(57)【要約】【課題】情報の記録再生特性の向上を実現することができるガイド層分離型光記録媒体を提供する。【解決手段】本発明の一実施形態に係るガイド層分離型光記録媒体１１は、ガイド層１１２と、１以上の記録層１１３とを具備する。ガイド層１１２は、イングルーブ部１２１Ｌとオングルーブ部１２１Ｇとを含むガイドトラック１２１を有する。記録層１１３は、イングルーブ部１２１Ｌおよびオングルーブ部１２１Ｇに対応する領域に情報を記録されることが可能である。イングルーブ部１２１Ｌは、溝幅（底幅InＷａと開口幅InＷｂとの和の半値）をInＷ［ｎｍ］、深さをInＤ［ｎｍ］、ガイドトラック１２１に集光されるレーザ光の波長をλ［ｎｍ］としたとき、２８０≦InＷ≦４３０、（０．２λ−６５）≦InＤ≦（０．２λ−４０）、かつ、６００≦λ≦７００の関係を満たす。【選択図】図１２
2014120182.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イングルーブ部とオングルーブ部とを含むガイドトラックを有するガイド層と、
前記イングルーブ部および前記オングルーブ部に対応する領域に情報を記録されることが可能な１以上の記録層と
を具備し、
前記イングルーブ部は、前記イングルーブ部の溝幅（前記イングルーブ部の底幅と前記イングルーブ部の開口幅との和の半値）をInＷ［ｎｍ］、前記イングルーブ部の深さをInＤ［ｎｍ］、前記ガイドトラックに集光されるレーザ光の波長をλ［ｎｍ］としたとき、
２８０≦InＷ≦４３０、
（０．２λ−６５）≦InＤ≦（０．２λ−４０）、かつ、
６００≦λ≦７００
の関係を満たす
ガイド層分離型光記録媒体。
【請求項２】
請求項１に記載のガイド層分離型光記録媒体であって、
前記イングルーブ部の溝幅InＷ［ｎｍ］は、
３３０≦InＷ≦４００
の関係を満たす
ガイド層分離型光記録媒体。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のガイド層分離型光記録媒体であって、
前記イングルーブ部の深さInＤ［ｎｍ］は、
（０．２λ−５５）≦InＤ≦（０．２λ−４５）
の関係を満たす
ガイド層分離型光記録媒体。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載のガイド層分離型光記録媒体であって、
前記イングルーブ部の溝幅は、前記オングルーブ部の溝幅（前記オングルーブ部の最小幅と前記オングルーブ部の最大幅との和の半値）よりも広い
ガイド層分離型光記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ランド・グルーブ構造のガイド層を有するガイド層分離型光記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）、ブルーレイディスク（登録商標）などの光ディスクの大容量化を目的として、記録層を多層化することが行われる。記録層の多層化に伴い、記録層へのデータの記録または再生時のトラッキング制御を、記録層とは別に設けられたガイド層を用いて行う方式も知られている（例えば下記特許文献１，２参照）。
【０００３】
このようなガイド層分離型の光記録媒体は、一般的に、ディスクの厚み方向に沿ってガイド層と複数の記録層とが中間層を介して積層された構造を有する。ガイド層にはグルーブ及びランドが設けられている。そして記録層に対する情報の書き込み（記録）又は読み出し（再生）を行うときは、記録再生用レーザ光と同一の光軸を有するトラッキング用のレーザ光を使用してガイド層のトラッキング制御が実行される。
【０００４】
ガイド層分離型の光記録媒体においては、上述のようにガイド層と記録層とがそれぞれ別々の層に設けられているため、高いトラッキング追従性が要求される。例えば下記特許文献３には、既記録箇所と追加記録箇所との距離を所定のトラック数だけ離すことで、記録済みの情報を破壊することなく追加記録を可能とする光記録媒体ドライブ装置及び追加記録方法が提案されている。
【０００５】
ガイド層分離型の光記録媒体の記録層に、青色波長のレーザ光を使って例えば０．３２μｍのトラックピッチで記録を行う場合、ガイド層にも０．３２μｍのトラックピッチを有するガイドトラックが必要である。例えば、赤色波長のレーザ光でガイドトラックをトラッキングしながら青色波長のレーザ光を記録層に集光させて記録又は再生を行う光記録システムにおいて、０．３２μｍのトラックピッチを有するガイドトラックをランド・グルーブ構造により実現しようとすると、ランドおよびグルーブの各々をガイドトラックとして利用する必要がある。
【０００６】
なお以下の説明では、ガイドトラックにおいて、レーザ光源に近い方のトラックを「グルーブ」あるいは「オングルーブ（On-Groove）部」と称し、レーザ光源から遠い方のトラックを「ランド」あるいは「イングルーブ（In-Groove）部」と称する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−５９０９２号公報
【特許文献２】特開２００８−１９２２４６号公報
【特許文献３】特開２０１０−４００９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ランドとグルーブとでは、それらの幾何学的な形状の相違に起因してレーザ光の回折特性が相互に異なる。例えば、レーザ光のスポット径に対してイングルーブ部の幅が狭いと、オングルーブ部と比較して、イングルーブ部でのレーザ光の回折が不十分となる。その結果、イングルーブ部でのトラッキング追従性が低下し、記録層上のイングルーブ部に対応する領域に形成される記録ピットのトラック品位が低下するという問題がある。また、記録層に形成された記録トラックによって再生光をトラッキングする場合において、イングルーブ部に対応する記録トラックを精度よく再生することが困難になる。
【０００９】
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、情報の記録再生特性の向上を実現することができるガイド層分離型光記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係るガイド層分離型光記録媒体は、ガイド層と、１以上の記録層とを具備する。
上記ガイド層は、イングルーブ部とオングルーブ部とを含むガイドトラックを有する。
上記１以上の記録層は、上記イングルーブ部および上記オングルーブ部に対応する領域に情報を記録されることが可能である。
上記イングルーブ部は、上記イングルーブ部の溝幅（上記イングルーブ部の底幅と上記イングルーブ部の開口幅との和の半値）をInＷ［ｎｍ］、上記イングルーブ部の深さをInＤ［ｎｍ］、上記ガイドトラックに集光されるレーザ光の波長をλ［ｎｍ］としたとき、
２８０≦InＷ≦４３０、
（０．２λ−６５）≦InＤ≦（０．２λ−４０）、かつ、
６００≦λ≦７００
の関係を満たす。
【００１１】
上記ガイド層分離型光記録媒体によれば、イングルーブ部へのレーザ光の回折特性が高まり、イングルーブ部のトラッキング追従性が向上する。これにより記録層に対して品位の高い記録トラックを形成することができるとともに、当該記録トラックの再生特性を高めることができる。
【００１２】
上記イングルーブ部の溝幅InＷ［ｎｍ］は、３３０≦InＷ≦４００の関係を満たすように構成されてもよい。
また、前記イングルーブ部の深さInＤ［ｎｍ］は、（０．２λ−５５）≦InＤ≦（０．２λ−４５）の関係を満たすように構成されてもよい。
これによりエラー訂正が可能とされるＳＥＲ（Symbol Error Rate）の評価値（１Ｅ−３未満）を安定して確保することができる。
【００１３】
上記イングルーブ部の溝幅は、上記オングルーブ部の溝幅（上記オングルーブ部の最小幅と上記オングルーブ部の最大幅との和の半値）よりも広く構成されてもよい。
これによりイングルーブ部におけるレーザ光の良好な回折特性を確保でき、トラッキングエラー信号の高精度な生成が可能となる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係るガイド層分離型光記録媒体によれば、情報の記録再生特性の向上を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の一実施形態において適用される光記録システムを示す図である。
【図２】図１の光記録システムにおけるディスクカートリッジとこの中の複数の光記録媒体の収容形態を示す図である。
【図３】図１の光記録システムにおけるディスクカートリッジ、光記録媒体およびドライブユニットの構成を示す図である。
【図４】本発明の一実施形態に係るガイド層分離型光記録媒体の構成を示す断面図である。
【図５】図４の光記録媒体の要部拡大図である。
【図６】図４の光記録媒体におけるガイド層のダブルスパイラルトラックの構造を示す図である。
【図７】図４の光記録媒体におけるガイド層および記録層の半径方向の位置によって区分される領域の構成を示す図である。
【図８】図１の光記録システムにおけるディスクドライブの構成を示す図である。
【図９】図８のディスクドライブによるデータトラックの記録順序を説明するための図である。
【図１０】図８のディスクドライブによるデータトラックの記録順序を説明するための図である。
【図１１】図４の光記録媒体におけるガイド層へのガイド光の照射形態を示す模式図である。
【図１２】図４の光記録媒体におけるガイド層に設けられたイングルーブ部の詳細を示す模式図である。
【図１３】図１２のイングルーブ部の溝幅に対する回折光のＮＰＰ値の波長依存性を示す一実験結果である。
【図１４】図１２のイングルーブ部の溝深さに対する回折光のＮＰＰ値の波長依存性を示す一実験結果である。
【図１５】図１４において、ガイド光の各波長帯でＮＰＰが最大となる溝深さをプロットした図である。
【図１６】ガイド光の波長６５０ｎｍにおけるイングルーブ部の溝幅および深さとＮＰＰ特性との関係を示す図である。
【図１７】ガイド光の波長６００ｎｍにおけるイングルーブ部の溝幅および深さとＮＰＰ特性との関係を示す図である。
【図１８】ガイド光の波長７００ｎｍにおけるイングルーブ部の溝幅および深さとＮＰＰ特性との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る光記録システムを示す図である。
【００１７】
図１は光記録システムの全体の構成を示す図である。
この光記録システム１は、ディスクカートリッジ１０と、ディスク搬送機構２０と、ドライブユニット３０と、ＲＡＩＤコントローラ４０と、ホスト装置５０とを備える。以下、それぞれの詳細について説明する。
【００１８】
［ディスクカートリッジ］
ディスクカートリッジ１０は、複数の多層光ディスク１１（ガイド層分離型光記録媒体）が個別に着脱自在に収容されるユニットである。
【００１９】
図２はディスクカートリッジ１０とこの中の複数の多層光ディスク１１の収容形態を示す図である。
ディスクカートリッジ１０内での複数の多層光ディスク１１の収容形態としては平積み、縦並びなどが想定される。いずれの場合も、ディスクカートリッジ１０に対して多層光ディスク１１の出し入れが円滑に行われるように、隣り合う多層光ディスク１１間には一定の隙間が設けられることが好ましい。ディスクカートリッジ１０の形状は、ユーザによるハンドリング性、多層光ディスク１１の収納効率などの点から、例えば直方体形状、円筒形状などが想定される。図２の例では、複数の多層光ディスク１１を平積みで収容した直方体形状のディスクカートリッジ１０が用いられる。
【００２０】
図３は、ディスクカートリッジ１０、多層光ディスク１１およびドライブユニット３０の構成を示す図である。
ディスクカートリッジ１０の少なくとも一つの側面には多層光ディスク１１の出し入れのための開口部１０１と、この開口部１０１を開閉する扉（図示せず）とが設けられている。扉はディスク搬送機構２０によるディスクカートリッジ１０からの多層光ディスク１１の出し入れの動作と連動して開閉され、その他のときは閉状態とされる。ディスクカートリッジ１０に収容された複数の多層光ディスク１１は、ディスク搬送機構２０によって取り出され、ドライブユニット３０内の複数のディスクドライブ３１に選択的に搬送（装填）される。
【００２１】
なお、本発明において、ディスクカートリッジ１０の構成は図２のものに限定されない。ディスクカートリッジ１０の形状、開口部の数や位置、扉の有無、複数の多層光ディスク１１の収容形態など、様々な変形が可能である。
【００２２】
［多層光ディスク１１］
ディスクカートリッジ１０に収容される多層光ディスク１１は、ガイド層と記録層とが別々の層に分離して形成された、いわゆるガイド層分離型多層光ディスクである場合を想定している。
【００２３】
図４及び図５はガイド層分離型光記録媒体としての多層光ディスク１１の構成を示す断面図である。
図４に示すように多層光ディスク１１は、ガイド層１１２と複数の記録層１１３とを有する。同図の多層光ディスク１１の例では記録層１１３の層数は"４"である。ガイド層１１２とこれに最も近い記録層１１３との間、隣り合う記録層１１３の間との間には光透過性を有する中間層１１４がそれぞれ介層されている。これらの層は、光ピックアップ３２からの記録再生光Ｒ１およびガイド光Ｒ２が入射される側から、保護層１１５、記録層１１３（Ｒ３）、中間層１１４、記録層１１３（Ｒ２）、中間層１１４、記録層１１３（Ｒ１）、中間層１１４、記録層１１３（Ｒ０）、中間層１１４、ガイド層１１２の順に積層配置される。
【００２４】
図５に示すようにガイド層１１２は、一方の面に螺旋状の凹凸部１１１を有する円盤形状のポリカーボネート等の透光性プラスチック基材１１０と、凹凸部１１１の凹凸形状にならって凹凸部１１１を被覆する反射膜１２０との積層構造を有する。基材１１０は、典型的にはスタンパ等の成形金型を用いて成形され、反射膜１２０は、例えば銀（Ａｇ）やその合金等のように赤色レーザ光に対して反射率の高い金属材料のスパッタ膜で形成される。基材１１０の厚みは特に限定されず、例えば０．６ｍｍ〜１．２ｍｍであり、本実施形態では１．１ｍｍである。反射膜１２０の厚みも特に限定されず、例えば２０ｎｍ〜１００ｎｍであり、本実施形態では６０ｎｍである。
【００２５】
ガイド層１１２において記録層１１３に対向する側の面には、図５及び図６に示すように、ランド・グルーブ構造によるガイドトラック１２１が螺旋状に設けられている。ランドはグルーブ間に形成され、グルーブはランド間に形成される。以下の説明では、ガイドトラック１２１において、レーザ光源（光ピックアップ３２）に近い方のトラックを「グルーブ」あるいは「オングルーブ（On-Groove）部」と称し、レーザ光源から遠い方のトラックを「ランド」あるいは「イングルーブ（In-Groove）部」と称する。
【００２６】
ガイドトラック１２１は、ランドによるガイドトラック（イングルーブ部１２１Ｌ）とグルーブによるガイドトラック（オングルーブ部１２１Ｇ）とからなる、いわゆる「ダブルスパイラルトラック」を構成する。本実施形態では、イングルーブ部１２１Ｌおよびオングルーブ部１２１Ｇは多層光ディスク１１の内周側から外周側にかけてそれぞれ螺旋状に連続的に形成されているが、これに限定されない。例えば、イングルーブ部１２１Ｌおよびオングルーブ部１２１Ｇは、多層光ディスク１１の内周側から外周側にかけて所定周期で（例えば周ごとに）交互に入れ替わるように螺旋状に連続的に形成されてもよい。
【００２７】
イングルーブ部１２１Ｌは、オングルーブ部１２１Ｇとの境界を形成する一対の側壁１２１ｓに囲まれている。側壁１２１ｓは、典型的にはテーパ面で形成されるが、基材１１０の表面に垂直な面で形成されてもよい。側壁１２１ｓのテーパ角は特に限定されず、スタンパ金型の抜き勾配や凹凸部１１１の凹凸高さ、反射膜１２０の厚さ等に応じて適宜設定される。
【００２８】
ガイドトラック１２１には、側壁面のウォブリングあるいはピット列などによって物理アドレス情報が形成されている。イングルーブ部１２１Ｌおよびオングルーブ部１２１Ｇは、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disk）の記録再生に用いられる赤色レーザ光に対応するトラックピッチ（０．６４μｍ）で形成される。ランドとグルーブ間のピッチの平均は０．３２μｍであり、これはガイドトラック１２１のトラックピッチに相当する。以後、赤色レーザ光のレーザ光を「ガイド光」と呼ぶ。
【００２９】
本実施形態の光記録システム１では、ガイドトラック１２１のランドとグルーブのそれぞれにおいて、例えば、プッシュプル法（ＰＰ：Push-Pull）、差動プッシュプル法（ＤＰＰ：Differential Push-Pull）、３ビーム法などによるトラッキング制御が行われる。ガイドトラック１２１のランドとグルーブのそれぞれにおいてトラッキング制御が行われることで、記録層１１３に対する情報の記録は０．３２μｍのトラックピッチで行うことが可能である。
なおガイドトラック１２１の構成の詳細については後述する。
【００３０】
記録層１１３は、例えばブルーレイディスク（登録商標）の記録再生に用いられる青色レーザ光に対応するトラックピッチ（０．３２μｍ）で情報の記録が行われる層である。以後、この青色レーザ光を「記録再生光」または「記録光」と呼ぶ。
【００３１】
記録層１１３は、例えば光吸収層と反射層等とにより構成される。光吸収層としてはシアニン系色素やアゾ系色素等の有機色素や、Ｓｉ、Ｃｕ、Ｓｂ、Ｔｅ、Ｇｅ、Ｆｅ、Ｂｉ等の無機酸化材料が用いられる。記録光が多層光ディスク１１における目的の記録層１１３に照射されると、その記録光が照射された領域の反射率が変化し、反射率が変化した領域が記録マークとして形成されることで、記録層１１３に情報が記録される。記録層１１３の厚みは特に限定されず、例えば１０ｎｍ〜２００ｎｍであり、本実施形態では８３ｎｍである。
【００３２】
ガイド層１１２と、ガイド層１１２に最も近い記録層１１３（Ｒ０）との距離Ｘは、特に限定されず、適宜の値が設定可能である。本実施形態では、当該距離Ｘは２５μｍ以上に設定されており、これによりガイド層１１２に照射されるガイド光と、記録層１１３（Ｒ０）に照射される記録再生光とのクロストークを防止し、ガイド層１１２（特にイングルーブ部１２１Ｌ）のトラッキング追従性を高めることができる。
【００３３】
なお、記録層１１３への情報の記録時のトラッキング制御および物理アドレスならびに基準クロックの取得は、ガイド層１１２のガイドトラック１２１を用いて行われるため、記録層１１３にはランド・グルーブ構造によるガイドトラック１２１は不要である。したがって、記録層１１３の表面は平坦でよい。
【００３４】
中間層１１４および保護層１１５は、例えば紫外線硬化樹脂等の透光性材料で形成される。中間層１１４の厚みは特に限定されず、例えば１０μｍ〜３００μｍであり、本実施形態では２００μｍである。保護層１１５の厚みも特に限定されず、例えば１０μｍ〜３００μｍであり、本実施形態では１００μｍである。
【００３５】
図７は多層光ディスク１１におけるガイド層１１２および記録層１１３の半径方向の位置によって区分される領域の構成を示す図である。
ガイド層１１２および記録層１１３は、半径方向における位置によって内周側よりリードイン領域、データ領域、リードアウト領域に各層共通に区分される。
【００３６】
ガイド層１１２のリードイン領域には、多層光ディスク１１に固有の管理情報がガイドトラックのウォブリング、あるいはランドとグルーブに設けられたピット列などによって予め記録されている。
多層光ディスク１１に固有の管理情報は、例えば、記録層の数、記録方式、記録線速度、記録再生時のレーザパワーおよびレーザ駆動パルス波形などの推奨情報、データ領域の位置情報、ＯＰＣ領域の位置情報などを含む。ＯＰＣ領域は例えばリードイン領域よりも内周側に設けられる。
【００３７】
ガイド層１１２のデータ領域には、当該データ領域に対して割り当てられた物理アドレス情報が、ガイドトラック１２１のウォブリング、あるいはランドとグルーブに設けられたプリピット列などによって予め記録されている。
【００３８】
なお、ガイド層１１２のリードアウト領域にも、リードイン領域に記録された情報と同一の情報が、ガイドトラック１２１のウォブリング、あるいはランドとグルーブに設けられたプリピット列などによって予め記録されていてもよい。
【００３９】
記録層１１３のリードイン領域は、記録層１１３の記録再生に用いられる管理情報が記録マークによって記録される領域である。記録層１１３の記録再生に用いられる管理情報は、当該記録層１１３に割り当てられた層番号などの層情報、欠陥領域の交替処理に関する交替管理情報、ＯＰＣ処理（校正処理）によって決定された記録時の最適なレーザパワーなどの記録条件データ、記録済み領域のアドレス情報などを含む。この中で、少なくとも層情報は、例えば、当該多層光ディスク１１がユーザによるデータの記録に実際に利用される以前に各記録層１１３に記録マークで記録された情報である。
【００４０】
［ディスク搬送機構］
ディスク搬送機構２０は、ディスクカートリッジ１０から目的の多層光ディスク１１を取り出してドライブユニット３０内のディスクドライブ３１に装填したり、逆にディスクドライブ３１から排出された多層光ディスク１１をディスクカートリッジ１０に戻したりするための機構である。
【００４１】
ディスク搬送機構２０は、例えば、ディスクカートリッジ１０から同時あるいは順番連続して複数の多層光ディスク１１を取り出し、ドライブユニット３０内の複数のディスクドライブ３１に別々に装填することができるように、独立して動作可能な複数の搬送機構を備えたものであってもよい。
【００４２】
［ドライブユニット］
ドライブユニット３０には複数のディスクドライブ３１が搭載される。図１の例では、５機のディスクドライブ３１が搭載される。ディスクカートリッジ１０に収容される多層光ディスク１１の数とドライブユニット３０内に搭載されるディスクドライブ３１の数は必ずしも同じとする必要はない。
【００４３】
（ディスクドライブの構成）
図８は光記録装置であるディスクドライブ３１の構成を示す図である。
このディスクドライブ３１は、光ピックアップ３２を備える。光ピックアップ３２は、記録再生光に対応する記録再生光学系と、ガイド光に対応するガイド光学系とを備える。
【００４４】
記録再生光学系は、第１の光源３３、第１のコリメータレンズ３４、第１の偏光ビームスプリッタ３５、第１のリレーレンズ３６、第２のコリメータレンズ３７、合成プリズム３８、１／４波長板３９、対物レンズ６０、第１の受光レンズ６１および第１の受光部６２などで構成される。ここで、合成プリズム３８、１／４波長板３９、対物レンズ６０は、当該記録再生光学系と後述するガイド光学系の両方に属する。
【００４５】
第１の光源３３は青色レーザ光を記録再生光Ｒ１として出射するレーザダイオードを備える。第１の光源３３から出射された記録再生光Ｒ１は第１のコリメータレンズ３４によって平行光とされ、第１の偏光ビームスプリッタ３５、第１のリレーレンズ３６及び第２のコリメータレンズ３７を介して合成プリズム３８に入射する。合成プリズム３８は、第２のコリメータレンズ３７から入射される記録再生光Ｒ１と、後述するガイド光学系に属する第３のコリメータレンズから入射されるガイド光Ｒ２とを互いの光軸が一致するように合成し、１／４波長板３９を介して対物レンズ６０に入射させる。対物レンズ６０にて、入射された記録再生光は、多層光ディスク１１の目的の記録層１１３に合焦させるように集光される。
【００４６】
記録層１１３によって反射された記録再生光（戻り光）は、対物レンズ６０、１／４波長板３９を介して合成プリズム３８に入射し、合成プリズム３８を入射方向のまま透過して、第２のコリメータレンズ３７及び第１のリレーレンズ３６を介して第１の偏光ビームスプリッタ３５に戻る。第１の偏光ビームスプリッタ３５は、第１のリレーレンズ３６からの第１の波長の戻り光を約９０度の角度で反射して第１の受光レンズ６１を介して第１の受光部６２に入射させる。
【００４７】
第１の受光部６２は、例えば、受光面がディスク半径方向とタンジェンシャル方向に４分割された受光素子などで構成され、分割された受光面毎に受光強度に応じたレベルの電圧信号を出力する。
【００４８】
ガイド光学系は、第２の光源６３、第３のコリメータレンズ６４、第２の偏光ビームスプリッタ６５、第２のリレーレンズ６６、第４のコリメータレンズ６７、合成プリズム３８、１／４波長板３９、対物レンズ６０、第２の受光レンズ６８および第２の受光部６９などで構成される。
【００４９】
第２の光源６３は、赤色レーザ光であるガイド光Ｒ２を出射する。第２の光源６３から出射されたガイド光Ｒ２は第３のコリメータレンズ６４によって平行光とされ、第２の偏光ビームスプリッタ６５、第２のリレーレンズ６６及び第４のコリメータレンズ６７を介して合成プリズム３８に入射する。合成プリズム３８に入射されたガイド光Ｒ２は、前述したように、合成プリズム３８にて記録再生光学系の第２のコリメータレンズ３７から入射される記録再生光Ｒ１と光軸が一致するように合成され、１／４波長板３９を介して対物レンズ６０に入射される。対物レンズ６０にて、入射されたガイド光Ｒ２は、多層光ディスク１１のガイド層１１２に合焦させるように集光される。
【００５０】
ガイド層１１２によって反射されたガイド光Ｒ２（戻り光）は、対物レンズ６０、１／４波長板３９を介して合成プリズム３８に入射し、合成プリズム３８にて約９０度の角度で反射され、第４のコリメータレンズ６７及び第２のリレーレンズ６６を介して第２の偏光ビームスプリッタ６５に戻る。第２の偏光ビームスプリッタ６５は、第２のリレーレンズ６６からのガイド光Ｒ２の戻り光を、約９０度の角度で反射して第２の受光レンズ６８を介して第２の受光部６９に入射させる。
【００５１】
第２の受光部６９は、例えば、受光面がディスク半径方向とタンジェンシャル方向に４分割された受光素子などで構成される。第２の受光部６９は、分割された受光面毎に受光量に対応した電圧信号を出力する。
【００５２】
また、光ピックアップ３２には、トラッキングアクチュエータ７０とフォーカシングアクチュエータ７９が設けられている。トラッキングアクチュエータ７０はトラッキング制御部７１による制御のもとで対物レンズ６０を光軸に対して垂直な方向であるディスク半径方向に移動させる。フォーカシングアクチュエータ７９はフォーカス制御部７７による制御のもと対物レンズ６０を光軸方向に移動させる。
【００５３】
さらに、光ピックアップ３２には、記録再生光が照射される記録層１１３を切り替えるために、第１のリレーレンズ３６を光軸方向に移動させる第１のリレーレンズアクチュエータ８０と、ガイド光Ｒ２をガイド層１１２に合焦させるために、第２のリレーレンズ６６を光軸方向に移動させる第２のリレーレンズアクチュエータ８１が設けられている。
【００５４】
また。図示は省略したが、光ピックアップ３２には、多層光ディスク１１の記録面に対して、対物レンズ６０のラジアル方向およびタンジェンシャル方向の傾きを調整するチルトアクチュエータなども設けられている。
以上が、光ピックアップ３２の説明である。
【００５５】
ディスクドライブ３１は、上記の光ピックアップ３２のほか、トラッキング制御部７１、データ変調部７２、第１の光源駆動部７３、第２の光源駆動部７４、等化器７５、データ再生部７６、フォーカス制御部７７、トラッキングエラー生成部８２、コントローラ８３、第１のリレー制御部８４、第２のリレー制御部８５、およびフォーカスエラー生成部８６を備える。その他、ディスクドライブ３１は、ディスクモータ８７を駆動するディスクモータ駆動部、光ピックアップ３２を多層光ディスク１１の半径方向に送るフィード機構、光ピックアップ３２を対物レンズ６０の光軸方向に送るピックアップ上下送り機構などを備える。これらの図示は省略する。
【００５６】
データ変調部７２は、コントローラ８３より供給された記録用のデータを変調し、変調信号を第１の光源駆動部７３に供給する。
【００５７】
第１の光源駆動部７３は、データ変調部７２からの変調信号をもとに第１の光源３３を駆動するための駆動パルスを生成する。
【００５８】
等化器７５は、第１の受光部６２からの再生ＲＦ信号に対して、例えばＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）などの等化処理を行って二値信号を生成する。
【００５９】
データ再生部７６は、等化器７５より出力された二値信号からデータを復調し、復調されたデータから誤り訂正などの復号処理を行って再生データを生成し、コントローラ８３に供給する。
【００６０】
トラッキングエラー生成部８２は、例えばデータの記録時などに第２の受光部６９の出力をもとに、例えばプッシュプル法、差動プッシュプル法、３ビーム法などによってトラッキングエラー信号を生成する。また、トラッキングエラー生成部８２は、例えばデータの再生時などに第１の受光部６２の出力をもとに、例えばプッシュプル法、差動プッシュプル法、３ビーム法などによってトラッキングエラー信号を生成する。
【００６１】
トラッキング制御部７１は、トラッキングエラー信号をもとにトラッキングアクチュエータ７０を制御して対物レンズ６０を光軸に対して垂直な方向に移動させることによってトラッキング制御を行う。
【００６２】
フォーカスエラー生成部８６は、第１の受光部６２の出力をもとに、例えば、非点収差法などによりフォーカスエラー信号を生成する。
【００６３】
フォーカス制御部７７は、フォーカスエラー信号をもとに、フォーカスアクチュエータ７９を制御して対物レンズ６０を光軸方向に移動させることによってフォーカス制御を行う。
【００６４】
第１のリレー制御部８４は、記録対象の記録層を切り替えるように第１のリレーレンズアクチュエータ８０を制御する。
【００６５】
第２のリレー制御部８５は、ガイド光Ｒ２をガイド層１１２（ガイドトラック１２１）に合焦させるように第２のリレーレンズアクチュエータ８１を制御する。
【００６６】
コントローラ８３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などを備える。コントローラ８３は、ＲＡＭに割り当てられたメインメモリの領域にロードされたプログラムに基づいて、ディスクドライブ３１の全体の制御を行う。
【００６７】
ドライブユニット３０には、上記のディスクドライブ３１が複数搭載され、それぞれ独立して制御可能とされ、装填された多層光ディスク１１に対する情報の記録および再生をそれぞれ同時に行うことができる。
【００６８】
［ＲＡＩＤコントローラ］
ＲＡＩＤ（Redundant Arrays of Inexpensive Disks）コントローラ４０は、ホスト装置５０からの記録命令などに対して、ドライブユニット３０内の１以上のディスクドライブ３１にデータを多重に記録したり、ストライピングにより分散して記録したりするＲＡＩＤ制御を行う。ＲＡＩＤコントローラ４０より記録または再生の指示が与えられたそれぞれのディスクドライブ３１のコントローラ８３は、多層光ディスク１１に対してデータを記録したり再生したりするための制御を行う。
【００６９】
［ホスト装置］
ホスト装置５０は、本光記録システム１を制御する最上位の装置である。ホスト装置５０はパーソナルコンピュータでもよい。ホスト装置５０は、記録用のデータを作成または準備し、ＲＡＩＤコントローラ４０に対して当該記録用のデータの記録命令を供給する。また、ホスト装置５０は、ユーザなどより指定されたファイル名を含む読出命令をＲＡＩＤコントローラ４０に供給し、ＲＡＩＤコントローラ４０よりその応答として該当するファイル名のデータを取得する。
【００７０】
図３に示したように、ホスト装置５０は、ＣＰＵ５１、メモリ５２、ドライブＩ／Ｆ５３、ディスク搬送機構Ｉ／Ｆ５４、システムバス５６を有する。
【００７１】
ＣＰＵ５１は、メモリ５２に格納されたプログラムを実行するための演算処理を行うとともに、システムバス５６を通じて各部との情報のやりとりを制御する。
メモリ５２は、ＣＰＵ５１に実行させるプログラムや演算結果などが格納されるメインメモリである。
【００７２】
ドライブＩ／Ｆ５３は、ＲＡＩＤコントローラ４０を通じて複数のディスクドライブ３１と通信するためのインタフェースである。
【００７３】
ディスク搬送機構Ｉ／Ｆ５４は、ディスク搬送機構２０と通信するためのインタフェースである。
【００７４】
［光記録システムの動作例］
次に、この光記録システム１のドライブユニット３０内の１以上のディスクドライブ３１において多層光ディスク１１に対して記録を行う場合の制御について説明する。
【００７５】
ホスト装置５０からＲＡＩＤコントローラ４０を通じて、ドライブユニット３０内の１以上のディスクドライブ３１のコントローラ８３にデータの記録命令がそれぞれ与えられる。記録命令を受けたときの各ディスクドライブ３１の動作は同様であるため、一つのディスクドライブ３１の動作について説明する。
【００７６】
ディスクドライブ３１のコントローラ８３は、光ピックアップ３２を光ディスク１１の記録層１１３の記録領域においてデータが未記録の領域の最内周に対応する位置にそれぞれ移動させるように図示しないフィード機構を制御するとともに、図示しないディスクモータ駆動部を制御してディスク１１をＣＬＶ方式またはＣＡＶ方式において適切な速度で回転駆動させる。
【００７７】
さらに、コントローラ８３は、多層光ディスク１１の目的の記録層１１３に光ピックアップ３２の対物レンズ６０からの記録光が焦点をむすぶように、光ピックアップ３２の第１のリレーレンズ３６の光軸方向の位置を制御するとともに、光ディスク１１のガイド層１１２に光ピックアップ３２の対物レンズ６０からのガイド光が焦点をむすぶように光ピックアップ３２の第２のリレーレンズ６６の光軸方向の位置を制御する。
【００７８】
ディスクドライブ３１のコントローラ８３は、ホスト装置５０からＲＡＩＤコントローラ４０を通じて転送されてきた記録用のデータをデータ変調部７２に供給する。データ変調部７２では、記録用のデータの変調およびエラー訂正符号の付加などが行われることによって記録信号が生成され、第１の光源駆動部７３に供給される。第１の光源駆動部７３は、記録信号をもとに第１の光源３３の駆動用パルスを生成して第１の光源３３に供給する。同時にコントローラ８３は、第２の光源６３を駆動するように第２の光源駆動部７４に制御信号を出力する。これにより光ピックアップ３２からの記録光による記録層１１３へのデータの記録が開始される。すなわち、光ディスク１１の目的の記録層１１３に対して内周から外周へ向けてＣＬＶ方式またはＣＡＶ方式でのデータ記録が開始される。
【００７９】
ここで、データ記録時のトラッキング制御について説明する。
トラッキングエラー生成部８２は、第２の受光部６９の出力をもとに例えばＰＰ（プッシュプル）法によりＮＰＰ（Normalized Push-Pull）信号（トラッキングエラー信号）を生成する。ＮＰＰ信号とは、プッシュプル電圧をＲＦ信号電圧で除算、規格化したものをいう。プッシュプル法以外にも、例えば、ＤＰＰ（差動プッシュプル）法、あるいは３ビーム法などによってトラッキングエラー信号を生成してもよい。
【００８０】
トラッキング制御部７１は、トラッキングエラー信号を入力し、その値が０に近付くようにトラッキングアクチュエータ７０にトラッキング駆動信号を供給して対物レンズ６０を光軸に対して垂直な方向（ディスク半径方向）に移動させてトラッキング制御を行う。
【００８１】
記録時のトラッキング制御は多層光ディスク１１のガイド層１１２に設けられたガイドトラック１２１を構成するイングルーブ部１２１Ｌとオングルーブ部１２１Ｇのうち、一方のガイドトラック１２１を先に用いて行われる。
【００８２】
なお、データ再生時のトラッキング制御は、多層光ディスク１１の記録層１１３に記録された記録マークの列で構成されるデータトラックを用いて行われる。
【００８３】
図９および図１０は本実施形態のディスクドライブ３１によるデータトラックの記録順序を示す図である。
本実施形態のディスクドライブ３１では、例えば、先にイングルーブ部１２１Ｌを対象としたトラッキング制御により記録が行われ（図９を参照）、全てのイングルーブ部１２１Ｌに対するトラッキング制御による記録が完了した後、オングルーブ部１２１Ｇを対象とするトラッキング制御による記録に切り替えられる（図１０を参照）。以下に、その詳細を説明する。
【００８４】
図９はイングルーブ部１２１Ｌを用いて、多層光ディスク１１の任意の記録層Ｒｘに対し、多層光ディスク１１の内周側から外周側に向けて記録がＬ１、Ｌ２、Ｌ３の順に連続して行われた状態を示す図である。
なお、同図の上半分は多層光ディスク１１を対物レンズ６０の光軸方向に対して直交する方向から見た図、下半分は多層光ディスク１１の任意の記録層Ｒｘを対物レンズ６０の光軸方向に見た図である。
【００８５】
Ｌ０−Ｌ４はイングルーブ部１２１Ｌを示し、Ｇ０−Ｇ４はオングルーブ部１２１Ｇを示す。なお、イングルーブ部１２１Ｌは実際には一本の連続したトラックであり、オングルーブ部１２１Ｇも同様であるが、説明上、ディスク半径上の位置が異なるガイドトラック部分を、例えば「イングルーブ部（Ｌ０）」、「オングルーブ部（Ｇ０）」のように表記する。
【００８６】
本実施形態のディスクドライブ３１では、先にイングルーブ部１２１Ｌに対するトラッキング制御によって記録が行われることで、多層光ディスク１１の任意の記録層Ｒｘに記録マークＭが０．６４μｍのピッチで記録される。
【００８７】
［本実施形態に係る多層光ディスク］
次に、本実施形態に係る多層光ディスク１１の詳細について説明する。
【００８８】
一般に、ガイド層分離型光記録媒体においてガイド層のイングルーブ部とオングルーブ部とでは、それらの幾何学的な形状の相違に起因してトラッキング制御用のレーザ光（ガイド光）の回折特性が相互に異なる。例えば、レーザ光のスポット径（例えば波長６５０ｎｍにおいて１．１μｍ）に対してイングルーブ部の幅が狭いと、オングルーブ部と比較して、イングルーブ部でのレーザ光の回折が不十分となり、トラッキングが滑りやすくなることで、記録ピット上での走査がずれやすくなる。
【００８９】
例えば図１１に、ガイドトラック２２１のイングルーブ部２２１Ｌとオングルーブ部２２１Ｇに対してガイド光ＧＬが照射された様子を模式的に示す。イングルーブ部２２１Ｌの溝幅は、ガイド光ＧＬのスポット径に対して狭い。オングルーブ部２２１Ｇは、光ピックアップ（図中下側）に向かって突出した溝（グルーブ）とこれを中心として両側に窪んだ溝（ランド）にガイド光ＧＬが照射されるため、回折限界には到達し難い。一方、イングルーブ部２２１Ｌは、ランドとその両側のグルーブにガイド光ＧＬが照射されるため、ガイド光ＧＬがランドの中に入り込み難く、回折を得難くなる。このような現象はガイド光ＧＬの波長に依存しており、ガイド光ＧＬの波長が長いほど顕著となる。
【００９０】
以上のような問題が生じる結果、回折不十分によるＮＰＰ信号のＣ／Ｎ（Carrier to Noise ratio）が悪化し、イングルーブ部でのトラッキング追従性が低下することで、記録層上のイングルーブ部に対応する領域に形成される記録ピット（記録マーク）のトラック品位が低下するという問題がある。また、記録層に形成された記録トラックによって再生光をトラッキングする場合において、イングルーブ部に対応する記録トラックを精度よく再生することが困難になる。
【００９１】
そこで本発明者は、上記問題を解決するために、ＮＰＰ信号のＣ／Ｎの悪化を抑制することができるイングルーブ部１２１Ｌの溝幅と深さをそれぞれ検討した。ここで図１１に示すように、ガイド層１１２におけるイングルーブ部１２１Ｌの溝幅をInＷ［ｎｍ］、イングルーブ部１２１Ｌの深さをInＤ［ｎｍ］とする。溝幅InＷは、イングルーブ部１２１Ｌの底幅InＷａとイングルーブ部１２１Ｌの開口幅InＷｂとの和の半値（（InＷａ＋InＷｂ）／２）とした。
【００９２】
図１１において「Ｐ」は、イングルーブ部１２１Ｌ（あるいはオングルーブ部１２１Ｇ）のトラックピッチを現しており、ここでは０．６４μｍである。イングルーブ部１２１Ｌおよびオングルーブ部１２１Ｇはいずれもガイドトラックとして機能するため、ランド／グルーブ構造のガイドトラック１２１全体としてのトラックピッチは、０．３２μｍ（Ｐ／２）である。
【００９３】
また本実施形態では、図１１に示すように、オングルーブ部１２１Ｇの溝幅をOnＷ［ｎｍ］とする。溝幅OnＷは、オングルーブ部１２１Ｇの最小幅（突出端部の幅）OnＷａとオングルーブ部１２１Ｇの最大幅（基部の幅）OnＷｂとの和の半値（（OnＷａ＋OnＷｂ）／２）と定義される。これによりイングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷとオングルーブ部１２１Ｇの溝幅OnＷとの和は、イングルーブ部１２１Ｌ（あるいはオングルーブ部１２１Ｇ）のトラックピッチＰと一致する。
なおオングルーブ部１２１Ｇの深さ（高さ）は、イングルーブ部１２１Ｌの深さ（InＤ）と同一である。
【００９４】
図１３は、イングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷに対するＮＰＰ特性のガイド光の波長依存性を示す一実験結果である。同図に示すように、ガイド光の波長が大きいほどＮＰＰ特性が低下する傾向にある。また、ＮＰＰ特性が最大となるイングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷは、いずれの波長（６００ｎｍ、６５０ｎｍおよび７００ｎｍ）においても３５０ｎｍであることが確認された。
【００９５】
一方、図１４は、イングルーブ部１２１Ｌの深さInＤに対するＮＰＰ特性のガイド光の波長依存性を示す一実験結果である。同図に示すように、各波長帯でのＮＰＰの最大値はほぼ一定であった。またＮＰＰ特性が最大となるイングルーブ部１２１Ｌの深さは、ガイド光の波長が大きいほど大きくなる。図１５は、ガイド光の各波長（λ）についてＮＰＰが最大となる溝深さInＤをプロットした図であり、同図に示すように波長と溝深さInＤとは一次関数（ｙ＝０．２ｘ−５０）で近似できることが確認された。
【００９６】
高精度なトラッキング追従性を確保する観点からＮＰＰの値は高い方が好ましく、実用的には、イングルーブ部に対応する記録層Ｒｘの記録トラックに形成される記録ピット（記録マーク）の再生評価指標（ＳＥＲ：Symbol Error Rate）が１０のマイナス４乗オーダ（９．９×１０−４（９．９Ｅ−４））以下に抑えられることが好ましい。このような条件を満たすイングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷ［ｎｍ］および深さInＤ［ｎｍ］は、次の（１）〜（３）式で規定される。
【００９７】
２８０≦InＷ≦４３０  …（１）
（０．２λ−６５）≦InＤ≦（０．２λ−４０）  …（２）
６００≦λ≦７００  …（３）
ここで、λ［ｎｍ］はガイドトラック１２１に集光されるレーザ光、すなわちガイド光の波長を表す。
【００９８】
イングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷが２８０ｎｍ未満の場合、イングルーブ部１２１Ｌへのガイド光の回折が不十分となり、ＮＰＰ信号のＣ／Ｎ悪化が避けられない。一方、溝幅InＷが４３０ｎｍを超えると、イングルーブ部１２１ＬのトラックピッチＰ（０．６４μｍ）においてオングルーブ部１２１Ｇの溝幅（OnＷ）が狭くなり過ぎて、オングルーブ部１２１Ｇのトラッキング追従性の低下が避けられなくなる。
【００９９】
また、イングルーブ部１２１Ｌの深さInＤが（０．２λ−６５）ｎｍ未満の場合、イングルーブ部１２１Ｌにおける回折特性とオングルーブ部１２１Ｇにおける回折特性との差が小さく、トラッキング追従性の低下を招く。一方、イングルーブ部１２１Ｌの深さInＤが（０．２λ−４０）ｎｍを超える場合、イングルーブ部１２１Ｌへのガイド光の回折が不十分となり、ＮＰＰ信号のＣ／Ｎ悪化が避けられない。
【０１００】
上記（１）〜（３）式を満たすことにより、回折不十分によるＮＰＰ信号のＣ／Ｎ悪化を防止し、オングルーブ部１２１Ｇのトラッキング追従性を確保しつつ、イングルーブ部１２１Ｌの走査時にトラック中心上からのガイド光が外れないようにすることができる。これにより記録層に対して品位の高い記録トラックを形成することができるとともに、当該記録トラックの再生特性を高めることができる。
【０１０１】
上記（１）、（２）式より、イングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷおよび深さInＤは、ガイド光の波長λに応じて、以下のように規定される。
波長６００ｎｍのとき、
２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、５５ｎｍ≦InＤ≦８０ｎｍ
波長６５０ｎｍのとき、
２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、６５ｎｍ≦InＤ≦９０ｎｍ
波長７００ｎｍのとき、
２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、７５ｎｍ≦InＤ≦１００ｎｍ
【０１０２】
なお好ましくは、イングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷおよび深さInＤは、ガイド光の波長λに応じて、以下のように規定される。
波長６００ｎｍのとき、
３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、６５ｎｍ≦InＤ≦７５ｎｍ
波長６５０ｎｍのとき、
３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、７５ｎｍ≦InＤ≦８５ｎｍ
波長７００ｎｍのとき、
３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、８５ｎｍ≦InＤ≦９５ｎｍ
【０１０３】
この場合、６００≦λ≦７００において、上記（１）、（２）式は、以下のように変形される。
３３０≦InＷ≦４００  …（１）’
（０．２λ−５５）≦InＤ≦（０．２λ−４５）  …（２）’
【０１０４】
なお（１）’式は、イングルーブ部１２１Ｌ（オングルーブ部１２１Ｇ）のトラックピッチ（Ｐ）において、イングルーブ部１２１Ｌの溝幅InＷがオングルーブ部１２１Ｇの溝幅OnＷよりも大きい（広い）ことを表している。これによりオングルーブ部１２１Ｇに対するトラッキング追従性と同等以上の追従性をもってイングルーブ部１２１Ｌを走査することができる。
【実施例】
【０１０５】
以下、本発明の実施例について説明するが、勿論、本発明は以下の実施例に限定されない。
【０１０６】
（実施例１）
スタンパ成形金型を用いて、外径１２０ｍｍ、厚さ１．１ｍｍの円盤状のポリカーボネート製の基板（基材）を作製した。本例では、基板の半径２３．５ｍｍの位置から半径５８．０ｍｍまでの環状領域をデータ記録領域とし、このデータ記録領域を螺旋状のイングルーブ部とオングルーブ部とを含むガイドトラックで構成した。上記ガイドトラックの表面に、Ａｇ−０．２wt％Ｉｎ合金からなる反射層を６０ｎｍの厚さでスパッタ成膜した。反射層の形成後にイングルーブ部に相当する凹部を原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて測定したところ、溝幅（図１２の「InＷ」に相当。以下同じ。）は３３０ｎｍ、溝深さ（図１２の「InＤ」に相当。以下同じ。）は７５ｎｍ、イングルーブ部のトラックピッチ（Ｐ）は０．６４μｍであった。
【０１０７】
次に、反射層の上に、スピンコート法により紫外線硬化樹脂を２００μｍの厚さで塗布した後、硬化させた。次に、ＳｉＯ2およびＩｎ2Ｏ3を主成分とした透明材料（厚さ２５ｎｍ）、Ｆｅ3Ｏ4（３ｎｍ）、ＧｅＢｉ−Ｏ（３０ｎｍ）、ＳｉＯ2およびＩｎ2Ｏ3を主成分とした透明材料（厚さ２５ｎｍ）の順でスパッタリング法により積層成膜した記録層を形成した。最後に、記録層の上に、スピンコート法により紫外線硬化樹脂を１００μｍの厚さで塗布した後、硬化させて、カバー層（保護層）を形成した。
【０１０８】
続いて、以上のようにして作製された光記録媒体の記録層に、パルステック工業（株）製の光ディスクドライブユニット「ODU-1000」を用いて、１−７ＰＰ（Parity preserve / Prohibit repeated minimum transition length）変調方式でフォーマットデータを記録した。このとき、光記録媒体を線速度９．８４ｍ／ｓで回転させ、波長６５０ｎｍ、出力０．３ｍＷのレーザ光（ガイド光）をイングルーブ部に集光してトラッキング追従制御を実行しながら、波長４０５ｎｍ、出力２０ｍＷのレーザ光（記録光）を当該イングルーブ部に対応する記録層の領域に集光して記録ピットを形成した。そして、イングルーブ部に対応する記録層の領域に記録ピット（記録マーク）を形成後、当該記録ピットを波長４０５ｎｍ、出力８０ｍＷのレーザ光（再生光）でトラックずれを評価した。トラックずれは、再生信号の劣化の度合いで評価した。評価指標にはＳＥＲ（Symbol Error Rate）の計測値を用い、その値が１Ｅ−３（１．０×１０−3）を良否の基準とした。
【０１０９】
評価の結果、ＳＥＲの値は４．２Ｅ−４（４．２×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１０】
（実施例２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．３Ｅ−４（２．３×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１１】
（実施例３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は３．４Ｅ−４（３．４×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１２】
（実施例４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．５Ｅ−４（２．５×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１３】
（実施例５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．９Ｅ−４（１．９×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１４】
（実施例６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．０Ｅ−４（２．０×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１５】
（実施例７）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．６Ｅ−４（５．６×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１６】
（実施例８）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は４．１Ｅ−４（４．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１７】
（実施例９）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．１Ｅ−４（５．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１８】
（実施例１０）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は８．２Ｅ−４（８．２×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１１９】
（実施例１１）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は７．１Ｅ−４（７．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２０】
（実施例１２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は６．４Ｅ−４（６．４×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２１】
（実施例１３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は４．７Ｅ−４（４．７×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２２】
（実施例１４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．５Ｅ−４（５．５×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２３】
（実施例１５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は８．９Ｅ−４（８．９×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２４】
（実施例１６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は７．７Ｅ−４（７．７×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２５】
（実施例１７）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．５Ｅ−４（５．５×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２６】
（実施例１８）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は７．４Ｅ−４（７．４×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２７】
（実施例１９）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は６．０Ｅ−４（６．０×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２８】
（実施例２０）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は３．１Ｅ−４（３．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１２９】
（実施例２１）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は７．７Ｅ−４（７．７×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３０】
（実施例２２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は７．０Ｅ−４（７．０×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３１】
（実施例２３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は６．１Ｅ−４（６．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３２】
（実施例２４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．３Ｅ−４（５．３×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３３】
（実施例２５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は９．０Ｅ−４（９．０×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３４】
（実施例２６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は８．１Ｅ−４（８．１×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３５】
（実施例２７）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．６Ｅ−４（５．６×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３６】
（実施例２８）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は５．５Ｅ−４（５．５×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３７】
（実施例２９）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は６．３Ｅ−４（６．３×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３８】
（実施例３０）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は６．９Ｅ−４（６．９×１０−4）であり、良好な結果が得られた。
【０１３９】
（比較例１）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は３．２Ｅ−３（３．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４０】
（比較例２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．９Ｅ−３（１．９×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４１】
（比較例３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．６Ｅ−３（１．６×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４２】
（比較例４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．１Ｅ−３（１．１×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４３】
（比較例５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．１Ｅ−３（１．１×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４４】
（比較例６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．３Ｅ−３（１．３×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４５】
（比較例７）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．５Ｅ−３（１．５×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４６】
（比較例８）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．７Ｅ−３（１．７×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４７】
（比較例９）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．３Ｅ−３（２．３×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４８】
（比較例１０）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を６５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．３Ｅ−３（１．３×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１４９】
（比較例１１）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．９Ｅ−３（１．９×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５０】
（比較例１２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を７５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．３Ｅ−３（１．３×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５１】
（比較例１３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．４Ｅ−３（１．４×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５２】
（比較例１４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．２Ｅ−３（１．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５３】
（比較例１５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．８Ｅ−３（１．８×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５４】
（比較例１６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を８５ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．２Ｅ−３（１．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５５】
（比較例１７）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．２Ｅ−３（２．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５６】
（比較例１８）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を９０ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．１Ｅ−３（１．１×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５７】
（比較例１９）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．５Ｅ−３（２．５×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５８】
（比較例２０）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を２８０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は２．５Ｅ−３（２．５×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１５９】
（比較例２１）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．７Ｅ−３（１．７×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６０】
（比較例２２）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．２Ｅ−３（１．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６１】
（比較例２３）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を３６０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．１Ｅ−３（１．１×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６２】
（比較例２４）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４００ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．１Ｅ−３（１．１×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６３】
（比較例２５）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４３０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．２Ｅ−３（１．２×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６４】
（比較例２６）
イングルーブ部の溝幅（InＷ）を４５０ｎｍ、溝深さ（InＤ）を１００ｎｍとした以外は、実施例１と同様の条件で光記録媒体を作製した。この光記録媒体を実施例１と同一の評価方法でＳＥＲを測定したところ、評価値は１．５Ｅ−３（１．５×１０−3）であり、基準を超える結果が得られた。
【０１６５】
以上の結果を表１にまとめて示す。表１は、イングルーブ部の溝幅および深さとＳＥＲ評価値との関係を示している。
【０１６６】
【表１】
2014120182.tif 000003
【０１６７】
表１に示すように、２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、かつ、６５ｎｍ≦InＤ≦９０ｎｍの条件を満たす実施例１〜３０によれば、ＳＥＲ評価値が基準値（１Ｅ−３）を下回る（１０のマイナス４乗オーダである）ことが確認された。これに対して上記条件を満足しない比較例１〜２６においては、いずれもＳＥＲ評価値が基準値（１Ｅ−３）を越える結果となった。ＳＥＲ評価値が１Ｅ−３を越えると、再生時のエラー訂正が困難となり、再生特性が悪化する。したがって実施例１〜３０によれば、イングルーブ部のトラッキング追従性が高く、トラックずれを効果的に抑制することができる。
【０１６８】
また、実施例１〜９、１１〜１４、１６〜２４、２７〜３０によれば、８Ｅ−４以下のＳＥＲ評価値を得られることから、上記基準値（１Ｅ−３）に対して所定のマージンを確保でき、安定した記録再生特性を得ることが可能となる。
【０１６９】
さらに、３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、かつ、７５ｎｍ≦InＤ≦８５ｎｍの条件を満たす実施例１〜９によれば、５．６Ｅ−４以下のＳＥＲ評価値が得られることから、高精度な記録再生特性を安定して確保することができる。
【０１７０】
図１６は、ガイド光の波長６５０ｎｍにおけるイングルーブ部の溝幅および深さとＮＰＰ特性との関係を示しており、ＮＰＰ値の大きさを等高線で表した図である。図中の矩形Ｓ１１で囲まれた領域（２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、６５ｎｍ≦InＤ≦９０ｎｍ）は実施例１〜３０に対応し、Ｓ１１内の矩形Ｓ１２で囲まれた領域（３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、７５ｎｍ≦InＤ≦８５ｎｍ）は特にＮＰＰ値の高い領域を示しており、この範囲は実施例１〜９に対応する。表１および図１６から明らかなように、ＮＰＰ値が高いほどＳＥＲ評価値を低く抑えることができる。
【０１７１】
（実施例３１）
実施例１〜３０と同様にイングルーブ部の溝幅（InＷ）あるいは深さ（InＤ）が異なる複数の光記録媒体のサンプルを作製し、各サンプルについて、波長６００ｎｍ、出力０．３ｍＷのレーザ光（ガイド光）をイングルーブ部に集光し、その回折光に基づいて取得されるＮＰＰ信号の出力値を測定した。その結果を図１７に示す。
【０１７２】
図１７において矩形Ｓ２１で囲まれた領域は、２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、かつ、５５ｎｍ≦InＤ≦８０ｎｍの条件を満たし、Ｓ２１内の矩形Ｓ２２で囲まれた領域は、３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、かつ、６５ｎｍ≦InＤ≦７５ｎｍの条件を満たす。領域Ｓ２１でのＳＥＲ評価値は、実施例１〜３０と同様に、１Ｅ−３よりも低く、良好な結果が得られた。また領域Ｓ２２は、Ｓ２１の中でも特にＮＰＰ値の高い領域を示しており、８Ｅ−４以下のＳＥＲ評価値が得られることが確認された。
【０１７３】
（実施例３２）
実施例１〜３０と同様にイングルーブ部の溝幅（InＷ）あるいは深さ（InＤ）が異なる複数の光記録媒体のサンプルを作製し、各サンプルについて、波長７００ｎｍ、出力０．３ｍＷのレーザ光（ガイド光）をイングルーブ部に集光し、その回折光に基づいて取得されるＮＰＰ信号の出力値を測定した。その結果を図１８に示す。
【０１７４】
図１８において矩形Ｓ３１で囲まれた領域は、２８０ｎｍ≦InＷ≦４３０ｎｍ、かつ、７５ｎｍ≦InＤ≦１００ｎｍの条件を満たし、Ｓ３１内の矩形Ｓ３２で囲まれた領域は、３３０ｎｍ≦InＷ≦４００ｎｍ、かつ、８５ｎｍ≦InＤ≦９５ｎｍの条件を満たす。領域Ｓ３１でのＳＥＲ評価値は、実施例１〜３０と同様に、１Ｅ−３よりも低く、良好な結果が得られた。また矩形Ｓ３２で囲まれた領域は、Ｓ３１の中でも特にＮＰＰ値の高い領域を示しており、８Ｅ−４以下のＳＥＲ評価値が得られることが確認された。
【０１７５】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【０１７６】
例えば以上の実施形態では、複数の記録層１１３を有するガイド層分離型光記録媒体を例に挙げて説明したが、例えば単一の記録層を有するガイド層分離型光記録媒体に対しても本発明は適用可能である。
【０１７７】
また以上の実施形態では、図１に示した光記録システム１によって本発明に係る光記録媒体が駆動される例を説明したが、光記録システムは上記の例に限定されず、他の方式の光記録システムにも本発明は適用可能である。
【０１７８】
さらに以上の実施形態では、０．３２μｍのトラックピッチを有するガイドトラックを例に挙げて説明したが、トラックピッチはこれに限定されず、ランド間ピッチ（あるいはグルーブ間ピッチ）に応じて適宜のトラックピッチが適用可能である。
【符号の説明】
【０１７９】
１１…多層光ディスク
１１０…基材
１１２…ガイド層
１１３…記録層
１１４…中間層
１１５…保護層
１２１…ガイドトラック
１２１Ｇ…オングルーブ部
１２１Ｌ…イングルーブ部
【図１】
2014120182.tif 000004
【図２】
2014120182.tif 000005
【図３】
2014120182.tif 000006
【図４】
2014120182.tif 000007
【図５】
2014120182.tif 000008
【図６】
2014120182.tif 000009
【図７】
2014120182.tif 000010
【図８】
2014120182.tif 000011
【図９】
2014120182.tif 000012
【図１０】
2014120182.tif 000013
【図１１】
2014120182.tif 000014
【図１２】
2014120182.tif 000015
【図１３】
2014120182.tif 000016
【図１４】
2014120182.tif 000017
【図１５】
2014120182.tif 000018
【図１６】
2014120182.tif 000019
【図１７】
2014120182.tif 000020
【図１８】
2014120182.tif 000021