(57)【要約】【課題】  樹脂塗布廃止時などに、露出する検査パッド部を導電性テープにより保護し、検査パッド部の信頼性を向上する。【解決手段】  マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるＴＦＴ基板と、カラーフィルタを備えるＣＦ基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入した液晶表示装置において、前記ＣＦ基板の表面側に形成した透明電極と、前記ＴＦＴ基板の端子部に形成した、接地電極と、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子と、前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記接地電極および前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープとを備える。【選択図】図１
2014085424.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるＴＦＴ基板と、カラーフィルタを備えるＣＦ基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入した液晶表示装置において、
前記ＣＦ基板の表面側に形成した透明電極と、
前記ＴＦＴ基板の端子部に形成した、接地電極と、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子と、
前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記接地電極および前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープと
を備えることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
前記スイッチ素子を開状態または閉状態とする電位を供給する端子を備えることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項３】
請求項２に記載の液晶表示装置において、
前記スイッチ素子を、検査時に閉状態とする電位を供給する端子、および製品時に開状態とする電位を供給する端子を備えることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項４】
請求項３に記載の液晶表示装置において、
前記スイッチ素子を開状態とする電位を供給する端子には、ドライバＩＣ搭載時に、ドライバＩＣから前記スイッチ素子を開状態とする電位を供給することを特徴とする液晶表示装置。
【請求項５】
請求項１〜４の何れか１つに記載の液晶表示装置において、
前記検査パッドを接地電極として利用したことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項６】
請求項５に記載の液晶表示装置において、
独立した接地電極は設けないことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項７】
請求項１に記載の液晶表示装置において、更に、
導電性テープの貼り位置目印を備えることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項８】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
前記信号線または走査線の一部には、スイッチ素子を介することなく、ＦＰＣ端子から直接結線されていることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項９】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
複数の検査パッドの一部は前記導電性テープで覆われるとともに、他の一部は露出していることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
ドライバ搭載時に、ドライバの下にある前記検査パッドには、前記スイッチ素子を設けないことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１１】
マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるＴＦＴ基板と、カラーフィルタを備えるＣＦ基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入した液晶表示装置であって、
前記ＣＦ基板の表面側に形成した透明電極と、
前記ＴＦＴ基板の端子部に形成した、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子と、パネルを識別するためのレーザーナンバリングメタルと、
前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープとを備えるとともに、
前記検査パッドのメタルと前記レーザーナンバリングメタルとを近接して配置し、前記前記検査パッドのメタルに接続したＩＴＯが、前記ナンバリングメタル上を覆うように形成したことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の液晶表示装置において、
前記検査パッドを接地電極として利用することを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１３】
請求項１１に記載の液晶表示装置において、
前記検査パッドのメタルと前記レーザーナンバリングメタルとが同じプロセスで形成されることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１４】
請求項１〜１３の何れか１つに記載の液晶表示装置において、
横電界方式の液晶表示装置であることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項１５】
マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるとともに、端子部に接地電極と、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子とを形成したＴＦＴ基板と、
該ＴＦＴ基板と対向して配置される、カラーフィルタおよび表面側に透明電極を備えるＣＦ基板とからなる液晶表示パネルを用いる液晶表示装置の製造方法であって、
検査時に、前記スイッチ素子を閉状態として前記検査パッドを用いて液晶表示パネルを検査するステップと、
前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記接地電極および前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープを貼り付けるステップと、
を備えることを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【請求項１６】
請求項１５に記載の液晶表示装置の製造方法において、
更に、前記スイッチ素子を開状態として、液晶表示パネルを駆動するステップを備えることを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置に関し、特に、液晶表示パネルの検査のための検査パッドを腐食などから保護するようにした液晶表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置は、表示品質が高く、かつ薄型軽量、低消費電力などの特徴を備えていることから、小型の携帯端末から大型テレビに至るまで広く用いられている。
【０００３】
例えばアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、ＴＦＴ（ＴＦＴ： Thin Film Transistor ）基板とＣＦ(カラーフィルタ)基板とを対向配置してシール材により貼り合わせ、これら２つの基板間に液晶を封入して構成される。ＴＦＴ基板には、表示領域に、マトリクス状に配列された複数の画素電極、画素電極に対応して横方向に形成された複数の走査線および縦方向に形成された複数の信号線、走査線および信号線に接続され、画素電極に所定の電圧を与えるスイッチング素子としての薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が形成されている。また、ＣＦ基板には、カラーフィルタなどが形成されている。
【０００４】
このような液晶表示装置において、形成された走査線や信号線の配線に断線や短絡が生じたり、スイッチング素子である薄膜トランジスタが正常に動作するかを検査するため、ＴＦＴ基板の周辺領域に検査パッドを配置して、液晶表示装置の製造段階で検査が行われている。
【０００５】
一例として、特許文献１には、「ゲート線、データ線、ゲート線及びデータ線に連結されているスイッチング素子、スイッチング素子に連結されている画素電極、及びゲート線・データ線・スイッチング素子・画素電極と離隔し、データ線に検査信号を伝達するための検査線を備えた液晶表示板を含む。検査線は、外部から検査信号の伝達を受ける検査パッドを含み、検査パッドは外部装置が液晶表示板に付着される部分に配置される。こうすることで、データ線とゲート線を検査するための検査パッド及び検査線を、データ駆動ＩＣやゲート駆動ＩＣの間に形成せず、駆動ＩＣの上に形成するので、液晶表示板組立体の空間活用度を高めることができる。」と記載されている(要約参照）。
【０００６】
他方、横電界方式（ＩＰＳ： In-Plane Switching ）などの液晶パネルにおいては、帯電電荷の影響を緩和するために、ＣＦ基板の表面側に導電性膜が形成されており、例えば特許文献２には、「基板表面に画素電極と共通電極とを配置した電極基板と、該電極基板に対向して配置される対向基板と、該電極基板と該対向基板との間に液晶材料を封入した液晶パネルを備えた液晶表示装置において、該対向基板の表面側に形成される導電性膜と、該電極基板の表面に形成される接地用配線とを有し、さらに、該導電性膜と該接地用配線とを導電性ペーストで接続することを特徴とする液晶表示装置。」が開示されている（請求項１参照）。
【０００７】
また、特許文献３には、導電性テープを使用した耐静電気強化構造を有する表示装置として、「電子部品が実装された回路基板と、前記回路基板と接続して駆動される表示素子と、前記回路基板に設けられたＧＮＤ端子と前記電子部品を電気的に接続する導電性テープを備えることを特徴とする表示装置。」が開示されている（請求項１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００４−３１００２４号公報
【特許文献２】特開２０１０−６０６９６号公報
【特許文献３】特開２００６−２３６８７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来、液晶表示装置において、ＴＦＴ基板上の検査パッドが配置されている端子部は樹脂などで保護されていたが、近年、モジュール構造の制約や原価低減目的で樹脂が塗布されないケースがあり、検査パッドがむき出しの状態になってしまう。この状態のままでは、検査パッドが腐食などし、信頼性の低下などが懸念される。
【００１０】
本発明は、樹脂塗布廃止時などに、露出する検査パッド部を導電性テープにより保護し、検査パッド部の信頼性を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明の液晶表示装置は、マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるＴＦＴ基板と、カラーフィルタを備えるＣＦ基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入した液晶表示装置において、前記ＣＦ基板の表面側に形成した透明電極と、前記ＴＦＴ基板の端子部に形成した、接地電極と、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子と、前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記接地電極および前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープとを備えることを特徴とするものである。
【００１２】
本発明の液晶表示装置において、前記スイッチ素子を開状態または閉状態とする電位を供給する端子を備えても良い。
また、本発明の液晶表示装置において、前記スイッチ素子を、検査時に配線短絡状態(以後、閉状態と記載)とする電位を供給する端子、および製品時に配線断線状態(以後、開状態と記載)とする電位を供給する端子を備えてもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、前記スイッチ素子を開状態とする電位を供給する端子には、ドライバＩＣ搭載時に、ドライバＩＣから前記スイッチ素子を開状態とする電位を供給するようにしてもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、前記検査パッドを接地電極として利用してもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、独立した接地電極は設けないでもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、更に、導電性テープの貼り位置目印を備えてもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、前記信号線または走査線の一部には、スイッチ素子を介することなく、ＦＰＣ端子から直接結線してもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、複数の検査パッドの一部は前記導電性テープで覆われるとともに、他の一部は露出していてもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、ドライバ搭載時に、ドライバの下にある前記検査パッドには、前記スイッチ素子を設けないでもよい。
【００１３】
本発明の他の液晶表示装置は、マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるＴＦＴ基板と、カラーフィルタを備えるＣＦ基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入した液晶表示装置であって、前記ＣＦ基板の表面側に形成した透明電極と、前記ＴＦＴ基板の端子部に形成した、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子と、パネルを識別するためのレーザーナンバリングメタルと、前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープとを備えるとともに、前記検査パッドのメタルと前記レーザーナンバリングメタルとを近接して配置し、前記前記検査パッドのメタルに接続したＩＴＯが、前記ナンバリングメタル上を覆うように形成したことを特徴とするものである。
【００１４】
本発明の液晶表示装置において、前記検査パッドを接地電極として利用してもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、前記検査パッドのメタルと前記レーザーナンバリングメタルとが同じプロセスで形成されてもよい。
また、本発明の液晶表示装置において、横電界方式の液晶表示装置であってもよい。
【００１５】
本発明の液晶表示装置の製造方法は、マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線および信号線を備えるとともに、端子部に接地電極と、検査パッドと、前記検査パッドと前記信号線または走査線との間のスイッチ素子とを形成したＴＦＴ基板と、該ＴＦＴ基板と対向して配置される、カラーフィルタおよび表面側に透明電極を備えるＣＦ基板とからなる液晶表示パネルを用いる液晶表示装置の製造方法であって、検査時に、前記スイッチ素子を閉状態として前記検査パッドを用いて液晶表示パネルを検査するステップと、前記ＣＦ基板の前記透明電極と、前記ＴＦＴ基板の前記接地電極および前記検査パッドとを電気的に接続する導電性テープを貼り付けるステップと、を備えることを特徴とするものである。
【００１６】
本発明の液晶表示装置の製造方法において、更に、前記スイッチ素子を開状態として、液晶表示パネルを駆動するステップを備えてもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、樹脂塗布廃止時などに、露出する検査パッド部が導電性テープで保護されるので、表面に腐食を促進させる物質の付着などが防止され、検査パッド部の信頼性を向上することができる。また、導電性テープの貼り付け後、接地電極と検査パッドとが短絡するため、接地電極単体時よりも低抵抗化され、帯電電荷の抜けを促進することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施例１の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図２】本発明の実施例１の液晶表示装置の、Ｃ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図３】本発明の実施例１の液晶表示装置の変形例の、Ｃ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図４】本発明の実施例１の液晶表示装置の変形例の、Ｃ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図５】本発明の実施例２の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図６】本発明の実施例３の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図７】本発明の実施例４の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図８】本発明の実施例５の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図９】本発明の実施例６の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図１０】本発明の実施例６の液晶表示装置の構造を示す断面図である。
【図１１】従来の液晶表示装置の構造を示す平面図である。
【図１２】従来の液晶表示装置の構造を示す、Ａ−Ａ’線に沿う断面図である。
【図１３】従来の液晶表示装置の構造を示す、Ｂ−Ｂ’線に沿う断面図である。
【図１４】液晶表示装置の等化回路の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
本発明の実施の形態を説明する前に、従来の液晶表示装置について説明する。
【００２０】
先ず、図１４に、液晶表示装置の等化回路の一例を示す。基板２０１上に複数の走査線２０４と複数の信号線２０３がマトリクス状に配線され、走査線２０４と信号線２０３の各交点にはＴＦＴ素子２１０を介して画素２０６が接続されている。走査線２０４と信号線２０３には、それぞれ走査駆動回路２０８および信号駆動回路２０７が接続され、走査線２０４および信号線２０３に電圧を印加する。基板２０１上には走査線２０４に平行にコモン線２０５を配設し、全ての画素にコモン電圧発生回路２０９からコモン電圧を印加できるようになっている。基板２０１と基板２０２との間には液晶組成物が封入されており、全体として液晶表示装置を構成している。
【００２１】
図１１乃至図１３は、本発明に先立って検討した液晶表示パネルの一例を示す図である。図１１は平面図を、図１２は、Ａ−Ａ’線に沿う断面図を、図１３は、Ｂ−Ｂ’線に沿う断面図を示す。
【００２２】
図において、液晶表示パネルは、ＴＦＴ（薄膜トランジスタ）基板１０とＣＦ(カラーフィルタ）基板２０とを貼り合わせて、それらの間に液晶を封入して構成されている。そして、例えば横電界方式の液晶表示パネルの場合においては、ＣＦ基板２０の裏面（液晶表示パネルの表面側）にＩＴＯなどの透明電極３０を形成している。また、ＴＦＴ基板１０には、端子部８０に、ＩＰＳ−ＧＮＤと呼ばれる露出した接地電極４０を形成し、ＦＰＣ端子などに接続することにより例えば接地電位に接続している。導電性樹脂または導電性テープ５０で、透明電極３０と接地電極４０とを電気的に接続する。これにより、ＣＦ基板２０にチャージした電荷を、接地電極４０を介して逃がすことができる。符号２５は、液晶表示パネルの表示領域を示す。
【００２３】
ＴＦＴ基板１０の端子部８０には、液晶表示パネルの検査のための検査パッド６０が設けられている。符号９０は、ドライバ搭載位置を示す。低解像度の製品では、検査パッドをドライバの下に配置して信頼性を確保していたが、解像度が上がると、ドライバ下に全ての検査パッドを配置することが困難となり、一部はドライバ外に配置することとなる。従来、端子部には保護目的で樹脂などを塗布していたが、モジュール構造や原価低減のために樹脂が塗布されないケースがあり、その場合、ドライバ外に配置された検査パッドは露出したままとなり、コンタクト部の腐食の懸念や電界も露出した状態となり、好ましくない。
【００２４】
図１３には、検査パッド６０と接地電極４０の配置構造の一例が示されている。ＴＦＴ基板１０を構成するガラス基板１２上に絶縁膜１４が設けられ、その上に金属膜から成る検査パッド６０の配線層および導電性テープ貼り位置目印４５が形成される。検査パッドの配線層上には、絶縁膜１６が設けられ、その上にＩＴＯからなる接地電極４０が形成される。接地電極４０と導電性テープ貼り位置目印４５とは、位置を合わせて配置されており、導電性テープ貼り位置目印４５が導電性テープ６０を貼り付ける際の目印となる。検査パッド６０上の絶縁膜１６には孔が空けられ、孔の内部から絶縁膜１６の表面にかけて検査針を当てるための検査パッドのＩＴＯ層６２が形成されている。なお、絶縁膜１４および絶縁膜１６は、無機膜でも、有機膜でも、或いは両者の積層膜でも良く、また、絶縁膜１４は設けなくても良い。
【００２５】
この液晶パネルにおいては、検査パッドがドライバ下に配置されておらず、検査パッド上に樹脂などが塗布されない場合、検査パッド部がむき出しの状態となって、コンタクト部の腐食などの信頼性の懸念が生じる。
【００２６】
以下に、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する要素には同一の名称、符号を付して、その繰り返しの説明を省略する。
【実施例１】
【００２７】
図１および図２に、本発明の実施例１の液晶表示装置の構造を示す。図１はその平面図を、図２はＣ−Ｃ’線に沿う断面図を示す。
【００２８】
図１において、液晶表示パネルは、ＴＦＴ基板１０とＣＦ基板２０とを貼り合わせて、それらの間に液晶を封入して構成されている。そして、ＣＦ基板２０の裏面（液晶表示パネルの表面側）にはＩＴＯなどの透明電極３０（図示せず）が形成されている。符号２５は、表示領域を示す。
【００２９】
ＴＦＴ基板１０の端子部８０には、検査パッド６０および例えばＩＰＳ−ＧＮＤと呼ばれる露出した接地電極４０が形成されている。検査パッド６０および接地電極４０は、ＦＰＣ端子１００に配線されている。端子部８０のドライバ搭載位置９０には、例えばトランジスタからなる検査線無効用スイッチ素子７０が設けられ、検査パッド６０に配線されるとともに、液晶表示パネルの信号線あるいは走査線に接続されている。また、検査時Ｈｉｇｈ電位供給用パッド７２およびドライバ搭載時Ｌｏｗ電位供給用バンプ７４が、検査線無効用スイッチ素子７０に、例えばスイッチ素子を構成するＭＯＳトランジスタのゲートに接続されている。なお、ドライバ搭載位置９０には、ドライバＩＣが搭載され、バンプによりＴＦＴ基板上の配線に電気的に接続される。
【００３０】
図２に示される断面図において、ＴＦＴ基板１０を構成するガラス基板１２上に絶縁膜１４が設けられ、その上に金属膜からなる検査パッド６０の配線層が形成される。検査パッドの配線層上には、絶縁膜１６が設けられ、その上にＩＴＯからなる接地電極４０が形成される。検査パッド６０上の絶縁膜１６には孔が空けられ、孔の内面から絶縁膜１６の表面にかけて検査針を当てるための検査パッドのＩＴＯ層６２が形成されている。そして、本実施例においては、図１および図２に示すように、接地電極４０と検査パッド６０の露出したＩＴＯ層を覆うように、かつ、ＣＦ基板の透明電極３０と電気的に接続するように、導電性テープ５０が貼り付けられる。
【００３１】
実施例１の検査時およびその後の製品時（ドライバ搭載時）の動作を説明する。検査時においては、導電性テープ５０およびドライバは取り付けられていない。検査時Ｈｉｇｈ電位供給用パッド７２にＨｉｇｈ電位が供給されて、検査線無効用スイッチ素子７０により、検査パッドと信号線や走査線などとが電気的に接続され、検査パッド６０にプローブ等を接触させることにより、液晶表示パネルの信号線や走査線などの検査を行うことができる。検査終了後、良品と判断されると、接地電極４０および検査パッド６０の表面に導電性テープ５０を貼り付け、ＣＦ基板表面の透明電極と接続するとともに、ドライバ搭載位置９０にドライバＩＣを取り付ける。ドライバを動作させると、ドライバ搭載時Ｌｏｗ電位供給バンプ７４にＬｏｗ電位が供給され、検査線無効用スイッチ素子７０により、検査パッド６０が信号線や走査線などから切り離され、ドライバから信号線および走査線に信号を供給することができる。なお、Ｌｏｗ電位供給用バンプ７４にドライバからＬｏｗ電位を供給するようにしたが、ＦＰＣからＬｏｗ電位を供給するようにしてもよい。また、検査時Ｈｉｇｈ電位供給用パッド７２とドライバ搭載時Ｌｏｗ電位供給バンプ７４とを別の端子としたが、１つの端子から検査時にＨｉｇｈ電位を、また、製品時にＬｏｗ電位を供給するようにしてもよい。
【００３２】
本実施例によれば、検査終了後のドライバ搭載時には、検査線無効用スイッチ素子７０がオープン状態となるので、接地電極４０と露出した検査パッド６０とを導電性テープ５０で同電位に繋いでも、駆動には影響が出ない。したがって、接地電極４０と検査パッド６０に導電性テープ５０を貼り付けることにより、端子部において露出した検査パッド６０を導電性テープ５０で保護することができる。更に、検査パッド６０も導電体として働くことにより、接地電極の低抵抗化を実現することができ、帯電電荷の抜けを促進することができる。
【００３３】
図３に、実施例１の変形例を示す。この変形例では、導電性テープの貼り位置目印４５が形成されている。貼り位置目印４５は、検査パッド６０の金属膜の形成と同時に形成すれば良い。貼り位置目印４５に基づいて、検査パッド６０および接地電極４０上に導電性テープ５０を貼り付けることができる。なお、図１３に示される、接地電極４０に対応する目印があっても良い。
【００３４】
図４に、実施例１の他の変形例を示す。この変形例では、接地電極４０を取り除き、検査パッドのみを接地電極として利用したものである。検査終了後、検査パッド６０は検査線無効用スイッチ素子７０により切り離されるので、接地電極として利用することができる。接地電極４０のスペースが不要となり、液晶表示パネルの小型化、狭額縁化を図ることができる。
【実施例２】
【００３５】
図５に、本発明の実施例２の液晶表示装置の平面図を示す。
【００３６】
この実施例では、図に示すように、ドライバ搭載位置９０の右側および左側に検査パッド６０および検査線無効用スイッチ素子７０が配置され、検査線無効用スイッチ素子７０はそれぞれ検査パッド６０と信号線７６に接続されている。そして、検査パッド６０とＣＦ基板の表面の透明電極３０とを接続するように、左右それぞれに導電性テープ５０が貼り付けられている。
【００３７】
検査パッドを接地電極と兼用する場合に、複数の導電性テープを用いることにより、低抵抗化を図ることができる。
【実施例３】
【００３８】
図６に、本発明の実施例３の液晶表示装置の平面図を示す。
【００３９】
この実施例は、検査パッド６０および検査線無効用スイッチ素子７０に接続される結線が、一部異なるものである。左側のＦＰＣ端子１００に接続された検査パッド６０には、検査線無効用スイッチ素子７０が接続され、信号線７６に接続されている。そして、ドライバ搭載時には、検査線無効用スイッチ素子７０がオープン状態となり、ドライバＩＣと信号線７６とが接続される。
【００４０】
これに対して、右側のＦＰＣ端子１０２は、検査線無効用スイッチ素子７０を介することなく、信号線に接続されている。この信号線にはドライバの出力が供給されることはなく、ＦＰＣ端子１０２から信号を供給することができる。したがって、ＦＰＣ出力から信号を供給するタイプにも使用することができる。
【実施例４】
【００４１】
図７に、本発明の実施例４の液晶表示装置の平面図を示す。
【００４２】
この実施例は、図５に示される実施例２の検査パッド６０、検査線無効用スイッチ素子７０および信号線７６の配置において、右側の検査パッド６０上には導電性テープ５０を貼り付けるが、左側の検査パッド６０上には導電性テープを貼り付けることなく、一部の検査パッド上に選択して導電性テープを設けたものであり、導電テープの部材数を抑え、発明の効果のひとつである帯電電荷の抜けを促進することができる。
【実施例５】
【００４３】
図８に、本発明の実施例５の液晶表示装置の平面図を示す。
【００４４】
この実施例は、検査線無効用スイッチ素子が接続された検査パッドと、接続されない検査パッドとが混在した例である。右側の検査パッド６０はドライバ搭載位置９０の外に設けられており、検査無効用スイッチ素子７０が接続されている。そして、検査パッド上には、導電性テープ５０が貼り付けられている。
【００４５】
これに対し、左側の検査パッド６０は、ドライバ搭載位置９０に設けられ、この検査パッドには検査無効用スイッチ素子が接続されることなく、直接信号線に接続されている。そして、導電性テープが貼り付けられることはない。
【実施例６】
【００４６】
図９および図１０に、本発明の実施例６の液晶表示装置の構造を示す。図９はその平面図を、図１０はＤ−Ｄ’線に沿う断面図を示す。
【００４７】
この実施例は、検査パッド６０と、接地電極４０と、レーザーナンバリングメタル１１０の配置構造を改良したものである。ここで、レーザーナンバリングメタルは、液晶表示パネルの識別のための識別記号などを記録する金属層である。図に示されるように、ＴＦＴ基板１０を構成するガラス基板１２上に絶縁膜１２を設け、絶縁膜１２の表面に検査パッド６０のメタル膜とレーザーナンバリングメタルとを近接して、蒸着などで形成する。検査パッドのメタル膜およびレーザーナンバリングメタルを覆うように、絶縁膜１６を形成する。そして、検査パッドのメタル膜の上部の絶縁膜１６に孔を空け、孔の内部から絶縁膜１６の表面にかけてＩＴＯ６２の透明電極を形成する。ＩＴＯ６２は、検査パッド領域を含む導電性テープのテープ貼り領域に加えて、レーザーナンバリングメタル１１０上のナンバリング領域にも形成する。
【００４８】
導電性テープ５０は、検査パッド領域を含む導電性テープのテープ貼り領域に貼り付ける。そして、レーザーナンバリングメタル１１０上のナンバリング領域には、導電性テープ５０を貼り付けないで、レーザーナンバリングメタル１１０の視認性を確保する。なお、検査線無効用スイッチ素子７０、検査時Ｈｉｇｈ電位供給用スイッチ素子７２、ドライバ搭載時Ｌｏｗ電位供給用バンプ７４等の構成は、実施例１と同様である。
【００４９】
本実施例によれば、検査パッドのメタルとレーザーナンバリングメタルとを近接して配置し、同じメタル膜のプロセスで形成することにより、省スペース化および製造の容易化を図ることができる。また、検査パッドのＩＴＯ層を接地電極４０として利用することにより、省スペース化および製造の容易化を図ることができる。
【符号の説明】
【００５０】
１０  ＴＦＴ基板
２０  ＣＦ基板
２５  表示領域
３０  透明電極
４０  接地電極（ＩＰＳ−ＧＮＤ）
４５  導電性テープ貼り位置目印
５０  導電性テープ
６０  検査パッド
７０  検査線無効用スイッチ素子
７２  Ｈｉｇｈ電位供給用パッド
７４  Ｌｏｗ電位供給用バンプ
７６  信号線
８０  端子部
９０  ドライバ搭載位置
１００，１０２  ＦＰＣ端子
１１０  レーザーナンバリングメタル
【図１】
2014085424.tif 000003
【図２】
2014085424.tif 000004
【図３】
2014085424.tif 000005
【図４】
2014085424.tif 000006
【図５】
2014085424.tif 000007
【図６】
2014085424.tif 000008
【図７】
2014085424.tif 000009
【図８】
2014085424.tif 000010
【図９】
2014085424.tif 000011
【図１０】
2014085424.tif 000012
【図１１】
2014085424.tif 000013
【図１２】
2014085424.tif 000014
【図１３】
2014085424.tif 000015
【図１４】
2014085424.tif 000016