(57)【要約】【課題】画質の劣化を抑制し、実装時に、走査駆動回路以外の回路要素を配置可能な表示装置を提供する。【解決手段】本発明に係る表示装置１００は、多段接続された複数の単位回路１３１Ａ及び１３１Ｂを有し、複数の単位回路１３１Ａ及び１３１Ｂのそれぞれは、同一行に属する走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと接続され、表示領域１１０における行列状に配置された複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂと、複数の単位回路１３１Ａと、複数の単位回路１３１Ｂとは、列方向のピッチが実質的に同一であり、複数の単位回路１３１Ａと、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと、複数の単位回路１３１Ｂとは、周辺領域１２０のうち表示領域１１０の同一辺に沿う領域にこの順に並んで配置され、走査線１２５Ａの長さと走査線１２５Ｂの長さとは、実質的に同一である。【選択図】図５
2014006401.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
行列状に配置された複数の表示画素を有する表示領域と、前記表示領域の少なくとも１辺に沿って設けられた周辺領域とを有する表示装置であって、
前記複数の表示画素は、複数の表示画素行を一つの駆動ブロックとする複数の駆動ブロックを構成し、
前記表示装置は、
一の駆動ブロックを走査駆動する第１の走査駆動回路と、
前記一の駆動ブロックに隣接する他の一の駆動ブロックを走査駆動する第２の走査駆動回路と、
前記一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第１接続配線と、
前記他の一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第２接続配線と、
前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路の少なくとも一方に電気的に接続された回路要素とを備え、
前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路のそれぞれは、対応する駆動ブロックの行に１対１に対応して設けられた、多段接続された複数の単位回路を有し、
前記複数の単位回路のそれぞれは、同一行に属する前記第１又は第２接続配線と接続され、
前記表示領域における複数の表示画素の列方向のピッチと、前記第１の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路の前記列方向のピッチと、前記第２の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路との前記列方向のピッチとは、実質的に同一であり、
前記第１の走査駆動回路、前記回路要素及び前記第２の走査駆動回路は、前記周辺領域のうち前記表示領域の同一辺に沿う領域に、この順に並んで配置され、
前記第１接続配線の長さと前記第２接続配線の長さとは、実質的に同一である
表示装置。
【請求項２】
前記第１の走査駆動回路が有する複数の単位回路のそれぞれは、対応する表示画素行から見て第１方向に、前記回路要素に対応する所定量だけずれて配置され、
前記第２の走査駆動回路が有する複数の単位回路のそれぞれは、対応する表示画素行から見て前記第１方向と反対の第２方向に、前記所定量だけずれて配置されている
請求項１記載の表示装置。
【請求項３】
前記第１接続配線の少なくとも一部、及び、前記第２接続配線の少なくとも一部は、前記周辺領域において、前記複数の表示画素の行方向に対して非平行である
請求項１又は２記載の表示装置。
【請求項４】
前記一の駆動ブロックは半数の表示画素行から構成され、前記他の一の駆動ブロックは他の半数の表示画素行から構成されている
請求項１〜３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項５】
前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路は、前記複数の表示画素と同一プロセスによって形成されている
請求項１〜４のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
前記回路要素は、前記第１の走査駆動回路または前記第２の走査駆動回路を検査する際に用いられる検査用パッドである
請求項１〜５のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項７】
前記第１及び第２の走査駆動回路は、前記第１及び第２接続配線を介して、前記一の駆動ブロック及び前記他の一の駆動ブロックを駆動する走査駆動信号を供給し、
前記回路要素は、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路の前記少なくとも一方に、前記走査駆動信号の供給をスタートさせるタイミングを制御するための信号であるスタートパルスを入力するためのスタートパルス入力線である
請求項１〜５のいずれか１項に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、行列状に配置された複数の表示画素を有する表示領域と、当該表示領域の少なくとも１辺に沿って設けられた周辺領域とを有する表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
アクティブマトリクス型の液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイの表示画素における画素回路には、アモルファスシリコンを材料とする画素選択用の薄膜トランジスタ（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ：ＴＦＴ）が使用される。この画素選択用ＴＦＴを駆動するため、上記ディスプレイの周縁領域にはドライバ回路（駆動回路とも言う）が配置されている。このドライバ回路は、選択用ＴＦＴをオンオフさせる駆動パルスを出力するための論理デバイスで構成されている。
【０００３】
この選択用ＴＦＴは、複数の走査線と複数の信号線との交点に配置されている。ドライバ回路は、走査線を通じて選択した画素行の選択用ＴＦＴをオン状態とすることにより、信号線からデータ信号を各画素に書き込み、または、画素発光させる。ここで、選択画素行に対し、画素行ごとに選択信号を出力するドライバ回路として、例えばシフトレジスタが挙げられる。
【０００４】
特許文献１には、表示領域の半分の画素行を駆動するためのドライバ回路と、当該表示画素の他の半分の画素行を駆動するためのドライバ回路とを有する走査駆動部を備える有機電界発光表示装置の構成が開示されている。
【０００５】
図１０は、特許文献１に記載された有機電界発光表示装置の構成を示すブロック図である。
【０００６】
同図に示す有機電界発光表示装置７００は、表示領域の半分の行に属する表示画素を駆動するための第１走査駆動回路７０１と、当該表示領域の他の半分の行に属する表示画素を駆動するための第２走査駆動回路７０２と、第１走査駆動回路７０１と第２走査駆動回路７０２とを電気的に接続または遮断するスイッチ部７０３とからなる走査駆動部７１０を備える。この有機電界発光表示装置７００の一態様において、第１走査駆動回路７０１及び第２走査駆動回路７０２は同時にスタートパルスを受信し、第１走査駆動回路７０１及び第２走査駆動回路７０２は、走査信号を並列に出力する。
【０００７】
これにより、特許文献１に記載された有機電界発光表示装置７００は、ブラック映像で構成された第２フレームが表現される時間が短くなる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２０１０−１７６１１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特許文献１に開示されたような走査駆動部が複数の走査駆動回路に分割された表示装置を実現する際には、走査駆動回路以外の例えばスイッチといった回路要素を設けることが必要である。
【００１０】
しかしながら、実際には、必要領域を基板上に確保し、走査駆動回路以外の回路要素を分割境界上に配置することは困難である。特に配置すべき回路規模の増大や、パネルの狭額縁化、高精細化に対応する場合は、より困難なものになる。
【００１１】
そこで、本発明の目的は、かかる問題に鑑みてなされたものであって、画質の劣化を抑制し、実装時に、走査駆動回路以外の回路要素を配置可能な表示装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置は、行列状に配置された複数の表示画素を有する表示領域と、前記表示領域の少なくとも１辺に沿って設けられた周辺領域とを有する表示装置であって、前記複数の表示画素は、複数の表示画素行を一つの駆動ブロックとする複数の駆動ブロックを構成し、前記表示装置は、一の駆動ブロックを走査駆動する第１の走査駆動回路と、前記一の駆動ブロックに隣接する他の一の駆動ブロックを走査駆動する第２の走査駆動回路と、前記一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第１接続配線と、前記他の一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第２接続配線と、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路の少なくとも一方に電気的に接続された回路要素とを備え、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路のそれぞれは、対応する駆動ブロックの行に１対１に対応して設けられた、多段接続された複数の単位回路を有し、前記複数の単位回路のそれぞれは、同一行に属する前記第１又は第２接続配線と接続され、前記表示領域における複数の表示画素の列方向のピッチと、前記第１の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路の前記列方向のピッチと、前記第２の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路との前記列方向のピッチとは、実質的に同一であり、前記第１の走査駆動回路、前記回路要素及び前記第２の走査駆動回路は、前記周辺領域のうち前記表示領域の同一辺に沿う領域に、この順に並んで配置され、前記第１接続配線の長さと前記第２接続配線の長さとは、実質的に同一である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、画質の劣化を抑制し、実装時に、走査駆動回路以外の回路要素を配置可能な表示装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施の形態１に係る表示装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１走査駆動回路の具体的な構成を示すブロック図である。
【図３Ａ】第１走査駆動回路の転送方向を示す模式図である。
【図３Ｂ】第２走査駆動回路の転送方向を示す模式図である。
【図４】図１の一部を拡大した模式図である。
【図５】図１の一部を拡大したレイアウト図である。
【図６】実施の形態２に係る表示装置の構成を示すブロック図である。
【図７】検査用パッドの一部が第１走査駆動回路及び第２走査駆動回路よりも周縁側に設けられている表示装置の構成を示すブロック図である。
【図８】３つの駆動ブロックを有する表示装置の構成を示すブロック図である。
【図９】本発明に係る表示装置を内蔵した薄型フラットＴＶの外観図である。
【図１０】特許文献１に記載された有機電界発光表示装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】一般的な表示装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】課題を説明するための、複数の駆動ブロックを有する表示装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】課題を説明するための、複数の駆動ブロックを有する他の表示装置の構成の一部を拡大して示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
（本発明の基礎となった知見）
本発明者は、「背景技術」の欄において記載した走査駆動部が複数の走査駆動回路に分割された表示装置に関し、以下の問題が生じることを見出した。
【００１６】
図１１は、一般的な表示装置の構成を示すブロック図である。なお、同図に示す各構成要素（複数の発光画素８０１を含む表示領域８１０、制御回路８２０、走査駆動回路８３０、信号線駆動回路８４０及び検査用パッド８５０）の配置レイアウトは、表示領域８１０を上から見た場合の配置を模したものである。
【００１７】
制御回路８２０は、走査駆動回路８３０から出力される走査信号のタイミングと、信号線駆動回路８４０から出力される信号電圧を出力するタイミングとを制御する。
【００１８】
発光画素８０１は、表示領域８１０にマトリクス（行列）状に配置され、信号線駆動回路８４０から与えられる信号電圧に応じて発光する。この発光のタイミングは、走査駆動回路８３０から与えられる走査信号により制御される。
【００１９】
走査駆動回路８３０は、多段接続（カスケード接続とも言う）された複数の単位回路を有する。この各単位回路は、表示領域の各行と１対１に対応して設けられており、対応する行と同一行に配置されている。これにより、走査駆動回路８３０は、マトリクス状に配置された発光画素８０１を行順次に走査する。
【００２０】
信号線駆動回路８４０は、制御回路８２０の制御に応じて発光画素８０１の輝度に対応する信号電圧を出力する。
【００２１】
検査用パッド８５０は、走査駆動回路８３０に電気的に接続された金属パッドである。検査時には、当該検査用パッド８５０にプローブを当接することにより、走査駆動回路８３０を転送された波形をモニタすることができる。言い換えると、多段接続された複数の単位回路により転送された波形をモニタできる。これにより、走査駆動回路８３０の動作が適切か否かを検査することができる。
【００２２】
このように構成された表示装置８００は、マトリクス状に配置された発光画素８０１が行順次に走査されることで発光する。
【００２３】
ところで、近年、表示領域の大型化が進むにつれ、複数の発光画素行を一つの駆動ブロックとする複数の駆動ブロックを有する表示装置が考えられている。しかしながら、複数の駆動ブロックを有する表示装置に、上述したような検査用パッドを設けようとすると、次のような課題が生じる。
【００２４】
図１２は、課題を説明するための、複数の駆動ブロックを有する表示装置の構成を示すブロック図である。なお、同図に示す各構成要素の配置レイアウトは、表示領域９１０を上から見た場合の配置を模したものである。
【００２５】
同図に示す表示装置９００は、図１１に示した表示装置８００と比較して、表示領域９１０がブロック駆動する点が大きく異なる。具体的には、表示領域９１０の半分の行に属する発光画素９１１Ａで構成された第１駆動ブロック９１２Ａと、表示領域９１０の他の半分の行に属する発光画素９１１Ｂで構成された第２駆動ブロック９１２Ｂとが、互いに独立に制御されることにより、ブロック駆動を実現している。
【００２６】
図１１を用いて説明したような表示領域の各行と走査駆動回路の単位回路とが同一行となるようなレイアウトを表示装置９００に適用した場合、検査用パッド９２３Ａ及び９２３Ｂの配置領域を確保するために、第１走査駆動回路９２２Ａと第２走査駆動回路９２２Ｂとの間を十分に空ける必要がある。これにより、第１走査駆動回路９２２Ａにより駆動される第１駆動ブロック９１２Ａと、第２走査駆動回路９２２Ｂにより駆動される第２駆動ブロック９１２Ｂとの間に、発光画素が配置されない領域ができてしまう。言い換えると、表示領域９１０において、マトリクス状に配置された発光画素９１１Ａ及び９１１Ｂの列方向のピッチを同一とすることができない。なお、発光画素９１１Ａ及び９１１Ｂの列方向とは、第１走査駆動回路９２２Ａ及び第２走査駆動回路９２２Ｂの転送方向と同一である。
【００２７】
つまり、ブロック駆動ではない表示装置８００では、検査用パッド８５０を配置しても表示領域８１０における発光画素８０１の配置レイアウトには影響はない。しかしながら、ブロック駆動する表示装置９００では、検査用パッド９２３Ａ及び９２３Ｂを配置することにより、表示領域９１０の発光画素９１１Ａ及び９１１Ｂの配置レイアウトが均一ではなくなり、画質の劣化をもたらす。
【００２８】
逆に、複数の駆動ブロックを有し、かつ、複数の発光画素の列方向のピッチが同一であるような表示領域をブロック駆動する表示装置を実現する場合、検査用パッドを配置する領域を確保することができない。
【００２９】
図１３は、課題を説明するための、複数の駆動ブロックを有する他の表示装置の構成の一部を拡大して示すブロック図である。なお、同図に示す各構成要素の配置レイアウトは、複数の発光画素を含む表示領域を上から見た場合の配置を模したものである。
【００３０】
同図に示す表示装置は、列方向に同一のピッチでマトリクス状に配置された複数の発光画素９８１と、複数の発光画素の各行と同一行に配置された複数の単位回路９８２を有する第１走査駆動回路９２２Ａ及び第２走査駆動回路９２２Ｂを備える。この第１走査駆動回路９２２Ａは第１駆動ブロックを駆動し、第２走査駆動回路９２２Ｂは第２駆動ブロックを駆動する。
【００３１】
しかしながら、図１１を用いて説明したような表示領域の各行と走査駆動回路の単位回路とが同一行となるようなレイアウトを表示領域における発光画素９８１の列方向のピッチが一定の表示装置に適用した場合、図１３から明らかなように、第１走査駆動回路９２２Ａの最後の行に位置する単位回路９８２と、第２走査駆動回路９２２Ｂの最初の行に位置する単位回路９８２との間の領域Ｘに、検査用パッドなどを配置する領域を確保することは困難である。
【００３２】
つまり、走査駆動回路に接続された回路要素（例えば検査用パッド）を有する表示装置の構成を、ブロック駆動する表示装置に適用した場合、新たに回路要素を配置することが困難である。
【００３３】
ところで、図１３に示すような、列方向に同一のピッチでマトリクス状に配置された複数の発光画素９８１が第１駆動ブロックと第２駆動ブロックとを構成するような構成を有する表示装置であっても、第１走査駆動回路９２２Ａが有する単位回路９８２の並び軸と、第２走査駆動回路９２２Ｂが有する単位回路９８２の並び軸とが異なるように配置することで、検査用パッド９２３Ａ及び９２３Ｂを配置する領域を確保する構成が考えられる。例えば、第１駆動ブロックから第１走査駆動回路９２２Ａまでの距離と比較して、第２駆動ブロックから第２走査駆動回路９２２Ｂまでの距離が長くなるように配置するような構成である。
【００３４】
しかしながら、このような構成とした場合、第１走査駆動回路９２２Ａの各単位回路９８２に接続された走査線９２５Ａと、第２走査駆動回路９２２Ｂの各単位回路９８２に接続された走査線９２５Ｂとの長さが異なってしまう。言い換えると、第１駆動ブロックを駆動するための走査線９２５Ａと、第２駆動ブロックを駆動するための走査線９２５Ｂとの長さが異なってしまう。
【００３５】
これにより、走査線９２５Ａに起因する配線抵抗及び寄生容量と、走査線９２５Ａより長い走査線９２５Ｂに起因する配線抵抗及び寄生容量とが異なってしまう。つまり、走査線９２５Ａ及び９２５Ｂの配線抵抗のバラつき及び寄生容量のバラつきが大きくなる。その結果、複数の発光画素９８１を均一に駆動することができず、画質が劣化してしまう。
【００３６】
以上のように、ブロック駆動する表示装置では、画質の劣化を抑制し、かつ、走査駆動回路以外の回路要素を配置することが困難である。
【００３７】
このような問題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置は、行列状に配置された複数の表示画素を有する表示領域と、前記表示領域の少なくとも１辺に沿って設けられた周辺領域とを有する表示装置であって、前記複数の表示画素は、複数の表示画素行を一つの駆動ブロックとする複数の駆動ブロックを構成し、前記表示装置は、一の駆動ブロックを走査駆動する第１の走査駆動回路と、前記一の駆動ブロックに隣接する他の一の駆動ブロックを走査駆動する第２の走査駆動回路と、前記一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第１接続配線と、前記他の一の駆動ブロックの行ごとに設けられた第２接続配線と、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路の少なくとも一方に電気的に接続された回路要素とを備え、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路のそれぞれは、対応する駆動ブロックの行に１対１に対応して設けられた、多段接続された複数の単位回路を有し、前記複数の単位回路のそれぞれは、同一行に属する前記第１又は第２接続配線と接続され、前記表示領域における複数の表示画素の列方向のピッチと、前記第１の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路の前記列方向のピッチと、前記第２の走査駆動回路が有する前記複数の単位回路との前記列方向のピッチとは、実質的に同一であり、前記第１の走査駆動回路、前記回路要素及び前記第２の走査駆動回路は、前記周辺領域のうち前記表示領域の同一辺に沿う領域に、この順に並んで配置され、前記第１接続配線の長さと前記第２接続配線の長さとは、実質的に同一である。
【００３８】
これにより、走査駆動回路に接続された回路要素を、周辺領域に配置することができる。
【００３９】
さらに、第１接続配線と第２接続配線との長さを実質的に同一にしていることにより、第１接続配線及び第２接続配線の配線長のバラつきに起因する配線抵抗のバラつき及び寄生容量のバラつきを低減できる。よって、第１の走査駆動回路及び第２走査駆動回路は、一の駆動ブロックを構成する複数の表示画素行と、他の一の駆動ブロックを構成する複数の表示画素行とを均一に駆動できる。その結果、表示装置は、画質の劣化を抑制できる。
【００４０】
このように、本発明の一態様に係る表示装置は、画質の劣化を抑制し、かつ、回路要素の配置を可能とする。
【００４１】
さらに、第１の走査駆動回路、回路要素及び第２の走査駆動回路がこの順に並んで配置されていることにより、回路要素が第１及び第２の走査駆動回路と並んでいない配置と比較して、狭額縁化できる。
【００４２】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記第１の走査駆動回路が有する複数の単位回路のそれぞれは、対応する表示画素行から見て第１方向に、前記回路要素に対応する所定量だけずれて配置され、前記第２の走査駆動回路が有する複数の単位回路のそれぞれは、対応する表示画素行から見て前記第１方向と反対の第２方向に、前記所定量だけずれて配置されてもよい。
【００４３】
これにより、容易に、第１接続配線の長さと第２接続配線の長さとを実質的に同一にできる。具体的には、第１の走査駆動回路が有する各単位回路と当該単位回路が対応する表示画素行とのずれ量と、第２の走査駆動回路が有する各単位回路と当該単位回路が対応する表示画素行とのずれ量とが同一である。これにより、第１の走査駆動回路が有する複数の単位回路の並び軸と第２の走査駆動回路が有する複数の単位回路の並び軸とを一致させることにより、第１接続配線の長さと第２接続配線の長さとを実質的に同一とすることができる。
【００４４】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記第１接続配線の少なくとも一部、及び、前記第２接続配線の少なくとも一部は、前記周辺領域において、前記複数の表示画素の行方向に対して非平行でもよい。
【００４５】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記一の駆動ブロックは半数の表示画素行から構成され、前記他の一の駆動ブロックは他の半数の表示画素行から構成されてもよい。
【００４６】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路は、前記複数の表示画素と同一プロセスによって形成されてもよい。
【００４７】
つまり、本発明の一態様に係る表示装置はドライバ内蔵型である。
【００４８】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記回路要素は、前記第１の走査駆動回路または前記第２の走査駆動回路を検査する際に用いられる検査用パッドであってもよい。
【００４９】
これにより、検査時には、検査用パッドにプローブを当接して信号を確認することにより、第１走査駆動回路及び第２走査駆動回路が正常に動作しているか否かを検査できる。例えば、検査用パッドが、第１及び第２の走査駆動回路が有する多段接続された単位回路の最終段に電気的に接続されている場合、検査時に確認した信号が所望の信号となっていれば、第１及び第２走査駆動回路が正常に動作していると判断できる。
【００５０】
また、本発明の一態様に係る表示装置において、前記第１及び第２の走査駆動回路は、前記第１及び第２接続配線を介して、前記一の駆動ブロック及び前記他の一の駆動ブロックを駆動する走査駆動信号を供給し、前記回路要素は、前記第１の走査駆動回路及び前記第２の走査駆動回路の前記少なくとも一方に、前記走査駆動信号の供給をスタートさせるタイミングを制御するための信号であるスタートパルスを入力するためのスタートパルス入力線であってもよい。
【００５１】
これにより、第１駆動ブロックの駆動タイミングと、第２駆動ブロックの駆動タイミングとを独立に設定できる。よって、大画面に適した駆動タイミングで、第１駆動ブロックと第２駆動ブロックとを駆動させることが可能になる。
【００５２】
以下、本発明の実施の形態に係る表示装置について、図面を参照しながら説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態等は、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
【００５３】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る表示装置の構成を示すブロック図である。
【００５４】
同図に示す表示装置１００は、表示領域１１０と、表示領域１１０の周縁に沿って設けられた周辺領域１２０と有する。また、表示装置１００は、複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂと、制御回路１２１Ａ及び１２１Ｂと、第１走査駆動回路１２２Ａと、第２走査駆動回路１２２Ｂと、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと、信号線駆動回路１２４Ａ及び１２４Ｂと、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと、信号線１２６Ａ及び１２６Ｂとを備える。
【００５５】
ここで、複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂは表示領域１１０に配置され、制御回路１２１Ａ及び１２１Ｂと、第１走査駆動回路１２２Ａと、第２走査駆動回路１２２Ｂと、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと、信号線駆動回路１２４Ａ及び１２４Ｂとは、周辺領域１２０に配置され、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと、信号線１２６Ａ及び１２６Ｂとは表示領域１１０及び周辺領域１２０に連続的に配置されている。
【００５６】
次に、各構成要素について詳細に説明する。
【００５７】
複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂは本発明の表示画素の一例であって、２ｍ行ｎ列の行列状に配置され、隣接する複数の発光画素行を一つの駆動ブロックとする複数の駆動ブロックを構成する。具体的には、第１〜ｍ行に位置するｍ行の発光画素１１１Ａは第１駆動ブロック１１２Ａを構成し、第（ｍ＋１）〜２ｍ行に位置するｍ行の発光画素１１１Ｂは第２駆動ブロック１１２Ｂを構成する。発光画素１１１Ａは、走査線１２５Ａ及び信号線１２６Ａに接続され、信号線駆動回路１２４Ａから信号線１２６Ａを介して供給される信号電圧に応じた電圧で発光する。一方、発光画素１１１Ｂは、走査線１２５Ｂ及び信号線１２６Ｂに接続され、信号線駆動回路１２４Ｂから信号線１２６Ｂを介して供給される信号電圧に応じた電圧で発光する。これら発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂの発光のタイミングは、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂから走査線１２５Ａ及び１２５Ｂを介して供給される走査駆動信号により制御される。
【００５８】
制御回路１２１Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａに対応して設けられ、第１走査駆動回路１２２Ａから出力される走査駆動信号の出力タイミングを制御する。一方、制御回路１２１Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂに対応して設けられ、第２走査駆動回路１２２Ｂから出力される走査駆動信号の出力タイミングを制御する。また、制御回路１２１Ａは信号線駆動回路１２４Ａから出力される信号電圧を制御し、一方、制御回路１２１Ｂは信号線駆動回路１２４Ｂから出力される信号電圧を制御する。
【００５９】
第１走査駆動回路１２２Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａに対応して設けられ、制御回路１２１Ａの制御に応じて、走査線１２５Ａを介して第１駆動ブロック１１２Ａが有する各発光画素１１１Ａへ走査駆動信号を供給する。一方、第２走査駆動回路１２２Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂに対応して設けられ、制御回路１２１Ｂの制御に応じて、走査線１２５Ｂを介して第２駆動ブロック１１２Ｂが有する各発光画素１１１Ｂへ走査駆動信号を供給する。
【００６０】
また、この第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂは、発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂと同一のプロセスによって形成されている。つまり、表示装置１００は、ドライバ内蔵型の表示装置である。なお、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂの詳細な構成については後述する。
【００６１】
検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂのそれぞれは、本発明の回路要素の一例であって、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂを検査する際に用いられる。具体的には、検査用パッド１２３Ａは第１走査駆動回路１２２Ａに電気的に接続され、検査用パッド１２３Ｂは第２走査駆動回路１２２Ｂに電気的に接続されている。これにより、検査時には、検査用パッド１２３Ａにプローブを当接して信号を確認することにより、制御回路１２１Ａから第１走査駆動回路１２２Ａへ入力された入力信号が第１走査駆動回路１２２Ａ内で正しく伝えられているか否かを検査できる。つまり、第１走査駆動回路１２２Ａが正常に動作しているか否かを検査できる。同様に、検査時に、検査用パッド１２３Ｂにプローブを当接して信号を確認することにより、第２走査駆動回路１２２Ｂが正常に動作しているか否かを検査できる。
【００６２】
信号線駆動回路１２４Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａに対応して設けられ、制御回路１２１Ａの制御に応じて、信号線１２６Ａを介して第１駆動ブロック１１２Ａが有する発光画素１１１Ａへ信号電圧を供給する。一方、信号線駆動回路１２４Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂに対応して設けられ、制御回路１２１Ａの制御に応じて、信号線１２６Ｂを介して第２駆動ブロック１１２Ｂが有する発光画素１１１Ｂへ信号電圧を供給する。
【００６３】
走査線１２５Ａは、本発明の第１接続配線の一例であって、第１駆動ブロック１１２Ａの行ごとに設けられ、第１走査駆動回路１２２Ａから第１駆動ブロック１１２Ａへ走査駆動信号を供給する。一方、走査線１２５Ｂは、本発明の第２接続配線の一例であって、第２駆動ブロック１１２Ｂの行ごとに設けられ、第２走査駆動回路１２２Ｂから第２駆動ブロック１１２Ｂへ走査駆動信号を供給する。ここで、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂは、第１及び第２走査駆動回路１２２Ａ及び１２２Ｂから表示領域１１０における各発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂまで連続的に形成されているが、このうち、走査線１２５Ａの少なくとも一部、及び、走査線１２５Ｂの少なくとも一部は、周辺領域１２０において、表示領域１１０の行方向に対して非平行である。
【００６４】
また、走査線１２５Ａの長さと、走査線１２５Ｂの長さとは、実質的に同一である。これにより、行ごとの走査線１２５Ａ及び走査線１２５Ｂの配線長のバラつきを実質的に０にすることができ、その結果、配線長のバラつきに起因する配線抵抗のバラつき及び寄生容量のバラつきを抑制することができる。よって、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂは、第１駆動ブロック１１２Ａが有するｍ行の発光画素１１１Ａと、第２駆動ブロック１１２Ｂが有するｍ行の発光画素１１１Ｂとを均一に駆動走査できる。その結果、表示装置１００は、表示領域１１０の画質の劣化を低減できる。
【００６５】
信号線１２６Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａの列ごとに設けられ、信号線駆動回路１２４Ａから第１駆動ブロック１１２Ａへ信号電圧を供給する。一方、信号線１２６Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂの列ごとに設けられ、信号線駆動回路１２４Ｂから第２駆動ブロック１１２Ｂへ信号電圧を供給する。
【００６６】
以上のように構成された表示装置１００は、第１駆動ブロック１１２Ａと第２駆動ブロック１１２Ｂとが、互いに異なる走査駆動回路である第１走査駆動回路１２２Ａと第２走査駆動回路１２２Ｂとにより、独立して駆動される。つまり、本実施の形態に係る表示装置１００はブロック駆動により発光する。
【００６７】
次に、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂの具体的な構成について説明する。
【００６８】
図２は、第１走査駆動回路１２２Ａの具体的な構成を示すブロック図である。なお、同図には、第１走査駆動回路１２２Ａの周辺回路であるクロック信号発生器１３２も描かれている。このクロック信号発生器１３２は図１では特に図示していないが、他の構成要素とは独立していてもよいし、例えば、制御回路１２１Ａといった他の構成要素に組み込まれていてもよい。
【００６９】
同図に示すように、第１走査駆動回路１２２Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａに対応して設けられ、第１駆動ブロック１１２Ａの各行に対応して設けられた、多段接続されたｍ個の単位回路１３１Ａを備える。これらｍ個の単位回路１３１Ａのそれぞれは、同一行に対応する走査線１２５Ａと接続されている。つまり、第１駆動ブロック１１２Ａの第ｋ行（ｋは１≦ｋ≦ｍ）の発光画素１１１Ａは、対応する走査線１２５Ａを介して、第１駆動ブロック１１２Ａの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ａと接続されている。
【００７０】
第１行に対応する単位回路１３１Ａは、クロック信号発生器１３２から出力されたクロック信号ＣＬＫと、制御回路１２１Ａから出力された入力信号ＩＮ１とが所定のタイミングで入力されることにより、入力信号ＩＮ１に対して半クロック周期分遅れ、入力信号ＩＮ１のオン電圧出力期間（以後、出力期間と記す）と同じ出力期間を有する走査駆動信号ＳＣＡＮ１を出力する。また、第２行に対応する単位回路１３１Ａは、第１行に対応する走査駆動信号ＳＣＡＮ１を入力信号として動作する。つまり、クロック信号ＣＬＫと、走査駆動信号ＳＣＡＮ１と同じ信号である入力信号ＩＮ２とが所定のタイミングで入力されることにより、走査駆動信号ＳＣＡＮ１に対して半クロック周期分遅れ、入力信号ＩＮ１の出力期間と同じ出力期間を有する走査駆動信号ＳＣＡＮ２を出力する。したがって、第ｋ行に対応する単位回路１３１Ａは、クロック信号ＣＬＫと、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｋ−１）と同じ信号である入力信号ＩＮｋとが所定のタイミングで入力されることにより、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｋ−１）に対して半クロック周期分遅れ、入力信号ＩＮ１の出力期間と同じ出力期間を有する走査駆動信号ＳＣＡＮｋを出力する。なお、入力信号ＩＮ１は、走査駆動信号ＳＣＡＮ１〜ＳＣＡＮｍの供給をスタートさせるタイミングを制御するためのスタートパルス信号に相当する。
【００７１】
ここで、第１走査駆動回路１２２Ａでは、第ｍ行に対応する単位回路１３１Ａは、さらに、走査駆動信号ＳＣＡＮｍを検査用パッド１２３Ａへ出力する。これにより、検査時に、検査用パッド１２３Ａへプローブを当接して走査駆動信号ＳＣＡＮｍを確認することにより、第１走査駆動回路１２２Ａが正常に動作しているか否かを確認することができる。例えばクロック周期をＴとした場合、検査用パッド１２３Ａへプローブを当接することにより得られた信号が、入力信号ＩＮ１に対して（ｍ×Ｔ）／２だけ遅れ、かつ、入力信号ＩＮ１の出力期間と同じ出力期間を有する場合に、第１走査駆動回路１２２Ａが正常に動作していると確認できる。
【００７２】
一方、第２走査駆動回路１２２Ｂについてもほぼ同様の構成を有するが、走査駆動回路内の信号の転送方向が異なる。
【００７３】
図３Ａは第１走査駆動回路１２２Ａの転送方向を示す模式図であり、図３Ｂは第２走査駆動回路１２２Ｂの転送方向を示す模式図である。ここで、第２走査駆動回路１２２Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂの各行に対応して設けられた、多段接続されたｍ個の単位回路１３１Ｂを備える。
【００７４】
図３Ａに示すように、第１走査駆動回路１２２Ａは、第１行の単位回路１３１Ａに入力された入力信号ＩＮ１が多段接続された単位回路１３１Ａにより順次転送される。これに対し、図３Ｂに示すように、第２走査駆動回路１２２Ｂは、第ｍ行の単位回路１３１Ｂに入力された入力信号が多段接続された単位回路１３１Ｂにより順次転送される。
【００７５】
つまり、第（ｍ＋１）〜２ｍ行に位置するｍ行の発光画素１１１Ｂで構成された第２駆動ブロック１１２Ｂの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ｂは、クロック信号ＣＬＫと、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋ｋ＋１）と同じ信号であるＩＮ（ｍ＋ｋ）とが所定のタイミングで入力されることにより、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋ｋ＋１）に対して半クロック周期分遅れ、入力信号ＩＮ（２ｍ）の出力期間と同じ出力期間を有する走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋ｋ）を出力する。なお、入力信号ＩＮ（２ｍ）は、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋１）〜ＳＣＡＮ（２ｍ）の供給をスタートさせるタイミングを制御するためのスタートパルス信号に相当する。
【００７６】
ここで、第２駆動ブロック１１２Ｂの第１行に対応する単位回路１３１Ｂは、さらに、走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋１）を検査用パッド１２３Ｂへ出力する。これにより、検査時に、検査用パッド１２３Ｂへプローブを当接して走査駆動信号ＳＣＡＮ（ｍ＋１）を確認することにより、第２走査駆動回路１２２Ｂが正常に動作しているか否かを確認することができる。例えばクロック周期をＴとした場合、検査用パッド１２３Ｂへプローブを当接することにより得られた信号が、入力信号ＩＮ（２ｍ）に対して（ｍ×Ｔ）／２だけ遅れ、かつ、入力信号ＩＮ（２ｍ）の出力期間と同じ出力期間を有する場合に、第２走査駆動回路１２２Ｂが正常に動作していると確認できる。
【００７７】
次に、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂと、第１駆動ブロック１１２Ａ及び第２駆動ブロック１１２Ｂとについて、レイアウトに着目しながら述べる。
【００７８】
図４は図１の一部を拡大した模式図であり、図５は図１の一部を拡大したレイアウト図である。なお、図４に示す第１走査駆動回路１２２Ａは、図１に示す２つの第１走査駆動回路１２２Ａのうち、表示領域１１０に対して右側に配置されている第１走査駆動回路１２２Ａに相当する。同様に、図４に示す第２走査駆動回路１２２Ｂは、図１に示す２つの第２走査駆動回路１２２Ｂのうち、表示領域１１０に対して右側に配置されている第２走査駆動回路１２２Ｂに相当する。
【００７９】
ここで、図５に示すように、表示領域１１０における複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂの列方向のピッチｐ１と、第１走査駆動回路１２２Ａが有する複数の単位回路１３１Ａの列方向のピッチｐ２と、第２走査駆動回路１２２Ｂが有する複数の単位回路１３１Ｂの列方向のピッチｐ３とは、次式を満たす。
【００８０】
ｐ１＝ｐ２＝ｐ３
【００８１】
なお、これらは完全に同一でなくても実質的に同一であればよく、実質的に同一であるとは、好ましくは誤差が５パーセント以内であり、さらに好ましくは１パーセント以内である。
【００８２】
また、第１走査駆動回路１２２Ａが有する複数の単位回路１３１Ａのそれぞれは、対応する発光画素行から見て第１方向に、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂに対応する所定量だけずれて配置され、第２走査駆動回路１２２Ｂが有する複数の単位回路１３１Ｂのそれぞれは、対応する発光画素行から見て第２方向に、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂに対応する所定量だけずれて配置されている。ここで、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂに対応する所定量とは、例えば、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂの列方向の長さの半分に相当する。
【００８３】
具体的には、第１走査駆動回路１２２Ａは、第１駆動ブロック１１２Ａよりも上方向へずれて配置されている。言い換えると、第１駆動ブロック１１２Ａの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ａは、第（ｋ−１）行側へずれた位置に配置されている。一方、第２走査駆動回路１２２Ｂは、第２駆動ブロック１１２Ｂよりも下方向へずれて配置されている。言い換えると、第２駆動ブロック１１２Ｂの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ｂは、第（ｋ＋１）行側へずれた位置に配置されている。
【００８４】
ここで、第１駆動ブロック１１２Ａの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ａが同一行の発光画素１１１Ａに対して上方向へずれた量をシフト量ｄ１、第２駆動ブロック１１２Ｂの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ｂが同一行の発光画素１１１Ｂに対して下方向へずれた量をシフト量ｄ２とすると、シフト量ｄ１とシフト量ｄ２とは次式を満たす。
【００８５】
ｄ１＝ｄ２
【００８６】
なお、これらは完全に同一でなくても実質的に同一であればよく、実質的に同一であるとは、好ましくは誤差が５パーセント以内であり、さらに好ましくは１パーセント以内である。
【００８７】
これにより、容易に、走査線１２５Ａの長さと、走査線１２５Ｂの長さとを実質的に同一にできる。具体的には、図５に示すように、第１走査駆動回路１２２Ａが有する複数の単位回路１３１Ａの並び軸と、第２走査駆動回路１２２Ｂが有する複数の単位回路１３１Ｂの並び軸とを一致させ、かつ、各走査線１２５Ａ及び１２５Ｂを表示領域１１０の行方向に平行及び垂直に最短距離で配線することにより、走査線１２５Ａの長さと、走査線１２５Ｂの長さと実質的に同一にできる。
【００８８】
以上のように、実施の形態１に係る表示装置１００は、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂに電気的に接続された検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂを備え、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂのそれぞれは、対応する駆動ブロックの行に１対１に対応して設けられた、多段接続された複数の単位回路１３１Ａ及び１３１Ｂを有し、複数の単位回路１３１Ａ及び１３１Ｂのそれぞれは、同一行に属する走査線１２５Ａ又は走査線１２５Ｂと接続され、表示領域１１０における複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂの列方向のピッチと、第１走査駆動回路１２２Ａが有する複数の単位回路１３１Ａの列方向のピッチと、第２走査駆動回路１２２Ｂが有する複数の単位回路１３１Ｂとの列方向のピッチとは、実質的に同一であり、第１走査駆動回路１２２Ａと、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと、第２走査駆動回路１２２Ｂとは、周辺領域１２０のうち表示領域１１０の同一辺に沿う領域に、この順に並んで配置され、走査線１２５Ａの長さと走査線１２５Ｂの長さとは、実質的に同一である。特定的には、全ての走査線１２５Ａの長さと、全ての走査線１２５Ｂの長さとは、実質的に同一であり、表示領域１１０における複数の発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂの列方向のピッチと、第１走査駆動回路１２２Ａが有する複数の単位回路１３１Ａの列方向のピッチと、第２走査駆動回路１２２Ｂが有する複数の単位回路１３１Ｂとの列方向のピッチとは、実質的に同一である。
【００８９】
これにより、本実施の形態に係る表示装置１００は、第１及び第２走査駆動回路１２２Ａ及び１２２Ｂに接続された検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂを、周辺領域１２０に配置することができる。
【００９０】
さらに、走査線１２５Ａと走査線１２５Ｂとの長さを実質的に同一にしていることにより、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂの配線長のバラつきに起因する配線抵抗のバラつき及び寄生容量のバラつきを低減できる。よって、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂは、第１駆動ブロック１１２Ａを構成する複数の発光画素行と、第２駆動ブロック１１２Ｂを構成する複数の発光画素行とを均一に駆動できる。つまり、表示領域１１０を均一に駆動できる。その結果、実施の形態１に係る表示装置１００は、画質の劣化を抑制できる。
【００９１】
このように、本実施の形態に係る表示装置１００は、画質の劣化を抑制し、かつ、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂの配置を可能とする。
【００９２】
さらに、第１走査駆動回路１２２Ａと、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと、第２走査駆動回路１２２Ｂとがこの順に並んで配置されていることにより、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂが第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂと並んでいないような配置と比較して、狭額縁化できる。
【００９３】
また、本実施の形態に係る表示装置１００では、第１走査駆動回路１２２Ａが第１駆動ブロック１１２Ａを第１行から第ｍ行へ順に走査し、第２走査駆動回路１２２Ｂが第２駆動ブロック１１２Ｂを第ｍ行から第１行へ順に走査する。その結果、第１駆動ブロック１１２Ａの第ｍ行の発光画素１１１Ａと、第２駆動ブロック１１２Ｂの第１行の発光画素１１１Ｂとは、同時に駆動される。つまり、第１走査駆動回路１２２Ａは第１行から第ｍ行の発光画素行へ順に走査し、第２走査駆動回路１２２Ｂは第２ｍ行から第（ｍ＋１）行の発光画素行へ順に走査するので、第ｍ行の発光画素行と第（ｍ＋１）行の発光画素行とは同時に駆動される。
【００９４】
これにより、表示領域１１０に表示される画像において、第１駆動ブロック１１２Ａと第２駆動ブロック１１２Ｂとの境界が目立たず、画質が向上する。
【００９５】
（実施の形態２）
本実施の形態に係る表示装置は、実施の形態１に係る表示装置１００とほぼ同じであるが、走査線が表示領域の行方向と平行に配置されている点が異なる。以下、本実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００９６】
図６は、本実施の形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。なお、図６は、本実施の形態に係る表示装置のレイアウトを模式的に示している。
【００９７】
同図に示す表示装置２００は、図１に示す表示装置１００と比較して、走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと、第１駆動ブロック１１２Ａ及び第２駆動ブロック１１２Ｂとに代わり、走査線２２５Ａ及び２２５Ｂと、第１駆動ブロック２１２Ａ及び第２駆動ブロック２１２Ｂを備える。
【００９８】
走査線２２５Ａ及び２２５Ｂは、実施の形態１における走査線１２５Ａ及び１２５Ｂと比較して、表示領域１１０の行方向に対して平行に配置されている点が異なる。つまり、実施の形態１では、走査線１２５Ａの一部及び走査線１２５Ｂの一部は、周辺領域１２０において表示領域１１０の行方向に対して非平行に配置されていたが、本実施の形態では、走査線２２５Ａ及び２２５Ｂは、周辺領域１２０において表示領域１１０の行方向に対して平行に配置されている。
【００９９】
第１駆動ブロック２１２Ａは、実施の形態１における第１駆動ブロック１１２Ａと比較してほぼ同じであるが、同一行の発光画素１１１Ａと走査線２２５Ａとの位置関係が異なる。同様に、第２駆動ブロック２１２Ｂは、実施の形態１における第２駆動ブロック１１２Ｂと比較してほぼ同じであるが、同一行の発光画素１１１Ｂと走査線２２５Ｂとの位置関係が異なる。
【０１００】
具体的には、第１駆動ブロック２１２Ａの第ｋ行の発光画素１１１Ａは、周辺領域１２０において表示領域１１０の行方向に対して平行に配置された走査線２２５Ａを介して、第１駆動ブロック２１２Ａの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ａと接続される。同様に、第２駆動ブロック２１２Ｂの第ｋ行の発光画素１１１Ｂは、周辺領域１２０において表示領域１１０の行方向に対して平行に配置された走査線２２５Ｂを介して、第２駆動ブロック２１２Ｂの第ｋ行に対応する単位回路１３１Ｂと接続される。
【０１０１】
以上のように、本実施の形態に係る表示装置２００は、実施の形態１に係る表示装置１００と比較して、走査線２２５Ａ及び２２５Ｂが表示領域１１０の行方向に対して平行に配置されている。
【０１０２】
これにより、本実施の形態に係る表示装置２００は、実施の形態１に係る表示装置１００と比較して、設計時及び実装時に、走査線２２５Ａの長さと走査線２２５Ｂの長さとを容易に等しくできる。
【０１０３】
以上、本発明の表示装置について、実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明に係る表示装置は、上記実施の形態に限定されるものではない。実施の形態１及び２における任意の構成要素を組み合わせて実現される別の実施の形態や、実施の形態１及び２に対して本発明の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例も本発明に含まれる。
【０１０４】
例えば、上記各実施の形態では、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂは第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂよりも周縁側には配置されなかったが、検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂの一部の領域は第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂよりも周縁側には配置されてもよい。
【０１０５】
図７は、検査用パッドの一部が第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂよりも周縁側に設けられている表示装置の構成を示すブロック図である。
【０１０６】
同図に示す、第１走査駆動回路１２２Ａに接続された検査用パッド３２３Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂに接続された検査用パッド３２３Ｂは、実施の形態１に係る表示装置１００が備える検査用パッド１２３Ａ及び１２３Ｂと比較して、さらに、表示装置３００の周縁側に配置されている。これにより、表示装置３００は、表示装置１００と比較して、より大きな検査用パッド３２３Ａ及び３２３Ｂを実装することができる。その結果、表示装置３００の検査時に、プローブと検査用パッドとの位置合わせが容易となる。
【０１０７】
また、上記各実施の形態では、表示装置は２つの駆動ブロックを有したが、駆動ブロックの数は２つに限らず、例えば３つでもよい。
【０１０８】
図８は、３つの駆動ブロックを有する表示装置の構成を示すブロック図である。
【０１０９】
同図に示す表示装置４００は、図１に示す表示装置１００と比較して、さらに、第３駆動ブロック４１２と、制御回路４２１と、制御回路４２１の制御に応じて第３駆動ブロック４１２を駆動するための第３走査駆動回路４２２と、第３走査駆動回路４２２に電気的に接続された検査用パッド４２３と、第３走査駆動回路４２２から第３駆動ブロック４１２へ走査駆動信号を供給するための走査線４２５とを備える。
【０１１０】
ここで、第１走査駆動回路１２２Ａ、検査用パッド１２３Ａ、検査用パッド１２３Ｂ、第２走査駆動回路１２２Ｂ、第３走査駆動回路４２２及び検査用パッド４２３は、周辺領域１２０に、この順に並んで配置されている。さらに、走査線４２５は、周辺領域１２０において、表示領域１１０の行方向に対して非平行である。
【０１１１】
これにより、表示装置４００は表示装置１００と比較して、さらに大画面化できる。
【０１１２】
また、上記各実施の形態では、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂが多段接続された単位回路１３１Ａ及び１３１Ｂを有していたが、さらに、信号線駆動回路１２４Ａ及び１２４Ｂが多段接続された単位回路を有してもよい。
【０１１３】
また、上記各実施の形態では、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂは表示領域１１０の列方向に沿って配置されていたが、行方向に沿って配置されていてもよい。つまり、表示領域１１０が有する発光画素１１１Ａ及び１１１Ｂの行と列とを入れ替えて、さらに、信号線駆動回路１２４Ａ及び１２４Ｂを表示領域１１０の列方向に沿って配置し、第１走査駆動回路１２２Ａ、検査用パッド１２３Ａ、検査用パッド１２３Ｂ及び第２走査駆動回路１２２Ｂを表示領域の行方向に沿って配置してもよい。
【０１１４】
また、第１走査駆動回路１２２Ａと第２走査駆動回路１２２Ｂとの間に配置される回路要素は、検査用パッドに限らない。例えば、回路要素は、第１走査駆動回路１２２Ａ及び第２走査駆動回路１２２Ｂに、走査駆動信号の供給をスタートさせるタイミングを制御するための信号であるスタートパルスを入力するためのスタートパルス入力線であってもよい。これにより、第１駆動ブロック１１２Ａの駆動タイミングと第２駆動ブロック１１２Ｂの駆動タイミングとを独立に設定できる。よって、大画面に適した駆動タイミングで、第１駆動ブロック１１２Ａと第２駆動ブロック１１２Ｂとを駆動させることが可能となる。
【０１１５】
また、第１走査駆動回路１２２Ａと第２走査駆動回路１２２Ｂとの間には、検査用パッドとスタートパルス入力線とが両方配置されていてもよい。
【０１１６】
また、上記各実施の形態では、周辺領域１２０は表示領域１１０の周縁に沿って設けられていたが、表示領域１１０を囲んでいなくても、表示領域１１０の少なくとも一辺に沿って設けられていればよい。
【０１１７】
また、上記各実施の形態では、表示領域１１０の両端から走査駆動信号を供給するために、各駆動ブロックの両端に走査駆動回路を設けていたが、走査駆動回路は各駆動ブロックの一端のみに設けられていてもよい。走査駆動回路が各駆動ブロックの一端のみに設けられている場合、それに伴い検査用パッド及び制御回路も１つずつとしてもよい。
【０１１８】
また、第１走査回路１２２Aと第２走査回路１２２Bの転送方向は限定されるわけではなく、上記各実施の回路形態の他、例えば第１行の発光画素と第ｍ＋１行の発光画素が同時に駆動される転送方向でもよい。
【０１１９】
また、例えば、本発明に係る表示装置は、図９に記載されたような薄型フラットＴＶに内蔵される。本発明に係る表示装置が内蔵されることにより、実装時に、走査駆動回路に接続された回路要素を配置可能な薄型フラットＴＶが実現される。
【産業上の利用可能性】
【０１２０】
本発明の表示装置は、大画面が要望される、薄型テレビ、パーソナルコンピュータのディスプレイなどの技術分野に有用である。
【符号の説明】
【０１２１】
１００、２００、３００、４００、８００、９００    表示装置
１１０、８１０、９１０    表示領域
１１１Ａ、１１１Ｂ、８０１、９１１Ａ、９１１Ｂ、９８１    発光画素
１１２Ａ、２１２Ａ、９１２Ａ    第１駆動ブロック
１１２Ｂ、２１２Ｂ、９１２Ｂ    第２駆動ブロック
１２０    周辺領域
１２１Ａ、１２１Ｂ、４２１、８２０    制御回路
１２２Ａ、７０１、９２２Ａ    第１走査駆動回路
１２２Ｂ、７０２、９２２Ｂ    第２走査駆動回路
１２３Ａ、１２３Ｂ、３２３Ａ、３２３Ｂ、４２３、８５０、９２３Ａ、９２３Ｂ    検査用パッド
１２４Ａ、１２４Ｂ、８４０    信号線駆動回路
１２５Ａ、１２５Ｂ、２２５Ａ、２２５Ｂ、４２５、９２５Ａ、９２５Ｂ    走査線
１２６Ａ、１２６Ｂ    信号線
１３１Ａ、１３１Ｂ、９８２    単位回路
１３２    クロック信号発生器
４１２    第３駆動ブロック
４２２    第３走査駆動回路
７０３    スイッチ部
８３０    走査駆動回路
７００    有機電界発光表示装置
７１０    走査駆動部
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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