(57)【要約】【課題】プローブをプロービングさせるポイントの座標を修正する作業を正確に行う。【解決手段】同種類の回路基板を複数並べて形成した多面付基板１００に対する電気的検査においてプローブをプロービングさせるポイントの位置を特定するための検査用データを記憶する記憶部と、修正操作に従って検査用データを修正する処理部と、検査用データに基づく画像を表示部３に表示させる表示制御部とを備え、表示制御部は、検査用データに基づき、基準回路基板Ａの基準位置Ｐ１を原点とする絶対座標で多面付基板１００内の全てのポイントの位置を表示する第１画像Ｇａ、および基準回路基板Ａ内のポイントの位置を絶対座標で表示すると共に回路基板Ｂ〜Ｄ内のポイントの位置を対応位置Ｐ２〜Ｐ４を原点とする相対座標で表示する第２画像Ｇｂのいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて表示部３に表示させる。【選択図】図６
2014202666.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
同種類の回路基板を複数並べて１枚に形成した多面付基板に対する電気的検査において検査用のプローブをプロービングさせる当該多面付基板上の予め指定されたポイントの位置を特定するための検査用データを記憶する記憶部と、修正操作に従って前記検査用データを修正する修正処理を実行する処理部と、前記検査用データに基づく画像を表示部に表示させる表示制御部とを備えたデータ処理装置であって、
前記表示制御部は、前記記憶部に記憶されている前記検査用データに基づき、基準回路基板として予め決められた前記多面付基板内の１つの回路基板における予め規定された基準位置を原点とする絶対座標で前記多面付基板内の全ての前記ポイントの位置を表示する第１の画像、および前記基準回路基板内の前記ポイントの位置を前記絶対座標で表示すると共に前記他の回路基板内の前記ポイントの位置を前記基準位置に対応する対応位置を原点とする相対座標で表示する第２の画像のいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて前記表示部に表示させると共に、前記修正処理が実行されたときに表示中の前記画像を当該修正処理の内容で更新させるデータ処理装置。
【請求項２】
前記記憶部は、前記多面付基板の平面形状を特定する形状データを記憶し、
前記表示制御部は、前記第１の画像および前記第２の画像において、前記ポイントがプロットされた前記多面付基板の平面形状を前記形状データに基づいて表示させる請求項１記載のデータ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、同種類の回路基板を複数並べて１枚に形成した多面付基板に対する電気的検査においてプローブをプロービングさせるポイントの位置を特定するための検査用データを修正可能に構成されたデータ処理装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の装置として、特開２０１０−１０７２６５号公報において出願人が開示したデータ生成装置が知られている。このデータ生成装置は、電子部品における各接続端子の先端部の位置を特定可能な情報を含んだ電子部品データ、電子部品を回路基板に実装するときの回路基板上の電子部品の位置等を示す情報を含んだマウンタデータ、および回路基板上における配線パターンやランドの位置や幅（形状）を特定可能な情報を含んだ配線パターンデータ（ＣＡＤデータやガーバデータ）に基づき、電子部品が実装されている回路基板に対する検査を行う際に検査用のプローブをプロービングさせるポイント（プロービング位置）を特定してその位置データを生成する。具体的には、このデータ生成装置では、実装状態における電子部品における接続端子の先端部の位置を電子部品データおよびマウンタデータに基づいて特定すると共に、配線パターンデータに基づいてランドの位置を特定して、接続端子の先端部の位置にランドが存在すると判別したときにそのランドの位置をポイントとして特定する。
【０００３】
一方、回路基板の製造時に生じる配線パターンの位置ずれや、電子部品を回路基板に実装するときに生じる位置ずれなどに起因して、上記した各データに基づいて特定したポイントに接続端子やランドが存在していないことがある。このため、この種のデータ生成装置には、一般的に、修正操作を行ってポイントの座標を修正する機能が備えられている。この場合、出願人は、同種類の回路基板を複数並べて１枚に形成した多面付基板に対する検査用に生成された位置データに含まれる座標の修正を、次のような手順で行う機能を備えたデータ生成装置を開発している。１つ目の手順（第１の手順）で座標の修正を行うデータ生成装置では、多面付基板内の１つの回路基板（基準回路基板）における予め規定された位置（基準位置）を原点とする座標（絶対座標）で多面付基板における全てのポイントの位置を示す画像を表示部に表示させる。次いで、操作部を操作して、画像の中から修正すべき座標を選択して、その座標を修正する。続いて、処理部が修正後の座標を記憶部に記憶させる。また、２つ目の手順（第２の手順）で座標の修正を行うデータ生成装置では、多面付基板における各回路基板が互いに同じ形状に形成されていることを利用して、上記した基準回路基板内の各ポイントの位置を上記した基準位置を原点とする座標（絶対座標）で示すと共に、基準回路基板を除く他の回路基板内の各ポイントの位置については、基準位置に対応する対応位置をそれぞれ原点として絶対座標と同じ値で表した座標（相対座標）で示す画像を表示部に表示させる。次いで、操作部を操作して、画像の中から修正すべき座標を選択して、その座標を修正する。続いて、処理部が修正後の座標を記憶部に記憶させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１０７２６５号公報（第５−６頁、第１図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、出願人が既に開発している座標の修正機能を備えた上記のデータ生成装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記した第１の手順で座標の修正を行うデータ生成装置では、多面付基板１００における全てのポイントの位置を絶対座標で示す画像を表示させて、その中から選択したポイントの絶対座標を修正するように構成されている。具体的には、このデータ生成装置では、図１２に示すように、例えば、同種類の４つの回路基板Ａ〜Ｄを平行移動させたり、回転させたりして並べて１枚に形成した多面付基板における互いに対応するポイントＰａ〜Ｐｄの位置が、同図に示す基準位置Ｐ１を原点とする絶対座標で表示される。この状態において、同図における回路基板（基準回路基板）ＡのポイントＰａをＸ軸に沿って「１０」（つまり、右側に「１０」）、Ｙ軸に沿って「０」だけ移動させるときには、ポイントＰａの絶対座標を（１０，１０）から（２０，１０）に修正する。また、各回路基板Ｂ〜ＤにおけるポイントＰａに対応するポイントＰｂ〜Ｐｄを、基準回路基板Ａと各回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係を考慮しつつポイントＰａの移動量と同じ移動量だけ移動させるときには、各ポイントＰｂ〜Ｐｄの絶対座標を（１１０，１０）、（９０，１９０）、（１９０，１９０）から（１２０，１０）、（８０，１９０）、（１８０，１９０）にそれぞれ修正する。このように、このデータ生成装置では、各回路基板Ａ〜Ｄにおける互いに対応するポイントの座標を修正する際に、基準回路基板Ａと回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係に応じて、修正すべき座標の値が異なるため、修正すべき座標を直感的に把握することが困難な結果、修正すべき座標を誤り易いという課題が存在する。
【０００６】
また、第２の手順で座標の修正を行うデータ生成装置では、基準回路基板内の各ポイントの位置を絶対座標で示すと共に、基準回路基板を除く他の回路基板内の各ポイントの位置を相対座標で示す画像を表示部に表示させて、その中から選択したポイントの座標を修正するように構成されている。具体的には、このデータ生成装置では、図１３に示すように、多面付基板１００における基準回路基板ＡのポイントＰａの位置が、基準位置Ｐ１を原点とする絶対座標（１０，１０）で表示される。また、基準回路基板Ａを除く他の回路基板Ｂ〜ＤにおけるポイントＰａに対応するポイントＰｂ〜Ｐｄの位置が、基準位置Ｐ１に対応する対応位置Ｐ２〜Ｐ４を原点とする相対座標、つまりポイントＰａの位置を示す座標と同じ座標（１０，１０）でそれぞれ表示される。この場合、ポイントＰｄの位置を測定した結果、設計上のポイントＰｄの位置と測定した位置との間に位置ずれが生じており、この位置ずれを解消するために同図におけるＸ軸に沿って「−１０」（つまり、左側に「１０」）、Ｙ軸に沿って「０」だけ座標を修正するときには、ポイントＰｄの座標を（１０，１０）から（２０，１０）に修正する。つまり、Ｘ軸に沿った見た目の位置をマイナス方向に移動させるときには、座標を増加させる必要がある。このように、このデータ生成装置では、基準回路基板Ａと他の回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係によっては、逆方向に座標が移動するかのような感覚を生じさせる値に座標を修正するとことがある。このため、このデータ生成装置では、このような修正を行う際には、修正すべき座標を誤り易いという課題が存在する。
【０００７】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、プローブをプロービングさせるポイントの座標を修正する作業を正確に行い得るデータ処理装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成すべく請求項１記載のデータ処理装置は、同種類の回路基板を複数並べて１枚に形成した多面付基板に対する電気的検査において検査用のプローブをプロービングさせる当該多面付基板上の予め指定されたポイントの位置を特定するための検査用データを記憶する記憶部と、修正操作に従って前記検査用データを修正する修正処理を実行する処理部と、前記検査用データに基づく画像を表示部に表示させる表示制御部とを備えたデータ処理装置であって、前記表示制御部は、前記記憶部に記憶されている前記検査用データに基づき、基準回路基板として予め決められた前記多面付基板内の１つの回路基板における予め規定された基準位置を原点とする絶対座標で前記多面付基板内の全ての前記ポイントの位置を表示する第１の画像、および前記基準回路基板内の前記ポイントの位置を前記絶対座標で表示すると共に前記他の回路基板内の前記ポイントの位置を前記基準位置に対応する対応位置を原点とする相対座標で表示する第２の画像のいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて前記表示部に表示させると共に、前記修正処理が実行されたときに表示中の前記画像を当該修正処理の内容で更新させる。
【０００９】
また、請求項２記載のデータ処理装置は、請求項１記載のデータ処理装置において、前記記憶部は、前記多面付基板の平面形状を特定する形状データを記憶し、前記表示制御部は、前記第１の画像および前記第２の画像において、前記ポイントがプロットされた前記多面付基板の平面形状を前記形状データに基づいて表示させる。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載のデータ処理装置では、表示制御部が、第１の画像および第２の画像のいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて表示部に表示させ、修正処理が実行されたときに表示中の画像を修正処理の内容で更新させる。この場合、第１の画像を表示させた状態で行う修正操作では、全てのポイントの位置が絶対座標で表示されるため、例えば、設計上のポイントの位置と測定した位置との間に生じている位置ずれを解消するためにそのポイントの座標を修正する際には、位置ずれ量をそのまま反映させた（増減させた）座標の値を入力することで、座標の修正を行うことができる。この結果、相対座標でポイントの位置を表示させた状態で行う修正操作とは異なり、基準回路基板と他の回路基板との間の相対的な位置関係によっては逆方向に座標が移動するかのような感覚を生じさせる値に座標を修正することがないため、入力する座標の値の錯誤が防止されて、座標の修正作業を正確に行うことができる。また、第２の画像を表示させた状態で行う修正操作では、例えば、互いに対応するポイントの座標を修正するときには、基準回路基板と回路基板との間の相対的な位置関係に応じて修正すべき座標の値を異ならせることなく、同じ座標の値を入力して修正を行うことができるため、回路基板毎に異なる座標の値を入力するときに生じ易い入力ミスや、回路基板毎に異なる座標の値を算出するときの計算ミスに起因して誤った座標に修正する事態を確実に防止することができる結果、座標の修正作業を正確に行うことができる。したがって、このデータ処理装置によれば、態様に応じて第１の画像および第２の画像を切り替えて表示させその状態で修正操作を行うことで、どのような態様の修正作業においても、その修正作業を正確に行うことができる。
【００１１】
また、請求項２記載のデータ処理装置によれば、表示制御部が、第１の画像および前記第２の画像において、ポイントがプロットされた多面付基板の平面形状を表示させることにより、多面付基板内における修正すべきポイントを容易に探し出すことができる。このため、このデータ処理装置によれば、ポイントの座標を修正する修正作業の効率を十分に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】データ処理装置１の構成を示す構成図である。
【図２】検査ステップデータＤａの構成を説明する説明図である。
【図３】基準座標データＤｂの構成を説明する説明図である。
【図４】相対データＤｃの構成を説明する説明図である。
【図５】オフセットデータＤｄの構成を説明する説明図である。
【図６】データ処理装置１の動作を説明する第１の説明図である。
【図７】データ処理装置１の動作を説明する第２の説明図である。
【図８】データ処理装置１の動作を説明する第３の説明図である。
【図９】データ処理装置１の動作を説明する第４の説明図である。
【図１０】データ処理装置１の動作を説明する第５の説明図である。
【図１１】データ処理装置１の動作を説明する第６の説明図である。
【図１２】従来のデータ生成装置の動作を説明する第１の説明図である。
【図１３】従来のデータ生成装置の動作を説明する第２の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、データ処理装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１４】
最初に、データ処理装置の一例としての図１に示すデータ処理装置１の構成について説明する。このデータ処理装置１は、同図に示すように、操作部２、表示部３、記憶部４および制御部５を備えて、一例として、図６に画像で示す多面付基板１００に対する電気的検査を行う際に検査用のプローブを接触させる回路基板上のポイントの位置を特定するためのデータ（具体的には、後述する基準座標データＤｂおよびオフセットデータＤｄ）を修正可能に構成されている。この場合、多面付基板１００は、同種類の回路基板を複数並べて１枚に形成した基板であって、この例では、同図に示すように、多面付基板１００の表面を格子状に４つに区切った各領域に４つの回路基板Ａ〜Ｄを配置して形成されている。また、回路基板Ｃ，Ｄは、回路基板Ａ，Ｂを１８０°回転させた状態で配置されている。このように各回路基板Ａ〜Ｄを配置することで、多面付基板１００は、多面付基板１００の中心部を対称点として点対称となるように構成されている。
【００１５】
また、上記の電気的検査では、一例として、１回の検査ステップ（検査工程）において、２つのポイントにプローブを１本ずつ（合計２本）プロービングさせた状態で導体パターンの断線検査や電子部品の検査（定数検査）を行う。このため、この電気的検査では、検査ステップを各ポイントの組み合わせを変更しつつ複数回実行する。
【００１６】
操作部２は、一例として、キーボードおよびポインティングデバイスとしてのマウスを備えて構成されて、操作に応じて制御部５に対して操作信号を出力する。表示部３は、制御部５の制御に従い、各種の画像を表示する。具体的には、制御部５は、後述する第１画像（第１の画像）Ｇａおよび第２画像（第２の画像）Ｇｂを表示する。
【００１７】
記憶部４は、例えば、磁気記憶媒体やＲＡＭなどを備えて構成され、制御部５の動作プログラムを記憶する。また、記憶部４は、検査対象の多面付基板１００の設計データ（多面付基板１００における配線パターンの形状や、多面付基板１００に実装される電子部品の実装位置等を特定可能なデータ）に基づいて予め生成された検査ステップデータＤａ、基準座標データＤｂ、相対データＤｃ、オフセットデータＤｄおよび形状データＤｅを記憶する。これらのデータＤａ〜Ｄｅは、検査用データの一例であって、上記したように、多面付基板１００に対する電気的検査を行う際に検査用のプローブを接触させる多面付基板１００上のポイントの位置を特定するために用いられる。
【００１８】
この場合、検査ステップデータＤａは、図２に概念的に示すように、多面付基板１００に対する電気的検査において実行される検査ステップの順番を示すステップ番号（同図にそれらの一部を示す「Ｓ１〜Ｓ４」の番号）の情報と、各検査ステップにおいてプロービングの対象となるポイント（以下、「プロービング対象ポイント」ともいう）を識別する符号（同図にそれらの一部を示す「Ｐａ１〜Ｐ５，Ｐ７，Ｐ８」の符号）の情報とが対応付けられて構成されている。
【００１９】
また、基準座標データＤｂは、図３に概念的に示すように、多面付基板１００内の各回路基板Ａ〜Ｄの中から基準回路基板として予め決められた回路基板（例えば、回路基板Ａ：以下、「基準回路基板Ａ」ともいう）内の全てのポイントを識別する符号（同図にそれらの一部を示す「Ｐａ１〜Ｐａ４」の符号）の情報と、各ポイントの座標（Ｘ座標およびＹ座標）の情報とが対応付けられて構成されている。この場合、基準回路基板Ａにおける予め規定された基準位置Ｐ１（図６参照）を原点とする座標（以下、「絶対座標」ともいう）がこの基準座標データＤｂにおけるポイントの座標として採用されている。
【００２０】
また、相対データＤｃは、基準回路基板Ａを除く他の回路基板Ｂ〜Ｄと基準回路基板Ａとの相対的な位置関係を示すデータであって、図４に概念的に示すように、基準回路基板Ａの中心と回路基板Ｂ〜Ｄの中心との間のＸ軸・Ｙ軸それぞれに沿った離間距離を示す情報、および基準回路基板Ａに対する回路基板Ｂ〜Ｄの回転角度を示す情報を含んで構成されている。
【００２１】
また、オフセットデータＤｄは、多面付基板１００内の全てのポイント毎に個別に設定可能なオフセット値を示す情報を含んで構成されている。このオフセット値は、各回路基板Ａ〜Ｄにおいて互いに対応するポイント（例えば、図６に示す４つのポイントＰａ１，Ｐｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１）のうちの１つの位置だけを移動させるために用いられる。具体的には、このオフセット値が設定されているポイントの位置は、互いに対応する他のポイントの位置よりもオフセット値（Ｘ軸・Ｙ軸に沿った距離）の分だけ移動した位置に規定される。なお、初期状態では、各ポイントのオフセット値は（０，０）に設定されている。
【００２２】
また、形状データＤｅは、多面付基板１００の平面形状を特定する形状データあって、多面付基板１００の輪郭、および各回路基板Ａ〜Ｄの輪郭を示す情報を含んで構成されている。
【００２３】
制御部５は、表示制御部および処理部として機能して、データ処理装置１を構成する各部を制御すると共に、各種の処理を実行する。具体的には、制御部５は、記憶部４に記憶されている検査用データ（各データＤａ〜Ｄｅ）に基づき、第１画像Ｇａおよび第２画像Ｇｂのいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて表示部３に表示させる
【００２４】
この場合、第１画像Ｇａは、図６に示すように、多面付基板１００内の全てのポイントの位置を絶対座標で一覧表示する画像（以下「第１座標画像Ｇｃ」ともいう）と、多面付基板１００の平面形状を示す平面図内に各ポイント（ポイントを示すドット）がプロットされた画像（以下「基板画像Ｇｄ」ともいう）と、多面付基板１００に対する電気的検査において実行される検査ステップにおけるプロービング対象のポイントを一覧表示する画像（以下「検査ステップ画像Ｇｅ」ともいう）とで構成されている。
【００２５】
また、第２画像Ｇｂは、図９に示すように、基準回路基板Ａ内の各ポイントの位置を絶対座標で表示すると共に基準回路基板Ａを除く他の回路基板Ｂ〜Ｄ内の各ポイントの位置を基準位置Ｐ１に対応する対応位置Ｐ２〜Ｐ４（相対データＤｃによって特定される位置関係分だけ基準位置Ｐ１から移動させた位置）をそれぞれ原点として絶対座標と同じ値で表した座標（以下、「相対座標」ともいう）で表示する画像（以下「第２座標画像Ｇｆ」）と、上記した基板画像Ｇｄおよび検査ステップ画像Ｇｅとで構成されている。
【００２６】
また、制御部５は、処理部として機能し、操作部２を用いた修正操作に従って基準座標データＤｂおよびオフセットデータＤｄを修正する修正処理を実行する。具体的には、制御部５は、第１画像Ｇａが表示されている状態で修正操作がされたときに、オフセットデータＤｄ内における修正操作の対象（修正対象）のポイントについてのオフセット値を設定すると共に、そのオフセットデータＤｄを記憶部４に記憶（上書き）させる。このように、オフセットデータＤｄ内における修正対象のポイントについてのオフセット値を修正することで、修正対象のポイントの座標だけを修正することができる。
【００２７】
また、制御部５は、第２画像Ｇｂが表示されている状態で修正操作がされたときに、基準座標データＤｂ内における修正対象のポイントに対応する絶対座標を修正すると共に、修正した基準座標データＤｂを記憶部４に記憶（上書き）させる。このように、基準座標データＤｂ内の絶対座標を修正することで、相対データＤｃによって特定される位置関係分だけ基準位置Ｐ１から移動させた対応位置Ｐ２をそれぞれ原点として絶対座標と同じ値で表される相対座標も実質的に修正することができる。
【００２８】
また、制御部５は、修正処理を実行したときに、表示部３に表示させている画像（第１画像Ｇａまたは第２画像Ｇｂ）を修正処理の内容で更新して表示させる。
【００２９】
次に、データ処理装置１を用いて、検査用データとしての基準座標データＤｂおよびオフセットデータＤｄを修正する方法、およびその際のデータ処理装置１の動作について、図面を参照して説明する。この場合、検査ステップデータＤａ（図２参照）、基準座標データＤｂ（図３参照）、相対データＤｃ（図４参照）、オフセットデータＤｄ（図５参照）および形状データＤｅが記憶部４に予め記憶されているものとする。
【００３０】
まず、操作部２を操作して、検査ステップデータＤａ、基準座標データＤｂ、相対データＤｃ、オフセットデータＤｄおよび形状データＤｅの読み出しを指示する。この際に、操作部２が操作信号を出力し、制御部５が操作信号に従って記憶部４から各データＤａ〜Ｄｅを読み出す。
【００３１】
次いで、操作部２を操作して、第１画像Ｇａおよび第２画像Ｇｂのいずれか一方を選択して、選択した画像の表示を指示する。ここで、第１画像Ｇａを表示させている状態で修正処理を行ったときには、修正したポイント修正対象のポイントについてのオフセットデータＤｄ内のオフセット値が設定（または修正）されるだけで、基準座標データＤｂ内の絶対座標が修正されることがないため、各回路基板のうちの１つの回路基板のポイントの座標だけを修正するときには、この第１画像Ｇａを選択する。
【００３２】
この第１画像Ｇａを選択して表示の指示をしたときには、制御部５が、操作部２から出力された操作信号に従い、記憶部４から読み出した各データＤａ〜Ｄｅに基づき、第１画像Ｇａを表示部３に表示させる。
【００３３】
具体的には、制御部５は、多面付基板１００に対する電気的検査において実行される各検査ステップのステップ番号の情報と、各検査ステップにおけるプロービング対象ポイントを識別する符号の情報とを、読み出した検査ステップデータＤａから抽出する。また、制御部５は、基準回路基板Ａ内の全てのポイントの絶対座標の情報を、読み出した基準座標データＤｂから抽出する。さらに、制御部５は、回路基板Ｂ〜Ｄと基準回路基板Ａとの相対的な位置関係を示す情報を、読み出した相対データＤｃから抽出する。また、制御部５は、読み出したオフセットデータＤｄ内にオフセット値が設定されているポイントが存在するか否かを判別し、存在するときには、そのオフセット値の情報を抽出する。
【００３４】
次いで、制御部５は、抽出した基準回路基板Ａにおける各ポイントの絶対座標、および回路基板Ｂ〜Ｄと基準回路基板Ａとの間の相対的な位置関係を示す数値に基づいて回路基板Ｂ〜Ｄにおける各ポイントの絶対座標を特定する。続いて、制御部５は、オフセット値が設定されているポイントが存在しているときには、存在するときには、そのポイントの絶対座標をオフセット値で補正する。
【００３５】
次いで、制御部５は、読み出した形状データＤｅに基づいて多面付基板１００の平面形状を特定して、その平面形状を示す平面図内に各ポイントをプロットした基板画像Ｇｄと、全てのポイントの位置を絶対座標（または、補正した絶対座標）で一覧表示する第１座標画像Ｇｃと、各検査ステップにおけるプロービング対象ポイントを一覧表示する検査ステップ画像Ｇｅとで構成された第１画像Ｇａを表示させるための画像データを生成する。次いで、制御部５は、生成した各画像データを表示部３に出力することにより、図６に示すように、第１画像Ｇａを表示部３に表示させる。
【００３６】
ここで、例えば、図６に示すポイントＰｄ１の位置を測定した結果、設計上のポイントＰｄ１の座標と測定した座標との間にずれが生じており、このずれを解消するためにポイントＰｄ１の座標を修正するときには、操作部２を用いて選択操作を行う。具体的には、図７に示すように、操作部２のマウスを操作して第１画像Ｇａの第１座標画像Ｇｃ内におけるポイントＰｄ１の座標の表示箇所にカーソル（ポインタ）を移動させ、続いて、マウスをクリックしてその座標を選択する。なお、基板画像Ｇｄ内にプロットされているポイントＰｄ１にカーソルを移動させて選択してもよい。この際に、制御部５が、操作部２から出力された操作信号に従い、選択された座標の表示箇所の近傍に座標を入力するための入力用画像Ｇｉを表示させる。
【００３７】
続いて、操作部２を用いて修正操作を行う。ここで、第１画像Ｇａでは、多面付基板１００における全てのポイントの位置が基準位置Ｐ１を原点とする絶対座標で表示されている。このため、ポイントＰｄ１の位置を基準位置Ｐ１を原点として測定したときの測定値と絶対座標との間の位置ズレ量が例えば図７におけるＸ軸に沿って「−１０」（つまり、左側に「１０」）、Ｙ軸に沿って「０」のときには、この値をそのまま反映させて絶対座標を修正すればよい。具体的には、図７に示すように、操作部２のキーボードを用いて入力用画像Ｇｉ内に数値を入力することにより、ポイントＰｄ１の座標を（１９０，１９０）から（１８０，１９０）に修正する。上記したように、第１画像Ｇａを表示させた状態で行う修正操作では、位置ずれ量をそのまま反映させた（増減させた）座標を入力して座標の修正を行うことができるため、誤った座標に修正する事態が防止されて、座標の修正作業を正確に行うことが可能となっている。
【００３８】
次いで、制御部５は、修正処理を実行して、オフセットデータＤｄ内のポイントＰｄ１についてのオフセット値を上記した差分値である（−１０，０）に設定すると共に、そのオフセットデータＤｄ（修正したオフセットデータＤｄ）を記憶部４に記憶（上書き）させる。また、制御部５は、第１画像Ｇａを修正処理の内容で更新して表示させる。具体的には、制御部５は、図８に示すように、第１画像Ｇａ内に表示されている修正処理の対象としたポイントＰｄ１の座標を修正後の座標に更新して表示させる。さらに、制御部５は、平面図内におけるにポイントＰｄ１の位置を修正後の座標の位置に更新して表示させる。次いで、他に修正すべき座標が存在するときには、上記した選択操作および修正操作を行う。この際に、制御部５は上記した修正処理を実行する。
【００３９】
一方、上記した第２画像Ｇｂを表示させている状態で修正処理を行ったときには、基準座標データＤｂ内における修正対象のポイントに対応する絶対座標が修正され、これによって相対座標も実質的に修正される。つまり、１つの回路基板におけるポイントの座標を修正することで、そのポイントに対応する他の回路基板におけるポイントの座標も一括して修正することができる。このため、各回路基板における互いに対応する各ポイントの座標を一度の修正操作で修正するときには、この第２画像Ｇｂを選択する。
【００４０】
操作部２を操作して、この第２画像Ｇｂを選択して表示の指示をしたときには、制御部５が、操作部２から出力された操作信号に従い、記憶部４から読み出した各データＤａ〜Ｄｅに基づき、第２画像Ｇｂを表示部３に表示させる。
【００４１】
具体的には、制御部５は、上記したように、各データＤａ〜Ｄｅから各情報（ステップ番号の情報、符号の情報、絶対座標の情報）を抽出する。次いで、制御部５は、抽出した基準回路基板Ａにおける各ポイントの絶対座標、および回路基板Ｂ〜Ｄと基準回路基板Ａとの相対的な位置関係を示す数値に基づいて回路基板Ｂ〜Ｄにおける各ポイントの相対座標を特定する。続いて、制御部５は、オフセット値が設定されているポイントが存在しているときには、そのポイントの絶対座標または相対座標をオフセット値で補正する。
【００４２】
次いで、制御部５は、基板画像Ｇｄと、基準回路基板Ａのポイントの位置を絶対座標（または、補正した絶対座標）で一覧表示すると共に回路基板Ｂ〜Ｄのポイントの位置を相対座標（または、補正した相対座標）で一覧表示する第２座標画像Ｇｆと、検査ステップ画像Ｇｅとで構成された第２画像Ｇｂを表示させるための画像データを生成する。次いで、制御部５は、生成した各画像データを表示部３に出力することにより、図９に示すように、第１画像Ｇａを表示部３に表示させる。
【００４３】
ここで、例えば、図９に示すポイントＰａ１，Ｐｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１を測定した位置と設計上の位置との間に位置ずれが生じており、この位置ずれを解消するために各ポイントＰａ１，Ｐｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１の座標を修正するときには、操作部２を用いて選択操作を行う。具体的には、図１０に示すように、操作部２のマウスを操作して第２画像Ｇｂの第２座標画像Ｇｆ内における各ポイントＰａ１，Ｐｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１のうちの１つ（例えば、ポイントＰａ１）の座標の表示箇所にカーソル（ポインタ）を移動させ、続いて、マウスをクリックしてその座標を選択する。なお、基板画像Ｇｄ内にプロットされているポイントＰａ１にカーソルを移動させて選択してもよい。
【００４４】
続いて、操作部２を用いて修正操作を行う。具体的には、図１０に示すように、操作部２のキーボードを用いて入力用画像Ｇｉ内に数値を入力することにより、ポイントＰａ１の座標を（１０，１０）から（２０，１０）に修正する。
【００４５】
次いで、制御部５が、修正処理を実行して、基準座標データＤｂ内のポイントＰａ１の座標（絶対座標）を（１０，１０）から（２０，１０）に修正すると共に、修正した基準座標データＤｂを記憶部４に記憶（上書き）させる。また、制御部５は、第２画像Ｇｂを修正処理の内容で更新して表示させる。具体的には、制御部５は、図１１に示すように、第２画像Ｇｂ内に表示されている修正処理の対象としたポイントＰａ１の座標（絶対座標）を修正後の座標に更新して表示させる。また、回路基板Ｂ〜ＤにおけるポイントＰａ１に対応するポイントＰｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１の座標（相対座標）を修正後の座標に更新して表示させる。さらに、平面図内におけるにポイントＰａ１，Ｐｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１の位置を修正後の座標の位置に更新して表示させる。次いで、他に修正すべき座標が存在するときには、上記した選択操作および修正操作を行う。この際に、制御部５が上記した修正処理を実行する。
【００４６】
また、ポイントＰａ１に代えて、ポイントＰｂ１，Ｐｃ１，Ｐｄ１の座標（相対座標）に対して修正操作を行うときには、ポイントＰａ１の絶対座標に対する修正操作の際の値と同じ値を入力して修正を行う。上記例では、（１０，１０）から（２０，１０）に修正する。このように、第２座標画像Ｇｆを表示させた状態で行う修正操作では、互いに対応するポイントの座標を修正するときには、基準回路基板Ａと回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係に応じて修正すべき座標の値を異ならせることなく、同じ座標の値を入力して修正を行うことができるため、回路基板Ａ〜Ｄ毎に異なる座標の値を入力するときに生じ易い入力ミスや、回路基板Ａ〜Ｄ毎に異なる座標の値を算出するときの計算ミスに起因して誤った座標に修正する事態が防止される結果、座標の修正作業を正確に行うことが可能となっている。
【００４７】
続いて、修正すべき全ての座標についての修正操作および修正処理が終了したときには、操作部２を用いて終了操作を行う。これに応じて、制御部５は終了処理を実行する。
【００４８】
このように、このデータ処理装置１では、制御部５が、第１画像Ｇａおよび第２画像Ｇｂのいずれか一方を選択操作に応じて切り替えて表示部３に表示させ、修正処理が実行されたときに表示中の画像を修正処理の内容で更新させる。この場合、第１画像Ｇａを表示させた状態で行う修正操作では、全てのポイントの位置が絶対座標で表示されるため、例えば、設計上のポイントの位置と測定した位置との間に生じている位置ずれを解消するためにそのポイントの座標を修正する際には、位置ずれ量をそのまま反映させた（増減させた）座標の値を入力することで、座標の修正を行うことができる。したがって、相対座標でポイントの位置を表示する第２画像Ｇｂを表示させた状態で行う修正操作とは異なり、基準回路基板Ａと他の回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係によっては逆方向に座標が移動するかのような感覚を生じさせる値に座標を修正することがないため、入力する座標の値の錯誤が防止されて、座標の修正作業を正確に行うことができる。また、第２画像Ｇｂを表示させた状態で行う修正操作では、互いに対応するポイントの座標を修正するときには、基準回路基板Ａと回路基板Ｂ〜Ｄとの間の相対的な位置関係に応じて修正すべき座標の値を異ならせることなく、同じ座標の値を入力して修正を行うことができるため、回路基板Ａ〜Ｄ毎に異なる座標の値を入力するときに生じ易い入力ミスや、回路基板Ａ〜Ｄ毎に異なる座標の値を算出するときの計算ミスに起因して誤った座標に修正する事態を確実に防止することができる結果、座標の修正作業を正確に行うことができる。したがって、このデータ処理装置１によれば、態様に応じて第１画像Ｇａおよび第２画像Ｇｂを切り替えて表示させその状態で修正操作を行うことで、どのような態様の修正作業においても、その修正作業を正確に行うことができる。
【００４９】
また、このデータ処理装置１によれば、制御部５が、第１画像Ｇａおよび前記第２画像Ｇｂにおいて、ポイントがプロットされた多面付基板１００の平面形状を表示させることにより、多面付基板１００内における修正すべきポイントを容易に探し出すことができる。このため、このデータ処理装置１によれば、ポイントの座標を修正する修正作業の効率を十分に向上させることができる。
【００５０】
なお、データ処理装置１は、上記した構成に限定されない。例えば、第１画像Ｇａおよび第２画像Ｇｂの形態は上記した形態に限定されず、任意に変更することができる。具体的には、基板画像Ｇｄおよび検査ステップ画像Ｇｅを表示させずに第１座標画像Ｇｃだけで構成された第１画像Ｇａや第２座標画像Ｇｆだけで構成された第２画像Ｇｂを採用することもできる。また、基板画像Ｇｄ上にプロットしたポイントの近傍に座標を表示する形態の第１画像Ｇａや第２画像Ｇｂを採用することもできる。
【００５１】
また、操作部２のキーボードを操作して座標を数値入力する例について上記したが、他の操作方法で座標を修正することもできる。例えば、マウスを操作して座標の値を増加または減少させて座標を修正する構成を採用することもできる。
【００５２】
また、操作部２、表示部３および記憶部４を備えた構成例について上記したが、これらを備えていない構成、つまり、データ処理装置１の外部装置としての操作部、表示部および記憶部を用いる構成を採用することもできる。
【符号の説明】
【００５３】
１  データ処理装置
２  操作部
３  表示部
４  記憶部
５  制御部
１００  多面付基板
Ａ〜Ｄ  回路基板
Ｄｂ  基準座標データ
Ｄｃ  相対データ
Ｄｂ  基準座標データ
Ｄｄ  オフセットデータ
Ｄｅ  形状データ
Ｇａ  第１画像
Ｇｂ  第２画像
Ｇｃ  第１座標画像
Ｇｄ  基板画像
Ｇｅ  検査ステップ画像
Ｇｆ  第２座標画像
Ｐ１  基準位置
Ｐ２〜Ｐ４  対応位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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