(57)【要約】【課題】設計上の好適な位置でバネと端子が接触しているか否かを電気的に確認可能な検査方法を提供すること。【解決手段】電子部品２５と端子５１を導電性の弾性部材５２を介して電気的に導通させる電子制御装置２００の検査方法であって、前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子２１と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、前記端子から前記第２の端子に流れる電流の電流値を測定する電流値測定ステップと、印加された電圧値と前記電流値から求められた抵抗値が第１閾値以下の場合、電子部品と前記弾性部材の接触を保証するステップと、前記第１閾値以下でない場合、電子部品と前記弾性部材の接触異常を検出するステップと、を有することを特徴とする。【選択図】図１
2014095662.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品と端子を導電性の弾性部材を介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、
前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記端子から前記第２の端子に流れる電流の電流値を測定する電流値測定ステップと、
印加された電圧値と前記電流値から求められた抵抗値が第１閾値より小さい場合、電子部品と前記弾性部材の接触を保証するステップと、
前記第１閾値より小さくない場合、電子部品と前記弾性部材の接触異常を検出するステップと、
を有することを特徴とする検査方法。
【請求項２】
電子部品と端子を導電性の弾性部材を介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、
前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記端子から前記第２の端子に流れる電流の電流値を測定する電流値測定ステップと、
印加された電圧値と前記電流値から求められた抵抗値が第１閾値より小さい場合、
前記弾性部材と前記電子部品の位置ずれ量とを対応づけた位置ずれ量変換テーブルを参照して、前記抵抗値に対応する前記位置ずれ量を決定する位置ずれ量決定ステップと、
前記位置ずれ量が第２閾値より大きくない場合、電子部品と弾性部材の接触を保証するステップと、
前記位置ずれ量が前記第２閾値より大きい場合、電子部品と弾性部材の接触異常を検出するステップと、
を有することを特徴とする検査方法。
【請求項３】
電子部品と端子をバネを介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、
前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記バネに流れる電流により生じる磁束を測定する磁束測定ステップと、
前記磁束が第３閾値より大きい場合に、電子部品と前記バネの接触を保証するステップと、
前記磁束が前記第３閾値より大きくない場合、電子部品と前記バネの接触異常を検出するステップと、
を有することを特徴とする検査方法。
【請求項４】
電子部品と端子をバネを介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、
前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記バネに流れる電流により生じる磁束を測定する磁束測定ステップと、
前記磁束を、バネの長さに変換する式に適用してバネの長さを算出するステップと、
前記バネの長さが第４閾値以下の場合に、電子部品と前記バネの接触を保証するステップと、
前記バネの長さが前記第４閾値以下でない場合、電子部品と前記バネの接触異常を検出するステップと、
を有することを特徴とする検査方法。
【請求項５】
第１の端子と電子部品とを第１のバネを介して電気的に導通させ、前記第１の端子と平行な第２の端子と前記電子部品とを第２のバネを介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、
前記第１の端子と前記第２の端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、
前記第１のバネに流れる電流により生じる磁束と、前記第２のバネに流れる電流により生じる磁束の合成磁束を測定する磁束測定ステップと、
前記合成磁束がゼロか又は第５閾値と等しい場合に、電子部品と弾性部材の接触を保証するステップと、
前記合成磁束がゼロでなくかつ第５閾値と等しくない場合に、電子部品と弾性部材の接触異常を検出するステップと、
を有することを特徴とする検査方法。
【請求項６】
電子部品と端子を導電性の弾性部材を介して電気的に導通させる電子制御装置の検査装置であって、
前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記端子から前記第２の端子に流れる電流の電流値を測定する電流値測定手段と、
印加された電圧値と前記電流値から求められた抵抗値が第１閾値以下の場合、電子部品と前記弾性部材の接触を保証し、前記第１閾値以下でない場合、電子部品と前記弾性部材の接触異常を検出する異常検出手段と、
を有することを特徴とする検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品と端子を弾性部材を介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品の端子間の接触にバネの付勢力を利用する場合がある。バネが自然長よりも短い状態になるように２つの端子間にバネを配置することで、適切な接圧で２つの端子間を導通させることができる（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１には、半導体装置の電極に接触するコンタクト電極片と、試験基板の端子に接触するコンタクト電極片とを電気的に接続する接続部を有し、接続部を絶縁性を有するコンタクト基板により連結することにより整列状態が維持されるコンタクト電極が開示されている。
【０００３】
端子間をバネの付勢力で接触させた後の検査工程では、電気的な導通の確認が行われるが、多くの場合、電気的な導通が確認できれば異常なし、電気的な導通が確認できなければ異常ありという単純な判断が行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−２３１３９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、単純な導通の有無の確認では、バネが一方の端子と十分に接触していなくても一時的に導通が得られ、検査で異常なしと判定されてしまうという問題がある。例えば、引っかかり等によりバネの端部と端子の相対位置が理想よりもずれてしまうことがある。理想よりもずれているが一部が接触している場合、検査では異常なしと判定されるが、ちょっとした振動などで電気的導通が得られなくなってしまう。このように、従来の検査方法では、十分な接触面積が確保されているか、十分な接圧が確保されているか、を確認できなかった。
【０００６】
このような問題に対し、導通による検査に加え、目視による検査・確認を加えることが検討される。しかし、例えばＥＣＵ（Electronic Control Unit)では、ＥＣＵを組み立てると同時に端子同士が接触するようにバネを配置してＥＣＵ内に電子部品を収納する場合がある。この場合、組み立ててしまうと外部からの目視では理想の位置でバネと端子が接触しているか否かを判断できない。
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑み、設計上の好適な位置でバネと端子が接触しているか否かを電気的に確認可能な検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、電子部品と端子を導電性の弾性部材を介して電気的に導通させる電子制御装置の検査方法であって、前記電子部品と電気的に接続されている第２の端子と前記端子との間に電圧を印加する電圧印加ステップと、前記端子から前記第２の端子に流れる電流の電流値を測定する電流値測定ステップと、印加された電圧値と前記電流値から求められた抵抗値が第１閾値以下の場合、電子部品と前記弾性部材の接触を保証するステップと、前記第１閾値以下でない場合、電子部品と前記弾性部材の接触異常を検出するステップと、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
設計上の好適な位置でバネと端子が接触しているか否かを電気的に確認可能な検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例におけるバネ接点の接触異常の検知方法を説明する図の一例である。
【図２】ＥＣＵの分解斜視図と車載装置への組付け例を示す図の一例である。
【図３】基板の構成とセンサとの接続例を示す図の一例である。
【図４】筐体内のバネ接点の構成を示す図の一例である。
【図５】検査装置によるバネ接点の接触異常の検査時の等価回路を示す図の一例である。
【図６】検査装置がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。
【図７】検査装置の機能ブロック図の一例である。
【図８】検査装置がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である（実施例２）。
【図９】電流と磁界の関係を説明する図の一例である。
【図１０】磁束の検出の構成例を示す図の一例である。
【図１１】検査装置がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である（実施例３）。
【図１２】検査装置がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である（実施例４）。
【図１３】磁束の測定について説明する図の一例である。
【図１４】検査装置がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である（実施例５）。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。しかしながら、本発明の技術的範囲が、本実施の形態に限定されるものではない。
【実施例１】
【００１２】
図１は、本実施例におけるバネ接点の接触異常の検知方法を説明する図の一例である。
本実施例ではバネとセンサパッドに生じる電気抵抗から接触異常を検出する検出方法について説明する。
【００１３】
図１はセンサパッド、及び、バネの上面視の一例を示す。図１（ａ）に示すようにセンサパッドとバネは互いの中心がほぼ一致した状態が理想的な接触位置となる。理想的な接触位置では、バネの付勢力がセンサパッドに対しほぼ垂直に作用するので、乗車中に振動や衝撃が生じても導通が得られなくなることが少ない。
【００１４】
これに対し、図１（ｂ）ではセンサパッドに対しバネが横ずれしており、バネの一部がセンサパッドからはみ出し始めている。この状態では導通は可能だが、乗車中に振動や衝撃が生じると導通を維持できなくなるおそれがある。また、図１（ｃ）ではバネがセンサパッドから完全にはみ出ている。従来の導通による検査では、図１（ｃ）のようにバネがセンサパッドから完全にはみ出ていれば接触異常を検出できる。しかし、図１（ｂ）のようにバネの一部がセンサパッドと接触している場合は、導通による検査では異常なしと判定されてしまう。
【００１５】
そこで、本実施例では、例えば検査装置によりバネからセンサパッドに流れる電流の電気抵抗を測定する。図１には、横ずれ量と抵抗値の関係が示されている。バネを流れる電流の電気抵抗は、横ずれ量が大きくなって図１（ｂ）のようにバネの一部がセンサパッドから外れ始めると大きくなり、バネがセンサパッドから完全にはみ出ると無限大となる（導通が得られなくなる）。
【００１６】
したがって、検査管理者などが実験的に横ずれ量を変えなら抵抗値を測っておくことで、許容できる最大の横ずれ量の時の抵抗値を決定できる。この抵抗値を許容抵抗値として定めておき、検査工程で測定された抵抗値と許容抵抗値を比較することで、バネの一部がセンサパッドと接触しているが、図１（ｂ）よりも大きい横ずれ量が生じていることを検出できる。以下、バネの一部がセンサパッドから外れ始めた図１（ｂ）よりも大きい横ずれ量が生じていることを接触異常という。
【００１７】
〔構成例〕
図２は、ＥＣＵの分解斜視図と車載装置への組付け例を示す図の一例である。ＥＣＵとは電子制御装置であり、主にマイコンを本体とする。このＥＣＵ（Electronic Control Unit)２００はブレーキＥＣＵであり、車載装置はブレーキＡＣＴ（アクチュエータ）２０である。ブレーキＡＣＴ２０は、金属のブロック１４内にブレーキフルードの流路や開閉弁が形成されている。ブレーキＡＣＴ２０の表面には、センサパッド２５を備えたセンサ本体２４、ソレノイド２３（図３のソレノイド３５に相当）、及び、ソレノイド２３を駆動するコイル２２が配置される。
【００１８】
ブレーキＥＣＵは基板１２と、基板１２を固定・収納する筐体１３と、基板１２を筐体１３と共に保護するカバー１１とを有している。基板１２はブレーキＡＣＴ２０と電気的に接続するために、いくつかの接続用ホール１２ａを有している。筐体１３から垂直上向きにいくつかの端子２１が延設されており、基板１２が電子部品を下側に向けて筐体１３に収納される際、端子２１が電子部品の接続ホール１２ａに挿入され電気的接続が得られる。また、コイル２２には、コイル２２に電気を流すための（ソレノイド２３をＯＮ／ＯＦＦするための）端子２２ａが、コイル２２から垂直上向きに延設されており、筐体１３を貫通して基板１２と電気的に接触するようになっている。
【００１９】
筐体１３の端子２１は、筐体１３から垂直方向下向きに（図２では陰になっており見えない）延設され、ターミナルが形成されている。このターミナルにコイル状の押しバネ（以下、単にバネという）が装着されている。ターミナルの位置とセンサパッド２５の位置が異なっていても、バネを介してセンサパッド２５とターミナルを接触させるため、バネは屈曲される場合がある。なお、以下の図ではバネの屈曲は省略されている。また、センサやコイルの数は一例であって、この他にセンサやコイル、その他の端子や部品を有していてもよい。
【００２０】
図３は、基板１２の構成とセンサとの接続例を示す図の一例である。基板１２にはマイコン３２や各種のＩＣ３１、３３（以下、ＩＣ１，ＩＣ２という）が搭載されており、また、ブレーキＡＣＴ２０との各種のＩ／Ｏが設けられている。Ｉ／Ｏには、例えば油圧センサ３４、ソレノイド３５、モータ３６、ストロークセンサ３７、車輪速センサ３８、ＳＷ入力３９、ＣＡＮ（Controller Area Network）バス（以下、ＣＡＮ１，ＣＡＮ２という）などが接続されている。
【００２１】
このうち、基板１２のＩ／Ｏとバネ接点で接続されるのは例えば油圧センサ３４であるが、ソレノイド３５やモータ３６がバネ接点で接続されることを禁止するものではない。油圧センサ３４は、例えば、マスタシリンダ圧を測定するセンサ、ポンプが生成した圧を測定するセンサ、及び、ストロークシミュレータに加えられた圧力を検出するセンサ等である。
【００２２】
ソレノイド３５は例えばマスタシリンダ（Ｍ／Ｃ）カットソレノイドであり、常開のＭ／Ｃカットソレノイドバルブを閉開するために使用される。ソレノイド３５はブレーキアシスト制御、ＡＢＳ，ＴＲＣ（Traction Control）、横滑り防止制御（EＳＣ：Electronic Stability Control ）、ヒルスタートアシスト制御等の際に制御される。
【００２３】
モータ３６はホイルシリンダ圧を生成するポンプを駆動するモータである。モータ３２は前輪用と後輪用にそれぞれ設けられるが、１つ又は３つ以上でもよい。
【００２４】
ストロークセンサ３７は、運転者によるブレーキペダルの踏み込み量を検出するセンサであり、車輪速センサ３８は各輪の回転速度を検出するセンサである。ＳＷ入力３９にはストップランプスイッチのＯＮ／ＯＦＦが入力される。ＣＡＮ１，２は他のＥＣＵとＣＡＮ通信するための車載ネットワークであり、ブレーキＥＣＵは２つの車載ネットワークと接続されている。
【００２５】
マイコン３２はＣＰＵ、フラッシュメモリ、ＲＡＭ、Ｉ２Ｃ、Ｔｉｍｅｒ、ＤＭＡＣ、等を有する情報処理装置である。ＩＣ１、ＩＣ２は、例えばＣＡＮ通信を制御するＣＡＮコントローラ、ソレノイド３５やモータ３６のドライバ回路、ブレーキＡＣＴ２０等の制御装置などである。
【００２６】
なお、ブレーキＥＣＵは一例に過ぎず、本実施例の接触異常の検知方法は、エンジンＥＣＵ、トランスミッションＥＣＵ、ドライビングサポートＥＣＵ、パワーマネージメントＥＣＵ，ＨＶ(ハイブリッド)−ＥＣＵなど各種のＥＣＵに適用可能である。
【００２７】
〔抵抗の検出〕
図４は、筐体１３内のバネ接点の構成を示す図の一例である。１つの油圧センサ３４に対し、ターミナル５１及びバネ５２が正極と負極にそれぞれ必要になる。正極と負極の構造は同様である。ターミナル５１は、筐体を貫通して端子２１と電気的に接続されており、センサパッド２５と導通するための端子となる。ターミナル５１の長さは、筐体１３をブレーキＡＣＴ２０側に固定した際の筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭよりも短いので、ターミナル５１の先端はセンサパッド２５と接触しない。
【００２８】
ターミナル５１には、コイル状のバネ５２がターミナル５１の先端から同軸に挿入され、バネ５２はターミナル５１の基板側の端部に圧入されている。また、バネ５２の他方の端部はセンサパッド２５と接触してバネ接点を形成する。バネ５２の自然長は、筐体１３をブレーキＡＣＴ２０側に固定した際の筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭよりも長いので、基板１２を押し上げる方向とセンサパッド２５を押圧する方向に付勢力が作用している。このためバネ５２とセンサパッド２５には適切な接圧が作用しており、ターミナル５１からバネ５２が外れることはない。しかしながら、より強固に固定するためバネ５２とターミナル５１を溶接したり、導電性の接着剤で接着してもよい。
【００２９】
また、バネ５２の一例としてコイル状の押しバネを図示したが、円錐バネ、皿バネ、提灯バネ、板バネなどでもよく、また、バネと呼ばれていなくても導電性の弾性部材であれば適用可能である。
【００３０】
このように基板１２と筐体１３をブレーキＡＣＴ２０に組み付けた後、検査装置１００がバネ接点の抵抗値を検出する。検査装置１００には少なくとも２つのプローブ（正極用と負極用）５３が接続されている。基板１２の裏側（図の上側）には端子２１が突出しているので、検査装置１００はプローブ５３を端子２１に接触させて、以下の測定を行う。または、基板１２は検査用の端子を有していることが多いので、検査用の端子にプローブ５３を接触させてもよい。
【００３１】
正極と負極のセンサパッド２５はセンサ本体の内部で動通しており、検査装置１００が電流を流せば正極の端子２１、ターミナル５１、バネ５２、正極のセンサパッド２５、センサ本体、負極のセンサパッド２５、バネ５２、負極のターミナル５１、端子２１を通過して検査装置１００に電流が流れる。
【００３２】
検査装置１００は、後述する電流計測機能の他、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、入出力インタフェース、キーボード、スピーカ、及び、表示装置等を備えた情報処理装置である。ＣＰＵがＲＯＭに記憶されたプログラムを実行しハードウェアと協働することで、操作受け付け部６５、電圧印加部６１、電流測定部６２、異常判定部６３、及び、結果出力部６４を実現する。また、ＲＯＭには許容抵抗値６６が記憶されている。
【００３３】
操作受け付け部６５は、ユーザの操作を受け付けバネ接点の接触異常の判定を開始する。接触異常の判定が製造工程上で自動化されていてもよく、この場合、ＥＣＵ２００が検査装置１００まで運ばれるとユーザ操作がなくても接触異常の判定が開始される。電圧印加部６１は、正極と負極のプローブ５３間に所定の電圧Ｖを印加する。電流測定部６２は電圧の印加時に電流計に流れる電流値Ｉを測定する。異常判定部６３は、電圧Ｖと電流値Ｉから抵抗を算出し、許容抵抗値６６と比較することで接触異常か否かを判定する。結果出力部６４は、異常あり又は異常なしの結果を表示装置や音声により出力する。
【００３４】
図５は、検査装置１００によるバネ接点の検査時の等価回路を示す図の一例である。図５（ａ）の左図はバネ５２がセンサパッド２５に対し横ずれしていない理想的な位置の場合の等価回路を、右図はバネ５２がセンサパッド２５に対し横ずれしている場合の等価回路をそれぞれ示す。
【００３５】
検査装置１００は、直流電源５０１、電流計５０２、抵抗値Ｒ１の抵抗５０３が直列接続された回路を有しており、正極と負極のプローブ５３をそれぞれ端子２１に接続することで図示する回路を形成する。バネ５２が横ずれしていない場合、正極と負極それぞれにおいてバネ５２とセンサパッド２５に生じる抵抗は、抵抗Ｒ１に比べて小さいので無視できる。このため、検査装置１００が電圧Ｖを印加した際に電流計５０２が検出する電流値Ｉは以下のようになる。
Ｉ＝Ｖ／Ｒ１
これに対し、図５（ｂ）に示すように、バネ５２が横ずれした場合、バネ５２とセンサパッド２５の間に無視できない抵抗Ｒｖが生じる。このため、検査装置１００が電圧Ｖを印加した際に電流計５０２が検出する電流値Ｉは以下のようになる。
Ｉ＝Ｖ／（Ｒ１＋Ｒｖ）
異常判定部６３は電流値ＩからＲ１又は「Ｒ１＋Ｒｖ」（図５（ａ）（ｂ）の抵抗を区別しない場合は抵抗Ｒという）を求め、許容抵抗値６６と比較することで、横ずれがあるか否かを判定できる。なお、電圧印加部６１が印加する電圧Ｖが一定の場合、電流値Ｉを許容電流値と比較してもよい。また、電圧Ｖの電源とし交流電源を用いてもよい。
【００３６】
〔許容抵抗値について〕
図１に示した横ずれ量と抵抗値の関係では、バネ５２がセンサパッド２５からはみ出始める位置から徐々に抵抗値が増大し（横ずれ量Ｂ）、バネ５２がセンサパッド２５から完全にはみ出ると抵抗値が無限大になる（横ずれ量Ｃ）。本実施例では、横ずれ量が横ずれ量Ｂよりも大きければ、異常ありと判定することが好ましいので、正常な横ずれ量Ａにおいて実験的に抵抗値を求め、それよりもわずかに大きい値を許容抵抗値６６とする。例えば、横ずれ量Ａの抵抗値より数％〜数十％大きい値を許容抵抗値６６とする。
【００３７】
〔動作手順〕
図６は、検査装置１００がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。
【００３８】
検査装置１００はプローブ５３を正極と負極の端子２１にそれぞれ接触させ、電圧印加部６１が電圧を印加する（Ｓ１０）。
【００３９】
次に、電流測定部６２は正極のプローブ５３から負極のプローブ５３に流れる電流値Iを測定する（Ｓ２０）。
【００４０】
異常判定部６３は、電圧Ｖと電流値Ｉから抵抗Ｒを算出する（Ｓ３０）。
【００４１】
次に、異常判定部６３は、抵抗Ｒが許容抵抗値６６より小さいか否かを判定する（Ｓ４０）。
【００４２】
抵抗Ｒが許容抵抗値６６より小さい場合（Ｓ４０のＹｅｓ）、異常判定部６３は接触異常がないと判定（ＯＫ）し（Ｓ５０）、抵抗Ｒが許容抵抗値６６以上の場合（Ｓ４０のＮｏ）、異常判定部６３は接触異常がある（ＮＧ）と判定する（Ｓ６０）。すなわち、接触異常がないことを保証したり、接触異常があることを推定できる。
【００４３】
結果出力部６４は、判定結果を記録し、表示装置に「接触異常あり。再測定しますか？」と表示したり、スピーカから音声で「接触が確認できません」などと出力する。
【００４４】
以上説明したように、本実施例の接触異常検出方法によれば、接触異常により生じる抵抗値を算出することで、導通の有無だけでは検出できなかった不十分な接触状態を検出することができる。
【実施例２】
【００４５】
本実施例では、抵抗を求めた後にさらに横ずれ量を求め、横ずれ量と閾値を比較してバネ接点の接触異常を検出する接触異常検出方法について説明する。なお、本実施例において、実施例１において同一の符号を付した構成要素は同様の機能を果たすので、主に本実施例の主要な構成要素についてのみ説明する場合がある。
【００４６】
図７は、本実施例の検査装置１００の機能ブロック図の一例を示す。図７では抵抗許容値に加え新たに抵抗横ずれテーブル６７を有する。抵抗横ずれテーブル６７は、図１に示したように抵抗値と横ずれ量の関係を対応づけたもので、抵抗値を横ずれ量に変換するテーブルである。測定された抵抗値と一致する抵抗値が抵抗横ずれテーブル６７に登録されていない場合は、線形補間により横ずれ量を求める。横ずれ量が横ずれ量Ａの範囲では横ずれ量を特定することは困難だが、横ずれ量Ａの範囲では許容抵抗値６６により異常なしと判定されるため支障がない。
【００４７】
また、抵抗横ずれテーブル６７から予め許容横ずれ値を求めておく。横ずれ量が横ずれ量Ｂ以上になると、抵抗値が大きくなり始める。横ずれ量が大きくなると抵抗値が大きくなり始める横ずれ量を許容横ずれ値として定めておく。つまり、許容横ずれ値は横ずれ量Ｂよりもわずかに大きい値である。これにより、実施例１では困難だった横ずれ量Ｂ〜Ｂ´の範囲（横ずれ量Ｂ´は図１に示すように抵抗値が許容抵抗値以上となる横ずれ量）で接触異常を検出可能となる。
【００４８】
図８は、検査装置１００がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。ステップＳ１０〜Ｓ４０までの処理は実施例１と同様である。
【００４９】
抵抗Ｒが許容抵抗値以上の場合（Ｓ４０のＮｏ）、実施例１と同様に異常判定部６３は接触異常ありと判定する（Ｓ６０）。
【００５０】
一方、抵抗Ｒが許容抵抗値より小さい場合（Ｓ４０のＹｅｓ）、異常判定部６３は抵抗横ずれテーブル６７から横ずれ量を算出する（Ｓ４２）。そして、横ずれ量が許容横ずれ値より大きいか否かを判定する（Ｓ４４）。
【００５１】
横ずれ量が許容横ずれ値以下の場合（Ｓ４４のＮｏ）、異常判定部６３は異常なしと判定する（Ｓ５０）。よって、ステップＳ４０で抵抗値が許容抵抗値６６より小さいと判定された後、さらに横ずれ量を判定することで接触異常がないことを確認できる。
【００５２】
また、横ずれ量が許容横ずれ値より大きい場合（Ｓ４４のＹｅｓ）、異常判定部６３は接触異常ありと判定する（Ｓ６０）。よって、許容抵抗値６６より小さいと判定されても、横ずれ量が許容横ずれ値より大きい場合（横ずれ量Ｂ〜Ｂ´の場合）、接触異常ありと判定することができる。
【００５３】
したがって、本実施例の接触異常検出方法によれば、許容抵抗値６６と横ずれ量から接触異常かどうかを判定するので、より正確な判定が可能になる（接触異常があるのに接触異常なしと判定することを抑制できる）。
【実施例３】
【００５４】
本実施例では、磁束から接触異常を検出する接触異常検出方法について説明する。
【００５５】
図９は、電流と磁界の関係を説明する図の一例である。よく知られているようにコイルに電流を流すとコイルの中心にコイルの軸方向に磁界が発生する。磁界の向きは右ネジの法則（右手の法則）に従い、例えば、上面視において反時計周りの電流が流れる場合、磁界はバネ５２の中心を下から上向きに通る。
【００５６】
また、磁束Φ、コイルインダクタンスＬ、電流Ｉには以下の関係がある。
Φ＝Ｌ・Ｉ  …式（１）
Ｌ＝μＳＮ2／ｌ  …式（２）  
ここで、μは透磁率、Ｓはバネ５２の断面積、Ｎはコイルの巻き数、ｌ（エル）はバネ５２の長さである。バネ５２の長さｌが長くなるとコイルインダクタンスＬが低下する関係にあることがわかる。
【００５７】
図９（ａ）の左図のようにバネ５２の接圧位置が理想的な場合（横ずれ量がゼロの場合）に対し、右図のように横ずれが生じるとバネ５２の長さｌが長くなる。したがって、横ずれが生じた場合、磁束が低下しているはずである。
【００５８】
そこで、本実施例では、バネ５２の長さと磁束の関係から許容磁束を求めておき、測定した磁束と比較することで、接触異常を検出する。
【００５９】
図１０は、磁束の検出の構成例を示す図の一例である。図１０では、正極のバネ５２の中心軸に磁束センサ５４が配置されている。磁束センサ５４は負極側のバネ５２にあってもよく両方にあってもよい。そして、検査装置１００は磁束センサ５４と接続されており、磁束センサ５４が検出した磁束を取得する。このため、検査装置１００は新たに磁束測定部６８を有している。
【００６０】
許容磁束は以下のようにして決定する。バネの長さを実験的に徐々に長くしていき（横ずれ量を徐々に大きくしていき）、磁束を測定する。横ずれ量が、バネ５２がセンサパッド２５からはみ出始める位置（横ずれ量Ｂ）になった時の磁束が許容磁束である。
【００６１】
図１１は、検査装置１００がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。
【００６２】
検査装置１００はプローブ５３を端子２１に接触させ、電圧印加部６１が電圧を印加する（Ｓ１０）。
【００６３】
次に、電流測定部６２は正極のプローブ５３から負極のプローブ５３に流れる電流値Iを測定する（Ｓ２０）。
【００６４】
次に、磁束測定部６８は磁束を測定する（Ｓ２２）。
【００６５】
次に、異常判定部６３は、磁束Φが許容磁束より大か否かを判定する（Ｓ３２）。
【００６６】
磁束Φが許容磁束より大きい場合（Ｓ３２のＹｅｓ）、異常判定部６３は接触異常なしと判定し（Ｓ５０）、磁束Φが許容磁束以下の場合（Ｓ３２のＮｏ）、異常判定部６３は接触異常ありと判定する（Ｓ６０）。
【００６７】
結果出力部６４は、判定結果を記録し、表示装置に「接触異常あり。再測定しますか？」と表示したり、スピーカから音声で「接触が確認できません」などと出力する。
【００６８】
したがって、本実施例の接触異常検出方法によれば、接触異常により磁束が変化することを利用して、導通の有無だけでは検出できなかった不十分な接触状態を検出することができる。
【実施例４】
【００６９】
本実施例では、磁束を測定した後にさらにバネ５２の長さを求め、バネ５２の長さと閾値を比較してバネ接点の接触異常を検出する接触異常検出方法について説明する。なお、本実施例において、実施例３において同一の符号を付した構成要素は同様の機能を果たすので、主に本実施例の主要な構成要素についてのみ説明する場合がある。本実施例の検査装置１００の機能ブロック図は実施例３と同様である。
【００７０】
実施例３と同様の構成により、検査装置１００は磁束を測定することができる。磁束Φ・電流Ｉを測定すると式（１）からコイルインダクタンスＬを算出できる。また、コイルインダクタンスＬからバネ５２の長さｌを算出できる。
【００７１】
ここで、横ずれ量がほぼゼロの場合、バネ５２の長さｌは、筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭとほぼ同じはずである。バネ５２の長さｌが、筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭより長くなるのは、横ずれが発生した場合と推定できる。よって、式（１）（２）から算出したバネ５２の長さｌが筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭより長い場合、横ずれ量がゼロでないことが推定でき、さらに長さＭ＋αより長い場合、
接触異常が発生していると判定できる。長さＭ＋αは横ずれ量Ｂの時のバネの長さである。したがって、本実施例では閾値を、横ずれ量Ｂの時のバネの長さとして測定することができる。閾値（Ｍ＋α）を物理的な寸法から決定できるので判定精度を向上させることができる。
【００７２】
図１２は、検査装置１００がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。ステップＳ１０〜Ｓ２２までの処理は図１１と同様である。
【００７３】
磁束を測定すると、異常判定部６３は、磁束Φと電流値Ｉからバネ５２の長さｌを算出する（Ｓ３４）。
【００７４】
そして、バネ５２の長さｌが筐体１３からセンサパッド２５までの長さＭ＋α以下か否かを判定する（Ｓ３６）。バネ５２の長さｌが長さＭ＋α以下の場合（Ｓ３６のＹｅｓ）、異常判定部６３は接触異常なしと判定し（Ｓ５０）、バネ５２の長さｌが長さＭ＋α以下でない場合（Ｓ３６のＮｏ）、異常判定部６３は接触異常ありと判定する（Ｓ６０）。
【００７５】
したがって、本実施例の接触異常検出方法によれば、接触異常により生じる磁束変化からバネ５２が長さを求め、比較的、決定が容易な閾値と比較することで、導通の有無だけでは検出できなかった不十分な接触状態を高精度に検出することができる。
【実施例５】
【００７６】
本実施例では、実施例３の変形例として２つのターミナル５１の合成磁束に基づき接触異常を検出する接触異常検出方法について説明する。なお、本実施例において、実施例３において同一の符号を付した構成要素は同様の機能を果たすので、主に本実施例の主要な構成要素についてのみ説明する場合がある。本実施例の検査装置１００の機能ブロック図は実施例３と同様である。
【００７７】
図１３は磁束の測定について説明する図の一例である。すでに説明したように１つの油圧センサ３４には正極と負極の２つのターミナル５１が接続されるが、このターミナル５１は狭い範囲に隣接してほぼ平行に配置される。正極から流れる電流は負極に戻るため、ほぼ同じ強さの電流が２つのバネ５２を流れている。ここで、電流が流れる際の磁束の方向はバネ５２の巻き方向により定まる。上面視、反時計回りに電流が流れる巻き方向の場合、磁束は垂直方向上向きに形成され、時計回りに電流が流れる巻き方向の場合、磁束は垂直方向下向きに形成される。
【００７８】
正極と負極で電流の向きが逆になるので左右のバネ５２の巻き方向が同じ場合、左右のバネ５２で生じる磁束の方向は逆になる。例えば、図１３(a)では、左側のバネ５２は上面視、時計回りに電流が流れ、右側のバネ５２は上面視、反時計回りに電流が流れるので、左右の磁束の方向は逆である。バネ５２の巻き方向がそれぞれ逆になった場合（巻き方向は正極と負極で同じ）、左側のバネ５２は上面視、反時計回りに電流が流れ、右側のバネ５２は上面視、時計回りに電流が流れるので、左右の磁束の方向は逆である。
【００７９】
したがって、左右のターミナル５１の中心に磁束センサ５４を配置すれば、左右の磁束が打ち消し合って磁束はほとんど計測されない。
【００８０】
これに対し、左右のバネ５２の巻き方向が異なる場合、左右のバネ５２で生じる磁束の方向は同一になる。例えば、図１３(ｂ)では、左側のバネ５２と右側のバネ５２はどちらも上面視、時計回りに電流が流れるので、左右の磁束の方向は下向きである。バネ５２の巻き方向がそれぞれ逆になった場合（巻き方向は正極と負極で異なっている）、左右の磁束の方向はどちらも上向きになる。
【００８１】
したがって、左右のターミナル５１の中心に磁束センサ５４を配置すれば、左右の磁束が強め合って大きな磁束が計測される。この磁束をΦmaxとする。
【００８２】
そして、左右の少なくとも一方のバネ接点に接触異常が生じた場合、左右のバネ５２に流れる電流Iが小さくなるので、磁束センサ５４が測定する磁束はゼロでもなく、Φmaxにもならない。すなわち、０〜Φmaxの値を取る。したがって、磁束センサ５４が検出する磁束が０又はΦmaxでない場合（０＜磁束＜Φmaxの場合）、接触異常があると判定できる。
【００８３】
図１４は、検査装置１００がバネ接点の接触異常を検知する手順を示すフローチャート図の一例である。
【００８４】
検査装置１００はプローブ５３を端子に接触させ、電圧印加部６１が電圧を印加する（Ｓ１０）。
【００８５】
次に、電流測定部６２は正極のプローブ５３から負極のプローブ５３に流れる電流値Iを測定する（Ｓ２０）。
【００８６】
次に、磁束測定部６８は磁束を測定する（Ｓ２２）。
【００８７】
次に、異常判定部６３は、磁束Φが、ゼロとほぼ等しいか、又は、Φmaxとほぼ等しいか否かを判定する（Ｓ３８）。
【００８８】
ゼロ又はΦmaxとほぼ等しい場合（Ｓ３８のＹｅｓ）、異常判定部６３は接触異常なしと判定し（Ｓ５０）、磁束ΦがゼロでもΦmaxでもない場合（Ｓ３８のＮｏ）、異常判定部６３は接触異常ありと判定する（Ｓ６０）。
【００８９】
したがって、本実施例の接触異常検出方法によれば、１つのセンサにおいて対に配置される２つのターミナル５１のバネ５２の巻き方向により生じる磁束の大きさを利用して、導通の有無だけでは検出できなかった不十分な接触状態を検出することができる。
【符号の説明】
【００９０】
１１      カバー
１２      基板
１３      筐体
１４      ブロック
２１      端子
２４      センサ本体
２５      センサパッド
５１      ターミナル
５２      バネ
５３      プローブ
１００    検査装置
２００    ＥＣＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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