(57)【要約】【課題】製造コストの高騰や装置の大形化を招くことなく、測定値が存在しない時間帯が生じるのを回避する。【解決手段】測定対象の物理量を測定して測定データを出力する測定処理を実行する測定部と、Ｎ個の測定データＤを記憶可能に測定値記憶領域Ａ１〜ＡＮが規定された記憶部１５と、測定部を制御して測定処理を実行させると共に測定部から出力された測定データに基づいて生成した測定データＤを記憶部１５の各測定値記憶領域Ａに順次記憶させる処理部とを備えた測定装置１であって、処理部は、測定データＤ１〜ＤＭのＭ個を測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに記憶させたときに、測定データＤ１〜ＤＭのうちの測定順におけるＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤ２，Ｄ４・・ＤＭのＭａ個を消去する第１処理を実行する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の物理量を測定して測定値を出力する測定処理を実行する測定部と、Ｎ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値を記憶可能にＮ個の測定値記憶領域が規定された記憶部と、前記測定部を制御して前記測定処理を実行させると共に当該測定部から出力された前記測定値を前記記憶部の前記各測定値記憶領域に順次記憶させる処理部とを備えた測定装置であって、
前記処理部は、Ｍ個（Ｍは、２以上Ｎ以下の自然数）の前記測定値を前記測定値記憶領域に記憶させたときに、当該Ｍ個の測定値のうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつ（ＬａおよびＫａは、自然数）のＭａ個の当該測定値を消去する第１処理を実行する測定装置。
【請求項２】
前記処理部は、前記第１処理の開始後に前記測定部から順次出力される前記各測定値のうちの前記測定順でＬａ個おきでＫａ個ずつを除く当該測定値を前記各測定値記憶領域に記憶させる請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
前記処理部は、前記第１処理において、前記Ｍ個のうちのＭａ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍａ）個の当該測定値を前記Ｎ個の測定値記憶領域のうちの１番目の当該測定値記憶領域から当該測定順に記憶させ、その後に前記測定部から出力される前記測定値を（Ｍａ＋１）番目の前記測定値記憶領域から順に記憶させる請求項２記載の測定装置。
【請求項４】
前記処理部は、前記第１処理の後にＭ番目の前記測定値記憶領域まで前記測定値を記憶させたときに、当該各測定値記憶領域に記憶されているＭ個の当該各測定値のうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつ（ＬｂおよびＫｂは、自然数）のＭｂ個の当該測定値を消去すると共に、前記Ｍ個のうちのＭｂ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍｂ）個の当該測定値を前記１番目の測定値記憶領域から順に記憶させる第２処理を実行し、当該第２処理の開始後に前記測定部から順次出力される前記測定値のうちのＬａ個おきでＫａ個ずつを除く当該測定値のうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつを除く当該測定値を（Ｍｂ＋１）番目の前記測定値記憶領域から順に記憶させる請求項３記載の測定装置。
【請求項５】
前記処理部の制御に従って前記測定値を外部装置に送信する通信部を備え、
前記処理部は、予め規定された送信条件が満たされたときに、前記通信部を制御して前記記憶部に記憶されている前記測定値を送信させる請求項１から４のいずれかに記載の測定装置。
【請求項６】
請求項５記載の測定装置、および前記外部装置としての測定データ回収装置を備えて構成されている測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象の物理量を測定した測定値を記憶部の各測定値記憶領域に順次記憶させる構成の測定装置、および、そのような測定装置と測定データ回収装置とを備えて構成された測定システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置を備えて構成された測定システムとして、計測器、送信側手段および受信側手段を備えて構成された送受信システムが特開２０１１−１０１１５４号公報に開示されている。この送受信システムでは、上記の計測器として「締付トルク測定ユニット」を備え、計測器によって計測された計測値（測定値：この例では、締付機による締め付けトルクの値）が送信側手段に出力され、この計測値が送信側手段から受信側手段に送信されて受信側手段に蓄積される構成が採用されている。
【０００３】
この場合、送信側手段は、リングバッファメモリを有する送信側制御手段を備え、この送信側制御手段が、計測器から出力された計測値をリングバッファメモリの各記憶領域に順次記憶させると共に、記憶させた計測値を、送信側回路および送信側アンテナを介して受信側手段に送信する構成が採用されている。したがって、この送受信システムでは、例えば送信側手段と受信側手段との間の通信状態が一時的に悪化したとしても、計測器から出力された計測値（受信側手段に送信することのできない計測値）をリングバッファメモリに蓄積しておくことが可能となっている。これにより、従来の送受信システムでは、通信状態が良好となったときに、送信側手段（リングバッファメモリ）に蓄積しておいた計測値を受信側手段に順次送信して受信側手段に蓄積させることが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−１０１１５４号公報（第４−６頁、第１−３図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、従来の送受信システムには、以下の解決すべき問題点が存在する。すなわち、従来の送受信システムでは、送信側手段における送信側制御手段にリングバッファメモリを設けることにより、送信側手段から受信側手段に計測値を送信することができなくなったときに、この計測値を送信側手段に一時的に蓄積しておくことができる構成が採用されている。この場合、リングバッファメモリは、計測値を記憶する記憶領域の数が有限であるため、記憶領域の数を超える計測値を記憶させようとしたときには、最初に記憶させた計測値から順に新たな計測値が上書きされてこれが失われることとなる。
【０００６】
したがって、従来の送受信システムでは、送信側手段と受信側手段との間の通信が長時間に亘って途絶したときなどに、計測器から出力された各計測値のうちの最先の計測値から順に、一定時間分の計測値が連続して失われてしまうこととなる。このため、測定対象の変化をある程度の時間に亘って観測しているときなどには、その後に通信状態が復帰したとしても、計測値が存在しない時間帯が生じてしまうため、この計測値が存在しない時間帯内の測定対象の状態を把握するのが困難になるという問題点がある。
【０００７】
一方、リングバッファメモリの容量、すなわち、記憶領域の数を増加させることで、ある程度長い時間に亘って通信途絶状態が続いたとしても、計測値が失われる事態を回避して、一連の測定処理時に計測値が存在しない時間帯が生じるのを回避できる可能性がある。しかしながら、リングバッファメモリの容量を増加させる場合には、部品コストの高騰に伴って装置の製造コストが高騰すると共に、メモリ素子の大形化やメモリ素子の実装数の増加に伴って装置の大形化を招くという新たな問題が生じることとなる。
【０００８】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、製造コストの高騰や装置の大形化を招くことなく、測定値が存在しない時間帯が生じるのを回避し得る測定装置および測定システムを提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、測定対象の物理量を測定して測定値を出力する測定処理を実行する測定部と、Ｎ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値を記憶可能にＮ個の測定値記憶領域が規定された記憶部と、前記測定部を制御して前記測定処理を実行させると共に当該測定部から出力された前記測定値を前記記憶部の前記各測定値記憶領域に順次記憶させる処理部とを備えた測定装置であって、前記処理部は、Ｍ個（Ｍは、２以上Ｎ以下の自然数）の前記測定値を前記測定値記憶領域に記憶させたときに、当該Ｍ個の測定値のうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつ（ＬａおよびＫａは、自然数）のＭａ個の当該測定値を消去する第１処理を実行する。
【００１０】
また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記処理部は、前記第１処理の開始後に前記測定部から順次出力される前記各測定値のうちの前記測定順でＬａ個おきでＫａ個ずつを除く当該測定値を前記各測定値記憶領域に記憶させる。
【００１１】
さらに、請求項３記載の測定装置は、請求項２記載の測定装置において、前記処理部は、前記第１処理において、前記Ｍ個のうちのＭａ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍａ）個の当該測定値を前記Ｎ個の測定値記憶領域のうちの１番目の当該測定値記憶領域から当該測定順に記憶させ、その後に前記測定部から出力される前記測定値を（Ｍａ＋１）番目の前記測定値記憶領域から順に記憶させる。
【００１２】
また、請求項４記載の測定装置は、請求項３記載の測定装置において、前記処理部は、前記第１処理の後にＭ番目の前記測定値記憶領域まで前記測定値を記憶させたときに、当該各測定値記憶領域に記憶されているＭ個の当該各測定値のうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつ（ＬｂおよびＫｂは、自然数）のＭｂ個の当該測定値を消去すると共に、前記Ｍ個のうちのＭｂ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍｂ）個の当該測定値を前記１番目の測定値記憶領域から順に記憶させる第２処理を実行し、当該第２処理の開始後に前記測定部から順次出力される前記測定値のうちのＬａ個おきでＫａ個ずつを除く当該測定値のうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつを除く当該測定値を（Ｍｂ＋１）番目の前記測定値記憶領域から順に記憶させる。
【００１３】
さらに、請求項５記載の測定装置は、請求項１から４のいずれかに記載の測定装置において、前記処理部の制御に従って前記測定値を外部装置に送信する通信部を備え、前記処理部は、予め規定された送信条件が満たされたときに、前記通信部を制御して前記記憶部に記憶されている前記測定値を送信させる。
【００１４】
また、請求項６記載の測定システムは、請求項５記載の測定装置、および前記外部装置としての測定データ回収装置を備えて構成されている。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１記載の測定装置によれば、Ｍ個の測定値を測定値記憶領域に記憶させたときに、Ｍ個の測定値のうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個の測定値を消去する第１処理を実行することにより、記憶部に記憶されている測定値の個数がＭ個に達する都度、Ｍ個の測定値のうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個が消去されて、消去された測定値が記憶されていたＭａ個の測定値記憶領域に新たな測定値を記憶させることが可能となる。このため、大容量のメモリ（記憶部）を搭載しなくても、長時間分の測定値を記憶部に記憶させることができる結果、測定装置の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、長時間に亘って測定値を記憶させることができる。また、測定順で連続するＭａ個の測定値を消去する構成とは異なり、Ｍ個の測定値のうちのＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個を消去するため、測定値が連続して存在しない時間帯が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定値に基づいて、測定対象の状態を正確に把握することができる。
【００１６】
請求項２記載の測定装置によれば、第１処理の開始後に測定部から順次出力される各測定値のうちの測定順でＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定値を各測定値記憶領域に記憶させることにより、第１処理によって消去しなかった測定値の生成時間間隔と、その後に記憶部（測定値記憶領域）に記憶させる測定値の生成時間間隔とを一致させることができるため、各測定値の時間当たりの変化を違和感なく観察することができる。
【００１７】
請求項３記載の測定装置によれば、第１処理において、Ｍ個のうちのＭａ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍａ）個の測定値をＮ個の測定値記憶領域のうちの１番目の測定値記憶領域から測定順に記憶させ、その後に測定部から出力される測定値を（Ｍａ＋１）番目の測定値記憶領域から順に記憶させることにより、第１処理において消去したＭａ個の測定値が記憶されていた測定値記憶領域に新たな測定値を記憶させる構成とは異なり、いずれの測定値記憶領域に測定値が記憶され、いずれの測定値記憶領域に測定値が記憶されていないかを管理する処理を不要とし、いずれの測定値記憶領域まで測定値を記憶させたかだけを管理するだけで新たな測定値を記憶すべき測定値記憶領域を特定することができるため、記憶部（各測定値記憶領域）に対する測定値の記憶処理を十分に簡素化することができる。
【００１８】
請求項４記載の測定装置では、第１処理の後にＭ番目の測定値記憶領域まで測定値を記憶させたときに、各測定値記憶領域に記憶されているＭ個の各測定値のうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個の測定値を消去すると共に、Ｍ個のうちのＭｂ個の測定値を除く（Ｍ−Ｍｂ）個の測定値を１番目の測定値記憶領域から順に記憶させる第２処理を実行し、第２処理の開始後に測定部から順次出力される測定値のうちのＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定値のうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつを除く測定値を（Ｍｂ＋１）番目の測定値記憶領域から順に記憶させる。
【００１９】
したがって、請求項４記載の測定装置によれば、第１処理の後に、記憶部に記憶されている測定値の個数がＭ個に達する都度、Ｍ個の測定値のうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個が消去されて、消去された測定値が記憶されていたＭｂ個の測定値記憶領域に新たな測定値を記憶させることが可能となる。このため、大容量のメモリ（記憶部）を搭載しなくても、長時間分の測定値を記憶部に記憶させることができる結果、測定装置の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、さらに長時間に亘って測定値を記憶させることができる。また、測定順で連続するＭｂ個の測定値を消去する構成とは異なり、Ｍ個の測定値のうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個を消去するため、測定値が連続して存在しない時間帯が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定値に基づいて、測定対象の状態を正確に把握することができる。さらに、第２処理によって消去しなかった測定値の生成時間間隔と、その後に記憶部（測定値記憶領域）に記憶させる測定値の生成時間間隔とを一致させることができるため、各測定値の時間当たりの変化を違和感なく観察することができる。
【００２０】
請求項５記載の測定装置では、予め規定された送信条件が満たされたときに、記憶部に記憶されている測定値を通信部から送信させる。また、請求項６記載の測定システムでは、測定装置、および外部装置としての測定データ回収装置を備えて構成されている。したがって、請求項５記載の測定装置、および請求項６記載の測定システムによれば、測定装置において生成された各測定値に基づき、測定データ回収装置において測定対象の変化を詳細に観察することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】測定システム１００（測定装置１および測定データ回収装置２）のブロック図である。
【図２】測定装置１における記憶部１５内に規定された測定値記憶領域Ａ１〜ＡＮについて説明するための説明図である。
【図３】測定値記憶領域Ａ１〜Ａ３に測定データＤ１〜Ｄ３が記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【図４】測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに測定データＤ１〜ＤＭが記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【図５】測定値記憶領域Ａ１，Ａ２，Ａ３・・に測定データＤ１，Ｄ３，Ｄ５・・・が記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【図６】測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに測定データＤ１，Ｄ３・・，Ｄ（２Ｍ−３），Ｄ（２Ｍ−１）が記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【図７】測定値記憶領域Ａ１，Ａ２，Ａ３・・に測定データＤ１，Ｄ５，Ｄ９・・が記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【図８】測定値記憶領域Ａ１，Ａ３，Ａ５・・に測定データＤ１，Ｄ３，Ｄ５・・が記録され、かつ測定値記憶領域Ａ２，Ａ４に測定データＤ（Ｎ＋１），Ｄ（Ｎ＋３）が記録された状態の記憶部１５について説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明に係る測定装置および測定システムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００２３】
図１に示す測定システム１００は、「測定システム」の一例であって、測定装置１および測定データ回収装置２を備えて構成されている。なお、この測定システム１００は、複数台の測定装置１、および複数台の測定データ回収装置２を備えて構成することもできるが、理解を容易とするために、１台の測定装置１、および１台の測定データ回収装置２で構成した例（１台の測定装置１および１台の測定データ回収装置２を使用して測定データを記録する例）について以下に説明する。
【００２４】
測定装置１は、「測定装置」の一例であって、測定部１１、操作部１２、表示部１３、通信部１４、記憶部１５および制御部１６を備えている。測定部１１は、「測定部」の一例であって、測定対象の物理量（電流値、電圧値、抵抗値、電力値および位相などの電気的パラメータや、温度、湿度、輝度（光度）、照度、雨量および流量などの各種パラメータ：一例として、温度）を測定する「測定処理」を実行する。具体的には、測定部１１は、図示しない温度センサを備えると共に、後述するように、制御部１６の制御に従い、所定時間間隔で温度センサからのセンサ信号に基づいて測定対象の温度を測定して測定データＤｓを生成し、生成した測定データＤｓを制御部１６に出力する。
【００２５】
操作部１２は、測定装置１による測定処理条件を設定するための操作スイッチや、測定処理を開始／停止するスタート／ストップスイッチなどの各種操作スイッチ（図示せず）を備え、スイッチ操作に応じた操作信号を制御部１６に出力する。表示部１３は、一例として液晶表示パネルを備え、制御部１６の制御に従い、測定結果や、測定装置１の動作状態などを表示する。
【００２６】
通信部１４は、「通信部」に相当し、一例として、無線通信が可能に構成されて、後述するように、測定データ回収装置２から送信された処理開始指示信号Ｓ０などを受信して制御部１６に転送すると共に、制御部１６の制御に従って後述する測定データＤなどを測定データ回収装置２に送信する。なお、無線通信が可能な通信部１４に代えて（または、無線通信が可能な通信部１４に加えて）、有線通信によって測定データ回収装置２等の外部装置と通信可能な「通信部」を備えて構成することもできる。
【００２７】
記憶部１５は、「記憶部」の一例であって、後述するように制御部１６が測定部１１からの測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤ１，Ｄ２・・（「測定値」の一例：以下、区別しないときには「測定データＤ」ともいう）を記憶する。この場合、図２に示すように、記憶部１５は、１番目の測定値記憶領域Ａ１からＮ番目までの測定値記憶領域ＡＮのＮ個の「測定値記憶領域」（以下、これらを区別しないときには「測定値記憶領域Ａ」ともいう）が規定されてＮ個の測定データＤを記憶することができるように構成されている。
【００２８】
制御部１６は、測定装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部１６は、「処理部」に相当し、一例として、測定データ回収装置２から処理開始指示信号Ｓ０が送信されたときに、測定部１１を制御して測定処理を実行させる。また、制御部１６は、測定部１１から所定時間間隔で順次出力される測定データＤｓに基づいて測定データＤ１，Ｄ２・・を生成して記憶部１５の各測定値記憶領域Ａに記憶させる。さらに、制御部１６は、後述するように、予め規定された数の測定データＤが記憶部１５に記憶されたとき（「予め規定された送信条件が満たされたとき」の一例）に、記憶部１５から測定データＤを読み出して通信部１４から測定データ回収装置２に送信させる。
【００２９】
また、制御部１６は、記憶部１５内に予め規定されたＭ個の測定データＤを記憶させたときに、これらＭ個の測定データＤのうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつ（一例として、Ｌａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつ）のＭａ個の測定データＤを消去すると共に、Ｍ個のうちのＭａ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤを各測定値記憶領域Ａのうちの１番目の測定値記憶領域Ａ１から順に記憶させる（「第１処理」の一例）。さらに、制御部１６は、上記のようにＭ個のうちのＭａ個の測定データＤを消去する処理を開始した後に測定部１１から順次出力される測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤについては、Ｌａ個おきでＫａ個ずつを除いて（Ｍａ＋１）個目の測定値記憶領域Ａから順に各測定値記憶領域Ａに記憶させる。なお、上記の記憶部１５に対する測定データＤの記憶処理に関しては、後に詳細に説明する。
【００３０】
一方、測定データ回収装置２は、「外部装置」としての「測定データ回収装置」の一例であって、図１に示すように、ハードディスクドライブ２１、操作部２２、表示部２３、通信部２４、記憶部２５および制御部２６を備えている。ハードディスクドライブ２１は、後述するようにして測定装置１から送信されて記憶部２５に記憶された各測定データＤなどを記憶する。なお、ハードディスクドライブ２１に代えて、フラッシュメモリや、光ディスクまたは光磁気ディスク等の各種の記憶媒体に測定データＤを記憶させる構成を採用することもできる。
【００３１】
操作部２２は、測定データ回収装置２の動作条件や、後述するように、ハードディスクドライブ２１に記憶させる測定データＤからなるファイルのファイル名等を入力操作するための操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を制御部２６に出力する。表示部２３は、一例として、液晶表示パネルを備え、制御部２６の制御に従って各種表示画面を表示する。
【００３２】
通信部２４は、一例として、測定装置１の通信部１４と無線通信可能に構成されて、後述するように、制御部２６の制御に従って測定装置１に処理開始指示信号Ｓ０等を送信すると共に、測定装置１から送信された測定データＤを受信して制御部２６に転送する。なお、有線通信が可能な「通信部」を測定装置１に設けた場合には、無線通信が可能な通信部２４に代えて（または、無線通信が可能な通信部２４に加えて）有線通信が可能な通信部を測定データ回収装置２に設けることで、測定装置１との間で各種の通信を行うことができる。記憶部２５は、制御部２６の制御に従って上記の測定データＤなどを一時的に記憶する。
【００３３】
制御部２６は、測定データ回収装置２を総括的に制御する。具体的には、制御部２６は、一例として、利用者によって予め設定された条件に従い、通信部２４を制御して測定装置１に処理開始指示信号Ｓ０を送信させて「測定処理」を実行させる。また、制御部２６は、測定装置１から送信されて通信部２４によって受信された測定データＤを記憶部２５に記憶させる。さらに、制御部２６は、記憶部２５に記憶させた測定データＤをハードディスクドライブ２１に記憶させる。
【００３４】
なお、本例の測定システム１００では、一例として、上記の測定データ回収装置２が携帯型のパーソナルコンピュータで構成されている。この場合、携帯型のパーソナルコンピュータで構成された測定データ回収装置２に代えて、専用の測定データ回収装置（パーソナルコンピュータ等の汎用の装置を利用しない構成）を「測定データ回収装置」として採用して「測定システム」を構成することもできる。
【００３５】
この測定システム１００によって、測定対象の温度変化を測定データ回収装置２においてモニタリングする際には、一例として、測定装置１の操作部１２を操作して温度の測定条件（測定レンジや測定時間間隔等）を設定する。次いで、測定データ回収装置２の操作部２２を操作することにより、測定装置１による温度の測定処理を開始させる。この際に、測定データ回収装置２では、制御部２６が通信部２４を制御して測定装置１に処理開始指示信号Ｓ０を送信させる。一方、測定装置１では、通信部１４が処理開始指示信号Ｓ０を受信して制御部１６に転送し、制御部１６が転送された処理開始指示信号Ｓ０に応じて測定部１１を制御することで測定処理を開始させる。
【００３６】
これに応じて、測定部１１は、予め設定された測定条件に従って測定対象の温度を所定時間間隔で測定すると共に、測定した温度（測定値）を示す測定データＤｓを制御部１６に逐次出力する。また、制御部１６は、測定部１１から測定データＤｓが出力される都度、測定データＤ１，Ｄ２・・を生成して記憶部１５に記憶させる。この際に、制御部１６は、図３に示すように、最初に生成した測定データＤ１を記憶部１５の１番目の測定値記憶領域Ａ１に記憶させ、２番目に生成した測定データＤ２を２番目の測定値記憶領域Ａ２に記憶させる。なお、同図では、３番目に生成した測定データＤ３を３番目の測定値記憶領域Ａ３に記憶させた状態を図示している。
【００３７】
一方、測定部１１からの測定データＤｓに基づく測定データＤの生成、および生成した測定データＤの測定値記憶領域Ａへの記憶を繰り返すことにより、一例として、８番目の測定値記憶領域Ａ８まで測定データＤを記憶させたときに（「予め規定された送信条件が満たされたとき」の一例）、制御部１６は、記憶部１５（各測定値記憶領域Ａ）から測定データＤを読み出して通信部１４から測定データ回収装置２に送信させる。なお、「送信条件が満たされたとき」は、上記の例に限定されず、「送信開始を指示する操作が行われたとき」や、「測定データ回収装置２からの送信要求信号を受信したとき」などがこれに含まれる。
【００３８】
この際に、測定装置１の通信部１４と測定データ回収装置２の通信部２４との間に何らかの通信障害が生じて測定装置１から測定データ回収装置２に測定データＤを送信することができなかったときに、制御部１６は、測定データ回収装置２への測定データＤの送信を繰り返して実行させつつ（測定データＤの送信を試みつつ）、測定部１１からの測定データＤｓに基づく測定データＤの生成、および生成した測定データＤの記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）への記憶を継続して実行する。また、測定データ回収装置２に対する測定データＤの送信が行われることなく、記憶部１５に対する測定データＤの記憶処理が継続されて、図４に示すように、Ｎ個の測定値記憶領域ＡのうちのＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまで測定データＤを記憶させたときに（「Ｍ個の測定値を測定値記憶領域に記憶させたとき」の一例）、制御部１６は、「第１処理」を実行する。
【００３９】
具体的には、制御部１６は、まず、各測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに記憶されている測定データＤ１〜ＤＭのＭ個のうちの測定順におけるＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつのＭａ個の測定データＤ（この例では、測定データＤ２，Ｄ４・・，ＤＭのＭａ＝（２／Ｍ）個）を消去する。次いで、制御部１６は、図５に示すように、Ｍ個のうちの上記のＭａ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤ（この例では、測定データＤ１，Ｄ３・・，Ｄ（Ｍ−１）の（Ｍ／２）個：「Ｍ」として任意の偶数が規定されている例）を、１番目の測定値記憶領域Ａから（Ｍ／２）番目の測定値記憶領域Ａ（Ｍ／２）まで順に記憶させる。以上により、「第１処理」が完了する。なお、上記の例とは相異するが、「Ｍ」として任意の奇数が規定されている場合には、「第１処理」において、（Ｍ／２）の端数を繰り上げた個数の測定データＤが（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤとして記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶される。
【００４０】
一方、制御部１６は、上記の「第１処理」を開始した後に測定部１１から順次出力された測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤについては、Ｌａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除いて記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる。なお、そのような構成に代えて、「第１処理」を開始した後に、測定部１１から順次出力される測定データＤｓのうちのＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤｓを除いて測定データＤを生成し、生成した測定データＤのすべてを記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる構成を採用することもできる。
【００４１】
この場合、上記の「（Ｍ−Ｍａ）個」が多数の場合には、「第１処理」を完了するのにある程度の時間を要することとなる。したがって、制御部１６は、「第１処理」を開始した後に記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に新たに記憶させるべきＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤ、すなわち、測定データＤ（Ｍ＋１），Ｄ（Ｍ＋３）・・について、測定値記憶領域Ａ（Ｍ＋１），Ａ（Ｍ＋２）・・に順次記憶させると共に、「第１処理」を完了した時点において、図５に示すように、この測定データＤ（Ｍ＋１），Ｄ（Ｍ＋３）・・を測定値記憶領域Ａ（Ｍ＋１），Ａ（Ｍ＋２）・・から測定値記憶領域Ａ（Ｍ／２＋１），Ａ（Ｍ／２＋２）・・に移動させて記憶させる。また、その後に生成される新たな測定データＤのうちのＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤについては、上記のように測定データＤを移動させて記憶させた測定値記憶領域Ａに続けて順次記憶させる。
【００４２】
なお、上記の「Ｍ」の値については、記憶部１５内に規定する測定値記憶領域Ａの数（「Ｎ」の値）や、測定部１１が実行する測定処理の条件（測定時間間隔、つまり単位時間当たりに測定部１１から出力される測定データＤｓの数）に応じて任意に設定することができる。この場合、「Ｍ」の値を過剰に大きく設定し過ぎると（（Ｎ−Ｍ）の値が小さ過ぎると）、「第１処理」の実行中に測定部１１から出力される測定データＤｓに基づいて生成した測定データＤを記憶可能な測定値記憶領域Ａの数が不足するおそれがある。一方で、「Ｍ」の値を過剰に小さくし過ぎると、「第１処理」や「第２処理」等の処理を実行する頻度が高まる結果、測定データＤｓに基づく測定データＤの生成および記憶部１５への測定データＤの記憶の両処理と並行して「第１処理」や「第２処理」等の処理を実行するのが困難となるおそれがある。
【００４３】
したがって、上記の「Ｍ」の値については、１番目の測定値記憶領域Ａ１からＮ番目の測定値記憶領域ＡＮまでのＮ個の測定値記憶領域Ａが存在するときに、（Ｎ−Ｍ）個の測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤが記憶されるのに要する時間内に、「第１処理」や「第２処理」等の処理を完了することができると共に、「第１処理」や「第２処理」等の処理と並行して、測定データＤｓに基づく新たな測定データＤの生成、および生成した測定データＤの記憶部１５への記憶を完了することができるように設定するのが好ましい。
【００４４】
また、測定データ回収装置２に対する測定データＤの送信が行われることなく、測定部１１からの測定データＤｓに基づく測定データＤを記憶部１５に記憶させる処理を継続することにより、図６に示すように、Ｎ個の測定値記憶領域ＡのうちのＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまでＭ個の測定データＤを記憶させたときに、制御部１６は、「第２処理」を実行する。
【００４５】
具体的には、制御部１６は、まず、各測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに記憶されている測定データＤ１，Ｄ３・・，Ｄ（２Ｍ−３），Ｄ（２Ｍ−１）のＭ個のうちの測定順におけるＬｂ＝１個おきでＫｂ＝１個ずつのＭｂ個の測定データＤ（この例では、測定データＤ３，Ｄ７・・，Ｄ（２Ｍ−５），Ｄ（２Ｍ−１）のＭｂ＝（２／Ｍ）個）を消去する。次いで、制御部１６は、図７に示すように、Ｍ個のうちの上記のＭｂ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍｂ）個の測定データＤ（この例では、測定データＤ１，Ｄ５・・，Ｄ（２Ｍ−７），Ｄ（２Ｍ−３）の（Ｍ／２）個）を、１番目の測定値記憶領域Ａから（Ｍ／２）番目の測定値記憶領域Ａ（Ｍ／２）まで順に記憶させる。以上により、「第２処理」が完了する。
【００４６】
一方、制御部１６は、上記の「第２処理」を開始した後に、測定部１１から順次出力された測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤについては、Ｌａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤのうちのＬｂ＝１個おきでＫｂ＝１個ずつの測定データＤを除いて記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる。
【００４７】
具体的には、制御部１６は、「第２処理」を開始した後に記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に新たに記憶させるべきＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤのうちのＬｂ＝１個おきでＫｂ＝１個ずつの測定データＤ（本例では、１個おきで３個ずつの測定データＤ）を除く測定データＤ、すなわち、測定データＤ（２Ｍ＋１），Ｄ（２Ｍ＋５）・・について、測定値記憶領域Ａ（Ｍ＋１），Ａ（Ｍ＋２）・・に順次記憶させると共に、「第２処理」を完了した時点において、図７に示すように、この測定データＤ（２Ｍ＋１），Ｄ（２Ｍ＋５）・・を測定値記憶領域Ａ（Ｍ＋１），Ａ（Ｍ＋２）・・から測定値記憶領域Ａ（Ｍ／２＋１），Ａ（Ｍ／２＋２）・・に移動させて記憶させる。また、その後に生成される新たな測定データＤのうちのＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤのうちのＬｂ＝１個おきでＫｂ＝１個ずつの測定データＤを除く測定データＤについては、上記のように測定データＤを移動させて記憶させた測定値記憶領域Ａに続けて順次記憶させる。
【００４８】
この後、制御部１６は、測定部１１からの測定データＤｓに基づく測定データＤをＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまで記憶させる都度（記憶部１５に記憶させた測定データＤの個数がＭ個に達する都度）、測定値記憶領域Ａ１〜ＡＭに記憶されているＭ個の測定データＤのうちの１個おきで１個ずつの測定データＤを消去し、消去しなかった測定データＤを１番目の測定値記憶領域Ａ１から順に記憶させると共に、その処理を開始した後に測定部１１から出力される測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤについては、測定値記憶領域Ａ１〜Ａ（２／Ｍ）に記憶させた測定データＤの生成時間間隔に合わせて、数個おきで数個ずつを除いて測定値記憶領域Ａ（２／Ｍ＋１）から順に記憶させる処理を実行する。
【００４９】
以下、前述した「第１処理、および第１処理を開始した後にＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定データＤを各測定値記憶領域Ａに記憶させる処理」、および「第２処理、および第２処理を開始した後にＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定データＤのうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつを除く測定データＤを各測定値記憶領域Ａに記憶させる処理」や、「第２処理の後にＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまで測定データＤを記憶させる都度実行する上記の処理」を総称して「間引き記憶処理」ともいう。
【００５０】
一方、測定装置１（通信部１４）と測定データ回収装置２（通信部２４）との通信状態が良好となって測定装置１から測定データ回収装置２への測定データＤ等の送信が可能となったときに、制御部１６は、記憶部１５に記憶されている各測定データＤを測定データ回収装置２に送信させる。具体的には、本例では、上記したように「８番目の測定値記憶領域Ａ８まで測定データＤを記憶させる」との条件が満たされているこの時点において、「予め規定された送信条件」が既に満たされているため、制御部１６は、記憶部１５から測定データＤ等を読み出して通信部１４から測定データ回収装置２に送信させる。
【００５１】
また、測定データ回収装置２では、通信部２４が測定装置１（通信部１４）から送信された各測定データＤを受信して制御部２６に転送し、制御部２６が、転送された各測定データＤを記憶部２５に順次記憶させる。さらに、制御部２６は、記憶部２５内の測定データＤ，Ｄ・・をハードディスクドライブ２１に順次記憶させる。これにより、測定データＤが連続して存在しない時間帯が生じることなく、測定装置１の記憶部１５に記憶されていた各測定データＤ，Ｄ・・が測定データ回収装置２のハードディスクドライブ２１に記憶される。したがって、ハードディスクドライブ２１に記憶させた各測定データＤに基づく測定結果（グラフ等）を表示部２３に表示させることにより、測定対象の温度変化を、時間を追って観察することが可能となる。
【００５２】
なお、上記の例とは相異するが、上記の「間引き記憶処理」において、「第１処理」や「第２処理」に際して消去した数個おきで数個ずつの測定データＤや、その後に測定値記憶領域Ａに記憶させなかった数個おきで数個ずつの測定データＤを特定可能な情報（測定装置１において間引きされた測定データＤを特定可能な情報）を記憶部１５に記憶させておき、この情報を各測定データＤと共に測定装置１から測定データ回収装置２に送信することにより、測定装置１において間引きされた測定データＤを測定データ回収装置２において特定することが可能となる。また、このような構成を採用することで、例えば、「間引きされた測定データＤの直前に生成された測定データＤ」、および「間引きされた測定データＤの直後に生成された測定データＤ」に基づく補完処理によって「間引きされた測定データＤ」の値を補完することが可能となり、これにより、測定対象の温度変化を一層詳細に観察することが可能となる。
【００５３】
この場合、この測定装置１では、一例として、測定値記憶領域Ａ１，Ａ２・・に記憶されている測定データＤを測定データ回収装置２に送信した後に、この測定値記憶領域Ａ１，Ａ２・・を空き領域（新たな測定データＤ等の記憶に使用可能な領域）として、新たに記憶させるべき測定データＤを測定値記憶領域Ａ１から順次記憶させる構成が採用されている。この際に、測定装置１では、測定データ回収装置２に対して測定データＤを送信して上記の空き領域が生じた時点以降に生成する測定データＤについては、「間引き記憶処理」に代えて、測定部１１から出力される測定データＤｓに基づいて生成するすべての測定データＤを各測定値記憶領域Ａに順次記憶させる処理を実行する。
【００５４】
一方、予め設定された測定処理の終了条件が満たされたとき（一例として、設定された終了時刻が到来したとき）に、制御部１６は、測定部１１を制御して「測定処理」を終了させる。この際に、測定データ回収装置２に対する送信を完了していない測定データＤが記憶部１５内に存在するときには、制御部１６は、この未送信の測定データＤの送信を完了した時点において、一連の「測定処理」を終了する。
【００５５】
なお、上記の例とは相異するが、測定装置１と測定データ回収装置２との間の通信状態が改善されずに、測定装置１から測定データ回収装置２に測定データＤを送信することができない時間が長時間に亘って継続したときに、制御部１６は、「測定データ回収装置２に対して測定データＤを送信することができるようになった」との条件（「予め規定された終了条件」の一例）、「「間引き記憶処理」の実行回数が利用者によって設定された回数（例えば５回）に達した」との条件（「予め規定された終了条件」の他の一例）、および、「予め設定された測定処理の終了条件が満たされた」との条件（「予め規定された終了条件」のさらに他の一例）のいずれかが満たされるまで、上記の「間引き記憶処理」を繰り返して実行する。したがって、この測定装置１では、測定装置１から測定データ回収装置２に測定データＤを送信することができない時間が長時間に亘って継続したとしても、上記の「終了条件」が満たされるまで、測定データＤが連続して存在しない時間帯を生じさせることなく、各測定データＤを記憶部１５に記憶させることが可能となっている。
【００５６】
このように、この測定装置１、および測定システム１００によれば、Ｍ個の測定データＤを測定値記憶領域Ａに記憶させたときに、Ｍ個の測定データＤのうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個の測定データＤを消去する「第１処理」を実行することにより、記憶部１５に記憶されている測定データＤの個数がＭ個に達する都度、Ｍ個の測定データＤのうちの測定順におけるＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個が消去されて、消去された測定データＤが記憶されていたＭａ個の測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを記憶させることが可能となる。このため、大容量のメモリ（記憶部）を搭載しなくても、長時間分の測定データＤを記憶部１５に記憶させることができる結果、測定装置１の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、長時間に亘って測定データＤを記憶させることができる。また、測定順で連続するＭａ個の測定データＤを消去する構成とは異なり、Ｍ個の測定データＤのうちのＬａ個おきでＫａ個ずつのＭａ個を消去するため、測定データＤが連続して存在しない時間帯が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定データＤに基づいて、測定対象の状態を正確に把握することができる。
【００５７】
また、この測定装置１、および測定システム１００によれば、「第１処理」の開始後に測定部１１から順次出力される各測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤのうちの測定順でＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定データＤを各測定値記憶領域Ａに記憶させることにより、「第１処理」によって消去しなかった測定データＤの生成時間間隔と、その後に記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる測定データＤの生成時間間隔とを一致させることができるため、各測定データＤの値の時間当たりの変化を違和感なく観察することができる。
【００５８】
さらに、この測定装置１、および測定システム１００によれば、「第１処理」において、Ｍ個のうちのＭａ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤをＮ個の測定値記憶領域Ａのうちの１番目の測定値記憶領域Ａ１から測定順に記憶させ、その後に測定部１１から出力される測定データＤに基づいて生成する測定データＤを（Ｍａ＋１）番目の測定値記憶領域Ａ（Ｍａ＋１）から順に記憶させることにより、「第１処理」において消去したＭａ個の測定データＤが記憶されていた測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを記憶させる構成とは異なり、いずれの測定値記憶領域Ａに測定データＤが記憶され、いずれの測定値記憶領域Ａに測定データＤが記憶されていないかを管理する処理を不要とし、いずれの測定値記憶領域Ａまで測定データＤを記憶させたかだけを管理するだけで新たな測定データＤを記憶すべき測定値記憶領域Ａを特定することができるため、記憶部１５（各測定値記憶領域Ａ）に対する測定データＤの記憶処理を十分に簡素化することができる。
【００５９】
また、この測定装置１、および測定システム１００では、「第１処理」の後にＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまで測定データＤを記憶させたときに、各測定値記憶領域Ａに記憶されているＭ個の各測定データＤのうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個の測定データＤを消去すると共に、Ｍ個のうちのＭｂ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍｂ）個の測定データＤを１番目の測定値記憶領域Ａ１から順に記憶させる「第２処理」を実行し、「第２処理」の開始後に測定部１１から順次出力される測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤのうちのＬａ個おきでＫａ個ずつを除く測定データＤのうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつを除く測定データＤを（Ｍｂ＋１）番目の測定値記憶領域Ａ（Ｍｂ＋１）から順に記憶させる。
【００６０】
したがって、この測定装置１、および測定システム１００によれば、「第１処理」の後に、記憶部１５に記憶されている測定データＤの個数がＭ個に達する都度、Ｍ個の測定データＤのうちの測定順におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個が消去されて、消去された測定データＤが記憶されていたＭｂ個の測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを記憶させることが可能となる。このため、大容量のメモリ（記憶部）を搭載しなくても、長時間分の測定データＤを記憶部１５に記憶させることができる結果、測定装置１の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、さらに長時間に亘って測定データＤを記憶させることができる。また、測定順で連続するＭｂ個の測定データＤを消去する構成とは異なり、Ｍ個の測定データＤのうちのＬｂ個おきでＫｂ個ずつのＭｂ個を消去するため、測定データＤが連続して存在しない時間帯が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定データＤに基づいて、測定対象の状態を正確に把握することができる。さらに、「第２処理」によって消去しなかった測定データＤの生成時間間隔と、その後に記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる測定データＤの生成時間間隔とを一致させることができるため、各測定データＤの値の時間当たりの変化を違和感なく観察することができる。
【００６１】
さらに、この測定装置１では、予め規定された送信条件が満たされたとき（本例では、測定値記憶領域Ａ１〜Ａ８に測定データＤを記憶させたとき）に、記憶部１５に記憶されている測定データＤを通信部１４から送信させる。また、この測定システム１００では、測定装置１、および「外部装置」としての測定データ回収装置２を備えて構成されている。したがって、この測定装置１、および測定システム１００によれば、測定装置１において生成された各測定データＤに基づき、測定データ回収装置２において測定対象の変化を詳細に観察することができる。
【００６２】
なお、「測定装置」や「測定システム」の構成は、上記の測定装置１や測定システム１００の構成に限定されない。例えば、「第１処理」においてＭ個の測定データＤのうちのＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつの測定データＤを除くＭａ個の測定データＤを記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させ、「第２処理」においてＭ個の測定データＤのうちのＬｂ＝１個おきでＫｂ＝１個ずつの測定データＤを除くＭｂ個の測定データＤを記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させる構成を例に挙げて説明したが、「Ｌａ」、「Ｌｂ」、「Ｋａ」および「Ｋｂ」の値は「１」に限定されず、任意の自然数をこれらの値として規定することができる。
【００６３】
一例として、「第１処理」や「第２処理」において記憶部１５に記憶させる測定データＤ、およびその後に生成される測定データＤについては、Ｌａ（Ｌｂ）＝３個おきでＫａ（Ｋｂ）＝１個ずつを除いて記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させたり（「Ｌａ≠Ｋａ」および「Ｌｂ≠Ｋｂ」の一例）、「第１処理」において記憶部１５に記憶させる測定データＤ、およびその後に生成される測定データＤについては、Ｌａ＝５個おきでＫａ＝２個ずつを除いて記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させると共に、「第２処理」において記憶部１５に記憶させる測定データＤ、およびその後に生成される測定データＤについては、Ｌｂ＝２個おきでＫｂ＝１個ずつを除いて記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させたり（「Ｌａ≠Ｌｂ」および「Ｋａ≠Ｋｂ」の一例）することができる。
【００６４】
また、「第１処理」において（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤを測定値記憶領域Ａ１から順に記憶させる（消去したＭａ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍａ）個の測定データＤを１番目の測定値記憶領域Ａ１から順に再配置する）と共に、「第２処理」において（Ｍ−Ｍｂ）個の測定データＤを測定値記憶領域Ａ１から順に記憶させる（消去したＭｂ個の測定データＤを除く（Ｍ−Ｍｂ）個の測定データＤを１番目の測定値記憶領域Ａ１から順に再配置する）構成を例に挙げて説明したが、「第１処理」において消去したＭａ個の測定データＤが記憶されていた測定値記憶領域Ａや、「第２処理」において消去したＭｂ個の測定データＤが記憶されていた測定値記憶領域Ａを空き領域として、この測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを記憶させる構成を採用することもできる。
【００６５】
具体的には、一例として、Ｍ＝Ｎ個の測定データＤを各測定値記憶領域Ａに記憶させたときに、「第１処理」として、例えばＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつのＭａ＝２／Ｎ個の測定データＤを消去する。この際には、測定データＤ２，Ｄ４・・，Ｄ（Ｎ−２），ＤＮが記憶されていた測定値記憶領域Ａ２，Ａ４・・，Ａ（Ｎ−２），ＡＮが空き領域となる。次いで、図８に示すように、「第１処理」の開始後に測定部１１から出力される測定データＤｓに基づいて生成する測定データＤ（この例では、測定データＤ（Ｎ＋１），Ｄ（Ｎ＋２）・・）のうちのＬａ＝１個おきでＫａ＝１個ずつを除く測定データＤ（この例では、測定データＤ（Ｎ＋１），Ｄ（Ｎ＋３）・・）を、「第１処理」によって空き領域となった測定値記憶領域Ａ２，Ａ４・・，Ａ（Ｎ−２），ＡＮのうちの最先の測定値記憶領域Ａ（この例では、測定値記憶領域Ａ２）から順に記憶させる。
【００６６】
なお、図示、および詳細な説明を省略するが、「第２処理」以降の各「間引き記憶処理」においても、上記の例と同様にして、空き領域となった測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを順次記憶させる。このような構成においても、記憶部１５に記憶されている測定データＤの個数がＭ＝Ｎ個に達する都度、Ｍ＝Ｎ個の測定データＤのうちの測定順におけるＬａ（Ｌｂ）個おきでＫａ（Ｋｂ）個ずつのＭａ（Ｍａ）個が消去されて、消去された測定データＤが記憶されていたＭａ個（Ｍｂ個）の測定値記憶領域Ａに新たな測定データＤを記憶させることが可能となる。したがって、前述した測定装置１と同様にして、大容量のメモリ（記憶部）を搭載しなくても、長時間分の測定データＤを記憶部１５に記憶させることができる結果、「測定装置」の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、長時間に亘って測定データＤを記憶させることができる。また、測定順で連続するＭａ個（Ｍｂ個）の測定データＤを消去する構成とは異なり、Ｍ個の測定データＤのうちの数個おきで数個ずつの測定データＤを消去するため、測定データＤが連続して存在しない時間帯が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定データＤに基づいて、測定対象の状態を正確に把握することができる。
【００６７】
さらに、「第１処理」の開始後に新たに生成した測定データＤのうちのＬａ個おきでＫａ個を除く測定データＤだけを記憶部１５（測定値記憶領域Ａ）に記憶させたり、「第２処理」の開始後に新たに生成した測定データＤのうちのＬｂ個おきでＫｂ個を除く測定データＤだけを記憶部１５（各測定値記憶領域Ａ）に記憶させたりする構成を例に挙げて説明したが、「第１処理」の開始後に新たに生成した測定データＤや「第２処理」の開始後に新たに生成した測定データＤのすべてを記憶部１５に記憶させたり、「第１処理」の開始後に新たに生成した測定データＤについて「第１処理」におけるＬａ個おきでＫａ個ずつとは相異する数個おきで数個ずつの測定データＤを除いて記憶部１５に記憶させたり、「第２処理」の開始後に新たに生成した測定データＤについて「第２処理」におけるＬｂ個おきでＫｂ個ずつとは相異する数個おきで数個ずつの測定データＤを除いて記憶部１５に記憶させたりすることもできる。
【００６８】
また、「第１処理」の後にＭ番目の測定値記憶領域ＡＭまで測定データＤを記憶させたとき（「第１処理」の後に記憶部１５に記憶された測定データＤの数がＭ個に達したとき）に、「第２処理」を実行する構成を例に挙げて説明したが、この「第２処理」を実行せずに、Ｎ番目の測定値記憶領域ＡＮまで測定データＤを記憶させたときに、測定データＤの記憶処理を終了させる構成を採用することもできる。さらに、測定データ回収装置２に対する測定データＤの送信が完了したときに、測定データＤが記憶されていた各測定値記憶領域Ａに測定データＤ等を再び記憶させる構成を例に挙げて説明したが、記憶部１５内に規定したＮ個の測定値記憶領域Ａをリングバッファ形式の記憶部として使用する構成を採用することもできる。このような構成においては、各測定値記憶領域Ａのうちの最先の測定データＤが記録されている測定値記憶領域Ａを「１番目の測定値記憶領域」として各測定値記憶領域Ａに測定データＤを記憶させればよい。
【００６９】
また、測定装置１における測定処理と並行して、測定装置１から測定データ回収装置２に測定データＤを送信する構成を例に挙げて説明したが、測定処理時には、測定装置１の記憶部１５に測定データＤを記憶させておくだけで、測定処理の完了後に、無線通信や有線通信によって測定装置１から測定データ回収装置２に測定データＤを送信する構成を採用することもできる。また、記憶部１５として各種のリムーバブルメディアを採用して、測定処理の完了後に、この記憶部１５を測定装置１から取り外して測定データ回収装置２等の外部装置において測定データＤを読み出す構成を採用することもできる。これらの構成においても、「測定装置」の製造コストの高騰や大形化を招くことなく、測定データＤが存在しない時間帯（測定データＤの欠落）が生じるのを好適に回避することができる。これにより、測定データＤに基づいて、測定処理中の測定対象の状態を正確に把握することができる。
【符号の説明】
【００７０】
１００  測定システム
１  測定装置
２  測定データ回収装置
１１  測定部
１４，２４  通信部
１５，２５  記憶部
１６，２６  制御部
２１  ハードディスクドライブ
Ａ１〜ＡＮ  測定値記憶領域
Ｄ１，Ｄ２・・  測定データ
Ｄｓ  測定データ
Ｓ０  処理開始指示信号
【図１】
2014115171.tif 000003
【図２】
2014115171.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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