(57)【要約】【課題】  再撮影時間を短縮するとともに、容易に断層像の撮影を行うことができる。【解決手段】  光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、被検眼の正面像を取得する観察光学系と、を備える眼科撮影装置であって、正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、光スキャナを制御して、各横断位置にて干渉信号を取得する制御手段と、取得された各横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示する表示制御手段と、モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定手段と、を備え、制御手段は、再撮影設定手段によって設定された再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得する。【選択図】      図１
2014083263.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、
被検眼の正面像を取得する観察光学系と、
を備える眼科撮影装置であって、
前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御手段と、
前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示する表示制御手段と、
前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定手段と、を備え、
前記制御手段は、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項２】
請求項１の眼科撮影装置において、
前記制御手段は、異なる複数の横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した被検眼の第１正面像と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した第２正面像と、の位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて前記光スキャナの駆動を制御し、該再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項３】
請求項１又は２の眼科撮影装置において、
再撮影前に前記モニタ上の画像に対して前記操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の前記干渉信号と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記制御手段によって取得された前記干渉信号と、を置き換える、又は、再撮影前に該モニタ上の画像に対して該操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の該干渉信号と、該再撮影設定手段によって設定された該再撮影用横断位置にて該制御手段によって取得された該干渉信号と、を加算平均処理することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかの眼科撮影装置において、
前記表示制御手段は、前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面と、を表示し、
前記制御手段は、前記撮影画面において、前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得し、
前記表示制御手段は、前記確認画面において、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示し、
前記再撮影設定手段は、前記確認画面において、前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定し、
前記制御手段は、前記撮影画面において、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかの眼科撮影装置において、
前記再撮影設定手段は、前記モニタ上の静止状態の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項６】
請求項５のいずれかの眼科撮影装置において、
前記干渉信号に基づいて生成される前記画像は、少なくとも正面像又は断層像のいずれかであることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項７】
請求項６のいずれかの眼科撮影装置において、
前記再撮影設定手段は、前記モニタ上の静止状態の前記断層像に対して、操作部からの操作信号に基づいて選択された断層像の正面像上における横断位置を再撮影用横断位置として設定することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項８】
光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、
被検眼の正面像を取得する観察光学系と、
を備える眼科撮影装置の動作を制御する制御装置において実行される眼科撮影プログラムであって、
前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、
前記観察光学系によって取得された前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御ステップと、
前記制御ステップによって取得された異なる複数の横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示する表示制御ステップと、
前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定ステップと、
前記再撮影設定ステップによって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し、前記干渉信号を再取得する再撮影制御ステップと、
を前記制御装置に実行させることを特徴とする眼科撮影プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の断層画像を撮影する眼科撮影装置及び眼科撮影プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の所定部位（例えば、眼底、前眼部）における断層画像（断層像）を非侵襲で得ることができる眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた眼科用光干渉断層計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
また、眼科用干渉断層計において、異なる横断位置での走査（複数のスキャン）を組み合わせて構成されたスキャンパターン（例えば、ラスタースキャン、ラジアルスキャン、マルチスキャン等）にて、一度の撮影で複数の断層像を取得する装置が知られている（例えば、特許文献２、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開２００８−２９４６７号公報
【特許文献２】特開２０１１−９２７０２号公報
【特許文献３】特開２０１１−２４５１８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、複数のスキャンを組み合わせて構成されたスキャンパターンにて、撮影を行う場合、撮影開始から全てのスキャンを終了するまでに多少の時間がかかる。そして、この間に被検眼の固視ずれや瞬き等により、複数のスキャンの内、撮影が失敗してしまうスキャンがあった。
【０００５】
このような場合、再撮影を行うには、スキャンパターンを構成する複数のスキャンの全てにおいて、再撮影を行う必要があり、大変手間であった。また、再撮影を行った場合にであっても、撮影時間の間に固視ずれや瞬きが生じる被検眼に対しては、撮影の失敗を繰り返してしまっていた。
【０００６】
本発明は、上記問題点を鑑み、再撮影時間を短縮するとともに、容易に断層像の撮影を行うことができる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）  光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、被検眼の正面像を取得する観察光学系と、を備える眼科撮影装置であって、前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御手段と、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示する表示制御手段と、前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定手段と、を備え、前記制御手段は、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得することを特徴とする。
（２）  （１）の眼科撮影装置において、前記制御手段は、異なる複数の横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した被検眼の第１正面像と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した第２正面像と、の位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて前記光スキャナの駆動を制御し、該再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得することを特徴とする。
（３）  （１）又は（２）の眼科撮影装置において、再撮影前に前記モニタ上の画像に対して前記操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の前記干渉信号と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記制御手段によって取得された前記干渉信号と、を置き換える、又は、再撮影前に該モニタ上の画像に対して該操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の該干渉信号と、該再撮影設定手段によって設定された該再撮影用横断位置にて該制御手段によって取得された該干渉信号と、を加算平均処理することを特徴とする。
（４）  （１）〜（３）のいずれかの眼科撮影装置において、前記表示制御手段は、前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面と、を表示し、前記制御手段は、前記撮影画面において、前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得し、前記表示制御手段は、前記確認画面において、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示し、前記再撮影設定手段は、前記確認画面において、前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定し、前記制御手段は、前記撮影画面において、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得することを特徴とする。
（５）  （１）〜（４）のいずれかの眼科撮影装置において、前記再撮影設定手段は、前記モニタ上の静止状態の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定することを特徴とする。
（６）  （５）のいずれかの眼科撮影装置において、前記干渉信号に基づいて生成される前記画像は、少なくとも正面像又は断層像のいずれかであることを特徴とする。
（７）  （６）のいずれかの眼科撮影装置において、前記再撮影設定手段は、前記モニタ上の静止状態の前記断層像に対して、操作部からの操作信号に基づいて選択された断層像の正面像上における横断位置を再撮影用横断位置として設定することを特徴とする。
（８）  光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、被検眼の正面像を取得する観察光学系と、を備える眼科撮影装置の動作を制御する制御装置において実行される眼科撮影プログラムであって、前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、前記観察光学系によって取得された前記正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御ステップと、前記制御ステップによって取得された異なる複数の横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ上に表示する表示制御ステップと、前記モニタ上の前記画像に対して、操作部からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定ステップと、前記再撮影設定ステップによって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し、前記干渉信号を再取得する再撮影制御ステップと、を前記制御装置に実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
再撮影時間を短縮するとともに、容易に断層像の撮影を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。
【図２】制御動作の流れについて説明するフローチャートである。
【図３】マルチスキャンにて撮影を行う場合におけるモニタに表示される撮影画面の一例を示す図である。
【図４】マルチスキャンでの撮影後の確認画面の一例を示す図である。
【図５】第１断層像の断層像を変更後の確認画面の一例を示す図である。
【図６】再撮影を行う場合におけるモニタに表示される撮影画面の一例を示す図である。
【図７】再撮影後の確認画面の一例を示す図である。
【図８】撮影完了後の撮影画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。なお、本実施形態においては、被検者眼（眼Ｅ）の軸方向をＺ方向、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えても良い。
【００１２】
＜概要＞
本発明の実施形態に係る眼科撮影装置の概要について説明する。本実施形態に関わる眼科撮影装置（光コヒーレンストモグラフィーデバイス）１０は、干渉光学系１００、観察光学系２００、表示手段（モニタ）７５、操作入力手段（操作部）７４、制御部（ＣＰＵ）７０、を備える。
【００１３】
干渉光学系１００は、走査手段（光スキャナ）１０８、検出器１２０を有し、被検眼の断層画像を得る。光スキャナ１０８は、光源１０２から発せられた光を被検眼上で二次元的に走査する。検出器１２０は、光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する。
【００１４】
観察光学系２００は、被検眼の動画の正面像を取得するために用いられる。観察光学系２００としては、被検眼に赤外光を照射し、被検眼からの反射光を受光する受光素子を有し、受光素子からの受光信号に基づいて被検眼の正面像を得るものが挙げられる。例えば、ＳＬＯや眼底カメラが挙げられる。また、観察光学系２００として干渉光学系１００が用いられてもよい。この場合、干渉光学系１００によって取得された三次元画像に基づいて、被検眼正面像が取得される。
【００１５】
なお、観察光学系２００がＳＬＯや眼底カメラの場合、制御部７０は、観察光学系２００によって取得された正面像と、干渉光学系１００によって取得された正面像（例えば、三次元画像データに基づくＯＣＴ正面像（例えば、積算画像））との位置合わせ（マッチング）する。これにより、干渉光学系１００によって取得された断層像と、観察光学系２００によって取得された正面像との対応付けが行われる。
【００１６】
操作部７４は、検者によって操作される。操作部７４には、例えば、マウス７４ａ、トラックボール、タッチパネルなどのユーザーインターフェースが用いられる。
【００１７】
モニタ７５は、例えば、ＰＣに設けられたディスプレイ、眼科撮影装置に設けられたディスプレイが用いられる。モニタ７５は、タッチパネルであってもよい。なお、モニタ７５がタッチパネルである場合に、モニタ７５が操作部として機能する。
【００１８】
本実施形態において、制御部７０は、制御手段と、表示制御手段と、再撮影設定手段と、を兼ねる。もちろん、それぞれ異なる制御部が設けられる構成でもよいし、一部の制御部が兼用される構成としてもよい。
【００１９】
＜制御動作＞
制御部７０は、正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置（撮影位置）にて、前光スキャナ１０８を制御して、測定光を走査し、各横断位置にて干渉信号を取得する。制御部７０は、取得された各横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ７５上に表示する。制御部７０は、モニタ７５上の干渉信号に基づいて生成される画像に対して、操作部７４からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する。制御部７０は、設定された再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得する。
【００２０】
例えば、異なる複数の横断位置にて撮影を行うスキャンとしては、種々のスキャンパターンが挙げられる。例えば、マルチスキャン、ラジアルスキャン、ラスタースキャン、クロススキャン等が挙げられる。また、ラインスキャンやサークルスキャン等の組み合わせによって構成されるスキャンパターンが挙げられる。
【００２１】
例えば、干渉信号に基づいて生成される画像は、正面像、断層像が挙げられる。この場合、例えば、モニタ７５に表示される画像としては、少なくとも、正面像又は断層像の一方が表示される構成が挙げられる。
【００２２】
検者は、干渉信号に基づく正面像又は断層像から再撮影用横断位置を設定してもよいし、干渉信号の基づいて取得される撮影情報から設定する構成としてもよい。例えば、撮影情報としては、異なる各横断位置（スキャンライン）毎の断層像の加算平均処理に用いられた断層像の枚数や断層像の輝度分布、層検出結果等が挙げられる。
【００２３】
また、例えば、再撮影用横断位置設定時において、干渉信号に基づいて生成される画像は、静止状態の画像が用いられる。この場合、例えば、再撮影用横断位置設定時において、静止状態の断層像を用いる場合、検者は、モニタ７５上の静止状態の断層像を確認し、再撮影を行う断層像を選択する。そして、制御部７０は、モニタ７５上の静止状態の断層像に対して、操作部７４からの操作信号に基づいて選択された断層像の正面像上における横断位置（撮影位置）を再撮影用横断位置として設定する。このように、検者は、各横断位置での断層像を確認して、再撮影位置を設定できるため、検者の所望する撮影位置の断層像のみを再撮影の対象として選択でき、利便性が高くなる。また、断層像を確認して、再撮影を行うため、良好に撮影できなかった撮影位置を再撮影位置として、的確に選択することできる。
【００２４】
本実施形態において、さらに、再撮影において、制御部７０は、トラッキング制御を行う。例えば、制御部７０は、異なる複数の横断位置にて干渉信号を取得する際に観察光学系２００によって取得した被検眼の第１正面像と、再撮影用横断位置にて干渉信号を取得する際に観察光学系２００によって取得した第２正面像と、の位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて光スキャナ１０８の駆動を制御し、再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得する。
【００２５】
例えば、再撮影の設定は、撮影した断層像を確認するための確認画面にて行う。例えば、一連の撮影動作において、制御部７０は、モニタ７５上の表示を干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した干渉信号を確認するための確認画面と、で切り換えて表示する。
この場合、例えば、制御部７０は、撮影画面において、正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、光スキャナ１０８を制御して、測定光を走査し、各横断位置にて干渉信号を取得する。制御部７０は、撮影画面から確認画面に切換え、取得された各横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ７５上に表示する。制御部７０は、確認画面において、モニタ７５上の画像に対して、操作部７４からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する。
【００２６】
制御部７０は、確認画面から撮影画面に切換え、設定された再撮影用横断位置にて測定光を走査し、干渉信号を取得する。例えば、制御部７０は、撮影画面において、光スキャナ１０８を制御し、確認画面において再撮影用横断位置として予め設定された走査位置にて測定光を横断方向に走査する。そして、制御部７０は、自動又は手動により発生される撮影開始信号に基づいて、再撮影用横断位置での断層像を静止画として取得してもよい。
【００２７】
このような構成とすることによって、撮影直後において、撮影した複数の断層像の内、良好でない断層像が取得された撮影位置において、再撮影を行うことができるため、再撮影を手間無くスムーズに行うことができる。
【００２８】
また、撮影画面と確認画面の切換には、撮影画面と確認画面が別画面上に表示される構成の他、撮影画面と確認画面を同一画面上に表示し、撮影画面と確認画面の大小を切換えることにより、撮影画面と確認画面を切換えるような構成も含まれる。
【００２９】
なお、確認画面を表示している状態において、制御部７０は、測定光のトラッキング制御、被検眼の移動に応じた光路長調整の少なくとも何れかを実行することにより、再撮影をスムーズに実施できる。なお、あえて、確認画面では、測定光の照射を停止することにより、被検眼の負担を軽減するようにしてもよい。  再撮影後、例えば、制御部７０は、再撮影前にモニタ７５上の画像に対して操作部７４からの操作信号に基づいて選択された横断位置の干渉信号と、再撮影用横断位置にて取得された干渉信号と、を置き換える。また、例えば、制御部７０は、再撮影前にモニタ７５上の画像に対して操作部７４からの操作信号に基づいて選択された横断位置の干渉信号と、再撮影用横断位置にて取得された干渉信号と、を加算平均処理する。このような構成とすることによって、複数の異なる横断位置で取得された全ての断層像を良好な断層像へ変更できる。これによって、複数の異なる横断位置での撮影によって構成されるスキャンパターンでの撮影を手間無くスムーズに行うことができる。
【００３０】
例えば、第１正面像としては、撮影開始時に取得された正面像を用いる構成が挙げられる。また、例えば、第１正面像としては、第２正面像より前に取得された正面像であればよい。例えば、正面像が取得されるたびに、新たに取得された正面像の１つ前に取得された正面像を第１正面像とするように、第１正面像を更新して設定いく構成が挙げられる。
【００３１】
例えば、第２正面像としては、リアルタイムに取得されている現在の正面像を用いる構成が挙げられる。
【００３２】
なお、本実施形態においては、上記実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、上記実施形態の機能を行う眼科撮影ソフトウェア（プログラム）をネットワークや各種記憶媒体を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置のコンピュータ（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
【００３３】
例えば、光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナ１０８と、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器１２０と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系１００と、被検眼の正面像を取得する観察光学系２００と、を備える眼科撮影装置１０の動作を制御する制御装置において実行される眼科撮影プログラムが挙げられる。この場合、眼科撮影プログラムは、制御装置のプロセッサによって実行されることで、観察光学系２００によって取得された正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、光スキャナ１０８を制御して、測定光を走査し、各横断位置にて干渉信号を取得する制御ステップと、制御ステップによって取得された異なる複数の横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ７５上に表示する表示制御ステップと、モニタ７５上の画像に対して、操作部７４からの操作信号に基づいて、少なくとも１つ以上の再撮影用横断位置を設定する再撮影設定ステップと、再撮影設定ステップによって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し、前記干渉信号を再取得する再撮影制御ステップと、を制御装置に実行させる。
【００３４】
＜実施例＞
以下、本実施形態に係る実施例を図面に基づいて説明する。図１は本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。以下の説明においては、眼科撮影装置として、被検眼の眼底撮影を行う眼底撮影装置を例に挙げて説明を行う。もちろん、眼科撮影装置としては、眼底撮影装置に限定されず、被検眼の前眼部撮影を行う前眼部撮影装置等が挙げられる。
【００３５】
装置構成の概略を説明する。本装置は、被検者眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を撮影するための光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス）１０である。ＯＣＴデバイス１０は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００と、正面観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、演算制御部（ＣＰＵ）７０と、を含む。
【００３６】
ＯＣＴ光学系１００は、眼底に測定光を照射する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底から反射された測定光と、参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上における測定光の照射位置を変更する照射位置変更ユニット（例えば、光スキャナ１０８、固視標投影ユニット３００）を備える。制御部７０は、設定された撮像位置情報に基づいて照射位置変更ユニットの動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層像を取得する。
【００３７】
＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１００は、いわゆる眼科用光干渉断層計（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）の装置構成を持ち、眼Ｅの断層像を撮像する。ＯＣＴ光学系１００は、測定光源１０２から出射された光をカップラー（光分割器）１０４によって測定光（試料光）と参照光に分割する。そして、ＯＣＴ光学系１００は、測定光学系１０６によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０に導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成による干渉光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
【００３８】
検出器１２０は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。例えば、Spectral-domain OCT（ＳＤ−ＯＣＴ）、Swept-source OCT（ＳＳ−ＯＣＴ）が挙げられる。また、Time-domain OCT（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。
【００３９】
光スキャナ１０８は、測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で走査させる。例えば、光スキャナ１０８は、眼底上で二次元的（ＸＹ方向（横断方向））に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構５０によって任意に調整される。
【００４０】
これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００４１】
参照光学系１１０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。
【００４２】
参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００４３】
＜正面観察光学系＞
正面観察光学系（正面像観察デバイス）２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第２の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の装置構成を持つ。
【００４４】
なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）。
【００４５】
＜固視標投影ユニット＞
固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。
【００４６】
例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。
【００４７】
固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。
【００４８】
＜制御部＞
制御部７０は、各構成１００〜３００の各部材など、装置全体を制御する。また、制御部７０は、取得された画像を処理する画像処理部、取得された画像を解析する画像解析部、などを兼用する。制御部７０は、一般的なＣＰＵ（Central Processing Unit）等で実現される。制御部７０は、以下に示すように、断層像に基づいて眼底Ｅｆを解析する。
【００４９】
制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００の検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層像を取得すると共に、正面観察光学系２００の受光素子から出力される受光信号に基づいて正面像を取得する。また、制御部７０は、固視標投影ユニット３００を制御して固視位置を変更する。
【００５０】
メモリ（記憶部）７２、モニタ７５、コントロール部（操作部）７４は、それぞれ制御部７０と電気的に接続されている。制御部７０は、モニタ７５の表示画面を制御する。取得された眼底像は、モニタ７５に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶される。メモリ７２は、例えば、撮影された断層像（例えば、三次元断層像）、正面画像、各断層像の撮影位置情報等の撮影に係る各種情報を記録する。また、メモリ７２は、眼科撮影装置の動作を制御するための制御プログラム（眼科撮影プログラム）を記憶している。制御部７０は、操作部７４から出力される操作信号に基づいて、ＯＣＴ光学系１００、正面観察光学系２００、固視標投影ユニット３００の各部材を制御する。操作部７４は、検者によって操作される操作部材としてマウス７４ａ、操作ノブ７４ｂ、７４ｃ等が接続されている。
【００５１】
なお、マウス７４ａには、検者の手によってマウス７４ａ本体が二次元的に移動されたときの移動信号を検出するセンサと、検者の手によって、押圧されたことを検知するための左右２つのマウスボタンと、左右２つのマウスボタンの間に前後方向に回転可能なホイール機構とが設けられている。
【００５２】
なお、操作ノブ７４ｂ、７４ｃは、左右方向に回転可能な構成となっている。
【００５３】
モニタ７５は、装置本体に搭載された表示モニタであってもよいし、パーソナルコンピュータの表示モニタであってもよい。また、これらが併用された構成であってもよい。
【００５４】
＜制御動作＞
以上のような構成を備える装置において、その制御動作について説明する。図２は、制御動作の流れについて説明するフローチャートである。制御部７０は、メモリ７２に記憶された制御プログラムに従って、図２に示す処理を実行する。検者は、固視標投影ユニット３００の固視標を注視するように被検者に指示した後、図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像をモニタ７５で見ながら、被検眼の瞳孔中心に測定光軸がくるように、操作部７４（例えば、図示無きジョイスティック）を用いて、アライメント操作を行う。
【００５５】
そして、制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を所定方向に関して走査させ、走査中に検出器１２０から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する受光信号を取得して断層像を形成する。また、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、断層像を取得すると共に、観察光学系２００を制御し、眼底正面像を取得する。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００によって断層像、観察光学系２００によって眼底正面像（正面像）を随時取得する。
【００５６】
なお、本実施例においては、異なる横断位置での複数のスキャンを組み合わせて構成されたスキャンパターンで断層像が取得される。以下の説明においては、スキャンパターンとして、マルチスキャンを例に挙げて説明をする。本実施例のマルチスキャンとしては、例えば、縦方向に５ライン、横方向に５ラインのスキャンラインによって構成されるマルチスキャンを例に挙げて説明する。もちろん、スキャンラインのライン数は、これに限定されず、変更可能である。なお、本発明は、マルチスキャンへの適用のみに限定されない。異なる横断位置での複数のスキャンを組み合わせて構成されたスキャンパターンに適用可能である。例えば、ラスタースキャン、ラジアルスキャン、クロススキャン等に適用可能である。
【００５７】
図３は、マルチスキャンにて撮影を行う場合におけるモニタ７５に表示される撮影画面の一例を示す図である。制御部７０は、モニタ７５上に、観察光学系２００によって取得された正面像２０、指標２５、断層像３０、を表示する。指標２５は、正面像２０上における断層像の測定位置（取得位置）及びスキャンパターンを表す指標である。すなわち、スキャンパターンが変更されると、制御部７０は、変更されたスキャンパターンに基づいて、指標の表示パターンを変更する。指標２５は、モニタ７５上の正面像上に電気的に重畳表示される。
【００５８】
断層像３０としては、例えば、第１断層像３０ａと第２断層像３０ｂがモニタ７５上に表示される。例えば、第１断層像３０ａは、指標２５を横方向（Ｘ方向）に通過する切断位置にて取得される断層像を示している。また、例えば、第２断層像３０ｂは、指標２５を縦方向（Ｙ方向）に通過する切断位置にて取得される断層像を示している。
【００５９】
なお、本実施例において、マルチスキャンの撮影時における初期設定として、撮影画面の第１断層像３０ａ及び第２断層像３０ｂに表示される断層像は、マルチスキャンの中心位置２６における横方向及び縦方向のスキャンの断層像を表示する構成としている。もちろん、異なるスキャン位置の画像が撮影時に表示されるようにしてもよい。また、第１断層像３０ａ及び第２断層像３０ｂに表示される断層像は、操作部の操作によって、変更可能である。例えば、マウス７４ａを操作し、検者が断層像の確認したい位置におけるスキャンラインを選択すると、選択されたスキャンラインで取得される断層像へと表示が変更される。
【００６０】
以下、断層像の撮影方法について説明する。図３に示されるように、断層像及び正面像が同一画面上に表示されたら、検者は、リアルタイムで観察されるモニタ７５上の正面像から検者の撮影したい断層像の位置を設定する。ここで、検者は、マウス７４ａを用いて、ドラッグ操作を行うことによって、正面像に対して指標２５を移動させていき、走査位置を設定する。
【００６１】
検者によって指標２５が正面像２０に対して移動されると、制御部７０は、随時走査位置の設定を行い、これに対応する走査位置の断層像を取得する。そして、取得された断層画像を随時モニタ７５の表示画面上に表示する。また、制御部７０は、マウス７４ａから出力される操作信号に基づいて測定光の走査位置を変更すると共に、変更された走査位置に対応する表示位置に指標２５を表示する。なお、走査位置の変更とともに、スキャンスキャンパターン設定欄３５を操作部７４によって選択することによって、スキャンパターンを変更することが可能である。
【００６２】
検者によって、スキャンパターンや走査位置等が設定され、図示無き撮影スイッチが選択されると、制御部７０は、設定された走査位置に基づいて、正面像及び断層像の取得を行う。
【００６３】
制御部７０は、マルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像と、その正面像上で設定されたマルチスキャンの走査位置の情報をメモリ７２に記憶させる。なお、正面像は、再撮影時のトラッキング制御時に用いられる（詳細は後述する）。
【００６４】
また、制御部７０は、正面像２０上に設定された指標２５の表示位置に基づいて、指標２５の位置に対応する眼底の断層像が得られるように、光スキャナ１０８を駆動させて測定光を走査させる。なお、指標２５の表示位置（モニタ７５上における座標位置）と光スキャナ１０８による測定光の走査位置との関係は、予め定まっているので、制御部７０は、設定した指標２５の表示位置に対応する走査範囲に対して測定光が走査されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。
【００６５】
断層像の取得時において、制御部７０は、複数のスキャンで構成されるスキャンパターンでの撮影の場合、各スキャン毎に順に断層像の取得を行う。例えば、上記記載のマルチスキャンで撮影を行う場合、横方向の全てのスキャンラインでの撮影を完了した後、縦方向の全てのスキャンラインでの撮影を行う。例えば、横方向の各スキャンラインでの撮影を行っていく場合、上端に位置するスキャンラインから順に下方向に向けて撮影を行っていく。すなわち、指標２５における横方向上端の指標２５ａから下端の指標２５ｂに向けて順に横方向の撮影を行っていく。
【００６６】
このとき、各スキャンラインでの断層像の撮影を複数回行う。例えば、上端の指標２５ａの位置での撮影を複数回行った後、次のスキャンラインの撮影位置へと移行をする。例えば、制御部７０は、各スキャンラインで複数の断層像を取得しながら、断層像間の加算平均処理を行い、各スキャンライン毎に複数の断層像から加算平均画像を取得する。
【００６７】
ここで、加算平均処理について説明する。例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００よって取得された複数の断層像を加算平均処理することにより加算平均画像を取得する。制御部７０は、各スキャンライン毎に、各スキャンラインの位置において、最初に取得された断層像を基準画像として設定し、加算平均処理を行う。制御部７０は、各スキャンラインの位置で取得された断層像毎に、基準画像とその他の複数の断層像とのずれを画像処理により検出する。そして、制御部７０は、ずれ検出結果に基づいて、加算処理の適否を判定処理すると共に、基準画像と各断層像とのずれを補正し、基準画像に対して複数の断層像を加算処理していく。なお、本実施形態においては、基準画像を最初に取得された正面像（最新の撮影画像）に設定したがこれに限定されない。例えば、複数の断層像の内で加算処理の基準とする基準画像設定をしてもよい。
【００６８】
制御部７０は、基準画像に対して断層像を順に加算平均処理していく。そして、各断層像と基準画像とのずれ量を断層像毎に検出し、基準画像に対して各断層像の位置合わせを行う。すなわち、基準画像と各断層像を比較して、基準画像に対する各断層像の位置ずれ方向及び位置ずれ量を断層像毎に、画像処理により検出する。
【００６９】
ずれ量の検出方法としては、種々の画像処理手法（各種相関関数を用いる方法、フーリエ変換を利用する方法、特徴点のマッチングに基づく方法）を用いることが可能である。
【００７０】
例えば、所定の基準画像（最初に取得した断層像）又は対象画像（基準画像を除く断層像）を１画素ずつ位置ずれさせ、基準画像と対象画像を比較し、両データが最も一致したとき（相関が最も高くなるとき）の両データ間の位置ずれ方向及び位置ずれ量を検出する手法が考えられる。また、所定の基準画像及び対象画像から共通する特徴点を抽出し、抽出された特徴点の位置ずれ方向及び位置ずれ量を検出する手法が考えられる。
【００７１】
本実施例においては、基準画像に対する各正面像を１画素単位でずらしながら、相関値（値が大きいほど画像間の相関が高くなる（最大１））を逐次算出する。そして、制御部７０は、相関値が最大となるときの画素の偏位量（ずらした画素数）を位置ずれ量とし、また、ずらした方向を位置ずれ方向として算出する。
【００７２】
判定方法として、ずれ検出時に算出した相関値を用いて判定を行う。例えば、相関値が所定の閾値（例えば、０．４）より小さい場合に、加算処理に用いる断層像の対象から除外する。すなわち、相関値が小さい場合には、固視微動や装置と眼の間のずれ等が原因となって、基準画像と断層像で、撮影領域が大きく異なっている可能性が高い。なお、加算処理に用いる画像として、適正な画像であるか否かの判定においてはこれに限定されない。例えば、検出される位置ずれ量が許容範囲を超えた正面像を加算処理の対象から除外するようにしてもよい。
【００７３】
以上のように、位置ずれ量及び位置ずれ方向が検出され、加算処理に用いる画像としての適否が判定される。そして、制御部７０は、加算処理用の画像として適正であると判定された画像に対して、位置ずれが補正されるように、位置ずれ量分、各正面像を基準画像に対して、それぞれ偏位させる。そして、位置ずれ補正後、制御部７０は、基準画像に対して、断層像の画素値を加算させる。
【００７４】
このように、各スキャンラインでの複数の断層像を用いて、加算平均処理することによって、取得される断層像の画質が向上する。
【００７５】
横方向の撮影完了後、横方向の撮影と同様にして、縦方向の各スキャンラインでの撮影を行っていく。例えば、縦方向の各スキャンラインでの撮影を行っていく場合、左端に位置するスキャンラインから順に右方向に向けて撮影を行っていく。すなわち、指標２５における縦方向の左端の指標２５ｃから右端指標２５ｄに向けて順に縦方向の撮影を行っていく。なお、撮影順序は上記に限定されない。例えば、縦方向のスキャンラインでの撮影が完了した後、横方向のスキャンラインでの撮影を行う構成としてもよい。また、縦方向と横方向のスキャンラインでの撮影が交互に行われる構成としてもよいし、複数の撮影毎に縦方向と横方向のスキャンラインでの撮影が切り換わる構成としてもよい。
【００７６】
上記のようにして、撮影が完了すると、制御部７０は、取得した断層像をメモリ７２に記憶させる。そして、制御部７０は、モニタ７５上の表示を撮影画面から確認画面へ変更する。図４は、マルチスキャンでの撮影後の確認画面の一例を示す図である。制御部７０は、メモリ７２より正面像及び断層像を呼び出す。制御部７０は、モニタ７５上に、正面像２０、指標２５、断層像３０、を表示する。
【００７７】
例えば、確認画面に表示される正面像２０は、マルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像が表示される。また、例えば、確認画面の第１断層像３０ａ及び第２断層像３０ｂに表示される断層像は、マルチスキャンの中心位置における横方向（第１断層像）及び縦方向（第２断層像）のスキャンの断層像を表示する構成としている。もちろん、異なるスキャン位置の画像が確認画面にて取得画像として表示されるようにしてもよい。なお、確認画面に表示される断層像は、加算平均処理によって取得された断層像が表示される。このとき、例えば、各スキャンラインでの断層像の加算平均処理に用いられた断層像の枚数が表示されるようにしてもよい。また、各スキャンラインでの全ての断層像の数と、撮影された断層像の内、加算平均処理が行われた断層像の数が表示されるようにしてもよい。また、断層像と正面像のスキャンラインとの対応関係が把握できるように、各スキャンライン毎に番号を付与し、各スキャンラインに対応する断層像に各スキャンラインと同様の番号を付与する構成としてもよい。
【００７８】
また、第１断層像３０ａ上には、マルチスキャンを構成する複数の横方向のスキャンラインの内、第１断層像３０ａを取得している位置のスキャンラインを示すスキャン表示３１が表示される。例えば、第１断層像３０ａが指標２５の中心位置２６を横方向に通過する切断位置にて取得される断層像である場合、スキャン表示３１は、マルチスキャンを構成している複数の横方向のスキャンラインの内、中心位置のスキャンラインを示すように表示される。また、第２断層像３０ｂ上には、マルチスキャンを構成する複数の縦方向のスキャンラインの内、第２断層像３０ｂを取得している位置のスキャンラインを示すスキャン表示３２が表示される。
【００７９】
ここで、検者は、各スキャンラインでの撮影が良好に完了しているか確認を行う。例えば、検者は、マウス７４ａを操作し、モニタ７５上において、図示無きポインタ（例えば、矢印、十字マーク等）を移動させ、第１断層像３０ａ又は第２断層像３０ｂの断層像を選択する。検者によって、断層像が選択されると、制御部７０は、選択された断層像を囲むようにフレームＦを表示する。この状態で、検者がマウス７４ａを用いてスクロール操作を行うことによって、表示された断層像が他の断層像の表示へと変更される。例えば、第１断層像３０ａに、横方向のスキャンラインでの撮影された断層像の内、中心位置の断層像が表示されていた場合、検者によってスクロール操作が行われると、第１断層像３０ａに表示された断層像が中心位置から上方向又は下方向のスキャンラインの位置で撮影された断層像へ変更される。また、表示される断層像の変更にとともに、断層像の取得位置を示すスキャン表示３１，３２の表示を対応するスキャンライン位置を示す表示へと変更する。
【００８０】
なお、本実施例においては、スクロール操作によって断層像が変更される構成としたがこれに限定されない。例えば、撮影された断層像が全て一覧表示される構成としてもよい。
【００８１】
図５は、第１断層像３０ａの断層像を変更後の確認画面の一例を示す図である。例えば、図５に示されるように、スキャンライン２８の位置で取得された断層像が良好に撮影取得されていない場合、第１断層像３０ａには、良好な断層像が表示されない。このように、検者は、第１断層像３０ａ及び第２断層像３０ｂを変更して、取得された断層像を確認することによって、撮影が良好に行われたかどうかを確認することができる。
【００８２】
検者によって、マウス７４ａが操作され、各スキャンラインでの断層像の確認を行い、良好に撮影が行われていないスキャンラインを確認した場合、そのスキャンラインの位置で再撮影を行うことができる。なお、以下の再撮影の説明においては、スキャンライン２８の位置にて良好に撮影が行われなかった場合を例として説明をする。
【００８３】
例えば、検者によって、マウス７４ａが操作され、断層像を確認して、再撮影を行うスキャンラインを選択する。例えば、検者によって、良好に撮影が行われなかったスキャンライン２８が選択されると、制御部７０は、指標２５の内、選択されたスキャンライン２８の色を変更する（図には記載しない）。もちろん、選択されたスキャンラインと選択されていないスキャンラインが異なる表示で表わされる構成であればよい。例えば、スキャンラインのサイズや形状等を変更する構成であってもよい。
【００８４】
検者によって、再撮影を行うスキャンライン２８の選択が完了し、再撮影スイッチ３４が選択されると、制御部７０は、選択されたスキャンライン２８の撮影位置において、再撮影を行うために、モニタ７５の表示を確認画面から撮影画面へと変更する。なお、本実施例においては、１つのスキャンラインの再撮影を行う構成としたがこれに限定されない。複数のスキャンラインをまとめて選択して、再撮影を行う構成としてもよい。この場合、例えば、複数のスキャンラインが選択され、選択されたスキャンラインが再撮影の候補として設定される。そして、再撮影スイッチ３４が選択されると、候補として設定された全ての断層像に対応する位置での、再撮影を行うようにする。
【００８５】
図６は、再撮影を行う場合におけるモニタ７５に表示される撮影画面の一例を示す図である。例えば、モニタ７５上には、正面像６０、断層像６５が表示される。正面像６０には、現在取得中の正面像が表示されている。断層像６５には、再撮影を行うスキャンラインとして選択されたスキャンライン２８の位置で取得されている断層像が表示される。
【００８６】
このとき、被検眼の固視微動等によって、正面像が走査位置（撮影位置）に対してずれた場合、走査位置を設定した位置と同一の位置の断層像を取得するためには、走査位置を補正する必要がある。例えば、過去に撮影した際（マルチスキャン撮影時）のスキャンライン２８の位置と、再撮影をする際のスキャンライン２８の位置とで、撮影位置が異なる位置で撮影してしまうことがある。このため、制御部７０は、トラッキング制御を行う。
【００８７】
以下、トラッキング制御について説明する。制御部７０は、メモリ７２に記憶されたマルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像と、その正面像上で設定されたマルチスキャンの走査位置情報を用いて、再撮影時の走査位置の補正を行う。制御部７０は、まず、メモリ７２に記憶された正面像と現在の正面像とを比較する。制御部７０は、マルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像に対する現在の正面画像の位置ずれ方向及び位置ずれ量を画像処理により検出（演算）する。
【００８８】
制御部７０は、マルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像データを基準画像とし、その基準画像とリアルタイムで取得される正面像との位置ずれを算出する。これにより、マルチスキャンでの撮影開始時に取得した正面像に対する位置ずれ情報が得られる。
【００８９】
上記のようにして、位置ずれが検出されると、制御部７０は、過去に撮影した際のスキャンライン２８の位置と、再撮影をする際のスキャンライン２８の位置との位置ずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。これによって、走査位置が補正される。このようにして、被検眼がずれた場合であっても、走査位置が補正され、常時、撮影位置を設定した部位と同一の部位の断層像が取得される。
【００９０】
ここで、検者によって、図示無き撮影スイッチが選択されると、制御部７０は、スキャンライン２８の位置における断層像を取得し、メモリ７２に記憶させる。なお、複数のスキャンラインの位置において再撮影を行う場合、図示無き撮影スイッチが選択されると、各スキャンラインでの撮影が順に行われる。
【００９１】
なお、本実施例においては、位置ずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する構成としたがこれに限定されない。位置ずれが無くなり、基準画像とリアルタイムで取得される正面像が一致するまで、撮影を待機する構成としてもよい。この場合、基準画像とリアルタイムで取得される正面像が一致した際に、撮影が行われる構成や、一致した旨を報知し撮影を開始するタイミングを検者に報知する構成が挙げられる。
【００９２】
なお、上記トラッキング制御において、２つの画像間の位置ずれを検出する手法としては、上記記載の加算平均処理と同様にして、種々の画像処理手法（各種相関関数を用いる方法、フーリエ変換を利用する方法、特徴点のマッチングに基づく方法）を用いることが可能である。
【００９３】
上記のようにして、再撮影が完了すると、制御部７０は、モニタ７５上の表示を撮影画面から確認画面へ変更する。図７は、再撮影後の確認画面の一例を示す図である。制御部７０は、再撮影を行った断層像のデータと、再撮影前の断層像データと、を置き換える。
すなわち、制御部７０は、再撮影を行うスキャンラインとして選択したスキャンライン２８の撮影位置（横断位置）での断層像を、再撮影時に取得された断層像に変更する。そして、図７に示されるように、第１断層像３０ａにスキャンライン２８の撮影位置に対応する断層像が表示されるようになる。これによって、マルチスキャンによって取得された各スキャンラインの断層像が全て良好な断層像となる。
【００９４】
なお、本実施例においては、再撮影を行った断層像のデータと、再撮影前の断層像データと、を置き換える構成としたがこれに限定されない。例えば、再撮影を行った断層像のデータと、再撮影前の断層像データと、を加算平均処理し、良好な断層像を取得する構成としてもよい。
【００９５】
検者は、再撮影が完了し、マルチスキャン全てのスキャンラインでの断層像が良好に撮影されたことを確認すると、撮影完了スイッチ３６を選択する。検者によって、撮影完了スイッチ３６が選択されると、制御部７０は、モニタ７５の表示を確認画面から撮影画面へと変更し、次の撮影を行うことができる状態にする。図８は、撮影完了後の撮影画面の一例を示す図である。制御部７０は、撮影の完了した撮影データを撮影完了リスト３７に表示する。検者によって、最終的に解析等に使用するために、撮影完了リスト３７からメモリ７２に記憶させた状態を維持するものと、メモリ７２から削除する撮影データとが選択される。例えば、メモリ７２に保存しておきたい撮影データにおいては、撮影データを選択し、図示無き決定スイッチを選択する。なお、再撮影において、撮影完了リスト３７より再撮影を行う撮影を選択する構成としてもよい。この場合、撮影完了リスト３７より再撮影を行う撮影をクリック操作等によって、選択する。制御部７０は、選択された撮影に関してデータをメモリ７２より呼び出し、その確認画面を表示する。これによって、確認画面より再撮影を行うスキャンラインを選択し、再撮影が可能となる。
【００９６】
図示無き決定スイッチを選択スイッチが選択されると、制御部７０は、撮影を終了する。そして、モニタ７５の表示を確認画面から解析画面へと変更する。解析画面では、取得した画像とともに、断層像の解析結果（例えば、層検出結果や層の厚みマップ等）が表示される。検者は解析結果を確認して、病変等の診断やフォローアップ撮影等の設定を行う。
【００９７】
以上のようにして、複数のスキャンを組み合わせて構成されたスキャンパターンにて、撮影を行う場合、再撮影を行いたい撮影位置のみの撮影を行うことが可能となるため、再撮影時間を短縮することができる。また、再撮影時において、トラッキング制御によって、精度よく、同一の撮影位置（横断位置）を撮影できる。
【００９８】
＜変容例＞
本実施例において、再撮影時において、検者は、撮影条件（例えば、走査条件）を変更できる。検者は、操作部７４を操作することによって、撮影条件を変更することができる。以下、走査条件の変更を例に挙げて撮影条件の変更について説明する。走査条件の変更としては、スキャン長（スキャンの幅）、スキャンのパターン（走査パターン）、スキャンパターンの回転角度（走査中心を中心としてラインが回転される）、等の変更が挙げられる。走査条件が設定されると、制御部７０は、予め取得された正面像（基準画像）と、現在の正面像と、を比較して、基準画像に対する現在の正面像の位置ずれ方向及び位置ずれ量を画像処理により検出（演算）する。
【００９９】
例えば、スキャンパターンを変更する場合、検者は、マウス７４ａを操作し、モニタ７５上に表示されているスキャンパターン設定欄３５より所望する走査パターンを選択し、走査パターンの変更を行う。スキャンパターン設定欄３５には、種々の走査パターンが列挙されている。例えば、走査パターンとしては、クロス（十字）スキャン、サークルスキャン、ラスタースキャン、ラジアルスキャン等が考えられる。
【０１００】
検者によって、マウス７４ａが操作され、モニタ７５上に表示されているスキャンパターン設定欄３５の内、所定の走査パターンが選択されると、制御部７０は、選択された走査パターンへの変更を行う。このとき、予め、スキャンパターン毎に走査中心位置が設定されており、制御部７０は、過去のスキャンパターンの走査中心位置と、選択したスキャンパターンの走査中心位置とが一致するように、スキャンパターンを変更する。これによって、眼底上の同一部位に関する断層像が、異なるスキャンパターンにて取得される。
【０１０１】
制御部７０は、上記のような走査条件の変更後においても、トラッキング制御を継続する。走査条件が変更されると、制御部７０は、例えば、走査条件変更前での走査位置の補正（トラッキング）に用いた正面像と、現在の正面画像と、を比較して、正面像に対する現在の正面像の位置ずれを画像処理により検出（演算）する。位置ずれが検出されると、制御部７０は、走査条件変更後における走査位置のずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。これによって、走査条件変更後における走査位置が補正される。
【０１０２】
なお、再撮影時において、走査条件を変更する際に、複数の走査条件にて再撮影を行う構成としてもよい。この場合、設定された走査条件にて順に撮影が行われ、断層像が取得される。
【０１０３】
なお、再撮影時の撮影位置の選択時において、再撮影前に所定のスキャンパターンによって取得した干渉信号に基づいて構築した断層像を表示するだけでなく、取得した干渉信号に基づいて異なるスキャンパターンの断層像を再構築し、表示するようにしてもよい。例えば、ラスタースキャンによって取得した断層像を表示するだけでなく、ラスタースキャンによって取得された干渉信号に基づいて、サークルスキャンの断層像を構築する。すなわち、共通の干渉信号から異なるスキャンパターンの断層像を構築し、表示する。このような構成によって、検者が所望する部位に関する断層像をより多くのパターンで確認することができるため、再撮影を行う部位の選択において、有用となる。
【０１０４】
なお、本実施例においては、再撮影時に、走査条件の変更を例として挙げたがこれに限定されない。撮影条件に関する変更に対して、本発明は適用可能である。例えば、再撮影時において、被検者の固視が安定しない場合等に、固視標の条件（例えば、固視標のパターン、固視標の大きさ、固視位置、）を変更するようにしてもよい。
【０１０５】
このように、再撮影時において、走査条件が変更可能であるため、走査条件を変更した際に、再度、走査位置を調整しなくてよい。このため、眼底上の同一部位（例えば、病変部）における断層像を様々なスキャンパターンにて容易に取得でき、手間とならない。また、眼底上の異なる部位の走査位置を設定しまうことを回避することができ、精度良く走査を行うことができる。また、同一部位から走査位置がずれることなく、撮影部位に応じたスキャンパターンに変更できるため、利便性が高い。また、再撮影前の撮影によって取得された断層像を観察して、所定の目標部位について詳細な撮影を行いたい場合に、詳細な撮影を行いたい領域を選択し、その部分に関して異なるスキャンパターンで撮影を行うことができる。このため、取得した種々の断層像から、選択部位に関してより詳細な情報を取得することが可能となる。
【０１０６】
なお、本実施例においては、再撮影を行うスキャンラインを選択する構成としたがこれに限定されない。例えば、断層像を選択する構成としてもよい。例えば、断層像の選択方法としては、フレームＦによって、囲まれた断層像を選択された断層像として取り扱う構成が挙げられる。断層像を選択する場合、マウス７４ａのクリック操作によって、選択される構成としてもよい。このとき、例えば、クリック操作を行った断層像が再撮影の候補として設定され、再撮影スイッチ３４が選択されると、候補として設定された全ての断層像に対応する位置での再撮影を行う構成としてもよい。また、ダブルクリック操作によって、選択された断層像の再撮影が行われる構成としてもよい。また、これらの断層像の選択において、選択された断層像に対応するスキャンラインの色が変更される構成としてもよい。また、再撮影用に設定した断層像を表示している際には、フレームＦの色を選択していない断層像と異なる色へと変更して表示する構成としてもよい。
【０１０７】
また、再撮影を行うスキャンラインを選択する構成としては、干渉信号に基づいて生成される画像を用いる構成が挙げられる。例えば、横方向の複数のラインスキャンによって構成されるラスタースキャンによって取得された干渉信号に基づいて、ＯＣＴ正面像を取得する。なお、ＯＣＴ正面像は、断層像に基づいて取得されているため、ＯＣＴ正面像の各位置とＯＣＴによって取得された断層像は対応づけされている。この場合、例えば、検者は、ＯＣＴ正面像を確認し、ＯＣＴ正面像のデータが表示されていない部分のスキャンラインを選択して、再撮影を行う方法が挙げられる。なお、ＯＣＴ正面像の取得方法は、測定光を二次元的に走査させ、ＸＹ各点について受光素子からの干渉信号のスペクトル強度を積算する方法が挙げられる。
【０１０８】
なお、ラスタースキャン時には、ラスタースキャンを行った後に、縦方向のラインスキャンを行い、その断層像を取得する。そして、縦方向のラインスキャンによって取得された断層像を確認することで、複数の横方向のラインスキャンの内で、断層像を良好に取得できなかった撮影位置を容易に確認することができる。すなわち、縦方向のラインスキャンによって取得された断層像において、データの欠損部位を確認し、その部位に関する再撮影を行うように、スキャンラインを選択する構成としてもよい。
【０１０９】
また、再撮影を行うスキャンラインを選択する構成としては、撮影情報に基づいて行う構成としてもよい。例えば、撮影情報としては、加算平均処理に関する情報、断層像の層検出結果、断層像の輝度情報等が挙げられる。例えば、検者は、各スキャンライン毎に表示される加算平均処理に用いられた断層像の加算平均処理枚数から、枚数の少ないスキャンラインを選択して、再撮影を行う構成が挙げられる。また、例えば、断層像の輝度情報を各スキャンライン毎に表示する。そして、検者は、輝度値が小さいスキャンラインを選択して、再撮影を行う構成等が挙げられる。なお、撮影情報の値に応じて、色分け表示するようにしてもよい。例えば、加算平均枚数が所定の閾値より小さい場合には、赤色で表示し、所定の閾値以上であれば、緑色で表示する構成とすればよい。
【０１１０】
なお、本実施例においては、検者が断層像等を確認して、再撮影を行うスキャンラインを選択する構成としたがこれに限定されない。所定の条件に基づいて、自動的に再撮影を行ったほうがよいスキャンラインを抽出し、検者に提示する構成としてもよい。例えば、制御部７０は、取得された断層像より各スキャンライン毎に加算平均処理に用いられた断層像の枚数から、所定の枚数に到達していなかったスキャンラインを抽出する構成が挙げられる。また、断層像の輝度情報を取得し、輝度値が所定の閾値を満たしていないスキャンラインを再撮影を行った方がよいスキャンラインとして抽出する構成が挙げられる。このような構成とすることによって、検者の手間が軽減され、再撮影をスムーズに行うことができる。また、再撮影を行うべき断層像を取り忘れるミスを低減することができる。
【０１１１】
なお、本実施例において、各スキャンラインでの撮影位置で複数の断層像を撮影する際に、トラッキング制御を行うとよりよい。この場合、制御部７０は、撮影開始時に取得した正面像と、撮影中に随時取得される現在の正面像とを比較し、撮影開始時の正面像に対する現在の正面像の位置ずれを画像処理により検出（演算）する。位置ずれが検出されると、制御部７０は、走査条件変更後における走査位置のずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。このような構成とすることよって、各スキャンラインでの複数の断層像を同一部位にて精度よく撮影する。これによって、加算平均処理に用いることのできる断層像が増加し、取得される断層像の画質の向上に繋がる。また、検者によって選択された撮影位置と異なる部位を撮影してしまう可能性を低くし、断層像の取得ミスの低減に繋がる。
【０１１２】
なお、本実施例において、再撮影位置を所定の領域で設定する構成としてもよい。例えば、ラスタースキャンで撮影した断層像において、隣接する複数のラインスキャンを選択したい場合に、検者は、マウス７４ａのドラック操作によって、正面像上において所定の領域を選択する。そして、制御部７０が選択された領域に含まれるスキャンラインの断層像の再撮影が行う構成としてもよい。
【０１１３】
なお、本実施例においては、眼科撮影装置として、眼底を撮影する光断層像撮影装置について説明したがこれに限定されない。本発明は、前眼部の断層像を撮影する光断層像撮影装置においても、適用可能である。
【０１１４】
なお、本発明においては、本実施例に記載した装置に限定されない。例えば、上記実施例の機能を行う眼科撮影ソフトウェア（プログラム）をネットワークや各種記憶媒体を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置のコンピュータ（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
【符号の説明】
【０１１５】
７０  制御部
７２  メモリ
７４  操作部
７４ａ  マウス
７４ｂ、７４ｃ  操作ノブ
７５  モニタ
１００  干渉光学系
１０８  光スキャナ
２００  観察光学系
３００  固視標投影ユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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