(57)【要約】【課題】テストポイントの挿入によって試験対象回路に含まれる全ての観測点における診断困難性指標のバラツキを削減する。【解決手段】設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出する第１抽出部１１と、前記第１の挿入候補の各々に対してテストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する第２抽出部１２とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出する設計支援装置であって、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出する第１抽出部と、
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する第２抽出部と、を備える、設計支援装置。
【請求項２】
前記第２抽出部は、前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが前記テストポイントの挿入前の前記設計対象回路の全ての観測点における診断困難性指標のバラツキよりも小さくなる挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、請求項１に記載の設計支援装置。
【請求項３】
前記第２抽出部は、前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが最も小さい挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、請求項１又は請求項２に記載の設計支援装置。
【請求項４】
前記第１抽出部は、
前記全ての観測点における前記診断困難性指標を算出する第１指標算出部と、
前記第１指標算出部によって算出された前記診断困難性指標の最大値を抽出する最大値抽出部と、
前記最大値抽出部によって抽出された前記最大値の診断困難性指標をもつ前記最大観測点を前記頂点とする前記回路網内の複数の信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する挿入候補抽出部と、を有する、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【請求項５】
前記第１抽出部は、前記設計対象回路における各信号線が等価故障を考慮した代表故障信号線であるか否かを判断する代表故障判断部をさらに有し、
前記挿入候補抽出部は、前記回路網内の複数の信号線のうち、前記代表故障判断部によって前記代表故障信号線であると判断された信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する、請求項４に記載の設計支援装置。
【請求項６】
前記回路網は、前記最大観測点から、前記設計対象回路中に設定される値を入力する入力点、または、前記設計対象回路中の値を設定可能な制御点までバックトレースすることによって得られるロジックコーンに対応する、請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【請求項７】
前記第２抽出部は、
前記第１抽出部によって抽出された前記第１の挿入候補のうちの一つに前記テストポイントを仮挿入した際に、仮挿入した前記テストポイントの影響を含めた全ての観測点における前記診断困難性指標を算出する第２指標算出部と、
前記第２指標算出部によって算出された、前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標のバラツキを算出するバラツキ算出部と、
前記第１抽出部によって抽出された前記第１の挿入候補のうち、前記バラツキ算出部によって算出された前記バラツキが最小になる挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する挿入対象抽出部と、を有する、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【請求項８】
前記バラツキ算出部は、前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標の標準偏差を前記バラツキとして算出する、請求項７に記載の設計支援装置。
【請求項９】
前記診断困難性指標は、各観測点で観測される故障の数である、請求項１〜請求項８のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【請求項１０】
前記第２抽出部は、抽出済みの前記テストポイントの挿入候補がある場合には、該挿入候補にテストポイントが挿入された設計対象回路に対して、新たなテストポイントの挿入候補を抽出する、請求項１〜請求項９のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【請求項１１】
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出する設計支援方法であって、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、設計支援方法。
【請求項１２】
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出するコンピュータに、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、
処理を実行させる、設計支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、設計支援装置、設計支援方法、および設計支援プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の大規模集積回路（ＬＳＩ；Large Scale Integration）の大規模化やマルチコア化に伴い、ゲート数や内部信号線数が増大し、検出しなくてはならない故障の数も増大している。このため、ＬＳＩテスターでテストする際に要するテスト実行時間や、ＬＳＩテスターに記憶させるテストパターンの数（データ量）も増大し、テストコストが増大している。テストコストは、テストパターンの数と比例関係にあるため、テストパターンの数を削減することで、テストコストを削減する技術が提案されている。
【０００３】
テストパターンの数を削減する技術としては、例えば、フルスキャン設計されたＬＳＩに対しテストポイントの挿入を行なうことによってＡＴＰＧ（Automatic Test Pattern Generator）パターン数を削減する技術が提案されている（非特許文献１参照）。
ここで、テストポイントとは、対象回路中の信号線の可制御性や可観測性を向上させることを目的として挿入されるテスト制御用の論理回路である。
【０００４】
また、可制御性とは、テスト対象回路に含まれる任意の信号線又は端子（ピン）ごとに設定される指標で、当該信号線又は端子（ピン）の値を０または１に設定するために論理値を設定しなければならない信号線数の最小値をいう。また、可観測性とは、テスト対象回路に含まれる任意の信号線又は端子（ピン）ごとに設定される指標で、信号を観測点に伝播させるために、論理値を設定しなければならない信号線数の最小値をいう。ここで、「観測点」とは、対象回路中の値を観測できる箇所をいい、外部出力ピンやスキャンＦＦが該当する。また、後述の診断困難性指標とは、対象回路に含まれる観測点における故障診断の困難性を表す指標であり、テストパターン数を削減するにあたり、ボトルネックとなる信号線又は端子を見つけるための指標をいう。
【０００５】
テストポイントは、例えば、ＡＮＤゲート等の制御点あるいは出力ピン等の観測点として機能する論理回路である。ここで、「制御点」とは、対象回路中の値を設定できる箇所をいい、信号線の値を０または１に設定するためのＡＮＤゲートやＯＲゲートなどの組み合わせ回路や、外部入力ピンやスキャンＦＦ（Flip-Flop）等を制御点とすることができる。なお、以下では、テストポイントをＴＰと略記する場合がある。また、テスタビリティ（可検査性，テスト容易性）の向上つまりテストパターン生成容易化のために対象回路の内部信号線にＴＰを挿入することをＴＰＩ（Test Point Insertion）と略記する場合がある。
【０００６】
上記技術は、故障が集中する観測点があるとテストパターンの数が増大することに着目している。そして、上記技術では、対象回路の全観測点のうち診断困難性指標が最大になる観測点を頂点とする回路網（ロジックコーン）内の信号線のうち、ＴＰを挿入したときに対象回路の全観測点における診断困難性指標の最大値が最小になる信号線が、ＴＰの挿入箇所として決定される。このとき、０／１可制御性や可観測性の尺度を用いて診断困難性指標（例えば各観測点で観測される故障数割合）が定義・算出され、算出された診断困難性指標に基づきＴＰの挿入箇所が決定される。なお、前記回路網は、前記頂点（診断困難性指標が最大になる観測点）から入力点または制御点までバックトレースすることによって得られるロジックコーン内の回路網に相当する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】M. Yoshimura, et al. “A Test Point Insertion Method to Reduce the Number of Test Patterns”, Proceedings of the 11th Asian Test Symposium (ATS’02) 2002 IEEE, pp298-304
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、前述したように、上記技術では、対象回路の全観測点における診断困難性指標の最大値に基づき挿入対象の信号線の評価が行なわれ、ＴＰの挿入箇所が決定されている。このため、全観測点の中で診断困難性指標が最大もしくは略最大の観測点を頂点とするロジックコーンが複数存在する場合、所望のロジックコーンにおいてパターン数の削減に最適な信号線をＴＰ挿入箇所として選択することができない。また、あるロジックコーンにＴＰを挿入した場合、他のロジックコーンの観測点の診断困難性指標に悪影響を与えてしまう場合も生じ得る。結果としてテストパターンの数を削減することができない場合がある。言い換えれば、ＴＰ挿入後の全観測点における診断困難性指標にバラツキがあれば、テストパターンの数を効果的に削減することができないという問題がある。
【０００９】
一つの側面で、本発明は、テストポイントの挿入によって試験対象回路に含まれる全ての観測点における診断困難性指標のバラツキを削減することを目的とする。
なお、前記目的に限らず、後述する発明を実施するための最良の形態に示す各構成により導かれる作用効果であって、従来の技術によっては得られない作用効果を奏することも本件の他の目的の一つとして位置付けることができる。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本件の設計支援装置は、設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出するもので、第１抽出部および第２抽出部を有している。第１抽出部は、前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出する。第２抽出部は、前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する。
【発明の効果】
【００１１】
一実施形態によれば、テストポイントの挿入によって試験対象回路に含まれる全ての観測点における診断困難性指標のバラツキが削減される。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態の設計支援装置のハードウエア構成および機能構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す設計支援装置における論理情報解析部によって作成される内部テーブルの構成を説明する図である。
【図３】等価故障を考慮した場合の代表故障信号の数を説明する図である。
【図４】図１に示す設計支援装置の動作を説明するフローチャートである。
【図５】（Ａ）〜（Ｃ）は図１２および図１３に示す第１手法によって得られる診断困難性指標と本実施形態の手法によって得られる診断困難性指標とを比較して示す図である。
【図６】（Ａ）〜（Ｃ）は図１４および図１５に示す第２手法によって得られる診断困難性指標と本実施形態の手法によって得られる診断困難性指標とを比較して示す図である。
【図７】論理設計の手順を示すフローチャートである。
【図８】テスト容易化設計の手順を示すフローチャートである。
【図９】（Ａ）〜（Ｃ）はテストポイント挿入を説明する図である。
【図１０】（Ａ），（Ｂ）はテストポイント挿入を説明する図である。
【図１１】（Ａ），（Ｂ）はテストポイント挿入によるテストパターン圧縮の原理を説明する図である。
【図１２】テストポイント挿入手順の一例（第１手法）を説明するフローチャートである。
【図１３】（Ａ），（Ｂ）は図１２に示す第１手法によって得られる診断困難性指標を示す図である。
【図１４】（Ａ），（Ｂ）はテストポイント挿入手順の他例（第２手法）によって得られる診断困難性指標を示す図である。
【図１５】図１４に示す第２手法で診断困難性指標が悪化する理由を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して実施の形態を説明する。
〔１〕テスト容易化設計およびテストポイント挿入
図７〜図１５を参照しながら、本発明の技術が適用されるテスト容易化設計およびテストポイント挿入（ＴＰＩ）について説明する。
図７に示すフローチャートに従って、設計対象回路（例えばＬＳＩ）の論理設計の手順について説明する。
【００１４】
論理設計では、まず、設計対象回路のＲＴＬ（Register Transfer Level；レジスタ転送レベル）記述Ｄ１と、マクロセルライブラリＤ２とに基づき、論理シミュレータにより設計対象回路の論理機能検証が行なわれる（ステップＳ１）。そして、論理合成ツールにより設計対象回路の論理回路合成が行なわれ（ステップＳ２）、設計対象回路のゲートレベル論理回路つまりネットリスト（論理データベース（ＤＢ））Ｄ３が得られる。
【００１５】
得られたネットリストＤ３と、ＲＴＬ記述Ｄ１とに基づき、回路の論理機能の等価検証を行うＣＡＤ（Computer Aided Design）ツールであるフォーマルベリファイアにより設計対象回路の論理機能の等価検証が行なわれる（ステップＳ３）。また、得られたネットリストＤ３と、マクロセルライブラリＤ２とに基づき、論理シミュレータによる設計対象回路の論理検証、および、設計対象回路の設計ルールチェックを行うＣＡＤによるＤＲＣ（Design Rule Check）検証が行なわれる（ステップＳ４）。
【００１６】
この後、設計対象回路に対するテスト容易化設計（ＤＦＴ；Design For Testability）が行なわれる（ステップＳ５）。テスト容易化設計では、論理設計時に、後に実行されるテストを考慮して、外部端子から容易に内部の故障を検出できるように、設計対象回路の設計（例えばテスト系回路の挿入等）が行なわれる。そして、テスト容易化設計の結果に基づき、ＡＴＰＧによりテストパターンが生成されてから、設計対象回路のレイアウト設計が行なわれる。
【００１７】
次に、図８に示すフローチャートに従って、本発明の技術が適用されるテスト容易化設計の手順について説明する。
テスト容易化設計では、前述のごとく得られたネットリスト（論理ＤＢ）Ｄ３に基づきテストパターン生成容易化が行なわれ（ステップＳ６）、テストポイント挿入リストＤ４が得られる。この後、テストポイント挿入リストＤ４に基づきテストポイント挿入が行なわれ（ステップＳ７）、ＴＰ挿入後の論理ＤＢ（ネットリスト）Ｄ５が得られ、ＴＰ挿入後のネットリストＤ５に基づきテストパターンが生成される（ステップＳ８）。
【００１８】
図８のステップＳ６におけるテストパターン生成容易化では、テストパターンの数を削減すべく、テストパターンの生成が困難な信号線に対し、前述したようにテストポイントの挿入を行なうことが知られている。
ここで、図９〜図１１を参照しながら、テストポイントの挿入について説明する。
図９（Ａ）では、３つの論理和ゲート（ＯＲゲート）から成る回路が例示され、当該回路における７本の信号線にそれぞれ符号Ａ〜Ｇが付されている。例えば、信号線Ｆがテストパターン生成上のボトルネックになっており、信号線Ｆのテスタビリティの向上が望まれる場合について説明する。
【００１９】
この場合、信号線Ｆの０可制御性を向上させるべく、例えば図９（Ｂ）に示すように、信号線Ｆに、ＴＰとして制御点である論理積ゲート（ＡＮＤゲート）が追加される。追加された論理積ゲートには、論理和ゲートからの信号と、図示しないスキャンＦＦ（Flip-Flop）からの制御信号とが入力される。これにより、信号線Ｆの０可制御性が向上する。
また、信号線Ｆの可観測性を向上させるべく、例えば図９（Ｃ）に示すように、信号線Ｆに、ＴＰとして観測点である外部出力ピンＰＯが追加される。これにより、信号線Ｆの可観測性が向上する。
【００２０】
また、例えば図１０（Ａ）に示すように、３つの観測点Ｏ１〜Ｏ３とロジックコーンＦａ〜Ｆｇとを有する回路において、ロジックコーンＦｂとロジックコーンＦｄとを結ぶ信号線（例えば図９（Ａ）に示す信号線Ｆ）に故障が集中する場合について説明する。この場合、図１０（Ｂ）に示すように、ロジックコーンＦｂとロジックコーンＦｄとを結ぶ信号線にＴＰを挿入するＴＰＩが実行される。これにより、観測点Ｏ１を頂点とするロジックコーンＦａ〜Ｆｄが、観測点Ｏ１を頂点とするロジックコーンＦｄ，Ｆｃと、挿入されたＴＰを頂点とするロジックコーンＦｂ，Ｆａとに分割される。テストポイント挿入（ＴＰＩ）とは、前述したように、観測すべき故障が集中する信号線を探索し探索された信号線にＴＰを挿入することで、テストパターンの数を削減しテストコストを削減する技術である。
【００２１】
図１２を参照しながら後述するテストポイント挿入手順の一例（第１手法）では、故障が集中する観測点があるとテストパターンの数が増大することに着目している。第１手法では、ＣＡＤ（Computer Aided Design）ツールが、論理ＤＢ（ネットリスト）Ｄ３に基づき、０／１可制御性や可観測性の尺度を用いて診断困難性指標（例えば各観測点で観測される故障数割合）を定義・算出し、算出した診断困難性指標に基づきＴＰの挿入箇所を決定し、テストポイント挿入リストＤ４を出力している。
【００２２】
そして、第１手法では、図１２を参照しながら後述するように、設計対象回路の全観測点のうち診断困難性指標が最大になる観測点を頂点とするロジックコーン内の信号線のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の最大値が最小になる信号線が、ＴＰの挿入箇所として決定される。これにより、特定の観測点に集中していた故障が分散され、テストパターンの数が削減され、テストコストが削減される。
【００２３】
ここで、診断困難性指標が高い観測点では多くの故障が検出されるため、診断困難性指標が高い観測点から入力側に到達可能な制御点に、多くの値が割り当てられていると考えられる。このため、特定の観測点に“０”もしくは“１”の割り当てが集中し、ＡＴＰＧパターンの圧縮効率が低下し、ＡＴＰＧパターン数が増加すると考えられる。これに対して、図１１（Ａ）に示すように、ＴＰＩを用い観測点Ｏにおける診断困難性指標を低下させることによって、図１１（Ｂ）に示すように、ＡＴＰＧパターンの圧縮効率を向上させＡＴＰＧパターンの数を削減することができると考えられる。つまり、図１１（Ａ）に示すように、観測点Ｏから到達可能な信号線に制御点（ＴＰ）を挿入し可制御性を向上させることで、テストパターン中のドントケア（不定値Ｘ）の数が増加する。テストパターン中のドントケアの数が増えると、図１１（Ｂ）に示すように、例えば３つのテストパターンを一つのテストパターンにマージすることが可能になり、テストパターンの圧縮効率が向上しテストパターンの数が削減される。なお、図１１（Ａ）において、ＴＰとして、例えばＯＲゲートおよびスキャンラッチからなる制御点が挿入されている。
【００２４】
次に、図１２に示すフローチャート（ステップＳ２０１〜Ｓ２２２）に従って、ＣＡＤツール（処理部；図示略）によって実行されるテストポイント挿入手順の一例（第１手法）について説明する。
まず、挿入されたＴＰの数が予め設定された指定ＴＰ数に到達したか否かが判定される（ステップＳ２０１）。挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達していない場合（ステップＳ２０１のＮＯルート）、ネットリストＤ３（図７，図８参照）に基づき論理情報解析が行なわれ、制御テーブル，外部入力ピンテーブル，外部出力ピンテーブル，ネットテーブル，ゲートテーブル，入出力ピンテーブル等を含む内部テーブルが作成される（ステップＳ２０２）。
【００２５】
作成されたテーブルの情報とＳＣＯＡＰ（Sandia Controllability Observability Analysis Program）手法とを用い、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐｎのそれぞれについて０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１と可観測性を示す値ＣＯとが算出され診断情報テーブルに格納される（ステップＳ２０３）。そして、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐｎにそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆｎが１つずつ設定される（ステップＳ２０４）。各信号線に設定された故障は、ステップＳ２０３で算出された０／１可制御性および可観測性を用い、観測点Ｏ１，…，Ｏｍまで伝播される（ステップＳ２０５）。
【００２６】
ここで、「ＳＣＯＡＰ手法」とは、回路の構造的な観点からテスト容易性解析を行なうにあたり、各信号線の論理値を制御／観測するために論理値割当てが必要となる信号線数を計測／解析する手法である。「０／１可制御性」とは、信号線が０（または１）になるときに論理値を設定しなければならない信号線数の最小値をいう。また、「可観測性」とは、信号線の値を外部出力に伝搬させるときに論理値を設定しなければならない信号線数の最小値をいう。
【００２７】
各観測点に伝播された故障の数が計数され、各観測点における故障数割合Ｅ１，…，Ｅｍ（[各観測点で観測される故障の数]／[全ての故障の数]）が、診断困難性指標として算出される（ステップＳ２０６）。そして、設計対象回路の全観測点の診断困難性指標Ｅ１，…，Ｅｍの中の最大値Ｅmaxが抽出され（ステップＳ２０７）、抽出された最大値Ｅmaxをもつ信号線Ｐｘが、ＴＰを挿入されるべき仮挿入候補として設定される（ステップＳ２０８）。
【００２８】
ついで、以下のようにして、最適なＴＰが求められる。
まず、診断困難性指標の最大値Ｅmaxをもつ観測点Ｏｘから制御点または入力点Ｉｘまでバックトレースすることによって、観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーンが得られる。得られたロジックコーン内の複数の信号線がＴＰの挿入候補として抽出され、ＴＰの挿入候補の集合Ｑが得られる（ステップＳ２０９）。
【００２９】
そして、集合ＱにおけるＴＰ挿入候補の全てについて処理を実行したか否かが判定される（ステップＳ２１０）。未処理の要素（ＴＰ挿入候補の信号線）がある場合（ステップＳ２１０のＮＯルート）、集合Ｑに含まれる未処理の要素Ｐｙが取り出され、取り出された信号線ＰｙにＴＰが仮挿入される（ステップＳ２１１）。このように信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路について、上述したステップＳ２０２〜Ｓ２０７と同様の処理が実行される（ステップＳ２１２〜Ｓ２１７）。
【００３０】
つまり、信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路のネットリストに基づき論理情報解析が行なわれ、制御テーブル，外部入力ピンテーブル，外部出力ピンテーブル，ネットテーブル，ゲートテーブル，入出力ピンテーブル等の各種テーブルが作成される（ステップＳ２１２）。作成されたテーブルの情報とＳＣＯＡＰ手法とを用い、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1のそれぞれについて０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１と可観測性を示す値ＣＯとが算出され診断情報テーブルに格納される（ステップＳ２１３）。そして、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1にそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆn+1が１つずつ設定される（ステップＳ２１４）。各信号線に設定された故障は、ステップＳ２１３で算出された０／１可制御性および可観測性を用い、観測点Ｏ１，…，Ｏm+1まで伝播される（ステップＳ２１５）。各観測点に伝播された故障の数が計数され、各観測点における故障数割合Ｅ'１，…，Ｅ'm+1（[各観測点で観測される故障の数]／[全ての故障の数]）が、診断困難性指標として算出される（ステップＳ２１６）。そして、設計対象回路の全観測点の診断困難性指標Ｅ'１，…，Ｅ'm+1の中の最大値Ｅ'maxが選択される（ステップＳ２１７）。
【００３１】
この後、ステップＳ２１７で選択されたＥ'maxと、当該Ｅ'maxが選択される前に得られたＥmax（Ｅmaxの最小値）とが比較され、今回のＥ'maxがＥmaxよりも小さいか否かが判定される（ステップＳ２１８）。Ｅ'maxがＥmaxよりも小さい場合（ステップＳ２１８のＹＥＳルート）、観測点に集中していた故障を分散することができたものと考えられるので、ＴＰの挿入箇所として信号線Ｐｙが選択されるとともに、Ｅmaxが、今回選択されたＥ'maxに置き換えられる（ステップＳ２１９）。この後、今回、信号線Ｐｙに仮挿入したＴＰが削除される（ステップＳ２２０）。一方、Ｅ'maxがＥmax以上である場合（ステップＳ２１８のＮＯルート）、ステップＳ２１９の処理を行なうことなく、今回、信号線Ｐｙに仮挿入したＴＰが削除される（ステップＳ２２０）。なお、Ｅmaxの初期値としては、ステップＳ２０７で抽出されたＥmaxが用いられる。
【００３２】
以降、ステップＳ２１０において、集合ＱにおけるＴＰ挿入候補（信号線）の全てについて処理を実行したと判断されるまで、ステップＳ２１０〜Ｓ２２０の処理が繰り返し実行される。集合ＱにおけるＴＰ挿入候補（信号線）の全てについて処理を実行したと判断されると（ステップＳ２１０のＹＥＳルート）、ＴＰの挿入箇所として最終的に選択された信号線Ｐｙが、ＴＰＩリスト（テストポイント挿入リスト）Ｄ４に追加され（ステップＳ２２１）、ステップＳ２０１の処理に戻る。
【００３３】
これにより、集合Ｑにおける全ての要素、即ち設計対象回路の全観測点のうち診断困難性指標が最大になる観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーン内の全ての信号線について、診断困難性指標の評価が行なわれる。つまり、当該ロジックコーン内の複数の信号線（集合Ｑ）のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の最大値Ｅmaxが最小になる信号線Ｐｙ、換言するとパターン生成削減に最も効果がある信号線Ｐｙが、ＴＰの挿入箇所として決定される。したがって、特定の観測点に集中していた故障が分散され、テストパターンの数が削減され、テストコストが削減される。
【００３４】
なお、ステップＳ２０１〜Ｓ２２１の処理は、挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達したとステップＳ２０１で判定されるまで、繰り返し実行される。挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達していない場合（ステップＳ２０１のＮＯルート）、その時点までに挿入されたＴＰを考慮したネットリストに基づき、上述した処理（ステップＳ２０２〜Ｓ２２１）が実行される。一方、挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達した場合（ステップＳ２０１のＹＥＳルート）、ＴＰＩリスト（テストポイント挿入リスト）Ｄ４が記憶部等に格納され（ステップＳ２２２）、ＴＰＩ処理つまりテストパターン生成容易化（図８のステップＳ６参照）が完了する。
【００３５】
しかしながら、上述した第１手法では、設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の最大値に基づき挿入対象の信号線の評価が行なわれ、ＴＰの挿入箇所が決定されている。このため、図１３（Ａ）に示すように全観測点の中で診断困難性指標が最大もしくは略最大の観測点を頂点とするロジックコーンが複数存在する場合、図１３（Ｂ）に示すように所望のロジックコーンにおいてパターン数の削減に最適な信号線をＴＰ挿入箇所として選択することができない。結果としてテストパターンの数を削減することができないという課題がある。
【００３６】
なお、図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）は、図１２に示す第１手法（テストポイント挿入手順の一例）によって得られる診断困難性指標を示す図である。図１３（Ａ）に示す例では、ＴＰＩ前において、診断困難性指標Ｅ０が５０の観測点を頂点とするロジックコーンＣ０ａと、診断困難性指標Ｅ１が５０の観測点を頂点とするロジックコーンＣ１ａとが存在している。このとき、ロジックコーンＣ０ａ内の信号線をＴＰ挿入候補として評価を行なったとする（図１２のステップＳ２１０〜Ｓ２２０参照）。この場合、図１３（Ｂ）に示すように、一のＴＰが挿入されロジックコーンＣ０ａの観測点における診断困難性指標Ｅ０が４９になったとしても、ロジックコーンＣ１ａの観測点における診断困難性指標Ｅ１は常に５０のままであるため、最大値ＥmaxおよびＥ'maxは、いずれも５０のままとなる。したがって、図１２のステップＳ２１８での判定は常にＮＯ判定となり、所望のロジックコーンにおいてパターン数の削減に最適な信号線をＴＰ挿入箇所として選択することができない。
【００３７】
そこで、第２手法として、全観測点、つまり設計対象回路全体の最大診断困難性指標を考慮して評価を行なうのではなく、ターゲットとする一つのロジックコーンの診断困難性指標のみを考慮して評価を行なうことが考えられる。このとき、ターゲットのロジックコーンに限れば、観測点（頂点）における診断困難性指標は小さくなり最適なＴＰ挿入箇所が選択される。しかし、ＴＰＩの結果、０／１可制御性や可観測性が変化し、ターゲットのロジックコーンで検出されていた故障が、他ロジックコーンで検出されてしまう場合がある。この場合、ターゲットではないロジックコーンの診断困難性指標が悪化するため、設計対象回路全体としては診断困難性指標が改善されず、ＴＰＩの結果としてテストパターンの数を削減することができないという課題がある。
【００３８】
上述した第２手法による課題について、図１４および図１５を参照しながら説明する。なお、図１４（Ａ）および図１４（Ｂ）は、第２手法（テストポイント挿入手順の他例）によって得られる診断困難性指標を示す図である。図１５は、図１４に示す第２手法で診断困難性指標が悪化する理由を説明する図である。
【００３９】
図１４（Ａ）に示す例では、ＴＰＩ前において、診断困難性指標が６５の観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーン（以下Ｏｘロジックコーンという）と、診断困難性指標が３５の観測点Ｏｙを頂点とするロジックコーン（以下Ｏｙロジックコーンという）とが存在している。このとき、第１手法のごとく設計対象回路全体で評価を行なうのではなく、第２手法では、診断困難性指標が最大であるＯｘロジックコーンの指標値Ｅｏｘを最小にするようにＴＰ挿入箇所を評価・選択する。
【００４０】
この場合、図１４（Ｂ）に示すように、Ｏｘロジックコーンに限れば故障を分散する最適なＴＰが選択され、例えば、ＴＰでの診断困難性指標を３０、観測点Ｏｘでの診断困難性指標Ｅｏｘを２０とすることができる。しかし、Ｏｘロジックコーン内でＴＰの挿入を行なった結果、Ｏｙロジックコーンに影響が及び、ＴＰＩ前には観測点Ｏｘで観測されていた故障が観測点Ｏｙに流れ込む場合がある。この場合、観測点Ｏｙでの診断困難性指標Ｅｏｙが例えば３５から５０に悪化することがある。
【００４１】
ここで、図１５を参照し第２手法で診断困難性指標が悪化する理由について説明する。図１５に示す例では、ＴＰＩ前に斜線部の故障は観測点Ｏｘで検出されているが、ＴＰＩによりＴＰとしてスキャンラッチが追加されている。これに伴い、ゲートＸの可制御性が変化（改善）することで、ゲートＹの可観測性も変化（改善）する可能性がある。ゲートＹの可観測性の改善に伴い、故障の流れ込みが変化し、斜線部の故障は観測点Ｏｙで検出される。これにより、観測点Ｏｙでの診断困難性指標Ｅｏｙが悪化し、設計対象回路全体としては診断困難性指標が改善されず、テストパターンの数を削減することができない。
【００４２】
〔２〕本実施形態の設計支援装置
テストパターンの数を削減するには、設計対象回路の全観測点における診断困難性指標（故障数）の最大値が小さくなり、且つ、全観測点での診断困難性指標が均等化することが理想である。しかしながら、上述した第１手法や第２手法では、最適なＴＰを選択することができない場合がある。
【００４３】
そこで、以下に説明する本実施形態の設計支援装置１では、各観測点で観測される故障の数を診断困難性指標と定義する。そして、ＴＰ挿入候補のうち、ＴＰを挿入すると設計対象回路（ＬＳＩ）の全観測点における診断困難性指標のバラツキ（標準偏差）が最小になるものが、ＴＰの挿入箇所として選択される。これにより、テストパターンの数が削減され、設計対象回路の製造後のテストコストが削減される。なお、診断困難性指標のバラツキを最小にする挿入候補でなくても、診断困難性指標のバラツキを削減できるＴＰ挿入候補をＴＰの挿入箇所として選択することとしてもよい。
【００４４】
〔２−１〕本実施形態の設計支援装置の構成
図１は、本実施形態の設計支援装置１のハードウエア構成および機能構成を示すブロック図である。
図１に示す設計支援装置１は、ＬＳＩ等の設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイント（ＴＰ；制御点または観測点）を挿入すべき信号線を挿入候補として抽出する処理、つまりテストパターン生成容易化（図８のステップＳ６参照）を行なうものである。
【００４５】
設計支援装置１は、バス５０経由で相互に通信可能に接続された処理部１０，記憶部２０，入力部３０および出力部４０を有している。
入力部３０は、ユーザによって操作され各種情報を本装置１に入力するマンマシンインタフェース、例えばキーボード，マウスである。
出力部４０は、本装置１によって得られた処理結果（例えば後述するリスト２４）などをユーザに対し表示出力するもので、例えばディスプレイ，プリンタである。
【００４６】
記憶部２０は、設計対象回路のゲートレベル論理回路つまりネットリスト２１（図７，図８の論理データベースＤ３参照）や、設計支援プログラム２２や、図３を参照しながら後述する内部テーブル２３や、後述するテストポイント挿入リスト２４を保存する。記憶部２０は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory），ＲＯＭ（Read Only Memory），ＨＤＤ（Hard Disk Drive），ＳＳＤ（Solid State Drive）等の内部記憶装置であってもよいし、外部記憶装置であってもよい。
【００４７】
処理部１０は、記憶部２０に保存される設計支援プログラム２２を実行することで、後述する第１抽出部１１および第２抽出部１２としての機能を果たすもので、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit），プロセッサ，コンピュータである。
【００４８】
第１抽出部１１は、設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出するものである。より具体的に、第１抽出部１１は、設計対象回路の全観測点のうち診断困難性指標（各観測点で観測される故障の数）が最大になる最大観測点を頂点とするロジックコーン内の複数の信号線を、ＴＰの挿入候補（第１の挿入候補）として抽出する。第１抽出部１１は、論理情報解析部１１１，０／１可制御性・可観測性解析部１１２，診断困難性解析部１１３，診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４，等価信号線情報解析部１１５およびテストポイント候補抽出部１１６としての機能を有している。
【００４９】
第２抽出部１２は、ＴＰの挿入候補（第１の挿入候補）の各々に対してＴＰを挿入したときの影響を考慮して、ＴＰの挿入候補の中から、ＴＰを挿入する挿入対象信号線（第２の挿入候補）を抽出する。
このとき、第２抽出部１２は、ＴＰの挿入候補の各々に対して、ＴＰを挿入した場合における、該挿入したＴＰによる影響を含めた設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出する。そして、第２抽出部１２は、ＴＰの挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキがＴＰの挿入前の設計対象回路の全ての観測点における診断困難性指標のバラツキよりも小さくなる挿入候補を、挿入対象信号線（第２の挿入候補）として抽出してもよい。また、第２抽出部１２は、ＴＰの挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが最も小さい挿入候補を、挿入対象信号線（第２の挿入候補）として抽出してもよい。
【００５０】
本実施形態において、第２抽出部１２は、第１抽出部１１によって抽出された挿入候補のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標のバラツキが最小になる挿入候補を、ＴＰの挿入対象信号線として抽出する。第２抽出部１２は、仮ＴＰ挿入部１２１，論理情報解析部１２２，０／１可制御性・可観測性解析部１２３，診断困難性解析部１２４，診断困難性指標バラツキ情報解析部１２５およびテストポイント判定部１２６としての機能を有している。
【００５１】
論理情報解析部１１１は、記憶部２０に保存される設計対象回路のネットリスト２１に基づき論理情報解析を行ない、図２に示す内部テーブル２３を作成する。図２は、論理情報解析部１１１（もしくは後述する論理情報解析部１２２）によって作成される内部テーブル２３の構成を説明する図である。図２に示すように、内部テーブル２３は、制御テーブル２３ａ，外部入力（ＰＩ）テーブル２３ｂ，外部出力（ＰＯ）テーブル２３ｃ，ネットテーブル２３ｄ，ゲートテーブル２３ｅ，入出力ピンテーブル２３ｆおよび診断情報テーブル２３ｇを含んでいる。
【００５２】
制御テーブル２３ａには、ネットテーブル２３ｄとのリンク情報，ネットテーブル２３ｄの数，ＰＩテーブル２３ｂとのリンク情報，ＰＩテーブル２３ｂの数，ＰＯテーブル２３ｃとのリンク情報，ＰＯテーブル２３ｃの数，全故障数が保存されるとともに、後述するごとく算出される診断困難性指標のバラツキ（標準偏差σ）が保存される。
ＰＩテーブル２３ｂには、各ＰＩ（外部入力）に接続されるネットのＩＤ（NetID）が保存され、ＰＯテーブル２３ｃには、各ＰＯ（外部出力）に接続されるネットのＩＤ（NetID）が保存される。
【００５３】
ネットテーブル２３ｄは、ネットＩＤで特定されるネット毎に備えられ、各ネットテーブル２３ｄには、ネットＩＤで特定されるネットを成す一連の入力ピン，ゲート，出力ピンに係る情報が保存される。入力ピンに係る情報としては当該入力ピンの入出力ピンテーブル２３ｆとのリンク情報が保存され、ゲートに係る情報としては当該ゲートのゲートテーブル２３ｅとのリンク情報が保存され、出力ピンに係る情報としては当該出力ピンの入出力ピンテーブル２３ｆとのリンク情報が保存される。
【００５４】
ゲートテーブル２３ｅには、リンクされたゲートの入力ピン数，出力ピン数，ゲート種別（ＡＮＤ，ＯＲ等）およびインスタンス名が保存される。入出力ピンテーブル２３ｆには、ＩＯ種別（入力ピンか出力ピンか），同一電位ネットＩＤ，診断情報テーブル２３ｇとのリンク情報およびピン名が保存される。診断情報テーブル２３ｇには、後述するごとく算出される０可制御性を示す値ＣＣ０，１可制御性を示す値ＣＣ１および可観測性を示す値が保存されるとともに、後述する代表故障信号フラグおよび診断困難性指標（故障の数）が保存される。
【００５５】
０／１可制御性・可観測性解析部１１２は、ＰＩテーブル２３ｂのネットＩＤを順次取り出し、取り出したネットＩＤに対応するＰＩを起点とし、ネットテーブル２３ｄを参照しながらＰＯ側へトレースを行なう。トレース時、０／１可制御性・可観測性解析部１１２は、ＳＣＯＡＰ手法を用いて各入出力ピンの０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１とを算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する。また、０／１可制御性・可観測性解析部１１２は、ＰＯテーブル２３ｃのネットＩＤを順次取り出し、取り出したネットＩＤに対応するＰＯを起点とし、ネットテーブル２３ｄを参照しながらＰＩ側へバックトレースを行なう。バックトレース時、０／１可制御性・可観測性解析部１１２は、ＳＣＯＡＰ手法を用いて各入出力ピンの可観測性を示す値ＣＯを算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する。
【００５６】
診断困難性解析部１１３は、全観測点における診断困難性指標を算出する第１指標算出部としての機能と、当該第１指標算出部としての機能によって算出された診断困難性指標の中から最大値を抽出する最大値抽出部としての機能とを有している。つまり、診断困難性解析部１１３は、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐｎにそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆｎを１つずつ設定する。また、診断困難性解析部１１３は、各信号線に設定された故障を、診断情報テーブル２３ｇに保存された０／１可制御性および可観測性を示す値ＣＣ０，ＣＣ１，ＣＯを用い観測点Ｏ１，…，Ｏｍまで伝播させる。そして、診断困難性解析部１１３は、各観測点に伝播された故障の数を計数し、各観測点で観測される故障の数Ｅ１，…，Ｅｍを診断困難性指標として算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する。さらに、診断困難性解析部１１３は、算出された診断困難性指標Ｅ１，…，Ｅｍの中から最大のものＥmaxを抽出する。
【００５７】
診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４は、ＰＯテーブル２３ｃに基づき全観測点Ｏ１，…，Ｏｍの診断情報テーブル２３ｇを取得して全観測点Ｏ１，…，Ｏｍの診断困難性指標Ｅ１，…，Ｅｍを取得する。そして、診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４は、診断困難性指標Ｅ１，…，Ｅｍのバラツキを標準偏差σとして算出し、制御テーブル２３ａに格納しておく。診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４によって算出されたバラツキ（標準偏差σ）は、後述するテストポイント判定部１２６における判定用バラツキの初期値として用いられる。
【００５８】
等価信号線情報解析部（代表故障判断部）１１５は、設計対象回路における各信号線が等価故障を考慮した代表故障信号線であるか否かを判断する。つまり、等価信号線情報解析部１１５は、ＴＰＩ評価時間を短縮するために、ＴＰの挿入候補である信号線の選択最適化を行なう。この選択最適化は、タイミング調整用のディレイバッファなどの削減を目的としている。なお、等価故障とは、故障を検出するテストパターンが同じとなる故障をいい、代表故障とは、等価故障のグループから１つ選んだ故障をいう。
【００５９】
図３により、等価故障を考慮した場合と等価故障を考慮しない場合とのそれぞれについて、ＴＰ挿入対象の信号線の数（代表故障信号の数）について説明する。図３に示す回路では、通常（等価故障を考慮しない場合）、対象故障（縮退故障）はａ／０，ａ／１，ｙ／０，ｙ／１の４個であり、ＴＰ挿入対象の信号線の数はａとｙの２本である。これに対し、図３に示す回路において等価故障を考慮した場合、等価故障はａ／０＝ｙ／１，ａ／１＝ｙ／０であり、ＴＰ挿入対象の信号線の数（代表故障信号の数）は、ａのみの１本である。
【００６０】
等価信号線情報解析部１１５は、各入出力ピンが代表故障をもつか否かを判断し、各入出力ピンが代表故障をもつ場合、当該入出力ピンの診断情報テーブル２３ｇの代表故障信号フラグを設定する。このフラグは、後述するごとく、テストポイント候補抽出部１１６において評価対象の信号線の数を削減するために用いられる。
【００６１】
テストポイント候補抽出部（挿入候補抽出部）１１６は、診断困難性解析部１１３によって抽出された最大値Ｅmaxの診断困難性指標をもつ最大観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーン内の複数の信号線を、挿入候補（第１の挿入候補）として抽出する。ただし、テストポイント候補抽出部１１６は、ロジックコーン内の複数の信号線のうち、等価信号線情報解析部１１５によって代表故障信号線であると判断された信号線を、挿入候補として抽出する。つまり、テストポイント候補抽出部１１６は、診断困難性指標が最大の観測点Ｏｘから、制御点または入力点Ｉｘまでバックトレースすることによって、観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーンを取得する。そして、テストポイント候補抽出部１１６は、取得したロジックコーン内の複数の信号線の集合Ｑを取得するとともに、診断情報テーブル２３ｇの代表故障信号フラグを参照し集合Ｑから代表故障信号線以外の信号線を削除した集合Ｑ'を作成する。この集合Ｑ'に属する信号線がＴＰの挿入候補となる。
【００６２】
仮ＴＰ挿入部１２１は、集合Ｑ'における一のＴＰ挿入候補（信号線）を取り出し、取り出した信号線ＰｙにＴＰを仮挿入する。このように信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路に対して、論理情報解析部１２２，０／１可制御性・可観測性解析部１２３，診断困難性解析部１２４および診断困難性指標バラツキ情報解析部１２５が、それぞれ論理情報解析部１１１，０／１可制御性・可観測性解析部１１２，診断困難性解析部１１３，診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４とほぼ同様に作用する。
【００６３】
つまり、論理情報解析部１２２は、信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路のネットリストに基づき論理情報解析を行ない、図２に示す内部テーブル２３を作成する。
０／１可制御性・可観測性解析部１２３は、０／１可制御性・可観測性解析部１１２と同様、内部テーブル２３の情報とＳＣＯＡＰ手法とを用い、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1のそれぞれについて０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１と可観測性を示す値ＣＯとを算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する。
【００６４】
診断困難性解析部１２４は、集合Ｑ'のうちの一の信号線（ＴＰ挿入候補）にＴＰを仮挿入した際に、仮挿入したＴＰの影響を含めた全観測点における診断困難性指標を算出する第２指標算出部１２４としての機能を果たす。つまり、診断困難性解析部１２４は、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1にそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆn+1を１つずつ設定する。また、診断困難性解析部１２４は、各信号線に設定された故障を、診断情報テーブル２３ｇに保存された０／１可制御性および可観測性を示す値ＣＣ０，ＣＣ１，ＣＯを用い観測点Ｏ１，…，Ｏm+1まで伝播させる。そして、診断困難性解析部１２４は、各観測点に伝播された故障の数を計数し、各観測点で観測される故障の数Ｅ'１，…，Ｅ'm+1を診断困難性指標として算出する。
【００６５】
診断困難性指標バラツキ情報解析部（バラツキ算出部）１２５は、診断困難性解析部１２４によって算出された、ＴＰを仮挿入した際の全観測点Ｏ１，…，Ｏm+1における診断困難性指標Ｅ'１，…，Ｅ'm+1のバラツキを標準偏差σ'として算出する。
【００６６】
テストポイント判定部（挿入対象抽出部）１２６は、第１抽出部１１によって抽出された集合Ｑ'に属するＴＰ挿入候補（信号線）のうち、バラツキ算出部１２５によって算出された標準偏差σ'が最小になるＴＰ挿入候補を、挿入対象信号線として抽出する。つまり、テストポイント判定部１２６は、バラツキ算出部１２５によって算出された標準偏差σ'と、当該標準偏差σ'が算出される前に得られた最小の標準偏差σとを比較し、今回の標準偏差σ'が標準偏差σよりも小さいか否かを判定する。そして、テストポイント判定部１２６は、標準偏差σ'が標準偏差σよりも小さい場合、特定の観測点に集中していた故障を設計対象回路全体の観測点に分散することができたものと考えられるので、ＴＰの挿入箇所として信号線Ｐｙを選択するとともに、標準偏差σを、今回算出された標準偏差σ'に置き換える。また、テストポイント判定部１２６は、標準偏差σ'が標準偏差σ以上である場合、標準偏差の置き換え等の処理を実行しない。なお、テストポイント判定部１２６における判定用バラツキ（標準偏差σ）の初期値としては、診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４によって算出されたバラツキ（標準偏差σ）が用いられる。
【００６７】
第２抽出部１２においては、集合Ｑ'に属する全てのＴＰ挿入候補について、仮ＴＰ挿入部１２１，論理情報解析部１２２，０／１可制御性・可観測性解析部１２３，診断困難性解析部１２４，診断困難性指標バラツキ情報解析部１２５およびテストポイント判定部１２６が、上述と同様に動作する。これにより、集合Ｑ'に属する信号線のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の標準偏差σが最小になる信号線が、ＴＰの挿入対象信号線として抽出される。
【００６８】
〔２−２〕本実施形態の設計支援装置の動作
次に、上述の設計支援装置１の動作について、図４に示すフローチャート（ステップＳ１０１〜Ｓ１２５）に従って説明する。
まず、処理部１０は、挿入されたＴＰの数が予め設定された指定ＴＰ数に到達したか否かを判定する（ステップＳ１０１）。挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達していない場合（ステップＳ１０１のＮＯルート）、論理情報解析部１１１は、ネットリスト２１に基づき論理情報解析を行ない、図２に示す内部テーブル２３を作成する（ステップＳ１０２）。
【００６９】
内部テーブル２３が作成されると、０／１可制御性・可観測性解析部１１２は、内部テーブル２３の情報とＳＣＯＡＰ手法とを用い、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐｎのそれぞれについて０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１と可観測性を示す値ＣＯとを算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する（ステップＳ１０３）。
【００７０】
ついで、診断困難性解析部１１３は、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐｎにそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆｎが１つずつ設定し（ステップＳ１０４）、各信号線に設定した故障を、ステップＳ１０３で算出された０／１可制御性および可観測性を用い、観測点Ｏ１，…，Ｏｍまで伝播させる（ステップＳ１０５）。そして、診断困難性解析部１１３は、各観測点に伝播された故障の数を計数し、各観測点で観測される故障の数Ｅ１，…，Ｅｍを診断困難性指標として算出する（ステップＳ１０６）。さらに、診断困難性解析部１１３は、設計対象回路の全観測点の診断困難性指標Ｅ１，…，Ｅｍの中の最大値Ｅmaxを抽出し（ステップＳ１０７）、抽出した最大値Ｅmaxをもつ信号線Ｐｘを、ＴＰを挿入されるべき仮挿入候補として設定する（ステップＳ１０８）。
【００７１】
なお、上述した第１手法では、診断困難性指標を、各観測点で観測される故障数の割合としているが、本実施形態では、診断困難性指標を、各観測点で観測される故障の絶対数に変更している。診断困難性指標を、第１手法のごとく割合の確率記述にすると、計算時の処理コストがかかるため、本実施形態では、絶対数に変更することで計算時の処理コストを削減している。診断困難性指標の意味としては、第１手法も本実施形態もと同じである。
【００７２】
ついで、診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４は、診断困難性指標（全観測点の故障数）Ｅ１，…，Ｅｍのバラツキを標準偏差σとして算出する（ステップＳ１０９）。ここで算出されたバラツキ（標準偏差σ）は、後述するステップＳ１２１において、テストポイント判定部１２６による判定用のバラツキの初期値として用いられる。
そして、等価信号線情報解析部１１５は、各入出力ピンが代表故障をもつか否かを判断し、各入出力ピンが代表故障をもつ場合、当該入出力ピンの診断情報テーブル２３ｇの代表故障信号フラグを設定する（ステップＳ１１０）。
【００７３】
この後、テストポイント候補抽出部１１６は、診断困難性解析部１１３によって抽出された最大値Ｅmaxの診断困難性指標をもつ最大観測点Ｏｘから、制御点または入力点Ｉｘまでバックトレースすることによって、観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーンを取得する。そして、テストポイント候補抽出部１１６は、取得したロジックコーン内の複数の信号線をＴＰ挿入候補の集合Ｑとして取得する（ステップＳ１１１）。さらに、テストポイント候補抽出部１１６は、診断情報テーブル２３ｇの代表故障信号フラグを参照し、集合Ｑから代表故障信号線以外の信号線を削除した集合Ｑ'を作成する（ステップＳ１１２）。この集合Ｑ'に属する信号線がＴＰの挿入候補となる。これにより、ＴＰ挿入候補として評価すべき信号線の数が削減され、処理時間が短縮される。
【００７４】
そして、仮ＴＰ挿入部１２１は、集合Ｑ'におけるＴＰ挿入候補の全てについて処理を実行したか否かを判定する（ステップＳ１１３）。未処理の要素（ＴＰ挿入候補の信号線）がある場合（ステップＳ１１３のＮＯルート）、仮ＴＰ挿入部１２１は、集合Ｑ'に含まれる未処理の要素Ｐｙを取り出し、取り出した信号線ＰｙにＴＰを仮挿入する（ステップＳ１１４）。このように信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路について、上述したステップＳ１０２〜Ｓ１０６およびＳ１０９と同様の処理が実行される（ステップＳ１１５〜Ｓ１２０）。
【００７５】
つまり、論理情報解析部１２２は、信号線ＰｙにＴＰを仮挿入した回路のネットリストに基づき論理情報解析を行ない、図２に示す内部テーブル２３を作成する（ステップＳ１１５）。０／１可制御性・可観測性解析部１２３は、０／１可制御性・可観測性解析部１１２と同様、内部テーブル２３の情報とＳＣＯＡＰ手法とを用い、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1のそれぞれについて０可制御性を示す値ＣＣ０と１可制御性を示す値ＣＣ１と可観測性を示す値ＣＯとを算出し診断情報テーブル２３ｇに格納する（ステップＳ１１６）。そして、診断困難性解析部１２４は、設計対象回路の全信号線Ｐ１，…，Ｐn+1にそれぞれ故障Ｆ１，…，Ｆn+1を１つずつ設定する（ステップＳ１１７）。また、診断困難性解析部１２４は、各信号線に設定された故障を、診断情報テーブル２３ｇに保存された０／１可制御性および可観測性を示す値ＣＣ０，ＣＣ１，ＣＯを用い観測点Ｏ１，…，Ｏm+1まで伝播させる（ステップＳ１１８）。そして、診断困難性解析部１２４は、各観測点に伝播された故障の数を計数し、各観測点で観測される故障の数Ｅ'１，…，Ｅ'm+1を診断困難性指標として算出する（ステップＳ１１９）。さらに、診断困難性指標バラツキ情報解析部１２５は、ステップＳ１１９で算出された、ＴＰを仮挿入した際の全観測点Ｏ１，…，Ｏm+1における診断困難性指標Ｅ'１，…，Ｅ'm+1のバラツキを標準偏差σ'として算出する（ステップＳ１２０）。
【００７６】
この後、テストポイント判定部１２６は、ステップＳ１２０で算出された標準偏差σ'と、当該標準偏差σ'が算出される前に得られた最小の標準偏差σとを比較し、今回の標準偏差σ'が標準偏差σよりも小さいか否かを判定する（ステップＳ１２１）。標準偏差σ'が標準偏差σよりも小さい場合（ステップＳ１２１のＹＥＳルート）、テストポイント判定部１２６は、特定の観測点に集中していた故障を設計対象回路全体の観測点に分散することができたものと考えられるので、ＴＰの挿入箇所として信号線Ｐｙを選択する。また、このとき、テストポイント判定部１２６は、標準偏差σを、今回算出された標準偏差σ'に置き換える（ステップＳ１２２）。この後、今回、信号線Ｐｙに仮挿入したＴＰが削除される（ステップＳ１２３）。一方、標準偏差σ'が標準偏差σ以上である場合（ステップＳ１２１のＮＯルート）、ステップＳ１２２の処理を行なうことなく、今回、信号線Ｐｙに仮挿入したＴＰが削除される（ステップＳ１２３）。なお、標準偏差σの初期値としては、ステップＳ１０９で抽出された標準偏差σが用いられる。
【００７７】
以降、ステップＳ１１３において、集合Ｑ'におけるＴＰ挿入候補（信号線）の全てについて処理を実行したと判断されるまで、ステップＳ１１３〜Ｓ１２３の処理が繰り返し実行される。集合Ｑ'におけるＴＰ挿入候補（信号線）の全てについて処理を実行したと判断されると（ステップＳ１１３のＹＥＳルート）、ＴＰの挿入箇所として最終的に選択された信号線Ｐｙが、ＴＰＩリスト（テストポイント挿入リスト）２４に追加され（ステップＳ１２４）、ステップＳ１０１の処理に戻る。
【００７８】
これにより、集合Ｑ'における全ての要素、即ち設計対象回路の全観測点のうち診断困難性指標が最大になる観測点Ｏｘを頂点とするロジックコーン内の全ての信号線のうち、代表故障信号線以外の信号線を削除した要素について、診断困難性指標の評価が行なわれる。つまり、集合Ｑ'のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の標準偏差が最小になる信号線Ｐｙが、ＴＰの挿入箇所として決定される。したがって、特定の観測点に集中していた故障が設計対象回路全体の観測点に分散され、テストパターンの数が削減され、テストコストが削減される。
【００７９】
なお、ステップＳ１０１〜Ｓ１２４の処理は、挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達したとステップＳ１０１で判定されるまで、繰り返し実行される。挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達していない場合（ステップＳ１０１のＮＯルート）、その時点までに挿入されたＴＰを考慮したネットリストに基づき、上述した処理（ステップＳ１０２〜Ｓ１２４）が実行される。一方、挿入されたＴＰの数が指定ＴＰ数に到達した場合（ステップＳ１０１のＹＥＳルート）、ＴＰＩリスト（テストポイント挿入リスト）２４が記憶部２０に格納され（ステップＳ１２５）、ＴＰＩ処理つまりテストパターン生成容易化が完了する。ＴＰＩリスト２４は、出力部４０によって表示出力／印刷出力されてもよい。
【００８０】
〔２−３〕本実施形態の設計支援装置の効果
このように、本実施形態の設計支援装置１によれば、集合Ｑ'に属する信号線（ＴＰ挿入候補）のうち、ＴＰを挿入したときに設計対象回路の全観測点における診断困難性指標の標準偏差が最小になる信号線Ｐｙが、ＴＰの挿入箇所として決定される。つまり、全観測点で観測される故障数のバラツキ（標準偏差σ）が最小となるようなＴＰ挿入箇所の評価／選択が行なわれ、ＴＰの挿入によって試験対象回路に含まれる全ての観測点における診断困難性指標のバラツキが削減される。
【００８１】
これにより、特定の観測点に集中していた故障を設計対象回路全体の観測点に分散することができ、診断困難性指標の最大値を削減し且つ均等化することができる。従って、上述した第１手法や第２手法では有効なＴＰ挿入箇所を選択できない設計対象回路に対しても、本実施形態の設計支援装置１ではテストパターン数削減に有効なＴＰ挿入箇所の選択が可能になり、ＴＰの挿入によって試験対象回路のテストパターン数が削減され、テストコストが削減される。
【００８２】
ここで、図５（Ａ）〜図５（Ｃ）は、図１２および図１３に示す第１手法によって得られる診断困難性指標と本実施形態の手法によって得られる診断困難性指標とを比較して示す図である。また、図６（Ａ）〜図６（Ｃ）は、図１４および図１５に示す第２手法によって得られる診断困難性指標と本実施形態の手法によって得られる診断困難性指標とを比較して示す図である。
【００８３】
図５（Ａ）および図５（Ｂ）は、それぞれ図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）と同じものである。図５（Ａ）に示す回路に上述した第１手法を適用した場合、図５（Ｂ）を参照しながら前述したように、所望のロジックコーンＣ０ａにおいてパターン数の削減に最適な信号線をＴＰ挿入箇所として選択することができない。図５（Ｂ）において、３つの観測点で観測される故障の数１，４９，５０の標準偏差σは２２．９となる。これに対して、図５（Ａ）に示す回路に本実施形態の手法を適用した場合、例えば図５（Ｃ）に示すように、ロジックコーンＣ１ａの頂点である観測点の診断困難性指標は５０のままであるが、所望のロジックコーンＣ０ａにおいて、全観測点で観測される故障数の標準偏差σが最小となる箇所にＴＰが挿入される。これにより、所望のロジックコーンＣ０ａにおいてパターン数の削減に最適な信号線をＴＰ挿入箇所として選択することができ、所望のロジックコーンＣ０ａは、例えば、診断困難性指標が２５の２つのロジックコーンに分割される。図５（Ｃ）において、３つの観測点で観測される故障の数２５，２５，５０の標準偏差σは１１．８となる。
【００８４】
図６（Ａ）および図６（Ｂ）は、それぞれ図１４（Ａ）および図１４（Ｂ）と同じものである。図６（Ａ）に示す回路に上述した第２手法を適用した場合、図６（Ｂ）を参照しながら前述したように、Ｏｘロジックコーンに限れば故障を分散する最適なＴＰが選択されるが、ＴＰＩ前には観測点Ｏｘで観測されていた故障が観測点Ｏｙに流れ込む場合がある。ここで、図６（Ａ）に示す２つの観測点で観測される故障の数６５，３５の標準偏差σは１５であり、図６（Ｂ）に示す３つの観測点で観測される故障の数３０，２０，５０の標準偏差σは１２．５である。これに対して、図６（Ａ）に示す回路に本実施形態の手法を適用した場合、例えば図６（Ｃ）に示すように、３つの観測点で観測される故障の数が均等になるように故障が３つの観測点に分散されることになる。図６（Ｃ）において、３つの観測点で観測される故障の数３０，３５，３５の標準偏差σは２．４となる。
【００８５】
一方、本実施形態の設計支援装置１によれば、ＴＰ挿入候補の集合Ｑから代表故障信号線以外の信号線を削除した集合Ｑ'が作成され、この集合Ｑ'に属する信号線がＴＰの挿入候補となる。これにより、ＴＰ挿入候補として評価すべき信号線の数が削減され、処理時間を短縮することができる。
また、本実施形態では、診断困難性指標として、各観測点で観測される故障の絶対数が用いられている。このため、診断困難性指標として処理コストのかかる故障数割合を用いる第１手法や第２手法に比べ、本実施形態では、計算時の処理コストが削減される。
【００８６】
〔３〕その他
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は、係る特定の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。
【００８７】
なお、上述した第１抽出部１１（論理情報解析部１１１，０／１可制御性・可観測性解析部１１２，診断困難性解析部１１３，診断困難性指標バラツキ情報解析部１１４，等価信号線情報解析部１１５およびテストポイント候補抽出部１１６）や第２抽出部１２（仮ＴＰ挿入部１２１，論理情報解析部１２２，０／１可制御性・可観測性解析部１２３，診断困難性解析部１２４，診断困難性指標バラツキ情報解析部１２５およびテストポイント判定部１２６）としての機能の全部もしくは一部は、コンピュータ（ＣＰＵ，情報処理装置，各種端末を含む）が所定のアプリケーションプログラム（設計支援プログラム）を実行することによって実現される。
【００８８】
そのプログラムは、例えばフレキシブルディスク，ＣＤ（ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷなど），ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷなど），ブルーレイディスク等のコンピュータ読取可能な記録媒体に記録された形態で提供される。この場合、コンピュータはその記録媒体からプログラムを読み取って内部記憶装置または外部記憶装置に転送し格納して用いる。
【００８９】
ここで、コンピュータとは、ハードウエアとＯＳ（オペレーティングシステム）とを含む概念であり、ＯＳの制御の下で動作するハードウエアを意味している。また、ＯＳが不要でアプリケーションプログラム単独でハードウェアを動作させるような場合には、そのハードウェア自体がコンピュータに相当する。ハードウエアは、少なくとも、ＣＰＵ等のマイクロプロセッサと、記録媒体に記録されたコンピュータプログラムを読み取る手段とをそなえている。上記設計支援プログラムは、上述のようなコンピュータに、第１抽出部１１および第２抽出部１２としての機能を実現させるプログラムコードを含んでいる。また、その機能の一部は、アプリケーションプログラムではなくＯＳによって実現されてもよい。
【００９０】
〔４〕付記
以上の本実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
（付記１）
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出する設計支援装置であって、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出する第１抽出部と、
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する第２抽出部と、を備える、設計支援装置。
【００９１】
（付記２）
前記第２抽出部は、前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが前記テストポイントの挿入前の前記設計対象回路の全ての観測点における診断困難性指標のバラツキよりも小さくなる挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、付記１に記載の設計支援装置。
【００９２】
（付記３）
前記第２抽出部は、前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが最も小さい挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、付記１又は付記２に記載の設計支援装置。
【００９３】
（付記４）
前記第１抽出部は、
前記全ての観測点における前記診断困難性指標を算出する第１指標算出部と、
前記第１指標算出部によって算出された前記診断困難性指標の最大値を抽出する最大値抽出部と、
前記最大値抽出部によって抽出された前記最大値の診断困難性指標をもつ前記最大観測点を前記頂点とする前記回路網内の信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する挿入候補抽出部と、を有する、付記１〜付記３のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【００９４】
（付記５）
前記第１抽出部は、前記設計対象回路における各信号線が等価故障を考慮した代表故障信号線であるか否かを判断する代表故障判断部をさらに有し、
前記挿入候補抽出部は、前記回路網内の複数の信号線のうち、前記代表故障判断部によって前記代表故障信号線であると判断された信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する、付記４に記載の設計支援装置。
【００９５】
（付記６）
前記回路網は、前記最大観測点から、前記設計対象回路中に設定される値を入力する入力点、または、前記設計対象回路中の値を設定可能な制御点までバックトレースすることによって得られるロジックコーンに対応する、付記１〜付記５のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【００９６】
（付記７）
前記第２抽出部は、
前記第１抽出部によって抽出された前記第１の挿入候補のうちの一つに前記テストポイントを仮挿入した際に、仮挿入した前記テストポイントの影響を含めた全ての観測点における前記診断困難性指標を算出する第２指標算出部と、
前記第２指標算出部によって算出された、前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標のバラツキを算出するバラツキ算出部と、
前記第１抽出部によって抽出された前記第１の挿入候補のうち、前記バラツキ算出部によって算出された前記バラツキが最小になる挿入候補を、前記挿入対象信号線として抽出する挿入対象抽出部と、を有する、付記１〜付記６のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【００９７】
（付記８）
前記バラツキ算出部は、前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標の標準偏差を前記バラツキとして算出する、付記７に記載の設計支援装置。
（付記９）
前記診断困難性指標は、各観測点で観測される故障の数である、付記１〜付記８のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【００９８】
（付記１０）
前記第２抽出部は、抽出済みの前記テストポイントの挿入候補がある場合には、該挿入候補にテストポイントが挿入された設計対象回路に対して、新たなテストポイントの挿入候補を抽出する、付記１〜付記９のいずれか一項に記載の設計支援装置。
【００９９】
（付記１１）
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出する設計支援方法であって、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、設計支援方法。
【０１００】
（付記１２）
前記第２の挿入候補を抽出する際、
前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが前記テストポイントの挿入前の前記設計対象回路の全ての観測点における診断困難性指標のバラツキよりも小さくなる挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、付記１１に記載の設計支援方法。
【０１０１】
（付記１３）
前記第２の挿入候補を抽出する際、
前記第１の挿入候補の各々に対して、前記テストポイントを挿入した場合における、該挿入した前記テストポイントによる影響を含めた前記設計対象回路の全ての観測点の診断困難性指標のバラツキを算出し、前記第１の挿入候補の中から、算出した診断困難性指標のバラツキが最も小さい挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、付記１１又は付記１２に記載の設計支援方法。
【０１０２】
（付記１４）
前記第１の挿入候補を抽出する際、
前記全ての観測点における前記診断困難性指標を算出し、
算出された前記診断困難性指標の最大値を抽出し、
抽出された前記最大値の診断困難性指標をもつ前記最大観測点を前記頂点とする前記回路網内の複数の信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する挿入候補抽出部と、を有する、付記１１〜付記１３のいずれか一項に記載の設計支援方法。
【０１０３】
（付記１５）
前記第１の挿入候補を抽出する際、
前記設計対象回路における各信号線が等価故障を考慮した代表故障信号線であるか否かを判断し、
前記回路網内の複数の信号線のうち、前記代表故障信号線であると判断された信号線を、前記第１の挿入候補として抽出する、付記１４に記載の設計支援方法。
【０１０４】
（付記１６）
前記回路網は、前記最大観測点から、前記設計対象回路中に設定される値を入力する入力点、または、前記設計対象回路中の値を設定可能な制御点までバックトレースすることによって得られるロジックコーンに対応する、付記１１〜付記１５のいずれか一項に記載の設計支援方法。
【０１０５】
（付記１７）
前記第２の挿入候補を抽出する際、
前記第１の挿入候補のうちの一つに前記テストポイントを仮挿入した際に、仮挿入した前記テストポイントの影響を含めた全ての観測点における前記診断困難性指標を算出し、
算出された、前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標のバラツキを算出し、
前記第１の挿入候補のうち、算出された前記バラツキが最小になる挿入候補を、前記第２の挿入候補として抽出する、付記１１〜付記１６のいずれか一項に記載の設計支援方法。
【０１０６】
（付記１８）
前記テストポイントを仮挿入した際の全ての観測点における前記診断困難性指標の標準偏差を前記バラツキとして算出する、付記１７に記載の設計支援方法。
（付記１９）
前記診断困難性指標は、各観測点で観測される故障の数である、付記１１〜付記１８のいずれか一項に記載の設計支援方法。
【０１０７】
（付記２０）
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出するコンピュータに、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、
処理を実行させる、設計支援プログラム。
【０１０８】
（付記２１）
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出するコンピュータに、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、
処理を実行させる、設計支援プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体。
【０１０９】
（付記２２）
設計対象回路においてテスト制御に用いるテストポイントを挿入すべき信号線を挿入候補として抽出するプロセッサを有し、
前記プロセッサは、
前記設計対象回路に含まれる信号線の観測に用いる全ての観測点のうち、前記観測点における故障診断の困難性を表す指標である診断困難性指標が最大になる最大観測点を頂点とする回路網内の複数の信号線を、それぞれ第１の挿入候補として抽出し、
前記第１の挿入候補の各々に対して前記テストポイントを挿入したときの影響を考慮して、前記複数の第１の挿入候補の中から、前記テストポイントを挿入する第２の挿入候補を抽出する、設計支援装置。
【符号の説明】
【０１１０】
１    設計支援装置
１０    処理部（ＣＰＵ，プロセッサ，コンピュータ）
１１    第１抽出部
１１１    論理情報解析部
１１２    ０／１可制御性・可観測性解析部
１１３    診断困難性解析部（第１指標算出部，最大値抽出部）
１１４    診断困難性指標バラツキ情報解析部
１１５    等価信号線情報解析部（代表故障判断部）
１１６    テストポイント候補抽出部（挿入候補抽出部）
１２    第２抽出部
１２１    仮ＴＰ挿入部
１２２    論理情報解析部
１２３    ０／１可制御性・可観測性解析部
１２４    診断困難性解析部（第２指標算出部）
１２５    診断困難性指標バラツキ情報解析部（バラツキ算出部）
１２６    テストポイント判定部（挿入対象抽出部）
２０    記憶部
２１    論理データベース（ネットリスト）
２２    設計支援プログラム
２３    内部テーブル
２３ａ    制御テーブル
２３ｂ    外部入力（ＰＩ）テーブル
２３ｃ    外部出力（ＰＯ）テーブル
２３ｄ    ネットテーブル
２３ｅ    ゲートテーブル
２３ｆ    入出力ピンテーブル
２３ｇ    診断情報テーブル
２４    テストポイント挿入リスト（出力リスト）
３０    入力部（キーボード，マウス等）
４０    出力部（ディスプレイ，プリンタ等）
５０    バス
【図１】
2014075085.tif 000003
【図２】
2014075085.tif 000004
【図３】
2014075085.tif 000005
【図４】
2014075085.tif 000006
【図５】
2014075085.tif 000007
【図６】
2014075085.tif 000008
【図７】
2014075085.tif 000009
【図８】
2014075085.tif 000010
【図９】
2014075085.tif 000011
【図１０】
2014075085.tif 000012
【図１１】
2014075085.tif 000013
【図１２】
2014075085.tif 000014
【図１３】
2014075085.tif 000015
【図１４】
2014075085.tif 000016
【図１５】
2014075085.tif 000017