(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスクにデータを記録して長期に亘って保存する場合、記録したデータの品質が経時劣化していないかどうかの評価を短時間で行なうことのできる方法、情報記録媒体および記録再生装置を提供する。【解決手段】ユーザデータを光ディスクに記録する際、ユーザデータの基準寿命より寿命が短い特定パターンの信号を光ディスクの所定の領域に記録しておき、所定の時間間隔で特定パターン信号を再生し、その信号品質の評価結果に基づいて、ユーザデータに対する処理を決定する。【選択図】図５
2014146404.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に記録された、ユーザデータの基準寿命よりも寿命が短い特定パターンを、光照射することによって、再生するステップと、
前記再生した特定パターンの信号を、品質評価するステップと、
前記品質評価した結果に基づいて、前記ユーザデータに対する処理を決定するステップと
を有することを特徴とする品質評価方法。
【請求項２】
前記特定パターンは、前記ユーザデータの記録波形とは、少なくとも、アシンメトリ、β値、記録パワー、変調度のいずれかが異なる記録波形により、記録されたパターンであることを特徴とする
請求項１記載の品質評価方法。
【請求項３】
更に、前記記録媒体に少なくとも初めて前記ユーザデータを記録する直前から直後までの間の期間のいずれかに、記記録媒体の少なくとも内周側と外周側のいずれか一方に、前記特定パターンを記録するステップを有することを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項４】
前記ユーザデータに対する処理を決定するステップは、前記特定パターンの信号が寿命に到達した時点で、前記ユーザデータに対する再生評価を実施するステップであることを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項５】
前記品質評価するステップは、前記品質評価を行った結果得られた、時間と品質評価の指標との関係式に外挿することで、前記特定パターンについての寿命を推定するステップを含むことを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項６】
前記特定パターンについての寿命に基づいて、前記ユーザデータの寿命を推定するステップを、さらに有することを特徴とする請求項５記載の品質評価方法。
【請求項７】
前記ユーザデータに対する処理は、前記ユーザデータを前記記録媒体とは別の新規媒体に記録するステップを含むことを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項８】
前記特定パターンは、予め加速試験によって決定された記録波形により記録されたものであることを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項９】
前記加速試験は、恒温槽加速試験または再生光加速試験であることを特徴とする請求項８記載の品質評価方法。
【請求項１０】
前記再生するステップの前に、前記特定パターンを記録するステップを有し、
前記特定パターンを記録するための記録波形は、光ディスク装置にて予め準備された複数の記録波形それぞれについて、計測された劣化速度又は寿命の少なくとも一方に基づいて定められ、
前記定められた前記記録波形を用いて、前記特定パターンを記録することを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項１１】
前記品質評価した結果に基づいて、複数の前記記録媒体の品質について、ランク付けを行うことを特徴とする請求項１記載の品質評価方法。
【請求項１２】
光照射によって得た再生信号から信号品質を評価するための情報記録媒体であって、
ユーザデータを記録するユーザデータ記録部と、
前記ユーザデータ基準寿命よりも寿命が短い特定パターンを記録するための記録波形の情報が記録された管理領域とを有することを特徴とする情報記録媒体。
【請求項１３】
光源からの光を記録媒体に照射する光学系を有する光ピックアップ部と、
前記記録媒体にユーザデータを記録するための、前記光照射の記録波形を生成する手段と、
前記光ピックアップ部からの再生信号を信号処理する信号処理部と、
前記ユーザデータの基準寿命よりも寿命が短い特定パターンの記録波形を決定する特定パターン信号生成部とを有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
前記光ディスク装置は、さらに、加速試験にて再生信号の評価を行うための加速試験処理部を有し、
前記特定パターン信号生成部は、前記加速試験処理部の処理結果に基づいて、前記特定パターンの記録波形を決定することを特徴とする請求項１３記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
ユーザデータの基準寿命よりも寿命が短い特定パターンが記録された記録媒体と、
光源からの光を前記記録媒体に光照射するための光学系を有する光ピックアップ部と、
前記ユーザデータを記録するための、前記光照射の記録波形を生成する手段と、
前記光ピックアップ部から出力された再生信号について、品質評価を行う品質評価部と、
前記品質評価のタイミングを指示するタイミング制御部と
を有することを特徴とする記録再生システム。
【請求項１６】
前記記録再生システムは、さらに、
前記記録再生システムの保管環境を計測する手段と、
前記計測した結果に基づいて、前記記録波形を決定する手段とを
有することを特徴とする請求項１５記載の記録再生システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光情報記録媒体に光照射することによって情報を再生する光情報再生装置における、品質評価方法、光ディスク装置、記録再生システム、およびこの品質評価を行うために好適な情報記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光情報記録媒体である光ディスクとして、CD(compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)、 BD(Blu-ray Disc)、 BDXLTMなどが商品化され、広く普及している。これら光ディスク媒体には再生専用型であるROM(Read Only Memory)型、追記型であるR(Recordable)型、書き換え型であるRE(Rewritable)型等、様々な種類がある。
【０００３】
光ディスクにおける情報の記録再生は、光ディスク媒体に対してレーザ光を照射することによって行われる。情報の記録は、レーザ光の熱により記録膜材料の状態が変化した領域を形成することで行われる。この状態が変化した領域はマークと呼ばれ、状態を変化させなかった領域はスペースと呼ばれる。これらマークとスペースの組合せによって記録層に信号を記録する。このような記録を実現するため、光ディスク媒体の記録膜には相変化材料や有機色素、無機材料による合金や酸化物等が用いられている。情報の再生では、信号が記録されている記録層に記録よりも低いパワーのレーザ光を照射し、マークとスペースでの反射光量の違いに基づき記録信号を読出す。
【０００４】
光ディスクは媒体可換なストレージであるため、光ディスク媒体と光ディスク装置の組み合せは頻繁に変化する。そのため、現在の組み合せに応じて光ディスク装置は記録再生の調整を行う。例えば、記録においては媒体に応じて記録パワーや記録に用いる発光波形を調整する。また、記録再生時の光スポットを最適な状態にするため、対物レンズ、コリメータレンズ、レンズチルト等の調整も行われる。
【０００５】
光ディスクでは、これら調整を実施するため、再生信号品質を評価する様々な指標が提案されている。一般的な指標としては、SER(Symbol Error Rate)、BER(Byte Error Rate)、bER(bit Error Rate)などがあり、これらは光通信などでも使用されているデコード結果におけるSymbol、Byte、bitのエラー確率である。また、再生クロックに対する信号の時間的揺らぎ量を評価する指標であるJitter等も存在する。上記一般的な指標とは異なり、光ディスクの再生信号処理システムに基づく評価指標も数多く提案されている。BDに対しては、非特許文献1ではLimit Equalizer Jitter、非特許文献2ではSAM(Sequenced amplitude margin)が開示されている。Limit Equalizer Jitterは再生信号処理で使用されるLimit Equalizerで再生信号を処理した結果におけるJitterである。SAMはBDにPRML(Partial Response Maximum Likelihood)の再生信号処理を適用した場合における、目標信号波形と誤り信号波形に基づき再生信号波形の誤り難さを評価する指標である。また、BDXLTMに対しては、特許文献1ではi-MLSE(integrated-Maximum Likelihood Sequence Error Estimation)、特許文献2ではL-SEAT(run-length-Limited Sequence Error for Adaptive Target)が開示されている。i-MLSE、L-SEATはPRMLの再生信号処理における、目標信号波形に対する再生信号波形の誤差量の分布を標準偏差で定量化した指標である。光ディスクではこれらの指標を用いて再生信号品質を評価し、記録再生時の調整を実施している。
【０００６】
ここで、光ディスクにデータを記録して長期に亘って保存する場合、記録したデータの品質が経時劣化していないか光ディスク全面を定期的に評価する必要がある。評価結果より、信号品質が所定の水準より悪い場合には、新規光ディスクへデータを移し替えるなどの作業が必要となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】US2010/0002556公報
【特許文献２】US2010/0260025公報
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】Japanese Journal of Applied Physics Vol. 39、 2000、 pp. 819-823
【非特許文献２】Japanese Journal of Applied Physics Vol. 45、 No. 2B、 2006、 pp. 1061-1065
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
光ディスク全面を定期的に評価する方法は、従来検討されていなかった。品質評価は、光ディスク上の記録されたデータを前面再生評価することで、品質低下の程度を確認することも可能ではある。しかし、光ディスク媒体を定期検査する際、光ディスクの枚数が膨大な場合、光ディスクの記録データ全てを評価するのに多くの時間が必要となるため、現実的ではない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題は、ユーザデータの基準寿命より寿命が短い特定パターンの信号を光ディスクの所定の領域に記録された媒体について、所定の時間間隔で特定パターン信号を再生し、その信号品質の評価結果に基づいて、ユーザデータに対する処理を決定する。具体的には、ユーザデータの品質劣化量や寿命を推定することでユーザデータを新規光ディスクへデータを移し替える時期を決定する。これにより、光ディスク全面を評価する必要がなくなるため評価時間を大幅に低減できる。
【００１１】
前記特定パターンの信号はユーザデータの基準寿命より早く寿命に到達する信号であれ良く、例えば信号のアシンメトリ、β値、記録パワーを変えて段階的に信号レベルを変化させたもの、または記録直後の信号品質が同等であるが記録波形と記録パワーを変えて段階的に信号変調度を変化させたものである。
【００１２】
具体的な装置の構成としては、上記光ディスクにデータを記録および再生する記録再生部と、再生したデータの品質を評価する品質評価部とを備え、上記記録再生部は、上記光ディスクにユーザデータを記録する際に、当該光ディスクの所定の領域に、例えば、記録直後の信号品質は同等であるが主に信号変調度が異なる特定パターンの信号を記録し、上記記録再生部は、所定の時間経過した時点で、上記領域に記録されている上記特定パターンの信号を再生し、上記品質評価部は、再生した特定パターンの信号の品質の評価結果から上記ユーザデータの品質劣化を推定する構成とする。
【発明の効果】
【００１３】
上記構成により、光ディスク全面を評価する必要がなくなるため評価時間を大幅に低減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】記録波形Ａ、記録波形Ｂ、及び記録波形Ｃの記録信号において、恒温槽加速試験によるi-MLSEの経時変化を測定した結果を示す一例の図。
【図２】本発明の実施例に関わる光アーカイブ装置の全体構成を示す一例のブロック図
【図３】本発明の実施例に関わる光アーカイブ装置の要部構成を示す一例のブロック図
【図４】本発明の実施例に関わる光アーカイブ装置の制御部の要部構成を示す一例のブロック図。
【図５】本発明の実施例に関わる記録信号品質の評価方法を説明する図。
【図６】本発明による記録信号評価方法で用いる特定パターンで信号変調度を変えた場合の例を示す図。
【図７】ユーザデータを消失することなく新規光ディスクにデータを移行させる方法決定に関する、記録信号の品質評価方法の手順を示す一例のフローチャート。
【図８】本発明の実施例に関わる光ディスクの構成を示す一例の図。
【図９】本発明の実施例に関わる光ディスクのDI (Disc Information)に含まれる情報を示す一例の図。
【図１０】記録波形A〜Gおよび記録波形A’〜E’の記録信号の変調度、初期βと寿命の算出結果を示す一例の図。
【図１１】特定パターン信号の劣化量からユーザデータの劣化量を推定するとともに、経過時間とSERの対数値との関係を直線近似し、推奨記録波形の寿命推定を示す一例の図。
【図１２】特定パターン信号を決定し、光ディスクに記録する方法の手順を示す一例のフローチャート。
【図１３】媒体感度バラツキおよび記録パワーずれを考慮した推奨記録波形Cにおいて、恒温槽加速試験によるi-MLSEの経時変化を測定した結果を示す一例の図。
【図１４】記録波形Ａ、記録波形Ｂ、記録波形Ｃ、記録波形Dの記録信号において、恒温槽加速試験によるi-MLSEの経時変化を測定した結果を示す一例の図。
【図１５】ユーザデータを消失することなく新規光ディスクにデータを移行させる方法決定に関する、光ディスク装置が特定パターンの記録波形を決定し、記録信号の品質を評価する方法の手順を示す一例のフローチャート。
【図１６】本発明による記録信号評価方法で用いる特定パターンで初期βを変えた場合の例を示す図。
【図１７】記録波形Ａ’、記録波形Ｂ’および記録波形Ｃ’の記録信号において、恒温槽加速試験によるi-MLSEの経時変化を測定した結果を示す一例の図。
【図１８】記録波形A.記録波形B、記録波形C、記録波形Dの記録信号において、再生光加速試験によるi-MLSEの変化を測定した結果を示す一例の図。
【図１９】アーカイブ用途の媒体において、媒体のランク付け方法決定に関する媒体のランク付け方法の手順を示す一例のフローチャート。
【図２０】媒体A〜媒体Dに記録された信号において、再生光加速試験によるi-MLSEの変化を測定した結果を示す一例の図。
【図２１】各ユーザの光ディスク保管環境に適した記録波形を提供するためのストレージ管理方法の手順を示す一例のフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【実施例１】
【００１５】
まず、記録波形による信号劣化速度の違いを確認するため、BDXLTM規格の光ディスクにおいて、記録直後のi-MLSEが同程度となる３種類の記録波形を作成した。記録波形Ａ（Ｗｒｉｔｅ  Ｓｔｒａｔｅｇｙ−Ａ：ＷＳ−Ａ）、記録波形Ｂ（ＷＳ−Ｂ）、と記録波形Ｃ（ＷＳ−Ｃ）は主に変調度が異なっており、それぞれ４５％、５０％、５５％である。ここでＷＳ−Ｃが推奨記録波形でユーザデータも当該記録波形を用いて記録される。これらの記録波形を用いて記録した信号に対して恒温槽加速試験を実施し、劣化速度を測定した結果が図１である。恒温槽加速試験は、経時劣化を短時間で再現する試験方法である、推奨保管条件よりも温度や湿度が高い環境に光ディスクを保管し、記録膜材料の化学的変化や基板の機械的変化を促進する手法である。図１から、記録直後の３つの信号品質は同等であるが、そのなかで劣化速度はＷＳ−Ａの記録信号が最も速く、次いでＷＳ−Ｂである。推奨記録波形で記録した信号（ＷＳ−Ｃ）は３つの記録信号のなかで最も劣化速度が遅いものである。ここで、品質劣化速度は、記録波形Ｃの記録信号に対し、ＷＳ−ＡとＷＳ−Ｃの記録信号はそれぞれ約１．６、１．１倍である。以上の結果より、ＷＳ−ＡやＷＳ−Ｂを用いて記録信号を特定パターン信号とし、当該特定パターンの信号の劣化量からユーザデータの劣化量を短時間で推定できるとともに、ユーザデータの寿命を推定できる。寿命が明確化されるので、全てのユーザデータの信号品質を評価する期間を短縮したり、信号品質の定期検査の短時間化したりすることができるため、システムへの負荷が軽減でき、かつ、データを消失することなく新規媒体にデータを移し替えることができる。
【００１６】
続いて、本発明の記録信号の評価に用いる光ディスク装置について説明する。図２、図３はそれぞれ本発明の実施例で使用する光アーカイブ装置の全体および主要構成を示したものである。
【００１７】
本実施例の光ディスクアーカイブ装置０は、信号の記録再生装置として、複数台の光ディスク装置１と基準となる光ディスク装置２を要している。この基準光ディスク装置は、記録済み光ディスクの記録性能が仕様を満たしているかなどを評価する役割を有する。記録媒体として、パッケージ内に複数枚の光ディスクを積層して収納した構造の光ディスク３を用いる。また、複数枚の光ディスクの中に基準ディスク４も同様に収納されている。基準ディスクは光ディスク装置の再生性能を評価する等の用途で用いられる。光ディスクには、例えば大容量記録が可能なＢＤＸＬTMが適する。もちろん、他の種類のディスク（ＢＤやＤＶＤ、ＣＤなど）でもよく、また、ディスクを１枚ごとに単品で扱うこともできる。装置の構成は、ディスク搬送・格納部１０、ドライブ部２０、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）部３０を備える。ディスク搬送・格納部１０には、ディスク格納部１０に複数枚の光ディスク媒体が格納される。ディスク設置部１３はディスク格納部１１に収められているディスクから、指示された光ディスク１２を設置する。ディスクが両面記録の場合には、ディスク反転の操作も行う。ディスク搬送コントローラー１４ではディスク設置部１３を制御し、設置するディスクを選択する。
【００１８】
ディスクドライブ部２０は、設置された光ディスク１２に対してデータの記録・再生を行う。また、ディスク１２から記録済みのデータを再生し、その品質を評価する。ドライブ部２０の要素構成として、光アーカイブ装置は要部構成として、スピンドルモータ２１、光ピックアップ部２３、ＬＤ駆動部２４、エンコーダ２５、信号処理部２６、デコーダ２７、ドライブ制御部２８を備えている。スピンドルモータ２１は、光ディスク１２をCLV(Constant Linear Velocity)あるいはCAV(Constant Angular Velocity)で制御する。光ディスク１２に対向して光ピックアップ部２３が設けられ、レーザダイオード(LD) から記録パワーのレーザ光２２を射出することにより光ディスク１２に信号を記録し、ＬＤから再生パワーのレーザ光２２を射出することにより記録された信号を読み取る。さらに、光ディスク１２が書き換え可能な場合には、ＬＤから消去パワー（再生パワー＜消去パワー＜記録パワー）のレーザ光２２を射出して記録された信号を消去する。
【００１９】
信号を記録する場合、記録データはエンコーダ２７にてエンコードされ、LD駆動部２４に供給される。LD駆動部２４は、エンコードされた記録波形に基づき駆動信号を決定し、光ピックアップ部２３内のLDに供給して信号を記録する。LD駆動部２４における記録パワー値はドライブ制御部２８からの制御信号により決定される。ドライブ制御部２８は、信号を記録するのに先立ち、光ディスク１２の試し書き領域において複数種類の記録パワーを用いて試し書きを行い、かかる試し書きの信号に基づいて最適な記録パワーを決定する。さらに、複数種類の記録波形を用いて試し書きを行い、かかる試し書きの信号に基づいて最適な記録波形の決定し、ディスクに保存するユーザデータの信号を記録する。この時、記録信号評価のための特定パターンの信号も生成する。
【００２０】
一方、データ再生時には、光ピックアップ部２３から出力された再生信号は信号処理部２６に供給される。信号処理部２６は、RFアンプやイコライザ、二値化部、PLL部等を有し、再生信号をこれらで処理してデコーダ２６に供給する。デコーダ２７では２値化された再生信号とPLL部にて再生された同期クロックに基づき信号をデコードし再生データとして出力する。信号処理部２６ではSER、BER、bER、Jitter、Limit Equalizer Jitter、i-MLSE、L-SEAT等の再生信号品質の計算も行う。また信号処理部２６は、ユーザデータだけでなく、特定パターンの信号からテストデータも取得する。信号処理部２６での処理結果の再生信号、再生信号品質指標値は再生信号評価用としてドライブ制御部２８にも供給される。ドライブ制御部２８は、ドライブ部２０内の各部の動作を制御し、記録動作と再生動作の切り替えや、ユーザデータと特定パターンの信号の切り替えを行う。また、ドライブ制御部２８には光ピックアップ部２３からの再生信号も供給され、再生信号の上部包括線、下部包括線の計測、信号振幅計測等が行われ、これらの数値にもとづき信号品質評価等が行われる。更に、ドライブ制御部２８では、記録再生時におけるフォーカスサーボ用信号、トラッキング制御用信号、スピンドルモータ制御用信号、LD駆動制御用信号等も生成する。これら信号に基づき、光ピックアップやスピンドルモータは制御されるが、これらについては従来技術と同様であるのでその説明は省略する。
【００２１】
ドライブ制御部２８は、具体的にはCPUやメモリ(ROM、RAM)などから構成され、これらの組合せにより各種機能を実現している。例えば、再生信号から特定パターンの信号品質を算出し、算出結果に基づいてユーザデータの寿命を推定し、データを新規媒体に移行する時期を決定する機能を有している。図４におけるドライブ制御部２８の機能ブロックを図４に示す。ドライブ制御部２８は、加速試験処理部、再生信号品質評価部、ユーザデータ信号生成部、特定パターンの信号生成部、記憶部を有して構成される。加速試験処理部は再生速度、再生パワー、高周波重畳、加速試験時間などの加速試験条件の取得、再生信号から各種指標（反射率、変調度、ジッタ、アシンメトリ、βなど）を算出する機能を有しており、取得した情報は記憶部へ記憶される。また、記憶部から読みだした情報に基づき、加速試験の開始・終了、加速試験条件の変更などを行う。加速試験の条件は光ディスク１２の種類（ＳＬや、ＤＬ、ＴＬ、ＱＬ等）ごとに、再生速度毎に異なるため、これらは光ディスク１２の種類に応じて変更する。再生信号品質評価部では、再生信号やＲＦ信号処理部から取得した情報に基づき、記録信号の品質評価を実施する。品質評価された値は記憶部に随時記憶される。また、信号品質評価値としては測定値もしくは経時変化量を出力する。ユーザデータ信号生成部は、記憶部から取得されるユーザデータの情報に基づき記録波形の調整及び最適な記録波形の決定を行い、パワー制御信号として出力し、ＬＤ駆動部２４に供給する。特定パターンの信号生成部は、記憶部から取得されるユーザデータと特定パターンの信号の寿命比及び寿命分布に基づき、特定パターンの信号の記録波形の決定を行い、パワー制御信号として出力し、ＬＤ駆動部２４に供給する。
【００２２】
パーソナルコンピュータ（ＰＣ）部３０は、ディスク搬送・格納部１０とディスクドライブ部２０に接続し、これらを制御する。ホストコンピュータ３２はドライブ部２０との間で光ディスク１２に記録・再生するユーザデータの受け渡しを行う。また、ドライブ部２０から送られた特定パターンの信号について品質評価を行う。そして、評価結果からユーザデータの寿命推定を行う。保存データ時間が推定時間に到達した場合は、表示部３１にて、ユーザデータが劣化している旨を示す警告を発する。定期検査のタイミング制御部３３は、品質評価する光ディスクを選択しまたその品質検査間隔決定して、ディスク搬送・格納部１０に対して指示する。
【００２３】
次に、上述した光ディスク装置を用い、特定パターンの信号品質を定期的に評価し、その評価結果から、ユーザデータの劣化量ユーザデータの寿命を推定する信号評価方法について説明する。
【００２４】
図５は、本発明による光ディスクの記録品質評価方法を説明する図である。従来のデータ記録動作では光ディスク１２にユーザデータのみを記録するだけであったが、本実施例の記録品質評価方法では、ユーザデータを記録する際にユーザデータよりも劣化が速い特定パターン信号を記録する。図５(a)にユーザデータの基準寿命以前に故障する記録信号、特定パターン信号１および特定パターン信号２を示す。また、特定パターン信号１の方が特定パターン信号２よりもストレスに対して感度が高い記録信号となっている。ここで、基準寿命は、例えばユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも50枚以上のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の中間値と設定してもよい。さらに信頼性を向上させるため、例えばユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも95枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の2σの時間としてもよい。更に好ましくはユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも99枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の3σの時間を用いると良い。このように、基準寿命は、図５（ａ）に示した基準寿命の範囲内で、任意に定めることができる。
【００２５】
ここで、特定パターンはユーザデータの劣化具合を検出する信号であるため、ユーザデータとセットで記録するのが基本となる。従って、初めてユーザデータを記録する直前から直後までの間の期間のいずれかに、特定パターンを記録するのが望ましい。ディスクに初めて記録したユーザデータはその後追記されるユーザデータよりも早く劣化すると考えられる。そのため、初めてユーザデータを記録する際に特定パターンも記録し、記録した特定パターンを評価することで、当該媒体内で最も劣化し易い信号の劣化具合を検出できることになる。
【００２６】
一方、ユーザデータ追記時において特定パターンを記録した場合、追記時の特定パターンは初期記録時の特定パターンより寿命が長いため、ディスク内全データの保護には不適であるが、媒体としての劣化度合いの評価精度向上には利用できる。
【００２７】
また、上記とは前提が異なり、媒体のシェルフ特性(未記録部分の記録特性が経時的に劣化する)が悪い媒体の場合、初期や追記時に記録したユーザデータのどちらが先に寿命を迎えるかわからない。その場合，各ユーザデータを記録する度に、特定パターンを記録し、毎回全部の特定パターンを評価することで全てのユーザデータが保護できることになる。
【００２８】
また、本実施例における特定パターンの信号としては、記録直後の信号品質がユーザデータと同等なものや記録信号レベルの異なるものとした。この場合、図５(b)に示す通り、特定パターンの信号はユーザデータよりもストレスに対し感度が高く、経時劣化により再生エラーが発生しやすいので、ユーザデータの品質劣化を早期に予測したり、寿命を明確にしたりすることができる。
【００２９】
図６は、記録品質評価方法で用いる特定パターンの信号の例を示す図である。特定パターンは例えばランダム信号パターンであり、記録する信号はランダム信号の品質を測れる長さであれば良く、例えば1クラスタ分記録する。また、例えば、隣接５トラック分またはそれ以上記録しても良い。本実施例においては1クラスタ分の信号を記録した。本実施例では記録波形Ｃが推奨波形であり、当該記録波形を用いてユーザデータを光ディスクに記録する。図６に示してあるように、特定パターン信号には、信号変調度を段階的に変化させたものであるが、記録波形を調整することで、記録直後における信号品質は、特定パターンの信号品質およびユーザデータで同等であるものを使用する。当該記録波形を用いて光ディスクの所定の位置に記録し、その特定パターンの信号を再生評価する。なお、記録信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの識別は、例えば変調度の違いでおこなっても良い。また、例えば符号コードが異なるものを用いてもよい。本実施例に用いた特定パターン信号の記録方法としては、前述した記録直後の信号品質を同等にするように記録波形を調整し、変調度を段階的に変化させる方法の他に、変調度を一定に保つように記録波形を調整し、記録直後のアシンメトリやβ値を変化させる方法がある。この方法では、記録マークサイズが経時劣化に伴い変化する特徴をもつ光ディスクにおいて、短マークと長マークの信号レベルのバランス差の変化を感度良く検知することが可能である。詳細に関しては、実施例４にて説明する。
【００３０】
続いて、光ディスクに記録された情報に基づき記録波形を決定し、ユーザデータを消失させることなく新規媒体に全データを移行する方法について述べる。図７にその手順を纏める。先ずは、使用する光ディスクの構成について図８を用いて説明する。光ディス120はユーザデータ領域121及び管理領域122を有している。管理領域122には、DI（Disc Information）124、欠陥管理情報125、試し書き領域126などの領域が存在し、特にDI124には当該光ディスク固有の情報が記録されている。この光ディスク120は実施例１で用いた光ディスク１２と同一であり、DI124には当該光ディスク120の識別情報等に加え、推奨記録波形と特定パターン信号用の記録波形として上述の記録波形A、B、C、Dに関する情報も記録されている。DI124の詳細な情報を図９に纏める。光ディス120の識別情報などは主に媒体固有情報に記憶されており、各特定パターンの信号の記録波形に関する情報は記録パワー情報及び記録パルス情報に記録波形設定用のパラメータ値として記録されている。また、当該光ディスクにおける推奨波形および各特定パターンの記録信号の寿命に関する情報も記録されている（図１０）。
【００３１】
この光ディスクを用い、実際に光ディスク装置で記録波形、記録パワーの決定を行った。先ずは、ステップS７０１にて、光ディスク装置が光ディスクの管理領域を再生し、DI情報等を取得する。取得した情報に従い当該光ディスクの種別や記録再生条件を確認し、当該光ディスクに即した条件に光ディスク装置を調整する。この際、各記録信号の寿命、およびユーザデータに対する各特定パターンの劣化速度比が予め明確であるため、全ての特定パターンを記録する必要はなく、予め準備されている記録波形から選択してもよい。例えば、短時間でユーザデータの劣化量や寿命を推定したい場合は劣化が最も速い特定パターンを１つ選択すれば良い。また、例えば、評価時間を最大限に低減したい場合は、複数の特定パターン記録波形から１つ選択しても良い。更に、例えば、ユーザデータを新規媒体に移し替える時期を高精度に決定したい場合は少なくとも２つ以上の異なる特定パターンを選択すれば良い。次いでステップS７０２において光ディスク装置は取得した情報を基に推奨記録波形および特定パターン記録波形を決定し生成する。この際、光ディスクの感度ばらつきや記録パワーのずれなどを補正するため、光ディスク装置はOPC等を行い、記録波形を調整する場合もある。以上で記録波形の決定は終了し、記録を行う場合はステップS７０３記録動作に移動する。ここで、記録する信号は品質が最も顕著に劣化する領域に記録するのが好ましく、例えば外周側に記録する。又は、光ディスクの内周側の領域で劣化が顕著な場合、ディスクの内周側に記録すれば良い。勿論、内周側と外周側双方に記録してもかまわない。また、例えば、信号品質の劣化がディスク全面にわたり均一におこる場合はユーザデータ領域に記録してもよい。
【００３２】
ステップS７０４では、所定の領域に記録されている特定パターンの信号を所定の間隔で再生し、特定パターンの信号品質を測定する。評価間隔は光ディスクを再生する際に実施すればよいが、毎回実施すると再生評価に時間がかかる場合や、再生する間隔が数年など長い場合には信号品質が劣化しすぎてしまいデータが消失してしまう場合もある。そこで、評価する時期は予め決めておいても良い。例えば、当該ユーザデータの記録信号の寿命が予め１００年と分かっている場合には、１０年毎にチェックすれば良い。
【００３３】
ステップS７０５では、特定パターンの劣化量および寿命到達時間より、ユーザデータの劣化量及び寿命到達時間を推定する。その結果に基づき、S７０６ではユーザデータを消失することなく、新規光ディスクにデータを移行するために、ユーザデータに対する処理方法を決定する。図７の手順に従い、実際にユーザデータに対する処理を実施した。データが消失することなく新規ディスクにデータを移行する方法としては、特定パターンの劣化量から、ユーザデータのその時の劣化度合いを推定したり、寿命を推定したりする。その結果に基づき、ユーザデータ全てに対する再生評価開始時期やユーザデータ移行時期を決定する。例えば、データが保存された媒体の信号品質の経時劣化を確認し、データ消失を防ぐ場合は以下のように実施する。
【００３４】
前述の光ディスクを対象とし、特定パターンの記録波形としては前述の記録波形Ａ、記録波形Ｂ、記録波形Ｃ、及び記録波形Ｄを用い特定パターン信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを記録した。本実施例では、データの寿命をSER=4.2E-3と設定し、ユーザデータの基準寿命よりも寿命到達時間が早い記録信号である特定パターンBの信号品質がSER=4.2E-3に到達した場合、全てのユーザデータの再生評価を開始し、ユーザデータの中で最も品質が悪い信号がSER=4.2E-3に到達した場合、ユーザデータを新規媒体に移し替える。これにより、データを消失することなく新規媒体にデータを移し替えることができる。また、光ディスクの寿命に比べ経過時間が短い場合には頻繁にディスク評価を実施せず、実時間が寿命に接近した場合に高頻度にユーザデータの品質評価を開始することができるため、システムへの負担を大幅に軽減することができる。
【００３５】
上述では、ユーザデータの寿命に最も近い特定パターンの信号が寿命に到達した地点から、ユーザデータ全てに対し再生評価を実施し、その評価結果に基づきユーザデータを新規媒体に移行する方法について述べた。これに限らず、ユーザデータに対する特定パターン信号の寿命比や劣化加速係数を用いて、特定パターンの劣化量からユーザデータの寿命を推定し、その推定寿命に実時間が到達した時点でユーザデータを新規媒体に移し替える方法もある。この方法を用いると、ディスク保管部１１の環境が変わったことで生じるユーザデータの寿命変化に対しても随時対応することが可能となる。ここで、図１１に恒温槽加速試験を実施し、特定パターン信号の寿命及び劣化量からユーザデータの寿命を推定した結果の一例を示す。本加速試験の温度は図１の場合よりも高く設定しているため、記録信号の劣化が促進されている。本実施例における特定パターン信号（WS-D）に関しては、信号品質の閾値（SER=4.2E-3）と交わる点を寿命とした。一方、寿命に到達していない特定パターン信号（WS-B）に関しては、経過時間とSERの対数値との関係を直線近似し、信号品質の閾値（SER=4.2E-3）に到達する時間を寿命と決定した。例えば、WS-Dを基準とした場、SERがSER=4.2E-3となるのは、100minのときであるので、WS-Cの寿命を算出するための所定の係数である5を乗算し、500minと算出する。これは、100minを基準として、500minを求めることなるため、+400％に相当する。また、WS-Bを基準とした場合、まず、外挿により、SERがSER=4.2E-3となるのは、425minと推定できる。さらに、WS-Cの寿命を算出するための所定の係数である1.18を乗算し、502minと算出する。これは、＋１８％に相当する。これら算出結果に基づき、ユーザデータの寿命を推定することで光ディスクの使用可能期間を特定することができ、ユーザデータを消失することなく、新規媒体にユーザデータを移し替えることができる。実際に、ユーザデータ全てに対し再生評価を実施したところ、寿命に到達しているユーザデータがないことを確認した。
【００３６】
以上のように本実施例によれば、データ領域にユーザデータを記録する際、試し書き領域またはユーザ領域に劣化が速い特定パターンの信号を記録しておくことで、ユーザデータの品質の経時劣化を短時間で推定するとともに、ユーザデータの寿命を明確にすることが可能となり、データを消失することなく新規媒体にデータを移し替えることができる。また、ユーザデータ全てを評価する必要がないため、システムへの負担を大幅に軽減することができる。本実施例の方法は、光ディスクへデータを記録した後、そのまま長期に亘り保存する場合に好適である。
【００３７】
以上の手順が本発明である信号品質の評価方法とその手順、および光ディスク、光アーカイブ装置を備えたシステムの主要構成である。
【００３８】
本実施例ではBDXLTM規格の光ディスクを例にとり説明したが、BD、DVD、CDのR型及びRE型に対しても実行可能であることは明らかである。また、外挿により、寿命を推定する方法など、本実施例で説明した内容は、以降の実施例でも同様に適用可能である。
【実施例２】
【００３９】
本実施例では、光ディスクに記録する記録波形を決定する方法について述べる。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００４０】
図１２のステップS１２０１では先ず、複数種類の記録波形を準備し、光ディスクの所定の位置に記録する。但し、特定パターンの記録領域は前述の内周側及び外周側の試し書き領域のみに限らず、ユーザデータ領域に記録してもよい。その結果、光ディスク１２の内周中周外周における信号品質の劣化速度および傾向の違いにも対応でき、ユーザデータの経時劣化量および寿命を適切に推定することが可能となる。
【００４１】
S１２０２では記録信号を再生し、信号品質を測定する。続くステップS１２０３では、特定パターンの信号決定に向け、記録信号を劣化させるか判定し、記録信号を劣化させる場合ステップS１２０４で加速試験を実施する。特定パターンの信号を決定するにあたり、前述の光ディスク１２に記録したユーザデータと特定パターンの信号の寿命や劣化速度比を算出するため、恒温槽加速試験を実施した。図１３、１４は共に各記録信号の劣化特性を示したものである。ここで、本加速試験の温度は図１の場合よりも高く設定しているため、記録信号の劣化が促進されている。図１３に、当該光ディスクの媒体感度バラツキや記録パワーずれを考慮した場合の推奨記録波形Ｃの記録波形における劣化特性を示す。光ディスクの媒体感度差が１０％程度あると仮定し、推奨記録パワーと当該推奨記録パワー±１０％の記録信号の劣化特性を比較した。記録パワーが大きくなる方に変化させた場合、記録パワー１００％に比べ、記録信号の寿命は短くなる傾向がみられる。このことから、推奨波形で記録した場合においても、寿命は一意に決まらず、分布をもつことがわかる。本加速試験の結果に基づき、標準保管条件（２５℃/６０％ＲＨ）における寿命（i-MLSEが１４％に到達する時間）を計算したところ、各記録信号の実寿命はＰｗ＝１００％で１２０年、Ｐｗ＝１０５％で約１１０年、そしてＰｗ＝１１０％で１００年と算出された。なお、今回は記録パワーを増加させ劣化特性を比較したが、記録パワーが小さい場合でも、記録信号の寿命は同様に短くなる傾向であると考えられる。ステップS１２０４おいては加速試験にかけられた記録信号に対し信号品質が測定され、ステップS１２０３にて加速試験を継続させるか判定する。上記加速試験と記録信号の品質評価を繰り返し、劣化速度および寿命が算出できるまで各記録信号の劣化が十分であると判定された場合はステップS１２０３からステップS１２０５に移行し、各記録信号の寿命に基づき特定パターンの信号が決定される。ただし、記録信号評価は寿命だけに限らず、信号品質の時間に対す劣化量の変化の場合や、記録直後の信号品質および信号品質の劣化速度の組み合わせで評価する場合もある。ここで、ステップS１２０５における記録信号の劣化が十分であるかの判定は、加速試験時間、記録信号の品質、変調度、マークサイズ、ジッタ、アシンメトリ、βなどが所定の閾値に到達するか、またはそれらの増加量が所定の閾値に到達するかに基づき行われる。
【００４２】
次に、図１４に、各記録波形の記録信号の劣化特性を比較した結果を示す。推奨記録波形Ｃの記録信号はすべての記録信号の中で劣化速度が最も遅く、寿命が最も長いことがわかる。次いで記録波形Ｂである。以下、記録波形Ａ、記録波形Ｄと続く。先ほどと同様に、本加速試験の結果に基づき、標準保管条件（２５℃/６０％ＲＨ）における寿命（i-MLSEが１４％に到達する時間）を計算したところ、各記録信号の実寿命は記録波形Ｃで約１００年、記録波形Ｂで約８５年、記録波形Ａで６０年、そして記録波形Ｄで約２０年と算出された。ここから、各特定パターンの信号の寿命比は記録波形Ａ：記録波形Ｂ：記録波形Ｃ：記録波形Ｄでそれぞれ１２：１７：２０：４を算出する。以上の結果から、ユーザデータの基準寿命よりも寿命到達時間が早い記録信号を特定パターンとして選択する。このとき、実施例１同様、基準寿命は、例えば寿命分布の中間値と設定してもよい。さらに信頼性を向上させるため、例えばユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも95枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の2σの時間としてもよい。更に好ましくはユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも99枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の3σの時間を用いると良い。各特定パターンの信号の寿命比を算出するにあたり加速試験の方法としては、前述した恒温槽加速試験の他に再生光加速試験がある。再生光加速試験とは、通常よりも高い再生パワーで記録信号を再生し続け、記録膜を高い温度にさらすことで記録信号の経時劣化を促進する加速試験方法である。この方法では、光ディスクの記録膜のみを選択的に加熱することができるため、恒温槽加速試験よりも高いストレスをかけることが可能であり、恒温槽加速試験に比べ短時間で記録信号の経時劣化を再現することができる。詳細に関しては、実施例４にて説明する。
【００４３】
図１２の手順に従い、ステップS１２０５で決定した各特定パターンの信号の記録波形に関する情報は、光ディスク１２０の管理領域１２２に推奨記録波形と特定パターン信号用の記録波形情報を記録する。各信号の記録波形に関する情報は、記録パワー情報および記録パルス情報に記録波形設定用のパラメータ値として記録する。
【００４４】
本実施例の方法は他の実施例に対しても適用可能であり、各実施例で同様な効果が得られる。
【実施例３】
【００４５】
本実施例では、光ディスクに記録波形が記録されていない場合において、光ディスク装置が記録波形を決定する方法について述べる。変更していない部分に関しては実施例１〜実施例２と同様であるため、本実施例では省略する。
【００４６】
実施例１では光ディスクから記録波形を取得したが、光ディスクに特定パターンの記録波形が記録されていない場合には、図１５に従い光ディスク装置が記録波形を決定すればよい。この場合には、実施例２と同様に光ディスク装置が記録波形を決定すればよい。この場合、光ディスク装置が生成した記録波形を光ディスクに記録、又は光ディスク装置に記憶しておけば、次回当該光ディスクの記録を行う際は本実施例の手順によりユーザデータを消失することなく新しい光ディスクにデータを移行することが可能である。また、光ディスク装置が特定パターンの記録波形を記憶している場合には、光ディスク装置からよみだした記録波形を使用すればよい。
【００４７】
本実施例の方法は他の実施例に対しても適用可能であり、各実施例で同様な効果が得られる。
【実施例４】
【００４８】
本実施例では、実施例１の特定パターンの信号において、記録条件を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１〜実施例３と同様であるため、本実施例では省略する
図１６は、記録品質評価方法で用いる特定パターンの信号の例を示す図である。図５における、光ディスクの所定の箇所に記録されているユーザデータよりも寿命到達時間が早い特定パターンの信号は、記録直後の信号品質が同じで変調度が異なる記録信号に限ったものではなく、例えば、記録直後のアシンメトリやβ値を変化させた信号でもよい。この方法においては、各記録波形の記録直後の信号の変調度を一定に保ち、アシンメトリおよびβ値のみを変化させた。例えば、本実施例においては、3％単位でβ値を変化させた。この場合、記録直後の最長マーク長のマークサイズは全ての記録波形において同等となるため、記録マークサイズが経時劣化に伴い変化する特徴をもつ光ディスクにおいて、短マークと長マークの信号レベルのバランス差の変化を感度良く検知することが可能であると考えられる。
【００４９】
実施例２と同様、特定パターンの信号を決定するにあたり、前述の光ディスク１２に記録したユーザデータと特定パターンの信号の寿命や劣化速度比を算出するため、恒温槽加速試験を実施した。
【００５０】
図１７に、各記録波形の記録信号の劣化特性を比較した結果を示す。推奨記録波形Ｃの記録信号はすべての記録信号の中で劣化速度が最も遅く、寿命が最も長いことがわかる。次いで記録波形Ｂである。以下、記録波形Ａと続く。実施例２と同様に、本加速試験の結果に基づき、標準保管条件（２５℃/６０％ＲＨ）における寿命（i-MLSEが１４％に到達する時間）を計算したところ、各記録波形の実寿命は記録波形Ｃで約１００年、記録波形Ｂでは約７５年、そして記録波形Ａでは５０年と算出された。ここから、各特定パターンの信号の寿命に基づき、寿命比を算出した。本実施例の場合、記録波形Ａ：記録波形Ｂ：記録波形Ｃは２：３：４と算出する。ここでは、寿命比を算出したが、ユーザデータに対する加速係数を算出してもよい。以上の結果から、特定パターンの信号の決定方法は、例えば、ユーザデータの基準寿命よりも寿命到達時間が早い特定パターンを選択することである。ここで、他の実施例同様、基準寿命は、例えば寿命分布の中間値と設定してもよい。さらに信頼性を向上させるため、例えばユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも95枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の2σの時間としてもよい。更に好ましくはユーザデータが記録してある光ディスク100枚中少なくとも99枚のデータが消失することのないユーザデータ寿命分布の3σの時間を用いると良い。
【００５１】
このように決定された特定パターンの信号を用い、実施例１と同様に図７のステップに従うことで、ユーザデータの品質の経時劣化を短時間で推定するとともに、ユーザデータの寿命を明確にすることが可能となり、データを消失することなく新規媒体にデータを移し替えることができる。本実施例の方法は、光ディスクへデータを記録した後、そのまま長期に亘り保存する場合に好適である。
【００５２】
本実施例の方法は、他の実施例に対しても適用可能であり、各実施例で同様な効果が得られる。
【実施例５】
【００５３】
本実施例では、実施例２の特定パターンの信号の決定において、加速試験方法を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１〜実施例４と同様であるため、本実施例では省略する。
【００５４】
加速試験の方法は恒温槽加速試験に限ったものではなく、例えば、再生光を用いる再生光加速試験を用いてもよい。再生光加速試験は通常よりも高い再生パワーを用いて信号を再生し続け、記録信号を劣化させる手法である。この方法では恒温槽加速試験とは異なり、直接記録膜のみを加熱する為、恒温槽加速よりも高い温度で加速試験が行える。このため、恒温槽加速試験よりも短時間に記録信号を劣化させることができる手法である。
【００５５】
再生光加速試験において、使用する再生パワーPrは所定の条件に従って設定する。例えば、光ディスク装置に記憶させてある当該光ディスクの再生パワーPr(1)、又は規格で定められた推奨再生パワーPr(2)を読出し、再生パワーをPr(1)又はPr(2)よりも高く設定する。又は、光ディスクに記録されている再生パワーPr(3)を読出し、再生パワーをPr(3)よりも高く設定する。ここで、再生時にはレーザをDC発光させる場合や高周波重畳をかけて発光させる場合がある。高周波重畳をかけて発光させる場合、DC発光よりも短時間で記録信号を劣化させることができる場合がある。再生パワーを高く設定する程、記録信号の劣化は促進されるため、加速試験が短時間化される。しかし、高く設定し過ぎた場合には記録膜の劣化モードが異なったり、あるいは記録膜以外の材料を劣化させたりする場合がある。そのため、再生光加速試験に用いる再生パワーは、恒温槽加速試験における劣化モードと異ならない範囲において設定することが必要である。本実施例で使用する光ディスクに対し、再生速度2x、再生パワー2.0mWで事前に再生光加速試験を実施した結果、恒温槽加速試験では起こらない基板の劣化が観測された。一方、再生速度2x、再生パワー1.7mWで再生光加速試験と実施した結果、通常劣化と異なる劣化は起こらず、恒温槽加速試験と同様な記録信号の劣化を確認できた。そこで、本実施例では再生速度2x、再生パワー1.7mWを再生光加速試験の加速条件に設定した。ここで、設定した加速条件では劣化が早すぎる、又は遅すぎるといった場合には、加速条件を変更すればよい。
【００５６】
図１２のステップS１２０４における再生光加速試験の時間は、例えば、所定の再生回数や再生時間で管理する。本実施例においては時間で管理し、各加速試験は約5分間とした（再生回数に換算すると約830回である）。また、ステップS１２０３における加速試験の継続の要否は、例えば、再生信号のエッジ揺らぎ量、信号品質、L-SEAT jitter、L-SEAT shift、β、Asymmetry等が所定の値に達したか、又は所定の変化量に達したかで判定される。本実施例においてはi-MLSEの変化量が5%に達したかで判定を行った。
【００５７】
実際に実施例２の光ディスクにおける図１２の手順に従い、ステップS１２０４において再生光加速試験を実施した。再生光加速試験による記録信号の劣化の一例として、図１８に記録波形A、記録波形B、及び記録波形Dの記録信号のi-MLSEの変化を示す。記録波形Dの記録信号においては、再生光加速試験の累積時間が20分、記録波形Aの記録信号においては、75分、そして記録波形Bの記録信号においては85分に到達した時点で、i-MLSEが14.0%に到達したため、加速試験は終了と判断された。全ての記録波形の記録信号に対し、加速試験が終了した後、ステップS１２０５にて図１８の記録波形A、記録波形B、記録波形Dの記録信号が、媒体感度ムラを考慮した記録波形Cの記録信号より寿命が短いため、記録波形A、記録波形B、記録波形Dの記録信号を特定パターンの信号と決定した。
【００５８】
この結果は実施例１と同様であることから、再生光加速試験を用いることによっても適切に記録信号の劣化を抑制する記録波形が決定可能であることを確認した。このように選択した特定パターンを光ディスクの所定の位置に記録し、所定の時間間隔で再生評価し、その評価結果に基づき、ユーザデータに対する処理方法を決定する。処理方法としては、特定パターンの劣化量から、ユーザデータのその時の劣化度合いを推定したり、寿命を明確にしたりすることができる。その結果、ユーザデータ全てに対する再生評価開始時期を決定したり、ユーザデータ移行時期を決定したりできるため、データを消失することなく新規媒体にデータを移し替えることができる。
【００５９】
本実施例の方法は、他の実施例に対しても適用可能であり、各実施例で同様な効果が得られる。
【実施例６】
【００６０】
本実施例では、実施例１の図３におけるディスク格納部１１に格納されている光ディスク媒体のランク付け方法を実施する場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１〜実施例５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００６１】
本実施例では、ユーザデータの記録信号よりもストレスに対し感度が高い特定パターン記録信号を用い、寿命よりはるかに経過時間が短い時点で、ユーザデータが記録されている光ディスクの品質に対しランク付けした結果を説明する。
【００６２】
本実施例においても他の実施例同様、ユーザデータを記録する際にユーザデータよりも劣化が速い特定パターンの信号を記録する。例えば、特定パターンの信号は図５のユーザデータの寿命分布の基準寿命以前に寿命に到達する記録信号である。ここで、基準寿命は、前述の通り、寿命分布の中間値と設定してもよいが、本実施例では、ストレスに対し高感度であることが要求されるため、ユーザデータ寿命分布の3σの時間を基準寿命とするのが好ましい。特定パターン信号には記録波形や記録パワーを調整し、記録信号レベルの異なるものを準備した。
【００６３】
上述のランク付けの手順を図１９に纏める。図１９のステップS１９０１では先ず、複数種類の記録波形を準備し、各記録波形について所定の信号を記録する。S１９０２では記録した信号を再生し、再生信号から信号品質を測定する。続くステップS１９０３では、特定パターンの信号の決定に向け、記録信号を劣化させるか判定し、記録信号を劣化させる場合加速試験を実施する（S１９０４）。ステップS１９０４にて加速試験にかけられた記録信号に対し信号品質が測定され、ステップS１９０３にて加速試験を継続させるか判定される。上記加速試験と記録信号の品質評価を繰り返し、寿命またはユーザデータに対する劣化速度比が算出できるまで各記録信号の劣化が十分あると判定された場合はステップS１９０３からステップS１９０５に移行し、各記録信号の寿命に基づき特定パターンの信号が決定される。但し、記録信号評価は寿命だけに限らず、信号品質の劣化量の増加速度の場合や、記録直後の信号品質や信号品質の劣化速度を組み合わせ評価する場合もある。ここで、ステップS１９０５における記録信号の劣化が十分であるかの判定は、加速試験の時間、記録信号の品質、反射率、変調度、マークサイズ、ジッタ、アシンメトリ、βなどが所定の閾値に到達するか、またはそれらの増加量が所定の閾値に到達するかに基づき行われる。図１９の手順に従い、ステップS１９０５で決定した特定パターンの信号をディスクの所定の位置に記録する。但し、記録する所定の領域は内周側及び/又は外周側外周の試し書き領域に限らずデータ領域でもよい。ステップS１９０６では、所定の領域に記録されている特定パターンの信号を所定の間隔で再生して、特定パターンの信号の品質を測定する。例えば、ユーザデータの寿命が予め平均１００年と分かっている場合には、１０年毎にチェックすれば良い。
【００６４】
ステップS１９０７では、媒体間の品質比較に向け、評価媒体を交換させるか判定し、交換させる場合は、図３のパーソナルコンピュータ（PC）部の定期検査のタイミング制御部３３からディスク搬送・格納部１０のディスク搬送コントローラー１４に制御信号が送られ、ディスク設置部１３に設置されている光ディスク１２をディスク格納部１１に搬送し、指示のあった光ディスクをディスク格納部１１から取り出し、ディスク設置部１３に設置する。設置後、先ほどの光ディスクと同様に信号品質を評価する。評価結果は、ドライブ部２０のドライブ制御部２８の記憶部に記憶される。上記光ディスクの交換および信号評価を繰り返し、予めユーザが設定した枚数のディスク評価およびアーカイブ装置内に格納されている光ディスクすべての評価が完了した場合は、ステップS１９０６からステップS１９０８も移行し、ドライブ制御部２８に記憶されている評価結果に基づき、格納部１１に格納されている光ディスクをランク別に選別する。
【００６５】
図１９の手順に従い、実際にユーザデータが記録されている光ディスクのランク付けを実施した。記録波形Dを用い、媒体間の劣化速度を比較するため、恒温槽加速試験を実施した。媒体間の記録信号の劣化の一例として、図２０に記録波形Dの記録信号のi-MLSEの変化を示す。評価結果より、媒体A、媒体B、媒体C、そして媒体Dのうちで最も寿命が長いのは媒体Dである。次いで、媒体Aである。以下、媒体C、媒体Bの順になっている。このことから、同ストレスに対し、媒体により劣化速度が異なることがわかった。この評価結果に基づき、媒体をランク付けすることで定期検査の頻度を調整することが可能となりシステム全体への負荷を軽減することが可能となる。例えば、定期検査期間は品質が最も良い媒体Dにおいては媒体Bより長くすることが可能である。
【００６６】
また、ランク付けされた光ディスクに対しても、データを消失させることなく新規ディスクにデータを移行する方法としては、特定パターンの劣化量から、ユーザデータのその時の劣化度合いを推定たり、寿命を推定したりする。その結果に基づき、ユーザデータ全てに対する再生評価開始時期やユーザデータ移行時期を決定する。例えば、データが保存された媒体の信号品質の経時劣化を確認し、データ消失を防ぐ場合は以下のように実施する。
【００６７】
本実施例の方法は、他の実施例に対しても適用可能であり、各実施例で同様な効果が得られる。
【実施例７】
【００６８】
本実施例では、ユーザの光ディスク保管条件に適した記録波形を提供する方法について述べる。変更していない部分に関しては実施例１〜実施例６と同様であるため、本実施例では省略する。
【００６９】
本実施例では、図２の光アーカイブ装置における基準ディスク及び基準光ディスク装置を用い、ユーザの保管環境における光ディスクの劣化速度、寿命に関する情報を取得し、将来の顧客に対し光ディスクの保管環境に適した記録波形を提供する方法を述べる。
【００７０】
ユーザの光ディスク保管条件に適した記録波形を提供する方法の手順を図２１に纏める。まずステップS２１０１では、光アーカイブ装置内に設置されている、基準光ディスク装置を用いて、基準光ディスクの劣化速度が速い特定パターンの記録信号を所定のタイミングで再生し、記録信号品質を評価する。その評価タイミングは、ユーザが適宜実行しても良いが、装置により自動的に実行することもできる。ステップS２１０２では、評価した基準ディスクの記録信号品質に関する情報を、温度計６、湿度計７から計測される保管環境に関する情報とともにデータ取得部から取得する。その取得したデータに基づき、記録信号の劣化速度、寿命と保存環境の相関を検討する。検討結果に基づき、各保管環境に適した記録波形を決定することができ、ステップS２１０３において、ユーザの光ディスク保管環境に適した記録波形を提供可能となる。例えば、推奨条件よりも記録時の湿度や温度が高い場合には、ピークパワーを数％下げるなどの対応策が一案として挙げられる。
【００７１】
以上により、実施例１と同様の効果があることに加え、ユーザごとの保管状況に応じた最適な記録波形を選択することができるため、結果的に寿命を長くすることができる効果がある。
【符号の説明】
【００７２】
０：光アーカイブ装置
１：光ディスク装置
２：基準光ディスク装置
３：光ディスク格納部
４：基準光ディスク
５：データ取得部
６：温度計
７：湿度計
１０：ディスク搬送・格納部
１１：ディスク格納部
１２：光ディスク
１３：ディスク設置部
１４：ディスク搬送コントローラー
２０：ドライブ部
２１：スピンドルモータ
２２：レーザ光
２３：光ピックアップ部
２４：LD駆動部
２５：エンコーダ
２６：信号処理部
２７：デコーダ
２８：ドライブ制御部
３０：パーソナルコンピュータ（PC）部
３１：表示部
３２：ホストコンピュータ
３３：定期検査のタイミング制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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