(57)【要約】【課題】ピンチャーチップ等のアクセサリを使用しない形式のプローブで被測定対象の近くで測定して、浮遊容量及びインダクタンスで測定波形に歪みが発生するのを抑制するプローブは知られているが、アクセサリを使用する形式のプローブは対象外であり、プローブに関し、測定に際し本体に取り付けられるアースリードや、本体の探針部分に取り付けられて測定を容易にするピンチャーチップ、ワニ口クリップ及びそれらに類する付属品等によって生じる浮遊容量及びインダクタンスで測定波形に歪みが発生し、測定波形の再現が悪化する。【解決手段】本発明に係るプローブは、本体(1)が付属品(2)の着脱部(11)を備え、該付属品(2)は抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成された波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路(21)を備えたものである。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体(1)は付属品(2)の着脱部(11)を備え、該付属品(2)は抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成した波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路(21)を備えたものであることを特徴とするプローブ。
【請求項２】
該付属品(2)はピンチャーチップ (22)である請求項１に記載のプローブ。
【請求項３】
該付属品(2)はアースリード(23)である請求項１に記載のプローブ。
【請求項４】
該付属品(2)は、ワニ口クリップ、アリゲータクリップ、ドルフィンクリップ、プランジャークリップ、ＧＮＤリード又はそれらに類する付属品のうちの一つである請求項１に記載のプローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はプローブに関し、測定に際し本体に取り付けられるアースリードや、本体の探針部分に取り付けられて測定を容易にするピンチャーチップ、ワニ口クリップ及びそれらに類する付属品等によって生じる浮遊容量及びインダクタンスで測定波形に歪みが発生するのを抑制して、被測定装置からの信号の再現性を向上させるようにしたものである。
【背景技術】
【０００２】
被測定対象に対し最短で接触させることにより浮遊容量及びインダクタンスをできるだけ小さくするようにしたプローブが特開平７−５２０１号公報（特許文献１）に開示されている。そして、その段落０００８の７〜１３行に、「図３にも示すように、図６の従来型のプローブの先にピンチャーチップ１１を用いて使用するとなると、ピンチャーチップ１１及びアースリード１２からなるアクセサリ部２４により浮遊容量及びインダクタンスが発生することになる。このため、これらアクセサリ部２４による浮遊容量の影響で周波数帯域が狭くなる。」と述べられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−５２０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１でも述べられているように、プローブに関し、測定に際し本体に取り付けられるアースリードや、本体の探針部分に取り付けられて測定を容易にするピンチャーチップ、ワニ口クリップ及びそれらに類する付属品等によって生じる浮遊容量及びインダクタンスで測定波形に歪みが発生し、測定波形の再現が悪化する。
本発明では、測定時に後から取り付けられる付属品の影響を最小限に抑え、被測定装置からの信号を再現よく測定するための回路と、その配置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
（請求項１）本発明に係るプローブは、本体が付属品の着脱部を備えている。該付属品は、抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成された波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路を備えたものとなっている。
【０００６】
被測定物の電気信号を測定するプローブの本体に取り付けられるアースリードや、本体の探針部分に取り付けられて測定を容易にするピンチャーチップ、ワニ口クリップ及びそれらに類する付属品によって浮遊容量及びインダクタンスが発生し、測定波形に歪みが生じるので正確な波形測定ができない。本発明では、電気信号の測定に際し本体に取り付けられる付属品が、抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成された波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路を備えているので、浮遊容量及びインダクタンスの発生を抑制でき、被測定装置からの信号の再現性を向上させることができる。
【０００７】
（請求項２）該付属品はピンチャーチップであってもよい。
こうすると、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行御える。
【０００８】
（請求項３）該付属品はアースリードであってもよい。
こうすると、ピンチャーチップの場合と同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行える。
【０００９】
（請求項４）該付属品(2)は、ワニ口クリップ、アリゲータクリップ、ドルフィンクリップ、プランジャークリップ、ＧＮＤリード又はそれらに類する付属品のうちの一つであってもよい。
こうすると、ピンチャーチップやアースリードの場合と同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行える。
【発明の効果】
【００１０】
（請求項１）本発明のプローブによれば、浮遊容量及びインダクタンスの発生を抑制でき、被測定装置からの信号の再現性を向上させることができる。
【００１１】
請求項２によれば、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行える。
【００１２】
請求項３によれば、ピンチャーチップの場合と同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行える。
【００１３】
請求項４によれば、ピンチャーチップやアースリードの場合と同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路の組み込みを容易に行える。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明にかかるプローブの本体の具体例を、上半分を切断した状態で示す側面図である。
【図２】付属品としてピンチャーチップの一部の上半分を切断した状態で示す側面図である。
【図３】付属品としてアースリードの一部を切断した状態で示す側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１で、１は本体で付属品２の着脱部１１を備えている。この付属品２は抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成された波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路２１を備えたものである。
【００１６】
この付属品２をプローブの本体１に取り付けると、付属品２が、抵抗、コンデンサ、コイル、そのほかの電気部品、電子部品を単品で又は組み合わせて構成された波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路２１を備えているので、浮遊容量及びインダクタンスの発生を抑制でき、被測定装置からの信号の再現性を向上させることができる。
【００１７】
（請求項２）付属品２はピンチャーチップ２２となっている。
この場合、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路２１の組み込みを容易に行える。
【００１８】
（請求項３）付属品２はアースリード２３となっている。
この場合、ピンチャーチップと同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路２１の組み込みを容易に行える。
【００１９】
（請求項４）付属品２は、ワニ口クリップ、アリゲータクリップ、ドルフィンクリップ、プランジャークリップ、ＧＮＤリード又はそれらに類する付属品のうちの一つとなっている。
この場合、ピンチャーチップ２２やアースリード２３の場合と同様に、波形歪みの低減回路及び／又は波形歪みの補償回路２１の組み込みを容易に行える。
【符号の説明】
【００２０】
１      本体
１１    着脱部
２      付属品
２１    低減回路
２２    ピンチャーチップ
２３    アースリード
【図１】
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【図２】
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【図３】
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