(57)【要約】      （修正有）【課題】簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能なホログラム認証システム、ホログラム認証方法、及び体積型ホログラムを提供する。【解決手段】ホログラム認証システム１は、第１発光部２１ａにより第１再生照明光５１を発光させた時に、受光部３から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が認証装置に入力され、且つ、第２発光部２２ａにより第２再生照明光５２を発光させた時に、受光部３から信号が入力されない、若しくは、受光部３から予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置に入力された場合に、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定する。【選択図】図６
2014142584.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光する第１発光部と、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる第２再生照明光を前記検査対象に発光する第２発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第１再生照明光が回折された光を受光可能な受光部と、
前記第１発光部及び前記第２発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記受光部から入力される認証装置と、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記受光部から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力され、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記受光部から信号が入力されない、若しくは、前記受光部から前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記受光部から信号が入力されない、若しくは、前記受光部から前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
及び、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記受光部から前記予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とするホログラム認証システム。
【請求項２】
前記第２再生照明光は、前記第１再生照明光とは前記検査対象への入射角度が異なる
ことを特徴とする請求項１に記載のホログラム認証システム。
【請求項３】
前記第１再生照明光の入射角度と前記第２再生照明光の入射角度は、前記検査対象の法線に対して対称である
ことを特徴とする請求項２に記載のホログラム認証システム。
【請求項４】
前記第２再生照明光は、前記真の体積型ホログラム記録時の前記波長を含まない
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１つに記載のホログラム認証システム。
【請求項５】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記波長を含む再生照明光を検査対象に発光する発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記再生照明光が回折された予め定められた第１閾値よりも大きい光量の光を受光可能な第１受光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記再生照明光が回折された予め定められた第２閾値よりも大きい光量の光を受光可能な第２受光部と、
前記発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記第１受光部及び前記第２受光部からそれぞれ入力される認証装置と、
前記発光部により前記再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部及び前記第２受光部から前記予め定められた第１閾値及び第２閾値以上の光量の光をそれぞれ受光したことを示す信号が前記認証装置に入力される場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記発光部により前記再生照明光を発光させた時に、
前記第１受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第１受光部から前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
及び、
前記第２受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第２受光部から前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
のうちの少なくとも１つの場合、
前記検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とするホログラム認証システム。
【請求項６】
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記第２波長を含まず前記第１波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光する第１発光部と、
前記第２入射角度で前記第１波長を含まず前記第２波長を含む第２再生照明光を前記検査対象に発光する第２発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第１再生照明光が回折された光を受光可能な第１受光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第２再生照明光が回折された光を受光可能な第２受光部と、
前記第１発光部及び前記第２発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記第１受光部及び前記第２受光部からそれぞれ入力される認証装置と、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第１受光部から予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記第２受光部から予め定められた第３閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合
且つ、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記第２受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第２受光部から予め定められた第４閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
の４つの条件を満足する場合に、前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記４つの条件のうち、１つでも満足しない場合に、前記検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とするホログラム認証システム。
【請求項７】
前記検査対象が贋の部材の時に受光する偽部材用受光部材を備える
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１つに記載のホログラム認証システム。
【請求項８】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
第１発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光させた時に、受光部が、予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光し、
第２発光部が、前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、光を受光しない、若しくは、予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記第１発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む前記第１再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光した場合、
及び、
前記第２発光部が、前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる前記第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、前記予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光した場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記検査対象が贋の部材であると判定する
ことを特徴とするホログラム認証方法。
【請求項９】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む再生照明光を検査対象に発光させた時に、
第１受光部が、予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光し、
且つ、
第２受光部が、予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光する場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む前記再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、
前記第１受光部が光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光した場合、
及び
前記第２受光部が光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記検査対象が贋の部材であると判定する
ことを特徴とするホログラム認証方法。
【請求項１０】
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
第１発光部が、前記第２入射角度で前記第２波長を含まず前記第１波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光させた時に、
第１受光部が、前予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光した場合、
且つ、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、
前記第２受光部が、受光しない、若しくは、予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合、
且つ、
第２発光部が、前記第２入射角度で前記第１波長を含まず前記第２波長を含む第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、
前記第１受光部が、受光しない、若しくは、前記第１受光部から予め定められた第３閾値より小さい光量の光を受光した場合、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、
前記第２受光部が、予め定められた第４閾値以上の光量の光を受光した場合、
の４つの条件を満足する場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記４つの条件のうち、１つでも満足しない場合に、前記検査対象が贋の部材であると判定する
ことを特徴とするホログラム認証方法。
【請求項１１】
前記検査対象が贋の部材の時に偽部材用閾値以上の光量の光を受光する偽部材用受光部材を備え、
前記偽部材用受光部材が予め定めた偽部材用閾値以上の光量の光を受光した場合、
前記検査対象が贋の部材と判定する
ことを特徴とする請求項８乃至請求項１０のいずれか１つに記載のホログラム認証方法。
【請求項１２】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光とは異なる第２再生照明光が入射した場合、
予め定められた閾値よりも小さい光量の再生光を回折する、
又は
再生光が生じない
ことを特徴とする体積型ホログラム。
【請求項１３】
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光、
及び、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光とは異なる第２再生照明光が入射した場合、
予め定められた第１閾値よりも小さい光量の第１再生光、
及び、
予め定められた第２閾値よりも小さい光量の第２再生光、
のうち少なくとも１つを回折する、
若しくは、
再生光が生じない
ことを特徴とする体積型ホログラム。
【請求項１４】
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度、前記第１波長及び前記第２波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記第１波長を含む第１再生照明光及び前記第２入射角度で前記第２波長を含む第２再生照明光とは異なる第３再生照明光が入射した場合、
予め定められた第１閾値よりも小さい光量の第１再生光、
及び、
予め定められた第２閾値よりも小さい光量の第２再生光、
のうち少なくとも１つを回折する、
若しくは、
再生光が生じない
ことを特徴とする体積型ホログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、偽造防止のために用いられるホログラム認証システム、ホログラム認証方法、及び体積型ホログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、キャッシュカード、クレジットカード、小切手カード等のカード類、金券類、身分証明書、重要書類等のような認証とともに偽造防止を必要とする物品に対して、各種の偽造防止技術が用いられている。偽造防止技術には、一例として、光学可変インク及び蛍光発光インク等の特殊インク、又は、ホログラム等が用いられる。また、偽造防止技術に加えて、偽造防止技術を認証するために、認証技術が用いられる。
【０００３】
認証技術には、一例として、赤外線を照射し赤外の反射・吸収パターンを画像として読み取ることで真贋判定するものがある。また、磁気又は発光波長をコード化して、専用機器で認証する技術も使用されている。
【０００４】
さらに、ホログラムを認証する技術として、情報記憶カードの識別構造（特許文献１参照）及び光学的コード記録媒体（特許文献２参照）が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平３−１６９６９５号公報
【特許文献２】特開平６−１３１５１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、観察者が目視で真贋判定を行う従来の偽造防止技術は、一見似たものが作られ、セキュリティ技術をあまり理解していない一般の観察者では、正確に真贋判定を行うことが難しい。似たものを作られないように偽造防止性を高めた技術としてホログラムも幅広く使用されているが、一見似たホログラムも作られるようになってきており、目視による認証だけでは絶対的な判断は難しくなっている。
【０００７】
ホログラムを使用した情報記憶カードの識別構造（特許文献１）は、単純に回折光のパターンを読み取っているだけであり、一見似たホログラムが作られるようになった現在では、偽造防止効果が高いとは言えなくなっている。また、ホログラムを使用した光学的コード記録媒体（特許文献２）は、ホログラムを機械認証として使用し、偽造防止効果を高めている。しかしながら、認証装置にレーザやＣＣＤを使用しており、認証装置にかかるコストが高くなるという課題があった。また透過型のホログラムを使用しており、透明媒体にしか使用することができなかった。
【０００８】
本発明は、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能なホログラム認証システム、ホログラム認証方法、及び体積型ホログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明にかかるホログラム認証システムは、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光を前記検査対象に発光する第１発光部と、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる第２再生照明光を前記検査対象に発光する第２発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第１再生照明光が回折された光を受光可能な受光部と、
前記第１発光部及び前記第２発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記受光部から入力される認証装置と、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記受光部から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力され、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記受光部から信号が入力されない、若しくは、前記受光部から前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記受光部から信号が入力されない、若しくは、前記受光部から前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
及び、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記受光部から予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とする。
【００１０】
本発明にかかるホログラム認証システムでは、
前記第２再生照明光は、前記第１再生照明光とは前記検査対象への入射角度が異なる。
【００１１】
本発明にかかるホログラム認証システムでは、
前記第１再生照明光の入射角度と前記第２再生照明光の入射角度は、前記検査対象の法線に対して対称である。
【００１２】
本発明にかかるホログラム認証システムでは、
前記第２再生照明光は、前記真の体積型ホログラム記録時の前記波長を含まない。
【００１３】
本発明にかかるホログラム認証システムは、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記波長を含む再生照明光を検査対象に発光する発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記再生照明光が回折された予め定められた第２閾値よりも大きい光量の光を受光可能な第１受光部と、
前記再生照明光が前記体積型ホログラムで回折された予め定められた値よりも大きい光量の光を受光可能な第２受光部と、
前記発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記第１受光部及び前記第２受光部からそれぞれ入力される認証装置と、
前記発光部により前記再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部及び前記第２受光部から前記予め定められた第１閾値及び第２閾値以上の光量の光をそれぞれ受光したことを示す信号が前記認証装置に入力される場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記発光部により前記再生照明光を発光させた時に、
前記第１受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第１受光部から前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
及び、
前記第２受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第２受光部から前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
のうちの少なくとも１つの場合、
前記検査対象が体積型ホログラムが贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とする。
【００１４】
本発明にかかるホログラム認証システムは、
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証システムであって、
前記第２入射角度で前記第２波長を含まず前記第１波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光する第１発光部と、
前記第２入射角度で前記第１波長を含まず前記第２波長を含む第２再生照明光を前記検査対象に発光する第２発光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第１再生照明光が回折された光を受光可能な第１受光部と、
前記検査対象が真の体積型ホログラムの場合に、前記第２再生照明光が回折された光を受光可能な第２受光部と、
前記第１発光部及び前記第２発光部の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を前記第１受光部及び前記第２受光部からそれぞれ入力される認証装置と、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記第１受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第１受光部から予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、前記第２受光部から予め定められた第３閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合
且つ、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、前記第２受光部から信号が入力されない、若しくは、前記第２受光部から予め定められた第４閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が前記認証装置に入力された場合、
の４つの条件を満足する場合に、前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記４つの条件のうち、１つでも満足しない場合に、前記検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置と、
を備える
ことを特徴とする。
【００１５】
本発明にかかるホログラム認証システムは、
前記検査対象が贋の部材の時に受光する偽部材用受光部材を備える
ことを特徴とする。
【００１６】
本発明にかかるホログラム認証方法は、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
第１発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光させた時に、受光部が、予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光し、
第２発光部が、前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、光を受光しない、若しくは、予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記第１発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む前記第１再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光した場合、
及び、
前記第２発光部が、前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第１再生照明光とは異なる前記第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、前記受光部が、前記予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光した場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記第２閾が贋の部材であると判定する
ことを特徴とする。
【００１７】
本発明にかかるホログラム認証方法は、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む再生照明光を検査対象に発光させた時に、
第１受光部が、予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光し、
且つ、
第２受光部が予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光する場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記発光部が、前記第２入射角度で前記波長を含む前記再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、
前記第１受光部が光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光した場合、
及び
前記第２受光部が光を受光しない、若しくは、前記予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合、
のうちの少なくとも１つの場合に、
前記検査対象が贋の部材であると判定する
ことを特徴とする。
【００１８】
本発明にかかるホログラム認証方法は、
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された真の体積型ホログラムであるか贋の部材であるかを認証するホログラム認証方法であって、
第１発光部が、前記第２入射角度で前記第２波長を含まず前記第１波長を含む第１再生照明光を検査対象に発光させた時に、
第１受光部が、予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光した場合、
且つ、
前記第１発光部により前記第１再生照明光を発光させた時に、
前記第２受光部が、受光しない、若しくは、予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光した場合、
且つ、
第２発光部が、前記第２入射角度で前記第１波長を含まず前記第２波長を含む第２再生照明光を前記検査対象に発光させた時に、
前記第１受光部が、受光しない、若しくは、前記第１受光部から前記予め定められた第３閾値より小さい光量の光を受光した場合、
且つ、
前記第２発光部により前記第２再生照明光を発光させた時に、
前記第２受光部が、前記予め定められた第４閾値以上の光量の光を受光した場合、
の４つの条件を満足する場合に、
前記検査対象が真の体積型ホログラムであると判定し、
前記４つの条件のうち、１つでも満足しない場合に、前記検査対象が贋の部材であると判定する
ことを特徴とする。
【００１９】
本発明にかかるホログラム認証方法は、
前記検査対象が贋の部材の時に偽部材用閾値以上の光量の光を受光する偽部材用受光部材を備え、
前記偽部材用受光部材が予め定めた偽部材用閾値以上の光量の光を受光した場合、
前記検査対象が贋の部材と判定する
ことを特徴とする。
【００２０】
本発明にかかる体積型ホログラムは、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光と、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光と、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光とは異なる第２再生照明光が入射した場合、
予め定められた閾値よりも小さい光量の再生光を回折する、
又は、
再生光が生じない
ことを特徴とする。
【００２１】
本発明にかかる体積型ホログラムは、
予め定められた波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光、
前記波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光、
及び、
前記波長を持ち、前記第１入射角度とは異なる予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度及び前記波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記波長を含む第１再生照明光とは異なる第２再生照明光が入射した場合、
予め定められた第１閾値よりも小さい光量の第１再生光、
及び、
予め定められた第２閾値よりも小さい光量の第２再生光、
のうちの少なくとも１つを回折する
若しくは、
再生光が生じない
ことを特徴とする。
【００２２】
本発明にかかる体積型ホログラムは、
予め定められた第１波長を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する第１物体光と、
前記第１波長を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する第１参照光と、
で記録され、
予め定められた第２波長を持ち、予め定められた第３入射角度で入射する第２物体光と、
前記第２波長を持ち、前記第２入射角度で入射する第２参照光と、
で記録された体積型ホログラムであって、
前記第２入射角度、前記第１波長及び前記第２波長のうち少なくとも１つが前記第２入射角度で前記第１波長を含む第１再生照明光及び前記第２入射角度で前記第２波長を含む第２再生照明光とは異なる第３再生照明光が入射した場合、
予め定められた第１閾値よりも小さい光量の第１再生光、
及び、
予め定められた第２閾値よりも小さい光量の第２再生光、
のうち少なくとも１つを回折する、
若しくは、
再生光が生じない
ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能なホログラム認証システム、ホログラム認証方法、及び体積型ホログラムを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】第１実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の１段階目のホログラム記録用感光材料の撮影配置を示す図である。
【図２】第１実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の２段階目のホログラム記録用感光材料の撮影配置を示す図である。
【図３】第１実施形態の体積型ホログラムの再生を示す図である。
【図４】第１実施形態のホログラム認証システムを示す図である。
【図５】ホログラム認証システムの発光部と受光部の配置を示す図である。
【図６】第１実施形態に含まれる実施例１のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図７】第１実施形態に含まれる実施例２のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図８】第１実施形態に含まれる実施例３のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図９】第１実施形態に含まれる実施例４のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図１０】第２実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の１段階目のホログラム記録用感光材料の撮影配置を示す図である。
【図１１】第２実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の２段階目のホログラム記録用感光材料の撮影配置を示す図である。
【図１２】第２実施形態の体積型ホログラムの再生を示す図である。
【図１３】第２実施形態のホログラム認証システムを示す図である。
【図１４】ホログラム認証システムの発光部と受光部の配置を示す図である。
【図１５】第２実施形態に含まれる実施例５のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図１６】第２実施形態に含まれる実施例６のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【図１７】他のホログラム認証方法を示す図である。
【図１８】実施例７のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。
【図１９】実施例７のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【図２０】実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の基準光量測定ステージのフローチャートを示す。
【図２１】実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の検査対象光量測定ステージのフローチャートを示す。
【図２２】実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の真贋判定ステージのフローチャートを示す。
【図２３】実施例８のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。
【図２４】実施例８のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【図２５】実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の基準光量測定ステージのフローチャートを示す。
【図２６】実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の検査対象光量測定ステージのフローチャートを示す。
【図２７】実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の真贋判定ステージのフローチャートを示す。
【図２８】実施例９のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。
【図２９】実施例９のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【図３０】他の実施形態のホログラム認証システムを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、図面を参照にして本発明にかかる体積型ホログラム、ホログラム認証方法、及びホログラム認証システムについて説明する。
【００２６】
図１は、第１実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の１段階目のホログラム記録用感光材料１０’の撮影配置を示す図である。図２は、第１実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の撮影配置を示す図である。
【００２７】
まず、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’を、物体１０１に対向して配置する。続いて、物体１０１を予め定められた波長λ1のレーザ光で照明して物体１０１で散乱された物体光１１１を１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に入射させると共に、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に予め定められた入射角度θで物体光１１１と可干渉な平行光からなる波長λ1の参照光１１２を入射させ、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に物体１０１のホログラムを露光する。続いて、露光された１段階目のホログラム記録用感光材料１０’を、後処理し、１段階目のホログラム１０を作製する。
【００２８】
次に、１段階目のホログラム１０の作製時の参照光１１２が向かう方向とは反対の方向に進む波長λ1の再生照明光１１２’を、参照光１１２を入射させた方向とは反対方向から１段階目のホログラム１０に入射させる。すると、再生照明光１１２’が回折されて再生光１１１’が射出され、１段階目のホログラム１０の作製時の物体１０１の位置に物体１０１の像１０１’が再生結像される。
【００２９】
次に、像１０１’を物体光１２１として予め定められた第１入射角度θ1で２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に入射させると共に、２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に予め定められた第２入射角度θ2で物体光１２１と可干渉な平行光からなる波長λ1の参照光１２２を物体光１２１が向かう方向とは反対の方向から入射させ、２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に像１０１’のホログラムとして記録する。なお、後述する認証時の発光部の発散角に対応した収束光でホログラムを記録することが好ましい。続いて、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’を、後処理し、図示しない２段階目のホログラム１１を作製する。以下、２段階目のホログラム１１を本実施形態で用いる体積型ホログラム１１とし、同じ符号で示す。
【００３０】
図３は、第１実施形態の体積型ホログラムの再生を示す図である。
【００３１】
作製された体積型ホログラム１１に対して、図２に示した参照光１２２が向かう方向とは反対方向に向かう第２入射角度θ2から予め定められた波長λ1の再生照明光１２２’を入射させる。すると、図３に示すように、再生照明光１２２’が回折されて、図２に示した物体光１２１が向かう方向とは反対方向に向かう再生光１２１’が射出され、体積型ホログラム１１の作製時の像１０１’の位置に像１０１”が再生結像される。体積型ホログラム１１は、再生光１２１’を像１０１”に集光するように反射及び回折させることが好ましい。
【００３２】
すなわち、第１実施形態の体積型ホログラム１１は、予め定められた波長λ1を持ち、予め定められた第１入射角度で入射する物体光１２１と、波長λ1を持ち、予め定められた第２入射角度で入射する参照光１２２と、で記録された体積型ホログラムであって、参照光１２２が向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で波長を含む第１再生照明光１２２’が入射した場合、物体光１２１が向かう方向とは反対方向に向かう第１再生光１２１’を回折し、第２入射角度θ2及び波長λ1のうち少なくとも１つが第１再生照明光１２２’とは異なる図示しない第２再生照明光が入射した場合、物体光１２１が向かう方向とは反対方向に向かう予め定められた閾値よりも小さい光量の第１再生光１２１’、及び、第１再生光１２１’が向かう方向以外に向かう図示しない第２再生光、のうちの少なくとも１つを回折する。
【００３３】
体積型ホログラム１１は、フォトポリマー及び銀塩材料等を使用することが好ましい。フォトポリマーを用いる場合、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の後処理として、加熱した後、紫外線照射を行うことが好ましい。銀塩材料を用いる場合、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の後処理として、現像した後、漂白を行うことが好ましい。体積型ホログラム１１は、ラベル、ステッカー、及び転写箔等の形態があり、セキュリティが必要な物品に貼り付け可能である。また、体積型ホログラム１１は、カード等を製造する際に内部に埋め込むことが可能である。
【００３４】
図４は、第１実施形態のホログラム認証システムを示す図である。
【００３５】
第１実施形態の体積型ホログラム１１は、セキュリティ媒体Ｓ等に貼り付けられ、ホログラム認証システム１によって、認証される。第１実施形態のホログラム認証システム１は、発光部２と、受光部３と、認証装置４と、真贋判定装置５と、を備える。
【００３６】
発光部２は、ＬＥＤ、ＬＤ、ハロゲン光源、キセノン光源等の発光素子を使用することが好ましい。第１実施形態のホログラム認証システム１では、発光部２は、第１発光部２１及び第２発光部２２を有する。第１実施形態は、一例として、発光部２にレンズ付きの砲弾型ＬＥＤを用いている。
【００３７】
受光部３は、回折光の有無を検出するフォトダイオード等の受光素子（フォトディテクタ）を使用することが好ましい。受光部３は、光量を測定できることが好ましい。光量の測定は、光量値を出力してもよいし、予め定められた閾値以上の光量の場合にのみ受光の信号を出力するようにしてもよい。
【００３８】
図５は、ホログラム認証システム１の発光部２と受光部３の配置を示す図である。
【００３９】
ホログラム認証システムの発光部２は、図３に示した体積型ホログラム１１に入射させた再生照明光１２２’と同じ方向から再生照明光５１が入射されるように体積型ホログラム１１に対して配置される。また、受光部３は、図３に示した体積型ホログラム１１から射出した再生光１２１’が再生結像した像１０１”と同じ方向に配置されればよいが、同じ位置に配置されるとより好ましい。
【００４０】
再生照明光５１が入射すると、体積型ホログラム１１は、再生光５１’を射出する。体積型ホログラム１１は、再生光５１’が受光部３に集光するように作製されることで、受光部３で検出する光量を大きくすることが可能となる。
【００４１】
認証装置４は、ＣＰＵ４ａを内蔵する。ＣＰＵ４ａは、発光部２の発光を指示する信号を出力すると共に、受光部３から受光したことを示す信号が入力される。例えば、まず、第１発光部２１に発光を指示し、その後、第１発光部２１に消灯を指示し、第２発光部２２に発光を指示し、その後、第２発光部２２に消灯を指示する。また、あらかじめ第１発光部２１及び第２発光部２２に対して発光時間の長さを決めて指示してもよい。
【００４２】
真贋判定装置５は、ＣＰＵ４ａが発光部２へ出力した信号と、受光部３から入力される信号との対応関係に応じて検査対象の真贋を判定する。例えば、第１発光部２１が発光した際に受光部３から受光の信号が入力され、第２発光部２２が発光した際に受光部３から受光の信号が入力されなかった場合には、検査対象が真の体積型ホログラム１１であり、それ以外は贋の部材であるという判定をするようにあらかじめ設定しておけばよい。真贋判定装置５の判定機能は、ＣＰＵ４ａが行ってもよい。
【００４３】
図６は、第１実施形態に含まれる実施例１のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【００４４】
実施例１のホログラム認証システム１では、第１に、図４に示したＣＰＵ４ａが第１入射角度発光部２１ａを発光させて、図２に示した真の体積型ホログラム１１作製時の参照光１２２と同じ波長を含み、同じ入射角度の第１再生照明光５１を、参照光１２２とは反対の方向から検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第１再生照明光５１が回折した後、第１再生光５１’が射出される。第１再生光５１’は、図５に示したように、像１０１’と対応する位置に設置された受光部３に受光される。したがって、第１入射角度発光部２１ａが発光した際には、受光部３で受光され、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力される。
【００４５】
次に、図４に示したＣＰＵ４ａが第２入射角度発光部２２ａを発光させて、図２に示した真の体積型ホログラム１１作製時の参照光１２２と同じ波長を含み、検査対象の法線に対して、第１再生照明光５１と線対称な入射角度の第２再生照明光５２を、検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第２再生照明光５２は回折せず、又は、第２再生照明光５２は第１再生光５１’とは別の方向に回折され、第２再生照明光５２の回折光は受光部３の方向に射出されない。したがって、第２入射角度発光部２２ａが発光した際には、受光部３が第２再生光を受光せず、又はわずかな光量の第２再生光しか受光せず、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力されない。
【００４６】
この場合、真贋判定装置５は、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定する。
【００４７】
もし、第１入射角度発光部２１ａが発光した際に、受光部３で第１再生光５１’が受光され、第２入射角度発光部２２ａが発光した際に、受光部３で第２再生光が受光された場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が真の体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。また、第１入射角度発光部２１ａが発光した際に、受光部３で第１再生光５１’が受光されず、第２入射角度発光部２２ａが発光した際に、受光部３で第２再生光が受光されなかった場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が真の体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。
【００４８】
すなわち、第１実施形態のホログラム認証システム１は、予め定められた波長λ1を持ち、予め定められた第１入射角度θ1で入射する物体光１２１と、波長λ1を持ち、予め定められた第２入射角度θ2で入射する参照光１２２と、で記録された真の体積型ホログラム１１を認証するホログラム認証システム１であって、真の体積型ホログラム記録時の参照光１２２が向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で真の体積型ホログラム記録時の波長λ1を含む第１再生照明光５１を検査対象に発光する第１発光部２１ａと、第２入射角度θ2及び波長λ1のうち少なくとも１つが第１再生照明光５１とは異なる第２再生照明光５２を検査対象に発光する第２発光部２２ａと、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に、第１再生照明光５１が回折され、物体光１２１が向かう方向とは反対方向に向かう光５１’を受光可能な受光部３と、第１発光部２１ａ及び第２発光部２２ａの発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を受光部３から入力される認証装置４と、第１発光部２１ａにより第１再生照明光５１を発光させた時に、受光部３から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力され、且つ、第２発光部２２ａにより第２再生照明光５２を発光させた時に、受光部３から信号が入力されない、若しくは、受光部３から予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合に、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定し、第１発光部２１ａにより第１再生照明光５１を発光させた時に、受光部３から信号が入力されない、若しくは、受光部３から予め定められた第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、及び、第２発光部２２ａにより第２再生照明光５２を発光させた時に、受光部３から予め定められた第２閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、のうちの少なくとも１つの場合に、検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置５と、を備える。
【００４９】
実施例１のホログラム認証システム１の作用効果について説明する
【００５０】
受光部に集光するホログラムは、エンボスホログラムでも作製可能である。しかしながら、エンボスホログラムでは、第１発光部２１ａからエンボスホログラムを照射した場合でも、第２発光部２２ａからエンボスホログラム１１を照射した場合でも、どちらの場合も回折光が生じてしまう。したがって、エンボスホログラムによる偽造品を容易に見分けることが可能となる。
【００５１】
また、通常の印刷物の場合には、第１発光部２１ａ及び第２発光部２２ａから同等の光量の拡散光が反射するめ、検査対象が真の体積型ホログラムか印刷物による偽造品なのか容易に判定することが可能となる。
【００５２】
このように、実施例１のホログラム認証システム１では、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【００５３】
なお、実施例１のホログラム認証システム１は、第１再生照明光５１の入射角度と第２再生照明光５２の入射角度は、検査対象の法線に対して対称である。
【００５４】
第１再生照明光５１の入射角度と第２再生照明光５２の入射角度をホログラムの法線に対して対称とすると、設計角度を第１再生照明光５１の入射角度とした体積型ホログラム１１の場合には、第１再生照明光５１を入射させた場合の第１再生光５１’の光量は大きく、第２再生照明光５２はほとんど回折されないが、エンボスホログラムの場合には、同等の光量の第１再生光５１’と第２再生光５２’が生じる。
【００５５】
したがって、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラム等とを的確に見分けることが可能となる。
【００５６】
図７は、第１実施形態に含まれる実施例２のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【００５７】
図７に示したように、実施例２は、第２再生照明光５２の検査対象への入射角度が、第１再生照明光５１の体積型ホログラム１１への入射角度とは異なっている。実施例２のように、第２再生照明光５２の入射角度は、真の体積型ホログラム１１作製時の参照光１２２とは異なる入射角度であればどこに配置してもよい。また、第１入射角度発光部２１ａを発光させた場合の認証と第２入射角度発光部２２ａを発光させた場合の認証は、どちらを先に実行してもよい。その他は、実施例１と同様なので、説明は省略する。
【００５８】
第１再生照明光５１の入射角度と第２再生照明光５２の入射角度を異ならせると、設計角度を第１再生照明光５１の入射角度とした真の体積型ホログラム１１の場合には、第１再生照明光５１を入射させた場合の第１再生光５１’の光量は大きく、第２再生照明光５２はほとんど回折されないが、印刷物の場合には、同等の光量の第１再生光と第２再生光が生じる。
【００５９】
したがって、真の体積型ホログラム１１と贋の印刷物等とを的確に見分けることが可能となる。
【００６０】
次に、第１実施形態に含まれる実施例３について説明する。
【００６１】
図８は、第１実施形態に含まれる実施例３のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【００６２】
実施例３のホログラム認証システム１では、発光部２の第１発光部２１として第１波長発光部２１ｂを、第２発光部２２として第１波長発光部２１ｂとは波長の異なる第２波長発光部２２ｂを、それぞれ使用する。この場合、図８に示した砲弾型ＬＥＤでもよいが、所謂２in１パッケージの２色ＬＥＤを用いてもよい。
【００６３】
実施例３のホログラム認証システム１では、第１に、図４に示したＣＰＵ４ａが第１波長発光部２１ｂを発光させて、図２に示した真の体積型ホログラム１１作製時の参照光１２２と同じ波長λ1を含み、同じ入射角度の第１再生照明光６１を、参照光１２２が向かう方向とは反対の方向から検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、照明光６１が回折した後、第１再生光６１’が射出される。第１再生光６１’は、図５に示した像１０１’と対応する位置に設置された受光部３に受光される。したがって、第１波長発光部２１ｂが発光した際には、受光部３で受光され、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力される。
【００６４】
次に、図４に示したＣＰＵ４ａが第２波長発光部２２ｂを発光させて、図２に示した真の体積型ホログラム１１作製時の参照光１２２と同じ波長を含まず、同じ入射角度の第２再生照明光６２を、検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第２再生照明光６２は回折せず、第２再生光は受光部３の方向に射出されない。したがって、第２波長発光部２２ｂが発光した際には、受光部３が再生光を受光せず、又はわずかな光量の第２再生光しか受光せず、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力されない。
【００６５】
この場合、真贋判定装置５は、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定する。
【００６６】
もし、第１波長発光部２１ｂが発光した際に、受光部３で第１再生光６１’が受光され、第２波長発光部２２ｂが発光した際に、受光部３で第２再生光が受光された場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が真の体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。また、第１波長発光部２１ｂが発光した際に、受光部３で第１再生光６１’が受光されず、第２波長発光部２２ｂが発光した際に、受光部３で第２再生光が受光されなかった場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が真の体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。
【００６７】
このように、実施例３のホログラム認証システム１では、例えば、カラー等の複数の波長に対応する体積型ホログラム１１を作製することになるため、製造自体が困難となり、偽造が難しくなる。
【００６８】
また、第１再生照明光５１の波長と第２再生照明光５２の波長を異ならせると、設計波長を第１再生照明光５１の波長とした真の体積型ホログラム１１の場合には、第１再生照明光５１を入射させた場合の第１再生光５１’の光量は大きく、第２再生照明光５２はほとんど回折されないが、エンボスホログラムの場合には、同等の光量の第１再生光と第２再生光が生じる。
【００６９】
したがって、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラム等とを的確に見分けることが可能となり、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【００７０】
なお、第１波長発光部２１ｂを発光させた場合の認証と第２波長発光部２２ｂを発光させた場合の認証は、どちらを先に実行してもよい。
【００７１】
図９は、第１実施形態に含まれる実施例４のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【００７２】
実施例４のホログラム認証システム１は、実施例１のホログラム認証システムと実施例３のホログラム認証システムとを組み合わせたものである。
【００７３】
実施例４のホログラム認証システム１では、発光部２の第１発光部２１を使用し、第２発光部２２として第１発光部２１とは入射角度の異なる第２入射角度発光部２２ａ及び第１発光部２１とは波長の異なる第２波長発光部２２ｂをそれぞれ使用する。この場合、第１発光部２１と第２波長発光部２２ｂは、図９に示した砲弾型ＬＥＤでもよいが、所謂２in１パッケージの２色ＬＥＤを用いてもよい。
【００７４】
実施例４のホログラム認証システム１では、実施例１のホログラム認証システムの認証方法と実施例３のホログラム認証システムの認証方法とを順に実行すればよい。なお、実施例１のホログラム認証システムの認証方法と実施例３のホログラム認証システムの認証方法は、どちらを先に実行してもよい。
【００７５】
このように、実施例４のホログラム認証システム１では、実施例１の認証方法によりエンボスホログラムとの差異、実施例３の認証方法により印刷物との差異が明確となるので、より高い精度で真贋判定を行うことが可能となる。
【００７６】
図１０は、第２実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の１段階目のホログラム記録用感光材料１０’の撮影配置を示す図である。図１１は、第２実施形態の体積型ホログラムを２ステップ法により作製する際の２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の撮影配置を示す図である。
【００７７】
まず、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’を、第１物体１０１ａ及び第２物体１０１ｂに対向して配置する。続いて、第１物体１０１ａ及び第２物体１０１ｂを予め定められた波長λ1のレーザ光で照明して第１物体１０１ａ及び第２物体１０１ｂで散乱された第１物体光１１１ａ及び第２物体光１１１ｂを１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に入射させると共に、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に予め定められた入射角で第１物体光１１１ａ及び第２物体光１１１ｂと可干渉な平行光からなる波長λ1の参照光１１２を入射させ、１段階目のホログラム記録用感光材料１０’に第１物体１０１ａ及び第２物体１０１ｂのホログラムを露光する。続いて、露光された１段階目のホログラム記録用感光材料１０’を、後処理し、１段階目のホログラム１０を作製する。
【００７８】
次に、１段階目のホログラム１０の作製時の参照光１１２が向かう方向とは反対の方向に進む波長λ1の再生照明光１１２’を、参照光１１２が向かう方向とは反対方向から１段階目のホログラム１０に入射させる。すると、再生照明光１１２’が回折されて第１再生光１１１ａ’及び第２再生光１１１ｂ’が射出され、１段階目のホログラム１０の作製時の第１物体１０１ａ及び第２物体１０１ｂの位置に第１物体１０１ａの第１の像１０１ａ’ 及び第２物体１０１ｂの第２の像１０１ｂ’が再生結像される。
【００７９】
次に、像１０１’から散乱される第１物体光１２１ａ及び第２物体光１２１ｂを２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に入射させると共に、２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に予め定められた第２入射角度θ2で物体光１２１と可干渉な平行光からなる波長λ1の参照光１２２を第１物体光１２１ａ及び第２物体光１２１ｂとは反対側から入射させ、２段階目のホログラム記録用感光材料１１’に第１の像１０１ａ’及び第２の像１０１ｂ’のホログラムを露光する。続いて、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’を、後処理し、図示しない２段階目のホログラム１１を作製する。以下、２段階目のホログラム１１を本実施形態で用いる真の体積型ホログラム１１とし、同じ符号で示す。
【００８０】
図１２は、第２実施形態の実施例５の体積型ホログラムの再生を示す図である。
【００８１】
作製された真の体積型ホログラム１１に対して、図１１に示した参照光１２２を入射させた側とは反対方向から再生照明光１２２’を入射させる。すると、図１２に示すように、再生照明光１２２’が回折されて第１再生光１２１ａ’及び第２再生光１２１ｂ’が射出され、真の体積型ホログラム１１の作製時の第１の像１０１ａ’及び第２の像１０１ｂ’の位置に第１の像１０１ａ”及び第２の像１０１ｂ”が再生結像される。真の体積型ホログラム１１は、第１再生光１２１ａ’及び第２再生光１２１ｂ’を第１の像１０１ａ”及び第２の像１０１ｂ”にそれぞれ集光するように反射及び回折させることが好ましい。
【００８２】
第２実施形態の実施例５の真の体積型ホログラム１１は、図１１に示すように、予め定められた波長λ1を持ち、予め定められた第１入射角度θ1で入射する第１物体光１２１ａ、波長λ1を持ち、予め定められた第２入射角度θ2で入射する参照光１２２、及び、波長λ1を持ち、第１入射角度θ1とは異なる予め定められた第３入射角度θ3で入射する第２物体光１２１ｂ、で記録された体積型ホログラムであって、第２入射角度θ2及び波長のうち少なくとも１つが第１再生照明光１２２’とは異なる図示しない第２再生照明光が入射した場合、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう予め定められた第１閾値よりも小さい光量の第１再生光１２１ａ’、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう予め定められた第２閾値よりも小さい光量の第２再生光１２１ｂ’、並びに、第１再生光１２１ａ’及び第２再生光１２１ｂ’が向かう方向以外に向かう図示しない第３再生光、のうちの少なくとも１つを回折する。
【００８３】
体積型ホログラム１１は、フォトポリマー及び銀塩材料等を使用することが好ましい。フォトポリマーを用いる場合、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の後処理として、加熱した後、紫外線照射を行うことが好ましい。銀塩材料を用いる場合、露光された２段階目のホログラム記録用感光材料１１’の後処理として、現像した後、漂白を行うことが好ましい。体積型ホログラム１１は、ラベル、ステッカー、及び転写箔等の形態があり、セキュリティが必要な物品に貼り付け可能である。また、体積型ホログラム１１は、カード等を製造する際に内部に埋め込むことが可能である。
【００８４】
図１３は、第２実施形態のホログラム認証システムを示す図である。
【００８５】
第２実施形態の体積型ホログラム１１は、セキュリティ媒体Ｓ等に貼り付けられ、ホログラム認証システム１によって、認証される。第２実施形態のホログラム認証システムは、発光部２と、受光部３と、認証装置４と、真贋判定装置５と、を備える。
【００８６】
発光部２は、ＬＥＤ、ＬＤ、ハロゲン光源、キセノン光源等の発光素子を使用することが好ましい。第２実施形態は、一例として、発光部２にレンズ付きの砲弾型ＬＥＤを用いている。
【００８７】
受光部３は、回折光の有無又は強度を検出するフォトダイオード等の受光素子（フォトディテクタ）を使用することが好ましい。受光部３は、光量を測定できることが好ましい。光量の測定は、光量値を出力してもよいし、予め定められた閾値以上の光量の場合にのみ受光の信号を出力するようにしてもよい。第２実施形態のホログラム認証システム１では、受光部３は、第１受光部３１及び第２受光部３２を有する。
【００８８】
図１４は、ホログラム認証システム１の発光部２と受光部３の配置を示す図である。
【００８９】
ホログラム認証システムの発光部２は、図１２に示した真の体積型ホログラム１１に入射させた再生照明光１２２’と同じ方向から再生照明光５１が入射されるように検査対象に対して配置される。また、第１受光部３１は、図１２に示した検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に射出した再生光１２１ａ’が再生結像した像１０１ａ”と同じ方向に配置されればよいが、同じ位置に配置されるとより好ましい。第２受光部３２は、検査対象が真の図１２に示した真の体積型ホログラム１１から射出した再生光１２１ｂ’が再生結像した像１０１ｂ”と同じ方向に配置されればよいが、同じ位置に配置されるとより好ましい。
【００９０】
再生照明光５１が入射すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第１再生光５１’及び第２再生光５１”を射出する。真の体積型ホログラム１１は、第１再生光５１’及び第２再生光５１”が第１受光部３１及び第２受光部３２にそれぞれ集光するように作製されることで、第１受光部３１及び第２受光部３２で検出する光量を大きくすることが可能となる。
【００９１】
認証装置４は、ＣＰＵ４ａを内蔵する。ＣＰＵ４ａは、発光部２の発光を指示する信号を出力すると共に、受光部３から受光したことを示す信号を入力する。例えば、発光部２に発光を指示し、その後、発光部２に消灯を指示する。また、あらかじめ各発光部２に対して発光時間の長さを決めて指示してもよい。
【００９２】
真贋判定装置５は、ＣＰＵ４ａが発光部２へ出力した信号と、受光部３から入力される信号との対応関係に応じて検査対象の真贋を判定する。例えば、発光部２が発光した際に第１受光部３１及び第２受光部３２から受光の信号が入力された場合には、検査対象が真の体積型ホログラム１１であり、それ以外は贋であるという判定をするようにあらかじめ設定しておけばよい。真贋判定装置５の判定機能は、ＣＰＵ４ａが行ってもよい。
【００９３】
図１５は、第２実施形態に含まれる実施例５のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【００９４】
実施例５のホログラム認証システム１では、第１に、図１３に示したＣＰＵ４ａが発光部２を発光させて、図１１に示した体積型ホログラム１１の作製時の参照光１２２と同じ波長λ1を含み、同じ入射角度の再生照明光５１を、参照光１２２とは反対の方向から検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、再生照明光５１が回折した後、第１再生光５１’及び第２再生光５１”が射出される。第１再生光５１’は、図１４に示した像１０１ａ’と対応する位置に設置された第１受光部３１に受光される。第２再生光５１”は、図１４に示した像１０１ｂ’と対応する位置に設置された第２受光部３２に受光される。したがって、発光部２が発光した際には、第１受光部３１及び第２受光部３２で受光され、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力される。
【００９５】
この場合、真贋判定装置５は、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定する。
【００９６】
もし、発光部２が発光した際に、第１受光部３１又は第２受光部３２のどちらか１つ、若しくは第１受光部３１又は第２受光部３２の両方で再生光が受光されなかった場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が真の体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。
【００９７】
すなわち、実施例５のホログラム認証システム１は、真の体積型ホログラム記録時の参照光１２２が向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で真の体積型ホログラム記録時の波長λ1を含む再生照明光５１を体検査対象に発光する発光部２と、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に、再生照明光５１が回折され、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう第１再生光５１’のうち、予め定められた値よりも大きい光量の第１再生光５１’を受光可能な第１受光部３１と、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に、再生照明光５１が回折され、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう第２再生光５１”のうち、予め定められた値よりも大きい光量の第２再生光５１”を受光可能な第２受光部３２と、発光部２の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を第１受光部３１及び第２受光部３２からそれぞれ入力される認証装置４と、発光部２により再生照明光５１を発光させた時に、第１受光部３１及び第２受光部３２から予め定められた第１閾値及び第２閾値以上の光量の光をそれぞれ受光したことを示す信号が認証装置４に入力される場合に、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定し、発光部２により再生照明光５１を発光させた時に、第１受光部３１から信号が入力されない、若しくは、第１受光部３１から予め定められた前記第１閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、及び、第２受光部３２から信号が入力されない、若しくは、第２受光部３２から予め定められた前記第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、のうちの少なくとも１つの場合、検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置５と、を備える。
【００９８】
このように、実施例５のホログラム認証システム１では、少なくとも２方向に回折する体積型ホログラム１１を作製することになるため、製造自体が困難となり、偽造が難しくなる。
【００９９】
次に、第２実施形態に含まれる実施例６について説明する。
【０１００】
図１６は、第２実施形態に含まれる実施例６のホログラム認証システムの認証時の状態を示す図である。
【０１０１】
実施例６のホログラム認証システム１では、発光部２の第１発光部２１として第１波長発光部２１ｂを、第２発光部２２として第１波長発光部２１ｂとは波長の異なる第２波長発光部２２ｂを、それぞれ使用する。この場合、図１６に示した砲弾型ＬＥＤでもよいが、所謂２in１パッケージの２色ＬＥＤを用いてもよい。
【０１０２】
実施例６に使用する体積型ホログラム１１は、図１０及び図１１に示した作製時に、第１物体１０１ａに対しては第１波長λ1の第１参照光１２２ａ、第２物体１０１ｂに対しては、第２波長λ2の第２参照光１２２ｂが使用される。したがって、図１２に示すように体積型ホログラム１１を再生する際には、図１６に示すように、第１波長λ1を発光する第１発光部２１及び第２波長λ2を発光する第２発光部２２が必要となる。なお、図１０及び図１１において、実施例６の第１参照光１２２ａ、第２参照光１２２ｂ、第１波長λ1、及び第２波長λ2については、括弧内に示している。
【０１０３】
すなわち、実施例６の体積型ホログラム１１は、予め定められた第１波長λ1を持ち、予め定められた第１入射角度θ1で入射する第１物体光１２１ａと、第１波長λ1を持ち、予め定められた第２入射角度θ2で入射する第１参照光１２２ａと、で記録され、予め定められた第２波長λ2を持ち、予め定められた第３入射角度θ3で入射する第２物体光１２１ｂと、第２波長λ2を持ち、第２入射角度θ2で入射する第２参照光１２２ｂと、で記録された体積型ホログラム１１であって、第１参照光１２２ａが向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で第１波長λ1を含む第１再生照明光１２２ａ’が入射した場合、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう第１再生光１２１ａ’を回折し、第２参照光１２２ｂが向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で第２波長λ2を含む第２再生照明光１２２ｂ’が入射した場合、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう第２再生光１２１ｂ’を回折し、第２入射角度θ2、第１波長λ1及び第２波長λ2のうち少なくとも１つが第１再生照明光１２２ａ’及び第２再生照明光１２２ｂ’とは異なる図示しない第３再生照明光が入射した場合、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう予め定められた値よりも小さい光量の第１再生光１２１ａ’、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう予め定められた値よりも小さい光量の第２再生光１２１ｂ’、並びに、第１再生光１２１ａ’及び第２再生光１２１ｂ’が向かう方向以外に向かう図示しない第３再生光、のうちの少なくとも１つを回折する。
【０１０４】
実施例６のホログラム認証システム１では、第１に、図１３に示したＣＰＵ４ａが第１波長発光部２１ｂを発光させて、図１１に示した真の体積型ホログラム１１作製時の第１参照光１２２ａと同じ第１波長λ1を含み、第２波長λ2を含まず、同じ入射角度の第１再生照明光５１を、第１参照光１２２ａとは反対の方向から検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第１再生照明光５１が回折した後、第１再生光５１’が第１受光部３１の方向に向かって射出される。第１再生光５１’は、図１４に示した像１０１ａ’と対応する位置に設置された第１受光部３１に受光される。したがって、第１波長発光部２１ｂが発光した際には、第１受光部３で受光され、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力される。
【０１０５】
なお、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第１再生照明光５１が回折した後、第１再生光５１’が射出されても、第２受光部３２は、再生光を受光せず、又はわずかな再生光しか受光せず、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力されない。
【０１０６】
次に、図１３に示したＣＰＵ４ａが第２波長発光部２２ｂを発光させて、図１１に示した真の体積型ホログラム１１作製時の第２参照光１２２ｂと同じ第２波長λ2を含み、第１波長λ1を含まず、同じ入射角度の第２照明光６１を、第２参照光１２２ｂとは反対の方向から検査対象に入射させる。すると、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第２照明光６１が回折した後、第２再生光６１’が第２受光部３２の方向に向かって射出される。第２再生光６１’は、図１４に示した像１０１ｂ’と対応する位置に設置された第２受光部３２に受光される。したがって、第２波長発光部２２ｂが発光した際には、第２受光部３２で受光され、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力される。
【０１０７】
なお、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合、第２照明光６１が回折した後、第２再生光６１’が射出されても、第１受光部３１は、再生光を受光せず、又はわずかな再生光しか受光せず、ＣＰＵ４ａに受光信号が入力されない。
【０１０８】
この場合、真贋判定装置５は、検査対象が真の体積型ホログラム１１であると判定する。
【０１０９】
もし、第１波長発光部２１ｂが発光した際に、第１受光部３１及び第２受光部３２で再生光が受光された場合、第１受光部３１及び第２受光部３２で再生光が受光されなかった場合、又は、第１受光部３１では再生光が受光されず、第２受光部３２で再生光が受光された場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。
【０１１０】
また、第２波長発光部２２ｂが発光した際に、第１受光部３１及び第２受光部３２で再生光が受光された場合、第１受光部３１及び第２受光部３２で再生光が受光されなかった場合、又は、第２受光部３２で再生光が受光されず、第１受光部３１では再生光が受光された場合、真贋判定装置５は、ホログラム認証システム１に配置された検査対象が体積型ホログラム１１ではなく、贋物であると判定する。
【０１１１】
すなわち、実施例６のホログラム認証システム１は、真の体積型ホログラム記録時の第１参照光１２２ａが向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で真の体積型ホログラム記録時の第２波長λ2を含まず第１波長λ1を含む第１再生照明光５１を検査対象に発光する第１発光部３１と、真の体積型ホログラム記録時の第２参照光１２２ｂが向かう方向とは反対方向から第２入射角度θ2で真の体積型ホログラム記録時の第１波長λ1を含まず第２波長λ2を含む第２再生照明光６１を検査対象に発光する第２発光部２２と、検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に、第１再生照明光５１が回折され、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう光を受光可能な第１受光部３１と検査対象が真の体積型ホログラム１１の場合に、第１再生照明光５１が回折され、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう光を受光可能な第２受光部３２と、第１発光部２１及び第２発光部２２の発光を指示する信号を出力すると共に、光を受光したことを示す信号を第１受光部３１及び第２受光部３２からそれぞれ入力される認証装置４と、第１発光部２１により第１再生照明光５１を発光させた時に、第１受光部３１から予め定められた第１閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力され、且つ、第２発光部２２により第２再生照明光６１を発光させた時に、第２受光部３２から予め定められた第３閾値以上の光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力され、且つ、第１発光部２１により第１再生照明光５１を発光させた時に、第２受光部３２から信号が入力されない、若しくは、第２受光部３２から予め定められた第４閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、及び、第２発光部２２により第２再生照明光６１を発光させた時に、第１受光部３１から信号が入力されない、若しくは、第１受光部３１から予め定められた第２閾値より小さい光量の光を受光したことを示す信号が認証装置４に入力された場合、のうちの少なくとも１つの場合、検査対象が贋の部材であると判定する真贋判定装置５と、を備える。
【０１１２】
このように、実施例６のホログラム認証システム１では、例えば、カラー等の複数の波長に対応し、受光部３の位置にあわせて再生する体積型ホログラム１１を作製することになるため、製造自体が困難となり、偽造が難しくなる。
【０１１３】
また、第１再生照明光５１の波長と第２再生照明光５２の波長を異ならせると、設計波長を第１再生照明光５１の波長とした体積型ホログラム１１の場合には、第１再生照明光５１を入射させた場合の第１再生光５１’の光量は大きく、第２再生照明光５２はほとんど回折されないが、エンボスホログラムの場合には、同等の光量の第１再生光と第２再生光が生じる。
【０１１４】
したがって、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムとを的確に見分けることが可能となり、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【０１１５】
なお、第１波長発光部２１ｂを発光させた場合の認証と第２波長発光部２２ｂを発光させた場合の認証は、どちらを先に実行してもよい。
【０１１６】
図１７は、他のホログラム認証方法を示す図である。
【０１１７】
他のホログラム認証方法では、基準板２０を用いる。基準板２０は、紙、樹脂、又は印刷等の白色を想定し、明るさの基準となる標準白色板が好ましい。受光部３は、光量を検出することが可能なものを使用する。
【０１１８】
例えば、図１７（ａ）に示すように、ホログラムの認証を行う前に、発光部２を発光させて基準板２０に再生照明光５１を当てる。すると、基準板２０から微量の拡散光７１が反射されて受光部３が拡散光７１を受光する。この拡散光７１の光量を測定し、基準値を決定して記憶する。なお、基準値は、印刷物とホログラムとの光量を比較する際の境界となるような値とすればよく、拡散光７１の光量を基準値とする必要はない。
【０１１９】
次に、図１７（ｂ）に示すように、ホログラムに再生照明光５１を入射させる。その後、ホログラムから射出された再生光５１’を受光部３が受光する。この再生光５１’の光量を測定し、基準値以上の光量があると判定された場合、再生照明光５１を入射させたホログラムが体積型ホログラム１１であると認証する。
【０１２０】
なお、このホログラム認証方法は、実施形態１及び実施形態２の各実施例においても適用することが可能である。例えば、各実施例の最初に、基準板２０の光量を測定する工程を加えればよい。
【０１２１】
このように、ホログラムの判定基準として、受光部３が受光するという点だけでなく、十分な光量があるという点も加えることで、より精度の高い真贋判定を行うことが可能となる。
【０１２２】
次に、実施例７について説明する。実施例７は、実施例６の変形例である。
【０１２３】
図１８は、実施例７のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。図１９は、実施例７のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【０１２４】
実施例７のホログラム認証システムは、第１受光部３１と、第２受光部３２と、を有する。そして、検査対象Ｏｂが真の体積型ホログラム１１の場合、第１波長発光部２１ｂからの光に対する回折光は、第１受光部３１には入射し、第２受光部３２には入射しない。また、検査対象Ｏｂが真の体積型ホログラム１１の場合、第２波長発光部２２ｂからの光に対する回折光は、第１受光部３１には入射せず、第２受光部３２には入射する。
【０１２５】
さらに、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合、第１波長発光部２１ｂからの光に対する回折光は、第１受光部３１に入射し、第２受光部３２にも入射する。また、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合、第２波長発光部２２ｂからの光に対する回折光は、第１受光部３１には入射せず、第２受光部３２には入射する。
【０１２６】
したがって、このように設定されたホログラム認証システムにあわせて、基準光量測定ステージ、検査対象光量測定ステージ、及び真贋判定ステージで制御すればよい。
【０１２７】
実施例７で認証される真の体積型ホログラム１１は、図１０及び図１１に示した作製時に、レーザ光として、コヒレント社のInnova Sabre,Genesis,Verdi等を用いる。第１物体１０１ａに対しては第１波長５３２ｎｍの第１参照光１２２ａ、第２物体１０１ｂに対しては、第２波長６４７．１ｎｍの第２参照光１２２ｂが使用される。また、第１入射角度θ1及び第３入射角度θ3が１４．０３°となるように配置する。
【０１２８】
すなわち、実施例７の真の体積型ホログラム１１は、図１１に示すように、作製時に、第１波長５３２ｎｍを持ち、１４．０３°で入射する第１物体光１２１ａと、第１波長５３２ｎｍを持ち、４５°で入射する第１参照光１２２ａと、で記録され、第２波長６４７．１ｎｍを持ち、−１４．０３°で入射する第２物体光１２１ｂと、第２波長６４７．１ｎｍを持ち、４５°で入射する第２参照光１２２ｂと、で記録される。
【０１２９】
そして、実施例７の真の体積型ホログラム１１は、図１２に示すように、再生時に、第１参照光１２２ａが向かう方向とは反対方向から中心光束が４５°で第１波長５３２ｎｍを含む第１再生照明光１２２ａ’が入射した場合、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう第１再生光１２１ａ’を回折し、第２参照光１２２ｂが向かう方向とは反対方向から４５°で第２波長６４７．１ｎｍを含む第２再生照明光１２２ｂ’が入射した場合、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう第２再生光１２１ｂ’を回折する。
【０１３０】
したがって、第１波長発光部２１ｂは、緑のＬＥＤ、第２波長発光部２２ｂは、赤のＬＥＤを使用することが好ましい。実施例７では、第１波長発光部２１ｂは、仕様波長５３５ｎｍのＬＥＤ、第２波長発光部２２ｂは、仕様波長６５５ｎｍのＬＥＤを使用する。
【０１３１】
実施例７のホログラム認証システム１は、図１８及び図１９に示すように、実施例６のホログラム認証システム１の受光部３の位置を変更したものである。すなわち、実施例７のホログラム認証システム１では、直線Ａ上に並んだ第１受光部３１及び第２受光部３２を有する。第１受光部３１と第２受光部３２は、１０ｍｍ離間して配置される。
【０１３２】
検査対象Ｏｂは、第１受光部３１と第２受光部３２との間の中心線３ｃ上で、各受光部３１，３２が並んだ直線Ａから２０ｍｍの位置に設置される。検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃは、中心線３ｃ上に配置されると好ましい。実施例７では、検査対象Ｏｂを一辺１０ｍｍの正方形とする。すなわち、第１受光部３１と第２受光部３２は、中心線３ｃからそれぞれ５ｍｍ離れて配置される。検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃと第１受光部３１の中心を結ぶ線と、中心線３ｃの間の角度は、１４．０３°となり、検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃと第２受光部３２の中心を結ぶ線と、中心線３ｃの間の角度は、１４．０３°となる。
【０１３３】
第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂは、直線Ａ上であって、第１受光部３１と第２受光部３２の間の中心線Ｃと、発光される光束の中心線２ｃと、が検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃで４５°の角度で交差するように配置されることが好ましい。
【０１３４】
したがって、図１８に示した検査対象Ｏｂから第１受光部３１に向かう光束Ｌ１は、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に第１波長発光部２１ｂからの光が回折した回折光であり、検査対象Ｏｂから第２受光部３２に向かう光束Ｌ２は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第１波長発光部２１ｂからの光が回折した回折光である。また、図１９に示した検査対象Ｏｂから第２受光部３２に向かう光束Ｌ３は、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に第２波長発光部２２ｂからの光が回折した回折光であり、検査対象Ｏｂから第１受光部３１に向かう光束Ｌ４は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第２波長発光部２２ｂからの光が回折した回折光である。
【０１３５】
なお、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に、発光される光束の中心線２ｃが体積型ホログラム１１の中心Ｏｂｃで回折され第１受光部３１の中心に入射しさえすれば、光束は平行光に限らず、発散光でもよい。ただし、第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂを同じ位置に配置することはできないので、対応する受光部に受光される範囲で多少ずらして配置してもよい。また、第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂを所定の位置に移動可能としてもよい。
【０１３６】
なお、実施例７のホログラム認証システム１は、少なくとも第１メモリ〜第８メモリまで格納箇所を分けて記憶可能な図示しない記憶部を有する。
【０１３７】
次に、実施例７のホログラム認証システム１の認証方法について説明する。実施例７のホログラム認証システム１の認証方法は、３段階に分けられる。最初に基準光量測定ステージによって、基準となる光量を測定する。次に、検査対象光量測定ステージによって、検査対象の光量を測定する。最後に、真贋判定ステージによって、検査対象Ｏｂの真贋を判定する。なお、これから説明する認証方法は、第１受光部３１及び第２受光部３２を使用した場合について説明する。
【０１３８】
図２０は、実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の基準光量測定ステージのフローチャートを示す。
【０１３９】
まず、ステップ１で、図１７で示した基準板２０を、図１８及び図１９に示した検査対象Ｏｂの位置に設置する（ＳＴ１）。
【０１４０】
次に、ステップ２で、第１波長発光部２１ｂを点灯する（ＳＴ２）。すなわち、第１波長発光部２１ｂから発光した光は、基準板で反射されて微量の拡散光が各受光部に入射する。
【０１４１】
次に、ステップ３で、第１受光部３１の光量を第１メモリに記録する（ＳＴ３）。続いて、ステップ４で、第２受光部３２の光量を第２メモリに記録する（ＳＴ４）。これらの光量は、第１波長発光部２１ｂから発光した光の基準値として記憶される。
【０１４２】
次に、ステップ５で、第１波長発光部２１ｂを消灯し、第２波長発光部２２ｂを点灯する（ＳＴ５）。
【０１４３】
次に、ステップ６で、第１受光部３１の光量を第３メモリに記録する（ＳＴ６）。続いて、ステップ７で、第２受光部３２の光量を第４メモリに記録する（ＳＴ７）。これらの光量は、第２波長発光部２２ｂから発光した光の基準値として記憶される。
【０１４４】
次に、ステップ８で、第２波長発光部２２ｂを消灯する（ＳＴ８）。
【０１４５】
図２１は、実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の検査対象光量測定ステージのフローチャートを示す。
【０１４６】
まず、ステップ１１で、検査対象Ｏｂを、図１８及び図１９に示したように設置する（ＳＴ１１）。
【０１４７】
次に、ステップ１２で、第１波長発光部２１ｂを点灯する（ＳＴ１２）。
【０１４８】
次に、ステップ１３で、第１受光部３１の光量を第５メモリに記録する（ＳＴ１３）。続いて、ステップ１４で、第２受光部３２の光量を第６メモリに記録する（ＳＴ１４）。
【０１４９】
次に、ステップ１５で、第１波長発光部２１ｂを消灯し、第２波長発光部２２ｂを点灯する（ＳＴ１５）。
【０１５０】
次に、ステップ１６で、第１受光部３１の光量を第７メモリに記録する（ＳＴ１６）。続いて、ステップ１７で、第２受光部３２の光量を第８メモリに記録する（ＳＴ１７）。
【０１５１】
次に、ステップ１８で、第２波長発光部２２ｂを消灯する（ＳＴ１８）。
【０１５２】
図２２は、実施例７のホログラム認証システム１の認証方法の真贋判定ステージのフローチャートを示す。
【０１５３】
真贋判定ステージでは、基準光量測定ステージで計測した値と、検査対象光量測定ステージで計測した値と、を比較する。比較に際して、基準光量測定ステージで計測した値には、あらかじめ設定した所定の閾値をそれぞれ掛け合わせてから比較する。
【０１５４】
各閾値は、真贋判定時に贋の対象として考えられる拡散板、鏡、エンボスホログラム等の場合の各メモリ値から設定されている。各閾値は、独立して設定しても同じでもよい。
【０１５５】
実施例７では、第１波長発光部２１ｂを発光した場合の各部材に対する各受光部の測定結果は、表１のように測定され、第２波長発光部２２ｂを発光した場合の各部材に対する各受光部の測定結果は、表２のように測定された。
【０１５６】
【表１】
2014142584.tif 000003
【０１５７】
【表２】
2014142584.tif 000004
【０１５８】
第１閾値は、拡散板や鏡と体積型ホログラムを区別できる値を設定する。第１波長発光部２１ｂを発光した際に第１受光部３１で検出された光量は、表１に示すように、基準板である拡散板の場合１４．２、鏡の場合０．８、エンボスホログラムの場合４６．２、体積型ホログラムの場合２１１．２であった。
【０１５９】
第１波長発光部２１ｂで体積型ホログラムを照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの１４．８倍であったため、第１閾値は１４．８よりも小さな値に設定する必要がある。第１閾値を十分大きく設定すると、体積型ホログラムとそれ以外の物を区別しやすい一方、体積型ホログラムの個体差で暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が高くなる。一方、第１閾値を十分小さく設定すると、暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低くなるが、体積型ホログラム以外の物を真と判定する可能性が高くなる。
【０１６０】
実施例７の場合、第１閾値として設定可能な範囲は、拡散板と体積型ホログラムを区別できる１から、体積型ホログラムと認識できる１４までとなる。さらに望ましくは、暗めの体積型ホログラムをにせものと判定する危険が低く、エンボスホログラムと体積型ホログラムを区別できるしきい値として４〜７が望ましい。そこで、実施例７では、第１閾値として５を選定した。
【０１６１】
第２閾値は、エンボスホログラムと体積型ホログラムを区別できる値を設定する。第１波長発光部２１ｂを照明した際に第２受光部３２で検出された光量は、拡散板の場合１２．６、鏡の場合２．５、エンボスホログラムの場合７．９５、体積型ホログラムの場合１．８であった。
【０１６２】
実施例７の体積型ホログラムに第１波長発光部２１ｂを照明した場合、第２受光部３２の位置にはほとんど回折光が到達しないが、エンボスホログラムからの回折光は一部が到達する。このため第２閾値を十分低く設定することで、体積型ホログラムとエンボスホログラムを区別することができる。ただし、第２閾値を低く設定しすぎると、体積型ホログラムの回折光以外のノイズ光が多い場合、真の体積型ホログラムを贋と判定する危険が高くなる。
【０１６３】
第１波長発光部２１ｂから体積型ホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．１４倍であり、エンボスホログラムを照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．６３倍であった。このため、第２閾値の範囲は、０．１５〜０．６となる。さらに望ましくは、明るめの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低く、エンボスホログラムと体積型ホログラムをより明確に区別できる０．３〜０．５が望ましい。実施例７では、第２閾値として０．３を選定した。
【０１６４】
第３閾値は、第２波長発光部２２ｂから体積型ホログラムに照射した際に、第１受光部３１にほとんど回折光が到達しないことを確認できる値を設定する。第２波長発光部２２ｂを照射した際に第１受光部３１で検出された光量は、拡散板の場合４１．８、鏡の場合４．２、エンボスホログラムの場合１１．１、体積型ホログラムの場合３．６であった。
【０１６５】
検出された光量は、体積型ホログラムの場合、拡散板の０．０８６倍であったため、第３閾値としては、０．０９〜１を設定することができる。ただし、閾値が小さすぎると体積型ホログラムからの回折光以外のノイズ光の影響で、真の体積型ホログラムを贋と判定する危険が高くなる。このため、実施例７では、第３閾値として０．５を設定した。
【０１６６】
第４閾値は、拡散板や鏡と体積型ホログラムを区別できる値を設定する。第２波長発光部２２ｂから照明した際にディテクタ２で検出された光量は、拡散板の場合２０．３、鏡の場合３．６、エンボスホログラムの場合１５３．６、体積型ホログラムの場合７０３．６であった。
【０１６７】
体積型ホログラムを照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの３４．６倍であったため、第４閾値は３４．６よりも小さな値に設定する必要がある。第４閾値を十分大きく設定すると、体積型ホログラムとそれ以外の物を区別しやすい一方、体積型ホログラムの個体差で暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が高くなる。一方、第４閾値を十分小さく設定すると、暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低くなるが、体積型ホログラム以外の物を真と判定する可能性が高くなる。
【０１６８】
実施例７の場合、第４閾値として設定可能な範囲は、拡散板と体積型ホログラムを区別できる１から、体積型ホログラムと認識できる３４までとなる。さらに望ましくは、暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低く、エンボスホログラムと体積型ホログラムを区別できるしきい値として８〜１５が望ましい。本実施例では、第４閾値として１０を選定した。
【０１６９】
ここで表３のように定めた第１閾値〜第４閾値を用いて、具体的な判定手順を示す。
【表３】
2014142584.tif 000005
【０１７０】
まず、ステップ２１で、第５メモリ値＞第１閾値×第１メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ２１）。すなわち、第５メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第１閾値と第１メモリに記憶した値との積よりも大きいか否かを判断する。
【０１７１】
ステップ２１において、第５メモリ値＞第１閾値×第１メモリ値を満たす場合、ステップ２２で、第１フラグにＴをセットする（ＳＴ２２）。ステップ２１において、第５メモリ値＞第１閾値×第１メモリ値を満たさない場合、ステップ２３で、第１フラグにＦをセットする（ＳＴ２３）。
【０１７２】
次に、ステップ２４で、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ２４）。すなわち、第６メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第２閾値と第２メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０１７３】
ステップ２４において、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たす場合、ステップ２５で、第２フラグにＴをセットする（ＳＴ２５）。ステップ２４において、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たさない場合、ステップ２６で、第２フラグにＦをセットする（ＳＴ２６）。
【０１７４】
次に、ステップ２７で、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ２７）。すなわち、第７メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第３閾値と第３メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０１７５】
ステップ２７において、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たす場合、ステップ２８で、第３フラグにＴをセットする（ＳＴ２８）。ステップ２７において、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たさない場合、ステップ２９で、第３フラグにＦをセットする（ＳＴ２９）。
【０１７６】
次に、ステップ３０で、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ３０）。すなわち、第８メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第４閾値と第４メモリに記憶した値との積よりも大きいか否かを判断する。
【０１７７】
ステップ３０において、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たす場合、ステップ３１で、第４フラグにＴをセットする（ＳＴ３１）。ステップ３０において、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たさない場合、ステップ３２で、第４フラグにＦをセットする（ＳＴ３２）。
【０１７８】
次に、ステップ３３で、第１フラグ〜第４フラグはすべてＴとなっているか否かを判断する（ＳＴ３３）。
【０１７９】
ステップ３３において、第１フラグ〜第４フラグはすべてＴとなっている場合、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１であると判定する（ＳＴ３４）。ステップ３３において、第１フラグ〜第４フラグの中に１つでもＦがある場合、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１でなく、贋物であると判定する（ＳＴ３５）。
【０１８０】
例えば、検査対象Ｏｂが体積型ホログラムの場合、第５メモリ値（２１１．２）＞第１閾値（５）×第１メモリ値（１４．２）となるので、第１フラグにＴをセットし、第６メモリ値（１．８）＜第２閾値（０．３）×第２メモリ値（１２．６）となるので、第２フラグにＴをセットし、第７メモリ値（３．６）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４１．８）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（７０３．６）＞第４閾値（１０）×第４メモリ値（２０．３）となるので、第４フラグにＴをセットする。
【０１８１】
したがって、第１フラグ〜第４フラグはすべてＴとなっているので、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１であると判定する。
【０１８２】
また、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合、第５メモリ値（４６．２）＞第１閾値（５）×第１メモリ値（１４．２）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（７．９５）＜第２閾値（０．３）×第２メモリ値（１２．６）を満たさないので、第２フラグにＦをセットし、第７メモリ値（１１．１）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４１．８）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（１５３．６）＞第４閾値（１０）×第４メモリ値（２０．３）を満たさないので、第４フラグにＦをセットする。
【０１８３】
したがって、第１フラグ〜第４フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。
【０１８４】
また、検査対象Ｏｂが鏡の場合、第５メモリ値（０．８）＞第１閾値（５）×第１メモリ値（１４．２）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（２．５５）＜第２閾値（０．３）×第２メモリ値（１２．６）となるので、第２フラグにＴをセットし、第７メモリ値（４．２）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４１．８）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（３．６）＞第４閾値（１０）×第４メモリ値（２０．３）を満たさないので、第４フラグにＦをセットする。
【０１８５】
したがって、第１フラグ〜第４フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。
【０１８６】
さらに、検査対象Ｏｂが拡散板の場合、第５メモリ値（１４．２）＞第１閾値（５）×第１メモリ値（１４．２）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（１２．６）＜第２閾値（０．３）×第２メモリ値（１２．６）を満たさないので、第２フラグにＦをセットし、第７メモリ値（４１．８）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４１．８）を満たさないので、第３フラグにＦをセットし、第８メモリ値（２０．３）＞第４閾値（１０）×第４メモリ値（２０．３）を満たさないので、第４フラグにＦをセットする。
【０１８７】
したがって、第１フラグ〜第４フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。
【０１８８】
なお、第１フラグ〜第４フラグに一つでもＦがセットされた段階で、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１でなく、贋物であると判定してもよい。また、第１波長発光部２１ｂを発光させた場合の認証と第２波長発光部２２ｂを発光させた場合の認証は、どちらを先に実行してもよい。
【０１８９】
このように、実施例７のホログラム認証システム１では、例えば、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムにあわせて受光部３の位置を的確に設定するので、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムとを的確に見分けることが可能となり、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【０１９０】
図２３は、実施例８のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。図２４は、実施例８のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【０１９１】
実施例８で認証される真の体積型ホログラム１１は、図１０及び図１１に示した作製時に、レーザ光として、コヒレント社のInnova Sabre,Genesis,Verdi等を用いる。第１物体１０１ａに対しては第１波長５３２ｎｍの第１参照光１２２ａ、第２物体１０１ｂに対しては、第２波長６４７．１ｎｍの第２参照光１２２ｂが使用される。また、第１入射角度θ1及び第３入射角度θ3が５．７１°となるように配置する。
【０１９２】
すなわち、実施例８の真の体積型ホログラム１１は、図１１に示すように、作製時に、第１波長５３２ｎｍを持ち、５．７１°で入射する第１物体光１２１ａと、第１波長５３２ｎｍを持ち、４５°で入射する第１参照光１２２ａと、で記録され、第２波長６４７．１ｎｍを持ち、−５．７１°で入射する第２物体光１２１ｂと、第２波長６４７．１ｎｍを持ち、４５°で入射する第２参照光１２２ｂと、で記録される。
【０１９３】
そして、実施例８の真の体積型ホログラム１１は、図１２に示すように、再生時に、第１参照光１２２ａが向かう方向とは反対方向から中心光束が４５°で第１波長５３２ｎｍを含む第１再生照明光１２２ａ’が入射した場合、第１物体光１２１ａが向かう方向とは反対方向に向かう第１再生光１２１ａ’を回折し、第２参照光１２２ｂが向かう方向とは反対方向から４５°で第２波長６４７．１ｎｍを含む第２再生照明光１２２ｂ’が入射した場合、第２物体光１２１ｂが向かう方向とは反対方向に向かう第２再生光１２１ｂ’を回折する。
【０１９４】
したがって、第１波長発光部２１ｂは、緑のＬＥＤ、第２波長発光部２２ｂは、赤のＬＥＤを使用することが好ましい。実施例８では、第１波長発光部２１ｂは、仕様波長５３５ｎｍのＬＥＤ、第２波長発光部２２ｂは、仕様波長６５５ｎｍのＬＥＤを使用する。
【０１９５】
実施例８のホログラム認証システム１は、図２３及び図２４に示すように、実施例６のホログラム認証システム１の受光部３に第３受光部３３を加えたものである。すなわち、実施例８のホログラム認証システム１では、直線Ａ上に並んだ第１受光部３１、第２受光部３２及び第３受光部３３を有する。第１受光部３１と第２受光部３２は、１０ｍｍ離間して配置され、第３受光部３３は、第１受光部３１に対して第２受光部３２とは反対側に９．６ｍｍ離間して配置される。
【０１９６】
第３受光部３３は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第２波長発光部２２ｂから入射した光束が回折する位置に配置されている。
【０１９７】
検査対象Ｏｂは、第１受光部３１と第２受光部３２との間の中心線３ｃ上で、各受光部３１，３２，３３が並んだ直線Ａから５０ｍｍの位置に設置される。検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃは、中心線３ｃ上に配置されると好ましい。実施例７では、検査対象Ｏｂを一辺１０ｍｍの正方形とする。すなわち、第１受光部３１と第２受光部３２は、中心線３ｃからそれぞれ５ｍｍ離れて配置される。検査対象Ｏｂの中心Ｔｃと第１受光部３１の中心を結ぶ線と、中心線３ｃの間の角度は、５．７１°となり、検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃと第２受光部３２の中心を結ぶ線と、中心線３ｃの間の角度は、５．７１°となる。
【０１９８】
第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂは、直線Ａ上であって、第１受光部３１と第２受光部３２の間の中心線３Ｃと、発光される光束の中心線２ｃと、が検査対象Ｏｂの中心Ｏｂｃで４５°の角度で交差するように配置されることが好ましい。
【０１９９】
したがって、図２３に示した検査対象Ｏｂから第１受光部３１に向かう光束Ｌ１は、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に第１波長発光部２１ｂからの光が回折した回折光である。また、図２４に示した検査対象Ｏｂから第２受光部３２に向かう光束Ｌ３は、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に第２波長発光部２２ｂからの光が回折した回折光であり、検査対象Ｏｂから第３受光部３３に向かう光束Ｌ４は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第２波長発光部２２ｂからの光が回折した回折光である。
【０２００】
なお、検査対象Ｏｂが体積型ホログラム１１の場合に、発光される光束の中心線２ｃが体積型ホログラム１１の中心Ｏｂｃで回折され第１受光部３１の中心に入射しさえすれば、光束は平行光に限らず、発散光でもよい。ただし、第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂを同じ位置に配置することはできないので、対応する受光部に受光される範囲で多少ずらして配置してもよい。また、第１波長発光部２１ｂと第２波長発光部２２ｂを所定の位置に移動可能としてもよい。
【０２０１】
また、実施例８のホログラム認証システム１は、少なくとも第１メモリ〜第１２メモリまで格納箇所を分けて記憶可能な図示しない記憶部を有する。
【０２０２】
次に、実施例８のホログラム認証システム１の認証方法について説明する。実施例８のホログラム認証システム１の認証方法は、３段階に分けられる。最初に基準光量測定ステージによって、基準となる光量を測定する。次に、検査対象光量測定ステージによって、検査対象の光量を測定する。最後に、真贋判定ステージによって、検査対象Ｏｂの真贋を判定する。なお、これから説明する認証方法は、第１受光部３１、第２受光部３２、及び第３受光部３３を使用した場合について説明する。
【０２０３】
図２５は、実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の基準光量測定ステージのフローチャートを示す。
【０２０４】
まず、ステップ４１で、図１７で示した基準板２０を、図２３及び図２４に示した検査対象Ｏｂの位置に設置する（ＳＴ４１）。
【０２０５】
次に、ステップ４２で、第１波長発光部２１ｂを点灯する（ＳＴ４２）。すなわち、第１波長発光部２１ｂから発光した光は、基準板で反射されて微量の拡散光が各受光部に入射する。
【０２０６】
次に、ステップ４３で、第１受光部３１の光量を第１メモリに記録する（ＳＴ４３）。続いて、ステップ４４で、第２受光部３２の光量を第２メモリに記録する（ＳＴ４４）。同様に、ステップ４５で、第３受光部３３の光量を第９メモリに記憶する（ＳＴ４５）。これらの光量は、第１波長発光部２１ｂから発光した光の基準値として記憶される。
【０２０７】
次に、ステップ４６で、第１波長発光部２１ｂを消灯し、第２波長発光部２２ｂを点灯する（ＳＴ４６）。
【０２０８】
次に、ステップ４７で、第１受光部３１の光量を第３メモリに記録する（ＳＴ４７）。続いて、ステップ４８で、第２受光部３２の光量を第４メモリに記録する（ＳＴ４８）。同様に、ステップ４９で、第３受光部３３の光量を第１０メモリに記憶する（ＳＴ４９）。これらの光量は、第２波長発光部２２ｂから発光した光の基準値として記憶される。
【０２０９】
次に、ステップ５０で、第２波長発光部２２ｂを消灯する（ＳＴ５０）。
【０２１０】
図２６は、実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の検査対象光量測定ステージのフローチャートを示す。
【０２１１】
まず、ステップ５１で、検査対象Ｏｂを、図２３及び図２４に示したように設置する（ＳＴ５１）。
【０２１２】
次に、ステップ５２で、第１波長発光部２１ｂを点灯する（ＳＴ５２）。
【０２１３】
次に、ステップ５３で、第１受光部３１の光量を第５メモリに記録する（ＳＴ５３）。続いて、ステップ５４で、第２受光部３２の光量を第６メモリに記録する（ＳＴ５４）。同様に、ステップ５５で、第３受光部３３の光量を第１１メモリに記憶する（ＳＴ５５）。
【０２１４】
次に、ステップ５６で、第１波長発光部２１ｂを消灯し、第２波長発光部２２ｂを点灯する（ＳＴ５６）。
【０２１５】
次に、ステップ５７で、第１受光部３１の光量を第７メモリに記録する（ＳＴ５７）。続いて、ステップ５８で、第２受光部３２の光量を第８メモリに記録する（ＳＴ５８）。同様に、ステップ５９で、第３受光部３３の光量を第１２メモリに記憶する（ＳＴ５９）。
【０２１６】
次に、ステップ６０で、第２波長発光部２２ｂを消灯する（ＳＴ６０）。
【０２１７】
図２７は、実施例８のホログラム認証システム１の認証方法の真贋判定ステージのフローチャートを示す。
【０２１８】
真贋判定ステージでは、基準光量測定ステージで計測した値と、検査対象光量測定ステージで計測した値と、を比較する。比較に際して、基準光量測定ステージで計測した値には、あらかじめ設定した所定の閾値をそれぞれ掛け合わせてから比較する。
【０２１９】
各閾値は、真贋判定時に贋の対象として考えられる拡散板、鏡、エンボスホログラム等の場合の各メモリ値から設定されている。各閾値は、独立して設定しても同じでもよい。
【０２２０】
実施例８では、第１波長発光部２１ｂを発光した場合の各部材に対する各受光部の測定結果は、表４のように測定され、第２波長発光部２２ｂを発光した場合の各部材に対する各受光部の測定結果は、表５のように測定された。
【０２２１】
【表４】
2014142584.tif 000006
【０２２２】
【表５】
2014142584.tif 000007
【０２２３】
第１閾値は、拡散板や鏡と体積型ホログラムを区別できる値を設定する。例えば、第１波長発光部２１ｂを発光した際に第１受光部３１で検出された光量は、表４に示すように、基準板である拡散板の場合３．０、鏡の場合０．３、エンボスホログラムの場合４５．３、体積型ホログラムの場合２１０．３であった。
【０２２４】
また、第１波長発光部２１ｂで体積型ホログラムを照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの７０．１倍であったため、第１閾値は７０．１よりも小さな値に設定する必要がある。実施例８の場合、第１閾値として設定可能な範囲は、拡散板と体積型ホログラムを区別できる１から、体積型ホログラムと認識できる７０までとなる。さらに望ましくは、暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低く、エンボスホログラムと体積型ホログラムを区別できるしきい値として１６〜３５が望ましい。そこで、実施例７では、第１閾値として２０を選定した。
【０２２５】
第２閾値は、第１波長発光部２１ｂを照明した際に第２受光部３２の位置にはほとんど回折光が到達しないことを確認できる値を設定する。第１波長発光部２１ｂを照明した際に第２受光部３２で検出された光量は、拡散板の場合１．４、鏡の場合０．９、エンボスホログラムの場合０．８、体積型ホログラムの場合０．４であった。また、第１波長発光部２１ｂから体積型ホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．２８倍であった。このため、第２閾値の範囲は０．３〜１が望ましい。実施例８では、第２閾値として０．５を選定した。
【０２２６】
第３閾値は、第２波長発光部２２ｂを照明した際に第１受光部３１の位置にはほとんど回折光が到達しないことを確認できる値を設定する。第２波長発光部２２ｂを照明した際に第１受光部３１で検出された光量は、拡散板の場合４．５、鏡の場合０．３、エンボスホログラムの場合０．６、体積型ホログラムの場合０．２であった。また、第２波長発光部２２ｂから体積型ホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．０４倍であった。このため、第３閾値の範囲は０．０５〜１が望ましい。実施例８では、第３閾値として０．５を選定した。
【０２２７】
第４閾値は、拡散板や鏡と体積型ホログラムを区別できる値を設定する。第２波長発光部２２ｂから照明した際にディテクタ２で検出された光量は、拡散板の場合７．０、鏡の場合１．２、エンボスホログラムの場合１５０．３、体積型ホログラムの場合７００．３であった。
【０２２８】
また、第２波長発光部２２ｂで体積型ホログラムを照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの１００倍であったため、第４閾値は１００よりも小さな値に設定する必要がある。実施例８の場合、第４閾値として設定可能な範囲は、拡散板と体積型ホログラムを区別できる１から、体積型ホログラムと認識できる１００までとなる。さらに望ましくは、暗めの体積型ホログラムを贋と判定する危険が低く、エンボスホログラムと体積型ホログラムを区別できるしきい値として２２〜５０が望ましい。そこで、実施例７では、第４閾値として３０を選定した。
【０２２９】
第５閾値は、第１波長発光部２１ｂを照明した際に第３受光部３３の位置にはほとんど回折光が到達しないことを確認できる値を設定する。第１波長発光部２１ｂを照明した際に第３受光部３３で検出された光量は、拡散板の場合１．１、鏡の場合０．２、エンボスホログラムの場合０．３、体積型ホログラムの場合０．３であった。また、第１波長発光部２１ｂから体積型ホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．２７倍であった。このため、第５閾値の範囲は０．３〜１が望ましい。実施例８では、第５閾値として０．５を選定した。
【０２３０】
第６閾値は、第２波長発光部２２ｂを照明した際に第３受光部３３の位置に体積型ホログラムからの回折光がはほとんど到達しないが、エンボスホログラムからの回折光が到達することを確認できる値を設定する。第２波長発光部２２ｂを照明した際に第３受光部３３で検出された光量は、拡散板の場合３．７、鏡の場合０．６、エンボスホログラムの場合３０．３、体積型ホログラムの場合０．５であった。また、第２波長発光部２２ｂから体積型ホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの０．１３倍であった。さらに、第２波長発光部２２ｂからエンボスホログラムに照明したときに検出された光量は、拡散板を照明したときの８．１倍であった。このため、第６閾値の範囲は０．２〜８が望ましい。実施例８では、第６閾値として０．５を選定した。
【０２３１】
ここで表６のように定めた第１閾値〜第６閾値を用いて、具体的な判定手順を示す。
【表６】
2014142584.tif 000008
【０２３２】
まず、ステップ６１で、第５メモリ＞第１閾値×第１メモリを満たすか否かを判断する（ＳＴ６１）。すなわち、第５メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第１閾値と第１メモリに記憶した値との積よりも大きいか否かを判断する。
【０２３３】
ステップ６１において、第５メモリ値＞第１閾値×第１メモリ値を満たす場合、ステップ６２で、第１フラグにＴをセットする（ＳＴ６２）。ステップ６１において、第５メモリ値＞第１閾値×第１メモリ値を満たさない場合、ステップ６３で、第１フラグにＦをセットする（ＳＴ６３）。
【０２３４】
次に、ステップ６４で、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ６４）。すなわち、第６メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第２閾値と第２メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０２３５】
ステップ６４において、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たす場合、ステップ６５で、第２フラグにＴをセットする（ＳＴ６５）。ステップ６４において、第６メモリ値＜第２閾値×第２メモリ値を満たさない場合、ステップ６６で、第２フラグにＦをセットする（ＳＴ６６）。
【０２３６】
次に、ステップ６７で、第１１メモリ値＜第５閾値×第９メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ６７）。すなわち、第１１メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第５閾値と第９メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０２３７】
ステップ６７において、第１１メモリ値＜第５閾値×第９メモリ値を満たす場合、ステップ６８で、第５フラグにＴをセットする（ＳＴ６８）。ステップ６７において、第１１メモリ値＜第５閾値×第９メモリ値を満たさない場合、ステップ６９で、第５フラグにＦをセットする（ＳＴ６９）。
【０２３８】
次に、ステップ７０で、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ７０）。すなわち、第７メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第３閾値と第３メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０２３９】
ステップ７０において、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たす場合、ステップ７１で、第３フラグにＴをセットする（ＳＴ７１）。ステップ７０において、第７メモリ値＜第３閾値×第３メモリ値を満たさない場合、ステップ７２で、第３フラグにＦをセットする（ＳＴ７２）。
【０２４０】
次に、ステップ７３で、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ７３）。すなわち、第８メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第４閾値と第４メモリに記憶した値との積よりも大きいか否かを判断する。
【０２４１】
ステップ７３において、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たす場合、ステップ７４で、第４フラグにＴをセットする（ＳＴ７４）。ステップ７３において、第８メモリ値＞第４閾値×第４メモリ値を満たさない場合、ステップ７５で、第４フラグにＦをセットする（ＳＴ７５）。
【０２４２】
次に、ステップ７６で、第１２メモリ値＜第６閾値×第１０メモリ値を満たすか否かを判断する（ＳＴ７６）。すなわち、第１２メモリに記憶した値が、あらかじめ定められた所定の第６閾値と第１０メモリに記憶した値との積よりも小さいか否かを判断する。
【０２４３】
ステップ７６において、第１２メモリ値＜第６閾値×第１０メモリ値を満たす場合、ステップ７７で、第６フラグにＴをセットする（ＳＴ７７）。ステップ７６において、第１２メモリ値＜第６閾値×第１０メモリ値を満たさない場合、ステップ７８で、第６フラグにＦをセットする（ＳＴ７８）。
【０２４４】
次に、ステップ７９で、第１フラグ〜第６フラグはすべてＴとなっているか否かを判断する（ＳＴ７９）。
【０２４５】
ステップ７９において、第１フラグ〜第６フラグの中に１つでもＦがある場合、ステップ８０で、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１であると判定する（ＳＴ８０）。ステップ７９において、第１フラグ〜第６フラグはすべてＴとなっていない場合、ステップ８１で、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１でなく、贋物であると判定する（ＳＴ８１）。
【０２４６】
例えば、検査対象Ｏｂが体積型ホログラムの場合、第５メモリ値（２１０．３）＞第１閾値（２０）×第１メモリ値（３．０）となるので、第１フラグにＴをセットし、第６メモリ値（０．４）＜第２閾値（０．５）×第２メモリ値（１．４）となるので、第２フラグにＴをセットし、第７メモリ値（０．２）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４．５）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（７００．３）＞第４閾値（３０）×第４メモリ値（７．０）となるので、第４フラグにＴをセットし、第１１メモリ値（０．３）＜第５閾値（０．５）×第９メモリ値（１．１）となるので、第５フラグにＴをセットし、第１２メモリ値（０．５）＜第６閾値（０．５）×第１０メモリ値（３．７）となるので、第６フラグにＴをセットする。
【０２４７】
したがって、第１フラグ〜第６フラグはすべてＴとなっているので、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１であると判定する。
【０２４８】
また、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合、第５メモリ値（４５．３）＞第１閾値（２０）×第１メモリ値（３．０）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（０．８）＜第２閾値（０．５）×第２メモリ値（１．４）を満たさないので、第２フラグにＦをセットし、第７メモリ値（０．６）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４．５）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（１５０．３）＞第４閾値（３０）×第４メモリ値（７．０）を満たさないので、第４フラグにＦをセットし、第１１メモリ値（０．３）＜第５閾値（０．５）×第９メモリ値（１．１）となるので、第５フラグにＴをセットし、第１２メモリ値（３０．３）＜第６閾値（０．５）×第１０メモリ値（３．７）を満たさないので、第６フラグにＦをセットする。
【０２４９】
したがって、第１フラグ〜第６フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。また、第６フラグで、体積型ホログラムの回折光がほとんど到達しないが、エンボスホログラムからの回折光が到達することを確認できるので、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムであることを見分けることができる。
【０２５０】
また、検査対象Ｏｂが鏡の場合、第５メモリ値（０．３）＞第１閾値（２０）×第１メモリ値（３．０）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（０．９）＜第２閾値（０．５）×第２メモリ値（１．４）を満たさないので、第２フラグにＦをセットし、第７メモリ値（０．３）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４．５）となるので、第３フラグにＴをセットし、第８メモリ値（１．２）＞第４閾値（３０）×第４メモリ値（７．０）を満たさないので、第４フラグにＦをセットし、第１１メモリ値（０．２）＜第５閾値（０．５）×第９メモリ値（１．１）となるので、第５フラグにＴをセットし、第１２メモリ値（０．６）＜第６閾値（０．５）×第１０メモリ値（３．７）となるので、第６フラグにＴをセットする。
【０２５１】
したがって、第１フラグ〜第６フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。
【０２５２】
さらに、検査対象Ｏｂが拡散板の場合、第５メモリ値（３．０）＞第１閾値（２０）×第１メモリ値（３．０）を満たさないので、第１フラグにＦをセットし、第６メモリ値（１．４）＜第２閾値（０．５）×第２メモリ値（１．４）を満たさないので、第２フラグにＦをセットし、第７メモリ値（４．５）＜第３閾値（０．５）×第３メモリ値（４．５）を満たさないので、第３フラグにＦをセットし、第８メモリ値（７．０）＞第４閾値（３０）×第４メモリ値（７．０）を満たさないので、第４フラグにＦをセットし、第１１メモリ値（１．１）＜第５閾値（０．５）×第９メモリ値（１．１）を満たさないので、第５フラグにＦをセットし、第１２メモリ値（３．７）＜第６閾値（０．５）×第１０メモリ値（３．７）を満たさないので、第６フラグにＦをセットする。
【０２５３】
したがって、第１フラグ〜第６フラグの中に１つでもＦがあるので、検査対象Ｏｂは贋の部材であると判定する。
【０２５４】
なお、第１フラグ〜第６フラグに一つでもＦがセットされた段階で、検査対象Ｏｂは真のホログラム１１でなく、贋物であると判定してもよい。また、第１波長発光部２１ｂを発光させた場合の認証と第２波長発光部２２ｂを発光させた場合の認証は、どちらを先に実行してもよい。
【０２５５】
このように、実施例８のホログラム認証システム１では、例えば、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムにあわせて受光部３の位置を設定するので、真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムとを的確に見分けることが可能となり、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【０２５６】
図２８は、実施例９のホログラム認証システムの第１波長での認証時の状態を示す図である。図２９は、実施例９のホログラム認証システムの第２波長での認証時の状態を示す図である。
【０２５７】
実施例９は、実施例８のホログラム認証システムに第４受光部３４を加えたものであり、その他の構成は、実施例８と同様なので説明は省略する。第４受光部３４は、第２受光部３２に対して第１受光部３１とは反対側に５．７ｍｍ離間して配置される。第４受光部３４は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第１波長発光部２１ｂから入射した光束が回折する位置に配置されている。したがって、検査対象Ｏｂから第４受光部３４に向かう光束Ｌ２は、検査対象Ｏｂがエンボスホログラムの場合に第１波長発光部２１ｂからの光が回折した回折光である。
【０２５８】
したがって、実施例８と同様のホログラム認証システム１の認証方法を行うことで、  真の体積型ホログラム１１と贋のエンボスホログラムとをさらに的確に見分けることが可能となり、簡単な構成で容易に真贋判定を行うことが可能となる。
【０２５９】
図３０は、他の実施形態のホログラム認証システム１を示す図である。
【０２６０】
この実施形態のホログラム認証システム１では、ＩＣチップ７が取り付けられたセキュリティ媒体Ｓを使用する。ＩＣチップ７には、セキュリティ媒体Ｓごとに個別に与えられた製品情報が記憶されている。製品情報は、予め定められた番号、ロット、製造年月日、型式等でよい。このような製品情報に紐付けして、認証装置４には、例えば、数字又は文字等の判定するためのコードが記憶されている。なお、コードは、ＩＣチップ７を読み込んだ時に製品情報に応じて、認証装置４が生成してもよい。
【０２６１】
次に、発光部２の発光と受光部３の受光との組み合わせをコード情報として認証装置４が読み取る。例えば、コード情報は、第１発光部２１が発光した場合に受光部３が受光し、第２発光部２２が発光した場合にも受光部３が受光した場合のコードをＡ１とし、第１発光部２１が発光した場合に受光部３が受光し、第２発光部２２が発光した場合に受光部３が受光しなかった場合のコードをＡ２とし、第１発光部２１が発光した場合に受光部３が受光せず、第２発光部２２が発光した場合にも受光部３が受光しなかった場合のコードをＡ３とする等、認証装置４に記憶させておく。
【０２６２】
その後、認証装置４は、ＩＣチップ７から紐付けしたコードと、体積型ホログラム１１から得たコード情報とを照合する。照合した結果、ＩＣチップ７から紐付けしたコードと、体積型ホログラム１１から得たコード情報とが一致した場合、真贋判定装置５は、セキュリティ媒体が真正品であると判定する。また、照合した結果、ＩＣチップ７から紐付けしたコードと、体積型ホログラム１１から得たコード情報とが一致しなかった場合、真贋判定装置５は、セキュリティ媒体が偽造品であると判定する。
【０２６３】
このように、ホログラム１１による真贋判定とＩＣチップ７による真贋判定とを相互に関連づけて行うことにより、より精度の高い真贋判定を行うことが可能となる。
【０２６４】
以上、ホログラム認証システム、ホログラム認証方法、及び体積型ホログラムをいくつかの実施例に基づいて説明してきたが、本発明はこれら実施例に限定されず種々の変形が可能である。
【符号の説明】
【０２６５】
１…ホログラム認証システム
２…発光部
３…受光部
４…認証装置
５…真贋判定装置
１１…体積型ホログラム
【図１】
2014142584.tif 000009
【図２】
2014142584.tif 000010
【図３】
2014142584.tif 000011
【図４】
2014142584.tif 000012
【図５】
2014142584.tif 000013
【図６】
2014142584.tif 000014
【図７】
2014142584.tif 000015
【図８】
2014142584.tif 000016
【図９】
2014142584.tif 000017
【図１０】
2014142584.tif 000018
【図１１】
2014142584.tif 000019
【図１２】
2014142584.tif 000020
【図１３】
2014142584.tif 000021
【図１４】
2014142584.tif 000022
【図１５】
2014142584.tif 000023
【図１６】
2014142584.tif 000024
【図１７】
2014142584.tif 000025
【図１８】
2014142584.tif 000026
【図１９】
2014142584.tif 000027
【図２０】
2014142584.tif 000028
【図２１】
2014142584.tif 000029
【図２２】
2014142584.tif 000030
【図２３】
2014142584.tif 000031
【図２４】
2014142584.tif 000032
【図２５】
2014142584.tif 000033
【図２６】
2014142584.tif 000034
【図２７】
2014142584.tif 000035
【図２８】
2014142584.tif 000036
【図２９】
2014142584.tif 000037
【図３０】
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