(57)【要約】【課題】真空チャンバのクリーニングに使用するためのシステム及び方法を提供すること。【解決手段】真空チャンバのクリーニングに使用するためのシステム及び方法が説明される。この方法は、プラズマ接続ポートを介して真空チャンバをプラズマ生成ユニットに接続すること、及び、排気ポートを介して真空チャンバを高真空ポンプユニットに接続することを含む。プラズマ接続ポートを通しての真空チャンバへのフローコンダクタンスは、プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子及びクリーニング物質の通過を制限するように制御され、それにより、真空チャンバをクリーニング物質でクリーニングすると同時に真空チャンバ内部の動作圧力を維持する。【選択図】図１Ａ
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
真空チャンバのクリーニングに使用する方法であって、
真空チャンバを、プラズマ接続ポートを介してプラズマ生成ユニットに接続し、且つ、排気ポートを介して高真空ポンプユニットに接続するステップと、
前記プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子及びクリーニング物質に対する、前記プラズマ接続ポートを通しての前記真空チャンバへのフローコンダクタンスを制御するステップと
を含み、それにより、前記真空チャンバを前記クリーニング物質でクリーニングすると同時に該真空チャンバ内部の動作圧力を維持することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記荷電粒子及びクリーニング物質に対する前記フローコンダクタンスを制御するステップは、
前記真空チャンバの前記動作圧力と前記プラズマ生成ユニット内の圧力との間の定常状態圧力差を決定するステップと、
前記クリーニング物質がそれを通って前記真空チャンバへと流れる前記プラズマ接続ポート内の障壁板の１つ又はそれ以上のパラメータを選択するステップと
を含み、それにより、前記真空チャンバ内への前記クリーニング物質の所望の流量をもたらすことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記１つ又はそれ以上のパラメータは、少なくとも、前記所望の流量に対応する前記障壁板内の開口部の寸法を含むことを特徴とする、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記障壁板の前記パラメータを選択するステップは、該障壁板のための導電性材料組成物及び電気的条件を選択するステップを含み、それにより、前記真空チャンバ内への前記荷電粒子の伝搬を実質的に防止することを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記開口部の寸法は１ミリメートルから３ミリメートルまでの間であり、前記動作圧力はマイクロトル域にあり、前記プラズマ生成ユニット内の圧力は少なくともミリトル域にあることを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記真空チャンバ内で１つ又はそれ以上のプロセスを実施するために、前記動作圧力下で前記真空チャンバを連続的に動作させるステップと、
前記プラズマ生成ユニットから前記真空チャンバに流れ込む前記クリーニング物質によって前記真空チャンバをクリーニングするために、前記プラズマ生成ユニット及び前記高真空ポンプユニットを動作させるステップと、
を含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記真空チャンバを特定の排気速度Ｓで排気するように前記高真空ポンプユニットを動作させるステップと、
前記プラズマ接続ポートの前記フローコンダクタンスを、該フローコンダクタンスと前記排気速度との間の比が、前記真空チャンバ内の前記動作圧力と前記プラズマ生成ユニット内の圧力との間の比に実質的に同様になるように、選択するステップと、
を含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
真空チャンバをクリーニングするためのシステムであって、
プラズマ接続ポートを介して前記真空チャンバに接続されるプラズマ生成ユニットと、
排気ポートを介して前記真空チャンバに接続される高真空ポンプユニットと、
を備え、
前記プラズマ接続ポートは、前記プラズマ生成ユニット内で生成される荷電粒子及びクリーニング物質に対する、該プラズマ接続ポートを通しての前記真空チャンバへのフローコンダクタンスを定めるように構成された障壁板を備え、
それにより、前記真空チャンバを前記クリーニング物質でクリーニングすると同時に該真空チャンバ内の所定の動作圧力を維持することを特徴とするシステム。
【請求項９】
前記障壁板は、前記フローコンダクタンスが前記真空チャンバ内の前記動作圧力の定常状態もたらすように選択される、１つ又はそれ以上のパラメータを有し、
前記１つ又はそれ以上のパラメータは、少なくとも、前記真空チャンバ内への前記クリーニング物質の流量を決定するための障壁板内の開口部の寸法を含む、
ことを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記開口部の前記寸法は約０．３−１ミリメートルの範囲であり、前記動作圧力はマイクロトル域にあり、前記プラズマ生成ユニット内の圧力は少なくともミリトル域にあることを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
前記障壁板は、選択された導電性材料組成物から作成され、所定の電気的条件を有し、それにより、前記真空チャンバ内への前記荷電粒子の伝搬を実質的に防止することを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１２】
前記障壁は、内部に開口部を有する電気的に接地された金属板であることを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１３】
前記障壁板は、前記プラズマ接続ポートにおいて前記真空チャンバの壁と一体であることを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１４】
前記障壁板は前記プラズマ接続ポートを横切って取付けられることを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１５】
プラズマ接続ユニットに接続するためのプラズマ接続ポートと、高真空ポンプユニットに接続するための排気ポートとを有する真空チャンバであって、
前記プラズマ接続ポートは、前記真空チャンバの壁と一体の障壁板を備え、前記障壁板は、所定のプラズマ生成ユニットから前記真空チャンバ内への、前記プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子及びクリーニング物質に対する該障壁板を通しての所定のフローコンダクタンスを定めるように構成され、
それにより、前記真空チャンバは、前記障壁を通って流れる前記クリーニング物質によってクリーニングされると同時に、内部の所定の動作圧力下で動作することができることを特徴とする真空チャンバ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、真空チャンバ、特に電子顕微鏡システムのチャンバをクリーニングする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
真空チャンバは、分析プロセスに対して中断の無い環境を与えるために種々の用途に広く使用されている。例えば、通常の電子顕微鏡は、真空チャンバ内に置かれた試料を、例えば典型的な圧力
【数１】
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において検査するように動作する。そのような低い圧力では、多くの材料は、揮発性物質として振る舞い、チャンバ内に置かれた１つ又は複数の試料を汚染する可能性がある蒸気を発生することがある。例えば、蒸発した炭化水素（ＨＣ）分子は、典型的には、真空チャンバ内の移動台の潤滑用に用いられる種々のオイルから発生するものであり、しばしばチャンバの壁に吸着して、チャンバ内に（短時間の間でも）置かれた試料を汚染する。
【０００３】
真空チャンバ内部の汚染分子の量を減らすための幾つかの従来の技術は、チャンバ内へのフリーラジカル（特に酸素ラジカル）の注入を利用する。これらの技術は、適切なフリーラジカルを生成するプラズマ発生システムを利用するものであり、このプラズマ発生システムは、圧力２−１０−４トルで動作して、ラジカル、例えば原子状酸素（Ｏ０）粒子を発生することができ、これが真空チャンバ内の汚染物質と反応してその排出を可能にする。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
当該技術分野では、真空チャンバから種々の汚染物質、特に炭化水素分子を除去するための新しい手法及びクリーニング技術が必要とされている。さらに、当該技術分野では、真空チャンバ内での種々のプロセスの動作を可能にすると同時に真空チャンバからの汚染物質の連続的な排出を可能にするクリーニング技術が必要とされている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
汚染分子、特に炭化水素（ＨＣ）分子から真空チャンバをクリーニングするための従来の技術は、酸素ラジカル（中性酸素原子）を含んだ空気プラズマを利用するものであり、通常、大部分の真空ベースの検査用途のための動作圧力よりも著しく高い圧力で動作する。そのうえ、生成された空気プラズマは荷電粒子、例えば、自由電子及び／又はイオンを含むことが多く、これらは短絡を引き起こす可能性があるので、真空チャンバ内に配置された電子的要素を損傷する可能性がある。従って、従来のプラズマに基づくクリーニング技術は、動作中の要素をシャットダウンし、チャンバ内の圧力を上昇させ、そのときだけプラズマ発生器に接続してチャンバのクリーニングを進めることを必要とする。
【０００６】
本発明の技術は、プラズマ生成ユニットから真空チャンバ内への物質流量の制御を利用する。プラズマ生成ユニットから真空チャンバへとクリーニング物質を流しながら、同時に真空チャンバ内の定常状態動作圧力を維持することを可能にする、適切な流量が選択される。さらに、本発明の技術は、真空チャンバ内への荷電粒子（電子及び／又はイオン）の漏出を無くすか又は少なくとも著しく減少させることができるので、チャンバ内のデバイスの電子的損傷を防ぐことができる。このことは、プラズマ生成ユニット内で生成された酸素ラジカルをチャンバに注入するためのプラズマ生成ユニットの連続的動作を可能にし、同時にチャンバ内のプロセス、例えば検査プロセスの動作を進行することができる。
【０００７】
物質流量の制御及び定常状態動作圧力の維持は、本発明においては、プラズマ生成ユニットから真空チャンバ内への（空気）プラズマ流の経路内に置かれる障壁を設けることによって達成される。障壁は、プラズマ生成ユニットから真空チャンバ内への物質／粒子（荷電粒子及びクリーニング物質）の通過を適切に制限して、真空チャンバ内の所望の動作圧力を維持しながら２つのユニット間の接続チャネル／ポート内に適切な圧力プロファイルをもたらすように構成される。接続チャネルは、実際には、プラズマ生成ユニットと真空チャンバとの間に付加的な有効フロー体積（フローライン）を生成し、この有効フローラインの出口における、従って真空チャンバへの入口における障壁が、真空チャンバ内への物質流を適切に制限する。障壁の幾何学的パラメータは、適切なフローコンダクタンスをもたらすように選択され、このフローコンダクタンスが真空チャンバの排気との組み合わせで、真空チャンバをその動作に十分な所定の圧力（即ち、動作圧力）付近の適切な圧力範囲に保ち、その一方でプラズマ生成ユニットは異なる（通常、より高い）動作圧力で動作する。本発明は、実際には、プラズマ生成ユニットの出口圧力（プラズマ生成ユニットから流出する物質の典型的な圧力）と真空チャンバ内で維持されるべき動作圧力との間の差を制御することを理解されたい。より具体的には、真空チャンバ内の所与の所望の動作圧力に対して、障壁は、主チャンバとプラズマチャンバとの間の圧力差を可能にする適切な開口部直径を有するように構成され、プラズマ圧力が、対応するポンプで同時に排気されている真空チャンバ内の動作圧力を維持するのに適したものとなるようにされる。
【０００８】
さらに、本発明者等は、障壁を導電性材料組成物から作成し、障壁の電気接地を設けることによって、障壁が荷電粒子の真空チャンバ内への通過を制限する（実質的に防止する）ことを見出した。
【０００９】
障壁は、実際には、プラズマ生成ユニット及び真空チャンバからの物質流に対する開口部配置（少なくとも１つの開口部）を定め、好ましくは開口部を備えた（穴をあけられた）導電性（例えば、金属）板である。開口部は任意の形状、例えば、円形、多角形又は任意の他の断面のものとすることができ、開口部配置は、プラズマ生成ユニット（第１の圧力を有する）から真空チャンバ（第２の圧力が維持される）へと通過する所与の粒子流に対する所望のフローコンダクタンスをもたらすように選択されたサイズを有する。開口部配置のサイズは、用いる多数の開口部のサイズによって定められることを理解されたい。障壁（板状要素）の厚さは、数ミリメートル程度、又は、より厚く、例えば、およそ数センチメートル程度にすることができる。障壁板は、任意の導電性材料のものとすることができ、従って、「金属板」という用語は、本明細書で用いる場合には広く解釈されるべきである。障壁板は、ステンレス鋼又は貴金属のような比較的高耐食性の材料で作成されることが好ましい。一般に、任意の他の導電性材料、特に金属、例えばアルミニウムを使用することができるが、腐食が障壁の寿命を短くするので頻繁に交換する必要を生じる。
【００１０】
障壁は、真空チャンバのプラズマ入口ポート内に組み込まれることを理解されたい。例えば、真空チャンバの壁は、プラズマ生成ユニットの出口に結合された適切な開口部配置を有するように作成される。代替的に、障壁は、真空チャンバのプラズマ入口ポートに取り付けられる、例えば、真空チャンバをプラズマ生成ユニットの出口に結合するパイプの内部に取付けられる、別個の要素とする。
【００１１】
上記のように、障壁は、それを通過する所与の粒子に対する所定のフローコンダクタンスをもたらすように構成される。所定のフローコンダクタンスは、プラズマ生成ユニットから真空チャンバ内へと粒子を流しながらチャンバ内の所望の定常状態圧力値をもたらすように、選択することができる。障壁のフローコンダクタンスの典型的な値は、所望の圧力差、及び真空チャンバから気体を排気する排気速度に従って選択される。
【００１２】
従って、１つの広い態様により、本発明は、真空チャンバのクリーニングに使用する方法を提供し、該方法は、真空チャンバを、プラズマ接続ポートを介してプラズマ生成ユニットに接続し、且つ、排気ポートを介して高真空ポンプユニットに接続することと、プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子及びクリーニング物質に対する、プラズマ接続ポートを通しての真空チャンバへのフローコンダクタンスを制御することと、を含み、それにより真空チャンバをクリーニング物質でクリーニングすると同時に真空チャンバ内部の動作圧力を維持する。
【００１３】
本発明の幾つかの実施形態により、荷電粒子及びクリーニング物質に対するフローコンダクタンスを制御することは、真空チャンバの動作圧力とプラズマ生成ユニット内の圧力との間の定常状態圧力差を決定することと、クリーニング物質がそれを通って真空チャンバへと流れるプラズマ接続ポート内の障壁板の１つ又はそれ以上のパラメータを選択することと、を含み、それにより、真空チャンバ内へのクリーニング物質の所望の流量をもたらす。この１つ又はそれ以上のパラメータは、少なくとも、所望の流量に対応する障壁板の開口部の寸法を含むことができる。開口部の寸法は、１ミリメートルから３ミリメートルまでの間とすることができ、動作圧力はマイクロトル域にあり、プラズマ生成ユニット内の圧力は少なくともミリトル域にある。開口部は円筒形とすることができ、クリーニング物質の流れの伝搬方向に平行に、又は流れの伝搬方向からある角度で、配向させることができる。開口部は、変化する直径を有するように構成することができる。幾つかの実施形態により、障壁板は複数の開口部を備えることができ、この複数の開口部の数及び幾何学的性質は、所望の流量を与える複合フローコンダクタンスをもたらすように選択することができる。
【００１４】
障壁板のパラメータを選択することは、障壁板のための導電性材料組成物及び電気的条件を選択することを含み、それにより、真空チャンバ内への荷電粒子の伝搬を実質的に防ぐ。
【００１５】
幾つかの実施形態により、本方法は、真空チャンバ内で１つ又はそれ以上のプロセスを実行するために動作圧力下で真空チャンバを連続的に動作させることと、プラズマ生成ユニットから真空チャンバに流れ込むクリーニング物質によって真空チャンバをクリーニングするために、プラズマ生成ユニット及び高真空ポンプユニットを連続的に動作させることと、を含む。
【００１６】
本方法は、真空チャンバを特定の排気速度Ｓで排気するように高真空ポンプを作動させることと、プラズマ接続ポートのフローコンダクタンスを、フローコンダクタンスと排気速度との比が、真空チャンバ内の動作圧力とプラズマ生成ユニット内の圧力との間の比に実質的に同様になるようにすることと、を含むことができる。
【００１７】
クリーニング物質は、真空チャンバ内の炭化水素汚染物質と反応して高真空ポンプユニットで排気される揮発性分子を生成する、酸素ラジカル、水素ラジカル、又はプラズマ生成ユニット内で生成される他のラジカルを含むことができる。
【００１８】
本発明の別の広い態様により、真空チャンバをクリーニングするためのシステムが提供され、該システムは、プラズマ接続ポートを介して真空チャンバに接続されるプラズマ生成ユニットと、排気ポートを介して真空チャンバに接続される高真空ポンプユニットと、を備える。プラズマ接続ポートは、プラズマ生成ユニット内で生成される荷電粒子及びクリーニング物質に対する、プラズマ接続ポートを通しての真空チャンバへのフローコンダクタンスを定めるように構成された障壁板を備え、それにより、真空チャンバをクリーニング物質でクリーニングすると同時に真空チャンバ内の所定の動作圧力を維持する。
【００１９】
障壁板は、フローコンダクタンスが真空チャンバ内の動作圧力の定常状態をもたらすように選択される、１つ又はそれ以上のパラメータを有することができ、この１つ又はそれ以上のパラメータは、少なくとも、真空チャンバ内へのクリーニング物質の流量を決定するための障壁板内の開口部の寸法を含むことができる。
【００２０】
障壁板は、選択された導電性材料組成物から作成することができ、所定の電気的条件を有することができ、それにより、真空チャンバ内への荷電粒子の伝搬を実質的に防止する。幾つかの実施形態において、障壁板は、内部に開口部を有する電気的に接地された金属板である。開口部の寸法は、約０．３−１ミリメートルの範囲にすることができ、他方、動作圧力はマイクロトル域とすることができ、プラズマ生成ユニット内の圧力は少なくともミリトル域とすることができる。
【００２１】
幾つかの実施形態により、障壁板は、プラズマ接続ポートにおいて真空チャンバの壁と一体であり、又は、プラズマ接続ポートを横切って取付けられる。
【００２２】
本発明のさらに別の広い態様により、プラズマ接続ユニットに接続するためのプラズマ接続ポート、及び高真空ポンプユニットに接続するための排気ポートを有する真空チャンバが提供される。プラズマ接続ポートは、真空チャンバの壁と一体になった障壁板を備え、該障壁板は、所定のプラズマ生成ユニットから真空チャンバ内への、プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子及びクリーニング物質に対する該障壁板を通しての所定のフローコンダクタンスを定めるように構成され、それにより、真空チャンバは、障壁を通って流れるクリーニング物質によってクリーニングされると同時に、内部の所定の動作圧力下で動作することができる。
【００２３】
本開示を理解するため、及びそれを実際にどのように実施することができるかを理解するために、これから、添付の図面を参照しながら、実施形態を単に非限定的な例として説明する。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１Ａ】本発明の一実施例によって構成された、特定の真空ベースのプロセス、例えば、試料の検査のためのＳＥＭのための真空システムの略図である。
【図１Ｂ】プラズマ生成ユニットと真空チャンバとの間の接続チャネルの機能をより詳細に示す。
【図２】プラズマ生成ユニットの出口と真空チャンバとの間の所望のフローコンダクタンスをもたらすように構成された、本発明のシステム内で用いられる障壁の一実施例をより詳細に示す。
【図３Ａ】本発明の技術において使用することができる障壁板を貫通する開口部構造を例示する。
【図３Ｂ】本発明の技術において使用することができる障壁板を貫通する開口部構造を例示する。
【図３Ｃ】本発明の技術において使用することができる障壁板を貫通する開口部構造を例示する。
【図３Ｄ】本発明の技術において使用することができる障壁板を貫通する開口部構造を例示する。
【図４】真空チャンバ内で検査された後の試料の汚染の程度に対応する接触角の測定結果を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
本発明は、真空チャンバを、それに対するプラズマ流、典型的には、例えば酸素ラジカル、水素ラジカル又は典型的には汚染物質と反応して揮発性化合物を生成することができる任意のラジカルなどの種々のラジカルを含む、空気プラズマを利用して、効果的にクリーニングするための技術を提供する。この技術は、真空チャンバ内へのプラズマ流を制限する障壁を設け、それにより、クリーニングしながら真空チャンバ内での種々のプロセスの連続的な動作を可能にすることに依拠する。
【００２６】
図１Ａは、特定の真空条件を必要とする１つ又はそれ以上のプロセスを実行するために構成された処理システム１００の概略を示す。システム１００は、試料検査システム、例えば、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、集束イオンビーム顕微鏡、電子ビーム書込みシステム、物理気相堆積（ＰＶＤ）システム、イオンビーム注入システム、又は高真空条件で動作するように構成された任意の他のシステムとすることができる。システム１００は、真空チャンバを高真空ポンプユニット２０に接続するための排気ポート２２とプラズマ生成ユニット３０に接続するためのプラズマポート３２とを有する真空チャンバ１０を含む。この特定の非限定的な例においては、真空チャンバは試料検査／処理システムにおいて用いられるように示されており、従って試料ホルダ１２が真空チャンバ内に配置される。具体的には示されていないが、システム１００によって実行されるプロセスに関連するその他の種々の要素が適宜設けられることに留意されたい。そのような真空ベースのシステム１００によって実施される種々のプロセス及びそのようなプロセスを実施するためのシステム構成は公知であり、本発明の一部分を形成するものではなく、従って具体的に説明する必要はないが、但し、システム１００は、高真空ポンプユニットとプラズマ生成ユニットとの間に相互接続される真空チャンバを利用することに留意されたい。
【００２７】
プラズマ生成ユニット３０は、任意の適切なプラズマ生成器とすることができる。プラズマ生成ユニットは、酸素ラジカル、水素ラジカル又はその他のラジカルなどの適切なラジカルを生成し、それらを真空チャンバ１０に送り込むように動作する。ラジカルは、真空チャンバ内の望ましくない炭化水素（ＨＣ）分子と化学反応して、ＨＣ分子を比較的軽い揮発性分子、例えば水及び二酸化炭素分子に転化し、それらは真空チャンバ１０から容易にポンプで排出することができる。
【００２８】
炭化水素分子は、真空チャンバ内に配置された機器／要素に用いられる種々の潤滑剤及びオイル、例えば試料ホルダ１２などの移動台を潤滑するオイルから、しばしば蒸発する。これらの分子はチャンバ１０の壁に吸着し、検査中の試料を汚染するか又はチャンバ１０内の他のプロセスに影響を及ぼす可能性がある。
【００２９】
上で非限定的に述べたように、プラズマ生成ユニット３０は、汚染ＨＣ分子の除去のために、酸素ラジカルを生成して真空チャンバへと送出する／導く。適切なプラズマを生成するために、プラズマ生成ユニットは、多くの場合、真空チャンバ内の動作圧力よりも遥かに高い特定の圧力範囲内の圧力で動作する。例えば、プラズマ生成器の典型的な動作圧力は２トルから１０−２トルまでの範囲であり、場合により、ある種のプラズマ生成器はより低い圧力、即ち、１０−４トルまで下がった圧力で動作することができる。これに対して、真空チャンバ１０内の典型的な真空ベースのプロセスは、真空チャンバ内の圧力が１０−６トルもの低い圧力、そしてさらにはもっと低い、即ちマイクロトル域の圧力であることを要する。そのうえ、真空チャンバに結合されたプラズマ生成ユニットの動作の結果、通常、電子及びイオンのような荷電粒子がチャンバ内へと導かれる。これらの荷電粒子はチャンバ内にあるときに、短絡及びチャンバ内の電子機器に対する損傷を引き起こす可能性がある。従来、これらの問題は、チャンバ内の全てのプロセスを停止させ、チャンバ内の圧力を動作圧力より高くし、その後でチャンバをクリーニングのためのプラズマ生成ユニットに接続することによって解決することができた。
【００３０】
本発明の技術は、プラズマ接続ポート３２内のフローコンダクタンス・パラメータを変化させ、接続ポート内の圧力プロファイル、及び、プラズマ生成ユニットの出口圧力と真空チャンバ内の圧力との間の圧力差を定めて、真空チャンバ内の適切な定常状態圧力を維持することに基づく。プラズマ接続ポート３２内のフローコンダクタンスを制限するために、プラズマ生成ユニット３０と真空チャンバ１０との間の該ポートに障壁３４が配置される。この障壁は、プラズマ接続ポート３２を構成するか又はその一部分とすることができることを理解されたい。障壁３４は、プラズマ生成ユニット３０から真空チャンバ１０内への粒子の通過を制限して、真空チャンバ１０内の適切な定常状態圧力を保つことができるように構成される。障壁３４のフローコンダクタンス特性は、接続されるプラズマ生成ユニットに対する圧力差の条件下で真空チャンバの所望の定常状態圧力をもたらすために、適切な幾何学的パラメータ（例えば、長さ、直径）の選択によって決定される。
【００３１】
本発明の幾つかの実施形態による処理システム１００が、プラズマ接続ポート３２の構成の一例をより具体的に示す図１Ｂに例示される。図に示すように、プラズマ接続ポート３２は、プラズマ生成ユニットの出口３８で構成される流入口と、真空チャンバ１０への入口における障壁３４内の開口部３６で構成される流出口とを有し、実際には、プラズマ生成ユニット３０と真空チャンバ１０との間に付加的な有効フロー体積４０を与える。この付加的な体積４０が、適切に構成された障壁３４とともに、真空チャンバ１０へと流入する物質流を制御及び制限して、それによりチャンバ内の所望の動作圧力を維持する能力をもたらす。以下で式１−４を参照しながら説明するように、物質はプラズマ生成ユニット３０から、プラズマ生成ユニット３０の出口開口部３８を通じて付加的体積４０に流れ込み、この付加体積から真空チャンバ１０に流れ込む。フロー体積４０の入口及び出口開口部３８及び３６は、特定のフローコンダクタンスを有し、これが物質流及び真空チャンバにおけるポンプ２０の動作に影響し、従って、開口部の両側の圧力変化を可能にする。従って、障壁３４のパラメータを適切に選択して所望のフローコンダクタンスをもたらすことにより、真空チャンバ１０内で所望の定常状態圧力を維持することができる。
【００３２】
図２を参照すると、好ましくはステンレス鋼又は他の金属のような適切な導電性材料で作成され、断面寸法（直径）ｄを有する開口部／貫通孔３６を有するように構成された板状の障壁３４が示される。障壁３４の直径ｄは、プラズマ生成ユニット３０内の所与の圧力又は圧力範囲、及び、プラズマ接続ポート３２における適切な圧力差を定める真空チャンバ１０内の所望の定常状態圧力又は圧力範囲に従って、選択される。
【００３３】
障壁のパラメータ（例えば、幾何学的パラメータ及び導電率）の選択は、真空チャンバ１０内で得られるべき所望の定常状態圧力から導出される。これに関して、以下のことを理解されたい。真空チャンバ１０から出る粒子の数は、積ＰＣ・Ｓによって決定され、ここでＰＣはチャンバ１０内部の動作圧力、Ｓは、チャンバ１０とポンプ２０との間の接続ポート２２を通して真空ポンプ２０によって排気される気体（空気）の排気速度である。
【００３４】
定常状態においては、実質的に同じ数の粒子がプラズマ接続ポートを通してチャンバ１０に入り、この数は、定常状態条件において積（Ｐｐ−Ｐ＊）・Ｃｐによって決定され、ここでＰｐはプラズマ生成ユニット３０内の動作圧力であり、Ｐ＊は、プラズマ生成ユニットと真空チャンバ１０との間に（開口部を備えた障壁３４によって）作り出された体積４０内の圧力であり、Ｃｐはプラズマ生成ユニット３０の出口３８のフローコンダクタンスである。従って、システムが定常状態にあるとき、真空チャンバ１０内の所望の動作圧力は、以下の関係／式によって決定される。
ＰＣ・Ｓ＝（Ｐｐ−Ｐ＊）・Ｃｐ          （式１）
障壁とプラズマ生成ユニットとの間の付加的体積内の圧力Ｐ＊は、式１によって次のように決定される。
Ｐ＊＝Ｐｐ−ＰＣ・Ｓ／Ｃｐ              （式２）
さらに、定常状態条件において、同様の関係が真空チャンバと付加的体積４０の間に成立し、次式が与えられる。
ＰＣ・Ｓ＝（Ｐ＊−ＰＣ）・Ｃ            (式３)
ここでＣは障壁のフローコンダクタンスである。
【００３５】
障壁３４の所望のフローコンダクタンスは、式２と式３とを組み合せて以下のように与えられる。
【数２】
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【００３６】
式４は、障壁３４のフローコンダクタンスＣを変化させることによって、プラズマ生成ユニット３０の出口と真空チャンバ１０との間の圧力差を可能にして、真空チャンバ１０の所望の定常状態圧力を維持することができることを示す。コンダクタンスＣは、障壁３４の幾何学的性質及びそれを通過する気体（空気プラズマ、酸素ラジカル）の熱力学的性質によって決定され、そしてまた圧力値に依存し得ることに留意されたい。従って、実用上、障壁の幾何学的パラメータは、気体の所与の熱力学的性質及びシステム内で用いられる所与の圧力値に対して選択される。
【００３７】
式１から分かるように、そして真空チャンバ１０の動作圧力Ｐｃは典型的にはプラズマ生成ユニット３０の出口圧力Ｐｐより遥かに低い（例えば、大きさが２桁又はそれ以上異なる）ことを考慮すると、障壁３４のフローコンダクタンスＣと排気速度Ｓとの間の比は、場合によっては、動作圧力Ｐｃと出口圧力Ｐｐとの間の比によって近似することができる。例えば、真空チャンバが、２００Ｌ／ｓの排気速度で動作するポンプに接続され且つ１０−３トルの出口圧力を有するプラズマ生成ユニットに接続されているときに、真空チャンバが１０−６トルの動作圧力で動作するためには、プラズマ接続ポートにおける障壁のフローコンダクタンスは約０．２Ｌ／ｓとする必要がある。プラズマ生成ユニットの出口圧力がより高い場合には、それに応じて障壁のフローコンダクタンスをより低くする必要がある。
【００３８】
典型的なＳＥＭの真空チャンバ内の圧力は（１−５）×１０−６トルであり、プラズマ生成ユニットの典型的な出口圧力は１０−３トルであることを考慮して、本発明者等は、金属板内の直径約０．２−１ミリメートルの開口部の形態の障壁が、システム動作の所望の定常状態に対応する所望のフローコンダクタンスをもたらすことができることを見出した。従って、障壁のコンダクタンスは、次式を近似的に満たすように選択することができる。
【数３】
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【００３９】
式５は、比較的大きい圧力差、即ち、プラズマ生成ユニット内の圧力が真空チャンバ内の所望の定常状態動作圧力よりも遥かに高いことを仮定し、且つ、障壁のフローコンダクタンスの正確な所望の値が上記の式４から直接に得られることに基づく近似であることに留意されたい。より具体的には、上記の近似は、チャンバ１０の動作圧力Ｐｃがプラズマ生成ユニット３０の出口圧力Ｐｐに比べておよそ３桁小さくなり得るので、成立することができる。しかし、ポンプ２０の排気速度Ｓがプラズマ生成ユニット３０の出口３８のフローコンダクタンスＣｐよりも３桁大きくなる可能性がある。そのような場合には、式５に示した近似は成り立たず、障壁のフローコンダクタンスＣは式４に従って選択すべきである。
【００４０】
低圧力条件における円形開口部のフローコンダクタンス、即ち、開口部を通る層流の物質流を仮定し、且つ、異なる粒子間の相互作用を無視したフローコンダクタンスは、主に、開口部の直径Ｄ及び物質流の平均速度ｖａｖｅに依存する。これは次式を与える。
Ｃ＝ｖａｖｅ・π・Ｄ２／４            (式６)
【００４１】
平均物質速度は、物質の質量と温度によって決定することができる。約３００°Ｋの温度における空気プラズマに関して、平均物質速度は、具体的な物質／粒子に依存して４７０ｍ／ｓ程度である。より具体的には、３００°Ｋにおいて酸素分子は４４５ｍ／ｓの平均速度を有し、他方、窒素分子は約４７６ｍ／ｓの平均速度を有する。この平均速度はプラズマ生成ユニット３０の出口におけるフローコンダクタンスＣｐもまた決定し、これを用いて障壁のフローコンダクタンスの正確な所望の値、従って障壁内の開口部のサイズを計算することができる。
【００４２】
図３Ａ−図３Ｄを参照すると、障壁板３４内の開口部／貫通孔３６の幾つかの構成が示されている。図３Ａは円筒状水平貫通孔３６を示し、図３Ｂは傾いた（非水平）円筒状貫通孔３６を示し、図３Ｃは直径が変化する貫通孔３６を有する障壁板３４を示し、図３Ｄは複数の貫通孔を有する障壁板３４を示し、この非限定的な例においては５つの貫通孔３６ａ−３６ｅが示されている。障壁板の幾何学的パラメータ、特に、障壁板３４の１つ又はそれ以上の開口部／貫通孔３６の幾何学的パラメータは、前述のように所望のフローコンダクタンスをもたらすように選択されることに留意されたい。上記の式６は、短い円筒状開口部を通る層流に関するフローコンダクタンスを記述することに留意されたい。障壁板３４を厚板として設ける、即ち、開口部３６が管状（図３Ａのような）又はさらには水平ではない経路を有する管の形態（図３Ｂのような）となるようにすると、所与の開口部のフローコンダクタンスはより小さくなる。さらに、直径が変化する開口部３６（図３Ｃのような）を設計することにより、ラジカル（電気的に中性）のフローコンダクタンスを維持すると同時に荷電粒子に対する高い障壁をもたらすことができる。さらに、幾つかの実施形態によれば障壁板３４は幾つかの開口部を含むことができ、５つのそのような開口部３６ａ−３６ｅが図３Ｄに示されている。障壁板３４内の複数の開口部３６は、好ましくは、総計のフローコンダクタンスが上記のように所望の適切なフローコンダクタンスをもたらすように設計すべきである。このような障壁板の構造は、荷電粒子が板の材料と相互作用することができる面積が大きいことに起因する荷電粒子の効率的な遮断をもたらすことができる。
【００４３】
上述のように、本発明の障壁はまた、プラズマ生成ユニットから真空チャンバ内への荷電粒子の通過を無くすか又は実質的に減らすために利用することができる。そのような荷電粒子（電子及び／又はイオン）は、真空チャンバ内で動作する電子デバイスと相互作用したときに電気的問題を生じさせかねない。この目標を達成するために、本発明者等は、障壁を導電性材料から構築し、その一方で障壁がシステム動作中に電気的に接地するようにした。プラズマ生成ユニットによって生成されてそこから所望のラジカルと共に抜け出した荷電粒子、即ち、電子及び／又はイオンは、従って、導電性障壁によって捕獲される。このことは、真空チャンバ内への荷電粒子の移動を無くすか又は少なくとも著しく減らす。電気接地された障壁のこの効果は、真空チャンバ内に配置することができる、真空チャンバ内部で種々異なるプロセスを動作させるのに用いられる種々の電子素子に対する保護を提供する。
【００４４】
上記のように構成された障壁を設けることは、真空チャンバ内へのラジカルの流れを減らすことがあり、従って真空チャンバをＨＣ分子からクリーニングするのに必要な時間を長引かせる可能性がある。しかし、適切に設計された障壁を設けることで、クリーニング期間中に真空チャンバ内で動作中のプロセスを停止する必要のない、真空チャンバの連続的クリーニングが可能になる。これに関して、図４を参照すると、真空チャンバ内のＨＣ汚染の量に相当する接触角の計測値が示されている。接触角計測はそれ自体知られており、試料表面上に置かれた水（又は他の液体）の液滴が生じさせる角度の計測に基づくものである。ＨＣ分子によって汚染された表面はより疎水性となるので接触角がより大きくなる。図４は、ＳＥＭ検査ツールの真空チャンバ内に従来の検査プロセスに必要な時間と同様の時間、典型的には数時間にわたって置いた後の半導体試料の上面上の接触角の計測値を示す。計測の設定は以下の通りである。ＳＥＭ計測に用いられる種類の真空チャンバを「ダミーチャンバ」、即ち、なんらかの計測、検査及び他のプロセスを実行するように装備されていないダミーチャンバとして用いた。しかし、汚染に寄与することが知られているケーブルなどの特定の装備は、チャンバ内部に配置した。ＳＥＭ計測システムにおいて用いられる種類の移送ユニットによってシリコンウェハをチャンバ内に配置し、チャンバ内部に２時間放置した。その後、チャンバ外部で行われる汚染計測のために、ウェハをチャンバから取り出した。チャンバは、圧力を２・１０−４トルのレベルまで上昇させた従来技術を用いたクリーニングの期間を除いて、全実験時間の間、動作圧力（１０−６トル）に維持された。最初の計測（１日目）は、なんらかのクリーニングプロセスを実行する前の真空チャンバ内に置かれた試料ウェハについて行われ、ウェハの上面上で１５．７°の平均接触角が得られ、このような計測値は比較的汚染されたチャンバに対応する。次に、真空チャンバを、従来技術を用いて２・１０−４トルのチャンバ圧力においてＨＣ汚染からクリーニングした。チャンバをクリーニングした後、クリーニングプロセスの効率を示す２つの追加の計測が行われ、それぞれ５．５°（２日目）及び５．８°（４日目）の接触角の結果が得られた。
【００４５】
従来技術を用いてチャンバをクリーニングした後、プロセスレベルの真空（１０−６トル）が回復され、普通の操作におけるように、ケーブルからの汚染物質の気体放出の結果として、チャンバを再び汚染されるままにした。このことは、５日目、８日目及び１７日目に行われ、１３．５°、１５°及び１５．２°の接触角を生じた追加の３つの計測に反映されている。次に、１７日目に本発明の技術を用いてチャンバをクリーニングしたが、これは非限定的な事例として酸素ラジカルを用いて行った。図２に示すような直径１ｍｍの開口部を含む金属障壁をプラズマ生成ユニットと真空チャンバのプラズマ接続ポートとの間に配置した。この金属板は荷電粒子を収集するように接地され、開口部は、プラズマ生成ユニットの出口と真空チャンバとの間の適切な流量を維持して真空チャンバを動作圧力に維持するように設けられた。本発明によるクリーニングプロセスは１７日目から２４日目まで行われ、その間、真空チャンバ内の圧力は５×１０−６トル（これは、実際に、そのような真空チャンバ内で実施される殆どのプロセスの動作圧力である）であり、プラズマ生成ユニット内で生成された荷電粒子は金属障壁によって捕獲され、チャンバに入らないようにされた。クリーニングプロセス中（２２日目及び２４日目）に、接触角の２つの追加の計測が行われ、７．２°及び６．６°であった。これらの計測値は、汚染度の連続的な減少に対応し、真空チャンバのＨＣ分子による汚染は次第に減少している。上記のように、本発明の技術を用いたクリーニングプロセスは多少遅く、より長い時間（数時間に対して数日）かかるが、試料のＳＥＭ検査といったチャンバ内部の種々のプロセスの動作を停止する必要のないチャンバのクリーニングを可能にする
【００４６】
通常、従来のクリーニング技術を使用するとき、即ち、より高い圧力でプラズマクリーニングを実施するためには、幾つかの重要なサブシステムをシャットダウンし、クリーニング終了時にオンにする必要があり、回復期間を必要とする。本発明の技術では、動作圧力を維持することができるので、これを排除することができる。真空中で実行すべき特定のプロセスに応じて、本発明を利用するクリーニングプロセスをシステムの動作に組み込むことができる。換言すれば、本発明は、通常のオフラインのクリーニングではなく、いわゆるオンラインのクリーニングを提供する。
【００４７】
このように、本発明の技術は、真空チャンバ内の動作中のプロセス（例えば、試料検査）の連続的動作を可能にすると同時に炭化水素汚染物質からの真空チャンバの効率的なクリーニングを提供し、荷電粒子とチャンバ内の電子デバイスとの相互作用を無くすか又は少なくとも著しく減らす。
【符号の説明】
【００４８】
１０：真空チャンバ
１２：試料ホルダ
２０：高真空ポンプユニット
２２：排気ポート
３０：プラズマ生成ユニット
３２：プラズマ接続ポート
３４：障壁
３６：開口部（貫通孔）
３８：プラズマ生成ユニットの出口（出口開口部）
４０：フロー体積（付加的体積）
１００：処理システム
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図４】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
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