(57)【要約】【課題】むだ時間を有する無定位系に対し、積分誤差に起因するオフセット誤差を抑制しつつゲインアップによる高応答化を図ることができる制御装置を提供する。【解決手段】本発明に係る制御装置１は、動特性にむだ時間と積分特性が含まれる「むだ時間を有する無定位系２」からなる制御対象を制御する制御装置１であって、 制御対象の動特性に基づいて、当該制御対象でのむだ時間を補償する「むだ時間補償系５」を有し、むだ時間補償系５による補償値が入力されると共に、入力された補償値の低周波成分を除去した上で制御対象の入力側へフィードバックするハイパスフィルタ１０と、制御対象に対する指令値が入力されると共に、入力された指令値の高周波成分を除去した上で制御対象に対して出力するローパスフィルタ１１と、を有する。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
動特性にむだ時間と積分特性が含まれる「むだ時間を有する無定位系」からなる制御対象を制御する制御装置であって、 
前記制御対象の動特性に基づいて、当該制御対象でのむだ時間を補償する「むだ時間補償系」を有し、
前記むだ時間補償系による補償値が入力されると共に、入力された補償値の低周波成分を除去した上で前記制御対象の入力側へフィードバックするハイパスフィルタと、
前記制御対象に対する指令値が入力されると共に、入力された指令値の高周波成分を除去した上で前記制御対象に対して出力するローパスフィルタと、
を有することを特徴とするむだ時間を有する無定位系の制御装置。
【請求項２】
前記ローパスフィルタが、前記ハイパスフィルタの逆特性もしくは該逆特性に相当する特性を有することを特徴とする請求項１に記載のむだ時間を有する無定位系の制御装置。
【請求項３】
前記ハイパスフィルタの出力が、前記ローパスフィルタの出力側にフィードバックされていることを特徴とする請求項１又は２に記載のむだ時間を有する無定位系の制御装置。
【請求項４】
前記制御対象が、一対のドラム間に架け渡された無端のベルトを有すると共に、当該ベルト上を試験用のタイヤが転動するように構成されたタイヤの走行試験装置であり、
前記ドラムの揺動量又は揺動力が制御対象の入力とされ、前記ベルトの位置が制御対象の出力とされていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のむだ時間を有する無定位系の制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、むだ時間を有する無定位系を制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１に開示されたようなタイヤの走行試験装置では、一対のドラム間に架け渡されたベルトがタイヤ試験中に蛇行したり、適切な位置からずれたりすることがある。そのため、この走行試験装置では、ベルト位置を実測した上で、ドラムの揺動量を可変としベルト位置の制御を行っている。
この走行試験装置に代表される制御系は、その動特性にむだ時間、積分特性を備えていて「むだ時間を有する無定位系」と考えることができる。
【０００３】
このような「むだ時間を有する系」に対して補償を行う制御手法として、スミス補償が有名である。
例えば、特許文献２には、むだ時間を有する制御対象の出力をフィードバックし、目標値との偏差に基づいてＰＩ制御またはＰＩＤ制御を行う制御装置のむだ時間を補償するむだ時間補償制御装置において、上記制御対象におけるむだ時間をむだ時間スミス補償法によるスミス補償器で補償すると共に、制御装置モデル手段と制御装置むだ時間モデル手段とを有する制御装置むだ時間補償器により、上記制御装置の内部のむだ時間を補償するむだ時間補償制御装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１２２００６号公報
【特許文献２】特開２０１０−２０５１４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献２のように、スミス補償は多くの制御系の補償に用いられているが、一方で、スミス補償は、積分が含まれる無定位系に対して、むだ時間の補償系に含まれる積分特性が影響し（モデルと実機との積分値の差が影響し）、オフセット誤差が発生し制御性能が悪化することが知見されている。 
図１に、むだ時間と積分特性を有する無定位系、及びこの無定位系を制御する制御系の一例を示す。積分特性を有する制御対象に対しては、制御１、制御２のようにカスケード状に制御器を接続するカスケード制御が一般的とされている。
【０００６】
特許文献１に示すタイヤの走行試験装置（本明細書の図９）をモデル化した際も、図１に示すような制御ブロック図となる。図１の制御１（第１制御器）、制御２（第２制御器）は、図９の制御部内に設けられている。
図２には、図１に示した制御系でのステップ入力時の制御結果が示されている。この制御では、第１制御器としてＰ制御を、第２制御器としてＰＩ制御を行っている（Ｐ−ＰＩ制御のカスケード制御）。この図から明らかなように、図１の制御系の場合、むだ時間の影響により制御ゲインを上げられず、応答が遅いことがわかる。制御ゲインを必要以上に上げるとハンチングが発生するため、単純なカスケード制御ではこれ以上の高応答化を図ることができない。
【０００７】
一方、図３には、図１の制御系にスミス補償系（スミス補償ループ）を追加し、むだ時間を補償した例を示している。
図４には、図３の制御系での制御の結果が示されている。この図から明らかなように、スミス補償により、むだ時間の影響を受けることなくステップ応答の高応答化が図られているが、３０秒の時点で外乱ｄが印加され積分誤差が発生すると、スミス補償がない場合には、ゆっくりではあるが目標値１に近づいて行くものの、スミス補償ありでは、スミス補償系の積分値と実機での積分値との積分誤差により、誤差が収束せずオフセット誤差Ｄｏｆｆが発生してしまう。 
【０００８】
図５に示す如く、オフセット誤差Ｄｏｆｆの発生を防止するため、スミス補償の出力に
ハイパス特性（ハイパスフィルタ）を追加し、低周波に発生する積分誤差を遮断することで積分誤差の影響を抑制する手法も知見されている。
図６には、図５の制御系での制御の結果が示されている。制御条件は図４の場合と同じである。図６からわかるように、スミス補償の出力にハイパス特性を追加したことにより、積分誤差によるオフセット誤差は改善されているが、逆にステップ応答時（応答初期）に大きなオーバーシュートが発生し（図６のＡ部分）、目標値応答が大きく悪化してしまう。
【０００９】
以上まとめれば、
(1)むだ時間と積分特性を含む無定位系の制御では、スミス補償などのむだ時間補償なしにはゲインアップができない。 
(2)しかしながら、無定位系にスミス補償を適用すると、積分誤差の影響でオフセット誤差が発生し、問題となる場合がある。
【００１０】
(3)  このオフセット誤差を抑制するには、低周波領域で発生するスミス補償の積分誤差成分をハイパス特性（低周波遮断特性）にて遮断する方法が知られているが、低周波に存在する積分誤差以外の有用な情報も遮断されるため、ステップ入力時などの目標値応答が大きくオーバーシュートするなど、問題が発生することが知見されている。
そこで、本発明は上記問題点を鑑み、むだ時間を有する無定位系に対し、積分誤差に起因するオフセット誤差を抑制しつつゲインアップによる高応答化を図ることができる制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上述の目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。
本発明に係るむだ時間を有する無定位系の制御装置は、動特性にむだ時間と積分特性が含まれる「むだ時間を有する無定位系」からなる制御対象を制御する制御装置であって、
前記制御対象の動特性に基づいて、当該制御対象でのむだ時間を補償する「むだ時間補償系」を有し、前記むだ時間補償系による補償値が入力されると共に、入力された補償値の低周波成分を除去した上で前記制御対象の入力側へフィードバックするハイパスフィルタと、前記制御対象に対する指令値が入力されると共に、入力された指令値の高周波成分を除去した上で前記制御対象に対して出力するローパスフィルタと、を有することを特徴とする。
【００１２】
好ましくは、前記ローパスフィルタが、前記ハイパスフィルタの逆特性もしくは該逆特性に相当する特性を有するとよい。
好ましくは、前記ハイパスフィルタの出力が、前記ローパスフィルタの出力側にフィードバックされるとよい。
好ましくは、前記制御対象が、一対のドラム間に架け渡された無端のベルトを有すると共に、当該ベルト上を試験用のタイヤが転動するように構成されたタイヤの走行試験装置であり、前記ドラムの揺動量又は揺動力が制御対象の入力とされ、前記ベルトの位置が制御対象の出力とされているとよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の制御装置によれば、むだ時間を有する無定位系に対し、積分誤差に起因するオフセット誤差を抑制しつつゲインアップによる高応答化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】むだ時間と積分特性を有する無定位系に対し、カスケード制御を行う制御系のブロック図を示したものである。
【図２】図１の制御系で制御を行った結果を示した図である。
【図３】むだ時間と積分特性を有する無定位系に対し、スミス補償を行う制御系のブロック図を示したものである。
【図４】図３の制御系で制御を行った結果を示した図である。
【図５】むだ時間と積分特性を有する無定位系に対し、スミス補償を行うと共にハイパス特性を追加した制御系のブロック図を示したものである。
【図６】図５の制御系で制御を行った結果を示した図である。
【図７】本実施形態の制御系のブロック図を示したものである。
【図８】本実施形態の制御系で制御を行った結果を示した図である。
【図９】タイヤ走行試験装置の概略を示した図である。
【図１０】スミス補償制御の様々な形態を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明に係るむだ時間を有する無定位系の制御装置の実施の形態を、図をもとに説明する。
まず、本実施形態の制御装置１を説明する前に、むだ時間を有する無定位系２について説明を行う。
図９に示す如く、むだ時間を有する無定位系２の代表的な例としては、特許文献１（特開２０１０−１２２００６号公報）に開示されたタイヤＴの走行試験装置５０が挙げられる。
【００１６】
この走行試験装置５０は、駆動モータ５１に連結されて正逆に回転自在とされた駆動ドラム５２と、駆動ドラム５２に対して距離をあけて軸心同士が互いに平行となるように設けられる従動ドラム５３と、駆動ドラム５２と従動ドラム５３との間に架け渡された無端のベルト５４とを有している。ベルト５４の平坦面に形成された路面（試験路面）に試験用のタイヤＴが接地している。走行試験装置５０は、ベルト５４上の試験路面にタイヤＴを接地・転動させてタイヤＴの走行特性を評価できるように構成されている。 
【００１７】
さらに、この走行試験装置５０には、ベルト蛇行防止装置５５が備えられており、このベルト蛇行防止装置５５は、走行試験装置５０に設けられた駆動ドラム５２と従動ドラム５３とのうち、従動ドラム５３を駆動ドラム５２に対して揺動させることでベルト５４の蛇行、位置ずれを修正している。
ベルト蛇行防止装置５５は、駆動ドラム５２に対して従動ドラム５３を上下方向に沿った揺動軸回りに揺動させ且つその揺動量θ、揺動速度θ’、揺動力などの揺動パラメータに応じてベルト５４の位置を可変とするドラム揺動手段５６と、このドラム揺動手段５６を制御する制御部５７と、を備えている。ベルト蛇行防止装置５５では、ベルト位置をセンサ５８などで実測した上で、ドラムの揺動量の積分値を用いてベルト位置の制御を行っている。
【００１８】
この走行試験装置５０に代表される制御系は、むだ時間、積分特性を備えていて「むだ時間を有する無定位系２」と考えることができる。
図７は、本発明の実施形態を示したものであって、走行試験装置５０の特性を表現した制御系、すなわちむだ時間を有する無定位系２、及びこの無定位系２を制御する制御系をブロック図で示したものである。
【００１９】
むだ時間を有する無定位系２（以下、単に無定位系２と表記することもある）は、走行試験装置５０の動特性に起因するＰ（ｓ）、むだ時間を表現するｅ−Ｌｓ、積分器１／ｓから構成されている。積分器１／ｓの入力側には外乱ｄが入力されるものとなっている。
このような無定位系２の入力部分には、無定位系２を制御するための第１制御器３（図では制御１と表記）、第２制御器４（図では制御２と表記）が設けられている。第１制御器３、第２制御器４としては、Ｐ制御やＩ制御を採用することができる。目標入力値は第１制御器３、第２制御器４を介した上で無定位系２へ入力され、無定位系２が制御されることとなる。
【００２０】
また、本実施形態では、この無定位系２に対して、スミス補償系５（むだ時間補償系）を設けるようにしている。
スミス補償系５の構成としては、図１０に示す様々なものが採用可能であるが、本実施形態では、図７、言い換えれば、図１０（ａ）を採用している。すなわち、無定位系２への入力値（第２制御器４の出力）が分岐され、スミス補償系５を構成するＰ（ｓ）へ入力される。スミス補償系５でのＰ（ｓ）の出力は、２つに分岐し、１つはそのまま積分器へ入力され、もう一つはむだ時間ｅ−Ｌｓへ入力された後、ｅ−Ｌｓの出力のマイナス値が積分器へと入力される。さらに、スミス補償系５の積分器の出力は、ハイパスフィルタ１０（ハイパス特性器）へ入力され、低周波成分を除去された信号が出力されるようになる
。ハイパスフィルタ１０の出力は、無定位系２の出力に加算された上で、第１制御器３の入力へネガティブフィードバックされる。併せて、スミス補償系５のハイパスフィルタ１０の出力と無定位系２の出力との加算値は微分された上で、第２制御器４の入力へネガティブフィードバックされる。
【００２１】
上記した制御はカスケード制御であり、第１制御器３へのフィードバック値は無定位系２の出力そのものであるので、走行試験装置５０における位置制御ループ（揺動量θの制御ループ）に対応すると考えられる。第２制御器４へのフィードバック値は無定位系２の出力の微分値であるので、走行試験装置５０における速度制御ループ（揺動速度θ’の制御ループ）に対応すると考えられる。
【００２２】
さらに、図７に示すように、本実施形態の場合、第１制御器３の前段にローパスフィルタ１１が設けられている。制御系への入力値（指令値）は、まずはローパスフィルタ１１へ入力され、高周波成分がカットされた信号が第１制御器３へ入力されることになる。
ローパスフィルタ１１の特性としては、スミス補償系５に設けられたハイパスフィルタ１０の逆特性を有するものが好ましい。例えば、ローパスフィルタ１１は、ハイパスフィルタ１０と同程度（０．５倍〜２倍）の時定数のカットオフ周波数を有するローパス特性を備えているとよい。
【００２３】
本実施形態のローパスフィルタ１１は、第１制御器３の前段に設けられ、スミス補償系５のハイパスフィルタ１０に起因するオーバーシュートを改善するものであるため、前置補償器と考えることができる。
図８には、本実施形態の制御装置（スミス補償系５＋ハイパスフィルタ１０＋ローパスフィルタ１１）を用いた制御結果が示されている。なお、制御条件は、図６の場合と同じとしている。
【００２４】
図８から明らかなように、スミス補償系５（ハイパスフィルタ１０のみ）の制御手法に比して、応答初期におけるオーバーシュートがなくなっていることがわかる。これにより、高応答なステップ応答を実現することが可能となる。加えて、問題であった外乱ｄが印加されたときの積分誤差影響、つまり図４におけるオフセット誤差Ｄｏｆｆも早期になくなり、短時間でほぼゼロとなることがわかる。
【００２５】
さらに、ハイパスフィル１０とローパスフィルタ１１との特性を互いに適切化することで、外乱ｄが印加された後の応答の収束性を早めることもできる。例えば、応答初期のオーバーシュートを若干許容してハイパスフィルタの特性を強固なものとすれば、外乱印加後（例えば、３０秒後）の誤差の寄り付きを早くすることが可能となる。なお、ローパスフィルタ１１（前置補正器）を設けることで、応答初期のオーバーシュートを抑制することができるものの、応答速度はスミス補償（ハイパスフィルタ１０のみ）のみの場合より遅くなってしまうことが知見されている。しかしながら、スミス補償系を設けないよりは、制御において速い応答速度を得ることができることがわかっており、本願発明の技術は十分な実用性を有するものとなっている。
【００２６】
以上述べたように、本実施形態の制御装置によれば、スミス補償によるむだ時間の補償系５を設けることで、ゲインアップによる高応答化を実現することができる。その際、スミス補償系５で発生する積分誤差によるオフセット誤差は、別途、スミス補償系５の後段に設けたハイパスフィルタ１０（低周波除去特性）によりカットし、オフセット誤差を抑制する。 加えて、ハイパスフィルタ１０による有用な（積分誤差以外の）低周波成分の除去により目標値追従特性が悪化するが、入力される目標値にローパスフィルタ１１（前置補償器）を施す事で、応答初期の追従特性を悪化させることなく、オフセット外乱の抑制を可能とすることができる。
【００２７】
ところで、本実施形態及び第２実施形態で述べたスミス補償系５に関してであるが、その具体的な構成は一つに限定されない。
図１０には、スミス補償系５（スミス補償ループ）の様々な構成が示されている。上記した本実施形態及び第２実施形態では、スミス補償系５として図１０（ａ）の構成を採用したが、図１０（ｂ）〜図１０（ｅ）の構成を採用してもよい。
【００２８】
例えば、図１０（ｂ）は、図１０（ａ）に対して、動特性Ｐ（ｓ）とむだ時間ｅ−Ｌｓ
と積分器１／ｓの順番を入れ替えたものであり、入力側から、積分器１／ｓ、動特性Ｐ（ｓ）、むだ時間ｅ−Ｌｓの順に信号が伝達するものとなっている。
図１０（ｃ）（ｅ）は、図１０（ａ）を並列型としたものである。つまり、信号の伝達経路を２系列とし、１系列には、動特性Ｐ（ｓ）、むだ時間ｅ−Ｌｓ、積分器１／ｓが配備され、伝達してきた信号は出力側にマイナス値とされた上で加算（すなわち減算）される、もう一つの系列には、動特性Ｐ（ｓ）、積分器１／ｓが配備され、伝達してきた信号は出力側にプラス値で加算される。なお、図１０（ｃ）と図１０（ｅ）との違いは、出力側への加減算の順番が異なるだけである。
【００２９】
図１０（ｄ）は、図１０（ａ）に対し、動特性Ｐ（ｓ）を並列型としたものである。つまり、入力信号を分岐させ、１系列には、動特性Ｐ（ｓ）、むだ時間ｅ−Ｌｓが配備され、もう一つの系列には、動特性Ｐ（ｓ）と積分器１／ｓが配備されるものとなっている。１系列におけるむだ時間ｅ−Ｌｓの出力は、もう一つの系列の積分器１／ｓの入力側でマイナス値とされ合流し（すなわち減算され）、積分器１／ｓの出力はスミス補償系５の出力となる。
【００３０】
以上述べた図１０（ａ）〜図１０（ｅ）のいずれのスミス補償系５を用いたとしても、本発明の奏する作用効果を発現させることができる。
なお、今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。特に、今回開示された実施形態において、明示的に開示されていない事項、例えば、運転条件や操業条件、各種パラメータ、構成物の寸法、重量、体積などは、当業者が通常実施する範囲を逸脱するものではなく、通常の当業者であれば、容易に想定することが可能な値を採用している。
【００３１】
例えば、本発明の制御技術は、タイヤＴの走行試験装置５０向けに限定されるものではなく、むだ時間を有する無定位系２で表されるシステムであれば、いずれにも適用可能である。
【符号の説明】
【００３２】
１    制御装置
２    無定位系
３    第１制御器
４    第２制御器
５    スミス補償系（むだ時間補償系）
１０  ハイパスフィルタ
１１  ローパスフィルタ
５０  走行試験装置
５１  駆動モータ
５２  駆動ドラム
５３  従動ドラム
５４  ベルト
５５  ベルト蛇行防止装置
５６  ドラム揺動手段
５７  制御部
５８  センサ
Ｔ    タイヤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図７】
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【図９】
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【図１０】
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【図４】
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【図６】
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【図８】
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