(57)【要約】【課題】未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいはサーテファイアを提供することにある。【解決手段】この発明は、ライト終了位置からさらにリードヘッドとライトヘッドとの位置ずれ量とディスクの周速とで決定される書きつなぎ領域を越える領域に亙ってテストバースト信号のオーバライトをするようにしているので、ライト開始時点に書かれたテストバースト信号にオーバライトをした信号部分が実質的に重ね書きされた状態になり、書きつなぎ領域の幅を低減することができる。これにより検査禁止領域が低減される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ヘッドにより磁気ディスクを走査して所定のトラックにテスト信号を書込み、前記所定のトラックから前記テスト信号を読出すことで前記磁気ディスクの検査をする磁気ディスク検査方法において、
前記所定のトラックにトラック１周分の前記テスト信号を書込みさらに前記トラック１周分を越えてオーバライトをするテスト信号書込段階と、
前記オーバライトの書込終了時点を基準としてその前後に亙って所定の幅で前記所定のトラックに対して検査禁止領域を設定して前記所定のトラックから前記テスト信号の読出をするテスト信号読出段階とを備え、
前記検査禁止領域は、前記オーバライトにより前記テスト信号の書き終わりの信号と書き始め側の信号とが接続され、前記テスト信号の波形が変形した部分を含むように設定することを特徴とする磁気ディスク検査方法。
【請求項２】
前記テスト信号の波形が変形した部分は、書込終了時点における数ビット乃至数十ビット分の幅であることを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク検査方法。
【請求項３】
磁気ヘッドにより磁気ディスクを走査して所定のトラックにテストデータを書込み、前記所定のトラックから前記テストデータを読出すことで前記磁気ディスクの検査をする磁気ディスク検査装置において、
データ書込／読出回路とエラー検出回路と欠陥検出処理装置とを有し、
前記欠陥検出処理装置は、前記データ書込／読出回路を介して前記所定のトラックにトラック１周分の前記テストデータを書込みさらに前記トラック１周分を越えてオーバライトをする処理をし、このオーバライトの書込終了時点を基準としてその前後に亙って所定の幅で前記所定のトラックに対して検査禁止領域を設定して前記データ書込／読出回路を介して前記所定のトラックから前記テストデータの読出をする処理をし、
前記検査禁止領域は、前記オーバライトにより前記テストデータの書き終わりのデータと書き始め側のデータとが接続され、前記テストデータの波形が変形した部分を含むように設定することを特徴とする磁気ディスク検査装置。
【請求項４】
前記テストデータの波形が変形した部分は、書込終了時点における数ビット乃至数十ビット分の幅であることを特徴とする請求項３に記載の磁気ディスク検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、磁気ディスクの検査方法および磁気ディスク検査装置に関し、詳しくは、磁気ディスクサーテファイア（以下サーテファイア）において、未検査エリアとなる検査トラックにおけるテスト信号の書きつなぎ領域（テスト信号の書き終わりとその書き始めとをつなぐ領域）を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出エラーを低減することができるようなサーテファイアに関する。 
【背景技術】
【０００２】
コンピュータシステムに使用されるハード磁気ディスク（以下単に磁気ディスクまたはディスクという）は、磁気媒体に異常があると書込データまたは読出データにエラーが発生するので、サーテファイアにより所定のテストデータ、例えば、ＦＦｈのデータをディスクの所定のトラック上に書込み、それを読出して、磁気媒体の良否をサーテファイ（評価）している。
なお、前記のＦＦｈのｈは１６進を示すものでＦＦｈは、オール“１”のビットのデータを意味する。そして、この種の特定周波数信号のテストデータは、テストバースト信号と呼ばれている。
【０００３】
サーテファイアにより検出するビットエラーには、ビットの消失、いわゆるミッシングエラー（所定の閾値以下のレベルとなったビットを含む）と、ビットの飛び出し（スパイク）によるスパイクエラー、ポジティブモジュレーションエラー、ネガティブモジュレーションエラーなどがある。また、これらとは別に、データを消去した状態においてビットが読出されるか否かを検出し、このとき検出されるエラーをエキストラ（湧きだし）エラーとしている。
ディスクドライブでは、データの書込みには、コイル形式の磁気ヘッド（インダクティブヘッド）が使用され、読出しにはＭＲヘッドが使用されている。これら書込ヘッドと読出ヘッドとは組合わせヘッド（複合ヘッド）として一体化され、ディスク記録密度は日々向上している。
【０００４】
ディスクの欠陥検査には、各トラックに沿って同心円状に磁気ヘッドをシーク（このときのシークはディスクを回転させた状態でヘッドキャリッジをトラック対応にステップ移動させるものである。）させてディスクを走査して欠陥を検出する同心円検査と呼ばれるものと、ディスクに対して磁気ヘッドを渦巻き状にシーク（このときのシークはヘッドキャリッジを連続的にディスクの半径方向に移動させるものである。）させてディスクを走査して欠陥を検出するスパイラル検査と呼ばれるものとがある。
前者は、通常、ディスクを全面検査するのに時間がかかり、検査効率が悪い。しかも、最近では、検査トラック数が増大し、ディスクの品質も向上している。実際には、欠陥を持つトラックは、多くても全トラックの１／１０乃至１／１００程度の１００本乃至２００本程度である。そのため、検査トラックを一部間引いて行う間引き同心円検査や後者のスパイラル検査が行われることが多い。なお、後者のスパイラル検査においても間引きピッチでスパイラル検査が行われることもある（特許文献１，２，３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−２７５４３４号公報
【特許文献２】特開２０００−５７５０１号公報
【特許文献３】特開２０００−５７５０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
同心円検査では、１トラックにテストバースト信号を書き込む際に回転基準位置を示すインデックス信号（あるいはセクタ信号）に応じて書き始め、インデックス信号（あるいは１周後のセクタ信号）に応じて１トラック分のテストバースト信号を書き終える。その結果、テストバースト信号の書き始めの位置と書き終わりの位置との間には書きつなぎ領域が発生する。
この書きつなぎ領域は２つの理由で発生する。第１にディスクが回転しているので、１回転ごとに周速が微量に変化し、書き始めの位置と書き終わりの位置が完全に一致していないこと、第２に読出ヘッド（リードヘッド）と書込ヘッド（ライトヘッド）との間に所定量の位置のずれ（３μｍ〜５μｍ）があることである。
そのため、たとえ、書き始めの位置と書き終わりの位置が同じ位置になるように磁気ヘッドを制御したとしてもリードヘッド分の読出信号のずれは必ず生じる。周速が微小に変化するなかで、リードヘッドとライトヘッドとの位置のずれ量を補正するような制御は実際には難しい。そこで、結果的に図４（ａ）に示すような書きつなぎ領域Ｃとして読出信号に示すトラックの領域が、トラック１周分の読出信号に必ず発生してしまうのが現状である。なお、図４は、従来の検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの説明図である。
【０００７】
ディスクのサーテファイアにおいて、書きつなぎ領域Ｃを検査すると、書きつなぎ領域Ｃはエラーとして検出される。そのため、図４（ａ）の読出信号の書きつなぎ領域Ｃをカバーする幅でウインドウを設けた検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）１４を発生させて、磁気ディスク上のトラックの一部（書きつなぎ領域Ｃ）を未検査領域としている。なお、インヒビットゲート信号１４あるいは後述するインヒビットゲート信号１８は、ロウレベル（“Ｌ”）が有意であり、この期間の間が検査禁止期間とされる。この期間の間は、テスト信号を読み出す書込／読出回路（その読出回路）の読出動作を禁止して読出信号自体を無効にする。
図４（ａ）に示す１１はインデックス信号、１２はライトゲート信号、１３は、１トラックに書込まれたテストバースト信号の読出信号、１４は、インヒビットゲート信号である。１５は、リードゲート信号であるが、これはライトゲート信号１２の反転信号として発生させることができる。
なお、トラック１周分のテストバースト信号の書込みは、インデックス信号１１ではなくセクタ信号を基準として行い、１周後にくる同じセクタ信号で書込みを終了することができる。後に説明するこの発明の実施例もその例である。
【０００８】
ディスクの欠陥検査に際して検査禁止期間として決定される書きつなぎ領域Ｃの幅は、ディスクが回転するときの周速の最大変化量とリードヘッドとライトヘッドとの位置のずれを考慮して、検査トラックに対して最大幅に採られるのが普通である。そこで、従来のインヒビットゲート信号１４のウインドウは、書き終わり（ライト終了）時点を基準として、ディスクの回転数とディスクの周速に応じて最大幅の書きつなぎ領域Ｃに対して設定される。
図４（ｂ）は、ＭＲヘッドの位置関係の説明図であり、図４（ｂ）に示すリードヘッドとライトヘッドとの位置のずれ量をＡ［ｍ］とすると、インヒビットゲート信号１４のウインドウ幅［sec］は、Ａ［ｍ］／周速［ｍ／sec］＜Ｗ［sec］という関係が成立するように選択される。なお、Ｗはインヒビットゲート信号のウインドウ幅である。
ディスクの回転数が２０００ｒｐｍ〜３０００ｒｐｍ（これは半径２０ｍｍ程度のディスクの周速に換算すると４．１ｍ／sec〜６．３ｍ／secの周速になる。）の範囲にあって、かつリードヘッドとライトヘッドとの位置のずれ量Ａが３μｍ〜５μｍの範囲にあると仮定すると、この条件下でのウインドウ幅は１．５μsec程度になる。これが現在設定されている通常のウインドウ幅Ｗである。
【０００９】
ところで、１トラックの記録密度が向上すると、未検査領域の１．５μsecの幅に記録される分の情報量は大きくなる。そこで、ディスクの品質を保証するために未検査領域の幅をできるだけ低減せよとの要請がある。しかし、未検査領域の幅を狭くすると、欠陥誤検出エラーが多くなり、それにより再検査ディスクが増加して結果として検査効率全体が落ちる問題がある。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減し、かつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいは磁気ディスク検査装置を提供することにある。 
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、磁気ヘッドにより磁気ディスクを走査して所定のトラックにテスト信号を書込み、前記所定のトラックから前記テスト信号を読出すことで前記磁気ディスクの検査をする磁気ディスク検査方法において、前記所定のトラックにトラック１周分の前記テスト信号を書込みさらに前記トラック１周分を越えてオーバライトをするテスト信号書込段階と、前記オーバライトの書込終了時点を基準としてその前後に亙って所定の幅で前記所定のトラックに対して検査禁止領域を設定して前記所定のトラックから前記テスト信号の読出をするテスト信号読出段階とを備え、前記検査禁止領域は、前記オーバライトにより前記テスト信号の書き終わりの信号と書き始め側の信号とが接続され、前記テスト信号の波形が変形した部分を含むように設定することを特徴とする。
【００１１】
また本発明は、磁気ヘッドにより磁気ディスクを走査して所定のトラックにテストデータを書込み、前記所定のトラックから前記テストデータを読出すことで前記磁気ディスクの検査をする磁気ディスク検査装置において、データ書込／読出回路とエラー検出回路と欠陥検出処理装置とを有し、前記欠陥検出処理装置は、前記データ書込／読出回路を介して前記所定のトラックにトラック１周分の前記テストデータを書込みさらに前記トラック１周分を越えてオーバライトをする処理をし、このオーバライトの書込終了時点を基準としてその前後に亙って所定の幅で前記所定のトラックに対して検査禁止領域を設定して前記データ書込／読出回路を介して前記所定のトラックから前記テストデータの読出をする処理をし、前記検査禁止領域は、前記オーバライトにより前記テストデータの書き終わりのデータと書き始め側のデータとが接続され、前記テストデータの波形が変形した部分を含むように設定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
この発明にあっては、リードヘッドとライトヘッドとの位置ずれ量とディスクの周速とで決定される書きつなぎ領域Ｃ（図４（ａ）参照）を越える領域に亙って、ライト終了位置からさらにテストバースト信号のオーバライトをする。そこで、ライト開始時点から書かれたテストバースト信号の一部は、ライト開始時点を越えるところがオーバライトされ、その部分の信号が実質的に重ね書きされた状態になる。この重ね書きにより従来の書きつなぎ領域Ｃはなくなる。
通常、磁気ディスクは、トラックに重ね書きして新しいでデータを記録することで、そのトラックにデータが重ね書きされた場合には、そのデータの読出信号は、実質的に新しいでデータに対応する信号が強いレベルで発生する。そのため、ライト開始エリアに書かれたテストバースト信号とオーバライトにより書込終了時点のテストバースト信号との関係は、書込終了時点で数ビット乃至数十ビット分の波形が変形した状態で書き終わりの信号と書き始め側の信号とが接続されることになる。しかも、オーバライトによるこの波形が変形した部分は新しく書きつなぎ領域となる。そこで、この波形が変形した書きつなぎ領域だけを未検査領域としてインヒビットすればよい。
【００１３】
波形が変形した部分（新しく発生した書きつなぎ領域）は、リードヘッドとライトヘッドとの位置のずれにほとんど影響されずにかつ書きつなぎ領域Ｃの幅より幅が狭くなり、ディスクの周速にもよるが、それは、０．５μsecより小さい幅となる。
ディスクの回転数が２０００ｒｐｍ〜３０００ｒｐｍ（前記したように半径２０ｍｍ程度のディスクの場合には周速４．１ｍ／sec〜６．３ｍ／sec）の範囲にあって、かつ、リードヘッドとライトヘッドとの位置のずれ量Ａが３μｍ〜５μｍの範囲にあると仮定すると、この条件下でのインヒビットゲート信号は、オーバライトを終了した時点を基準として前後０．５μsec程度の幅のウインドウで済む。しかし、実際上のウインドウ幅は、書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減する意味から前記より幅が大きくなるが、それでも幅は１μsec程度まで狭くすることができるので、その分、未検査領域が狭くなる。
その結果、この発明は、検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域として発生する未検査エリアを低減することができ、かつ、サーテファイアにおいてエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】この発明を適用したサーテファイアの一実施例の構成図である。
【図２】（ａ）は、検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの一例の説明図、そして（ｂ）は、検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの他の具体例の説明図である。
【図３】インヒビットタイミングテーブルである。
【図４】（ａ）は、従来の検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの説明図、そして（ｂ）は、ＭＲヘッドの位置関係の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１は、この発明を適用したサーテファイアの一実施例の構成図、図２（ａ）は、検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの一例の説明図、そして図２（ｂ）は、検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）の発生タイミングの他の具体例の説明図、そして図３は、インヒビットタイミングテーブルである。
図１において、検査装置５は、磁気ディスク１が回転機構２のスピンドル２ａに装着されて回転し、スピンドル２ａの回転状態を検出するロータリエンコーダ２ｂが、磁気ディスク１の回転基準位置（インデックス信号、以下ＩＮＤＸ）を示すパルスとこれよりの回転角度θ（＝磁気ディスクの回転量）を示すパルスとを発生して、これらパルスを後述の書込／読出制御ユニット５１、エラー検出ユニット５２と欠陥検出処理・制御装置５４とに送出する。
検査装置５による欠陥検査においては、回転する磁気ディスク１に対して、検査装置５の欠陥検出処理・制御部５４は、その内部に設けられたＭＰＵ（マイクロプロセッサ）５４１が書込／読出制御ユニット５１に対して磁気ディスク半径方向の移動速度としてのテストピッチとテストバースト信号、例えば、前記したＦＦｈのデータを送出する。
なお、インデックス信号ＩＮＤＸに同期して１周を所定数分割した各セクタ対応の各セクタ信号もロータリエンコーダ２ｂから発生するが、この各セクタ信号は、インデックス信号ＩＮＤＸを受けたＭＰＵ５４１が１周分を等分割の処理をすることで、ソフトウエア処理にて欠陥検出処理・制御部５４内部で発生させて前記の各回路に送出してもよい。
【００１６】
書込／読出制御ユニット５１は、これにヘッドキャリッジ位置制御回路が内蔵されていて、ヘッドキャリッジ６を駆動してそれにより磁気ディスク１上の半径方向に沿って与えられたテストピッチに対応する所定の移動速度で磁気ヘッド３をシークさせて、所定のテストトラックに位置決めする。また、書込／読出制御ユニット５１は、書込み側のインダクティブ磁気ヘッド３ａに与えられたテストバースト信号を所定の電流値の信号に変換して、これを所定のタイミングでインデックス信号ＩＮＤＸあるいはセクタ信号に同期させて書込／読出回路５０の書込回路へと送り、これを介して磁気ヘッド３を駆動してテストバースト信号の書込処理をする。
これにより、回転基準位置を示すインデックス信号ＩＮＤＸあるいはセクタ信号を書込／読出制御ユニット５１が受けて、それを起点として同心円検査で複数のトラックを検査するものであるが、この場合、１つの検査トラックに対してテストバースト信号が書込まれ、さらに１周分の書込の後に書きつなぎ領域を越える領域Ｃに亙って、テストバースト信号のオーバライトがここでは行われる。続いて、テストバースト信号の読出が磁気ヘッド３の読出ＭＲヘッドにより開始される。
なお、図４（ｂ）に示すように磁気ヘッド３には、インダクティブ磁気ヘッド（ライトヘッド）３ａとＭＲヘッド（リードヘッド）とが一体的に組込まれている。また、ロータリエンコーダ２ｂの出力は、書込／読出制御ユニット５１のほかにエラー検出ユニット５２と欠陥検出処理・制御部５４に入力されている。
ところで、裏面側にも磁気ヘッドがあるが、これについては前記磁気ヘッド３と同様なものであるので、図では省略してある。
【００１７】
磁気ヘッド３により読出されたテストバースト信号は、書込／読出回路５０に加えられ、書込／読出回路５０の読出回路を経てエラー検出ユニット５２に読出信号として送出されてここでエラー検出が行われる。エラー検出ユニット（エラー検出回路）５２で検出されたエラービットデータは、検査装置５の欠陥検出処理・制御部５４に送出され、ここでエラービットデータに基づいて欠陥検出のための所定の解析とデータ処理とが行われる。
欠陥検出処理・制御部５４は、ＭＰＵ５４１、メモリ５４２、ＣＲＴディスプレイ５４３、キーボード５４４等からなり、これらがバス５４５により相互に接続されていて、メモリ５４２には、欠陥データ採取プログラム５４２ａと、検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂと、オーバライト／リードプログラム５４２ｃと、欠陥分類プログラム５４２ｄ、ディスク合否判定プログラム５４２ｅが格納され、インヒビットタイミングテーブル５４２ｆ、そしてパラメータ領域５４２ｇ等が設けられている。
【００１８】
ＭＰＵ５４１は、欠陥データ採取プログラム５４２ａを実行して所定の検査トラックに磁気ヘッド３を位置決め後に、オーバライト／リードプログラム５４２ｃをコールして１周分＋書きつなぎ領域Ｃを越える領域分についてテストバースト信号を検査トラックに書いて、続いてテストバースト信号のリードに入り、書込トラックの検査をする。これにより同心円検査で複数のトラックを走査して、磁気ディスク１の全トラックあるいは所定のトラックを検査する。
このときの各トラックの検査では、後述する検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂが実行されてオーバライトに応じてインヒビットゲート信号１８が書込／読出回路５０（その読出回路）に送出されて、書きつなぎ領域Ｃの位置とは異なる位置でかつ書きつなぎ領域Ｃの幅より狭い幅で読出回路のテスト信号の読出信号を無効にする。
検出された欠陥の信号は、検出された座標値とともにメモリの作業領域に欠陥データ（この欠陥データは各種の欠陥に応じたそれぞれデータである。）として記憶される。なお、欠陥検出の座標値は、ロータリエンコーダ２ｂからのパルスを受ける欠陥検出処理・制御部５４がその内部で磁気ヘッド３の位置決め制御に応じて算出される。
ＭＰＵ５４１は、前記の１周分＋書きつなぎ領域Ｃを越える領域分についてのテストバースト信号のオーバライト終了時点で、このオーバライト／リードプログラム５４２ｃの実行と並行して検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂをコールして、これらプログラムを並行してタスク処理で実行する。
なお、ここでの欠陥データとしては、スパイクエラー、ポジティブモジュレーションエラー、ネガティブモジュレーションエラー、ミッシングエラー、エキストラエラー等のエラーとして検出される各種の欠陥のすべてを対象とする。
【００１９】
図２は、ＭＰＵ５４１の検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂの実行による、オーバライトに応じたインヒビットゲート信号（検査禁止ゲート信号）の発生タイミングの説明図である。なお、１６はライト開始セクタ信号、１７は、１トラックに書込まれたテストバースト信号の読出信号、１８，１８ａ，１８ｂは、それぞれインヒビットゲート信号である。
図２（ａ）に示すように、ＭＰＵ５４１は、オーバライト／リードプログラム５４２ｃの実行により、最初のライト開始セクタ信号１６からテストバースト信号の書込みを開始して、１周後のライト開始セクタ信号１６を基準として時間カウントを開始してライト開始セクタ信号１６を越えてこれから期間Ｔだけ検査トラックにおいてテストデータのオーバライトをする。
このオーバライト期間Ｔは、パラメータ領域５４２ｇに記憶されていて、例えば、１０μsecである。これは、通常の書きつなぎ領域Ｃの読出信号が得られる時間１．５μsecを越える領域まで書込む時間に対応している。ここでは、読出信号相当分の時間として１０μsecに亙ってテストバースト信号をオーバライトする。すなわち、ＭＰＵ５４１は、１周分ライト終了時点からさらに１０μsec走査後に磁気ヘッド３によるライトを終了する。
その結果、図２（ａ）に示すように新しい書きつなぎ領域Ｃｓがライト終了時点（１周前のライト開始時点）から１０μsec後に移動する。このときには従来の書きつなぎ領域Ｃは、ライト開始セクタ信号１６から書込まれたテストバースト信号に対してオーバライトされることでなくなり、このオーバライトにより数ビット乃至数十ビット分程度の波形が変形した接続状態が、書きつなぎ領域Ｃｓとして新しく発生する。
【００２０】
そこで、この書きつなぎ領域Ｃｓをインヒビットすればよいことになる。波形が変形した部分の書きつなぎ領域Ｃｓは、図４の書きつなぎ領域Ｃとは別の位置となり、書きつなぎ領域Ｃより幅が狭く、それは、図２（ａ）の書きつなぎ領域Ｃｓで示されるように０．５μsecより小さい幅である。
そこで、ディスクの回転数が２０００ｒｐｍ〜３０００ｒｐｍ（周速４．１ｍ／sec〜６．３ｍ／sec）の範囲でリードヘッドとライトヘッドとの位置のずれ量Ａが３μｍ〜５μｍの範囲におけるインヒビットゲート信号は、オーバライトを終了した時点を基準として設定されることになる。その幅は前後０．５μsec程度で済み、書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減する点を考慮しても最大でも１μsec程度までの狭い幅にできる。
【００２１】
ＭＰＵ５４１は、検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂの実行により、図２（ａ）に示すインヒビットゲート信号１８を書込／読出回路５０に対して発生してその読出回路の読出信号を無効にする。このとき、インヒビットゲート信号１８は、ＭＰＵ５４１がライト開始セクタ信号１６を受けて、このライト開始セクタ信号１６から時間カウントをして、９．５μsecから１０．５μsecの１μsecの幅のウインドウ信号として発生する。なお、この９．５μsecから１０．５μsecのタイミングで発生させるウインドウ期間は、オーバライト期間Ｔに対応してパラメータ領域５４２ｇに記憶されている。
その結果、トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域として発生する未検査エリアを、１．５μsecから１．０μsecに低減することができる。その領域は、少なくとも従来よりも０．５μsec分は低減できる。しかも、周速が５．０ｍ／secと前記よりも大きくなれば、実質的に２．５μｍ分領域未検査領域分を低減することができる。
【００２２】
図２（ｂ）は、オーバライト終了時点を基準としてこれの前にインヒビットゲートの開始タイミングを示す第１の信号を発生し、オーバライト終了時点を基準にしてこれの後にインヒビットゲートの終了タイミングを示す第２の信号を発生する例である。これにより、第１の信号から前記第２の信号までの幅を調整できるようにしてインヒビットゲートを発生する。そして、そのパルス幅の調整範囲は、通常の書きつなぎ領域Ｃより狭い幅の範囲にする。
図２（ｂ）において、１８ａは、インヒビットゲート信号１８の開始タイミングを設定する第１の信号であり、ライト開始セクタ信号１６からＴ1μsec後に立ち下がる信号であり、その前縁（立下がりタイミング）が図２（ａ）のインヒビットゲート信号１８の立下がりタイミングとなる。１８ｂは、インヒビットゲート信号１８の終了タイミングを設定する第２の信号であり、ライト開始セクタ信号１６からＴ2μsec後に立上がる信号であり、その後縁（立上がりタイミング）が図２（ａ）のインヒビットゲート信号１８の立上がりタイミングとなる。
これによりインヒビットゲート信号１８は、第１の信号１８ａの前縁Ｔ1から第２の信号１８ｂの後縁Ｔ2とによりその幅が設定される。
第１の信号１８ａと第２の信号１８ｂの発生タイミングは、インヒビットタイミングテーブル５４２ｆに記憶されていて、ＭＰＵ５４１が検査禁止範囲設定プログラム５４２ｂを実行してインヒビットタイミングテーブル５４２ｆを参照して第１の信号と第２の信号とを発生する。
【００２３】
インヒビットタイミングテーブル５４２ｆは、図３に示すように、１９ａが回転数の欄、１９ｂが周速欄、１９ｃ，１９ｄがリードライトずれ量の欄であり、各リードライトずれ量の欄は、第１信号の発生タイミングＴ1の欄と第２信号の発生タイミングＴ2の欄とに分かれて設けられている。そして最後にオーバライト期間Ｔの欄１９ｅが設けられている。
インヒビットタイミングテーブル５４２ｆは、入力データにより回転数あるいは周速とリードライトずれ量Ａとにより参照されて、前記のタイミングＴ1，Ｔ2が求められる。
なお、タイミングＴ1，タイミングＴ2は、ライト開始セクタ信号１６を基準として時間カウントされる期間であり、オーバライト期間Ｔは、Ｔ1＋αとして設けられる。そこで、オーバライト期間Ｔとしてはαが記憶されてもよい。このαは、テストバースト信号の数ビット乃至数十ビット分に相当する時間値である。
これによりインヒビットゲート信号１８の幅は、２つの信号のタイミングＴ1，Ｔ2により設定され、かつ最適なものに調整される。 
【産業上の利用可能性】
【００２４】
以上説明してきたが、実施例では、ライト開始セクタ信号を基準としてオーバライト終了時点を時間カウントして決定し、あるいはライト開始セクタ信号を基準としてオーバライト終了時点に対してその前後の時間を設定してオーバライト終了時点を決定し、インヒビットゲートのウインドウを設定している。しかし、これらの時間基準をライト開始セクタ信号ではなく、インデックス信号を基準としてもよいことはもちろんである。
また、実施例では、インヒビットゲート信号を書込／読出回路５０（読出回路）に送出しているが、この発明は、書込／読出制御ユニット５１にインヒビットゲート信号を送出してこれを介して書込／読出回路５０を制御するようにしてもよい。
【００２５】
さらに、インヒビットゲート信号をエラー検出ユニット５２に送出してエラーの検出を停止することで磁気ディスク上の検査トラックの一部を未検査領域としてもよい。またさらに、エラー検出ユニット５２からエラーを欠陥検出処理・制御装置５４ですべて読込んでインヒビットゲート信号の部分をプログラム処理にてマスク処理をして欠陥を排除することで検査トラックの書きつなぎ領域を未検査領域としてもよい。
またさらに、実施例では、検査トラックに対してテストデータをオーバライトした後にテストデータをリードしているが、この発明では、先に複数のトラックに対して１周分を越えるオーバライトをしてテストデータを書込んだ後に、それらの複数のトラックに対して順次テストデータをリードしてもよい。 
【符号の説明】
【００２６】
１…磁気ディスク、２…回転機構、２b…ロータリエンコーダ、
３…ＭＲヘッド、４…ヘッドユニット、５…検査装置、
６，７…ヘッドキャリッジ、
１１…インデックス信号、１２…セクタ信号、
１２，１２ａ…ライトゲート信号、
１３，１７…テストバースト信号の読出信号、
１４，１８，１８ａ，１８ｂ…検査禁止ゲート信号（インヒビットゲート信号）、
１６…ライト開始セクタ信号、
５０…書込／読出回路、５１…書込／読出制御ユニット、
５２…エラー検出ユニット、５４…欠陥検出処理・制御部、
５４１…ＭＰＵ、５４２…メモリ、５４３…ＣＲＴディスプレイ、
５４４…キーボード、５４５…バス、
５４２ａ…欠陥データ採取プログラム、
５４２ｂ…検査禁止範囲設定プログラム、
５４２ｃ…オーバライト／リードプログラム、
５４２ｄ…欠陥分類プログラム、
５４２ｅ…ディスク合否判定プログラム、
５４２ｆ…インヒビットタイミングテーブル、
５４２ｇ…パラメータ領域。
【図１】
2014002830.tif 000003
【図２】
2014002830.tif 000004
【図３】
2014002830.tif 000005
【図４】
2014002830.tif 000006