(57)【要約】【課題】測定条件が保存された保存ファイルを有する測定装置において、保存ファイルから以前の測定条件を読み込んだ場合、今現在設定されている測定条件を自動的に保存し、必要に応じて測定条件を読み込み前の状態に戻せるようにする。【解決手段】今現在実行しようとしている測定条件（現在の測定条件）が設定されている状態において、読込実行キー５０ｃが操作され保存ファイルから以前の測定条件が読み込まれた際には、現在の測定条件を例えばＳＲＡＭ３０ｂに記憶させ、その後リセットキー５０ｄが操作された場合には、ＳＲＡＭ３０ｂから現在の測定条件を読み込み可能とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
センサにより検出された測定データが入力される入力部と、測定を行う上で必要とされる所定の測定条件を設定するための設定部と、上記設定部により設定された測定条件のうち、保存実行キーにて指定された所定の測定条件を保存する保存ファイルと、上記保存ファイルから所定の測定条件を読み込む読込実行キーと、上記設定部により設定された測定条件もしくは上記読込実行キーにて上記保存ファイルから読み込まれた測定条件に基づいて上記測定データを処理して表示部および／または所定のデータ格納部に出力する制御部とを備えている測定装置において、
測定条件を前の状態に戻すためのリセットキーをさらに備え、上記制御部は、上記設定部により今現在実行しようとしている測定条件（現在の測定条件）が設定されている状態において、上記読込実行キーが操作され上記保存ファイルから以前の測定条件が読み込まれた際には、上記現在の測定条件を所定の記憶部に記憶させ、その後上記リセットキーが操作された場合には、上記所定の記憶部から上記現在の測定条件を読み込み可能とすることを特徴とする測定装置。
【請求項２】
上記現在の測定条件を所定の記憶部に記憶させる際のファイル名を、上記現在の測定条件が設定された日時とすることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
上記リセットキーの操作に伴って、上記表示部に上記現在の測定条件を選択するための選択画面が表示されることを特徴とする請求項１または２に記載の測定装置。
【請求項４】
上記現在の測定条件が記憶される上記所定の記憶部として、上記保存設定ファイルが用いられることを特徴とする請求項１，２または３に記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は測定装置に関し、さらに詳しく言えば、以前の測定時に設定された測定条件が保存された保存ファイルを有し、その保存ファイルから再度使用したい測定条件を適宜読み込むことができる測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電流、電圧、抵抗もしくは温度等の物理量を測定する際には、まず測定条件として、例えばサンプリングスピード、トリガ条件、測定レンジ、ストレージメモリ長、表示フォーマット等の設定が行われるが、以前に設定した測定条件と同じ条件で測定しようとする場合、再度手入力で同じ測定条件を設定することは煩わしい。
【０００３】
そこで、本出願人は、特許文献１において、測定条件を保存し得る例えばＩＣカード等からなる保存ファイルを有し、その保存ファイルから以前の測定時に設定された測定条件を適宜読み込むことができるようにした測定装置を提案している。
【０００４】
なお、測定条件の保存ファイルへの保存は、ユーザーの選択に委ねられ、保存実行キー等の特定のボタンを操作することにより行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平０１−３０８９１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載された発明によれば、以前に設定した測定条件と同じ条件で測定しようとする場合、その測定条件を再度手入力で設定する手間を省くことができるが、測定器によっては、次のような問題が生ずることがある。
【０００７】
今回行う測定に必要な測定条件を設定した状態、もしくはその測定条件で測定を行っている状態で、その作業を一旦中断して、保存ファイルから以前に設定された測定条件を読み込んだ場合、今回設定した測定条件が破棄されたり、その内容が変わってしまうことがある。
【０００８】
したがって、保存ファイルから読み込んだ測定条件が、例えば今回の測定に適合しないとの理由により、今回設定した測定条件に戻す場合には、再び測定器を操作し、同じ測定条件を再度設定し直さなければならないことになる。
【０００９】
そこで、本発明の課題は、測定条件が保存された保存ファイルを有する測定装置において、保存ファイルから以前の測定条件を読み込んだ場合、今現在設定されている測定条件を自動的に保存し、必要に応じて測定条件を読み込み前の状態、すなわち今現在設定した測定条件に戻せるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、本発明は、センサにより検出された測定データが入力される入力部と、測定を行う上で必要とされる所定の測定条件を設定するための設定部と、上記設定部により設定された測定条件のうち、保存実行キーにて指定された所定の測定条件を保存する保存ファイルと、上記保存ファイルから所定の測定条件を読み込む読込実行キーと、上記設定部により設定された測定条件もしくは上記読込実行キーにて上記保存ファイルから読み込んだ測定条件に基づいて上記測定データを処理して表示部および／または所定のデータ格納部に出力する制御部とを備えている測定装置において、
測定条件を前の状態に戻すためのリセットキーをさらに備え、上記制御部は、上記設定部により今現在実行しようとしている測定条件（現在の測定条件）が設定されている状態において、上記読込実行キーが操作され上記保存ファイルから以前の測定条件が読み込まれた際には、自動的に現在の測定条件を所定の記憶部に記憶させ、その後上記リセットキーが操作された場合には、上記所定の記憶部から上記現在の測定条件を読み込み可能とすることを特徴としている。
【００１１】
本発明の好ましい態様においては、上記現在の測定条件を所定の記憶部に記憶させる際のファイル名を、上記現在の測定条件が設定された日時とする。
【００１２】
また、上記リセットキーの操作に伴って、上記表示部に上記現在の測定条件を選択するための選択画面が表示される。
【００１３】
上記現在の測定条件が記憶される上記所定の記憶部として、上記保存設定ファイルが用いられるてよい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、測定条件を前の状態に戻すためのリセットキーをさらに備え、設定部により今現在実行しようとしている測定条件（現在の測定条件）が設定されている状態において、読込実行キーが操作され保存ファイルから以前の測定条件が読み込まれた際には、現在の測定条件を所定の記憶部に記憶させ、その後リセットキーが操作された場合には、所定の記憶部から現在の測定条件を読み込み可能としたことにより、例えば読み込んだ以前の測定条件を不適合等の理由によりキャンセルする場合、容易に元の測定条件（現在の測定条件）に戻すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明による測定装置の実施形態の構成を示すブロック図。
【図２】上記実施形態で、現在の測定条件を選択するための選択画面の一例を示す模式図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
次に、図１および図２により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００１７】
図１に示すように、この実施形態に係る測定装置は、基本的な構成として、動作主体としての制御部１０，入力部２０，ゲート回路３０，外部記憶手段４０，設定部５０，計時部６０および表示部７０を備える。
【００１８】
制御部１０には、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）もしくはマイクロコンピュータ等が用いられる。また、制御部１０には、作業用のワークＲＡＭ１０ａと、測定データの処理用プログラムや各種の実行プログラムが書き込まれたＲＯＭ１０ｂとが付設されている。
【００１９】
入力部２０には、図示しないセンサにて検出された測定データが入力される。この実施形態において、入力部２０は、ロジック信号とアナログ信号のいずれも受け付けるが、アナログ信号用のＡ／Ｄ変換器を備える。
【００２０】
この実施形態において、ゲート回路３０は、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  −Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）からなり、制御部１０と入力部２０との間に接続されているとともに、ゲート回路３０には、ストレージＲＡＭ３０ａと、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）３０ｂとが接続されている。
【００２１】
ストレージＲＡＭ３０ａには、制御部１０の指示にしたがって入力部２０からの測定データがリアルタイムで記憶される。この実施形態において、ＳＲＡＭ３０ｂは、後述する現在の測定条件を記憶する記憶部として用いられる。
【００２２】
外部記憶手段４０には、ＳＤカード４０ａやＵＳＢデバイス４０ｂ等が用いられ、これらの外部メディア４０ａ，４０ｂは、図示しないインタフェイスを介して制御部１０と接続される。
【００２３】
この実施形態において、外部記憶手段４０（４０ａ，４０ｂ）は、測定条件を保存する保存ファイルとしても用いられるが、この他に測定波形等が記憶されてもよい。なお、外部メディアとして、ＣＦカードやＨＤＤ等、数Ｍｂｙｔｅ程度の情報を記憶し得るメディアが採用されてもよい。
【００２４】
設定部５０は、制御部１０に測定条件等を与える指示手段であり、例えばキーボードが用いられる。そのキーボード内には、測定条件を入力する入力キー５０ａと、測定条件を保存する保存実行キー５０ｂと、測定条件を読み込む読込実行キー５０ｃと、測定条件を前の状態に戻すためのリセットキー５０ｄとが含まれている。
【００２５】
なお、これらの各キー（ボタン）５０ａ〜５０ｄは、必ずしも専用キーとして容易される必要はなく、キーボード内に設けられている例えば機能切替ボタンの操作により、所定のキーが兼用されてもよい。
【００２６】
計時部６０は、実時間を計時するＲＴＣ（Ｒｅａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｃｌｏｃｋ）で、計時した実時間を制御部１０に与える。制御部１０は、この実時間に基づいて測定の時間軸を管理し、測定開始や測定終了等を判断する。
【００２７】
表示部７０には、液晶表示パネルやプラズマディスプレイ等が用いられるが、プリンタが用いられてもよい。表示部７０は、制御部１０からの出力を受けて測定の処理データや測定波形や等を表示する。
【００２８】
次に、この測定装置の操作手順およびそれに伴って実行される動作の一例について説明する。
【００２９】
測定を行うにあたって、まず、設定部５０の入力キー５０ａにより、測定条件として、測定対象に応じて、例えばサンプリングスピード、トリガ条件、測定レンジ、ストレージメモリ長、表示フォーマット等が設定される。また、予約方式の場合には、測定開始時刻や測定終了時刻も入力され、これらの各設定事項が制御部１０に与えられる。
【００３０】
制御部１０は、計時部６０からの実時間を監視し、測定開始時刻になると入力部２０に測定データの取り込みを指示する。
【００３１】
これにより、入力部２０からの測定データがストレージＲＡＭ３０ａに順次書き込まれるとともに、実時間記録の場合、制御部１０は測定データを逐次処理して、表示部７０に実時間波形を表示する。トリガがかけられているときには、トリガ波形も表示する。そして、測定終了時刻になると、測定を終了する。必要に応じて、この実時間データは外部記憶メディア４０ａ，４０ｂにも与えられる。
【００３２】
なお、予約方式ではなく、測定開始、測定終了が、特定の開始キー、終了キーによる場合には、制御部１０はそれらの各時刻をＲＡＭ１０ａに記憶する。また、実時間記録でない場合には、例えば測定終了後に測定データをスレレージＲＡＭ３０ａから読み出して、所定の処理を行い、その処理データや測定波形等を表示部７０および外部記憶メディア４０ａ，４０ｂに与える。
【００３３】
このようにして、測定が行われるが、設定部５０にて設定した測定条件を残したい場合には、保存実行キー５０ｂを押す。これにより、この実施形態では、その測定条件が外部記憶手段４０の一部領域に「保存ファイル」として保存される。その際、事後の読み出し時の検索を容易とするため、設定部５０より所定のファイル名が付けられる。
【００３４】
なお、保存実行キー５０ｂを押すタイミングは、測定開始前、測定中、測定終了後のいずれでもよいが、測定終了後の場合には、外部記憶手段４０に上記「保存ファイル」とともに測定波形も「波形ファイル」として保存することもできる。
【００３５】
「保存ファイル」に保存された測定条件は、今回の測定を行うにあたって、以前（過去）の測定条件として、読込実行キー５０ｃを押すことにより、読み出すことができる。
【００３６】
今回の測定時に、以前の測定条件をそのまま使用する場合には、設定部５０の入力キー５０ａを操作することなく、読込実行キー５０ｃを押して「保存ファイル」の中から所望とする以前の測定条件を選択すれば、その測定条件が制御部１０にセットされる。
【００３７】
しかしながら、上記従来技術で説明したように、今回の測定を行う際に、設定部５０の入力キー５０ａを操作して新たに測定条件を設定した状態、もしくはその測定条件で測定を行っている状態で、その作業を一旦中断して、「保存ファイル」から以前に設定された測定条件を読み出した場合、今回設定した測定条件が破棄されたり、その内容が変わってしまうことがある。
【００３８】
そこで、本発明では、今回の測定時に設定部５０の入力キー５０ａを操作して測定条件を設定した後において、読込実行キー５０ｃが押され、「保存ファイル」から以前に設定された測定条件の読み込みが行われ場合、制御部１０は、今回の測定時に設定された測定条件（現在の測定条件）を、この実施形態では、そのファイル名を現在の日時として、ＳＲＡＭ３０ｂに保存する。
【００３９】
「保存ファイル」から読み込まれた以前の測定条件が、今回の測定に適合していれば、その以前の測定条件をそのまま使用すればよい。しかしながら、以前の測定条件を読み込んだものの、何らかの理由（例えば、今回の測定には適合しないと判断された場合等）により、元の測定条件（現在の測定条件）に戻したい場合には、リセットキー５０ｄを押す。
【００４０】
リセットキー５０ｄが押されると、制御部１０は、図２に例示するように、表示部７０に現在の測定条件を選択するための選択画面７０ａを表示する。この選択画面７０ａには、ファィル名としての日時（この例では、２０１２年１月３１日９：００設定）と、「読込」，「閉じる」のアイコンとが含まれている。
【００４１】
この選択画面７０ａで、例えばマウスにて「読込」が選択されると、制御部１０は、ＳＲＡＭ３０ｂに保存されている現在の測定条件を読み込み、以前の測定条件に代えて現在の測定条件を採用して測定を行う。なお、「閉じる」が選択されると、選択画面７０ａが消去される。
【００４２】
このように、今回の測定時に使用する測定条件（現在の測定条件）が設定された状態において、読込実行キー５０ｃが操作され、保存ファイルから以前の測定条件が読み込まれた際には、自動的に現在の測定条件を所定の記憶部（上記実施形態ではＳＲＡＭ３０ｂ）に記憶させるようにしたことにより、その後、リセットキー５０ｄを押すだけで、容易に現在の測定条件に戻すことができる。
【００４３】
なお、保存実行キー５０ｂでも、現在の測定条件を設定ファイルに保存することができるが、本発明によれば、読込実行キー５０ｃが押された時点で、現在の測定条件が例えばＳＲＡＭ３０ｂに記憶されるため、わざわざ保存実行キー５０ｂを押す必要がない。
【００４４】
上記実施形態では、現在の測定条件をＳＲＡＭ３０ｂに記憶（保存）させるようにしているが、例えば設定ファイルに保存するようにしてもよい。また、設定ファイルを外部記憶手段４０に設けるようにしているが、設定ファイルは例えばＲＡＭ１０ａに設けられてもよい。
【符号の説明】
【００４５】
１０  制御部
１０ａ  ＲＡＭ
１０ｂ  ＲＯＭ
２０  入力部
３０  ゲート回路
３０ａ  ストレージＲＡＭ
３０ｂ  ＳＲＡＭ
４０  外部記憶手段
４０ａ，４０ｂ  外部メディア
５０  設定部
５０ａ  入力キー
５０ｂ  保存実行キー
５０ｃ  読込実行キー
５０ｄ  リセットキー
６０  計時部
７０  表示部
【図１】
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【図２】
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