(57)【要約】【課題】対象とする流体における粒状体の分散度を正確に測定し得る粒状体分散度測定装置を提供する。【解決手段】導電性を有する粒状体が混合された塗料１０を貯留可能で一方の端部から他方の端部に向かって深さが徐々に浅くなり、かつ各部の溝幅が一定の貯留用溝２３が形成された貯留部２に対して、貯留用溝２３内の塗料１０を掻き均すスクレーパー３を移動機構によって移動させると共に、貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間の電気抵抗値を測定部によって測定し、測定された電気抵抗値、および貯留用溝２３上におけるスクレーパー３の刃先３ａの溝長方向での位置（貯留用溝２３の深さ）に基づいて貯留用溝２３内の塗料１０における粒状体の分散度を測定する分散度測定処理を実行する。【選択図】図６
2014137263.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性を有する粒状体が混合された流体における当該粒状体の分散度を測定可能に構成された粒状体分散度測定装置であって、
上面が平坦に形成されると共に、前記流体を貯留可能で少なくとも底面が導電性を有する材料で形成されて溝長方向における一方の端部から他方の端部に向かって前記上面から前記底面までの深さが徐々に浅くなり、かつ前記溝長方向における各部の溝幅が一定の貯留用溝が当該上面に形成された流体貯留部と、
導電性を有する材料で形成された直線状の刃先を有すると共に前記流体貯留部の前記上面に沿って相対的に移動させられて前記貯留用溝内の前記流体を掻き均すスクレーパーと、
前記刃先が前記貯留用溝の前記底面に対して絶縁され、かつ当該刃先が当該貯留用溝の溝幅方向と平行な状態を維持しつつ前記流体貯留部および前記スクレーパーの少なくとも一方を他方に対して移動させて前記流体貯留部に対する前記刃先の位置を前記貯留用溝の溝長方向で変化させる移動機構と、
前記貯留用溝の底面と前記刃先との間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータを測定する測定部と、
前記移動機構および前記測定部を制御すると共に、当該測定部によって測定された前記電気的パラメータ、および前記貯留用溝上における前記刃先の前記溝長方向での位置に基づいて当該貯留用溝内の前記流体における前記粒状体の分散度を測定する分散度測定処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記分散度測定処理において、前記移動機構を制御して前記刃先の位置を前記貯留用溝の前記一方の端部から前記他方の端部に向かって変化させつつ前記測定部を制御して前記電気的パラメータを測定させると共に、当該測定された電気的パラメータの値が前記電気抵抗の低下に対応して変化したときに、当該変化した時点における前記スクレーパーの位置に対応する前記貯留用溝の深さ以上の粒径で、かつ当該値の変化量に対応する数の前記流体が前記流体に含有されていると測定する粒状体分散度測定装置。
【請求項２】
前記流体貯留部は、前記貯留用溝の前記底面に対して前記上面が絶縁され、
前記移動機構は、前記刃先が前記上面にそれぞれ接する状態を維持しつつ前記少なくとも一方を前記他方に対して移動させる請求項１記載の粒状体分散度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導電性を有する粒状体が混合された流体における粒状体の分散度を測定可能に構成された粒状体分散度測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
粒状体が混合された流体を対象として、どの程度の粒径の粒状体が、どの程度の数だけ含有されているかを測定する方法（流体における粒状体の分散度測定方法）として、「ＪＩＳ  Ｋ５６００−２−５」において標準化されている「塗料一般試験方法（分散度）」や、「ＪＩＳ  Ｋ５１０１−５−２」において標準化されている「顔料試験方法（分散性の評価方法）」が知られている。この分散度測定方法では、対象とする流体（以下、「試料」ともいう）を貯留可能な溝が形成されたゲージと、試料を掻き均すためのスクレーパー（スパチュラ）とを使用する。この場合、ゲージに形成されている溝は、その深さが溝長方向の一端部から他端部にかけて徐々に浅くなるように形成されており、最深部の深さが、試料中に含まれていると想定される粒状体の最大粒径以上で、最浅部の深さが、試料中に含まれていると想定される粒状体の最小粒径以下（例えば、深さ＝「０」）となっている。
【０００３】
この分散度測定方法では、まず、上面が水平となるようにゲージを作業台上に設置する。次いで、上記の溝における最深部に規定量の試料を流し込んで溝から僅かに溢れさせる。続いて、両手の親指と他の指との間に挟むようにしてスクレーパーを保持すると共に、その長辺がゲージの幅方向と平行になるようにスクレーパーの刃先をゲージの上面（溝の最深部側）に接触させる。次いで、ゲージの上面に対してスクレーパーを垂直にした状態を維持しつつ、スクレーパーを溝長方向に移動させる。この際には、スクレーパーの刃先をゲージの上面に接触させた状態を維持しつつ、溝における最深部から最浅部まで１〜２秒間かけてスクレーパーを一定の速度で移動させる。
【０００４】
この際に、ゲージ（溝）に対するスクレーパーの移動に伴い、スクレーパーの刃先と溝の底面との間の距離が、試料中に含まれている粒状体の粒径以下となったときに、この粒状体がスクレーパーと共に溝内を移動させられる。この結果、スクレーパーと共に移動させられている粒状体によって溝内の試料（結着剤や小さな粒状体）が掻き分けられて、結着剤や粒状体が存在しない筋状（または、点状）の領域からなる模様が溝内に形成される。したがって、スクレーパーの移動を完了してから規定時間内（３秒以内）に溝内の試料を観察することにより、模様の形成位置や数に基づき、どの程度の粒径の粒状体が、どの程度の数だけ含有されているかを測定することができる。これにより、粒状体の分散度の測定作業が完了する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】ＪＩＳ  Ｋ５６００−２−５
【非特許文献２】ＪＩＳ  Ｋ５１０１−５−２
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、ＪＩＳ規格において標準化されている分散度測定方法には、以下の問題点が存在する。すなわち、上記の分散度測定方法では、作業者が手作業で溝内の試料を掻き均している。この場合、ゲージの上面（溝の上縁部）に対して適正な押付け力でスクレーパーが押し付けられている状態においては、溝の底面とスクレーパーの刃先との間の距離が溝の深さと等しくなる。したがって、適正な押付け力で押し付けられているときには、スクレーパーの移動に伴って溝の深さと同程度の粒径の粒状体が刃先に接したときに、この粒状体がスクレーパーと共に移動させられて上記の模様が形成される。これにより、前述したように、形成された模様の位置（模様における最深部側の位置）における溝の深さと、その模様を形成した粒状体の粒径とがほぼ一致する結果、模様の形成位置に基づき、試料に含有されている粒状体の粒径を測定することができる。
【０００７】
これに対して、ゲージの上面に対するスクレーパーの押付け力が弱過ぎると、スクレーパーの刃先がゲージの上面から浮いた状態となり、溝の底面と刃先との間の距離が溝の深さよりも長くなる。このため、押付け力が弱過ぎたときには、溝の深さと同程度の粒径の粒状体をスクレーパーと共に移動させることができないため、粒状体の移動によって形成される模様の位置（模様における最深部側の位置）が、正常な押付け力で作業したときよりも最浅部寄りに変位してしまう。また、ゲージの上面に対するスクレーパーの押付け力が強過ぎると、スクレーパーに撓みが生じ、溝の底面と刃先との間の距離が溝の深さよりも短くなる。このため、押付け力が強過ぎたときには、溝の深さよりも小さな粒状体がスクレーパーと共に移動させられることとなるため、粒状体の移動によって形成される模様の位置（模様における最深部側の位置）が、正常な押付け力で作業したときよりも最深部寄りに変位してしまう。
【０００８】
したがって、上記の分散度測定方法では、ゲージに対するスクレーパーの押付け力が弱過ぎたり強過ぎたりしたときに模様の位置が変位する。また、ゲージに対するスクレーパーの移動速度が速過ぎる場合や、ゲージの上面に対してスクレーパーが傾いた状態で移動させられたときにも、溝の深さよりも小さな粒状体がスクレーパーと共に移動させられることがあり、かかる場合にも、形成される模様の位置が本来的な位置から変位する。このため、この種の作業に不慣れな作業者にとっては、試料に含有されている粒状体の粒径を正確に測定し得る模様を形成するのが困難となっている。
【０００９】
また、上記の分散度測定方法では、溝内に形成された模様を作業者が目視で観察して粒状体の粒径や数等を測定している。この場合、上記の模様は、スクレーパーと共に粒状体が移動させられることで粒状体によって結着剤等が掻き分けられることによって形成される。したがって、溝内に形成された模様は、重力や表面張力によって試料の表面が平坦化することで消失してしまう。このため、上記の分散度測定方法では、模様が消失する前（スクレーパーの移動を終了してから３秒以内）にその観察を終了させる必要があるが、この種の作業に不慣れな作業者にとっては、形成された模様の位置や数を短時間で観察するのが困難となっている。また、ゲージに対するスクレーパーの移動速度が遅過ぎる場合には、模様の形成が完了する以前（スクレーパーが溝の最浅部まで移動させられる以前）に、最深部側の模様が消失することがある。したがって、このような場合にも、形成された模様の位置や数を観察するのが困難となる。
【００１０】
このように、上記の分散度測定方法では、模様を形成する処理を手作業で行うと共に、形成した模様を目視で観察していることに起因して、測定した分散度（試料に含有されている粒状体の粒径や数）にばらつきが生じ易いという問題点が存在する。
【００１１】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、対象とする流体における粒状体の分散度を正確に測定し得る粒状体分散度測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成すべく、請求項１記載の粒状体分散度測定装置は、導電性を有する粒状体が混合された流体における当該粒状体の分散度を測定可能に構成された粒状体分散度測定装置であって、上面が平坦に形成されると共に、前記流体を貯留可能で少なくとも底面が導電性を有する材料で形成されて溝長方向における一方の端部から他方の端部に向かって前記上面から前記底面までの深さが徐々に浅くなり、かつ前記溝長方向における各部の溝幅が一定の貯留用溝が当該上面に形成された流体貯留部と、導電性を有する材料で形成された直線状の刃先を有すると共に前記流体貯留部の前記上面に沿って相対的に移動させられて前記貯留用溝内の前記流体を掻き均すスクレーパーと、前記刃先が前記貯留用溝の前記底面に対して絶縁され、かつ当該刃先が当該貯留用溝の溝幅方向と平行な状態を維持しつつ前記流体貯留部および前記スクレーパーの少なくとも一方を他方に対して移動させて前記流体貯留部に対する前記刃先の位置を前記貯留用溝の溝長方向で変化させる移動機構と、前記貯留用溝の底面と前記刃先との間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータを測定する測定部と、前記移動機構および前記測定部を制御すると共に、当該測定部によって測定された前記電気的パラメータ、および前記貯留用溝上における前記刃先の前記溝長方向での位置に基づいて当該貯留用溝内の前記流体における前記粒状体の分散度を測定する分散度測定処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記分散度測定処理において、前記移動機構を制御して前記刃先の位置を前記貯留用溝の前記一方の端部から前記他方の端部に向かって変化させつつ前記測定部を制御して前記電気的パラメータを測定させると共に、当該測定された電気的パラメータの値が前記電気抵抗の低下に対応して変化したときに、当該変化した時点における前記スクレーパーの位置に対応する前記貯留用溝の深さ以上の粒径で、かつ当該値の変化量に対応する数の前記流体が前記流体に含有されていると測定する。
【００１３】
また、請求項２記載の粒状体分散度測定装置は、請求項１記載の粒状体分散度測定装置において、前記流体貯留部は、前記貯留用溝の前記底面に対して前記上面が絶縁され、前記移動機構は、前記刃先が前記上面にそれぞれ接する状態を維持しつつ前記少なくとも一方を前記他方に対して移動させる。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１記載の粒状体分散度測定装置では、処理部が、移動機構を制御して流体貯留部およびスクレーパーの少なくとも一方を他方に対して移動させてスクレーパーの刃先の位置を流体貯留部における貯留用溝の一方の端部から他方の端部に向かって変化させつつ、測定部を制御して貯留用溝の底面と刃先との間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータを測定させると共に、電気的パラメータの値が電気抵抗の低下に対応して変化したときに、その時点におけるスクレーパーの位置に対応する貯留用溝の深さ以上の粒径で、かつ値の変化量に対応する数の流体が流体に含有されていると測定する。
【００１５】
したがって、請求項１記載の粒状体分散度測定装置によれば、作業者が手作業でスクレーパーを移動させる分散度測定方法とは異なり、流体貯留部の上面に対するスクレーパー（刃先）の押付け力を一定に維持することができると共に、流体貯留部（貯留用溝）に対するスクレーパー（刃先）の移動速度を一定に維持することができる結果、押付け力や移動速度のばらつきに起因して分散度の測定結果にばらつきが生じる事態を回避することができる。また、この粒状体分散度測定装置によれば、作業者が目視で模様の形成位置を特定して粒状体の分散度を測定する分散度測定方法とは異なり、測定部によって測定された電気的パラメータおよび流体貯留部（貯留用溝）に対するスクレーパー（刃先）の位置に基づき、スクレーパーがいずれの位置まで移動させられたときに貯留用溝の底面とスクレーパーの刃先との双方に粒状体が接した状態となったかを客観的かつ正確に特定することができる。したがって、この粒状体分散度測定装置によれば、この種の測定処理に不慣れな作業者であっても、流体における粒状体の分散度を客観的かつ正確に測定することができる。
【００１６】
また、請求項２記載の粒状体分散度測定装置によれば、流体貯留部の上面を貯留用溝の底面に対して絶縁すると共に、刃先が流体貯留部の上面にそれぞれ接する状態を維持しつつ流体貯留部およびスクレーパーの少なくとも一方を他方に対して移動させることにより、比較的簡易な構成でありながら、流体における粒状体の分散度を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】粒状体分散度測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】貯留部２の外観斜視図である。
【図３】図２におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図４】図２におけるＢ−Ｂ線断面図である。
【図５】図２におけるＣ−Ｃ線断面図である。
【図６】貯留部２の断面図である。
【図７】図１１における位置Ｐ１までスクレーパー３を移動させた状態の貯留部２、スクレーパー３および塗料１０の断面図である。
【図８】図１１における位置Ｐ２よりもやや最浅部寄りの位置までスクレーパー３を移動させた状態の貯留部２、スクレーパー３および塗料１０の断面図である。
【図９】図１１における位置Ｐ３よりもやや最浅部寄りの位置までスクレーパー３を移動させた状態の貯留部２、スクレーパー３および塗料１０の断面図である。
【図１０】図１１における位置Ｐ４よりもやや最浅部寄りの位置までスクレーパー３を移動させた状態の貯留部２、スクレーパー３および塗料１０の断面図である。
【図１１】貯留部２（貯留用溝２３）に対するスクレーパー３の位置と、スクレーパー３の移動に伴って形成される模様（筋Ｌａ〜Ｌｃ）との関係について説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、粒状体分散度測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
図１に示す粒状体分散度測定装置１は、「粒状体分散度測定装置」の一例であって、貯留部２、スクレーパー３、移動機構４、測定部５、操作部６、表示部７、記憶部８および制御部９を備え、導電性を有する粒状体が混合された流体における粒状体の分散度を測定可能に構成されている。
【００２０】
なお、「粒状体分散度測定装置」によって粒状体の分散度を測定する対象の流体は特に限定されるものではないが、一例として、リチウムイオン二次電池における正極や負極を形成するための電極形成用塗料を対象として粒状の導電助材の分散度を測定する方法について説明する。具体的には、本例では、アルミニウム等の金属（導体）で構成された支持体の表面に塗布して硬化させることで支持体の表面に正極（電極層）を形成するための塗料であって、図７〜１０に示すように、コバルト、ニッケルおよびマンガンなどの遷移金属のリチウム含有酸化物やカーボンなどからなる粒状体１１ａ〜１１ｃ（「導電性を有する粒状体」の一例：以下、区別しないときには「粒状体１１」ともいう）と、結着剤（バインター）１２とを混合した塗料１０（「流体」の一例）を対象として粒状体１１の分散度を測定するものとする。
【００２１】
貯留部２は、「流体貯留部」に相当し、図２〜５に示すように、一例として、ステンレス鋼や炭素鋼等の導電性を有する材料で形成された本体部２１と、超高分子量ポリエチレン等の樹脂材料やセラミックスなどの非導電性材料で形成された絶縁カバー２２とを備えて構成されている。具体的には、本例の貯留部２では、一例として、絶縁カバー２２の中央部に本体部２１を嵌め込み可能なスリットが形成されており、絶縁カバー２２の上面２２ａに対して本体部２１を傾けるようにして嵌め込むことによって本体部２１と絶縁カバー２２とが一体化されると共に、この本体部２１および絶縁カバー２２によって塗料１０を貯留可能な貯留用溝２３が形成されている。この場合、本例の貯留部２では、本体部２１の表面が貯留用溝２３の底面２３ａとして機能するように構成されている（「少なくとも底面が導電性を有する材料で形成され」との構成の一例）。
【００２２】
また、本例の貯留部２では、前述したように絶縁カバー２２に対して本体部２１を傾けて嵌め込むことにより、本体部２１と絶縁カバー２２とで形成される貯留用溝２３の深さが、その溝長方向における一方の端部（図２，６，１１において矢印Ｐａで示す部位）から他端の端部（図２，６，１１において矢印Ｐｂで示す部位）に向かって徐々に浅くなるように形成されている。また、この貯留用溝２３は、溝長方向における各部の溝幅が一定となっている。この場合、前述した塗料１０を対象として粒状体１１の分散度を測定する本例においては、一例として、貯留用溝２３の最深部の深さが１００μｍで、最浅部の深さが「０」となるように貯留用溝２３が形成されている。なお、図２，４，６では、粒状体分散度測定装置１（貯留部２）の構成についての理解を容易とするために、貯留用溝２３の深さを誇張して実際の深さよりも深く図示している。
【００２３】
さらに、本例の貯留部２では、絶縁カバー２２の上面が貯留部２の上面２２ａとして機能するように構成されており、これにより、後述するスクレーパー３の刃先３ａが上面２２ａに接するように配置されたときに、貯留用溝２３の底面２３ａ（本体部２１の表面）に対して刃先３ａが絶縁された状態となる構成が採用されている。この場合、図６に示すように、本例の粒状体分散度測定装置１では、上記の上面２２ａが水平となるように貯留部２が設置されている。
【００２４】
スクレーパー３（スパチュラ、スキージ）は、貯留用溝２３内に滴下された塗料１０を掻き均すための部材であって、一例として、ステンレス鋼や炭素鋼等の導電性を有する材料によって、その刃先３ａが直線状となるように形成されている。このスクレーパー３については、一例として、ＪＩＳ規格で標準化されている分散度測定方法において使用するスクレーパー（スパチュラ）と同様に構成することができる。この場合、本例の粒状体分散度測定装置１では、スクレーパー３が、移動機構４に取り付けられると共に、貯留用溝２３を跨ぐようにして貯留部２上に配置される。具体的には、本例の粒状体分散度測定装置１では、スクレーパー３の刃先３ａが貯留用溝２３の溝幅方向と平行となり、かつ刃先３ａの両端部が貯留部２の上面２２ａに接するように配置された状態で移動機構４に取り付けられており、後述するように、このスクレーパー３が移動機構４によって貯留部２の上面２２ａに沿って移動させられることによって貯留用溝２３内の塗料１０がスクレーパー３によって掻き均される構成が採用されている。
【００２５】
移動機構４は、制御部９からの制御信号Ｓ１に従い、貯留部２（貯留用溝２３）に対してスクレーパー３を移動させることで貯留用溝２３に対する刃先３ａの位置を貯留用溝２３の溝長方向で変化させる（「流体貯留部およびスクレーパーの少なくとも一方」が「スクレーパー」で「他方」が「流体貯留部」の構成）。具体的には、本例の粒状体分散度測定装置１では、移動機構４が、制御部９の制御に従い、図１１に示す位置Ｐ０（貯留用溝２３における最深部寄りの位置）から位置Ｐ５（貯留用溝２３における最浅部寄りの位置）まで、スクレーパー３を等速移動させる。なお、移動機構４によるスクレーパー３の移動処理については、一例として、ＪＩＳ規格で標準化されている分散度測定方法における作業手順で明記された条件を満たすように実行される。また、移動機構４は、図示しないリニアエンコーダを備え、処理開始前の待機位置（図１１に示す位置Ｐ０）からのスクレーパー３の移動距離を示す距離データＤ１を制御部９に出力する。
【００２６】
測定部５は、図１に示すように、貯留部２（本体部２１）およびスクレーパー３に接続されており、制御部９からの制御信号Ｓ２に従い、貯留部２（本体部２１）とスクレーパー３との間の抵抗（電気抵抗）を測定して測定結果を示す測定データＤ２を制御部９に出力する。具体的には、測定部５は、一例として、定電流原および電圧測定回路（共に図示せず）を備えており、制御部９の制御に従い、貯留部２における本体部２１（貯留用溝２３の底面２３ａ）とスクレーパー３（刃先３ａ）との間に測定用の定電流を供給しつつ、底面２３ａと刃先３ａとの間の電位差を測定すると共に、供給している定電流の電流値と測定した電位差（電圧値）とに基づいて底面２３ａと刃先３ａとの間の抵抗値（予め規定された電気的パラメータ：「貯留用溝の底面と刃先との間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータ」の一例）を演算して測定データＤ２を生成する。なお、塗料１０内に含有されていている粒状体１１と測定部５の測定結果（測定データＤ２）との関係については、後に詳細に説明する。
【００２７】
操作部６は、後述する分散度の測定処理を開始／停止させるためのスタート／ストップスイッチや、処理条件を入力操作するための各種操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を制御部９に出力する。表示部７は、制御部９によって測定された結果（塗料１０における粒状体１１の分散度：詳しくは、粒状体１１の粒径や数など）を表示する。記憶部８は、後述するように制御部９が塗料１０における粒状体１１の分散度を測定する際に使用する分散度測定用データＤ０を記憶すると共に、制御部９の制御に従い、移動機構４から出力された距離データＤ１や測定部５から出力された測定データＤ２を記憶する。
【００２８】
制御部９は、粒状体分散度測定装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部９は、「処理部」に相当し、移動機構４によるスクレーパー３の移動処理、および測定部５による抵抗値の測定処理（測定データＤ２の生成処理）を制御すると共に、移動機構４から出力された距離データＤ１、測定部５から出力された測定データＤ２、および記憶部８に記憶されている分散度測定用データＤ０に基づき、塗料１０における粒状体１１の分散度を測定する分散度測定処理を実行する。なお、距離データＤ１や測定データＤ２等に基づく粒状体１１の分散度の測定については、移動機構４によるスクレーパー３の移動処理、および測定部５による抵抗値の測定処理と並行して実行することもできるが、本例の粒状体分散度測定装置１では、一例として、移動処理および測定処理を完了した後に、記憶部８に記憶されている距離データＤ１や測定データＤ２等に基づいて分散度を測定する構成が採用されている。
【００２９】
この粒状体分散度測定装置１によって塗料１０における粒状体１１の分散度を測定する際には、まず、洗浄されて不純物が除去された貯留部２およびスクレーパー３を用意する。次いで、貯留部２を規定の位置にセットすると共に、スクレーパー３を移動機構４に取り付ける。この際には、図６に示すように、移動機構４に取り付けられたスクレーパー３の刃先３ａが、処理開始前の待機位置（貯留部２の貯留用溝２３における最深部側の位置：図１１に示す位置Ｐ０）に位置させられた状態となる。続いて、貯留用溝２３における最深部側に規定量の塗料１０を滴下する。なお、貯留用溝２３に滴下する塗料１０の採取方法や、貯留用溝２３内に滴下する量およびその方法については、一例として、前述したようにＪＩＳ規格において標準化されている分散度測定方法に準ずるものとする。
【００３０】
次いで、操作部６のスタート／ストップスイッチを操作する。この際に、制御部９は、操作部６からの操作信号に従い、移動機構４に制御信号Ｓ１を出力してスクレーパー３の移動処理を開始させると共に、測定部５に制御信号Ｓ２を出力して抵抗値の測定処理を開始させる。これに応じて、移動機構４が、図２，６，１１に示す矢印Ｍの向きで貯留部２（貯留用溝２３）に対してスクレーパー３を等速移動させつつ、スクレーパー３の位置（具体的には、スクレーパー３における刃先３ａの位置）を測定可能な距離データＤ１を制御部９に順次出力する。この際には、移動機構４によってスクレーパー３が移動させられるのに伴い、貯留用溝２３における最深部側に滴下された塗料１０が最浅部側に向かってスクレーパー３と共に移動させられるようにして貯留用溝２３内に引き延ばされる（掻き均される）。
【００３１】
この際に、本例の粒状体分散度測定装置１では、スクレーパー３が移動機構４に取り付けられた状態で移動機構４によって移動させられる。したがって、スクレーパー３（刃先３ａ）が貯留用溝２３の最深部から最浅部まで移動させられる際に、貯留部２の上面２２ａに対する刃先３ａの押付け力が一定に維持されると共に、貯留部２（貯留用溝２３）に対するスクレーパー３（刃先３ａ）の移動速度が一定に維持される。一方、測定部５は、制御部９からの制御信号Ｓ２に従い、貯留用溝２３における底面２３ａ（本体部２１）とスクレーパー３の刃先３ａとの間の抵抗値を測定し、測定した抵抗値を示す測定データＤ２を生成して制御部９に順次出力する。また、制御部９は、移動機構４から出力された距離データＤ１と測定部５から出力された測定データＤ２とを相互に関連付けて記憶部８に記憶させる。
【００３２】
この場合、本例の粒状体分散度測定装置１では、前述したように、最深部の深さが、塗料１０内に含有されていると想定される粒状体１１のうちの最大径の粒状体１１の粒径よりも深くなるように貯留用溝２３が形成されている。したがって、スクレーパー３が貯留用溝２３の最深部寄りの位置（貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間の距離が、塗料１０内の各粒状体１１のうちの最大径の粒状体１１（一例として、図７〜１０に示す粒状体１１ａ）の粒径よりも長い状態の位置：例えば、図１１に示す位置Ｐ１）を移動させられているときには、図７に示すように、引き延ばされた塗料１０内に含まれている各種粒径の粒状体１１ａ〜１１ｃや結着剤１２の上方をスクレーパー３の刃先３ａが通過することとなる。この結果、スクレーパー３（刃先３ａ）が通過した部位において、各種粒径の粒状体１１ａ〜１１ｃを含む塗料１０の表面が貯留用溝２３の上縁部（すなわち、スクレーパー３の刃先３ａが接している上面２２ａ）と一致するように掻き均される。
【００３３】
なお、図７〜１０では、粒状体分散度測定装置１による分散度の測定原理についての理解を容易とするために、各粒状体１１を円形に図示すると共に、粒径が相異する３種類の粒状体１１ａ〜１１ｃだけを図示しているが、実際の粒状体１１は、円形（球形）ではなく、また、その粒径も３種類だけではない。
【００３４】
また、同図に示すように、各粒状体１１の上方を刃先３ａが通過可能な位置をスクレーパー３が移動させられているときには、貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間に非導電性の結着剤１２が存在する状態となる。この場合、底面２３ａおよび刃先３ａのいずれか一方に粒状体１１が接した状態となることもあるが、このいずれか一方に接した粒状体１１は、底面２３ａおよび刃先３ａの間の距離（貯留用溝２３の深さ）よりも小さな粒径のため、これらが底面２３ａおよび刃先３ａの双方に同時に接することはない。したがって、各粒状体１１の上方を刃先３ａが通過しているときには、測定部５によって大きな抵抗値が測定されて測定データＤ２として出力される。
【００３５】
一方、移動機構４によるスクレーパー３の移動に伴い、貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間の距離が粒状体１１ａの粒径を下回ったとき（一例として、図１１に示す位置Ｐ２まで移動させられたとき）には、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に粒状体１１ａが接した状態となる。この際には、底面２３ａ（貯留部２の本体部２１）と刃先３ａ（スクレーパー３）とが粒状体１１ａを介して導通した状態となる。このため、粒状体１１ａを介して導通状態となった分だけ測定部５によって測定される抵抗値が低下し（「電気的パラメータの値が電気抵抗の低下に対応して変化したとき」の一例）、図７に示す状態において測定される抵抗値よりも低い値の測定データＤ２が測定部５から出力される。
【００３６】
また、図８に示すように、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接した状態の粒状体１１ａは、移動機構４によってスクレーパー３が矢印Ｍの向きに移動させられるのに伴ってスクレーパー３と共に矢印Ｍの向きに移動させられる。この結果、スクレーパー３と共に貯留用溝２３内を移動させられる粒状体１１ａによって結着剤１２や粒状体１１ｂ，１１ｃ等が掻き分けられる結果、図１１に示すように、貯留用溝２３内に筋Ｌａ（粒状体１１ａが移動した跡）が形成される。なお、同図では、粒状体分散度測定処理についての理解を容易とするために、粒状体１１ａの移動に伴って形成される筋Ｌａ、および後述する粒状体１１ｂ，１１ｃの移動に伴って形成されるＬｂ，Ｌｃをそれぞれ１本ずつ図示しているが、実際には、さらに複数の筋Ｌａ〜Ｌｃ（以下、これらを区別しないときには「筋Ｌ」ともいう）が形成される。
【００３７】
この場合、底面２３ａと刃先３ａとの双方に粒状体１１ａが接してスクレーパー３と共に粒状体１１ａが貯留用溝２３内を移動させられている状態においても、その粒径が底面２３ａと刃先３ａとの間の距離よりも小さい粒状体１１ｂ，１１ｃについては、図８に破線で示すように、その上方をスクレーパー３（刃先３ａ）が通過する結果、スクレーパー３よりも最深部寄りの位置に取り残されることとなる。
【００３８】
また、移動機構４によるスクレーパー３の移動に伴い、貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間の距離が粒状体１１ａよりも小さい粒状体１１ｂの粒径を下回ったとき（一例として、図１１に示す位置Ｐ３まで移動させられたとき）には、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に粒状体１１ｂが接した状態となる。この際に、粒状体１１ｂに先立って底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接してスクレーパー３と共に移動させられている粒状体１１ａがある程度の堅さ（強度）を有している場合には、同図に破線で示すように、粒状体１１ａ，１１ｂの双方が、底面２３ａおよび刃先３ａに接して、底面２３ａ（貯留部２の本体部２１）と刃先３ａ（スクレーパー３）とが粒状体１１ａ，１１ｂを介して導通した状態となる。このため、粒状体１１ａ，１１ｂを介して導通状態となった分だけ測定部５によって測定される抵抗値が一層低下し（「電気的パラメータの値が電気抵抗の低下に対応して変化したとき」の他の一例）、図８に示す状態において測定される抵抗値よりも低い値の測定データＤ２が測定部５から出力される。
【００３９】
また、図９に示すように、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接した状態の粒状体１１ａ，１１ｂは、移動機構４によってスクレーパー３が矢印Ｍの向きに移動させられるのに伴ってスクレーパー３と共に矢印Ｍの向きに移動させられる。この結果、スクレーパー３と共に貯留用溝２３内を移動させられる粒状体１１ａ，１１ｂによって結着剤１２や粒状体１１ｃ等が掻き分けられる結果、図１１に示すように、貯留用溝２３内に筋Ｌａ（粒状体１１ａが移動した跡）や筋Ｌｂ（粒状体１１ｂが移動した跡）が形成される。
【００４０】
この場合、底面２３ａと刃先３ａとの双方に粒状体１１ａ，１１ｂが接してスクレーパー３と共に粒状体１１ａ，１１ｂが貯留用溝２３内を移動させられている状態においても、その粒径が底面２３ａと刃先３ａとの間の距離よりも小さい粒状体１１ｃについては、図９に破線で示すように、その上方をスクレーパー３（刃先３ａ）が通過する結果、スクレーパー３よりも最深部寄りの位置に取り残されることとなる。また、上記したように、粒状体１１がある程度の堅さ（強度）を有している場合には、この粒状体１１が底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接してからある程度長い距離に亘ってスクレーパー３と共に貯留用溝２３内を移動することとなる。しかしながら、粒状体１１が柔らかいときには、スクレーパー３と共に移動している最中に、この粒状体１１が粉砕されて、同図に破線で示す粒状体１１ｘのように小さくなる結果、この粒状体１１ｘについても、粒状体１１ｃと共にスクレーパー３よりも最深部寄りの位置に取り残されることとなる。
【００４１】
さらに、移動機構４によるスクレーパー３の移動に伴い、貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの間の距離が粒状体１１ｂよりもさらに小さい粒状体１１ｃの粒径を下回ったとき（一例として、図１１に示す位置Ｐ４まで移動させられたとき）には、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に粒状体１１ｃが接した状態となる。この際に、粒状体１１ｃに先立って底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接してスクレーパー３と共に移動させられている粒状体１１ｂ，１１ｃがある程度の堅さ（強度）を有している場合には、図１０に破線で示す各粒状体１１ａ，１２ｂや同図に実線で示す粒状体１１ｃが、底面２３ａおよび刃先３ａに接して、底面２３ａ（貯留部２の本体部２１）と刃先３ａ（スクレーパー３）とが各粒状体１１ａ〜１１ｃを介して導通した状態となる。このため、粒状体１１ａ〜１１ｃを介して導通状態となった分だけ測定部５によって測定される抵抗値が一層低下し（「電気的パラメータの値が電気抵抗の低下に対応して変化したとき」のさらに他の一例）、図９に示す状態において測定される抵抗値よりも低い値の測定データＤ２が測定部５から出力される。
【００４２】
また、図１０に示すように、底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接した状態の粒状体１１ａ〜１１ｃは、移動機構４によってスクレーパー３が矢印Ｍの向きに移動させられるのに伴ってスクレーパー３と共に矢印Ｍの向きに移動させられる。この結果、スクレーパー３と共に貯留用溝２３内を移動させられる粒状体１１ａ〜１１ｃによって結着剤１２や粒状体１１ｃ等が掻き分けられる結果、図１１に示すように、貯留用溝２３内に、筋Ｌａ（粒状体１１ａが移動した跡）、筋Ｌｂ（粒状体１１ｂが移動した跡）、および筋Ｌｃ（粒状体１１ｃが移動した跡）が形成される。この場合、同図に示す例では、スクレーパー３が位置Ｐ２まで移動させられたときに底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接する状態となった粒状体１１ａが位置Ｐ４ａにおいて粉砕され、スクレーパー３が位置Ｐ３まで移動させられたときに底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接する状態となった粒状体１１ｂが位置Ｐ４ｂにおいて粉砕され、スクレーパー３が位置Ｐ４まで移動させられたときに底面２３ａおよび刃先３ａの双方に接する状態となった粒状体１１ｃが位置Ｐ４ｃにおいて粉砕された状態を示している。
【００４３】
この後、貯留用溝２３の深さが「０」となる位置、すなわち、底面２３ａに刃先３ａが接する位置（一例として、図１１に示す位置Ｐ５）までスクレーパー３が移動させられたときに、制御部９は、移動機構４に制御信号Ｓ１を出力してスクレーパー３の移動を停止させると共に、測定部５に制御信号Ｓ２を出力して抵抗値の測定処理を終了させる。この場合、本例の粒状体分散度測定装置１では、前述したＪＩＳ規格において標準化されている分散度測定方法において使用する器具と同様に構成した貯留部２やスクレーパー３を用いると共に、この分散度測定方法において規定されている手順と同様の手順で貯留用溝２３内に塗料１０を引き延ばす構成が採用されている。したがって、上記の標準化された分散度測定方法による分散度の測定作業に慣れた作業者であれば、貯留用溝２３内に形成された筋Ｌａ〜Ｌｃからなる模様を観察することで、塗料１０における粒状体１１の分散度の概要を把握することが可能となっている。
【００４４】
一方、スクレーパー３の移動処理および抵抗値の測定処理を完了したときに、制御部９は、記憶部８に記憶させた距離データＤ１および測定データＤ２と、分散度測定用データＤ０とに基づき、塗料１０における粒状体１１の分散度を測定する。
【００４５】
この場合、貯留部２（貯留用溝２３）に対するスクレーパー３の移動に伴い、スクレーパー３の刃先３ａと貯留用溝２３の底面２３ａとの双方に粒状体１１が接した際には、前述したように、測定部５によって測定される抵抗値が低下する。また、測定部５によって測定される抵抗値は、刃先３ａと底面２３ａとの双方に接する粒状体１１の数が多いほどその低下量が増加する。このため、本例の粒状体分散度測定装置１において使用する分散度測定用データＤ０は、測定部５によって測定される抵抗値が低下した時点におけるスクレーパー３の移動距離（距離データＤ１に基づいて特定されるスクレーパー３の位置）に基づき、抵抗値が低下した時点における刃先３ａの位置の貯留用溝２３の深さ、すなわち、刃先３ａと底面２３ａとの双方に接した粒状体１１の粒径を測定することができると共に、測定される抵抗値に基づき、刃先３ａおよび底面２３ａの双方に接した状態の粒状体１１の数を測定することができる情報が記録されて構成されている。
【００４６】
したがって、制御部９は、まず、測定データＤ２を解析することで刃先３ａと底面２３ａとの間の抵抗値が低下した時点を特定すると共に、特定した時点の測定データＤ２に関連付けられている距離データＤ１に基づいて刃先３ａと底面２３ａとの双方に粒状体１１が接した際のスクレーパー３（刃先３ａ）の位置を特定して、分散度測定用データＤ０に基づき、刃先３ａと底面２３ａとの双方に接した粒状体１１の粒径（貯留用溝２３の深さ）を測定する。また、制御部９は、測定データＤ２に基づいて測定される抵抗値と分散度測定用データＤ０とに基づき、刃先３ａと底面２３ａとの双方に接した粒状体１１の数を測定する。これにより、塗料１０における粒状体１１の分散度が測定される。
【００４７】
このように、この粒状体分散度測定装置１では、制御部９が、移動機構４を制御して貯留部２およびスクレーパー３の少なくとも一方（本例では、スクレーパー３）を他方（本例では、貯留部２）に対して移動させてスクレーパー３の刃先３ａの位置を貯留部２における貯留用溝２３の一方の端部から他方の端部に向かって変化させつつ、測定部５を制御して貯留用溝２３の底面２３ａと刃先３ａとの間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータ（本例では、底面２３ａと刃先３ａとの間の抵抗値）を測定させると共に、底面２３ａおよび刃先３ａ間の抵抗値が低下したときに、その時点におけるスクレーパー３の位置に対応する貯留用溝２３の深さ以上の粒径で、かつ抵抗値の変化量（低下量）に対応する数の粒状体１１が塗料１０に含有されていると測定する。
【００４８】
したがって、この粒状体分散度測定装置１によれば、作業者が手作業で「スクレーパー」を移動させる分散度測定方法とは異なり、貯留部２の上面２２ａに対するスクレーパー３（刃先３ａ）の押付け力を一定に維持することができると共に、貯留部２（貯留用溝２３）に対するスクレーパー３（刃先３ａ）の移動速度を一定に維持することができる結果、押付け力や移動速度のばらつきに起因して分散度の測定結果にばらつきが生じる事態を回避することができる。また、この粒状体分散度測定装置１によれば、作業者が目視で模様の形成位置を特定して「粒状体」の分散度を測定する分散度測定方法とは異なり、測定部５によって測定された抵抗値（測定データＤ２）および貯留部２（貯留用溝２３）に対するスクレーパー３（刃先３ａ）の位置（距離データＤ１）に基づき、スクレーパー３がいずれの位置まで移動させられたときに貯留用溝２３の底面２３ａとスクレーパー３の刃先３ａとの双方に粒状体１１が接した状態となったかを客観的かつ正確に特定することができる。したがって、この粒状体分散度測定装置１によれば、この種の測定処理に不慣れな作業者であっても、塗料１０における粒状体１１の分散度を客観的かつ正確に測定することができる。
【００４９】
また、この粒状体分散度測定装置１によれば、貯留部２の上面２２ａを貯留用溝２３の底面２３ａに対して絶縁すると共に、刃先３ａが貯留部２の上面２２ａにそれぞれ接する状態を維持しつつ貯留部２に対してスクレーパー３を移動させることにより、比較的簡易な構成でありながら、塗料１０における粒状体１１の分散度を正確に測定することができる。
【００５０】
なお、「粒状体分散度測定装置」の構成は、上記の粒状体分散度測定装置１の構成に限定されない。例えば、刃先３ａを含むスクレーパー３の全体を導電性材料で形成した例について説明したが、「スクレーパー」の構成はこれに限定されず、「粒状体」に接する「刃先」が導電性材料で形成されている限り、その他の部位については非導電性材料で形成することもできる。また、「流体貯留部の上面を構成する部材（絶縁カバー２２）」を非導電性材料で形成することで「貯留用溝の底面」に対して「スクレーパーの刃先」を絶縁する構成の貯留部２を備えた例について説明したが、このような構成に代えて、「流体貯留部の上面」から「流体貯留部における貯留用溝の底面」までの部位（例えば、「流体貯留部の全体」）を導電性材料で形成すると共に、「スクレーパー」において「流体貯留部の上面」に接する部位を非導電性材料で形成することによって「貯留用溝の底面」に対して「スクレーパーの刃先」を絶縁する構成を採用することもできる（図示せず）。
【００５１】
さらに、貯留部２（貯留用溝２３）に対してスクレーパー３（刃先３ａ）を移動させる構成を例に挙げて説明したが、スクレーパー３を移動させずに貯留部２をスクレーパー３に対して移動させる構成（図示せず）や、貯留部２に対してスクレーパー３を移動させると共にスクレーパー３に対して貯留部２を移動させる構成（図示せず）を採用することもできる。また、「貯留用溝の底面と刃先との間の電気抵抗の変化に伴って変化する電気的パラメータ」として「底面と刃先との間の電気抵抗（抵抗値）」そのものを測定する例について説明したが、上記の構成において「底面と刃先との間の電位差（電圧）」を「電気的パラメータ」として測定したり、上記の構成に代えて、「貯留用溝の底面」と「刃先」との間に定電圧を供給した状態において「底面と刃先との間を流れる電流の電流値」を「電気的パラメータ」として測定したりすることもできる。
【符号の説明】
【００５２】
１  粒状体分散度測定装置
２  貯留部
３  スクレーパー
３ａ  刃先
４  移動機構
５  測定部
８  記憶部
９  制御部
１０  塗料
１１ａ〜１１ｃ，１１ｘ  粒状体
１２  結着剤
２１  本体部
２２  絶縁カバー
２２ａ  上面
２３  貯留用溝
２３ａ  底面
Ｄ０  分散度測定用データ
Ｄ１  距離データ
Ｄ２  測定データ
Ｌａ〜Ｌｃ  筋
Ｐ０〜Ｐ４，Ｐ４ａ〜Ｐ４ｃ，Ｐ５  位置
Ｓ１，Ｓ２  制御信号
【図１】
2014137263.tif 000003
【図２】
2014137263.tif 000004
【図３】
2014137263.tif 000005
【図４】
2014137263.tif 000006
【図５】
2014137263.tif 000007
【図６】
2014137263.tif 000008
【図７】
2014137263.tif 000009
【図８】
2014137263.tif 000010
【図９】
2014137263.tif 000011
【図１０】
2014137263.tif 000012
【図１１】
2014137263.tif 000013