(57)【要約】【課題】ランダムなノイズによる横筋や縦筋を抑圧することができるようにする。【解決手段】信号処理回路は、遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の保持データを保持し、複数行の保持データの一つをランダムに選択し、処理対象行の有効画素部の画素の画素信号から、ランダムに選択した保持データを減算する。本技術は、例えば、固体撮像装置の信号処理回路等に適用できる。【選択図】図８
2014207631.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置。
【請求項２】
前記信号処理回路は、複数行の前記行統計値の平均値を、前記保持データとして算出する
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項３】
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記遮光画素部の空間周波数に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項４】
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号にかけるゲインに応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項５】
前記信号処理回路は、前記ゲインが大きいほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
請求項４に記載の固体撮像装置。
【請求項６】
前記信号処理回路は、前記ゲインが小さいほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
請求項４に記載の固体撮像装置。
【請求項７】
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の露光時間に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項８】
前記信号処理回路は、前記露光時間が長いほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
請求項７に記載の固体撮像装置。
【請求項９】
前記信号処理回路は、
前記行統計値を色ごとに保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを色ごとに保持し、
色ごとに異なるゲインに応じて、前記画素の色の複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、前記画素の色に応じてランダムに選択した前記保持データを減算する
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項１０】
前記行統計値は、前記遮光画素部の各画素の画素信号の平均値またはメディアン値である
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項１１】
前記画素は、
受光量に応じた電荷を生成し、蓄積する前記光電変換素子と、
前記光電変換素子の蓄積電荷を転送する転送トランジスタと、
前記転送トランジスタにより転送された電荷を保持するフローティングディフュージョンと
を少なくとも有し、
前記光電変換素子で蓄積された電荷が、全画素同時に前記フローティングディフュージョンに転送され、前記フローティングディフュージョンで保持されている電荷が、行単位に順次出力される
請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項１２】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の
前記信号処理回路が、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
信号処理方法。
【請求項１３】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置
を備える電子機器。
【請求項１４】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置。
【請求項１５】
前記信号処理回路は、複数列の前記列統計値の平均値を、前記保持データとして算出する
請求項１４に記載の固体撮像装置。
【請求項１６】
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記遮光画素部の空間周波数に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
請求項１４に記載の固体撮像装置。
【請求項１７】
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号にかけるゲインに応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
請求項１４に記載の固体撮像装置。
【請求項１８】
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の露光時間に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
請求項１４に記載の固体撮像装置。
【請求項１９】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の
前記信号処理回路が、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
信号処理方法。
【請求項２０】
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置
を備える電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、固体撮像装置およびその信号処理方法、並びに電子機器に関し、特に、ランダムなノイズによる横筋や縦筋を抑圧することができるようにする固体撮像装置およびその信号処理方法、並びに電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
イメージセンサでは、画素が持つ暗電流成分や暗電流の面内分布によって発生する暗時シェーディング、読み出し回路や電源揺れに起因する横筋・縦筋が発生する。ここで、暗電流とは、光が入射されていなくてもフォトダイオードに電荷が蓄積されることにより発生する電流である。
【０００３】
そこで、イメージセンサでは、画素アレイ部の一部を遮光して、遮光された画素の画素信号を検波してクランプ値とし、遮光されていない有効画素部の画素信号から減算することにより、暗時シェーディング、横筋、縦筋を補正するクランプ処理が行われている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
しかし、遮光画素の画素信号にはランダムノイズが含まれているため、ランダムノイズの影響によるランダムな横筋や縦筋が発生してしまうという問題がある。
【０００５】
ランダムノイズの影響によるランダムな横筋や縦筋を抑圧するためには、クランプ値を検波する遮光画素の画素数を増やして、その複数の画素数の平均値やメディアン値を計算してクランプ値として用いる手法がある。しかし、遮光画素の画素数を増やすと、チップサイズが大きくなるというデメリットが発生する。
【０００６】
そこで、遮光画素の画素数を増やさずに、複数行または複数列の遮光画素の平均値やメディアン値をクランプ値として用いることで、ランダムな横筋や縦筋を抑圧することも提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−１５７１２号公報
【特許文献２】特開２００６−１５７２６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、複数行や複数列の遮光画素を用いてクランプ値を算出した場合には、空間的に高周波の暗時シェーディングに対する補正追従性が損なわれる。すなわち、隣接する行や列で急峻に変化するようなノイズに対しては、上手に補正することができない。
【０００９】
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、ランダムなノイズによる横筋や縦筋を抑圧することができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本技術の第１の側面の固体撮像装置は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備え、前記信号処理回路は、前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する。
【００１１】
本技術の第１の側面の信号処理方法は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の前記信号処理回路が、前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する。
【００１２】
本技術の第１の側面の電子機器は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備え、前記信号処理回路は、前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する固体撮像装置を備える。
【００１３】
本技術の第１の側面においては、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の前記信号処理回路において、前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値が保持データとして算出され、前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データが保持され、複数行の前記保持データの一つがランダムに選択され、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データが減算される。
【００１４】
本技術の第２の側面の固体撮像装置は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備え、前記信号処理回路は、前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する。
【００１５】
本技術の第２の側面の信号処理方法は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の前記信号処理回路が、前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する。
【００１６】
本技術の第２の側面の電子機器は、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備え、前記信号処理回路は、前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する固体撮像装置を備える。
【００１７】
本技術の第２の側面においては、複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の前記信号処理回路において、前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値が保持データとして算出され、前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データが保持され、複数列の前記保持データの一つがランダムに選択され、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データが減算される。
【００１８】
固体撮像装置及び電子機器は、独立した装置であっても良いし、他の装置に組み込まれるモジュールであっても良い。
【発明の効果】
【００１９】
本技術の第１及び第２の側面によれば、ランダムなノイズによる横筋や縦筋を抑圧することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本技術が適用された固体撮像装置の概略構成例を示すブロック図である。
【図２】画素アレイ部の構成例を示す図である。
【図３】従来の水平クランプ処理を説明する図である。
【図４】従来の水平クランプ処理を説明する図である。
【図５】信号処理回路が行う水平クランプ処理の概要について説明する図である。
【図６】従来手法との比較結果の例を示す図である。
【図７】信号処理回路の要部のブロック図である。
【図８】信号処理回路の第１の実施の形態を示すブロック図である。
【図９】信号処理回路の第２の実施の形態を示すブロック図である。
【図１０】信号処理回路の第３の実施の形態を示すブロック図である。
【図１１】信号処理回路の第４の実施の形態を示すブロック図である。
【図１２】信号処理回路の第５の実施の形態を示すブロック図である。
【図１３】信号処理回路の第６の実施の形態を示すブロック図である。
【図１４】画素の具体的構成例を示す回路図である。
【図１５】画素の駆動時のポテンシャルを示す図である。
【図１６】画素アレイ部全体の駆動制御の例を示す図である。
【図１７】本技術を適用した電子機器としての撮像装置の構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本技術を実施するための形態（以下、実施の形態という）について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．固体撮像装置の概略構成例
２．信号処理回路の第１の実施の形態
３．信号処理回路の第２の実施の形態
４．信号処理回路の第３の実施の形態
５．信号処理回路の第４の実施の形態
６．信号処理回路の第５の実施の形態
７．信号処理回路の第６の実施の形態
８．電子機器の構成例
【００２２】
＜固体撮像装置の概略構成例＞
図１は、本技術が適用された固体撮像装置の概略構成を示している。
【００２３】
図１の固体撮像装置１は、半導体として例えばシリコン（Si）を用いた半導体基板１３に、画素２が２次元アレイ状に配列された画素アレイ部３と、その周辺の周辺回路部とを有して構成される。周辺回路部には、垂直駆動回路４、カラム信号処理回路５、水平駆動回路６、バッファ回路７、制御回路８などが含まれる。
【００２４】
画素２は、光電変換素子としてのフォトダイオードと、複数の画素トランジスタを有して構成される。複数の画素トランジスタは、例えば、転送トランジスタ、増幅トランジスタ、選択トランジスタ、リセットトランジスタなどのMOSトランジスタである。画素２の構成例については、図１４を参照して後述する。
【００２５】
画素アレイ部３は、図２に示されるように、光電変換素子が遮光されていない画素が配列されている有効画素部２１と、光電変換素子が遮光されており、暗時のレベル（黒レベル）を検出するための画素が配列されている遮光画素部であるオプティカルブラック部２２（以下、OPB部２２という。）で構成されている。OPB部２２は、有効画素部２１に対して水平方向（行方向）に配列されているHOPB領域と、垂直方向（列方向）に配列されているVOPB領域とからなる。
【００２６】
図１に戻り、制御回路８は、入力クロックと、動作モードなどを指令するデータを受け取り、また固体撮像装置１の内部情報などのデータを出力する。すなわち、制御回路８は、垂直同期信号、水平同期信号及びマスタクロックに基づいて、垂直駆動回路４、カラム信号処理回路５及び水平駆動回路６などの動作の基準となるクロック信号や制御信号を生成する。そして、制御回路８は、生成したクロック信号や制御信号を、垂直駆動回路４、カラム信号処理回路５及び水平駆動回路６等に出力する。
【００２７】
垂直駆動回路４は、例えばシフトレジスタによって構成され、画素駆動配線１０を選択し、選択された画素駆動配線１０に画素２を駆動するためのパルスを供給し、行単位で画素２を駆動する。すなわち、垂直駆動回路４は、画素アレイ部３の各画素２を行単位で順次垂直方向に選択走査し、各画素２の光電変換部において受光量に応じて生成された信号電荷に基づく画素信号を、垂直信号線９を通してカラム信号処理回路５に供給する。
【００２８】
カラム信号処理回路５は、画素２の列ごとに配置されており、１行分の画素２から出力される信号を画素列ごとにノイズ除去などの信号処理を行う。例えば、カラム信号処理回路５は、画素固有の固定パターンノイズを除去するためのCDS(Correlated Double Sampling：相関２重サンプリング)およびAD変換等の信号処理を行う。
【００２９】
水平駆動回路６は、例えばシフトレジスタによって構成され、水平走査パルスを順次出力することによって、カラム信号処理回路５の各々を順番に選択し、カラム信号処理回路５の各々から画素信号を水平信号線１１に出力させる。
【００３０】
バッファ回路７は、カラム信号処理回路５の各々から水平信号線１１を通して順次に供給される信号をバファリングして、信号処理回路１２に出力する。
【００３１】
信号処理回路１２は、バッファ回路７から供給されるデジタルの画素信号に対して、各種のデジタル信号処理を行う。本実施の形態においては、信号処理回路１２において、暗電流による黒レベルのオフセット、暗電流の面内依存や電源揺れの影響などによって発生する暗時シェーディングなどを補正するクランプ処理が少なくとも行われる。信号処理回路１２では、例えば、列ばらつき補正など、その他のデジタル信号処理を行うこともできる。信号処理回路１２は、クランプ処理後の画素信号を、後段の処理回路（不図示）に出力する。
【００３２】
以上のように構成される固体撮像装置１は、CDS処理とAD変換処理を行うカラム信号処理回路５が画素列ごとに配置されたカラムAD方式と呼ばれるCMOSイメージセンサである。
【００３３】
固体撮像装置１は、信号処理回路１２において、OPB部２２の画素信号に含まれるランダムノイズの影響によるランダムな横筋や縦筋を抑圧することができるクランプ処理を実行することを特徴とする。そこで、信号処理回路１２が実行するクランプ処理の詳細について説明する。
【００３４】
以下では、信号処理回路１２が、水平方向の画素行単位でクランプ処理を実行し、ランダムな横筋や、垂直方向のシェーディングを補正する水平クランプ処理について詳細に説明する。しかし、処理単位を、水平方向の画素行単位から、垂直方向の画素列単位に置き換えれば、本技術は、ランダムな縦筋、および、水平方向のシェーディングを補正する垂直クランプ処理についても同様に適用できる。
【００３５】
＜従来の水平クランプ処理の説明＞
まず初めに、図３および図４を参照して、従来の水平クランプ処理について説明する。
【００３６】
図３は、画素アレイ部３に発生する垂直方向の暗時シェーディングを説明する図である。
【００３７】
図３には、画素アレイ部３のHOPB領域を通る所定の画素列から出力される画素信号であるHOPB領域出力信号P1と、画素アレイ部３の有効画素部２１を通る所定の画素列から出力される画素信号である有効画素出力信号P2が示されている。
【００３８】
なお、図３では、画素アレイ部３の有効画素部２１には一様な光が入射されていると仮定している。
【００３９】
HOPB領域とVOPB領域とからなるOPB部２２は遮光されている。そのため、HOPB領域出力信号P1は、暗電流の面内分布や電源揺れの影響などによって発生する不要な信号である。この不要な信号は画素アレイ部３の有効画素部２１の各画素においても同様に発生しているため、有効画素出力信号P2は、HOPB領域出力信号P1と同様の信号分布を示している。
【００４０】
しかし、画素アレイ部３の有効画素部２１には、一様な光が入射されているので、有効画素出力信号P2は、各画素が本来受光した受光量に応じた信号ではない。有効画素部２１の各画素が本来受光した信号は、図３において破線で示される、有効画素出力信号P2からHOPB領域出力信号P1を減算した信号（P2−P1）となる。水平クランプ処理は、有効画素出力信号P2からHOPB領域出力信号P1を減算した信号（P2−P1）を求め、暗電流段差や暗時シェーディングの成分を除去する処理である。
【００４１】
図４を参照して、従来の水平クランプ処理について説明する。
【００４２】
図４は、有効画素部２１にある水平方向[h]および垂直方向[v]の画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]に対する水平クランプ処理の例を示している。
【００４３】
水平クランプ処理では、初めに、画素行[v]のHOPB領域の複数画素の画素信号を用いて、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を検波する検波処理が実行される。
【００４４】
具体的には、図４に示されるように、画素行[v]のHOPB領域の画素数がCn個であるとすると、画素位置[0,v]から画素位置[Cn-1,v]までのCn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]の平均値HOPBA[v]=Average(Pix[0,v],・・・,Pix[Cn-1,v])が、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]として求められる。
【００４５】
あるいはまた、Cn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]のメディアン値HOPBM[v]=Median(Pix[0,v],・・・,Pix[Cn-1,v])を、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]として求めてもよい。
【００４６】
そして次に、求められたクランプ値HCLP[v]を、有効画素部２１の画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]から減算することで、暗時シェーディング成分などを除去した本来の画素信号Pixo[h,v]=Pix[h,v]-HCLP[v]が得られる。
【００４７】
しかし、このような従来の水平クランプ処理では、HOPB領域の画素信号にのるランダムノイズ成分を除去できなければ、本来補正するべき値からずれた値をクランプ値HCLP[v]として用いてしまうことから、誤補正が発生してしまう。
【００４８】
そのような誤補正をできるだけなくすために、従来は、背景技術で説明したように、HOPB領域の画素数Cnを増やしたり、複数行の平均値をクランプ値として求めるなどの手法が採用されていた。しかし、このような手法では、チップサイズの増大やクランプの追従性を損なうといったデメリットが発生する。
【００４９】
＜信号処理回路１２によるクランプ処理の概要＞
そこで、信号処理回路１２では、そのようなデメリットを生じさせずに、ランダムな横筋の発生を抑圧するクランプ処理が実現されている。
【００５０】
図５を参照して、信号処理回路１２が行う水平クランプ処理の概要について説明する。
【００５１】
クランプ処理を行う処理対象の画素行が画素行[v]である場合、信号処理回路１２は、画素行[v]のHOPB領域のCn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]を用いて、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を求める。
【００５２】
また、信号処理回路１２は、これまでのクランプ処理で計算した複数行のクランプ値も、記憶して保持しておく。図５では、信号処理回路１２が、処理対象の画素行[v]を含めて８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]を保持している例を示している。
【００５３】
信号処理回路１２は、画素行[v]の有効画素部２１の各画素において、保持している８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のなかから、いずれか一つをランダムに選択する。そして、信号処理回路１２は、ランダムに選択した一つのクランプ値を、有効画素部２１の画素行[v]の画素の画素信号から減算することで、暗時シェーディング成分などを除去した本来の画素信号を求める。
【００５４】
図５の例では、例えば、画素位置[Cn,v]においては、信号処理回路１２は、画素行[v]の１行前の画素行[v-1]のクランプ値HCLP[v-1]を選択し、画素信号Pix[Cn,v]からクランプ値HCLP[v-1]を減算することで、本来の画素信号Pixo[Cn,v]=Pix[Cn,v]-HCLP[v-1]を求める。
【００５５】
また例えば、画素位置[Cn+1,v]においては、信号処理回路１２は、画素行[v]の４行前の画素行[v-4]のクランプ値HCLP[v-4]を選択し、画素信号Pix[Cn+1,v]からクランプ値HCLP[v-4]を減算することで、本来の画素信号Pixo[Cn+1,v]=Pix[Cn+1,v]-HCLP[v-4]を求める。
【００５６】
同様に、画素位置[Cn+2,v]においては、信号処理回路１２は、画素行[v]ののクランプ値HCLP[v]を選択し、画素信号Pix[Cn+2,v]からクランプ値HCLP[v]を減算することで、本来の画素信号Pixo[Cn+2,v]=Pix[Cn+2,v]-HCLP[v]を求める。
【００５７】
図５において、クランプ処理対象行である画素行[v]の有効画素部２１の各画素内に記載されているクランプ値は、有効画素部２１の各画素の画素信号から減算されるランダム選択されたクランプ値を示している。
【００５８】
このように、信号処理回路１２は、クランプ処理を実行する際に、クランプ値として、保持している複数行（８行）のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のなかからランダムに選択し、減算することで、HOPB領域のクランプ値のランダム誤差（ランダムノイズ抑圧残り）を列方向に分散させる。これにより、ランダムノイズ抑圧残りが同一行に一様にのることを防止することができるため、ランダムな横筋を抑圧することができる。
【００５９】
図６は、従来手法と信号処理回路１２による処理を比較して示している。
【００６０】
図６Aは、８行の平均値をクランプ値として求め減算する従来の水平クランプ処理の処理結果を示している。図６Bは、信号処理回路１２による水平クランプ処理の処理結果を示している。
【００６１】
従来手法による図６Aの画像では、ランダムな横筋が発生しているが、図６Bの画像では、ランダムな横筋が抑圧されていることがわかる。したがって、複数行の平均値をクランプ値として求める従来手法では、ランダムな横筋を抑圧するためには、８行より大きい行数のクランプ値を平均化する必要があるが、信号処理回路１２による本技術では、従来手法よりも少ない行数でもランダムな横筋を抑圧することができ、従来手法よりも空間的に高周波なランダムノイズに対応可能である。
【００６２】
＜信号処理回路１２によるクランプ処理の要部の説明＞
図７は、上述した水平クランプ処理を実現する信号処理回路１２の要部のブロック図を示している。
【００６３】
信号処理回路１２は、ランダムセレクト回路３１と演算器３２を含んで構成されている。
【００６４】
ランダムセレクト回路３１は、クランプデータ保持回路４１、制御回路４２、およびセレクタ４３により構成されている。
【００６５】
クランプデータ保持回路４１は、クランプ処理の処理対象行が画素行[v]である場合に、現在の画素行[v]を含めて８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]を保持し、セレクタ４３に供給する。画素アレイ部３の各画素行が、垂直方向に順次、クランプ処理対象とされ、クランプデータ保持回路４１では、新たな画素行のクランプ値が入力された場合、最も古いクランプ値が消去される。
【００６６】
制御回路４２は、クランプデータ保持回路４１からセレクタ４３に供給される８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれかを、処理対象行の画素単位でランダムに選択する。そして、制御回路４２は、選択したクランプ値を示すセレクト制御信号を、セレクタ４３に供給する。図７の「Rand() %8」は、８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれかがランダムに選択される処理を表している。
【００６７】
セレクタ４３は、制御回路４２から供給されるセレクト制御信号に基づいて、クランプデータ保持回路４１から供給される８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれか一つを選択する。セレクタ４３は、処理対象画素行[v]の水平位置[h]の画素に対し、セレクト制御信号に基づいて選択されたクランプ値を、選択クランプ値SEL[HCLP_h]として、演算器３２に出力する。
【００６８】
演算器３２には、ランダムセレクト回路３１のセレクタ４３から、選択クランプ値SEL[HCLP_h]が入力されるとともに、有効画素部２１の画素位置[h,v]から読み出された画素信号Pix[h,v]が入力される。
【００６９】
演算器３２は、有効画素部２１の画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]から、選択クランプ値SEL[HCLP_h]を減算することにより、クランプ処理後の画素信号Pixo[h,v]=Pix[h,v]-SEL[HCLP_h]を生成し、出力する。
【００７０】
＜信号処理回路１２の第１の実施の形態＞
図８は、上述した水平クランプ処理を実現する信号処理回路１２の全体構成例であって、信号処理回路１２の第１の実施の形態を示すブロック図である。
【００７１】
なお、図８において、上述した図７と同一の構成については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【００７２】
信号処理回路１２は、図７で説明したランダムセレクト回路３１および演算器３２と、白点・黒点補正回路５１、セレクタ５２、HOPB検波回路５３、並びに、セレクタ５４により構成される。
【００７３】
白点・黒点補正回路５１は、クランプ値算出の信頼性を高めるため、白点や黒点となっている画素信号を補正する補正回路である。
【００７４】
例えば、白点・黒点補正回路５１は、入力されてきた画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]が、第１の閾値TH1未満または第２の閾値TH2（TH1＜TH2）以上の信号レベルである場合、予め決定しておいた所定の黒レベルの画素信号に置き換えて、セレクタ５２に出力する。入力されてきた画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]が、第１の閾値TH1以上第２の閾値TH2未満の信号レベルである場合には、入力されてきた画素信号Pix[h,v]が、セレクタ５２にそのまま出力される。
【００７５】
セレクタ５２は、供給される制御信号S1に基づいて、入力ｘ１か、または、入力ｘ２を選択し、出力ｙから出力させる。セレクタ５２には、画素位置[h,v]がHOPB領域内である場合には、入力ｘ１を選択する制御信号S1が供給され、画素位置[h,v]が有効画素部２１である場合には、入力ｘ２を選択する制御信号S1が供給される。
【００７６】
したがって、セレクタ５２は、画素位置[h,v]がHOPB領域内である場合には、白点・黒点補正処理後の画素信号Pix[h,v]を選択して出力し、画素位置[h,v]が有効画素部２１である場合には、有効画素部２１から読み出されたそのままの画素信号Pix[h,v]を選択して出力する。
【００７７】
HOPB検波回路５３は、セレクタ５２から順次出力される画素行[v]の画素信号Pix[h,v]のうち、HOPB領域のCn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]のみを保持し、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を算出する。
【００７８】
具体的には、HOPB検波回路５３は、Cn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]の平均値HOPBA[v]=Average(Pix[0,v],・・・,Pix[Cn-1,v])と、メディアン値HOPBM[v]=Median(Pix[0,v],・・・,Pix[Cn-1,v])を計算する。そして、セレクタ６１は、制御信号S2に基づいて、平均値HOPBA[v]またはメディアン値HOPBM[v]のいずれか一方を選択し、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]として、HOPB検波回路５３から、ランダムセレクト回路３１のクランプデータ保持回路４１に供給する。
【００７９】
ランダムセレクト回路３１のクランプデータ保持回路４１は、上述したように、HOPB検波回路５３から供給された処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を含めて８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]を保持している。
【００８０】
セレクタ４３は、制御回路４２からのセレクト制御信号に基づいて、クランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれか一つをランダムに選択し、選択クランプ値SEL[HCLP_h]として、演算器３２に出力する。
【００８１】
演算器３２は、セレクタ５２から供給された画素信号Pix[h,v]から、ランダムセレクト回路３１から供給された選択クランプ値SEL[HCLP_h]を減算し、その結果得られる画素信号Pixo[h,v]=Pix[h,v]-SEL[HCLP_h]を、セレクタ５４に出力する。
【００８２】
セレクタ５４は、供給される制御信号S3に基づいて、入力ｘ１か、または、入力ｘ２を選択し、出力ｙから出力させる。セレクタ５４には、画素位置[h,v]が有効画素部２１である場合には、入力ｘ１を選択する制御信号S3が供給され、画素位置[h,v]がHOPB領域内である場合には、入力ｘ２を選択する制御信号S3が供給される。
【００８３】
したがって、セレクタ５４は、画素位置[h,v]が有効画素部２１である場合には、クランプ処理後の信号である、演算器３２からの画素信号Pixo[h,v]を選択して出力する。一方、画素位置[h,v]がHOPB領域内である場合には、セレクタ５４は、白点・黒点補正処理後の信号である、セレクタ５２からの画素信号Pix[h,v]を選択して出力する。
【００８４】
なお、制御信号S1乃至S3を出力する制御部は、信号処理回路１２内に設けられていてもよいし、信号処理回路１２の外部に設けられていてもよい。また、制御回路４２が、制御信号S1乃至S3を出力するようにしてもよい。
【００８５】
次に、処理対象画素行[v]における信号処理回路１２の動作（処理）について説明する。
【００８６】
初めに、画素位置[h,v]がHOPB領域内である間の動作について説明する。
【００８７】
画素位置[h,v]がHOPB領域内である間、セレクタ５２によって、白点・黒点補正処理後の画素信号Pix[h,v]が選択されて、HOPB検波回路５３、演算器３２、およびセレクタ５４に出力される。
【００８８】
HOPB検波回路５３は、画素位置[h,v]がHOPB領域内である間、セレクタ５２から順次出力される画素信号Pix[h,v]を蓄積し、HOPB領域のCn個の画素の画素信号Pix[0,v]乃至Pix[Cn-1,v]が蓄積された時点で、画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を算出し、ランダムセレクト回路３１に出力する。
【００８９】
また、画素位置[h,v]がHOPB領域内である間、セレクタ５４は、制御信号S3に基づいて、セレクタ５２からの画素信号Pix[h,v]、すなわち、白点・黒点補正処理後の画素信号Pix[h,v]を選択して、出力する。
【００９０】
次に、画素位置[h,v]が有効画素部２１となると、セレクタ５２は、制御信号S1に基づいて、入力されてきた画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]そのものを選択して、HOPB検波回路５３、演算器３２、およびセレクタ５４に出力する。
【００９１】
セレクタ５２が画素位置[h,v]の画素信号Pix[h,v]を演算器３２に出力するタイミングに合わせて、ランダムセレクト回路３１は、クランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれか一つをランダムに選択し、選択クランプ値SEL[HCLP_h]として、演算器３２に出力する。
【００９２】
演算器３２は、セレクタ５２から供給された画素信号Pix[h,v]から、ランダムセレクト回路３１から供給された選択クランプ値SEL[HCLP_h]を減算することにより、選択クランプ値SEL[HCLP_h]によりクランプ処理した画素信号Pixo[h,v]を計算し、セレクタ５４に出力する。
【００９３】
セレクタ５４は、画素位置[h,v]が有効画素部２１である間は、演算器３２からのクランプ処理した画素信号Pixo[h,v]を選択して出力する。
【００９４】
信号処理回路１２は、以上のように動作する。
【００９５】
以上のように、第１の実施の形態の信号処理回路１２によれば、保持している複数行のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]をランダムに選択し、処理対象画素行[v]の有効画素部２１の各画素の画素信号Pix[h,v]から減算することで、HOPB領域のクランプ値のランダム誤差（ランダムノイズ抑圧残り）を、列方向に分散させる。これにより、ランダムノイズ抑圧残りが同一行に一様にのることを防止することができるため、ランダムな横筋を抑圧することができる。
【００９６】
＜信号処理回路１２の第２の実施の形態＞
図９は、信号処理回路１２の第２の実施の形態を示すブロック図である。
【００９７】
図９において、図８の第１の実施の形態と対応する部分については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【００９８】
第２の実施の形態においては、上述した第１の実施の形態と比較すると、HOPB検波回路５３とランダムセレクト回路３１との間に、LPF回路（ローパスフィルタ回路）７１が新たに追加されている。
【００９９】
LPF回路７１は、HOPB検波回路５３から順次出力されるクランプ値HCLP[v]を複数行分保持し、処理対象画素行[v]を含む直近の複数行のクランプ値の平均値を計算する。そして、LPF回路７１は、計算して得られた複数行のクランプ値の平均値を、処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]として、ランダムセレクト回路３１に出力する。
【０１００】
なお、LPF回路７１は、ローパスフィルタとしての機能を有する構成であればよく、例えば、IIRフィルタなどで構成することもできる。
【０１０１】
第２の実施の形態のその他の構成および動作は、上述した第１の実施の形態と同様である。
【０１０２】
＜信号処理回路１２の第３の実施の形態＞
図１０は、信号処理回路１２の第３の実施の形態を示すブロック図である。
【０１０３】
図１０において、図９の第２の実施の形態と対応する部分については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１０４】
第３の実施の形態においては、上述した第２の実施の形態と比較すると、ランダムセレクト回路３１において、制御回路４２に代えて制御回路４２Aが設けられている。
【０１０５】
第１および第２の実施の形態の制御回路４２は、保持している８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれかをランダムに選択するセレクト制御信号をセレクタ４３に供給する。
【０１０６】
これに対して、制御回路４２Aは、クランプ処理対象である画素行[v]付近のHOPB領域の空間周波数を検波し、検波された空間周波数に応じて、ランダム選択する行数を変化させる。
【０１０７】
具体的には、制御回路４２Aは、セレクタ８１を有し、セレクタ８１に、画素行[v]付近のHOPB領域の空間周波数を検波した結果が入力される。セレクタ８１は、例えば、入力される空間周波数を３つのレベルに分類し、分類結果に応じて、ランダム選択する行数として「０」、「４行」、または「８行」のいずれかを選択する。
【０１０８】
入力された空間周波数が最も高周波な第１のレベルに含まれる場合には、セレクタ８１は、ランダム選択する行数として「０」を選択し、処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を選択するセレクト制御信号を、セレクタ４３に供給する。
【０１０９】
入力された空間周波数が第１のレベルよりも低い第２のレベルに含まれる場合には、セレクタ８１は、ランダム選択する行数として「４行」を選択し、保持している８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のうち、直近の４行のクランプ値HCLP[v-3]乃至HCLP[v]のなかからランダムに選択して、選択したクランプ値を示すセレクト制御信号を、セレクタ４３に供給する。
【０１１０】
入力された空間周波数が最も低周波な第３のレベルに含まれる場合には、セレクタ８１は、ランダム選択する行数として「８行」を選択し、保持している８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]のいずれかをランダムに選択して、選択したクランプ値を示すセレクト制御信号を、セレクタ４３に供給する。
【０１１１】
以上のように、セレクタ８１は、画素行[v]付近のHOPB領域の空間周波数が高周波で変化しているときほどランダム選択する行数を減らすことにより、クランプの追従性を向上させる。
【０１１２】
第３の実施の形態のその他の構成および動作は、上述した他の実施の形態と同様である。
【０１１３】
なお、上述した例では、入力される空間周波数を３つのレベルに分類し、ランダム選択する行数を３種類のなかから選択する例について説明したが、勿論、ランダム選択する行数の選択肢は、さらに増やしてもよいし、２種類でもよい。
【０１１４】
＜信号処理回路１２の第４の実施の形態＞
図１１は、信号処理回路１２の第４の実施の形態を示すブロック図である。
【０１１５】
図１１において、図１０の第３の実施の形態と対応する部分については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１１６】
第４の実施の形態においては、ランダムセレクト回路３１において、制御回路４２Aに代えて制御回路４２Bが設けられている。
【０１１７】
制御回路４２Bのセレクタ８１には、処理対象画素行[v]の有効画素部２１の各画素の画素信号にかけられるゲインが入力される。
【０１１８】
セレクタ８１は、処理対象画素行[v]の有効画素部２１の各画素の画素信号にかけるゲインに応じて、ランダム選択する行数を変化させる。
【０１１９】
例えば、セレクタ８１は、画素信号にかけられるゲインが大きいほど、ランダム選択する行数が多くなるように、ランダム選択する行数である「０」、「４行」、または「８行」を選択する。あるいはまた、セレクタ８１は、画素信号にかけられるゲインが小さいほど、ランダム選択する行数が多くなるように、ランダム選択する行数を選択してもよい。ゲインとランダム選択する行数をどのように対応させるかは、設定によって切り替えることができる。
【０１２０】
第４の実施の形態のその他の構成および動作は、上述した第３の実施の形態と同様である。
【０１２１】
以上のように、セレクタ８１は、処理対象画素行[v]の画素信号のゲインに応じてランダム選択する行数を変化させることにより、HOPB領域の画素信号（暗時シェーディング量）がゲインによって急激に変化した場合でもクランプを追従させることができる。
【０１２２】
＜信号処理回路１２の第５の実施の形態＞
図１２は、信号処理回路１２の第５の実施の形態を示すブロック図である。
【０１２３】
図１２において、図１１の第４の実施の形態と対応する部分については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１２４】
第５の実施の形態においては、ランダムセレクト回路３１において、制御回路４２Bに代えて制御回路４２Cが設けられている。
【０１２５】
制御回路４２Cのセレクタ８１には、画素アレイ部３の各画素の露光時間が入力される。
【０１２６】
セレクタ８１は、画素アレイ部３の各画素の露光時間に応じて、ランダム選択する行数を変化させる。具体的には、セレクタ８１は、露光時間を３つのレベルに分類し、露光時間が長いほど、ランダム選択する行数が多くなるように制御する。
【０１２７】
補正すべき暗時シェーディングは、画素アレイ部３の各画素２によって発生する暗電流成分に起因するものがある。この場合、露光時間に応じて暗時シェーディング量は変化するため、クランプの追従性を露光時間に応じて変化させる必要がある。
【０１２８】
したがってセレクタ８１が露光時間に応じてランダム選択する行数を変化させることにより、露光時間に応じて変化する暗時シェーディング量にクランプを追従させることができる。
【０１２９】
第５の実施の形態のその他の構成および動作は、上述した第３の実施の形態と同様である。
【０１３０】
＜信号処理回路１２の第６の実施の形態＞
図１３は、信号処理回路１２の第６の実施の形態を示すブロック図である。
【０１３１】
図１３において、図８の第１の実施の形態と対応する部分については同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１３２】
第６の実施の形態においては、画素アレイ部３の各画素の色配列がR(Red)，Gr(Green),B(Blue),Gb(Green)の組合せで行列状に配置されるベイヤ配列で構成されているものとして、処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]を求めるHOPB検波回路５３が、R，Gr,B,Gbの色ごとに設けられている。
【０１３３】
すなわち、HOPB(R)検波回路５３Rは、処理対象画素行[v]にRの画素が含まれる場合に、Rの画素信号のみを用いた処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]/Rを求め、ランダムセレクト回路３１に出力する。HOPB(Gr)検波回路５３Grは、処理対象画素行[v]にGrの画素が含まれる場合に、Grの画素信号のみを用いた処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]/Grを求め、ランダムセレクト回路３１に出力する。HOPB(B)検波回路５３Bは、処理対象画素行[v]にBの画素が含まれる場合に、Bの画素信号のみを用いた処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]/Bを求め、ランダムセレクト回路３１に出力する。HOPB(Gb)検波回路５３Gbは、処理対象画素行[v]にGbの画素が含まれる場合に、Gbの画素信号のみを用いた処理対象画素行[v]のクランプ値HCLP[v]/Gbを求め、ランダムセレクト回路３１に出力する。
【０１３４】
第６の実施の形態のランダムセレクト回路３１は、クランプデータ保持回路４１D、制御回路４２D、およびセレクタ４３により構成されている。
【０１３５】
クランプデータ保持回路４１Dは、直近の８行分のクランプ値HCLP[v-7]乃至HCLP[v]を、R，Gr,B,Gbの色ごとに保持する。
【０１３６】
制御回路４２Dのセレクタ８１には、画素アレイ部３の各画素の色ごとに異なるゲイン（以下、色別ゲインという。）が入力される。
【０１３７】
セレクタ８１は、画素アレイ部３の各画素の色別ゲインに応じて、ランダム選択する行数を変化させる。上述した第４の実施の形態と同様に、色別ゲインが大きいほど、ランダム選択する行数が多くなるように制御する場合もあれば、色別ゲインが小さいほど、ランダム選択する行数が多くなるように制御する場合もある。これにより、色毎に異なるゲインの変化によって暗時シェーディング量が変化した場合にもクランプを追従させることができる。
【０１３８】
第６の実施の形態のその他の構成および動作は、色ごとの処理が行われる点を除いて、上述した第４の実施の形態と同様である。
【０１３９】
以上、本技術を適用した信号処理回路１２の第１乃至第６の実施の形態によれば、HOPB領域のクランプ値のランダム誤差（ランダムノイズ抑圧残り）を列方向に分散させることで、HOPB領域の一行当たりの画素数を増やすことなく、ランダムな横筋を抑圧することができる。
【０１４０】
なお、上述した第１乃至第６の実施の形態それぞれの一部の構成を、適宜組み合わせた実施の形態とすることも可能である。例えば、第６の実施の形態において、色別の各HOPB検波回路５３の後段に、LPF回路７１を設けた構成なども採用することができる。
【０１４１】
以上においては、信号処理回路１２が、HOPB領域の画素信号を行単位で統計処理した行統計値（平均値HOPBA[v]、メディアン値HOPBM[v]）を保持データとして、複数行の保持データ（クランプ値）を保持し、有効画素部２１の各画素において、複数行の保持データをランダムに選択して画素信号から減算することにより、ランダムな横筋を抑圧する例について説明した。
【０１４２】
しかしながら、本技術は、ランダムな縦筋を抑圧する処理にも同様に適用することができる。具体的には、信号処理回路１２は、VOPB領域の画素信号を列単位で統計処理した列統計値（平均値VOPBA[h]、メディアン値VOPBM[h]）を保持データとして、複数列の保持データ（クランプ値）を保持する。そして、信号処理回路１２は、有効画素部２１の各画素において、複数列の保持データ（クランプ値）をランダムに選択して画素信号から減算する。これにより、VOPB領域のクランプ値のランダム誤差（ランダムノイズ抑圧残り）を行方向に分散させることができ、VOPB領域の一列当たりの画素数を増やすことなく、ランダムな縦筋を抑圧することができる。
【０１４３】
＜画素２の具体的構成例＞
次に、画素２の具体的構成例と、固体撮像装置１の画素信号読み出しのための駆動制御の具体例について説明する。
【０１４４】
図１４は、画素２の具体的構成例を示す回路図である。
【０１４５】
画素２は、フォトダイオード（PD）１１０、転送トランジスタ１１１、増幅トランジスタ１１２、選択トランジスタ１１３、リセットトランジスタ１１４、排出トランジスタ１１５、及び、FD(フローティングディフュージョン)１１６により構成される。
【０１４６】
フォトダイオード１１０は、受光量に応じた電荷（信号電荷）を生成し、蓄積する光電変換素子である。フォトダイオード１１０は、アノード端子が接地されているとともに、カソード端子が転送トランジスタ１１１を介して、FD１１６に接続されている。また、フォトダイオード１１０のカソード端子は、排出トランジスタ１１５とも接続されている。
【０１４７】
転送トランジスタ１１１は、転送信号線１１１Aを介して供給される転送信号によりオンされたとき、フォトダイオード１１０で生成された電荷を読み出し、FD１１６に転送する。
【０１４８】
排出トランジスタ１１５は、排出信号線１１５Aを介して供給される排出信号によりオンされたとき、フォトダイオード１１０で生成された電荷を定電圧源Vdd（ドレイン）に排出する。
【０１４９】
ここで、排出トランジスタ１１５をオンしたときのチャネル電位と、転送トランジスタ１１１をオンしたときのチャネル電位の両方が、フォトダイオード１１０の完全空乏化電位よりも高くなるように、転送トランジスタ１１１及び排出トランジスタ１１５のゲート電圧及び閾値電圧と、フォトダイオード１１０のドーズ量が調節されている。これにより、転送トランジスタ１１１がオンされたときには、フォトダイオード１１０の蓄積電荷の全てをFD１１６に転送することができ、排出トランジスタ１１５がオンされたときには、フォトダイオード１１０の蓄積電荷の全てを定電圧源Vddに排出することができる。
【０１５０】
FD１１６は、フォトダイオード１１０から読み出された電荷を保持する。リセットトランジスタ１１４は、リセット信号線１１４Aを介して供給されるリセット信号によりオンされたとき、FD１１６に蓄積されている電荷が定電圧源Vddに排出されることで、FD１１６の電位をリセットする。
【０１５１】
増幅トランジスタ１１２は、FD１１６の電位に応じた画素信号を出力する。すなわち、増幅トランジスタ１１２は、垂直信号線９を介して接続されている定電流源としての負荷MOS（不図示）とソースフォロワ回路を構成し、FD１１６に蓄積されている電荷に応じたレベルを示す画素信号が、増幅トランジスタ１１２から選択トランジスタ１１３を介してカラム信号処理回路５に出力される。
【０１５２】
選択トランジスタ１１３は、選択信号線１１３Aを介して供給される選択信号により画素２が選択されたときオンされ、画素２の画素信号を、垂直信号線９を介してカラム信号処理回路５に出力する。転送信号線１１１A、選択信号線１１３A、リセット信号線１１４Aおよび排出信号線１１５Aは、図１の画素駆動配線１０に対応する。
【０１５３】
画素２は、以上のような構成を採用することができる。
【０１５４】
なお、画素２は、共有画素構造とすることもできる。画素共有構造は、複数のフォトダイオードと、複数の転送トランジスタと、共有される１つのFDと、共有される１つずつの他の画素トランジスタとから構成される。すなわち、共有画素では、複数の単位画素を構成するフォトダイオード及び転送トランジスタが、他の１つずつの画素トランジスタを共有して構成される。
【０１５５】
図１５は、画素２の駆動時のポテンシャルを示す図である。図１５において、図面下方向が電位の正方向を示している。
【０１５６】
図１５Aは、露光期間中、リセットトランジスタ１１４がオンされ、FD１１６の電位がリセットされた直後の状態を示している。
【０１５７】
FD１１６の電位をリセット後、露光期間が終了すると、図１５Bに示されるように、転送トランジスタ１１１がオンされ、フォトダイオード１１０に蓄積された電荷が、FD１１６に転送される。
【０１５８】
図１５Cは、FD１１６に転送された電荷が読み出されるまでの待機状態を示しており、フォトダイオード１１０では、非露光時間においても、入射された光に応じて電荷が徐々に蓄積されていく。
【０１５９】
そして、画素２の読出し行になると、図１５Dに示されるように、選択トランジスタ１１３がオンされることで、FD１１６で保持されていた電荷が、電圧信号に変換されて、垂直信号線９を介してカラム信号処理回路５に出力される。
【０１６０】
なお、図１４の画素構造では、排出トランジスタ１１５をオンすることで、フォトダイオード１１０で生成された電荷を定電圧源Vddに排出することができるので、図１５Eに示されるように、FD１１６の電荷の読み出しが完了する前に、フォトダイオード１１０の蓄積電荷をリセットし、次の露光を開始することができる。
【０１６１】
＜固体撮像装置１の駆動制御方法の具体例＞
図１６は、固体撮像装置１の画素アレイ部３全体の駆動制御の例を示す図である。
【０１６２】
固体撮像装置１の垂直駆動回路４は、画素アレイ部３の全画素のフォトダイオード１１０の蓄積電荷をリセットし、露光を開始させる。
【０１６３】
そして、垂直駆動回路４は、所定の露光時間経過後、全画素のFD１１６をリセットした後、フォトダイオード１１０に蓄積された電荷を、全画素同時に、FD１１６に転送する。
【０１６４】
その後、垂直駆動回路４は、FD１１６で保持されている電荷を、行単位に、順次、カラム信号処理回路５に出力させる。
【０１６５】
以上のように駆動することで、固体撮像装置１では、全画素同時読み出しの駆動を実現できる。この場合、FD１１６で保持されている電荷は、行単位に、順次、読み出されるため、読み出される順番により、FD１１６で電荷を保持している時間は異なる。FD１１６で保持している時間が長いほど、暗電流による電荷が、フォトダイオード１１０で生成された電荷に加えて蓄積されることになる。しかし、信号処理回路１２のクランプ処理によれば、処理対象画素行[v]を含む複数行のクランプ値をランダムに選択することで、クランプ値のランダム誤差（ランダムノイズ抑圧残り）を列方向に分散させることができるので、ランダムな横筋を抑圧することができる。
【０１６６】
なお、暗電流は、どのような固体撮像装置１においても発生し得るため、信号処理回路１２によるクランプ処理は、上述した画素構造や駆動制御に関わらず適用することができる。
【０１６７】
＜本技術を適用した電子機器の構成例＞
本技術は、固体撮像装置への適用に限られるものではない。即ち、本技術は、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等の撮像装置や、撮像機能を有する携帯端末装置や、画像読取部に固体撮像装置を用いる複写機など、画像取込部（光電変換部）に固体撮像装置を用いる電子機器全般に対して適用可能である。固体撮像装置は、ワンチップとして形成された形態であってもよいし、撮像部と信号処理部または光学系とがまとめてパッケージングされた撮像機能を有するモジュール状の形態であってもよい。
【０１６８】
図１７は、本技術を適用した電子機器としての、撮像装置の構成例を示すブロック図である。
【０１６９】
図１７の撮像装置２００は、レンズ群などからなる光学部２０１、固体撮像装置（撮像デバイス）２０２、およびカメラ信号処理回路であるDSP(Digital Signal Processor)回路２０３を備える。また、撮像装置２００は、フレームメモリ２０４、表示部２０５、記録部２０６、操作部２０７、および電源部２０８も備える。DSP回路２０３、フレームメモリ２０４、表示部２０５、記録部２０６、操作部２０７および電源部２０８は、バスライン２０９を介して相互に接続されている。
【０１７０】
光学部２０１は、被写体からの入射光（像光）を取り込んで固体撮像装置２０２の撮像面上に結像する。固体撮像装置２０２は、光学部２０１によって撮像面上に結像された入射光の光量を画素単位で電気信号に変換して画素信号として出力する。この固体撮像装置２０２として、上述した固体撮像装置１、即ちランダムな横筋・縦筋を抑圧することができる固体撮像装置を用いることができる。
【０１７１】
表示部２０５は、例えば、液晶パネルや有機EL(Electro Luminescence)パネル等のパネル型表示装置からなり、固体撮像装置２０２で撮像された動画または静止画を表示する。記録部２０６は、固体撮像装置２０２で撮像された動画または静止画を、ハードディスクや半導体メモリ等の記録媒体に記録する。
【０１７２】
操作部２０７は、ユーザによる操作の下に、撮像装置２００が持つ様々な機能について操作指令を発する。電源部２０８は、DSP回路２０３、フレームメモリ２０４、表示部２０５、記録部２０６および操作部２０７の動作電源となる各種の電源を、これら供給対象に対して適宜供給する。
【０１７３】
上述したように、固体撮像装置２０２として、上述したいずれかの実施の形態に係る固体撮像装置１を用いることで、ランダムな横筋・縦筋を抑圧することができる。従って、ビデオカメラやデジタルスチルカメラ、さらには携帯電話機等のモバイル機器向けカメラモジュールなどの撮像装置２００においても、撮像画像の高画質化を図ることができる。
【０１７４】
また、本技術は、可視光の入射光量の分布を検知して画像として撮像する固体撮像装置への適用に限らず、赤外線やＸ線、あるいは粒子等の入射量の分布を画像として撮像する固体撮像装置や、広義の意味として、圧力や静電容量など、他の物理量の分布を検知して画像として撮像する指紋検出センサ等の固体撮像装置（物理量分布検知装置）全般に対して適用可能である。
【０１７５】
なお、固体撮像装置はワンチップとして形成された形態であってもよいし、撮像部と、信号処理部または光学系とがまとめてパッケージングされた撮像機能を有するモジュール状の形態であってもよい。
【０１７６】
本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【０１７７】
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
（１）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置。
（２）
前記信号処理回路は、複数行の前記行統計値の平均値を、前記保持データとして算出する
前記（１）に記載の固体撮像装置。
（３）
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記遮光画素部の空間周波数に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
前記（１）または（２）に記載の固体撮像装置。
（４）
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号にかけるゲインに応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
前記（１）または（２）に記載の固体撮像装置。
（５）
前記信号処理回路は、前記ゲインが大きいほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
前記（４）に記載の固体撮像装置。
（６）
前記信号処理回路は、前記ゲインが小さいほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
前記（４）に記載の固体撮像装置。
（７）
前記信号処理回路は、前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の露光時間に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を変化させる
前記（１）または（２）に記載の固体撮像装置。
（８）
前記信号処理回路は、前記露光時間が長いほど、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの行数を多くする
前記（７）に記載の固体撮像装置。
（９）
前記信号処理回路は、
前記行統計値を色ごとに保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを色ごとに保持し、
色ごとに異なるゲインに応じて、前記画素の色の複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、前記画素の色に応じてランダムに選択した前記保持データを減算する
前記（１）または（２）に記載の固体撮像装置。
（１０）
前記行統計値は、前記遮光画素部の各画素の画素信号の平均値またはメディアン値である
前記（１）乃至（９）のいずれかに記載の固体撮像装置。
（１１）
前記画素は、
受光量に応じた電荷を生成し、蓄積する前記光電変換素子と、
前記光電変換素子の蓄積電荷を転送する転送トランジスタと、
前記転送トランジスタにより転送された電荷を保持するフローティングディフュージョンと
を少なくとも有し、
前記光電変換素子で蓄積された電荷が、全画素同時に前記フローティングディフュージョンに転送され、前記フローティングディフュージョンで保持されている電荷が、行単位に順次出力される
前記（１）乃至（１０）のいずれかに記載の固体撮像装置。
（１２）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の
前記信号処理回路が、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
信号処理方法。
（１３）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を行単位で統計処理した行統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象行を含む複数行の前記保持データを保持し、
複数行の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象行の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置
を備える電子機器。
（１４）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置。
（１５）
前記信号処理回路は、複数列の前記列統計値の平均値を、前記保持データとして算出する
前記（１４）に記載の固体撮像装置。
（１６）
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記遮光画素部の空間周波数に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
前記（１４）または（１５）に記載の固体撮像装置。
（１７）
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号にかけるゲインに応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
前記（１４）または（１５）に記載の固体撮像装置。
（１８）
前記信号処理回路は、前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の露光時間に応じて、ランダムに選択する選択対象の前記保持データの列数を変化させる
前記（１４）または（１５）に記載の固体撮像装置。
（１９）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路とを備える固体撮像装置の
前記信号処理回路が、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
信号処理方法。
（２０）
複数の画素が２次元アレイ状に配列されており、各画素に含まれる光電変換素子が遮光されている遮光画素部と、遮光されていない有効画素部とで構成される画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素から出力される画素信号を処理する信号処理回路と
を備え、
前記信号処理回路は、
前記遮光画素部の画素信号を列単位で統計処理した列統計値を保持データとして算出し、
前記画素アレイ部の処理対象列を含む複数列の前記保持データを保持し、
複数列の前記保持データの一つをランダムに選択し、
前記処理対象列の前記有効画素部の前記画素の画素信号から、ランダムに選択した前記保持データを減算する
固体撮像装置
を備える電子機器。
【符号の説明】
【０１７８】
１  固体撮像装置，  ２  画素，  ３  画素アレイ部，  ４  垂直駆動回路，  １２  信号処理回路，  ２１  有効画素部，  ２２  オプティカルブラック部，  ３１  ランダムセレクト回路，  ３２  演算器，  ４１  クランプデータ保持回路，  ４２  制御回路，  ４３  セレクタ，  １１０  フォトダイオード，  １１１  転送トランジスタ，  １１６  フローティングディフュージョン，  ２００  撮像装置，  ２０２  固体撮像装置，  ２０３  DSP回路
【図１】
2014207631.tif 000003
【図２】
2014207631.tif 000004
【図３】
2014207631.tif 000005
【図４】
2014207631.tif 000006
【図５】
2014207631.tif 000007
【図６】
2014207631.tif 000008
【図７】
2014207631.tif 000009
【図８】
2014207631.tif 000010
【図９】
2014207631.tif 000011
【図１０】
2014207631.tif 000012
【図１１】
2014207631.tif 000013
【図１２】
2014207631.tif 000014
【図１３】
2014207631.tif 000015
【図１４】
2014207631.tif 000016
【図１５】
2014207631.tif 000017
【図１６】
2014207631.tif 000018
【図１７】
2014207631.tif 000019