(57)【要約】【課題】気圧を検出するための温度の検出精度の向上と装置の小型化とを両立する。【解決手段】電子機器１０は、サーミスタＲTにより温度値を検出するＡＤＣ１１４と、温度と線形の関係にある理想温度値に対する温度値の差分値と温度値との関係を示す温度補正情報を記憶するＲＡＭ１０６と、温度補正情報に基づいて、ＡＤＣ１１４が検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、ＡＤＣ１１４が検出した温度値を補正する制御回路１０１とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度値を検出する温度検出部と、
温度と線形の関係にある理想温度値に対する温度値の差分値と温度値との関係を示す温度補正情報を記憶する記憶部と、
前記記憶部が記憶する温度補正情報に基づいて、前記温度検出部が検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、前記温度検出部が検出した温度値を補正する制御部と、
を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項２】
気圧値を検出する気圧検出部を備え、
前記記憶部は、温度毎の気圧値と気圧との関係を示す気圧補正情報を記憶し、
前記制御部は、前記補正した温度値と前記記憶部が記憶する前記気圧補正情報とに基づいて、前記気圧検出部が検出した気圧値から気圧を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記温度補正情報は、前記差分値が前記温度値の奇数次の関数であることを示す情報である
ことを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記温度補正情報は、前記差分値が前記温度値の３次の関数であることを示す情報である
ことを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
【請求項５】
電子機器における計測データ処理方法であって、
前記電子機器が、温度値を検出するステップと、
前記電子機器が、温度と線形の関係にある理想温度値に対する温度値の差分値と温度値との関係を示す温度補正情報に基づいて、前記検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、前記検出した温度値を補正するステップと、
を有することを特徴とする計測データ処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器および計測データ処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
大気の圧力を検出する圧力検出機能を有する電子機器では、周囲環境における温度によって検出誤差が生じることがある。そこで、温度を検出し、検出した温度に基づいて検出した圧力の値を補正することがある。
例えば、特許文献１に記載の圧力センサ装置は、検出信号、温度信号、基準信号を選択的に通過させてＡ／Ｄ変換回路に与えるアナログマルチプレクサを備え、温度検出のために複数のサーミスタを用いて温度検出ブリッジ回路が構成されている。
【０００３】
また、特許文献２に記載の温度センサリニアライズ処理方法では、温度センサの温度に対する抵抗特性を所定区分毎に双曲線で近似し、その区分に応じた抵抗値範囲と双曲線近似式とを対応させて格納したリニアライズテーブルを予め用意しておき、上記温度センサの抵抗値のサンプリング時には、上記リニアライズテーブルを参照して抵抗値に対応した双曲線近似式を読み出し、読み出された双曲線近似式にサンプリングした抵抗値を代入して温度値を算出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第３８７６４８３号公報
【特許文献２】特許第２９７３０４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の圧力センサ装置は、上述した構成を備えるために素子数が多くなる。また、この構成では差動型Ａ／Ｄ変換器が含まれる。素子数を少なくするために、例えばマイクロコンピュータを用いることがあるが、マイクロコンピュータに内蔵の非差動型Ａ／Ｄ変換器をそのまま利用することができない。そのため装置の小型化に限界があった。
【０００６】
また、非差動型Ａ／Ｄ変換器を利用する場合、サーミスタと直列抵抗と並列抵抗を接続する分圧回路を構成することがある。その場合、検出した温度には所定の動作温度範囲よりも高い温度や、低い温度では、検出値の温度に対する非線形性が高くなる。そのため、サーミスタが検出した温度で検出した気圧を補正すると検出誤差が却って大きくなり、検出精度が低下していた。
【０００７】
また、特許文献２に記載の温度センサのリニアライズ処理方法では、温度値を補正する際に用いられる温度に対する抵抗特性を区分するための判断に係る判断文が多くなる。そのため、処理を実行するプログラムの容量や処理時間が増加するために、消費電力の低下を阻んでいた。
【０００８】
そこで、本発明は上述の事情を鑑みてなされたものであり、気圧を検出するための温度の検出精度の向上と装置の小型化とを両立することができる電子機器および計測データ処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一態様は、温度値を検出する温度検出部と、温度と線形の関係にある理想温度値に対する温度値の差分値と温度値との関係を示す温度補正情報を記憶する記憶部と、前記記憶部が記憶する温度補正情報に基づいて、前記温度検出部が検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、前記温度検出部が検出した温度値を補正する制御部と、を備えることを特徴とする電子機器である。
【００１０】
また、本発明の他の態様は、上述の電子機器において、気圧値を検出する気圧検出部を備え、前記記憶部は、温度毎の気圧値と気圧との関係を示す気圧補正情報を記憶し、前記制御部は、前記補正した温度値と前記記憶部が記憶する前記気圧補正情報とに基づいて、前記気圧検出部が検出した気圧値から気圧を算出することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の他の態様は、上述の電子機器において、前記温度補正情報は、前記差分値が前記温度値の奇数次の関数であることを示す情報であることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の他の態様は、上述の電子機器において、前記温度補正情報は、前記差分値が前記温度値の３次の関数であることを示す情報であることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明の他の態様は、電子機器における計測データ処理方法であって、前記電子機器が、温度値を検出するステップと、前記電子機器が、温度と線形の関係にある理想温度値に対する温度値の差分値と温度値との関係を示す温度補正情報に基づいて、前記検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、前記検出した温度値を補正するステップと、を有することを特徴とする計測データ処理方法である。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、理想温度値との差分値と温度値との関係を示す温度補正情報に基づいて、検出した温度値に対する差分値を定め、定めた差分値を用いて、検出した温度値を補正する。このため、気圧を補正するための温度を精度良く検出することができる。また、装置の素子数を増やすことを防ぐことができるため、装置の小型化を図ることができる。すなわち、気圧を補正するための温度の検出精度の向上と装置の小型化とを両立することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施形態における電子機器の外観構成を示す正面図である。
【図２】本実施形態における電子機器の構成を示す概略ブロック図である。
【図３】本実施形態における電子機器が検出する温度値の温度特性の一例を示す図である。
【図４】本実施形態における電子機器が計測する温度値と理想温度値との差分値の温度特性の一例を示す図である。
【図５】本実施形態における電子機器が補正した補正温度値の温度特性の一例を示す図である。
【図６】本実施形態における電子機器が検出する気圧値の温度特性の一例を示す図である。
【図７】本実施形態における電子機器が実行する計測データ処理の処理手順を示したフローチャートである。
【図８】本実施形態における電子機器が算出した気圧の誤差を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、各図において同一部分には同一符号を付している。
図１は、本実施形態における電子機器１０の外観構成を示す正面図である。
電子機器１０は、大気の温度（気温）を計測して表示する温度表示機能と、時刻を計時して表示する時刻表示機能とを有する気圧計である。なお、電子機器１０は、気圧計専用機であってもよい。電子機器１０は、入力手段１０４と表示部１０８とを含んで構成される。入力手段１０４は、電子機器１０の側面に備えられたボタンから構成され、ボタンの押下による操作入力を検出する。表示部１０８は、電子機器１０が計測した情報（気圧、温度または時刻）等を表示する。表示部１０８は、例えば、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）等から構成される。
【００１７】
図２は、本実施形態における電子機器１０の構成を示す概略ブロック図である。
図示する例では、電子機器１０は、制御回路１０１と、発振回路１０２と、分周回路１０３と、入力手段１０４と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）１０５と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）１０６と、表示部１０８と、電圧検出回路１１１と、ＶＲＥＧ（Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｒｅｇｕｌａｔｏｒ、電圧レギュレータ）１１２と、スイッチ１１３と、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ−ｔｏ−Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ、アナログディジタル変換器）１１４と、スイッチ１１５と、気圧センサ１１６と、ＡＤＣ１１７と、Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ、インタフェース）部１１８と、電源１１９とを備える。
【００１８】
制御回路１０１（制御部）は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）であり、電子機器１０の機能を実現する処理を行う。主な機能は、以下の（１）〜（６）に示す機能である。
【００１９】
（１）表示制御機能：  制御回路１０１は、計測したデータ（気圧、温度または時刻）を表示部１０８に出力し、そのデータを表示部１０８に表示させる。また、制御回路１０１は、入力手段１０４から入力された操作入力信号に応じて、計測したデータのうち表示部１０８に出力するデータを切り替える。例えば、制御回路１０１は、気圧、温度、時刻、気圧の順に表示するデータを切り替える等、複数の種類のデータから、予め定めた順序で出力するデータを巡回的に切り替える（トグル順）。
【００２０】
（２）温度計測機能：  制御回路１０１は、ＡＤＣ１１４から入力された温度値を補正し、補正した温度値を表示用の温度データに変換する。温度値は、大気の温度（気温）を示す値である。温度計測機能の詳細については後述する。
（３）気圧計測機能：  制御回路１０１は、Ｉ／Ｆ部１１８から入力された気圧値を、補正した温度値に基づいて補正する。気圧値は、大気の圧力（気圧）を示す値である。そして、制御回路１０１は、補正した気圧値を表示用の気圧データに変換する。気圧計測機能の詳細については後述する。
【００２１】
（４）時刻計測機能：  制御回路１０１は、分周回路１０３から入力されたクロック信号に基づいて現在時刻を計測する。例えば、制御回路１０１は、クロック信号の数を計数する。そして、制御回路１０１は、計測した現在時刻を表示用の時刻データに変換する。
（５）動作停止機能：  制御回路１０１は、電圧検出回路１１１から入力された電圧信号が、予め定めた電圧の閾値（例えば、１．０Ｖ）を下回った場合には、電子機器１０が備えるその他の構成の動作を停止し、自部の動作を停止する。これにより、誤動作を回避する。
【００２２】
（６）計測指示機能：制御回路１０１は、温度を計測するか否かを指示する温度計測指示信号を所定時間間隔（例えば、１分間隔）で生成し、生成した温度計測指示信号をスイッチ１１３及びスイッチ１１５に出力する。温度計測指示信号は、例えば、１又は０の値を有する。１の値は、温度を計測すること（温度計測あり）を示す。０の値は、温度を計測しないこと（温度計測なし）を示す。制御回路１０１は、温度を計測するか否かを、その所定時間間隔よりも長い時間間隔（例えば、５分間隔）で切り替えるようにしてもよい。
【００２３】
発振回路１０２は、例えば、水晶発振子であり、所定の周波数（例えば、３２７６８Ｈｚ）の発振信号を生成し、生成した発振信号を分周回路１０３に出力する。
分周回路１０３は、発振回路１０２から入力された発振信号を分周（例えば、１Ｈｚ）して時刻の計測の基準となるクロック信号を生成する。そして、分周回路１０３は、生成したクロック信号を制御回路１０１に出力する。
入力手段１０４は、ボタン等で操作入力が検出される毎に、操作入力信号を生成し、生成した操作入力信号を制御回路１０１に出力する。
【００２４】
ＲＯＭ１０５は、制御回路１０１が実行するプログラムを予め記憶している。制御回路１０１は、起動したとき、ＲＯＭ１０５からプログラムを読み出し、読み出したプログラムをインストールして、そのプログラムを実行する。
ＲＡＭ１０６（記憶部）は、温度値を補正するための温度補正情報、気圧値を補正するための気圧補正情報、後述する比例係数、温度変換係数を予め記憶している。これらの情報や係数は、ＲＯＭ１０５に予め上述のプログラムとともに記憶され、制御回路１０１がそのプログラムをインストールするときにＲＡＭ１０６に記憶してもよい。また、ＲＡＭ１０６は、制御回路１０１が行なった処理において、生成したデータを一時的に記憶する。
表示部１０８は、制御回路１０１から入力されたデータに基づく情報、例えば、気圧、温度、時刻のいずれか又は任意の組み合わせを表示する。表示形態は、文字、図形、それらの組み合わせのいずれでもよい。
【００２５】
電圧検出回路１１１は、電源１１９の正極端子に接続され、その電圧ＶDDを検出し、検出した電圧ＶDDを示す電圧信号を制御回路１０１に出力する。
ＶＲＥＧ１１２は、制御回路１０１から入力された制御信号に従って所定の電圧ＶREGに電圧が制御された電気信号を生成する。ＶＲＥＧ１１２は、生成した電気信号をその出力端からスイッチ１１３の一端（端子Ａ）に供給する。
【００２６】
スイッチ１１３は、３個の端子Ａ、Ｂ、Ｃを備え、制御回路１０１から入力された温度計測指示信号に基づいて、ＶＲＥＧ１１２の出力端に接続した端子Ａと、電源１１９の正極端子に接続した端子Ｂのうちいずれかを、ＡＤＣ１１４の参照端に接続された端子Ｃに接続する端子として選択する。具体的には、スイッチ１１３は、温度計測指示信号の値が１（温度計測あり）の場合、端子Ｂを選択する。端子Ｂには、サーミスタＲTの一端と抵抗素子ＲPの一端にも接続される。また、スイッチ１１３は、温度計測指示信号の値が０（温度計測なし、あるいはＡＤＣ１１４による電源電圧検出時）の場合、端子Ａを選択する。
温度を検出する場合、ＡＤＣ１１４の参照端が電源１１９の正極端子と接続されるので、電源１１９の電圧が変動してもＡＤＣ１１４から出力される温度値は同一温度である限り変化しない。一方、ＡＤＣ１１４を用いて電源１１９の電圧を検出する場合は、ＡＤＣ１１４の参照端がＶＲＥＧ１１２の出力端と接続され、ＡＤＣ１１４の入力端が電源１１９の正極端子に接続される。このとき、抵抗素子ＲPからサーミスタＲTを切り離す（図示しない）ことにより、ＡＤＣ１１４は電源１１９の電圧変化に応じた電圧ＡＤ値を出力する。なお、本実施形態では、端子Ｃは常に端子Ｂに接続されていてもよい。また、スイッチ１１３を省略し、電源１１９の正極端子は、ＡＤＣ１１４の参照端に接続されていてもよい。
【００２７】
ＡＤＣ１１４は、参照電圧ＶREFが供給される参照端と測定対象の電圧が供給される入力端を備える。ＡＤＣ１１４の参照端には、スイッチ１１３の端子Ｃが接続されている。また、ＡＤＣ１１４の入力端には、サーミスタＲTの他端、抵抗素子ＲPの他端及び抵抗素子ＲSの一端が接続されている。従って、ＡＤＣ１１４は、参照端での電圧ＶREGを参照電圧ＶREFとして、その入力端における電圧、即ちサーミスタＲTの他端における電圧（サーミスタ分圧）を検出する。参照電圧ＶREFが、ＡＤＣ１１４が計測できる電圧の最大値となる。ＡＤＣ１１４は、検出したアナログの電圧を予め定めたビット数（例えば、１６ビット）で量子化してディジタルの電圧値（温度値）に変換する。変換されたディジタルの電圧値は、サーミスタ分圧ＡＤ値とも呼ばれ、温度の関数となる値である。ＡＤＣ１１４は、変換した温度値を制御回路１０１に出力する。従って、サーミスタＲT、抵抗素子ＲP、抵抗素子ＲS及びＡＤＣ１１４が、温度値を検出する温度検出部を構成する。
スイッチ１１５の一端は、抵抗素子ＲSの他端に接続され、スイッチ１１５の他端は、接地されている。スイッチ１１５は、制御回路１０１から入力された温度計測指示信号に基づいて、一端と他端との間を接続するか否かを制御する。具体的には、スイッチ１１５は、温度計測指示信号の値が１（温度計測）の場合に接続する。また、スイッチ１１５は、温度計測指示信号の値が０（温度計測なし）の場合に開放する。なお、本実施形態では、両端子が常に接続されていてもよいし、スイッチ１１５が省略され、抵抗素子ＲSの他端が接地されていてもよい。
【００２８】
気圧センサ１１６は、大気の圧力（気圧）を検知し、検知した気圧を示すアナログの電気信号を気圧信号として生成し、生成した気圧信号をＡＤＣ１１７に出力する。気圧センサ１１６は、静電容量式の気圧センサでもよいし振動式の気圧センサでもよい。
ＡＤＣ１１７は、気圧センサ１１６から入力された気圧信号の電圧を検出する。ＡＤＣ１１７は、その参照端での電圧ＶREGを参照電圧ＶREFとして用いてもよい（図示せず）。ＡＤＣ１１７は、検出したアナログの電圧を予め定めたビット数で量子化してディジタルの電圧値（気圧値）に変換する。変換した気圧値は、気圧ＡＤ値とも呼ばれる。ＡＤＣ１１７は、変換した気圧値をＩ／Ｆ部１１８に出力する。ここで、気圧センサ１１６とＡＤＣ１１７とが気圧値を検出する気圧検出部を構成する。
【００２９】
Ｉ／Ｆ部１１８は、ＡＤＣ１１７から入力された気圧値を制御回路１０１に出力する。ところで、本実施形態では、電子機器１０の一部、例えば、制御回路１０１、発振回路１０２、分周回路１０３、ＲＯＭ１０５、ＲＡＭ１０６、電圧検出回路１１１、ＶＲＥＧ１１２、スイッチ１１３、ＡＤＣ１１４及びスイッチ１１５等が、例えば、一体化された構成で実施されてもよい。一体化された構成とは、例えば、マイクロコンピュータ、集積回路等である。Ｉ／Ｆ部１１８は、この一体化された構成と、その他の構成部との間で信号を入力又は出力するインタフェースである。このように、電子機器１０の一部が一体化された構成を有しない場合には、Ｉ／Ｆ部１１８は省略されてもよい。
電源１１９は、電子機器１０の各構成部１０１〜１１８に、動作に要する直流の電力を供給する。電源１１９は、例えば、電池である。電源１１９は、正極端子と負極端子を備える。正極端子は、電圧検出回路１１１及びスイッチ１１３の端子Ｂに接続される。負極端子は、接地されている。
【００３０】
サーミスタＲTは、温度変化に対する抵抗値の変化が比較的大きい感温抵抗素子である。サーミスタＲTの一端は、抵抗素子ＲPの一端及びスイッチ１１３の端子Ｃに接続されている。サーミスタＲTの他端は、ＡＤＣ１１４の入力端、抵抗素子ＲPの他端及び抵抗素子ＲSの一端に接続されている。即ち、サーミスタＲTは、抵抗素子ＲPと並列に接続され、抵抗素子ＲSと直列に接続されている。サーミスタＲTの抵抗値は、温度（絶対温度）の逆数の指数関数に近似される温度特性を有するが、上述した構成においてサーミスタＲTの他端で検出される電圧は、所定の温度範囲において温度の逆数に近似する。サーミスタＲTは、例えば、ＮＴＣ（Ｎｅｇａｔｉｖｅ  Ｔｅｍｐｒａｔｕｒｅ  Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ、負温度係数）サーミスタである。ＮＴＣサーミスタは、抵抗値の温度の逆数に対する比例係数が負であるサーミスタである。
【００３１】
抵抗素子ＲPの一端は、サーミスタＲTの一端及びスイッチ１１３の端子Ｃに接続されている。抵抗素子ＲPの他端は、ＡＤＣ１１４の入力端、サーミスタＲTの他端及び抵抗素子ＲSの一端に接続されている。即ち、抵抗素子ＲPは、サーミスタＲTと並列に接続され、抵抗素子ＲSと直列に接続されている。
抵抗素子ＲSの一端は、ＡＤＣ１１４の入力端、サーミスタＲTの他端及び抵抗素子ＲPの他端に接続されている。抵抗素子ＲSの他端は、スイッチ１１５の一端に接続されている。抵抗素子ＲSは、サーミスタＲT及び抵抗素子ＲPにそれぞれ直列に接続されている。
【００３２】
次に、図３〜図５を参照して、本実施形態における制御回路１０１が実行する温度計測機能について説明する。
図３は、本実施形態における電子機器１０が検出する温度値の温度特性の一例を示す図である。
図３に示す例では、サーミスタＲTの抵抗値は２５℃で１０ｋΩであり、抵抗素子Ｒｓの抵抗値は９．１ｋΩであり、Ｒｐの抵抗値は２２ｋΩであり、電圧ＶDDは３．０Ｖである。図３の縦軸は温度値（単位なし）であり、横軸は温度（単位は°Ｃ）である。また、実線３０１はＡＤＣ１１４が出力した温度値と温度との関係を示し、破線３０２は理想直線を示す。ＡＤＣ１１４が出力した温度値は、所定の温度範囲（１０〜５０°Ｃ）では、温度の変化に対してほぼ線形に変化する。理想直線は、この温度範囲内のある温度（２５°Ｃ）における温度値で、実線３０１に接する直線である。この温度を接点温度と呼び、この温度に対する温度値を接点温度値と呼ぶ。つまり、理想直線は接点温度における接点温度値を通る実線３０１の接線である。理想直線を形成する温度値を理想温度値と呼ぶ。この温度範囲を外れた温度では、ＡＤＣ１１４が出力した温度値は、温度の変化に対して非線形に変化する。この温度範囲よりも低い温度では、ＡＤＣ１１４が出力した温度値は、理想温度値よりも大きい。この温度範囲よりも高い温度では、ＡＤＣ１１４が出力した温度値は、理想温度値よりも小さい。図３に示すｄ１及びｄ２は、ＡＤＣ１１４が出力した温度値と理想温度値との差分値である。
【００３３】
図４は、本実施形態における電子機器１０が検出する温度値と理想温度値との差分値の温度特性の一例を示す図である。
図４の縦軸は差分値（単位なし）であり、横軸はＡＤＣ１１４が出力した温度値である。本図に示す差分値は、ＡＤＣ１１４が出力した温度値を理想温度値から差し引いた値である。例えば、温度値が２５，０００である場合、理想温度値は２３，０００となるから、差分値はｄ１＝−２，０００となる。また、温度値が５０，０００である場合、理想温度値は５０，４００となるから、差分値はｄ２＝４００となる。差分値は、温度値が大きくなるほど大きくなり、接点温度値を基準として温度値についてほぼ奇関数となる。従って、差分値は、温度値についての奇数次の関数として近似される。
例えば、図４に示す関係は、次の式（１）により近似される。
【００３４】
ｙ＝ａ3ｘ3＋ａ2ｘ2＋ａ1ｘ＋ａ0…（１）
【００３５】
式（１）において、ｙは差分値であり、ｘは温度値である。ａ3〜ａ0は、各次数における比例係数である。図４に示す例では、ａ3＝８．７９・１０-10、ａ2＝−１．０４・１０-4、ａ1＝４．０６、ａ0＝−５．２２・１０4である。式（１）に示すように、差分値ｙは、温度値ｘの３次の関数で求められる。
【００３６】
そこで、本実施形態では、これらの比例係数を温度補正情報としてＲＡＭ１０６に予め記憶しておく。すなわち、温度補正情報は、差分値と温度値との関係を示す。制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から比例係数を読み出し、ＡＤＣ１１４から入力された温度値について式（１）を用いて差分値を算出する。そして、制御回路１０１は、入力された温度値に、算出した差分値を加算して、温度値を補正する。これにより、入力された温度値が線形化される。以下、補正した温度値を補正温度値と呼ぶ。
【００３７】
図５は、本実施形態における電子機器１０が補正した補正温度値の温度特性の一例を示す図である。
図５の縦軸は温度値（単位なし）であり、横軸は温度である。また、実線は制御回路１０１が算出した補正温度値と温度との関係を示し、破線は理想直線を示す。図５に示すように、補正温度値と理想温度値とはほぼ等しい。つまり、補正温度値は、温度に対する一次関数となる。
そこで、本実施形態では、理想温度値と温度との関係を示す係数である温度変換係数を温度補正情報として予めＲＡＭ１０６に記憶しておく。制御回路１０１は、温度変換係数をＲＡＭ１０６から読み出し、読み出した温度変換係数を用いて補正温度値を温度に変換する。制御回路１０１は、変換した温度を示す温度データを表示部１０８に出力する。
【００３８】
次に、図６及び図７を参照して、電子機器１０が実行する気圧計測機能について説明する。
図６は、本実施形態における電子機器１０が検出する気圧値の温度特性の一例を示す図である。
図６の縦軸は気圧値（単位なし）であり、横軸は気圧（単位はｈＰａ（ヘクトパスカル））である。また、図６における「×」印は、所定の気圧においてそれぞれの温度で予め取得（測定）した気圧値を示す。この例では、３通りの温度−１０、２５、６０°Ｃ、４通りの気圧３００、６００、９００、１１００ｈＰａ、計１２通りについて気圧値の例が示されている。気圧値は、気圧が高くなるに従い大きくなり、気圧が低くなるに従い小さくなる。また、気圧値は、温度が高くなるに従い大きくなり、温度が低くなるに従い小さくなる。また、気圧値は、気圧や温度について、それぞれ非線形の関係を有している。
【００３９】
そこで、本実施形態では、取得した気圧値を気圧及び温度と対応付けて気圧補正情報としてＲＡＭ１０６に予め記憶しておく。
制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から気圧補正情報を読み出し、読み出した気圧補正情報が示す気圧を補間して、既に算出した温度とＩ／Ｆ部１１８から入力された気圧値に対応する気圧を算出する。
【００４０】
補間処理の方法として、例えば、線形補間を用いてもよい。ここで、気圧補正情報に含まれる温度と気圧値の組のうち、算出した温度と気圧値の組を含む２次元の領域を形成する、温度と気圧値の組のそれぞれ対応する気圧を、算出した温度と気圧値の組で補間する。
【００４１】
あるいは、補間処理の方法として、例えば、ラグランジュ補間を用いてもよい。ラグランジュ補間は、互いに異なるｎ＋１（ｎは、１よりも大きい整数）個の変数のそれぞれについて、関数値が与えられているときに行なわれる。ラグランジュ補間では、その変数と関数値との関係をそれぞれ満足するｎ次の多項式を算出し、算出したｎ次の多項式を用いて、任意の変数に対応する関数値を算出する。算出したｎ次の多項式が、その変数と関数値の関数であるものとして用いられる。
【００４２】
ここでは、各温度について予め取得した気圧値と気圧の対応関係を満たすような、気圧値と気圧の関数をラグランジュ補間によって求める。この関数を示す係数群を気圧補正情報の一部としてＲＡＭ１０６に予め記憶しておく。すなわち、気圧補正情報は、温度毎の気圧値と気圧との関係を示す。この関数の例が、図６に実線６０１〜６０３でそれぞれ示されている。実線６０１は温度６０°Ｃにおける気圧値と気圧の関数であり、実線６０２は温度２５°Ｃにおける気圧値と気圧の関数であり、実線６０３は温度−１０°Ｃにおける気圧値と気圧の関数である。
【００４３】
制御回路１０１は、算出した温度についての、気圧値と気圧の関数を、各温度の気圧値と気圧の関数を用いてラグランジュ補間によって求める。ここで、制御回路１０１は、気圧補正情報をＲＡＭ１０６から読み出し、読み出した気圧補正情報を用いて各温度の気圧値と気圧の関数をそれぞれ再構成し、再構成した関数について温度間でラグランジュ補間を行う。制御回路１０１は、気圧補正情報が示す上述の係数群を温度間でラグランジュ補間を行い、補間して求められた計数群を用いて、得られた温度の気圧値と気圧との関数を再構成してもよい。補間して求められた関数の例（温度が４０°Ｃ）が、図６に破線６０４で示されている。制御回路１０１は、求めた関数を用いて、入力された気圧値に対応する気圧を算出する。制御回路１０１は、算出した気圧を示す気圧データを表示部１０８に出力する。
【００４４】
なお、制御回路１０１は、算出した気圧を標高に換算して、換算した標高を示す標高データを表示部１０８に出力してもよい。制御回路１０１は、気圧Ｐを標高ｈに換算する際、例えば式（２）を用いてもよい。
【００４５】
ｈ＝｛（Ｐ0／Ｐ）(1/5.257)−１｝・（Ｔ＋２７３．１５）／０．００６５…（２）
【００４６】
式（２）において、Ｐ0は、所定の標高、例えば標高０ｍ（海面の標高）における気圧１０１３ｈＰａを示す。Ｔは温度を示す。
なお、制御回路１０１は、補間処理において温度を用いる代わりに、温度と線形の関係を有する補正温度値を用いてもよい。
【００４７】
次に、図７を参照して、本実施形態における電子機器１０が気圧を計測する計測データ処理について説明する。
図７は、本実施形態における電子機器１０が実行する計測データ処理の処理手順を示したフローチャートである。
【００４８】
（ステップＳ１０１）ＡＤＣ１１４は、サーミスタＲTの他端における電圧を検出し、検出した電圧をディジタルの温度値に変換する。そして、ＡＤＣ１１４は、変換した温度値を制御回路１０１に出力する。制御回路１０１には、ＡＤＣ１１４から温度値が入力される。その後、ステップＳ１０２の処理に進む。
（ステップＳ１０２）制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から温度補正情報を読み出し、読み出した温度補正情報を用いて、式（１）により、入力された温度値と理想温度値との差分値を算出する。その後、ステップＳ１０３の処理に進む。
（ステップＳ１０３）制御回路１０１は、入力された温度値に算出した差分値を加算して補正温度値を算出する（温度値補正）。制御回路１０１は、算出した補正温度値に基づいて、その補正温度値と線形の関係にある温度を算出する。その後、ステップＳ１０４の処理に進む。
【００４９】
（ステップＳ１０４）ＡＤＣ１１７は、気圧センサ１１６から入力された気圧信号の電圧を検出し、検出した電圧をディジタルの気圧値に変換する。そして、ＡＤＣ１１７は、変換した気圧値を制御回路１０１に出力する。制御回路１０１には、ＡＤＣ１１７から気圧値が入力される。その後、ステップＳ１０５の処理に進む。
（ステップＳ１０５）制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から気圧補正情報を読み出し、読み出した気圧補正情報に基づいて、算出した温度と入力された気圧値とに対応する気圧を算出する。その後、本計測データ処理を終了する。
【００５０】
図８は、本実施形態における電子機器１０が算出した気圧の誤差を示す図である。
図８の縦軸は気圧の誤差（単位はｈＰａ）であり、横軸は温度である。また、実線は、温度値を補正せずに算出した気圧における誤差を示す。破線は、本実施形態における方法で温度値を補正して算出した気圧における誤差を示す。
図８に示すように、温度値を補正して算出した気圧における誤差の方が、温度値を補正せずに算出した気圧における誤差よりも小さい。温度値を補正して算出した気圧の誤差は、最大１．８ｈＰａであるのに対して、温度値を補正せずに算出した気圧の誤差は、最大４．３ｈＰａである。従って、本実施形態では、温度値を補正しない場合と比較して精度が２．４倍向上する。また、本実施形態における誤差１．８ｈＰａは、標高０ｍにおける気圧と標高１８ｍにおける気圧との差に相当する。従って、本実施形態では高度計としても実用に足りる精度が得られる。
【００５１】
上述したとおり、本実施形態では、理想温度値と温度値との差分値を温度値から求める関数を温度補正情報として予めＲＡＭ１０６に記憶し、制御回路１０１が、温度補正情報に基づいて温度値を補正し、補正した温度値に基づいて気圧を算出する。これにより、電子機器１０の素子を増やすことなく、気圧の検出精度を向上させることができる。すなわち、装置の小型化と気圧の検出精度の向上とを両立することができる。
【００５２】
なお、上述した実施形態における電子機器１０が備える各部の機能全体あるいはその一部は、これらの機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
【００５３】
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶部のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでもよい。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよい。
【００５４】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【００５５】
例えば、上述した実施形態では、差分値と温度値との関係を示す関数を温度補正情報としてＲＡＭ１０６に記憶しているが、温度差分値と温度との関係を示す関数に係る係数を温度補正情報として予めＲＡＭ１０６に記憶しておいてもよい。温度差分値とは、ＡＤＣ１１４から入力された温度値と理想温度値の差分値（図３の水平方向についての温度値と理想温度値との差分値に相当）である。温度差分値は、所定の温度範囲（１０−５０°Ｃ）よりも低い温度では、温度が低くなるほど大きい値をとり、その温度範囲よりも高い温度では、温度が高くなるほど小さい値をとる。温度差分値も、接点温度値を基準として温度についてほぼ奇関数となる。従って、温度差分値は、温度についての奇数次の関数として近似される。また、この場合、ＲＡＭ１０６には、予め理想温度値と温度との関係（理想直線）を示す（一次）関数に係る係数も温度補正情報の一部として記憶しておく。
【００５６】
この場合、電子機器１０は、図７に示すステップＳ１０２、Ｓ１０３の処理に代えて、次のステップＳ２０２、Ｓ２０３の処理を実行してもよい。
（ステップＳ２０２）制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から読み出した温度補正情報を用いて、ＡＤＣ１１４から入力された温度値に基づいて温度差分値を算出する。その後、ステップＳ２０３の処理に進む。
（ステップＳ２０３）制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から読み出した温度補正情報を用いて、ＡＤＣ１１４から入力された温度値に基づいて理想温度を算出する。制御回路１０１は、算出した理想温度から温度差分値を差し引いて補正温度を算出する。この補正温度は、上述した補正温度値と線形の関係にある温度に相当する。その後、ステップＳ１０４（図７）の処理に進む。
【００５７】
また、温度値と補正温度との関係を示す関数に係る係数も温度補正情報として予めＲＡＭ１０６に記憶しておき、制御回路１０１は、ＲＡＭ１０６から読み出した温度補正情報を用いて、ＡＤＣ１１４から入力された温度値に基づいて補正温度を算出してもよい。
【符号の説明】
【００５８】
１０・・・電子機器、１０１・・・制御回路、１０２・・・発振回路、
１０３・・・分周回路、１０４・・・入力手段、１０５・・・ＲＯＭ、
１０６・・・ＲＡＭ、１０８・・・表示部、１１１・・・電圧検出回路、
１１２・・・ＶＲＥＧ、１１３・・・スイッチ、１１４・・・ＡＤＣ、
１１５・・・スイッチ、１１６・・・気圧センサ、１１７・・・ＡＤＣ、
１１８・・・Ｉ／Ｆ部、１１９・・・電源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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