(57)【要約】      （修正有）【課題】継電装置の検査の煩雑さや誤結線を低減する。【解決手段】検査プラグが本体に差し込まれたときに第１変流器と接続される電極体と、検査プラグが本体に差し込まれたときに第１変流器と接続されて、事故の発生を示す電流を模擬した模擬電流を第２変流器で発生させるべく電極体に接続されている可変抵抗器と、検査プラグが本体に差し込まれる前に、検査プラグが本体に差し込まれるのを禁止するように検査プラグから突出し、検査プラグが本体に差し込まれている時に、検査プラグが本体から抜き出されるのを禁止するように検査プラグから突出する突片と、突片を突出させたとき、可変抵抗器の抵抗値を模擬電流の値が所定値以上となるような値とし、突片を退避させたとき、可変抵抗器の抵抗値を模擬電流の値が所定値未満となるような値とするべく、突片を突出及び退避させるとともに可変抵抗器の抵抗値を調整するためのつまみと、を備える。【選択図】図４
2014202671.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電力線に供給されている電流に応じて電流が発生する第１変流器と、前記電力線で事故が起きたときに、前記第１変流器で発生する電流に基づいて、前記事故が起きたことを示す電流が発生する第２変流器と、を有しており前記事故の発生を検出するべく前記電力線に設けられる継電装置の動作を検査する際に、前記継電装置の本体に差し込まれる検査プラグであって、
前記検査プラグが前記本体に差し込まれたときに前記第１変流器と接続される電極体と、
前記検査プラグが前記本体に差し込まれたときに前記第１変流器と接続されて、前記事故が起きたことを示す電流を模擬した模擬電流を前記第２変流器で発生させるべく前記電極体に接続されている可変抵抗器と、
前記検査プラグが前記本体に差し込まれる前に、前記本体に引っ掛かって前記検査プラグが前記本体に差し込まれるのを禁止するように前記検査プラグから突出し、前記検査プラグが前記本体に差し込まれているときに、前記本体に引っ掛かって前記検査プラグが前記本体から抜き出されるのを禁止するように前記検査プラグから突出する突片と、
前記突片を突出させたとき、前記可変抵抗器の抵抗値を前記模擬電流の値が所定値以上となるような値とし、前記突片を退避させたとき、前記可変抵抗器の抵抗値を前記模擬電流の値が所定値未満となるような値とするべく、前記突片を突出及び退避させるとともに前記可変抵抗器の抵抗値を調整するためのつまみと、
を備えたことを特徴とする検査プラグ。
【請求項２】
前記つまみは、第１方向に回動されるにつれて前記突片を突出させ、第２方向に回動されるにつれて前記突片を退避させるつまみである
ことを特徴とする請求項１に記載の検査プラグ。
【請求項３】
前記可変抵抗器は、前記つまみが前記第１方向へ回動されるにつれて前記抵抗値が連続的に大きくなり、前記つまみが前記第２方向へ回動されるにつれて前記抵抗値が連続的に小さくなる可変抵抗器である
ことを特徴とする請求項２に記載の検査プラグ。
【請求項４】
前記継電装置は、前記電力線における前記継電装置が設けられている位置よりも上流側で発生する第１事故と、前記電力線における前記継電装置が設けられている位置よりも下流側で発生する第２事故とを検出する装置であり、
前記可変抵抗器を含み、前記継電装置の動作を検査するために、前記第１事故が起きたことを示す電流を模擬した第１模擬電流、又は、前記第２事故が起きたことを示す電流を模擬した第２模擬電流の一方を発生させるための検査回路と、
前記継電装置の動作を検査するために前記第２変流器で発生する模擬電流に対応する情報を示し、前記検査プラグに表示されるしるしと、を更に備える
ことを特徴とする請求項１に記載の検査プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査プラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、電力線における事故の発生を検出する継電装置の動作を検査するための検査装置が知られている（例えば特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１７２９６４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
例えば、特許文献１の検査装置は、継電装置の二次変流器に接続される検査回路が収容されている本体と、継電装置の検査が行われる際に、検査回路を二次変流器と接続させるべく継電装置に差し込まれるプラグと、を有している。検査回路は、本体に設けられている端子に接続される導電線を介してプラグの端子に接続される。本体の端子は複数設けられているために、本体の端子とプラグの端子とを導電線により接続する作業が煩雑となり、例えば、本体の端子とプラグの端子との誤結線により、継電装置の検査を行えなく虞がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前述した課題を解決する主たる本発明は、電力線に供給されている電流に応じて電流が発生する第１変流器と、前記電力線で事故が起きたときに、前記第１変流器で発生する電流に基づいて、前記事故が起きたことを示す電流が発生する第２変流器と、を有しており前記事故の発生を検出するべく前記電力線に設けられる継電装置の動作を検査する際に、前記継電装置の本体に差し込まれる検査プラグであって、前記検査プラグが前記本体に差し込まれたときに前記第１変流器と接続される電極体と、前記検査プラグが前記本体に差し込まれたときに前記第１変流器と接続されて、前記事故が起きたことを示す電流を模擬した模擬電流を前記第２変流器で発生させるべく前記電極体に接続されている可変抵抗器と、前記検査プラグが前記本体に差し込まれる前に、前記本体に引っ掛かって前記検査プラグが前記本体に差し込まれるのを禁止するように前記検査プラグから突出し、前記検査プラグが前記本体に差し込まれているときに、前記本体に引っ掛かって前記検査プラグが前記本体から抜き出されるのを禁止するように前記検査プラグから突出する突片と、前記突片を突出させたとき、前記可変抵抗器の抵抗値を前記模擬電流の値が所定値以上となるような値とし、前記突片を退避させたとき、前記可変抵抗器の抵抗値を前記模擬電流の値が所定値未満となるような値とするべく、前記突片を突出及び退避させるとともに前記可変抵抗器の抵抗値を調整するためのつまみと、を備えたことを特徴とする検査プラグである。
【０００６】
本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかとなる。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、継電装置の動作を検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の第１実施形態における電力系統を示す図である。
【図２】本発明の第１実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す斜視図である。
【図３】本発明の第１実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す断面図である。
【図４】本発明の第１実施形態における突片が突出した状態のテストプラグとＣＴ装置とを示す断面図である。
【図５】本発明の第１実施形態における方向試験が行われるときの電力系統を示す図である。
【図６】本発明の第２実施形態における電力系統を示す図である。
【図７】本発明の第２実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す斜視図である。
【図８】本発明の第２実施形態における方向試験が行われるときの電力系統を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１０】
[第１実施形態]
＝＝＝電力系統＝＝＝
以下、図１を参照して、本実施形態における電力系統について説明する。図１は、本実施形態における電力系統を示す図である。
【００１１】
電力系統１００は、発電所からの電力を需要家等に供給するための例えば送電系統である。電力系統１００は、第１母線Ｌ１１、第２母線Ｌ１２、第３母線Ｌ１３、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６、地絡方向継電器１０２を有する。尚、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６が、電力線に相当する。
【００１２】
第１母線Ｌ１１、第２母線Ｌ１２、第３母線Ｌ１３は、上流側の発電所の発電機（不図示）から供給される３相交流電力を、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６に供給するための電力線である。第１母線Ｌ１１、第２母線Ｌ１２、第３母線Ｌ１３には夫々、Ｕ相、Ｖ相、Ｗ相の例えば１１０キロボルトの交流電圧が、発電機から供給される。
【００１３】
第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６は、第１母線Ｌ１１、第２母線Ｌ１２、第３母線Ｌ１３よりも下流側に設けられ、３相交流電力を下流側の需要家（不図示）に供給するための電力線である。第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６の一端は夫々、上流側の第１母線Ｌ１１、第２母線Ｌ１２、第３母線Ｌ１３に接続されている。第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６の一端は、下流側の需要家に接続される。つまり、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６は夫々、Ｕ相、Ｖ相、Ｗ相の例えば１１０キロボルトの交流電圧を下流側に需要家に供給している。
【００１４】
地絡方向継電器１０２（継電装置）は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６で発生する１線地絡事故を検出して、遮断器（不図示）を制御するための装置である。尚、地絡方向継電器１０２は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６における地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも上流側で発生する第１事故と、地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも下流側で発生する第２事故とを検出する機能を有している。第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６で発生する１線地絡事故とは、例えば、第２事故であることとして説明する。尚、例えば、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６には、地絡方向継電器１０２によって制御される遮断器が所定位置に設けられている。この遮断器は、地絡方向継電器１０２から出力される遮断命令に応じて、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６における遮断器が設けられている所定位置を遮断する装置である。
【００１５】
＝＝＝地絡方向継電器＝＝＝
以下、図１を参照して、本実施形態における地絡方向継電器について説明する。  
地絡方向継電器１０２は、ＣＴ２次回路１（第１変流器）、ＣＴ３次回路２（第２変流器）、リレー装置２００を有する。
【００１６】
＝ＣＴ２次回路＝
ＣＴ２次回路１は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６から下流側に供給される電流に応じた電圧を発生させる変流器である。つまり、ＣＴ２次回路１では、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６から下流側に供給される電流に応じた電流が発生することになる。ＣＴ２次回路１は、第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３、第４端子Ｔ１４、短絡回路１０１を有する。
【００１７】
第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３は夫々、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６に応じた電流が発生するように、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６に設けられる。第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３は、例えば互いに異なるコアに巻回される。第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３の一端は夫々、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３に接続される。第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３の他端は相互に接続された状態で第４端子Ｔ１４に接続される。
【００１８】
短絡回路１０１は、第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３の一端を相互に短絡させるための回路である。短絡回路１０１は、第１端子Ｔ１５、第２端子Ｔ１６、第３端子Ｔ１７を有する。第１端子Ｔ１５、第２端子Ｔ１６、第３端子Ｔ１７は、短絡回路１０１内で相互に短絡されている。短絡回路１０１の第１端子Ｔ１５、第２端子Ｔ１６、第３端子Ｔ１７は夫々、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３に接続される。つまり、第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３の一端を相互に短絡されていることになる。尚、端子Ｔ１４は、開放されている。
【００１９】
＝ＣＴ３次回路＝
ＣＴ３次回路２は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６（以下、「送電線」とも称する）から下流側に供給される電流及び、ＣＴ２次回路１で発生する電流に応じた電流を発生する変流器である。ＣＴ３次回路２は、送電線において１線地絡事故が発生したときに、検出電流を発生し当該検出電流をリレー装置２００に供給できるように、リレー装置２００と接続される。つまり、ＣＴ３次回路２においては、送電線で１線地絡事故が起きたときに、ＣＴ２次回路１で発生する電流に基づいて、１線地絡事故が起きたことを示す検出電流が発生する。ＣＴ３次回路２は、第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３を有する。第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３は夫々、送電線において１線地絡事故が発生したときに検出電流を発生できるように、例えばＣＴ２次回路１における第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３の巻回されているコアに巻回される。第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３は、例えば、直列に接続されている。
【００２０】
例えば、送電線において１線地絡事故が発生したときに、ＣＴ３次回路２では、検出電流が発生することになる。一方、例えば、送電線において１線地絡事故が発生していないときには、ＣＴ３次回路２では、検出電流が発生しないことになる。
【００２１】
＝リレー装置＝
リレー装置２００は、送電線において１線地絡事故が発生したときに遮断命令を出力する装置である。リレー装置２００は、例えば、ＣＴ３次回路２の第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３と直列に接続される。つまり、第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３、リレー装置２００は、互いに直列に接続された状態で環状の電気回路を形成している。
【００２２】
リレー装置２００は、ＣＴ３次回路２で発生する検出電流に基づいて、遮断命令を出力する。例えば、ＣＴ３次回路２で検出電流が発生した場合、リレー装置２００は、遮断命令を出力する。つまり、送電線において１線地絡事故が発生した場合、リレー装置２００は、遮断命令を出力することになる。一方、例えば、ＣＴ３次回路２で検出電流が発生しない場合、リレー装置２００は、遮断命令を出力しない状態になる。つまり、送電線において１線地絡事故が発生していない場合、リレー装置２００は、遮断命令を出力しないことになる。
【００２３】
＝＝＝方向試験＝＝＝
以下、図１を参照して、本実施形態における方向試験について説明する。  
方向試験とは、地絡方向継電器１０２が正常に動作するか否かを確認するための試験である。地絡方向継電器１０２が正常に動作するとは、送電線において１線地絡事故が発生したときに地絡方向継電器１０２が遮断命令を出力し、送電線において１線地絡事故が発生していないときに地絡方向継電器１０２が遮断命令を出力しないことである。
【００２４】
送電線において１線地絡事故を実際に発生させるのは、例えば送電線の下流側の需要家の停電等が引き起こされるために困難である。このため、方向試験では、送電線における１線地絡事故の発生を模擬し、当該模擬された１線地絡事故に基づいて、地絡方向継電器１０２が正常に動作するか否かの確認が行われる。
【００２５】
＝＝＝テストプラグ＝＝＝
以下、図２を参照して、本実施形態におけるテストプラグについて説明する。図２は、本実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す斜視図である。尚、ＣＴ装置４の内部は見えない状態となっているが、説明の便宜上、一部が点線で示されている。
【００２６】
テストプラグ３（検査プラグ）は、方向試験を行うための装置である。テストプラグ３は、送電線において１線地絡事故が発生していないときに、ＣＴ３次回路２において検出電流を模擬した模擬電流を発生させるための装置である。つまり、テストプラグ３は、送電線における１線地絡事故の発生を模擬するための装置である。
【００２７】
尚、本実施形態において、Ｚ軸はＣＴ装置４が立設する垂直方向に沿う軸であり、下側から上側に向かう方向を＋Ｚとし、上側から下側に向かう方向を−Ｚとする。Ｙ軸はＣＴ装置４に対してテストプラグ３が挿入される方向に沿う軸であり、ＣＴ装置４に対してテストプラグ３が近づく方向を−Ｙとし、ＣＴ装置４からテストプラグ３が離れる方向を＋Ｙとする。Ｘ軸は、ＣＴ装置４の一方の側面４５２及び他方の側面４５３に対して直交する方向であり、一方の側面４５２から他方の側面４５３に向かう方向を−Ｘとし、他方の側面４５３から一方の側面４５２に向かう方向を＋Ｘとする。
【００２８】
テストプラグ３は、端子部３Ａ、筺体３５、操作片３６（つまみ）、表示部３７を有する。テストプラグ３は、例えば、テストプラグ３の略中央を通るＹＺ平面を中心に対称な形状を呈する。
【００２９】
筺体３５は、テストプラグ３の本体である。筺体３５の内部には、テスト回路３００（図５）が設けられている。筺体３５は、絶縁性の部材であり、例えば略矩形柱形状を呈する。
【００３０】
端子部３Ａは、ＣＴ装置４の挿入孔４５Ａに挿入される。端子部３Ａは、挿入孔４５Ａに対して着脱可能となるような形状を呈する。尚、挿入孔４５Ａについては、後述する。端子部３Ａは、第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４（電極体）、絶縁部材３８１、３８２、３８３を有する。
【００３１】
第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４（「テストプラグ３の複数の端子」とも称する）は、テストプラグ３が挿入される方向（Ｙ軸）に沿って延びている例えば矩形柱形状の金属製の端子部材である。第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４は、筺体３５からＣＴ装置４に向かって突出している。第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４は、例えば、テストプラグ３が挿入される方向と交差する方向（Ｘ軸）において並んでいる。第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４は、互いに接触しないように、絶縁部材３８１、３８２、３８３を介して並んでいる。
【００３２】
第１端子３１は、テストプラグ３の複数の端子のうち、最も奥側（−Ｘ）に設けられる。第２端子３２は、第１端子３１よりも手前側（＋Ｘ）に設けられる。第３端子３３は、第２端子３２よりも手前側に設けられる。第４端子３４は、第３端子３３よりも手前側に設けられる。つまり、第４端子３４は、テストプラグ３の複数の端子のうち、最も手前側に設けられる。
【００３３】
絶縁部材３８１、３８２、３８３は、第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４を互いに電気的に絶縁させるための、例えば絶縁性の樹脂等によって形成されている部材である。絶縁部材３８１、３８２、３８３は、例えば略矩形柱形状を呈する。絶縁部材３８１は、第１端子３１と第２端子３２とが互いに接触しないように、第１端子３１と第２端子３２との間に設けられる。絶縁部材３８２は、第２端子３２と第３端子３３とが互いに接触しないように、第２端子３２と第３端子３３との間に設けられる。絶縁部材３８３は、第３端子３３と第４端子３４とが互いに接触しないように、第３端子３３と第４端子３４との間に設けられる。
【００３４】
操作片３６は、テストプラグ３を用いて方向試験を行うときに操作される絶縁性の部材である。操作片３６は、略円柱形状を呈する。操作片３６は、操作片３６の略中央を通り且つテストプラグ３が挿入される方向に沿っている回動軸（不図示）を中心に回動できるように、筺体３５におけるテストプラグ３の複数の端子とは反対側（＋Ｙ）に設けられる。操作片３６は、操作片３６の回動に応じてテスト回路３００の可変抵抗Ｒ１（可変抵抗器）（図５）の抵抗値が調整されるように、筺体３５に設けられる。つまり、操作片３６は、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を調整するための抵抗値調整用のボリュームとして機能することになる。
【００３５】
表示部３７（しるし）は、テストプラグ３が送電用の地絡方向継電器１０２における方向試験用のテストプラグである情報が記されているラベルである。表示部３７は、例えば筺体３５の上面等の外部に露出し、外部から視認できる位置に設けられる。
【００３６】
＝＝＝ＣＴ装置＝＝＝
以下、図２及び図３を参照して、本実施形態におけるＣＴ装置について説明する。図３は、本実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す断面図である。尚、筺体４５の一部は、説明の便宜上、省略されている。図３は、図２におけるテストプラグ３の略中央を通り、且つ、ＹＺ平面に平行な断面から−Ｘに向かって見た状態のテストプラグ３とＣＴ装置４を示している。図３は、挿入孔４５Ａに挿入された状態のテストプラグ３を示している。
【００３７】
ＣＴ装置４の筺体４５には、地絡方向継電器１０２におけるＣＴ２次回路１、ＣＴ３次回路２が収容されている。ＣＴ装置４は、挿入孔４５Ａを有する。
【００３８】
挿入孔４５Ａは、筺体４５におけるテストプラグ３側（＋Ｙ）の正面４５１に設けられる。挿入孔４５Ａは、方向試験が行われるときにテストプラグ３の端子部３Ａが挿入される。挿入孔４５Ａは、端子部３Ａが着脱可能となるような形状を呈する。挿入孔４５Ａの内部には、凹部４８Ａ、が設けられる。
【００３９】
凹部４８Ａは、挿入孔４５Ａに挿入されたテストプラグ３が外れるのを防止するための凹部である。凹部４８Ａは、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されたときに、テストプラグ３の露出孔３８Ａと対向する位置に設けられる。凹部４８Ａは、絶縁部材３８２における上面（＋Ｚ）と対向する凹部４８Ａの内部における対向面４８２に設けられる。
【００４０】
挿入孔４５Ａの内部には、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３、第４端子Ｔ１４（「ＣＴ装置４の複数の端子」とも称する）が設けられている。第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３、第４端子Ｔ１４は、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されたときに、テストプラグ３の第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４と接続されるように、挿入孔４５Ａ内に設けられている。尚、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されたとき、短絡回路１０１の第１端子Ｔ１５、第２端子Ｔ１６、第３端子Ｔ１６は夫々、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３から切り離されることとする。つまり、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されたとき、テストプラグ３のテスト回路３００が第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３に接続されることになる。
【００４１】
＝＝＝テストプラグの内部構造＝＝＝
以下、図２乃至図４を参照して、本実施形態におけるテストプラグの内部構造について説明する。図４は、本実施形態における突片が突出した状態のテストプラグとＣＴ装置とを示す断面図である。尚、筺体４５の一部は、説明の便宜上、省略されている。図４は、図２におけるテストプラグ３の略中央を通り、且つ、ＹＺ平面に平行な断面から−Ｘに向かって見た状態のテストプラグ３とＣＴ装置４を示している。図４は、挿入孔４５Ａに挿入された状態のテストプラグ３を示している。
【００４２】
テストプラグ３は、操作棒４１、突片４２、付勢部４３、支持部４４を、例えば絶縁部材３８２の内部に有する。尚、絶縁部材３８２は、操作棒４１、突片４２、付勢部４３、支持部４４を内部に収容できるように、中空構造となっている。尚、操作棒４１、突片４２、付勢部４３、支持部４４は、例えば、絶縁性の部材で形成されていることとしてもよい。
【００４３】
操作棒４１は、突片４２の絶縁部材３８２からの突出、及び、突片４２の絶縁部材３８２の内部への退避を操作するための棒部材である。操作棒４１は、プラグ３が挿入される方向（Ｙ軸）に沿って筺体３５から延びている。操作棒４１は、操作片３６の回動に基づいて操作棒４１が延びている方向（Ｙ軸）に沿って移動できるように設けられている。尚、例えば、操作片３６の回動力を、操作棒４１を移動させる力に変換するラックアンドピニオン機構（不図示）が、筺体３５内に設けられていることとする。操作棒４１は、操作片３６の回動に基づいて移動できるように、このラックアンドピニオン機構に連結されていることとする。
【００４４】
例えば、操作片３６がＡ１方向（図２）に回動された場合、操作棒４１は、筺体３５から離れる方向（−Ｙ）に移動することとする。又、例えば、操作片３６がＡ２方向（図２）に回動された場合、操作棒４１は、筺体３５に近づく方向（−Ｙ）に移動することとする。
【００４５】
操作棒４１の先端（−Ｙ）は、操作棒４１が筺体３５から離れる方向に移動する力に基づいて、突片４２の端部４２２を絶縁部材３８２から突出させるために、操作棒４１の長手方向（Ｙ軸）に対して傾斜している。操作部４１の先端は、突片４２を露出孔３８Ａから外側（＋Ｚ）に突出させられるように、当接面４１１が露出孔３８Ａ側（＋Ｚ）を向くように傾斜している。尚、当接面４１１は、突片４２の当接面４２１と当接する面である。
【００４６】
突片４２は、テストプラグ３が挿入孔４５Ａ（図２）に挿入されるのを許可したり、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されるのを禁止したりするための部材である。更に、突片４２は、挿入孔４５Ａに挿入されているテストプラグ３が挿入孔４５Ａから取り外されるのを許可したり、挿入孔４５Ａに挿入されているテストプラグ３が挿入孔４５Ａから取り外されるのを禁止したりする部材でもある。
【００４７】
突片４２は、当接面４２１、端部４２２、４２３を有する。端部４２２は、露出孔３８Ａを介して絶縁部材３８２の内部から外部へ突出したり、露出孔３８Ａを介して絶縁部材３８２の外部から内部へ退避したりできるように、露出孔３８Ａと対向している。端部４２３は、付勢部４３から付勢力が伝達されるように、付勢部４３と対向している。当接面４２１は、操作棒４１の先端から伝達される力に基づいて、端部４２２が絶縁部材３８２の内部から外部へ移動できるように、操作棒４１の当接面４１１と略平行になっている。
【００４８】
支持部４４は、突片４２が操作棒４１の長手方向と交差する方向（Ｚ軸）において移動できるように、絶縁部材３８２の内部で突片４２を支持する。
【００４９】
付勢部４３は、突片４２の端部４２２を絶縁部材３８２の外部から内部に移動させるための力を伝達するための例えば弾性部材である。付勢部４３は、突片４２に対して端部４２２が退避する側（−Ｚ）への力を伝達できるように、絶縁部材３８２の露出孔３８Ａが
設けられている側の壁（＋Ｚ）と突片４２の端部４２３との間に設けられる。
【００５０】
例えば、操作片３６がＡ１方向に回動された場合、操作棒４１は、前述のように、筺体３５から離れる方向に移動することとする。操作棒４１の先端における当接面４１１は、突片４２の当接面４２１と当接する。操作棒４１が筺体３５から離れる方向に移動する力が、突片４２に伝達されることになる。当接面４１１、４２１が操作棒４１の長手方向に対して傾斜しているので、突片４２は、操作棒４１から伝達される力に基づいて端部４２２が突出する方向（＋Ｚ）に移動する。尚、このとき、突片４２は、付勢部４３から伝達される付勢力に抗して移動することになる。突片４２の端部４２２は、絶縁部材３８２の内部から外部に移動して、絶縁部材３８２における露出孔３８Ａが設けられている側の壁から突出することになる。
【００５１】
この後、例えば、操作片３６がＡ２方向に回動された場合、操作棒４１は、前述のように、筺体３５に近づく方向に移動することとする。このとき、突片４２は、付勢部４３から伝達される付勢力に基づいて、端部４２２が退避する方向（−Ｚ）に移動する。突片４２の端部４２２は、絶縁部材３８２の外部から内部に移動して、絶縁部材３８２における露出孔３８Ａが設けられている側の壁から絶縁部材３８２の内部に退避することになる。
【００５２】
つまり、突片４２は、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれる前に、筺体４５に引っ掛かってテストプラグ３が筺体４５に差し込まれるのを禁止するようにテストプラグ３から突出し、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれているときに、筺体４５に引っ掛かってテストプラグ３が筺体４５から抜き出されるのを禁止するようにテストプラグ３から突出することになる。
【００５３】
＝＝＝テスト回路＝＝＝
以下、図５を参照して、本実施形態におけるテスト回路について説明する。図５は、本実施形態における方向試験が行われるときの電力系統を示す図である。
【００５４】
テスト回路３００は、方向試験を行うための回路であり、筺体３５（図２）の内部に設けられる。テスト回路３００は、ＣＴ２次回路１の第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３と接続される。テスト回路３００は、第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４、可変抵抗Ｒ１を有する。可変抵抗Ｒ１の一端は第１端子３１に接続される。可変抵抗Ｒ１の他端は、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４の全てに共通に接続される。つまり、可変抵抗Ｒ１は、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれたときにＣＴ２次回路１と接続されて、１線地絡事故が起きたことを示す検出電流を模擬した模擬電流をＣＴ３次回路２で発生させるべく第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４に接続されている。
【００５５】
可変抵抗Ｒ１は、操作片３６（図２）の回動に応じて抵抗値が調整可能な可変抵抗である。可変抵抗Ｒ１は、例えば操作片３６がＡ１方向（第１方向）に回動されるにつれて抵抗値が連続的に大きくなり、例えば操作片３６がＡ２方向（第２方向）に回動されるにつれて抵抗値が連続的に小さくなるように、筺体３５の内部に設けられていることとする。
【００５６】
例えば、可変抵抗Ｒ１の値が略０オームに設定された場合、ＣＴ３次回路２において模擬電流が発生しないことになる。つまり、この場合、送電線において１線地絡事故が発生していないことが模擬されることになる。又、例えば、可変抵抗Ｒ１の値が略０オームよりも大きい所定抵抗値に設定された場合、ＣＴ３次回路２において模擬電流が発生することになる。つまり、この場合、送電線において１線地絡事故が発生していることが模擬されることになる。尚、方向試験が行われるとき、リレー装置２００から出力される遮断命令に基づいて、遮断器が制御されないように、例えば、リレー装置２００と遮断器との間の通信が遮断されていることとする。
【００５７】
＝＝＝突片及び可変抵抗＝＝＝
以下、図２、図４及び図５を参照して、本実施形態における突片及び可変抵抗について説明する。
【００５８】
突片４２の移動及び可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、操作片３６（図２）の回動により制御される。
【００５９】
ここで、方向試験が行われる際に、比較的大きな値の模擬電流がリレー装置２００に供給された場合、リレー装置２００の損傷が引き起こされる虞がある。方向試験が行われる際の模擬電流の値の大きさは、可変抵抗Ｒ１の抵抗値の大きさ応じて定まる。例えば、可変抵抗Ｒ１の抵抗値の大きさが大きくなるにつれて、模擬電流の値の大きさが大きくなる。比較的大きな値の模擬電流がリレー装置２００に供給されないようにするためには、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を比較的小さくする必要がある。
【００６０】
又、方向試験が行われる際に、リレー装置２００に供給されている模擬電流の所定時間における変動幅が比較的大きくなった場合、リレー装置２００の損傷が引き起こされる虞がある。従って、模擬電流の所定時間における変動幅が比較的大きくならないように、例えば、可変抵抗Ｒ１の値が比較的大きいときにテストプラグ３がＣＴ装置４から取り外されるのを防止する必要がある。
【００６１】
突片４２の端部４２２は、操作片３６のＡ２方向への回動により絶縁部材３８２の内部に移動される。端部４２２が絶縁部材３８２の内部に移動して、絶縁部材３８２から突出していない状態となったとき、操作片３６のＡ２方向への回動は例えばストッパ（不図示）によって停止されることとする。このとき、例えば、操作片３６に対してＡ２方向に回動させる力が加えられているにも関わらず、操作片３６のＡ２方向への回動は停止されていることとする。操作片３６がストッパによってＡ２方向への回動が停止される状態の、操作片３６の回動位置を第１回動位置とも称することとする。
【００６２】
操作片３６が第１回動位置まで回動された後、操作片３６がＡ１方向へ回動されたとき、突片４２は、絶縁部材３８２の外部に移動される。端部４２２が絶縁部材３８２の外部に移動して絶縁部材３８２から突出したときの、操作片３６の回動位置を第２回動位置とも称することとする。
【００６３】
尚、端部４２２が絶縁部材３８２から突出したときとは、例えば、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されるのが禁止される程度、端部４２２が絶縁部材３８２から突出したときを示す。つまり、操作片３６が第２回動位置まで回動されたとき、端部４２２が挿入孔４５Ａの縁部４５４に当接しテストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されるのが禁止されることになる。更に、端部４２２が絶縁部材３８２から突出したときとは、例えば、挿入孔４５Ａに挿入されているテストプラグ３が挿入孔４５Ａから取り外されるのを禁止される程度、端部４２２が絶縁部材３８２から突出したときをも示す。つまり、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入されている状態で操作片３６が第２回動位置まで回動されたとき、端部４２２が凹部４８Ａの内部に設けられることになり、挿入孔４５Ａに挿入されているテストプラグ３が挿入孔４５Ａから取り外されるのを禁止されることになる。
【００６４】
可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、操作片３６の回動位置が第１回動位置のとき略０オームとされる。可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、操作片３６のＡ１方向への回動により操作片３６が第２回動位置となるまで略０オームとされていることとする。可変抵抗Ｒ１は、その後、操作片３６がＡ１方向へ回動されたとき、Ａ１方向への操作片３６の回動量が大きくなるにつれて、可変抵抗の値が大きくされることとする。
【００６５】
以上より、テストプラグ３の挿入孔４５Ａへの挿入が許可されるとき、可変抵抗の抵抗値Ｒ１は、略０オームにされていることになる。又、挿入孔４５Ａに挿入されているテストプラグ３の挿入孔４５Ａからの取り外しが許可されるときも、可変抵抗Ｒ１は、略０オームにされていることになる。
【００６６】
＝＝＝テストプラグを用いて行われる方向試験＝＝＝
以下、図２乃至図４を参照して、本実施形態におけるテストプラグを用いて行われる方向試験について説明する。
【００６７】
操作片３６が第１回動位置までＡ２方向に回動される。このとき、端部４２２は、絶縁部材３８２の内部に退避する。つまり、ＣＴ装置４の挿入孔４５Ａへのテストプラグ３の挿入が許可される。尚、このとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、略０オームとなっている。
【００６８】
テストプラグ３の複数の端子がＣＴ装置４の複数の端子に接続されるように、テストプラグ３が挿入孔４５Ａに挿入される。つまり、テストプラグ３がＣＴ装置４に差し込まれたときにテストプラグ３の複数の端子は、ＣＴ２次回路１と接続される。
【００６９】
この後、操作片３６が第２回動位置までＡ１方向に回動される。このとき、端部４２２は、絶縁部材３８２の外部に突出する。このとき、端部４２２が凹部４８Ａの内部に移動して、挿入孔４５Ａからのテストプラグ３の取り外しが禁止される。尚、このとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、所定抵抗値となる。ＣＴ３次回路２において、模擬電流が発生することになる。つまり、このとき、模擬電流の値が略０アンペアより大きな値（所定値）以上となる。この模擬電流に基づいて、リレー装置２００（図１）から遮断命令が出力されるか否かの検査が行われる。尚、例えば、方向試験に基づく遮断器の動作を禁止するために、遮断命令に応じて動作する遮断器は、方向試験が行われるときには、遮断命令に応じて動作しないように設定されていることとしてもよい。
【００７０】
この後、操作片３６がＡ２方向に回動される。操作片３６がＡ２方向に回動されるにつれて、可変抵抗Ｒ１の抵抗値が小さくなり、ＣＴ３次回路２において模擬電流の値は小さくなる。操作片３６のＡ２方向への回動量に応じて、リレー装置２００からの遮断命令が出力されなくなるか否かの検査が行われる。
【００７１】
操作片３６が第１回動位置まで回動されると、端部４２２は、絶縁部材３８２の内部に退避する。このとき、挿入孔４５Ａからのテストプラグ３の取り外しが許可されることになる。そして、テストプラグ３は、ＣＴ装置４から取り外されることになる。
【００７２】
つまり、操作片３６は、突片４２を突出させたとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を模擬電流の値が所定値以上となるような値とし、突片４２を退避させたとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を模擬電流の値が所定値未満（例えば略０アンペア）となるような値とするべく、突片４２を突出及び退避させるとともに可変抵抗Ｒ１の抵抗値を調整するための操作片として機能している。
【００７３】
[第２実施形態]
＝＝＝電力系統＝＝＝
以下、図６を参照して、本実施形態における電力系統について説明する。図６は、本実施形態における電力系統を示す図である。
【００７４】
電力系統５００は、発電所からの電力が供給するための例えば送電系統である。電力系統５００は、第１母線Ｌ５１、第２母線Ｌ５２、第３母線Ｌ５３、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６、地絡方向継電器５０２を有する。
【００７５】
第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６は、上流側の発電所の発電機（不図示）から供給される３相交流電力を、第１母線Ｌ５１、第２母線Ｌ５２、第３母線Ｌ５３に供給するための電力線である。第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６は、第１母線Ｌ５１、第２母線Ｌ５２、第３母線Ｌ５３よりも上流側に設けられている。
【００７６】
第１母線Ｌ５１、第２母線Ｌ５２、第３母線Ｌ５３は、第１母線Ｌ５１、第２母線Ｌ５２、第３母線Ｌ５３よりも下流側の需要家に３相交流電力を供給するための変電所に設けられている電力線である。
【００７７】
地絡方向継電器５０２（継電装置）は、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６で発生する１線地絡事故を検出して、遮断器（不図示）を制御するための装置である。尚、地絡方向継電器５０２は、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６における地絡方向継電器５０２が設けられている位置よりも上流側で発生する第１事故と、地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも下流側で発生する第２事故とを検出する機能を有している。第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６で発生する１線地絡事故とは、例えば、第１事故であることとして説明する。尚、例えば、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６には、地絡方向継電器５０２によって制御される遮断器が所定位置に設けられている。
【００７８】
＝＝＝地絡方向継電器＝＝＝
以下、図６を参照して、本実施形態における地絡方向継電器について説明する。  
地絡方向継電器５０２は、ＣＴ２次回路５、ＣＴ３次回路６、リレー装置６００を有する。
【００７９】
＝ＣＴ２次回路＝
ＣＴ２次回路５は、ＣＴ２次回路５は、第１コイル５１、第２コイル５２、第３コイル５３、第１端子Ｔ５１、第２端子Ｔ５２、第３端子Ｔ５３、第４端子Ｔ５４、短絡回路５０１を有する。これらの構成は夫々、第１実施形態のＣＴ２次回路１における、第１コイル１１、第２コイル１２、第３コイル１３、第１端子Ｔ１１、第２端子Ｔ１２、第３端子Ｔ１３、第４端子Ｔ１４、短絡回路１０１の構成と同様である。
【００８０】
＝ＣＴ３次回路＝
ＣＴ３次回路６は、第１コイル６１、第２コイル６２、第３コイル６３を有する。これらの構成は夫々、第１実施形態のＣＴ３次回路２における、第１コイル２１、第２コイル２２、第３コイル２３と同様である。尚、リレー装置６００の構成は、第１実施形態のリレー装置２００の構成と同様である。
【００８１】
＝＝＝テストプラグ＝＝＝
以下、図７を参照して、本実施形態におけるテストプラグについて説明する。図７は、本実施形態におけるテストプラグとＣＴ装置とを示す斜視図である。尚、図２の構成と同様な構成には、同様な符号を付し、その説明については省略する。
【００８２】
テストプラグ７は、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６において１線地絡事故が発生していないときに、ＣＴ３次回路６において検出電流を模擬した模擬電流を発生させるための装置である。
【００８３】
テストプラグ７は、第１端子７１、第２端子７２、第３端子７３、第４端子７４、表示部７７を有する。  
第１端子７１、第２端子７２、第３端子７３、第４端子７４の形状は夫々、第１実施形態の第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４の形状と同様である。
【００８４】
筺体７５の内部には、テスト回路７００が設けられる。  
表示部７７（しるし）は、テストプラグ７が受電用の地絡方向継電器５０２における方向試験用のテストプラグである情報が記されているラベルである。表示部７７は、例えば筺体３５の上面等の外部に露出し、外部から視認できる位置に設けられる。
【００８５】
＝＝＝テスト回路＝＝＝
以下、図８を参照して、本実施形態におけるテスト回路について説明する。図８は、本実施形態における方向試験が行われるときの電力系統を示す図である。
【００８６】
テスト回路７００は、方向試験を行うための回路であり、筺体７５（図７）の内部に設けられる。テスト回路７００は、第１端子７１、第２端子７２、第３端子７３、第４端子７４、可変抵抗Ｒ２を有する。可変抵抗Ｒ２の一端は第１端子７１に接続されるとともに第４端子Ｔ７４に接続される。可変抵抗Ｒ２の他端は、第２端子７２、第３端子７３に共通に接続される。尚、可変抵抗Ｒ２の抵抗値は、第１実施形態の可変抵抗Ｒ１の抵抗値と同様である。
【００８７】
前述したように、テストプラグ３は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６に設けられている地絡方向継電器１０２の動作を検査する際に、地絡方向継電器１０２における筺体４５に差し込まれる。地絡方向継電器１０２は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６において発生する１線地絡事故を検出するための装置である。地絡方向継電器１０２は、ＣＴ２次回路１、ＣＴ３次回路２を有する。ＣＴ２次回路１では、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６から下流側に供給される電流に応じた電流が発生する。ＣＴ３次回路２においては、送電線で１線地絡事故が起きたときに、ＣＴ２次回路１で発生する電流に基づいて、１線地絡事故が起きたことを示す検出電流が発生する。テストプラグ３は、第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４、可変抵抗Ｒ１、突片４２、操作片３６を有する。第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４は、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれたときに、ＣＴ２次回路１と接続される。可変抵抗Ｒ１は、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれたときにＣＴ２次回路１と接続されて、１線地絡事故が起きたことを示す検出電流を模擬した模擬電流をＣＴ３次回路２で発生させるべく第１端子３１、第２端子３２、第３端子３３、第４端子３４に接続されている。突片４２は、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれる前に、筺体４５に引っ掛かってテストプラグ３が筺体４５に差し込まれるのを禁止するようにテストプラグ３から突出し、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれているときに、筺体４５に引っ掛かってテストプラグ３が筺体４５から抜き出されるのを禁止するようにテストプラグ３から突出する。操作片３６は、突片４２を突出させたとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を模擬電流の値が所定値（例えば略０アンペアより大きい値）以上となるような値とし、突片４２を退避させたとき、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を模擬電流の値が所定値未満（例えば略０アンペア）となるような値とするべく、突片４２を突出及び退避させるとともに可変抵抗Ｒ１の抵抗値を調整するためのつまみである。これらの構成により、地絡方向継電器１０２の動作を確実に検査することが可能なテストプラグ３を提供することができる。又、可変抵抗Ｒ１の抵抗値が、模擬電流の値を所定値（例えば略０アンペアより大きい値）以上とするような抵抗値とされているとき、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれるのが禁止される。よって、テストプラグ３が筺体４５に差し込まれたときに、比較的大きな値の模擬電流が発生するのを防止することできる。又、可変抵抗Ｒ１の抵抗値が、模擬電流の値を所定値（例えば略０アンペアより大きい値）以上とするような抵抗値とされているとき、テストプラグ３が筺体４５から抜き出されるのが禁止される。よって、テストプラグ３が筺体４５から抜き出されるときに、模擬電流の大きさの変動量が比較的大きくなるのを防止することができる。又、例えば、ＣＴ２次回路１に接続される検査回路を収容する検査装置本体（不図示）を、テストプラグ３とは別個に設けるのが不要となる。又、この検査装置本体を設けるのが不要となっているために、検査装置本体に設けられる端子と、テストプラグ３の端子とを例えば導電線等を用いて接続するのも不要となる。
【００８８】
又、操作片３６は、Ａ１方向に回動されるにつれて突片４２を突出させ、Ａ２方向に回動されるにつれて突片４２を退避させるつまみである。操作片３６の回動により、突片４２を突出させたり、退避させたりできるために、使い勝手のよいテストプラグ３を提供することができる。
【００８９】
又、可変抵抗Ｒ１は、例えば操作片３６がＡ１方向に回動されるにつれて抵抗値が連続的に大きくなり、例えば操作片３６がＡ２方向に回動されるにつれて抵抗値が連続的に小さくなる可変抵抗である。よって、操作片３６の回動量を調整して、可変抵抗Ｒ１の抵抗値を微調整することが可能となる。従って、例えば、地絡方向継電器１０２の検査の際に、模擬電流の値を連続的に調整することにより、リレー装置２００に供給される模擬電流の変動量を抑えることができる。
【００９０】
又、地絡方向継電器１０２（第１実施形態）は、第１送電線Ｌ１４、第２送電線Ｌ１５、第３送電線Ｌ１６における地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも上流側で発生する第１事故と、地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも下流側で発生する第２事故とを検出する機能を有している。テスト回路３００は、可変抵抗Ｒ１を含み、例えば、第２事故が発生したことを示す検出電流を模擬した第２模擬電流を発生させるための回路である。表示部３７には、テストプラグ３が第２模擬電流を発生させるためのプラグであることを示す情報が表示されている。地絡方向継電器５０２（第２実施形態）は、第１送電線Ｌ５４、第２送電線Ｌ５５、第３送電線Ｌ５６における地絡方向継電器５０２が設けられている位置よりも上流側で発生する第１事故と、地絡方向継電器１０２が設けられている位置よりも下流側で発生する第２事故とを検出する機能を有している。テスト回路７００は、可変抵抗Ｒ２を含み、例えば、第１事故が発生したことを示す検出電流を模擬した第１模擬電流を発生させるための回路である。表示部７７（図７）には、テストプラグ７が第１模擬電流を発生させるためのプラグであることを示す情報が表示されている。よって、テストプラグ３、７の識別が容易となる。
【００９１】
尚、上記第１及び第２実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。
【００９２】
第１実施形態においては、突片４２が退避したときの可変抵抗Ｒ１の抵抗値は、模擬電流を略０アンペアとするような値にされることについて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、突片４２が退避したときの可変抵抗Ｒ１の抵抗値が、所定の電流値の模擬電流を発生させるような値であることとしてもよい。
【００９３】
又、第１実施形態においては、操作片３６を回動させて、突片４２を突出及び退避させるとともに可変抵抗Ｒ１の抵抗値を調整することについて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、テストプラグ３が抜き差しされる方向（Ｙ軸）において筺体４５に近づく側（−Ｙ）及び筺体４５から離れる側（＋Ｙ）に移動される操作片をテストプラグ３に設けて、当該操作片の操作に基づいて、突片４２を突出及び退避させるとともに可変抵抗Ｒ１の抵抗値を調整することとしてもよい。
【符号の説明】
【００９４】
１、５                        ＣＴ２次回路
２、６                  ＣＴ３次回路
３、７                  テストプラグ
３５、４５              筺体
３６、７６              操作片
３７、７７              表示部
４２                    突片
１０２、５０２          地絡方向継電器
【図１】
2014202671.tif 000003
【図２】
2014202671.tif 000004
【図３】
2014202671.tif 000005
【図４】
2014202671.tif 000006
【図５】
2014202671.tif 000007
【図６】
2014202671.tif 000008
【図７】
2014202671.tif 000009
【図８】
2014202671.tif 000010