(57)【要約】【課題】  分光光度計の劣化の判断を簡単に行うことができるシステムを提供する。【解決手段】被測定物表面のスペクトル反射率を測定する分光光度計と、該分光光度計と接続するコンピュータとからなり、コンピュータを、全発光ターゲット基準測定データと、個別発光ターゲット基準測定データと、基準データ測定後に測定した全発光ターゲット測定データと、基準データ測定後に測定した個別発光ターゲット測定データとを分光光度計の出力から取り込みターゲット測定データ格納部に保存するターゲット測定データ取込手段と、ターゲット測定データ格納部に保存されているターゲット測定データを選択するためのターゲット測定データ選択手段と、ターゲット測定データ選択手段により選択したターゲット測定データを比較し比較状態を判断するデータ比較判断手段として機能させる。【選択図】  図１
2014016243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光源部を同時発光させ、これを白色光の光源として被測定物の表面に当て、該表面を反射した反射光を受光部に導いて被測定物表面のスペクトル反射率を測定する分光光度計と、該分光光度計と接続するコンピュータとからなる分光光度計の異常発見を支援し警告する分光光度計診断システムであって、コンピュータを、
基準データとして用いるためのターゲット測定データであって複数の光源部の全体を発光させたときの全発光ターゲット基準測定データと、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって個々の光源部を単独で発光させたときの個別発光ターゲット基準測定データと、上記基準測定データ測定後又は更新後に測定した全発光ターゲット測定データと、上記基準測定データ測定後または更新後に測定した個別発光ターゲット測定データとを前記分光光度計の出力から取り込みターゲット測定データ格納部に保存するターゲット測定データ取込手段と、
前記ターゲット測定データ格納部に保存されている測定データを選択するためのターゲット測定データ選択手段と、
前記ターゲット測定データ選択手段により選択した基準測定データと測定データとを比較し比較状態を判断するデータ比較判断手段と
して機能させたことを特徴とする分光光度計診断システム。
【請求項２】
前記データ比較判断手段は、全発光ターゲット基準測定データと測定した全発光ターゲット測定データとを比較し、全発光基準ターゲット測定データに対して測定した全発光ターゲット測定データの値が小さい場合、ターゲットのつけ忘れ、あるいは光源が劣化の状態であることを判断することを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項３】
前記データ比較判断手段は、全発光ターゲット基準測定データと測定した全発光ターゲット測定データとを比較し、全発光ターゲット基準測定データに対して測定した全発光ターゲット測定データの一部の値が小さい場合、光源の一つが劣化あるいは故障の状態であるこを判断することを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項４】
前記データ比較判断手段は、個別発光ターゲット基準測定データとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データとを比較し、個別発光ターゲット基準測定データに対してとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データの値が小さい場合、個別の光源が劣化あるいは故障の状態であるこを判断することを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項５】
前記データ比較判断手段は、個別発光ターゲット基準測定データとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データとを比較し、ターゲットが傾いた状態を判断するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項６】
前記コンピュータを、更に前記ターゲット測定データの初期状態からの変化をモニターするモニター手段として機能させたことを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項７】
前記モニター手段でモニターされたデータが前記表示手段により表示部にグラフで表示されるようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項８】
前記複数個の光源部は少なくとも３個以上の光源部からなり、これらの光源部は異なる中心波長を有する所定のスペクトル帯域幅を有していることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項９】
前記ターゲット基準測定データが分光光度計出荷時に作成したデータであることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項１０】
前記複数の光源部が発光ダイオードであることを特徴とする請求項８に記載の分光光度計診断システム。
【請求項１１】
前記コンピュータが前記分光光度計に内蔵され、あるいは入出力インターフェイスを介して分光光度計に直接接続されたコンピュータであることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項１２】
前記コンピュータがネットワークを通じて前記分光光度計に接続するサーバであることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計診断システム。
【請求項１３】
前記サーバに複数の分光光度計が接続していることを特徴とする請求項８に記載の分光光度計診断システム。
【請求項１４】
複数の光源部を同時発光させ、これを白色光の光源として被測定物の表面に当て、該表面を反射した反射光を受光部に導いて被測定物表面のスペクトル反射率を測定する分光光度計の診断方法であって、コンピュータに、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって複数の光源の全体を発光させたときの全発光ターゲット基準測定データと、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって個々の光源を単独で発光させたときの個別発光ターゲット基準測定データと、上記基準データ測定後又は更新後に測定した全発光ターゲット測定データと、上記基準データ測定後又は更新後に測定した個別発光ターゲット測定データとを前記分光光度計の出力から取り込み、これら取り込んだデータをターゲット測定データ格納部に保存し、該ターゲット測定データ格納部に保存されている測定データを選択し、選択したターゲット基準測定データとターゲット測定データとを比較し比較状態によって分光光度計の異常を判断するようにした分光光度計診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は被測定物表面のスペクトル反射率を測定するため分光光度計の光源などの劣化、故障及びホワイトリファレンス用ターゲットの傾きなど分光光度計の異常を検出し警告するために分光光度計診断システム及び診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
分光測色器において、受光素子の劣化情況を簡便な方法を用いて正確に把握するとともに、簡便な方法で近似式を決定し、常に既知の値への補正が成されている状態にできる分光測色器が従来知られている（例えば特許文献１参照）。
また、円形アレイ状に配列された複数のＬＥＤを備えた分光光度計が従来知られている（例えば特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１５７０６２号公報
【特許文献２】特表２０１０−５２３９８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
複数のＬＥＤなどの光源を同時発光させ白色光の光源として使用する分光光度計において、各ＬＥＤの劣化、故障、ホワイトリファレンス用ターゲットの傾きなどを簡単に検出し警告するシステムが分光光度計のユーザー及び分光光度計の提供管理側に求められている。
本発明は上記ユーザー及び管理側にとって便利な分光光度計異常発見支援診断システム及び方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するため本発明は、複数の光源部を同時発光させ、これを白色光の光源として被測定物の表面に当て、該表面を反射した反射光を受光部に導いて被測定物表面のスペクトル反射率を測定する分光光度計と、該分光光度計と接続するコンピュータとからなる分光光度計の異常発見を支援し警告する分光光度計診断システムであって、コンピュータを、
基準データとして用いるためのターゲット測定データであって複数の光源部の全体を発光させたときの全発光ターゲット基準測定データと、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって個々の光源部を単独で発光させたときの個別発光ターゲット基準測定データと、上記基準測定データ測定後又は更新後に測定した全発光ターゲット測定データと、上記基準測定データ測定後または更新後に測定した個別発光ターゲット測定データとを前記分光光度計の出力から取り込みターゲット測定データ格納部に保存するターゲット測定データ取込手段と、
前記ターゲット測定データ格納部に保存されている測定データを選択するためのターゲット測定データ選択手段と、
前記ターゲット測定データ選択手段により選択した基準測定データと測定データとを比較し比較状態を判断するデータ比較判断手段と
して機能させたことを特徴とする。
また本発明は、前記データ比較判断手段は、全発光ターゲット基準測定データと測定した全発光ターゲット測定データとを比較し、全発光基準ターゲット測定データに対して測定した全発光ターゲット測定データの値が小さい場合、ターゲットのつけ忘れ、あるいは光源が劣化の状態であることを判断することを特徴とする。
また本発明は、前記データ比較判断手段は、全発光ターゲット基準測定データと測定した全発光ターゲット測定データとを比較し、全発光ターゲット基準測定データに対して測定した全発光ターゲット測定データの一部の値が小さい場合、光源の一つが劣化あるいは故障の状態であるこを判断することを特徴とする。
また本発明は、前記データ比較判断手段は、個別発光ターゲット基準測定データとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データとを比較し、個別発光ターゲット基準測定データに対してとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データの値が小さい場合、個別の光源が劣化あるいは故障の状態であるこを判断することを特徴とする。
また本発明は、前記データ比較判断手段は、個別発光ターゲット基準測定データとこれらに対応する測定した個別発光ターゲット測定データとを比較し、ターゲットが傾いた状態を判断するようにしたことを特徴とする。
また本発明は、前記コンピュータを、更に前記ターゲット測定データの初期状態からの変化をモニターするモニター手段として機能させたことを特徴とする。
また本発明は、前記モニター手段でモニターされたデータが前記表示手段により表示部にグラフで表示されるようにしたことを特徴とする。
また本発明は、前記複数個の光源部は少なくとも３個以上の光源部からなり、これらの光源部は異なる中心波長を有する所定のスペクトル帯域幅を有していることを特徴とする。
また本発明は、前記ターゲット基準測定データが分光光度計出荷時に作成したデータであることを特徴とする。
また本発明は、前記複数の光源部が発光ダイオードであることを特徴とする。
また本発明は、前記コンピュータが前記分光光度計に内蔵され、あるいは入出力インターフェイスを介して分光光度計に直接接続されたコンピュータであることを特徴とする。
また本発明は、前記コンピュータがネットワークを通じて前記分光光度計に接続するサーバであることを特徴とする。
また本発明は、前記サーバに複数の分光光度計が接続していることを特徴とする。
また本発明は、複数の光源部を同時発光させ、これを白色光の光源として被測定物の表面に当て、該表面を反射した反射光を受光部に導いて被測定物表面のスペクトル反射率を測定する分光光度計の診断方法であって、コンピュータに、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって複数の光源の全体を発光させたときの全発光ターゲット基準測定データと、基準データとして用いるためのターゲット測定データであって個々の光源を単独で発光させたときの個別発光ターゲット基準測定データと、上記基準データ測定後又は更新後に測定した全発光ターゲット測定データと、上記基準データ測定後又は更新後に測定した個別発光ターゲット測定データとを前記分光光度計の出力から取り込み、これら取り込んだデータをターゲット測定データ格納部に保存し、該ターゲット測定データ格納部に保存されている測定データを選択し、選択したターゲット基準測定データとターゲット測定データとを比較し比較状態によって分光光度計の異常を判断するようにしたものである。
【発明の効果】
【０００６】
本発明は、複数の光源部を備えた分光光度計の異常を簡単に検出し、警告することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本システムの動作を示すフローチャートである。
【図２】本発明に係わる分光光度計の断面説明図である。
【図３】レンズの平面図である。
【図４】分光光度計の回路基板の底面説明図である。
【図５】本発明に係わるシステムの全体ブロック説明図である。
【図６】分光光度計の測定データを示すグラフである。
【図７】分光光度計の測定データを示すグラフである。
【図８】本発明のブロック説明図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に本発明の構成を添付した図面を参照して詳細に説明する。
図２は本発明に係る分光光度計を測色器の用途にて使用している分光光度計２の内部構造の説明図である。ＣＰＵ４、メモリ６、入出力インターフェース８、光源部用ドライバ１０、受光部用ドライバ１２が形成された回路基板１４に、発光ダイオード（ＬＥＤ）からなる光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈが複数個、図４に示すように円周上に等間隔で配列して取り付けられている。
【０００９】
複数個の光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈは、本実施形態では８個設けられ、それぞれカバー１８の内部に下向きに被測定物２０に向けて突出して配置され、それぞれ、回路基板１４の対応するドライバ１０に接続している。光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈの下側には中心に空胴２２ａが形成された集光用のレンズ２２が配置され、該レンズ２２は、回路基板１４に取り付けられた筒状の遮光仕切体２４の外周部に保持されている。光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈの下端はレンズ２２に接触している。なお光源部とレンズ２２は適切な距離をもって対向配置しても良い。
レンズ２２は本実施形態ではフレネルレンズを用いている。
【００１０】
光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈの光を遮蔽するための遮光仕切体２４の内部には被測定物２０から反射された光の光路上に位置して、フィルタ２６を備えたジオメトリーコンバータ２８が配置されている。また遮光仕切体２４の内部にスペクトルセンサ３０からなる受光部が配置され、該受光部は、図５に示すように、回路基板１４の受信回路１２に電気的に接続している。スペクトルセンサ３０は回路基板１４に取り付けられ、ジオメトリーコンバータ２８は遮光仕切体２４に保持されている。ジオメトリーコンバータ２８及びスペクトルセンサ３０は遮光仕切体２４により光源部の光の横からの影響を受けないように構成されている。
【００１１】
ジオメトリーコンバータ２８はカバー１８内に入ってきた光を方向決めして集束するように設計され、反射光路幾何学形状変換部を構成している。ジオメトリーコンバータ２８を通過した光は、スペクトルセンサ３０の表面積と一致する細い線になる。スペクトルセンサ３０は、多色又は「白色」光を、それを構成しているスペクトルに変換する「デジタルプリズム」の役目を果たしており、スペクトルには３５０ｎｍから７５０ｎｍの間の波長の可視スペクトル（ＶＩＳ）白色光、７５０ｎｍから１５００ｎｍの間の波長の近赤外（ＮＩＲ）光、１５００ｎｍ波長より上の遠赤外線（ＩＲ）、及び３５０ｎｍ波長より下の紫外（ＵＶ）光が含まれる。
【００１２】
スペクトルセンサ３０を構成する組立体には、次の３大副構成要素が組み込まれている。１つは感光性を有するフォトダイオード３４のアレイであって関心対象の波長領域と一致していて、直線状のアレイ、又は光検出器サイトの行が長軸を成し列が短軸を成す略矩形のグループに配列された複数の光検出器サイトで構成されている。フォトダイオード３４以外に光トランジスタ、又は他の類似のその様な光検出回路で構成しても良い。
【００１３】
２つ目は、合成干渉被覆層の厚さが縁と縁の間で変化し、楔に似た形状が光検出器アレイの長軸に沿ってサブミクロンの規模で形成されるように塗布された多数の帯域通過フィルター被覆層で形成されているエタロン３６である。エタロン３６は、各通過帯域の中心波長は被覆厚さの関数なので、フィルタの所与の点を通して伝送されるピーク波長はフィルタ被覆楔の方向即ちセンサの長軸方向に略直線状に変化する。
【００１４】
３つ目は５ミクロンから１００ミクロン規模の直径で、中心から中心までの間隔が同じで低い開口数の、光学的に透明なプラスチック又はガラス製の光ファイバー要素のアレイを、或る割合の壁外吸収性（ＥＭＡ）材料と組み合わせて備えているか、又はＥＭＡ型材料のような光吸収性材料の同様のモノリシックプレートであって、直径が５から１００ミクロン規模で、中心から中心までの間隔が同じである穴又は毛細管のアレイが吸光プレートにエッチング、穿孔、又は別のやり方で切られている、プレートを備えている、コリメート用フェースプレート３８である。
【００１５】
コリメート用フェースプレート３８において、光ファイバーか毛細管か何れのアレイ設計であろうと、フェースプレート３８の目的は、干渉フィルター被覆に入射する光をコリメートして、被覆面に対して２０度より大きい入射角度の光を拒絶し、半角２０度以下の一連の円錐が重なり合って、その重なり面積が光検出器のアレイに重ね置かれている被覆層の全区域に概ね均一な照射レベルを提供するのに十分な形で出現するようにすることである。光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈを駆動するドライバ１０のパルス出力は、パルス幅変調回路によって制御されるように構成されている。
【００１６】
上記した構成において、光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈからの光はレンズ２２を通過し、ここで矢印Ａの方向に集光され、カバー１８の開口部を出て、被測定物２０の表面に当たる。被測定物２０の表面に当たり、それにより矢印Ｂの方向に生じた反射光はジオメトリーコンバータ２８を通過し、ここで反射光が集束されスペクトルセンサ３０に入光して、被測定物２０の表面のスペクトル反射率が検出される。
【００１７】
図５は、本発明に係わるシステムの全体構成を示すブロック説明図である。
分光光度計からなる分光光度計２本体の回路基板１４に組み込まれたＣＰＵ４、メモリ６からなるコンピュータは、外部のサーバなどのコンピュータ４０が接続するネットワークに、入出力インターフェイス８を介して接続できるように構成されている。外部のコンピュータ４０のメモリ４２には分光光度計異常判断プログラム４４が格納されている。分光光度計２において、測色の実施に当たり、装置に設けられたホワイトリファレンス用ターゲットを利用してホワイトリファレンス（白色基準）を補正し参照レベルを決定する。具体的にはホワイトリファレンス用ターゲットを必要時に用意して測定する場合や、プリンタにて自動的に読み取る装置などの場合には、ヘッドに分光光度計２を取り付けておき、装置内の所定の場所にはホワイトリファレンス用ターゲットを読み取る場所を設け、そこに読み取りにいく場合などがある。その場合備え付けられているホワイトリファレンス用ターゲットをそのまま読み取る場合や、必要時にそこに取り付けてから読み取る場合などがある。この際、次のような問題が考えられる。
【００１８】
（１）ホワイトリファレンス用ターゲットの汚染
（２）ホワイトリファレンス用ターゲットの取り付け忘れ
（３）光源部の減光
（４）光源部の故障
（５）受光部の故障
（６）各部の故障や取り付けミス
分光光度計異常判断プログラムはこれらが正常であるかの確認を支援することで安定かつ正確な測定を実施可能とするものである。
【００１９】
コンピュータ４０のメモリ４２に格納された分光光度計異常判断プログラム４４は、図８に示すように、ターゲット測定データ取込手段４６によりターゲット測定データ格納部４８に、製品出荷時などに基準データとして全体を発光させた時のターゲット基準測定データの値と、個々の光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈを単独で所定の設定値で発光させたときのターゲット基準測定データの値が初期基準データとして格納されている。
【００２０】
また、その後の、通常時のホワイトリファレンス用ターゲット（以下ターゲット）の測定において、全体を発光させたときと、個々の光源部を所定の設定値で単独で発光させたときのターゲット測定データがチェック用としてターゲット測定データ格納部４８に格納されている。ここで所定の設定値とは、ドライバに設定される１００％の光源駆動電力で発光させたときの通常の値である。
なおここで言う全体を発光とは測定に必要なもの全てを発光させることであり、本件は実際には８個のＬＥＤの中から７個のＬＥＤだけを使用しているため、１個は使用していないのであるがこの場合の全体とは使用している７個の事である。
【００２１】
通常時のホワイトリファレンス用ターゲットの測定においては複数の光源を持っている場合は測定に必要な全ての光源を発光させて実施する。これによりターゲットからの反射光のレベルを測定するが、この測定データのグラフの値を波長と光度の相関がわかるように記憶し、データ比較判断手段５１により、分光光度計２のメモリ６にあらかじめ記録されたターゲットの測定データの基準レベルのデータと比較することで、上記（２）ホワイトリファレンス用ターゲットの取り付け忘れは多くの場合検出可能となる。この比較は、ターゲットをつけ忘れた場合には極端に全体の値が全て低く出てくるためにデータを比較して装置内で大小の比較、判断をして表示手段にターゲットの取り忘れと表示をしてもよく、また目で見てわかり易くする為には、グラフ作成手段５３により、基準となるデータと測定したデータをグラフに変換する機能を設けておき、それを上記測定データのグラフを表示手段５０によりコンピュータ４０の表示部に表示することにより行われる。
【００２２】
しかし、予め記録されているターゲットからの反射レベルは工場出荷時のジグのもののため、プリンタ本体添付のターゲットとは異なることもあり得る。これは本来ある範囲内に収まるために問題とはならないがプリンタ本体に添付されるターゲットのデータを保存しておくことが望ましい。そのためネットワーク上のコンピュータ４０の分光光度計異常判断プログラムは、プリンタ本体を特定可能にしつつ、測定したターゲットのデータをターゲット測定データ格納部４８に保存することで初期状態からの変化をモニター手段５２によりモニタする。オペレータは測定したターゲットのデータ変化を表示部に表示されるグラフを観察することでターゲットの汚れを発見し、これによりプリンタ本体に設けられたターゲットの汚染などをユーザに対して警告することが可能となる。
【００２３】
また、納入以降に衝撃などによって系全体の物理的な寸法例えば分光光度計をプリンタ本体に取り付けた際のターゲットとの距離が変わったような場合も、分光光度計の反射レベルの変化として捉えることが可能なため、これについても警告をユーザに与えることができる。分光光度計異常発見の具体的な手法として、複数存在する光源全てを点灯させる方法と、個別もしくは複数個を所定の設定値で点灯させる方法が考えられる。全光源を点灯させる場合、光学的な問題などから特定の光源の光量低下が検出できない可能性もある。
【００２４】
このため、個別に点灯させて測定したデータもターゲット測定データ格納部４８に分光光度計２を特定可能にしつつ保存しておくことで、経時変化などによる光量変化が検出可能となる。また、このように発光させることで光源部〜リファレンスターゲット〜受光部から構成される系の故障検出も可能となる。特に、ターゲットが特定の色で汚染されたような場合、ある波長域の反射光だけが減衰する。このような場合、全光源を発光させると検出できないことも予想される。
【００２５】
このような場合は、個別若しくは複数個発光させ、測定データを測定し、ターゲット測定格納部４８に格納するとともに、これらのデータをターゲット測定データ選択手段５４で選択して、表示部に表示することで検出を容易とすることができる。全体を発光させた時の比較、個々のＬＥＤ１〜８（７は未使用）をそれぞれ選択して発光させた時の比較を表示手段で確認することで、どこの領域での問題があるかが簡単に解る。光源の構成として光源部を受光部３２に対して同心円状に複数配置している場合、個別若しくは複数の光源部を発光させることでホワイトリファレンス用ターゲットの斜め取り付けの検出も可能となる。これは複数の光源部からターゲットまでの距離が異なるために、各光源部からの反射レベルが相対的に異なるために傾きを推定可能となる。
【００２６】
この場合、遠くに配置された光源部もしくは波長が異なる光源部を同時に発光させることで容易に検出が可能となる。特に波長が離れた光源部の場合は干渉しないための単独発光の場合と比べてレベルに差はない。このため、単独で発光させても、光量の相対比較から検出を行うことが可能となる。例えば光源部１６ａと光源部１６ｅを個々に発光させ、そのデータを比較したときに光源部１６ａの値が大きく光源部１６ｅの値が小さい場合には傾いている可能性がある。一つの組み合わせではどちらかのＬＥＤの故障なども考えられるので、複数のＬＥＤでの組み合わせを利用して比較し表示をすれば精度も向上する。
【００２７】
ターゲット測定データ取込手段４６は、コンピュータ４０の入出力インターフェイス５６を介して、分光光度計２のコンピュータから、図７に示す全光源部点灯のターゲット測定データＷ．Ｒｅｆと、図６に示す、光源部個別点灯のターゲット測定データＬＥＤ１，ＬＥＤ２，ＬＥＤ３，ＬＥＤ４，ＬＥＤ５，ＬＥＤ６，ＬＥＤ８，ＬＥＤ４＋８を取得し、ターゲット測定データ格納部４８に保管する。また、製品出荷時の初期ターゲット測定データ（図示省略）を取得し、データ格納部４８に保管する。
【００２８】
図６において、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ６は、光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，に対応し、ＬＥＤ８は光源部１６ｈに対応している。ＬＥＤ４＋８は光源部１６ｄと１６ｈを同時に発光した時のターゲット測定データである。本実施形態において、８個の光源部の中、光源部１６ｇは使用していない。また、光源部１６ｄと１６ｈは同じものを使用している。各光源部の波長は次の通りである。
【００２９】
光源部１６ａ：４９０ｎｍ
光源部１６ｂ：４０５ｎｍ
光源部１６ｃ：６７０ｎｍ
光源部１６ｄと１６ｈ：Ｗｈｉｔｅ
光源部１６ｅ：Ｐｉｎｋ
光源部１６ｆ：４１５ｎｍ
光源部１６ｇ：未使用
光源部１６ｄ、１６ｈ 、１６ｅは複数のピークが存在する。この場合、光源部は波長でなく色で表現される。
【００３０】
上記実施形態において、光源は、アレイ状に配列された複数のＬＥＤを備えており、各ＬＥＤは該ＬＥＤの出力強度を変化させるために個別にパルス幅変調信号により、調整可能に通電されるように構成されている。
また、各ＬＥＤは、異なる中心波長を有する所定のスペクトル帯域幅を有しており、全ＬＥＤのスペクトル帯域幅は、組み合わされると白色光を作り出す。この白色光は、色測定の目的で被測定物を照射するのに使用する。様々なＬＥＤを光源として使用する分光光度計は、光源のＬＥＤの内の少なくとも１つを紫外線放射を発する形式とすることで、印刷用媒体及び着色剤のような他の材料内の蛍光の状態を検査するのに使用することができる。
また、波長域の違う複数のＬＥＤは個々に選択され、波長域の違う組み合わせにすれば測定する目的に応じた解析に使用できる。
【００３１】
図６に示す個別点灯によるターゲット測定データは、表示手段５０により、波形グラフとして表示部に表示される。
図７は、光源部１６ａの故障状態発見のためのシミュレーショングラフであり、該グラフは、ＬＥＤ１に不具合が生じて（故障や減衰）、その状態で全点灯した場合に、正常なものＷ．Ｒｅｆに比べてグラフではどんな状態になるかということを表示部に表示したものである。
【００３２】
Ｗ．Ｒｅｆは、ターゲット測定データ格納部４８に格納されていた基準となる光源全点灯のターゲット測定波形、ＬＥＤ１ＨａｌｆはＬＥＤ１の光の強さが半分の時の光源全点灯のターゲット測定波形、ＬＥＤ１  ｌｉｔｔｌｅ  ｂｉｔはＬＥＤ１の光の強さが１割程度下がった状態の時の光源全点灯のターゲット測定波形、Ｗ／ＯＬＥＤ１はＬＥＤ１を消灯した時の光源全点灯のターゲット測定波形である。尚、図６乃至図７の横軸は、波長として単位ｎｍと表示すべきところ、フォトダイオードアレイの番号で波長を示している。
【００３３】
縦軸の数値はスペクトルセンサの検出出力をＡ／Ｄ変換した値であり反射光の強さを示し、相対値として示している。
ターゲット汚染の判断は、初期状態のターゲット基準測定データと、測定したターゲットのターゲット測定データとをモニター手段５０でモニターし、表示手段５０によって表示された初期状態からのターゲットの測定データの変化からオペレータは、ターゲットの汚染を判断する。ターゲット取り付け忘れの判断は、表示手段５０により表示した全光源点灯ターゲット測定データの値の波形が初期ターゲット基準測定データ又は更新されたターゲット基準測定データの波形に比し、小さいとき、オペレータは、ターゲットの取り付け忘れを判断する。また取り付け忘れの場合、ホワイトリファレンス用ターゲットを取り付ける場所の上面部分を鏡のように反射量の大きなものにしておくと、付け忘れた場合には反射する量が大きくなりすぎて、読み取りセンサ出力を飽和させることができ、それで取り付け忘れを判断する事も可能ではある。
【００３４】
光源部の減光判断及び光源部の故障判断は光源部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆ，１６ｇ，１６ｈの個別の点灯において、その測定値が最初に保存されている基準値より小さい場合やグラフに変換した後の波形が基準値より小さい場合、光源部の減光や光源部の劣化、故障を判断する。受光部の故障判断は、反射光を受光する受光部以外に反射光が入る場所に別の受光部を設けて、その両方の受光部のデータを保管し比較することにより片方の故障を見つけることも可能である。
ターゲット傾き判断は複数個の光源部点灯ターゲット測定データの値の比較からターゲットの傾きを判断する。分光光度計２各部の故障の判断は、個別点灯ターゲット測定データの値に基づいて比較し、光源部〜ターゲット〜受光部から構成される系の故障を検出する。
【００３５】
尚、本実施形態では、分光光度計異常判断プログラムをネットワーク上に特別に用意したサーバに格納したが、分光光度計のコンピュータに格納した構成としても良い。また、ネットワーク上のサーバに複数の分光光度計を接続し、サーバが複数の分光光度計の異常発見管理を行う構成としても良い。
なお多少の出力の低下であれば、個々のＬＥＤを調整して測定データに合わせ補正を行えば、正常に作動するように修正することもできる。
【００３６】
次に、図１を参照して本システムの処理動作について説明する。
コンピュータは、ＬＥＤを全点灯及び個別に点灯し（ステップ１）、それぞれリファレンスターゲット測定データをデータ格納部に記憶する（ステップ２）。一方、製品（分光光度計）の出荷時又は基準データ更新時、ＬＥＤを全点灯及び個別に点灯し（ステップ３）、リファレンスターゲット測定データを基準用としてそれぞれデータ格納部に記憶する（ステップ４）。この段階で、データをグラフ化処理（ステップ５）し、モニターに表示することができるようにする（ステップ６）。一方、コンピュータは、データの比較処理判断に移行する（ステップ７）。データの判断処理は、全部点灯の基準値に対して、全点灯の測定値が小さい場合、ターゲットの付け忘れ、ＬＥＤの劣化を判断する。また、全部点灯の基準値に対して、全点灯の測定値の一部が小さい場合、一部のＬＥＤの劣化あるいは故障を判断する。また、個別点灯の基準値に対して、対応する測定値が小さい場合、個別のＬＥＤの劣化又は故障を判断する。また、個別点灯の基準値に対して、対角の測定値（片方）が小さいとき、ターゲットが傾いていることを判断する（ステップ８）。
コンピュータは、これらの判断データから分光光度計の不具合を予想し、モニターに表示する（ステップ９）。次にシステム利用者は、問題点の確認と対応を行い（処理ステップ１０）、分光光度計異常判断処理を完了する。
【符号の説明】
【００３７】
２        分光光度計
４        ＣＰＵ
６        メモリ
８        入出力インターフェイス
１０      光源部用ドライバ
１２      受信回路
１４      回路基板
１６ａ    光源部
１６ｂ    光源部
１６ｃ    光源部
１６ｄ    光源部
１６ｅ    光源部
１６ｆ    光源部
１６ｇ    光源部
１６ｈ    光源部
１８      カバー
２０      被測定物
２２ａ    空胴
２２      レンズ
２４      ホルダ
２６      フィルタ
２８      ジオメトリーコンバータ
３０      スペクトルセンサ
３２      受光部
３４      フォトダイオード
３６      エタロン
３８      フェースプレート
４０      コンピュータ
４２      メモリ
４４      分光光度計異常判断プログラム
５６      入出力インターフェイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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