(57)【要約】【課題】  集積回路において、通常時には、適切ではないパラメーター値が内部回路に設定されないようにしつつ、不具合解析時には、パラメーター値を内部回路に設定可能とする。【解決手段】  集積回路１は、ＳＳＣＧ１２と、ＳＳＣＧ１２にセットされる固定のパラメーター値をそれぞれ出力する１または複数の内部設定回路１５と、外部から供給されるパラメーター値を保持し出力する外部設定回路１６と、複数のピン２１と、複数のピン２１の電位に応じた制御信号に従って内部設定回路１５および外部設定回路１６の出力のいずれかを選択し、選択したパラメーター値をＳＳＣＧ１２にセットするセレクター１７とを備える。【選択図】  図１
2014155125.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部回路と、
前記内部回路にセットされる固定のパラメーター値をそれぞれ出力する１または複数の内部設定回路と、
外部から供給されるパラメーター値を保持し出力する外部設定回路と、
複数のピンと、
前記複数のピンの電位に応じた制御信号に従って前記内部設定回路および前記外部設定回路の出力のいずれかを選択し、選択したパラメーター値を前記内部回路にセットするセレクターと、
を備えることを特徴とする集積回路。
【請求項２】
前記複数のピンの電位を、前記内部設定回路または前記外部設定回路の識別値にデコードし、その識別値を前記制御信号として前記セレクターに供給するデコーダーをさらに備え、
前記セレクターは、その識別値により指定された前記内部設定回路または前記外部設定回路の出力を選択すること、
を特徴とする請求項１記載の集積回路。
【請求項３】
前記ピンは、入出力ピンであって、
前記デコーダーは、前記ピンが出力に使用されていないときの電位を取得し、その電位に応じた前記制御信号を生成すること、
を特徴とする請求項１または請求項２記載の集積回路。
【請求項４】
前記セレクターから前記内部回路へセットされる前記パラメーター値を出力する出力ピンをさらに備えることを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項記載の集積回路。
【請求項５】
前記複数のピンは、回路基板に接続され、
前記複数のピンの電位は、前記回路基板に設けられたプルアップ抵抗またはプルダウン抵抗で設定されること、
を特徴とする請求項１から請求項４のうちのいずれか１項記載の集積回路。
【請求項６】
前記内部回路は、スペクトル拡散クロックジェネレーターであることを特徴とする請求項１から請求項５のうちのいずれか１項記載の集積回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、集積回路に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子機器から放出される不要輻射を規制する規格がいくつか存在する。これらの規格を満たさない場合、人体にやさしくない製品として販売しにくくなる可能性がある。
【０００３】
シールドのような方法で単純に外部への輻射エネルギーを抑制する方法は、外部への輻射の総エネルギーを抑制することができるので適切な対応と言える。しかしながら、コスト面から、スペクトラム拡散方式（Ｓｐｒｅａｄ  Ｓｐｅｃｔｒｕｍ）の発振回路を使用したほうがよい場合がある。スペクトラム拡散方式の発振回路を使用した場合、総エネルギーに大差はないが、特定の周波数に電力が集中しないことで規制に対して大きな余裕を持つことができる。
【０００４】
このスペクトラム拡散技術が製品機能に与える影響を抑制するための多くの取り組みがされている（例えば特許文献１〜４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００９−０８１８４０号公報
【特許文献２】特開２００２−１２４８６７号公報
【特許文献３】特開２００１−２６８３２５号公報
【特許文献４】特開２００１−０９４７３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の技術では、製品機能に影響を与える問題の解決に取り組んでいる。しかしながら、それ以外にも、製品機能に影響しないがコンプライアンス上問題のある故障や不具合を見逃さないようにすることも重要である。
【０００７】
例えば、不要輻射のスペクトルによっては、製品の機能は正常であるが、上述の規格による規制値を超えてしまうことがある。
【０００８】
そのような故障や不具合を軽減するために、電子機器の機構を単純にすれば、人為的な問題は解消されやすいが、ばらつきや製造不良の原因が掴みにくくなるという問題がある。
【０００９】
図２は、外部のＣＰＵ（Central Processing Unit）などにより、内部回路のパラメーター値を設定可能とした集積回路の構成例を示す回路図である。
【００１０】
図３は、外部設定部で、内部回路のパラメーター値を選択可能とした集積回路の構成例を示す回路図である。
【００１１】
集積回路１０１，２０１は、所定の機能を有する機能回路１１１，２１１を内蔵しており、さらに、機能回路１１１，２１１にクロックを供給するスペクトラム拡散クロックジェネレーター（ＳＳＣＧ）１１２，２１２を内蔵している。スペクトラム拡散クロックジェネレーター１１２，２１２は、外部から、単一周波数のクロックを供給され、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路を有し、このＰＬＬ回路にセットされるパラメーター値に応じた特性のクロックを生成する。
【００１２】
図２に示す集積回路１０１では、外部設定回路１１３が、外部のＣＰＵなどから外部設定信号で供給されるパラメーター値を内蔵レジスターに保存し、そのパラメーター値をＳＳＣＧ１１２にセットする。
【００１３】
また、図３に示す集積回路２０１では、複数の内部設定回路２１４が、互いに異なる固定のパラメーター値を出力し、複数の内部設定回路２１４から出力されるパラメーター値のうち、セレクター２１５で選択されたものが、ＳＳＣＧ２１２にセットされる。外部設定部２０２によって、セレクター２１５に選択させたい内部設定回路２１４に応じて、各ピン２１６をプルダウンまたはプルアップするかが決定される。デコーダー２１７は、ピン２１６の電位をデコードし、セレクター２１５の制御信号を生成し、セレクター２１５に供給する。このように、図３に示す集積回路２０１では、予め決定されている複数のパラメーター値のうち、外部設定部２０２によって選択されたものがＳＳＣＧ２１２にセットされる。
【００１４】
図２に示す集積回路２０１では、ＳＳＣＧ１１２のパラメーター値を任意に設定できるので、ＣＰＵにおけるソフトウェアの実装不具合などで、適切ではないパラメーター値がセットされた場合、それを発見することが難しく、そのような事態が稀に起きる場合には、さらに発見が難しくなる。
【００１５】
図３に示す集積回路１０１では、予めパラメーター値が決定されているため、適切ではないパラメーター値がセットされにくいが、例えば不良品においてＳＳＣＧの不具合が疑われる場合に、原因分析を行なうためにＳＳＣＧのパラメーター値を変えて、不具合部分を特定することができない。
【００１６】
このように、集積回路内の回路のパラメーター値（上述の例では、スペクトラム拡散クロックジェネレーターのパラメーター値）を図２に示すように外部から設定可能とした場合でも、図３に示すように複数の固定値から選択するようにした場合でも、上述のような問題が生じる。
【００１７】
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、通常時には、適切ではないパラメーター値が内部回路に設定されないようにしつつ、不具合解析時には、外部からパラメーター値を内部回路に設定可能とした集積回路を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明に係る集積回路は、内部回路と、前記内部回路にセットされる固定のパラメーター値をそれぞれ出力する１または複数の内部設定回路と、外部から供給されるパラメーター値を保持し出力する外部設定回路と、複数のピンと、前記複数のピンの電位に応じた制御信号に従って前記内部設定回路および前記外部設定回路の出力のいずれかを選択し、選択したパラメーター値を前記内部回路にセットするセレクターとを備える。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、通常時には、適切ではないパラメーター値が内部回路に設定されないようにしつつ、不具合解析時には、外部からパラメーター値を内部回路に設定可能とした集積回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係る集積回路の構成を示す回路図である。
【図２】図２は、外部のＣＰＵなどにより、内部回路のパラメーター値を設定可能とした集積回路の構成例を示す回路図である。
【図３】図３は、外部設定部で、内部回路のパラメーター値を選択可能とした集積回路の構成例を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
【００２２】
図１は、本発明の実施の形態に係る集積回路の構成を示す回路図である。
【００２３】
図１に示す集積回路１は、所定の機能を有する機能回路１１と、機能回路１にクロックを供給するスペクトル拡散クロックジェネレーター（ＳＳＣＧ）１２と、外部から入力ピン１３に供給されるクロック（単一周波数のクロック）をＳＳＣＧ１２に供給する入力バッファー１４とを有する。ＳＳＣＧ１２は、ＰＬＬ回路を内蔵しており、セットされたパラメーター値に応じた特性でスペクトル拡散されたクロック信号を生成する。
【００２４】
また、集積回路１は、１または複数の内部設定回路１５と、外部設定回路１６と、セレクター１７とを有する。
【００２５】
１または複数の内部設定回路１５は、ＳＳＣＧ１２にセットされる固定のパラメーター値(拡散幅、拡散周波数など）をそれぞれ出力する。各内部設定回路１５は、１または複数のパラメーター値のセットを出力する。
【００２６】
外部設定回路１７は、外部（ＣＰＵなど）から入力ピン１８に供給されるパラメーター値を保持し出力する。
【００２７】
セレクター１８は、１または複数の内部設定回路１５および外部設定回路１６の出力のいずれかを選択し、選択したパラメーター値をＳＳＣＧ１２にセットする。
【００２８】
さらに、集積回路１では、出力バッファー１９および入力バッファー２０が、複数の入出力ピン２１のそれぞれに接続されている。
【００２９】
外部から入力ピン２２に供給されるＲＥＳＥＴＮ信号が入力バッファー２３を介して出力バッファー１９の出力イネーブルおよびラッチ回路２４のゲートに供給される。
【００３０】
ＲＥＳＥＴＮ信号が所定のレベルであるとき、出力バッファー１９は、機能回路１１の出力を入出力ピン２１に印加する。つまり、このとき、入出力ピン２１は、出力ピンとして機能する。
【００３１】
ＲＥＳＥＴＮ信号が別の所定のレベルであるとき、出力バッファー１９は、機能回路１１の出力を入出力ピン２１に印加せず、入力バッファー２０が、入出力ピン２１の電位をラッチ回路２４に出力する。つまり、このとき、入出力ピン２１は、入力ピンとして機能する。
【００３２】
ラッチ回路２４は、ＲＥＳＥＴＮ信号のレベル変化に基づいて、出力バッファー１９が機能回路１１の出力を入出力ピン２１に印加する直前の、入力バッファー２０の出力（つまり、入出力ピン２１の電位）をラッチし、デコーダー２５に出力する。
【００３３】
デコーダー２５は、複数の入出力ピン２１の電位を、内部設定回路１５または外部設定回路１６の識別値にデコードし、その識別値を制御信号としてセレクター１７に供給する。セレクター１７は、その識別値により指定された内部設定回路１５または外部設定回路１６の出力を選択する。
【００３４】
この実施の形態では、デコーダー２５は、入出力ピン２１が出力に使用されていないときの電位をラッチ回路２４から取得し、その電位に応じた制御信号を生成する。
【００３５】
また、セレクター１７の出力側が出力バッファー２６を介して出力ピン２７に接続されており、セレクター１７からＳＳＣＧ１２へセットされるパラメーター値が、出力ピンから設定モニター信号として出力される。したがって、図示せぬＣＰＵなどでこの設定モニター信号を読み取ることで、実際にＳＳＣＧ１２に設定されたパラメーター値を特定することができ、不具合の特定などに役立つ。
【００３６】
次に、上記集積回路１の動作について説明する。
【００３７】
この集積回路１は、ＩＣチップとなっており、上述のピン１３，１８，２１，２３，２７が回路基板に接続されている。そして、通常時では、その回路基板上において、外部設定部２としてプルダウン抵抗またはプルアップ抵抗を入出力ピン２１に接続することで、内部設定回路１５を選択可能となっている。
【００３８】
この状態で、ＲＥＳＥＴＮ信号によって、機能回路１１から入出力ピン２１への出力を遮断し、外部設定部２により設定された入出力ピン２１の電位をラッチ回路２４にラッチさせ、デコーダー２５に出力させる。これにより、所望の内部設定回路１５が選択され、その出力がＳＳＣＧ１２にセットされる。その後、ＲＥＳＥＴＮ信号のレベルを変更することで、入出力ピン２１は、出力ピンとして機能する。
【００３９】
したがって、この状態では、外部設定信号によって外部設定回路１６にパラメーター値を供給しても、そのパラメーター値がセレクター１７によってＳＳＣＧ１２にセットされることはない。
【００４０】
他方、不具合解析時には、回路基板上の外部設定部２におけるプルダウン抵抗またはプルアップ抵抗の構成を変更して、セレクター１７で外部設定回路１６の出力が選択されるようにし、ＲＥＳＥＴＮ信号によって、機能回路１１から入出力ピン２１への出力を遮断し、外部設定部２により設定された入出力ピン２１の電位をラッチ回路２４にラッチさせ、デコーダー２５に出力させる。
【００４１】
このように、回路基板上のプルダウン抵抗またはプルアップ抵抗の構成を物理的に変更した上で所定レベルのＲＥＳＥＴＮ信号を供給することで、外部から外部設定回路１６に供給したパラメーター値が、セレクター１７によってＳＳＣＧ１２にセットされる。
【００４２】
また、セレクター１７によってＳＳＣＧ１２にセットされたパラメーター値を、設定モニター信号によって外部のＣＰＵなどで監視することで、何らかの不具合で、意図したパラメーター値がＳＳＣＧ１２へセットされていないことを発見することが可能となる。
【００４３】
したがって、通常時には、外部設定信号によるパラメーター値をＳＳＣＧ１２にセットすることは不可能であり、一方、不具合解析時には、ＳＳＣＧ１２のパラメーター値を任意にセットできるため、集積回路１の動作を検証しやすくなり、不具合の解消をしやすくなる。
【００４４】
以上のように、上記実施の形態によれば、集積回路１において、通常時には、外部からの適切ではないパラメーター値がＳＳＣＧ１２に設定されないようにしつつ、不具合解析時には、外部からパラメーター値をＳＳＣＧ１２に設定可能である。
【００４５】
なお、上述の実施の形態は、本発明の好適な例であるが、本発明は、これらに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々の変形、変更が可能である。
【００４６】
例えば、上記実施の形態では、集積回路１のＳＳＣＧ１２にパラメーター値をセットしているが、ＳＳＣＧ１２とは異なる種類の内部回路にパラメーター値をセットする場合にも、上述の構成を適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明は、例えば、ＳＳＣＧを内蔵する集積回路に適用可能である。
【符号の説明】
【００４８】
１  集積回路
１２  ＳＳＣＧ（内部回路の一例）
１５  内部設定回路
１６  外部設定回路
１７  セレクター
２１  入出力ピン（複数のピンの一例）
２５  デコーダー
２７  出力ピン
【図１】
2014155125.tif 000003
【図２】
2014155125.tif 000004
【図３】
2014155125.tif 000005