(57)【要約】      （修正有）【課題】タイヤの表面高さ分布情報に関して、半径方向のサイドウォール面の範囲をより正確に自動的に定義することができるタイヤ形状検査装置のデータ処理方法を提供する。【解決手段】表面高さ分布情報に基づいて得られた円周方向表面高さの平均値から最高点となる第１座標軸の位置を求め、最高点から正負の方向に表面高さ分布情報を検索して未検出点が所定以上となる直前の位置を上下限値の仮範囲として決定するＳ１１〜１３。一方、零点除去した表面高さ分布情報に対して二次微分フィルタによるフィルタ処理をした結果に対して絶対値を求め、第１座標軸の各位置における絶対値の平均値を算出して、サイドウォール面を区別する閾値を算出する。上下限値の仮範囲内の第１座標軸の各位置の絶対値の平均値と閾値とを比較して、上下限値の範囲を決定するＳ２１〜２５。【選択図】図１
2014190825.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状検査装置のデータ処理方法であって、
仮範囲設定工程として、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出工程と、
前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出工程と、
前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定工程と、を有し、
範囲修正工程として、
前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出工程と、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出工程と、
前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出工程と、
前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定工程と、を有することを特徴とするタイヤ形状検査装置のデータ処理方法。
【請求項２】
前記二次微分フィルタは、ラプラシアンフィルタであり、
前記所定の閾値判別分析法は、大津の方法またはＫｉｔｔｌｅｒの方法であることを特徴とする請求項１に記載のタイヤ形状検査装置のデータ処理方法。
【請求項３】
前記絶対値算出工程において、
前記表面高さ分布情報に対して、前記２次元の座標系内に配列された各位置において未検出点がある場合は、前記未検出点の表面高さ測定値を、前記第２座標軸に配列された前記未検出点の近傍の位置を参照して表面高さ測定値を設定することを特徴とする請求項１または２に記載のタイヤ形状検査装置のデータ処理方法。
【請求項４】
凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状検査装置で実行されるタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムであって、
仮範囲設定工程として、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出工程と、
前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出工程と、
前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定工程と、を有し、
範囲修正工程として、
前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出工程と、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出工程と、
前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出工程と、
前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定工程と、を有することを特徴とするタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム。
【請求項５】
凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状検査装置のデータ処理装置であって、
仮範囲設定手段として、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出手段と、
前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出手段と、
前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定手段と、を有し、
範囲修正手段として、
前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出手段と、
前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出手段と、
前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出手段と、
前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定手段と、を有することを特徴とするタイヤ形状検査装置のデータ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、凹凸マークが形成されたタイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
タイヤは、ゴムや化学繊維等の各種材料が積層された構造を有しており、その積層構造に不均一な部分が存在すると、空気が充填された場合に相対的に耐圧性の弱い部分においてバルジと呼ばれる隆起部（凸部）や、デント又はデプレッションと呼ばれる窪み部（凹部）等の形状欠陥が生じる。そのようなバルジやデント等の形状欠陥が生じるタイヤは、安全上の問題や外観不良の問題から、出荷対象から除外する必要がある。そこで、タイヤ製造の最終工程（タイヤ加硫後の検査工程）において、タイヤ表面（特に、サイドウォール面）に凹凸があるか検査して、形状欠陥による不良タイヤの検出が行われている。
【０００３】
通常、タイヤの形状検査を行うタイヤ形状検査装置においては、まず、タイヤ表面の表面高さを測定する。タイヤ表面の表面高さは、特許文献１に示すように、参照所定の変位センサをタイヤの表面（サイドウォール面）に対向配置した状態で、回転機により回転駆動されるタイヤの表面にスリット光（ライン光）を照射してそのスリット光の像を撮像し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状検出を行うことにより測定する。
【０００４】
この光切断法により得られた測定値は、タイヤ表面（サイドウォール面）の周方向３６０°の範囲に渡る各位置を、タイヤの半径方向を表す第１座標軸（例えばＸ軸）及びタイヤの周方向を表す第２座標軸（例えばＹ軸）からなる２次元の座標系内に配列した情報（表面高さ分布情報）として、タイヤの形状検査装置におけるサイドウォール面の形状欠陥検査処理に用いられる。尚、タイヤ形状検査装置においては、表面高さ測定値が画像データにおける各画素の輝度値に相当すると考えられ、表面高さ分布情報は、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置（画像処理装置）上でモノクロの画像データと同様に取り扱われる。
【０００５】
ここで、表面高さ分布情報は、タイヤの半径方向を表す第１座標軸とタイヤの周方向を表す第２座標軸とからなる２次元の座標系に配列される。ここで、タイヤの周方向は３６０°であるため、得られた表面高さ分布情報の全てを用いることができる。しかしながら、タイヤの半径方向においては、表面高さ分布情報にタイヤの中心からタイヤの外側の端面までの範囲が含まれている。即ち、タイヤ形状検査装置では、検査対象となるタイヤに上下リムを取り付け、その状態で、回転機に設置される。タイヤに取り付けられたリムは、タイヤのサイドウォール面に接して取り付けられ、その大きさも複数あるため、タイヤの内側の端部の位置が一定ではない。また、タイヤの大きさはさまざまであり、且つ、タイヤの外側の端面にはサイドウォール面に続いてショルダー部及びトレッド部が形成されているため、表面高さ測定値が検出できなくなるタイヤの外側の端部の位置が一定ではない。そのため、得られた表面高さ分布情報のタイヤの半径方向に関して、サイドウォール面の範囲を定義することが必要となる。
【０００６】
ここで、従来技術のタイヤ形状検査装置においては、下記の通り、タイヤの半径方向におけるサイドウォール面を定義している。
まず、タイヤの半径方向を表す第１座標軸において、タイヤの中心（第１座標軸の原点に相当）からタイヤのトレッド側の端部に向かって（第１座標軸の正の向きに相当）測定された表面高さ測定値を検索し、検出点が所定の個数以上となった場合に、検出点の最初の位置をサイドウォール面のタイヤの半径方向を表す第１座標軸の下限値（即ち、タイヤの内側の端部）として定義する。
また、タイヤの半径方向を表す第１座標軸において、タイヤのトレッド側の端部からタイヤの中心（第１座標軸の原点に相当）に向かって（第１座標軸の負の向きに相当）測定された表面高さ測定値を検索し、検出点が所定の個数以上となった場合に、検出点の最初の位置をサイドウォール面のタイヤの半径方向を表す第１座標軸の上限値（即ち、タイヤの外側の端部）として定義する。
以上により、タイヤの半径方向のサイドウォール面の範囲が、タイヤの半径方向を表す第１座標軸の上下限値として定義される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平１１−１３８６５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、従来技術のタイヤ形状検査装置によるタイヤの半径方向におけるサイドウォール面の範囲の定義では、タイヤの半径方向を表す第１座標軸の下限値の検索において、タイヤに至るまでのリムの部分における検出点が所定の個数以上となった場合には、タイヤではないリムの部分も含めてサイドウォール面の範囲を定義してしまう虞がある。そして、タイヤのサイドウォール面とリムの間には段差が存在するため、段差の範囲においては表面高さ測定値が得られない未検出の範囲となってしまい、タイヤの形状検査装置において正確に形状欠陥検査処理を行うことができない。
【０００９】
また、従来技術のタイヤ形状検査装置によるタイヤの半径方向におけるサイドウォール面の範囲の定義では、タイヤの半径方向を表す第１座標軸の上限値の検索において、また、タイヤのサイドウォール面に続いて形成されるショルダー部及びトレッド部における検出点が所定の個数以上となった場合には、サイドウォール面ではないショルダー部及びトレッド部の部分も含めてサイドウォール面の範囲を定義してしまう虞がある。そして、タイヤのショルダー部及びトレッド部は、トレッドパターン等の深い溝が形成されているため、タイヤの形状検査装置において正確に形状欠陥検査処理を行うことができない。
【００１０】
そのため、タイヤ以外の不要な部分であるリムやショルダー部及びトレッド部をサイドウォール面の範囲の定義に含めてしまった場合には、人手による修正が必要となってしまう。
【００１１】
そこで、本発明が解決しようとする課題は、得られた表面高さ分布情報に基づいて、タイヤ以外の不要な部分であるリムやショルダー部及びトレッド部を除去して、タイヤの半径方向のサイドウォール面の範囲を、より正確に、且つ、自動的に定義することができるタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法は、凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状測定装置のデータ処理方法であって、仮範囲設定工程として、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出工程と、前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出工程と、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定工程と、を有し、範囲修正工程として、前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出工程と、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出工程と、前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出工程と、前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定工程と、を有することを特徴とする。
【００１３】
本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムは、凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状測定装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状測定装置で実行されるタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムであって、仮範囲設定工程として、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出工程と、前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出工程と、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定工程と、を有し、範囲修正工程として、前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出工程と、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出工程と、前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出工程と、前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定工程と、を有することを特徴とする。
【００１４】
本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理装置は、凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤにおける前記サイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値が前記サンプルタイヤの半径方向を表す第１座標軸及び前記サンプルタイヤの周方向を表す第２座標軸からなる２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状測定装置において、検査タイヤのサイドウォール面の検査対象に含める第１座標軸方向における上下限の範囲を決定するタイヤ形状検査装置であって、仮範囲設定手段として、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記表面高さ測定値の平均値を求める円周方向表面高さ平均値算出手段と、前記平均値が最大となる前記第１座標軸の位置を最高点として求める最高点算出手段と、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の上限値として仮決定し、前記最高点となる位置から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記表面高さ測定値を検索し、前記表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定以上となった場合の直前の前記表面高さ測定値が検出された位置を前記第１座標軸の下限値として仮決定する仮範囲決定手段と、を有し、範囲修正手段として、前記表面高さ分布情報に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を行った後、その処理結果に対して絶対値を算出する絶対値算出手段と、前記第１座標軸の各位置に対して、前記第２座標軸の全周における前記絶対値の平均値を算出する平均値算出手段と、前記絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出する閾値算出手段と、前記第１座標軸の前記上限値から順に前記第１座標軸の負の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の上限値として決定し、前記下限値から順に前記第１座標軸の正の方向の位置の前記絶対値の平均値を検索し、前記絶対値の平均値が前記閾値を下回った位置を前記第１座標軸の下限値として決定する範囲決定手段と、を有することを特徴とする。
【００１５】
これによると、表面高さ分布情報に基づいて、タイヤの円周方向を表す第２座標軸における全周の平均値が最高となる第１座標軸の最高点から、第１座標軸の正負の向きにそれぞれ検索を開始し、未検出点が所定個以上となった直前の検出点をタイヤの半径方向を表す第１座標軸の上下限値として設定している。そのため、サイドウォール面の湾曲がリムよりも高いか、リムを保護するためにサイドウォール面に形成されるリムガードがリムよりも高いため、最高点がリムになることがない。そして、タイヤのサイドウォール面（リムガードを含む）の内側の端においては、サイドウォール面とリムの間には段差が存在するため、また、タイヤのサイドウォール面の外側の端においては、ショルダー部及びトレッド部が存在するため、未検出点が次第に増えてくる。従って、所定以上の未検出点をサイドウォール面とリムの間の段差やショルダー部及びトラッド部が除去できる程度の値としておくことにより、サイドウォール面の湾曲の高い位置またはリムガードを第１座標軸の最高点として正負の向きに検索がされて、リムやショルダー部及びトレッド部を含めることなく、サイドウォール面の上下限値の仮範囲を決定することができる。また、タイヤのサイドウォール面自体が曲がっており、且つ、タイヤのサイドウォール面と比較して、ショルダー部分及びトレッド部は相対的に凹凸が大きいため（サイドウォール面は凹凸の高さが低い模様が、ショルダー部分及びトレッド部は凹凸の大きい模様が付されていることが多い。）、二次微分フィルタによりフィルタ処理を行い、円周方向の各ライン毎にサイドウォール面とショルダー部分及びトレッド部分とを区別する閾値（即ち、サイドウォール面と見なして良い程度の凹凸を区別する閾値）を算出することにより、サイドウォール面の範囲からショルダー部分及びトレッド部分を除外することができる。以上により、サイドウォール面の範囲を、より正確に且つ自動的に定義することができる。
【００１６】
また、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法は、前記二次微分フィルタは、ラプラシアンフィルタであり、前記所定の閾値判別分析法は、大津の方法またはＫｉｔｔｌｅｒの方法であって良い。
【００１７】
これによると、ラプラシアンフィルタにより二次微分フィルタのフィルタ処理を実現することができる。また、大津の方法またはＫｉｔｔｌｅｒの方法を用いて、曲率の大きい範囲と小さい範囲の２つに分割する閾値を求め、サイドウォール面の範囲からショルダー部分及びトレッド部分を除外することができる。
【００１８】
また、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法は、前記絶対値算出工程において、前記表面高さ分布情報に対して、前記２次元の座標系内に配列された各位置において未検出点がある場合は、前記未検出点の表面高さ測定値を、前記第２座標軸に配列された前記未検出点の近傍の位置を参照して表面高さ測定値を設定して良い。
【００１９】
これによると、２次元の座標系内に配列された表面高さ分布情報において、凹凸部位の影になっているなどの理由により表面高さ測定値が未検出となっている未検出点について、たとえば、サンプルタイヤの周方向を示す第２座標軸方向において未検出点の前の位置または後の位置における表面高さ測定値を適用したり、サンプルタイヤの周方向を示す第２座標軸方向において未検出点の前後の位置における表面高さ測定値の平均値を適用したりすることにより、未検出点をなくし、検査対象となるサイドウォール面の全周範囲に渡る各位置の表面高さ測定値を表面高さ分布情報として用いて、二次微分フィルタによるフィルタ処理を行うことができる。
【００２０】
尚、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムは、リムーバブル型記録媒体やハードディスクなどの固定型記録媒体に記録して配布可能である他、有線又は無線の電気通信手段によってインターネットなどの通信ネットワークを介して配布可能である。
【発明の効果】
【００２１】
本発明のタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置は、得られた表面高さ分布情報から、タイヤ形状検査装置で検査すべきタイヤの半径方向のサイドウォール面の範囲を定義する際に、不要な部分であるリムやショルダー部を除去して、より正確にタイヤの半径方向のサイドウォール面の範囲を定義することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法の処理の手順について説明したフローチャートである。
【図２】本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理装置のブロック図である。
【図３】本実施形態に係るタイヤにおけるサイドウォール面と、リムと、トレッド及びショルダーとの関係を示す図であり、（ａ）は正面図であり、（ｂ）は（ａ）の断面図である。
【図４】本実施形態に係るタイヤ形状検査装置の概要を示す図であり、（ａ）は本実施形態に係るタイヤ形状検査装置の構成を示す概略図であり、（ｂ）は本実施形態に係るタイヤ形状検査装置が備えるセンサユニットとサンプルタイヤとの配置関係を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、図面を参照しつつ、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置を実施するための形態について、具体的な一例に即して説明する。
【００２４】
尚、以下に説明するものは、例示したものにすぎず、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置の適用限界を示すものではない。すなわち、本発明に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置は、下記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな変更が可能なものである。
【００２５】
本発明の実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置に用いられるタイヤ形状検査装置について、図４に基づいて説明する。
【００２６】
図４（ａ）に示すように、タイヤ形状検査装置１は、モータ等の回転装置であるタイヤ回転機２、ユニット駆動装置に接続されたセンサユニット３ａ及び３ｂ、エンコーダ４、画像処理装置５及びホスト計算機等を備えている。そして、タイヤ形状検査装置１は、タイヤ回転機２により回転するサンプルタイヤＴの表面に照射したライン光の像をカメラによって撮像し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状検出を行うことにより、サンプルタイヤＴの表面高さ分布を測定する形状測定処理を実行する。ここで、サンプルタイヤＴは、欠陥のない理想的なタイヤである。即ち、タイヤ形状検査装置１は、サンプルタイヤＴを１回転させる間に、後述するセンサユニット３ａ及び３ｂによって、サンプルタイヤＴのサイドウォール面の全周範囲の表面形状を検出する。尚、サンプルタイヤＴのサイドウォール面には、図３に示すように、凹凸のあるマーク（文字、記号、図形等、以下、「正常な凹凸マーク」と略する。）が形成されている（たとえば、図３に示す例では、「ＡＢＣ  ＴＩＲＥ」）。
【００２７】
図４（ｂ）に示すように、本実施形態では、サンプルタイヤＴの２つのサイドウォール面それぞれの形状測定に用いられる２つのセンサユニット３ａ及び３ｂを備えている。センサユニット３ａ及び３ｂは、それぞれ、回転するタイヤＴの表面にライン光（光切断線）を照射するライン光照射手段、及びタイヤＴ表面で反射したライン光の像を撮像する撮像カメラ６などが組み込まれたユニットである。
【００２８】
図４（ｂ）において、サンプルタイヤＴの形状検出位置に関して、Ｘ軸（第２座標軸）はサンプルタイヤＴの周方向を、Ｙ軸（第１座標軸）はサンプルタイヤＴの半径方向、Ｚ軸はサンプルタイヤＴのサイドウォール面から検出する表面高さ方向を表す座標軸である。即ち、サンプルタイヤＴのサイドウォール面の形状検出に用いられるセンサユニット３においては、Ｚ軸はサンプルタイヤＴの回転軸と平行の座標軸であり、Ｙ軸はサンプルタイヤＴの回転軸に対する法線の方向を表す座標軸である。なお、タイヤＴと座標軸との対応関係は、カメラの支持の態様に応じて変わり得る。
【００２９】
ライン光照射手段は、複数（図４（ｂ）の例では３つ）のライン光源７ａ、７ｂ、及び７ｃを備え、それら複数のライン光源７ａ、７ｂ、及び７ｃにより、サンプルタイヤＴ表面の一の線Ｌｓ上に１本の光切断線が形成されるように、その一の線Ｌｓ（光切断線）における表面高さ方向（Ｚ軸方向）とは異なる方向から複数のライン光を連ねて照射する装置である。
また、撮像カメラ６は、カメラレンズ８及び撮像素子９を備え、サンプルタイヤＴのサイドウォール面に連ねて照射された複数のライン光の像ｖ１（一の線Ｌｓ上の光切断線の像）を撮像するものである。
【００３０】
一方、上記のタイヤ回転機２には、エンコーダ４が設けられている。このエンコーダ４は、タイヤ回転機２の回転軸の回転角度、即ちサンプルタイヤＴの回転角度を検出し、検出した回転角度を検出信号として出力するセンサである。その検出信号は、センサユニット３ａ及び３ｂが備える撮像カメラ６の撮像タイミングの制御に用いられる。
【００３１】
画像処理装置５は、センサユニット３ａ及び３ｂが備える撮像カメラ６によって撮像された画像、即ち、サンプルタイヤＴの表面に照射したライン光の像の撮像画像のデータを入力し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状測定処理を実行し、その測定結果である表面高さ分布情報（サンプルタイヤＴの表面高さ測定値の集合）を内蔵されたフレームメモリに記憶させる。即ち、表面高さ測定値が画像データにおける各画素の輝度値に相当すると考えれば、表面高さ分布情報は、画像処理装置５上でモノクロの画像データ（二次元画像）と同様に取り扱うことができる。そして、この形状測定処理により、サンプルタイヤＴのサイドウォール面の周方向３６０°の範囲に渡る各位置の表面高さ測定値の分布を表す表面高さ分布情報が、そのタイヤＴの半径方向を表すＹ軸及びタイヤＴの周方向を表すＸ軸からなる２次元の座標系内に配列された情報として得られる。よって、これ以降における「画素」という用語は、Ｘ軸及びＹ軸からなる座標系における表面高さ測定値それぞれの位置（座標）を表す用語として記載する。ここで、画像処理装置５は、例えばＤＳＰやＣＰＵを備える汎用のパーソナルコンピュータ等の計算機によって構成される。尚、光切断法による形状測定処理は周知であるのでここでは説明を省略する。
【００３２】
そして、本実施形態に係る画像処理装置５は、後述する本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理装置に相当し、得られた表面高さ分布情報を基に、後述するホスト計算機による形状欠陥検査処理において、検査範囲とするサイドウォール面を定義する。尚、検査範囲とするサイドウォール面を定義した後、検査範囲から除外するマスク領域（正常な凹凸マーク）を設定する。
【００３３】
尚、ホスト計算機は、ＣＰＵ及びその周辺装置を備えた計算機であり、ＣＰＵが予めメモリに記憶されたプログラムを実行することによって各種の演算及び演算結果の出力を行う。具体的には、ホスト計算機は、画像処理装置５から取得したサンプルタイヤＴの各面の表面高さ分布情報に基づいて、検査タイヤの形状欠陥検査処理を実行する。この形状欠陥検査処理は、画像処理装置５において定義したサイドウォール面から設定したマスク領域を除去した除去後の画像に対して、既存の画像処理手法を適用することで、検査タイヤのサイドウォール面であって正常な凹凸マーク以外の部分に存在する凹凸欠陥を検査する。凹凸欠陥の検査では、検査タイヤのサイドウォール面の表面高さ分布情報が、サンプルタイヤ１のサイドウォール面の表面高さ分布情報に基づいて予め設定された許容条件を満たすか否かを判別し、その判別結果を所定の表示部に表示、或いは所定の制御信号として出力する。
【００３４】
次に、図４（ａ）に示す画像処理装置５で実行される本実施形態に係るイヤ形状検査装置のデータ処理方法の処理の手順について、図１に基づいて、説明する。図１は、本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法の処理の手順について説明したフローチャートである。
尚、以下で説明する本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法の処理は、図４（ａ）に示す画像処理装置５においても同様に、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムとしてＤＳＰやＣＰＵにより読み出して実行することができる。また、このタイヤ形状検査装置のデータ処理プログラムは、リムーバブルな記憶媒体に記録しておくことにより、様々な計算機の記憶装置にインストールすることが可能である。
【００３５】
図１に示すように、画像処理装置５においては、仮範囲設定工程Ｓ１１〜Ｓ１３と、範囲修正工程Ｓ２１〜Ｓ２５の処理を行う。
【００３６】
まず、仮範囲設定工程Ｓ１１〜Ｓ１３について説明する。仮範囲設定工程Ｓ１１〜１３では、範囲修正工程Ｓ２１〜２５の処理を行う前に、サイドウォール面の上下限値の仮範囲を決定する処理を行う。
【００３７】
仮範囲設定工程では、まず、表面高さ分布情報２０（図２参照）に基づいて、タイヤの半径方向を示す第１座標軸の各位置に対して、タイヤの円周方向を示す第２座標軸の全周における表面高さ測定値の平均値を算出し、その結果である表面高さ測定値の平均値を記憶部に記憶させる（Ｓ１１：円周方向表面高さ平均値算出工程）。
【００３８】
次に、Ｓ１１で算出した第１座標軸の各位置における表面高さ測定値の平均値に基づいて、当該平均値が最大となる第１座標軸の位置を最高点として算出、その結果である最高点を記憶部に記憶させる（Ｓ１２：最高点算出工程）。なお、一般的な扁平率のタイヤでは、サイドウォール面の湾曲がリムよりも高い。また、扁平率の低いタイヤでは、リムを保護するためにサイドウォール面に形成されるリムガードがリムよりも高い。すなわち、サイドウォール面の湾曲の高い位置またはリムガードが第１座標軸の最高点となり、リムが最高点になることはない。
【００３９】
そして、Ｓ１２で算出した最高点から、第１座標軸の正の方向に位置を１つずつ移動して、第１座標軸の当該位置における第２座標軸の全周における表面高さ分布情報２０を検索し、全周の位置に対する未検出点の数が所定の割合以上となった場合に、その手前の第１座標軸の位置を、第１座標軸の上限値として仮設定する。また、Ｓ１２で算出した最高点から、第１座標軸の負の方向に位置を１つずつ移動して、第１座標軸の当該位置における第２座標軸の全周における表面高さ分布情報２０を検索し、全周の位置に対する未検出点の数が所定の割合以上となった場合に、その手前の第１座標軸の位置を、第１座標軸の下限値として仮設定する。ここで、所定の割合は、サイドウォール面とリムの間の段差やショルダー部及びトレッド部が検出できる程度の値を、経験則に基づいて設定する（例えば、１０％未満）。以上により仮設定された上下限値をサイドウォール面の仮範囲として決定して、上下限値の仮範囲１３ａ（図２参照）として記憶部に記憶させる（Ｓ１３：仮範囲決定工程）。
【００４０】
次に、範囲修正工程Ｓ２１〜２５について説明する。範囲修正工程Ｓ２１〜２５では、仮範囲設定工程Ｓ１１〜１３で決定したサイドウォール面の上下限値の仮範囲を修正して、サイドウォール面の上下限の範囲を決定する処理を行う。
【００４１】
仮範囲設定工程Ｓ１１〜１３で決定したサイドウォール面の上下限値の仮範囲において、表面高さ分布情報２０に未検出点が存在する場合に、未検出点の近傍の位置の表面高さ測定値を参照して、未検出点の表面高さ測定値を設定する零点除去処理を行い、表面高さ分布情報２０を更新する（Ｓ２１：零点除去処理工程）。ここで、表面高さ分布情報２０は、上述での画像処理装置５の説明の通り、予めタイヤ回転機２で回転させたサンプルタイヤＴについて、センサユニット３ａ及び３ｂが備える撮像カメラ６によって撮像された画像、即ち、サンプルタイヤＴの表面に照射したライン光の像の撮像画像のデータを入力し、その撮像画像に基づいて光切断法による形状測定処理を実行して、その測定結果として得られる。
【００４２】
ここで、未検出点とは、正常な凹凸マークの段差の影響でシート光がカメラに戻らず受光強度が規定値以下となったために、表面高さ測定値を取得できなかった点であって、表面高さ測定値０が出力されている。そこで、零点除去処理では、未検出点の近傍の位置（たとえば、未検出点の周方向に前後にある表面高さ測定値を検出済みの位置）の表面高さ測定値をそのまま設定する（０次近似）する。この他にも、零点除去処理では、未検出点の近傍の表面高さ測定値を検出済みの位置であって、且つ、未検出点を挟んで第２座標軸上に並ぶ２つの位置の表面高さ測定値を用いて直線補間値を計算し、計算した直線補間値を未検出点の表面高さ測定値として設定して、表面高さ分布情報２０を更新してよい。また、零点除去処理では、未検出点を囲む４つの位置（第２座標軸上の前後２つの位置と第１座標軸上の前後２つの位置）により平面を形成して平面補間を行う等により、未検出点の座標を設定することができる。これにより、未検出点の表面高さ測定値を不定のままにしておいた場合、続く二次微分フィルタによるフィルタ処理工程（Ｓ２２ａ）において、予期せぬ大きな値が算出されて、上下限値の範囲の決定に悪影響を及ぼすのを防止することができる。尚、直線補間すると、実際のタイヤの文字形状よりも斜面の立ち下がりがなだらかになってしまうため、０次近似が好ましい。更に、０次近似に使用する座標は、データ取得時のカメラに対する回転方向に基づいて「表面高さ測定値のデータ取得の時系列で、未検出点の直後に測定された値」とするのが簡便であり、好ましい。
【００４３】
次に、零点除去処理（Ｓ２１）が行われた表面高さ測定値２０に対して、二次微分フィルタを用いたフィルタ処理を実行し、その処理結果である曲率分布情報を記憶部に記憶させる（Ｓ２２ａ：絶対値算出工程）。ここで、二次微分フィルタとして、例えば、３×３配列のラプラシアンフィルタを用いることができる。そして、３×３配列のラプラシアンフィルタによるフィルタ処理では、注目画素及びその周囲の８の画素からなる９の画素群それぞれの値（表面高さ測定値）に対し、その位置に応じて予め定められた係数（例えば、表１に示す重み係数マトリクス）をそれぞれ乗算した結果を合計し、注目画素の曲率を算出する。
【００４４】
【表１】
2014190825.tif 000003
【００４５】
次に、Ｓ２２ａで算出した曲率分布情報に基づいて、絶対値を算出し、その処理結果である曲率絶対値分布情報（絶対値）を記憶部に記憶させる（Ｓ２２ｂ：絶対値算出工程）。Ｓ２２ａで算出した曲率分布情報では、湾曲の上り・下りに応じて正負の値をとるため、その絶対値を取得して、局所的な湾曲の強さを算出する。
【００４６】
そして、Ｓ２２ｂで算出した曲率絶対値分布情報に基づいて、第１座標軸の各位置に対して、第２座標軸の全周における絶対値を平均した平均値を算出し、その結果である絶対値の平均値２３ａ（図２参照）を記憶部に記憶させる（Ｓ２３：絶対値の平均値算出工程）。これにより、第１座標軸の各位置（即ち、第２座標軸（円周方向）の各ライン）についての平均的な曲率の度合いが算出される。
【００４７】
そして、Ｓ２３で算出した絶対値の平均値に基づいて、所定の閾値判別分析法により閾値を算出して、閾値２４ａ（図２参照）として記憶部に記憶させる（Ｓ２４：閾値算出工程）。閾値判別分析法は、大津の方法またはＫｉｔｔｌｅｒの方法等を用いることができる。つまり、大津の方法またはＫｉｔｔｌｅｒの方法等を用いて、Ｓ２３で算出した第１座標軸の各位置に対応する第２座標軸（円周方向）の各ラインについての絶対値の平均値（平均的な曲率の度合い）に基づいて、第２座標軸（円周方向）の曲率の大きいラインであるサイドウォール面と小さいラインであるショルダー部及びトレッド部とを２つに分割する閾値を求める。尚、大津の方法とＫｉｔｔｌｅｒの方法を比べると、大津の方法の方がより曲率の大きいラインを曲率の小さいラインよりも広めにとる閾値を返す。
【００４８】
最後に、Ｓ１３によりサイドウォール面の仮範囲として仮設定された上下限値の仮範囲１３ａに基づいて、仮設定された上限値から第１座標軸の負の方向に位置を１つずつ移動して、第１座標軸の当該位置におけるＳ２３で算出された絶対値の平均値２３ａを検索し、絶対値の平均値がＳ２４で算出された閾値２４ａを下回った位置を第１座標軸の上限値として設定する。また、Ｓ１３によりサイドウォール面の仮範囲として仮設定された上下限値に基づいて、仮設定された下限値から第１座標軸の正の方向に位置を１つずつ移動して、第１座標軸の当該位置におけるＳ２３で算出された絶対値の平均値を検索し、絶対値の平均値がＳ２４で算出された閾値を下回った位置を第１座標軸の下限値として設定する。以上により、設定された上下限値をサイドウォール面の範囲として決定して、上下限値の範囲２５ａ（図２参照）として記憶部に記憶させる（Ｓ２５：範囲決定工程）。ことにより、閾値に基づいて、サイドウォール面の範囲からショルダー部分及びトレッド部分を除外して、より正確な上下限値を自動的に決定することができる。
【００４９】
以上により、本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法の処理を終了する。
【００５０】
次に、本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理装置について、図２に基づいて説明する。図２は、本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理装置のブロック図である。タイヤ形状検査装置１のタイヤ形状検査装置１０は、図４（ａ）に示す画像処理装置５に相当し、演算部と、記憶部と、入力部と、出力部と、から構成されて、計算機上に実装される。ここで、図１に示されているタイヤ形状検査装置のデータ処理装置１０の各部（演算部、記憶部、入力部、及び、出力部）は、例えば汎用のパーソナルコンピュータ等の計算機によって構成されている。かかる計算機には、ＤＳＰ、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスク、ＣＤ−ＲＯＭの駆動装置などのハードウェアが収納されており、ハードディスクには、プログラム（このプログラムは、リムーバブルな記憶媒体に記録しておくことにより、様々なコンピュータにインストールすることが可能である）を含む各種のソフトウェアが記録されている。そして、これらのハードウェアおよびソフトウェアが組み合わされることによって、上述の各部が構築されている。
【００５１】
図１に示すように、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置１０は、表面高さ分布情報２０と、円周方向表面高さ平均値算出部１１と、最高点算出部１２と、仮範囲決定部１３と、上下限値の仮範囲１３ａと、零点除去処理部２１と、絶対値算出部２２と、絶対値の平均値算出部２３と、絶対値の平均値２３ａと、閾値算出部２４と、閾値２４ａと、範囲決定部２５と、上下限値の範囲２５ａと、から構成される。ここで、円周方向表面高さ平均値算出部１１と、最高点算出部１２と、仮範囲決定部１３と、上下限値の仮範囲１３ａと、で仮範囲設定部１４を構成する。また、零点除去処理部２１と、絶対値算出部２２と、絶対値の平均値算出部２３と、絶対値の平均値２３ａと、閾値算出部２４と、閾値２４ａと、範囲決定部２５と、上下限値の範囲２５ａと、で範囲修正部２６を構成する。
【００５２】
円周方向表面高さ平均値算出部１１は、記憶部に記憶された上述の表面高さ分布情報２０に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での円周方向表面高さ平均値算出工程Ｓ１１の処理を行い、得られた結果を最高点算出部１２に出力するためのものである。
【００５３】
最高点算出部１２は、円周方向表面高さ平均値算出部１１から入力された結果に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での最高点算出工程Ｓ１２の処理を行い、得られた結果を仮範囲決定部１３に出力するためのものである。
【００５４】
仮範囲決定部１３は、最高点算出部１２から入力された結果に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での仮範囲決定工程Ｓ１３の処理を行い、得られた上下限値の仮範囲１３ａを記憶部に記憶するためのものである。
【００５５】
零点除去処理部２１は、記憶部に記憶された上述の表面高さ分布情報２０に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での零点除去処理工程Ｓ２１の処理を行い、得られた結果に基づいて、表面高さ分布情報２０を更新して、絶対値算出部２２に出力するためのものである。
【００５６】
絶対値算出部２２は、零点除去処理部２１で更新された表面高さ分布情報２０に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での絶対値算出工程Ｓ２２の処理を行い、得られた結果を絶対値の平均値算出部２３に出力するためのものである。
【００５７】
絶対値の平均値算出部２３は、平均値算出部２３から入力された結果に基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での絶対値の平均値算出工程Ｓ２３の処理を行い、得られた絶対値の平均値２３ａを記憶部に記憶するためのものである。
【００５８】
閾値算出部２４は、記憶部に記憶された絶対値の平均値２３ａに基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での絶対値の閾値算出工程Ｓ２４の処理を行い、得られた閾値２４ａを記憶部に記憶するためのものである。
【００５９】
範囲決定部２５は、記憶部に記憶された上下限値の仮範囲１３ａと、絶対値の平均値２３ａと、閾値２４ａに基づいて、上述したタイヤ形状検査装置のデータ処理方法での範囲決定工程Ｓ２５の処理を行い、得られた上下限値の範囲２５ａを記憶部に記憶するためのものである。
【００６０】
このように、本実施形態のタイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置によると、表面高さ分布情報に基づいて、タイヤの円周方向を表す第２座標軸における全周の平均値が最高となる第１座標軸の最高点から、第１座標軸の正負の向きにそれぞれ検索を開始し、未検出点が所定個以上となった直前の検出点をタイヤの半径方向を表す第１座標軸の上下限値として設定している。そのため、サイドウォール面の湾曲がリムよりも高いか、リムを保護するためにサイドウォール面に形成されるリムガードがリムよりも高いため、最高点がリムになることがない。そして、タイヤのサイドウォール面（リムガードを含む）の内側の端においては、サイドウォール面とリムの間には段差が存在するため、また、タイヤのサイドウォール面の外側の端においては、ショルダー部及びトレッド部が存在するため、未検出点が次第に増えてくる。従って、第２座標軸上の未検出点の所定の割合をサイドウォール面とリムの間の段差やショルダー部及びトレッド部が除去できる程度の値としておくことにより、サイドウォール面の湾曲の高い位置またはリムガードを第１座標軸の最高点として正負の向きに検索がされて、リムやショルダー部及びトレッド部を含めることなく、サイドウォール面の上下限値の仮範囲を決定することができる。また、タイヤのサイドウォール面自体が曲がっており、且つ、タイヤのサイドウォール面と比較して、ショルダー部分及びトレッド部は相対的に凹凸が大きいため（サイドウォール面は凹凸の高さが低い模様が、ショルダー部分及びトレッド部は凹凸の大きい模様が付されていることが多い。）、二次微分フィルタによりフィルタ処理を行い、円周方向の各ライン毎にサイドウォール面とショルダー部分及びトレッド部分とを区別する閾値（即ち、サイドウォール面と見なして良い程度の凹凸を区別する閾値）を算出することにより、サイドウォール面の範囲からショルダー部分及びトレッド部分を除外することができる。以上により、サイドウォール面の範囲を、より正確に且つ自動的に定義することができる。
【００６１】
以上、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明は、前記実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな変更が可能なものである。
【００６２】
例えば、本実施形態に係るタイヤ形状検査装置のデータ処理方法において、仮範囲決定工程Ｓ１３において、最高点となる位置から順に第１座標軸の正の方向及び負の方向の位置の第２座標軸上の位置における表面高さ測定値を検索し、表面高さ測定値が未検出となる未検出点が所定の割合以上となった場合の直前の位置を第１座標軸の上限値及び下限値として仮決定しているが、それに限らない。例えば、最高点となる位置から順に第１座標軸の正の方向及び負の方向の位置の第１座標軸上の表面高さ測定値の平均値が所定の値未満となる点が所定の個数以上となった場合の直前の表面高さ測定値が検出された位置を第１座標軸の上限値及び下限値として仮決定しても良い。この場合、所定の個数は、サイドウォール面とリムの間の段差やショルダー部及びトレッド部が検出できる程度の値を、経験則に基づいて設定する。
【符号の説明】
【００６３】
１  タイヤ形状検査装置
５  画像処理装置（データ処理装置）
１０  データ処理装置
１１  円周方向表面高さ平均値算出部
１２  最高点算出部
１３  仮範囲決定部
１３ａ  上下限値の仮範囲
１４  仮範囲設定部
２０  表面高さ分布情報
２１  零点除去処理部
２２  絶対値算出部
２３  絶対値の平均値算出部
２３ａ  絶対値の平均値
２４  閾値算出部
２４ａ  閾値
２５  範囲決定部
２５ａ  上下限値の範囲
２６  範囲修正部
Ｓ１  零点除去工程
Ｓ１１〜Ｓ１３  仮範囲設定工程
Ｓ１１  円周方向表面高さ平均値算出工程
Ｓ１２  最高点算出工程
Ｓ１３  上下限値の仮範囲設定工程
Ｓ２１〜Ｓ２５  範囲修正工程
Ｓ２１  零点除去処理工程
Ｓ２２ａ〜２２ｂ  絶対値算出工程
Ｓ２３  絶対値の平均値算出工程
Ｓ２４  閾値算出工程
Ｓ２５  上下限値の範囲決定工程
【図１】
2014190825.tif 000004
【図２】
2014190825.tif 000005
【図３】
2014190825.tif 000006
【図４】
2014190825.tif 000007