事項１の訂正に伴うものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮及び特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
サ　訂正単位について
　第１訂正単位(請求項１ないし請求項５、及び、請求項７ないし１９)は、訂正前の請求項２ないし請求項５、及び、請求項７ないし１９がそれぞれ請求項１を直接又は間接的に引用していることから、訂正前において一群の請求項に該当し、特許法第１２０条の５第４項に規定する要件に適合するものである。
タ　第１訂正単位について小括
　以上のことから、訂正事項１ないし１０は、特許法第１２０条の５第２項ただし書きに掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第４項、及び、同条第９項において準用する１２６条第５項及び第６項に規定する要件に適合するものであるので、訂正後の〔請求項１−請求項５、請求項７−１９〕について訂正することを認める。
　訂正事項３(請求項５に関する訂正)、訂正事項５（請求項８に関する訂正)及び訂正事項９(請求項１４に関する訂正)は、引用関係の解消を目的とする訂正を含むものであり、上記したように訂正が認められるものである。
　また、訂正事項４(請求項７に関する訂正)は、請求項の削除を目的とする訂正であり、上記したように訂正が認められるものである。
　そして、特許権者から、請求項５、請求項７、請求項８及び請求項１４の訂正が認められるときは、別の訂正単位として扱われることの求めがあったことから、訂正後の請求項５、請求項７、〔請求項８、請求項１０〕及び請求項１４については、請求項１を含む一群の請求項とは別に、請求項ごと又は一群の請求項ごとに訂正することを認める。
　よって、第１請求単位である訂正後の〔請求項１−４、請求項９、請求項１１−１３、請求項１５−１９〕、請求項５、請求項７、〔請求項８、請求項１０〕、請求項１４について訂正することを認める。
（２）　第２訂正単位についての当審の判断
ア　訂正事項１１(請求項６に関する訂正)について
　訂正事項１１は、訂正前の請求項７にあった事項を訂正前の請求項６に特定事項s)として加えるものであり、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　また、該訂正にともない、不明瞭となった
・訂正前j)の「生じさせ、及び、」を「生じさせ、」と訂正し、
・訂正前k)の「干渉を検出する、」を「干渉を検出し、及び、」と訂正
するものであって、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　以上の訂正事項は、新規事項を含むものではなく、特許法第１２０条の５第９項において準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また、訂正事項１１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
　よって、第２請求単位である訂正後の請求項６について訂正することを認める。
（３）　申立人の主張について
　申立人は、平成２９年５月２６日付け意見書３頁９〜２１行において、「つぎに、
特許法第１２０条
第１項
限定的減縮ではない
　しかしながら、特許法第１２０条の５第２項第１号や特許法第１２６条第１項第１号は、いわゆる限定的減縮を要件としていない。申立人の主張は、特許法第１７条の２第５項第２号「特許請求の範囲の減縮(第３６条第５項の規定により
請求項に記載した発明を特定するために必要な事項を限定する
（４）　小括
　以上のことから、訂正後の〔請求項１−４、請求項９、請求項１１−１３、請求項１５−１９〕、請求項５、請求項６、請求項７、〔請求項８、請求項１０〕、請求項１４について、訂正することを認める。
第３　訂正後の本件特許発明
　上記「第２　訂正の適否についての判断」で述べたとおり、本件訂正は認められることとなったから、請求項１〜１９に係る発明(以下、それぞれの発明を「本件訂正発明１」などという。)は、次の事項により特定される発明であると認める。
【請求項１】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
c)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と、
を備える装置。
【請求項２】
　平均周波数が５キロヘルツより大きい反復レートで反復的に変化する、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
　平均周波数が１０テラヘルツより大きい範囲にわたって変化する、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
　スペクトルが１００ギガヘルツより小さい瞬時ライン幅を有する、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
f)　往復長さが５ｍより短いレーザキャビティと、を備える装置。
【請求項６】
g)　電磁放射線の間の干渉を検出する装置の動作を制御する方法であって、
h)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し、
i)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせ、
j)　前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせ、
k)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出し、及び、
s)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する、ことを備える方法。
【請求項７】　（削除)
【請求項８】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
l)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され、さらに、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメントと、を備える装置。
【請求項９】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項８に記載の装置。
【請求項１１】
　更に、検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと、
　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し、その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと、を備える、請求項１に記載の装置。
【請求項１２】
　前記走査データが、サンプル上の多重横方向位置で得られた干渉検出データを含む、請求項１１に記載の装置。
【請求項１３】
　前記プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に、前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する、請求項１１に記載の装置。
【請求項１４】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、
a-i)　ｉ)前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、
a-ii)　ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、
a-iii)　iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
b)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
p)　前記電磁放射線の偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と、を備える装置。
【請求項１５】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、前記少なくとも１つの第３電磁放射線に関連した自己相関を除去するように構成された少なくとも１つのデュアルバランスレシーバを備える、請求項１に記載の装置。
【請求項１６】
　更に、
　・前記少なくとも１つの第１電磁放射線と少なくとも１つの第２電磁放射線のうち少なくとも１つ、または、
　・前記少なくとも１つの第３電磁放射線と少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つ、の少なくとも１つの間の位相差を追跡するように明確に構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える、請求項１に記載の装置。
【請求項１７】
　前記スペクトルの中央値の変化の速度が少なくとも１０００ｎｍ／ｍｓｅｃである、請求項１に記載の装置。
【請求項１８】
　スペクトルが少なくとも１０ｋＨｚの反復レートで反復的に経時変化する、請求項１に記載の装置。
【請求項１９】
　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが、スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み、且つ、
　前記スペクトルフィルタが、多角形スキャナ、スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント、及び、前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って、該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む、請求項１に記載の装置。
第４　申立人の主張及び証拠方法
　申立人は、次の甲第１号証ないし甲第９号証(以下、それぞれ「甲１」などという。)を提出すると共に、次の申立理由を主張する。
甲１：国際公開第０３／０６２８０２号及び甲１訳文
甲２：特開平１０−３３２３２９号公報
甲３：特表２０００−５０３２３７号公報
甲４：S. H. Yun et.al，“High-speed wavelength-swept semiconductor laser with a polygon-scanner-based wavelength filter”，OPTICS LETTERS，Vol.28，No.20，2003.10.15，pp.1981-1983　及び甲４訳文
甲５：特開２０００−８９２６４号公報
甲６：特開平８−８６７４６号公報
甲７：Zuyuan He et.al，“Distributed Fiber-Optic Stress-Location Measurement by Arbitrary Shaping of Optical Coherence Function”，JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY，Vol.20，No.9，2002.9，pp.1715-1723　及び甲７訳文
甲８：K. C. Harvey et.al，“External-cavity diode laser using a grazing-incidence diffraction grating”，OPTICS LETTERS，Vol.16，No.12，1991.6.15，pp.910-912　及び甲８訳文
甲９：特開２００３−１９９７０１号公報
１　申立理由１　[申立書22頁5行〜28頁16行、29頁8行〜30頁下から2行]
　本件特許の請求項１ないし請求項１９に係る発明(以下、それぞれ「本件特許発明１」などという。)は、次の理由により、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、本件請求項１〜請求項１９に係る特許は、特許法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。
（１）　本件特許発明１は、甲１発明、甲２ないし甲７に記載されたもの及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（２）　本件特許発明２ないし本件特許発明４は、甲１発明、甲２ないし甲８に記載されたもの及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（３）　本件特許発明５ないし本件特許発明７は、甲１発明、甲２ないし甲７に記載されたもの及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（４）　本件特許発明８は、甲１発明、甲２ないし甲７及び甲９に記載されたもの並びに周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（５）　本件特許発明９ないし本件特許発明１９は、甲１発明、甲２ないし甲７に記載されたもの及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
２　申立理由２　[申立書28頁19行〜29頁6行、30頁末行〜31頁7行]
　請求項１９について、「スペクトルフィルタ」、「多角形スキャナ」、「スペクトル分離アレンジメント」、「光学撮像アレンジメント」等についての具体的構成及び作用が不明確である。
　また、請求項１９に記載された構成について、発明の詳細な説明との対応が不明確である。
　よって、本件特許発明１９についての特許は、特許法第３６条第６項第１号及び第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してなされたものである。
　さらに、発明の詳細な説明は、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない。
　よって、本件特許発明１９についての特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してなされたものである。
第５　１回目の取消理由の概要
　本件特許の請求項１ないし６、９、１１ないし１３、１５ないし１９に係る発明は、本件特許の出願の優先日前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願の優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであって、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その請求項に係る特許は特許法第１１３条第２号の規定に該当し、取り消すべきものである。
　　　　　　　　　　　　　　　　記
１．S. H. Yun et.al，“High-speed wavelength-swept semiconductor laser with a polygon-scanner-based wavelength filter”，OPTICS LETTERS，Vol.28，No.20，October 15 2003，pp.1981-1983（申立人が提出した甲４）
２．特表２０００−５０３２３７号公報（申立人が提出した甲３）
３．国際公開０３／０６２８０２号（申立人が提出した甲１）
第６　２回目の取消理由の概要
　平成２８年１０月１７日付け訂正請求における訂正後の請求項について、以下の取消理由が出された。
　なお、以下の取消理由でいう訂正後とは、平成２８年１０月１７日付け訂正請求で訂正されたものをいう。
(取消理由１)
　本件特許の請求項１３、請求項１５及び請求項１７に係る発明は、その出願の優先日前日本国内又は外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願の優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであって、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その請求項に係る特許は特許法第１１３条第２号の規定に該当し、取り消すべきものである。
　　　　　　　　　　　　　　　　記
刊行物１　　　：B. Golubovic et.al，“Optical frequency-domain reflectometry using rapid wavelength tuning of a Cr4+:forsterite laser”，OPTICS LETTERS，Vol.22，No.22，1997.11.15，pp.1704-1706
刊行物２(甲４)：S. H. Yun et.al，“High-speed wavelength-swept semiconductor laser with a polygon-scanner-based wavelength filter”，OPTICS LETTERS，Vol.28，No.20，October 15 2003，pp.1981-1983
刊行物３(甲３)：特表２０００−５０３２３７号公報
刊行物４(甲１)：国際公開第０３／０６２８０２号
(取消理由２)
　本件特許の出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で、特許法第３６条第６項第１号及び特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていないから、その請求項に係る特許は特許法第１１３条第４号の規定に該当し、取り消すべきものである。
　　　　　　　　　　　　　　　　　記
１　訂正後の請求項１の「ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２構造」について、訂正後の請求項１のii)だけ読んでも意味が不明であり、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
２　短波長から長波長方向へ掃引することによって、解決しようとする課題である高い出力パワーを生み出されることが理解されるところ、本件特許明細書等の【００８９】に記載の発明の課題解決手段が、訂正後の請求項１に反映されていない。
　そのため、訂正後の請求項１の記載は、「上記高い出力パワーを生み出す」という課題を解決できると当業者が認識できる範囲を超えている。
　よって、訂正後の請求項１は特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
３　訂正後の請求項６について、
「　　ｉ．前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するか、あるいは、
　　ii．前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトし、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすか、の少なくとも一方を行う、」
と規定され、発明特定事項がｉとiiの選択肢で表現されている。
　しかしながら、特許法第３６条第６項第２号(明確性要件)が規定された趣旨からみれば、一の請求項から発明が明確に把握されることが必要である。
　また、請求項の制度の趣旨に照らせば、一の請求項に記載された事項に基づいて、一の発明が把握されることが必要である。
　上記、ｉとiiの選択肢は、選択肢同士が類似の性質又は機能を有しないため、一の請求項から二の発明が把握され、明確であるとはいえない。
　よって、訂正後の請求項６の特許請求の範囲は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
第７　特許異議申立理由並びに１回目及び２回目の取消理由について
１　特許法２９条に関して
（１）　各甲号証及び取消理由で引用された文献に記載の事項
　翻訳は、当審で翻訳したものである。また、下線は当審で付記した。
ア　甲１(１回目の取消理由通知の引用文献３、２回目の取消理由の刊行物４)記載の事項(国際公開第０３／０６２８０２号)
(甲１ア)「PHASE TRACKING
The present invention also provides apparatus and methods for phase tracking in spectral domain(SD) OCT.
Fully parallel SD OCT
One of the features of fully parallel SD OCT is spectral dispersion of the detection arm light onto a multi-element array such as but not limiting to an integrating device(e.g., CCD) and measurement of the real or complex spectral density at high speeds. The detection arm beam is separated by a spectral separating unit(e.g., grating) and focused onto the array. With respect to previous Spectral Domain OCT designs known in the art, two differences are apparent that will be discussed below: 1) implementation of balanced detection, and, 2) implementation of phase tracking.
 ・・・
Phase Tracking: Phase tracking is preferable to eliminate phase instabilities in the interferometer. Phase instabilities can cause individual interferometric fringes to shift in location. If detection is slow relative to the shifting of the fringes, the resulting averaging results in an artifactual decrease in the measured fringe amplitude. Fast detection arrays can capture the cross spectral density at a rate of 20 to 40 kHz, resulting in integration times of 50 to 25 μsec, respectively. Phase instabilities arising on a time frame shorter than the integration time of the array should be compensated.」(明細書25頁22行〜26頁1行・・・26頁15〜21行)
「位相追跡
本発明は、また、
スペクトラルドメイン（“SD”）OCTにおける位相追跡
完全に並行なSD OCT
完全に並行なSD OCTの特徴の１つは、検出アーム光の多要素アレイ、これに限定しないが、積分装置（例えば、ＣＣＤ）等、へのスペクトル分散と、高速での実数又は複素スペクトル密度の測定である。検出アームビームは、スペクトル分離ユニット（例えば、回折格子）によって分離され、アレイ上に集光される。当分野で知られている従来のスペクトラルドメインOCT設計に対して、後述する２つの差異が明らかである。即ち、１）平衡検出の実現、及び
２）位相追跡の実現
・・・
位相追跡：
位相追跡は、干渉計における位相不安定性を除去するために好ましい。位相の不安定性は、個々の干渉計の干渉縞が位置をシフトする原因になり得る
(甲１イ)「Dual Balanced detection
Dual balanced detection is preferably used by the present invention, which is preferably utilized for the following reasons. Firstly, most light sources generate 1/f noise (f = frequency) at relatively low frequencies. Balanced detection will eliminate 1/f source noise. Secondly, an interference term of the sample arm light with itself (auto-correlation term) is present on top of the true signal term, which is the interference between sample and reference arm. This auto-correlation term can be eliminated by a differential technique. Balanced detection may eliminate this autocorrelation term from the measured signal. Thirdly, RIN can be reduced.」(明細書24頁20〜末行)
「
デュアルバランス検出
　デュアルバランス検出は、好ましくは、本発明で以下の理由により好ましく利用される。第１に、ほとんどの光源は、比較的低い周波数において1/f（f＝周波数）ノイズを発生する。バランスされた検出器は、1/fソースノイズを除去する。
第２に、サンプルアーム光それ自身を伴うサンプルアーム光の干渉分（自己相関分）が、サンプルとリファレンスアーム間の干渉である真のシグナル分の先頭に存在する。この自己相関分は、差分手法によって除去し得る。バランスされた検出は測定信号からこの自己相関分を除去し得る
(甲１ウ)「Dual balanced detection : Dual balanced detection is advantageous for at least three reasons. First, most light sources generate 1/f noise at relatively low frequencies (tens of kHz range). In time domain (TD) OCT systems 1/f noise is not a problem because the signal carrier is in general in the MHz range where 1/f noise is not significant. In SD OCT, balanced detection may likely eliminate 1/f source noise. Second, an interference of the sample arm light with itself (auto-correlation term) is present on top of the true signal. This auto-correlation term can be eliminated by a differential technique. Balanced detection can be used to eliminate this autocorrelation term from the measured signal. Third, balanced detection may reduce relative intensity or Bose Einstein noise.」(明細書26頁5〜14行)
「
デュアルバランス検出
第２に、サンプルアーム光とそれ自身との干渉(自己相関分)が、真の信号の先頭に存在する。この自己相関分は、差分法により除去し得る。バランスされた検出器は、測定信号からこの自己相関分を除去するのに使い得る。
(甲１エ)「Fig. 3 shows a schematic of one exemplary embodiment of a Spectral Domain OCT system 200, which includes a light source 202, splitter 204, reference arm 206, sample arm 208, tissue sample 130, optical element 210, grating 212, lens 214, detector 216 array, and processor 218. The detection arm light is dispersed by the grating 212 and the spectrum imaged onto a detector array 216. By stepping the reference arm 206 length over a distance λ/8, the cross spectral density of reference arm 206 and sample arm 208 light can be determined. A Fourier transform of the cross spectral density generates the depth profile information.
Sources　
The source arm 203 contains at least light source 202 that is used to illuminate the interferometer with low-coherence light. The source temporal coherence length is preferably shorter than a few microns (a preferred range is about 0.5 μm - 30 μm). Examples of sources include, but are not limited to, semiconductor optical amplifier, superluminescent diodes, light-emitting diodes, solid-state femtosecond sources, amplified spontaneous emission, continuum sources, thermal sources, combinations thereof and the like. Other appropriate sources known to those skilled in the art may be used. While light is referred to herein as the source, it is intended that other electromagnetic radiation ranges may be suitable for use, depending on the circumstances. 」(明細書13頁16行〜14頁1行)
「図3は、
スペクトラルドメインOCTシステム200
光源202、スプリッタ204、参照アーム206、サンプルアーム208、組織サンプル130、光学要素210、回折格子212、レンズ214、検出器216アレイ、及びプロセッサ218を含む
光源
光源アーム203は、低コヒーレンス光により干渉計を照射するための光源202を少なくとも含んでいる
(甲１オ)「APPARATUS AND METHOD FOR RANGINGS AND NOISE REDUCTION OF LOW COHERENCE INTERFEROMETRY LCI AND OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY (OCT) SIGNALS BY PARALLEL DETECTION OF SPECTRAL BANDS」（1頁(54)発明の名称）
「スペクトル帯域の並列検出による低コヒーレンス干渉法ＬＣＩ及び光学コヒーレンス断層撮影法（ＯＣＴ）信号の、レンジング及び雑音低減のための装置及び方法」
　甲１には、発明の名称(甲１オ)からみて、
「スペクトル帯域の並列検出による低コヒーレンス干渉法ＬＣＩ及び光学コヒーレンス断層撮影法（ＯＣＴ）信号の、レンジング及び雑音低減のための装置及び方法」
に関する発明が記載されていると認められる。
イ　甲２記載の事項(特開平１０−３３２３２９号公報)
　甲２には、発明の名称（1頁(54)）からみて、「光周波数掃引式断層画像測定方法及び装置」に関する発明が記載されていると認められる。
ウ　甲３（１回目の取消理由の引用文献２、２回目の取消理由の刊行物３）記載の事項(特表２０００−５０３２３７号公報)
　甲３には、発明の名称（1頁(54)）からみて、「光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテル又は内視鏡を用いて光学測定を行う方法及び装置」に関する発明が記載されていると認められる。
エ　甲４（１回目の取消理由の引用文献１、２回目の取消理由の刊行物２）記載の事項(OPTICS LETTERS,Vol.28,No.20)
(甲４ア)「Ultrahigh-speed tuning of an extended-cavity semiconductor laser is demonstrated. The laser resonator comprises a unidirectional fiber-optic ring, a semiconductor optical amplifier as the gain medium, and a novel scanning filter based on a polygonal scanner. Variable tuning rates up to 1150 nm/ms (15.7-kHz repetition frequency) are demonstrated over a 70-nm wavelength span centered at 1.32 μm. This tuning rate is more than an order of magnitude faster than previously demonstrated and is facilitated in part by self-frequency shifting in the semiconductor optical amplifier. The instantaneous linewidth of the source is ＜0.1 nm for 9-mW cw output power and a low spontaneous-emission background of −80 dB.」(1981頁　要約の欄)
「拡張共振器半導体レーザの超高速掃引が示される。
レーザ発振器は
1150ｎｍ／ｍｓ（反復周波数15.7ｋＨｚ）までの可変同調速度
(甲４イ)「Considerable effort has recently been devoted to the development of rapidly scanning, widely tuning laser sources for optical reflectometry, biomedical imaging, sensor interrogation, and test and measurement applications.1-8」(1981頁左欄1〜5行)
「近年、高速スキャニング、光学反射光測定に関する広範囲掃引レーザ光源、
生体医療撮像
(甲４ウ)「An instantaneous linewidth of 10 GHz is sufficiently narrow to provide useful ranging depth of a few millimeters in optical coherence tomography5,6 or micrometer-level transverse resolution in spectrally encoded confocal microscopy.9」（1981頁左欄14〜19行）
「10ＧＨｚの瞬時ライン幅は、
光干渉トモグラフィ
(甲４エ)「In this Letter we demonstrate an ultrahigh-speed wavelength-swept laser with a tuning speed as fast as 1150 nm/ms and a variable repetition rate as high as 15.7 kHz, an order of magnitude faster than previously demonstrated.」(1981頁左欄27〜31行)
「この報告において、我々は、以前論証されたものより一桁速い、
1150ｎｍ／ｍｓ程度の同調速度
(甲４オ)「As was demonstrated recently,12 the SOA's gain medium produces a frequency downshift of the intracavity laser spectrum through intraband four-wave mixing. Scanning the filter in the same direction as the frequency shift allows intracavity light to experience less loss and results in a higher power. Figure 5 shows the peak power of the laser output measured as a function of tuning speed. We obtained the negative tuning speed by flipping the position of the collimator and the orientation of the grating with respect to the optic axis of the rest of system. Care was taken to make the conditions of the filter and laser cavity, except for the tuning direction, identical in both cases. The result shows that the combined action of the frequency shift and positive tuning allows higher output to be obtained and enables the laser to be operated at higher tuning speed.」（1983頁左欄24行〜同頁右欄14行)
「
最近実証されたように、
12
　ＳＯＡ利得媒体は、キャビティ内レーザスペクトルの周波数ダウンシフトを、帯域内４波混合を経て生じる。周波数シフトと同方向にフィルタをスキャンすることにより、キャビティ内の光をより低損失とし、高い出力パワーを生み出す
、周波数シフトとプラス同調の複合作用によって、より高い出力を得ることができ、レーザをより高い同調速度で動作させることが可能となる
(甲４カ)「A schematic of the wavelength-scanning filter is presented in Fig.1.　The reflection-type filter comprises a diffraction grating, an afocal telescope, and a polygonal scanner.」(1981頁右欄3〜6行)
「図１には、
波長掃引フィルタの模式図が示される。反射型フィルタは、回折格子と、アフォーカル望遠鏡と、多角形スキャナと、を備える
(甲４キ)
Fig. 1. Schematic of high-speed wavelength-scanning filter.
「図１　高速波長掃引フィルタの模式図。」
(甲４ク)
「6.　B. Golubovic, B. E. Bouma, G. J. Tearney, and J. G. Fujimoto, Opt. Lett. 22, 1704 (1997)」(1983頁右欄「References」の項)
　甲４には、「光干渉トモグラフィ(甲４ウ)などの生体医療撮像(甲４イ)にも使用できる1150ｎｍ／ｍｓ（反復周波数15.7ｋＨｚ）までの可変同調速度のレーザ発振器であって、一方向光ファイバリングと、利得媒体としての半導体光学増幅器と、多角形スキャナに基づく新規なスキャニングフィルタと、を含み(甲４ア)、利得媒体としての半導体光学増幅器であるＳＯＡ利得媒体は、キャビティ内レーザスペクトルの周波数ダウンシフトを、帯域内４波混合を経て生じ、周波数シフトと同方向にフィルタをスキャンすることにより、キャビティ内の光をより低損失とし、周波数シフトとプラス同調の複合作用によって、より高い出力を得ることができ、レーザをより高い同調速度で動作させることが可能となる(甲４オ)、レーザ発振器。」に関する発明が記載されていると認められる。
オ　甲５記載の事項(特開２０００−８９２６４号公報)
　甲５には、発明の名称（1頁(54)）からみて、「広帯域光周波数基準発生装置」に関する発明が記載されていると認められる。
カ　甲６記載の事項(特開平８−８６７４６号公報)
　甲６には、発明の名称（1頁(54)）からみて、「高感度光波反射測定装置及び該装置を利用した光波エコートモグラフィー装置」に関する発明が記載されていると認められる。
キ　甲７記載の事項(JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY, Vol.20, No.9 )
　甲７には、表題(1715頁)からみて、「光波コヒーレンス関数の任意の整形による分散光ファイバの応力位置測定」に関する発明が記載されていると認められる。
ク　甲８記載の事項(OPTICS LETTERS, Vol.16, No.12)
　甲８には、表題(910頁)からみて、「格子斜入射回折を用いた外部共振器型ダイオードレーザ」に関する発明が記載されていると認められる。
ケ　甲９記載の事項(特開２００３−１９９７０１号公報)
　甲９には、発明の名称（1頁(54)）からみて、「光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法」に関する発明が記載されていると認められる。
コ　２回目の取消理由で引用された刊行物１記載の事項(OPTICS LETTERS , Vol. 22, No. 22 )
(刊１ア)「We present a cw chromium-doped forsterite laser that permits rapid wavelength tuning over a broad bandwidth and demonstrate the application of this source to frequency-domain ranging and optical tomography. The entire tuning range of 1200 to 1275 nm can be swept in less than 500 μs. This permits frequency-domain ranging to be performed with a scan rate of 2 kHz and an axial resolution of 15 μm. 」(1704頁　要約の欄)
「我々は、
広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザを提示し
1200〜1275ｎｍの全波長掃引範囲は、500μｓ未満で掃引可能である
(刊１イ）「The light source used in this study is a chromiumdoped forsterite(Cr4+:Mg2SiO4) laser that is excited in the near IR.15 A schematic diagram of the experimental apparatus can be seen in Fig. 1. The laser consists of a 3-mm-long Brewster-cut Cr4+:Mg2SiO4 laser crystal in a standard z-cavity configuration. The radius of curvature of the focusing mirrors was 5 cm, and the output coupler had a reflectivity of 99.3%. The excitation source for this laser was a cw Ti:Al2O3 laser operating at 740 nm. Spectral filtering for narrow-band operation and wavelength tuning are both facilitated by a sequence of four dispersive, Brewster-cut prisms inserted into one of the collimated arms of the laser. Since the angular deflection of a ray traversing this prism sequence is wavelength dependent, only a narrow spectral range will be returned undeviated after reflection from the resonator end mirror. An angular deflection of the end mirror, then, will shift this spectral range and tune the laser. To perform rapid wavelength scanning, we mounted the laser end mirror upon a tilting galvanometer. This deflector can be driven with triangular voltage functions at frequencies as high as 1 kHz and amplitudes sufficient to cover the emission spectrum of Cr4+:Mg2SiO4.
 　Light emitted from the laser was coupled into a single-mode fiber-optic Michelson interferometer in which one arm was terminated by a stationary mirror and the sample of interest was placed in the other arm. A polarization controller was used to cancel out any polarization imbalance in the interferometer. To reduce laser noise contributions we implemented a dual-balanced detection technique. The interferometer signal was acquired and digitized with a 150-MHz, 8-bit analog-digital oscilloscope, and the data were transferred to a computer for processing and display. Although we achieved longitudinal (depth) scanning of a sample by rapid tuning of the cw Cr4+:forsterite laser, the sample was displaced transversely to cover the surface area of the sample investigated and allow for three-dimensional image reconstruction.
」(1704頁右欄22行〜1705頁左欄16行)
「本発明で使用される光源は、近赤外で励起される
クロムドープフォルステライト(Cr
4+
:Mg
2
SiO
4
)レーザ
　
レーザから放たれた光はシングルモード光ファイバマイケルソン干渉計に入力された。この干渉計では、一方のアームは固定鏡で終端され、対象サンプルは他方のアームに置かれた
レーザのノイズ寄与を減少させるために我
デュアルバランス検出技
アナログデジタルオシロスコープ
コンピュータ
　我々は、
cw Cr
4+
:フォルステライトレーザの高速掃引によってサンプルの縦（深さ)スキャンを達成
(刊１ウ)「 For our situation, as noted, the laser operates in multiple longitudinal modes whose time-averaged behavior establishes the effective coherence length measured in this experiment. 」(1705頁右欄21〜24行)
「我々の状況に関して、述べたように、この
レーザは多重の縦モードで動作し
(刊１エ)「To demonstrate the imaging capability of this system we obtained a surface reconstruction image of the lettering on a U.S. one cent coin. The letters “BE” in “LIBERTY” are shown in Fig.5. The sample was placed at the focus of a lens in the sample arm of the interferometer, and the zero path difference for the two interferometer arms was placed above the surface of the coin. The focal spot size was 20 μm, corresponding to a confocal parameter of 1 mm. To obtain the three-dimensional image we moved the coin on translation stages in a 20 μm×20 μm grid, and at each point a longitudinal scan was acquired. The galvanometric actuator was driven with a 100-Hz triangle drive, resulting in a scan rate of 200 longitudinal scans per second.」(1706頁左欄18〜32行)
「このシステムのイメージング能力を示すために、
我々は米国１セント硬貨上の文字の表面再構成画像を得た
我々は硬貨を移動ステージ上で20μｍ×20μｍグリッドで
各点で、縦スキャンが取得された
(刊１オ)「Scanning speeds are limited by cavity mode buildup times and relaxation oscillation effects. However, the ultimate extension of these techniques using narrow-linewidth tunable diode laser sources would afford even higher scanning speeds and greater ease of use. 」(1706頁右欄15〜20行)
「掃引速度は共振器モードビルドアップ時間および緩和振動効果により制限される。しかしながら、狭いライン幅の掃引可能ダイオードレーザ源を使用した
本技術の根本的な拡張は、より高い掃引速度及び大きな使いやすさを与える
(刊１カ)
Fig. 1. Schematic diagram of the experimental setup.　A/D, analog-digital.
「図１　実験装置の模式図。　A/D、アナログ−デジタル。」
(刊１キ)
Fig. 2 Laser output as a function of end-mirror scanning for a 100-Hz triangle dirve frequency.
「図２　１００Ｈｚ三角駆動周波数における端部反射鏡スキャンの関数として示したレーザー出力。」
　刊行物１から次の事項が理解される。
(事項１)
　使用されるレーザは、広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4）(刊１イ)(刊１ア）であることが理解される。
(事項２)
　「1200〜1275ｎｍの全波長掃引範囲は、500μｓ未満で掃引可能」(刊１ア)と記載され、周波数＝光速／波長及び光速＝2.998×108（ｍ／ｓ)を用いると、波長1200ｎｍは、周波数約250テラヘルツ、波長1275ｎｍは、周波数約235テラヘルツと計算される。
　そして、「1200〜1275ｎｍ」、すなわち、235〜250テラヘルツの掃引範囲を「500μｓ」で掃引されることとなるから、同調速度は、(約250−約235）テラヘルツ／500μｓ＝
約29.4テラヘルツ／ｍｓ
(事項３)
　図１(刊１カ)記載の光路は、「レーザから放たれた光はシングルモード光ファイバマイケルソン干渉計に入力され」(刊１イ）「この干渉計では、一方のアームは固定鏡で終端され、対象サンプルは他方の
アーム
(事項４)
　図１(刊１カ)記載のコンピュータから、「TRANSVERSE SCANNING」と記載された矢印が「SAMPLE」まで引かれており、「TRANSVERSE SCANNING」、すなわち、横方向走査する信号がサンプルに送られていることが分かる。
　そして、サンプルの横に十字の矢印が図示されており、サンプルが矢印の方向に走査されていることが理解され、図１(刊１カ)の装置を用いて、「このシステムのイメージング能力を示すために、我々は硬貨を移動ステージ上で20μｍ×20μｍグリッドで動かし」(刊１エ)「米国１セント硬貨上の文字の表面再構成画像を得た」(刊１エ)と記載されていることから、サンプルを横方向走査して再構成画像を得ることが理解される。
　以上のことから、符号を付して整理すると、刊行物１には次の発明(以下、「刊行物１発明」という。)が記載されていると認められる。なお、対応する摘記箇所及び前記認定事項(事項１)ないし(事項４)を付記した。
「A)　第１の光を第１のアームを通してサンプルに提供すると共に、第２の光を第２のアームを通してリファレンス鏡に提供するレーザおよびカプラを備え(刊１カ)(事項３)、
B)　前記レーザは、広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)であり(事項１）、
C)　前記第１の光及び前記第２の光が、平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し(刊１キ)、
D)　前記レーザは、1200〜1275ｎｍを全波長掃引範囲とし、同調速度が、約29.4テラヘルツ／ｍｓであり(事項２）、
E)　前記レーザが、多重の異なる縦モードを含み(刊１ウ)、
F)　前記第１の光と関連したサンプルから反射して戻る第３の光と、前記第２の光と関連したリファレンスミラーで反射して戻る第４の光の間の干渉を検出する、レーザのノイズ寄与を減少させることができるデュアルバランス検出器およびアナログデジタルオシロスコープ(刊１カ)(刊１イ）と、
G)　検出信号に基づいて画像を生成するコンピュータ(刊１カ)と、
　を備える装置であって、
H)　サンプルを横方向走査して再構成画像を得ることができる装置(事項４)。」
（２）　特許法第２９条に関する判断
ア　本件訂正発明１について
　本件訂正発明１の特定事項である「c)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器」は、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されていない。
　特に言及すれば、申立人は、平成２８年１２月１５日付け意見書1〜4頁において、甲１及び甲９に記載のように「偏光変調器」が周知である旨を主張するが、本件訂正発明１(c)の「偏光を時間について変調するように構成された」「偏光変調器」については記載が無い。
　よって、本件訂正発明１は、これらの刊行物記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえず、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明１に係る特許を取り消すことはできない。
　なお、申立人は、平成２９年５月２６日付け意見書5頁4〜7行において「『偏光変調器』は周知慣用手段であり、当該周知の技術の適用の動機付けがある。また、一般に、変調技術としては『時間』又は『周波数』について変調するものであるから、『時間について変調するように構成』することは当業者が適宜なし得ることである。」と主張する。
　しかしながら、偏光変調器が周知慣用技術であることと、刊行物１発明に適用する動機付けとは無関係なことであり、偏光変調器が周知慣用技術であるというだけで刊行物１発明に適用する動機付けがあることにはならない。ましてや、刊行物１発明において、変調技術として『時間』について変調することを採用する動機付けが申立人から示されておらず、また、本件特許の出願の優先日当時の技術常識を参酌しても、動機付けがあるとも認められない。
イ　本件訂正発明２ないし本件訂正発明４について
　本件特許発明２ないし本件特許発明４は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件特許発明２ないし本件特許発明４に係る特許を取り消すことはできない。
ウ　本件訂正発明５について
　本件訂正発明５の特定事項である「f)　往復長さが５ｍより短いレーザキャビティ」は、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されていない。
　そして、レーザキャビティの長さは、本件特許明細書等の【００８９】によれば「出力パワーは、同調速度が増すにつれて減少してよい。そこで、同調速度に対する出力パワーの感度を下げるためにキャビティ長は小さいのが望ましいと言える。」という技術的意義がある。
　この点について、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されておらず、これらの刊行物記載の発明に基づき当業者が容易に想到し得たものとはいえない。
　また、上記した技術的意義の上で本件訂正発明５においては、「往復長さが５ｍより短い」ことが選択されたのであるから、設計的事項とはいえず、本件訂正発明５は、これらの刊行物記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　よって、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明５に係る特許を取り消すことはできない。
エ　本件訂正発明６について
　本件訂正発明６の特定事項である「s)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する」ことは、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されておらず、本件訂正発明６は、これらの刊行物記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　よって、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明６に係る特許を取り消すことはできない。
オ　本件訂正発明８について
　本件訂正発明８の特定事項である「l)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され、さらに、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメント」については、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されておらず、本件訂正発明８は、これらの刊行物記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　特に言及すれば、申立人は申立書26頁下から5〜下から4行において、甲３の25頁7〜23行を指摘するが、本件訂正発明８の特定事項l)の「前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすように構成された」ことについて、示唆する記載は無い。
　また、申立書26頁下から4〜下から3行において、甲９の図１９並びに【０１２５】及び【０１３２】を指摘するが、甲９の2頁の特許請求の範囲にあるように、甲９に記載のものは、低可干渉光源、すなわち、低コヒーレンス干渉光源を用いたものである。
　これに対して、本件訂正発明８は、a-i)「ほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造」及びa-ii)「第２レーザ利得媒体構造」を備えたレーザを光源とするもの、すなわち、コヒーレンス干渉光源を用いるものであり、低コヒーレンス干渉光源に関する甲９の技術を採用する動機がない。
　よって、申立理由１によって本件訂正発明８に係る特許を取り消すことはできない。
カ　本件訂正発明９について
　本件特許発明９は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明９に係る特許を取り消すことはできない。
キ　本件訂正発明１０について
　本件特許発明１０は、請求項８を引用する発明であり、上記「オ　本件訂正発明８について」に記したのと同様の理由で、申立理由１によって本件訂正発明１０に係る特許を取り消すことはできない。
ク　本件訂正発明１１及び本件訂正発明１２について
　本件訂正発明１１及び本件訂正発明１２は、請求項１を直接又は間接的に引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明１１及び本件訂正発明１２に係る特許を取り消すことはできない。
ケ　本件訂正発明１３について
　本件訂正発明１３は、請求項１を間接的に引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１、１回目の取消理由及び２回目の取消理由の取消理由１によって本件訂正発明１３に係る特許を取り消すことはできない。
コ　本件訂正発明１４について
　本件訂正発明１４の特定事項である「p)　前記電磁放射線の偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器」は、甲１ないし甲９及び刊行物１のいずれにも記載されておらず、本件訂正発明１４は、これらの刊行物記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　よって、申立理由１によって本件訂正発明１４に係る特許を取り消すことはできない。
サ　本件訂正発明１５について
　本件訂正発明１５は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１、１回目の取消理由及び２回目の取消理由の取消理由１によって本件訂正発明１５に係る特許を取り消すことはできない。
シ　本件訂正発明１６について
　本件訂正発明１６は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明１６に係る特許を取り消すことはできない。
ス　本件訂正発明１７について
　本件訂正発明１７は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１、１回目の取消理由及び２回目の取消理由の取消理由１によって本件訂正発明１７に係る特許を取り消すことはできない。
セ　本件訂正発明１８及び本件訂正発明１９について
　本件訂正発明１８及び本件訂正発明１９は、請求項１を引用する発明であり、上記「ア　本件訂正発明１について」に記したのと同様の理由で、申立理由１及び１回目の取消理由によって本件訂正発明１８及び本件訂正発明１９に係る特許を取り消すことはできない。
２　特許法第３６条に関して
（１）　申立理由２について
　申立書28頁18行〜29頁6行において、申立人は「請求項１９には、『　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが、スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み、且つ、
　前記スペクトルフィルタが、多角形スキャナ、スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント、及び、前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って、該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む、請求項１に記載の装置。』と記載されている。しかしながら、例えば、『スペクトルフィルタ』、『多角形スキャナ』、『スペクトル分離アレンジメント』、及び、『光学撮像アレンジメント』等についての具体的構成及び作用が不明確である。また、請求項１９に記載された構成について、発明の詳細な説明の記載との対応が不明確である。
　また、・・・本件特許明細書の発明の詳細な説明は、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない。」と主張する。
　そこで、本件特許明細書等の記載を精査する。
　本件特許明細書等には、請求項１９に係る発明の特定事項であるスペクトルフィルタに関連する事項として、以下の記載がある。なお、下線は当審で付記した。
【図６】
「【００７１】
　
図６
光フィルタ１７０
【００７２】
　以下で詳細に述べる通り、
フィルタ１７０により、
中心波長が光コントローラ１７６の帯域幅にわたって連続的かつ反復的に適時に同調させることのできるスペクトルを放出する周波数掃引源として動作させられる。
　・・・
【００７４】
　・・・
フィルタ１７０は
光ビームを、各々、知られている通り１つの光パスに沿って方向づけされる複数の異なる波長の光に分割すべく工夫された波長分散エレメント１８０を含む。波長分散エレメント１８０は、光コントローラ１７６からの光ビームを受け取り、この光ビームを、各々１つの光パスに沿って方向づけされる複数の波長の複数の光に分割すべく工夫された1つ以上のエレメントを含むことができる。波長分散エレメント１８０は更に、複数の波長の光を光軸１８２に関して複数の角方向又は角位置において方向づけする働きも持つ。
反射格子１８４
【００７５】
　波長分散エレメント１８０は、各波長の光を、光軸１８２に関して角度をなすパスに沿ってレンズ系１８６の方に向ける。各角度は、波長分散エレメント１８０によって特定される。レンズ系１８６は、波長分散エレメント１８０から別々の波長の光を受け取り、その光をビーム偏向デバイス１８８上に設けられた所定位置に向け、又は向かわせ、及び／又は収束すべく工夫された1つ以上の光学エレメントを含むことができる。
ビーム偏向デバイス１８８は、1つ以上々の離散的波長の光を受け取り、これを再び光軸１８２に沿ってレンズ系１８６を通して波長分散エレメント１８０及び光コントローラ１７６に選択的に戻すべく制御することができる。
ビーム偏向デバイス１８８は、多角形ミラー
【００７６】
　
図６
回折格子１８４
レンズ系１８６（テレスコープ１９３を形成する第１及び第２のレンズ１９０、１９２を有する）
多角形ミラースキャナ１９４
第１レンズ１９０は、波長分散エレメント１８０から平行調整された離散的波長の光を受け取ることができ、また、同等の1つ以上の収束ビームが１つの像平面（図６においてＩＰで表されている）上に投影される
　・・・
【００７９】
　
光軸に関する入射ビームの向きと多角形ミラー１９４の回転方向１９８が、波長同調の方向、すなわち、波長アップ（プラス）スキャンか、ダウン（マイナス）スキャンかを決定する。図６に示した配置は、プラスの波長掃引を生じさせる。
　「フィルタ１７０により、光源１００’は、中心波長が光コントローラ１７６の帯域幅にわたって連続的かつ反復的に適時に同調させることのできるスペクトルを放出する周波数掃引源として動作させられる。」(【００７２】)との記載から、「フィルタ１７０」が請求項１９の「スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタ」に相当するといえる。
　そこで、請求項１９のスペクトルフィルタを構成する要素について、更に検討する。
　請求項１９の「多角形スキャナ」は、ビーム偏向デバイス１８８としての「多角形ミラースキャナ１９４」(【００７５】、【００７６】)に相当する。
　「フィルタ１７０は、・・・光ビームを、各々、知られている通り１つの光パスに沿って方向づけされる複数の異なる波長の光に分割すべく工夫された波長分散エレメント１８０を含む。波長分散エレメント１８０は、光コントローラ１７６からの光ビームを受け取り、この光ビームを、各々１つの光パスに沿って方向づけされる複数の波長の複数の光に分割すべく工夫された1つ以上のエレメントを含むことができる。波長分散エレメント１８０は更に、複数の波長の光を光軸１８２に関して複数の角方向又は角位置において方向づけする働きも持つ。」(【００７４】)、「ビーム偏向デバイス１８８は、1つ以上々の離散的波長の光を受け取り、これを再び光軸１８２に沿ってレンズ系１８６を通して波長分散エレメント１８０及び光コントローラ１７６に選択的に戻すべく制御することができる。」(【００７５】)、「光軸に関する入射ビームの向きと多角形ミラー１９４の回転方向１９８が、波長同調の方向、すなわち、波長アップ（プラス）スキャンか、ダウン（マイナス）スキャンかを決定する。図６に示した配置は、プラスの波長掃引を生じさせる。」(【００７５】)との記載から、波長分散エレメント１８０としての反射格子１８４、及び、ビーム偏向デバイス１８８としての多角形ミラースキャナ１９４それぞれの構成並びに配置により、スペクトルの掃引が実現されるものと理解できる。
　よって、請求項１９の「スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント」は、「反射格子１８４」及び「多角形ミラースキャナ１９４」に相当する。
　「レンズ系１８６（テレスコープ１９３を形成する第１及び第２のレンズ１９０、１９２を有する）」、「第１レンズ１９０は、波長分散エレメント１８０から平行調整された離散的波長の光を受け取ることができ、また、同等の1つ以上の収束ビームが１つの像平面（図６においてＩＰで表されている）上に投影される」(【００７６】)との記載から、第１レンズ１９０を含むレンズ系１８６は、波長分散エレメント１８０である反射格子１８４から離散的波長の光を受け取り、像平面上に収束ビームを投影することが理解できる。
　よって、請求項１９の「光学撮像アレンジメント」は、「レンズ系１８６」に相当する。
　してみると、請求項１９で特定される「スペクトルフィルタ」は、発明の詳細な説明に記載されたものであるから、本件訂正発明１９が発明の詳細な説明に記載されたものでないとはいえない。
　そして、発明の詳細な説明には、請求項１９で特定される「スペクトルフィルタ」の具体的構成が記載されていることから、発明の詳細な説明は、当業者が本件訂正発明１９の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものでないとはいえない。
　さらに、少なくとも、発明の詳細な説明の記載を参酌することにより、請求項１９で特定される「スペクトルフィルタ」の構成を理解することができることから、本件訂正発明１９が明確でないとはいえない。
　以上のとおりであるから、本件特許の請求項１９の記載は、特許法第３６条第６項第１号及び第２号に規定する要件を満たしていなとすることはできない。また、本件特許の発明の詳細な説明の記載は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていないとすることはできない。
（２）　２回目の取消理由の取消理由２について
ア　請求項１ないし５、及び、８ないし１９について
（ア）訂正前の特定事項「ii)前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２構造」は、意味が不明であった。
　本件訂正により、特定事項ii)の「第２構造」が「第２レーザ利得媒体構造」と訂正されるとともに、「iii)前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメント」を含むという特定事項が追加された。
　本件特許の出願の優先日当時の技術常識を参酌するに、レーザ利得媒体構造で生じるスペクトルの周波数ダウンシフトは、帯域内４波混合によるものであると理解できる。
　してみると、本件訂正後の特定事項ii)は、意味が不明であるということはできない。
　よって、本件訂正後の請求項１ないし５、及び、８ないし１９は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たすものとなった。
（イ）また、訂正前は「より高い出力パワーを生み出す」という課題を解決するための手段である、帯域内４波混合現象の結果として周波数ダウンシフトを生じさせる手段及び短波長から長波長方向へのプラス波長スキャンを行う手段が反映されていなかった。
　本件訂正により、「短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメント」が設けられた「スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造」を含むことが特定された。
　本件特許の出願の優先日当時の技術常識を参酌するに、レーザ利得媒体構造で生じるスペクトルの周波数ダウンシフトは、帯域内４波混合によるものであると理解できる。
　してみると、もはや「より高い出力パワーを生み出す」という課題を解決するための手段が反映されていないということはできない。
　よって、本件訂正後の請求項１ないし５、及び、８ないし１９は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たすものとなった。
イ　請求項６について
　訂正前は、「i．前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するか、あるいは、
　　ii．前記少なくとも１つの第１電磁放射線、少なくとも１つの第２電磁放射線、少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトし、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し、区分し、または、無くすか、の少なくとも一方を行う、」と規定され、発明特定事項がiとiiの選択肢で表現されている。
　上記iとiiの選択肢は、選択肢同士が類似の性質又は機能を有しないため、一の請求項から二の発明が把握され、明確であるとはいえなかった。
　本件訂正により、ii)の選択肢が削除されたため、本件訂正後の請求項６は特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たすものとなった。
第８　むすび
　以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件請求項１ないし６及び本件請求項８〜１９に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１ないし６及び本件請求項８ないし１９に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　本件請求項７に係る特許は、訂正により、削除されたため、本件特許の請求項７に対して申立人がした特許異議の申立てについては、対象となる請求項が存在しないこととなった。
　　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成２９年６月１２日（２０１７．６．１２）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、　ｉ
）
レーザ利得媒体
ｉｉｉ）前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連し
た１
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と、
　【請求項２】
　平均周波数が５キロヘルツより大きい反復レートで反復的に変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項３】
　平均周波数が１０テラヘルツより大きい範囲にわたって変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項４】
　スペクトルが１００ギガヘルツより小さい瞬時ライン幅を有する、請求項１に記載の装置。
　【請求項５】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、　ｉ）前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、　ｉｉ）前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、　ｉｉｉ）前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
往
と、
る装
　【請求項６】
　電磁放射線の間の干渉を検出する装置の動作を制御する方法であって、
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し、
　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせ、
　前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさ
せ、
　
前
し、及び、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する、こ
　【請求項７】
（削除）
　【請求項８】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、　ｉ）前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、　ｉｉ）前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、　ｉｉｉ）前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
前
と、
る装
　【請求項９】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１０】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項８に記載の装置。
　【請求項１１】
　更に、検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと、
　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し、その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと、を備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１２】
　前記走査データが、サンプル上の多重横方向位置で得られた干渉検出データを含む、請求項１１に記載の装置。
　【請求項１３】
　前記プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に、前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する、請求項１１に記載の装置。
　【請求項１４】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１アレンジメントは、　ｉ）前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つに、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを持たせる第１構造と、　ｉｉ）前記スペクトルの周波数ダウンシフトを生じさせる第２レーザ利得媒体構造と、　ｉｉｉ）前記第２レーザ利得媒体構造に設けられ、短波長から長波長へのプラスの波長掃引方向で動作する波長走査フィルタアレンジメントと、を含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
前
と、
る装
　【請求項１５】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、前記少なくとも１つの第３電磁放射線に関連した自己相関を除去するように構成された少なくとも１つのデュアルバランスレシーバを備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１６】
　更に、
　・前記少なくとも１つの第１電磁放射線と少なくとも１つの第２電磁放射線のうち少なくとも１つ、または、
　・前記少なくとも１つの第３電磁放射線と少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つ、の少なくとも１つの間の位相差を追跡するように明確に構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１７】
　前記スペクトルの中央値の変化の速度が少なくとも１０００ｎｍ／ｍｓｅｃである、請求項１に記載の装置。
　【請求項１８】
　スペクトルが少なくとも１０ｋＨｚの反復レートで反復的に経時変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項１９】
　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが、スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み、且つ、
　前記スペクトルフィルタが、多角形スキャナ、スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント、及び、前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って，該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む、請求項１に記載の装置。