(57)【要約】      （修正有）【課題】光源及び感光ユニットの使用数を低減し、大幅な製造費削減を行い、コストを抑えることができる導光板タッチ制御装を提供する。【解決手段】導光板１０と、感光ユニットアレイ２０と、光射出ユニット３０と、マイクロプロセッサ４０とを包括して構成しており、一つの光射出ユニット３０から射出された光線を導光板内に導光するだけで全反射の拡散を行い、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体が導光板に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、減弱信号を感知した前記少なくとも二つの感光ユニットの位置に基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、これに対応するタッチ制御信号を出力する。【選択図】図１
2014207230.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上端面、下端面及び側端面を有し、その周縁に前記側端面が形成し、前記上端面及び前記下端面は互いに平行し合うことで、光線が前記上端面及び前記下端面の間で全反射の拡散を行う導光板と、
マイクロプロセッサと、
複数の感光ユニットを有し、それぞれが前記マイクロプロセッサに電気的に接続する感光ユニットアレイと、
前記マイクロプロセッサに電気的に接続し、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記感光ユニットアレイの一端に隣接する光射出ユニットとを包括する導光板タッチ制御装置であって、
そのうち、前記感光ユニットアレイは、前記導光板の前記側端面或いは前記下端面のいずれか一つに接触しており、前記光射出ユニットが射出した光線を前記導光板内部に導光し、同時に作業エリアを照射或いは走査した際、光線が前記導光板の前記感光ユニットアレイに接触していない側端面に当たった場合、一部の光線は前記側端面によって前記導光板内部に反射され、それぞれ前記複数の感光ユニットに射出されており、物体が前記作業エリア内にある前記導光板の上端面に接触していない場合、前記感光ユニットアレイの全ての前記感光ユニットは正常信号を感知し、物体が前記作業エリア内でタッチ制御作業を行い、前記導光板の上端部に接触した場合、光線の前記導光板内において拡散する全反射が破壊されることで、前記物体の接触エリアを通過する光線が減弱し、前記感光ユニットが前記物体の接触エリアを通過する光線に対応する減弱信号を感知し、前記マイクロプロセッサにより全ての前記感光ユニットが感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、前記物体が前記導光板に接触して全反射の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した少なくとも二つの感光ユニットを確認した後、減弱信号を感知した前記少なくとも二つの感光ユニットの位置に基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力することを特徴とする導光板タッチ制御装置。
【請求項２】
前記導光板の前記感光ユニットアレイに接触していない側端面に反射膜を粘着することを特徴とする請求項１に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項３】
前記導光板は、導光可能な材料からなる湾曲可能な板体或いは湾曲不可能な板体のいずれか一つであることを特徴とする請求項２に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項４】
前記導光板は、矩形であって、前記光射出ユニットは、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記光射出ユニットが射出した光線は、前記導光板の側端面より前記導光板内部に導光されることを特徴とする請求項１、２或いは３に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項５】
前記感光ユニットは、フォトダイオードであって、前記光源はＬＥＤ光源或いはレーザ光源のいずれか一つであることを特徴とする請求項４に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項６】
上端面、下端面及び側端面を有し、その周縁に前記側端面が形成し、前記上端面及び前記下端面は互いに平行し合うことで、光線が前記上端面及び前記下端面の間で全反射の拡散を行う導光板と、
マイクロプロセッサと、
前記マイクロプロセッサに電気的に接続する少なくとも一つの感光ユニットと、
前記マイクロプロセッサに電気的に接続し、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記感光ユニットに隣接する光走査ユニットと、
帯状を呈し、前記導光板の側端面に接触する少なくとも一つの再帰反射器とを包括する導光板タッチ制御装置であって、
そのうち、前記感光ユニットは、前記導光板の前記側端面或いは前記下端面のいずれか一つに接触しており、前記光走査ユニットが射出した光線を前記導光板内部に導光し、作業エリアを感知した際、光線が前記導光板の前記再帰反射器に接触していない側端面に当たった場合、一部の光線は前記側端面によって前記導光板内部に反射され、前記再帰反射器に射出した光線は元の経路を経て前記光走査ユニットおよび前記感光ユニットに射出されており、物体が前記作業エリア内にある前記導光板の上端面に接触していない場合、前記感光ユニットは前記光走査ユニットの走査周期内で正常信号を感知し、物体が前記作業エリア内でタッチ制御作業を行い、前記導光板の上端部に接触した場合、光線の前記導光板内において拡散する全反射が破壊されることで、前記物体の接触エリアを通過する光線が減弱し、前記感光ユニットが前記光走査ユニットの走査周期内で前記物体の接触エリアを通過する光線に対応する減弱信号を感知し、前記マイクロプロセッサにより前記感光ユニットが前記光走査ユニットの走査周期内で感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、前記物体が前記導光板に接触して全反射の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに前記感光ユニットが前記減弱信号を感知した前記光走査ユニットの走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントを確認した後、前記少なくとも二つのタイムポイントに基づき、前記物体が前記導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力することを特徴とする導光板タッチ制御装置。
【請求項７】
前記導光板の前記再帰反射器に接触していない側端面に反射膜を粘着することを特徴とする請求項６に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項８】
前記導光板は、導光可能な材料からなる湾曲可能な板体或いは湾曲不可能な板体のいずれか一つであることを特徴とする請求項７に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項９】
前記導光板は、矩形であって、前記光走査ユニットは、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記光走査ユニットが射出した光線は、前記導光板の側端面より前記導光板内部に導光され、前記導光板の側端面はそれぞれ二つの再帰反射器に接触し、前記二つの再帰反射器の一端はそれぞれ前記感光ユニットに隣接することを特徴とする請求項６、７或いは８に記載の導光板タッチ制御装置。
【請求項１０】
前記感光ユニットは、フォトダイオードであって、前記光源はＬＥＤ光源或いはレーザ光源のいずれか一つであることを特徴とする請求項９に記載の導光板タッチ制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチ制御デバイスに関するものであって、特に光線が導光板内で拡散する際に抑制された全反射の位置を測定し、これに相対する制御信号を発生するタッチ制御デバイスに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、数多くの導光板を結合した制御デバイスがあり、例えば特許文献１が開示する漏れ全反射（ｆｒｕｓｔｒａｔｅｄ  ｔｏｔａｌ  ｉｎｔｅｒｎａｌ  ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ，ＦＴＩＲ）に基づいた出力装置は、異なる位置にある少なくとも二つの光源より射出された光線を導光板に導光し、前記光線は導光板において完全な内部反射により拡散を行っており、そのうち、光源毎に射出させた光線は、導光板内に均一に分布し、導光板の周縁に光センサアレイを設置することで、光源より発生する光線を測定している。一つの物体が導光板の表面に接触した際、光線の導光板内において拡散する全反射を破壊するため、接触エリアを通過する光線は減弱（Ａｔｔｅｎｕａｔｅｄ）する。プロセッサを利用して、光センサアレイが測定した異なる位置にある少なくとも二つの光源より射出された光線の減弱信号に基づき、三角測量（Ｔｒｉａｎｇｕｌａｔｉｏｎ）により前記物体の位置を決定している。
【０００３】
特許文献２及びこれに対応する特許文献３は、パネルの接触表面上にある物体の位置を測定する装置を開示しており、入力スキャナアレイを利用して少なくとも三光束の放射線をパネル上に導光し、内部反射により拡散させ、各放射線毎にパネルの感知エリアをスキャンしており、少なくとも一つの放射線測定器を利用して放射線を受けており、データプロセッサを放射線測定器に接続し、物体が感知エリア内で接触表面に接触したことで起こる放射線の減弱に基づき、物体の位置を判断している。放射線の減弱は、放射線測定器の出力信号によって判断できる。各出力信号毎にバックグラウンド信号分の間隔をあけることで伝送信号を発生し、バックグラウンド信号は物体が接触表面に接触していない状態下の出力信号である。
【０００４】
特許文献４及びこれに対応する特許文献５は、複数の周囲光取り入れポイントからの複数の信号を複数の周囲光取り出しポイントに伝導するためのパネルを包括し、これにより複数の実際の測定線を定義しているタッチ感知装置を開示しており、そのうち、実際の測定線は、一対となすこれ等周囲光取り入れポイント及びこれ等周囲光取り出しポイントの間に延在して前記パネルの表面部分を跨設すると定義しており、信号は光線形態であってよく、且つ表面部分に接触する物体は、漏れ全反射を減弱することで光線に影響を及ぼしており、これ等周囲光取り入れポイントに接続することでこれ等信号を発生させる信号発生器と、これ等周囲光取り出しポイントに接続することでこれ等出力信号を発生させる信号測定器と、前記出力信号を処理するために用いることで接触物体の判断を実現する信号プロセッサとがある。
【０００５】
また、特許文献６、７及び８等も導光板を利用するタッチ制御技術である。
【０００６】
上述した導光板を利用するタッチ制御技術は、異なる位置にある少なくとも二つの光源より射出された光線をそれぞれ導光板に導光して全反射の拡散を行う必要があり、プロセッサを利用して少なくとも二つの光センサアレイが測定した少なくとも二つの光源より射出された光線の減弱信号に基づき、物体が導光板に接触する位置を決定し、これに対応するタッチ制御信号を発生している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許７４３２８９３号
【特許文献２】米国特許公開２０１１０７４７３５号公報
【特許文献３】台湾特許公開２０１００５６０６号公報
【特許文献４】米国特許公開２０１３００４４０７３号公報
【特許文献５】台湾特許公開２０１２０３０５２号公報
【特許文献６】米国特許公開２０１２０１６２１４４号公報
【特許文献７】米国特許公開２０１２２０２６８４０３号公報
【特許文献８】米国特許公開２０１３００２１３００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の主要な目的は、一つの光射出ユニットから射出された光線を導光板内に導光するだけで全反射の拡散を行い、マイクロプロセッサにより全ての感光ユニットが感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体が導光板に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した少なくとも二つの感光ユニットを確認した後、減弱信号を感知した前記少なくとも二つの感光ユニットの位置に基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力する導光板タッチ制御装置を提供することであって、光源及び感光ユニットの使用数を低減し、大幅な製造費削減を行い、コストを抑えることができる。
【０００９】
本発明のもう一つの目的は、一つの光射出ユニットから射出された光線を導光板内に導光するだけで全反射の拡散を行い、マイクロプロセッサにより光射出ユニットに隣接する感光ユニットが光走査ユニットの走査周期内で感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体が導光板に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した感光ユニットが光走査ユニットの走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントを確認した後、前記少なくとも二つのタイムポイントに基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力する導光板タッチ制御装置を提供することであって、光源及び感光ユニットの使用数を低減し、大幅な製造費削減を行い、コストを抑えることができる。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上端面、下端面及び側端面を有し、その周縁に前記側端面が形成し、前記上端面及び前記下端面は互いに平行し合うことで、光線が前記上端面及び前記下端面の間で全反射の拡散を行う導光板と、マイクロプロセッサと、複数の感光ユニットを有し、それぞれが前記マイクロプロセッサに電気的に接続する感光ユニットアレイと、前記マイクロプロセッサに電気的に接続し、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記感光ユニットアレイの一端に隣接する光射出ユニットとを包括する導光板タッチ制御装置であって、そのうち、前記感光ユニットアレイは、前記導光板の前記側端面或いは前記下端面のいずれか一つに接触しており、前記光射出ユニットが射出した光線を前記導光板内部に導光し、同時に作業エリアを照射或いは走査した際、光線が前記導光板の前記感光ユニットアレイに接触していない側端面に当たった場合、一部の光線は前記側端面によって前記導光板内部に反射され、それぞれ前記複数の感光ユニットに射出されており、物体が前記作業エリア内にある前記導光板の上端面に接触していない場合、前記感光ユニットアレイの全ての前記感光ユニットは正常信号を感知し、物体が前記作業エリア内でタッチ制御作業を行い、前記導光板の上端部に接触した場合、光線の前記導光板内において拡散する全反射が破壊されることで、前記物体の接触エリアを通過する光線が減弱し、前記感光ユニットが前記物体の接触エリアを通過する光線に対応する減弱信号を感知し、前記マイクロプロセッサにより全ての前記感光ユニットが感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、前記物体が前記導光板に接触して全反射の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した少なくとも二つの感光ユニットを確認した後、減弱信号を感知した前記少なくとも二つの感光ユニットの位置に基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力している。
【００１１】
本発明は、上端面、下端面及び側端面を有し、その周縁に前記側端面が形成し、前記上端面及び前記下端面は互いに平行し合うことで、光線が前記上端面及び前記下端面の間で全反射の拡散を行う導光板と、マイクロプロセッサと、前記マイクロプロセッサに電気的に接続する少なくとも一つの感光ユニットと、前記マイクロプロセッサに電気的に接続し、前記導光板の隅角の外側に設けられ、前記感光ユニットに隣接する光走査ユニットと、帯状を呈し、前記導光板の側端面に接触する少なくとも一つの再帰反射器とを包括する導光板タッチ制御装置であって、そのうち、前記感光ユニットは、前記導光板の前記側端面或いは前記下端面のいずれか一つに接触しており、前記光走査ユニットが射出した光線を前記導光板内部に導光し、作業エリアを感知した際、光線が前記導光板の前記再帰反射器に接触していない側端面に当たった場合、一部の光線は前記側端面によって前記導光板内部に反射され、前記再帰反射器に射出した光線は元の経路を経て前記光走査ユニットおよび前記感光ユニットに射出されており、物体が前記作業エリア内にある前記導光板の上端面に接触していない場合、前記感光ユニットは前記光走査ユニットの走査周期内で正常信号を感知し、物体が前記作業エリア内でタッチ制御作業を行い、前記導光板の上端部に接触した場合、光線の前記導光板内において拡散する全反射が破壊されることで、前記物体の接触エリアを通過する光線が減弱し、前記感光ユニットが前記光走査ユニットの走査周期内で前記物体の接触エリアを通過する光線に対応する減弱信号を感知し、前記マイクロプロセッサにより前記感光ユニットが前記光走査ユニットの走査周期内で感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、前記物体が前記導光板に接触して全反射の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに前記感光ユニットが前記減弱信号を感知した前記光走査ユニットの走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントを確認した後、前記少なくとも二つのタイムポイントに基づき、前記物体が前記導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力している。
【００１２】
本発明のその他の目的及び効果は、図面と実施例とを参照しつつ、下記において詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】物体が本発明に係る第一実施例の導光板タッチ制御装置に接触した際の平面模式図である。
【図２】光線が本発明に係る第一実施例の導光板タッチ制御装置内で拡散する様を示す模式図である。
【図３】光線が本発明に係る第二実施例の導光板タッチ制御装置内で拡散する様を示す模式図である。
【図４】物体が本発明に係る第三実施例の導光板タッチ制御装置に接触した際の平面模式図である。
【図５】光線が本発明に係る第三実施例の導光板タッチ制御装置内で拡散する様を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１及び図２にあるように、本発明に係る第一実施例の導光板タッチ制御装置１は、導光板１０と、感光ユニットアレイ２０と、光射出ユニット３０と、マイクロプロセッサ４０とを包括して構成している。感光ユニットアレイ２０及び光射出ユニット３０は、それぞれマイクロプロセッサ４０に電気的に接続している。
【００１５】
導光板１０は、例えばアクリル板、樹脂板或いはガラス板等の導光可能な材料からなる湾曲可能或いは湾曲不可能な板体である。また、導光板１０は、上端面１１、下端面１２及び側端面１３を有し、上端面１１及び下端面１２は平面状或いは曲面状に互いに平行し合い、導光板１０の周縁には側端面１３が形成している。
【００１６】
感光ユニットアレイ２０は、一列に配列した複数の感光ユニット２１、２２、２３から構成している。感光ユニット２１、２２、２３は、フォトダイオード（Ｐｈｏｔｏｄｉｏｄｅ）或いはその他の感光素子である。光射出ユニット３０は、ＬＥＤ光源或いはレーザ光源であって、可視光線或いは赤外線などの非可視光線を射出している。また、光射出ユニット３０は、ＬＥＤ光或いはレーザ光の走査ユニットであってもよく、可視光線或いは赤外線などの非可視光線を射出し、作業エリアに対して走査を行っている。また、光射出ユニット３０は、変調信号を発する光源である。変調信号は、光線を変調する周波数、振幅或いは位相の信号である。光走査ユニットは、光源と、例えば回転ミラー、或いはマイクロ電子機械システム（Ｍｉｃｒｏ−Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍ，ＭＥＭＳ）及びマイクロ穂刈電子機械システム（Ｍｉｃｒｏ−Ｏｐｔｏ−Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍ，ＭＥＭＳ）等を包括して、光源が射出する光線に対して走査を行う機構とを包括している。
【００１７】
本実施例の導光板１０は矩形であって、四つの辺１０１、１０２、１０３、１０４を有している。導光板１０の四つの辺１０１、１０２、１０３、１０４の間に作業エリア５０を形成している。感光ユニットアレイ２０の一端は、光射出ユニット３０に隣接している。感光ユニットアレイ２０は、導光板１０の側端面１３に接触し、導光板１０の辺１０１の外側に設けている。光射出ユニット３０は、導光板１０の隅角の外側に設けている。
【００１８】
光射出ユニット３０が同時に射出した光線３１、３２、３３、或いは光射出ユニット３０により走査されて順次射出した光線３１、３２、３３は、導光板１０の側端面１３によって導光板１０の内部に導光し、同時に全ての作業エリア５０を照射或いは走査している。光線３１、３２、３３は、導光板１０の上端面１１及び下端面１２の間において全反射の拡散が行われる。光線が辺１０２、１０３、１０４に位置する側端面１３に当たった場合、一部の光線は側端面１３によって導光板１０の内部に反射され、それぞれ感光ユニットアレイ２０の複数の感光ユニット２１、２２、２３に射出されている。また、導光板１０の感光ユニットアレイ２０が接触していない側端面１３に反射膜１４を粘着することで、光線が辺１０２、１０３、１０４に位置する側端面１３に当たった際の反射効果を増強することもできる。
【００１９】
物体６０が作業エリア５０内にある導光板１０の上端面１１に接触していない場合、感光ユニットアレイ２０の全ての感光ユニット２１、２２、２３はそれぞれ正常信号を感知している。
【００２０】
例えば指等の物体６０が作業エリア５０内でタッチ制御作業を行い、導光板１０の上端部１１に接触した場合、光線の導光板１０内において拡散する全反射が破壊されることで、物体６０の接触エリアを通過する光線３１、３２、３３が減弱し、感光ユニット２１、２２、２３が物体６０の接触エリアを通過する光線３１、３２、３３に対応する減弱信号を感知している。
【００２１】
本発明は、マイクロプロセッサ４０により感光ユニットアレイ２０全ての感光ユニットが感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体６０が導光板１０に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した複数の感光ユニット２１、２２、２３を確認した後、減弱信号を感知した複数の感光ユニット２１、２２、２３の位置に基づき、物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力している。
【００２２】
本発明は、テスト後に物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置及びこれに相対する減弱信号を感知した複数の感光ユニット２１、２２、２３の位置に関連する情報を先に記録することができ、その後マイクロプロセッサ４０により前記の関連情報及び減弱信号を感知した複数の感光ユニット２１、２２、２３の位置に基づき、物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得ている。
【００２３】
また、本発明の導光板１０は、矩形に限定せず、作業エリア５０も導光板１０の上端面１１全体に限定せず、上端面１１の一部分であってもよい。
【００２４】
図３にあるように、本発明に係る第二実施例の導光板タッチ制御装置２は、導光板１０と、感光ユニットアレイ２０と、光射出ユニット３０と、マイクロプロセッサ４０とを包括して構成している。
【００２５】
本実施例の導光板タッチ制御装置２は、感光ユニットアレイ２０が導光板１０の下方に設けられ、下端面１２に接触している部分が、第一実施例の導光板タッチ制御装置１と異なる以外、その他の構成及び達成できる効果が同じであるため、あえてこれ以上の説明は行わない。
【００２６】
図４及び図５にあるように、本発明に係る第三実施例の導光板タッチ制御装置３は、導光板１０と、少なくとも一つの感光ユニット２１と、光走査ユニット３００と、マイクロプロセッサ４０と、少なくとも一つの再帰反射器（Ｒｅｔｒｏ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｒ）１５とを包括して構成している。
【００２７】
本実施例の導光板１０は、上述の第一実施例の導光板１０である。感光ユニット２１及び光走査ユニット３００は、それぞれマイクロプロセッサ４０に電気的に接続している。
【００２８】
本実施例の光走査ユニット３００は、導光板１０の隅角に設けられ、光線を射出して作業エリア５０全体を走査している。二つの感光ユニット２１は、それぞれ光走査ユニット３００に隣接し、且つ導光板１０の側端面１３或いは下端面１２のいずれか一つに接触している。
【００２９】
二つの帯状の再帰反射器１５の一端は感光ユニット２１に隣接し、且つ導光板１０の二つの辺１０１、１０４に対応する側端面１３に接触している。再帰反射器１５を一つだけ用いてもよく、導光板１０の二つの辺１０１、１０４のいずれか一つに対応する側端面１３に接触している。或いは、再帰反射器１５を一つだけ用いて感光ユニット２１に相対する位置、例えば導光板１０の辺１０２或いは辺１０３に対応する側端面１３に接触している位置に設けてもよい。
【００３０】
光走査ユニット３００により走査されて順次射出した光線３１、３２、３３は、それぞれ導光板１０の側端面１３より導光板１０の内部に導光され、作業エリア５０全体を走査している。光線３１、３２、３３は、導光板１０の上端面１１及び下端面１２の間において全反射の拡散が行われる。光線が二つの辺１０２、１０３に位置する側端面１３に当たった場合、一部の光線は側端面１３によって導光板１０の内部に反射され、再帰反射器１５に射出した光線３１、３２、３３は元の経路を経て光走査ユニット３００に再帰反射しており、光線は拡散する性質を備えているため、光走査ユニット３００に再帰反射した光線３１、３２、３３も光走査ユニット３００に隣接する感光ユニット２１に射出している。また、導光板１０の再帰反射器１５が接触していない側端面１３に反射膜１４を粘着することで、光線が側端面１３に当たった際の反射効果を増強することもできる。
【００３１】
物体６０が作業エリア５０内にある導光板１０の上端面１１に接触していない場合、感光ユニット２１は光走査ユニット３００の走査周期内で正常信号を感知している。
【００３２】
例えば指等の物体６０が作業エリア５０内でタッチ制御作業を行い、導光板１０の上端部１１に接触した場合、光線の導光板１０内において拡散する全反射が破壊されることで、物体６０の接触エリアを通過する光線３１、３２、３３が減弱し、感光ユニット２１が光走査ユニット３００の走査周期内で物体６０の接触エリアを通過する光線３１、３２、３３に対応する減弱信号を感知している。
【００３３】
本発明は、マイクロプロセッサ４０により感光ユニット２１が光走査ユニット３００の走査周期内で感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体６０が導光板１０に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに感光ユニット２１が減弱信号を感知した光走査ユニット３００の走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントを確認した後、少なくとも二つのタイムポイントに基づき、物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力している。
【００３４】
本発明は、テスト後に物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置及び感光ユニット２１が減弱信号を感知した光走査ユニット３００の走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントに関連する情報を先に記録することができ、その後マイクロプロセッサ４０により前記の関連情報及び感光ユニット２１が減弱信号を感知した光走査ユニット３００の走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントに基づき、物体６０が導光板１０の上端面１１に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得ている。
【００３５】
本発明は導光板のタッチ制御技術を利用しており、一つの光射出ユニットが射出する光線を導光板内に導光するだけで全反射の拡散を行い、マイクロプロセッサにより全ての感光ユニットが感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体が導光板に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに減弱信号を感知した少なくとも二つの感光ユニットを確認した後、減弱信号を感知した少なくとも二つの感光ユニットの位置に基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力し、或いは、マイクロプロセッサにより光射出ユニットに隣接する感光ユニットが光走査ユニットの走査周期内で感知した複数の信号を測定し、複数の信号に対してさらにマッチングを行うことで、物体が導光板に接触して全反射（ＦＴＩＲ）の破壊が起こる減弱信号を確認し、さらに感光ユニットが減弱信号を感知した光走査ユニットの走査周期内にある少なくとも二つのタイムポイントを確認した後、少なくとも二つのタイムポイントに基づき、物体が導光板の上端面に接触するタッチ制御ポイントの位置情報を得て、さらにまた、これに対応するタッチ制御信号を出力している。これによって、本発明は光源及び感光ユニットの使用数を低減し、大幅な製造費削減を行い、コストを抑えることができる。
【００３６】
上述したものは、本発明の技術内容を利用した実施例に過ぎず、また、当該分野に熟知した者が本発明を用いて行った修正及び変化は、本発明が請求する特許請求の範囲に属している。
【符号の説明】
【００３７】
１        導光板タッチ制御装置
１０      導光板
１０１    辺
１０２    辺
１０３    辺
１０４    辺
１１      上端面
１２      下端面
１３      側端面
１４      反射膜
１５      再帰反射器
２        導光板タッチ制御装置
２０      感光ユニットアレイ
２１      感光ユニット
２２      感光ユニット
２３      感光ユニット
３        導光板タッチ制御装置
３０      光射出ユニット
３００    光走査ユニット
３１      光線
３２      光線
３３      光線
４０      マイクロプロセッサ
５０      作業エリア
６０      物体
【図１】
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【図２】
2014207230.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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