【事件の表示】
　特許第５９４０７３０号発明「結晶化高分子フィルム及びその製造方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５９４０７３０号の請求項１ないし１２に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　主な手続の経緯 
　特許第５９４０７３０号の請求項１ないし１２に係る特許（以下、「本件特許」という。）についての出願は、平成２６年７月１７日（優先権主張平成２５年７月１９日）に特許出願され、平成２８年５月２７日に設定登録され、その後、平成２９年１月４日に特許異議申立人久門享（以下、「特許異議申立人」という。）により特許異議の申立てがされた。
　
第２　本件特許発明
　本件特許の請求項１ないし１２に係る発明（以下、「本件特許発明１」ないし「本件特許発明１２」という。総称して、「本件特許発明」という場合がある。）は、特許請求の範囲の請求項１ないし１２に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。 
　
「【請求項１】
　重量平均分子量が５万〜１００万であり結晶化が最速となる温度での半結晶化時間が１８０秒〜９００秒の範囲内である高分子（Ａ）を含み、
　ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、
　ＪＩＳ−Ｋ７１０５に準拠して２５℃で全ヘイズ及び内部ヘイズをそれぞれ測定したときに、前記全ヘイズと前記内部ヘイズとの差が０．８％以下であり、
　ＪＩＳ−Ｋ−７１２７に準拠してＴＤ方向の引張弾性率（ＴＤ）及びＭＤ方向の引張弾性率（ＭＤ）をそれぞれ測定したときに、前記引張弾性率（ＴＤ）及び前記引張弾性率（ＭＤ）のうち、最小の引張弾性率をＥｍｉｎ、最大の引張弾性率をＥｍａｘとし、
　前記Ｅｍｉｎに対する前記Ｅｍａｘの比が、１．５０〜２．３０であり、
　前記高分子（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、結晶化高分子フィルム。
【化１】
【請求項２】
　前記全ヘイズが４０％以下である、請求項１に記載の結晶化高分子フィルム。
【請求項３】
　前記内部ヘイズが２０％以下であり、且つ、２５℃において応力−電荷法で測定した圧電定数ｄ１４が１ｐＣ／Ｎ以上である、請求項１又は請求項２に記載の結晶化高分子フィルム。
【請求項４】
　前記内部ヘイズが１％以下である、請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルム。
【請求項５】
　前記高分子（Ａ）は、光学純度が９５．００％ｅｅ以上である、請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルム。
【請求項６】
　前記高分子（Ａ）の含有量が、８０質量％以上である、請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルム。
【請求項７】
　請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法であって、
　前記高分子（Ａ）を含むフィルムを準備する準備工程と、
　前記フィルムの主面と、離型性を示す表面を有する加熱部材の該表面と、を接触させて前記フィルムを下記式（ａ）を満たす温度Ｔ（℃）で加熱することにより前記結晶化高分子フィルムを得る結晶化工程と、
を有し、
　前記加熱部材の前記表面は、最大高さＲｚが０．２０μｍ以上である、結晶化高分子フィルムの製造方法。
　式（ａ）：Ｔｇ＋３０＜Ｔ＜Ｔｍ−２０
[式（ａ）において、ＴｇはＤＳＣ法により測定された、高分子（Ａ）のガラス転移温度（℃）を表し、Ｔｍは高分子（Ａ）の融点を表す。]
【請求項８】
　前記加熱部材が、前記主面と接触しフッ素樹脂を含む表面層を有する、請求項７に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法。
【請求項９】
　前記加熱部材の前記表面は、算術平均粗さＲａが０．０５μｍ以上である、請求項７又は請求項８に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法。
【請求項１０】
　前記準備工程は、前記高分子（Ａ）を含み主として１軸方向に延伸されたフィルムを準備する、請求項７〜請求項９のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法。
【請求項１１】
　前記準備工程は、前記高分子（Ａ）を含む予備結晶化フィルムを準備する、請求項７〜請求項１０のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法。
【請求項１２】
　前記準備工程は、前記高分子（Ａ）を含む予備結晶化フィルムを得る工程と、前記予備結晶化フィルムを主として１軸方向に延伸する工程と、を有する、請求項７〜請求項１１のいずれか１項に記載の結晶化高分子フィルムの製造方法。」 
　
第３　特許異議申立の理由の概要
　１　特許異議申立人は、証拠として、甲第１号証（国際公開第２０１３／０５４９１８号）、甲第２号証（国際公開第２０１３／０８９１４８号）を提出して、本件特許発明１ないし６は、甲第１、２号証に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、本件特許は、特許法第２９条の規定に違反してされたものである。
　よって、本件特許は、特許法第２９条の規定に違反してされたものであるから、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるものである（以下、「理由１」という。）。
　
　２　特許異議申立人は、証拠として、甲第１号証、甲第２号証、甲第３号証（特開２００９−２４９４４３号公報）、甲第４号証（特開平１１−７７８４０号公報）及び甲第５号証（特開平６−２１０７１９号公報）を提出して、本件特許発明１ないし１２は、甲第１号証に記載された発明及び甲第２号証ないし甲第５号証に記載された事項に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、本件特許は、特許法第２９条の規定に違反してされたものであるから、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるものである（以下、「理由２」という。）。
　
　３　本件特許は、特許請求の範囲の記載が以下の点で、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるから、同法第１１３条第４号に該当し、取り消すべきものである（以下、「理由３」という。）。
　
　４　本件特許は、特許請求の範囲の記載が以下の点で、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるから、同法第１１３条第４号に該当し、取り消すべきものである（以下、「理由４」という。）。
　
第４　甲各号証の記載及び同各号証に記載された発明
　１　甲第１号証の記載
　甲第１号証には、「高分子圧電材料、およびその製造方法」に関して、次の事項が記載されている。
　
　ア　「［請求項１］　重量平均分子量が５万〜１００万で光学活性を有する脂肪族系ポリエステル（Ａ）と、カルボジイミド基、エポキシ基、及びイソシアネート基からなる群から選ばれる１種類以上の官能基を有する重量平均分子量が２００〜６００００の安定化剤（Ｂ）とを含み、
　ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、
　前記脂肪族系ポリエステル（Ａ）１００重量部に対して前記安定化剤（Ｂ）が０．０１重量部〜１０重量部含まれる、高分子圧電材料。」
　
　イ　「［請求項８］　前記脂肪族系ポリエステル（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、請求項１に記載の高分子圧電材料。
［化１］
　
」
　
　ウ　「［０１１２］〔透明性（内部ヘイズ）〕
　高分子圧電材料の透明性は、例えば、目視観察やヘイズ測定により評価することができる。
　高分子圧電材料は、可視光線に対する内部ヘイズが４０％以下であることが好ましい。ここで内部ヘイズは、厚さ０．０３ｍｍ〜０．０５ｍｍの高分子圧電材料に対して、ＪＩＳ−Ｋ７１０５に準拠して、ヘイズ測定機〔（有）東京電色製、ＴＣ−ＨＩＩＩ　ＤＰＫ〕を用いて２５℃で測定したときの値であり、測定方法の詳細は実施例において詳述する。
　高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、２０％以下であることがより好ましく、５％以下であることが更に好ましい。更に、高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、縦裂強度をより向上させる観点からは、２．０％以下が好ましく、１．０％以下が特に好ましい。
　また、高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、低ければ低いほどよいが、圧電定数などとのバランスの観点からは、０．０％〜４０％であることが好ましく、０．０１％〜２０％であることがさらに好ましく、０．０１％〜５％がさらに好ましく、０．０１％〜２．０％がさらに好ましく、０．０１％〜１．０％が特に好ましい。 　なお、本願でいう「内部ヘイズ」とは、本発明の高分子圧電材料の内部へイズをいう。内部へイズとは、実施例において後述するように前記高分子圧電材料の外表面の形状によるヘイズを除外したヘイズである。」
　
　エ　「〔実施例１〕
　三井化学（株）製ポリ乳酸系樹脂（登録商標ＬＡＣＥＡ、Ｈ−４００（重量平均分子量Ｍｗ：２０万）を押出成形機ホッパーに入れて、２２０〜２３０℃に加熱しながらＴダイから押し出し、５０℃のキャストロールに０．３分間接触させ厚さ２３０μｍの予備結晶化シートを製膜した（予備結晶化工程）。前記予備結晶化シートの結晶化度を測定したところ４％であった。
　得られた予備結晶化シートを８０℃に加熱しながら、テンター方式でＴＤ方向に３．０倍（主延伸）、ロールツーロール方式でＭＤ方向に２．０倍（副次的延伸）まで同時２軸延伸を行い、フィルムを得た（延伸工程）。
　前記延伸工程の後のフィルムを、ロールツーロールで、１４５℃に加熱したロール上に接触させアニール処理し、急冷して、高分子圧電材料を作製した（アニール処理工程）。なお、前記急冷は、アニール処理後のフィルムを２０℃〜３０℃の大気に接触させ、さらにフィルム巻取機の金属ロールに接触させることにより、フィルム温度を急速に室温近傍に降温させることによって行った。」
　
　オ　「［表１］
」
　
　２　甲第１号証に記載された発明
　上記記載事項を総合すると、甲第１号証には、次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されている。
　
　「重量平均分子量が５万〜１００万で光学活性を有する脂肪族系ポリエステル（Ａ）と、カルボジイミド基、エポキシ基、及びイソシアネート基からなる群から選ばれる１種類以上の官能基を有する重量平均分子量が２００〜６００００の安定化剤（Ｂ）とを含み、
　ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、
　前記脂肪族系ポリエステル（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、高分子圧電材料から製造されたフィルム。
［化１］
」
　
　３　甲第２号証の記載
　甲第２号証には、「高分子圧電材料、およびその製造方法」に関して、次の事項が記載されている。
　
　カ　「［請求項１］　重量平均分子量が５万〜１００万である光学活性を有するヘリカルキラル高分子を含み、ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、かつ、マイクロ波透過型分子配向計で測定される基準厚さを５０μｍとしたときの規格化分子配向ＭＯＲｃと前記結晶化度との積が２５〜２５０である、高分子圧電材料。」
　
　キ　「［請求項６］　前記ヘリカルキラル高分子が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、請求項１に記載の高分子圧電材料。
［化１］
」
　
　ク　「［００３３］　ポリ乳酸系高分子は、市販のポリ乳酸を用いてもよい。市販のポリ乳酸としては、例えば、ＰＵＲＡＣ社製のＰＵＲＡＳＯＲＢ（ＰＤ、ＰＬ）、三井化学社製のＬＡＣＥＡ（Ｈ−１００、Ｈ−４００）、ＮａｔｕｒｅＷｏｒｋｓ社製Ｉｎgeo４０３２Ｄ、４０４３Ｄ等が挙げられる。」
　
　ケ　「［００５３］〔透明性（内部ヘイズ）〕
　高分子圧電材料の透明性は、例えば、目視観察やヘイズ測定により評価することができる。
　高分子圧電材料は、可視光線に対する内部ヘイズが４０％以下であることが好ましい。ここで内部ヘイズは、厚さ０．０３ｍｍ〜０．０５ｍｍの高分子圧電材料に対して、ＪＩＳ−Ｋ７１０５に準拠して、ヘイズ測定機〔（有）東京電色製、ＴＣ−ＨＩＩＩ　ＤＰＫ〕を用いて２５℃で測定したときの値であり、測定方法の詳細は実施例において詳述する。
　高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、２０％以下であることがより好ましく、５％以下であることが更に好ましい。更に、高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、縦裂強度をより向上させる観点からは、２．０％以下が好ましく、１．０％以下が特に好ましい。
　また、高分子圧電材料の前記内部ヘイズは、低ければ低いほどよいが、圧電定数などとのバランスの観点からは、０．０％〜４０％であることが好ましく、０．０１％〜２０％であることがさらに好ましく、０．０１％〜５％がさらに好ましく、０．０１％〜２．０％がさらに好ましく、０．０１％〜１．０％が特に好ましい。
　なお、本願でいう「内部ヘイズ」とは、本発明の高分子圧電材料の内部へイズをいう。内部へイズとは、実施例において後述するように前記高分子圧電材料の外表面の形状によるヘイズを除外したヘイズである。」
　
　コ　「〔実施例１〕
　三井化学（株）製ポリ乳酸系樹脂（登録商標ＬＡＣＥＡ、Ｈ−４００（重量平均分子量Ｍｗ：２０万）を押出成形機ホッパーに入れて、２２０〜２３０℃に加熱しながらＴダイから押し出し、５０℃のキャストロールに０．３分間接触させ厚さ２３０μｍの予備結晶化シートを製膜した（予備結晶化工程）。前記予備結晶化シートの結晶化度を測定したところ４％であった。 　得られた予備結晶化シートを８０℃に加熱しながら、テンター方式でＴＤ方向に３．０倍（主延伸）、ロールツーロール方式でＭＤ方向に２．０倍（副次的延伸）まで同時２軸延伸を行い、フィルムを得た（延伸工程）。 　　前記延伸工程の後のフィルムを、ロールツーロールで、１４５℃に加熱したロール上に接触させアニール処理し、急冷して、高分子圧電材料を作製した（アニール処理工程）。なお、前記急冷は、アニール処理後のフィルムを２０℃#３０℃の大気に接触させ、さらにフィルム巻取機の金属ロールに接触させることにより、フィルム温度を急速に室温近傍に降温させることによって行った。」
　
　サ　「［表１］
」
　
　４　甲第２号証に記載された発明
　上記記載事項を総合すると、甲第２号証には、次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されている。
　
　「重量平均分子量が５万〜１００万である光学活性を有するヘリカルキラル高分子を含み、ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、かつ、マイクロ波透過型分子配向計で測定される基準厚さを５０μｍとしたときの規格化分子配向ＭＯＲｃと前記結晶化度との積が２５〜２５０であり、
　前記ヘリカルキラル高分子が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、請求項１に記載の高分子圧電材料から製造されたフィルム。
　［化１］
」
　
第５　対比
　１　本件特許発明１と引用発明１とを対比すると、引用発明１の「重量平均分子量が５万〜１００万で光学活性を有する脂肪族系ポリエステル（Ａ）」は、本件特許発明１の「重量平均分子量が５万〜１００万であり結晶化が最速となる温度での半結晶化時間が１８０秒〜９００秒の範囲内である高分子（Ａ）」と「重量平均分子量が５万〜１００万である高分子（Ａ）」の限りで相当し、同様に後者の「ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％」であること、「脂肪族系ポリエステル（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である」こと、「高分子圧電材料から製造されたフィルム」は、前者の「ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％」であること、「高分子（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である」こと、「結晶化高分子フィルム」に相当する。
　
　以上の点からみて、本件特許発明１と引用発明１とは、
　
　［一致点］
　「重量平均分子量が５万〜１００万である高分子（Ａ）を含み、
　ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、
　前記高分子（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、結晶化高分子フィルム。」  
　である点で一致し、
　
　次の点で相違する。
　
　［相違点］
　相違点１
　高分子（Ａ）に関して、本件特許発明１では、「結晶化が最速となる温度での半結晶化時間が１８０秒〜９００秒の範囲内である」（以下、「半結晶化時間」という。）のに対して、引用発明１では、かかる関係を有するか不明な点。
　
　相違点２
　本件特許発明１では、「ＪＩＳ−Ｋ７１０５に準拠して２５℃で全ヘイズ及び内部ヘイズをそれぞれ測定したときに、前記全ヘイズと前記内部ヘイズとの差が０．８％以下」（以下、「ヘイズ差」という。）であるのに対して、引用発明１では、かかる関係を有するか不明な点。
　
　相違点３
　本件特許発明１では、「ＪＩＳ−Ｋ−７１２７に準拠してＴＤ方向の引張弾性率（ＴＤ）及びＭＤ方向の引張弾性率（ＭＤ）をそれぞれ測定したときに、前記引張弾性率（ＴＤ）及び前記引張弾性率（ＭＤ）のうち、最小の引張弾性率をＥｍｉｎ、最大の引張弾性率をＥｍａｘとし、前記Ｅｍｉｎに対する前記Ｅｍａｘの比が、１．５０〜２．３０」（以下、「Ｅｍｉｎに対するＥｍａｘの比」という。）であるのに対して、引用発明１では、かかる関係を有するか不明な点。
　
　相違点４
　本件特許発明１には含まれない「カルボジイミド基、エポキシ基、及びイソシアネート基からなる群から選ばれる１種類以上の官能基を有する重量平均分子量が２００〜６００００の安定化剤（Ｂ）」を引用発明１が含む点。
　
　２　本件特許発明１と引用発明２とを対比すると、引用発明２の「重量平均分子量が５万〜１００万である光学活性を有するヘリカルキラル高分子」は、本件特許発明１の「重量平均分子量が５万〜１００万であり結晶化が最速となる温度での半結晶化時間が１８０秒〜９００秒の範囲内である高分子（Ａ）」と「重量平均分子量が５万〜１００万である高分子（Ａ）」の限りで相当し、同様に後者の「ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％」であること、「ヘリカルキラル高分子が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である」こと、「高分子圧電材料から製造されたフィルム」は、前者の「ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％」であること、「脂肪族系ポリエステル（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である」こと、「結晶化高分子フィルム」に相当する。
　
　以上の点からみて、本件特許発明１と引用発明２とは、
　
　［一致点］
　「重量平均分子量が５万〜１００万である高分子（Ａ）を含み、
　ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％〜８０％であり、
　前記高分子（Ａ）が、下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である、結晶化高分子フィルム。」  
　である点で一致し、
　
　次の点で相違する。
　
　［相違点］
　相違点５
　高分子（Ａ）に関して、本件特許発明１では、「結晶化が最速となる温度での半結晶化時間が１８０秒〜９００秒の範囲内である」（以下、「半結晶化時間」という。）のに対して、引用発明２では、かかる関係を有するか不明な点。
　
　相違点６
　本件特許発明１では、「ＪＩＳ−Ｋ７１０５に準拠して２５℃で全ヘイズ及び内部ヘイズをそれぞれ測定したときに、前記全ヘイズと前記内部ヘイズとの差が０．８％以下」（以下、「ヘイズ差」という。）であるのに対して、引用発明２では、かかる関係を有するか不明な点。
　
　相違点７
　本件特許発明１では、「ＪＩＳ−Ｋ−７１２７に準拠してＴＤ方向の引張弾性率（ＴＤ）及びＭＤ方向の引張弾性率（ＭＤ）をそれぞれ測定したときに、前記引張弾性率（ＴＤ）及び前記引張弾性率（ＭＤ）のうち、最小の引張弾性率をＥｍｉｎ、最大の引張弾性率をＥｍａｘとし、前記Ｅｍｉｎに対する前記Ｅｍａｘの比が、１．５０〜２．３０」（以下、「Ｅｍｉｎに対するＥｍａｘの比」という。）であるのに対して、引用発明２では、かかる関係を有するか不明な点。
　
第６　判断
　１　理由１（特許法第２９条第１項第３号）について
（１）　引用発明１について
　ア　本件特許発明１について
　甲第１号証には、「半結晶化時間」及び「Ｅｍｉｎに対するＥｍａｘの比」について記載も示唆もない。
　また、同号証には、確かに、摘示ウから、全ヘイズから内部ヘイズを除外したものが本件特許発明１でいう表面ヘイズであることは理解できるものの、全ヘイズが不明であるから、結局、「ヘイズ差」についても不明である。したがって、同号証には、「ヘイズ差」について記載も示唆もない。
　そして、引用発明１が本件特許発明１と同一であることを立証する証拠はない。
　よって、引用発明１は、本件特許発明１と同一であるとはいえない。
　
　イ　本件特許発明２ないし６について
　本件特許発明２ないし６は、本件特許発明１を更に限定するものであるから、引用発明１は、本件特許発明２ないし６と同一であるとはいえない。
　
（２）　引用発明２について
　ア　本件特許発明１について
（ア）上記相違点５ないし７は、上記相違点１ないし３と同じあるから、上記第６　１（１）アと同じ理由により、引用発明２は、本件特許発明１ないし６と同一であるとはいえない。
　すなわち、甲第２号証には、「半結晶化時間」及び「Ｅｍｉｎに対するＥｍａｘの比」について記載も示唆もない。
　また、同号証には、確かに、摘示ケから、全ヘイズから内部ヘイズを除外したものが本件特許発明１でいう表面ヘイズであることは理解できるものの、全ヘイズが不明であるから、結局、「ヘイズ差」についても不明である。したがって、同号証には、「ヘイズ差」について記載も示唆もない。
　そして、引用発明２が本件特許発明１と同一であることを立証する証拠はない。
　よって、引用発明２は、本件特許発明１と同一であるとはいえない。
　
（イ）なお、異議申立人の異議申立書３．（４）（４−２）ウ．での主張を踏まえ、甲第２号証の【表１】の比較例１のものが本件特許明細書の【表１】の実施例３のものと同一かについて検討する。
　すなわち、上記摘示クのポリ乳酸系高分子を上記摘示コの製造方法に供した場合、製造された高分子が上記相違点５ないし７の発明特定事項を満たすかを検討するに、本件特許明細書の【表１】の実施例３と甲第２号証の【表１】の比較例１と比較すると、延伸倍率（ＭＤ）、延伸温度、延伸幅、結晶化温度で少なくとも相違し、製造条件により高分子の特性は変化することが通常であるから、製造された高分子の特性は同一とはいえない。
　よって、引用発明２と本件特許発明１とは同一であるとはいえない。
　
　イ　本件特許発明２ないし６について
　本件特許発明２ないし６は、本件特許発明１を更に限定するものであるから、引用発明２は、本件特許発明２ないし６と同一であるとはいえない。
　
　２　理由２（特許法第２９条第２項）について
（１）　本件特許発明１
　本件特許明細書の段落【０００４】、段落【０００６】、段落【００１３】、段落【００２４】、【表１】及び【表２】の記載に照らせば、本件特許発明１は、所定の結晶化速度のものを選択することにより結晶化高分子フィルムの表面ヘイズを低減できるとの知見及び「Ｅｍｉｎに対するＥｍａｘの比」を特定することによりフィルムの強度を所望のものにするとの知見に基づいてなされたものである。
　しかるところ、甲各号証には、上記知見が記載も示唆もなく、上記相違点に係る発明特定事項を特定する動機づけの根拠を見いだせない。
　加えて、本件特許発明１による効果（【表１】及び【表２】）も、引用発明１及び甲各号証の記載から当業者が予測し得たものであるとはいえない。
　よって、本件特許発明１は、引用発明１及び甲各号証の記載に基いて当業者が容易に発明をすることができたものではない。
　
（２）　本件特許発明２ないし１２について
　本件特許発明２ないし１２は、少なくとも上記相違点１ないし３で引用発明１と相違する。
　したがって、本件特許発明２ないし１２は、引用発明１及び甲各号証の記載に基いて当業者が容易に発明をすることができたものではない。
　
　３　理由３（特許法第３６条第６項第１号）について（異議申立書３．（４）（４−３））
（１）本件特許発明の課題は、「表面ヘイズを低減する」ことである（段落【０００４】）。
　本件特許明細書の発明の詳細な説明には、確かに、異議申立人が主張するように、実施例として高分子の半結晶化時間、加熱部材表面の最大高さＲｚ及び同表面の算術平均粗さＲａは、それぞれ、「５２９秒」、「１．０４μｍ」、「０．１８μｍ」の１点のみである。
　しかし、本件特許明細書の発明の詳細な説明には、「半結晶化時間」が明確に定義され（段落【００１７】）、その具体的測定方法も説明された上で（段落【０１１６】）、【化１】で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子を上記具体的測定方法によって測定すると共に、比較例として、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を取り上げ（段落【００１８】）、実施例との対照結果も記載されている（【表１】）。
　また、同発明の詳細な説明には、加熱部材におけるフィルムと接触する表面の離型性を高めることが「表面ヘイズを低減する」ことになるという指針も記載されている（段落【０００６】）。
　そうすると、上記各記載を踏まえれば、当業者であれば、上記課題を解決できると認識できる程度に記載されているといえる。
　
　４　理由４（特許法第３６条第６項第２号）について（異議申立書３．（４）（４−４））
　「半結晶化時間」の定義は、段落【００１７】に記載され、その具体的測定方法も段落【０１１６】に説明されているから、「半結晶化時間」が不明確とはいえない。
　すなわち、段落【０１１６】では、結晶化が最速となる温度の略中心値として１１７℃を選択し、上記「半結晶化時間」の定義に従い「半結晶化時間」を求めた結果、「半結晶化時間」が１８０秒〜９００秒の範囲内であることが確認されている（【表１】）。そして、結晶化が最速となる温度の実施例として、１１０℃から１２５℃の範囲が記載されている以上、当該温度範囲内の温度で「半結晶化時間」を求めれば「半結晶化時間」が１８０秒〜９００秒の範囲内になると解するのが自然である。
　また、請求項１０及び請求項１２の「主として１軸方向に延伸された」という記載についても、「主として」とは、「おもに。もっぱら。」の意味であり（広辞苑、第二版補訂版、昭和５４年１０月１５日発行参照）、１軸方向に延伸することのみを意味しているとは解されない。
　加えて、本件特許明細書には、「延伸の方法（延伸方法）は特に制限されず、１軸延伸、２軸延伸、固相延伸などの種々の延伸方法を用いることができる」と記載されている（段落【００９１】）。
　そうすると、本件特許明細書の記載を考慮し、また、当業者の出願当時における技術常識を基礎としても、特許請求の範囲の記載が、第三者に不測の不利益を及ぼすほどに不明確であるとはいえない。
　
第７　むすび 
　以上のとおりであるから、特許異議申立の理由によっては、本件特許を取り消すことができない。
　また、他に本件特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成２９年３月２２日（２０１７．３．２２）