(57)【要約】  ガス検知装置は、被検出ガスの吸収線の周波数を中心周波数とするＦＭ変調光であって、所定周波数で周波数変調されたＦＭ変調光を出射する光源部と、前記ＦＭ変調光が前記被検出ガスで吸収された第一戻り光に基づき信号を出力する第一受光部と、前記第一受光部の出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第一位相差として検出する第一位相差検出部と、を備えている。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検出ガスの吸収線の周波数を中心周波数とするＦＭ変調光であって、所定周波数で周波数変調されたＦＭ変調光を出射する光源部と、
前記ＦＭ変調光が前記被検出ガスで吸収された第一戻り光に基づき信号を出力する第一受光部と、
前記第一受光部の出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第一位相差として検出する第一位相差検出部と、
を備えたガス検知装置。
【請求項２】
前記第一位相差を用いて、前記第一戻り光に前記被検出ガスでの吸収に起因する高調波成分が重畳されているか否かを判断する判断部をさらに備え、
前記判断部は前記第一位相差を所定の基準値と比較することにより、前記第一戻り光に前記被検出ガスでの吸収に起因する高調波成分が重畳されているか否かを判断する、請求項１に記載のガス検知装置。
【請求項３】
前記被検出ガスと同種の基準ガスを収容する収容部と、
前記光源部から出射されたＦＭ変調光の一部を前記基準ガスに向けて偏向するとともに、残りのＦＭ変調光を前記基準ガス以外に向けて出射する偏向／透過部と、
前記基準ガスで吸収された第二戻り光に基づき信号を出力する第二受光部と、
前記第二受光部の出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第二位相差として検出する第二位相差検出部と、
前記第一位相差を用いて、前記第一戻り光に前記被検出ガスでの吸収に起因する高調波成分が重畳されているか否かを判断する判断部と、をさらに備え、
前記判断部は、前記第一位相差に加え前記第二位相差をさらに用いて、前記第一戻り光に前記被検出ガスでの吸収に起因する高調波成分が重畳されているか否かを判断する、請求項１に記載のガス検知装置。
【請求項４】
前記第一受光部の出力信号に基づき、前記被検出ガスの濃度に相関する値を求める第一導出部と、
前記判断部が肯定判断をすると、前記第一導出部が求めた値に基づき、前記被検出ガスの濃度を求める濃度算出部と、をさらに備える請求項２または３に記載のガス検知装置。
【請求項５】
前記判断部が否定判断をすると、前記被検出ガスを検出しなかったこと、または、前記戻り光において前記被検出ガスで吸収が生じていないこと、を報知する報知手段をさらに備える、請求項２〜４のいずれかに記載のガス検知装置。
【請求項６】
前記第一位相差検出部は、前記第一受光部の出力信号をフーリエ変換することで前記位相差を検出する、請求項１または２に記載のガス検知装置。
【請求項７】
前記第一位相差検出部および前記第二位相差検出部は、前記第一受光部および前記第二受光部の出力信号をフーリエ変換することで前記位相差を検出する、請求項３に記載のガス検知装置。
【請求項８】
被検出ガスの吸収線の周波数を中心周波数とするＦＭ変調光であって、所定周波数で周波数変調されたＦＭ変調光を出射する第一ステップと、
前記ＦＭ変調光が前記被検出ガスで吸収された第一戻り光に基づき信号を出力する第一受光ステップと、
前記第一受光ステップの出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第一位相差として検出する第一位相差検出ステップと、を備えたガス検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検出ガスの濃度算出に使用可能なガス検知装置およびガス検知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
周知の通り、被検出ガスにはそれぞれ固有の光吸収スペクトルが存在する。その吸収線の周波数を中心周波数ｆｃとして有する光が被検出ガスを通過すると、光減衰量は被検出ガスの濃度に比例する。この現象を利用したガス検知装置が特許文献１等に記載されている。特許文献１のガス検知装置は、光源部により、中心周波数ｆｃを有し周波数ｆｍで周波数変調されたＦＭ変調光を生成し被検出ガスに照射する。また、ガス検知装置は、受光部により、被検出ガスを透過した光を受光する。ガスの光吸収スペクトルは、周波数ｆｃを基準として略線対称な二次関数で近似される。従って、受光部の出力信号には、変調周波数ｆｍの成分だけでなく、例えば二次（２×ｆｍ）の高調波成分も含まれる。ガス検知装置は、基本波成分および二次の高調波成分に基づきガス濃度を信号処理回路にて求める。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１５１６８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来のガス検知装置では、光源部および受光部の間の光路上で、エタロンフリンジ等による光路雑音（所定次数の高調波成分）がＦＭ変調光に重畳されることがある。従来のガス検知装置では、この光路雑音を、被検出ガスでの吸収に起因する所定次数の高調波成分と誤認して濃度検知することがあった。【０００５】
それゆえに、本発明の目的は、被検出ガスでの吸収に起因する高調波成分と光路雑音とを正確に識別可能なガス検知装置およびガス検知方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一形態は、被検出ガスの吸収線の周波数を中心周波数とするＦＭ変調光であって、所定周波数で周波数変調されたＦＭ変調光を出射する光源部と、前記ＦＭ変調光が前記被検出ガスで吸収された第一戻り光に基づき信号を出力する第一受光部と、前記第一受光部の出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第一位相差として検出する第一位相差検出部と、を備えたガス検知装置に向けられる。【０００７】
また、他の形態は、被検出ガスの吸収線の周波数を中心周波数とするＦＭ変調光であって、所定周波数で周波数変調されたＦＭ変調光を出射する第一ステップと、前記ＦＭ変調光が前記被検出ガスで吸収された第一戻り光に基づき信号を出力する第一受光ステップと、前記第一受光ステップの出力信号に含まれる基本波成分と高調波成分との位相差を第一位相差として検出する第一位相差検出ステップと、を備えたガス検知方法に向けられる。
【発明の効果】
【０００８】
上記各形態によれば、被検出ガスと雑音とを正確に識別可能なガス検知装置およびガス検知方法を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第一実施形態に係るガス検知装置の構成を示す図である。
【図２】エタロンフリンジ等に起因する光路雑音の説明に使用される図である。
【図３】図１の制御部の機能ブロック図である。
【図４】図１のガス検知装置の動作を示すフロー図であって、第一施形態に係るガス検知方法を示すフロー図である。
【図５】第二実施形態に係るガス検知装置の構成を示す図である。
【図６】図５のガス検知装置の動作を示すフロー図であって、第二実施形態に係るガス検知方法を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
≪１．第一実施形態≫
以下、上記図面を参照して、本発明の第一実施形態に係るガス検知装置１およびガス検知方法を詳説する。
【００１１】
≪１−１．ガス検知装置１の構成≫
図１において、ガス検知装置１は、例えばポータブルビデオカメラ、ノート型ＰＣ、スマートフォンまたはタブレット端末のような外観をしており、所謂２ｆ検波法により、例えばガス漏れを監視すべき領域（以下、監視領域という）Ａにて検出されるべきガス（以下、被検出ガスという）Ｇの濃度を求める。
【００１２】
ガス検知装置１は、図１に示すように、第一光源部１１と、第一駆動部１２と、第一受光部１３と、第一位相差検出部１４と、第一導出部１５と、制御部１６と、表示装置１７と、報知装置１８と、を備えている。
【００１３】
第一光源部１１は、ＤＦＢ（Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｅｄ  Ｆｅｅｄｂａｃｋ）レーザ等の半導体レーザを含む。第一駆動部１２は、制御部１６の制御下で、半導体レーザに電流を注入して発光させる。これにより、第一光源部１１において、半導体レーザは、ＦＭ変調光Ｌｆｍを生成し出射する。ＦＭ変調光Ｌｆｍは、所定の中心周波数ｆｃを有し、所定の変調周波数ｆｍで周波数変調されている。なお、ＦＭ変調光Ｌｆｍは連続光でもパルス光でも構わない。変調周波数ｆｍは適宜適切な値（例えば、１０ｋＨｚ，５０ｋＨｚ，１００ｋＨｚ）に設定される。中心周波数ｆｃは、被検出ガスの光吸収スペクトルにおける吸収線の周波数であり、被検出ガスの種類により定まる（下表１を参照）。なお、下表１では、便宜上、中心周波数ｆｃに相当する波長が示されている。例えば、被検出ガスがメタンであれば、中心周波数ｆｃは、例えばＲ（３）線の波長１．６５４μｍに相当する周波数に設定される。
【００１４】
【表１】
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【００１５】
第一光源部１１で生成されたＦＭ変調光Ｌｆｍは、監視領域Ａに向けて出射される。監視領域Ａに被検出ガスＧが存在する場合、ＦＭ変調光Ｌｆｍは、被検出ガスＧで吸収されて被検出ガスＧの濃度に応じて減衰する。また、被検出ガスＧは固有の光吸収スペクトルを持つため、ＦＭ変調光Ｌｆｍには所定次数の高調波成分（被検出ガスＧがメタンの場合、例えば二次の高調波成分）が生じる。このようなＦＭ変調光Ｌｆｍは、被検出ガスＧ以外の他の物体での散乱（反射）等を経て、第一受光部１３に入射される。本実施形態では、第一受光部１３への入射光を第一戻り光Ｌｒ１という。
【００１６】
ところで、第一光源部１１と第一受光部１３との間の光路上には、図２に示すように、被検出ガスＧ以外の物体Ｏが存在することがある。物体Ｏは、光路上に存在しうるガラスや光学部品等である。このような物体Ｏに第一光源部１１からのＦＭ変調光Ｌｆｍが入射されると、外部との界面での干渉（エタロンフリンジ等）により光路雑音Ｌｎ（所定次数の高調波成分）が生じることがある。なお、図２の楕円内には、破線によりＦＭ変調光Ｌｆｍを示し、一点鎖線により光路雑音Ｌｎを示している。
【００１７】
従来のガス検知装置は、被検出ガスＧでの吸収により生じた所定次数の高調波成分が第一戻り光Ｌｒ１に重畳されているのか、それとも、光路雑音Ｌｎが第一戻り光Ｌｒ１に重畳されているのかを判断していなかった。それゆえ、従来のガス検知装置は、この光路雑音Ｌｎを被検出ガスＧで生じた所定次数の高調波成分と誤認して、被検出ガスＧの濃度算出をすることがあった。
【００１８】
ここで、再度図１を参照する。被検出ガスがメタンの場合には、第一受光部１３は、例えばＩｎＧａＡｓフォトダイオードである。このような第一受光部１３は、第一戻り光Ｌｒ１が入射されると光電変換を行って、その光量に相関する第一電気信号Ｓｅ１を生成し出力する。第一受光部１３の出力信号Ｓｅ１は二分岐され、一方は第一位相差検出部１４に、他方は第一導出部１５に入力される。
【００１９】
第一位相差検出部１４は、入力信号Ｓｅ１に対してフーリエ変換（具体的にはＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ））を行って、入力信号Ｓｅ１に含まれる基本波成分の位相に対する、同信号Ｓｅ１に含まれる所定次数の高調波成分（例えば二次高調波）の位相の差Δφ１を求める。第一位相差検出部１４は、求めた位相差Δφ１を制御部１６に出力する。
【００２０】
第一導出部１５は、所謂２ｆ検波法により、入力信号Ｓｅ１に基づき、被検出ガスＧの濃度に相関する値Ｖｄを求める。なお、２ｆ検波法は周知であるため、その詳細な説明を省略するが、詳細に関しては例えば特許文献１を参照されたい。
【００２１】
制御部１６は、図３に示すように、入出力インタフェイス部（以下、入出力ＩＦ部という）１６１と、コンピュータ装置の典型例としてのＣＰＵ１６２と、不揮発性メモリ１６３と、メインメモリ１６４と、を備えている。
【００２２】
入出力ＩＦ部１６１は、周辺の各構成１２，１７，１８に対し各種信号や各種データを送信したり、周辺の各構成１４，１５から各種データを受け取ったりする。
【００２３】
ＣＰＵ１６２は、不揮発性メモリ１６３に予め格納されているプログラムＰを、メインメモリ１６４を作業領域として用いて実行することで、判断部１６５、濃度算出部１６６、表示制御部１６７および報知制御部１６８として機能する。これら機能ブロック１６５〜１６８については後で詳説する。
【００２４】
表示装置１７は、例えば液晶ディスプレイであって、被検出ガスＧの濃度や、被検出ガスＧを検出できなかったこと等を示す画像を表示する。
【００２５】
報知装置１８は、例えばスピーカであって、被検出ガスＧを検出しなかったこと、または、戻り光には被検出ガスＧでの吸収が生じていないこと、を示す音声を出力する。
【００２６】
≪１−２．ガス検知装置１の動作≫
次に、図４等を参照して、ガス検知装置１の動作について詳説する。
【００２７】
図４のステップＳ０１において、ＣＰＵ１６２は、第一光源部１１の半導体レーザに注入電流を供給するように第一駆動部１２に対し指示を行う。その結果、第一光源部１１からはＦＭ変調光Ｌｆｍが監視領域Ａに向けて出射される。
【００２８】
ＦＭ変調光Ｌｆｍの一部は、被検出ガスＧで吸収されたり、それ以外の物体Ｏで散乱したりする等して、第一戻り光Ｌｒ１として第一受光部１３に入射される。ステップＳ０２において、第一受光部１３は、前述したとおり、第一戻り光Ｌｒ１に基づき第一電気信号Ｓｅ１を生成して、第一位相差検出部１４および第一導出部１５に出力する。
【００２９】
ステップＳ０３において、第一位相差検出部１４は、前述したとおり、第一受光部１３の出力信号Ｓｅ１に基づき位相差Δφ１を求めて制御部１６に出力する。
【００３０】
ここで、被検出ガスＧの光吸収スペクトルは既知であることから、被検出ガスＧでの吸収によりＦＭ変調光Ｌｆｍに所定次数（例えば二次）の高調波成分が生じている場合、基本波成分に対するこの高調波成分の位相差Δφ１は実験等で予め求めることが出来る。実験により予め求めておいた位相差Δφ１が基準値ＶｒｅｆとしてプログラムＰに予め記述されている。ＣＰＵ１６２は、ステップＳ０４において、判断部１６５として機能し、予め記述された基準値Ｖｒｅｆと、第一位相差検出部１４から入力された位相差Δφ１が同じか許容範囲内か否かを判断する。
【００３１】
肯定判断を行った場合、判断部１６５としてのＣＰＵ１６２は、ステップＳ０５において、第一戻り光Ｌｒ１に被検出ガスＧでの吸収による所定次数の高調波成分が重畳されているとみなして、第一導出部１５に相関値Ｖｄを求めて返すように指示する。
【００３２】
ステップＳ０６において、第一導出部１５は、判断部１６５の指示に応答して、前述したとおり、被検出ガスＧの濃度との相関値Ｖｄを求めて、濃度算出部１６６としてのＣＰＵ１６２に返す。
【００３３】
ステップＳ０７において、濃度算出部１６６は、受け取った相関値Ｖｄに対し、予め定められた比例乗数αを乗算して、被検出ガスＧの濃度を求めて、表示制御部１６７としてのＣＰＵ１６２に渡す。
【００３４】
ステップＳ０８において、表示制御部１６７は、被検出ガスＧの濃度を示す画像データＩｄを生成した後、表示装置１７に転送する。表示装置１７は、受信した画像データＩｄに従って被検出ガスＧの濃度を表示する。
【００３５】
また、もしステップＳ０４において否定判断を行った場合、判断部１６５としてのＣＰＵ１６２は、ステップＳ０９において、第一戻り光Ｌｒ１に光路雑音Ｌｎが重畳されているとみなして、第一導出部１５に相関値Ｖｄを求めないように指示する。これに加えて、判断部１６５は、音声データＩｓを生成するように報知制御部１６８に指示する。
【００３６】
ステップＳ０１０において、報知制御部１６８は、被検出ガスＧを検出しなかったこと、または第一戻り光Ｌｒ１に光路雑音Ｌｎが重畳されていることを示す音声データＩｓを生成して、報知装置１８に転送する。報知装置１８は、受信した音声データＩｓに従って、被検出ガスＧを検出しなかったこと、または第一戻り光Ｌｒ１に光路雑音Ｌｎが重畳されていることを音声出力することでユーザに報知する。
【００３７】
≪１−３．効果≫
以上説明した通り、本実施形態に係るガス検知装置１によれば、第一位相差検出部１４で生成された位相差Δφ１に基づき、判断部１６５は、第一受光部１３で受信した第一戻り光Ｌｒ１に被検出ガスＧに起因する所定次数の高調波成分が重畳されているか否かを判断する。判断部１６５が肯定判断を行うと、第一導出部１５で求めた相関値Ｖｄに基づき、濃度算出部１６６は被検出ガスＧの濃度を算出する。それに対し、判断部１６５が否定判断を行うと、濃度算出部１６６は被検出ガスＧの濃度を算出しない。このように、本実施形態によれば、第一位相差検出部１４および判断部１６５をガス検知装置１に設けたことにより、第一戻り光Ｌｒ１に重畳されたものが被検出ガスＧに起因する所定次数の高調波成分か光路雑音Ｌｎかを正確に識別可能となる。上記に加え、被検出ガスＧの濃度を誤検出する可能性も低減させることが可能となる。
【００３８】
≪１−４．付記≫
なお、上記実施形態では、第一光源部１１は、直接変調方式でＦＭ変調光Ｌｆｍを生成するとして説明したが、第一光源部１１は、外部変調方式によりＦＭ変調光Ｌｆｍを生成しても構わない。この場合、第一光源部１１は、例えば半導体レーザと外部変調器とを含む。
【００３９】
また、上記実施形態では、被検出ガスＧを検出しなかったこと、または第一戻り光Ｌｒ１に光路雑音Ｌｎが重畳されていることは音声によりユーザに報知されていた。しかし、これに限らず、これらを表示装置１７に表示することでユーザに通知されても構わない。この場合、表示装置１７が報知装置１８となる。
【００４０】
≪２．第二実施形態≫
次に、図５以降を参照して、第二実施形態に係るガス検知装置１Ａおよびガス検知方法を詳説する。
【００４１】
≪２−１．ガス検知装置１Ａの構成≫
図５において、ガス検知装置１Ａは、図１のガス検知装置１と比較すると、偏向／透過部２１と、収容部２２と、第二受光部２３と、第二位相差検出部２４と、をさらに備える点で相違する。それ以外に、両ガス検知装置１，１Ａの間に構成面での相違点は無い。それ故、図５において、図１の構成に相当するものには同一参照符号を付け、それぞれの説明を省略する。
【００４２】
偏向／透過部２１は、例えばハーフミラーであって、第一光源部１１からのＦＭ変調光Ｌｆｍの光路上であって第一光源部１１の直ぐ近くに配置される。より詳細には、第一光源部１１と偏向／透過部２１との間に、被検出ガスＧやそれ以外の物体Ｏが存在しないように、両者は近接配置される。
【００４３】
以上のように配置された偏向／透過部２１は、第一光源部１１から出射されたＦＭ変調光Ｌｆｍの一部を収容部２２に向けて偏向するとともに、ＦＭ変調光Ｌｆｍの残りを監視領域Ａに向けて透過する。
【００４４】
収容部２２は、所謂サンプルガスセルであって、被検出ガスＧと同種のガスを基準ガスＧｒｅｆとして収容する容器である。上記偏向／透過部２１からのＦＭ変調光Ｌｆｍが基準ガスＧｒｅｆを透過するように、収容部２２は、赤外透過性の入射側窓部と出射側窓部とを有する。
【００４５】
以上の収容部２２において、偏向／透過部２１からのＦＭ変調光Ｌｆｍは入射側窓部から入射され、内部の基準ガスＧｒｅｆで吸収されつつ出射側窓部から、後段の第二受光部２３に向けて出射される。本実施形態では、第二受光部２３への入射光を第二戻り光Ｌｒ２という。
【００４６】
第二受光部２３は、例えばＳｉフォトダイオードである。このような第二受光部２３は、第二戻り光Ｌｒ２が入射されると光電変換を行って、その光量に相関する第二電気信号Ｓｅ２を生成し出力する。第二受光部２３の出力信号Ｓｅ２は第二位相差検出部２４に入力される。
【００４７】
第二位相差検出部２４は、入力信号Ｓｅ２に対してフーリエ変換（具体的にはＦＦＴ）を行って、入力信号Ｓｅ２に含まれる基本波成分の位相に対する、同信号Ｓｅ２に含まれる所定次数の高調波成分（例えば二次高調波）の位相の差（以下、第二位相差という）Δφ２を求める。第二位相差検出部２４は、求めた第二位相差Δφ２を制御部１６に出力する。
【００４８】
≪２−２．ガス検知装置１Ａの動作≫
次に、図６等を参照して、ガス検知装置１Ａの動作について説明する。
【００４９】
図６のステップＳ１１において、ＣＰＵ１６２は、図４のステップＳ０１と同様にして、第一光源部１１からＦＭ変調光Ｌｆｍを出射させる。このＦＭ変調光Ｌｆｍは、偏向／透過部２１にて二分岐され、一方は収容部２２に向けて偏向され、他方は監視領域Ａに向けて透過される。
【００５０】
ＦＭ変調光Ｌｆｍの他方は、被検出ガスＧで吸収されたり、それ以外の物体Ｏで散乱したりする等して、第一戻り光Ｌｒ１として第一受光部１３に入射される。ステップＳ１２において、第一受光部１３は、前述したとおり、第一戻り光Ｌｒ１に基づき第一電気信号Ｓｅ１を生成して、第一位相差検出部１４および第一導出部１５に出力する。
【００５１】
上記に対し、ＦＭ変調光Ｌｆｍの一方は、収容部２２に収容された基準ガスＧｒｅｆを透過して、第二戻り光Ｌｒ２として第二受光部２３に入射される。ステップＳ１３において、第二受光部２３は、前述したとおり、第二戻り光Ｌｒ２に基づき第二電気信号Ｓｅ２を生成して、第二位相差検出部２４に出力する。
【００５２】
ステップＳ１４，Ｓ１５において、位相差検出部１４，２４は、前述の通り、受光部１３，２３の出力信号Ｓｅ１，Ｓｅ２に基づき位相差Δφ１，Δφ２を求め、制御部１６にそれぞれ出力する。
【００５３】
ここで、監視領域ＡにおいてＦＭ変調光Ｌｆｍが被検出ガスＧで吸収されていれば、被検出ガスＧと基準ガスＧｒｅｆとは同種であることから、被検出ガスＧでも基準ガスＧｒｅｆでもＦＭ変調光Ｌｆｍには同様の高調波成分が生じる。従って、位相差Δφ１は、Δφ２は同じか許容範囲内にある。ＣＰＵ１６２は、ステップＳ１６において、判断部１６５として機能し、両位相差Δφ１，Δφ２が同じか許容範囲内か否かを判断する。
【００５４】
肯定判断を行った場合、ＣＰＵ１６２は、ステップＳ１７〜Ｓ１１０において、図４のＳ０５〜Ｓ０８と同様の手順で、表示装置１７に被検出ガスＧの濃度を表示させる。
【００５５】
また、もしステップＳ１６で否定判断を行った場合、ＣＰＵ１６２は、Ｓ１１１，Ｓ１１２において、ステップＳ０９，Ｓ０１０と同様にして、報知装置１８に、被検出ガスＧを検出しなかったこと等をユーザに報知する。
【００５６】
≪２−３．効果≫
以上説明した通り、本実施形態に係るガス検知装置１Ａによれば、両位相差検出部１４，２４で生成された位相差Δφ１，Δφ２に基づき、判断部１６５は、第一実施形態と同様、第一受光部１３で受信した第一戻り光Ｌｒ１に被検出ガスＧに起因する所定次数の高調波成分が重畳されているか否かを判断する。よって、第１−３欄で述べた効果を、本実施形態に係るガス検知装置１Ａも奏することが出来る。
【００５７】
≪２−４．付記≫
なお、第１−４欄で記載した事項は、本実施形態でも適用可能である。
【００５８】
２０１６年１月１５日出願の特願２０１６−００６０６４の日本出願に含まれる明細書、図面および要約書の開示内容は、すべて本願に援用される。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明に係るガス検知装置およびガス検知方法は、被検出ガス濃度の誤検出を低減可能であり、ガスモニタ装置等に有用である。
【符号の説明】
【００６０】
１，１Ａ  ガス検知装置
１１  第一光源部
１３  第一受光部
１４  第一位相差検出部
１５  第一導出部
１６  制御部
１６５  判断部
１６６  濃度算出部
１７  表示装置
１８  報知装置
２１  偏向／透過部
２２  収容部
２３  第二受光部
２４  第二位相検出部
【図１】
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【図２】
2017122659.tif 000005
【図３】
2017122659.tif 000006
【図４】
2017122659.tif 000007
【図５】
2017122659.tif 000008
【図６】
2017122659.tif 000009
【国際調査報告】
2017122659.tif 000010
2017122659.tif 000011
2017122659.tif 000012
2017122659.tif 000013