(57)【要約】【課題】網点形状が大きく異なるＦＭ印刷や網点の大きさが小さい高細線のＡＭ印刷でも光学的ドットゲインの影響が補償でき、再現色予測の精度が低下しない方法の提供が望まれていた。【解決手段】測定した一次色ステップの分光反射率との誤差が最小となるように、ベタおよび仮想的原色の実効面積率を求めるステップを複数の中間調について繰り返し行い、一次色のデバイス制御値と上記二つの実効面積率の関係を近似式で表し、デバイス制御値と実効面積率の関係を求め、一次色の中間調の分光反射率を用紙の分光反射率とベタの分光反射率の線形和で表現し、それぞれの係数となる実効面積率が波長の関数であるとして分光実効面積率を求め、任意の設定値の掛け合わせに対する分光反射率を求め、再現色の測色値を計算する印刷再現色予測方法を提供する。【選択図】図１
2014197790.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
面積変調で色を再現する印刷物の任意の掛け合わせに対する分光反射率を推定し、再現色を予測する方法において、
用紙、各色ベタ、ベタの掛け合わせについて分光反射率を測定するステップと、
一次色の任意のステップの分光反射率を測定するステップと、
一次色の中間調の分光反射率を、用紙の分光反射率、ベタの分光反射率、ドットゲインを考慮した２つの仮想的原色の分光反射率の４つの分光反射率をそれぞれの実効面積率で重み付けした和として表現し、測定した一次色ステップの分光反射率との誤差が最小となるように、ベタおよび仮想的原色の実効面積率を求めるステップと、
前段のステップを複数の中間調について繰り返し行い、一次色のデバイス制御値と上記二つの実効面積率の関係を近似式で表し、デバイス制御値と実効面積率の関係をもとめるステップと、
一次色の中間調の分光反射率を、
用紙の分光反射率とベタの分光反射率の線形和で表現し、
それぞれの係数となる実効面積率が波長の関数であるとして、この分光実効面積率を求めるステップと、
任意の設定値の掛け合わせに対する分光反射率を、
上記の分光実効面積率を分光ノイゲバウア方程式に代入することにより求めるステップと、
観察光源、等色関数を用いて、前段のステップで求めた分光反射率から再現色の測色値を計算するステップと、
からなることを特徴とした印刷再現色予測方法。
【請求項２】
請求項１に記載の印刷再現色予測方法において、
一次色の中間調の分光反射率を、Ｒ＾（ｓ，λ）＝Ｒｉ（λ）ａ１（ｓ）＋Ｒo１（λ）ａ２（ｓ）＋Ｒo２（λ）ａ３（ｓ）＋Ｒｐ（λ）（１−ａ１（ｓ）−ａ２（ｓ）−ａ３（ｓ））（但し、ａ１（ｓ）は単色ベタの実効面積率、ａ２（ｓ）は第１の仮想的原色の実効面積率、ａ３（ｓ）は第２の仮想的原色の実効面積率、Ｒｉ（λ）は単色ベタの分光反射率、Ｒｐ（λ）は用紙の分光反射率、Ｒo１（λ）は第１の仮想原色の分光反射率、Ｒo２（λ）は第２の仮想原色の分光反射率、Ｒ＾（ｓ，λ）はデバイス制御値ｓに対応する単色の推定分光反射率を示す）で示し、
実効面積率をｂ（ｓ，λ）＝（Ｒ＾（ｓ，λ）−Ｒｐ（λ））／（Ｒｉ（λ）−Ｒｐ（λ））としたとき、
分光ノイゲバウア方程式として以下の式を用いることを特徴とした印刷再現色予測方法。
Ｒ＾（λ）＝ｐｃ（λ）Ｒｃｉ（λ）＋ｐｍ（λ）Ｒｍｉ（λ）＋ｐｙ（λ）Ｒｙｉ（λ）＋ｐｋ（λ）Ｒｋｉ（λ）＋ｐｃｍ（λ）Ｒｃｍｉ（λ）＋ｐｍｙ（λ）Ｒｍｙｉ（λ）＋ｐｃｙ（λ）Ｒｃｙｉ（λ）＋ｐｃｋ（λ）Ｒｃｋｉ（λ）＋ｐｍｋ（λ）Ｒｍｋｉ（λ）＋ｐｙｋ（λ）Ｒｙｋｉ（λ）＋ｐｃｍｙ（λ）Ｒｃｍｙｉ（λ）＋ｐｃｍｋ（λ）Ｒｃｍｋｉ（λ）＋ｐｍｙｋ（λ）Ｒｍｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｋ（λ）Ｒｃｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｍｋ（λ）Ｒｃｙｍｋｉ（λ）＋ｐｐ（λ）Ｒｐ（λ）
ｐｃ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｐ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
【請求項３】
所望の測色値ＸＹＺを再現するためのデバイス制御値を算出する方法において、請求項１もしくは請求項２に記載の再現色予測方法を用いて、逐次近似法により所望色に最も近い色を再現するためのデバイス制御値を算出することを特徴としたデバイス制御値算出方法。
【請求項４】
所望の分光反射率を再現するためのデバイス制御値を算出する方法において、請求項１もしくは請求項２に記載の再現色予測方法を用いて、逐次近似法により所望する分光反射率との誤差が最小となるような分光反射率を再現するデバイス制御値を算出することを特徴としたデバイス制御値算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は面積変調により色を再現する印刷物において再現される色すなわち再現色を予測する印刷再現色予測方法に関するものである。また、その方法を用いて、所望の色を再現するためのデバイス制御値を計算するデバイス制御値算出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、印刷の再現色を予測する方法として、例えばシアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）の各単色のデバイス制御値と実際にその掛け合わせを出力した際の色を測色した測色値との関係からルックアップテーブル（以下、ＬＵＴと称する）を作成する方法が用いられている。例えば、非特許文献１に、ＬＵＴを用いた再現色予測方法が記載されている。
【０００３】
この方法においては、例えば各原色を適当な間隔で区切ったすべての掛け合わせを出力し、その結果を測色することで、図２に示すようなＬＵＴを作成する。図２において各格子点は適当な間隔に区切った入力値に対応し、格子点上には実際に出力して測定した測色値が格納されている。格子点が存在しない掛け合わせ、すなわち実際に測定を行っていない掛け合わせに対しては、周辺の格子点が持つ値から、補間などの手法を用いて、任意の掛け合わせに対する再現色の測色値を求めることができる。
【０００４】
もう１つの方法として、ノイゲバウア方程式を利用する方法が知られている。例えば、特許文献１に、ノイゲバウア方程式を用いた色予測の方法が記載されている。この方法では、各原色のベタおよびベタ同士のすべての掛け合わせと用紙の測色値をあらかじめ測定し、以下の式で再現色を予測する。
【０００５】
ＸＹＺ＝ｐｃＸＹＺｃｉ＋ｐｍＸＹＺｍｉ＋ｐｙＸＹＺｙｉ＋ｐｋＸＹＺｋｉ＋ｐｃｍＸＹＺｃｍｉ＋ｐｍｙＸＹＺｍｙｉ＋ｐｃｙＸＹＺｃｙｉ＋ｐｃｋＸＹＺｃｋｉ＋ｐｍｋＸＹＺｍｋｉ＋ｐｙｋＸＹＺｙｋｉ＋ｐｃｍｙＸＹＺｃｍｙｉ＋ｐｃｍｋＸＹＺｃｍｋｉ＋ｐｍｙｋＸＹＺｍｙｋｉ＋ｐｃｙｋＸＹＺｃｙｋｉ＋ｐｃｙｍｋＸＹＺｃｙｍｋｉ＋ｐｐＸＹＺｐ
ｐｃ＝ｃ（１−ｍ）（１−ｙ）（１−ｋ）
ｐｍ＝（１−ｃ）ｍ（１−ｙ）（１−ｋ）
ｐｙ＝（１−ｃ）（１−ｍ）ｙ（１−ｋ）
ｐｋ＝（１−ｃ）（１−ｍ）（１−ｙ）ｋ
ｐｃｍ＝ｃｍ（１−ｙ）（１−ｋ）
ｐｍｙ＝（１−ｃ）ｍ（１−ｂ）（１−ｋ）
ｐｃｙ（λ）＝ｃ（１−ｍ）ｙ（１−ｋ）
ｐｃｋ（λ）＝（１−ｃ）ｍｙ（１−ｋ）
ｐｍｋ（λ）＝（１−ｃ）ｍ（１−ｙ）ｋ
ｐｙｋ（λ）＝（１−ｃ）（１−ｍ）ｙｋ
ｐｃｍｙ（λ）＝ｃｍｙ（１−ｋ）
ｐｃｍｋ（λ）＝ｃｍ（１−ｙ）ｋ
ｐｍｙｋ（λ）＝（１−ｃ）ｍｙｋ
ｐｃｙｋ（λ）＝ｃ（１−ｍ）ｙｋ
ｐｃｙｍｋ（λ）＝ｃｍｙｋ
ｐｐ（λ）＝（１−ｃ）（１−ｍ）（１−ｙ）（１−ｋ）
（ただし、ｃ，ｍ，ｙ，ｋは各々原色の実効面積率、
Ｐｊは４色重ね刷り時の各原色ベタ，二次色ベタ，三次色ベタ，四次色ベタ，用紙の実効
面積率、
ＸＹＺｊｉは各原色ベタ，二次色ベタ，三次色ベタ，四次色ベタ，用紙の測色値ベクトルを示す）
以下、この式を（式１）と称する。
【０００６】
また、この（式１）において各原色の測色値の代わりに分光反射率ベクトルを用いて再現色の分光反射率を推定し、観察光源の分光分布と等色関数を用いた計算により、再現色の測色値を求める方法をとることもある。このとき、（式１）は以下に示す式となり、分光ノイゲバウア方程式と呼ばれる。
【０００７】
Ｒ＾（λ）＝ｐｃ（λ）Ｒｃｉ（λ）＋ｐｍ（λ）Ｒｍｉ（λ）＋ｐｙ（λ）Ｒｙｉ（λ）＋ｐｋ（λ）Ｒｋｉ（λ）＋ｐｃｍ（λ）Ｒｃｍｉ（λ）＋ｐｍｙ（λ）Ｒｍｙｉ（λ）＋ｐｃｙ（λ）Ｒｃｙｉ（λ）＋ｐｃｋ（λ）Ｒｃｋｉ（λ）＋ｐｍｋ（λ）Ｒｍｋｉ（λ）＋ｐｙｋ（λ）Ｒｙｋｉ（λ）＋ｐｃｍｙ（λ）Ｒｃｍｙｉ（λ）＋ｐｃｍｋ（λ）Ｒｃｍｋｉ（λ）＋ｐｍｙｋ（λ）Ｒｍｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｋ（λ）Ｒｃｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｍｋ（λ）Ｒｃｙｍｋｉ（λ）＋ｐｐ（λ）Ｒｐ（λ）（ただし、Ｒｉ（λ）は各原色ベタ，二次色ベタ，三次色ベタ，四次色ベタ，用紙の分光反射率ベクトルを示す）
以下、この式を（式２）と称する。
【０００８】
分光反射率と測色値の関係は以下の式で与えられる。
【０００９】
Ｘ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｘ￣（λ）ｄλ
Ｙ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｙ￣（λ）ｄλ
Ｚ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｚ￣（λ）ｄλ
ｋ＝１００／∫Ｅ（λ）ｙ￣（λ）ｄλ
（ただし、Ｒ（λ）は分光反射率、Ｅ（λ）は観察光源の分光エネルギー分布、ｘ￣（λ）、ｙ￣（λ）、ｚ￣（λ）は各々の等色関数を示す）
以下、この式を（式３）と称する。
【００１０】
しかし、上述したＬＵＴを用いる方法では、測定するサンプルの数を増加させることにより、補間による誤差が減少し、比較的高い精度での再現色予測が可能となる反面、測定数の増加により、作業時間や手間が増大するという問題があった。また、数多くの掛け合わせを出力するには非常に大きな面積が必要となり、印刷物面内のばらつきが大きい印刷機においては、その面内ばらつきの誤差がＬＵＴに含まれ精度が低下するという問題があった。
【００１１】
一方、ノイゲバウア方程式を用いる方法では、測色が必要な掛け合わせは各色ベタとベタ同士の掛け合わせとなるため非常に少なくなるものの、実際の印刷では光学的ドットゲインの影響により、この方程式が成立することはほとんどなく、再現色予測の精度に問題があった。
【００１２】
光学的ドッドゲインの影響により生じるノイゲバウア方程式と実測の差異を補正するために、特許文献２のような方法が提案されている。
【００１３】
この方法では、１つの原色ベタに対し、光学的ドットゲインにより生じるベタとは異なる仮想的な原色が１つ存在するものと仮定し、（式１）を修正することにより、より高い精度で再現色を予測することを可能としている。
【００１４】
しかしながら、上述した方法は、商業印刷で主に用いられている１７５線程度のＡＭ印
刷を対象としており、網点形状が大きく異なるＦＭ印刷や網点の大きさが小さい高細線のＡＭ印刷では、光学的ドットゲインの影響が補償しきれず、再現色予測の精度が低下するという問題があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開平４−３３７９６５号公報
【特許文献２】特許第４７２５１９０号
【非特許文献】
【００１６】
【非特許文献１】「色再現工学の基礎」  太田登著  コロナ社  Ｐ．１８２
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本発明は、上述の従来の技術の問題点を解決すべくなされたものであって、印刷の面内ばらつきの影響を受けない比較的狭い面積に印刷可能な少数の掛け合わせの分光測定値から、高い精度で任意の掛け合わせのデバイス制御値に対する分光反射率を推定し、印刷物の再現色を容易に推定する方法を提供することを目的としている。また、この方法を用いることで、所望の測色値や所望の分光反射率が与えられた際に、それらを再現するために必要な設定値を算出する方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
前記課題を解決するために、第１の発明は、面積変調で色を再現する印刷物の任意の掛け合わせに対する分光反射率を推定し、再現色を予測する方法において、
用紙、各色ベタ、ベタの掛け合わせについて分光反射率を測定するステップと、
一次色の任意のステップの分光反射率を測定するステップと、
一次色の中間調の分光反射率を、用紙の分光反射率、ベタの分光反射率、ドットゲインを考慮した２つの仮想的原色の分光反射率の４つの分光反射率をそれぞれの実効面積率で重み付けした和として表現し、測定した一次色ステップの分光反射率との誤差が最小となるように、ベタおよび仮想的原色の実効面積率を求めるステップと、
前段のステップを複数の中間調について繰り返し行い、一次色のデバイス制御値と上記二つの実効面積率の関係を近似式で表し、デバイス制御値と実効面積率の関係をもとめるステップと、
一次色の中間調の分光反射率を、
用紙の分光反射率とベタの分光反射率の線形和で表現し、
それぞれの係数となる実効面積率が波長の関数であるとして、この分光実効面積率を求めるステップと、
任意の設定値の掛け合わせに対する分光反射率を、
上記の分光実効面積率を分光ノイゲバウア方程式に代入することにより求めるステップと、
観察光源、等色関数を用いて、前段のステップで求めた分光反射率から再現色の測色値を計算するステップと、
からなることを特徴とした印刷再現色予測方法である。
【００１９】
また、前記課題を解決するために第２の発明は、第１の発明において、一次色の中間調の分光反射率を、Ｒ＾（ｓ，λ）＝Ｒｉ（λ）ａ１（ｓ）＋Ｒo１（λ）ａ２（ｓ）＋Ｒo２（λ）ａ３（ｓ）＋Ｒｐ（λ）（１−ａ１（ｓ）−ａ２（ｓ）−ａ３（ｓ））（但し、ａ１（ｓ）は単色ベタの実効面積率、ａ２（ｓ）は第１の仮想的原色の実効面積率、ａ３（ｓ）は第２の仮想的原色の実効面積率、Ｒｉ（λ）は単色ベタの分光反射率、Ｒｐ（λ）は用紙の分光反射率、Ｒo１（λ）は第１の仮想原色の分光反射率、Ｒo２（λ）は第２の仮想原色の分光反射率、Ｒ＾（ｓ，λ）はデバイス制御値ｓに対応する単色の推定分光反射率を示す）で示し、
実効面積率をｂ（ｓ，λ）＝（Ｒ＾（ｓ，λ）−Ｒｐ（λ））／（Ｒｉ（λ）−Ｒｐ（λ））としたとき、
分光ノイゲバウア方程式として以下の式を用いることを特徴とした印刷再現色予測方法である。
【００２０】
Ｒ＾（λ）＝ｐｃ（λ）Ｒｃｉ（λ）＋ｐｍ（λ）Ｒｍｉ（λ）＋ｐｙ（λ）Ｒｙｉ（λ）＋ｐｋ（λ）Ｒｋｉ（λ）＋ｐｃｍ（λ）Ｒｃｍｉ（λ）＋ｐｍｙ（λ）Ｒｍｙｉ（λ）＋ｐｃｙ（λ）Ｒｃｙｉ（λ）＋ｐｃｋ（λ）Ｒｃｋｉ（λ）＋ｐｍｋ（λ）Ｒｍｋｉ（λ）＋ｐｙｋ（λ）Ｒｙｋｉ（λ）＋ｐｃｍｙ（λ）Ｒｃｍｙｉ（λ）＋ｐｃｍｋ（λ）Ｒｃｍｋｉ（λ）＋ｐｍｙｋ（λ）Ｒｍｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｋ（λ）Ｒｃｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｍｋ（λ）Ｒｃｙｍｋｉ（λ）＋ｐｐ（λ）Ｒｐ（λ）
ｐｃ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｐ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
また、前記課題を解決するために第３の発明は、所望の測色値ＸＹＺを再現するためのデバイス制御値を算出する方法において、第１の発明もしくは第２の発明の再現色予測方法を用いて、逐次近似法により所望色に最も近い色を再現するためのデバイス制御値を算出することを特徴としたデバイス制御値算出方法である。
【００２１】
また、前記課題を解決するために第４の発明は、所望の分光反射率を再現するためのデバイス制御値を算出する方法において、第１の発明もしくは第２の発明の再現色予測方法を用いて、逐次近似法により所望する分光反射率との誤差が最小となるような分光反射率を再現するデバイス制御値を算出することを特徴としたデバイス制御値算出方法である。
【発明の効果】
【００２２】
以上、説明したように、本発明によれば、少数の一次色ステップとベタの掛け合わせおよび用紙の測定値から任意の掛け合わせのデバイス制御値に対する分光反射率を精度良く推定することができ、従って任意の掛け合わせのデバイス制御値に対する印刷物の再現色を容易に推定することが可能となる。また、必要とする測定が少ないことから、少ない面積で測定のためのパッチを出力することができ、印刷の面内ばらつき等の影響を受けないという特徴もある。
【００２３】
また、本発明に記載の設定値算出方法によれば、上記印刷再現色予測方法を使用することで、印刷の面内ばらつきによる影響を受けにくいといった特徴を引き継ぎつつ、任意の所望色の測色値、もしくは分光反射率を再現するためのデバイス制御値を容易に算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の色再現予測方法の処理の流れを示すフローチャートである。
【図２】ルックアップテーブルを用いた色再現予測方法を説明する図である。
【図３】ドットゲインの発生原理を説明する図である。
【図４】本発明におけるドットゲインの近似方法を説明する図である。
【図５】設定値と実効面積率の関係の例を示す図である。
【図６】網点面積率が小さい部分での光の振る舞いを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の一実施形態による印刷再現色予測方法を、図面を参照して説明する。
【００２６】
図１は本発明の一実施形態による印刷再現色予測方法の処理の流れを表すフローチャートである。このフローチャートにそって各ステップでの処理の詳細を説明する。なお、この実施例ではＣＭＹＫの４原色の面積変調により色を再現する印刷を対象とする。
【００２７】
（ステップ１）用紙、単色ベタ、ベタ掛け合わせの測定（フローチャートの１０１）
用紙、単色ベタ（Ｃ，Ｍ，Ｙ，Ｋ）、ベタの掛け合わせ（ＣＭ，ＭＹ，ＣＹ，ＣＫ，ＭＫ，ＹＫ，ＣＭＹ，ＣＭＫ，ＭＹＫ，ＣＹＫ，ＣＭＹＫ）の計１６色について、分光反射率を測定する。
【００２８】
（ステップ２）  単色ステップ測定（フローチャートの１０２）
ＣＭＹＫの各単色のデバイス制御値を任意のステップで変化させたパッチの分光反射率を測定する。本実施例では各単色のステップは１０％刻みとする。また、面積率の小さい用紙付近の色については、後述するように他の部分と特性が異なるため、その特性をより正確に把握するために、１０％まで２％刻みの一次色を同様に測定する。
【００２９】
（ステップ３）  設定値と実効面積率の関係を求める（フローチャートの１０３）
ステップ１およびステップ２の各ステップで得られた分光反射率データから、任意の一次色のデバイス制御値に対する分光反射率を求めるため、任意のデバイス制御値ｓに対応する分光反射率を次式のように表現する。
【００３０】
Ｒ＾（ｓ，λ）＝Ｒｉ（λ）ａ１（ｓ）＋Ｒo１（λ）ａ２（ｓ）＋Ｒo２（λ）ａ３（
ｓ）＋Ｒｐ（λ）（１−ａ１（ｓ）−ａ２（ｓ）−ａ３（ｓ））とし（但し、ａ１（ｓ）は単色ベタの実効面積率、ａ２（ｓ）は第１の仮想的原色の実効面積率、ａ３（ｓ）は第２の仮想的原色の実効面積率、Ｒｉ（λ）は単色ベタの分光反射率、Ｒｐ（λ）は用紙の分光反射率、Ｒo１（λ）は第１の仮想原色の分光反射率、Ｒo２（λ）は第２の仮想原色の分光反射率、Ｒ＾（ｓ，λ）はデバイス制御値ｓに対応する単色の推定分光反射率を示す）
以下、この式を（式４）と称する。
【００３１】
上記（式４）のＲo１（λ）、Ｒo２（λ）について説明する。このパラメータは、面積変調により色を再現する印刷で発生する光学的ドットゲインと呼ばれる現象を考慮するために加えられている。図３は光学的ドットゲインが発生する原理を示したものである。図３に示したように、通常インクが乗った部分では、インク部分から入射した光が再びインク部分から射出してくるが、インク部と用紙部の境界部分では、インク部から入射した光が用紙部から射出したり、用紙部から入射した光がインク部から射出することにより、観測されるインクの面積率は実際のインク面積率と異なることとなる。
【００３２】
本実施例では図４に示すように光学的ドットゲインによる発色をベタ部とは異なる分光反射率を持った仮想的な原色が存在するものと想定し、その分光反射率をＲo１（λ）Ｒo２（λ）としている。
【００３３】
次に、Ｒo１（λ）Ｒo２（λ）を既知のデータで表現するために以下の式を考える。
【００３４】
Ｋｉ（λ）＝（−１／２）ｌｎ（Ｒｉ（λ）／Ｒｐ（λ））
以下、この式を（式５）と称する。
【００３５】
この式で表されるＫｉ（λ）はインクの吸光率と考えることができる。先に示した仮想的な原色についても同様な式が定義できる。
【００３６】
Ｋo１（λ）＝（−１／２）ｌｎ（Ｒo１（λ）／Ｒｐ（λ））
以下、この式を（式６）と称する。
【００３７】
Ｋo２（λ）＝（−１／２）ｌｎ（Ｒo２（λ）／Ｒｐ（λ））
以下、この式を（式７）と称する。
【００３８】
光学的ドットゲインにより発生する仮想的な原色について、ベタ部ではインク層を２回通過するのに対し（図３のＡ）、光学的ドットゲインが発生する部分ではインク層を１回のみ通過（図３のＢ）もしくは、インク層を一部のみ通過（図３のＣ）することから、上記吸光率が半分および、その半分の１／４になるとすると、Ｋo１（λ）＝−１／２Ｒｉ（λ）
（以下、この式を（式８）と称する）、および、Ｋo２（λ）＝−１／４Ｋｉ（λ）（以下、この式を（式９）と称する）、とすることができ、この（式８）および（式９）に（式５）、（式６）、（式７）を代入することによりＲo１（λ）およびＲo２（λ）は既知のデータから次の式で表される。
【００３９】
Ｒo１（λ）＝（Ｒｉ（λ）／Ｒｐ（λ））１／２Ｒｐ（λ）
以下、この式を（式１０）と称する。
【００４０】
Ｒo２（λ）＝（Ｒｉ（λ）／Ｒｐ（λ））１／４Ｒｐ（λ）
以下、この式を（式１１）と称する。
【００４１】
この式を（式４）に代入することにより、任意のデバイス制御値に対する分光反射率の推定値は次式で表される。
【００４２】
Ｒ＾（ｓ，λ）＝Ｒｉ（λ）ａ１（ｓ）＋（Ｒｉ（λ）／Ｒｐ（λ））１／２Ｒｐ（λ）ａ２（ｓ）＋Ｒｐ（λ）ａ２（ｓ）＋（Ｒｉ（λ）／Ｒｐ（λ））１／４Ｒｐ（λ）ａ３（ｓ）＋Ｒｐ（λ）（１−ａ１（ｓ）−ａ２（ｓ）−ａ３（ｓ））
以下、この式を（式１２）と称する。
【００４３】
ここで、（ステップ２）で実際に測定した一次色ステップの実測値Ｒ（ｓ，λ）と推定値Ｒ＾（ｓ，λ）の誤差が最小となるように（式１３）のｒｍｓが最小となるようなａ１，ａ２，ａ３を最適化手法を用いて計算することにより、実測値の存在するデバイス制御値に対する実効面積率ａ１，ａ２，ａ３が求められ、図５に示すような傾向を示す。
【００４４】
ｒｍｓ＝Σ√（（Ｒ（ｓ，λ）−Ｒ＾（ｓ，λ））２／ｎ）
以下、この式を（式１３）と称する。
【００４５】
ａ１，ａ２，ａ３をそれぞれデバイス制御値ｓの関数として近似することにより、任意のデバイス制御値ｓに対する実効網点面積率を計算することができるようになり、（式１２）から任意のデバイス制御値に対する一次色の分光反射率を推定することができるようになる。なお、本実施例ではａ１，ａ２，ａ３ともにｓの２次関数で近似するものとする。ただし、図５に示すように、デバイス制御値の小さい部分において、ａ１は０となる傾向がある。これは図６に示すように、デバイス制御値の小さい部分では描画される網点の大きさが小さく、インク層を２回通過する光が非常に少ないためであると考えられる。この特性を把握し、近似式に反映することが肝要であるため、本実施例では（ステップ２）の単色ステップ測定のステップにおいて、１０％までの２％刻みのステップを測定した。これらの結果から、ａ１，ａ２，ａ３を２次関数で近似すると、近似値に負となる部分が生じる。しかし、ａ１，ａ２，ａ３は網点面積率であり、負となることはありえない。これにより、ａ１，ａ２，ａ３の近似式は非負の条件付きの２次式となる。
【００４６】
これらの計算を各原色について実行することにより、それぞれの原色でのデバイス制御値と実効面積率の関係を表す関数ａ１ｊ（ｓ），ａ２ｊ（ｓ），ａ３ｊ（ｓ）（ｊ＝Ｃ，Ｍ，Ｙ，Ｋ）を求めることが可能となり、これらを用いて各原色の任意のデバイス制御値に対する分光反射率を推定することができる。
【００４７】
（ステップ４）分光実効面積率の計算（フローチャートの１０４）
先に示した光学的ドットゲインによる影響を、ここでは実効面積率が波長の関数として変化するとして以下の式で表すこととする。
【００４８】
Ｒ＾（ｓ，λ）＝Ｒｉ（λ）ｂ（ｓ，λ）＋Ｒｐ（λ）（１−ｂ（ｓ，λ））
以下、この式を（式１４）と称する。
【００４９】
この（式１４）においてｂ（ｓ，λ）は、各原色の分光実効面積率と考えることができる。この式をｂ（ｓ，λ）について解くと次式を得る。
【００５０】
ｂ（ｓ，λ）＝（Ｒ＾（ｓ，λ）−Ｒｐ（λ））／（Ｒｉ（λ）−Ｒｐ（λ））
以下、この式を（式１５）と称する。
【００５１】
ステップ３では任意のデバイス制御値ｓに対して求めることができることから、（式１５）を用いて任意のデバイス制御値ｓに対する分光実効面積率を計算することができる。
【００５２】
（ステップ５）ノイゲバウア方程式による分光反射率の推定（フローチャートの１０５）
（ステップ４）で求めた分光実効面積率を分光ノイゲバウア方程式に代入することにより、以下の式を得る。
【００５３】
Ｒ＾（λ）＝ｐｃ（λ）Ｒｃｉ（λ）＋ｐｍ（λ）Ｒｍｉ（λ）＋ｐｙ（λ）Ｒｙｉ（λ）＋ｐｋ（λ）Ｒｋｉ（λ）＋ｐｃｍ（λ）Ｒｃｍｉ（λ）＋ｐｍｙ（λ）Ｒｍｙｉ（λ）＋ｐｃｙ（λ）Ｒｃｙｉ（λ）＋ｐｃｋ（λ）Ｒｃｋｉ（λ）＋ｐｍｋ（λ）Ｒｍｋｉ（λ）＋ｐｙｋ（λ）Ｒｙｋｉ（λ）＋ｐｃｍｙ（λ）Ｒｃｍｙｉ（λ）＋ｐｃｍｋ（λ）Ｒｃｍｋｉ（λ）＋ｐｍｙｋ（λ）Ｒｍｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｋ（λ）Ｒｃｙｋｉ（λ）＋ｐｃｙｍｋ（λ）Ｒｃｙｍｋｉ（λ）＋ｐｐ（λ）Ｒｐ（λ）
ｐｃ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｍｙ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｍｙ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））
ｐｃｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｍｙｋ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｃｙｍｋ（λ）＝ｂｃ（ｓｃ，λ）ｂｍ（ｓｍ，λ）ｂｙ（ｓｙ，λ）ｂｋ（ｓｋ，λ）
ｐｐ（λ）＝（１−ｂｃ（ｓｃ，λ））（１−ｂｍ（ｓｍ，λ））（１−ｂｙ（ｓｙ，λ））（１−ｂｋ（ｓｋ，λ））（ただし、ｂｊ（ｓ，λ）は（１５）式で求めた各原色の実効面積率である）
以下、この式を（式１６）と称する。
【００５４】
この式を用いることにより、任意のデバイス制御値の掛け合わせに対する分光反射率を推定することができる。
【００５５】
（ステップ６）  色値の計算（フローチャートの１０６）
前段のステップで求めた分光反射率から、観察光源の分光分布と、等色関数をもちいて以下の式により測色値Ｘ，Ｙ，Ｚを求めることができる。
【００５６】
Ｘ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｘ￣（λ）ｄλ
Ｙ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｙ￣（λ）ｄλ
Ｚ＝ｋ∫Ｒ（λ）Ｅ（λ）ｚ￣（λ）ｄλ
ｋ＝１００／∫Ｅ（λ）ｙ￣（λ）ｄλ
（ただし、Ｅ（λ）は観察光源の分光エネルギー分布、ｘ￣（λ）、ｙ￣（λ）、ｚ￣（λ）は各々の等色関数を示す）
以下、この式を（式１７）と称する。
【００５７】
以上、本発明の再現色予測方法の一実施例について説明したが、以下のような変形例も考えることができる。
【００５８】
本実施例では、ベタ、ベタの掛け合わせ、用紙の測定を実際に行っているが、これらがデータとして取得可能な場合には、測定を行わずこれらのデータを使用しても良い。
【００５９】
本実施例ではデバイス制御値と実効網点面積率の関係を、デバイス制御値の二次関数で近似しているが、より次数の高い多項式や、その他の関数で近似してもよい。
【００６０】
本実施例では、網点面積率の小さい部分での特性を把握するために０％から１０％のデバイス制御値に対して２％刻みの一次色を測定しているが、この範囲をより広く（例えば０％から２０％）とったり、測定の間隔を小さく（例えば１％間隔）するなどしても良い。
【００６１】
また、測色値としてＸＹＺ値を計算しているが、さらにそれらの値から、ＣＩＥＬＡＢやＣＩＥＬＵＶなどの異なる測色値を計算するようにしてもよい。
【００６２】
本実施例では、ＣＭＹＫを用いて説明を行っているが、この限りではなく、特色を含む４色印刷や４色以上の印刷にこの手法を用いてもよい。
【００６３】
本実施例では、仮想的原色を２つとしているが、この限りではなく、３つ以上の仮想的原色を用いてもよい。その場合、ベタの吸光度と第ｎの仮想的原色の吸収度の関係は、１／２ｎとする。
【符号の説明】
【００６４】
１０１〜１０６  ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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