(57)【要約】【課題】表示装置で表示される画像の輝度むらや色むらを補正することによる画面全体の輝度の低下を抑制することのできる技術を提供する。【解決手段】本発明の補正値生成装置は、表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する補正値生成装置であって、表示装置の画素毎に、画素値が一様の画像を表示したときの輝度又は色の測定値を取得する取得手段と、画素毎の測定値に基づいて、目標値に対応する画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である補正不可能画素を検出する検出手段と、検出手段で検出された補正不可能画素に対して、画素値が非表示の画素値となるように補正値を決定し、検出手段で検出された補正不可能画素以外の画素である補正可能画素に対して、画素値が目標値に対応する画素値となるように補正値を決定する補正値決定手段と、を有する。【選択図】図３
2014153413.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する補正値生成装置であって、
前記表示装置の画素毎に、画素値が一様の画像を表示したときの輝度又は色の測定値を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記表示装置の画素のうち、目標値に対応する画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である補正不可能画素を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出された補正不可能画素に対して、画素値が非表示の画素値となるように補正値を決定し、前記検出手段で検出された補正不可能画素以外の画素である補正可能画素に対して、画素値が前記目標値に対応する画素値となるように補正値を決定する補正値決定手段と、
を有することを特徴とする補正値生成装置。
【請求項２】
前記取得手段で取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記画素毎の目標値を決定する目標値決定手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項１に記載の補正値生成装置。
【請求項３】
前記目標値決定手段は、前記表示装置の全画素に対する補正可能画素の割合が閾値以上となるように、前記目標値を決定する
ことを特徴とする請求項２に記載の補正値生成装置。
【請求項４】
前記目標値決定手段は、時間が経過するほど低い値を前記目標値として決定する
ことを特徴とする請求項２または３に記載の補正値生成装置。
【請求項５】
表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する補正値生成装置の制御方法であって、
前記表示装置の画素毎に、画素値が一様の画像を表示したときの輝度又は色の測定値を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記表示装置の画素のうち、目標値に対応する画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である補正不可能画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された補正不可能画素に対して、画素値が非表示の画素値となるように補正値を決定し、前記検出ステップで検出された補正不可能画素以外の画素である補正可能画素に対して、画素値が前記目標値に対応する画素値となるように補正値を決定する補正値決定ステップと、
を有することを特徴とする補正値生成装置の制御方法。
【請求項６】
前記取得ステップで取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記画素毎の目標値を決定する目標値決定ステップをさらに有する
ことを特徴とする請求項５に記載の補正値生成装置の制御方法。
【請求項７】
前記目標値決定ステップでは、前記表示装置の全画素に対する補正可能画素の割合が閾値以上となるように、前記目標値を決定する
ことを特徴とする請求項６に記載の補正値生成装置の制御方法。
【請求項８】
前記目標値決定ステップでは、時間が経過するほど低い値を前記目標値として決定することを特徴とする請求項６または７に記載の補正値生成装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、補正値生成装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＯＥＬＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ−Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ−Ｄｉｓｐｌａｙ）、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ−Ｄｉｓｐｌａｙ−Ｐａｎｅｌ）、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ−Ｃｒｙｓｔａｌ−Ｄｉｓｐｌａｙ）などのディスプレイ（表示装置）の各画素は、一般的に、赤色（Ｒ）のサブピクセル、緑色（Ｇ）のサブピクセル、及び、青色（Ｂ）のサブピクセルの３つのサブピクセルで構成される。
このような表示装置では、画素間の品質（画素の品質）のばらつきにより、輝度むらや色むらなどのむらが生じる。品質のばらつきは、製造工程における誤差、画素間の経時劣化度合いの差異などによって生じる。画素間の経時劣化度合いの差異は、例えば、画素間の累積駆動時間の差異によって生じる。
【０００３】
このようなむらを低減（補正）するための方法として、画素毎に、補正係数を用いて画素値を補正する方法が提案されている（特許文献１）。
図６は、画素値と測定輝度の対応関係を表すグラフである。測定輝度は、測定によって得られた輝度（測定値）である。図６の縦軸は輝度、横軸は画素値を表す。図６には、画素値が２２４のときの目標輝度も示されている。図６に示すように、画素値が２２４のときの測定輝度が２３０［ｃｄ／ｍ２］であり、画素値が２２４のときの目標輝度が１８０［ｃｄ／ｍ２］であり、ガンマ値が２．２であった場合、以下の式１により、補正後の画素値Ｐが得られる。即ち、補正係数は（１８０／２３０）１／２．２となり、補正係数（１８０／２３０）１／２．２に画素値２２４を乗算することにより、補正後の画素値２００が得られる。
１８０＝（Ｐ／２２４）２．２×２３０
Ｐ＝（１８０／２３０）１／２．２×２２４≒２００
・・・（式１）
画素毎に、上述したような演算によって得られる値に画素値を補正することにより、輝度むらを低減することができる。
【０００４】
特許文献１の方法（式１の演算）において、補正前の画素値が２２４である画素の測定輝度を目標輝度１８０［ｃｄ／ｍ２］にすることのできる補正前の測定輝度の最小値Ｑは、以下の式２により、１３５．３［ｃｄ／ｍ２］となる。
１８０＝（２５５／２２４）２．２×Ｑ
Ｑ＝１８０／（２５５／２２４）２．２≒１３５．３
・・・（式２）
即ち、画素値が２４４のときの測定輝度が１３５．３［ｃｄ／ｍ２］より低い画素は、測定輝度を目標輝度１８０［ｃｄ／ｍ２］にすることができない補正不可能画素である。表示を行う画素の中にこのような補正不可能画素が存在すると、輝度むらが生じてしまう。
【０００５】
輝度むらをより低減するには、補正不可能画素の数を減らせばよい。
例えば、目標輝度の値を低くすれば補正不可能画素の数を減らすことができる。
しかしながら、目標輝度の値を低くすると、画面全体（画像全体）の輝度が低下してしまう。
また、補正前の画素値が互いに等しい複数の画素において、補正後の画素値は、補正前の測定輝度が低いほど高い値となる。補正後の画素値が高いほど画素の負荷は高くなる。そのため、補正後の画素値が高い画素は、補正後の画素値が低い画素に比べて速い速度で経時劣化が進む。換言すれば、補正後の画素値が高い画素は、補正後の画素値が低い画素に比べて速い速度で輝度（測定輝度）が低下する。そのため、補正後の画素値が高い画素は、補正後の画素値が低い画素に比べて補正不可能画素になり易い。
そして、経時劣化による輝度むらの発生時に補正不可能画素が発生した場合には、輝度むらを再度補正するために、目標輝度をさらに低くしなければならない。そのため、輝度むらを再度補正することにより、画面全体の輝度がさらに低下してしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−８４７２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、表示装置で表示される画像の輝度むらや色むらを補正することによる画面全体の輝度の低下を抑制することのできる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の補正値生成装置は、
表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する補正値生成装置であって、
前記表示装置の画素毎に、画素値が一様の画像を表示したときの輝度又は色の測定値を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記表示装置の画素のうち、目標値に対応する画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である補正不可能画素を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出された補正不可能画素に対して、画素値が非表示の画素値となるように補正値を決定し、前記検出手段で検出された補正不可能画素以外の画素である補正可能画素に対して、画素値が前記目標値に対応する画素値となるように補正値を決定する補正値決定手段と、
を有することを特徴とする。
【０００９】
本発明の補正値生成装置の制御方法は、
表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する補正値生成装置の制御方法であって、
前記表示装置の画素毎に、画素値が一様の画像を表示したときの輝度又は色の測定値を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された前記画素毎の測定値に基づいて、前記表示装置の画素のうち、目標値に対応する画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である補正不可能画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された補正不可能画素に対して、画素値が非表示の画素値となるように補正値を決定し、前記検出ステップで検出された補正不可能画素以外の画素である補正可能画素に対して、画素値が前記目標値に対応する画素値となるように補正値を決定する補正値決定ステップと、
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、表示装置で表示される画像の輝度むらや色むらを補正することによる画面全体の輝度の低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本実施形態に係る輝度むら補正システムの一例を示す接続図
【図２】画素の経時劣化特性の一例を表すグラフ
【図３】本実施形態に係る補正値決定処理の流れの一例を表すフローチャート
【図４】測定輝度の分布の一例を表すグラフ
【図５】経時劣化後の測定輝度の分布の一例を表すグラフ
【図６】画素値と測定輝度の対応関係の一例を表すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態に係る補正値生成装置及びその制御方法について説明する。本実施形態に係る補正値生成装置は、表示装置で表示される画像の輝度むらと色むらの少なくとも一方のむらを補正する補正値を生成する。以下では、表示装置で表示される画像の輝度むらを補正する例を説明する。
【００１３】
図１は、本実施形態に係る輝度むら補正システムの一例を示す接続図である。本実施形態に係る輝度むら補正システムは、画像表示装置１００、輝度測定装置２００、コンピュータ装置３００などを有する。
【００１４】
画像表示装置１００には、画像／同期信号（画像信号と同期信号）が入力される。画像表示装置１００に入力された画像信号を、入力画像信号と記載する。画像信号は、画像表示装置１００の各画素の画素値を表す。画像表示装置１００は、カウンタ部１０１、補正メモリ１０２、補正回路１０３、表示部１０４などを有する。
カウンタ部１０１は、画像表示装置１００の画素毎に、その画素の位置を表す座標データを出力する。
補正メモリ１０２は、画素毎（画素位置毎）の補正値を記憶する記憶媒体である。補正メモリ１０２は、画素毎に、その画素の補正値を出力する。具体的には、補正メモリ１０２は、カウンタ部１０１から出力された座標データに対応する補正値を出力する。
補正回路１０３は、補正メモリ１０２が記憶する補正値を用いて入力画像信号を補正し、出力する。補正後の画像信号を補正画像信号と記載する。具体的には、補正回路１０３は、画素毎に、その画素の補正値（補正メモリ１０２から出力された補正値）を用いて、当該画素の画素値を補正する。
表示部１０４は、複数の画素を有する。表示部１０４が各画素を駆動することにより、画像が表示される。各画素は、その画素の画素値（表示部１０４に入力された画像信号の画素値）に応じて駆動される。表示部１０４は、例えば、水平方向の画素数が１９２０、垂直方向の画素数が１０８０の有機ＥＬパネルである。表示部１０４がカラー表示可能な表示パネルである場合、各画素は、例えば、赤色（Ｒ）のサブピクセル、緑色（Ｇ）のサブピクセル、及び、青色（Ｂ）のサブピクセルの３つのサブピクセルで構成される。表示部１０４がモノクロ表示専用の表示パネルである場合、各画素は、白色（Ｗ）のみ表示することのできる構成を有していてもよい。
【００１５】
輝度測定装置２００は、画像表示装置１００の画素毎に、画像を表示したときの輝度を測定する。
【００１６】
コンピュータ装置３００は、画像／同期信号を画像表示装置１００に出力する。コンピュータ装置３００は、輝度測定装置２００から画素毎の測定値（輝度）を取得する。コンピュータ装置３００は、輝度測定装置２００から取得した画素毎の測定値に基づいて画素
毎の補正値を生成し、画素毎の補正値を画像表示装置１００に出力する。具体的には、画素毎の補正値は、補正メモリ１０２に記録（上書き）される。
【００１７】
補正値（補正値データ）を生成するプロセスと、補正値を使用して表示を行うプロセスとについて説明する。
【００１８】
（補正値を生成するプロセス）
補正値データを生成するプロセスでは、まず、コンピュータ装置３００が、輝度測定用画像の画像／同期信号を画像表示装置１００に出力する。輝度測定用画像は、画素値が一様の画像である。本実施形態では、全ての画素値が２２４である画像が、輝度測定用画像として用いられる。なお、輝度測定用画像の画素値は２２４より大きくても小さくてもよい。
次に、画像表示装置１００において、輝度測定用画像が、補正回路１０３で補正されることなく、表示部１０４で表示される。即ち、全ての画素が入力画像信号の画素値に応じて駆動されることにより、輝度測定用画像が表示される。
そして、輝度測定装置２００が、画像表示装置１００の画素毎に、その画素の輝度を測定する。即ち、輝度測定装置２００では、画素毎に、輝度測定用画像を表示したときの輝度を測定する。
次に、コンピュータ装置３００は、輝度測定装置２００の測定値（画素毎の測定値）を取得する。
そして、コンピュータ装置３００は、画像表示装置１００の画素毎に、取得した測定値に基づいて補正値を決定する。決定された画素毎の補正値は、画像表示装置１００の補正メモリ１０２に書き込まれる。
【００１９】
（補正値を使用して表示を行うプロセス）
補正値を使用して表示するプロセスでは、まず、コンピュータ装置３００が、通常画像の表示画像／同期信号を画像表示装置１００に出力する。通常画像は、例えば、観賞用の画像、ユーザによって選択された画像である。
次に、画像表示装置１００において、通常画像の各画素値が補正回路１０３で補正（輝度むら補正）され、補正後の通常画像が表示部１０４で表示される。
具体的には、カウンタ部１０１が、画像表示装置１００の画素毎に、その画素の位置を表す座標データを補正メモリ１０２に出力する。補正メモリ１０２は、コンピュータ装置３００で決定された画素毎（画素位置毎）の補正値を記憶しており、カウンタ部１０１から出力された座標データに対応する補正値を補正回路１０３に出力する。即ち、補正メモリ１０２からは、画素毎に、その画素の補正値が補正回路１０３に出力される。補正回路１０３は、画素毎に、その画素の補正値（補正メモリ１０２から出力された補正値）を用いて、当該画素の画素値（通常画像の画素値）を補正する。
画素位置（ｘ（水平位置），ｙ（垂直位置））において、補正前の画素値をＱｉｎ（ｘ，ｙ）、補正値をＨ（ｘ，ｙ）とすると、補正後の画素値Ｑｏｕｔ（ｘ，ｙ）は、Ｑｏｕｔ（ｘ，ｙ）＝Ｈ（ｘ，ｙ）×Ｑｉｎ（ｘ，ｙ）で表すことができる。
【００２０】
画像表示装置１００（表示部１０４）の画素は経時劣化する。
図２は、画素の経時劣化特性の一例を表すグラフである。具体的には、図２は、画素を一定の駆動条件で駆動し続けた場合の輝度（画素の輝度）と時間の関係の一例を表すグラフである。図２の縦軸は画素の輝度、横軸は時間を表す。図２では、初期の輝度が１となるように、輝度が正規化されている。
各画素は、画素値に応じて駆動され、画素値に応じた輝度の表示を行う。しかし、画素間で、画素値の違いなどにより駆動負荷（駆動電圧、駆動電流、駆動時間など）が異なるため、画素の品質のばらつき、具体的には画素の経時劣化度合いのばらつきが発生してしまう。このような画素の品質のばらつきにより、画質の劣化、具体的には輝度むらや色む
らが発生してしまう。また、製造工程における誤差によっても画素の品質のばらつきが発生し、輝度むらや色むらが発生してしまう。
【００２１】
図３に、コンピュータ装置３００の補正値決定処理（補正値を決定する処理）の流れの一例を表すフローチャートを示す。以下の処理は、例えば、コンピュータ装置３００が有する不図示の演算装置（ＣＰＵ）により行われる。
【００２２】
まず、コンピュータ装置３００のＣＰＵが、画像表示装置１００の画素毎に、画素値が一様の画像（輝度測定用画像）を表示したときの輝度の測定値を取得する（Ｓ１）。具体的には、ＣＰＵは、輝度測定装置２００の測定値（画素毎の測定値）を取得し、不図示の記憶部に記録する。
【００２３】
次に、ＣＰＵが、Ｓ１で取得された画素毎の測定値（測定輝度）を用いて、測定輝度分布データを生成する（Ｓ２）。測定輝度分布データは、例えば、画素位置と測定輝度の関係を表す関数やテーブルである。
【００２４】
そして、ＣＰＵが、測定輝度分布データ（Ｓ１で取得された画素毎の測定輝度）に基づいて、画素毎の測定輝度の目標値を決定する（Ｓ３；目標値決定）。例えば、補正前の画素値が２２４のときの目標値（目標輝度）ｍ［ｃｄ／ｍ２］は、以下の式１により得られる。式１において、ｑ［ｃｄ／ｍ２］は、補正後の画素値が最大画素値２５５となる測定輝度（補正前の測定輝度）である。補正前の画素値が２２４である画素のうち、測定輝度がｑ［ｃｄ／ｍ２］より低い画素は、補正不可能画素である。補正不可能画素は、目標輝度と同じ値の測定輝度を得るための画素値が設定可能な画素値の範囲外の値となる画素である。
ｍ＝（２５５／２２４）２．２×ｑ
ｑ＝ｍ／（２５５／２２４）２．２
・・・（式１）
本実施形態では、画像表示装置１００の全画素に対する補正可能画素の割合が閾値以上となるように、画素毎の目標輝度ｍ［ｃｄ／ｍ２］が決定される。閾値は、例えば、９７％である。なお、閾値は、９７％より高くても低くてもよい。閾値は、予め定められた固定値であってもよいし、ユーザによって設定及び変更可能な値であってもよい。
【００２５】
次に、ＣＰＵが、画像表示装置１００の画素の１つを処理対象の画素（対象画素）として選択し、対象画素の測定輝度がｑ［ｃｄ／ｍ２］以上か否かを判断する。対象画素の測定輝度がｑ［ｃｄ／ｍ２］以上である場合には、対象画素が補正可能画素（補正不可能画素以外の画素）であると判断され、Ｓ５に処理が進められる。対象画素の測定輝度がｑ［ｃｄ／ｍ２］未満である場合には、対象画素が補正不可能画素であると判断される。
Ｓ４の処理により、画像表示装置１００の画素のうち、補正不可能画素が検出される。
【００２６】
Ｓ５では、ＣＰＵが、補正可能画素である対象画素に対して、目標輝度と同じ値の測定輝度を得るための値に画素値を補正する値を補正値として決定する。本実施形態では、目標輝度と同じ値の測定輝度を得るための値に画素値を補正する補正値は、（ｍ／ｑ）１／２．２である。
Ｓ６では、ＣＰＵが、補正不可能画素である対象画素に対して、表示を行わない値（非表示の画素値）に画素値を補正する値を補正値として決定する。本実施形態では、表示を行わない画素値は０（Ｒ画素値＝０、Ｇ画素値＝０、Ｂ画素値＝０）であり、０に画素値を補正する補正値も０である。
【００２７】
Ｓ５またはＳ６の次に、ＣＰＵが、対象画素の画素位置と補正値（Ｓ５またはＳ６で決定された補正値）を関連付けて補正値テーブルに加える（Ｓ７）。補正値テーブルは、画素位置と補正値の関係を表すテーブルである。補正値テーブルは、初めは空のテーブルである。
【００２８】
そして、ＣＰＵが、画像表示装置１００の全ての画素についてＳ４〜Ｓ７の処理が行われたか否かを判断する（Ｓ８）。Ｓ４〜Ｓ７の処理が行われていない画素が存在する場合には、Ｓ４に処理が戻される。そして、Ｓ４〜Ｓ７の処理が行われていない画素が対象画素として選択され、上述したＳ４〜Ｓ７の処理が行われる。即ち、全ての画素についてＳ４〜Ｓ７の処理が行われるまで、Ｓ４〜７の処理が繰り返される。画像表示装置１００の全ての画素についてＳ４〜Ｓ７の処理が行われることにより、補正値テーブルが完成する。画像表示装置１００の全ての画素についてＳ４〜Ｓ７の処理が行われると、ＣＰＵは、完成した補正値テーブルを画像表示装置１００の補正メモリ１０２に転送する（Ｓ９）。
【００２９】
補正前の測定輝度（輝度測定用画像を輝度むら補正を行わずに表示したときの測定輝度）の分布を図４に示す。図４の縦軸は測定輝度、横軸は画素位置を表す。ｋ２が目標輝度として決定されたとすると、画素位置ａ１の画素は、補正前の測定輝度がｋ１であり、測定輝度を目標輝度ｋ２に補正できない補正不可能画素となる。ここで、画素位置ａ１の画素が補正可能画素となるように目標輝度を決定すると、目標輝度はｋ２よりも低い値となってしまう。本実施形態では、いくつかの補正不可能画素を残すことにより、目標輝度として高い値を得ることができ、画面全体（画像全体）の輝度の低下を抑制することができる。また、補正不可能画素の補正値は０とされ、補正不可能画素による表示は行われないため、補正不可能画素が表示を行うことによる輝度むらが発生することはない。そして、補正可能画素の測定輝度は補正によりｋ２となるため、補正前よりも輝度むらを低減することができる。
【００３０】
また、本実施形態では、決定された補正値による補正後の画像を画像表示装置１００が表示することにより、補正可能画素は経時劣化する。しかし、補正不可能画素は、表示を行わないため、経時劣化しない。そのため、補正可能画素の経時劣化による輝度むらを補正する補正値を決定する際（再度輝度むら補正を行う際）に、前回補正不可能画素として検出されていた画素の少なくとも一部の画素は、補正不可能画素として検出されなくなる。
【００３１】
図４に示す補正（画素位置ａ１の画素値を表示を行わない値にし、それ以外の画素値を測定輝度がｋ２と一致する値にする補正）を行い、その状態で一定期間表示を行ったあとの測定輝度の分布を図５に示す。図５の測定輝度は、輝度測定用画像を輝度むら補正を行わずに表示したときの測定輝度である。図５の縦軸は測定輝度、横軸は画素位置を表す。画素位置ａ１の画素（前回の輝度むら補正処理において補正不可能画素とされた画素）については、表示が行われていなかったため、経時劣化は進まず、測定輝度はｋ１に維持されている。他の画素については、表示が行われていたため、経時劣化が進んでおり、測定輝度が低下している。そのため、本実施例では、時間が経過するほど低い値が目標値として決定されることとなる。このとき、ｋ０（＜ｋ２）が目標輝度として決定されたとすると、画素位置ａ１の画素は補正可能画素として復活する。
前回の処理において画素位置ａ１の画素が補正可能画素となるように目標輝度を決定した場合、画素位置ａ１の画素も経時劣化する。そして、輝度むら補正を再度行う際に、画素位置ａ１の画素が補正可能画素となるように目標輝度を決定すると、目標輝度はｋ０よりも低い値となってしまう。
本実施形態では、経時劣化度合いが他の画素に比べて高い画素が、表示を行わない補正不可能画素とされる。それにより、経時劣化度合いが他の画素に比べて高い画素の経年劣化速度を低減することができる。その結果、目標輝度の低下速度も低減することができ、
輝度むら補正による画面全体の輝度の低下を低減することができる。
【００３２】
以上述べたように、本実施形態によれば、補正不可能画素に対して、表示を行わない値に画素値を補正する値が補正値として決定される。そして、補正可能画素に対して、目標値と同じ値の測定値を得るための値に画素値を補正する値が補正値として決定される。それにより、表示装置で表示される画像の輝度むらや色むらを補正することによる画面全体の輝度の低下を抑制することができる。
【００３３】
なお、本実施形態では、画像表示装置１００の全画素に対する補正可能画素の割合が閾値以上となるように、目標輝度を決定したが、目標輝度の決定方法はこれに限らない。例えば、目標輝度は、ユーザにより設定されてもよい。
【００３４】
なお、本実施形態では、画素値が高いほど輝度が高いものとしたが、画素値の定義はこれに限らない。画素値が高いほど輝度が低くてもよい。また、本実施形態では、画素値の範囲が０〜２５５であるものとしたが、画素値の範囲はこれに限らない。画素値の範囲は０〜１２７、０〜５１１などであってもよい。
【００３５】
なお、本実施形態では、補正値として画素値に乗算する値を決定する例を説明したが、補正値はこれに限らない。例えば、補正値は画素値に加算する値であってもよい。
【００３６】
なお、表示部１０４は、有機ＥＬパネルに限らない。表示部１０４は、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ−Ｄｉｓｐｌａｙ−Ｐａｎｅｌ）、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ−Ｃｒｙｓｔａｌ−Ｄｉｓｐｌａｙ）、ＬＣＤのバックライトなどであってもよい。バックライトの光源としては、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ−Ｅｍｉｔｔｉｎｇ−Ｄｉｏｄｅ）や冷陰極管が用いられる。
【００３７】
なお、表示部１０４のアスペクト比と画素数は水平方向１９２０×垂直方向１０８０画素に限らない。表示部１０４のアスペクト比と画素数はどのような値であってもよい。
【００３８】
なお、本実施形態では、輝度むら補正について説明したが、同様の処理により色むらを補正することもできる。色むら補正については、輝度むら補正に関する説明における“輝度”の文言を“色”と読み替えればよい。また、サブピクセルの色毎に上述した輝度むら補正を行うことによっても、色むら補正を実現することができる。但し、補正不可能と判断されたサブピクセルを有する画素が有する他の色のサブピクセルは、補正可能であっても補正不可能と判断される。即ち、補正不可能と判断されたサブピクセルを１つ以上有する画素は、補正不可能画素として扱われる。本実施形態に係る補正値生成装置では、輝度むら、色むら、又は、それらの両方を補正するための補正値が決定されればよい。
【００３９】
なお、本実施形態では、コンピュータ装置３００のＣＰＵにより補正値を決定する処理が行われるものとしたが、これに限らない。図３の各処理は互いに異なる機能部によって行われてもよい。
【００４０】
なお、本実施形態では、表示部１０４がカラー表示可能な表示パネルである場合、各画素がＲ、Ｇ、及び、Ｂの３つのサブピクセルで構成されるものとしたが、画素構成はこれに限らない。画素は、３つより多くのサブピクセルを有していてもよい。画素は、Ｒ、Ｇ、及び、Ｂ以外の色（例えば黄色）のサブピクセルを有していてもよい。画素は、Ｒ、Ｇ、及び、Ｂのうち、少なくとも一部の色のサブピクセルを有していなくてもよい。
【００４１】
なお、本実施形態では、画像表示装置１００、輝度測定装置２００、及び、コンピュータ装置３００がそれぞれ別体の装置である場合の例を説明したが、これに限らない。例えば、画像表示装置１００、輝度測定装置２００、及び、コンピュータ装置３００のうちの
少なくとも２つの装置は、一体に構成されていてもよい。例えば、画像表示装置１００とコンピュータ装置３００は一体に構成されていてもよい。輝度測定装置２００とコンピュータ装置３００は一体に構成されていてもよい。画像表示装置１００、輝度測定装置２００、及び、コンピュータ装置３００が一体に構成されていてもよい。
【００４２】
なお、本実施形態では、目標の測定値を目標値とした、即ち目標値の次元が測定値と同じであるものとしたが、目標値はこれに限らない。例えば、目標値は目標の画素値であってもよい。
【符号の説明】
【００４３】
１００  画像表示装置
１０１  カウンタ部
１０２  補正メモリ
１０３  補正回路
１０４  表示部
２００  輝度測定装置
３００  コンピュータ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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