(57)【要約】【課題】電子機器の構成を変更することなく、内蔵電源の劣化度合いを的確に判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供する。【解決手段】充電システム１００は、充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器１と、内蔵電源への充電を制御する充電制御部８１と、内蔵電源２４の電圧を検出する電圧検出部８２と、充電制御部８１を介して内蔵電源２４に電力を供給する充電装置６０と、定電流充電時に検出された内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて取得した内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶと、過去に取得した電圧上昇率ΔＶinとの比ΔＶin／ΔＶに基づいて内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出して判定する判定部２２ａとを備え、判定部２２ａは、前記電圧検出部８２が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖが電圧上昇率取得領域Ｒ０内にある場合に、内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶを取得する。【選択図】図９
2014007919.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電システム。
【請求項２】
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧を複数の電圧領域に区分し、区分した前記電圧領域ごとに前記比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出することを特徴とする請求項１に記載の充電システム。
【請求項３】
前記内蔵電源の劣化度合いを通知する劣化度合い通知部を備え、
前記判定部は、判定した前記内蔵電源の劣化度合いを、前記劣化度合い通知部に通知させることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の充電システム。
【請求項４】
前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記判定部は、算出した前記内蔵電源の劣化度合いが予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、前記交換時期通知部に、前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知させることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項５】
前記判定部は、前記内蔵電源の劣化度合いを算出するごとに、算出した前記内蔵電源の劣化度合いの履歴を保存するように構成されており、前記履歴に基づいて前記内蔵電源の交換時期を推定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項６】
前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記判定部は、推定した前記内蔵電源の交換時期を、前記交換時期通知部に通知させることを特徴とする請求項５に記載の充電システム。
【請求項７】
前記判定部は、前記内蔵電源の劣化度合いを算出するごとに、算出した前記内蔵電源の劣化度合いの履歴を保存するように構成されており、今回算出した前記内蔵電源の劣化度合いと、その直前の前期内蔵電源の充電時に算出した前記内蔵電源の劣化度合いとの差分が、前記履歴から推定される正常な範囲を越えている場合には、前記内蔵電源が異常である判定することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項８】
前記内蔵電源が異常であることを通知する異常通知部を備え、
前記判定部は、前記内蔵電源が異常であると判定すると、その旨を前記異常通知部に通知させることを特徴とする請求項７に記載の充電システム。
【請求項９】
前記充電制御部は、前記電子機器に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１０】
前記充電制御部は、前記充電装置に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１１】
前記内蔵電源は、リチウムイオンキャパシターであることを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１２】
前記電子機器は放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項１から請求項１１のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１３】
前記充電装置はクレードルであることを特徴とする請求項１から請求項１２のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１４】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする電子機器。
【請求項１５】
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充電システム、電子機器および充電装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源（キャパシターやバッテリー、二次電池、蓄電デバイス等ともいう。）を充電するための充電装置や充電制御装置等が種々開発されている（例えば特許文献１〜４等参照）。
【０００３】
このような充電装置等は、例えば図１４（Ａ）、（Ｂ）に示すように、内蔵電源の電圧Ｖ［Ｖ］が目標電圧Ｖ１（以下、上限電圧Ｖ１という場合がある。）に達するまで、充電電流Ｉが一定になるように充電を行う定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧Ｖが目標電圧Ｖ１に達した場合に当該内蔵電源の電圧Ｖが一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えて、内部電源への充電を制御する充電制御部を備えるように構成されている場合がある。また、電子機器側に、このような充電制御部が設けられている場合もある。
【０００４】
ところで、内蔵電源が劣化すると、内部抵抗が増加したり、満充電容量が減少したりする。そのため、内蔵電源は、その使用温度環境と使用する電圧と使用頻度から予め交換周期を予測し当該交換周期に応じて交換されたり、或いは、内蔵電源の劣化をリアルタイムで判定し当該判定結果に基づいて交換されたりしている（例えば特許文献５参照）。
【０００５】
特許文献５には、内蔵電源（キャパシター）の劣化をリアルタイムで判定する手法として、内蔵電源の電圧Ｖ（内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター電圧Ｖ）の上昇の傾きから内蔵電源の劣化を判定するとともに、内蔵電源の電圧Ｖの電圧上昇の傾きと所定の閾値とを比較して内蔵電源が劣化していると判定する手法等が提案されている。
【０００６】
劣化により満充電容量（内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター容量）が低下すると、充電できる電荷量が少なくなるため、充電電流Ｉを同じとした場合には、例えば図１４（Ａ）に破線で示すように、内蔵電源の電圧Ｖの上昇が早くなる。そのため、内蔵電源の電圧Ｖの電圧上昇の傾きが所定の閾値よりも大きいときは、内蔵電源が劣化していると判定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−７７５０１号公報
【特許文献２】特開２００８−１０４２７０号公報
【特許文献３】特開２００７−３０６６５４号公報
【特許文献４】特開２００６−３３９１７号公報
【特許文献５】特開２００８−４３１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、内蔵電源が、例えばリチウムイオンキャパシターである場合、図１５に示すように、内蔵電源の電圧Ｖが高くなるほど（すなわち図１５のグラフで右側に行くほど）、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧Ｖの上昇の傾きすなわち電圧上昇率ΔＶ［Ｖ／ｍｉｎ］と、正常品における電圧上昇率ΔＶとの違いが小さくなる傾向がある。逆の言い方をすれば、内蔵電圧Ｖの電圧Ｖが低くなるほど（すなわち図１５のグラフで左側に行くほど）、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧上昇率ΔＶと、正常品における電圧上昇率ΔＶとの違いが大きくなる傾向がある。
【０００９】
そして、内蔵電源であるキャパシターの下限電圧Ｖ０に近い電圧領域まで使い切った後で充電するような使い方をする場合には、内蔵電源の充電の際に、劣化度合いの違いによる傾きの違いが顕著に現れる低い電圧領域での定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得することが可能となり、内蔵電源の劣化度合いを精度良く判定することが可能となる。
【００１０】
しかし、実際の電子機器の使用状況では、低い電圧領域まで使い切ることは稀で、寧ろ高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされることの方が多い。
【００１１】
そこで、例えば内蔵電源の劣化度合いを判定するために、内蔵電源の充電の前に、意図的に内蔵電源から放電させて内蔵電源の電圧Ｖを下げてから充電を行って、上記のように制度良く内蔵電源の劣化度合いを判定するように構成することも考えられなくはない。
【００１２】
しかし、このように構成する場合、内蔵電源に蓄えられた電力が無駄に放電されてしまうほか、電子機器を、内蔵電源を意図的に放電させて内蔵電源の電圧Ｖを一旦大きく下げるような動作モードを設定することができるように構成しなければならなくなる。また、内蔵電源の電圧Ｖを一旦大きく下げてから充電するため、充電時間が非常に長くなり、長い充電時間中、ユーザーが電子機器を使えなくなる等の種々の不自由な制約が生じてしまう。
【００１３】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、電子機器の構成を変更することなく、内蔵電源の劣化度合いを的確に判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
前記の問題を解決するために、本発明の充電システム、電子機器および充電装置は、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、判定部は、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源の劣化度合いの算出、判定処理を、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。
【００１６】
このように、本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源の劣化度合いを数値化して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。そして、電子機器において、内蔵電源を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】図１の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。
【図４】充電装置の例としてのクレードルの外観を示す斜視図である。
【図５】図４に示すクレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示した斜視図である。
【図６】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置を挿入しようとする状態を示している。
【図７】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示している。
【図８】充電システムの構成を概略的に表すブロック図である。
【図９】電圧上昇率取得領域Ｒ０を説明するグラフである。
【図１０】図９に示した電圧上昇率取得領域Ｒ０を複数の電圧領域Ｒ１〜Ｒ３に区分した場合の複数の電圧領域の例を示すグラフである。
【図１１】算出した内蔵電源の劣化度合いを充電のサイクルタイムごとプロットした場合のプロファイルをイメージ的に表すグラフである。
【図１２】内蔵電源の劣化度合いの低下の程度が急に大きくなった時点で内蔵電源の交換時期を推定することを説明する図１１のグラフの拡大図である。
【図１３】充電システムの構成の変形例を概略的に表すブロック図であり、充電制御回路等を充電装置であるクレードルに設けた場合を示す図である。
【図１４】定電流充電および定電圧充電における内蔵電源の（Ａ）電圧および（Ｂ）電流の時間的推移を表すグラフである。
【図１５】内蔵電源の電圧と電圧上昇率との関係を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。ただし、本発明を適用可能な実施形態はこれに限定されるものではない。また、本発明は図示例に限定されるものでもない。
【００１９】
なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。
【００２０】
また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレーター等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得る、いわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレーター等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００２１】
さらに、放射線画像撮影装置が可搬型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された固定型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００２２】
本実施形態では、充電制御回路８１（後述する図８参照）が、電子機器としての放射線画像撮影装置１に設けられている場合について説明する。
【００２３】
［放射線画像撮影装置の構成例について］
まず、電子機器の一例である放射線画像撮影装置１の構成例について説明する。図１は、放射線画像撮影装置１の外観を示す斜視図である。また、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【００２４】
本実施形態では、放射線画像撮影装置１は、いわゆるフラットパネルディテクターを可搬型に構成したカセッテ型の放射線画像撮影装置であり、放射線画像撮影に用いられ、放射線を検出して当該放射線の線量に応じた画像データを生成して取得するものである。
【００２５】
放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体２内にシンチレーター３や基板４等で構成されるセンサーパネルＳＰが収納されて構成されている。
【００２６】
本実施形態では、筐体２のうち、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されている。このハウジング本体部２Ａの両側の開口部をカバー部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで筐体２が形成されている。なお、筐体２をこのようないわゆるモノコック型として形成する代わりに、例えば、フロント板とバック板とで形成された、いわゆる弁当箱型とすることも可能である。
【００２７】
本実施形態では、筐体２の一方側のカバー部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８等が配置されている。また、本実施形態では、カバー部材２Ｂには、内蔵電源２４（図２や後述する図３参照）の状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態等を表示するＬＥＤ等で構成されたインジケーター４０が配置されている。
【００２８】
また、本実施形態では、カバー部材２Ｂには、クレードル６０のコネクター７１（後述する図６や図７参照）と接続可能なコネクター３９が配置されている。このコネクター３９が、クレードル６０のコネクター７１と接続することで、充電装置としてのクレードル６０から放射線画像撮影装置１に電力が供給されるようになっている。
【００２９】
また、図示を省略するが、本実施形態では、筐体２の他方側のカバー部材２Ｃには、外部装置との間で無線通信を行うためのアンテナ装置４１ａ（後述する図８参照）が、例えばカバー部材２Ｃに埋め込まれる等して設けられている。
【００３０】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に鉛の薄板等（図示省略）を介して基台３１が配置されている。この基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３や内蔵電源２４等が取り付けられている。
【００３１】
また、基板４やシンチレーター３の放射線入射面Ｒ側の面には、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されている。また、本実施形態では、センサーパネルＳＰと筐体２の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材３５が設けられている。
【００３２】
図示を省略するが、基板４の検出部Ｐ上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されている。各放射線検出素子７には、スイッチ手段としての薄膜トランジスター（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８や走査線５、信号線６、バイアス線９等が接続されている。また、基板４の検出部Ｐは、シンチレーター３に対向するように設けられている。
【００３３】
次に、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。図３は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図である。
【００３４】
複数の放射線検出素子７が基板４上に二次元状に配列されて検出部Ｐが形成されている。また、各放射線検出素子７の第２電極７ｂにはそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。そして、バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれ逆バイアス電圧を印加する。
【００３５】
走査駆動回路１５では、電源回路１５ａからゲートドライバー１５ｂに配線１５ｃを介してオン電圧やオフ電圧が供給される。そして、ゲートドライバー１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理等を行うように構成されている。
【００３６】
各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に形成された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。読み出し回路１７は、増幅回路１８や相関二重サンプリング回路１９等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサー２１が設けられている。また、読み出しＩＣ１６は、Ａ／Ｄ変換部２０を介して制御手段２２に接続されている。
【００３７】
そして、例えば、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバー１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されているＴＦＴ８がオン状態になり、オン状態になったＴＦＴ８に接続されている放射線検出素子７から信号線６に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路１７の増幅回路１８で電荷電圧変換される。
【００３８】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路１９で、放射線検出素子７から電荷が放出される前後の増幅回路１８からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサー２１を介して順次Ａ／Ｄ変換部２０に送信され、Ａ／Ｄ変換部２０で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段２３に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理が順次行われる。
【００３９】
制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作等を制御するようになっている。具体的には、制御手段２２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成される本体制御部２２ａ（後述する図８参照）、ＲＯＭ（Read Only Memory。図示省略）、ＲＡＭ（Random Access Memory）２２ｂ（後述する図８参照）、入出力インターフェース（図示省略）等がバスに接続されたコンピューターや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。なお、制御手段２２は、専用の制御回路で構成されていてもよい。
【００４０】
また、制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。また、本実施形態では、制御手段２２には、アンテナ装置４１ａを有する通信部４１や信号処理部２５（後述する図８参照）、電源スイッチ３７、切替スイッチ３８、コネクター３９、インジケーター４０等も接続されている。
【００４１】
ここで、通信部４１は、コンソール１０１等の外部装置との間で各種信号の送受信を行う。具体的には、通信部４１は、アンテナ装置４１ａにより、無線アクセスポイント（図示省略）を介して無線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことが可能となっている。また、通信部４１は、放射線画像撮影装置１のコネクター３９とクレードル６０のコネクター７１とが接続されている場合に、クレードル６０を介して有線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことも可能となっている。
【００４２】
また、信号処理部２５は、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データに所定の信号処理を施すことによって、画像データを外部に送信するのに適した形式のデータに変換する。
【００４３】
すなわち、本実施形態では、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データは、信号処理部２５で外部に送信するのに適した形式のデータに変換されて、その後、通信部４１からコンソール１０１等の外部装置に送信されるようになっている。
【００４４】
また、本実施形態では、制御手段２２には、制御手段２２や走査駆動回路１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各機能部に電力を供給するための内蔵電源２４が接続されている。
【００４５】
なお、本実施形態では、内蔵電源２４として、リチウムイオンキャパシター（ＬＩＣ）が用いられているが、本発明はこれに限定されるものではない。内蔵電源２４は、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシター等の蓄電デバイスや通常のバッテリーや二次電池等であってもよい。
【００４６】
また、図３では図示を省略したが、本実施形態では、内蔵電源２４には、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１（後述する図８参照）が接続されている。この点については、後で詳しく説明する。
【００４７】
［クレードルの構成例について］
次に、充電装置の一例であるクレードル６０の構成例について説明する。
【００４８】
図４は、クレードル６０の外観を示す斜視図である。また、図５は、図４に示すクレードル６０に放射線画像撮影装置１が挿入された状態を示した斜視図である。また、図６および図７は、クレードル６０の内部構成を模式的に示した図であり、図６はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入しようとする状態を示しており、図７はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入した状態を示している。
【００４９】
図４や図５に示すように、クレードル６０はほぼ直方体形状に形成され上面に開口部６１ａを有する筐体６１と、この筐体６１の開口部６１ａを被覆する被覆部材６２とを備えている。また、筐体６１の一端部には、クレードル６０を動作させる各種のスイッチ６３が設けられている。
【００５０】
図６や図７に示すように、筐体６１の内部には、筐体６１の長手方向に延在し、放射線画像撮影装置１を鉛直方向に収容する装置収容部６４が設けられている。また、筐体６１には基板６５上に配置された各種電子部品６６が収納されている。
【００５１】
電子部品６６には、例えば放射線画像撮影装置１の充電制御回路８１（後述する図８参照）に一定の電圧の直流電圧を供給するために、外部の交流電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換するＡＣ／ＤＣコンバーター等を備えた安定化電源回路６６ａ（後述する図８参照）等が含まれている。
【００５２】
また、装置収容部６４は、装置収容部６４の側壁を構成する前側壁部材６７と奥側壁部材６８とを備えている。前側壁部材６７の上端部と奥側壁部材６８の上端部とによって放射線画像撮影装置１が挿入される挿入口６９（図６参照）が形成されている。放射線画像撮影装置１は、挿入口６９から前側壁部材６７と奥側壁部材６８の間に挿入されるように構成されている。
【００５３】
前側壁部材６７の内側部には、放射線画像撮影装置１を装置収容部６４内部に案内する案内部材６７ａが取り付けられている。奥側壁部材６８の内側面には、緩衝部材６８ａが長手方向の全面に亘って設けられている。
【００５４】
装置収容部６４は、その厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっている。また、装置収容部６４内の挿入口６９付近には、挿入口６９から挿入された放射線画像撮影装置１を一時的に保持する装置保持手段７０が配置されている。
【００５５】
装置収容部６４内の底部には、放射線画像撮影装置１側のコネクター３９と接続可能なクレードル６０側のコネクター７１が配置されている。クレードル６０側のコネクター７１は、ケーブル（図示省略）を介して電子部品６６と電気的に接続されている。
【００５６】
本実施形態では、図６に示すように、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に斜めに挿入されると、放射線画像撮影装置１に押されて挿入口６９を被覆する蓋部材７２が、被覆部材６２に沿って奥側（図中では左側）に退避する。
【００５７】
そして、略鉛直方向に向けられた放射線画像撮影装置１が挿入口６９から挿入されると、放射線画像撮影装置１のコネクター３９が設けられた側のカバー部材２Ｂが一旦装置保持手段７０に当接して保持された後、図７に示すように装置保持手段７０が下方に回動することで、放射線画像撮影装置１が装置収容部６４内に収容される。
【００５８】
そして、前述したように、装置収容部６４の厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっているため、装置収容部６４内に収容された放射線画像撮影装置１側のコネクター３９が、自動的にクレードル６０側のコネクター７１に接続可能な位置に適切に位置決めされた状態で接続されるように構成されている。
【００５９】
［充電システムの構成例について］
次に、本実施形態に係る充電システム１００の構成について説明する。また、以下、本実施形態に係る充電システム１００および放射線画像撮影装置１の作用についてもあわせて説明する。図８は、充電システム１００の構成を概略的に表すブロック図である。
【００６０】
図８に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置１における内蔵電源２４と各機能部との間には、電圧検出回路８２と電源回路８３とが設けられている。電圧検出回路８２は、内蔵電源２４の電圧Ｖ、すなわち内蔵電源２４に充電されている充電電圧Ｖを検出する電圧検出部として機能するようになっている。また、電源回路８３は、内蔵電源２４から供給される電力を供給先の各機能部に適するように、その電圧値等を適宜変換、調整するようになっている。
【００６１】
また、図８に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置１におけるコネクター３９と内蔵電源２４との間には、充電制御回路８１が設けられている。充電制御回路８１は、内蔵電源２４の電圧Ｖが目標電圧Ｖ１（図１４（Ａ）参照。例えば、内蔵電源２４の定格電圧）に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源２４の電圧Ｖが目標電圧Ｖ１に達した場合に定電圧充電に切り替えて、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御部として機能するようになっている。
【００６２】
また、本実施形態では、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶ、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値を取得するようになっている。なお、電圧上昇率を、電圧Ｖの単位上昇分の充電に要する時間として定義することも可能である。
【００６３】
そして、本体制御部２２ａは、取得した電圧上昇率ΔＶと、過去に取得した電圧上昇率ΔＶoldとの比に基づいて内蔵電源の劣化度合いを算出して判定するようになっている。すなわち、本実施形態では、本体制御部２２ａが、内蔵電源２４の劣化度合いを判定する判定部として機能するようになっている。
【００６４】
以下、判定部である本体制御部２２ａにおける内蔵電源２４の劣化度合いの判定処理について具体的に説明する。
【００６５】
本実施形態では、本体制御部２２ａは、過去の電圧上昇率ΔＶとして、例えば電子機器である放射線画像撮影装置１の生産時や工場出荷時、或いは病院等への施設の導入時に、内蔵電源２４を定電流充電する際に、電圧検出回路８２が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖを監視し、例えば１分等の単位時間あたりの電圧Ｖの上昇値として電圧上昇率ΔＶ［Ｖ／ｍｉｎ］を取得して、ＲＡＭ２２ｂに記憶しておく。
【００６６】
なお、以下、この工場出荷時等に取得された電圧上昇率ΔＶを、初期の電圧上昇率ΔＶinという。
【００６７】
また、放射線画像撮影装置１の使用開始後の内蔵電源２４の充電時における電圧上昇率ΔＶの取得の際も同様であるが、上記のようにして電圧上昇率ΔＶを取得する場合、図１５に示したように、内蔵電源の電圧Ｖが高い電圧領域では、劣化が進んでいる場合と進んでいない場合とで電圧上昇率ΔＶの差異が小さくなる。そのため、電圧上昇率ΔＶに基づいて劣化度合いを判定し難くなる。
【００６８】
そこで、本実施形態では、図１５に現れている特性、すなわち、内蔵電源２４の上限電圧Ｖ１（例えば４［Ｖ］）と下限電圧Ｖ０（例えば２［Ｖ］）の中間の電圧（例えば３［Ｖ］）より若干高い電圧から下限電圧Ｖ０までの電圧領域では、劣化が進んでいる内蔵電源２４における電圧上昇率ΔＶと正常品における電圧上昇率ΔＶとの差異が大きくなるという特性を利用する。
【００６９】
なお、以下では、この電圧領域を、電圧上昇率取得領域という。この電圧上昇率取得領域は、例えば図１５と同じグラフを表す図９に示す電圧領域Ｒ０のような電圧領域として設定される。すなわち、電圧上昇率取得領域Ｒ０は、上限電圧Ｖ１である目標電圧Ｖ１より低く、許容される下限電圧Ｖ０より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源２４の劣化度合いに応じて電圧上昇率ΔＶが有意に異なる値になる電圧領域として定義される。
【００７０】
そして、判定部である本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖが、この電圧上昇率取得領域Ｒ０内にある場合に、上記のようにして内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶを取得するようになっている。
【００７１】
逆に、本実施形態では、本体制御部２２ａは、例えば図９に示した例における３［Ｖ］よりも若干高い電圧以上の電圧領域（すなわち図９中の電圧上昇率取得領域Ｒ０よりも右側の電圧領域）のように、内蔵電源２４の劣化度合いが異なる場合の各電圧上昇率ΔＶの差異が小さくなり、ほとんど同じ値になってしまう電圧領域では、内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶの取得処理を行わない。
【００７２】
一方、図９を見れば分かるように、内蔵電源２４の劣化が進んでいる場合も進んでいない場合も、いずれの場合も、電圧上昇率ΔＶは一定の値にならず、内蔵電源２４の電圧Ｖの大きさに応じて変化する値になる。
【００７３】
そのため、例えば図１０に示すように、例えば電圧上昇率取得領域Ｒ０を、内蔵電源２４の電圧Ｖに応じて仮に複数の電圧領域Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３に区分した場合、１回の充電時に取得した場合であっても、各電圧領域Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３でそれぞれ取得される電圧上昇率ΔＶは、通常、それぞれ異なる値になる。
【００７４】
そこで、図１０に示すように、電圧上昇率取得領域Ｒ０を、内蔵電源２４の電圧Ｖに応じて複数の電圧領域（例えば電圧領域Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３）に区分しておき、判定部である本体制御部２２ａは、区分した電圧領域ごとにそれぞれ電圧上昇率ΔＶを取得し、後述するようにそれらに基づいてそれぞれ内蔵電源の劣化度合いを算出するように構成することが望ましい。
【００７５】
このように構成すると、本実施形態における電子機器である放射線画像撮影装置１では、例えば放射線画像撮影があまり多く行われずに内蔵電源２４の充電が行われた場合には、より高い電圧領域Ｒ１で電圧上昇率ΔＶの取得等が行われるようになる。
【００７６】
また、放射線画像撮影装置１が長時間使用されたり連続撮影が行われたような場合には、内蔵電源２４の電力がより多く消費されるため、より低い電圧領域である電圧領域Ｒ２や電圧領域Ｒ３の電圧を充電開始電圧として充電が行われるようになる。そして、電圧領域Ｒ２から充電が行われた場合には電圧領域Ｒ２、Ｒ１で、また、電圧領域Ｒ３から充電が行われた場合には電圧領域Ｒ３、Ｒ２、Ｒ１で、それぞれ電圧上昇率ΔＶの取得等が行われるようになる。
【００７７】
なお、図１０では、電圧上昇率取得領域Ｒ０を、３つの電圧領域Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３に区分する場合を例示したが、電圧上昇率取得領域Ｒ０の複数の電圧領域への区分の仕方はこれに限定されず、電圧上昇率取得領域Ｒ０を２つの電圧領域に区分したり、或いは４つ以上の電圧領域に区分するように構成することも可能である。
【００７８】
また、以下では、電圧上昇率取得領域Ｒ０を図９に示したような１つの電圧領域として設定する場合について説明する。しかし、上記のように、電圧上昇率取得領域Ｒ０を複数の電圧領域Ｒ１〜Ｒ３に区分し、各電圧領域Ｒ１〜Ｒ３でそれぞれ以下で説明する処理を行い、各電圧領域Ｒ１〜Ｒ３の処理結果を比較して用いるように構成してもよい。このように構成すれば、前述したように、より低い電圧領域Ｒ２、Ｒ３での定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得することが可能となり、後述する内蔵電源２４の劣化度合いの判定処理等の各処理を精度良く行うことが可能となるといったメリットがある。
【００７９】
さらに、電圧上昇率取得領域Ｒ０を複数の電圧領域に区分する場合には、上記のように電子機器である放射線画像撮影装置１の工場出荷時等に取得する初期の電圧上昇率ΔＶinも、各電圧領域ごとにそれぞれ予め取得しておき、それぞれＲＡＭ２２ｂに記憶しておくように構成される。
【００８０】
本実施形態では、判定部である本体制御部２２ａは、上記のようにして取得した電圧上昇率ΔＶを用いて、以下の各処理を行うように構成されている。なお、判定部である本体制御部２２ａで、以下で説明する各処理の全てを行うように構成する必要はなく、各処理のいずれかの処理のみ、或いはそのうちの複数の処理のみを行うように構成することも可能である。
【００８１】
［内蔵電源の劣化度合いの判定処理］
判定部である本体制御部２２ａは、上記のようにして内蔵電源２４の定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得すると、取得した電圧上昇率ΔＶと、過去に取得した電圧上昇率ΔＶである上記の初期の電圧上昇率ΔＶinとの比ΔＶin／ΔＶに基づいて内蔵電源２４の劣化度合いを算出して判定するように構成されている。
【００８２】
本実施形態では、現時点での内蔵電源２４の容量Ｃの大きさが、電子機器である放射線画像撮影装置１の工場出荷時等における容量Ｃinと比較してどの程度の割合（比）であるかによって内蔵電源２４の劣化度合いを表すようになっている。よく知られているように、電荷Ｑと容量Ｃと電圧Ｖとの間にはＱ＝Ｃ・Ｖの関係があり、この関係はＣ＝Ｑ／Ｖと変形できる。
【００８３】
そして、定電流充電の際には、内蔵電源２４に供給される電流Ｉは一定である（図１４（Ｂ）参照）。また、電流Ｉは、単位時間あたりに内蔵電源２４に供給される電荷Ｑであるから、電流Ｉが一定であれば単位時間あたりに内蔵電源２４に供給される電荷Ｑも一定である。
【００８４】
そのため、現時点での内蔵電源２４の容量Ｃと、初期状態での内蔵電源２４の容量Ｃinとの比Ｃ／Ｃinは、
Ｃ／Ｃin＝（Ｑ／ΔＶ）／（Ｑ／ΔＶin）
∴Ｃ／Ｃin＝ΔＶin／ΔＶ    …（１）
すなわち、現時点で取得された電圧上昇率ΔＶに対する、初期状態で取得されＲＡＭ２２ａに保存されている初期の電圧上昇率ΔＶinの比ΔＶin／ΔＶとして算出することができる。
【００８５】
そこで、判定部である本体制御部２２ａは、上記のようにして内蔵電源２４の定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得すると、ＲＡＭ２２ａから初期の電圧上昇率ΔＶinを読み出し、取得した電圧上昇率ΔＶと初期の電圧上昇率ΔＶinとを上記（１）式に代入して、現時点での内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出して判定するようになっている。
【００８６】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを数値として算出して内蔵電源２４の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
【００８７】
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを、劣化度合い通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
【００８８】
劣化度合い通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置１のインジケーター４０（図１や図８参照）を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが７０％より大きい値であれば、インジケーター４０の１つのＬＥＤを、青色または緑色等の、内蔵電源２４の劣化がさほど進んでいないことを表す色で点灯させる。
【００８９】
また、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが６０％より大きく７０％以下の値であれば、インジケーター４０の同じＬＥＤを、黄色等の、内蔵電源２４の劣化が進んでいることを表す色で点灯させて、内蔵電源２４の劣化度合いを放射線技師等に通知するように構成される。
【００９０】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４の劣化がどの程度進んでいるかを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。
【００９１】
なお、劣化度合い通知部として、例えばコンソール１０１（図８参照）を用い、例えば、コンソール１０１の図示しない表示部上に、算出して判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinをパーセント表示するように構成することも可能である。その際、例えば、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの数値範囲に応じて、上記と同様に、表示する数値を色付きで表示する等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することも可能である。
【００９２】
［内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理］
また、内蔵電源の劣化度合いの判定処理の延長として、例えば、判定部である本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが、例えば６０％等の、内蔵電源２４の交換の目安となる数値として予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、交換時期通知部を介して放射線技師等に内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知するように構成することが可能である。
【００９３】
この場合も、交換時期通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置１のインジケーター４０を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、インジケーター４０の同じＬＥＤを、赤色等の、内蔵電源２４の劣化が進んで交換時期に達していることを表す色で点灯させる。
【００９４】
また、この場合も、交換時期通知部として、例えばコンソール１０１を用いるように構成し、例えば、コンソール１０１の表示部上に、算出して判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを赤色等でパーセント表示する等して、内蔵電源２４が交換時期に達していることを放射線技師等に的確に通知するように構成することも可能である。
【００９５】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４の劣化が進んで交換時期に達している場合に、それを的確に検出し、内蔵電源２４が交換時期に達していることを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、交換時期に達した内蔵電源２４を新品に的確に交換することが可能となる。
【００９６】
［内蔵電源の交換時期の推定処理］
一方、上記のようにして内蔵電源２４の充電時ごとに算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを、仮に充電のサイクルタイムＴｃごとプロットすると、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが図１１にイメージ的に示すように変化する場合があることが本発明者らの研究で分かってきた。
【００９７】
すなわち、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinは、初期の１００％の状態から徐々に一定の割合で低下していく（すなわち劣化が進んでいく）場合もあるが（図１１中の点線参照）、内蔵電源２４によっては、内蔵電源２４の使用が進み、充電のあるサイクルタイムＴｃから急に内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの低下の程度が大きくなる場合がある。つまり、内蔵電源２４の劣化が急激に進み始める場合があることが分かってきた。
【００９８】
このような場合、内蔵電源２４は、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが一定の割合で低下していく場合に比べてより早期に交換時期τに達する。そのため、内蔵電源２４の交換時期τを注意して見ていかないと、すでに交換時期に達している内蔵電源２４を、まだ交換時期に達していないと誤って判断して使用し続けることになる。
【００９９】
そのため、例えば放射線画像撮影装置１を用いて放射線画像撮影を行うとしても行えなくなる等の種々の問題を生じさせてしまうことになりかねない。そこで、電子機器の電源として内蔵電源２４を用いる場合、内蔵電源２４の交換時期τを的確に把握することが必要となる。
【０１００】
本実施形態では、内蔵電源２４の定電流充電の際に行われる上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で、判定部である本体制御部２２ａは電圧上昇率ΔＶを取得する。そこで、これを利用して、内蔵電源２４の交換時期τを推定することが可能である。
【０１０１】
具体的には、判定部である本体制御部２２ａは、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出するごとに、ＲＡＭ２２ｂに、算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを保存していく。そして、ＲＡＭ２２ｂに保存されている内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの履歴の中から、前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastを読み出す。
【０１０２】
そして、例えば、今回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinと、前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastとの差分ΔＣ／Ｃinを下記（２）式に従って算出する。
ΔＣ／Ｃin＝Ｃ／Ｃin_last−Ｃ／Ｃin    …（２）
【０１０３】
すると、内蔵電源２４の劣化がさほど進んでいない場合には、図１１に示したように、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinは緩やかに減少していくため、算出された差分ΔＣ／Ｃin（或いはその絶対値。以下同じ。）は、小さな値に設定された数値範囲内に収まる。しかし、内蔵電源２４の劣化が進み、前述したように、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの低下の程度が急に大きくなると、上記の内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの差分ΔＣ／Ｃinが大きくなり、上記の数値範囲に収まらなくなる。
【０１０４】
そこで、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出するごとに、ＲＡＭ２２ｂから前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastを読み出し、上記の差分ΔＣ／Ｃinを算出する。
【０１０５】
そして、算出した差分ΔＣ／Ｃinが、例えば予め小さな値に設定された閾値ΔＣ／Ｃin_th以上になった時点で、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの低下の程度が急に大きくなったと判断し、その時点における内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinと算出した差分ΔＣ／Ｃinから、例えばあと何回充電を行ったら図１２に示すように内蔵電源２４が交換時期τに達するかを算出して、内蔵電源２４の交換時期τを推定するように構成することが可能である。
【０１０６】
その際、内蔵電源２４の交換の目安となる内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが例えば６０％である場合、現時点での内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinと６０％との差を、上記の差分ΔＣ／Ｃinで除算することによって、あと何回充電を行うことができるか、すなわち内蔵電源２４の交換時期τを推定することが可能である。
【０１０７】
また、このように、内蔵電源２４の交換時期τを単純な除算で算出する代わりに、例えばＲＡＭ２２ｂに保存された内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの履歴に基づいて、図１１に示したような内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinのプロファイルを形成し、そのプロファイル、特に内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの低下の程度が急に大きくなり始めた部分のプロファイルを曲線近似する等して、内蔵電源２４の交換時期τを推定するように構成することも可能である。
【０１０８】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源２４の交換時期τを的確に推定することが可能となる。
【０１０９】
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部２２ａは、推定した内蔵電源２４の交換時期τを、交換時期通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
【０１１０】
交換時期通知部としては、例えば、コンソール１０１（図８参照）の図示しない表示部を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、推定した内蔵電源２４の交換時期τの情報をコンソール１０１に送信する。そして、コンソール１０１は、判定部である本体制御部２２ａが推定した内蔵電源２４の交換時期τを表示部上に表示させる。
【０１１１】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４の推定された交換時期τを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、それを受けて古い内蔵電源２４と交換する新しい内蔵電源２４を取り寄せる等の必要な措置をとることが可能となる。
【０１１２】
［内蔵電源の異常判定処理］
また、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理で示した技術を、内蔵電源２４の異常判定処理に応用することが可能である。
【０１１３】
すなわち、内蔵電源２４に何らかの異常が発生すると、算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが、例えば図１１に示したようなプロファイルから大きく逸脱する状態になる。そして、内蔵電源２４が異常を来たした場合、少なくともその内蔵電源２４が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置１の使用を停止して、内蔵電源２４の交換等の適切な措置をとることが必要となる。
【０１１４】
そこで、内蔵電源２４の異常判定処理では、判定部である本体制御部２２ａは、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理の場合と同様に、内蔵電源２４の定電流充電の際に取得した電圧上昇率ΔＶ等に基づいて内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出し、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出するごとに、ＲＡＭ２２ｂに、算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを保存していく。
【０１１５】
そして、例えば、上記と同様に、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出するごとに、ＲＡＭ２２ｂから前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastを読み出し、上記（２）式に従って差分ΔＣ／Ｃinを算出する。そして、例えば、算出した差分ΔＣ／Ｃinの絶対値が、正常な内蔵電源２４の場合に取り得る値として予め設定された閾値ΔＣ／Ｃin_th２を越えて大きく変動した場合に、内蔵電源２４が異常であると判定するように構成することが可能である。
【０１１６】
内蔵電源２４が正常である場合には、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinは、例えば図１１に示したように滑らかに変動するはずであるのに、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinがその範囲を越えて異常に大きくなったり小さくなったりする場合には、内蔵電源２４が異常を来たしたと見るべきである。
【０１１７】
本実施形態では、上記のように構成することにより、算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinに基づいて内蔵電源２４が異常であるか否かを的確に判定することが可能となる。
【０１１８】
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が異常であると判定した場合には、その旨を、異常通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
【０１１９】
異常通知部としては、例えば電子機器である放射線画像撮影装置１のインジケーター４０（図１や図８参照）を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部２２ａは、例えば、内蔵電源２４が異常であると判定した場合には、インジケーター４０の１つのＬＥＤを、例えば赤色等の、異常を表す色で点灯させるとともに、例えば当該ＬＥＤを点滅させる等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することが可能である。
【０１２０】
また、異常通知部として、例えばコンソール１０１（図８参照）を用い、内蔵電源２４が異常であると判定した場合には、例えばコンソール１０１の図示しない表示部上に、その旨を特定の色で着色する等して表示するように構成することも可能である。
【０１２１】
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４が異常である場合に、放射線技師等にその旨を的確に通知することが可能となり、放射線技師等に、当該内蔵電源２４が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置１の使用を停止して、内蔵電源２４の交換等の適切な措置をとることが可能となる。
【０１２２】
以上のように、本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、判定部である放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、充電制御部である充電制御回路８１による定電流充電時に、電圧検出部である電圧検出回路８２が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶを取得し、取得した電圧上昇率ΔＶと過去に取得した電圧上昇率ΔＶinとの比ΔＶin／ΔＶに基づいて、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを算出して判定する。
【０１２３】
その際、判定部である本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖが、目標電圧Ｖ１（すなわち上限電圧１）より低く、許容される下限電圧Ｖ０より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinに応じて比ΔＶin／ΔＶが有意に異なる値になる電圧領域、すなわち前述した電圧上昇率取得領域Ｒ０（図９参照）内にある場合に、内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶを取得するように構成される。
【０１２４】
そのため、判定部である本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化の進み具合に応じて内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの算出、判定処理を、電子機器である放射線画像撮影装置１に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。
【０１２５】
このようにして、本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、電子機器である放射線画像撮影装置１に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを数値化して算出し、内蔵電源２４の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
【０１２６】
そして、電子機器において、内蔵電源２４を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源２４の劣化の進み具合に応じて内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinを明確に区別し、数値化して算出して、内蔵電源２４の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
【０１２７】
なお、内蔵電源２４は、その種類（機種等）に応じて、満充電容量や充電特性等が異なり、また、内蔵電源２４の電圧Ｖに対する電圧上昇率ΔＶの関係（例えば図９参照）も、通常、内蔵電源２４の種類等によってその傾向が異なる。そのため、上記の電圧上昇率取得領域Ｒ０は、図９に示したような電圧領域に限定されず、内蔵電源２４の種類等に応じて適切な電圧領域に設定される。
【０１２８】
また、上記の実施形態のように電圧上昇率取得領域Ｒ０を複数の電圧領域Ｒ１〜Ｒ３等に区分せずに設定する場合も、或いは電圧上昇率取得領域Ｒ０をさらに複数の電圧領域Ｒ１〜Ｒ３に区分するように構成する場合も、いずれの場合でも、上記の各処理における閾値等を、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定するように構成することが可能である。
【０１２９】
すなわち、例えば、上記の［内蔵電源の交換時期の推定処理］では、上記のように、今回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinと、前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastとの差分ΔＣ／Ｃinを上記（２）式に従って算出し、算出した差分ΔＣ／Ｃinが閾値ΔＣ／Ｃin_th（図１２参照）以上になった場合に、内蔵電源２４の交換時期τの推定処理を行う。
【０１３０】
そこで、例えばその判断基準となる閾値ΔＣ／Ｃin_thを、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として予め設定しておくことが可能である。そして、この場合には、判定部である本体制御部２２ａは、今回の充電時にける内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinの算出の基となる［内蔵電源２４の劣化度合いの判定処理］を行い、内蔵電源２４の定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得した時点での内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定されている閾値ΔＣ／Ｃin_thを算出する。
【０１３１】
そして、算出した差分ΔＣ／Ｃinが、算出した閾値ΔＣ／Ｃin_th以上になったか否かを判定するように構成される。この場合、算出した差分ΔＣ／Ｃinが、算出した閾値ΔＣ／Ｃin_th以上になっていれば上記の［内蔵電源の交換時期の推定処理］を行い、それ以外の場合には［内蔵電源の交換時期の推定処理］は行わない。
【０１３２】
また、例えば、上記の［内蔵電源の異常判定処理］における閾値ΔＣ／Ｃin_th２を、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定するように構成することも可能である。この場合も、判定部である本体制御部２２ａは、［内蔵電源の異常判定処理］の基となる［内蔵電源２４の劣化度合いの判定処理］を行い、内蔵電源２４の定電流充電時に電圧上昇率ΔＶを取得した時点での内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定されている閾値ΔＣ／Ｃin_th２を算出する。
【０１３３】
そして、今回算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinと、前回の充電時に算出した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃin_lastとの差分ΔＣ／Ｃinを上記（２）式に従って算出し、算出した差分ΔＣ／Ｃinの絶対値が、上記のようにして算出した閾値ΔＣ／Ｃin_th２を越えて大きく変動していれば、内蔵電源２４が異常であると判定するように構成される。
【０１３４】
また、上記以外の各処理に関する閾値等も、内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定するように構成することが可能である。例えば、上記の［内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理］等では、判定した内蔵電源２４の劣化度合いＣ／Ｃinが６０％まで低下した時点で内蔵電源２４が交換時期τに達したと判断する場合について説明したが、この６０％を、例えば内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定するように構成することも可能である。
【０１３５】
そして、上記のように、各処理における閾値等を内蔵電源２４の電圧Ｖの関数として設定するように構成すれば、図９等に示したように、内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶが、内蔵電源２４の電圧Ｖに対して必ずしも一定ではなく、内蔵電源２４の電圧Ｖに応じて特徴的に変化する場合に、少なくとも電圧上昇率取得領域Ｒ０内では、特徴的に変化する内蔵電源２４の電圧Ｖに応じて的確に閾値等を設定することが可能となり、内蔵電源２４の電圧Ｖに応じて変化する内蔵電源２４の電圧上昇率ΔＶに応じた的確な処理を行うことが可能となる。
【０１３６】
一方、上記の実施形態では、劣化度合い通知部や交換時期通知部、異常通知部として、電子機器である放射線画像撮影装置１のインジケーター４０やコンソール１０１の図示しない表示部を用いる場合について説明したが、この他にも、例えば、クレードル６０（図８参照）に図示しない表示部を設けたり、或いは、放射線画像撮影装置１を用いた放射線画像撮影が行われる撮影室内等に表示手段を設け、それに表示する等して通知するように構成することも可能である。
【０１３７】
さらに、上記の実施形態では、充電制御回路８１（後述する図８参照）が、電子機器としての放射線画像撮影装置１に設けられている場合について説明した。しかし、例えば図１３に示すように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。
【０１３８】
この場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に充電制御回路８１を設けることが可能である。
【０１３９】
このように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、当該充電制御回路８１が内蔵電源２４の劣化度合いを判定する判定部としても機能するように構成することも可能であるし、判定部として機能する制御部等を充電装置であるクレードル６０に別途備えるように構成することも可能である。
【０１４０】
また、図１３では、電圧検出部としての電圧検出回路８２も充電装置であるクレードル６０に設けるように構成した。しかし、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、電圧検出部としての電圧検出回路８２は、電子機器である放射線画像撮影装置１に設けるように構成することも可能である。また、充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。
【０１４１】
なお、電圧検出回路８２をクレードル６０に設ける場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に電圧検出回路８２を設けることが可能である。
【０１４２】
ここで、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備えるように構成する。そして、クレードル６０に、放射線画像撮影装置１から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。
【０１４３】
また、クレードル６０に、クレードル６０に挿入可能な放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報の内蔵電源２４について工場出荷時等に取得された前述した初期の電圧上昇率ΔＶin等の必要な情報を予め記憶しておくように構成する。
【０１４４】
そして、クレードル６０側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する初期の電圧上昇率ΔＶin等を抽出し、抽出した初期の電圧上昇率ΔＶin等に基づいて、上記の各処理を行うように構成することも可能である。
【０１４５】
また、例えば、クレードル６０が、クレードル６０側のコネクター７１および放射線画像撮影装置１側のコネクター３９を介して放射線画像撮影装置１との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。
【０１４６】
また、上記の実施形態では、電子機器が放射線画像撮影装置１であり、充電装置がクレードル６０である場合について説明した。しかし、この他にも、充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末等についても本発明を適用することが可能である。また、それらの充電装置についても本発明を適用することが可能である。
【０１４７】
なお、本発明が上記の実施形態や変形例に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０１４８】
１  放射線画像撮影装置（電子機器）
２２ａ  本体制御部（判定部）
２４  内蔵電源
４０  インジケーター（劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部）
６０  クレードル（充電装置）
８１  充電制御回路（充電制御部）
８２  電圧検出回路（電圧検出部）
１００  充電システム
１０１  コンソール（劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部）
Ｃ／Ｃin  内蔵電源の劣化度合い
Ｒ０  電圧上昇率取得領域（電圧領域）
Ｒ１〜Ｒ３  複数の電圧領域
Ｖ  内蔵電源の電圧
Ｖ１  目的電圧
ΔＣ／Ｃin  差分
ΔＶ  電圧上昇率
ΔＶin  過去に取得した電圧上昇率
ΔＶin／ΔＶ  比
τ  内蔵電源の交換時期
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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