(57)【要約】      （修正有）【課題】参照光量は装置の状態により調整を要し、この調整は検者、被検者に時間的な負担を強いる可能性がある。装置の状態に応じて自動的に参照光量を変更することで、測定前の調整時間を短縮することができる装置を提供する。【解決手段】撮像装置が、参照光の光路に配置され、該参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、該参照光量と所定の範囲とを比較する比較手段と、該比較手段の比較結果に基づいて該参照光量変更手段を制御する制御手段と、を有する。【選択図】図１
2014048126.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記参照光量と所定の範囲とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記参照光量が前記所定の範囲外である場合に、前記参照光量が前記所定の範囲内になるように、前記参照光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記測定光の光路に配置され、前記被検査物に照射される測定光の光量を変更する測定光量変更手段と、
前記制御手段は、前記参照光量が前記所定の範囲内である場合に、前記測定光が前記被検査物に照射されるように、前記測定光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記測定光量変更手段は、開閉可能なシャッターであり、
前記制御手段は、前記シャッターが閉状態で前記参照光量が前記所定の範囲内である場合に、前記シャッターを開くことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記参照光量が前記所定の範囲内で且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記断層画像を取得する断層画像取得手段を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記断層画像の画質を示す値と所定の画質評価範囲とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲内である場合に、前記断層画像を取得する断層画像取得手段を有することを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記断層画像の画質が前記所定の画質評価範囲外である場合に、前記参照光量を高くするように前記参照光量変更手段を制御することを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記参照光量変更手段は、前記参照光の光路に所定の角度傾いて配置されていることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記比較手段は、検者が被検者を選択する、あるいは被検者の情報入力を行った後に、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記比較手段は、所定の時間間隔で、前記参照光量と前記所定の範囲とを比較することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１２】
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する撮像方法であって、
前記参照光の参照光量と所定の範囲とを比較する工程と、
前記比較する工程における比較結果に基づいて前記参照光量を変更する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項１３】
前記変更する工程では、前記参照光量が前記所定の範囲外である場合に、前記参照光量が前記所定の範囲内になるように、前記参照光量を変更することを特徴とする請求項１２に記載の撮像方法。
【請求項１４】
前記参照光量が前記所定の範囲内で且つ前記断層画像の画質が所定の画質評価範囲内である場合に、前記断層画像を取得する工程を有することを特徴とする請求項１２あるいは１３に記載の撮像方法。
【請求項１５】
請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検査物を撮像する撮像装置および撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、低コヒーレンス光による干渉を利用して断層画像を取得する光干渉断層法（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）を用いる装置（以下、ＯＣＴ装置とも呼ぶ。）が実用化されている。これは、被検査物に入射する光の波長程度の分解能で断層画像を取得できるため、被検査物の断層画像を高分解能で得ることができる。ＯＣＴ装置は、特に、眼底に位置する網膜の断層画像を得るための眼底検査装置として有用である。
【０００３】
一方、一般的に、ＯＣＴ装置は二次元走査を基本としており、撮像時間が比較的長い。さらに、後述する測定光と参照光の干渉光から断層像を構築する。そこで光学系の透過率、披検物の反射など装置の状態に応じて干渉光強度を調整するために、参照光路に調整可能な濃度フィルターを挿入し、干渉光強度などに応じて調整する必要がある場合がある。
さらに、装置を長期に渡り使用している場合には光源からの光量、光路上の微細なゴミ、レンズのコーティングの変化などで透過光量が変化する場合があり、装置を長期に渡って使用する場合にもこの参照光量調整が必要となる場合がある。ここで、参照光を調整する理由としては、干渉強度は参照光と測定光強度の両方で変更できるが、測定光強度を変化させることは被検物への照射光量を変化させることであり、照射光量に対して安全上も画質上も規制がある場合に参照光量を調整することで干渉強度を調整する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】OPTICS EXPRESS  2003 Vol. 11, No. 23  P3113-3121 “Real-time assessment of retinal blood flow with ultrafast acquisition by color Doppler Fourier domain optical coherence tomography”
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、このような調整は、実験的には装置の状態を確認しながら適宜可能である。しかしながら検者が装置の状態の確認と調整を行ってから撮像を行うと、全体的に長い時間が必要となり、被検者への負担となる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題に鑑みて本発明に係る検査装置は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記参照光の光路に配置され、前記参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段と、
前記参照光量と所定の範囲とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記参照光量変更手段を制御する制御手段と、
を有する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、装置の状態に応じて自動的に参照光量を変更することで、測定前の調整時間を短縮することができる。これにより、被検者の負担を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施例１における撮像フローを説明する図である。
【図２】実施例１、２および３における眼底検査装置を説明する図である。
【図３】患者選択画面の一例を示す図である。
【図４】実施例３における断層画像の画質評価指標を説明する図である。
【図５】参照光強度を説明するための図である。
【図６】参照光路を説明するための図である。
【図７】実施例３における撮像フローを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［実施例１］
本実施例における眼底検査装置（本発明における撮像装置の一例）は、検査ごとに参照光量を制御することで、検査ごとの画質が向上される。
【００１０】
（装置の概略構成）
本実施例における眼底検査装置の概略構成について図２（ａ）を用いて説明する。
図２（ａ）は、眼底検査装置の側面図であり、２００は眼底検査装置、９００は前眼画像および眼底の2次元像および断層画像を撮像するための測定光学系である光学ヘッド、９５０は光学ヘッドを図中ｘｙｚ方向に不図示のモータを用いて移動可能とした移動部であるステージ部である。９５１は後述の分光器を内蔵するベース部である。
【００１１】
９２５はステージ部の制御部を兼ねるパソコンであり、ステージ部の制御とともに断層画像の構成等を行う。９２６は被検者情報記憶部を兼ね、断層撮像用のプログラムなどを記憶するハードディクである。９２８は表示部であるモニタであり、９２９はパソコンへの指示を行う入力部であり、具体的にはキーボードとマウスから構成される。３２３はあご台であり、被検者のあごと額とを固定することで、被検者の眼（被検眼）の固定を促す。
【００１２】
（測定光学系および分光器の構成）
本実施例の測定光学系および分光器の構成について図２（ｂ）を用いて説明する。
まず、光学ヘッド９００部の内部について説明する。被検眼１０７に対向して対物レンズ１３５−１が設置され、その光軸上で第1ダイクロイックミラー１３２−１および第２ダイクロイックミラー１３２−２によってＯＣＴ光学系の光路３５１、眼底観察と固視灯用の光路３５２および前眼観察用の光路３５３とに波長帯域ごとに分岐される。
【００１３】
光路３５２はさらに第３ダイクロイックミラー１３２−３によって眼底観察用のＣＣＤ１７２および固視灯１９１への光路へと上記と同じく波長帯域ごとに分岐される。ここで１３５−３，１３５−４はレンズであり、１３５−３は固視灯および眼底観察用の焦点合わせのため不図示のモータによって駆動される。ＣＣＤ１７２は不図示の眼底観察用照明光の波長、具体的には７８０ｎｍ付近に感度を持つものである。一方固視灯１９１は可視光を発生して被検者の固視を促すものである。
【００１４】
光路３５３において１３５−２はレンズ、１７１は前眼観察用の赤外線ＣＣＤである。このＣＣＤ１７１は不図示の前眼観察用照明光の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つものである。
【００１５】
光路３５１は前述の通りＯＣＴ光学系を成しており被検眼１０７の眼底の断層画像を撮像するためのものである。より具体的には断層画像を形成するための干渉信号を得るものである。１１７は披検眼への光照射を、撮像時に行うためのシャッター、１３４は光を眼底上で走査するためのＸＹスキャナである。ＸＹスキャナ１３４は一枚のミラーとして図示してあるが、ＸＹ２軸方向の走査を行うものである。１３５−５，１３５−６はレンズであり、そのうちのレンズ１３５−５は、光カプラー１３１に接続されているファイバー１３１−２から出射する光源１０１からの光を眼底１０７上に焦点合わせするために不図示のモータによって駆動される。この焦点合わせによって眼底１０７からの光は同時にファイバー１３１−２先端にスポット状に結像されて入射されることとなる。
【００１６】
次に、光源１０１からの光路と参照光学系、分光器の構成について説明する。
１０１は光源、１３２−４はミラー、１１６は不図示のモータに接続され、回転することによって透過する光量を変化させる濃度フィルター、１３１は前述した光カプラー、１３１−１〜４は光カプラーに接続されて一体化しているシングルモードの光ファイバー、１３５−７はレンズ、１８０は分光器である。
【００１７】
これらの構成によってマイケルソン干渉系を構成している。光源１０１から出射された光は光ファイバー１３１−１を通じた後、光カプラー１３１を介して光ファイバー１３１−２側の測定光と光ファイバー１３１−３側の参照光とに分割される。
測定光は前述のＯＣＴ光学系光路を通じ、観察対象である被検眼１０７の眼底に照射され、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて光カプラー１３１に到達する。これら光路は、被検査物に測定光を照射して該被検査物からの反射光（戻り光）を得る測定光路の一例として機能する。
【００１８】
一方、参照光は光ファイバー１３１−３、濃度フィルター１１６、レンズ１３５−７を介してミラー１３２−４に到達し反射される。そして同じ光路を戻り光カプラー１３１に到達する。これら光路は、参照物体であるミラー１３２−４に参照光（測定光に対応する参照光）を照射して該参照物体からの反射光を得る参照光路の一例として機能する。
【００１９】
光カプラー１３１によって、測定光と参照光は合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長がほぼ同一となったときに干渉を生じる。ミラー１１４は不図示のモータおよび駆動機構によって光軸方向に調整可能に保持され、被検眼１０７によって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は光ファイバー１３１−４を介して分光器１８０に導かれる。
【００２０】
また１３９−１は光ファイバー１３１−２中に設けられた測定光側の偏光調整部である。１３９−２は光ファイバー１３１−３中に設けられた参照光側の偏光調整部である。これらの偏光調整部は光ファイバーをループ状に引き回した部分を幾つか持ち、このループ状の部分をファイバーの長手方向を中心として回動させることでファイバーに捩じりを加えることで測定光と参照光の偏光状態を各々調整して合わせることが可能なものである。本装置ではあらかじめ測定光と参照光の偏光状態が調整されて固定されている。
【００２１】
分光器１８０はレンズ１３５−８、１３５−９、回折格子１８１、ラインセンサ１８２から構成される。
光ファイバー１３１−４から出射された干渉光はレンズ１３５−８を介して平行光となった後、回折格子１８１で分光され、レンズ１３５−９によってラインセンサ１８２に結像される。
【００２２】
次に、光源１０１の周辺について説明する。光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。中心波長は８５５ｎｍ、波長バンド幅は約１００ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。
【００２３】
また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。中心波長は眼底を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。また、中心波長は得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。双方の理由から中心波長を８５５ｎｍとした。
【００２４】
本実施例では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いたが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。測定光と参照光との光量差に応じて光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉計を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉計を用いることが望ましい。
以上の構成によって、被検査物の断層画像を得る断層画像取得部の一例が構成される。
【００２５】
ここで参照光路の説明を行う。図６（ａ）は本実施例の参照光路を説明する図、図６（ｂ）は本実施例とは異なる例を説明する図である。
【００２６】
濃度フィルター１１６はレンズ１３５−７の前に光軸に対して所定の角度、例えば、１０°程度傾いて配置される。この傾きは濃度フィルター１１６の各面からの反射がファイバー端１３１−３ａに戻らないように構成するためである。またこの濃度フィルター１１６は回転軸１１６ａを中心に角度位置に依って濃度が変更されるものであり、図６（ａ）と図６（ｂ）において、回転軸１１６ａを中心に回転することで、図中で濃度フィルターを透過する光量を変更することができる。また、レンズ１３５−７とファイバー端１３１−３ａの間に濃度フィルター１１６を設けることで、断層画像におけるアーティファクトを発生させない。
【００２７】
以下にこれを説明する。例えば、図６（ｂ）の構成では、濃度フィルター厚みの分で多重反射された光もミラー１３２−４で反射され、この光も多重反射しない光と同様にファイバー端１３１−３ａに導かれる（図中２点鎖線）。この多重反射された光は多重反射しない光と光路長が濃度フィルター１１６の厚みｄのおおよそ２倍異なるため、測定光と干渉すると断層像上、本来の位置と異なる場所にアーティファクトが発生する。また、さらに多重反射を繰り返し、光路長がｄの２倍よりも大きい、４倍、６倍・・・といった光もファイバー端１３１−３ａに導かれるため、これらを元としたアーティファクトも発生する可能性がある。
【００２８】
図６（ａ）の構成においては、２点鎖線のように、濃度フィルター１１６で多重反射された光は光軸に対して傾きを持つため、ファイバー端１３１−３ａには結像せず、点１１８に結像する。よって断層像にアーティファクトを発生させない。
以上に述べた濃度フィルター１１６およびこれを回転軸１１６ａ回りに回転させる機構によって、参照光路に配置され、参照光の参照光量を変更する参照光量変更手段の一例が構成される。
【００２９】
（断層画像の撮像方法）
眼底検査装置２００を用いた断層画像の撮像方法について説明する。眼底検査装置２００はＸＹスキャナ１３４を制御することで、被検眼１０７の眼底における所望部位の断層画像を撮像することができる。
【００３０】
まず、図２（ｂ）中のシャッター１１７を開状態にして披検眼１０７に測定光を導く。図中ｘ方向に測定光のスキャンを行い、眼底におけるｘ方向の撮像範囲から所定の撮像本数の情報をラインセンサ１８２で撮像する。ｘ方向のある位置で得られるラインセンサ１８２上の輝度分布をＦＦＴし、ＦＦＴで得られた線状の輝度分布をモニタ９２８に示すために濃度あるいはカラー情報に変換したものをＡスキャン画像と呼ぶ。この複数のＡスキャン画像を並べた２次元の画像をＢスキャン画像と呼ぶ。１つのＢスキャン画像を構築するための複数のＡスキャン画像を撮像した後、ｙ方向のスキャン位置を移動させて再びｘ方向のスキャンを行うことにより、複数のＢスキャン画像を得る。
複数のＢスキャン画像、あるいは複数のＢスキャン画像から構築した３次元断層画像をモニタ９２８に表示することで検者が被検眼の診断に用いることができる。
【００３１】
（断層画像の撮像フロー）
図１に示す撮像のフローチャートをステップ順に説明する。
ステップ１００１で撮像を開始する。パソコン９２５により撮像用プログラムが実行されてモニタ９２８に撮像用画面を起動する。自動でステップ１００２に移行する。
【００３２】
ステップ１００２は、モニタ９２８に図３に示す患者選択および患者情報入力画面を表示し、検者は患者選択、あるいは初診であれば患者情報入力を行う。ここで患者選択あるいは患者情報入力に関して図３を用いて説明を行う。
【００３３】
５０００は患者選択および患者情報入力画面、５００４は患者選択タブ、５００５は撮像選択タブ、５００６はレポート画面選択タブである。これらのタブをマウスでクリックするなどして各画面を選択する。現在の画面状態は５００４の患者選択タブが選択させており、患者選択画面５０００が表示されている。また、５００７は患者情報入力部、５００８は患者が選択された状態で既存の検査を表示する検査表示部、５００９は患者リスト表示部である。
【００３４】
検者による操作によって患者リスト５００９から該当の患者を選択し、検査表示部５００８に表示される既存の検査結果などを確認した上で、撮像選択タブ５００４をマウスでクリックする、もしくは初診の患者であれば必要情報を患者情報入力部５００７に入力してから撮像選択タブ５００５をマウスでクリックして、ステップ１００３に移行する。
【００３５】
ステップ１００３は濃度フィルター調整を開始する。自動でステップ１００４に移行する。
ステップ１００４はラインセンサ１８２から信号を取得する。測定光路に配置され、測定光の光量を変更する測定光量変更手段の一例である開閉可能なシャッター１１７は閉状態であり、測定光は対物レンズ１３５−１から披検眼１０７へ照射していない。そのため、ラインセンサ１８２から得られる信号は参照光の信号である。自動でステップ１００５に移動する。
【００３６】
ステップ１００５では上記で得られる信号強度と基準範囲の比較を行う。この比較について図５（ａ）〜（ｃ）を用いて説明する。図５（ａ）は得られる信号強度が、設定した基準範囲内に入っている場合、図５（ｂ）は基準範囲より低い場合、図５（ｃ）は基準範囲より高い場合である。各図中の参照光量評価範囲のラインセンサ上の各画素から得られる光強度が図中の参照光量基準範囲内かを判断する。なお、所定の範囲の一例である参照光量基準範囲は、記憶手段の一例として機能するハードディスク９２６に予め記憶されている。読み出された参照光量基準範囲より低い光強度を持つ画素がある場合には、参照光量が基準範囲より低い、逆に高い画素がある場合には参照光量が基準範囲より高いと判断する。ここで、基準範囲より低い場合には測定光と干渉した際に十分な強度を得られず、画質が十分でなくなってしまう。反対に基準範囲より高い場合には測定光と干渉した際にラインセンサ１８２の光強度取得範囲を超え、ラインセンサからの信号から干渉成分が十分に検知できなくなる。基準範囲内の場合には自動でステップ１００９に移行する。基準範囲より高い場合にはステップ１００６に移行する。基準範囲より低い場合にはステップ１００７に移行する。なお、以上の参照光量と所定の範囲との比較は、パソコン９２５において当該比較を実行する比較手段の一例として機能するモジュール領域によって実行される。
【００３７】
ステップ１００６では濃度フィルター１１６を、透過光量が低く、その結果として参照光量が小さくなるように不図示のモータをあらかじめ決定されている回転量で回転させる。ここでこの回転方向を負方向とする。そして自動でステップ１００４に戻り、再度参照光量を確認する。
【００３８】
ステップ１００７では濃度フィルター１１６を、透過光量が高く、その結果として参照光量が大きくなるように不図示のモータをあらかじめ決定されている回転量でステップ１００６とは逆の正方向に回転させる。そして自動でステップ１００４に戻り、再度参照光量を確認する。
即ち、上記した比較手段による参照光量と所定の範囲との比較結果に応じて、制御手段の一例であるパソコン９２５は、参照光量変更手段によって上記の参照光量の確認動作を繰り返し、最終的にはステップ１００９に移行する。
【００３９】
ステップ１００９では、まずＸＹスキャナ１３４を動作させる。その後光源１０１を点灯し、シャッター１１７を開状態にして、披検眼１０７へ測定光を照射する。このステップにおいて、シャッター開状態にするために画面上「測定開始」ボタンを明示して、検者に測定開始の操作を促す。そして、検者がボタンをマウスでダブルクリックした際に、測定開始が選択された際に、シャッター１１７を開くように構成してもよい。また、走査パターンなどの測定パラメータをこのステップで検者に操作させるよう構成してもよい。シャッター開動作を行った後、自動でステップ１０１０に移行する。
ステップ１０１０で断層像を取得する。自動でステップ１０１１に移行して検査を終了する。
【００４０】
以上が本実施例の眼底検査装置における撮像のフローである。本実施例では、検者が被検者を選択する、あるいは被検者の情報入力を行った後に、上記フローが実行される。
以上説明したように、本実施例においては、参照光量を検査ごとに調整することで画質を最適の状態にすることが、時間的な負担無くできる。
【００４１】
上記説明中では参照光量を変化させるための手段として、回転することによって透過光量を変化させることのできるモータに取り付けられた濃度フィルターとしたが、制御可能であり光量を変化させることのできるものであれば使用可能である。
【００４２】
例示すると、
１）ファイバー端とレンズの距離を変化させるためにファイバー、もしくはレンズを光軸方向に移動可能としたモータと送りねじの組み合わせた機構
２）ファイバー端を傾ける、もしくは光軸に垂直な方向に移動させて戻り光量を変化させるためのアクチュエータ
３）開口数を変化できる絞り
４）透過型の液晶フィルター
５）２つの回転偏光板の組み合わせ、
などが挙げられる。
【００４３】
［実施例２］
本実施例の眼底検査装置は、患者選択時の他、検査開始から一定時間のタイマーを設けて、あらかじめ決められた時間間隔ごとに（所定の時間間隔で）、参照光量の変更のタイミングを制御する。
【００４４】
具体的には被検者選択後の濃度フィルター調整終了後、同一被検者の検査を継続しており１０分が経過したら自動で再度シャッター１１７を閉じてラインセンサ１８２からスペクトルを取得して、参照光量の確認と基準範囲外であれば濃度フィルターを回転して調整する。調整動作に関しては実施例1と同様である。
【００４５】
以上の構成により、本実施例の眼底検査装置においては、装置のより短時間の変化に対応できる。勿論装置によって、このタイマーで制御される調整間隔を変更させても効果は変わらない。
【００４６】
［実施例３］
本実施例の眼底検査装置は、断層画像の画質を評価して、その結果に応じて参照光量を適宜変更する。これにより、被検者の眼の状態に関わらず良好な画質の断層像が取得できる。
実施例１とは撮像フローが異なるため、その部分の説明を行い、他は省略する。
【００４７】
図７を用いて本実施例の撮像フローを説明する。実施例１と同様のステップはその詳細の説明を省略する。
【００４８】
ステップ２００１で撮像を開始する。自動でステップ２００２に移行する。
ステップ２００２は、検者は患者選択あるいは患者情報入力を行う。検者によって撮像画面を選択してステップ２００３に移行する。
【００４９】
ステップ２００３は濃度フィルター調整を開始する。自動でステップ２００４に移行する。
ステップ２００４はラインセンサ１８２から信号を取得する。自動でステップ２００５に移動する。
【００５０】
ステップ２００５では上記で得られる信号強度と基準範囲の比較を行う。基準範囲より高い場合にはステップ２００６に移行する。基準範囲より低い場合にはステップ２００７に移行する。
【００５１】
ステップ２００６では濃度フィルター１１６を透過光量が低く、その結果として参照光量が小さくなるように不図示のモータをあらかじめ決定されている回転量で回転させる。ここでこの回転方向を負方向とする。そして自動でステップ２００４に戻り、再度参照光量を確認する。
【００５２】
ステップ２００７では濃度フィルター１１６を透過光量が高く、その結果として参照光量が大きくなるように不図示のモータをあらかじめ決定されている回転量で、ステップ２００６とは逆の正方向に回転させる。そして自動でステップ２００４に戻り、再度参照光量を確認する。
上記の参照光量確認動作を繰り返し、最終的にはステップ２００９に移行する。
【００５３】
ステップ２００９ではシャッター１１７を開状態にして、披検眼１０７へ測定光を照射する。自動でステップ２０１０に移行する。
ステップ２０１０で断層像のプレビュー画面を表示する。このプレビューに基づいて検者はフォーカス、ミラー位置などを調整する。自動でステップ２０１１に移行する。
【００５４】
ステップ２０１１で、プレビューで表示されている画質を示す値の一例である画質評価指標が、所定の画質評価範囲に入っているか否かを自動で判断する。即ち、得られた断層画像と、あらかじめ記憶手段たるハードディスク９２６に記憶された所定の範囲との比較を行う。なお、画質評価指標については後述する。画質を示す値が所定の画質評価範囲内に入っている場合は、ステップ２０１２に移行する。また、画質を示す値が所定の画質評価範囲に入っていない場合は、干渉強度が低い可能性が高いため、ステップ２００７に移行して濃度フィルターを参照光量が高くなるように調整する。そしてステップ２００５に移行する。これらステップ２００５〜２０１１を繰返し、最終的にはステップ２０１２へ移行する。
【００５５】
ステップ２０１２で断層像取得を行う。自動的にステップ２０１３に移行して検査を完了する。
以上が本実施例の眼底検査装置における撮像のフローである。
【００５６】
（判断に用いる画質評価指標の例）
Ｑインデックス：ＯＣＴ画像評価指標の一つであり、画像のヒストグラム中の診断に有効な画素の割合を示すものである。このＱインデックスを算出し、目標値あるいは他のアライメント位置での値と比較するプログラムが本実施例における画像比較手段である。このプログラムは前述の撮像用プログラムに一体化されており、装置制御部であるパソコン９２５で実行される。
【００５７】
なお、Ｑインデックスの計算方法については以下の文献に記載されている。
［文献名］British Journal of Ophthalmology 2006;90:P186-190“ A new quality assessment parameter for optical coherence tomography”
【００５８】
ここで画質のガイドとしてＱインデックス値を用いたが、これは他に以下の画像評価指標も考えられる。
・ＳＮＲ：従来よく用いられてきた指標であり、画像の輝度値の最大値と背景ノイズの輝度値の比を示す。
・局部的な画像コントラスト：網膜内の局部領域の平均輝度値と背景の平均輝度値から求められるコントラストである。その例を図４により説明する。図４は２２０２に示される断層画像のプレビュー画像を示す。Ａ１は網膜層内で相対的に暗いＯＮＬ（外顆粒層）の一部領域である。Ａ２は背景部の一部領域である。この２つの領域の平均輝度値よりコントラストを計算する。
【００５９】
この局部的なコントラストはＯＮＬと背景に限らず、診断に必要な層間、あるいは層と  背景のコントラストでもよく、検者が選択できるように設定してもよい。
なお、この局部的な画像コントラスト計算にはＯＮＬなどを識別して領域を認識するセグメンテーションが必要である。
【００６０】
以上説明したように本実施例の眼底検査装置においては、実施例1に加えて被検眼の撮像状態によって参照光量を変えることで、例えば透過光量の低い被検眼であっても高い画質の断層像が取得できる。
【００６１】
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【００６２】
また、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【符号の説明】
【００６３】
１０７  被検眼
１１６  濃度フィルター
１１７  シャッター
２００  眼底検査装置
９００  光学ヘッド
９２５  パソコン
９２６  ハードディスク
９２８  モニタ
９５０  ステージ部
９５１  ベース部
３５１  測定光路
３５４  参照光路
２２０２  断層画像表示
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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