(57)【要約】【課題】光ディスクの劣化を的確に検出し、光ディスクに記録されたデータが再生不能になる前に別領域に退避し保全する。【解決手段】光ディスクの一部領域に劣化検出用のデータを記録し、通常データの再生に用いる通常の再生条件とは異なる特定の再生条件にて前記劣化検出用のデータを再生し、前記劣化検出データの品質を確認する。【選択図】  図７
2014035779.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの劣化を推定する劣化検出方法であって、
前記光ディスクの一部領域に劣化検出用のデータを記録し、
通常データの再生に用いる通常の再生条件とは異なる特定の再生条件にて前記劣化検出用のデータを再生し、前記劣化検出データの品質を確認することを特徴とした光ディスクの劣化検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載の劣化検出方法であって、
前記劣化検出用のデータが、通常に記録されたデータの一部であることを特徴とした光ディスクの劣化検出方法。
【請求項３】
請求項１に記載の劣化検出方法であって、
前記通常データに対応した劣化検出用のデータを、前記通常データと同じ記録層に記録することを特徴とした光ディスクの劣化検出方法。
【請求項４】
請求項１、乃至、請求項３のいずれかに記載の劣化検出方法であって、
前記劣化検出用のデータの再生条件が、通常にデータを再生する場合のレーザパワーより低いパワーであることを特徴とした劣化検出方法。
【請求項５】
請求項１、乃至、請求項４のいずれかに記載の劣化検出方法であって、
通常のデータの再生に用いるレーザパワーより高いパワーにて前記劣化検出用のデータを再生することを特徴とした劣化検出方法。
【請求項６】
請求項１、乃至、請求項５のいずれかに記載の劣化検出方法であって、
前記劣化検出用のデータを、対応する通常データと同じ記録条件にて記録することを特徴とした光ディスクの劣化検出方法。
【請求項７】
請求項１、乃至、請求項６のいずれかに記載の劣化検出方法であって、
前記光ディスクに通常データを記録する前に劣化検出データを記録し、前記劣化検出データの品質に応じて、前記通常のデータを記録するか否かを決定することを特徴とした光ディスクの劣化検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に適用する光ディスクの劣化検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
データの長期保存に適した媒体とされる光ディスクではあるが、時間を経るに連れて劣化することが知られている。特許文献１には、光ディスクの劣化度合いを計測し、光ディスクの寿命を推定することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−８０３６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ディスクの劣化を的確に検出し、光ディスクに記録されたデータが再生不能になる前に別領域に退避し保全することが、本発明の課題である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題は、一例として、特許請求の範囲に記載の発明により解決される。
【発明の効果】
【０００６】
本発明に従えば、光ディスクの劣化を的確に検出でき、光ディスクに記録されたデータが再生不能になる前に別領域に退避し、保全することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】光ディスクの劣化量とデータのエラーレートとの関係(一例)を示すグラフ。
【図２】本発明に従う光ディスクの記録領域における劣化検出データの配置例。
【図３】本発明に従う光ディスクの記録領域における劣化検出データの別の配置例。
【図４】データを再生する際のレーザパワーとデータのエラーレートとの関係(一例)を示すグラフ。
【図５】データの再生回数とデータのエラーレートとの関係(一例)を示すグラフ。
【図６】記録パワーを段階的に変えて記録した場合のデータのエラーレート(一例)を示すグラフ。
【図７】本発明に従う光ディスクの劣化検出手順の一例。
【図８】本発明を実施するための光ディスク装置の構成例。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
本発明は、光ディスクの劣化を検出するための劣化検出データを光ディスクに記録し、この劣化検出データの品質を確認することで、光ディスクのその他の領域の劣化を検出する。本発明に従えば、光ディスクの劣化を効率的、かつ、的確に検出でき、データが再生不能になる前に、データを移行し、保全することができる。また、本発明に従えば、光ディスクの未記録領域の劣化も効率的、かつ、的確に検出でき、劣化した光ディスクへデータを記録することでデータを損失する危険を回避することができる。
【０００９】
光ディスクの劣化とは、例えば、記録層の反射率や吸収率の低下、記録層に形成された記録マークのサイズの変化、屈折率の変化などを指し、それらの度合いが劣化量である。劣化した光ディスクにデータを記録すると、正常に記録マークが形成されない、あるいは、記録され難くなるため、記録マークから正常にデータを再生できなくなる。また、光ディスクにデータを記録した後に、光ディスクの劣化が進行すると、記録マークから再生されるデータの品質が低下し、終にはデータの再生が不能になってしまう。ここでいうデータの品質とは、例えば、再生データに含まれるバイトエラー数、即ちデータのエラーレートなどを指す。
【００１０】
以下、本発明の実施例を示し、本発明の効果を説明する。なお、以降、特に断わらないが、劣化(劣化量)、および、品質の定義は、上記の通りとする。
【実施例１】
【００１１】
本実施例の光ディスクの劣化検出方法は、光ディスクに同じ時期に記録されたデータのうち、光ディスクの一部領域に記録されたデータを劣化検出データとし、この劣化検出データの品質を確認することによって、同時期に記録されたその他領域のデータの劣化度合いを推定する。同時期に光ディスクに記録されたデータであっても、記録された領域によって劣化の進行に差が生じる可能性があるため、劣化検出データは、劣化の進行が最も速い領域のデータとすることが望ましい。データが記録された全ての領域の劣化を確認すれば、最も劣化の進行が速い領域を見出すことができるが、これは、あまりにも非効率であり、現実的ではない。そこで、本実施例では、記録領域ごとに劣化の進行度合いが異なる可能性があることに配慮して、通常にデータを再生する場合の通常再生条件とは異なる特定の再生条件の下、劣化検出データを再生する。この特定再生条件の下で劣化検出データを再生する効果を、図１を用いて説明する。
【００１２】
図１は、横軸を光ディスクの劣化量、縦軸を光ディスクに記録されたデータのエラーレートとしたグラフである。線分１０１は、通常再生条件での光ディスクの劣化に対するエラーレートを表しており、劣化がある程度進行するまでは、エラーレートに大きな変化が見られず、劣化がある所定量に到達すると急激にエラーレートが上昇し、最大許容劣化量ｄ１において、再生限界であるエラーレートｅ１に到達することを表している。記録領域によって、劣化の進行にばらつきが生じる可能性を考えると、劣化検出データの品質がエラーレートｅ１に到達した場合に、劣化検出データが記録された領域以外では、劣化量がｄ１を超え、再生不能となる領域が発生する可能性がある。
【００１３】
そこで、本実施例では、線分１０２で示すような、通常再生条件よりも劣化量に対してエラーレートが大きく検出される特定再生条件を適用する。この特定再生条件では、最大許容劣化量ｄ１より小さい劣化量のｄ１’において、再生限界のエラーレートｅ１に到達することが分かる。このエラーレートｅ１に対応する劣化量ｄ１’は、再生条件を調整することで、任意の劣化量とすることが可能である。即ち、劣化検出データのエラーレートがｅ１であると検出されたときに、劣化量ｄ１’を超える領域があっても、最大許容劣化量ｄ１を超える領域が生じない再生条件を特性再生条件とすればよい。このような特定再生条件は、一度実験を行えば、決定することができる。
【００１４】
上記特定再生条件を、劣化検出データの再生に適用すれば、劣化検出データがどの一部領域に記録されていても、データ記録領域における劣化の進行にばらつきの影響を受けることなく、データ記録領域全体の劣化を、的確に検出することができるようになる。
【実施例２】
【００１５】
光ディスクの劣化を検出するための劣化検出データの一例として、通常データの一部を劣化検出データとして活用した例を、図２を用いて説明する。
【００１６】
図２は、光ディスクの記録領域２０１に、２０２、２０３、および、２０４の３つの通常データが記録された状態を表している。これら３つの通常データが同時期に記録されたとすれば、各データのどの一部を劣化検出データとしてもよい。
例えば、図２に示すように、通常データ２０２の一部である２０５を劣化検出データとし、劣化検出データ２０５により、通常データ１０２、通常データ２０３、および、通常データ２０４の全ての劣化を管理してもよい。また、通常データ２０３の一部である２０６、あるいは、通常データ２０４の一部である２０７を劣化検出データとしてもよい。
劣化検出データは、一つに限定せず、複数を併用して、各劣化検出データの品質の平均値や最悪値をもって劣化を管理してもよい。また、劣化検出データの領域を限定せず、劣化を確認する都度、異なる領域のデータを劣化検出データとしてもよい。
【００１７】
上記のいずれの場合も、通常データの一部を劣化検出データと定め、劣化検出のための特定再生条件の下で再生し、その品質を確認することで、通常データの劣化を推定することが出来る。
【実施例３】
【００１８】
本実施例では、劣化検出データは、通常データとは別に記録される。この場合、劣化検出データを、管理対象とする通常データと同時期に、通常データと同じ記録条件にて光ディスクに記録する。一つの通常データに対しては、劣化管理データを複数記録してもよいし、通常データを複数、同時期に記録する場合は、複数の通常データに対して、劣化検出データを一つ記録してもよい。一例を、図３を用いて説明する。
【００１９】
図３は、光ディスクの記録領域３０１に、３０２、および、３０３の通常データが記録され、さらに、劣化検出のための専用データである３０４、および、３０５が記録された状態を表している。
【００２０】
例えば、通常データ３０２を記録するのと同期して劣化検出データ３０４を記録し、通常データ３０３を記録するのと同期して劣化検出データ３０５を記録する。このようにすることで、通常データ３０２の劣化を、劣化検出データ３０４の品質によって確認することができ、また、通常データ３０３の劣化を、劣化検出データ２０５の品質によって確認することができる。
【００２１】
また、例えば、通常データ３０２と通常データ３０３とを同時期に記録する場合は、劣化検出データ３０４のみを記録する。これにより、劣化検出データ３０４の品質を確認することで、通常データ３０２および３０３の劣化を管理することができる。さらに、劣化検出データ３０４と併せて、劣化検出データ３０５も記録すれば、通常データ３０２および３０３の劣化を、劣化検出データ３０４、および、劣化検出データ３０５によって管理することができる。
【００２２】
なお、データを記録する記録層によって劣化の進行に違い見られることがあるため、劣化検出データは、対応する通常データと同じ記録層に記録する。
例えば、２つの記録層を有した２層ディスクは、第１の記録層の通常データに対応する第1の劣化検出データは、第１の記録層に記録し、第２の記録層の通常データに対応する第２の劣化検出データは、第２の記録層に記録する。そして、第1の劣化検出データを用いて第１の記録層の通常データの劣化を管理し、第２の劣化検出データを用いて第２の記録層の通常データの劣化を管理する。
【００２３】
上記のいずれの場合も、通常データとは別に記録した劣化検出データを、劣化検出のための特定再生条件の下で再生し、その品質を確認することで、劣化検出データと同時期に記録された通常データの劣化を推定することが出来る。
【実施例４】
【００２４】
劣化検出のための特定再生条件の一例を、図４を用いて説明する。
図４は、横軸を、データを再生する際のレーザパワー、縦軸を、データの品質を表すエラーレートとしたグラフである。同じデータを、レーザパワーを変えて再生すると、例えば、線分４０１にて示すような特性が得られる。また、光ディスクの劣化が進んだ後に、同じデータを、同様にレーザパワーを変えて再生すると、例えば、線分４０２にて示すような特性が得られる。
【００２５】
レーザパワーをＰ１とした場合、特性４０１では、エラーレートがｅ１となり、光ディスクの劣化が進行した特性４０２では、エラーレートがｅ２となる。一方、Ｐ１よりレーザパワーの低いＰ２では、特性４０１では、エラーレートがｅ１より大きいｅ１’となり、光ディスクの劣化が進行した特性４０２では、ｅ２より大きいｅ２’となり、同じデータ、即ち、同じ劣化量に対して、レーザパワーＰ１で再生するより大きなエラーレートを示すことがわかる。
【００２６】
本実施例では、例えば、通常再生条件におけるレーザパワーをＰ１とし、特定再生条件におけるレーザパワーをＰ１より低いＰ２とする。このような通常よりも低いレーザパワーにて劣化検出データを再生すれば、通常のレーザパワーで再生するよりも劣化の進行を検出し易くなり、劣化の進行を確実に捕捉できるようになる。
【実施例５】
【００２７】
データを再生する際に光ディスクに照射するレーザ光線によって、光ディスクの劣化が進行する。仮に、劣化検出データの再生回数が、対応する通常データの再生回数より極度に少なければ、通常データのほうが劣化検出データより劣化が速く進行することになるため、劣化検出データが再生限界に到達した時には、通常データは既に再生できなくなるという事態が発生する。このような事態を回避するには、少なくとも通常データの再生回数より多く再生し、通常データと同等以上に劣化させておくことが望ましい。しかしながら、通常データを再生する都度、劣化検出データの再生を行うことは非効率であり、現実的ではない。
【００２８】
そこで、本発明では、通常データとは別に劣化検出データを記録する場合は、劣化検出データを数多く再生する代わりに、再生に用いるより高いパワーのレーザ光線を劣化検出データに照射する。これにより、劣化検出データの再生回数が、通常データの再生回数に比較して少なくても、劣化検出データの劣化の進行を、通常データのそれ以上とする。一例を、図５を用いて説明する。
【００２９】
図５は、横軸をデータの再生回数、縦軸をデータの品質を表すエラーレートとしたグラフである。同グラフは、再生用のレーザパワーを光ディスクに照射すると、次第にデータの品質が低下し、ある再生回数において、再生限界のエラーレートであるｅ１に到達する様子を示している。グラフ中の線分５０１は、通常、データの再生に適応するレーザパワーＰ１にて再生を繰り返した場合の特性の一例であり、再生回数Ｎ１において、再生限界であるエラーレートｅ１に到達することを表している。同じくグラフ中の線分５０２は、通常より高いレーザパワーＰ２にて再生を繰り返した場合の特性の一例であり、Ｎ１より少ないＮ２において再生限界であるエラーレートｅ１に到達することを表している。本実施例では、例えば、通常データの再生には、レーザパワーＰ１を適用し、劣化検出データの再生にはレーザパワーＰ２を適用する。そして、通常データを複数回再生するごとに、一度、劣化検出データを再生する。このようにすることで、劣化検出データの再生回数が、通常データの再生回数より格段に少なくても、劣化検出データを、通常データと同等以上の劣化状態とすることができる。
【００３０】
なお、劣化検出データに通常より高いレーザパワーを照射した後、通常より低いレーザパワーにて劣化検出データを再生し、その品質を確認してもよい。
【実施例６】
【００３１】
データを記録する際に適用する記録条件によって劣化の進行に違い見られることがある。これに配慮し、本実施例では、通常データの記録に適用する記録条件を、劣化検出データの記録に適用する。
【００３２】
例えば、２つの異なる記録速度、第１、および、第２の記録速度にてデータを記録する場合、第１の記録速度、第２の記録速度それぞれに対して、第１の記録条件、第２の記録条件を適用することが通常である。このような場合は、第1の記録速度の下、第１の記録条件にて第１の劣化検出データを記録し、第２の記録速度の下、第２の記録条件にて第２の劣化検出データを記録する。そして、第１の劣化検出データは、第１の記録条件にて記録された通常データの劣化を検出するために用い、第２の劣化検出データは、第２の記録条件にて記録された通常データの劣化を検出するために用いる。なお、劣化検出データを再生する場合は、同データを記録した際の記録速度によらず所定の速度の下で再生するとよい。
【００３３】
以上の示したように劣化検出データを記録すれば、記録条件による劣化の進行の違いに対応することができ、適切な劣化管理を実施することができるようになる。
【実施例７】
【００３４】
光ディスクは、データを記録した領域だけでなく、データを記録していない未記録領域も劣化することがある。本実施例では、未記録の領域についても、劣化検出データによって劣化の進行を検出する。具体的には、通常データを記録する前に、通常データを記録する予定の記録領域の一部に劣化検出データを記録し、その品質に応じて、通常データを記録するか否かを決定する。劣化した光ディスクは、データを記録しても、短期間のうちにデータの再生が不能になる危険性が高いが、データを記録する前に光ディスクの劣化を検出することで、このような危険を回避することができる。
【００３５】
未記録領域の劣化検出方法の一例を、図６を用いて説明する。図６は、横軸をデータの記録する際のレーザパワー、縦軸を記録したデータのエラーレートとしたグラフである。データを記録する際に記録パワーを段階的に変えながら記録し、記録したデータを再生すると、例えば、グラフ中に示す線分６０１のごとき特性が得られる。このような特性において、エラーレートが所定値Ｅｃ以下となる記録パワーの範囲をパワーマージンと呼び、特性６０１のパワーマージンはＭ１である。劣化した光ディスクに段階的にレーザパワーを変えながら記録した場合は、例えば、線分６０２のごとき特性となる。線分６０２のパワーマージンは、Ｍ２であるが、特性６０１のパワーマージンＭ１に対して小さいことが分かる。
【００３６】
即ち、データを記録する前に、劣化検出データを、上記のごとくレーザパワーを段階的に変えながら記録し、そのパワーマージンを確認し、それが、所定値以上であれば、その後、データを記録し、所定値に満たなければデータの記録を取り止めるという運用をすることができる。
【００３７】
（劣化検出手順まとめ）
以上、実施例１から実施例７に示した劣化検出方法を纏めると、図７に示す手順となる。以下、図７に示した手順を説明する。
【００３８】
ステップ７０１では、データを記録する前に、未記録領域の劣化を検出するための未記録用劣化検出データを、未使用の記録領域の一部領域に記録する。劣化検出データは、レーザパワーを段階的に変えながら記録してもよいし、一定のレーザパワーにて記録してもよい。
【００３９】
ステップ７０２では、ステップ７０１において記録した未記録用劣化検出データの品質を確認する。ステップ７０１において、レーザパワーを段階的に変えて記録したのであれば、パワーマージンが基準幅を満たすか否かを確認する。ステップ７０１において、一定のレーザパワーにて記録したのであれば、エラーレートが基準値以下であるか否かを確認する。品質を確認した結果、基準を満たすのであれば次のステップに進み、基準を満たさなければ、次のステップへは進まず、本ステップにて終了、即ち、データの記録を取り止める。
【００４０】
ステップ７０３では、ステップ７０２においてデータ記録領域の状態に問題無いことが確認されたことを受けて、通常データの記録を行う。
【００４１】
ステップ７０４では、ステップ７０３において記録した通常データの劣化を検出するための通常データ用劣化検出データを記録する。通常データ用劣化検出データは、対応する通常データと同じ記録条件にて記録する。通常データの記録に適用する記録条件が複数ある場合は、各記録条件と同数、劣化検出データを記録する。また、記録層を複数有する光ディスクにおいては、通常データが記録されるのと同じ記録層に対応する劣化検出データを記録する。
なお、通常データの一部を劣化検出データとする場合は、本ステップを実施せず、次のステップへ進む。
【００４２】
ステップ７０５では、ステップ７０４において記録した通常データ用劣化検出データを再生し、その品質が基準を満たしているか否かを確認する。劣化検出データを再生する際は、劣化のための特定の再生条件を適用する。特定の再生条件の一例としては、通常、データの再生に用いるレーザパワーを低くした再生条件である。また、ステップ７０４において、劣化検出データを通常データとは別に記録した場合は、通常のレーザパワーより高いパワーにて、劣化検出データを再生してもよい。このような品質確認を所定の時間を置いて繰り返し実施し、品質が基準を満たさない場合は、データを保全すべく、データを同じ光ディスクの別領域（例えば別の記録層）か、あるいは、別の光ディスクへ移行する。
なお、劣化検出データの品質確認は、例えば、光ディスク装置におけるディスク認識処理と併せて実施するとよい。
【００４３】
（装置実施例）
以上に示した実施例の実施内容は、図８に示す構成の光ディスク装置８００によって実施することが可能である。図８に示す光ディスク装置８００の構成を以下、説明する。８０１は、データの記録を行うための光ディスクである。
【００４４】
８０２は、光ディスク８０１を回転させるスピンドルモータである。
【００４５】
８０３は、光ディスク８０１にレーザ光を照射するとともに、光ディスク８０１からの反射光を検出し、電気信号に変換する光ピックアップである。
【００４６】
８０４は、光ピックアップ８０３を、光ディスク８０１の半径方向に移動させる送り手段である。
【００４７】
８０５は、光ピックアップ８０１からの電気信号に基づき、光ディスク８０１に集光された光スポットの位置を検出し、光スッポトを所定位置に位置付けるよう光ピックアップ８０３を制御するサーボ制御手段である。
【００４８】
８０６は、光ピックアップ８０１からの電気信号から光ディスク８０１に記録されたデータを取り出す再生制御手段である。
【００４９】
８０７は、光ピックアップ８０３を制御して光ディスク８０１にデータを記録する記録制御手段である。
【００５０】
８０８は、光ディスク装置８００のホスト装置９００からの種々の指令を受け、光ディスク装置全体の動作を掌るシステム制御手段である。
【００５１】
ホスト装置９００から光ディスク装置８００に対する各種要求を、システム制御手段８０８が受け付け、要求内容に従い、サーボ制御８０５、再生制御手段８０６、および、記録制御手段８０７の各手段を制御することでホスト装置９００の要求に対応した処理が実施される。
【００５２】
データを記録する場合にシステム制御手段８０８は、サーボ制御手段８０５を通じて光ピックアップ８０１を制御し、データを記録すべき光ディスク８０１の領域にレーザ光を集光させ、同時に、記録制御手段８０７を通じて光ピックアップ８０１を記録パワーにて発光させることによって、光ディスク８０１の所望の領域にデータを記録する。データを記録する際のレーザパワーは、システム制御手段８０８が光ピックアップ８０１を制御することで決定される。前述した劣化検出データも同様に、システム制御手段８０８の制御の下、光ディスク８０１へ記録する。
【００５３】
データを再生する場合にシステム制御手段８０８は、サーボ制御手段８０５を通じて光ピックアップ８０１を制御し、データを再生すべき光ディスク８０１の領域にレーザ光を集光させ、同時に、再生制御手段８０６を通じて光ピックアップ８０１にて検出された信号からデータを復元するとともに、データの品質指標であるエラーレートを算出する。データを再生する際のレーザパワーは、システム制御手段８０８が光ピックアップ８０１を制御することで決定される。前述した劣化検出データも同様に、システム制御手段８０８の制御の下、光ディスク８０１から再生する。
【００５４】
ホスト装置９００への情報の送信は、システム制御手段８０８が受け持つ。劣化検出データに関する劣化情報他を、システム制御手段８０８がホスト装置９００へ送信することで、ホスト装置９００は、光ディスク８０１の劣化を管理することが出来るようになる。
【００５５】
以上、述べたように、本発明に従えば、光ディスク装置８００において、光ディスク８０１の劣化を的確、かつ、容易に検出できるようになる。また、光ディスク装置８００のホスト装置９００では、光ディスク装置８００を通じで、光ディスク８０１の劣化を把握することができ、光ディスク８０１に記録されたデータが再生不能になる以前に、データを別領域に移行することができ、データを保全することができるようになる。
【００５６】
さらに、本発明に従えば、光ディスク装置８００において、光ディスク８０１の未記録領域の劣化についても容易に検出できるようになる。これにより、光ディスク装置８００のホスト装置９００は、光ディスク８０１にデータを記録するに際し、光ディスク装置８００を通じて、光ディスク８０１がデータを記録するに値する安全なディスクであるか否かを判断できるようになる。
【００５７】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【符号の説明】
【００５８】
２０１・・・光ディスク記録領域
２０２・・・通常データ
２０３・・・通常データ
２０４・・・通常データ
２０５・・・劣化検出データ
２０６・・・劣化検出データ
２０７・・・劣化検出データ
３０１・・・光ディスク記録領域
３０２・・・通常データ
３０３・・・通常データ
３０４・・・劣化検出データ
３０５・・・劣化検出データ
７０１・・・未記録領域用劣化検出データ記録ステップ
７０２・・・未記録領域用劣化検出データ品質確認ステップ
７０３・・・通常データ記録ステップ
７０４・・・通常データ用劣化検出データ記録ステップ
７０５・・・通常データ用劣化検出データ品質確認
８００・・・光ディスク装置
８０１・・・光ディスク
８０２・・・スピンドルモータ
８０３・・・光ピックアップ
８０４・・・送り手段
８０５・・・サーボ制御手段
８０６・・・再生制御手段
８０７・・・記録制御手段
８０８・・・システム制御手段
９００・・・ホスト装置
【図１】
2014035779.tif 000003
【図２】
2014035779.tif 000004
【図３】
2014035779.tif 000005
【図４】
2014035779.tif 000006
【図５】
2014035779.tif 000007
【図６】
2014035779.tif 000008
【図７】
2014035779.tif 000009
【図８】
2014035779.tif 000010