(57)【要約】      （修正有）【課題】ミックスド・ドメイン・オシロスコープの測定能力を拡張できる改善されたトリガ技術を提供する。【解決手段】オシロスコープは、第１領域において第１信号を処理し、第２領域において第２信号を処理するよう構成される。その方法は、第１及び第２信号の夫々を処理する異なる領域を選択する処理を含む。選択された複数の領域のいずれかに関する所望トリガ形式が選択される。第１及び第２信号は、選択トリガ形式のトリガの発生に応答して取り込まれる。第１及び第２信号は、選択された異なる選択領域に応じて処理される。【選択図】図２Ａ
2014025941.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１信号を第１領域において、第２信号を第２領域において処理するよう構成されたオシロスコープにトリガをかける方法であって、
上記第１及び第２信号の夫々を処理する異なる領域を夫々選択するステップと、
上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択所望トリガ形式のトリガの発生に応答して上記第１及び第２信号を取込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するステップと
を具えるトリガ方法。
【請求項２】
１つの信号を第１領域及び第２領域において処理するよう構成されたオシロスコープにトリガをかける方法であって、
上記信号を処理する２つの異なる領域を選択するステップと、
上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択所望トリガ形式のトリガの発生に応答して上記信号を取込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するステップと
を具えるトリガ方法。
【請求項３】
第１信号を第１領域において、第２信号を第２領域において処理するよう構成されたミックスド・ドメイン試験測定装置であって、
上記第１及び第２信号の夫々を処理するための異なる領域が夫々選択されるべく、領域選択が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記第１及び第２信号並びに所望トリガ形式に基いてトリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を与えられるよう構成され、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記第１及び第２信号を取り込むように構成され、
上記プロセッサは、上記異なる選択領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するよう構成されることを特徴とするミックスド・ドメイン試験測定装置。
【請求項４】
１つの信号を第１領域及び第２領域において処理するよう構成されたミックスド・ドメイン試験測定装置であって、
上記信号を処理するための２つの異なる領域の選択が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記信号及び所望トリガ形式に基いてトリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を与えられるよう構成され、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記信号を取り込むように構成され、
上記プロセッサは、上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するよう構成されることを特徴とするミックスド・ドメイン試験測定装置。
【請求項５】
時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域のいずれかにおいて、複数の信号を夫々処理するよう構成されオシロスコープにトリガをかける方法であって、
上記複数の信号の夫々を処理する領域を選択するステップと、
上記複数の信号の夫々の領域について所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記複数の信号を取込むステップと、
上記選択信号領域に応じて上記複数の信号を処理するステップと
を具えるトリガ方法。
【請求項６】
時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域から選択された複数の領域において１つの信号を処理するように構成されたオシロスコープにトリガをかける方法であって、
上記信号を処理するための２つの異なる領域を選択するステップと、
上記選択領域の夫々について所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記信号を取り込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するステップと
を具えるトリガ方法。
【請求項７】
周波数領域において第１信号及び第２信号を処理するよう構成されたオシロスコープにトリガをかけるための方法であって、
上記第１及び第２信号の夫々について異なる所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記第１及び第２信号を取込むステップと、
上記周波数領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するステップと
を具えるトリガ方法。
【請求項８】
周波数領域において第１信号及び第２信号を処理するよう構成された試験測定装置であって、
上記第１及び第２信号の夫々について異なる所望トリガ形式が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記第１及び第２信号並びに上記所望トリガ形式に基いて、トリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記第１及び第２信号を取り込むよう構成され、
上記プロセッサは、上記周波数領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するよう構成されることを特徴とする試験測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定装置に関し、特に、ミックスド・ドメイン・オシロスコープ用のトリガ技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
現代のデジタル・オシロスコープは、所与の入力信号の時間領域（時間ドメイン）波形を生成する能力を提供する。伝統的に、トリガ処理に関しては時間領域の現象の評価に限定されていた。同様に、リアルタイム・スペクトラム・アナライザは、周波数領域（周波数ドメイン）の現象の評価に的を絞っており、時間領域の基準（外部ゲートなど）は限定的で補助的なものであった。また、ワイヤレス・コミュニケーション・アナライザは、信号を取り込んで復調し、変調領域特性を評価する。ミックスド・ドメイン・オシロスコープを導入すれば、時間及び周波数領域の両方の観点から同時に、時間を相互に関係させつつ信号を取込み及び表示し、モニタ（監視）できる。米国テクトロニクス社から入手できるＭＤＯ４０００シリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープが、こうしたミックスド・ドメイン・オシロスコープとして知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−０５７６６３号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】テクトロニクスによるＭＤＯ４０００シリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープのホームページ［オンライン］、［２０１３年７月２９日検索］インターネット<http://www1.tek.com/ja/products/oscilloscopes/mdo4000/>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、既存のミックスド・ドメイン・オシロスコープは、十分なトリガ機能が欠けている。従って、この新しい種類の装置の測定能力を拡張できる改善されたトリガ技術を提供するというニーズが存在している。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
オシロスコープにトリガをかける方法が開示される。このオシロスコープは、第１信号を第１領域で処理し、第２信号を第２領域で処理する。この方法には、第１及び第２信号の夫々を処理するために異なる領域（ドメイン）を夫々選択する処理が含まれる。選択された領域について、所望のトリガ形式が選択される。第１及び第２信号は、選択されたトリガ形式のトリガの発生に応答して取り込まれる。第１及び第２信号は、選択された異なる領域に応じて処理される。この方法は、上記処理の結果を表示画面上に表示する処理を含んでいても良い。
【０００７】
第１領域及び第２領域は、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域及び変調領域のいずれかとしても良い。トリガは、第１及び第２領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせに基いても良い。トリガは、第１及び第２領域で生じる複数のイベントのシーケンス（連続的な事象）に基いても良い。トリガは、第１及び第２領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基いても良い。トリガは、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガは、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガは、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。
【０００８】
オシロスコープにトリガをかける別の方法も開示される。このオシロスコープは、１つの信号を第１領域と第２領域で処理するよう構成される。この方法は、この信号を処理する２つの異なる領域を選択する処理を含む。選択された領域のいずれかに関する所望のトリガ形式が選択される。この信号は、選択されたトリガ形式のトリガの発生に応答して取り込まれる。信号は、選択された異なる領域に応じて処理される。この方法は、上記処理の結果を表示画面上に表示する処理を含んでいても良い。
【０００９】
ミックスド・ドメイン試験測定装置が開示される。この装置は、第１信号を第１領域で処理し、第２信号を第２領域で処理する。この装置は、領域選択を与えられるよう構成されたプロセッサを含み、このとき、第１及び第２信号の夫々を処理するために、異なる領域が夫々選択される。プロセッサは、選択された領域に関して所望のトリガ形式を与えられるように構成される。トリガ検出部は、第１及び第２信号並びに所望トリガ形式に基づいてトリガ出力信号を生成するように構成される。プロセッサは、トリガ出力信号に応答して第１及び第２信号を取り込むように構成される。プロセッサは、選択された異なる領域に応じて第１及び第２信号を処理するよう構成される。この装置は、上記処理の結果を表示する表示画面を含んでいても良い。
【００１０】
第１領域及び第２領域は、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域及び変調領域のいずれかとしても良い。トリガ出力信号は、第１及び第２領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせに基いても良い。トリガ出力信号は、第１及び第２領域で生じる複数のイベントのシーケンス（連続的な事象）に基いても良い。トリガ出力信号は、第１及び第２領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基いても良い。トリガ出力信号は、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガ出力信号は、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガ出力信号は、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。トリガ出力信号は、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。
【００１１】
別のミックスド・ドメイン試験測定装置も開示される。この装置は、１つの信号を第１領域と第２領域で処理するよう構成される。この装置は、この信号を処理する２つの異なる領域の選択を与えられるプロセッサを含む。このプロセッサは、選択された領域のいずれかに関する所望のトリガが与えられるよう構成される。トリガ検出部は、この信号及び所望トリガ形式に基づいてトリガ出力信号を生成するように構成される。プロセッサは、トリガ出力信号に応答して信号を取り込むように構成される。プロセッサは、選択された異なる領域に応じて信号を処理するよう構成される。この装置は、上記処理の結果を表示する表示画面を含んでいても良い。
【００１２】
オシロスコープにトリガをかける別の方法も開示されている。このオシロスコープは、第１信号及び第２信号を周波数領域で処理するよう構成される。この方法は、第１信号及び第２信号の夫々に関して異なる所望トリガ形式を選択する処理を含む。第１信号及び第２信号は、選択されたトリガ形式のトリガの発生に応答して取り込まれる。第１及び第２信号は、周波数領域に応じて処理される。
【００１３】
この方法は、上記処理の結果を表示画面上に表示する処理を含んでいても良い。トリガは、上記周波数領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせに基いても良い。トリガは、上記周波数領域で生じる複数のイベントのシーケンスに基いても良い。トリガは、上記周波数領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基いても良い。トリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。
【００１４】
別の試験測定装置も開示される。この装置は、第１信号及び第２信号を周波数領域で処理するよう構成される。この装置は、第１信号及び第２信号の夫々に関して異なる所望トリガ形式の選択を与えられるよう構成されたプロセッサを含む。トリガ検出部は、第１及び第２信号並びに所望トリガ形式に基いて、トリガ出力信号を生成するよう構成される。プロセッサは、トリガ出力信号に応答して第１及び第２信号を取り込むように構成される。プロセッサは、周波数領域に応じて第１及び第２信号を処理するよう構成される。
【００１５】
この装置は、上記処理の結果を表示する表示画面を含んでいても良い。トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせに基いても良い。トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数のイベントのシーケンスに基いても良い。トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数のイベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基いても良い。トリガ出力信号は、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いても良い。
【００１６】
本発明の概念１は、オシロスコープにトリガをかける方法であって、上記オシロスコープは、第１信号を第１領域において、第２信号を第２領域において処理するよう構成されており、上記方法が、
上記第１及び第２信号の夫々を処理する異なる領域を夫々選択するステップと、
上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択所望トリガ形式のトリガの発生に応答して上記第１及び第２信号を取込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するステップと
を具えている。
【００１７】
本発明の概念２は、上記概念１の方法であって、上記処理の結果を表示画面上に表示するステップを更に具えている。
【００１８】
本発明の概念３は、上記概念１の方法であって、このとき、上記第１領域及び第２領域は、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域及び変調領域のいずれかであることを特徴としている。
【００１９】
本発明の概念４は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００２０】
本発明の概念５は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００２１】
本発明の概念６は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００２２】
本発明の概念７は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００２３】
本発明の概念８は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００２４】
本発明の概念９は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００２５】
本発明の概念１０は、上記概念１の方法であって、このとき、上記トリガは、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００２６】
本発明の概念１１は、オシロスコープにトリガをかける方法であって、上記オシロスコープは、１つの信号を第１領域及び第２領域において処理するよう構成されており、上記方法が、
上記信号を処理する２つの異なる領域を選択するステップと、
上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択所望トリガ形式のトリガの発生に応答して上記信号を取込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するステップと
を具えている。
【００２７】
本発明の概念１２は、上記概念１１の方法であって、上記処理の結果を表示画面上に表示するステップを更に具えている。
【００２８】
本発明の概念１３は、第１信号を第１領域において、第２信号を第２領域において処理するよう構成されたミックスド・ドメイン試験測定装置であって、該装置は、
上記第１及び第２信号の夫々を処理するための異なる領域が夫々選択されるべく、領域選択が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記第１及び第２信号並びに所望トリガ形式に基いてトリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を与えられるよう構成され、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記第１及び第２信号を取り込むように構成され、
上記プロセッサは、上記異なる選択領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するよう構成されることを特徴としている。
【００２９】
本発明の概念１４は、上記概念１３の装置であって、上記処理の結果を表示するよう構成された表示画面を更に具えている。
【００３０】
本発明の概念１５は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記第１領域及び第２領域が、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域及び変調領域のいずれかであることを特徴としている。
【００３１】
本発明の概念１６は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００３２】
本発明の概念１７は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００３３】
本発明の概念１８は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記第１及び第２領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００３４】
本発明の概念１９は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００３５】
本発明の概念２０は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００３６】
本発明の概念２１は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００３７】
本発明の概念２２は、上記概念１３の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００３８】
本発明の概念２３は、１つの信号を第１領域及び第２領域において処理するよう構成されたミックスド・ドメイン試験測定装置であって、該装置は、
上記信号を処理するための２つの異なる領域の選択が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記信号及び所望トリガ形式に基いてトリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記選択領域の夫々に関して所望トリガ形式を与えられるよう構成され、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記信号を取り込むように構成され、
上記プロセッサは、上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するよう構成されることを特徴としている。
【００３９】
本発明の概念２４は、概念２３の装置であって、上記処理の結果を表示するよう構成された表示画面を更に具えている。
【００４０】
本発明の概念２５は、オシロスコープにトリガをかける方法であって、上記オシロスコープは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域のいずれかにおいて、複数の信号を夫々処理するよう構成されており、上記方法が、
上記複数の信号の夫々を処理する領域を選択するステップと、
上記複数の信号の夫々の領域について所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記複数の信号を取込むステップと、
上記選択信号領域に応じて上記複数の信号を処理するステップと
を具えている。
【００４１】
本発明の概念２６は、概念２５の方法であって、上記処理の結果を表示画面上に表示するステップを更に具えている。
【００４２】
本発明の概念２７は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００４３】
本発明の概念２８は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域で生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００４４】
本発明の概念２９は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００４５】
本発明の概念３０は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００４６】
本発明の概念３１は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００４７】
本発明の概念３２は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００４８】
本発明の概念３３は、概念２５の方法であって、このとき、少なくとも１つのトリガは、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００４９】
本発明の概念３４は、オシロスコープにトリガをかける方法であって、上記オシロスコープは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域から選択された複数の領域において１つの信号を処理するように構成されており、上記方法が、
上記信号を処理するための２つの異なる領域を選択するステップと、
上記選択領域の夫々について所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記信号を取り込むステップと、
上記異なる選択領域に応じて上記信号を処理するステップと
を具えている。
【００５０】
本発明の概念３５は、概念３４の方法であって、上記処理の結果を表示画面上に表示するステップを更に具えている。
【００５１】
本発明の概念３６は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域において生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００５２】
本発明の概念３７は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域において生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００５３】
本発明の概念３８は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、時間領域、周波数領域、ＲＦ時間領域又は変調領域において生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００５４】
本発明の概念３９は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、エッジ、幅、タイムアウト、パルス幅、ロジック（論理演算）、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバスといった時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００５５】
本発明の概念４０は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００５６】
本発明の概念４１は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間といったＲＦ時間領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００５７】
本発明の概念４２は、概念３４の方法であって、このとき、上記トリガは、コンスタレーション・マスク・イベント、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）、変調エラー比及びシンボル・エラー・カウント／レートといった変調領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００５８】
本発明の概念４３は、オシロスコープにトリガをかけるための方法であって、上記オシロスコープは、周波数領域において第１信号及び第２信号を処理するよう構成されており、上記方法が、
上記第１及び第２信号の夫々について異なる所望トリガ形式を選択するステップと、
上記選択トリガ形式のトリガの発生に応答して上記第１及び第２信号を取込むステップと、
上記周波数領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するステップと
を具えている。
【００５９】
本発明の概念４４は、概念４３の方法であって、上記処理の結果を表示画面上に表示するステップを更に具えている。
【００６０】
本発明の概念４５は、概念４３の方法であって、このとき、上記複数トリガは、上記周波数領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００６１】
本発明の概念４６は、概念４３の方法であって、このとき、上記複数トリガは、上記周波数領域で生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００６２】
本発明の概念４７は、概念４３の方法であって、このとき、上記複数トリガは、上記周波数領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００６３】
本発明の概念４８は、概念４３の方法であって、このとき、上記複数のトリガは、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【００６４】
本発明の概念４９は、周波数領域において第１信号及び第２信号を処理するよう構成された試験測定装置であって、該装置は、
上記第１及び第２信号の夫々について異なる所望トリガ形式が与えられるよう構成されるプロセッサと、
上記第１及び第２信号並びに上記所望トリガ形式に基いて、トリガ出力信号を生成するよう構成されるトリガ検出部と
を具え、
上記プロセッサは、上記トリガ出力信号に応答して上記上記第１及び第２信号を取り込むよう構成され、
上記プロセッサは、上記周波数領域に応じて上記第１及び第２信号を処理するよう構成されることを特徴としている。
【００６５】
本発明の概念５０は、概念４９の装置であって、上記処理の結果を表示するよう構成された表示画面を更に具えている。
【００６６】
本発明の概念５１は、概念４９の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせに基づいている。
【００６７】
本発明の概念５２は、概念４９の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数イベントのシーケンスに基づいている。
【００６８】
本発明の概念５３は、概念４９の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、上記周波数領域で生じる複数イベントの論理的組み合わせ及びシーケンスに基づいている。
【００６９】
本発明の概念５４は、概念４９の装置であって、このとき、上記トリガ出力信号は、周波数マスク及び周波数密度といった周波数領域イベントの少なくとも１つに基いている。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】図１は、複数の表示エリアに分割された表示装置を有するミックスド・ドメイン・オシロスコープのブロック図である。
【図２Ａ】図２Ａは、トリガ検出部のブロック図の一部分である。
【図２Ｂ】図２Ｂは、トリガ検出部のブロック図の残りの部分である。
【図３】図３は、各領域における種々のトリガ形式を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００７１】
本願では、この新しい種類の装置で可能となる種々の複合トリガ機能を１つ１つ列挙する。加えて、本願は、従来実現されていない単一領域（ドメイン）のいくつかのバリエーションを開示する。
【００７２】
ミックスド・ドメイン・オシロスコープは、４つの形式のデータをリアルタイムで視覚化できる。１）時間領域：例えば、伝統的なオシロスコープのＴ対Ｖ信号、２）周波数領域：例えば、時間領域信号からＦＦＴによって導かれる。３）ＲＦ時間領域：例えば、時間領域信号からＩＱデータ処理によって導かれる。４）変調領域データ：ＲＦ時間領域信号から復調によって導かれる。
【００７３】
オシロスコープのような測定装置は、一般に３つの方法のいずれかでトリガを生成できる。１）単一チャンネル：例えば、エッジや周波数変化のような識別可能な現象について、単一の信号を観測する。２）複数チャンネルの論理演算（Logic）：例えば、論理状態やセットアップ／ホールド違反のような識別可能な現象の組み合わせに関して複数の入力信号を観測するもので、複数チャンネルの論理的判定基準は、例えば、ＡＮＤ、ＯＲ、ＮＡＮＤ、ＮＯＲ若しくはこれらのいくつかの組み合わせなど、論理的に組み合わせることができる。又は、３）複数チャンネルのシーケンス：例えば、特定のシリアル・ワードがあるチャンネルで認識された後における、もう１つのチャンネルでの電圧ディップ（一時的低下）というように、識別可能な現象のシーケンス（連続的な事象）に関して複数の入力信号を観測する。複数チャンネル・シーケンス・トリガのバリエーション（変化形）が、単一チャンネル・シーケンス・トリガであり、このとき、複数イベントのシーケンスが単一チャンネルについて定義されることに注意されたい。
【００７４】
図１は、ミックスド・ドメイン・オシロスコープ１０のブロック図であり、表示装置１２を有し、これは、複数の表示エリア（グリッド）１４、１６に分割されている。グリッド１４、１６は、少なくとも１つの波形２４、２６と、例えば、軸、グラフィカル情報及びテキストなど、他のグラフィカルな指標３４、３６をグラフィカルに表示するよう構成される。オシロスコープ１０には、ユーザの入力用に構成された複数のユーザ・コントローラ１８と、試験信号などを受けるように構成される複数の電気入力端子２０などもある。この例では、ユーザ・コントローラ１８は、ズーム係数及びパン位置（ズーム・ボックスの位置）を変化させるよう構成されたズーム入力１７（内側ノブ）及びパン入力１９（外側ノブ）を含む。
【００７５】
この例では、オシロスコープ１０は、スタンドアロン（単独型）ユニットとして実現されており、信号取込み（アクジション）システム２１には、プログラム情報及びデータを蓄積するよう構成された関連するメモリ２３を有するプロセッサ２２が含まれている。プロセッサ２２は、当然ながら、Ｉ／Ｏ、グラフィック生成ハードウェアなどの付加的な回路に結合されていても良い。プロセッサ２２は、ユーザ・コントローラ１８からの複数の入力の少なくとも一部分を受けるように構成される。アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２５は、電気入力端子２０で受けた信号をデジタル化するよう構成される。トリガ検出部（トリガ・システム）２７は、後述するように、信号取込み処理を制御するタイミング信号を供給する。種々のトリガ・モードが、米国特許第７,１９１,０７９号に開示されており、これはここに全部含まれている。
【００７６】
また、プロセッサ２２は、グリッド１４、１６内に表示される情報の少なくとも一部分を生成するよう構成される。オシロスコープは、例えば、デスクトップ、ラップトップ、タブレット、スマートフォンその他のコンピュータ・デバイスを用いて実現される実施形態を含む種々のハードウェア及びソフトウェアを用いて実現されても良く、当然ながら、これらシステムの中には、表示装置を提供するものもあるが、提供しないものもあり、また、表示装置を必要とするものもあるが、必要としないものもある。デジタイザは、表示装置又はグリッドのないシステムの例である。
【００７７】
図２は、トリガ検出部２７のブロック図である。トリガ検出部２７は、入力部１０１、トリガ領域部１０３、トリガ集約（aggregation）部１０５及び出力部１０７を含んでいる。この例では、第１及び第２入力端子１０２及び１５２に関する詳細なブロック図が示されている。当然ながら、参照番号２０２及び２５２で大雑把に示されている第３及び第４入力端子のような追加の入力端子にも、トリガ領域回路が用意されていて良いことは言うまでもない。トリガ領域部１０３は、大雑把に言えば、入力マルチプレクサ１０４、１５４、出力マルチプレクサ１１４、１６４、そして、例えば、時間領域トリガ回路１０６、１５６、周波数領域トリガ回路１０８、１５８、ＲＦ時間領域トリガ回路１１０、１６０及び変調領域トリガ回路１１２、１６２のような複数の特定領域トリガ回路を含んでいる。適切なトリガ領域回路の構成は、当業者には周知である。
【００７８】
トリガ集約部１０５は、ロジック（条件付き）トリガ処理部１７２と、トリガ出力マルチプレクサ１７６に結合されたシーケンス・トリガ処理部１７４とを含んでいる。この構成によって、複数領域の信号に基づいてトリガ出力信号１７８を生成することが可能になる。
【００７９】
大雑把に言えば、トリガ処理を、条件付きトリガ処理（複数チャンネル論理演算）又はシーケンス・トリガ処理（複数チャンネル・シーケンス）によって実現できる。一般に、イベントとは、ある特定の時点で発生する１つ以上の入力信号の特性である。つまり、イベントは、ある特定の時点で生じる。状態とは、ある期間について存在する１つ以上の入力信号の特性である。つまり、状態は、存在するか、又は、存在しないかである。条件付きトリガ処理では、トリガ検出部は、イベントを探す。トリガ検出部は、また、１つ以上の状態もモニタする。トリガ検出部は、状態が真（true）の場合にだけ、イベントが発生したときにトリガを生成する。シーケンス・トリガ処理では、トリガ検出部は、第１イベントを探す。第１イベントを認識した後、トリガ検出部は準備態勢に入り（arm）、後続する１つ以上のイベントを探す。トリガ検出部は、最後又は最終イベントが発生すると、トリガを生成する。ロジック及びシーケンス・トリガは、一緒に用いても良く、この場合、条件を満たす状態が存在している間に、複数イベントのシーケンスが発生した後にだけトリガが生成される。
【００８０】
図３は、各領域における種々のトリガ形式を示すブロック図である。時間領域は、一般に、時間対電圧を視覚化するのに利用される。典型的な時間領域イベントは、上述のように「エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間、立ち下がり時間、ビデオ及びバス」を含む。典型的な時間領域状態は、「単一のチャンネル・レベルを含むロジック」を含む。典型的な周波数イベントは、「周波数マスク及び周波数密度」を含む。典型的な周波数領域状態は、「周波数マスクに基づく状態」を含む。
【００８１】
ＲＦ時間領域は、一般に、時間対ＩＱ（これは、時間に対する振幅、位相及び周波数を含む）を視覚化するのに利用される。典型的なＲＦ時間領域イベントは、「エッジ、パルス幅、タイムアウト、ラント、ロジック、セットアップ／ホールド、立ち上がり時間及び立ち下がり時間」を含む。典型的なＲＦ時間領域状態は、「単一チャンネル・レベルを含むロジック」を含む。変調時間領域は、一般に、時間対シンボルを視覚化するのに利用される。典型的な変調時間領域イベントは、「コンスタレーション・マスク、エラー・ベクトル・マグニチュード（ＥＶＭ）、マグニチュード・エラー、位相エラー、相補累積分布関数（ＣＣＤＦ）エラー、変調エラー比、シンボル・エラー・カウント及びシンボル・エラー比」を含む。典型的な変調時間領域状態は、「コンスタレーション・マスク、ＣＣＤＦマスク、シンボル・エラー・カウント及びシンボル・エラー比」を含む。
【００８２】
本願は、以下の例を含む多種多様なミックスド・ドメイン・トリガ・モードを網羅しているが、当然ながら、以下の例に限定されるわけではない。
【００８３】
複数チャンネル・ロジック：周波数領域：
【００８４】
周波数マスク又は周波数密度トリガで、２つの異なる周波数領域信号をモニタ（monitor：監視）する。両方の信号に同時にイベントがあるときにトリガがかかる。
【００８５】
複数チャンネル・ロジック：時間及び周波数領域：
【００８６】
１つの時間領域及び１つの周波数領域信号をモニタする。時間領域信号がハイ（high：高）のときにだけ、周波数マスク・イベントでトリガがかかる。
【００８７】
複数チャンネル・ロジック：時間及びＲＦ時間領域：
【００８８】
１つの時間領域及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。時間領域信号がハイ（high：高）のときにだけ、ＲＦ時間領域信号の振幅でトリガがかかる。
【００８９】
複数チャンネル・ロジック：変調領域及びＲＦ時間領域：
【００９０】
１つの変調領域信号及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。ＲＦ時間領域チャンネルがあるしきい値を超えると、変調領域コンスタレーション・マスク・イベントでトリガがかかる。
【００９１】
複数チャンネル・ロジック：変調領域及び周波数領域：
【００９２】
１つの変調領域信号及び１つの周波数領域信号をモニタする。変調領域シンボル・エラー・レートがしきい値を超えると、周波数領域密度イベントでトリガがかかる。
【００９３】
複数チャンネル・ロジック：変調領域及び時間領域：
【００９４】
１つの変調領域信号及び１つの時間領域信号をモニタする。時間領域バス・イベントの後、変調領域コンスタレーション・マスク・イベントでトリガがかかる。
【００９５】
複数チャンネル・ロジック：周波数及びＲＦ時間領域：
【００９６】
１つの周波数領域信号及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。ＲＦ時間領域信号の振幅が所定レベルを超えている場合にだけ、周波数密度イベントでトリガがかかる。
【００９７】
複数チャンネル・ロジック：時間、周波数及びＲＦ時間領域：
【００９８】
複数の時間領域信号、１つの周波数領域信号及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。周波数マスク・イベントでトリガがかかるが、残りのＲＦ時間領域信号及び時間領域信号の論理状態が所定ワードに合致する場合に限られる。
【００９９】
複数チャンネル・シーケンス：周波数領域：
【０１００】
周波数マスク又は周波数密度トリガを用いて、２つの異なる周波数領域信号をモニタする。１つ目の周波数領域信号のイベントを用いてトリガ・システムを準備態勢にし（arm）、２つ目の周波数領域信号のイベントを探す。
【０１０１】
複数チャンネル・シーケンス：ＲＦ時間領域：
【０１０２】
２つの異なる周波数領域信号をモニタする。第１周波数領域信号のパワー・レベルが所定振幅を超えると、トリガ・システムを準備態勢にして、第２周波数領域信号の周波数密度イベントでトリガがかかる。
【０１０３】
複数チャンネル・シーケンス：時間及び周波数領域：
【０１０４】
１つの時間領域及び１つの周波数領域信号をモニタする。時間領域信号にラント（Runt：期待される大きさに満たないもの）が検出されると、トリガ・システムを準備態勢にして、周波数領域信号の周波数マスクの不成立を探す。なお、ラント・トリガとは、２つのしきい値を利用し、被試験信号が一方のしきい値は超えるものの、他方のしきい値は超えないときに、トリガ信号を供給するものである。
【０１０５】
複数チャンネル・シーケンス：時間及びＲＦ時間領域：
【０１０６】
１つの時間領域及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。ＲＦ時間領域信号にセットアップ／ホールド・イベントが検出されると、トリガ・システムを準備態勢にして、時間領域信号でシリアル・ワードが認識されるとトリガがかかる。
【０１０７】
複数チャンネル・シーケンス：周波数及びＲＦ時間領域：
【０１０８】
１つの周波数領域及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。ＲＦ時間領域信号のパルス幅が特定時間を超えると、トリガ・システムを準備態勢にして、残りの周波数領域信号における周波数密度イベントでトリガがかかる。
【０１０９】
複数チャンネル・シーケンス：時間、周波数及びＲＦ時間領域：
【０１１０】
複数の時間領域、１つの周波数領域及び１つのＲＦ時間領域信号をモニタする。時間領域信号の論理状態が所定ワードに合致すると、周波数領域信号を観測する。上記周波数領域信号に周波数マスク・イベントが見つかると、トリガ・システムを準備態勢にし、ＲＦ時間領域信号においてタイムアウト・イベントが生じると、トリガがかかる。
【０１１１】
本願での開示に基いて、多様な変形が可能なことはいうまでもない。上述の複数の機能及び複数の構成要素は、特定の組み合わせにおけるものであったが、各機能及び構成要素は、残りの機能及び構成要素なしに単独でも利用可能であり、残りの機能及び構成要素を用いたり、用いなかったりして、種々の組み合わせで利用可能である。本願で開示した装置又は方法は、汎用コンピュータ又はプロセッサで実行するようにコンピュータ読み出し可能な（非一時的：non-transitory）記憶媒体に組み込まれたコンピュータ・プログラム、ソフトウェア又はファームウェアで実現されても良い。コンピュータ読み出し可能な記憶媒体の例には、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、レジスタ、キャッシュ・メモリ、半導体メモリ・デバイス、内部ハード・ディスクやリムーバブル・ディスクのような磁気媒体、光磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭやデジタル・バーサタイル・ディスク（ＤＶＤ）のような光学式媒体が含まれる。
【０１１２】
適切なプロセッサには、例として、汎用プロセッサ、特定用途プロセッサ、従来型プロセッサ、デジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ）、複数のマイクロプロセッサ、ＤＳＰコアと連携する１つ以上のマイクロプロセッサ、コントローラ、マイクロコントローラ、ＡＳＩＣ（特定用途向けＩＣ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）、種々のＩＣ、ステート・マシーンなどが含まれる。
【符号の説明】
【０１１３】
２７  トリガ検出部
１０１  入力部
１０２  第１入力端子
１０３  トリガ領域部
１０４  入力マルチプレクサ
１０５  トリガ集約部
１０６  時間領域トリガ回路
１０７  出力部
１０８  周波数領域トリガ回路
１１０  ＲＦ時間領域トリガ回路
１１２  変調領域トリガ回路
１１４  出力マルチプレクサ
１５２  第２入力端子
１５４  入力マルチプレクサ
１５６  時間領域トリガ回路
１５８  周波数領域トリガ回路
１６０  ＲＦ時間領域トリガ回路
１６２  変調領域トリガ回路
１６４  出力マルチプレクサ
１７２  ロジック・トリガ部
１７４  シーケンス・トリガ部
１７６  トリガ出力マルチプレクサ
１７８  トリガ出力信号
２０２  第３入力端子
２５２  第４入力端子
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【外国語明細書】
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