【事件の表示】
　特許第５７５５９６６号発明「周波数ドメイン干渉測定を利用して光学撮像を実行する方法および装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５７５５９６６号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された特許請求の範囲のとおり，訂正後の[請求項１〜４，６〜８，１０，１１，１３，１５，１６，１９，２１，２２]，請求項５，[請求項１２，１４]，請求項１７，請求項１８及び請求項２０について訂正及び訂正後の請求項９について訂正することを認める。
　特許第５７５５９６６号の請求項１７，１８及び２０に係る特許を取り消す。
　特許第５７５５９６６号の請求項１〜１０，１２〜１５，１９，２１，２２に係る特許を維持する。
　特許第５７５５９６６号の請求項１１及び１６に係る特許についての山下勝からの特許異議の申立てを却下する。
　特許第５７５５９６６号の請求項１６に係る特許についての東京総合コンサルティング株式会社からの特許異議の申立てを却下する。　
【理　由】
第１　手続の経緯
　特許第５７５５９６６号の請求項１〜２２に係る特許については，平成２７年６月５日付けでその特許権の設定登録がされ，山下　勝(以下，「第１申立人」という。）から特許異議申立書(以下，「第１申立書」という。)が提出され，東京総合コンサルティング株式会社(以下，「第２申立人」という。）から，特許異議申立書(以下，「第２申立書」という。)が提出されたものである。
　その後の経緯は，次のとおりである。
平成２８年　４月２６日付け　取消理由通知書（当審）
平成２８年　８月　８日付け　訂正請求書
平成２８年　８月　８日付け　意見書（被申立人)
平成２８年　８月３０日付け　第１申立人及び第２申立人宛通知書(当審）
平成２８年　９月３０日付け　意見書(第１申立人)
平成２８年１０月　３日付け　意見書(第２申立人)
平成２８年１０月３１日付け　取消理由通知＜決定の予告＞
平成２９年　１月２４日付け　意見書（被申立人）
　　
　なお，被請求人は，平成２９年１月２４日付け意見書において，平成２８年１０月３１日付け取消理由通知＜決定の予告＞の「結論」に承服する旨の意見を述べている。
　
第２　訂正請求について
１　本件訂正請求の内容
　本件訂正請求は，訂正前の請求項の引用関係からみて，第１訂正単位(請求項１〜８，請求項１０〜請求項２２）及び第２訂正単位（請求項９）の２つの訂正単位からなるものである。
　なお，下線は訂正事項を示す。
　
（１）　第１訂正単位について
ア　訂正事項１
　請求項１１及び請求項１６を削除する。
　
イ　訂正事項２
　訂正前の請求項１に
「少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，備える装置。」
とあるのを
「【請求項１】　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と，
と訂正する。
　
ウ　訂正事項３
　請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い，請求項１を直接又は間接的に引用する請求項２〜４，６〜８，１０，１３，１５，１９，２１及び２２も訂正された。
　
エ　訂正事項４
　訂正前の請求項５の
「【請求項５】　更に，往復長さが５ｍより短いレーザキャビティを備える，請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項５】　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと
　往復長さが５ｍより短いレーザキャビティと，を備え
る装
と訂正する。
　
オ　訂正事項５
　訂正前の請求項１２に
「【請求項１２】　更に，前記少なくとも１つの第１電磁放射線，少なくとも１つの第２電磁放射線，少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され，さらに，前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し，区分し，または，無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える，請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項１２】　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線，少なくとも１つの第２電磁放射線，少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され，さらに，前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し，区分し，または，無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメント
と，
る装
と訂正する。
　
カ　訂正事項６
　請求項１２に係る訂正事項５の訂正に伴い，請求項１２を引用する請求項１４も訂正された。
　
キ　訂正事項７
　訂正前の請求項１７に
「【請求項１７】　前記プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に，前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する，請求項１５に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項１７】　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと
　
検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと
　
走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと，を備え，
と訂正する。
　
ク　訂正事項８
　訂正前の請求項１８に
「【請求項１８】　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが，前記少なくとも１つの第３電磁放射線に関連した自己相関を除去するように構成された少なくとも１つのデュアルバランスレシーバを備える，請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項１８】　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，を備え，
る装
と訂正する。
　
ケ　訂正事項９
　訂正前の請求項２０に
「【請求項２０】　前記スペクトルの中央値の変化の速度が少なくとも１０００ｎｍ／ｍｓｅｃである，請求項１に記載の装置。」
とあるのを
「【請求項２０】　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，を備え，
と訂正する。
　
（２）　第１訂正単位についての当審の判断
ア　訂正要件について
（ア）　訂正事項１について
　訂正事項１は，請求項を削除するものであるから，特許法第１２０条の５第１項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであって，同条第９項において読み替えて準用する１２６条第５項及び第６項に規定する要件に適合するものである。
　
（イ）　訂正事項２について
　訂正事項２は，訂正前の請求項１１にあった事項を訂正前の請求項１に加えるものであって，新規事項を含むものではなく，特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また，訂正事項２は，特許法第１２０条の５第１項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり，その訂正に係る発明のカテゴリーや対象，目的を変更するものではないから，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものには該当せず，特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
　
（ウ）　訂正事項３及び６について
　訂正事項３は，請求項１に係る訂正事項１の訂正に伴い，直接又は間接的に請求項１を引用する請求項請求項２〜４，６〜８，１０，１３，１５，１９，２１及び２２が訂正されたものであって，新規事項を含むものではなく，特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　さらに，訂正事項６は，請求項１２に係る訂正事項５の訂正に伴い，請求項１２を引用する請求項１４も訂正されたものであって，新規事項を含むものではなく，特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　
　また，訂正事項３及び６は，特許法第１２０条の５第１項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり，その訂正に係る発明のカテゴリーや対象，目的を変更するものではないから，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものには該当せず，特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
　
（エ）　訂正事項４及び５，７〜９について
　訂正事項４，訂正事項５，訂正事項８及び訂正事項９は，いずれも訂正前に請求項１を引用していた請求項に対し，請求項１を引用しないものとする訂正であり，新規事項を含むものではないし，特許法第１２０条の５第１項ただし書第４号に掲げる目的に適合する訂正である。
　また，訂正事項７は，訂正前の請求項１７が，請求項１５及び請求項１を直接又は間接的に引用していたところ，請求項１５及び請求項１の引用をしないものと訂正するものであり，新規事項を含むものではないし，特許法第１２０条の５第１項ただし書第４号に掲げる目的に適合する訂正である。
　
　訂正事項４，訂正事項５，訂正事項７〜訂正事項９は，その訂正に係る発明のカテゴリーや対象，目的を変更するものではないから，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものには該当せず，特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
　
（オ）　訂正単位について
　第１訂正単位（請求項１〜８，請求項１０〜請求項２２）は，訂正前の請求項２〜８，請求項１０〜２２がそれぞれ請求項１を直接又は間接的に引用していることから，訂正前において一群の請求項に該当し，特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する１２６条第４項に規定する要件に適合するものである。
　
イ　第１訂正単位について小括
　以上のことから，訂正事項１〜９は，特許法第１２０条の５第１項ただし書きに掲げる事項を目的とするものであり，かつ，同条第９項において読み替えて準用する１２６条第４項〜第６項に規定する要件に適合するものであるので，訂正後の[請求項１〜８，１０〜２２]についての訂正を認める。
　訂正事項４及び５，７〜９は，引用関係の解消を目的とする訂正であって，該訂正事項により訂正された後の請求項５，請求項１２，請求項１７，請求項１８及び請求項２０の訂正は，上記したように認められるものである。
　そして，被申立人から，請求項５，請求項１２，請求項１７，請求項１８及び請求項２０の訂正が認められるときは，別の訂正単位として扱われることの求めがあったことから，訂正後の請求項５，請求項１２及び請求項１２を引用する請求項１４，請求項１７，請求項１８並びに請求項２０については，請求項ごとに訂正することを認める。
　よって，第１請求単位である訂正後の[請求項１〜４，６〜８，１０，１１，１３，１５，１６，１９，２１，２２]，請求項５，[請求項１２，１４]，請求項１７，請求項１８及び請求項２０について訂正を認める。
　
（２）　第２訂正単位について
ア　訂正事項１０
　訂正前の請求項９に
「【請求項９】　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むステップ，及び，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出するステップを備える方法。」
とあるのを
「【請求項９】　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むステップ，及び，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出するステップ，
及び，
　
少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ
と訂正する。
　
イ　第２訂正単位についての当審の判断
　訂正事項１０の「少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ」は，訂正前の請求項１１にあった「前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器を備える」との事項を，該偏光変調器によって行われる変調をステップとして表現したものであって，新規事項を含むものではなく，特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する１２６条第５項に規定する要件に適合するものである。
　また，訂正事項１０は，前記ステップを更に加えるものであるから，特許法第１２０条の５第１項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり，その訂正に係る発明のカテゴリーや対象，目的を変更するものではないから，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものには該当せず，特許法第１２０条の５第９項で準用する第１２６条第６項に適合するものである。
　以上のことから，訂正事項１０は，特許法第１２０条の５第１項ただし書きに掲げる事項を目的とするものであり，かつ，同条第９項において読み替えて準用する１２６条第４項〜第６項に規定する要件に適合するものであるので，訂正後の請求項９についての訂正を認める。
　
２　訂正の判断のまとめ
　以上のことから，[請求項１〜４，６〜８，１０，１１，１３，１５，１６，１９，２１，２２]，請求項５，請求項９，[請求項１２，１４]，請求項１７，請求項１８及び請求項２０について訂正を認める。
　
第３　本件発明
　上記「第２　訂正請求について」で述べたとおり，本件訂正は認められることとなったから，請求項１〜２２に係る発明(以下，それぞれの発明を「本件訂正発明１」などという。)は，次の事項により特定される発明であると認める。
　
【請求項１】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と，
を備える装置。
【請求項２】
　平均周波数が５キロヘルツより大きい反復レートで反復的に変化する，請求項１に記載の装置。
【請求項３】
　平均周波数が１０テラヘルツより大きい範囲にわたって変化する，請求項１に記載の装置。
【請求項４】
　スペクトルが１００ギガヘルツより小さい瞬時ライン幅を有する，請求項１に記載の装置。
【請求項５】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
　往復長さが５ｍより短いレーザキャビティと，を備える装置。
【請求項６】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長１３００ｎｍに合わせてある，請求項３に記載の装置。
【請求項７】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長８５０ｎｍに合わせてある，請求項３に記載の装置。
【請求項８】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長１７００ｎｍに合わせてある，請求項３に記載の装置。
【請求項９】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むステップ，及び，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出するステップ，及び，　
　少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップを備える方法。
【請求項１０】
　前記リファレンスが，非反射性リファレンスである，請求項１に記載の装置。
【請求項１１】　削除
【請求項１２】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線，少なくとも１つの第２電磁放射線，少なくとも１つの第３電磁放射線又は少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトするように構成され，さらに，前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し，区分し，または，無くすように構成された少なくとも１つの第３アレンジメントと，を備える装置。
【請求項１３】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが，少なくとも１つの光検出器と，前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える，請求項１に記載の装置。
【請求項１４】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが，少なくとも１つの光検出器と，前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える，請求項１２に記載の装置。
【請求項１５】
　更に，検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと，
　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと，を備える，請求項１に記載の装置。
【請求項１６】　　削除
【請求項１７】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
　検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと，
　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと，を備え，プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に，前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する装置。
【請求項１８】
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，を備え，
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが，前記少なくとも１つの第３電磁放射線に関連した自己相関を除去するように構成された少なくとも１つのデュアルバランスレシーバを備える装置。
【請求項１９】
　更に，
　・前記少なくとも１つの第１電磁放射線と少なくとも１つの第２電磁放射線のうち少なくとも１つ，または，
　・前記少なくとも１つの第３電磁放射線と少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つ，の少なくとも１つの間の位相差を追跡するように明確に構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える，請求項１に記載の装置。
【請求項２０】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，を備え，
　前記スペクトルの中央値の変化の速度が少なくとも１０００ｎｍ／ｍｓｅｃである装置。
【請求項２１】
　スペクトルが少なくとも１０ｋＨｚの反復レートで反復的に経時変化する，請求項１に記載の装置。
【請求項２２】
　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが，スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み，且つ，
　前記スペクトルフィルタが，多角形スキャナ，スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント，及び，前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って，該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む，請求項１に記載の装置。
　
第３　特許異議申立の取消理由及び証拠について
　第１申立人(山下　勝）からは，第１申立書において，請求項１〜２２に対して，異議申立てがなされている。
　また，第２申立人(東京総合コンサルティング株式会社）からは，第２申立書において，請求項１〜５，９，１０，１３，１５，１６，１８，２０，２１，２２に対して，異議申立てがなされている。
　なお，以下，第１申立書に添付された甲各号証を「第１甲１」などといい，第２申立書に添付された甲各号証を「第２甲１」などという。
　また，各々の申立人は，複数の申立理由を申し立てている。以下，第１申立人の１番目の申立理由を「申立理由第１−１」などということとする。
１　第１申立人の申立理由の概要
　第１申立人は，以下の証拠を提出した。
　なお，第１甲７，第１甲８及び第１甲１０については，平成２８年３月３日付け手続補正書（方式）で第１申立人から訳文が提出された。
第１甲１：国際公開第０３／０６２８０２号及び訳文
第１甲２：特開平１０−３３２３２９号公報
第１甲３：特表２０００−５０３２３７号公報
第１甲４；特開昭６０−１９３３４号公報
第１甲５：特開２００２−９５６３４号公報
第１甲６：特開平８−８６７４６号公報
第１甲７：JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY , VOL.20, NO.9, 2002年9月, pp.1715-1723及び訳文
第１甲８：OPTICS LETTERS, Vol.16, No.12,1991, pp.910-912及び訳文
第１甲９：特開２００３−１９９７０１号公報
第１甲１０：OPTICS LETTERS, Vol.28, No.20, 2003, pp.1981-1983及び訳文
　
（１）　申立理由第１−１（特許法第２９条第２項違反：第１申立書7頁）
ア　請求項１に対して
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。
イ　請求項２〜４に対して
　第１甲１〜第１甲７，第１甲８及び周知技術から容易想到。数値限定は設計事項。
ウ　請求項５〜８に対して
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。数値限定は設計事項。
エ　請求項９に対して
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。
オ　請求項１０〜１１
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。
カ　請求項１２
　第１甲１〜第１甲７，第１甲９及び周知技術から容易想到。
キ　請求項１３〜１９
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。
ク　請求項２０〜２１
　第１甲１〜第１甲７及び周知技術から容易想到。数値限定は設計事項。
ケ　請求項２２
　第１甲１〜第１甲７，第１甲１０及び周知技術から容易想到。
　
（２）　申立理由第１−２（特許法第３６条第６項第１号及び第２号並びに同条第４項第１号項違反：第１申立書7頁）
　請求項２２に係る発明は，具体的構成及び作用が不明確であり，また，発明の詳細な説明との対応が不明確である。
　また，発明の詳細な説明において，その具体的構成が何ら記載されておらず，かつ周知のものでもないから，当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない。
　
２　第２申立人の申立理由の概要
第２申立人は，以下の証拠を提出した。
第２甲１：OPTICS LETTERS, Vol.22, No.22, 1997, pp.1704-1706 
第２甲２：OPTICS LETTERS, Vol.28, No.20, 2003, pp.1981-1983 
第２甲３：Optics Express, Vol.11, No.22, 2003, pp.2953-2963 
第２甲４：米国特許出願公開第２００３−０１３７６６９号公報及び抄訳文
第２甲５：特開２００３−５１１０号公報
第２甲６：特開平１１−３０５１５９号公報
第２甲７：第２甲１の和訳
第２甲８：第２甲２の和訳
第２甲９：第３甲３の和訳
第２甲１０：特表２００３−５００８６１号公報
第２甲１１：特開平９−６４４３９号公報
第２甲１２：米国特許第５９５６３５５号公報及び抄訳文
第２甲１３：換算式の説明
第２甲１４：拒絶理由通知書
　
（１）　申立理由第２−１（特許法第２９条第２項違反：第２申立書５頁「理由の要点」の項）
ア　請求項１〜５，９，１３，１５，１６，１８，２０〜２２
　これらの請求項に係る発明は，第２甲１及び周知技術に基づき当業者が容易に想到しうるものである。
イ　請求項１０
　請求項１０に係る発明は，第２甲１，第２甲２及び周知技術に基づき当業者が容易に想到しうるものである。
　
（２）　申立理由第２−２（特許法第２９条第２項違反：第２申立書９頁「理由の要点」の項）
ア　請求項１〜５，９，１３，１５，１６，１８，２０〜２２
　これらの請求項に係る発明は，第２甲１に基づき当業者が容易に想到しうるものである。
イ　請求項１０
　請求項１０に係る発明は，第２甲１及び周知技術に基づき当業者が容易に想到しうるものである。
　
（３）　申立理由第２−３(特許法第３６条第６項第１号又は同条同項第２号違反：第２申立書９頁)
　請求項５，１０，１６に係る発明は，本件明細書の発明の詳細な説明に記載も示唆もされていないか，または明確でない。
　
（４）　申立理由第２−４(特許法第３６条第４項第１号，特許法第３６条第６項第１号又は同条同項第２号違反：第２申立書９頁)
　請求項１〜５，９，１３，１５，１６，１８，２０〜２２に係る発明は，特許法第３６条第４項第１号，特許法第３６条第６項第１号又は同条同項第２号に規定する要件を満たしていない。
　
第４　取消理由の概要
　平成２８年　４月２６日付けで通知した当審の取消理由の概要は以下のとおりである。なお，訂正前の請求項１〜２２に係る発明を，本件発明１〜２２という。
　
１　特許法第２９条第２項について
（１）　本件発明１〜１０，１３，１５，１６，１８，２０，２１及び２２
　これらの発明は，第２甲１及び周知の事項から当業者が容易に発明できたものであるから，請求項１〜１０，１３，１５，１６，１８，２０，２１及び２２に係る特許は，特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。
　
（２）　本件発明１７
　本件発明１７は，第２甲１，第１項３及び周知の事項から当業者が容易に発明できたものであるから，請求項１７に係る特許は，特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。
（３）　本件発明１９
　本件発明１９は，第２甲１，第１項１及び周知の事項から当業者が容易に発明できたものであるから，請求項１９に係る特許は，特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。
　
２　特許法第３６条
　請求項１０の「リファレンスが，非反射性リファレンス」と規定されているが，その構造等が全く不明である。よって，本件特許明細書は，当業者が本件発明１０を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものとはいえない。
　よって，特許法第３６条第６項第２号及び第４項第１号に規定する要件を満たしていない
　
第５　特許法第２９条第２項に関する取消理由についての判断
　上記「第４　取消理由の概要」で述べたとおり，取消理由は，訂正前の請求項１〜１０，１３，１５〜２２に対して出されており，また，上記「第２　訂正請求について」で述べたとおり，請求項１１及び請求項１６は削除された。
　そこで，削除された請求項を除き，訂正後の請求項１〜１０，１３，１５，１７〜２２について，取消理由が解消したか否かを判断する。
　
１　引用刊行物記載の事項
第２甲１：B. Golubovic, B. E. Bouma, G. J. Tearney, and J. G. Fujimoto, Optical frequency-domain reflectometry using rapid wavelength tuning of a Cr4+ : forsterite laser , OPTICS LETTERS , Vol. 22, No. 22 , November 15, 1997, pp.1704-1706  
第２甲２：S. H. Yun, C. Boudoux, G. J. Tearney and B. E. Bouma, High-speed wavelength-swept semiconductor laser with a polygon-scanner-based wavelength filter, OPTICS LETTERS, Vol. 28, No. 20, October 15, 2003 , pp. 1981-1983  
第２甲４：米国特許出願公開第２００３／０１３７６６９号明細書
第１甲３：特表２０００−５０３２３７号公報
第１甲１：国際公開第０３／０６２８０２号
第２甲１０：特表２００３−５００８６１号公報
第２甲１１：特開平９−６４４３９号公報
　
　なお，翻訳は，各申立人が提出した翻訳文を参考に当審で翻訳したものである。また，下線は当審で付記したものである。
　
（１）　第２甲１記載の事項
(第２甲１ア)「We present a cw chromium-doped forsterite laser that permits rapid wavelength tuning over a broad bandwidth and demonstrate the application of this source to frequency-domain ranging and optical tomography. The entire tuning range of 1200 to 1275 nm can be swept in less than 500 ms. This permits frequency-domain ranging to be performed with a scan rate of 2 kHz and an axial resolution of 15 mm.」(1704頁　要約の欄)
「我々は，
広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザを提示し
１２００〜１２７５ｎｍの全波長掃引範囲は，５００μｓ未満で掃引可能である。
　
(第２甲１イ）「The light source used in this study is a chromiumdoped forsterite(Cr4+:Mg2SiO4) laser that is excited in the near IR.15 A schematic diagram of the experimental apparatus can be seen in Fig. 1. The laser consists of a 3-mm-long Brewster-cut Cr4+:Mg2SiO4 laser crystal in a standard z-cavity configuration. The radius of curvature of the focusing mirrors was 5 cm, and the output coupler had a ref lectivity of 99.3%. The excitation source for this laser was a cw Ti:Al2O3 laser operating at 740 nm. Spectral filtering for narrow-band operation and wavelength tuning are both facilitated by a sequence of four dispersive, Brewster-cut prisms inserted into one of the collimated arms of the laser. Since the angular def lection of a ray traversing this prism sequence is wavelength dependent, only a narrow spectral range will be returned undeviated after ref lection from the resonator end mirror. An angular deflection of the end mirror, then, will shift this spectral range and tune the laser. To perform rapid wavelength scanning, we mounted the laser end mirror upon a tilting galvanometer. This deflector can be driven with triangular voltage functions at frequencies as high as 1 kHz and amplitudes sufficient to cover the emission spectrum of Cr4+:Mg2SiO4.
　Light emitted from the laser was coupled into a single-mode fiber-optic Michelson interferometer in which one arm was terminated by a stationary mirror and the sample of interest was placed in the other arm. A polarization controller was used to cancel out any polarization imbalance in the interferometer. To reduce laser noise contributions we implemented a dual-balanced detection technique. The interferometer signal was acquired and digitized with a 150-MHz, 8-bit analog?digital oscilloscope, and the data were transferred to a computer for processing and display. Although we achieved longitudinal (depth) scanning of a sample by rapid tuning of the cw Cr4+:forsterite laser, the sample was displaced transversely to cover the surface area of the sample investigated and allow for three-dimensional image reconstruction.」(1704頁右欄22行〜1705頁左欄16行)
「本発明で使用される光源は，近赤外で励起される
クロムドープフォルステライト(Cr
4+
:Mg
2
SiO
4
)レーザ
　
レーザから放たれた光はシングルモード光ファイバマイケルソン干渉計に入力された。この干渉計では，一方のアームは固定鏡で終端され，対象サンプルは他方のアームに置かれた
レーザのノイズ寄与を減少させるために
デュアルバランス検出
Cr
4+
:フォルステライトレーザの高速掃引によってサンプルの縦（深さ)スキャンを達成
　
(第２甲１ウ)「For our situation, as noted, the laser operates in multiple longitudinal modes whose time-averaged behavior establishes the effective coherence length measured in this experiment.」(1705頁右欄21〜24行)
「我々の状況に関して，述べたように，この
レーザは多重の縦モードで動作し
　
(第２甲１エ)「To demonstrate the imaging capability of this system we obtained a surface reconstruction image of the lettering on a U.S. one cent coin. The letters “BE” in “LIBERTY” are shown in Fig.5. The sample was placed at the focus of a lens in the sample arm of the interferometer, and the zero path difference for the two interferometer arms was placed above the surface of the coin. The focal spot size was 20 μm, corresponding to a confocal parameter of 1 mm. To obtain the three-dimensional image we moved the coin on translation stages in a 20 μm×20 μm grid, and at each point a longitudinal scan was acquired. The galvanometric actuator was driven with a 100-Hz triangle drive, resulting in a scan rate of 200 longitudinal scans per second..」(1706頁左欄18〜32行)
「このシステムのイメージング能力を示すために，我々は米国１セント硬貨上の文字の表面再構成画像を得た。図５には，「LIBERTY」の「BE」の文字が示される。サンプルは干渉計のサンプルアーム内のレンズの焦点に置かれ，２つの干渉計アームについてのゼロ経路差は効果の表面の上に置かれた。焦点サイズは２０μｍであった。これは１ｍｍの共焦点パラメータに対応する。三次元画像を得るため，
我々は硬貨を移動ステージ上で２０μｍ×２０μｍグリッドで動かし
各点で，縦スキャンが取得された
　　
(第２甲１オ)「Scanning speeds are limited by cavity mode buildup times and relaxation oscillation effects. However, the ultimate extension of these techniques using narrow-linewidth tunable diode laser sources would afford even higher scanning speeds and greater ease of use.」(1706頁右欄15〜20行)
「掃引速度は共振器モードビルドアップ時間および緩和振動効果により制限される。しかしながら，狭いライン幅の掃引可能ダイオードレーザ源を使用した
本技術の根本的な拡張は，より高い掃引速度及び大きな使いやすさを与える
　
(第２甲１カ)
Fig.1.　Schematic diagram of the experimental setup.　A/D, analog-digital. 
「図１　実験の模式図。　A/D，アナログ−デジタル。」
　
(第２甲１キ)
Fig.2　Laser output as a function of end-mirror scanning for a 100-Hz triangle dirve frequency.
「図２　端部反射鏡の１００Ｈｚ三角駆動周波数に関するスキャンの関数とし示したレーザー出力。」
　
（２）　第２甲２記載の事項
(第２甲２ア)「Ultrahigh-speed tuning of an extended-cavity semiconductor laser is demonstrated. The laser resonator comprises a unidirectional fiber-optic ring, a semiconductor optical amplifier as the gain medium, and a novel scanning filter based on a polygonal scanner. Variable tuning rates up to 1150 nm/ms(15.7-kHz repetition frequency) are demonstrated over a 70-nm wavelength span centered at 1.32 μm. This tuning rate is more than an order of magnitude faster than previously demonstrated and is facilitated in part by self-frequency shifting in the semiconductor optical amplifier. The instantaneous linewidth of the source is ,0.1 nm for 9-mW cw output power and a low spontaneous-emission background of -80 dB.」(1981頁　要約の欄)　
「拡張共振器半導体レーザの超高速掃引が示される。
レーザ発振器
１１５０ｎｍ／ｍｓ（反復周波数１５．７ｋＨｚ）までの可変同調速度
　
(第２甲２イ)「Considerable effort has recently been devoted to the development of rapidly scanning, widely tuning laser sources for optical ref lectometry, biomedical imaging, sensor interrogation, and test and measurement applications.1-8」(1981頁左欄1〜4行)
「近年，高速スキャニング，光学反射光測定に関する広範囲掃引レーザ光源，
生体医療撮像
　
(第２甲２ウ)「An instantaneous linewidth of 10 GHz is suff iciently narrow to provide useful ranging depth of a few millimeters in optical coherence tomography5,6 or micrometer-level transverse resolution in spectrally encoded confocal microscopy.9」(1981頁左欄14〜19行)
「１０ＧＨｚの瞬時ライン幅は，
光干渉トモグラフィ
　
(第２甲２エ)「In this Letter we demonstrate an ultrahigh-speed wavelength-swept laser with a tuning speed as fast as 1150 nm/ms and a variable repetition rate as high as 15.7 kHz, an order of magnitude faster than previously demonstrated.」(1981頁左欄27〜31行)
「このレターにおいて，我々は，
１１５０ｎｍ／ｍｓ程度の同調速度
　
(第２甲２オ)「A schematic of the wavelength-scanning filter is presented in Fig. 1. The reflection-type filter comprises a diffraction grating, an afocal telescope, and a polygonal scanner.」(1981頁右欄3〜6行)
「図１には，
波長掃引フィルタの模式図が示される。反射型フィルタは，回折格子と，アフォーカル望遠鏡と，多角形スキャナと，を備える
　
(第２甲２カ)
Fig.1.Schematic of high-speed wavelength-scanning filter. 
「図１　光速波長掃引フィルタの模式図。」
　
(第２甲２キ)
「6. B. Golubovic, B. E. Bouma, G. J. Tearney, and J. G.Fujimoto, Opt. Lett. 22, 1704 (1997).」(1983頁右欄「References」の項)
　
（３）　第２甲４記載の事項
(第２甲４ア)　(図１１)
　
(第２甲４イ)
「[0100]・・・ FIG. 11 illustrates a schematic of a Mach-Zehnder OCT system to measure backscatter as a function of angle.・・・」(8頁右欄18〜20行)
「図１１は，後方散乱を角度の関数として測定するための
マッハツェンダー型ＯＣＴシステム
　
（４）　第１甲３記載の事項
（第１甲３ア)「【要約】
光学的にコヒーレントな断層撮影を行う撮像システム
回転可能な単一モードの光ファイバ
　
（第１甲３イ)「１．インサイチュで構造体を撮像する装置であって，
　光照射源と，
　参照光反射器と，光照射と
プローブユニット
を含む装置であって，
　該
プローブユニット
　孔を規定する細長いハウジングであって，該孔内に位置され該孔の長さ方向に延びる，近位端と遠位端とを有する少なくとも１つの光ファイバを有する，細長いハウジングと，
　該
　該光ファイバの該遠位端に接続され該ファイバからの光照射を構造体に伝達し且つ該構造体からの
光照射を該光ファイバの該遠位端に伝達するように位置づけられた光システム
　該ファイバの該遠位端からの該伝達された光照射を方向づけるビームディレクタと，
　該参照反射器から反射した光照射と該構造体から反射した光照射とに応答して
信号を発生させる検出器と，
　該検出器からの該信号に応答して該構造体の画像を生成するプロセッサと，を含む装置であって，
　該光照射を連結する手段が，該参照反射器および該構造体からの光照射を受け取って連結し，連結された光を該検出器方向に向ける，装置。」
・・・
８．
前記プローブユニットが，光照射を前記構造体方向に向ける，少なくとも１つの回転光学システム
　
（第１甲３ウ）「
内視鏡ユニット３４から発光される光放射ビームを回転させることによって，回転走査が実現され得る。
　
（第１甲３エ）「図８を参照して回転走査機構３５をさらに詳細に述べる。
回転走査機構３５は，典型的には，回転機構５２と光結合システム５３とを含む
（５）　第１甲１記載の事項
(第１甲１ア)「PHASE TRACKING  
 The present invention also provides apparatus and methods for phase tracking in spectral domain(SD) OCT.  
 　  
 Fully parallel SD OCT  
 One of the features of fully parallel SD OCT is spectral dispersion of the detection arm light onto a multi-element array such as but not limiting to an integrating device(e.g., CCD) and measurement of the real or complex spectral density at high speeds. The detection arm beam is separated by a spectral separating unit(e.g., grating) and focused onto the array. With respect to previous Spectral Domain OCT designs known in the art, two differences are apparent that will be discussed below: 1) implementation of balanced detection, and, 2) implementation of phase tracking.  
 ・・・  
 Phase Tracking: Phase tracking is preferable to eliminate phase instabilities in the interferometer. Phase instabilities can cause individual interferometric fringes to shift in location. If detection is slow relative to the shifting of the fringes, the resulting averaging results in an artifactual decrease in the measured fringe amplitude. Fast detection arrays can capture the cross spectral density at a rate of 20 to 40 kHz, resulting in integration times of 50 to 25 μsec, respectively. Phase instabilities arising on a time frame shorter than the integration time of the array should be compensated .」(明細書25頁22行〜26頁下から9行)
「位相追跡
また，本発明は，
スペクトラルドメイン”ＳＤ”ＯＣＴにおける位相追跡
　
完全に並行なＳＤ ＯＣＴ
完全に並行なＳＤ ＯＣＴの特徴の１つは，これに限定しないが，積分装置（例えば，ＣＣＤ）等，検出アーム光の多要素アレイへのスペクトル分散と，高速での実数又は複素スペクトル密度の測定である。検出アームビームは，スペクトル分離ユニット（例えば，回折格子）によって分離され，アレイ上に集光される。当分野で知られている従来のスペクトラルドメインＯＣＴ設計に対して，後述する２つの差異が明らかである。即ち，１）平衡検出の実現，及び
２）位相追跡の実現である
・・・
位相追跡：
位相追跡は，干渉計における位相不安定性を除去するために好ましい。位相の不安定性は，個々の干渉計の干渉縞が位置をシフトする原因になり得る。
　
(第１甲１イ)「Dual balanced detection 
 　Dual balanced detection is advantageous for at least three reasons. First, most light sources generate 1/f noise at relatively low frequencies (tens of kHz range). In time domain (TD) OCT systems 1/f noise is not a problem because the signal carrier is in general in the MHz range where 1/f noise is not significant. In SD OCT, balanced detection may likely eliminate 1/f source noise. Second, an interference of the sample arm light with itself (auto-correlation term) is present on top of the true signal. This auto-correlation term can be eliminated by a differential technique. Balanced detection can be used to eliminate this autocorrelation term from the measured signal. Third, balanced detection may reduce relative intensity or Bose Einstein noise. 」(明細書24頁20行〜末行)
「
デュアルバランス検出
　デュアルバランス検出は，好ましくは，本発明で以下の理由により好ましく利用される。第１に，ほとんどの光は，比較的低い周波数において1/f（f＝周波数）ノイズを発生する。バランスされた検出器は，1/fソースノイズを除去する。
第２に，サンプルアーム光それ自身（自己相関分）を伴うサンプルアーム光の干渉光が，サンプルとリファレンスアーム間の干渉である真のシグナル分の先頭に存在する。この自己相関分は，差分手法によって除去し得る
　
(第１甲１ウ)「Fig. 3 shows a schematic of one exemplary embodiment of a Spectral Domain OCT system 200, which includes a light source 202, splitter 204, reference arm 206, sample arm 208, tissue sample 130, optical element 210, grating 212, lens 214, detector 216 array, and processor 218. The detection arm light is dispersed by the grating 212 and the spectrum imaged onto a detector array 216. By stepping the reference arm 206 length over a distance λ/8, the cross spectral density of reference arm 206 and sample arm 208 light can be determined. A Fourier transform of the cross spectral density generates the depth profile information.  
 　 
 Sources　 
 　The source arm 203 contains at least light source 202 that is used to illuminate the interferometer with low-coherence light. The source temporal coherence length is preferably shorter than a few microns (a preferred range is about 0.5 μm - 30 μm). Examples of sources include, but are not limited to, semiconductor optical amplifier, superluminescent diodes, light-emitting diodes, solid-state femtosecond sources, amplified spontaneous emission, continuum sources, thermal sources, combinations thereof and the like. Other appropriate sources known to those skilled in the art may be used. While light is referred to herein as the source, it is intended that other electromagnetic radiation ranges may be suitable for use, depending on the circumstances. 」(明細書26頁5〜14行)
「
デュアルバランス検出
　デュアルバランス検出は，少なくとも３つの理由で有利である。第１に，ほとんどの光源は，比較的低周波数(10kHz領域)で1/fノイズを発生する。信号搬送波が，1/fノイズが顕著でないMHzにあることが一般的であるため，時間ドメイン(TD)OCTシステムにおいて，1/fノイズは問題ではない。SD-OCTにおいては，バランスされた検出は，1/fノイズを除去するのに適当である。
第２に，サンプルアーム光とそれ自身(自己相関分)の干渉が，真の信号の先頭に存在する。この自己相関分は，差分法により除去し得る。バランスされた検出器は，測定信号からこの自己相関分を除去するのに使い得る
　
(第１甲１エ)「Fig. 3 shows a schematic of one exemplary embodiment of a Spectral Domain OCT system 200, which includes a light source 202, splitter 204, reference arm 206, sample arm 208, tissue sample 130, optical element 210, grating 212, lens 214, detector 216 array, and processor 218. The detection arm light is dispersed by the grating 212 and the spectrum imaged onto a detector array 216. By stepping the reference arm 206 length over a distance λ/8, the cross spectral density of reference arm 206 and sample arm 208 light can be determined. A Fourier transform of the cross spectral density generates the depth profile information.  
 　 
 Sources　 
 　The source arm 203 contains at least light source 202 that is used to illuminate the interferometer with low-coherence light. The source temporal coherence length is preferably shorter than a few microns (a preferred range is about 0.5 μm - 30 μm). Examples of sources include, but are not limited to, semiconductor optical amplifier, superluminescent diodes, light-emitting diodes, solid-state femtosecond sources, amplified spontaneous emission, continuum sources, thermal sources, combinations thereof and the like. Other appropriate sources known to those skilled in the art may be used. While light is referred to herein as the source, it is intended that other electromagnetic radiation ranges may be suitable for use, depending on the circumstances. 」(明細書13頁16行〜14頁1行)
「図3は，
スペクトラルドメインOCTシステム200
光源202，スプリッタ204，参照アーム206，サンプルアーム208，組織サンプル130，光学要素210，回折格子212，レンズ214，検出器216アレイ，及びプロセッサ218を含む
光源
　
光源アーム203は，低コヒーレンス光を用いた干渉計を照射するために用いられるところの光源202を少なくとも含んでいる
　
第２甲１０：特表２００３−５００８６１号公報
(第２甲１０ア）「【請求項１】レーザーアクティブエレメント（１）と，
自己収束エレメント（２）と，
プリズムエレメント（３）と，
反射に対する負の群速度分散（ＧＶＤｎ）を有する少なくとも１つの誘電性ミラー（４）であって，これによって，前記レーザーアクティブエレメントで増幅可能な光スペクトルの連続的部分に対して，前記少なくとも１つの誘電性ミラー（４）の群速度分散と前記レーザーアクティブエレメント及び前記プリズムエレメント（３）の群速度分散との合計が負である，すなわち
【数１】(当審注：数式省略）
となる少なくとも１つの誘電性ミラー（４）と，
前記レーザーアクティブエレメント（１）に空間的に隣接して配置され，凹部表面を前記レーザーエレメント（１）に向けて方位付けされた２つの凹面ミラー（４１，４２）と，
光出力カップラ（５）とを備えているリング共振器を有する受動モードロックフェムト秒レーザーにおいて，
前記共振器の光路長が，１２０ｃｍ未満であり，好適には６０ｃｍ未満，好適には３０未満
前記レーザーアクティブエレメント（１）に隣接して配置された前記凹面ミラー（４１，４２）の各々の焦点距離（ｆ４１，ｆ４２）が，３ｃｍ未満であり，好適には２ｃｍ未満，特には１．５ｃｍ以下であることを特徴とし，
これによりフェムト秒パルスの高速繰り返し発生が達成可能であり，さらに，
少なくとも前記誘電性ミラー（４）又は前記出力ミラー（５）又はさらなるミラーが，前記プリズムエレメント（３）の空間分散と相互関連させて傾斜角度をチューニングし，これによって，前記共振器がレーザーのアクティビティをサポートする波長が調整可能であるようにすることによって軸に対して傾斜可能であることを特徴とする
受動モードロックフェムト秒レーザー
　
第２甲１１：特開平９−６４４３９号公報
(第２甲１１ア）「【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は，例えば，
光通信，光波長計測等の分野で使用されるレーザ光源装置
　
（第２甲１１イ）「【００２６】図１，２に示したこの発明の複合共振器構成のレーザ光源を可変波長動作させる場合について，図５を用いて説明する。波長掃引動作は粗調・微調および連続波長掃引動作の３つの制御がある。図５にそれぞれの掃引動作の説明図を示す。
図５（ａ）は粗調動作
【００２７】
図５（ｂ）は微調動作
【００２８】
図５（ｃ）は連続波長掃引動
【００２９】
本発明の特徴は，このような掃引動作を行って任意の波長に発振波長を設定する場合
　
(第２甲１１ウ)「【００２１】
【発明の実施の形態】・・・このレーザ光源１３は光反射体１，２によって作られる光共振器１１を利用している。
光共振器１１はその長さＬが５０ｍｍ
　
２　第２甲１記載の発明
　第２甲１の記載事項について述べられている第２申立書17頁17行〜18頁7行の記載に加え，次の事項が理解される。
(事項１)
　使用されるレーザは，広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4）(第２甲１イ)(第２甲１ア）であることが理解される。
　
(事項２)
　「１２００〜１２７５ｎｍの全波長掃引範囲は，５００μｓ未満で掃引可能」(第２甲１ア)と記載され，周波数＝光速／波長及び光速＝２．９９８×１０８（ｍ／ｓ)を用いると，波長１２００ｎｍは，周波数約２５０テラヘルツ，波長１２７５ｎｍは，周波数約２３５テラヘルツと計算される。
　そして，「１２００〜１２７５ｎｍ」，すなわち，２３５〜２５０テラヘルツの掃引範囲を「５００μｓ」で掃引されることとなるから，
同調速度は，
約２９．４テラヘルツ／ｍｓ
(事項３)
　図１(第２甲１カ)記載の光路は，「レーザから放たれた光はシングルモード光ファイバマイケルソン干渉計に入力され」(第２甲１イ）「この干渉計では，一方のアームは固定鏡で終端され，対象サンプルは他方のアームに置かれた」(第２甲１イ）との記載から，図１(第２甲１カ)で点線で囲まれ図示された「レーザ」からの光は，２方向に分けられ，一つの光(「第１の光」という。)はサンプルへ送られ，他の光(「第２の光」という。）は，リファレンス鏡が終端にあるリファレンスへ送られていることが分かり，それぞれ光路を「アーム」(第１の光が通るアームを「第１のアーム」，第２の光が通るアームを「第２のアーム」という。)ということが理解される。
　
(事項４)
　図１(第２甲１カ)記載のコンピュータから，「TRANSVERSESCANNING」，すなわち，横方向走査する信号がサンプルに送られ，サンプルの横に十字の矢印で図示されているようにサンプルが走査されていることが理解され，図１(第２甲１カ)の装置を用いて，「このシステムのイメージング能力を示すために，我々は硬貨を移動ステージ上で２０μｍ×２０μｍグリッドで動かし」(第２甲１エ)「米国１セント硬貨上の文字の表面再構成画像を得た」(第２甲１エ)ことが理解されるから，図１(第２甲１カ)の装置により，サンプルを横方向走査して再構成画像を得ることが理解される。
　
　以上のことから，摘記箇所並びに前記(事項１)〜(事項４)を付して整理すると，第２甲１には次の発明(以下，「第２甲１発明」という。)が記載されていると認められる。
　
「A)　第１の光を第１のアームを通してサンプルに提供すると共に，第２の光を第２のアームを通してリファレンス鏡に提供するレーザおよびカプラであって(第２甲１カ)(事項３)，
B)　前記レーザは，広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)であり(事項１），
C)　前記第１の光及び前記第２の光が，平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し(第２甲１キ)，
D)　前記レーザは，１２００〜１２７５ｎｍを全波長掃引範囲とし，同調速度が，約２９．４テラヘルツ／ｍｓであり(事項２），
E)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含み(第２甲１ウ)，
F)　前記第１の光と関連したサンプルから反射して戻る第３の光と，前記第２の光と関連したリファレンスミラーで反射して戻る第４の光の間の干渉を検出する，レーザのノイズ寄与を減少させることができるデュアルバランス検出器およびアナログデジタルオシロスコープ(第２甲１カ)(第２甲１イ）と，
G)　検出信号に基づいて画像を生成するコンピュータ(第２甲１カ)と，
　を備える装置であって，
H)　サンプルを横方向走査して再構成画像を得ることができる装置(事項４)。」
　
３　本件訂正発明１に対して
　当審にて，本件訂正発明１を分節し見出しを付けると次のように整理される。
「【請求項１】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，
b)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，
c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
d)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
e)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と，
を備える装置。」
　
（１）　対比
　本件訂正発明１と第２甲１発明を対比する。
ア　本件訂正発明１a)の特定事項について
　第２甲１発明A)の「第１の光」は，本件訂正発明１a)の「少なくとも１つの第１電磁放射線」に相当する。
　よって，第２甲１発明A)の「第１の光を第１のアームを通してサンプルに提供する」ことは，本件訂正発明１a)の「少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供する」ことに相当する。
　
　また，第２甲１発明A)の「第２の光」は，本件訂正発明１a)の「少なくとも１つの第２電磁放射線」に相当する。
　よって，第２甲１発明A)の「第２の光を第２のアームを通してリファレンス鏡に提供する」ことは，本件訂正発明１a)の「少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する」ことに相当する。
　
　そして，以上のことから，第２甲１発明A)の「レーザおよびカプラ」は「第１の光を第１のアームを通してサンプルに提供すると共に，第２の光を第２のアームを通してリファレンス鏡に提供する」装置(アレンジメント)は，その機能に照らし，本件訂正発明１a)の「少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する」「少なくとも１つの第１アレンジメント」に相当する。
　
イ　本件訂正発明１b)の特定事項について
　第２甲１発明のC)「前記第１の光及び前記第２の光が，平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」し，D)「前記レーザは，・・・，同調速度が，約２９．４テラヘルツ／ｍｓ」である構造と，本件訂正発明１b)の「前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」することとは，同調速度が一致しておらず，「前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が所定の同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」するという点で共通する。
　
ウ　本件訂正発明１c)の特定事項について
　第２甲１発明E)の「前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含」むことは，本件訂正発明１c)の「前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含む」ことに相当する。
　
エ　本件訂正発明１d)の特定事項について
　第２甲１発明F)の「前記第１の光と関連したサンプルから反射して戻る第３の光」及び「前記第２の光と関連したリファレンスミラーで反射して戻る第４の光」は，その光路からみて，第２甲１発明F)の「前記第１の光と関連したサンプルから反射して戻る第３の光」及び「前記第２の光と関連したリファレンスミラーで反射して戻る第４の光」にそれぞれ相当する。
　そうすると，第２甲１発明F)の「前記第１の光と関連したサンプルから反射して戻る第３の光と，前記第２の光と関連したリファレンスミラーで反射して戻る第４の光の間の干渉を検出する，レーザのノイズ寄与を減少させることができるデュアルバランス検出器」は，本件訂正発明１d)の「前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメント」に相当する。
　
オ　本件訂正発明１e)の特定事項について
　第２甲１発明は，本件訂正発明１e)の特定事項を具備していない。
　
カ　小括
　以上のことを総合すると，両発明の間には次の一致点及び相違点がある。
一致点：「a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，
b)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が所定の周波数より大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，
c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
d)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントを備える装置。」
　
相違点１：b)の同調速度の所定の周波数が，本件訂正発明１では「毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい」のに対して，第２甲１発明では，「約２９．４テラヘルツ／ｍｓ」である点。
　
相違点２：本件訂正発明１が「e)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器」を有するのに対して，第２甲１発明はかかる特定事項を具備していない点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　第２甲１の要約の欄には「広い帯域にわたって
高速な波長掃引を可能とする
　そして，その結果「Cr4+:フォルステライトレーザの
高速掃引によってサンプルの縦（深さ)スキャンを達成し
本技術の根本的な拡張は，より高い掃引速度
　以上のことから，周波数の高速掃引，すなわち，同調速度の速いレーザが望まれていることが理解され，第２甲１発明の「ｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)」より同調速度の高いレーザを試してみようとする動機があったものといえる。
　
　他方，例えば，第２甲２の(第２甲２ア)には，「１１５０ｎｍ／ｍｓ」の掃引レートの「レーザ発振器」が記載され，第２申立書19頁10〜13行記載の換算式に鑑み，周波数＝光速／波長及び光速＝２．９９８×１０８（ｍ／ｓ)を用いて周波数に換算すると，２６１テラヘルツ／ｍｓとなる。本件特許の出願の優先日前には，同調速度が１００テラヘルツの倍以上のものが存在しており，本件訂正特許１の「毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい」ものは周知のものとなっていたといえる。
　
　そうすると，第２甲１発明において，第２甲２記載のような周知の技術事項であるところの同調速度の速いレーザを採用することにより，相違点１に記載の本件訂正発明１のごとく構成することは，当業者にとって困難なことではない。
　
イ　相違点２について
　本件訂正発明１の特定事項である「前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器」は，第１申立人及び第２申立人の提出したいずれの甲号証にも記載は無い。
　よって，第２甲１発明において，相違点２に記載の本件訂正発明１のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこととはいえない。
　
（３）　本件訂正発明１の小括
　以上のことから，本件訂正発明１は，特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものということはできず，本件訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできない。
　
４　本件訂正発明２〜４に対して
　本件訂正発明２〜４は，訂正後の請求項１を引用する発明であって，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた理由で，訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできないのだから，訂正後の請求項１をより限定した訂正後の請求項２〜４に係る特許を取り消すことはできない。
　
５　本件訂正発明５に対して
（１）　対比
　本件訂正発明５は，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した本件訂正発明１のa)〜d)と同じ特定事項を含む発明である。
　本件訂正発明５と第２甲１発明を対比すると，該同じ特定事項については，上記「（３）　本件訂正発明１に対して」の「（１）ア　本件訂正発明１a)の特定事項について」〜「エ　本件訂正発明１d)の特定事項について」に記したのと同様に対比でき，本件訂正発明１と第２甲１発明との一致点と同じ下記の一致点がある。
　
　そして，本件訂正発明５と第２甲１発明との間には，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した相違点１に加えて，次の相違点３があり，そして，次の一致点がある。
一致点：「a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，
b)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が所定の周波数より大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，
c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
d)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントを備える装置。」
　
相違点３：b)「所定の同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，」「c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含む」光を発する光源が，本件訂正発明５では「往復長さが５ｍより短いレーザキャビティ」を備えるのに対して，第２甲１発明の「広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)」のレーザキャビティの長さが分からない点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　上記「３　本件訂正発明１に対して」の「（２）ア　相違点１について」で述べたのと同様の理由で，第２甲１発明において，相違点１に記載の本件訂正発明５のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこといえる。
　
イ　相違点３について
（ア）　設計事項について
　レーザキャビティの長さは，本件特許明細書等の【００８９】によれば「出力パワーは，同調速度が増すにつれて減少してよい。そこで，同調速度に対する出力パワーの感度を下げるためにキャビティ長は小さいのが望ましいと言える。」という技術的意義がある。
　上記した技術的意義の上で「往復長さが５ｍより短い」ことが選択されたのであるから，設計的事項といえない。
　
（イ）　他の証拠について
　第２申立人の提出する第２甲１０の請求項１には，「前記共振器の光路長が，１２０ｃｍ未満であり，好適には６０ｃｍ未満，好適には３０未満，特には１５ｃｍ未満・・・受動モードロックフェムト秒レーザ」についての記載されているが，フェムト秒レーザに関するレーザキャビティーであって，第２甲１発明のC)「ほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」するレーザとは異なるレーザに関する技術である。
　よって，第２甲１発明に第２甲１０の技術を適用する動機が無い。
　　
　また，第２申立人の提出する第２甲１１には，「光共振器１１はその長さＬが５０ｍｍ」(第２甲１１ウ)が記載されている。
　しかしながら，「光通信，光波長計測等の分野で使用されるレーザ光源装置」(第２甲１１ア）が記載されており，通信や波長計測に使用するのであれば，固定した波長で使用することは明らかである。
　これを裏付けるように，（第２甲１１イ）によると，「粗調動作」，「微調動作」及び「連続波長掃引動作」ができることが記載されており，「連続波長掃引動作」（第２甲１１イ）について記載があるが，その目的は「このような掃引動作を行って任意の波長に発振波長を設定する」ことであり，常に所定の同調速度で連続波長掃引を行うものではない。
　そうすると，第２甲１発明の「約２９．４テラヘルツ／ｍｓ」の「同調速度」(周波数がチャープする速度を意味する。)で「ほぼ連続的に経時変化するスペクトル」を有する「広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)」のレーザキャビティとして，第２甲１１記載のレーザキャビティ採用する動機が無い。
　仮に適用できるとしても本件特許明細書等の【００８９】記載の「
同調速度に対する出力パワーの感度を下げる
　
　第１申立人及び第２申立人が提出した他の証拠にも，第２甲１発明のC)「平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し」，D)「前記レーザは，１２００〜１２７５ｎｍを全波長掃引範囲とし，同調速度が，約２９．４テラヘルツ／ｍｓであり」，かつ，E)「前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含む」光を発することができるB)「広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)」において適用し得るような，「往復長さが５ｍより短いレーザキャビティ」を備えたものは無い。
　
（エ）　小括
　以上のことから，第２甲１発明において，相違点３に記載の本件訂正発明５の特定事項のごとく構成するとは，設計事項であるといえないし，第１申立人及び第２申立人の提出した他の証拠にも，レーザキャビティについて第２甲１発明に適用可能な技術事項の記載は無いから，当業者といえども本件訂正発明５を発明することは困難であるといえる。
　よって，本件訂正発明５は，特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものということはできず，訂正後の請求項５に係る特許を取り消すことはできない。
　
６　本件訂正発明６〜８
　本件訂正発明６〜８は，請求項１を引用する請求項３を引用する発明であって，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた理由で，訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできないのだから，訂正後の請求項１をより限定した訂正後の請求項６〜８に係る特許を取り消すことはできない。
　
７　本件訂正発明９に対して
（１）　対比
　本件訂正発明９は，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した本件訂正発明１のa)〜d)と同じ特定事項を含む発明である。
　本件訂正発明９と第２甲１発明を対比すると，該同じ特定事項については，上記「（３）　本件訂正発明１に対して」の「（１）ア　本件訂正発明１a)の特定事項について」〜「エ　本件訂正発明１d)の特定事項について」に記したのと同様に対比できる。
　そして，本件訂正発明９と第２甲１発明との間には，上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた相違点１に加えて，次の点で相違する。
相違点４：本件訂正発明９が「少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ」を備えるのに対して，第２甲１発明は，該事項を備えていない点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　上記「３　本件訂正発明１に対して」の「（２）ア　相違点１について」で述べたのと同様の理由で，第２甲１発明において，相違点１に記載の本件訂正発明９のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこといえる。
　
イ　相違点４について
　本件訂正発明９の特定事項である「少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ」は，第１申立人及び第２申立人の提出したいずれの証拠にも記載されていない。
　よって，第２甲１発明において，相違点４に記載の本件訂正発明のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこととはいえない。
　
ウ　以上のことから，本件訂正発明９は，特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものということはできず，訂正後の請求項９に係る特許を取り消すことはできない。
　
８　本件訂正発明１０，１３及び１５に対して
　本件訂正発明１０，１３及び１５は，請求項１を直接又は間接的に引用する発明であって，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた理由で，訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできないのだから，訂正後の請求項１をより限定した訂正後の請求項１０，１３及び１５に係る特許を取り消すことはできない。
　
９　本件訂正発明１７に対して
　当審において，本件訂正発明１７の発明特定事項を分節して見出しを付けて整理すると，次のようになる。
「【請求項１７】
a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，
b)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，
c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
d)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
e)　検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと，
f)　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと，を備え，
g)　プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に，前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する装置。」
　
（１）　対比
ア　本件訂正発明１７a)〜d)の特定事項について
　本件訂正発明１７は，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した本件訂正発明１のa)〜d)と同じ特定事項を含む発明である。
　本件訂正発明１７と第２甲１発明を対比すると，該同じ特定事項については，上記「（３）　本件訂正発明１に対して」の「（１）ア　本件訂正発明１a)の特定事項について」〜「エ　本件訂正発明１d)の特定事項について」に記したのと同様に対比できる。
　
イ　本件訂正発明１７e)の特定事項について
　第２甲１発明のF)「干渉を検出する，・・・デュアルバランス検出器」で検出された，G)「検出信号に基づいて画像を生成するコンピュータ」は，機能からみて，本件訂正発明１７e)の「検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメント」に相当する。
　
ウ　本件訂正発明１７f)の特定事項について
　第２甲１発明H)の「サンプルを横方向走査して再構成画像を得る」ことは，本件訂正発明１７f)の「走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査」することに相当する。
　
　第２甲１発明H)の「サンプルを横方向走査して再構成画像」を得るには，G)「検出信号に基づいて画像を生成するコンピュータ」に「横方向走査」して得られた検出信号に提供されることとなることは自明なことであり，検出信号の提供を担う器具といえるものが第２甲１発明に具備されていることは明らかである。しかしながら，該器具が本件訂正発明１７f)の「プローブ」といえるか明らかではない。
　
　そうすると，検出信号を得るために第２甲１発明H)の「サンプルを横方向走査し」，その走査した検出信号から「再構成画像」を得るべく，G)「画像を生成するコンピュータ」に提供する器具と，「f)　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブ」とは，「f)　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供する器具」という点で共通する。
　
エ　本件訂正発明１７g)の特定事項について
　「ウ　本件訂正発明１７f)の特定事項について」で述べたように，第２甲１発明が本件訂正発明１７f)の「プローブ」と共通する機能を有する器具を具備していることは明らかである。
　しかしながら，第２甲１発明の該器具は，本件訂正発明１７g)の「プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に，前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する」機能までは具備していない。
　
オ　小括
　以上のことを総合すると，両発明の間には次の一致点があり，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した相違点１に加えて，次の相違点５がある。
　
一致点：「a)　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に，少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって，
b)　前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が所定の周波数より大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，
c)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含むものと，
d)　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と，前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと，
e)　検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと，
f)　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し，その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供する器具と，を備え
た装置。」
　
相違点５：f)の器具が，本件訂正発明１７では，「プローブ」であって，さらに，「g)　プローブが回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えると共に，前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する」機能を有するのに対して，第２甲１発明は器具を有するもののプローブといえるか明らかでなく，かつ，器具が前記g)の機能を有するものでもない点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　上記「３　本件訂正発明１に対して」の「（２）ア　相違点１について」で述べたのと同様の理由で，第２甲１発明において，相違点１に記載の本件訂正発明１７のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこといえる。
　
イ　相違点５について
　第１甲３の（第１甲３ア)には，「回転可能な単一モードの光ファイバ」を有する「光学的にコヒーレントな断層撮影を行う撮像システム」を「内視鏡ユニット」に搭載したものが記載され，そのための装置として（第１甲３イ)の請求項１に，「プローブユニット」が記載されている。
　該「プローブユニット」は，（第１甲３イ)の請求項８に「前記
プローブユニット
回転光学システムを含
　そこで，第１甲３の摘記事項に付した上記下線の事項に注目すると，「回転可能な単一モードの光ファイバ」を有する「内視鏡ユニット」は，機能及び構造からみて，本件訂正発明１７g)の「光ファイバーカテーテル」に相当するといえる。また，第１甲３記載の「プローブユニット」が有する「回転光学システム」には，「回転機構５２と光結合システム」が含まれていることが理解されるから，本件訂正発明１７g)「回転接合器と光ファイバーカテーテルを備える」f)「プローブ」が記載されているといえる。
　
　診断のため患者の体内においても断層像を撮像しようとすることは医師であれば誰もが思うことである。第２甲１発明において，第２甲１発明に具備されていることが自明な「器具」を，体内を撮影するため第１甲３記載の前記技術事項を適用して，本件訂正発明１７g)及びf)のごとく「回転接合器と光ファイバーカテーテルを備える」「プローブ」とすることに困難性はない。
　
　また，回転速度について第１甲３に記載が無いが，（第１甲３ウ）に「内視鏡ユニット３４から発光される光放射ビームを回転させることによって，回転走査が実現され得る。」と，撮影のために回転させる以上，その実施に当たっては回転速度を決める必要があることは明らかである。
　そして，内視鏡やカテーテルにおいて，毎秒３０回転程度の回転機構を設けることは，下記周知技術Ａや周知技術Ｂに記載のように周知の確立した技術事項であって，高速に撮影をすることは自明な課題であるから，回転速度を上げることで，本件訂正発明１７g)のごとくの「前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する」ように構成することは，単なる設計的事項にすぎない。
　
　以上のことを総合すると，第２甲１発明において，検出信号の提供を担う器具に，第１甲３記載の技術事項を適用することで，回転接合器と光ファイバーカテーテルを備えるプローブとし，高速に撮影するために該プローブの回転数を単に毎秒３０回転以上とすることで，相違点５に記した本件訂正発明１７の特定事項のごとく構成することは，当業者にとって困難なことではない。
　
周知技術Ａ：日本国実用新案登録出願５−８６２号（日本国実用新案登録出願公開６−５５６０５号）の願書に添付した明細書及び図面の内容を記録したＣＤ−ＲＯＭ
(周Ａア)「【００１７】
しかしながら，いずれにしても本実施例の軸受２８を備えるだけで，体内挿入後にカテーテルチューブ２６の破損の防止と良好な断層画像の作成を図ることが可能であり，体内挿入後に例えばカテーテルチューブ２６の内部で先端部２３を含む
プローブアセンブリ２５が１秒間に３０回転という高速回転をした場合でも，カテーテルチューブ２６の破損もなく，かつ安定した断層画像を得ることができるようになる
　
周知技術Ｂ：特開平６−１７８７７６号公報
(周Ｂア)「【０００９】
【作用】保証されている回転数に対して使用中の
超音波プローブ
【００１０】
【実施例】第１実施例におけるブロック図を図１に示す。全体のシステムは細径プローブ部２１とモータドライバ部２０さらにシステム本体１９から構成される。この実施例はプローブ部のみ定期交換を行なう方式であり，細径プローブ部２１内に個々のプローブを識別するＩＤ番号発生器９を有する方式である。細径プローブ部２１では直径２mm程度のカテーテル（あるいはチューブ）の先端内部に１個の超音波振動子１を装着する。この振動子１にはチューブ壁２に埋め込まれた信号線３およびアース線を通じてモータドライバ部２０に内蔵されたパルサ１１から振動子駆動信号が送られ，また受信信号は振動子１から信号線３を介して同じモータドライバ部２０にあるプリアンプ１２に送られる。
【００１１】この実施例では前記振動子１と対向させて
音響ミラー４が
ミラー４を毎秒３０回転程度に高速回転運動させる
　
ウ　効果について
　本件訂正発明１７g)の「前記カテーテルが毎秒３０回転より高い速度で回転する」ことについて，回転速度の下限を「毎秒３０回転」とした効果及び技術的意義について具体的な記載は本件特許明細書等に記載が無いし，本件特許の出願の優先権主張日前の技術常識に照らし，高速で撮影できるという他に特段の効果が奏されるとも認められない。
　そうすると，本件訂正発明１７の効果は，第２甲１，第２甲２，第１甲３及び周知の技術事項から当業者が予測し得るものであって，格別顕著なものとはいえない。
　
（３）　本件訂正発明１７の小括
　以上のことから，本件訂正発明１７は，第２甲１，第２甲２，第１甲３及び周知の技術事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本件訂正後の請求項１７に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
　
１０　本件訂正発明１８に対して
　本件訂正発明１８は，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した本件訂正発明１のa)〜d)と同じ特定事項を含む発明である。
　本件訂正発明１８と第２甲１発明を対比すると，該同じ特定事項については，上記「（３）　本件訂正発明１に対して」の「（１）ア　本件訂正発明１a)の特定事項について」〜「エ　本件訂正発明１d)の特定事項について」に記したのと同様に対比できる。
　
　そして，本件訂正発明１８と第２甲１発明との間には，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した相違点１に加えて，次の相違点６があり，その他の点で一致する。
　
相違点６：本件訂正発明１８では，「前記少なくとも１つの第２アレンジメントが，前記少なくとも１つの第３電磁放射線に関連した自己相関を除去するように構成された少なくとも１つのデュアルバランスレシーバ」を備えるのに対して，第２甲１発明は，かかる特定事項を具備していない点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　上記「３　本件訂正発明１に対して」の「（２）ア　相違点１について」で述べたのと同様の理由で，第２甲１発明において，相違点１に記載の本件訂正発明１８のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこといえる。
　
イ　相違点６について
　第１甲１に「デュアルバランス検出・・・第２に，サンプルアーム光それ自身（自己相関分）を伴うサンプルアーム光の干渉光が，サンプルとリファレンスアーム間の干渉である真のシグナル分の先頭に存在する。この自己相関分は，差分手法によって除去し得る。」(第１甲１イ)と記載され，「第２に，サンプルアーム光とそれ自身(自己相関分)の干渉が，真の信号の先頭に存在する。この自己相関分は，差分法により除去し得る。バランスされた検出器は，測定信号からこの自己相関分を除去するのに使い得る。」(第１甲１ウ)と記載されているのだから，第２甲１発明において，相違点６記載の本件訂正発明１８のごとく構成することは，当業者にとって困難なことではない。
　
ウ　効果について
　本件訂正発明１８の効果は，第２甲１，第２甲２，第１甲１及び周知の技術事項から当業者が予測し得るものであって，格別顕著なものとはいえない。
　
（３）　本件訂正発明１８の小括
　以上のことから，本件訂正発明１８は，第２甲１，第２甲２，第１甲１及び周知の技術事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本件訂正後の請求項１８に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
　
１１　本件訂正発明１９に対して
本件訂正発明１９は，訂正後の請求項１を引用する発明であって，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた理由で，訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできないのだから，訂正後の請求項１をより限定した訂正後の請求項１９に係る特許を取り消すことはできない。
　
１２　本件訂正発明２０に対して
　本件訂正発明２０は，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した本件訂正発明１のa)〜d)と同じ特定事項を含む発明である。
　本件訂正発明２０と第２甲１発明を対比すると，該同じ特定事項については，上記「（３）　本件訂正発明１に対して」の「（１）ア　本件訂正発明１a)の特定事項について」〜「エ　本件訂正発明１d)の特定事項について」に記したのと同様に対比できる。
　
　そして，本件訂正発明２０と第２甲１発明との間には，上記「３　本件訂正発明１に対して」に記した相違点１に加えて，次の相違点７があり，その他の点で一致する。
　
相違点７：本件訂正発明２０が「前記スペクトルの中央値の変化の速度が少なくとも１０００ｎｍ／ｍｓｅｃ」であるのに対して，第２甲１発明は，その点が不明である点。
　
（２）　検討
ア　相違点１について
　上記「３　本件訂正発明１に対して」の「（２）ア　相違点１について」で述べたのと同様の理由で，第２甲１発明において，相違点１に記載の本件訂正発明２０のごとく構成することは，当業者にとって容易になし得たこといえる。
　
イ　相違点７について
　第２甲２に同調速度が「１１５０ｎｍ／ｍｓ（反復周波数１５．７ｋＨｚ）までの可変掃引レート」(第２甲２ア)が記載されている。
　第２甲１発明の「E)　前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含」むレーザのように，中央値を有するレーザにおいては，
中央値の変化速度で同調速度を表記するのが通例
　そうすると，第２甲１発明において，第２甲２に記載の事項を付加することにより，相違点７に記した本件訂正発明２０のごとく構成することは，当業者が容易になし得たことといえる。
　　
ウ　効果について
　本件訂正発明２０の効果は，第２甲１，第２甲２，周知の事項及び技術常識から当業者が予測し得るものであって，格別顕著なものでもない。
　
エ　被申立人の主張について
　なお，被申立人は，平成２８年８月８日付け意見書12頁の「ｇ)」の項で，本件訂正発明２０は「平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度で
ほぼ連続的に変化するスペクトル
　
　しかしながら，第２甲１発明B)の「広い帯域にわたって高速な波長掃引を可能とするｃｗクロムドープしたフォルステライトレーザ(Cr4+:Mg2SiO4)」は「C)　前記第１の光及び前記第２の光が，平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」するものである。（なお，連続的に経時変化するスペクトルを有することについて，必要なら第２申立書17頁23〜27を参照されたい。)
　そして，第２甲２には「近年，高速スキャニング，光学反射光測定に関する広範囲掃引レーザ光源，生体医療撮像，センサ問い合わせおよびテスト並びに測定アプリケーションの開発に相当な努力が向けられている。1-8」(第２甲２イ)と参照刊行物１〜８が示され，そのうちの参照刊行物６は，上記「イ　相違点７について」で論じた第２甲２である。
　これらのことから，第２甲２の技術は，第２甲１(第２甲２キ）を含む広範囲掃引レーザ光源の改良技術であると理解される。
　
　そうすると，第２甲１発明において，「C)平均周波数がある速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有」する「前記第１の光及び前記第２の光」光について，変化速度を第２甲１の改良技術である第２甲２に記載の「１１５０ｎｍ／ｍｓ（反復周波数１５．７ｋＨｚ）までの可変掃引レート」(第２甲２ア)とすることは，自然なことである。
　よって，被申立人の主張を採用することはできない。
　
（３）　本件訂正発明２０の小括
　よって，本件訂正発明２０は，第２甲１発明，第２甲２，周知の事項及び技術常識に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本件訂正後の請求項２０に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
　
１３　本件訂正発明２１及び２２に対して
　本件訂正発明２１及び２２は，訂正後の請求項１を引用する発明であって，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「３　本件訂正発明１に対して」で述べた理由で，訂正後の請求項１に係る特許を取り消すことはできないのだから，訂正後の請求項１をより限定した訂正後の請求項２１及び２２に係る特許を取り消すことはできない。
　
第６　特許法第３６条に関する取消理由についての判断
　訂正後の請求項１０に記載の「非反射性リファレンス」について，「非反射性」とは，光を吸収するものが含まれたり様々に解されると共に，「非反射性リファレンス」という表現も一般的な表現とはいえない。
　しかしながら，本件特許明細書等の【０１０２】や【０１１９】に「透過タイプ」という記載があり，本件特許明細書等を参酌すれば，「非反射性リファレンス」とは「透過タイプのリファレンス」を意味すると理解でき，特許法第３６条第６項第２号に規定される要件を満たさないとまではいえない。
　また，「透過タイプのリファレンス」として訂正後の請求項１０に係る発明を作れ，かつ，使用することができるから特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていないということはできない。
　
第７　第１申立人の申立理由について
１　申立理由第１−１(特許法第２９条第２項）について
（１）　本件訂正発明１〜４及び本件訂正発明６〜８に対して
　本件訂正発明１の特定事項である「前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器」は，第１申立人の提出したいずれの証拠にも該事項の記載は無い。
　よって，本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　また，訂正後の請求項１を直接又は間接的に引用する発明である本件訂正発明２〜４及び本件訂正発明６〜８は，本件訂正発明１をより限定した発明である。上記したように本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１をより限定した本件訂正発明２〜４及び本件訂正発明６〜８を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（２）　本件訂正発明５に対して
　第１申立人の提出したいずれの証拠にも，本件訂正発明５の「往復長さが５ｍより短いレーザキャビティ」を有する装置は記載されておらず，また，上記「第５　特許法第２９条第２項に関する取消理由についての判断」の「５　本件訂正発明５に対して」で述べたのと同様に，設計的事項ともいえない。
　よって，本件訂正発明５を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（３）　本件訂正発明９に対して
　本件訂正発明９の特定事項である「少なくとも１つの偏光変調器により，前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ」は，第１申立人の提出したいずれの証拠にも記載されていない。
　よって，本件訂正発明９を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（４）　本件訂正発明１０
　訂正後の請求項１を引用する発明である本件訂正発明１０は，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「（１）本件訂正発明１〜４及び本件訂正発明６〜８に対して」で述べたように本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１をより限定した本件訂正発明１０を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（５）　訂正後の請求項１１
　本件訂正により請求項１１は削除されたので，第１申立人の請求項１１に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
　
（６）　本件訂正発明１２に対して
ア　第１甲１記載の発明
　第１申立人が主張する主刊行物である第１甲１の(第１甲１エ)の記載からみて，第１甲１には次の発明(以下，「第１甲１発明」という。)が記載されていると認められる。
「低コヒーレンス光を用いた光源202，スプリッタ204，参照アーム206，サンプルアーム208，組織サンプル130，光学要素210，回折格子212，レンズ214，検出器216アレイ，及びプロセッサ218を含む，スペクトラルドメインOCTシステム200。」
　
イ　対比
　本件訂正発明１２と第１甲１発明を対比すると，少なくとも次の点で相違する。
相違点８：本件訂正発明１２が，「前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが，平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し，前記スペクトルが，多重の異なる縦モードを含む」のに対して，第１甲１発明は「低コヒーレンス光を用いた光源」を用いる点。
　
ウ　相違点８についての検討
　第１申立人は，第１甲２及び第１甲３に記載の周知技術から，かかる相違点は容易になし得たことと主張する。（第１申立書21頁1〜9行)
　しかしながら，第１甲２に記載の技術は，要約に記載のようにコヒーレント光を使用する技術である。また，第１甲３に記載の技術も，要約に記載のようにコヒーレント光を使用する技術である。
　第１甲１発明は，「低コヒーレンス光を用いた光源」を使用することを必須とする発明であって，第１甲１発明の「低コヒーレンス光を用いた光源」を第１甲２及び第１甲３に記載のようなコヒーレント光の光源に置換する動機がない。
　よって，第１申立人の主張する申立理由によって，本件訂正発明１２を取り消すことはできない。
　
（７）　本件訂正発明１３に対して
　訂正後の請求項１を引用する発明である本件訂正発明１３は，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「第７　１（１）本件訂正発明１〜４及び本件訂正発明６〜８に対して」で述べたとおり，本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１をより限定した本件訂正発明１３を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（８）　本件訂正発明１４に対して　
　訂正後の請求項１２を引用する発明である本件訂正発明１４は，本件訂正発明１２をより限定した発明である。
　上記「第７　１　（６）　本件訂正発明１２に対して」で述べたとおり，本件訂正発明１２を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１２をより限定した本件訂正発明１４を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（９）　本件訂正発明１５に対して
　訂正後の請求項１を引用する発明である本件訂正発明１５は，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「第７　１（１）本件訂正発明１〜４及び本件訂正発明６〜８に対して」で述べたとおり，本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１５をより限定した本件訂正発明１５を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（１０）　訂正後の請求項１６
　本件訂正により請求項１６は削除されたので，第１申立人の請求項１６に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
　
（１１）　本件訂正発明１７及び１８に対して
　第１申立人の申立理由を検討するまでも無く，上記「第５　９　本件訂正発明１７に対して」及び「第５　１０　本件訂正発明１８に対して」で述べた理由で取り消されることとなった。
　
（１２）　本件訂正発明１９に対して　
　訂正後の請求項１を引用する発明である本件訂正発明１９は，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「（１）　本件訂正発明１〜４及び本件訂正発明６〜８に対して」で述べたように本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１をより限定した本件訂正発明１９を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
（１３）　本件訂正発明２０に対して
　第１申立人の申立理由を検討するまでも無く，上記「第５　１２　本件訂正発明２０に対して」で述べた理由で取り消されることとなった。
　
（１４）　本件訂正発明２１及び２２に対して
　訂正後の請求項１を引用する発明である本件訂正発明２１及び２２は，本件訂正発明１をより限定した発明である。
　上記「（１）　本件訂正発明１並びに本件訂正発明２〜４に対して」で述べたように本件訂正発明１を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできないのだから，本件訂正発明１をより限定した本件訂正発明２１及び２２を特許法第２９条第２項に違反してされたものということはできない。
　
２　申立理由第１−２(特許法第３６条第１号及び第２号並びに同法同条第４項第１号）について
（１）　申立理由第１−２の詳細
　第１申立人は，請求項２２について，次のように主張する。(第１申立書25頁「エ　記載不備の理由」の項)
『「【請求項２２】
　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが，スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み，且つ，
　前記スペクトルフィルタが，多角形スキャナ，スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント，及び，前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って，該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む，請求項１に記載の装置。」と記載されている。しかしながら，例えば「スペクトルフィルタ」，「多角スキャナ」，「スペクトル分離アレンジメント」，及び，「光学撮像アレンジメント」等についての具体的構成及び作用が不明である。また，請求項２２に記載された構成について，発明の詳細な説明の記載との関係が不明確である。』
　
（２）　当審の判断
　第２甲２に，図１(第２甲２カ)に「高速波長掃引フィルタ」が示され，「回折格子と，アフォーカル望遠鏡と，多角形スキャナと，を備える」(第２甲２オ)「反射型フィルタ」(第２甲２オ)が記載されていように，請求項２２の特定事項は，本件特許の出願の優先日前から周知の事項である。
　よって，具体的な記載が本件特許明細書の発明の詳細な説明に無いとしても，当業者であれば特許請求の範囲の記載をみれば直ちに具体的な構成を思い浮かべることができるから，本件特許明細書は，当業者が本件訂正発明２２を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものといえる。
　また，本件訂正後の請求項２２の特許請求の範囲の記載は，不明瞭な点はなく，また，発明の詳細な説明に記載された範囲を超えてなされたものともいえない。
　よって，本件訂正発明２２を，特許法第３６条第６項第１号及び第２号並びに同法同条第４項第１号に規定する要件を満たしていないとして取り消すことはできない。
　
第８　第２申立人の申立理由について
１　申立理由第２−１（特許法第２９条第２項)及び申立理由第２−２（特許法第２９条第２項)について
　申立理由第２−１及び申立理由第２−２は，訂正前の請求項１〜５，９，１０，１３，１５，１６，１８及び２０〜２２に対してなされた申立てであり，共に第２甲１を主引用例とするものである。
　請求項１〜５，９，１０，１３，１５，１８及び２０〜２２の判断については，上記「第５　特許法第２９条第２項に関する取消理由についての判断」で述べたとおりである。
　また，本件訂正により請求項１６は削除されたので，第２申立人の請求項１６に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
　
２　申立理由第２−３(特許法第３６条第６項第１号及び第２号）について
（１）　第２申立人は，請求項５について，「往復長さが５ｍより短いレーザキャビティ」が不明である旨を主張するが，文字通り，レーザキャビティの往復長さを規定するものであり明確であると共に，本件特許明細書等の【００８９】に，その技術的意義が記載されており，サポート要件を満たさないものでもない。
　
（２）　請求項１０について，「非反射性リファレンス」が不明である旨を主張するが，上記「第６　特許法第３６条に関する取消理由についての判断」で述べた理由で，不明瞭な点はないし，サポート要件を満たさないものでもない。
　
（３）　請求項１６について，訂正により請求項１６は削除されたので，第２申立人の請求項１６に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
　
３　申立理由２−４(特許法第３６条第１号及び第２号並びに同法同条第４項第１号）について
　第２申立人は，本件発明１〜５，９，１０，１３，１５，１６，１８，２０〜２２について，これらの発明の中で特定される数値や技術的事項に関して，具体的実現手段やその技術的意義について十分な開示がなされていない旨を主張する。
　
　しかしながら，本件特許明細書等に具体的実現手段やその技術的意義について十分な開示がなされいるといえるし，仮に足りない記載があるとしても上記「第５　１　引用刊行物記載の事項」で摘記した第２甲１，第２甲２，第２甲４，第１甲３及び第１甲１の記載事項は，本件特許の出願時の技術水準を示すものであって，これらを知る当業者が本件特許明細書等を読めば，本件訂正発明の特定事項についての具体的実現手段やその技術的意義について，直ちに理解するものといえる。
　したがって，不明瞭な点はないし，サポート要件及び実施可能要件を満たさないものでもない。
　
第９　むすび
　以上のとおり，
本件訂正発明１７は，第２甲１，第２甲２，第１甲３及び周知の技術事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである，
本件訂正発明１８は，第２甲１，第２甲２，第１甲１及び周知の技術事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである，
本件訂正発明２０は，第２甲１発明，第２甲２及び周知の事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　よって，本件訂正発明１７，１８及び２０に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり，訂正後の請求項１７，１８及び２０に係る特許は，特許法第１１３条第２号に該当し，取り消されるべきものである。
　
　また，本件訂正後の請求項１〜１０，１２〜１５，１９，２１，２２に係る特許については，第１申立書及び第２申立書に記載した特許異議申立理由によっては取り消すことはできないし，他に，これらの請求項に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　
　そして，請求項１１及び１６に係る特許は，訂正により，削除されたため，本件特許の請求項１１及び１６に対して第１申立人がした特許異議の申立て及び請求項１６に対して第２申立人がした特許異議の申立てについては，対象となる請求項が存在せず，これらの請求項に対する申立てを却下する。
　
　よって，結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成２９年１月３０日（２０１７．１．３０）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するように構成された少なくとも１つの偏光変調器と、
　【請求項２】
　平均周波数が５キロヘルツより大きい反復レートで反復的に変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項３】
　平均周波数が１０テラヘルツより大きい範囲にわたって変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項４】
　スペクトルが１００ギガヘルツより小さい瞬時ライン幅を有する、請求項１に記載の装置。
　【請求項５】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
往
と、
る装
　【請求項６】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長１３００ｎｍに合わせてある、請求項３に記載の装置。
　【請求項７】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長８５０ｎｍに合わせてある、請求項３に記載の装置。
　【請求項８】
　前記スペクトルの同調範囲の中心が公称で中心波長１７００ｎｍに合わせてある、請求項３に記載の装置。
　【請求項９】
　少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供し、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むステッ
プ、
　前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出するステップ
、及び、
　
少なくとも１つの偏光変調器により、前記少なくとも１つの第１電磁放射線または前記少なくとも１つの第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調するステップ
　【請求項１０】
　前記リファレンスが、非反射性リファレンスである、請求項１に記載の装置。
　【請求項１１】
（削除）
　【請求項１２】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
前
と、
る装
　【請求項１３】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１４】
　前記少なくとも１つの第２アレンジメントが、少なくとも１つの光検出器と、前記少なくとも１つの光検出器の後に続く少なくとも１つの電気アナログフィルタを備える、請求項１２に記載の装置。
　【請求項１５】
　更に、検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと、
　走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し、その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと、を備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項１６】
（削除）
　【請求項１７】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、
　
検出された干渉に基づいて画像を生成する少なくとも１つの第３アレンジメントと、
　
走査データ生成のためにサンプルの横方向位置を走査し、その走査データを画像生成のために前記第３アレンジメントに提供するプローブと、を備え、
る装
　【請求項１８】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、を備え、
る装
　【請求項１９】
　更に、
　・前記少なくとも１つの第１電磁放射線と少なくとも１つの第２電磁放射線のうち少なくとも１つ、または、
　・前記少なくとも１つの第３電磁放射線と少なくとも１つの第４電磁放射線のうち少なくとも１つ、の少なくとも１つの間の位相差を追跡するように明確に構成された少なくとも１つの第３アレンジメントを備える、請求項１に記載の装置。
　【請求項２０】
　
少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つが、平均周波数が毎ミリ秒１００テラヘルツより大きい同調速度でほぼ連続的に経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが、多重の異なる縦モードを含むものと、
　
前記少なくとも１つの第１電磁放射線と関連した少なくとも１つの第３電磁放射線と、前記少なくとも１つの第２電磁放射線と関連した少なくとも１つの第４電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、を備え、
る装
　【請求項２１】
　スペクトルが少なくとも１０ｋＨｚの反復レートで反復的に経時変化する、請求項１に記載の装置。
　【請求項２２】
　前記少なくとも１つの第１アレンジメントが、スペクトルを経時変化させるスペクトルフィルタを含み、且つ、
　前記スペクトルフィルタが、多角形スキャナ、スペクトルを経時変化させるスペクトル分離アレンジメント、及び、前記スペクトル分離アレンジメントから前記干渉の１つまたはそれ以上の成分を直接受け取って，該干渉の１つまたはそれ以上の成分を像平面上に収束及び投影するように構成された少なくとも１つの光学撮像アレンジメントを含む、請求項１に記載の装置。