(57)【要約】【課題】ＰＭＴの感度劣化を簡易に確認でき、ＰＭＴの交換時期を容易に把握可能にする。【解決手段】光源１から発せられたレーザ光が照射されることにより標本から戻る蛍光を集光する対物レンズ２５と、その蛍光を検出するＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄと、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに蛍光が入射するのを阻止可能な遮光機構３２と、蛍光の入射が阻止された状態でＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される暗電流の値を検出する暗電流測定部４１と、暗電流測定部４１により検出される暗電流の値の内、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの使用時期の時間間隔をあけた少なくとも２点間の暗電流の値を比較することによりＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率を検出する数値比較部４５と、検出された感度の劣化率を表示するモニタ７とを備えるレーザ顕微鏡装置１００を提供する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から発せられた照明光が照射されることにより標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、
該対物レンズにより集光された戻り光を検出する光検出部と、
該光検出部に前記戻り光が入射するのを阻止可能な光阻止部と、
該光阻止部により前記戻り光の入射が阻止された状態で前記光検出部から出力される電流に関する電流情報を検出する電流情報検出部と、
該電流情報検出部により検出される電流情報の内、前記光検出部の使用時期の時間間隔をあけた少なくとも２点間の電流情報を比較することにより前記光検出部の感度の劣化に関する劣化情報を検出する劣化情報検出部と、
該劣化情報検出部により検出された前記光検出部の感度の劣化情報を表示する表示部とを備える顕微鏡装置。
【請求項２】
前記電流情報検出部により検出される前記電流情報を予め記憶しておく記憶部を備え、
前記劣化情報検出部が、前記電流情報検出部により実際に検出された電流情報と、前記記憶部に記憶されている前記電流情報とを比較して前記光検出部の感度の劣化情報を検出する請求項１に記載の顕微鏡装置。
【請求項３】
前記記憶部が、前記光検出部から出力される前記電流情報の初期情報を記憶する請求項２に記載の顕微鏡装置。
【請求項４】
前記電流情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流情報を画像化して得られる画像の輝度の最大値である請求項１から請求項３のいずれかに記載の顕微鏡装置。
【請求項５】
前記情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流情報を画像化して得られる画像の輝度の最大値から最小値を減算した値である請求項１から請求項３のいずれかに記載の顕微鏡装置。
【請求項６】
前記電流情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流値である請求項１または請求項２に記載の顕微鏡装置。
【請求項７】
前記光阻止部が、前記光検出部の前段で、該光検出部に入射する前記戻り光を遮断する請求項１から請求項６のいずれかに記載の顕微鏡装置。
【請求項８】
前記光阻止部が、前記標本に照射される前記レーザ光を遮断する請求項１から請求項６のいずれかに記載の顕微鏡装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、顕微鏡装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光電子増倍管（ＰＭＴ）のような検出器を備える共焦点走査型顕微鏡装置（ＬＳＭ）が知られている（例えば、特許文献１参照）。ＰＭＴは、励起光のような過大光が入射したりＨＶの過大電圧が印加されたりすることにより、経年的に感度が低下する。そのため、従来の顕微鏡装置においては、画像が暗くなったとユーザが感じた場合にＰＭＴ単品を取り外してメーカに送付し、初期の状態と比較して感度がどの程度劣化したかを確認することとしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１２８０８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、画像が暗くなったとユーザが感じる原因としては、ＰＭＴの感度劣化の他に、レーザパワーの低減や光軸のずれなどの要素が多く、実際にＰＭＴ単品で感度を確認するとＰＭＴ自体の感度は大きく劣化していないことがある。このように、従来は、ＰＭＴの感度劣化を確認するのに手間がかかる上、その確認作業が無駄になることもあり、ＰＭＴの交換時期を容易に把握することができないという問題があった。
【０００５】
本発明は、ＰＭＴの感度劣化を簡易に確認でき、ＰＭＴの交換時期を容易に把握することができる顕微鏡装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、光源から発せられた照明光が照射されることにより標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された戻り光を検出する光検出部と、該光検出部に前記戻り光が入射するのを阻止可能な光阻止部と、該光阻止部により前記戻り光の入射が阻止された状態で前記光検出部から出力される電流に関する電流情報を検出する電流情報検出部と、該電流情報検出部により検出される電流情報の内、前記光検出部の使用時期の時間間隔をあけた少なくとも２点間の電流情報を比較することにより前記光検出部の感度の劣化に関する劣化情報を検出する劣化情報検出部と、該劣化情報検出部により検出された前記光検出部の感度の劣化情報を表示する表示部とを備える顕微鏡装置を提供する。
【０００７】
本発明によれば、光源からの照明光が標本に照射されることにより標本において戻り光が発生すると、その戻り光が対物レンズにより集光されて光検出部により検出される。これにより、光検出部から出力される電流に関する電流情報に基づき標本の画像情報を得て、画像上で標本を観察することができる。
【０００８】
この場合において、光阻止部により光検出部に戻り光が入射されるのを阻止された状態で光検出部から出力される電流情報が電流情報検出部により検出され、劣化情報検出部により、光検出部の使用時期の時間間隔をあけた少なくとも２点間の電流情報が比較されることによって光検出部の感度の劣化情報が検出されて、表示部に表示される。
【０００９】
これにより、顕微鏡装置から光検出部単品を取り外してメーカに送付するような手間を不要とし、画像情報を取得して標本を観察する通常の観察と同様にして光検出部の感度劣化を確認することができる。したがって、光検出部の感度劣化を簡易に確認でき、光検出部の交換時期を容易に把握することができる。
【００１０】
上記発明においては、前記電流情報検出部により検出される前記電流情報を予め記憶しておく記憶部を備え、前記劣化情報検出部が、前記電流情報検出部により実際に検出された電流情報と、前記記憶部に記憶されている前記電流情報とを比較して前記光検出部の感度の劣化情報を検出することとしてもよい。
【００１１】
このように構成することで、光検出部の所望の使用時期の電流情報を記憶部に予め記憶しておくだけで、記憶部に記憶したその電流情報を基準にして、光検出部の感度劣化を簡易に確認することができる。
【００１２】
上記発明においては、前記記憶部が、前記光検出部から出力される前記電流情報の初期情報を記憶することとしてもよい。
このように構成することで、光検出部が全く劣化していない状態からの光検出部の感度劣化を確認することができる。
【００１３】
上記発明においては、前記電流情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流情報を画像化して得られる画像の輝度の最大値であることとしてもよい。
光検出部に戻り光が入射するのを光阻止部により阻止した状態で光検出部から出力される電流情報に基づいて画像を取得する。このように構成することで、標本の画像情報を取得する通常の観察時の構成のまま、光検出部の感度劣化を確認することができる。
【００１４】
上記発明においては、前記情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流情報を画像化して得られる画像の輝度の最大値から最小値を減算した値であることとしてもよい。
光検出部に戻り光が入射するのを光阻止部により阻止した状態で光検出部から出力される電流情報に基づいて画像を取得する。このように構成することで、画像の輝度の最大値のみを用いる場合と比較して、ブラックレベルを除去して、より精度よく感度劣化を確認することができる。
【００１５】
上記発明においては、前記電流情報検出部により検出される前記電流情報が、前記光検出部から出力される電流値であることとしてもよい。
このように構成することで、画像情報を取得する工程を介さずに光検出部の感度劣化を確認することができる。
【００１６】
上記発明においては、前記光阻止部が、前記光検出部の前段で、該光検出部に入射する前記戻り光を遮断することとしてもよい。
また、上記発明においては、前記光阻止部が、前記標本に照射される前記レーザ光を遮断することとしてもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、ＰＭＴの感度劣化を簡易に確認でき、ＰＭＴの交換時期を容易に把握することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の第１実施形態に係るレーザ顕微鏡装置を示す概略構成図である。
【図２】ＰＭＴの感度と時間との関係および暗電流の値と時間との関係を示すグラフである。
【図３】図１のレーザ顕微鏡装置によりＰＭＴの感度の劣化率を確認する場合を説明するフローチャートである。
【図４】本発明の第２実施形態に係るレーザ顕微鏡装置を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
〔第１実施形態〕
本発明の第１実施形態に係るレーザ顕微鏡装置（顕微鏡装置）について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１００は、図１に示されるように、レーザ光（照明光）を発する光源１と、光源１から発せられたレーザ光を走査させるスキャンユニット２と、スキャンユニット２により走査されたレーザ光を標本（図示略）に照射させる顕微鏡本体３と、レーザ光が照射されることにより標本から戻る蛍光（戻り光）を検出するＰＭＴ（光電子増倍管、光検出部）３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄを有する光検出装置４と、標本の画像を生成する画像生成部５と、各ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの暗電流の値を測定する感度劣化測定装置６と、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度に関する情報や画像等を表示するモニタ（表示部）７とを備えている。
【００２０】
スキャンユニット２は、光源１から発せられたレーザ光を反射する反射ミラー１１と、反射ミラー１１により反射されたレーザ光を反射する揺動可能な一対のガルバノミラー（図示略）を有するスキャナ１３とを備えている。
【００２１】
スキャナ１３は、ガルバノミラーの揺動角度を変化させることにより、レーザ光を標本上で２次元的（ＸＹ方向）に走査させることができるようになっている。また、スキャナ１３は、各ガルバノミラーの揺動角度に対応するレーザ光の走査位置に関するデータ（以下、走査位置データという。）を画像生成部５に送るようになっている。
【００２２】
顕微鏡本体３は、標本を載置するステージ２１と、スキャンユニット２から入射されるレーザ光を反射する一方、標本からの蛍光を透過させるＤＭ（ダイクロイックミラー）２３と、ＤＭ２３により反射されたレーザ光を標本に照射させる一方、標本からの蛍光を集光する対物レンズ２５とを備えている。
【００２３】
光検出装置４は、４つのＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの他、顕微鏡本体３のＤＭ２３を透過した蛍光を波長に応じて反射または透過させるＤＭ（ダイクロイックミラー）３３と、ＤＭ３３により反射された蛍光をさらに波長に応じて反射または透過させるＤＭ３５と、ＤＭ３３を透過した蛍光を反射する反射ミラー３７と、反射ミラー３７により反射された蛍光をさらに波長に応じて反射または透過させるＤＭ３９とを備えている。
【００２４】
ＤＭ３５により反射された蛍光はＰＭＴ３１Ａに入射され、ＤＭ３５を透過した蛍光はＰＭＴ３１Ｂに入射されるようになっている。また、ＤＭ３９により反射された蛍光はＰＭＴ３１Ｃに入射され、ＤＭ３９を透過した蛍光はＰＭＴ３１Ｄに入射されるようになっている。
【００２５】
これら４つのＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄは、電流に関する出力信号（電流情報）を画像生成部５に送るようになっている。ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される出力信号としては、蛍光を検出することによって発生する光電流の他、蛍光の検出の有無にかかわらずに常に流れ続ける暗電流が含まれている。
【００２６】
また、光検出装置４には、顕微鏡本体３からＤＭ３３に入射される全ての光を遮断可能なシャッタのような遮光機構（光阻止部）３２が、ＤＭ３３の前段の光路上に挿脱可能に設けられている。光路に遮光機構３２が挿入されると、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに蛍光が入射するのを阻止することができるようになっている。
【００２７】
したがって、光路から遮光機構３２が外された状態では、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄにより検出された蛍光に応じた光電流が画像生成部５に送られ、一方、光路に遮光機構３２が挿入された状態では、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄごとの暗電流が画像生成部５に送られるようになっている。
【００２８】
画像生成部５は、各ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから送られてくる出力信号としての光電流または暗電流と、スキャナ１３から送られてくる走査位置データとに基づいて、２次元画像を生成するようになっている。また、画像生成部５は、生成した２次元画像を感度劣化測定装置６とモニタ７に送るようになっている。
【００２９】
感度劣化測定装置６は、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの暗電流の値（電流情報）を検出する暗電流測定部（電流情報検出部）４１と、暗電流の値の初期値（初期情報）を記憶する記憶部４３と、暗電流測定部４１により検出される暗電流の値の内、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの使用時期の時間間隔をあけた少なくとも２点間の暗電流の値を比較する数値比較部（劣化情報検出部）４５とを備えている。
【００３０】
暗電流測定部４１は、遮光機構３２により蛍光の入射が阻止された状態でＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから送られてくる出力信号、すなわち、暗電流に従って画像生成部５により生成される画像の輝度の最大値から最小値を減算することで、暗電流の値を測定するようになっている。
【００３１】
ここで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの温度が変化すると、それぞれから出力される暗電流の値が変化するため、暗電流の値を測定する際はＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの温度を一定にすることが望ましい。あるいは、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの温度を測定し、測定した暗電流の値に対して温度により決まる補正係数を乗算することで、温度の影響が依存しない正確な暗電流の値を算出することとしてもよい。
【００３２】
記憶部４３は、画像生成部５により生成される画像から算出した暗電流の値の初期値を記憶しておくようになっている。
数値比較部４５は、暗電流測定部４１により実際に算出された暗電流の値と、記憶部４３に記憶されている暗電流の値の初期値とを比較することで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化情報を検出するようになっている。
【００３３】
例えば、数値比較部４５は、暗電流の測定値を初期値で除算することで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率（劣化情報）を算出するようになっている。また、数値比較部４５は、算出したＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率をモニタ７に送るようになっている。
モニタ７は、画像生成部５から送られてくる２次元画像と、数値比較部４５から送られてくるＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率を表示することができるようになっている。
【００３４】
ここで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の低下と暗電流の値の低下との関係について説明する。
ＰＭＴの感度の低下は、主に、光入力を電子に変換する光電面の劣化と、電子を倍増する電極群すなわちダイノードの劣化とにより進行することが知られている。
【００３５】
光電面が劣化すると、光電面から電子が放出され難くなり、光入力の光電変換率が低下する。これにより、ＰＭＴの感度が低下する。この場合に、暗電流の源である熱電子放出の量も低下することから、結果として、ＰＭＴの感度の低下と暗電流の低下とは相関を生じることになる。
また、ダイノードが劣化すると、光電面から放出された電子を倍増する過程でのゲイン（像倍率）が低下する。ゲインの低下は光電子に対しても熱電子に対しても働くため、ＰＭＴの感度の低下と暗電流の低下とは相関を生じることになる。
【００３６】
例えば、ＰＭＴ（ＧａＡｓＰ−ＰＭＴ）の感度と時間との関係および暗電流の値と時間との関係は図２のグラフのように示される。図２において、縦軸は感度（％）を示し、横軸は時間（時間）を示している。９００Ｖ感度のデータは、基準光源を使用したときの感度の劣化を示すものである。また、暗電流のデータは、ＰＭＴに９００ＶのＨＶを印加したときに生成される画像中のピクセルの輝度の最大値と最小値の差分の劣化率を示すものである。この図２のグラフは、具体的には、ＰＭＴを６００ＶのＨＶで動作させながら、基準光源とは別に準備した他の光源からの過大光を照射してＰＭＴの劣化を強制的に引き起こし、その後、ＰＭＴを９００ＶのＨＶで動作させ、基準光源から照射したレーザ光をＰＭＴにより検出させてその画像の強度を取得して、ＰＭＴの劣化の具合を確認することによって得られたものである。
【００３７】
なお、突発的な高輝度のノイズが含まれたりＰＭＴの温度にばらつきが生じたりすることにより、暗電流には若干のばらつきがある。これについては、同じ条件で画像を複数取得し、それぞれの画像の輝度の最大値と最小値の差分の平均を取ることで、安定した値を得ることができる。
【００３８】
このように構成されたレーザ顕微鏡装置１００の作用について説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１００により標本を観察する場合は、まず、光路から遮光機構３２を外した状態で、光源１からレーザ光を発生させる。
【００３９】
光源１から発せられたレーザ光は、スキャンユニット２の反射ミラー１１を介してスキャナ１３により走査され、顕微鏡本体３のＤＭ２３により反射されて対物レンズ２５により標本に照射される。これにより、スキャナ１３のガルバノミラーの揺動角度の変化に応じて標本上でレーザ光が２次元的に走査される。
【００４０】
標本においてレーザ光が照射されることにより蛍光が発生すると、その蛍光は対物レンズ２５により集光されてＤＭ２３を透過し、光検出装置４のＤＭ３３、ＤＭ３５，反射ミラー３７およびＤＭ３９により波長に応じて反射または透過させられて、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄにより検出される。
【００４１】
これにより、蛍光を検出したＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される光電流とスキャナ１３から出力される走査位置データとに基づいて、画像生成部５によって標本の２次元画像が生成され、モニタ７に表示される。したがって、ユーザは画像上で標本を観察することができる。
【００４２】
次に、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認する場合について、図３のフローチャートを参照して説明する。
まず、光路に遮光機構３２を挿入して光を遮断し、顕微鏡本体３からの光がＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに入射されるのを阻止する（ステップＳ１）。次いで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに印加するＨＶ（電圧）を所定の値に設定する（ステップＳ２）。
【００４３】
ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに光が入射されるのが阻止されることで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから画像生成部５に暗電流のみが送られる。これにより、画像生成部５によって蛍光遮断時の真っ黒な画像が生成され、暗電流測定部４１によってその画像の輝度の最大値と最小値の差分から、暗電流の値が測定される（ステップＳ３）。
【００４４】
次いで、数値比較部４５により、暗電流測定部４１によって算出された暗電流の値と、記憶部４３に記憶されている暗電流の値の初期値とが比較され（ステップＳ４）、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率が算出される。算出されたＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率はモニタ７に表示される（ステップＳ５）。これにより、ユーザはモニタ７上で、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認することができる。
【００４５】
例えば、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率をアプリケーションソフト上に表示することとしてもよい。この場合において、ユーザが、モニタ７に表示されるＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率を基に、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに印加するＨＶや光源１のレーザパワーを設定して、初期の明るさを維持することができる。
【００４６】
以上説明したように、本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１００によれば、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄ単品を取り外してメーカに送付するような手間を不要とし、画像を取得して標本を観察する通常の観察と同様にして、モニタ７上でＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認することができる。したがって、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を簡易に確認でき、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの交換時期を容易に把握することができる。
【００４７】
また、画像の輝度値から暗電流を算出することで、標本の画像を取得する通常の観察時の構成のまま、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認することができる。さらに、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの暗電流の測定値と初期値とを比較して感度の劣化率を算出することで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄが全く劣化していない状態からの感度劣化を確認することができる。
【００４８】
本実施形態においては、暗電流測定部４１により、画像の輝度の最大値から最小値を減算した値を暗電流の値とすることとしたが、これに代えて、画像の輝度の最大値を暗電流の値とすることとしてもよい。ブラックレベルが一定の場合に有効である。
【００４９】
〔第２実施形態〕
本発明の第２実施形態に係るレーザ顕微鏡装置（顕微鏡装置）について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置２００は、感度劣化測定装置６の構成が第１実施形態と異なる。
以下、第１実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１００と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
【００５０】
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置２００の感度劣化測定装置６は、図４に示されるように、暗電流測定部４１に代えて、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される暗電流の値（電流情報）を検出する電流検出部１４１と、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄからの光電流および暗電流の入力先を電流検出部１４１と画像生成部５との間で切り替えるアナログスイッチのような切替部１４３とを備えている。
【００５１】
電流検出部１４１は、遮光機構３２により光が入射するのを阻止された状態でＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから送られてくる暗電流の値を測定するようになっている。また、電流検出部１４１は、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄごとに暗電流の値を測定することができるようになっている。
【００５２】
切替部１４３は、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄごとに、光電流および暗電流を電流検出部１４１に送るか画像生成部５に送るかを切り替えることができるようになっている。
画像生成部５は、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄごとに出力信号をＡＤ変換することができるようになっている。
【００５３】
このように構成されたレーザ顕微鏡装置２００の作用について説明する。
標本を観察する場合については、第１実施形態と同様であるので説明を省略する。
ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認する場合は、光路に遮光機構３２を挿入してＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに光が入射するのを阻止し、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに印加するＨＶを所定の値に設定する。
【００５４】
この状態で、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される暗電流を切替部１４３によりそれぞれ電流検出部１４１に入射させる。これにより、電流検出部１４１によって、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄごとの暗電流の値が測定される。次いで、数値比較部４５により、電流検出部１４１によって検出された暗電流の値と記憶部４３に記憶されている暗電流の値の初期値とが比較されてＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの劣化率が算出され、モニタ７に表示される。
【００５５】
以上説明したように、本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置２００によれば、電流情報としてＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄから出力される暗電流そのものの値を測定することで、画像を取得する工程を介さずにＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を確認することができる。したがって、より簡易かつ迅速にＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化の確認を行うことができる。
【００５６】
なお、上記各実施形態においては、例えば、図示しない通知部を設け、通知機能により、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度の劣化率に基づいて、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの交換時期を通知することができるようにしてもよい。例えば、ＰＭＴのスペックシート上の陽極感度やゲインを通知部に予め入力しておき、これら陽極感度やゲインに対してＰＭＴの感度の劣化率を掛け合わせた数値がＰＭＴの使用の下限値以下であったときに、交換を推奨するようにしてもよい（陽極感度×暗電流の感度の劣化率＝現在の陽極感度）。
【００５７】
また、例えば、図示しない補正部を設け、補正機能により、ＰＭＴの感度の劣化率に基づいて、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに印加するＨＶや光源１のレーザパワーを最適にする補正を行い、初期状態（例えば、製品の納品時）と同じ画像の明るさを提供し続けることができるようにしてもよい。
【００５８】
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本発明を上記の各実施形態に適用したものに限定されることなく、これらの実施形態を適宜組み合わせた実施形態に適用してもよく、特に限定されるものではない。例えば、上記実施形態においては、光検出部として４つのＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄを例示して説明したが、光検出部の数はこれに限定されるものではない。
【００５９】
また、例えば、上記実施形態においては、遮光機構３２をＤＭの前段に配置することとしたが、遮光機構３２はＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに戻り光が入射するのを阻止することができればよく、例えば、各ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの前段、例えば、それぞれの直近のＤＭ３５またはＤＭ３９との間に配置することとしてもよい。あるいは、遮光機構３２が、標本に照射されるレーザ光を遮断することにより、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄに光が入射するのを阻止することとしてもよい。
【００６０】
また、例えば、上記実施形態においては、記憶部４３に暗電流の値の初期値を記憶させ、暗電流の測定値と初期値とを比較することとしたが、これに代えて、例えば、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度が劣化する前の暗電流の値を記憶部４３に記憶させ、この値と暗電流の測定値とを比較することとしてもよい。このように、記憶部４３を用いることで、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度が劣化する前の所望の使用時期の暗電流の値を記憶部４３に予め記憶させておくだけで、記憶させたその暗電流の値を基準にして、ＰＭＴ３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄの感度劣化を簡易に確認することができる。
【符号の説明】
【００６１】
７    モニタ（表示部）
２５    対物レンズ
３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ，３１Ｄ    ＰＭＴ（光検出部）
３２    遮光機構（光阻止部）
４１    暗電流測定部（電流情報検出部）
４３    記憶部
４５    数値比較部（劣化情報検出部）
１００，２００    レーザ顕微鏡装置（顕微鏡装置）
１４１    電流検出部（電流情報検出部）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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