(57)【要約】【課題】指定された光伝送経路の伝送可否を判定するために要する時間を短縮する。【解決手段】ノード装置は、パラメータ演算部および判定部を有する。パラメータ演算部は、始点ノードから終点ノードへ至る経路を指定する経路情報および信号劣化量を表す第１のパラメータを隣接ノードから受信したときに、隣接ノードとの間の伝送路における信号劣化量を表す第２のパラメータを用いて第１のパラメータを更新することによって、経路情報により指定されている始点ノードと自ノード装置との間の伝送路における信号劣化量を表す第３のパラメータを生成する。判定部は、パラメータ演算部により生成される第３のパラメータ、および経路情報により指定される経路を介して自ノード装置から終点ノードへ至る伝送路における信号劣化量を表す第４のパラメータに基づいて、経路情報により指定される経路の伝送可否を判定する。【選択図】図１１
2014099775.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
始点ノードから終点ノードへ至る経路を指定する経路情報および信号劣化量を表す第１のパラメータを隣接ノードから受信したときに、前記隣接ノードとの間の伝送路における信号劣化量を表す第２のパラメータを用いて前記第１のパラメータを更新することによって、前記経路情報により指定されている始点ノードと自ノード装置との間の伝送路における信号劣化量を表す第３のパラメータを生成するパラメータ演算部と、
前記パラメータ演算部により生成される第３のパラメータ、および前記経路情報により指定される経路を介して自ノード装置から終点ノードへ至る伝送路における信号劣化量を表す第４のパラメータに基づいて、前記経路情報により指定される経路の伝送可否を判定する判定部と、を有する
ことを特徴とするノード装置。
【請求項２】
自ノード装置を通過する第１の経路について、自ノード装置と前記第１の経路の終点ノードとの間の伝送路における信号劣化量を表す劣化量パラメータを格納する格納部をさらに有し、
前記経路情報により指定される第２の経路が自ノード装置を通過し、且つ、前記第１の経路の終点ノードおよび前記第２の経路の終点ノードが互いに一致するときは、前記判定部は、前記格納部に格納されている劣化量パラメータを前記第４のパラメータとして使用して、前記第２の経路の伝送可否を判定する
ことを特徴とする請求項１に記載のノード装置。
【請求項３】
前記格納部は、前記第１の経路について、自ノード装置と前記第１の経路の終点ノードとの間の伝送路におけるスパン数を表す第１のスパン数情報を格納し、
前記パラメータ演算部は、ノードを通過するごとにインクリメントされるスパン数を表す第２のスパン数情報を前記第２の経路上の隣接ノードから受信することにより、前記第２の経路の始点ノードと自ノード装置との間の伝送路におけるスパン数を検出し、さらに前記第１のスパン数情報および第２のスパン数情報に基づいて前記第２の経路の総スパン数を検出し、
前記判定部は、前記第３のパラメータ、前記第４のパラメータ、および前記第２の経路の総スパン数に応じて決まる信号劣化量に基づいて、前記第２の経路の伝送可否を判定する
ことを特徴とする請求項２に記載のノード装置。
【請求項４】
前記経路情報および前記第３のパラメータを前記経路情報により指定される隣接ノードへ送信する送信部をさらに有する
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載のノード装置。
【請求項５】
複数のノード装置を有する光伝送システムであって、
各ノード装置は、
始点ノードから終点ノードへ至る経路を指定する経路情報および信号劣化量を表す第１のパラメータを隣接ノードから受信する受信部と、
前記隣接ノードとの間の伝送路における信号劣化量を表す第２のパラメータを用いて前記第１のパラメータを更新することによって、前記経路情報により指定されている始点ノードと自ノード装置との間の伝送路における信号劣化量を表す第３のパラメータを生成するパラメータ演算部と、
前記パラメータ演算部により生成される第３のパラメータ、および前記経路情報により指定される経路を介して自ノード装置から終点ノードへ至る伝送路における信号劣化量を表す第４のパラメータに基づいて、前記経路情報により指定される経路の伝送可否を判定する判定部と、
前記経路情報および前記第３のパラメータを前記経路情報により指定される隣接ノードへ送信する送信部と、を有する
ことを特徴とする光伝送システム。
【請求項６】
複数のノードを有する光伝送システムにおいて伝送経路の伝送可否を判定する伝送可否判定方法であって、
第１の経路と、始点ノードおよび終点ノードが前記第１の経路と同じ第２の経路とが互いに重複している重複部分を検出し、
前記光伝送システムに設定されている光伝送経路ごとに光信号の品質を表す品質情報を格納する格納部から、前記第１の経路の始点ノードから終点ノードへ光信号が伝送されたときに得られる品質を表す第１の品質情報、前記第１の経路の前記重複部分以外の部分経路を光信号が伝送されたときに得られる品質を表す第２の品質情報、前記第２の経路の前記重複部分以外の部分経路を光信号が伝送されたときに得られる品質を表す第３の品質情報を取得し、
前記第１〜第３の品質情報に基づいて前記第２の経路の伝送可否を判定する
ことを特徴とする伝送可否判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光伝送システム、光伝送システムにおいて使用されるノード装置、および光伝送経路について伝送可否を判定する方法に係わる。
【背景技術】
【０００２】
近年の光伝送システムにおいては、光伝送経路を動的に切り替える機能が求められている。例えば、ある経路上で障害が発生したときは、即座に迂回経路が提供されることが好ましい。
【０００３】
光伝送経路を切り替える際には、新たな光伝送経路の候補について伝送可否判定が行われる。この場合、例えば、判定対象の光伝送経路を介して光信号が伝送されたときの通信品質と閾値とを比較することにより、その光伝送経路についての伝送可否が判定される。そして、伝送可能と判定されると、その光伝送経路を介して光信号が伝送されるように、経路切替えが実行される。一方、伝送不可と判定されたときは、次の候補について伝送可否判定が行われる。
【０００４】
光伝送経路の切替えは、短時間で実現されることが好ましい。特に、障害発生に起因する光伝送経路の切替えは、短時間で実現されることが重要である。そして、短い時間で光伝送経路を切り替えるためには、光伝送経路の伝送可否判定を短時間で行うことが求められる。
【０００５】
例えば、所望のノード間のすべての経路について予め伝送可否判定を実施して、その結果をネットワーク管理サーバに保持しておけば、光伝送経路の伝送可否判定を短時間で行うことは可能である。しかし、大規模なネットワークにおいては、予め伝送可否判定を行うべき経路の数が膨大であり、必要なコストが大きくなってしまう。
【０００６】
この課題に対処するために、光通信ネットワークにおいて、パスの伝送可否を自律的に判定する方法が提案されている。この方法では、各光ネットワーク装置が、信号劣化に関与する要因の大きさに関するパラメータをデータベースとして持っておき、信号が通過するパスを介して、これらのパラメータがリレーされていく。各ネットワーク装置は、受信したパラメータ値に自装置のパラメータを累積的に加算して、その結果を次のネットワーク装置に送信する。パスを終端するネットワーク装置は、受信したパラメータを使ってパス全体の信号劣化の大きさを見積もり、そのパスが所定レベル以上の品質で信号を伝送できるか否かを判定する。（例えば、特許文献１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−１１８１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上述の判定方法においては、新たな光伝送経路について伝送可否を判定する場合、その光伝送経路の始点ノードから終点ノードまで信号劣化に係わるパラメータが伝送され、終点ノードにおいて判定結果が得られる。したがって、伝送可否判定に要する時間が長くなることがある。
【０００９】
本発明の目的は、指定された光伝送経路の伝送可否を判定するために要する時間を短縮することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の１つの態様のノード装置は、始点ノードから終点ノードへ至る経路を指定する経路情報および信号劣化量を表す第１のパラメータを隣接ノードから受信したときに、前記隣接ノードとの間の伝送路における信号劣化量を表す第２のパラメータを用いて前記第１のパラメータを更新することによって、前記経路情報により指定されている始点ノードと自ノード装置との間の伝送路における信号劣化量を表す第３のパラメータを生成するパラメータ演算部と、前記パラメータ演算部により生成される第３のパラメータ、および前記経路情報により指定される経路を介して自ノード装置から終点ノードへ至る伝送路における信号劣化量を表す第４のパラメータに基づいて、前記経路情報により指定される経路の伝送可否を判定する判定部と、を有する。
【発明の効果】
【００１１】
上述の態様によれば、指定された光伝送経路の伝送可否を判定するために要する時間が短くなる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】第１の実施形態の光伝送システムの一例を示す図である。
【図２】第１の実施形態の伝送可否判定方法の一例を示す図である。
【図３】判定メッセージの構成の一例を示す図である。
【図４】判定メッセージおよび応答メッセージの転送について説明する図である。
【図５】各ノード装置により実行される判定メッセージ転送処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】各ノード装置に格納される劣化情報およびスパン数情報の実施例を示す図である。
【図７】各ノード装置により実行される応答メッセージ転送処理の一例を示すフローチャートである。
【図８】スパン数依存劣化量を格納するデータベースの一例を示す図である。
【図９】第１の実施形態の伝送可否判定方法の他の例を示す図である。
【図１０】ノード装置の構成を示す図である。
【図１１】ノード装置の機能を示すブロック図である。
【図１２】伝送可否判定部の処理を示すフローチャートである。
【図１３】ＯＳＮＲに基づいて光伝送経路の伝送可否を判定する実施例を示す図である。
【図１４】光増幅器を考慮してスパン数をカウントする方法を説明する図である。
【図１５】光増幅器の構成を示す図である。
【図１６】第２の実施形態の光伝送システムの一例を示す図である。
【図１７】図１６に示す実施例の経路について伝送可否を判定する処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
＜第１の実施形態＞
図１は、第１の実施形態の光伝送システムの一例を示す。第１の実施形態の光伝送システム１は、複数のノード装置２を有する。各ノード装置２は、光ファイバ回線を介して１または複数の他のノード装置（すなわち、隣接ノード装置）と接続している。すなわち、各ノード装置２は、１または複数の隣接ノード装置へ光信号を送信することができる。また、各ノード装置２は、１または複数の隣接ノード装置から光信号を受信することができる。各光ノード装置２は、例えば、ＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing）信号を伝送するＷＤＭ伝送装置である。この場合、各ノード装置２は、例えば、光分岐挿入装置（ＲＯＡＭＤ：Reconfigurable Optical Add-Drop Multiplexer）であってもよい。
【００１４】
光伝送システム１は、ネットワーク管理システム（Network Management System）３を有する。ネットワーク管理システム３は、光伝送システム１を制御する。例えば、ネットワーク管理システム３は、光伝送システム１において光パスの設定、光パスの切替えなどを制御することができる。
【００１５】
ネットワーク管理システム３は、所望のノード間（または、ユーザから指定されたノード間）に光パスを設定することができる。以下の説明では、光パスの一方の端点を「始点ノード」と呼び、他方の端点を「終点ノード」と呼ぶことがある。また、始点ノードおよび終点ノードに設けられているノード措置を、それぞれ「始点ノード装置」および「終点ノード装置」と呼ぶことがある。さらに、始点ノードから１または複数のノードを介して終点ノードへ至る経路を「光伝送経路」と呼ぶことがある。
【００１６】
ネットワーク管理システム３は、新たな光パスを設定するときは、その光パスの光伝送経路の伝送可否（または、Reachability）を判定する。例えば、始点ノードから送信された光信号が指定された光伝送経路を介して終点ノードまで伝送されるときに、終点ノードにおける受信信号の品質が所定の閾値よりも良好であれば、その光伝送経路は伝送可能と判定される。この場合、ネットワーク管理システム３は、この光伝送経路に光パスを設定する。一方、始点ノードから送信された光信号が指定された光伝送経路を介して終点ノードまで伝送されるときに、終点ノードにおける受信信号の品質が所定の閾値よりも悪ければ、その光伝送経路は伝送不可と判定される。この場合、ネットワーク管理システム３は、他の光伝送経路をサーチする。
【００１７】
ただし、第１の実施形態においては、ネットワーク管理システム３は、判定対象の光伝送経路上のノード装置に、伝送可否判定の実行を依頼する。そして、ネットワーク管理システム３は、そのノード装置から、伝送可否判定の結果を受け取る。
【００１８】
図２は、第１の実施形態の伝送可否判定方法の一例を示す。図２に示す実施例では、光伝送システムは、７台のノード装置を有している。なお、以下の説明では、各ノード装置が設けられている位置（＃１〜＃７）を用いて、各ノード装置を識別することにする。すなわち、ノード装置＃１、＃２、＃３、．．．は、ノード＃１、＃２、＃３、．．．に設けられているノード装置を表す。
【００１９】
図２に示す例では、まず、ノード装置＃１からノード装置＃２、＃３、＃４を経由してノード装置＃５へ至る光伝送経路Ａに光パスが設定されるものとする。このケースでは、ノード＃１が始点ノードであり、ノード＃５が終点ノードである。
【００２０】
各ノード装置＃１〜＃７は、それぞれ、隣接ノード装置との間の伝送路における劣化量を表すパラメータを有している。劣化量は、光信号の品質の劣化の程度を表す。ただし、この実施例の中で使用される劣化量は、説明のための値であって、単位（または、ディメンジョン）は特に限定されるものではない。
【００２１】
例えば、ノード間劣化量#1-#2は、光信号がノード装置＃１からノード装置＃２へ伝送されるときに、その光信号の品質が劣化する程度を表す。ノード間劣化量#1-#2は、ノード装置＃１およびノード装置＃２が有するメモリにそれぞれ格納される。同様に、ノード間劣化量#2-#3は、光信号がノード装置＃２からノード装置＃３へ伝送されたときに、その光信号の品質が劣化する程度を表す。ノード間劣化量#2-#3は、ノード装置＃２およびノード装置＃３が有するメモリにそれぞれ格納される。他のノード間劣化量を表すデータも、それぞれ対応するノード装置のメモリに格納される。
【００２２】
各ノード装置＃１〜＃７は、例えば、隣接ノード装置との間でパイロット光信号を送信および受信することにより、ノード間劣化量を測定する。そして、各ノード装置＃１〜＃７は、測定したノード間劣化量をメモリに格納する。なお、各ノード装置＃１〜＃７は、他の方法でノード間劣化量を測定してもよいし、シミュレーション等に基づいてノード間劣化量を計算してもよい。
【００２３】
ネットワーク管理システム３は、光伝送経路Ａに光パスを設定するときは、光伝送経路Ａの始点ノードに判定指示を与える。判定指示は、判定対象の経路上の各ノード装置を識別する情報を含む。この実施例では、ネットワーク管理システム３は、ノード装置＃１に対して光伝送経路Ａの伝送可否を判定するための判定指示を与える。この場合、判定指示は、「経路情報：＃１、＃２、＃３、＃４、＃５」を含む。なお、図２では、図面を見やすくするために、始点ノード装置（ノード装置＃１）にネットワーク管理システム３が接続されているが、ネットワーク管理システム３は、１または複数のノード装置を介して始点ノード装置へ判定指示を送信することができる。
【００２４】
ノード装置＃１は、判定指示を受け取ると、判定メッセージを作成する。判定メッセージは、例えば図３に示すように、「メッセージタイプ」「経路情報」「累積パラメータ」「スパン数」を含む。メッセージタイプ領域には、判定メッセージを識別する値が設定される。経路情報領域は、ネットワーク管理システム３から指示された経路情報が設定される。累積パラメータおよびスパン数については、後で説明する。
【００２５】
ノード装置＃１は、経路情報に従って、作成した判定メッセージを下流側の隣接ノードへ送信する。この例では、ノード装置＃１は、図４に示すように、判定メッセージをノード装置＃２へ送信する。このとき、「累積パラメータ」および「スパン数」にはそれぞれ「ゼロ」が設定される。
【００２６】
ノード装置＃２は、ノード装置＃１から判定メッセージを受信すると、その判定メッセージに格納されている累積パラメータに、ノード間劣化量#1-#2を加算することによって、累積パラメータを更新する。更新された累積パラメータは、始点ノード（すなわち、ノード＃１）からノード装置＃２までの伝送路で発生する累積劣化量を表す。なお、ノード間劣化量#1-#2は、上述したように、予め測定されてノード装置＃２のメモリに格納されている。
【００２７】
ノード装置＃２は、判定メッセージの「累積パラメータ」を、更新後の累積パラメータに書き換える。また、ノード装置＃２は、判定メッセージの「スパン数」を１だけインクリメントする。そして、ノード装置＃２は、経路情報に従って、作成した判定メッセージを下流側の隣接ノードへ送信する。すなわち、ノード装置＃２は、この判定メッセージをノード装置＃３へ送信する。
【００２８】
各ノード装置＃３〜＃４は、ノード装置＃２と同様に、判定メッセージの「累積パラメータ」および「スパン数」を更新し、その判定メッセージを次のノード装置へ転送する。なお、図４において、「#1-#3」は、ノード装置＃１からノード装置＃３までの伝送路で発生する累積劣化量を表し、「#1-#4」は、ノード装置＃１からノード装置＃４までの伝送路で発生する累積劣化量を表す。
【００２９】
ノード装置＃５は、ノード装置＃４から判定メッセージを受信すると、ノード装置＃２〜＃４と同様に、「累積パラメータ」および「スパン数」を更新する。このとき、ノード装置＃５が受信する判定メッセージの累積パラメータは、ノード装置＃１からノード装置＃４までの伝送路で発生する累積劣化量(#1-#4)を表している。そして、ノード装置＃５は、この累積パラメータにノード間劣化量#4-#5を加算する。この結果、ノード装置＃１からノード装置＃５までの伝送路で発生する累積劣化量#1-#5が算出される。図２に示す例では、累積劣化量#1-#5＝６が得られる。また、ノード装置＃５において「スパン数」は「４」に更新される。
【００３０】
ノード装置＃５は、光伝送経路Ａの終点ノードに位置している。よって、ノード装置＃５は、応答メッセージを作成する。応答メッセージは、判定メッセージと同様に、「メッセージタイプ」「経路情報」「累積パラメータ」「スパン数」を含む。ただし、応答メッセージにおいては、メッセージタイプ領域には、応答メッセージを識別する値が設定される。経路情報領域には、判定メッセージと同じ経路情報が設定される。累積パラメータには、ノード装置＃１からノード装置＃５までの伝送路で発生する累積劣化量#1-#5が書き込まれる。スパン数には、ノード装置＃５において最後に更新された値（すなわち、ノード装置＃１からノード装置＃５までの伝送路のスパン数）が書き込まれる。
【００３１】
ノード装置＃５から送信される応答メッセージは、図４に示すように、経路情報によって指定される経路を逆方向に伝送される。すなわち、ノード装置＃５から送信される応答メッセージは、ノード装置＃４、＃３、＃２により順番に転送され、ノード装置＃１まで伝送される。このとき、各ノード装置＃４〜＃１は、それぞれ、応答メッセージに格納されている「累積パラメータ」および「スパン数」を取得する。すなわち、各ノード装置＃１〜＃５は、光伝送経路Ａの累積劣化量#1-#5およびスパン数を検出する。
【００３２】
図５は、各ノード装置により実行される判定メッセージ転送処理の一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、上流側の隣接ノードから判定メッセージを受信したときに実行される。
【００３３】
Ｓ１において、ノード装置は、判定メッセージに格納されている累積パラメータを更新する。このとき、判定メッセージに格納されている累積パラメータに、ノード装置内のメモリに格納されているノード間劣化量が加算される。この結果、始点ノード側の累積劣化量が算出される。Ｓ２において、ノード装置は、Ｓ１で更新された累積パラメータ（すなわち、始点ノード側の累積劣化量）を、ノード装置内のメモリに格納する。
【００３４】
Ｓ３において、ノード装置は、判定メッセージに格納されているスパン数をインクリメントする。この結果、始点ノードから自ノード装置までのスパン数が算出される。Ｓ４において、ノード装置は、Ｓ３で更新されたスパン数（すなわち、始点ノードから自ノード装置までのスパン数）を、ノード装置内のメモリに格納する。そして、ノード装置は、Ｓ５において、累積パラメータおよびスパン数が更新された判定メッセージを下流側の隣接ノードへ送信する。
【００３５】
図６は、各ノード装置に格納される劣化情報およびスパン数情報の実施例を示す。図６では、各ノード装置＃１〜＃５にそれぞれ格納される情報が一括して記載されている。
【００３６】
ノード装置＃１は、光伝送経路Ａの始点ノードに位置している。よって、ノード装置＃１のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量＝０」が格納される。
【００３７】
ノード装置＃２のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量」として、始点ノードからノード装置＃２までの伝送路における劣化量が格納される。ノード間劣化量#1-#2は、図２に示すように「１」である。よって、ノード装置＃２のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量＝１（＝０＋１）」が格納される。
【００３８】
ノード装置＃３のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量」として、始点ノードからノード装置＃３までの伝送路における劣化量が格納される。ノード間劣化量#2-#3は、図２に示すように「２」である。よって、ノード装置＃３のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量＝３（＝１＋２）」が格納される。
【００３９】
ノード装置＃４のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量」として、始点ノードからノード装置＃４までの伝送路における劣化量が格納される。ノード間劣化量#3-#4は、図２に示すように「１」である。よって、ノード装置＃４のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量＝４（＝３＋１）」が格納される。
【００４０】
ノード装置＃５のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量」として、始点ノードからノード装置＃５までの伝送路における劣化量が格納される。ノード間劣化量#4-#5は、図２に示すように「２」である。よって、ノード装置＃５のメモリには、「始点ノード側の累積劣化量＝６（＝４＋２）」が格納される。なお、各ノード装置＃１〜＃５のメモリには、スパン数情報（始点ノードから自ノード装置までのスパン数）として、それぞれ、「０」「１」「２」「３」「４」が格納される。
【００４１】
図７は、各ノード装置により実行される応答メッセージ転送処理の一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、下流側の隣接ノードから応答メッセージを受信したときに実行される。
【００４２】
Ｓ１１において、ノード装置は、終点ノード側の累積劣化量を計算してメモリに格納する。終点ノード側の累積劣化量は、応答メッセージに格納されている累積劣化量#1-#5から、始点ノード側の累積劣化量を差し引くことによって得られる。
【００４３】
Ｓ１２において、ノード装置は、終点ノード側のスパン数を計算してメモリに格納する。終点ノード側のスパン数は、応答メッセージに格納されているスパン数から、始点ノード側のスパン数を差し引くことによって得られる。
【００４４】
Ｓ１３において、ノード装置は、許容劣化量を計算してメモリに格納する。許容劣化量は、最大劣化量から終点ノード側の累積劣化量を差し引くことにより得られる。最大劣化量は、光伝送経路の伝送可否を判定するための閾値に相当する。すなわち、始点ノードから終点ノードまで伝送された光信号の劣化量が最大劣化量を超えていれば、終点ノードにおける光信号の品質は、所定の品質閾値よりも低くなる。この場合、この光伝送経路は、伝送不可と判定される。一方、始点ノードから終点ノードまで伝送された光信号の劣化量が最大劣化量以下であれば、終点ノードにおける光信号の品質は、所定の品質閾値以上となる。この場合、この光伝送経路は、伝送可能と判定される。この実施例では、最大劣化量は「１０」である。そして、ノード装置は、Ｓ１４において、応答メッセージを上流側の隣接ノードへ転送する。
【００４５】
Ｓ１１〜Ｓ１３の処理の実施例は、以下の通りである。ここでは、図２に示すノード装置＃３においてＳ１１〜Ｓ１３の処理が実行されたときの例を示す。
【００４６】
Ｓ１１において、ノード装置＃３は、終点ノード側の累積劣化量を計算する。ここで、始点ノードから終点ノードまでの伝送路で発生する累積劣化量#1-#5は「６」である。また、ノード装置＃３の始点ノード側の累積劣化量は「３」である。したがって、累積劣化量#1-#5から始点ノード側の累積劣化量を差し引くことによって、終点ノード側の累積劣化量として「３」が得られる。
【００４７】
Ｓ１２において、ノード装置＃３は、終点ノード側のスパン数を計算する。ここで、始点ノードから終点ノードまでの総スパン数は「４」である。また、ノード装置＃３の始点ノード側のスパン数は「２」である。したがって、総スパン数から始点ノード側のスパン数を差し引くことによって、終点ノード側のスパン数として「２」が得られる。
【００４８】
Ｓ１３において、ノード装置＃３は、許容劣化量を計算する。ここで、光伝送システムの最大劣化量は「１０」である。ノード装置＃３の終点ノード側の累積劣化量は「３」である。したがって、最大劣化量から終点ノード側の累積劣化量を差し引くことによって、許容劣化量として「７」が得られる。Ｓ１１〜Ｓ１３による計算結果は、図６に示すように、ノード装置内のメモリに格納される。
【００４９】
このように、始点ノードと終点ノードとの間で判定メッセージおよび応答メッセージを伝送することにより、その間の経路上の各ノード装置は、始点ノード側累積劣化量、始点ノード側スパン数、終点ノード側累積劣化量、終点ノード側スパン数、側許容劣化量を取得する。
【００５０】
このとき、説明を省略するが、この光伝送経路Ａは、伝送可能であると判定されるものとする。そうすると、光伝送経路Ａの上に光パスが設定される。
【００５１】
上述の光パス（すなわち、光伝送経路Ａ）が設定されている光伝送システムにおいて、例えば、ノード＃１、＃２間で障害が発生したものとする。この障害は、ネットワーク管理システム３により検出される。そうすると、ネットワーク管理システム３は、始点ノード（＃１）と終点ノード（＃５）との間に代替経路を設定する。ここでは、ネットワーク管理システム３は、ノード＃１、＃５間の代替経路として、ノード＃１からノード＃６、＃７、＃３、＃４を経由してノード＃５へ至る光伝送経路Ｂを選択するものとする。
【００５２】
この場合、ネットワーク管理システム３は、光伝送経路Ｂについての判定指示を光伝送経路Ｂの始点ノード装置（＃１）に与える。この判定指示は、光伝送経路Ｂを表す経路情報「＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５」を含む。
【００５３】
ノード装置＃１は、光伝送経路Ｂについての判定指示を受け取ると、対応する判定メッセージを作成する。この判定メッセージは、上述したように、「メッセージタイプ」「経路情報」「累積パラメータ」「スパン数」を含む。ただし、経路情報は、光伝送経路Ｂを表す。
【００５４】
ノード装置＃１は、経路情報に従って、作成した判定メッセージを下流側の隣接ノードへ送信する。光伝送経路Ｂにおいては、ノード装置＃１の下流側には、ノード装置＃６が隣接している。したがって、ノード装置＃１は、判定メッセージをノード装置＃６へ送信する。このとき、「累積パラメータ」および「スパン数」にはそれぞれ「ゼロ」が設定される。
【００５５】
ノード装置＃６は、ノード装置＃１から判定メッセージを受信すると、累積パラメータおよびスパン数を更新する。ここで、ノード装置＃１、＃６間の伝送路の劣化量を表すノード間劣化量#1-#6は「１」である。よって、累積パラメータは「１」に更新される。更新された累積パラメータは、始点ノード（即ち、ノード＃１）からノード装置＃６までの伝送路で発生する累積劣化量を表す。ノード間劣化量#1-#6は、上述したように、予め測定されてノード装置＃６のメモリに格納されている。また、スパン数は、「１」に更新される。
【００５６】
ノード装置＃６は、光伝送経路Ｂを介してノード装置＃６から終点ノード（＃５）へ至る伝送路における劣化量を表すパラメータを有しているか否かをチェックする。図２に示す実施例では、ノード装置＃６は、そのようなパラメータを有していない。この場合、ノード装置＃６は、光伝送経路Ｂについて伝送可否を判定することなく、ノード装置＃１から受信した判定メッセージを光伝送経路Ｂの下流側の隣接ノードへ転送する。すなわち、ノード装置＃６は、判定メッセージをノード装置＃７へ転送する。このとき、この判定メッセージ内の累積パラメータおよびスパン数は、ノード装置＃６により更新されている。
【００５７】
ノード装置＃７は、ノード装置＃６から判定メッセージを受信すると、累積パラメータおよびスパン数を更新する。ここで、ノード装置＃６、＃７間の伝送路の劣化量を表すノード間劣化量#6-#7は「１」である。よって、累積パラメータは「１」から「２」に更新される。更新された累積パラメータは、ノード装置＃１からノード装置＃６を経由してノード装置＃７へ至る伝送路における累積劣化量を表す。ノード間劣化量#6-#7は、上述したように、予め測定されてノード装置＃７のメモリに格納されている。スパン数は、「１」から「２」に更新される。
【００５８】
ノード装置＃７は、ノード装置＃６と同様に、光伝送経路Ｂを介してノード装置＃７から終点ノード（＃５）へ至る伝送路における劣化量を表すパラメータを有しているか否かをチェックする。図２に示す実施例では、ノード装置＃７も、そのようなパラメータを有していない。この場合、ノード装置＃７は、光伝送経路Ｂについて伝送可否を判定することなく、ノード装置＃６から受信した判定メッセージを光伝送経路Ｂの下流側の隣接ノードへ転送する。すなわち、ノード装置＃７は、判定メッセージをノード装置＃３へ転送する。このとき、この判定メッセージ内の累積パラメータおよびスパン数は、ノード装置＃７により更新されている。
【００５９】
ノード装置＃３は、ノード装置＃７から判定メッセージを受信すると、累積パラメータおよびスパン数を更新する。ここで、ノード装置＃７、＃３間の伝送路の劣化量を表すノード間劣化量#7-#3は「２」である。したがって、累積パラメータは「２」から「４」に更新される。更新された累積パラメータは、ノード装置＃１からノード装置＃６、＃７を経由してノード装置＃３へ至る伝送路における累積劣化量を表す。なお、ノード間劣化量#7-#3は、上述したように、予め測定されてノード装置＃３のメモリに格納されている。また、スパン数は、「２」から「３」に更新される。
【００６０】
ノード装置＃３は、ノード装置＃６と同様に、光伝送経路Ｂを介してノード装置＃３から終点ノード（＃５）へ至る伝送路における劣化量を表すパラメータを有しているか否かをチェックする。ここで、図２に示す例では、ノード装置＃３からノード装置＃５へ至る経路は、光伝送経路Ａおよび光伝送経路Ｂにおいて互いに同じである。そして、光伝送経路Ａを介してノード装置＃３からノード装置＃５へ至る伝送路における劣化量を表すパラメータは、図６に示すように、ノード装置＃３のメモリに格納されている。この場合、ノード装置＃３は、光伝送経路Ａについての劣化情報およびスパン数情報を利用して、光伝送経路Ｂの伝送可否を判定する。
【００６１】
ノード装置＃３は、まず、光伝送経路Ｂの総スパン数を計算する。ここで、ノード装置＃３の始点ノード側のスパン数は「３」である。また、ノード装置＃３の終点ノード側のスパン数は、光伝送経路Ａと同じであり、「２」である。したがって、光伝送経路Ｂの総スパン数は「５」である。
【００６２】
ここで、始点ノードから終点ノードまで光信号が伝送されるときは、その間のスパン数に依存する信号劣化が発生する。このスパン数に依存する信号劣化は、スパン数に対して非線形な特性であることが一般的であり、予め測定またはシミュレーション等によって取得することができる。そこで、第１の実施形態の光伝送システムでは、各ノード装置＃１〜＃７は、スパン数に依存する劣化量を格納するデータベースを有する。スパン数に依存する劣化量を格納するデータベースの一例を図８に示す。
【００６３】
ノード装置＃３は、図８に示すデータベースを参照して、光伝送経路Ｂの総スパン数に対応する劣化量を取得する。この例では、光伝送経路Ｂの総スパン数は「５」なので、スパン数に依存する劣化量は「１．４」である。
【００６４】
ノード装置＃３は、「ノード装置＃３の始点ノード側の累積劣化量」と「スパン数に依存する劣化量」との和と、「ノード装置＃３における許容劣化量」とを比較する。この実施例では、ノード装置＃３の始点ノード側の累積劣化量は「４」であり、スパン数に依存する劣化量は「１．４」であり、ノード装置＃３における許容劣化量は「７」である。すなわち、「ノード装置＃３の始点ノード側の劣化量」と「スパン数に依存する劣化量」との和は、「ノード装置＃３における許容劣化量」よりも小さい。この場合、ノード装置＃３は、光伝送経路Ｂは伝送可能である、と判定する。
【００６５】
このように、第１の実施形態においては、始点ノードと終点ノードとの間のノード装置が、新たな光伝送経路の伝送可否を判定できる。例えば、既存の光伝送経路に対して代替経路が設定される場合において、既存の光伝送経路の一部および代替経路の一部が互いに重複しているものとする。この場合、既存の光伝送経路および代替経路が合流するノードに位置するノード装置が、代替経路の伝送可否を判定することができる。したがって、第１の実施形態の方式によれば、信号劣化に係わるパラメータを始点ノードから終点ノードから転送した後にその終点ノードに位置するノード装置が判定を行う方式と比較して、指定された光伝送経路の伝送可否を短い時間で判定できる。
【００６６】
図９は、第１の実施形態の伝送可否判定方法の他の例を示す。図９に示す実施例では、図２に示す光伝送経路Ａに既に光パスが設定されているものとする。すなわち、各ノード装置＃１〜＃５は、光伝送経路Ａについて図６に示す対応するパラメータ（劣化情報およびスパン数情報）を有している。また、各ノード措置＃１〜＃７は、隣接ノード装置との間の伝送路における劣化量を表すパラメータ（ノード間劣化量）を有している。さらに、各ノード装置＃１〜＃７は、図８に示すスパン数依存劣化量データベースを有している。
【００６７】
このような状況において、ネットワーク管理システム３は、ノード＃１、＃５間に新たに光伝送経路Ｃを設定する。この場合、ネットワーク管理システム３は、光伝送経路Ｃを表す経路情報を含む判定指示をノード装置＃１に与える。
【００６８】
図９に示す各ノード装置の動作は、図２を参照しながら説明した実施例と実質的に同じである。すなわち、各ノード装置は、累積パラメータおよびスパン数を更新しながら、判定メッセージを下流側へ転送する。そして、各ノード装置は、自ノード装置からノード装置＃５へ至る伝送路における累積劣化量を表すパラメータを有しているか否かをチェックする。
【００６９】
ここで、ノード装置＃２は、図６に示すように、光伝送経路Ａついて、ノード装置＃２からノード装置＃５へ至る伝送路に対応するパラメータを有している。しかし、光伝送経路Ａにおいては、ノード装置＃２、＃５間にノード装置＃３、＃４が設けられている。一方、光伝送経路Ｃにおいては、ノード装置＃２、＃５間にノード装置＃６、＃７、＃３、＃４が設けられている。すなわち、ノード装置＃２は、ノード装置＃６、＃７、＃３、＃４を介してノード装置＃５へ至る伝送路における累積劣化量を表すパラメータを有しているわけではない。したがって、ノード装置＃２は、光伝送経路Ｃについて伝送可否を判定しない。
【００７０】
ノード装置＃３は、図６に示すように、光伝送経路Ａついて、ノード装置＃２からノード装置＃５へ至る伝送路に対応するパラメータを有している。ここで、ノード装置＃２からノード装置＃５へ至る経路は、光伝送経路Ａおよび光伝送経路Ｃにおいて互いに一致している。したがって、ノード装置＃３は、光伝送経路Ａについてのパラメータを利用して光伝送経路Ｃについて伝送可否を判定する。なお、図９においてノード装置＃３が伝送可否を判定する方法は、図２に示す実施例と実質的に同じなので、説明を省略する。
【００７１】
図１０は、ノード装置２の構成を示す。ここでは、光伝送システム１は、ＷＤＭ信号を伝送するものとする。ＷＤＭ信号は、複数のデータチャネルおよび監視チャネル（ＯＳＣ：Optical Supervisory Channel）を含む。監視チャネルには、データチャネルとは異なる波長が割り当てられている。上述した判定メッセージおよび応答メッセージは、監視チャネルを介して伝送される。
【００７２】
ノード装置２は、２つの隣接ノードに接続しているものとする。以下の説明では、一方の隣接ノードを「上流側隣接ノード」と呼び、他方の隣接ノードを「下流側隣接ノード」と呼ぶことにする。
【００７３】
上流側隣接ノードから受信するＷＤＭ信号は、光アンプ１１により増幅された後、波長選択スイッチ（ＷＳＳ：Wavelength Selective Switch）１２に導かれる。波長選択スイッチ１２は、指定されたチャネルをＷＤＭ信号から分岐して不図示のクライアントへ導き、また、クライアント信号をＷＤＭ信号に挿入する。波長選択スイッチ１２から出力されるＷＤＭ信号は、光アンプ１３により増幅された後、下流側隣接ノードへ送信される。なお、光アンプ１４、波長選択スイッチ１５、光アンプ１６の動作は、光アンプ１４、波長選択スイッチ１５、光アンプ１６と実質的に同じなので、説明を省略する。
【００７４】
ＷＤＭカプラ１７は、上流側隣接ノードから受信するＷＤＭ信号からＯＳＣ信号を分岐してＯＳＣ制御部１８へ導く。伝送可否判定においては、ＯＳＣ制御部１８は、受信ＯＳＣ信号からメッセージ（たとえば、判定メッセージ）を抽出してメモリ２３に書き込む。同様に、ＷＤＭカプラ２０は、下流側隣接ノードから受信するＷＤＭ信号からＯＳＣ信号を分岐してＯＳＣ制御部２１へ導く。伝送可否判定においては、ＯＳＣ制御部２１は、受信ＯＳＣ信号からメッセージ（たとえば、応答メッセージ）を抽出してメモリ２３に書き込む。
【００７５】
ＣＰＵ２４は、隣接ノードから受信したメッセージを処理する。すなわち、ＣＰＵ２４は、隣接ノードから判定メッセージを受信すると、図５に示すフローチャートの処理を実行する。これにより、判定メッセージに格納されている累積パラメータおよびスパン数が更新される。また、ＣＰＵ２４は、隣接ノードから応答メッセージを受信すると、図７に示すフローチャートの処理を実行する。さらに、ＣＰＵ２４は、判定メッセージにより指定された光伝送経路について伝送可否判定を行うことができる。
【００７６】
ＯＳＣ制御部２１は、ＣＰＵ２４により更新された判定メッセージをメモリ２３から読み出して、ＯＳＣ信号を生成する。このＯＳＣ信号は、ＷＤＭカプラ１９によりＷＤＭ信号に挿入されて下流側隣接ノードへ送信される。また、ＯＳＣ制御部１８は、応答メッセージをメモリ２３から読み出してＯＳＣ信号を生成する。このＯＳＣ信号は、ＷＤＭカプラ２２によりＷＤＭ信号に挿入されて上流側隣接ノードへ送信される。
【００７７】
なお、ＣＰＵ２４は、伝送可否判定以外の処理を行うこともできる。また、メモリ２３には、伝送可否判定に係わらないデータを格納することもできる。
【００７８】
図１１は、ノード装置２の機能を示すブロック図である。なお、図１１は、光伝送経路の伝送可否判定に係わる機能について示している。
【００７９】
ＯＳＣ制御部１８は、ＯＳＣ信号により伝送される判定メッセージを受信する受信部３１を有する。受信部３１により受信された判定メッセージは、メモリ２３に格納される。ＯＳＣ制御部２１は、ＣＰＵ２４により更新された判定メッセージをＯＳＣ信号を利用して送信する送信部３２を有する。
【００８０】
スパン数依存劣化量データベース４１、伝送路パラメータデータベース４２、ノード間劣化量格納部４３、判定パラメータ格納部４４は、メモリ２３に形成される。スパン数依存劣化量データベース４１は、図８に示すように、スパン数と劣化量との対応関係を格納する。伝送路パラメータデータベース４２は、ノード間の光ファイバの特性を表す情報を格納する。一例としては、光ファイバの種別、損失、分散などを表す情報が伝送路パラメータデータベース４２に格納されている。ノード間劣化量格納部４３は、隣接ノードとの間の伝送路における劣化量を格納する。判定パラメータ格納部４４は、指定された光伝送経路ごとに、図６に示すように、累積劣化量（始点ノード側および終点ノード側）、スパン数（始点ノード側および終点ノード側）、および許容劣化量などを格納する。
【００８１】
ＣＰＵ２４は、ノード間劣化量演算部５１、パラメータ演算部５２、伝送可否判定部５３を有する。ノード間劣化量演算部５１は、与えられた条件に基づいて、ノード間劣化量を計算する。例えば、光ファイバの種別、損失、分散、および隣接ノードまでの距離などが与えられると、ノード間劣化量演算部５１は、伝送路パラメータデータベース４２を参照することにより、ノード間劣化量を計算することができる。なお、ノード間劣化量演算部５１は、隣接ノードから送信される光信号に基づいて、ノード間劣化量を計算してもよい。そして、ノード間劣化量演算部５１により計算されたノード間劣化量は、ノード間劣化量格納部４３に格納される。
【００８２】
パラメータ演算部５２は、ノード装置が受信した判定メッセージから取得した累積パラメータおよびスパン数を更新する。このとき、累積パラメータは、ノード間劣化量格納部４３に格納されているノード間劣化量に基づいて更新される。スパン数は、インクリメントされる。更新された累積パラメータおよびスパン数は、「始点ノード側累積劣化量」および「始点ノード側スパン数」として判定パラメータ格納部４４に格納される。また、更新された累積パラメータおよびスパン数は、判定メッセージに書き込まれて下流側の隣接ノードに送信される。
【００８３】
なお、ノード装置２が下流側隣接ノードから応答メッセージを受信したときは、パラメータ演算部５２は、図７に示すＳ１１〜Ｓ１３を実行してもよい。この場合、パラメータ演算部５２は、「終点ノード側累積劣化量」「終点ノード側スパン数」「側許容劣化量」を計算して判定パラメータ格納部４４に格納する。
【００８４】
伝送可否判定部５３は、指定された光伝送経路について伝送可否を判定する。以下、図１２に示すフローチャートを参照しながら伝送可否判定部５３の処理を説明する。
【００８５】
Ｓ２１において、伝送可否判定部５３は、判定対象経路を表す経路情報を取得する。経路情報は、ネットワーク管理システム３により生成され、ノード装置２は、上流側の隣接ノードからその経路情報を受信する。経路情報は、上述の実施例では、図３に示す判定メッセージに格納されて転送される。
【００８６】
Ｓ２２において、伝送可否判定部５３は、終点ノード側のパラメータが既にメモリ２３に格納されているかチェックする。このとき、伝送可否判定部５３は、判定対象経路を介して自ノード装置から終点ノードへ至る伝送路についてのパラメータが、判定パラメータ格納部４４に格納されているかをチェックする。終点ノード側のパラメータが既にメモリ２３に格納されていれば、伝送可否判定部５３の処理はＳ２３へ移行する。一方、終点ノード側のパラメータがメモリ２３に格納されていないときは、伝送可否判定部５３は判定処理を実行しない。
【００８７】
Ｓ２３において、伝送可否判定部５３は、始点ノードと終点ノードとの間の総スパン数を計算する。総スパン数は、始点ノード側スパン数と終点ノード側スパン数の和である。始点ノード側スパン数は、受信メッセージに格納されている「スパン数」をインクリメントすることで得られる。また、終点ノード側スパン数は、判定パラメータ格納部４４から得られる。
【００８８】
Ｓ２４において、伝送可否判定部５３は、総スパン数に対応するスパン数依存劣化量を取得する。スパン数依存劣化量は、スパン数依存劣化量データベース４１から得られる。
【００８９】
Ｓ２５において、伝送可否判定部５３は、判定パラメータ格納部４４から始点ノード側累積劣化量を取得する。なお、始点ノード側累積劣化量は、パラメータ演算に５２によって、受信メッセージに格納されている「累積パラメータ」に、ノード間劣化量格納部４３に格納されている「ノード間劣化量」を加算することで得られている。Ｓ２６において、伝送可否判定部５３は、判定パラメータ格納部４４から許容劣化量を取得する。
【００９０】
Ｓ２７において、伝送可否判定部５３は、スパン数依存劣化量と始点ノード側累積劣化量との和と、許容劣化量とを比較する。そして、スパン数依存劣化量と始点ノード側累積劣化量との和が許容劣化量よりも小さければ、伝送可否判定部５３は、Ｓ２８において、対象経路は伝送可能と判定する。そうでない場合は、伝送可否判定部５３は、Ｓ２９において、対象経路は伝送不可と判定する。
【００９１】
なお、Ｓ２６において、伝送可否判定部５３は、許容劣化量の代わりに、終点ノード側累積劣化量を取得してもよい。この場合、伝送可否判定部５３は、Ｓ２７において、スパン数依存劣化量、始点ノード側累積劣化量、および終点ノード側累積劣化量の和と、光伝送経路の伝送可否を判定するための閾値（最大劣化量）とを比較する。そして、この比較の結果に基づいて、光伝送経路の伝送可否が判定される。
【００９２】
ところで、上述の実施例では、説明を簡単にするために、劣化量は仮想的な値で表されており、ノード装置ごとに劣化量が「加算」されて累積値が算出される。ただし、光信号の劣化量をどのようなパラメータで表すのかによって、累積値に算出方法は異なる。以下では、信号劣化を表すパラメータの１つとして光信号対雑音比（ＯＳＮＲ）を使用して光伝送経路の伝送可否を判定する例を示す。
【００９３】
図１３は、ＯＳＮＲに基づいて光伝送経路の伝送可否を判定する実施例を示す。ネットワークの構成は、図２と同じであり、光伝送システムはノード装置＃１〜＃７を有する。ノード間劣化量は、図１３に示すように、それぞれＯＳＮＲ[dB]で表されている。例えば、ノード＃１、＃２間のＯＳＮＲは「３０ｄＢ」であり、ノード＃２、＃３間のＯＳＮＲは「２５ｄＢ」である。ノード間のＯＳＮＲは、予め測定等によって得られているものとする。
【００９４】
また、図２に示す例と同様に、光伝送経路Ａ（＃１、＃２、＃３、＃４、＃５）に光パスが既に設定されているものとする。この場合、図１３に示すように、各ノード装置＃１〜＃５のメモリには、それぞれ対応する判定パラメータが格納されている。判定パラメータは、「始点ノード側累積ＯＳＮＲ」「始点ノード側スパン数」「終点ノード側累積ＯＳＮＲ」「終点ノード側スパン数」「許容ＯＳＮＲ」を含む。
【００９５】
なお、各ノード装置は、判定メッセージにより上流側の隣接ノードから「始点ノード側累積ＯＳＮＲ」を受信すると、その値を更新して下流側の隣接ノードへ転送する。このとき、ＯＳＮＲは「ｄＢ」で表されているので、累積値は対数で演算される。
【００９６】
例えば、ノード＃１、＃２間のＯＳＮＲは「３０ｄＢ」であり、ノード＃２、＃３間のＯＳＮＲは「２５ｄＢ」である。この場合、ノード装置＃３は、３０ｄＢおよび２５ｄＢを合成することにより、「ノード＃１からノード＃２を経由してノード＃３へ至る経路の累積ＯＳＮＲ＝２５．９ｄＢ」を得る。また、ノード＃３、＃４間のＯＳＮＲは「２８ｄＢ」である。したがって、この場合、ノード装置＃４は、２５．９ｄＢおよび２８ｄＢを合成することにより、「ノード＃１からノード＃２、＃３を経由してノード＃４へ至る経路の累積ＯＳＮＲ＝２３．４ｄＢ」を得る。他のパラメータも同様に計算される。
【００９７】
図１３においても、光伝送経路Ｂ（＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５）の伝送可否が判定される。ここで、ノード＃１、＃６間のＯＳＮＲは「２４ｄＢ」であり、ノード＃６、＃７間のＯＳＮＲは「２９ｄＢ」であり、ノード＃７、＃３間のＯＳＮＲは「３１ｄＢ」である。この場合、２４ｄＢ、２９ｄＢ、３１ｄＢを合成することにより、「ノード＃１からノード＃６、＃７を経由してノード＃３へ至る経路の累積ＯＳＮＲ＝２２．２ｄＢ」が得られる。
【００９８】
そうすると、ノード装置＃３は、光伝送経路Ａについて得られているパラメータを利用して、光伝送経路Ｂの伝送可否を判定する。ここで、ノード＃３からノード＃４を経由してノード＃５へ至る経路に対して算出されている許容ＯＳＮＲは、図１３に示すように、「１５．７ｄＢ」である。なお、この例では、伝送可否を判定するための閾値ＯＳＮＲは１５ｄＢである。
【００９９】
この場合、ノード＃１からノード＃６、＃７を経由してノード＃３へ至る経路の累積ＯＳＮＲ（２２．２ｄＢ）は、許容ＯＳＮＲよりも大きい。すなわち、光信号がノード＃１からノード＃６、＃７を経由してノード＃３へ伝搬され、さらにノード＃４を経由してノード＃５まで伝搬されたとき、ノード＃５におけるＯＳＮＲは閾値ＯＳＮＲよりも高くなるはずである。したがって、ノード装置＃３は、光伝送経路Ｂは伝送可能であると判定する。
【０１００】
なお、スパン数依存劣化を考慮して伝送可否を判定する場合には、累積ＯＳＮＲからスパン数依存劣化量を差し引いた値と、許容ＯＳＮＲとが比較される。例えば、図１３に示す例では、光伝送経路Ｂの総スパン数は５である。したがって、図８に示すデータベースを参照することにより、光伝送経路Ｂのスパン数依存劣化量＝１．４ｄＢが得られる。この場合、累積ＯＳＮＲからスパン数依存劣化量を差し引いた値（２０．８ｄＢ）は、許容ＯＳＮＲ（１５．７ｄＢ）よりも大きいので、光伝送経路Ｂは伝送可能と判定される。
【０１０１】
ところで、大規模な光伝送システムにおいては、任意のノード装置間に光増幅器（ＩＬＡ：In-Line Amplifier）が設けられることがある。ここで、光増幅器は、ノード装置と異なり、光信号の伝送経路を変更することはない。このため、ネットワーク管理システム３は、経路情報と用いて光伝送経路を指定するときに、光増幅器を考慮しなくてもよい。例えば、図１４に示す光伝送経路Ｄは、経路情報（＃Ｂ、＃Ｆ、＃Ｊ、＃Ｋ、＃Ｌ）で表される。この経路情報においては、ノード＃Ｂ、＃Ｆ間の光増幅器４ａ、およびノード＃Ｊ、＃Ｋ間の光増幅器４ｂは省略されている。
【０１０２】
ところが、光増幅器において光信号が増幅されるとき、雑音等の影響によって光信号の品質は劣化する。このため、光伝送経路の伝送可否の判定においては、その経路上のノード装置の個数だけでなく、光増幅器の個数も考慮することが好ましい。
【０１０３】
そこで、第１の実施形態においては、上述した判定メッセージの中に「スパン数」が設けられている。このスパン数は、上述したように、判定メッセージが通過するノード装置においてそれぞれインクリメントされる。これに加えて、各光増幅器も、判定メッセージに格納されているスパン数をインクリメントする。
【０１０４】
図１５は、光増幅器４の構成を示す。光増幅器４の構成は、図１０に示すノード装置２と類似している。ただし、光増幅器４は、波長選択スイッチ１２、１５を有していない。なお、光増幅器４は、図１４に示す光増幅器４ａ〜４ｅの総称である。
【０１０５】
図１５に示す光増幅器４において、ＣＰＵ２４は、受信メッセージを処理する。光増幅器４に判定メッセージが入力されたときは、ＣＰＵ２４は、その判定メッセージに格納されているスパン数をインクリメントする。
【０１０６】
例えば、図１４に示す光伝送システムにおいて、光伝送経路Ｅについて伝送可否判定が行われるものとする。この場合、ネットワーク管理システムからノード装置＃Ｂに経路情報（＃Ｂ、＃Ｃ、＃Ｇ、＃Ｆ、＃Ｊ、＃Ｋ、＃Ｌ）が与えられる。そうすると、ノード装置＃Ｂから判定メッセージが送信される。この場合、この判定メッセージに格納されている「スパン数」は、光増幅器４ｃ、ノード装置＃Ｃ、ノード装置＃Ｇ、光増幅器４ｄ、光増幅器４ｅ、ノード装置＃Ｆ、．．．においてそれぞれインクリメントされる。したがって、例えば、ノード装置＃Ｆは、光伝送経路Ｅについて、ノード装置＃Ｂからノード装置＃Ｆへ至る経路のスパン数が「６」であることを検出できる。
【０１０７】
このように、第１の実施形態においては、ネットワーク管理システムにより生成される経路情報がノード装置のみを指定する場合であっても、光伝送経路のスパン数を正しくカウントすることができる。したがって、スパン数依存劣化の影響を精度よく考慮して、光伝送経路の伝送可否を判定することができる。
【０１０８】
なお、信号劣化量を表すパラメータは、ＯＳＮＲに限定されるものではない。即ち、信号劣化量を表すパラメータは、例えば、波長分散、偏波モード分散、偏波依存損失等であってもよい。いずれにしても、このパラメータは、ノード装置を通過するときに、始点ノードからそのノードまでの累積値を表すように更新される。
【０１０９】
＜第２の実施形態＞
第２の実施形態では、光信号を伝送する光伝送経路について、予め伝送品質が測定される。そして、新たな光伝送経路が設定されるときに、先に測定されている伝送品質を利用して、その新たな光伝送経路の伝送可否が判定される。
【０１１０】
図１６に示す例では、１０本の光伝送経路（または、光伝送区間）についてそれぞれ伝送品質が予め測定されている。伝送品質は、この例では、ビット誤り率（ＢＥＲ）で表される。ビット誤り率は、例えば、ＦＥＣ（Forward Error Correction）を利用して測定される。
【０１１１】
図１６において、オペレーションシステム（ＯＰＳ）５１は、ネットワーク管理システム（ＮＭＳ）５２およびエレメント管理システム（ＥＭＳ）５３を有する。ネットワーク管理システム５２は、光伝送システムの動作および状態を管理する。エレメント管理システム５３は、ネットワーク管理システム５２からの指示に従って、ノード装置（＃１〜＃７）からビット誤り率の測定結果を収集する。パス計算エンジン（ＰＣＥ）５４は、エレメント管理システム５３により収集された各伝送経路のビット誤り率データを管理する。各伝送経路のビット誤り率は、図１６に示すように、Ｑ値に変換される。Ｑ値は、信号品質を表すパラメータである。信号の品質が高いときはＱ値は大きく、信号の品質が低いときはＱ値は小さい。
【０１１２】
図１６において、Ｑ０は、光伝送システムにおいて光通信が可能となる最小Ｑ値であって、伝送可否を判定するための閾値に相当する。すなわち、ある伝送経路のＱ値が閾値Ｑ０よりも高ければ、その伝送経路は伝送可能と判定される。一方、ある伝送経路のＱ値が閾値Ｑ０よりも低ければ、その伝送経路は伝送不可と判定される。したがって、ある伝送経路のＱ値と閾値Ｑ０との差分は、その伝送経路の伝送可能性のマージンに相当する。例えば、伝送経路＃１〜＃２のＱ値は「Ｑ１」であるので、この伝送経路のＱ値マージンは「Ｑ１−Ｑ０」である。
【０１１３】
パス計算エンジン５４は、伝送経路毎にビット誤り率、Ｑ値、およびＱ値マージンを管理する。これらの情報は、パス計算エンジン５４のデータベースに格納される。また、パス計算エンジン５４は、ビット誤り率、Ｑ値、およびＱ値マージンを管理するデータベースを、定期的に、配下のノード装置（ここでは、ノード装置＃１〜＃７）に配布する。この結果、パス計算エンジン５４および各ノード装置のデータベースの同期が確立する。
【０１１４】
上述の光伝送システムにおいて、新たな光伝送経路（＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５）の伝送可否が判定されるものとする。ここで、光伝送経路（＃１、＃２、＃３、＃４、＃５）については、既にビット誤り率ＢＥＲ４が測定されており、Ｑ値マージン「Ｑ４−Ｑ０」が得られている。そして、この経路（＃１、＃２、＃３、＃４、＃５）については、既に、伝送可能と判定されているものとする。また、経路（＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５）と経路（＃１、＃２、＃３、＃４、＃５）との間で、ノード＃３〜＃５の経路は互いに同じである。よって、経路（＃１、＃２、＃３）のＱ値と経路（＃１、＃６、＃７、＃３）のＱ値とを比較すれば、経路（＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５）の伝送可否を判定することができる。
【０１１５】
図１７は、図１６に示す実施例の経路について伝送可否を判定する処理を示すフローチャートである。このフローチャート処理は、任意のノード装置において実行可能である。一例としては、判定対象の伝送経路の始点ノード装置において実行される。ただし、伝送可否判定を行うノード装置は、図１６に示すデータベースを有しているものとする。以下の説明では、ＢＥＲおよびＱ値が既に得られている経路を「既知経路」と呼び、伝送可否を判定すべき経路を「新規経路」と呼ぶことにする。なお、既知経路は、閾値Ｑ０に対してマージンを有しており、伝送可能と判定されているものとする。
【０１１６】
Ｓ３１において、ノード装置は、始点ノード＃１および終点ノード＃５を有する既知経路を特定する。この例では、経路（＃１、＃２、＃３、＃４、＃５）が特定される。そして、ノード装置は、特定された既知経路のビット誤り率（ＢＥＲ４）およびＱ値（Ｑ４）を取得する。
【０１１７】
Ｓ３２において、ノード装置は、特定された既知経路と新規経路とが重複する経路部分が存在するかチェックする。この例では、部分経路（＃３、＃４、＃５）が既知経路および新規経路において共通している。
【０１１８】
Ｓ３３において、ノード装置は、既知経路上で新規経路と重複していない部分のＱ値を取得する。この例では、部分経路（＃１、＃２、＃３）について「Ｑ２」が得られる。また、ノード装置は、Ｓ３４において、新規経路上で既知経路と重複していない部分のＱ値を取得する。この例では、部分経路（＃１、＃６、＃７、＃３）について「Ｑ１０」が得られる。
【０１１９】
Ｓ３５において、ノード装置は、Ｑ２とＱ１０とを比較する。このとき、Ｑ１０がＱ２以上であれば、ノード装置は、新規経路を介して光信号が伝送されたときの光信号の品質が、既知経路を介して光信号が伝送されたときの光信号の品質以上であると判定する。すなわち、新規経路において発生する劣化量は、既知経路において発生する劣化量以下であると判定される。ここで、既知経路は、伝送可能と判定されている。したがって、Ｑ１０がＱ２以上であれば、ノード装置は、Ｓ３６において、新規経路は伝送可能と判定する。
【０１２０】
Ｑ１０がＱ２よりも低いときは、ノード装置は、Ｓ３７〜Ｓ３８において、「Ｑ４−Ｑ０」と「Ｑ２−Ｑ１０」とを比較する。「Ｑ４−Ｑ０」は、既存経路のマージンを表す。「Ｑ２−Ｑ１０」は、既知経路上の部分経路（＃１、＃２、＃３）のＱ値と、新規経路上の部分経路（＃１、＃６、＃７、＃３）のＱ値の差分を表す。
【０１２１】
「Ｑ４−Ｑ０≧Ｑ２−Ｑ１０」は、既存経路の品質と新規経路の品質との差分が、既存経路のマージン以下である状態を表している。この場合、既存経路を新規経路に置き換えると、ノード＃１、＃３間で品質が劣化するが、この劣化量は既存経路のマージン以下である。したがって、このケースでは、ノード装置は、Ｓ３６において、新規経路は伝送可能と判定する。
【０１２２】
「Ｑ４−Ｑ０＜Ｑ２−Ｑ１０」は、既存経路の品質と新規経路の品質との差分が、既存経路のマージンよりも大きい状態を表している。この場合、既存経路を新規経路に置き換えたときに、ノード＃１、＃３間での劣化量は既存経路のマージンよりも大きくなってしまう。したがって、このケースでは、ノード装置は、Ｓ３９において、新規経路は伝送不可と判定する。
【０１２３】
このように、第２の実施形態では、新規経路の一部が既知経路と重複する場合、新規経路および既知経路が互いに重複していない区間における品質の差分に基づいて、新規経路の伝送可否が判定される。すなわち、新規経路全体の品質を測定しなくても、その新規経路の伝送可否を判定することができる。したがって、新たな光伝送経路の伝送可否を判定するための要する時間が短くなる。
【０１２４】
なお、第２の実施形態において、伝送経路のスパン数などに依存する非線形の劣化量を考慮してもよい。この場合、ノード装置は、例えば、新規経路の総スパン数に対応するＱ値換算係数αを取得する。なお、スパン数とＱ値換算係数との対応関係は、測定またはシミュレーションによって予め決定されているものとする。そして、ノード装置は、このＱ値換算係数αを用いて新規経路の伝送可否を判定する。
【０１２５】
例えば、図１６〜図１７に示す例では、新規経路（＃１、＃６、＃７、＃３、＃４、＃５）の総スパン数は５である。この場合、ノード装置は、「スパン数＝５」に対応するＱ値換算係数αを取得する。そして、図１７に示すフローチャートにおいて、「Ｑ１０」の代わりに「Ｑ１０−α」を用いて伝送可否判定が実行される。
【符号の説明】
【０１２６】
１  光伝送システム
２  ノード装置
３  ネットワーク管理システム
４（４ａ〜４ｅ）  光増幅器
２３  メモリ
２４  ＣＰＵ
４１  スパン数依存劣化量データベース
４３  ノード間劣化量格納部
４４  判定パラメータ格納部
５２  パラメータ演算部
５３  伝送可否判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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