(57)【要約】【課題】  眼の撮影情報を精度良く取得できる走査型の眼底撮影装置及び眼底画像処理プログラムを提供する。【解決手段】  眼底撮影装置は、光源と、光源から出射された出射光によって眼底上の局所領域をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、局所領域における各走査位置に関して眼底からの光を検出するための検出器とを有し局所領域を撮像するための眼底撮像光学系と、眼底撮像光学系の光路中に配置され出射光を偏向する光偏向手段を有し、眼底撮像光学系で撮像される局所領域の撮像位置を眼底上で変更する撮像位置変更手段と、各走査位置における検出器からの受光信号を処理して局所領域における第１眼底画像を取得する画像処理手段とを備え、画像処理手段は、撮像位置変更手段で変更される撮像位置に応じて第１眼底画像の歪みを補正する。【選択図】      図５
2014110825.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、光源から出射された出射光によって被検眼眼底上の局所領域をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、前記局所領域における各走査位置に関して前記眼底からの光を検出するための検出器と、を有し、前記局所領域を撮像するための眼底撮像光学系と、
前記眼底撮像光学系の光路中に配置され前記出射光を偏向する光偏向手段を有し、前記眼底撮像光学系によって撮像される前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段と、
前記各走査位置における前記検出器からの受光信号を処理して前記局所領域における第１眼底画像を取得する画像処理手段と、
を備え、
前記画像処理手段は、前記撮像位置変更手段によって変更される前記撮像位置に応じて前記第１眼底画像の歪みを補正することを特徴とする眼底撮影装置。
【請求項２】
前記画像処理手段は、
前記第１眼底画像の歪みを補正する際、
前記第１眼底画像における各画素の座標を変位させることにより前記第１眼底画像の歪みを補正する画像処理手段であって、
前記各画素の座標の変位量は、
前記眼底撮像光学系に配置された少なくとも１つの光学部材による歪が生じていないと仮定した場合の前記第１眼底画像の座標位置と、実際に取得された前記第１眼底画像の座標位置との変位量に基づいて、前記撮像位置における前記光スキャナーの各走査位置に関してそれぞれ設定されている請求項１の眼底撮影装置。
【請求項３】
前記局所領域の撮像位置を選択するための検者からの選択指示を受け付ける指示受付手段を有し、
撮像位置変更手段は、前記指示受付手段によって受け付けられた検者からの選択指示に応じて前記光偏向手段を制御し、前記局所領域の撮像位置を設定する請求項１〜２のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項４】
前記画像処理手段は、
前記第１眼底画像の歪みを補正する際、
前記眼底撮像光学系の光軸から前記撮像位置までの距離に応じて、前記第１眼底画像における各画素の座標の変位量を大きくすることを請求項１〜３のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項５】
さらに、前記歪みが補正された第１眼底画像を画像処理して、前記眼底の細胞に関する解析結果を取得し、取得された解析結果を出力する細胞解析手段を備える請求項１〜４のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項６】
前記眼底画像の撮影画角よりも広画角の第２眼底画像を撮像する第２眼底撮像光学系と、
前記第１眼底画像及び前記第２眼底画像を表示部に表示する表示制御手段と、を備え、
前記画像処理手段は、前記表示部に表示された前記第２眼底画像上の基準位置に対する前記撮像位置の偏位量に基づき前記光偏向手段による偏向角度を設定する請求項１〜５のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項７】
前記画像処理手段は、前記撮像位置に応じた歪補正パターンを用いて、前記第１眼底画像における各画素の座標を変形させることにより前記第１眼底画像の歪みを補正する請求項１〜６のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項８】
前記撮像位置変更手段は、前記光源から出射された光を偏向して前記被検眼の瞳孔への前記出射光の入射角度を変更することにより前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段であって、
前記出射光の入射角度に応じて異なる歪補正パターンが前記画像処理手段によって用いられるように設定されており、各歪補正パターンは、前記被検眼の瞳孔への前記出射光の実際の第１入射角度と、前記眼底撮像光学系に配置された少なくとも１つの光学部材によって歪が生じていないと仮定した場合の前記被検眼の瞳孔への前記出射光の第２入射角度と、の角度差情報を含み、
前記画像処理手段は、前記角度差情報を用いて、前記第１眼底画像における各画素の座標の変位量を設定する請求項７の眼底撮影装置。
【請求項９】
前記光学部材は、凹面鏡又はレンズである請求項２〜８のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項１０】
前記画像処理手段は、前記各画素の座標の変位量を、記憶手段に記憶された各走査位置毎のテーブル、各走査位置に対応する演算式の少なくともいずれかを用いて設定する請求項２〜９のいずれかの眼底撮影装置。
【請求項１１】
光源と、光源から出射された出射光によって被検眼眼底上の局所領域をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、前記局所領域における各走査位置に関して前記眼底からの光を検出するための検出器と、を有し、前記局所領域を撮像するための眼底撮像光学系と、
前記眼底撮像光学系の光路中に配置され前記出射光を偏向する光偏向手段を有し、前記眼底撮像光学系によって撮像される前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段と、
を備えた眼底撮影装置から、各走査位置における前記検出器からの受光信号を取得し、取得した前記受光信号を処理して前記局所領域における第１眼底画像を取得する眼底画像処理装置において実行される眼底画像処理プログラムであって、
前記眼底画像処理装置のプロセッサによって実行されることで、
前記撮像位置変更手段によって変更される前記撮像位置に応じて、前記第１眼底画像の歪みを補正する歪み補正ステップ
を前記眼底画像処理装置に実行させることを特徴とする眼底画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
被検眼を撮影する走査型の眼底撮影装置及び眼底画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
走査型の眼底撮影装置において、広画角の撮影画像上で局所的な撮像位置を指定して、被検眼の詳細な撮影情報を取得するものがある。この種の眼底撮影装置は、照明光を眼に入射させるための凹面鏡等の光学部材を持ち、走査部材で走査された照明光は、光学部材で反射されて眼に入射する。眼からの反射光は受光素子で受光され、画素として撮影画像の形成や各種演算に用いられる（特許文献１参照）。詳細な撮影情報を広い画角で取得するためには、光学部材を複数配置する又は光学部材を大型化して、眼の周辺部に照明光が照射されるようにする必要がある（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−２５９６６９号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】Ferguson, RD, Zhong, Z, Hammer, DX, Mujat, M, Patel, AH, Deng,C, Zou, W, Burns, SA, "Adaptive optics SLO with integrated wide-field retinal imaging and tracking""J.Opt. Soc. Am. A 27, A265-A277 (2010)"
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、局所領域で取得された眼底画像には、光学系に配置された少なくとも１つの光学部材（例えば、凹面鏡、レンズ）の反射又は屈折による歪みが含まれる場合がある。この歪みは、局所的な眼底上の撮像位置によって異なる。つまり、眼底上の撮像位置の違いによって、その光学部材への光の入射角度が異なるため、各撮像位置での眼底画像の歪み特性は異なる。このような眼底画像の歪みの特性を考慮せずに、診断や解析に適した良好な眼底画像を得ることは困難である場合がある。
なお、構築された光学系によっては、光学系に配置された少なくとも１つの光学部材（例えば、凹面鏡、レンズ）における光軸から離れた周辺部分を用いて局所領域での眼底画像を得る場合、特に、眼底画像全体に歪が大きくなる場合がありうる。
【０００６】
本発明は上記従来技術の問題点に鑑み、眼の撮影情報を精度良く取得できる走査型の眼底撮影装置及び眼底画像処理プログラムを提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）    光源と、光源から出射された出射光によって被検眼眼底上の局所領域をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、前記局所領域における各走査位置に関して前記眼底からの光を検出するための検出器と、を有し、前記局所領域を撮像するための眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され前記出射光を偏向する光偏向手段を有し、前記眼底撮像光学系によって撮像される前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段と、前記各走査位置における前記検出器からの受光信号を処理して前記局所領域における第１眼底画像を取得する画像処理手段と、を備え、前記画像処理手段は、前記撮像位置変更手段によって変更される前記撮像位置に応じて前記第１眼底画像の歪みを補正することを特徴とする。（２）  前記画像処理手段は、前記第１眼底画像の歪みを補正する際、前記第１眼底画像における各画素の座標を変位させることにより前記第１眼底画像の歪みを補正する画像処理手段であって、前記各画素の座標の変位量は、前記眼底撮像光学系に配置された少なくとも１つの光学部材による歪が生じていないと仮定した場合の前記第１眼底画像の座標位置と、実際に取得された前記第１眼底画像の座標位置との変位量に基づいて、前記撮像位置における前記光スキャナーの各走査位置に関してそれぞれ設定されている（１）の眼底撮影装置。
（３）  前記局所領域の撮像位置を選択するための検者からの選択指示を受け付ける指示受付手段を有し、撮像位置変更手段は、前記指示受付手段によって受け付けられた検者からの選択指示に応じて前記光偏向手段を制御し、前記局所領域の撮像位置を設定する（１）〜（２）のいずれかの眼底撮影装置。
（４）  前記画像処理手段は、前記第１眼底画像の歪みを補正する際、前記眼底撮像光学系の光軸から前記撮像位置までの距離に応じて、前記第１眼底画像における各画素の座標の変位量を大きくする（１）〜（３）のいずれかの眼底撮影装置。
（５）  さらに、前記歪みが補正された第１眼底画像を画像処理して、前記眼底の細胞に関する解析結果を取得し、取得された解析結果を出力する細胞解析手段を備える（１）〜（４）のいずれかの眼底撮影装置。
（６）  前記眼底画像の撮影画角よりも広画角の第２眼底画像を撮像する第２眼底撮像光学系と、前記第１眼底画像及び前記第２眼底画像を表示部に表示する表示制御手段と、を備え、前記画像処理手段は、前記表示部に表示された前記第２眼底画像上の基準位置に対する前記撮像位置の偏位量に基づき前記光偏向手段による偏向角度を設定する（１）〜（５）のいずれかの眼底撮影装置。
（７）  前記画像処理手段は、前記撮像位置に応じた歪補正パターンを用いて、前記第１眼底画像における各画素の座標を変形させることにより前記第１眼底画像の歪みを補正する（１）〜（６）のいずれかの眼底撮影装置。
（８）  前記撮像位置変更手段は、前記光源から出射された光を偏向して前記被検眼の瞳孔への前記出射光の入射角度を変更することにより前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段であって、前記出射光の入射角度に応じて異なる歪補正パターンが前記画像処理手段によって用いられるように設定されており、各歪補正パターンは、前記被検眼の瞳孔への前記出射光の実際の第１入射角度と、前記眼底撮像光学系に配置された少なくとも１つの光学部材によって歪が生じていないと仮定した場合の前記被検眼の瞳孔への前記出射光の第２入射角度と、の角度差情報を含み、前記画像処理手段は、前記角度差情報を用いて、前記第１眼底画像における各画素の座標の変位量を設定する（７）の眼底撮影装置。
（９）  前記光学部材は、凹面鏡又はレンズである（２）〜（８）のいずれかの眼底撮影装置。
（１０）  前記画像処理手段は、前記各画素の座標の変位量を、記憶手段に記憶された各走査位置毎のテーブル、各走査位置に対応する演算式の少なくともいずれかを用いて設定する（２）〜（９）のいずれかの眼底撮影装置。
（１１）  光源と、光源から出射された出射光によって被検眼眼底上の局所領域をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、前記局所領域における各走査位置に関して前記眼底からの光を検出するための検出器と、を有し、前記局所領域を撮像するための眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され前記出射光を偏向する光偏向手段を有し、前記眼底撮像光学系によって撮像される前記局所領域の撮像位置を前記眼底上で変更する撮像位置変更手段と、を備えた眼底撮影装置から、各走査位置における前記検出器からの受光信号を取得し、取得した前記受光信号を処理して前記局所領域における第１眼底画像を取得する眼底画像処理装置において実行される眼底画像処理プログラムであって、前記眼底画像処理装置のプロセッサによって実行されることで、前記撮像位置変更手段によって変更される前記撮像位置に応じて、前記第１眼底画像の歪みを補正する歪み補正ステップを前記眼底画像処理装置に実行させることを特徴とする眼底画
像処理プログラム。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、眼の撮影情報を精度良く取得できる。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の実施形態を説明する。図１は眼底撮影装置５００の外観図である。図２は眼底撮影装置５００の光学系の説明図である。図３は眼底撮影装置５００の制御ブロック図である。図４はモニタ７０の表示画面の例である。
【００１１】
眼底撮影装置５００は、基台５０２、撮影部５０３、顔支持ユニット５０４を備える。基台５０２上に取り付けられた撮影部５０３の内部には後述する光学系が収納される。顔支持ユニット５０４は顎台５０５備え、顎台５０５は駆動手段（図示を略す）の駆動で顔支持ユニット４の基部に対して三次元方向に移動する。
【００１２】
光学系は第１撮影ユニット１００と第２撮影ユニット２００を持つ。第１撮影ユニット１００は、共焦点光学系を用いた走査型レーザー検眼鏡で構成され、被検眼Ｅを撮影して細胞レベルの解像度の撮影画像（第１眼底画像７０ａ）を得る。第２撮影ユニット２００は、第１眼底画像７０ａの撮像位置を指定するために、第１撮影ユニット１００より広い画角の撮影画像（第２眼底画像７０ｂ）得る。
【００１３】
第１撮影ユニット１００は、第１照明光学系１００ａ、第１撮影光学系１００ｂ、波面補償ユニット１１０を持つ。第１照明光学系１００ａは、照明光束の走査で眼（眼底）Ｅを２次元で照明する。第１撮影光学系１００ｂは、眼底からの反射光（反射光束）を受光して第１眼底画像７０ａを得る。波面補償ユニット１１０は、眼Ｅの波面収差を検出して低次収差及び高次収差を取り除く。
【００１４】
（第１撮影ユニット）
第１照明光学系１００ａは、光路（光軸）Ｌ１上に、光源１（第１光源）と、レンズ２、偏光ビームスプリッタ４、ビームスプリッタ７１、ミラー６、凹面鏡７、平面ミラー８、波面補償デバイス７２、ビームスプリッタ７５、凹面鏡１１、凹面鏡１２、レゾナントスキャナー１５、凹面鏡１６、凹面鏡１７、平面ミラー２１、レンズ２２、平面ミラー２３、視度補正部１０、平面ミラー２５、凹面鏡２６、ガルバノスキャナー４０、ダイクロイックミラー９０、平面ミラー３２、平面ミラー３３、凹面鏡３１、３５が配置されている。
【００１５】
光源１は、近赤外から赤外域で眼底を照明する周知の赤外光源であり、例えば、波長８４０ｎｍのＳＬＤ（Super Luminescent Diode）光源や、収束性の高いスポット光を出射する半導体レーザー等が用いられる。偏光ビームスプリッタ４は、光源１からの照射光のうちＳ偏光成分の光束を通過しその他（Ｐ偏向成分など）の光束を遮光する。ビームスプリッタ７１は、光源１の波長の光を透過し、後述する収差検出用光源７６の波長の光を反射する特性を持つ。
【００１６】
波面補償デバイス７２は、波面センサー７３（後述する）で検出された眼底反射光に含まれる収差を除去する。例えば波面補償デバイス７２には、反射型のＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）が用いられる。これ以外にもＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）の反射型の波面補償デバイスの他、眼底からの反射光を透過して波面収差を補
償する透過型の波面補償デバイス等を用いることができる。
【００１７】
波面補償デバイス７２は入射光のＳ偏光成分を変調するために、光源１からの照明光（
Ｓ偏光光）、照明光の眼底での反射光（Ｓ偏光光）、波面収差検出用光の反射光（Ｓ偏光成分）等の所定の直線偏光（Ｓ偏光）に対する収差を補償することが可能な向きに配置される。
【００１８】
視度補正部１０は、眼Ｅの視度補正のために光路長を変えるために用いられる。視度補正部１０は、例えば２枚の平面ミラーと２つのレンズ（図番号を略す）、駆動部１０ａで構成される。駆動部１０ａの駆動で平面ミラー及びレンズが矢印Ａ方向に移動され、光路長が変わることで視度が補正される。なお視度補正部１０は光軸方向に移動可能なプリズムで構成しても良い。
【００１９】
レゾナントスキャナー１５は、ミラー１５ａと駆動部１５ｂを持つ。駆動部１５ｂの駆動でミラー１５ａは所要の振れ角（画角）で主走査方向（Ｘ方向）に振動する。ガルバノスキャナー４０は、ガルバノミラー４１ａ、ガルバノミラー４１ｂと、駆動部４２を持つ。ガルバノミラー４１ａは駆動部４２で主走査方向（Ｘ方向）に傾斜する。ガルバノミラー４１ｂは駆動部４２で副走査方向（Ｙ方向）に傾斜する。レゾナントスキャナー１５とガルバノミラー４１ａの走査の組み合わせで眼底が二次元で照明される。
【００２０】
またガルバノミラー４１ａ、４１ｂの傾斜（偏向）によって、光源１の照明光の照射位置が、第２眼底画像７０ｂ上で指定された第１眼底画像７０ａの撮像位置に移動される。眼底からの反射光は、検出器である受光素子５６で受光されて光電変換される。受光素子５６から出力された信号は、制御部８０（後述する）で量子化されて、二次元眼底画像の形成や、各種演算に用いられる。
【００２１】
なお、上記のガルバノミラー４１ｂのように、局所領域をＹ方向に走査して第１眼底画像７０ａを得るための光スキャナが、第１眼底画像７０ａのＹ方向に関する撮像位置を変更するための光偏向部材を兼用してもよい。もちろん、局所領域をＸ方向に走査して第１眼底画像７０ａを得るための光スキャナが、第１眼底画像７０ａのＸ方向に関する撮像位置を変更するための光偏向部材を兼用してもよい。もちろん、第１眼底画像７０ａを得るための光スキャナと、撮像位置を変更するための光偏向部材とが、Ｘ方向、Ｙ方向に関してそれぞれ別の構成であってもよい。
【００２２】
ダイクロイックミラー９０は、第２撮影ユニット２００からの光束を透過させ、光源１及び後述する光源７６からの光束を反射する特性を有し、第２撮影ユニット２００等と第１照明光学系１００ａの光路を略同軸にする。
【００２３】
以上のような構成により、光源１から出射された光束は、レンズ２で平行光とされた後、偏光ビームスプリッタ４を経て、ビームスプリッタ７１、凹面鏡６から平面ミラー８で反射され、波面補償デバイス７２に入射する。波面補償デバイス７２で反射された光束は、ビームスプリッタ７５を介し、凹面鏡１１、１２で反射されてレゾナントスキャナー１５に入射する。
【００２４】
レゾナントスキャナー１５で反射された光束は、凹面鏡１６から平面ミラー２１で反射され、レンズ２２に集光された後、平面ミラー２３で反射され、更に視度補正部１０を介して、平面ミラー２５、凹面鏡２６で反射されて、ガルバノスキャナー４０に入射する。ガルバノスキャナー４０で反射された光束は、ダイクロイックミラー９０から凹面鏡３５で反射されて、眼底に集光する。
【００２５】
第１撮影光学系１００ｂは、第１照明光学系１００ａのダイクロイックミラー９０からビームスプリッタ７１までの光路を共有し、ビームスプリッタ７１の反射光路上の平面ミラー５１、偏光ビームスプリッタ５２、レンズ５３、ピンホール板５４、レンズ５５、受
光素子５６を持つ。偏光ビームスプリッタ５２は、Ｓ偏光成分の光束のみを通過してＰ偏向成分など（その他）の光束を遮光する。ピンホール板５４は、眼底と共役位置に置かれる。受光素子５６には、ＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）や、光電子倍増管等が用いられる。
【００２６】
眼底からの反射光は、第１照明光学系１００ａを逆に辿り、ビームスプリッタ７１、平面ミラー５１で反射される。そして偏光ビームスプリッタ５２でＳ偏光成分の光束のみ透過する。偏光ビームスプリッタ５２を透過したＳ偏向成分の光束は、レンズ５３を介してピンホール板５４のピンホールに焦点を結び、レンズ５５を経て受光素子５６で受光される。
【００２７】
なお角膜からの反射光はピンホール板５４で大部分が除去されるので、受光素子５６には眼底からの反射光が好適に受光される。波面補償部１１０は、第１照明光学系１００ａの光路に置かれるビームスプリッタ７１から凹面鏡３５までの光学部材を共用すると共に、光源７６、レンズ７７、偏光ビームスプリッタ７８、ビームスプリッタ７５、７１、ダイクロイックミラー８６、偏光ビームスプリッタ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２、波面センサー７３を持つ。光源７６は、光源１と異なる赤外域の光束を発するレーザダイオード等が使用される。光源１と収差検出用の光源７６は併用されても良い。
【００２８】
偏光ビームスプリッタ（第１偏光手段）７８は、光源７６から照射された光束を、偏光ビームスプリッタ４でＳ偏光された光源１からの光束に直交するＰ偏光の光束に偏光する。ビームスプリッタ７５は、波面補償部１１０の光束を第１照明光学系の光路に導く。ビームスプリッタ７１は、光源１の波長の光（８４０ｎｍ）を透過し、収差検出用の光源７６の波長光（７８０ｎｍ）を反射する。これにより波面センサー７３は、照射されたレーザー光による眼底からの散乱光のうちＳ偏光成分を持つ光を検出する。ダイクロックミラー８６は、光源１の波長の光（８４０ｎｍ）を透過し、収差検出用の光源７６の波長光（７８０ｎｍ）を反射する。偏光ビームスプリッタ（第２偏光手段）８５は、光源７６から眼Ｅに照射された偏光方向の光束（Ｐ偏光光）を遮断し、この偏光方向に直交する偏光方向の光束（Ｓ偏光光）を透過する。
【００２９】
波面センサー７３には、被検眼の反射光に含まれる低次収差及び高次収差を検知するものが用いられる。例えばマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光する二次元撮像素子７３ａ（２次元受光素子）から構成される。収差検出用の光源７６（第３光源）は、光源１とは異なる赤外帯域の光束を照射するものが選択される。例えば波長７８０ｎｍのレーザー光を出射するレーザダイオード等が用いられる。光源７６の出射端は眼底と略共役とする。波面センサー７３には、ハルトマンシャック検出器や光強度の変化を検出する波面曲率センサー等が用いられる。なおレゾナントスキャナー１５、波面補償デバイス７２の反射面は被検眼の瞳と共役とする。波面センサー７３の受光面（二次元撮像素子７６ａ）は眼Ｅの眼底と略共役とする。なお本実施形態では、波面センサー７３からの検出結果に基づいて波面補償デバイス７２を制御しているが、これに限定されない。例えば、制御部８０は、受光素子５６からの受光信号に基づいて取得される眼底画像を用いて波面補償デバイス７２を制御してもよい。このような構成により、波面センサーを設けなくても、波面補償デバイス７２を用いて眼底からの反射光の波面を補償できる。波面センサーを用いない場合、例えば、制御部８０は、その眼底画像のフォーカス状態を画像処理により判定し、フォーカス状態が適正な眼底画像が得られるように波面補償デバイス７２を制御してもよい。
【００３０】
光源７６から出射されたレーザー光は、レンズ７７で平行光とされた後、偏光ビームスプリッタ７８で光源１からの光束と直交する偏光方向（Ｐ偏光）とされ、ビームスプリッタ７５で第１照明光学系１００ａの光路に導かれる。ビームスプリッタ７５で反射したレーザー光は、第１照明光学系１００ａの光路を経て眼底に集光する。眼底からの反射光は、第１照明光学系１００ａの各光学部材を経て波面補償デバイス７２で反射し、ビームスプリッタ７１で第１照明光学系１００ａの光路から外され、ダイクロイックミラー８６で反射した後、偏光ビームスプリッタ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２を経て波面センサー７３へと導かれる。波面センサー７３では眼底からの散乱光のうちＳ偏光成分を持つ光が検出され、角膜や光学素子で反射した光束が、波面センサー７３で検出されることが抑えられる。
【００３１】
波面補償部（補償光学系）１１０によって、波面センサー７３で検出された光源７６の眼底反射光の波面収差に基づいて、波面補償デバイス７２が制御され、光源７６の反射光のＳ偏光成分と共に、光源１から出射される光束とその反射光の波面収差が取り除かれて、眼Ｅの波面収差が取り除かれた（波面補償がされた）高解像度の第１眼底画像７０ａが得られる。
【００３２】
（第２撮影ユニット）
第２撮影ユニットは、第１撮影ユニットの画角よりも広画角の眼底画像（第２眼底画像７０ｂ）を得る。第２眼底画像７０ｂは第１眼底画像７０ａの撮像位置指定、撮像位置の確認用に用いられる。第２眼底画像７０ｂを取得する第２撮影ユニット２００は、眼Ｅの眼底画像を観察用として広画角（例えば２０度〜６０度程度）でリアルタイムに取得できればよく、既存の眼底カメラの観察・撮影光学系や走査型レーザー検眼鏡（Scanning Laser Ophthalmoscope：ＳＬＯ）の光学系及び制御系等が用いられる。ここでは説明の簡便のため第２撮影ユニット２００の構成をブロック図で示している。
【００３３】
第２撮影ユニット２００は、第２照明光学系と第２撮影光学系を持つ。第２照明光学系は、眼底を赤外光で照明する第２光源２１０、光束を眼底上で２次元的に走査する走査部２２０等を備え、眼底を２次元で照明する。第２光源２１０は、例えば９１０ｎｍの波長のレーザー光を出射するレーザダイオードが用いられる。走査部２２０は、Ｘ及びＹ方向の二次元方向にレーザー光を偏向（反射）するミラーを備える。走査部２２０の振れ角は、第２撮影ユニット２００の撮影画角が第１撮影ユニット１００の撮影画角よりも大きくなるように決定される。例えば、黄斑部や乳頭等の眼底の特徴部を同時に撮影できるようにする場合、画角は２０〜６０度程度となる。第２撮影ユニット２００は眼底からの反射光を受光して第２眼底画像７０ｂを取得する為に、眼底からの反射光を受光する受光素子２５１等を持つ。
【００３４】
第２撮影ユニット２００の光路は、ダイクロイックミラー９０によって第１撮影ユニット１００と略同軸とされ、第２光源２１０からの光束は、ダイクロイックミラー９０、凹面鏡３１、３５、平面ミラー３３を経て眼底に集光する。眼底に投影された光束は走査部２２０の駆動で眼底の広い範囲を２次元的に走査する。眼底の反射光は平面ミラー３３からダイクロイックミラー９０までの光路を逆に経て、受光素子２５１で受光され、第１撮影ユニット１００の撮影の位置指定などに用いられる第２眼底画像７０ｂが取得される。
【００３５】
なお第１撮影ユニット１００と第２撮影ユニット２００に配置される凹面鏡３１，３５は、眼底の周辺部まで（広い画角で）照明光を入射させることができるように広い反射面（面積）を持つものが用いられることが好ましい。凹面鏡３１，３５を介して眼底を照明できる範囲（画角）が広げられることで、より広画角の第２眼底画像７０ｂを取得できるようになる。また光軸Ｌ１から離れた眼底の周辺部での第１眼底画像７０ａの撮影も可能になる。
【００３６】
一方、第１撮影ユニット１００の撮影で取得された局所領域の眼底画像には、光学系に配置された少なくとも１つの光学部材（例えば、凹面鏡、レンズ）の反射又は屈折による歪みが含まれる。この歪みは、局所的な眼底上の撮像位置によって異なる。つまり、眼底上の撮像位置の違いによって、その光学部材への光の入射角度が異なるため、各撮像位置での眼底画像の歪み特性は異なる。このような眼底画像の歪みの特性を考慮せずに、診断や解析に適した良好な眼底画像を得ることは困難である場合がある。
なお、構築された光学系によっては、光学系に配置された少なくとも１つの光学部材（例えば、凹面鏡、レンズ）における光軸から離れた周辺部分を用いて局所領域での眼底画像を得る場合、特に、眼底画像全体に歪が大きくなる場合がありうる。
【００３７】
図１０は撮像位置ごとの歪の発生状態についての説明図であり、図１０（ａ）は、第２眼底画像７０ｂ（眼底）に対する第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂ１〜Ｂ９、図１０（ｂ）は各撮像位置Ｂ１〜Ｂ９で取得された第１眼底画像７０ａ１〜７０ａ９である。ここでは、第１撮影ユニット１００で等間隔に並べられたドットを撮影したときの第１眼底画像７０ａに発生する収差の違いが示されている。つまり光軸Ｌ１を含む撮像位置Ｂ１では、凹面鏡３１，３５の中心部に照明光が入射するので発生する歪は小さく、第１眼底画像７０ａ１は比較的精度良く表示されている。一方、光軸１から偏心した撮像位置Ｂ２〜Ｂ９では、凹面鏡３１，３５の周辺部に照明光が入射するので、撮像位置Ｂ１に比べて歪が発生しやすい状態にある。つまり第１眼底画像７０ａ１と比べると、第１眼底画像７０ａ２〜７０ａ９の収差がより顕著に現れていることが分かる。このように凹面鏡３１，３５への照明光の入射位置の違いによって、像歪が変化するので、各撮像位置で撮影された第１撮影画像の収差を、共通する歪補正パターン（ルックアップテーブル）を用いて補正することは困難である。
【００３８】
なお歪を含む画像（画素）を用いて視細胞密度又は面積の計算等の各種演算を行おうとすると、演算結果の信頼性の低下につながるおそれが有る。また視細胞の配列や視神経遷移束の走行等を確認する場合にも収差の影響で正しく認識することが妨げられてしまう。更には眼底の異なる位置で撮影された複数の第１眼底画像７０ａを繋ぎ合わせて、広画角の第１眼底画像７０ａを形成する場合には、各画像に個別に含まれる収差のために、隣合う画像同士を精度良く繋ぎ合わせることが出来なくなるおそれがある。
そこで本実施形態では、眼底に対する第１眼底画像７０ａの撮像位置毎に、凹面鏡３１，３５の反射で生じる歪を補正する。歪補正の詳細な説明は後述する。
【００３９】
制御部８０は、眼底撮影装置５００全体の動作制御をする。例えば、装置のアライメント動作、撮影動作、波面補償動作、トラッキング等の動作制御をする。また制御部８０は、受光素子５６から出力された信号を量子化すると共に、信号に含まれる歪を補正して撮影画像の情報として記憶部８１に記憶させる画像取得手段となる。なお制御部８０には、記憶部８１、コントロール部９２、モニタ７０等も接続される。
【００４０】
記憶部８１には、第１眼底画像７０ａの撮影画角の情報が記憶される。また凹面鏡３１，３５の反射で生じる歪を画素毎に補正するために、走査位置毎のテーブル、走査位置に対応する演算式（歪補正プログラム）の少なくとも一方が記憶されている。また第２撮影画像上で指定された第１眼底画像７０ａの撮像位置の情報が記憶される。例えば、第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂは、第２眼底画像７０ｂの基準位置Ａに対する第１眼底画像７０ａのＸＹ方向の偏位量（オフセット量）として記憶される（図４参照）。また記憶部８１には、各種プログラムの他、コントロール部９２による入力情報、取得された撮影情報（第１眼底画像７０ａ及び第２眼底画像７０ｂ）など各種情報が記憶される。
【００４１】
コントロール部９２は、各種入力操作に用いられる。例えば、検者の操作によって、第１眼底画像７０ａの撮像位置（局所領域の撮像位置）を、第２眼底画像７０ｂ上で選択指示する入力手段として用いられる。コントロール部９２には、モニタ７０に設置されるタッチパネル、マウス等、スイッチ等の周知の入力部材が用いられる。
【００４２】
モニタ７０には、制御部８０による受光素子５６、２５１の受光信号に基づき、画角の異なる眼底画像（つまり第１眼底画像７０ａ及び第２眼底画像７０ｂ）が形成される。例えばモニタ７０には所定のフレームレート（例えば１０〜１００Ｈｚ程度）で更新される。眼底画像（第１眼底画像７０ａ、及び第２眼底画像７０ｂ）が動画表示される他、記憶部８１に記憶された眼底画像又は受光素子５６、２５１から直接取得された眼底画像が静止画表示される。なお眼底撮影装置５００とモニタ７０は別筐体の他、眼底撮影装置５００にモニタ７０が組み込まれていても良い。
【００４３】
＜動作説明＞
次に、以上の構成を備える眼底撮影装置５００の動作を説明する。
固視灯（図示を略す）を点灯して被検眼Ｅを固視させ、コントロール部９２の操作で視度補正部１０を駆動して眼Ｅの視度が補正される。図４（ａ）のように、第２撮影ユニット２００で撮影された第２眼底画像７０ｂがモニタ７０に表示されると、被検眼Ｅと撮影部５０３のアライメントが行われる。
【００４４】
アライメントが完了すると、検者はコントロール部９２を用いて、第２眼底画像７０ｂ上で第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂを指定する。制御部８０は入力信号に基づき、図４（ｂ）に示されるように、第２眼底画像７０ｂ上で第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂに対応する位置に画像処理でマークＭを形成する。また制御部８０は、第２眼底画像７０ｂの基準位置Ａに対する撮像位置ＢのＸ方向の偏位量（オフセット）ΔＸと、Ｙ方向の偏位量（オフセット）ΔＹを求めて、記憶部８１に記憶する。なおここでの基準位置Ａは撮影画像７０ａの中心座標であるとする。
【００４５】
制御部８０は、駆動部４２の制御で、ガルバノミラー４１ａの傾斜角度を偏位量ΔＸに基づき調節する。またガルバノミラー４１ｂの傾斜角度を偏位量ΔＹに基づき調節する。ガルバノミラー４１ａ、４１ｂの傾斜角度が変わると、凹面鏡３１、３５に対する照明光の入射角度が変わる。一方、上述したように凹面鏡３１，３５への光束の入射角度が変わると、凹面鏡３１，３５で反射される照明光に含まれる歪の状態が変化する。
【００４６】
また制御部８０は波面補償ユニット１１０による被検眼Ｅの波面収差の検出及び補正を開始する。制御部８０は、波面センサー７３で検出された光学分布（受光信号）に基づき、眼底からの反射光の回折像の拡がり具合が最小となるように、波面補償光学系１１０を制御する。
【００４７】
眼底に集光された照明光の反射光は、レゾナントスキャナー１５を介して光路を逆に辿り、波面補償デバイス７２の変調を受け、ビームスプリッタ７１で反射（偏向）されて第１撮影光学系１００ｂに導かれる。反射光は、偏光ビームスプリッタ５２を介し、レンズ５３でピンホール板５４のピンホールに集光され、レンズ５５を介して受光素子５６に入射される。
【００４８】
ガルバノスキャナー４０の各ミラー４１ａ、４１ｂの偏向によって、照明光の照射位置が撮像位置Ｂに合わせられた状態において、制御部８０は、レゾナントスキャナー１５とガルバノスキャナー４０の走査で、撮像位置Ｂを中心とする眼底の局所領域を所定画角で走査し、指定された局所領域における眼底画像を得る。つまり、制御部８０は、第１眼底画像７０ａを構成する画素毎の受光信号を取得する。
【００４９】
＜撮影画像の位置補正＞
ここで歪補正プログラムによる歪補正について説明する。図５は歪補正プログラムの動作説明のフローチャートである。制御部８０は、上記のようにして第１眼底画像７０ａを構成する各画素を取得すると共に、以下の歪補正プログラムを用いて１画素当りの歪の補正量を求める。
【００５０】
なお、上記プログラムは、例えば、撮影画像の取得中に実行されることによって歪補正量を取得する構成であってもよいし、また、撮影画像の取得前に実行されることによって補正量を予め取得する構成であってもよい。もちろん、撮影画像の取得後に実行されることによって歪補正量を眼底画像の取得後に取得する構成であってもよい。
【００５１】
まずステップＳ１で、第２眼底画像７０ｂ上で第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂが指定された場合、基準位置Ａに対する撮像位置Ｂのオフセット量に基づき、ガルバノスキャナー４０の傾斜角度が設定される。
【００５２】
次にステップＳ２で、ガルバノミラー４１ａで反射される光線ベクトルＲｇが求められる。図６はステップＳ２の処理の説明図である。ガルバノミラー４１ａの法線ベクトルＮｇは式（１）で示される。
【００５３】
【数１】
2014110825.tif 000003
なお式（１）において、角度θ１はガルバノミラー４１ａの振れ角であり、角度４５度は、ガルバノミラー４１ａの振れ角の中心角度である。ガルバノミラー４１ａで反射する光線ベクトルＲｇは式（２）で示される。
【００５４】
【数２】
2014110825.tif 000004
式（２）において、ガルバノミラー４１ａに入射する光線ベクトルＬｇ、ガルバノミラー４１ａで反射する光線ベクトルＲｇである。なおＹ方向に走査されるガルバノミラー４２ｂについても上記の式（１）、（２）で同様に光線ベクトルＲｇが求められるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【００５５】
次にステップＳ３で三次元光線追跡が計算される。図７はＸ方向の入射角度の角度差の演算の説明図であり図２の光学系の枠線Ｄの拡大図が示されている。図８はＹ方向の入射角度の角度差の演算の説明図であり、図２の光学系の枠線Ｄを矢印Ｃ方向から見た状態が示されている。なお図７、８ではでは説明の便宜上平面ミラー３２、平面ミラー３３の図示を省略している。
凹面鏡３１で反射した光線ベクトルＲは、式（３）で求められる。
【００５６】
【数３】
2014110825.tif 000005
式（３）において、凹面鏡３１の反射光線ベクトルＲ、入射光線ベクトルＬ（ここで、ガルバノミラー４０で反射した光線ベクトルRｇをLと表記する）、法線ベクトルＮである。つまり入射光線ベクトルＬと法線ベクトルＮから反射ベクトルＲが求められる。なお、同様な計算は凹面鏡３５でも行われる。
【００５７】
次にステップＳ４で、凹面鏡３１による歪が含まれているときの眼Ｅ（瞳）への照明光の入射角度を求める。入射角度は眼Ｅ（瞳）に入射する光線ベクトルＲｐ（凹面鏡３５で反射した光線ベクトルRをRｐと表記する）から求められる。式（４）にＸ方向の入射角度θ１'、式（５）にＹ方向の入射角度θ２'を示す。
【００５８】
【数４】
2014110825.tif 000006
【００５９】
【数５】
2014110825.tif 000007
式（４）、（５）において、瞳に入射する光線ベクトルＲｐ，光線ベクトルＲｐのＸ成分Ｒｐｘ，Ｙ成分Ｒｐｙ，Ｚ成分Ｒｐｚとする。
【００６０】
次にステップＳ５で、凹面鏡３１による歪が含まれているときの眼Ｅ（瞳）への照明光の入射角度と、歪が含まれていないとしたときの眼Ｅ（瞳）への照明光の入射角度の角度差を求める。式（６）でＸ方向の入射角度の角度差、式（７）でＹ方向の入射角度の角度差が求められる。
【００６１】
【数６】
2014110825.tif 000008
【００６２】
【数７】
2014110825.tif 000009
なお式（６）において、ｔθ１は、歪が無い場合のＸ方向への光線入射角度、ｔθ２は、歪が無い場合のＹ方向への光線入射角度である。またｔは、ガルバノスキャナー４０から被検眼Ｅ（瞳）への倍率関係を考慮して定まる係数である。
【００６３】
次にステップＳ６で、ＸＹ方向の入射角度の角度差を画素単位で求め、撮像位置Ｂで取得される画像（各画素）に対する歪補正パターン（補正量）を得る。式（８）は画素単位のＸ方向の補正量Δpixel(x)を求める計算式である。式（９）は画素単位のＹ方向の補正量Δpixel(y)を求める計算式である。
【００６４】
【数８】
2014110825.tif 000010
【００６５】
【数９】
2014110825.tif 000011
なお式（８）、（９）でθpixelは歪が無いときの１画素（ピクセル）当りの角度であ
る。式（８）、（９）によって、１画素当りの歪の補正量が得られる。そして制御部８０は、ガルバノミラー４０及びレゾナントスキャナー１５による各走査位置に対応する画素に関して、ステップＳ２〜Ｓ６の処理によって、１画素当り（１画素毎）の歪の補正量をそれぞれ求める。つまり、制御部８０は、ステップＳ２〜Ｓ６の処理において、角度θ１、θ２に、第１眼底画像７０ａの各画素に対応する値を与えることで、１画素当りの歪の補正量を求める。
そして第１眼底画像７０ａを構成する画素全体に対する歪の補正量を求めることで、撮像位置Ｂに対する歪の補正パターンが得られる。
【００６６】
そしてステップＳ７で、制御部８０は撮像位置Ｂで取得される画像に対して歪補正パターンに基づき、各画素の座標を変位させて第１眼底画像７０ａの歪を補正する。制御部８０は、第１眼底画像７０ａを構成する各画素を、上述のように画素毎に取得された補正量に基づき、Ｘ方向に補正量Δpixel(x)、Ｙ方向に補正量Δpixel(y)シフトさせる。
【００６７】
このように第１撮影光学系１００ｂに配置された少なくとも一つの光学部材による歪が生じていないと仮定したときの第１眼底画像７０ａの座標位置と、実際に取得された前記第１眼底画像７０ａの座標位置との変位量に基づいて、撮像位置における走査部材（光スキャナ）の各走査位置に関して各画素の座標の変位量が設定される。
なお、以上の処理によれば、第１撮影光学系１００ｂの光軸Ｌ１から撮像位置Ｂまでの距離が拡大すると、第１眼底画像７０ａにおける座標を補正する変位量が大きく設定される。
【００６８】
なお上記の演算では、レゾナントスキャナー１５（X方向の走査）での走査をガルバノ
ミラー４１ａで走査しているものと仮定した。よって、角度θ1にはステップＳ１での傾
斜角度と走査による傾斜角度が含まれている。（走査による傾斜角度の変化により角度θ1の値が変わり、画像全体の補正量を決めることができる。）
なお上記では第１眼底画像７０ａを構成する全画素の歪の補正量を逐次求めているが、第１眼底画像７０ａを構成する画素のうち、補正量を求める画素が所定のステップで選択されていても良い。この場合、歪補正の演算が行われない画素に対しては補完処理が行われることにより収差の影響が低減される。
【００６９】
また上記では撮像位置Ｂ毎に、第１眼底画像７０ａ全体に対応する歪補正パターンを求めた上で、歪補正を実行している。これ以外にも、歪補正パターンを求めずに、ステップＳ６で１画素当りの補正量が求められる毎に、ステップＳ７の補正処理が実行されても良い。以上のようにして、第１眼底画像７０ａがモニタ７０に表示される。図９に歪補正前後の撮影画像７０ａの例を示す。図９（ａ）は歪補正前の第１眼底画像７０ａであり、図９（ｂ）は歪補正後の第１撮影画像７０ｂである。以上のような歪補正プログラムの実行によって、モニタ７０には収差が取り除かれた第１眼底画像７０ａが精度良く表示されることが分かる。
【００７０】
ステップＳ８では第１撮影画像７０ｂの撮影完了の有無が判断される。撮影が終了していないと判断されると、再びステップＳ１に戻り、第２眼底画像７０ｂに対する撮像位置Ｂが切換えられる。なお撮像位置Ｂの指定は、コントロール部９２の操作で手動にて行われてもよく、制御部８０によって自動的に行われても良い。制御部８０は、ステップＳ１〜Ｓ８の処理を繰り返し行い、撮像位置Ｂごとに歪補正パターンを求め、歪補正の処理をする。そして、ステップＳ８で撮影の終了が判断されると、一連の処理が終了する。
【００７１】
なお、複数の第１眼底画像７０ａが取得されると、制御部８０は画像処理で隣り合う第１眼底画像７０ａを繋ぎ合わせて（コラージュとして）モニタ７０に表示する。本実施形態では、撮像位置Ｂごとに求められた歪補正パターンによって、各第１眼底画像７０ａの収差が取り除かれているので、隣り合う第１眼底画像７０ａを精度良く繋ぎ合わせることができる。また歪が取り除かれた画像を用いて、視細胞密度解析（視細胞密度や面積の計算）や、眼底の形態情報（視細胞配列、視神経繊維束の走向）も精度良く確認できるようになる。
【００７２】
なお、上記では記憶部８１に歪補正パターンを求める歪補正プログラム（演算式）を記憶する例を示した。これ以外にも、記憶部８１には、撮像位置Ｂごとに予め取得された歪補正パターン（又は１画素単位で取得された補正量）が記憶されても良い。この場合、撮像位置Ｂが指定されると、対応する歪補正パターン（又は対応する画素の補正量）が記憶部８１から呼び出されて、歪補正の処理が実行される。
【００７３】
また上記では、撮像位置Ｂごとに歪補正パターンを算出しているが、基準位置Ａからの偏位量（オフセット量）に応じて歪補正パターンが段階的に決定されても良い。例えば、基準位置Ａからの距離に応じて特定の歪補正パターンが選択される。又は基準位置Ａからの方向に応じて特定の歪補正パターンが選択されるようにしても良い。
【００７４】
又は、撮像位置Ｂごとの歪の発生状態に応じて、歪補正の実行の有無が切換えられても良い。例えば、凹面鏡３１，３５の光軸Ｌ１付近に入射される照明光は歪が少ない場合（例えば、基準位置Ａを含む所定範囲）では歪補正を無効とし、光軸Ｌ１から所定離れた周辺部で（基準位置Ａから所定距離離れた撮像位置Ｂでの撮影が行われる場合）に歪補正が実行されるように設定することもできる。または、これらの複数の処理を検者が選択出来るようにしても良い。
【００７５】
更には、レゾンナントスキャナー１５の走査で生じる歪が別途考慮されても良い。レゾナントスキャナー１５のような共振型スキャナーは、モータの駆動に連動して正弦波状に振動するため、振れ角に応じて走査角度が変化し撮影画像の解像度にばらつきを生じさせる原因となる。そこで予めレゾナントスキャナー１５の歪をドットマトリクスのような補正画像の撮影で取得する。そして歪補正プログラムで求められた歪補正パターンとレゾナントスキャナー１５の歪情報とを組合せて、第１眼底画像７０ａを形成しても良い。
【００７６】
更に、上記では被検眼に照明光を入射させるために凹面鏡を用いる例を示した。これ以外も各種レンズやミラーを用いて被検眼に照明光を入射させる場合に、本発明の構成を適用可能である。
【００７７】
また上記では、凹面鏡３１，３５への照明光の入射角度を求めるために、第２眼底画像７０ｂの基準位置Ａに対する第１眼底画像７０ａの撮像位置Ｂの偏位量（オフセット）を用いているが、ガルバノスキャナー４０（ガルバノミラー４１ａ、４１ｂ）の傾斜角度を検知する角度検出部（センサー）を設け、ガルバノミラー４１ａ、４１ｂの傾斜角度の検
知結果に基づき照明光の入射角度が求められても良い。
【００７８】
また、細胞密度解析（視細胞密度や面積計算等の各種演算）を行う場合には、モニタ７０に第１眼底画像７０ａ及び第２眼底画像７０ｂを表示させなくとも良い。例えばコントロール部９２の操作で各種演算を実行するための信号が入力されると、制御部８０はガルバノスキャナー４０の傾斜角度を自動的に調節し、ガルバノスキャナー４０の傾斜角度に応じて、上記の歪補正プログラムによる歪補正を実行させて、受光素子５６で受光された信号含まれる歪補正を行う。
【００７９】
なお、局所領域を撮像するための眼底撮像光学系の撮像画角としては、５度以下であることが好ましい。より好ましくは３度以下であるとする。もちろん、これに限定されず、通常の眼底カメラやＳＬＯでは画像化されないような局所領域を撮影できる程度の撮影画角であればよい。
【００８０】
局所領域を撮像するために設定された撮影画角は、眼底全体を撮像する撮像光学系の撮影画角（３０°〜５０°が一般的）の１／５よりも相対的に小さい撮影画角であり、眼底の局所領域に関して拡大化された眼底画像を得るのに適している。なお、局所領域を撮像するため、好ましくは、眼底からの光に含まれる被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスが、撮像光学系の光路中に配置される。
【００８１】
また、本発明は様々な種類の走査型の眼底撮影装置に応用できる。例えば患者眼の角膜内皮細胞を観察する眼底撮影装置、光源から出射された出射光によって被検眼眼底上の局所領域を横断方向に走査して断層画像を得る眼底撮影装置、例えば光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）に適用可能である。
【００８２】
なお、他の例として、本発明は、広画角の撮影画像の歪み補正に適用できる。例えば上記の第２撮影ユニット２００で撮影された広画角の撮影画像の収差を、上述のような歪補正プログラム（歪補正パターン）に基づき補正しても良い。特に画像周辺部に有用である。
【００８３】
すなわち、（１）光源と、光源から出射された出射光によって被検眼眼底全体をＸ及びＹ方向の少なくとも１方向に走査するための光スキャナと、各走査位置に関して眼底からの光を検出するための検出器と、を有し、被検眼眼底全体を撮像するための眼底撮像光学系と、を備える眼底撮影装置において、各走査位置における検出器からの受光信号を処理して眼底画像を取得する画像処理手段を備え、画像処理手段は、各走査位置に応じて眼底画像の歪みを補正する。
【００８４】
（２）画像処理手段は、第１眼底画像の歪みを補正する際、眼底画像における各画素の座標を変位させることにより眼底画像の歪みを補正する画像処理手段であって、
各画素の座標の変位量は、
前記眼底撮像光学系に配置された少なくとも１つの光学部材による歪が生じていないと仮定した場合の眼底画像の座標位置と、実際に取得された第１眼底画像の座標位置との変位量に基づいて、光スキャナの各走査位置に関してそれぞれ設定されている。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】眼底撮影装置の外観図である。
【図２】眼底撮影装置の光学系の説明図である。
【図３】眼底撮影装置の制御ブロック図である。
【図４】モニタの表示画面の例である。
【図５】歪補正の動作制御のフローチャートである。
【図６】ガルバノミラーの光線ベクトルの説明図である。
【図７】Ｘ方向の入射角度の角度差の演算の説明図である。
【図８】Ｙ方向の入射角度の角度差の演算の説明図である。
【図９】歪補正前後の第１撮影画像の例である。
【図１０】撮影位置毎に変化する歪の発生状態の例である。
【符号の説明】
【００８６】
１  光源
１５  レゾナントスキャナー
４０  ガルバノスキャナー
４１ａ、４１ｂ  ガルバノミラー
３１、３５  凹面鏡
７０  モニタ
７０ａ  第１眼底画像
７０ｂ  第２眼底画像
８０  制御部
８１  記憶部
９２  コントロール部
１００  第１撮影ユニット
１００ａ  第１照明光学系
１００ｂ  第１撮影光学系
１１０  波面補償ユニット
２００  第２撮影ユニット
５００  眼底撮影装置
【図１】
2014110825.tif 000012
【図２】
2014110825.tif 000013
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2014110825.tif 000018
【図８】
2014110825.tif 000019
【図９】
2014110825.tif 000020
【図１０】
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