(57)【要約】【課題】１つの側面では、数値計算を実施するときに不適な要素の表示について、視認性を向上させる。【解決手段】メッシュ生成部（２２）により物品の構造データによる数値計算用の数値計算モデルを複数のメッシュ要素に分割し、不良品質要素検出部（３０）により数値計算に不適なメッシュ要素を注目要素として検出する。表示処理部（３２）の設定部（３４）は、注目要素を含む周辺のメッシュ要素を含む領域を、注目領域と設定し、表示制御部（３６）により、注目領域に対して注目要素を含むことを示す色情報等の表示情報を対応付け、数値計算モデルと共に表示情報を表示装置（１６）に表示させる。【選択図】図１
2014106583.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出する検出部と、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定する設定部と、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する表示制御部と、
を備えた情報処理装置。
【請求項２】
前記計算品質情報は、前記要素の外郭形状に相関関係を示す情報である
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記表示制御部は、前記表示情報として、予め定めた色情報を前記表示部に表示する制御を実行する
請求項１または請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記設定部は、前記表示部に表示される領域として予め定めた大きさの前記注目領域を設定する
請求項１〜請求項３の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記表示制御部は、前記表示情報として、注目要素の数に応じて頻度数が増減するヒストグラム情報を前記表示部に表示する制御を実行する請求項１〜請求項４の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項６】
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出し、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定し、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する
ことを含む情報処理方法。
【請求項７】
前記計算品質情報は、前記要素の外郭形状に相関関係を示す情報である
請求項６に記載の情報処理方法。
【請求項８】
前記表示情報は、予め定めた色情報を示す
請求項６または請求項７の情報処理方法。
【請求項９】
前記注目領域を設定するときは、前記表示部に表示される領域として予め定めた大きさの前記注目領域を設定する
請求項６〜請求項８の何れか１項に記載の情報処理方法。
【請求項１０】
前記表示情報は、注目要素の数に応じて頻度数が増減するヒストグラム情報を示す
請求項６〜請求項９の何れか１項に記載の情報処理方法。
【請求項１１】
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出し、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定し、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する
ことを含む処理をコンピュータに実行させる情報処理プログラム。
【請求項１２】
コンピュータに、前記コンピュータを、請求項６〜請求項１０の何れか１項記載の情報処理方法に係る処理を実行させるための情報処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
開示の技術は、情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
物品について挙動の解析等の数値計算を実施する際には、解析対象の物品の構造データによるモデルを数値計算用に小さな要素に分割する要素分割処理を行うことが一般的である。例えば、自動的に要素分割処理を実行する分割アルゴリズムに従って、解析対処の物品を示すモデルが、小さな要素に分割される。分割される要素の形状は、要素分割処理の実行時に自動的に設定されるために、要素分割処理の実行後に、分割した要素の品質チェックを実行する場合がある。要素の品質チェックの一例として、数値計算を実施するときに不適な要素を表示装置へ表示させ、ユーザの目視による品質チェックを促すことが考えられる。
【０００３】
ユーザの目視による品質チェックを促すために表示装置へ表示させる場合、対象要素、例えば不適な要素を他の要素と区別して表示させることが好ましい。対象要素を表示させる技術の一例として、検査対象の形状と所定形状との差領域を色付けして表示する電子基板の形状検査に関する技術が知られている。また、映像編集に関する技術では、編集対象の映像領域の指示により、映像領域の拡大表示や縮小表示したり、移動させたりする技術も知られている。また、文書作成支援装置に関する技術では、文章単位で主題を抽出し、主題間の意味関係を構造化して表示するとき、構造に不整合が生じる位置をユーザに提示する技術も知られている。また、文書に関する技術では、テキストと画像との相関関係を有する要素を強調表示する技術が知られている。また、対象要素を表示させる技術の一例として、砕砂の粒度や重量を計算し、粒度分布や重量分布をヒストグラム等で表示する砕砂の製造に関する技術が知られている。
【０００４】
ところで、ユーザが品質チェックを実行した後には、品質チェックで不適となる要素に対して修正や削除等の処理が施されることが一般的である。ユーザによる要素の修正を簡便に実行可能とするためには、修正前の要素及び修正後の要素をユーザに提示することが考えられる。修正前後の要素をユーザに提示する技術の一例として、修正対象文字列の指示により、修正前の文字列に対して修正後の文字列に修正可能とする翻訳装置に関する技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−３７２２２号公報
【特許文献２】国際公開２００９／０２０１０３号公報
【特許文献３】特開２００３−２７１５８０号公報
【特許文献４】特表２００５−５２８６９９号公報
【特許文献５】特開２００３−１０７２６号公報
【特許文献６】特開２０００−１６３４２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、例えば、近年の技術発展により計算機の高速化や並列計算の高度化が実現されており、挙動の解析等の数値計算の対象となるモデルは複雑なモデルや、大規模なモデルになってきている。例えば、複雑なモデルや大規模なモデルに対して要素分割処理を実行した場合、対象要素、例えば不適な要素が微細化して、ユーザにとって要素が不適か否かの判別が困難になることがある。
【０００７】
１つの側面では、数値計算を実施するときに不適な要素の表示について、視認性を向上させることが目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
開示の技術は、検出部により、物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求める。また、検出部は、複数の要素のうち計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出する。設定は、注目要素を含む数値計算モデルを表示部に表示するときに、注目要素と注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定する。表示制御部は、注目領域に対して注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、数値計算モデルと共に表示情報を表示部に表示する制御を実行する。
【発明の効果】
【０００９】
１つの実施態様では、数値計算を実施するときに不適な要素の表示について、視認性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】第１実施形態に係る情報処理装置の一例を示すブロック図である。
【図２】情報処理装置の一例を示すブロック図である。
【図３】ＣＡＤ装置の動作の流れの一例を示すフローチャートである。
【図４】物品のワイヤーフレームモデルの一例を示すイメージ図である。
【図５】メッシュモデルの一例を示すイメージ図である。
【図６】不良要素検出処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図７】要素品質の指標の説明図である。
【図８】要素品質の指標の説明図である。
【図９】不良品質要素の強調処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１０】グループ化処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１１】グループ化処理における表示画面の一例を示すイメージ図である。
【図１２】グループ化処理における表示画面の一例を示すイメージ図である。
【図１３】第２実施形態に係るヒストグラム処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１４】ヒストグラム処理における表示画面の一例を示すイメージ図である。
【図１５】主軸方向を導出するためのメッシュモデルの一例を示すイメージ図である。
【図１６】メッシュ要素の位置を導出する概念を示すイメージ図である。
【図１７】第３実施形態に係る図形処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１８】メッシュモデルにシンボル図形を重ねて表示させた一例を示すイメージ図である。
【図１９】メッシュモデルに吹き出しを示す図形を重ねて表示させた一例を示すイメージ図である。
【図２０】メッシュモデルにメッシュ要素の集合を重ねて表示させた一例を示すイメージ図である。
【図２１】拡大表示処理における表示画面の一例を示すイメージ図である。
【図２２】拡大表示処理における表示画面の一例を示すイメージ図である。
【図２３】バルーンをメッシュモデル８２に重ねて表示させつつ拡大表示させる表示画面の一例を示すイメージ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して開示の技術の実施形態の一例を詳細に説明する。
【００１２】
＜第１実施形態＞
図１に、第１実施形態に係る情報処理装置１０の構成を示す。情報処理装置１０は、装置本体部１２、入力装置１４、及び表示装置１６を備えている。入力装置１４の一例は、キーボードやマウス等の入力デバイスである。表示装置１６の一例は、ディスプレイ等の出力デバイスである。
【００１３】
情報処理装置１０の情報本体部１２は、入力装置１４に接続されるコマンド制御部２０と、メッシュ生成部２２と、記憶部２４と、表示装置１６に接続される描画部２６と、不良品質要素表示部２８とを含んでいる。メッシュ生成部２２は、コマンド制御部２０、記憶部２４、及び不良品質要素表示部２８に接続されている。不良品質要素表示部２８は、コマンド制御部２０及び描画部２６に接続されている。不良品質要素表示部２８は、不良要素検出部３０、及び表示処理部３２を備えている。表示処理部３２は、設定部３４、及び表示制御部３６を備えている。
【００１４】
記憶部２４は、物品の構造データを記憶する。物品の構造データの一例としてＣＡＤ（Computer Aided Design）プログラムで使用するワイヤーフレーム等のＣＡＤデータがある。例えば、ＣＡＤプログラムでは、物品を数値計算用の数値計算モデルに対応させ、数値計算モデルを複数のメッシュ要素に分割して、各種解析の支援を実現する。つまり、ＣＡＤプログラムは、物品の構造データを数値計算用の数値計算モデルに対応させ、数値計算モデルを複数のメッシュ要素に分割する機能を含んでいる。
【００１５】
コマンド制御部２０は、入力装置１４からの指示により、メッシュ生成部２２によるメッシュ生成処理または不良品質要素表示部２８による不良品質要素表示処理の実行を制御する。なお、詳細は後述するが、メッシュ生成処理後に表示装置１６に対する表示を変更する場合には、不良品質要素表示部２８のみを制御する。
【００１６】
メッシュ生成部２２は、構造データからメッシュ要素を生成する。例えば、ＣＡＤプログラムでは、物品を数値計算用の数値計算モデルに対応させ、数値計算モデルを複数の要素に分割する機能が該当する。
【００１７】
描画部２６は、メッシュ生成部２２で生成されたメッシュ要素を、表示装置１６に描画するための画像出力を実行する。
【００１８】
不良品質要素表示部２８は、メッシュ要素のうちの数値計算に不適なメッシュ要素を、ユーザに認識させるための表示処理を実行する。不良品質要素表示部２８に含まれる不良要素検出部３０は、数値計算に不適なメッシュ要素を、不良品質要素として検出する。不良要素検出部３０は、まず、生成されたメッシュ要素の各々に対し、メッシュ要素の形状から要素品質の指標となる数値を計算する。不良要素検出部３０は、計算された要素品質指標が許容値を超えている場合、不良品質要素としてリストアップする。
【００１９】
不良品質要素表示部２８に含まれる表示処理部３２は、数値計算に不適なメッシュ要素を含む領域の表示に関する指示を、描画部２６に対して実行する。表示処理部３２では、設定部３４において、数値計算に不適なメッシュ要素である不良品質要素および不良品質要素の周辺のメッシュ要素を、注目領域に設定する。表示制御部３６は、設定部３４で設定された注目領域を、ユーザに認識させるための表示処理を行わせる指示を描画部２６へ出力する。
【００２０】
従って、数値計算に不適なメッシュ要素である不良品質要素について、ユーザに認識させるための表示処理が実行され、ユーザの視認性が向上する。これにより、例えば大規模なシミュレーションモデルにおいても数値計算に不適なメッシュ要素の発生箇所の特定が容易になる。
【００２１】
なお、情報装置１０は開示の技術における情報処理装置の一例である。また、不良要素検出部２８は開示の技術における検出部の一例であり、設定部３４は開示の技術における設定部の一例であり、表示制御部３６は開示の技術における表示制御部の一例である。また、要素品質の指標は、開示の技術における計算品質情報の一例である。
【００２２】
図２に、情報処理装置１０を、コンピュータで実現する場合の一例を示す。図１に示す情報処理装置１０は、コンピュータ４０により実現される。コンピュータ４０はＣＰＵ４２、メモリ４４、不揮発性の格納部５４を備えている。ＣＰＵ４２、メモリ４４、及び格納部５４はバス５３を介して互いに接続されている。格納部５４はＨＤＤ(Hard Disk Drive)やフラッシュメモリ等によって実現できる。また、コンピュータ４０はネットワークに接続するための通信制御部５２を備え、通信制御部５２はバス５３に接続されている。また、コンピュータ４０は、出力デバイスの一例の表示装置４６、キーボードやマウス等の入力デバイスの一例の入力装置４８を備えている。表示装置４６、及び入力装置４８はバス５３に接続されている。また、コンピュータ４０は、光ディスク等の記録媒体４９が挿入され、挿入された記録媒体４９に対して読み書きするための装置（Ｒ／Ｗ装置）５０を備え、Ｒ／Ｗ装置５０はバス５３に接続されている。なお、表示装置４６、入力装置４８、及びＲ／Ｗ装置５０は、省略してもよく、必要に応じてバス５３に接続するようにしてもよい。
【００２３】
格納部５４には、ＣＡＤプログラム５６が記憶されている。ＣＡＤプログラム５６は、ＣＡＤ本体プログラム５８、コマンド制御プログラム６０、メッシュ生成プログラム６２、メッシュ描画プログラム６４、及び不良品質要素表示プログラム６６を含んでいる。不良品質要素表示プログラム６６は、不良要素検出プロセス６８及び表示処理プロセス７０を含んでいる。また、格納部５４には、構造データとしてのＣＡＤデータ７４を含むデータベース７２が記憶される。
【００２４】
ＣＰＵ４２がＣＡＤプログラム５６を実行することで、コンピュータ４０はＣＡＤ装置として動作する。また、ＣＡＤプログラム５６に含まれるＣＡＤ本体プログラム５８、コマンド制御プログラム６０、メッシュ生成プログラム６２、及びメッシュ描画プログラム６４は、ＣＡＤ装置の機能に対応する。すなわち、ＣＡＤ本体プログラム５８、コマンド制御プログラム６０、メッシュ生成プログラム６２、及びメッシュ描画プログラム６４により、一般的なＣＡＤ装置の機能が実現される。例えば、ＣＰＵ４２がＣＡＤ本体プログラム５８を実行することで、コンピュータ４０は所定の主要な機能を実現するＣＡＤ装置として動作される。なお、ＣＡＤ本体プログラム５８の実行で動作されるＣＡＤ装置としての所定の主要な機能は、第１実施形態に直接関係しないため、説明を省略する。
【００２５】
コマンド制御プログラム６０、メッシュ生成プログラム６２、及びメッシュ描画プログラム６４の各々は、ＣＰＵ４２によって格納部５４から読み出されてメモリ４４に展開されて実行される。つまり、情報処理装置１０がコンピュータ４０で実現され、ＣＰＵ４２がコマンド制御プログラム６０を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示すコマンド制御部２０として動作する。また、ＣＰＵ４２がメッシュ生成プログラム６２を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示すメッシュ生成部２２として動作する。また、ＣＰＵ４２がメッシュ描画プログラム６４を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示す描画部２６として動作する。
【００２６】
第１実施形態では、ＣＡＤプログラム５６に、アドインソフトウェアとして不良品質要素表示プログラム６６を組み込んで実現する場合を説明する。なお、以下の説明では、不良品質要素表示プログラム６６をアドインソフトウェアとしてＣＡＤプログラム５６に組み込む場合を説明するが、開示の技術は不良品質要素表示プログラム６６をＣＡＤプログラム５６に組み込むことに限定されない。例えば、不良品質要素表示プログラム６６とＣＡＤプログラム５６とを独立したプログラムとして各々実行しても良い。
【００２７】
不良品質要素表示プログラム６６は、ＣＰＵ４２によって格納部５４から読み出されてメモリ４４に展開されて実行される。つまり、情報処理装置１０がコンピュータ４０で実現され、ＣＰＵ４２が不良品質要素表示プログラム６６を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示す不良品質要素表示部２８として動作される。不良品質要素表示プログラム６６は、不良要素検出プロセス６８及び表示処理プロセス７０を含んでおり、各々のプロセスが実行される。つまり、ＣＰＵ４２が不良要素検出プロセス６８を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示す不良品質要素検出部３０として動作する。また、ＣＰＵ４２が表示処理プロセス７０を実行することで、コンピュータ４０は、図１に示す表示処理部３２として動作する。なお、表示処理プロセス７０には、設定機能及び表示制御機能を含んでおり、表示処理プロセス７０の設定機能が図１に示す設定部３４の機能に対応し、表示制御機能が表示制御部３６の機能に対応する。
【００２８】
なお、コンピュータ４０で実行されるＣＡＤプログラム５６は、開示の技術における情報処理プログラムの一例である。また、コンピュータ４０で実行されるＣＡＤプログラム５６は、コンピュータ４０を開示の技術における情報処理装置として機能させるためのプログラムでもある。また、コンピュータ４０に処理を実行させるためのプログラムを記録した光ディスク等の記録媒体は開示の技術の記録媒体の一例である。
【００２９】
次に第１実施形態の作用を説明する。
図３に、コンピュータ４０（図２）で実現される情報処理装置１０を含むＣＡＤ装置の動作の流れを示す。
【００３０】
コンピュータ４０のＣＰＵ４２は、入力装置４８によりユーザの処理開始指示を受け付けると、ステップ１００において、格納部５４におけるデータベース７２のＣＡＤデータ７４を読み取る。次にＣＰＵ４２は、ステップ１０２において、ＣＡＤデータ７４による数値計算モデルを微小なメッシュ要素に分割するメッシュ生成処理を実行する。なお、ユーザの処理開始指示を受け付けることは、図１に示す入力装置１４によりユーザが処理開始指示を実行したことを、図１に示すコマンド制御部２０が受け取り、メッシュ生成部２２へ指示をする処理に対応する。また、ステップ１００とステップ１０２の処理は、図１に示すメッシュ生成部２２における処理に対応する。
【００３１】
図４に、表示装置４６に表示される、ＣＡＤデータ７４による数値計算モデルの一例として、物品のワイヤーフレームモデル８０を示す。また、図５に、ワイヤーフレームモデル８０を微小なメッシュ要素に分割するメッシュ生成処理により得られるメッシュモデル８２を示す。
【００３２】
次に、ＣＰＵ４２は、図３に示すステップ１０４において不良要素検出処理を実行し、ステップ１０６の処理へ移行する。不良要素検出処理は、詳細を後述するように（図６）、メッシュ生成処理で分割されたメッシュ要素のうちの数値計算に不適なメッシュ要素を不良品質要素として検出する処理である。次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１０６において、上記ステップ１０４の処理で不良品質要素が検出されたか否かを判断する。ステップ１０６で否定判断されると、ＣＰＵ４２は、処理の終了指示を受けるまで、本処理ルーチンを繰り返し実行する。すなわち、ＣＰＵ４２は、ステップ１２２において処理終了指示を受け取ったか否かを判断し、肯定判断のとき本処理ルーチンを終了し、否定判断のとき、ステップ１００へ戻る。
【００３３】
図３に示すステップ１０４の処理で不良品質要素が検出されると、ステップ１０６で肯定判断され、ＣＰＵ４２は、ステップ１０８において、後述するように、不良品質要素の強調処理を実行する。第１実施形態では、不良品質要素の強調処理は、詳細を後述するように、不良品質要素として検出されたメッシュ要素を、ユーザに認識させるために、不良品質要素を含む周辺のメッシュ要素をグループ化して表示処理させる。ステップ１０８の処理が終了すると、不良品質要素として検出されたメッシュ要素についてユーザによる選択指示が可能になる。
【００３４】
従って、ステップ１０４の不良要素検出処理及びステップ１０８の不良品質要素の強調処理を実行することで、数値計算に不適なメッシュ要素を、ユーザに認識させる表示処理が可能になり、また不良品質要素についてユーザにより選択指示が可能になる。なお、ステップ１０４は、図１に示す不良品質要素表示部２８における不良品質要素検出部３０の処理に対応する。また、ステップ１０８の処理は、図１に示す不良品質要素表示部２８における表示処理部３２の処理に対応する。
【００３５】
次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１１０において、個別要素の個別修正が選択されたか否かを判断する。ステップ１１０の判断処理は、ユーザが入力装置４８（図２）を操作して個別に不良品質要素を選択指示したか否かを判別したり、ユーザが入力装置４８を操作して予め定めたコマンドを入力したか否かを判別したりすることで判断できる。ステップ１１０で肯定判断されると、ＣＰＵ４２は、ステップ１１２において、要素品質の改善処理を実行する。要素品質の改善処理は、数値計算に不適なメッシュ要素を数値計算に適するメッシュ要素に修正する処理である。要素品質の改善処理の一例として、不良品質要素として選択された数値計算に不適なメッシュ要素の節点を移動させる処理がある。
【００３６】
次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１１４において、改善が未了の不良品質要素が残存するか否かを判断する。全不良品質要素について要素品質の改善処理が完了すると、ＣＰＵ４２は、ステップ１１４で否定判断し、ステップ１２２へ処理を移行する。一方、ステップ１１４で肯定判断されると、ＣＰＵ４２は、ステップ１１６へ進み、個別要素の個別修正を継続するか否かを判断する。ステップ１１６の判断は、ユーザが入力装置４８を操作して個別要素の個別修正を継続することを示す指示を受け取ったか否かによる判断できる。ＣＰＵ４２は、ステップ１１６で肯定判断すると、ステップ１１２へ戻り、否定判断すると、ステップ１１８へ処理を移行する。
【００３７】
不良品質要素について個別要素の個別修正が選択されないとき、ＣＰＵ４２は、ステップ１１０で否定判断し、ステップ１１８において不良品質要素を含む指定領域の読み取り処理を実行する。不良品質要素を含む指定領域の読み取り処理は、不良品質要素を個別に修正するのではなく、指定領域内の複数のメッシュ要素について自動的に要素品質を改善するための領域を読み取る処理である。ステップ１１８における指定領域の読み取りは、ユーザが入力装置４８を操作して指示した指定領域を読み取ることで実現できる。なお、ステップ１１８では、ユーザによる指定領域の指示を読み取ることなく、後述する不良品質要素を含むグループ領域を自動的に設定してもよい。
【００３８】
次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１２０において、上記ステップ１１８で読み取った指定領域に含まれるメッシュ要素の各々を、予め定めた数値計算に適するメッシュ要素に調整する処理を実行し、ステップ１０２へ戻る。
【００３９】
次に、図３に示すステップ１０４の不良要素検出処理をさらに説明する。不良要素検出処理は、不良品質要素表示プログラム６６に含まれる不良要素検出プロセス６８の実行により実現できる。なお、第１実施形態では、不良品質要素を識別するための情報を不良品質要素リストに格納するものとする。不良品質要素リストは、メモリ４４またはデータベース７２に記憶されるものとする。また、第１実施形態では、数値計算に不適なメッシュ要素を判別するために、要素品質の指標の許容値が予め定められているものとする。
【００４０】
図６に、不良要素検出処理の流れを示す。ＣＰＵ４２は、ステップ１３０において、メッシュ生成処理（図３に示すステップ１０２）により得られるメッシュモデル８２のメッシュデータを読み取る。なお、ステップ１３０では、メッシュモデル８２のメッシュデータに含まれるメッシュ要素の総数も取得されるものとする。ＣＰＵ４２は、次のステップ１３２おいて、カウンタ変数Ｎを初期値「１」に設定する（Ｎ＝１）。ＣＰＵ４２は、次のステップ１３４において、Ｎ番目のメッシュ要素を選択し、次のステップ１３６において要素品質の指標を求める。要素品質の指標Ｐの一例として、メッシュ要素の各辺の比、または内接円と外接円の半径比を用いることができる。
【００４１】
図７に、メッシュ生成処理により三角形のメッシュ要素８４に分割される場合における、要素品質の指標Ｐを求めるための計算基礎データの一例を示す。図７では、メッシュ要素８４の最長辺Ｑと最短辺ｑとを計算基礎データとし、線長比（Ｑ／ｑ）を要素品質の指標Ｐとする。線長比（Ｑ／ｑ）である要素品質の指標Ｐが大きな値になるに従って数値計算に不適なメッシュ要素と判別できる。また、図８に、三角形のメッシュ要素８４に分割される場合における、要素品質の指標Ｐを求めるための計算基礎データの他例を示す。図８では、メッシュ要素８４の内接円の半径ｒと外接円の半径Ｒの比（Ｒ／ｒ）を要素品質の指標Ｐとする。なお、半径比を要素品質の指標Ｐに用いる場合、メッシュ要素は多面体を適用できる。例えば、メッシュ生成処理により４面体に分割されるとき、４面体のメッシュ要素の内接球の半径ｒと外接球の半径Ｒの比（Ｒ／ｒ）を要素品質の指標Ｐとすることができる。半径比を要素品質の指標Ｐが大きな値になるに従って数値計算に不適なメッシュ要素と判別できる。
【００４２】
要素品質の指標Ｐの算出が終了すると、ＣＰＵ４２は、図６のステップ１３８において、要素品質の指標Ｐが許容値以内か否かを判断する。ステップ１３８で否定判断されると、ＣＰＵ４２は、Ｎ番目のメッシュ要素を数値計算に不適なメッシュ要素として不良品質要素リストに追加し、ステップ１４２へ処理を移行する。一方、ステップ１３８で肯定判断されると、不良品質要素リストへの追加処理を実行することなく、次処理へ移行する。つまり、ＣＰＵ４２は、ステップ１４２の処理へ移行し、メッシュモデル８２の全メッシュ要素について、ステップ１３６〜ステップ１４０の処理が終了したか否かを判断する。
【００４３】
ＣＰＵ４２は、ステップ１４２で肯定判断すると、本処理ルーチンを終了し、否定判断すると、ステップ１４４において、カウンタ変数Ｎを１つインクリメントし（Ｎ＝Ｎ＋１）ステップ１３４へ戻る。
【００４４】
次に、図３に示すステップ１０８の不良品質要素の強調処理をさらに説明する。不良品質要素の強調処理は、不良品質要素表示プログラム６６に含まれる表示処理プロセス７０の実行により実現できる。
【００４５】
図９に、不良品質要素の強調処理の流れを示す。ＣＰＵ４２は、ステップ１５０において、登録済の不良品質要素を読み取る。すなわち、不良品質要素が追加され登録された不良品質要素リスト（図６に示すステップ１４０参照）を読み取る。次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１５０で読み取った不良品質要素リストに、１以上のメッシュ要素が登録されているか否かを判断し、否定判断のときはステップ１６４へ処理を移行する。不良品質要素リストに１以上のメッシュ要素が登録されているとき（ステップ１５２で肯定判断）、ＣＰＵ４２は、次のステップ１５４において、カウンタ変数Ｎを初期値「１」に設定する（Ｎ＝１）。
【００４６】
ＣＰＵ４２は、次のステップ１５６において、後述するように、Ｎ番目の不良品質要素と周辺のメッシュ要素とに対するグループ化処理を実行する。次に、ＣＰＵ４２は、不良品質要素リストに登録された全不良品質要素に対するグループ化処理が終了したか否かを判断し、否定判断されると、ステップ１６０においてカウンタ変数Ｎを１つインクリメントし（Ｎ＝Ｎ＋１）ステップ１５６へ戻る。一方、ステップ１５８で肯定判断された場合には、ステップ１６２において、表示処理を実行し、ステップ１６４へ進む。ステップ１６２の表示処理は、表示装置４６にメッシュモデル８２と共にグループ化処理が終了したメッシュ要素群の領域に対して強調表示を行うように、描画データを出力させる処理である。なお、表示装置４６にメッシュモデル８２と共にグループ化処理が終了したメッシュ要素群の強調表示を実行させる処理は、図１に示す描画部２６の処理に対応する。
【００４７】
次にＣＰＵ４２は、ステップ１６４において、不良品質要素の強調処理を終了するか否かを判断し、肯定判断のときは、本処理ルーチンを終了する。一方、ステップ１６４で否定判断されると、ＣＰＵ４２は、ステップ１６６において、表示装置４６における表示範囲または画面サイズが変更されたか否かを判断する。ステップ１６６の判断処理は、ユーザの入力装置４８の操作による表示範囲または画面サイズの変更指示を読み取ることで判断できる。ＣＰＵ４２は、ステップ１６６で否定判断するとステップ１６４へ戻り、肯定判断するとステップ１５０へ戻る。
【００４８】
次に、図１０を参照し、図９に示すステップ１５６のグループ化処理をさらに説明する。また、図１１に、グループ化処理における表示装置４６上のイメージを示す。
【００４９】
まず、ＣＰＵ４２は、ステップ１７０において、画面を表示するときに指定したピクセル数Ｋと、画面の実寸法Ｌを記録し、次のステップ１７２において、１ピクセルの実寸法ａ（＝Ｌ／Ｋ）を導出する（図１１に示す表示状態４６Ａも参照）。次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１７４において、メッシュ要素として表示するピクセル数ｋの実寸法Ａ（＝ｋ・ａ）を導出する（図１１に示す一部の表示状態４６Ｂも参照）。なお、メッシュ要素として表示するピクセル数ｋは、予め設定されている。また、第１実施形態では、ピクセル数ｋから実寸法Ａを導出する一例を説明するが、実寸法Ａを予め設定しておき、読み取るようにしてもよい。
【００５０】
次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１７６において、不良品質要素として登録されている対象のメッシュ要素８４を中心に、実寸法Ａを半径とする所定範囲に含まれるメッシュ要素の集合Ｍを導出する（図１１に示す一部の表示状態４６Ｃも参照）。なお、メッシュ要素の集合Ｍを導出するための所定範囲は、実寸法Ａを半径とすることに限定されない。例えば、実寸法Ａを対角線や辺の長さとする多角形を用いてもよい。
【００５１】
次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１７８において、メッシュ要素の集合Ｍに含まれるメッシュ要素に対する表示設定を実行する。第１実施形態では、ステップ１７８で実行される表示設定において、集合Ｍに含まれるメッシュ要素に対して、メッシュ要素の集合Ｍ以外のメッシュ要素の表示設定と相違する設定を実行する。例えば、他のメッシュ要素と相違し、かつ多色の色情報のうちの何れか１色を設定する（図１１に示す表示状態４６Ｄも参照）。集合Ｍに含まれるメッシュ要素に対して色を設定することにより、集合Ｍに含まれるメッシュ要素を表示させたときにおけるユーザの視認性が向上する。
【００５２】
ステップ１７８の処理では、集合Ｍに含まれるメッシュ要素に対して同一の表示設定が成されることになるので、不良品質要素と周辺のメッシュ要素とをグループ化する処理と捉えることもできる。従って、ステップ１７８の処理は、図１に示す設定部３４の処理に対応する。また、ステップ１７８で実行される表示設定において、色を設定する処理は、図１に示す表示制御部３６の処理の一部に対応する。
【００５３】
なお、ステップ１７８で実行される表示設定では、要素品質の指標に応じて、色情報を変更することができる。例えば、要素品質の指標の値を複数の段階に分類し、各段階に色を対応させる。要素品質の指標に応じて色情報を変更することで、集合Ｍに含まれるメッシュ要素の要素品質に応じて、相違する要素品質をユーザに認識させることができる。
【００５４】
図１２に、表示装置４６における表示範囲または画面サイズが変更されるときのグループ化処理における表示装置４６上のイメージを示す。
【００５５】
図１２に示す表示状態４６Ｅでは、不良品質要素として対象のメッシュ要素８４が表示される。図１１に示すグループ化処理の実行により、１つの不良品質要素８４と周辺のメッシュ要素とを含む領域がグループ化される（図１２に示す表示状態４６Ｆ）。そこで、ユーザによる入力装置４８の操作により、表示範囲８６が指定されると、図１２に示す表示状態４６Ｇに示すように、表示領域が拡大される。第１実施形態では、メッシュ要素として表示するピクセル数ｋの実寸法Ａにより、メッシュ要素の集合Ｍを導出するので、表示範囲８６の拡大縮小に応じて、メッシュ要素の集合Ｍの大きさが変更される。従って、表示装置４６上のメッシュ要素の集合Ｍ、つまりグループ化された領域の大きさが、表示範囲８６の拡大縮小に伴って変動される。例えば、表示範囲８６の拡大に伴ってグループ化された領域に含まれる周辺のメッシュ要素が減少し、不良品質要素として対象のメッシュ要素８４へ案内できる。
【００５６】
以上説明したように、第１実施形態では、数値計算に不適なメッシュ要素の周辺にあるメッシュ要素をグループ化して、色づけ等の表示設定を施す。これにより、数値計算に不適な不良品質要素の視認性を向上させることができる。また、表示範囲を拡大縮小したときには、表示範囲の拡大縮小に伴ってグループ化する周辺メッシュ要素の数を変更するので、不良品質要素として対象のメッシュ要素８４へ容易に案内することができる。
【００５７】
従って、不良品質要素の視認性が向上するため、大規模なシミュレーションモデルにおいても不良品質要素の発生箇所の特定は容易になる。
【００５８】
なお、第１実施形態では、記憶部２４および格納部５４の一例として、ＨＤＤを適用した場合を説明したが、ＨＤＤに限定されるものではなく、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）であってもシリアルフラッシュメモリなどであってもよい。
【００５９】
＜第２実施形態＞
次に第２実施形態を説明する。第１実施形態では、不良品質要素の強調処理により不良品質要素の視認性を向上させている。第２実施形態は、数値計算に不適なメッシュ要素の出現頻度により、不良品質要素の視認性を向上させるものである。なお、第２実施形態は、第１実施形態と略同様の構成のため、同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
【００６０】
図１３に、第２実施形態に係るヒストグラム処理の流れを示す。図１３に示す処理ルーチンは、図９に示す不良品質要素の強調処理を代替する処理である。なお、第２実施形態では、後述するように不良品質要素の判定処理を含むため、図３に示すステップ１０４の処理を省略することができる。図３に示すステップ１０４の処理を省略する場合、図３に示すステップ１０６の判断処理も省略され、ＣＰＵ４２はステップ１１４の否定判断後にステップ１２２の処理へ移行する。
【００６１】
なお、第２実施形態では、メッシュモデル８２の軸方向がｘ軸に平行な場合を説明する。
【００６２】
ＣＰＵ４２は、ステップ１８０において、メッシュモデル８２のメッシュデータを読み取り、次のステップ１８２においてメッシュ要素の各々の中心座標とアスペクト比を算出する。次に、ＣＰＵ４２は、ステップ１８４において、ヒストグラム空間を導出し、次のステップ１８６において、カウンタ変数Ｎを初期値「１」に設定する（Ｎ＝１）。ヒストグラム空間の導出処理では、全ての節点中のｘ座標の最大値と最小値、および分割数からヒストグラムの区間を設定する。
【００６３】
次に、ＣＰＵ４２は、次のステップ１８８において、Ｎ番目のメッシュ要素についてアスペクト比が予め定めた閾値内であるか否かを判断する。ステップ１８８の判断処理は、メッシュ要素が不良品質要素に該当するか否かの判断処理に対応する。ステップ１８８で否定判断されると、ＣＰＵ４２は、ステップ１９０において、中心座標のｘ座標から所属するヒストグラムの区間を算出し、算出したヒストグラムの区間の出現数を１つ増加させる。そして、ステップ１９２においてカウンタ変数Ｎを１つインクリメントし（Ｎ＝Ｎ＋１）ステップ１５６へ戻る。一方、ステップ１８８で肯定判断されると、ステップ１９４において全メッシュ要素に対するステップ１８８の判断処理が終了したか否かを判断し、否定判断のときはステップ１８８へ戻り、肯定判断のときはステップ１９６へ処理を移行する。
【００６４】
ステップ１９６では、ＣＰＵ４２は、ヒストグラム空間における区間毎に計数された出現数を集計し、ヒストグラムを生成し、次のステップ１９８においてヒストグラムの表示処理を実行し、ステップ２００へ進む。ステップ１９８のヒストグラム表示処理は、表示装置４６にメッシュモデル８２と共に生成されたヒストグラムを表示するように、描画データを出力させる処理である。なお、表示装置４６にメッシュモデル８２と共にヒストグラム表示を実行させる処理は、図１に示す描画部２６の処理に対応する。
【００６５】
次にＣＰＵ４２は、ステップ２００において、ヒストグラム処理を終了するか否かを判断し、肯定判断のときは、本処理ルーチンを終了する。一方、ステップ２００で否定判断されると、ＣＰＵ４２は、ステップ２０２において、表示装置４６における表示範囲または画面サイズが変更されたか否かを判断する。ＣＰＵ４２は、ステップ２０２で否定判断するとステップ２００へ戻り、肯定判断するとステップ１８０へ戻る。
【００６６】
図１４に、ヒストグラム処理の実行により表示装置４６に表示される表示イメージの一例を示す。図１４は、メッシュモデル８２近傍に、要素品質の度合いを示すヒストグラム８８を配置した一例である。メッシュモデル８２の軸方向はｘ軸に平行になっている。図１４では、ヒストグラム８８における出現数の値が大きくなるに従って不良品質要素が多く存在することになり、メッシュモデル８２の軸方向に沿った不良品質要素の分布度合いを理解できる。
【００６７】
上記では、メッシュモデル８２の軸方向がｘ軸に平行な場合を説明したが、軸方向がｘ軸に平行な場合に限定されるものではない。例えば、メッシュモデルの主軸を検出し、検出した方向をヒストグラムの表示方向とすることもできる。ここで、メッシュモデル８２の主軸を検出してヒストグラム処理を実行する一例を説明する。
【００６８】
図１５に、主軸方向を導出するためのメッシュモデル８２の一例を示す。図１５に示すメッシュモデル８２は、傾いた主軸を有するブロック片を示す。傾いた主軸の主軸方向Ｓｇの一例を次の（１）式に示す。
【数１】
2014106583.tif 000003
・・・（１）
【００６９】
主軸方向を導出する一例では、まず、節点座標値を（確率）分布データと見なした主成分分析を実行することによって、節点が最も広く分布する方向（長手方向に近似する方向）を検出し、主軸に採用する。主成分分析は、次の（２）式により、接点座標値の分散・共分散行列を求める。
【数２】
2014106583.tif 000004
・・・（２）
【００７０】
図１５に示すメッシュモデル８２の一例では、分散・共分散行列は、次の（３）式で示す行列となる。
【数３】
2014106583.tif 000005
・・・（３）
【００７１】
次に、求めた分散・共分散行列の固有値、固有ベクトルを求める。図１５に示すメッシュモデル８２の一例では、固有値は、１１４．０，３．７８４，１．００５が求まり、固有ベクトルは、次の（４）式で示す行列となる。
【数４】
2014106583.tif 000006
・・・（４）
【００７２】
次に、求めた分散・共分散行列の固有値、固有ベクトルのうち、固有値の最大値に対応する固有ベクトルが主軸方向Ｓｇに対応する。
【００７３】
また、傾いた主軸の主軸方向Ｓｇのメッシュモデル８２におけるメッシュ要素８４の位置の導出処理の一例について説明する。メッシュ要素の位置の算出には、「メッシュ要素の中心点のｘ座標」の代わりに、メッシュ要素の中心点Ｃの軸方向に関する符号付き長さを用いる。
【００７４】
図１６に、メッシュモデル８２の主軸を軸としてメッシュ要素の位置を導出する概念を示す。メッシュ要素の中心点の主軸方向の成分は、原点Ｏから、メッシュ要素８４の中心点Ｃを主軸方向に投影した点Ｈまでの符号付き距離ＳＨである。距離ＳＨは、主軸方向の単位ベクトルとメッシュ要素の中心点の位置ベクトルの内積に対応し、次の（５）式で求めることができる。
【数５】
2014106583.tif 000007
・・・（５）
【００７５】
このように、メッシュモデル８２の主軸を検出し、検出した方向でヒストグラム表示をすることにより、メッシュモデル８２を回転させるとき、メッシュモデル８２の回転に連動して、ヒストグラムを表示させることができる。メッシュモデル８２の回転に連動して、ヒストグラムを表示させることにより、不良品質要素の位置の把握が容易になる。また、ヒストグラムの表示を、領域を指定して該指定した領域に対して実行することもできる。
【００７６】
以上説明したように、第２実施形態では、数値計算に不適なメッシュ要素の出現頻度によるヒストグラムを表示させているので、数値計算に不適な不良品質要素の分布を直感的に把握させることができ、ユーザの視認性を向上させることができる。
【００７７】
＜第３実施形態＞
次に第３実施形態を説明する。第１実施形態は、不良品質要素の強調処理により不良品質要素の視認性を向上させている。第３実施形態は、数値計算に不適なメッシュ要素の近傍に所定形状の図形を配置させることにより、不良品質要素の視認性を向上させるものである。なお、第３実施形態は、第１実施形態と略同様の構成のため、同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
【００７８】
図１７に、第３実施形態に係る図形処理の流れを示す。図１７に示す処理ルーチンは、図９に示す不良品質要素の強調処理とほぼ同様の処理であり、相違箇所は、図９に示すステップ１５６の処理を、図１７に示すステップ２１０の処理に代替した点である。
【００７９】
図１７に示すように、第３実施形態に係る図形処理では、不良品質要素リストに、１以上のメッシュ要素が登録されているとき（ステップ１５０〜１５４）、ＣＰＵ４２は、次のステップ２１０おいて、指定サイズのシンボル表示設定を実行する。シンボル表示設定は、数値計算に不適なメッシュ要素近傍に、予め定めた図形をシンボル図形として重ねて表示させるように設定する処理である。シンボル図形の一例として、所定径の半透明球を示す図形、吹き出し（バルーン）を示す図形がある。
【００８０】
図１８に、第３実施形態に係るシンボル図形の一例としての所定径の半透明球９０を示す図形をメッシュモデル８２に重ねて表示させたイメージを示す。なお、所定径の半透明球９０は、数値計算に不適なメッシュ要素の重心の位置に、半透明球９０の中心が位置するように表示させることが好ましい。このように、半透明球９０をシンボル図形として、不良品質要素の重心付近に重ねて表示させることにより、大規模な要素モデルで各メッシュ要素のサイズが非常に小さい場合であっても、容易に不良品質要素を認識することができる。
【００８１】
なお、図１８では、シンボル図形の一例としての所定径の半透明球９０を示す図形をメッシュモデル８２に重ねて表示させる場合を示すが、シンボル図形は、円や球に限定されるものではない。例えば、楕円や多角形、楕円球や多面体であってもよい。
【００８２】
また、ステップ２１０で実行される指定サイズのシンボル表示設定では、要素品質の指標に応じて、シンボル図形の色情報を変更することができる。例えば、要素品質の指標の値を複数の段階に分類し、各段階に色を対応させる。要素品質の指標に応じて色情報を変更することで、シンボル図形に対応されるメッシュ要素の要素品質に応じて、相違する要素品質をユーザに認識させることができる。
【００８３】
図１９に、第３実施形態に係るシンボル図形の一例としての吹き出しを示す図形をメッシュモデル８２に重ねて表示させたイメージを示す。ここでは、吹き出しを示す図形をバルーン９２として説明する。図１９では、吹き出しを示す図形の一例としてのバルーン９２、起点９２Ａを有するものを用いている。バルーン９２は、バルーン９２の起点９２Ａに、数値計算に不適なメッシュ要素の重心が位置するように表示させる。このように、バルーン９２をシンボル図形として、不良品質要素の重心付近に重ねて表示させることにより、大規模な要素モデルで各メッシュ要素のサイズが非常に小さい場合であっても、容易に不良品質要素を認識することができる。
【００８４】
なお、数値計算に不適なメッシュ要素、つまり不良品質要素が複数あるとき、複数のバルーン９２が重なり合って表示されると、ユーザは、重なり合った不良品質要素の把握が困難になる。そこで、不良品質要素が複数あるときは、複数のバルーン９２が重なり合わないように並んで表示されるように、バルーン９２の一部の図形を変更して表示させることが好ましい。バルーン９２の一部の図形を変更する一例としては、バルーン９２の大きさを変更したり、バルーン９２の起点９２Ａまでの図形を変更したりするのみで実現できる。
【００８５】
また、図１９は、バルーン９２の内部に、数値計算に不適なメッシュ要素の要素番号を識別するための識別情報を表示させる一例を示す。バルーン９２の内部に、メッシュ要素の識別情報を表示させることにより、メッシュ要素のサイズが非常に小さい場合であっても、ユーザに対して容易に不良品質要素を認識させることができると共に、メッシュ要素の要素番号を把握させることが可能となる。
【００８６】
また、ステップ２１０おけるシンボル表示設定処理では、バルーン９２の内部に、数値計算に不適なメッシュ要素の要素品質の指標を示す数値を表示させることができる。要素品質の指標を示す数値を表示させることにより、ユーザは、数値計算に不適なメッシュ要素の原因を認識させることができると共に、メッシュ要素の改善を実行するための要素を認識させることが可能となる。
【００８７】
また、ステップ２１０におけるシンボル表示設定処理では、対象のメッシュ要素について要素品質を改善するための節点移動の方向等を示すガイド情報を、シンボル図形に連携させて表示させることができる。これにより、メッシュ要素に対する要素品質の修正作業を支援することができる。
【００８８】
以上説明したように、第３実施形態では、数値計算に不適なメッシュ要素の近傍にシンボル図形を表示させているので、数値計算に不適な不良品質要素を直感的に把握させることを可能とする表示ができ、ユーザの視認性を向上させることができる。
【００８９】
ところで、上述の各実施形態は、メッシュモデル８２に、例えば埋没してしまい認識が困難な不良品質要素に対するユーザの視認性を向上させて、メッシュ要素の要素品質の改善処理を支援する。メッシュ要素の要素品質の改善処理を支援する過程において、ユ−ザに対しては、直感的に数値計算に不適な不良品質要素まで到達するように、メッシュモデル８２を拡大表示させることが好ましい。そこで、次に、直感的に数値計算に不適な不良品質要素まで到達するように、メッシュモデル８２を拡大表示させる処理の一例を説明する。
【００９０】
要素品質の改善処理は、数値計算に不適なメッシュ要素を数値計算に適するメッシュ要素に修正する処理である。まず、図２０に示すように、メッシュモデル８２上にメッシュ要素の集合Ｍが表示されて、不良品質要素の存在をユーザは確認できる。ユーザは、要素品質の改善処理のため、表示範囲９４を指定することで、メッシュモデル８２の拡大表示をコンピュータ４０に指示する。表示装置４６には、図２１に示すように、指定された表示範囲９４の画像が拡大表示される。次にユーザは、対象のメッシュ要素８４が表示されるように、さらに表示範囲９４Ａを指定することで、メッシュモデル８２の拡大表示をコンピュータ４０に指示する。表示装置４６には、図２２に示すように、指定された表示範囲９４Ａの画像が拡大表示される。
【００９１】
このように、ユーザによる表示範囲の指定により、徐々にメッシュモデル８２を拡大表示させることで、数値計算に不適な不良品質要素が容易に視認できる大きさで表示されている状態まで容易に到達できる。
【００９２】
また、メッシュモデル８２を拡大表示させて不良品質要素を表示させる場合、シンボル図形の一例としてのバルーン９２をメッシュモデル８２に重ねて表示させる処理を連続させる処理が好適である。
【００９３】
図２３に、バルーン９２をメッシュモデル８２に重ねて表示させつつ不良品質要素を表示させる表示装置４６の表示画面の一例を示す。まず、表示装置４６の表示画面におけるメインウィンドウ９６Ｍには、メッシュモデル８２に対して不良品質要素を指し示すバルーン９２が重ねて表示される。不良品質要素を指し示すバルーン９２を、ユーザが入力装置４８を操作することで指示すると、不良品質要素である数値計算に不適なメッシュ要素８４について要素品質の改善処理が可能なサイズまで拡大表示されるサブウィンドウ９６Ｓが重ねて表示される。このように、メッシュモデル８２と、不良品質要素との双方がウィンドウによる区別にて同時に表示される。従って、メッシュモデル８２と、不良品質要素とを同時に確認でき、メッシュモデル８２の全体を見渡しながら、数値計算に不適なメッシュ要素８４について要素品質の改善処理を実行させることができる。
【００９４】
図２３ではバルーン９２と別個に表示させるウィンドウ内に不良品質要素を表示させているが、開示の技術は、不良品質要素をバルーン９２と別個に表示させることに限定されるものではない。例えば、バルーン９２を拡大して、バルーン９２の内部に拡大表示されたメッシュ要素８４を表示させるようにしてもよい。
【００９５】
なお、上記では情報処理装置１０をコンピュータ４０により実現する一例を説明した。しかし、これらの構成に限定されるものではなく、上記説明した要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良及び変更を行っても良いのはもちろんである。
【００９６】
また、上記ではプログラムが記憶部に予め記憶（インストール）されている態様を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、開示の技術における情報処理プログラムは、ＣＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録されている形態で提供することも可能である。
【００９７】
本明細書に記載された全ての文献、特許出願及び技術規格は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
【００９８】
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【００９９】
（付記１）
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出する検出部と、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定する設定部と、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する表示制御部と、
を備えた情報処理装置。
【０１００】
（付記２）
前記計算品質情報は、前記要素の外郭形状に相関関係を示す情報である
付記１の情報処理装置。
【０１０１】
（付記３）
前記計算品質情報は、前記要素の縦横比、または前記要素の内接円の半径と外接円の半径との比率、若しくは前記要素の内接球の半径と外接球の半径との比率を示す情報である付記１の情報処理装置。
【０１０２】
（付記４）
前記表示制御部は、前記表示情報として、予め定めた色情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜付記３の何れか１つの付記の情報処理装置。
【０１０３】
（付記５））
前記表示制御部は、前記計算品質情報に応じて、前記色情報で示される色を変更する付記４に記載の情報処理装置。
【０１０４】
（付記６）
前記設定部は、前記表示部に表示される領域として予め定めた大きさの前記注目領域を設定する付記１〜５の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１０５】
（付記７）
前記表示制御部は、前記表示情報として、注目要素の数に応じて頻度数が増減するヒストグラム情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜６の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１０６】
（付記８）
前記表示制御部は、前記表示情報として、予め定めた図形情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜７の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１０７】
（付記９）
前記表示制御部は、前記計算品質情報に応じて、前記図形情報を変更して前記表示部に表示する制御を実行する付記８に記載の情報処理装置。
【０１０８】
（付記１０）
前記表示制御部は、前記表示情報として、前記注目要素を識別するための識別情報を含む予め定めた図形情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜９の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１０９】
（付記１１）
前記表示制御部は、表示情報として、前記注目要素の計算品質情報を含む予め定めた図形情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜１０の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１１０】
（付記１２）
前記注目領域を指示する指示入力部を備え、前記表示制御部は、前記指示入力部により前記注目領域が指示されたとき、前記注目領域を拡大して前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜１１の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１１１】
（付記１３）
前記注目領域を指示する指示入力部を備え、前記表示制御部は、前記表示情報として、予め定めた図形情報を前記表示部に表示する制御を実行すると共に、前記指示入力部により前記注目領域が指示されたとき、前記図形情報が前記表示部に拡大されて表示されると共に、拡大された前記図形情報の領域内に前記注目領域が拡大されて表示されるように制御する付記１〜１５の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１１２】
（付記１４）
前記表示制御部は、前記表示情報として、前記計算品質情報を改善するための処理に対応するガイド情報を前記表示部に表示する制御を実行する付記１〜１３の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１１３】
（付記１５）
前記注目領域を指示する指示入力部と、前記指示入力部により前記注目領域が指示されたとき、指示された前記注目領域に含まれる注目要素の形状を変更する入力を受け付ける受付部とを備える付記１〜１４の何れか１つの付記に記載の情報処理装置。
【０１１４】
（付記１６）
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出し、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定し、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する
ことを含む情報処理方法。
【０１１５】
（付記１７）
物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出し、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定し、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する
ことを含む処理をコンピュータに実行させる情報処理プログラム。
【０１１６】
（付記１８）
コンピュータに、
前記コンピュータを、物品の構造データに対応する数値計算用の数値計算モデルが複数の要素に分割されることで得られた複数の要素の各々について、前記要素の形状に応じて値が変化する計算品質情報を求め、前記複数の要素のうち前記計算品質情報の値が所定範囲に含まれる要素を注目要素として検出し、
前記注目要素を含む前記数値計算モデルを表示部に表示するときに、前記注目要素と前記注目要素に隣り合う要素とを含む領域を、注目領域に設定し、
前記注目領域に対して前記注目要素を含むことを示す表示情報を対応付け、前記数値計算モデルと共に前記表示情報を前記表示部に表示する制御を実行する
処理を含む処理を実行させるための情報処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【符号の説明】
【０１１７】
１０    情報処理装置
２８    不良品質要素表示部
３０    不良品質要素検出部
３２    表示処理部
３４    設定部
３６    表示制御部
４０    コンピュータ
４２    ＣＰＵ
４４    メモリ
５４    格納部
５６    ＣＡＤプログラム
６２    メッシュ生成プログラム
６６    不良品質要素表示プログラム
６８    不良要素検出プロセス
７０    表示処理プロセス
７４    ＣＡＤデータ
８０    ワイヤーフレームモデル
８２    メッシュモデル
８４    メッシュ要素
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１３】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図４】
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【図５】
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【図１２】
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【図１４】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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