(57)【要約】      （修正有）【課題】再生信号の復号精度の低下を防止する。【解決手段】半導体装置は、光ディスクの再生信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、デジタル信号に変換された再生信号を所望の特性に等化する波形等化部とを有する。半導体装置は更に、等化された再生信号を複数の振幅基準値１２５に基づいてビタビ復号を行うビタビ復号部と、等化された再生信号の信号レベルに追従して振幅基準値を更新するための更新部１０８とを有する。更新部は、振幅基準値を更新するとき、前記等化された再生信号の信号レベルと前記振幅基準値との誤差が第１閾値よりも小さい場合には、第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に対して追従しないようにする。【選択図】図３
2014175024.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録された情報を再生するための半導体装置であって、
前記光ディスクを再生することによって得られる再生信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、
前記デジタル信号に変換された再生信号を所望の特性に等化する波形等化部と、
前記等化された再生信号を、複数の振幅基準値に基づいてビタビ復号を行うビタビ復号部と、
前記等化された再生信号の信号レベルに追従して前記振幅基準値を更新するための更新部と、を有し、
前記更新部は、前記振幅基準値を更新するとき、前記等化された再生信号の信号レベルと前記振幅基準値との誤差が第１閾値よりも小さい場合には、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に対して追従しないようにする、半導体装置。
【請求項２】
前記更新部は、前記誤差が前記第１閾値よりも小さい状態が所定期間継続したら、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する、請求項１に記載の半導体装置。
【請求項３】
前記更新部は、前記誤差が前記第１閾値よりも大きい第２閾値を超えたら、前記等化された再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する、請求項２に記載の半導体装置。
【請求項４】
前記更新部は、前記振幅基準値を生成するための基準値生成部を複数有し、
夫々の前記基準値生成部は、前記ビタビ復号部による復号結果に応じて前記等化された再生信号を取り込む入力部と、
前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベルと前記振幅基準値とのずれ量に基づいて、信号レベルを示す振幅データを生成する判定部と、
前記判定部によって生成された前記振幅データを平均化することによって前記振幅基準値を生成するフィルタ部と、を有し、
前記判定部は、前記ずれ量が前記第１閾値よりも大きい場合には、前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベルに応じた前記振幅データを出力し、前記ずれ量が前記第１閾値よりも小さい状態が前記所定期間継続した場合には、前記フィルタ部によって生成された前記振幅基準値に応じた前記振幅データを出力する、請求項３に記載の半導体装置。
【請求項５】
前記判定部は、前記ずれ量が前記第２閾値よりも小さく且つ前記第１閾値よりも大きい場合には、前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベルに応じた前記振幅データを出力し、前記ずれ量が前記第２閾値よりも大きい場合には、前記フィルタ部によって生成された前記振幅基準値に応じた前記振幅データを出力する、請求項４に記載の半導体装置。
【請求項６】
プログラム処理を実行するデータ処理制御部と、
前記データ処理制御部によってアクセス可能にされ、前記第１閾値の情報を格納するための第１記憶部と、
前記データ処理制御部によってアクセス可能にされ、前記第２閾値の情報を格納するための第２記憶部と、を更に有し、
前記判定部は、前記第１記憶部及び前記第２記憶部に格納された情報を用いて、前記振幅データの生成を行う、請求項５に記載の半導体装置。
【請求項７】
ビタビ復号によって、光ディスクに記録された情報に応じた再生信号を復号するための半導体装置であって、
前記ビタビ復号に用いられる振幅基準値を前記再生信号に追従して更新することが可能にされ、
前記振幅基準値が収束したと判断したら、前記振幅基準値との誤差が所定値より小さい再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する、半導体装置。
【請求項８】
前記振幅基準値と前記再生信号とのずれ量が第１閾値より小さい状態が所定期間継続したら、前記振幅基準値が収束したと判断する、請求項７に記載の半導体装置。
【請求項９】
前記ずれ量が前記第１閾値よりも大きい第２閾値を超えたら、前記再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する、請求項８に記載の半導体装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の半導体装置と、
光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光の光量に基づいて生成した前記再生信号を前記半導体装置に与える光ピックアップ部と、を備える光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置及び光ディスク装置に関し、特に光ディスクに記録された情報を再生するための半導体装置に適用して有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ；登録商標。以下同じ）やＢＤＸＬ（登録商標。以下同じ）の光ディスクを再生するための光ディスク装置において、光ディスクに記録された情報を再生するための再生信号処理方式として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式が多く採用されている。ＰＲＭＬ方式は、再生信号の再生波形に近いＰＲ特性に波形等化を行うＰＲ等化処理と、等化波形と目標波形とを比較し、最も確からしい信号波形を選択する最尤復号処理とによって信号を復号する技術である。一般に、最尤復号処理を行う復号回路として、最尤復号回路の１つであるビタビ復号回路が用いられている。
【０００３】
ビタビ復号回路は、等化波形の信号レベルを判定するための振幅基準値に基づいて復号を行う。光ディスク装置に適用されるビタビ復号回路として、固定の振幅基準値を用いるビタビ復号回路と、再生信号の信号レベルに応じて適応的に振幅基準値を更新するビタビ復号回路（以下、適応ビタビ復号回路とも称する。）が知られている。適応ビタビ復号回路を適用した光ディスク装置の一例として、特許文献１や特許文献２に開示がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１７８６２７号公報
【特許文献２】特開２００３−１２３４０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許文献１、２に記載された適応ビタビ復号回路のように、等化された再生信号の信号レベルに追従させて振幅基準値を更新することにより、多くの場合、復号精度を向上させることができる。しかしながら、本願発明者が検討したところによれば、ノイズ等により再生信号の信号レベルがばらついたり、光ディスクの記録面についた汚れや傷などの欠陥によって再生信号が大きく変動したりすると、それに追従して振幅基準値も変動してしまい、逆に復号精度が悪化する虞がある。特に、ＢＤよりも高密度化したＢＤＸＬでは、再生信号のばらつき等による振幅基準値の不安定性によって、復号演算における誤りの発生率が高まる虞がある。すなわち、ＢＤＸＬは、光学系を変えずにデータのビット長を詰めることでＢＤよりも高密度化を図ったものであるため、ＢＤよりも符号間干渉が大きい。そのため、ＢＤＸＬでは、再生信号処理として、拘束長５のＰＲＭＬ方式を適用することが必須となっている。拘束長５のＰＲＭＬ方式を適用したＢＤの再生処理では、拘束長４のＰＲＭＬ方式を用いるのが最適とされるＢＤの再生処理に比べて、ビタビ復号における振幅基準値の数が多く、振幅基準値同士のレベルの差が小さくなる。そのため、ＢＤＸＬは、ＢＤに比べて、再生信号のばらつき等の微小な変動に追従して振幅基準値が変動することにより、復号精度が低下する虞がある。
【０００６】
上記問題を解決するために、振幅基準値の個数に応じて、再生信号をアナログ・デジタル変換するためのＡ／Ｄ変換器の分解能を上げて高精度化したり、ＰＲＭＬの再生信号処理時の分解能を上げたりする方法も考えられるが、回路規模の大幅な増加によりコストアップを招く。
【０００７】
また、上記特許文献２には、光ディスクから読み出された再生信号として、復号対象のデータに応じた再生信号と、ＰＬＬ回路の引き込み等に利用されるＶＦＯの反復パターンに応じた再生信号とがあることに着目し、ＶＦＯの反復パターン（４Ｔの波形）に応じた再生信号が検出された場合に、適応型ビタビ復号回路における振幅基準値の算出を停止する構成が開示されている。しかしながら、特許文献２の構成は、再生信号の反復パターンを検出するものであり、再生信号のばらつき等による変動を検出するものではないため、上記の問題を解決することはできない。
【０００８】
このような課題を解決するための手段等を以下に説明するが、その他の課題と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本願において開示される実施の形態のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記のとおりである。
【００１０】
すなわち、本半導体装置は、光ディスクの再生信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、デジタル信号に変換された再生信号を所望の特性に等化する波形等化部と、等化された再生信号を複数の振幅基準値に基づいてビタビ復号を行うビタビ復号部と、等化された再生信号の信号レベルに追従して振幅基準値を更新するための更新部とを有する。前記更新部は、前記振幅基準値を更新するとき、前記等化された再生信号の信号レベルと前記振幅基準値との誤差が第１閾値よりも小さい場合には、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に対して追従しないようにする。
【発明の効果】
【００１１】
本願において開示される実施の形態のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
【００１２】
すなわち、本半導体装置によれば、再生信号の復号精度の低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】光ディスクに記録された情報を再生するための半導体装置を搭載した光ディスク装置の一例を示すブロック図である。
【図２】ビタビ復号回路１０７における復号処理で用いられる振幅基準値を例示する図である。
【図３】基準値更新回路１０８の内部構成を例示する図である。
【図４】判定部１３８の内部構成を例示する図である。
【図５】判定部１３８における誤差ΔＶの判定方法を例示する説明図である。
【図６】ＢＤから読み出された再生ＲＦ信号の波形例を示す説明図である。
【図７】ＢＤＸＬから読み出された再生ＲＦ信号の波形例を示す説明図である。
【図８】実施の形態２に係る判定部２３８の内部構成を例示する図である。
【図９】実施の形態３に係る判定部３３８の内部構成を例示する図である。
【図１０】判定部３３８における誤差ΔＶの判定方法を例示する説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
【００１５】
〔１〕（第１閾値よりも小さい誤差を持つ再生信号に対して追従しないようにするビタビ復号回路を備えた光ディスク再生用の半導体装置）
本願の代表的な実施の形態に係る、光ディスク（１０１）に記録された情報を再生するための半導体装置（１０）は、前記光ディスクを再生することによって得られる再生信号（１２１）をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部（１０５）と、前記デジタル信号に変換された再生信号（１２２）を所望の特性に等化する波形等化部（１０６）と、を有する。本半導体装置は、前記等化された再生信号を、複数の振幅基準値（１２５）に基づいてビタビ復号を行うビタビ復号部（１０７）と、前記等化された再生信号の信号レベルに追従して前記振幅基準値を更新するための更新部（１０８）と、を更に有する。前記更新部は、前記振幅基準値を更新するとき、前記等化された再生信号の信号レベルと前記振幅基準値との誤差（ΔＶ）が第１閾値（ＶＴＨ１）よりも小さい場合には、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に対して追従しないようにする。
【００１６】
これによれば、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ再生信号に振幅基準値を追従させないので、例えば、ばらつき等の再生信号の微小な変動に伴って振幅基準値が不安定になることを防ぐことができる。これにより、前記アナログ・デジタル変換部の高精度化等によってコストを大幅に増大させることなく、復号精度の悪化を抑えることができ、光ディスク装置の再生性能を向上させることができる。
【００１７】
〔２〕（誤差が小さい状態が継続したら再生信号に追従した振幅基準値の更新を停止）
項１の半導体装置において、前記更新部は、前記誤差が前記第１閾値よりも小さい状態が所定期間（５００）継続したら、前記第１閾値よりも小さい誤差を持つ前記等化された再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する。
【００１８】
これによれば、瞬間的に前記誤差が第１閾値よりも小さくなったような状態には反応せず、振幅基準値が一定の値に収束したと判断可能な状態になった後に、再生信号に追従した振幅基準値の更新を停止することができるから、より精度の高い振幅基準値の生成が可能となる。
【００１９】
〔３〕（再生信号の大きな変動に追従しない）
項２の半導体装置において、前記更新部は、前記誤差が前記第１閾値よりも大きい第２閾値（ＶＴＨ２）を超えたら、前記等化された再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する。
【００２０】
これによれば、前記誤差の大きさ（振幅基準値に対する再生信号の変化量）によって再生信号の異常状態を検出することができるから、再生信号が所定期間、最大振幅レベルに張り付いたり、ゼロレベルに張り付いたりする場合以外に、瞬間的に再生信号が大きく変動した場合も異常状態として検出することができる。これにより、例えば光ディスクに付着した指紋や傷等の欠陥に起因する再生信号の大きな乱れに追従して振幅基準値が更新されないようにすることができるので、より安定した振幅基準値の生成が可能となる。
【００２１】
〔４〕（更新部の詳細；第１閾値との比較）
項３の半導体装置において、前記更新部は、前記振幅基準値を生成するための基準値生成部（１３６＿１〜１３６＿１６）を複数有する。夫々の前記基準値生成部は、前記ビタビ復号部による復号結果（１２４）に応じて前記等化された再生信号（１２３）を取り込む入力部（１３７）と、前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベル（１４０）と前記振幅基準値（１２５）とのずれ量に基づいて、信号レベルを示す振幅データ（１４１）を生成する判定部（１３８）とを有する。夫々の前記基準値生成部は、前記判定部によって生成された前記振幅データを平均化することによって前記振幅基準値を生成するフィルタ部（１３９）を更に有する。前記判定部は、前記ずれ量が前記第１閾値よりも大きい場合には、前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベルに応じた前記振幅データを出力し、前記ずれ量が前記第１閾値よりも小さい状態が前記所定期間継続した場合には、前記フィルタ部によって生成された前記振幅基準値に応じた前記振幅データを出力する。
【００２２】
これによれば、前記振幅基準値とのずれ量が前記第１閾値よりも大きいか否かによって、再生信号に追従した前記振幅基準値の更新の可否を制御することが容易となる。
【００２３】
〔５〕（更新部の詳細；第２閾値との比較）
項４の半導体装置において、前記判定部は、前記ずれ量が前記第２閾値よりも小さく且つ前記第１閾値よりも大きい場合には、前記入力部によって取り込まれた再生信号の信号レベルに応じた前記振幅データを出力し、前記ずれ量が前記第２閾値よりも大きい場合には、前記フィルタ部によって生成された前記振幅基準値に応じた前記振幅データを出力する。
【００２４】
これによれば、前記振幅基準値とのずれ量が前記第２閾値よりも大きいか否かによって、再生信号に追従した前記振幅基準値の更新の可否を制御することが容易となる。
【００２５】
〔６〕（第１閾値及び第２閾値を格納するためのレジスタ）
項２乃至５の何れかの半導体装置は、プログラム処理を実行するデータ処理制御部（１１１）と、前記データ処理制御部によってアクセス可能にされ、前記第１閾値の情報を格納するための第１記憶部（４０２）と、前記データ処理制御部によってアクセス可能にされ、前記第２閾値の情報を格納するための第２記憶部（４１０）と、を更に有する。前記判定部は、前記第１記憶部及び前記第２記憶部に格納された情報を用いて、前記振幅データの生成を行う。
【００２６】
これによれば、前記第１閾値と前記第２閾値を必要に応じて調整することが容易となる。
【００２７】
〔７〕（振幅基準値が収束したら、振幅基準値との誤差が所定値より小さい再生信号に追従した振幅基準値の更新を停止するビタビ復号回路を備えた光ディスク再生用の半導体装置）
本願の代表的な実施の形態に係る半導体装置（１０）は、ビタビ復号によって、光ディスク（１０１）に記録された情報に応じた再生信号を復号するための半導体装置であって、前記ビタビ復号に用いられる振幅基準値を前記再生信号に追従して更新することが可能にされる。本半導体装置は、前記振幅基準値が収束したと判断したら、前記振幅基準値との誤差（ΔＶ）が所定値（ＶＴＨ１）より小さい再生信号に追従して前記振幅基準値を更新することを停止する。
【００２８】
これによれば、前記振幅基準値が収束したと判断した後は、振幅基準値との誤差が所定値より小さい再生信号に追従した振幅基準値の更新が行われないから、安定した振幅基準値の生成が可能となる。これにより、前記アナログ・デジタル変換部の高精度化等によってコストを大幅に増大させることなく、復号精度の悪化を抑えることができ、光ディスク装置の再生性能を向上させることができる。
【００２９】
〔８〕（振幅基準値の収束判定）
項７の半導体装置において、前記振幅基準値と前記再生信号との誤差（ΔＶ）が第１閾値（ＶＴＨ１）より小さい状態が所定期間継続したら、前記振幅基準値が収束したと判定する。
【００３０】
これによれば、振幅基準値の収束を容易に判定することができる。
【００３１】
〔９〕（再生信号の大きな変動に追従しない）
項８の半導体装置において、前記振幅基準値と前記再生信号との誤差が前記第１閾値よりも大きい第２閾値（ＶＴＨ２）を超えたら、前記振幅基準値を前記再生信号に追従して更新することを停止する。
【００３２】
これによれば、例えば光ディスクに付着した指紋や傷等の欠陥に起因する再生信号の大きな乱れに追従して振幅基準値が更新されないようにすることができるので、より安定した振幅基準値の生成が可能となる。また、光ディスクの再生信号の欠陥等を検出して振幅基準値の更新を停止するようなホールド回路を別途設ける必要がなく、回路規模の縮小に資する。
【００３３】
〔１０〕（光ディスク装置）
本願の代表的な実施の形態に係る光ディスク装置（１）は、項１乃至９の何れかに記載の半導体装置（１０）と、光ディスク（１０１）にレーザ光を照射し、その反射光の光量に基づいて生成した前記再生信号を前記半導体装置に与える光ピックアップ部（１０２）と、を備える。
【００３４】
２．実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。
【００３５】
≪実施の形態１≫
図１は、光ディスクに記録された情報を再生するための半導体装置を搭載した光ディスク装置の構成を例示するブロック図である。
【００３６】
同図に示される光ディスク装置１は、光ディスク１０１に対するデータの書き込みと読み出しを行う。光ディスク装置１によって記録・再生が可能な光ディスク１０１は、特に制限されないが、例えば、ＢＤやＢＤＸＬ、ＤＶＤ等である。
【００３７】
光ディスク装置１は、着脱が可能な光ディスク１０１を回転駆動するスピンドルモータ１０３と、光ピックアップ１０２と、信号処理を実行するとともにスピンドルモータ１０３や光ピックアップ１０２等の他の機能部の制御を行う半導体装置１０とを備える。
【００３８】
スピンドルモータ１０３は、半導体装置１０からのモータ制御信号によりモータ回転制御されることによって、所定の回転数で光ディスク１０１を回転させる。光ピックアップ１０２は、半導体装置１０からの制御により、光ディスク１０１にレーザ光を照射し、その反射光の光量に基づいて電気信号を生成する。具体的には、光ディスク１０１の再生時に、光ピックアップ１０２の半導体レーザから照射されたレーザパルスは光ディスク１０１の表面で反射され、光ピックアップ１０２の受光部が反射光を受光する。受光部は反射光を電気信号に変換し、再生信号１２０として半導体装置１０に出力する。
【００３９】
半導体装置１０は、例えば、信号処理部１００及びデータ処理制御部１１１を備える。なお、図示はしないが、半導体装置１０は、例えばモータを制御するためのモータ制御回路等の周辺回路も備える。特に制限されないが、半導体装置１０は、上記機能部１００、１１１を個別の半導体基板に形成した複数の半導体チップが１つのパッケージに封入されたＳＩＰ（Ｓｙｓｔｅｍ  ｉｎ  Ｐａｃｋａｇｅ）として構成されてもよいし、上記機能部を公知のＣＭＯＳ集積回路の製造技術によって１個の単結晶シリコンのような半導体基板に形成した１チップのＬＳＩとして構成されてもよい。
【００４０】
データ処理制御部１１１は、信号処理部１００やその他の図示されない各種の機能部を制御することにより、光ディスク装置１による光ディスク１０１の記録と再生を統括的に制御する。データ処理制御１１１は、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）１０９及びメモリ部（ＭＲＹ）１１０を備える。中央処理装置１０９は、メモリ部１１０に予め格納されたプログラムにしたがって各種の演算処理を実行するとともに、半導体装置１０の内部に設けられた各機能部の統括的な制御を行う。メモリ部１１０は、ＲＯＭやＲＡＭ等を含む。例えば、ＲＯＭには上記プログラムが格納され、ＲＡＭには中央処理装置１０９による演算結果等が一時的に格納される。データ処理制御部１１１は、例えばマイクロコントローラ（マイコン）である。
【００４１】
信号処理部１００は、データ処理制御部１１１からの制御により、光ディスク１０１に対するデータの書き込み又は読み出しのための各種信号処理を行う。なお、本実施の形態では、光ディスク１０１に対するデータの書き込みに係る信号処理については説明を省略し、光ディスク１０１からのデータの読み出しに係る信号処理について説明する。また、データの読み出しに係る信号処理のうち、光ディスク１０１から読み出した再生信号を復号するまでの処理方法について詳細に説明する。
【００４２】
信号処理部１２２は、例えば、アナログフロントエンド（ＡＦＥ：Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）１０４、Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ）１０５、波形等化回路１０６、ビタビ復号回路１０７、及び基準値更新回路１０８等を備える。
【００４３】
アナログフロントエンド１０４は、光ディスク１０１から光ピックアップ１０２を介して読み出された再生信号１２０を入力し、アナログ信号処理を行う。例えば、アナログフロンドエンド１０４は、複数のフィルタ回路等から構成され、フィルタ回路によって所望の周波数帯のアナログ信号を抽出することにより、光ディスク１０１に記録されたデータに基づく再生ＲＦ信号１２１を生成する。
【００４４】
Ａ／Ｄ変換器１０５は、アナログの再生ＲＦ信号１２１を所望のクロック信号（例えば、データの位相に同期したクロック等（図示せず））によってサンプリングし、多値のデジタル信号に変換する。
【００４５】
波形等化回路１０６は、デジタル信号に変換された再生ＲＦ信号１２２を所望の特性に等化する。波形等化回路１０６は、例えば数個のタップを有するＦＩＲフィルタにより構成され、ある特定の周波数をブーストしたりカットしたりするなどの信号の周波数特性を変更する波形等化処理を行うことにより、再生ＲＦ信号１２２を光ディスク１０１の再生信号の特性に似たＰＲ特性に等化する。波形等化された等化再生信号１２３は、ビタビ復号回路１０７及び基準値更新回路１０８に供給される。
【００４６】
ビタビ復号回路１０７は、波形等化された等化再生信号１２３に対し、複数の振幅基準値に基づいてビタビ復号を行う。具体的には、ビタビ復号回路１０７は、等化再生信号１２３の信号波形と、想定し得る全てのビット列の想定波形（波形列）とを比較することにより最も近い波形列を選択し、選択した波形列を復号することにより復号データ１２４を生成する。この復号の際に、ビタビ復号回路１０７はビタビアルゴリズムを用いる。ビタビ復号回路１０７は、波形の信号レベルに対応する振幅基準値と等化波形の信号レベルとの差に基づいて、各時刻における尤度を算出することにより、最も近い波形列を選択する。
【００４７】
図２に、ビタビ復号回路１０７における復号処理で用いられる振幅基準値を例示する。
【００４８】
同図に示されるように、拘束長５のＰＲＭＬの場合、図２に示すようなＰＲ（１，２，２，２，１）形式の振幅基準値は、ＲＥＦ０００００〜ＲＥＦ１１１１１までの１６値（９レベル）が存在する。なお、ＢＤの場合、１Ｔのデータが存在しないため、“１０１”や“０１０”のようなビット列を含む振幅基準値は不要となる。ビタビ復号回路１０７は、振幅基準値ＲＥＦ０００００〜ＲＥＦ１１１１１を用いて復号を行う。
【００４９】
基準値更新回路１０８は、波形等化された等化再生信号１２３の信号レベルと振幅基準値との誤差が小さくなるように、振幅基準値を適応的に変化させる。
【００５０】
図３に基準値更新回路１０８の内部構成を例示する。
【００５１】
同図に示されるように、基準値更新回路１０８は、遅延回路１３０と、ＤＦＦ（Ｄフリップフロップ）回路１３１〜１３４と、選択信号生成回路１３５と、振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６（総称する場合は、単に振幅基準値生成回路１３６と記す。）と、を備える。
【００５２】
選択信号生成回路１３５は、ＤＦＦ回路１３１〜１３４を介して、５時刻分の復号データ１２４（５ビットのパラレルデータ列）を入力し、その５時刻分の復号データに応じた選択信号ＳＥＬ［０００００］〜ＳＥＬ［１１１１１］を有効にする。例えば、５時刻分の復号データが”０００００”の場合、選択信号生成回路１３５は、選択信号ＳＥＬ［０００００］を有効にし（アサート）、それ以外の選択信号を無効にする（ネゲート）。また、５時刻分の復号データが”１１１１１”の場合、選択信号生成回路１３５は、選択信号ＳＥＬ［１１１１１］を有効にし、それ以外の選択信号を無効にする。
【００５３】
遅延回路１３０は、５時刻分の復号データ１２４と波形等化された等化再生信号１２３との時間差を吸収するための回路である。これにより、５時刻分の復号データ１２４に対応する等化再生信号１２３が振幅基準値生成回路１３６に供給可能にされる。
【００５４】
振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６は、夫々対応する１６個の振幅基準値ＲＥＦ０００００〜ＲＥＦ１１１１１（総称する場合は、振幅基準値１２５と記す。）を生成する。例えば、振幅基準値生成回路１３６＿１は振幅基準値ＲＥＦ０００００を生成し、振幅基準値生成回路１３６＿２は振幅基準値ＲＥＦ００００１を生成し、振幅基準値生成回路１３６＿１６は振幅基準値ＲＥＦ１１１１１を生成する。振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６は夫々同一の回路構成とされるため、代表して、振幅基準値生成回路１３６＿１について詳細に説明する。
【００５５】
振幅基準値生成回路１３６＿１は、入力回路１３７、判定部１３８、及びフィルタ回路（ＬＰＦ）１３９を含んで構成される。入力回路１３７は、選択信号生成回路１３５から供給された選択信号ＳＥＬ［０００００］に応じて、遅延回路１３０から出力された等化再生信号１２３を取り込む。入力回路１３７は、例えば、スイッチ回路ＳＷとＤＦＦ回路１３００とを含んで構成される。例えば、選択信号ＳＥＬ［０００００］が有効（アサート）にされた場合、スイッチ回路ＳＷが端子Ｐを端子Ａに接続することで、ＤＦＦ回路１３００は遅延回路１３０から出力された等化再生信号１２３を取り込む。選択信号ＳＥＬ［０００００］が無効（ネゲート）にされた場合、スイッチ回路ＳＷが端子Ｐを端子Ｂに接続することで、ＤＦＦ回路１３００はその前に取り込まれた等化再生信号１２３を保持する。これにより、復号データ［０００００］に対応する等化再生信号１２３のみが、入力回路１３７に取り込まれる。入力回路１３７に取り込まれた等化再生信号１２３は、復号データ［０００００］に対応する再生信号の振幅値１４０として判定部１３８に入力される。
【００５６】
判定部１３８は、入力回路１３７に取り込まれた再生信号の振幅値１４０と、フィルタ回路１３９によって生成された振幅基準値１２５（例えば、振幅基準値生成回路１３６＿１の場合、振幅基準値ＲＥＦ０００００）とのずれ量の判定を行い、判定結果に応じて、信号レベルを示す振幅データ１４１を生成する。フィルタ回路１３９は、判定部１３８によって生成された振幅データ１４１を平均化することによって、振幅基準値１２５を生成する。フィルタ回路１３９は、例えばローパスフィルタ（デジタル）である。以下、フィルタ回路１３９によって振幅基準値ＲＥＦ０００００が生成される場合を例にとり、判定部１３８について詳細に説明する。
【００５７】
図４に判定部１３８の内部構成を例示する。
【００５８】
同図に示されるように、判定部１３８は、誤差算出回路４０１、記憶回路４０２、比較回路４０３、出力回路４０４、及び収束判定回路４０５を含んで構成される。誤差算出回路４０１は、入力回路１３７から出力された再生信号の振幅値１４０と、フィルタ回路１３９によって生成された振幅基準値ＲＥＦ０００００とのずれ量を算出し、誤差ΔＶとして出力する。例えば、再生信号の振幅値１４０から振幅基準値ＲＥＦ０００００を減算したものを誤差ΔＶとする。
【００５９】
収束判定回路４０５は、誤差ΔＶに基づいて、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束したか否かを判定する。具体的には、収束判定回路４０５は、誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１よりも大きい場合には、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束していないことを示す判定結果４０６を出力し、誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい状態が所定期間継続した場合には、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束したことを示す判定結果４０６を出力する。また、一旦収束した後に、第１閾値ＶＴＨ１を超えるような誤差ΔＶが発生した場合には、振幅基準値１２５の収束の判定を解除する。例えば、一旦収束した後に、誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１を超える状態が所定期間継続した場合には、振幅基準値１２５が収束していないことを示す判定結果４０６を出力する。なお、収束判定回路４０５による収束判定は、上記の方法に限られない。例えば、誤差ΔＶと第１閾値ＶＴＨ１との大小判定に代えて（または、それに加えて）、サンプリングデータへの位相同期条件（例えばＰＬＬ回路の位相が同期しているか否か）や、復号結果の誤り数等の他条件を組み合わせて、収束判定を行っても良い。
【００６０】
記憶回路４０２は、第１閾値ＶＴＨ１の情報を格納するための記憶領域を備える。記憶回路４０２は、例えばレジスタであり、中央処理装置１０９によって第１閾値ＶＴＨ１の情報が設定される。
【００６１】
比較回路４０３は、記憶回路４０２に設定された第１閾値ＶＴＨ１の値と誤差算出回路４０１によって生成された誤差ΔＶの絶対値とを比較するとともに、収束判定回路４０５による判定結果４０６に基づいて、誤差の情報４０７を生成する。具体的には、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束していない場合、比較回路４０３は、誤差算出回路４０１によって生成された誤差ΔＶを誤差の情報４０７として出力する。他方、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束した場合、比較回路４０３は、第１閾値ＶＴＨ１の値と誤差ΔＶの絶対値との比較結果に応じて、誤差の情報４０７を生成する。例えば、誤差ΔＶの絶対値が第１閾値ＶＴＨ１よりも大きい場合には、誤差ΔＶを誤差の情報４０７として出力し、誤差ΔＶの絶対値が第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい場合には、誤差が“０（ゼロ）”であることを示す誤差の情報４０７を出力する。
【００６２】
出力回路４０４は、比較回路４０３によって生成された誤差の情報４０７と、フィルタ回路１３９によって生成された振幅基準値ＲＥＦ０００００とを加算し、その加算値を振幅データ１４１として出力する。これにより、振幅基準値ＲＥＦ０００００の収束後、誤差ΔＶの絶対値が第１閾値ＶＴＨ１よりも大きい場合には、振幅基準値ＲＥＦ０００００と誤差ΔＶとを加算した値（再生信号の振幅値１４０と等しい値）が、振幅データ１４１としてフィルタ回路１３９に供給される。他方、誤差ΔＶの絶対値が第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい場合には、振幅基準値ＲＥＦ０００００と誤差“０”とを加算した値（振幅基準値ＲＥＦ０００００そのもの）が、振幅データ１４１としてフィルタ回路１３９に供給される。
【００６３】
図５は、判定部１３８における誤差ΔＶの判定方法を例示する説明図である。
【００６４】
同図に示されるように、誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１よりも大きい期間は、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束していないこと（収束ＮＧ）を示す判定結果４６０が出力される。誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１よりも小さくなり、その状態が期間５００だけ継続したら、振幅基準値ＲＥＦ０００００が収束したこと（収束ＯＫ）を示す判定結果４６０が出力される。収束判定の結果が“ＮＧ”である期間は、誤差ΔＶの値が誤差の情報４０７として出力され、収束判定の結果が“ＯＫ”である期間は、誤差が“０”であることを示す誤差の情報４０７が出力される。
【００６５】
以上のような制御を行うことで、振幅基準値１２５が収束した後は、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差がマスクされ、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差を持つ再生信号に追従した振幅基準値１２５の更新が停止される。すなわち、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差を持つ再生信号に振幅基準値１２５を追従させないので、例えば、ばらつき等の再生信号の微小な変動に伴って振幅基準値が不安定になることを防ぐことができる。この技術は、ビタビ復号における振幅基準値の個数が多い光ディスク（例えばＢＤ）に適用して有効であり、高密度化されたＢＤＸＬに適用すると、特に有効である。
【００６６】
図６及び図７に、光ディスク１０１から読み出された再生ＲＦ信号の波形例を示す。図６において、上段の（Ａ）には、ＢＤの記録層に形成された記録マーク５０にレーザ光５１を照射したときの模式図が示され、下段の（Ｂ）には、（Ａ）の場合の再生ＲＦ信号の波形例が示される。図７において、上段の（Ａ）にはＢＤＸＬの記録層に形成された記録マーク５２にレーザ光５１を照射したときの模式図が示され、下段の（Ｂ）には、（Ａ）の場合の再生ＲＦ信号の波形例が示される。図６、７から理解されるように、ＢＤＸＬは、ＢＤに比べて、レーザ光５１のスポット径を変えずに記録マーク５２を高密度に形成しているため、符号間干渉が増加し、信号レベルの判定の困難性が増す。すなわち、符号間干渉が大きいＢＤＸＬでは、振幅基準値が不安定になると、信号レベルの誤判定が生じ易くなる。本半導体装置１０によれば、ばらつき等の再生信号の微小な変動に伴って振幅基準値が変動することを防止することができるから、振幅基準値を安定させることができ、安定した復号が可能となる。
【００６７】
また、光ディスクに付着した指紋や傷等の欠陥によって再生信号が大きく乱れた場合に、それに追従して振幅基準値が更新されないように、半導体装置１０にホールド回路１２６を別途設けても良い（図１参照）。例えば、ホールド回路１２６は、信号処理部１００内の１つの機能部として設けられ、Ａ／Ｄ変換器１０５に入力されるアナログ形式の再生ＲＦ信号１２１、又はデジタル信号に変換された再生ＲＦ信号１２２の何れかを入力し、入力信号の異常状態を検出したらホールド信号１２７を出力する。具体的に、ホールド回路１２６は、通常時はホールド信号１２７をネゲートしておき、再生ＲＦ信号１２１、１２２が、所定期間、最大振幅レベルに張り付いたり、ゼロレベルに張り付いたりした場合に異常状態と判断し、ホールド信号１２７をアサートする。ホールド信号１２７は、例えば、基準値更新回路１０８における比較回路４０３に供給される。比較回路４０３は、例えば、ホールド信号１２７がアサートされている場合には、誤差を“０”とした誤差の情報４０７を出力し、ホールド信号１２７がネゲートされている場合には、上述したように、判定結果４０６、誤差ΔＶ、及び第１閾値ＶＴＨ１に基づいて誤差の情報４０７を生成する。これによれば、光ディスク１０１に付着した指紋や傷等の欠陥によって再生信号が大きく乱れた場合に、それに追従して振幅基準値１２５が更新されないようにすることができるので、振幅基準値を安定させることができ、より安定した復号が可能となる。
【００６８】
以上実施の形態１に係る半導体装置１０によれば、復号精度の悪化を抑えることができ、光ディスク装置の再生性能を向上させることができる。これによれば、前述したように、Ａ／Ｄ変換器１０５の分解能を上げて高精度化したり、ＰＲＭＬの再生信号処理時の分解能を上げたりする必要はないから、コストの増大を抑えつつ、光ディスク装置の再生性能の向上を図ることができる。
【００６９】
≪実施の形態２≫
実施の形態２では、判定部１３８における出力回路４０４の別の回路構成例を示す。
【００７０】
図８は、実施の形態２に係る基準値更新回路１０８における判定部２３８の内部構成を例示する図である。同図に示されるように、実施の形態２に係る判定部２３８は、実施の形態１に係る判定部１３８と出力回路の構成が相違する。その他の構成は実施の形態１と同様であり、その詳細な説明は省略する。
【００７１】
出力回路４１４は、選択回路４１４０を含んで構成される。選択回路４１４０は、比較回路４０３から供給される誤差の情報４０７に従って、再生信号の振幅値１４０と振幅基準値１２５の何れかを選択し、振幅データ１４１として出力する。例えば、比較回路４０３から誤差の情報４０７として誤差ΔＶが供給された場合には、再生信号の振幅値１４０を選択し、振幅データ１４１として出力する。比較回路４０３から誤差の情報４０７として誤差“０”が供給された場合には、振幅基準値１２５を選択し、振幅データ１４１として出力する。
【００７２】
これによれば、実施の形態１と同様に、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差をマスクすることができ、安定した振幅基準値の生成が可能となる。
【００７３】
≪実施の形態３≫
実施の形態３に係る半導体装置は、実施の形態１に係るホールド回路１２６を設ける代わりに、判定部３３８の機能を拡張する。具体的には、実施の形態３に係る判定部３３８は、実施の形態１に係る判定部１３８の機能に加えて、光ディスクに付着した指紋や傷等の欠陥によって再生信号が大きく乱れた場合に、それに追従して振幅基準値が更新されないようにするための機能を更に備える。その他の構成は実施の形態１と同様であり、その詳細な説明を省略する。
【００７４】
図９は、実施の形態３に係る判定部３３８の内部構成を例示する図である。
【００７５】
同図に示されるように、判定部３３８は、判定部１３８の構成要素に加えて記憶回路４１０を備える。記憶回路４１０は、第２閾値ＶＴＨ２の情報を格納するための記憶領域を備える。記憶回路４０２は、例えばレジスタであり、中央処理装置１０９によって第２閾値ＶＴＨ２の情報が設定される。第２閾値ＶＴＨ２は第１閾値ＶＴＨ１よりも大きな値とされる。
【００７６】
比較回路４１３は、実施の形態１に係る比較回路４０３の機能に加えて、誤差算出回路４０１によって生成された誤差ΔＶの絶対値と第２閾値ＶＴＨ２を比較し、比較結果に応じて生成する誤差の情報４０７を変更する機能を備える。具体的には、誤差ΔＶの絶対値が第２閾値ＶＴＨ２よりも小さい場合には、比較回路４０３と同様に、判定結果４０６と、第１閾値ＶＴＨ１と、誤差ΔＶと、に基づいて誤差の情報４０７を生成する。他方、誤差ΔＶの絶対値が第２閾値ＶＴＨ２よりも大きい場合には、誤差が“０”であることを示す誤差の情報４０７を出力する。
【００７７】
図１０は、判定部３３８における誤差ΔＶの判定方法を例示する説明図である。
【００７８】
同図に示されるように、誤差ΔＶが第１閾値ＶＴＨ１よりも大きく、且つ第２閾値ＶＴＨ２よりも小さい期間は、誤差算出回路４０１によって生成された誤差ΔＶが誤差の情報４０７として出力される。誤差ΔＶが第２閾値ＶＴＨ２よりも大きい期間は、誤差が“０”であることを示す誤差の情報４０７が出力される。これによれば、ホールド回路１２６を別途設けなくても、再生信号が所定期間、最大振幅レベルに張り付いたり、ゼロレベルに張り付いたりした場合を異常状態として検出することができる。また、判定部３３８は、誤差ΔＶの大きさ（振幅基準値に対する再生信号の変化量）によって再生信号の異常状態を検出するので、瞬間的に再生信号が大きく変動した場合も異常状態として検出することができる。
【００７９】
判定部３３８によれば、実施の形態１に係る判定部１３８と同様に、振幅基準値１２５が収束した後は、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差がマスクされることにより、振幅基準値１２５が、第１閾値ＶＴＨ１よりも小さい誤差を持つ再生信号に追従しないようにすることができる。更に、第２閾値ＶＴＨ２よりも大きい誤差がマスクされることにより、振幅基準値１２５が、第２閾値ＶＴＨ２よりも大きい誤差を持つ再生信号に追従しないようにすることができる。すなわち、判定部３３８によれば、追従すべき再生信号の誤差の範囲を第１閾値ＶＴＨ１及び第２閾値ＶＴＨ２によって制限することができる。また、記憶回路４０２、４１０に設定する値を調整することで、追従すべき再生信号の誤差の範囲を必要に応じて変更することも可能である。
【００８０】
以上、実施の形態３に係る半導体装置によれば、ばらつき等の再生信号の微小な変動のみならず、光ディスクに付着した指紋や傷等の欠陥に起因する再生信号の大きな変動に追従して振幅基準値が更新されないようにすることができるので、より安定した振幅基準値の生成が可能となる。これにより、復号精度の悪化を更に抑えることができ、光ディスク装置の再生性能をより向上させることができる。
【００８１】
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
【００８２】
例えば、実施の形態１乃至３において、１６個の振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６を設ける場合を例示したが、これに限られず、振幅基準値の大きさが略等しい振幅基準値生成回路同士を共通化しても良い。例えば、振幅基準値ＲＥＦ０１１１１、ＲＥＦ１１１１０を生成する振幅基準値生成回路を共通化する場合を考える。この場合、１つの振幅基準値生成回路のスイッチ回路ＳＷに供給する選択信号を、選択信号ＳＥＬ〔０１１１１〕と選択信号ＳＥＬ〔１１１１０〕の論理和信号とする。選択信号ＳＥＬ〔０１１１１〕と選択信号ＳＥＬ〔１１１１０〕の何れか一方がアサートされたら、遅延回路１３０から出力された再生信号が振幅基準値生成回路に取り込まれる。そして、その振幅基準値生成回路によって生成された振幅基準値をＲＥＦ０１１１１及びＲＥＦ１１１１０とする。これによれば、１つの振幅基準値生成回路によって２つの振幅基準値ＲＥＦ０１１１１、ＲＥＦ１１１１０を生成することができる。同様に、振幅基準値ＲＥＦ１１１００、ＲＥＦ００１１１を生成する振幅基準値生成回路を共通化し、振幅基準値ＲＥＦ１００１１、ＲＥＦ１１００１、ＲＥＦ０１１００、ＲＥＦ００１１０を生成する振幅基準値生成回路を共通化することができる。更に、振幅基準値ＲＥＦ１１０００、ＲＥＦ０００１１を生成する振幅基準値生成回路を共通化し、振幅基準値ＲＥＦ００００１、ＲＥＦ１００００を生成する振幅基準値生成回路を共通化することができる。これによれば、１６個の振幅基準値生成回路を９個に減らすことができ、基準値更新回路１０８の回路規模を小さくすることができる。
【００８３】
実施の形態１乃至３において、振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６の夫々が判定部１３８（２３８、３３８）を備える構成を例示したが、これに限られず、単数又は複数の判定部１３８を振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６が選択的に利用するような構成であっても良い。例えば、判定部１３８を１つとし、判定部１３８の入力段と出力段に選択回路を設ける。入力段の選択回路には、振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６の夫々の再生信号の振幅値１４０が入力され、選択信号ＳＥＬで指示された振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６の振幅値１４０を、判定部１３８に出力する。出力段の選択回路には、判定部１３８によって生成された振幅データ１４１が入力される。出力段の選択回路は、入力された振幅データ１４１を、選択信号ＳＥＬで指示された１つの振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６におけるフィルタ回路１３９に出力する。この場合、判定部１３８における第１閾値及び第２閾値は、全ての振幅基準値生成回路１３６＿１〜１３６＿１６に対して同一の値を用いても良いし、振幅基準値生成回路１３６毎に第１閾値及び第２閾値を用意し、選択信号ＳＥＬによって選択可能にしても良く、特に限定されない。これによれば、基準値更新回路１０８の回路規模を小さくすることができる。
【００８４】
実施の形態１乃至３において、比較回路４０３（４１３）が、振幅基準値１２５が収束したことを示す判定結果４０６を受け取ったら、誤差が“０”であることを示す誤差の情報４０７を出力する構成を例示したが、これに限られない。例えば、比較回路４０３（４１３）が、振幅基準値１２５が収束したことを示す判定結果４０６を受け取ってから所定時間の経過後に、誤差が“０”であることを示す誤差の情報４０７を出力するようにしても良く、誤差をマスクする条件は種々変更可能である。
【００８５】
図１において、Ａ／Ｄ変換器１０５の出力が波形等化回路１０６に入力される場合を例示したが、これに限られず、例えばＡ／Ｄ変換器１０５の後段に、オフセット除去回路やアシンメトリ除去回路、振幅補正回路などを設け、それらの出力を波形等化回路１０６に入力しても上記と同様の効果が得られる。また、Ａ／Ｄ変換器１０５は、ＰＬＬ回路によって生成されたデータの位相に同期したクロック信号によってサンプリングを行う構成でも良いし、固定クロックでサンプリングし、位相のずれに応じてサンプリングデータを補間する構成であっても良く、特に限定されない。すなわち、チャネルクロックに同期して生成されるデータをＰＲＭＬにより復号する構成であれば、上記判定部１３８、２３８、３３８を含む振幅基準値生成回路１３６を適用することができる。
【００８６】
実施の形態３において、誤差ΔＶが第２閾値ＶＴＨ２よりも大きい期間に誤差を“０”とする誤差の情報４０７を出力する場合を例示したが、これに限られない。例えば、誤差を“０”以外の固定値（例えば第２閾値ＶＴＨ２の値）として出力しても良い。
【００８７】
実施の形態３において、実施の形態１に係るホールド回路１２６を設ける代わりに判定部３３８の機能を拡張する場合を例示したが、回路規模の増大が許容できるのであれば、異常検出の精度を更に向上させるために、判定部３３８の機能拡張に加えてホールド回路１２６を更に設けても良い。
【００８８】
また、実施の形態３における判定部３３８の出力回路４０４を、実施の形態２に係る出力回路４１４に変更することも可能である。
【符号の説明】
【００８９】
１  光ディスク装置
１０１  光ディスク
１０２  光ピックアップ
１０３  スピンドルモータ
１０  半導体装置
１１１  データ処理制御部
１０９  中央処理装置
１１０  メモリ部
１００  信号処理部
１０４  アナログフロントエンド
１０５  Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ）
１０６  波形等化回路
１０７  ビタビ復号回路
１０８  基準値更新回路
１２０  再生信号
１２１  再生ＲＦ信号（アナログ）
１２２  デジタル信号に変換された再生ＲＦ信号
１２３  等化再生信号
１２４  復号データ
１２５  振幅基準値
ＲＥＦ０００００〜ＲＥＦ１１１１１  振幅基準値
１２６  ホールド回路
１２７  ホールド信号
１３０  遅延回路
１３５  選択信号生成回路
ＳＥＬ〔０００００〕〜ＳＥＬ〔１１１１１〕  選択信号
１３６＿１〜１３６＿１６（１３６）  振幅基準値生成回路
１３１〜１３４、１３００  ＤＦＦ（Ｄフリップフロップ）回路
１３７  入力回路
ＳＷ  スイッチ回路
Ａ、Ｂ、Ｐ  端子
１３８  判定部
１３９  フィルタ回路
１４０  再生信号の振幅値
１４１  振幅データ
４０１  誤差算出回路
４０２  記憶回路
４０３  比較回路
４０４  出力回路
４０５  収束判定回路
４０６  判定結果
４０７  誤差の情報
ΔＶ  誤差
ＶＴＨ１  第１閾値
５００  所定期間
５０  ＢＤの記録層に形成された記録マーク
５１  レーザ光
５２  ＢＤＸＬの記録層に形成された記録マーク
２３８  判定部
４１４  出力回路
４１４０  選択回路
３３８  判定部
ＶＴＨ２  第２閾値
４１０  記憶回路
４１３  比較回路
【図１】
2014175024.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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