(57)【要約】【課題】放射線断層撮影装置におけるＣＴ自動露出機構の精度向上を図る。【解決手段】放射線管および放射線検出器を一定角度方向に保ちつつ被写体の体軸方向に沿って相対移動させながら放射線を照射して前記被写体の透過放射線を検出するスカウトスキャンを行って、互いに異なる複数の放射線管電圧による投影データを収集するよう、前記放射線管および放射線検出器を制御する制御手段と、前記複数の放射線管電圧による投影データに基づいて、当該複数の放射線管電圧とは異なっており、本スキャンに用いる放射線管電圧と同一である放射線管電圧相当の投影データを生成する生成手段と、前記生成された投影データに基づいて本スキャンにおける放射線管電流を決定する決定手段とを備えた放射線断層撮影装置を提供する。【選択図】図６
2014230707.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線断層撮影装置であって、
放射線管および放射線検出器を一定角度方向に保ちつつ被写体の体軸方向に沿って相対移動させながら放射線を照射して前記被写体の透過放射線を検出するスカウトスキャンを行って、互いに異なる複数の放射線管電圧による投影データを収集するよう、前記放射線管および放射線検出器を制御する制御手段と、
前記複数の放射線管電圧による投影データに基づいて、該複数の放射線管電圧とは異なっており、本スキャンに用いる放射線管電圧と同一である放射線管電圧相当の投影データを生成する生成手段と、
前記生成された投影データに基づいて本スキャンにおける放射線管電流を決定する決定手段とを備えた放射線断層撮影装置。
【請求項２】
前記制御手段は、放射線管電圧を第１の管電圧と該第１の管電圧とは異なる第２の管電圧とに交互に切り換えながら放射線を照射することにより前記スカウトスキャンを行うよう制御する、請求項１に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項３】
前記制御手段は、時系列的に互いに隣接する前記第１の管電圧による投影データの一部と前記第２の管電圧による投影データの一部との間において、前記被写体の撮影領域が一部重複するように前記スカウトスキャンを行うよう制御する、請求項２に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項４】
前記第１および第２の管電圧は、操作者が設定可能な放射線管電圧のうちの最大管電圧および最小管電圧である、請求項２または請求項３に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項５】
前記生成手段は、前記複数の投影データを加重加算することにより前記所望の放射線管電圧相当の投影データを生成する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項６】
前記生成手段は、前記複数の投影データに基づいて、前記被写体における第１の物質に対応した第１の投影データと前記被写体における第２の物質に対応した第２の投影データとを求め、前記第１および第２の投影データを加重加算することにより前記所望の放射線管電圧相当の投影データを生成する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項７】
前記生成手段は、前記本スキャンの設定条件に基づいて、前記本スキャンに用いる放射線管電圧と同一の放射線管電圧相当の投影データを生成する、請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項８】
前記決定手段は、前記被写体の体軸方向における各位置での放射線管電流を決定する、請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の放射線断層撮影装置。
【請求項９】
コンピュータを、
請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の放射線断層撮影装置における前記制御手段、生成手段および決定手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線断層撮影装置におけるＣＴ自動露出機構（ＣＴ−ＡＥＣ）の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、Ｘ線ＣＴ装置において、ＣＴ自動露出機構が知られている。ＣＴ自動露出機構は、被写体の体軸方向における各位置での断層像が、操作者の指定したノイズレベル（noise level）で得られるよう、被写体の本スキャン（scan）においてＸ線管電流を自動制御するものである（特許文献１，要約等参照）。ＣＴ自動露出機構では、通常、被写体のスカウトスキャン（scout scan）によって得られた投影データ（projection data）に基づいて、被写体の体軸方向における各位置でのＸ線吸収量を求め、このＸ線吸収量から、指定されたノイズレベルの断層像が得られるようなＸ線管電流が逆算されて決定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−０４３９９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一般的に、スカウトスキャンに用いるＸ線管電圧と、本スキャンに用いるＸ線管電圧とは、独立に設定可能である。また、スカウトスキャンに用いるＸ線管電圧は、所定の管電圧がプリセット（preset）されており、操作者は、そのプリセットされた管電圧でスカウトスキャンをそのまま実行する場合が多い。そのため、スカウトスキャンに用いるＸ線管電圧と、本スキャンに用いるＸ線管電圧とが異なった設定になっているケース（case）がしばしば発生する。
【０００５】
ところで、被写体を構成する各物質のＸ線吸収係数は、Ｘ線エネルギー（x-ray
energy）によって異なる。また、Ｘ線エネルギーは、Ｘ線管電圧によって異なる。つまり、Ｘ線管電圧が変化すると、被写体のＸ線経路長（透過長）も変化することになる。
【０００６】
したがって、スカウトスキャンに用いるＸ線管電圧と本スキャンに用いるＸ線管電圧とが異なった設定になっていると、Ｘ線経路長の見積りに誤差が生じて、ＣＴ自動露出機構の精度が劣化する。
【０００７】
このような事情により、放射線断層撮影装置におけるＣＴ自動露出機構の精度向上を図ることが可能な技術が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１の観点の発明は、
放射線断層撮影装置であって、
放射線管および放射線検出器を一定角度方向に保ちつつ被写体の体軸方向に沿って相対移動させながら放射線を照射して前記被写体の透過放射線を検出するスカウトスキャンを行って、互いに異なる複数の放射線管電圧による投影データを収集するよう、前記放射線管および放射線検出器を制御する制御手段と、
前記複数の放射線管電圧による投影データに基づいて、該複数の放射線管電圧とは異なっており、本スキャンに用いる放射線管電圧と同一である放射線管電圧相当の投影データを生成する生成手段と、
前記生成された投影データに基づいて本スキャンにおける放射線管電流を決定する決定手段とを備えた放射線断層撮影装置を提供する。
【０００９】
第２の観点の発明は、
前記制御手段が、放射線管電圧を第１の管電圧と該第１の管電圧とは異なる第２の管電圧とに交互に切り換えながら放射線を照射することにより前記スカウトスキャンを行うよう制御する、上記第１の観点の放射線断層撮影装置を提供する。
なお、第１の管電圧と第２の管電圧との切換えは、１ビューまたは数ビューごとに交互に行うことが考えられる。
【００１０】
第３の観点の発明は、
前記制御手段が、時系列的に互いに隣接する前記第１の管電圧による投影データの一部と前記第２の管電圧による投影データの一部との間において、前記被写体の撮影領域が一部重複するように前記スカウトスキャンを行うよう制御する、上記第２の観点の放射線断層撮影装置を提供する。
なお、「投影データの一部」は、例えば、１ビュー分の投影データである。
【００１１】
第４の観点の発明は、
前記第１および第２の管電圧が、操作者が設定可能な放射線管電圧のうちの最大管電圧および最小管電圧である、上記第２の観点または第３の観点の放射線断層撮影装置を提供する。
【００１２】
第５の観点の発明は、
前記生成手段が、前記複数の投影データを加重加算することにより前記所望の放射線管電圧相当の投影データを生成する、上記第１の観点から第４の観点のいずれか一つの観点の放射線断層撮影装置を提供する。
【００１３】
第６の観点の発明は、
前記生成手段が、前記複数の投影データに基づいて、前記被写体における第１の物質に対応した第１の投影データと前記被写体における第２の物質に対応した第２の投影データとを求め、前記第１および第２の投影データを加重加算することにより前記所望の放射線管電圧相当の投影データを生成する、上記第１の観点から第４の観点のいずれか一つの観点の放射線断層撮影装置を提供する。
【００１４】
第７の観点の発明は、
前記生成手段が、前記本スキャンの設定条件に基づいて、前記本スキャンに用いる放射線管電圧と同一の放射線管電圧相当の投影データを生成する、上記第１の観点から第６の観点のいずれか一つの観点の放射線断層撮影装置を提供する。
【００１５】
第８の観点の発明は、
前記決定手段が、前記被写体の体軸方向における各位置での放射線管電流を決定する、上記第１の観点から第７の観点のいずれか一つの観点の放射線断層撮影装置を提供する。
【００１６】
第９の観点の発明は、
コンピュータ（computer）を、
上記第１の観点から第８の観点のいずれか一つの観点の放射線断層撮影装置における前記制御手段、生成手段および決定手段として機能させるためのプログラム（program）を提供する。
【発明の効果】
【００１７】
上記観点の発明によれば、常に、本スキャン時の放射線管電圧と同じ放射線管電圧相当の投影データから放射線管電流を決定することができ、ＣＴ自動露出機構の精度向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の要部構成を示す図である。
【図２】本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１における処理の流れを示すフローチャート(flowchart)である。
【図３】デュアルエネルギー（dual energy）・スカウトスキャンを説明するための図である。
【図４】Ｘ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する第１の方法を説明するための図である。
【図５】Ｘ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する第２の方法を説明するための図である。
【図６】本提案のＣＴ自動露出機構による処理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、発明の実施形態について説明する。なお、これにより発明は限定されない。
【００２０】
図１は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の要部構成を示す図である。
【００２１】
Ｘ線ＣＴ装置１は、Ｘ線管２、アパーチャ（aperture）３、Ｘ線検出器４、および撮影テーブル（table）５を備えている。
【００２２】
撮影テーブル５は、クレードル（cradle）５１を有している。被検体２０は、クレードル５１上に載置される。クレードル５１は、不図示の駆動部により、被検体２０の体軸方向であるｚ方向に水平直線移動可能である。
【００２３】
Ｘ線管２は、Ｘ線焦点からクレードル５１に載置された被検体２０にＸ線を照射する。
【００２４】
アパーチャ３は、Ｘ線管２と被検体２０との間に設けられている。アパーチャ３は、Ｘ線管２から照射されたＸ線２１を、所定のファン角で広がる扇形のファンビーム（fan-beam）またはコーンビーム（cone-beam）に成形する。
【００２５】
Ｘ線検出器４は、被検体２０を挟むようにＸ線管２と対向して配置されている。Ｘ線検出器４は、複数の検出素子がチャネル（channel）方向および列方向（ｚ方向）にマトリクス（matrix）状に配列された構成を有している。
【００２６】
Ｘ線管２およびＸ線検出器４は、互いの位置関係を維持したまま被検体２０の周りを回転することができるよう支持されている。
【００２７】
図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、さらに、ＤＡＳ（Data Acquisition
System）６、記憶部７、および演算・制御部８を備えている。
【００２８】
ＤＡＳ６は、Ｘ線検出器４の各検出素子が検出したＸ線強度のアナログデータ（analog
data）をデジタルデータ（digital data）に変換して収集する。
【００２９】
記憶部７は、種々のデータやプログラムを記憶する。
【００３０】
演算・制御部８は、不図示の操作部を通して操作者からの操作を受け付け、スキャン条件などを含む各種設定を行う。また、演算・制御部８は、各種設定に基づいて、Ｘ線管２、Ｘ線検出器４、および撮影テーブル５を制御して、スカウトスキャンおよび本スキャンを実施する。
【００３１】
すなわち、演算・制御部７は、Ｘ線管２およびＸ線検出器４を回転させずにクレードル５１を移動させながら、被検体２０にＸ線管２からＸ線を照射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器４で検出して、スカウトスキャンを実施する。また、演算・制御部８は、Ｘ線管２およびＸ線検出器４を回転させてクレードル５１の位置を調整しながら、Ｘ線管２からＸ線を被検体２０に照射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器４で検出して、本スキャンを実施する。
【００３２】
また、演算・制御部８は、ＣＴ自動露出機構を有している。演算・制御部８は、この機構により、スカウトスキャンにより得られたデータに基づいて、被検体２０の各ｚ位置でのノイズレベルが操作者により指定された所望のノイズレベルになるよう、本スキャンにおけるｚ方向の各ｚ位置でのＸ線強度を決定する。すなわち、本スキャン時のＸ線管電圧、Ｘ線管２およびＸ線検出器４の回転速度、Ｘ線管２およびＸ線検出器４の被検体２０に対するｚ方向の相対移動速度等を考慮して、本スキャンにおけるｚ方向の各ｚ位置でのＸ線管電流を決定する。
【００３３】
また、演算・制御部８は、ＤＡＳ５が収集した投影データに基づいて、所定の演算を行い、スカウト像を生成したり、断層像を画像再構成したりする。
【００３４】
なお、演算・制御部８は、発明における制御手段、生成手段、および決定手段の一例である。また、演算・制御部８は、コンピュータに所定のプログラムを実行させることにより、当該演算・制御部として機能する。
【００３５】
これより、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１における処理の流れについて説明する。
【００３６】
図２は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１における処理の流れを示すフローチャートである。
【００３７】
ステップ（step）Ｓ１では、演算・制御部８が、デュアルエネルギー・スカウトスキャンを実施する。
【００３８】
図３は、デュアルエネルギー・スカウトスキャンを説明するための図である。
【００３９】
演算・制御部８は、図３に示すように、Ｘ線管２が被検体２０の真上または真下に位置するよう、Ｘ線管２およびＸ線検出器４の回転角度を０°または１８０°に固定する。そして、撮影テーブル５のクレードル５１をｚ方向に移動させながら、Ｘ線管電圧を１４０ｋＶと８０ｋＶとに交互に切り換えてＸ線を被検体２０に照射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器４で検出する。Ｘ線管電圧の切換えは、例えば、１ビューまたは数ビューごとに行う。
【００４０】
このとき、時間的に隣接する、Ｘ線管電圧１４０ｋＶのビュー（view）の投影データとＸ線管電圧８０ｋＶのビューの投影データとの間で、撮影領域がｚ方向に一部重複（例えば、１ビュー当たりにおける撮影領域のｚ方向の幅の半分程度が重複）するように、１ビュー当たりにおける撮影領域のｚ方向の幅と、１ビュー当たりにおける撮影時間と、クレードル５１の移動速度とを調整するとよい。このようにすれば、Ｘ線管電圧８０ｋＶの投影データおよびＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データを、実測データから補間することなく求めることができ、投影データのエラー（error）成分を抑えることができる。
【００４１】
なお、時間的に隣接する、Ｘ線管電圧１４０ｋＶのビューの投影データとＸ線管電圧８０ｋＶのビューの投影データとの間で、撮影領域が重複しない場合には、時間的に近接する、Ｘ線管電圧１４０ｋＶのビューの投影データ同士、Ｘ線管電圧８０ｋＶのビューの投影データ同士で補間を行って、全てのｚ位置での投影データを確保する。また、Ｘ線管電圧を２以上の数ビューごとに切り換える場合においては、時間的に隣接するビューのＸ線管電圧１４０ｋＶ同士あるいは８０ｋＶ同士の投影データ間で、重複するデータ部分は、平均を取り、ＳＮ比の改善を図る。
【００４２】
スカウトスキャン時のＸ線管電流は、本スキャンより小さい電流、例えば１０ｍＡ〜８０ｍＡ程度とし、被検体２０の不要な被曝を抑えるようにする。
【００４３】
本例では、１ビュー当たりにおける撮影領域のｚ方向の幅をアイソセンタ（iso-center）付近で０．５ｍｍ程度とし、１ビュー当たりにおける撮影時間を０．５ｍｓ程度とし、クレードル５１の移動速度を０．１ｍｍ／０．５ｍｓとする。また、Ｘ線管電流は、２０ｍＡとする。
【００４４】
なお、デュアルエネルギー・スカウトスキャンにて用いる２つのＸ線管電圧は、操作者が設定可能な最大管電圧と最小管電圧であることが望ましい。このようにすれば、当該２つのＸ線管電圧の間において、Ｘ線エネルギーの差が大きくなり、被検体２０を構成する各物質のＸ線吸収係数の差が大きくなるため、後述する「所望のＸ線管電圧Ｖｄ相当の投影データ」を精度よく生成することができる。
【００４５】
また、デュアルエネルギー・スカウトスキャンは、Ｘ線管２が被検体２０の真横に位置するよう、Ｘ線管２およびＸ線検出器４の回転角度を９０°または２７０°に固定して実施してもよい。
【００４６】
また、デュアルエネルギー・スカウトスキャンにおいて、撮影テーブル５のクレードル５１をｚ方向に移動させながら、Ｘ線管電圧を８０ｋＶに固定してＸ線を被検体２０に照射するスキャンと、撮影テーブル５のクレードル５１をｚ方向に移動させながら、Ｘ線管電圧を１４０ｋＶに固定してＸ線を被検体２０に照射するスキャンとを実施するようにしてもよい。
【００４７】
ステップＳ２では、演算・制御部８が、被検体２０のスカウト像を生成して、不図示のモニタ（monitor）に表示する。具体的には、ステップＳ１のデュアルエネルギー・スカウトスキャンによって得られた、Ｘ線管電圧８０ｋＶまたは１４０ｋＶの各ｚ位置における投影データを輝度値に変換して、スカウト像を生成し、表示する。
【００４８】
ステップＳ３では、演算・制御部８が、本スキャンのスキャン条件を設定する。具体的には、操作者が、表示されたスカウト像を参照しながら、ｚ方向の撮影範囲、Ｘ線管電圧、再構成画像に求めるノイズレベル等を入力し、演算・制御部８が、これらをスキャン条件として設定する。
【００４９】
ステップＳ４では、演算・制御部８が、生成する投影データのＸ線管電圧Ｖｄを指定する。例えば、本スキャンに用いるＸ線管電圧が設定されているときは、それと同じＸ線管電圧をＸ線管電圧Ｖｄとして指定する。また例えば、操作者によって所望のＸ線管電圧が入力されたときは、そのＸ線管電圧をＸ線管電圧Ｖｄとして指定する。
【００５０】
ステップＳ５では、演算・制御部８が、指定されたＸ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する。具体的には、デュアルエネルギー・スカウトスキャンにより得られた２つのＸ線管電圧の投影データに基づいて、演算により、Ｘ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する。生成方法としては、主に２つの方法が考えられる。
【００５１】
図４は、Ｘ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する第１の方法を説明するための図である。図４に示すように、第１の方法は、Ｘ線管電圧８０ｋＶの投影データとＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データとを線形に加重加算する方法である。つまり、次式により求める。
【００５２】
ＰVd(z,ch)＝α・Ｐ80(z,ch)＋（１−α）・Ｐ140(z,ch)    （１）
【００５３】
ここで、Ｐ80(z,ch)はＸ線管電圧８０ｋＶの投影データであり、Ｐ140(z,ch)はＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データであり、ＰVd(z,ch)はＸ線管電圧Ｖｄ相当の投影データである。また、αは０以上、１以下の係数である。
【００５４】
したがって、例えば、Ｘ線管電圧１２０ｋＶ相当の投影データを生成する場合には、一例として、次式のような演算を考えることができる。
【００５５】
Ｐ120(z,ch)＝1/3・Ｐ80(z,ch)＋2/3・Ｐ140(z,ch)    （２）
【００５６】
なお、係数αとＸ線管電圧とは、必ずしも線形な関係でなくてもよい。例えば、高次多項式による演算としてもよい。
【００５７】
図５は、Ｘ線管電圧Ｖｄ相当の投影データを生成する第２の方法を説明するための図である。図５に示すように、第２の方法は、Ｘ線管電圧８０ｋＶの投影データとＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データとを加重減算することにより、被検体２０における第１の物質に対応した第１の投影データと被検体２０における第２の物質に対応した第２の投影データとを生成し、さらに第１の投影データと第２の投影データとを加重加算する方法である。第１の物質および第２の物質は、被検体を２つの基底物質の合成で表す近似モデル（model）における各基底物質であり、第１の物質と第２の物質の組合せとしては、例えば、水とヨウ素、カルシウムとヨウ素などが考えられる。本例では、第１の物質と第２の物質の組合せとして、水とヨウ素を採用し、第１の投影データを水等価の投影データ、第２の投影データをヨウ素等価の投影データと呼ぶことにする。
【００５８】
まず、Ｘ線管電圧８０ｋＶの投影データとＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データとの加重減算から、水等価の投影データとヨウ素等価の投影データとを求める。
【００５９】
例えば、次式のような線形な加重減算を用いる。
Ｐw(z,ch)＝ｋw（Ｐ80(z,ch)−Ｒio・Ｐ140(z,ch)）    （３）
Ｐio(z,ch)＝ｋio（Ｐ80(z,ch)−Ｒw・Ｐ140(z,ch)）    （４）
【００６０】
ここで、ｋw，ｋioは所定の変換係数、ＲioはＸ線管電圧１４０ｋＶと８０ｋＶとにおけるヨウ素のデュアルエネルギー比（Ｘ線吸収率の比）、ＲwはＸ線管電圧１４０ｋＶと８０ｋＶとにおける水のデュアルエネルギー比である。
【００６１】
また例えば、次式のような高次の多項式による非線形な加重減算を用いる。
Ｐw(z,ch)＝Σk=1n（αwk・Ｐ80k(z,ch)）＋Σk=1n（βwk・Ｐ140k(z,ch)） （５）
Ｐio(z,ch)＝Σk=1n（αiok・Ｐ80k(z,ch)）＋Σk=1n（βiok・Ｐ140k(z,ch)） （６）
【００６２】
次に、水等価の投影データとヨウ素等価の投影データとの加重加算から、指定されたＸ線管電圧Ｖｄの投影データを次式により生成する。
【００６３】
ＰVd(z,ch)＝ｋc(ｕw(keV1)・Ｐw(z,ch)＋ｕio(keV1)・Ｐio(z,ch))    （７）
【００６４】
ここで、keV1は指定されたＸ線管電圧ＶｄによるＸ線の実効エネルギー、μw（keV1）は実効エネルギーkeV1における水のＸ線吸収係数、μio（keV1）は実効エネルギーkeV1におけるヨウ素のＸ線吸収係数、ｋcは所定の係数である。
【００６５】
ステップＳ６では、演算・制御部８が、ＣＴ自動露出機構の機能により、本スキャンにおける被検体２０の各ｚ位置でのＸ線管電流を決定する。
【００６６】
図６は、本提案のＣＴ自動露出機構による処理を説明するための図である。演算・制御部８は、図６に示すように、生成されたＸ線管電圧Ｖｄ相当の投影データから、各ｚ位置ごとに、チャネル方向におけるＸ線経路長（透過長）を求め、そのプロファイル（profile）面積を求める。Ｘ線経路長は、例えば、検出素子の信号強度に基づくＸ線吸収度、−ｌｎ（Ｉ／Ｉｏ）で表される。ここで、ｌｎは自然対数、Ｉ，ＩｏはそれぞれＸ線経路上に物体が存在する場合、存在しない場合の検出Ｘ線強度である。プロファイル面積は、プロジェクション面積ともいう。そして、各ｚ位置ごとに、プロファイル面積と、被検体断面の楕円率と、設定された本スキャンにおけるＸ線管電圧と、設定された所望のノイズレベルとから、適正なＸ線強度を決定し、さらにＸ線管２の回転速度と、被検体２０のＸ線管２に対する相対移動速度等から、Ｘ線管電流を決定する。なお、ＣＴ自動露出機構そのものは、従来のもの、例えば特許文献１に記載されたものと特に差異はないため、ここでは、詳細な説明を省略する。
【００６７】
ステップＳ７では、演算・制御部８が、本スキャンを実施する。具体的には、設定されたｚ方向撮影範囲やＸ線管電圧、決定された各ｚ位置でのＸ線管電流に従って、本スキャンを実施する。
【００６８】
ステップＳ８では、演算・制御部８が、本スキャンによって得られた投影データに基づいて、断層像を画像再構成する。
【００６９】
以上、本実施形態によれば、常に、本スキャン時のＸ線管電圧と同じＸ線管電圧（Ｘ線エネルギー）相当の投影データからＸ線管電流を決定することができ、ＣＴ自動露出機構の精度向上を図ることができる。
【００７０】
なお、発明は、上記実施形態に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変形が可能である。
【００７１】
例えば、上記実施形態では、Ｘ線管電圧８０ｋＶまたは１４０ｋＶの投影データからスカウト像を生成しているが、これら２つのＸ線管電圧の投影データから、上記第１または第２の方法により、所望のＸ線管電圧またはＸ線エネルギー相当の投影データを生成し、当該投影データからスカウト像を生成してもよい。このようにすれば、例えば、常に、スカウトスキャンで一般的に用いられているＸ線管電圧と同じＸ線管電圧相当の投影データからスカウト像を生成することができ、操作者は、従来と比較して違和感のない描写が成されたスカウト像を参照することができる。
【００７２】
また例えば、上記実施形態では、スカウトスキャンとして、デュアルエネルギー・スカウトスキャンを行っているが、３つ以上のＸ線管電圧によるマルチエネルギー・スカウトスキャンを行ってもよい。
【００７３】
また例えば、上記実施形態では、ＣＴ自動露出機構において、Ｘ線管電流の制御を、被検体２０の体軸方向（ｚ方向）のみについて行っているが（Auto ｍA）、ｚ方向だけでなく、さらに断層像の断層面方向、すなわち、Ｘ線管２およびＸ線検出器４の回転方向について行うようにしてもよい（3D mA Modulation / Smart ｍA）。
【符号の説明】
【００７４】
１  Ｘ線ＣＴ装置
２  Ｘ線管
３  アパーチャ
４  Ｘ線検出器
５  撮影テーブル
５１  クレードル
６  ＤＡＳ
７  記憶部
８  演算・制御部
２０  被検体
２１  Ｘ線
【図１】
2014230707.tif 000003
【図２】
2014230707.tif 000004
【図３】
2014230707.tif 000005
【図４】
2014230707.tif 000006
【図５】
2014230707.tif 000007
【図６】
2014230707.tif 000008