(57)【要約】【課題】端子金具が半挿入状態にあることの検知能力をより向上させる。【解決手段】端子金具３０に係止して抜け止めするべくキャビティ１２に弾性撓み可能に設けられたランス１３が具備されたコネクタ１０と、コネクタ１０におけるランス１３の撓み許容空間１５に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピン５０が具備された検査治具４０を備える。ランス１３の先端面２０における同ランス２０の板厚方向の撓み許容空間１５側に寄った領域の一部には、所定寸法後退した第２被検知部２３が形成される一方、半挿入検知ピン５０には、ランス１３の先端面２０における第２被検知部２３が形成された領域２１のうちの残りの領域である第１被検知部２４の進入を許容する逃がし溝５２が、その先端面から進入方向後方に向けて形成されている。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子金具が挿入されるキャビティを有するハウジングと、
前記端子金具に係止して抜け止めするべく前記キャビティに弾性撓み可能に設けられたランスと、が具備されたコネクタと、
検査すべきコネクタを保持するホルダと、
このホルダに保持された前記コネクタと対向した形態で前記ホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、
前記スライダに設けられ前記コネクタにおける前記ランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、
前記半挿入検知ピンと一体的に前記コネクタ側に向けて突出して設けられ前記半挿入検知ピンが前記撓み許容空間内に所定量進入した場合に前記端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンと、が具備された検査治具と、
からなる端子半挿入検知構造において、
前記ランスの先端面における同ランスの板厚方向の前記撓み許容空間側に寄った領域の一部には、同ランスの先端面から所定寸法後退した第２被検知部が形成される一方、
前記半挿入検知ピンには、前記ランスの先端面における前記第２被検知部が形成された前記領域のうちの残りの領域である第１被検知部の進入を許容する逃がし溝が、その先端面から進入方向後方に向けて形成されていることを特徴とする端子半挿入検知構造。
【請求項２】
前記ランスの先端面に形成された前記第２被検知部は、当該ランスの幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されていることを特徴とする請求項１記載の端子半挿入検知構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コネクタ内に端子金具が正規に挿入されているか否かを治具を用いて検知する端子半挿入検知構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
コネクタは一般的に、合成樹脂製のハウジングのキャビティ内に、電線の端末に接続された端子金具が挿入され、端子金具は同キャビティ内に設けられたランスを撓み許容空間に向けて弾性的に撓み変位させつつ押し込まれ、正規位置まで挿入されたところで、ランスが元姿勢に弾性変位して端子金具に係止することにより、端子金具が抜け止めされて収容されるようになっている。
【０００３】
従来このようなコネクタについて、ハウジングのキャビティ内に端子金具が正規に挿入されているか否かを検知する端子半挿入検知構造として、下記特許文献１に記載されたものが知られている。このものは、検査するコネクタを保持するホルダと、保持されたコネクタと対向した形態でホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダとが備えられ、スライダには、コネクタにおけるランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、この半挿入検知ピンと一体的にコネクタ側に向けて突出して設けられ半挿入検知ピンが撓み許容空間内に所定量進入した場合に端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンとが対をなして設けられた構造となっている。
【０００４】
検査するに当たっては、コネクタをホルダに保持するとともに、後退位置にあったスライダをホルダ側に向けて進出させる。端子金具がキャビティ内に正規に挿入されてランスにより係止されていると、スライダに設けられた対応する半挿入検知ピンが、ランスの撓み許容空間内に進入する一方、これと対をなす導通検査ピンが端子金具に当接することで電気的な導通が取られ、これにより端子金具がキャビティ内に正規に挿入されていることが検知される。
【０００５】
これに対して、端子金具がキャビティ内の正規位置まで挿入されておらず、すなわち半挿入状態に留められている場合は、ランスが撓み許容空間内に撓んだ状態に押さえられているため、スライダを進出させた場合に、対応する半挿入検知ピンが撓んだ状態にあるランスの先端面に当接し、それ以上撓み許容空間内に進入することができず、それに伴い導通検査ピンが端子金具とは接触できない手前側の位置に留まることで電気的導通が取られず、これによって端子金具はキャビティ内に正規挿入されておらず、すなわち半挿入状態にあることが検知されるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平７−１６１４２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、上記のように端子金具が半挿入状態に留められた場合において、ランスの撓み許容空間側への撓み量にばらつきが出るおそれがある。仮に撓み量が小さいと、ランスの先端部と撓み許容空間の上面との間に隙間ができ、半挿入検知ピンが進出した際に、同隙間に強引に割って入って正規量進入することが許容され、ひいては導通検査ピンが端子金具に当接することになる。すなわち端子金具が半挿入状態であるにも拘わらず、正規挿入されていると誤検知される結果となる。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、その目的は、端子金具が半挿入状態にあることの検知能力をより向上させるところにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、端子金具が挿入されるキャビティを有するハウジングと、前記端子金具に係止して抜け止めするべく前記キャビティに弾性撓み可能に設けられたランスと、が具備されたコネクタと、検査すべきコネクタを保持するホルダと、このホルダに保持された前記コネクタと対向した形態で前記ホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ前記コネクタにおける前記ランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、前記半挿入検知ピンと一体的に前記コネクタ側に向けて突出して設けられ前記半挿入検知ピンが前記撓み許容空間内に所定量進入した場合に前記端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンと、が具備された検査治具と、からなる端子半挿入検知構造において、前記ランスの先端面における同ランスの板厚方向の前記撓み許容空間側に寄った領域の一部には、同ランスの先端面から所定寸法後退した第２被検知部が形成される一方、前記半挿入検知ピンには、前記ランスの先端面における前記第２被検知部が形成された前記領域のうちの残りの領域である第１被検知部の進入を許容する逃がし溝が、その先端面から進入方向後方に向けて形成されているところに特徴を有する。
【０００９】
端子金具がキャビティ内に正規に挿入されてランスにより係止されていると、半挿入検知ピンがランスの撓み許容空間内に進入するとともに、導通検査ピンが端子金具に当接することで電気的な導通が取られ、これにより端子金具がキャビティ内に正規に挿入されていることが確実に検査される。
端子金具がキャビティ内に半挿入状態で留められている場合は、ランスが撓み許容空間内に撓んだ状態になっている。ここで、ランスの撓み量が大きいと、進入した半挿入検知ピンの先端面がランスの先端面に当たることで、それ以上の進入が規制される。
ランスの撓み量が小さいと、ランスの先端面における撓み許容空間側に寄った領域が、半挿入検知ピンの先端面における逃がし溝が設けられた側の領域と対向するようになり、半挿入検知ピンは、ランスの先端面における上記領域のうちの第１被検知部を逃がし溝に挿入させつつ、ランスと撓み許容空間の隙間に進入し、途中で半挿入検知ピンの先端面がランスの第２被検知部に当接してそれ以上の進入が規制される。
【００１０】
いずれにしても、半挿入検知ピンが撓み許容空間に正規量進入できないことで、導通検査ピンが端子金具とは接触できない手前側の位置に留まって電気的導通が取られず、これによって端子金具が半挿入状態にあることが検査される。
すなわち、端子金具が半挿入状態にあってランスの撓み量にばらつきがあった場合も、半挿入状態であることを確実に検査することができる。
半挿入検知ピンの先端面に逃がし溝を形成するには、同半挿入検知ピンの先端部を相応に太くする必要があり、その結果、同先端部の増強を図ることができる。
【００１１】
また、前記ランスの先端面に形成された前記第２被検知部は、当該ランスの幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されている構成としてもよい。
この構成では、進入する半挿入検知ピンを第２被検知部がバランス良く受けて確実に停止させ、ランスの撓み量が小さい場合における半挿入検知をより確実に行うことができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、端子金具が半挿入状態にあることの検知能力をより向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態１に係る検査前の状態の平断面図
【図２】ランスの斜視図
【図３】半挿入検知ピンの斜視図
【図４】雌端子が正規挿入されていた場合の検査時の平断面図
【図５】雌端子が半挿入状態でランスが第１の撓み変位状態にあった場合の検査時の平断面図
【図６】半挿入検知ピンとランスの当接部分を示す図５の部分拡大図
【図７】図６における当接領域を示す概略図
【図８】雌端子が半挿入状態でランスが第２の撓み変位状態にあった場合の検査時の平断面図
【図９】半挿入検知ピンとランスの当接部分を示す図８の部分拡大図
【図１０】図９における当接領域を示す概略図
【図１１】実施形態２に係るランスの斜視図
【図１２】同半挿入検知ピンの斜視図
【図１３】実施形態３に係るランスの斜視図
【図１４】同半挿入検知ピンの斜視図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
＜実施形態１＞
本発明の実施形態１を図１ないし図１０によって説明する。
まず、本実施形態の検査治具４０を使用して検査されるコネクタ１０について説明する。コネクタ１０は雌側のコネクタであって、合成樹脂製の雌側のハウジング１１を備えており、同ハウジング１１内には、雌端子３０を後方から挿入可能なキャビティ１２が形成されている。キャビティ１２の天井部には、雌端子３０を抜け止め状態に係止するためのランス１３が設けられている。
【００１５】
ランス１３は、下面の先端部寄りの位置に係止突部１４を有して前方に片持ち状に延出した形状となっており、先端側が同ランス１３の上方に設けられた撓み許容空間１５に向けて弾性的に撓み変位可能となっている。ランス１３と撓み許容空間１５の前方はハウジング１１の前面に開口しており、この開口が、ランス１３の係止解除をするために解除治具を挿入することに用いる治具挿入孔１６となっている。
【００１６】
雌端子３０がキャビティ１２内に挿入されると、雌端子３０はランス１３を撓み許容空間１５に向けて弾性的に撓み変位させつつ押し込まれ、キャビティ１２の前壁１７に当たる正規位置まで挿入されると、雌端子３０に設けられたランス孔３１が係止突部１４の位置に対応することでランス１３が元姿勢に弾性復帰し、係止突部１４がランス孔３１に嵌って係止することで、雌端子３０が抜け止めされて収容されるようになっている。
一方、雌端子３０がキャビティ１２内の正規位置まで挿入されていない場合は、図５及び図８に参照して示すように、ランス１３は雌端子３０で押し上げられて撓み許容空間１５内に弾性撓みしたままの形態にある。
【００１７】
続いて、検査治具４０について図１によって説明する。検査治具４０は、細長い基台（図示せず）の一側にホルダ４１が設けられる一方、反対側には、スライダ４５が、ホルダ４１に接離する方向に摺動可能に装備されている。
以下では、ホルダ４１並びにスライダ４５において、それぞれ相手と対向した面を前面として説明する。
ホルダ４１にはコネクタ挿入溝４２が形成され、検査するべきコネクタ１０がコネクタ挿入溝４２に図示しない上面開口から挿入され、所定の高さ位置においてハウジング１１の前面がホルダ４１の前面と面一となった形態で、前後方向の移動不能に保持されるようになっている。
【００１８】
スライダ４５の前面には、ホルダ４１に収容されたコネクタ１０のキャビティ１２と対向した位置において、対をなす半挿入検知ピン５０と導通検査ピン６０とが並んで突設されている。
半挿入検知ピン５０は合成樹脂製であって、詳しくは後記するが、横長の長方形断面を有する細長い板状をなして突出形成されている。なお、根元側が厚肉とされて補強されている。
同半挿入検知ピン５０は、スライダ４５がホルダ４１側に向けて前進することに伴い、ホルダ４１内に保持されたハウジング１１のキャビティ１２におけるランス１３の撓み許容空間１５に向けて、治具挿入孔１６を通して進入するように機能する。
【００１９】
一方、導通検査ピン６０は金属製であって、上記の半挿入検知ピン５０よりも突出長が短い形態で形成されている。導通検査ピン６０は、スライダ４５の前進に伴って半挿入検知ピン５０と一体的に前進可能となっていて、半挿入検知ピン５０が撓み許容空間１５内に所定量進入した場合に、ハウジング１１の前壁１７に形成された開口１８を通して、雌端子３０の前端部、詳細には弾性接触片３２の折り返し部に接触する設定となっている。
なお、導通検査ピン６０の後端からは図示しないリード線が引き出され、所定の導通検査回路に接続されている。
【００２０】
さて、この実施形態では、雌端子３０の半挿入検知をより確実に行うべき手段が講じられている。
まず、コネクタ１０のハウジング１１のキャビティ１２に設けられたランス１３の先端面２０では、図２に示すように、その板厚方向の上部側の略１／３の帯状領域２１において、中央部を残して両端部が一段後退した形態で一対の第２被検知部２３が形成されている。また、残った中央部が第１被検知部２４となる。
【００２１】
一方、図３に示すように、半挿入検知ピン５０における横長の長方形断面をなす先端部では、上記したランス１３の先端部とほぼ同幅で、かつ撓み許容空間１５の高さ（ランス１３の上面と撓み許容空間１５の天井面１５Ａとの間の上下方向の寸法）に匹敵した板厚を有している（図４参照）。以下では、半挿入検知ピン５０の先端面を検知面５１と称する。
この半挿入検知ピン５０の下面における幅方向の中央部には、上記したランス１３の帯状領域２１における中央の第１被検知部２４の進入を許容する逃がし溝５２が、検知面５１から切り込み形成されている。同逃がし溝５２は、板厚の半分弱の深さを有しており、言い換えると、逃がし溝５２の両側にリブ５３が立てられた形態となっている。
【００２２】
半挿入検知ピン５０のホルダ４１内に保持されたコネクタ１０側に対する高さ位置の関係は、雌端子３０が正規挿入されてランス１３が元姿勢に戻っている場合は、図１に示すように、半挿入検知ピン５０がハウジング１１に設けられた撓み許容空間１５内にランス１３と干渉することなく進入可能な位置にある。
雌端子３０が半挿入状態に留められ、特に図５及び図６に示すように、ランス１３が撓み許容空間１５側に大きく撓み変位した状態である場合には（第１の撓み変位状態）、半挿入検知ピン５０の検知面５１が、ランス１３の先端面２０の上側の略２／３の領域に当接可能である。
【００２３】
また、同じく雌端子３０が半挿入状態に留められるも、図８及び図９に示すように、ランス１３が撓み許容空間１５側に比較的小さく（撓み許容空間１５の半分高さ程度）撓み変位した状態に押さえられている場合は（第２の撓み変位状態）、半挿入検知ピン５０の検知面５１が、ランス１３の先端面２０の帯状領域２１からその上方の領域に亘って対向し、特に、半挿入検知ピン５０の下面側の両リブ５３が、ランス１３の帯状領域２１の両端部に設けられた第２被検知部２３に当接可能な位置にある。
言い換えると、ランス１３の先端面２０の一段奥に形成された第２被検知部２３は、ランス１３の撓み量が小さい場合（第２の撓み変位状態）に、半挿入検知ピン５０の両リブ５３と対向する位置に来るように、先端面２０からの後退寸法が設定されている。
【００２４】
本実施形態の作用を説明する。雌端子３０がコネクタ１０のキャビティ１２内に正規挿入されているか否かの検知は、以下のような手順で行われる。  
図１に示すように、コネクタ１０が検査治具４０におけるホルダ４１のコネクタ挿入溝４２に挿入されて保持されると、同図の矢線に示すように、スライダ４５がホルダ４１に向けて摺動される。
ここで、雌端子３０がキャビティ１２内に正規に挿入されてランス１３により係止されていると、図４に示すように、半挿入検知ピン５０がランス１３の撓み許容空間１５内に進入するとともに、導通検査ピン６０が雌端子３０の前端部に当接することで電気的な導通が取られ、これにより雌端子３０がキャビティ１２内に正規に挿入されていることが確認される。
【００２５】
雌端子３０がキャビティ１２内で半挿入状態に留められている場合は、ランス１３が撓み許容空間１５内に撓んだ状態になっている。ここで、図５に示すように、ランス１３の撓み量が大きいと（第１の撓み変位状態）、図６に示すように、進入した半挿入検知ピン５０の検知面５１が、ランス１３の先端面２０における上側の略２／３の領域に対向し、詳細には、図７においてドットを付して示すように、ランス１３の先端面２０の帯状領域２１における第１被検知部２４と、同ランス１３の先端面２０における帯状領域２１の下側の方形領域２６のうち、左上並びに右上の隅部に当接し、それ以上の進入が規制される。
【００２６】
図８に示すように、ランス１３の撓み量が小さいと（第２の撓み変位状態）、ランス１３の先端面２０の帯状領域２１が、半挿入検知ピン５０の検知面５１の下部側と当接するようになり、半挿入検知ピン５０は、ランス１３の先端面２０における帯状領域２１のうちの第１被検知部２４を逃がし溝５２に挿入させつつ、ランス１３の上面と撓み許容空間１５の天井面１５Ａとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、図９並びに図１０にドットを付して示すように、逃がし溝５２の両側のリブ５３の先端面がランス１３の第２被検知部２３に当接し、それ以上の進入が規制される。
いずれにしても、半挿入検知ピン５０が撓み許容空間１５に正規深さまで進入できないことで、導通検査ピン６０が雌端子３０とは接触できない手前側の位置に留まって電気的導通が取られず、これによって雌端子３０が半挿入状態にあることが電気的に検知される。
【００２７】
以上のように本実施形態によれば、雌端子３０が半挿入状態にあってランス１３の撓み量にばらつきがあった場合も、半挿入状態であることを確実に検知することができる。
半挿入検知ピン５０の検知面５１に逃がし溝５２を形成するには、同半挿入検知ピン５０の先端部を相応に太くする必要があり、その結果、同先端部の増強を図ることができる。
また、ランス１３の先端面２０に形成された第２被検知部２３は、ランス１３の上端部の帯状領域２１の両端部といった、同ランス１３の幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されているから、進入する半挿入検知ピン５０を両第２被検知部２３がバランス良く受けて確実に停止させることができる。結果、ランス１３の撓み量が小さい場合における半挿入検知をより確実に行うことができる。
【００２８】
＜実施形態２＞
本発明の実施形態２を図１１及び図１２によって説明する。この実施形態では、ランス１３Ａにおける第２被検知部２３Ａと、半挿入検知ピン５０Ａにおける逃がし溝５２Ａの形成構造に変更が加えられている。  
すなわち実施形態１とは逆に、ランス１３Ａの先端面２０における上部側の帯状領域２１の中央幅位置に、一段後退した第２被検知部２３Ａが形成されるとともに、半挿入検知ピン５０Ａの下面における幅方向の両端部に、上記したランス１３Ａの帯状領域２１における両端の第１被検知部２４Ａの進入を許容する逃がし溝５２Ａが、検知面５１から切り込み形成されている。
【００２９】
この実施形態２では、雌端子３０がキャビティ１２内で半挿入状態に留められ、かつランス１３Ａの撓み量が小さい場合には、半挿入検知ピン５０Ａは、ランス１３Ａの先端面２０における帯状領域２１のうちの第１被検知部２４Ａを逃がし溝５２Ａに挿入させつつ、ランス１３Ａの上面と撓み許容空間１５の天井面１５Ａとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、両逃がし溝５２Ａの間のリブ５３Ａの先端面がランス１３Ａの第２被検知部２３Ａに当接し、それ以上の進入が規制される。これにより、雌端子３０の半挿入が検知される。
【００３０】
＜実施形態３＞
図１３及び図１４は本発明の実施形態３を示し、ランス１３Ｂにおける第２被検知部２３Ｂと、半挿入検知ピン５０Ｂにおける逃がし溝５２Ｂの形成構造に別の変更が加えられている。
実施形態３では、ランス１３Ｂの先端面２０における上部側の帯状領域２１のうち、正面視で左半分の領域に、一段後退した第２被検知部２３Ｂが形成されるとともに、半挿入検知ピン５０Ｂの下面における正面視で幅方向の左半分の領域に、上記したランス１３Ｂの帯状領域２１における右半分の第１被検知部２４Ｂの進入を許容する逃がし溝５２Ｂが、検知面５１から切り欠いて形成されている。
【００３１】
この実施形態３では、雌端子３０がキャビティ１２内で半挿入状態に留められ、かつランス１３Ｂの撓み量が小さい場合には、半挿入検知ピン５０Ｂは、ランス１３Ｂの先端面２０における帯状領域２１のうちの第１被検知部２４Ｂを逃がし溝５２Ｂに挿入させつつ、ランス１３Ｂの上面と撓み許容空間１５の天井面１５Ａとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、半挿入検知ピン５０Ｂの右半分の残余部５３Ｂがランス１３Ｂの第２被検知部２３Ｂに当接し、それ以上の進入が規制される。同様に、雌端子３０の半挿入が検知される。
【００３２】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。  
（１）ランスの被検知部と、半挿入検知ピンの逃がし溝の数や形成位置は、上記実施形態に例示したものに限らず、ランス側の残った第１被検知部が半挿入検知ピンの逃がし溝に進入可能である限り、適宜に選定し得るものである。
（２）半挿入検知ピンと導通検査ピンとの対は、ハウジングに設けられたキャビティの数等の条件に応じて、２対以上備えたものであってもよい。  
（３）本発明は、雄端子を雄側のハウジング内に収容した雄側のコネクタの検知装置にも同様に適用することが可能である。
【符号の説明】
【００３３】
１０…コネクタ
１１…ハウジング
１２…キャビティ
１３，１３Ａ，１３Ｂ…ランス
１５…撓み許容空間
２０…（ランスの）先端面
２１…帯状領域
２３，２３Ａ，２３Ｂ…第２被検知部
２４，２４Ａ，２４Ｂ…第１被検知部
３０…雌端子
３１…ランス孔
４０…検査治具
４１…ホルダ
４５…スライダ
５０，５０Ａ，５０Ｂ…半挿入検知ピン
５１…検知面
５２，５２Ａ，５２Ｂ…逃がし溝
６０…導通検査ピン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2014137919.tif 000009
【図８】
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【図９】
2014137919.tif 000011
【図１０】
2014137919.tif 000012
【図１１】
2014137919.tif 000013
【図１２】
2014137919.tif 000014
【図１３】
2014137919.tif 000015
【図１４】
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