(57)【要約】【課題】レーザー光の記録パワーを最適値に設定することができ、安定した記録を行うことができる光記録装置及び光記録方法を提供する。【解決手段】光記録方法及び装置は、光ディスクのＯＰＣ領域に異なる複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを行い、試し書き領域を再生して再生信号特性を取得し、該再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワー（ＰＷＯ）を調整して設定し（Ｓ１７）、設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定し、判定結果を生成し（Ｓ１８）、判定結果が基準条件を満たす合格判定（ＯＫ）である場合には、設定された記録条件を変更せず、判定結果が基準条件を満たさない不合格判定（ＮＧ）である場合には、設定された記録条件を変更する（Ｓ１９）。【選択図】図１１
2014203496.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体にレーザー光を照射することによって、前記光記録媒体に対する情報の記録及び再生を行う光ヘッドと、
前記光ヘッドの動作を制御する光ヘッド制御部と、
装置全体を制御する中央制御部と
を有する光記録装置において、
前記中央制御部は、
前記光ヘッド制御部を介して前記光ヘッドを制御し、前記光記録媒体の記録パワー調整用領域に複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを実行させ、該試し書きによって形成された試し書き領域の再生を実行させる最適パワー制御部と、
前記再生によって生成された再生信号から再生信号特性を取得する再生信号特性取得部とを含み、
前記最適パワー制御部は、前記再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワーを調整して設定し、
前記中央制御部は、
前記設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定して、判定結果を生成する記録条件判定部と、
前記判定結果が前記基準条件を満たす合格判定である場合には、前記設定された前記記録条件を変更せず、前記判定結果が前記基準条件を満たさない不合格判定である場合には、前記設定された前記記録条件を変更する記録条件変更部とを含む
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
前記最適パワー制御部は、
前記光ヘッドを制御して、前記試し書きされた領域の隣の隣接トラックを再生させ、
前記試し書きされた領域からの影響で発生するトラッキングエラー信号のオフセット量であって、前記複数の記録パワーに対応した前記オフセット量を計測し、
前記記録条件判定部は、
前記オフセット量が、予め定められた第１の基準オフセット量以上となる第１の記録パワーを求め、
前記最適記録パワーをＰＷＯとし、前記第１の記録パワーをＰＮＧとし、予め定められた基準比率値Ｒ２としたときに、以下の条件式
ＰＮＧ／ＰＷＯ＞Ｒ２
を満たすか否かを判定し、前記条件式を満たすときには前記記録条件判定部における前記判定結果を前記合格判定とし、前記条件式を満たさないときには前記記録条件判定部における前記判定結果を前記不合格判定とする
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項３】
前記最適パワー制御部は、
前記光ヘッドを制御して、前記試し書きされた領域の隣の隣接トラックを再生させ、
前記試し書きされた領域からの影響で発生するトラッキングエラー信号のオフセットに、さらに所定のオフセットが加わるような再生条件を設定し、該設定された再生条件で前記試し書きした領域の隣の隣接トラックを再生し、トラッキングサーボ外れを検出した再生位置と前記記録パワーと位置との関係から、前記トラッキングサーボ外れを引き起こす第１の記録パワーを求め、
前記記録条件判定部は、
前記最適記録パワーをＰＷＯとし、前記第１の記録パワーをＰＮＧとし、予め定められた基準比率値Ｒ２としたときに、以下の条件式
ＰＮＧ／ＰＷＯ＞Ｒ２
を満たすか否かを判定し、前記条件式を満たすときには前記判定結果を前記合格判定とし、前記条件式を満たさないときには前記判定結果を前記不合格判定とする
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項４】
前記記録条件変更部は、
値｛（ＰＷＯ）×（Ｒ２）｝の記録パワーにおけるトラッキングエラー信号のオフセット量を求め、
前記値｛（ＰＷＯ）×（Ｒ２）｝の記録パワーにおけるトラッキングエラー信号のオフセット量から、予め定められた第２の基準オフセット量を引いた値をトラッキングエラー信号の過剰オフセット量として求め、
前記過剰オフセット量を、隣接トラックの記録状態に応じて加算又は減算する
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録装置。
【請求項５】
前記最適パワー制御部は、
前記記録パワー調整用領域内に既に記録パワーの調整に使用された記録済領域が有るか否かを判定し、
前記記録済領域が有ると判定された場合に、前記光ヘッドを制御して、次に記録パワー調整用領域として使用する予定の側の略１周分のトラックを再生させ、
再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量を測定し、
前記測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量との関係から、次の記録パワー調整に使用する領域を設定する
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光記録装置。
【請求項６】
前記最適パワー制御部は、
前記記録パワーの調整を行う際に、次調整領域として設定した領域におけるトラッキングエラー信号のオフセット量がキャンセルされるようなトラッキングエラー信号のオフセット量を設定して、記録パワーの調整を行う
ことを特徴とする請求項５に記載の光記録装置。
【請求項７】
前記最適パワー制御部は、
前記測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量との関係から、所定のトラッキングエラー信号のオフセット量範囲を超える位置以外の領域から次調整領域の設定をする
ことを特徴とする請求項５又は６に記載の光記録装置。
【請求項８】
前記最適パワー制御部は、
前記測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量との関係から、所定のトラッキングエラー信号のオフセット量範囲を超える領域は、低いパワーを記録する領域となるように次調整領域の設定をする
ことを特徴とする請求項５又は６に記載の光記録装置。
【請求項９】
前記記録条件変更部は、
前記記録条件に問題が有ると判定された場合に、前記記録パワーＰＮＧと、前記基準比率値Ｒ２と、前記最適記録パワーＰＷＯとに基づいて、必要な低パワー化率を求め、
前記求めた低パワー化率を元に、ライトストラテジ条件と最適記録パワーＰＷＯ調整における記録パワー条件を変更する
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録装置。
【請求項１０】
光記録媒体の記録パワー調整用領域に異なる複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを行い、該試し書きによって形成された試し書き領域を再生して再生信号特性を取得し、該再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワーを調整して設定する記録パワー調整工程と、
前記記録パワー調整工程において設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定し、判定結果を出力する記録条件判定工程と、
前記判定結果が前記基準条件を満たす合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更せず、前記判定結果が前記基準条件を満たさない不合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更する記録条件変更工程と
を有することを特徴とする光記録方法。
【請求項１１】
前記記録条件判定工程は、
前記記録パワー調整工程によって試し書きされた領域の隣の隣接トラックを再生する工程と、
前記試し書きした領域からの影響で発生するトラッキングエラー信号のオフセット量であって、前記記録パワー調整工程で用いられた前記複数の記録パワーに対応した、前記オフセット量を計測する工程と、
前記オフセット量が、予め定められた第１の基準オフセット量以上となる第１の記録パワーを求める工程と、
前記最適記録パワーをＰＷＯとし、前記第１の記録パワーをＰＮＧとし、予め定められた基準比率値Ｒ２としたときに、以下の条件式
ＰＮＧ／ＰＷＯ＞Ｒ２
を満たすか否かを判定し、前記条件式を満たすときには前記記録条件判定工程における前記判定結果を前記合格判定とし、前記条件式を満たさないときには前記記録条件判定工程における前記判定結果を前記不合格判定とする工程と
を含むことを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
【請求項１２】
前記記録条件判定工程は、
前記記録パワー調整工程によって試し書きされた領域の隣の隣接トラックを再生する工程と、
前記試し書きされた領域からの影響で発生するトラッキングエラー信号のオフセットに、さらに所定のオフセットが加わるような再生条件を設定し、該設定された再生条件で前記記録パワー調整工程によって試し書きした領域の隣の隣接トラックを再生し、前記サーボ外れ検出工程でトラッキングサーボ外れを検出し、トラッキングサーボ外れを検出した再生位置と、前記記録パワー調整工程で用いられた記録パワーと位置の関係から、トラッキングサーボ外れを引き起こす第１の記録パワーを求める工程と、
前記最適記録パワーをＰＷＯとし、前記第１の記録パワーをＰＮＧとし、予め定められた基準比率値Ｒ２としたときに、以下の条件式
ＰＮＧ／ＰＷＯ＞Ｒ２
を満たすか否かを判定し、前記条件式を満たすときには前記記録条件判定工程における前記判定結果を前記合格判定とし、前記条件式を満たさないときには前記記録条件判定工程における前記判定結果を前記不合格判定とする工程と
を含むことを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
【請求項１３】
前記記録条件変更工程は、
値｛（ＰＷＯ）×（Ｒ２）｝の記録パワーにおけるトラッキングエラー信号のオフセット量を求める工程と、
前記値｛（ＰＷＯ）×（Ｒ２）｝の記録パワーにおけるトラッキングエラー信号のオフセット量から、予め定められた第２の基準オフセット量を引いた値をトラッキングエラー信号の過剰オフセット量として求める工程と、
前記過剰オフセット量を、隣接トラックの記録状態に応じて加算又は減算する工程と
を含むことを特徴とする請求項１１又は１２に記載の光記録方法。
【請求項１４】
前記記録パワー調整工程は、
前記記録パワー調整用領域内に既に記録パワーの調整に使用された記録済領域が有るか否かを判定する記録パワー調整用領域確認工程と、
前記記録パワー調整用領域確認工程で、前記記録済領域が有ると判定された場合に、次に記録パワー調整用領域として使用する予定の側の略１周分のトラックを再生し、再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量を測定する次調整領域調査工程と、
前記次調整領域調査工程で測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量との関係から、次の記録パワー調整に使用する領域を設定する次調整領域設定工程と
を含むことを特徴とする請求項１０乃至１３のいずれか１項に記載の光記録方法。
【請求項１５】
前記記録パワー調整工程は、記録パワーの調整を行う際に、前記次調整領域設定工程で設定した領域におけるトラッキングエラー信号のオフセット量がキャンセルされるようなトラッキングエラー信号のオフセット量を設定して、記録パワーの調整を行う
ことを特徴とする請求項１４に記載の光記録方法。
【請求項１６】
前記次調整領域設定工程は、前記次調整領域調査工程で測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量の関係から、所定のトラッキングエラー信号のオフセット量範囲を超える位置以外の領域から次調整領域の設定をする
ことを特徴とする請求項１４又は１５に記載の光記録方法。
【請求項１７】
前記次調整領域設定工程が、前記次調整領域調査工程で測定された再生位置とトラッキングエラー信号のオフセット量の関係から、所定のトラッキングエラー信号のオフセット量範囲を超える領域は、記録パワー調整工程において低いパワーを記録する領域となるように次調整領域の設定をする
ことを特徴とする請求項１４又は１５に記載の光記録方法。
【請求項１８】
前記記録条件判定工程において、
前記記録条件に問題が有ると判定された場合に、前記記録パワーＰＮＧと、前記基準比率値Ｒ２と、前記最適記録パワーＰＷＯとに基づいて、必要な低パワー化率を求め、
前記求めた低パワー化率を元に、ライトストラテジ条件と最適記録パワーＰＷＯ調整における記録パワー条件を変更する
ことを特徴とする請求項１１又は１２に記載の光記録方法。
【請求項１９】
コンピュータに、
光記録媒体の記録パワー調整用領域に異なる複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを行い、該試し書きによって形成された試し書き領域を再生して再生信号特性を取得し、該再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワーを調整して設定する記録パワー調整工程と、
前記記録パワー調整工程において設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定し、判定結果を出力する記録条件判定工程と、
前記判定結果が前記基準条件を満たす合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更せず、前記判定結果が前記基準条件を満たさない不合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更する記録条件変更工程と
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー光により光記録媒体（例えば、光ディスク）に情報を記録するための光記録装置、光記録方法、及びコンピュータに光記録方法を実行させるためのプログラムに関し、特に、レーザー光の記録パワーの最適化制御（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光記録装置において、レーザー光により光ディスクに対して、記録すべき情報（データ）を記録する（書き込む）ためには、データ記録時のレーザー光パワーである記録パワーを最適値（最適記録パワー）に調整するプロセス、すなわち、記録パワーの最適化制御（ＯＰＣ）を行い、記録パワーを最適記録パワーに設定する必要がある。一般に、光記録装置の記録パワーのＯＰＣにおいては、
〈工程１〉予め定められた基準記録パワーと、該基準記録パワーを中心にしてプラス側及びマイナス側のそれぞれに階段状に設定された複数の記録パワーとを設定し（すなわち、ＯＰＣにおける記録パワー変更範囲及び複数の試し書き用記録パワーを設定し）、
〈工程２〉光ディスクに設けられたテスト記録領域に、試し書き用記録パワーのレーザー光で試し書き（すなわち、ＯＰＣ記録）を行い、
〈工程３〉ＯＰＣ記録されたテストパターンの再生信号特性（例えば、アシンメトリ値又は変調度など）を測定し、
〈工程４〉試し書き用記録パワーと再生信号特性との関係を用いて、所望の再生信号特性が得られる記録パワーを最適記録パワーとして設定する。
この最適記録パワーは、光記録装置又は光ピックアップの個体差、光ディスクの個体差、光ディスクの記録位置（半径方向の位置）、温度環境、光記録装置の初期調整バラツキ（フォーカス系の調整バラツキ）などの様々な要因によって変動する。これらの要因の影響で、ＯＰＣ記録における記録パワー変更範囲に、最適記録パワーが含まれない場合があり、この場合には、ＯＰＣ実行エラーが発生する。ＯＰＣ実行エラーの発生を防ぐために、種々の提案がある（例えば、特許文献１及び２参照）。
【０００３】
特許文献１は、レーザー光パワーの温度依存性に起因するＯＰＣ実行エラーを防ぐための光ディスク装置を説明している。この装置においては、周囲温度を検出し、検出した周囲温度が、予め設定した複数の温度区分のいずれに属するかを判別し、複数の温度区分毎に予め設定されている補正値により、レーザー光パワーを補正する。
【０００４】
特許文献２は、光ピックアップの品質のバラツキなどによって、レーザー光パワーの設定値と試し書きを行う際の実行値とが大きく異なる場合であっても、レーザー光パワーの最適値（最適記録パワー）がＯＰＣのサーチ範囲（ＯＰＣにおける記録パワー変更範囲）外とならないようにする光ディスク装置を説明している。この装置においては、光ディスク装置の製造時にレーザー光パワーのオフセット値（すなわち、最適レーザー光パワーとデフォルトレーザー光パワーとの差）を検出し、予め光ディスク装置にオフセット値を記憶させておくことにより、ＯＰＣ記録の際に、予め記憶しているオフセット値をレーザー光パワーのオフセット値として使用する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２５１７３５号公報（第４−９頁、図２）
【特許文献２】特開２００８−５２７８３号公報（第５−２１頁、図１３）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１及び２に記載の光ディスク装置は、レーザー光パワーの温度依存性、又は、光ピックアップの品質のバラツキに応じて、ＯＰＣにおける記録パワー変更範囲を補正することはできるが、ＯＰＣ記録において用いられる高パワーのレーザー光に起因して発生する記録エラー（例えば、光ディスクに対するデータの記録が適切ではなく、サーボ外れが生じる状態など）を防ぐことはできない。このように、ＯＰＣ記録時に使用される高パワーのレーザー光によって記録エラーが発生すると、レーザー光の記録パワーを最適記録パワーに設定できず、その結果、本来のデータの記録（すなわち「本書き込み」）時に安定した記録を行うことができないという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、ＯＰＣ記録において高パワーのレーザー光が使用される場合であっても、レーザー光の記録パワーを最適記録パワーに設定することができ、安定した記録を行うことができる、光記録方法、及びコンピュータに光記録方法を実行させるためのプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様に係る光記録装置は、光記録媒体にレーザー光を照射することによって、前記光記録媒体に対する情報の記録及び再生を行う光ヘッドと、前記光ヘッドの動作を制御する光ヘッド制御部と、装置全体を制御する中央制御部とを有する光記録装置であって、前記中央制御部は、前記光ヘッド制御部を介して前記光ヘッドを制御し、前記光記録媒体の記録パワー調整用領域に複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを実行させ、該試し書きによって形成された試し書き領域の再生を実行させる最適パワー制御部と、前記再生によって生成された再生信号から再生信号特性を取得する再生信号特性取得部とを含み、前記最適パワー制御部は、前記再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワーを調整して設定し、前記中央制御部は、前記設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定して、判定結果を生成する記録条件判定部と、前記判定結果が前記基準条件を満たす合格判定である場合には、前記設定された前記記録条件を変更せず、前記判定結果が前記基準条件を満たさない不合格判定である場合には、前記設定された前記記録条件を変更する記録条件変更部とを含むことを特徴とする。
【０００９】
本発明の他の態様に係る光記録方法は、光記録媒体の記録パワー調整用領域に異なる複数の記録パワーでレーザー光を照射して試し書きを行い、該試し書きによって形成された試し書き領域を再生して再生信号特性を取得し、該再生信号特性と予め定められた再生信号特性の目標値とに基づいて最適記録パワーを調整して設定する記録パワー調整工程と、前記記録パワー調整工程において設定された最適記録パワーを含む記録条件が、予め定められた基準条件を満たすか否かを判定し、判定結果を出力する記録条件判定工程と、前記判定結果が前記基準条件を満たす合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更せず、前記判定結果が前記基準条件を満たさない不合格判定である場合には、前記記録パワー調整工程で設定された前記記録条件を変更する記録条件変更工程とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、ＯＰＣ記録箇所の再生信号から記録エラーの発生の有無を検出すると共に、ＯＰＣ記録箇所の隣接トラックのＴＥ信号への影響を測定し、これらの検出結果及び測定結果を用いた処理を行うので、ＯＰＣ記録において高パワーのレーザー光が使用される場合であっても、レーザー光の記録パワーを最適記録パワーに設定することができ、その結果、本来のデータの記録時に安定した記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施の形態１〜４に係る光記録装置（すなわち、実施の形態１〜４に係る光記録方法を実施することができる装置）の構成の一例を概略的に示すブロック図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）は、実施の形態１〜４に係る光記録装置における再生信号特性としてのアシンメトリ値の測定を説明するための波形図である。
【図３】実施の形態１〜４に係る光記録装置における再生信号特性としての変調度の測定を説明するための波形図である。
【図４】（ａ）〜（ｅ）は、実施の形態１〜４に係る光記録装置におけるライトストラテジ信号を説明するための図である。
【図５】実施の形態１〜４に係る光記録装置における中央制御部の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図６】実施の形態１〜４に係る光記録装置における記録パラメータのテーブルの一例を示す図である。
【図７】（ａ）〜（ｃ）は、実施の形態１〜４に係る光記録装置における、光ディスクの記録済領域と未記録領域との境界における記録動作の一例を説明するための図である。
【図８】実施の形態１〜４に係る光記録装置が使用する光ディスクの構成の一例を概略的に示す平面図である。
【図９】実施の形態１に係る光記録装置におけるテスト記録領域（ＯＰＣ領域）の記録済領域と使用順、及び対応する再生信号波形を示す図である。
【図１０】（ａ）及び（ｂ）は、実施の形態１に係る光記録装置におけるＯＰＣ実行時の記録パワー設定と、ＯＰＣ記録箇所の再生波形を示す図である。
【図１１】実施の形態１に係る光記録装置の動作（すなわち、実施の形態１に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。
【図１２】実施の形態１、３、４に係る光記録装置における記録条件判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１３】（ａ）〜（ｃ）は、実施の形態１に係る光記録装置においてＯＰＣ記録したトラックとこの隣のトラックである隣接トラックにおける、再生信号とトラッキングエラー信号の一例を示す図である。
【図１４】実施の形態１〜３に係る光記録装置における記録条件変更処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】実施の形態２に係る光記録装置の動作（すなわち、実施の形態２に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。
【図１６】実施の形態２に係る光記録装置における記録条件判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１７】（ａ）〜（ｄ）は、実施の形態２に係る光記録装置においてＯＰＣ記録したトラックの前のトラックにおいて、ＴＥオフセット量を変更した場合のトラッキングエラー信号の一例を示す図である。
【図１８】実施の形態３に係る光記録装置の動作（すなわち、実施の形態３に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。
【図１９】実施の形態３に係る光記録装置におけるＯＰＣパラメータ設定処理の一例を示すフローチャートである。
【図２０】実施の形態４に係る光記録装置の動作（すなわち、実施の形態４に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
上記したように、従来の光記録装置においては、ＯＰＣ記録において用いられる高パワーのレーザー光に起因して発生する記録エラーを防ぐための対策は講じられていない。本出願の発明者は、高パワーのレーザー光を用いた記録時に発生する記録エラーは、高パワーのレーザー光を受けた記録対象のトラックの記録状態がトラッキングエラー（ＴＥ）信号へ与える影響が主要な原因であること、及び、この記録エラーは、記録対象のトラックの隣の隣接トラックの記録状態がＴＥ信号に与える影響も原因になっていることを検証し（例えば、後述の図１３（ａ）〜（ｃ）及び図１７（ａ）〜（ｄ））、高パワーのレーザー光に起因して発生する記録エラーを防ぐための対策を見いだした。以下に、本発明の実施の形態に係る光記録装置、光記録方法、及びコンピュータに光記録方法を実行させるためのプログラムを説明する。
【００１３】
《１》実施の形態１．
《１−１》光記録装置の構成
図１には、本発明の実施の形態１に係る光記録装置１０の構成の一例が概略的に示されている。なお、図１において、符号１０ａ，１０ｂ，１０ｃは、後述する実施の形態２、３、４に係る光記録装置を示す。図１に示されるように、実施の形態１に係る光記録装置１０は、光記録媒体（例えば、光ディスク）５０に対してレーザー光を照射して光ディスク５０の情報記録層に情報を記録する光ディスク装置である。光記録装置１０は、光ディスク５０に対して情報の記録及び再生を行う光記録再生装置であってもよい。例えば、光記録装置１０は、光ディスク５０にマークエッジ記録（ＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）記録）を行う装置である。光記録装置１０は、光ディスク５０上に、記録すべき情報（データ）に応じて、半導体レーザー３１を記録に用いられるレーザー発光波形規則であるライトストラテジ（Ｗｒｉｔｅ  Ｓｔｒａｔｅｇｙ）に従い発光させて、光ディスク５０の情報記録層にマークを形成することにより情報を記録する。光ディスク５０は、例えば、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）などである。
【００１４】
図１に示されるように、光記録装置１０は、光ヘッド３０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、記録品質測定部１３０、データデコーダ１４０、再生信号特性測定部１５０、データエンコーダ１６０、ライトストラテジ制御部１７０、スピンドルモータ１８１、スレッドモータ１８２、サーボ制御部１８０、バッファメモリ１９０、及び中央制御部２０（２０ａ，２０ｂ，２０ｃ）を有する。また、サーボ制御部１８０とライトストラテジ制御部１７０は、中央制御部２０（２０ａ，２０ｂ，２０ｃ）からの制御信号に応じて光ヘッド３０の動作を制御する光ヘッド制御部（１７０，１８０）を構成する。なお、図１において、符号２０ａ，２０ｂ，２０ｃは、後述する実施の形態２、３、４における中央制御部を示す。
【００１５】
光ヘッド３０は、光ディスク５０にレーザー光を照射して光ディスク５０に対する情報の記録及び再生を行う装置であり、光ピックアップとも呼ばれる。図１に示されるように、光ヘッド３０は、半導体レーザー３１、レーザー駆動部３２、コリメートレンズ３３、ビームスプリッタ３４、対物レンズ３５、検出レンズ３６、受光素子３７、及び対物レンズアクチュエータ３８を有する。半導体レーザー３１、コリメートレンズ３３、ビームスプリッタ３４、対物レンズ３５、及び検出レンズ３６は、光ヘッド３０の光学系を構成する。なお、光ヘッド３０の光学系には、光ディスク５０の種類に応じて最適にレーザー光の照射を行うことができるように、球面収差を補正する光学素子、及び／又は、レンズなどの他の光学素子が配置されてもよい。
【００１６】
半導体レーザー３１は、レーザー駆動部３２により駆動され、レーザー光を出射する。半導体レーザー３１から出射されたレーザー光は、コリメートレンズ３３、ビームスプリッタ３４、及び対物レンズ３５を介して集光され、光ディスク５０に照射される。光ディスク５０からの、レーザー光の反射光（光信号）は、対物レンズ３５を通過した後にビームスプリッタ３４で検出レンズ３６に向かう方向に反射し、検出レンズ３６を介して受光素子３７で受光される。受光素子３７は、検出レンズ３６を介して入射される反射光を電気信号に変換する。
【００１７】
プリアンプ１１０は、光ヘッド３０から出力された再生信号（具体的には、受光素子３７により生成された電気信号）を増幅し、増幅後の再生信号ＳＲを中央制御部２０及び再生信号処理部１２０に供給する。また、プリアンプ１１０は、光ヘッド３０から出力された再生信号からサーボ信号ＳＳを生成し、当該サーボ信号ＳＳをサーボ信号測定部１５１及びサーボ制御部１８０に供給する。サーボ制御部１８０は、受け取ったサーボ信号ＳＳ（フォーカスエラー信号）に基づいて対物レンズアクチュエータ３８を制御して、光ディスク５０の情報記録層と対物レンズ３５との間の距離の制御であるフォーカスサーボ制御（図１におけるＤｆ方向の対物レンズ３５の位置の制御）を行い、また、受け取ったサーボ信号ＳＳ（トラッキングエラー信号）に基づいて光ディスク５０の半径方向Ｄｒの対物レンズ３５の位置の制御であるトラッキングサーボ制御を実行する。ここで、フォーカスサーボとしては、公知の方法、例えば、非点収差法、ナイフエッジ法、又は、スポットサイズ検出法などを用いることができる。また、トラッキングサーボとしては、公知の方法、例えば、プッシュプル法、ＤＰＰ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｕｓｈ−Ｐｕｌｌ）法、又はＤＰＤ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）法などを用いることができる。実施の形態１においては、トラッキングサーボ方式としてＤＰＰ法を用いる場合を説明する。
【００１８】
再生信号処理部１２０は、プリアンプ１１０から出力される再生信号ＳＲをイコライズ処理（波形整形）し、イコライズ処理後の再生信号を記録品質測定部１３０及びデータデコーダ１４０に供給する。また、再生信号処理部１２０は、イコライズ処理される前の再生信号ＳＲ（すなわち、プリアンプ１１０から出力される再生信号）を再生信号特性測定部１５０に供給する。
【００１９】
記録品質測定部１３０は、再生信号処理部１２０から出力される信号に基づき、再生信号の信号品質を測定する。測定される再生信号の信号品質としては、例えば、ジッター値、ｉ−ＭＬＳＥ（ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ  ｅｒｒｏｒ  Ｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ）値、及び、エラーレートなどがある。
【００２０】
データデコーダ１４０は、再生信号処理部１２０から供給された再生信号をＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）などの信号処理により２値化した後、復調又はエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク５０に記録されたデータを生成（再生）する。光記録装置１０は、例えば、上位コントローラ４０と接続されており、中央制御部２０は、生成されたデータを、バッファメモリ１９０に格納した後、上位コントローラ４０へ送る。
【００２１】
再生信号特性測定部１５０は、再生信号処理部１２０から出力される信号に基づき、再生信号の再生信号特性を測定する。再生信号の再生信号特性としては、例えば、アシンメトリ値β又は変調度αがある。
【００２２】
具体的には、再生信号特性測定部１５０は、再生信号特性としてアシンメトリ値βを求める場合、供給された信号（プリアンプ１１０から出力された信号）をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた信号に基づいてアシンメトリ値βを算出する。図２（ａ）〜（ｃ）には、プリアンプ１１０とＡＣカップリングされている再生信号処理部１２０における再生信号の例が示されている。図２（ａ）〜（ｃ）を参照して説明すると、再生信号特性測定部１５０は、再生信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出し、これらから、以下の式（１）を用いて、再生信号のアシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）                      （１）
図２（ａ）、（ｂ）、（ｃ）にはそれぞれ、β＜０の場合、β＝０の場合、β＞０の場合の再生信号の波形の例が示されている。
【００２３】
図２（ａ）〜（ｃ）において、ピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２は、それぞれ最長スペース及び最長マークからの反射光のレベルに対応する。また、ＡＣカップリングされた信号において、最短スペースと最短マークが交互に形成された部分に対応する信号の振幅の平均値は、ゼロレベルとなっている。すなわち、図２（ａ）〜（ｃ）において、ピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２は、最短スペースと最短マークが交互に形成された部分に対応する信号の振幅の平均値が、基準（ゼロレベル）として表されている。
【００２４】
なお、アシンメトリ値βの求め方は、上記の求め方に限定されるものではない。アシンメトリ値βは、例えば、再生信号の非対称性を表す値（すなわち、非対称度）、具体的には、記録された最長マークの信号（ＢＤの場合は、８Ｔ信号）と記録された最短マークの信号（ＢＤの場合は、２Ｔ信号）の非対称性を表す値であれば、上記以外の方法で求められた値であってもよい。
【００２５】
また、再生信号特性測定部１５０は、アシンメトリ値βの代わりに変調度αを求めてもよい。再生信号特性測定部１５０は、再生信号特性として変調度αを求める場合には、アシンメトリ値βを求める場合とは異なり、プリアンプ１１０とＡＣカップリングをせずに、電気的に接続（ＤＣカップリング）される。この場合、再生信号特性測定部１５０は、供給された再生信号に基づいて変調度αを算出する。図３には、ＤＣカップリングで得られた信号の一例が示されている。図３を参照して説明すると、再生信号特性測定部１５０は、供給された信号のピークレベルＰＫとボトムレベルＢＴを検出し、これらから、以下の式（２）を用いて、再生信号の変調度αを算出する。
α＝（ＰＫ−ＢＴ）／ＰＫ                                  （２）
【００２６】
図３において、ピークレベルＰＫ及びボトムレベルＢＴは、それぞれ最長スペース及び最長マークからの反射光のレベルに対応する。また、ＤＣカップリングで得られた信号においては、受光素子３７への入力が無い（光ディスク５０からの反射光の入力が無い）ときのプリアンプ１１０の出力値が、ゼロレベルとなる。すなわち、図３において、ピークレベルＰＫ及びボトムレベルＢＴは、受光素子３７への反射光の入力が無いときのプリアンプ１１０の出力レベルを基準（ゼロレベル）として表したものである。また、再生信号測定部１５０は、変調度αの代わりに、振幅値（ＰＫ−ＢＴ）を求め、この振幅値を再生信号特性として用いる場合もある。
【００２７】
サーボ信号測定部１５１は、プリアンプ１１０から出力されるサーボ信号に基づき、サーボ信号の特性を測定する。サーボ信号の特性としては、例えば、振幅又はオフセット量がある。
【００２８】
再び図１を参照すると、データエンコーダ１６０は、中央制御部２０から出力されるデータに誤り訂正符号を付加し、誤り訂正符号が付加されたデータを変調規則に従って変調し、光ディスク５０のフォーマットに従って記録データを生成する。
【００２９】
ライトストラテジ制御部１７０は、データエンコーダ１６０により生成された記録データに基づき、ライトストラテジ信号ＷＳＳを生成する。具体的には、ライトストラテジ制御部１７０は、中央制御部２０からライトストラテジの設定信号を受け、データエンコーダ１６０から、マークの長さを表す周期数ｎ（ｎは正の整数）を指定する記録データを受けると、ライトストラテジの設定信号が示すライトストラテジに従って、記録データに対応するライトストラテジ信号ＷＳＳ（発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を生成し、レーザー駆動部３２に出力する。これにより、ライトストラテジ信号ＷＳＳに応じた駆動電流がレーザー駆動部３２から半導体レーザー３１に供給され、ライトストラテジ信号ＷＳＳに応じた波形のレーザー光が半導体レーザー３１から出射される。
【００３０】
図４（ａ）〜（ｅ）は、ライトストラテジ制御部１７０により生成されるライトストラテジ信号ＷＳＳを説明するための図である。図４（ａ）は、データエンコーダ１６０により生成される記録データの一例を示す。記録データは、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとを含む。図４（ｂ）は、図４（ａ）の記録データを光ディスク５０に記録した場合に形成される光ディスク上のマークＭＫと、光ディスクの円周方向（トラックパス方向）に隣り合うマークＭＫの間に位置するスペースＳＰとを示す。記録データは、１−７変調されたデータ（長さ２Ｔ，３Ｔ，…，８Ｔ）と、同期用に付加される同期パターン（長さ９Ｔを含むパターン）とで構成される。すなわち、記録データに含まれるマーク部ＭＡは、最短マークを記録するための２Ｔ（周期数ｎ＝２）から、最長マークを記録するための９Ｔ（周期数ｎ＝９）までの長さを取り得る。また、記録データに含まれるスペース部ＳＡは、最短スペースに対応する２Ｔ（周期数ｎ＝２）から、最長スペースに対応する９Ｔ（周期数ｎ＝９）までの長さを取り得る。図４（ａ）〜（ｅ）は、最短マーク（すなわち、２Ｔのマーク）、２番目に短いマーク（すなわち、３Ｔのマーク）、及び４番目に短いマーク（すなわち、５Ｔのマーク）を順に記録する場合を示している。なお、Ｔは、所定の長さであるチャネルビット長を示す。
【００３１】
図４（ｃ）は、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号ＷＳＳの一例を示す。このライトストラテジ信号ＷＳＳは、例えば、書き換え可能な光ディスク（例えば、ＢＤ−ＲＥ）にデータを記録する場合、又は、追記可能な光ディスク（例えば、ＢＤ−Ｒ）に低倍速（例えば、１倍速〜２倍速）でデータを記録する場合に使用されるものである。図４（ｃ）において、ライトストラテジ信号ＷＳＳは、記録パワーＰＷ、スペースパワーＰＳ、クーリングパワーＰＣ、バイアスパワーＰＢの４値のレーザー光パワーから構成されている。なお、書き換え可能な光ディスクにおいては、スペースパワーＰＳの代わりに消去パワーＰＥが用いられる。
【００３２】
図４（ｄ）は、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号ＷＳＳの別の一例を示す。このライトストラテジ信号ＷＳＳは、例えば、追記可能な光ディスク（例えば、ＢＤ−Ｒ）に高倍速（例えば、２倍速以上）でデータを記録する場合に使用されるものである。図４（ｄ）において、ライトストラテジ信号ＷＳＳは、記録パワーＰＷ、ミドルパワーＰＭ、スペースパワーＰＳ、クーリングパワーＰＣの４値のレーザー光パワーから構成されている。
【００３３】
また、図４（ｅ）は、図４（ｃ）又は（ｄ）のスペースパワーＰＳが出力されている区間において反射光（又は、再生信号）をサンプリングするためのサンプルホールド用信号の例を示している。記録中においては、このサンプルホールド用信号がハイ（Ｈｉｇｈ）になっている区間（すなわち、レーザーがスペースパワーＰＳで出力されている区間）における光ディスク５０からの反射光（具体的には、受光素子３７の出力信号）がサンプリングされることにより、サーボ信号が生成される。
【００３４】
なお、ライトストラテジ信号ＷＳＳは、図４（ａ）〜（ｅ）に示されるものに限られず、図４（ａ）〜（ｅ）に示されるものと異なっていてもよい。例えば、クーリングパワーＰＣとバイアスパワーＰＢとは、図４（ａ）〜（ｅ）においては、互いに異なるレベルを有するが、互いに同一のレベルであってもよい。また、各マークに対応する発光パルスの本数は、適宜変更されてもよい。
【００３５】
再び図１を参照すると、スピンドルモータ１８１は、ターンテーブルに装着された光ディスク５０を回転させる。スレッドモータ１８２は、光ヘッド３０を光ディスク５０の半径方向Ｄｒに移動させて、光ヘッド３０の半径方向の位置を変更する。
【００３６】
サーボ制御部１８０は、スピンドルモータ１８１、スレッドモータ１８２、及び対物レンズアクチュエータ３８を制御する。
【００３７】
具体的には、サーボ制御部１８０は、中央制御部２０から出力される指示信号に基づき、スレッドモータ１８２を制御し、光ヘッド３０をアクセス対象位置へ移動させる。具体的には、中央制御部２０は、プリアンプ１１０から出力される再生信号に基づきアドレス情報の復号を行い、光ヘッド３０の現在位置のアドレス情報を得る。そして、中央制御部２０は、得られた現在位置のアドレス情報と、アクセスすべき位置（アクセス対象位置）のアドレス情報との差分を、サーボ制御部１８０に与える。サーボ制御部１８０は、当該差分に基づき、光ヘッド３０をアクセス対象位置へ移動させる。
【００３８】
また、サーボ制御部１８０は、光ディスク５０からの反射光に基づいて生成されるサーボ信号に基づいてサーボを行う。具体的には、サーボ制御部１８０は、プリアンプ１１０から出力されるサーボ信号（又は、サーボエラー信号）に基づき、対物レンズアクチュエータ３８を制御して、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う。
【００３９】
バッファメモリ１９０は、光ディスク５０に記録されるデータ、又は、光ディスク５０から再生されたデータを一時的に記憶する。
【００４０】
中央制御部２０は、光記録装置１０の制御装置であり、光記録装置１０による光ディスク５０へのデータの書き込み（記録）及び光ディスク５０からのデータの読み出し（再生）において、装置の全体を制御する。
【００４１】
再生時において、中央制御部２０は、レーザー駆動部３２を制御して、データの再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光を半導体レーザー３１から出射させる。半導体レーザー３１から出射された再生パワーのレーザー光は、光ディスク５０に照射され、光ディスク５０から出力される反射光が受光素子３７に受光され、反射光に応じたサーボ信号及び再生信号が生成される。このサーボ信号及び再生信号は、プリアンプ１１０により増幅される。そして、プリアンプ１１０から出力されるサーボ信号ＳＳに基づき、サーボ信号測定部１５１によりサーボ信号の振幅などのサーボ信号特性が測定される。また、プリアンプ１１０から出力される再生信号ＳＲに基づき、記録品質測定部１３０によりジッターなどの記録品質が測定され、再生信号特性測定部１５０によりアシンメトリ値β又は変調度αなどの再生信号特性が測定され、データデコーダ１４０により再生データが生成される。
【００４２】
プリアンプ１１０により増幅されたサーボ信号ＳＳと再生信号ＳＲ、サーボ信号測定部１５１により測定されたサーボ信号特性、記録品質測定部１３０により測定された記録品質、再生信号特性測定部１５０により測定された再生信号特性、及びデータデコーダ１４０により生成された再生データは、中央制御部２０に供給される。中央制御部２０は、生成された再生データを、バッファメモリ１９０に格納した後、光記録装置１０と接続されている上位コントローラ４０へ送る。
【００４３】
中央制御部２０（２０ａ，２０ｂ，２０ｃ）は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２１と、ＣＰＵ２１の動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２２（２２ａ，２２ｂ，２２ｃ）と、データを記憶するＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２３とを備える。中央制御部２０の機能又は動作は、ＲＯＭ２２に格納されたプログラムがＲＡＭ２３に読み出されてＣＰＵ２１により実行されることによって実現される。上記プログラムは、後に説明される、ＯＰＣパラメータの決定、記録条件変更、レーザー光パワー判定（記録条件判定）などの各動作を定義する部分を含む。なお、上記プログラムは、光ディスクなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されて提供されてもよいし、又は、インターネットなどの通信回線を介して提供されてもよい。また、中央制御部２０の機能は、ハードウェア回路のみにより実現されてもよい。なお、図１において、符号２２ａ，２２ｂ，２２ｃは、実施の形態２、３、４における中央制御部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ内のＲＯＭを示す。
【００４４】
図５は、中央制御部２０の機能構成の一例を示すブロック図である。図５に示されるように、中央制御部２０は、ＯＰＣ部（最適パワー制御部）２５１、記録制御部２５２、再生信号特性取得部２５３、レーザー光パワー補正部２５４、記録条件判定部２５５、及び記録条件変更部２５６を有する。
【００４５】
ＯＰＣ部２５１は、光ディスク５０に対するデータの記録に先立って、記録パワーＰＷの最適化制御（ＯＰＣ）、例えば、光ディスク５０に照射するレーザー光の最適記録パワーＰＷＯを決定する。
【００４６】
具体的には、ＯＰＣ部２５１は、
〈１〉ランダムな記録データパターンを用いて、光ヘッド３０による記録パワーを変化させて光ディスク５０の記録パワー調整用領域であるテスト記録領域（ＯＰＣ領域）に試し書きを行わせ、
〈２〉次に、このテストパターンが記録された光ディスク５０上のＯＰＣ領域内の記録済領域を再生するための制御信号を出力して、再生信号特性測定部１５０にアシンメトリ値βを検出させ、
〈３〉検出されたアシンメトリ値βを、アシンメトリ値βの目標値であるアシンメトリ目標値Ｔβと比較し、この比較結果に基づいて、最適記録パワーＰＷＯを求める。
例えば、ＯＰＣ部２５１は、
〈１ａ〉ランダムな記録データパターンを用いて、光ヘッド３０による記録パワーを変化させて光ディスク５０に試し書きを行わせ、
〈２ａ〉再生信号特性測定部１５０に、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値βを検出させ、
〈３ａ〉検出されたアシンメトリ値βをアシンメトリ目標値Ｔβと比較し、検出された複数のアシンメトリ値βの内のアシンメトリ目標値Ｔβに最も近いものを生じさせた記録パワーを、最適記録パワーＰＷＯとして設定する。
また、ＯＰＣ部２５１は、
〈１ｂ〉ランダムな記録データパターンを用いて、光ヘッド３０による記録パワーを変化させて光ディスク５０のテスト記録領域（ＯＰＣ領域）に試し書きを行わせ、
〈２ｂ〉再生信号特性測定部１５０に、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値βを検出させ、
〈３ｂ〉記録パワーと、検出されたアシンメトリ値βとの関係を近似し（例えば、記録パワーと、検出されたアシンメトリ値βとの関係から、記録パワーとアシンメトリ値βとの間の関係式を求め）、得られた近似式（関係式）を用いて、アシンメトリ目標値Ｔβが得られる記録パワーＰＷ（Ｔβ）を求め、この記録パワーＰＷ（Ｔβ）を、最適記録パワーＰＷＯとして設定してもよい。
一般に、記録パワーＰＷを大きくすればアシンメトリ値βは大きくなり、記録パワーＰＷを小さくすればアシンメトリ値βは小さくなる。
【００４７】
また、ＯＰＣ部２５１は、最適記録パワーＰＷＯの決定に際して、アシンメトリ値β以外の再生信号特性を用いてもよい。ＯＰＣ部２５１は、例えば、アシンメトリ値βの代わりに、変調度αを用いてもよい。一般に、ＯＰＣ部２５１は、光ディスク５０が追記型の光ディスク（ＢＤ−Ｒ又はＤＶＤ−Ｒなど）である場合には、アシンメトリ値βを用い、光ディスク５０が書き換え型の光ディスク（ＢＤ−ＲＥ又はＤＶＤ−ＲＷなど）である場合には、変調度αを用いる。
【００４８】
また、ＯＰＣ部２５１は、最適記録パワーＰＷＯに対応する変調度αを目標変調度Ｔαとして設定してもよい。しかし、ＯＰＣ部２５１は、記録パワーの変化に対する変調度αの変化が大きい記録パワーＰＷの領域（最適記録パワーＰＷＯよりも小さい記録パワーＰＷの領域）における変調度αを目標変調度Ｔα１として設定し、当該目標変調度Ｔα１と変調度αの検出値との比較によって求められた記録パワーＰＷ１に、予め設定された係数ｑを掛けることで、最適記録パワーＰＷＯ｛＝ｑ・（Ｔα１）｝を算出してもよい。一般的には、この方法で求めた最適記録パワーＰＷＯ｛＝ｑ・（Ｔα１）｝は、書き換え型の光ディスクの場合に用いられる。
【００４９】
記録制御部２５２は、光ヘッド３０に、光ディスク５０にマークＭＫを形成するための記録パワーＰＷのレーザー光（第１のパワーの光）と、記録パワーのレーザー光により形成されるマークＭＫ間に位置するスペースＳＰに対応するスペースパワーＰＳのレーザー光（第２のパワーの光）とを光ディスク５０に照射させることにより、光ディスク５０に情報を記録させる。具体的には、記録制御部２５２は、データエンコーダ１６０、ライトストラテジ制御部１７０、サーボ制御部１８０などを制御することにより、光ヘッド３０に、記録パワーＰＷ及びスペースパワーＰＳを含む少なくとも２値の出力パワーのレーザー光を光ディスク５０に照射させ、光ヘッド３０に光ディスク５０に対する情報の記録を行わせる。
【００５０】
より具体的には、記録制御部２５２は、データの記録に先立って、ライトストラテジ制御部１７０にライトストラテジを設定する。ライトストラテジは、図４（ｃ）、（ｄ）のようなライトストラテジ信号ＷＳＳをライトストラテジ制御部１７０で生成するための情報であり、発光波形を規定する複数のパラメータ（ライトストラテジパラメータ）を含む。ライトストラテジパラメータとしては、例えば、マークＭＫを形成するための記録パワーＰＷと記録パワーＰＷ以外の各パワー（ミドルパワーＰＭ、スペースパワーＰＳ、クーリングパワーＰＣ、バイアスパワーＰＢなど）とのパワー比率などがある。これらのパワー比率は、一般的には、一定に維持され、記録パワーＰＷの変更に応じて、記録パワーＰＷ以外の各パワーが変更される。なお、ライトストラテジ信号ＷＳＳの形が複雑になるほど、ライトストラテジパラメータの種類は増加する。
【００５１】
ライトストラテジの設定について、一つの態様においては、光記録装置１０は、中央制御部２０内（例えば、ＲＯＭ２２内）に、記録パラメータのテーブル（「ライトストラテジのリスト」ともいう）を保持している。記録パラメータのテーブルは、光ディスクのＩＤ毎に、当該ＩＤを持つ光ディスク用の記録パラメータ（具体的には、当該光ディスクに最適な記録パラメータ）が記録されているテーブルである。このテーブルには、記録パラメータとして、少なくともライトストラテジが記録される。また、このテーブルには、記録パラメータとして、ライトストラテジとともに、後述する記録パワー調整（ＯＰＣ）用の再生信号特性目標値（例えば、アシンメトリ値βの目標値Ｔβ又は変調度αの目標値Ｔα）が記録されてもよい。図６には、記録パラメータのテーブルの一例が示されている。図６に示されるように、このテーブルには、ｋ個のＩＤ（Ｍａｋｅｒ＿１，Ｍａｋｅｒ＿２，…，Ｍａｋｅｒ＿ｋ）について、ＩＤと当該ＩＤに対応するｎ個の記録パラメータＷＳ１，ＷＳ２，ＷＳ３，…，ＷＳｎの最適値とが対応付けて記録されている。
【００５２】
記録制御部２５２は、光ヘッド３０又はデータデコーダ１４０などを制御して、光記録装置１０に挿入された光ディスク５０からＩＤを読み取り、当該ＩＤと対応付けられているライトストラテジを記録パラメータのテーブルから読み出し、当該ライトストラテジを光ディスク５０に対する記録に用いる。ここで、光ディスク５０のＩＤは、光ディスク５０を作成するメーカが予め設定したものであり、光ディスク５０に（例えば、リードイン領域などに）固有情報として記録されている。なお、光記録装置１０は、記録パラメータのテーブルを保持していなくてもよい。この場合、記録制御部２５２は、例えば、光ディスク５０の固有情報に含まれるライトストラテジの推奨値（光ディスクのメーカが予め設定し、光ディスク５０に記録している値）を用いてもよいし、又は、ライトストラテジの推奨値から予め設定された計算式により計算した値を用いてもよい。
【００５３】
光ディスク５０への情報の記録について説明すると、記録制御部２５２は、上位コントローラ４０から出力される記録対象のデータをバッファメモリ１９０に格納した後、データエンコーダ１６０を用いて当該データから記録データを生成する。この記録データに基づき、予め設定されたライトストラテジに従って、ライトストラテジ制御部１７０は、ライトストラテジ信号ＷＳＳを生成する。このライトストラテジ信号ＷＳＳに基づき、レーザー駆動部３２により半導体レーザー３１が駆動され、半導体レーザー３１からレーザー光が出射される。このとき、記録制御部２５２は、レーザー光の記録パワーＰＷが最適記録パワーＰＷＯとなるように、例えば、レーザー駆動部３２又はライトストラテジ制御部１７０を制御する。半導体レーザー３１から出射されたレーザー光は、コリメートレンズ３３などを介して光ディスク５０に照射され、これにより、光ディスク５０上にマークＭＫが形成され、マークＭＫとマークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとからなる記録済領域が形成される。
【００５４】
ここで、光ディスク５０にデータを記録する場合としては、放送番組のデータのように所定の伝送レートで供給されるデータを光ディスク５０に記録する場合、又は、例えば、ハードディスクドライブなどの他の記録媒体に記憶されたデータを光ディスク５０にコピーする場合などがある。
【００５５】
放送番組のように所定の伝送レートで供給されるデータを記録する場合には、録画レートに従って、例えば、上位コントローラ４０から一定間隔で順次データが光記録装置１０に送付される。記録制御部２５２は、上位コントローラ４０から出力されるデータをバッファメモリ１９０に格納する。記録制御部２５２は、バッファメモリ１９０でオーバーフロー又はアンダーフローが起きないように、バッファメモリ１９０に蓄えられているデータの量を管理する。具体的には、記録制御部２５２は、バッファメモリ１９０に格納されているデータの量がバッファメモリ１９０の容量よりも大きくならないように、バッファメモリ１９０から適時データを吸い出して記録を行う。また、記録制御部２５２は、バッファメモリ１９０に格納されているデータの量が少ない場合には、記録動作を一時停止し、バッファメモリ１９０に所定量以上のデータが格納されるまで待機する。すなわち、所定量のデータをバッファメモリ１９０から読み出して光ディスク５０に書き込む記録期間と、光ディスク５０への記録を中断してバッファメモリ１９０に所定量以上のデータが蓄積されるのを待つ（バッファメモリ１９０内のデータ量が所定量以上になるのを待つ待機期間（中断期間）とが交互に繰り返される。
【００５６】
他の記録媒体に記憶されたデータを光ディスク５０にコピーする場合にも、記録制御部２５２は、コピー元の記録媒体からコピーすべきデータをバッファメモリ１９０に蓄え、バッファメモリ１９０に蓄えられたデータを、所定量ずつ読み出して、光ヘッド３０によって光ディスク５０に書き込ませるための制御を行う。このため、コピーするデータの量、バッファメモリ１９０の容量、バッファメモリ１９０へのデータの転送レート、及び光ディスク５０への記録レートによっては、記録期間と待機期間とが交互に繰り返されることになる。
【００５７】
このように、記録制御部２５２は、光ディスク５０への情報の記録と、記録状態にない待機（すなわち、光ディスク５０への記録の中断）とを繰り返して、光ヘッド３０による光ディスク５０への情報の記録のための制御を行う。すなわち、記録制御部２５２の制御により、光ディスク５０に間欠的に情報が記録される。
【００５８】
再び図５を参照すると、再生信号特性取得部２５３は、光ディスク５０に対する情報の記録の中断期間（又は、待機期間）において、当該中断期間の前に記録された光ディスク５０の領域を再生するための制御を行い、再生された信号の再生信号特性を取得する。具体的には、再生信号特性取得部２５３は、光ヘッド３０などを制御して、中断期間の直前に記録された領域を再生させ、再生された信号から測定されたアシンメトリ値β又は変調度αなどの再生信号特性を再生信号特性測定部１５０から取得する。
【００５９】
レーザー光パワー補正部２５４は、再生信号特性取得部２５３により取得された再生信号特性に基づき、記録パワー（第１のパワー）ＰＷ及びスペースパワー（第２のパワー）ＰＳのうちの少なくとも記録パワーＰＷの補正を行う。この処理は、例えば、ＲＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれるものである。光ディスク５０に記録を行う場合、記録位置（光ディスク５０の半径方向の位置）の変化、又は、記録中に生じる温度変化などにより、光ディスク５０の記録感度が変わり、必要な（最適な）記録パワーＰＷが変動することがある。ＲＯＰＣは、この記録感度の変化を検出し、検出結果に応じて記録パワーＰＷを適切に補正することにより、光ディスク５０の全面にわたり安定した記録を行うことを可能にするものである。記録感度の変化は、例えば、記録済領域の再生信号の再生信号特性（例えば、アシンメトリ値β）を検出することにより、検出される。
【００６０】
具体的には、レーザー光パワー補正部２５４は、再生信号特性取得部２５３によって取得された再生信号特性と、予め定められた再生信号特性の目標値である再生信号特性目標値とに基づき、記録パワーＰＷの補正を行う。例えば、レーザー光パワー補正部２５４は、再生信号特性取得部２５３によって取得された再生信号特性と再生信号特性目標値との差に基づいて、記録パワーＰＷを補正する。
【００６１】
記録条件判定部２５５は、ＯＰＣ部２５１の制御によって光ディスク５０のテスト記録領域に試し書きされた信号、及び／又は、レーザー光パワー補正部２５４によって補正された記録パワーＰＷで光ディスク５０のテスト記録領域に記録された信号から、記録エラーが発生していないかどうかの判定、及び、決定された最適記録パワーＰＷＯが変動した場合（高くなった場合）にも安定して記録動作を行うことができるかどうかの判定などを行う。
【００６２】
記録条件変更部２５６は、記録条件判定部２５５による判定結果が、記録パワーＰＷが所定の条件を満足しないことを示す不合格判定ＮＧである場合（記録エラーが発生する可能性が高くなった場合）に、記録パワーＰＷ、ライトストラテジ、記録時のサーボ設定値などの記録に関係する条件の変更を行う。
【００６３】
上述したとおり、記録中においては、サーボ信号は、スペースパワーＰＳのレーザー光の光ディスク５０からの反射光に基づいて生成される。したがって、記録パワーＰＷとスペースパワーＰＳとの比率を一定とした場合、ＯＰＣ又はＲＯＰＣなどにおいて記録パワーＰＷが変わると共に、スペースパワーＰＳが変動し、これによりサーボ信号の基となる反射光量が変動し、記録時のサーボが不安定となる場合がある。
【００６４】
また、トラッキングサーボ方式がＤＰＰ方式の場合、隣接するトラックの記録状態によって、トラッキングエラー信号にオフセットが発生し、記録時のサーボが不安定となる場合がある。
【００６５】
また、記録パワーＰＷとスペースパワーＰＳとの比率（ＰＷ／ＰＳ）を一定とした場合、記録中における記録パワーＰＷの上昇に応じてスペースパワーＰＳが上昇し、これにより、記録済領域と未記録領域との境界における反射光量の差が大きくなり、サーボが不安定となる場合がある。以下に、この点について、図７（ａ）〜（ｃ）を参照して説明する。
【００６６】
図７（ａ）〜（ｃ）は、光ディスク５０の記録済領域７１と未記録領域７２との境界７３における記録動作の一例を説明するための図である。図７（ａ）は、光ディスク５０の記録領域の記録状態を示し、記録済領域７１と、これに続く未記録領域７２と、両領域の境界である記録未記録境界（単に「境界」とも言う。）７３とを示している。光記録装置１０は、光ディスク５０へ情報を追加で記録する場合、又は、間欠記録において記録待機後に再び記録を行う場合には、記録済領域７１の終了位置（記録未記録境界７３）に続くように追加記録を行う。
【００６７】
この追加記録を行う場合、光記録装置１０（例えば、記録制御部２５２）は、記録開始対象となる位置（アドレス）よりも前（例えば、内周側）に光ヘッド３０を移動（シーク）し、記録済領域７１の再生を行う。その後、記録開始対象となる位置を書き込みタイミングとして検出し、図７（ｃ）に示されるように、記録ゲート信号ハイ（Ｈｉｇｈ）からロー（Ｌｏｗ）にすることで、光ディスク５０への記録を開始する。このとき、光記録装置１０は、光ヘッド３０の受光素子３７の光信号を電気信号に変換する際のゲインを、比較的高い再生用のゲインから、比較的低い記録用のゲインに切り替える。これは、再生時に用いられる再生パワーと比較して、記録時に用いられる記録パワーＰＷが高いため、再生用のゲインのままでは、受光素子３７の信号出力が高くなりすぎて飽和し、受光素子３７の応答性が悪くなり、記録時にサンプリングされて検出されるサーボ信号にも悪影響が及ぶためである。
【００６８】
上記追加記録の動作開始時には、ゲインが変わること、サーボ信号を生成するためのレーザー光パワーが再生時の再生パワーから記録時のスペースパワーＰＳに変わること、記録済領域７１と未記録領域７３とにおいては、反射率が異なること（具体的には、記録済領域７１からの反射光量は、未記録領域７３より少ないこと）により、例えば、図７（ｂ）に示されるように、サーボ信号のレベルが変動する。
【００６９】
特に、記録パワーＰＷが高く設定され、信号の記録度合が高い状態（変調度αが大きい状態）で記録された場合、記録済領域７１の反射光量は、小さくなる。一方、記録パワーＰＷが高くなることに伴いスペースパワーＰＳが高くなると、記録済領域７１の反射光量は、大きくなる。この結果、記録未記録境界７３の直前の記録済領域７１のサーボ信号のレベルと、記録未記録境界７３の直後の未記録領域７２のサーボ信号のレベルとの差が大きくなり、この影響により、記録済領域７１の再生から未記録領域７２への記録へ切り替わる時点で、サーボが外れ易くなる。
【００７０】
図８は、光ディスク５０の構成の一例を概略的に示す平面図である。図８に示されるように、光ディスク５０は、内周側から順に、バーストカッティングエリア（Ｂｕｒｓｔ  Ｃｕｔｔｉｎｇ  Ａｒｅａ）ＢＣＡ、リードイン領域ＩＡ、データ記録領域ＤＡ、及びリードアウト領域ＯＡを有する。リードイン領域ＩＡには、光ディスク５０の固有情報、及び／又は、記録動作及び再生動作を制御するための制御情報などが記録されている。また、ＯＰＣ記録に使用されるテスト記録領域もリードイン領域ＩＡ内に配置される。なお、制御情報及びＯＰＣ記録に使用されるテスト記録領域は、リードアウト領域ＯＡにも配置される場合がある。
【００７１】
図９並びに図１０（ａ）及び（ｂ）は、実施の形態１においてＯＰＣ記録に使用されるテスト記録領域（ＯＰＣ領域）の概略図と、記録パワーＰＷと再生信号の関係の一例を示すものである。図９においては、光ディスク５０のトラックパス方向が左（光ディスク５０の内周側）から右方向（光ディスク５０の外周側）に向かっている場合を示しており、光ディスク５０への記録、及び、光ディスク５０からの再生は、左から右に向かって行われる。また、図９中における数字「１，２，３，４，…，Ｎ」は、テスト記録領域内の使用エリアが使用される順番を示す。一般に、テスト記録領域内において使用エリアが使用される順番は、トラックパス方向（図９において左から右に向かう方向）と逆方向の順番で使用される。したがって、図９の場合には、テスト記録領域内において使用エリアが使用される順番は、右側（外周側）から左側に向かう順番である。トラックパス方向が逆方向の場合（例えば、別の情報記録層の場合）には、記録及び再生方向が右側から左側に向かう方向となり、テスト記録領域において使用エリアが使用される順番は、内周側（左側）から外周側（右側）に向かう順になる。また、再生信号は、記録を行うことで光ディスク５０からの反射光量が小さくなるＨＴＬ（Ｈｉｇｈ  ｔｏ  Ｌｏｗ）光ディスクの場合の例を示している。また、図１０（ａ）及び（ｂ）に示されるように、レーザー光の記録パワーのＯＰＣにおいては、デフォルトパワーの後、低いパワーから高いパワーまで、階段状に記録パワーＰＷを変更して記録（ＯＰＣ記録）を行う。ここで、同じ記録パワーＰＷで記録されるサイズは、光記録装置によって様々であるが、例えば、セクター単位など、光記録装置が設定できる最小幅とすることで、テスト記録領域の使用量を少なく抑えることができる。ＯＰＣ記録後、同じ場所を再生し、再生信号特性（アシンメトリ値β又は変調度αなど）を、各々の記録パワーＰＷで記録された領域毎に測定し、記録パワーＰＷと再生信号特性の関係に基づいて、最適記録パワーＰＷＯを求める。レーザー光の記録パワーのＯＰＣにおいては、一般に、使用済領域（記録済領域）の最新アドレス情報が光ディスクの、例えば、記録管理領域に記録されるが、記録されるアドレス情報は、ブロック単位（ＥＣＣブロック、又は、クラスター単位）であり、テスト記録領域を効率的に使用するために、記録管理領域に記録されたアドレス情報を元に、実際に使用された記録済領域（図９における記録済領域の最内周側（左側）の位置）がどの位置であるかを、再生信号の有無を検出することによって判定している。また、再生信号の有無を検出する場合、トラックパス方向に再生を行うため、図９の例においては、最も左側（光ディスク５０の最内周側）に再生信号が検出できるレベルの記録パワーＰＷとしてデフォルトパワーを設定している。また、実施の形態１においては、記録エラーが発生したか否かを検出する必要があるため、デフォルトパワーの後は、低パワーから高パワーの階段状としている。なお、デフォルトパワーによる記録は、階段状の記録パワーＰＷに先だって記録するのではなく、階段状の記録パワーＰＷで記録し、さらに最適記録パワーＰＷＯを求めた後に、最適記録パワーＰ���Ｏで階段状の記録パワーＰＷで記録した領域よりも内周側へ追加記録するようにしてもよい。
【００７２】
《１−２》光記録装置の動作
図１１は、実施の形態１に係る光記録装置１０の動作（すなわち、実施の形態１に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。図１１に示されるように、光記録装置１０の中央制御部２０は、先ず、当該装置への光ディスク５０の挿入を、例えば、光ディスク用のセンサで検出すると（ステップＳ１０においてＹＥＳ）、光ヘッド３０を駆動させて、挿入された光ディスク５０の種別を判別する（ステップＳ１１）。ここで、種別とは、例えば、光ディスクがＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどのいずれのタイプの光ディスクであるか、及び／又は、光ディスク５０が何層の情報記録層を有しているかなどを示す情報である。
【００７３】
次に、中央制御部２０は、光ディスク５０のチルト角度、及び／又は、サーボ条件などの初期調整を行った後（ステップＳ１２）、光ディスク５０から光ディスクの固有情報、及び／又は、記録動作及び再生動作を制御するための制御情報などの光ディスク情報を読み出す（ステップＳ１３）。
【００７４】
次に、中央制御部２０は、読み出された光ディスクの固有情報（例えば、ＩＤなどの情報）に基づき、記録パラメータを決定する（ステップＳ１４）。具体的には、中央制御部２０は、ＲＯＭ２２に予め格納されている記録パラメータのテーブルから、ステップＳ１３で読み出されたＩＤに対応する記録パラメータを読み出し、記録に用いる記録パラメータとして設定する。記録パラメータとしては、発光パルスの形を決めるためのパラメータであるライトストラテジ、及び／又は、記録パワーの最適化制御（ＯＰＣ）用のパラメータ（ここでは、アシンメトリ目標値Ｔβ）などがある。また、ＲＯＭ２２に予め格納されている記録パラメータのテーブルには、後述の記録パワー補正処理に必要な情報も格納されており、中央制御部２０は、当該情報も読み出しておく。
【００７５】
なお、中央制御部２０は、上記のように予め格納されたテーブルから記録パラメータを決定する代わりに、光ディスク５０に予め記録されている記録パラメータの推奨値を取得して使用してもよいし、又は、取得された推奨値に対して所定の計算などを行い、修正された記録パラメータを用いてもよい。
【００７６】
次に、中央制御部２０は、上位コントローラ４０から記録開始の指示を受けたか否かを判断し、記録開始の指示を受けるまで待機する（ステップＳ１５においてＮＯ）。中央制御部２０は、記録開始の指示を受けると（ステップＳ１５においてＹＥＳ）、ＯＰＣパラメータの設定を行う（ステップＳ１６）。具体的には、中央制御部２０は、ＯＰＣ記録に用いる初期の記録パワー（図１０（ａ）におけるデフォルトパワー）及び階段状の記録パワーの設定を行う。
【００７７】
次に、中央制御部２０は、記録パワーＰＷの調整を行う（ステップＳ１７）。具体的には、中央制御部２０は、ステップＳ１４で設定された記録パラメータとステップＳ１６で設定されたＯＰＣパラメータを用いて、光ヘッド３０に光ディスク５０への試し書きを実行させる。すなわち、中央制御部２０は、ステップＳ１４で中央制御部２０内に設定された記録パラメータのライトストラテジをライトストラテジ制御部１７０に設定することにより、ライトストラテジ制御部１７０でテストパターンに基づいたライトストラテジ信号ＷＳＳを生成し、当該ライトストラテジ信号ＷＳＳにより光ヘッド３０を用いて光ディスク５０への試し書きを行う。そして、中央制御部２０は、テストパターンが記録された光ディスク５０上の領域を光ヘッド３０によって再生させ、再生信号特性測定部１５０により検出された再生信号特性（アシンメトリ値β又は変調度α）と再生信号特性目標値（ＯＰＣパラメータ）とを比較して、再生信号特性目標値と一致する再生信号特性を生じさせる記録パワーＰＷを、最適記録パワーＰＷＯとして決定する。また、ステップＳ１７においては、中央制御部２０は、階段状に設定した記録パワーＰＷにおいて記録エラーが発生したか否かも併せて検出する。ここで、ステップＳ１７における記録エラーが発生したか否かの検出は、例えば、レーザー光の記録パワーのＯＰＣにおいてテストパターンを記録したテスト記録領域を再生し、再生信号振幅が所定の基準振幅以上となっているか否かを判定し、再生信号振幅が所定の基準振幅以下で、信号の記録がされていない場合は、記録エラーが発生したと判定する。ここで、デフォルトパワーで記録した直後の低パワーで記録した領域においては、再生信号振幅が十分得られない場合があるため、デフォルトパワーで記録した後の階段状の記録パワーで記録した領域において、再生信号振幅が所定の基準振幅以上が得られた後の高パワーで記録した領域のみにおいて、判定を行う。
【００７８】
次に、中央制御部２０は、ステップＳ１７で求められた最適記録パワーＰＷＯについての判定を実行する（すなわち、所定の条件を満足するか否か）を判定する（ステップＳ１８）。ここでの判定の詳細については、後述する。
ステップＳ１８の判定結果が不合格判定ＮＧ（問題有り判定）の場合、中央制御部２０は、記録条件（サーボ条件）を変更した後（ステップＳ１９）、処理をステップＳ２０へ進める。一方、ステップＳ１８の判定結果が合格判定ＯＫ（問題無し判定）の場合は、中央制御部２０は、処理をステップＳ２０に進める。
【００７９】
ステップＳ２０において、中央制御部２０は、ステップＳ１４で設定された記録パラメータ又はステップＳ１９において変更された記録パラメータと、ステップＳ１７で決定された記録パワーＰＷとにより、光ディスク５０への本来のデータ（すなわち、試し書きではない、記録されるべきデータ）の書き込み（すなわち、本書き込み）を開始する。
【００８０】
図１２は、実施の形態１における記録条件判定（ステップＳ１８）処理の一例を示すフローチャートである。図１２に示されるように、中央制御部２０は、先ず、ステップＳ１７でＯＰＣ記録したエリアの隣の隣接トラックを再生エリアとして設定する（ステップＳ１８０）。ここで、隣接トラックとは、未記録領域側（図９の例においては、光ディスク５０の内周側）のトラックである。隣接トラックの再生エリアは、例えば、ＯＰＣ記録したアドレスから略一周分隣のアドレスを算出することで決定する。
【００８１】
次に、光記録装置１０は、ステップＳ１８０で設定した再生エリアを再生した時のトラッキングエラー（ＴＥ）信号のレベルを測定する（ステップＳ１８１）。ここで、光記録装置１０は、ステップＳ１８０で設定した再生エリアとＯＰＣ記録した際の記録パワーを関連付けておき、各々の記録パワーに対応するＴＥ信号レベルの計測を行う。ここで、ＴＥ信号の検出方式は、プッシュプル法又はＤＰＰ法であり、受光素子３７の受光部（光ディスクの半径方向Ｄｒに相当する方向に分割された複数の受光面を有する）の複数の受光面で受光することによって得られた各々の信号を用いた演算（差分）を行ってＴＥ信号を生成する。そのため、隣接トラックの信号の影響を受け、隣接トラックの信号の有無又は信号の記録状態によって、ＴＥ信号にオフセットが加わることになる。また、プッシュプル法によるＴＥ信号は、一般に、記録されたエリアと未記録のエリアで振幅が異なり、ＨＴＬ光ディスクにおいては、記録済みエリアに比べて未記録エリアのＰＰ（Ｐｅａｋ  ｔｏ  Ｐｅａｋ）信号振幅の方が大きくなる（ＬＴＨ光ディスクにおいては逆になる）ため、特に隣接トラックが未記録エリアの場合は、発生するオフセット量が大きくなる。
【００８２】
図１３（ａ）〜（ｃ）は、ＯＰＣ記録したトラックとその前後の隣接トラックにおける再生信号とＴＥ信号（ＤＰＰ方式）の一例を示す図である。ここで、図１３（ａ）〜（ｃ）は、ＢＤ−Ｒの単層光ディスクにおいて、ＯＰＣが実施された領域（同図（ｂ）に示されるＯＰＣ１とＯＰＣ２）の前（光ディスクの内周側）は、同図（ａ）に示されるように、未記録であり、ＯＰＣが実施された領域（同図（ｂ）に示されるＯＰＣ１とＯＰＣ２）の後（光ディスクの外周側）は、同図（ｃ）に示されるように、記録済みの場合となるように記録した場合である。また、照射されたレーザー光は、ＴＥ信号の極性がプラス（＋）の場合は外周側にシフトしている場合を示し、ＴＥ信号の極性がマイナス（−）の場合は、内周側にシフトしている場合を示している。また、図１３（ａ）は、ＯＰＣが実施された領域の１トラック前のトラック（未記録）を再生した場合、図１３（ｂ）は、ＯＰＣが実施された領域（同図（ｂ）に示されるＯＰＣ１とＯＰＣ２）のトラックを再生した場合の再生信号とＴＥ信号の一例を示し、図１３（ｃ）は、ＯＰＣが実施された領域（同図（ｂ）に示されるＯＰＣ１とＯＰＣ２）の１トラック後のトラック（記録済み）を再生した場合の再生信号とＴＥ信号の一例を示している。なお、図１３（ａ）〜（ｃ）のレーザー光の記録パワーのＯＰＣにおいては、内周から外周に向かって、高パワーから低パワーに階段状にパワーを変化させて記録した場合となっている。
【００８３】
図１３（ａ）に示されるように、テスト記録領域の１トラック前において、ＴＥ信号には、記録パワーに応じたオフセット量のオフセットが発生している。また、図１３（ｂ）においては、図１３（ａ）に比べてＴＥ信号のオフセット量は小さいが、図１３（ａ）と逆方向のＴＥ信号のオフセットが発生している。このように、記録状態（記録時の記録パワー）に応じて、隣接トラックを再生した場合のＴＥ信号が影響を受けることが分かる。なお、図１３（ｂ）においては、ＯＰＣが実施された領域におけるＴＥ信号への影響（ＴＥ信号のオフセット量）が小さい結果となっているが、ＴＥ信号の生成条件（光検出器のパターン又はサイズ比率など、再生光をどのように検出するかの条件）によっては、ＯＰＣが実施された領域においても、ＴＥ信号への影響が現れる場合、又は、図１３（ａ）、（ｂ）とは、異なるオフセット量となる（ＴＥ信号への影響度が変わる）場合がある。そこで、実施の形態１においては、ＴＥ信号に発生するオフセットのオフセット量を検出する。
【００８４】
再び図１２を参照すると、ステップＳ１８２において、中央制御部２０は、ステップＳ１８１で測定したＴＥ信号レベルと、記録パワーの関係から、ＴＥ信号のオフセット量（ＴＥオフセット量）が、予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１以上となる記録パワーＰＮＧを求める。ここで、予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１は、例えば、予め複数の記録パワーで光ディスクに信号を記録しておき、その隣接トラックを再生した場合のＴＥオフセット量を調べ、ＴＥ信号を用いる制御に問題（例えば、サーボ外れなど）が発生する最小の記録パワーにおけるＴＥオフセット量を、予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１として設定する。なお、中央制御部２０は、ＴＥオフセット量をそのまま使用するのではなく、未記録エリアにおけるＴＥ信号振幅に対するＴＥオフセット量の割合を用いてもよい。
なお、ＴＥ信号への隣接トラックからの影響は、受光素子３７の受光部の仕様（受光面のサイズ、受光面の分割の仕方、受光面の配置など）によって異なるため、予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１として設定するＴＥオフセット量は、受光素子３７の仕様が同一の光記録装置においては、共通の（同一の）ＴＥオフセット量を用いることとしてもよい。ただし、受光素子３７の仕様が異なる場合は、基準ＴＥオフセット量Ｒ１を別途求める必要がある。
【００８５】
次のステップＳ１８３において、中央制御部２０は、ＴＥオフセット量が予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１以上となる記録パワーＰＮＧ（ステップＳ１８２で求められたＰＮＧ）と、ステップＳ１７で求められた最適記録パワーＰＷＯとの比率（ＰＮＧ／ＰＷＯ）を求め、比率（ＰＮＧ／ＰＷＯ）が予め定められた基準比率値Ｒ２より大きいか否かを判断する。
【００８６】
中央制御部２０は、ステップＳ１８３の判断が、ＹＥＳの場合、すなわち、
（ＰＮＧ／ＰＷＯ）＞（基準比率値Ｒ２）
の場合は、判定結果を合格判定ＯＫ（すなわち、問題無し判定）とし（ステップＳ１８４）、
ステップＳ１８３の判断がＮＯの場合、すなわち、
（ＰＮＧ／ＰＷＯ）≦（基準比率値Ｒ２）
の場合は、判定結果を不合格判定ＮＧ（すなわち、問題有り判定）とする（ステップＳ１８５）。ステップＳ１８４及びＳ１８５における判定結果は、ステップＳ１８における判定結果である。
【００８７】
図１４は、実施の形態１における記録条件の変更（図１１のステップＳ１９）処理の一例を示すフローチャートである。ステップＳ１８における判定結果が不合格判定ＮＧ（問題有り判定）の場合、中央制御部２０（記録条件変更部２５５（図５））は、記録条件を変更する（図１１のステップＳ１９）。実施の形態１においては、中央制御部２０は、記録条件として、記録時のサーボ条件（ＴＥオフセット量）を変更する。ここで、ＴＥオフセット量の変更は、ステップＳ１８１（図１２）においてＴＥオフセット量を求めるために測定したＴＥ信号レベルを元に決定される。ステップＳ１８１においては、ＯＰＣ記録時の各々の記録パワーにおけるＴＥ信号レベルを計測しており、ステップＳ１９０において、中央制御部２０は、記録パワーとＴＥ信号レベルの関係を近似する。次に、中央制御部２０は、値が｛（最適記録パワーＰＷＯ）×（基準比率値Ｒ２）｝となる記録パワーＰＷＯ２におけるＴＥ信号レベルＴＷＯ２を求める（ステップＳ１９１）。
【００８８】
次に、ステップＳ１８２（図１２）において、中央制御部２０は、ＴＥオフセット量が予め定められた所定値以上となる記録パワーＰＮＧを求める場合のＴＥオフセット量である基準ＴＥオフセット量Ｒ１との差分、すなわち、ＴＥ信号レベルＴＷＯ２と基準ＴＥオフセット量Ｒ１との差分、
｛ＴＥ信号レベルＴＷＯ２）−（基準ＴＥオフセット量Ｒ１）｝を求める（ステップＳ１９２）。この差分が、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１となる。
【００８９】
次のステップＳ１９３において、中央制御部２０は、隣接トラックの記録状態に応じてＴＥオフセット量の加減算量（加算量又は減算量）を設定する。情報を記録する際には、隣接トラックの記録状態（記録の有無）に応じて、ステップＳ１９３で設定されたＴＥオフセット量の加減算量が使用される。ここで、例えば、ＴＥオフセット量の加減算量は、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１であり、ＯＰＣ記録など、外周側の隣接トラックが記録済みでこの内周側に記録を行う場合は、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１分がキャンセルされるように減算し、また、データ記録のように内周側が記録済みで、この外周側に記録を行う場合は、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１分を加算し、また、データが両隣接トラック共に未記録又は記録済みの場合は、ＴＥオフセット量の加減算量は、ゼロとする設定とすればよい。なお、ＴＥオフセット量の加減算量を過剰ＴＥオフセット量Ｆ１としている。ただし、中央制御部２０は、必ずしも過剰ＴＥオフセット量Ｆ１を加算又は減算する必要はなく、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１に近い値、又は、過剰ＴＥオフセット量Ｆ１より小さい量を加減残量としてもよい。
また、隣接トラックが記録済みであるか未記録であるかは、記録管理情報などに記録される記録済み領域のアドレス情報などから判断すればよい。
このようにすることで、中央制御部２０は、記録時の記録パワーが変動しても、
記録パワーＰＷＯ２｛＝（最適記録パワーＰＷＯ）×（基準比率値Ｒ２）｝
までは、隣接トラックを再生した場合のＴＥオフセット量を、所定の基準ＴＥオフセット量Ｒ１以下に抑えることができるので、安定した記録再生動作を実現することができる。
【００９０】
《１−３》効果
以上に説明したように、実施の形態１に係る光記録装置１０及び光記録方法によれば、下記（１）〜（３）の効果を得ることができる。
（１）光記録装置１０は、テスト記録領域で実施する記録パワーのＯＰＣにおける記録状態から、記録パワーに問題が無いか否かを判定でき、問題が有ると判定された場合には、記録条件を変更するようにしているので、安定した記録動作を行うことができる。
（２）ＯＰＣ記録箇所の隣の隣接トラック（未記録側）を再生して、記録エラーが発生する可能性がある記録パワーを、記録動作の不安定さに関するＴＥ信号を利用して判定するため、記録エラーが発生する可能性があるか否かを簡易に判定することができる。
（３）ＯＰＣ記録時の階段状に設定する記録パワーとして、低い記録パワーから高い記録パワーへと段階的に変化させた記録パワーを用いるため、途中で記録エラーが発生した場合でも、記録済みの信号から最適記録パワーＰＷＯを求めることができ、記録エラーが発生した記録パワーとの比較により求められた最適記録パワーＰＷＯに、どの程度の余裕があるかを確認することができる。また、ＯＰＣ記録として階段状の記録パワー設定の前に再生信号振幅が検出できるレベルのデフォルトパワーを設定しており、ＯＰＣ領域の未記録領域のサーチを従来と同様に行うことができる。
【００９１】
《１−４》実施の形態１の変形例
実施の形態１において、予め求めることとしている、記録パワーが不合格判定ＮＧであるかどうかの判定をする基準のＴＥオフセット量については、光ディスクのタイプ（例えば、追記型光ディスク、書き換え型光ディスクなど）毎に求められてもよく、又は、光ディスクの層数（単層、２層、３層、４層など）毎に求められてもよく、又は、記録速度、使用するライトストラテジのタイプ（例えば、図４（ｃ）のマルチパルス型、図４（ｄ）のブロック型など）毎に求められてもよい。
【００９２】
また、予め求めることとしている記録パワーが不合格判定ＮＧであると判定する基準のＴＥオフセット量については、各型式の光記録装置に対して一度測定すればよく、同じ型式の多数の光記録装置に対して同じ関係を用いることができる。すなわち、ある型式の光記録装置に関して、記録パワーが不合格判定ＮＧであると判定する基準のＴＥオフセット量を求めたならば、このＴＥオフセット量を同じ型式の他の光記録装置に適用することができる。
【００９３】
《２》実施の形態２．
《２−１》光記録装置の構成
本発明の実施の形態２に係る光記録装置１０ａの構成は、実施の形態１の説明に用いた図１に示される。実施の形態２に係る光記録装置１０ａは、光記録装置１０ａの動作、特に、中央制御部２０ａによる制御内容（例えば、ＲＯＭ２２ａに格納されているプログラム）の点において、実施の形態１に係る光記録装置１０と相違する。他の点について、実施の形態２に係る光記録装置１０ａは、実施の形態１に係る光記録装置１０と同じである。したがって、以下の説明においては、実施の形態１と異なる点を中心に説明する。
【００９４】
《２−２》光記録装置の動作
図１５は、実施の形態２に係る光記録装置１０ａの動作（すなわち、実施の形態２に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。図１５に示される各ステップにおいて、図１１（実施の形態１）に示されるステップと同じ又は対応するステップには同じ符号を付す。図１５に示される光記録装置１０ａの動作は、記録条件判定（ステップＳ２８）の処理内容の点において、図１１（実施の形態１）に示される光記録装置１０の動作と異なる。他の点について、実施の形態２に係る光記録装置１０ａの動作は、実施の形態１に係る光記録装置１０の動作と同じである。
【００９５】
図１６は、実施の形態２における記録条件判定（ステップＳ２８）の処理の一例を示すフローチャートである。図１６に示される各ステップにおいて、図１２（実施の形態１）に示されるステップと同じ又は対応するステップには同じ符号を付す。ステップＳ１８０、及びステップＳ１８３〜Ｓ１８５の処理は、概ね図１２に示される処理と同様である。実施の形態２においては、ステップＳ２８０〜２８２の処理内容が、実施の形態１における処理と異なる。
【００９６】
記録条件判定に際し、光記録装置１０ａの中央制御部２０ａは、ＯＰＣ記録したトラックの隣の隣接トラックを再生エリアと設定し（ステップＳ１８０）、その後、ＴＥ信号に、予め設定されているＴＥオフセット量を加算（又は、減算）する。ここで、中央制御部２０ａは、隣接トラックの記録状態に応じて、ＴＥ信号に、ＴＥオフセット量が大きくなり、トラッキングサーボが外れ易くなる方向に加算（又は、減算）する。中央制御部２０ａは、例えば、設定した再生エリアが、ＯＰＣ記録したトラックの内周側の場合は、外周側のトラックの記録によりＴＥオフセット量が現れる方向に、ＴＥオフセット量をさらに加えるようにする。また、加算するＴＥオフセット量は、例えば、隣接トラックが両方共未記録、又は、隣接トラックが両方共記録済みで、隣接トラックによるＴＥオフセット量への影響が無い状態の領域を再生し、ＴＥオフセット量を加算（又は、減算）し、トラッキングサーボが外れるＴＥオフセット量の加算（又は、減算）量を予め調べておき、前記トラッキングサーボが外れるＴＥオフセット量の加算（又は、減算）量の約４０〜６０％の設定とすることが望ましい。
また、同一の仕様の光記録装置においては、同一のＴＥオフセット量の加算（又は、減算）量を用いることとしてもよい。ただし、光記録装置の仕様が異なる場合は、ＴＥオフセット量加算（又は、減算）量を別途求める必要がある。
【００９７】
次に、ステップＳ２８０において、中央制御部２０ａは、ＴＥオフセット量の加算量を加えた状態で、再生エリアを再生する。ここで、例えば、再生エリアを再生する際には、ＯＰＣ記録した際の各記録パワーに相当する隣接トラックの領域毎に、ＴＥ信号レベルと、再生信号振幅、又は、その他のパラメータなどを測定する。
【００９８】
次に、ステップＳ２８１において、中央制御部２０ａは、ステップＳ２８０の結果から、トラッキングサーボが外れたか否か、及びトラッキングサーボが外れた場合は、トラッキングサーボが外れたＯＰＣ記録時の記録パワーＰＮＧを求める。ここで、光記録装置１０ａは、トラッキングサーボが外れたか否かを検知できるように、トラッキングサーボ状態を検出する。また、中央制御部２０ａは、トラッキングサーボが外れたことが検知された場合は、ＯＰＣ記録時のパワーと再生信号振幅などの測定結果の関係から、トラッキングサーボが外れる記録パワーＰＮＧを求める。中央制御部２０ａは、例えば、トラッキングサーボが外れた後は、再生信号振幅などの測定を行うことができていないため、測定が可能であったＯＰＣ記録時の記録パワーのうち最大値をトラッキングサーボが外れる記録パワーＰＮＧと判断する。なお、トラッキングサーボが外れる記録パワーＰＮＧとしては、前記測定が可能であった最大の記録パワーではなく、測定が不可能であった最小の記録パワーとしたり、又は、両者の平均値などを用いるようにしたりしてもよい。ただし、トラッキングサーボが外れる記録パワーＰＮＧの導出には、低い記録パワーで記録した領域については無視することが望ましい。
【００９９】
図１７（ａ）〜（ｄ）は、ＢＤ−Ｒの単層光ディスクにおいて、ＯＰＣが実施された領域（ＯＰＣ１とＯＰＣ２）、及びＯＰＣが実施された領域の直前（光ディスクの内周側）の未記録の領域をスチル再生した場合のＴＥ信号及び再生信号の一例を示す図である。ここで、図１７（ａ）は、ＯＰＣ記録したトラックの直前のトラックを再生する場合に、−方向（外周側）にＴＥオフセット量を加えた場合のＴＥ信号、図１７（ｂ）は、最適なＴＥオフセット量の場合のＴＥ信号、図１７（ｃ）は、＋方向（内周側）にＴＥオフセット量を加えた場合のＴＥ信号、図１７（ｄ）は、ＯＰＣ記録した領域の再生信号の一例をそれぞれ示す図である。図中の波線は、トラックの中心レベルを示しており、ＴＥ信号のレベルは、このトラック中心レベル付近となっていることが望ましい。また、ＴＥ信号のレベルが、図中の左側に示されるトラックジャンプ波形のレベル範囲外、又は、ピーク及びボトム付近のレベルになるとトラッキングサーボが掛からなくなる、又は、不安定に（外れ易く）なる。
【０１００】
図１７（ａ）〜（ｄ）に示されるように、外周側の隣接トラックにＯＰＣ記録した領域がある場合は、図１７（ａ）に示されるように、−方向（外周側）へＴＥオフセット量を加えることで、ＴＥ信号レベルが、トラックジャンプ波形のピーク付近に近づくため、トラッキングサーボが外れ易くなることが分かる。実施の形態２においては、例えば、ステップＳ２８０で加えるＴＥオフセット量は、トラックジャンプ波形のピークからトラック中心レベルの略中間のレベルに設定する。なお、ＴＥ信号のオフセットの発生度合い又は方向は、受光素子３７の仕様又はＴＥ信号の演算方法などによって変わるため、必ずしも図１７（ａ）〜（ｄ）のようになるとは限らず、受光素子３７の仕様又はＴＥ信号の演算方法などに応じて、トラッキングサーボが外れ易くなるように、ステップＳ２８０でのＴＥオフセット量加算（方向及び量の設定）を行えばよい。ステップＳ２８２より後の処理（ステップＳ１８３〜Ｓ１８５の処理）は、既に説明した図１２の場合と同様である。
【０１０１】
ステップＳ１９の記録条件変更ステップは、概ね図１４（実施の形態１）における対応するステップの処理と同様であるが、図１４のステップＳ１９１における
記録パワーＰＷＯ２｛＝ＰＷＯ×（基準比率値Ｒ２）｝
におけるＴＥ信号レベルは、実施の形態２においては、トラッキングサーボが外れる設定に相当するため、ステップＳ１９０における記録パワーとＴＥ信号レベルの関係の近似結果から、補外により予測することとなる。
【０１０２】
また、実施の形態２において、トラッキングサーボが外れる記録パワーＰＮＧを求めるために、ステップＳ２８０において、トラッキングサーボが外れ易くなる方向にＴＥオフセット量を加算しているが、他の方法によりトラッキングサーボが外れ易くなるようにしてもよい。例えば、トラッキングサーボのループゲインを下げるなどの方法を採用してもよい。
【０１０３】
《２−３》効果
以上に説明したように、実施の形態２に係る光記録装置１０ａ及び光記録方法によれば、トラッキングサーボを外れ易くした状態で、トラッキングサーボが外れるか否かを、隣接トラックのＯＰＣ記録における記録パワーと関連付けて検出するため、実際にトラッキングサーボが外れる記録パワーを正しく検出することができる。
【０１０４】
《３》実施の形態３．
《３−１》光記録装置の構成
実施の形態３に係る光記録装置１０ｂの構成は、実施の形態１の説明に用いた図１に示される。実施の形態３に係る光記録装置１０ｂは、中央制御部２０ｂによる制御内容（例えば、ＲＯＭ２２ｂに格納されているプログラム）の点において、実施の形態１又は２に係る光記録装置１０又は１０ａと相違する。他の点について、実施の形態３に係る光記録装置１０ｂは、実施の形態１又は２に係る光記録装置１０又は１０ａと同じである。したがって、以下の説明においては、実施の形態１又は２と異なる点を中心に説明する。
【０１０５】
《３−２》光記録装置の動作
図１８は、本発明の実施の形態３に係る光記録装置１０ｂの動作（すなわち、実施の形態３に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。図１８に示される各ステップにおいて、図１１（実施の形態１）に示されるステップと同じ又は対応するステップには同じ符号を付す。図１８に示される光記録装置１０ｂの動作は、ＯＰＣパラメータ設定処理（ステップＳ３６）の処理内容の点において、図１１（実施の形態１）に示される光記録装置１０の動作と異なる。
【０１０６】
図１９は、実施の形態３におけるＯＰＣパラメータ設定（図１８のステップＳ３６）処理の一例を示すフローチャートである。図１９に示されるように、ステップＳ３６０において、光記録装置１０ｂの中央制御部２０ｂは、ＯＰＣ記録に用いる初期の記録パワー（図１０のデフォルトパワー）及び階段状の記録パワーの設定を行う。
【０１０７】
次に、ステップＳ３６１で、中央制御部２０ｂは、光ディスク５０に、既にＯＰＣ記録された領域が有るか否かを判定する。光ディスク５０が記録に使用されておらず、ＯＰＣ記録された領域が無い場合は、以降の処理は行わず、ステップＳ３６の処理を終える。一方、中央制御部２０ｂは、既にＯＰＣ記録された領域が有る場合は、ステップＳ３６２〜Ｓ３６５の処理を行う。ここで、ＯＰＣ記録された領域が有るか否かは、光ディスク５０の記録管理領域に記録されたＯＰＣ記録位置（アドレス）の情報、又は、ＯＰＣ記録を行うテスト記録領域を再生し、記録／未記録を検出することで、判定するようにしてもよい。
【０１０８】
ステップＳ３６１において既にＯＰＣ記録された領域が有ると判定された場合、ステップＳ３６２において、中央制御部２０ｂは、光記録装置１０ｂは、次のＯＰＣ記録位置側の１周分の領域を再生し、位置とＴＥ信号レベルの関係を測定する。ここで、トラックパス方向が光ディスク５０の内周側から外周側に向かっている場合で、テスト記録領域がトラックパスの方向と逆の方向から使用される場合、トラック１周分の領域は、前のＯＰＣ記録で使用された領域のすぐ内周側からの１周分である。
また、トラックパス方向が光ディスク５０の外周側から内周側に向かっている場合は、トラック１周分の領域は、前のＯＰＣ記録で使用された領域のすぐ外周側からの１周分となる。なお、１周分の設定は、前のＯＰＣ記録で使用された領域に接する領域である必要はない。また、ＴＥ信号レベルを測定する位置は、少なくともＯＰＣ記録で同一の記録パワーで記録される最小単位に分割して測定する必要がある。また、再生条件として、記録時と同じ設定（受光素子３７の出力ゲインなど）とすることが望ましい。
【０１０９】
次に、ステップＳ３６３において、中央制御部２０ｂは、ステップＳ３６２で測定した位置とＴＥ信号レベルの関係から、次のＯＰＣ記録位置の設定を行う。ＯＰＣ記録位置の設定においては、中央制御部２０ｂは、ステップＳ３６２で測定したＴＥ信号レベルのうち、予め定められたＴＥ信号レベル所定範囲ＴＲ内となる位置とサイズを求め、１回のＯＰＣで使用されるサイズ以上となる領域のうち、前のＯＰＣ記録で使用された領域に最も近い領域を、次のＯＰＣ記録位置として設定する。なお、ステップＳ３６２で測定した一周分において、次のＯＰＣ記録位置として使用できる条件の領域が存在しない場合は、中央制御部２０ｂは、ステップＳ３６２で測定した一周分よりもさらに内周側（トラックパス方向が内周側から外側に向かっている場合で、トラックパス方向が逆の場合は、外周側となる）に次のＯＰＣ記録位置を設定する。この場合、一周分の未記録領域が発生するため、次のＯＰＣ記録位置は、隣接トラックが未記録となり、中央制御部２０ｂは、次のステップＳ３６４の処理を、スキップすることができる。
【０１１０】
次に、ステップＳ３６４において、中央制御部２０ｂは、ステップＳ３６３で設定した次のＯＰＣ記録位置に対応したＴＥ信号レベルを、ステップＳ３６２で測定した結果から求め、前記ＯＰＣ記録位置に対応したＴＥ信号レベルをキャンセルする方向の、ＴＥオフセット量を、ＯＰＣ記録時のＴＥオフセット量として設定する。
【０１１１】
図１８のステップＳ１７において、ステップＳ３６１において、既にＯＰＣ記録された領域が有ると判定された場合は、中央制御部２０ｂは、ステップＳ３６４において設定するＯＰＣ記録時のＴＥオフセット量を使用して、光ヘッド３０にＯＰＣ記録を実行させる。
【０１１２】
《３−３》効果
以上に説明したように、実施の形態３に係る光記録装置１０ｂ及び光記録方法によれば、ＯＰＣ記録を行う予定の領域において、ＴＥ信号レベルを測定することで、隣接トラックによるＴＥ信号への影響が小さい領域を調べ、次のＯＰＣ記録領域として設定するので、ＯＰＣ記録時に、前にＯＰＣ記録した時の記録状態により発生するＴＥ信号レベル変動の影響のうち、影響が小さい領域で次のＯＰＣ記録を実行でき、ＯＰＣ記録時の動作が不安定になるのを防ぐことができる。
【０１１３】
《３−４》実施の形態３の変形例
実施の形態３において、次ＯＰＣ位置のＴＥオフセット量を、ステップＳ３６２で測定したＴＥ信号レベルをキャンセルするようにＴＥオフセット量を設定しているが、この限りではない。例えば、次ＯＰＣ位置として設定された間のＴＥ信号レベルの最大値又は、中間値、平均値などの固定レベルを設定するようにしてもよい。
【０１１４】
また、ステップＳ３６３における次ＯＰＣ位置の設定においては、予め定められたＴＥ信号レベル所定範囲ＴＲ内となる領域のみを次ＯＰＣ位置に設定するようにしているが、この限りではない。例えば、ＴＥ信号レベル所定範囲ＴＲ外となる領域においては、次ＯＰＣの記録パワーが低い設定となるように、次ＯＰＣ位置を設定するようにしてもよい。記録パワーが低い場合は、トラッキングサーボへの影響も小さくなるため、記録パワーが高い場合よりも記録再生動作が不安定になりにくく、ＴＥ信号レベル所定範囲ＴＲ外となる領域もＯＰＣ記録に使用することができるため、テスト記録領域を有効に使用することができる。
【０１１５】
《４》実施の形態４．
《４−１》光記録装置の構成
本発明の実施の形態４に係る光記録装置１０ｃの構成は、実施の形態１の説明に用いた図１に示される。実施の形態４に係る光記録装置１０ｃは、光記録装置１０ｃの動作、特に、中央制御部２０ｃによる制御内容（例えば、ＲＯＭ２２ｃに格納されているプログラム）の点において、実施の形態１に係る光記録装置１０と相違する。他の点について、実施の形態４に係る光記録装置１０ｃは、実施の形態１に係る光記録装置１０と同じである。したがって、以下の説明においては、実施の形態１と異なる点を中心に説明する。
【０１１６】
《２−２》光記録装置の動作
図２０は、実施の形態４に係る光記録装置１０ｃの動作（すなわち、実施の形態４に係る光記録方法のプロセス）の一例を示すフローチャートである。図２０に示される各ステップにおいて、図１１（実施の形態１）に示されるステップと同じ又は対応するステップには同じ符号を付す。図２０に示される光記録装置１０ｃの動作は、ステップＳ４９の処理内容（記録条件判定及び記録条件変更）及びステップＳ４９の後に処理がステップＳ１７（記録パワーの調整）に戻る点において、図１１（実施の形態１）に示される光記録装置１０の動作と異なる。これは、実施の形態４においては、ステップＳ４９における記録条件変更が、ライトストラテジの変更又はＯＰＣパラメータの変更を含むので、記録条件変更の処理（ステップＳ４９）の後に、記録パワーを再度調整する必要があるからである。
【０１１７】
実施の形態４においては、光記録装置１０ｃの中央制御部２０ｃは、ステップＳ４９において、記録条件（ライトストラテジ又はＯＰＣパラメータ）を変更する。実施の形態４においては、中央制御部２０ｃは、例えば、
ＴＥ信号のオフセット量（ＴＥオフセット量）が、予め定められた基準ＴＥオフセット量Ｒ１以上となるときの記録パワーＰＮＧ（第１の記録パワー）（図１２のステップＳ１８２で求めた）と、最適記録パワーＰＷＯ（ステップＳ１７で求めた）と、予め定められた基準比率値Ｒ２（図１２のステップＳ１８３で使用される）とから、次式（３）を用いて、必要な低パワー化率Ｒ３を算出する。
低パワー化率Ｒ３＝（ＰＮＧ／基準比率値Ｒ２）／ＰＷＯ      （３）
なお、低パワー化率は、上記式で得られたＲ３以下の他の値であってもよい。
【０１１８】
次に、中央制御部２０ｃは、算出した低パワー化率Ｒ３を元にライトストラテジの設定を変更する。中央制御部２０ｃは、ライトストラテジの設定変更においては、主にパルス幅を変更する。ライトストラテジは、最適記録パワーＰＷＯにおいて記録品質が良好となるように、パルス幅が設定されている。そのため、記録パワーを低くする場合は、それに応じてライトストラテジのパルス幅を広げ、実質の熱量を変更前とほぼ等価にしなければ、記録品質を維持することができない。
【０１１９】
次に、中央制御部２０ｃは、ライトストラテジが図４（ｃ）に示されるようなマルチパルス型のライトストラテジの場合は、各々のパルス幅に、低パワー化率の逆数を乗じてパルス幅を広く設定する。また、中央制御部２０ｃは、ライトストラテジが図４（ｄ）に示されるようなブロック型のライトストラテジの場合は、全体のパルス幅が、低パワー化率の逆数を乗じた幅になるように設定する。なお、光ヘッド３０の光学系の仕様などによっては、低パワー化率の逆数を乗じる処理に加えて、先頭パルス又は、中間パルス、最終パルス別に、追加の補正係数を加算又は乗じるようにすればよく、補正係数は、例えば、予め異なる２つ以上の記録パワーにおいて、それぞれライトストラテジを最適化し、低パワー化率との関係を調査することにより決定すればよい。
【０１２０】
次に、中央制御部２０ｃは、ＯＰＣパラメータの変更を行う。中央制御部２０ｃは、ライトストラテジの設定を変更し、低パワー化を行うことによりＯＰＣ記録で必要となる記録パワーの範囲も、低パワー化率に従って低くなるため、ＯＰＣ記録で使用する記録パワーの範囲、及び記録パワーの変更幅を、元の設定値に低パワー化率を乗じることで算出する。なお、記録パワーの範囲のうち最大の記録パワーがステップＳ１８２で求めたＰＮＧよりも高くなる場合は、ＰＮＧが最大となるように記録パワーの範囲をシフトするなど、記録パワーの範囲がＰＮＧを超えないようにすることが望ましい。
【０１２１】
ステップＳ４９において、光記録装置１０ｃは、低パワー化したライトストラテジ及びＯＰＣパラメータの設定を変更した後、ステップＳ１７に戻り、変更された記録条件を用いて記録パワー調整を行う。以降は、ステップＳ４８の記録条件判定で合格判定ＯＫ（問題無し判定）となるまで同様の処理を繰り返す。
【０１２２】
《４−３》効果
以上に説明したように、実施の形態４に係る光記録装置１０ｃ及び光記録方法によれば、テスト記録領域で実施する記録パワー調整（ＯＰＣ）の記録状態に基づいて記録パワーに問題が無いか否かを判定でき、問題が有る（不合格判定ＮＧ）場合には、問題が発生しない記録パワーで記録を行うことができるような記録条件（ライトストラテジ及びＯＰＣパラメータ）に変えるようにしているので、本書き込みに際して、安定した記録動作を行うことができる。
【０１２３】
《４−４》実施の形態４の変形例
実施の形態４に係る光記録装置１０ｃにおいては、低パワー化用のライトストラテジ及びＯＰＣパラメータを、低パワー化率を用いて算出するようにしているが、例えば、複数の低パワー化用の設定値（差分値又は変更率）を低パワー化率に応じて予め調べて光記録装置１０ｃに保持しておき、必要な低パワー化率に近い設定を呼び出して使用するように構成してもよい。
【０１２４】
また、実施の形態４に係る光記録装置１０ｃにおいては、低パワー化用のライトストラテジを求める場合に、記録後の変調度α（又は、再生信号振幅）が、低パワー化前よりも小さくなるように変更することが望ましい。これは、変調度α（又は、再生信号振幅）を低く抑えることで、隣接トラックに対する影響度が低くなるためである。変調度αを低く抑える制御は、例えば、変調度αの変更率を、パルス幅に乗じることで実現可能である。また、図４（ｄ）に示されるようなブロック型のライトストラテジの場合は、中間パワーＰＭを低くすることによって変調度αを低くすることも可能である。
【０１２５】
また、実施の形態４に係る光記録装置１０ｃにおいては、必要な低パワー化率が小さい場合は、ライトストラテジを変更せずに、ＯＰＣで用いられる調整目標値（アシンメトリ値βなど）を小さい値に設定してもよい。
【０１２６】
《５》実施の形態１〜４の変形例
上記実施の形態１〜４においては、ＯＰＣ記録を行った領域の隣接トラックにおけるＴＥ信号レベルを測定する場合と、トラッキングサーボが外れるか否かの境界の記録パワーを、記録条件判定を行う記録パワーＰＮＧとする場合とを説明した。しかし、実施の形態１〜４に係る光記録装置１０，１０ａ，１０ｂ，１０ｃは、例えば、図１１、図１５、図１８、図２０におけるステップＳ２０のデータの記録工程の後において、記録条件判定工程及び記録条件変更工程を実施してもよい。
【０１２７】
また、上記実施の形態１〜４においては、ＯＰＣ記録における記録パワーを低パワーから高パワーの階段状に変化させた場合を説明したが、記録パワーを高パワーから低パワーの階段状に変化させてもよい。ただし、この場合には、ＯＰＣ記録時に記録エラーが発生する場合は、高パワー側で記録エラーが発生し易いため、記録条件を変更するなどして、再度ＯＰＣ記録を行う必要がある。
【産業上の利用可能性】
【０１２８】
本発明に係る光記録装置、光記録方法、及びプログラムは、例えば、光ディスクレコーダ（ＢＤレコーダ、ＤＶＤレコーダ、ＣＤレコーダなど）、光ディスク記録機能付きのテレビ受像器、光ディスク記録機能付きのパーソナルコンピュータ、光ディスク記録機能付きのカーナビゲーション装置、光ディスクに映像を記録するビデオカメラなどのような光ディスク記録機能を持つ各種の機器に適用可能である。
【符号の説明】
【０１２９】
１０，１０ａ，１０ｂ，１０ｃ  光記録装置、  ５０  光ディスク、  １１０  プリアンプ、  １２０  再生信号処理部、  １３０  記録品質測定部、  １４０  データデコーダ、  １５０  再生信号特性測定部、  １５１  サーボ信号測定部、  １６０  データエンコーダ、  １７０  ライトストラテジ制御部、  １８０  サーボ制御部、  １８１  スピンドルモータ、  １８２  スレッドモータ、  １９０  バッファメモリ、  ２０，２０ａ，２０ｂ，２０ｃ  中央制御部、  ２１  ＣＰＵ、  ２２，２２ａ，２２ｂ，２２ｃ  ＲＯＭ、  ２３  ＲＡＭ、  ２５１  ＯＰＣ部（最適パワー制御部）、  ２５２  記録制御部、  ２５３  再生信号特性取得部、  ２５４  レーザー光パワー補正部、  ２５５  記録条件判定部、  ２５６  記録条件変更部、  ３０  光ヘッド、  ３１  半導体レーザー、  ３２  レーザー駆動部、  ３３  コリメートレンズ、  ３４  ビームスプリッタ、  ３５  対物レンズ、  ３６  検出レンズ、  ３７  受光素子、  ４０  上位コントローラ。
【図１】
2014203496.tif 000003
【図２】
2014203496.tif 000004
【図３】
2014203496.tif 000005
【図４】
2014203496.tif 000006
【図５】
2014203496.tif 000007
【図６】
2014203496.tif 000008
【図７】
2014203496.tif 000009
【図８】
2014203496.tif 000010
【図９】
2014203496.tif 000011
【図１０】
2014203496.tif 000012
【図１１】
2014203496.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2014203496.tif 000015
【図１４】
2014203496.tif 000016
【図１５】
2014203496.tif 000017
【図１６】
2014203496.tif 000018
【図１７】
2014203496.tif 000019
【図１８】
2014203496.tif 000020
【図１９】
2014203496.tif 000021
【図２０】
2014203496.tif 000022