(57)【要約】【課題】  検者が所望する部位における断層画像を好適に取得できる。【解決手段】  光源から発せられた測定光を、被検眼上で横断方向に走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を生成するためのＯＣＴ光学系と、被検眼の正面画像を生成するための観察光学系と、正面画像を表示手段に表示させる第１表示制御手段と、検者からの指示の入力を受け付ける指示受付手段と、前記指示受付手段によって受け付けられた指示に応じて、走査手段による走査位置を設定するための走査パターンを、正面画像上の任意の位置に表示する第２表示制御手段と、走査手段の駆動を制御し、正面画像上の走査パターンに対応する走査位置に、測定光を走査させる走査制御手段と、正面画像上における走査パターンの位置に応じて、走査パターンを変形するパターン変形手段と、を備え、変形された走査パターンにて断層画像を取得する。【選択図】      図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から発せられた測定光を、被検眼上で横断方向に走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を生成するためのＯＣＴ光学系と、
被検眼の正面画像を生成するための観察光学系と、
前記正面画像を表示手段に表示させる第１表示制御手段と、
検者からの指示の入力を受け付ける指示受付手段と、
前記指示受付手段によって受け付けられた指示に応じて、前記走査手段による走査位置を設定するための走査パターンを、前記正面画像上の任意の位置に表示する第２表示制御手段と、
前記走査手段の駆動を制御し、前記正面画像上の前記走査パターンに対応する走査位置に、前記測定光を走査させる走査制御手段と、
前記正面画像上における前記走査パターンの位置に応じて、前記走査パターンを変形するパターン変形手段と、を備え、
変形された走査パターンにて前記断層画像を取得することが可能な眼科撮影装置。
【請求項２】
前記走査パターンは、複数の走査ラインから形成される走査パターンであって
前記パターン変形手段は、各走査ラインの交点が、前記正面画像の周辺部に配置されるように前記走査パターンを変形する請求項１の眼科撮影装置。
【請求項３】
パターン変形手段は、前記走査パターンを変形するか否かを判定するための基準領域を設定し、前記基準領域に対する前記走査パターンの位置関係に基づいて前記走査パターンを変形する請求項１〜２のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項４】
前記走査パターンは、複数の走査ラインから形成される走査パターンであって、
前記パターン変形手段は、前記走査パターンを変形させる場合、前記基準領域を超える前記走査ラインの移動を禁止すると共に、移動が禁止された前記走査ラインに対して他の前記走査ラインを移動させる請求項３の眼科撮影装置。
【請求項５】
前記走査パターンは、複数の走査ラインから形成される走査パターンであって、
前記パターン変形手段は、前記走査パターンを変形させる場合、各走査ライン間の角度関係を維持すると共に、第１方向に関する第１走査ラインに対して、第１方向に対して交差する第２方向に関する第２走査ラインを移動させる請求項１〜４のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項６】
パターン変形手段は、前記走査パターンを変形する場合、前記走査パターンを構成する走査ラインの幅を維持する請求項１〜５のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項７】
前記走査制御手段は、前記観察光学系によって取得されるライブ動画像に基づいて前記走査手段の駆動を制御し、前記変形された走査パターンにて走査される前記測定光の走査位置を補正する請求項１〜６のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項８】
前記変形された走査パターンに対応する走査位置を不揮発メモリに記憶する制御手段を備え、
前記走査制御手段は、前記不揮発メモリに記憶された前記走査位置にて前記測定光を走査させる請求項１〜７のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項９】
前記走査パターンは、複数の走査ラインから形成される走査パターンであって
変形された走査パターンにて取得された前記各断層画像を、走査ラインに応じて分けて不揮発メモリに記憶する制御手段を備える請求項１〜８のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項１０】
前記走査パターンは、複数の走査ラインが互いに交差するクロス状パターンである請求項１〜９のいずれかの眼科撮影装置。
【請求項１１】
光源から発せられた測定光を、被検物上で横断方向に走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を生成するためのＯＣＴ光学系と、
被検眼の正面画像を生成するための観察光学系と、
を備え、前記断層画像を取得する眼科撮影装置の動作を制御するための撮影制御プログラムであって、
前記眼科撮影装置を制御する制御装置のプロセッサによって実行されることで、
前記正面画像を表示手段に表示させる第１表示制御ステップと、
検者からの指示の入力を受け付ける指示受付ステップと、
前記指示受付ステップによって受け付けられた指示に応じて、前記走査手段による走査位置を設定するための走査パターンを、前記正面画像上の任意の位置に表示する第２表示制御ステップと、
前記走査手段の駆動を制御し、前記正面画像上の前記走査パターンに対応する走査位置に、前記測定光を走査させる走査制御ステップと、
前記正面画像上における前記走査パターンの位置に応じて、前記走査パターンを変形するパターン変形ステップと、
変形された走査パターンにて前記断層画像を取得する取得ステップと、
を前記眼科撮影装置に実行させるための撮影制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の断層画像を撮影するための眼科撮影装置及び撮影制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の所定部位（例えば、眼底、前眼部）における断層画像を非侵襲で撮影することができる眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた眼科用光断層干渉計（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が知られている（例えば、特許文献１参照）。この眼科撮影装置では、検者によって入力された指示に基づいて、断層画像の撮影位置が設定される場合がある。例えば、検者は、被検眼の正面から撮影された動画像をモニタで観察しながら、断層画像の撮影位置（つまり、測定光を走査させる横断位置）を指定する指示を、眼科撮影装置に入力する。眼科撮影装置は、検者によって指定された横断位置に測定光を走査し、測定光の反射光に基づいて断層画像を生成する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２９４６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、従来の装置において、予め設定された走査パターンを正面画像上で移動させる構成となっている。しかしながら、走査パターンによって設定される撮影位置は、予め設定された走査パターンの形状によって制約を受けるため、検者が所望する位置での断層画像を取得できない場合があった。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、検者が所望する部位における断層画像を好適に取得できる眼科撮影装置及び撮影制御プログラムを提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
光源から発せられた測定光を、被検眼上で横断方向に走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を生成するためのＯＣＴ光学系と、
被検眼の正面画像を生成するための観察光学系と、
前記正面画像を表示手段に表示させる第１表示制御手段と、
検者からの指示の入力を受け付ける指示受付手段と、
前記指示受付手段によって受け付けられた指示に応じて、前記走査手段による走査位置を設定するための走査パターンを、前記正面画像上の任意の位置に表示する第２表示制御手段と、
前記走査手段の駆動を制御し、前記正面画像上の前記走査パターンに対応する走査位置に、前記測定光を走査させる走査制御手段と、
前記正面画像上における前記走査パターンの位置に応じて、前記走査パターンを変形するパターン変形手段と、を備え、
変形された走査パターンにて前記断層画像を取得する眼科撮影装置。
【０００８】
光源から発せられた測定光を、被検物上で横断方向に走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を生成するためのＯＣＴ光学系と、
被検眼の正面画像を生成するための観察光学系と、
を備え、前記断層画像を取得する眼科撮影装置の動作を制御するための撮影制御プログラムであって、
前記眼科撮影装置を制御する制御装置のプロセッサによって実行されることで、
前記正面画像を表示手段に表示させる第１表示制御ステップと、
検者からの指示の入力を受け付ける指示受付ステップと、
前記指示受付ステップによって受け付けられた指示に応じて、前記走査手段による走査位置を設定するための走査パターンを、前記正面画像上の任意の位置に表示する第２表示制御ステップと、
前記走査手段の駆動を制御し、前記正面画像上の前記走査パターンに対応する走査位置に、前記測定光を走査させる走査制御ステップと、
前記正面画像上における前記走査パターンの位置に応じて、前記走査パターンを変形するパターン変形ステップと、
変形された走査パターンにて前記断層画像を取得する取得ステップと、
を前記眼科撮影装置に実行させるための撮影制御プログラム。
【発明の効果】
【０００９】
検者が所望する部位における断層画像を好適に取得できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。
【図２】表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。
【図３】走査パターンを変形する際の例を示すフローチャートである。
【図４】走査パターンの変形制御の一例について説明するための図であり、走査パターン変形前を示す。
【図５】走査パターンの変形制御の一例について説明するための図であり、走査パターン変形後を示す。
【図６】走査パターンが変形された後の表示画面の一例を示す図である。
【図７】走査パターンにおいて基準領域Ａを超えた部分については、光スキャナによる走査しない場合の一例を示す図である。
【図８】断層画像が取得された部分のみを表示部７５上に表示する場合の一例を示す図である。
【図９】断層画像が取得されない部分を空白部分として表示する場合の一例を示す図である。
【図１０】走査パターン２５の走査幅を狭くする場合の一例を示す図である。
【図１１】クロス状スキャンによる撮影と、マップ撮影を併用する場合の一例を示す図である。
【図１２】Ｘ字状スキャンを用いた場合の一例を示す図である。
【図１３】同一方向の複数スキャンを用いた場合の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１〜図１２は本実施形態の実施例に係る図である。
【００１２】
＜概要＞
眼科撮影装置１０は、予め設定された走査パターンにて、ＯＣＴ光学系１００からの測定光（試料光ともいう）を被検眼上で横断方向に走査する。本装置は、測定光の横断位置に関する断層画像を取得する。本装置は、走査パターンの位置に応じて、走査パターンを変形する。
【００１３】
＜全体構成＞
本装置は、ＯＣＴ光学系１００と、観察光学系２００と、制御部７０と、を主に備える（図１参照）。ＯＣＴ光学系１００は、光スキャナ１０８を有し、被検眼の断層画像を生成するために用いられる。光スキャナ１０８は、測定光源から発せられた測定光を、被検物上で横断方向に走査するための走査手段として用いられる。観察光学系２００は、被検眼の正面画像を生成するために用いられる。
【００１４】
制御部７０は、例えば、検者からの指示を受け付ける指示受付部として用いられる。そこで、制御部７０は、タッチパネル、マウス、キーボードなどのユーザインターフェース（操作入力部）からの操作信号を受け付けてもよい。
【００１５】
制御部７０は、例えば、表示制御部として用いられる。そこで、制御部７０は、観察光学系２００によって生成された正面画像を表示部７５に表示してもよい（図２参照）。また、制御部７０は、走査位置を設定するための走査パターンを、指示受付部によって受け付けられた指示信号に応じて正面画像上の任意の位置に表示してもよい。指示受付部は、走査パターンを正面画像上の任意の位置に表示させるための検者からの指示を受け付ける。
【００１６】
この場合、制御部７０は、走査パターンを、正面画像上に重畳表示してもよい。制御部７０は、検者からの指示信号に応じて走査ラインの位置を正面画像上で移動してもよい。指示受付部は、表示部に表示された走査ラインの位置を移動させるための検者からの指示を受け付ける。
【００１７】
制御部７０は、例えば、走査制御部として用いられる。そこで、制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、正面画像上の走査パターンに対応する走査位置に、測定光を走査させてもよい。
【００１８】
詳細には、制御部７０は、走査パターンを形成する各走査ラインの位置に応じて走査位置を設定する。そして、制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御することにより、前述のように設定された走査位置に測定光を走査させる。この場合、制御部７０は、走査ラインの位置に応じて測定光の走査位置を設定する設定部として機能を有する。
【００１９】
制御部７０は、例えば、正面画像上における走査パターンの位置に応じて、走査パターンを変形するパターン変形部として用いられる（図３〜図７、図１０〜図１２参照）。これにより、変形された走査パターンに対応する断層画像を取得できる。したがって、例えば、撮影画角等によって規定される移動限界の制約を受けることなく、走査位置を設定できる。
【００２０】
なお、走査パターンの位置に応じて変形する場合、制御部７０は、正面画像上の走査パターンの位置を、走査パターンの表示位置から直接的でもよい。制御部７０は、走査パターンを介して設定される測定光の走査位置から間接的に求めてもよい。間接的に求める場合、例えば、光スキャナ１０８の駆動位置が用いられる。
【００２１】
＜変形される走査パターン＞
変形される走査パターンとしては、例えば、複数の走査ラインが互いに交差するクロス状のパターンが用いられる。本装置は、各走査ラインに関する断層画像を取得できる。例えば、本装置は、本走査パターンを用いて、ある交点に関して異なる走査方向の断層画像を取得できる。したがって、単一の走査ラインでの断層画像に比べて、複数の方向から被検物の断層画像を観察できる。
【００２２】
詳細には、複数の走査ラインが縦横に直交する十字パターン（図２）、複数の走査ラインがＸ字状に交差するＸ字パターン（図１２）複数の走査ラインが放射状に配列されたラジアルパターン、の少なくともいずれが用いられる。なお、走査パターンは、第１方向に関して平行な１又は複数の第１走査ラインと、第１の方向とは異なる第２方向に関して平行な複数の第２ラインとが、互いに交差するパターンであってもよい。
【００２３】
なお、走査パターンは、上記に限定されず、サークル状のパターンであってもよい。走査パターンは、形状が異なる複数の走査パターンの組み合わせであってもよく、例えば、矩形内に測定光をラスターするマップスキャンと、上記スキャンとの複合スキャンであってもよい。
【００２４】
また、走査パターンとしては、例えば、縦横方向に関してそれぞれ走査ラインを持つ走査パターンであれば、本実施形態の技術の適用は可能である。
【００２５】
走査パターンとしては、例えば、同一方向に関して複数の走査ラインを持つ走査パターンであっても、本実施形態の技術の適用は可能である（図１３参照）。
【００２６】
＜走査位置と走査パターンの変形について（図４、図５参照）＞
制御部７０は、例えば、走査パターンの走査中心（例えば、交点Ｋ）が正面画像の周辺部に移動できるように、走査パターンの位置に応じて走査パターンを変形してもよい。これにより、例えば、正面画像の周辺部に表示された目標部位に関する断層画像を容易に取得できる。なお、正面画像の周辺部とは、例えば、正面画像上において、初めに設定された走査パターンの移動可能領域より外側の周辺領域として規定される。
【００２７】
この場合、制御部７０は、正面画像上の走査パターンの位置情報に基づいて、正面画像上における中心領域に走査中心が配置される場合、予め設定された走査パターンの形状とし、正面画像上における周辺領域に走査中心が配置される場合、走査パターンを変形してもよい。
【００２８】
他の手法として、制御部７０は、走査パターンを変形するか否かを判定するための基準領域を設定してもよい。この場合、制御部７０は、走査パターンの一部が、基準領域Ａを超えるように走査位置が設定される場合、走査パターンが基準領域内に収まるように、走査パターンを変形してもよい。走査位置が基準領域Ａを超えるような場合には、例えば、走査パターンの端部のいずれかが基準領域Ａに到達して、さらに、到達方向に走査パターンが移動される場合、又は、予め設定された走査パターンの一部が基準位置を超えてしまう場合などが考えられる（詳しくは、後述する）。
【００２９】
なお、走査パターンの端部は、例えば、走査パターンを構成する走査ラインの走査端であって、始点、又は終点である。
【００３０】
上記のような走査パターンの走査位置に基づく走査パターンの変形制御は、例えば、検者が、測定光の走査位置を、正面画像上で変更するときに作動される。これにより、検者は、変形された走査パターンにて走査位置を設定できる。
【００３１】
なお、前述した各走査パターンの変形制御に関し、制御部７０は、少なくともいずれかを選択できるようにしてもよい。
【００３２】
＜基準領域の設定（図４、図５参照）＞
上述された基準領域Ａは、例えば、観察光学系２００の撮影可能範囲（撮影画角）又は表示部７５上の正面画像の表示可能範囲に対応する。これにより、正面画像の周辺部に関する断層画像を好適に取得できる。この場合、走査パターンを変形するか否かを判定するための判定基準として、制御部７０は、例えば、走査パターンの端部のいずれかが、前述の撮影可能範囲又は表示可能範囲の限界に達したか否かを判定するようにしてもよい。
【００３３】
なお、基準領域Ａは、これに限定されない。例えば、ＯＣＴ光学系１００の撮影可能範囲（撮影画角）であってもよい。あるいは、ＯＣＴ光学系１００又は観察光学系２００の撮影可能範囲より小さい所定の範囲が、基準領域Ａとして設定されてもよい。
【００３４】
なお、基準領域Ａの内側においても、走査パターンを変形させるようなモードを設けるようにしてもよい。例えば、正面画像の中心位置からの距離に応じて走査パターンを変形するようにしてもよい。
【００３５】
なお、走査パターンの端部の位置を利用する手法に限定されず、走査パターンの位置が利用されればよい。例えば、制御部７０は、クロス状パターンにおける交点位置を利用して走査パターンを変形するか否かを判定するようにしてもよい。この場合、交点位置に対応する基準領域が設定される。
【００３６】
＜複数の走査ラインを持つ走査パターン（例えば、クロス状パターン）の変形手法（図６、図７、図１０、図１２参照）＞
走査パターンの位置に応じて走査パターンを変形させる場合、制御部７０は、走査位置が基準領域Ａを超える走査ラインの移動を禁止すると共に、移動が禁止されたラインに対して他の走査ラインを移動させるようにしてもよい。
【００３７】
ここで、制御部７０は、各走査ラインの走査幅（つまり、走査方向の長さ）を維持することにより、例えば、各方向の断層画像を当初の撮影範囲にて取得できる。
【００３８】
より詳細には、制御部７０は、予め設定された走査パターンが、基準領域Ａ内に配置されるように走査位置が設定される場合、各走査ラインにおける始点から交点までの第１距離と、各走査ラインにおける終点から交点までの第２距離と、の比率を維持してもよい。
【００３９】
制御部７０は、予め設定された走査パターンの一部が、基準領域Ａを超えるように走査位置が設定される場合、各走査ライン上における始点から交点Ｋまでの第１距離と、各走査ライン上における交点Ｋから終点までの第２距離と、の比率を変更してもよい。そこで、制御部７０は、各走査ラインの走査幅を維持しつつ、走査パターンの一部が基準領域を超えた方向に関して、走査パターン上における交点Ｋの位置を変更する。これにより、交点Ｋは、正面画像の周辺部に配置された状態となる。
【００４０】
また、走査パターンの位置に応じて走査パターンを変形させる場合、制御部７０は、各走査ライン間の角度関係を維持すると共に、第１方向に関する第１走査ラインに対して、第２の方向（第１方向と交差する）に関する第２走査ラインを移動させるようにしてもよい。これにより、角度関係が維持された状態で、目標部位に関する複数の断層像を容易に取得できる。
【００４１】
なお、クロス状パターンを変形させる場合、交点Ｋの位置の変更に限定されない。例えば、制御部７０は、走査パターン２５において基準領域Ａを超えた部分について、光スキャナ１０８による走査をしないようにしてもよい（図７参照）。また、制御部７０は、走査パターン２５の走査幅を狭くするようにしてもよい。
【００４２】
なお、クロス状パターンを用いる場合、制御部７０は、交点を中心とする各ラインの走査幅が縦横に対称な走査パターンを初期設定とし、クロス状パターンを変形させる場合、走査パターンにおける交点位置を偏心させるようにしてもよい。
【００４３】
なお、前述した各クロス状パターンの変形制御に関し、制御部７０は、少なくともいずれかを選択できるようにしてもよい。
【００４４】
なお、複数の走査ラインを持つ走査パターンを変形する場合、制御部７０は、走査角度、走査間隔の少なくともいずれかを維持するようにしてもよい。
【００４５】
逆に、複数の走査ラインを持つ走査パターンを変形する場合、制御部７０は、走査幅、スキャン角度、スキャン間隔の少なくともいずれかを変更するようにしてもよい。
【００４６】
＜検者からの指示による走査パターンの変形＞
なお、上記のように走査パターンを変形させる場合、走査位置に応じて変形する構成に限定されず、例えば、検者からの信号に基づいて変形するようにしてもよい。この場合、制御部７０は、走査位置に関わらず、走査パターンを変形できる。
【００４７】
＜トラッキング（図１参照）＞
なお、制御部７０は、観察光学系２００によって取得されるライブ動画像に基づいて光スキャナ１０８の駆動を制御し、設定された被検眼上の横断位置に、変形された走査パターンにて測定光をトラッキングするようにしてもよい。そこで、制御部７０は、変形された走査パターンにて走査される測定光の走査位置が補正されるように、観察光学系２００によって取得されるライブ動画像に基づいて光スキャナ１０８の駆動を制御してもよい。
【００４８】
例えば、制御部７０は、走査パターン２５の走査位置と、基準領域Ａとの位置関係に関わらず、トラッキング作動前の走査パターン２５の形状を維持する。これにより、トラッキング作動前に変形された走査パターン２５にて断層画像を取得できる。また、同一の走査位置にて取得された複数の断層画像に基づいて加算平均画像を取得する場合に有利である。
【００４９】
トラッキングを行う場合、例えば、制御部７０は、観察光学系２００によって取得されるライブ動画像と予め取得された静止画像との位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて光スキャナ１０８の駆動を制御する。
【００５０】
＜フォローアップ＞
なお、経過観察等、異なる日に再度同一位置での断層画像を得るため、制御部７０は、変形された走査パターン（変形走査パターン）に対応する走査位置を不揮発メモリ７２に記憶するようにしてもよい。次回の撮影の場合、制御部７０は、不揮発メモリ７２に記憶された変形走査パターンの走査位置にて、走査位置が設定され、測定光を走査する。例えば、フォローアップの場合、制御部７０は、走査位置が変更されても、前回の変形走査パターン２５の形状を維持してもよい。
【００５１】
＜走査ライン毎の記憶＞
なお、設定された走査パターンが、複数の走査ラインから形成される走査パターンの場合、制御部７０は、変形された走査パターンにて取得された各断層画像を、走査ラインに応じて分けて不揮発メモリ７２に記憶するようにしてもよい。これにより、第１の走査ラインにて取得された断層画像と、第１の走査ラインに対応するライン表示が付された正面画像が、解析ソフト上で確認可能となる。これとは別に、第２の走査ラインにて取得された断層画像と、第２の走査ラインに対応するライン表示が付された正面画像が、解析ソフト上で確認可能となる。つまり、解析ソフト上で別々に表示可能となるように、各断層画像が走査ラインに応じて別々に保存される。
【００５２】
＜実施例＞
以下、本実施形態に係る実施例を図面に基づいて説明する。図１は本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。以下の説明においては、眼科撮影装置として、被検眼の眼底撮影を行う眼底撮影装置を例に挙げて説明を行う。もちろん、眼科撮影装置としては、眼底撮影装置に限定されず、被検眼の前眼部撮影を行う前眼部撮影装置等が挙げられる。
【００５３】
図１を参照して、本実施形態に係る眼科撮影装置１０の概略構成について説明する。本実施形態の眼科撮影装置１０は、ＯＣＴ光学系１００と、観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、制御部７０とを主に備える。
【００５４】
＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅの組織（例えば、眼底Ｅｆ）の断層画像を取得するための光干渉光学系であり、光断層干渉計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）の構成を備える。具体的には、ＯＣＴ光学系１００は、測定光源１０２、カップラー（光分割器）１０４、測定光学系１０６、参照光学系１１０、および検出器（受光素子）１２０を主に備える。
【００５５】
より詳細には、カップラー（光分割器）１０４は、測定光源１０２から出射された光を測定光学系１０６の光路と参照光学系１１０の光路に分割する。測定光学系１０６は、測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導く。参照光学系１１０は、参照光を生成する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光を合成する。検出器１２０（受光素子）は、合成された光を受光する。
【００５６】
ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上における測定光の照射位置を変更する照射位置変更ユニット（例えば、光スキャナ１０８、固視標投影ユニット３００）を備える。制御部７０は、設定された撮像位置情報に基づいて照射位置変更ユニットの動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層像を取得する。
【００５７】
検出器１２０（受光素子）は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。眼科撮影装置１０には、種々のＯＣＴを採用できる。例えば、Ｓｐｅｃｔｒａｌ−ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、Ｓｗｅｐｔ−ｓｏｕｒｃｅ  ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）、Ｔｉｍｅ−ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）等のいずれを眼科撮影装置１０に採用してもよい。
【００５８】
光スキャナ１０８は、測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で走査させる。例えば、光スキャナ１０８は、眼底上で二次元的（ＸＹ方向（横断方向））に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構５０によって任意に調整される。
【００５９】
これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００６０】
参照光学系１１０は、参照光を生成する。前述したように、参照光は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。
【００６１】
参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００６２】
＜正面観察光学系＞
正面観察光学系（正面像観察デバイス）２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第２の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の装置構成を持つ。
【００６３】
なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）。
【００６４】
＜固視標投影ユニット＞
固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。
【００６５】
例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。
【００６６】
固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。
【００６７】
＜制御部＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。制御部７０のＣＰＵは、眼科撮影装置１０の制御を司る。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、眼科撮影装置１０の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。
【００６８】
制御部７０には、不揮発性メモリ（以下、メモリに省略する）７２、操作部７４、および表示部７５等が電気的に接続されている。メモリ７２は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、眼科撮影装置１０に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等をメモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、眼科撮影装置１０による正面画像および断層画像の撮影を制御するための撮影制御プログラムが記憶されている。また、メモリ７２には、撮影された二次元の断層画像、三次元画像、正面画像、断層画像の撮影位置の情報等、撮影に関する各種情報が記憶される。操作部７４には、検者による各種操作指示が入力される。
【００６９】
操作部７４は、入力された操作指示に応じた信号を制御部７０に出力する。操作部７４には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかを用いればよい。表示部７５は、眼科撮影装置１０の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。パーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）のディスプレイを用いてもよい。複数のディスプレイが併用されてもよい。表示部７５には、眼科撮影装置１０によって撮影された断層画像および正面画像を含む各種画像が表示される。
【００７０】
なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。例えば、ＰＣに設けられた設定制御部と、ＯＣＴ光学系１００等の動作を制御する動作制御部とによって、眼科撮影装置１０の制御部７０が構成されてもよい。この場合、例えば、ＰＣの設定制御部は、ＰＣに接続された操作部の操作に基づいて断層画像の撮像位置等を設定し、設定した内容を動作制御部に指示すればよい。動作制御部は、設定制御部からの指示に従って、眼科撮影装置１０の各構成による撮影動作を制御すればよい。また、受光信号に基づいて画像を生成（取得）する処理は、動作制御部および設定制御部のいずれで行ってもよい。
【００７１】
例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００の検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層像を取得すると共に、観察光学系２００の受光素子から出力される受光信号に基づいて正面像を取得する。また、制御部７０は、固視標投影ユニット３００を制御して固視位置を変更する。
【００７２】
例えば、制御部７０は、表示部７５の表示画面を制御する。取得された眼底像は、表示部７５に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶される。制御部７０は、操作部７４から出力される操作信号に基づいて、ＯＣＴ光学系１００、観察光学系２００、固視標投影ユニット３００の各部材を制御する。
【００７３】
＜制御動作＞
以上のような構成を備える装置において、その制御動作について説明する。検者は、固視標投影ユニット３００の固視標を注視するように被検者に指示する。図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像が、表示部７５に表示される。そこで、検者は、前眼部の瞳孔中心に測定光軸が位置されるように、アライメント操作を行う。
【００７４】
制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を所定方向に関して走査する。制御部７０は、検出器１２０から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する受光信号を取得することにより、断層画像を形成する。また、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、断層画像を取得すると共に、観察光学系２００を制御し、眼底正面像を取得する。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００によって断層画像、観察光学系２００によって眼底正面像を随時取得する。
【００７５】
図２は、表示部７５に表示される表示画面の一例を示す図である。制御部７０は、表示部７５上に、観察光学系２００によって取得された正面画像２０、指標２５、断層画像３０、を表示する。走査パターン２５は、正面画像２０上における断層画像の測定位置（取得位置）を表す指標である。走査パターン２５は、表示部７５上の正面画像上に電気的に表示される。
【００７６】
制御部７０は、ポインタ２１（例えば、十字マーク、ドットマーク、ペンマーク等）を表示部７５上に表示する。制御部７０は、操作部７４からの操作信号に基づいて、ポインタ２１を移動させる。
【００７７】
本実施例では、正面画像２０上にポインタ２１を合わせた状態で、操作部７４が操作される（例えば、ドラッグ操作、クリック操作）ことにより、撮影条件の設定が可能な構成となっている。ポインタ２１は、表示部７５上における任意の位置を指定するために用いられる。
【００７８】
＜スキャンラインの設定＞
以下、走査パターンとして、クロスパターンが設定された場合を例として説明する。なお、走査パターン２５は、検者の操作に基づいて任意の形状に予め設定される。例えば、複数用意された走査パターンから選択される。
【００７９】
断層画像及び正面画像が同一画面上に表示されたら、検者は、撮影したい断層画像の位置を表示部７５上の正面画像から設定する。ここで、検者は、操作部７４を用いて移動操作（例えば、ドラッグ操作）を行うことによって、正面画像に対して走査パターン２５を移動させる。
【００８０】
検者によって走査パターン２５が正面画像２０に対して移動されると、制御部７０は、随時走査位置の設定を行う。そして、制御部７０は、設定された位置に対応する走査位置における断層画像を取得する。そして、取得された断層画像を表示部７５の表示画面上に随時表示する。また、制御部７０は、操作部７４から出力される操作信号に基づいて測定光の走査位置を変更すると共に、変更された走査位置に対応する表示位置に走査パターン２５を表示する。このように、制御部７０は、あるフレームレートにて走査位置の設定、及び断層画像の取得を連続的に実行することにより、断層画像の動画像を更新する。
【００８１】
なお、初期段階において、走査パターン２５は、交点Ｃｒを中心とする左右及び上下対称の十字の走査ライン（クロススキャン）からなる。
＜走査位置に応じた走査パターン形状の変更＞
図２は、走査位置を調整する前の表示画面を示す図である。走査位置は、初期設定として、例えば、正面画像の中心位置に設定される。なお、制御部７０は、操作部７４からの所定の操作信号に基づいて、走査パターンの回転角度、走査幅（スキャン長）を変更するようにしてもよい。
【００８２】
制御部７０は、正面画像上における走査パターンの位置に応じて、走査パターンを変形させる。図３は、走査パターンを変形する際の例を示すフローチャートである。例えば、制御部７０は、走査パターン２５が移動された後の各走査ラインの座標を算出する。ここで、制御部７０は、移動先の中心位置、回転角度、スキャン幅を用いる。そして、交差中心からのオフセット量は０とする。
【００８３】
次に、制御部７０は、正面画像の表示画面から走査ラインがはみ出るか否かを判定する。Ｙｅｓと判定された場合、交差中心（交点Ｋ）からのオフセット量を算出する。つまり、制御部７０は、はみ出した量と回転角度から、はみ出した走査ラインが、正面画像の表示画面内に収まるように算出する。
【００８４】
次に、制御部７０は、移動後の各走査ラインの座標を再計算する。つまり、制御部７０は、移動後の交差中心の位置、初期の交差中心からのオフセット量、回転角度、スキャン幅を用いる。その後、制御部７０は、中心位置及び走査ラインの座標を更新した後、光スキャナ１０８を用いた測定光の走査制御、及び断層画像の描画動作、を行う。
【００８５】
なお、Ｎｏと判定された場合、判定された走査ラインの座標を用いて、走査中心位置及び走査ラインの座標を更新した後、光スキャナ１０８を用いた測定光の走査制御、及び断層画像の描画動作、を行う。
【００８６】
図４、図５は、走査パターンの変形制御の一例について説明するための図である。図４は走査パターン変形前を示し、図５は走査パターン変形後を示す。正面画像上には、基準領域Ａが設定される。基準領域Ａに関して、本実施例では、観察光学系２００の撮影可能範囲（撮影画角）に対応する。つまり、表示部７５上においては、正面画像の表示領域に対応する。なお、基準領域Ａは、例えば、上下左右方向に関して設定される。ただし、これに限定されず、少なくとも１方向に設定されていればよい。
【００８７】
制御部７０は、走査パターンと基準領域Ａとの位置関係に基づいて、走査パターンを変形するようにしてもよい。制御部７０は、走査パターンを変形するか否かの境界として基準領域Ａを設定してもよい。この場合、基準領域Ａは、矩形形状に限定されず、走査パターンを変形するか否かを規定する領域であればよい。例えば、円、楕円などであってもよい。また、制御部７０は、設定された走査パターンに応じて、基準領域Ａの形状を変形するようにしてもよい。
【００８８】
より詳細には、制御部７０は、走査パターンが基準領域Ａに達しているか否かを判定する。図４に示すように、走査パターン２５の端点が基準領域Ａに到達していない場合、すなわち走査パターン２５の全体が基準領域Ａより内側に位置している場合、制御部７０は、走査パターン２５の形状を変更しない（図２参照）。
【００８９】
制御部７０は、基準領域Ａより狭い中心領域Ｂ（点線領域）内において、初期の形状にて走査パターン２５の交点Ｋを正面画像上で移動できる。中心領域Ｂは、例えば、基準領域Ａに対し、走査パターン２５の交点Ｋから端点までの距離分、各方向に関して狭い。つまり、初期の形状に設定された走査パターン２５の交点Ｋは、中心領域Ｂ内を移動可能である。制御部７０は、中心領域Ｂにおける眼底上の目標部位を中心とする複数の断層画像を取得可能となる。
【００９０】
例えば、断層像を取得したい目標部位が、正面画像における中心領域にある場合、検者は、操作部７４の操作によって、目標部位に向けて走査パターン２５を移動させる。走査パターン２５における縦ライン２５ａと横ライン２５ｂの交点Ｋが目標部位に達すると、制御部７０は、予め設定された走査パターン２５にて、目標部位を中心とする複数の断層画像を取得可能となる。
【００９１】
一方、走査パターン２５の端点が基準領域Ａに到達した後、さらに走査パターン２５が到達方向に移動される場合、制御部７０は、走査パターン２５の形状を変更する（図５、図６参照）。図６（ａ）〜図６（ｃ）は、走査パターンが変形された後の表示画面の一例を示す図である。
【００９２】
制御部７０は、中心領域Ｂから基準領域Ａまでの周辺領域Ｃにおいて、形状が変更された走査パターン２５を正面画像上で移動できる。つまり、変形された走査パターン２５の交点Ｋは、中心領域Ｂから基準領域Ａまでの周辺領域Ｃ内を移動可能である。制御部７０は、その周辺領域における眼底上の目標部位を中心とする複数の断層画像を取得可能となる。これにより、異なる方向に関する複数の走査ラインから構成される走査パターンに関して、走査パターンの走査中心の移動範囲が拡大される。これにより、目標部位に関連する複数の断層画像を容易に取得できる。
【００９３】
以下に、走査パターン２５の形状を変更する際の制御についてより詳細に説明する。例えば、周辺領域Ｃに目標部位がある場合、検者は、操作部７４の操作によって、走査パターン２５を正面画像上の目標部位に向けて移動させる。
【００９４】
例えば、縦ライン２５ａの上側端点が基準領域Ａに達した後、さらに、走査パターン２５が上方向に移動された場合、制御部７０は、縦ライン２５ａの移動を禁止すると共に、横ライン２５ｂを上方に移動させる（図６（ａ））。つまり、制御部７０は、移動が固定された状態の縦ライン２５ａに対し、横ライン２５ｂを移動させる。この場合、横ライン２５ｂの縦方向の移動は、基準領域Ａに達した前後に関係なく、制御部７０は、操作部７４からの操作信号に基づいて横ライン２５ｂを移動させればよい。
【００９５】
この結果、走査パターン２５における交点Ｋの位置が上方向に移動するため、走査パターンの形状が、初期の形状に対して変形した状態となる。これにより、交点Ｋが、周辺領域Ｃの上方エリアに配置可能となるため、上方エリアに表示された眼底の目標部位に関連する断層画像を容易に取得できる。さらに、走査パターンの形状が変化されても、縦ライン２５ａの走査幅は維持されるため、目標部位に関する縦方向の断層画像を、当初の撮影範囲にて取得できる。
【００９６】
なお、走査パターン２５の縦ライン２５ａが基準領域Ａに達した後の動作の場合、制御部７０は、逆に、縦ライン２５ａの移動を禁止すると共に、横ライン２５ｂを下方に移動させればよい。
【００９７】
また、横ライン２５ｂの左側端点が基準領域Ａに達した後、さらに、走査パターン２５が左方向に移動された場合、制御部７０は、横ライン２５ｂの移動を禁止すると共に、縦ライン２５ａを左方に移動させる（図６（ｂ））。つまり、制御部７０は、移動が固定された状態の横ライン２５ｂに対し、縦ライン２５ａを移動させる。この場合、縦ライン２５ａの横方向の移動は、基準領域Ａに達した前後に関係なく、制御部７０は、操作部７４からの操作信号に基づいて縦ライン２５ｂを移動させればよい。
【００９８】
この結果、走査パターン２５における交点Ｋの位置が横方向に移動するため、走査パターンの形状が、初期の形状に対して変形した状態となる。これにより、交点Ｋが、周辺領域Ｃの左側エリアに配置可能となるため、左側エリアに表示された眼底の目標部位に関連する断層画像を容易に取得できる。さらに、走査パターンの形状が変化されても、横ライン２５ｂの走査幅は維持されるため、目標部位に関する横方向の断層画像を、当初の撮影範囲にて取得できる。
【００９９】
なお、走査パターン２５の横ライン２５ｂが基準領域Ａに達した後の動作の場合、制御部７０は、逆に、横ライン２５ｂの移動を禁止すると共に、横ライン２５ｂを右方に移動させればよい。
【０１００】
例えば、周辺領域Ｃにおける左上部分に目標部位がある場合、検者は、操作部７４の操作によって、走査パターン２５を正面画像の左上領域に向けて移動させる。上記制御手法を用いて、制御部７０は、縦ライン２５ａの上側端点及び横ライン２５ｂの左側端点の少なくともいずれかが基準領域Ａに達した後、さらに、走査パターン２５が到達方向に移動された場合、制御部７０は、走査パターン２５を変形すればよい（図６（ｃ））。これにより、交点Ｋが、周辺領域Ｃの左上部エリアに配置可能となるため、左上部エリアに表示された眼底の目標部位に関連する断層画像を容易に取得できる。さらに、走査パターンの形状が変化されても、縦ライン２５ａ及び横ライン２５ｂの走査幅は維持されるため、目標部位に関する各方向の断層画像を、当初の撮影範囲にて取得できる。なお、周辺領域Ｃの他のエリアに目標部位が存在する場合の制御方法については、説明を省略する。
【０１０１】
なお、正面画像上における走査位置の設定について、正面画像の動画像上で設定する構成であってもよいし、正面画像の静止画像上で設定する構成であってもよい（詳しくは、特願２０１２−０４７１７６号参照）。
【０１０２】
なお、基準領域Ａは、上記に限定されない。例えば、ＯＣＴ光学系１００の撮影可能範囲（撮影画角）であってもよい。あるいは、ＯＣＴ光学系１００又は観察光学系２００の撮影可能範囲より小さい所定の範囲が、基準領域Ａとして設定されてもよい。
【０１０３】
なお、正面画像上で走査位置を設定する場合、走査パターン２５の連続的な移動に限定されない。例えば、制御部７０は、クリック操作により正面画像上で指定された位置に走査パターン２５の走査中心（交点Ｋ）をジャンプするようにしてもよい。ここで、制御部７０は、予め設定された形状における走査パターンの端点が基準領域Ａを超過する場合、基準領域Ａを超過する走査ラインについて、反対側の端点側に関して、超過分走査範囲を延伸させるようにしてもよい。これにより、走査パターン２５のドラッグ移動における操作パターンの変形と同様の効果が得られる。
【０１０４】
なお、上記走査位置に基づいて走査パターンを変形する第１モードと、上記走査位置に基づいて走査パターンの変形しない第２モードと、を切換可能な構成であってもよい。制御部７０は、第１モードと第２モードとの切換に応じて制御を切換える。
【０１０５】
＜断層画像の取得＞
以上のようにして、正面画像上の目標部位に関して走査位置が設定された後、制御部７０は、正面画像２０上で設定された走査位置に対応する断層画像を得る。制御部７０は、走査パターン２５の表示位置に基づいて、走査パターン２５の位置に対応する眼底の断層画像が得られるように、眼底上において測定光を走査する。
【０１０６】
なお、走査パターン２５の表示位置（モニタ上における座標位置）と光スキャナ１０８による測定光の走査位置との関係は、予め定まっているので、制御部７０は、設定した走査パターン２５の表示位置に対応する走査範囲に対して測定光が走査されるように、光スキャナ１０８の駆動を制御する。
【０１０７】
上記のように走査パターン２５が変形された場合、制御部７０は、変形された走査パターン２５にて断層画像を得る。一方、走査パターン２５が変形されなかった場合、制御部７０は、予め設定された走査パターン２５にて断層画像を得る。
【０１０８】
制御部７０は、眼底上の目標部位に関して、縦ライン２５ａに対応する第１断層画像と、横ライン２５ｂに対する第２断層画像とを取得する。制御部７０は、第１断層画像と第２断層画像とを表示部７５上に表示する。これにより、目標部位に関して異なる方向の断層画像がそれぞれ表示部７５上に表示される。つまり、制御部７０は、走査パターン２５が複数の走査ラインを持つ場合、各走査ラインに関する断層画像を同時に表示するようにしてもよい。
【０１０９】
＜トラッキング制御＞
走査位置の設定後、断層画像を連続的に取得する場合、制御部７０は、動画の正面画像が更新される毎に、走査位置の補正を行う。例えば、被検眼の固視微動等によって、正面画像が走査位置に対してずれた場合、走査位置を設定した位置と同一の位置の断層画像を取得するためには、走査位置を補正する必要がある。制御部７０は、トラッキング制御を開始する。制御部７０は、走査位置が設定されると、メモリ７２に記憶された正面画像の静止画と走査位置情報を用いて走査位置の補正を行う。なお、正面画像の静止画としては、例えば、走査位置の設定が完了されたときの正面画像が用いられる。もちろん、これに限定されず、走査位置の設定に用いた静止画像を用いるようにしてもよい。
【０１１０】
例えば、制御部７０は、正面画像の静止画と、現在の正面画像と、を比較して、正面画像の静止画に対する現在の正面画像の位置ずれの方向及び量を画像処理により検出（演算）する。例えば、制御部７０は、メモリ７２に記憶された正面画像の静止画データを基準画像とし、その基準画像とリアルタイムで取得される正面画像との位置ずれの方向及び量を算出する。これにより、静止画像に対する位置ずれ情報が得られる。
【０１１１】
上記のようにして、位置ずれ方向及び位置ずれ量が検出されると、制御部７０は、走査位置のずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。これによって、走査位置が補正される。また、制御部７０は、走査位置を補正した場合、補正後の走査位置（走査パターン２５）を正面画像上に表示する。以上のようにして、被検眼がずれた場合であっても、走査位置が補正され、常時、走査位置を設定した部位と同一の部位の断層画像が取得される。
【０１１２】
ここで、図示なき撮影開始スイッチ（レリーズスイッチ）が入力されると、制御部７０は、断層画像の静止画像をキャプチャー（取込）し、メモリ７２に記憶させる。また、取得された断層画像の静止画を表示部７５に表示する。また、制御部７０は、正面画像の静止画像をキャプチャー（取込）し、メモリ７２に記憶してもよい。
【０１１３】
なお、制御部７０は、縦ライン２５ａに対応する第１断層画像及び正面画像と、横ライン２５ｂに対する第２断層画像及び正面画像と、を分けて保存するようにしてもよい。
【０１１４】
なお、上記のようなトラッキング制御の作動時において、制御部７０は、走査パターン２５の走査位置と、基準領域Ａとの位置関係に関わらず、トラッキング作動前の走査パターン２５の形状を維持する。つまり、眼を追尾することによって、走査パターン２５の端点が基準領域Ａに到達した後、さらに走査パターン２５が到達方向に移動される場合であっても、制御部７０は、走査パターン２５を変形しない。もちろん、トラッキング作動前に走査パターンが変形された場合、制御部７０は、トラッキング作動前に変形された走査パターンにてトラッキングを作動させる。ただし、眼の回旋に応じて走査パターンを回転させる制御はありうる。そして、制御部７０は、形状を維持したまま走査パターンを回転させる。
【０１１５】
＜変容例＞
なお、上記制御において、制御部７０は、操作部７４からの操作信号に基づいて、スキャンパターンの交差中心（例えば、交点Ｋ）の位置をずらすようにしてもよい。すなわち、従来、クロス状スキャンは、交点Ｋに対して上下左右に対称なパターンのみであった。つまり、制御部７０は、クロス状スキャンにおける各走査ラインの交点位置を始点と終点の中間位置から偏心可能（変更可能）とすることにより、目標部位の断層像（特に、正面画像上の周辺部位）を容易に取得できる。
【０１１６】
なお、上記説明においては、スキャンパターンの変形に関して、走査位置に応じてスキャンパターンの交差中心（例えば、交点Ｋ）の位置をずらす制御としたが、これに限定されない。例えば、制御部７０は、走査パターン２５において基準領域Ａを超えた部分については、光スキャナ１０８による走査しないようにしてもよい（図７参照）。つまり、制御部７０は、光スキャナ１０８による走査領域を、走査パターン２５において基準領域Ａより内側に相当する部分に限定してもよい。この場合、表示部７５上に断層画像を表示する場合、予め設定された走査幅より小さくなる。そこで、制御部７０は、断層画像が取得された部分のみを表示部７５上に表示するようにしてもよいし（図８参照）、または、断層画像が取得されない部分を空白部分として表示するようにしてもよい（図９参照）。つまり、制御部７０は、不要部分を除去するマスクを施す画像処理を施すようにしてもよい。
【０１１７】
また、スキャンパターンの変形に関して、制御部７０は、走査パターン２５の端点が基準領域Ａに到達した後、さらに走査パターン２５が到達方向に移動される場合、走査パターン２５の走査幅を狭くするようにしてもよい（図１０参照）。これによれば、取得されるＯＣＴ画像の中心に撮影部位の中心を移すことができる。この場合、制御部７０は、一方向のみを縮小してもよいし、縦横の両方向を縮小してもよい。
【０１１８】
また、ラジアルスキャンにおいて、走査パターン２５の端点が基準領域Ａに到達した場合、基準領域Ａに到達した走査ラインに関して交点からの走査幅を短くし、他の走査ラインに関しては交点からの走査幅を維持するようにしてもよい。これにより、中心比が維持される。
【０１１９】
なお、スキャンパターンの変形について、上記変形のいずれかを行う構成であってもよい。また、複数の変形方法から１つの変形方法を選択できる構成によれば、撮影目的に応じた変形方法を選択できるため、断層画像を取得する際の選択肢が広がる。
【０１２０】
なお、上記構成において、制御部７０は、上記クロス状スキャンによる撮影と、マップ撮影（例えば、ラスタースキャン）と、を併用するようにしてもよい。例えば、制御部７０は、クロス状スキャンによる縦横方向の走査範囲を含むように矩形上のラスタースキャンを実行するようにしてもよい（図１１のハッチング参照）。制御部７０は、１回の撮影トリガに基づいて、クロス状スキャンによる撮影とマップ撮影とを連続的に行うようにしてもよい。
【０１２１】
なお、走査パターンとしてＸ字状スキャンが用いられる場合、制御部７０は、各走査ラインの交差中心を移動させることなく、各ラインの交差角度を変更するようにしてもよい（図１２参照）。これにより、上下又は左右対称な画像を撮影できる。
【０１２２】
なお、走査パターンとして、同一方向に関して複数の走査ラインを持つ走査パターンが用いられる場合、制御部７０は、少なくとも１本の走査ラインを他の走査ラインに対して走査方向にスライドさせるようにしてもよい（図１３参照）。このような手法は、走査ラインが斜め方向に設定された場合に有利である（例えば、画面の角に走査ラインが設定できる）。
【０１２３】
なお、走査パターンの走査位置情報を得る場合、正面画像上における走査パターンの座標位置を取得する他、制御部７０は、光スキャナ１０８の走査位置を検出することにより走査位置情報を得るようにしてもよい。これは、通常、正面画像上における走査パターンの表示位置と光スキャナ１０８とが一対の関係に設定されるためである。
【符号の説明】
【０１２４】
２０  正面画像
２５  走査パターン
３０  断層画像
７０  制御部
７２  メモリ
７４  操作部
７５  表示部
１００  ＯＣＴ光学系
１０８  光スキャナ
２００  観察光学系
【図１】
2014140489.tif 000003
【図２】
2014140489.tif 000004
【図３】
2014140489.tif 000005
【図４】
2014140489.tif 000006
【図５】
2014140489.tif 000007
【図６】
2014140489.tif 000008
【図７】
2014140489.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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