(57)【要約】【課題】ラックガイド機構のサポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度を向上させる。【解決手段】観測点の変位量を検出する変位量検出センサがサポートヨークの摺動方向に沿ったラック軸の変位量を検出するように設置されており、回転駆動源がラック軸を回転させるラック軸回転駆動工程と、ラック軸回転駆動工程で変位量検出センサによって検出されたラック軸の変位量の測定値を記憶手段に蓄積させる測定値蓄積工程と、測定値蓄積工程で蓄積された測定値によって形成される波形を補正前波形ｙ（ｘ）とし、補正前波形の傾きａを補正して補正後波形ｙ’（ｘ）を取得する測定波形補正工程とを有する。【選択図】図５
2014193681.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ラック軸のラックをピニオン軸のピニオンに押し付けるラックガイド機構のサポートヨークとキャップとの間の隙間量を測定するラックガイド機構の隙間量測定方法であって、
観測点の変位量を検出する変位量検出センサが前記サポートヨークの摺動方向に沿った前記ラック軸の変位量を検出するように設置されており、回転駆動源が前記ラック軸を回転させるラック軸回転駆動工程と、
演算手段が前記ラック軸回転駆動工程で前記変位量検出センサによって検出された前記ラック軸の変位量の測定値を記憶手段に蓄積させる測定値蓄積工程と、
前記測定値蓄積工程で蓄積された前記測定値によって形成される波形を補正前波形とし、前記演算手段が当該補正前波形の傾斜を補正して補正後波形を取得する測定波形補正工程とを含む
ことを特徴とするラックガイド機構の隙間量測定方法。
【請求項２】
前記測定波形補正工程は、
前記測定値蓄積工程で蓄積されたそれぞれの前記測定値を、Ｘ軸を前記回転駆動源の駆動トルクとし、Ｙ軸を観測点の変位量とするＸＹ座標系の測定点とし、前記回転駆動源の駆動トルクがゼロになっている測定点を原点とし、前記演算手段が、当該原点とその周囲の測定値とを結ぶことにより、ゼロトルク付近の直線部分を確定する工程と、
前記演算手段が、前記Ｙ軸を中心にして、前記直線部分よりも外側に位置する前記測定点を補正対象領域の測定点として特定する工程と、
前記演算手段が、前記補正対象領域の測定点同士を結ぶことによって形成される前記補正対象領域分の前記補正前波形を前記Ｙ軸方向に延長させて、前記Ｙ軸との切片に位置する点を特定することによって、推定隙間量を取得する工程とを含む
ことを特徴とする請求項１に記載のラックガイド機構の隙間量測定方法。
【請求項３】
前記測定波形補正工程は、
さらに、前記演算手段が前記切片に位置する点を中心にして前記補正対象領域分の前記補正前波形の傾きの値を特定する工程と、
特定された前記傾きの値に基づいて、前記演算手段が前記補正対象領域分の前記補正前波形の傾斜を補正する演算を実行する工程とを含む
ことを特徴とする請求項２に記載のラックガイド機構の隙間量測定方法。
【請求項４】
前記演算を実行する工程では、
前記演算手段が、傾きの値をａとする前記補正対象領域分の前記補正前波形の直線部分に対し、前記補正対象領域分の前記補正後波形をｙ’（ｘ）とし、前記補正対象領域分の前記補正前波形をｙ（ｘ）とし、ｙ’（ｘ）＝ｙ（ｘ）−ａｘの演算を行う
ことを特徴とする請求項３に記載のラックガイド機構の隙間量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ラックガイド機構のサポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度を向上させる隙間量測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電動パワーステアリング装置を搭載した車両が、広く普及している。電動パワーステアリング装置は、電動モータ等の駆動による補助操舵力を、ステアリングホイールから操舵車輪に至るステアリング系の操舵力に与えて操舵をなす構成になっている。
【０００３】
電動パワーステアリング装置は、ステアリングホイールがステアリングシャフト及び自在軸継手を介してピニオン軸に連結されている。ピニオン軸は、ラックアンドピニオン機構を介してラック軸に連結されている。ラックアンドピニオン機構は、ピニオン軸に形成されたピニオンと、ラック軸に形成されたラックとが噛み合う構成になっている。ラックアンドピニオン機構は、ラック軸をピニオン軸に押し付けるラックガイド機構を有している。
【０００４】
ラックガイド機構は、サポートヨークでラック軸を保持し、サポートヨークを介して圧縮コイルばねでラック軸をピニオン軸に押し付ける構成になっている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
そのラックガイド機構は、サポートヨークとキャップとが当接すると、打音が発生する。そのため、ラックガイド機構は、打音が発生しないように、サポートヨークとキャップとの間に所定量の隙間が設けられている。
【０００６】
サポートヨークとキャップとの間の隙間は、所定量に設定する必要がある。そのため、ラックガイド機構のメーカは、ラックガイド機構の製造時に、サポートヨークとキャップとの間の隙間量を測定し、隙間量が所定値でない場合に、ラックガイド機構を調整する必要があった。
【０００７】
サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定は、例えば、以下のようにして行われている。まず、変位量検出センサをラック軸上の任意の観測点に設置する。変位量検出センサは、観測点の変位量を検出するセンサである。次に、回転駆動源によって駆動トルクを変えながらラック軸を回転させ、同時に、変位量検出センサによってラック軸の変位量を検出する。このとき、ラック軸がラックガイド機構のサポートヨークをキャップ側に押圧する。このとき、サポートヨークは、キャップ側に移動し、キャップに突き当たると、移動が停止する。ラック軸は、このようなサポートヨークの動きに応じて観測点が変位する。そのため、変位量検出センサによって検出されたラック軸の変位量の測定値の波形からラック軸の変位量（転び量）を確認することによって、サポートヨークとキャップとの間の隙間量を測定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】実開平２−３３７８０号公報（第３図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、従来の隙間量測定方法は、以下に説明するように、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度にバラツキが発生し易い、という課題があった。
【００１０】
例えば、従来の隙間量測定方法は、変位量検出センサがサポートヨークとキャップとの間の隙間量を最も正確に測定することができるラックガイド機構からずらされた位置に設置されている。そのため、ラック軸は、ラックガイド機構と変位量検出センサとの間で捻れが発生する。
【００１１】
従来の隙間量測定方法は、その捻れの影響を受けるため、変位量検出センサの測定値が実際の隙間量と異なってしまう。その結果、従来の隙間量測定方法は、変位量検出センサの測定値によって形成されるラック軸の変位量の波形が傾斜して現れる。これにより、従来の隙間量測定方法は、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度にバラツキが発生し易くなっていた。
【００１２】
本発明は、前記した課題を解決するためになされたものであり、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度を向上させるラックガイド機構の隙間量測定方法を提供することを主な目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記目的を達成するため、本発明は、ラック軸のラックをピニオン軸のピニオンに押し付けるラックガイド機構のサポートヨークとキャップとの間の隙間量を測定するラックガイド機構の隙間量測定方法であって、観測点の変位量を検出する変位量検出センサが前記サポートヨークの摺動方向に沿った前記ラック軸の変位量を検出するように設置されており、回転駆動源が前記ラック軸を回転させるラック軸回転駆動工程と、演算手段が前記ラック軸回転駆動工程で前記変位量検出センサによって検出された前記ラック軸の変位量の測定値を記憶手段に蓄積させる測定値蓄積工程と、前記測定値蓄積工程で蓄積された前記測定値によって形成される波形を補正前波形とし、前記演算手段が当該補正前波形の傾斜を補正して補正後波形を取得する測定波形補正工程とを含む構成とする。
【００１４】
本発明に係る隙間量測定方法は、測定波形補正工程で補正前波形の傾斜を補正して補正後波形を取得する。これにより、本発明に係る隙間量測定方法は、隙間量の測定精度のバラツキの少ない補正後波形を取得することができ、その結果、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の隙間量の測定精度を向上させることができる。
【００１５】
本発明に係る隙間量測定方法の前記測定波形補正工程は、前記測定値蓄積工程で蓄積されたそれぞれの前記測定値を、Ｘ軸を前記回転駆動源の駆動トルクとし、Ｙ軸を観測点の変位量とするＸＹ座標系の測定点とし、前記回転駆動源の駆動トルクがゼロになっている測定点を原点とし、前記演算手段が、当該原点とその周囲の測定値とを結ぶことにより、ゼロトルク付近の直線部分を確定する工程と、前記演算手段が、前記Ｙ軸を中心にして、前記直線部分よりも外側に位置する前記測定点を補正対象領域の測定点として特定する工程と、前記演算手段が、前記補正対象領域の測定点同士を結ぶことによって形成される前記補正対象領域分の前記補正前波形を前記Ｙ軸方向に延長させて、前記Ｙ軸との切片に位置する点を特定することによって、推定隙間量を取得する工程とを含むとよい。
これにより、この隙間量測定方法は、切片のＹ軸値に基づいて推定隙間量を取得することができる。
【００１６】
この隙間量測定方法の前記測定波形補正工程は、さらに、前記演算手段が前記切片に位置する点を中心にして前記補正対象領域分の前記補正前波形の傾きの値を特定する工程と、特定された前記傾きの値に基づいて、前記演算手段が前記補正対象領域分の前記補正前波形の傾斜を補正する演算を実行する工程とを含むとよい。
これにより、この隙間量測定方法は、補正前波形の傾斜が補正された補正後波形の取得を実現することができる。
【００１７】
この隙間量測定方法の前記演算を実行する工程では、前記演算手段が、傾きの値をａとする前記補正対象領域分の前記補正前波形の直線部分に対し、前記補正対象領域分の前記補正後波形をｙ’（ｘ）とし、前記補正対象領域分の前記補正前波形をｙ（ｘ）とし、ｙ’（ｘ）＝ｙ（ｘ）−ａｘの演算を行うとよい。
これにより、この隙間量測定方法は、補正後波形ｙ’（ｘ）を容易に取得することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度を向上させるラックガイド機構の隙間量測定方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】測定対象のラックガイド機構を搭載する電動パワーステアリング装置の概略構成図である。
【図２】測定対象のラックガイド機構の構成図である。
【図３】変位量検出センサの設置位置を示す図である。
【図４】変位量検出センサによって取得されるラック軸の変位量の波形の説明図である。
【図５】実施形態に係る隙間量測定方法によって取得されるラック軸の変位量の波形の説明図である。
【図６Ａ】実施形態に係る隙間量測定方法の工程を示すフローチャート（１）である。
【図６Ｂ】実施形態に係る隙間量測定方法の工程を示すフローチャート（２）である。
【図７Ａ】実施形態に係る隙間量測定方法の説明図（１）である。
【図７Ｂ】実施形態に係る隙間量測定方法の説明図（２）である。
【図７Ｃ】実施形態に係る隙間量測定方法の説明図（３）である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態（以下、「本実施形態」と称する）につき詳細に説明する。なお、各図は、本発明を十分に理解できる程度に、概略的に示してあるに過ぎない。よって、本発明は、図示例のみに限定されるものではない。また、各図において、共通する構成要素や同様な構成要素については、同一の符号を付し、それらの重複する説明を省略する。
【００２１】
＜電動パワーステアリング装置の構成＞
まず、図１を参照して、測定対象のラックガイド機構１０（図２参照）を搭載する電動パワーステアリング装置１の概略構成につき説明する。図１は、電動パワーステアリング装置１の概略構成図である。ここでは、電動パワーステアリング装置１がベルト・ラック・アシスト式の装置であるものとして説明する。
【００２２】
図１に示すように、電動パワーステアリング装置１は、ベルト伝動機構２を介して電動モータ８の駆動による補助操舵力を、ステアリングホイール３から操舵車輪７に至るステアリング系の操舵力に与えて操舵をなす構成になっている。
【００２３】
具体的には、ステアリングホイール３は、ステアリングシャフト４ａ及び自在軸継手４ｂを介してピニオン軸４ｃに連結されている。ピニオン軸４ｃは、ラックアンドピニオン機構５を介してラック軸６に連結されている。ラックアンドピニオン機構５は、ピニオン軸４ｃに形成されたピニオン５ａと、ラック軸６に形成されたラック５ｂとが噛み合う構成になっている。ラック軸６は、タイロッド及びナックル等の機構を介して左右の操舵車輪７に連結されている。
【００２４】
運転者は、ステアリングホイール３を操舵することにより、ステアリングホイール３から操舵車輪７に至るステアリング系の操舵力によって左右の操舵車輪７を操舵する。その際に、電動パワーステアリング装置１は、ステアリング系の操舵力を図示せぬトルク検出装置で検出して、検出された操舵力に応じた補助操舵力を電動モータ８で発生させる。そして、電動パワーステアリング装置１は、ベルト伝動機構２を介して電動モータ８の駆動による補助操舵力を、ラック軸６に伝達する。これにより、電動パワーステアリング装置１は、電動モータ８の駆動による補助操舵力を、ステアリング系の操舵力に与えて操舵をなす。
【００２５】
＜ラックガイド機構の構成＞
次に、図２を参照して、測定対象のラックガイド機構１０の構成につき説明する。図２は、ラックガイド機構１０の構成図である。ここでは、「前（先）」と「後」との位置関係は、キャップ１５の取り付け方向を基準にしているものとして説明する。
【００２６】
図２に示すように、ラックアンドピニオン機構５の周囲には、ラック軸６とピニオン軸４ｃとの噛合状態を維持するラックガイド機構１０が設けられている。
【００２７】
ラックガイド機構１０は、サポートヨーク１３によってラック軸６を保持する構成になっている。サポートヨーク１３は、ハウジング１１に形成されたシリンダ部１２の内部に摺動自在に配置されている。
【００２８】
サポートヨーク１３は、胴体部分７１が円筒状に形成されている。シリンダ部１２は、そのサポートヨーク１３が摺動可能なように円形孔状に形成されている。サポートヨーク１３及びその周囲のハウジング１１は、ともに、鉄やアルミニウム等の金属によって構成されている。したがって、サポートヨーク１３とハウジング１１とは、互いが当接すると、傷が付いてしまう。そのため、サポートヨーク１３とハウジング１１とは、互いが当接しないようにする必要がある。そこで、サポートヨーク１３は、その胴体部分７１の外径がシリンダ部１２の内径よりも小径に形成されている。これにより、隙間１６ａが、サポートヨーク１３の胴体部分７１とシリンダ部１２との間に設けられている。
【００２９】
サポートヨーク１３は、Ｏリング１７が胴体部分７１の外周に装着されている。Ｏリング１７は、隙間１６ａを封止して、異物がＯリング１７よりもラックアンドピニオン機構５側に進入するのを防止する。
【００３０】
シリンダ部１２は、ハウジング１１の内部の、ラック軸６の一端を挟んでピニオン軸４ｃと相対する位置に、ピニオン軸４ｃの中心軸に対して垂直に交差する方向に延伸して設けられている。シリンダ部１２は、開口端部が、キャップ１５によって封止されている。シリンダ部１２とキャップ１５とは、図示せぬ雌ねじと雄ねじとが、互いの当接部分に設けられている。
【００３１】
ラックガイド機構１０は、キャップ１５がサポートヨーク１３と当接していると、高周波振動や衝撃荷重がサポートヨーク１３とキャップ１５との間で伝達されるため、サポートヨーク１３とキャップ１５との間やラック５ｂとピニオン５ａとの間等で打音が発生する。したがって、キャップ１５は、打音が発生しないように、所定の隙間１６ｂがキャップ１５とサポートヨーク１３との間に設けられている。
【００３２】
サポートヨーク１３は、先端側（ラック軸６側）でラック軸６を保持する構成になっている。また、サポートヨーク１３は、その内部の後端側（キャップ１５側）に、圧縮コイルばね１４を収容するばね収容部１８が設けられている。
【００３３】
圧縮コイルばね１４は、サポートヨーク１３をラック軸６側に押圧する付勢部材である。圧縮コイルばね１４は、ばね収容部１８の内部に配置されている。圧縮コイルばね１４は、キャップ１５によって背面支持されており、サポートヨーク１３の摺動方向に圧縮伸長することにより、サポートヨーク１３をラック軸６の方向に押圧する。その結果、圧縮コイルばね１４は、サポートヨーク１３を介してラック軸６をピニオン軸４ｃに押し付けて、ラック５ｂとピニオン５ａとの噛合状態を維持するとともに、ラック軸６の一端を摺動自在に支持する。
【００３４】
＜隙間量の測定＞
サポートヨーク１３とキャップ１５との間の隙間１６ｂは、所定量に設定する必要がある。そのため、ラックガイド機構１０のメーカは、ラックガイド機構１０の製造時に、サポートヨーク１３とキャップ１５との間の隙間量を測定する必要がある。
【００３５】
本実施形態では、サポートヨーク１３とキャップ１５との間の隙間量の測定は、以下のようにして行われる。
【００３６】
まず、ラックガイド機構１０が設けられたハウジング１１を図示せぬ支持台に固定する。このとき、ラック軸６は、一端側が回転自在に支持され、また、他端側が回転駆動源ＰＷ（図３参照）に連結される。
【００３７】
次に、図３に示すように、変位量検出センサＳＮを、ラック軸６上の観測点Ｐ２に設置する。図３は、変位量検出センサＳＮの設置位置を示す図である。変位量検出センサＳＮは、観測点の変位量を検出するセンサである。変位量検出センサＳＮは、サポートヨーク１３の摺動方向に沿ったラック軸６の変位量を検出するように、観測点Ｐ２に設置される。本実施形態では、観測点Ｐ２は、後記する観測点Ｐ１から回転駆動源ＰＷ側に距離Ｗ分だけずらされた位置に設定されている。
【００３８】
ここで、隙間１６ｂの正確な隙間量を測定するための最も好ましい観測点Ｐ１は、ラックガイド機構１０のサポートヨーク１３（図２参照）の中心軸付近の位置である。しかしながら、観測点Ｐ１は、キャップ１５を取り付けた状態でしか隙間１６ｂを測定できない。そして、観測点Ｐ１は、変位量検出センサＳＮの設置や回収のためにキャップ１５を取り外すことで、測定不能となる。そのため、変位量検出センサＳＮの設置や回収が容易に行える点では、観測点Ｐ２の方が、観測点Ｐ１よりも好ましい。
【００３９】
次に、回転駆動源ＰＷによって駆動トルクを変えながらラック軸６をＣＷ（＋）の方向又はＣＣＷ（−）の方向（図３（ａ）参照）に回転させ、同時に、変位量検出センサＳＮによってラック軸６の変位量を検出する。このとき、ラック軸６は、ラック５ｂがピニオン軸４ｃのピニオン５ａと噛み合っており、そのピニオン軸４ｃが高強度な金属製の部材であるため、サポートヨーク１３をキャップ１５の方向に押圧する。
【００４０】
このとき、サポートヨーク１３は、回転駆動源ＰＷからラック軸６にかかる駆動トルクの値に応じて、キャップ１５の方向に移動する。そして、サポートヨーク１３は、駆動トルクの値がサポートヨーク１３をキャップ１５に突き当てさせる値になると、キャップ１５に突き当たる。これにより、サポートヨーク１３は、移動が停止する。ラック軸６は、このようなサポートヨーク１３の動きに応じて、観測点が変位する。
【００４１】
そのため、図４に示すように、変位量検出センサＳＮによって検出されたラック軸６の変位量の測定値をプロットして、プロットされた波形に基づいて、ラック軸６の変位量（転び量）を確認することによって、サポートヨーク１３とキャップ１５との間の隙間量（隙間１６ｂの隙間量）を測定することができる。
【００４２】
例えば、図４に示す例では、０トルク（Ｎｍ）付近で大きく変位している変位量Ｔ１６ｂがサポートヨーク１３とキャップ１５との間の推定の隙間量（隙間１６ｂの推定の隙間量）となる。以下、変位量Ｔ１６ｂを「推定隙間量Ｔ１６ｂ」と称する。
【００４３】
なお、図４は、変位量検出センサＳＮによって取得されるラック軸６の変位量の波形の説明図である。図４（ａ）は、最も好ましい観測点Ｐ１で測定した場合に得られる波形の一例を示している。一方、図４（ｂ）は、観測点Ｐ２で測定した場合に得られる波形の一例を示している。図４は、測定値を、Ｘ軸を回転駆動源ＰＷの駆動トルクとし、Ｙ軸を観測点の変位量とするＸＹ座標系の測定点として示している。また、図４は、回転駆動源ＰＷの駆動トルクがゼロになっている測定点を原点としている。
【００４４】
なお、ラック軸６は、サポートヨーク１３がキャップ１５に突き当たって停止した後も、サポートヨーク１３を押圧し続ける。そのため、ラック軸６には、捻れが発生する。そのラック軸６の捻れは、駆動トルクの値が大きくなるほど、大きくなる。ただし、ラック軸６の捻れは、サポートヨーク１３が移動している間も発生するが、その値は小さいため、ここでは除外して説明する。
【００４５】
本実施形態では、変位量検出センサＳＮは、最も好ましい観測点Ｐ１からずらされた位置である観測点Ｐ２に設置されている。そのため、変位量検出センサＳＮの測定値は、観測点Ｐ１と観測点Ｐ２との間で発生する捻れの影響を受ける。これにより、変位量検出センサＳＮの測定値は、実際の隙間１６ｂの隙間量と異なってしまう。
【００４６】
具体的には、変位量検出センサＳＮの測定値は、実際の隙間１６ｂの隙間量に起因するラック軸６の変位量（転び量）と、ラック軸６の捻れ量（曲がり量）とが重畳された値となる。
【００４７】
その結果、変位量検出センサＳＮの測定値によって形成されるラック軸６の変位量の波形は、図４（ａ）に示す観測点Ｐ１で測定した場合に得られる波形（実際の隙間１６ｂの隙間量の波形）に対して、図４（ｂ）に示すように、傾斜して現れる。
【００４８】
そこで、本実施形態では、図５に示すように、観測点Ｐ２で測定した結果得られた、変位量検出センサＳＮの測定値によって形成される波形を補正前波形ｙ（ｘ）とし、補正前波形ｙ（ｘ）の傾斜を補正して補正後波形ｙ’（ｘ）を取得する。図５は、本実施形態に係る隙間量測定方法によって取得されるラック軸６の変位量の波形の説明図である。
【００４９】
本実施形態に係る隙間量測定方法は、例えば、コンピュータ（演算手段）が予め用意されたプログラムを実行して、図６Ａ及び図６Ｂに示す工程が行われることによって実現される。図６Ａ及び図６Ｂは、それぞれ、本実施形態に係る隙間量測定方法の工程を示すフローチャートである。
【００５０】
図６Ａに示すように、本実施形態に係る隙間量測定方法では、まず、センサ設置工程（Ｓ１０５）が行われる。Ｓ１０５のセンサ設置工程では、ラックガイド機構１０が設けられたハウジング１１を図示せぬ支持台に固定するとともに、変位量検出センサＳＮを観測点Ｐ２に設置する。
【００５１】
次に、ラック軸回転駆動工程（Ｓ１１０）と測定値蓄積工程（Ｓ１１５）とが行われる。Ｓ１１０のラック軸回転駆動工程とＳ１１５の測定値蓄積工程とでは、図示せぬコンピュータ（演算手段）が、回転駆動源ＰＷを作動させて、駆動トルクを変えながら、ラック軸６をＣＷ（＋）の方向又はＣＣＷ（−）の方向（図３（ａ）参照）に回転させる。その後、同様に、コンピュータが、駆動トルクを変えながら、ラック軸６を前回とは逆方向に回転させる。
【００５２】
この間、変位量検出センサＳＮは、ラック軸６の変位量に応じた値の出力信号をコンピュータに出力する。コンピュータは、変位量検出センサＳＮからの出力信号の値に基づいて、ラック軸６の変位量の測定値を検出し、図示せぬ記憶手段に蓄積させる。
【００５３】
次に、測定波形補正工程（Ｓ１２０）が行われる。Ｓ１２０の測定波形補正工程では、コンピュータは、Ｓ１１５の測定値蓄積工程で蓄積された測定値によって形成される波形を補正前波形ｙ（ｘ）とし、補正前波形ｙ（ｘ）の傾斜を補正して補正後波形ｙ’（ｘ）を取得する。
【００５４】
Ｓ１２０の測定波形補正工程は、例えば、図６Ｂに示す工程が行われることによって実現される。
【００５５】
図６Ｂに示すように、まず、ゼロトルク付近の直線確定工程（Ｓ１２０５）が行われる。Ｓ１２０５のゼロトルク付近の直線確定工程では、図７Ａに示すように、コンピュータが、回転駆動源ＰＷの駆動トルクがゼロになっている測定点を原点とし、原点とその周囲の測定値とを結ぶことにより、ゼロトルク付近の直線部分の線Ｌ１０，Ｌ２０を確定する。なお、図７Ａ〜図７Ｃは、実施形態に係る隙間量測定方法の説明図である。
【００５６】
次に、補正対象領域の測定点特定工程（Ｓ１２１０）が行われる。Ｓ１２１０の補正対象領域の測定点特定工程では、図７Ａに示すように、コンピュータが、直線部分の線Ｌ１０，Ｌ２０よりも外側（矢印の方向側）に位置する測定点を補正対象領域Ｒｔの測定点として特定する。
【００５７】
次に、ゼロトルクでのＹ軸切片特定工程（推定隙間量取得工程）（Ｓ１２１５）が行われる。Ｓ１２１５のゼロトルクでのＹ軸切片特定工程では、図７Ｂに示すように、コンピュータが、補正対象領域Ｒｔのいずれかの測定点同士を結ぶことによって形成される補正対象領域Ｒｔ分の補正前波形Ｌ６０及び補正前波形Ｌ７０のいずれか一方又は双方をＹ軸方向に延長させて、Ｙ軸との切片に位置する点Ｍ２を特定する。この後、コンピュータは、点Ｍ２のＹ軸値に基づいて推定隙間量Ｔ１６ｂを取得する。変位量Ｔ１６ｂは、図７Ｂに示すように、原点Ｍ１からの点Ｍ２の変位量となる。原点Ｍ１は、駆動トルクの値がゼロで、変位量の値が０（ｍｍ）となっている。
【００５８】
なお、図７Ｂに示す例では、補正前波形Ｌ６０は、測定点Ｍ６１と測定点Ｍ６２とを結ぶことによって形成されており、また、補正前波形Ｌ７０は、測定点Ｍ７１と測定点Ｍ７２とを結ぶことによって形成されている。
【００５９】
次に、補正対象領域の傾き特定工程（Ｓ１２２０）が行われる。Ｓ１２２０の補正対象領域の傾き特定工程では、図７Ｂに示すように、コンピュータが、切片に位置する点Ｍ２を中心にして補正対象領域Ｒｔ分の補正前波形Ｌ６０及び補正前波形Ｌ７０のいずれか一方又は双方の傾きの値を特定する。図７Ｂに示す例では、コンピュータは補正前波形Ｌ７０の傾きの値ａを特定している。
【００６０】
次に、補正演算実行工程（補正演算値取得工程）（Ｓ１２２５）が行われる。Ｓ１２２５の補正演算実行工程では、図７Ｃに示すように、コンピュータが、Ｓ１２２０で特定された傾きの値に基づいて、補正対象領域Ｒｔ分の補正前波形Ｌ６０及び補正前波形Ｌ７０のいずれか一方又は双方の傾斜を補正する演算を実行する。
【００６１】
その結果、コンピュータは、観測点Ｐ２で測定された補正前波形ｙ（ｘ）に対し、補正前波形ｙ（ｘ）の傾斜が補正された補正後波形ｙ’（ｘ）を取得することができる。
このようにして、図６Ａ及び図６Ｂに示すＳ１２０の測定波形補正工程が行われる。
【００６２】
この後、図６Ａに示す補正波形プロット工程（Ｓ１２５）が行われる。Ｓ１２５の補正波形プロット工程では、コンピュータは、Ｓ１２０の測定波形補正工程で取得された補正後波形ｙ’（ｘ）を、図示せぬプロッターにプロットさせる（又は、図示せぬプリンタに印刷させる）。
【００６３】
隙間量の測定作業者は、プロットされた補正後波形ｙ’（ｘ）の波形に基づいて、ラック軸６の変位量（転び量）を確認することによって、サポートヨーク１３とキャップ１５との間の隙間量（隙間１６ｂの隙間量）を測定することができる。その補正後波形ｙ’（ｘ）の波形は、補正前波形のｙ（ｘ）の傾斜が補正されているため、測定精度のバラツキの少ない波形となっている。その結果、本実施形態に係る隙間量測定方法は、隙間量の測定精度を向上させることができる。
【００６４】
以上の通り、本実施形態に係るラックガイド機構の隙間量測定方法によれば、サポートヨークとキャップとの間の隙間量の測定精度を向上させることができる。
【００６５】
本発明は、前記した実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更や変形を行うことができる。
【００６６】
例えば、本実施形態では、補正対象領域Ｒｔ分の補正前波形ｙ（ｘ）がほぼ直線状になっている場合を想定して説明している。しかしながら、補正対象領域Ｒｔ分の補正前波形ｙ（ｘ）は、放物線状になっている場合もある。コンピュータは、放物線の傾斜の補正にも対応したプログラムを予め用意しておき、そのプログラムを適宜実行するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００６７】
４ｃ    ピニオン軸
５    ラックアンドピニオン機構
５ａ    ピニオン
５ｂ    ラック
６    ラック軸
１０    ラックガイド機構
１３    サポートヨーク
１５    キャップ
１６ａ，１６ｂ    隙間
ａ    傾き
ＰＷ    回転駆動源
Ｒｃ    補正除外領域
Ｒｔ    補正対象領域
ＳＮ    変位量検出センサ
ｙ（ａ）    補正前波形
ｙ’（ａ）    補正後波形
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図７Ｃ】
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