(57)【要約】【課題】値が変化しないことが望まれる出力信号について、この信号が検査中に変化しないことを確認することができ、検査装置のメモリ容量及び入力ポート数等の制限を受けることなく検査を実施できる検査システム及び信号生成装置を提供する。【解決手段】検査において期待値が変化しない検査対象ＥＣＵの出力信号を信号集約装置５が集約し、集約した複数の信号のいずれかの値が変化した場合にその値が変化する集約信号を出力する。信号集約装置５は、切替部５１のスイッチＳＷ１により集約すべき信号の選択を受け付けると共に、入力ポートＩ１〜Ｉｎから論理和素子ＯＲまでの信号経路の接続／遮断を切り替える。また信号集約装置５は、切替部５２の反転素子ＩＮＶにより信号の論理を反転し、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された信号又はその反転信号のいずれかをスイッチＳＷ２により切り替えて集約する。【選択図】図２
2014016171.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象装置が出力する複数の信号の値が所定値と整合するか否かに応じて異常の有無を検出する検査装置を備える検査システムにおいて、
前記検査対象装置が正常である場合に値が変化しない複数の信号が入力され、該複数の信号のいずれかの値が変化した場合に、出力値が変化する信号を生成する信号生成手段を備え、
前記検査装置は、前記信号生成手段が生成した信号に応じて異常の有無を検出するようにしてあること
を特徴とする検査システム。
【請求項２】
前記信号生成手段が設けられた信号生成装置を備え、
該信号生成装置は、正常である場合に値が変化しない前記検査対象装置の複数の信号に基づいて前記信号生成手段が生成した信号を前記検査装置へ出力するようにしてあること
を特徴とする請求項１に記載の検査システム。
【請求項３】
前記信号生成装置は、
前記検査対象装置が出力する信号がそれぞれ入力される複数の入力ポートと、
該入力ポート毎に設けられ、各入力ポートから入力された信号を前記信号生成手段へ入力するか否かをそれぞれ切り替える複数の切替手段と
を有すること
を特徴とする請求項２に記載の検査システム。
【請求項４】
前記切替手段は、電気的に切り替えを行う電子スイッチであること
を特徴とする請求項３に記載の検査システム。
【請求項５】
前記切替手段は、外部の装置から入力された制御信号に応じて、前記信号生成手段へ入力する信号の切り替えを行うようにしてあること
を特徴とする請求項３又は請求項４に記載の検査システム。
【請求項６】
前記信号生成装置は、
各入力ポートに入力された信号の論理を反転する信号反転手段と、
前記入力ポートに入力された信号又は前記信号反転手段にて反転された信号のいずれかを切り替えて前記信号生成手段へ入力する複数の第２の切替手段と
を有すること
を特徴とする請求項３乃至請求項５のいずれか１つに記載の検査システム。
【請求項７】
前記第２の切替手段は、電気的に切り替えを行う電子スイッチであること
を特徴とする請求項６に記載の検査システム。
【請求項８】
前記信号生成装置は、
前記信号生成手段が生成した信号の値を保持する保持手段と、
該保持手段が保持した値を報知する報知手段と
を有すること
を特徴とする請求項２乃至請求項７のいずれか１つに記載の検査システム。
【請求項９】
前記検査装置は、
前記信号生成手段と、
前記所定値を記憶する所定値記憶手段と、
前記信号生成手段へ入力されない信号の値が前記所定値記憶手段に記憶した所定値と整合するか否かを判定する第１の判定手段と、
前記信号生成手段が生成した信号の値の変化の有無を判定する第２の判定手段と
を有し、
前記第１及び第２の判定手段の判定結果に応じて、前記検査対象装置の異常を検出するようにしてあること
を特徴とする請求項１に記載の検査システム。
【請求項１０】
前記検査装置は、前記信号生成手段へ入力すべき信号の選択に係る情報を記憶する信号選択情報記憶手段を有し、
前記信号生成手段は、前記信号選択情報記憶手段に記憶された情報に応じて信号を生成するようにしてあること
を特徴とする請求項９に記載の検査システム。 
【請求項１１】
信号が入力される複数の入力ポートと、
入力された複数の信号のいずれかの値が変化した場合に、出力値が変化する信号を生成する信号生成手段と
を備えること
を特徴とする信号生成装置。
【請求項１２】
前記入力ポート毎に設けられ、各入力ポートから入力された信号を前記信号生成手段へ入力するか否かをそれぞれ切り替える複数の切替手段を備えること
を特徴とする請求項１１に記載の信号生成装置。
【請求項１３】
前記切替手段は、電気的に切り替えを行う電子スイッチであること
を特徴とする請求項１２に記載の信号生成装置。
【請求項１４】
前記切替手段は、外部の装置から入力された制御信号に応じて、前記信号生成手段へ入力する信号の切り替えを行うようにしてあること
を特徴とする請求項１２又は請求項１３に記載の信号生成装置。
【請求項１５】
各入力ポートに入力された信号の論理を反転する信号反転手段と、
前記入力ポートに入力された信号又は前記信号反転手段にて反転された信号のいずれかを切り替えて前記信号生成手段へ入力する複数の第２の切替手段と
を備えること
を特徴とする請求項１１乃至請求項１４のいずれか１つに記載の信号生成装置。
【請求項１６】
前記第２の切替手段は、電気的に切り替えを行う電子スイッチであること
を特徴とする請求項１５に記載の信号生成装置。
【請求項１７】
前記信号生成手段が生成した信号の値を保持する保持手段と、
該保持手段が保持した値を報知する報知手段と
を備えること
を特徴とする請求項１１乃至請求項１６のいずれか１つに記載の信号生成装置。
【請求項１８】
前記信号生成手段が生成した信号を出力する出力ポートを備えること
を特徴とする請求項１１乃至請求項１７のいずれか１つに記載の信号生成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象装置の動作に異常があるか否かを検査する検査システム、及びこのシステムに用いられる信号生成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えばＥＣＵ（ElectronicControl Unit）などの電子装置に対する従来の検査工程では、電子装置の出力にランプなどの負荷を接続し、検査用の信号を電子装置に対して入力した際のランプの点灯状態などを作業者が目視で確認し、電子装置の異常の有無を判断していた。近年では、検査工数削減などの目的により、電子装置に対する信号の入力、及び、電子装置から出力された信号の成否判定等を自動的に行う検査装置が用いられている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−２８１９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記のような検査装置は、電子装置の出力信号と予め記憶した所定値（期待値）との比較を行って、出力信号及び期待値が一致するか否かにより電子装置の異常の有無を判定する。しかしながら検査装置を用いた検査では、電子装置の全ての出力信号について期待値との比較を行わない（行うことができない）場合が多い。この場合、実施する検査において値が変化する出力信号についてのみ期待値との比較が行われ、値が変化しない出力信号については期待値との比較を行わない。このため、値が変化しないことが望まれる出力信号の値が、検査において変化していないことを確認することができないという問題がある。
【０００５】
この問題に対して、電子装置の全ての信号について期待値との比較を行うことが考えられるが、全ての信号の値を記憶しておくためには多くのメモリ容量を必要とする。このため、検査装置のメモリ容量の制約から全ての信号の比較を行うことができないか、又は、できたとしても検査時間を短縮する必要がある等の問題が生じる。また、出力信号数が検査装置の入力ポート数より多いなど、ハードウェア構成の制限により全ての信号の比較を行うことができない場合もある。
【０００６】
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、値が変化しないことが望まれる出力信号について、この信号が検査中に変化しないことを確認することができる検査システム、及びこのシステムに用いる信号生成装置を提供することにある。また本発明の他の目的とするところは、検査装置のメモリ容量及び入力ポート数等の制限を受けることなく検査を実施できる検査システム及び信号生成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る検査システムは、検査対象装置が出力する複数の信号の値が所定値と整合するか否かに応じて異常の有無を検出する検査装置を備える検査システムにおいて、前記検査対象装置が正常である場合に値が変化しない複数の信号が入力され、該複数の信号のいずれかの値が変化した場合に、出力値が変化する信号を生成する信号生成手段を備え、前記検査装置は、前記信号生成手段が生成した信号に応じて異常の有無を検出するようにしてあることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る検査システムは、前記信号生成手段が設けられた信号生成装置を備え、該信号生成装置は、正常である場合に値が変化しない前記検査対象装置の複数の信号に基づいて前記信号生成手段が生成した信号を前記検査装置へ出力するようにしてあることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明に係る検査システムは、前記信号生成装置が、前記検査対象装置が出力する信号がそれぞれ入力される複数の入力ポートと、該入力ポート毎に設けられ、各入力ポートから入力された信号を前記信号生成手段へ入力するか否かをそれぞれ切り替える複数の切替手段とを有することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明に係る検査システムは、前記切替手段が、電気的に切り替えを行う電子スイッチであることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明に係る検査システムは、前記切替手段が、外部の装置から入力された制御信号に応じて、前記信号生成手段へ入力する信号の切り替えを行うようにしてあることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明に係る検査システムは、前記信号生成装置が、各入力ポートに入力された信号の論理を反転する信号反転手段と、前記入力ポートに入力された信号又は前記信号反転手段にて反転された信号のいずれかを切り替えて前記信号生成手段へ入力する複数の第２の切替手段とを有することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係る検査システムは、前記第２の切替手段が、電気的に切り替えを行う電子スイッチであることを特徴とする。
【００１４】
また、本発明に係る検査システムは、前記信号生成装置が、前記信号生成手段が生成した信号の値を保持する保持手段と、該保持手段が保持した値を報知する報知手段とを有することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明に係る検査システムは、前記検査装置が、前記信号生成手段と、前記所定値を記憶する所定値記憶手段と、前記信号生成手段へ入力されない信号の値が前記所定値記憶手段に記憶した所定値と整合するか否かを判定する第１の判定手段と、前記信号生成手段が生成した信号の値の変化の有無を判定する第２の判定手段とを有し、前記第１及び第２の判定手段の判定結果に応じて、前記検査対象装置の異常を検出するようにしてあることを特徴とする。
【００１６】
また、本発明に係る検査システムは、前記検査装置が、前記信号生成手段へ入力すべき信号の選択に係る情報を記憶する信号選択情報記憶手段を有し、前記信号生成手段は、前記信号選択情報記憶手段に記憶された情報に応じて信号を生成するようにしてあることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明に係る信号生成装置は、信号が入力される複数の入力ポートと、入力された複数の信号のいずれかの値が変化した場合に、出力値が変化する信号を生成する信号生成手段とを備えることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記入力ポート毎に設けられ、各入力ポートから入力された信号を前記信号生成手段へ入力するか否かをそれぞれ切り替える複数の切替手段を備えることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記切替手段が、電気的に切り替えを行う電子スイッチであることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記切替手段が、外部の装置から入力された制御信号に応じて、前記信号生成手段へ入力する信号の切り替えを行うようにしてあることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明に係る信号生成装置は、各入力ポートに入力された信号の論理を反転する信号反転手段と、前記入力ポートに入力された信号又は前記信号反転手段にて反転された信号のいずれかを切り替えて前記信号生成手段へ入力する複数の第２の切替手段とを備えることを特徴とする。
【００２２】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記第２の切替手段が、電気的に切り替えを行う電子スイッチであることを特徴とする。
【００２３】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記信号生成手段が生成した信号の値を保持する保持手段と、該保持手段が保持した値を報知する報知手段とを備えることを特徴とする。
【００２４】
また、本発明に係る信号生成装置は、前記信号生成手段が生成した信号を出力する出力ポートを備えることを特徴とする。
【００２５】
本発明においては、検査対象装置が出力する複数の信号のうち、検査対象装置が正常な場合に値が変化しない複数の信号（期待値が変化しない複数の信号）について、いずれかの信号の値が変化した場合に出力値が変化する信号（以下、集約信号という）を生成して出力する。これにより、検査において値が変化しないことが期待される複数の信号のうち、いずれかの信号の値が変化した場合には集約信号の値が変化する。このため検査装置は、集約信号の変化の有無を判定することによって、検査対象装置の異常の有無を判断することができる。複数の信号を集約して出力するため、検査装置のメモリ容量及び入力ポート数等の制限を緩和でき、値が変化しないことが期待される信号の検査を行うことができる。
【００２６】
また、本発明においては、上記のような集約信号の生成を行う信号生成装置を検査対象装置及び検査装置の間に介在させ、検査対象装置の出力信号を信号生成装置へ入力すると共に、信号生成装置が出力する集約信号を検査装置へ入力する構成とする。これにより、既存の検査装置を用いた検査システムに信号生成装置を付加することで、値が変化しないことが期待される信号の検査を容易に行うことができる。
【００２７】
また、本発明においては、信号生成装置には検査対象装置の出力信号が入力される複数の入力ポートが設けられる。また各入力ポートからの信号に基づいて集約信号を生成する手段（例えば論理回路などで構成される）までの信号経路中には、入力ポートから入力された信号を信号生成手段へ導くか否かを切り替える切替手段が設けられる。例えば切替手段は、入力ポートから信号生成手段への信号経路中に配したスイッチとすることができ、スイッチの接続により入力ポートから入力された信号が信号生成手段へ導かれて集約され、スイッチが遮断された入力ポートの信号は集約されない。
【００２８】
また、本発明においては、外部の装置（例えばＰＣ（Personal Computer）又は検査装置等）からの制御信号を信号生成装置へ入力し、信号生成装置が入力された制御信号に応じて集約すべき信号の切り替えを行う構成とすることができる。これにより、信号生成装置による信号の集約を外部の装置から制御することができるため、例えば検査内容の変更などに応じて集約する信号の選択を自動的に変更するなどが可能となり、異なる内容の複数の検査を自動的に且つ短期間で行うことが可能となる。
【００２９】
また、本発明においては、信号生成装置には入力ポートに入力された信号の論理を反転する手段を設ける。また入力ポートに入力された信号又はこの反転信号のいずれかを切り替えて信号生成手段へ出力する第２の切り替え手段を信号生成装置に設ける。検査対象装置が出力する信号には、正論理及び負論理の両信号が含まれる可能性があるが、これらの信号を適宜に反転することによって信号生成手段が集約する信号の論理を揃えることができ、集約信号の生成を容易化できる。
【００３０】
また、本発明においては、上記の切替手段（入力ポートから信号生成手段へ信号を導くか否かを切り替える切替手段、及び／又は、入力ポートに入力された信号若しくはこの反転信号の切り替えを行う第２の切替手段）を、電気的に切り替えが可能な電子スイッチ（例えばトランジスタ又はリレー等）にて実現する。これにより、例えば外部から入力された制御信号などに応じて切替制御を行うことが容易となる。
【００３１】
また、本発明においては、信号生成装置は生成した集約信号の値を保持すると共に、保持した値の報知を行う。これにより、集約信号の値が変化したこと、即ち入力ポートに入力された複数の信号のいずれかの値が変化したことを容易に判断することができる。
【００３２】
また、本発明においては、検査対象装置が出力した信号に基づく集約信号の生成を検査装置が行う。信号の集約は、例えば論理回路などを用いてハードウェア的に行ってもよく、検査装置のＣＰＵ（Central Processing Unit）などの演算によりソフトウェア的に行ってもよい。また検査装置は、値が変化する信号について期待値を記憶しており、信号の集約を行わない信号の値と記憶した期待値との整合を判定すると共に、集約信号については値の変化の有無を判定する。検査装置は、これら両判定結果に応じて、検査対象装置の異常を検出する。これにより、検査対象装置の値が変化する信号については期待値との整合により正しい変化が行われていることを確認でき、値が変化しない信号については値が変化していないことを確認できるため、検査対象装置の異常を高精度で検出できる。
【００３３】
また、本発明においては、集約すべき信号の選択に係る情報を例えばテーブルなどとして検査装置が記憶しており、この情報に応じて集約信号の生成を行う。これにより、記憶した情報を変更することによって集約する信号を変更することができ、異なる内容の複数の検査を短期間で行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００３４】
本発明による場合は、検査対象装置の複数の出力信号のうち、正常な場合に値が変化しない複数の信号を集約して、いずれかの信号の値が変化した場合に出力値が変化する集約信号を生成し、集約信号の変化の有無に応じて検査対象装置の異常の有無を判断する構成とすることにより、値が変化しないことが望まれる出力信号が検査中に変化しないことを確認することができる。また、信号生成装置にて集約信号を生成し、集約信号を検査装置へ入力する構成とすることにより、検査装置のメモリ容量及び入力ポート数等の制限を受けることなく検査を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】実施の形態１に係る検査システムの構成を示す模式図である。
【図２】信号集約装置の一構成例を示すブロック図である。
【図３】検査装置の構成を示すブロック図である。
【図４】集約信号判定部が行う判定処理の手順を示すフローチャートである。
【図５】異常検出部が行う異常検出処理の手順を示すフローチャートである。
【図６】実施の形態１の変形例１に係る信号集約装置の構成を示すブロック図である。
【図７】実施の形態１の変形例２に係る信号集約装置の構成を示すブロック図である。
【図８】報知部の一構成例を示す回路図である。
【図９】実施の形態１の変形例３に係る信号集約装置が備える選択割当回路の一構成例を示すブロック図である。
【図１０】実施の形態２に係る信号集約装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】実施の形態２に係る検査システムのＰＣによる信号集約装置の切替制御処理の手順を示すフローチャートである。
【図１２】実施の形態３に係る検査装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】信号情報の一例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００３６】
（実施の形態１）
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。図１は、実施の形態１に係る検査システムの構成を示す模式図である。実施の形態１に係る検査システムは、ＰＣ１、検査装置３及び信号集約装置（信号生成装置）５を含み、検査対象ＥＣＵ（検査対象装置）７の動作について異常の有無を検査する。ＰＣ１は、汎用のコンピュータであり、例えば検査の開始及び停止、並びに、検査結果の取得及び表示等の操作をユーザが行うためのものである。ＰＣ１は、検査装置３と例えばＵＳＢ（Universal Serial Bus）ケーブルなどにて接続され、検査装置３との間で種々の情報の送受信を行う。例えばＰＣ１から検査装置３へ、検査プログラム、入力信号のパターン、出力信号の期待値及び検査の制御に係る情報等が送信され、検査装置３からＰＣ１へ、検査結果が送信される。
【００３７】
検査装置３は、その出力ポートが検査対象ＥＣＵ７の入力ポートに一又は複数の信号ケーブルを介して接続されている。検査装置３は、検査対象ＥＣＵ７へ入力する複数の信号のパターンを記憶しており（例えば入力信号がハイレベル／ローレベルの２値信号である場合、検査における時間経過と信号の値との対応を記憶しており）、ＰＣ１の制御に応じて記憶したパターンに応じた入力信号を生成して検査対象ＥＣＵ７へ入力する。また検査装置３は、その入力ポートが検査対象ＥＣＵ７の出力ポートに、一又は複数の信号ケーブル及び信号集約装置５を介して接続されている。検査装置３は、入力信号のパターンに対応付けて、検査対象ＥＣＵ７が出力する出力信号の期待値を記憶しており、検査対象ＥＣＵ７の出力信号の値と記憶した期待値とが一致するか否かを判定する。なお図１においては、検査対象ＥＣＵ７の全ての出力信号が信号集約装置５へ入力される構成を示したが、検査対象ＥＣＵ７から検査装置３へ直接的に入力される出力信号があってもよい。
【００３８】
信号集約装置５は、検査装置３及び検査対象ＥＣＵ７の間に介在し、検査対象ＥＣＵ７が出力した信号を検査装置３へ中継する。このときに信号集約装置５は、検査対象ＥＣＵ７が出力する複数の信号のうち、いくつかの信号を検査装置３へスルーして出力すると共に、いくつかの信号（残りの信号）を集約した１つの集約信号を生成して検査装置３へ出力する。
【００３９】
図２は、信号集約装置５の一構成例を示すブロック図である。信号集約装置５は、ｎ個の入力ポートＩ１〜Ｉｎと、ｎ＋１個の出力ポートＯ１〜Ｏｎ及びＳを備えている。信号集約装置５のｎ個の入力ポートＩ１〜Ｉｎは、それぞれ信号線を介して検査対象ＥＣＵ７の出力ポートに接続される。ただし、検査対象ＥＣＵ７がｎ個又はｎ個以上の出力ポートを備えているものとする（検査対象ＥＣＵ７の出力ポートがｎ個未満の場合、検査対象ＥＣＵ７の出力ポートに接続されない信号集約装置５の入力ポートＩ１〜Ｉｎは、例えば接地電位などに接続することが好ましい）。信号集約装置５のｎ個の出力ポートＯ１〜Ｏｎは、対応する入力ポートＩ１〜Ｉｎに入力された信号又はその反転信号を出力するものであり、必要に応じて、信号線を介して検査装置３の入力ポートに接続される。また信号集約装置５の出力ポートＳは、入力ポートＩ１〜Ｉｎに入力された信号のいくつか又は全てを集約した集約信号を出力するためのものであり、信号線を介して検査装置３の入力ポートに接続される。
【００４０】
また信号集約装置５は、信号の伝達経路を切り替えるための２種の切替部５１及び５２をそれぞれｎ個ずつ備えている。切替部５１は、スイッチＳＷ１をそれぞれ有して構成されている。切替部５２は、反転素子ＩＮＶ及びスイッチＳＷ２をそれぞれ有して構成されている。スイッチＳＷ１及びＳＷ２は、それぞれ２接点の切り替えを行う機械式のスイッチであり、ユーザが切り替え操作を行うことできる（即ちスイッチＳＷ１及びＳＷ２は、ユーザの操作受付と信号の伝達経路の切り替えとの両機能を有している）。
【００４１】
入力ポートＩ１〜Ｉｎは、切替部５２のスイッチＳＷ２の一方の接点にそれぞれ接続されると共に、反転素子ＩＮＶの入力にそれぞれ接続されている。反転素子ＩＮＶの出力は、スイッチＳＷ２の他方の接点に接続されている。スイッチＳＷ２は、入力ポートＩ１〜Ｉｎに入力された信号又は反転素子ＩＮＶによる反転信号のいずれかを選択するためのスイッチである。スイッチＳＷ２にて選択された信号は、対応する出力ポートＯ１〜Ｏｎから出力される。またスイッチＳＷ２の共通接点は、スイッチＳＷ１の一方の接点に接続されており、スイッチＳＷ１の他方の接点は接地電位に接続されている。スイッチＳＷ１の共通接点は、ｎ入力１出力の論理和素子ＯＲの入力に接続されている。スイッチＳＷ１は、入力ポートＩ１〜Ｉｎ〜入力された信号（若しくはその反転信号）、又は、接地電位（ローレベル）の何れかを選択し、論理和素子ＯＲへ入力するためのスイッチである。
【００４２】
論理和素子ＯＲは、複数の入力の全てがローレベルの場合にローレベルを出力し、いずれかの入力がハイレベルの場合にハイレベルを出力する素子である。なお論理和素子ＯＲは、ｎ入力１出力のものを用いるのではなく、例えば２入力１出力の論理和素子を複数用いて構成してもよい。論理和素子ＯＲは、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された複数の信号を集約し、集約信号として出力ポートＳから出力する。よって切替部５１のスイッチＳＷ１は、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された信号（又はその反転信号）を、論理和素子ＯＲによって集約するか否かを選択するためのスイッチである。
【００４３】
信号集約装置５を検査装置３及び検査対象ＥＣＵ７に接続した後、ユーザはｎ個のスイッチＳＷ１及びｎ個のスイッチＳＷ２を適宜に切り替えることによって、検査の準備を行う。このときユーザは、検査において値が変化しないことが期待される信号が入力される入力ポートＩ１〜Ｉｎに対応するスイッチＳＷ１を、論理和素子ＯＲに接続する側へ切り替えると共に、その他のスイッチＳＷ１を接地電位側へ切り替える。またスイッチＳＷ１を論理和素子ＯＲに接続する側へ切り替えた入力ポートＩ１〜Ｉｎについて、ユーザは、入力信号が負論理の場合にスイッチＳＷ２を反転素子ＩＮＶ側へ切り替える。なお信号集約装置５は、検査において値が変化する信号が入力される入力ポートＩ１〜Ｉｎに対応する出力ポートＯ１〜Ｏｎと、集約信号が出力される出力ポートＳとが、検査装置３の入力ポートに接続されている必要がある。またその他の出力ポートＯ１〜Ｏｎは、検査装置３に接続されていてもよく、接続されていなくてもよい。
【００４４】
検査装置３は、信号集約装置５の出力ポートＯ１〜Ｏｎから出力された信号（のうちの必要なもの）について、信号の値とその期待値とを比較し、これらが一致するか否かを判定する。検査装置３は、信号の値と期待値とが一致した場合に検査対象ＥＣＵ７が正常に動作していると判断し、一致しない場合に異常が発生していると判断することができる。また検査装置３は、信号集約装置５の出力ポートＳから出力された集約信号について、その値がハイレベルに変化したか否かを判定する。検査装置３は、集約信号がローレベルから変化していない場合に検査対象ＥＣＵ７が正常に動作していると判断し、集約信号がハイレベルに変化した場合に異常が発生していると判断することができる。
【００４５】
図３は、検査装置３の構成を示すブロック図である。なお図３においては、信号集約装置５及び検査対象ＥＣＵ７との信号授受に係る機能ブロックのみを示し、ＰＣ１との情報授受などその他の機能ブロックについては図示を省略してある。検査装置３は、記憶部３１、入力信号生成部３５、期待値比較部３６、集約信号判定部３７及び異常検出部３８等を備えて構成されている。
【００４６】
記憶部３１は、例えばハードディスクなどで構成されるものであり、入力信号パターン３２、出力期待値３３及び検査結果３４等のデータを記憶する。入力信号パターン３２及び出力期待値３３は、検査の開始前にＰＣ１から与えられるデータである。検査結果３４は、検査装置３により生成されるデータであり、検査対象ＥＣＵ７に対する検査結果として異常の有無などの情報が含まれている。なお検査装置３は、検査において取得した検査対象ＥＣＵ７の出力信号値の一部又は全部を検査結果３４として記憶してもよい。また検査により異常が有ると判断した検査対象ＥＣＵ７に関する情報のみを検査結果３４として記憶してもよい。
【００４７】
入力信号パターン３２は、例えば検査における時間経過と信号の値との対応が記憶されている。入力信号生成部３５は、記憶部３１に記憶された入力信号パターン３２を読み出し、検査の時間経過に応じて対応する値の信号を生成して出力する。入力信号生成部３５が生成した一又は複数の信号は、検査装置３の出力ポートから出力され、信号線を介して検査対象ＥＣＵ７の入力ポートへ入力される。検査対象ＥＣＵ７は、検査装置３からの入力信号により動作し、動作に応じた信号を出力ポートから出力する。
【００４８】
検査対象ＥＣＵ７が出力した信号は、信号集約装置５を介して検査装置３へ入力される。このとき、信号集約装置５の出力ポートＯ１〜Ｏｎから出力された信号は検査装置３の期待値比較部３６へ入力され、出力ポートＳから出力された信号は集約信号判定部３７へ入力される。期待値比較部３６は、記憶部３１に記憶された出力期待値３３を読み出し、信号集約装置５を介して与えられる検査対象ＥＣＵ７の出力信号の値と期待値との比較を行い、出力信号値が期待値に一致するか否かの比較結果を異常検出部３８へ与える。なお出力期待値３３には、例えば検査における時間経過と信号の期待値との対応が記憶されている。
【００４９】
集約信号判定部３７は、信号集約装置５にて集約された信号に変化が生じたか否かを判定する。図２に示した信号集約装置５が出力ポートＳから出力する集約信号は、期待値がローレベルであり、検査対象ＥＣＵ７が出力した集約対象の複数の出力信号のいずれかが変化した場合にハイレベルに変化する。よって集約信号判定部３７は、入力された集約信号がハイレベルに変化したか否かを判定し、判定結果を異常検出部３８へ与える。
【００５０】
異常検出部３８は、期待値比較部３６による比較結果と、集約信号判定部３７による判定結果とに応じて、検査対象ＥＣＵ７の異常を検出する。即ち異常検出部３８は、検査対象ＥＣＵ７の出力信号が期待値と一致しないとの比較結果が期待値比較部３６から与えられた場合に、検査対象ＥＣＵ７に異常があると判断する。また異常検出部３８は、信号集約装置５が集約した信号に変化が生じたとの判定結果が集約信号判定部３７から与えられた場合に、検査対象ＥＣＵ７に異常があると判断する。異常検出部３８は、検査対象ＥＣＵ７の異常の有無などの情報を含む検査結果３４を生成して記憶部３１に記憶する。
【００５１】
図４は、集約信号判定部３７が行う判定処理の手順を示すフローチャートである。まず集約信号判定部３７は、集約信号に係る判定結果を”異常なし”に初期化する（ステップＳ１）。次いで集約信号判定部３７は、信号集約装置５からの集約信号の値を取得し（ステップＳ２）、取得した値がローレベルであるか否かを判定する（ステップＳ３）。集約信号判定部３７は、集約信号の値がハイレベルの場合（Ｓ３：ＮＯ）、判定結果を”異常あり”と設定し（ステップＳ４）、また集約信号の値がローレベルの場合（Ｓ３：ＹＥＳ）、判定結果を維持する。
【００５２】
集約信号判定部３７は、異常検出部３８へ判定結果を出力し（ステップＳ５）、検査が終了したか否かを判定する（ステップＳ６）。検査が終了していないと判定した場合（Ｓ６：ＮＯ）、集約信号判定部３７は、ステップＳ２へ処理を戻し、検査が終了するまで上述の処理を繰り返し行う。検査が終了したと判定した場合（Ｓ６：ＹＥＳ）、集約信号判定部３７は、判定処理を終了する。
【００５３】
図５は、異常検出部３８が行う異常検出処理の手順を示すフローチャートである。まず異常検出部３８は、異常検出結果を”異常なし”に初期化する（ステップＳ１１）。次いで異常検出部３８は、検査対象ＥＣＵ７の出力信号と期待値との比較結果を期待値比較部３６から取得すると共に（ステップＳ１２）、集約信号の判定結果を集約信号判定部３７から取得する（ステップＳ１３）。
【００５４】
異常検出部３８は、期待値比較部３６から取得した比較結果が異常ありであるか否かを判定し（ステップＳ１４）、比較結果が異常なしの場合（Ｓ１４：ＮＯ）、集約信号判定部３７から取得した判定結果が異常ありであるか否かを更に判定する（ステップＳ１５）。比較結果が異常ありの場合（Ｓ１４：ＹＥＳ）、又は、判定結果が異常ありの場合（Ｓ１５：ＹＥＳ）、異常検出部３８は、異常検出結果を”異常あり”と設定し（ステップＳ１６）、ステップＳ１７へ処理を進める。また判定結果が異常なしの場合（Ｓ１５：ＮＯ）、異常検出部３８は、異常検出結果を維持してステップＳ１７へ処理を進める。
【００５５】
その後、異常検出部３８は、異常検出結果を記憶部３１に検査結果３４として記憶し（ステップＳ１７）、検査が終了したか否かを判定する（ステップＳ１８）。検査が終了していないと判定した場合（Ｓ１８：ＮＯ）、異常検出部３８は、ステップＳ１２へ処理を戻し、検査が終了するまで上述の処理を繰り返し行う。検査が終了したと判定した場合（Ｓ１８：ＹＥＳ）、異常検出部３８は、異常検出処理を終了する。
【００５６】
以上の構成の実施の形態１に係る検査システムは、検査において期待値が変化しない検査対象ＥＣＵ７の出力信号を信号集約装置５が集約し、集約した複数の信号のいずれかの値が変化した場合にその値が変化する集約信号を生成して出力する構成とすることにより、検査装置３は集約信号の変化の有無を判定することによって検査対象ＥＣＵ７の異常を検出することができる。信号集約装置５が複数の信号を集約して出力するため、検査装置３のメモリ容量及び入力ポート数等の制限を受けることなく、値が変化しないことが期待される信号の検査を行うことができる。
【００５７】
また、集約信号の生成を行う信号集約装置５を検査装置３及び検査対象ＥＣＵ７の間に介在させる構成とすることにより、既存の検査装置３を用いた検査システムに信号集約装置５を付加することで、値が変化しないことが期待される信号の検査を容易に行うことができる。また、信号集約装置５は、切替部５１のスイッチＳＷ１により集約すべき信号の選択を受け付けると共に、入力ポートＩ１〜Ｉｎから論理和素子ＯＲまでの信号経路の接続／遮断を切り替える構成とすることにより、例えば検査内容の変更（入力信号パターン３２の変更など）により集約すべき信号が変化した場合であっても、スイッチＳＷ１の切り替えにより容易に対応することができる。また、信号集約装置５は、切替部５２の反転素子ＩＮＶにより信号の論理を反転し、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された信号又はその反転信号のいずれかをスイッチＳＷ２により切り替えて集約する構成とすることにより、検査対象ＥＣＵ７の出力信号に負論理のものが含まれる場合であっても、スイッチＳＷ２の切り替えにより容易に対応することができる。
【００５８】
なお本実施の形態においては、検査システムによる検査の対象を検査対象ＥＣＵ７としたが、これに限るものではなく、ＥＣＵ以外のその他の種々の電子装置を検査対象としてもよい。また、図４及び図５に示したフローチャートでは、検査装置３は異常が検出された場合であっても以降の検査を継続して行っているが、これに限るものではなく、異常が検出された場合には検査を終了してもよい。また、信号集約装置５は論理和素子ＯＲにより複数の信号を集約する構成としたが、これに限るものではなく、その他の種々の回路構成により信号を集約する構成であってよい。
【００５９】
（変形例１）
図６は、実施の形態１の変形例１に係る信号集約装置の構成を示すブロック図である。変形例１に係る信号集約装置５ａは、ｎ個の入力ポートＩ１〜Ｉｎと１つの出力ポートＳを有し、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力されたｎ個の入力信号を論理和素子ＯＲにて集約し、出力ポートＳから集約信号を出力する構成である。また各入力ポートＩ１〜Ｉｎから論理和素子ＯＲまでの各信号経路には切替部５２が設けられており、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された信号又はこの信号の反転信号の何れかをスイッチＳＷ２の切り替えにより選択して論理和素子ＯＲへ入力することができる。
【００６０】
なお変形例１の信号集約装置５ａは、入力ポートＩ１〜Ｉｎから入力された信号をスルーして出力する出力ポートを有していない。このため、図示は省略するが、検査対象ＥＣＵ７の出力信号のうち、信号集約装置５ａにて集約しない出力信号は、検査装置３の入力ポートへ直接的に接続される。
【００６１】
（変形例２）
図７は、実施の形態１の変形例２に係る信号集約装置の構成を示すブロック図である。変形例２に係る信号集約装置５ｂは、図２に示した信号集約装置５に対して、報知部５３を追加した構成である。報知部５３は、信号の集約を行う論理和素子ＯＲの出力信号（集約信号）が入力されており、集約信号の変化をユーザに報知する。
【００６２】
図８は、報知部５３の一構成例を示す回路図である。報知部５３は、ＳＲ（セット・リセット）ラッチ５４を有し、論理和素子ＯＲが出力した集約信号はＳＲラッチ５４のＳ端子へ入力される。ＳＲラッチ５４は、信号の値を保持する回路素子であり、Ｓ端子へハイレベルの信号が入力されることにより、ハイレベルの信号値が保持され、Ｑ端子からハイレベルの信号が出力される。またＳＲラッチ５４は、Ｒ端子へハイレベルの信号が入力されることにより、保持した信号値がリセットされ、Ｑ端子からローレベルの信号が出力される。ＳＲラッチ５４のＲ端子は、プッシュ式のスイッチＳＷ３を介して電源電位（ＶＤＤ）に接続されると共に、抵抗Ｒ１を介して接地電位に接続されており、ユーザのプッシュ操作によりスイッチＳＷ３を接続することによって、Ｒ端子にハイレベルが入力され、ＳＲラッチ５４が保持した信号値をリセットできるようにしてある。またＳＲラッチ５４のＱ端子は抵抗Ｒ２及びＲ３を介して接地電位に接続されている。
【００６３】
また、報知部５３は、ユーザに対する報知を行うための発光ダイオードＤを有している。発光ダイオードＤのアノード端子は、抵抗Ｒ４を介して電源電位に接続されており、ＮＰＮ形のバイポーラトランジスタＴを介して接地電位に接続されている。バイポーラトランジスタＴは、コレクタ端子が発光ダイオードＤのカソード端子に接続され、エミッタ端子が接地電位に接続され、ベース端子が抵抗Ｒ２及びＲ３の接続点に接続されている。
【００６４】
例えば検査の開始前にユーザがスイッチＳＷ３に対するプッシュ操作を行い、ＳＲラッチ５４をリセットする。これによりＳＲラッチ５４は、Ｑ端子からローレベルの信号が出力され、ベース端子がローレベル（接地電位）となるためバイポーラトランジスタＴはオフし、発光ダイオードＤは電流が流れないため発光しない。
【００６５】
検査の過程において信号集約装置５ｂの入力ポートＩ１〜Ｉｎに入力された信号のいずれかが変化し、論理和素子ＯＲがハイレベルを出力した場合、これを保持したＳＲラッチ５４のＱ端子からハイレベルの信号が出力される。バイポーラトランジスタＴのベース端子には、ハイレベル（電源電位）の信号を抵抗Ｒ２及びＲ３にて分圧した電圧が入力される。これにより、バイポーラトランジスタＴはベースからエミッタへ電流が流れ、バイポーラトランジスタＴがオンしてコレクタからエミッタへ電流が流れ、発光ダイオードＤに電流が流れて点灯する。その後、論理和素子ＯＲの出力がローレベルに変化した場合であっても、発光ダイオードＤの点灯はスイッチＳＷ３に対する操作がなされるまで継続される。
【００６６】
このように、論理和素子ＯＲによる集約信号のハイレベルへの変化をＳＲラッチ５４にて保持し、ＳＲラッチ５４のＱ出力に応じて発光ダイオードＤを点灯する構成とすることにより、値が変化しないことが期待される検査対象ＥＣＵ７の出力信号のいずれかが変化したことを、ユーザが発光ダイオードＤの点灯により容易に判断することができる。なお、信号集約装置５ｂは、報知部５３を備える場合、論理和素子ＯＲの集約信号を出力する出力ポートＳを備えていない構成であってもよい。
【００６７】
（変形例３）
上述の実施の形態１において図２に示した信号集約装置５は、ｎ個の入力ポートＩ１〜Ｉｎとｎ個の出力ポートＯ１〜Ｏｎとを備える構成である。しかし信号集約装置５は、入出力のポート数が同じでなくてもよく、ｎ個の入力ポートＩ１〜Ｉｎとｍ（ｍ≦ｎ）個の出力ポートＯ１〜Ｏｍとを備える構成であってよい。このような構成の場合、信号集約装置５には、入力ポートＩ１〜Ｉｎに入力されたｎ個の信号から、ｍ個の信号を選択して出力ポートＯ１〜Ｏｍに割り当てる選択割当回路を設ける。
【００６８】
図９は、実施の形態１の変形例３に係る信号集約装置５が備える選択割当回路５５の一構成例を示すブロック図である。例えば信号集約装置５が、８個の入力ポートＩ１〜Ｉ８と、５個の出力ポートＯ１〜Ｏ５を備える構成であるとする。図示の選択割当回路５５は、４つの切替部５６と、１つの切替部５７とを備えて構成されている。例えば入力ポートＩ１及びＩ２からの信号が入力される切替部５６は、入力された２つの信号の一方を出力ポートＯ１へ出力し、他方を切替部５７へ出力する。他の切替部５６についても同様である。切替部５７は、４つの切替部５６からの４つの信号から１つの信号を選択して出力ポートＯ５へ出力する。これにより選択割当回路５５は、信号集約装置５の入力ポートＩ１〜Ｉ８から入力された８個の信号から５個の信号を選択し、出力ポートＯ１〜Ｏ５に割り当てて出力することができる。
【００６９】
なお変形例３において図９に示した選択割当回路５５の構成は一例であり、これに限るものではない。例えば選択割当回路５５は、ｎ個の入力信号からｍ個の信号を選択し、選択したｍ個の信号とこれらを出力するｍ個の出力ポートＯ１〜Ｏｍとの対応を任意に変更することができる構成であってもよい。
【００７０】
（実施の形態２）
上述の実施の形態１においては、信号集約装置５が備える複数のスイッチＳＷ１及びＳＷ２の切り替えをユーザが行う構成について説明した。これに対して実施の形態２に係る検査システムは、信号集約装置２０５のスイッチＳＷ１及びＳＷ２の切り替えを外部の装置が制御する構成である。図１０は、実施の形態２に係る信号集約装置２０５の構成を示すブロック図である。実施の形態２に係る信号集約装置２０５は、図２に示した信号集約装置５に対して、切替制御部２５５を追加すると共に、切替部５１及び５２に設けられたスイッチＳＷ１及びＳＷ２を電気的に切り替えることができる電子スイッチとした構成である。
【００７１】
切替部５１及び５２のスイッチＳＷ１及びＳＷ２は、例えばＭＯＳ（Metal Oxide Semiconductor）トランジスタを利用したアナログスイッチ、又は、電磁式リレー若しくは半導体リレー等のように、信号入力によって接続／遮断を切り替えることができる電子スイッチである。各スイッチＳＷ１及びＳＷ２には、切替制御部２５５からそれぞれ別の切替制御信号が入力され、切替制御部２５５が個別に切り替えを行うことができる。
【００７２】
切替制御部２５５は、ＰＣ１からの制御信号が与えられており、この制御信号に応じて各スイッチＳＷ１及びＳＷ２の切り替えを個別に制御する。例えば、ＰＣ１及び信号集約装置２０５は１つの信号線を介してシリアル通信を行う構成とすることができる。ＰＣ１は、切替制御部に対して切り替えを行わせる命令に相当する数ビットの命令データに、切替制御の対象としてスイッチＳＷ１又はＳＷ２のいずれかを選択する１ビットの選択データと、各スイッチＳＷ１又はＳＷ２の接続／遮断をそれぞれ１ビットで表したｎビットの切替データとを付加したシリアルデータを制御信号として切替制御部２５５へ送信する。切替制御部２５５は、スイッチＳＷ１用のｎビットの第１のシフトレジスタと、スイッチＳＷ２用のｎビットの第２のシフトレジスタとを有し、ＰＣ１からのシリアルデータに含まれるｎビットの切替データを第１又は第２のシフトレジスタにセットする。第１及び第２のシフトレジスタの値は、それぞれ対応するスイッチＳＷ１及びＳＷ２へ切替制御信号として与えられる。各スイッチＳＷ１及びＳＷ２は、シフトレジスタから与えられた切替制御信号に応じて、接続／遮断を切り替える。
【００７３】
図１１は、実施の形態２に係る検査システムのＰＣ１による信号集約装置２０５の切替制御処理の手順を示すフローチャートである。なお、本フローチャートでは、検査対象ＥＣＵ７に対してＭ種類の検査を行うものとする。ＰＣ１は、各検査において検査対象ＥＣＵ７のいずれの出力信号が値の変化しないことが期待される信号であるか、及び、各出力信号が正論理又は負論理のいずれであるかを示す情報を、ハードディスクなどに信号情報として予め記憶しているものとする。またＰＣ１は、変数ｉを用いて処理を行うが、この変数ｉは、例えばＰＣ１に搭載されたＣＰＵのレジスタ又はメモリ等の記憶領域を利用して実現されるものであり、検査対象ＥＣＵ７に対する検査の番号（１〜Ｍ）を記憶する。
【００７４】
まずＰＣ１は、検査対象ＥＣＵ７の検査に必要な入力信号パターン３２及び出力期待値３３を検査装置３へ送信する（ステップＳ２１）。これにより検査装置３は、受信した入力信号パターン３２及び出力期待値３３を記憶部３１に記憶する。次いでＰＣ１は、変数ｉを１に初期化し（ステップＳ２２）、ｉ番目の検査に関する信号情報を読み出す（ステップＳ２３）。ＰＣ１は、読み出した信号情報によりいずれの出力信号を集約するかを判断し、集約する信号を指示する制御信号を信号集約装置２０５へ送信する（ステップＳ２４）。
【００７５】
その後、ＰＣ１は、検査装置３へ指示を与えることによりｉ番目の検査を開始し（ステップＳ２５）、この検査が終了したか否かを判定する（ステップＳ２６）。ｉ番目の検査が終了していない場合（Ｓ２６：ＮＯ）、ＰＣ１は、この検査が終了するまで待機する。ｉ番目の検査が終了した場合（Ｓ２６：ＹＥＳ）、ＰＣ１は、検査装置３からｉ番目の検査の結果を取得する（ステップＳ２７）。ＰＣ１は、変数ｉに１を加算し（ステップＳ２８）、変数ｉの値が検査数Ｍを超えたか否かを判定する（ステップＳ２９）。変数ｉが検査数Ｍを超えていない場合（Ｓ２９：ＮＯ）、ＰＣ１は、ステップＳ２３へ処理を戻し、上述のステップＳ２３〜Ｓ２８の処理を繰り返し行う。変数ｉが検査数Ｍを超えた場合（Ｓ２９：ＹＥＳ）、ＰＣ１は、検査を終了する。
【００７６】
以上の構成の実施の形態２に係る検査システムは、信号集約装置２０５の切替制御部２５５が外部の装置からの制御信号により集約する信号の選択を受け付け、これに応じてスイッチＳＷ１及びＳＷ２の接続／遮断を切り替える構成とすることにより、外部の装置にて信号の選択を自動的に行うことができ、ユーザがスイッチＳＷ及びＳＷ２の切り替えを直接的に行う必要がなくなる。よって、集約すべき信号の種別及び数等が異なる複数の検査を連続的に行うことが容易となり、複数の検査を短期間で行うことができる。
【００７７】
なお実施の形態２においては、信号集約装置２０５の切替制御部２５５への制御信号をＰＣ１が生成して出力する構成としたが、これに限るものではなく、例えば検査装置３が制御信号を生成してもよく、その他の装置が制御信号を生成してもよい。また実施の形態２に係る検査システムのその他の構成は、実施の形態１に係る検査システムの構成と同様であるため、同様の箇所には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
【００７８】
（実施の形態３）
実施の形態３に係る検査システムは、実施の形態１又は２のように信号集約装置５又は２０５を備えておらず、検査装置３０３の入出力ポート及び検査対象ＥＣＵ７の入出力ポートがそれぞれ信号線で接続される（図示は省略する）。図１２は、実施の形態３に係る検査装置３０３の構成を示すブロック図である。実施の形態３に係る検査装置３０３は、検査対象ＥＣＵ７の出力信号を集約する信号集約部３５２と、この信号集約部３５２によりいずれの信号を集約するかに関する切替を制御する切替制御部３５１とを備えている。なお切替制御部３５１及び信号集約部３５２は、検査装置３０３内に例えば図１０に示した信号集約装置２０５と同様の回路を設けることによってハードウェアとして実現されるものであってもよく、また例えば検査装置３０３のＣＰＵなどによりソフトウェアとして実現されるものであってもよい。
【００７９】
また実施の形態３に係る検査装置３０３の記憶部３１には、信号情報３３５が記憶されている。図１３は、信号情報３３５の一例を示す模式図である。検査装置３０３が記憶する信号情報３３５は、信号名（又は入力ポート番号などであってもよい）と、各信号の論理（正論理であるか又は負論理であるか）と、検査１〜検査Ｍにおける各信号の集約の要否とが対応付けられている。切替制御部３５１は、記憶部３１から信号情報３３５を読み出し、各信号の論理及び各検査での集約の要否に応じて、信号集約部３５２に対する制御を行う。
【００８０】
信号集約部３５２は、検査装置３０３の入力ポートに入力された信号（即ち検査対象ＥＣＵ７の出力信号）が与えられている。信号集約部３５２は、切替制御部３５１の制御に応じて、集約する必要がない信号を期待値比較部３６へ出力する。期待値比較部３６は、記憶部３１に記憶された出力期待値３３を読み出し、信号集約部３５２から与えられる信号の値と期待値との比較を行い、信号値が期待値に一致するか否かの比較結果を異常検出部３８へ与える。
【００８１】
また信号集約部３５２は、切替制御部３５１の制御に応じて、集約する必要がある信号について、信号値の論理和を算出し、算出結果を集約信号として集約信号判定部３７へ出力する。なお信号集約部３５２は、集約する必要がある信号であり且つ論理が負論理の信号については、切替制御部３５１の制御に応じて、論理を反転した後で論理和の算出を行う。集約信号判定部３７は、信号集約部３５２にて集約された信号に変化が生じたか否かを判定する。例えば信号集約部３５２が出力する集約信号の期待値がローレベルの場合、集約信号判定部３７はこの集約信号がハイレベルに変化したか否かを判定し、判定結果を異常検出部３８へ与える。
【００８２】
切替制御部３５１は、検査対象ＥＣＵ７に対する検査内容（検査１〜検査Ｍ）が変更される都度、信号情報３３５に応じた信号集約部３５２の制御を行い、信号集約部３５２が集約する信号を切り替える。入力信号生成部３５は、切替制御部３５１による切り替えが終了した後、検査内容に応じて入力信号を生成して検査対象ＥＣＵ７へ与える。異常検出部３８は、期待値比較部３６の比較結果と、集約信号判定部３７の判定結果とに応じて、検査対象ＥＣＵ７の異常を検出し、検査結果３４を記憶部３１に記憶する。
【００８３】
以上の構成の実施の形態３に係る検査システムは、信号の集約を検査装置３０３が行う構成とすることにより、信号集約装置を設ける必要がないため、検査対象ＥＣＵ７及び検査装置３０３の間の配線が容易となる。
【００８４】
なお実施の形態３においては、信号集約部３５２が信号の論理和を算出して集約信号として出力し、集約信号判定部３７が集約信号の変化の有無を判定する構成としたが、これに限るものではない。例えば集約対象とされた複数の信号について、信号集約部３５２が各信号の変化の有無を個別に判定し、判定結果を集約して出力する構成であってもよい。この構成は、例えば信号集約部３５２をソフトウェアとして実現する場合に好適であり、この場合には集約信号判定部３７は不要であり、信号集約部３５２の出力を異常検出部３８へ与えればよい。またこの場合に信号集約部３５２は、各信号の論理に応じて信号を判定する必要はない。
【００８５】
また実施の形態３に係る検査システムのその他の構成は、実施の形態２に係る検査システムの構成と同様であるため、同様の箇所には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
【符号の説明】
【００８６】
１  ＰＣ（外部の装置）
３  検査装置
５、５ａ、５ｂ  信号集約装置（信号生成手段、信号生成装置）
７  検査対象ＥＣＵ（検査対象装置）
３１  記憶部（期待値記憶手段）
３２  入力信号パターン
３３  出力期待値
３４  検査結果
３５  入力信号生成部
３６  期待値比較部（第１の判定手段）
３７  集約信号判定部（第２の判定手段）
３８  異常検出部
５１  切替部
５２  切替部
５３  報知部（報知手段）
５４  ＳＲラッチ（保持手段）
２０５  信号集約装置（信号生成手段、信号生成装置）
２５５  切替制御部
３０３  検査装置
３３１  信号情報
３５１  切替制御部
３５２  信号集約部（信号生成手段）
Ｄ  発光ダイオード（報知手段）
ＩＮＶ  反転素子（信号反転手段）
ＯＲ  論理和素子（信号生成手段）
Ｒ１〜Ｒ４  抵抗
ＳＷ１  スイッチ（切替手段）
ＳＷ２  スイッチ（第２の切替手段）
ＳＷ３  スイッチ
Ｔ  バイポーラトランジスタ
Ｉ１〜Ｉｎ  入力ポート
Ｏ１〜Ｏｎ  出力ポート
Ｓ  出力ポート
【図１】
2014016171.tif 000003
【図２】
2014016171.tif 000004
【図３】
2014016171.tif 000005
【図４】
2014016171.tif 000006
【図５】
2014016171.tif 000007
【図６】
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【図７】
2014016171.tif 000009
【図８】
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【図９】
2014016171.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
2014016171.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2014016171.tif 000015