(57)【要約】【課題】不揮発性メモリへの格納回数を抑えつつ、障害発生前における装置の動作に関する情報を障害に関する情報とともに不揮発性メモリに格納することができる障害発生トレースシステムを提供する。【解決手段】障害発生トレースシステム１０は、演算処理回路１１に接続された揮発性メモリ１２と、演算処理回路１１に接続された不揮発性メモリ１３とを備える。演算処理回路１１は、装置の正常動作時に、装置の動作に関する情報である動作トレースログＬ１を定期的に生成して揮発性メモリ１２に定期的に格納し、装置の障害発生時に、その障害の前に生成された一又は複数の動作トレースログＬ１を、その障害に関する情報である障害ログＬ２とともに不揮発性メモリ１３の障害トレース情報格納領域に格納する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
演算処理回路を有する装置において障害に関する情報をトレースするための障害発生トレースシステムであって、
前記演算処理回路に接続された揮発性メモリと、
前記演算処理回路に接続された不揮発性メモリと
を備え、
前記演算処理回路は、前記装置の正常動作時に、前記装置の動作に関する情報である動作トレースログを定期的に生成して前記揮発性メモリに定期的に格納し、前記装置の障害発生時に、その障害の前に生成された一又は複数の前記動作トレースログを、その障害に関する情報である障害ログとともに前記不揮発性メモリの障害トレース情報格納領域に格納することを特徴とする、障害発生トレースシステム。
【請求項２】
前記不揮発性メモリが複数の前記障害トレース情報格納領域を有しており、
前記演算処理回路が、前記装置の障害発生毎に、前記一又は複数の動作トレースログ及び前記障害ログを前記複数の障害トレース情報格納領域のそれぞれに順次格納することを特徴とする、請求項１に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項３】
前記不揮発性メモリの容量が前記揮発性メモリの容量よりも大きいことを特徴とする、請求項１または２に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項４】
前記動作トレースログが、先入れ先出し方式にて前記揮発性メモリに格納されることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一項に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項５】
前記障害ログが、前記装置の障害の種類に関する情報であるエラーコードを含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項６】
前記動作トレースログは、該動作トレースログが生成された時間に関する時間情報を含んでおり、
前記障害ログは、該障害ログが生成された時間に関する時間情報を含んでおり、
前記演算処理回路は、前記装置の障害発生時に、前記障害ログよりも古い前記動作トレースログを前記障害ログとともに前記障害トレース情報格納領域に格納することを特徴とする、請求項１〜５のいずれか一項に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項７】
前記障害ログ及び前記動作トレースログを前記不揮発性メモリから取り出すためのデータ出力ポートを更に備えることを特徴とする、請求項１〜６のいずれか一項に記載の障害発生トレースシステム。
【請求項８】
光通信システムに用いられる光モジュールであって、
駆動電圧により駆動される光デバイスと、
演算処理回路と、
前記演算処理回路からの出力信号を受けて該出力信号に応じた大きさの前記駆動電圧を生成する電圧生成部と、
請求項１〜７のいずれか一項に記載された、当該光モジュールにおいて障害に関する情報をトレースするための障害発生トレースシステムと
を備えることを特徴とする、光通信システム用光モジュール。
【請求項９】
当該光通信システム用光モジュール内の所定箇所の温度を示す第１の温度信号を出力する第１の温度センサと、
前記第１の温度信号に基づく第１の温度情報を前記演算処理回路に提供する温度モニタ部と
を更に備え、
前記第１の温度情報が異常値を示す場合に、前記演算処理回路が前記第１の温度情報を前記障害ログと判断することを特徴とする、請求項８に記載の光通信システム用光モジュール。
【請求項１０】
前記第１の温度情報が所定温度を超える場合に、前記演算処理回路が前記第１の温度情報を前記障害ログと判断することを特徴とする、請求項９に記載の光通信システム用光モジュール。
【請求項１１】
当該光通信システム用光モジュール内の別の箇所の温度を示す第２の温度信号を前記温度モニタ部へ出力する第２の温度センサを更に備え、
前記温度モニタ部は、前記第２の温度信号に基づく第２の温度情報を前記演算処理回路に提供し、
前記演算処理回路は、前記第１の温度情報と前記第２の温度情報とを比較した値が所定値を超える場合に、前記第１の温度情報を前記障害ログと判断することを特徴とする、請求項９に記載の光通信システム用光モジュール。
【請求項１２】
前記光デバイスが、波長選択スイッチのための光偏向素子であることを特徴とする、請求項８〜１１のいずれか一項に記載の光通信システム用光モジュール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、障害発生トレースシステム及び光通信システム用光モジュールに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光通信分野において用いられる光伝送装置として、光チャンネルモニタが記載されている。この光チャンネルモニタは、波長の異なる複数の光信号が多重された光信号を伝送する光ファイバと、該光ファイバから光信号の一部を分岐するカプラと、分岐された光信号の強度を波長毎に分光して検出する分光デバイス及び受光素子とを備えている。また、この光チャンネルモニタは、受光素子における検出結果から算出された各チャンネルの中心波長が一時的に格納されるＲＡＭ（Random Access Memory）と、各チャンネルの中心波長の時間的変動量の演算のために各チャンネルの中心波長が定期的に格納されるフラッシュメモリ等の不揮発性メモリとを備えている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１０５２２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＣＰＵといった演算処理回路を有する装置では、その装置に生じた障害（異常）が検出された場合、その障害の内容を不揮発性メモリ等に格納して後の原因追究（トレース）に役立てることが望まれる。通常、このような格納動作は障害発生時に行われ、その障害の内容や、障害発生時の動作状態に関する情報（ログ）が不揮発性メモリ等に格納される。
【０００５】
また、装置に障害が発生するときは、その前に種々の前触れとしての現象が生じているはずである。このような現象を知ることは、トレースの際に極めて有用である。しかしながら、不揮発性メモリ等に格納される動作状態に関する情報が障害発生時点での情報のみである場合には、そのようなトレースを行うことが困難である。
【０００６】
また、例えば特許文献１に記載された装置のように、所定の情報を不揮発性メモリに定期的に格納する方式も考えられる。しかしながら、通常、不揮発性メモリの書き込み回数には制限があるため、装置が正常に動作している時に不揮発性メモリへの格納動作を定期的に行うと、書き込み回数が制限値を超えてしまい、障害発生時に種々の情報を格納できなくなるおそれがある。
【０００７】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、不揮発性メモリへの格納回数を抑えつつ、障害発生前における装置の動作に関する情報を障害に関する情報とともに不揮発性メモリに格納することができる障害発生トレースシステム、及びこの障害発生トレースシステムを備える光通信システム用光モジュールを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決するために、本発明による障害発生トレースシステムは、演算処理回路を有する装置において障害に関する情報をトレースするための障害発生トレースシステムであって、演算処理回路に接続された揮発性メモリと、演算処理回路に接続された不揮発性メモリとを備え、演算処理回路が、装置の正常動作時に、装置の動作に関する情報である動作トレースログを定期的に生成して揮発性メモリに定期的に格納し、装置の障害発生時に、その障害の前に生成された一又は複数の動作トレースログを、その障害に関する情報である障害ログとともに不揮発性メモリの障害トレース情報格納領域に格納することを特徴とする。
【０００９】
また、障害発生トレースシステムは、不揮発性メモリが複数の障害トレース情報格納領域を有しており、演算処理回路が、装置の障害発生毎に、一又は複数の動作トレースログ及び障害ログを複数の障害トレース情報格納領域のそれぞれに順次格納することを特徴としてもよい。
【００１０】
また、障害発生トレースシステムは、不揮発性メモリの容量が揮発性メモリの容量よりも大きいことを特徴としてもよい。
【００１１】
また、障害発生トレースシステムは、動作トレースログが、先入れ先出し方式にて揮発性メモリに格納されることを特徴としてもよい。
【００１２】
また、障害発生トレースシステムでは、障害ログが、装置の障害の種類に関する情報であるエラーコードを含むことが好ましい。
【００１３】
また、障害発生トレースシステムでは、動作トレースログは、該動作トレースログが生成された時間に関する時間情報を含んでおり、障害ログは、該障害ログが生成された時間に関する時間情報を含んでおり、演算処理回路は、装置の障害発生時に、障害ログよりも古い動作トレースログを障害ログとともに障害トレース情報格納領域に格納することが好ましい。
【００１４】
また、障害発生トレースシステムは、障害ログ及び動作トレースログを不揮発性メモリから取り出すためのデータ出力ポートを更に備えることが好ましい。
【００１５】
また、本発明による光通信システム用光モジュールは、光通信システムに用いられる光モジュールであって、駆動電圧により駆動される光デバイスと、演算処理回路と、演算処理回路からの出力信号を受けて該出力信号に応じた大きさの駆動電圧を生成する電圧生成部と、当該光モジュールにおいて障害に関する情報をトレースするための上記いずれかの障害発生トレースシステムとを備えることを特徴とする。
【００１６】
また、光通信システム用光モジュールは、当該光通信システム用光モジュール内の所定箇所の温度を示す第１の温度信号を出力する第１の温度センサと、第１の温度信号に基づく第１の温度情報を演算処理回路に提供する温度モニタ部とを更に備え、第１の温度情報が異常値を示す場合に、演算処理回路が第１の温度情報を障害ログと判断することを特徴としてもよい。
【００１７】
また、光通信システム用光モジュールは、第１の温度情報が所定温度を超える場合に、演算処理回路が第１の温度情報を障害ログと判断することを特徴としてもよい。
【００１８】
また、光通信システム用光モジュールは、当該光通信システム用光モジュール内の別の箇所の温度を示す第２の温度信号を温度モニタ部へ出力する第２の温度センサを更に備え、温度モニタ部は、第２の温度信号に基づく第２の温度情報を演算処理回路に提供し、演算処理回路は、第１の温度情報と第２の温度情報とを比較した値が所定値を超える場合に、第１の温度情報を障害ログと判断することを特徴としてもよい。
【００１９】
また、上述した光通信システム用光モジュールでは、光デバイスが、波長選択スイッチのための光偏向素子であってもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明による障害発生トレースシステム及び光通信システム用光モジュールによれば、不揮発性メモリへの格納回数を抑えつつ、障害発生前における装置の動作に関する情報を障害に関する情報とともに不揮発性メモリに格納することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係る障害発生トレースシステムの基本構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリの内部構造を概略的に示す図である。
【図３】図３は、障害発生トレースシステムが適用される装置の具体例として、光通信システムに用いられる光モジュールの構成を示す図である。
【図４】図４は、光モジュールにおける動作トレースログの例を示す図表であって、動作トレースログとしてのトレースログ（Trace Log）を示している。
【図５】図５は、光モジュールにおける動作トレースログの例を示す図表であって、動作トレースログとしてのモニタログ（Monitor Log）を示している。
【図６】図６は、光モジュールにおける障害ログの例を示す図表であって、障害ログとしての例外ログ（Exception Log）を示している。
【図７】図７は、光モジュールにおける障害ログの例を示す図表であって、障害ログとしての警告ログ（Alarm Log）を示している。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、添付図面を参照しながら本発明による障害発生トレースシステム及び光通信システム用光モジュールの実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００２３】
図１は、本発明の一実施形態に係る障害発生トレースシステムの基本構成を示すブロック図である。図１に示される障害発生トレースシステム１０は、演算処理回路１１を有する装置において障害に関する情報をトレースするための装置であって、演算処理回路１１に加え、演算処理回路１１にそれぞれ接続された揮発性メモリ１２及び不揮発性メモリ１３を備えている。
【００２４】
演算処理回路１１は、所定のプログラム等によって決められた処理を行う大規模集積回路である。演算処理回路１１としては、中央演算処理装置（ＣＰＵ；Central Processing Unit）などのマイクロプロセッサ（ＭＰＵ；Micro Processing Unit）、プログラマブルロジックデバイス（ＰＬＤ；Programmable Logic Device）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ；Digital Signal Processor）等が挙げられる。演算処理回路１１は、所定の演算処理を周期的に行い、当該装置における種々の制御対象物Ａを動作させるための制御信号Ｓを生成する。例えば、当該装置が光通信システムに用いられる波長選択スイッチ（ＷＳＳ；wavelength selective switch）である場合、分光された複数の信号成分をそれぞれ異なる方向へ反射する光偏向素子が制御対象物Ａとなり得る。このような光偏向素子としては、例えばＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）ミラーやＬＣＯＳ（Liquid crystal on silicon）などが挙げられる。
【００２５】
また、当該装置が正常に動作しているとき、演算処理回路１１は、上述した制御信号Ｓを生成しつつ、当該装置の動作に関する情報（例えば制御信号値など。以下、動作トレースログという）Ｌ１を定期的に生成し、この動作トレースログＬ１を揮発性メモリ１２の動作トレースログ格納領域に定期的に格納（書き込み）する。動作トレースログＬ１の格納周期は、制御信号Ｓの演算周期と同じでもよく、制御信号Ｓの演算周期より長くてもよい。なお、揮発性メモリ１２は、例えばＲＡＭによって好適に構成され得る。
【００２６】
また、演算処理回路１１は、当該装置や演算処理回路１１自身に障害（異常）がないか、常時監視している。演算処理回路１１は、当該装置や演算処理回路１１自身に障害が発生したときには、その障害の前に生成された一又は複数の動作トレースログＬ１を揮発性メモリ１２から読み出し、その障害の内容に関する情報（以下、障害ログという）Ｌ２とともに、不揮発性メモリ１３の障害トレース情報格納領域に格納する。なお、不揮発性メモリ１３は、例えばフラッシュメモリによって好適に構成され得る。
【００２７】
図２は、揮発性メモリ１２及び不揮発性メモリ１３の内部構造を概略的に示す図である。図２に示されるように、揮発性メモリ１２の内部には動作トレースログ格納領域１２ａが複数設けられている。複数の動作トレースログ格納領域１２ａはリングバッファ（ラウンドロビン方式）を構成しており、動作トレースログは先入れ先出し方式にて揮発性メモリ１２に格納される。すなわち、最新の動作トレースログを揮発性メモリ１２に格納する毎に、最古の動作トレースログが揮発性メモリ１２から消去され、揮発性メモリ１２内の動作トレースログの数が一定数に維持される。なお、最古の動作トレースログが消去されたとき、新しく書き換えられた動作トレースログにログ破棄フラグを立てて、欠落ログがあったことを明示するようにしてもよい。
【００２８】
また、不揮発性メモリ１３の内部には、障害トレース情報格納領域１３ａが複数個設けられている。各障害トレース情報格納領域１３ａはそれぞれ一つの障害発生事案に対応しており、演算処理回路１１は、障害が発生すると、一つの障害ログ、及び複数の動作トレースログを含む障害トレース情報を、一つの障害トレース情報格納領域１３ａに格納する。このとき、演算処理回路１１は、最新の動作トレースログから遡って例えば１００個程度の動作トレースログを揮発性メモリ１２から読み出し、障害ログとともに一塊の障害トレース情報として不揮発性メモリ１３に格納する。この障害トレース情報は、不揮発性メモリ１３において障害が生じた順序で（古い情報から新しい情報へ順に）格納されていることが好ましく、古い障害トレース情報から順に取り出すことができるようにキュー管理される。また、揮発性メモリ１２と同様に、複数の障害トレース情報格納領域１３ａはリングバッファ（ラウンドロビン方式）を構成しており、障害トレース情報は先入れ先出し方式にて不揮発性メモリ１３に格納されるとよい。
【００２９】
なお、本実施形態において、揮発性メモリ１２は、演算処理回路１１と共通のパッケージ内に収容されていてもよく、演算処理回路１１とは別のパッケージ内に収容されていてもよい。同様に、不揮発性メモリ１３は、演算処理回路１１と共通のパッケージ内に収容されていてもよく、演算処理回路１１とは別のパッケージ内に収容されていてもよい。また、障害が複数生じたときであっても、各障害時に揮発性メモリ１２に格納された動作トレースログを不揮発性メモリ１３に格納することができるように、不揮発性メモリ１３の容量は、揮発性メモリ１２の容量よりも大きいことが好ましい。
【００３０】
障害のトレースの便宜のため、障害ログには、その障害の種類に関する情報（エラーコード）、及び、その障害ログが生成された時間に関する情報（タイムスタンプ）のうち少なくとも一方が含まれていることが好ましい。また、動作トレースログには、その動作トレースログが生成された時間に関する情報（タイムスタンプ）が含まれていることが好ましい。更に、演算処理回路１１は、当該装置に障害が発生したときに、その障害に関する障害ログよりも古い動作トレースログを、その障害ログとともに障害トレース情報格納領域１３ａに格納することが好ましい。
【００３１】
また、この障害発生トレースシステム１０は、不揮発性メモリ１３に格納された障害ログ及び動作トレースログを、当該装置の整備や点検の際に不揮発性メモリ１３から取り出すためのデータ出力ポートを更に備えてもよい。
【００３２】
図３は、上述した障害発生トレースシステム１０が適用される装置の具体例として、光通信システムに用いられる光モジュール２０の構成を示す図である。この光モジュール２０は、光通信システムに用いられる波長選択スイッチである。
【００３３】
光モジュール２０は、光偏向素子２１と、この光偏向素子２１に駆動電圧を与える制御部２５とを備えている。光偏向素子２１は、駆動電圧によって駆動される光デバイスであって、図１に示された制御対象物Ａに相当する素子である。光偏向素子２１は、例えばＭＥＭＳミラーやＬＣｏＳによって構成される。また、光モジュール２０は、一つの入力用光導波路２２と、複数の出力用光導波路２３とを備えており、入力用光導波路２２から出射した信号光Ｐ１は、光偏向素子２１の光反射面２１ａにおいて反射し、その反射角に応じて、複数の出力用光導波路２３のうち何れかに選択的に入射する。光反射面２１ａにおける反射角は、制御部２５から提供される２つの駆動電圧（Ｘ軸駆動電圧Ｖｄ１、Ｙ軸駆動電圧Ｖｄ２）によって制御される。なお、入力用光導波路２２及び複数の出力用光導波路２３と光偏向素子２１との間には、レンズ２４が配置されてもよい。
【００３４】
制御部２５は、障害発生トレースシステム１０と、電圧生成部３０とを有している。障害発生トレースシステム１０は、前述した図１に示されたものと同じ構成要素、すなわち演算処理回路１１と、揮発性メモリ１２と、不揮発性メモリ１３とを有している。また、この光モジュール２０では、演算処理回路１１は、駆動電圧Ｖｄ１，Ｖｄ２の大きさをそれぞれ示す電気的な制御信号Ｓ１，Ｓ２を生成する。制御信号Ｓ１，Ｓ２は、ディジタルデータとして電圧生成部３０に送られる。なお、制御信号Ｓ１，Ｓ２を送る方式は、パラレル方式及びシリアル方式の何れであってもよい。シリアル方式が用いられる場合、制御信号Ｓ１，Ｓ２は、例えばＲＳ２３２といった通信インターフェースを用いて電圧生成部３０に送られる。
【００３５】
電圧生成部３０は、演算処理回路１１から制御信号Ｓ１，Ｓ２を入力し、制御信号Ｓ１，Ｓ２に応じた大きさの駆動電圧Ｖｄ１，Ｖｄ２を光偏向素子２１に提供する。電圧生成部３０は、アナログ−ディジタル変換器を含んで構成される。一例としては、電圧生成部３０は、ＤＡコンバータ３４ａ及び３４ｂ、高電圧増幅部３５ａ及び３５ｂ、並びに駆動部３６ａ及び３６ｂを有する。ＤＡコンバータ３４ａ、高電圧増幅部３５ａ及び駆動部３６ａはＸ軸駆動電圧Ｖｄ１を生成するための回路部分であり、ＤＡコンバータ３４ｂ、高電圧増幅部３５ｂ及び駆動部３６ｂはＹ軸駆動電圧Ｖｄ２を生成するための回路部分である。
【００３６】
ＤＡコンバータ３４ａは、演算処理回路１１から出力されたディジタル信号である制御信号Ｓ１をアナログ信号である制御信号Ｓａ１に変換し、この制御信号Ｓａ１を高電圧増幅部３５ａへ出力する。高電圧増幅部３５ａは、制御信号Ｓａ１をＸ軸駆動電圧Ｖｄ１に変換し、このＸ軸駆動電圧Ｖｄ１を駆動部３６ａへ出力する。駆動部３６ａは、Ｘ軸駆動電圧Ｖｄ１を光偏向素子２１へ供給する。
【００３７】
また、ＤＡコンバータ３４ｂは、演算処理回路１１から出力されたディジタル信号である制御信号Ｓ２をアナログ信号である制御信号Ｓａ２に変換し、この制御信号Ｓａ２を高電圧増幅部３５ｂへ出力する。高電圧増幅部３５ｂは、制御信号Ｓａ２をＹ軸駆動電圧Ｖｄ２に変換し、このＹ軸駆動電圧Ｖｄ２を駆動部３６ｂへ出力する。駆動部３６ｂは、Ｙ軸駆動電圧Ｖｄ２を光偏向素子２１へ供給する。
【００３８】
また、図３に示されるように、制御部２５は、温度モニタ部２６と、電圧モニタ部２７と、加速度センサ２９とを更に有している。温度センサ２８は、本実施形態における第１の温度センサであり、光モジュール２０内の所定箇所、例えば光モジュール２０の光学系（光偏向素子２１、入力用光導波路２２、出力用光導波路２３、及びレンズ２４）の近傍の温度を示す第１の温度信号を出力する。温度モニタ部２６は、温度センサ２８から得られる第１の温度信号を受け、温度センサ２８の周辺温度に関する第１の温度情報を演算処理回路１１に提供する。演算処理回路１１は、この第１の温度情報が異常値を示す場合（典型的には、第１の温度情報が所定温度を超える場合）に、その第１の温度情報を障害ログと判断し、障害トレース情報格納領域１３ａに格納する。なお、温度センサ２８に加えて、更に別の温度センサ３１（第２の温度センサ）が設けられてもよい。この場合、温度センサ３１は、光モジュール２０内の別の箇所の温度を示す第２の温度信号を温度モニタ部２６へ出力する。そして、温度モニタ部２６は、第２の温度信号に基づく第２の温度情報を演算処理回路１１に提供する。このように温度センサが複数設けられた場合、それらの温度情報を相互に比較することで、過熱等の異常（障害）箇所の特定や、故障した温度センサの特定を行うことができる。例えば、一つの温度センサ２８が、例えば光モジュール２０の光学系（光偏向素子２１、入力用光導波路２２、出力用光導波路２３、及びレンズ２４）を収容する筐体（ケース）の内部において光学系の近傍（例えば光偏向素子２１上）に設けられ、その箇所の温度を示す第１の温度信号を出力する。そして、別の温度センサ３１が、例えば光学系を収容するケース上またはその付近に設けられ、ケース温度を示す第２の温度信号を出力する。なお、ケース温度を計測する場合、温度センサ３１は、熱源である電子部品やその電子部品が実装された配線基板に設けられることが好ましいが、例えばケースの外部にケースと熱的に結合された状態で配置されてもよい。演算処理回路１１は、これらの温度センサ２８，３１から得られる第１及び第２の温度情報を比較し、その比較した値が所定値を超える場合に、第１の温度情報（または第２の温度情報）を障害ログと判断することができる。
【００３９】
電圧モニタ部２７は、電圧生成部３０において駆動電圧Ｖｄ１，Ｖｄ２の大きさを検出し、駆動電圧Ｖｄ１，Ｖｄ２の大きさに関する情報を演算処理回路１１に提供する。演算処理回路１１は、駆動電圧Ｖｄ１またはＶｄ２の大きさが所定範囲に含まれないときには、駆動電圧Ｖｄ１またはＶｄ２の異常（障害）、すなわち電圧生成部３０の異常（障害）と判断する。
【００４０】
加速度センサ２９は、光モジュール２０に対する重力加速度の大きさ又は方向を検出するためのセンサである。光モジュール２０が使用される際、光学系を収容するケースは、ラック等に様々な向きで設置される。光偏向素子が例えばＭＥＭＳによって構成される場合、ＭＥＭＳに加わる重力加速度の向きによってＭＥＭＳの動作特性が微妙に異なるので、重力加速度の向きに応じて駆動電圧値が補正されることが望ましい。演算処理回路１１は、加速度センサ２９から得られる信号に基づいて重力加速度の向きを検知し、その重力加速度の向きに応じて制御信号Ｓ１，Ｓ２の値を補正する。また、演算処理回路１１は、加速度センサ２９から得られる信号が所定範囲に含まれないときには、加速度センサ２９の異常（障害）と判断する。
【００４１】
ここで、図４〜図７は、光モジュール２０における動作トレースログ及び障害ログの例を示す図表である。図４には、動作トレースログとしてのトレースログ（Trace Log）が示されている。このトレースログに含まれる情報は、光モジュール２０の操作やプログラムの動作に関する情報であって、時系列で把握されることが望ましい。図４に示されるように、トレースログには、演算処理回路１１の起動からの経過時間を示すタイムスタンプ、起動操作やコマンド操作などの操作内容および当該操作に付随する各データ、並びに、機能毎に定義される制御内容、制御入力データ及び制御結果が含まれている。なお、操作に付随する各データの一部が動作トレースログ格納領域に収まらない場合には、各データの代表値に置き換えてもよい。同様に、制御入力データの一部が動作トレースログ格納領域に収まらない場合には、制御入力データの代表値に置き換えてもよい。
【００４２】
図５には、動作トレースログとしてのモニタログ（Monitor Log）が示されている。このモニタログに含まれる情報は、光モジュール２０の状態を監視しているセンサの計測値等であって、時系列で把握されることが望ましい。図５に示されるように、モニタログには、演算処理回路１１の起動からの経過時間を示すタイムスタンプ、光偏向素子などの光学系の温度に関する温度モニタ情報、光学系を収容するケースの温度に関する温度モニタ情報、駆動電圧Ｖｄ１，Ｖｄ２の大きさを示す電圧モニタ情報、並びに、重力加速度の向きを示す加速度センサ情報が含まれている。
【００４３】
図６には、障害ログとしての例外ログ（Exception Log）が示されている。この例外ログに含まれる情報は、光モジュール２０に発生した例外の種類や原因を把握するための情報である。図６に示されるように、例外ログには、演算処理回路１１の起動からの経過時間を示すタイムスタンプ、プログラムの異常動作に関する例外トラップの識別情報およびどのような例外かを示す文字列、演算処理回路１１で検出される例外（どのような例外か）を示す文字列、並びに、周辺装置の例外に関してどのような異常があったかを示す文字列が含まれている。
【００４４】
図７には、障害ログとしての警告ログ（Alarm Log）が示されている。この警告ログに含まれる情報は、光モジュール２０に生じた設計範囲外の状況の種類や原因を把握するための情報である。図７に示されるように、警告ログには、演算処理回路１１の起動からの経過時間を示すタイムスタンプ、設計範囲外の事象に関してどのような事象かを示す文字列、稀に発生するがプログラムの動作に影響を与えない異常に関してどのような事象かを示す文字列、並びに、正常系以外の制御内容（どのような事象か、そのためどのような制御を行ったか）を示す文字列が含まれている。
【００４５】
上述した各ログのうち、例外ログ及び警告ログは、障害（異常）発生後、演算処理回路１１によって不揮発性メモリ１３に直ちに格納される。また、トレースログ及びモニタログは、光モジュール２０の正常動作時に、所定の時間間隔（例えば１０分間）をあけて揮発性メモリ１２に定期的に格納される。
【００４６】
なお、障害（異常）が一度発生すると、演算処理回路１１によってその障害が継続して検知され続けることが考えられる。そのような場合、障害が検知される毎に例外ログ及び警告ログが不揮発性メモリ１３へ格納されると、過去に格納された別の障害（異常）に関する障害トレース情報が短時間で上書きされて削除される。そのような事態を回避するため、演算処理回路１１は、不必要なログの書き込みを抑制することが望ましい。
【００４７】
以上に説明した、本実施形態の障害発生トレースシステム１０によって得られる効果について説明する。障害発生トレースシステム１０では、例えば光モジュール２０といった装置の正常動作時に、当該装置の動作に関する情報である動作トレースログを定期的に生成して揮発性メモリ１２に定期的に格納する。通常、ＲＡＭ等の揮発性メモリ１２には書き込み回数の制限はなく、このような定期的な格納動作を好適に行うことができる。また、当該装置の障害発生時には、その障害の前に揮発性メモリ１２に格納された動作トレースログを、その障害に関する情報である障害ログとともに不揮発性メモリ１３に格納するので、不揮発性メモリ１３への格納動作は障害発生時のみ行えば足り、定期的に行う必要はない。したがって、この障害発生トレースシステム１０によれば、不揮発性メモリ１３への格納回数を抑えつつ、障害発生前における装置の動作に関する情報を障害に関する情報とともに不揮発性メモリ１３に格納することができる。
【００４８】
また、本実施形態のように、不揮発性メモリ１３が複数の障害トレース情報格納領域１３ａを有しており、演算処理回路１１が、装置の障害発生毎に、一又は複数の動作トレースログ及び障害ログを複数の障害トレース情報格納領域１３ａのそれぞれに順次格納することが好ましい。この障害発生トレースシステム１０を備える装置の種類によっては、長時間にわたって動作を継続することが求められる場合があるが、このような構成によって、長時間の動作時に複数の障害が生じたときでもそれらの障害のトレースを好適に行うことができる。
【００４９】
また、本実施形態のように、不揮発性メモリ１３の容量は、揮発性メモリ１２の容量よりも大きいことが好ましい。これにより、装置の障害発生時における種々の情報を動作トレースログとともに不揮発性メモリ１３に格納することができる。
【００５０】
また、本実施形態のように、動作トレースログは、先入れ先出し方式にて揮発性メモリ１２に格納されることが好ましい。これにより、障害のトレースに特に有用な障害発生直前の動作トレースログを、不揮発性メモリ１３に好適に格納することができる。
【００５１】
また、通常、光通信システムに用いられる光モジュールには極めて長時間の動作が求められ、障害のトレースを行う機会は少ない。本実施形態の光モジュール２０によれば、障害発生トレースシステム１０を備えることによって、長時間の動作における不揮発性メモリ１３への格納回数を抑えつつ、障害発生前における光モジュール２０の動作に関する情報を障害に関する情報とともに不揮発性メモリ１３に格納することができるので、少ないトレース機会を有効に活用することができる。また、光通信システムに用いられる光モジュールに障害が発生すると、修理のため光モジュールが製造者に返却されるが、その際、光モジュールの電源はオフ状態となる。そのような場合であっても、障害トレース情報が不揮発性メモリ１３に格納されているので、障害のトレースが可能となる。
【００５２】
本発明による障害発生トレースシステム及び光通信システム用光モジュールは、上述した実施形態に限られるものではなく、他に様々な変形が可能である。例えば、上述した実施形態では、演算処理回路の制御対象物としての光デバイスの例として、光偏向素子が示されている。本発明における制御対象物（光デバイス）はこれに限られず、様々な光デバイス（例えば、信号光の増幅のための希土類添加光ファイバに励起光を供給する励起光源や、信号光の増幅のための２本の希土類添加光ファイバの間に光学的に結合された可変光減衰器等）に適用され得る。
【符号の説明】
【００５３】
１０…障害発生トレースシステム、１１…演算処理回路、１２…揮発性メモリ、１２ａ…動作トレースログ格納領域、１３…不揮発性メモリ、１３ａ…障害トレース情報格納領域、２０…光モジュール、２１…光偏向素子、２２…入力用光導波路、２３…出力用光導波路、２４…レンズ、２５…制御部、２６…温度モニタ部、２７…電圧モニタ部、２８…温度センサ、２９…加速度センサ、３０…電圧生成部、Ａ…制御対象物、Ｌ１…動作トレースログ、Ｌ２…障害ログ、Ｐ１…信号光、Ｓ，Ｓ１，Ｓ２…制御信号、Ｖｄ１，Ｖｄ２…駆動電圧。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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