(57)【要約】【課題】出力レベルが出力規格範囲内となる高周波モジュールを確実に検出するとともに救済可能な高周波モジュールを出荷可能にする。【解決手段】  測定治具１２に装着された高周波モジュール１００に対して出力設定値を書き込む（Ｓ１０１）。当該高周波モジュール１００を出力制御して、出力される第１高周波信号の実測値Ｄｒ１を取得する（Ｓ１０２）。実測値Ｄｒ１と出力規格上限値ＴＨｍａｘを比較する（Ｓ１０３）。実測値Ｄｒ１が出力規格上限値ＴＨｍａｘよりも高ければ（Ｓ１０４：Ｙｅｓ）、出力信号レベルを低下させるように、高周波モジュール１００の出力設定値を修正する（Ｓ１０５）。そして、このような高周波モジュール１００の出力信号レベルを低下させる処理を、出力信号レベルが出力規格範囲内となるまで繰り返す。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
出力設定値に応じた信号レベルの高周波信号を出力する高周波モジュールを、信号レベルに基づいて検査する高周波モジュールの検査方法であって、
前記高周波モジュールを測定治具に装着する工程と、
前記測定治具を介して高周波モジュールに出力制御を行う工程と、
前記信号レベルを測定する工程と、
前記信号レベルが出力規格上限値よりも高ければ、前記信号レベルを低くする方向へ前記出力設定値を修正する工程と、
を含む高周波モジュールの検査方法。
【請求項２】
前記信号レベルが出力規格下限値よりも低ければ、前記高周波モジュールを前記測定治具から一旦取り外した後に再装着し、信号レベルの再測定を行う工程、を含む請求項１に記載の高周波モジュールの検査方法。
【請求項３】
前記再測定された信号レベルが前記出力規格値よりも低ければ、前記信号レベルを高くする方向へ前記出力設定値を修正する工程、を含む請求項２に記載の高周波モジュールの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、出力設定値に応じた所定の高周波信号を出力する高周波モジュールの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、各種電子機器に、高周波モジュールが多く採用されている。例えば、無線通信端末の場合、送信信号を生成したり、当該送信信号をフィルタ処理する送信モジュールや、受信信号をフィルタ処理したり、受信信号を復調する受信モジュールが採用されている。
【０００３】
送信モジュールの場合、送信信号の出力レベルが、予め設定されている出力規格値の範囲内に収まるようにする必要がある。
【０００４】
したがって、このような高周波モジュールの場合、出力レベルが出力規格値の範囲内であるかどうかを検査している。
【０００５】
ここで、高周波モジュールは、通常、内部メモリを備え、該内部メモリに記憶された出力設定値に応じた出力を行うような回路構成を採用することが多い。この構成を用いれば、最初に設定した出力設定値での送信信号の出力レベルが出力規格値の範囲内に入らなくても、出力設定値を調整して送信信号の出力レベルを出力規格値内に補正することができる。
【０００６】
例えば、特許文献１に記載の送信電力調整方法では、測定された高周波モジュールの出力レベルが出力規格値の範囲内であるかどうかを検出し、範囲外であれば、高周波モジュールを治具に装着した状態で出力設定値を補正し続け、出力レベルを出力規格範囲内になるようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−１５３１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述の特許文献１に記載の方法では、測定対象の高周波モジュールを治具にセットして測定を行うことにより、治具を介することによる伝送損失が測定結果に悪影響を与えることがある。
【０００９】
例えば、治具の伝送損失のバラツキや経時劣化から、出力レベルが実際よりも低く測定されてしまう。また、治具と高周波モジュールとの接触点に異物が介在した場合も、出力レベルが実際よりも低く測定されてしまう。
【００１０】
特に、高周波信号の場合、伝送損失の影響を受けやすく、このように治具に関係する伝送損失により、出力レベルが実際よりも大幅に低く測定されることがある。
【００１１】
出力レベルが低く測定されると、出力設定値は、出力レベルが高くなるように調整される。また、出力レベルが著しく低い場合は不良と扱われ、良品を不良品と判定することもあった。
【００１２】
このため、不必要に出力レベルが高く設定され、消費電力が大きくなり、低電力化を阻害することになる。また、出力レベルの上昇にしたがってスプリアスレベルも上昇してしまう。さらには、出力レベルが規格上限値よりも高くなるように間違って設定されてしまうこともある。
【００１３】
この発明の目的は、出力規格範囲内の出力レベルを有する高周波モジュールを、より確実に出荷できる高周波モジュールの検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、出力設定値に応じた信号レベルの高周波信号を出力する高周波モジュールを、信号レベルに基づいて検査する高周波モジュールの検査方法であり、次の特徴を有する。
【００１５】
高周波モジュールの検査方法は、高周波モジュールを測定治具に装着する工程と、測定治具を介して高周波モジュールに出力制御を行う工程と、信号レベルを測定する工程と、信号レベルが出力規格上限値よりも高ければ信号レベルを低くする方向へ出力設定値を修正する工程と、を含む。
【００１６】
この方法では、信号レベルが出力規格上限値を超える高周波モジュールを、出力規格値範囲内の信号レベルからなる高周波モジュールに修正することができる。これにより、出力規格値上限を超える信号レベルからなる高周波モジュールが出荷されることを防止できる。また、一回の測定で出力規格範囲外となる高周波モジュールを救済することができる。
【００１７】
また、この発明の高周波モジュールの検査方法は、信号レベルが出力規格下限値よりも低ければ、高周波モジュールを測定治具から一旦取り外した後に再装着し、信号レベルの再測定を行う工程、を含む。
【００１８】
この方法では、測定治具と高周波モジュールとの接触不良によって信号レベルが低くなった高周波モジュールを、誤ってＮＧ判定することを抑制できる。
【００１９】
また、この発明の高周波モジュールの検査方法では、再測定された信号レベルが出力規格値よりも低ければ、信号レベルを高くする方向へ出力設定値を修正する工程、を含む。
【００２０】
この方法では、信号レベルが出力規格下限値を下回る高周波モジュールを、出力規格値範囲内の信号レベルからなる高周波モジュールに修正することができる。これにより、一回の測定で出力規格範囲外となる高周波モジュールを救済することができる。
【発明の効果】
【００２１】
この発明によれば、出力レベルが出力規格範囲内となる高周波モジュールを、より確実に、且つできる限り多く出荷することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施形態に係る高周波モジュール検査システムを表すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。
【図３】本発明の第２の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。
【図４】本発明の第３の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の第１の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法および検査システムについて、図を参照して説明する。図１は本発明の実施形態に係る高周波モジュール検査システムを表すブロック図である。
【００２４】
高周波モジュールの検査は、図１に示すような高周波モジュール検査システムで実行される。この検査対象となる高周波モジュール１００は、所定の信号レベルの高周波信号を出力するように製造されたものである。例えば、高周波モジュール１００は、所定周波数の高周波信号を生成し、増幅して出力する送信回路を備える高周波モジュールである。また、高周波モジュール１００は、送信回路ととともに受信回路を備え、さらに送信回路と受信回路とを切り替えてアンテナに接続するスイッチ回路やデュプレクサ回路を備えるフロントエンドモジュールである。
【００２５】
高周波モジュール１００は、制御入力端子と高周波信号出力端子と内部メモリとを備えている。これら高周波モジュール１００に含まれる各部の図示は省略している。高周波モジュール１００の内部メモリには、出力規格値が記憶されている。
【００２６】
高周波モジュール１００は、外部から出力制御信号を受け付けると、出力規格値に応じた信号レベルからなる高周波信号を出力する。この際、高周波モジュール１００は、製造バラツキにより、出力規格値に応じた出力信号レベルが全ての高周波モジュールで必ずしも一致する訳でなく、高周波モジュール間で所定の出力信号レベルのバラツキを有する。
【００２７】
そして、高周波モジュール１００を出荷する際には、出力信号レベルが予め設定した出力規格範囲内になるものだけを出荷しなければならず、本実施形態に示すような検査を行う必要がある。
【００２８】
高周波モジュール検査システム１０は、測定制御部１１、測定治具１２、測定器１３を備える。測定制御部１１は、高周波モジュール１００に対して出力制御を行う。測定制御部１１は、高周波モジュール１００の内部メモリに出力規格値を書き込む。
【００２９】
測定制御部１１は、測定器１３から得られた出力信号レベルを出力規格範囲と比較して、必要に応じて、既に書き込まれている出力規格値を修正して上書きする。
【００３０】
測定治具１２は、高周波モジュール１００が装着される端子を備える。測定治具１２は、制御信号出力端子、高周波信号入力端子を備える。高周波モジュール１００は、制御信号入力端子が測定治具１２の制御信号出力端子に接続し、高周波信号出力端子が測定治具１２の高周波信号入力端子に接続するように、測定治具１２に装着される。
【００３１】
測定治具１２は、測定制御部１１からの出力制御信号や、出力設定値の書き込み信号を、高周波モジュール１００へ出力する。測定治具１２は、高周波モジュール１００から出力される高周波信号を、測定器１３へ出力する。
【００３２】
測定器１３は、例えば、ネットワークアナライザーからなり、入力された高周波信号の信号レベル（例えば信号電力）を検出する。測定器１３は、高周波信号の信号レベルを、測定制御部１１へ出力する。
【００３３】
このような高周波モジュール検査システムにおいて、次に示すように、高周波信号の検査を行う。図２は本発明の第１の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。なお、図２では、高周波モジュールをＲＦＭＤＬと記載している。
【００３４】
まず、高周波モジュール１００を、高周波モジュール検査システム１０の測定治具１２に装着する。装着後に、高周波モジュール１００に対して、予め設定した出力設定値を設定する（Ｓ１０１）。この出力設定値は、当該高周波モジュール１００に対して、出力信号レベルが出力規格範囲内となるように、設計時点で予め得られた値とすればよい。この場合には、設計的に出力信号レベルが出力規格範囲の中心値となるような出力設定値を用いればよい。また、過去に出荷された同種の高周波モジュール１００の出力設定値の代表値（中央値や中心値等）にすればよい。
【００３５】
次に、高周波モジュール１００に対して出力制御信号を与え、高周波モジュール１００が出力する第１高周波信号を測定し、実測値Ｄｒ１として取得する（Ｓ１０２）。
【００３６】
次に、実測値Ｄｒ１と出力規格上限値ＴＨｍａｘとを比較する（Ｓ１０３）。
【００３７】
実測値Ｄｒ１が出力規格上限値ＴＨｍａｘ以下の場合（Ｓ１０４：Ｎｏ）、本処理フローは終了する。
【００３８】
実測値Ｄｒ１が出力規格上限値ＴＨｍａｘよりも高い場合（Ｓ１０４：Ｙｅｓ）、出力信号レベルを低下させるように、出力設定値を修正する（Ｓ１０５）。この際、修正値は、出力信号レベルが或程度細かいレベルで調整できるように設定されていることが好ましい。例えば、規格範囲内に収まる高周波モジュール１００（良品の高周波モジュール）において、出力信号レベルが０．５ｄＢずつ低下するような修正値等を用いればよい。
【００３９】
出力設定値が修正された高周波モジュール１００に対して、出力信号レベルの再測定を行い、再度規格上限値ＴＨｍａｘとの比較を行う。このような規格上限値ＴＨｍａｘを超える出力信号レベルからなる高周波モジュール１００の修正は、当該高周波モジュール１００の出力信号レベルが出力規格上限値ＴＨｍａｘ以下となるまで、繰り返し行われる。
【００４０】
以上のような検査方法を用いることで、出力信号レベルが出力規格上限値ＴＨｍａｘよりも高い高周波モジュールを検出し、当該高周波モジュールの出力信号レベルが出力規格範囲内になるように救済することができる。
【００４１】
次に、第２の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法および検査システムについて、図を参照して説明する。図３は本発明の第２の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。なお、図３でも、高周波モジュールをＲＦＭＤＬと記載している。
【００４２】
本実施形態の高周波モジュール検査システムは、第１の実施形態に示した高周波モジュール検査システムと同じであるので、構成の説明は省略する。
【００４３】
また、本実施形態の高周波モジュールの検査方法は、出力規格上限値ＴＨｍａｘ以下の出力信号レベルとなる高周波モジュールを検出する工程、出力規格上限値ＴＨｍａｘよりも信号レベルが高い高周波モジュールを修正する工程（ステップＳ１０４のＮｏ判断がされるまでの工程）は、第１の実施形態に示した高周波モジュールの検査方法と同じであるので、説明は省略する。
【００４４】
出力規格上限値ＴＨｍａｘ以下の出力信号レベルとなる高周波モジュールに対しては、次に、実測値Ｄｒ１と出力規格下限値ＴＨｍｉｎとの比較が行われる（Ｓ１１１）。
【００４５】
実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い場合（Ｓ１１２：Ｙｅｓ）、測定を中止して、高周波モジュール１００を測定治具１２から取り外す（Ｓ１１３）。
【００４６】
実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎ以上の場合（Ｓ１１２：Ｎｏ）、当該高周波モジュール１００を規格範囲内品と判断して出荷する。
【００４７】
このような方法を用いることで、出力信号レベルが出力規格上限値ＴＨｍａｘを超える高周波モジュールの修正を含めて、測定治具１２に装着した状態で行われる第１回目の測定において、出力規格範囲内となる高周波モジュールを確実に検出することができる。
【００４８】
また、実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い高周波モジュールを、測定治具１２から一旦取り外すことで、高周波モジュール１００と測定治具１２との接触状態が悪く伝送損失が低下したことに起因する、誤判定を抑制することができる。
【００４９】
例えば、高周波モジュール１００の高周波信号出力端子と測定治具１２の高周波信号入力端子との間に異物が介在した場合、出力信号レベルは低下してしまう。特に、高周波信号の場合、このような異物の介在により、インピーダンス不整合等が生じるため、出力信号レベルは大幅に低下してしまうことがある。
【００５０】
したがって、実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い高周波モジュール１００を測定治具１２から取り外して、再測定を行う機会を設けることで、出力信号レベルが出力規格範囲内である高周波モジュールを、出力信号レベルが出力規格下限値よりも低い高周波モジュールと誤って判定することを抑制できる。
【００５１】
次に、本発明の第３の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法および検査システムについて、図を参照して説明する。図４は本発明の第３の実施形態に係る高周波モジュールの検査方法を表すフローチャートである。なお、図４でも、高周波モジュールをＲＦＭＤＬと記載している。
【００５２】
本実施形態の高周波モジュール検査システムは、第１の実施形態に示した高周波モジュール検査システムと同じであるので、構成の説明は省略する。
【００５３】
また、本実施形態の高周波モジュールの検査方法は、出力規格上限値ＴＨｍａｘ以下の出力信号レベルとなる高周波モジュールを検出する工程、出力規格上限値ＴＨｍａｘよりも信号レベルが高い高周波モジュールを修正する工程、出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも信号レベルが低い高周波モジュールを検出する工程（ステップＳ１１２までの工程）は、第２の実施形態に示した高周波モジュールの検査方法と同じであるので、説明は省略する。
【００５４】
実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い場合（Ｓ１１２：Ｙｅｓ）、この測定が一回目の測定であるかどうかを確認する。ここで、一回目の測定であれば（Ｓ１３１：Ｙｅｓ）、測定を中止して、高周波モジュール１００を測定治具１２から取り外す（Ｓ１１３）。
【００５５】
測定が一回目の測定でなければ（Ｓ１３１：Ｎｏ）、一旦取り外した高周波モジュール１００を、測定治具１２に再装着する。そして、再装着後に、高周波モジュール１００に対して出力制御信号を与え、高周波モジュール１００が出力する第２高周波信号を測定し、実測値Ｄｒ２として取得する（Ｓ１３２）。
【００５６】
実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎ以上である場合（Ｓ１３３：Ｎｏ）、測定を中止して、高周波モジュール１００を測定治具１２から取り外す（Ｓ１１３）。なお、この際、実測値Ｄｒ１が出力規格下限値ＴＨｍｉｎ以上であるので、当該高周波モジュール１００を、規格範囲内品としてもよい。ただし、一回目と二回目の結果が異なるので、少なくとも一回は、当該高周波モジュールを測定治具に再度装着して出力信号レベルの測定を行い、この測定結果から規格範囲内品であるかどうかの判断を行ってもよい。
【００５７】
実測値Ｄｒ２が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い場合（Ｓ１３３：Ｙｅｓ）、出力信号レベルを上昇させるように、出力設定値を修正する（Ｓ１３４）。この際、修正値は、出力信号レベルが出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも若干（例えば１〜３ｄＢ程度）低い高周波モジュールに対して、出力信号レベルが出力規格上限値ＴＨｍａｘに近い値になるように、設定するとよい。このように、出力規格上限値ＴＨｍａｘに近い値に出力信号レベルを上昇させるように設定すれば、救済対象となる高周波モジュールの出力設定値の修正を、確実且つ容易に行うことができる。また、真の出力規格外品に対する無駄な修正を行うことを防止できる。
【００５８】
出力設定値が修正された高周波モジュール１００に対して、出力信号レベルの再測定を行い、再度出力規格下限値ＴＨｍｉｎとの比較を行う。
【００５９】
出力信号レベルが上昇するように出力設定値を修正した高周波モジュールの実測値Ｄｒ２が出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い場合（Ｓ１３５：Ｎｏ）、高周波モジュール１００を測定治具１２から取り外す（Ｓ１１３）。この場合は、出力規格外品と判断する。
【００６０】
出力信号レベルが上昇するように出力設定値を修正した高周波モジュールの実測値Ｄｒ２が出力規格下限値ＴＨｍｉｎ以上の場合（Ｓ１３５：Ｙｅｓ）、当該高周波モジュールを出力規格内品と判断し、検査を終了する。
【００６１】
以上のような検査方法を用いることで、測定治具との接触不良の影響を取り除いて、出力信号レベルが出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い高周波モジュールを確実に検出することができる。さらに、出力信号レベルが出力規格下限値ＴＨｍｉｎよりも低い高周波モジュールの出力信号レベルが出力規格範囲内になるように救済することができる。
【００６２】
そして、本実施形態の検査方法を用いることで、高周波モジュールを確実に検査して、出力規格内品を確実に出荷するとともに、一度の測定で出力規格外であっても修正により出力規格内品に修正可能な高周波モジュールを、確実に救済して出荷できる。
【符号の説明】
【００６３】
１０：高周波モジュール検査システム、
１１：測定制御部、
１２：測定治具、
１３：測定器、
１００：高周波モジュール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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