(57)【要約】【課題】透視撮影モードから静止画撮影モードへの駆動切り替え後において、オフセット補正が施された放射線画像データを高速に表示する。【解決手段】第１の撮影部１０１は、透視撮影モードにより、放射線が照射されていない状態で暗画像データを撮影する。第２の撮影部１０２は、静止画撮影モードにより、放射線が照射された状態で放射線画像データを撮影する。解像度変換部１０３は、放射線画像データの解像度を低解像度化する。オフセット補正部１０５は、暗画像データに基づいて、低解像度化された放射線画像データに対するオフセット補正を行う。【選択図】図１
2014095559.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
透視撮影モードにより、放射線が照射されていない状態で暗画像データを撮影する第１の撮影手段と、
静止画撮影モードにより、放射線が照射された状態で放射線画像データを撮影する第２の撮影手段と、
前記放射線画像データの解像度を低解像度化する解像度変換手段と、
前記暗画像データに基づいて、前記解像度変換手段により低解像度化された放射線画像データに対するオフセット補正を行う補正手段とを有することを特徴とする放射線画像撮影装置。
【請求項２】
前記解像度変換手段は、前記放射線画像データの解像度を、前記暗画像データの解像度に変換することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項３】
前記補正手段によりオフセット補正処理が施された前記放射線画像データを出力する出力手段の解像度を取得する解像度取得手段を更に有し、
前記解像度変換手段は、前記放射線画像データの解像度を、前記解像度取得手段より取得された前記出力手段の解像度に変換することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項４】
前記第１の撮影手段における前記暗画像データの撮影処理に係る情報と、前記第２の撮影手段における前記放射線画像データの撮影処理に係る情報とを取得する撮影情報取得手段を更に有し、
前記補正手段は、前記撮影情報取得手段により取得された前記暗画像データの撮影処理に係る情報と前記放射線画像データの撮影処理に係る情報とに基づいてオフセット補正係数を算出し、前記オフセット補正係数を用いて前記放射線画像データに対するオフセット補正を行うことを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項５】
前記第１の撮影手段における前記暗画像データの撮影処理に係る情報は、前記第１の撮影手段における電荷の蓄積時間及び温度のうちの少なくとも何れか一つを含み、前記第２の撮影手段における前記放射線画像データの撮影処理に係る情報は、前記第２の撮影手段における電荷の蓄積時間及び温度のうちの少なくとも何れか一つを含むことを特徴とする請求項４に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記透視撮影モードにおける最終フレームの放射線画像データの撮影時点から、前記静止画撮影モードにおける前記放射線画像データの撮影時点までの経過時間に基づいて、前記暗画像データの残像量の減衰係数を算出し、前記減衰係数を用いて前記放射線画像データに対するオフセット補正を行うことを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項７】
前記暗画像データの残像量に基づいて、前記暗画像データに基づくオフセット補正の可否を判定する判定手段を更に有し、
前記補正手段は、前記判定手段により前記暗画像データに基づくオフセット補正が可能であると判定された場合、前記暗画像データに基づいて、前記放射線画像データに対するオフセット補正を行うことを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項８】
放射線画像撮影装置によって実行される放射線画像撮影方法であって、
透視撮影モードにより、放射線が照射されていない状態で暗画像データを撮影する第１の撮影ステップと、
静止画撮影モードにより、放射線が照射された状態で放射線画像データを撮影する第２の撮影ステップと、
前記放射線画像データの解像度を低解像度化する解像度変換ステップと、
前記暗画像データに基づいて、前記解像度変換ステップにより低解像度化された放射線画像データに対するオフセット補正を行う補正ステップとを有することを特徴とする放射線画像撮影方法。
【請求項９】
透視撮影モードにより、放射線が照射されていない状態で暗画像データを撮影する第１の撮影ステップと、
静止画撮影モードにより、放射線が照射された状態で放射線画像データを撮影する第２の撮影ステップと、
前記放射線画像データの解像度を低解像度化する解像度変換ステップと、
前記暗画像データに基づいて、前記解像度変換ステップにより低解像度化された放射線画像データに対するオフセット補正を行う補正ステップとをコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、暗画像データに基づいて放射線画像データに対するオフセット補正処理を行う技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、単結晶シリコンやアモルファスシリコンからなる固体撮像素子を二次元状に配列して構成した、ＦＰＤ（フラットパネルディテクタ）が広く実用化されている。このような画像取得装置は、医療機器においても放射線像の撮影を行う際に利用されている。
【０００３】
ＦＰＤでは、被写体透過後のＸ線等の放射線を蛍光体及び撮像素子によって電荷に変換し、ＴＦＴ（薄膜トランジスタ）をマトリクス駆動する。これにより、撮像素子に蓄積された電荷に基づく電気信号が読み出され、この電気信号に基づいて放射線画像データが生成される。このとき、読み出された電気信号には、電気信号の伝送経路上で発生した様々なオフセット成分が重畳するため、オフセット補正により、放射線画像データからオフセット成分を取り除く必要がある。一般に、ＦＰＤのオフセット成分は、センサや読み出し回路起因の電気的なオフセット成分、各素子の特性ばらつきによるオフセット成分、残像（前フレームの光履歴による影響）等がある。これらは、時間的変化、センサの温度変化及び撮影履歴等の影響を受けることが知られている。
【０００４】
特許文献１には、オフセット補正用に、撮影前に放射線を照射しない状態で画像データ（以下、暗画像データと称す）を取得しておくオフセット補正方法が開示されている。特許文献１に開示される方法では、撮影毎にオフセット補正用の暗画像データを更新する必要がないため、撮影動作を高速化することができるが、オフセット成分の時間変化には対応することができず、画質が劣化する可能性がある。このような画質劣化に対して、特許文献２には、被写体を撮影する毎に同じ撮影条件で且つ、放射線を照射しない状態で暗画像データを取得し、オフセット成分を補正するオフセット補正方法が開示されている。特許文献２に開示されるオフセット補正方法では、放射線画像データと暗画像データとの取得時刻が近いため、オフセット成分の時間変化を効果的に補正することができ、画質の向上を期待することができる。しかしながら、特許文献２に開示されるオフセット補正方法では、撮影の度に暗画像データを取得する必要があるため、撮影時間がかかるという問題がある。
【０００５】
特許文献３においては、上述した画質劣化の可能性及び撮影時間の解決方法として、撮影前に予め取得される第１の暗画像データと、撮影毎に取得される第２の暗画像データとを合成した画像データを用いるオフセット補正方法が開示されている。特許文献３に開示されるオフセット補正方法では、第１の暗画像データは高解像度で取得され、第２の暗画像データは低解像度で取得される。そして、第１の暗画像データに対し、撮影の度に取得される第２の暗画像データを合成することにより、画質劣化の改善を図っている。また、第２の暗画像データは、低解像度で取得されるため、取得にかかる時間が短くなり、特許文献２に開示されるオフセット補正方法に比べて、撮影動作の高速化を期待することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−２３６６６１号公報
【特許文献２】特開２００３−２４４５５７号公報
【特許文献３】特開２０１０−１７２４２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献３に開示されるオフセット補正方法では、以下のような問題がある。即ち、第２の暗画像データを放射線画像データの前に取得する必要があるため、放射線画像データの取得時間に遅延が生じる。さらに、オフセット補正に用いられる暗画像データとして第１の暗画像データと第２の暗画像データとを合成する際、第２の暗画像データの解像度を第１の暗画像データの解像度に合わせる高解像度化処理が行われる。そのため、オフセット補正処理に用いられる画像データ量は、特許文献１及び２に開示されるオフセット補正方法と変わらない。従って、画像処理は何ら高速化されない。このように、特許文献３に開示されるオフセット補正方法では、放射線画像データを表示するまでの時間は改善されていない。放射線画像データの表示が遅れると、技師の確認作業や医師の診断に遅れが生じ、病院でのワークフロー全体が長くなる大きなデメリットがある。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、透視撮影モードから静止画撮影モードへの駆動切り替え後において、オフセット補正が施された放射線画像データを高速に表示することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の放射線画像撮影装置は、透視撮影モードにより、放射線が照射されていない状態で暗画像データを撮影する第１の撮影手段と、静止画撮影モードにより、放射線が照射された状態で放射線画像データを撮影する第２の撮影手段と、前記放射線画像データの解像度を低解像度化する解像度変換手段と、前記暗画像データに基づいて、前記解像度変換手段により低解像度化された放射線画像データに対するオフセット補正を行う補正手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、透視撮影モードから静止画撮影モードへの駆動切り替え後において、オフセット補正が施された放射線画像データを高速に表示することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置の機能的な構成を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置のハードウェア構成を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置の処理を示すフローチャートである。
【図４】オフセット量平均値の特性を示す図である。
【図５】残像減衰特性を示す図である。
【図６】本発明の第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置の機能的な構成を示す図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置のハードウェア構成を示す図である。
【図８】本発明の第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置の処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明を適用した好適な実施形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１３】
先ず、本発明の第１の実施形態について説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置の機能的な構成を示す図である。図１に示すように、第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置１００は、第１の撮影部１０１、第２の撮影部１０２、解像度変換部１０３、撮影情報取得部１０４及びオフセット補正部１０５を備える。
【００１４】
第１の撮影部１０１は、透視撮影モードで放射線画像データ及び暗画像データを撮影する。第２の撮影部１０２は、静止画撮影モードで放射線画像データ及び暗画像データを撮影する。解像度変換部１０３は、第２の撮影部１０２から放射線画像データを入力し、低解像度化して静止画のプレビュー画像データとして出力する。撮影情報取得部１０４は、第１の撮影部１０１及び第２の撮影部１０２夫々から撮影情報を取得する。オフセット補正部１０５は、暗画像データに基づいて、放射線画像データのオフセット補正処理を実行し、オフセット補正処理後の放射線画像データを出力する。
【００１５】
図２は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１００のハードウェア構成を示す図である。本実施形態に係る放射線画像撮影装置１００は、図２に示すように、Ｘ線発生装置２００及び画像表示装置３００と接続されている。
【００１６】
Ｘ線発生装置２００は、被写体に向けてＸ線を照射する。放射線画像撮影装置１００は、被写体を透過した放射線を検出してデジタル信号に変換し、被写体の放射線画像データを取得する。画像表示装置３００は、放射線画像撮影装置１００から出力された放射線画像データを表示する。
【００１７】
放射線画像撮影装置１００は、制御部１１００、撮影部１２００、記憶部１３００及び画像処理部１４００を備える。制御部１１００は、Ｘ線発生装置２００及び撮影部１２００を制御する。また、制御部１１００は、第１の撮影駆動回路１２０１と第２の撮影駆動回路１２０２との間で駆動を切り替える。また、制御部１１００は、Ｘ線発生装置２００に対してＸ線の照射条件及び照射タイミングを制御するとともに、読み出し回路１２０４の出力先を制御する。
【００１８】
撮影部１２００は、第１の撮影駆動回路１２０１、第２の撮影駆動回路１２０２、センサ１２０３及び読み出し回路１２０４を含み、被写体の放射線情報を電気信号に変換し、放射線画像データを生成する。第１の撮影駆動回路１２０１と第２の撮影駆動回路１２０２とはそれぞれ、フレームレート、蓄積時間、撮影サイクル時間、解像度又はゲイン設定等が異なる撮影モードで駆動する。ここでは、第１の撮影駆動回路１２０１を透視撮影モードで駆動させ、第２の撮影駆動回路１２０２を静止画撮影モードで駆動させることを想定している。センサ１２０３は、放射線信号を可視光信号へ変換する蛍光体と、アモルファスシリコンから構成される固体撮像素子とが２次元平面上に格子状に配置されている。蛍光体としては、ＣｓＩ：ＴｌやＧｄ２O２Ｓ：Ｔｂ等がよく用いられる。蛍光体は、被写体を透過した放射線信号を可視光信号に変換し、固体撮像素子は、さらにその可視光信号を電荷信号に変換する。読み出し回路１２０４は、固体撮像素子に蓄積された電荷信号に基づくデジタル信号を読み出す。
【００１９】
記憶部１３００は、放射線画像格納部１３０１、暗画像格納部１３０２及び撮影情報格納部１３０３を備える。放射線画像格納部１３０１は、第１の撮影駆動回路１２０１及び第２の撮影駆動回路１２０２で取得された放射線画像データと、解像度変換回路１４０２により生成された静止画のプレビュー画像データとを格納する。暗画像格納部１３０２は、第１の撮影駆動回路１２０１及び第２の撮影駆動回路１２０２で取得された暗画像データを格納する。撮影情報格納部１３０３は、第１の撮影駆動回路１２０１及び第２の撮影駆動回路１２０２から撮影情報を取得して格納する。ここでいう撮影情報とは、電荷の蓄積時間、センサ温度又はフレームレート等を示す情報である。
【００２０】
画像処理部１４００は、撮影情報取得回路１４０１、解像度変換回路１４０２、オフセット補正処理回路１４０３、ゲイン補正処理回路１４０４、周波数処理回路１４０５、階調処理回路１４０６、欠陥補正処理回路１４０７、ＣＰＵ１４０８、ＲＡＭ１４０９及びＲＯＭ１４１０を備える。
【００２１】
撮影情報取得回路１４０１は、第１の撮影駆動回路１２０１及び第２の撮影駆動回路１２０２の撮影情報を撮影情報格納部１３０３から取得する。解像度変換回路１４０２は、第２の撮影駆動回路１２０２で取得された放射線画像データを低解像度化して静止画のプレビュー画像データを生成する。オフセット補正処理回路１４０３は、暗画像データに基づいて、放射線画像データのオフセット補正処理を行う。ゲイン補正処理回路１４０４は、予め被写体なしで取得されたキャリブレーション画像データに基づいて、ゲイン補正処理を行う。周波数処理回路１４０５は、周波数強調処理及びノイズ抑制処理等の画像処理を行う。階調処理回路１４０６は、撮影時の線量情報及び被写体の部位情報等に基づいて、階調処理を行う。欠陥補正処理回路１４０７は、予め取得された欠陥データに基づいて、欠陥補正を行う。なお、画像処理部１４００は、ＣＰＵがソフトウェアを実行することにより実現される構成としてもよいし、専用の処理ボードで構成してもよい。
【００２２】
図１における第１の撮影部１０１及び第２の撮影部１０２は夫々、図２における第１の撮影駆動回路１２０１及び第２の撮影駆動回路１２０２に対応する構成である。また、図１における解像度変換部１０３は、図２における解像度変換回路１４０２に対応する構成である。また、図１における撮影情報取得部１０４は、図２における撮影情報取得回路１４０１に対応する構成である。また、図１におけるオフセット補正部１０５は、図２におけるオフセット補正処理回路１４０３に対応する構成である。
【００２３】
次に、図３を参照しながら、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１００の処理について説明する。以下の説明において、プレビュー画像データとは、放射線画像データ撮影後、その撮影が正しく行われたか（階調が正しく適用されているか、照射野が正しく認識されているか、体動による画像のブレがないか等）を確認するために使用される画像データである。プレビュー画像データは、診断そのものには使用されないため、画像処理としては必要な処理だけを適用して生成すればよい。このようなプレビュー画像データに対し、診断が目的の高画質の画像データのことを本画像データと称す。本画像データは診断に使用されるため、全ての画像処理を適用して生成する必要がある。なお、図３に示す処理は、図２のＣＰＵ１４０８がＲＯＭ１４１０から必要はプログラム及びデータを読み出して実行することにより実現する処理である
【００２４】
ステップＳ３０１において、第１の撮影部１０１は、透視駆動モードで連続的に被写体が撮影された際の最終フレームの暗画像データ（以下、透視の暗画像データと称す）を取得する。即ち、ステップＳ３０１において取得される暗画像データは、透視撮影モードにおいて最終フレームの放射線画像データが取得された後、当該放射線画像データ撮影と同じ電荷の蓄積時間であって、且つ、放射線が照射されていない状態で取得される暗画像データである。この透視の暗画像データ撮影時の電荷の蓄積時間、温度及びフレームレート等の撮影情報は、撮影情報格納部１３０３において格納される。
【００２５】
ステップＳ３０２において、第２の撮影部１０２は、静止画の放射線画像データを取得する。この静止画の放射線画像データ撮影時における電荷の蓄積時間、温度、フレームレート及び前回撮影からの経過時間等の撮影情報は、撮影情報格納部１３０３において記録される。
【００２６】
ステップＳ３０３において、オフセット補正部１０５は、ステップＳ３０１で取得された透視の暗画像データの残像（前フレームの光履歴による影響）量を演算することにより、当該透視の暗画像データを用いたオフセット補正処理の実施可否を判定する。これは、残像量が多い場合、オフセット補正処理の際、透視の暗画像データの残像部分に対応する静止画の放射線画像データの領域から画素値を引きすぎてしまい、オフセット補正処理を適切に実施することができないからである。なお、残像量の演算手法としては、どのような手法を用いてもよい。例えば、透視の暗画像データに対してソーベルフィルタを適用し、エッジ抽出を行った後、エッジ部分に囲まれた領域とその近傍の領域とを分類し、透視の暗画像データ上のそれぞれの領域における画素値の平均値の差分を残像量δとする手法が挙げられる。エッジ部分に囲まれた領域をエッジ内領域、エッジ内領域外でエッジの近傍にある領域をエッジ外近傍領域と呼び、座標（ｘ，ｙ）における画素値をＰＶ（ｘ，ｙ）とすると、残像量δは、次の式１で表わされる。
【００２７】
【数１】
2014095559.tif 000003
【００２８】
なお、エッジ外近傍領域は、エッジから最大で１０画素の範囲内とする。ステップＳ３０３において、オフセット補正部１０５は、演算された残像量と予め設定された閾値とを比較し、演算された残像量が閾値以下であるか否かを判定する。残像量が閾値以下である場合、オフセット補正部１０５は、透視の暗画像データを用いてオフセット補正処理を実施することが可能であると判定する。この場合、処理はステップＳ３０４に移行する。
【００２９】
ステップＳ３０４において、オフセット補正部１０５は、オフセット補正処理の対象として、静止画の放射線画像データと透視の暗画像データとを選択する。そして、解像度変換部１０３は、静止画の放射線画像データの解像度を透視の暗画像データの解像度に変換することにより、静止画のプレビュー画像データを生成する。ここでは、解像度変換方法として透視駆動モードにおけるビニング方法を使用するものとする。例えば、透視撮影モードが２ｘ２ビニングである場合を例に挙げると、透視撮影モードでは、有効画素領域内で隣接する４画素単位のブロックを生成し、各ブロック内の４画素を平均した画素値を解像度変換後の１画素の画素値とすることで２ｘ２ビニングが実現される。このとき、画面端等４画素単位のブロックが生成できない領域の画素については使用しない。または、透視撮影モードにおいて、有効画素領域内で隣接する４画素単位のブロックを生成し、ブロック内の１画素をブロックの代表値として選択することによる２ｘ２ビニングを実現してもよい。
【００３０】
一方、透視の暗画像データの残像量が閾値より多い場合、解像度変換部１０３は、透視の暗画像データを用いてオフセット補正処理を実施することができないと判定する。この場合、処理はステップＳ３０５に移行する。
【００３１】
ステップＳ３０５において、オフセット補正部１０５は、オフセット補正処理の対象として、静止画の放射線画像データと静止画の暗画像データとを選択する。ここでいう静止画の暗画像データとは、上記静止画の放射線画像データに続けて、当該放射線画像データ撮影時と同じ電荷の蓄積時間であって、且つ、放射線を照射しない状態で取得された画像データである。
【００３２】
ステップＳ３０６において、オフセット補正部１０５は、撮影情報取得部１０４により取得された撮影情報、即ち、電荷の蓄積時間及びセンサ温度に基づいて、オフセット補正係数Ｃ１を演算する。
【００３３】
なお、ステップＳ３０３において、透視の暗画像データの残像量が閾値以下であると判定された場合、透視の暗画像データと静止画の放射線画像データとで異なるオフセット量を補正する必要が生じる。オフセット補正部１０５は、透視撮影モードと静止画撮影モードとのそれぞれにおいて電荷の蓄積時間をパラメータとしたオフセット量平均値の特性をセンサ温度毎に予め取得しておいたものを用いて演算を行う。例えば、透視撮影モードにおいて、図４に示すような線形な特性が得られた場合、予めセンサ温度Ｔ0［℃］で測定された電荷の蓄積時間ｔ0、ｔ1におけるオフセット量平均値をＡ0、Ａ1とすると、センサ温度Ｔ0［℃］及び透視の暗画像データの電荷の蓄積時間ｔにおけるオフセット量平均値Ａは、次の式２により算出される。
Ａ＝（Ａ1−Ａ0）／（ｔ1−ｔ0）×（ｔ−ｔ0）＋Ａ0・・・式２
【００３４】
同様に、オフセット補正部１０５は、静止画撮影モードでも同様の演算を行い、センサ温度Ｔ´0［℃］、電荷の蓄積時間ｔ´におけるオフセット量平均値Ｂを得る。そして、オフセット補正部１０５は、オフセット補正係数Ｃ1を、次の式３により算出する。
Ｃ1＝Ｂ−Ａ・・・式３
【００３５】
なお、ステップＳ３０３において、透視の暗画像データの残像量が閾値より多いと判定された場合、オフセット補正部１０５は、オフセット補正係数Ｃ１を、次の式４により算出する。
Ｃ1＝０・・・式４
【００３６】
これは、ステップＳ３０３において、透視の暗画像データの残像量が閾値より多いと判定された場合、オフセット補正部１０５は、透視の暗画像データではなく、静止画の暗画像データをオフセット補正に用いる。そのため、オフセット量平均値の調整が不要となるためである。
【００３７】
ステップＳ３０７において、オフセット補正部１０５は、第１の撮影部１０１による最終フレーム撮影時における放射線照射から第２の撮影部１０２による静止画の放射線画像データ撮影時の放射線照射までの経過時間ｔ´´に基づいて、残像減衰係数Ｃ2を演算する。例えば、図５に示すような残像減衰特性が得られたとする。図５の縦軸は、第１の撮影部１０１により撮影された最終フレームの残像量を１とした場合の残像量比を示し、図５の横軸は、最終フレーム取得時からの経過時間を示し、αは予め測定された係数である。残像減衰係数Ｃ2は、第１の撮影部１０１による最終フレーム撮影時における放射線照射からｔ´´［ｍｓ］後に、第２の撮影部１０２により静止画の放射線画像データ撮影時の放射線照射が行われた場合、残像減衰係数Ｃ2は、次の式５により算出される。
Ｃ2＝ｅｘｐ（−αｔ）・・・式５
【００３８】
オフセット補正部１０５は、ステップＳ３０３にて演算したエッジ部分に囲まれた領域内にのみ残像減衰係数Ｃ2を適用する。ｔが十分大きい場合（例えば、１０分を超えるような場合）、残像は既に十分減衰し画像に悪影響を及ぼさないため、１０分以上のｔについては、残像減衰係数Ｃ2は次の式６により与えられる。
Ｃ2＝０・・・式６
【００３９】
ステップＳ３０８において、オフセット補正部１０５は、ステップＳ３０６及びＳ３０７でそれぞれ演算されたオフセット補正係数Ｃ1及び残像減衰係数Ｃ2に基づいて、オフセット補正処理を実行する。ステップＳ３０３において、透視の暗画像データの残像量が閾値以下であると判定された場合、オフセット補正処理は、次の式７により表される。
（オフセット補正処理後の静止画のプレビュー画像データ）＝（静止画のプレビュー画像データ）−Ｃ2×｛（透視の暗画像データ）＋Ｃ1｝・・・式７
但し、残像減衰係数Ｃ2の適用範囲は、ステップＳ３０３において演算されたエッジ部分に囲まれた領域内のみとする。
【００４０】
一方、ステップＳ３０３において、透視の暗画像データの残像量が閾値より多いと判定された場合、オフセット補正処理は、次の式８により表される。
（オフセット補正処理後の静止画の放射線画像データ）＝（静止画の放射線画像データ）−Ｃ2×｛（静止画の暗画像データ）＋Ｃ1（＝０）｝・・・式８
【００４１】
ステップＳ３０９において、放射線画像撮影装置１００は、ステップＳ３０８にて生成されたオフセット補正処理後の静止画のプレビュー画像データ又はオフセット補正処理後の静止画の放射線画像データに対して、オフセット補正処理以外の画像処理を実行する。これにより、プレビュー画像データ又は本画像データが生成される。即ち、ステップＳ３０８において、オフセット補正処理後の静止画のプレビュー画像データが生成された場合、プレビュー画像データが生成される。一方、ステップＳ３０８において、オフセット補正処理後の静止画の放射線画像データが生成された場合、本画像データが生成される。
【００４２】
ステップＳ３１０において、放射線画像撮影装置１００は、ステップＳ３０９で生成されたプレビュー画像データ又は本画像データを画像表示装置３００に転送し、表示させる。
【００４３】
第１の実施形態によれば、透視撮影モードから静止画撮影モードに駆動を切り替える際において、透視の暗画像データの残像量が閾値以下である場合、透視の暗画像データを用いてオフセット補正処理を実行するようにしている。これにより、オフセット補正処理が施されたプレビュー画像データを高速に表示させることが可能となる。
【００４４】
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。図６は、第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置の機能的な構成を示す図である。図６に示すように、第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置６００の機能的な構成としては、図１に示した第１の実施形態に係る放射線画像撮影装置１００に対して出力情報取得部６０６が追加された構成である。また、図７に示すように、第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置６００のハードウェア構成としては、図２に示した第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置１００のハードウェア構成に対して出力情報取得回路１４１１が追加された構成である。即ち、図６における出力情報取得部６０６と図７における出力情報取得回路１４１１とは対応する構成である。なお、出力情報取得部６０６及び出力情報取得回路１４１１は、解像度取得手段の例となる構成である。
【００４５】
図８は、第２の実施形態に係る放射線画像撮影装置６００の処理を示すフローチャートである。なお、図８において、ステップＳ３０１〜Ｓ３０３及びステップＳ３０５〜Ｓ３１０は夫々、図３のステップＳ３０１〜Ｓ３０３及びステップＳ３０５〜Ｓ３１０と同様の処理であるため、これらの説明は省略する。なお、図８に示す処理は、図７のＣＰＵ１４０８がＲＯＭ１４１０から必要はプログラム及びデータを読み出して実行することにより実現する処理である
【００４６】
ステップＳ８０４において、出力情報取得部６０６は、画像表示装置３００の解像度を取得する。透視の暗画像データの解像度が画像表示装置３００の解像度より大きい場合、解像度変換部１０３は、透視の暗画像データ及び静止画の放射線画像データの解像度を夫々、画像表示装置３００の解像度に変換するための縮小率を演算する。縮小率の演算方法としては、どのような演算方法を採用してもよいが、例えば、透視の暗画像データの縦の画素数をＸ１とし、横の画素数をＹ１とし、また、画像表示装置３００の縦の画素数をＸ２とし、横の画素数をＹ２とした場合、縦の縮小率βｘ及び横の縮小率βｙを夫々、次の式９及び式１０のように算出する方法が挙げられる。
βｘ＝Ｘ２／Ｘ１・・・式９
βｙ＝Ｙ２／Ｙ１・・・式１０
なお、静止画の放射線画像データの縮小率も同様の方法で算出される。このようにして解像度が変換された透視の暗画像データ及び静止画の放射線画像データがステップＳ３０６以降の処理において使用されることになる。
【００４７】
一方、透視の暗画像データの解像度が画像表示装置３００の解像度より小さい場合、第１の実施形態と同様に、静止画の放射線画像データが透視の暗画像データの解像度に変換され、ステップＳ３１０では、透視の暗画像データの解像度のままプレビュー画像データが画像表示装置３００に対して出力されることになる。
【００４８】
第２の実施形態によれば、画像表示装置３００の解像度に依らず、オフセット補正処理を実行することが可能となり、プレビュー画像データを高速に表示させることができる。
【００４９】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００５０】
１００、６００：放射線画像撮影装置、１０１：第１の撮影部、１０２：第２の撮影部、１０３：解像度変換部、１０４：撮影情報取得部、１０５：オフセット補正部、６０６：出力情報取得部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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