(57)【要約】【課題】本発明は、差動型の容量検出方式を用いた場合であっても、異常状態の判定およびベースラインの是正を正しく行うことが可能なタッチパネル装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明によるタッチパネル装置は、第２の差分情報抽出部５にて抽出された第２の差分情報と、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインとに基づいて、異常状態であるか否かを判定する異常状態判定部７と、異常状態判定部７にて異常状態であると判定した場合において、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインと、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインとの更新を行うよう制御する制御部８とを備えることを特徴とする。【選択図】図１
2014106829.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
静電容量を計測する複数のセンサを有するタッチパネルと、
前記複数のセンサのうち隣接するセンサ間の前記静電容量の差分値を第１の差分情報として抽出する第１の差分情報抽出部と、
検出対象物が前記タッチパネルに近接または接触しない場合における、前記第１の差分情報抽出部にて抽出された前記第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する第１のベースライン格納部と、
前記第１の差分情報抽出部にて抽出された前記第１の差分情報と、前記第１のベースライン格納部に格納された前記第１のベースラインとに基づいて、前記タッチパネルに対する前記検出対象物の近接または接触を検出する検出部と、
前記複数のセンサのうち所定のセンサを基準センサとし、当該基準センサと、前記複数のセンサのうち前記基準センサとは異なる他のセンサとの前記静電容量の差分値を第２の差分情報として抽出する第２の差分情報抽出部と、
前記検出対象物が前記タッチパネルに近接または接触しない場合における、前記第２の差分情報抽出部にて抽出された前記第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する第２のベースライン格納部と、
前記第２の差分情報抽出部にて抽出された前記第２の差分情報と、前記第２のベースライン格納部に格納された前記第２のベースラインとに基づいて、異常状態であるか否かを判定する異常状態判定部と、
前記異常状態判定部にて異常状態であると判定した場合において、前記第１のベースライン格納部に格納された前記第１のベースラインと、前記第２のベースライン格納部に格納された前記第２のベースラインとの更新を行うよう制御する制御部と、
を備えることを特徴とする、タッチパネル装置。
【請求項２】
前記複数のセンサは、前記検出部が使用するセンサが配置される検出領域の外にも配置される前記センサを含み、
前記第２の差分情報抽出部は、前記検出領域の外に配置された前記センサを前記基準センサとして用いることを特徴とする、請求項１に記載のタッチパネル装置。
【請求項３】
前記基準センサに対して前記検出対象物が接触しているか否かを判定する基準センサ接触判定部をさらに備え、
前記異常状態判定部は、前記基準センサ接触判定部にて前記検出対象物が前記基準センサに接触していないと判定されると、前記異常状態であるか否かを判定することを特徴とする、請求項１または２に記載のタッチパネル装置。
【請求項４】
前記複数のセンサのうち少なくとも前記基準センサと隣接するセンサを含むセンサを検定用センサとし、
前記基準センサ接触判定部は、前記検定用センサと前記基準センサとの前記静電容量の差分値に基づいて、前記基準センサに対して前記検出対象物が接触しているか否かを判定することを特徴とする、請求項３に記載のタッチパネル装置。
【請求項５】
前記基準センサ接触判定部は、前記第２の差分情報抽出部にて抽出された前記第２の差分情報と、前記第２のベースライン格納部にて格納された前記第２のベースラインとの差分値が、所定の範囲内に所定のセンサ数以上ある場合において、前記基準センサに対して前記検出対象物が接触していると判定することを特徴とする、請求項３に記載のタッチパネル装置。
【請求項６】
前記第２の差分情報抽出部は、前記複数のセンサのうち、前記タッチパネルの水平方向に配置されるセンサ群と、前記タッチパネルの垂直方向に配置されるセンサ群とで異なる前記基準センサを用いて前記第２の差分情報を抽出し、
前記異常状態判定部は、各前記センサ群に対して前記異常状態の判定を行うことを特徴とする、請求項１ないし５のいずれかに記載のタッチパネル装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記タッチパネル装置が正常動作状態であるか否かの判定を行い、
前記異常状態判定部は、前記制御部が前記正常動作状態であると判定すると、前記異常状態の判定を行わないことを特徴とする、請求項１ないし６のいずれかに記載のタッチパネル装置。
【請求項８】
前記第２の差分情報抽出部は、前記複数のセンサから少なくとも２以上のセンサを前記基準センサの候補である候補センサとして選択し、当該候補センサと、前記複数のセンサのうち前記候補センサとは異なる他のセンサとの前記静電容量の差分値を求め、当該差分値に基づいて前記候補センサから前記基準センサを決定することを特徴とする、請求項１ないし７のいずれかに記載のタッチパネル装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネル装置に関し、特に、静電容量式のタッチパネル装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
静電容量方式のタッチパネル装置では、指などの検出対象物がタッチパネルに接触（タッチ）していない時の計測値（静電容量値）をベースラインとして予め保持しておき、検出対象物の検出処理の際は、検出時に計測した計測値とベースラインとの差分値を用いる。当該差分値は、タッチパネルに対して検出対象物の接触がなければ０に近い値となり、接触した時は正の大きな値となるため、計測値とベースラインとの差分値に基づいて、タッチパネルに対する検出対象物のタッチ検出が可能となる。しかし、タッチした状態における計測値をベースラインにしてしまうなど、ベースラインが適正に生成されていない場合は、正しくタッチを検出することができない。従って、ベースラインが適正でない異常状態であることを検知し、ベースラインの是正を行う必要がある。
【０００３】
例えば、上記の差分値が予め定めた異常判定閾値（負値）以下となる状態が一定時間以上継続した場合にベースラインが異常状態であると判定し、異常状態であると判定された場合はベースラインを更新して正常状態にする方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１では、例えば、ベースライン作成時に物体が接触していて、その後物体が消失する（接触しない状態となる）場合を異常状態であるものとし、この場合、ベースライン作成時よりも物体が消失した時の方が静電容量が低下するため、上記の差分値がマイナスの値となって現れることを利用している。
【０００４】
また、タッチパネル装置のノイズ耐性を向上させることを目的としたものとしては、差動型の検出方式がある（例えば、特許文献２，３参照）。当該検出方式は、タッチパネルに配置された複数のセンサ間の静電容量差を計測するものであり、多点（複数のタッチ位置）検出のために隣接センサの静電容量差が用いられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１２−１５０７４７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２８２５３９号公報
【特許文献３】特開２０１２−６９０８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献２，３に開示されるノイズ耐性の高い差動型の容量検出方式を用いたタッチパネル装置では、特許文献１のような異常状態判定およびベースラインの是正が行えないという問題があった。これは、差動型の容量検出方式では、絶対的な容量値を計測することができず、センサの静電容量低下を捉えることができないことに起因する。例えば、センサ間の容量差の計測値が変化した場合に、計測対象である一方のセンサの静電容量値が増加したのか、あるいは他方のセンサの静電容量値が減少したのかを区別することが難しい。特に、隣接センサ間の容量差を計測する場合など、近距離に配置されたセンサの組み合わせを用いる場合は、一方のセンサにタッチした指が他方のセンサにも影響するため、上記の区別はより困難になる。
【０００７】
本発明は、これらの問題を解決するためになされたものであり、差動型の容量検出方式を用いた場合であっても、高精度な異常状態の判定を行うことによってベースラインの是正を適正に行うことが可能なタッチパネル装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明によるタッチパネル装置は、静電容量を計測する複数のセンサを有するタッチパネルと、複数のセンサのうち隣接するセンサ間の静電容量の差分値を第１の差分情報として抽出する第１の差分情報抽出部と、検出対象物がタッチパネルに近接または接触しない場合における、第１の差分情報抽出部にて抽出された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する第１のベースライン格納部と、第１の差分情報抽出部にて抽出された第１の差分情報と、第１のベースライン格納部に格納された第１のベースラインとに基づいて、タッチパネルに対する検出対象物の近接または接触を検出する検出部と、複数のセンサのうち所定のセンサを基準センサとし、当該基準センサと、複数のセンサのうち基準センサとは異なる他のセンサとの静電容量の差分値を第２の差分情報として抽出する第２の差分情報抽出部と、検出対象物がタッチパネルに近接または接触しない場合における、第２の差分情報抽出部にて抽出された第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する第２のベースライン格納部と、第２の差分情報抽出部にて抽出された第２の差分情報と、第２のベースライン格納部に格納された第２のベースラインとに基づいて、異常状態であるか否かを判定する異常状態判定部と、異常状態判定部にて異常状態であると判定した場合において、第１のベースライン格納部に格納された第１のベースラインと、第２のベースライン格納部に格納された第２のベースラインとの更新を行うよう制御する制御部とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によると、静電容量を計測する複数のセンサを有するタッチパネルと、複数のセンサのうち隣接するセンサ間の静電容量の差分値を第１の差分情報として抽出する第１の差分情報抽出部と、検出対象物がタッチパネルに近接または接触しない場合における、第１の差分情報抽出部にて抽出された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する第１のベースライン格納部と、第１の差分情報抽出部にて抽出された第１の差分情報と、第１のベースライン格納部に格納された第１のベースラインとに基づいて、タッチパネルに対する検出対象物の近接または接触を検出する検出部と、複数のセンサのうち所定のセンサを基準センサとし、当該基準センサと、複数のセンサのうち基準センサとは異なる他のセンサとの静電容量の差分値を第２の差分情報として抽出する第２の差分情報抽出部と、検出対象物がタッチパネルに近接または接触しない場合における、第２の差分情報抽出部にて抽出された第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する第２のベースライン格納部と、第２の差分情報抽出部にて抽出された第２の差分情報と、第２のベースライン格納部に格納された第２のベースラインとに基づいて、異常状態であるか否かを判定する異常状態判定部と、異常状態判定部にて異常状態であると判定した場合において、第１のベースライン格納部に格納された第１のベースラインと、第２のベースライン格納部に格納された第２のベースラインとの更新を行うよう制御する制御部とを備えることを特徴とするため、差動型の容量検出方式を用いた場合であっても、異常状態の判定およびベースラインの是正を正しく行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施の形態１によるタッチパネル装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１によるタッチパネルの構成を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態１によるタッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態１によるタッチしない時の第１の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態１によるタッチしない時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態１によるタッチ時の第１の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態１による第１の差分情報抽出部で計測された計測値から第１のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態１によるタッチ時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態１による第２の差分情報抽出部で計測された計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態１によるタッチ時の計測値を第１のベースラインとした場合における第１の差分情報抽出部で計測された計測値から第１のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態１によるタッチ時の計測値を第２のベースラインとした場合における第２の差分情報抽出部で計測された計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図１２】本発明の実施の形態２によるタッチパネル装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図１３】本発明の実施の形態２によるタッチパネルの構成を説明するための図である。
【図１４】本発明の実施の形態２によるタッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の実施の形態２によるタッチしない時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図１６】本発明の実施の形態２によるタッチ時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図１７】本発明の実施の形態２によるタッチ時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図１８】本発明の実施の形態２によるダミーセンサをタッチした時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値の一例を示す図である。
【図１９】本発明の実施の形態２によるダミーセンサをタッチした時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図２０】本発明の実施の形態２によるダミーセンサをタッチした時の第２の差分情報抽出部で計測された計測値から第２のベースラインを減算した結果の他の一例を示す図である。
【図２１】本発明の実施の形態３によるタッチパネルの構成を説明するための図である。
【図２２】本発明の実施の形態３によるタッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図２３】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がダミーセンサを基準センサとしてセンサＸについて計測した計測値の一例を示す図である。
【図２４】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がセンサＸ５を基準センサとして他のセンサＸについて計測した計測値の一例を示す図である。
【図２５】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がダミーセンサを基準センサとしてセンサＹについて計測した計測値の一例を示す図である。
【図２６】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がセンサＹ４を基準センサとして他のセンサＹについて計測した計測値の一例を示す図である。
【図２７】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がセンサＸについて計測した計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【図２８】本発明の実施の形態３による第２の差分情報抽出部がセンサＹについて計測した計測値から第２のベースラインを減算した結果の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の実施の形態について、図面に基づいて以下に説明する。
【００１２】
＜実施の形態１＞
まず、本発明の実施の形態１によるタッチパネル装置の構成について説明する。
【００１３】
図１は、本実施の形態１によるタッチパネル装置の構成の一例を示すブロック図である。
【００１４】
図１に示すように、タッチパネル装置は、タッチパネル１と、第１の差分情報抽出部２と、第１のベースライン格納部３と、検出部４と、第２の差分情報抽出部５と、第２のベースライン格納部６と、異常状態判定部７と、制御部８とを備えている。
【００１５】
タッチパネル１は、静電容量を計測する複数のセンサ（後述の図２に示すセンサＸ，Ｙ）を有している。
【００１６】
第１の差分情報抽出部２は、タッチパネル１の複数のセンサのうち隣接するセンサ間の静電容量の差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００１７】
第１のベースライン格納部３は、検出対象物がタッチパネル１に近接または接触しない場合における、第１の差分情報抽出部２にて抽出された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する。なお、本実施の形態１では、検出対象物としてユーザの指を想定している。また、検出対象物の近接または接触とは、ユーザの指がタッチパネル１に近接または接触する状態のことをいい、以下では近接または接触を総称して「タッチ」ともいう。
【００１８】
検出部４は、第１の差分情報抽出部２にて抽出された第１の差分情報と、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインとに基づいて、タッチパネル１に対する検出対象物の接近または接触を検出する。
【００１９】
第２の差分情報抽出部５は、タッチパネル１の複数のセンサのうち所定のセンサを基準センサとし、当該基準センサと、複数のセンサのうち基準センサとは異なる他のセンサとの静電容量の差分値を第２の差分情報として抽出する。
【００２０】
第２のベースライン格納部６は、検出対象物がタッチパネル１に近接または接触しない場合における、第２の差分情報抽出部５にて抽出された第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する。
【００２１】
異常状態判定部７は、第２の差分情報抽出部５にて抽出された第２の差分情報と、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインとに基づいて、第２のベースラインが異常状態であるか否かを判定する。
【００２２】
制御部８は、異常状態判定部７にて第２のベースラインが異常状態であると判定した場合において、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインと、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインとの更新を行うよう制御する。
【００２３】
図２は、タッチパネル１の構成を説明するための図である。図２では、投影型静電容量方式のタッチパネル１を示している。
【００２４】
図２に示すように、タッチパネル１は、水平方向の位置情報を取得するために水平方向に配置されたセンサＸ０〜Ｘ５（以下、センサＸ０〜Ｘ５を総称してセンサＸともいう）と、垂直方向の位置情報を取得するために垂直方向に配置されたセンサＹ０〜Ｙ４（以下、センサＹ０〜Ｙ４を総称して単にセンサＹともいう）と、各センサＸ，Ｙと外部との信号のやり取りを行うケーブル１０とを備えている。
【００２５】
また、各センサＸ，Ｙが配置されている領域を検出領域９とする。検出領域９の外側はタッチ入力を受け付けない領域であり、当該領域には各センサＸ，Ｙとケーブル１０とを接続するための配線が設置されている。
【００２６】
次に、タッチパネル装置の動作について、図３〜１１を用いて説明する。
【００２７】
図３は、タッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図３において、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０４はタッチパネル装置の電源投入直後等に行われる初期化動作に対応し、ステップＳ１０５以降は定常動作に対応している。
【００２８】
ステップＳ１０１において、第１の差分情報抽出部２は、タッチパネル１のセンサＸとセンサＹとのそれぞれについて隣接するセンサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００２９】
図４は、接触物がない（タッチしない）状態において、第１の差分情報抽出部２が図２に示すタッチパネル１のセンサＸを用いて計測した、隣接するセンサ間の静電容量の差分値（計測値）の一例を示す図である。図４に示すように、Ｘｍ−ｎの計測値は、センサＸｍとセンサＸｎとの静電容量の差分値を示す（例えば、図４のＸ０−１の計測値は、センサＸ０とセンサＸ１との静電容量の差分値であり、センサＸ０の静電容量値からセンサＸ１の静電容量値を減算した結果に相当する）。接触物がない場合、上記の差分値は理想条件では全て０になるが、実際には、センサと周辺物との位置関係に応じた静電容量分布の偏りがあり、隣接センサ間でも、ある程度の静電容量の差が存在している。なお、図４ではセンサＸについてのみ示したが、第１の差分情報抽出部２はセンサＹについても同様に第１の差分情報を抽出する。
【００３０】
ステップＳ１０２において、第１のベースライン格納部３は、第１の差分情報抽出部２から入力された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する。例えば、第１の差分情報抽出部２から入力された第１の差分情報をそのまま第１のベースラインとして格納してもよく、あるいは、第１の差分情報抽出部２から第１の差分情報を所定回数入力し、入力した所定回数分の第１の差分情報の平均値をとり、当該平均値を第１のベースラインとして格納してもよい。
【００３１】
ステップＳ１０３において、第２の差分情報抽出部５は、タッチパネル１のセンサＸ，Ｙのそれぞれに対して、所定の基準センサと他センサとの静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。なお、本実施の形態１では、センサＸ５を基準センサとした場合について説明する。
【００３２】
図５は、接触物がない状態において、第２の差分情報抽出部５が図２に示すタッチパネル１のセンサＸを用いて計測した、基準センサと他センサとの静電容量の差分値（計測値）の一例を示す図である。
【００３３】
図５に示すように、Ｘｍ−ｎの計測値は、センサＸｍとセンサＸｎとの静電容量の差分値を示している（例えば、図５のＸ０−５の計測値は、センサＸ０とセンサＸ５との静電容量の差分値であり、センサＸ０の静電容量値からセンサＸ５の静電容量値を減算した結果に相当する）。第２の差分情報は、理想条件では、第１の差分情報抽出部２にて抽出された第１の差分情報を積分することによって計算することできる（例えば、（Ｘ２−５）＝（Ｘ２−３）＋（Ｘ３−４）＋（Ｘ４−５））が、実際に計算で求めると、誤差が積分されて大きくなってしまい好ましくないため、直接計測して計測値を取得する。なお、図５では、センサＸについてのみ示したが、第２の差分情報抽出部５はセンサＹについても同様に第２の差分情報を抽出する。
【００３４】
ステップＳ１０４において、第２のベースライン格納部６は、第２の差分情報抽出部５から入力された第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する。例えば、第２の差分情報抽出部５から入力された第２の差分情報をそのまま第２のベースラインとして格納してもよく、あるいは、第２の差分情報抽出部５から第２の差分情報を所定回数入力し、入力した所定回数分の第２の差分情報の平均値をとり、当該平均値を第２のベースラインとして格納してもよい。
【００３５】
ステップＳ１０５において、第１の差分情報抽出部２は、ステップＳ１０１と同様に、隣接するセンサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００３６】
ステップＳ１０６において、検出部４は、ステップＳ１０５で計測して抽出された第１の差分情報から、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインを減算する。ここで、センサＸの第１のベースラインが図４であるとすると、接触物がない場合は、ステップＳ１０５で計測されたセンサＸの計測値もほぼ図４と同じ値となるため、ステップＳ１０６における減算結果は全てほぼ０となる。
【００３７】
一方、指でセンサＸ３をタッチしている時においてステップＳ１０５で計測されたセンサＸの計測値が図６であるとすると、ステップＳ１０６における減算結果は、図６の値から図４の値を減算した図７に示す値となる。図７では、センサＸの計測値から静電容量の偏りを除去した純粋な差分情報を示しており、隣接センサ間の差分値をとっているため、タッチ位置の一方には正の値が、他方には負の値が現れている。
【００３８】
ステップＳ１０７において、検出部４は、ステップＳ１０６にて得られた減算結果に基づいて、タッチパネル１に対する指によるタッチの有無と、タッチした場合におけるタッチの位置を検出する。ステップＳ１０７の処理は、差動型に対応した従来のタッチ検出方法が適用可能であり、例えば、特許文献３に記載の、差分情報を積分して各センサの接触情報を取得する方法を採用することができる。
【００３９】
ステップＳ１０８において、第２の差分情報抽出部５は、ステップＳ１０３と同様に、基準センサと他センサとの静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。
【００４０】
ステップＳ１０９において、異常状態判定部７は、ステップＳ１０８で計測して抽出された第２の差分情報から、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインを減算する。例えば、センサＸの第２のベースラインが図５に示す値であるとすると、接触物がない場合は、ステップＳ１０８で計測されたセンサＸの計測値も図５に示す値とほぼ同じ値となるため、ステップＳ１０９における減算結果はほぼ０となる。一方、指でセンサＸ３をタッチしている時においてステップＳ１０８で計測されたセンサＸの計測値が図８に示す値であるとすると、ステップＳ１０９における減算結果は、図８に示す値から図５に示す値を減算した図９に示す値となる。図９に示す値は、図７に示す値と同様に、静電容量の偏りが除去されて処理しやすいものになっている。なお、上記のステップＳ１０５〜ステップＳ１０９では、センサＸに対する処理について説明したが、同様の処理をセンサＹに対しても行うものとする。
【００４１】
ステップＳ１１０およびステップＳ１１１において、異常状態判定部７は、ステップＳ１０９において求められた減算結果に基づいて、第２のベースラインが異常状態であるか否かの判定を行う。異常状態である条件（以下、異常条件ともいう）としては、例えば、ステップＳ１０９における第２のベースラインの減算結果の中に所定の負の閾値を下回る値がある場合が挙げられ、当該条件を満たした場合に異常状態であると判定する。
【００４２】
具体的には、異常条件の閾値を−１０とした場合において、図９に示すセンサＸの値には閾値を下回る値がない。また、センサＹについても、閾値を下回る値がなければ異常状態とは判定せずに、次のデータ入力処理に移行する（すなわち、ステップＳ１０５に移行する）。一方、センサＸまたはセンサＹに閾値を下回る値があれば異常状態であると判定し、制御部８は、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインと、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインとの更新を行うよう制御する（すなわち、ステップＳ１１２に移行する）。
【００４３】
ステップＳ１１２において、第１のベースラインおよび第２のベースラインを再度作成（更新）する。更新処理としては、例えば、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０４と同様の処理を行うようにしてもよい。あるいは、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０４で作成した第１のベースライン、第２のベースラインのそれぞれに対して、新たに抽出した第１の差分情報、第２の差分情報とで加重平均を行い、当該結果を新たな第１のベースラインと第２のベースラインとして更新するようにしてもよい。なお、ステップＳ１１２における第１のベースラインおよび第２のベースラインの更新は、制御部８が行ってもよく、あるいは、制御部８による制御に基づいて第１のベースラインおよび第２のベースラインを更新する更新部（図示せず）が行うようにしてもよい。
【００４４】
ここで、ステップＳ１０１〜Ｓ１０４の処理を実行している間に、指がセンサＸ３にタッチしていた場合について説明する。この場合、センサＸについては、第１のベースライン格納部３には図６に示す差分値が第１のベースラインとして格納され、第２のベースライン格納部６には図８に示す差分値が第２のベースラインとして格納される。
【００４５】
指がタッチしていたセンサＸ３から離れた直後以降は、ステップＳ１０５にて第１の差分情報抽出部２が図４に示す差分値を第１の差分情報として抽出し、ステップＳ１０６にて図４に示す値（第１の差分情報）から図６に示す値（ここでは第１のベースライン）を減算した、図１０に示す減算結果を得る。また、ステップＳ１０８にて第２の差分情報抽出部５が図５に示す差分値を第２の差分情報として抽出し、ステップＳ１０９にて図５に示す値（第２の差分情報）から図８に示す値（第２のベースライン）を減算した、図１１に示す減算結果を得る。この結果、ステップＳ１１０の異常状態の判定で異常状態と判定され、ステップＳ１１２のベースライン更新が行われる。
【００４６】
上記より、ベースラインが異常状態である場合は、ステップＳ１０９にて得られた第２のベースラインの減算結果（図１１）に負の値が発生するため、当該負の値を参照することによって、ベースラインが異常状態であるか否かを正しく判定することができる。なお、同様の条件下において、ステップＳ１０６にて得られた第１のベースラインの減算結果（図１０）は、センサＸ３の両側に二つのタッチが発生している時の値（減算結果）に類似しているため、ベースラインが異常状態であると明確に判断することができない。
【００４７】
以上のことから、本実施の形態１によれば、タッチ検出（タッチパネル１に対する検出対象物の近接または接触の検出）は隣接センサ間の差分情報を用いて行い、異常状態の判定は事前（予め）に定めた基準センサと他センサとの差分情報を用いて行っているため、ノイズ耐性の高い差動型の容量検出方式を用いた場合であっても、多点のタッチ検出を行えるとともに、高精度な異常状態の判定行うことによってベースラインの是正を適正に行うことが可能なタッチパネル装置を実現することができる。
【００４８】
なお、本実施の形態１では、隣接センサ間の差分情報を、センサＸｍとＸｍ＋１との静電容量の差分値（センサＸｍの静電容量値からセンサＸｍ＋１の静電容量値を減算した値）とする場合を一例として説明したがこれに限らず、センサＸｍ−２およびＸｍ−１の合計の静電容量と、センサＸｍおよびＸｍ＋１の合計の静電容量との差分値を差分情報とするなど、より多くの隣接するセンサを使用してもよい。
【００４９】
また、基準センサをセンサＸ５とする場合を一例として説明したがこれに限らず、センサＸ０など他のセンサＸでもよく、あるいはセンサＹのいずれかを基準センサとしてもよい。
【００５０】
また、図３のステップＳ１１１において、異常状態判定部７が一度でも異常状態であると判定すると、ステップＳ１１２にてベースラインの更新を行う場合を一例として説明したがこれに限らず、異常状態判定部７が複数回連続して異常状態であると判定した場合にのみベースラインの更新を行うなど、異なる異常状態の判定条件であってもよい。また、ベースラインの更新は、異常判定時にのみ行うことに限らず、常に加重平均による更新を行うようにし、加重平均の重みを異常判定の結果に基づいて決定するようにしてもよい。この場合、異常状態でないと判定された場合は、温度などの環境変化に追随するために微小値だけベースラインを変更（更新）し、異常状態であると判定された場合はベースラインの値を大きく変更（更新）するといった制御を行うことが可能となる。
【００５１】
＜実施の形態２＞
まず、本発明の実施の形態２によるタッチパネル装置の構成について説明する。
【００５２】
図１２は、本実施の形態２によるタッチパネル装置の構成の一例を示す図である。なお、図１（実施の形態１）と同一または相当の部分については同一の符号を付し説明を省略する。
【００５３】
図１２に示すように、本実施の形態２によるタッチパネル装置は、基準センサに対して検出対象物が接触しているか否かを判定する基準センサ接触判定部１１を備えることを特徴としている。
【００５４】
図１３は、タッチパネル１の構成を説明するための図である。図１３に示すように、本実施の形態２によるタッチパネル１は、センサＸ，Ｙが配置されている検出領域９外にダミーセンサ１２を設けている。
【００５５】
次に、タッチパネル装置の動作について、図１４〜２０を用いて説明する。
【００５６】
図１４は、タッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図１４において、ステップＳ２０１〜ステップＳ２０４はタッチパネル装置の電源投入直後等に行われる初期化動作に対応し、ステップＳ２０５以降は定常動作に対応している。また、図１４のステップＳ２０１〜ステップＳ２０８は、図３のステップＳ１０１〜ステップＳ１０８と同様の動作を行う。
【００５７】
ステップＳ２０１において、第１の差分情報抽出部２は、隣接センサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００５８】
ステップＳ２０２において、第１のベースライン格納部３は、第１の差分情報抽出部２から入力された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する。
【００５９】
ステップＳ２０３において、第２の差分情報抽出部５は、タッチパネル１のセンサＸ，Ｙのそれぞれと、基準センサとの静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。なお、本実施の形態２では、ダミーセンサ１２を基準センサであるものとして説明する。
【００６０】
図１５は、接触物がない状態において、第２の差分情報抽出部５が図１３に示すタッチパネル１のセンサＸを用いて計測した、各センサＸとダミーセンサ１２との静電容量の差分値（計測値）の一例を示す図である。
【００６１】
図１５に示すように、ＸｍＤの計測値は、センサＸｍとダミーセンサ１２との静電容量の差分値を示している（例えば、Ｘ０Ｄの計測値は、センサＸ０とダミーセンサ１２との静電容量の差分値であり、センサＸ０の静電容量値からダミーセンサ１２の静電容量値を減算した結果に相当する）。なお、図１５では、センサＸについてのみ示したが、第２の差分情報抽出部５はセンサＹについても同様に第２の差分情報を抽出する。
【００６２】
ステップＳ２０４において、第２のベースライン格納部６は、第２の差分情報抽出部５から入力された第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する。
【００６３】
ステップＳ２０５において、第１の差分情報抽出部２は、ステップＳ２０１と同様に、隣接するセンサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００６４】
ステップＳ２０６において、検出部４は、ステップＳ２０５で計測して抽出された第１の差分情報から、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインを減算する。
【００６５】
ステップＳ２０７において、検出部４は、ステップＳ２０６にて得られた減算結果に基づいて、タッチパネル１に対する指によるタッチの有無と、タッチした場合におけるタッチの位置を検出する。
【００６６】
ステップＳ２０８において、第２の差分情報抽出部５は、ステップＳ２０３と同様に、センサＸ，Ｙのそれぞれとダミーセンサ１２との静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。
【００６７】
ステップＳ２０９において、基準センサ接触判定部１１は、ステップＳ２０８で計測して抽出された第２の差分情報から、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインを減算する。例えば、センサＸの第２のベースラインが図１５に示す値であるとし、ステップＳ２０８で計測して抽出された第２の差分情報が図１６に示す値であるとすると、センサＸの減算結果は図１７に示す値となる。
【００６８】
ステップＳ２１０およびステップＳ２１１において、基準センサ接触判定部１１は、ステップＳ２０９において求められた減算結果に基づいて、基準センサがタッチ（接触）されているか否かの判定を行う。
【００６９】
基準センサがタッチされなければ、実施の形態１のように、減算結果の中に負の値があるか否かによって異常状態を判定することができるが、基準センサがタッチされた場合は、第２のベースラインが適正であるにもかかわらず、図１９のＸ０Ｄ〜Ｘ３Ｄに示すような負の値が発生する。従って、異常状態の判定に先立って基準センサの接触判定を行い、正しく異常状態を判定することができる状況か否か（すなわち、基準センサがタッチされているか否か）を確認することがステップＳ２１０およびステップＳ２１１の処理を行う目的である。
【００７０】
ここで、図１９に示す値が生じる状況について説明する。本実施の形態２によるタッチパネル１では、センサＸ５の右隣（図１３における紙面右隣）にダミーセンサ１２が設けられているため、ダミーセンサ１２の近傍がタッチされている場合において、タッチの影響がセンサＸ５やセンサＸ４にも及び、センサＸ５やセンサＸ４の静電容量値が増加するが、ダミーセンサ１２から遠く離れた位置に設けられたセンサＸ０〜Ｘ３には影響がない。一方、ダミーセンサ１２の静電容量値は増加するため、タッチなし状態の計測値（差分値）から、Ｘ０Ｄ〜Ｘ３Ｄはダミーセンサ１２の静電容量増加分だけ減少し、Ｘ４Ｄ〜Ｘ５ＤはセンサＸ４，Ｘ５の静電容量増加分からダミーセンサ１２の静電容量増加分を引いた値だけ増加する。この結果、タッチなし状態のステップＳ２０８で計測した差分値が図１５に示す値であるとすると、ダミーセンサ１２がタッチされた場合において計測した差分値は図１８に示す値となり、ステップＳ２０９で求められる減算結果は図１９に示す値となる。図１９に示すように、変化量（減少量）がダミーセンサ１２の静電容量増加分だけであるＸ０Ｄ〜Ｘ３Ｄについては、ほぼ同じ値となることが分かる。このように同程度の負の値が多数（複数）発生している場合は、ダミーセンサ１２がタッチされている可能性が高い。
【００７１】
また、ダミーセンサ１２の近傍がタッチされている場合における減算結果の他の一例として、図２０に示す値となる場合もある。これは、ダミーセンサ１２とセンサＸ５との間を指でタッチした場合であり、図１９に示す場合よりも指がセンサＸ５に近くダミーセンサ１２から若干離れているため、全体的に図１９よりも大きな値となり、特にＸ５Ｄの値が大きい。すなわち、ダミーセンサ１２に隣接するセンサ（ここではセンサＸ５）との値が大きい場合も、ダミーセンサ１２がタッチされている可能性が高いといえる。
【００７２】
基準センサ接触判定部１１は、例えば次の二つの条件（以下、接触条件ともいう）をチェックし、いずれかの接触条件が成立する場合に基準センサがタッチされていると判定する。具体的には、ステップＳ２０９にて求められた減算結果に、最小値１３以上、かつ最小値１３に定数を加えた値１４以下（図１９参照）となったものが、所定の閾値Ｃ１以上存在する場合を接触条件１とする。すなわち、基準センサ接触判定部１１は、第２の差分情報抽出部５にて抽出された第２の差分情報と、第２のベースライン格納部６にて格納された第２のベースラインとの差分値が、所定の範囲内に所定のセンサ数以上ある場合において、基準センサに対してタッチされている（基準センサに対して検出対象物が接触している）と判定する。
【００７３】
また、ステップＳ２０９にて求められた減算結果における検定用センサの値が、所定の閾値Ｃ２以上である場合を接触条件２とする。ここで、検定用センサとは、基準センサに隣接するセンサを含むセンサのことであり、本実施の形態２ではセンサＸ５（図１３参照）が該当する。すなわち、基準センサ接触判定部１１は、検定用センサと基準センサとの静電容量の差分値に基づいて、基準センサに対して検出対象物（ここではユーザの指）が接触しているか否かを判定する。
【００７４】
例えば、上記の接触条件１の閾値Ｃ１を４、接触条件２の閾値Ｃ２を１０として図１９の場合に適用すると、Ｘ０Ｄ〜Ｘ３Ｄの４個の値が接触条件１に合致するため、基準センサ接触判定部１１は、基準センサに接触あり（タッチされている）と判定する。なお、図２０の場合は、Ｘ５Ｄの値が閾値Ｃ２（＝１０）よりも大きければ接触条件２に合致する。
【００７５】
基準センサ接触判定部１１がタッチしていると判定した場合はステップＳ２０５に移行し、ステップＳ２１２以降の処理（異常状態の判定）を行わない。一方、基準センサ接触判定部１１がタッチしていないと判定した場合はステップＳ２１２に移行する。
【００７６】
ステップＳ２１２〜ステップＳ２１４では、図３のステップＳ１１０〜ステップＳ１１２と同様の処理を行う。すなわち、ステップＳ２１２にて異常状態判定部７が異常状態の判定を行い、異常状態であると判定されると（ステップＳ２１３のＹＥＳ）、ステップＳ２１４にてベースライン（第１のベースラインおよび第２のベースライン）を更新する。
【００７７】
以上のことから、本実施の形態２によれば、検出領域９外に配置したダミーセンサ１２を基準センサとすることによって、基準センサがタッチされることによる異常判定の誤りを回避することができる。また、第２の差分情報に基づいて基準センサに対する接触の有無を判定することによって、基準センサがタッチされた場合でも、異常状態との誤判定を抑止することができる。
【００７８】
なお、本実施の形態２では、ダミーセンサ１２をセンサＸ５の隣に配置する場合を一例として説明したがこれに限らず、検出領域９外であればどこにダミーセンサ１２を配置してもよく、例えばセンサＸ０の左側、センサＹ０の上側、あるいはセンサＹ４の下側に配置してもよい。
【００７９】
また、ダミーセンサ１２が細長い形状である場合を一例として説明したがこれに限らず、ダミーセンサ１２は丸い形状など他の形状でもよく、一定の容量を持つコンデンサのような電子部品であってもよい。
【００８０】
また、検定用センサは基準センサに隣接する１つのセンサとする場合について説明したがこれに限らず、複数のセンサ（例えば、センサＸ４とセンサＸ５）を検定用センサとしてもよい。
【００８１】
また、基準センサに対する接触を判定する条件の一例として条件１，２を挙げたがこれに限らず、他の条件を用いて接触を判定してもよい。
【００８２】
＜実施の形態３＞
まず、本発明の実施の形態３によるタッチパネル装置の構成について説明する。
【００８３】
図２１は、本実施の形態３によるタッチパネル１の構成を説明するための図である。
【００８４】
図２１に示すように、本実施の形態３によるタッチパネル装置は、実施の形態２のタッチパネル１（図１３参照）に対してセンサＸ，Ｙが配置されている検出領域９外にダミーセンサ１５をさらに設けた構成となっている。その他の構成は、実施の形態２における図１２，１３と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００８５】
次に、タッチパネル装置の動作について、図２２〜２８を用いて説明する。
【００８６】
図２２は、タッチパネル装置の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図２２において、ステップＳ３０１〜ステップＳ３０６はタッチパネル装置の電源投入直後等に行われる初期動作に対応し、ステップＳ３０７以降は定常動作に対応している。
【００８７】
ステップＳ３０１において、異常判定実行フラグを１に初期化する。異常判定実行フラグは、異常判定に関連する処理を実行するか否かを決定するものであり、異常判定実行フラグが０の場合は異常判定に関連する処理を実行しないものとする。
【００８８】
ステップＳ３０２において、第１の差分情報抽出部２は、図３のステップＳ１０１と同様に、隣接センサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００８９】
ステップＳ３０３において、図３のステップＳ１０２と同様に、第１のベースライン格納部３は、第１の差分情報抽出部２から入力された第１の差分情報を第１のベースラインとして格納する。
【００９０】
ステップＳ３０４において、第２の差分情報抽出部５は、基準センサを決定する。
【００９１】
一般に、計測器は計測可能な範囲を有しており、当該範囲を超えた場合は正しく計測することができない。このことは、第２の差分情報抽出部５についても同様であり、ステップＳ３０４における処理の目的は、第２の差分情報抽出部５によって抽出される第２の差分情報が計測可能な範囲となるように、適切な基準センサを選択することである。
【００９２】
本実施の形態３では、センサＸについてはダミーセンサ１２またはセンサＸ５のいずれかを基準センサとして選択し、センサＹについてはダミーセンサ１５またはセンサＹ４のいずれかを基準センサとして選択する場合を一例として説明する。これは、第２の差分情報抽出部５が、複数のセンサのうち、タッチパネル１の水平方向に配置されるセンサ群であるセンサＸと、タッチパネル１の垂直方向に配置されるセンサ群であるセンサＹとで異なる基準センサを用いて第２の差分情報を抽出する例でもある。
【００９３】
具体的には、ステップＳ３０４において、第２の差分情報抽出部５は、対象となるセンサ（基準センサの候補となる候補センサ）をそれぞれ基準センサとして第２の差分情報を抽出し、抽出した第２の差分情報の値が−５０〜５０の範囲内に収まっている方のセンサを基準センサとして選択し、対象となるセンサのいずれもが範囲内に収まっている場合はダミーセンサを基準センサとして選択するものとする。すなわち、第２の差分情報抽出部５は、複数のセンサから少なくとも２以上のセンサを基準センサの候補である候補センサとして選択し、当該候補センサと、複数のセンサのうち候補センサとは異なる他のセンサとの静電容量の差分値を求め、当該差分値に基づいて候補センサから基準センサを決定する。
【００９４】
例えば、センサＸについて、ダミーセンサ１２を基準センサとしたときの計測値（第２の差分情報）が図２３に示す値であり、センサＸ５を基準センサとしたときの計測値が図２４に示す値である場合、ダミーセンサ１２およびセンサＸ５のいずれもが範囲内に収まっているため、ダミーセンサ１２を基準センサとして選択する。一方、センサＹについて、ダミーセンサ１５を基準センサとしたときの計測値が図２５に示す値であり、センサＹ４を基準センサとしたときの計測値が図２６に示す値である場合、範囲内に収まっているのはセンサＹ４（図２６参照）のみであるため、センサＹ４を基準センサとして選択する。
【００９５】
ステップＳ３０５において、第２の差分情報抽出部５は、センサＸについてはダミーセンサ１２を、センサＹについてはセンサＹ４を基準センサとして、各センサＸ，Ｙとの静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。
【００９６】
ステップＳ３０６において、第２のベースライン格納部６は、図３のステップＳ１０４と同様に、第２の差分情報抽出部５から入力されたセンサＸとセンサＹについての第２の差分情報を第２のベースラインとして格納する。
【００９７】
ステップＳ３０７において、第１の差分情報抽出部２は、図３のステップＳ１０５と同様に、隣接するセンサ間の静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第１の差分情報として抽出する。
【００９８】
ステップＳ３０８において、検出部４は、ステップＳ３０７で計測して抽出された第１の差分情報から、第１のベースライン格納部３に格納された第１のベースラインを減算する。
【００９９】
ステップＳ３０９において、検出部４は、ステップＳ３０８にて得られた減算結果に基づいて、タッチパネル１に対する指によるタッチの有無と、タッチした場合におけるタッチの位置を検出する。
【０１００】
ステップＳ３１０において、異常判定実行フラグが１であるか否かを判定する。異常判定実行フラグが１である場合はステップＳ３１１に移行する。一方、異常判定実行フラグが１でない場合はステップＳ３０８に移行する。なお、ステップＳ３１０の処理は、制御部８が行うようにしてもよい。
【０１０１】
ステップＳ３１１およびステップＳ３１２において、制御部８は、タッチパネル装置が正常動作状態であるか否かの確認処理（正常動作確認処理）を行う。
【０１０２】
タッチパネル装置の異常状態は、タッチパネル装置を起動した直後の初期化時（ステップＳ３０１〜ステップＳ３０６における第１のベースラインおよび第２のベースライン作成時）に、タッチパネル１に対してタッチされていることに起因する。すなわち、タッチパネル装置が異常状態でないことが確実に分かれば、それ以降に異常判定の処理を行うことは無駄であり、また、誤って第１のベースラインおよび第２のベースラインを更新してしまうなどの可能性もある。
【０１０３】
従って、本実施の形態３では、タッチパネル装置の正常動作が確認された場合は（ステップＳ３１２のＹｅｓ）、異常判定実行フラグを０にし（ステップＳ３１３）、以後、異常判定の処理を行わないようにしている。一方、タッチパネル装置の正常動作が確認されない場合は（ステップＳ３１２のＮｏ）、ステップＳ３１４以降の異常判定の処理を実施する。
【０１０４】
ここで、ステップＳ３１１の正常動作確認処理では、例えば、検出部４が別途保持しているタッチ検出結果の履歴情報を参照し、過去に所定時間以上の１点タッチが発生し、その直後にタッチなし状態が所定時間以上継続していれば、タッチパネル装置が正常動作であると判定する。一方、タッチパネル装置が異常状態の場合は、複数点のタッチを短時間で何度も誤検出したり、誤ったタッチ状態が継続したりという現象になる。従って、１点タッチ状態からタッチなし状態への確実な状態の変化は、タッチパネル装置の正常動作を確認する一手法である。
【０１０５】
ステップＳ３１４において、第２の差分情報抽出部５は、ステップＳ３０５と同様に、センサＸ，Ｙのそれぞれと基準センサとの静電容量の差分値を計測し、計測した差分値を第２の差分情報として抽出する。
【０１０６】
ステップＳ３１５において、基準センサ接触判定部１１は、図１４のステップＳ２０９と同様に、ステップＳ３１４で計測して抽出された第２の差分情報から、第２のベースライン格納部６に格納された第２のベースラインを減算する。
【０１０７】
ステップＳ３１６において、基準センサ接触判定部１１は、図１４のステップＳ２１０と同様に、ステップＳ３１５にて求められた減算結果に基づいて、基準センサがタッチ（接触）されているか否かの判定を行う。
【０１０８】
なお、本実施の形態３では、センサＸの基準センサ（ダミーセンサ１２）に最も近いセンサＸ５をセンサＸの検定用センサとし、センサＹの基準センサ（センサＹ４）に最も近いセンサＹ３をセンサＹの検定用センサとする。従って、例えば、ステップＳ３１５にて求められたセンサＸについての減算結果が図２７に示す値、センサＹについての減算結果が図２８に示す値である場合において、基準センサ接触判定部１１による接触判定結果は、センサＸについては接触なしと判定され、センサＹについてはＹ３−４の値が大きく上述（実施の形態２）の接触条件２に該当するため接触ありと判定される。
【０１０９】
ここで、実施の形態２では、接触判定結果に従って異常状態の判定処理を行うか否かを決定したが（図１４のステップＳ２１０，ステップＳ２１１）、本実施の形態３では、接触判定結果に関わらず異常状態の判定処理を行い（ステップＳ３１７）、接触判定結果および異常状態の判定結果に基づいて最終的に異常状態であるか否かを決定する（ステップＳ３１８）。
【０１１０】
ステップＳ３１７において、異常状態判定部７は、センサＸとセンサＹのそれぞれについて異常状態の判定を行う。例えば、図２７に示すセンサＸの減算結果については上述（実施の形態１に記載）の異常条件に合致するため異常状態であると判定し、図２８に示すセンサＹの減算結果については異常状態でないと判定する。
【０１１１】
ステップＳ３１８において、異常状態判定部７は、ステップＳ３１６にて判定された接触判定結果と、ステップＳ３１７にて判定された異常判定結果とに基づいて異常状態か否かを決定する。例えば、センサＸとセンサＹのいずれかが、「接触なし」かつ「異常あり」の判定結果であれば、異常状態であるとみなす。なお、図２７および図２８の例では、図２７に示すセンサＸが「接触なし」かつ「異常あり」となるため、異常状態であると決定される。
【０１１２】
ステップＳ３１９において、ステップＳ３１８にて異常状態であると決定された場合は（ステップＳ３１８のＹｅｓ）、図３のステップＳ１１２と同様に、第１のベースラインおよび第２のベースラインの更新を行う。
【０１１３】
以上のことから、本実施の形態３によれば、初期化動作中の計測値に基づいて最適な基準センサを選択するようにしたので（図２２のステップＳ３０４）、タッチパネル装置の設置場所が変わるなど、周辺環境の変化に影響されることなく異常状態を判定することができる。また、センサＸとセンサＹとのそれぞれに対して接触判定および異常判定を行い、両判定結果に基づいて異常状態の有無を決定するため、より高精度な決定が可能となる。さらに、タッチパネル装置が正常動作状態であると判定した後は、異常状態の判定を行わないようにしたので、全体的な処理時間を低減させるととともに、誤判定の可能性を最小限に抑える効果が得られる。
【０１１４】
なお、本実施の形態３では、基準センサの選択を初期化動作中に実施する場合（図２２のステップＳ３０５）を一例として説明したがこれに限らず、タッチパネル装置の調整作業時など、オペレータから実行を指示された時にだけ実施するようにしてもよい。
【０１１５】
また、基準センサの選択対象（候補センサ）を、センサＸについてはダミーセンサ１２およびセンサＸ５、センサＹについてはダミーセンサ１５およびセンサＹ４としたが、さらにセンサＸ０やセンサＹ０を加えるなど、選択の幅を広げてもよい。
【０１１６】
また、基準センサの選択において、ダミーセンサ１２，１５と、センサＸ，Ｙのうちの１つのセンサとをそれぞれ候補センサとして第２の差分情報を抽出し、抽出した第２の差分情報の値が所定範囲に収まっている方を基準センサとして選択する場合を一例として説明したがこれに限らず、例えば、第２の差分情報の値の「最大値−最小値」の小さい方を基準センサとして選択するなど、他の選択方法であってもよい。
【０１１７】
また、タッチパネル装置の正常動作を、過去所定時間以上の１点タッチに続く、所定時間以上のタッチなし状態で判断したがこれに限らず、タッチまたはタッチなしの複数回の遷移など、正常動作と見なせる他の動作としてもよい。
【０１１８】
なお、実施の形態１〜３では、タッチパネル１の検出領域９内に、センサＸが６個、センサＹが５個設けている場合を一例として説明したがこれに限らず、当該個数より多く、あるいは少なくしてもよい。
【０１１９】
また、ダミーセンサを、Ｘセンサに隣接して最大１個、Ｙセンサに隣接して最大１個を配置する場合を一例として説明したがこれに限らず、より多くのセンサを異なる位置に配置して選ぶようにしてもよく、センサＸに隣接するダミーセンサをセンサＹの基準センサとし、センサＹに隣接するダミーセンサをセンサＸの基準センサとしてもよい。
【０１２０】
また、異常状態の判定を、センサＸとセンサＹの両方を使用して実施する場合を一例として説明したがこれに限らず、センサＸとセンサＹのいずれか一方を使用するようにしてもよい。
【０１２１】
また、第１の差分情報抽出部２、検出部４、第２の差分情報抽出部５、異常状態判定部７、制御部８、および基準センサ接触判定部１１の各々は、ハードウェア（例えば、電気信号に対し特定の演算あるいは処理を行うように構成された演算処理回路等）として構成されていてもよし、ソフトウェアに基づくＣＰＵを用いたプログラム処理を実行することによって実現されるようにしてもよいし、両者を混在させてもよい。
【０１２２】
また、第１のベースライン格納部３および第２のベースライン格納部６は、例えば半導体メモリやレジスタなどによって構成されていてもよい。
【０１２３】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
【符号の説明】
【０１２４】
１  タッチパネル、２  第１の差分情報抽出部、３  第１のベースライン格納部、４  検出部、５  第２の差分情報抽出部、６  第２のベースライン格納部、７  異常状態判定部、８  制御部、９  検出領域、１０  ケーブル、１１  基準センサ接触判定部、１２  ダミーセンサ、１３  最小値、１４  最小値１３に定数を加えた値、１５  ダミーセンサ。
【図１】
2014106829.tif 000003
【図２】
2014106829.tif 000004
【図３】
2014106829.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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