(57)【要約】【課題】本発明は、インライン上で測定した測定結果を検証することができる測定結果検証システムを提供する。【解決手段】本発明の測定結果検証システムは、被検査体を単位領域毎に測定し、単位領域の測定結果情報を伝送する第１の測定装置と、被検査体の単位領域毎にインデックス情報を有するコードパターンをマーキングするマーキング装置と、被検査体の所定単位領域のコードパターンから該当単位領域のインデックス情報を取得するリーダ機と、インデックス情報を取得した単位領域を再測定し、単位領域の再測定結果情報を伝送する第２の測定装置と、第１の測定装置の測定結果情報及び第２の測定装置の再測定結果情報をそれぞれ受信し、リーダ機が取得したインデックス情報に対応する第１の測定装置の測定結果情報と第２の測定装置の再測定結果情報とを比較して、第１の測定装置の測定結果を検証する検証装置とを備える。【選択図】図２
2014130140.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査体を単位領域毎に測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する第１の測定装置と、
前記被検査体の単位領域毎にインデックス情報を有するコードパターンをマーキングするマーキング装置と、
前記被検査体の所定単位領域のコードパターンから該当単位領域のインデックス情報を取得するリーダ機と、
前記インデックス情報を取得した単位領域を再測定し、前記単位領域の再測定結果情報を伝送する第２の測定装置と、
前記第１の測定装置の測定結果情報及び前記第２の測定装置の再測定結果情報をそれぞれ受信し、前記リーダ機が取得したインデックス情報に対応する第１の測定装置の測定結果情報と前記第２の測定装置の再測定結果情報とを比較して、前記第１の測定装置の測定結果を検証する検証装置と
を備える、測定結果検証システム。
【請求項２】
被検査体を単位領域毎に測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する第１の測定装置と、
前記第１の測定装置の測定結果情報を受信し、前記被検査体の単位領域毎に該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を有するコードパターンをマーキングするマーキング装置と、
前記被検査体の所定単位領域のコードパターンから該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を取得するリーダ機と、
前記測定結果情報及びインデックス情報を取得した単位領域を再測定し、前記単位領域の再測定結果情報を伝送する第２の測定装置と、
前記第２の測定装置の再測定結果情報を受信し、前記リーダ機が取得した測定結果情報と前記第２の測定装置の再測定結果情報とを比較して、前記第１の測定装置の測定結果を検証する検証装置と
を備える、測定結果検証システム。
【請求項３】
前記第１の測定装置はインライン測定装置であり、前記第２の測定装置はオフライン測定装置である、請求項１又は２に記載の測定結果検証システム。
【請求項４】
前記第１の測定装置は、
前記被検査体を一定方向に移送させる移送部と、
前記被検査体の上部から所定角度で光を照射する照明部と、
前記被検査体で反射される光を受光して前記被検査体を単位領域毎に撮影する撮影部と、
前記単位領域毎に撮影された映像を分析して測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する映像分析部と
を備え、前記撮影部は、前記移送部のうち前記被検査体と接触する部分を撮影するように撮影箇所が設定される、請求項３に記載の測定結果検証システム。
【請求項５】
前記被検査体は、第１の偏光パターン領域と第２の偏光パターン領域とが交互に形成されるパターン化リターダである、請求項４に記載の測定結果検証システム。
【請求項６】
前記第１の測定装置は、
前記照明部と前記パターン化リターダとの間に設けられる線形偏光フィルタと、
前記パターン化リターダと前記撮影部との間に設けられる円形偏光フィルタと
をさらに備え、前記映像分析部は、前記第１の偏光パターン領域の幅、前記第２の偏光パターン領域の幅、前記第１の偏光パターン領域の直進度、前記第２の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを分析する、請求項５に記載の測定結果検証システム。
【請求項７】
前記第１の測定装置は、前記被検査体の移送速度を測定する移送速度測定部をさらに備え、前記撮影部は、前記被検査体の移送速度によって前記被検査体を単位領域毎に撮影するように撮影周期を調節する、請求項４に記載の測定結果検証システム。
【請求項８】
前記移送部は、ロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型ベルト、及び移送ステージからなる群から選択される、請求項４に記載の測定結果検証システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検証技術に関するものであって、より詳しくは、測定装置で測定した結果を検証することができる測定結果検証システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、パターン化リターダ（Ｐａｔｔｅｒｎｅｄ  Ｒｅｔａｒｄｅｒ）は、偏光眼鏡方式の立体画像表示装置に適用され、立体映像の具現に利用することができる。また、パターン化リターダは、半透過型ＬＣＤなどの一面に提供され、反射部及び透過部の光学特性をそれぞれ最適化する補償フィルムの機能を備えることによって、外部の光の明るさに関わらず良好なＬＣＤ画像の識別力を得るために利用することもできる。パターン化リターダは複屈折媒質又は位相差フィルムともいう。
【０００３】
図１は、一般的なパターン化リターダを示した斜視図である。
【０００４】
図１を参照すると、パターン化リターダ１０は、基材フィルム１１、配向層１３、及び液晶コーティング層１５を備える。ここで、液晶コーティング層１５は、第１の偏光パターン領域２１と第２の偏光パターン領域２３とがストライプ（Ｓｔｒｉｐｅ）の形状をなして交互に繰り返し配置される構造を有する。
【０００５】
第１の偏光パターン領域２１は、透過する光を左円偏光（Ｌｅｆｔ  Ｃｉｒｃｕｌａｒｌｙ  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ）させるように構成することができ、第２の偏光パターン領域２３は、透過する光を右円偏光（Ｒｉｇｈｔ  Ｃｉｒｃｕｌａｒｌｙ  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ）させるように構成することができる。すなわち、液晶コーティング層１５は、透過する光を左円偏光させる領域と右円偏光させる領域とが交互に繰り返し配置される構造を有する。
【０００６】
第１の偏光パターン領域２１を透過した光は、使用者の偏光眼鏡で左円偏光フィルムを通過し、第２の偏光パターン領域２３を透過した光は、使用者の偏光眼鏡で右円偏光フィルムを通過する。このように、第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３を通じて、使用者の両眼において互いに異なるイメージを形成することで、立体映像を具現することが可能となる。
【０００７】
第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３は、立体画像表示装置の画素領域のうち、それぞれ奇数番目の画素ライン及び偶数番目の画素ラインに対応して形成される。このとき、第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３の幅が既設定された幅と異なるように形成されるか、或いは第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３が直線で形成されず、屈曲されるように形成された場合、クロストーク（Ｃｒｏｓｓ―Ｔａｌｋ）現象が生じて映像が霞んで見えるようになり、そのため視聴者は目眩を覚えるようになる。従って、第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３の幅が既設定された幅のとおりに形成されたか否か、且つ第１の偏光パターン領域２１及び第２の偏光パターン領域２３がある一定の直進度を有して形成されたか否かを測定する必要がある。
【０００８】
一方、現在生産中であるインライン（Ｉｎ―ｌｉｎｅ）上で測定した測定データ（インライン測定データ）は、オフラインにおいて単位製品の状態で測定した測定データ（オフライン測定データ）と比較して検証することができる。ところで、インライン測定データをオフライン測定データと比較するためには、インライン上で連続して生産されるパターン化リターダ１０のうちオフライン測定データの単位製品に該当する位置を検出できなければならないが、該当単位製品の位置を正確に検出し難いという問題点がある。従って、インライン上で連続して生産されるパターン化リターダ１０を各単位製品領域別に識別できるようにして、インライン測定データとオフライン測定データとを比較検証できる手段が求められる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明の目的は、インライン上で測定した測定結果を検証することができる測定結果検証システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
１．本発明の一実施形態による測定結果検証システムは、被検査体を単位領域毎に測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する第１の測定装置と、前記被検査体の単位領域毎にインデックス情報を有するコードパターンをマーキングするマーキング装置と、前記被検査体の所定単位領域のコードパターンから該当単位領域のインデックス情報を取得するリーダ機と、前記インデックス情報を取得した単位領域を再測定し、前記単位領域の再測定結果情報を伝送する第２の測定装置と、前記第１の測定装置の測定結果情報及び前記第２の測定装置の再測定結果情報をそれぞれ受信し、前記リーダ機が取得したインデックス情報に対応する第１の測定装置の測定結果情報と前記第２の測定装置の再測定結果情報とを比較して、前記第１の測定装置の測定結果を検証する検証装置とを備える。
【００１１】
２．本発明の他の実施形態による測定結果検証システムは、被検査体を単位領域毎に測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する第１の測定装置と、前記第１の測定装置の測定結果情報を受信し、前記被検査体の単位領域毎に該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を有するコードパターンをマーキングするマーキング装置と、前記被検査体の所定単位領域のコードパターンから該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を取得するリーダ機と、前記測定結果情報及びインデックス情報を取得した単位領域を再測定し、前記単位領域の再測定結果情報を伝送する第２の測定装置と、前記第２の測定装置の再測定結果情報を受信し、前記リーダ機が取得した測定結果情報と前記第２の測定装置の再測定結果情報とを比較して、前記第１の測定装置の測定結果を検証する検証装置とを備える。
【００１２】
３．前記項目１又は２において、前記第１の測定装置はインライン測定装置であり、前記第２の測定装置はオフライン測定装置であることを特徴とする。
【００１３】
４．前記項目３において、前記第１の測定装置は、前記被検査体を一定方向に移送させる移送部と、前記被検査体の上部から所定角度で光を照射する照明部と、前記被検査体で反射される光を受光して前記被検査体を単位領域毎に撮影する撮影部と、前記単位領域毎に撮影された映像を分析して測定し、前記単位領域の測定結果情報を伝送する映像分析部とを備え、前記撮影部は、前記移送部のうち前記被検査体と接触する部分を撮影するように撮影箇所が設定される。
【００１４】
５．前記項目４において、前記被検査体は、第１の偏光パターン領域と第２の偏光パターン領域とが交互に形成されるパターン化リターダである。
【００１５】
６．前記項目５において、前記第１の測定装置は、前記照明部と前記パターン化リターダとの間に設けられる線形偏光フィルタと、前記パターン化リターダと前記撮影部との間に設けられる円形偏光フィルタとをさらに備え、前記映像分析部は、前記第１の偏光パターン領域の幅、前記第２の偏光パターン領域の幅、前記第１の偏光パターン領域の直進度、前記第２の偏光パターン領域の直進度、及び前記パターン化リターダの全体幅のうち少なくとも一つを分析する。
【００１６】
７．前記項目４において、前記第１の測定装置は、前記被検査体の移送速度を測定する移送速度測定部をさらに備え、前記撮影部は、前記被検査体の移送速度によって前記被検査体を単位領域毎に撮影するように撮影周期を調節する。
【００１７】
８．前記項目４において、前記移送部は、ロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型（ｃｒａｗｌｅｒ―ｔｙｐｅ）ベルト、及び移送ステージからなる群から選択される。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の実施形態によれば、インライン測定装置の測定結果をオフライン測定装置の再測定結果と比較して検証することができるようになる。ここで、インライン測定装置の測定結果とオフライン測定装置の再測定結果との間の一致度が既設定された値を超える場合、インライン測定装置の正確度を信頼することができ、それによって、インライン測定装置の測定結果を保証することができるようになる。その一方で、インライン測定装置の測定結果とオフライン測定装置の再測定結果との間の一致度が既設定された値未満である場合、インライン測定装置の正確度の低下が確認されるようになり、インライン測定装置の正確度を高めるための手段を備えることができるようになる。
【００１９】
そして、インライン上でパターン化リターダが一定方向に移送されるとき、撮影部が常に移送部上に位置されるパターン化リターダを撮影するようにすることにより、モータの周期的な振動又は外部衝撃による不規則な振動及びブレが発生しても、パターン化リターダの撮影映像が歪曲されることを減少させることができるようになる。こうすることにより、インライン上でも第１の偏光パターン領域及び第２の偏光パターン領域の幅及び直進度をリアルタイムに分析することができるようになる。また、照明部とパターン化リターダとの間に線形偏光フィルタを設置し、パターン化リターダと撮影部との間に円形偏光フィルタを設置することにより、パターン化リターダの撮影映像で第１の偏光パターン領域と第２の偏光パターン領域とが明確に区別されるようにすることができ、これにより第１の偏光パターン領域及び第２の偏光パターン領域の幅及び直進度を正確に分析することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】一般的なパターン化リターダを示した斜視図である。
【図２】本発明の一実施形態による測定結果検証システムの構成を示した図面である。
【図３】本発明の一実施形態によるインライン測定装置の構成を示した図面である。
【図４】本発明の一実施形態によるパターン化リターダを示した平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図２乃至図４を参照して、本発明の測定結果検証システムの具体的な実施形態を説明する。しかしながら、これらは例示としての実施例に過ぎず、本発明はこれらに制限されるものではない。
【００２２】
本発明を説明するにあたって、本発明に関わる公知技術に関する具体的な説明が、本発明の要旨を不要に逸脱し得ると判断される場合は、その詳細な説明を省略することとする。そして後述する用語は、本発明の機能を考慮して定義された用語であり、これらは使用者、運用者の意図又は慣例などによって変わり得る。従って、その定義は本明細書の全般にわたって記載された内容に基づいて定義されるべきである。
【００２３】
本発明の技術的思想は、特許請求の範囲の記載により定められ、以下の実施形態は、進歩的な本発明の技術的思想を本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者に対して効率的に説明するための一手段に過ぎない。
【００２４】
図２は、本発明の一実施形態による測定結果検証システムの構成を示した図面である。
【００２５】
図２を参照すれば、測定結果検証システム１００は、第１の測定装置１０２、マーキング装置１０４、リーダ機１０６、第２の測定装置１０８、及び検証装置１１０を備える。
【００２６】
第１の測定装置１０２は、被検査体１５０を製造する過程であるインライン（Ｉｎ―ｌｉｎｅ）上で被検査体１５０を測定することができる。すなわち、第１の測定装置１０２は、インライン測定装置であり得る。このとき、被検査体１５０は、インライン設備内で移送部により一定方向に移送される。しかしながら、第１の測定装置１０２はインライン測定装置に限定されるものではない。被検査体１５０は、例えば、パターン化リターダであり得るが、これに限定されるものではなく、その他の様々なシート状の製品又はフィルム状の製品が被検査体になり得ることはいうまでもない。以下では、便宜上、被検査体１５０がパターン化リターダであるものとして説明する。
【００２７】
第１の測定装置１０２は、一定周期毎に被検査体１５０を撮影し、撮影映像を分析して被検査体１５０の第１の偏光パターン領域の幅、第２の偏光パターン領域の幅、第１の偏光パターン領域の直進度、第２の偏光パターン領域の直進度、及び被検査体１５０の全体幅などを測定することができる。第１の測定装置１０２の構成及び動作についての詳しい説明は、図３及び図４を参照して後述する。第１の測定装置１０２は、被検査体１５０の測定結果情報をマーキング装置１０４に伝送することができる。
【００２８】
第１の測定装置１０２は、被検査体１５０の単位領域毎に被検査体１５０を撮影して測定することができる。ここで、単位領域は、単位製品領域であり得る。すなわち、インライン上で連続して製造される被検査体１５０は結局のところ、ある一定のサイズにカットされ、個別単位製品をなすようになる。このとき、第１の測定装置１０２は、被検査体１５０の単位製品領域毎に被検査体１５０を撮影して測定し、各単位製品領域をなす被検査体１５０の測定結果情報をマーキング装置１０４に伝送することができる。しかしながら、単位領域は単位製品領域に限定されるものではなく、その他の様々な設定にすることができる。
【００２９】
マーキング装置１０４は、インライン上で被検査体１５０に周期的にコードパターン１６０をマーキングすることができる。マーキング装置１０４は、被検査体１５０の単位領域毎にコードパターン１６０をマーキングすることができる。コードパターン１６０は、該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を有する。ここで、インデックス情報は、該当単位領域を識別するための情報である。例えば、インデックス情報は、該当単位領域が被検査体１５０全体で何番目の単位製品領域であるかを示す製品番号であり得る。コードパターン１６０は、例えば、バーコードのようなデータマトリックス（Ｄａｔａ  
Ｍａｔｒｉｘ）の形態であり得る。
【００３０】
具体的には、マーキング装置１０４は、第１の測定装置１０２から測定結果情報を周期的に受信し、被検査体１５０の単位領域毎に該当単位領域の測定結果情報及びインデックス情報を有するコードパターン１６０をそれぞれ形成し、形成した各コードパターン１６０を被検査体１５０の該当単位領域にマーキングすることができる。このとき、コードパターン１６０は、被検査体１５０のうち実際製品として用いられずに廃棄される領域（例えば、被検査体１５０の縁部）にマーキングされ得る。
【００３１】
リーダ機１０６は、被検査体１５０の単位領域１５１にマーキングされたコードパターン１６０を読み取る。このとき、リーダ機１０６は、単位領域１５１にカットされた製品のコードパターン１６０を読み取ることができる。リーダ機１０６は、コードパターン１６０から該当単位領域１５１の測定結果情報及びインデックス情報を取得し、検証装置１１０に伝送する。
【００３２】
第２の測定装置１０８は、オフライン（Ｏｆｆ―ｌｉｎｅ）上で被検査体１５０を再測定することができる。すなわち、第２の測定装置１０８は、被検査体１５０を製造中のインラインの外部であるオフライン上で被検査体１５０を再測定することができる。しかしながら、第２の測定装置１０８はオフライン測定装置に限定されるものではない。第２の測定装置１０８は、被検査体１５０の単位領域１５１にカットされた製品を再測定することができる。このとき、第２の測定装置１０８は、リーダ機１０６がコードパターン１６０を読み取った単位領域１５１を再測定するようになる。
【００３３】
第２の測定装置１０８は、第１の測定装置１０２と同一の事項を再測定することができる。例えば、第２の測定装置１０８は、単位領域１５１内の第１の偏光パターン領域の幅、第２の偏光パターン領域の幅、第１の偏光パターン領域の直進度、第２の偏光パターン領域の直進度、及び単位領域１５１の全体幅などを測定することができる。第２の測定装置１０８は、単位領域１５１を再測定した再測定結果情報を検証装置１１０に伝送することができる。
【００３４】
ここでは、リーダ機１０６と第２の測定装置１０８とが別途に設けられているものとして示したが、これに限定されるものではなく、リーダ機１０６は、第２の測定装置１０８に一体として設けられることもできる。この場合、第２の測定装置１０８は、単位領域１５１のコードパターン１６０を読み取って該当単位領域１５１の測定結果情報及びインデックス情報を検証装置１１０に伝送し、単位領域１５１を再測定した再測定結果情報を検証装置１１０に伝送するようになる。
【００３５】
検証装置１１０は、リーダ機１０６から受信した単位領域１５１の測定結果情報と第２の測定装置１０８から受信した単位領域１５１の再測定結果情報とを比較して、第１の測定装置１０２の測定結果を検証する。このとき、検証装置１１０は、リーダ機１０６から受信した単位領域１５１のインデックス情報によって、該当単位領域１５１が全体被検査体１５０のうち何れの部分に該当するかを容易に認識するようになる。
【００３６】
検証装置１１０は、単位領域１５１の測定結果情報と単位領域１５１の再測定結果情報とがどの程度一致するかによって、第１の測定装置１０８の測定結果を検証することができる。ここで、単位領域１５１の測定結果情報と単位領域１５１の再測定結果情報との間の一致度が既設定された値を超える場合、第１の測定装置１０２の正確度を信頼することができ、それにより第１の測定装置１０２の測定結果を保証することができるようになる。その一方で、単位領域１５１の測定結果情報と単位領域１５１の再測定結果情報との間の一致度が既設定された値未満である場合、第１の測定装置１０２の正確度の低下が確認されるようになり、第１の測定装置１０２の正確度を高めるための手段を備えることができるようになる。
【００３７】
一方、ここでは、第１の測定装置１０２が被検査体１５０の単位領域別の測定結果情報をマーキング装置１０４に伝送し、マーキング装置１０４が被検査体１５０の各単位領域毎に測定結果情報及びインデックス情報を有するコードパターン１６０をマーキングするものと示したが、これに限定されるものではない。すなわち、第１の測定装置１０２が被検査体１５０の単位領域別の測定結果情報を検証装置１１０に伝送し、マーキング装置１０４は、被検査体１５０の各単位領域毎にインデックス情報のみを有するコードパターン１６０をマーキングすることもできる。このとき、検証装置１１０は、第１の測定装置１０２から受信した測定結果情報を順次に保存することができる。この場合、リーダ機１０６は、被検査体１５０の単位領域１５１にマーキングされたコードパターン１６０からインデックス情報を取得して検証装置１１０に伝送し、第２の測定装置１０８は、リーダ機１０６がインデックス情報を取得した単位領域１５１を再測定し、該当単位領域１５１の再測定結果情報を検証装置１１０に伝送するようになる。そうすると、検証装置１１０は、リーダ機１０６から受信したインデックス情報を通じて該当単位領域の測定結果情報を読み取り、第２の測定装置１０８から受信した再測定結果情報と比較するようになる。
【００３８】
本発明の実施形態によれば、第１の測定装置１０２の測定結果を第２の測定装置１０８の再測定結果と比較して検証することができるようになる。ここで、第１の測定装置１０２の測定結果と第２の測定装置１０８の再測定結果との間の一致度が既設定された値を超える場合、第１の測定装置１０２の正確度を信頼することができ、これにより第１の測定装置１０２の測定結果を保証することができるようになる。その一方で、第１の測定装置１０２の測定結果と第２の測定装置１０８の再測定結果との間の一致度が既設定された値未満である場合、第１の測定装置１０２の正確度の低下が確認されるようになり、第１の測定装置１０２の正確度を高めるための手段を備えることができるようになる。
【００３９】
図３は、本発明の一実施形態による第１の測定装置の構成を示した図面であり、図４は、本発明の一実施形態によるパターン化リターダを示した平面図である。ここでは、第１の測定装置がインライン測定装置であるものとする。
【００４０】
図３及び図４を参照すれば、第１の測定装置１０２は、移送ロ−ル２０２、照明部２０４、第１の偏光フィルタ２０６、第２の偏光フィルタ２０８、撮影部２１０、移送速度測定部２１２、及び映像分析部２１４を備える。
【００４１】
移送ロ−ル２０２は、インライン（Ｉｎ―Ｌｉｎｅ）上でパターン化リターダ１５０を一定方向に移動させる役割を果たす。本発明において、移送部は、フィルムを移送することができる手段であれば特に制限されないが、例えばロール、ローラーコンベヤ、無限軌道型ベルト、及び移送ステージからなる群から選択され得る。本実施形態では、ロールを例示として説明する。
【００４２】
また、ここでは、説明の便宜上、一の移送ロ−ル２０２を示したが、これに限定されるものではなく、パターン化リターダ１５０を製造生産するインライン設備内には、パターン化リターダ１５０を移送させるための複数の移送ロ−ル２０２が相互離隔して設けられ得る。このとき、移送ロ−ル２０２の回転速度によりパターン化リターダ１５０の移送速度が決められる。
【００４３】
パターン化リターダ１５０には、図４に示すように、第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４とがストライプ形状をなして交互に形成される。このとき、第１の偏光パターン領域１５２の液晶配向角度をαとし、第２の偏光パターン領域１５４の液晶配向角度をβとする。第１の偏光パターン領域１５２の液晶配向角度αと第２の偏光パターン領域１５４の液晶配向角度βとは互いに垂直をなす。α及びβは、第１の偏光パターン領域１５２及び第２の偏光パターン領域１５４の長手方向を基準軸としたとき、基準軸となす角度をいう。第１の偏光パターン領域１５２は、αの液晶配向角度を有することによって、αの位相差を有するようになり、第２の偏光パターン領域１５４は、βの液晶配向角度を有することによって、βの位相差を有するようになる。このとき、αとβが互いに垂直をなすため、第１の偏光パターン領域１５２は照射された光を左円偏光させ、第２の偏光パターン領域１５４は照射された光を右円偏光させるようになる。
【００４４】
照明部２０４は、パターン化リターダ１５０の映像を取得するために、光を照射する役割を果たす。照明部２０４は、パターン化リターダ１５０の上部において一定角度θで光を照射することができる。照明部２０４は、例えば、ＬＥＤランプ、蛍光灯、白熱電球、及びハロゲンランプなど、様々な光源装置を用いることができる。
【００４５】
第１の偏光フィルタ２０６は、照明部２０４とパターン化リターダ１５０との間に設けられる。この場合、照明部２０４で照射された光は、第１の偏光フィルタ２０６を透過した後、パターン化リターダ１５０で反射される。第１の偏光フィルタ２０６は、線形偏光フィルタ（ＰＬ）が用いられ得る。この場合、第１の偏光フィルタ２０６は、照明部２０４で照射される光のうち一定方向の線形偏光のみを透過させ、残りの方向の偏光を遮断させる。第１の偏光フィルタ２０６は、当分野で用いられる線形偏光フィルタを制限なく用いることができ、例えば、硝子や透明高分子基板上に接合された線形偏光子層を備える構造を備えることができる。
【００４６】
第２の偏光フィルタ２０８は、パターン化リターダ１５０と撮影部２１０との間に設けられる。この場合、パターン化リターダ１５０で反射された光は、第２の偏光フィルタ２０８を透過した後、撮影部２１０で受光される。第２の偏光フィルタ２０８は、円形偏光フィルタ（ＣＰＬ）が用いられ得る。このとき、第２の偏光フィルタ２０８は、第１の偏光パターン領域１５２及び第２の偏光パターン領域１５４の何れか一の位相差と同一の位相差を有する円形偏光フィルタを用いる。この場合、パターン化リターダ１５０の何れか一の偏光パターン領域で反射された光は遮断し、他の一の偏光パターン領域で反射された光は通過させるため、パターン化リターダ１５０を撮影した映像で第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４との間に明度対比が高く示されるようになる。第２の偏光フィルタ２０８は、当分野で用いられる円形偏光フィルタを制限なく用いることができ、例えば、硝子や透明高分子基板上に接合された線形偏光子層及び１／４波長板を備える構造を有することができる。このとき、第２の偏光フィルタ２０８の線形偏光子層は、その吸収軸が第１の偏光フィルタ２０６の線形偏光子層の吸収軸と平行ではないものが選択され、好ましくは、垂直であるものが選択される。
【００４７】
撮影部２１０は、パターン化リターダ１５０の上部に設けられる。撮影部２１０は、パターン化リターダ１５０で反射される光を受光し、パターン化リターダ１５０を撮影する。撮影部２１０は、パターン化リターダ１５０で反射される光の角度に対応して設置され得る。撮影部２１０は、映像分析部２１４が発生する撮影制御信号によって、パターン化リターダ１５０を撮影することができる。このとき、撮影部２１０は、撮影制御信号によって、パターン化リターダ１５０を既設定された単位領域毎に撮影するように撮影周期を調節することができる。撮影部２１０は、パターン化リターダ１５０を撮影した撮影映像を映像分析部２１４に伝送する。
【００４８】
撮影部２１０は、移送ロ−ル２０２のうちパターン化リターダ１５０と接触する部分を撮影するように、撮影箇所を予め設定することができる。そうすると、パターン化リターダ１５０が一定方向に移送されるとき、撮影部２１０は常に移送ロ−ル２０２上に位置するパターン化リターダ１５０を撮影するようになる。この場合、パターン化リターダ１５０の撮影の際にパターン化リターダ１５０の撮影される部分は、常に移送ロ−ル２０２により支持され、平坦性が一定の水準に維持されるため、振動やブレによる撮影映像の歪曲を減少させることができるようになる。
【００４９】
ここで、撮影部２１０が常に移送ロ−ル２０２上に位置するパターン化リターダ１５０を撮影するため、撮影部２１０は、反射照明を用いてパターン化リターダ１５０を撮影するようになる。そのため、照明部２０４は、パターン化リターダ１５０の上部で一定角度θで光を照射するように設置される。
【００５０】
移送速度測定部２１２は、パターン化リターダ１５０の移送速度を測定する。移送速度測定部２１２は、例えば、移送ロ−ル２０２と連動して設けられるエンコーダであり得る。この場合、移送ロ−ル２０２の回転速度を計測してパターン化リターダ１５０の移送速度を測定することができるようになる。ここでは、移送速度測定部２１２が移送ロ−ル２０２と連動して設けられたエンコーダであるとして示したが、これに限定されるものではなく、移送速度測定部２１２は、その他の様々な速度測定手段であり得る。移送速度測定部２１２は、パターン化リターダ１５０の移送速度を映像分析部２１４に伝送することができる。このとき、移送速度測定部２１２は、パターン化リターダ１５０の移送速度を一定周期で伝送することができる。
【００５１】
映像分析部２１４は、移送速度測定部２１２から伝送されたパターン化リターダ１５０の移送速度によって、パターン化リターダ１５０の既設定された単位領域別にパターン化リターダ１５０を撮影させるようにする撮影制御信号を撮影部２１０に発生させることができる。ここでは、映像分析部２１４が撮影制御信号を撮影部２１０に発生させるものとして示したが、これに限定されるものではなく、移送速度測定部２１２が撮影制御信号を直接に撮影部２１０に発生させることもできる。
【００５２】
映像分析部２１４は、パターン化リターダ１５０の撮影映像を通じて、第１の偏光パターン領域１５２の幅Ｗ１、第２の偏光パターン領域１５４の幅Ｗ２、第１の偏光パターン領域１５２の直進度、第２の偏光パターン領域１５４の直進度、及びパターン化リターダ１５０の全体幅ＴＷを測定することができる。
【００５３】
具体的には、照明部２０４で照射され、パターン化リターダ１５０で反射された光は、円形偏光フィルタ（ＣＰＬ）である第２の偏光フィルタ２０８を透過した後、撮影部２１０に受光される。このとき、第２の偏光フィルタ２０８が第１の偏光パターン領域１５２及び第２の偏光パターン領域１５４の何れか一の位相差と同一の位相差を有する場合、第２の偏光フィルタ２０８と同一の位相差を有する偏光パターン領域で反射された光は通過させ、第２の偏光フィルタ２０８と異なる位相差を有する偏光パターン領域で反射された光は遮断させるようになる。そうすると、パターン化リターダ１５０を撮影した映像で第２の偏光フィルタ２０８と同一の位相差を有する偏光パターン領域は明るく示され、第２の偏光フィルタ２０８と異なる位相差を有する偏光パターン領域は暗く示されるため、第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４との間に明暗対比が明確に示されるようになる。この場合、映像分析部２１４がパターン化リターダ１５０の撮影映像で第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４とを明確に区別することができるため、各偏光パターン領域の幅及び直進度を容易に測定することができるようになる。このとき、映像分析部２１４は、第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４との境界をより明確にするために、パターン化リターダ１５０の撮影映像にエッジフィルタを適用することができる。
【００５４】
映像分析部２１４は、第１の偏光パターン領域１５２の幅Ｗ１、第２の偏光パターン領域１５４の幅Ｗ２、第１の偏光パターン領域１５２の直進度、第２の偏光パターン領域１５４の直進度、及びパターン化リターダ１５０の全体幅ＴＷに関する測定結果情報をマーキング装置１０４に伝送することができる。しかしながら、これに限定されるものではなく、映像分析部２１４は、前記測定結果情報を検証装置１１０に伝送することもできる。
【００５５】
本発明の実施形態によれば、インライン上でパターン化リターダ１５０が一定方向に移送されるとき、撮影部２１０が常に移送ロ−ル２０２上に位置するパターン化リターダ１５０を撮影するようにすることによって、モータの周期的な振動又は外部衝撃による不規則な振動及びブレが発生しても、パターン化リターダ１５０の撮影映像が歪曲されることを減少させることができるようになり、それによってインライン上でも第１の偏光パターン領域１５２及び第２の偏光パターン領域１５４の幅及び直進度をリアルタイムに分析することができるようになる。また、照明部２０４とパターン化リターダ１５０との間に線形偏光フィルタを設置し、パターン化リターダ１５０と撮影部２１０との間に円形偏光フィルタを設置することによって、パターン化リターダ１５０の撮影映像で第１の偏光パターン領域１５２と第２の偏光パターン領域１５４とが明確に区別されるようにすることができ、それによって第１の偏光パターン領域１５２及び第２の偏光パターン領域１５４の幅及び直進度を正確に分析することができるようになる。
【００５６】
以上、代表的な実施形態を通じて本発明について詳細に説明したが、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者は、上述した実施形態に対して本発明の範疇から逸脱しない範囲内で、様々な変形が可能であることを理解する。従って、本発明の権利範囲は、説明した実施形態に限定して定めてはならず、後述する特許請求の範囲のみならず、この特許請求の範囲と均等なものなどによって定められなければならない。
【符号の説明】
【００５７】
１００：測定結果検証システム
１０２：第１の測定装置
１０４：マーキング装置
１０６：リーダ機
１０８：第２の測定装置
１１０：検証装置
１５０：被検査体
１５１：単位領域
１５２：第１の偏光パターン領域
１５４：第２の偏光パターン領域
１６０：コードパターン
２０２：移送ロ−ル
２０４：照明部
２０６：第１の偏光フィルタ
２０８：第２の偏光フィルタ
２１０：撮影部
２１２：移送速度測定部
２１４：映像分析部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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