(57)【要約】【課題】まばらに分布して固定配置された第４世代の検出器を搭載したシステムで散乱補正を行なうこと。【解決手段】実施形態のＸ線コンピュータ断層撮影装置は、回転するＸ線源と、固定された複数のエネルギー識別型検出器と、処理装置と、制御装置とを備える。前記処理装置は、前記Ｘ線源の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示すシャドウマップを生成する。前記制御装置は、所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させる。前記処理装置は、前記ビューデータと、前記シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する。【選択図】図５
2014168688.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転するＸ線源と、
固定された複数のエネルギー識別型検出器と、
処理装置と、
制御装置と、
を備え、
前記処理装置は、前記Ｘ線源の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示すシャドウマップを生成し、
前記制御装置は、所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させ、
前記処理装置は、前記ビューデータと、前記シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記処理装置は、前記検出器に入射するＸ線の状態が、前記Ｘ線源からのＸ線が他のエネルギー識別型検出器により完全に遮断されて当該検出器に到達していない状態であるか、前記Ｘ線源からのＸ線が他のエネルギー識別型検出器により部分的に遮断されて当該検出器に部分的に到達している状態であるか、前記Ｘ線源からのＸ線が遮断されずに当該検出器に到達している状態であるか、当該検出器が前記Ｘ線源によるスキャン視野外にある状態であるかを決定して、前記シャドウマップを生成する、請求項１に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記処理装置は、前記複数のエネルギー識別型検出器の各検出器の既知の位置から、各視野角における前記シャドウマップを事前に計算する、請求項１又は２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
前記処理装置は、
前記制御装置が前記所定の範囲の複数の視野角でエアスキャンを実行させることで、前記所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各検出器のエアスキャンデータを取得し、
前記エアスキャンデータを用いて、前記所定の範囲の複数の視野角それぞれの視野角で、各検出器に入射するＸ線の状態を決定することで、前記シャドウマップを生成する、請求項１又は２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項５】
複数の非エネルギー識別型検出器、
を更に備え、
前記処理装置は、前記複数のエネルギー識別型検出器の各検出器の既知の位置及び前記複数の非エネルギー識別型検出器の既知の位置から、各視野角における前記シャドウマップを、非エネルギー識別型検出器とエネルギー識別型検出器とのそれぞれで事前に計算する、請求項１又は２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項６】
複数の非エネルギー識別型検出器、
を更に備え、
前記処理装置は、
前記複数のエネルギー識別型検出器が外された状態で、前記制御装置が前記所定の範囲の複数の視野角で第１エアスキャンを実行させることで、前記所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各非エネルギー識別型検出器の第１エアスキャンデータを取得し、
前記複数のエネルギー識別型検出器を取り付けた状態で、前記制御装置が前記所定の範囲の複数の視野角で第２エアスキャンを実行させることで、前記所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各非エネルギー識別型検出器と各エネルギー識別型検出器との第２エアスキャンデータを取得し、
前記第１エアスキャンデータ及び前記第２エアスキャンデータを用いて、前記所定の範囲の複数の視野角それぞれの視野角で、各非エネルギー識別型検出器に入射するＸ線の状態及び各エネルギー識別型検出器に入射するＸ線の状態を決定することで、前記シャドウマップを、非エネルギー識別型検出器とエネルギー識別型検出器とのそれぞれで生成する、請求項１又は２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項７】
前記処理装置は、所与の視野角での所与の検出器での前記第１エアスキャンデータと前記第２スキャンデータとを比較して、当該検出器に入射するＸ線の状態が、完全に遮断されている状態か、部分的に遮断されている状態か、遮断されていない状態かを決定する、請求項６に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項８】
前記処理装置は、所与の視野角での所与の検出器に対する前記シャドウマップのエントリーを読み込み、当該読み込んだエントリーが、前記所与の視野角での前記所与の検出器に入射するＸ線の状態が完全に遮断されていた状態であることを示すとき、前記所与の視野角での前記所与の検出器で収集されたビューデータが、散乱信号を示すと決定し、当該決定した散乱信号を用いて、前記所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する検出器に対する散乱補正を実行する、請求項１〜７のいずれか１つに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項９】
前記処理装置は、所与の視野角での所与の検出器に対する前記シャドウマップのエントリーを読み込み、当該読み込んだエントリーが、前記所与の視野角での前記所与の検出器に入射するＸ線の状態が部分的に遮断されていた状態であることを示すとき、前記所与の検出器で収集された前記ビューデータと、前記所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する少なくとも１つの検出器で収集された前記ビューデータとを用いて、前記所与の検出器における散乱信号と主要信号とを決定し、当該決定した散乱信号を用いて、前記所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する検出器に対する散乱補正を実行する、請求項１〜８のいずれか１つに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項１０】
回転するＸ線源と、固定された複数のエネルギー識別型検出器とを備えるＸ線コンピュータ断層撮影装置に適用される散乱補正方法をコンピュータに実行させるための散乱補正プログラムであって、
前記Ｘ線源の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示すシャドウマップを生成する生成手順と、
所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させる制御手順と、
前記ビューデータと、前記シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する補正手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする散乱補正プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び散乱補正プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
最も簡単な表現では、放射線イメージングは、被検体と検出器とを横断するＸ線ビームの光線当たりの全減衰に関する。減衰は、被検体が存在する場合と存在しない場合との同じ光線の比較に由来する。この概念定義から、画像を適切に構成するためには、幾つかのステップが必要となる。例えば、「Ｘ線発生装置の限定された大きさ」、「Ｘ線発生装置からの非常に低いエネルギーのＸ線を遮断するフィルタの特質及び形状」、「検出器の配置（geometry）及び特性の詳細な情報」及び「データ収集システム（data  acquisition  system）の容量」は、全て、実際の再構成を実行する方法に影響を及ぼす要素である。画像再構成では、撮影対象の被検体の線形減衰係数（ＬＡＣ：Linear  Attenuation  Coefficient）のマップは、逆ラドン変換によってＬＡＣの線積分から得られる。線積分は、被検体を通過する主要なＸ線の強度の対数に関連するものである。しかし、検出器で測定されるＸ線強度は、散乱光子（scattering    photon）と主要光子（primary    photon）とを含む可能性がある。従って、散乱Ｘ線が混在した強度から再構成される画像は、幾つかの散乱アーチファクトを含むことがある。
【０００３】
第３世代のＣＴ（Computed  Tomography）システムは、対向する位置に配置したＸ線源と検出器とを回転させるスキャン方式、すなわち、Ｒ／Ｒ（Rotate/Rotate）方式のＣＴシステムである。また、第４世代のＣＴシステムは、例えば、複数の検出器をリング状に固定配置してＸ線源を回転させるスキャン方式、すなわち、Ｓ／Ｒ（Stationary/Rotate）方式のＣＴシステムである。第４世代のＣＴシステムでは、Ｘ線光子のエネルギー値を計測可能な信号を出力するエネルギー識別型の検出器、すなわち、フォトンカウンティング方式の検出器（ＰＣＤ：Photon  Counting  Detector）が搭載される。また、第３世代のＣＴシステムでは、一般的には、非エネルギー識別型の検出器、すなわち、従来の積分型の検出器が搭載される。ここで、第３世代のＣＴシステムは、まばらに分布された「第４世代のフォトンカウンティング方式の検出器」を含むことができる。かかる複合システムでは、ファン角度の範囲にある検出器を通して主要ビームを収集するが、散乱防止用のグリッドが使用できない。従って、このような複合システム（第３／第４世代システム）の場合、散乱は重大な問題となる。特に、マルチスライスＣＴの場合、更に、広いコーン角でのワイドコーンＣＴの場合、散乱Ｘ線強度は、主要ビームの強度に等しくなったり、主要ビームの強度より高くなったりする。更に、フォトンカウンティング方式の検出器を用いることで可能となるスペクトルＣＴの場合、散乱Ｘ線強度は、検出計数率だけでなく、スペクトル測定値にも影響を及ぼす。
【０００４】
従来、第３世代のＣＴシステムにおいて、散乱を減らす様々な方法が提案されてきた。しかし、これらの方法は、どれも、まばらに分布された第４世代のＣＴ検出器には適切でない。
【０００５】
例えば、第３世代のシステムのための１つの従来の取り組みは、散乱が検出器に到達するのを物理的に遮断するために、ポストペイシェントコリメータ（post-patient  collimator）を使用することである。例えば、この方法では、積分型検出器（非エネルギー識別型検出器）にチャンネル方向に沿ったコリメータが取り付けられる。しかし、この取り組みは、Ｘ線ビームを大きなレンジのファン角度で受ける必要がある「まばらに分布された固定の第４世代の検出器」に対しては機能しない。
【０００６】
更に、第４世代のＣＴプラットホームでは、従来のシングルスライスのイメージングのために、第１の検出器列に隣接して置かれた第２の検出器列が使われ、第２の検出器列からの信号が、第１の検出器列に対する散乱を評価するために使用されている。しかし、この方法は、検出器の複数の列をマルチスライスＣＴのために使用した場合、機能しない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１３−１９２９５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明が解決しようとする課題は、まばらに分布して固定配置された第４世代の検出器を搭載したシステムで散乱補正を行なうことができる、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び散乱補正プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態のＸ線コンピュータ断層撮影装置は、回転するＸ線源と、固定された複数のエネルギー識別型検出器と、処理装置と、制御装置とを備える。前記処理装置は、前記Ｘ線源の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示すシャドウマップを生成する。前記制御装置は、所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させる。前記処理装置は、前記ビューデータと、前記シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が有するＣＴスキャナ装置の一例を示す図である。
【図２】図２は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する散乱補正法を示すフローチャートである。
【図３】図３は、本実施形態に係る散乱補正法の一例を示す図（１）である。
【図４】図４は、本実施形態に係る散乱補正法の一例を示す図（２）である。
【図５】図５は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照して、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び散乱補正プログラムの実施形態を詳細に説明する。本明細書に記載の実施形態、及び、それに付随する諸利点の多くは、添付図面と併せて考察すれば、以下の詳細な説明を参照することによって理解がより深まり、より完全に把握することが容易である。なお、以下では、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置を、Ｘ線ＣＴ装置と記載する。
【００１２】
本明細書に記載の実施形態は、まばらに分布された固定の第４世代ＣＴ検出器に対する散乱補正のための新しいシステム構成のＸ線ＣＴ装置、当該Ｘ線ＣＴ装置に適用される散乱補正方法及び当該散乱補正方法をコンピュータに実行させるための散乱補正プログラムを対象としている。
【００１３】
一実施形態によれば、回転するＸ線源と固定された複数のエネルギー識別型検出器とを備えたＣＴスキャナ装置（スペクトルＣＴスキャナ）と、処理装置（processor）と、制御装置（controller）とを備えたＸ線ＣＴ装置であって、散乱補正方法を実行するように構成されたＸ線ＣＴ装置が提供される。この散乱補正方法は、以下のステップを含む。まず、処理装置は、シャドウマップを生成する（シャドウマップ生成ステップ）。ここで、シャドウマップは、Ｘ線源の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示す。かかる状態を、以下では、「影状態」と記載する。一例として、処理装置は、影状態を、以下の４つの状態に分類するように構成される。すなわち、処理装置は、影状態が、「（ａ）Ｘ線源からのＸ線が他のエネルギー識別型検出器により完全に遮断されて検出器に到達していない状態」、「（ｂ）Ｘ線源からのＸ線が他のエネルギー識別型検出器により部分的に遮断されて検出器に部分的に到達している状態」、「（ｃ）Ｘ線源からのＸ線が遮断されずに検出器に到達している状態」及び「（ｄ）検出器がＸ線源によるスキャン視野（ＳＦＯＶ：Scan  Field  Of  View）の外にある状態」のうちのいずれか１つの状態であるかを決定する。処理装置は、各検出器の影状態が、上記のいずれかの状態であるかを決定して、シャドウマップを生成する。そして、制御装置は、ＣＴスキャナ装置を用いて、所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させる（制御ステップ）。そして、処理装置は、ビューデータと、シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する（散乱補正ステップ）。
【００１４】
ここで、一実施形態では、シャドウマップ生成ステップにおいて、処理装置は、複数のエネルギー識別型検出器の各検出器の既知の位置から、各視野角におけるシャドウマップを事前に計算する。
【００１５】
別の実施形態に係るシャドウマップ生成ステップは、以下の処理を含んで実行される。まず、処理装置は、制御装置が所定の範囲の複数の視野角でエアスキャンを実行させることで、所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各検出器のエアスキャンデータを取得する。そして、処理装置は、取得したエアスキャンデータを用いて、所定の範囲の複数の視野角それぞれの視野角で、各検出器に入射するＸ線の状態を決定することで、シャドウマップを生成する。
【００１６】
別の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、複数の非エネルギー識別型検出器を更に有するＣＴスキャナ装置を備える。この実施形態では、シャドウマップ生成ステップにおいて、処理装置は、複数のエネルギー識別型検出器の各検出器の既知の位置及び複数の非エネルギー識別型検出器の既知の位置から、各視野角におけるシャドウマップを、非エネルギー識別型検出器とエネルギー識別型検出器とのそれぞれで事前に計算する。或いは、複数の非エネルギー識別型検出器を更に有するＣＴスキャナ装置を備える実施形態では、シャドウマップ生成ステップにおいて、処理装置は、以下の処理を行なう。すなわち、処理装置は、複数のエネルギー識別型検出器が外された状態で、制御装置が所定の範囲の複数の視野角で第１エアスキャンを実行させることで、所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各非エネルギー識別型検出器の第１エアスキャンデータを取得する。また、処理装置は、複数のエネルギー識別型検出器を取り付けた状態で、制御装置が所定の範囲の複数の視野角で第２エアスキャンを実行させることで、所定の範囲の複数の視野角それぞれにおける各非エネルギー識別型検出器と各エネルギー識別型検出器との第２エアスキャンデータを取得する。そして、処理装置は、第１エアスキャンデータ及び第２エアスキャンデータを用いて、所定の範囲の複数の視野角それぞれの視野角で、各非エネルギー識別型検出器に入射するＸ線の状態及び各エネルギー識別型検出器に入射するＸ線の状態を決定することで、シャドウマップを、非エネルギー識別型検出器とエネルギー識別型検出器とのそれぞれで生成する。
【００１７】
ここで、更に、別の実施形態では、シャドウマップ生成ステップにおいて、処理装置は、所与の視野角での所与の検出器での第１エアスキャンデータと第２スキャンデータとを比較して、当該検出器に入射するＸ線の状態が、完全に遮断されている状態か、部分的に遮断されている状態か、遮断されていない状態かを決定する。
【００１８】
一実施形態では、散乱補正ステップにおいて、処理装置は、以下の処理を行なうように構成される。すなわち、処理装置は、所与の視野角での所与の検出器に対するシャドウマップのエントリーを読み込む。そして、処理装置は、読み込んだエントリーが、所与の視野角での所与の検出器に入射するＸ線の状態が完全に遮断されていた状態であることを示すとき、所与の視野角での所与の検出器で収集されたビューデータが、散乱信号を示すと決定する。そして、処理装置は、当該決定した散乱信号を用いて、所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する検出器に対する散乱補正を実行する。
【００１９】
別の実施形態では、散乱補正ステップにおいて、散乱補正ステップにおいて、処理装置は、以下の処理を行なうように構成される。すなわち、処理装置は、所与の視野角での所与の検出器に対する前記シャドウマップのエントリーを読み込む。そして、処理装置は、読み込んだエントリーが、所与の視野角での所与の検出器に入射するＸ線の状態が部分的に遮断されていた状態であることを示すとき、所与の検出器で収集されたビューデータと、所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する少なくとも１つの検出器で収集されたビューデータとを用いて、所与の検出器における散乱信号と主要信号とを決定する。そして、処理装置は、当該決定した散乱信号を用いて、所与の検出器に空間的に、又は、時間的に隣接する検出器に対する散乱補正を実行する。
【００２０】
以下、図１〜図５を用いて、上記の実施形態の一例について、詳細に説明する。図１は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が有するＣＴスキャナ装置の一例を示す図であり、図２は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する散乱補正法を示すフローチャートである。また、図３及び図４は、本実施形態に係る散乱補正法の一例を示す図であり、図５は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成例を示す図である。
【００２１】
図１は、第３世代のＣＴシステムと第４世代のＣＴシステムとの複合システムであって、まばらに分布して固定された第４世代の検出器を備える複合システムのＣＴスキャナ装置を例示している。図１では、図５に示す回転するＸ線源１０から照射されるＸ線の焦点を黒丸で示している。Ｘ線源１０が発生したＸ線ビームは、図５に示す「フィルタ及びコリメータ２０」により、Ｘ線量が調節され、更に、照射範囲が絞り込まれる。これにより、図５に示すＸ線源１０は、図１に示すように、焦点から広いファン角を有するＸ線を照射する。なお、図５に示すＸ線源１０は、図示していないが、ファン角とともに、コーン角を持って広がるＸ線を照射する。
【００２２】
そして、ＣＴスキャン装置は、図１及び図５に示すように、複数の非エネルギー識別型検出器で構成される第３世代の検出器３０を備える。非エネルギー識別型検出器は、例えば、フォトダイオードで構成される。Ｘ線源１０と第３世代の検出器３０とは、有効視野（ＦＯＶ）の中心を挟んで、図示しない回転フレームに０固定配置される。Ｘ線源１０と第３世代の検出器３０とは、回転フレームの回転にともない、回転する。
【００２３】
また、ＣＴスキャン装置は、図１及び図５に示すように、複数のエネルギー識別型検出器で構成される第４世代の検出器４０を備える。エネルギー識別型検出器は、例えば、テルル化カドミウム（ＣｄＴｅ）系の半導体等のフォトンカウンティングセンサで構成される。或いは、エネルギー識別型検出器は、例えば、シンチレータと光電子増倍管とで構成される。そして、第４世代の検出器４０を構成する複数のエネルギー識別型検出器（検出素子）は、図１に示すように、ＦＯＶの中心から半径ＲＰＣＤのリング状（例えば、中空円筒形）のフレームに、まばらに分布して固定配置される。なお、図１に示すＲＦＯＶは、Ｘ線源１０、第３世代の検出器３０及び第４世代の検出器４０の配置（geometry）等により決まる有効視野の半径を示す。
【００２４】
図１に示すように、まばらに分布して固定配置されるエネルギー識別型検出器は、まばらに分布して固定配置される他のエネルギー識別型検出器の上に影を投げ掛ける。図１では、ある管球位置でのＸ線焦点側に位置するエネルギー識別型検出器４０ａにより生じる影を、点でハッチングした三角形で示している。図１では、第４世代の検出器４０の３つのエネルギー識別型検出器と、第３世代の検出器３０の一部領域が、エネルギー識別型検出器４０ａにより生じる影に入っていることを示している。以下で詳細に説明するが、まばらな検出器上の影は、散乱を評価するのに使われる。本実施形態では、散乱評価及び散乱補正は、図５に示す処理装置７０が、データ収集システム６０及び制御装置５０等と連携して処理を行なうことで、実行される。
【００２５】
図２は、一実施形態に係る第３／第４世代の複合システムのＸ線ＣＴ装置が行なう散乱補正方法のフローチャートである。
【００２６】
ステップ２００では、所定の範囲の複数の視野角で第３世代の検出器３０のみで第１エアスキャンを実行して、第１エアデータを収集する。すなわち、フォトンカウンティング方式の検出器である第４世代の検出器４０が取り外された状態で、処理装置７０の指示による制御装置５０の制御により、ＣＴスキャン装置は、被検体がいない状態で、第１エアスキャンを実行する。これにより、データ収集システム６０は、第１エアデータを収集する。ＣＴスキャン装置は、この第１エアスキャンをフルセット（画像再構成可能な範囲）での各視野角（各ビュー）で実行し、データ収集システム６０は、各視野（各ビュー）の各非エネルギー識別型検出器での第１エアデータを収集する。第１エアデータは、ビュー単位で、第３世代の検出器３０を構成する各非エネルギー識別型検出器（各検出素子又は各検出器モジュール）が検出したＸ線強度の積分値を収集したデータとなる。
【００２７】
ステップ２１０では、所定の範囲の複数の視野角で第３世代の検出器３０と第４世代の検出器４０との両検出器で第２エアスキャンを実行して、第２エアデータを収集する。すなわち、処理装置７０の指示による制御装置５０の制御により、ＣＴスキャン装置は、被検体がいない状態での第２エアスキャンを、第３世代及び第４世代の両検出器素子を含む状態の図１に示すＣＴスキャン装置を用いて実行する。ＣＴスキャン装置は、第２エアスキャンを、第１エアスキャンで実行された同じセットの視野角に対して実行し、データ収集システム６０は、各視野（各ビュー）の各非エネルギー識別型検出器での第２エアデータと、各視野（各ビュー）の各エネルギー識別型検出器での第２エアデータとを収集する。第３世代の第２エアデータは、影が生じている状態にて、ビュー単位で、第３世代の検出器３０を構成する各検出素子が検出したＸ線の強度の積分値を収集したデータとなる。また、第４世代の第２エアデータは、以下のデータとなる。第４世代の検出器４０を構成する各エネルギー識別型検出器（各検出素子又は各検出器モジュール）は、Ｘ線光子が入射するごとに、当該Ｘ線光子のエネルギーを測定可能な信号を出力する。例えば、データ収集システム６０は、第４世代の検出器４０を構成する各検出素子が出力した信号を計数するとともに、当該信号を解析して、入射Ｘ線光子のエネルギーを弁別する。例えば、データ収集システム６０は、入射Ｘ線光子のエネルギーを、５つのエネルギーウィンドウで弁別する。かかる場合、第４世代の第２エアデータは、影が生じている状態にて、ビュー単位で、かつ、エネルギーウィンドウ単位で、Ｘ線強度の積分値（計数値の積分値）を収集したデータとなる。
【００２８】
ステップ２２０では、ステップ２００及び２１０で収集されたデータ、すなわち第１エアデータと第２エアデータとに基づいて、シャドウマップ（又は、シャドウデーブル）を生成する。シャドウマップは、ビューごとに各検出素子に対するシャドウデータ値を含む。シャドウデータは、ある検出素子が、あるビューにおいて、影に入るか否かをほぼ示す。
【００２９】
特に、一実施形態では、シャドウ値は、各ビュー及び各検出素子に対して、以下の４つの値のうちの１つである。すなわち、『（１）所与のビューに対して、所与の検出素子がＦＯＶ外であることを意味する「オフ」』と、『（２）Ｘ線源１０からのＸ線が、第４世代の検出器４０のどの検出器によっても全く遮断されていないことを意味する「遮断無し」』と、『（３）Ｘ線源１０からの全てのＸ線が、第４世代の検出器４０によって完全に遮断されていることを意味する「完全遮断」』と、『（４）Ｘ線源１０からのＸ線が、第４世代の検出器４０によって部分的に遮断されていること、又は、所与の検出素子が部分的に影に入っていることを意味する「部分的遮断」』と、の４つの値である。
【００３０】
例えば、第３世代の検出器３０の場合、第１エアスキャンからのデータを第２エアスキャンからのデータと比較して、ビューごとに、どの検出素子が、遮断されていないか、完全に遮断されているか、又は、部分的に遮断されているかを決定できる。例えば、所定のビューと所与の検出素子とにおいて、第１エアデータの値が「Ｉ」であり、第２エアデータの値が「Ｉ／２（一般的には、「Ｉ」より小さい値）」である場合、この検出素子は、部分的に遮断されている「部分的遮断」として、シャドウマップ（又は、シャドウデーブル）で分類されることになる。また、第１エアデータの値及び第２エアデータの値が「Ｉ」である場合（又は、略等しい場合）、この検出素子は、遮断されていない「遮断無し」として、シャドウマップ（又は、シャドウデーブル）で分類されることになる。また、第１エアデータの値が「Ｉ」であり、第２エアデータの値が「０」である場合、この検出素子は、完全に遮断されている「完全遮断」として、シャドウマップ（又は、シャドウデーブル）で分類されることになる。また、第１エアデータの値及び第２エアデータの値が「０（又は、略０）」である場合、この検出素子は、ＦＯＶ外である「オフ」として、シャドウマップ（又は、シャドウデーブル）で分類されることになる。
【００３１】
また、例えば、第４世代の検出器４０の場合、処理装置７０は、第１エアスキャンからのデータと、第２エアスキャンで得られたエネルギーウィンドウ単位のデータを合算したデータとを用いて、上記の判定を行なうことで、ビューごとに、どの検出素子が、遮断されていないか、完全に遮断されているか、又は、部分的に遮断されているかを決定できる。なお、第４世代の検出器４０の場合、処理装置７０は、Ｘ線源１０から照射直後のＸ線のエネルギースペクトルの形状から、第１エアスキャンからのデータを、エネルギーウィンドウごとのデータに変換して、上記の判定処理を行なっても良い。
【００３２】
ここで留意すべきは、基本的な幾何学的計算を用いて、あるビューのＦＯＶにおいて、第３世代の検出器３０及び第４世代の検出器４０それぞれで、どの検出素子がＦＯＶ外であるかを決定することができる。更に、ＣＴスキャナ装置を構成する各要素の配置構成に基づく幾何学的計算では、上記のエアスキャンを行なうことなく、第３世代の検出器３０及び第４世代の検出器４０を構成する各検出素子に対して、シャドウマップの値を決定することもできる。
【００３３】
すなわち、処理装置７０は、第３世代の検出器３０のシャドウマップ及び第４世代の検出器４０のシャドウマップ生成を、第１エアデータ及び第２エアデータを用いて行っても良いし、ＣＴスキャナ装置の設計情報に基づく幾何学的計算により行っても良い。なお、エアスキャンを用いる場合、第４世代の検出器４０の取り外し及び取り付けが必要となるので、例えば、Ｘ線ＣＴ装置の出荷前や、点検時に、シャドウマップ生成を行なっておくことが好適である。この点、幾何学的計算を用いる場合は、ＣＴスキャナ装置の設計情報を、予め、Ｘ線ＣＴ装置に記憶させておくことで、処理装置７０は、ユーザが要望する任意のタイミングで、シャドウマップを生成することができる。ただし、エアスキャンを行なうことで、「部分的遮断」がどの遮断であるかを示す情報を、幾何学的計算より高精度に得ることができると考えられる。
【００３４】
各エネルギー識別型検出器がまばらに分布して固定配置される第４世代の検出器４０を用いる本実施形態では、あるビューで収集されたデータに、散乱信号を示すデータが含まれるように、少なくとも１つの検出器が完全に遮断されるように、処理装置７０、又は、制御装置５０は、ビューのサンプリング周波数を増やす、すなわち、ビューの間隔を小さくすることができる。
【００３５】
ステップ２３０では、処理装置７０及び制御装置５０の指示により、ＣＴスキャン装置は、被検体の実スキャン（本撮影）を実行して、データ収集システム６０は、ビューデータを収集する。具体的には、処理装置７０及び制御装置５０の指示により、ＣＴスキャン装置は、エアスキャンで使用された複数のビュー、又は、当該複数のビューに含まれるサブセットにわたって、実スキャンを実行し、データ収集システム６０は、再構成で使用される一式のビューデータを生成する。例えば、データ収集システム６０は、第３世代の検出器３０の出力信号から、被検体の全周囲に渡る各ビューのビューデータ（Ｘ線強度の分布データ）を収集する。また、例えば、データ収集システム６０は、第４世代の検出器４０の出力信号から、被検体の全周囲に渡る各ビューの各エネルギーウィンドウのビューデータ（各エネルギーウィンドウのＸ線強度の分布データ）を収集する。
【００３６】
ステップ２４０では、処理装置７０は、収集されたビューデータとシャドウマップとを使って、散乱補正と再構成とを実行する。まず、処理装置７０は、シャドウマップを、ステップ２３０で収集されたデータ一式と組み合わせて使用して、再構成の前に散乱補正を実行する。具体的には、処理装置７０は、各ビューの各検出器（検出素子）において、ビューデータを、シャドウマップ内の対応するエントリーに基づいて処理する。そして、処理装置７０は、収集されたビューデータをシャドウマップに基づいて処理して散乱信号を取得した後、取得した散乱信号に基づいて、再構成を実行する。
【００３７】
例えば、「あるビューで、ある検出素子」の組み合わせにおいて、シャドウマップのエントリーが、当該検出素子が「完全遮断」を示す場合、実スキャンにおいて、当該検出素子で収集されたビューデータは、散乱に起因したものである。ここで、第４世代の検出器４０には、上述したように、コリメータを取り付けることができないので、「完全遮断」の検出素子には散乱線は入射する。また、第３世代の検出器３０には、例えば、チャンネル方向に沿ってコリメータを取り付けたり、被検体の体軸方向に沿ってコリメータを取り付けたり、或いは、チャンネル方向及び体軸方向それぞれに沿ってコリメータを取り付けたりしても、「完全遮断」の検出素子に散乱線が入射する可能性を完全には排除できない。ここで、再構成処理に用いる主要信号は、Ｘ線経路上における撮影対象物によるＸ線の減弱を反映しているため、空間的な構造を反映した信号である。一方、散乱信号は、様々な場所で散乱したＸ線が、様々な経路を通って入射するため、積分された（又は、平均化された）信号であり、空間的な構造を反映していない信号、すなわち、空間的構造の無い信号となる。従って、散乱（散乱信号）は、空間的かつ時間的に緩やかに変化すると仮定することができ、かかる場合、実スキャンにおいて、例えば、「完全遮断」を示す検出素子で収集されたビューデータや、「部分遮断」を示す検出素子で収集されたビューデータは、従来の散乱補正アルゴリズムを用いて、空間的、又は、時間的に隣接する検出素子に対する散乱信号として使用できる。
【００３８】
更に、「あるビューで、ある検出素子」の組み合わせにおいて、シャドウマップのエントリーが、当該検出素子が「遮断無し」を示す場合、散乱情報は利用できない。また、「あるビューで、ある検出素子」の組み合わせにおいて、シャドウマップのエントリーが、当該検出素子（例えば、第４世代の検出素子）がＦＯＶ外であることを意味する「オフ」を示す場合、実スキャンにおいて、当該検出素子で収集されたビューデータ（計数データ）は、散乱に起因したものであり、特定の散乱モデルを使って散乱補正のために利用される。例えば、特定の散乱モデルは、ＦＯＶの外側で測定された計数に基づいて調節されるいくつかの調節可能なパラメータを有することができる。
【００３９】
例えば、「あるビューで、ある検出素子」の組み合わせに対して、当該検出素子が部分的に影に入っていたこと（換言すると、主要ビームが第４世代の検出素子によって部分的に遮断されていたこと）を、シャドウマップが示す場合、図３、図４及び数式を用いて、以下に記載するように、散乱信号と主要信号とを分離する方法を用いて、散乱信号を計算できる。なお、上記の説明、並びに、以下に説明する内容は、第３世代の検出器３０及び第４世代の検出器４０それぞれにおける散乱補正方法として、適用することができる。
【００４０】
図３は、２つの隣接する検出素子と、主要ビームが検出素子のうちの少なくとも１つに到達しないように少なくとも部分的に遮断する遮断物とを示している。また、図３では、焦点から照射されたファン角を有するＸ線ビームを示している。図３に示す検出素子１には、遮蔽物により部分的に遮断されたＸ線が入射する。また、図３に示す検出素子２では、遮蔽物によりＸ線が完全に遮断されている。
【００４１】
被検体の実スキャンで測定された検出素子１の強度は、「Ｉ（１）＝Ｉ０（１）ｅ−ｇ（１）＋Ｉｓ（１）」で与えられる。また、被検体の実スキャンで測定された検出素子２の強度は、「Ｉ（２）＝Ｉ０（２）ｅ−ｇ（２）＋Ｉｓ（２）」で与えられる。ここで、「Ｉｓ（１）」は、検出素子１における散乱信号であり、「Ｉｓ（２）」は、検出素子２における散乱信号である。また、「Ｉ０（１）」は、Ｘ線源１０からのＸ線が減弱されずに検出素子１に入射した場合のＸ線強度であり、「Ｉ０（２）」は、Ｘ線源１０からのＸ線が減弱されずに検出素子２に入射した場合のＸ線強度である。Ｉ０（１）及びＩ０（２）は、上記のエアスキャンにより決定することができる。或いは、Ｉ０（１）及びＩ０（２）は、Ｘ線照射条件を用いた計算により決定することができる。また、第４世代については、処理装置７０は、例えば、照射Ｘ線のエネルギースペクトルから、エネルギーウィンドウごとに各検出素子の「Ｉ０」を決定することができる。また、「ｇ」は、投影データ、又は、スペクトルにわたって平均化された線形減衰係数の線積分である。実測されたＸ線強度のデータ「Ｉ」から散乱信号「Ｉｓ」を差分した信号を「Ｉ０」で除算して得られる「ｇ」が、画像再構成用の散乱信号が除去された主要信号となる。ここで、「ｇ（１）≒ｇ（２）」であり「Ｉｓ（１）≒Ｉｓ（２）」と仮定すると、２つの方程式によって、以下の式（１）のように各検出素子における散乱信号の値を得ることができる。
【００４２】
【数１】
2014168688.tif 000003
【００４３】
更に、主要信号は、以下の式（２）のように計算される。
【００４４】
【数２】
2014168688.tif 000004
【００４５】
これらの方程式から明白であるように、「Ｉ０（１）＝Ｉ０（２）」ならば、方程式は、分母がゼロになるので、散乱信号と主要信号との計算に使用できない。しかし、隣接する検出素子それぞれにおいて測定されたエアスキャンの強度値が、例えば、主要ビームの部分的遮断によって異なるとき、上記の式（１）は、各検出器における散乱信号の推定に使用される。例えば、図２に示す場合、処理装置７０は、完全遮断の検出素子２のデータを散乱信号とし、この散乱信号を部分遮断の検出素子１の散乱信号として、検出素子１の主要信号を計算する。また、仮に、検出素子１及び検出素子２双方が部分遮断であり、かつ、遮断の程度が異なる場合、上記の式（１）を用いて、検出素子１及び検出素子２の散乱信号を計算し、計算した散乱信号を用いて、上記の式（２）から、検出素子１及び検出素子２の主要信号を算出する。この場合、検出素子１のＩ（１）及びＩ０（１）の部分遮断による影響は同程度であり、また、検出素子２のＩ（２）及びＩ０（２）の部分遮断による影響は同程度であることから、上記の式（２）により、ｇ（１）及びｇ（２）を求めることができる。ただし、本実施形態は、部分遮断の程度に応じて、「Ｉ（１）及びＩ０（１）」、並びに、「Ｉ（２）及びＩ０（２）」を補正したうえで、式（２）により「ｇ」を求めても良い。
【００４６】
上記の方法は、２つの隣接する検出素子に限定されるものではなく、次元のうちの１つが時間である場合を含む一般的な２次元又は３次元の「geometry」で実行可能である。例えば、図４に示した２次元の格子では、黒い正方形は、散乱信号が優勢であり、入射Ｘ線強度が低い検出素子を示す。また、図４に示した２次元の格子では、他の白い正方形は、主要信号と散乱信号とが混在する通常の入射Ｘ線強度の検出素子を示す。散乱強度が緩やかに変化し、減衰係数の線積分が滑らかに変化するという仮定の下では、主要信号と散乱信号とを以下のように分離できる。
【００４７】
例えば、図４に示す２次元の格子を、９つの隣接する検出素子で構成される各ブロック（中央に黒い正方形を有する３×３のブロック）に分割すると、各３×３のブロックについては、実測されたスキャン強度値は、以下の式（３）により示すことができる。次式によって得られる。
【００４８】
【数３】
2014168688.tif 000005
【００４９】
更に、以下の式（４）に示すように、「ｉ＝５」の検出素子（中央に黒い正方形の検出素子）の主要信号「ｇ（５）」を、以下の式周囲の８個の検出素子「ｉ＝１，２，３，４，６，７，８，９」の主要信号を、重み「ｗ（ｉ）」により重み付け平均加算した信号であると仮定する。
【００５０】
【数４】
2014168688.tif 000006
【００５１】
この仮定により、１０個の変数と１０個の方程式が得られ、処理装置７０は、これを解法して、全ての検出素子の散乱値「Ｉｓ」を計算することができる。なお、処理装置７０は、第４世代の検出器４０については、エネルギーウィンドウごとに、上記の処理を行なって、各検出素子の実測データから、散乱値「Ｉｓ」を計算する。これにより、処理装置７０は、第３世代の検出器３０のデータから、散乱信号が除去された主要信号を得て、Ｘ線ＣＴ画像の再構成を行なう。また、処理装置７０は、第４世代の検出器４０のエネルギーウィンドウごとのデータから、散乱信号が除去された主要信号を得て、複数のエネルギーウィンドウそれぞれのＸ線ＣＴ画像の再構成を行なう。なお、処理装置７０は、第３世代のＸ線ＣＴ画像に、第４世代の各エネルギーウィンドウのＸ線ＣＴ画像の情報を付加した画像を生成しても良い。いずれの画像も、散乱アーチファクトが軽減された画像となる。
【００５２】
なお、上記の方法の場合、散乱信号を測定するためにまばらな検出器要素だけを用いるので、第３世代の検出器３０を用いて再構成されたＸ線ＣＴ画像の空間的分解能は減損しない。更に、上記の方法では、散乱防止用の格子を用いることなく、散乱のない画像の再構成が可能になる。
【００５３】
更に、上記の方法で分離（抽出）された散乱信号は、散乱信号の空間分布となり、レイリー横断面の画像（暗視野イメージング）の再構成に使用できる。かかる再構成画像は、空間的分解能が低くなることが想定されるが、レイリープロセスには敏感である。従来で再構成されるＸ線ＣＴ画像は、例えば、第３世代の検出器３０に取り付けられたコリメータにより、レイリープロセスに敏感でないが、それは、全レイリー横断面の断面積が、光電子及びコンプトンのプロセスの全横断面の断面積より極めて小さいからである。コンプトン及びレイリーのプロセスだけが、散乱信号に貢献する。コンプトン散乱は、等方性散乱であるが、レイリー散乱は、前方散乱である。コンプトン散乱は、反対方向で優勢であるとはいえ、レイリー散乱とコンプトン散乱とは、検出器上では類似である。なお、処理装置は、例えば、実スキャンで得られたビューデータから再構成した画像から、分離した散乱信号から再構成した画像を減算することで、散乱アーチファクトが軽減したＸ線ＣＴ画像を生成しても良い。
【００５４】
なお、本実施形態に係る処理装置７０は、「散乱信号の強度が検出位置間で緩やかに変化するという仮定」に基づいて、例えば、各ビューで「完全遮断」のみのシャドウマップを、ＣＴスキャン装置の「geometry」、又は、エアスキャンから生成し、実スキャンで得られた「完全遮断」の検出器のビューデータから、各ビューで検出位置での散乱信号の強度を求めても良い。また、本実施形態に係る処理装置７０は、「完全遮断」及び「部分遮断」のみのシャドウマップを生成して、散乱補正を行なっても良い。
【００５５】
図５は、上述したように、図１に示すＣＴスキャナ装置を備えるＸ線ＣＴ装置の基本的な構造例を示す図である。図５のＸ線ＣＴ装置は、上述したように、Ｘ線源１０と、フィルタ及びコリメータ２０と、第３世代の検出器３０と、まばらに固定された複数のエネルギー識別型検出器で構成される第４世代の検出器４０とを含むＣＴスキャン装置を備える。また、図５のＸ線ＣＴ装置は、上述したように、ガントリモータによる機械式の構成要素や、電気式の構成要素を含む制御装置５０を含む。制御装置５０は、ガントリ（回転フレーム）の回転を制御したり、Ｘ線源１０を制御したり、被検体が載置されるベッドを制御したりできる。また、図５のＸ線ＣＴ装置は、上述したように、データ収集システム６０及び処理装置７０を含み、処理装置７０は、データ収集システム６０から取得した投影データ（ビューデータ）に基づいて、Ｘ線ＣＴ画像を生成できる。上述したように、処理装置７０は、どの検出器要素が完全に遮断されているか、部分的に遮断されているか、遮断されていないか、又は、ＳＦＯＶ内にないかを示すシャドウマップを生成し、シャドウマップを用いて、散乱補正を行なう。処理装置７０及びデータ収集システム６０は、例えば、各検出器から得られたデータ、シャドウマップ、再構成画像を格納する記憶部８０を利用する。
【００５６】
一実施形態では、処理装置７０は、上述した散乱補正アルゴリズムを使って合計信号（実測データ）、主要信号及び散乱信号の強度を決定する再構成前処理装置として機能する。例えば、一実施形態では、再構成前処理装置としての処理装置７０は、シャドウマップを使って、部分的に遮断されている検出器にて、主要信号から散乱信号を分離するためのアルゴリズムを実行するように構成される。また、処理装置７０は、主要信号等を用いた画像再構成を行なう再構成処理装置としても機能する。
【００５７】
上述したように、図１及び図５に示すフォトンカウンティングＣＴを実行可能なＸ線ＣＴ装置は、回転するＸ線源１０と、複数の非エネルギー識別型検出器で構成される第３世代の検出器３０と、複数のエネルギー識別型検出器がまばらに配置された第４世代の検出器４０と、処理装置７０と、制御装置５０とを有する。処理装置７０は、Ｘ線源１０の各視野角において、他のエネルギー識別型検出器で生じる影によって各検出器に入射するＸ線の状態を示すシャドウマップを生成する。制御装置５０は、所定の範囲の複数の視野角で被検体のスキャンを実行させて、ビューデータを収集させる。処理装置７０は、ビューデータと、シャドウマップとを用いて、散乱補正を実行する。
【００５８】
なお、上記の実施形態では、第３世代のＣＴシステムと第４世代の複合システムにおいて、第３世代のＣＴシステムが、１組の「Ｘ線源１０及び第３世代の検出器３０」を搭載したＣＴシステムである場合について説明した。しかし、上記の実施形態で説明した散乱補正方法は、第３世代のＣＴシステムと第４世代の複合システムにおいて、第３世代のＣＴシステムが、複数組の「Ｘ線源１０及び第３世代の検出器３０」を搭載したＣＴシステムである場合であっても適用可能である。例えば、上記の実施形態で説明した散乱補正方法は、第３世代のＣＴシステムとして、２組の「Ｘ線源１０及び第３世代の検出器３０」が９０度の位相差等で回転フレームに固定された状態で回転する２管球システムを用いた複合システムであっても、適用可能である。
【００５９】
当業者には自明であるが、処理装置７０は、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ：Application  Specific  Integrated  Circuits）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ：Field  Programmable  Gate  Array）、又は、コンプレックスプログラマブルロジックデバイス（ＣＰＬＤ：Complex  Programmable  Logic  Device）のような個別論理ゲートとして実装できるＣＰＵを含む。ＦＰＧＡ又はＣＰＬＤの実装は、ＶＨＤＬ（VHSIC  Hardware  Description  Language）、Ｖｅｒｉｌｏｇ、又は、他の任意のハードウェア記述言語でコード化されると良い。コードは、直接、ＦＰＧＡ又はＣＰＬＤ内に、或いは、個別の電子メモリとして電子メモリに格納されるとよい。更に、電子メモリは、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＥＰＲＯＭ（Electrically  Programmable  Read  Only  Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically  Erasable  Programmable  Read  only  Memory）、又は、フラッシュ（ＦＬＡＳＨ）メモリ等の不揮発性でも良い。電子メモリは、また、静的又は動的のＲＡＭ等の揮発性であっても良い。また、ＦＰＧＡ又はＣＰＬＤと電子メモリの間の対話のみならず電子メモリを管理するためにマイクロコントローラやマイクロプロセッサー等を処理装置７０が備えても良い。
【００６０】
或いは、再構成処理装置としても機能する本実施形態に係る処理装置７０のＣＰＵは、本明細書に記載の機能（散乱信号の分離及び画像再構成を行なう散乱補正方法）を実行するコンピュータ可読の指令一式を含むコンピュータプログラム（散乱補正プログラム）を実行できる。このプログラムは、上記の非一過性電子メモリ及びハードディスク装置の両方又は一方、ＣＤ、ＤＶＤ、フラッシュドライブ、又は、他のあらゆる既知の記憶媒体のうちのいずれかに格納されるものである。更に、コンピュータ可読指令は、米国インテル社によるＸｅｏｎ（登録商標）プロセッサ又は米国ＡＭＤ社によるＯｐｔｅｒｏｎ（登録商標）プロセッサ等のプロセッサ、並びにＭｉｃｒｏｓｏｆｔ  ＶＩＳＴＡ（登録商標）、ＵＮＩＸ（登録商標）、Ｓｏｌａｒｉｓ（登録商標）、ＬＩＮＵＸ（登録商標）、ＡｐｐｌｅのＭＡＣ−ＯＳＸ（登録商標）、及び、当業者に公知の他のオペレーティングシステム等のオペレーティングシステムと一緒に動作する、ユーティリティアプリケーション、バックグラウンドデーモン、又はオペレーティングシステムの構成要素として提供することができ、それらの組み合わせとして提供することもできる。
【００６１】
処理装置７０が含む再構成前処理装置により処理された信号は、処理装置７０が含むＸ線ＣＴ画像を生成する再構成処理装置に通される。画像は、メモリ（記憶部８０）に保存され、表示部に表示される。保存及び表示は、双方行なわれる場合でも、一方が行われる場合でも良い。当業者には自明であるが、メモリは、ハードディスクドライブ、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＤＶＤドライブ、フラッシュドライブ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、又は技術的に周知の任意の他の電子格納部であるとよい。表示部は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：liquid  crystal  display）、ブラウン管ディスプレイ（ＣＲＴ：Cathod  Ray  Tube）、プラズマディスプレイ、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ：Organic  Light  Emitting  Diode）、発光ダイオード（ＬＥＤ）等の表示装置、又は、技術的に周知の任意の他の表示装置として実装されるとよい。このように、本明細書に提供した記憶部８０及び表示部の説明は、単なる例であって、決して本実施形態の進歩の範囲を制限するものではない。
【００６２】
以上、説明したとおり本実施形態によれば、まばらに分布して固定配置された第４世代の検出器を搭載したシステムで散乱補正を行なうことができる。
【００６３】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６４】
１０  Ｘ線源
２０  フィルタ及びコリメータ
３０  第３世代の検出器
４０  第４世代の検出器
５０  制御装置
６０  データ収集システム
７０  処理装置
８０  記憶部
【図１】
2014168688.tif 000007
【図２】
2014168688.tif 000008
【図３】
2014168688.tif 000009
【図４】
2014168688.tif 000010
【図５】
2014168688.tif 000011