(57)【要約】      （修正有）【課題】偏光感受型ＯＣＴの構造を簡略化することにより、使用する部品を削減し、調整が容易でしかもコストの低減を可能にし、量産化が可能であり、かつ、偏光感受型ＯＣＴでありながら通常のＯＣＴ計測も可能にした光断層画像撮影装置を提供すること。【解決手段】偏波依存ディレイライン１３３に使用する偏光ビームスプリッターを１つにして角度ずれを解消し、偏光感受型検出アーム１３６にインライン型の偏光ビームスプリッターを採用することで、出力部のコリメータレンズ部を２箇所に減らすことによる構成の簡潔化により調整を容易にし、かつコスト低減を可能にし、さらに、サンプルアーム部に光スイッチのよる切替手段や遮蔽板による遮蔽手段を設けることにより偏光感受型ＯＣＴとしても、通常のＯＣＴとしても使用可能な構成とした。【選択図】図１
2014206433.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光（サンプル光）を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
前記サンプル光分割遅延手段は、１つの偏光ビームスプリッターと２つの全反射プリズムを備え、かつ、前記サンプル光が該偏光ビームスプリッターの中心から所定の距離離れた位置に入射することを特徴とする光断層画像撮影装置。
【請求項２】
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光を合波する手段及び前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光を合波する手段にキューブ型またはプレート型の無偏光ビームスプリッターとインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることを特徴とする、請求項１に記載の光断層画像撮影装置。
【請求項３】
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
さらに、前記サンプルアームには前記分岐手段で光源の光を前記サンプルアームに分岐後、前記サンプル光分割遅延手段を介さない第二の光路を備え、前記サンプル光分割遅延手段を介す第一の光路と前記第二の光路とを切替える切替手段を備えたことを特徴とする光断層画像撮影装置。
【請求項４】
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
さらに、前記サンプル光分割遅延手段において、前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光を遮る遮断手段を備えたことを特徴とする光断層画像撮影装置。
【請求項５】
前記サンプル光分割遅延手段内の遮断手段は、遮断する光を前記第一の光か前記第二の光かを選択可能な選択手段を備えたことを特徴とする請求項４に記載の光断層画像撮影装置。
【請求項６】
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、偏光角度を４５度方向に制御すると共に、前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度も４５度に制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光断層画像撮影装置。
【請求項７】
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、
前記サンプル光分割遅延手段における遮断手段により遮られることなく、前記被検査物に照射する前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光の偏光方向の偏光角度に、前記インライン型偏光コントローラにより制御された偏光角度と前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度を一致するように制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の光断層画像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光断層画像像撮影装置に関し、特に、眼科医療等に用いられるＯＣＴにより断層画像を撮る光断層画像撮影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）は、非侵襲、非接触で測定できることから、眼科における生体組織の高解像度な断層画像を取得する手段として広く使用されている方法である。  
【０００３】
光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）においては、タイムドメイン方式と呼ばれる、ミラーを動かして参照光の光路長を機械的に変化させながら断層画像取得を行うタイムドメインＯＣＴと、フーリエドメイン方式と呼ばれる、分光器を用いてスペクトル情報を検出し断層画像取得を行うスペクトルドメインＯＣＴ、もしくは、波長走査光源を用いてスペクトル干渉信号を検出し断層画像取得を行う光周波数掃引ＯＣＴとがある。  
【０００４】
偏光状態を変化させる複屈折は分子が一定方向に配列する組織において生じる。眼底における網膜では網膜神経繊維層、網膜色素上皮層、血管壁、強膜、篩状板に強い複屈折性が存在する。機能性ＯＣＴの一つである偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）は、この複屈折性の断層化によるこれら組織の可視化のため、近年、さまざまな偏光感受型ＯＣＴの開発が試みられている。  
【０００５】
偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）は、試料を観察する測定光に円偏光或いは偏光変調した光を用い、干渉光を２つの直交する直線偏光として検出する構成をとる。
【０００６】
特許文献１には、偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）の１例が開示されている。そこには、Ｂスキャンと同時に（同期して）光源からの偏光ビーム（偏光子により直線的に偏光されたビーム）をＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）によって連続的に変調し、この連続的に偏光を変調した偏光ビームを分けて、一方を試料に照射し、その反射光を得ると共に、他方を参照光として、両者のスペクトル干渉によりＯＣＴ計測を行い、このスペクトル干渉成分のうち、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に２つの光検出器で測定することにより、試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができるとしている。  
【０００７】
ところが、ＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）は非常に高価なものであるため、ＥＯ変調器を用いない方法も試みられている。非特許文献１には、ＥＯ変調器を用いないで、試料の偏光特性を表すジョーン行列を得る偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）の構成が開示されている。  
【０００８】
この文献（非特許文献１）では、ＥＯ変調器を用いる代わりにサンプルアーム（偏光ビームを試料に照射し、その反射光を得るための光学系）の中で試料に照射する前に光源からの光を偏光子と２つの偏光ビームスプリッター、２つのダブプリズムからなる偏波依存ディレイラインを設けて、試料に入射する垂直偏光及び水平偏光の２つの入射偏光状態の間の遅延を制御することにより、ＥＯ変調器を用いることなく試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができるとしている。  
【０００９】
また、検出アームは１つのキューブ型の無偏光ビームスプリッターと２つのキューブ型の偏光ビームスプリッターで構成され、２つの偏光状態の干渉波は２つのバランス型光検出器により検出される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特許第４３４４８２９号公報
【非特許文献】
【００１１】
【非特許文献１】”Ｐａｓｓｉｖｅ  ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ  ｂａｓｅｄ  ｍｕｌｔｉｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ  Ｊｏｎｅｓ  ｍａｔｒｉｘ  ｓｗｅｐｔ  ｓｏｕｒｃｅ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ  ｆｏｒ  Ｄｏｐｐｌｅｒ  ａｎｄ  ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  ｉｍａｇｉｎｇ“  ＯＰＴＩＣＳ  ＬＥＴＴＥＲＳ，Ｖｏｌ．３７，Ｎｏ．１１，Ｊｕｎｅ  １，２０１２，ｐ１９５８
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかし、非特許文献１に記載の構成では以下に示す課題があり、この構成による偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）の量産化は困難であった。  
【００１３】
まず、偏波依存ディレイラインに２つの偏光ビームスプリッターを用いているため、ディレイライン自体が大きくなることが避けられないし、また、ディレイラインの光学調整、特に２つの偏光ビームスプリッターの角度を一致させるためには厳密な調整が必要であった。  
【００１４】
次に、検出アームでキューブ型の偏光ビームスプリッターを採用しているため、出力側のコリメータレンズ部が４箇所必要となり、検出アーム自体の構造が複雑で、調整も困難であった。  
【００１５】
さらに、偏波依存ディレイラインを用いた非特許文献１の偏光感受型ＯＣＴは、異なる２つの偏光波の時間的に遅延させているため深さの計測レンジが通常のＯＣＴの１／２と浅くなり、より深い部分を見たい場合は通常のＯＣＴで別途計測する必要があった。
【００１６】
本発明は、上記の課題を解決するものであり、偏波依存ディレイラインや検出アームなどの構造を簡略化することにより、使用する部品を削減し、調整が容易でしかもコストの低減を可能にし、量産化が可能であり、かつ、偏光感受型ＯＣＴでありながら通常のＯＣＴ計測も可能にした光断層画像撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
第１に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光（サンプル光）を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを備え、
前記サンプル光分割遅延手段は、１つの偏光ビームスプリッターと２つの全反射プリズムを備え、かつ、前記サンプル光が該偏光ビームスプリッターの中心から所定の距離離れた位置に入射することを特徴とする。
【００１８】
上記構成の装置によれば、
１つの偏光ビームスプリッターで互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光を異なる時間に遅延可能であるため、非特許文献１のように２つの偏光ビームスプリッターの反射面角度を一致させるという調整が不要となるため、調整が容易となると共に、反射面角度ずれそのものが解消され、良好な断層画像が取得可能になる。
また、構成を簡略化したことにより、部品の数が減り、装置の小型化とコスト低減が可能となる。
【００１９】
第２に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光を合波する手段及び前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光を合波する手段にキューブ型またはプレート型の無偏光ビームスプリッターとインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることを特徴とする。
【００２０】
上記構成の装置によれば、
サンプルアームの被検査物から反射された第一の光と参照アームからの光を合波する手段及びサンプルアームの被検査物から反射された第二の光と参照アームからの光を合波する手段にインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることにより出力部のコリメータレンズ部を２箇所に減らすことが可能になり、調整や容易になると共に、部品削減によるコスト低減が可能になる。  
【００２１】
第３に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、偏光角度を４５度方向に制御すると共に、前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度も４５度に制御する制御手段を備えたことを特徴とする。  
【００２２】
上記構成の装置によれば、
インライン型偏光コントローラの偏光角度と偏光素子の偏光角度を４５度に制御することにより、垂直方向の偏光波と水平方向の偏光波を効率よく取り出すことが可能になる。  
【００２３】
第４に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを備え、
前記サンプルアームには前記分岐手段で光源の光を前記サンプルアームに分岐後、前記サンプル光分割遅延手段を介さない第二の光路を備え、前記サンプル光分割遅延手段を介す第一の光路と前記第二の光路とを切替える切替手段を備えたことを特徴とする。
【００２４】
上記構成の装置によれば、
切替手段により偏光感受型ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ）と通常のＯＣＴを切り替えることが可能なため、装置を入れ替えることなく偏光感受型ＯＣＴと通常のＯＣＴの両方による断層画像が取得可能となり、通常のＯＣＴに切り替えることにより深さの計測レンジが偏光感受型ＯＣＴ時に比べ２倍になる。
【００２５】
第５に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段を備え、
前記サンプル光分割遅延手段において、前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光を遮る遮断手段を備えたことを特徴とする。
【００２６】
上記構成の装置によれば、
偏波依存ディレイライン内で互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光のいずれか１つを遮断することで、遮断されない方の１つの光の偏光状態のＯＣＴによる断層画像を遮断する前と比べ２倍の深さの計測レンジで取得できる。  
【００２７】
第６に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、前記サンプル光分割遅延手段内の遮断手段について、遮断する光を前記第一の光か前記第二の光か選択可能な手段を備えたことを特徴とする。  
【００２８】
上記構成の装置によれば、
選択手段により検者の見たい偏光方向である偏光状態のＯＣＴによる断層画像を遮断する前と比べ２倍の深さの計測レンジで取得できる。  
【００２９】
第７に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、
前記サンプル光分割遅延手段における遮断手段により遮られることなく、前記被検査物に照射する前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか１つの光の偏光方向の偏光角度に、前記インライン型偏光コントローラにより制御された偏光角度と前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度を一致するように制御する制御手段を備えたことを特徴とする。  
【００３０】
上記構成の装置によれば、
被検査物に照射する光の強度が最適となるようにインライン型偏光コントローラの複屈折軸や位相遅延量と偏光素子の偏光角度を制御するため、被検査物に照射する偏光波を効率よく取り出すことが可能になる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明によれば、非常に高価なＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）を用いることなく、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に測定し試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができ、かつ、偏光感受型ＯＣＴでありながら通常のＯＣＴ計測も可能な光断層画像撮影装置を、低コストで提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明による光断層画像取得部の一例の詳細を示した図である。
【図２】光断層画像撮影装置の構成を示した図である。
【図３】偏光感受型ＯＣＴと通常のＯＣＴの切替手段を示した図である。
【図４】偏波依存ディレイラインの中で垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の測定光のいずれか１つを遮断する方法を示した図である。
【図５】偏光感受型ＯＣＴと通常のＯＣＴの切替手段の別の実施例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例】
【００３３】
以下、本発明の一実施例に係る光断層画像撮影装置について図面を参照して説明する。図１には断層画像取得部１００の詳細構成を示す。    
【００３４】
図１に示すように、断層画像取得部１００では試料（被検査物）１１７に測定光を照射することにより、試料１１７の２次元又は／及び３次元断層画像を撮影する。本実施形態では、時間的に波長を変化させて走査する波長走査光源１０１を用いたフーリエドメイン（光周波数掃引）方式が採用されている。
【００３５】
即ち、波長走査光源１０１から出力された光は、光ファイバを通してファイバーカプラ１０２に入力され、このファイバーカプラ１０２において、例えば５：９５の比率で、参照光と測定光とに分波されて各々参照アーム１６０及びサンプルアーム１５０へ出力される。そのうち参照アーム１６０に出力された参照光は、光ファイバを通って光サーキュレーター１２０に入力後、コリメータレンズ１２１に入力され、参照ミラー１２２へ入射される。参照ミラー１２２は試料の表面位置に参照光路を合わせる光路長調整のため光路軸上で移動制御可能であり、ＯＣＴ断層像を測定する前に、測定光路長と参照光路長を合わせる。
【００３６】
そして、参照ミラー１２２で反射された参照光はコリメータレンズ１２１から光ファイバを通り光サーキュレーター１２０で光路が変更され、偏光コントローラ１１９を通り、コリメータレンズ１２３に入力し偏光感受型検出アーム１３６に入力される。
【００３７】
一方、前記ファイバーカプラ１０２からサンプルアーム１５０に出力された測定光は、光ファイバを通って偏光コントローラ１０３を介して偏波依存ディレイライン１３３のコリメータレンズ１０４に入力後、偏光子１０５を通る。本実施例では偏光子１０５の偏光角度は４５度に設定してある。さらに、偏光コントローラ１０３を通過しコリメータレンズ１０４に入力する直前の偏光角度も４５度に制御され、４５度に偏光された測定光が効率よく取り出せるように、偏光コントローラ１０３及び偏光子１０５が調整及び制御されている。
【００３８】
４５度に偏光された測定光は偏波依存ディレイライン１３３内の偏光ビームスプリッター１０６を通すことにより互いに直交する２つの直線偏光状態（垂直方向及び水平方向）の光に分割される。分割された測定光は各々異なる全反射プリズム１０７及び１０８で反射され、２つの異なる光路で伝播させる。ここで、全反射プリズム１０７及び１０８の少なくとも１つの全反射プリズムを移動制御することにより、２つの異なる偏光状態（垂直方向及び水平方向）の間の遅延を生じさせる。図１では、全反射プリズム１０７を移動可能に示しているが、当然のことながら、全反射プリズム１０８を移動可能にしてもよいし、また、全反射プリズム１０７及び１０８両方を移動可能にしてもよい。
【００３９】
ここで、入射測定光を偏光ビームスプリッター１０６の中心から一定距離外れた位置に入射するように設定することにより、１つの偏光ビームスプリッター（１０６）だけで２つの異なる偏光状態の光を生成し、各々異なる全反射プリズム１０７及び１０８で反射されることにより、２つの異なる偏光状態（垂直方向及び水平方向）の間にある一定の遅延を持つ測定光が生成され、反射ミラー１１０で光路を変えた後、コリメータレンズ１０９により光ファイバ接続される。
【００４０】
光ファイバを通った測定光は、偏光コントローラ１１１を通った後、光サーキュレーター１１２で光路が変更され、コリメータレンズ１１３に入射後、ガルバノミラー１１４及び１１５で反射し、レンズ１１６により集光して、試料（被検査物）１１７へ入射する。
【００４１】
ガルバノミラー１１４及び１１５は、測定光を走査させるためのもので、ガルバノミラー１１４及び１１５を制御することにより、測定光を試料１１７の表面において水平方向に及び垂直方向に走査されるようになっている。これにより、試料１１７の２次元の断層画像や３次元の断層画像が取得できるのである。
【００４２】
試料（被検査物）１１７で反射された測定光は、上記とは逆にレンズ１１６、ガルバノミラー１１５及び１１４を通り、コリメータレンズ１１３に入力される。そして、測定光は光ファイバを通って前記光サーキュレーター１１２で光路が変更され、偏光コントローラ１１８を通った後、コリメータレンズ１２５に入力し偏光感受型検出アーム１３６に入力される
【００４３】
コリメータレンズ１２３から偏光感受型検出アーム１３６に入力し、偏光子１２４で偏光された参照光と、試料（被検査物）１１７で反射された測定光は無偏光ビームスプリッター１３２を用いて合成され、分割される。分割された光は、その後、コリメータレンズ１２６及び１２７に入力後、２つのインライン型の偏光ビームスプリッター１２８及び１２９によって２つの直交する偏光状態に分けられる。
【００４４】
ここで、インライン型の偏光ビームスプリッター１２８及び１２９後の参照光の垂直方向及び水平方向の直線偏光のパワーを等しくするために、偏光子１２４の偏光角度は４５度に調整すると共に、効率を上げるため、事前に通る偏光コントローラ１１９を用いて偏光子１２４へ入射する直前の偏光角度がほぼ４５度となるように制御されている。
【００４５】
２つの偏光状態の干渉は、２つのバランス型光検出器１３０及び１３１により検出される。検出された垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の干渉信号は図２に示す制御装置２００に設けられた演算部２０２において、各干渉信号に対するフーリエ変換などの処理が行われ、もって走査線に沿う断層画像が取得される。取得された断層画像は記憶部２０３に記憶される。
【００４６】
上記のようにＥＯ変調器を用いる代わりに、１つの偏光ビームスプリッターと２つの全反射プリズムの構成からなる偏波依存ディレイラインを用いることにより、試料（被検査物）１１７の偏光特性を表すジョーンズ行列を得られるのである。
【００４７】
次に偏光感受型ＯＣＴと通常のＯＣＴの切替方法について図３を用いて説明する。
【００４８】
図３は偏光感受型ＯＣＴと通常のＯＣＴの切替方法の一実施例を示した図であり、光スイッチ３０１及び３０２を用いたものである。光スイッチ３０１と光スイッチ３０２の間には、偏光感受型ＯＣＴのための偏波依存ディレイライン１３３を介する光路と偏波依存ディレイライン１３３を介さない光ファイバ３０３を通る光路の２つの光路を設け、光スイッチ３０１及び３０２により、いずれかの光路を切替可能にしたものである。
【００４９】
光スイッチ３０１及び３０２を切り替えることにより、測定光が偏波依存ディレイライン１３３を通る場合は、断層像取得部１００は、偏光感受型ＯＣＴとして作用するため、試料１１７の垂直偏光成分と水平偏光成分の干渉信号を同時に測定して試料１１７の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができる。
【００５０】
測定光が偏波依存ディレイライン１３３を通らず、光ファイバ３０３を通る場合は、断層像取得部１００は、通常のＯＣＴとして作用するため、測定光は偏光されることなく試料１１７に入射し、結果的に制御部２００では通常のＯＣＴが取得され、記憶部２０３に記憶される。このとき、取得される断層画像は偏光感受型ＯＣＴの時に比べての２倍の深さ計測レンジで取得できる。
【００５１】
図４は偏波依存ディレイライン１３３の中で、垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の測定光のいずれか１つを遮断する方法を示す。遮蔽板４０１は図４記載のように回転方向に移動可能になっており、制御信号により垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の測定光のいずれかを選択して遮断可能となっている。これにより検者が見たい１つの偏光状態の断層画像を上述のような同時に２つの偏光状態の断層画像を取得する場合に比べて深さ方向で２倍の計測レンジを持つ断層画像の取得が可能になる。
【００５２】
また、このとき、もし垂直方向の偏光状態を選択して断層画像を取得する場合は、偏光コントローラ１０３及び偏光子１０５を用いて偏光ビームスプリッター１０６へ入射する偏光の向きを垂直方向（９０度）に制御することにより、偏光波が効率よく取り出すことができる。逆に水平方向の偏光状態を選択して断層画像を取得する場合は、偏光コントローラ１０３及び偏光子１０５を用いて偏光状態を水平方向（０度）に制御することにより、偏光波が効率よく取り出すことができることは言うまでもない。
【００５３】
図４では、遮蔽板４０１は回転方向に移動可能になっているが、当然これに限ったものではなく、検者が手動で遮蔽板を置いてもよいし、垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の測定光のいずれか１つを限定して遮蔽する構成でもよい。勿論、遮蔽する方法は上記に記した構成に限ったものではなく、垂直方向及び水平方向の２つの偏光状態の測定光のいずれか１つを遮蔽可能な構成であればよい。
【００５４】
また、図５に示すように、偏波依存ディレイライン１３３の中に反射ミラー５０１、５０２及び５０３を配置することも可能である。この場合は図３に示したような光スイッチ３０１及び３０２や光ファイバ３０３は不要になる。
【００５５】
上記の実施例では、波長走査光源を用いたフーリエドメイン（光周波数掃引）方式のＯＣＴを採用しているが、勿論のことではあるが、この方式に限ったものではない。タイムドメイン方式と呼ばれる、ミラーを動かして参照光の光路長を機械的に変化させながら断層画像取得を行うタイムドメインＯＣＴや、本実施例と同じフーリエドメイン方式ではあるが、分光器を用いてスペクトル情報を検出し断層画像取得を行うスペクトルドメインＯＣＴでも同様な構成にて本発明の効果は得ることができることは言うまでもない。
【００５６】
以上、本発明の実施形態について詳述してきたが、これらはあくまでも例示であって、本発明はかかる実施形態における具体的な記載によって、何等、限定的に解釈されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様において実施され得るものであり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることが、理解されるべきである。  
【００５７】
以上のように、本実施形態によれば、非常に高価なＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）を用いることなく、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に測定し試料の偏光特性を表すジョーンズ行列を得ることができ、かつ、偏光感受型ＯＣＴでありながら通常のＯＣＴ計測も可能な光断層画像撮影装置を、低コストで提供できるのである。  
【符号の説明】
【００５８】
１００・・断層画像取得部１０１・・波長走査光源１０２・・ファイバーカプラ１０６・・偏光ビームスプリッター１１２、１２０・・光サーキュレーター１２８、１２９・・インライン型偏光ビームスプリッター１３０、１３１・・バランス型光検出器１３２・・無偏光ビームスプリッター１３３・・偏波依存ディレイライン２０１・・ＡＤボード２０２・・演算部２０３・・記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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