(57)【要約】【課題】ループ試験を簡易に実行すること。【解決手段】隔離部１３２ａは、書込み部と、記憶素子Ａと、記憶素子Ｂと、入力値保持部と、演算部とを有する。書込み部は、エンジニア装置を接続して行われる設定に従って、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに記憶されている演算子の値を書き換える。記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂは、書き換え可能な記憶素子であり、書込み部により書き込まれた被演算子の値を記憶する。入力値保持部は、アナログ入力部１３１ａから入力された信号の値（例えば、Ｓ１〜ｎ）を保持する。演算部は、入力値保持部に保持されている信号の値と、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれている値とに基づいて、出力する信号の値を演算する。【選択図】図３
2014137235.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子力プラントの設備を制御する制御装置であって、
入力信号の値を保持する入力値保持部と、
出力信号の値を演算するために用いる被演算子を記憶素子に書き込む書込み部と、
前記入力値保持部に保持されている前記入力信号の値と、前記記憶素子に書き込まれている前記被演算子とに基づいて、前記出力信号の値を演算する演算部と
を有することを特徴とする制御装置。
【請求項２】
原子力プラントの設備を制御する制御装置を有する原子力プラント制御システムにおいて、
入力信号の値を保持する入力値保持部と、
出力信号の値を演算するために用いる被演算子を記憶素子に書き込む書込み部と、
前記入力値保持部に保持されている前記入力信号の値と、前記記憶素子に書き込まれている前記被演算子とに基づいて、前記出力信号の値を演算する演算部と
を有することを特徴とする原子力プラント制御システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子力プラント制御システムで利用される制御装置及び原子力プラント制御システムに関し、特に、ループ試験を簡易に実行することができる制御装置及び原子力プラント制御システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
原子力発電プラント等の原子力プラントを制御する原子力プラント制御システムは、高い信頼性を維持するために、例えば、原子炉が停止される定期点検期間を利用して、試験装置を用いた各機能の試験、いわゆるループ試験を定期的に実施している（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
以下、図９を参照しつつ、従来の原子力プラント制御システムにおけるループ試験について説明する。図９は、従来の原子力プラント制御システムにおけるループ試験の一例を説明するための図である。
【０００４】
図９に示すように、原子力プラント制御システムは、安全保護系統と制御系統とを有する。安全保護系統は、プラントの運転の安全性を確保するための施設などを有する系統である。制御系統は、プラントの通常の運転を制御するための設備などを有する系統である。
【０００５】
安全保護系統には、例えば、検出器１００ａ〜１００ｄと、制御装置１１０ａ〜１１０ｄと、制御対象装置１２０ａ〜１２０ｄとが含まれる。検出器１００ａ〜１００ｄは、例えば、冷却系統の圧力や温度などを計測する計器である。制御装置１１０ａ〜１１０ｄは、検出器１００ａ〜１００ｄからの信号に基づいて、制御対象装置１２０ａ〜１２０ｄを制御する装置である。制御対象装置１２０ａ〜１２０ｄは、制御装置１１０ａ〜１１０ｄの制御下で作動する装置であり、例えば、警報装置やインターロックである。制御系統には、制御装置２００と制御対象装置３００とが含まれる。制御装置２００には、アナログ入力部２１０ａ〜２１０ｄと、シグナルセレクタ２２０と、バイステーブル２３０とが含まれる。アナログ入力部２１０ａ〜２１０ｄは、安全保護系統で使用された信号を制御装置２００に取り込む装置である。シグナルセレクタ２２０は、アナログ入力部２１０ａ〜２１０ｄにより取り込まれた信号の選択を行う装置である。バイステーブル２３０は、シグナルセレクタ２２０により選択された信号の閾値判定を行う装置である。制御対象装置３００は、制御装置２００の制御下で作動する装置であり、例えば、警報装置やインターロックである。
【０００６】
ループ試験は、例えば、原子力プラント制御システムの中の安全保護系統にて、試験装置４００から入力された模擬信号に応じて、各機能がどのような反応を示すかをモニタすることで実施される。図９に示すように、制御装置１１０ａに対して、例えば、試験装置４００からループ試験のための模擬信号を入力する。制御装置１１０ａは、試験装置４００から入力された模擬信号に応じて制御対象装置１２０ａを制御する。このループ試験により、例えば、制御装置１１０ａから制御装置１２０ａに至るまでの健全性が確認される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特公昭６２−２２８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従来、ループ試験のための模擬信号が入力される範囲を限定するために、バイステーブルの出力を手動でオフにするなどの作業が必要である。
【０００９】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ループ試験を簡易に実行することができる制御装置及び原子力プラント制御システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、原子力プラントの設備を制御する制御装置であって、入力信号の値を保持する入力値保持部と、出力信号の値を演算するために用いる被演算子を記憶素子に書き込む書込み部と、前記入力値保持部に保持されている前記入力信号の値と、前記記憶素子に書き込まれている前記被演算子とに基づいて、前記出力信号の値を演算する演算部とを有することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、原子力プラントの設備を制御する制御装置を有する原子力プラント制御システムにおいて、入力信号の値を保持する入力値保持部と、出力信号の値を演算するために用いる被演算子を記憶素子に書き込む書込み部と、前記入力値保持部に保持されている前記入力信号の値と、前記記憶素子に書き込まれている前記被演算子とに基づいて、前記出力信号の値を演算する演算部とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係る制御装置は、ループ試験を簡易に実行することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、原子力プラント制御システムの概念的な構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、本実施例に係る制御装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図３は、本実施例に係る隔離部の機能構成を示すブロック図である。
【図４】図４は、本実施例に係る隔離部の説明に用いる図である。
【図５】図５は、本実施例に係る隔離部の機能構成を示すブロック図である。
【図６】図６は、本実施例に係る隔離部の説明に用いる図である。
【図７】図７は、本実施例に係る制御装置による処理の流れを示す図である。
【図８】図８は、本実施例に係る制御装置による処理の流れを示す図である。
【図９】図９は、従来の原子力プラント制御システムにおけるループ試験の一例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明に係る制御装置の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。さらに、この実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。
【実施例】
【００１５】
［原子力プラントの概念構成］
まず、図１を参照しつつ、本実施例に係る原子力プラント制御システムの概念的な構成の一例を説明する。図１は、原子力プラント制御システムの概念的な構成の一例を示す図である。
【００１６】
図１に示すように、本実施例に係る原子力プラント制御システム１０は、中央制御設備１１と、計算機１２と、制御装置１３と、検出器１４と、制御装置１５とを有する。
【００１７】
中央制御設備１１は、運転コンソールや大型表示盤、運転指令コンソールなどを有するプラントの制御設備である。運転コンソールは、運転員による一体的な監視操作を可能とするために、ハードウェアの監視器具（指示計、記録計、表示灯など）や、操作器が設置された中央制御盤などを有する。運転コンソールには、例えば、通常運転時のプラント運転監視操作を行う監視操作用ＶＤＵ（Visual  Display  Unit）、重要度及び優先度に応じて警報表示を行う警報表示ＶＤＵ、安全系機器の監視操作を行う安全系ＶＤＵなどが設置される。大型表示盤は、プラント全体の情報を提供したり、運転員間の情報を共有したりするために、常時表示すべきパラメータや代表警報を表示する。運転指令コンソールは、当直長が運転員の指揮及び監督を行うために、運転コンソールと同一の画面が表示される。
【００１８】
計算機１２は、各種設備からの情報を取得して演算処理を行い、例えば、中央制御設備１１に設置された運転コンソールや大型表示盤などに演算結果を出力する。
【００１９】
制御装置１３は、安全保護系統と呼ばれる系統に属する設備や機器である。安全保護系統とは、プラントの運転の安全性を確保するために、インターロックや警報装置などを自動的に作動させるためのものである。制御装置１３は、例えば、冷却系統の圧力や温度などに基づいて原子炉の異常を検出した場合に、インターロックや警報装置などを作動させて、プラントの運転の安全性を確保する。検出器１４は、例えば、冷却系統の圧力や温度などを計測する計器である。
【００２０】
制御装置１５は、制御系統と呼ばれる系統に属する設備や機器である。制御系統とは、プラントの通常の運転を制御するためのものである。制御装置１５は、自系統内の検出器や制御弁およびポンプなどから得られるパラメータに基づいて、原子炉の通常の運転を制御する。また、制御装置１５は、安全保護系統から取り込んだ信号に基づいて、インターロックや警報装置などを作動させる。以下、本実施例に係る制御装置の機能構成の一例を説明する。
【００２１】
［制御装置の機能構成］
図２は、本実施例に係る制御装置１３ａ〜１３ｄの機能構成の一例を示すブロック図である。図２に示す制御装置１３ａ〜１３ｄ、１５は、例えば、原子力発電分野における計装及び電気ロジックを記述する機能を基本としたエンジニアリングツール（ＰＯＬ（Problem  Oriented  Language））を用いて設計・製作された論理回路である。例えば、制御装置１３ａ〜１３ｄ、１５は、必要な論理ゲート（トランジスタ）が搭載されたチップを複数配置して構成され、論理ゲートが入力に応じた出力を行うことにより所定の処理を実現する。なお、制御装置１３ａ〜１３ｄ、１５は、プログラム素子として利用する記憶装置を書き込む値を変更することで、チップに予め搭載された論理ゲートに入力する信号及び出力する信号の極性を自由に変更できるプログラマブル論理回路を用いて実装してもよい。記憶装置としては、読み書き可能なＳＲＡＭ（Static  Random  Access  Memory）やフラッシュメモリなどを用いることができる。
【００２２】
図２に示すように、安全保護系統には、制御装置１３ａ〜１３ｄと、検出器１４ａ〜１４ｄと、制御対象装置２０ａ〜２０ｄとが含まれる。また、制御系統には、制御装置１５および制御対象装置３０が含まれる。制御装置１５には、アナログ入力部１５１ａ〜１５１ｄ、シグナルセレクタ１５２及びバイステーブル１５３が含まれる。
【００２３】
以下、安全保護系統について説明する。検出器１４ａ〜１４ｄは、例えば、冷却系統の圧力や温度などを計測する計器である。
【００２４】
制御対象装置２０ａ〜２０ｄは、制御装置１３ａ〜１３ｄの制御下で作動する装置であり、例えば、警報装置やインターロックである。
【００２５】
制御装置１３ａ〜１３ｄは、制御対象装置２０ａ〜２０ｄを制御する装置である。制御装置１３ａ〜１３ｄは、通常時、検出器１４ａ〜１４ｄからの信号に基づいて、制御対象装置２０ａ〜２０ｄを制御する。一方、ループ試験時、制御装置１３ａ〜１３ｄは、検出器１４ａ〜１４ｄからの信号の代わりに、試験装置から入力される信号に基づいて、制御対象装置２０ａ〜２０ｄを制御する。制御装置１３ａ〜１３ｄは、同一の構成を有するので、制御装置１３ａを取り上げて説明する。
【００２６】
図２に示すように、制御装置１３ａは、アナログ入力部１３１ａと、隔離部１３２ａと、バイステーブル１３３ａと、隔離部１３４ａと、アナログ出力部１３５ａとを有する。
【００２７】
アナログ入力部１３１ａは、外部から入力される信号Ｓ１を制御装置１３ａに送る。例えば、入力される信号は、通常時である場合には、検出器１４ａから入力される信号であり、ループ試験時である場合には、試験装置から試験条件として入力される擬似的な信号である。なお、図に示すＳ１〜ｎ（ｎは整数）は、アナログ入力部１３１ａから隔離部１３２ａに入力される各信号の値を表している。
【００２８】
隔離部１３２ａは、図２に示すＡ１の範囲でのループ試験を実行する場合に、エンジニア装置を接続して行われる設定に従って、出力する信号を制御する。以下、図３及び図４を参照しつつ、隔離部１３２ａについて説明する。図３は、隔離部１３２ａの機能構成を示すブロック図である。図４は、隔離部１３２ａの説明に用いる図である。
【００２９】
図３に示すように、隔離部１３２ａは、書込み部と、記憶素子Ａと、記憶素子Ｂと、入力値保持部と、演算部とを有する。
【００３０】
書込み部は、接続されるエンジニア装置での操作に従って、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに記憶されている被演算子の値を書き換える。例えば、書込み部は、エンジニア装置での操作に従い、図２に示すＡ１の範囲でループ試験を行っていないとき（通常時）に利用する値として、図４に示すテーブルの一行目のように、記憶素子Ａに「１」を書き込み、記憶素子Ｂに「０」を書き込む。一方、書込み部は、エンジニア装置での操作に従い、図２に示すＡ１の範囲でループ試験を行うときに利用する値として、図４に示すテーブルの二行目のように、記憶素子Ａに「０」を書き込み、記憶素子Ｂに「Ｓα」を書き込む。例えば、記憶素子Ｂに書き込まれる「Ｓα」は、例えば、バイステーブル１３３ａにおける閾値判定、及び制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）の双方に影響を与えない正常値（定数）である。なお、エンジニア装置は、エンジニアリングツールなどを稼動させることが可能な情報処理装置であり、制御装置１３ａとの間でデータのやり取りが可能である。
【００３１】
また、書込み部は、ループ試験時である場合には、中央制御設備１１の運転コンソールなどに設置されたランプを点灯させて、ループ試験中であることを通知する。
【００３２】
記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂは、書き換え可能な記憶素子であり、書込み部により書き込まれた被演算子の値を記憶する。記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれた被演算子の値は、後述する演算部において、出力する信号の値の演算に用いられる。原子力プラント制御システムは、もっぱら、通常の運転が行われている状態にあり、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われるのは例外的な状態である。このため、ほとんどの場合、記憶素子Ａに「１」、記憶素子Ｂに「０」が書き込まれている状態にあり、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われる際に、エンジニア装置などにより、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂの値が書き換えられることになる。
【００３３】
入力値保持部は、アナログ入力部１３１ａから入力された信号の値（例えば、Ｓ１〜ｎ）を保持する。また、入力値保持部は、保持した信号の値をエンジニア装置に出力する。これにより、エンジニア装置のユーザは、図２に示すＡ１の範囲でループ試験を行っている時に、入力された信号の値をモニタできる。アナログ入力部１３１ａから入力される信号の値（例えば、Ｓ１〜ｎ）は、図２に示すＡ１の範囲でループ試験を行っていない時（通常時）の信号の値、若しくは図２に示すＡ１の範囲でループ試験を行っているとき（ループ試験時）の信号の値である。なお、入力値保持部は、信号が入力されるたびに、保持する信号の値を更新する。ループ試験時の信号は、通常時の実際の制御における信号ではなく、試験装置などを用いて与えられる擬似的なものであるが、通常時の実際の制御における信号と値が同じとなる場合もある。
【００３４】
演算部は、通常時であるか、ループ試験時であるかにかかわらず、以下に説明するように、入力値保持部に保持されている信号の値と、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれている演算子の値とに基づいて、出力する信号の値を演算する処理を実行する。
【００３５】
まず、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われていない時（通常時）に、演算部にて実行される演算について説明する。演算部は、入力値保持部から信号の値（例えば、Ｓ１）を取り込む。続いて、演算部は、記憶素子Ａから「１」を取り込み、記憶素子Ｂから「０」を取り込む（図４参照）。続いて、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）、記憶素子Ａから取り込んだ「１」、及び記憶素子Ｂから取り込んだ「０」を、以下の式（１）に代入して、出力する信号の値を演算する。具体的には、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）を入力値として代入し、記憶素子Ａから取り込んだ「１」をＡの値として代入し、記憶素子Ｂから取り込んだ「０」をＢの値として代入する。演算の結果、演算部は、出力する信号の値として「Ｓ１」を算出する。つまり、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われていない時（通常時）には、入力値保持部に保持されている値（例えば、Ｓ１）を有する信号が出力されるので、原子力プラント制御システムにおける通常の動作を妨げることはない。
【００３６】
出力値＝入力値×Ａ＋Ｂ・・・（１）
【００３７】
次に、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時に、演算部が実行する演算について説明する。演算部は、入力値保持部から信号Ｓ１の値を取り込む。続いて、演算部は、記憶素子Ａから「０」を取り込み、記憶素子Ｂから「Ｓα」を取り込む（図４参照）。続いて、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）、記憶素子Ａから取り込んだ「０」、及び記憶素子Ｂから取り込んだ「Ｓα」を、上述した式（１）に代入して、出力する信号の値を演算する。具体的には、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）を入力値として代入し、記憶素子Ａから取り込んだ「０」をＡの値として代入し、記憶素子Ｂから取り込んだ「Ｓα」をＢの値として代入する。演算の結果、演算部は、出力する信号の値として、「Ｓα」を算出する。つまり、演算部は、ループ試験時である場合、アナログ入力部１３１ａから入力された値が「Ｓ１」の信号ではなく、値が「Ｓα」の信号を出力することとなる。つまり、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時には、入力値保持部に保持されているループ試験のための擬似的な信号（例えば、Ｓ１）の代わりに、バイステーブル１３３ａにおける閾値判定、及び制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）に影響を与えない正常値（値Ｓα）を有する信号が出力されるので、ループ試験のための信号が図２に示すＡ１の範囲外に影響を与えることはない。
【００３８】
バイステーブル１３３ａは、隔離部１３２ａから送出された信号に基づいて、閾値判定を行い、判定結果に応じて、制御対象装置２０ａを作動させる信号を送出する。
【００３９】
隔離部１３４ａは、基本的には、上述の隔離部１３２ａと同様の機能を有し、図２に示すＡ２の範囲でのループ試験を実行する場合に、エンジニア装置を接続して行われる設定に従って、出力する信号を制御する。以下、図５及び図６を参照しつつ、隔離部１３４ａについて説明する。図５は、隔離部１３４ａの機能構成を示すブロック図である。図６は、隔離部１３４ａの説明に用いる図である。
【００４０】
図５に示すように、隔離部１３４ａは、書込み部と、記憶素子Ａと、記憶素子Ｂと、入力値保持部と、演算部とを有する。
【００４１】
書込み部は、エンジニア装置を接続して行われる設定に従って、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに記憶されている被演算子の値を書き換える。例えば、書込み部は、エンジニア装置での操作に従い、図２に示すＡ２の範囲でループ試験を行っていないとき（通常時）に利用する値として、図６に示すテーブルの一行目のように、記憶素子Ａに「１」を書き込み、記憶素子Ｂに「０」を書き込む。一方、書込み部は、エンジニア装置での操作に従い、図２に示すＡ２の範囲でループ試験を行うときに利用する値として、図６に示すテーブルの二行目のように、記憶素子Ａに「０」を書き込み、記憶素子Ｂに「Ｓβ」を書き込む。記憶素子Ｂに書き込まれる「Ｓβ」は、例えば、制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）に影響を与えない正常値（定数）である。
【００４２】
また、書込み部は、ループ試験時である場合には、中央制御設備１１の運転コンソールなどに設置されたランプを点灯させて、ループ試験中であることを通知する。
【００４３】
記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂは、書き換え可能な記憶素子であり、書込み部により書き込まれた被演算子の値を保持する。記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれた被演算子の値は、後述する演算部において、出力する信号の値の演算に用いられる。原子力プラント制御システムは、もっぱら、通常の運転が行われている状態にあり、図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われるのは例外的な状態である。このため、ほとんどの場合、記憶素子Ａに「１」、記憶素子Ｂに「０」が書き込まれている状態にあり、図２に示すＡ２の範囲でのループ試験が行われる際に、エンジニア装置などにより、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂの値が書き換えられることになる。なお、図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われる場合には、隔離部１３２ａの記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂの値は書き換えられることはなく、記憶素子Ａに「１」、記憶素子Ｂに「０」が書き込まれている状態のままである。また、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われる場合には、隔離部１３４ａの記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂの値は書き換えられることはなく、記憶素子Ａに「１」、記憶素子Ｂに「０」が書き込まれている状態のままである。
【００４４】
入力値保持部は、隔離部１３２ａから送出された信号の値「Ｓ１〜ｎ」若しくは「Ｓα」を保持する。また、入力値保持部は、保持した信号の値をエンジニア装置に出力する。これにより、エンジニア装置のユーザは、図２に示すＡ２の範囲でループ試験を行っている時に、隔離部１３２ａから送出された信号の値をモニタできる。隔離部１３２ａから送出される信号の値「Ｓ１〜ｎ」若しくは「Ｓα」は、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時には、隔離部１３２ａから送出される信号の値は、常に「Ｓα」となる。また、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われていない時、若しくは図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われている時には、隔離部１３２ａから送出される信号の値は、「Ｓ１〜ｎ」となる。
【００４５】
演算部は、通常時であるか、ループ試験時であるかにかかわらず、以下に説明するように、入力値保持部に保持されている信号の値と、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれている被演算子の値とに基づいて、出力する信号の値を演算する。
【００４６】
まず、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時、若しくは図２に示すＡ１及びＡ２の範囲の双方でループ試験が行われていない時（通常時）に、演算部にて実行される演算について説明する。演算部は、入力値保持部から信号の値（例えば、Ｓα又はＳ１）を取り込む。続いて、演算部は、記憶素子Ａから「１」を取り込み、記憶素子Ｂから「０」を取り込む（図６参照）。続いて、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓα又はＳ１）、記憶素子Ａから取り込んだ「１」、及び記憶素子Ｂから取り込んだ「０」を、上述した式（１）に代入して、出力する信号の値を演算する。具体的には、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓα又はＳ１）を入力値として代入し、記憶素子Ａから取り込んだ「１」をＡの値として代入し、記憶素子Ｂから取り込んだ「０」をＢの値として代入する。演算の結果、演算部は、出力する信号の値として図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時には「Ｓα」を算出し、図２に示すＡ１及びＡ２の範囲の双方でループ試験が行われていない時（通常時）には「Ｓ１」を算出する。つまり、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時、若しくは図２に示すＡ１及びＡ２の範囲の双方でループ試験が行われていない時（通常時）には、入力値保持部に保持されている値（例えば、Ｓα又はＳ１）を有する信号がそのまま出力されるので、ループ試験のための信号が図２に示すＡ１の範囲外に影響を与えたり、原子力プラント制御システムにおける通常の動作を妨げたりすることはない。
【００４７】
次に、図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われている時に、演算部が実行する演算について説明する。演算部は、入力値保持部から信号（例えば、Ｓ１）の値を取り込む。続いて、演算部は、記憶素子Ａから「０」を取り込み、記憶素子Ｂから「Ｓβ」を取り込む（図６参照）。続いて、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）、記憶素子Ａから取り込んだ「０」、及び記憶素子Ｂから取り込んだ「Ｓβ」を、上述した式（１）に代入して、出力する信号の値を演算する。具体的には、演算部は、入力値保持部から取り込んだ信号の値（例えば、Ｓ１）を入力値として代入し、記憶素子Ａから取り込んだ「０」をＡの値として代入し、記憶素子Ｂから取り込んだ「Ｓβ」をＢの値として代入する。演算の結果、演算部は、出力する信号の値として、「Ｓβ」を算出する。つまり、演算部は、図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われている時には、隔離部１３２ａから送出された値が「Ｓ１」の信号ではなく、値が「Ｓβ」の信号を出力することとなる。つまり、図２に示すＡ２の範囲でループ試験が行われている時には、入力値保持部に保持されているループ試験のための擬似的な信号（例えば、Ｓ１）の代わりに、制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）に影響を与えない正常値（値Ｓβ）を有する信号が出力されるので、ループ試験のための信号が図２に示すＡ２の範囲外に影響を与えることはない。
【００４８】
上述したように、エンジニア装置を用いて、隔離部１３２ａや隔離部１３４ａの記憶素子の値を書き換えるだけで、ループ試験を簡易に実行できる。
【００４９】
なお、隔離部１３２ａや隔離部１３４ａは、入力値保持部に保持されている信号の値と、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれている値とに基づいて、出力する信号の値を演算する例を説明したが、これには限定されない。例えば、入力された信号の代わりに、別の信号を出力することができれば、どのような構成を適用してもよい。
【００５０】
［制御装置による処理］
図７及び図８を用いて、本実施例に係る制御装置１３ａ〜１３ｄによる処理の流れを説明する。図７及び図８は、本実施例に係る制御装置１３ａ〜１３ｄによる処理の流れを示す図である。制御装置１３ａ〜１３ｄによる処理の流れは同様であるので、以下では、制御装置１３ａの隔離部１３２ａの処理の流れを一例として説明する。
【００５１】
図７を用いて、入力値保持部の処理の流れを説明する。図７に示す処理は、隔離部１３２ａの起動中、繰り返し実行される。図７に示すように、入力値保持部は、アナログ入力部１３１ａから信号が入力されるまで待機する（ステップＳ１０１）。そして、信号が入力されると、入力値保持部は、入力された信号の値で、保持している信号の値を更新する（ステップＳ１０２）。
【００５２】
図８を用いて、演算部の処理の流れを説明する。図８に示す処理は、隔離部１３２ａの起動中、繰り返し実行される。図８に示すように、演算部は、入力値保持部に保持されている信号の値（入力値）を取り込む（ステップＳ２０１）。続いて、演算部は、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂに書き込まれている値を取り込む（ステップＳ２０２）。続いて、演算部は、入力値保持部から取り込んだ入力値、記憶素子Ａ及び記憶素子Ｂから取り込んだ値に基づいて、出力する信号の値（出力値）を演算する（ステップＳ２０３）。そして、演算部は、信号を出力する（ステップＳ２０４）。
【００５３】
上述してきたように、本実施例によれば、エンジニア装置を用いて、隔離部１３２ａや隔離部１３４ａの記憶素子の値を書き換えるだけで、ループ試験を簡易に実行できる。
【００５４】
また、本実施例によれば、隔離部１３２ａは、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われない時（通常時）には、入力値保持部に保持されている値（例えば、Ｓ１）を有する信号をそのまま出力して、原子力プラント制御システムにおける通常の動作を妨げない。一方、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時には、入力値保持部に保持されているループ試験のための擬似的な信号（例えば、Ｓ１）の代わりに、バイステーブル１３３ａにおける閾値判定、及び制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）に影響を与えない正常値（値Ｓ２）を有する信号を出力し、ループ試験の信号が影響を与える範囲を図２に示すＡ１の範囲に限定する。また、隔離部１３４ａは、図２に示すＡ１の範囲でループ試験が行われている時、若しくは図２に示すＡ１及びＡ２の範囲の双方でループ試験が行われていない時（通常時）には、入力値保持部に保持されている値（例えば、Ｓα又はＳ１）を有する信号をそのまま出力して、原子力プラント制御システムにおける通常の動作を妨げない。一方、図２に示すＡ２の範囲でループ試験を行う場合には、入力値保持部に保持されているループ試験のための擬似的な信号（例えば、Ｓ１）の代わりに、制御系統における動作（例えば、シグナルセレクタ１５２による信号選択）に影響を与えない正常値（値Ｓβ）を有する信号を出力して、ループ試験の信号が影響を与える範囲を図２に示すＡ２の範囲に限定する。
【００５５】
本実施例では、例えば、安全保護系統の制御装置１３ａに隔離部１３２ａ，１３４ａを設ける例を説明したが、ループ試験の範囲に応じて、試験のための信号が入力される範囲を限定できるように、隔離部を設置する位置を任意に変更してもよい。また、本実施例では、安全保護系統の制御装置１３ａに隔離部１３２ａ，１３４ａを設ける例を説明したが、例えば、制御系統の試験を行う場合に、制御系統に隔離部を設けて、制御系統内で試験のための信号が入力される範囲を限定してもよい。
【００５６】
また、例えば、図２に示す制御装置１３ａの各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。例えば、隔離部１３４ａを、制御装置１３ａとアナログ入力部１５１ａとの間に設けてもよい。また、隔離部１３２ａが有する入力値保持部と演算部とを、機能的または物理的に統合してもよい。このように、図２に示す制御装置１３ａの各構成要素の分散または統合の具体的形態は、図２に示すものに限られず、各構成要素の全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。
【００５７】
また、図２に示す制御装置１３ａの処理（例えば、図７及び図８など参照）は、論理回路の代わりに、上述の制御装置１３ａの処理と同様の処理機能を実現するための手順（プロセス）を実行させるためのプログラムをインストールしたパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータを用いて実現することもできる。
【符号の説明】
【００５８】
１０  原子力プラント制御システム
１１  中央制御設備
１２  計算機
１３、１３ａ〜１３ｄ  制御装置
１３１ａ  アナログ入力部
１３２ａ  隔離部
１３３ａ  バイステーブル
１３４ａ  隔離部
１３５ａ  アナログ出力部
１４、１４ａ〜１４ｄ  検出器
１５  制御装置
１５１ａ〜１５１ｄ  アナログ入力部
１５２  シグナルセレクタ
１５３  バイステーブル
２０ａ〜２０ｄ  制御対象装置
３０  制御対象装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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