(57)【要約】【課題】接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することが可能な検査装置を提供する。【解決手段】この検査装置１０は、グランドライン２４を有するＯＰＵ２０に接続可能なＦＦＣ３０と、ＦＦＣ３０を介してＯＰＵ２０に性能検査用の電圧を印加する検査用電源１２と、検査用電源１２とは別個に設けられるとともに、ＦＦＣ３０にＯＰＵ２０が適切に接続されている場合に、分圧手段（第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂ）を介してＯＰＵ２０のグランドライン２４に接続され、ＦＦＣ３０に対するＯＰＵ２０の接続状態を検知するための電圧を印加する出力ポート１１２と、出力ポート１１２により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、検査用電源１２からＯＰＵ２０に性能検査用の電圧を印加する制御を行うＣＰＵ１１１とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
グランドラインを有する検査対象物に接続可能な接続部と、
前記接続部を介して前記検査対象物に性能検査用の電圧を印加する検査用電源と、
前記検査用電源とは別個に設けられるとともに、前記接続部に前記検査対象物が適切に接続されている場合に、分圧手段を介して前記検査対象物の前記グランドラインに接続され、前記接続部に対する前記検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加する接続検知用電源と、
前記接続検知用電源により印加されて前記分圧手段により分圧された電圧に基づいて、前記検査用電源から前記検査対象物に性能検査用の電圧を印加する制御を行う制御部とを備える、検査装置。
【請求項２】
前記接続検知用電源は、前記検査対象物の接続状態を検知する際に、前記検査用電源により印加される前記検査対象物の性能検査用の電圧よりも小さい電圧を印加するように構成されている、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記検査用電源と前記接続部との間には、前記検査用電源から印加される電圧の遮断および通電を切り替え可能な切替部が設けられており、
前記制御部は、前記分圧手段により分圧された電圧が正常な分圧電圧である場合に、前記接続検知用電源による電圧の印加を停止させるとともに、前記切替部を制御して前記検査用電源から前記検査対象物に性能検査用の電圧を印加するように構成されている、請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記分圧手段は、電流制限抵抗からなる第１抵抗と、前記第１抵抗に直列に接続された第２抵抗とを含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項５】
前記接続部は、フラットケーブルまたはフラットケーブルに対応した接続端子を含む、請求項１〜４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項６】
前記検査対象物には複数のグランドラインが設けられており、
前記接続検知用電源は、前記接続部に前記検査対象物が適切に接続されている場合に、前記分圧手段を介して前記検査対象物の前記複数のグランドラインのうちのいずれか１つに接続されるように構成されている、請求項１〜５のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項７】
検査対象物が検査装置の接続部に適切に接続されている場合に分圧手段を介して前記検査対象物のグランドラインに接続される接続検知用電源により、前記接続部に対する前記検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加するステップと、
前記接続検知用電源により印加されて前記分圧手段により分圧された電圧に基づいて、前記接続検知用電源とは別個に設けられた検査用電源により、前記接続部を介して前記検査対象物に性能検査用の電圧を印加するステップとを備える、検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、検査装置および検査方法に関し、特に、グランドラインを有する検査対象物を検査可能な検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、グランドライン（接地線）を有する検査対象物を検査可能な検査装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００３】
上記特許文献１には、グランドラインを有するＦＰＣ基板（検査対象物）に接続されるケーブル（接続部）と、ケーブルを介してＦＰＣ基板に性能検査用および接続確認用の一定の電源電圧を印加する電源部とを備えた検査装置が開示されている。この検査装置は、電源部からＦＰＣ基板に性能検査用の電源電圧を印加するのに先立って、ケーブルに対するＦＰＣ基板の接続状態を判断し、その接続状態が適切な場合に、電源部からＦＰＣ基板に性能検査用の電源電圧を印加するように構成されている。また、この検査装置は、ケーブルに対するＦＰＣ基板の接続状態を判断する際には、ＦＰＣ基板に性能検査用の電源電圧を印加する経路とは異なる分圧手段を介する経路を用いて、電源部から性能検査用と同じ電源電圧を印加するように構成されている。そして、検査装置は、その電源電圧が分圧手段により適切に分圧されたことに基づいて、ＦＰＣ基板の接続状態が適切であると判断する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２１２１３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１の検査装置では、ケーブルに対するＦＰＣ基板の接続状態を判断する際に、電源部から性能検査用の電源電圧と同じ比較的大きい電圧が印加されるので、ＦＰＣ基板の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）には、ＦＰＣ基板に過電流や過電圧が発生してしまう可能性があると考えられる。
【０００６】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することが可能な検査装置および検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明の第１の局面による検査装置は、グランドラインを有する検査対象物に接続可能な接続部と、接続部を介して検査対象物に性能検査用の電圧を印加する検査用電源と、検査用電源とは別個に設けられるとともに、接続部に検査対象物が適切に接続されている場合に、分圧手段を介して検査対象物のグランドラインに接続され、接続部に対する検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加する接続検知用電源と、接続検知用電源により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、検査用電源から検査対象物に性能検査用の電圧を印加する制御を行う制御部とを備える。
【０００８】
この発明の第１の局面による検査装置では、上記のように、接続部に検査対象物が適切に接続されている場合に、分圧手段を介して検査対象物のグランドラインに接続され、接続部に対する検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加する接続検知用電源を、性能検査用の電圧を印加する検査用電源とは別個に設けることによって、検査対象物の接続状態を検知する際には、接続検知用電源により、検査用電源が印加する比較的大きい性能検査用の電圧よりも小さい電圧を印加することができるので、検査対象物の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）でも、接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することができる。また、接続検知用電源により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、検査用電源から検査対象物に性能検査用の電圧を印加する制御を行うように制御部を構成することによって、検査対象物の接続状態が適切でない（接続不良である）ことに起因して接続検知用電源により印加された電圧が分圧手段により正常に分圧されない場合には、検査用電源から検査対象物に電圧を印加する制御が行われないので、検査対象物の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）に、検査用電源から検査対象物に比較的大きい性能検査用の電圧が印加されるのを防止することができる。これにより、検査時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生するのを抑制することができる。
【０００９】
上記第１の局面による検査装置において、好ましくは、接続検知用電源は、検査対象物の接続状態を検知する際に、検査用電源により印加される検査対象物の性能検査用の電圧よりも小さい電圧を印加するように構成されている。このように構成すれば、接続検知用電源により検査対象物の接続状態を検知する際に印加される電圧が小さくなるので、検査対象物の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）でも、接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を容易に低減することができる。
【００１０】
上記第１の局面による検査装置において、好ましくは、検査用電源と接続部との間には、検査用電源から印加される電圧の遮断および通電を切り替え可能な切替部が設けられており、制御部は、分圧手段により分圧された電圧が正常な分圧電圧である場合に、接続検知用電源による電圧の印加を停止させるとともに、切替部を制御して検査用電源から検査対象物に性能検査用の電圧を印加するように構成されている。このように構成すれば、検査対象物の接続状態が適切（接続正常）で接続検知用電源により印加された電圧が分圧手段により正常に分圧された場合に、接続検知用電源による電圧の印加を停止して接続検知用電源による電圧が検査対象物の性能検査に影響を及ぼさないようにすることができるとともに、切替部を制御するだけで容易に検査用電源から検査対象物への性能検査用の電圧の印加を開始することができる。
【００１１】
上記第１の局面による検査装置において、好ましくは、分圧手段は、電流制限抵抗からなる第１抵抗と、第１抵抗に直列に接続された第２抵抗とを含む。このように構成すれば、検査対象物の接続状態を検知する際に、接続検知用電源の電圧に起因する電流が、電流制限抵抗からなる第１抵抗により小さくされた状態で検査対象物に流されるので、接続状態確認時に、検査対象物に過電流が発生するのを有効に抑制することができる。
【００１２】
上記第１の局面による検査装置において、好ましくは、接続部は、フラットケーブルまたはフラットケーブルに対応した接続端子を含む。ここで、フラットケーブルとは、ＦＦＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｆｌａｔ  Ｃａｂｌｅ）やＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）に限らず、平行ワイヤなども含む広い概念である。このように、平面視で傾斜した状態や折れ曲がった状態で接続されるなど、検査対象物の接続状態が不良になり易いフラットケーブルを用いて検査対象物を接続する場合でも、本発明によれば、接続検知用電源を検査用電源とは別個に設けて検査対象物に過電流や過電圧が発生するのを抑制することができる。
【００１３】
上記第１の局面による検査装置において、好ましくは、検査対象物には複数のグランドラインが設けられており、接続検知用電源は、接続部に検査対象物が適切に接続されている場合に、分圧手段を介して検査対象物の複数のグランドラインのうちのいずれか１つに接続されるように構成されている。このように構成すれば、検査対象物の性能検査を行う際に、検査対象物の接続状態を検知するために使用されたグランドライン以外のグランドラインを検査対象物の通常使用時と同様に接地することができるので、検査対象物の通常使用時における性能検査の精度が低下するのを抑制することができる。
【００１４】
この発明の第２の局面による検査方法は、検査対象物が検査装置の接続部に適切に接続されている場合に分圧手段を介して検査対象物のグランドラインに接続される接続検知用電源により、接続部に対する検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加するステップと、接続検知用電源により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、接続検知用電源とは別個に設けられた検査用電源により、接続部を介して検査対象物に性能検査用の電圧を印加するステップとを備える。
【００１５】
この発明の第２の局面による検査方法では、上記のように、検査用電源とは別個に設けられ、接続部に検査対象物が適切に接続されている場合に分圧手段を介して検査対象物のグランドラインに接続される接続検知用電源により、接続部に対する検査対象物の接続状態を検知するための電圧を印加するステップを設けることによって、検査対象物の接続状態を検知する際には、接続検知用電源により、検査用電源が印加する比較的大きい性能検査用の電圧よりも小さい電圧を印加することができるので、検査対象物の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）でも、接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することができる。また、接続検知用電源により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、検査用電源により接続部を介して検査対象物に性能検査用の電圧を印加するステップを設けることによって、検査対象物の接続状態が適切でない（接続不良である）ことに起因して接続検知用電源により印加された電圧が分圧手段により正常に分圧されない場合には、検査用電源から検査対象物への電圧の印加が行われないので、検査対象物の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）に、検査用電源から検査対象物に比較的大きい性能検査用の電圧が印加されるのを防止することができる。これにより、検査時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生するのを抑制することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、上記のように、接続状態確認時に、検査対象物に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態による検査装置の全体構成を示したブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による検査装置のＣＰＵにより実行される検査用電圧供給処理を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図１を参照して、本発明の一実施形態による検査装置１０の構成について説明する。
【００１９】
本実施形態による検査装置１０は、図１に示すように、ＯＰＵ（光ピックアップ）２０の性能検査を行う機能を有している。また、検査装置１０は、ＦＦＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｆｌａｔ  Ｃａｂｌｅ）３０を備え、ＦＦＣ３０を介してＯＰＵ２０に接続されるように構成されている。ＯＰＵ２０は、ＬＤＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ  Ｄｒｉｖｅｒ）２１と、受光素子２２と、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）２３とを備えている。また、ＯＰＵ２０には、複数のグランドライン２４が設けられている。なお、ＯＰＵ２０は、本発明の「検査対象物」の一例であり、ＦＦＣ３０は、本発明の「接続部」の一例である。
【００２０】
検査装置１０は、ＯＰＵ２０に対してＯＰＵ２０がレコーダなどの完成品に組み込まれた状態で印加される電圧（通常使用時の電圧）と同じ大きさの検査用電圧を印加することにより、ＯＰＵ２０の性能検査を行うように構成されている。検査装置１０の内部には、制御基板１１と、性能検査用の電圧を印加する検査用電源１２とが設けられている。制御基板１１には、ＣＰＵ１１１と、電圧を印加可能な出力ポート１１２と、互いに直列に接続された第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂと、第１抵抗Ｒａと第２抵抗Ｒｂとの間の電圧を検知するための入力ポート１１４とが設けられている。なお、ＣＰＵ１１１は、本発明の「制御部」の一例である。また、第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂは、本発明の「分圧手段」の一例である。
【００２１】
検査用電源１２は、検査用電圧として、ＯＰＵ２０がレコーダなどの完成品に組み込まれた状態で印加される電圧（通常使用時の電圧）と同じ大きさの電圧（本実施形態では、５Ｖ）を印加可能に構成されている。また、検査用電源１２とＦＦＣ３０との間には、スイッチ１３が設けられている。そして、検査用電源１２は、ＦＦＣ３０にＯＰＵ２０が適切（接続正常）に接続された場合に、スイッチ１３を介してＯＰＵ２０の各部（ＬＤＤ２１、受光素子２２およびＬＤ２３など）に電圧を供給可能に構成されている。スイッチ１３は、ＣＰＵ１１１からの指示信号に基づいて、開閉するように構成されている。スイッチ１３が開放されている場合には、検査用電源１２により印加される検査用電圧が遮断され、スイッチ１３が閉じている場合には、検査用電源１２により印加される検査用電圧が通電されてＯＰＵ２０に供給される。なお、スイッチ１３は、本発明の「切替部」の一例である。
【００２２】
出力ポート１１２は、検査用電源１２とは別個に設けられており、ＦＦＣ３０に対してＯＰＵ２０の接続状態を検知するための接続検知用電圧を印加可能に構成されている。また、出力ポート１１２は、接続検知用電圧として、検査用電源１２が印加する検査用電圧よりも小さい電圧（本実施形態では、３．３Ｖ）を印加するように構成されている。また、出力ポート１１２は、ＦＦＣ３０にＯＰＵ２０が適切（接続正常）に接続された場合に、第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂを介してＯＰＵ２０の複数のグランドライン２４のうちの１つに接続されるように構成されている。ＯＰＵ２０の接続状態が適切（接続正常）な場合には、第２抵抗ＲｂがＯＰＵ２０のグランドライン２４に接続されて第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂが分圧手段として機能するので、出力ポート１１２により印加された電圧は分圧される。一方、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）には、第２抵抗Ｒｂがグランドライン２４に接続されずオープン（開放）状態となるので、出力ポート１１２により印加された電圧は分圧されない。
【００２３】
第１抵抗Ｒａは、電流制限抵抗からなり、下流に大電流が流れるのを抑制可能である。また、第１抵抗Ｒａは、第２抵抗Ｒｂよりも出力ポート１１２側に配置されている。入力ポート１１４は、第１抵抗Ｒａと第２抵抗Ｒｂとの間に接続されている。これにより、ＯＰＵ２０の接続状態が適切（接続正常）な場合には、出力ポート１１２により印加された電圧が第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂにより分圧された状態で、入力ポート１１４に入力される。たとえば、第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂが互いに同じ大きさの抵抗値Ｒを有している場合には、第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂによる分圧電圧である１．６５Ｖ（＝Ｒ／２Ｒ×３．３）の電圧が入力ポート１１４に入力される。一方、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）には、出力ポート１１２により印加された電圧（３．３Ｖ）が分圧されない状態でそのまま入力ポート１１４に入力される。したがって、ＯＰＵ２０の接続状態が適切（接続正常）な場合と適切でない場合（接続不良の場合）とで、互いに異なる大きさの電圧が入力ポート１１４に入力される。
【００２４】
ＣＰＵ１１１は、出力ポート１１２により印加されて第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂにより分圧された電圧に基づいて、検査用電源１２からＯＰＵ２０に検査用電圧を印加する制御を行う。具体的には、ＣＰＵ１１１は、出力ポート１１２により印加された電圧が第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂにより分圧された状態で入力ポート１１４に入力された場合に、スイッチ１３を閉じるように制御して検査用電圧がＯＰＵ２０に供給されるようにする。この際、ＣＰＵ１１１は、スイッチ１３を閉じる制御に先立って、出力ポート１１２による接続状態検知用の電圧の印加を停止する制御を行う。
【００２５】
次に、図２を参照して、本実施形態による検査装置１０のＣＰＵ１１１により実行される検査用電圧供給処理について説明する。この処理は、ＯＰＵ２０が検査装置１０のＦＦＣ３０に接続された後、実行される。
【００２６】
まず、ＣＰＵ１１１は、ステップＳ１において、出力ポート１１２により接続検知用電圧（本実施形態では、３．３Ｖ）を印加する。この際、スイッチ１３は開放されており、検査用電源１２により印加される検査用電圧は遮断されている。ＣＰＵ１１１は、ステップＳ２において、入力ポート１１４に入力された電圧を検知する。
【００２７】
そして、ＣＰＵ１１１は、ステップＳ３において、入力ポート１１４に入力された電圧が分圧された電圧か否かを判断する。具体的には、ＣＰＵ１１１は、入力ポート１１４に入力された電圧が、出力ポート１１２により印加されて第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂにより分圧された分圧電圧（本実施形態形態では、１．６５Ｖ）であるか否かを判断する。入力ポート１１４に入力された電圧が正常な分圧電圧である場合には、ＣＰＵ１１１は、ステップＳ４において、出力ポート１１２による印加を停止するとともに、検査用電源１２により印加される検査用電圧がＯＰＵ２０に供給されるようにスイッチ１３を閉じる制御を行う。すなわち、ＣＰＵ１１１は、第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂが分圧手段として機能する場合には、ＯＰＵ２０の接続状態が適切（接続正常）であると判断して、検査用電源１２により印加された検査用電圧のＯＰＵ２０への供給を開始させる。
【００２８】
一方、ＣＰＵ１１１は、入力ポート１１４に入力された電圧が正常な分圧電圧でない場合には、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない（接続不良である）と判断して、スイッチ１３を閉じることなくそのまま処理を終了する。この場合、検査用電源１２により印加された検査用電圧のＯＰＵ２０への供給は開始されない。
【００２９】
本実施形態では、上記のように、ＦＦＣ３０にＯＰＵ２０が適切に接続されている場合に、分圧手段（第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂ）を介してＯＰＵ２０のグランドライン２４に接続され、ＦＦＣ３０に対するＯＰＵ２０の接続状態を検知するための接続検知用電圧を印加する出力ポート１１２を、検査用電圧を印加する検査用電源１２とは別個に設けることによって、ＯＰＵ２０の接続状態を検知する際には、出力ポート１１２により、検査用電源１２が印加する比較的大きい検査用電圧（本実施形態では、５Ｖ）よりも小さい接続検知用電圧（本実施形態では、３．３Ｖ）を印加することができるので、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）でも、接続状態確認時に、ＯＰＵ２０に過電流や過電圧が発生する可能性を低減することができる。また、出力ポート１１２により印加されて分圧手段により分圧された電圧に基づいて、検査用電源１２からＯＰＵ２０に検査用電圧を印加する制御を行うようにＣＰＵ１１１を構成することによって、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない（接続不良である）ことに起因して出力ポート１１２により印加された接続検知用電圧が分圧手段により正常に分圧されない場合には、検査用電源１２からＯＰＵ２０に検査用電圧を印加する制御が行われないので、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）に、検査用電源１２からＯＰＵ２０に比較的大きい検査用電圧が印加されるのを防止することができる。これにより、検査時に、ＯＰＵ２０に過電流や過電圧が発生するのを抑制することができる。
【００３０】
また、本実施形態では、ＯＰＵ２０の接続状態を検知する際に、検査用電源１２により印加されるＯＰＵ２０の検査用電圧（本実施形態では、５Ｖ）よりも小さい接続検知用電圧（本実施形態では、３．３Ｖ）を印加するように出力ポート１１２を構成する。これにより、出力ポート１１２によりＯＰＵ２０の接続状態を検知する際に印加される接続検知用電圧が小さくなるので、ＯＰＵ２０の接続状態が適切でない場合（接続不良の場合）でも、接続状態確認時に、ＯＰＵ２０に過電流や過電圧が発生する可能性を容易に低減することができる。
【００３１】
また、本実施形態では、検査用電源１２とＦＦＣ３０との間に、検査用電源１２から印加される検査用電圧の遮断および通電を切り替え可能なスイッチ１３を設け、分圧手段（第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂ）により分圧された電圧が正常な分圧電圧である場合に、出力ポート１１２による接続検知用電圧の印加を停止させるとともに、スイッチ１３を制御して検査用電源１２からＯＰＵ２０に検査用電圧を印加するようにＣＰＵ１１１を構成する。これにより、ＯＰＵ２０の接続状態が適切（接続正常）で出力ポート１１２により印加された接続検知用電圧が分圧手段により正常に分圧された場合に、出力ポート１１２による接続検知用電圧の印加を停止して出力ポート１１２による接続検知用電圧がＯＰＵ２０の性能検査に影響を及ぼさないようにすることができるとともに、スイッチ１３を制御するだけで容易に検査用電源１２からＯＰＵ２０への検査用電圧の印加を開始することができる。
【００３２】
また、本実施形態では、第１抵抗Ｒａを電流制限抵抗により構成する。これにより、ＯＰＵ２０の接続状態を検知する際に、出力ポート１１２の接続検知用電圧に起因する電流が、電流制限抵抗からなる第１抵抗Ｒａにより小さくされた状態でＯＰＵ２０に流されるので、接続状態確認時に、ＯＰＵ２０に過電流が発生するのを有効に抑制することができる。
【００３３】
また、本実施形態では、ＦＦＣ３０にＯＰＵ２０が適切に接続されている場合に、分圧手段（第１抵抗Ｒａおよび第２抵抗Ｒｂ）を介してＯＰＵ２０の複数のグランドライン２４のうちのいずれか１つに接続されるように出力ポート１１２を構成する。これにより、ＯＰＵ２０の性能検査を行う際に、ＯＰＵ２０の接続状態を検知するために使用されたグランドライン２４以外のグランドライン２４をＯＰＵ２０の通常使用時と同様に接地することができるので、ＯＰＵ２０の通常使用時における性能検査の精度が低下するのを抑制することができる。
【００３４】
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
【００３５】
たとえば、上記実施形態では、本発明の検査装置および検査方法の一例として、ＯＰＵ（光ピックアップ）の性能検査を行う検査装置および検査方法を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、グランドラインを有する検査対象物であれば、ＯＰＵ以外の検査対象物の性能検査を行う検査装置および検査方法であってもよい。
【００３６】
また、上記実施形態では、本発明の分圧手段の一例として、２つの抵抗（第１抵抗および第２抵抗）からなる分圧手段を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、接続検知用電源により印加された電圧を分圧可能であれば、２つの抵抗からなる構成以外の分圧手段であってもよい。
【００３７】
また、上記実施形態では、本発明の接続部の一例として、フラットケーブルであるＦＦＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｆｌａｔ  Ｃａｂｌｅ）を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、接続部が、ＦＦＣ以外のフラットケーブルであってもよいし、フラットケーブル以外のケーブルであってもよい。また、接続部は、ケーブルに限らず、ケーブルを接続可能な接続端子であってもよい。すなわち、検査装置にＦＦＣなどのケーブルを設けることなく、ケーブルを接続可能な接続端子を検査装置に設ける構成であってもよい。
【００３８】
また、上記実施形態では、検査用電圧および接続検知用電圧が、それぞれ５Ｖおよび３．３Ｖである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査用電圧および接続検知用電圧が、それぞれ、５Ｖおよび３．３Ｖ以外の電圧であってもよい。この場合、接続検知用電圧が検査用電圧よりも小さいことが好ましい。
【００３９】
また、上記実施形態では、本発明の切替部の一例として、スイッチを示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査用電圧の遮断および通電を切り替え可能であれば、スイッチ以外の切替部であってもよい。
【００４０】
また、上記実施形態では、説明の便宜上、本発明の制御部（ＣＰＵ）の処理を処理フローに沿って順番に処理を行うフロー駆動型のフローチャートを用いて説明したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部の処理動作を、イベント単位で処理を実行するイベント駆動型（イベントドリブン型）の処理により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。
【符号の説明】
【００４１】
１０  検査装置
１２  検査用電源
１３  スイッチ（切替部）
２０  ＯＰＵ（検査対象物）
２４  グランドライン
３０  ＦＦＣ（接続部）
１１１  ＣＰＵ（制御部）
１１２  出力ポート（接続検知用電源）
Ｒａ  第１抵抗（分圧手段）
Ｒｂ  第２抵抗（分圧手段）
【図１】
2014020899.tif 000003
【図２】
2014020899.tif 000004