(57)【要約】【課題】スペクトラム表示の一部分を拡大表示できるようにする。【解決手段】試験測定装置５００は、入力試験信号から第１ビットマップ画像を生成するビットマップ・プロセッサ５１０と、第１ビットマップ画像の一部分を特定するためのユーザ・インタフェース５０２と、第１ビットマップ画像の特定された一部分から第２ビットマップ画像を生成するよう構成される第２ビットマップ・プロセッサ５５０を具えている。第２ビットマップ画像は、第１ビットマップ画像の特定された一部分の拡大画像であって、第１及び第２ビットマップ画像は、時間的に整合させるように補正されている。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力試験信号からビットマップ画像を生成するプロセッサと、
上記ビットマップ画像の一部分を特定するためのユーザ・インタフェースと、
上記ビットマップ画像の上記一部分を含む第２画像を生成するよう構成される
第２画像生成部と
を具える試験測定装置。
【請求項２】
試験測定装置における画像生成方法であって、
試験用信号を受けるステップと、
上記試験用信号の第１ビットマップ画像を生成するステップと、
上記第１ビットマップ画像の一部分を特定するユーザ入力を受けるステップと、
上記第１ビットマップ画像の上記一部分を網羅する第２ビットマップ画像を生成するステップと
を具える画像生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定装置及びこれにおける方法であって、特に、ズーム表示機能を持つ周波数領域ビットマップ表示が可能な試験測定装置及びそのための画像生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
米国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス社から入手可能なＲＳＡ６１００型、ＲＳＡ５１００型及びＲＳＡ３４００型シリーズのようなリアルタイム・スペクトラム・アナライザは、ＲＦ（無線周波数）信号にトリガをかけて、取込み及び分析をリアルタイムで行える。こうした試験測定装置は、シームレスに（時間的に途切れなく）ＲＦ信号を取込むので、従来の掃引型スペクトラム・アナライザやベクトル・アナライザと違って、特定の帯域幅（機種毎の性能による）内であれば、データを取り損なうことがまったくない。
【０００３】
図１は、従来のリアルタイム・スペクトラム・アナライザの機能ブロック図である。リアルタイム・スペクトラム・アナライザ１００は、無線周波数（ＲＦ）入力信号を受け、ミキサ１０５、局部発振器（ＬＯ）１１０及びフィルタ１１５を用いて、ＲＦ入力信号をダウン・コンバート（より低い周波数へと周波数変換）し、中間周波数（ＩＦ）信号を生成する。アナログ・デジタル変換部（ＡＤＣ）１２０は、ＩＦ信号をデジタル化し、デジタル・サンプルの連続的なストリームを生成する。デジタル・サンプルは、循環バッファ１２５に入力されると共に、トリガ検出部１３０にも入力される。トリガ検出部１３０は、デジタル・サンプルをリアルタイムで処理し、この処理済みサンプルをユーザが指定するトリガしきい値と比較する。処理済みデジタル・サンプルが、トリガしきい値に違反すると、トリガ検出部１３０はトリガ信号を生成し、これによってアクイジション（取込み）メモリ１３５が、循環バッファ１２５に保持されたデジタル・サンプルを記憶する。ここで、「違反する」とは、ユーザが指定したパラメータに応じて、しきい値を「超える」か、又はしきい値よりも「小さくなる」ということを意味している。記憶されたデジタル・サンプルは、次にポスト分析プロセッサ１４０によって後から（ポスト）分析され、その結果は表示デバイス１４５上で表されるか、又は、図示しない記憶装置に記憶されたりする。
【０００４】
テクトロニクス社のリアルタイム・スペクトラム・アナライザは、「デジタル・フォスファ（Phosphor：蛍光体）」又は別名で「ＤＰＸ．ＲＴＭ」と呼ばれる技術を用いている。これは、液晶ディスプレイなどを用いながら、昔のＣＲＴ管面における蛍光体による発光特性をまねた効果をデジタル処理で実現するものである。ＤＰＸを利用可能なリアルタイム・スペクトラム・アナライザは、連続時間プロセッサ１５０を用いて、ＡＤＣ１２０からのデジタル・サンプルの連続的なストリームをリアルタイムで処理し、その結果を表示デバイス１４５上で表示する。図２は、図１に示す連続時間プロセッサの処理動作を説明する図である。連続時間プロセッサ１５０は、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）、チャープＺ変換などのような周波数変換処理２０５を利用して、デジタル・サンプルの連続ストリームを毎秒数千のスペクトラム２１０へと変換する。これらスペクトラム２１０は、次に、「ビットマップ・データベース」２２０と呼ばれるデータ構造を形成するように合成される。
【０００５】
１つの実施形態では、各スペクトラム２１０がラスタライズされて、「ラスタ・スペクトラム」２１５が生成される。ラスタ・スペクトラムは、連続する複数の行及び複数の列の形に配置されたセルの配列から構成され、各行が特定の振幅値を表し、また、各列が特定の周波数値を表す。各セルの値は、「１（「ヒット」とも呼ばれる）」か「０（図ではブランクのセルとして描かれている）」のどちらかである。このとき、「１」は、そのラスタ・スペクトラムの測定期間中に周波数対振幅空間における特定の位置において、入力信号が存在したことを示し、「０」は、入力信号が存在しなかったことを示す。複数のラスタ・スペクトラム２１５の対応するセルの値は、一緒に合算されてビットマップ・データベース２２０を形成し、続いて、ビットマップ・データベース２２０の各セルの値は、ラスタ・スペクトラム２１５の総数で割り算されるので、各セルの値は、測定期間中のヒットの総数をラスタ・スペクトラム２１５の総数で割り算した値を示す。つまり、各セルの値は、等価的に、測定期間中において、入力信号が周波数対振幅空間中の特定の位置を占めていた時間的なパーセント（割合）を示し、これは、「ＤＰＸ密度．ＲＴＭ」とも呼ばれる。
【０００６】
複数のラスタ・スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０は、図では、簡単のために、１０個の行及び１１個の列として描かれているが、実際の実施形態では、当然ながら、ラスタ・スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０が数百の列と行とを持つようにしても良い。ビットマップ・データベース２２０は、本質的に３次元ヒストグラムであって、ｘ軸が周波数、ｙ軸が振幅、そしてｚ軸が密度である。ビットマップ・データベース２２０は、表示デバイス１４５上の「ビットマップ」と呼ばれる画像として表示され、各セルの密度は、画素の色の階調で表される。これに代えて、ビットマップ・データベース２２０を記憶装置（図示せず）に記憶するようにしても良い。ＤＰＸアクイジション及び表示技術によれば、従来のスペクトラム・アナライザやベクトル・シグナル・アナライザでは、完全に取り損ねてしまう短時間の現象や希なイベントなどのような信号でも、その詳細を明らかにできる。ＤＰＸについては、テクトロニクス社の資料「DPX.RTM. Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals（２００９年８月２０日、文書番号37W-19638）」に詳しい情報が掲載されており、これは、テクトロニクス社のホームページ（http://www.tek.com/）で、テクトロニクス文書番号「37W-19638」を検索することで入手可能である。
【０００７】
こうした背景に基づいて、以下の詳細な説明を特許請求の範囲及び図面と共に読むことにより、本発明の効果及び新規な点が自ずと明らかになろう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許第３３７７３９１号公報
【特許文献２】特開２００５−３３１３００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ＤＰＸスペクトラムの最終的な表示の幅は、通常、表示装置を構成する画素数で制限される。例えば、典型的なＤＰＸスペクトラムでは、７６８又は８００画素の幅があり、この幅は、ハードウェア上の制限、表示上の制限又はこれらの両方によって制限される。悪いことに、約８００画素の全表示幅を使って、非常に広い周波数スパンを見る場合では、重要な信号が表示しきれない可能性がある。例えば、７６８画素幅のＤＰＸスペクトラムで２ＧＨｚの帯域幅を表示した場合、３．４８ＭＨｚ幅のＷ−ＣＤＭＡ信号は、表示上でわずか２画素幅にしかならない。これは、表示上に現れる大量のデータのために、関連する信号の詳細がＤＰＸスペクトラム中で失われてしまっているとも言える。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の実施形態は、第１のＤＰＸスペクトラム中の関心のある領域に焦点を当てた第２のＤＰＸスペクトラムを、ユーザがコントロール可能な形で生成することによって、上述の限界を解決しようとするものである。このとき、第１及び第２ＤＰＸスペクトラムは、同時に表示される。
【００１１】
そこで、本発明の実施形態は、入力試験信号からビットマップ画像を生成するプロセッサと、このビットマップ画像の一部分を特定するためのユーザ・インタフェースと、上記ビットマップ画像の特定された一部分から第２画像を生成するよう構成された第２画像生成部とを含んでいる。ビットマップ画像及び第２画像を生成するのに、同じ入力試験信号（又は、入力試験信号から生成した同じデータ）を用いても良い。更に、ビットマップ画像及び第２画像は、表示装置上で同時に表示しても良い。実施形態によっては、第２画像を試験信号から生成する前に、試験信号をダウン・コンバート（周波数変換）処理及びフィルタ処理しても良い。多くの実施形態において、ビットマップ画像及び第２画像間の時間的整合性に関して補正がなされる。ユーザは、ユーザ・インタフェースによって、第２画像として生成するビットマップ画像の一部分の最初と最後の部分を選択できる。更なる実施形態では、オリジナルのビットマップ画像又は第２ビットマップ画像の一部分をユーザが特定し、この特定部分に関して、第３のビットマップ画像を生成するようにしても良い。
【００１２】
本発明の別の実施形態としては、試験用の信号からビットマップ画像を生成する方法が含まれる。試験用信号の第１ビットマップ画像を生成した後、ユーザは、第１ビットマップ画像の一部分を特定する。次に、第１ビットマップ画像の一部分を網羅する第２ビットマップ画像が生成される。実施形態によっては、第２ビットマップ画像は、試験用信号（又は、入力試験信号から生成したデータ）から生成される。続いて、実施形態によっては、第１ビットマップ画像及び第２ビットマップ画像が同時に表示される。更なる実施形態では、第２ビットマップ画像の一部分又は第１ビットマップ画像の第２の部分を網羅する第３のビットマップ画像が生成される。
【００１３】
より具体的には、本発明の概念１は、試験測定装置であって、
入力試験信号からビットマップ画像を生成するプロセッサと、
上記ビットマップ画像の一部分を特定するためのユーザ・インタフェースと、
上記ビットマップ画像の上記一部分を含む第２画像を生成するよう構成される
第２画像生成部と
を具えている。
【００１４】
本発明の概念２は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ビットマップ画像及び上記第２画像を生成するのに上記入力試験信号が用いられることを特徴としている。
【００１５】
本発明の概念３は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ビットマップ画像及び上記第２画像を同時に示す表示装置を更に具えている。
【００１６】
本発明の概念４は、上記概念１の試験測定装置であって、上記第２画像を生成する前に上記試験信号をダウン・コンバートするダウン・コンバータを更に具えている。
【００１７】
本発明の概念５は、上記概念４の試験測定装置であって、ダウン・コンバートされた上記試験信号を上記第２画像生成部に送る前にフィルタ処理する狭スパン補正フィルタを更に具えている。
【００１８】
本発明の概念６は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ビットマップ画像及び上記第２画像が、時間整合性に関して補正されることを特徴としている。
【００１９】
本発明の概念７は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ユーザ・インタフェースは、上記第２画像として生成する上記ビットマップ画像の最初及び最後部分をユーザが選択できるように構成されることを特徴としている。
【００２０】
本発明の概念８は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ユーザ・インタフェースによって、ユーザは上記ビットマップ画像の第２部分を特定できると共に、上記ビットマップ画像の上記第２部分から第３画像を生成するよう構成される第３画像生成部を更に具えている。
【００２１】
本発明の概念９は、上記概念１の試験測定装置であって、上記ユーザ・インタフェースによって、ユーザは上記第２画像の一部分を特定できると共に、上記第２画像の特定された上記一部分から第３画像を生成するよう構成される第３画像生成部を更に具えている。
【００２２】
本発明の概念１０は、試験測定装置における方法であって、
試験用信号を受けるステップと、
上記試験用信号の第１ビットマップ画像を生成するステップと、
上記第１ビットマップ画像の一部分を特定するユーザ入力を受けるステップと、
上記第１ビットマップ画像の上記一部分を網羅する第２ビットマップ画像を生成するステップと
を具えている。
【００２３】
本発明の概念１１は、上記概念１０の方法であって、上記第２ビットマップ画像を生成するステップが、上記試験用信号から上記第２ビットマップ画像を生成するステップを有することを特徴としている。
【００２４】
本発明の概念１２は、上記概念１０の方法であって、上記第１及び第２ビットマップ画像を同時に表示するステップを更に具えている。
【００２５】
本発明の概念１３は、上記概念１２の方法であって、上記第１及び第２ビットマップ画像を同時に表示する前に、上記第１ビットマップ画像及び上記第２ビットマップ画像を時間的に整合させるステップを更に具えている。
【００２６】
本発明の概念１４は、上記概念１０の方法であって、上記試験用信号をダウン・コンバートするステップを更に具えている。
【００２７】
本発明の概念１５は、上記概念１４の方法であって、ダウン・コンバートされた上記試験用信号をフィルタ処理するステップを更に具えている。
【００２８】
本発明の概念１６は、上記概念１０の方法であって、上記ユーザ入力によって、上記第１ビットマップ画像の上記一部分の最初及び最後が特定されることを特徴としている。
【００２９】
本発明の概念１７は、上記概念１０の方法であって、
上記第１ビットマップ画像の第２部分を特定するユーザ入力を受けるステップと、
上記第２部分を網羅する第３ビットマップ画像を生成するステップと
を更に具えている。
【００３０】
本発明の概念１８は、上記概念１０の方法であって、
上記第２ビットマップ画像の一部分を特定するユーザ入力を受けるステップと、
上記第２ビットマップ画像の上記一部分を網羅する第３ビットマップ画像を生成するステップと
を更に具えている。
【００３１】
本発明の目的、効果及び他の新規な点は、以下の詳細な説明を添付の特許請求の範囲及び図面とともに読むことによって明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】図１は、従来のリアルタイム・スペクトラム・アナライザの機能ブロック図である。
【図２】図２は、図１に示す連続時間プロセッサの処理動作を説明する図である。
【図３】図３は、従来のＤＰＸスペクトラムのスクリーン・ショットである。
【図４】図４は、本発明の実施形態による第１及び第２ＤＰＸスペクトラムを含む各要素の関係を示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施形態による第２ＤＰＸプロセッサを含むスペクトラム・アナライザの機能ブロック図である。
【図６】図６は、本発明の実施形態による方法の例のフローチャートである。
【図７】図７は、第１スペクトラムから生成された２つの第２スペクトラムを含む本発明の実施形態の各要素の関係を示す図である。
【図８】図８は、第１スペクトラムから生成された２つの第２スペクトラムを含む本発明の他の実施形態の各要素の関係を示す図である。
【図９】図９は、第１、第２及び第３スペクトラムを含む本発明の実施形態の各要素の関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
図３は、上述したシステムで生成された従来のＤＰＸスペクトラム３１２の画面の例である。図示したＤＰＸスペクトラム３１２は、表示装置３１０上に表示されたもので、表示装置は、試験測定装置用の一般的なもの、例えば、液晶表示装置（ＬＣＤ）などとしても良い。表示装置３１０は、試験測定装置に組み込まれていても良いし、独立した外部表示装置であっても良い。
【００３４】
上述のように、図３はグレースケールで描かれているが、ＤＰＸスペクトラム３１２は、表示装置３１０上で、被試験信号をサンプリングして得られたデータをカラー画素で表示する。表示のハードウェア的な制限、典型的には、例えば、図２のビットマップ・データベース２２０のようなビットマップ画像を生成するプロセッサが原因の制限によって、表示上に示されるＤＰＸスペクトラムの幅が根本的に制限される。例えば、図３のＤＰＸスペクトラム３１２は、約８００画素の幅がある。
【００３５】
ＤＰＸスペクトラムの幅について画素数に制限があることによって、ＤＰＸスペクトラムの各画素幅で大量の情報を伝達しなければならなくなるが、その情報は、表示装置３１０上で失われるか、又は、認識できないかもしれない。これは、被試験信号が広帯域信号の場合に特に当てはまる。例えば、リアルタイムＤＰＸスペクトラムの表す試験信号が２ＧＨｚで、ＤＰＸスペクトラムの幅が７６８画素なら、２ＧＨｚ中の３.４８ＭＨｚ幅のＣＤＭＡ信号部分は、わずか２画素幅で表示される。これは、ＤＰＸスペクトラム上で、ユーザが重要なデータを見るためのスクリーン領域としては、十分な幅ではないであろう。言い換えると、ＤＰＸスペクトラムがあまりにも圧縮されていて、重要な信号を他の表示データから識別（区別して認識）するのが困難であろう。
【００３６】
図４は、本発明の実施形態による第１ＤＰＸスペクトラム４１２及び第２ＤＰＸスペクトラム４３２を含む構成要素の関係を示す図である。この例では、第１ＤＰＸスペクトラム４１２は、図３のＤＰＸスペクトラム３１２と同じである。表示装置４１０上に表示される第１ＤＰＸスペクトラム４１２の一部分４２０は、ユーザがより詳細に知りたいとしてユーザが選択したスペクトラム領域である。従って、ズーム（拡大）モードがアクティブにされると、第２ＤＰＸスペクトラム４３２が生成されて、表示装置４３０上に示され、これは、第１ＤＰＸスペクトラム４１２の一部分４２０の詳細を示す。重要なことは、実施形態によっては、第２ＤＰＸスペクトラム４３２が、第１ＤＰＸスペクトラムの一部分４２０を単に拡大したものではなく、後述のように、第２ＤＰＸスペクトラム４３２が、別個のＤＰＸプロセッサによって、オリジナルの試験信号データから新たに生成されたものであるということである。これによって、ユーザは、詳細な情報を試験測定装置から効果的に得ることができる。
【００３７】
実施形態によっては、第１ＤＰＸスペクトラムの一部分４２０の幅は、例えば、そのウィンドウのエッジ（端部）を引き伸ばしたり、その他の一般的な表示操作などのユーザの操作によって調整可能となっている。他の実施形態では、ユーザが、部分４２０のウィンドウ幅と共に、その中心点も選択することで、ＤＰＸスペクトラムの詳細に調べる部分を選択する。
【００３８】
図５は、本発明の実施形態による第２ＤＰＸプロセッサ５５０を含むスペクトラム・アナライザの機能ブロック図である。本発明の実施形態による試験測定装置５００は、入力試験信号からビットマップ画像を生成するフル・スパンＤＰＸビットマップ・プロセッサ５１０のようなプロセッサを含んでいる。プロセッサ５１０から生成されたＤＰＸビットマップ画像は、試験信号の全帯域幅を含んでいる。フル・スパンＤＰＸビットマップ画像は、メイン表示ウィンドウ５２０に表示される。表示ウィンドウ５２０は、表示装置上に表示しても良く、この表示装置は、試験測定装置に組み込まれたものでも良いし、試験測定装置の外部に独立して設けられたものでも良い。
【００３９】
ユーザは、ユーザ・インタフェース５０２を制御することによって、ビットマップ画像中の詳細な情報がほしい部分を特定する。このユーザ・インタフェースによって、ユーザは、上述のように、第２ウィンドウ内又は第２表示装置上に表示されるフル・スパンＤＰＸビットマップ画像中の特定部分を選択できるようになる。
【００４０】
第２ＤＰＸビットマップ・プロセッサ５５０のような第２画像生成部は、ズーム表示ウィンドウ５６０中に第２画像を生成するが、この第２画像は、フル・スパン・プロセッサ５１０によって生成されたオリジナルのビットマップ画像中の特定された部分を含んでいる。図５に示したようなシステムは、プロセッサ５１０から得られるオリジナルのビットマップ画像と、プロセッサ５５０から得られる第２ビットマップ画像の両方を生成するのに、同じ基礎データ（試験信号から生成した試験信号データ）を用いていることに注意されたい。アクイジション（データ取込み）システムから得られたオリジナル・データ（試験信号データ）を第２ＤＰＸビットマップ・プロセッサ５５０のような第２画像生成部に送る前に、これに対してダウン・コンバート（周波数変換）処理、フィルタ処理のような付加的な処理を行っても良い。最初のフィルタ処理及びダウン・コンバート処理をダウン・コンバータ５３０で行っても良く、更にオプションで、狭スパン補正フィルタ５４０をシステム中に設けても良い。
【００４１】
メイン・ウィンドウ５２０及びズーム・ウィンドウ（第２ウィンドウ）５６０上で表示される前に、第１及び第２第２ＤＰＸビットマップは、時間の整合性に関して補正される。
【００４２】
図６は、本発明の実施形態による方法の例のフローチャートである。まず、試験用の信号を受けて、その信号の最初のビットマップ画像が生成されているものとする。処理６１０では、フロー（処理の流れ）６００が、より詳細に観測したい部分に関してユ―ザからの入力を受ける。これは、例えば、ユーザがズーム処理を選択したり、試験測定装置上でズーム・ウィンドウを開いたりすることで行われる。処理６２０では、ユーザからの入力を受け付けるが、この入力には、例えば、生成されるズーム・ウィンドウに関するもので、第１ビットマップ画像の部分を特定する幅及び位置が含まれる。処理６３０では、ユーザの入力を受けて、ズーム・ウィンドウの種々の設定値（パラメータ：ウィンドウの幅、高さ、位置などを含む）を調整するようにしても良い。続いて、処理６４０において、オリジナルのビットマップ画像を生成したのと同じデータ（試験信号データ）からズーム・ウィンドウが生成され、処理６５０において、ユーザに対して表示される。生成された第２ビットマップ画像は、処理６２０においてユーザが特定した第１ビットマップ画像中の部分を網羅している。その後、再度、処理６３０に戻り、ズーム・ウィンドウの調整をしても良い。
【００４３】
実施形態によっては、図４に示したように、第１及び第２ビットマップ画像間で時間的な整合が取られた上で、同時に表示される。上述のように、第２ビットマップ画像は、生成される前に、ダウン・コンバート処理及びフィルタ処理するようにしても良い。
【００４４】
図７は、第１スペクトラムから生成された２つの第２スペクトラム、つまり、２つのズーム・ウィンドウを含む本発明の実施形態を示す図である。図７は、図４のものと似ているが、表示装置７１０上のメイン・ウィンドウ７１２の２つの部分７２０及び７３０から、それぞれ２つのズーム・ウィンドウ７２２及び７３２が生成され、別々の表示装置７１４及び７１６上でそれぞれ表示される点が異なっている。２つのズーム・ウィンドウ７２２及び７３２は、単一のズーム・ウィンドウに関して上述したようにして生成しても良いが、図５の第１及び第２プロセッサ５１０及び５５０と並行して、第３のビットマップ・プロセッサを使用しても良い。
【００４５】
図８は、第１スペクトラム８１２中の特定された２つの部分８２０及び８３０に対応してそれぞれ生成された２つの第２スペクトラム８２２及び８３２を含む本発明の他の実施形態を示す図である。この実施形態は、図７に示したものと似ているが、２つのズーム・ウィンドウ８２２及び８３２が、単一の表示装置８１４上で示される。最後に、図９に示すように、システムが、オリジナル・メイン・ウィンドウ９１２の部分９２０の詳細表示であるズーム・ウィンドウ９２２と、これに加えて、第１ズーム・ウィンドウ９２２の部分９４０の詳細表示である第２ズーム・ウィンドウ９４２とを含んでいても良い。これらウィンドウは、第１、第２及び第３ウィンドウと呼んでも良く、別々の表示装置９１０、９１４及び９１６にそれぞれ表示されるようにしても良い。また、これら３つのウィンドウが、単一の表示装置上で表示されるようにしても良い。
【００４６】
上述の多くの実施形態では、ユーザ・インタフェースを含み、ユーザがこれを通して種々のパラメータ（設定値等）を入力するとしていたが、これに代えて、試験測定装置が種々のパラメータを自動で決定するようにしても良い。
【００４７】
先に図示し、説明した実施形態では、本発明がリアルタイム・スペクトラム・アナライザで使用されるとしてきたが、本発明の実施形態は、掃引型スペクトラム・アナライザ、シグナル・アナライザ、ベクトル・シグナル・アナライザ、オシロスコープなどのような周波数領域信号を表示するどのような種類の試験測定装置においても、効果的に利用できることは明らかであろう。
【００４８】
種々の実施形態において、本発明の種々の要素は、ハードウェア、ソフトウェア、又は、これら２つの組み合わせで実現されても良く、また、汎用マイクロプロセッサ、デジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ）、特定用途向けＩＣ（ＡＳＩＣ）、ＦＰＧＡ（フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ）などから構成されるようにしても良い。
【００４９】
上述の説明から明らかなように、本発明は、周波数領域ビットマップの表示における分野において、大きな進歩をもたらすものである。本発明の具体的な実施形態を図示及び説明してきたが、本発明の精神と範囲から逸脱することなく、多様な変形が可能なことは明らかであろう。
【符号の説明】
【００５０】
５００  試験測定装置
５１０  フル・スパンＤＰＸビットマップ・プロセッサ
５２０  メイン表示ウィンドウ
５３０  ダウン・コンバータ
５４０  狭スパン補正フィルタ
５５０  第２ＤＰＸビットマップ・プロセッサ
５６０  ズーム表示ウィンドウ
７１０  第１表示装置
７１２  メイン・ウィンドウ
７１４  第２表示装置
７１６  第３表示装置
７２０  メイン・ウィンドウの特定された部分
７２２  第１ズーム・ウィンドウ
７３０  メイン・ウィンドウの特定された部分
７３２  第２ズーム・ウィンドウ
８１０  第１表示装置
８１２  メイン・ウィンドウ
８１４  第２表示装置
８２０  メイン・ウィンドウの特定された部分
８２２  第１ズーム・ウィンドウ
８３０  メイン・ウィンドウの特定された部分
８３２  第２ズーム・ウィンドウ
９１０  第１表示装置
９１２  メイン・ウィンドウ
９１４  第２表示装置
９１６  第３表示装置
９２０  メイン・ウィンドウの特定された部分
９２２  第１ズーム・ウィンドウ
９４０  第１ズーム・ウィンドウの特定された部分
９４２  第２ズーム・ウィンドウ
【図１】
2014235150.tif 000003
【図２】
2014235150.tif 000004
【図５】
2014235150.tif 000005
【図６】
2014235150.tif 000006
【図７】
2014235150.tif 000007
【図８】
2014235150.tif 000008
【図９】
2014235150.tif 000009
【図３】
2014235150.tif 000010
【図４】
2014235150.tif 000011