(57)【要約】【課題】表示装置の駆動基板上に搭載されたメモリのデータ検査を行うにあたり、専用の検査治具が不要とし、また、メモリ検査をＴＣＯＮにメモリデータを読込ませ動作させた実使用条件での実施を可能とし、かつ、メモリ検査と同時に他の表示検査（点欠陥検査等）を平行実施できるようにする表示装置を提供する。【解決手段】動作設定データをメモリに保持し利用する駆動回路を有する表示装置において、前記駆動回路がメモリから読み込まれたデータｂｉｔの二値と明暗又は異なる色の二値とを対応付けかつ線又は長方形で表現される画像データ化する表示データ生成部と、表示データ生成部で生成されたデータと入力画像データとを選択するスイッチと、スイッチ切替のタイミングを制御するスイッチ切替タイミング制御部とを有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
動作設定データをメモリに保持し利用する駆動回路を有する表示装置において、
前記駆動回路がメモリから読み込まれたデータｂｉｔの二値と明暗又は異なる色の二値とを対応付け、かつ線又は長方形で表現される画像データ化する表示データ生成部と、
表示データ生成部で生成されたデータと入力画像データとを選択するスイッチと、
スイッチ切替のタイミングを制御するスイッチ切替タイミング制御部とを有することを特徴とする表示装置。
【請求項２】
スイッチ切替タイミング制御部は、表示データ生成部からの画像データと入力画像データとを１画面内で任意の表示比率で並べた表示データが得られるよう、スイッチ切替タイミングを制御することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
スイッチ切替タイミング制御部は、表示データ生成部からの画像データと入力画像データとを任意のフレーム周期で切替えるよう、スイッチ切替タイミングを制御することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
動作設定データをメモリに保持し利用する駆動回路を有する表示装置において、
前記駆動回路がメモリから読み込まれたデータｂｉｔの二値と明暗又は異なる色の二値とを対応付け、かつ線又は長方形で表現される画像データ化する表示データ生成部と、
表示データ生成部で生成されたデータと入力画像データとの比較を行いその結果を示す画像データを出力する表示データ比較部と、
表示データ比較部で生成されたデータと入力画像データとを選択するスイッチとを有することを特徴とする表示装置。
【請求項５】
表示データ比較部の出力画像データは、比較結果の一致または不一致と一意に紐付けられた単色のベタ画面データであることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
表示データ比較部の出力画像データは、比較結果の一致または不一致と一意に紐付けられた単色で、一致部位と不一致部位とを塗り分けた画面データであることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項７】
表示データ比較部の出力画像データは、任意の表示検査画像データと一致することを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項８】
入力表示データと動作設定データの画像化データとを並べて表示し、その一致性を検査することを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項９】
入力表示データと動作設定データの画像化データとを任意のフレーム周期で交互に表示し、ちらつきの有無を検査することを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１０】
入力表示データと動作設定データの画像化データとの比較結果画面を表示し、その画面が合格画面か否かを確認することを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１１】
入力表示データと動作設定データの画像化データとの比較結果画面表示を、別の表示検査画面と兼用することを特徴とする表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置及び表示装置の検査方法に関し、特に、表示装置上のメモリ検査を専用の検査治具（ＲＯＭリーダ等）なしで、表示装置単体で行うことを可能とした表示装置及び表示装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置の駆動基板に搭載されるタイミングコントローラ（ＴＣＯＮ）の動作設定データや表示装置の製造履歴等を記録する手段として、ＲＯＭやＥＥＰＲＯＭに代表される不揮発性メモリ（以下「メモリ」と略して記載）を使用する事例がある。そして、表示装置上のメモリは、駆動基板単体検査、あるいは表示装置検査工程の１つとしてメモリに格納されたデータの正常性検査が必要である。
【０００３】
通常この検査は、次に示すような、表示装置とは別に専用の検査治具（ＲＯＭリーダ）を用意し、駆動基板上に設けられたコネクタやテストパッド等に検査治具を接続してデータを読出し、予め用意した期待値との照合（ベリファイ）を行うことにより実施される。
【０００４】
特許文献１の従来技術は、図３１に示すメモリ部１６０に格納されたディスプレイの製造情報等データを、図３２に示すような１次元バーコードに変換して表示するというものである。
【０００５】
そして、作業者は、別途用意したバーコードリーダによって画面上に表示されたバーコード映像を読み取り、メモリ部に格納されたディスプレイの製造情報等データを得ることができる。下記に、図３１において、１次元バーコードを表示するまでの手順を説明する。
【０００６】
まず、作業者がバーコード表示選択キー１１３を操作し、この操作をトリガーとして、制御部１５０に含まれるＣＰＵがメモリ部１６０へリードアクセスし、メモリ部１６０に格納されたディスプレイの製造情報等データを読み取る。
【０００７】
次に、制御部１５０に含まれるＣＰＵで読み取られたデータはＯＳＤ発生部１６１へ送信され、ＯＳＤ発生部１６１にて受信したデータは１次元バーコードの画像データへ変換される。
【０００８】
そして、ＯＳＤ生成部１６１で生成された１次元バーコード画像データは、スケーラ１５７へ送信され、ディスプレイ駆動部１５９を経て、ディスプレイ部１０３に表示される。
【０００９】
また、特許文献２の従来技術は、（ｍ＋１）×（ｎ＋１）のマトリクス状に配置された複数の画像表示ユニットで構成される画像表示システムにて、図３３に示す不揮発性メモリ２２５に格納された固有情報（より具体的には、画像表示ユニットの設置座標を示す自己アドレス情報Ｄ２及びファームウェアバージョン情報Ｄ３）を、図３４に示すように文字情報として表示するというものである。
【００１０】
これにより、作業者は、表示された文字情報を目視で確認することで、設定情報の良否を検証することができる。図３３において、固有情報（自己アドレス情報Ｄ２及びファームウェアバージョン情報Ｄ３）を表示するまでの手順を説明する。
【００１１】
まず、画像表示ユニット外に設置されたホストコンピュータより、固有情報確認モードを指示するスイッチ制御信号ＳＣを全ての画像表示ユニットへ与えるか、あるいは各画像表示ユニット上のロータリスイッチ２２７を固有情報確認モードを指示する状態へ切替る。
【００１２】
前記操作をトリガーとして、表示装置制御マイコン２２６がスイッチ２２２をｂ側へ切替え、同時に不揮発性メモリ２２５に格納された自己アドレス情報Ｄ２及びファームウェアバージョン情報Ｄ３が、表示装置制御マイコン２２６の制御で読出される。
【００１３】
読出された自己アドレス情報Ｄ２及びファームウェアバージョン情報Ｄ３は、情報画像化制御部２２１により画像データへ変換され、スイッチ２２２のｂ入力へ付与する。
【００１４】
そして、スイッチ２２２のｂ入力へ付与された自己アドレス情報Ｄ２及びファームウェアバージョン情報Ｄ３の画像データは、描画メモリ２２３、ドライバ２２４を介して発光素子２１１上に表示される。
【００１５】
いずれの従来技術も、メモリに書かれたデータを１次元バーコードあるいは文字として図形化して可視化、表示することでメモリ検査を行うことができる。しかし、これらの従来技術には下記の問題点がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１６】
【特許文献１】特開２００３−５７３３号公報
【特許文献２】特開２０００−１５５５６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
特許文献１の従来技術の場合、表示装置の駆動基板上に搭載されたメモリのデータ検査を行うにあたり、メモリに書かれたデータの期待値照合（ベリファイ）行うには専用の治具（バーコードリーダ）を使った読取作業が必要であり、検査上の手間及び検査治具を別途用意する手間がかかる。
【００１８】
また、前記いずれの従来技術にも共通する課題として、メモリデータの可視化のためにＯＳＤ生成部（情報画像化制御部）やＣＰＵ（マイコン）といった外部回路が必要となるので、同等回路を小型の表示装置に組込むことは困難である。また、メモリに書かれたデータの正常性検査は行えるが、表示装置の全領域・全画素を利用した表示ではないため、表示装置そのものの正常性検査（ドット抜け、ライン欠陥有無検査等）は別途行う必要があり、実使用条件に沿った形での検査が行えない。
【００１９】
そこで、本発明では、これらの従来技術の問題点を下記の手段にて解決することを目的とした。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
前記課題を解決するために、本発明の表示装置は、動作設定データをメモリに保持し利用する駆動回路を有する表示装置において、前記駆動回路がメモリから読み込まれたデータｂｉｔの２値と明暗又は異なる色の二値とを対応付けかつ線又は長方形で表現される画像データ化する表示データ生成部と、表示データ生成部で生成されたデータと入力画像データとを選択するスイッチと、スイッチ切替のタイミングを制御するスイッチ切替タイミング制御部とを有することを特徴とする。
【００２１】
また、スイッチ切替タイミング制御部は、表示データ生成部からの画像データと入力画像データとを１画面内で任意の表示比率で並べた表示データが得られるよう、スイッチ切替タイミングを制御することを特徴とする。
【００２２】
また、スイッチ切替タイミング制御部は、表示データ生成部からの画像データと入力画像データとを任意のフレーム周期で切替えるよう、スイッチ切替タイミングを制御してもよい。
【００２３】
一方、本発明の表示装置は、動作設定データをメモリに保持し利用する駆動回路を有する表示装置において、前記駆動回路がメモリから読み込まれたデータｂｉｔの２値と明暗又は異なる色の二値とを対応付けかつ線又は長方形で表現される画像データ化する表示データ生成部と、表示データ生成部で生成されたデータと入力画像データとの比較を行いその結果を示す画像データを出力する表示データ比較部と、表示データ比較部で生成されたデータと入力画像データとを選択するスイッチとを有することを特徴とする。
【００２４】
また、表示データ比較部の出力画像データは、比較結果の一致または不一致と一意に紐付けられた単色のベタ画面データであることを特徴とする。
【００２５】
また、表示データ比較部の出力画像データは、比較結果の一致または不一致と一意に紐付けられた単色で、一致部位と不一致部位とを塗り分けた画面データであってもよい。
【００２６】
また、表示データ比較部の出力画像データは、任意の表示検査画像データと一致する画像データであってもよい。
【００２７】
他方、本発明に係る表示装置の検査方法は、入力表示データと動作設定データの画像化データとを並べて表示し、その一致性を検査することを特徴とする。
【００２８】
また、本発明に係る表示装置の検査方法は、入力表示データと動作設定データの画像化データとを任意のフレーム周期で交互に表示し、ちらつきの有無を検査することを特徴とする。
【００２９】
さらに、本発明に係る表示装置の検査方法は、入力表示データと動作設定データの画像化データとの比較結果画面を表示し、その画面が合格画面か否かを確認するようにしてもよい。
【００３０】
一方、本発明に係る表示装置の検査方法は、入力表示データと動作設定データの画像化データとの比較結果画面表示を、別の表示検査画面と兼用するようにしてもよい。
【発明の効果】
【００３１】
本発明に係る表示装置は、表示装置単体でメモリデータを画像化（可視化）することにより、メモリ検査にあたり専用の検査治具が不要となる。
【００３２】
特に、本発明に係る表示装置では、ＴＣＯＮや水平ドライバの有する機能を積極的に利用することで、特許文献１や特許文献２のような従来技術に対して、ＯＳＤ生成部など、検査用に設けられた回路を削減することができ、部品点数削減にも効果がある。
【００３３】
さらに、本発明に係る表示装置では、同一画面内または映像（連続する画像内）に、メモリデータの可視化画像と外部入力からの期待値画像を表示するか、あるいは、メモリデータの可視化画像と期待値画像および検査画面を表示する。また、メモリデータの可視化画像と外部入力からの期待値画像とで期待値照合（ベリファイ）を行い合否画面を出力、合格画面を別の検査画面と兼用させるという構成とする。
【００３４】
これにより、メモリ検査を、ＴＣＯＮにメモリデータを読込ませ動作させた実使用条件で実施することができ、また、メモリ検査を他の表示検査（点欠陥検査等）と同時実施することで、検査時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施例１における表示装置の構成を示した図である。
【図２】本発明の実施例１における表示装置に内蔵されたＴＣＯＮの内部機能ブロック図である。
【図３】本発明の実施例１における表示データ生成部１４で生成された画像の一例を示した図である。
【図４】本発明の実施例１における入力画像信号線３１上の画像データをそのまま表示する場合の表示例を示した図である。
【図５】本発明の実施例１におけるｍ  ｂｉｔのメモリデータとその期待値とが一致する場合の画像表示例を示した図である。
【図６】本発明の実施例１におけるｍ  ｂｉｔのメモリデータとその期待値とが一致しない場合の画像表示例を示した図である。
【図７】本発明の実施例１におけるメモリデータの検査範囲を２ｍ  ｂｉｔへ拡張した場合の画像表示例を示した図である。
【図８】本発明の実施例１におけるメモリデータの検査と同時にグレースケール検査画面を表示させた場合の画像表示例を示した図である。
【図９】本発明の実施例２における表示装置に内蔵されたＴＣＯＮの内部機能ブロック図である。
【図１０】本発明の実施例２におけるスイッチ切替タイミング制御部１６の動作を示すタイムチャートである。
【図１１】本発明の実施例２におけるスイッチ切替タイミング制御部１６の回路一例を示した図である。
【図１２】本発明の実施例２におけるメモリデータとその期待値とが一致する場合の画像表示例を示した図である。
【図１３】本発明の実施例２におけるメモリデータとその期待値とが一致しない場合の画像表示を示した図である。
【図１４】本発明の実施例３における表示装置に内蔵されたＴＣＯＮの内部機能ブロック図である。
【図１５】本発明の実施例３における表示データ比較部の、メモリデータとその期待値とが一致する場合（検査合格）の動作例を示した図である。
【図１６】本発明の実施例３における表示データ比較部の、メモリデータとその期待値とが一致しない場合に画面全体を使用し検査ＮＧを出力する動作例を示した図である。
【図１７】本発明の実施例３における表示データ比較部の、メモリデータとその期待値とが一致しない場合に検査ＮＧのデータ部のみ白表示を出力する動作例を示した図である。
【図１８】本発明の実施例４における表示装置に内蔵されたＴＣＯＮの内部機能ブロック図である。
【図１９】本発明の実施例４における図２０に示す動作と対応する画像表示例を示した図である。
【図２０】図１９に示す画像を表示する際のゲート、ドレイン、ＤＬＰのタイムチャートである。
【図２１】本発明の実施例４においてメモリ可視化画像を生成する際のゲート、ドレイン、ＤＬＰのタイムチャートである。
【図２２】図２１のタイムチャートに示す駆動信号から得られるメモリ可視化画像である。
【図２３】本発明の実施例４におけるメモリデータとその期待値とが一致する場合の画像表示例を示した図である。
【図２４】本発明の実施例４におけるメモリデータとその期待値とが一致しない場合の画像表示例を示した図である。
【図２５】本発明の実施例５における表示装置の構成を示した図である。
【図２６】本発明の実施例５における表示装置に内蔵されたＴＣＯＮの内部機能ブロック図である。
【図２７】本発明の実施例５におけるｍ  ｂｉｔのメモリデータとその期待値とが一致する場合の画像表示例を示した図である。
【図２８】本発明の実施例５におけるｍ  ｂｉｔのメモリデータとその期待値とが一致しない場合の画像表示例を示した図である。
【図２９】本発明の実施例５におけるメモリデータの検査範囲を２ｍ  ｂｉｔへ拡張した場合の画像表示例を示した図である。
【図３０】本発明の実施例１におけるメモリデータの検査と同時にグレースケール検査画面を表示させた場合の画像表示例を示した図である。
【図３１】特許文献１で開示された従来技術における回路ブロック図である。
【図３２】特許文献１で開示された従来技術におけるメモリデータの画面表示例を示す図である。
【図３３】特許文献２で開示された従来技術における回路ブロック図である。
【図３４】特許文献２で開示された従来技術におけるメモリデータの画面表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３６】
以下、図面に基づいて本実施形態の表示装置及び表示装置の検査方法について説明する。
【実施例１】
【００３７】
図１は、本発明の実施例１における表示装置の機能ブロック図であり、設定データを保存するメモリを具備する一般的な表示装置の機能ブロック図と同一である。ここで、表示装置は、ＴＣＯＮ１とメモリ２と液晶パネル４３とこの液晶パネル４３を駆動する水平ドライバ４１と垂直ドライバ４２とからなる。
【００３８】
ＴＣＯＮ１には、外部から入力画像信号線３１が接続される。一方、ＴＣＯＮ１は、メモリ２とメモリ制御信号線３２が接続される。また、ＴＣＯＮ１は、水平ドライバ４１に対しては水平ドライバ制御信号線３５と水平ドライバ画素データ線３４で接続され、垂直ドライバ４２に対しては垂直ドライバ制御信号３６で接続される。そして、水平ドライバ４１と垂直ドライバ４２は、それぞれ液晶パネル４３に接続される。
【００３９】
図２は、実施例１の表示装置に搭載されるＴＣＯＮ１内部の機能ブロック図である。ＴＣＯＮ１は、入力画像信号線３１と接続されるレシーバ部１１と、レシーバ部に内部信号線２２で接続されるスイッチ１５と、そのスイッチ１５とスイッチ切換信号線２４で接続されてレシーバ部１１とも接続されるスイッチ切替タイミング制御部１６と、さらに、レシーバ部１１と接続される水平ドライバ制御信号生成部２０と、垂直ドライバ制御信号生成部２１とが含まれる。
【００４０】
一方、ＴＣＯＮ１外部のメモリ２とメモリ制御信号線３２で接続されるメモリ制御インタフェース部１２が設けられる。このメモリ制御インタフェース部１２はレジスタ部１３と接続され、このレジスタ部１３は、水平ドライバ制御信号生成部２０と、垂直ドライバ制御信号生成部２１と、表示データ生成部１４にそれぞれ接続される。
【００４１】
スイッチ１５は、内部信号線２２でレシーバ部１１と接続され、内部信号線２３で表示データ生成部１４と接続され、スイッチ切替タイミング制御部１６のスイッチ切替信号線２４からの信号により、内部信号線２２と内部信号線２３のいずれかを選択してデータ並び替え部１８と接続する。データ並び替え部１８は、トランスミッタ部１９と接続される。
【００４２】
水平ドライバ制御信号生成部２０は、ＴＣＯＮ１外部に水平ドライバ制御信号３５を出力する。垂直ドライバ制御信号生成部２１は、ＴＣＯＮ１外部に垂直ドライバ制御信号３６を出力する。トランスミッタ部１９は、ＴＣＯＮ１外部に水平ドライバ画素データ３４を出力する。
【００４３】
次に、実施例１の動作について、図２〜図５を用いて説明する。図２に示すＴＣＯＮ１のレジスタ部１３は、水平ドライバ制御信号生成部２０や垂直ドライバ制御信号生成部２１での制御信号生成に必要な画面解像度情報等、動作設定パラメータを保持する揮発性のメモリである。
【００４４】
ＴＣＯＮ１は、電源投入後の任意のタイミングで、メモリ制御インタフェース部１２の自律制御によりメモリ制御信号線３２を介してメモリ２にリードアクセスを実施し、リードされたデータをＴＣＯＮ１内部のレジスタ部１３に保持する。レジスタ部１３に保持されたデータは、ＴＣＯＮ１内部の諸機能ブロックへ渡され、その後ＴＣＯＮとしての動作を開始する。
【００４５】
表示データ生成部１４は、レジスタ部１３上のデータ（＝メモリ２に格納されたデータ）を読取り、読取られたデータを所定のアルゴリズムに従い画像データ化する機能を有する。
【００４６】
ここで、表示データ生成部１４で生成される画像データの一例を図３に示す。本例は、レジスタ部１３上のデータ列先頭からの各ｂｉｔ  Ｌｏｗ／Ｈｉｇｈ２値を黒線／白線表示と対応付けるアルゴリズムにより生成される画像例を示している。表示データ生成部１４の画像データ化アルゴリズムを変更することで、生成画像データは任意に変更可能であり、各ｂｉｔのＬｏｗ／Ｈｉｇｈ  ２値を黒／白以外の異なる２階調や２色と対応付けてもよい。また、表現できる情報量は減少するが、１ｂｉｔの情報を、連続する複数ラインにまとめた長方形状で表現してもよい。
【００４７】
図２に示すスイッチ１５は、スイッチ切替タイミング制御部１６の出力たるスイッチ切替信号線２４の状態により、内部信号２２または内部信号２３のいずれかを選択する機能を有する。
【００４８】
スイッチ切替タイミング制御部１６は、レシーバ部１１から入力される、入力画像信号線３１から抽出したタイミング信号及びＴＣＯＮ１外部からの試験イネーブル信号３３に同期して、所定のアルゴリズムに従いスイッチ１５を制御するためのスイッチ切替信号２４を生成する機能を有する。
【００４９】
スイッチ切替タイミング制御部１６の動作詳細について説明すると、試験イネーブル信号３３が通常動作モードを指示するとき、スイッチ切替タイミング制御部１６はスイッチ切替信号線２４を介して内部信号２２側を選択する制御信号をスイッチ１５へ出力する。このとき、表示装置上には入力画像信号線３１上の画像データが表示される。
【００５０】
一例として、試験イネーブル信号３３が通常動作モードを指示するとき、図４に示す画像が入力画像信号線３１上の画像データとしてＴＣＯＮ１に入力された場合は、図４に示す画像がそのまま液晶パネル４３上に表示される。この一連の動作は、一般的なＴＣＯＮの動作と同一である。
【００５１】
一方、試験イネーブル信号３３が試験モードを指示するとき、スイッチ切替タイミング制御部１６はレシーバ部１１から入力された入力画像信号線３１から抽出したタイミング信号と予め設定された制御アルゴリズムに従いスイッチ切替信号線２４上にスイッチ１５を制御する信号を出力する。
【００５２】
具体的には、レシーバ部１１の出力となる内部信号２２上の画像データ（＝入力画像信号線３１上の画像データ）と内部信号２３上の画像データ（＝表示データ生成部１４の出力画像）の両画像を１画面内に領域分割し並べて配置した画像データを生成するよう、スイッチ１５を制御する。
【００５３】
図５は、試験イネーブル信号３３が試験モードを指示し、入力画像信号線３１上の画像データとして図４に示す画像が入力され、かつ表示データ生成部１４で図３に示す画像データが生成された際の、液晶パネル４３上に表示される画像の一例を示す。
【００５４】
本例では、画面中央部で表示領域を二分割し、右領域に表示データ生成部１４で生成された画像を、左領域に入力画像信号線３１上の画像データを並べて表示しているが、入力画像信号線３１上の画像データと表示データ生成部１４で生成された画像の配置、領域の分割比率、分割方向及び分割数についてはスイッチ切替タイミング制御部１６の制御アルゴリズムの変更により任意に変更可能である。
【００５５】
実施例１の具体的な効果について説明する。本実施例に示した表示装置は、通常使用時には試験イネーブル信号３３に通常動作モードを指示する信号をセットする。この状態では、本実施例の表示装置は一般的な表示装置と同等の動作をする。
【００５６】
一方、工場での検査等でメモリ２の内容検査（期待値照合）を行う場合、検査者は、試験イネーブル信号３３に試験モードを指示する信号をセットする。同時に、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリ２に記憶されたデータから想定される期待値画像のデータを入力する。
【００５７】
この期待値画像データは、メモリ２に格納されるべき期待値データ及びＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４で実行されるメモリデータの画像化アルゴリズムを知る検査者であれば容易に推定し生成することが可能である。
【００５８】
検査者は、一画面内に表示される期待値画像（＝入力画像信号線３１上の画像データ）とメモリ２からＴＣＯＮ１がリードし生成された画像（メモリデータ可視化画像）とを比較し、両画像の差異有無からメモリデータの正常・異常を判定する。
【００５９】
図５はメモリ２に格納されたデータが正常（期待値と一致する）である場合の検査画面表示例を、図６はメモリ２に格納されたデータが異常（期待値と一致しない）である場合の検査画面表示例をそれぞれ示す。
【００６０】
前述の例では、画面の縦ライン数ｍに対しｍ  ｂｉｔ分のメモリ照合しか行えないが、画面の分割数を２ｎ（ｎは１以上の整数）とすることで、１画面あたり最大ｎ×ｍ  ｂｉｔのデータ照合が可能である。
【００６１】
一例として、画面の分割数を４とし、２ｍ  ｂｉｔのデータ照合を行う際の検査画面表示例を図７に示す。画面の分割数、分割方向及び表示内容は、スイッチ切替タイミング制御部１６の制御アルゴリズムの変更により任意に変更可能である。
【００６２】
さらに、入力画像信号線３１上の画像データとしてメモリデータの期待値画像データと任意の表示検査用画像データとを合成した画像データを入力することで、メモリデータの内容検査と同時に任意の表示検査を実施することも可能である。一例として、メモリデータの期待値画像とグレースケール表示検査画像とを同時に入力し、メモリデータの内容検査とグレースケール表示検査とを同時に行う検査画面の表示例を図８に示す。
【００６３】
本実施例ではメモリデータ可視化画像を白／黒の２色で表現される画像データとして例示したが、白／黒以外の異なる２階調や２色で表現される画像データであっても同様の効果が得られる。
【００６４】
この一連の作業は表示装置単体で実行できるため、ＲＯＭリーダ等の専用の検査治具は不要であり、かつ検査治具のモジュールへの付け外し作業も生じないため、検査作業時間を短縮することができる。
【００６５】
また、前述のとおり、メモリ２の検査は表示画像を見て実施するため、表示検査工程の一部に組込んで実施することや、さらにはメモリ２の検査と任意の表示検査とを同一画面で同時に実施することも可能であり、検査時間を短縮することができる。
【００６６】
他方、検査治具を用いた検査では、メモリに書込まれたデータが検査者の意図するものかどうかは検査できるが、そのデータが実際にＴＣＯＮ１に読込まれ表示装置として動作した状態（実動作状態）で正常に機能するかの検査は行うことができない。この点についても、本実施例では、実際にメモリデータをＴＣＯＮ１に読込ませ表示装置として動作する実動作状態での検査が可能である。
【実施例２】
【００６７】
図９は、本発明の実施例２における表示装置に搭載されるＴＣＯＮ１内部の機能ブロック図を示す。実施例２の表示装置の機能ブロック図は、実施例１における表示装置の機能ブロック図と同一である。
【００６８】
実施例１と実施例２の差分は、ＴＣＯＮ１内部のスイッチ切替タイミング制御部１６に垂直ドライバ制御信号生成部２１からの垂直ドライバスタートパルスを引き込む信号線３７を追加した点と、スイッチ切替タイミング制御部１６内蔵のスイッチ切替制御アルゴリズムを変更した点である。
【００６９】
次に、実施例１と実施例２の差分となるスイッチ切替タイミング制御部１６の動作の一例について、図１０のタイムチャートに沿って説明する。図１０のタイムチャート中、試験イネーブル信号３３のＨｉｇｈ／Ｌｏｗは、それぞれ試験モード指示状態／通常動作モード指示状態と対応するものとする。またスイッチ切替信号２４のＨｉｇｈ／Ｌｏｗは、それぞれスイッチ１５の内部信号２３側選択指示状態／内部信号２２側選択指示状態とそれぞれ対応するものとする。なお、図１１は、図１０に示すタイムチャートの動作を実現する回路の一例を示したものである。
【００７０】
スイッチ切替タイミング制御部１６の出力となるスイッチ切替信号２４は、試験イネーブル信号３３がＨｉｇｈの期間においては、垂直ドライバスタートパルス３７の入力をトリガーとし出力状態をＨｉｇｈ／Ｌｏｗ交互に切替える。スイッチ切替信号２４のＨｉｇｈ／Ｌｏｗ切替周期は、垂直ドライバスタートパルス３７の入力周期、すなわち１フレームの表示周期と合致する。
【００７１】
試験イネーブル信号３３がＬｏｗの期間においては、垂直ドライバスタートパルス３７の入力の有無に関わらず、スイッチ切替信号２４をＬｏｗに固定する。ただし、スイッチ切替信号２４がＨｉｇｈ出力の期間中に、試験イネーブル信号３３がＨｉｇｈからＬｏｗへ切替わった際は、次に垂直ドライバスタートパルス３７の入力があった時点でスイッチ切替信号２４をＨｉｇｈからＬｏｗへ立ち下げる。
【００７２】
図１２は、試験イネーブル信号３３がＨｉｇｈに固定されている際の垂直ドライバスタートパルス３７とスイッチ切替信号２４と表示装置上の表示との関係を示したものである。
【００７３】
前述のとおり、試験イネーブル信号３３がＨｉｇｈの期間、スイッチ切替信号２４は垂直ドライバスタートパルス３７の入力毎に出力のＨｉｇｈ／Ｌｏｗが切替わる。
【００７４】
ここで、ＴＣＯＮ１内部のスイッチ１５は、スイッチ切替信号２４がＬｏｗの期間（期間Ｔｃ）は内部信号２２側を選択、Ｈｉｇｈの期間（期間Ｔｄ）は内部信号２３側を選択する動作となるため、期間Ｔｃは入力画像信号線３１上の画像データが、期間Ｔｄは表示データ生成部１４で生成されたメモリ２格納データ可視化画像がそれぞれ液晶パネル４３に表示され、かつその切替周期は１フレーム表示周期と合致する。
【００７５】
前述の動作は、１フレーム周期で表示画像を切替える例を示したが、本発明では、ｎフレーム周期（ｎは１以上の整数）で表示画面を切替えるようスイッチ切替タイミング制御部１６のアルゴリズムを組んでもよい。
【００７６】
実施例２の具体的な効果について説明する。本実施例に示した表示装置は、通常使用時には試験イネーブル信号３３に通常動作モードを指示する信号をセットする。この状態では、本実施例の表示装置は一般的な表示装置と同等の動作をする。
【００７７】
一方、工場での検査等でメモリ２の内容検査（期待値照合）を行う場合、検査者は、試験イネーブル信号３３に試験モードを指示する信号をセットする。同時に、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリ２に記憶されたデータから想定される期待値画像データを入力する。
【００７８】
この期待値画像データは、メモリ２に格納されるべき期待値データ及びＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４で実行されるメモリデータの画像化アルゴリズムを知る検査者であれば容易に推定し生成することが可能である。
【００７９】
検査者は、ｎフレーム表示周期（ｎは１以上の整数）で期待値画像（入力画像信号線３１上の画像データ）とメモリデータ可視化画像とを交互に見ることになる。この際、期待値画像とメモリデータ可視化画像に差異がない、すなわち、メモリ２に格納されたデータが期待値と一致（正常）であれば、表示される画像は全フレーム同じであり、検査者の目にはちらつきは認知されない。
【００８０】
一方、期待値画像とメモリデータ可視化画像には差異がある、すなわち、メモリ２に格納されたデータが期待値と不一致（異常）であれば、検査者の目には差異が生じた部分がちらつきとして認知される。
【００８１】
図１２は読み出されたメモリデータと期待値とが一致する場合の表示例を、図１３は読み出されたメモリデータと期待値とが一致しない場合の表示例をそれぞれ示す。
【００８２】
図１２では、メモリデータ期待値から生成し表示装置へ入力された期待値画像と、実際にＴＣＯＮ１がメモリを読み出し生成されたメモリデータ可視化画像とに差異がないため、検査者の目にちらつきが認知されることはない。
【００８３】
一方、図１３では、期待値画像とメモリデータ可視化画像とでｍ−１  ｂｉｔ目の表示に差異がある、すなわち、ｍ−１  ｂｉｔ目の期待値とメモリ２から読み出されたｍ−１  ｂｉｔ目のデータとが一致しない状態であり、検査者の目にはこの表示領域がちらつきとして認知される。
【００８４】
検査者は、画面上に生じるちらつきの有無を確認することで、メモリ２に格納されたデータが正常であるか異常であるかを判断できる。また、ちらつきの発生箇所を特定することで、データのどの箇所で異常が発生しているのかを知ることもできる。
【００８５】
さらには、実施例１と同様、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリデータの期待値画像と任意の表示検査用画像とを合成した画像を入力することで、メモリデータの内容検査と同時に任意の表示検査を実施することも可能である。
【００８６】
本実施例では、メモリデータ可視化画像を白／黒の２色で表現される画像データとして例示したが、白／黒以外の異なる２階調や２色で表現される画像データであっても同様の効果が得られる。
【００８７】
この一連の作業は表示装置単体で実行できるため、ＲＯＭリーダ等専用の検査治具は不要であり、かつ検査治具のモジュールへの付け外し作業も生じないため、検査作業時間を短縮することができる。
【００８８】
また、前述のとおり、メモリ２の検査は表示画像を見て実施するため、表示検査工程の一部に組込んで実施することが可能であり、さらにはメモリ２の検査と任意の表示検査とを同一画面で同時実施することも可能であるので、検査時間を短縮することができる。
【００８９】
加えて、実施例１と同様、実際にメモリデータをＴＣＯＮ１に読込ませ表示装置として動作する実動作状態での検査を行えるといった効果もある。
【実施例３】
【００９０】
図１４は、本発明の実施例３における表示装置に搭載されるＴＣＯＮ１内部の機能ブロック図を示す。実施例３の表示装置の機能ブロック図は、実施例１における表示装置の機能ブロック図と同一である。
【００９１】
実施例１と実施例３の差分は、スイッチ切替タイミング制御部１６が存在せず、外部からの試験イネーブル信号３３がスイッチ１５に接続される点、レシーバ部１１の出力が内部信号２２を介してスイッチ１５へ接続されると同時に新たに設けられた表示データ比較部１７にも接続される点、表示データ生成部１４の出力接続先がスイッチ１５から表示データ比較部１７へ変更された点である。
【００９２】
実施例３の動作について以下説明する。表示データ生成部１４は、レジスタ部１３からの信号が入力され、所定のアルゴリズムに従い生成されたメモリ可視化画像データを表示データ比較部１７に出力する。この動作は実施例１と同一である。
【００９３】
スイッチ１５の入力側には、レシーバ部１１の出力信号と表示データ比較部１７の出力信号とが接続される。スイッチ１５の切替は試験イネーブル信号３３で制御される。具体的には、試験イネーブル信号３３が通常動作モードを指示するときスイッチ１５は内部信号線２２側を選択、試験モードを指示するときスイッチ１５は内部信号線２３側を選択する動作を行う。
【００９４】
表示データ比較部１７は、レシーバ部１１の出力画像データ（＝入力画像信号線３１上の画像データ）と表示データ生成部１４の出力画像データ（＝メモリ２格納データの可視化画像）とをｂｉｔ単位で比較し、その結果を画像データとして内部信号線２３を介して後段のスイッチ１５へ出力する。
【００９５】
表示データ比較部１７で行う、レシーバ部１１の出力画像データと表示データ生成部１４の出力画像データの比較は、画像データ全ｂｉｔ各々の比較結果（一致／不一致）の論理積（ＡＮＤ）を取りその結果を出力する方式と、比較結果をｎ  ｂｉｔ単位でまとめ、まとめたｂｉｔ単位で論理積を取りその結果を出力する方式のいずれでもよい。ただし、ｎは１以上の整数である。
【００９６】
例として、表示データ比較部１７が、全ｂｉｔ各々の比較結果の論理積を取り出力する方式である場合の表示データ比較部１７の入力画像データと出力画像データの関係について、図１５と図１６とを用いて説明する。
【００９７】
本例では、比較結果の「一致」を黒表示、「不一致」を白表示と対応付ける。表示データ比較部１７の入力であるレシーバ部１１の出力画像データ（＝入力画像信号線３１上の画像データ）と表示データ生成部１４の出力画像データ（＝メモリ２格納データの可視化画像）とが完全に一致する場合には、表示データ比較部１７の出力画像データは図１５に示すように全画素が黒の画像データとなる。
【００９８】
一方、レシーバ部１１の出力画像データと表示データ生成部１４の出力画像データとの間に１ｂｉｔでも差異がある場合には、表示データ比較部１７の出力画像データは図１６に示すように全画素が白の画像データとなる。
【００９９】
また、別の例として、表示データ比較部１７が、比較結果をｎ  ｂｉｔ単位でまとめ、まとめたｂｉｔ数単位で論理積を取り結果を出力する方式である場合の表示データ比較部１７の入力画像データと出力画像データの関係について図１５と図１７を用いて説明する。ここでは、ｎ＝１とした際の例を示す。
【０１００】
本例では、比較結果の「一致」を黒表示、「不一致」を白表示と対応付ける。表示データ比較部１７の入力であるレシーバ部１１の出力画像データと表示データ生成部１４の出力画像データとが完全に一致する場合には、表示データ比較部１７の出力画像データは図１５に示すように全画素が黒の画像データとなる。これは前述の例と同じである。
【０１０１】
これに対して、レシーバ部１１の出力画像データと表示データ生成部１４の出力画像データとの間に差異がある場合、表示データ比較部１７の出力画像データは図１７に示すように差異のない箇所の画素は黒であり、差異のある箇所の画素は白である画像データとなる。なお、これらの例では比較結果の一致／不一致を黒／白の２色に対応付けたが、黒／白以外の異なる２階調や２色と対応付けてもよい。またｎ＞１（ｎは整数）としてｎ  ｂｉｔ単位でまとめての比較結果を表示しても良い。
【０１０２】
実施例３の具体的な効果について説明する。本実施例に示した表示装置は、通常使用時には試験イネーブル信号３３に通常動作モードを指示する信号をセットする。この状態では、本実施例の表示装置は一般的な表示装置と同等の動作をする。
【０１０３】
一方、工場での検査等でメモリ２の内容検査（期待値照合）を行う場合、検査者は、試験イネーブル信号３３に試験モードを指示する信号をセットする。同時に、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリ２に記憶されたデータから想定される期待値画像データを入力する。
【０１０４】
この期待値画像データは、メモリ２に格納されるべき期待値データ及びＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４で実行されるメモリデータの画像化アルゴリズムを知る検査者であれば容易に推定し生成することが可能である。
【０１０５】
表示データ比較部１７のアルゴリズムが、比較結果の「一致」を黒表示、「不一致」を白表示と対応付けるものであるとき、検査者は、表示画面を確認し、画面が全黒表示であれば、メモリ２に格納されたデータが期待値と一致する（正常）と判定することができる。また、全黒以外、すなわち、画面領域全体が白表示であるか、もしくは画面内に白表示となる領域があれば、期待値と一致しない（異常）と判定することができる。
【０１０６】
特に、表示データ比較部１７での比較アルゴリズムが領域単位あるいは画素単位で比較を行う方式であれば、画面内で白表示となる部位を確認することで、期待値と一致しないメモリ領域が何処であるかを併せて確認することができる。
【０１０７】
なお、本実施例では、一致／不一致を黒／白の２色に塗り分けて対応付けたが、黒／白以外の異なる２階調や２色と対応付けても同様の効果が得られる。
【０１０８】
この一連の作業は表示装置単体で実行できるため、ＲＯＭリーダ等専用の検査治具は不要であり、かつ検査治具のモジュールへの付け外し作業も生じないため、検査時間を短縮することができる。
【０１０９】
また、前述のとおり、メモリ２の検査は表示画像を見て実施するため、表示検査工程の一部に組込んで実施することが可能であり、特に、メモリ検査の合否画面を別の検査画面と兼用することで検査時間を短縮することができる。例えば、表示データ比較部１７での比較アルゴリズムをメモリ２の検査結果が合格（期待値と一致する）である場合に全黒表示となるようにすることで、メモリ２の検査が正常であれば、画面を切替えることなく引き続き点欠陥検査を実施するといった、検査時間短縮の効果がある。
【０１１０】
さらに、他の実施例と同様、実際にメモリデータをＴＣＯＮ１に読込ませ表示装置として動作する実動作状態での検査を行えるといった効果もある。
【実施例４】
【０１１１】
図１８は、本発明の実施例４における表示装置に搭載されるＴＣＯＮ１内部の機能ブロック図を示す。実施例４における表示装置の機能ブロック図は、実施例１における表示装置の機能ブロック図と同一である。
【０１１２】
実施例１と実施例４の差分は、ＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４の動作アルゴリズムを変更した点、スイッチ切替タイミング制御部１６に垂直ドライバ制御信号生成部２１からの垂直ドライバスタートパルスを引き込む信号線３７を追加した点、スイッチ切替タイミング制御部１６内蔵のスイッチ切替制御アルゴリズムを実施例２と同じアルゴリズムに変更した点、及び、水平ドライバ制御信号部２０で生成される水平ドライバ制御信号の一つであるデータラッチパルス信号（ＤＬＰ信号）を生成するＤＬＰ生成部５２の動作アルゴリズムを変更した点である。
【０１１３】
ＤＬＰ信号生成部５２で生成されるＤＬＰ信号５１は、水平ドライバが水平ドライバ画素データ３４を内部に取り込むタイミングを決定するための制御信号であり、水平ドライバの制御ではごく一般的に使用される制御信号である。実施例１、２及び３において、ＤＬＰ信号５１は明記していないが、水平ドライバ制御信号３５を構成する制御信号の１つとして内包しているものとする。
【０１１４】
次に、実施例４の動作について説明する。一般的な水平ドライバの多くは電荷回収機能を有しており、電荷回収機能の動作タイミングの決定にはＤＬＰ信号が用いられる。電荷回収機能を有する水平ドライバは、ＤＬＰ信号がＨｉｇｈとなる期間、駆動するドレイン信号線に接続される水平ドライバ出力端子とそれに隣接する水平ドライバ出力端子、あるいは水平ドライバの全出力端子とを水平ドライバ内部で電気的に短絡させる。
【０１１５】
この動作により、各ライン表示データの出力前にドレイン信号線の電荷は中和され電位がパネル内の中間電位へと近づくことで、その後の水平ドライバがドレイン信号線を駆動する負荷を軽減させ消費電力を低減させる効果がある。
【０１１６】
本実施例と実施例１との動作上の大きな差分は、前述の電荷回収機能を利用してメモリデータ可視化画像を表示する点である。具体的には、表示装置で使用される液晶パネルがノーマリーホワイト型であればＴＣＯＮ１は黒ベタ画面データを水平ドライバ画素データとして出力し、黒表示部はそのデータに基づき表示し、白表示部はＤＬＰ信号により制御される電荷回収機能で白色として表示する。一方、表示装置で使用される液晶パネルがノーマリーブラック型であればＴＣＯＮ１は白ベタ画面データを水平ドライバ画素データとして出力し、白表示部はそのデータに基づき表示し、黒表示部はＤＬＰ信号による電荷回収機能で黒色として表示する。
【０１１７】
実施例４の動作詳細について以下説明する。実施例４における表示データ生成部１４は、レジスタ部１３上に展開された液晶パネル情報を参照し、黒ベタ画面データもしくは白ベタ画面データを生成する。具体的には、液晶パネル情報から表示装置で使用される液晶パネルがノーマリーホワイト型であると判定されたならば黒ベタ画面データを、ノーマリーブラック型であると判定されたならば白ベタ画面データをそれぞれ生成する。
【０１１８】
実施例４におけるスイッチ切替タイミング制御部１６の動作は、実施例２のそれと同一である。具体的には、試験イネーブル信号３３の状態を監視し、通常動作モードを示す信号が入力された場合は、スイッチ１５が内部信号２２側を選択するよう内部信号線２４に制御信号を出力する。一方、試験モードを指示する信号が入力された場合は、垂直ドライバスタートパルス信号３７に同期して、スイッチ１５が内部信号２２側と内部信号２３側とを交互に選択するよう内部信号線２４に制御信号を出力する。
【０１１９】
実施例４におけるＤＬＰ信号生成部５２の動作は、スイッチ１５を制御するスイッチ切替信号線２４の状態により変化する。例として、スイッチ切替信号線２４がスイッチ１５で内部信号線２２側を選択した状態において、図１９に示す画像データが入力画像信号線３１から入力され、かつノーマリーホワイト型の液晶パネルに表示する際のゲート信号線Ｇ１…Ｇｍ、ドレイン信号線Ｄｎ、及びＤＬＰ信号生成部５２で生成されるＤＬＰ信号のタイムチャートを図２０に示す。
【０１２０】
図２０に示される各ゲート信号線は垂直ドライバの各出力へ、各ドレイン信号線は水平ドライバの各出力へ接続されている。スイッチ切替信号線２４がスイッチ１５で内部信号線２２側を選択した状態では、ＤＬＰ信号生成部５２の動作は一般的な液晶表示装置でのＤＬＰ信号生成動作と同一であり、ＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間はＴａで固定となる。
【０１２１】
水平ドライバは、ＤＬＰ信号の立上りエッジで水平ドライバ画素データ３４を内部に取り込み、取り込んだ画素データに対応する電圧でドレイン信号線Ｄｎを駆動するよう出力端子電圧を制御する。
【０１２２】
また、ＤＬＰ信号がＨｉｇｈとなる時間Ｔａの期間は水平ドライバが具備する電荷回収機能が働くため、ドレイン信号線Ｄｎの電位はパネル内の中間電位へ近づく。
【０１２３】
一方、スイッチ切替信号線２４がスイッチ１５で内部信号線２３側を選択する状態では、ＤＬＰ信号生成部５２の動作は一般的な液晶表示装置でのＤＬＰ信号生成動作とは異なる。具体的には、レジスタ部１３に格納されたメモリ２のデータを読み出し、読み出されたデータのｍ  ｂｉｔ目のデータ値に応じて、画面のｍライン目に対応するＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間を動的に制御する。
【０１２４】
一例として、ノーマリーホワイト型の液晶パネルにｍ  ｂｉｔのデータ表示を行う際のゲート信号線Ｇ１…Ｇｍ、ドレイン信号線Ｄｎ、及びＤＬＰ信号生成部５２で生成されるＤＬＰ信号のタイムチャートを図２１に示す。また、図２１に示す駆動が行われた際にノーマリーホワイト型の液晶パネル上に表示される映像を図２２に示す。
【０１２５】
図２１によると、ｂｉｔ値がＨｉｇｈであるｂｉｔ２及びｂｉｔ  ｍ−１に対応する２ライン目及びｍ−１ライン目のＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間を、Ｔａ時間からＴｂ時間へと変更する。ｂｉｔ値がＬｏｗであるその他ｂｉｔに対応するラインのＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間はＴａとし、また、ＴａとＴｂの関係はＴａ＜Ｔｂであり、かつＴｂはゲート信号Ｏｎの時間よりも短いものとする。
【０１２６】
ＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間がＴｂへ延長されたラインは、ＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間がＴａのラインに比べ水平ドライバが行う電荷回収動作の時間が長くなり、この期間のドレイン信号線Ｄｎの電位は最終的に液晶パネル内中間電位に落ち着く。
【０１２７】
ここで、表示装置で使用する液晶パネルがノーマリーホワイト型であるときは、先に述べたとおり表示データ生成部１４では黒ベタ画面データを生成しているが、ＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間がＴｂへ延長されドレイン信号線Ｄｎの電位が中間電位となる２ライン目及びｍ−１ライン目の表示、すなわちｂｉｔ値がＨｉｇｈである２ｂｉｔ目及びｍ−１  ｂｉｔ目に対応するラインの表示は、図２２に示すように白色となる。他方、Ｂｉｔ値がＬｏｗであるその他のｂｉｔに対応するラインの表示は黒色となる。
【０１２８】
一方、表示装置で使用する液晶パネルがノーマリーブラック型であるときは、ｂｉｔ値のＨｉｇｈ／ＬｏｗとＤＬＰ信号生成部５２で生成されるＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間Ｔａ／Ｔｂとの対応付けを変更することと、データ生成部１４で生成される画像データを変更することにより、同様の表示が可能である。具体的には、Ｌｏｗとなるｂｉｔに対応するラインのＤＬＰ信号生成時間をＴｂに、Ｈｉｇｈとなるｂｉｔに対応するラインのＤＬＰ信号生成時間をＴａとすること、及び、前述のとおりデータ生成部１４で生成される画像データを白ベタ画面データとすることで同様の表示が可能である。
【０１２９】
なお、前述の例では、ｂｉｔ値のＨｉｇｈ／Ｌｏｗ  ２値を白／黒の２色に対応付けたが、時間Ｔｂを任意に制御することで白／黒以外の異なる２階調や２色と対応付けてもよい。
【０１３０】
実施例４の具体的な効果について説明する。本実施例に示した表示装置は、通常使用時には試験イネーブル信号３３に通常動作モードを指示する信号をセットする。この状態では、本実施例の表示装置は一般的な表示装置と同等の動作をする。
【０１３１】
一方、工場での検査等でメモリ２の内容検査（期待値照合）を行う場合、検査者は、試験イネーブル信号３３に試験モードを指示する信号をセットする。同時に、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリ２に記憶されたデータから想定される期待値画像データを入力する。
【０１３２】
この期待値画像データは、メモリ２に格納されるべき期待値データ及びＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４で実行されるメモリデータの画像化アルゴリズムを知る検査者であれば容易に推定し生成することが可能である。
【０１３３】
検査者は、ｎフレーム表示周期（ｎは１以上の整数）で期待値画像（入力画像信号線３１上の画像データ）とメモリデータの可視化画像とを交互に見ることになる。この際、期待値画像とメモリデータ可視化画像とに差異がない、すなわち、メモリ２に格納されたデータが期待値と一致（正常）であれば、表示される画像は全フレーム同じであり、検査者の目にはちらつきは認知されない。
【０１３４】
一方、期待値画像とメモリデータ可視化画像とに差異がある、すなわち、メモリ２に格納されたデータが期待値と不一致（異常）であれば、検査者の目には差異が生じた部分がちらつきとして認知される。
【０１３５】
図２３は読み出されたメモリデータと期待値とが一致する場合の表示例を、図２４は読み出されたメモリデータと期待値とが一致しない場合の表示例をそれぞれ示す。
【０１３６】
図２３では、メモリデータ期待値から生成し表示装置へ入力された期待値画像と、実際にＴＣＯＮ１がメモリを読み出し生成されたメモリデータ可視化画像とに差異がないため、検査者の目にちらつきが認知されることはない。
【０１３７】
一方、図２４では、期待値画像とメモリデータ可視化画像とでｍ−１  ｂｉｔ目の表示に差異がある、すなわち、ｍ−１  ｂｉｔ目の期待値とメモリ２から読み出されたｍ−１  ｂｉｔ目のデータとが一致しない状態であり、検査者の目にはこの表示領域がちらつきとして認知される。
【０１３８】
検査者は、画面上に生じるちらつきの有無を確認することで、メモリ２に格納されたデータが正常であるか異常であるかを判断できる。また、ちらつきの発生箇所を特定することで、データのどの箇所で異常が発生しているのかを知ることもできる。
【０１３９】
さらには、実施例１同様、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリデータの期待値画像データと任意の表示検査用画像データとを合成した画像データを入力することで、メモリデータの内容検査と同時に任意の表示検査を実施することも可能である。
【０１４０】
本実施例では、メモリデータ可視化画像を白／黒の２色で表現される画像として例示したが、白／黒以外の異なる２階調や２色で表現される画像データであっても同様の効果が得られる。
【０１４１】
この一連の作業は表示装置単体で実行できるため、ＲＯＭリーダ等専用の検査治具は不要であり、かつ検査治具のモジュールへの付け外し作業も生じないため、検査作業時間を短縮することができる。
【０１４２】
また、前述の通りメモリ２の検査は表示画像を見て実施するため、表示検査工程の一部に組込み実施することが可能であり、さらにはメモリ２の検査と任意の表示検査とを同一画面で同時実施することも可能であるので、検査時間を短縮することができる。
【０１４３】
加えて、他の実施例と同様、実際にメモリデータをＴＣＯＮ１に読込ませ表示装置として動作する実動作状態での検査を行えるといった効果もある。
【０１４４】
また、本実施例では、メモリデータの表示の一部を水平ドライバの具備する電荷回収機能を利用して行うことにより、より少ない消費電力で検査が行うことが可能である。
【実施例５】
【０１４５】
図２５は、本発明の実施例５における表示装置の機能ブロック図であり、図２６は、実施例５の表示装置で使用するＴＣＯＮ内部の機能ブロック図である。
【０１４６】
実施例１と実施例５の差分は、図２５で示す機能ブロック図中、水平ドライバへのＤＬＰ信号５１がドライバ個別に配線される点、図２６で示すＴＣＯＮ機能ブロック図中、スイッチ切替タイミング制御部１６内蔵のスイッチ切替制御アルゴリズムが異なる点、表示データ生成部１４の動作アルゴリズムが異なる点、水平ドライバ制御信号生成部２０に試験イネーブル信号３３が接続される点、水平ドライバ制御信号生成部２０の内部においてＤＬＰ信号を生成するＤＬＰ信号生成部５２の動作アルゴリズムが異なる点である。
【０１４７】
実施例５の動作について、特に実施例１との差分となる箇所について説明する。表示データ生成部１４の動作は、実施例４の表示データ生成部１４の動作と同一である。スイッチ切替タイミング制御部１６の動作は、実施例１のスイッチ切替タイミング制御部１６の動作に対し、画面の分割単位が水平ドライバ単位に限定される点が実施例１とは異なる。
【０１４８】
ＤＬＰ信号生成部５２は、実施例４のＤＬＰ信号生成部５２に対し、ＤＬＰ信号５１の出力が複数ある点で異なる。更には、複数あるＤＬＰ信号５１個別に、ＤＬＰ信号の生成アルゴリズムを変更できる点が異なる。
【０１４９】
試験イネーブル信号３３が通常動作モードを示す信号に設定されている期間は、全てのＤＬＰ信号５１に対し、ＤＬＰ信号生成アルゴリズムは一般的な液晶表示装置でのＤＬＰ信号生成アルゴリズム、より具体的にはＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間をＴａに固定するアルゴリズムが適用される。この動作は実施例４に示したＤＬＰ信号生成部５２の動作と同一である。
【０１５０】
一方、試験イネーブル信号３３が試験モードを示す信号に設定されている期間は、ＤＬＰ信号出力毎に、一般的な液晶表示装置でのＤＬＰ信号生成アルゴリズムか、実施例４に示したＤＬＰ生成期間を動的に変更するアルゴリズム、より具体的には、レジスタ部１３に格納されたデータと対応し、表示ライン毎にＤＬＰ信号のＨｉｇｈ時間をＴａもしくはＴｂ（Ｔａ＜Ｔｂ）のいずれかに設定するアルゴリズム、いずれかを任意で適用できる。この動作は実施例４に示したＤＬＰ信号生成部５２の動作とは異なる。
【０１５１】
実施例５の具体的な効果について説明する。本実施例に示した表示装置は、通常使用時には試験イネーブル信号３３に通常動作モードを指示する信号をセットする。この状態では、本実施例の表示装置は一般的な表示装置と同等の動作をする。
【０１５２】
一方、工場での検査等でメモリ２の内容検査（期待値照合）を行う場合、検査者は、試験イネーブル信号３３に試験モードを指示する信号をセットする。同時に、入力画像信号線３１上の画像データとして、メモリ２に記憶されたデータから想定される期待値画像データを入力する。
【０１５３】
この期待値画像は、メモリ２に格納されるべき期待値データ及びＴＣＯＮ１内部の表示データ生成部１４で実行されるメモリデータの画像化アルゴリズムを知る検査者であれば容易に推定し生成することが可能である。
【０１５４】
検査者は、一画面内に表示される期待値画像（＝入力画像信号線３１上の画像データ）とＴＣＯＮ１がメモリ２からリードしたデータを基に生成された画像（メモリデータ可視化画像）とを比較し、両画像の差異有無からメモリデータの正常・異常を判定する。
【０１５５】
図２７は、水平ドライバが２個の表示装置にてメモリ２に格納されたデータが正常（期待値と一致）である場合の検査画面の表示例を示す。また、図２８は、水平ドライバが２個の表示装置にてメモリ２に格納されたデータが異常（期待値と不一致）である場合の検査画面の表示例を示す。
【０１５６】
図２７、図２８に示す表示例では、ＴＣＯＮ１内蔵のスイッチ切替タイミング制御部１６により、画面左側にある水平ドライバと対応する画面領域には入力画像信号線３１上の期待値画像データが、画面右側にある水平ドライバと対応する画面領域には表示データ生成部１４で生成されたベタ画像データが出力されるよう、ＴＣＯＮ１内蔵のスイッチ１５が制御される。表示データ生成部１４で生成されるベタ画像データは、実施例４に示した表示データ生成部１４と同じく、表示装置で使用される液晶パネルがノーマリーホワイト型であれば全黒ベタ画像データに、ノーマリーブラック型であれば全白ベタ画像データになる。
【０１５７】
また、ＴＣＯＮ１内蔵のＤＬＰ信号生成部５２の機能により、画面左側に配置された水平ドライバに接続されるＤＬＰ信号と、画面右側に配置された水平ドライバに接続されるＤＬＰ信号とで、ＤＬＰ信号の生成アルゴリズムを変更している。
【０１５８】
具体的には、画面左側に位置する水平ドライバに接続されるＤＬＰ信号の制御アルゴリズムは、一般的な液晶表示装置でのＤＬＰ信号生成動作と同じであるため、画面左側領域には、入力画像信号線３１上の期待値画像データがそのまま表示される。一方、画面右側に位置する水平ドライバに接続されるＤＬＰ信号の生成アルゴリズムは、レジスタ部１３に格納されたメモリ２のリード値に応じＤＬＰ信号のＨｉｇｈ期間を動的に変更する制御を行っている。そのため、画面右側の領域には、メモリ２からリードされたデータから生成されたメモリデータ可視化画像が表示される。
【０１５９】
前述の例では、画面の縦ライン数ｍに対しｍ  ｂｉｔ分のメモリ照合しか行えないが、水平ドライバを２個以上具備する表示装置では、画面の分割数を２ｎ（ｎは１以上の整数、かつ２ｎ≦水平ドライバ数）とすることで、１画面あたり最大ｎ×ｍ  ｂｉｔのデータ照合が可能である。一例として、水平ドライバを４個具備する表示装置にて、画面の分割数を４とし、２ｍ  ｂｉｔのデータ照合を行う際の検査画面の表示例を図２９に示す。画面の分割数及び水平ドライバ毎の表示内容は、ＴＣＯＮ１内蔵のスイッチ切替タイミング制御部１６の制御アルゴリズムの変更と、ＴＣＯＮ１内蔵のＤＬＰ信号生成部５２で設定するＤＬＰ信号線毎のＤＬＰ信号生成アルゴリズムの変更とにより、任意に変更可能である。
【０１６０】
さらに、水平ドライバが３個以上の表示装置では、入力画像信号線３１上の画像データとしてメモリデータの期待値画像データと任意の表示検査用画像データとを合成した画像データを入力することで、メモリデータの内容検査と同時に任意の表示検査を実施することも可能である。一例として、水平ドライバが３個の表示装置で、メモリデータの期待値画像とグレースケール表示検査画像とを同時に入力し、メモリデータの内容検査とグレースケール表示検査とを同時に行う検査画面の表示例を図３０に示す。
【０１６１】
なお、本実施例では、メモリデータ可視化画像を白／黒の２色で表現される画像データとして例示したが、白／黒以外の異なる２階調や２色で表現される画像データであっても同様の効果が得られる。
【０１６２】
この一連の作業は表示装置単体で実行できるため、ＲＯＭリーダ等専用の検査治具は不要であり、かつ検査治具のモジュールへの付け外し作業も生じないため、検査時間を短縮することができる。
【０１６３】
また、前述のとおり、メモリデータ２の検査は表示画像を見て実施するため、表示検査工程の一部に組込んで実施することが可能であり、さらにはメモリデータ２の検査と任意の表示検査とを同一画面で同時実施することも可能であるので、検査時間を短縮することができる。
【０１６４】
加えて、他の実施例と同様、実際にメモリデータをＴＣＯＮ１に読込ませ表示装置として動作する実動作状態での検査を行えるといった効果もある。
【０１６５】
また、本実施例においても、実施例４と同様、メモリデータの表示の一部を水平ドライバの具備する電荷回収機能を利用して行うことにより、より少ない消費電力で検査が行うことが可能である。
【符号の説明】
【０１６６】
１  ＴＣＯＮ
２  メモリ
１１  レシーバ部
１２  メモリ制御インターフェース部
１３  レジスタ部
１４  表示データ生成部
１５  スイッチ
１６  スイッチ切替タイミング制御部
１７  表示データ比較部
１８  データ並び替え部
１９  トランスミッタ部
２０  水平ドライバ制御信号生成部
２１  垂直ドライバ制御信号生成部
２２  内部信号線
２３  内部信号線
２４  スイッチ切替信号線
３１  入力画像信号線
３２  メモリ制御信号線
３３  試験イネーブル信号
３４  水平ドライバ画素データ
３５  水平ドライバ制御信号
３６  垂直ドライバ制御信号
３７  垂直ドライバスタートパルス
４１  水平ドライバ
４２  垂直ドライバ
４３  液晶パネル
５１  ＤＬＰ信号
５２  ＤＬＰ信号生成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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