(57)【要約】【課題】基板上に導体材料で形成された配線パターンを有し、簡便で効率良く短時間で検査可能な配線板を提供する。【解決手段】平行配線部３１と、補助配線部３１、３２とを備え、平行配線部３１は、導電材料で形成された配線パターン３０ａ、３０ｂ・・・が平行に配列されている。補助配線部３１、３２は、平行配線部３０を一筆書き状に連結してオープン・ショート検査がより少ない検査回数となるように平行配線部３０の両端部に前記導体材料の配線で接続し、かつ、前記オープン・ショート検査終了後には平行配線部と切り離される部分である。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、導体材料で形成された配線パターンを有する配線板であって、
前記配線パターンが、平行配線部と補助配線部とを備え、
前記平行配線部は、前記導体材料の配線が平行に配列された部分であり、
前記補助配線部は、前記平行配線部を一筆書き状に連結してオープン・ショート検査がより少ない検査回数となるように平行配線部の両端部に前記導体材料の配線で接続し、かつ、前記オープン・ショート検査終了後には平行配線部と切り離される部分であることを特徴とする配線板。
【請求項２】
前記オープン検査が、前記補助配線部により電気的に導通した平行配線部毎に導通を調べることと、
前記ショート検査が、ショート検査その１では前記補助配線部により電気的に導通していない、隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることと、
ショート検査その２では前記ショート検査その１では検査できない前記補助配線部により電気的に導通している隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることとからなり、
前記平行配線部の全てについて前記オープン・ショート検査を行うことを特徴とする請求項１に記載の配線板。
【請求項３】
前記平行配線部が、タッチパネル用配線であることを特徴とする請求項１または２に記載の配線板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板上にお互いに電気的に独立して形成された配線パターンを有する配線板であって、特に配線パターンの検査が効率よく行えるようにした配線板に関する。
【背景技術】
【０００２】
配線板の一例として、近年、表示画面に用いられるタッチパネル配線板がある。タッチパネルは、指やペンなどによる接触が行われた場所の位置を検出し、外部からデータを入力する入力インターフェース装置であり、その検出方式には静電容量式、抵抗式、超音波式、光学式などがある。
【０００３】
図１は、上記静電容量式のタッチパネルの構造を示す斜視図である。静電容量式のタッチパネルは、透明フィルム基板に酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）や金属の導体からなる配線パターンをＸ軸方向に平行に離間して配置した電極層１ａを備えるＸ軸方向電極板１と、別の透明フィルム基板に、前記導体からなる配線パターンをＹ軸方向に平行に離間して配置した電極層３ａを備えるＹ軸方向電極板３とを、透明な絶縁層２（透明樹脂層）を挟み、Ｘ軸方向電極板１とＹ軸方向電極板３のそれぞれの配線パターンがＺ軸方向から見て格子状になるように積層したものである。この静電容量式タッチパネルは、例えば、電極層１ａをアース接地して、電極層１ａ、３ａ間に微弱な電界を掛かかるようにするのであれば、電極層３ａが外側に露出するような状態で積層される。
【０００４】
そして、アース接地されていない側の電極層３ａを指先にて押圧するとＸ軸方向電極板１とＹ軸方向電極板３の矩形パターンが立体的に交差する部分において、押圧した指先を伝って、アース接地されていない側の前記電極層３ａに印加している電子が放出されて、その立体的に交差する部分の静電容量（電圧）が変化するので、Ｘ軸方向電極板１とＹ軸方向電極板３の配線パターンの静電容量（電圧）を調べることで、押圧された位置を検知するものである。
【０００５】
抵抗式タッチパネルの構成例を図２に示す。図２（ａ）は抵抗式タッチパネルの断面を示す図で、図２（ｂ）は斜視図である。抵抗式タッチパネルは上部透明基板１１と、この上部透明基板１１の表面に形成された上部導体部１２と、下部透明基板１４と、この下部透明基板１４の表面に形成されて、かつ、上部導体部１２に対向配置された下部導体部１５とを有する。
【０００６】
抵抗式タッチパネルは、透明基板に酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）や金属の導体からなる配線パターンをＸ軸方向に平行に離間して配置した配線パターン１２を備える上部透明基板１１と、別の透明基板に、前記導体からなる配線パターン１５を備える下部透明基板１４からなり、上部透明基板１１と下部透明基板１４を配線パターン１２ａと配線パターン１５ａがＺ軸方向から見て格子状になるようにかつ、対向するようにして積層したものである。この時、上部透明基板１１と下部透明基板１４の外周部には、上部導体部１２と下部導体部１５との距離を規定し、かつ上部透明基板１１と下部透明基板１４とを固定するための両面粘着テープ１７が設けられ、空気層１６が形成されている。
【０００７】
そして、抵抗式タッチパネルは、液晶表示装置本体２０上に搭載されることにより、液晶表示装置が構成されている。
【０００８】
この液晶表示装置では、データ入力用のペンの先端部あるいは人の指先が上部透明基板１１を押圧することにより、液晶表示装置本体２０の画面表示に応じたデータが入力可能
となっている。すなわち、データ入力用のペンの先端部等が上部透明基板１１を押圧することにより、上部透明基板１１が部分的に変形し、上部導体部１２と下部導体部１５とが部分的に接触する。この接触に応じた上部導体部１２及び下部導体部１５の抵抗値を検出し、検出した抵抗値に基づいて接触位置を特定し、この接触位置に対応する液晶表示装置本体２０の画面に表示されたデータと対応づけられて液晶表示装置が組み込まれた機器に入力される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開昭６２−２７４６８７号公報
【特許文献２】特開２０１２−７９１４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
このような静電容量式のタッチパネル及び抵抗式タッチパネルの製造時においては、導電性薄膜のパターニング不良が発生し易い。
【００１１】
例えば図１に示す静電容量式のタッチパネルの場合には、Ｘ軸方向電極板１及びＹ軸方向電極板３にストライプ状に形成された各電極層１ａ、３ａは、極薄の導電性薄膜（ＩＴＯ等の透明薄膜）により形成されているため、タッチパネル製造工程において、その導電性薄膜のパターニング不良が発生し易い。
【００１２】
またパネル製造時の電極板のパターニング不良等により、導通していなければならない個所が導通していないオープン欠陥（断線）と、導通してはならない個所が導通しているショート欠陥（短絡）が発生する。
【００１３】
これらのオープン欠陥やショート欠陥の検出は、従来は導通検査機にて実施しており、オープン欠陥検査をする場合は、導通検査機にて、Ｘ軸方向電極板１におけるストライプ状の各々電極層１ａの始端子部と終端子部間に電圧を掛け、その間の抵抗値を測定し、抵抗値が規定値（製造仕様により異なる値）以上である場合には、Ｘ軸方向電極板１の配線パターンにオープン欠陥が発生していることを検出している。Ｙ軸方向電極板３におけるオープン欠陥も同様にして行われる。
【００１４】
同様にショート欠陥の検出をする場合は、Ｘ軸方向電極板１におけるストライプ状の各々電極層１ａの始端子部と、それに隣接した例えば１ｂの始端子部間に電圧を掛け、その間の抵抗値を測定し、抵抗値が規定値以上であるか否かを測定して、抵抗値が規定値以下である場合には、Ｘ軸方向電極板１の配線パターンにショート欠陥が発生していることを検出している。Ｙ軸方向電極板３におけるショート欠陥も同様にして行われる。
【００１５】
このようなオープン欠陥やショート欠陥をタッチパネルの各配線パターンの１本ずつについて行うには、微細な配線パターン端子へ高精度で測定電極プローブの位置合わせを必要としていて、配線の本数に応じて測定回数が増えて測定時間に膨大な時間がかかる様になり問題となっていた。
【００１６】
そして、検査時間を短縮するため複数基の導通検査機を導入すると、検査費用が増大するという問題もあった。
【００１７】
そこで本発明は、基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンを簡便で効率良く短時間で検査可能な配線板を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明は係る課題に鑑みなされたものであり、請求項１の発明は、
基板上に、導体材料で形成された配線パターンを有する配線板であって、
前記配線パターンが、平行配線部と補助配線部とを備え、
前記平行配線部は、前記導体材料の配線が平行に配列された部分であり、
前記補助配線部は、前記平行配線部を一筆書き状に連結してオープン・ショート検査がより少ない検査回数となるように平行配線部の両端部に前記導体材料の配線で接続し、かつ、前記オープン・ショート検査終了後には平行配線部と切り離される部分である、
ことを特徴とする配線板である。
【００１９】
請求項２の発明は、
前記オープン検査が、前記補助配線部により電気的に導通した平行配線部毎に導通を調べることと、
前記ショート検査が、ショート検査その１では前記補助配線部により電気的に導通していない、隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることと、
ショート検査その２では前記ショート検査その１では検査できない前記補助配線部により電気的に導通している隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることとからなり、
前記平行配線部の全てについて前記オープン・ショート検査を行うことを特徴とする請求項１に記載の配線板である。
【００２０】
請求項３の発明は、
前記平行配線部が、タッチパネル用配線であることを特徴とする請求項１または２に記載の配線板である。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の配線板は、配線パターンを簡便で効率よく、短期で検査することが出来る配線板である。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】静電容量式のタッチパネルの構造を示す図。
【図２】抵抗式タッチパネルの構成例を示す図。（ａ）は抵抗式タッチパネルの断面を示す図。（ｂ）は斜視図を示す。
【図３】本発明の配線板の一例を示す模式図。
【図４】本発明に係るショート検査その１で検査できない平行配線部の配線箇所について説明するための図。
【図５】本発明に係るショート検査その２の検査方法を示す図。
【図６】配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間に電圧を印加しショート欠陥を検査する方法を示す図。（ａ）は配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間に抵抗Ｒ５のパターンがショートして形成された場合の等価回路を示す図。（ｂ）は本来の配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間の等価回路を示す図。
【図７】検査合計が最小回数で行なわれるように補助配線部のパターンを選択する方法を示す図で配線パターンが１２本の場合を示す図。（ａ）は補助配線部３１、３２の配線のｎｅｔ数が１（筆数が１）の場合を示す図。（ｂ）はｎｅｔ数が２（筆数が２）の場合を示す。（ｃ）はｎｅｔ数が３（筆数が３）の場合を示す。
【図８】検査合計が最小回数で行なわれるように補助配線部のパターンを選択する方法を示す図で配線パターンが１２本の場合を示す図。（ｄ）はｎｅｔ数が４（筆数が４）の場合を示す図。（ｅ）はｎｅｔ数が６（筆数が６）の場合を示す図。
【図９】本発明の配線板の配線パターン数を１９２本の場合を例として検査回数の最適点を求めた場合を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下本発明を実施するための形態につき説明する。図３は本発明の配線板の一例を示す模式図である。本発明の配線板は、基板（図示せず）上に導電材料で形成された配線パターン３０ａ、３０ｂ・・・（図３の場合の配線パターンは８本）を有する配線板であり、平行配線部３０と、補助配線部３１、３２とを備えている。
【００２４】
平行配線部３０は、配線板となる部分であって導電材料で形成された配線パターン３０ａ、３０ｂ・・・が平行にお互いに電気的に独立して配列されている。
【００２５】
補助配線部３１、３２は、平行配線部３０を一筆書き状に連結してオープン・ショート検査がより少ない検査回数となるように平行配線部３０の両端部に前記導体材料の配線で接続し、かつ、前記オープン・ショート検査終了後には平行配線部と切り離される部分であり、平行配線部３０のオープン・ショート検査用の１本以上（図３の場合は２本）の配線を有する部分である。
【００２６】
オープン検査は、補助配線部３１、３２により電気的に導通した平行配線部毎に導通を調べて検査している。即ち図３の場合は、補助配線部の配線端子３２ａと３２ｄ間の導通と、配線端子３２ｃと３２ｂ間の導通を調べている（検査回数は２回）。この場合、導通がなかった場合にはオープン欠陥と判断される。
【００２７】
ショート検査は、ショート検査その１では補助配線部３１，３２により電気的に導通していない、隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることと、ショート検査その２ではショート検査その１では検査できない補助配線部３１，３２により電気的に導通している隣接する２つの平行配線部間の短絡を調べることとからなる。
【００２８】
即ち、ショート検査その１は、補助配線部の配線端子３２ａと３２ｃ間のショート欠陥を調べている（検査回数は１回）。この場合、導通があった場合にはショート欠陥と判定される。
【００２９】
更に、上記ショート検査その１で検査できない平行配線部の配線箇所はショート検査その２で行われる。ショート検査その１で検査できない平行配線部の配線箇所について図４を用いて説明する。上記のショート検査その１では符号３０−１、３０−３、３０−５、３０−７で示される配線パターン間のショート欠陥を検査することが出来る。しかしながら符号３０−２、３０−４、３０−６で示される配線パターン間のショート欠陥を検査することが出来ない。
【００３０】
そこで本発明では、符号３０−２、３０−４、３０−６で示される配線パターン間のショート欠陥はショート検査その２によって行われる。図５にショート検査その２の検査方法を示す。図５に示されるはショート検査その２の方法は、図４における符号３０−２で示される配線パターン間のショート欠陥を検査する場合を示したもので、配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間に電圧を印加し、配線端子３２ｃと測定端子３２ｅの２点間の途中の点（測定端子３２ｆ）の電圧を測定してショート検査するものである。こうすることによって、配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間にショート欠陥があった場合には、ショート欠陥がなかった場合とは異なる電圧値を測定することが出来る。
【００３１】
即ち、配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間にショート欠陥があった場合には、図６（ａ
）の等価回路で示されるように配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間に抵抗Ｒ５のパターンがショートして形成されたことになり、図６（ｂ）の等価回路で示される本来の配線端子３２ｃと測定端子３２ｅ間の抵抗は、抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４が直列配線されたものであるために、ショート欠陥がなかった場合とショート欠陥があった場合とでは等価回路が異なるため、ショート欠陥があった場合と、なかった場合とでは配線端子３２ｃと測定端子３２ｅの２点間の途中の点（測定端子３２ｆ）の電圧は異なる電圧値を測定することが出来る。
【００３２】
このショート検査その２は図４で示される符号３０−２と同様に、３０−４、３０−６のパターン間で行われる。従って、図４の場合のショート検査その２の検査回数は３回となり、上記オープン検査２回、ショート検査その１が１回と合わせて合計６回の検査が行われる。
【００３３】
本発明では、検査を短時間で行う目的で、上記オープン検査とショート検査その１とショート検査その２の検査合計が最小回数で行われることを提案する。これは、補助配線部３１、３２のパターンを適宜選択することによって行われる。
【００３４】
図７、図８に検査合計が最小回数で行なわれるように補助配線部のパターンを選択する方法を示す。図７は配線パターンが１２本の場合を示す。図７（ａ）は補助配線部３１、３２の配線のｎｅｔ数が１（筆数が１）の場合を示す図である。同様に図７（ｂ）はｎｅｔ数が２（筆数が２）の場合を示し、図７（ｃ）はｎｅｔ数が３（筆数が３）の場合を示し、図８（ｄ）はｎｅｔ数が４（筆数が４）の場合を示し、図８（ｅ）はｎｅｔ数が６（筆数が６）の場合を示す。
【００３５】
上記図７（ａ）から図８（ｅ）の場合の各合計検査回数を求める。結果を表１に示す。表１に記されるターン数とは、平行配線部の配線パターンのうち、互いに隣接する配線パターンが、補助配線部の配線を介して接続されている箇所の数を指す。
【００３６】
【表１】
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【００３７】
図７（ａ）の場合は、導通を検査するオープン検査回数＝１、ショート検査その１であるショート検査回数＝０であるが、ショート検査できない箇所（図中×で示す箇所）が１１箇所（ショート検査その２で行われる）あり、検査合計は１２回となる。完全にショート検査できる本数（後で述べる）は０本である。尚、図中（ａ１）−（ａ１）は配線端子（ａ１）と他の一方の配線端子（ａ−１）間の導通を測定することを示す。以下、図７（ｂ）以降も同様である。
【００３８】
図７（ｂ）の場合は、導通を検査するオープン検査回数＝２、ショート検査その１であるショート検査回数＝１であるが、ショート検査できない箇所（図中×で示す箇所）が５箇所（ショート検査その２で行われる）あり、検査合計は８回となる。完全にショート検査できる本数は０本である。尚、１２本の配線パターンの内、左右両端の２本は片側ショートを検出すれば良いが、他の１０本の配線パターンは両側ショートを検査する必要がある。以下、図７（ｃ）以降も同様である。
【００３９】
図７（ｃ）の場合は、導通を検査するオープン検査回数＝３、ショート検査その１であるショート検査回数＝２であるが、ショート検査できない箇所（図中×で示す箇所）が３箇所（ショート検査その２で行われる）あり、検査合計は８回となる。完全にショート検査できる本数は４本である。この完全にショート検査できる配線とは、隣接する配線の両側のショートが検査できる配線を示している。
【００４０】
図８（ｄ）の場合は、導通を検査するオープン検査回数＝４、ショート検査その１であるショート検査回数＝３であるが、ショート検査できない箇所（図中×で示す箇所）が２箇所（ショート検査その２で行われる）あり、検査合計は９回となる。完全にショート検査できる本数は６本である。この完全にショート検査できる配線とは、隣接する配線の両側のショートが検査できる配線を示している。
【００４１】
図８（ｅ）の場合は、導通を検査するオープン検査回数＝６、ショート検査その１であるショート検査回数＝５であるが、ショート検査できない箇所（図中×で示す箇所）が１箇所（ショート検査その２で行われる）あり、検査合計は１２回となる。完全にショート検査できる本数は８本である。
【００４２】
この結果、図７、図８に示す配線パターンが１２本の場合は、合計検査回数が８回の図７（ｂ）、図７（ｃ）の補助配線部のパターンを選択することによって最小回数で検査することが出来る。
【００４３】
上記表１に示すように、以下の関係が成り立つ。即ち、ターン数＝ライン数／ｎｅｔ数−１、オープン検査回数＝ｎｅｔ数、ショート検査回数＝ｎｅｔ数−１、ショート検査できない箇所数＝ターン数。
【００４４】
以上の結果から
（１） ターン数が増えると検査できない箇所が増える。
（２） ターン数が増えるとｎｅｔ数が少なくなるので、検査回数が減る。
即ち、検査回数の最適点があることが判明した。
【００４５】
上記方法で配線パターン数を１９２本の場合を例として検査回数の最適点を求めた場合を図９に示す。図９は配線パターン数を１９２本の場合のｎｅｔ数（筆数）と合計検査回数の関係を示すグラフで、ｎｅｔ数（筆数）が１２の場合、検査回数が３８で最小の検査回数となる。
【００４６】
本発明に係る補助配線部３１、３２（図３参照）は、平行配線部３０の配線パターンの形成と同時に形成され、検査終了後に平行配線部３０と切り離される。
【００４７】
本発明の配線板は上記構造を有するためタッチパネル用配線板に適用することが出来る。
【００４８】
以上のように本発明の配線板は、基板上に、導電材料で形成された平行配線部３０と補助配線部３１、３２とからなる配線パターンを有する配線板であり（図３参照）、簡便で効率良く短時間でオープン欠陥、ショート欠陥を検査することが出来る。
【符号の説明】
【００４９】
１・・・Ｘ軸方向電極板
１ａ・・・電極層
２・・・透明な絶縁層（透明樹脂層）
３・・・Ｙ軸方向電極板
３ａ・・・電極層
１１・・・上部透明基板
１２・・・上部導体部
１４・・・下部透明基板
１５・・・下部導体部
１７・・・両面粘着テープ
１６・・・空気層
２０・・・液晶表示装置本体
３０−１、３０−３、３０−５、３０−７・・・ショート欠陥を検査することが出来る箇所
３０−２、３０−４、３０−６・・・ショート欠陥を検査することが出来ない箇所
３０ａ、３０ｂ・・・配線パターン
３１・・・平行配線部
３１、３２・・・補助配線部
３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄ・・・補助配線部の配線端子
３２ｅ・・・測定端子
３２ｆ・・・配線端子３２ｃと測定端子３２ｅの２点間の途中の測定端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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