(57)【要約】【課題】画像データにおいて複数個連なる異常値を適切に補正すること。【解決手段】画像処理装置１００は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する推定部１０３と、推定部１０３による推定値が１のとき、画像データのうち対象とする第１画素による信号値が、第１画素の周囲で最大値を出力する第２画素による信号値と比較して所定値以上大きい場合に、第１画素による信号値を第２画素による信号値で置換する第１補正部１０３と、推定部１０３による推定値が２のとき、第２画素による信号値が、第１画素を除く第２画素の周囲で最大値を出力する第３画素による信号値と比較して所定値以上大きい場合に、第２画素による信号値を第３画素による信号値で置換し、かつ、第１画素による信号値を、第２画素を除く第１画素の周囲で最大値を出力する第４画素による信号値で置換する第２補正部１０３と、を備える。【選択図】図１
2014053783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する推定部と、
前記推定部による推定値が１のとき、前記画像データのうち対象とする第１画素による信号値が、前記第１画素の周囲で最大値を出力する第２画素による信号値と比較して所定値以上大きい場合に、前記第１画素による信号値を前記第２画素による信号値で置換する第１補正部と、
前記推定部による推定値が２のとき、前記第２画素による信号値が、前記第１画素を除く前記第２画素の周囲で最大値を出力する第３画素による信号値と比較して前記所定値以上大きい場合に、前記第２画素による信号値を前記第３画素による信号値で置換し、かつ、前記第１画素による信号値を、前記第２画素を除く前記第１画素の周囲で最大値を出力する第４画素による信号値で置換する第２補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置において、
前記推定部による推定値が３のとき、前記第３画素による信号値が、前記第１画素および前記第２画素を除く前記第３画素の周囲で最大値を出力する第５画素による信号値と比較して前記所定値以上大きい場合に、前記第３画素による信号値を前記第５画素による信号値で置換し、かつ、前記第２画素による信号値を前記第１画素および前記第３画素を除く前記第２画素の周囲で最大値を出力する第６画素による信号値で置換し、かつ、前記第１画素による信号値を、前記第２画素および前記第３画素を除く前記第１画素の周囲で最大値を出力する第４画素による信号値で置換する第３補正部を、
さらに備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する推定部と、
前記推定部による推定値が１のとき、前記画像データのうち対象とする第１画素による信号値が前記第１画素の周囲で最小値を出力する第２画素による信号値と比較して所定値以上小さい場合に、前記第１画素による信号値を前記第２画素による信号値で置換する第１補正部と、
前記推定部による推定値が２のとき、前記第２画素による信号値が、前記第１画素を除く前記第２画素の周囲で最小値を出力する第３画素による信号値と比較して前記所定値以上小さい場合に、前記第２画素による信号値を前記第３画素による信号値で置換し、かつ、前記第１画素による信号値を、前記第２画素を除く前記第１画素の周囲で最小値を出力する第４画素による信号値で置換する第２補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項３に記載の画像処理装置において、
前記推定部による推定値が３のとき、前記第３画素による信号値が、前記第１画素および前記第２画素を除く前記第３画素の周囲で最小値を出力する第５画素による信号値と比較して前記所定値以上小さい場合に、前記第３画素による信号値を前記第５画素による信号値で置換し、かつ、前記第２画素による信号値を前記第１画素および前記第３画素を除く前記第２画素の周囲で最小値を出力する第６画素による信号値で置換し、かつ、前記第１画素による信号値を、前記第２画素および前記第３画素を除く前記第１画素の周囲で最小値を出力する第４画素による信号値で置換する第３補正部を、
さらに備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一項に記載の画像処理装置において、
前記推定部は、前記画像データの取得時に設定されていた露光時間、ＩＳＯ感度、および撮像素子の温度に基づいて、前記画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の画像処理装置において、
前記所定値は、前記比較する対象に含まれる周囲の画素からの信号の平均値に基づいて定められることを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一項に記載の画像処理装置と、
撮像素子と、
を備え、
前記画像処理装置は、前記撮像素子で取得された画像データに対して前記置換を行うことを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置および撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体撮像素子を露光すると、露光量に対して比例せずに、周辺画素よりも突出して明るくなる画素や周辺画素よりも突出して暗くなる画素が現れる場合がある。一般に、これらは白傷（hot pixel）、黒傷（cold pixel）と呼ばれ、露光時間が長くなるほど、撮像感度が高くなるほど、また撮像素子の温度が高くなるほど出現する画素の割合が多くなる。これらの画素欠陥を補正するため、MaxフィルタとMinフィルタを用いる技術が知られている（特許文献１参照）。処理対象画素のデータが周囲画素の最大値より大きい場合に当該データを上記最大値で置き換え、処理対象画素のデータが周囲画素の最小値より小さい場合には当該データを上記最小値で置き換える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１−１３５５６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来技術では、画素欠陥による異常値が２画素以上連なっている場合の補正が困難という問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明による画像処理装置は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する推定部と、推定部による推定値が１のとき、画像データのうち対象とする第１画素による信号値が、第１画素の周囲で最大値を出力する第２画素による信号値と比較して所定値以上大きい場合に、第１画素による信号値を第２画素による信号値で置換する第１補正部と、推定部による推定値が２のとき、第２画素による信号値が、第１画素を除く第２画素の周囲で最大値を出力する第３画素による信号値と比較して所定値以上大きい場合に、第２画素による信号値を第３画素による信号値で置換し、かつ、第１画素による信号値を、第２画素を除く第１画素の周囲で最大値を出力する第４画素による信号値で置換する第２補正部と、を備えることを特徴とする。
他の発明による画像処理装置は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する推定部と、推定部による推定値が１のとき、画像データのうち対象とする第１画素による信号値が第１画素の周囲で最小値を出力する第２画素による信号値と比較して所定値以上小さい場合に、第１画素による信号値を第２画素による信号値で置換する第１補正部と、推定部による推定値が２のとき、第２画素による信号値が、第１画素を除く第２画素の周囲で最小値を出力する第３画素による信号値と比較して所定値以上小さい場合に、第２画素による信号値を第３画素による信号値で置換し、かつ、第１画素による信号値を、第２画素を除く第１画素の周囲で最小値を出力する第４画素による信号値で置換する第２補正部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、画像データにおいて複数個連なる異常値を適切に補正できる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の一実施の形態による画像処理装置を搭載するカメラの構成を例示するブロック図である。
【図２】シャッター速度、ＩＳＯ感度、および撮像素子の温度と、ポイントとの関係を例示する図である。
【図３】画素欠陥補正処理を説明するフローチャートである。
【図４】画素欠陥補正処理を説明するフローチャートである。
【図５】画素欠陥補正処理を説明するフローチャートである。
【図６】図６(a)は補正処理前の画素信号値を例示する図、図６(b)は補正処理後の画素信号値を例示する図、図６(c)は白傷の画素欠陥が単独で存在する場合の適用例を示す図である。
【図７】図７(a)は補正処理前の画素信号値を例示する図、図７(b)は補正処理中の画素信号値を例示する図、図７(c)は補正処理後の画素信号値を例示する図、図７(d)は白傷の画素欠陥が２つ連続する場合の適用例を示す図である。
【図８】図８(a)は補正処理前の画素信号値を例示する図、図８(b)および図８(c)は補正処理中の画素信号値を例示する図、図８(d)は補正処理後の画素信号値を例示する図である。
【図９】撮影処理の流れを説明するフローチャートである。
【図１０】第二の実施形態による画素欠陥補正処理を例示するフローチャートである。
【図１１】第二の実施形態による画素欠陥補正処理を例示するフローチャートである。
【図１２】コンピュータを例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明を実施するための形態について説明する。
（第一の実施形態）
図１は、本発明の第一の実施形態による画像処理装置を搭載するカメラの構成を例示するブロック図である。カメラ１００は、操作部材１０１と、撮像素子１０２と、制御装置１０３と、メモリカードスロット１０４と、モニタ１０５と、温度センサ１０６とを備えている。操作部材１０１は、使用者によって操作される種々の入力部材、例えば電源ボタン、レリーズボタン、ズームボタン、十字キー、決定ボタン、再生ボタン、削除ボタンなどを含む。
【０００９】
撮像素子１０２は、ＣＭＯＳイメージセンサなどによって構成される。撮像素子１０２は、不図示のレンズにより結像される被写体像を撮像し、画像信号を制御装置１０３へ出力する。温度センサ１０６は、撮像素子１０２の温度を検出し、検出信号を制御装置１０３へ送出する。
【００１０】
制御装置１０３は、メモリ、およびその他の周辺回路により構成され、カメラ１００が行う撮影動作を制御する。制御装置１０３を構成するメモリには、ＳＤＲＡＭやフラッシュメモリが含まれる。ＳＤＲＡＭは揮発性のメモリであって、制御装置１０３がプログラム実行時にプログラムを展開するためのワークメモリとして使用される。また、ＳＤＲＡＭは、データを一時的に記憶するためのバッファメモリとしても使用される。一方、フラッシュメモリは不揮発性のメモリであって、制御装置１０３が実行するプログラムのデータや、プログラム実行時に読込まれる種々のパラメータなどが記録されている。
【００１１】
メモリカードスロット１０４は、記憶媒体としてのメモリカードを挿入するためのスロットである。制御装置１０３は、撮影処理を行なうことによって生成した画像ファイルを、メモリカードスロット１０４に挿入されているメモリカードへ書込んで記録する。また、制御装置１０３は、メモリカードスロット１０４に挿入されているメモリカード内に記録されている画像ファイルを読込む。
【００１２】
モニタ１０５は、カメラ１００の背面に搭載された液晶モニタ（背面モニタ）である。当該モニタ１０５には、メモリカードに記録されている画像ファイルに基づく再生画像や、カメラ１００を設定するための設定メニューなどが表示される。また、使用者が操作部材１０１を操作してカメラ１００を撮影モードに設定すると、制御装置１０３は、撮像素子１０２から時系列で取得した画像の表示用画像データをモニタ１０５に出力する。これによってモニタ１０５にライブビュー画が表示される。
【００１３】
本実施形態は、上記カメラ１００の撮像素子１０２に含まれる画素欠陥による画像の傷を補正するために制御装置１０３が実行する画素欠陥補正処理に特徴を有するので、以下の説明はこの補正処理を中心に行う。
【００１４】
＜画素欠陥補正＞
本実施形態による画素欠陥補正は、画像生成時に行う画素欠陥補正のことをいう。一般に、固体撮像素子である撮像素子１０２には、製造過程や製造後において画素欠陥が生じ、異常なレベルの画像信号を出力する画素が発生する。画素欠陥には、フォトダイオードの光に対する感度が低下したことなどに起因する黒傷と呼ばれる欠陥と、過度の暗電流が重畳されることなどに起因する白傷と呼ばれる欠陥と、フォトダイオードの開口部やアンプゲインのばらつきによるゲイン性欠陥とがある。画素欠陥は、表示画面上でその欠陥による傷（表示誤り）が目に付きやすい。そこで、画素欠陥からの出力信号を補正することによって、表示誤りが目立たないようにする。
【００１５】
上述した画素欠陥による表示誤りは、撮影条件によって出現頻度が異なる。例えば、露光時間を長く設定する（シャッター速度が低速）場合、ＩＳＯ感度を高く設定した場合、および撮像素子１０２の温度（カメラ１００の使用環境や連続使用に起因する）が高い場合は、いずれも画素欠陥の出現頻度が高まる。制御装置１０３は、撮像素子１０２から出力される１フレーム分の画像データに対して画素欠陥補正処理を行い、補正後の画像信号を１フレーム分の画像データ（いわゆるＲＡＷデータ）とする。
【００１６】
＜連数Ｎ＞
一般に、画素欠陥の出現頻度が高くなると、画素欠陥が２画素以上連なる可能性が高まる。このため、本実施形態では、連なる画素欠陥を補正する数（すなわち、連続する画素欠陥を何個まで補正するか）をあらかじめ決めておき、この範囲で画素欠陥補正を行う。本説明では、あらかじめ決めておく数を連数Ｎと呼ぶ。制御装置１０３は、撮影時の露光時間（シャッター速度）、ＩＳＯ感度、および撮像素子１０２の温度に応じたポイントをあらかじめ定めておき、各ポイントを加算することによって連数Ｎを決定する。
【００１７】
図２は、シャッター速度Ｔ、ＩＳＯ感度Ｓ、および撮像素子１０２の温度ｔと、ポイントとの関係を例示する図である。図２によれば、画素欠陥の出現頻度が低い場合のポイントを小さくし、画素欠陥の出現頻度が高い場合のポイントを大きくするように、シャッター速度Ｔ、ＩＳＯ感度Ｓ、および撮像素子１０２の温度ｔのそれぞれに対し、ポイントを３段階に分けている。
【００１８】
制御装置１０３は、例えば、撮影時のシャッター速度Ｔが１／２５０秒、かつＩＳＯ感度ＳがＩＳＯ３２００、かつ撮像素子１０２の温度ｔが４５℃である場合において、ポイント数を０＋１＋３＝４と算出する。本実施形態では、加算後のポイント数が３未満の場合に連数Ｎ＝１とし、加算後のポイント数が３以上５未満の場合に連数Ｎ＝２とし、加算後のポイント数が５以上の場合に連数Ｎ＝３とする。本例に当てはめると、加算後のポイント数が４の場合は、連数Ｎは２に該当する。制御装置１０３は、決定した連数Ｎの値に応じて、連続する画素欠陥を補正する範囲を異ならせる。
【００１９】
＜Ｎ＝１の場合＞
制御装置１０３は、画素欠陥の出現頻度が低く、画素欠陥が連続するおそれがない場合に連数Ｎ＝１とする。Ｎ＝１の場合、制御装置１０３は図３に例示する画素欠陥補正処理を実行する。制御装置１０３は、例えば、注目画素（処理対象画素）を中心とする３×３画素領域に含まれる周辺８画素の最大値、最小値を算出し、注目画素がこれら最大値、最小値を超えるときは注目画素を最大値、最小値で置き換えるMax,Minフィルタ処理を行う。このようなフィルタ処理を、例えば１フレームの画像の上部の水平ラインから下部の水平ラインへ向けて、各水平ライン上で注目画素を左から右へずらしながら行う。
【００２０】
図３のステップＳ５１において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最大信号を出力する画素Ｂからの信号値より大か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＞画素Ｂが成立する場合はステップＳ５１を肯定判定してステップＳ５９へ進み、注目画素Ａ＞画素Ｂが成立しない場合はステップＳ５１を否定判定してステップＳ６１へ進む。
【００２１】
ステップＳ５９において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を周囲の最大画素Ｂからの信号値で置換してステップＳ６１へ進む。
【００２２】
ステップＳ６１において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最小信号を出力する画素Ｂ’からの信号値より小か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＜画素Ｂ’が成立する場合はステップＳ６１を肯定判定してステップＳ６９へ進み、注目画素Ａ＜画素Ｂ’が成立しない場合はステップＳ６１を否定判定してステップＳ７０へ進む。
【００２３】
ステップＳ６９において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を周囲の最小画素Ｂ’からの信号値で置換してステップＳ７０へ進む。
【００２４】
ステップＳ７０において、制御装置１０３は、１フレーム分の画像に対して補正処理を終了した否かを判定する。制御装置１０３は、１フレーム分に対する処理を終了した場合にステップＳ７０を肯定判定して図３による処理を終了する。制御装置１０３は、１フレーム分に対する処理を終了していない場合には、ステップＳ７０を否定判定してステップＳ７１へ進む。ステップＳ７１において、制御装置１０３は、処理対象である注目画素を移動してステップＳ５１へ戻る。ステップＳ５１へ戻る場合は、上述した処理を繰り返す。
【００２５】
図６は、白傷の画素欠陥を含む画像に対して図３による補正処理を適用する例を説明する図である。図６(a)は、補正処理前の画素信号値を例示する図であり、図６(b)は、補正処理後の画素信号値を例示する図である。図６(a)において、斜線を引いた画素が注目画素Ａである。注目画素Ａの信号値（１５６）は、注目画素Ａの周囲の信号値に比べて突出して大きい。
【００２６】
図６(b)において、注目画素Ａを中心とする３×３画素領域を太線で示す。制御装置１０３は、太線内の注目画素Ａの周囲８画素からの信号の最大値が３４（画素Ｂ）、最小値が１９であるので、注目画素Ａの信号値（１５６）を、画素Ｂからの信号値（３４）で置換する。下線を引いた信号値は補正処理後の信号値を示す。図６によれば、図６(a)に含まれる欠陥（注目画素Ａ）が、図６(b)において周囲の信号値から突出しない値に補正されている。
【００２７】
＜Ｎ＝２の場合＞
制御装置１０３は、画素欠陥の出現頻度が上がり、画素欠陥が２つ連続する可能性が高い場合において連数Ｎ＝２とする。Ｎ＝２の場合、制御装置１０３は図４に例示する画素欠陥補正処理を実行する。図３（Ｎ＝１）の場合に比べて、ステップＳ５２、Ｓ５７、Ｓ５８、Ｓ６２、Ｓ６７、およびＳ６８を追加した点が異なるので、これらの相違点を中心に説明する。
【００２８】
図４のステップＳ５１を肯定判定した制御装置１０３は、ステップＳ５２において、画素Ｂからの信号値が、画素Ｂの周囲の画素（注目画素Ａを除く）のうち最大信号を出力する画素Ｃからの信号値より大か否かを判定する。画素Ｂは、注目画素Ａの周囲の画素のうち最大信号を出力する画素である。制御装置１０３は、画素Ｂ＞画素Ｃが成立する場合はステップＳ５２を肯定判定してステップＳ５７へ進み、画素Ｂ＞画素Ｃが成立しない場合はステップＳ５２を否定判定してステップＳ５９へ進む。
【００２９】
ステップＳ５７において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を注目画素Ａの周囲（画素Ｂを除く）の最大画素Ｄからの信号値で置換してステップＳ５８へ進む。ステップＳ５８において、制御装置１０３は、画素Ｂからの信号値を画素Ｂの周囲（注目画素Ａを除く）の最大画素Ｃからの信号値で置換してステップＳ６１へ進む。
【００３０】
ステップＳ６１を肯定判定した制御装置１０３は、ステップＳ６２において、制御装置１０３は、画素Ｂ’からの信号値が、画素Ｂ’の周囲の画素（注目画素Ａを除く）のうち最小信号を出力する画素Ｃ’からの信号値より小か否かを判定する。画素Ｂ’は、注目画素Ａの周囲の画素のうち最小信号を出力する画素である。制御装置１０３は、画素Ｂ’＜画素Ｃ’が成立する場合はステップＳ６２を肯定判定してステップＳ６７へ進み、画素Ｂ’＜画素Ｃ’が成立しない場合はステップＳ６２を否定判定してステップＳ６９へ進む。
【００３１】
ステップＳ６７において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を注目画素Ａの周囲（画素Ｂ’を除く）の最小画素Ｄ’からの信号値で置換してステップＳ６８へ進む。ステップＳ６８において、制御装置１０３は、画素Ｂ’からの信号値を画素Ｂ’の周囲（注目画素Ａを除く）の最小画素Ｃ’からの信号値で置換してステップＳ７０へ進む。
【００３２】
図７は、白傷の画素欠陥が２つ並ぶ画像に対して図４による補正処理を適用する例を説明する図である。図７(a)は、補正処理前の画素信号値を例示する図であり、図７(b)は、補正処理中の画素信号値を例示する図であり、図７(c)は、補正処理後の画素信号値を例示する図である。図７(a)において、斜線を引いた画素が注目画素Ａである。注目画素Ａの信号値（１５６）は、左隣の画素Ｂの信号値（１２０）とともに注目画素Ａの周囲の信号値に比べて、突出して大きい。
【００３３】
図７(b)において、注目画素Ａを中心とする３×３画素領域を太線で示す。制御装置１０３は、太線内の注目画素Ａの周囲８画素からの信号の最大値が１２０（画素Ｂ）、最小値が１９であるので、注目画素Ａの信号値（１５６）を、画素Ｂからの信号値（１２０）で置換する。下線を引いた信号値は補正処理中の信号値を示す。
【００３４】
図７(c)において、画素Ｂの周囲の画素（注目画素Ａを除く）を○印で示す。制御装置１０３は、○で囲んだ画素Ｂの周囲７画素からの信号の最大値が４１（画素Ｃ）であるので、画素Ｂの信号値（１２０）を画素Ｃからの信号値（４１）で置換する。制御装置１０３はさらに、太線内の注目画素Ａの周囲７画素（画素Ｂを除く）からの信号の最大値が３３（画素Ｄ）であるので、注目画素Ａの信号値（１２０）を、画素Ｄからの信号値（３３）で再度置換する。図７(c)において、下線を引いた信号値は補正処理後の信号値を示す。図７によれば、図７(a)に含まれる連続欠陥（注目画素Ａ、画素Ｂ）が、図７(c)において周囲の信号値から突出しない値に補正されている。
【００３５】
図６(c)は、白傷の画素欠陥が連続しない（単独で存在する）画像に対して図４による補正処理を適用する例を説明する図である。図６(c)において、画素Ｂを縦線で示し、画素Ｂの周囲の画素（注目画素Ａを除く）を○印で示す。制御装置１０３は、○で囲んだ画素Ｂの周囲７画素からの信号の最大値が４１（画素Ｃ）であるところ、画素Ｂの信号値（３４）は画素Ｃの信号値（４１）より小さいので、画素Ｂに対する置換を行わない。このように、画素欠陥が単独で存在する画像に対して連数Ｎ＝２の補正処理を適用しても、連数Ｎ＝１の補正処理を適用した場合（図６(b)）と同様の結果となる。
【００３６】
＜Ｎ＝３の場合＞
制御装置１０３は、画素欠陥の出現頻度が高く、画素欠陥が３つ連続する可能性が高い場合に連数Ｎ＝３とする。Ｎ＝３の場合、制御装置１０３は図５に例示する画素欠陥補正処理を実行する。図４（Ｎ＝２）の場合に比べて、ステップＳ５３〜Ｓ５６、およびステップＳ６３〜Ｓ６６を追加した点が異なるので、これらの相違点を中心に説明する。
【００３７】
図５のステップＳ５２を肯定判定した制御装置１０３は、ステップＳ５３において、画素Ｃからの信号値が、画素Ｃの周囲の画素（注目画素Ａおよび画素Ｂを除く）のうち最大信号を出力する画素Ｆからの信号値より大か否かを判定する。画素Ｃは、画素Ｂの周囲の画素（注目画素Ａを除く）のうち最大信号を出力する画素であり、画素Ｂは、注目画素Ａの周囲の画素のうち最大信号を出力する画素である。制御装置１０３は、画素Ｃ＞画素Ｆが成立する場合はステップＳ５３を肯定判定してステップＳ５４へ進み、画素Ｃ＞画素Ｆが成立しない場合はステップＳ５３を否定判定してステップＳ５７へ進む。
【００３８】
ステップＳ５４において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を注目画素Ａの周囲（画素Ｂおよび画素Ｃを除く）の最大画素Ｄからの信号値で置換してステップＳ５５へ進む。ステップＳ５５において、制御装置１０３は、画素Ｂからの信号値を画素Ｂの周囲（注目画素Ａおよび画素Ｃを除く）の最大画素Ｅからの信号値で置換してステップＳ５６へ進む。ステップＳ５６において、制御装置１０３は、画素Ｃからの信号値を画素Ｃの周囲（注目画素Ａおよび画素Ｂを除く）の最大画素Ｆからの信号値で置換してステップＳ６１へ進む。
【００３９】
また、ステップＳ６２を肯定判定した制御装置１０３は、ステップＳ６３において、画素Ｃ’からの信号値が、画素Ｃ’の周囲の画素（注目画素Ａおよび画素Ｂ’を除く）のうち最小信号を出力する画素Ｆ’からの信号値より小か否かを判定する。画素Ｃ’は、画素Ｂ’の周囲の画素（注目画素Ａを除く）のうち最小信号を出力する画素であり、画素Ｂ’は、注目画素Ａの周囲の画素のうち最小信号を出力する画素である。制御装置１０３は、画素Ｃ’＜画素Ｆ’が成立する場合はステップＳ６３を肯定判定してステップＳ６４へ進み、画素Ｃ’＜画素Ｆ’が成立しない場合はステップＳ６３を否定判定してステップＳ６７へ進む。
【００４０】
ステップＳ６４において、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値を注目画素Ａの周囲（画素Ｂ’および画素Ｃ’を除く）の最小画素Ｄ’からの信号値で置換してステップＳ６５へ進む。ステップＳ６５において、制御装置１０３は、画素Ｂ’からの信号値を画素Ｂ’の周囲（注目画素Ａおよび画素Ｃ’を除く）の最小画素Ｅ’からの信号値で置換してステップＳ６６へ進む。ステップＳ６６において、制御装置１０３は、画素Ｃ’からの信号値を画素Ｃ’の周囲（注目画素Ａおよび画素Ｂ’を除く）の最小画素Ｆ’からの信号値で置換してステップＳ７０へ進む。
【００４１】
図８は、白傷の画素欠陥が３つ並ぶ画像に対して図５による補正処理を適用する例を説明する図である。図８(a)は、補正処理前の画素信号値を例示する図であり、図８(b)および図８(c)は、補正処理中の画素信号値を例示する図であり、図８(d)は、補正処理後の画素信号値を例示する図である。図８(a)において、斜線を引いた画素が注目画素Ａである。注目画素Ａの信号値（１５６）は、左隣の画素Ｂの信号値（１２０）、および画素Ｂの上に隣接する画素Ｃの信号値（１１１）とともに注目画素Ａの周囲の他の信号値に比べて、突出して大きい。
【００４２】
図８(b)において、注目画素Ａを中心とする３×３画素領域を太線で示す。制御装置１０３は、太線内の注目画素Ａの周囲８画素からの信号の最大値が１２０（画素Ｂ）、最小値が１９であるので、注目画素Ａの信号値（１５６）を、画素Ｂからの信号値（１２０）で置換する。下線を引いた信号値は補正処理中の信号値を示す。
【００４３】
図８(c)において、画素Ｂの周囲の画素（注目画素Ａを除く）を○印で示す。制御装置１０３は、○で囲んだ画素Ｂの周囲７画素からの信号の最大値が１１１（画素Ｃ）であるので、画素Ｂの信号値（１２０）を画素Ｃからの信号値（１１１）で置換する。制御装置１０３はさらに、太線内の注目画素Ａの周囲７画素（画素Ｂを除く）からの信号の最大値が１１（画素Ｃ）であるので、注目画素Ａの信号値（１２０）を、画素Ｃからの信号値（１１１）で再度置換する。図８(c)において、下線を引いた信号値は補正処理後の信号値を示す。
【００４４】
図８(d)において、画素Ｃの周囲の画素を破線で示す。制御装置１０３は、破線で囲んだ画素Ｃの周囲６画素（注目画素Ａおよび画素Ｂを除く）からの信号の最大値が４０（画素Ｆ）であるので、画素Ｃの信号値（１１１）を画素Ｆからの信号値（４０）で置換する。次に制御装置１０３は、○で囲んだ画素Ｂの周囲６画素（注目画素Ａおよび画素Ｃを除く）からの信号の最大値が４１（画素Ｅ）であるので、画素Ｂの信号値（１１１）を画素Ｅからの信号値（４１）で置換する。
【００４５】
制御装置１０３はさらに、太線内の注目画素Ａの周囲６画素（画素Ｂおよび画素Ｃを除く）からの信号の最大値が３３（画素Ｄ）であるので、注目画素Ａの信号値（１１１）を、画素Ｄからの信号値（３３）で再々置換する。図８(d)において、下線を引いた信号値は補正処理後の信号値を示す。図８によれば、図８(a)に含まれる連続欠陥（注目画素Ａ、画素Ｂおよび画素Ｃ）が、図８(d)において周囲の信号値から突出しない値に補正されている。
【００４６】
図７(d)は、白傷の画素欠陥が３つ連続せずに２つ連続する画像に対して図５による補正処理を適用する例を説明する図である。図７(d)において、画素Ｃを縦線で示し、画素Ｃの周囲の画素（画素Ｂを除く）を○印で示す。制御装置１０３は、画素Ｃの周囲の７画素（画素Ｃの左側において３画素分が不明であるが、本説明ではいずれも画素Ｆの信号値（６８）を超えないものとする)からの信号の最大値が６８（画素Ｆ）であるところ、画素Ｃの信号値（４１）は画素Ｆの信号値より小さいので、画素Ｃに対する置換を行わない。このように、画素欠陥が２つ並ぶ画像に対して連数Ｎ＝３の補正処理を適用しても、連数Ｎ＝２の補正処理を適用した場合（図７(c)）と同様の結果となる。
【００４７】
＜撮影処理＞
制御装置１０３は、上述した画素欠陥補正処理を撮影処理における撮像後に行う。図９は、制御装置１０３が実行する撮影処理の流れを説明するフローチャートである。制御装置１０３は、操作部材１０１を構成する不図示の電源ボタンがオン操作された場合に、図９に例示した処理を実行するプログラムを起動する。プログラムは制御装置１０３内のフラッシュメモリに格納されている。
【００４８】
図９のステップＳ１１において、制御装置１０３は、撮像素子１０２に所定のフレームレートで光電変換を開始させる。制御装置１０３は、画像信号に基づくライブビュー画像をモニタ１０５に逐次再生表示させながら、撮影指示が行われたか否かを判定する。制御装置１０３は、操作部材１０１からレリーズボタンの押下を示す操作信号が入力されると、ステップＳ１１を肯定判定してステップＳ１２へ進む。制御装置１０３は、レリーズボタンの押下を示す操作信号が入力されない場合には、ステップＳ１１を否定判定してステップＳ２０へ進む。
【００４９】
ステップＳ２０において、制御装置１０３は、タイムアップか否かを判定する。制御装置１０３は、所定時間（たとえば、５秒）を計時した場合にステップＳ２０を肯定判定して図９による処理を終了する。制御装置１０３は、計時時間が所定時間に満たない場合には、ステップＳ２０を否定判定してステップＳ１１へ戻る。
【００５０】
ステップＳ１２において、制御装置１０３はＡＥ処理を行う。ＡＥ処理では、上記ライブビュー画像用の画像信号のレベルに基づいて所定の露出演算を行い、適正露出が得られるように絞り値とシャッター速度を決定する。制御装置１０３は、以上のＡＥ処理を行うとステップＳ１３へ進む。
【００５１】
ステップＳ１３において、制御装置１０３はＡＦ処理を行う。制御装置１０３は、設定されている焦点検出エリアに含まれる画素からの画像信号に基づいて、画像のコントラストを最大にする位置へフォーカシングレンズを移動させて、ステップＳ１４へ進む。
【００５２】
ステップＳ１４において、制御装置１０３は撮像処理を行ってステップＳ１５へ進む。具体的には、上記ＡＥ処理で決定した絞り値、およびシャッター速度に対応する蓄積時間で撮像素子１０２に撮像させる。
【００５３】
ステップＳ１５において、制御装置１０３は、露光時間（シャッター速度）、ＩＳＯ感度、および撮像素子１０２の温度に基づいて上述した連数Ｎを決定し、ステップＳ１６へ進む。ステップＳ１６において、制御装置１０３は、撮像した１フレーム画像に対し、連数Ｎに応じた上記画素欠陥補正処理を行ってステップＳ１７へ進む。ステップＳ１７において、制御装置１０３は、画素欠陥補正処理後の画像データに基づく再生画像をモニタ１０５に表示させてステップＳ１８へ進む。
【００５４】
ステップＳ１８において、制御装置１０３は画素欠陥補正処理後の画像データに基づいて記録用の画像ファイルを生成し、ステップＳ１９へ進む。ステップＳ１９において、制御装置１０３は、画像ファイルをメモリカードスロット１０４に挿入されているメモリカードへ記録して図９による処理を終了する。
【００５５】
以上説明した第一の実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）カメラ１００は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが１のとき、画像データのうち対象とする注目画素Ａによる信号値が、注目画素Ａの周囲で最大値を出力する画素Ｂによる信号値と比較して大きい場合に、注目画素Ａによる信号値を画素Ｂによる信号値で置換する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが２のとき、画素Ｂによる信号値が、注目画素Ａを除く画素Ｂの周囲で最大値を出力する画素Ｃによる信号値と比較して大きい場合に、画素Ｂによる信号値を画素Ｃによる信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂを除く注目画素Ａの周囲で最大値を出力する画素Ｄによる信号値で置換する制御装置１０３と、を備えるようにしたので、白傷の画素欠陥が２画素連なっている場合にも適切に補正できる。
【００５６】
（２）上記（１）のカメラ１００において、制御装置１０３による推定値Ｎが３のとき、画素Ｃによる信号値が、注目画素Ａおよび画素Ｂを除く画素Ｃの周囲で最大値を出力する画素Ｆによる信号値と比較して大きい場合に、画素Ｃによる信号値を画素Ｆによる信号値で置換し、かつ、画素Ｂによる信号値を注目画素Ａおよび画素Ｃを除く画素Ｂの周囲で最大値を出力する画素Ｅによる信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂおよび画素Ｃを除く注目画素Ａの周囲で最大値を出力する画素Ｄによる信号値で置換する制御装置１０３をさらに備えたので、画素欠陥が３画素連なっている場合にも適切に補正できる。
【００５７】
（３）カメラ１００は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが１のとき、画像データのうち対象とする注目画素Ａによる信号値が注目画素Ａの周囲で最小値を出力する画素Ｂ’による信号値と比較して小さい場合に、注目画素Ａによる信号値を画素Ｂ’による信号値で置換する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが２のとき、画素Ｂ’による信号値が、注目画素Ａを除く画素Ｂ’の周囲で最小値を出力する画素Ｃ’による信号値と比較して小さい場合に、画素Ｂ’による信号値を画素Ｃ’による信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂ’を除く注目画素Ａの周囲で最小値を出力する画素Ｄ’による信号値で置換する制御装置１０３と、を備えるようにしたので、黒傷の画素欠陥が２画素連なっている場合にも適切に補正できる。
【００５８】
（４）上記（３）のカメラ１００において、制御装置１０３による推定値Ｎが３のとき、画素Ｃ’による信号値が、注目画素Ａおよび画素Ｂ’を除く画素Ｃ’の周囲で最小値を出力する画素Ｆ’による信号値と比較して小さい場合に、画素Ｃ’による信号値を画素Ｆ’による信号値で置換し、かつ、画素Ｂ’による信号値を注目画素Ａおよび画素Ｃ’を除く画素Ｂ’の周囲で最小値を出力する画素Ｅ’による信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂ’および画素Ｃ’を除く注目画素Ａの周囲で最小値を出力する画素Ｄ’による信号値で置換する制御装置１０３をさらに備えたので、画素欠陥が３画素連なっている場合にも適切に補正できる。
【００５９】
（５）上記（１）から（４）に記載のカメラ１００において、制御装置１０３は、画像データの取得時に設定されていた露光時間Ｔ、ＩＳＯ感度Ｓ、および撮像素子１０２の温度ｔに基づいて、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定するようにしたので、画素欠陥の出現頻度の高低に応じた適切な補正処理が可能になる。
【００６０】
（変形例１）
上述した説明において、画素欠陥が連続する向きが左右と上下の場合を説明したが、連続する向きを斜め方向にとってもよい。また、画素欠陥の出現頻度が高く、画素欠陥が４以上連続する可能性が生じた場合には、連数Ｎの値を４または５以上としてもよい。さらにまた、３以上の画素欠陥が連続する向きは、直線方向に連続する場合でも、上述したようにＬ字方向に連続する場合でも構わない。なお、注目画素（処理対象画素）を中心とする画素領域のサイズは３×３に限らず、５×５など適宜変更して構わない。
【００６１】
（第二の実施形態）
第一の実施形態では、注目画素Ａからの信号値が周囲の画素からの信号値の最大値より大きい場合に、注目画素Ａからの信号値を上記最大値で置換する例を説明した。第二の実施形態では、単に周囲の画素からの信号の最大値より大きいだけでなく、所定値以上大きい場合にのみに補正するように、補正の要否を判定するための閾値を設ける。閾値は、０より大きい値であればよいが、第二の実施形態では、注目画素Ａの周囲の画素の信号値の平均値に基づいて閾値を定める。
【００６２】
なお、注目画素Ａからの信号値が周囲の画素からの信号の最小値より小さいだけでなく、所定値以上小さい場合にのみ補正するように閾値を設ける点も同様である。図１０は、本発明の第二の実施形態による制御装置１０３が連数Ｎ＝１の場合に実行する画素欠陥補正処理を例示するフローチャートである。第一の実施形態による図３の処理（Ｎ＝１）の場合に比べて、ステップＳ５１Ａを追加し、ステップＳ５１をＳ５１Ｂに変更し、ステップＳ６１Ａを追加し、ステップＳ６１をＳ６１Ｂに変更した点が異なるので、これらの相違点を中心に説明する。
【００６３】
図１０のステップＳ５１Ａにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａについて補正閾値を算出し、ステップＳ５１Ｂへ進む。制御装置１０３は、注目画素Ａの周囲８画素からの信号値の平均値を定数倍して補正閾値とする。例えば、平均値が２７で、定数を２とすれば、閾値は５４である。
【００６４】
ステップＳ５１Ｂにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最大信号を出力する画素Ｂからの信号値＋補正閾値より大か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＞(画素Ｂ＋補正閾値)が成立する場合はステップＳ５１Ｂを肯定判定してステップＳ５９へ進み、注目画素Ａ＞(画素Ｂ＋補正閾値)が成立しない場合はステップＳ５１Ｂを否定判定してステップＳ６１Ｂへ進む。
【００６５】
ステップＳ６１Ｂにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最小信号を出力する画素Ｂ’からの信号値−補正閾値より小か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＜(画素Ｂ’−補正閾値)が成立する場合はステップＳ６１Ｂを肯定判定してステップＳ６９へ進み、注目画素Ａ＜(画素Ｂ’−補正閾値)が成立しない場合はステップＳ６１Ｂを否定判定してステップＳ７０へ進む。
【００６６】
図１１は、第二の実施形態による制御装置１０３が連数Ｎ＝２の場合に実行する画素欠陥補正処理を例示するフローチャートである。第一の実施形態による図４の処理（Ｎ＝２）の場合に比べて、ステップＳ５１Ａを追加し、ステップＳ５１をＳ５１Ｂに変更し、ステップＳ６１をＳ６１Ｂに変更し、ステップＳ６２Ａおよび６２Ｂを追加し、ステップＳ６２をＳ６２Ｃに変更した点が異なるので、これらの相違点を中心に説明する。
【００６７】
図１１のステップＳ５１Ａにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａについて補正閾値を算出し、ステップＳ５１Ｂへ進む。例えば、注目画素Ａの周囲８画素からの信号値の平均値を定数倍して補正閾値とする。
【００６８】
ステップＳ５１Ｂにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最大信号を出力する画素Ｂからの信号値＋補正閾値より大か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＞(画素Ｂ＋補正閾値)が成立する場合はステップＳ５１Ｂを肯定判定してステップＳ５２Ａへ進み、注目画素Ａ＞(画素Ｂ＋補正閾値)が成立しない場合はステップＳ５１Ｂを否定判定してステップＳ６１Ｂへ進む。
【００６９】
ステップＳ５２Ａにおいて、制御装置１０３は、画素Ｂについて補正閾値を算出し、ステップＳ５２Ｂへ進む。例えば、画素Ｂの周囲７画素（注目画素Ａを除く）からの信号値の平均値を定数倍して補正閾値とする。
【００７０】
ステップＳ５２Ｂにおいて、制御装置１０３は、画素Ｂからの信号値が、画素Ｂの周囲７画素（注目画素Ａを除く）のうち最大信号を出力する画素Ｃからの信号値＋補正閾値より大か否かを判定する。制御装置１０３は、画素Ｂ＞(画素Ｃ＋補正閾値)が成立する場合はステップＳ５２Ｂを肯定判定してステップＳ５７へ進み、注目画素Ｂ＞(画素Ｃ＋補正閾値)が成立しない場合はステップＳ５２Ｂを否定判定してステップＳ５９へ進む。
【００７１】
ステップＳ６１Ｂにおいて、制御装置１０３は、注目画素Ａからの信号値が、注目画素Ａの周囲８画素のうち最小信号を出力する画素Ｂ’からの信号値−補正閾値より小か否かを判定する。制御装置１０３は、注目画素Ａ＜(画素Ｂ’−補正閾値)が成立する場合はステップＳ６１Ｂを肯定判定してステップＳ６２Ａへ進み、注目画素Ａ＜(画素Ｂ’−補正閾値)が成立しない場合はステップＳ６１Ｂを否定判定してステップＳ７０へ進む。
【００７２】
ステップＳ６２Ａにおいて、制御装置１０３は、画素Ｂについて補正閾値が未計算か否かを判定する。制御装置１０３は、画素Ｂについて補正閾値を算出済みの場合はステップＳ６２Ａを肯定判定してステップＳ６２Ｂへ進み、画素Ｂについて補正閾値を算出してない場合は、ステップＳ６２Ａを否定判定してステップＳ６２Ｃへ進む。
【００７３】
ステップＳ６２Ｂにおいて、制御装置１０３は、例えば、画素Ｂの周囲７画素（注目画素Ａを除く）からの信号値の平均値を定数倍して補正閾値とする。
【００７４】
ステップＳ６２Ｃにおいて、制御装置１０３は、画素Ｂ’からの信号値が、画素Ｂ’の周囲７画素（注目画素Ａを除く）のうち最小信号を出力する画素Ｃ’からの信号値−補正閾値より小か否かを判定する。制御装置１０３は、画素Ｂ’＜(画素Ｃ’−補正閾値)が成立する場合はステップＳ６２Ｃを肯定判定してステップＳ６７へ進み、注目画素Ｂ’＜(画素Ｃ’−補正閾値)が成立しない場合はステップＳ６２Ｃを否定判定してステップＳ６９へ進む。
【００７５】
以上説明した第二の実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）カメラ１００は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが１のとき、画像データのうち対象とする注目画素Ａによる信号値が、注目画素Ａの周囲で最大値を出力する画素Ｂによる信号値と比較して補正閾値以上大きい場合に、注目画素Ａによる信号値を画素Ｂによる信号値で置換する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが２のとき、画素Ｂによる信号値が、注目画素Ａを除く画素Ｂの周囲で最大値を出力する画素Ｃによる信号値と比較して補正閾値以上大きい場合に、画素Ｂによる信号値を画素Ｃによる信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂを除く注目画素Ａの周囲で最大値を出力する画素Ｄによる信号値で置換する制御装置１０３と、を備えるようにしたので、白傷の画素欠陥が２画素連なっている場合において、補正閾値を超えて高い側に突出する画素欠陥のみを適切に補正できる。
【００７６】
（２）カメラ１００は、画像データにおいて異常値が連なる画素数を推定する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが１のとき、画像データのうち対象とする注目画素Ａによる信号値が注目画素Ａの周囲で最小値を出力する画素Ｂ’による信号値と比較して補正閾値以上小さい場合に、注目画素Ａによる信号値を画素Ｂ’による信号値で置換する制御装置１０３と、制御装置１０３による推定値Ｎが２のとき、画素Ｂ’による信号値が、注目画素Ａを除く画素Ｂ’の周囲で最小値を出力する画素Ｃ’による信号値と比較して補正閾値以上小さい場合に、画素Ｂ’による信号値を画素Ｃ’による信号値で置換し、かつ、注目画素Ａによる信号値を、画素Ｂ’を除く注目画素Ａの周囲で最小値を出力する画素Ｄ’による信号値で置換する制御装置１０３と、を備えるようにしたので、黒傷の画素欠陥が２画素連なっている場合において、補正閾値を超えて低い側に突出する画素欠陥のみを適切に補正できる。
【００７７】
（３）上記カメラ１００において、補正閾値は、比較する対象に含まれる周囲の画素からの信号の平均値に基づいて定めたので、補正閾値を適切な値にできる。
【００７８】
以上説明した実施形態によれば、あらかじめ撮像素子１０２の検査データに基づいて画素欠陥位置を示す情報を制御装置１０３内のフラッシュメモリに記憶させておかなくても、画素欠陥位置を自動的に検出し、必要に応じて補正処理を行える。
【００７９】
（カラー補間）
上述した画素欠陥補正処理は、各画素位置に対応させてＲ色、Ｇ色、Ｂ色の画像信号を生成するカラー補間処理が施されているものとして説明した。例えば、Ｇ色の画素位置にはＲ色、Ｂ色の画像信号が存在しないので、Ｇ色の画素周辺のＲ色、Ｂ色の画素からの信号値を用いてＧ色画素位置におけるＲ色、Ｂ色の信号を生成するカラー補間処理を行う。このようなカラー補間処理は公知であるので、詳細な説明は省略する。
【００８０】
（変形例２）
なお、カラー補間処理を行わずに、他の色成分の信号値に所定の補正係数（色成分間の信号比を調節するための係数であり、例えば、ホワイトバランス係数に基づいて定める）を掛けて、簡易的に同色の信号として取り扱って、画素欠陥補正処理を施してもよい。
【００８１】
（変形例３）
上述した実施形態では、デジタルカメラ１００の制御装置１０３が撮像時に画素欠陥補正処理を行う例を説明したが、パーソナルコンピュータや、タブレット型コンピュータなどを用いて、事後的に画素欠陥補正を行う画像処理装置を構成してもよい。
【００８２】
図１２に示すコンピュータ装置２００に図３〜図５に例示したフローチャートの処理を行うプログラムを実行させることにより、画素欠陥補正を行う画像処理装置を構成する。プログラムをパーソナルコンピュータ２００に取込んで使用する場合には、パーソナルコンピュータ２００のデータストレージ装置にプログラムをローディングした上で、当該プログラムを実行させることによって画像処理装置として使用する。
【００８３】
パーソナルコンピュータ２００に対するプログラムのローディングは、プログラムを格納したＣＤ−ＲＯＭなどの記憶媒体２０４をパーソナルコンピュータ２００にセットして行ってもよいし、ネットワークなどの通信回線２０１を経由する方法でパーソナルコンピュータ２００へローディングしてもよい。通信回線２０１を経由する場合は、通信回線２０１に接続されたサーバー（コンピュータ）２０２のハードディスク装置２０３などにプログラムを格納しておく。プログラムは、記憶媒体２０４や通信回線２０１を介する提供など、種々の形態のコンピュータプログラム製品として供給することができる。
【００８４】
以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。各実施形態および変形例は、適宜組み合わせて構成して構わない。
【符号の説明】
【００８５】
１００…カメラ
１０１…操作部材
１０２…撮像素子
１０３…制御装置
１０５…モニタ
１０６…温度センサ
２００…パーソナルコンピュータ
２０４…記憶媒体
【図１】
2014053783.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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