(57)【要約】      （修正有）【課題】測定結果が確かであると推測される桁数を判断することにより、測定状態に応じて分解能を可変とする測定装置を提供する。【解決手段】ステップＳ１において、ユーザから測定開始が指令されたと判断された場合、ステップＳ２において、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値が算出される。ステップＳ３において、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値が、所定の数ｎだけ蓄積されたと判断された場合、ステップＳ４において、蓄積された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数が判断され、ステップＳ５において、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数の接地抵抗Ｒｅの値が表示される。ステップＳ６において、ユーザから測定終了が指令されていないと判断された場合、処理は、ステップＳ２にもどり、それ以降の処理が繰り返される。ステップＳ６において、ユーザから測定終了が指令されたと判断された場合、処理が終了される。【選択図】図４
2014115141.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物理量を測定する測定装置において、
前記物理量を測定する測定手段と、
前記物理量測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断手段と、
前記判断手段による判断結果に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記物理量の測定値の表示を制御する表示制御手段と
を備えることを特徴とする測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記測定装置は、第１の補助接地極と接続される第１の接続端子、第２の補助接地極と接続される第２の接続端子、および、被測定接地体と接続される第３の接続端子を備え、
前記測定手段は、前記第２の接続端子と前記第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、前記第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、前記被測定接地体と前記第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値を算出し、
前記判断手段は、前記測定手段により測定された複数回分の前記被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断し、
前記表示手段は、前記判断手段による判断結果に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記判断手段は、前記測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値において、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項４】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記判断手段は、前記測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、
前記表示手段は、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項５】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値の平均値を算出する平均値算出手段
をさらに備え、
前記測定手段は、測定終了が指令されるまで前記物理量の測定値の算出を繰り返し、
前記判断手段は、前記測定手段による前記物理量の測定回数をｎ回として、ｎ回目の測定結果を含む前記平均値算出手段による平均値の算出結果と、ｎ回目の算出結果を含まない前記平均値算出手段による平均値の算出結果とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項６】
請求項５に記載の測定装置であって、
前記判断手段は、前記平均値算出手段により算出されたｎ回の前記被測定接地体の接地抵抗値の平均値と、（ｎ−１）回の前記被測定接地体の接地抵抗値の平均値とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項７】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値の平均値を算出する平均値算出手段
をさらに備え、
前記測定手段は、測定終了が指令されるまで前記物理量の測定値の算出を繰り返し、
前記判断手段は、前記測定手段による前記物理量の測定回数をｎ回として、ｎ回目の測定結果を含む前記平均値算出手段による平均値の算出結果と、ｎ回目の算出結果を含まない前記平均値算出手段による平均値の算出結果とにおいて、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、
前記表示手段は、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項８】
請求項７に記載の測定装置であって、
前記判断手段は、前記平均値算出手段により算出されたｎ回の前記被測定接地体の接地抵抗値の平均値と、（ｎ−１）回の前記物理量の測定値の平均値とにおいて、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、
前記表示手段は、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項９】
物理量を測定する測定装置の測定方法において、
前記物理量を測定する測定ステップと、
前記物理量測定ステップの処理により測定された複数回分の前記物理量の測定値に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、
前記判断ステップによる判断結果に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記物理量の測定値の表示を制御する表示制御ステップと
を含むことを特徴とする接地抵抗測定方法。
【請求項１０】
第１の補助接地極と接続される第１の接続端子、第２の補助接地極と接続される第２の接続端子、および、被測定接地体と接続される第３の接続端子を備える接地抵抗計の接地抵抗測定方法において、
前記第２の接続端子と前記第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、前記第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、前記被測定接地体と前記第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値を算出する接地抵抗算出ステップと、
前記接地抵抗算出ステップの処理により算出された複数回分の前記被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、
前記判断ステップによる判断結果に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御する表示制御ステップと
を含むことを特徴とする接地抵抗測定方法。
【請求項１１】
物理量を測定する測定装置が実行するプログラムであって、
前記物理量を測定する測定ステップと、
前記物理量測定ステップの処理により測定された複数回分の前記物理量の測定値に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、
前記判断ステップによる判断結果に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記物理量の測定値の表示を制御する表示制御ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項１２】
第１の補助接地極と接続される第１の接続端子、第２の補助接地極と接続される第２の接続端子、および、被測定接地体と接続される第３の接続端子を備える接地抵抗計が実行するプログラムであって、
前記第２の接続端子と前記第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、前記第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、前記被測定接地体と前記第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値を算出する接地抵抗算出ステップと、
前記接地抵抗算出ステップの処理により算出された複数回分の前記被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、
前記判断ステップによる判断結果に基づいて、前記被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御する表示制御ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定装置および測定方法、ならびにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
物理量を測定するためには、さまざまな測定装置が用いられる。
【０００３】
例えば、電気設備に施される接地工事は、人体への保安および機器の保全のために必要不可欠とされている。接地工事の際には、地面に埋められる接地体の接地抵抗の大きさを測るために、接地抵抗計を用いる。この接地抵抗計には、交流電位差法によるものがある。
【０００４】
従来、補助接地抵抗の良否判定を簡単に行なうことができ、地面に埋め込まれた接地体の接地抵抗を高精度に測定し得るようにした接地抵抗計が用いられていた（例えば、特許文献１）。
【０００５】
また、従来、接地抵抗計においては、装置コストの上昇を抑制しつつ、測定される抵抗値のふらつきを低減し得る技術が用いられていた（例えば、特許文献２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１１−１１８８５１号公報
【特許文献２】特開２０１２−２６８９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来の接地抵抗計は、被測定接地体Ｅ−第２の補助接地極Ｃ間に電圧を印加して電流を流し、その電流値Ｉと被測定接地体Ｅ−第１の補助接地極Ｐ間の電圧値Ｖｅに基づいて、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値が計算される（Ｒｅ＝Ｖｅ／Ｉ）。
【０００８】
第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値が小さい場合、測定電流を充分に流すことができるため、高い分解能で被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を測定することができる。しかしながら、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値が大きい場合、測定電流を充分に流すことができないため、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値が小さい場合と比較して、高い分解能で被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を測定することができない。
【０００９】
このため、従来の接地抵抗計においては、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値に基づいて、測定の分解能が可変するようになされている。
【００１０】
すなわち、従来の接地抵抗計は、例えば、図１に示される表のように、被測定接地体Ｅ−第２の補助接地極Ｃ間の印加電圧値が４８Ｖであるとき、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃが３００Ω以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１ｍΩとし、３００Ωより大きく、６ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１０ｍΩとし、６ｋΩより大きく、６０ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１００ｍΩとし、６０ｋΩより大きく、６００ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１Ωとするように、あらかじめ定められている。
【００１１】
また、従来の接地抵抗計は、例えば、図１に示される表のように、被測定接地体Ｅ−第２の補助接地極Ｃ間の印加電圧値が２０Ｖであるとき、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃが２５０Ω以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１ｍΩとし、２５０Ωより大きく、２．５ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１０ｍΩとし、２．５ｋΩより大きく、２５ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１００ｍΩとし、２５ｋΩより大きく、２５０ｋΩ以下であれば、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能を１Ωとするように、あらかじめ定められている。
【００１２】
実際の測定においては、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値が高い場合であっても、大地を流れる漏洩電流がほとんどない、すなわち、ノイズが小さい環境においては、充分高い分解能で測定することが可能である。しかしながら、上述した接地抵抗計が用いられた場合、ノイズが小さい環境であっても、第２の補助接地極Ｃの接地抵抗Ｒｃの値が高い場合は、自動的に被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定における分解能が低く設定されてしまう。
【００１３】
このため、接地抵抗Ｒｃの値を下げるために、例えば、第２の補助接地極Ｃに水をかけるなどの、時間のかかる作業を行うことがあった。
【００１４】
また、測定場所の大地を構成する土壌そのものの抵抗が高く、第２の補助接地極Ｃの抵抗値Ｒｃを小さくすることができない環境においては、ノイズが少ない環境下であっても、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅを高い分解能で測定する方法がない。
【００１５】
また、例えば、電圧、電流、インピーダンス、温度などの他の物理量の測定においても、ノイズ等の様々な外乱の影響で測定値がふらついてしまうことがある。例えば、電流値や電圧値の測定において、測定箇所の近くに、クロック回路やスイッチング回路、または、スイッチング素子、もしくは、静電気が発生しやすい個所などがある場合、それらから発生するノイズによって、測定値がふらつきやすい測定環境となってしまう。測定値のふらつきが大きいような場合、測定者にとって、どの桁までが測定値として利用可能であるかの判断が困難となる。
【００１６】
そこで、本発明は、上記課題を解決すること、すなわち、測定結果が確かであると推測される桁数を判断することにより、測定状態に応じて分解能を可変とすることができる、接地抵抗計および接地抵抗測定方法、ならびにプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記課題を解決するために、本発明の測定装置の一側面は、物理量を測定する測定手段と、物理量測定手段により測定された複数回分の物理量の測定値に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断手段と、判断手段による判断結果に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の物理量の測定値の表示を制御する表示制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１８】
本発明の測定装置の他の側面は、測定装置が、第１の補助接地極と接続される第１の接続端子、第２の補助接地極と接続される第２の接続端子、および、被測定接地体と接続される第３の接続端子を備え、測定手段が、第２の接続端子と第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、被測定接地体と第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、被測定接地体の接地抵抗値を算出し、判断手段が、測定手段により測定された複数回分の被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断し、表示手段が、判断手段による判断結果に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御することを特徴とする。
【００１９】
本発明の測定装置の他の側面は、判断手段が、測定手段により測定された複数回分の物理量の測定値において、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断することを特徴とする。
【００２０】
本発明の測定装置の他の側面は、判断手段が、測定手段により測定された複数回分の物理量の測定値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、表示手段が、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示することを特徴とする。
【００２１】
本発明の測定装置の他の側面は、測定手段により測定された複数回分の物理量の測定値の平均値を算出する平均値算出手段をさらに備え、測定手段が、測定終了が指令されるまで物理量の測定値の算出を繰り返し、判断手段が、測定手段による物理量の測定回数をｎ回として、ｎ回目の測定結果を含む平均値算出手段による平均値の算出結果と、ｎ回目の算出結果を含まない平均値算出手段による平均値の算出結果とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断することを特徴とする。
【００２２】
本発明の測定装置の他の側面は、判断手段が、平均値算出手段により算出されたｎ回の被測定接地体の接地抵抗値の平均値と、（ｎ−１）回の被測定接地体の接地抵抗値の平均値とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断することを特徴とする。
【００２３】
本発明の測定装置の他の側面は、測定手段により測定された複数回分の物理量の測定値の平均値を算出する平均値算出手段がさらに備えられ、測定手段が、測定終了が指令されるまで物理量の測定値の算出を繰り返し、判断手段が、測定手段による物理量の測定回数をｎ回として、ｎ回目の測定結果を含む平均値算出手段による平均値の算出結果と、ｎ回目の算出結果を含まない平均値算出手段による平均値の算出結果とにおいて、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、表示手段が、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示することを特徴とする。
【００２４】
本発明の測定装置の他の側面は、判断手段が、平均値算出手段により算出されたｎ回の被測定接地体の接地抵抗値の平均値と、（ｎ−１）回の物理量の測定値の平均値とにおいて、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、表示手段が、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示することを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の測定方法の一側面は、物理量を測定する測定ステップと、物理量測定ステップの処理により測定された複数回分の物理量の測定値に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、判断ステップによる判断結果に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の物理量の測定値の表示を制御する表示制御ステップとを含むことを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の測定方法の一側面は、第２の接続端子と第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、被測定接地体と第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、被測定接地体の接地抵抗値を算出する接地抵抗算出ステップと、接地抵抗算出ステップの処理により算出された複数回分の被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、判断ステップによる判断結果に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御する表示制御ステップとを含むことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明のプログラムの一側面は、物理量を測定する測定ステップと、物理量測定ステップの処理により測定された複数回分の物理量の測定値に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、判断ステップによる判断結果に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の物理量の測定値の表示を制御する表示制御ステップとを含むことを特徴とする。
【００２８】
また、本発明のプログラムの一側面は、第２の接続端子と第３の接続端子との間に所定の電圧を印加した状態において、第２の補助接地極を流れる電流の測定電流値と、被測定接地体と第１の補助接地極との間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、被測定接地体の接地抵抗値を算出する接地抵抗算出ステップと、接地抵抗算出ステップの処理により算出された複数回分の被測定接地体の接地抵抗値に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断ステップと、判断ステップによる判断結果に基づいて、被測定接地体の接地抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の被測定接地体の接地抵抗値の表示を制御する表示制御ステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、測定結果が確かであると推測される桁数を判断することにより、測定状態に応じて分解能を可変とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】従来の接地抵抗計について説明するための図である。
【図２】接地抵抗計１の構成を示す図である。
【図３】制御部１４が有する機能を示す図である。
【図４】接地抵抗測定処理１について説明するためのフローチャートである。
【図５】接地抵抗計１０１の構成を示す図である。
【図６】制御部１１１が有する機能を示す図である。
【図７】接地抵抗測定処理２について説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、接地抵抗計を、物理量を測定する測定装置の一例として説明する。
【００３２】
図２を参照して、接地抵抗計１の構成について説明する。
【００３３】
接地抵抗計１は、信号生成部１１、電流測定部１２、電圧測定部１３、制御部１４、記憶部１５、表示部１６、操作入力部１７、および、接続端子３１，３２,３３を備えている。接地抵抗計１は、接地抵抗の測定において、接続端子３１に接続される第１補助接地極Ｐ、および、接続端子３２に接続される第２補助接地極Ｃを用いて、接続端子３３に接続される被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅを、３電極法によって繰り返し測定する。
【００３４】
信号生成部１１は、後述する制御部１４の制御に基づいて、一定の周波数（既知の周波数）で、かつ一定の振幅の交流電圧（一例として正弦波電圧）Ｖ１を生成して一対の出力端子（不図示）から出力する。また、信号生成部１１は、一対の出力端子のうちの一方の出力端子が接続端子３２に接続され、他方の端子が、後述する電流測定部１２に接続されている。
【００３５】
電流測定部１２は、一例として交流電流計で構成されて、一対の入力端子（不図示）のうちの一方の入力端子が信号生成部１１に接続され、かつ他方の入力端子が接続端子３３に接続されることにより、信号生成部１１に直列に接続されて、信号生成部１１、接続端子３２、および、接続端子３３を含む電流経路（測定ループ）を流れる交流電流Ｉ１の電流値を予め決められた周期（一例として、交流電圧Ｖ１の周期に同期した周期）で測定する。また、電流測定部１２は、電流値を測定する都度、測定した電流値（以下、「測定電流値」とも称する）を、後述する制御部１４に出力する。
【００３６】
電圧測定部１３は、一例として交流電圧計で構成されて、一対の入力端子（不図示）のうちの一方の入力端子が接続端子３１に接続されると共に、他方の入力端子が接続端子３３に接続されて、接続端子３３と接続端子３１との間に発生する交流電圧Ｖｅの電圧値を予め決められた周期（一例として、交流電圧Ｖ１の周期に同期した周期）で測定する。また、電圧測定部１３は、電圧値を測定する都度、測定した電圧値（以下、「測定電圧値」とも称する）を後述する制御部１４に出力する。
【００３７】
制御部１４は、例えば、ＣＰＵなどの演算素子、および、内部メモリなどを備えて構成され、後述する操作入力部１７からユーザの操作入力に対応する信号の入力を受け、電流測定部１２から供給される測定電流値、および、電圧測定部１３から供給される測定電圧値に基づいて、図４を用いて後述する接地抵抗測定処理１を含む処理を実行する。この場合、内部メモリは、ＣＰＵのワークメモリとして機能する。
【００３８】
すなわち、制御部１４は、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定結果を所定数蓄積し、蓄積された被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定結果のうち、値が一致する桁数を判断して、その桁数の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの測定結果の、後述する表示部１６への表示を制御する。
【００３９】
記憶部１５は、例えば、半導体メモリやハードディスクなどで構成され、ＣＰＵなどの制御部１４の演算素子が実行する動作プログラムなどが予め記憶されている。
【００４０】
表示部１６は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）などのディスプレイ装置で構成されて、制御部１４が実行した各処理での結果を画面上に表示させる。
【００４１】
操作入力部１７は、例えば、ボタン、レバー、ダイヤル、タッチパネルなどの入力デバイスにより構成され、ユーザからの操作入力を受け、ユーザからの操作入力を示す信号を制御部１４に供給する。
【００４２】
接続端子３１には、第１補助接地極Ｐが接続され、接続端子３２には、第２補助接地極Ｃが接続され、接続端子３３には、被測定接地体Ｅが接続される。
【００４３】
なお、接地抵抗の測定時においては、図２に示すように、第１補助接地極Ｐ、第２補助接地極Ｃ、および、被測定接地体Ｅが予め接地され、接続端子３１が第１の補助接地極Ｐに、接続端子３２が第２の補助接地極Ｃに、接続端子３３が被測定接地体Ｅに、予め接続されているものとする。
【００４４】
図３は、制御部１４が有する機能について説明するための機能ブロック図である。
【００４５】
制御部１４は、電圧印加制御部５１、接地抵抗算出部５２、表示桁数判断部５３、および、表示制御部５４の機能を有している。
【００４６】
電圧印加制御部５１は、信号生成部１１を制御して、その両端に電圧Ｖ１を印加させる。
【００４７】
接地抵抗算出部５２は、電流測定部１２から供給された測定電流値、および、電圧測定部１３から供給された測定電圧値に基づいて、３電極法により、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を算出し（測定電圧値／測定電流値を演算し）、表示桁数判断部５３に供給する。接地抵抗算出部５２は、表示部１６が表示可能な桁数以上の桁数で、接地抵抗Ｒｅの抵抗値を算出する。
【００４８】
表示桁数判断部５３は、接地抵抗算出部５２から供給された被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を、所定のｎ回分蓄積し、蓄積された接地抵抗Ｒｅの抵抗値において値が一致する桁数を、測定結果が確かな桁数であると判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの抵抗値を表示制御部５４に供給する。接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の蓄積には、さまざまな方法を用いることができる。たとえば、第１回目の測定結果、第２回目の測定結果、第３回目の測定結果を蓄積し、次は、第４回目の測定、第５回目の測定結果、第６回目の測定結果を蓄積するように、順次、３回分の測定結果を蓄積することができる。また第１回目の測定結果、第２回目の測定結果、第３回目の測定結果を蓄積し、次は、第２回目の測定、第３回目の測定結果、第４回目の測定結果を蓄積するように、一部重複するように蓄積することもできる。
【００４９】
表示制御部５４は、供給された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の表示部１６への表示を制御する。
【００５０】
次に、図４のフローチャートを参照して、接地抵抗計１が実行する接地抵抗測定処理１について説明する。
【００５１】
ステップＳ１において、制御部１４は、操作入力部１７から供給される信号に基づいて、ユーザから測定開始が指令されたか否かを判断する。ステップＳ１において、ユーザから測定開始が指令されていないと判断された場合、ユーザから測定開始が指令されたと判断されるまで、ステップＳ１の処理が繰り返される。
【００５２】
ステップＳ１において、ユーザから測定開始が指令されたと判断された場合、ステップＳ２において、制御部１４は、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の測定値を算出する。
【００５３】
具体的には、制御部１４の電圧印加制御部５１が、信号生成部１１を制御して、その両端に電圧Ｖ１を印加させる。そして、電流測定部１２は、第２の補助接地極Ｃに流れる電流の電流値を測定し、得られた測定電流値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給し、電圧測定部１３は、被測定接地体Ｅ−第１の補助接地極Ｐ間の電圧値を測定し、測定電圧値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給する。そして、接地抵抗算出部５２は、電流測定部１２から供給された測定電流値、および、電圧測定部１３から供給された測定電圧値に基づいて、３電極法により、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を算出し、表示桁数判断部５３に供給する。
【００５４】
ステップＳ３において、制御部１４の表示桁数判断部５３は、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値が、所定の数ｎだけ蓄積されたか否かを判断する。ステップＳ３において、所定の数ｎだけ蓄積されていないと判断された場合、処理はステップＳ２にもどり、それ以降の処理が繰り返される。
【００５５】
ステップＳ３において、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値が、所定の数ｎだけ蓄積されたと判断された場合、ステップＳ４において、制御部１４の表示桁数判断部５３は、蓄積された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数を判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を表示制御部５４に供給する。
【００５６】
ステップＳ５において、制御部１４の表示制御部５４は、供給された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の表示部１６への表示を制御する。表示部１６は、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数の接地抵抗Ｒｅの値を表示する。
【００５７】
ステップＳ６において、制御部１４は、操作入力部１７から供給される信号に基づいて、ユーザから測定終了が指令されたか否かを判断する。ステップＳ６において、ユーザから測定終了が指令されていないと判断された場合、処理は、ステップＳ２にもどり、それ以降の処理が繰り返される。ステップＳ６において、ユーザから測定終了が指令されたと判断された場合、処理が終了される。
【００５８】
なお、図２、図３、および、図４を用いた説明においては、蓄積された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数を判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、測定値が確かであると推定されるとしたが、例えば、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとしてもよい。
【００５９】
例えば、蓄積数ｎ＝２であり、接地抵抗算出部５２による接地抵抗値の算出結果が、２．０１８→２．０２１→２．１２９→２．１６２であった場合の具体例について説明する。
【００６０】
上述したように、値が一致する桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、測定値が確かであると推定されるとした表示桁数判断部５３は、まず、２．０１８と２．０２１とを比較して、「２．０」を測定値が確かであるものとし、次に、２．０２１と２．１２９とを比較して、「２」を測定値が確かであるものとし、次に、２．１２９と２．１６２とを比較して、「２．１」を測定値が確かであるものとする。すなわち、表示部１６には、測定結果として、「２．０→２→２．１」が表示される。
【００６１】
これに対して、例えば、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が±１であれば、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとした場合、表示桁数判断部５３は、まず、２．０１８と２．０２１とを比較して、「２．０１」を測定値が確かであるものとし、次に、２．０２１と２．１２９とを比較して、「２・１」を測定値が確かであるものとし、次に、２．１２９と２．１６２とを比較して、「２．１」を測定値が確かであるものとする。すなわち、表示部１６には、測定結果として、「２．０１→２．１→２．１」が表示される。
【００６２】
このように、複数回分の物理量の測定値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとしたので、測定値の正確性を担保しつつ、測定結果の分解能をさらに高めることが可能となる。
【００６３】
以上のように、物理量を測定し、測定された複数回分の物理量の測定値に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断し、判断結果に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の物理量の測定値の表示を制御するようにしたので、正確な測定値が得られる分解能を可変とすることができる。特に、接地抵抗を測定する接地抵抗計においては、第２の接続端子Ｃと第３の接続端子Ｅとの間に所定の電圧を印加した状態において、第２の補助接地極Ｃを流れる電流の測定電流値と、被測定接地体Ｅと第１の補助接地極Ｐとの間に発生する電圧の測定電圧値とに基づいて、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を算出し、複数回分の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値に基づいて、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断して、測定値が確かであると推定される桁数の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の表示を制御するようにしたので、測定の分解能が、測定状態に応じて可変し、第２の補助接地抵抗Ｃの接地抵抗値が高い場合においても、ノイズが少ない環境であれば、高分解能の測定結果を得ることが可能となる。
【００６４】
また、複数回分の物理量の測定値において、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断するようにしたので、複雑な演算処理を行うことなく、測定の分解能を、測定状態に応じて可変とすることができる。具体的には、例えば、接地抵抗計において、第２の補助接地抵抗Ｃの接地抵抗値が高い場合においても、ノイズが少ない環境であれば、高分解能の測定結果を得ることが可能となる。
【００６５】
また、複数回分の物理量の測定値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁が、測定値が確かであると推定される桁数であると判断され、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値が、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示されるようにしたので、測定値の正確性を担保しつつ、測定結果の分解能をさらに高めることが可能となる。
【００６６】
また、この構成を応用することにより、第２の補助接地抵抗Ｃの接地抵抗値が高い場合においても、測定時間をかけることにより、できるだけ高い分解能で測定結果を得ることができる接地抵抗計を提供することが可能となる。
【００６７】
図５は、接地抵抗計１０１の構成を示すブロック図である。
【００６８】
なお、図２の接地抵抗計１と同一の部分には、同一の番号を付し、その詳細な説明は省略する。すなわち、図５の接地抵抗計１０１には、制御部１４に代えて、制御部１１１が設けられている。他の構成は、図２に示した接地抵抗計１と同様の構成を有する。
【００６９】
制御部１１１は、例えば、ＣＰＵなどの演算素子、および、内部メモリなどを備えて構成され、操作入力部１７からユーザの操作入力に対応する信号の入力を受け、電流測定部１２から供給される測定電流値、および、電圧測定部１３から供給される測定電圧値に基づいて、図７を用いて後述する接地抵抗測定処理２を含む処理を実行する。この場合、内部メモリは、ＣＰＵのワークメモリとして機能する。制御部１１１が有する機能の詳細は、図６を用いて説明する。
【００７０】
図６は、図５の接地抵抗計１０１の制御部１１１が有する機能を説明するための機能ブロック図である。なお、図３の制御部１４と同一の部分には、同一の番号を付し、その詳細な説明は省略する。すなわち、制御部１１１には、表示桁数判断部５３に代えて、表示桁数判断部１２２が設けられ、新たに、平均値算出部１２１が設けられている。他の機能は、図３に示した制御部１４と同様の機能を有する。
【００７１】
平均値算出部１２１は、接地抵抗算出部５２により算出された被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の入力を受け、その平均値を算出し、表示桁数算出部１２２に供給する。
【００７２】
表示桁数判断部１２２は、１回目および２回目の測定においては、接地抵抗算出部５２により算出された被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の入力を受け、値が一致する桁数を判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、表示制御部５４に供給する。そして、３回目の測定以降においては、平均値算出部１２１により算出された、１回目から最新の測定結果までの平均値と、１回目からその１つ前の測定結果までの平均値（すなわち、１つ前の測定において平均値算出部１２１から供給された値）とを比較し、値が一致する桁数、換言すれば、測定結果が確かであると推定される桁数を判断して、その桁数の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、表示制御部５４に供給する。
【００７３】
平均値算出部１２１により、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の平均値を算出する処理が繰り返されることにより、ノイズ成分が除去され（すなわち、Ｓ／Ｎ比が向上し）、測定結果が確かであると推定される桁数は増加する。
【００７４】
また、複数回の測定値の平均値により測定結果が確かであると推定される桁数を求めることができれば、平均値の算出に用いられる被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の選択方法は、この限りではない。例えば、平均値算出部１２１は、最高で最新ｎ（ｎ≧２）回の測定値の平均値を算出するものとし、表示桁数判断部１２２は、最新のｎ回の測定の平均値と、その１回前までのｎ回の測定値の平均値を比較して、その値が一致する桁数のみの値を表示制御部５４に供給するものとしても良い。
【００７５】
次に、図７のフローチャートを参照して、接地抵抗計１０１が実行する接地抵抗算出処理２について説明する。
【００７６】
ステップＳ２１において、制御部１１１は、操作入力部１７から供給される信号に基づいて、ユーザから測定開始が指令されたか否かを判断する。ステップＳ２１において、ユーザから測定開始が指令されていないと判断された場合、ユーザから測定開始が指令されたと判断されるまで、ステップＳ２１の処理が繰り返される。
【００７７】
ステップＳ２１において、ユーザから測定開始が指令されたと判断された場合、ステップＳ２２において、制御部１１１は、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を２回算出する。
【００７８】
具体的には、制御部１１１の電圧印加制御部５１が、信号生成部１１を制御して、その両端に電圧Ｖ１を印加させる。そして、電流測定部１２は、第２の補助接地極Ｃに流れる電流の電流値を測定し、得られた測定電流値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給し、電圧測定部１３は、被測定接地体Ｅ−第１の補助接地極Ｐ間の電圧値を測定し、測定電圧値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給する。そして、接地抵抗算出部５２は、電流測定部１２から供給された測定電流値、および、電圧測定部１３から供給された測定電圧値に基づいて、３電極法により、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を算出する。接地抵抗算出部５２は、２回分の算出値を、平均値算出部１２１および表示桁数判断部１２２に供給する。
【００７９】
ステップＳ２３において、制御部１１１の表示桁数判断部１２２は、１回目と２回目の接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値において値が一致する桁数を判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの抵抗値を表示制御部５４に供給する。
【００８０】
ステップＳ２４において、制御部１４の表示制御部５４は、供給された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の表示部１６への表示を制御する。
【００８１】
ステップＳ２５において、平均値算出部１２１は、１回目と２回目の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の平均を求め、表示桁数判断部１２２に供給する。
【００８２】
ステップＳ２６において、制御部１４は、操作入力部１７から供給される信号に基づいて、ユーザから測定終了が指令されたか否かを判断する。ステップＳ２６において、ユーザから測定終了が指令されたと判断された場合、処理が終了される。
【００８３】
ステップＳ２６において、ユーザから測定終了が指令されていないと判断された場合、ステップＳ２７において、制御部１１１は、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値を１回算出する。
【００８４】
具体的には、制御部１１１の電圧印加制御部５１が、信号生成部１１を制御して、その両端に電圧Ｖ１を印加させる。そして、電流測定部１２は、第２の補助接地極Ｃに流れる電流の電流値を測定し、得られた測定電流値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給し、電圧測定部１３は、被測定接地体Ｅ−第１の補助接地極Ｐ間の電圧値を測定し、測定電圧値を、制御部１４の接地抵抗算出部５２に供給する。そして、接地抵抗算出部５２は、電流測定部１２から供給された測定電流値、および、電圧測定部１３から供給された測定電圧値に基づいて、３電極法により、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅを算出し、１回分の算出値を、平均値算出部１２１に供給する。
【００８５】
ステップＳ２８において、制御部１１１の平均値算出部１２１は、これまでに供給された被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出値の平均を求め、表示桁数判断部１２２に供給する。
【００８６】
ステップＳ２９において、制御部１１１の表示桁数判断部１２２は、平均値算出部１２１から供給された最新の接地抵抗Ｒｅの抵抗値の平均値と、その１回前に平均値算出部１２１から供給された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の平均値とにおいて値が一致する桁数を判断して、その桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を表示制御部５４に供給する。
【００８７】
ステップＳ３０において、制御部１４の表示制御部５４は、供給された接地抵抗Ｒｅの抵抗値の表示部１６への表示を制御して、処理は、ステップＳ２６にもどり、それ以降の処理が繰り返される。
【００８８】
なお、図５、図６、および、図７を用いた説明においては、接地抵抗Ｒｅの抵抗値の平均値において値が一致する桁数を判断し、その桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、測定値が確かであると推定されるとしたが、例えば、算出された平均値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとしてもよい。
【００８９】
例えば、平均値算出部１２１による接地抵抗値の平均値の算出結果が、２．０１８→２．０２１→２．１２９→２．１６２であった場合の具体例について説明する。
【００９０】
上述したように、２つの平均値において値が一致する桁数の接地抵抗Ｒｅの接地抵抗値を、測定値が確かであると推定されるとした表示桁数判断部５３は、まず、２．０１８と２．０２１とを比較して、「２．０」を測定値が確かであるものとし、次に、２．０２１と２．１２９とを比較して、「２」を測定値が確かであるものとし、次に、２．１２９と２．１６２とを比較して、「２．１」を測定値が確かであるものとする。すなわち、表示部１６には、測定結果として、「２．０→２→２．１」が表示される。
【００９１】
これに対して、例えば、２つの平均値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が±１であれば、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとした場合、表示桁数判断部５３は、まず、２．０１８と２．０２１とを比較して、「２．０１」を測定値が確かであるものとし、次に、２．０２１と２．１２９とを比較して、「２・１」を測定値が確かであるものとし、次に、２．１２９と２．１６２とを比較して、「２．１」を測定値が確かであるものとする。すなわち、表示部１６には、測定結果として、「２．０１→２．１→２．１」が表示される。
【００９２】
このように、複数回分の物理量の測定値を用いて演算された平均値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断し、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値を、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示するものとしたので、測定値の正確性を担保しつつ、測定結果の分解能をさらに高めることが可能となる。
【００９３】
このような処理により、物理量を測定し、測定された複数回分の物理量の測定値に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断し、判断結果に基づいて、物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の物理量の測定値の表示を制御するようにしたので、正確な測定値が得られる分解能を可変とすることができる。特に、接地抵抗を測定する接地抵抗計においては、複数回分の被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の平均値を算出し、測定終了が指令されるまで、被測定接地体Ｅの接地抵抗Ｒｅの抵抗値の算出を繰り返し、算出回数をｎ回として、ｎ回目の算出結果を含む平均値の算出結果と、ｎ回目の算出結果を含まない平均値の算出結果とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断するようにしたので、測定の分解能が測定状態に応じて可変するとともに、測定値の平均値を取り続けることにより、測定値におけるＳ／Ｎ比が良くなるため、時間をかけて測定することにより、得られる測定結果の分解能が高くなる。
【００９４】
また、ｎ回の物理量の測定値の平均値と、（ｎ−１）回の物理量の測定値とにおいて、値が一致する桁数を、測定値が確かであると推定される桁数であると判断する、換言すれば、一回前の演算の結果を用いて、測定値が確かであると推定される桁数を判断するものとしたので、無駄のない演算処理で、測定におけるＳ／Ｎ比を向上させることが可能となる。
【００９５】
また、複数回分の物理量の測定値において、値が一致しない桁数の最上位桁の数値の差が所定の範囲内である場合、値が一致しない桁数の最上位桁が、測定値が確かであると推定される桁数であると判断され、値が一致しない桁数の最上位桁の数値のほぼ中央値にあたる値が、値が一致しない桁数の最上位桁の数値として表示されるようにしたので、測定値の正確性を担保しつつ、測定結果の分解能をさらに高めることが可能となる。
【００９６】
具体的には、従来の接地抵抗計を用いて被測定接地体Ｅの接地抵抗を測定する場合、高分解能の測定結果を得るためには、補助接地極の接地抵抗を下げる必要があり、例えば、水をかけるなどの作業が行われ、測定に時間を要する原因となっていた。しかしながら、補助接地極に水をかけても、補助接地極の接地抵抗が低くなるとは限らなかった。
【００９７】
これに対して、上述した接地抵抗計１０１を用いた場合、測定環境が悪い場合であっても、従来行われていた水をかけるなどの作業と比較すると問題がない程度のある程度の測定時間をかければ、ノイズの影響の少ない高分解能の測定結果を得ることができる。
【００９８】
上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、プログラム記録媒体からインストールされる。
【００９９】
なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
【０１００】
また、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１０１】
１…接地抵抗計、
１１…信号生成部、
１２…電流測定部、
１３…電圧測定部、
１４…制御部、
１５…記憶部、
１６…表示部、
１７…操作入力部、
３１，３２，３３…接続端子、
５１…電圧印加制御部、
５２…接地抵抗算出部（測定手段）、
５３…表示桁数判断部（判断手段）、
５４…表示制御部（表示制御手段）、
１０１…接地抵抗計、
１１１…制御部、
１２１…平均値算出部（平均値算出手段）、
１２２…表示桁数判断部（判断手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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