(57)【要約】【課題】ある程度の面積を持った導電性薄膜層の領域を設けることで測定対象素子へ接続する接点となる突起を任意に適当な位置に形成することができ、粘着層により測定対象素子へ容易に固定できるシート電極を提供する。【解決手段】絶縁性フィルム基材１の片側面に粘着層２の領域と、粘着層２と同一面に粘着層２とは独立して２つ以上の導電性の薄膜領域３と、導電性の薄膜領域３内にフィルム基材１の導電性薄膜側に突出した１つ以上の微小の突起６とを有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁性フィルム基材の片側面に粘着層の領域と、
該粘着層と同一面に該粘着層とは独立して２つ以上の導電性の薄膜領域と、
該導電性の薄膜領域内に前記フィルム基材の導電性薄膜側に突出した１つ以上の微小の突起とを有することを特徴とするシート電極。
【請求項２】
絶縁性フィルム基材の片側面に２つ以上の導電性粘着層の領域と、
導電性粘着層の領域内にフィルム基材の導電性薄膜側に突出した微小の突起とを有することを特徴とするシート電極。
【請求項３】
絶縁性フィルム基材の片側面に粘着層の領域と導電性の薄膜領域と、
導電性の薄膜領域に該導電性の薄膜領域を分割するスリットと、
前記導電性の薄膜領域内に前記フィルム基材の導電性薄膜側に突出した微小の突起とを有することを特徴とするシート電極。
【請求項４】
絶縁性フィルム基材の片側面に少なくとも２箇所の導電性薄膜層の領域と１箇所の粘着性薄膜層の領域を有し、
前記導電性薄膜層の領域は、矩形形状の一部が階段状に切欠かれた形状であり、一方の領域の凹部へ他方の凸部が入りこむように配列し、
前記絶縁性フィルム基材の導電性薄膜層の側に突出した微小突起部は、前記導電性薄膜層の隣接した領域に１箇所ずつ設けられたことを特徴とするシート電極。
【請求項５】
前記微小の突起が、円錐型の形状であることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のシート電極。
【請求項６】
前記微小の突起が、半球型の形状であることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のシート電極。
【請求項７】
前記微小の突起が、導電性の薄膜領域を短冊型に切り曲げした形状であることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のシート電極。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器製品に搭載されたプリント基板上に集積化された回路上素子のシート電極に関する。
【背景技術】
【０００２】
まず、従来技術のシート状コネクタについて説明する。図９は、従来技術のシート状コネクタを示す図である。ピッチ変換ボード７４の表面に測定対象と同じピッチのプローブ電極７８を有し、プローブ電極７８を測定対象と接触させることで計測器７１の測定電極７６と同じピッチの電極８０と電気的に接続される。電極８０の間隔を大きくとるためにはピッチ変換ボード７４を多層化する必要がある。
【０００３】
なお、こうしたピッチ変換を行った後でも、電極８０と計測器７１を接続するには、特殊な測定電極７６を準備する必要があるため測定の要求が発生した時に即時にその対応ができない。
【０００４】
特許文献１には、被検査対象回路基板の被検査電極の配列ピッチを電気検査装置の検査電極の配列ピッチにまでピッチ変換して、両電極を電気的に接続することができることに加えて、電極同士の位置ずれによる導通不良がないピッチ変換ボードとして用いうるシート状コネクタに関する技術が開示されている。
【０００５】
また、特許文献２には、回路装置の電気的検査において、当該回路装置に対する電気的接続を行うためのプローブ装置として好適なシート状コネクタおよびその製造方法並びにこのシート状コネクタを具えたプローブ装置に関する技術が開示されている。
【０００６】
また、特許文献３には、集積回路などの回路の電気的検査において、回路に対する電気的接続を行うためのプローブ装置として好適なシート状プローブおよびその製造方法並びにその応用に関する技術が開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、従来技術と特許文献１に開示されている技術では、被検査対象回路基板の配列ピッチをピッチ変換ボードを使用して特殊なコンタクトプローブで測定するため、汎用計測器での測定ができないという問題があった。また、ピッチ変換ボードで変換できるピッチは変換ボードで限定されるため、別の被検査対象回路基板への使用が困難であるという問題があった。
【０００８】
さらに、特許文献１に開示されている技術では、ボードの材質が硬いため被検査電極、検査電極を傷つけやすく、ボード形成時に反りが発生した場合、ボードを重ねても反りが解消されず電極ピッチへの位置合わせが困難になる。
【０００９】
特許文献２に開示されている技術では、電解メッキによるメッキ層が等方的に成長するため、被検査回路における電極が微小で極めて小さいピッチである場合は対応が困難である。また、被検査電極に対する良好な電気的接続を達成するため、シート状コネクタの電極構造体における表面電極部を被検査電極に圧接することによりダメージを与える恐れがある。
【００１０】
特許文献３に開示されている技術では、電解メッキによるメッキ層が等方的に成長するため、被検査回路における電極が微小で極めて小さいピッチである場合は、対応が困難である。また、電極構造体における表面電極部の径が短絡部の径すなわち絶縁性シートに形成された貫通孔の径と同等またはそれより小さいものであるため、電極構造体が絶縁性シートの裏面から脱落してしまう恐れがある。
【００１１】
本発明は、前記課題を解決するためのものであり、その目的とするところは、ある程度の面積を持った導電性薄膜層の領域を設けることで測定対象素子へ接続する接点となる突起を任意に適当な位置に形成することができ、粘着層により測定対象素子へ容易に固定できるシート電極を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
かかる目的を達成するために、本発明は、以下の特徴を有する。
【００１３】
本発明に係るシート電極は、絶縁性フィルム基材の片側面に粘着層の領域と、該粘着層と同一面に該粘着層とは独立して２つ以上の導電性の薄膜領域と、該導電性の薄膜領域内に前記フィルム基材の導電性薄膜側に突出した１つ以上の微小の突起とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、ある程度の面積を持った導電性薄膜層の領域を設けることで測定対象素子へ接続する接点となる突起を任意に適当な位置に形成することができ、粘着層により測定対象素子へ容易に固定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１の実施形態に係るシート電極の斜視図である。
【図２】第１の実施形態に係るシート電極の使用方法を示す図である。
【図３】第２の実施形態に係る導電性粘着層を用いたシート電極の斜視図である。
【図４】第３の実施形態に係るシート電極を示す図である。
【図５】第４の実施形態に係るシート電極の斜視図である。
【図６】第４の実施形態に係るシート電極を示す図である。
【図７】導電性薄膜層に形成される突起の形状を示す断面図である。
【図８】導電性薄膜層に形成される突起の形状を示す断面図である。
【図９】従来技術のシート状コネクタを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本実施形態について図面により詳細に説明する。
【００１７】
図１は、第１の実施形態に係るシート電極の斜視図である。絶縁性のフィルム基材１の片側面に粘着性薄膜層２と独立する２箇所の導電性薄膜層３の領域を有し、導電性薄膜層３の側に突出した突起６を２箇所に設けてシート電極としている。
【００１８】
図２（ａ）は、シート電極の使用方法で粘着性薄膜層２と導電性薄膜層３を測定対象素子４へ向けて矢印方向に貼り付ける。図２（ｂ）は、シート電極を測定対象素子４へ貼り付け状態の断面図である。
【００１９】
測定対象素子４の測定した端子に対して導電性薄膜層に突出した突起６を当てる。測定端子に突起６と接触させることで導電性薄膜層３に電気的出力が生じる。導電性薄膜層３に生じた電気的出力を導電性薄膜層３領域の任意の位置に接続した汎用測定器のプローブ７を用いて測定する。
【００２０】
なお、板バネ等の弾性体による補助具５を使用することでシート電極と測定対象素子４の接触をより確実にすることができる。
【００２１】
本実施形態によれば、粘着層を有することでシート電極の固定位置を選ばず設置することができる。また、導電性薄膜層にある突起で測定点に接触して導電性薄膜層領域の任意の位置から汎用計測器のプローブを当てることで容易に信号測定することができる。
【００２２】
図３は、第２の実施形態に係る導電性粘着層１１を用いたシート電極の斜視図である。
絶縁性のフィルム基材１０の片側面に導電性と粘着性とを合わせ持った導電性粘着層１１を少なくとも２つ以上設けたシート電極を構成した例である。導電性粘着層１１の突出した突起１２を２箇所に設けてシート電極としている。
【００２３】
導電性薄膜層と粘着性薄膜層の性質を合わせることで、シート電極の設置場所を自由にすることができ、シート電極の固定と測定点に接触するのを同時に実施することができる。
【００２４】
図４（ａ）は、第３の実施形態に係るシート電極の斜視図である。絶縁性のフィルム基材２２は、片側面に粘着性薄膜層２０と導電性薄膜層２１とを有している。
【００２５】
図４（ｂ）は導電性薄膜層２１の断面図であり、２つの導電性薄膜層２１の間に導電性薄膜層２１を独立させるためのスリット２３を設けている。スリット２３を設けることにより、片側で複数の測定箇所に突起（接点）を設けることができる。導電性薄膜層をスリットで独立したものに分割することで、１つのシート電極で複数の測定対象に接触することができる。
【００２６】
図５は、第４の実施形態に係るシート電極の斜視図である。絶縁性のフィルム基材３０は、片側面に粘着性薄膜層３２と２箇所の導電性薄膜層３１とを有している。２箇所の導電性薄膜層３１は、矩形形状の一部が階段状に切欠かれた形状であり、一方の領域の凹部へ他方の凸部が入り込むように配列している。
【００２７】
独立した導電性薄膜層が領域に入り込むように配列することで、隣接する測定対象に接触させることができる。導電性薄膜層の形を変えることで、近接する２つ以上の測定点への接触が容易にできる。
【００２８】
図６（ａ）は第４の実施形態に係るシート電極の斜視図であり、図６（ｂ）は図６（ａ）の矢印方向の側面図である。図６に示すように、２箇所の導電性薄膜層３１に短冊型の切り込み形成した突起３３をそれぞれの導電性薄膜層３１に１つ設けることで、測定対象素子４に対して間隔ｃのような近接した箇所の測定が可能になる。
【００２９】
導電性薄膜層３１に形成する突起３３が導電性薄膜層３１を切曲げした短冊型であることにより、後述する円錐型や半球型に比べて、より近接した測定対象物への接続が可能になる。導電性薄膜層３１を切り曲げることにより使用者が自由に形状を変化させることができる。
【００３０】
図７，図８は、導電性薄膜層に形成される突起の形状を示す断面図である。図７は、絶縁性のフィルム基材４０に形成されている導電性薄膜層４２上に円錐型形状の突起４１を設けている図である。本実施形態は、測定対象の周囲にスペースが制約されている場合に使用すると良い。
【００３１】
導電性薄膜層に形成する突起が円錐型であることにより、隣接するものから制約を受けることなく微小な測定対象に接触することができる。
【００３２】
図８は、絶縁性のフィルム基材４５に形成されている導電性薄膜層４７上に半球型形状の突起４６を設けている図である。本実施形態は、導電性薄膜層が薄く延展性の少ない材質の場合などに使うと良い。
【００３３】
導電性薄膜層に形成する突起が半球型であることにより、より薄い導電性薄膜層に突起を形成する場合でも、導電性薄膜層の剥離の可能性が無く形成することができる。また、半球型形状の突起により測定箇所に面で接触することで接触不良を防止できる。
【００３４】
それぞれの突起形状には、フィルム基材、導電性薄膜層の機能・厚さや測定対象物により、適時使い分け測定箇所に応じて、フィルム基材の任意の位置に形成し測定に供すると良い。
【符号の説明】
【００３５】
１    フィルム基材
２    粘着性薄膜層
３    導電性薄膜層
４    測定対象素子
５    補助具
６    突起
７    プローブ
２３    スリット
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３６】
【特許文献１】特許第４７１５６００号公報
【特許文献２】特開２００４−１７２５８８号公報
【特許文献３】特許第４６５５７４２号公報
【図１】
2014112044.tif 000003
【図２】
2014112044.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2014112044.tif 000008
【図７】
2014112044.tif 000009
【図８】
2014112044.tif 000010
【図９】
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