(57)【要約】【課題】  パターン部材とブラシ部材を用いた位置検出手段を有するレンズ装置において、位置検出の異常に関する情報を出力可能にしたレンズ装置を提供する。【解決手段】  本発明のレンズ装置は、可動の光学部材と、前記光学部材の位置に応じて複数の信号ラインに所定の信号コードを出力するための導体パターンを有するパターン部材と、前記光学部材の位置に応じて前記パターン部材上の前記導体パターンと接触するように摺動する複数の接触部材と、前記パターン部材と前記接触部材との接触により出力される前記信号コードと、前記所定の信号コードと前記光学部材の位置の対応を示す位置情報の基準テーブルと、に基づき、前記位置情報を検出する位置検出手段と、前記信号コード及び前記位置情報を基に、前記光学部材の位置検出に関する異常情報を算出する異常情報算出手段と、前記異常情報を出力する出力手段と、を有する。【選択図】  図１
2014106518.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
可動の光学部材と、
前記光学部材の位置に応じて複数の信号ラインに所定の信号コードを出力するための導体パターンを有するパターン部材と、
前記光学部材の位置に応じて前記パターン部材の上の前記導体パターンと接触するように摺動する複数の接触部材と、
前記パターン部材と前記接触部材との接触により出力される前記信号コードと、前記所定の信号コードと前記光学部材の位置の対応を示す位置情報の基準テーブルと、に基づき、前記位置情報を検出する位置検出手段と、
前記信号コード及び前記位置情報を基に、前記光学部材の位置検出に関する異常情報を算出する異常情報算出手段と、
前記異常情報を出力する出力手段と、
を有する、ことを特徴とするレンズ装置。
【請求項２】
前記異常情報算出手段は、現在の前記光学部材の位置において得られる前記信号コード及び前記位置情報から、前記光学部材の位置の検出に関する異常が発生しているか否かを判断し、
前記異常情報は、
異常の有無、
検出された前記信号コードである第１の信号コード、
該第１の信号コードに対応する前記位置情報である第１の位置情報、
最後に異常が発生していないと判断された時の前記信号コードである第２の信号コード、
最後に異常が発生していないと判断された時の前記位置情報である第２の位置情報、
異常が発生した前記信号ラインである異常ライン番号、
の少なくとも１つを含む、ことを特徴とする請求項１に記載のレンズ装置。
【請求項３】
前記信号コードの履歴情報を記憶する第１の記憶手段を有し、
前記異常情報算出手段は前記第１の記憶手段に記憶された前記履歴情報を基に前記異常情報を算出する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載のレンズ装置。
【請求項４】
前記光学部材を駆動する駆動手段を有し、
前記駆動手段によって前記光学部材を駆動し、得られた前記履歴情報を前記第１の記憶手段に記憶し、駆動に関する駆動情報と前記履歴情報を基に前記異常情報を算出する制御手段を有する、
ことを特徴とする請求項３に記載のレンズ装置。
【請求項５】
前記駆動情報は、駆動領域、駆動方向、駆動量、駆動軌跡、駆動回数の少なくとも１つを含み、
前記異常情報は、異常原因を含む、ことを特徴とする請求項４に記載のレンズ装置。
【請求項６】
前記異常情報算出手段は、現在の前記光学部材の位置において得られる前記信号コード及び前記位置情報から、前記光学部材の位置の検出に関する異常が発生しているか否かを判断し、
異常が発生したと判断された時の前記異常情報を記憶する第２の記憶手段を有する、
ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載のレンズ装置。
【請求項７】
前記異常情報は、異常発生回数、前記信号ラインごとの異常発生回数の少なくとも１つを含む、ことを特徴とする請求項６に記載のレンズ装置。
【請求項８】
前記第２の記憶手段とは不揮発メモリであることを特徴とする請求項６又は７に記載のレンズ装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか１項に記載のレンズ装置と、該レンズ装置により結像される被写体像を撮像する撮像素子とを含む撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レンズ装置に関し、特に可動な光学部材の位置検出手段を含むレンズ装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、可動の光学部材を有するレンズ装置において、鏡筒側と光学部材側のどちらか一方に貼り付けたパターン部材と、他方に貼り付けたブラシとを用いて光学部材の位置検出を行っていた。
パターン部材には導通部分と非導通部分があり、光学部材が移動すると、ブラシがパターン部材のライン上を摺動し、光学部材の位置に応じた信号コードが出力され、レンズＣＰＵは光学部材の位置を検出することができる。
【０００３】
このような位置検出方法において、光学部材が移動することによる振動により、ブラシ片が導通部分にあるにもかかわらず電気的に切断されてしまう現象が発生することがあった。
このような現象が発生すると、現在の光学部材の位置に応じて本来出力されるべき正規の信号コードとは異なる信号コードが出力され、光学部材の位置を正しく検出できない。
そのため、パターン部材により出力された信号コードが正規の信号コードかどうかを判断し、異常コードと判断した際にも正常に制御を行えるような補正処理を行っている。
【０００４】
例えば、特許文献１では、コード信号列の並びに従って変化している場合に正規のコードとして認識する位置検出手段が開示されている。
【０００５】
特許文献２では、異常コードを読み取った場合、異常コードは読み取らなかったものとして扱い、最後に読み取った正常コードを基に制御するレンズ駆動モータ制御装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平４−３４４５１７
【特許文献２】特開平１−１９８７１４
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述の特許文献に開示された従来技術では、異常コードに対して補正処理を行うため、ブラシ部材とパターン部材間の埃の混入などの異常を発見することが困難である。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、パターン部材とブラシ部材を用いた位置検出手段を有するレンズ装置において、位置検出の異常に関する情報を出力可能にしたレンズ装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明のレンズ装置は、可動の光学部材と、前記光学部材の位置に応じて複数の信号ラインに所定の信号コードを出力するための導体パターンを有するパターン部材と、前記光学部材の位置に応じて前記パターン部材上の前記導体パターンと接触するように摺動する複数の接触部材と、前記パターン部材と前記接触部材との接触により出力される前記信号コードと、前記所定の信号コードと前記光学部材の位置の対応を示す位置情報の基準テーブルと、に基づき、前記位置情報を検出する位置検出手段と、前記信号コード及び前記位置情報を基に、前記光学部材の位置検出に関する異常情報を算出する異常情報算出手段と、前記異常情報を出力する出力手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、パターン部材とブラシ部材を用いた位置検出手段を有するレンズ装置において、位置検出の異常に関する情報を出力可能にしたレンズ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施例１のブロック図
【図２】パターン部材、及びブラシ部材の図
【図３】パターン部材のパターン、信号コード、位置情報を示す図
【図４】異常検出及び補正のフローチャート
【図５】異常情報算出のフローチャート
【図６】実施例１の異常情報を示す図
【図７】実施例２のブロック図
【図８】異常情報算出のフローチャート
【図９】実施例２の異常情報を示す図
【図１０】実施例２派生形の異常情報を示す図
【図１１】実施例３のブロック図
【図１２】自動検査のフローチャート
【図１３】異常原因判断に必要な情報を算出するフローチャート
【図１４】異常原因判断のフローチャート
【図１５】埃による異常の場合の異常情報算出フローチャート
【図１６】パターン固定ずれによる異常の場合の異常情報算出フローチャート
【図１７】クラックによる異常の場合の異常情報算出フローチャート
【図１８】のショートによる異常の場合の異常情報算出フローチャート
【図１９】正常時の異常情報を示す図
【図２０】埃による異常の場合の異常情報を示す図
【図２１】パターン固定ずれによる異常の場合の異常情報を示す図
【図２２】クラックによる異常の場合の異常情報を示す図
【図２３】ショートによる異常の場合の異常情報を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
【実施例１】
【００１３】
以下、図１〜図６を用いて、本発明の第１の実施例のレンズ装置について説明する。
図１は、本発明の第１の実施例のレンズ装置の構成ブロック図である。本発明の第１の実施例のレンズ装置１０は、レンズ装置１０により結像される被写体像を撮像する撮像素子を含むカメラ１１、後述するレンズ装置１０内の可動光学素子の位置検出の異常データを取り扱うためのＰＣ１２と接続されている。レンズ装置１０とカメラ１１は互いに接続され、撮影装置を構成する。
【００１４】
第１の実施例のレンズ装置１０は、可動の光学部材であるフォーカスレンズ１０１を有し、フォーカスレンズ１０１の位置は位置検出手段１０２により検出される。なお、位置検出手段１０２は図２に示すパターン部材Ｐｔ１及びパターン部材に接触するブラシ部材（接触部材）Ｂｒ１によりフォーカスレンズ１０１の位置を検出する。図２に示したパターン部材Ｐｔ１とブラシ部材Ｂｒ１とによる位置の検出の詳細については後述する。
【００１５】
位置検出手段１０２のパターン部材Ｐｔ１から出力される信号コードが異常コードである場合、異常補正手段１０３は、位置検出手段１０２により検出したフォーカスレンズ１０１の位置情報を補正する。異常補正手段１０３による異常の検出及び異常の補正の方法は後述する。
【００１６】
異常情報算出手段１０４は、異常補正手段１０３から受け取った補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報から、外部に出力するための異常情報を算出する。異常情報算出手段１０４の処理については後述する。
【００１７】
通信手段１０５は、異常を通知するための手段（異常情報を出力する出力手段）であって、外部と通信を行い、カメラ１１やＰＣ１２等に異常情報を出力することができる。
【００１８】
続いて、位置検出手段１０２の詳細な構成について、図２を参照しながら説明する。
図２（ａ）は位置検出手段１０２のパターン部材Ｐｔ１であり、（ｂ）は位置検出手段１０３のブラシ部材Ｂｒ１である。
【００１９】
パターン部材Ｐｔ１はレンズ装置の鏡筒側に貼り付けられた導体パターンからなり、レンズＣＰＵに接続されている複数の信号ラインＬ１１、Ｌ１２、Ｌ１３、Ｌ１４、及びＧＮＤに接続されている信号ラインＬ１５を有する。なお、信号ラインＬ１１、Ｌ１２、Ｌ１３、Ｌ１４は回路上でプルアップされている。
【００２０】
ブラシ部材Ｂｒ１はレンズ装置の光学部材側に貼り付けられ、複数のブラシ片Ｂｒ１１、Ｂｒ１２、Ｂｒ１３、Ｂｒ１４、Ｂｒ１５を有し、それぞれのブラシ片は互いに電気的に接続されている。
【００２１】
これらは、（ｃ）に示すようにブラシ部材Ｂｒ１がパターン部材Ｐｔ１の信号ライン上を摺動するよう配置され、次のように位置検出を行う。
【００２２】
信号ラインＬ１１は導通部分ＰｔＯｎ、非導通部分ＰｔＯｆｆが存在する。ブラシ片Ｂｒ１１が導通部分ＰｔＯｎと接続されると、信号ラインＬ１１はブラシ片Ｂｒ１１、ブラシ片Ｂｒ１５、信号ラインＬ１５を介しＧＮＤと接続され、レンズＣＰＵの信号ラインＬ１１に接続されているポートにLow信号が入力される。また、ブラシ片Ｂｒ１１が非導通部分ＰｔＯｆｆと接続されると、信号ラインＬ１１はＧＮＤとの接続が切断され、プルアップによって信号ラインＬ１１に接続されているポートにHigh信号が入力される。
信号ラインＬ１２、Ｌ１３、Ｌ１４も同様にブラシ片Ｂｒ１２、Ｂｒ１３、Ｂｒ１４によって入力信号が切り替えられ、レンズＣＰＵに信号が入力される。
【００２３】
これにより、光学部材が移動すると、ブラシ部材Ｂｒ１がパターン部材Ｐｔ１の信号ライン上を摺動する。そのため、パターン部材Ｐｔ１からレンズＣＰＵに光学部材の位置に応じた所定の信号コードが出力され、レンズＣＰＵは光学部材の位置を検出することができる。すなわち、出力される信号コードは、可動の光学部材の可動範囲内の位置を、パターン部材Ｐｔ１のパターン数で分割した各領域に対して、互いに識別可能な固有のコードが割り当てられている。設計状態においては、その信号コードからどの領域内に光学部材が位置しているかを認識できるようにするものである。
【００２４】
なお、本実施例でのパターン部材Ｐｔ１のパターンと信号コード、位置情報は図３のようになっている。パターン部材の各信号ラインからは、導通部分ではLowが出力され、非導通部分ではHighが出力されるため、図３では導通部分に０を、非導通部分に１を付し、ＧＮＤに接続されているＬ１５にはＧＮＤと付した。また、信号コードは、Ｌ１１がビット３、Ｌ１２がビット２、Ｌ１３がビット１、Ｌ１４がビット０とした時の、各位置でパターン部材Ｐｔ１から出力される信号コードであり、１６進数で表記する。位置情報は、無限側を１とし、同じ信号コードが出力される領域ごとに連続的に番号を割り当てたものであり、１０進数で表記する。可動の光学部材であるフォーカスレンズが、無限側から至近側まで移動した場合に出力される信号コードと位置情報の関連を示す基準テーブルを示す。なお、パターン部材Ｐｔ１から出力された信号コードに対応する位置情報が存在しない場合は異常を示す０が位置情報として対応される。また、図３に例示されているように、可動光学部材の移動により検出される位置情報の切り替わりにおいて、１つのビットのデータのみが変化するように、パターン部材Ｐｔ１のパターンを構成する。この構成により、異常発生時の異常発生位置の検出をしやすくしている。
【００２５】
以下、図４を用いて異常補正手段１０３による異常検出及び異常補正の処理フローについて説明を行う。この処理フローは定期的に行われ、フォーカスレンズ１０１の位置を常に最新の位置情報に更新する。
【００２６】
Ｓ１００は処理のスタートであり、Ｓ１０１へ進む。
Ｓ１０１では、位置検出手段１０２から信号コードを読み取り、Ｓ１０２に進む。
Ｓ１０２では、図３に示す信号コードと位置情報の対応表を基に、信号コードに対応した位置情報が存在するか判断し、存在する場合はＳ１０３へ、存在しない場合はＳ１０６へ進む。
【００２７】
Ｓ１０３では、信号コードに対応した位置情報と、現在位置情報として反映されている現在位置とを比較し、差分が−１以上１以下であると判断した場合はＳ１０４へ、そうでないと判断した場合はＳ１０６へ進む。すなわち、位置情報が現在位置か現在位置の隣である場合のみＳ１０４へ進む。
Ｓ１０４では、異常補正手段１０３は信号コードが正常コードであると判断し、Ｓ１０５へ進む。
Ｓ１０５では、異常補正手段１０３は信号コードを基に現在位置を更新し、Ｓ１０７へ進む。
Ｓ１０６では、異常補正手段１０３は信号コードが異常コードであると判断し、Ｓ１０７へ進む。
Ｓ１０７は処理の終了である。
【００２８】
これにより、異常コードであると判断した場合は現在位置が更新されないため、異常補正手段１０３は異常コードの場合も、最後に正常コードであると判断した時の位置情報に補正して現在位置を出力することができる。すなわち、異常が認識された信号コードの位置が現在位置であると認識することがないように設定することができる。
【００２９】
次に、図５〜図６を用いて異常情報算出手段１０４による異常情報の算出について説明を行う。
本実施例における異常情報は、異常の有無、補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報、異常ライン番号である。
異常の有無は、現在のブラシ部材Ｂｒ１の位置において異常が発生しているか否か、である。異常の有無の判断方法については後述する。
【００３０】
補正前の信号コードは、パターン部材Ｐｔ１から出力される信号コードであり、補正前の位置情報は、補正前の信号コードを、図３内に例示した信号コードと位置情報の対応データから、位置情報に変換した値である。これらは異常補正手段１０３から受け取る情報である。
【００３１】
補正後の信号コードは、異常補正手段１０３が補正を行った後の信号コードであり、補正後の位置情報は、異常補正手段１０３が補正を行った後の信号コードに対応する位置情報である。これらも異常補正手段１０３から受け取る情報である。
【００３２】
異常ライン番号は異常補正手段１０３により補正が行われたパターン部材Ｐｔ１の信号ラインの番号である。異常ライン番号の算出方法については後述する。
ここで、補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報から異常の有無及び異常ライン番号の算出を行う処理フローについて、図５を用いて説明する。なお、このフローは図４に示した異常検出及び異常補正の処理フローに続いて定期的に行ってもよいし、通信手段１０５により外部に異常情報を通知するタイミングで行ってもよい。
【００３３】
Ｓ２００は処理のスタートであり、Ｓ２０１へ進む。
Ｓ２０１は、補正前の位置情報と補正後の位置情報が等しいかどうか判断し、等しい場合はＳ２０２へ、異なる場合はＳ２０３へ進む。なお、補正前の位置情報と補正後の位置情報を比較するのではなく、補正前の信号コードと補正後の信号コードが等しいかどうかを判断しても同様の効果を得ることができる。
Ｓ２０２では、異常の有無を無とし、Ｓ２０４へ進む。
Ｓ２０３では、異常の有無を有とし、Ｓ２０４へ進む。
【００３４】
Ｓ２０４では、異常ライン番号を補正前の信号コードと補正後の信号コードの排他的論理和として、Ｓ２０５へ進む。信号コードに対して補正が行われると、補正が行われた信号ラインに対応するビットが、補正前の信号コードと補正後の信号コードで異なることとなる。そのため、補正前の信号コードと補正後の信号コードの排他的論理和を計算することで、補正が行われた信号ラインに対応するビットが１となり、異常が発生している信号ラインを特定することができる。
Ｓ２０５は処理の終了である。
【００３５】
続いて、図６を用いて具体的な例を用いて異常情報の算出について説明を行う。
図６（ａ）はパターン上に埃が混入している場合のパターンと信号コード、位置情報であり、一部を抜粋している。
【００３６】
Ｇ２およびＧ３はパターン上に混入した埃である。埃Ｇ２はビット０の信号ラインＬ１４とブラシ片Ｂｒ１４との接続を妨げるものであり、埃Ｇ３はビット２の信号ラインＬ１２とブラシ片Ｂｒ１２との接続を妨げるものである。
【００３７】
Ｐ１は信号コードＡｈが出力される範囲において、正常に信号コードＡｈが出力されるブラシ部材Ｂｒ１の位置である。Ｐ２は位置Ｐ１と同じ信号コードＡｈが出力されるはずの範囲において、埃Ｇ２の影響により信号コードＢｈが出力されるブラシ部材Ｂｒ１の位置であり、Ｐ３は同様に、埃Ｇ３の影響により信号コードＥｈが出力されるブラシ部材Ｂｒ１の位置である。
【００３８】
位置Ｐ１から位置Ｐ２にブラシ部材Ｂｒ１が移動した場合は、パターン部材Ｐｔ１から補正前の信号コードとしてＢｈが出力される。信号コードＢｈに対応する位置情報は存在しないため、図４のＳ１０２からＳ１０６へ進み、異常コードであると判断され、現在位置は更新されない。
【００３９】
位置Ｐ１から位置Ｐ３にブラシ部材Ｂｒ１が移動した場合は、パターン部材Ｐｔ１から補正前の信号コードとしてＥｈが出力される。位置Ｐ１の時の位置情報は９であり、現在位置として９が反映されているが、信号コードＥｈに対応する位置情報は１２であり、差分が３となる。そのため、図４のＳ１０３からＳ１０６へ進み、異常コードであると判断され、現在位置は更新されない。
【００４０】
そして、図６（ｂ）は位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３における異常情報を示した表である。
位置Ｐ１においては、補正前の信号コード（第１の信号コード）、補正後の信号コードはともにＡｈ、補正前の位置情報（第１の位置情報）、補正後の位置情報はともに９である。補正前の位置情報９と補正後の位置情報９が等しいため、異常の有無は「無」となり、異常ライン番号は補正前の信号コードＡｈと補正後の信号コードＡｈとの排他的論理和であるため、０ｈ、つまり異常ラインが無いことを示す値となる。
【００４１】
位置Ｐ２においては、補正前の信号コードはＢｈであり、対応する位置情報が存在しないため、補正前の位置情報は異常を示す値である０となる。位置Ｐ２の直前で最後に正常コードと判断した位置Ｐ１の信号コード（第２の信号コード）及び位置情報（第２の位置情報）が補正後の信号コード及び位置情報となるため、補正後の信号コードはＡｈ、補正後の位置情報は９となる。異常の有無は補正前の位置情報０と補正後の位置情報９は異なるため有となり、異常ライン番号は補正前の信号コードＢｈと補正後の信号コードＡｈとの排他的論理和であるため、１ｈ、つまり異常ラインがビット０の信号ラインであることを示す値となる。
【００４２】
同様に、位置Ｐ３において、補正前の信号コードはＥｈであり、対応する位置情報は１２となる。位置Ｐ３の直前で最後に正常コードと判断した位置Ｐ１の信号コード（第２の信号コード）及び位置情報（第２の位置情報）が補正後の信号コード及び位置情報となるため、補正後の信号コードはＡｈ、補正後の位置情報は９となる。異常の有無は補正前の位置情報１２と補正後の位置情報９は異なるため有となり、異常ライン番号は補正前の信号コードＥｈと補正後の信号コードＡｈとの排他的論理和であるため、４ｈ、つまり異常ラインがビット２の信号ラインであることを示す値となる。
【００４３】
以上により、利用者は現在の異常の有無をわかりやすく把握できることに加え、修正後の位置情報と異常ライン番号によって、パターン部材のどの位置でどの信号ラインが異常となっているかをすぐに把握することができる。そのため、工場での出荷前検査で効果を発揮することはもちろん、たとえば市場から回収された製品に対して製品形態のまま短時間で検査を行い、さらに原因の把握と対策とを短時間で行うことができる。
【００４４】
本実施例では異常情報として異常の有無、補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報、異常ライン番号を出力したが、そのうち一部のみでもよく、また被写体距離などのほかの情報を付しても良い。
【実施例２】
【００４５】
以下、図７〜図１０を用いて、本発明の第２の実施例を説明する。
図７は、本発明の第２実施形態の構成ブロック図である。なお、実施例１と同じ構成のものは同符号を付し、説明は省略する。
【００４６】
実施例２のレンズ装置の構成は、実施例１の構成に加え、異常情報算出手段２０４を有する。異常情報算出手段２０４は、第１実施例での異常情報算出手段１０４の機能に加え、異常補正手段１０３からの異常情報を記憶情報として記憶手段２０６（第２の記憶手段）に記憶させ、また記憶情報を異常情報として通信手段１０５に出力することができる。
２０は以上の構成を持つレンズ装置であり、ＰＣ１２等から記憶情報の消去を行うことができるものとする。
【００４７】
次に、図８〜図９を用いて異常情報算出手段２０４による異常情報の記憶について説明を行う。
本実施例における異常情報は、異常の有無、補正前の信号コードログ、補正前の位置情報ログ、補正後の信号コードログ、補正後の位置情報ログ、異常ライン番号のログ、異常発生ライン番号、異常発生回数である。
異常の有無は異常コードが発生したかどうかであり、記憶情報の消去を行った後の初期値は「無」である。
【００４８】
補正前の信号コードログ、補正前の位置情報ログ、補正後の信号コードログ、補正後の位置情報ログ、異常ライン番号のログについては、異常コードと判断した場合に記憶したそれぞれの情報の履歴である。記憶情報の消去を行った後の初期値は履歴なしである。
【００４９】
異常発生ライン番号は、異常補正手段１０３により補正が行われたパターン部材Ｐｔ１の信号ラインの番号であり、記憶情報の消去を行った後の初期値は異常が発生した信号ラインが無いことを示す０ｈである。
異常発生回数は、異常が発生した回数であり、合計の発生回数と、信号ラインごとの発生回数をそれぞれ算出している。記憶情報の消去を行った後の初期値はすべて０回である。
【００５０】
続いて、図８を用いて、異常情報の算出フローを説明する。なお、このフローは図４に示した異常検出及び異常補正の処理フローに続いて定期的に行う。
【００５１】
Ｓ３００は処理のスタートであり、Ｓ３０１に進む。
Ｓ３０１は補正前の位置情報と補正後の位置情報が等しいかどうか判断し、異なる場合はＳ３０２へ、等しい場合はＳ３０７へ進む。なお、Ｓ３０１では、補正前の位置情報と補正後の位置情報を比較するのではなく、補正前の信号コードと補正後の信号コードが等しいかどうかを判断しても同様の効果を得ることができる。
【００５２】
Ｓ３０２では、異常の有無を有として記憶手段２０６（第２の記憶手段）に記憶し、Ｓ３０３へ進む。
Ｓ３０３では、異常ライン番号を補正前の信号コードと補正後の信号コードの排他的論理和として算出し、Ｓ３０４へ進む。
Ｓ３０４では、異常補正手段Ｓ１０３から受け取った補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報と、Ｓ３０３で算出した異常ライン番号を履歴情報として記憶手段２０６（第２の記憶手段）に記憶し、Ｓ３０５へ進む。
【００５３】
Ｓ３０５では、異常発生ライン番号を異常ライン番号との論理和により算出し、Ｓ３０６へ移行する。これにより、異常が発生した信号ラインに対応するビットは、記憶情報の消去を行わない限り「１」が記憶される。
Ｓ３０６では、異常発生回数を更新し、Ｓ３０７へ移行する。全体の異常発生回数は１を加え、信号ラインごとの異常発生回数は、異常ライン番号の各ビットの値を加える。
Ｓ３０７は処理の終了である。
【００５４】
続いて、図９を用いて具体的な例を用いて異常情報の算出について説明を行う。図９（ａ）はパターン上に埃が混入している場合のパターンと信号コード、位置情報であり、実施例１の図６と同じ位置に埃がある例である。
また、（ｂ）は、フォーカスレンズ１０１を無限側の端に移動させたのち、記憶情報の消去を行い、至近側の端に移動させたときの異常情報である。
【００５５】
無限側から至近側へ移動させると、正常の位置においては図８のＳ３０１からＳ３０７へ進み何も異常情報に関する記憶を行わないが、ブラシ部材Ｂｒ１が位置Ｐ３において埃Ｇ３に乗り上げた際に、初めてＳ３０１からＳ３０２へ進み異常情報の記憶が行われる。
【００５６】
位置Ｐ３において、異常の有無が無から有となり、補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報、異常ライン番号は実施例１と同様に算出され、履歴として記憶手段２０６（第２の記憶手段）に記憶される。
【００５７】
また、異常発生ライン番号は初期値０ｈと異常ライン番号４ｈの論理和４ｈが記憶され（Ｓ３０５）、異常発生回数は合計に１加算され、また異常ライン番号である４ｈは、ビット２が１のため、信号ラインごとの回数はビット２に１が加算される（Ｓ３０６）。
【００５８】
さらに、位置Ｐ２において埃Ｇ２に乗り上げた際に図８のＳ３０１からＳ３０２へ進み異常情報の記憶が行われる。
異常の有無は有から有へ上書きされ、補正前の信号コード、補正前の位置情報、補正後の信号コード、補正後の位置情報、異常ライン番号は実施例１と同様に算出され、履歴として記憶手段２０６（第２の記憶手段）に記憶される。
【００５９】
また、異常発生ライン番号は記憶している４ｈと異常ライン番号１ｈの論理和５ｈに更新され（Ｓ３０５）、異常発生回数は合計に１加算され、また異常ライン番号である１ｈは、ビット０が１のため、信号ラインごとの回数はビット０に１が加算される（Ｓ３０６）。
その後、至近端に行きつくまでに異常は発生しないため、以上が記憶した異常情報となる。
【００６０】
これらの記憶手段２０６に記憶した異常情報を出力することにより、記憶情報を消去してから現在までの間に異常がどのように発生したかの情報をわかりやすく出力することができる。
【００６１】
以上、本実施例によれば、記憶手段２０６を有し、異常が発生した際の情報を記憶し異常情報として出力する。そのため、微細な埃に乗り上げた時などの一瞬の異常も検知することができ、検査の高精度化を行うことができる。さらには、レンズを移動させながら確認を行うのではなく、レンズを移動させたのちに異常情報の確認を行えばよいため、検査の効率化も期待できる。
【００６２】
また、埃の位置の移動により再現性の低い異常などを、フォーカスレンズ１０１の移動を複数回往復させた後に異常情報を確認することで発見することもできる。
さらには、記憶手段２０６を不揮発メモリとし、記憶情報の消去を行ってから出荷をすることで、市場での異常発生状況を記憶し、製品の回収時にすぐに異常の発生を認知することができる。
【００６３】
例えば製品回収時の異常情報が図１０に示す内容であった場合、異常発生ライン番号がビット２における異常は一度しか発生していないため、異常の原因となった埃はすでに取り除かれていると考えられる。しかし、異常発生ライン番号がビット０における異常は頻発しており、現在でも異常の原因が製品内部に残っている可能性が高いことがわかる。そのため、位置情報９が出力されるはずの領域において、ビット０に相当する信号ラインに対して重点的に検査を行うことができる。また、実際に分解して異常の対応を行う際にも、位置情報９が出力されるはずの領域において、ビット０に相当する信号ラインを確認すれば良く、作業効率を上げることができる。
【実施例３】
【００６４】
以下、図１１〜図２３を用いて、本発明の第３の実施例を説明する。
図１１は、本発明の第３実施形態の構成ブロック図である。なお、実施例１、実施例２と同じ構成のものは同符号を付し、説明は省略する。
３０は以下の構成を持つレンズ装置である。また、レンズ装置３０は自動検査機能を有し、ＰＣ１２からの自動検査開始指令によりパターン部材Ｐｔ１の異常を自動で検査することができる。
【００６５】
本実施例のレンズ装置は、異常情報算出手段３０４を有し、第１実施例での異常情報算出手段１０４の機能に加え、さらに異常補正手段１０３からの補正前の信号コード及び補正後の信号コードを履歴情報として記憶手段２０６（第１の記憶手段）に記憶する。そして、記憶した履歴情報を基に外部に出力するための異常情報を算出することができる。
【００６６】
フォーカス制御手段３０７は、通信手段１０５により受信した駆動指令と、異常補正手段１０３からの補正された位置情報を用いてフォーカスレンズ１０１の駆動位置を決定する。
フォーカスレンズ１０１は、たとえばＤＣモータで構成される駆動手段３０８によって駆動される。
なお、本実施例でのパターンと信号コード、位置情報は実施例１と同じであり、図３で示しているものである。
【００６７】
以下、図１２を用いてレンズ装置３０の自動検査機能の処理フローについて説明を行う。なお、処理フローはＰＣ１２からの自動検査開始指令によりスタートされる。
【００６８】
Ｓ４００は処理のスタートであり、Ｓ４０１へ進む。
Ｓ４０１では、制御手段３０７により、フォーカスレンズ１０１を無限方向へ駆動するようにモータに電圧を印加し、Ｓ４０２へ進む。
Ｓ４０２では、フォーカスレンズ１０１が無限端に到達したかどうか判断し、到達した場合はＳ４０３へ、到達していない場合はＳ４０１へ進む。なお、端に到達したかどうかの判断は、位置検出手段１０２を用いずに行うことが望ましい。たとえば駆動手段３０８に流れる電流からトルクを測定し、駆動手段３０８の駆動が止まっているかどうかを判断してもよい。また、エンコーダ等の異なる位置検出手段を併用している場合は、その信号を利用してもよい。
【００６９】
Ｓ４０３では、記憶手段２０６に記憶してある自動検査時に保存する記憶情報をクリアし、Ｓ４０４へ進む。
Ｓ４０４では、異常補正手段１０３により補正を行う前の信号コードと位置情報を記憶手段２０６（第１の記憶手段）に記憶し、Ｓ４０５へ進む。
【００７０】
Ｓ４０５では、制御手段３０７により、フォーカスレンズ１０１を至近方向へ低速で駆動するように駆動手段３０８であるモータに電圧を印加し、Ｓ４０６へ進む。なお、駆動時の速度は、パターンの検査を行う間隔と信号コードを読み取る間隔により決定される速度と、正常な状態であれば駆動手段３０８の振動によるブラシ片の離反が起こらない速度のうち、より遅い速度で駆動することが望ましい。
【００７１】
Ｓ４０６では、パターン部材Ｐｔ１からの信号コードが変化したか判断し、変化した場合はＳ４０４へ、変化しなかった場合はＳ４０７へ進む。
Ｓ４０７では、フォーカスレンズ１０１が至近端に到達したかどうか判断し、到達した場合はＳ４０８へ、到達していない場合はＳ４０５へ進む。なお、判断する方法についてはＳ４０２と同等である。
【００７２】
Ｓ４０８では、駆動手段３０８であるモータの駆動を停止し、Ｓ４０９へ進む。
Ｓ４０９では、異常情報算出手段３０４により記憶手段２０６記憶手段２０６（第１の記憶手段）に記憶した信号コードと位置情報のうちの少なくとも１つの履歴情報を基に異常情報を算出し、Ｓ４１０へ進む。なお、異常情報の算出処理についての詳細は後述する。
Ｓ４１０では、ＰＣ１２に異常情報を送信し、Ｓ４１１へ進む。
Ｓ４１１は処理の終了であり、自動検査機能を終了させる。
【００７３】
以上、信号コードが変化したときに補正前の信号コードと補正前の位置情報を記憶するにより、信号コードの変化に応じた信号コードと位置情報の出力履歴を履歴情報として記憶手段２０６に記憶することができる。
【００７４】
続いて、図１３〜２３を用いて異常情報算出手段３０４による異常情報の算出処理についての説明を行う。
本実施例においての異常情報は、異常の有無、異常原因、異常発生位置、異常発生ライン番号、異常発生回数である。これらの詳細な算出方法は後述する。また、これらの具体例は図１９〜２３に示し、説明は後述する。
【００７５】
異常情報における、異常の有無、異常原因、異常発生位置、異常発生ライン番号、異常発生回数は、それぞれ、以下の様な情報である。異常の有無は異常が発生したかどうかを示す情報である。異常原因は、記憶手段２０６（第１の記憶手段）に記憶した記憶情報から判断した異常の原因である。異常発生位置及び異常発生ライン番号は、異常が発生した位置と異常が発生した信号ラインの情報である。異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出法については後述する。異常発生回数は異常発生位置及び異常発生ライン番号で出力される異常の数であり、異常発生ライン番号ごとの回数も出力できるようにしている。
【００７６】
以下、図１３〜図１８を用いて異常情報算出手段３０４による異常情報の算出処理フローを説明する。説明では、異常情報の算出処理フローを、異常原因の算出に利用する記憶解析情報の算出フロー、記憶解析情報を用いた異常原因算出フロー、異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローの３つに分けて説明を行う。
【００７７】
まず、異常原因の算出に利用する記憶解析情報についての説明を行う。ここで、記憶解析情報とは、異常の有無、履歴数、位置情報抜けリスト、パターン導通数、パターン導通割合である。また、これらの具体例は図１９〜図２３に示し、説明は後述する。
【００７８】
異常の有無は異常が発生したかどうかであり、履歴情報の位置情報が無限端から至近端まで連続的に変化しているかで判断する。
履歴数は、履歴情報に保存された履歴の数である。
【００７９】
パターン導通数は、履歴情報の信号コードで、ＧＮＤである信号ラインＬ５と導通したビットの数の総和である。すなわち、導通したビットの数は信号コードを４ケタの２進数とした時に０となるビットの数であり、異なる信号コードが検出される毎の導通したビットの数の総和をパターン導通数として定義する。
パターン導通割合は、パターン導通数を履歴数で割った値である。
【００８０】
位置情報抜けリストは、可動な光学部材の可動範囲の端から端までの全ての位置情報のうち、履歴情報の位置情報に含まれていない位置情報である。すなわち、検出されなかった位置情報のリストである。また、同時に位置情報に対応した信号コードも保存してもよいし、位置情報に対応した信号コードのみを保存してもよい。
【００８１】
位置情報重複リストは、可動な光学部材の可動範囲の端から端までの全ての位置情報のうち、履歴情報の位置情報に複数回記憶されている位置情報である。こちらも同様に、同時に位置情報に対応した信号コードも保存してもよいし、位置情報に対応した信号コードのみを保存してもよい。
【００８２】
次に、図１３を用いて異常原因の算出に利用する記憶解析情報の算出フローについて説明を行う。
【００８３】
Ｓ５００は処理のスタートであり、Ｓ５０１へ進む。
Ｓ５０１では初期値として、異常の有無を無に、履歴数を０に、パターン導通数を０に、位置情報抜けリストを全ての位置情報、つまり１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、に設定し、位置情報重複リストを空に設定し、Ｓ５０２へ進む。
Ｓ５０２では、履歴数に１を加え、またパターン導通数には履歴数番目の信号コードを４ケタの２進数とした時に０となるビットの数を加え、Ｓ５０３へ進む。
【００８４】
Ｓ５０３では、履歴数と履歴数番目の位置情報が等しいか判断し、等しい場合はＳ５０５へ、異なる場合はＳ５０４へ進む。
Ｓ５０４では、異常の有無を有とし、Ｓ５０５へ進む。
Ｓ５０５では、履歴数番目の位置情報が位置情報抜けリストに存在するか判断し、存在する場合はＳ５０６へ、存在しない場合はＳ５０７へ進む。
Ｓ５０６では、履歴数番目の位置情報を位置情報抜けリストから削除し、Ｓ５０８へ進む。
Ｓ５０７では、履歴数番目の位置情報を位置情報重複リストに登録し、Ｓ５０８へ進む。
【００８５】
Ｓ５０８では、履歴情報が最後かどうか判断し、最後である場合はＳ５０９へ、最後でない場合はＳ５０２へ進む。
Ｓ５０９では、履歴数番目の位置情報と至近端の位置情報が等しいか判断し、等しい場合はＳ５１１へ、異なる場合はＳ５１０へ進む。
Ｓ５１０では、異常の有無を有とし、Ｓ５１１へ進む。ここで異常の有無を有とするのは、至近端まで行ききらなかった場合に異常と判断するためである。
Ｓ５１１では、パターン導通数と履歴数からパターン導通割合を計算し、Ｓ５１２へ進む。
Ｓ５１２では、後ほど図１４を用いて説明を行う異常原因算出を行い、Ｓ５１３へ移行する。
Ｓ５１３は処理の終了である。
以上により、記憶解析情報の算出が行われる。
【００８６】
続いて、図１４を用いて記憶解析情報を用いた異常原因算出フローについて説明する。本実施例では異常の原因として、埃の混入又は振動によるブラシ片の離反、パターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれ、ブラシ片に埃が密着又はパターンのクラック、導通ゴミ等によるショートの４種類に分け通知を行う。
【００８７】
Ｓ６００は処理のスタートであり、Ｓ６０１へ進む。
Ｓ６０１では異常の有無を判断し、異常が有る場合はＳ６０２へ、ない場合はＳ６１３へ進む。
【００８８】
Ｓ６０２では、記憶解析情報の履歴数が、正常時の期待値以上かどうか判断し、期待値以上であればＳ６０３へ、期待値より小さい場合はＳ６０８へ進む。これは、パターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれや、埃の混入、又は振動によるブラシ片の離反は、ある一定の位置情報が出力されるはずの範囲内で信号コードの変化が発生する。そのため、正常時に検出されるはずである信号コードの数（変化する数）である期待値よりも履歴数の方が多くなる。一方、パターンのクラックや導通ゴミ等によるショートは、あるビットの変化が発生しなくなるため、信号コードの変化が発生しない箇所が出現する。そのため、履歴数が正常時の期待値よりも少なくなるためである。
【００８９】
Ｓ６０３では、記憶解析情報の位置情報抜けリストに値が存在する場合はＳ６０４へ、存在しない場合はＳ６０６へ進む。これは、埃の混入、又は振動によるブラシ片の離反の場合は信号コードの異常が狭い範囲であるのに対し、パターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の位置が設計位置からずれている場合は信号コードの異常が広範囲であるため、検出位置情報の欠落が発生するためである。
【００９０】
Ｓ６０４では、異常の原因をパターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれと判断し、Ｓ６０５へ進む。
Ｓ６０５では、後ほど図１６を用いて説明を行うパターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれにおける異常発生位置、及び異常発生ライン番号の算出を行い、Ｓ６１３へ進む。
【００９１】
Ｓ６０６では、異常の原因を埃の混入、又は振動によるブラシ片の離反と判断し、Ｓ６０７へ進む。
Ｓ６０７では、後ほど図１５を用いて説明を行う説明を行う埃の混入、又は振動によるブラシ片の離反における異常発生位置、及び異常発生ライン番号の算出を行い、Ｓ６１３へ進む。
【００９２】
Ｓ６０８では、記憶解析情報のパターン導通割合が、正常時のパターン導通割合である期待値以下かどうか判断し、前記期待値以下であればＳ６０９へ、期待値より大きい場合はＳ６１１へ進む。これは、導通ゴミ等によるショートの場合は信号コードが導通する側、つまりビットがLowとして検出される方向に変化するのに対し、パターンのクラック、又はブラシ片に埃が密着する場合は離反する側、すなわちビットがHighとして検出される方向に変化するためである。
【００９３】
Ｓ６０９では、異常の原因をブラシ部材に埃が密着、又はパターンのクラックと判断し、Ｓ６１０へ進む。
Ｓ６１０では、後ほど図１７を用いて説明を行うブラシ部材に埃が密着、又はパターンのクラックにおける異常発生位置、及び異常発生ライン番号の算出を行い、Ｓ６１３へ進む。
【００９４】
Ｓ６１１では、異常の原因を導通ゴミ等によるショートと判断し、Ｓ６１２へ進む。
Ｓ６１２では、後ほど図１８を用いて説明を行う導通ゴミ等によるショートにおける異常発生位置、及び異常発生ライン番号の算出を行い、Ｓ６１３へ進む。
これにより、異常が検出された際に、異常の原因を４種類に分け通知を行うことができる。
【００９５】
最後に、異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローについて説明を行う。この算出フローは異常の原因により異なるため、順次説明を行っていく。
まず図１５を用いて、異常の原因が埃の混入又は振動によるブラシ片の離反である場合の異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローについて説明を行う。
【００９６】
Ｓ７００は処理の開始であり、Ｓ７０１へ進む。
Ｓ７０１では、初期値として履歴番号を０に、正常位置を１に、正常信号コードは無限端での信号コードに、全体の異常発生回数と信号ラインごとの異常発生回数を０に設定し、Ｓ７０２へ進む。
Ｓ７０２では、履歴番号に１を加え、Ｓ７０３へ進む。
【００９７】
Ｓ７０３では、履歴番号番目の位置情報から正常位置を引いた値が０か１である場合はＳ７０４へ進み、それ以外である場合はＳ７０５へ進む。この判断により、履歴番号番目の位置が同じ位置か１つ先の位置であればＳ７０４へ進むが、一つ手前の位置に戻る場合はＳ７０５へ進むように制御される。
【００９８】
Ｓ７０４では、正常位置を履歴番号番目の位置情報に、正常信号コードを履歴番号番目の信号コードに更新し、Ｓ７１０へ進む。
Ｓ７０５では、正常信号コードの導通ビット数と履歴番号番目の信号コードの導通ビット数を比較し、正常信号コードの導通ビット数が小さい場合はＳ７０７へ、等しいか大きい場合はＳ７０６へ進む。なお、導通ビット数とは、信号コードを４ケタの２進数で表記したときに０となるビットの数である。
【００９９】
Ｓ７０６では、正常位置を異常発生位置として登録し、Ｓ７０８へ進む。
Ｓ７０７では、履歴番号番目の位置情報を異常発生位置として登録し、Ｓ７０８へ進む。
Ｓ７０８では、異常発生ライン番号に履歴番号番目の信号コードと正常信号コードとの排他的論理和を登録し、Ｓ７０９へ進む。
Ｓ７０９では、異常発生回数を更新し、Ｓ７１０へ進む。なお、異常発生回数の更新処理は実施例２の図８Ｓ３０６と同等のため、詳細な説明は省略する。
Ｓ７１０では、履歴情報が最後かどうか判断し、最後である場合はＳ７１１へ、最後でない場合はＳ７０２へ進む。
Ｓ７１１は処理の終了である。
【０１００】
以上により、異常の原因が埃の混入又は振動によるブラシ片の離反である場合に異常発生位置及び異常発生ライン番号を特定することができる。
異常発生位置の特定において、埃が混入した際の異常は信号コードの導通部分が非導通となることで発生する。そこで、Ｓ７０５において異常発生を検知した前後の位置のうち、導通数が多い信号コード側を異常位置とするための判断を行っている。
【０１０１】
次に、図１６を用いて、異常の原因がパターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれである場合の異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローについて説明を行う。
【０１０２】
Ｓ８００は処理の開始であり、Ｓ８０１へ進む。
Ｓ８０１では、初期値として履歴番号を０に、正常位置を１に、予測位置を１に、正常信号コードは無限端での信号コードに、全体の異常発生回数と信号ラインごとの異常発生回数を０に設定し、Ｓ８０２へ進む。なお、予測位置とは、現在位置の次の位置に相当する位置情報であり、位置情報抜けリストを考慮して算出される。
【０１０３】
Ｓ８０２では、履歴番号に１を加え、Ｓ８０３へ進む。
Ｓ８０３では、履歴番号番目の位置情報が正常位置か予測位置と等しい場合はＳ８０４へ進み、それ以外である場合はＳ８０９へ進む。
Ｓ８０４では、正常位置を履歴番号番目の位置情報に更新し、予測位置を正常位置に１を加え、正常信号コードを履歴番号番目の信号コードに更新し、Ｓ８０５へ進む。
【０１０４】
Ｓ８０５では、予測位置が位置情報抜けリストに存在するか判断し、存在する場合はＳ８０６へ、存在しない場合はＳ８１４へ進む
Ｓ８０６では、異常発生位置として予測位置を、異常発生ライン番号として０ｈを登録し、Ｓ８０７へ進む。
【０１０５】
Ｓ８０７では、異常発生位置を更新し、Ｓ８０８へ進む。
Ｓ８０８では、予測位置に１を加え、Ｓ８０５へ戻る。
Ｓ８０９では、正常信号コードの導通ビット数と履歴番号番目の信号コードの導通ビット数を比較し、正常信号コードの導通ビット数が小さい場合はＳ８１０へ、等しいか大きい場合はＳ８１１へ進む。なお、導通ビット数とは、信号コードを４ケタの２進数で表記したときに０となるビットの数である。
【０１０６】
Ｓ８１０では、正常位置を異常発生位置として登録し、Ｓ８１２へ進む。
Ｓ８１１では、履歴番号番目の位置情報を異常発生位置として登録し、Ｓ８１２へ進む。
Ｓ８１２では、異常発生ライン番号に履歴番号番目の信号コードと正常信号コードとの排他的論理和を登録し、Ｓ８１３へ進む。
【０１０７】
Ｓ８１３では、異常発生回数を更新し、Ｓ８１４へ進む。なお、異常発生回数の更新処理は実施例２の図８Ｓ３０６と同等のため、詳細な説明は省略する。
Ｓ８１４では、履歴情報が最後かどうか判断し、最後である場合はＳ８１５へ、最後でない場合はＳ８０２へ進む。
Ｓ８１５は処理の終了である。
【０１０８】
以上により、異常の原因がパターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれである場合に異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出を行うことができる。
なお、無限端での位置情報１が位置情報抜けリストに存在する場合を考慮し、Ｓ８０５〜Ｓ８０８までの処理をＳ８０１の直後に加えてもよい。
【０１０９】
続いて、図１７を用いて、異常の原因がブラシ片に埃が密着又はパターンのクラックである場合の異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローについて説明を行う。
【０１１０】
Ｓ９００は処理のスタートであり、Ｓ９０１へ進む。
Ｓ９０１では、初期値として抜け信号コードを０ｈに、抜けリスト番号を０にし、Ｓ９０２へ進む。抜け信号コードとは、位置情報抜けリストに記憶されている位置情報に対応する信号コードから、共通して導通している、つまりLowとなっているビットを算出するための値である。
Ｓ９０２では、位置情報抜けリストが最後かどうか判断し、最後である場合はＳ９０５へ、最後でない場合はＳ９０３へ進む。
【０１１１】
Ｓ９０３では、抜けリスト番号に１を加え、Ｓ９０４に進む。
Ｓ９０４では、抜け信号コードを、位置情報抜けリストに記憶されている位置情報に対応する信号コードとの論理和を取り更新し、Ｓ９０２へ進む。
Ｓ９０５では、初期値として重複信号コードをＦｈに、重複リスト番号を０にし、Ｓ９０６へ進む。重複信号コードとは、位置情報重複リストに記憶されている位置情報に対応する信号コードから、共通して導通していない、つまりHighとなっているビットを算出するための値である。
【０１１２】
Ｓ９０６では、位置情報重複リストが最後かどうか判断し、最後である場合はＳ９０９へ、最後でない場合はＳ９０７へ進む。
Ｓ９０７では、重複リスト番号に１を加え、Ｓ９０８に進む。
Ｓ９０８では、重複信号コードを、位置情報重複リストに記憶されている位置情報に対応する信号コードとの論理積を取り更新し、Ｓ９０６へ進む。
Ｓ９０９では、位置情報抜けリストに記憶してある全ての位置を異常発生位置として登録する。
【０１１３】
Ｓ９１０では、異常コードラインとして抜け信号コードでLow、つまり０で、かつ重複信号コードでHigh、つまり１となっているビットを抽出し、Ｓ９０９の異常発生位置に対応した異常発生ライン番号に登録し、Ｓ９１１へ進む。これは、クラックにより導通部分が非導通となるため、抜け信号コードの導通部分と重複信号コードの非導通部分から異常コードラインを算出している。
Ｓ９１１は処理の終了である。
【０１１４】
以上により、異常の原因がブラシ片に埃が密着又はパターンのクラックである場合に異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出を行うことができる。
【０１１５】
最後に、図１８を用いて、異常の原因が導通ゴミ等によるショートである場合の異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出フローについて説明を行う。
【０１１６】
Ｓ１０００は処理のスタートであり、Ｓ１００１へ進む。
Ｓ１００１では、初期値として重複信号コードをＦｈに、重複リスト番号を０にし、Ｓ１００２へ進む。重複信号コードとは、位置情報重複リストに記憶されている位置情報に対応する信号コードから、共通して導通していない、つまりHighとなっているビットを算出するための値である。
Ｓ１００２では、位置情報重複リストが最後かどうか判断し、最後である場合はＳ１００５へ、最後でない場合はＳ１００３へ進む。
【０１１７】
Ｓ１００３では、重複リスト番号に１を加え、Ｓ１００４に進む。
Ｓ１００４では、重複信号コードを、位置情報重複リストに記憶されている位置情報に対応する信号コードとの論理積を取り更新し、Ｓ１００２へ進む。
Ｓ１００５では、位置情報抜けリストに記憶してある全ての位置を異常発生位置として登録する。
【０１１８】
Ｓ１００６では、異常発生ライン番号として重複信号コードを代入し、Ｓ１００６へ進む。これは、ショートにより非導通部分が導通となるため、重複信号コードの非導通部分から異常発生ライン番号を算出している。
Ｓ１００７は処理の終了である。
【０１１９】
以上により、異常の原因が導通ゴミ等によるショートである場合に異常発生位置及び異常発生ライン番号の算出を行うことができる。
以上、図１３〜図１８を用いて異常情報算出手段３０４による異常情報の算出処理フローの説明を行った。これにより、自動検査機能を用いて検査を行い、パターン部材Ｐｔ１の異常に関する情報を適切に分析し、通知することができる。
【０１２０】
続いて、具体例を用いて異常情報の算出について説明を行う。
図１９は異常がない時の例であり、図２０は埃が混入した場合、図２１はパターン部材Ｐｔ１が斜めにずれた場合、図２２はパターンにクラックが発生した場合、図２３は導電性のごみによりショートが発生した場合の例である。
図１９〜図２３において、（ａ）はパターン部材Ｐｔ１のパターンと信号コード、位置情報であり、パターンについてはそれぞれの場合においての異常の原因についても図示している。（ｂ）は（ａ）の状態時に自動検査において、可動の光学部材であるフォーカスレンズを無限端から至近端へ移動した時に、記憶手段２０６に記憶される履歴情報である。また、（ｃ）は異常の原因を判断する処理で必要となる記憶解析情報であり、（ｄ）は外部に出力する異常情報である。
【０１２１】
図１９に示す異常がない時の異常情報の例では、（ｂ）履歴情報は（ａ）に示す信号コードと位置情報の期待値と等しくなり、（ｃ）に示す情報も図のようになる。なお、（ｃ）記憶解析情報に示す値は、正常時に得られる諸データ（期待値）として異常情報算出手段３０４に記憶されている値と一致している。また、異常情報も異常無いことを示す値が出力される。
【０１２２】
図２０に示す埃が混入した場合の異常情報の例では、（ａ）に示す埃Ｇ２、埃Ｇ３、埃Ｇ４がパターン上に混入しており、ブラシ片が位置Ｐ２、位置Ｐ３、位置Ｐ４においてそれぞれ埃Ｇ２、埃Ｇ３、埃Ｇ４に乗り上げ、信号コードが変化する。
【０１２３】
自動検査では、まず信号コード９ｈ、位置情報１が履歴情報として記憶手段２０６に記憶される。その後、位置情報２が出力されるはずの範囲において、最初は信号コード１ｈ、位置情報２が記憶されるが、ブラシ部材Ｂｒ１の移動により埃Ｇ４に乗り上げ、信号コードが変化し、信号コード５ｈ、位置情報３が記憶される。そののち、埃Ｇ４を通過し信号コードが元に戻るため、信号コード１ｈ、位置情報２が記憶される。つまり、位置情報２が出力されるはずの範囲において、信号コードとしては１ｈ−５ｈ−１ｈ、位置情報としては２−３−２と記憶される。
同様に位置情報９が出力されるはずの範囲においても、埃Ｇ３、埃Ｇ２の影響で信号コードが変化し、信号コードはＡｈ−Ｂｈ−Ａｈ−Ｅｈ−Ａｈ、位置情報は９−１２−９−０−９と記憶される。
【０１２４】
異常の有無は有、履歴数は１８と算出され、パターン導通数は３９であり、パターン導通割合は２．１６６７と算出される。位置情報抜けリストは、位置情報として１から１２までの各値が全て出現しているため、空となる。位置情報重複リストは位置情報２、３、９、１２がそれぞれ２回ずつ出現しているのに加え、異常を示す位置情報０も図１３のＳ５０５からＳ５０７へ進むため、０、２、３、９、１２となる。
異常情報について、まず異常原因については、履歴数１８は期待値１２より大きく、また位置情報抜けリストには値が存在しないため、埃の混入又は振動によるブラシ片の離反と算出される。
【０１２５】
また異常発生位置と異常発生ライン番号について、まず埃Ｇ４について、履歴番号４である位置情報２、信号コード１において図１５のＳ７０３からＳ７０５へと進む。そこで信号コードが比較され、正常信号コード５ｈの導通ビット数「２」が信号コード［履歴番号］の１ｈの導通ビット数「３」より少ないため、Ｓ７０７へ進み、異常発生位置として位置情報２となる。続いてＳ７０８において異常発生ライン番号が算出され、信号コード１ｈと、正常位置である位置情報３の正常信号コード５ｈとの排他的論理和である４ｈとなる。
同様に、埃Ｇ３については履歴番号１２において異常発生位置９と異常発生ライン番号４ｈ、埃Ｇ２については履歴番号１４において異常発生位置９と異常発生ライン番号１ｈとなる。
【０１２６】
図２１に示すパターン部材Ｐｔ１が斜めにずれた場合の異常情報の例では、（ａ）の破線で示すように、それぞれのブラシ片の摺動する軌跡Ｔ１〜Ｔ５がパターン部材Ｐｔ１の信号ラインＬ１〜Ｌ５に対して斜めにずれている。そのため、位置Ｐ５において軌跡Ｔ１が信号ラインＬ１から外れ、位置Ｐ６においてさらに軌跡Ｔ４が信号ラインＬ４から外れる。
【０１２７】
自動検査では、位置情報１０が出力されるはずの範囲において正常に信号コード２ｈ、位置情報１０が記憶されたのち、位置Ｐ５を越えるとビット３が導通しなくなるため、信号コードが変化し、信号コードＡｈ、位置情報９が記憶される。その後、位置情報１１が出力されるはずの範囲においてはビット３が導通していないため、信号コードＥｈ、位置情報１２が記憶される。その後、位置情報１２が出力されるはずの範囲に移動しても信号コードの変化は起こらないが、位置Ｐ６を超えるとさらにビット０も導通しなくなるため、信号コードＦｈ、位置情報０が記憶される。まとめると、位置情報１０−１１−１２と出力されるはずの範囲において、履歴情報には信号コード２ｈ−Ａｈ−Ｅｈ−Ｆｈ、位置情報１０−９−１２−０と記憶される。
【０１２８】
異常の有無は有、履歴数は１３と算出され、パターン導通数は２８であり、パターン導通割合は２．１５３８と算出される。位置情報抜けリストは、位置情報として１１が出現していないため、１１となる。位置情報重複リストは位置情報９が２回出現しているので、９となる。
【０１２９】
異常情報について、まず異常原因については、履歴数１３は期待値１２より大きく、また位置情報抜けリストに値が存在するため、パターン部材Ｐｔ１又はブラシ部材Ｂｒ１の固定ずれと算出される。
また異常発生位置と異常発生ライン番号について、まず位置Ｐ５より無限側、つまり履歴番号９までは図１６のＳ８０３−Ｓ８０４−Ｓ８０５−Ｓ８１４と進み、異常発生位置及び異常発生ライン番号への登録は行われない。
【０１３０】
履歴番号１０において、Ｓ８０３−Ｓ８０４−Ｓ８０５と進み、予測位置１１が位置情報抜けリストに存在するため、Ｓ８０６への進み、異常発生位置に位置情報１１、異常発生ライン番号に０ｈがまず登録される。
続いての履歴番号１１において、正常位置は１０、予測位置は１２となるが、位置情報は９であるためＳ８０３−Ｓ８０９−Ｓ８１０−Ｓ８１２−Ｓ８１３へと進み、異常発生位置として１０、異常発生ライン番号として８ｈが登録される。
【０１３１】
続いての履歴番号１２においては、正常位置は１０、予測位置は１２であり、位置情報は１２である為、Ｓ８０３−Ｓ８０４−Ｓ８０５−Ｓ８１４と進み、異常発生位置及び異常発生ライン番号への登録は行われない。
続いての履歴番号１３においては、正常位置は１２、予測位置は１３であり、位置情報は０である為、Ｓ８０３−Ｓ８０９−Ｓ８１０−Ｓ８１２−Ｓ８１３と進み、異常発生位置として１２、異常発生ライン番号として１ｈが登録される。
【０１３２】
図２２に示すパターンにクラックが発生した場合の異常情報の例では、（ａ）に示すクラックＣ１により、信号ラインＬ１２の途中から導通部分が欠落している。
自動検査では、位置情報７−８−９−１０が出力されるはずの範囲においてクラックＣ１の影響により、ビット２が電気的に接続しなくなり、Highとなる。そのため、位置情報６−７−８−９−１０−１１が出力される範囲において、信号コード４ｈ−Ｃｈ−Ｅｈ−６ｈが、位置情報６−５−１２−１１が記憶される。
【０１３３】
異常の有無は有、履歴数は１０と算出され、パターン導通数は１９であり、パターン導通割合は１．９と算出される。位置情報抜けリストは７、８、９、１０となり、位置情報重複リストは５、１２となる。
異常情報について、まず異常原因については、履歴数１０は期待値１２より小さく、またパターン導通割合１．９は期待値２．３３３３より小さいため、パターンにクラックが発生と算出される。
また異常発生位置と異常発生ライン番号について、異常発生位置は位置情報として出力されなかった位置であり、位置情報１から１２の中で出現しなかった位置情報は７、８、９、１０である。
【０１３４】
異常発生ライン番号について、出現しなかった位置情報に対応する信号コードは０ｈ、８ｈ、Ａｈ、２ｈであり、共通して導通している、つまりLowとなっているのはビット２とビット０である。また、複数回出ている信号コードはＣｈ、Ｅｈであり、共通して導通していない、つまりHighとなっているのはビット３とビット２である。これらに共通するのはビット２である為、ビット２の導通部分がクラックによって非導通となってしまったと判断される。
【０１３５】
図２３に示す導電性のごみによりショートが発生した場合の異常情報の例では、（ａ）に示す導電性のゴミＳ１により、信号ラインＬ１２と信号ラインＬ１３がショートを起こしている。
【０１３６】
自動検査では、位置情報３−４−５−６が出力されるはずの範囲においてビット２がLowとなるため信号コードが１ｈ−９ｈ−８ｈ−０ｈ、位置情報が２−１−８−７と記憶される。同様に、位置情報９−１０が出力されるはずの範囲ではビット１がLowと出力されるため、信号コードが８ｈ−０ｈ、位置情報が８−７と記憶される。
【０１３７】
異常の有無は有、履歴数は９と算出され、パターン導通数は２９であり、パターン導通割合は２．６６６７と算出される。位置情報抜けリストは３、４、５、６、９、１０となり、位置情報重複リストは１、７、８となる。
異常情報について、まず異常原因については、履歴数９は期待値１２より小さく、またパターン導通割合２．６６６７は期待値２．３３３３より大きいため、導電性のごみによりショートが発生と算出される。
また異常発生位置と異常発生ライン番号について、異常発生位置は位置情報として出力されなかった位置であり、位置情報１から１２の中で出現しなかった位置情報は３、４、５、６、９、１０である。
【０１３８】
記憶手段に記憶されている信号コードの中で複数回出現した信号コードのみから算出する。すなわち、複数回出ている信号コードは９ｈ、８ｈ、０ｈであり、共通して導通している、つまりLowとなっているのはビット２とビット１である。そのため、ビット２とビット１の導通部分がショートしたと判断される。
また、異常発生ライン番号は、記憶手段に記憶されている信号コードから算出することもできる。すなわち、信号コードは９ｈ、１ｈ、８ｈ、０ｈ、６ｈ、Ｅｈであり、全てにおいてビット２とビット１が同じ値であることがわかる。そのため、ビット２とビット１の導通部分がショートしてしまったと判断される。
【０１３９】
以上、本実施例によれば、自動検査機能を用いて、位置検出手段１０２の全域を自動的に検査でき、さらには異常位置や原因の特定までを行って通知をすることができる。
また、自動検査は駆動方向が一定であるため、図２０の埃Ｇ４のような、実施例１や２では異常と判断できない埃についても検知することができる。
【０１４０】
異常情報として（ｄ）で示した情報の一部のみを出力する、もしくは（ｂ）に示した履歴情報や（ｃ）記憶解析情報を加えて出力してもよい。
さらに、自動検査で記憶されなかった信号コードやその位置情報、また自動検査で複数回記憶された信号コードや位置情報を出力してもよい。正常時の自動検査では、パターン部材Ｐｔ１から出力されうる全ての信号コード及び位置情報が１回ずつ記憶されるはずであり、記憶されない、もしくは複数回記憶された信号コードやその位置情報は異常に関する情報となるからである。
【０１４１】
また、図１４のＳ６０３の判断基準の代わりに、履歴数にある閾値、例えば期待値＋２等を設け、期待値より多く閾値より少ない場合は埃、閾値以上の場合は固定ずれとしてもよい。
なお、駆動系を持たない実施例２と同等の構成のレンズ装置においても、マニュアルでフォーカスレンズを移動させることによって同等の効果を得ることができる。
以上、実施例１〜３を用いて本発明の実施形を説明した。
なお、実施例では光学部材としてフォーカスレンズを例に挙げたが、ズームレンズやアイリスなど、他の光学部材でも同様の効果を発揮することができる。
【０１４２】
また、異常判断方法や異常補正方法は本発明により限定されず、いかなる異常判断方法や異常補正方法を用いても同様の効果を得ることができる。例えば、上述した自動検査のように、駆動端から駆動端までを一定方向に駆動して採取された異常情報のデータではなく、製品使用者が通常の使用中の可動光学部材の駆動情報とその時に得られた信号コードの履歴情報をもとに異常情報を算出するようにしてもよい。駆動情報としては、例えば、駆動領域、駆動方向、駆動量、駆動速度、駆動軌跡、駆動回数などの少なくとも１つを含む情報である。この方法によると、製品が実際に使用されている間に蓄積された信号コードの履歴情報に基づいて、位置検出装置の異常をより的確に把握することが可能となる。
【０１４３】
さらには、パターン部材とブラシ部材の構成もこの例によるものに限定されず、例えばパターン部材の各信号ラインがすべて電気的に接続され、ブラシ部材のブラシ片がそれぞれレンズＣＰＵのポート及びＧＮＤに接続されている構成でも良い。
【０１４４】
また、異常情報を出力する出力手段として本実施例では外部に出力する通信手段としたが、レンズ装置が情報ディスプレイを有し、当該情報ディスプレイに出力・表示することにより直接検査者に通知を行ってもよい。また、異常情報の通知は、通常の動作モードとは異なる検査用の動作モード時のみ行うようにすることで、製品使用者には異常を認知させることなく検査者に異常を通知することができる。さらには正常に補正できない異常を検知したら製品使用者にも異常を通知し、修理を促すようにしてもよい。
【０１４５】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【０１４６】
１０、２０、３０：レンズ装置
１０１：フォーカスレンズ
１０２：位置検出手段
１０３：異常補正手段
１０４、２０４、３０４：異常情報検出手段
１０５：通信手段
３０７：制御手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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