(57)【要約】【課題】導体の検査面のきずを高精度に検出可能な渦流探傷プローブ及び渦流探傷装置を提供する。【解決手段】本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、導体３０の検査面３１に対してコイル面が平行になるように配置される第１励磁コイル２１と、第１励磁コイル２１に対して検査面３１に沿う方向に隣り合う位置に、検査面３１に対してコイル面が平行になるように配置され、第１励磁コイル２１と逆の巻方向で巻かれている第２励磁コイル２２と、検査面３１に対してコイル面が直交し、かつ第１励磁コイル２１の中心Ｐ１及び第２励磁コイル２２の中心Ｐ２を通る直線に対してコイル面が平行になるように、第１励磁コイル２１と第２励磁コイル２２との間に配置される検出コイル２３とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導体の検査面に対してコイル面が平行になるように配置される第１励磁コイルと、
前記第１励磁コイルに対して前記検査面に沿う方向に隣り合う位置に、前記検査面に対してコイル面が平行になるように配置され、前記第１励磁コイルと逆の巻方向で巻かれている第２励磁コイルと、
前記検査面に対してコイル面が直交し、かつ前記第１励磁コイルの中心及び前記第２励磁コイルの中心を通る直線に対してコイル面が平行になるように、前記第１励磁コイルと前記第２励磁コイルとの間に配置される検出コイルと、を備える渦流探傷プローブ。
【請求項２】
請求項１に記載の渦流探傷プローブにおいて、前記検出コイルに内挿された第１磁性体をさらに備える、ことを特徴とする渦流探傷プローブ。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の渦流探傷プローブにおいて、前記第１励磁コイル及び前記第２励磁コイルに内挿された第２磁性体をさらに備える、ことを特徴とする渦流探傷プローブ。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の渦流探傷プローブと、
前記第１励磁コイル及び前記第２励磁コイルに交流電力を供給する電源装置と、
前記検出コイルに誘起される電圧を測定する電圧測定装置と、を備える渦流探傷装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導体の検査面のきずの検査に用いられる渦流探傷プローブ、該渦流探傷プローブを備える渦流探傷装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
導体の検査面（導体の表面）のきずを検出する検査方法の一例として、渦流探傷方法が公知である。この渦流探傷方法は、励磁コイルに流れる交流電流によって発生する磁束により導体の内部に渦電流を発生させ、その導体の検査面のきずによる渦電流の変化によって生ずる反作用磁束の変化を検出コイルで検出して検査面のきずの有無を判定する方法である。例えば割れきず等が導体の検査面にあると、そのきずを迂回するように渦電流の流れが変化するので、それによって渦電流により発生する反作用磁束にも変化が生ずる。それによって反作用磁束により検出コイルに誘起される電圧も変化するので、その検出コイルに誘起される電圧の変化から検査面のきずの有無を判定することができる。
【０００３】
このような渦流探傷方法に用いられる渦流探傷プローブの一例として、コイル面が検査面に平行な励磁コイルの内側に、コイル面が検査面に垂直な検出コイルを配置した所謂Θ型プローブと呼ばれる渦流探傷プローブ、及びその渦流探傷プローブを備える渦流探傷装置が公知である（例えば特許文献１又は２を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２４０７６２号公報
【特許文献２】特開２００３−３４４３６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上記従来技術の渦流探傷プローブは、励磁コイルの内側に検出プローブを配置する構造上、励磁コイルが作る磁束は検出コイル面と平行であるため、導体の検査面にきずがないとき、理論的には電圧は誘起されない。つまり上記従来技術の渦流探傷プローブは、理論的には常時検出コイルに電圧が誘起されないが、実際の検出コイルは有限長ソレノイド状に巻かれるため完全に検出コイル面は励磁コイルの作る磁束に平行とならず、導体の検出面にきずがないときでも微小であるが電圧の誘起は免れないため、その検出コイルに誘起される電圧の変化から検査面のきずの有無を判定することになるので、極めて小さなきずを高精度に検出することが難しいという課題がある。
【０００６】
また上記従来技術の渦流探傷プローブにおいて、例えばフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を検出コイルや励磁コイルに内挿し、それによって検出コイルにおける誘起電圧の検出感度を高めることは、励磁コイルの内側に検出プローブを配置する構造上、極めて困難である。つまり上記従来技術の渦流探傷プローブは、その構造上の制約から磁束の流れを制御するフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を利用できず、検出コイルの検出感度を高めて導体の検査面の探傷精度を向上させることが難しいという課題がある。
【０００７】
このような状況に鑑み本発明はなされたものであり、その目的は、導体の検査面のきずを高精度に検出可能な渦流探傷プローブ及び渦流探傷装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
＜本発明の第１の態様＞
本発明の第１の態様は、導体の検査面に対してコイル面が平行になるように配置される第１励磁コイルと、前記第１励磁コイルに対して前記検査面に沿う方向に隣り合う位置に、前記検査面に対してコイル面が平行になるように配置され、前記第１励磁コイルと逆の巻方向で巻かれている第２励磁コイルと、前記検査面に対してコイル面が直交し、かつ前記第１励磁コイルの中心及び前記第２励磁コイルの中心を通る直線に対してコイル面が平行になるように、前記第１励磁コイルと前記第２励磁コイルとの間に配置される検出コイルと、を備える渦流探傷プローブである。
【０００９】
ここで「コイル面」とは、コイルの巻線で囲まれた開口面であり、換言すれば、コイル軸（コイルの中心軸）と直交する面をいう。
【００１０】
導体には、第１励磁コイルに流れる励磁電流により生ずる磁束によって、その励磁電流と逆方向の渦電流が流れる。また導体には、第２励磁コイルに流れる励磁電流により生ずる磁束によって、その励磁電流と逆方向の渦電流が流れる。そして第１励磁コイルに対して第２励磁コイルは逆の巻方向で巻かれているので、第１励磁コイルにより生ずる渦電流と第２励磁コイルにより生ずる渦電流は、その電流の方向が逆方向になる。そのため第１励磁コイルにより生ずる渦電流と第２励磁コイルにより生ずる渦電流との境界近傍には、検査面に平行で、かつ第１励磁コイルの中心及び第２励磁コイルの中心を通る直線に対して直交する方向に渦電流の流れが生ずる。つまり検査面に平行で、かつ第１励磁コイルの中心及び第２励磁コイルの中心を通る直線に対して直交する方向に流れる強い渦電流が、検出コイルの真下に発生する。
【００１１】
そして渦電流による反作用磁束は、その渦電流に直交する方向にしか生じない。そのため第１励磁コイルにより生ずる渦電流と第２励磁コイルにより生ずる渦電流との境界近傍において、その渦電流による反作用磁束は、全て検出コイルのコイル面に平行な磁束となる。したがって検出コイルのコイル面に交差する方向の磁束は零となる。つまり導体の検査面にきずがない状態では、検出コイルに誘起される電圧は零となる。
【００１２】
他方、第１励磁コイルにより生ずる渦電流と第２励磁コイルにより生ずる渦電流との境界近傍において、導体の検査面にきずがあるときには、その部分に、そのきずを迂回するように渦電流が生ずる。それによってそのきずの部分には、検出コイルのコイル面に交差する方向の反作用磁束が生ずることになる。つまり導体の検査面にきずがあるときは、検出コイルに電圧が誘起されることになる。
【００１３】
このように本発明に係る渦流探傷プローブは、導体の検査面にきずがない状態では検出コイルの誘起電圧は常に零であり、導体の検査面にきずがあるときだけ、検出コイルに誘起電圧が生ずる。つまり本発明に係る渦流探傷プローブは、検出コイルに生ずる誘起電圧の有無によって導体の検査面のきずの有無を判定することができる。それによって極めて小さなきずを高精度に検出することができる。
【００１４】
これにより本発明の第１の態様によれば、導体の検査面のきずを高精度に検出可能な渦流探傷プローブを提供することができるという作用効果が得られる。
【００１５】
＜本発明の第２の態様＞
本発明の第２の態様は、前述した本発明の第１の態様において、前記検出コイルに内挿された第１磁性体をさらに備える、ことを特徴とする渦流探傷プローブである。
本発明に係る渦流探傷プローブは、Ｎ極とＳ極を形成する励磁コイル間の中心は磁界がゼロであるから、励磁コイルによる磁界を乱さずにフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を検出コイルに内挿することができる。そしてフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を検出コイルに内挿することによって、透磁率が大きくなり検出コイルに磁束が通りやすくなる。それによって導体の検査面のきずの検出感度をさらに向上させることができるので、導体の検査面のきずをさらに高精度に検出することができる。
【００１６】
＜本発明の第３の態様＞
本発明の第３の態様は、前述した本発明の第１の態様又は第２の態様において、前記第１励磁コイル及び前記第２励磁コイルに内挿された第２磁性体をさらに備える、ことを特徴とする渦流探傷プローブである。
本発明に係る渦流探傷プローブは、Ｎ極とＳ極を形成する励磁コイル間の中心は磁界がゼロであるから、励磁コイルによる磁界を乱さずにフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を第１励磁コイル及び第２励磁コイルに内挿することができる。そしてフェライトコア等の磁性体からなる鉄心を第１励磁コイル及び第２励磁コイルに内挿することによって、透磁率が大きくなり第１励磁コイル及び第２励磁コイルに磁束が通りやすくなるので、導体の検査面により多くの磁束を集中させることが可能になる。それによって導体の検査面のきずの検出感度をさらに向上させることができるので、導体の検査面のきずをさらに高精度に検出することができる。
【００１７】
＜本発明の第４の態様＞
本発明の第４の態様は、前述した本発明の第１〜第３の態様のいずれかに記載の渦流探傷プローブと、前記第１励磁コイル及び前記第２励磁コイルに交流電力を供給する電源装置と、前記検出コイルに誘起される電圧を測定する電圧測定装置と、を備える渦流探傷装置である。
本発明の第４の態様によれば、渦流探傷装置において、前述した本発明の第１〜第３の態様のいずれかと同様の作用効果が得られる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、導体の検査面のきずを高精度に検出可能な渦流探傷プローブ及び渦流探傷装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明に係る渦流探傷装置の構成を図示したブロック図。
【図２】第１実施例の渦流探傷プローブの平面図。
【図３】第１実施例の渦流探傷プローブの正面図。
【図４】励磁電流により生じる磁束を模式的に図示した第１実施例の渦流探傷プローブの正面図。
【図５】検査面にきずがない状態における渦電流を模式的に図示した平面図。
【図６】検査面にきずがある状態における渦電流を模式的に図示した平面図。
【図７】第２実施例の渦流探傷プローブの平面図。
【図８】第３実施例の渦流探傷プローブの平面図。
【図９】第３実施例の渦流探傷プローブの正面図。
【図１０】渦流探傷プローブの検出コイルに誘起される電圧の波形図。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
尚、本発明は、以下説明する実施例に特に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種々の変形が可能であることは言うまでもない。
【００２１】
＜渦流探傷装置の構成＞
本発明に係る渦流探傷装置１０の構成について、図１を参照しながら説明する。
図１は、渦流探傷装置１０の構成を図示したブロック図である。
【００２２】
本発明に係る渦流探傷装置１０は、交流電源１１、電圧測定装置１２、表示部１３及び渦流探傷プローブ２０を備える。
【００２３】
渦流探傷プローブ２０は、第１励磁コイル２１、第２励磁コイル２２及び検出コイル２３を含む。第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２は、励磁電流による磁束を発生させ、それによって導体に渦電流を発生させるためのコイルである。第１励磁コイル２１と第２励磁コイル２２は、巻方向が逆になっている。検出コイル２３は、導体に流れる渦電流によって発生する反作用磁束を検出するためのコイルである。
【００２４】
「電源装置」としての交流電源１１は、第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２に任意の電圧及び周波数の交流電力を供給する。電圧測定装置１２は、例えば電圧計等の電圧測定機器を含み、反作用磁束によって検出コイル２３に誘起される電圧を測定する。表示部１３は、例えば液晶ディスプレイ等の表示機器を含み、電圧測定装置１２が測定した検出コイル２３の誘起電圧波形を表示する。制御部１４は、公知のマイコン制御回路であり、交流電源１１、電圧測定装置１２及び表示部１３を制御する。
【００２５】
＜渦流探傷プローブの第１実施例＞
本発明に係る渦流探傷プローブ２０の第１実施例について、図２〜図６を参照しながら説明する。
【００２６】
図２は、第１実施例の渦流探傷プローブ２０の平面図である。図３は、第１実施例の渦流探傷プローブ２０の正面図である。
渦流探傷プローブ２０は、所定の間隔（リフトオフ）をもって導体３０の検査面３１の上に配置される。第１励磁コイル２１は、円環形状のコイルであり、導体３０の検査面３１に対してコイル面が平行になるように配置される。第２励磁コイル２２は、円環形状のコイルであり、第１励磁コイル２１に対して検査面３１に沿う方向に隣り合う位置に、検査面３１に対してコイル面が平行になるように配置される。また第２励磁コイル２２は、第１励磁コイル２１と逆の巻方向で巻かれている。したがって第２励磁コイル２２には、第１励磁コイル２１に流れる励磁電流Ｉｅ１と逆方向の励磁電流Ｉｅ２が流れる。
尚、第１励磁コイル２１と第２励磁コイル２２は、特に円環形状のコイルに限定されるものではなく、例えば矩形形状のコイル等、どのような形状のコイルでもよい。また第１励磁コイル２１と第２励磁コイル２２は、同じ形状及び大きさで、同じ巻数及び断面積のコイルとするのが好ましい。
【００２７】
検出コイル２３は、検査面３１に対してコイル面が直交し、かつ第１励磁コイル２１の中心Ｐ１及び第２励磁コイル２２の中心Ｐ２を通る直線に対してコイル面が平行になるように、第１励磁コイル２１と第２励磁コイル２２との間に配置される。検出コイル２３は、当該実施例においては円環形状のコイルであるが、例えば矩形形状のコイル等、どのような形状のコイルであってもよい。
【００２８】
図４は、第１実施例の渦流探傷プローブ２０の正面図であり、励磁電流Ｉｅ１と励磁電流Ｉｅ２によって生じる磁束を模式的に図示したものである。図５及び図６は、第１実施例の渦流探傷プローブ２０の平面図である。図５は、検査面３１にきずがない状態において導体３０に流れる渦電流を模式的に図示したものであり、図６は、検査面３１にきずがある状態において導体３０に流れる渦電流を模式的に図示したものである。
【００２９】
第１励磁コイル２１に流れる励磁電流Ｉｅ１と第２励磁コイル２２に流れる励磁電流Ｉｅ２は、互いに相反する方向に流れる電流である。そのため渦流探傷プローブ２０及び導体３０には、図４に図示したような磁束分布が生ずる。また図４に図示した磁束の方向は、交流電流である励磁電流の極性の反転に応じて反転することになる。
【００３０】
導体３０には、第１励磁コイル２１に流れる励磁電流Ｉｅ１により生ずる磁束によって、その励磁電流Ｉｅ１と逆方向の渦電流が流れる。また導体３０には、第２励磁コイル２２に流れる励磁電流Ｉｅ２により生ずる磁束によって、その励磁電流と逆方向の渦電流が流れる。そして第１励磁コイル２１に対して第２励磁コイル２２は逆の巻方向で巻かれているので、第１励磁コイル２１により生ずる渦電流と第２励磁コイル２２により生ずる渦電流は、その電流の方向が逆方向になる。そのため第１励磁コイル２１により生ずる渦電流と第２励磁コイル２２により生ずる渦電流との境界近傍には、検査面３１に平行で、かつ第１励磁コイル２１の中心Ｐ１及び第２励磁コイル２２の中心Ｐ２を通る直線に対して直交する方向に渦電流の流れが生ずる（図５）。つまり検査面３１に平行で、かつ第１励磁コイル２１の中心Ｐ１及び第２励磁コイル２２の中心Ｐ２を通る直線に対して直交する方向に流れる強い渦電流が、検出コイル２３の真下に発生する。
【００３１】
そして渦電流による反作用磁束は、その渦電流に直交する方向にしか生じない。そのため第１励磁コイル２１により生ずる渦電流と第２励磁コイル２２により生ずる渦電流との境界近傍において、その渦電流による反作用磁束は、全て検出コイル２３のコイル面に平行な磁束となる。したがって導体３０の検査面３１にきずがない状態では、検出コイル２３のコイル面に交差する方向の磁束は零となるので、検出コイル２３に誘起される電圧は零となる。
【００３２】
他方、第１励磁コイル２１により生ずる渦電流と第２励磁コイル２２により生ずる渦電流との境界近傍において、導体３０の検査面３１にきず３２があるときには、その部分の渦電流はそのきず３２を迂回するように流れる（図６）。それによってそのきず３２の部分には、検出コイル２３のコイル面に交差する方向の反作用磁束が生ずることになる。つまり導体３０の検査面３１にきず３２があるときは、検出コイル２３に電圧が誘起されることになる。
【００３３】
このようにして本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、導体３０の検査面３１にきず３２がない状態では検出コイル２３の誘起電圧は常に零であり、検査面３１にきず３２があるときだけ、検出コイル２３に誘起電圧が生ずる。つまり本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、検出コイル２３に生ずる誘起電圧の有無によって検査面３１のきず３２の有無を判定することができる。それによって極めて小さなきず３２を高精度に検出することができる。したがって本発明によれば、導体３０の検査面３１のきず３２を高精度に検出可能な渦流探傷プローブ２０を提供することができるという作用効果が得られる。
【００３４】
＜渦流探傷プローブの第２実施例＞
本発明に係る渦流探傷プローブ２０の第２実施例について、図７を参照しながら説明する。  
図７は、第２実施例の渦流探傷プローブ２０の平面図である。
第２実施例の渦流探傷プローブ２０は、第１実施例に加えて、検出コイル２３に内挿された第１磁性体２４をさらに備える。第１磁性体２４は、円柱体形状であり、例えばフェライトコア等の磁性体からなる鉄心である。それ以外の渦流探傷プローブ２０の構成は、第１実施例と同様であるため、同一の構成要素に同一の符合を付して詳細な説明を省略する。
尚、第１磁性体２４は、当該実施例においては円柱体形状の磁性体であるが、例えば矩形形状のフェライトコア等、どのような形状の磁性体であってもよい。
【００３５】
このように本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２の中間で磁界がゼロとなる位置に検出コイル２３が配置されているので、第１磁性体２４を検出コイル２３に内挿することができる。そして第１磁性体２４を検出コイル２３に内挿することによって、透磁率が大きくなり検出コイル２３に磁束が通りやすくなる。それによって導体３０の検査面３１のきず３２の検出感度をさらに向上させることができるので、導体３０の検査面３１のきず３２をさらに高精度に検出することができる。
【００３６】
＜渦流探傷プローブの第３実施例＞
本発明に係る渦流探傷プローブ２０の第３実施例について、図８及び図９を参照しながら説明する。
図８は、第３実施例の渦流探傷プローブ２０の平面図である。図９は、第３実施例の渦流探傷プローブ２０の正面図である。
第３実施例の渦流探傷プローブ２０は、第２実施例に加えて、第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２に内挿された第２磁性体２５をさらに備える。第２磁性体２５は、図示の如く、ほぼＵ字形状であり、例えばフェライトコア等の磁性体からなる鉄心である。より具体的には第２磁性体２５は、一端側が第１励磁コイル２１に内挿されており、他端側が第２励磁コイル２２に内挿されている。それ以外の渦流探傷プローブ２０の構成は、第２実施例と同様であるため、同一の構成要素に同一の符合を付して詳細な説明を省略する。
【００３７】
このように本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２の外側に検出コイル２３が配置されているので、第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２に第２磁性体２５を内挿することができる。そして第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２に第２磁性体２５を内挿することによって、透磁率が大きくなり第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２に磁束が通りやすくなるので、検出コイル２３により多くの磁束を集中させることが可能になる。それによって導体３０の検査面３１のきず３２の検出感度をさらに向上させることができるので、導体３０の検査面３１のきず３２をさらに高精度に検出することができる。
【００３８】
＜確認実験＞
出願人らは、本発明の効果を確認すべく、渦流探傷装置１０を用いて、本発明の第１実施例及び第２実施例の渦流探傷プローブ２０のそれぞれについて、導体３０の検査面３１のきず３２を検出する実験を行った。
【００３９】
１．第１実施例の渦流探傷プローブ２０
第１励磁コイル２１、第２励磁コイル２２及び検出コイル２３は、いずれも内径６０ｍｍ、外径６０．４ｍｍの円環状のコイルで、直径０．１ｍｍの巻線を１００ターン巻いた２層コイルとした。
【００４０】
２．第２実施例の渦流探傷プローブ２０
第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２は、内径２０ｍｍ、外径２３ｍｍの円環状のコイルで、直径０．４ｍｍの巻線を７５ターン巻いた３層コイルとした。検出コイル２３は、内径１ｍｍ×２ｍｍ、外径１．４ｍｍ×２．４ｍｍ、長さ６ｍｍの矩形形状のコイルとした。また検出コイル２３は、幅１ｍｍ×高さ２ｍｍ×長さ１０ｍｍのＭｎＺｎフェライトからなる第１磁性体２４を内挿し、これに直径０．１ｍｍの巻線を１００ターン巻いた２層コイルとした。
【００４１】
３．導体３０の構成及び実験手順
導体３０は、厚さ約１ｍｍの銅板とし、幅２ｍｍ程度のスリット状の欠損を設け、それを検査面３１のきず３２とした。交流電源１１から第１励磁コイル２１及び第２励磁コイル２２へ印加する交流電圧は、約９Ｖ（実効値）の交流電圧とし、周波数は、渦流探傷において標準的に用いられている２５６ＫＨｚとした。そして検査面３１にきず３２がない状態、及び検査面３１にきず３２がある状態についてきず３２の角度を０度、４５度、９０度として、それぞれ検出コイル２３の誘起電圧波形を観測した。
【００４２】
４．実験結果及び考察
図１０は、渦流探傷プローブ２０の検出コイル２３の誘起電圧波形である。一点鎖線の波形は、きず３２の角度が０度及び９０度のときの誘起電圧波形であり、実線の波形は、きず３２の角度が４５度のときの誘起電圧波形である。
【００４３】
検査面３１にきず３２がない状態では、ノイズ等による高周波のわずかな誘起電圧（図示せず）が検出されるだけであった。他方、検査面３１にきず３２があるときは、きず３２の角度が０度、４５度、９０度のいずれの場合も周波数２５６ＫＨｚの誘起電圧がはっきりと検出された。またきず３２の角度が０度及び９０度のときと比較して、きず３２の角度が４５度のときの方が、より高い誘起電圧が検出された。これはきず３２の角度が０度及び９０度のときは、きず３２の周辺において相互に打ち消し合う方向に流れる渦電流が多くなるためと考えられる。
【００４４】
また第１実施例の渦流探傷プローブ２０における検出コイル２３の誘起電圧波形は、きず３２の角度が０度及び９０度のときのピーク電圧が約±０．０２Ｖであり、きず３２の角度が４５度のときのピーク電圧が約±０．２Ｖであった。それに対して第２実施例の渦流探傷プローブ２０における検出コイル２３の誘起電圧波形は、きず３２の角度が０度及び９０度のときのピーク電圧が約±０．０４Ｖであり、きず３２の角度が４５度のときのピーク電圧が約±０．４Ｖであった。これは第２実施例の検出コイル２３には第１磁性体２４が内挿されており、それによって透磁率が大きくなって検出コイル２３に磁束が通りやすくなったことで、検出コイル２３によるきず３２の検出感度が向上したためと考えられる。
【００４５】
このようにして本発明に係る渦流探傷プローブ２０は、検出コイル２３に生ずる誘起電圧の有無によって検査面３１のきず３２の有無を判定することができることが確認された。つまり本発明に係る渦流探傷プローブ２０によれば、導体３０の検査面３１のきず３２を高精度に検出できるという作用効果が得られることが確認された。またリフトオフ（センサと被検査体との間隔）を変えながら検査面３１のきず３２を検出する実験も行ったところ、リフトオフを５ｍｍ程度設けても検査面３１のきず３２をはっきりと検出できることが確認された。
【符号の説明】
【００４６】
１０  渦流探傷装置
１１  交流電源
１２  電圧測定装置
１３  表示部
１４  制御部
２０  渦流探傷プローブ
２１  第１励磁コイル
２２  第２励磁コイル
２３  検出コイル
２４  第１磁性体
２５  第２磁性体
３０  導体
３１  導体の検査面
３２  検査面のきず
【図１】
2014066688.tif 000003
【図２】
2014066688.tif 000004
【図３】
2014066688.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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