(57)【要約】      （修正有）【課題】広範囲の光量の条件下、高精度に故障検出を行うことができる光源装置を提供する。【解決手段】１次光源２と、１次光源駆動手段３と、１次光源２から射出された１次光と異なる光学特性の２次光に変換する光変換手段４と、１次光源２から射出された１次光を光変換手段４に導光すると共に、光変換手段４側から１次光源２側に戻る１次光及び／又は２次光の戻り光を抽出する戻り光抽出手段５と、戻り光抽出手段５により抽出された戻り光量変化に基づいて故障を検出する光源装置１において、１次光源２の駆動条件と戻り光量との相関特性を示す戻り光推定情報に基づいて戻り光量の標準値に対応する故障検出用の閾値を設定し、戻り光抽出手段により抽出された戻り光量と閾値とを比較し、比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御する故障検出手段６とを具備する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１次光を射出する１次光源と、
前記１次光源を駆動する１次光源駆動手段と、
前記１次光源から射出された前記１次光を受光し、当該１次光と異なる光学特性の２次光に変換する光変換手段と、
前記１次光源と前記光変換手段との間に光学的に接続され、前記１次光源から射出された前記１次光を前記光変換手段に導光すると共に、前記光変換手段側から前記１次光源側に戻る前記１次光及び／又は前記２次光の戻り光を抽出する戻り光抽出手段と、
前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量変化に基づいて故障を検出するもので、前記１次光源の駆動条件に基づき設定された閾値と前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量とを比較し、当該比較結果に応じて前記１次光源駆動手段の動作を制御する故障検出手段と、
を具備することを特徴とする光源装置。
【請求項２】
前記故障検出手段は、前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量を検出する戻り光量検出手段と、
前記１次光源の前記駆動条件と前記戻り光推定情報とに基づき、前記戻り光推定情報から前記所定の駆動条件における前記戻り光標準値を算出する戻り光標準値算出手段と、
前記戻り光標準値に基づいて前記閾値を設定する閾値設定手段と、
前記戻り光検出量手段により検出された前記戻り光の光量と前記閾値設定手段により設定された前記閾値とを比較し、当該比較結果に応じて前記１次光源駆動手段の動作を制御する故障判定手段と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項３】
前記閾値設定手段は、前記戻り光標準値に基づく前記閾値よりも大きい閾値上限値と前記閾値よりも小さい閾値下限値とをそれぞれ設定すると共に、これら閾値上限値と閾値下限値とにより成る閾値範囲を設定し、
前記故障判定手段は、前記戻り光検出量手段により検出された前記戻り光の光量が前記閾値範囲内に存在するか否かを判定し、前記戻り光の光量が前記閾値範囲内から外れたときに、前記１次光源の駆動を停止させる駆動停止信号を出力する、
ことを特徴とする請求項２に記載の光源装置。
【請求項４】
前記故障判定手段は、前記戻り光の光量が前記閾値上限値よりも大きくなったことにより前記駆動停止信号が出力されたのか、又は前記戻り光の光量が前記閾値下限値よりも小さくなったことにより前記駆動停止信号が出力されたのかを識別し、当該識別結果からそれぞれ異なる故障モードを判定する、
ことを特徴とする請求項３に記載の光源装置。
【請求項５】
前記戻り光抽出手段は、前記１次光を入射する入射端と、前記入射端から入射した前記１次光を伝播する光ファイバと、前記光ファイバにより伝播された前記１次光を前記光変換手段へ射出する射出端と、前記入射端と前記射出端との間の前記光ファイバに設けられ、前記射出端に入射した前記戻り光を前記光ファイバから分岐するための光分岐部と、前記光分岐部により分岐された前記戻り光を抽出する抽出端と、を有する光分岐ファイバーカプラから成り、
前記故障判定手段は、前記戻り光の光量が前記閾値上限値よりも大きくなると、前記故障モードとして、前記光分岐ファイバーカプラにおける前記光分岐部から前記射出端側で故障が発生したモードであることを判別する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光源装置。
【請求項６】
前記戻り光抽出手段は、前記１次光を入射する入射端と、前記入射端から入射した前記１次光を伝播する光ファイバと、前記光ファイバにより伝播された前記１次光を前記光変換手段へ射出する射出端と、前記入射端と前記射出端との間の前記光ファイバに設けられ、前記射出端に入射した前記戻り光を前記光ファイバから分岐するための光分岐部と、前記光分岐部により分岐された前記戻り光を抽出する抽出端とから成り、
前記故障判定手段は、前記戻り光の光量が前記閾値下限値よりも小さくなると、前記故障モードとして、前記戻り光抽出手段の前記光分岐部から前記入射端側で故障が発生したモードであることを判別する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光源装置。
【請求項７】
前記１次光源と前記戻り光抽出手段との間の光学的な接続と、前記戻り光抽出手段と前記光変換手段との間の光学的な接続とは、それぞれ光コネクタを介して行われることを特徴とする請求項５又は６に記載の光源装置。
【請求項８】
前記戻り光の光量が前記閾値範囲を外れた第１の時点から前記１次光源が前記１次光の射出を停止する第２の時点までの期間は、前記１次光が当該光源装置の外部に放射され続けて許容される量に達するまでの時間以内に設定されることを特徴とする請求項３乃至７のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項９】
前記故障判定手段は、前記駆動停止信号を出力した後、当該駆動停止信号を出力する状態を保持することを特徴とする請求項４乃至８のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１０】
前記閾値設定手段は、前記戻り光標準値に対する前記閾値上限値と前記閾値下限値との各差分が略等しくなるために、前記戻り光標準値に対して所定の係数を掛け合わせる、又は所定の定数を加減算して前記閾値上限値と前記閾値下限値とを設定することを特徴とする請求項３乃至９のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１１】
前記閾値設定手段は、前記戻り光標準値と前記閾値上限値との差分である上限側範囲と、前記戻り光標準値と前記閾値下限値との差分である下限側範囲とが前記戻り光標準値に応じて可変するために、前記戻り光標準値に対して所定の係数を掛け合わせる、又は所定の定数を加減算して前記閾値上限値と前記閾値下限値を設定することを特徴とする請求項３乃至９のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１２】
前記戻り光推定情報は、前記１次光源を駆動する駆動電流と駆動電圧と前記光源装置制御手段により設定される前記１次光の光量の設定値とのうち少なくとも１つと、前記戻り光検出手段により検出される前記戻り光の光量との相関特性を含むことを特徴とする請求項１乃至１１のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１３】
前記戻り光量検出手段は、前記戻り光抽出手段により抽出される前記戻り光の中で前記１次光の成分のみの戻り光を検出することを特徴とする請求項１乃至１２のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１４】
前記光源装置制御手段は、前記１次光源の特性情報を基に前記戻り光推定情報を更新する機能を有し、
前記戻り光標準値算出手段は、前記更新された前記戻り光推定情報に基づいて前記戻り光標準値を更新し、
前記閾値設定手段は、前記更新された前記戻り光標準値に基づいて前記閾値を再設定し、
前記閾値の再設定後、前記故障検出手段は、前記戻り光抽出手段によって抽出された前記戻り光の光量変化に基づいて故障を検出する、
ように制御することを特徴とする請求項１乃至１２のうちいずれか１項に記載の光源装置。
【請求項１５】
前記光源装置制御手段は、前記１次光源の所定の前記駆動条件において、前記戻り光量検出手段により検出される前記戻り光の光量の情報を入力し、当該戻り光の光量と前記戻り光標準値との差分を検出し、この差分を無くすように前記戻り光標準値を前記戻り光の光量に近付けて更新することを特徴とする請求項１４に記載の光源装置。
【請求項１６】
前記光源装置制御手段は、前記１次光源の累積駆動時間を検出し、当該累積駆動時間によって前記１次光源の発光特性変化を示す変化係数を求め、前記戻り光標準値と前記変化係数とを組み合わせて所定の前記累積駆動時間における前記戻り光標準値を更新することを特徴とする請求項１４に記載の光源装置。
【請求項１７】
前記光源装置制御手段は、前記１次光源の所定の駆動条件において、前記１次光源から射出される前記１次光及び前記光変換手段により変換される前記２次光の光量情報を入力し、前記戻り光標準値算出手段よって前記更新された前記戻り光推定情報に基づいて前記戻り光標準値を更新することを特徴とする請求項１４に記載の光源装置。
【請求項１８】
前記１次光源は、当該１次光源の識別情報を記録する１次光源情報記憶手段を有し、
前記光変換手段は、光変換ユニットを搭載し、当該光変換ユニットの識別情報を記録する光変換ユニット情報記憶手段を有し、
前記光源装置制御手段は、前記１次光源情報記憶手段の前記識別情報と前記光変換ユニット情報記憶手段の前記識別情報とに基づいて前記戻り光標準値を更新する、
ことを特徴とする請求項１４に記載の光源装置。
【請求項１９】
前記戻り光抽出手段と、前記故障検出手段と、前記１次光源駆動手段と、前記光源装置制御手段とを有する制御ユニットを備え、
前記１次光源は、前記制御ユニットに対して着脱可能であり、
前記光変換手段は、前記制御ユニットに対して着脱可能である、
ことを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項２０】
１次光を射出する１次光源と、前記１次光源から射出された前記１次光を受光し、当該１次光と異なる光学特性の２次光に変換する光変換手段と、前記１次光源から射出された前記１次光を前記光変換手段に導光すると共に、前記光変換手段側から前記１次光源側に戻る前記１次光及び／又は前記２次光の戻り光を抽出する戻り光抽出手段とを有し、前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量変化に基づいて故障を検出する光源装置の故障検出方法において、
前記故障の検出は、前記１次光源の駆動条件に基づき設定された閾値と前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量とを比較し、当該比較結果に応じて前記１次光源駆動手段の動作を制御する、
ことを特徴とする光源装置の故障検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば１次光源から射出された１次光を光変換手段に導光して当該１次光と異なる光学特性の２次光に変換出力し、光変換手段側から１次光源側へ進む１次光及び／又は２次光の戻り光の光量変化により故障を検出する光源装置及び光源装置の故障検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、小型の固体光源から射出される光を光ファイバ先端に配置された光変換部材により光変換し、この光変換された光を所望の照射パターンや色へ変化させる発光装置が開発されている。  
発光装置に関しては、特許文献１がある。この特許文献１は、光ファイバの断線を検出する故障検出機能を備えた発光装置であって、光源１２０と、この光源１２０と光学的に接続された導光部材１３０と、この導光部材１３０の射出側端部に設けられ、光源１２０からの光を波長変換する波長変換部材１１０と、導光部材１３０の断線を検出する検出部材と、波長変換部材１１０により波長変換された光を検出する受光素子１４３とを有し、導光部材の光源側に配置された受光素子により波長変換光の戻り光が検出できるときに通常に動作していると判断し、かつ波長変換光の戻り光が検出されなくなると励起光を導光する光ファイバの断線による故障と判断して異常を検出することを開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１２２８３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
波長変換光の戻り光が検出されなくなる要因としては、光ファイバの断線や波長変換部材の不良以外に、光源から射出される光の出力低下や、光が導光部材に入射する際の結合効率の低下という導光部材よりも光源側での故障等の不具合も考えられる。  
このため、上記特許文献１では、波長変換光の戻り光が検出されなくなると光ファイバの断線により異常を検出するが、このときの受光素子により検出される波長変換光の戻り光の変化が光ファイバの一部断線により光ファイバの損失が増加したためなのか、又は光源から射出される光の光量が低下したためなのかが判別し難くなっている。
【０００５】
このような現状で、例えば発光装置を照明機器に利用し、その照明光の光量を調整して使用する場合、光源から射出される光量の変動の影響を受けずに光ファイバの一部断線等の故障を精度良く検出できない。
本発明は、光源の駆動条件の変化に応じて故障の検出に用いる戻り光量の判定基準である閾値を変動させることにより、広範囲の光量の条件下、高精度に故障の検出ができる光源装置及び光源装置の故障検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の主要な局面に係る光源装置は、１次光を射出する１次光源と、前記１次光源を駆動する１次光源駆動手段と、前記１次光源から射出された前記１次光を受光し、当該１次光と異なる光学特性の２次光に変換する光変換手段と、前記１次光源と前記光変換手段との間に光学的に接続され、前記１次光源から射出された前記１次光を前記光変換手段に導光すると共に、前記光変換手段側から前記１次光源側に戻る前記１次光及び／又は前記２次光の戻り光を抽出する戻り光抽出手段と、前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量変化に基づいて故障を検出するもので、前記１次光源の駆動条件に基づき設定された閾値と前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量とを比較し、当該比較結果に応じて前記１次光源駆動手段の動作を制御する故障検出手段とを具備する。
【０００７】
本発明の主要な局面に係る光源装置の故障検出方法は、１次光を射出する１次光源と、前記１次光源から射出された前記１次光を受光し、当該１次光と異なる光学特性の２次光に変換する光変換手段と、前記１次光源から射出された前記１次光を前記光変換手段に導光すると共に、前記光変換手段側から前記１次光源側に戻る前記１次光及び／又は前記２次光の戻り光を抽出する戻り光抽出手段とを有し、前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量変化に基づいて故障を検出する光源装置の故障検出方法において、前記故障の検出は、前記１次光源の駆動条件に基づき設定された閾値と前記戻り光抽出手段により抽出された前記戻り光の光量とを比較し、当該比較結果に応じて前記１次光源駆動手段の動作を制御する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光源の駆動条件の変化に応じて故障検出に用いる戻り光量の判定基準である閾値を変動させることにより、広範囲の光量の条件下、高精度に故障検出ができる光源装置及び光源装置の故障検出方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明に係る光源装置の第１の実施の形態を模式的に示すブロック構成図。
【図２】同装置における故障検出手段を示すブロック構成図。
【図３】同装置における戻り光推定情報の一例を示す図。
【図４】同装置における故障判定手段により戻り光量が閾値下限値よりも小さくなったときの故障判定を示す図。
【図５】同装置における故障判定手段により戻り光量が閾値上限値よりも大きくなったときの故障判定を示す図。
【図６】同装置における故障検出フローチャート。
【図７】同装置における故障判定手段により閾値の自動調整による故障判定を示す図。
【図８】同装置における戻り光推定情報記憶部に記憶される戻り光推定情報の変形例を説明するための図。
【図９】本発明に係る光源装置の第２の実施の形態を模式的に示す故障検出手段のブロック構成図。
【図１０】同装置における光源装置制御手段による更新（キャリブレーション）動作を説明するための図。
【図１１】本発明に係る光源装置の第３の実施の形態を模式的に示すブロック構成図。
【図１２】本発明に係る光源装置の第４の実施の形態を模式的に示すブロック構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［第１の実施の形態］  
以下、本発明の第１の実施の形態について図面を参照して説明する。  
図１は光源装置の模式的なブロック構成図を示す。この光源装置（以下、本装置と称する）１は、光変換手段４に入射した１次光の一部と、この光変換手段４により変換された２次光の一部とを混合した混合光を照明光Ｓとして射出するもので、１次光源２と、１次光源駆動手段３と、光変換手段４と、戻り光抽出手段５と、故障検出手段６と、戻り光推定情報記憶手段７と、光源装置制御手段８とを備える。
【００１１】
１次光源２は、１次光を発生する。  
１次光源駆動手段３は、１次光源２を駆動する。  
光変換手段４は、１次光源２により発生した１次光を受光して当該１次光とは異なる光学特性を持つ２次光に変換する。  
戻り光抽出手段５は、１次光源２により発生した１次光を光変換手段４に導光すると共に、１次光若しくは２次光の戻り光を抽出する。  
【００１２】
故障検出手段６は、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光の光量（以下、戻り光量と省略する）の変動に基づいて故障を検出する。  
戻り光推定情報記憶手段７は、故障検出手段６により故障を検出するときの判定基準に用いる戻り光推定情報を記憶する。  
光源装置制御手段８は、本装置１の全体を制御する。この光源装置制御手段８は、１次光源１の特性情報を基に戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている戻り光推定情報を更新する。
【００１３】
１次光源２は、１次光を射出する半導体レーザ（ＬＤ）と、この半導体レーザから射出される１次光を戻り光抽出手段５に導光する光ファイバ９と、半導体レーザから射出される１次光を光ファイバ９に入射させる集光レンズ（図示せず）とを備える。これら半導体レーザと集光レンズとを用いることにより、半導体レーザから射出される１次光は、効率的に光ファイバ９へ入射して戻り光抽出手段５へ導光することが可能である。
【００１４】
半導体レーザは、１次光として、発光ピークが波長４４５ｎｍ、半値幅が数ｎｍ以下の青色のレーザ光を射出する。光ファイバ９は、例えばコア径５０μｍ、開口数ＦＮＡ＝０．２を有するマルチモード光ファイバである。
１次光源駆動手段３は、１次光源２に対して所定の駆動電流値を有する電力を所定の駆動間隔で供給し、１次光源２から青色レーザ光を射出させる。  
この１次光源駆動手段３は、故障検出手段６から出力される故障判定信号を入力し、半導体レーザの駆動条件を変更する。具体的に１次光源駆動手段３は、半導体レーザの故障判定信号を受けると、この受けたときに半導体レーザへの電力供給を停止し、青色レーザ光の射出を停止する。  
さらに、１次光源駆動手段３は、光源装置制御手段８により設定された光量制御信号に基づいて半導体レーザの駆動条件を変更する。
【００１５】
戻り光抽出手段５は、２つの入力端と、２つの出力端とを設けた光分岐ファイバーカプラ（光分岐部）１０を備える。２つの入力端のうち一方の入力端は、１次光源２に対して光コネクタＰ１を介して光学的に接続され、他方の入力端は、故障検出手段６に対して光コネクタＰ２を介して光学的に接続されている。２つの出力端は、それぞれ光変換手段４に対して２つの光コネクタＰ３、Ｐ４を介して光学的に接続されている。すなわち、戻り光抽出手段５は、１次光源２との間を光学的に接続する光コネクタＰ１と、故障検出手段６との間を光学的に接続する光コネクタＰ２と、光変換手段４との間を光学的に接続する２つの光コネクタＰ３、Ｐ４とを備える。  
従って、１次光源２と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光学的な接続と、光分岐ファイバーカプラ１０と光変換手段４との間の光学的な接続とは、それぞれ光コネクタＰ１〜Ｐ４を介して行われる。
【００１６】
なお、これら光コネクタＰ１〜Ｐ４は、例えばＦＣコネクタ又はアダプタである。
光分岐ファイバーカプラ１０は、２つの光コネクタＰ３、Ｐ４を設けた２つの出力端側に、光コネクタＰ１から入射する１次光を略等しい分岐比で導光し、かつ各光コネクタＰ１、Ｐ２を設けた各入力端側に、各光コネクタＰ３、Ｐ４からそれぞれ入射する１次光及び２次光を略等しい分岐比で導光する。  
この戻り光抽出手段５に使用される光ファイバ１１は、例えば、コア５０μｍ、開口数ＦＮＡ＝０．２を有するマルチモード光ファイバである。この光ファイバは、上記１次光源２に用いられる光ファイバ９や、後述する光変換手段４に用いられる光ファイバ１２と同一である。
【００１７】
光変換手段４は、１次光とは異なる光学特性の２次光に変換する２つの光変換ユニット（光変換ＵＩ）１３、１４と、これら光変換ユニット１３、１４と光分岐ファイバーカプラ１０の各出力端部（光コネクタＰ３、Ｐ４）とを光学的に接続する各光ファイバ１２とを有する。これら光変換ユニット１３、１４と各光ファイバ１２とは、熱硬化樹脂等を用いて接着されている。
【００１８】
各光変換ユニット１３、１４は、それぞれ１次光源２から射出される波長４４５ｎｍの青色レーザ光を吸収し、例えば黄色蛍光に波長変換して発光する波長変換部材を有する。これにより、当該実施の形態において、２次光は黄色蛍光を示すものとなる。  
波長変換部材は、具体的に波長４４５ｎｍの青色レーザ光を吸収し、波長５５０ｎｍに発光ピークを有するＣｅ（セリウム）賦活の粉末ＹＡＧ蛍光体を含む。この波長変換部材は、粉末ＹＡＧ蛍光体をシリコーン樹脂やガラスなどの封止材に分散し、この封止剤を硬化することで形成される。この波長変換部材の厚さや、封止材料に混合される粉末蛍光体の濃度は、当該波長変換部材の励起光となる青色レーザ光の吸収率や、波長変換効率特性を考慮し、照明光Ｓとして必要な所望の蛍光に変換するための所定条件に設定される。
【００１９】
本装置１は、コンピュータを搭載する。このコンピュータは、メモリに記憶された故障検出プログラムを実行して故障を検出する。この故障検出プログラムは、１次光源２の駆動条件と戻り光の光量との相関特性を示す戻り光推定情報に基づいて戻り光量の標準値に対応する故障検出用の閾値を設定させる閾値設定機能と、戻り光抽出手段５により抽出された戻り光の光量と閾値とを比較させる比較機能と、当該比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御させる制御機能とを実現する。  
又、この故障検出プログラムは、戻り光の光量を検出させる機能と、１次光源２の駆動条件と戻り光推定情報とに基づき、戻り光推定情報から所定の駆動条件における戻り光光量の標準値を算出させる機能と、戻り光標準値に基づいて閾値を設定させる機能と、検出された戻り光光量に対応する戻り光量検出信号と閾値とを比較させる機能と、当該比較結果に応じて１次光源駆動手段の動作を制御させる機能とを実現する。
【００２０】
図２は故障検出手段６のブロック構成図を示す。なお、同図では故障検出時に用いる各種制御信号を示す。  
この故障検出手段６は、戻り光抽出手段５により抽出された戻り光の光量変化に基づいて故障を検出するもので、１次光源２の駆動条件と戻り光量との相関特性を示す戻り光推定情報に基づいて戻り光量の標準値に対応する故障検出用の閾値を設定し、戻り光抽出手段５により抽出された戻り光量と閾値とを比較し、当該比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御する。
【００２１】
この故障検出手段６は、本装置１の故障を検出する構成要素として、１次光の戻り光量を検出する戻り光量検出手段２０と、１次光源２の駆動情報を受ける駆動情報受信手段２１と、１次光源２の駆動情報を基に戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている戻り光推定情報から戻り光標準値を算出する戻り光標準値算出手段２２と、戻り光標準値から故障を検出するときの判断基準となる閾値を設定する閾値設定手段２３と、戻り光量と閾値との大小関係を比較し、この比較結果に基づいて１次光源駆動手段３の駆動を制御する故障判定手段２４とを有する。
【００２２】
戻り光量検出手段２０は、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光の中で１次光の成分のみの戻り光を検出する。  
この戻り光量検出手段２０は、本装置１の故障検出のために戻り光量をリアルタイムに検出するもので、当該検出した戻り光量に対応した電気信号として戻り光量検出信号Ｓ４を出力する。  
具体的に戻り光量検出手段２０は、青色レーザ光の波長領域に対して受光感度を有し、青色レーザ光の受光光量に対する電気信号を出力する光量センサ、例えばフォトダイオードと、この光量センサから出力された電気信号を増幅し、戻り光量検出信号Ｓ４として故障判定手段２４に出力する増幅回路とを有する。
【００２３】
駆動情報受信手段２１は、本装置１の故障検出に用いる閾値の設定に必要な１次光源２の駆動情報を取得する。この駆動情報受信手段２１は、１次光源２の駆動情報として例えば半導体レーザを駆動している駆動電流値であり、この駆動電流値を示す駆動電流値情報Ｓ１を戻り光標準値算出手段２２に送る。
【００２４】
戻り光推定情報記憶手段７には、上記戻り光推定情報を記憶する戻り光推定情報テーブルが形成されている。この戻り光推定情報テーブルに記憶されている戻り光推定情報は、１次光源２の駆動情報に対して当該１次光源２から射出される１次光の光量と、戻り光量検出手段２０により検出される戻り光量との相関関係から成る。具体的に戻り光推定情報は、１次光源１を駆動する駆動電流と駆動電圧と光源装置制御手段８により設定される１次光の光量の設定値とのうち少なくとも１つと、戻り光量検出手段２０により検出される前記戻り光量との相関特性を含む。
【００２５】
図３は戻り光推定情報の一例を示す。この戻り光推定情報は、初期状態における半導体レーザの駆動電流値（ｍＡ）に対する青色レーザ光の射出光量（ｍＷ）の関係を示す第１のデータと、半導体レーザの駆動電流値（ｍＡ）に対する戻り光量検出手段２０により検出される青色レーザ光の戻り光の推定値光量の関係を示す第２のデータとを有する。なお、図３は簡易的な１本のグラフの線を示すが、これに限らず、例えば傾きの異なる２本のグラフの線などから半導体レーザの駆動電流値（ｍＡ）に対する青色レーザ光の戻り光の推定値光量の相関を求めることができる。
【００２６】
戻り光標準値算出手段２２は、半導体レーザの駆動情報から戻り光量を推定し、この推定した戻り光量を戻り光標準値として算出する。  
具体的に戻り光標準値算出手段２２は、駆動情報受信手段２１により取得した半導体レーザの駆動電流情報Ｓ１に基づいて戻り光推定情報記憶手段７名に格納されている駆動電流情報Ｓ１における戻り光推定量を取得する。この取得した戻り光推定量は、戻り光量検出手段２０により検出した実際の戻り光量に対応する戻り光量検出信号Ｓ４とは異なり、戻り光推定情報から推定したものであって、本実施の形態では、戻り光標準値信号Ｓ２と定義する。この戻り光標準値信号Ｓ２は、閾値設定手段２３に送られる。
【００２７】
この戻り光標準値算出手段２２は、光源装置制御手段８により更新された戻り光推定情報に基づいて戻り光標準値を更新する。
閾値設定手段２３は、故障検出のために故障か否かの判定基準となる閾値を設定する。この閾値設定手段２３は、戻り光標準値算出手段２２から取得した戻り光標準値信号Ｓ２を用い、正常動作と故障との境界を示す閾値を、上限側と下限側とでそれぞれ設定する。
【００２８】
本実施の形態では、例えば、図４及び図５に示すように閾値の上限側を閾値上限値Ｓ３Ａとし、閾値の下限側を閾値下限値Ｓ３Ｂとして定義する。閾値上限値Ｓ３Ａは、閾値よりも大きい。閾値下限値Ｓ３Ｂは、閾値よりも小さい。
この閾値設定手段２３は、戻り光標準値に対する閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの各差分が略等しくなるために、戻り光標準値に対して所定の係数を掛け合わせる、又は所定の定数を加減算して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとを設定する。
【００２９】
又、閾値設定手段２３は、戻り光標準値と閾値上限値Ｓ３Ａとの差分である上限側範囲と、戻り光標準値と閾値下限値Ｓ３Ｂとの差分である下限側範囲とが戻り光標準値に応じて可変するために、戻り光標準値に対して所定の係数を掛け合わせる、又は所定の定数を加減算して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとを設定する。
【００３０】
具体的に閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの設定方法は、例えば戻り光標準値信号Ｓ２に対する定数倍として設定する。  
閾値上限値Ｓ３Ａ＝Ｓ２×αｈ（１＜αｈ）        …（１）
閾値下限値Ｓ３Ｂ＝Ｓ２×α１（α１＜１）        …（２）
なお、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとは、それぞれ戻り光標準値信号Ｓ２に定数を加算又は減算した値を設定しても良い。  
閾値上限値Ｓ３Ａ＝Ｓ２＋ｋｈ（０＜ｋｈ）        …（３）
閾値下限値Ｓ３Ｂ＝Ｓ２−ｋ１（０＜ｋ１）        …（４）
さらに、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの設定では、戻り光標準値信号Ｓ２の光量レベルに応じて閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの設定方法を変更し、戻り光標準値信号Ｓ２と閾値上限値Ｓ３Ａとの差分である上限側範囲と、戻り光標準値信号Ｓ２と閾値下限値Ｓ３Ｂとの差分である下限側範囲とをそれぞれ調整するようにしても良い。なお、閾値範囲は、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとにより成る。  
例えば、１次光の射出光量を低く設定変更した場合、戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが閾値下限値Ｓ３Ｂよりも低下し、ＧＮＤ付近になることもある。このように戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが低下すると、回路ノイズ等のノイズレベルと同じ信号レベルとなり、回路ノイズ等の影響を受け易くなる。このため、例えば閾値下限値Ｓ３Ｂを変更して下限側範囲を調整するようにしてもよい。
【００３１】
故障判定手段２４は、戻り光量と閾値（閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂ）との大小関係を基に故障したか否かを判別する。すなわち、故障判定手段２４は、戻り光検出量手段２０により検出された戻り光量と閾値設定手段２３により設定された閾値（閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂ）とを比較し、当該比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御する。
【００３２】
具体的に故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４と閾値設定手段２３により設定した閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂとの大小関係をリアルタイムで比較し、この比較結果を基に出力レベルが異なる２種類の故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３へ出力する。なお、この故障判定信号Ｓ５は、１次光源２の駆動停止信号となる。
【００３３】
この故障判定手段２４は、図４に示すように戻り光量が閾値下限値Ｓ３Ｂよりも小さくなったことにより故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を出力したのか、又は図５に示すように戻り光量が閾値上限値Ｓ３Ａよりも大きくなったことにより故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を出力したのかを識別し、当該識別結果からそれぞれ異なる故障モードを判定する。
【００３４】
この故障判定手段２４は、戻り光量検出信号Ｓ４のレベルが閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの閾値範囲内に存在すると、この期間、通常動作状態であることを示す電気信号（例えばＬｏｗ_ＧＮＤレベル）を通常動作判定信号Ｓ５として出力する。  
一方、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａよりも大きくなった場合、又は閾値下限値Ｓ３Ｂより小さくなった場合、故障判定手段２４は、故障状態であることを示す電気信号（例えばＨｉｇｈ＿Ｖｃｃレベル）を故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５として出力する。
【００３５】
この故障判定手段２４は、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５の信号レベルをモニタし、本装置１が通常動作状態であるのか、又は故障状態であるか否かを判別する。  
この故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０により検出される戻り光量（戻り光量検出信号Ｓ４）が閾値上限値Ｓ３Ａよりも大きくなったことにより故障判定手段２４から故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５が出力されたのか、又は戻り光量が閾値下限値Ｓ３Ｂよりも小さくなったことにより上記駆動停止信号が出力されたのかを識別し、当該識別結果からそれぞれ異なる故障モードを判定する。
【００３６】
又、故障判定手段２４は、戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベル（戻り光量）をモニタし、当該戻り光量検出信号Ｓ４と故障判定信号Ｓ５との関係から故障発生箇所が光分岐ファイバーカプラ１０の入射端側（光コネクタＰ１）か、又は光分岐ファイバーカプラ１０の出力端側（光コネクタＰ３、Ｐ４側）であるのかを識別する。  
例えば、故障判定手段２４は、戻り光量が閾値上限値Ｓ３Ａよりも大きくなると、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側（光コネクタＰ３、Ｐ４側）で故障が発生したモードであることを判別する。  
又、故障判定手段２４は、戻り光量が閾値下限値Ｓ３Ｂよりも小さくなると、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも入射端側（光コネクタＰ１）で故障が発生したモードであることを判別する。
【００３７】
なお、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側の故障としては、例えば光変換ユニット１３、１４の脱離、光変換手段４と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ３、Ｐ４の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０と光コネクタＰ３、Ｐ４との間の光ファイバ１１の断線等である。  
光分岐ファイバーカプラ１０よりも入力端側の故障としては、１次光源２から発生する１次光の光量低下、１次光源２と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ１の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０の入力部と当該光分岐ファイバーカプラ１０と間のファイバ１１の断線等である。
【００３８】
又、故障判定手段２４は、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を出力した後、光源装置制御手段８によるリセット動作を行わない限り、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５の出力状態を保持し、当該故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３へ出力する。  
具体的に故障判定手段２４は、ウィンドウコンパレータ回路の動作によって戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの間の範囲内に収まっているかどうかを判定し、ラッチ回路の動作によって故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５の出力状態を保持する。
【００３９】
上記戻り光量が閾値（閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂの範囲）を超えたとき（第１の時点）から１次光源２が停止するまで（第２の時点）の時間（期間）は、故障発生により１次光が当該装置から外部へ射出され続けて人体へ照射されたとしても、許容される量に達するまでの時間以内、すなわち実効的に安全である時間以内に設定される。  
実効的に安全である時間の目安としては、例えば、レーザ光が人体に照射されたとき、安全であるかどうかの判断基準となる放射量のＭＰＥ（最大許容露光量）がある。本実施形態では、故障発生箇所から放射された光がおおよそ想定される範囲で人体表面に照射された場合においても、ＭＰＥ以下となるような放射エネルギーと露光時間となるように、１次光源駆動手段３の駆動を所定期間内で停止する。
【００４０】
この故障判定手段２４は、構成する回路の要素として、光を電気信号に変換するフォトダイオードや、戻り光量と閾値（閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂの範囲）との各電気信号を比較するためにウィンドウコンパレータ回路を用いる。このウィンドウコンパレータ回路としては、例えば高速動作可能な専用ＩＣなどを用いる。この故障判定手段２４は、戻り光量が閾値を越えて１次光源駆動手段３に故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を出力し、１次光源２の半導体レーザを駆動停止する時間としては、例えば１μs以下で実現することが可能となる。但し、本装置１の照明光の使用環境等によっては、１ｓ程度以下で駆動停止を実現する回路設計にしても良い。
【００４１】
光源装置制御手段８は、本装置１の操作ボタン（図示せず）から入力された照明光の光量設定値や、照明光の明るさを調整する光量調整情報を基に、半導体レーザを駆動するための駆動条件を算出し、この駆動条件を１次光源駆動手段３に出力する。  
又、光源装置制御手段８は、故障状態時から通常動作状態へ復帰させるために、１次光源２のリセットを行う。  
この光源装置制御手段８は、１次光源２に搭載されている半導体レーザの種類や、光変換手段４に搭載されている光変換ユニット１３、１４の種類を識別する。
【００４２】
次に、上記の如く構成された本装置１の動作について図６に示す故障検出フローチャートに従って説明する。  
光源装置制御手段８は、ステップＦ１において、本装置１の操作ボタンから入力された照明光の光量設定値や、照明光の明るさを調整する光量調整情報を基に、半導体レーザを駆動するための駆動条件、例えば１次光の光量等を算出し、この駆動条件を設定する。
【００４３】
光源装置制御手段８は、ステップＦ２において、光源装置制御手段８により設定した駆動条件を１次光源駆動手段３に出力する。この１次光源駆動手段３は、駆動条件に従って１次光源２に対して所定の駆動電流値を有する電力を所定の駆動間隔で供給し、１次光源２から１次光としての発光ピークが波長４４５ｎｍ、半値幅が数ｎｍ以下の青色レーザ光を射出させる。  
この１次光源２から射出された青色レーザ光は、光ファイバ９により導光されて戻り光抽出手段５に入射し、この戻り光抽出手段５における光ファイバ１１により導光され、光分岐ファイバーカプラ１０を通って略等しい分岐比で２つに分岐され、それぞれ各光コネクタＰ３、Ｐ４を通して光変換手段４に入射する。  
この光変換手段４では、２分岐された各青色レーザ光がそれぞれ各光ファイバ１２、１２により導光された各光変換ユニット１３、１４に入射する。これら光変換ユニット１３、１４は、それぞれ１次光源２から射出される発光ピークが波長４４５ｎｍの青色レーザ光を吸収し、２次光として例えば波長５５０ｎｍに発光ピークを有する黄色蛍光に波長変換して発光する。この光変換手段４は、各光変換ユニット１３、１４に入射した青色レーザ光の一部と、これら光変換ユニット１３、１４により変換された黄色蛍光の一部とを混合した混合光を照明光Ｓとして射出する。  
このとき、各光変換ユニット１３、１４からは、それぞれ１次光が各光ファイバ１２、１２に戻り、この戻り光は、各光ファイバ１２、１２により導光され、各光コネクタＰ３、Ｐ４を通して戻り光抽出手段５に入射する。
【００４４】
この戻り光抽出手段５は、ステップＦ３において、各光コネクタＰ３、Ｐ４を通して入射した戻り光を各光ファイバ１１により導光して光分岐ファイバーカプラ１０に入射し、この光分岐ファイバーカプラ１０により略等しい分岐比で２つに分岐し、その一方を光コネクタＰ２を通して抽出する。
【００４５】
一方、上記ステップＦ１において、駆動条件が設定された後、戻り光標準値算出手段２２は、ステップＦ４において、駆動情報受信手段２１により取得した半導体レーザの駆動電流情報Ｓ１に基づいて戻り光推定情報記憶手段７名に格納されている駆動電流情報Ｓ１における戻り光推定量を取得し、この戻り光標準値信号Ｓ２を閾値設定手段２３に送る。なお、この戻り光標準値算出手段２２は、光源装置制御手段８により更新された戻り光推定情報に基づいて戻り光標準値を更新する。
【００４６】
この閾値設定手段２３は、ステップＦ５において、戻り光標準値算出手段２２から取得した戻り光標準値信号Ｓ２を用い、故障検出のために故障か否かの判定基準となる閾値を設定する。この場合、閾値設定手段２３は、当該正常動作と故障との境界を示す閾値を例えば図４及び図５に示すように閾値の上限側を閾値上限値Ｓ３Ａとし、閾値の下限側を閾値下限値Ｓ３Ｂとしてそれぞれ設定する。  
具体的に閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの設定方法は、例えば、上記各式（１）（２）に示す通り、戻り光標準値信号Ｓ２に対する定数倍として設定する。なお、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとは、上記各式（３）（４）に示す通り、それぞれ戻り光標準値信号Ｓ２に定数を加算又は減算した値を設定しても良い。
【００４７】
故障判定手段２４は、ステップＦ６において、戻り光検出量手段２０により検出された戻り光量と、閾値設定手段２３により設定された閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂとを比較する。すなわち、故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４と、閾値設定手段２３により設定した閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂとの大小関係をリアルタイムで比較する。  
故障判定手段２４は、ステップＦ７において、上記比較結果、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの閾値範囲ＳＨ内に有るか否かを判定する。この判定結果、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの閾値範囲ＳＨ内になければ、故障判定手段２４は、ステップＦ８において、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３へ出力する。この故障判定信号Ｓ５は、１次光源２の駆動停止信号となる。
【００４８】
次に、故障判定の具体的な動作について説明する。  
（ａ）戻り光量検出信号Ｓ４が閾値下限値Ｓ３Ｂ以下となる場合（図４）  
故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４と、閾値設定手段２３により設定した閾値上限値Ｓ３Ａ、閾値下限値Ｓ３Ｂとの大小関係をリアルタイムで比較する。この結果、図４に示すように期間Ｔ０〜Ｔ１において、戻り光量検出信号Ｓ４は、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの閾値範囲ＳＨ内に存在している。この期間Ｔ０〜Ｔ１、故障判定手段２４は、通常動作状態であることを示す電気信号（例えばＬｏｗ_ＧＮＤレベル）を通常動作判定信号Ｓ５として出力する。  
一方、時刻Ｔ１において、同一駆動条件で、１次光源２の半導体レーザに故障が発生し、当該半導体レーザから射出される光量が著しく低下すると、１次光源２から戻り光抽出手段５に入射する青色レーザ光の光量が低下する。この結果、各光変換ユニット１３、１４からの戻り光の光量も低下し、戻り光量検出手段２０により検出される戻り光量が低下するので、当該戻り光量検出手段２０からから出力される戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが低下していく。  
これに対して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとは、それぞれ半導体レーザの駆動電流情報を基に設定されているので、変動せず固定されたままである。
【００４９】
戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが低下を続け、時刻Ｔ２を経過後、当該戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルは、閾値下限値Ｓ３Ｂよりも低下する。  
この時刻Ｔ２で、故障判定手段２４は、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも入射端側（光コネクタＰ１）で故障が発生したモードであることを判別し、時刻Ｔ３に、当該故障状態を示す故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３に出力する。
【００５０】
この１次光源駆動手段３は、同時刻Ｔ３において、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を受信すると、半導体レーザへの電力供給を停止する等の半導体レーザの駆動を停止する動作を実施する。これにより、半導体レーザは、所定期間内に動作が停止し、青色レーザ光の射出を停止する。  
この結果、各光変換ユニット１３、１４からの戻り光が無くなり、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４もなくなる。従って、故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４を検出しない状態が続く。
【００５１】
なお、故障判定手段２４は、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値下限値Ｓ３Ｂよりも小さくなると、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも入射端側（光コネクタＰ１）で故障が発生したモードであることを判別する。光分岐ファイバーカプラ１０よりも入力端側の故障としては、１次光源２から発生する１次光の光量低下、１次光源２と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ１の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０の入力部と当該光分岐ファイバーカプラ１０と間のファイバ１１の断線等であり、これらの故障も検出される。
（ｂ）戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａ以上となる場合（図５）  
時刻Ｔ１において、戻り光抽出手段５と光変換手段４との間の各光コネクタＰ３、Ｐ４の少なくとも一方が外れる等の故障が発生すると、この故障により戻り光抽出手段５の各出力端面と戻り光抽出手段５の各出力端面との間の光の屈折率に変化が生じる。すなわち、戻り光抽出手段５と光変換手段４との間の各光コネクタＰ３、Ｐ４が接続されていると、これら戻り光抽出手段５と光変換手段４との間に空気が存在しないが、光コネクタＰ３、Ｐ４の接続が外れると、戻り光抽出手段５と光変換手段４との間に空気が存在するようになり、当該空気の存在により屈折率差が生じる。この結果、戻り光抽出手段５と光変換手段４との間に空気の存在によって青色レーザ光の反射される光量が多くなり、この反射光による戻り光の光量が増加する。これにより、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが高くなっていく。  
これに対して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとは、上記の通り、それぞれ変動せず固定されたままである。
【００５２】
戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが高くなり続け、時刻Ｔ２を経過後、当該戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルは、閾値上限値Ｓ３Ａよりも高くなる。  
この時刻Ｔ２で、故障判定手段２４は、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側（光コネクタＰ３、Ｐ４側）で故障が発生したモードであることを判別し、時刻Ｔ３に、当該故障状態を示す故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３に出力する。  
なお、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側の故障としては、例えば光変換ユニット１３、１４の脱離、光変換手段４と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ３、Ｐ４の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０と光コネクタＰ３、Ｐ４との間の光ファイバ１１の断線等であり、これらの故障も検出される。
【００５３】
１次光源駆動手段３は、同時刻Ｔ３において、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を受信すると、半導体レーザへの電力供給を停止する等の半導体レーザの駆動を停止する動作を実施する。これにより、半導体レーザは、所定期間内に動作が停止し、青色レーザ光の射出を停止する。  
この結果、各光変換ユニット１３、１４からの戻り光が無くなり、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４もなくなる。従って、故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４を検出しない状態が続く。
（ｃ）閾値の自動調整による故障検出動作（図７）  
光源装置制御手段８は、図７に示す期間Ｔ０〜Ｔ１において、上記の通り、半導体レーザを駆動するための駆動条件を設定する。なお、このときの駆動条件を第１の駆動条件とする。  
１次光源駆動手段３は、光源装置制御手段８により設定された第１の駆動条件に従って１次光源２を駆動する。この１次光源２は、第１の駆動条件に従って青色レーザ光を射出する。
【００５４】
この状態に、駆動情報受信手段２１は、１次光源駆動手段３から本装置１の故障検出に用いる閾値の設定に必要な１次光源２の駆動情報、例えば１次光源２の駆動情報として例えば半導体レーザを駆動している駆動電流値を取得し、この駆動電流値を示す駆動電流値情報Ｓ１を戻り光標準値算出手段２２に送る。  
この戻り光標準値算出手段２２は、半導体レーザの駆動情報から戻り光量を推定し、この推定した戻り光量を戻り光標準値として算出し、その戻り光標準値信号Ｓ２を出力する。このときの戻り光標準値を第１の戻り光標準値とする。
【００５５】
閾値設定手段２３は、戻り光標準値算出手段２２から出力された戻り光標準値信号Ｓ２を用い、図７に示すような正常動作と故障との境界を示す閾値に対する閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの第１の閾値範囲ＳＨ１を設定する。
このとき戻り光量検出手段２０は、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光の中で１次光の成分のみの戻り光量をリアルタイムに検出し、その戻り光量検出信号Ｓ４を出力する。なお、このときの戻り光を第１の戻り光とする。  
故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４と、閾値上限値Ｓ３Ａ及び閾値下限値Ｓ３Ｂとの大小関係をリアルタイムで比較し、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの第１の閾値範囲ＳＨ１内に存在していれば、通常動作状態であることを示す電気信号（例えばＬｏｗ_ＧＮＤレベル）を通常動作判定信号Ｓ５として出力する。
【００５６】
時刻Ｔ１において、本装置１の操作ボタンに対する例えばユーザの操作により光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓの光量を意図的に調整（低下）させると、光源装置制御手段８は、当該操作ボタンから入力された照明光の光量設定値や、照明光の明るさを調整する光量調整情報を基に、半導体レーザを駆動するための駆動条件を算出し、この駆動条件を１次光源駆動手段３に出力する。なお、このときの駆動条件は、第２の駆動条件とする。  
１次光源駆動手段３は、光源装置制御手段８により設定された第２の駆動条件に従って１次光源２を駆動することにより、この１次光源２は、第２の駆動条件に従って青色レーザ光を射出する。
【００５７】
この状態に、駆動情報受信手段２１は、１次光源２の駆動情報、例えば１次光源２の駆動情報として例えば半導体レーザを駆動している駆動電流値を取得し、この駆動電流値を示す駆動電流値情報Ｓ１を戻り光標準値算出手段２２に送る。  
この戻り光標準値算出手段２２は、半導体レーザの駆動情報から戻り光量を推定し、この推定した戻り光量を戻り光標準値として算出し、その戻り光標準値信号Ｓ２を出力する。このときの戻り光標準値を第２の戻り光標準値とする。
【００５８】
閾値設定手段２３は、戻り光標準値算出手段２２から出力された戻り光標準値信号Ｓ２を用い、図７に示すような正常動作と故障との境界を示す閾値に対する閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの第２の閾値範囲ＳＨ２を設定する。この第２の閾値範囲ＳＨ２は、意図的に調整（低下）させた照明光Ｓの光量に応じて第１の閾値範囲ＳＨ１よりも低く設定される。
【００５９】
故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４と、閾値設定手段２３により設定した閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとから成る閾値範囲ＳＨ２との大小関係をリアルタイムで比較する。この結果、図７に示すように期間Ｔ２〜Ｔ３において、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとの閾値範囲ＳＨ２内に存在していると、故障判定手段２４は、通常動作状態であることを示す電気信号（例えばＬｏｗ_ＧＮＤレベル）を通常動作判定信号Ｓ５として出力する。
【００６０】
一方、時刻Ｔ３において、例えば、戻り光抽出手段５と光変換手段４との間の各光コネクタＰ３、Ｐ４の少なくとも一方が外れる等の故障が発生すると、上記同様に、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルが高くなっていく。時刻Ｔ４を経過後、当該戻り光量検出信号Ｓ４の信号レベルは、閾値上限値Ｓ３Ａよりも高くなる。  
この時刻Ｔ４で、故障判定手段２４は、故障モードとして、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側（光コネクタＰ３、Ｐ４側）で故障が発生したモードであることを判別し、時刻Ｔ５に、当該故障状態を示す故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を１次光源駆動手段３に出力する。  
１次光源駆動手段３は、同時刻Ｔ５において、故障判定信号（駆動停止信号）Ｓ５を受信すると、半導体レーザへの電力供給を停止する等の半導体レーザの駆動を停止する動作を実施する。これにより、半導体レーザは、所定期間内に動作が停止し、青色レーザ光の射出を停止する。この結果、各光変換ユニット１３、１４からの戻り光が無くなり、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４もなくなる。  
従って、故障判定手段２４は、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４を検出しない状態が続く。
【００６１】
このように上記第１の実施の形態によれば、１次光源２の駆動条件と戻り光推定情報とに基づいて戻り光標準値に対応する故障検出用の閾値を設定し、さらに当該閾値に対して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとにより成る閾値範囲ＳＨ等を設定し、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光量と閾値範囲ＳＨとを比較し、この比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御、例えば戻り光量が閾値範囲ＳＨ内から外れると、１次光源２の駆動を停止させるので、１次光源２から射出される光量の変化に応じて故障検出に用いる戻り光量の判定基準である閾値を変動させることにより、広範囲の光量の条件下、高精度に故障検出ができる。
さらに、閾値を２種類、例えば閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとに設定して故障検出を行うので、故障が発生している箇所を判定できる。例えば、故障検出の箇所が戻り光抽出手段５の入力側又は出力側を特定できる。  
例えば、戻り光量検出信号Ｓ４が閾値下限値Ｓ３Ｂよりも小さくなると、光分岐ファイバーカプラ１０よりも入射端側（光コネクタＰ１）で故障が発生したモード、例えば、１次光源２から発生する１次光の光量低下、１次光源２と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ１の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０の入力部と当該光分岐ファイバーカプラ１０と間のファイバ１１の断線等の故障であることを判定できる。
【００６２】
これに対して戻り光量検出信号Ｓ４が閾値上限値Ｓ３Ａよりも高くなると、光分岐ファイバーカプラ１０よりも出力端側（光コネクタＰ３、Ｐ４側）で故障が発生したモード、例えば、光変換ユニット１３、１４の脱離、光変換手段４と光分岐ファイバーカプラ１０との間の光コネクタＰ３、Ｐ４の外れ、光分岐ファイバーカプラ１０と光コネクタＰ３、Ｐ４との間の光ファイバ１１の断線等の故障であることを判定できる。
【００６３】
１次光源２の駆動情報から推定する戻り光標準値を基に、故障検出の閾値範囲ＳＨ等を変更設定するので、ユーザの操作によって１次光源２から射出される１次光の光量を意図的に変更した場合でも、例えば図７に示すように閾値範囲ＳＨ１からＳＨ２に変更するので、故障検出範囲を１次光源２の光量に合わせて自動的に調整できる。これにより、１次光源２から射出される１次光の光量、すなわち本装置１の照明光Ｓの光量が広範囲に変更された条件下においても、精度良く故障検出を実施することができる。
【００６４】
上記戻り光量が閾値上限値Ｓ３Ａ又は閾値下限値Ｓ３Ｂを超えたときから１次光源２が停止するまで期間は、故障発生により１次光が当該装置から外部へ射出され続けて人体へ照射されたとしても、許容される量に達するまでの時間以内、すなわち実効的に安全である時間以内に設定されるので、故障発生箇所から放射された光がおおよそ想定される範囲で人体表面に照射された場合においても、ＭＰＥ以下となるような放射エネルギーと露光時間となるように、１次光源駆動手段３の駆動を所定期間内で停止できる。
【００６５】
なお、上記第１の実施の形態において、光分岐ファイバーカプラ１０は、２入力−１出力などの異なるポート数のものを用いても良い。この２入力−１出力の光分岐ファイバーカプラ１０を用いれば、光変換手段４に２つの光変換ユニット１３、１４する必要はなく、１つ搭載でも良い。  
光分岐ファイバーカプラ１０の分岐比は、例えば７対３などの異なる割合の比率のものを用いても良い。  
光分岐ファイバーカプラ１０に限らず、光を分岐する部品としては、ハーフミラーなどの光学素子を１次光源２と光変換手段４との間に配置してもよい。  
光変換ユニット１３、１４は、１次光の一部を吸収して波長変換する機能に限らず、１次光の波長を変えずに、１次光の配光角を拡大する機能を有する光拡散ユニットとしても良い。  
戻り光の検出は、１次光のみの成分ではなく、１次光と２次光とを合わせた光成分を検出してもよく、又２次光のみの成分をフィルタ等により取り出して使用してもよい。
【００６６】
戻り光推定情報記憶手段７の戻り光推定情報テーブルに記憶されている戻り光推定情報は、半導体レーザの駆動電流と戻り光推定値との関係以外に、半導体レーザの順方向電圧と戻り光推定値、１次光源駆動手段３への光量設定値と戻り光推定値の記録情報を格納してもよい。これにより、戻り光標準値算出手段２２は、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている半導体レーザの順方向電圧と戻り光推定値、１次光源駆動手段３への光量設定値と戻り光推定値の記録情報などの何れかの情報を基に戻り光標準値を算出してもよい。  
戻り光推定情報テーブルは、半導体レーザの駆動情報と、他の物理センサ、例えば半導体レーザ近傍に配置された温度センサにより検出される温度等の出力情報と組み合わせたものを用意しても良い。
【００６７】
上記第１の実施の形態の変形例について説明する。  
１次光源２に搭載する半導体レーザは、同一駆動条件で駆動していると、その累積駆動時間に応じて射出する１次光の光量が低下する傾向を示す。  
従って、光源装置制御手段８は、半導体レーザの累積時間を記録するための累積時間記録手段を有する。  
戻り光推定情報記憶手段７の戻り光推定情報テーブルには、戻り光推定情報として、半導体レーザの駆動電流と戻り光推定特性とに加えて、半導体レーザの累積駆動時間による特性変化係数を記憶する。この特性変化係数は、図８に示すような半導体レーザの駆動電流に対する１次光の射出光量特性の傾き変化を示す係数と、さらに１次光の射出光量特性がスライドして変化することを示す係数や、半導体レーザの閾値電流値の変化係数を使用しても良い。  
なお、図８に示すように戻り光推定情報には、半導体レーザの累積駆動時間と当該半導体レーザの順方向電圧ｖｆの変動との関係を示す相関係数を有し、半導体レーザの順方向電圧と戻り光推定値との相関グラフ（初期値）に対して相関係数を用いて補正し、半導体レーザの駆動時間Ｔに対する戻り光標準値と闘値とを設定しても良い。
【００６８】
このような構成であれば、戻り光標準値算出手段２２は、半導体レーザの初期条件の駆動電流における戻り光標準値に対して、半導体レーザの駆動時間Ｔに対する戻り光変化係数Ａを掛け合わせて、半導体レーザの累積駆動時間における戻り光標準値を算出して閾値を設定する。  
閾値設定手段２３は、当該閾値の上限側を閾値上限値Ｓ３Ａとし、閾値の下限側を閾値下限値Ｓ３Ｂとしてそれぞれ再設定する。  
この後、上記同様の故障検出が行われる。  
これにより、半導体レーザを長時間駆動により生じる特性変化に対して、その変化分を考慮して閾値を調整することにより、誤検出を防いだ高精度の故障検出が可能となる。
［第２の実施の形態］  
次に、本発明の第２の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１及び図２と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は使用略する。  
図９は光源装置１の模式的なブロック構成図を示す。本装置１は、戻り光の検出データを用いて閾値を更新（キャリブレーション）する機能を有する。  
戻り光量検出手段２０は、上記同様に、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光の中で１次光の成分のみの戻り光量をリアルタイムに検出し、当該検出した戻り光量に対応した電気信号として戻り光量検出信号Ｓ４を出力する。この戻り光量検出信号Ｓ４は、故障判定手段２４に送られると共に、光源装置制御手段８に送られる。  
この光源装置制御手段８は、戻り光量検出手段２０からの戻り光量検出信号Ｓ４を入力し、この戻り光量検出信号Ｓ４に基づいて戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている駆動条件と戻り光推定値とから成る戻り光推定情報テーブルを更新（キャリブレーション）する。
【００６９】
次に、上記の如く構成された本装置１の動作について説明する。  
ここで、本装置１の例えば戻り光量検出手段２０が通常動作することを、例えば光量モニタなどにより戻り光量を検出することによって事前に確認されている。  
光源装置制御手段８は、１次光の光量を低く設定した条件下で、戻り光量検出手段２０から出力される戻り光量検出信号Ｓ４を検出する。この戻り光量検出信号Ｓ４は、故障判定手段２４に送られると共に、光源装置制御手段８に送られる。
【００７０】
この光源装置制御手段８は、図１０に示す時刻Ｔ０〜Ｔ１の期間（キャリブレーション期間）において、半導体レーザの駆動電流から推定した戻り光標準値と、実際に検出した戻り光検出値とを比較し、その差分から戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている半導体レーザの駆動電流と戻り光標準値との戻り光推定情報テーブルを更新（キャリブレーション）する。この光源装置制御手段８は、半導体レーザの駆動電流と戻り光検出値との関係を３点以上取得し、これらのデータから新規に戻り光推定情報テーブルを作成してもよい。
【００７１】
戻り光標準値算出手段２２は、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている更新後の戻り光推定情報テーブルから戻り光標準値を算出し、戻り光標準値信号Ｓ２’として閾値設定手段２３に送る。  
この閾値設定手段２３は、戻り光標準値算出手段２２から取得した戻り光標準値信号Ｓ２’を用い、故障検出のために故障か否かの判定基準となる閾値を再設定する。この場合、閾値設定手段２３は、当該正常動作と故障との境界を示す閾値の上限側を閾値上限値Ｓ３Ａ’とし、閾値の下限側を閾値下限値Ｓ３Ｂ’としてそれぞれ再設定する。  
時刻Ｔ１以降、上記同様に故障検出が行われる。  
なお、検出した戻り光量が戻り光標準値に合うように、戻り光量検出手段２０の増幅回路のゲインを変えても良い。
【００７２】
このように上記第２の実施の形態によれば、光源装置制御手段８によって、戻り光量検出手段２０からの戻り光量検出信号Ｓ４に基づいて戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている駆動条件と戻り光推定値とから成る戻り光推定情報テーブルを更新（キャリブレーション）するので、通常動作の範囲内で、戻り光量検出手段２０の挿入損失のずれが発生した場合に、実際の戻り光検出量を基に戻り光推定情報を更新し、戻り光量検出手段２０の増幅回路のゲインの調整等を行うことで、高精度の故障検出が維持できる。
［第３の実施の形態］  
次に、本発明の第３の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は使用略する。  
図１１は光源装置１の模式的なブロック構成図を示す。本装置１は、光変換ユニット１３、１４からの戻り光に代わり、同光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓの光量を用いて閾値を更新（キャリブレーション）する。  
光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓの光路上には、光量チェッカ３０が設けられている。この光量チェッカ３０は、本装置１、すなわち光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓの光量を測定する。
【００７３】
戻り光推定情報記憶手段７には、１次光源２の駆動電流に対する光量チェッカ３０により検出される照明光Ｓの光量の標準値、又は照明光Ｓに含まれる１次光成分の光量と、推定した戻り光標準値との相関関係の情報を記憶する照明光推定情報テーブルが形成されている。
【００７４】
故障検出手段６は、光量チェッカ３０により検出される照明光Ｓの光量と、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている照明光Ｓの光量の標準値とを比較し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容される値であるか否かを判定し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値から外れていると故障として検出する。
【００７５】
次に、上記の如く構成された本装置１の動作について説明する。  
本装置１の光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓを例えば観察対象等に照射する前に、光量チェッカ３０は、本装置１の光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓの光量を測定する。このとき、本装置１の光変換ユニット１３、１４から射出される照明光Ｓは、光源装置制御手段８により算出される所定の駆動条件で１次光源２を駆動したときの光量等に設定されている。
【００７６】
故障検出手段６は、光量チェッカ３０により検出される照明光Ｓの光量と、戻り光推定情報記憶手段７の照明光推定情報テーブルに記憶されている照明光Ｓの光量の標準値とを比較し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値であるか否かを判定し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値内であれば、正常として検出し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値から外れていると故障として検出する。  
なお、故障検出手段６は、正常と判定した場合、照明光Ｓの光量と戻り光推定情報の内容とを照合し、差分があれば、半導体レーザの駆動電流と照明光Ｓと戻り光標準値との照明光推定情報テーブルを更新する。
【００７７】
閾値設定手段２３は、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている更新された照明光推定情報テーブルを用いて閾値、さらに閾値上限値Ｓ３Ａと、閾値下限値Ｓ３Ｂとをそれぞれ再設定する。  
これ以降、上記同様に故障検出が行われる。
このように上記第３の実施の形態によれば、上記第１の実施の形態のように戻り光抽出手段５により抽出される戻り光量と閾値範囲ＳＨとを比較し、この比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御、例えば戻り光量が閾値範囲ＳＨ内から外れると、１次光源２の駆動を停止する故障判定に加えて、光量チェッカ３０により検出される照明光Ｓの光量と照明光Ｓの光量の標準値とを比較して照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値であるか否かを判定し、照明光Ｓの光量が標準値に対して許容値から外れていると故障として検出する故障判定を行うので、故障検出を本装置１から照明される照明光Ｓの光量と、戻り光量との２種類の判定により実施できるので、故障の検出精度を高めることができる。
【００７８】
具体的に、２つの故障モードが戻り光に対して同程度の割合で発生、例えば光コネクタＰ１が僅かに外れ、又は光コネクタＰ３が僅かに外れている故障も、照明光Ｓの光量を測定することで検出することが可能となる。
上記第３の実施の形態の変形例について説明する。  
光変換ユニット１３、１４に代わり、光分岐ファイバーカプラ１０の出力側に１次光源２から射出される１次光の光量を検出するフォトダイオード（ＰＤ）を備える。  
戻り光推定情報記憶手段７には、１次光源２の半導体レーザの駆動電流と１次光の射出光量と１次光の戻り光量との相関データを記憶する。  
フォトダイオード（ＰＤ）により検出される１次射出光量ＰＤと相関データ値とのずれが生じた場合に、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている戻り光推定情報を更新しても良い。
［第４の実施の形態］  
次に、本発明の第４の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は使用略する。  
図１２は光源装置１の模式的なブロック構成図を示す。本装置１は、１次光源２の換装時、光変換手段４の換装時に閾値を更新（キャリブレーション）する。
【００７９】
１次光源２側には、半導体レーザのＬＤ情報記憶手段４０が設けられている。このＬＤ情報記憶手段４０には、１次光源２に搭載されている半導体レーザのＬＤ識別情報、若しくは半導体レーザの発光特性情報、例えば半導体レーザの駆動電流−射出光量、駆動電流-順方向電圧、閾値電流情報等が記憶されている。
【００８０】
１次光源駆動手段３と、戻り光抽出手段５と、故障検出手段６と、戻り光推定情報記憶手段７と、光源装置制御手段８とを含む制御ユニット４１が形成されている。  
光変換手段４には、光変換ユニット情報記憶手段４２が設けられている。この光変換ユニット情報記憶手段４２には、各光変換ユニット１３、１４の情報、例えば当該各光変換ユニット１３、１４の種類と、光変換手段４の戻り光特性の関係データとが記憶されている。
【００８１】
１次光源２と光変換手段４と制御ユニット４１とは、互いに光学的及び電気的に接続され、かつそれぞれの間で着脱可能である。例えば、１次光源２は、制御ユニット４１に対して着脱可能であり、光変換手段４は、制御ユニット４１に対して着脱可能である。
【００８２】
光源装置制御手段８は、ＬＤ情報記憶手段４０と光変換ユニット情報記憶手段４２とにそれぞれ記憶されている各情報を基に戻り光推定情報を構築する機能を有する。
次に、上記の如く構成された本装置１の動作について説明する。  
１次光源２の換装時、又は／及び光変換手段４の換装時に、制御ユニット４１内の光源装置制御手段８は、１次光源２に格納されているＬＤ情報記憶手段４０からＬＤ識別情報を読み取る。  
この光源装置制御手段８は、ＬＤ識別情報から半導体レーザの発光波長を読み取ると共に、半導体レーザの駆動電流と射出光量特性との関係を戻り光推定情報から読み取る。
【００８３】
これと共に、光源装置制御手段８は、光変換手段４に設けられている光変換ユニット情報記憶手段４２から光変換ユニット識別情報を読み取る。  
この光源装置制御手段８は、光変換ユニット識別情報から各光変換ユニット１３、１４の情報、例えばこれら光変換ユニット１３、１４の種類と、光変換手段４の戻り光特性の関係データとを読み取る。
【００８４】
さらに、光源装置制御手段８は、読み取ったＬＤ識別情報と光変換ユニット識別情報とを基に、１次光源２の駆動条件と１次光の射出光量の関係データと、光変換手段４の戻り光特性データとを掛け合わせて、本実施形態の１次光源２と光変換手段４との組合せた場合の戻り光推定情報を構築する。
【００８５】
閾値設定手段２３は、戻り光推定情報記憶手段７に記憶されている更新された戻り光推定情報テーブルを用いて閾値、さらに閾値上限値Ｓ３Ａと、閾値下限値Ｓ３Ｂとをそれぞれ更新（キャリブレーション）する。  
故障の検出は、上記第１の実施の形態と同様に、１次光源２の駆動条件と、上記構築された戻り光推定情報とに基づいて戻り光標準値に対応する故障検出用の閾値を設定し、さらに当該閾値に対して閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとにより成る閾値範囲ＳＨ等を設定し、戻り光抽出手段５により抽出される戻り光量と閾値範囲ＳＨとを比較し、この比較結果に応じて１次光源駆動手段３の動作を制御、例えば戻り光量が閾値範囲ＳＨ内から外れると、１次光源２の駆動を停止させる。
【００８６】
このように上記第４の実施の形態によれば、１次光源２の換装時、又は／及び光変換手段４の換装時に、ＬＤ識別情報と光変換ユニット識別情報とを基に、１次光源２の駆動条件と１次光の射出光量の関係データと、光変換手段４の戻り光特性データとを掛け合わせて、１次光源２と光変換手段４との組合せた場合の戻り光推定情報を更新し、この更新された戻り光推定情報テーブルを用いて閾値、さらに閾値上限値Ｓ３Ａと、閾値下限値Ｓ３Ｂとをそれぞれ更新（キャリブレーション）する。
【００８７】
これにより、１次光源２と制御ユニット４１と光変換手段４とから構成された本装置１に対し、発光波長や発光出力特性の異なる１次光源２に交換しても、組合わせた１次光源２の情報を基に、戻り光標準値を算出することで、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとから成る閾値範囲ＳＨを適切に更新（キャリブレーション）でき、高精度な故障検出が可能となる。  
又、蛍光体構成の異なる光変換ユニット１３、１４や、光拡散ユニット等の異なる光変換手段４に交換しても、組み合わせた光変換手段４の情報を基に、戻り光標準値を算出することで、閾値上限値Ｓ３Ａと閾値下限値Ｓ３Ｂとから成る閾値範囲ＳＨを適切に更新（キャリブレーション）でき、高精度な故障検出が可能となる。
【００８８】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００８９】
１：光源装置（本装置）、４：光変換手段、２：１次光源、３：１次光源駆動手段、５：戻り光抽出手段、６：故障検出手段、７：戻り光推定情報記憶手段、８：光源装置制御手段、ＬＤ：半導体レーザ、９：光ファイバ、１０：光分岐ファイバーカプラ、Ｐ１〜Ｐ４：光コネクタ、１１、１２：光ファイバ、１３、１４：光変換ユニット（光変換ＵＩ）、２０：戻り光量検出手段、２１：駆動情報受信手段、２２：戻り光標準値算出手段、２３：閾値設定手段、２４：故障判定手段、３０：光量チェッカ、４０：ＬＤ情報記憶手段、４１：制御ユニット、４２：光変換ユニット情報記憶手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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