(57)【要約】  短時間でかつ高い精度でセメントの品質を予測することができる方法を提供する。  入力層及び出力層を有するニューラルネットワーク、学習データ及びモニターデータを用いて、σＬ＜σＭとなるような、十分に大きい学習回数でニューラルネットワークの学習を行った後に、学習回数を減らしながらニューラルネットワークの学習をσＬ≧σＭとなるまで繰り返し、かつ、解析度判定値が第一の設定値を満たさない場合であって、解析度判定値が予め定めた第二の設定値を満たす場合、監視データの実測値が特定の限定条件によって形成される数値範囲内に属する場合であれば、ニューラルネットワークの入力層に当該の監視データの実測値を入力し、出力層から評価データの推測値を出力するセメントの品質または製造条件の予測方法。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力層及び出力層を有するニューラルネットワークを用いたセメントの品質または製造条件の予測方法であって、
上記入力層は、セメント製造における監視データの実測値を入力するためのものであり、上記出力層は、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力するためのものであり、
上記監視データと上記評価データの組み合わせが、
（ｉ）上記監視データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、及びセメントクリンカーに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、及びセメントに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータである組み合わせ、または、
（ｉｉ）上記監視データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、セメントに関するデータ、及び混合材に関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせ、であり、
（Ａ）学習回数の初期設定を行う工程と、
（Ｂ）監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせである学習データを複数用いて、ニューラルネットワークの学習を、前工程で設定された学習回数行う工程と、
（Ｃ）学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）、及び、ニューラルネットワークの学習結果の信頼性を確認するための監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせであるモニターデータの中の監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの中の評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭである場合、工程（Ｄ）を実施し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ＜σＭである場合、工程（Ｅ）を実施する工程と、
（Ｄ）直近の工程（Ａ）で設定された学習回数および再設定された直近のニューラルネットワークの学習回数のいずれの学習回数よりも大きい学習回数を新たな学習回数として再設定し、再度工程（Ｂ）〜（Ｃ）を実施する工程と、
（Ｅ）直近のニューラルネットワークの学習で実施された学習回数を減らした学習回数を、新たな学習回数として再設定する工程と、
（Ｆ）直近の工程（Ｂ）で用いられた学習データを用いて、ニューラルネットワークの学習を直近の工程（Ｅ）で設定された学習回数行う工程と、
（Ｇ）学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）、及び、モニターデータの中の監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの中の評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭである場合、工程（Ｉ）を実施し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ＜σＭである場合、工程（Ｈ）を実施する工程と、
（Ｈ）直近の工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値を超えている場合、再度工程（Ｅ）〜（Ｇ）を実施し、直近の工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値以下の場合、工程（Ｊ）を実施する工程と、
（Ｉ）下記式（１）を用いて解析度判定値を算出し、該解析度判定値が予め定めた第一の設定値未満である場合、ニューラルネットワークの学習を終了し、学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、上記ニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力してセメントの品質または製造条件を予測し、上記解析度判定値が予め定めた第一の設定値以上である場合、工程（Ｊ）を実施する工程と、
（Ｊ）工程（Ａ）を実施した回数の大きさについての判定を行い、該回数が予め設定した回数以下である場合、学習条件の初期化を行って、再度工程（Ａ）〜（Ｉ）を行い、該回数が予め設定した回数を超える場合、工程（Ｋ）を実施する工程と、
（Ｋ）工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値未満である場合、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）におけるニューラルネットワークを、学習済みのニューラルネットワークとした後、工程（Ｌ）を実施し、最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値以上である場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、
（Ｌ）  ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データについて、予測可能監視データ領域を設定するための、監視データの固定値を設定し、
設定された監視データの固定値のうち、１種の監視データの固定値のみを任意に変動させて、変動させた監視データの値と、変動させた監視データ以外の監視データの固定値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力して評価データの推測値を複数得た後、得られた複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値と、工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）における、解析度判定値の算出に用いた学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値を比較することを、ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データに対して行い、上記最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が２種以上である場合、該２種以上の監視データの全種類を座標軸とする座標空間に、学習データとして使用した監視データの実測値をプロットし、座標空間において、プロットされた監視データ同士を結ぶことで形成される監視データの全てを包含する領域であって、該領域が最大となるように監視データ同士を結ぶことで形成される領域を、予測可能監視データ領域として設定した後、工程（Ｍ）を実施し、
上記最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が０または１種である場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、
（Ｍ）セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれるかどうかを判定し、セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれる場合、工程（Ｋ）で得た学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、上記ニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力してセメントの品質または製造条件を予測し、セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれない場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、を含むことを特徴とするセメントの品質または製造条件の予測方法。
【数１】
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（上記式（１）中、学習データの平均２乗誤差（σＬ）とは、学習データの監視データの実測値を学習後のニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）である。評価データの推測値の平均値とは、学習データの監視データの実測値を学習後のニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値の平均値である。）
【請求項２】
上記解析度判定値の予め定めた第一の設定値が６％以下であり、上記解析度判定値の予め定めた第二の設定値が上記第一の設定値よりも大きくかつ２０％以下である請求項１に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【請求項３】
上記ニューラルネットワークが、上記入力層と上記出力層の間に中間層を有する階層型のニューラルネットワークである請求項１または２に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【請求項４】
上記セメントがポルトランドセメントであり、上記監視データと上記評価データの組み合わせが、（ｉｉ）上記監視データが、セメントに関するデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせであり、
上記監視データである、セメントに関するデータは、ポルトランドセメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、湿式ｆ．ＣａＯ、鉱物組成、及び化学組成の中から選ばれる一種以上であり、
上記評価データである、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータは、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性、水和熱、及び凝結時間の中から選ばれる一種以上である請求項１〜３のいずれか１項に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【請求項５】
上記セメントが混合セメントであり、上記監視データと上記評価データの組み合わせが、（ｉｉ）上記監視データが、セメントに関するデータ及び混合材に関するデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせであり、
上記監視データである、セメントに関するデータは、混合セメントに含まれるポルトラントセメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、湿式ｆ．ＣａＯ、鉱物組成、及び化学組成、混合セメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、鉱物組成、及び化学組成、並びに、混合セメント中の混合材の含有率の中から選ばれる一種以上であり、上記監視データである、混合材に関するデータは、混合材のブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、及び化学組成の中から選ばれる一種以上であり、
上記評価データである、上記セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータは、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性、水和熱、及び凝結時間の中から選ばれる一種以上である請求項１〜３のいずれか１項に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【請求項６】
工程（Ａ）の前に、（Ａ−１）任意に選択した１種以上の監視データからなる監視データ集合体を、２種以上用意し、該２種以上の監視データ集合体の各々について、
監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせである選択データを複数用いて、工程（Ａ）〜（Ｍ）において用いられるニューラルネットワークとは異なる未学習のニューラルネットワークの学習を行い、得られたニューラルネットワークの入力層に、選択データの監視データの実測値を入力して得られた評価データの推測値と、選択データの評価データの実測値との平均２乗誤差を算出し、
平均２乗誤差の数値が最も小さかった選択データにおける監視データを、工程（Ａ）〜（Ｍ）における監視データとして用いる工程、を含む請求項１〜５のいずれか１項に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【請求項７】
上記監視データの値を人為的に変動させて得られた上記評価データの推測値に基づいて、セメントの製造条件を最適化する請求項１〜６のいずれか１項に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ニューラルネットワークを用いたセメントの品質または製造条件の予測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
硬化前の流動性、作業性や、硬化後の種々の化学的、物理的特性等、セメントには多くの品質が求められている。
重要な品質項目として、例えば、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２０１（セメントの物理試験方法）」に準拠した材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さ等が挙げられる。しかし、上記モルタルの圧縮強さ等の材齢を要素とする品質項目は、品質試験結果が判明するまでに長期の時間を要するため、品質試験結果を確認した後にセメントを出荷することが困難であるという問題があった。
このため、セメントの製造現場では、セメントクリンカーの組成（化学組成や鉱物組成）やセメントの粉末度等の製造工程での品質管理項目を設定し、材齢を要素とする品質項目が所定の管理基準値を満足するように、それら製造工程での品質管理項目に、経験に基づいた管理基準値を設定している。【０００３】
しかし、製造工程での品質管理項目を指標としたセメントの品質管理方法は、限られた代替指標による間接的管理であることから、管理精度にある程度のあいまいさを有していることは避けられず、過剰に安全側に管理基準を設定せざるを得ない方法である。
そこで、そのような過剰に安全側に設定した品質管理傾向から生じる過剰スペックの製品の発生を抑制しながら、所定の品質の製品を安定的に製造し、さらに、品質規格を外れた異常品の製造を防止するため、上記製造工程での品質管理項目の情報に加えて、セメント製造に関する種々のその他の情報を活用して、より高精度にセメントの品質を予測する技術が種々提案されている。
ニューラルネットワークの学習プロセスを含むセメントの品質予測方法として、例えば、特許文献１には、監視データの実測値を入力するための入力層と、評価データの推測値を出力するための出力層を有するニューラルネットワークを用いたセメントの品質または製造方法の予測方法であって、学習データとモニターデータを用いて、σＬ＜σＭとなるような、十分に大きい学習回数でニューラルネットワークの学習を行った後に、学習回数を減らしながらニューラルネットワークの学習をσＬ≧σＭとなるまで繰り返し、学習後の解析度判定値が予め定めた設定値未満である場合に、ニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、学習後のニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力する、セメントの品質または製造条件の予測方法が記載されている。該予測方法によれば、短時間でかつ高い精度でセメントの品質または製造条件を予測することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第５３２３２９０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載された予測方法で、監視データの実測値や評価データの実測値を十分に得ることができない等の、学習データの数が不十分である場合等において、解析度判定値が予め定めた設定値を満たさないために、予測できない場合があった。
本発明の目的は、解析度判定値が予め定めた設定値を満たさない場合でも、短時間でかつ高い精度でセメントの品質または製造条件（適正な品質を有するセメントを製造するために必要な製造上の諸条件）を予測することができる方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討した結果、ニューラルネットワークを用いたセメントの品質または製造条件の予測方法であって、学習データとモニターデータを用いて、σＬ＜σＭ（この式の意味は後で説明する。）となるような、十分に大きい学習回数でニューラルネットワークの学習を行った後に、今度は、学習回数を減らしながらニューラルネットワークの学習をσＬ≧σＭとなるまで繰り返し、かつ、解析度判定値が第一の設定値を満たさない（超える）場合であって、解析度判定値が予め定めた第二の設定値を満たす（以下）場合、監視データの実測値が特定の限定条件によって形成される数値範囲内に属する場合であれば、ニューラルネットワークの入力層に当該の監視データの実測値を入力し、出力層から評価データの推測値を出力する方法によれば、上記目的を達成しうることを見出し、本発明を完成した。【０００７】
すなわち、本発明は、以下の［１］〜［７］を提供するものである。
［１］  入力層及び出力層を有するニューラルネットワークを用いたセメントの品質または製造条件の予測方法であって、上記入力層は、セメント製造における監視データの実測値を入力するためのものであり、上記出力層は、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力するためのものであり、上記監視データと上記評価データの組み合わせが、
（ｉ）上記監視データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、及びセメントクリンカーに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、及びセメントに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータである組み合わせ、または、
（ｉｉ）上記監視データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、セメントに関するデータ、及び混合材に関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせ、であり、
（Ａ）学習回数の初期設定を行う工程と、
（Ｂ）監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせである学習データを複数用いて、ニューラルネットワークの学習を、前工程で設定された学習回数行う工程と、
（Ｃ）学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）、及び、ニューラルネットワークの学習結果の信頼性を確認するための監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせであるモニターデータの中の監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの中の評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭである場合、工程（Ｄ）を実施し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ＜σＭである場合、工程（Ｅ）を実施する工程と、
（Ｄ）直近の工程（Ａ）で設定された学習回数および再設定された直近のニューラルネットワークの学習回数のいずれの学習回数よりも大きい学習回数を新たな学習回数として再設定し、再度工程（Ｂ）〜（Ｃ）を実施する工程と、
（Ｅ）直近のニューラルネットワークの学習で実施された学習回数を減らした学習回数を、新たな学習回数として再設定する工程と、
（Ｆ）直近の工程（Ｂ）で用いられた学習データを用いて、ニューラルネットワークの学習を直近の工程（Ｅ）で設定された学習回数行う工程と、
（Ｇ）学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）、及び、モニターデータの中の監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの中の評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭである場合、工程（Ｉ）を実施し、算出されたσＬとσＭの関係がσＬ＜σＭである場合、工程（Ｈ）を実施する工程と、
（Ｈ）直近の工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値を超えている場合、再度工程（Ｅ）〜（Ｇ）を実施し、直近の工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値以下の場合、工程（Ｊ）を実施する工程と、
（Ｉ）下記式（１）を用いて解析度判定値を算出し、該解析度判定値が予め定めた第一の設定値未満である場合、ニューラルネットワークの学習を終了し、学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、上記ニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力してセメントの品質または製造条件を予測し、上記解析度判定値が予め定めた第一の設定値以上である場合、工程（Ｊ）を実施する工程と、
（Ｊ）工程（Ａ）を実施した回数の大きさについての判定を行い、該回数が予め設定した回数以下である場合、学習条件の初期化を行って、再度工程（Ａ）〜（Ｉ）を行い、該回数が予め設定した回数を超える場合、工程（Ｋ）を実施する工程と、
（Ｋ）工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値未満である場合、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）におけるニューラルネットワークを、学習済みのニューラルネットワークとした後、工程（Ｌ）を実施し、最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値以上である場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、
（Ｌ）  ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データについて、予測可能監視データ領域を設定するための、監視データの固定値を設定し、
設定された監視データの固定値のうち、１種の監視データの固定値のみを任意に変動させて、変動させた監視データの値と、変動させた監視データ以外の監視データの固定値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力して評価データの推測値を複数得た後、得られた複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値と、工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）における、解析度判定値の算出に用いた学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値を比較することを、ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データに対して行い、上記最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が２種以上である場合、該２種以上の監視データの全種類を座標軸とする座標空間に、学習データとして使用した監視データの実測値をプロットし、座標空間において、プロットされた監視データ同士を結ぶことで形成される監視データの全てを包含する領域であって、該領域が最大となるように監視データ同士を結ぶことで形成される領域を、予測可能監視データ領域として設定した後、工程（Ｍ）を実施し、
上記最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が０または１種である場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、
（Ｍ）セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれるかどうかを判定し、セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれる場合、工程（Ｋ）で得た学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、上記ニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力してセメントの品質または製造条件を予測し、セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれない場合、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する工程と、を含むことを特徴とするセメントの品質または製造条件の予測方法。
【数１】
2018061239.tif 000003
（上記式（１）中、学習データの平均２乗誤差（σＬ）とは、学習データの監視データの実測値を学習後のニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）である。評価データの推測値の平均値とは、学習データの監視データの実測値を学習後のニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値の平均値である。）【０００８】
［２］  上記解析度判定値の予め定めた第一の設定値が６％以下であり、上記解析度判定値の予め定めた第二の設定値が上記第一の設定値よりも大きくかつ２０％以下である前記［１］に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
［３］  上記ニューラルネットワークが、上記入力層と上記出力層の間に中間層を有する階層型のニューラルネットワークである前記［１］または［２］に記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
［４］  上記セメントがポルトランドセメントであり、上記監視データと上記評価データの組み合わせが、（ｉｉ）上記監視データが、セメントに関するデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせであり、上記監視データである、セメントに関するデータは、ポルトランドセメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、湿式ｆ．ＣａＯ、鉱物組成、及び化学組成の中から選ばれる一種以上であり、上記評価データである、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータは、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性、水和熱、及び凝結時間の中から選ばれる一種以上である前記［１］〜［３］のいずれかに記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。【０００９】
［５］  上記セメントが混合セメントであり、上記監視データと上記評価データの組み合わせが、（ｉｉ）上記監視データが、セメントに関するデータ及び混合材に関するデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせであり、上記監視データである、セメントに関するデータは、混合セメントに含まれるポルトラントセメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、湿式ｆ．ＣａＯ、鉱物組成、及び化学組成、混合セメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、鉱物組成、及び化学組成、並びに、混合セメント中の混合材の含有率の中から選ばれる一種以上であり、上記監視データである、混合材に関するデータは、混合材のブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、及び化学組成の中から選ばれる一種以上であり、上記評価データである、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータは、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性、水和熱、及び凝結時間の中から選ばれる一種以上である前記［１］〜［３］のいずれかに記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
［６］  工程（Ａ）の前に、（Ａ−１）任意に選択した１種以上の監視データからなる監視データ集合体を、２種以上用意し、該２種以上の監視データ集合体の各々について、
監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせである選択データを複数用いて、工程（Ａ）〜（Ｍ）において用いられるニューラルネットワークとは異なる未学習のニューラルネットワークの学習を行い、得られたニューラルネットワークの入力層に、選択データの監視データの実測値を入力して得られた評価データの推測値と、選択データの評価データの実測値との平均２乗誤差を算出し、平均２乗誤差の数値が最も小さかった選択データにおける監視データを、工程（Ａ）〜（Ｍ）における監視データとして用いる工程、を含む前記［１］〜［５］のいずれかに記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
［７］  上記監視データの値を人為的に変動させて得られた上記評価データの推測値に基づいて、セメントの製造条件を最適化する前記［１］〜［６］のいずれかに記載のセメントの品質または製造条件の予測方法。
【発明の効果】
【００１０】
本発明のセメントの品質または製造条件の予測方法を用いれば、学習データの数が少ない等の、従来のニューラルネットワークの学習プロセスを含む予測方法では困難であった条件においても、短時間でかつ高い精度でセメントの品質または製造条件を予測することができる。
また、得られた推測値を基にリアルタイムで製造条件を最適化することが可能であり、セメントの品質の安定化の向上を図ることができる。
さらに、ニューラルネットワークの学習を継続することによって、高い予測の精度を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の予測方法の一例を示すフロー図である。
【図２】実施例１のニューラルネットワークの学習の工程（Ｌ）において設定された予測可能監視データ領域を示す図である。
【図３】実施例２のニューラルネットワークの学習の工程（Ｌ）において設定された予測可能監視データ領域を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明について詳細に説明する。
本発明の予測方法は、セメント製造における監視データの実測値を入力するための入力層と、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力するための出力層を有するニューラルネットワークを用いて、セメントの品質または製造条件を予測する方法である。
本発明のニューラルネットワークは、入力層と出力層の間に中間層を有する階層型のニューラルネットワークであってもよい。
【００１３】
上記監視データと上記評価データの組み合わせとしては、以下の（ｉ）または（ｉｉ）が挙げられる。
（ｉ）上記監視データがセメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、及びセメントクリンカーに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、及びセメントに関するデータの中から選ばれる一種以上のデータである組み合わせ
（ｉｉ）上記監視データが、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、セメントに関するデータ、及び混合材に関するデータの中から選ばれる一種以上のデータであり、かつ、上記評価データが、セメントと水を混練してなる組成物の物性に関するデータである組み合わせ
【００１４】
前記（ｉ）の組み合わせにおける監視データの一つである「セメントクリンカーの原料に関するデータ」は、セメントクリンカーの調合原料の化学組成、水硬率、ふるい試験残分量、ブレーン比表面積（粉末度）、強熱減量；キルンへの投入時から所定の時間前の時点（例えば、５時間前の１つの時点や、３時間前、４時間前、５時間前、及び６時間前の４つの時点のような複数の時点）のセメントクリンカーの原料（搬送中に向流する空気流によって微粒分等が抜き取られたセメントクリンカーの調合原料。以後、セメントクリンカーの窯入原料と称す。）の化学組成、水硬率、供給量；廃棄物のような特殊な原料からなるセメントクリンカーの副原料の供給量、調合原料のブレンディングサイロの貯留量（残量）、調合原料のストレージサイロの貯留量（残量）、原料ミルと調合原料のブレンディングサイロの間に位置するサイクロンの電流値（サイクロンの回転数を表し、サイクロンを通過する原料の速度と相関関係があるもの）；セメントクリンカーの窯入原料と副原料を混合してなる原料の化学組成、水硬率、ブレーン比表面積、ふるい試験残分量、脱炭酸率、水分量、等が挙げられる。これらのデータは、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いられる。
ここで、セメントクリンカーの原料（調合原料または窯入原料）の化学組成とは、セメントクリンカーの原料中のＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、Ｆｅ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、ＳＯ３、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏｅｑ（全アルカリ）、ＴｉＯ２、Ｐ２Ｏ５、ＭｎＯ、Ｃｌ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｖ、Ａｓ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｆ等の含有率である。
【００１５】
前記（ｉ）の組み合わせにおける監視データの一つである「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」は、セメントクリンカーの原料の挿入量、キルンの窯入ＣＦＷ、キルン回転数、落口温度、焼成帯温度、セメントクリンカー温度、キルン平均トルク、Ｏ２濃度、ＮＯＸ濃度、クリンカークーラー温度、プレヒーターのガスの流量（プレヒーターの温度と相関関係があるもの）等が挙げられる。これらのデータは、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いられる。
【００１６】
前記（ｉ）の組み合わせにおける監視データの一つである「セメントの粉砕条件に関するデータ」は、粉砕温度、仕上ミル内の散水量、セパレーター風量、石膏の種類、石膏の添加量、セメントクリンカーの投入量、仕上ミルの回転数、仕上ミルから排出される粉体の温度、仕上ミルから排出される粉体の量、仕上ミルから排出されない粉体の量、被粉砕性等が挙げられる。
前記（ｉ）の組み合わせにおける監視データの一つである「セメントクリンカーに関するデータ」は、セメントクリンカーの鉱物組成、各鉱物の結晶学的性質（格子定数や結晶子径など）、２種以上の鉱物組成の比、化学組成、湿式ｆ．ＣａＯ（フリーライム）、容量、容重等が挙げられる。これらのデータは、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いられる。
【００１７】
ここで、セメントクリンカーの鉱物組成とは、３ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ３Ｓ）、２ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ２Ｓ）、３ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３（Ｃ３Ａ）、４ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３・Ｆｅ２Ｏ３（Ｃ４ＡＦ）、ｆ．ＣａＯ、ｆ．ＭｇＯ等の含有率である。また「２種以上の鉱物組成の比」としては、例えば、Ｃ３Ｓ／Ｃ２Ｓの比が挙げられる。
なお、セメントクリンカーの鉱物組成は、例えばＸＲＤ−リートベルト法によって得ることができる。
セメントクリンカーの化学組成とは、セメントクリンカー中のＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、Ｆｅ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、ＳＯ３、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏｅｑ（全アルカリ）、ＴｉＯ２、Ｐ２Ｏ５、ＭｎＯ、Ｃｌ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｖ、Ａｓ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｆ等の含有率である。
前記（ｉ）の組み合わせにおいて、監視データとして、セメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、及びセメントクリンカーに関するデータの中から選ばれるいずれか一種のデータのみを用いてもよいが、これら４種のデータのうちの２種以上（複数）のデータを用いることが、評価データの予測の精度を高める観点から、好ましい。
【００１８】
前記（ｉ）の組み合わせにおける評価データである「セメントクリンカーの原料に関するデータ」、「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」、「セメントの粉砕条件に関するデータ」、及び「セメントクリンカーに関するデータ」は、各々、上述した監視データである「セメントクリンカーの原料に関するデータ」、「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」、「セメントの粉砕条件に関するデータ」、及び「セメントクリンカーに関するデータ」と同様である。
また、上述した「セメントクリンカーの原料に関するデータ」、「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」、「セメントの粉砕条件に関するデータ」、及び「セメントクリンカーに関するデータ」は監視データを兼ねることができる。
前記（ｉ）の組み合わせにおける評価データの一つである「セメントに関するデータ」は、ブレーン比表面積、ふるい試験残分量、石膏の半水化率、色調等が挙げられる。
【００１９】
前記（ｉｉ）の組み合わせにおける監視データである「セメントクリンカーの原料に関するデータ」、「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」、「セメントの粉砕条件に関するデータ」、「セメントクリンカーに関するデータ」は、各々、前記（ｉ）の組み合わせにおける監視データである「セメントクリンカーの原料に関するデータ」、「セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ」、「セメントの粉砕条件に関するデータ」、「セメントクリンカーに関するデータ」と同様である。
前記（ｉｉ）の組み合わせにおける監視データである「セメントに関するデータ」は、セメントの化学組成、鉱物組成、各鉱物の結晶学的性質（格子定数や結晶子径など）、湿式ｆ．ＣａＯ、強熱減量、ブレーン比表面積、粒度分布、ふるい試験残分量（３１μｍふるい試験残分量、３２μｍふるい試験残分量等）、石膏の半水化率、色調、及び密度；上記セメントが混合セメントの場合における、混合セメントに含まれるポルトランドセメント（基材セメント）のブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度、湿式ｆ．ＣａＯ、鉱物組成、化学組成、石膏の半水化率、色調、混合セメントの鉱物組成、及び混合材の含有率、等が挙げられる。なお、前記セメントとしては、例えば、（１）「日本工業規格（以降「ＪＩＳ」と称す）  Ｒ  ５２１０（ポルトランドセメント）」に規定される各種ポルトランドセメントや、（２）前記各種ポルトランドセメントと、高炉スラグ粉末、焼成頁岩粉末、フライアッシュ、石灰石粉末、シリカフュームから選ばれる一種以上の混合材を混合してなる各種混合セメントや、（３）「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１４（エコセメント）」に規定されるエコセメント等が挙げられる。前記混合セメントとしては、例えば、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１１（高炉セメント）」に規定される高炉セメントや、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１３（フライアッシュセメント）」に規定されるフライアッシュセメントや、前記フライアッシュセメントよりもフライアッシュの含有率が大きい（フライアッシュの含有率が３０質量％を越え６０質量％以下）セメント等が挙げられる。なお、本明細書において、ポルトランドセメントとフライアッシュを混合した混合セメントを、以降「フライアッシュ混合セメント」と称す。
また、前記（ｉｉ）の組み合わせにおける監視データである「混合材に関するデータ」としては、セメント（例えば、混合セメント）に含まれる混合材のブレーン比表面積、ふるい試験残分量（４５μｍふるい試験残分量等）、密度、化学組成、強熱減量、及びガラス化率等が挙げられる。
これらのデータは、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いられる。
【００２０】
ここで、セメント（各種ポルトランドセメント、混合セメント等）の化学組成とは、セメント原料（セメントが混合材を含む場合は、混合材を含むセメント原料）中のＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、Ｆｅ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、ＳＯ３、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏｅｑ（全アルカリ）、ＴｉＯ２、Ｐ２Ｏ５、ＭｎＯ、Ｃｌ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｖ、Ａｓ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｆ等の量や割合（含有率）である。
セメント（各種ポルトランドセメント）の鉱物組成とは、３ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ３Ｓ）、２ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ２Ｓ）、３ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３（Ｃ３Ａ）、４ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３・Ｆｅ２Ｏ３（Ｃ４ＡＦ）、ｆ．ＣａＯ、ｆ．ＭｇＯ、ＣａＣＯ３、石膏（例えば、二水石膏、半水石膏）、カルサイト等の量や割合（含有率）である。
混合セメントの鉱物組成とは、３ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ３Ｓ）、２ＣａＯ・ＳｉＯ２（Ｃ２Ｓ）、３ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３（Ｃ３Ａ）、４ＣａＯ・Ａｌ２Ｏ３・Ｆｅ２Ｏ３（Ｃ４ＡＦ）、ｆ．ＣａＯ、ｆ．ＭｇＯ、ＣａＣＯ３、石膏（例えば、二水石膏、半水石膏）、カルサイト、ムライト、マグネタイト、石英、ガラス等の量や割合（含有率）である。前記混合セメントの鉱物組成は、例えばＸＲＤ−リートベルト法によって得ることができる。
なお、セメントの化学組成及び鉱物組成のデータは、前記（ｉ）の組み合わせにおける評価データである「セメントクリンカーに関するデータ」を利用してもよい。
混合材の化学組成とは、混合材中のＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、Ｆｅ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、ＳＯ３、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏｅｑ（全アルカリ）、ＴｉＯ２、Ｐ２Ｏ５、ＭｎＯ、Ｃｌ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｖ、Ａｓ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｆ等の量や割合（含有率）である。
色調（色調Ｌ値、色調ａ値、色調ｂ値）は、「ＪＩＳ  Ｚ  ８７２２（色の測定方法−反射及び透過物体色）」の方法等による測定値である。
【００２１】
前記（ｉｉ）の組み合わせにおける評価データである「セメントと水を混練してなる組成物の物性」は、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性（フロー値）、水和熱、凝結時間、乾燥収縮率、安定性、水中膨張、耐硫酸塩性、中性化、ＡＳＲ抵抗等が挙げられる。
【００２２】
上記（ｉｉ）の組み合わせにおける評価データのセメントと水を混練してなる組成物の物性のうち、モルタルの圧縮強さ、曲げ強度、流動性（フロー値）、水和熱、または凝結時間を、より高い精度で予測することができる、好ましい監視データの組み合わせは、セメントクリンカーの原料に関するデータのうち、セメントクリンカーの調合原料の化学組成、水硬率、ふるい試験残分量、ブレーン比表面積、強熱減量；セメントクリンカーの焼成条件に関するデータのうち、キルンの窯入ＣＦＷ、キルン回転数、落口温度、焼成帯温度、セメントクリンカー温度、キルン平均トルク、Ｏ２濃度、ＮＯＸ濃度、クリンカークーラー温度、プレヒーターのガスの流量；セメントの粉砕条件に関するデータのうち、粉砕温度、仕上ミル内の散水量、セパレーター風量、石膏の添加量、セメントクリンカーの投入量、仕上ミルの回転数、仕上ミルから排出される粉体の温度、仕上ミルから排出される粉体の量、仕上げミルから排出されない粉体の量、被粉砕性；セメントクリンカーに関するデータのうち、セメントクリンカーの鉱物組成、各鉱物の結晶学的性質、２種以上の鉱物組成の比、化学組成、容量；セメントに関するデータのうち、セメントの化学組成、鉱物組成、各鉱物の結晶学的性質、湿式ｆ.ＣａＯ、強熱減量、ブレーン比表面積、粒度分布、ふるい試験残分量、密度、色調Ｌ値、色調ａ値、色調ｂ値、混合材の含有率；混合材に関するデータのうち、混合材のブレーン比表面積、ふるい試験残分量、密度の中から選ばれる一種以上である。
【００２３】
上記監視データの中でも、より好ましい監視データの組み合わせとしては、以下の（ａ）〜（ｂ）が挙げられる。
（ａ）予測の対象となるセメントがポルトランドセメントであり、かつ、監視データの組み合わせが、セメント（ポルトランドセメント）に関するデータのうち、セメントのブレーン比表面積、ふるい試験残分量（３１μｍふるい試験残分量、３２μｍふるい試験残分量）、湿式ｆ.ＣａＯ、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、Ｃ４ＡＦ、二水石膏、半水石膏、ｆ.ＣａＯ、ｆ.ＭｇＯ、ＣａＣＯ３の量）、及び化学組成（ＭｇＯ、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏｅｑ（全アルカリ）、Ｐ２Ｏ５、ＴｉＯ２の量）の中から選ばれる１種以上であるもの
（ｂ）予測の対象となるセメントがフライアッシュ混合セメント（混合セメント）であり、かつ、監視データの組み合わせが、セメント（混合セメント：フライアッシュ混合セメント）に関するデータのうち、セメント（混合セメント：フライアッシュ混合セメント）に含まれるポルトラントセメント（基材セメント）のブレーン比表面積、密度；セメント（混合セメント：フライアッシュ混合セメント）のブレーン比表面積、密度、混合材（フライアッシュ）の含有率であり、混合材（フライアッシュ）に関するデータのうち、混合材（フライアッシュ）のブレーン比表面積、ふるい試験残分量（４５μｍふるい試験残分量）、及び密度の中から選ばれる１種以上であるもの
【００２４】
本発明において、複数の種類の監視データの中から特定の種類の監視データを選択し、選択した監視データを、後述する工程（Ａ）〜（Ｍ）において用いることで、評価データの予測の精度をより高めることできる。
なお、特定の種類の監視データ（評価データの予測の精度をより高めることできる、１種又は２種以上の監視データの組み合わせ）は、予測の対象となる評価データの種類によって異なるものである。
特定の種類の監視データは、予測の対象となる評価データと相関性の高いものを選択することが好ましい。特定の種類の監視データを選択する方法については、後述（工程（Ａ−１））する。
【００２５】
本発明のセメントの品質または製造条件の予測方法において、対象となるセメントは、特に限定されず、例えば、（１）「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１０（ポルトランドセメント）」に規定される普通ポルトランドセメント、早強ポルトランドセメント、中庸熱ポルトランドセメント、低熱ポルトランドセメント等の各種ポルトランドセメントや、（２）前記各種ポルトランドセメントと、高炉スラグ粉末、焼成頁岩粉末、フライアッシュ、石灰石粉末、シリカフュームから選ばれる一種以上の混合材を混合してなる各種混合セメント（例えば、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１１（高炉セメント）」に規定される高炉セメントや、フライアッシュ混合セメント等）、（３）「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１４（エコセメント）」に規定されるエコセメント等が挙げられる。
ポルトランドセメントの製造工程は、原料工程、焼成工程、仕上工程の３工程に大別される。原料工程は、石灰石、粘土、珪石、酸化鉄原料などのセメント原料を適当な割合で調合して、原料ミルで微粉砕し、ポルトランドセメントクリンカーの調合原料を得る工程である。焼成工程は、ポルトランドセメントクリンカーの調合原料をサスペンションプレヒーター等を経由してロータリーキルンに供給し、充分に焼成した後、冷却して、ポルトランドセメントクリンカーを得る工程である。仕上工程は、得られたポルトランドセメントクリンカーに適当な量の石膏などを加え、仕上ミルで微粉砕して、ポルトランドセメントを得る工程である。
【００２６】
本発明では、セメント製造における監視データと、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの関係を、ニューラルネットワークによって予め学習し、その学習結果を用いて、上記監視データのみに基づいて、上記評価データを予測する。
以下、本発明の予測方法について、図１を参照しながら詳しく説明する。
［工程（Ａ−１）］
本工程は、評価データの予測の精度をより高める目的で、工程（Ａ）の前に任意に行われる工程である。
本工程では、任意に選択した１種以上の監視データからなる監視データ集合体を、２種以上用意し、該２種以上の監視データ集合体の各々について、工程（Ａ）〜（Ｍ）において用いるのに好適な監視データを選択するための、監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせ（以下、「選択データ」ともいう。）を複数用いて、工程（Ａ）〜（Ｍ）において用いられるニューラルネットワークとは異なる未学習のニューラルネットワークの学習を行い、得られたニューラルネットワークの入力層に、選択データの監視データの実測値を入力して得られた評価データの推測値と、選択データの評価データの実測値との平均２乗誤差（ＲＭＳＥ：Ｒｏｏｔ  Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅｄ  Ｅｒｒｏｒ）を算出し、平均２乗誤差の数値が最も小さかった選択データにおける監視データを、工程（Ａ）〜（Ｍ）における監視データとして用いるものとする。
【００２７】
任意に選択した１種以上の監視データとは、上述したセメントクリンカーの原料に関するデータ、セメントクリンカーの焼成条件に関するデータ、セメントの粉砕条件に関するデータ、セメントクリンカーに関するデータ、セメントに関するデータ、及び混合材に関するデータとして列挙されたものの中から任意に選択した１種以上（好ましくは４種以上、より好ましくは５種以上、特に好ましくは６種以上）のデータである。
【００２８】
本工程では、任意に選択した１種以上の監視データからなる監視データ集合体を、２種以上（好ましくは３種以上、より好ましくは４種以上）用意し、該２種以上の監視データ集合体の各々について、集合体における監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせである選択データを複数用いて、未学習のニューラルネットワークの学習を行う。
具体的には、選択用の複数のサンプルを用意し、該サンプルの監視データ（任意に選択した１種以上の監視データ）の実測値、及び予測の対象となる評価データの実測値を測定して、これらを選択データとして用いる。該選択データのうち、監視データの実測値をニューラルネットワークの入力層に入力して、出力層から出力された評価データの推測値と、該評価データの推測値に対応する選択データの評価データの実測値を比較評価して、ニューラルネットワークを修正することを、任意の学習回数行うことで、ニューラルネットワークの学習が行われる。
選択用のサンプルの数は、より高い精度で予測を行うことができる監視データを選択できる観点から、好ましくは１０以上、より好ましくは２０以上、さらに好ましくは３０以上、特に好ましくは４０以上である。サンプル数の上限は、特に限定されるものではないが、作業性の観点から、例えば、１０，０００である。
上記ニューラルネットワークの学習回数は、特に限定されるものではないが、好ましくは１００〜２，０００回、より好ましくは２００〜１，５００回である。
【００２９】
［工程（Ａ）］
工程（Ａ）において、学習回数の初期設定を実施する。設定される学習回数は、特に限定されるものではないが、好ましくは、ニューラルネットワークの過学習（オーバーラーニング）が発生する程度に、十分に大きな回数である。具体的には、通常５千〜１００万回、好ましくは１万〜１０万回である。
工程（Ａ）では、ニューラルネットワークの過学習が発生する学習回数、具体的にはσＬ＜σＭ（詳しくは後述する）となるような学習回数を設定することが好ましいが、後の工程において、学習回数の増減が行われるため、工程（Ａ）において最初に設定される学習回数は、ニューラルネットワークの学習に通常行われる学習回数を用いても問題ない。
工程（Ａ）終了後、工程（Ｂ）を実施する。
【００３０】
［工程（Ｂ）］
工程（Ｂ）では、学習用の監視データの実測値と評価データの実測値の組み合わせ（以下、「学習データ」ともいう。）を複数用いて、ニューラルネットワークの学習を、前工程で設定された学習回数行う。上記組み合わせの数は、例えば、５以上、好ましくは７以上である。上記組み合わせの数の上限は、特に限定されないが、例えば、１，０００である。
ここで、「前工程で設定された学習回数」とは、工程（Ａ）において設定される学習回数、または、工程（Ｄ）において再設定された新たな学習回数であって、直近の工程（工程（Ａ）または工程（Ｄ））で設定された学習回数である。
具体的には、学習用の複数のサンプルを用意し、該サンプルの監視データの実測値、及び目的とする評価データの実測値を測定して、これらを学習データとして用いる。該学習データのうち、監視データの実測値をニューラルネットワークの入力層に入力して、出力層から出力された評価データの推測値と、該評価データの推測値に対応する学習データの評価データの実測値を比較評価してニューラルネットワークの修正することを、設定された学習回数行うことで、ニューラルネットワークの学習が行われる。
学習用のサンプルの数は、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは１０以上、より好ましくは２０以上である。サンプル数の上限は、特に限定されるものではないが、作業性の観点から、例えば、１０，０００である。
なお、学習回数を変更して、ニューラルネットワークの再学習を行う際には、前回の学習の結果得られたニューラルネットワークは初期化され、再度学習が行われる。
工程（Ｂ）終了後、工程（Ｃ）を実施する。
【００３１】
［工程（Ｃ）］
工程（Ｃ）では、σＬとσＭが算出される。σＬとσＭの大小関係から、学習がニューラルネットワークの過学習が発生する程度に十分に大きな回数行われたか否かを判断することができる。
具体的には、学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）において学習が行われたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）を算出する。次いで、モニターデータの監視データの実測値を、直近の工程（Ｂ）において学習が行われたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出する。その後、算出されたσＬとσＭの数値を比較することで、ニューラルネットワークの学習が十分に大きな回数で行われたか判断することができる。
ここで、モニターデータとは、学習データを得るために用いられたサンプルとは別のサンプルから得られた、監視データの実測値及び評価データの実測値の組み合わせであり、ニューラルネットワークの信頼性を確認するためのデータである。
モニターデータ（監視データの実測値及び評価データの実測値の組み合わせ）のサンプルの数は、作業性の観点から、学習データのサンプル数の好ましくは５〜５０％、より好ましくは１０〜３０％である。
【００３２】
工程（Ｃ）で算出されたσＬとσＭの関係が、σＬ≧σＭである場合（図１の過学習判定における「Ｎｏ」）、直近に行った工程（Ｂ）の学習回数は、十分に大きな回数ではないと判断することができる。この場合、工程（Ｄ）を実施する。工程（Ｃ）で算出されたσＬとσＭの関係が、σＬ＜σＭである場合（図１の過学習判定における「Ｙｅｓ」）、直近に行った工程（Ｂ）の学習回数は、十分に大きな回数であったと判断することができる。この場合、工程（Ｅ）を実施する。
【００３３】
［工程（Ｄ）］
工程（Ｄ）では、直近の工程（Ａ）で設定された学習回数および再設定された直近のニューラルネットワークの学習回数のいずれの学習回数よりも大きい学習回数を新たな学習回数として再設定する（例えば、直近の工程（Ｂ）で実施された学習回数に２．０を乗じた数を新たな学習回数として設定する。）。新たな学習回数を再設定した後、再度工程（Ｂ）〜（Ｃ）を実施する。
【００３４】
［工程（Ｅ）］
工程（Ｅ）では、直近のニューラルネットワークの学習で実施された学習回数を減らした学習回数を、新たな学習回数として再設定する（例えば、直近の工程（Ｂ）または工程（Ｆ）で実施された学習回数に０．９５を乗じた数を新たな学習回数として設定する。）。
なお、直近のニューラルネットワークの学習とは、より近い過去に実施された学習を指す。具体的には、工程（Ｂ）もしくは後述の工程（Ｆ）のうち、より近い過去に実施された学習を指す。
工程（Ｅ）終了後、工程（Ｆ）を実施する。
【００３５】
［工程（Ｆ）］
工程（Ｆ）では、直近の工程（Ｂ）で用いられた学習データを用いて、ニューラルネットワークの学習を直近の工程（Ｅ）で設定された学習回数行う。
工程（Ｆ）で実施する内容は、ニューラルネットワークの学習を工程（Ｅ）において新たに設定された学習回数行う以外は、工程（Ｂ）と同じである。
工程（Ｆ）終了後、工程（Ｇ）を実施する。
【００３６】
［工程（Ｇ）］
工程（Ｇ）では、直近の工程（Ｆ）の学習において得られたニューラルネットワークを用いて終了判定を行う。具体的には学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値と学習データの評価データの実測値との平均２乗誤差（σＬ）、及び、モニターデータの中の監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）の学習で得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値とモニターデータの中の評価データの実測値との平均２乗誤差（σＭ）を算出し、算出されたσＬとσＭの関係が、σＬ≧σＭである場合（図１の終了判定における「Ｙｅｓ」）、直近に行った工程（Ｆ）の学習回数は、もはや十分に大きな回数ではないと判断することができる。この場合、後述する工程（Ｉ）を実施する。算出されたσＬとσＭの関係がσＬ＜σＭである場合（図１の終了判定における「Ｎｏ」）、直近に行った工程（Ｆ）の学習回数は、いまだ十分に大きな回数であったと判断することができる。この場合、後述する工程（Ｈ）を実施する。
【００３７】
［工程（Ｈ）］
工程（Ｈ）では、直近の工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値を超えていたかどうかの判定を行う。工程（Ｈ）は、工程（Ｅ）から工程（Ｇ）を無限に繰り返すことを回避するために行われる。工程（Ｈ）において直近に行った工程（Ｆ）におけるニューラルネットワークの学習回数が予め定めた数値を超えていた場合（図１における「Ｙｅｓ」）は、再度工程（Ｅ）〜（Ｇ）を実施する。工程（Ｈ）において直近に行った工程（Ｆ）の学習回数が予め定めた数値以下場合（図１における「Ｎｏ」）は、後述の工程（Ｊ）または（Ｋ）を実施する。
なお、上記予め定めた数値とは、特に限定されず、例えば、工程（Ｅ）で設定された学習回数の１００分の１の数値以下、もしくは、１以下または０以下等が挙げられる。
【００３８】
［工程（Ｉ）］
工程（Ｉ）では解析度判定値が予め定めた第一の設定値未満であるか否かによって、解析度の判定を行うことができる。解析度判定値は下記式（１）を用いて算出される。
【数２】
2018061239.tif 000004
上記式（１）中、学習データの平均２乗誤差（σＬ）とは、直近の工程（Ｇ）で算出された平均２乗誤差（σＬ）と同じである。評価データの推測値の平均値とは、学習データの監視データの実測値を、直近の工程（Ｆ）にて得られたニューラルネットワークの入力層に入力して得られた評価データの推測値の平均値である。
解析度の判定を行うことで学習を行ったニューラルネットワークを用いて、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことができるか否かを判断することができる。
解析度判定値が予め定めた第一の設定値未満（図１の第一の解析度判定における「Ｙｅｓ」）であれば、解析は十分であると判断され、ニューラルネットワークの学習は終了する。
解析は十分であると判断された学習済みのニューラルネットワークは、本発明の予測方法に用いられる。
具体的には、学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、学習済みのニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力することで、セメントの品質または製造条件を予測することができる。
【００３９】
解析度判定値が予め定めた第一の設定値以上（図１の第一の解析度判定における「Ｎｏ」）であれば、学習データを用いて学習を行ったニューラルネットワークをそのまま用いて、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことはできないと判断され、工程（Ｊ）を実施する。
予め定めた第一の設定値は、特に限定されないが、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは６％以下、より好ましくは５％以下、特に好ましくは３％以下の値である。
なお、工程（Ａ）〜（Ｉ）は、工程（Ｉ）において解析度判定値が予め定めた第一の設定値未満となるか、あるいは、工程（Ｊ）において該回数が予め設定した回数を超えるまで繰り返される。工程（Ｉ）を実施するたびに得られる、解析度判定値及び学習済みのニューラルネットワークは、工程（Ｋ）において使用される。
【００４０】
［工程（Ｊ）］
工程（Ｊ）では、工程（Ａ）を実施した回数が予め設定した数値以下であるかどうかの判定を実施する。判定を実施することによって、工程（Ａ）から工程（Ｉ）を無限に繰り返すことを回避することができる。
工程（Ｊ）において、工程（Ａ）を実施した回数が予め設定した回数以下（図１の回数判定における「Ｙｅｓ」）である場合、学習条件の初期化を行って、再度工程（Ａ）〜（Ｉ）を行い、該回数が予め設定した回数を超える場合（図１の回数判定における「Ｎｏ」）、工程（Ｋ）を実施する。
予め設定した回数は、特に限定されないが、通常、５回以上である。予め設定した回数の上限は、工程（Ａ）から工程（Ｉ）を多大に繰り返すことを防ぐ観点から、好ましくは１００回以下である。
【００４１】
学習条件の初期化の方法としては、例えば、ニューラルネットワークを構成するユニットの閾値やユニットを結合している重みをランダムで変更した上で、学習データを再入力する方法、学習データを得るためのサンプルの数を増やす、使用する監視データの種類を変更する、又は不適切な学習データを除外する等を行った上で、新たな学習データを入力する方法等が挙げられる。
【００４２】
［工程（Ｋ）］
工程（Ｋ）では、工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値未満であるか否かによって、次の予測の実施の可否の判定を行うことができる。
工程（Ｋ）の判定を追加することで、工程（Ｉ）において、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことはできないと判断された学習済みのニューラルネットワークであっても、後述する工程（Ｌ）〜（Ｍ）を実施することによって、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことができるか否かを判断することができる。
最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値未満（図１の第二の解析度判定における「Ｙｅｓ」）である場合、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）におけるニューラルネットワークを、学習済みのニューラルネットワークとして得た後、工程（Ｌ）を実施する。
【００４３】
最も小さい解析度判定値が予め定めた第二の設定値以上（図１の第二の解析度判定における「Ｎｏ」）であれば、学習データを用いて学習を行ったニューラルネットワークを用いて、セメントの品質等の次の予測を高い精度で行うことはできないと判断して予測を終了する。
予め定めた第二の設定値は、上記第一の設定値よりも大きいものである。また、上限は、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは３０％以下、より好ましくは２０％である。
【００４４】
［工程（Ｌ）］
工程（Ｌ）では、工程（Ｍ）で用いられる予測可能監視データ領域を設定する。
最初に、ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データについて、予測可能監視データ領域を設定するための、監視データの固定値を設定する。
該固定値は、任意で設定してもよいが、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは学習データおよびモニターデータの監視データの実測値の、最大値と最小値の範囲内の数値であり、より好ましくは学習データおよびモニターデータの監視データの実測値の平均値である。
【００４５】
次いで、設定された監視データの固定値のうち、１種の監視データの固定値のみを任意に変動させて、変動させた監視データの値と、変動させた監視データ以外の監視データの固定値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力して評価データの推測値を複数得る。
変動させた監視データの値は、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは学習データおよびモニターデータの監視データの実測値の、最大値と最小値の範囲内で変動させた値である。変動させた値の個数は、特に限定されるものではないが、より高い精度で予測を行う観点から、好ましくは５個以上、より好ましくは８個以上、特に好ましくは１０個以上である。
【００４６】
次いで、得られた複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値と、工程（Ｉ）において算出した全ての解析度判定値のうち、最も小さい解析度判定値を得ることができた工程（Ｉ）における、解析度判定値の算出に用いた学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値を比較する。
上記比較を、ニューラルネットワークの学習に用いた全ての種類の監視データに対して行い、上記最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が２種以上である場合（図１の感度解析における「Ｙｅｓ」）、該２種以上の監視データの全種類を座標軸とする座標空間を作成する。
例えば、上述した複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が、Ｃ３Ｓの含有率と３２μｍふるい残分量の２種である場合、Ｃ３Ｓの含有率をＸ軸とし、３２μｍふるい残分量をｙ軸とする座標空間を作成する。
【００４７】
次いで、学習データとして使用した全ての監視データの実測値の中で、上述した複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である種類の監視データの実測値を全て、座標空間にプロットし、座標空間において、プロットされた監視データ同士を結ぶことで予測可能監視データ領域を設定する。該予測可能監視データ領域は、プロットされた監視データの全てを包含する領域であって、該領域が最大となるように監視データ同士を結ぶことで形成される領域である（図２参照）。予測可能監視データ領域を設定した後、工程（Ｍ）を実施する。
上述した複数の評価データの推測値のうち、最も大きい値から最も小さい値を減じた値が、上記学習データの平均二乗誤差（σＬ）に２を乗じた値以上である監視データの種類が０または１種である場合（図１の感度解析における「Ｎｏ」）、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する。
【００４８】
［工程（Ｍ）］
工程（Ｍ）では、セメント製造における監視データの実測値と工程（Ｌ）で作成された座標空間を用いて、セメント製造における監視データの実測値と工程（Ｋ）で得た学習済みのニューラルネットワークによって、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことができるか否かを判定することができる。
セメントの品質等の予測に使用される、セメント製造における監視データの実測値が、工程（Ｌ）で設定した予測可能監視データ領域に含まれる場合（図１の座標判定における「Ｙｅｓ」）、セメントの品質等の予測を高い精度で行うことができると判断し、工程（Ｋ）で得た学習済みのニューラルネットワークの入力層に、セメント製造における監視データの実測値を入力して、上記ニューラルネットワークの出力層から、セメントの品質または製造条件の評価に関連する評価データの推測値を出力することで、セメントの品質または製造条件を予測することができる。
セメント製造における監視データの実測値が、上記予測可能監視データ領域に含まれない場合（図１の座標判定における「Ｎｏ」）、セメントの品質または製造条件を予測することはできないと判断して予測を終了する。
なお、セメント製造における監視データが、工程（Ｌ）で作成された座標空間の座標軸として用いられていない種類の監視データの実測値（無相関検定において５％の有意水準で有意であると判断されなかった監視データの種類）を含む場合、当該の座標軸として用いられていない種類の監視データからは、監視データの実測値に何ら制限は与えない。
【００４９】
本発明の予測方法によれば、学習データの数が少ない等の、従来のニューラルネットワークの学習プロセスを含む予測方法では困難であった条件においても、入力層に入力されるセメント製造における監視データが予測可能監視データ領域に含まれる場合、当該監視データと学習済みのニューラルネットワークを用いて、高い精度でセメントの品質または製造条件を予測することができる。
【００５０】
ニューラルネットワークは、予測の精度を高い状態に維持するために、評価データの推測値と、該推測値に対応する実測値の乖離の大きさを定期的に点検し、その点検結果に基づいて、ニューラルネットワークを更新することが好ましい。更新の周期は、前記（ｉ）の組み合わせ（セメントクリンカーの鉱物組成等の予測に関するニューラルネットワーク）では、好ましくは１時間に一回、より好ましくは３０分間に一回である。前記（ｉｉ）の組み合わせ（セメントと水を混練してなる組成物の物性の予測に関するニューラルネットワーク）では、好ましくは１か月に一回、より好ましくは１週間に一回、特に好ましくは１日に一回である。
【００５１】
本発明のセメントの品質または製造条件の予測方法によれば、ニューラルネットワークを用いることによって、監視データを入力するだけで、セメントクリンカーの鉱物組成や、セメントと水を混練してなる組成物（例えば、モルタル）の圧縮強さ等の評価データの推測値を、１時間以内に得ることができる。
また、得られた評価データの推測値に基づいて、セメント製造途中においてセメントの品質異常を早期に察知し、原料工程、焼成工程及び仕上工程における諸条件の最適化を行うことにより、適正な品質のセメントを製造することができる。
具体的には、セメントクリンカーの鉱物組成の推測値に異常が認められた場合、原料の調合、焼成条件の調整等を行うことで、セメントクリンカーの鉱物組成を目的のものにすることができる。
また、評価データの推測値に基いて、セメントの製造工程の管理目標値を修正することも可能である。
例えば、モルタルの圧縮強さが目標値に達しないと予測される場合、学習に用いた監視データ（因子）とモルタルの圧縮強さの関係を解析して、最適なセメントの製造工程の管理目標値を確認することで、セメントの品質を目的のものにすることができる。
【００５２】
さらに、セメントの製造工程を制御するコンピュータと、本発明のセメントの品質または製造条件の予測方法を実施するために用いるコンピュータを接続することによって、評価データに基づいて監視データを人為的に変動させるための制御システムを自動化することもできる。
本発明において、ニューラルネットワークによる演算を行うためのソフトウェアとしては、例えば、ＯＬＳＯＦＴ社製の「Ｎｅｕｒａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｌｉｂｒａｒｙ」（商品名）等が挙げられる。
【実施例】
【００５３】
以下、実施例により本発明を説明する。
［実施例１］
選択用および学習用のサンプル（以下、単に「学習用サンプル」ともいう。）としてサンプリング時間の異なる７５個の普通ポルトランドセメントについて、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２０１（セメントの物理試験方法）」に準じて、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さを測定して、選択データおよび学習データ（以下、単に「学習データ等」ともいう。）における評価データの実測値とした。
また、セメントに関するデータとして、上記７５個の普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、及び化学組成（ＭｇＯ、全アルカリ（Ｎａ２Ｏ＋０．６５８×Ｋ２Ｏ）、Ｐ２Ｏ５、及びＴｉＯ２の含有率）を測定して、学習データ等における監視データの実測値とした。
なお、当該実施例１における普通ポルトランドセメントは、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２１０（ポルトランドセメント）」に規定される普通ポルトランドセメントである。【００５４】
［監視データの選択］
上述した監視データ（普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、及び化学組成（ＭｇＯ、全アルカリ（Ｎａ２Ｏ＋０．６５８×Ｋ２Ｏ）、Ｐ２Ｏ５、及びＴｉＯ２の含有率）のうち、表１に示す監視データを選択した条件１〜４（監視データ集合体１〜４）の各々（表１中、条件１〜４の各々について、選択した監視データを「○」で示す。）について、選択した監視データの実測値と、評価データの実測値を用いて、未学習のニューラルネットワークの学習を行った。該学習は１２００回行った。
学習後のニューラルネットワークの入力層に、選択した監視データの実測値を入力して得られた評価データの推測値と、評価データの実測値との平均２乗誤差（表１中、「ＲＭＳＥ」と示す。）を算出した。
結果を表１に示す。
条件１〜４のうち、平均２乗誤差の値が最も小さかった条件１において選択した監視データの組み合わせ（普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量（表１〜２中、「３２μｍ篩残分量」と略して記載する。）、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率））を、ニューラルネットワークの学習に用いられる監視データ（学習データおよびモニターデータ）とした。【００５５】
【表１】
2018061239.tif 000005
【００５６】
また、モニター用のサンプル（以下、「モニター用サンプル」ともいう。）として、前記７５個のサンプルとはサンプリング時間の異なる２２個の普通ポルトランドセメントを用いて、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さを学習データ等と同様に測定して、モニターデータ（評価データの実測値）とした。
さらに、上記２２個の普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率））を学習データ等と同様に測定して、モニターデータ（監視データの実測値）とした。【００５７】
上記学習データを用いて、ニューラルネットワークの学習を行った。ニューラルネットワークとしては、入力層、中間層及び出力層を有する階層型のニューラルネットワークを用いた。なお、該ニューラルネットワークは、監視データの選択に用いたニューラルネットワークとは異なる未学習のものである。
ニューラルネットワークの学習は、最初に上記学習データとモニターデータを用いて１００００回行った。得られたニューラルネットワークを用いて、σＬとσＭを算出したところ、σＬとσＭの関係はσＬ＜σＭであった。
その後、ニューラルネットワークを初期化し、上記学習データとモニターデータを用いて、ニューラルネットワークの学習を前記学習回数に０．９５を乗じた数の学習回数（端数切捨て）行うことを、学習後のニューラルネットワークを用いて算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭとなるまで繰り返した。σＬとσＭの関係がσＬ≧σＭとなった後、解析度判定値を算出したが、解析度判定値が予め定めた第一の設定値である６％未満とはならなかった。
ここで、最も小さい解析度判定値は６．８８％であった。最も小さい解析度判定値を算出した際のニューラルネットワークを学習済みのニューラルネットワークとした。
なお、第二の設定値は２０％とした。また、最も小さい解析度判定値を算出した際のσＬは、１．０９Ｎ／ｍｍ２であった。【００５８】
学習データの評価データの実測値である材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さと、学習データの監視データの実測値である普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率）の各々について、予測可能監視データ領域を設定するための監視データとして利用できるか否かの判定を行った。
最初に、上記ニューラルネットワークの学習に使用した、サンプリング日の異なる９７個（学習用のサンプル７５個とモニター用のサンプル２２個の合計）の監視データ（普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率））の実測値の平均値を算出し、得られた平均値を監視データの固定値とした。
監視データの固定値を表２に示す。【００５９】
【表２】
2018061239.tif 000006
【００６０】
ニューラルネットワークの学習に用いられる監視データである、普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率）の各々について、特定の１種の監視データの固定値のみを任意に変動させて、変動させた監視データの値と、変動させた監視データ以外の監視データの固定値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力して、モルタルの圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
具体的には、特定の１種の監視データを普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積に定めた場合、表３に示す１１個のブレーン比表面積の値の各々について、ブレーン比表面積の値と、ブレーン比表面積以外の監視データの固定値（普通ポルトランドセメントの鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率）の実測値の平均値）を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力し、モルタルの圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
なお、表３に示す１１個のブレーン比表面積の値は、上記ニューラルネットワークの学習に使用した、サンプリング日の異なる９７個（学習用のサンプル７５個とモニター用のサンプル２２個の合計）の監視データの普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積の実測値の数値範囲内で、任意に変動した値（実測値の最大値と最小値を１０等分するように変動した値）である。
普通ポルトランドセメントの鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率）についても、ブレーン比表面積と同様にして、各々、モルタルの圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
変動させた特定の１種の監視データ、及び、該監視データと、変動させた監視データ以外の監視データの固定値から得られたモルタル圧縮強さの推測値を表３〜９に示す。【００６１】
【表３】
2018061239.tif 000007
【００６２】
【表４】
2018061239.tif 000008
【００６３】
【表５】
2018061239.tif 000009
【００６４】
【表６】
2018061239.tif 000010
【００６５】
【表７】
2018061239.tif 000011
【００６６】
【表８】
2018061239.tif 000012
【００６７】
【表９】
2018061239.tif 000013
【００６８】
普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率）の各々について、得られたモルタルの圧縮強さの推測値の最大値から最小値を減算し、得られた値と上記σＬ（１．０９Ｎ／ｍｍ２）に２を乗じた値（２．１８Ｎ／ｍｍ２）を比較した。
モルタルの圧縮強さの推定値の最大値から最小値を減算した値が、σＬ（１．０９Ｎ／ｍｍ２）に２を乗じた値（２．１８Ｎ／ｍｍ２）以上である監視データは、Ｃ３Ｓの含有率及び３２μｍふるい試験残分量であった。
Ｃ３Ｓの含有率をｘ軸とし、３２μｍふるい試験残分量をｙ軸とする座標空間に、学習データ（監視データの実測値）における、Ｃ３Ｓの含有率と３２μｍふるい試験残分量のデータをプロットした。プロットされた学習データ（監視データの実測値）同士を結ぶことで形成される、学習データ（監視データの実測値）の全てを包含する領域であって、該領域が最大となるように監視データ同士を結ぶことで形成される領域を、予測可能監視データ領域として設定した（図２参照）。
上記の学習用サンプル及びモニター用サンプルとは異なる、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２０１（セメントの物理試験方法）」に準じた材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さが６２．１Ｎ／ｍｍ２であって、Ｃ３Ｓの含有率と３２μｍふるい試験残分量が上記予測可能監視データ領域に含まれる普通ポルトランドセメントのサンプルについて、監視データ（普通ポルトランドセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率））の実測値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力し、当該サンプルの材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さ推測値を出力した。
得られた評価データの推測値は６２．４±２．４（偏差は３σを示す。）Ｎ／ｍｍ２であった。【００６９】
［比較例１］
実施例１で得られた解析度判定値が６．８８％のニューラルネットワークにおいて、予測可能監視データ領域の設定を行わずに、実施例１で用いた材齢２８日のモルタルの圧縮強さが６２．１Ｎ／ｍｍ２である普通ポルトランドセメントの監視データ（普通ポルトランドセメントのセメントのブレーン比表面積、鉱物組成（Ｃ３Ｓ、Ｃ２Ｓ、Ｃ３Ａ、及びＣ４ＡＦの含有率）、３２μｍふるい試験残分量、化学組成（Ｐ２Ｏ５の含有率））の実測値を入力層に入力した場合の、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さの推測値は６３．０±８．０（偏差は３σを示す。）Ｎ／ｍｍ２であった。【００７０】
実施例１で得られた評価データの推測値（６２．４±２．４Ｎ／ｍｍ２）と、比較例１で得られた評価データの推測値（６３．０±８．０Ｎ／ｍｍ２）を比較すると、実施例１は比較例１よりも、評価データの実測値（６２．１Ｎ／ｍｍ２）に近く、また、信頼性が高いことがわかる。【００７１】
［実施例２］
選択用および学習用のサンプル（学習用サンプル）としてサンプリング時間の異なる５６個のフライアッシュ混合セメント（フライアッシュの含有率：２８．３〜４１．２質量％）について、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２０１（セメントの物理試験方法）」に準じて、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さを測定して、選択データおよび学習データ（学習データ等）における評価データの実測値とした。
混合材（フライアッシュ）に関するデータとして、上記５６個のフライアッシュ混合セメントに含まれているフライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量を測定した。また、セメントに関するデータとして、上記５６個のフライアッシュ混合セメントに含まれているポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積を測定した。さらに、フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率を測定した。これらを、学習データ等における監視データの実測値とした。【００７２】
［監視データの選択］
上述した監視データ（フライアッシュの密度、ブレーン比表面積（表１０〜１１中、「ブレーン」と示す。）、４５μｍふるい試験残分量（表１０〜１１中、「４５μｍ篩残分量」と示す。）；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率（表１０〜１１中、「ＦＡ含有率」と示す。）のうち、表１０に示す監視データを選択した条件１〜４（監視データ集合体１〜４）の各々（表１０中、条件１〜４の各々について、選択した監視データを「○」で示す。）について、選択した監視データの実測値と、評価データの実測値を用いて、未学習のニューラルネットワークの学習を行った。該学習は１２００回行った。
学習後のニューラルネットワークの入力層に、選択した監視データの実測値を入力して得られた評価データの推測値と、評価データの実測値との平均２乗誤差（表１中、「ＲＭＳＥ」と示す。）を算出した。
結果を表１０に示す。
条件１〜４のうち、平均２乗誤差の値が最も小さかった条件１において選択した監視データの組み合わせ（フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率）を、ニューラルネットワークの学習に用いられる監視データ（学習データおよびモニターデータ）とした。【００７３】
【表１０】
2018061239.tif 000014
【００７４】
また、モニター用のサンプル（モニター用サンプル）として、上記５６個のサンプルとはサンプリング時間の異なる６個のフライアッシュ混合セメント（フライアッシュの含有率：２８．３〜４１．２質量％）を用いて、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さを学習データ等と同様に測定して、モニターデータ（評価データの実測値）とした。
さらに、上記６個のフライアッシュ混合セメントに含まれているフライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；上記６個のフライアッシュ混合セメントに含まれているポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；上記６個のフライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率を学習データ等と同様にして測定して、モニターデータ（監視データの実測値）とした。【００７５】
上記学習データを用いて、ニューラルネットワークの学習を行った。ニューラルネットワークとしては、入力層、中間層及び出力層を有する階層型のニューラルネットワークを用いた。なお、該ニューラルネットワークは、監視データの選択に用いたニューラルネットワークとは異なる未学習のものである。
ニューラルネットワークの学習は、最初に上記学習データとモニターデータを用いて１００００回行った。得られたニューラルネットワークを用いて、σＬとσＭを算出したところ、σＬとσＭの関係はσＬ＜σＭであった。
その後、ニューラルネットワークを初期化し、上記学習データとモニターデータを用いて、ニューラルネットワークの学習を前記学習回数に０．９５を乗じた数の学習回数（端数切捨て）行うことを、学習後のニューラルネットワークを用いて算出されたσＬとσＭの関係がσＬ≧σＭとなるまで繰り返した。σＬとσＭの関係がσＬ≧σＭとなった後、解析度判定値を算出したが、解析度判定値が予め定めた第一の設定値である６％未満とはならなかった。
ここで、最も小さい解析度判定値は６．１３％であった。最も小さい解析度判定値を算出した際のニューラルネットワークを学習済みのニューラルネットワークとした。
なお、第二の設定値は２０％とした。また、最も小さい解析度判定値を算出した際のσＬは、２．４４Ｎ／ｍｍ２であった。【００７６】
学習データの評価データの実測値である材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さと、学習データの監視データの実測値である、フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率、の各々について、予測可能監視データ領域を設定するための監視データとして利用できるか否かの判定を行った。
最初に、上記ニューラルネットワークの学習に使用した、サンプリング日の異なる６２個（学習用のサンプル５６個とモニター用のサンプル６個の合計）の監視データ（フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度；混合材（フライアッシュ）の含有率）の実測値の平均値を算出し、得られた平均値を監視データの固定値とした。
監視データの固定値を表１１に示す。【００７７】
【表１１】
2018061239.tif 000015
【００７８】
ニューラルネットワークの学習に用いられる監視データである、フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率、の各々について、特定の１種の監視データの固定値のみを任意に変動させて、変動させた監視データの値と、変動させた監視データ以外の監視データの固定値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力して、モルタルの圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
具体的には、特定の１種の監視データをフライアッシュの密度に定めた場合、表１２に示す１１個の密度の値の各々について、密度の値と、密度以外の監視データの固定値（フライアッシュのブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率）を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力し、モルタル圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
なお、表１２に示す密度の値は、上記ニューラルネットワークの学習に使用した、サンプリングの異なる６２個（学習用サンプル５６個とモニター用のサンプル６個の合計）の監視データの実測値の数値範囲内で、任意に変動した（実測値の最大値と最小値を１０等分するように変動した値）である。
フライアッシュのブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率についても、密度と同様にして、各々、モルタル圧縮強さの推測値（評価データの推測値）を得た。
変動させた特定の１種の監視データ、及び、該監視データと、変動させた監視データ以外の監視データの固定値から得られたモルタル圧縮強さの推測値を表１２〜１８に示す。【００７９】
【表１２】
2018061239.tif 000016
【００８０】
【表１３】
2018061239.tif 000017
【００８１】
【表１４】
2018061239.tif 000018
【００８２】
【表１５】
2018061239.tif 000019
【００８３】
【表１６】
2018061239.tif 000020
【００８４】
【表１７】
2018061239.tif 000021
【００８５】
【表１８】
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【００８６】
フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率、の各々について、得られたモルタルの圧縮強さの推測値の最大値から最小値を減算し、得られた値と上記σＬ（２．４４Ｎ／ｍｍ２）に２を乗じた値（４．８８Ｎ／ｍｍ２）を比較した。
モルタルの圧縮強さの推定値の最大値から最小値を減算した値が、σＬ（２．４４Ｎ／ｍｍ２）に２を乗じた値（４．８８Ｎ／ｍｍ２）以上である監視データは、フライアッシュの密度及びフライアッシュ混合セメントの密度であった。
フライアッシュの密度をｘ軸とし、フライアッシュ混合セメントの密度をｙ軸とする座標空間に、学習データ（監視データの実測値）における、フライアッシュの密度とフライアッシュ混合セメントの密度のデータをプロットした。プロットされた学習データ（監視データの実測値）同士を結ぶことで形成される、学習データ（監視データの実測値）の全てを包含する領域であって、該領域が最大となるように監視データ同士を結ぶことで形成される領域を、予測可能監視データ領域として設定した（図３参照）。【００８７】
上記の学習用サンプル及びモニター用サンプルとは異なる、「ＪＩＳ  Ｒ  ５２０１（セメントの物理試験方法）」に準じた材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さが４４．３Ｎ／ｍｍ２であって、フライアッシュの密度とフライアッシュ混合セメントの密度が上記予測可能監視データ領域に含まれるフライアッシュ混合セメント（フライアッシュの含有率：２８．３〜４１．２質量％）のサンプルについて、監視データ（フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率）の実測値を、学習済みのニューラルネットワークの入力層に入力し、当該サンプルの材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さ推測値を出力した。
得られた評価データの推測値は４４．６±１．４（偏差は３σを示す。）Ｎ／ｍｍ２であった。【００８８】
［比較例２］
実施例２で得られた解析度判定値が６．１３％のニューラルネットワークにおいて、予測可能監視データ領域の設定を行わずに、実施例２で用いた材齢２８日のモルタルの圧縮強さが４４．３Ｎ／ｍｍ２であるフライアッシュ混合セメントの監視データ（フライアッシュの密度、ブレーン比表面積、４５μｍふるい試験残分量；ポルトランドセメントの密度、ブレーン比表面積；フライアッシュ混合セメントの密度、混合材（フライアッシュ）の含有率）の実測値を入力層に入力した場合の、材齢２８日におけるモルタルの圧縮強さの推測値は４４．９±４．３（偏差は３σを示す。）Ｎ／ｍｍ２であった。【００８９】
実施例２で得られた評価データの推測値（４４．６±１．４Ｎ／ｍｍ２）と、比較例２で得られた評価データの推測値（４４．９±４．３Ｎ／ｍｍ２）を比較すると、実施例２は比較例２よりも、評価データの実測値（４４．３Ｎ／ｍｍ２）に近く、また、信頼性が高いことがわかる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際調査報告】
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