(57)【要約】【課題】  それぞれの温調ブロックには温度勾配に個体差があり、この個体差によって、検体の検査完了時間に差が生じる。これにより、投入順に検査が完了しない。検体毎に検査完了時間が異なるので次検体の架設可能時間が異なり、スケジュールが立てにくい。【解決手段】  それぞれの温調ブロックに設置されている温度調整装置の温度勾配を出力レンジ内の最大、最小値を取り、標準温度勾配を満たす出力電圧を求め、それぞれの温調ブロック間の個体差を解消する。温調ブロックの温度調整調整能力の個体差を温度勾配の調整により解消し、検査完了時間の統一により、検体の投入順と排出順の一致、次検体投入可能予測時間による簡易なスケジューリングを実現する。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＰＣＲ法によって反応液に含まれる核酸を増幅し検査する核酸検査装置において、反応液を保持する複数の温調ブロックの温度制御能力を表す温度勾配が、一定の温度勾配を満たさない場合、使用不可能とし、検査に使用しない機能を有する核酸検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の核酸検査装置において、温調ブロックの温度勾配を温調ブロックに搭載された温度調整装置の能力範囲内において、任意の温度勾配に調整する機能を有する核酸検査装置。
【請求項３】
請求項２に記載の核酸検査装置において、前記任意の温度勾配に調整する機能は、複数の温調ブロック毎に温度調整装置に対する出力電圧を調整することにより異なる温度勾配を個体差なく、一定にする事を特徴とする核酸検査装置。
【請求項４】
請求項３に記載の核酸検査装置において、前記温度勾配を一定にする機能について、これを利用するかしないかを切り替える事ができる機能を有する核酸検査装置。
【請求項５】
請求項３に記載の核酸検査装置において、個体差なく温度勾配を一定に調整された複数の温調ブロックを使用する事によって、どの温調ブロックを使っても、検査完了時間が一定となり、次検体の投入時刻を予測して表示する事を特徴とする核酸検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、核酸検査装置に関する。例えば、生体由来の検体を対象とする核酸検査装置、その温度調整装置の温度勾配制御による効率向上に関する。
【背景技術】
【０００２】
生体由来の検体中に含まれる核酸の検査では、核酸増幅技術が用いられる。核酸増幅技術には、例えばポリメラーゼ連鎖反応（Polymerase Chain Reaction：以下「PCR」という）法がある。PCR法は、検体と試薬を混合した反応液の温度を予め定めた条件に従って制御し、目的とする塩基配列を特異的に増幅することにより、微量の核酸を高感度で検出する。核酸増幅法は、測定項目（増幅対象の塩基配列）に応じ、使用する試薬、設定温度、検査時間などの様々な条件（プロトコル）が異なる。
【０００３】
特許文献１には、複数の温度調整機能付きブロック（以下「温調ブロック」という）を用い、異なる分析項目を並列に分析できる分析装置が記載されている。複数の温調ブロックは、円板形状に形成された保持具ベースの外周に沿って配置され、各温調ブロックは反応液を収容した反応容器を保持する。各温調ブロックには、個別に温度制御可能な温度調整装置が配置されている。この温度調整装置の制御を通じ、特許文献１に記載の分析装置は、各度ブロックに対応する各反応液の反応温度を個別に調整する。すなわち、特許文献１の分析装置は、各温調ブロックの温度及び温度変化のタイミングを、他の温調ブロックとは独立に制御することができる。この仕組みにより、特許文献１の分析装置は、測定項目の異なる複数種類の検体を並列的に処理することができ、しかも、ある検体の処理の実行中に別の検体の処理を開始することもできる。なお、温度調整装置は、例えばペルチェ素子で構成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−２３４６３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
複数の検体は、投入順に複数ある温調ブロックのいずれかに架設され検査が行われる。この時、複数の温調ブロックにはそれぞれ温度調整能力に個体差がある。この個体差によって、ＰＣＲ法による核酸増幅の処理時間に差が生じる。この差により、検査完了も差が生じる為、結果が検体投入順に出力されるとは限らない。結果出力順が投入順でない場合、結果出力された検体が何番目に投入された検体か確認する必要がある。
【０００６】
上記、温度調整能力の個体差は、ＰＣＲ法におていて、１サイクル中に行われる３段階の温度変化反応（熱変性、アリーニング、伸長）で、各段階の温度と維持時間が満たされていても、反応温度への到達時間が差が発生するため、測定条件が全く同一にはならない。
【０００７】
結果出力が検体の投入順ではなく、架設された温調ブロックの温度調整能力によるので、投入可能予測時間と一致しない。この為、次検体の準備する為のスケジュールを行いづらい。
【０００８】
そこで、本発明は、温調ブロック間の個体差を無くす為、温調ブロックの温度勾配を一定に管理し、各温調ブロックの温度調整能力を一定にする方法を提供する。
【０００９】
さらに、ユーザによる施設の使用条件に応じて、適切なモードをユーザが選択できるようにする。具体的には、一番能力が低い温調ブロックの温度勾配に合わせ、どの温調ブロックの温度勾配も一定となる様にする場合、、装置全体の検体の処理数が低下する可能性がある。そこで、温度勾配を一定にすることにより、測定条件と検査時間を一定にするモードと、処理能力を優先するモードをユーザが施設の使用条件により選択できるようにする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
複数検査する検体の測定条件と検査時間を同一にするため、温調ブロック毎に温度調整装置に対する出力電圧値を調整する事により、温調ブロック毎に事なる温度勾配を個体差なく一定にする機能を有する。画面には、検体の検査終了予測時刻の表示と、温度勾配一定ＯＮチェックボックスを配置する。このチェックボックスによって、測定条件と検査時間を一定にするモードと、処理能力を優先するモードを選択する事が可能となる。
【発明の効果】
【００１１】
複数の温調ブロックの温度勾配を一定とした事で、検体がどの温調ブロックに架設されても核酸増幅処理の終了時間に差が生じなくなる。この為、検体は、投入順に出力される様になるので、検査結果の確認がしやすくなり、管理の効率化につながる。
【００１２】
温調ブロックの温度勾配を一定とした事で、ＰＣＲ法において、３段階の温度変化反応を行う際の各段階の温度への到達時間が一定となり、測定条件が同一となる。
【００１３】
投入された検体の結果出力時間が一定となり、次検体の投入可能予測時間とおりに結果出力されるので、次検体の投入スケジュールが立てやすい。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】核酸検査装置の全体構成を概略的に示す図。
【図２】核酸増幅装置の概略構成を示す上面図。
【図３】温度制御プロトコルの一例を概念的に説明する図。
【図４】温調ブロックの温度制御能力の違いによる検査時間の違いを説明する図。
【図５】温調ブロックの温度勾配調整で調整時の出力電圧範囲と標準温度勾配から調整出力電圧を求める図。
【図６】温調ブロックの温度勾配調整で最大出力電圧が標準温度勾配を満たせず、使用不可となる図。
【図７】検査完了予測時間と標準温度勾配調整機能選択を表示する画面を示す図。
【図８】温度勾配調整と使用不可判定の処理を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。なお、本発明の実施態様は、後述する形態例に限定されるものではなく、その技術思想の範囲において、種々の変形が可能である。
【００１６】
［核酸検査装置の全体構成］
図１に、本実施形態に係る核酸検査装置１００の全体構成の概略構成を示す。図１に示す核酸検査装置１００には、増幅処理対象となる核酸を含む検体が収容された複数のサンプル容器１０１と、複数のサンプル容器１０１が収納されたサンプル容器ラック１０２と、検体に加えるための種々の試薬が収容された複数の試薬容器１０３と、複数の試薬容器１０３が収納された試薬容器ラック１０４と、検体と試薬を混合するための反応容器１０５と、未使用の反応容器１０５が複数収容された反応容器ラック１０６と、未使用の反応容器１０５を載置し、サンプル容器１０１及び試薬容器１０３のそれぞれから反応容器１０５に検体及び試薬を分注する反応液調整ポジション１０７と、検体と試薬の混合液である反応液が収容された反応容器１０５を蓋部材（図示せず）により密閉する閉栓ユニット１０８と、密閉された反応容器１０５に収容された反応液を撹拌する撹拌ユニット１０９とが設けられている。
【００１７】
また、核酸検査装置１００には、Ｘ軸方向（図１の左右方向）に延在するよう設けられたロボットアームＸ軸１１０と、Ｙ軸方向（図１の上下方向）に延在するよう配置され、ロボットアームＸ軸１１０にＸ軸方向に対して移動可能に配置されたロボットアームＹ軸１１１とを有するロボットアーム装置１１２と、ロボットアームＹ軸１１１にＹ軸方向に移動可能に設けられ、反応容器１０５を把持して核酸検査装置１００の各部に搬送するグリッパユニット１１３と、ロボットアームＹ軸１１１にＹ軸方向に移動可能に設けられ、サンプル容器１０１の検体や試薬容器１０３の試薬を吸引し、反応液調整ポジション１０７に載置された反応容器１０５に吐出する（分注する）分注ユニット１１４と、分注ユニット１１４の検体や試薬と接触する部位に装着されるノズルチップ１１５と、未使用のノズルチップ１１５が複数収容されたノズルチップラック１１６と、反応容器１０５に収容された反応液に核酸増幅処理や蛍光検出などを施す核酸増幅装置１と、使用済みのノズルチップ１１５や使用済み（検査済み）の反応容器１０５を破棄する廃棄ボックス１１７と、キーボートやマウス等の入力装置１１８や液晶モニタ等の表示装置１１９を備え、核酸増幅装置１を含む核酸増幅装置１００の全体動作を制御と制御内容と結果を記録する制御装置１２０とが備えられている。
【００１８】
各サンプル容器１０１は、収容された検体毎にバーコード等の識別情報により管理されており、サンプル容器ラック１０２の各位置に割り当てられた座標等の位置情報により管理されている。同様に、各試薬容器１０３は、収容された試薬毎にバーコード等の識別情報により管理されており、試薬容器ラック１０４の各位置に割り当てられた座標等の位置情報により管理されている。これらの識別情報や位置情報は、予め制御装置１２０に登録され管理される。また、各反応容器１０５も識別情報や位置情報により同様に管理されている。
【００１９】
図２に、核酸増幅装置１をその上方から見た構成を示す。核酸増幅装置１には、保持具３が設けられている。保持具３は、円板形状の保持具ベース４と、保持具ベース４の外周に沿って配置される複数の温調ブロック１０（図２の場合、１６個）とを有している。温調ブロック１０には、反応容器１０５を保持可能な少なくとも１つ（図１の場合１つ）の架設ポジション１２が設けられている。保持具ベース４は、その回転軸を中心に周方向に回転可能に保持具３に取り付けられている。保持具ベース４は、保持具３との間に配置したステッピングモータ（図示せず）により回転駆動される。保持具ベース４と温調ブロック１０は、例えばアルミニウム、銅、又は各種合金などの熱伝導体により形成される。温調ブロック１０は保持具ベース４と一体的に形成される。保持具ベース４の外周に沿って配列される複数の温調ブロック１０は、保持具ベース４の外周から中心方向に延在する切り欠き部１６により互いに分離されている。このように、隣接する温調ブロック１０の間には、空間が設けられている。この空間により、温調ブロック間の高い断熱能力が実現される。また、温度調整装置としてのペルチェ素子１７と、架設ポジション１２の近傍の温度を検出することにより反応容器１０５内の反応液の温度を検出する温度センサ１５は、温調ブロック１０毎に備えられている。ペルチェ素子１７は、熱交換が実行される２面のうちの一方を温調ブロック１０に密着させ、もう一方の面を保持具ベース４に密着させるように取り付けられる。
【００２０】
保持具ベース４の中心部には、温度調整装置としてのペルチェ素子１８、その近傍の温度を検出する温度センサ１５ａ、ペルチェ素子１８に接続された放熱フィン（不図示）、放熱フィンに送風するファン４０が設けられている。ペルチェ素子１８により保持具ベース４の温度を一定（例えば４０℃）に保つことができる。このため、温調ブロック１０のペルチェ素子１７の放熱と吸熱の効率を向上することができる。核酸増幅手法の１つであるＰＣＲ法では、温調ブロック１０における温度上昇と下降とで規定される温度サイクルを、反応容器１０５に対して繰り返し付加する。この際、保持具ベース４を適温に設定することにより、温度の変化速度を向上させ、上昇速度と下降速度のバランスを制御することができる。
【００２１】
さらに、反応容器１０５に収容された反応液の蛍光検出を行う少なくとも１つ（図２の場合４つ）の蛍光検出器６と、核酸増幅器１の全体を覆うカバー７（図１参照）とを備えている。カバー７は、保持具３と共に温調ブロック１０及び蛍光検出器６を覆うことにより、核酸増幅装置１の蛍光検出部６への外光の入射を抑制する遮光、又は、核酸増幅装置１の内部（カバー７の内部）の温度を保持する保温に使用される。カバー７には、開閉可能なゲート７ａが少なくとも１つ（図１の場合１つ）設けられている。ゲート７ａを介して、カバー７の内外（すなわち、核酸増幅装置１の内外）で反応容器１０５が授受される。
【００２２】
蛍光検出器６は、温調ブロック１０の架設ポジション１２に保持された反応容器１０５の下部（露出部分）に励起光を照射するための励起光源（不図示）と、反応液からの蛍光を検出する検出素子（不図示）とを有している。蛍光検出器６は、保持具ベース４の回転駆動によって同一円周上を移動する温調ブロック１０の動線の外周に沿って並べて配置されている。保持具ベース４を回転させることにより、温調ブロック１０で保持された反応容器１０５が検出位置を通過する。これにより、温調ブロック１０で保持された反応容器１０５の蛍光検出を行う。反応容器１０５に収容された反応液においては、試薬によって増幅対象となる塩基配列が蛍光標識されている。このため、励起光を反応容器１０５の検出位置を通過させることにより蛍光検出を行う。反応容器１０５に収容された反応液は、試薬により増幅対象となる塩基配列が蛍光標識されている。従って、励起光源から反応容器１０５に励起光を照射し、その際に生じる反応液からの蛍光を蛍光検出器６で検出すると、反応液に含まれる増幅対象である塩基配列を経時的に定量することができる。また、複数の蛍光検出器６は、互いに独立的に反応容器１０５内の反応液の検出又は測定を行う。検出結果は、制御装置１２０に送信される。励起光源としては、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）、ガスレーザ、半導体レーザ、キセノンランプ、ハロゲンランプが用いられる。また、検出素子としては、フォトダイオード、フォトマルチプライヤー、ＣＣＤ等が用いられる。
【００２３】
制御装置１２０は、核酸検査装置１００の全体動作を制御する。制御装置１２０の基本構成はコンピュータである。従って、制御装置１２０は、不図示のＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、外部記憶装置等の構成を有している。制御装置１２０は、入力装置１１８により設定された測定項目のプロトコルに基づいて、予め記憶部（図示せず）に記憶された各種ソフトウェアを実行して核酸増幅処理や蛍光検出を行い、蛍光検出結果などの分析結果や核酸検査装置１００の稼働状況、温度センサ１５によって測定された温度勾配情報などを記憶部に記憶し、又は表示装置１１９に表示する。
【００２４】
核酸検査装置１００を構成する核酸増幅装置１において実行される核酸増幅処理においては、その測定項目によって決まるプロトコルに定められた準備を施した検体（反応容器１０５に収容された反応液）に対して、プロトコルに定められた温度制御を適用し、目的とする塩基配列を選択的に増幅させる。
【００２５】
なお、本実施形態においては、温調ブロック１０の架設ポジション１２に保持された反応容器１０５の下方から励起光を照射し、蛍光を検出する構成を採用したが、これに限らず、反応容器１０５の側方、又は上方から励起光の照射及び蛍光の検出を行ってもよく、さらに反応容器１０５の下方、上方、側方のいずれかから励起光を照射し、励起光の照射方向とは異なる方向で蛍光を検出する方式を採用してもよい。
【００２６】
また、蛍光検出器６、温調ブロック１０、及びゲート７ａの数は、本実施形態で説明する数に限定されるものではなく、必要に応じて数を調整してもよい。
【００２７】
また、反応容器１０５の架設処理は、ロボットアーム装置１１２に備わっているグリッパユニット１１３によって、撹拌ユニット１０９上の反応容器１０５を把持し、ゲート７ａを通過させて、核酸増幅装置１の温調ブロック１０上の架設ポジション１２に架設されることにより行われる。さらに、反応容器１０５が温調ブロック１０に架設された後、ペルチェ素子１７により増幅反応のための温度制御が行われる。ただし、架設される前においても、温調ブロック１０はペルチェ素子１７により増幅反応前の温度制御（プレヒート）が行われる。これ以降に示される反応容器１０５の架設処理、温度制御については、同様に行われる。
【００２８】
［温度制御プロトコル］
図３に、反応容器１０５内の反応液を核酸増幅する際に用いられる温度制御プロトコルの一例を示す。なお、反応容器１０５内の反応液の温度調整は、前述したように、温調ブロック１０に配置される温度調整装置としてのペルチェ素子１７の温度制御を通じて実現される。
【００２９】
・反応液の温度を温度Ｔ２００に変化させ、反応液の温度を時間ｔ２００の間、保持する。これは、初回のみ行う熱変性。
・１段階目に温度Ｔ２００で熱変性が行われ、これは時間ｔ２０１の間維持される。２段階目に、温度Ｔ２０１でアリーニングが行われ、これは時間ｔ２０２の間維持される。３段階目に、温度Ｔ２０２で伸長が行われ、これは時間ｔ２０３の間維持される。この３段階の温度変化反応が１単位の処理となる。
・温度制御プロトコルでは、規定された回数、サイクルＣ２００を繰り返す。勿論、前述した温度サイクル以外に温度制御プロトコルに規定サイクルが有る場合は、上記サイクルに倣い、温度及び時間を設定する。
【００３０】
［増幅検出に要する時間］
ＰＣＲ温度サイクルを用いた検査に要する時間は、以下の要因の影響を受ける。
【００３１】
・温度指定値・保持時間
図３の場合、温度指定値は温度Ｔ２００、Ｔ２０１、Ｔ２０２の３つである。この３つの異なる温度変化反応を行う。各温度指定値における保持時間は、時間ｔ２０１、ｔ２０２、ｔ２０３である。
【００３２】
・検出サイクル数
温度指定値と保持時間で与えられる１サイクルを繰り返す回数である。図３の場合、サイクルＣ２００がＮ１回繰り返えされる。
【００３３】
・予備温調時間
増幅検出時の最初と最後に、時間ｔ２００が熱変性温度まで上昇する為の準備として、時間ｔ２０４が伸長の延長を目的として付加される。
【００３４】
[温調ブロックの個体差]
図４に、同じ温度制御プロトコルを実行する場合でも、温調ブロック１０の温度制御能力の違いが検査時間にどのように影響するかを示す。図中上段に示すグラフＡは、温度制御能力の高い温調ブロック１０を用いる場合の反応液の温度変化である。一方、図中下段に示すグラフＢは、温度制御能力が低い温調ブロック１０を用いる場合の反応液の温度変化である。図４に示すように、同じ温度制御プロトコルを実行する場合、熱変性時間ｔ２０１、アリーニング時間ｔ２０２、伸長時間ｔ２０３の温度変化反応時の維持時間に変化がなくても、各段階への到達する為の温度勾配に違いがあり、この温度勾配の差が１サイクルの実行時間に差となって現われる。これは、図４に示すように、温度制御能力の高い温調ブロック１０を用いる場合の１サイクル時間ｔ３００は、温度制御能力が低い温調ブロック１０を用いる場合の１サイクル時間ｔ３０１より短くなる。すなわち、温度調整能力の差が、時間差ｔ３０２となる。検査完了時の時間差は、この時間差ｔ３０２に温度サイクル数を乗じたものとなる。
【００３５】
［温度勾配の調整］
図５に温度勾配の調整を示す。温調ブロックの温度調整装置の出力レンジＲ４００の範囲において、最小出力電圧ｖ４００時の温度勾配ｔ４００を取得する。次に最大出力電圧ｖ４０１時の温度勾配ｔ４０１を取得する。この２点間から、標準温度勾配Ｔ４００時の調整後出力電圧Ｖ４００を求める。標準温度勾配Ｔ４００は一定の値であるが、求めたＶ４００の値は個体差により、温調ブロック毎に特異な値となる。これを用いることにより、各温調ブロックの温度勾配はすべてＴ４００にすることができる。
【００３６】
［温調ブロック使用不可検出］
図６に示すように温度勾配の調整において、温調ブロックの温度調整装置の出力レンジＲ４００の範囲において、最小出力電圧ｖ４００時の温度勾配ｔ５００を取得する。次に最大出力電圧ｖ４０１時の温度勾配ｔ５０１を取得する。この温度勾配ｔ５０１が標準温度勾配Ｔ４００に満たない温調ブロックは使用不可とする。
【００３７】
［予測時間の表示］
図７に表示される画面イメージｄ６００上に配置される検体リストＬ６００で表示される。この検体リストＬ６００の各行は、検体毎に、検体番号、検査項目、検査終了予測時刻の情報が表示される。検体番号は、検体投入順を表し、温度勾配が一定であれば、検査終了予測時刻も順に並んで表示される。
【００３８】
［温度勾配調整のＯＮとＯＦＦ］
図７の画面イメージ、温度勾配一定モードＯＮチェックボックスｄ６０１により、機能を切り替えることができる。チェックをつけた場合、温度勾配を一定にし、測定条件と検査時間を一定にする。または、チェックを外した場合、処理能力を優先させることができる。
【００３９】
［温度勾配の調整と温調ブロック使用不可検出フロー］
図８に温度勾配の温調ブロック使用不可検出フローを示す。温度勾配の調整は、温調ブロック数分繰り返す（フロー７０１、７０６）。最大出力電圧v４０１時の温度勾配を取得する（フロー７０２）。この取得した温度勾配が標準温度勾配Ｔ４００を満たしているか判定する（フロー７０３）。温度勾配ｔ４０１のように標準温度勾配を満たしていれば、対象温調ブロックの最小出力電圧ｖ４００時の温度勾配ｔ４００を取得する（フロー７０４）。最大、最小の２点の温度勾配から、標準温度勾配Ｔ４００時の調整後出力電圧Ｖ４００を求める（フロー７０５）。温度勾配ｔ５０１の様に標準温度勾配を満たさない温調ブロックは、使用不可に設定する（フロー７０７）。
【００４０】
［他の形態例］
本発明は、上述した形態例に限定されるものでなく、様々な変形例が含まれる。上述した形態例は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備える必要はない。また、ある形態例の一部を他の形態例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある形態例の構成に他の形態例の構成を加えることも可能である。また、各形態例の構成の一部について、他の構成を追加、削除又は置換することも可能である。
【００４１】
また、上述した各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路その他のハードウェアとして実現することも可能である。また、上述した各構成、機能等は、プロセッサで実行されるプログラムとして実現しても良い。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリやハードディスク、SSD（Solid State Drive）等の記憶装置、ICカード、SDカード、DVD等の記憶媒体に格納することができる。
【００４２】
また、制御線や情報線は、説明上必要と考えられるものを示すものであり、製品上必要な全ての制御線や情報線を表すものでない。実際にはほとんど全ての構成が相互に接続されていると考えて良い。
【符号の説明】
【００４３】
１…核酸増幅装置、３…保持具、４…保持具ベース、６…蛍光検出器、７…カバー、７ａ…ゲート、１０…温調ブロック、１２…架設ポジション、１５、１５ａ…温度センサ、１６…切り欠き部、１７、１８…ペルチェ素子、４０…ファン、１００…核酸検査装置、１０１…サンプル容器、１０２…サンプル容器ラック、１０３…試薬容器、１０４…試薬容器ラック、１０５…反応容器、１０６…反応容器ラック、１０７…反応液調整ポジション、１０８…閉栓ユニット、１０９…撹拌ユニット、１１０…ロボットアームＸ軸、１１１…ロボットアームＹ軸、１１２…ロボットアーム装置、１１３…グリッパユニット、１１４…分注ユニット、１１５…ノズルチップ、１１６…ノズルチップラック、１１７…廃棄ボックス、１１８…入力装置、１１９…表示装置、１２０…制御装置、Ｔ２００…熱変性温度、Ｔ２０１…アリーニング温度、Ｔ２０２…伸長温度、ｔ２００…熱変性温度到達時間、ｔ２０１…熱変性時間、ｔ２０２…アリーニング時間、ｔ２０３…伸長時間、ｔ２０４…伸長の延長時間、Ｃ２００…サイクル範囲、ｔ３００…温調能力が高い温調ブロックサイクル時間、ｔ３０１…温度調整能力が低い温調ブロックサイクル時間、ｔ３０２…温調ブロック個体差によるサイクル時間差、ｖ４００…温調最小出力電圧、ｖ４０１…温調最大出力電圧、Ｖ４００…温度勾配調整出力電圧、ｔ４００…最小出力温度勾配、ｔ４０１…最大出力温度勾配、Ｔ４００…標準温度勾配、Ｒ４００…温調出力レンジ、ｄ６００…出力画面イメージ、ｄ６０１…温度勾配一定モードＯＮチェックボックス、Ｌ６００…検査リスト
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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