(57)【要約】【課題】システム間干渉を防止しつつ、システムＳパラメータが変化する被試験デバイスの波形を取り込めるようにする。【解決手段】増幅器２００は、被試験デバイスからの波形を受ける。デジタイザ２０２は、波形をデジタル化する。システム分離ユニット３００は、デジタル化波形の複数の部分が複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定し、これら特定された部分を複数の異なる波形に分離する。表示部５０４は、複数の異なる波形を表示する。システム分離ユニット３００は、ソフトウェアを試験測定装置５０２のプロセッサが実行することによって実現されても良い。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験デバイスからの波形を受けるよう構成された受信部と、
上記波形をデジタル化するよう構成されるデジタイザと、
デジタル化波形の複数部分を複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定し、デジタル化波形の特定された部分を複数の異なる波形に分離するよう構成されたプロセッサと、
複数の上記異なる波形を表示する表示部と
を具える試験測定装置。
【請求項２】
少なくとも１つのデジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタを更に具え、
上記プロセッサが、更に、上記デジタル化波形の特定された上記部分のそれぞれに、上記ＤＳＰフィルタを別々に適用することによって、特定された上記部分を複数の異なる波形に分離するように構成されることを特徴とする請求項１記載の試験測定装置。
【請求項３】
少なくとも１つのシリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）フィルタを更に具え、
上記プロセッサが、更に、上記デジタル化波形の特定された上記部分のそれぞれについて、上記ＤＳＰフィルタに送られた後に、上記ＳＤＬＡフィルタを適用することによって、特定された上記部分を複数の上記異なる波形に分離するように構成されることを特徴とする請求項２記載の試験測定装置。
【請求項４】
システム間干渉を防止しつつ、システムＳパラメータが変化する被試験デバイスの波形を試験測定装置において取り込むための方法であって、
上記試験測定装置において被試験デバイスから波形を受ける処理と、
上記波形をデジタル化する処理と、
デジタル化波形の複数の部分を異なるＳパラメータ特性を用いて特定する処理と、
上記デジタル化波形の特定された上記部分を複数の異なる波形に分離する処理と、
複数の上記異なる波形を表示する処理と
を具える波形取込み方法。
【請求項５】
デジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理を更に具える請求項４記載の波形取込み方法。
【請求項６】
シリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理を更に具える請求項５記載の波形取込み方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、システムＳパラメータが変化する被試験デバイスからの長い波形レコードを分離及び処理するための試験測定装置及び波形取込み方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、オシロスコープのような試験測定装置上で動作し、種々のシリアル・データ・リンク、ダブル・データ・レート（ＤＤＲ）バスのようなメモリ・バス、ＭＩＰＩ（モバイル・インダストリ・プロセッサ・インターフェース）のようなマルチ・モード・バスなどから得られる長いデータ・レコードを処理するアプリケーションが多数存在している。こうした被試験デバイス（ＤＵＴ）の中には、オシロスコープでデータ・レコードを取り込んでいる最中に、信号源又は負荷のインピーダンスが変更される伝送モードを持つものがある。また、データ取込み中に、異なる時点において複数の異なる送信器が１つのバスに接続されるＤＵＴもある。
【０００３】
１つの例としては、携帯電話でカメラ・データのために利用されるＭＩＰＩバスがある。ＭＩＰＩバスは、カメラ・データを移動させるための高速低電圧送信器を有し、更にシグナリング（signaling：信号通信）のための低速高電圧送信器も有している。高速低電圧送信器は、５０オームの信号源インピーダンスを有する一方、低速高電圧送信器は、１１０オーム以上に可変できる信号源インピーダンスを有している。別の例としては、メモリで利用される双方向バスがある。このタイプのバスでは、書き込み動作中はＣＰＵ（中央演算装置）送信器が、このバスを駆動（ドライブ）し、読み出し動作中はメモリ・チップ送信器がこのバスを駆動する。
【０００４】
最後に、究極の例は、ＤＤＲメモリであり、この場合、書き込み動作中は、ＯＤＴ（on-die termination：メモリ・チップの中の終端抵抗、特許文献１参照）をオンにするが、読み出し動作中は、電力節約のためにＯＤＴをオフにする。波形取込み中にスイッチングをすると、ＤＤＲメモリにおけるインピーダンス・ミスマッチ（不整合）のために、読み出し動作中について、激しいリンギングが生じることになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−３４５７３５号公報
【特許文献２】特開２００７−２０７２２７号公報
【特許文献３】特開２００９−５３０３２号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】「ベクトル・ネットワーク・アナライザを使用したＳパラメータ・ネットワークのディエンベディングおよびエンベディング」、アジレント・テクノロジー社、アプリケーション・ノート、［２０１４年４月５日検索］、インターネット、<http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5980-2784JA.pdf>
【非特許文献２】「シリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）」、テクトロニクス社のサイト、［オンライン］、［２０１４年４月５日検索］、インターネット、<http://jp.tek.com/datasheet/sdla>
【非特許文献３】「ＭＡＴＬＡＢ（数値計算言語）」、マスワークス社のサイト、［オンライン］、［２０１４年４月５日検索］、インターネット、<http://www.mathworks.co.jp/products/matlab/>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
現在のオシロスコープの信号取込みシステムは、ＤＵＴの異なる物理特性の下で得られたデータ・レコード中の複数のイベントを網羅する長さの帯域幅エンハンス（拡張）フィルタと、ディエンベディング・フィルタ及びシミュレーション・フィルタとを有している。このとき、２つの異なるシステム特性から得られたデータを１つの取込み波形に組み合わせる場合において、オシロスコープのＤＳＰ（デジタル信号処理）フィルタと取込みデータとを畳み込み積分（コンボリューション）する際に問題が見られる。畳み込み積分によって、例えば、フィルタの出力において、書き込み動作からのデータが読み出し動作からのデータに影響を与えることとなり、その逆も同様である。また、畳み込み積分は、ジッタ測定やその他の測定に対してマイナスの影響を及ぼすこともある。フィルタは、時間に関して不変なシステムに用いると良いものであるが、上述したシステムは、時間に関して変化のあるシステムであり、これらは、取り込まれた時間レコードの複数の異なる部分が、複数の異なる状態間で変化する特性を有している。
【０００８】
更に、２つの異なるシステムの特性を１つのフィルタ・コンボリューション（フィルタを畳み込み積分したもの）に合成すると、テクトロニクス社のシリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）のようなアプリケーションで生成されたディエンベディング・フィルタ（非特許文献１参照）又はシミュレーション・フィルタを用いた場合、間違った結果となってしまう。ＤＵＴは時間と共に変化する特性を持っているので、ＤＵＴのＳパラメータが変化する複数の異なるセグメント（部分）を分離して処理できる手法が必要とされている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明のある実施形態には試験測定装置が含まれ、これは、被試験デバイスからの波形を受けるよう構成された受信部と、上記波形をデジタル化するよう構成されるデジタイザと、デジタル化波形の複数部分を複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定し、デジタル化波形の特定された部分を複数の異なる波形に分離するよう構成されたプロセッサとを含んでいる。試験測定装置は、これら複数の異なる波形をユーザに表示する表示部も含んでいる。
【００１０】
本発明の別の実施形態には、試験測定装置において、システムＳパラメータが変化する被試験デバイスからの波形を取り込みながら、システム間干渉を防止する方法が含まれる。この方法は、被試験デバイスからの波形を受ける処理と、波形をデジタル化する処理と、デジタル化波形の複数部分を複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定する処理と、デジタル化波形の特定された部分を複数の異なる波形に分離する処理と、これら複数の異なる波形をユーザに表示する処理とを含んでいる。
【００１１】
本発明の更に別の実施形態には、試験測定装置が含まれ、これは、被試験デバイスからの波形を受ける手段と、上記波形をデジタル化する手段と、デジタル化波形の複数部分を複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定する手段と、デジタル化波形の特定された部分を複数の異なる波形に分離する手段と、これら複数の異なる波形をユーザに表示する手段とを含んでいる。
【００１２】
より具体的には、本発明の概念１は、試験測定装置であって、
被試験デバイスからの波形を受けるよう構成された受信部と、
上記波形をデジタル化するよう構成されるデジタイザと、
デジタル化波形の複数部分を複数の異なるＳパラメータ特性を用いて特定し、デジタル化波形の特定された部分を複数の異なる波形に分離するよう構成されたプロセッサと、
複数の異なる波形をユーザに表示する表示部と
を具えている。
【００１３】
本発明の概念２は、上記概念１の試験測定装置であって、少なくとも１つのデジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタを更に具え、
上記プロセッサが、更に、上記デジタル化波形の特定された上記部分のそれぞれに、上記ＤＳＰフィルタを別々に適用することによって、特定された上記部分を複数の異なる波形に分離するように構成されることを特徴としている。
【００１４】
本発明の概念３は、上記概念２の試験測定装置であって、少なくとも１つのシリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）フィルタを更に具え、
上記プロセッサが、更に、上記デジタル化波形の特定された上記部分のそれぞれについて、上記ＤＳＰフィルタに送られた後に、上記ＳＤＬＡフィルタを適用することによって、特定された上記部分を複数の上記異なる波形に分離するように構成されることを特徴としている。
【００１５】
本発明の概念４は、上記概念１の試験測定装置であって、上記プロセッサが、複数の異なる波形を１つの波形に配置する共に、複数の上記異なる波形それぞれの間に補充レベルを用いて相対的な時間位置を維持するよう構成されることを特徴としている。
【００１６】
本発明の概念５は、上記概念１の試験測定装置であって、試験するシステムの形式の指定を受けるためのユーザ入力部を更に具えることを特徴としている。
【００１７】
本発明の概念６は、システム間干渉を防止しつつ、システムＳパラメータが変化する被試験デバイスの波形を試験測定装置において取り込むための方法であって、
上記試験測定装置において被試験デバイスから波形を受ける処理と、
上記波形をデジタル化する処理と、
デジタル化波形の複数の部分を異なるＳパラメータ特性を用いて特定する処理と、
上記デジタル化波形の特定された上記部分を複数の異なる波形に分離する処理と、
複数の上記異なる波形をユーザに表示する処理と
を具えている。
【００１８】
本発明の概念７は、上記概念６の方法であって、デジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理を更に具えている。
【００１９】
本発明の概念８は、上記概念７の方法であって、シリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理を更に具えている。
【００２０】
本発明の概念９は、上記概念の６の方法であって、複数の上記異なる波形を単一の波形に組み合わせ、複数の上記異なる波形それぞれの間に補充レベルを用いて、その相対的な時間位置を維持することを特徴としている。
【００２１】
本発明の概念１０は、上記概念の６の方法であって、試験するシステムの形式の指定を受けるためにユーザの入力を受ける処理を更に具えている。
【００２２】
本発明の概念１１は、上記概念の６の方法であって、上記試験測定装置において上記被試験デバイスから上記波形を受ける処理と、上記波形をデジタル化する処理とが、１つの試験測定装置で行われることを特徴としている。
【００２３】
本発明の概念１２は、上記概念の１１の方法であって、上記デジタル化波形の複数の上記部分を上記異なるＳパラメータ特性を用いて特定する処理と、上記デジタル化波形の特定された上記部分を複数の上記異なる波形に分離する処理とが外部装置で行われ、表示のために上記試験測定装置へと送られることを特徴としている。
【００２４】
本発明の概念１３は、上記概念の１１の方法であって、上記デジタル化波形の複数の上記部分を上記異なるＳパラメータ特性を用いて特定する処理と、上記デジタル化波形の特定された上記部分を複数の上記異なる波形に分離する処理とが、上記試験測定装置上で行われることを特徴としている。
【００２５】
本発明の概念１４は、上記概念の１４の方法であって、
デジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理と、
シリアル・データ・リンク解析（ＳＤＬＡ）フィルタを上記異なる波形のそれぞれに適用する処理とを更に具え、
上記ＤＳＰフィルタを適用する処理と上記ＳＤＬＡフィルタを適用する処理が、上記試験測定装置の外部の装置で行われることを特徴としている。
【００２６】
本発明の概念１５は、試験測定装置であって、
被試験デバイスから波形を受ける手段と、
上記波形をデジタル化する手段と、
デジタル化波形の複数の部分を異なるＳパラメータ特性を用いて特定する手段と、
上記デジタル化波形の特定された上記部分を複数の異なる波形に分離する手段と、
上記異なる波形をユーザに表示する手段と
を具えている。
【００２７】
本発明の概念１６は、コンピュータ読み出し可能な媒体であって、試験測定装置のプロセッサで実行され、上記概念６の方法を実行するコンピュータ・プログラムを記憶がされている。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】図１は、ＤＵＴのバスを異なる時間に駆動する２つの送信器を示す図である。
【図２】図２は、波形を取り込む従来のオシロスコープ構造を示すブロック図である。
【図３】図３は、システム分離ユニットを用いる本発明の実施形態によるオシロスコープのブロック図である。
【図４】図４は、分離された複数波形に適用されるＳＤＬＡフィルタを更に用いた本発明の実施形態によるオシロスコープのブロック図である。
【図５】図５は、オシロスコープと、システム分離を行う外部装置とを示す本発明の実施形態によるブロック図である。
【図６】図６は、オシロスコープと、システム分離を行う外部装置とを示す本発明の別の実施形態によるブロック図である。
【図７】図７は、システム分離を行うための本発明の実施形態によるオシロスコープのメニューを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下で複数の図面を示すが、これらは同じ縮尺で描いたものとは限らず、また、本発明によるシステム及び方法における類似又は対応する要素には、同じ符号を付して説明する。
【００３０】
図１は、ＤＵＴ中の２つの送信器を示してる。第１送信器１０２は、ある一定期間、ライン（信号線）を駆動（ドライブ）し、続いて、スイッチ又はマルチプレクサ１０４が切り替わり、これによって、第２送信器１０６が上記ラインをある一定期間駆動する。第１送信器１０２及び第２送信器１０６は、これらの動作（behavior：反応、振る舞い）を定義する異なる特性のＳパラメータを有する。例えば、もし第１送信器１０２及び第２送信器１０６がＤＤＲメモリ中で使用されると、第１送信器１０２は、ＯＤＴがオフの状態でラインを駆動する。スイッチ１０４が切り替わった後、第２送信器１０６は、ＯＤＴがオンの状態でラインを駆動する。
【００３１】
図１に示す２つの送信器を用いてＤＵＴから取り込まれた波形の特性は、取込み中のＤＵＴハードウェアの設定変更が原因で、波形レコードを通して時間の関数として変化する。システムの変更は連続的ではなく、波形レコード中の複数の異なる点において切り換わる。
【００３２】
こうした種類のシステムでは、オシロスコープのようなリアルタイムの試験測定装置内に、複数の異なるＳパラメータ特性をそれぞれ有する別々の取り込み波形を処理し、これら波形にフィルタを適用する機能が必要となる。図２は、波形を取込み、帯域幅補正フィルタを適用する従来のオシロスコープの構造を示している。取込み波形は、増幅器２００を通して送られ、続いて、デジタイザ２０２へと送られる。次に、デジタル化波形又はデジタル化信号は、ＤＳＰフィルタ２０４へ送られる。このとき、従来のオシロスコープ構造では、システム間干渉がある。つまり、従来のＤＳＰ帯域幅フィルタでは、異なる特性の複数領域にオーバーラップすることがあり、そのため、２つのシステム応答が合成されて悪影響が生じ、これによってシステム間干渉が生じてしまう。
【００３３】
図３は、本発明の実施形態の例を示している。図３の試験測定装置は、増幅器２００及びデジタイザ２０２を含んでいる。図２に関して説明したように、ＤＵＴから取り込んだ波形は、受信器（図示せず）から増幅器２００及びデジタイザ２０２を通って送られる。受信器は、例えば、ＤＵＴから波形を取込むプローブでも良い。デジタル化波形は、図２に示すように、ＤＳＰフィルタ２０４へ直接送られるのではなく、続いて、システム分離ユニット３００へと送られる。システム分離ユニット３００によってデジタル化波形が分離された後、複数の分離部分である波形ｙ（１）からｙ（ｎ）までのそれぞれは、複数のＤＳＰフィルタ２０４へと送られる。これらシステム別波形は、ｙ（１）、ｙ（２）・・・ｙ（ｎ）によって表され、これらのラベル中のインデックスは、取り込まれた波形ｘ（ｎ）中の複数のＤＵＴシステム・パラメータから構成される異なるＳパラメータ構成を表す例である。図４に示すように、波形の複数の分離部分を、ＤＳＰフィルタ２０４を通して処理した後に、複数のＳＤＬＡフィルタ４００へ送るようにしても良い。
【００３４】
ＤＳＰフィルタ２０４は、複数のフィルタの組み合わせから構成され、これらは合成されて１つのフィルタとして波形に適用される。ＤＳＰフィルタ２０４は、オシロスコープのチャンネルの位相とマグニチュード・エラーを補正する帯域幅拡張フィルタと、プローブの位相とマグニチュード・エラーを補正するプローブ・フィルタ（ただし、プローブを使用する場合）と、オシロスコープのチャンネルの帯域幅を狭くするためにユーザが選択した帯域幅制限フィルタと、温度に応じた変化を補償するための温度補正フィルタとから構成されても良い。また、ＤＳＰフィルタ２０４は、これらフィルタの中から任意に選択して組み合わせて構成されても良い。一方、ＳＤＬＡフィルタ４００は、ＤＵＴのＳパラメータと試験測定システムに基づくものである。
【００３５】
単一のデジタイザを説明し図示しているが、当業者であれば容易に理解できるように、複数のデジタイザを用いても良い。デジタイザは、インターリーブされた複数のサンプル・ホールド回路及び複数のアナログ・デジタル・コンバータから構成されても良い。
【００３６】
システム分離ユニット３００は、ＤＵＴから複数の異なる送信器（図１参照）を用いて受信した波形の複数の異なる特性に関連する波形の複数の異なる部分を特定するもので、詳しくは後述する。つまり、システム分離ユニット（実態は、例えば、オシロスコープのプロセッサが実行するソフトウェア処理によるアルゴリズム）３００は、デジタル化波形ｘ（ｎ）を処理し、複数の異なるシステムＳパラメータ特性に関連する波形の複数の異なる部分の位置を特定してゲート処理（抽出）する。
【００３７】
最初に、システム分離ユニット３００は、どの形式のＤＵＴから信号が取り込まれたかを判断する。システム分離ユニット３００は、どの形式のＤＵＴから波形が取り込まれたかに応じて切り替えられ、設定されるアルゴリズムを含んでいる。システム分離ユニット３００は、後述するように、ＤＵＴの形式をユーザ入力によって特定しても良い。
【００３８】
ＤＵＴの形式が決まると、デジタル化波形の複数の異なる部分を分離できる。例えば、ＭＩＰＩバスを用いるＤＵＴでは、異なる送信速度及び異なる電圧レベルに基いて、異なる時間位置で取り込まれた波形において、どの送信器がアクティブだったかを特定できる。しかし、ＤＤＲメモリ波形は、複数の異なる部分を特定し分離するために、２つの波形をシステム分離ユニット３００に入力することが必要なことがある。これに代えて、システム分離ユニット３００が、波形の複数の異なる部分を特定し分離するために、相関の計算を組み入れていても良い。最後に、更に別のシステムでは、第２波形のイベント（ストローブ）を用いて、取り込まれた波形の複数の異なる部分を特定しても良い。
【００３９】
別の実施形態では、図３及び図４に示すように、システム分離処理が、オシロスコープの現在のＤＳＰフィルタをオフにして、オシロスコープ上で実行されても良い。続いて、ＭＡＴＬＡＢ（マスワークス社の登録商標）数値計算プラグインを使用するために、これがオシロスコープの数値計算メニュー中に生成される。この数値計算プラグインは、上述のシステム分離ユニットの機能を実行し、また、フィルタを適用する。しかし、２つ目のシステム分離処理を行うには、第２の数値処理プラグインが必要となることがある。つまり、１つの目の数値処理プラグインでは、複数の分離波形の内の１つだけを生成し、第２の数値処理プラグインで第２の分離波形を生成する。
【００４０】
本発明の別の実施形態では、図５及び図６に示すように、取込み波形の処理の機能のために外部装置を使用する。例えば、図５では、取込み波形をオシロスコープ５０２で受けて、図３及び４に関して上述したように、増幅器２００及びデジタイザ２０２を通して処理する。デジタル化波形は、次にシステム分離ユニット３００に送られ、上述の如くデジタル化波形を分離する。分離された波形ｙ（１）、ｙ（２）、…ｙ（ｎ）は、更なる処理のために外部コンポーネント５００に送られる。外部コンポーネント５００では、ＤＳＰフィルタ２０４及びＳＤＬＡフィルタ４００が適用されても良い。処理された信号は、オシロスコープに送り戻され、表示装置５０４でユーザに波形として表示したり、オシロスコープのメモリ（図示せず）に記憶されたりする。
【００４１】
更に別の実施形態が図６に示され、この例では、システム分離ユニット３００も、オシロスコープ５０２上ではなく、外部装置５００上に配置される。図６の実施形態は、オシロスコープの従来の構成を変更することなく、オシロスコープ上で実現することもできる。これには、まず、オシロスコープ５０２上の既存のＤＳＰフィルタをオフにすることで行われる。次に、波形ｗ（ｎ）が取り込まれ、上述のように、増幅器２００及びデジタイザ２０２を通して処理される。デジタル化波形ｗ（ｎ）は、外部装置５００内に置かれる。ＤＳＰフィルタ２０４も、図５に示すように外部装置５００へと移管される。続いて、波形は、外部装置５００中のシステム分離ユニット３００を通して処理される。波形が分離された後、分離波形ｙ（１）、ｙ（２）、…ｙ（ｎ）は、ＤＳＰフィルタ２０４及びＳＤＬＡフィルタ４００へと送られる。最後に分離波形は、オシロスコープ５０２へと送り返され、表示装置５０４上で表示されたり、メモリに記憶されたりする。別の実施形態としては、外部装置５００が、分離波形を表示する表示装置を有していても良い。
【００４２】
オシロスコープ５０２は、ユーザ入力部５０６を含んでいる。ユーザ入力部５０６は、図７に示すように、表示装置５０４上で示されるメニュー７００を含んでいても良い。メニュー７００には、複数の典型的なシステムからなる選択リスト７０２があり、これらについて、オシロスコープ５０２は、カスタム（それぞれの形式に適した）分離アルゴリズムを有している。多くのシステムが、Ｓパラメータが変化する領域に関連してストローブ信号又はイネーブル信号を有しているので、メニュー７００は、数個の基本的なパラメータを有する、より一般的なシステム分離アルゴリズムを含むようにしても良い。
【００４３】
異なる多数の形式のシステムに適用されるシステム分離の主な方法には、ストローブ・ゲート（抽出）処理の利用を含む。図７は、選択リスト７０２で一般的（Generic）システムが選択され、ストローブ・ゲート処理を用いるという状態にあるメニュー７００を示している。ユーザは、選択リスト７０２で「一般（Generic）」オプションを選択するとする。次に、別の選択リスト７０４で、信号源のチャンネルが選択される。ストローブ信号源チャンネルも選択リスト７０６で選択される。ストローブ信号の持続時間は時間インターバルを示し、これに対してシステムは、関心のある信号部分に関連する１組（１セット）のＳパラメータを有する。メニュー７００は、更に、４つの選択可能なシステムからどれを分離するかを選択するためのシステム定義７０８と、ゲート領域を入れ替えるデータのレベルを設定する補充拒否レベル７１２と、出力波形選択７１４とを含んでいる。メニュー７００は、更に、正しいゲート領域を決定するためのストローブ極性入力（選択ボタン）７１０と、図示しないが、ゲートを開始するしきい値レベルを調整するためのストローブしきい値入力とを含んでいても良い。
【００４４】
メニュー７００で一般システムが選択されると、ユーザはメニュー７００を通して必要なデータを入力する。続いて、ストローブ波形中のアクティブ・パルスのある領域のそれぞれにおいて、波形が取り込まれ、波形のこのインターバルが、対応する所望波形領域を１つの新しい波形へとゲート（抽出）するのに利用される。これは、新しい波形中のゲートされた領域の位置を古い波形中の同じ時点で特定すると共に、新しい波形のゲート処理で信号無しとなった領域をメニュー７００からの破棄補充レベル値で満たすことによって行われる。分離された２つのシステム両方が分析されたら、第２システムから生じたゲート領域だけを使用できるように、引き続き第２波形が生成される。しかし、装置は、２つのシステムを分離処理することだけに限定されない。上述した同じ処理を用いて３つ以上のシステムを分離できる。複数のシステムが分離されると、図３〜図６に示すようにフィルタが提供される。
【００４５】
メニュー７００の選択リスト７０２において一般的システムが選択されるのではなく、ＭＩＰＩシステムが選択されても良い。ＭＩＰＩシステムに関して異なる特性の異なる波形を分離する方法としては、２つ可能なものがある。
【００４６】
第１の方法は、一般的なシステムに関して上述したようなストローブ・ゲート処理を用いるものである。関心のある領域は、高速データ伝送から分離できる。この処理は、ゲート領域だけ含む新しい波形を生成する。ゲート処理で排除された領域の全ては、高速共通レベル（補充レベル：例えば、300mVで一定）で満たされるので、関心のあるゲート領域は、システム分離波形中の正しい時間位置を維持する。
【００４７】
第２の方法は、波形を観測し、ハイ・レベルへの遷移を検出するアルゴリズムから構成される。このアルゴリズムは、低レベル及び高レベル間を行き来する低パワー伝送に関連する連続的な各エッジを記録することによって、低パワー伝送領域を特定する。これら連続するエッジは、高速伝送出力信号が始まる時点と合致するエッジのある時点までがゲートされる。低パワーの高レベル遷移は、信号が高速伝送を開始する状態を生じさせる。こうした状態は、この処理の一部に利用できる。
【００４８】
更に、メニュー７００の選択リスト７０２において、ＤＤＲメモリを選択しても良い。ＤＤＲメモリが選択された場合では、ストローブ信号の位相によって、動作が読み出し動作か書き込み動作かを特定できる（特許文献３参照）。このため、ストローブ信号の位相を、波形からゲートする領域を特定するのに利用できる。しかし、ＤＤＲシステムは、一般的なシステムの分離に関して上述したようにストローブ信号を用いることよっても分離できる。
【００４９】
上述したいくつかの実施形態では、複数の分離波形を正しい時点で単一の波形へと組み合わせることに言及しているが、本発明による試験測定装置又は外部装置は、補充レベル（上述の高速共通レベルなど）は挿入せず、むしろ補充領域（ゲート処理で排除された領域）は破棄して、複数の分離波形を維持することもできる。つまり、複数波形からなる配列が１つのＤＵＴ特性に関してゲートされ、複数波形からなる別の配列が、別のＤＵＴ特性に関してゲートされる。これら配列のそれぞれは、出力されてユーザに表示されても良い。
【００５０】
本発明の１つ又は複数の側面が、１つ又は複数のプログラム・モジュールの形のような、コンピュータで利用可能なデータ及びコンピュータで実行可能な命令の形で実現され、１つ以上のコンピュータ（モニター・モジュールを含む）やその他の装置で実行されても良い。一般的に、プログラム・モジュールは、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、コンピュータ中のプロセッサや他のデイバスで実行されたときに、特定のタスクを実行したり、特定の抽象データ型（abstract data type、ADT）を実現する。コンピュータで実行可能な命令は、ハード・ディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ（ＳＳＤなど）、ＲＡＭなどの非一時的なコンピュータ読み出し可能メディア上に記憶されても良い。当業者であれば、容易に理解できるように、複数のプログラム・モジュールの機能は、種々の実施形態での必要性に応じて、組み合わせても良いし、分散させても良い。加えて、こうした機能は、集積回路、ＦＰＧＡ（field programmable gate array）などのようなハードウェアやファームウェアの形で、その全部又は一部が実現されても良い。本発明の１つ以上の側面を効果的に実現するために、特定のデータ構造を用いても良く、こうしたデータ構造は、コンピュータで利用可能なデータ及びコンピュータで実行可能な命令に関して本願で説明した範囲から考え得るであろう。
【００５１】
好ましい実施形態を用いて本発明の原理を説明及び図示してきたが、本発明は、こうした原理から逸脱することなく、その構成や詳細を変更できることは当然である。特許請求の範囲の請求項に記載した発明の主旨及び範囲に含まれる全ての変更及び変形について、出願人は権利を主張するものである。
【符号の説明】
【００５２】
２００  増幅器
２０２  デジタイザ
２０４  ＤＳＰフィルタ
３００  システム分離ユニット
４００  ＳＤＬＡフィルタ
５００  外部装置（外部コンポーネント）
５０２  オシロスコープ
５０４  表示装置
５０６  ユーザ入力部
７００  メニュー
７０２  選択リスト（システム形式）
７０４  選択リスト（信号源チャンネル）
７０６  選択リスト（ストローブ信号源チャンネル）
７０８  システム定義
７１０  ストローブ極性選択ボタン
７１２  補充レベル入力フィールド
７１４  選択リスト（出力波形）
【図１】
2014202757.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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