(57)【要約】【課題】広レンジ化で低線量率レンジの本来のエネルギー特性を悪化させることなく、かつ低線量率レンジと高線量率レンジの切換点の段差を抑制した良好なエネルギー特性により高精度な放射線の線量率測定装置を提供することを目的としている。【解決手段】線量率測定装置１は、入射した放射線のエネルギーに比例する電荷を有する離散的な電流パルスと放射線のエネルギーに比例する直流電流を変換した直流電圧とを出力する放射線検出器２と、放射線検出器２を動作させる高電圧を供給する高圧電源４と、放射線検出器２から電流パルス及び直流電圧を入力してそれぞれ低レンジ線量率、高レンジ線量率に変換し、線量率に応じて低レンジ線量率と高レンジ線量率とを切り換えて出力する測定部３と、で構成されている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射された放射線のエネルギーを吸収し、前記エネルギーに比例した電流パルスを出力すると共に、前記エネルギーに比例した直流電圧を出力する放射線検出器と、
前記電流パルスが運ぶ電荷をアナログ電圧パルスに変換し、前記アナログ電圧パルスから波高値を抽出して、前記波高値から波高スペクトルを生成して出力する波高スペクトル生成手段と、
定周期で、前記波高スペクトルを線量率に変換して低レンジ線量率として演算する低レンジ線量率演算手段と、
前記直流電圧のゆらぎを測定して前記放射線の平均エネルギーを推定し、エネルギー補償係数を導出するエネルギー特性補償手段と
定周期で、前記直流電圧を線量率に変換し、変換された前記線量率に前記エネルギー補償係数を乗じて高レンジ線量率として演算する高レンジ線量率演算手段と、
前記低レンジ線量率と前記高レンジ線量率の比に基づき、前記低レンジ線量率または前記高レンジ線量率のいずれかに切り換えて線量率として出力する線量率切換手段と、
を備えたことを特徴とする線量率測定装置。
【請求項２】
前記放射線検出器の基準温度における暗電流に相当する暗電流線量率を記憶しておくと共に、前記高レンジ線量率から前記暗電流線量率を減算して補償する暗電流補償手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の線量率測定装置。
【請求項３】
前記放射線検出器の温度を検出する温度センサを備え、前記放射線検出器の温度に対応した暗電流線量率を記憶しておくと共に、前記高レンジ線量率から前記温度に応じた前記暗電流線量率を減算して補償する暗電流温度補償手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の線量率測定装置。
【請求項４】
前記放射線検出器を動作させる高電圧を供給する高圧電源を備え、前記放射線検出器のゲインの温度特性を記憶しておくと共に、前記温度に応じて前記高圧電源の高電圧の出力を制御し、前記放射線検出器のゲインを補償するゲイン温度補償手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の線量率測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等、及びそれら施設周辺に設置される放射線の線量率測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
原子炉施設の内外において、自然放射線レベルから原子炉事故時等の高放射線レベルまでの広い範囲に亘る線量率を測定するためには、感度や精度の問題から放射線のレベルに応じた複数の線量率測定装置を使用する必要がある。そこで、単一の線量率測定装置で、広範囲の線量率に対応した測定を可能にすることが求められている。
【０００３】
例えば、特許文献１の広レンジγ線照射線量測定装置では、タリウム活性化ヨウ化ナトリウムＮａ（Ｔｌ）シンチレーション検出器に特殊な構造の鉛遮蔽体を施し、測定場の照射線量率のレベルに応じて、低線量率時の検出器からの入射γ線の照射線量に比例したパルス信号によるＤＢＭ測定方式（Ｄｉｓｃｒｉｍｉｎａｔｉｏｎ  Ｂｉａｓ  Ｍｏｄｅｌａｔｉｏｎ：波高弁別バイアス変調方式）と、高線量時における電流測定方式による測定とを自動的に選択させることにより、広範囲にわたる照射線量率を単一の測定装置にて測定可能にしている。
【０００４】
具体的には、入射した放射線のエネルギーを吸収し、その吸収したエネルギーに比例する電荷を有する離散的な電流パルスを出力すると共に、直流電流を直流電圧に変換して出力するＮａ（Ｔｌ）シンチレーション検出器と、電流パルス及び直流電圧を入力して線量率に変換して出力する測定部と、を備え、測定部は、電流パルスをアナログ電圧パルスに変換して出力するプリアンプと、そのアナログ電圧パルスを増幅すると共に高周波ノイズを除去するメインアンプと、その増幅されたアナログ電圧パルスを線量率で重み付けし、線量率に比例する繰り返し周波数のパルスを出力するＤＢＭ回路と、直流電圧を入力して電圧に比例した繰り返し周波数のパルスに変換して出力する電圧／周波数変換器と、それらのパルスを入力し、切り換えて出力するゲート回路と、そのゲート回路の出力パルスを入力し、バイアス変調波高弁別回路のパルスに基づき低レンジ線量率を、または電圧／周波数変換器のパルスに基づき高線量率を、演算して出力すると共に、設定した線量率でゲート回路を切り換える演算部と、を備えたもので、γ線のエネルギーに依存して発生する誤差としてのエネルギー特性が、低レンジ線量率と高レンジ線量率で異なることにより、また、γ線のエネルギーに依存して低レンジ線量率と高レンジ線量率の最適切換点が異なることに対し、固定した線量率で切り換えることにより、切換点で発生する大きな段差をできるだけ小さくするために、Ｎａ（Ｔｌ）シンチレーション検出器に特殊な構造の遮蔽体を設けている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６１−１０４２８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１のγ線照射線量測定装置では、Ｎａ（Ｔｌ）シンチレーション検出器に特殊な構造の遮蔽体を設けていることにより、高線量率レンジのエネルギー特性に起因する誤差や、切換点で発生する段差の両方をある程度縮小することができたが、広レンジ化のために低レンジ線量率の本来のエネルギー特性が悪化するという課題があった。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、広レンジ化で低線量率レンジの本来のエネルギー特性を悪化させることなく、かつ低線量率レンジと高線量率レンジの切換点の段差を抑制した良好なエネルギー特性により高精度な線量率測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の線量率測定装置は、入射された放射線のエネルギーを吸収し、前記エネルギーに比例した電流パルスを出力すると共に、前記エネルギーに比例した直流電圧を出力する放射線検出器と、前記電流パルスが運ぶ電荷をアナログ電圧パルスに変換し、前記アナログ電圧パルスから波高値を抽出して、前記波高値から波高スペクトルを生成して出力する波高スペクトル生成手段と、定周期で、前記波高スペクトルを線量率に変換して低レンジ線量率として演算する低レンジ線量率演算手段と、前記直流電圧のゆらぎを測定して前記放射線の平均エネルギーを推定し、エネルギー補償係数を導出するエネルギー特性補償手段と、定周期で、前記直流電圧を線量率に変換し、変換された前記線量率に前記エネルギー補償係数を乗じて高レンジ線量率として演算する高レンジ線量率演算手段と、前記低レンジ線量率と前記高レンジ線量率の比に基づき、前記低レンジ線量率または前記高レンジ線量率のいずれかに切り換えて線量率として出力する線量率切換手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の線量率測定装置によれば、低レンジ線量率と高レンジ線量率との最適切換点を低線量率と高線量率の比で判断するようにしたので、測定対象の放射線のエネルギー全体に亘って出力エネルギー特性が良好で、測定レンジの全体において直線性が良好で、切換点の段差を抑制した高精度で広レンジの線量率を測定することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態１に係る線量率測定装置の構成を示す図である。
【図２】実施の形態１に係る線量率測定装置のエネルギー特性を示す図である。
【図３】実施の形態１における放射線の入力線量率と最適切換点の関係を示す図である。
【図４】実施の形態２に係る線量率測定装置の演算部の構成を示す図である。
【図５】実施の形態３に係る線量率測定装置の構成を示す図である。
【図６】実施の形態３における放射線検出器の暗電流の温度特性を示す図である。
【図７】実施の形態４に係る線量率測定装置の構成を示す図である。
【図８】実施の形態４における放射線検出器のゲインの温度特性を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態に係る線量率測定装置について図１〜図８を参照して説明する。
【００１２】
実施の形態１．
図１は、実施の形態１に係る線量率測定装置の構成を示す図である。
図１に示すように、線量率測定装置１は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、その吸収したエネルギーに比例する電荷を有する離散的な電流パルスと吸収した放射線のエネルギーに比例する直流電流を変換した直流電圧とを出力する放射線検出器２と、放射線検出器２を動作させる高電圧を供給する高圧電源４と、放射線検出器２から電流パルス及び直流電圧を入力してそれぞれ低レンジ線量率、高レンジ線量率に変換し、線量率に応じて低レンジ線量率と高レンジ線量率とを切り換えて出力する測定部３と、で構成されている。
【００１３】
次に、線量率測定装置１の測定部３の構成と動作について詳細に説明する。図１に示すように、測定部３は、プリアンプ３１と、メインアンプ３２と、アナログ／デジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）３３と、電圧／周波数変換器（Ｖ／Ｆ変換器）３４と、カウンタ３５と、演算部３６と、表示・操作部３７とを備えており、また、演算部３６は、波高スペクトル生成部３６１と、Ｇ（Ｅ）関数メモリ３６２と、低レンジ線量率演算部３６３と、高レンジ線量率演算部３６４と、エネルギー特性補償部３６５と、線量率切換部３６６とを備えている。
【００１４】
波高スペクトルを生成する手段として、プリアンプ３１では、電流パルスが運ぶ電荷がアナログ電圧パルスに変換され、メインアンプ３２では、プリアンプ３１から出力されたアナログ電圧パルスが増幅されると共に重畳されている高周波ノイズが除去され、アナログ／デジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）３３では、メインアンプ３２で増幅されたアナログ電圧パルスから波高値Ｖｐが測定され、波高スペクトル生成部３６１では、Ａ／Ｄ変換器３３から出力された波高値Ｖｐにより波高スペクトルが生成され出力される。
【００１５】
低レンジ線量率ＧｉＬを測定する手段として、Ｇ（Ｅ）関数メモリ３６２には、例えば、測定エネルギー範囲５０〜３０００ｋｅＶを１０〜６００チャンネル（ｃｈ）に分割して、各ｃｈ（ｉ）と線量率Ｇｉ（ｎＧｙ／ｈｃｐｍ−１）とを対応させたＧ（Ｅ）関数と呼ばれるテーブルが記憶されており、このテーブルを用いて、低レンジ線量率演算部３６３において、波高スペクトル生成部３６１から出力されたスペクトルデータにより、定周期で測定された１０〜６００ｃｈの各ｃｈ（ｉ）の線量率Ｇｉと計数Ｎｉとの積を積算したΣＧｉ・Ｎｉを定周期時間で除して、低レンジ線量率ＧｉＬとして演算される。
【００１６】
高レンジ線量率演算部３６４では、カウンタ３５の定周期の計数値ｎｉを定周期時間Ｔに亘って積算した積算計数値Σｎｉを定周期時間Ｔで除して求められた計数率ｒを出力すると共に、計数率ｒに線量率換算係数ηを乗じた高レンジ線量率ＧｉＨが演算されて出力される。また、エネルギー特性を補償する手段として、エネルギー特性補償部３６５では、高レンジ線量率演算部３６４から出力された計数率ｒについて当該演算周期を含む所定の演算周期数の移動平均計数率ｒａｖからの偏差に基づいて標準偏差σが求められ、その標準偏差σからゆらぎのある放射線の平均エネルギーＥａｖが演算され、例えば、予め型式試験に基づき作成された放射線の平均エネルギーＥａｖとエネルギー補償係数βとの対応テーブルが記憶されており、放射線の平均エネルギーＥａｖと対応テーブルのエネルギー補償係数βとが照合されて、高レンジ線量率演算部３６４からは、演算された高レンジ線量率に、エネルギー補償係数βを乗じてエネルギー補償された高レンジ線量率ＧｉＨが出力される。
【００１７】
ここで、計数率ｒを（ｃｐｓ）、計数率ｒの標準偏差をσ、測定時間をＴ（ｓｅｃ）、放射線検出器２で生成される１事象あたりの平均電荷をＱ（クーロン）、測定時間Ｔにおける直流電流の平均値をＩａｖとすると、次式（１）に示すように、計数率ｒの標準偏差σ、平均電流Ｉａｖ、測定時間Ｔから平均電荷Ｑ、すなわち、放射線の平均エネルギーＥａｖを推定することができる。
σ２＝ｒ・Ｑ２／Ｔ＝Ｉａｖ・Ｑ／Ｔ                      （１）
【００１８】
線量率を切換える手段として、線量率切換部３６６では、低レンジ線量率演算部３６３からの低レンジ線量率ＧｉＬとエネルギー補償した高レンジ線量率演算部３６４からの高レンジ線量率ＧｉＨとの比ＧｉＨ／ＧｉＬに基づき、低レンジ線量率ＧｉＬとエネルギー補償された高レンジ線量率ＧｉＨとを切り換えて出力する。
【００１９】
次に、エネルギー特性補償部３６５による出力エネルギー特性の補償、線量率切換部３６６による線量率Ｇｉの切換点について説明する。図２は、線量率測定装置１におけるＣｓ（セシウム）−１３７の出力エネルギー特性の結果を示す例である。横軸は、放射線の入力エネルギーＥ（ＭｅＶ）を示し、縦軸は、Ｐ点を基準値１とした線量率測定装置１のレスポンス比Ｈをそれぞれ示す。ａは、低レンジ線量率演算部３６３による出力エネルギー特性である。ｂは、高レンジ線量率演算部３６４による補償前の出力エネルギー特性であり、ｃは、ｂが補償された後の高レンジ線量率演算部３６４による出力エネルギー特性である。高レンジ線量率演算部３６４により補償されていない出力エネルギー特性ｂでは、特に、低エネルギー領域において大きな歪があることを示しているが、エネルギー特性補償部３６５により出力エネルギー特性を補償することで、全エネルギー領域において補償された出力エネルギー特性ｃのように良好な出力エネルギー特性を得ることができる。なお、低レンジ線量率演算部３６３の出力エネルギー特性は、Ｇ（Ｅ）関数により波高スペクトルを木目細かく線量率Ｇｉに対応させることにより低エネルギー領域において、ａと同等の良好な出力エネルギー特性が得られている。補償された出力エネルギー特性ｃに若干の歪みが残っているのは、放射線検出器２の器差によるものである。
【００２０】
線量率切換部３６６は、低レンジ線量率演算部３６３から出力された低レンジ線量率ＧｉＬと高レンジ線量率演算部３６４から出力された高レンジ線量率ＧｉＨとの比ＧｉＨ／ＧｉＬに基づき、低レンジ線量率演算部３６３から高レンジ線量率演算部３６４への切換は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ１を超えたら実行され、高レンジ線量率演算部３６４から低レンジ線量率演算部３６３への切換は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ２まで低下したら実行される。ここでは、ｋ１＞ｋ２として適度にヒステリシスを持たせている。ここで、ｋ１、ｋ２は、切り替えに伴う段差を最小限に抑えるために設定される値で、許容される段差を精度の範囲内とするため、また、急激な上昇応答時に確実に切換動作が行われるように、正（＋）の値とする。
【００２１】
図３は、放射線の入力線量率Ｇｉと最適切換点の関係を示すものである。ａ１及びａ２は、Ａｍ（アメリシウム）−２４１の実効エネルギー５７ｋｅＶの線量率Ｇｉの入出力応答特性を概念的に示し、ａ１は、低レンジ線量率演算部３６３による入出力応答特性で、低線量率側は直線性が良好で、高線量率側は飽和に続いて低下傾向（Ａｍ−２４１の破線）になる。ａ２は、高レンジ線量率演算部３６４による入出力応答特性で、低線量側では放射線検出器２の暗電流Ｉｄ（点線）が支配的であるが、入力線量率の増加に伴い良好な直線性を示す。ここで、Ａ１は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ１における切換点を示し、Ａ２は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ２における切換点を示す。
【００２２】
ｂ１及びｂ２は、Ｃｓ−１３７の実効エネルギー６６０ｋｅＶの線量率Ｇｉの入出力応答特性を概念的に示し、Ａｍ−２４１の特性に対して高線量率側に直線的に約１桁シフトした形になっている。ｂ１は、低レンジ線量率演算部３６３による入出力応答特性で、低線量率側は直線性が良好で、高線量率側は飽和に続いて低下傾向（Ｃｓ−１３７の長破線）になる。ｂ２は、高レンジ線量率演算部３６４による入出力応答特性で、低線量側では放射線検出器２の暗電流Ｉｄが支配的であるが、入力線量率の増加に伴い良好な直線性を示す。ここで、Ｂ１は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ１における切換点を示し、Ｂ２は、ＧｉＨ／ＧｉＬが１＋ｋ２における切換点を示す。このようにして、線量率切換部３６６は、低レンジ線量率演算部３６３からの出力である低レンジ線量率ＧｉＬと高レンジ線量率演算部３６４からの出力である高レンジ線量率ＧｉＬとの比ＧｉＨ／ＧｉＬに基づき、放射線検出器２に入射される放射線の平均エネルギーＥａｖに応じて変動する最適切換点を検索して切換を実行する。
【００２３】
放射線検出器２としては、ＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器を代表とする無機シンチレーション検出器、プラスチックシンチレーション検出器あるいはＳｉ半導体検出器を代表とする半導体検出器の適用が可能である。
【００２４】
以上のように、エネルギー特性補償部３６５において、ゆらぎを測定して得られた平均エネルギーＥａｖに基づいて高レンジ線量率ＧｉＨの出力エネルギー特性が補償されることにより、低レンジ線量率ＧｉＬと高レンジ線量率ＧｉＨの出力エネルギー特性の違いによる差が大幅に縮小される。線量率切換部３６６は、低レンジ線量率ＧｉＬと補償された高レンジ線量率ＧｉＨとの比ＧｉＨ／ＧｉＬに基づき、最適な切換点で、低レンジ線量率演算部３６３から出力される低レンジ線量率ＧｉＬと高レンジ線量率演算部３６４から出力される高レンジ線量率ＧｉＨを自動的に切換えるようになっている。
【００２５】
これにより、従来の線量率測定装置のように放射線検出器に鉛フィルタを設けて固定切換点で段差を抑制して切り換える方法においては、低レンジ線量率における本来良好な出力エネルギー特性を悪化させてしまうという問題が生じるのに対して、実施の形態１の線量率測定装置では、そのような問題がなく、測定対象エネルギー全域に亘って出力エネルギー特性が良好であり、また、測定レンジの全体における直線性が良好で、切換点の段差を抑制した高精度の広レンジの線量率の測定を実現できる。さらに、波高スペクトル生成部３６１は、電流パルスに対応するアナログ電圧パルスの波高値Ｖｐから、低レンジ線量率に対応する波高スペクトルを生成して出力するようにしているので施設事故時等の際に、長期に亘ってＣｓ−１３４、Ｃｓ−１３７の核種の存在を把握することができる。
【００２６】
このように、実施の形態１に係る線量率測定装置では、低レンジ線量率演算部と高レンジ線量率演算部からの出力の最適切換点を低レンジ線量率と高レンジ線量率の比で判断するようにしたので、測定対象の放射線のエネルギー全体に亘って出力エネルギー特性が良好で、測定レンジの全体において直線性が良好で、切換点の段差を抑制した高精度で広レンジの線量率を測定することができるという顕著な効果がある。
【００２７】
実施の形態２．
図４は、実施の形態２に係る線量率測定装置の演算部の構成を示す図である。実施の形態１の線量率測定装置１の演算部３６との相違点は、実施の形態２の演算部２３６では、暗電流補償部３６７が設けられており、高レンジ線量率演算部３６４における高レンジ線量率での放射線検出器２の暗電流分を補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態１と同様であり説明を省略する。
【００２８】
次に、暗電流補償部３６７の動作について説明する。暗電流補償部３６７には、放射線検出器２の基準温度Ｋ０における平均的な暗電流Ｉｄに対応した補償すべき線量率Ｄが予め設定され、表示・操作部３７から入力され、記憶されている。高レンジ線量率演算部３６４では、実施の形態１と同様にして、エネルギー特性補償部３６５によりエネルギー補償された線量率から、さらに、暗電流分に相当する線量率Ｄを減算して出力するようにされているので、低レンジ線量率演算部３６３と高レンジ線量率演算部３６４の切換点付近の出力エネルギー特性が実施の形態１よりも、さらに良好な高精度の広レンジの線量率の測定が可能となる。
【００２９】
このように、実施の形態２に係る線量率測定装置では、実施の形態１と同様、高レンジ線量率におけるエネルギー補償を行うとともに、放射線検出器の暗電流分に相当する線量率を減算して補償することにより、低レンジ線量率演算部と高レンジ線量率演算部の切換点付近の出力エネルギー特性を改善することができ、さらに、良好な高精度の広レンジの線量率の測定が可能となるという顕著な効果がある。
【００３０】
実施の形態３．
図５は、実施の形態３に係る線量率測定装置の構成を示す図である。図６は、実施の形態３における放射線検出器の暗電流の温度特性を示す図である。実施の形態１の線量率測定装置１との相違点は、実施の形態３の線量率測定装置１０では、放射線検出器２の温度を測定する温度センサ５が設けられており、また、温度センサ５から出力された温度に基づいて放射線検出器２の暗電流を測定部３０の演算部３３６に設けられた暗電流温度補償部３６８により放射線検出器２の温度に依存した暗電流分の線量率を算出し、高レンジ線量率演算部３６４における高レンジ線量率での暗電流分の線量率を減算して補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態１と同様であり説明を省略する。
【００３１】
次に、線量率測定装置１０における放射線検出器２の温度Ｋに依存性した暗電流分の補償について説明する。図５に示すように放射線検出器２の近傍に備えられた温度センサ５からは検出された放射線検出器２の温度Ｋが出力される。暗電流温度補償部３６８では、温度Ｋに基づいて温度に依存した暗電流Ｉｄｋ分の線量率ＤＫが算出され、高レンジ線量率演算部３６４では、実施の形態１と同様にして、エネルギー特性補償部３６５によりエネルギー補償された線量率から、さらに、温度Ｋに依存した暗電流Ｉｄｋ分に相当する線量率ＤＫを減算して出力するようにされているので、低レンジ線量率演算部３６３と高レンジ線量率演算部３６４の切換点付近の出力エネルギー特性が、実施の形態１及び実施の形態２によるものよりも、さらに良好な高精度の広レンジの線量率の測定が可能となる。なお、暗電流温度補償部３６８は、例えば、型式試験により予め図６に示すような放射線検出器２の暗電流Ｉｄの温度特性を取得しておき、温度Ｋと暗電流Ｉｄｋに相当する線量率ＤＫの対応テーブルを記憶させておく。
【００３２】
このように、実施の形態３に係る線量率測定装置では、実施の形態１と同様、高レンジ線量率におけるエネルギー補償を行うとともに、放射線検出器の温度に依存した暗電流分に相当する線量率を減算して補償することにより、低レンジ線量率演算部と高レンジ線量率演算部の切換点付近の出力エネルギー特性を改善することができ、さらに、良好な高精度の広レンジの線量率の測定が可能となるという顕著な効果がある。
【００３３】
実施の形態４．
図７は、実施の形態４に係る線量率測定装置の構成を示す図であり、図８は、実施の形態４における放射線検出器のゲインの温度特性を示す図である。実施の形態３の線量率測定装置１０との相違点は、実施の形態４の線量率測定装置１００では、測定部３００の演算部４３６に、ゲイン温度補償部３６９が設けられており、温度センサ５から出力された温度に基づいて高圧電源の高電圧を制御して、放射線検出器２のゲインの温度依存性も補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態３と同様であり説明を省略する。
【００３４】
次に、線量率測定装置１００における放射線検出器２の温度に依存性したゲインの補償について説明する。図８に示すように放射線検出器２のゲインＧは、放射線検出器２の温度Ｋに依存している。ゲイン温度補償部３６９では、温度センサ５で検出された放射線検出器２の温度Ｋに基づいて、高圧電源４の高電圧Ｖを放射線検出器２のゲインＧの温度依存性が補償されるように制御する。なお、ゲイン温度補償部３６９には、例えば、型式試験により予め図８に示すような放射線検出器２のゲインＧの温度特性を取得しておき、温度Ｋにおける放射線検出器２のゲインＧの温度依存性を補償するゲイン温度補償係数τに対応するゲインＧと高電圧Ｖとの対応テーブルを記憶させておく。ゲイン温度補償部３６９は、温度センサ５からの放射線検出器２の温度信号に基づいて、高圧電源４の高電圧Ｖを制御することにより、ゲインＧの温度依存性を補償するようされているので、測定レンジ全体において温度特性が良好な高精度の広レンジの線量率測定装置を得ることができる。
【００３５】
このように、実施の形態４に係る線量率測定装置では、実施の形態１から実施の形態３と同様、高レンジ線量率におけるエネルギー補償を行うとともに、放射線検出器の温度に依存したゲインも補償することにより、さらに、良好な高精度の広レンジの線量率の測定が可能となるという顕著な効果がある。
【００３６】
また、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。
【００３７】
また、図において、同一符号は、同一または相当部分を示す。
【符号の説明】
【００３８】
１，１０，１００  線量率測定装置、２  放射線検出器、３，３０，３００  測定部、３６，２３６，３３６，４３６  演算部、３６１  波高スペクトル生成部、３６２  Ｇ（Ｅ）関数メモリ、３６３  低レンジ線量率演算部、３６４  高レンジ線量率演算部、３６５  エネルギー特性補償部、３６６  線量率切換部、３６７  暗電流補償部、３６８  暗電流温度補償部、３６９  ゲイン温度補償部、３７  表示・操作部、４  高圧電源、５  温度センサ。 
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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