(57)【要約】【課題】焦点サイズを変化させることなく高速なＸ線管電流の制御を可能とするＸ線コンピュータ断層撮影装置を提供すること。【解決手段】実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、Ｘ線管と、バイアス電源１４４と、Ｘ線制御部１４１とを具備する。Ｘ線管は、陰極と、陽極と、当該陰極及び陽極の間に配置されるグリッド１１４とを有する。バイアス電源１４４は、陰極と陽極との間の管電流を制御するためにグリッド１１４に印加されるバイアス電圧を発生する。Ｘ線制御部１４１は、一定の管電流を発生させるバイアス電圧をパルス列として印加させるとともに、予め定められた期間毎にバイアス電圧のパルス数及びパルス幅の少なくとも一方を制御する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
陰極と、陽極と、前記陰極及び前記陽極の間に配置されるグリッドとを有するＸ線管と、
前記陰極と前記陽極との間の管電流を制御するために前記グリッドに印加されるバイアス電圧を発生するバイアス電源と、
一定の前記管電流を発生させる前記バイアス電圧をパルス列として印加させるとともに、予め定められた期間毎に前記バイアス電圧のパルス数及びパルス幅の少なくとも一方を制御するＸ線制御部と、
を具備すること、
を特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記Ｘ線検出器の出力に基づいて被検体に関する投影データを収集するデータ収集部を備え、
前記Ｘ線制御部は、前記データ収集部によるデータ収集期間に同期して、前記データ収集期間毎に前記バイアス電圧のパルス数及びパルス幅の少なくとも一方を制御すること、
を特徴とする請求項１に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記Ｘ線制御部は、１ｖｉｅｗ毎に前記バイアス電圧のパルス数及びパルス幅の少なくとも一方を制御すること、
を特徴とする請求項２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
前記陰極を構成するフィラメントに供給されるフィラメント電流を発生するフィラメント加熱電源をさらに具備し、
前記Ｘ線制御部は、被検体に対する前記Ｘ線管の相対的な位置に応じて前記管電流の大きさを変更するために、前記フィラメント加熱電源を制御すること、
を特徴とする請求項１乃至請求項３のうちいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項５】
前記Ｘ線制御部は、
前記被検体に対する前記Ｘ線管のビュー方向に応じて、前記管電流を変更するために、前記フィラメント加熱電源を制御する請求項４に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項６】
前記Ｘ線制御部は、
前記被検体を載置した天板の垂直方向に前記Ｘ線管が位置しているときの前記管電流を、前記天板の短軸方向に前記Ｘ線管が位置しているときの前記管電流より小さくするために、前記フィラメント加熱電源を制御する請求項４に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置（以下、Ｘ線ＣＴ装置と表記）は、Ｘ線管から被検体に放射されたＸ線（当該被検体を透過したＸ線）をＸ線検出器で検出する。Ｘ線ＣＴ装置は、当該Ｘ線検出器の出力（投影データ）に基づいて被検体の内部画像を再構成する。
【０００３】
近年、管電圧スイッチング制御等を行うＸ線ＣＴ装置においては、当該Ｘ線ＣＴ装置の性能及び被検体の被曝低減という観点から、Ｘ線管電流を高速に制御することが求められている。
【０００４】
ところで、管電流制御技術に関して、陰極・陽極・グリッド（バイアス電極）の３極構造を有する３極Ｘ線管が知られている。
【０００５】
このような３極Ｘ線管をＸ線ＣＴ装置に使用する場合、Ｘ線ＣＴ装置は、当該３極Ｘ線管のグリッドのバイアス電圧（以下、グリッド電圧と表記）を制御する。これによって、フィラメントからの熱電子放出が制御される。熱電子放出の制御により、Ｘ線管電流の増減が制御される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−０４９１０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記したようにＸ線ＣＴ装置において３極Ｘ線管を使用し、グリッド電圧でＸ線管電流を制御する場合、高いグリッド電圧を印加することによってＸ線管電流を減少させることができる。しかしながら、この場合には、Ｘ線ＣＴ装置における焦点サイズが小さくなる。
【０００８】
一方、グリッド電圧を低くすることによってＸ線管電流を増加させた場合、Ｘ線ＣＴ装置における焦点サイズが大きくなる。
【０００９】
例えば同一の画像を再構成するために用いられる各投影データの焦点サイズがグリッド電圧の制御に応じて変化した場合、当該投影データの各々の解像度が変化してしまう。
【００１０】
このように同一の画像の再構成に用いられる投影データの各々の解像度が変化してしまう（つまり、当該投影データの各々の解像度が異なる）ことは、これらの投影データから再構成される画像の解像度のムラやそれによる画質の劣化、またはアーチファクトの発生の原因となる。
【００１１】
なお、上記したグリッド電圧でＸ線管電流を制御する以外に、例えばＸ線管のフィラメントに供給される電流（フィラメント電流）を制御することによって、フィラメントの温度変化により、熱電子放出が制御される。これにより、Ｘ線管電流は、制御されることも可能である。
【００１２】
しかしながら、フィラメント電流を制御する場合、熱電子の変化はフィラメントの温度変化に左右されるため、時定数が長く、高速なＸ線管電流の制御は困難である。
【００１３】
そこで、本発明が解決しようとする課題は、焦点サイズを変化させることなく高速なＸ線管電流の制御を可能とするＸ線コンピュータ断層撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、Ｘ線管と、バイアス電源と、Ｘ線制御部とを具備する。
【００１５】
Ｘ線管は、陰極と、陽極と、前記陰極及び前記陽極の間に配置されるグリッドとを有する。
【００１６】
バイアス電源は、前記陰極と前記陽極との間の管電流を制御するために前記グリッドに印加されるバイアス電圧を発生する。
【００１７】
Ｘ線制御部は、一定の前記管電流を発生させる前記バイアス電圧をパルス列として印加させるとともに、予め定められた期間毎に前記バイアス電圧のパルス数及びパルス幅の少なくとも一方を制御する。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】図１は、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、本実施形態に係り、図１に示すＸ線管装置及びＸ線制御・高電圧発生装置の構成について説明するための図である。
【図３】図３は、本実施形態に係り、グリッド電圧のパルス数の制御によるＸ線管電流の制御について説明するための図である。
【図４】図４は、グリッド電圧とＸ線管電流の相関を示す図である。
【図５】図５は、グリッド電圧と焦点サイズの相関を示す図である。
【図６】図６は、本実施形態に係り、グリッド電圧のパルス幅の制御によるＸ線管電流の制御について説明するための図である。
【図７】図７は、本実施形態の変形例に係り、被検体に対するＸ線管の相対的な位置の関係の一例を示す図である。
【図８】図８は、本実施形態の変形例に係り、グリッド電圧のパルス数の制御とフィラメント電流の制御とを説明する説明図である。
【図９】図９は、本実施形態の変形例に係り、グリッド電圧のパルス幅の制御とフィラメント電流の制御とを説明する説明図である。
【図１０】図１０は、本実施形態の変形例に係り、管電流の最大値と最小値との説明に関する説明図である。
【図１１】図１１は、本実施形態の変形例に係り、ビュー角に応じた管電流の制御幅の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面を参照して、実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置（以下、Ｘ線ＣＴ装置と表記）について説明する。
【００２０】
図１は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示す。図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置は、被検体に関する投影データを収集するために構成された架台１と、当該架台１の制御及び画像再構成等の各種信号処理に必要な複数のモジュールを収容する操作卓（コンソール）２とを有する。
【００２１】
架台１は、Ｘ線管装置１１、Ｘ線検出器（多チャンネル型Ｘ線検出器）１２、データ収集部１３及びＸ線制御・高電圧発生装置１４を備える。
【００２２】
Ｘ線管装置１１及びＸ線検出器１２は、回転駆動されるリング状のフレームに搭載される。Ｘ線管装置１１及びＸ線検出器１２は、撮影時に被検体が挿入される撮影領域Ｓを挟んで対向する。
【００２３】
Ｘ線管装置１１は、Ｘ線を発生するＸ線管を有する。なお、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管は、陰極と、陽極と、当該陰極及び当該陽極の間に配置されるグリッド（バイアス電極）とを有する３極Ｘ線管である。なお、Ｘ線管装置１１の構成の詳細については後述する。
【００２４】
Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管から発生され、撮影領域Ｓに挿入された被検体を透過したＸ線を検出する。
【００２５】
データ収集部１３は、Ｘ線検出器１２の出力に基づいて被検体に関する投影データを収集する。具体的には、データ収集部１３は、Ｘ線検出器１２からチャンネル毎に出力される信号を電圧信号に変換し、増幅し、更にデジタル信号（投影データ）に変換してから出力する。
【００２６】
Ｘ線制御・高電圧発生装置１４は、上記したグリッドに印加されるバイアス電圧（以下、グリッド電圧と表記）を制御することによって、Ｘ線管電流を制御する。なお、Ｘ線制御・高電圧発生装置１４の構成の詳細については後述する。
【００２７】
操作卓２は、操作者がスキャン条件等を入力するための操作部２１と、操作者により設定されたスキャン条件に従って装置全体を制御してスキャンを実行するための制御部２２と、データ収集部１３によって収集された投影データに基づいて断層面またはボリュームに関する画像データを再構成するデータ再構成部２３とを備える。
【００２８】
次に、図２を参照して、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が備えるＸ線管装置１１及びＸ線制御・高電圧発生装置１４の構成について詳細に説明する。
【００２９】
図２に示すように、Ｘ線管装置１１は、真空状態で密閉される３極Ｘ線管１１１を有する。この３極Ｘ線管１１１は、陽極（回転陽極）１１２と、当該陽極１１２に対向する陰極１１３と、当該陽極１１２及び当該陰極１１３の間に配置されるグリッド１１４とを収容する。このような３極Ｘ線管１１１においては、グリッド電圧（グリッド１１４に印加される電圧）によりＸ線の発生及び停止を制御することができる。
【００３０】
Ｘ線制御・高電圧発生装置１４は、Ｘ線制御部１４１、高電圧電源１４２、フィラメント加熱電源１４３、バイアス電源１４４及び管電流検出部１４５を有する。
【００３１】
Ｘ線制御部１４１は、上記した制御部２２からのスキャン条件等に応じて、高電圧電源１４２とフィラメント加熱電源１４３とバイアス電源１４４とを制御する。
【００３２】
高電圧電源１４２は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、陽極１１２と陰極１１３との間に印加される高電圧（管電圧）を、発生する。高電圧電源１４２は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、管電圧を、陽極１１２と陰極１１３との間に印加（出力）する。高電圧電源１４２は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、管電圧の発生または印加を、停止する。
【００３３】
フィラメント加熱電源１４３は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、陰極１１３のフィラメントに供給される電流（フィラメント電流）を、発生する。フィラメント加熱電源１４３は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、陰極１１３のフィラメントに、フィラメント電流を供給（出力）する。フィラメント加熱電源１４３は、Ｘ線制御部１４１からの制御信号に従って、フィラメント電流の発生または供給を、停止する。
【００３４】
バイアス電源１４４は、グリッド電圧を発生するインバータ式電源である。バイアス電源１４４は、Ｘ線制御部１４１からの制御パルスに同期するスイッチング素子によりパルス系列としてグリッド電圧を発生する。なお、Ｘ線制御部１４１は、予め定められた期間（例えば、データ収集期間）毎に、一定の管電流を発生させるグリッド電圧のパルス数を制御するように、バイアス電源１４４を制御する。
【００３５】
グリッド１１４の電位は、０（ゼロ）と、陰極１１３の電位と等価または当該陰極１１３の電位より低いマイナス極性の電位（カットオフ電圧）との間で変位する。
【００３６】
なお、グリッド１１４の電位が０のとき、陰極１１３のフィラメントから発生される熱電子は、グリッド１１４を通過して回転陽極１１２のタングステン等のターゲットに衝突する。これにより、管電流が流れる。一方、グリッド１１４の電位がカットオフ電位のとき、陰極１１３のフィラメントから発生される熱電子はグリッド１１４で遮断される。このため、管電流は流れない。
【００３７】
管電流検出部１４５は、Ｘ線管電流を検出する。管電流検出部１４５によって検出されたＸ線管電流は、例えばＸ線制御部１４１によるＸ線管電流の制御に用いられる。
【００３８】
以下、図３を参照して、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管電流の制御について具体的に説明する。なお、Ｘ線管電流の制御は、上記したＸ線制御・高電圧発生装置１４（Ｘ線制御・高電圧発生装置１４が有するＸ線制御部１４１）によって実行される。
【００３９】
本実施形態では、図３に示すように、Ｘ線ＣＴ装置におけるスキャン期間中において、管電圧は、陽極１１２と陰極１１３との間に、継続的に印加される。さらに、フィラメント電流は、フィラメントに、継続的に供給される。加えて、一定の管電流を発生させるグリッド電圧が、パルス列としてグリッド１１４に印加されるとともに、予め定められた期間毎に当該グリッド電圧のパルス数が制御される。
【００４０】
具体的には、一定の管電流を発生させるグリッド電圧のパルス数は、データ収集部１３によるデータ収集期間、例えばデータ収集の最小期間（１ｖｉｅｗ）に同期して、当該データ収集の最小期間毎に制御される。
【００４１】
これにより、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置においては、１ｖｉｅｗ中の平均管電流（値）を制御することによって、Ｘ線管電流を制御することができる。
【００４２】
なお、例えばグリッド電圧を連続的に変化させた場合、図４に示すように、グリッド電圧を上昇させると管電流が減少し、グリッド電圧を下降させると管電流が増大する。このように、グリッド電圧を連続的に変化させることによっても、Ｘ線管電流を制御することは可能である。
【００４３】
しかしながら、グリッド電圧を連続的に変化させた場合、図５に示すように、例えば管電流を減少させるためにグリッド電圧を上昇させると、焦点サイズは小さくなる。また、管電流を増大させるためにグリッド電圧を下降させると、焦点サイズは大きくなる。このように焦点サイズが変化した投影データから同一の画像を再構成することは、画質の劣化やアーチファクトの発生の原因となる。
【００４４】
これに対して、上記した図３に示すように一定の管電流を発生させるグリッド電圧のパルスの数をデータ収集の最小期間に同期して変化させた場合には、当該最小期間中の平均管電流が増減するように制御することができる。加えて、単位パルスの波高（管電流値）は変化していないため、焦点サイズは、変化しない。
【００４５】
上記したように本実施形態においては、管電圧を継続的に印加させ、フィラメント電流を継続的に供給させ、一定の管電流を発生させるグリッド電圧（バイアス電圧）をパルス列として印加させるとともに、予め定められた期間毎に当該グリッド電圧のパルス数を制御する構成により、当該単位パルスの波高が変化しないため焦点サイズを変化させることなくＸ線管電流を制御することができる。加えて、グリッド電圧を用いるため、例えばフィラメント電流の制御による温度変化を利用した管電流制御と比較して、高速で小刻みかつ広範囲な（広い可変幅の）管電流の制御（調整）が可能となる。
【００４６】
また、本実施形態においては、データ収集期間（１ｖｉｅｗ）に同期して、当該データ収集期間毎にグリッド電圧のパルス数を制御する構成により、当該データ収集期間毎に、より正確にＸ線管電流（平均管電流）を制御することが可能となる。
【００４７】
なお、本実施形態においては、一定の管電流を発生させるグリッド電圧のパルス数を制御するものとして説明したが、例えば図６に示すように、データ収集期間の最小期間（１ｖｉｅｗ）に同期して、一定の管電流を発生させるグリッド電圧のパルス幅を制御することによって、平均管電流を制御する構成としても構わない。この場合においても、単位パルスの波高は変化しないため、焦点サイズを変化させることなく、Ｘ線管電流を高速に制御することが可能となる。
【００４８】
なお、Ｘ線制御部１４１は、グリッド電圧のパルス幅およびパルス数を制御するために、バイアス電源１４４を制御することも可能である。これにより、より細やかに平均管電流を変化させることができる。
【００４９】
なお、Ｘ線ＣＴ装置には、Ｘ線管と放射線検出器とが１体として被検体の周囲を回転する回転／回転タイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、Ｘ線管のみが被検体の周囲を回転する固定／回転タイプ等様々なタイプがあるが、本実施形態はいずれのタイプにも適用可能である。
【００５０】
また、１スライスの断層像データを再構成するためには、被検体の周囲１周、約３６０°分の投影データ、または、ハーフスキャン法の場合であっても１８０°＋α（α：ファン角）分の投影データが必要とされるが、本実施形態は、いずれの再構成方式にも適用可能である。
【００５１】
また、入射Ｘ線を電荷に変換するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でＸ線を光に変換し、更に当該変換された光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換系と、Ｘ線による半導体内の電子正孔体の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換系とが主流である。Ｘ線検出素子としては、それらのいずれの方式が採用されても構わない。
【００５２】
また、近年では、Ｘ線管とＸ線検出器との複数のペアを回転リングに搭載した、いわゆる多管球型のＸ線ＣＴ装置の製品化が進み、その周辺技術の開発が進んでいるが、本実施形態は、一管球型のＸ線ＣＴ装置及び多管球型のＸ線ＣＴ装置のいずれにも適用可能である。
【００５３】
（変形例）  
本実施形態との相違は、フィラメント電流を調整することにより、被検体に対するＸ線管の相対的な位置に応じて管電流を変化させることにある。  
図７は、本変形例において、被検体に対するＸ線管１１１の相対的な位置の関係の一例を示す図である。図７に示すように、被検体に対するＸ線管１１１の相対的な位置、すなわちビュー角（ビュー方向）に応じてフィラメント電流の大きさが変更することにより、管電流が変化される。
【００５４】
Ｘ線制御部１４１は、被検体に対するＸ線管１１１の相対的な位置に応じて、管電流の大きさを変更するために、フィラメント加熱電源１４３を制御する。具体的には、Ｘ線制御部１４１は、Ｘ線管の位置を示すビュー角に応じて、管電流の大きさを変化させるために、フィラメント加熱電源１４３を制御する。すなわち、Ｘ線制御部１４１は、バイアス電源１４４の制御とともに、ビュー角に応じてフィラメント電流を変化させるために、フィラメント加熱電源１４３を制御する。
【００５５】
例えば、被検体に対するスキャン中において、０°または１８０°のビュー角、すなわち被検体が載置された天板に垂直方向にＸ線管１１１が位置するとき、Ｘ線制御部１４１は、管電流を小さくするように、フィラメント加熱電源１４３を制御する。このとき、Ｘ線制御部１４１は、フィラメント電流を小さくするようにフィラメント加熱電源１４３を制御する。また、被検体に対するスキャン中において、９０°または２７０°のビュー角、すなわち被検体が載置された天板の短軸方向にＸ線管１１１が位置するとき、Ｘ線制御部１４１は、管電流を大きくするように、フィラメント加熱電源１４３を制御する。このとき、Ｘ線制御部１４１は、フィラメント電流を大きくするようにフィラメント加熱電源１４３を制御する。
【００５６】
すなわち、０°または１８０°のビュー角にＸ線管１１１が位置するとき、スキャン中おけるフィラメント電流が最小となるように、Ｘ線制御部１４１は、フィラメント加熱電源１４３を制御する。また、９０°または２７０°のビュー角にＸ線管１１１が位置するとき、スキャン中おけるフィラメント電流が最小となるように、Ｘ線制御部１４１は、フィラメント加熱電源１４３を制御する。換言すると、Ｘ線制御部１４１は、被検体を載置した天板の垂直方向にＸ線管１１１が位置しているときのフィラメント電流を、天板の短軸方向にＸ線管１１１が位置しているときのフィラメント電流より小さくするために、フィラメント加熱電源１４３を制御する。これにより、被検体を載置した天板の垂直方向にＸ線管１１１が位置しているときの管電流は、天板の短軸方向にＸ線管１１１が位置しているときの管電流より小さくなる。すなわち、Ｘ線制御部１４１は、管電流を間接的に制御するためにフィラメント加熱電源１４３を制御する。
【００５７】
なお、Ｘ線制御部１４１は、図示していない入力部を介して予め設定された被検体厚に応じて、ビュー角に応じたフィラメント電流を決定してもよい。また、Ｘ線制御部１４１は、本スキャン前に被検体に対して実行されたプリスキャンにおいて被検体厚を決定し、決定した被検体厚にも基づいて、フィラメント電流を決定してもよい。
【００５８】
図８は、本変形例において、グリッド電圧のパルス数の制御とフィラメント電流の制御とを説明する説明図である。図８に示すように、グリッド電圧のパルス数の制御に、フィラメント電流の制御を加えることで、焦点サイズを変更させずに、ビュー角に応じてＸ線管電流を変化させることができる。
【００５９】
図９は、本変形例において、グリッド電圧のパルス幅の制御とフィラメント電流の制御とを説明する説明図である。図８に示すように、グリッド電圧のパルス幅の制御に、フィラメント電流の制御を加えることで、焦点サイズを変更させずに、ビュー角に応じてＸ線管電流を変化させることができる。
【００６０】
図１０は、管電流の最大値と最小値との説明に関する説明図である。図１０に示すように、グリッド電圧のパルス幅は、ビュー間隔の１／ｉである。また、図１０に示すように、管電流（フィラメント電流による設定管電流）はｊである。フィラメント電流による設定管電流とは、例えば、グリッドにおけるバイアス電圧がゼロ、またはバイアス電圧がある値のときの基準となる値に対応する管電流である。このとき、図１０のビュー（ａ）に示すように、最小の管電流（平均管電流）は、設定管電流の１／ｉ倍、すなわちｊ／ｉとなる。また、図１０のビュー（ｂ）に示すように、最大の管電流（平均管電流）は、管電流の１倍、すなわちｊとなる。図１０に示すように、管電流（平均管電流）の制御幅は、ｊ／ｉ乃至ｊとなる。
【００６１】
図１１は、ビュー角に応じた管電流の制御幅の一例を示す図である。図１１に示すように、本変形例によれば、一定のフィラメント電流における平均管電流の制御幅に比べて、平均管電流の制御幅が向上する。
【００６２】
以上に述べた構成によれば、以下の効果を得ることができる。  
本実施形態におけるＸ線ＣＴ装置によれば、グリッド電圧（バイアス電圧）のパルス数とパルス幅とのうち少なくとも一方を制御することにより、焦点サイズを変化させることなく、高速にＸ線管電流を制御することができる。すなわち、本Ｘ線ＣＴ装置によれば、投影データの解像度を変化させることなく、高速にＸ線管電流を制御することができる。これにより、投影データから再構成される画像の解像度のムラ、解像度のムラによる画質の劣化、アーチファクトを発生させることなく、高速にＸ線管電流を制御することができ、被検体に対する被曝の低減を実行することが可能となる。
【００６３】
加えて、本変形例に係るＸ線ＣＴ装置によれば、被検体に対するＸ線管１１１の相対的な位置に応じてフィラメント加熱電源１４３を制御することにより、管電流を間接的に制御する。これにより、本変形例によれば、画質を低下させることなく、更なる被検体に対する更なる被曝の低減を実行することができる。すなわち、本変形例によれば、Ｘ線管１１１の想定的な位置に応じてフィラメントに流れる電流（フィラメント電流）を調整することで、間接的に管電流の基本値（グリッドのバイアス電圧がゼロ、またはある値のバイアス電圧における基準となる値）を調整することができる。
【００６４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。  
【符号の説明】
【００６５】
１…架台、２…操作卓、１１…Ｘ線管装置、１２…Ｘ線検出器、１３…データ収集部、１４…Ｘ線制御・高電圧発生装置、２１…操作部、２２…制御部、２３…データ再構成部、１１１…Ｘ線管、１１２…陽極、１１３…陰極、１１４…グリッド、１４１…Ｘ線制御部、１４２…高電圧電源、１４３…フィラメント加熱電源、１４４…バイアス電源、１４５…管電流検出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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