(57)【要約】【課題】機器の故障原因の調査を短時間で容易に行うことを可能とする。【解決手段】  故障判定装置は、機器の各部の故障状態と、機器において推定される故障原因と、の対応を示す対応表と、メモリと、各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を取得し、モニタリング情報と対応表とに基づいて推定される故障原因を対応表から選択し、取得したモニタリング情報及び選択された故障原因をメモリに保存する制御部と、を備える。【選択図】図１
2014107676.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
機器の各部の故障状態と、前記機器において推定される故障原因と、の対応を示す対応表と、
メモリと、
前記各部の状態が前記故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得し、前記モニタリング情報と前記対応表とに基づいて前記推定される故障原因を前記対応表から選択し、前記取得したモニタリング情報及び前記選択された故障原因を前記メモリに保存する制御部と、を備える、故障判定装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記取得したモニタリング情報が故障状態を示している場合には、以降のモニタリング情報の取得回数を制限することを特徴とする、請求項１に記載された故障判定装置。
【請求項３】
前記制限される取得回数は、前記メモリの、前記モニタリング情報を保存可能な容量に基づいて決定されることを特徴とする、請求項２に記載された故障判定装置。
【請求項４】
前記制御部は、同一の前記モニタリング情報を複製して、他の故障判定装置に保存させることを特徴とする、請求項１乃至３のいずれかに記載された故障判定装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記モニタリング情報の一部を、他の故障判定装置に保存させることを特徴とする、請求項１乃至３のいずれかにに記載された故障判定装置。
【請求項６】
さらに、入力された電気信号を光信号に変換して出力する光送信部と、受信した光信号を電気信号に変換して出力する光受信部と、請求項１乃至５のいずれかに記載された故障判定装置と、を備え、
前記故障判定装置は、前記光送信部及び前記光受信部の各部が前記故障状態にあるかどうかを示す前記モニタリング情報を収集することを特徴とする、光トランシーバ。
【請求項７】
ＳＦＰ（Small Form Factor Pluggable）仕様に準拠するとともに、前記モニタリング情報がＤＤＭ（Digital Diagnostic Monitoring）機能により提供されることを特徴とする、請求項６に記載された光トランシーバ。
【請求項８】
機器の各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得し、
前記モニタリング情報と、前記各部の故障状態及び前記機器において推定される故障原因との対応を示す対応表とに基づいて、前記推定される故障原因を選択し、
前記モニタリング情報及び前記選択された前記故障原因をメモリに保存する、
ことを特徴とする、故障判定方法。
【請求項９】
機器の各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得する手順と、
前記モニタリング情報と、前記各部の故障状態及び前記機器において推定される故障原因の対応を示す対応表とに基づいて、前記推定される故障原因を選択する手順と、
前記モニタリング情報及び前記選択された故障原因をメモリに保存する手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする、故障判定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、故障判定装置、故障判定方法及び故障判定プログラムに関し、特に、動作をモニタリングした情報を保存するための構成を備える故障判定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＳＦＰ（Small Form Factor Pluggable）光トランシーバは、光信号と電気信号とを相互に変換する、標準化されたインタフェースモジュールであり、通信装置に搭載されて用いられる。ＳＦＰ光トランシーバは、通信装置や携帯電話の基地局装置などの多様な装置に搭載されることで、近年、出荷台数が増大している。
【０００３】
ＳＦＰ光トランシーバには、デジタル診断モニタ（Digital Diagnostic Monitoring：DDM）機能が搭載されているものがある。ＤＤＭ機能は、リアルタイムでＳＦＰ光トランシーバの動作状態を監視する機能である。ＤＤＭ機能により、ＳＦＰ光トランシーバにおいて異常が発生した際に、その動作状況を確認できるとともに、異常の原因の解析が容易になる。このため、通信装置には、ＤＤＭ機能を用いてＳＦＰ光トランシーバの動作状況を監視する機能を備えたものがある。
【０００４】
しかしながら、ＳＦＰ光トランシーバが搭載された通信装置が、ＤＤＭ機能を用いたモニタリングを行うかどうかは、通信装置の機能に依存する。このため、通信装置がＤＤＭ機能をサポートしていない場合には、通信装置やＳＦＰ光トランシーバの保守担当者は、ＳＦＰ光トランシーバの故障の発生状況を詳細に把握することができない。その結果、障害の発生時に故障原因の調査に時間を要する場合があるという課題があった。
【０００５】
また、ＤＤＭ機能によるＳＦＰ光トランシーバの状況確認は、リアルタイムであるためにその時点での情報のみしか確認できない。このため、ＤＤＭ機能を利用してもＳＦＰ光トランシーバの時系列的な動作状況を把握することができず、ＤＤＭ機能には、解析可能な状況が限定されるという課題もあった。
【０００６】
このような課題に関連して、特許文献１には、各部の動作状況データを取得し、正常状態では動作状況のデータが履歴情報に格納され、光トランシーバに異常が発生すると履歴情報の更新が停止される構成を備える光トランシーバが開示されている。特許文献１に記載された光トランシーバでは、障害発生以前に保存された、動作状況の履歴情報に基づいて、障害の発生要因を解析することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−１１７４１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に記載された光トランシーバは、保存された履歴情報に基づいて、障害の発生要因を解析できる。しかしながら、特許文献１に記載された技術においては、各部の動作状況のみが保存される。このため、光トランシーバの故障原因を知るためには、熟練した作業者が、光トランシーバ内部の複数の個所の履歴情報に基づいて故障原因を調査する必要がある。
【０００９】
その一方で、ＳＦＰ光トランシーバの出荷台数の増大に伴い、故障原因の解析を短時間かつ容易に行うことが求められている。しかしながら、特許文献１に記載された光トランシーバは、故障原因の調査には熟練した作業者による解析が必要であるため、故障原因の調査を短時間で容易に行うことができない。
【００１０】
（発明の目的）
本発明は、機器の故障原因の調査を短時間で容易に行うための技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の故障判定装置は、機器の各部の故障状態と、推定される前記機器の故障原因との対応を示す対応表と、メモリと、前記各部の状態が前記故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得し、前記モニタリング情報と前記対応表とに基づいて前記推定される前記故障原因を前記対応表から選択し、前記取得したモニタリング情報及び前記選択された前記故障原因を前記メモリに保存する制御部と、を備える。
【００１２】
本発明の故障判定方法は、機器の各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得し、前記モニタリング情報と、前記各部の故障状態及び推定される前記機器の故障原因との対応を示す対応表と、に基づいて前記推定される前記故障原因を選択し、前記モニタリング情報及び前記選択された前記故障原因をメモリに保存する、ことを特徴とする。
【００１３】
本発明の故障判定プログラムは、機器の各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得する手順と、前記モニタリング情報と、前記各部の故障状態及び推定される前記機器の故障原因の対応を示す対応表と、に基づいて推定される前記機器の故障原因を選択する手順と、前記モニタリング情報及び前記選択された前記故障原因をメモリに保存する手順と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、光モジュールの故障原因の調査を短時間かつ容易に行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１の実施形態の光トランシーバの構成を示すブロック図である。
【図２】制御部の動作を示すフローチャートである。
【図３】メモリに保存されているモニタリング情報の例を示す表である。
【図４】故障原因の推定のために用いられる表の例である。
【図５】第２の実施形態の故障判定装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
（第１の実施形態）
図1は、本発明の第１の実施形態の光トランシーバの構成を示すブロック図である。光トランシーバ１０は、ＤＤＭ機能を備えたＳＦＰ光トランシーバであり、光モジュール２０及び管理部７０を備える。光モジュール２０は、発光素子としてＬＤ（laser diode、レーザダイオード）２１、及び、受光素子としてＰＤ（photo diode、フォトダイオード）２２を備えた、光信号と電気信号とのインタフェースである。ＬＤ２１は、図示されない対向する他の光トランシーバへ光信号を送信する。ＰＤ２２は、対向する他の光トランシーバから光信号を受信して、電気信号に変換して出力する。
【００１７】
管理部７０は、ドライバ３０、アンプ４０、制御部５０及びメモリ６０を備える。ドライバ３０は、通信装置９１から入力された電気信号に基づいて、ＬＤ２１を駆動するドライブ電流を生成する。アンプ４０は、ＰＤ２２が受信した光信号から変換された電気信号を増幅し、通信装置９１へ出力する。
【００１８】
制御部５０は、ＬＤ２１が所定の光出力電力で動作するようにドライバ３０を制御するとともに、ＰＤ２２から出力される信号が所定の振幅となるようにアンプ４０を制御する。
【００１９】
制御部５０は、さらに、ＤＤＭ機能を備え、光トランシーバ１０の各部の動作状況を示すモニタリング情報を生成する。
【００２０】
メモリ６０は、制御部５０が生成したモニタリング情報を保存する。メモリ６０は、不揮発性メモリでもよい。また、メモリ６０は、モニタリング情報として保存される項目の、使用開始時の初期値や、故障と判断される閾値を保存する。制御部５０及びメモリ６０に対しては、外部の制御装置９２から、動作の指示及びモニタリング情報の読み出しが行われてもよい。また、ＳＦＰ光トランシーバが搭載された通信装置９１が、制御装置９２を兼ねてもよい。あるいは、制御装置９２は、ＳＦＰ光トランシーバを調査するための機器でもよい。
【００２１】
図１は、光トランシーバ１０の基本的な構成を示すものであり、具体的な構成要素は任意に選択できる。例えば、管理部７０として、ドライバ３０、アンプ４０、制御部５０及びメモリ６０の機能を持った1チップの集積回路が使用されてもよい。あるいは、ドライバ３０及びアンプ４０として、ＬＤドライバ及びリミッティングアンプの機能を持った集積回路が使用されてもよい。また、メモリ６０は、制御部５０とは独立した物理メモリでもよいし、ドライバ３０、アンプ４０及び制御部５０のいずれかの内部に備えられた記憶領域がメモリ６０として使用されてもよい。
【００２２】
なお、制御部５０は、ＣＰＵ（central processing unit、中央処理装置）及びプログラムの記憶部をさらに備え、制御部５０の機能は、ＣＰＵがプログラムを実行することによって実現されてもよい。
【００２３】
ＤＤＭ機能によってモニタリングされるＳＦＰ光トランシーバの情報は、例えば、ＳＦＦ（small form factor） Ｃｏｍｍｉｔｔｅｅによって策定された、ＳＦＰ光トランシーバのＤＤＭインタフェース仕様であるＳＦＦ−８４７２によって規定されている。ＳＦＦ−８４７２において、数値としてモニタリングされる項目は、温度、電源電圧、ＬＤへの供給バイアス電流、光出力パワー、受信光パワーの５種類である。他にモニタリングされる項目には、ＬＯＳ（Loss of Signal）やＴｘＦａｕｌｔ（送信回路故障）等のＡｌａｒｍやＷａｒｎｉｎｇがある。通常、ＤＤＭ機能によってモニタリングされたこれらの情報（以下「モニタリング情報」という。）は、外部の機器からＩ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit）インタフェース等を介し読み出される。この場合、外部の機器がマスタとなり、スレーブである光トランシーバのモニタリング情報が、マスタ側へ逐次読み出される。
【００２４】
制御部５０は、光トランシーバ１０の外部からの指示がない場合でも、自律的に、所定の頻度でモニタリング情報を収集してメモリ６０に保存する。制御部５０がモニタリング情報を収集する頻度は、一定周期あるいは不定周期のいずれでもよい。また、制御部５０は、外部の制御装置９２からの読み出し要求あるいはモニタリング情報の収集要求を契機に、光トランシーバ１０のモニタリング情報の収集を開始してもよい。
【００２５】
図２は、制御部５０の動作を示すフローチャートである。図２に記載されたフローについて以下に説明する。
【００２６】
制御部５０は、所定の頻度でＤＤＭ機能によりモニタリング情報を取得すると、取得したモニタリング情報を、メモリ６０に保存する（図２のステップＳ１０１）。
【００２７】
制御部５０は、取得したモニタリング情報に基づいて、故障が発生したかどうかを判断する。すなわち、制御部５０は、取得されたモニタリング情報の中に、故障と判断される閾値を越えている項目があるか、また、Ａｌａｒｍ／Ｗａｒｎｉｎｇフラグがセットされているか否か、を確認する（Ｓ１０２）。
【００２８】
制御部５０は、モニタリング情報のうち、値が閾値を超えたものがある場合に、故障が発生したと判断する。また、光トランシーバの故障発生の判断には、ＳＦＦ−８４７２によって規定されている、Ａｌａｒｍ／Ｗａｒｎｉｎｇフラグを利用することもできる。Ａｌａｒｍ／Ｗａｒｎｉｎｇフラグは、光トランシーバが、その製造者が規定している光トランシーバの仕様を満足しなくなった場合にセットされる。従って、Ａｌａｒｍ／Ｗａｒｎｉｎｇフラグがセットされた場合にも、制御部５０は、光トランシーバ１０に故障が発生していると判断する。
【００２９】
故障が発生していると判断された場合あるいはモニタリング情報にＡｌａｒｍやＷａｒｎｉｎｇが含まれている場合（Ｓ１０２：Ｙｅｓ、以下「故障が発生した場合」という。）には、故障発生時の処理（Ｓ２０１〜Ｓ２０８）に移行する。Ｓ２０１〜Ｓ２０８の手順については、後で説明する。
【００３０】
モニタリング情報に故障が発生したと判断されない場合（Ｓ１０２：Ｎｏ）には、制御部５０は、メモリ６０の空き容量を確認する（Ｓ１０３）。
【００３１】
制御部５０が、メモリ６０に、今後取得されるモニタリング情報を保存するための空き容量が充分にあると判断した場合には（Ｓ１０３：Ｙｅｓ）、モニタリング情報の取得ステップ（Ｓ１０１）へ戻り、所定の頻度で以下の処理が繰り返される。なお、制御部５０は、例えば、次回に取得するモニタリング情報を保存可能な容量がメモリ６０に残っている場合に、空き容量が充分にあると判断してもよい。
【００３２】
制御部５０は、メモリ６０には今後取得されたモニタリング情報を保存するための空き容量が充分にないと判断した場合には（Ｓ１０３：Ｎｏ）、メモリ６０に保存された過去のモニタリング情報を消去する（Ｓ１０４）。過去のモニタリング情報が消去されることで、新しいモニタリング情報を保存するための領域が確保される。消去される過去のモニタリング情報は、例えば最も古いモニタリング情報である。過去のモニタリング情報が消去されると、モニタリング情報の取得ステップ（Ｓ１０１）が繰り返される。
【００３３】
続いて、故障が発生した場合の処理（Ｓ２０１〜Ｓ２０８）について説明する。
【００３４】
制御部５０は、故障が発生した場合（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）の処理として、以下に説明する第１及び第２の手順を備える。なお、Ｓ２０１においていずれの手順が実行されるかは、光トランシーバ１０のユーザによってあらかじめ設定される。
【００３５】
第１の手順が選択された場合（Ｓ２０１：手順１）には、故障が発生した場合には、今後のモニタリング情報の取得及び保存は停止される（Ｓ２０２）。
【００３６】
一方、第２の手順が選択された場合（Ｓ２０１：手順２）には、故障が発生した場合以降にも、モニタリング情報は取得され、保存される。ただし、第２の手順では、故障の発生後のモニタリング情報の取得回数が制限される。
【００３７】
具体的には、第２の手順では、制御部５０は、取得回数の上限値をＮ、故障の発生後のモニタリング情報の取得回数ｎを１とし（Ｓ２０３）、ｎが取得回数の上限値Ｎに達したかどうかを確認する（Ｓ２０４）。ここで、ｎ及びＮは自然数である。そして、故障の発生後のモニタリング情報の取得回数ｎが上限値Ｎに達すると（ステップＳ２０４：Ｙｅｓ）、以降のモニタリング情報の取得が停止される（Ｓ２０２）。故障の発生後のモニタリング情報の取得回数ｎが上限値Ｎに達していない場合（ステップＳ２０４：Ｎｏ）には、制御部５０は、ｎを１増加させて（Ｓ２０５）、メモリ６０の空き容量を確認する（Ｓ２０６）。
【００３８】
制御部５０が、メモリ６０に、今後取得されるモニタリング情報を保存するための空き容量が充分にあると判断した場合には（Ｓ２０６：Ｙｅｓ）、図２のステップＳ１０１と同様に、所定の頻度でモニタリング情報を取得し、取得したモニタリング情報をメモリ６０に保存する（Ｓ２０７）。
【００３９】
制御部５０が、今後取得されるモニタリング情報を保存するための空き容量がメモリ６０に充分にないと判断した場合には（Ｓ２０６：Ｎｏ）、メモリ６０に保存された過去のモニタリング情報を消去し（Ｓ２０８）、モニタリング情報の取得を継続する（Ｓ２０７）。
【００４０】
このように、第２の手順では、故障の発生後のモニタリング情報の取得回数に上限が設けられている。従って、第２の手順は、モニタリング情報の取得が繰り返されることによって、過去に保存された故障発生時点のデータが、古いデータと判断されて消去されることを防ぐことを可能にする。その結果、故障の原因の調査に携わる作業者は、故障の発生から長時間が経過している場合でも、メモリ６０に保存されたモニタリング情報を解析して、故障内容の分析を容易に行うことが可能となる。
【００４１】
なお、第２の手順では、光トランシーバの故障の発生前に加えて、故障の発生後のモニタリング情報が保存される。従って、メモリ６０の容量に余裕がある場合には、後日の故障原因の調査の利便性を考慮して、第２の手順が選択されてもよい。
【００４２】
また、故障が発生したと判断された時点（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）においてメモリ６０の空き容量が確認され、メモリ６０の容量に余裕がある場合には第２の手順の手順が実行され、Ｓ１０２においてメモリ６０の容量が少ない場合には第１の手順が実行されてもよい。
【００４３】
図３は、メモリ６０に保存されているモニタリング情報の例を示す表である。モニタリング情報として、周囲温度、電源電圧、バイアス電流、光出力パワー、受信光パワーの測定値と、ＬＯＳフラグ、ＴｘＦａｕｌｔフラグの状態、また、その他のＡｌａｒｍ及びＷａｒｎｉｎｇのフラグの状態が記録されている。なお、図３におけるフラグの状態において、「リセット」は、フラグがセットされていないこと、すなわち、故障を示すＡｌａｒｍやＷａｒｎｉｎｇが発生していないことを示す。
【００４４】
モニタリング情報には、モニタリング情報の取得日、取得時刻、初期値及び故障と判断するための閾値も、測定値と併せて記録されている。図３は、例として２０１２年１１月１日１２：００におけるモニタリング情報を示す表である。モニタリング情報の取得が実行される度に、図３の表が生成されてメモリ６０に保存される。なお、初期値及び閾値は通常はモニタリング情報の取得の度に変化しない一定値であるので、モニタリング情報とは別の情報としてメモリ６０に保存されてもよい。また、モニタリング情報の取得の周期等から取得時刻が算出可能な場合には、モニタリング情報は、取得時刻と共に保存される必要はない。
【００４５】
各モニタリング情報が故障状態を示しているか否かの組み合わせと、それらの組み合わせから推定される故障内容との関係は、あらかじめメモリ６０に保存されている。
【００４６】
図４は、上記の故障原因の推定のために用いられる表の例である。図４には、ＬＤの光出力パワーのモニタ電流が閾値以下に低下して故障状態となった場合に、他のモニタリング項目の状態に基づいて推定される故障原因が記載されている。
【００４７】
制御部５０は、取得されたモニタリング情報から、故障が発生したと判断すると、異常となったモニタリング情報の項目から、図４に基づいて故障の内容を推定する。例えば、ＬＤ２１の光出力パワーのモニタ電流が閾値以下に低下して故障状態となった場合には、制御部５０は、図４を用いて、以下の手順で故障の内容を推定する。
【００４８】
ＬＤ２１の光出力パワーは、ＬＤ２１の光出力パワーをモニタするモニタＰＤの出力電流（モニタ電流）から換算されて求められる。モニタ電流からＬＤ２１の出力パワーへの換算は、ＬＤ２１の製造時のデータに基づいて行われる。モニタ電流が閾値以下に低下する原因としては、例えば、ＬＤ２１のスロープ効率（電流から光出力への変換効率）の劣化、ドライバ３０の故障、電源電圧の低下が考えられる。ここで、モニタ電流が閾値以下に低下している一方で、バイアス電流が正常である場合には、制御部５０は、故障原因はＬＤ２１のスロープ効率の劣化であると推定する。
【００４９】
また、モニタ電流の低下に加えてバイアス電流が閾値を下回っている場合には、ドライバ３０の故障あるいは電源電圧の低下によりＬＤ２１のバイアス電流が低下した可能性もある。従って、モニタ電流及びバイアス電流が閾値を下回る一方、電源電圧が正常である場合には、制御部５０は、故障原因はドライバ３０の故障であると推定する。そして、電源電圧が閾値を下回っている場合には、制御部５０は、電源が故障していると推定する。この場合、電源の故障により、ドライバ３０の出力バイアス電流が低下し、結果的にＬＤの光出力パワーのモニタ電流が低下したと考えられる。なお、ここで説明した故障原因の推定手順は一例であり、他の推定手順を排除するものではない。
【００５０】
制御部５０は、推定された故障原因を、メモリ６０に記録する。その結果、光トランシーバの故障原因を解析する作業者は、推定された故障原因をメモリ６０から直接読み出すことで、個々のモニタリング情報を解析することなく、推定された故障原因を直ちに知ることができる。
【００５１】
以上説明したように、第１の実施形態の光トランシーバでは、各モニタリング情報が故障状態を示しているか否かの組み合わせと、それらの組み合わせから推定される故障内容との関係が、あらかじめメモリ６０に保存されている。そして、モニタリング情報に基づいて推定された故障原因が、メモリ６０に記録される。
【００５２】
このため、第１の実施形態の光トランシーバは、推定された故障原因を、光トランシーバを解析する作業者が読み出すことにより、作業者の故障原因の推定に要する作業時間を短縮できるとともに、作業者の熟練度に依存せず、容易に故障原因を推定することができる。
【００５３】
すなわち、第１の実施形態の光トランシーバは、光モジュールの故障原因の調査を短時間かつ容易に行うことができるという効果を奏する。
【００５４】
加えて、作業者は、光トランシーバ自体によって推定された故障原因を読み出すことで、同様の故障が、同一の光トランシーバで過去に発生したことがあるか否かを迅速に知ることができるため、故障の対策の方針の検討時間を短縮することもできる。
【００５５】
さらに、第１の実施形態の光トランシーバは、メモリ６０を備え、故障発生時点の前後でのモニタリング情報を取得して、保存することができる。このため、光トランシーバが故障した場合でも、故障発生前後の時系列的な情報の確認を行うことができる。その結果、故障発生状況の把握及びその後の光トランシーバの故障原因の分析が容易になる。また、故障発生状態を詳細に再現することなく、保存されたモニタリング情報を読み出すことで、作業者は、故障の発生状況とその後の推移に関する情報を得ることが可能となる。これにより、モニタリング情報が詳細に時刻を追って取得され、動作時のＳＦＰ光トランシーバの状況推移を詳細に知ることが可能となり、故障原因の解析がさらに容易となる。
【００５６】
なお、モニタリング情報の取得及び保存は、故障の発生後は、故障が発生した項目のみ、あるいは、もしくは故障発生項目及びその関連項目のみ保存されるようにしてもよい。これにより、メモリ６０の消費量を低減することができ、故障の発生後もより長時間のデータ取得が可能となる。
（第１の実施形態の第１の変形例）
第１の実施形態の光トランシーバ１０では、ＤＤＭによるモニタリング情報は、故障の調査のためにメモリ６０に保存されている。しかしながら、その第１の変形例として、保存されているモニタリング情報は、光出力パワーの維持に利用されてもよい。
【００５７】
光トランシーバが備えるＬＤ２１の光出力パワーが低下した場合、モニタリング情報には、ＬＤ２１の光出力パワーを監視するモニタＰＤの電流の低下や、ＬＤ２１のバイアス電流の低下、といった異常を示す情報が含まれる場合がある。
【００５８】
そこで、ＬＤ２１に関するモニタリング情報がこのような異常を示している場合には、制御部５０は、ドライバ３０を制御して、ＬＤ２１のモニタＰＤの電流が初期値に近づくようにＬＤ２１のバイアス電流を増加させてもよい。ここで用いられる光出力パワーモニタの初期値は、例えば、メモリ６０に保存される。
【００５９】
（第１の実施形態の第２の変形例）
第１の実施形態では、光トランシーバ１０は、取得されたモニタリング情報を、自身が備えるメモリ６０に保存する。しかし、複数の光トランシーバが組み合わされて用いられる場合には、取得されたモニタリング情報が、互いに他の光トランシーバにも保存されるようにしてもよい。
【００６０】
モニタリング情報が取得される光トランシーバのメモリ６０に故障が発生すると、モニタリングされたデータが正常に保存されなくなる恐れがある。このため、複数の光トランシーバのそれぞれが備える制御部５０及びメモリ６０は、通信装置９１を経由して、互いに制御可能なように接続されてもよい。制御部５０及びメモリ６０が、複数の光トランシーバ間で互いに接続されることにより、同一のモニタリング情報のコピーを他の光トランシーバのメモリ６０に保存できる。その結果、モニタリング情報が取得された光トランシーバのメモリ６０が故障した場合に他の光トランシーバにモニタリング情報を保存することで、当該他の光トランシーバから、調査の対象となる光トランシーバのモニタリング情報を取得できる。
【００６１】
また、ある光トランシーバのメモリ６０の保存可能容量が逼迫している場合に、他の光トランシーバにモニタリング情報を保存することで、実質的にメモリ容量を拡大し、モニタリング情報が保存されずに失われることを回避できる。
【００６２】
（第２の実施形態）
図５は、本発明の第２の実施形態の故障判定装置５００の構成を示す図である。故障判定装置５００は、対応表５０１、制御部５０２及びメモリ５０３を備える。対応表は、故障判定の対象となる機器の各部の故障状態と、当該機器の推定される故障原因との対応を示す表である。制御部は、故障判定の対象となる各部の状態が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を故障判定装置５００の外部から所定の頻度で取得し、取得したモニタリング情報と対応表５０１とに基づいて、推定される故障原因を対応表５０１から選択する。また、制御部５０２は、取得したモニタリング情報及び選択された故障原因をメモリ５０３に保存する。メモリ５０３に保存されたモニタリング情報は、故障判定装置５００の外部から読み出される。
【００６３】
このような構成を備える故障判定装置５００は、モニタリング情報と対応表５０１とに基づいて、機器の故障原因を推定し、推定されたモニタリング情報及び推定された故障原因をメモリ５０３に保存する。
【００６４】
推定された故障原因を、機器の故障を調査する作業者がメモリ５０３から読み出すことにより、作業者の故障原因の推定に要する作業時間を短縮できるとともに、作業者の熟練度に依存せず、容易に機器の故障原因を推定することができる。
【００６５】
すなわち、故障判定装置５００は、機器の故障原因の調査を短時間かつ容易に行うことができるという効果を奏する。
【００６６】
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態及びその変形例に限定されない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
【符号の説明】
【００６７】
１０  光トランシーバ
２０  光モジュール
２１  ＬＤ（レーザダイオード）
２２  ＰＤ（フォトダイオード）
３０  ドライバ
４０  アンプ
５０  制御部
６０  メモリ
７０  管理部
９１  通信装置
９２  制御装置
５００  故障判定装置
５０１  対応表
５０２  制御部
５０３  メモリ
【図１】
2014107676.tif 000003
【図２】
2014107676.tif 000004
【図３】
2014107676.tif 000005
【図４】
2014107676.tif 000006
【図５】
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