(57)【要約】【課題】光源数よりも多い波長数の複数の光信号を、少なくとも一部重複した期間で同時に被試験装置へ入力する。【解決手段】試験装置３は、光信号の波長を複数波長間で切り替える波長制御部２１と、光信号を格納するための光メモリ１１と、複数波長をそれぞれ有する複数の光信号を異なる時刻に光メモリ１１へ書き込む書込制御部２３と、少なくとも一部重複する期間中に複数の光信号を同時に光メモリ１１から読み出す読出制御部２４を備える。【選択図】図１
2014183405.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光信号の波長を複数波長間で切り替える波長制御部と、
光信号を格納するための光メモリと、
前記複数波長をそれぞれ有する複数の光信号を異なる時刻に前記光メモリへ書き込む書込制御部と、
少なくとも一部重複する期間中に前記複数の光信号を同時に前記光メモリから読み出す読出制御部と、
を備えることを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記波長制御部が波長を切り替えた後に、波長の切替え前の光信号が前記光メモリに格納されたアドレスを取得するアドレス取得部を備えることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
波長の切替え後の光信号が安定するまでの期間と、前記アドレス取得部が波長の切替え前の光信号の格納アドレスを取得する期間とが少なくとも一部重複することを特徴とする請求項２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記アドレス取得部は、読出アドレスを変えながら波長の切替え前の光信号を前記光メモリから順次読み出し、有効な光信号が格納されたアドレスを取得することを特徴とする請求項２又は３に記載の試験装置。
【請求項５】
異なる波長の複数の光信号を異なる時刻に前記光メモリへ書き込み、
少なくとも一部重複する期間中に前記複数の光信号を同時に前記光メモリから読み出して被試験装置に入力する、
ことを特徴とする試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書で論じられる実施態様は、光信号が入力される装置の試験装置及び試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数波長の光信号が入力される光装置が知られている。このような光装置の一例は複数波長の光信号を多重化して伝送する光伝送装置である。光装置の試験では、光信号を入力するための複数の光インタフェースポートの各々に、複数波長の光信号が入力される。
【０００３】
なお、放出波長範囲が少なくとも複数の使用波長範囲を含む広スペクトル光源を用い、多数の狭スペクトル光を選択的に取り出すフィルタ手段を組み合わせた波長多重光通信で使用する多波長光源ユニットが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、ＰＮ構造により発生したキャリアの移動をコントロールすることで、長時間安定な光双安定メモリが知られている（例えば、特許文献２参照）。 光信号を所定時間遅延して出力する光バッファメモリ装置が知られている（例えば、特許文献３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１９３３５号公報
【特許文献２】特開２００９−２３７０９５号公報
【特許文献３】特開平１０−１４５３９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光装置に入力する光信号を生成する光源を増やして同時に入力する波長数を増やすと、光源数の増加により試験設備費が増加する。例えば、光伝送装置の光源として使用される測定器やトランスポンダは高価であり、また、近年の光伝送装置の伝送容量の拡大により光伝送装置に同時に入力できる波長数も増加している。このため、例えば、光伝送装置が備える光インタフェースポート数と同じ数の光源を用意すると試験設備のコストの多大な増大を招く。
【０００７】
一方で、光装置に同時に入力する波長数を制限すると、負荷が高い状況下での試験が実現されないため高品質の光装置の試験が行われない。
【０００８】
本明細書に開示される装置又は方法は、光源数よりも多い波長数の複数の光信号を、少なくとも一部重複した期間で同時に被試験装置へ入力することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
装置の一観点によれば試験装置が与えられる。試験装置は、光信号の波長を複数波長間で切り替える波長制御部と、光信号を格納するための光メモリと、複数波長をそれぞれ有する複数の光信号を異なる時刻に光メモリへ書き込む書込制御部を備える。試験装置は、少なくとも一部重複する期間中に複数の光信号を同時に光メモリから読み出す読出制御部を備える。
【発明の効果】
【００１０】
本明細書に開示される装置又は方法によれば、光源数よりも多い波長数の複数の光信号を、少なくとも一部重複した期間で同時に被試験装置へ入力することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】試験システムの第１例の構成図である。
【図２】図１の制御部の構成例の説明図である。
【図３】光メモリの構成例の説明図である。
【図４】試験システムの動作の第１例の説明図である。
【図５】試験システムの動作の第１例の説明図である。
【図６】試験システムの第２例の構成図である。
【図７】試験システムの動作の第２例の説明図である。
【図８】試験システムの動作の第２例の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
＜１．第１実施例＞
以下、添付する図面を参照して好ましい実施例について説明する。図１は、試験システムの第１例の構成図である。試験システム１は、光源２と、試験装置３と、被試験装置４を備える。なお、図１の構成図は、本明細書において説明される機能に関係する構成を中心に示している。光源２、試験装置３及び被試験装置４は、図示の構成要素以外の他の構成要素を含んでいてよい。図６においても同様である。
【００１３】
被試験装置４は、例えば、複数波長の光信号を多重化して伝送する光伝送装置である。被試験装置４は、例えば、波長分割多重（WDM: Wavelength Division Multiplex）伝送装置であってよい。
【００１４】
光源２は、出力する光信号の波長を変更することが可能な波長可変光源である。本実施例では、光源２は、出力波長をｎ個の波長λ１、λ２…λｎの間で切り替えることができる場合を想定する。光源２は、制御部１２からの波長制御信号によって出力光の波長を切り替える。
【００１５】
例えば、光源２は、所定のフレームフォーマットを有するデータにより変調された光信号を出力してよい。例えば、光源２は、所定の伝送規格に従ったフレームフォーマットを有するデータにより変調された光信号を出力してよい。所定の伝送規格は、例えば、ＯＴＮ（Optical Transport Network）や、ＳＤＨ（Synchronous Digital Hierarchy）、ＳＯＮＥＴ(Synchronous Optical Network)などであってよい。
【００１６】
また、光源２は、所定のフレームフォーマットにデータを格納して光信号を出力するトランスポンダであってよい。また、光源２は、所定のフレームフォーマットにダミーデータを格納して光信号を出力する測定器であってよい。光源２は、制御部１２からの光源制御信号に従って光信号のフレームフォーマットを設定する。光源制御信号は、光源２の動作を制御する信号である。光源制御信号は、例えば、光信号の出力開始及び出力停止を制御する信号であってよい。
【００１７】
光源制御信号は、光源２から出力される光信号を設定する信号であってよい。光信号の設定には、例えば、光信号のフレームフォーマットや、光信号のフレームに格納されるデータの指定のほか、いずれかの波長の光信号に波長偏差を含めてこの信号をエラー信号にするなどの指示が含まれてよい。
【００１８】
試験装置３は、光スイッチ１０と、光メモリ１１−１〜１１−ｎと、制御部１２を備える。添付図面においてスイッチを「ＳＷ」と表記する。また、以下の説明及び添付図面において光メモリ１１−１〜１１−ｎを総称して「光メモリ１１」と表記することがある。
【００１９】
光スイッチ１０は、光源２から出力された光信号を入力する。光スイッチ１０は、制御部１２からの切替制御信号に従って光信号の出力先を光メモリ１１−１〜１１−ｎの間で切り替える。切替制御信号は、光メモリ１１−１〜１１−ｎをそれぞれ波長λ１〜λｎの光信号の出力先として指定する。
【００２０】
光メモリ１１は、複数の単位記憶領域がそれぞれのアドレスで指定され、各単位記憶領域に所定数のフレームの光信号を格納可能な記憶素子である。単位記憶領域に格納される光信号の単位は例えば１フレームであってよい。
【００２１】
例えば、光メモリ１１は、光信号を蓄積可能な光ＲＡＭ（Random Access Memory）であってよい。例えば、光メモリ１１は、光信号を保持する光双安定デバイスを備えるものであってよい。また、例えば、フォトニック結晶内に光信号を保持するフォトニック結晶光ＲＡＭを備えていてもよい。
【００２２】
光メモリ１１は、制御部１２から出力される書込制御信号により書込許可が指示される間に、光スイッチ１０から出力された光信号を、制御部１２により指定された書込アドレスに格納する。書込制御信号により書込停止が指示される間、光メモリ１１は、光スイッチ１０から出力された光信号の格納を停止する。
【００２３】
また、光メモリ１１は、制御部１２により指定された読出アドレスに格納された光信号を出力する。光メモリ１１の構成例については後述する。
【００２４】
制御部１２は、試験装置３の動作を制御するための制御回路であり、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro-Processing Unit）等及びメモリを備える電子回路や、論理回路を備える電子回路等のハードウエアによって実現されてよい。
【００２５】
図２は、制御部１２の構成例の説明図である。制御部１２は、光源制御部２０と、波長制御部２１と、切替制御部２２と、書込制御部２３と、読出制御部２４と、アドレス取得部２５を備える。
【００２６】
光源制御部２０は、光源２の動作を制御する光源制御信号を生成して光源２へ出力する。光源制御信号は、例えば、光信号の出力開始及び出力停止を制御する信号であってよい。光源制御信号は、光源２から出力される光信号を設定する信号であってよい。
【００２７】
波長制御部２１は、光源２が出力する光信号の波長を指定する波長制御信号を生成して光源２へ出力する。光源２が出力する光信号を光メモリ１１に格納する場合、波長制御部２１は、光源２が出力する光信号の波長を順次切り替えることにより、波長λ１、λ２…λｎの光信号をそれぞれ異なる時刻に出力するように光源２を制御する。
【００２８】
切替制御部２２は、光スイッチ１０の出力先を制御する切替制御信号を生成して光スイッチ１０へ出力する。例えば、切替制御部２２は、波長制御信号に従って、光源２が波長λ１〜λｎの光信号を出力する場合に、光スイッチ１０の出力先をそれぞれ光メモリ１１−１〜１１−ｎに指定する切替制御信号を出力する。
【００２９】
書込制御部２３は、光スイッチ１０からの光信号を光メモリ１１への書き込むための書込許可及び書込停止を制御する書き込み制御信号を生成し、光メモリ１１に出力する。また、書込制御部２３は、光信号を光メモリ１１への書き込むための書込アドレスを生成し、光メモリ１１に出力する。
【００３０】
光スイッチ１０は、波長λ１〜λｎの光信号をそれぞれ異なる時刻に光メモリ１１−１〜１１−ｎへ出力する。このため、書込制御部２３は、波長λ１〜λｎの光信号をそれぞれ異なる時刻に光メモリ１１−１〜１１−ｎに書き込む。
【００３１】
読出制御部２４は、光スイッチ１０からの光信号を光メモリ１１から読み出すための読出アドレスを生成し光メモリ１１に出力し、この読出アドレスに格納された光信号を光メモリ１１から読み出す。
【００３２】
波長制御部２１が光源２から出力される光信号の波長を切り替えた後に、読出制御部２４は、切り替え直前の出力波長の光信号が格納された光メモリ１１から光信号を読み出す。例えば、光源２から出力される光信号の波長がλ１からλ２に切り替えられた場合に、λ２の光信号が光メモリ１１−２に入力される間に、光メモリ１１−１から各アドレスの光信号を読出アドレスを順次変えながら読み出す。
【００３３】
光信号の波長を切り替えた場合に、切り替え後の波長の光信号はある程度の安定化時間が経過した後に安定する。切り替え直前の出力波長の光信号が格納された光メモリ１１から光信号を読み出す期間は、切り替え後の波長の光信号の安定化時間が経過するまでの期間と重複してよい。例えば、読み出し動作は、切り替え後の波長の光信号の安定化時間が経過するまでの期間内に行ってもよい。
【００３４】
切り替え直前の出力波長の光信号が格納された光メモリ１１から読み出された光信号は、アドレス取得部２５に入力される。
【００３５】
アドレス取得部２５は、受信した光信号が有効な信号であるか否かを判断し、光メモリ１１内の記憶領域のうち、有効な光信号が格納された開始アドレスと終了アドレスを取得する。例えば、アドレス取得部２５は、受信した光信号によって伝送されるデータが既知のデータと同一であるか否かによって受信した光信号が有効な信号であるか否かを判断してよい。アドレス取得部２５は、全ての波長λ１、λ２、…、及びλｎについて、有効な光信号が格納された開始アドレスと終了アドレスを取得して記憶する。
【００３６】
読出制御部２４は、全ての波長λ１〜λｎの光信号が光メモリ１１に格納された場合に、少なくとも一部重複する期間中にこれらの光信号を同時に光メモリ１１から読み出し、被試験装置４に出力する。例えば読出制御部２４は、全ての波長λ１〜λｎの光信号を同時に読み出して被試験装置４に出力する。この場合に、読出制御部２４は、アドレス取得部２５により取得された開始アドレスから終了アドレスまでの間の各アドレスに格納された有効な光信号のそれぞれを順次読み出す。
【００３７】
図３は、光メモリ１１の構成例の説明図である。以下に説明する光メモリ１１の構成は、実施例の試験装置３に使用可能な光メモリの例示である。試験装置３に使用可能な構成はこれに限定されるものではなく、試験装置３は他の構成の光メモリを備えてもよい。
【００３８】
光メモリ１１は、フォトニック結晶光ＲＡＭ３０と、分配部３１と、シリアルパラレル変換器３２ａ〜３２ｘと、パラレルシリアル変換器３３ａ〜３３ｘと、光マルチプレクサ３４と、書き込み用光入力生成部３５と、読み出し用光入力生成部３６を備える。添付図面において、シリアルパラレル変換器、パラレルシリアル変換器及びマルチプレクサをそれぞれ「ＳＰＣ」、「ＰＳＣ」及び「ＭＵＸ」と表記する。
【００３９】
フォトニック結晶光ＲＡＭ３０は、所定数のフレームの光信号を各々格納可能な複数の単位記憶領域を持つ。それぞれの単位記憶領域にはアドレスが割り当てられている。
【００４０】
分配部３１は、光メモリ１１に入力される書込光データを、制御部１２の書込制御部２３から受信した書込アドレスで指定される単位記憶領域へ分配する。シリアルパラレル変換器３２ａ〜３２ｘは、各単位記憶領域に格納されるシリアル形式の光信号をパラレル形式の光信号に変換する。
【００４１】
書き込み用光入力生成部３５は、書込制御信号により書込許可が指示される間に、書込アドレスで指定される単位記憶領域に書き込み用光入力を与える。書き込み用光入力が与えられた単位記憶領域のフォトニック結晶には、書込光データが格納される。
【００４２】
書き込み用光入力生成部３５は、書込制御信号により書込停止が指示される間に、書込アドレスで指定される単位記憶領域に書き込み用光入力を与えない。この期間には、光メモリ１１への光信号の書き込みが停止される。
【００４３】
読み出し用光入力生成部３６は、制御部１２の読出制御部２４から受信した読出アドレスで指定される単位記憶領域に読み出し用光入力を与える。読み出し用光入力が与えられた単位記憶領域のフォトニック結晶は、その中に格納される光信号を出力する。
【００４４】
フォトニック結晶光ＲＡＭから出力されるパラレル形式の光信号は、パラレルシリアル変換器３３ａ〜３３ｘによりシリアル形式の光信号に変換され、光マルチプレクサ３４を経由して読出光データとして出力される。
【００４５】
図４及び図５は、試験システム１の動作の第１例の説明図である。図４及び図５を参照して説明する動作は複数の手順を含む方法と解釈してもよい。この場合に「オペレーション」を「ステップ」と読み替えてもよい。図７及び図８においても同様である。
【００４６】
オペレーションＡＡにおいて制御部１２は、光源２に光源制御信号を出力し、光源２が出力する光信号を設定する。オペレーションＡＡの動作は光源制御部２０の動作に相当する。
【００４７】
オペレーションＡＢにおいて制御部１２は、光源２に波長制御信号を出力し、光源２が出力する光信号の波長として波長λ１を指定する。オペレーションＡＢの動作は波長制御部２１の動作に相当する。
【００４８】
オペレーションＡＣにおいて制御部１２は、光スイッチ１０に切替制御信号を出力し、光源２から出力される波長λ１の光信号の入力先を光メモリ１１−１に指定する。オペレーションＡＣの動作は切替制御部２２の動作に相当する。オペレーションＡＤにおいて波長λ１の光信号が光源２から光メモリ１１−１に入力される。
【００４９】
オペレーションＡＥにおいて制御部１２は、書込許可を指示する書込制御信号を光メモリ１１−１に入力する。オペレーションＡＥの動作は書込制御部２３の動作に相当する。
【００５０】
オペレーションＡＦにおいて制御部１２は、波長λ１の光信号を書き込むための書込アドレスを光メモリ１１−１に供給する。オペレーションＡＦの動作は書込制御部２３の動作に相当する。書込制御部２３は、複数の書込アドレスを順次光メモリ１１−１に供給し複数の単位記憶領域に光信号を書き込んでもよい。
【００５１】
所望の書き込み期間が経過した後、オペレーションＡＧにおいて制御部１２は、書込停止を指示する書込制御信号を光メモリ１１−１に入力する。オペレーションＡＧの動作は書込制御部２３の動作に相当する。
【００５２】
オペレーションＡＨにおいて制御部１２は、光信号の出力停止を指示する光源制御信号を光源２に出力する。オペレーションＡＨの動作は光源制御部２０の動作に相当する。
【００５３】
オペレーションＡＩにおいて制御部１２は、光スイッチ１０に切替制御信号を出力し、光源２から次に出力される波長λ２の光信号の入力先を光メモリ１１−２に指定する。オペレーションＡＩの動作は切替制御部２２の動作に相当する。
【００５４】
オペレーションＡＪにおいて制御部１２は、光源２に波長制御信号を出力し、光源２が出力する光信号の波長を波長λ２に切り替える。オペレーションＡＪの動作は波長制御部２１の動作に相当する。
【００５５】
オペレーションＡＫにおいて制御部１２は、光信号の出力開始を指示する光源制御信号を光源２に出力する。オペレーションＡＫの動作は光源制御部２０の動作に相当する。オペレーションＡＬにおいて波長λ２の光信号が光源２から光メモリ１１−１に入力される。
【００５６】
オペレーションＡＭにおいて制御部１２は、書込許可を指示する書込制御信号を光メモリ１１−１に入力する。オペレーションＡＭの動作は書込制御部２３の動作に相当する。
【００５７】
オペレーションＡＮにおいて制御部１２は、波長λ２の光信号を書き込むための書込アドレスを光メモリ１１−２に供給する。オペレーションＡＮの動作は書込制御部２３の動作に相当する。オペレーションＡＭ及びＡＮにより、光メモリ１１−２への波長λ２の光信号の書き込みが開始する。
【００５８】
一方で、波長切替後の光信号の出力が開始するオペレーションＡＬの後の期間において、制御部１２は、有効な波長λ１の光信号が書き込まれた光メモリ１１−１のアドレスを取得する（オペレーションＡＯ）。オペレーションＡＯの動作は、読出制御部２４及びアドレス取得部２５の動作に相当する。
【００５９】
このとき、読出制御部２４は、読出アドレスを順次変えながら光メモリ１１−１から光信号を読み出す。アドレス取得部２５は、読み出された光信号が有効な信号であるか否かを判断し、光メモリ１１−１内の記憶領域のうち、有効な光信号が格納された開始アドレスと終了アドレスを取得する。波長λ１の有効な光信号の格納アドレスの取得期間は、波長λ２の光信号の安定化時間が経過するまでの期間内に行ってもよい。
【００６０】
波長λ２の光信号の所望の書き込み期間が経過した後、オペレーションＡＰにおいて制御部１２は、書込停止を指示する書込制御信号を光メモリ１１−２に入力する。オペレーションＡＰの動作は書込制御部２３の動作に相当する。
【００６１】
オペレーションＡＱにおいて制御部１２は、光信号の出力停止を指示する光源制御信号を光源２に出力する。オペレーションＡＱの動作は光源制御部２０の動作に相当する。
【００６２】
以下、オペレーションＡＩ〜ＡＮ、ＡＰ及びＡＱと同様の動作を波長λ３〜λｎについて繰り返すことにより、光メモリ１１−３〜１１−ｎに波長λ３〜λｎの光信号が格納される。また、オペレーションＡＯと同様の動作をλ２〜λ（ｎ−１）について繰り返すことにより、波長λ２〜λ（ｎ−１）の有効な光信号の格納アドレスが取得される。また、光メモリ１１−ｎに波長λｎの光信号が格納された後に、制御部１２は、オペレーションＡＯと同様の動作により波長λｎの有効な光信号の格納アドレスを取得する。
【００６３】
オペレーションＡＲにおいて、制御部１２は、光メモリ１１−１〜１１−ｎに読出アドレスを供給し、全波長λ１〜λｎの光信号を、少なくとも一部重複する期間中に同時に光メモリ１１から読み出す。オペレーションＡＲの動作は読出制御部２４の動作に相当する。読出制御部２４は、オペレーションＡＯで取得された開始アドレスから終了アドレスまでの間の各アドレスに格納された有効な光信号のそれぞれを順次読み出す。
【００６４】
オペレーションＡＳにおいて、全波長λ１〜λｎの光信号が、少なくとも一部重複する期間中に同時に被試験装置４に入力される。
【００６５】
本実施例によれば、試験に使用される光信号を生成可能な光源の数よりも多数の波長数の複数の光信号を、被試験装置へ同時に入力することができる。このため、試験に使用する光源数を低減することにより、試験設備費を低減することが可能になる。また、被試験装置へ同時に入力する光信号の波長数を光源数よりも多くすることにより、負荷が高い状況下での試験を実現して、より品質の高い被試験装置の試験が可能になる。
【００６６】
本実施例によれば、波長切り替えの際に、切り替え後の波長の光信号の安定化時間が経過するまでの期間と重複する期間を使って、切り替え直前の波長の有効な光信号が光メモリ１１に格納されたアドレスを取得する。このため、光信号が安定化するのに十分な余裕時間を経過するのを待たずに書き込み動作を開始して、書き込み動作終了後に有効な光信号の格納アドレスのみから信号を読み出すことができる。このため、光メモリ１１への光信号の格納動作の時間を短縮することができる。
【００６７】
他の波長の光信号の安定化時間に有効な光信号の格納アドレスの取得を済ませることにより、被試験装置への入力対象の全波長の光信号が光メモリ１１に格納された後に有効な格納アドレスを取得するための処理時間を短縮できる。
【００６８】
なお、変形例では、複数波長の光信号を光信号のまま光メモリ１１に格納する代わりに、複数波長の光信号を光電変換装置で電気信号に変換した後に、電気信号を記憶可能な記憶装置に格納してもよい。そして、記憶装置に格納された電気信号を電気−光変換装置により複数波長の光信号に再度変換して、少なくとも一部重複する期間中に同時に被試験装置４に入力してもよい。
【００６９】
また、試験装置３は、被試験装置４が受付可能な全波長数の光信号を、少なくとも一部重複する期間中に同時に被試験装置４に入力できてもよい。試験装置３は、被試験装置４が受付可能な全波長数より少ない複数の波長の光信号を、少なくとも一部重複する期間中に同時に被試験装置４に入力できてもよい。
【００７０】
＜２．第１実施例＞
図６は、試験システム１の第２例の構成図である。図１を参照して説明した構成要素と同様の構成要素は同一の参照符号で示し、同様の機能の説明を省略する。試験装置３は、変換部１３と、光アンプ１４−１〜１４−ｎと、出力レベル制御部１５を備える。
【００７１】
光源２は、所定のフレームフォーマットを有するデータにより変調された光信号を出力する。光源２は、単一波長のみの光信号を出力する光源であってよい。また、波長可変光源の出力波長を固定して光源２として使用してもよい。
【００７２】
変換部１３は、光源２からの信号光を受信する。変換部１３は、制御部１２からの波長制御信号に従って受信した光信号の波長を変換した後に光スイッチ１０に出力する。本実施例では、変換部１３は、光源２からの信号光の波長を変換し、変換部１３からの出力光をｎ個の波長λ１、λ２…λｎの間で切り替えることができる場合を想定する。
【００７３】
光アンプ１４−１〜１４−ｎは、光メモリ１１−１〜１１−ｎから読み出された波長λ１〜λ２の光信号を増幅し、被試験装置４に入力する。以下の説明及び添付図面において光アンプ１４−１〜１４−ｎを総称して「光アンプ１４」と表記することがある。
【００７４】
出力レベル制御部１５は、光アンプ１４からの出力光を受信し、フィードバック制御により被試験装置４に入力される信号レベルを制御する。出力レベル制御部１５は、光アンプ１４からの出力光に基づいて生成したレベル制御信号により、光アンプ１４の増幅率を制御する。変形例では、光アンプ１４及び出力レベル制御部１５を省略してもよい。
【００７５】
図７及び図８は、試験システム１の動作の第２例の説明図である。オペレーションＢＡの動作は、図４に示すオペレーションＡＡの動作と同様である。オペレーションＢＢにおいて制御部１２は、変換部１３に波長制御信号を出力し、変換部１３による変換後の光信号の波長を波長λ１に指定する。オペレーションＢＢの動作は波長制御部２１の動作に相当する。
【００７６】
オペレーションＢＣ〜ＢＩの動作は、図４に示すオペレーションＡＣ〜ＡＩの動作と同様である。
【００７７】
オペレーションＢＪにおいて制御部１２は、変換部１３に波長制御信号を出力し、変換部１３による変換後の光信号の波長を波長λ１から波長λ２へ切り替える。オペレーションＢＪの動作は波長制御部２１の動作に相当する。
【００７８】
オペレーションＢＫ〜ＢＲの動作は、図５に示すオペレーションＡＫ〜ＡＲの動作と同様である。
【００７９】
オペレーションＢＳにおいて光メモリ１１から読み出された全波長λ１〜λｎの光信号は、光アンプ１４により増幅された後に出力レベル制御部１５に入力される。オペレーションＢＴにおいて出力レベル制御部１５は、光アンプ１４からの出力光に基づいてレベル制御信号を生成し光アンプ１４に出力する。
【００８０】
オペレーションＢＵにおいて、レベル制御信号によって増幅率が制御された光アンプ１４によって全波長λ１〜λｎの光信号が増幅され、これらの信号光は、少なくとも一部重複する期間中に同時に被試験装置４に入力される。
【００８１】
本実施例によれば、単一波長のみの光信号を出力する光源を用いて、光源の数よりも多数の波長数の複数の光信号を、被試験装置へ同時に入力することができる。また、被試験装置へ入力される光信号のレベルを制御することができる。
【符号の説明】
【００８２】
１    試験システム
２    光源
３    試験装置
４    被試験装置
１０    光スイッチ
１１、１１−１〜１１−ｎ    光メモリ
１２    制御部
２０    光源制御部
２１    波長制御部
２２    切替制御部
２３    書込制御部
２４    読出制御部
２５    アドレス取得部
【図１】
2014183405.tif 000003
【図２】
2014183405.tif 000004
【図３】
2014183405.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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