(57)【要約】【課題】制御装置が各種の判定処理に用いる検出値を容易に校正することができる制御装置および原子力プラント制御システムを提供すること。【解決手段】原子力プラント制御システム１は、検出器１０と、現場機器４０と、検出器１０の検出値に基づいて現場機器４０を制御する制御装置３０とを含む。制御装置３０は、検出器１０の検出値に基づいて、現場機器４０を制御するための判定処理を行う判定部３４と、検出器１０から制御装置３０に入力される検出値の下限値および上限値と、判定処理の前提となっている検出値の範囲の大きさを示すスパン値とを記憶する記憶部３５と、下限値に基づいて、判定部３４に入力される検出値のズレを校正するバイパス校正部３２と、下限値、上限値、およびスパン値に基づいて、判定部３４に入力される検出値の範囲を校正する範囲校正部３３とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子力プラントにおいて用いられる制御装置であって、
検出器の検出値に基づいて判定処理を行う判定部と、
前記検出器から当該制御装置に入力される前記検出値の下限値および上限値と、前記判定処理の前提となっている前記検出値の範囲の大きさを示すスパン値とを記憶する記憶部と、
前記下限値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値のズレを校正するバイパス校正部と、
前記下限値、前記上限値、および前記スパン値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値の範囲を校正する範囲校正部と
を備えることを特徴とする制御装置。
【請求項２】
前記バイパス校正部は、前記判定部に入力される前記検出値の値から前記下限値を減算した値を出力することを特徴とする請求項１に記載の制御装置。
【請求項３】
前記範囲校正部は、前記上限値および前記下限値の差と、前記スパン値との比率に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値の範囲を校正することを特徴とする請求項１または２に記載の制御装置。
【請求項４】
原子力プラント制御システムであって、
検出器と、
現場機器と、
前記検出器の検出値に基づいて前記現場機器を制御する制御装置とを含み、
前記制御装置は、
前記検出器の前記検出値に基づいて、前記現場機器を制御するための判定処理を行う判定部と、
前記検出器から当該制御装置に入力される前記検出値の下限値および上限値と、前記判定処理の前提となっている前記検出値の範囲の大きさを示すスパン値とを記憶する記憶部と、
前記下限値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値のズレを校正するバイパス校正部と、
前記下限値、前記上限値、および前記スパン値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値の範囲を校正する範囲校正部と
を備えることを特徴とする原子力プラント制御システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、制御装置および原子力プラント制御システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
原子力プラント制御システムでは、温度や圧力等を検出する検出器の検出値に基づいて、制御装置が各種の判定処理を行い、弁、ポンプ等の現場機器を制御する。検出器の検出値は、定期検査時の各部の調整等によって変動することがあるが、制御装置に入力される検出値の範囲が一定の範囲となるように、検出値を伝送する信号を中継する伝送器において、ゼロ値およびスパンが校正される（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献２】特開平６−１１７９５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
原子力プラントには、多数の検出器があり、これらの検出器に対応する伝送器を１つ１つ校正することは非常に手間がかかる。本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、制御装置が各種の判定処理に用いる検出値を容易に校正することができる制御装置および原子力プラント制御システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
１つの態様において、原子力プラントにおいて用いられる制御装置は、検出器の検出値に基づいて判定処理を行う判定部と、前記検出器から当該制御装置に入力される前記検出値の下限値および上限値と、前記判定処理の前提となっている前記検出値の範囲の大きさを示すスパン値とを記憶する記憶部と、前記下限値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値のズレを校正するバイパス校正部と、前記下限値、前記上限値、および前記スパン値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値の範囲を校正する範囲校正部とを備える。
【０００６】
他の態様において、原子力プラント制御システムは、検出器と、現場機器と、前記検出器の検出値に基づいて前記現場機器を制御する制御装置とを含む。前記制御装置は、前記検出器の前記検出値に基づいて、前記現場機器を制御するための判定処理を行う判定部と、前記検出器から当該制御装置に入力される前記検出値の下限値および上限値と、前記判定処理の前提となっている前記検出値の範囲の大きさを示すスパン値とを記憶する記憶部と、前記下限値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値のズレを校正するバイパス校正部と、前記下限値、前記上限値、および前記スパン値に基づいて、前記判定部に入力される前記検出値の範囲を校正する範囲校正部とを備える。
【発明の効果】
【０００７】
本発明に係る制御装置および原子力プラント制御システムは、制御装置が各種の判定処理に用いる検出値を容易に校正することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、本実施例に係る原子力プラント制御システムの構成を簡略的に示す図である。
【図２】図２は、校正処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図３】図３は、検出値の校正処理の具体例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に、本発明に係る制御装置および原子力プラント制御システムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。また、この実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。
【実施例】
【００１０】
まず、図１を参照しながら、本実施例に係る原子力プラント制御システム１の構成について説明する。図１は、本実施例に係る原子力プラント制御システム１の構成を簡略的に示す図である。図１に示すように、原子力プラント制御システム１は、検出器１０と、伝送器２０と、制御装置３０と、現場機器４０とを含む。図１では、各装置を１台ずつ図示しているが、これらの装置は目的に応じて複数存在してよい。また、これらの装置はそれぞれの目的毎に冗長化されてよい。
【００１１】
検出器１０は、温度、圧力、流速等を検出し、検出値を示す信号を出力する。伝送器２０は、検出器１０から制御装置３０へ伝送される信号を中継する。制御装置３０は、検出器１０から送られる信号に基づいて、現場機器４０を制御する。現場機器４０は、例えば、弁またはポンプであり、制御装置３０の制御に基づいて作動し、原子力プラントの稼働状況を変化させる。
【００１２】
制御装置３０は、入力部３１と、バイパス校正部３２と、範囲校正部３３と、判定部３４と、記憶部３５とを含む。判定部３４は、検出器１０の検出結果に基づいて判定処理を行い、判定処理の結果に応じて現場機器４０を制御する。判定部３４は、入力される値が一定の範囲にあることを前提として判定処理を行う。例えば、判定部３４は、原子力プラントの停止時は「０」が入力され、原子力プラントの出力が最大のときには「１２０」が入力され、その他の場合には、原子力プラントの出力の大きさに応じてそれらの間の値が入力されることを前提として、判定処理を行う。
【００１３】
入力部３１は、伝送器２０を経由して、検出器１０から伝送される信号を受信する。入力部３１は、アナログ／デジタル変換、増幅等の処理を信号に対して施してもよい。バイパス校正部３２は、検出器１０から伝送される信号の値の下限を、判定部３４が期待する範囲の下限に校正する（検出値のズレを校正する）。範囲校正部３３は、検出器１０から伝送される信号の値の範囲（スパン）を、判定部３４が期待する範囲に校正する。
【００１４】
記憶部３５は、半導体記憶装置、磁気記憶装置等の不揮発性を有する記憶装置を含む。記憶部３５は、入力下限値３５ａと、入力上限値３５ｂと、スパン値３５ｃとを記憶する。
【００１５】
入力下限値３５ａは、検出器１０から制御装置３０に入力される検出値の下限値である。入力下限値３５ａは、例えば、定期検査において各部の調整が完了した後に、原子力プラントの停止時に検出器１０から制御装置３０に入力される検出値に基づいて設定される。
【００１６】
入力上限値３５ｂは、検出器１０から制御装置３０に入力される検出値の上限値である。入力上限値３５ｂは、例えば、定期検査において各部の調整が完了した後に、原子力プラントの出力が最大のときに検出器１０から制御装置３０に入力される検出値に基づいて設定される。
【００１７】
スパン値３５ｃは、判定部３４が期待する検出値の範囲の大きさである。スパン値３５ｃは、判定部３４が判定処理の前提とする検出値の範囲の上限値と下限値の差に基づいて設定される。
【００１８】
入力下限値３５ａは、バイパス校正部３２および範囲校正部３３において用いられる。入力上限値３５ｂおよびスパン値３５ｃは、範囲校正部３３において用いられる。入力下限値３５ａ及び入力上限値３５ｂは、例えば、メンテナンス用の入力モジュール５０を制御装置３０に接続し、入力モジュール５０を操作することによって任意の値に設定される。
【００１９】
次に、図２を参照しながら、制御装置３０における検出値の校正処理について説明する。図２は、校正処理の処理手順を示すフローチャートである。図２に示すように、まず、バイパス校正部３２が、入力下限値３５ａに基づいて、判定部３４に入力される検出値のズレを校正する（ステップＳ１０１）。具体的には、バイパス校正部３２は、原子力プラントの停止時に検出器１０に入力される検出値が「０」となるように、判定部３４に入力される検出値から入力下限値３５ａを減算する。
【００２０】
続いて、範囲校正部３３が、入力下限値３５ａ、入力上限値３５ｂ、およびスパン値３５ｃに基づいて、判定部３４に入力される検出値の範囲を校正する（ステップＳ１０２）。具体的には、範囲校正部３３は、入力上限値３５ｂから入力下限値３５ａまでの範囲の大きさと、スパン値３５ｃとの比率に基づいて、判定部３４に入力される検出値を校正する。
【００２１】
次に、図３を参照しながら、制御装置３０における検出値の校正処理の具体例について説明する。図３は、検出値の校正処理の具体例を示す図である。図３に示す例では、検出器１０から伝送される検出値の範囲が「０．１」〜「４．６」であるものとする。また、入力部３１から出力される時点において、「０」〜「４．５」で固定であるものとする（伝送器の校正スパンは固定とするため）。さらに、判定部３４が判定処理の前提とする検出値の範囲が「０」〜「１２０」であるものとする。
【００２２】
この場合、入力下限値３５ａは、検出器１０から伝送される検出値の下限値である「０．１」に設定される。入力上限値３５ｂは、検出器１０から伝送される検出値の上限値である「４．６」に設定される。スパン値３５ｃは、判定部３４が期待する検出値の範囲の上限値と下限値の差である「１２０」に設定される。
【００２３】
バイパス校正部３２の減算部３２ａは、入力部３１から出力される信号の値から入力下限値３５ａの値を減算して出力する。この結果、バイパス校正部３２から出力される信号の値の範囲は、「０．１」〜「４．６」に校正される。すなわち、信号の値の範囲の下限値が、「０．１」に校正される。
【００２４】
範囲校正部３３の減算部３３ａは、入力上限値３５ｂの値から入力下限値３５ａの値を減算して出力する。この結果、入力部３１から出力される信号の値の範囲の大きさ（「４．５」）が算出される。範囲校正部３３の除算部３３ｂは、スパン値３５ｃの値を減算部３３ａから出力される値で除算する。この結果、入力部３１から出力される信号の値の範囲の大きさと判定部３４が判定処理の前提とする検出値の範囲の大きさとの比率（「１２０／４．５」）が算出される。
【００２５】
範囲校正部３３の乗算部３３ｃは、バイパス校正部３２から出力される信号の値と、除算部３３ｂから出力される値とを乗じて出力する。この結果、範囲校正部３３から出力される信号の値の範囲は、「０」〜「１２０」に校正される。すなわち、信号の値の範囲が、判定部３４が期待する値の範囲に校正される。
【００２６】
上述してきたように、本実施例では、入力下限値３５ａ、入力上限値３５ｂ、およびスパン値３５ｃという容易に知ることができる値を制御装置３０に設定するだけで、検出器１０の検出値を容易に校正することができる。さらに、入力下限値３５ａ等の設定は、例えば、保守用の端末を制御装置３０に接続することによって容易に行うことができるため、検出器１０が多数存在する場合であっても、手間が掛からない。
【００２７】
さらに、伝送器２０は、検出器１０に比較的近い場所にあることが多いため、伝送器２０において検出値を校正する場合には、伝送器２０までの移動に時間を要するが、制御装置３０は、中央制御室に比較的近い場所にあることが多いため、制御装置３０において検出値を校正する場合には、移動時間を節約できる。
【００２８】
なお、上記の実施例で示した原子力プラント制御システムの構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更することができる。例えば、上記の実施例では、下限を校正した後に範囲を校正する例について説明したが、範囲を校正した後に下限を校正してもよい。
【００２９】
また、判定部３４が複数ある場合であっても、期待する検出値の範囲が同一の判定部３４があれば、１つのスパン値３５ｃをそれらの判定部３４で共用してよい。このように校正することにより、記憶部３５を効率よく利用できると共に、設定の手間を低減できる。
【符号の説明】
【００３０】
１０    検出器
２０    伝送器
３０    制御装置
３１    入力部
３２    バイパス校正部
３２ａ  減算部
３３    範囲校正部
３３ａ  減算部
３３ｂ  除算部
３３ｃ  乗算部
３４    判定部
３５    記憶部
３５ａ  入力下限値
３５ｂ  入力上限値 
３５ｃ  スパン値
４０    現場機器
【図１】
2014142203.tif 000003
【図２】
2014142203.tif 000004
【図３】
2014142203.tif 000005