(57)【要約】【課題】変圧器の上蓋を開閉することなく且つ汎用装置のみによって、さらに、配電柱上に架線されたままの状態で実施可能で手間が少なく短時間で変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるようにする。【解決手段】変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、２次巻線間を短絡させつつ１次巻線からみた漏れインダクタンスを測定し（Ｓ１）、当該インダクタンスの値に基づいて１次巻線の異常の有無を判断して変圧器の健全性を判定する（Ｓ２）ようにした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ前記１次巻線からみた漏れインダクタンスを測定し、当該インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定することを特徴とする変圧器の健全性診断方法。
【請求項２】
変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ測定された前記１次巻線からみた漏れインダクタンスの値を記憶装置から読み込む手段と、前記インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定する手段とを有することを特徴とする変圧器の健全性診断装置。
【請求項３】
変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ測定された前記１次巻線からみた漏れインダクタンスの値を記憶装置から読み込む手段、前記インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定する手段としてコンピュータを機能させることを特徴とする変圧器の健全性診断プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムに関する。さらに詳述すると、本発明は、変圧器における巻線のレアショートやターン間短絡の有無の判定に用いて好適な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電力流通設備の維持管理におけるコスト低減の要請や循環型社会形成のための産業廃棄物低減の要請から、配電用柱上変圧器のリユースが行われている。非特許文献１では、変圧器巻線部の再利用判定基準として、（１）焼損又は巻線の汚れなどの異常の有無，（２）導通(断線)の有無又は絶縁抵抗の値の良否，（３）巻線修理履歴が２回以上ある場合は巻替えの要否の三項目を紹介している。また、雷などでヒューズ切れが発生した場合にも同様の試験が行われることがある。
【０００３】
しかしながら、上記の試験では柱上変圧器の異常として問題になる巻線のレアショートやターン間短絡を検出することができない。また、柱上変圧器の健全性の診断は、手間を低減するためや柱上変圧器内への水分の混入を防ぐためにも柱上変圧器の上蓋を開閉することなく実施できることが望ましく、さらに、手間の低減や作業時間の短縮及び柱上変圧器の配電柱からの取外しや再設置作業による障害の誘発を防止するために配電柱上に架線されたままの状態で実施できることが望ましい。なお、変圧器の鉄心に巻かれた巻線の層のことをレア(layer)といい、レア間が短絡した状態をレアショートや層間短絡という。
【０００４】
配電用柱上変圧器のレアショートの有無を判定する従来の方法としては、例えば、変圧器の巻線に周波数の異なる交流電圧を順次印加して周波数の異なる交流電圧に対する変圧器の励磁電流を測定し、測定された励磁電流値の近似曲線を１階微分し、微分値が正の場合に短絡無しと判定し、微分値が負の場合に短絡有りと判定するものがある（特許文献１）。
【０００５】
また、変圧器巻線の異常診断手法として周波数応答解析（Ｆrequency Ｒesponse Ａnalysis：ＦＲＡ）がある。周波数応答解析では、正弦波の電気的信号（例えば電圧）を入力して出力信号（例えば電流）の振幅の測定を数十〔Hz〕から数〔MHz〕まで周波数を変化させながら行って伝達関数（例えばインピーダンス）を求める。伝達関数は漏れインダクタンスや対地容量や巻線間容量などの電気定数によって共振を示すものであるところ、変圧器巻線に異常があればこれらの電気定数が変化して伝達関数（具体的には例えば共振周波数）が変化する。そして、周波数応答解析では、変圧器が健全状態である時に測定しておいた伝達関数と比較してその変化の有無で変圧器巻線の異常を診断する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−１４５２８
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】電気学会技術報告第1164号：配電用品のライフサイクルマネジメントの動向と課題，2009年
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１のレアショート有無判定方法では、300〜2000〔Hz〕の広範囲に亘って周波数を掃引して電流を測定する装置が必要であると共に数百点(数百の周波数)での測定が必要であり、コスト並びに多大な手間と時間とがかかるという問題がある。特に、配電用柱上変圧器は非常に多数設置されているので、配電用柱上変圧器を対象にした場合には特許文献１のレアショート有無判定方法は汎用性が高いとは言えない。
【０００９】
また、周波数応答解析も、数十〔Hz〕から数〔MHz〕まで周波数を変化させて測定を行う必要があり、コスト並びに多大な手間と時間とがかかる。実際に、周波数応答解析は配電・変電クラスよりも大型の変圧器に対して専ら適用されており、設置数が非常に多い配電用柱上変圧器への適用例はない。
【００１０】
そこで、本発明は、変圧器の上蓋を開閉することなく且つ汎用装置のみによって、さらに、配電柱上に架線されたままの状態で実施可能で手間が少なく短時間で変圧器における巻線の異常の有無を判定することができる変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明者は、変圧器の上蓋を開閉することなく且つ汎用装置のみによって、さらに、配電柱上に架線されたままの状態で実施可能な変圧器の健全性評価方法の検討を行う中で、柱上変圧器の或る一点の周波数のみのインピーダンスのインダクタンス分を測定することで変圧器の巻線の異常の有無を判定することができることを突き止めた。本発明に特有のこの技術的思想の妥当性を検証するための試験（以下、検証試験と呼ぶ）を以下に説明する。
【００１２】
まず、本発明が診断対象とし得る柱上変圧器の設置状態の例を図３に示す。配電柱上に架線された柱上変圧器１には１次巻線側（高圧側）にカットアウト４が通常は設置されており、１次巻線を開放とすることは容易で手間をかけることなくできる。なお、図中の符号２は配電用変圧器インダクタンスである。
【００１３】
一方、２次巻線側（低圧側）は需要家(負荷)３に直接結線されており、これを切り離すには多大な労力を必要とする。このため、本発明では、２次巻線を負荷３に接続したままの状態で変圧器の健全性の診断を行う。
【００１４】
ただし、２次巻線側には負荷３が接続されているため、２次巻線側から何らかの測定を行って診断を行うことは困難である。そこで、本発明では、１次巻線側からインピーダンス測定を行う。そして、このとき、負荷３の接続状況は実際には様々であるので、２次巻線側の負荷の状態を一定にするために２次巻線側は短絡して測定を行う。なお、２次巻線側を短絡することに関しては、変圧器の構造などに鑑みて作業上の困難はない。
【００１５】
また、本発明が診断対象とし得る柱上変圧器の巻線構造の例を図４に示す。この柱上変圧器は、１次巻線６Ａのレアが鉄心８の左右それぞれに１２枚で合わせて２４枚巻かれていると共に、２次巻線６Ｂのレアが鉄心８の左右それぞれに２枚で合わせて４枚巻かれている。なお、図中の符号７はタップ盤を表し、符号Ｈ＋，ＨL2,3＋〜ＨL10,11＋，Ｈ−，ＨL2,3−〜ＨL10,11− は各レアの端子を表し、符号ＨL12＋，ＨL12− は変圧器としての１次側端子（高圧ブッシングとも呼ばれる）を表し、符号Ｌ＋，Ｌ− は変圧器としての２次側端子（低圧ブッシングとも呼ばれる）を表し、符号Ｏはアース端子を表す。
【００１６】
検証試験では、１次巻線６Ａ間（即ち、１次側端子ＨL12＋とＨL12−との間）に何も接続しない状態即ち１次巻線６Ａを開放状態にすると共に２次巻線６Ｂ間（即ち、２次側端子Ｌ＋とＬ−との間）を短絡した状態でインピーダンスを測定する。
【００１７】
そして、例えば図４に巻線構造を示す変圧器のように、変圧器の１次巻線６Ａの各レアには端子(Ｈ＋，ＨL2,3＋〜ＨL10,11＋，Ｈ−，ＨL2,3−〜ＨL10,11−)が設けられており、隣接する二つのレアの端子同士を短絡することでレアショートを模擬することができる。そこで、１次巻線６Ａの各レアの端子を短絡させない場合と短絡させた場合とでインピーダンスの測定を行う。なお、測定周波数は１１０〔Hz〕とする（なお、この測定周波数１１０〔Hz〕はあくまでも検証試験で用いた測定周波数であり、本発明における測定周波数がこれに限定されるものではない）。
【００１８】
変圧器が正常である状態に対応する１次巻線６Ａの各レアの端子（Ｈ＋，ＨL2,3＋〜ＨL10,11＋，Ｈ−，ＨL2,3−〜ＨL10,11−）を短絡させない場合と、レアショートが発生している状態に対応する１次巻線６Ａの各レアの端子を短絡させた場合とのそれぞれの測定によって得られたインピーダンスの抵抗分の値とインダクタンス分の値とを表１に示す。また、表１には、当該変圧器についての工場出荷試験での短絡インピーダンス測定結果を合わせて示す。
【００１９】
【表１】
2014006191.tif 000003
【００２０】
表１から、正常状態について、インピーダンスの抵抗分は測定温度の影響によって測定値と工場試験値とで大きく異なり、一方で、インピーダンスのインダクタンス分は測定値と工場試験値とで略一致していることが確認される。このことから、インピーダンスのインダクタンス分をレアショートなどの巻線異常の診断の指標とする場合には正常状態のデータとして工場試験データを利用できることが知見される。
【００２１】
なお、周波数応答解析において同一設計の変圧器であれば伝達関数が一致することが知られているので、個々の変圧器各々について工場試験データを把握する必要はなく、変圧器の設計毎（具体的には、定格容量及び設計変更の年代毎）に初期値（工場試験データ）を調査してデータベースとして保持するようにすれば良い。
【００２２】
そしてまた、表１から、正常状態とレアショート状態とでインピーダンスのインダクタンス分を比較すると、正常状態に対してレアショート状態の方が６％強小さいことが確認される。このことから、診断時におけるインピーダンスのインダクタンス分を検証する（即ち、初期値(工場試験値)と比較する）ことによってレアショートの発生の有無の判定が可能であることが知見される。
【００２３】
なお、検証試験では隣接する二つのレアの端子同士を短絡することでレアショートを模擬するようにしているので、隣接する二つのレア同士全体が短絡している状態を模擬していると言えるところ、実際の変圧器ではこれより程度の小さいレアショート、例えば隣接する二つのレア同士の中間点でレアショートが発生することが想定される。しかしながら、このような実際の変圧器において想定される隣接する二つのレア同士の中間点のみでレアショートが発生している場合のインダクタンス変化量が検証試験の例えば半分（即ち３％程度）であるとしても、実作業において一般的に使用されているＬＣＲメータの測定確度が±０．５％程度であることに鑑みると、更に初期値(工場試験値)の推定精度を考慮しても、実際の変圧器におけるレアショートを検出することが十分に可能であると言える。さらに、レアショートは基本的に放電によって発生すると考えられるために隣接する巻線の電位差が大きいほど発生し易いので、インダクタンス変化が小さいレアショートは殆ど発生しないと考えられ、この点からも検証試験で確認された内容を以て実際の変圧器におけるレアショートを検出することが十分に可能であると言える。
【００２４】
なお、変圧器の巻線のターン間の短絡によっても検証試験と同様にインピーダンスのインダクタンス分が変化すると考えられるので、本発明の変圧器の健全性診断方法によって判断され得る変圧器の異常に、レアショートに加えて巻線のターン間の短絡も含める。
【００２５】
以上の検証試験の結果から、柱上変圧器において測定されるインピーダンスのインダクタンス分（言い換えると、１次巻線からみた漏れインダクタンス）に基づいて変圧器の巻線の異常（レアショート，ターン間短絡）の発生の有無を判定することが可能であり、柱上変圧器のインピーダンスのインダクタンス分を或る任意の一点の周波数において測定することで変圧器の異常の有無を判定するという本発明に特有の技術的思想の妥当性が確認される。なお、本検証試験では配電用柱上変圧器を対象としているが、本検証試験によって得られる知見は変圧器におけるレアショートなどの異常の発生有無を判定することができるということであり、上記の技術的思想は他の種類の変圧器に対しても妥当し得るものである。
【００２６】
本発明は上述の知見に基づくものであり、具体的には、請求項１記載の変圧器の健全性診断方法は、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ前記１次巻線からみた漏れインダクタンスを測定し、当該インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定するようにしている。
【００２７】
また、請求項２記載の変圧器の健全性診断装置は、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ測定された前記１次巻線からみた漏れインダクタンスの値を記憶装置から読み込む手段と、前記インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定する手段とを有するようにしている。
【００２８】
また、請求項３記載の変圧器の健全性診断プログラムは、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、前記２次巻線間を短絡させつつ測定された前記１次巻線からみた漏れインダクタンスの値を記憶装置から読み込む手段、前記インダクタンスの値に基づいて前記１次巻線の異常の有無を判断して前記変圧器の健全性を判定する手段としてコンピュータを機能させるようにしている。
【００２９】
したがって、これらの変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによると、或る任意の一点の周波数において一次巻線側から測定したインピーダンスのインダクタンス分の値に基づいて変圧器の巻線の異常（具体的には、レアショート，ターン間短絡）の有無を判定するようにしているので、一定の範囲に亘って周波数を掃引する手間をかけることなく、また、変圧器の上蓋を開閉することなく変圧器の巻線の異常の有無が判定される。
【００３０】
また、これらの変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによると、変圧器の２次巻線は負荷に接続されたままの状態で一次巻線側からインピーダンスのインダクタンス分を測定するようにしているので、変圧器が配電柱上に架線されたままの状態で変圧器の巻線の異常の有無が判定される。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによれば、一定の範囲に亘って周波数を掃引する手間をかけることなく変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、変圧器の健全性の診断について例えばＬＣＲメータなどの汎用装置のみで足りると共に手間を軽減し測定時間を短縮して健全性診断技術としての汎用性の向上を図ることが可能になる。なお、低周波数帯で周波数を掃引して測定を行う場合には測定時間が一般に長くかかるところ本発明によればその必要がないので、従来の方法と比べて測定時間を大幅に短縮することが可能になる。
【００３２】
また、本発明の変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによれば、特に柱上変圧器の健全性診断において、変圧器が配電柱上に架線されたままの状態で変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、手間を軽減し短時間で、且つ、柱上変圧器の配電柱からの取外しや再設置作業による障害の誘発を防止して健全性診断技術としての汎用性の向上を図ることが可能になる。
【００３３】
また、本発明の変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによれば、変圧器の上蓋を開閉することなく変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、健全性を診断することによって柱上変圧器の健全性を損なってしまうことを回避して汎用性の向上を図ることが可能になる。特に、柱上変圧器の設置場所は通常は野外であるところ本発明によれば上蓋を開閉することがないので柱上変圧器内部状態の保全に注意する必要がなく、現場適用性を大幅に向上させることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の変圧器の健全性診断方法の実施形態の一例を説明するフローチャートである。
【図２】実施形態の変圧器の健全性診断方法を変圧器の健全性診断プログラムを用いて実施する場合の当該プログラムによって実現される変圧器の健全性診断装置の機能ブロック図である。
【図３】本発明が診断対象とし得る柱上変圧器の設置状態の一例を説明する図である。
【図４】本発明が診断対象とし得る柱上変圧器の巻線構造の一例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
以下、本発明の構成を図面に示す実施の形態の一例に基づいて詳細に説明する。
【００３６】
図１及び図２に、本発明の変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムの実施形態の一例を示す。
【００３７】
本実施形態の変圧器の健全性診断方法は、図１に示すように、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、２次巻線間を短絡させつつ１次巻線からみた漏れインダクタンス（言い換えると、１次巻線のインピーダンスのインダクタンス分）を測定し（Ｓ１）、当該インダクタンスの値に基づいて１次巻線の異常の有無を判断して変圧器の健全性を判定する（Ｓ２）ようにしている。
【００３８】
また、本実施形態の変圧器の健全性診断装置は、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、２次巻線間を短絡させつつ測定された１次巻線からみた漏れインダクタンス（言い換えると、１次巻線のインピーダンスのインダクタンス分）の値を記憶装置から読み込む手段(１１ａ)と、インダクタンスの値に基づいて１次巻線の異常の有無を判断して変圧器の健全性を判定する手段(１１ｂ)とを有する。
【００３９】
さらに、本実施形態の変圧器の健全性診断プログラムは、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、２次巻線間を短絡させつつ測定された１次巻線からみた漏れインダクタンス（言い換えると、１次巻線のインピーダンスのインダクタンス分）の値を記憶装置から読み込む手段(１１ａ)、インダクタンスの値に基づいて１次巻線の異常の有無を判断して変圧器の健全性を判定する手段(１１ｂ)としてコンピュータを機能させる。
【００４０】
そして、変圧器の健全性診断方法の実行にあたっては、まず、変圧器のインピーダンスのインダクタンス分の測定が行われる（Ｓ１）。なお、診断対象の変圧器が複数ある場合には、Ｓ１及び後述するＳ２の処理は診断対象の変圧器毎に行われる。
【００４１】
本発明では、変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で１次巻線からみた漏れインダクタンス（言い換えると、１次巻線のインピーダンスのインダクタンス分）が測定される。
【００４２】
また、本発明では、２次巻線間（２次側端子同士）を短絡した状態で１次巻線からみた漏れインダクタンスの測定が行われる。
【００４３】
インピーダンスのインダクタンス分（１次巻線からみた漏れインダクタンス）の測定は、例えばＬＣＲメータを用いて行われる。なお、インダクタンス測定の際の測定周波数は、特定の周波数に限定されるものではなく、例えば商用周波数（即ち、５０〔Hz〕若しくは６０〔Hz〕）でも良いし、１００〔Hz〕，１１０〔Hz〕や１２０〔Hz〕などでも良く、つまり数十から数百〔Hz〕の範囲で、測定に用いるＬＣＲメータの仕様などに合わせて適宜選択・設定すれば良い。
【００４４】
また、本発明では、或る任意の一点の周波数でのインピーダンスのインダクタンス分を測定すれば良い。すなわち、本発明では、周波数を掃引しながら測定を行う必要はない。
【００４５】
次に、Ｓ１の処理によって得られたインダクタンス値データを用いて変圧器の健全性の判定が行われる（Ｓ２）。
【００４６】
ここで、本発明の変圧器の健全性診断方法におけるこのＳ２の処理は本発明の変圧器の健全性診断装置によって実行され得る。
【００４７】
そして、変圧器の健全性診断方法におけるＳ２の処理及び当該処理を実行する変圧器の健全性診断装置は、本発明の変圧器の健全性診断プログラムをコンピュータ上で実行することによっても実現され得る。本明細書では、変圧器の健全性診断プログラムをコンピュータ上で実行することによってＳ２の処理を実行する変圧器の健全性診断装置が実現されると共に変圧器の健全性診断方法におけるＳ２の処理が実行される場合を説明する。
【００４８】
変圧器の健全性診断プログラム１７を実行するためのコンピュータ１０（本実施形態では、変圧器の健全性診断装置１０でもある）の全体構成を図２に示す。このコンピュータ１０（変圧器の健全性診断装置１０）は、制御部１１、記憶部１２、入力部１３、表示部１４及びメモリ１５を備え相互にバス等の信号回線によって接続されている。また、コンピュータ１０には記憶装置としてのデータサーバ１６がバス等の信号回線によって接続されており、その信号回線を介してデータや制御指令等の信号の送受信（即ち出入力）が相互に行われる。
【００４９】
制御部１１は記憶部１２に記憶されている変圧器の健全性診断プログラム１７によってコンピュータ１０全体の制御並びに変圧器の健全性の診断に係る演算を行うものであり、例えばＣＰＵ（中央演算処理装置）である。
【００５０】
記憶部１２は少なくともデータやプログラムを記憶可能な装置であり、例えばハードディスクである。
【００５１】
メモリ１５は制御部１１が種々の制御や演算を実行する際の作業領域であるメモリ空間となるものであり、例えばＲＡＭ(Ｒandom Ａccess Ｍemory の略)である。
【００５２】
入力部１３は少なくとも作業者の命令を制御部１１に与えるためのインターフェイスであり、例えばキーボードである。
【００５３】
表示部１４は制御部１１の制御によって文字や図形等の描画・表示を行うものであり、例えばディスプレイである。
【００５４】
そして、本実施形態では、上述のＳ１の処理において測定され取得された或る任意の一点の周波数におけるインピーダンスのインダクタンス分（１次巻線からみた漏れインダクタンス）の値がインダクタンス値データベース１８としてデータサーバ１６に格納(保存)される。なお、診断対象の変圧器が複数ある場合には、インダクタンス値データは変圧器毎の識別子と対応づけられて記録される。
【００５５】
また、本実施形態では、診断対象の変圧器が健全状態であるときのインピーダンスのインダクタンス分（１次巻線からみた漏れインダクタンス）の値が健全状態データベース１９としてデータサーバ１６に予め格納(保存)される。なお、診断対象の変圧器が複数の設計・種類・型式に亘る場合には、各設計・種類・型式についての健全状態であるときのインダクタンス値が健全状態データベース１９に記録される。
【００５６】
そして、コンピュータ１０（本実施形態では、変圧器の健全性診断装置１０でもある）の制御部１１には、変圧器の健全性診断プログラム１７を実行することにより、Ｓ１の処理において変圧器の１次巻線を開放すると共に２次巻線は負荷に接続されたままの状態で、２次巻線間を短絡させつつ測定された１次巻線からみた漏れインダクタンスの値を記憶装置としてのデータサーバ１６から読み込む処理を行うデータ読込部１１ａ、インダクタンスの値に基づいて１次巻線の異常の有無を判断して変圧器の健全性を判定する処理を行う健全性判定部１１ｂとが構成される。
【００５７】
そして、変圧器の健全性診断プログラム１７が実行されてコンピュータ１０（変圧器の健全性診断装置１０）の制御部１１に構成されたデータ読込部１１ａは、測定値としてのインダクタンス値データ及び健全状態でのインダクタンス値データの読み込みを行う。
【００５８】
具体的には、データ読込部１１ａは、Ｓ１の処理において測定され取得されてデータサーバ１６に格納されているインダクタンス値データベース１８に記録されているインダクタンス値データをデータサーバ１６から読み込む。そして、データ読込部１１ａはインダクタンス値データを測定値データとしてメモリ１５に記憶させる。なお、診断対象の変圧器が複数ある場合には、インダクタンス値データに対応づけられている変圧器毎の識別子を含めてインダクタンス値データベース１８から読み込むと共に当該識別子と対応づけてインダクタンス値データをメモリ１５に記憶させる。
【００５９】
データ読込部１１ａは、さらに、データサーバ１６に格納されている健全状態データベース１９に記録されている診断対象の変圧器と同設計・同種・同型の変圧器についての健全状態でのインダクタンス値データをデータサーバ１６から読み込む。そして、データ読込部１１ａはインダクタンス値データを基準値データとしてメモリ１５に記憶させる。
【００６０】
続いて、健全性判定部１１ｂは変圧器の健全性の判定を行う。
【００６１】
具体的には、健全性判定部１１ｂは、データ読込部１１ａによってメモリ１５に記憶された診断対象の変圧器のインダクタンス値データ（測定値データ）及び健全状態でのインダクタンス値データ（基準値データ）をメモリ１５から読み込み、これら測定値データとしてのインダクタンス値と基準値データとしてのインダクタンス値とを比較する。
【００６２】
そして、これらインダクタンス値の差違が健全性判定閾値によって定められる差違を超えていない場合には巻線の異常は発生しておらず変圧器の健全性が保たれていると判定し、健全性判定閾値によって定められる差違を超えている場合には巻線の異常（レアショート，ターン間短絡）が発生して変圧器の健全性が損なわれていると判定する。
【００６３】
ここで、健全性判定閾値は、巻線の異常（レアショート，ターン間短絡）が発生して変圧器の健全性が損なわれていることを判定するための閾値であり、健全状態でのインダクタンス値Ｌoとレアショート等状態でのインダクタンス値Ｌwとの差違を表す値として設定される。具体的には、二つの値の差分百分率（即ち、(Ｌo−Ｌw)／Ｌo×１００〔％〕）や二つの値の差分（即ち、Ｌo−Ｌw〔mH〕）の値として設定することが考えられる。なお、健全性判定閾値は例えば変圧器の健全性診断プログラム１７の中に予め規定される。
【００６４】
そして、健全性判定閾値の値は、特定の値に限定されるものではなく、例えばそれまでの実績に基づくなどして適宜設定される。具体的には例えば、差分百分率として設定する場合には１〜５〔％〕程度にしたり、差分として設定する場合には３〜１０〔mH〕程度にしたりすることが考えられる。なお、健全性判定閾値を独自に定める場合には、上述の検証試験のように１次巻線のレアショートを模擬した状態でのインピーダンスのインダクタンス分の値と健全状態でのインピーダンスのインダクタンス分の値との差違に基づいて設定することが考えられる。
【００６５】
そして、健全性判定部１１ｂは、Ｓ２の処理による判定結果として、変圧器の健全性が保たれている旨若しくは損なわれている旨を、必要な場合には診断対象の変圧器毎に、表示部１４に表示したり、例えば記憶部１２やデータサーバ１６内に診断結果データファイルとして保存したりする。
【００６６】
そして、制御部１１は、変圧器の健全性診断の処理を終了する（ＥＮＤ）。
【００６７】
以上の構成を有する本発明の変圧器の健全性診断方法、健全性診断装置及び健全性診断プログラムによれば、一定の範囲に亘って周波数を掃引する手間をかけることなく変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、変圧器の健全性の診断について例えばＬＣＲメータなどの汎用装置のみで足りると共に手間を軽減し測定時間を短縮して健全性診断技術としての汎用性の向上を図ることが可能になる。また、特に柱上変圧器の健全性診断において、変圧器が配電柱上に架線されたままの状態で変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、手間を軽減し短時間で、且つ、柱上変圧器の配電柱からの取外しや再設置作業による障害の誘発を防止して健全性診断技術としての汎用性の向上を図ることが可能になる。また、変圧器の上蓋を開閉することなく変圧器の巻線の異常の有無を判定することができるので、健全性を診断することによって柱上変圧器の健全性を損なってしまうことを回避して汎用性の向上を図ることが可能になる。
【００６８】
なお、上述の形態は本発明の好適な形態の一例ではあるがこれに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能である。例えば、上述の実施形態では変圧器のインダクタンス値データ（測定値データ，基準値データ）が蓄積される記憶手段をデータサーバ１６としているが、記憶部１２でも良いし、他の記憶装置を用いるようにしても良い。
【００６９】
また、本発明は、配電用柱上変圧器に限らず、二つの巻線を有すると共に一方の巻線の開放と他方の巻線の短絡とが可能である種々の変圧器に対して適用可能である。
【符号の説明】
【００７０】
１０  変圧器の健全性診断装置
１７  変圧器の健全性診断プログラム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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