(57)【要約】【課題】評価装置及び冶具などを別途に用意することなく残像特性評価を行うことができる画像読取装置、画像形成装置及び残像特性値検知方法を提供する。【解決手段】原稿を照射するＬＥＤ光源の反射光をＣＣＤイメージセンサで受光して原稿から画像を読取る画像読取装置であって、ＣＣＤイメージセンサの受光部が一時的に蓄積する電荷をシフトさせるシフト信号に同期させて、ＬＥＤ光源のオンオフを制御する光源制御部と、光源制御部がオンオフさせたＬＥＤ光源の反射光に基づいて、ＣＣＤイメージセンサの残像特性値を算出する残像演算処理部と、を有する。【選択図】図１
2014060554.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を照射するＬＥＤ光源の反射光をＣＣＤイメージセンサで受光して原稿から画像を読取る画像読取装置であって、
前記ＣＣＤイメージセンサの受光部が一時的に蓄積する電荷をシフトさせるシフト信号に同期させて、前記ＬＥＤ光源のオンオフを制御する光源制御部と、
前記光源制御部がオンオフさせた前記ＬＥＤ光源の反射光に基づいて、前記ＣＣＤイメージセンサの残像特性値を算出する残像演算処理部と、
を有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記光源制御部は、
前記ＣＣＤイメージセンサで受光する副走査方向のライン数と、ライン間隔を任意で設定可能にされていること
を特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記残像演算処理部は、
黒レベルを差し引いた前記ＬＥＤ光源点灯直後ラインの所定画素平均値と、黒レベルを差し引いた前記ＬＥＤ光源点灯ラインの所定画素平均値との割合により残像特性値を算出すること
を特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記残像演算処理部は、
主走査方向の複数個所で残像特性値を算出する場合に、前記ＬＥＤ光源点灯ラインの読取レベルが予め設定された閾値以下の部分を除外して残像特性値を算出すること
を特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記残像演算処理部は、
電源投入時及び省電力状態からの復帰時の少なくともいずれかに残像特性値を算出すること
を特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記残像演算処理部は、
綴じられた本状の原稿読取り後に残像特性値を算出すること
を特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項７】
背景板を具備する自動原稿給送装置をさらに有し、
前記残像演算処理部は、
前記自動原稿給送装置が複数の原稿を搬送する間に前記背景板を用いて残像特性値を算出すること
を特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記残像演算処理部が算出した残像特性値に異常がある場合に、異常を通知する通知部をさらに有すること
を特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項に記載の画像読取装置が読取った画像を記録媒体に形成する画像形成部を有する画像形成装置。
【請求項１０】
原稿を照射するＬＥＤ光源の反射光をＣＣＤイメージセンサで受光して原稿から画像を読取る画像読取装置において、
前記ＣＣＤイメージセンサの受光部が一時的に蓄積する電荷をシフトさせるシフト信号に同期させて、前記ＬＥＤ光源のオンオフを制御する工程と、
オンオフさせた前記ＬＥＤ光源の反射光に基づいて、前記ＣＣＤイメージセンサの残像特性値を算出する工程と、
を含む残像特性値検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置、画像形成装置及び残像特性値検知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像読取装置で使用されるＣＣＤ（Charge  Coupled  Device）では、フォトダイオード（ＰＤ）アレイからシフトレジスタへ移送するための制御信号によりラインごとに電荷を転送し、このシフトレジスタから１ライン毎に電荷を順次に出力信号として読出している。しかし、転送されずに各ＣＣＤ（撮像素子）に残った電荷は、以降の転送に混入することになる。これを残像特性という。残像特性は、ＣＣＤの出荷前に検査されている。しかし、実際には、ＣＣＤを画像読取装置に組み込んだ後、画像読取装置としての出荷前のスキャナの読取特性評価において、再びこの残像特性を評価する必要がある。
【０００３】
従来、画像読取装置において残像特性を評価するためには、間欠発光の光源が用いられる。そして、この光源によりＣＣＤに所定時間の光を照射した後に、ＣＣＤから１ライン分の電荷を読み出し、この１ラインの次に読み出される１ラインの電荷から残像を検出し、残像特性を評価することが知られている。
【０００４】
例えば、特許文献１は、照射された光量に応じて電荷を蓄積する少なくとも１ラインの撮像素子に第１の蓄積時間に亘って光を照射した後に１ラインの電荷を順次に読み出し、撮像素子に第１の蓄積時間とは異なる第２の蓄積時間に亘って光を照射した後に１ラインの電荷を順次に読み出して、読み出されたそれぞれの１ラインの電荷から残像の電荷を検出する残像検出方法を開示する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、残像特性評価装置を使用しなければ残像特性評価を行うことができなかった。
【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、評価装置及び冶具などを別途に用意することなく残像特性評価を行うことができる画像読取装置、画像形成装置及び残像特性値検知方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、原稿を照射するＬＥＤ光源の反射光をＣＣＤイメージセンサで受光して原稿から画像を読取る画像読取装置であって、前記ＣＣＤイメージセンサの受光部が一時的に蓄積する電荷をシフトさせるシフト信号に同期させて、前記ＬＥＤ光源のオンオフを制御する光源制御部と、前記光源制御部がオンオフさせた前記ＬＥＤ光源の反射光に基づいて、前記ＣＣＤイメージセンサの残像特性値を算出する残像演算処理部と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、評価装置及び冶具などを別途に用意することなく残像特性評価を行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、実施の形態にかかる画像読取装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、ＣＣＤイメージセンサの詳細な構成を示す図である。
【図３】図３は、ＣＣＤイメージセンサの動作を示すタイミングチャートである。
【図４】図４は、残像特性を例示する図である。
【図５】図５は、画像読取装置を備えた画像形成装置の構成を示す図である。
【図６】図６は、画像読取装置及びその周辺の構成を示すブロック図である。
【図７】図７は、残像特性値検知方法を示すフローチャートである。
【図８】図８は、光源制御部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、光源制御部のＬＥＤ光源に対する制御タイミングを示すタイミングチャートである。
【図１０】図１０は、残像演算処理部が行う処理を示す図である。
【図１１】図１１は、画像読取装置の読取り結果におけるゴミの検知方法を示す図である。
【図１２】図１２は、残像演算処理部の機能及び残像演算処理を示すブロック図である。
【図１３−１】図１３−１は、立ち上げ時及び省電力状態からの復帰時の残像特性値を検知する場合のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図１３−２】図１３−２は、綴じられた本状の原稿スキャン時の残像特性値を検知する場合のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図１３−３】図１３−３は、ＡＤＦによるスキャン時の残像特性値を検知する場合のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図１４−１】図１４−１は、立ち上げ時及び省電力状態からの復帰時の残像特性値を検知する場合の動作を示すフローチャートである。
【図１４−２】図１４−２は、綴じられた本状の原稿スキャン時の残像特性値を検知する場合の動作を示すフローチャートである。
【図１４−３】図１４−３は、ＡＤＦによるスキャン時の残像特性値を検知する場合の動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に添付図面を参照して、画像読取装置及び画像形成装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は、実施の形態にかかる画像読取装置５０の構成を示す図である。図１に示すように、画像読取装置５０は、自動原稿給送装置（ＡＤＦ）５１及び縮小光学系５２を有する。
【００１１】
ＡＤＦ５１は、背景板７０が設けられており、図示しないローラなどによって複数の原稿を後述するコンタクトガラス６２に向けて搬送する。
【００１２】
縮小光学系５２は、センサ（ＣＣＤ）５３を備えたセンサー基板（Sensor  Board  Unit：ＳＢＵ）５４、レンズ５５、第１キャリッジ５６及び第２キャリッジ５７を有し、上面にコンタクトガラス６２及び基準白板６３が設けられている。第１キャリッジ５６は、ＬＥＤ光源５８及びミラー５９を有する。第２キャリッジ５７は、ミラー６０,６１を有する。
【００１３】
画像読取装置５０は、縮小光学系５２での読取動作において、第１キャリッジ５６及び第２キャリッジ５７が図１に示した待機位置（ホームポジション）から副走査方向に移動しながらＬＥＤ光源５８が光を上方に向けて照射する。そして、第１キャリッジ５６及び第２キャリッジ５７は、原稿からの反射光をレンズ５５を介してＣＣＤイメージセンサ５３上に結像させる。ＣＣＤイメージセンサ５３が光電変換したアナログ電気信号は、ＳＢＵ５４の図示しないＡ／Ｄコンバータによりデジタル信号に変換される。
【００１４】
また、画像読取装置５０は、ＡＤＦ５１によって搬送した原稿を読取る場合には、第１キャリッジ５６及び第２キャリッジ５７をホームポジションに固定し、原稿がホームポジション上を通過するときに、原稿からの反射光をＣＣＤイメージセンサ５３上に結像させる。
【００１５】
また、画像読取装置５０は、電源ＯＮ時や省電力状態からの復帰時には、基準白板６３からの反射光を読取って基準を設定する。即ち、縮小光学系５２は、第１キャリッジ５６が基準白板６３直下に移動し、ＬＥＤ光源５８を点灯させて基準白板６３からの反射光をＣＣＤイメージセンサ５３上に結像させることによりゲイン調整を行う。
【００１６】
さらに、画像読取装置５０の出力データを補正する処理としてシェーディング補正がある。縮小光学系５２は、ＡＤＦ５１が連続的に搬送する原稿を読取る場合、スキャン毎に基準白板６３からの反射光、又はホームポジション真上に配置されている背景板７０からの反射光を用いてシェーディング補正を行う。
【００１７】
図２は、ＣＣＤイメージセンサ５３の詳細な構成を示す図である。図２に示すように、ＣＣＤイメージセンサ５３は、受光部（ＰＤアレイ）６４、転送ゲート６５、シフトレジスタ（ＣＣＤアナログシフトレジスタ）６６及び出力バッファ６７を有する。
【００１８】
受光部６４は、光のエネルギーを電気信号に変換し、得られた信号電荷を一時的に蓄積する。この信号電荷は、転送ゲート６５に入力されるシフト信号（ＳＨ信号）により、シフトレジスタ６６に移送される。シフトレジスタ６６は、受光部６４で発生した信号電荷を転送クロックにより出力バッファ６７に順次送り出す。出力バッファ６７は、信号電荷量を電圧に変換し、外部に出力する。出力バッファ６７においては、リセットパルスにより１画素毎に電荷量はクリアされる。また、出力バッファ６７は、出力信号の基準レベルとしたい期間にクランプパルスがＯＮにされる。これらの制御により、ＣＣＤイメージセンサ５３は、光エネルギーを電気信号に変換している。
【００１９】
図３は、ＣＣＤイメージセンサ５３の動作を示すタイミングチャートである。図３において、空送り部は、ＣＣＤイメージセンサ５３の出力がない部分であり、シフトレジスタ６６と出力バッファ６７とをつなぐための画素である。ＯＰＢ部は、受光部６４がシールドされてマスクされている部分の画素であり、黒レベルを検出するために使用される。有効画素部は、有効信号を出力する画素である。無効画素部は、有効信号前後の無効信号の画素である。１ラインの信号はこれらのダミー信号（無効信号）と有効画素信号の領域から成る。
【００２０】
ＣＣＤイメージセンサ５３は、ＳＨ信号によって１ライン毎に受光部６４からシフトレジスタ６６への電荷転送を行い、Φ信号によってシフトレジスタ６６内の電荷を１画素ずつ転送し、信号出力波形であるＶｏｕｔ  ｅ，ｏを出力する。
【００２１】
図４は、残像特性を例示する図である。図３を用いて説明したように、ＳＨ信号は１ライン周期の信号である。従って、図４に示したＶｏｕｔは、１ラインに蓄積された電荷量を示している。ＬＥＤ光源５８が光を照射し、受光部６４が蓄積した電荷をシフトレジスタ６６に転送した後、ＬＥＤ光源５８が次ラインに光を照射していない場合、Ｖｏｕｔに電荷の蓄積はないはずである。しかし、次ラインにはＶ１の電荷が蓄積されている。
【００２２】
このＶ１の電荷は、前ラインの電荷が完全に転送されていないことにより、次ラインに前ラインの電荷が残ってしまうために発生している。このＶ１が残る特性を残像特性という。なお、電荷が完全に転送されない原因としては、ＣＣＤイメージセンサ５３の構造に起因することや、読み出しゲートが開いている時間が短いことなどが挙げられる。
【００２３】
次に、画像読取装置５０を備えた画像形成装置について説明する。図５は、画像読取装置５０を備えた画像形成装置の構成を示す図である。図５のように、画像形成装置は、画像形成装置本体１００と、画像形成装置本体１００の上部の設置された縮小光学系５２と、さらにその上に装着されたＡＤＦ５１と、画像形成装置本体１００の図５において右側に配置された大容量給紙装置４００と、画像形成装置本体１００の図５において左側に配置された用紙後処理装置５００とを有する。
【００２４】
画像形成装置本体１００は、画像書き込み部１１０と、作像部１２０と、定着部１３０と、両面搬送部１４０と、給紙部１５０と、垂直搬送部１６０と、手差し部１７０とを有する。
【００２５】
画像書き込み部１１０は、縮小光学系５２が読み取った原稿の画像情報に基づいて発光源であるレーザダイオード（ＬＤ）を変調し、ポリゴンミラー、ｆθレンズなどの走査光学系により感光体ドラム１２１にレーザ書き込みを行うものである。作像部１２０は、感光体ドラム１２１と、この感光体ドラム１２１の外周に沿って設けられた現像ユニット１２２、転写ユニット１２３、クリーニングユニット１２４及び除電ユニットなどの公知の電子写真方式の作像要素とからなる。
【００２６】
定着部１２０は、転写ユニット１２３で転写された画像を転写紙に定着させる。両面搬送部１４０は、定着部１２０の転写紙搬送方向下流側に設けられ、転写紙の搬送方向を用紙後処理装置５００側、又は両面搬送部１４０側に切り換る第１の切換爪１４１と、第１の切換爪１４１によって導かれた反転搬送路１４２と、反転搬送路１４２で反転した転写紙を再度転写ユニット１２３側に搬送する画像形成側搬送路１４３と、反転した転写紙を用紙後処理装置５００側に搬送する後処理側搬送路１４４とを含む。画像形成側搬送路１４３と後処理側搬送路１４４との分岐部には、第２の切換爪１４５が配されている。
【００２７】
給紙部１５０は、４段の給紙段からなり、それぞれピックアップローラ、給紙ローラによって選択された給紙段に収納された転写紙が引き出され、垂直搬送部１６０に導かれる。垂直搬送部１６０では、各給紙段から送り込まれた転写紙を転写ユニット１２３の用紙搬送方向上流側直前のレジストローラ１６１まで搬送し、レジストローラ１６１では、感光体ドラム１２１上の顕像の画像先端とタイミングを取って転写紙を転写ユニット１２３に送り込む。手差し部１７０は、開閉自在な手差しトレイ１７１を備え、必要に応じて手差しトレイ１７１を開いて転写紙を手差しにより供給する。この場合も、レジストローラ１６１によって転写紙は搬送タイミングが取られ、搬送される。
【００２８】
大容量給紙装置４００は、同一サイズの転写紙を大量にスタックして供給するもので、転写紙が消費されるにしたがって底板４０２が上昇し、常にピックアップローラ４０１から用紙のピックアップが可能に構成されている。ピックアップローラ４０１から給紙される転写紙は、垂直搬送部１６０からレジストローラ１６１のニップまで搬送される。
【００２９】
用紙後処理装置５００は、パンチ、整合、ステイプル、仕分けなどの所定の処理を行うもので、この実施形態では、パンチ５０１、ステイプルトレイ（整合）５０２、ステイプラ５０３、シフトトレイ５０４を備えている。すなわち、画像形成装置本体１００から用紙後処理装置５００に搬入された転写紙は、孔明けを行う場合にはパンチ５０１で１枚ずつ孔明けが行われ、その後、特に処理するものがなければ、プルーフトレイ５０５へ、ソート、スタック、仕分けを行う場合にはシフトトレイ５０４にそれぞれ排紙される。仕分けは、シフトトレイ５０４が用紙搬送方向に直交する方向に所定量往復動することにより行われる。このほかに、用紙搬送路で用紙を用紙搬送方向と直交する方向に移動させて仕分けを行ってもよい。
【００３０】
整合する場合には、孔明けが行われた、あるいは孔明けが行われていない転写紙が下搬送路５０６に導かれ、ステイプルトレイ５０４において後端フェンスで用紙搬送方向を直交する方向が整合され、ジョガーフェンスで用紙搬送方向と平行な方向の整合が行われる。ここで、綴じが行われる場合には、整合された用紙束の所定位置、例えば角部、中央２個所など所定の位置がステイプラ５０３によって綴じられ、放出ベルトによってシフトトレイ５０４に排紙される。また、この実施形態では、下搬送路５０６にはプレスタック搬送路５０７が設けられ、搬送時に複数枚の用紙をスタックし、後処理中の画像形成装置本体１００側の画像形成動作の中断を避けることができるようになっている。
【００３１】
縮小光学系５２は、ＡＤＦ５１によって搬送された原稿を光学的にスキャンし、画像を読取る。読み取られた画像データは、図示しない画像処理回路で所定の画像処理が実行され、記憶装置に一旦記憶される。そして、画像形成時には、画像書き込み部１１０によって画像データが記憶装置から読み出され、画像データに応じて変調がなされ、光書き込みが行われる。
【００３２】
図６は、画像読取装置５０及びその周辺の構成を示すブロック図である。画像読取装置５０において、ＬＥＤ光源５８の反射光からＣＣＤイメージセンサ５３が得たアナログ電気信号は、アナログ処理を行うアナログ信号処理部６へ入力される。アナログ信号処理部６は、ラインクランプ、サンプルホールド、ゲイン処理を行う。Ａ/Ｄ変換器７は、Ａ/Ｄ変換を行い、デジタル出力データを得る。その後、出力データは後段で、画像処理される。
【００３３】
また、画像読取装置５０は、ＬＥＤ光源５８の点灯をタイミング制御部２からのＳＨ信号に同期させて制御する光源制御部３と、光源制御部３内の残像読取ラインを設定するレジスタと、残像特性値を算出する残像演算処理部８と、メモリ９とを備えている。ＣＰＵ１は、画像読取装置５０を構成する各部を制御する。また、残像特性値の演算結果が予めメモリ９に格納された規格値を超えてしまう場合、通知部１０は、異常発生を通知する。なお、画像読取装置５０は、ＣＰＵ１及び通知部１０を具備する構成であってもよい。
【００３４】
図７は、残像特性値検知方法を示すフローチャートである。残像特性値を検知するために、画像形成装置（又は画像読取装置５０）が備えるＣＰＵ１は、まず、ＳＨ信号同期カウンタを初期化する（Ｓ１００）。その後、ＣＰＵ１は、ＳＨ信号立ち上がりを検出し（Ｓ１０２）、カウンタを＋１する（Ｓ１０４）。
【００３５】
ＣＰＵ１は、ＳＨ信号カウンタの値をＬとし、光源照射ライン間隔の設定値をＸとして、Ｌ＝ｎＸ（ただし、ｎは１以上の整数）となるか否かを判定する（Ｓ１０６）。ＣＰＵ１は、Ｌ＝ｎＸであると判定した場合（Ｓ１０６：Ｙｅｓ）にはＳ１０８の処理に進み、Ｌ＝ｎＸでないと判定した場合（Ｓ１０６：Ｎｏ）にはＳ１０２の処理に進む。ＣＰＵ１は、ＳＨ信号間で１ライン分だけＬＥＤ光源５８を点灯させ（Ｓ１０８）、１ライン経過後にＬＥＤ光源５８を消灯する（Ｓ１１０）。
【００３６】
そして、ＣＰＵ１は、Ｓ１０２〜Ｓ１１０の処理を、指定した全ライン分であるＹライン（ＳＨ信号カウンタＬ＝Ｙ）まで繰り返す（Ｓ１１２）。Ｓ１１２の処理でＬ＝Ｙとなり、読取が完了すると、ＣＰＵ１は、読取結果から残像特性値を残像演算処理部８に演算させる（Ｓ１１４）。ここで、設定値であるＸ、Ｙの値はレジスタ設定により任意に変更することができるものとする。
【００３７】
ＣＰＵ１は、残像特性値（演算値）が予め設定されたメモリ９内の規格値の範囲内であるか否かを判定する。ＣＰＵ１は、演算値が規格値の範囲内でないと判定した場合（Ｓ１１６：Ｎｏ）にはＳ１１８の処理に進み、演算値が規格値の範囲内であると判定した場合（Ｓ１１６：Ｙｅｓ）には処理を終了する。ＣＰＵ１は、異常発生と判断し、通知部１０を介して異常通知を行う。これにより、異常画像の出力を事前に防止することができる。
【００３８】
図８は、光源制御部３の詳細な構成を示すブロック図である。光源制御部３は、ＬＥＤ光源５８の点灯をタイミング制御部２からのＳＨ信号に同期させて制御する機能を備えている。例えば、光源制御部３は、入力信号であるＳＨ信号をカウンタ１１によりカウントし、カウント数に応じてＬＥＤ光源５８のＯＮ／ＯＦＦを切り替えるＯＮ／ＯＦＦ制御部１２を有する。また、ＯＮ／ＯＦＦ制御部１２は、レジスタを備えており、光源照射ライン間隔の設定値Ｘと副走査全ライン数の設定値Ｙを設定することを可能にされている。このように、光源制御部３は、ＬＥＤ光源５８のＯＮ／ＯＦＦを切り替える点灯信号を出力することにより、ＬＥＤ光源５８を制御する。
【００３９】
図９は、光源制御部３のＬＥＤ光源５８に対する制御タイミングを示すタイミングチャートである。上述したように、光源制御部３は、タイミング制御部２からのＳＨ信号のカウントを行うことにより、ＬＥＤ光源５８の制御を行う。図９に示すように、光源制御部３は、ＣＰＵ１の制御によってＳＨ信号の立ち上がりごとにカウンタ数値に１を加え（＋１）、ＯＮ／ＯＦＦ制御部１２が具備するレジスタで設定した光源照射ライン設定値であるＸラインごとにＬＥＤ光源５８のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。読取レベルには、光源照射ライン直後のラインに残像レベルが発生することが示されている。レジスタ設定した副走査全ライン設定値であるＹライン目まで読取が完了すると、残像特性値検知は終了となる。このように、光源制御部３は、残像特性評価装置を別途に設けることなく、読取レベルから残像特性値検知を行うことを可能としている。
【００４０】
図１０は、残像演算処理部８が行う処理を示す図である。図９に示したように、Ｘライン周期ごとに１ラインだけ光を照射することにより、次ラインの残電荷を確認することが可能になる。そして、画像読取装置５０の読取出力からは、図１０に示すように、Ｘライン毎に１ライン分の光が照射されていることが分かる。これにより、残像演算処理部８は、下式１により算出した残像特性値が規格値を満たしているか否かを判定する。
【００４１】
残像＝｛（ＬＥＤ点灯直後ラインの所定画素平均値）−（黒レベル）｝
÷｛（ＬＥＤ点灯ラインの所定画素平均値）−（黒レベル）｝×１００（％）                                                            ・・・（１）
【００４２】
ただし、黒レベルは残像の影響のない箇所として、ＬＥＤ光源５８点灯数ライン以降の数ライン分の平均値とする。また、画像読取装置５０の読取り結果におけるゴミの影響と残像演算の結果の確実性を考慮して、図１０に示したように、残像演算処理部８は、複数画素で残像特性値算出のための演算を行う。ただし、演算画素の箇所は副走査方向のラインの中心付近の領域とし、複数の演算箇所は主走査方向に数十画素分ずらした画素とする。
【００４３】
図１１は、画像読取装置５０の読取り結果におけるゴミの検知方法を示す図である。画像読取装置５０は、読取り結果におけるゴミによる影響を考慮するために、ゴミを検知する。図１１においては、残像演算箇所にゴミによる縦筋がある場合が示されている。画像読取装置５０においては、光源照射ラインの出力レベルをモニタリングして、メモリ９内に光源照射ラインレベルの閾値が予め設定されている。
【００４４】
残像演算処理部８は、光源照射ラインの出力レベルが図１１のグラフのように、閾値を下回っていれば、ゴミの影響があると判断し、この部分を除外した残りの演算箇所の結果を残像特性値とする。ただし、残像演算処理部８は、すべての演算箇所が除外された場合には、故障と判断する。
【００４５】
図１２は、残像演算処理部８の機能及び残像演算処理を示すブロック図である。残像演算処理部８は、読取出力値であるデジタルデータから得られた、ＬＥＤ点灯ラインの所定画素データ平均値、ＬＥＤ点灯直後ラインの所定画素データ平均値、及び黒レベルデータの３つの値から、上式（１）に示したように、減算部１３，１４を用いて減算を行い、除算器１７によって除算を行うことにより、残像特性値を得る。
【００４６】
ただし、ゴミ検知部１６では、ゴミの影響を考慮するため、メモリ９内の予め設定した閾値を下回った場合に、その部分の演算を除外している。また、すべての演算箇所が除外された場合は、故障検知信号により通知部１０へ通知信号が出力される。そして、残像演算処理部８は、演算によって得られた残像特性値と、メモリ９内に予め設定された残像規格値とを比較部１８によって比較し、通知信号を出力する。
【００４７】
図１３は、残像特性値を検知するタイミングを示すタイミングチャートである。図１４は、図１３に対応する残像特性値を検知する動作を示すフローチャートである。なお、図１４−１〜１４−３において、実質的に同一の処理には、同一の符号が付してある。
【００４８】
図１３−１、図１４−１はそれぞれ、画像読取装置５０の立ち上げ時（電源投入時）及び省電力状態からの復帰時の残像特性値を検知する場合のタイミングチャートとフローチャートである。画像読取装置５０は、電源がＯＮにされると、ゲイン調整のため、ＬＥＤ光源５８を有する第１キャリッジ５６を基準白板６３直下まで移動させる（Ｓ２００）。
【００４９】
画像読取装置５０は、ゲイン調整を行い（Ｓ２０２）、第１キャリッジ５６を移動させることなく残像特性値の検知を行う（Ｓ２０４）。その後、画像読取装置５０は、第１キャリッジ５６をキャリッジホームポジションに戻す（Ｓ２０６）。
【００５０】
図１３−２、図１４−２はそれぞれ、綴じられた本状の原稿スキャン時（ブックスキャン時）の残像特性値を検知する場合のタイミングチャートとフローチャートである。ブックスキャン時に残像特性値を検知する場合、まず、画像読取装置５０は、第１キャリッジ５６を基準白板６３直下まで移動させる（Ｓ２００）。そして、画像読取装置５０は、シェーディング補正のための基準白板データを取得し（Ｓ３００）、原稿データを読取って（Ｓ３０２）、第１キャリッジ５６をホームポジションに戻す（Ｓ３０４）。画像読取装置５０は、第１キャリッジ５６がホームポジションに戻る途中で基準白板６３直下に移動したときに残像特性値の検知を行う（Ｓ２０４）。その後、画像読取装置５０は、第１キャリッジ５６をキャリッジホームポジションに戻す（Ｓ２０６）。
【００５１】
図１３−３、図１４−３はそれぞれ、ＡＤＦ５１によるスキャン時の残像特性値を検知する場合のタイミングチャートとフローチャートである。ＡＤＦ５１によるスキャン時に残像特性値を検知する場合、まず、画像読取装置５０は、シェーディングデータ生成のため、第１キャリッジ５６を基準白板６３直下まで移動させる（Ｓ２００）。そして、画像読取装置５０は、シェーディング補正のための基準白板データを取得し（Ｓ３００）、第１キャリッジ５６をキャリッジホームポジションに戻す（Ｓ２０６）。
【００５２】
画像読取装置５０は、第１キャリッジ５６のホームポジション上にある背景板７０によって残像特性値の検知を行う（Ｓ４００）。その後、画像読取装置５０は、原稿搬送を開始し（Ｓ４０２）、原稿データを読取る（Ｓ３０２）。
【００５３】
このように、本実施形態によれば、ＬＥＤ光源５８を基準白板６３直下に配置し、所定のライン数経過時にＬＥＤ光源５８を点灯させて基準白板データを取得するので、評価装置及び冶具などを別途に用意することなく残像特性評価を行うことができる。そして、残像特性評価の作業にかかっていた時間の大幅な短縮と、評価精度向上が実現でき、市場での異常画像発生を未然に防止することができる。
【符号の説明】
【００５４】
１  ＣＰＵ
２  タイミング制御部
３  光源制御部
６  アナログ信号処理部
７  Ａ／Ｄ変換器
８  残像演算処理部
９  メモリ
１０  通知部
１１  カウンタ
１２  ＯＮ／ＯＦＦ制御部
１３，１４  減算部
１６  ゴミ検知部
１７  除算器
１８  比較部
５０  画像読取装置
５１  ＡＤＦ
５２  縮小光学系
５３  ＣＣＤイメージセンサ
５６  第１キャリッジ
５７  第２キャリッジ
５８  ＬＥＤ光源
６３  基準白板
６４  受光部
６５  転送ゲート
６６  シフトレジスタ
６７  出力バッファ
７０  背景板
１００  画像形成装置本体
４００  大容量給紙装置
５００  用紙後処理装置
【先行技術文献】
【特許文献】
【００５５】
【特許文献１】特開平１０−１９０９４１号公報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３−１】
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【図１３−２】
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【図１３−３】
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【図１４−１】
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【図１４−２】
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【図１４−３】
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