(57)【要約】【課題】他層迷光が生じる場合であっても、部品追加等を極力抑えつつ光ディスクの再生を適切に行うことが容易となる光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】光ディスクの情報記録面にレーザ光を照射し、集光スポットを形成させる集光スポット形成部と、集光スポットから反射した反射光をメイン回折光とサブ回折光に分割する回折格子と、メイン回折光を受光する第０受光部と、サブ回折光のＰＰ成分を含む第１領域光を受光する第１受光部と、サブ回折光のＤＣ成分を含む第２領域光を受光する第２受光部と、第２受光部が受光した光の強度に基づいてトラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部を備え、第１受光部および第２受光部は、第０受光部から離れた位置に配置され、集光スポット形成部は、集光スポットの直径が最大となる集光スポット方向が、光ディスクの径方向からずれるように形成された光ピックアップ装置とする。【選択図】図２
2014207040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの情報記録面にレーザ光を照射し、集光スポットを形成させる集光スポット形成部と、
前記集光スポットから反射した反射光を、メイン回折光とサブ回折光に分割する回折格子と、
前記メイン回折光を受光する第０受光部と、
前記サブ回折光のＰＰ成分を含む第１領域光を受光する第１受光部と、
前記サブ回折光のＤＣ成分を含む第２領域光を受光する第２受光部と、
少なくとも第２受光部が受光した光の強度に基づいてトラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部と、を備え、
第１受光部および第２受光部は、第０受光部から離れた位置に配置され、
前記集光スポット形成部は、
前記集光スポットの直径が最大となる集光スポット方向が、前記光ディスクの径方向からずれるように形成されている光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記集光スポット形成部は、
多層構造の前記光ディスクにおける所定の対象層の前記情報記録面に、前記集光スポットを形成させるものであって、
第１受光部および第２受光部は、
前記対象層以外の層から反射した他層迷光の強度が、第０受光部の位置より弱くなる位置に配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
第２受光部は、
前記他層迷光の強度が、第１受光部の位置より弱くなる位置に配置されていることを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記回折格子は、
前記反射光を、前記メイン回折光と前記サブ回折光に分割して出射するものであって、
前記サブ回折光については、第１領域光と第２領域光に分割された形態で出射するように形成されていることを特徴とする請求項３に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記メイン回折光は、前記回折格子による０次の回折光であり、
前記サブ回折光は、前記回折格子による±１次の回折光であることを特徴とする請求項４に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
前記集光スポット方向と前記光ディスクのトラック方向との角度が、55±5degの範囲内であることを特徴とする請求項１から請求項５の何れかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記レーザ光の最大放射角方向を調節することにより、前記角度を55±5degの範囲内とする角度調整がなされたことを特徴とする請求項６に記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
前記レーザ光の出射方向を軸とした回転方向に、前記最大放射角方向を±1.4degの範囲内で調節することにより、前記角度調整がなされることを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ装置。
【請求項９】
請求項１から請求項８の何れかに記載の光ピックアップ装置を備え、
前記光ディスクからのデータ読取、または前記光ディスクへのデータ記録を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに集光スポットを形成させる光ピックアップ装置、およびこれを備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、多層構造の光ディスクに対応した光ピックアップ装置が広く利用されている。このような光ピックアップ装置は、予め決められた対象層に集光スポットを形成させ、反射光を受けることによりＴＥ（トラッキングエラー）信号等を取得する。このＴＥ信号は、対物レンズの位置調整（トラッキングサーボ）等に利用される。
【０００３】
なお多層構造の光ディスクから反射光を受ける場合には、ノイズとなる他層迷光（対象層以外の層から反射する光）の影響を出来るだけ抑えることが重要である。そのため多層構造の光ディスクに対応した光ピックアップ装置については、各種のＴＥ信号の生成方式の中から、他層迷光に強い（他層迷光の影響を受け難い）方式が選択されることが多い。
【０００４】
また一般的に集光スポットは楕円形状となっており、その直径が最大となる方向（光スポット方向）が存在する。ＴＥ信号の生成方式として他層迷光に強い方式が選択される場合、一般的には、集光スポット方向が光ディスクの径方向となるように設定される。光源であるレーザダイオードの放射角や出射角のずれを考慮すると、集光スポット方向が光ディスクの径方向に近いほどＴＥ信号を得る際のバランスずれ等が抑えられ、ＴＥ信号の生成に適した状態となること等が主な理由である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１２−８４２００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし集光スポット方向を光ディスクの径方向にすると、例えば２Ｔ分解能（情報読取信号等の最小単位の周波数に対する分解能）が低下してジッターの性能が悪化し、光ディスクの再生を適切に行うことが難しくなる。このような問題を解消させるため、ＲＩＭ補正素子（レーザ光の光強度分布を楕円形状から円形状に補正する素子）等の部品追加を行うことも考えられるが、その分だけ製造コストが増大してしまう。
【０００７】
またＴＥ信号の生成方式によっては、例えば光ディスクからの反射光が０次の回折光と±１次の回折光に分割され、これらの回折光の強度に応じてＴＥ信号が生成される場合がある。このような場合、特に±１次の回折光のＤＣ成分に他層迷光の影響が強く及んでしまうと、ＴＥ信号が適切に生成されなくなることが多く、光ディスクの再生を適切に行うことは難しくなる。
【０００８】
本発明は上述した問題に鑑み、他層迷光が生じる場合であっても、部品追加等を極力抑えつつ光ディスクの再生を適切に行うことが容易となる光ピックアップ装置、およびこれを備えた光ディスク装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る光ピックアップ装置は、光ディスクの情報記録面にレーザ光を照射し、集光スポットを形成させる集光スポット形成部と、前記集光スポットから反射した反射光を、メイン回折光とサブ回折光に分割する回折格子と、前記メイン回折光を受光する第０受光部と、前記サブ回折光のＰＰ成分を含む第１領域光を受光する第１受光部と、前記サブ回折光のＤＣ成分を含む第２領域光を受光する第２受光部と、少なくとも第２受光部が受光した光の強度に基づいてトラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部と、を備え、第１受光部および第２受光部は、第０受光部から離れた位置に配置され、前記集光スポット形成部は、前記集光スポットの直径が最大となる集光スポット方向が、前記光ディスクの径方向からずれるように形成されている構成とする。本構成によれば、他層迷光が生じる場合であっても、部品追加等を極力抑えつつ光ディスクの再生を適切に行うことが容易となる。
【００１０】
また上記構成としてより具体的には、前記集光スポット形成部は、多層構造の前記光ディスクにおける所定の対象層の前記情報記録面に、前記集光スポットを形成させるものであって、第１受光部および第２受光部は、前記対象層以外の層から反射した他層迷光の強度が、第０受光部の位置より弱くなる位置に配置されている構成としてもよい。また第２受光部は、前記他層迷光の強度が、第１受光部の位置より弱くなる位置に配置されている構成としてもよい。本構成によれば、サブ回折光のＤＣ成分の強度検出について、他層迷光の影響を極力排除することが可能となる。
【００１１】
また上記構成としてより具体的には、前記回折格子は、前記反射光を、前記メイン回折光と前記サブ回折光に分割して出射するものであって、前記サブ回折光については、第１領域光と第２領域光に分割された形態で出射するように形成されている構成としてもよい。また上記構成としてより具体的には、前記メイン回折光は、前記回折格子による０次の回折光であり、前記サブ回折光は、前記回折格子による±１次の回折光である構成としてもよい。
【００１２】
また上記構成としてより具体的には、前記集光スポット方向と前記光ディスクのトラック方向との角度が、55±5degの範囲内である構成としてもよい。また上記構成としてより具体的には、前記レーザ光の最大放射角方向を調節することにより、前記角度を55±5degの範囲内とする角度調整がなされた構成としてもよい。
【００１３】
また上記構成としてより具体的には、前記レーザ光の出射方向を軸とした回転方向に、前記最大放射角方向を±1.4degの範囲内で調節することにより、前記角度調整がなされる構成としてもよい。本構成によれば、比較的僅かな調節を行うだけで、当該角度調整を達成することが可能となる。
【００１４】
また本発明に係る光ディスク装置は、上記構成の光ピックアップ装置を備え、前記光ディスクからのデータ読取、または前記光ディスクへのデータ記録を行う構成とする。本構成によれば、上記構成の光ピックアップ装置の利点を享受することが可能となる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明に係る光ピックアップ装置によれば、他層迷光が生じる場合であっても、部品追加等を極力抑えつつ光ディスクの再生を適切に行うことが容易となる。また本発明に係る光ディスク装置によれば、本発明に係る光ピックアップ装置の利点を享受することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本実施形態に係るディスク再生装置の構成図である。
【図２】本実施形態に係る各受光センサに関する説明図である。
【図３】当該受光センサに関する別の説明図である。
【図４】集光スポットの形状に関する説明図である。
【図５】レーザ光の形態に関する説明図である。
【図６】角度θと２Ｔ分解能の関係に関するグラフである。
【図７】２Ｔ分解能とｉ−ＭＬＳＥの関係に関するグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の実施形態について、各図面を参照しながら以下に説明する。
【００１８】
［光ディスク再生装置の構成］
図１は、本実施形態に係る光ディスク再生装置５（光ディスク装置の一形態）の構成図である。本図に示すように光ディスク再生装置５は、光ピックアップ装置１および再生信号処理回路３を備えている。
【００１９】
光ピックアップ装置１は、多層構造の光ディスク９に対応している。すなわち光ピックアップ装置１は、多層構造の光ディスク９がセットされ、この光ディスク９へ適切にレーザ光を照射するように構成されている。またセットされている光ディスク９は、不図示のスピンドルモータによって回転させられる。なお光ピックアップ装置１が対応する多層構造の光ディスクとしては、例えば、ＢＤ−ＸＬの規格に準拠した光ディスクが該当する。
【００２０】
光ピックアップ装置１は、レーザダイオード１１、ビームスプリッタ１２、コリメートレンズ１３、ミラー１４、フロントモニタＩＣ１５、レンズアクチュエータ１６、グレーティング素子ＧＲ、シリンドリカルレンズ１７、ＰＤＩＣ１８、ＦＥ検出部１９ａ、ＴＥ検出部１９ｂ、フォーカス制御部２０ａ、およびトラッキング制御部２０ｂ等を備えている。
【００２１】
レーザダイオード１１は、所定の波長のレーザ光を出力するように形成されている。なおレーザダイオード１１の出力光の強さは、フロントモニタＩＣ１５により制御可能となっている。
【００２２】
ビームスプリッタ１２は、レーザダイオード１１から受けた光をほぼ９０度の角度がつく方向へ反射させ、コリメートレンズ１３に入射させる。コリメートレンズ１３は、ビームスプリッタ１２から受けた光を平行光に変換し、ミラー１４に入射させる。
【００２３】
ミラー１４は、コリメートレンズ１３から受けた光を反射させ、レンズアクチュエータ１６に設けられた対物レンズ１６ａへ入射させる。なおミラー１４は、コリメートレンズ１３から受けた光の一部については、透過させてフロントモニタＩＣ１５へ入射させる。なお、例えばミラー１４と対物レンズ１６ａの間には、光ディスク９からの反射光がレーザダイオード１１へ戻らないようする１／４波長板が設けられても良い。
【００２４】
フロントモニタＩＣ１５は、入射する光の強度に応じた電気信号を生成し、その電気信号が一定に保たれるように、レーザダイオード１１の出力光の強さを制御する。すなわちフロントモニタＩＣ１５は、入射する光の強度を所定の目標値に維持させるように、レーザダイオード１１の出力光の強さに対するオートパワーコントロールを実現させる。
【００２５】
レンズアクチュエータ１６は、その可動部分に対物レンズ１６ａが設けられており、対物レンズ１６ａをフォーカス方向やトラッキング方向等へ駆動させる。なお対物レンズ１６ａの駆動については、フォーカス制御部２０ａやトラッキング制御部２０ｂ等によって制御される。
【００２６】
またレンズアクチュエータ１６は、ミラー１４から対物レンズ１６ａに入射した光が対象層の情報記録面に当たるように、対物レンズ１６ａを駆動させるようになっている。なお「対象層」は、光ディスク９が有する複数の層のうちの集光スポットを形成させるべき層として、光ディスク再生装置５において予め決められた層である。通常、情報の読出し或いは書込みが行われる一つの層が、対象層に該当する。
【００２７】
上述した通りに対物レンズ１６ａが駆動されるため、ミラー１４から対物レンズ１６ａに入射した光は、対象層の情報記録面に当たって反射する。これにより対象層の情報記録面には、レーザ光による集光スポットが形成される。そして対象層の情報記録面に当たって反射した光は、対物レンズ１６ａ、ミラー１４、コリメートレンズ１３、およびビームスプリッタ１２を戻るように進み、ビームスプリッタ１２を透過してグレーティング素子ＧＲに入射する。
【００２８】
グレーティング素子ＧＲは、ビームスプリッタ１２から入射した光（光ディスク９の情報記録面からの反射光）を、０次の回折光と±１次（−１次と＋１次の両方）の回折光に分割して出射する。なおグレーティング素子ＧＲは、±１次の回折光については、第１領域光と第２領域光に分割された形態で出射するように形成されている。第１領域光は、±１次の回折光のＰＰ成分（プッシュプル成分）を含む光であり、第２領域光は、±１次の回折光のＤＣ成分（直流成分であり、当該光による信号のオフセット分に相当する）を含む光である。
【００２９】
グレーティング素子ＧＲは、０次の回折光、±１次の回折光の第１領域光、および±１次の回折光の第２領域光を、別々に出射するように形成されている。より具体的に説明すると、これらの光は、シリンドリカルレンズ１７を介してそれぞれに対応した受光センサ（詳しくは後述する）に入射する方向へ、グレーティング素子ＧＲから出射される。
【００３０】
グレーティング素子ＧＲから出射された０次の回折光、±１次の回折光の第１領域光、および±１次の回折光の第２領域光は、シリンドリカルレンズ１７を介してＰＤＩＣ１８に入射する。またＰＤＩＣ１８は、図２に示すように、５個の受光センサ（１８ａ〜１８ｅ）を別々に有している。
【００３１】
受光センサ１８ａは、０次の回折光を受光する受光センサであり、この光がシリンドリカルレンズ１７から入射する位置に配置されている。また受光センサ１８ｂは、＋１次の回折光の第１領域光を受光する受光センサであり、この光がシリンドリカルレンズ１７から入射する位置に配置されている。また受光センサ１８ｃは、−１次の回折光の第１領域光を受光する受光センサであり、この光がシリンドリカルレンズ１７から入射する位置に配置されている。
【００３２】
また受光センサ１８ｄは、＋１次の回折光の第２領域光を受光する受光センサであり、この光がシリンドリカルレンズ１７から入射する位置に配置されている。また受光センサ１８ｅは、−１次の回折光の第２領域光を受光する受光センサであり、この光がシリンドリカルレンズ１７から入射する位置に配置されている。
【００３３】
各受光センサ（１８ａ〜１８ｅ）には、１個または複数個のフォトダイオードが設けられており、これらのフォトダイオードごとに、受光する光の強度に応じた電気信号が生成される。
【００３４】
すなわち受光センサ１８ａは、０次の回折光の強度に応じた電気信号Ｓａを生成して出力する。また受光センサ１８ｂは、＋１次の回折光の第１領域光の強度に応じた電気信号Ｓｂを生成して出力する。また受光センサ１８ｃは、−１次の回折光の第１領域光の強度に応じた電気信号Ｓｃを生成して出力する。また受光センサ１８ｄは、＋１次の回折光の第２領域光の強度に応じた電気信号Ｓｄを生成して出力する。また受光センサ１８ｅは、−１次の回折光の第２領域光の強度に応じた電気信号Ｓｅを生成して出力する。
【００３５】
なお光ディスク９が多層構造であることから、光ディスク９にレーザ光が当たった際には対象層から反射する反射光だけでなく、対象層以外の層から反射する光（他層迷光）も発生し、ＰＤＩＣ１８へ及ぶことになる。発生した他層迷光がどのように広がるかについては、光ピックアップ装置１の具体的な構成等によって決まる。
【００３６】
光ピックアップ装置１の具体的な構成等が特定されていれば、例えば実験や計算等により、ＰＤＩＣ１８の付近における他層迷光の強度分布等を予め把握しておくことは可能である。本実施形態では、図２に示した領域ＳＲ内に及ぶ他層迷光の強度が、領域ＳＲの外側に比べて高くなっているとする。
【００３７】
また±１次の回折光を受光する受光センサの配置に関し、第１領域光を受光する受光センサ（１８ｂ、１８ｃ）および第２領域光を受光する受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）は、図２に示すように、０次の回折光を受光する受光センサ（１８ａ）から離れた位置に配置されている。
【００３８】
より具体的に説明すると、０次の回折光を受光する受光センサ（１８ａ）は領域ＳＲ内に配置されているが、第１領域光を受光する受光センサ（１８ｂ、１８ｃ）および第２領域光を受光する受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）は領域ＳＲ外に配置されている。すなわち受光センサ（１８ｂ〜１８ｅ）の各々は、他層迷光の強度が受光センサ（１８ａ）の位置よりも弱くなる位置に配置されている。なお更に第２領域光を受光する受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）は、第１領域光を受光する受光センサ（１８ｂ、１８ｃ）の位置よりも、他層迷光の強度が弱くなる位置に配置されている。
【００３９】
なお受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）は、他層迷光の影響が極力避けられるように、他の受光センサの配列方向から所定の角度がつくように配置される形態を含め、様々な形態で配置され得る。例えば各受光センサ（１８ａ〜１８ｅ）は、図３に示すような位置に配置され得る。図３に示した領域ＳＲ´内に及ぶ他層迷光の強度は、領域ＳＲ´の外側に比べて高くなっている。また例えば受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）は、図３にＰ１やＰ２で示す位置等にも配置され得る。
【００４０】
上述した構成によりＰＤＩＣ１８は、０次の回折光、±１次の回折光のＰＰ成分、および±１次の回折光のＤＣ成分の各々の強度を、検出することが可能である。そして更にＰＤＩＣ１８によれば、特に±１次の回折光のＤＣ成分の強度を検出するにあたって、他層迷光の影響が極力排除されるようになっている。
【００４１】
図１に戻り、各受光センサ（１８ａ〜１８ｅ）により生成された電気信号（Ｓａ〜Ｓｅ）は、ＦＥ検出部１９ａおよびＴＥ検出部１９ｂに送出される。なお受光センサ１８ａにより生成された電気信号Ｓａ（対象層の情報記録面に記録されている情報を含んだ信号）は、再生信号処理回路３にも送出される。
【００４２】
ＦＥ検出部１９ａは、ＰＤＩＣ１８から受ける電気信号に基づいてＦＥ信号（フォーカスエラー信号）を生成する。このＦＥ信号は、フォーカスエラー（集光スポットのフォーカス方向のずれ）の検出結果を表す信号に相当する。なおＦＥ信号の生成方式としては、公知のものを含め、ＦＥ信号の適切な生成が可能となる各種方式の何れかが採用され得る。ＦＥ検出部１９ａによって生成されたＦＥ信号は、フォーカス制御部２０ａへ送出される。
【００４３】
ＴＥ検出部１９ｂは、ＰＤＩＣ１８から受ける電気信号に基づいてＴＥ信号（トラッキングエラー信号）を生成する。このＴＥ信号は、トラッキングエラー（集光スポットのトラッキング方向のずれ）の検出結果を表す信号に相当する。ＴＥ検出部１９ｂによって生成されたＴＥ信号は、トラッキング制御部２０ｂへ送出される。
【００４４】
光ピックアップ装置１が多層構造の光ディスク９に対応していることから、ＴＥ検出部１９ｂは、他層迷光に強い（他層迷光の影響を受け難い）生成方式によってＴＥ信号を生成するように設定されている。ＴＥ検出部１９ｂは、電気信号Ｓｄと電気信号Ｓｅ（±１次の回折光のＤＣ成分の強度に応じた信号）を含む各電気信号に基づいてＴＥ信号を生成する。なおこのようなＴＥ信号の生成方式としては、例えば、１Beam法、１BeamPP法、或いは１BeamDPP法など、公知のものを含めた各種方式の何れかが該当する。
【００４５】
また先述した通り、±１次の回折光のＤＣ成分の強度検出においては、他層迷光の影響が極力排除される。そのためＴＥ検出部１９ｂは、他層迷光の影響が排除されている分だけ、ＴＥ信号をより適切に生成することが可能である。なおＴＥ信号は、例えば次の（１）式に従って生成される。
ＴＥ信号＝ＡＣ成分−ｋ×ＤＣ成分
＝（Ｓｂ−Ｓｃ）−ｋ（Ｓｄ−Ｓｅ）  ・・（１）（但し、１＜ｋ＜３）
そのためＤＣ成分側に他層迷光が入り込むと、ＴＥ信号の適切な生成が阻害され易くなる。例えば、レンズシフト時にＴＥ信号を得る際のバランスずれが生じる問題や、他層迷光と信号光が干渉した際のノイズ成分が漏れ込んでＴＥ信号の品質が悪くなる問題が生じる。本実施形態では、第２領域光を受光する受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）が、第１領域光を受光する受光センサ（１８ｂ、１８ｃ）の位置よりも他層迷光の強度が弱くなる位置に配置されているため、このような不具合を抑えることが容易である。
【００４６】
フォーカス制御部２０ａは、ＦＥ信号に基づいてレンズアクチュエータ１６の駆動を制御する信号を生成し、これを出力することによってフォーカス制御を実行する。フォーカス制御は、レーザ光が対象層の情報記録面に集光するように、対物レンズ１６ａの位置を調節する制御（フォーカスサーボ）である。
【００４７】
トラッキング制御部２０ｂは、ＴＥ信号に基づいてレンズアクチュエータ１６の駆動を制御する信号を生成し、これを出力することによってトラッキング制御を実行する。トラッキング制御は、レーザ光の集光スポットが対象層のトラックに追従するように、対物レンズ１６ａの位置を調節する制御（トラッキングサーボ）である。
【００４８】
再生信号処理回路３は、ＰＤＩＣ１８から受ける電気信号Ｓａに対して各種の処理（復調処理など）を施し、当該電気信号に基づいた映像信号等を生成する。この生成された信号は、光ディスク再生装置５に設けられたディスプレイ等（不図示）へ出力され、映像表示等に用いられる。このように光ディスク再生装置５は、光ピックアップ装置１を用いて、光ディスク９からのデータ読取を行うようになっている。
【００４９】
なお光ピックアップ装置１は、光ディスク再生装置の他、例えば光ディスク記録装置に設けられるようにしても良い。この場合、当該光ディスク記録装置は、光ピックアップ装置１を用いて、光ディスク９へのデータ記録を行うように構成される。
【００５０】
［集光スポット方向について］
先述した通り光ピックアップ装置１は、光ディスク９の対象層の情報記録面に集光スポットを形成させ、集光スポットから反射した反射光を得ることにより、光ディスク９の再生やＴＥ信号の生成等を可能とする。
【００５１】
図４は、光ディスク９に形成された集光スポットＳＰの形状を例示している。本図に示すように集光スポットＳＰの形状は、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光の放射角に偏りがあること等から、概ね楕円形状となっている。
【００５２】
そのため集光スポットＳＰについては、その直径が最大となる方向（これを「集光スポット方向」と称する）が存在する。そして集光スポット方向と光ディスク９のトラック方向との角度θによって、光ピックアップ装置１の性能等が変化することになる。なおトラック方向は、集光スポットにおけるトラックが伸びる方向（光ディスク９の周方向）である。
【００５３】
そこで光ピックアップ装置１は、レーザダイオード１１の傾きを調節することにより、この角度θを調整しておくことが可能となっている。この点について、図５を参照しながら以下に説明する。
【００５４】
図５は、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光の形態を模式的に示している。本図に示すようにレーザ光は、その出射方向（光軸方向）に対して完全に平行とはなっておらず、ある程度の放射角が存在する。この放射角には偏りがあり、放射角が最大となる方向（最大放射角方向）によって、集光スポット方向が決まることになる。また最大放射角方向は、レーザダイオード１１の傾き（レーザ光の出射方向を軸とした回転方向の位置）によって決まる。
【００５５】
またレーザダイオード１１の傾きは、光ピックアップ装置１にレーザダイオード１１が取付けられる際、或いは取り付けられた後において調節しておく可能である。なおこの調節は、集光スポット方向や光ディスク９のトラック方向をモニタリングしながら行うことが可能である。光ピックアップ装置１によれば、角度θが所望の値となるように、レーザダイオード１１の傾き（レーザ光の最大放射角方向）を調節することが可能である。
【００５６】
ここで、角度θの調整における目標値について説明する。レーザダイオード１１の放射角や出射角のずれを考慮すると、角度θが９０deg（集光スポット方向が光ディスク９の径方向となる角度）に近いほど、フォトダイオード上の集光スポットの強度分布は、レンズシフト方向（ディスク半径方向）に対して緩やかな特性となる。そのため、レンズシフト時などにおけるＴＥ信号を得る際のバランスずれ等が抑えられ、ＴＥ信号の生成に適した状態となる。そのためこの観点によれば、角度θは出来るだけ９０degに近い方が望ましい。
【００５７】
ここで図６に、角度θと２Ｔ分解能との関係を表すグラフを示す。本図に示すように、角度θが９０degに近くなるほど２Ｔ分解能が低下する。光ピックアップ装置１の良好な性能を維持するためには、２Ｔ分解能を少なくとも９％は確保しておくことが望まれる。そのためこの観点によれば、角度θは６０degを上限としておくことが望ましい。
【００５８】
また図７に、２Ｔ分解能とＢＤ−ＸＬ規格のｉ−ＭＬＳＥ（ジッターの度合を示す指標）との関係を表すグラフを示す。本図に示すように、２Ｔ分解能が低下するほどジッターの性能が悪化する。そのため角度θが大き過ぎると、ジッターの性能にも問題が生じ易く、光ディスク９の再生を適切に行うことが難しくなってしまう。特に角度θが９０deg付近に設定される場合には、このような問題が深刻化する。
【００５９】
以上の点を総合的に勘案すると、角度θは、６０degを超えない範囲で出来るだけ大きい値に調整されることが望ましい。なお実用的には、各種要因によって調整誤差が生じ得る。そのため一般的な許容誤差５degを見込んでおき、角度θの調整における目標値は、５５degとしておくことが望ましい。
【００６０】
この場合、調整誤差を許容誤差の範囲内に抑えておくことで、角度θを５５±５degの範囲内に設定することが出来る。このように角度θが設定された光ピックアップ装置１は、ＴＥ信号の適切な生成が妨げられることなく、２Ｔ分解能やジッターの性能も比較的良好となる。
【００６１】
またレーザダイオード１１の傾きの調節を容易とするため、レーザダイオード１１の傾きの初期状態は、角度θが当初から５５degに近い値となるように配慮されていることが望ましい。このようになっていれば、レーザダイオード１１の傾きを微調節するだけで、角度θを５５±５degの範囲内に調整することが可能となる。そのため、角度θを調整するための作業が簡易化される。
【００６２】
目安としては、レーザ光の出射方向を軸とした回転方向に、レーザダイオード１１の傾き（レーザ光の最大放射角方向）を±1.4deg（レンズシフト時のＴＥ信号を得る際のバランスずれが、許容量になると見込まれる範囲）の範囲内で調節することにより、角度θが５５±５degの範囲内に調整されることが望ましい。光ピックアップ装置１は、このようにして角度θを調整することが可能となるように、レーザダイオード１１の傾きの初期状態が設定されている。
【００６３】
なお角度θの調整における目標値は、上述した５５degの他、各種事情に応じて別の値とすることも可能である。この場合であっても、角度θが９０degからずれる（集光スポット方向が光ディスク９の径方向からずれる）ようにしておけば、光ディスク９の再生に支障が生じるといった不具合は比較的抑えられる。またレーザダイオード１１は、レーザ光の出射方向を軸とした回転方向だけでなく、その他の方向にも位置調節が可能であるように設定されていても良い。
【００６４】
［その他］
以上に説明したように光ピックアップ装置１は、光ディスク９の情報記録面にレーザ光を照射し、集光スポットを形成させる機能部（集光スポット形成部）と、集光スポットから反射した反射光を、０次の回折光（メイン回折光）と±１次の回折光（サブ回折光）に分割するグレーティング素子ＧＲ（回折格子）と、０次の回折光を受光する第０受光部と、±１次の回折光のＰＰ成分を含む第１領域光を受光する第１受光部と、±１次の回折光のＤＣ成分を含む第２領域光を受光する第２受光部と、少なくとも第２受光部が受光した光の強度に基づいてＴＥ信号を生成するＴＥ検出部２０ａと、を備えている。
【００６５】
なお集光スポット形成部は、主に、レーザダイオード１１から対物レンズ１６ａまでの光学系に相当する。また第０受光部は受光センサ１８ａに相当し、第１受光部は受光センサ（１８ｂ、１８ｃ）に相当し、第２受光部は受光センサ（１８ｄ、１８ｅ）に相当する。またメイン回折光として０次以外の回折光が用いられても良く、サブ回折光として±１次以外の回折光が用いられても良い。
【００６６】
また第１受光部および第２受光部は、第０受光部から離れた位置に配置される。このように配置される場合は、第１受光部および第２受光部を、第０受光部より他層迷光の影響を受け難い位置に配置することが容易である。そして第２受光部は、第１受光部から離れた位置に配置される。このように配置される場合は、第１受光部と第２受光部を離さずに（殆ど同じ位置に）配置する一般的な場合に比べ、第２受光部を他層迷光の影響を受け難い位置に配置することが容易である。例えば光ピックアップ装置の構成上の制限により、他層迷光の影響を受け易い領域に第１受光部を配置せざるを得ない場合であっても、第２受光部についてはその領域外に配置することが容易である。
【００６７】
また集光スポット形成部は、集光スポットの直径が最大となる集光スポット方向が、光ディスク９の径方向からずれるように（光ディスク９のトラックに対して非垂直となるように）形成されている。光ピックアップ装置１はこれらの特徴を有するため、他層迷光が生じる場合であっても、ＲＩＭ補正素子等の部品追加を極力抑えつつ光ディスク９の再生を適切に行うことが容易となっている。部品追加が極力抑えられることにより、その分だけ製造コストを抑えることが可能である。
【００６８】
なお集光スポット形成部は、多層構造の光ディスク９における対象層の情報記録面に集光スポットを形成させるものである。そして第２受光部は、対象層以外の層から反射した他層迷光の強度が、第１受光部の位置より弱くなる位置に配置されている。そのため光ピックアップ装置１によれば、±１次の回折光のＤＣ成分の強度検出について、他層迷光の影響を極力排除することが可能となっている。
【００６９】
またグレーティング素子ＧＲは、集光スポットから反射した反射光を０次の回折光と±１次の回折光に分割して出射するものであって、±１次の回折光については、第１領域光と第２領域光に分割された形態で出射するように形成されている。但しこのように形成されたグレーティング素子ＧＲが設けられる代わりに、反射光を０次の回折光と±１次の回折光に分割する素子と、±１次の回折光を第１領域光と第２領域光に分割する素子が、別々に設けられるようにしても構わない。
【００７０】
また光ピックアップ装置１は、集光スポット方向と光ディスク９のトラック方向との角度θが、55±5degの範囲内である。より具体的に言えば光ピックアップ装置１は、レーザ光の最大放射角方向を調節することにより、角度θを55±5degの範囲内とする角度調整がなされている。そのため光ピックアップ装置１によれば、ＴＥ信号の適切な生成が妨げられることなく、２Ｔ分解能やジッターの性能も比較的良好となっている。
【００７１】
また光ピックアップ装置１は、レーザ光の出射方向を軸とした回転方向に、レーザ光の最大放射角方向を±1.4degの範囲内で調節することにより、角度θが55±5degの範囲内に調整される。そのため光ピックアップ装置１によれば、レーザ光の最大放射角方向を±1.4degの範囲内で調節（微調節）するだけで、角度θを適切に調整することが可能である。
【００７２】
また本発明の構成は、上記の各実施形態や変形例のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。また本発明は、各種の光ディスク装置などに利用することができる。
【符号の説明】
【００７３】
１        光ピックアップ装置
１１      レーザダイオード
１２      ビームスプリッタ
１３      コリメートレンズ
１４      ミラー
１５      フロントモニタＩＣ
１６      レンズアクチュエータ
１７      シリンドリカルレンズ
１８      ＰＤＩＣ
１８ａ〜１８ｅ      受光センサ
１９ａ    ＦＥ検出部
１９ｂ    ＴＥ検出部
２０ａ    フォーカス制御部
２０ｂ    トラッキング制御部
３        再生信号処理回路
５        光ディスク再生装置（光ディスク装置）
９        光ディスク
ＧＲ      グレーティング素子（回折格子）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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