(57)【要約】【課題】複数種類のワイヤハーネス試験ではアダプタを用意しハーネスに応じて付替えるなどセットアップに時間が掛かり、また無駄なスキャンが発生する。【解決手段】ワイヤハーネスに具備された複数のコネクタＰを嵌合させ得るコネクタ接続部Ｊ群と、個々のコネクタ接続部のコネクタ番号およびコネクタピン番号を記憶したコネクタ情報部３と、検査対象ワイヤハーネス１のコネクタが嵌合されるコネクタ番号、該検査対象ワイヤハーネスに対する基準の導通関係情報、およびコネクタ情報部の記憶情報から検査で用いるコネクタ接続部のコネクタピンを用いて順次導通関係を調べるための配線試験パターンを生成する配線試験パターン生成手段６と、検査対象ワイヤハーネスのコネクタがコネクタ接続部に嵌合されたときに配線試験パターンに基づいて導通関係を検査し、その結果を表示するハーネス試験処理手段７を備えるようにした。【選択図】図１
2014206394.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワイヤハーネスに具備された複数のコネクタをそれぞれ嵌合させ得るように設けられたコネクタ接続部群と、前記コネクタ接続部群における個々のコネクタ接続部のコネクタ番号およびコネクタピン番号を記憶したコネクタ情報部と、検査対象ワイヤハーネスのコネクタが嵌合される前記コネクタ番号、該検査対象ワイヤハーネスに対する基準の導通関係情報、および前記コネクタ情報部の記憶情報から検査で用いる前記コネクタ接続部のコネクタピンを用いて順次導通関係を調べるための配線試験パターンを生成する配線試験パターン生成手段と、前記検査対象ワイヤハーネスに具備された複数の前記コネクタが前記コネクタ接続部に嵌合されたときに前記配線試験パターンに基づいて前記検査対象ワイヤハーネスの導通関係を検査し、その結果を表示するハーネス試験処理手段を備えたことを特徴とするワイヤハーネス試験装置。
【請求項２】
前記コネクタ接続部群が設置されたコネクタボックスを備え、該コネクタ接続部群は多種類の前記検査対象ワイヤハーネスに具備されるコネクタの全ての形状に対応し得るように用意された所定数からなっていることを特徴とする請求項１に記載のワイヤハーネス試験装置。
【請求項３】
個々の前記コネクタ接続部に対する前記コネクタの嵌合有無を検知するコネクタ嵌合検知手段を備えていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のワイヤハーネス試験装置。
【請求項４】
前記検査対象ワイヤハーネスに対する基準として用意された基準ワイヤハーネスの複数の前記コネクタが対応する前記コネクタ接続部にそれぞれ接続されたときに、前記コネクタ情報部の記憶情報と前記コネクタ接続部群の前記コネクタピンを用いて、前記基準ワイヤハーネスの複数の前記コネクタのピン相互の導通関係を前記コネクタピン番号の順にスキャンして調べることにより前記基準となる導通関係情報を含む基準配線データを得る基準配線データ生成手段を備えたことを特徴とする請求項１から請求項３の何れかに記載のワイヤハーネス試験装置。
【請求項５】
前記検査対象ワイヤハーネスに関連するコネクタデータ情報と配線データ情報を含む設計情報を入力する設計情報入力手段を備え、前記基準となる導通関係情報は、前記設計情報入力手段によって入力された前記設計情報から生成することを特徴とする請求項１から請求項３の何れかに記載のワイヤハーネス試験装置。
【請求項６】
前記配線試験パターン生成手段は、当該検査で用いる前記コネクタ番号およびコネクタピン番号から試験対象ピンリストを生成する試験対象ピンリスト生成手段を備え、前記試験対象ピンリストから前記配線試験パターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項５の何れかに記載のワイヤハーネス試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電子機器のユニット間の接続等に用いられるワイヤハーネスに設けられたコネクタ間のワイヤとピンの接続が正しいかどうかを導通有無によって自動検査するワイヤハーネス試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
複雑な電子機器において、複数のユニット間が複数の多極コネクタとワイヤで構成されるワイヤハーネスで相互に接続されるものがある。コネクタの形状、ピン数、ピン配置などはユニットごとに異なる場合が多く、ワイヤハーネス組立時に正しく配線する必要がある。これら複数コネクタ間の接続に対する導通チェックを短時間で行なうために、ワイヤハーネス試験装置が用いられる。ワイヤハーネス試験装置は、コンピュータを使用して、検査対象のワイヤハーネスの各信号線に対する電気信号の入出力結果と、検査対象のワイヤハーネスの正しい接続情報とを比較し、良否判定を行なう方式のものが一般的である。ハーネス試験装置は、自動化により検査を容易かつ短時間で正確に行なうための工夫がなされている。先行技術として、ワイヤハーネスの試験において、マスターユニットとワイヤハーネスを接続する複数の検査ユニットで構成し、ワイヤハーネス両端のコネクタ間の接続試験を、複数の検査ユニットに分散して同時に行ない、各検査ユニットの結果をマスターユニットで集計して判定することによって試験時間の短縮を行なうようにしたものがある（例えば特許文献１参照）。また、コネクタ毎にコネクタ切替器を備えるようにしたものがある（例えば特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−２８８７９１号公報（段落番号００１３〜００１４、図１〜図８）
【特許文献２】特開２００１―４１９９１号公報（段落番号００１７、００２９、図１〜図５）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一般的にワイヤハーネスの試験においては、組立時の配線ミスを確認することが目的のため、複数のコネクタのピン間の導通及び開放について、接続していないピンも含めてコネクタの全ピンに渡ってチェックする必要がある。複数種類の複雑なワイヤハーネスを試験するための汎用的な試験装置においては、ピン数の増大とともに試験時間も増大するという課題がある。従来の前記特許文献１のような技術においては、一つのワイヤハーネス試験装置でコネクタの個数も種類も様々な多品種のワイヤハーネスを試験する場合には、ワイヤハーネスに適合するコネクタを、アダプタを介して接続する構成のため、セットアップに時間がかかる。またユニット単位でソケットのピン数が固定されているため、アダプタを介した場合には、ワイヤハーネスのコネクタを接続していないピンに対しても、接続試験を行なう無駄が発生するという課題があった。また、特許文献２のような技術においては、信号入力部と信号出力部が固定のため、ワイヤハーネスの一例として同一コネクタ内で接続（短絡）がある場合には対応出来ないという課題があった。
【０００５】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、コネクタの形状や数などが異なる多種類のワイヤハーネス試験を、一つの試験装置で段取り替えすることなく検査でき、不良発見が確実で、短時間で検査することができるワイヤハーネス試験装置を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係るワイヤハーネス試験装置は、ワイヤハーネスに具備された複数のコネクタをそれぞれ嵌合させ得るように設けられたコネクタ接続部群と、前記コネクタ接続部群における個々のコネクタ接続部のコネクタ番号およびコネクタピン番号を記憶したコネクタ情報部と、検査対象ワイヤハーネスのコネクタが嵌合される前記コネクタ番号、該検査対象ワイヤハーネスに対する基準の導通関係情報、および前記コネクタ情報部の記憶情報から検査で用いる前記コネクタ接続部のコネクタピンを用いて順次導通関係を調べるための配線試験パターンを生成する配線試験パターン生成手段と、前記検査対象ワイヤハーネスに具備された複数の前記コネクタが前記コネクタ接続部に嵌合されたときに前記配線試験パターンに基づいて前記検査対象ワイヤハーネスの導通関係を検査し、その結果を表示するハーネス試験処理手段を備えるようにしたものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、コネクタ接続部群における個々のコネクタ接続部のコネクタ番号およびコネクタピン番号を記憶したコネクタ情報部と、検査対象ワイヤハーネスのコネクタが嵌合される前記コネクタ番号、該検査対象ワイヤハーネスに対する基準の導通関係情報、および前記コネクタ情報部の記憶情報から検査で用いる前記コネクタ接続部のコネクタピンを用いて順次導通関係を調べるための配線試験パターンを生成する配線試験パターン生成手段と、検査対象ワイヤハーネスに具備された複数の前記コネクタが前記コネクタ接続部に嵌合されたときに前記配線試験パターンに基づいて前記検査対象ワイヤハーネスの導通関係を検査し、その結果を表示するハーネス試験処理手段を備えるようにしたことにより、当該検査で用いるコネクタ接続部についてのみ全ピンを試験するように構成できるので、試験品質を落とすこと無く不良を発見でき、試験に無関係なコネクタ接続部のピンをスキャンしないので試験時間を短縮できる。また、多種類のワイヤハーネスの試験を、アダプタなどを使用せずに一つの試験装置で行えるので段取り替えする必要がないなどの効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施の形態１におけるワイヤハーネス試験装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１に示されたコネクタボックスの外観を模式的に示す図である。
【図３】図１に示されたワイヤハーネス試験装置の動作を説明するフロー図である。
【図４】図３に示されたステップＳ２の基準配線データ取得処理の動作を説明するフロー図である。
【図５】図３に示されたステップＳ３の試験対象ピンリスト生成処理の動作を説明するフロー図である。
【図６】図３に示されたステップＳ４の配線試験パターン生成処理の動作を説明するフロー図である。
【図７】図３に示されたステップＳ６の配線試験実行判定処理の動作を説明するフロー図である。
【図８】本発明の実施の形態１における基準配線データの一例をマトリックス形式で示す図である。
【図９】本発明の実施の形態１における嵌合コネクタ番号の一例をリスト形式で示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態１におけるコネクタボックス情報の一例をマトリックス形式で示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態１における試験対象ピンリストの一例をマトリックス形式で示す図である。
【図１２】本発明の実施の形態１における配線試験パターンの一例をマトリックス形式で示す図である。
【図１３】本発明の実施の形態２におけるワイヤハーネス試験装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
実施の形態１．
図１は本発明の実施の形態１におけるワイヤハーネス試験装置の構成を概略的に示すブロック図、図２は図１に示されたコネクタボックスの外観を模式的に示す図、図３は図１に示されたワイヤハーネス試験装置の動作を説明するフロー図である。図４〜図７は、図３に示されたステップＳ２、Ｓ３、Ｓ４、Ｓ６の動作をそれぞれ説明するフロー図である。図８は本発明の実施の形態１における基準配線データの一例をマトリックス形式で示す図、図９は本発明の実施の形態１における嵌合コネクタ番号の一例をリスト形式で示す図、図１０は本発明の実施の形態１におけるコネクタボックス情報の一例をマトリックス形式で示す図、図１１は本発明の実施の形態１における試験対象ピンリストの一例をマトリックス形式で示す図、図１２は本発明の実施の形態１における配線試験パターンの一例をマトリックス形式で示す図である。なお、本書において、「試験」は「検査」と同義で用いている。
【００１０】
図において、ワイヤハーネス試験装置は、検査対象ワイヤハーネス１の両端部や中間部分などに設けられた複数（ここでは３個）のコネクタＰ（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３）をそれぞれ嵌合させ得るように設けられたコネクタ接続部群を構成する複数のコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）と、コネクタ接続部Ｊに対するコネクタＰ１、Ｐ２、Ｐ３の嵌合有無を検知するコネクタ嵌合検知手段２と、個々のコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）のコネクタピン番号情報などを記憶したコネクタ情報部３と、予め基準として製作された基準ワイヤハーネス１Ｓの複数のコネクタＰ１、Ｐ２、Ｐ３を該当するコネクタ接続部Ｊ（ここではコネクタ番号Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４）にそれぞれ接続したときに、複数のコネクタ間のピンの接続関係を調べ、基準配線データを得る基準配線データ生成手段４と、コネクタ接続部Ｊの内の検査で使用する検査使用コネクタ番号およびコネクタピン番号から試験対象ピンリストを生成する試験対象ピンリスト生成手段５と、コネクタ嵌合検知手段２が検知したコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４）に対応するコネクタピン番号の情報をコネクタ情報部３から求めて配線試験パターンを生成する配線試験パターン生成手段６と、検査対象ワイヤハーネス１をコネクタ接続部Ｊに嵌合したときに配線試験パターン生成手段６によって生成された配線試験パターンに基づいて配線試験ユニット９を制御することによって検査対象ワイヤハーネス１を検査し、結果を表示するハーネス試験処理手段７を備えている。
【００１１】
基準ワイヤハーネス１Ｓは、検査対象ワイヤハーネス１に応じてそれぞれ用意されるもので、各コネクタのピンとワイヤとの接続が設計通り制作され、間違いがないことが確認されたものである。コネクタ接続部Ｊは、この実施の形態１では図２に示すように、コネクタボックス８にコネクタ接続部群としてまとめて同一面に複数設置されている。該コネクタ接続部Ｊは、検査対象ワイヤハーネス１のコネクタＰとして用いる例えば規格やピン数、大きさ、オス、メスなどの形状の違いを含む全てのコネクタを嵌合し得るように予め設定された所定数が用意されている。なお、互いに同一形状のものを含んでいても差し支えない。
【００１２】
コネクタ嵌合検知手段２は、各コネクタ接続部Ｊにそれぞれスイッチなどのセンサ部２ａ（図１に図示）を備え、コネクタＰが任意のコネクタ接続部Ｊに接続されたときに、コネクタ検知ユニット２ｂが検知結果を試験対象ピンリスト生成手段５および配線試験パターン生成手段６に伝達するように構成されている。なお、検知方式はスイッチなどのセンサ部２ａを用いるものに限定されるものではなく、例えば電子的に検知するものでもよい。なお、本書においては、基準ワイヤハーネス１Ｓに具備された複数のコネクタのそれぞれのピン群の内、導通されているピン相互を便宜上「試験対象ピン」と呼ぶ。検査対象ワイヤハーネス１の導通検査により、複数のコネクタのそれぞれのピン群の全ての導通関係が試験対象ピンの導通関係と合致していれば良品ということになる。
【００１３】
配線試験ユニット９は、コネクタ接続部Ｊに設けられた全てのコネクタピンの内の指定されたピンに対して、例えば「１」のデジタル信号を送る機能と、何れかのコネクタピンに信号が戻ってきたとき、即ち導通のあったときに、それを受信して戻されたコネクタピンのコネクタピン番号の情報を基準配線データ生成手段４、配線試験パターン生成手段６、およびハーネス試験処理手段７に伝送する機能を有している。コネクタ情報部３には、コネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）に対応する例えば図１０に示すようなコネクタ番号毎のコネクタピン番号の情報が保存されている。
【００１４】
なお、図１０に示す各コネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）のコネクタピンの数は図２に示すコネクタ接続部Ｊの絵の表示とは必ずしも一致していないが、実際の試験装置では一致するように構成されることは言うまでもない。なお、前記基準配線データ生成手段４、試験対象ピンリスト生成手段５、配線試験パターン生成手段６、および前記ハーネス試験処理手段７は、ワイヤハーネス試験装置を構成する前述したハードウエアのほか、パーソナルコンピュータなどの処理装置を用いて所定の手順で動作するように組まれたプログラムによって構成される。以下、具体的に説明する。
【００１５】
まず、図３のフロー図を用いて実施の形態１によるハーネス試験の全体的な流れの概要について説明する。予め製作された基準ワイヤハーネス１Ｓを準備し、コネクタボックス８に設けられたコネクタ接続部Ｊの適合箇所に、コネクタＰ１、Ｐ２、Ｐ３を接続する（ステップＳ１）。次に、基準配線データ生成手段４によって、配線試験ユニット９を操作して基準配線データを取得する（ステップＳ２）と共に、試験対象ピンリスト生成手段５によって試験対象ピンリストを生成する（ステップＳ３）。このとき、コネクタ嵌合検知手段２の検知したコネクタ番号に対応するコネクタ情報を用いることで、基準配線データ生成手段４による基準配線データの取得の際のスキャン対象を絞ることができる。
【００１６】
そして、配線試験パターン生成手段６によって基準配線データと試験対象ピンリストとから配線試験パターンを生成する（ステップＳ４）。その後、基準ワイヤハーネス１Ｓを外し、検査対象ワイヤハーネス１をコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）の該当箇所に接続する（ステップＳ５）。次に、ハーネス試験処理手段７によって、ステップＳ４で生成した配線試験パターンによりハーネス試験を実行し（ステップＳ６）、判定結果を表示する（ステップＳ７）。
【００１７】
次に、図４のフロー図によりステップＳ２の基準配線データ取得処理について詳細に説明する。基準配線データ取得処理は、基準配線データ生成手段４を構成する基準配線データ生成プログラムにより、配線試験ユニット９を制御して基準ワイヤハーネス１Ｓの接続状態を取得し（ステップＳ２１）、基準配線データを生成する（ステップＳ２２）。図８は取得した基準配線データの一例を示している。図８の左部に示す「基準データ番号」は、コネクタボックス８に設けられた全てのコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）のコネクタピンに対して図１０に例示されるような識別用のピン番号（Ｂ１〜Ｂ６３）を付し、スキャンするときに用いるために１から始まる連続した整数の通し番号を付したものである。
【００１８】
なお、ピン番号（Ｂ１〜Ｂ６３）によって示すコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）に設けられたコネクタピンは、配線試験ユニット９から試験用の信号を送る時の出力ピンとなり、ワイヤハーネスを介して導通されたピン（送出に用いたピンを除く）から信号が帰ってきたときに、その信号を配線試験ユニット９に入力する入力（応答）ピンとなるものである。ここではピン番号Ｂ１〜Ｂ６３を、用いる際の状態によって、便宜上、出力ピンＢ１〜Ｂ６３、または入力（応答）ピンＢ１〜Ｂ６３と呼ぶことがある。
【００１９】
図８のマトリックス表の部分は、基準ワイヤハーネス１Ｓがコネクタ接続部Ｊの適合箇所に嵌合され接続された状態で配線試験ユニット９を制御して、出力ピンＢ１〜Ｂ６３相互の接続関係を調べたときの結果を表しており、例えば基準データ番号１においては、出力ピンＢ１を１に変化させたときに、入力（応答）ピンＢ１６のみ１に変化したことを示す。ある出力ピンを１に変化させたときに変化する入力（応答）が無い場合は、入力（応答）値は全て０であり、接続が無いことを示す。なお、図８はコネクタボックス８に設けられた全てのコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）の全てのコネクタピン（Ｂ１〜Ｂ６３）について導通関係を重複せずに調べた結果を示した内容となっているが、コネクタ嵌合検知手段２の検知結果を用いた場合には、基準配線データ生成手段４のプログラムを、ワイヤハーネスのコネクタが嵌合されていないコネクタ接続部についてはスキャンを行わないように構成できる。
【００２０】
次に、図５のフロー図によりステップＳ３の試験対象ピンリスト生成処理について説明する。試験対象ピンリスト生成処理は、試験対象ピンリスト生成手段５を構成する試験対象ピンリスト生成プログラムにより、図２に示すような、検査対象ワイヤハーネス１のコネクタＰ１、Ｐ２、Ｐ３に嵌合可能なコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）を有するコネクタボックス８において、基準ワイヤハーネス１Ｓのコネクタを嵌合させたコネクタ接続部に対して、コネクタ検知ユニット２ｂを制御して嵌合コネクタ番号を取得し（ステップＳ３１）、コネクタ情報部３を元に、試験対象ピンリストを生成する（ステップＳ３２）。嵌合コネクタ番号の一例を図９に、コネクタ情報部の一例を図１０に、嵌合コネクタ番号からコネクタ情報を基に生成した試験対象ピンリストの一例を図１１に示す。
【００２１】
図９は、基準ワイヤハーネス１ＳのコネクタＰ１、Ｐ２、Ｐ３をコネクタ接続部Ｊに嵌合させたときにコネクタ検知ユニット２ｂにより検知結果として出力された嵌合コネクタ番号を示すもので、試験で使用するコネクタ接続部Ｊは、コネクタボックス８に設けられたコネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９のうちコネクタ番号Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４のみ嵌合させていることを示す。図１０は、コネクタボックス８のコネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９の各コネクタピン番号Ａ１〜Ａ１１が、配線試験ユニット９の出力ピン（入力ピン）Ｂ１〜Ｂ６３のどれに対応しているかを示す。図１１は、図９で示した嵌合しているコネクタ接続部Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４に対応し、図１０で示したコネクタボックス情報の必要な部分を抜き出したものに相当する。なお、試験対象ピンリスト自体は必須のものではなく、試験対象ピンリストを生成せずに配線試験パターンを生成するようにしても差し支えなく、その場合、試験対象ピンリスト生成手段５を省くことができる。
【００２２】
なお、従来技術のようにワイヤハーネス試験で使用されるコネクタ接続部が特定されていない場合には、コネクタボックス８に設けられコネクタ情報部３に登録されたコネクタ接続部Ｊの全てのコネクタピン（Ｂ１〜Ｂ６３）の合計６３個をスキャンする必要があるが、実施の形態１においては、コネクタ嵌合検知手段２によって検知されたコネクタ接続部Ｊの嵌合コネクタ番号に対応する、図１１の試験対象ピンリストで示すＢ１〜Ｂ３、Ｂ８〜Ｂ１２、およびＢ１３〜Ｂ１８の合計１４個のコネクタピンをスキャンするだけでよいことが分かる。
【００２３】
次に、図６のフロー図によりステップＳ４の配線試験パターン生成処理を説明する。配線試験パターン生成処理は、配線試験パターン生成手段６を構成する配線試験パターン生成プログラムにより、ステップＳ２２で生成された図８に示す基準配線データを読み込み（ステップＳ４１）、試験パターン番号を設定する（ステップＳ４２）。試験対象ピンは、図１１の試験対象ピンリストに示すピン番号Ｂ１〜Ｂ３（コネクタ接続部Ｊ１）、Ｂ８〜Ｂ１２（コネクタ接続部Ｊ３）、およびＢ１３〜Ｂ１８（コネクタ接続部Ｊ４）の合計１４個であるので、試験パターンとしては、前記１４個の試験対象ピンに対応して順番に試験パターン番号Ｃ１〜Ｃ１４が設定される。
【００２４】
次いで、配線試験ユニット９を制御して図１２の右側のマトリックス表部分に示すように、まず試験パターン番号Ｃ１に対応して最初の出力ピンＢ１から、該出力ピンＢ１を除いた表の斜線の右上に示すピン、この場合Ｂ２〜Ｂ３、Ｂ８〜Ｂ１２、およびＢ１３〜Ｂ１８の１３個のピンに対して順次信号を送り、応答の有無により試験対象ピンか否かを判定する（ステップＳ４３）。なお、「０」は非対象ピン、「１」は試験対象ピンを示す。試験対象ピンであった場合、試験パターン番号Ｃ１と、出力ピンＢ１に対する入力（応答）ピンＢ２〜Ｂ３、Ｂ８〜Ｂ１２、およびＢ１３〜Ｂ１８の応答結果を配線データとして登録する（ステップＳ４４）。図示の例ではコネクタ接続部Ｊ１のピン番号Ｂ１（コネクタピン番号Ａ１）は、コネクタ接続部Ｊ４のピン番号Ｂ１６（コネクタピン番号Ａ４）と導通されていることを示す。
【００２５】
次に、試験対象ピンを全て登録したかを判定し（ステップＳ４５）、以下、試験パターン番号Ｃ２〜Ｃ１４について同様に順次スキャンして試験対象ピン（導通ピン）を特定し、図１２に示す情報が含まれた配線試験パターンを生成し、前記試験対象ピンリストのＢ１〜Ｂ３、Ｂ８〜Ｂ１２、Ｂ１３〜Ｂ１８の合計１４個に対応する試験パターンとして、試験パターン番号Ｃ１〜Ｃ１４が基準配線データを基に登録される。なお、図６のフロー図は各ステップの内容を概略的に示したもので、必ずしも実際のものとは合致しない。上記のようにして、基準ワイヤハーネス１Ｓを用いて図１２のマトリックス表部分に示す内容が含まれた基準情報としての配線試験パターンが生成される。
【００２６】
次に、図７のフロー図によりステップＳ６のハーネス試験実行・判定処理について説明する。なお、ステップＳ６は、ステップＳ５（図３）で接続された検査対象ワイヤハーネス１を対象として、ハーネス試験処理手段７を構成する配線試験実行・判定プログラムによって行われる。まず、前記ステップＳ４で生成された配線試験パターンＣ１〜Ｃ１４に対応する情報を読込み（ステップＳ６１）、試験パターン番号に登録されたリストの内、先頭の試験パターン番号Ｃ１をセットする（ステップＳ６２）。次に、配線試験ユニット９を制御して、試験パターン番号Ｃ１に対応する出力ピンＢ１を設定し（ステップＳ６３）、それに対する入力（応答）ピンＢ２〜Ｂ３、Ｂ８〜Ｂ１２、およびＢ１３〜Ｂ１８を読み取り（ステップＳ６４）、結果を判定して記録を行なう（ステップＳ６５）。そして、登録した試験パターン番号の全てについてチェックしたかの判定を行い（ステップＳ６６）、順次試験パターン番号を繰り下げて、配線試験パターンＣ１〜Ｃ１４の全てについて、結果を記録する。
【００２７】
上記のようにステップＳ６のハーネス試験実行判定処理を行った後、図３に示すステップＳ７において全ての試験パターンを実施した結果を図示省略しているディスプレイなどに表示し、オペレータが確認を行なう。なお、前記結果は図１２の配線試験パターンとの一致（良品）、不一致（不良品）のほか、不一致箇所を明示することも容易であり、接続が間違っているピン番号などの内容を具体的に表示するように構成できる。なお、同一仕様のワイヤハーネスについてさらに検査する場合は、コネクタボックス８に接続された検査対象ワイヤハーネスを入れ替えて、同様にワイヤハーネス試験を実行・判定し、結果の表示確認を繰り返す。
【００２８】
また、異なる仕様のワイヤハーネスについて検査を行う場合は、その仕様に基づく基準ワイヤハーネスを製作し、そのワイヤハーネスに具備されたコネクタを対応するコネクタ接続部Ｊに接続して前記の手順と同様に検査を行う。コネクタボックス８に設けるコネクタ接続部Ｊの種類や数は、検査対象として予定される全てのコネクタに対応できるように決めればよい。１つのワイヤハーネスに具備されるコネクタの数は３つに限定されず、２つまたは４つ以上でもよい。また、コネクタ間のピンの導通関係は１：１に限定されず、例えば１：２、１：３など、１つのコネクタのピンが他の複数のコネクタのピンにそれぞれ導通されたものであっても差し支えない。また、１つのコネクタ内のピン相互が導通されているものを含む場合でも対応できる。
【００２９】
前記動作において、配線試験パターン生成手段６では、試験対象のワイヤハーネスに具備されたコネクタに対してのみスキャンすることで全ピン網羅的に試験するので、不良の発見が容易でかつ確実に行なうことができ、コネクタボックス８における使用していないコネクタ接続部については余分なスキャンをしないので、試験時間も最小にすることが出来る。コネクタボックス８はコネクタの種類や数量に対して汎用的に構成されているので複数種類のハーネスに対応が可能である。なお、コネクタの形状やピン数などの仕様はそれぞれ異なる場合で説明したが、同じであってもよい。また、例えばワイヤハーネスの機種毎に複数種類のコネクタボックスを用意して、検査対象のワイヤハーネスに応じて使用するコネクタボックスを選択するようにしてもよい。この場合は、コネクタ情報部３を変更することでソフトウエアは簡単に対応可能である。
【００３０】
上記のように実施の形態１によれば、使用予定の全てのコネクタを嵌合し得るように複数種類のコネクタ接続部Ｊ群を配置したコネクタボックス８を使用するようにしたことにより、多種類のワイヤハーネスの試験をアダプタなどを使用せずに一つの試験装置で行えるので段取り替えするなどセットアップに要する時間が短縮される。また、基準ワイヤハーネス１ＳのコネクタＰが嵌合されるコネクタ接続部Ｊをコネクタ嵌合検知手段２によって検知することで、試験するコネクタ接続部Ｊが限定されるので、コネクタボックス８に設けられた全てのコネクタ接続部Ｊの全てのコネクタピンを試験する必要がなくなり試験時間を短縮できる。また、基準ワイヤハーネス１ＳのコネクタＰが嵌合されたコネクタ接続部Ｊについては全てのピンを試験するようにしたので、試験品質を落とすこと無く確実に検査を行うことができる。
【００３１】
また、コネクタ数やコネクタの種類や組み合わせの異なる新規に製作された任意のワイヤハーネスであっても、具備されたコネクタをコネクタボックス８のコネクタ接続部Ｊに嵌合できるものであれば、そのワイヤハーネスに対応する基準ワイヤハーネスについて基準配線データ生成手段４によって図８に示すような導通関係を容易に調べることができるので、多種のワイヤハーネス試験に対応可能な汎用性を有している。また、ワイヤハーネス１のコネクタＰとして、基準とは異なる形状のコネクタが用いられていたような場合でも不良品として区別するように構成できる。
【００３２】
なお、図８の基準配線データは、基準ワイヤハーネス１ＳのコネクタＰを嵌合したコネクタ接続部のコネクタ番号が不明の場合でも、基準配線データ生成手段４によって基準データ番号１〜６３について全てスキャンすることで生成できるので、コネクタ嵌合検知手段２は必ずしも備えていなくてもよい。また、図１２に示す配線試験パターンは、図８の基準配線データと、図１０のコネクタボックス情報から生成することができるので、図９に示す嵌合コネクタ番号と図１１に示す試験対象ピンリストは必ずしも生成する必要はなく、試験対象ピンリスト生成手段５を省いても差し支えない。
【００３３】
実施の形態２．
図１３は本発明の実施の形態２におけるワイヤハーネス試験装置の構成を概略的に示すブロック図である。なお、この実施の形態２は、ワイヤハーネスに関するＣＡＤデータなどの設計情報がある場合にその設計情報を利用することでさらに効率化が図れるようにしたもので、試験対象ピンを特定する際に基準ワイヤハーネスを使用せず、ＣＡＤデータなどの設計情報から基準配線データを生成するものである。図において、ワイヤハーネス試験装置はＣＡＤによって生成された検査対象ワイヤハーネスに関連するコネクタデータ情報と配線データ情報を含むＣＡＤデータベースの中に蓄積された設計情報を入力する設計情報入力手段１０が付設されている。
【００３４】
設計情報入力手段１０は、例えば、ワイヤハーネスに関するＣＡＤデータベースの中に蓄積されたワイヤハーネスの型番と、そのワイヤハーネスに具備されているコネクタの種類と数、各コネクタにおいて使用しているピン番号、コネクタ間の接続関係などの情報の内、使用しているコネクタを特定するためのコネクタ指定データ情報１０ａを試験対象ピンリスト生成手段５に入力する機能と、基準配線データを生成するために必要なコネクタ間の接続関係情報を含む基準配線データ情報１０ｂを基準配線データ生成手段４に入力する機能を有するように構成されている。その他の構成は実施の形態１と同様である。
【００３５】
上記実施の形態２においては、ＣＡＤデータベースから設計情報入力手段１０によって入力されたコネクタ指定データ情報１０ａと基準配線データ情報１０ｂの設計情報から検査使用コネクタを特定し、試験対象ピンリスト生成手段５によって試験対象ピンリストを生成するとともに、基準配線データ生成手段４によって基準配線データを生成する。なお、図３に示すステップＳ１とステップＳ２の動作をＣＡＤデータから読込んだ設計情報を用いて行うこと以外の動作は実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００３６】
上記のように構成された実施の形態２によれば、ワイヤハーネスの設計情報を含むＣＡＤデータから基準配線データと試験対象ピンリストを生成するので、基準ワイヤハーネス１Ｓを準備する必要がなく、試験時間を短縮し、試験を簡素化することが出来るという更なる効果が得られる。
【００３７】
なお、基準配線データを設計情報から得られるワイヤハーネスの試験のみを対象とするワイヤハーネス試験装置を構成する場合には、コネクタ嵌合検知手段２および基準配線データ生成手段４を省くこともできる。また、コネクタ嵌合検知手段２を省く場合に、検査で使用するコネクタ番号を例えばキーボードなどの入力装置から指定するようにしてもよい。また、コネクタ嵌合検知手段２や基準配線データ生成手段４が省かれた場合、配線試験パターン生成手段６は、検査対象ワイヤハーネス１のコネクタＰが嵌合されるコネクタ番号、該検査対象ワイヤハーネスに対するＣＡＤ情報などの基準の導通関係情報、およびコネクタ情報部３の記憶情報からコネクタ番号に対応するコネクタピン番号（Ａ１〜Ａ１１）などの情報を得て、検査で用いるコネクタ接続部のコネクタピンを用いて順次導通関係を調べるための配線試験パターンを生成するように構成すればよい。
【００３８】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態の一部または全部を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。例えば、複数のコネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）の内、当該試験で用いるコネクタ接続部が容易に分かるようにするために、ランプなどの表示装置（図示省略）を各コネクタ接続部Ｊ（コネクタ番号Ｊ１〜Ｊ９）の近傍にそれぞれ設け、検査で用いるコネクタ接続部をランプで明示するようにしてもよい。検査対象ワイヤハーネスを何度も差替えてコネクタ接続部Ｊに嵌合させるときに前記ランプを点灯させることで嵌合作業をミスなく容易にすることができる。
【符号の説明】
【００３９】
１  （検査対象）ワイヤハーネス、  １Ｓ  基準ワイヤハーネス、  ２  コネクタ嵌合検知手段、  ２ａ  センサ部、  ２ｂ  コネクタ検知ユニット、  ３  コネクタ情報部、  ４  基準配線データ生成手段、  ５  試験対象ピンリスト生成手段、  ６  配線試験パターン生成手段、  ７  ハーネス試験処理手段、  ８  コネクタボックス、  ９  配線試験ユニット、  １０  設計情報入力手段、  Ｂ１〜Ｂ６３  識別用のピン番号（コネクタ接続部のピン）、  Ｊ  コネクタ接続部、  Ｊ１〜Ｊ９  コネクタ番号（コネクタ接続部）、  Ｐ（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３）  コネクタ（ワイヤハーネス側）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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