(57)【要約】【課題】本発明が解決しようとする課題は、被検体のＸ線曝射量を低減するＸ線透視装置、Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線出力制御プログラムを提供することである。【解決手段】上記の課題を解決するために、一実施形態のＸ線透視装置は、Ｘ線出力条件に基づき被検体にＸ線を曝射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出するＸ線検出部と、前記Ｘ線検出部にて検出されたＸ線のデータに基づいてＸ線画像を生成する画像生成部と、前記Ｘ線画像におけるパラメータの条件を設定する条件設定部と、前記Ｘ線の曝射が続いている間、連続的に得られるＸ線画像における前記パラメータを計測するパラメータ計測部と、前記パラメータ計測部にて計測されたパラメータと前記条件設定部にて設定されたパラメータの条件とを比較するパラメータ比較部と、前記パラメータ比較部の比較結果に基づき、前記Ｘ線出力条件を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線出力条件に基づき被検体にＸ線を曝射するＸ線源と、
前記Ｘ線を検出するＸ線検出部と、
前記Ｘ線検出部にて検出されたＸ線のデータに基づいてＸ線画像を生成する画像生成部と、
前記Ｘ線画像におけるパラメータの条件を設定する条件設定部と、
前記Ｘ線の曝射が続いている間、連続的に得られるＸ線画像における前記パラメータを計測するパラメータ計測部と、
前記パラメータ計測部にて計測されたパラメータと前記条件設定部にて設定されたパラメータの条件とを比較するパラメータ比較部と、
前記パラメータ比較部の比較結果に基づき、前記Ｘ線出力条件を制御する制御部と、
を有するＸ線透視装置。
【請求項２】
前記パラメータはＳＤ値であり、
前記パラメータ計測部は、前記Ｘ線画像におけるＳＤ値を計測し、
前記パラメータ比較部は、前記ＳＤ値と前記条件設定部にて設定された条件とを比較し、
前記制御部は、前記ＳＤ値と前記条件設定部にて設定された条件との比較結果に基づき、管電圧値又は管電流値のうち少なくともいずれか一方を制御することにより、前記Ｘ線出力条件を制御する請求項１に記載のＸ線透視装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記管電圧値又は管電流値のうち少なくともいずれか一方を、前記Ｘ線源が前記被検体に対してＸ線を曝射している最中に制御することにより、前記Ｘ線出力条件を制御する請求項２に記載のＸ線透視装置。
【請求項４】
前記パラメータはＣＴ値であり、
前記パラメータ計測部は、前記Ｘ線画像におけるＣＴ値の平均値を計測し、
前記パラメータ比較部は、前記平均値と前記条件設定部にて設定された条件とを比較し、
前記制御部は、前記ＣＴ値と前記条件設定部にて設定された条件との比較結果に基づき、管電圧値又は管電流値のうち少なくともいずれか一方を制御することにより、前記Ｘ線出力条件を制御する請求項１に記載のＸ線透視装置。
【請求項５】
前記Ｘ線画像に対してＲＯＩを設定するＲＯＩ設定部を更に有し、
前記パラメータ計測部は、前記ＲＯＩ内におけるＳＤ値を計測する請求項１乃至３いずれか一項に記載のＸ線透視装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記パラメータ計測部にて計測された前記パラメータが前記条件を満たしていない場合に、前記Ｘ線源から曝射するＸ線の線量又は線質を増減させる制御を行う請求項１乃至４いずれか一項に記載のＸ線透視装置。
【請求項７】
Ｘ線出力条件に基づき被検体にＸ線を曝射するＸ線源と、
前記Ｘ線を検出し、前記Ｘ線源とともに回転動作を行うＸ線検出部と、
前記Ｘ線検出部にて検出された、ある回転範囲における投影データに基づいて画像再構成を行う画像生成部と、
前記Ｘ線画像におけるパラメータの条件を設定する条件設定部と、
前記Ｘ線の曝射が続いている間、連続的に得られるＸ線画像における前記パラメータを計測するパラメータ計測部と、
前記パラメータ計測部にて計測されたパラメータと前記条件設定部にて設定されたパラメータの条件とを比較するパラメータ比較部と、
前記パラメータ比較部の比較結果に基づき、前記Ｘ線出力条件を制御する制御部と、
を有するＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記画像生成部は、Ｎ回目の画像再構成を行うための投影データを取得する前記回転範囲において前記Ｘ線源及び前記Ｘ線検出部が回転しているときに前記比較結果に基づいて前記Ｘ線出力条件が変化する制御が行われた場合、その変化した場所以降の投影データのみを用いて前記Ｎ回目の画像再構成を行う請求項７記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項９】
Ｘ線源に、被検体に対してＸ線を曝射させ、
画像生成部に、Ｘ線検出部にて検出した前記Ｘ線のデータに基づいてＸ線画像を生成させ、
条件設定部に、前記Ｘ線画像におけるパラメータの条件を設定させ、
パラメータ計測部に、前記Ｘ線の曝射が続いている間、連続的に得られるＸ線画像における前記パラメータを計測させ、
パラメータ比較部に、前記パラメータ計測部にて計測されたパラメータと前記条件設定部にて設定されたパラメータの条件とを比較させ、
制御部に、前記パラメータ比較部の比較結果に基づき、前記Ｘ線出力条件を制御させるＸ線出力制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線透視装置、Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線出力制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線曝射中に曝射位置を任意に変えて被検体の診断画像をリアルタイムに表示する、Ｘ線透視撮影という技術がある。この技術は、Ｘ線源とＸ線検出器とが対向するようにＣアームにて保持されるＸ線診断装置と、ドーム型のガントリを備えたＸ線ＣＴ装置とにおいて適用されている。操作者は、リアルタイムに表示されたＸ線透視画像を参考にして血管やカテーテル等の位置を確認しながら手術を行う。Ｘ線透視撮影にあたり、操作者は、被検体に曝射するＸ線の条件（管電圧、管電流等）を設定する。このとき、被検体の体型等に依存したＸ線の条件を設定するのが好ましいが、必ずしも常に最適な条件を設定して撮影に望むことができるわけではない。Ｘ線透視撮影を開始し、Ｘ線透視画像を確認すると、Ｘ線の線量不足によって必要な画像情報が得られていないケースがある。この場合、一度スキャンを中断して再度Ｘ線条件の設定を行わなくてはならない。故に操作者は、被検体の側からＸ線条件の設定を行うコンソールがある場所まで移動しなくてはいけない。これらは検査時間の遅延につながる。そして、Ｘ線透視撮影を開始し、Ｘ線透視画像が充分な画質であるか否かを操作者が判断するのに、どうしても数秒の時間を要する。従って、操作者の判断によってＸ線曝射を停止し、再度Ｘ線条件を設定してＸ線透視撮影を行う従来のやり方では、検査時間の遅延だけでなく、被検体の被曝量が増加してしまうという悪しき結果を招くことにもなる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２８９６９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明が解決しようとする課題は、被検体のＸ線曝射量を低減するＸ線透視装置、Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線出力制御プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するために、一実施形態のＸ線透視装置は、Ｘ線出力条件に基づき被検体にＸ線を曝射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出するＸ線検出部と、  前記Ｘ線検出部にて検出されたＸ線のデータに基づいてＸ線画像を生成する画像生成部と、前記Ｘ線画像におけるパラメータの条件を設定する条件設定部と、前記Ｘ線の曝射が続いている間、連続的に得られるＸ線画像における前記パラメータを計測するパラメータ計測部と、前記パラメータ計測部にて計測されたパラメータと前記条件設定部にて設定されたパラメータの条件とを比較するパラメータ比較部と、前記パラメータ比較部の比較結果に基づき、前記Ｘ線出力条件を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態における、Ｘ線透視装置の一例を示す概略図である。
【図２】本実施形態における、それぞれのＳＤ値におけるＸ線画像の一例を示す概略図である。
【図３】本実施形態における、回転リング、Ｘ線源及びＸ線検出部の概略図である。
【図４】本実施形態における、ＳＤ値に対応したＸ線出力制御の一例を示す概略図である。
【図５】本実施形態における、ＲＯＩを設定した場合のＳＤ値計測の一例を示す概略図である。
【図６】本実施形態における、フローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、図面を参照して本実施形態について説明する。
【０００８】
図１は、本実施形態におけるＸ線透視装置の一例を示す概略図である。ここではＸ線透視装置１０としてＸ線ＣＴ装置を例にとって説明する。
【０００９】
Ｘ線透視装置１は、ガントリ１０とコンソール２０を有する。
【００１０】
ガントリ１０内には回転リング１４が設けられ、回転機構（図示なし）によって回転する。回転リング１４内にはＸ線源１１とＸ線検出部１２が対向して配置されており、回転リング１４の中心部は開口し、そこに寝台に備わる天板に載置された被検体Ｐが挿入される。
【００１１】
そしてガントリ１０はＸ線源１１によるＸ線の曝射を制御するＸ線源制御部１３を有する。
【００１２】
コンソール２０は、画像生成部２１と、ＲＯＩ設定部２２と、条件設定部２３と、ＳＤ値計測部２４と、ＳＤ値比較部２５と、システム制御部２６と、操作部２７と、画像表示部２８と、データ保存部２９とを有する。
【００１３】
Ｘ線検出部１２は、Ｘ線源１１と共に被検体Ｐの周りをＸ線源１１との対向関係が保たれたまま回転制御が行われる。そしてＸ線検出部１２は、回転動作中にＸ線源１１から曝射され、被検体Ｐを透過し減衰したＸ線を検出する。そしてＸ線検出部１２は、検出したＸ線のデータを画像生成部２１へと送る。
【００１４】
画像生成部２１は、Ｘ線検出部１２にて検出されたＸ線をもとに投影データを収集し、ＦＢＰ（Ｆｉｌｔｅｒｅｄ  Ｂａｃｋ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法によって再構成し、被検体ＰのＸ線画像を生成する。即ち画像生成部２１は、Ｘ線源１１及びＸ線検出部１２が被検体Ｐの周りを回転動作している間、実質的にリアルタイムで投影データを収集し画像再構成を行う。このとき画像生成部２１は、ＦＢＰ法によって画像再構成を行うために例えば半周程度の回転分の投影データを使用する。
【００１５】
ＲＯＩ設定部２２は、Ｘ線画像における関心領域（以下、ＲＯＩ：Ｒｅｇｉｏｎ  Ｏｆ  Ｉｎｔｅｒｅｓｔ）を設定する。
【００１６】
条件設定部２３は、Ｘ線画像のＲＯＩ内における、例えば画素値の標準偏差（以下、ＳＤ：Ｓｔａｎｄａｒｄ  Ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）値の許容範囲等の条件を決める。
【００１７】
ＳＤ値計測部２４は、Ｘ線画像のＲＯＩ内におけるＳＤ値を検出する。
【００１８】
ＳＤ値比較部２５は、条件設定部２３にて設定された条件と、ＳＤ値計測部２４にて検出されたＳＤ値とを比較する。このとき、例えばＳＤ値の許容範囲が条件として設定されている場合は、ＳＤ値計測部２４にて検出されたＳＤ値がその許容範囲内にあるか否かを判断する。そしてＳＤ値比較部２５は、その判断の結果をシステム制御部２６へと送る。
【００１９】
システム制御部２６は、ＳＤ値比較部２５による判断の結果に基づいて、Ｘ線源制御部１３を制御する。詳細は図３を用いて後述する。また、システム制御部２６は、コンソール２０内における各構成要素の制御を行う。
【００２０】
操作部２７は、例えばマウス等のポインティングデバイスであり、撮影条件の設定などの各種操作を行うために操作者によって操作される。
【００２１】
画像表示部２８は、画像生成部２１にて生成されたＸ線画像を表示する。
【００２２】
データ保存部２９は、画像生成部２１にて生成されたＸ線画像のデータや、条件設定部２３にて設定されたＳＤ値の条件等を保存する。
【００２３】
図２は、本実施形態における、それぞれのＳＤ値におけるＸ線画像の一例を示す概略図である。
【００２４】
ＳＤ値はノイズの程度を測る尺度であり、ＳＤ値が大きいほど（（ａ）→（ｂ）→（ｃ））画質が悪い。図２（ｃ）に示すようなノイジーな画像は、操作者が治療を行うに際しての障害となりうる。
【００２５】
以下、図３を用いて、計測したＳＤ値に基づいてＸ線出力を制御する一例を説明する。
【００２６】
具体的には、ＳＤ値計測部２４がＸ線画像のＳＤ値を計測する。そしてＳＤ値比較部２５が、その計測したＳＤ値と、予め操作者によって定められていたＳＤ値範囲とを比較する。そしてシステム制御部２６が、その比較した結果に基づいてＸ線源制御部１３の制御を行うことにより、Ｘ線出力を変化させる。ここでいうＸ線出力の変化とは、例えば管電流値の制御によるＸ線線量の変化や、管電圧値の制御によるＸ線の透過能力の変化等を指す。
【００２７】
このとき画像生成部２１は、状況に応じて画像再構成を任意のタイミングにて行う。以下、画像再構成のタイミングを図３を用いて説明する。
【００２８】
図３は、回転リング１４、Ｘ線源１１及びＸ線検出部１２の概略図である。
【００２９】
画像生成部２１は、例えばＸ線源１１がＡ地点からＣ地点まで（Ｘ線検出部１２がＣ地点からＡ地点まで）回転したとき得られた実質的に半周分の投影データをもとに画像再構成を行う。そして前述のとおり、ＳＤ値計測部２４は、その画像におけるＳＤ値を計測する。ＳＤ値比較部２５は、この計測されたＳＤ値と予め設定された条件とを比較する。そしてシステム制御部２６は、比較結果に基づいてＸ線源制御部１３を制御することにより、Ｘ線条件を制御する。
【００３０】
このとき、例えば図３におけるＢ地点でＸ線条件が変更された場合、画像生成部２１は例えば以下のような２つの方法により画像再構成を行う。
【００３１】
（１）画像生成部２１は、途中（Ｂ地点）でＸ線条件が変更されても気にせず画像再構成を行う。（図３における回転α、回転γそれぞれの範囲において得られた投影データをもとに画像再構成）
（２）Ｘ線条件が変わった点（Ｂ地点）から半周分の投影データをもとに画像再構成を行う。（図３における回転βの範囲において得られた投影データをもとに画像再構成）
これら例えば２つの方法のうちどちらの方法を採用するかは、操作者が任意に決めてよい。
【００３２】
図４は、本実施形態における、ＳＤ値に対応したＸ線出力制御の一例を示す概略図である。
【００３３】
データ保存部２９は、例えば図４に示すような「撮影モード」「ＳＤ値」がそれぞれ対応したテーブルを記憶している。そして操作者は、マウスやキーボード等の操作部２７を操作することにより、所望の画質のＸ線画像を得るためのＳＤ値の条件を設定する。ここではＳＤ値の条件として「Ｂ  ＜  Ｘ２  ≦  Ｃ」を設定した場合の例を、（Ｃａｓｅ１）・（Ｃａｓｅ２）としてそれぞれ説明する。なおこのとき、ＳＤ値の範囲を「Ｂ  ＜  Ｘ２  ≦  Ｃ」のようにその場で範囲を定めてもいいし、予めその様な範囲と紐付けられている「中画質モード」等の撮影モードを選択することによって簡易的に定めてもよい。
【００３４】
（Ｃａｓｅ１：Ｘ線画像がノイジーな場合）
Ｃａｓｅ１におけるＸ線画像は、ＳＤ値がＸ３である。即ちＳＤ値がＣからＤの範囲内にあるため、ノイズが多い低画質な画像である。そこで、システム制御部２６は、ＳＤ値が予め設定されたＸ２になるようにＸ線源制御部１３を制御する。このときシステム制御部２６は、例えば所望の範囲内のＳＤ値が得られるまで徐々に管電流値を上昇させていってもよいし、現在のＳＤ値と所望のＳＤ値との差分の値に基づいて、ＳＤ値が所望の範囲に収まるであろう管電流値まで一気に上昇させてもよい。
【００３５】
（Ｃａｓｅ２：過度のＸ線曝射が行われている場合）
Ｃａｓｅ２におけるＸ線画像は、ＳＤ値がＸ１である。即ちＳＤ値がＡからＢの範囲内にあるため、予め設定された条件（Ｘ２）よりも被検体Ｐに対して過度のＸ線曝射が行われている。そこで、システム制御部２６は、ＳＤ値がＸ２になるようにＸ線源制御部１３を制御する。このときシステム制御部２６は、例えば所望の範囲内のＳＤ値が得られるまで徐々に管電流値を下降させていってもよいし、現在のＳＤ値と所望のＳＤ値との差分の値に基づいて、ＳＤ値が所望の範囲に収まるであろう管電流値まで一気に下降させてもよい。
【００３６】
図５は、本実施形態における、ＲＯＩを設定した場合のＳＤ値計測の一例を示す概略図である。
【００３７】
図５（ａ）は、ＲＯＩ内におけるＳＤ値は、ＲＯＩ外におけるＳＤ値と比較して低い値である一例を示す概略図である。
【００３８】
図５（ｂ）は、図５（ａ）と比較してＲＯＩ内におけるＳＤ値が高い値である一例を示す概略図である。
【００３９】
図５（ｃ）は、ＲＯＩ内及びＲＯＩ外におけるＳＤ値が、共に図５（ｂ）と比較して低い値である一例を示す概略図である。
【００４０】
図５に示すようにＲＯＩを設定する場合、システム制御部２６は、ＲＯＩ内において計測されたＳＤ値に基づき、上述したようなＸ線出力制御を行う。即ち、図４（ａ）に示すようにＲＯＩ外における画質がノイジーなものであっても、ＲＯＩ内におけるＳＤ値が許容範囲内である限りは、システム制御部２６はＸ線出力制御を行わなくてもよい。これは、予め設定したＲＯＩ内において良好な画質が得られれば、治療の際に操作者にとっての支障とならないためである。
【００４１】
図６は、本実施形態におけるフローチャートである。
【００４２】
（ステップＳ１）
Ｘ線検出部１３は、操作者による操作部の操作に基づいて曝射され、被検体Ｐを透過し減衰したＸ線を検出する。そして画像生成部２１は、Ｘ線検出部１３にて検出されたＸ線のデータに基づいて被検体ＰのＸ線画像を生成する。そしてＲＯＩ設定部２２は、そのＸ線画像をもとにした操作者による操作部２７の操作に基づいてＲＯＩを設定する。
【００４３】
（ステップＳ２）
条件設定部２３は、操作者による操作部２７の操作に基づき、ステップＳ１において設定したＲＯＩ内におけるＳＤ値の許容範囲を設定する。
【００４４】
（ステップＳ３）
システム制御部２６は、操作者による操作部２７の操作に基づき、Ｘ線源制御部１３を制御してＸ線源１１からＸ線を曝射させる。これにより、Ｘ線透視撮影が開始される。なお、システム制御部２６は、このＸ線曝射後に「Ｘ線曝射停止の操作」が例えば操作者等によって行われない限り、Ｘ線源１１からのＸ線曝射を継続して行わせる。ここでいう「Ｘ線曝射停止の操作」とは、例えばフットスイッチである操作部２７を足で踏む行為等である。
【００４５】
（ステップＳ４）
ＳＤ値計測部２４は、ステップＳ２において設定されたＲＯＩ内におけるＳＤ値を計測する。
【００４６】
（ステップＳ５）
ＳＤ値比較部２５は、ステップＳ４において計測されたＳＤ値と、ステップＳ２において設定されたＳＤ値の許容範囲とを比較する。ステップＳ４において計測されたＳＤ値がこの許容範囲内であった場合（Ｙ）はステップＳ４へと移る。一方、ステップＳ４において計測されたＳＤ値がこの許容範囲外であった場合（Ｎ）はステップＳ６へと移る。
【００４７】
（ステップＳ６）
システム制御部２６は、ＳＤ値がステップＳ２で設定された許容範囲内に収まるように、Ｘ線出力条件を制御する。ステップＳ４において計測されたＳＤ値が、この許容範囲よりも高い場合（＝画質がノイジーである場合）には、システム制御部２６は、例えば管電流値を上げてＸ線源１１から曝射されるＸ線の線量を増大させる制御を行う。一方、ステップＳ４において計測されたＳＤ値が、この許容範囲よりも低い場合（＝画質には問題ないが、過度のＸ線曝射が行われている場合）には、システム制御部２６は、例えば管電流値を下げてＸ線源から曝射されるＸ線の線量を減少させる制御を行う。
【００４８】
（ステップＥ）
ステップＳ３〜ステップＳ６いずれかのステップ中において、例えば操作者によるフットスイッチの操作等による「Ｘ線曝射停止の操作」が行われると、システム制御部２６は、Ｘ線源１１からのＸ線曝射を停止させる制御を行う。これにより、Ｘ線透視撮影が終了する。
【００４９】
なお、予めＲＯＩを設定して、そのＲＯＩ内におけるＳＤ値の変化に基づいてＸ線出力制御を行う例を示したが、本実施形態はこれに限ることはない。例えばＲＯＩの設定を行わずとも、本実施形態における有用性が損なわれることはない。
【００５０】
また、画像のノイズを検出してその結果に基づいてＸ線出力制御を行う方法としてＳＤ値を用いる例を示したが、本実施形態はこれに限ることはない。例えばＳＤ値の代わりにＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）値を用い、画像内／画像に予め設定されたＲＯＩ内におけるＣＴ値の平均値を求めることによっても、本実施形態において扱う課題に対する１つの解決策となる。
【００５１】
また、ＳＤ値計測部２４によるＸ線画像のＳＤ値の計測は、Ｘ線透視撮影中に連続的に生成されるＸ線画像毎に行われてもよいし、任意のタイミングで行われてもよい。任意のタイミングにて計測する場合は、操作者が操作部２７を操作することにより、予め条件設定部２３にてそのタイミングの条件を設定する。
【００５２】
なお、本実施形態においてＸ線透視装置１の一例としてＸ線ＣＴ装置の説明を行ったが、本実施形態はＸ線ＣＴ装置に限るものではない。Ｘ線源及びＸ線検出部を湾曲するアームで保持し、Ｘ線の強度分布に基づいて透過画像を生成するＸ線診断装置においても、本実施形態は適用される。
【００５３】
以下、本実施形態における効果を説明する。
【００５４】
本実施形態によると、ＳＤ値計測部が、Ｘ線透視画像におけるＳＤ値をＸ線透視撮影中は所定の間隔で検出することにより、操作者は適切なＸ線条件のもとでＸ線透視撮影を行うことができる。これにより、被検体に対する不要なＸ線被曝を防ぐことができる。
【００５５】
また、ＲＯＩ設定部が、Ｘ線透視画像においてＲＯＩを設定することにより、操作者は、ＲＯＩ内におけるＳＤ値に基づいた適切なＸ線条件のもとでＸ線透視撮影及び治療を行うことができる。操作者にとって必要な箇所であるＲＯＩ内におけるＳＤ値に基づいたＸ線条件の制御が行われることから、操作者は、より好適なＸ線透視撮影及び各種治療を行うことができる。
【００５６】
なおＳＤ値の変化は、例えば被検体の体動や、手技の最中にＸ線曝射範囲に操作者の手等が重なってしまった場合にも起こる。そこで、条件設定部にてＳＤ値の許容範囲を設定しておくことにより、ＳＤ値がその範囲内に収まるようにＸ線出力を制御することができる。従ってＳＤ値の変化にその都度対応することにより、操作者は、好適なＸ線出力条件のもとでＸ線透視撮影及び治療を行うことができる。
【００５７】
なお、Ｘ線透視撮影が開始されてからＸ線出力条件調整までのステップ（ステップＳ３〜ステップＳ６）は、１枚目のＸ線画像が収集されてから程なくして踏まれる。即ち、最初の「Ｘ線画像のＳＤ値が、予め設定したＳＤ値の条件に合っているか否か」の判断は、少なくとも従来の操作者によるＸ線画像の目視判断より早く行われる。即ち本実施形態によると、測定されたＳＤ値をもとにして自動的にＸ線出力の制御を行うことから、操作者による目視によって画質を判断していた従来のやり方よりもより早く好適な条件のもとでＸ線透視撮影を行うことができる。これにより、検査時間の短縮や被検体のＸ線被曝量の低減を実現する。
【００５８】
１つの実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。本実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００５９】
Ｐ  被検体
１０  Ｘ線透視装置
１１  Ｘ線源
１２  Ｘ線検出部
１３  Ｘ線源制御部
２１  画像生成部
２３  条件設定部
２４  ＳＤ値計測部
２５  ＳＤ値比較部
【図１】
2014054323.tif 000003
【図２】
2014054323.tif 000004
【図３】
2014054323.tif 000005
【図４】
2014054323.tif 000006
【図５】
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【図６】
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