(57)【要約】【課題】音響空間のインパルス応答から残響時間を高精度に特定する。【解決手段】第１解析部５２は、音響空間のインパルス応答Ｒ[n]を評価帯域毎に分割した帯域インパルス応答ＲB[n,m]の抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1[n,m]を特定する。残響時間暫定部５４は、残響曲線Ｃ1[n,m]において信号強度が所定量だけ減衰する時間に応じて暫定残響時間Ｔ0[n,m]を算定する。第２解析部５６は、帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち暫定残響時間Ｔ0[n,m]に応じた時間長にわたる抽出区間Ｓ2に対応する残響曲線Ｃ2[n,m]を特定する。残響時間算定部５８は、各評価帯域の残響曲線Ｃ2[n,m]から残響時間Ｔ[m]を算定する。【選択図】図１７
2014026241.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
音響空間のインパルス応答の第１抽出区間に対応する第１残響曲線を特定する第１解析手段と、
前記第１残響曲線において信号強度が所定量だけ減衰する時間に応じて暫定残響時間を算定する残響時間暫定手段と、
前記インパルス応答のうち前記暫定残響時間に応じた時間長にわたる第２抽出区間に対応する第２残響曲線を特定する第２解析手段と、
前記第２残響曲線から残響時間を算定する残響時間算定手段と
を具備する残響時間解析装置。
【請求項２】
前記第２解析手段は、前記暫定残響時間に所定値を乗算した時間長にわたる前記第２抽出区間を設定する
請求項１の残響時間解析装置。
【請求項３】
前記残響時間暫定手段は、前記第１残響曲線のうち減衰開始点の直後において信号強度が所定量だけ減衰する時間長に応じて前記暫定残響時間を設定する
請求項１または請求項２の残響時間解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、音響空間の残響時間を測定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
音響空間内の残響時間を測定する技術が従来から提案されている（例えば特許文献１）。例えば、音響空間で測定されたインパルス応答のうち特定の抽出区間を積分範囲とするインパルス積分法により残響曲線（減衰曲線）を算定し、残響曲線にて信号強度が所定量だけ減衰する時間長を残響時間として算定する技術がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１２７８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、インパルス積分法では、音響空間のインパルス応答のうち積分範囲となる抽出区間の時間長に応じて残響曲線の形状が変動するから、抽出区間の時間長を適切に選定しないと残響時間の測定精度が低下するという問題がある。以上の事情を考慮して、本発明は、音響空間のインパルス応答から残響時間を高精度に特定することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明の残響時間解析装置は、音響空間のインパルス応答の第１抽出区間に対応する第１残響曲線を特定する第１解析手段と、第１残響曲線において信号強度が所定量だけ減衰する時間に応じて暫定残響時間を算定する残響時間暫定手段と、インパルス応答のうち暫定残響時間に応じた時間長にわたる第２抽出区間に対応する第２残響曲線を特定する第２解析手段と、第２残響曲線から残響時間を算定する残響時間算定手段とを具備する。以上の構成では、インパルス応答の第１抽出区間に対応する第１残響曲線から暫定残響時間が算定され、インパルス応答のうち暫定残響時間に応じた時間長の第２抽出区間に対応する残響曲線から残響時間が算定される。したがって、インパルス応答に設定される抽出区間の長短の影響を低減して残響時間を高精度に特定できるという利点がある。
【０００６】
本発明の好適な態様において、第２解析手段は、暫定残響時間に所定値（例えば係数κ）を乗算した時間長にわたる第２抽出区間を設定する。以上の態様によれば、第２抽出区間の時間長を簡易に設定できるという利点がある。
【０００７】
本発明の好適な態様において、残響時間暫定手段は、第１残響曲線のうち減衰開始点の直後において信号強度が所定量だけ減衰する時間長に応じて暫定残響時間を設定する。第１残響曲線のうち減衰開始点の直後の区間は、積分範囲の時間長を最適値に設定した理想的な残響曲線に近似するから、第１残響曲線のうち減衰開始点の直後において信号強度が所定量だけ減衰する時間長に応じて暫定残響時間を設定する構成によれば、残響時間を高精度に特定できるという効果は格別に顕著である。
【０００８】
以上の各態様に係る残響時間解析装置は、残響時間の解析に専用されるＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのハードウェア（電子回路）によって実現されるほか、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などの汎用の演算処理装置とプログラムとの協働によっても実現される。本発明に係るプログラムは、音響空間のインパルス応答の第１抽出区間に対応する第１残響曲線を特定する第１解析処理と、第１残響曲線において信号強度が所定量だけ減衰する時間に応じて暫定残響時間を算定する残響時間暫定処理と、インパルス応答のうち暫定残響時間に応じた時間長にわたる第２抽出区間に対応する第２残響曲線を特定する第２解析処理と、第２残響曲線から残響時間を算定する残響時間算定処理とをコンピュータに実行させる。以上のプログラムによれば、本発明に係る残響時間解析装置と同様の作用および効果が実現される。なお、本発明に係るプログラムは、コンピュータが読取可能な記録媒体に格納された形態で提供されてコンピュータにインストールされるほか、通信網を介した配信の形態で提供されてコンピュータにインストールされる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の第１実施形態に係る音響特性評価装置のブロック図である。
【図２】ライブネス評価の手順を示すフローチャートである。
【図３】第１特性解析部のブロック図である。
【図４】インパルス応答から特定される残響曲線の説明図である。
【図５】平均吸音率と第１指標値の算定用の基礎値との関係を示すグラフである。
【図６】評価画面の模式図である。
【図７】残響特性画面の模式図である。
【図８】吸音特性画面の模式図である。
【図９】フラッターエコー評価の手順を示すフローチャートである。
【図１０】第２特性解析部のブロック図である。
【図１１】フラッターエコー評価の結果の表示例である。
【図１２】フラッターエコー評価の結果の表示例である。
【図１３】ブーミング評価の手順を示すフローチャートである。
【図１４】ブーミング評価時の収音点と放音点との関係の説明図である。
【図１５】ブーミング評価の結果の表示例である。
【図１６】ブーミング評価の結果の表示例である。
【図１７】第２実施形態における残響時間解析部のブロック図である。
【図１８】第２実施形態における残響時間解析部の動作の説明図である。
【図１９】変形例における平均吸音率と第１指標値の算定用の基礎値との関係を示すグラフである。
【図２０】変形例に係る第２特性解析部のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る音響特性評価装置１００のブロック図である。音響特性評価装置１００は、任意の音響空間の音響特性を評価する装置であり、図１に示すように、演算処理装置１０と記憶装置１２と表示装置１４と入力装置１５と収音装置１６とを具備するコンピュータシステムで実現される。具体的には、携帯電話機やスマートフォン等の可搬型の情報処理装置で音響特性評価装置１００を実現することが可能である。
【００１１】
記憶装置１２は、演算処理装置１０が実行するプログラムＰGMや演算処理装置１０が使用する各種のデータを記憶する。半導体記録媒体や磁気記録媒体等の公知の記録媒体や複数種の記録媒体の組合せが記憶装置１２として任意に採用され得る。
【００１２】
表示装置１４（例えば液晶表示パネル）は、演算処理装置１０による制御のもとで各種の画像を表示する。例えば音響空間内の音響特性の評価結果が表示装置１４に表示される。入力装置１５は、音響特性評価装置１００に対する指示を利用者が入力するための機器であり、例えば利用者が操作する複数の操作子を含んで構成される。なお、表示装置１４と一体に構成されたタッチパネルを入力装置１５として採用することも可能である。
【００１３】
収音装置１６は、音響空間内の周囲の音響を収音することで観測信号Ｙを生成するマイクロホンである。なお、収音装置１６は典型的には音響特性評価装置１００に内蔵されるが、音響特性評価装置１００とは別体に構成された収音装置１６を音響特性評価装置１００に接続した構成も採用され得る。なお、収音装置１６が生成した観測信号Ｙをアナログからデジタルに変換するＡ/Ｄ変換器の図示は便宜的に省略した。
【００１４】
音響特性評価装置１００には放音装置１７（スピーカ）が接続される。音響空間内の音響特性を測定するための音響信号（以下「測定用信号」という）Ｘが音響特性評価装置１００から放音装置１７に供給される。放音装置１７は、音響特性評価装置１００から供給される測定用信号Ｘに応じた音響（以下「測定音」という）を音響空間内に放射する。なお、測定用信号Ｘをデジタルからアナログに変換するＤ/Ａ変換器の図示は便宜的に省略した。
【００１５】
演算処理装置１０は、記憶装置１２に記憶されたプログラムＰGMを実行することで、音響空間の音響特性を評価するための複数の機能（音響再生部２０，信号取得部２２，応答取得部２４，解析処理部２６，表示制御部２８）を実現する。なお、演算処理装置１０の機能を複数の装置に分散した構成や、演算処理装置１０の機能の一部を専用の電子回路（ＤＳＰ）が実現する構成も採用され得る。
【００１６】
音響再生部２０は、測定用信号Ｘを生成して放音装置１７に供給することで所定時間にわたり放音装置１７から音響空間内に測定音を放射させる。測定用信号Ｘは、音響空間のインパルス応答の測定に好適な音響信号である。具体的には、周波数が時間的に連続に変化する時間伸長信号（ＴＳＰ：Time Stretched Pulse）や信号強度が広帯域にわたり分布するピンクノイズ等の雑音信号が測定用信号Ｘとして好適に利用される。
【００１７】
信号取得部２２は、音響再生部２０による測定用信号Ｘの供給（測定音の放射）に同期して収音装置１６から観測信号Ｙを取得する。具体的には、信号取得部２２は、放音装置１７に対する測定用信号Ｘの供給が停止する時点から所定の時間（音響空間の音響特性の解析に充分な時間長）にわたる観測信号Ｙを取得する。放音装置１７から放射された測定音は音響空間の壁面での反射や散乱を経て収音装置１６に到来する。したがって、信号取得部２２が取得する観測信号Ｙには音響空間の音響特性（残響音）が反映される。
【００１８】
応答取得部２４は、信号取得部２２が取得した観測信号Ｙから音響空間のインパルス応答Ｒを特定する。応答取得部２４によるインパルス応答Ｒの特定には、測定音の測定用信号Ｘの種類に応じた公知の演算処理が利用される。
【００１９】
解析処理部２６は、応答取得部２４が取得したインパルス応答Ｒを利用して音響空間の音響特性を解析する。第１実施形態の解析処理部２６は、第１特性解析部２６１と第２特性解析部２６２と第３特性解析部２６３とを含んで構成される。第１特性解析部２６１は、音響空間のライブネス（残響感）を評価する。第２特性解析部２６２は、音響空間内のフラッターエコーを評価する。フラッターエコーは、音響空間の内壁面間で音響が反射を繰返すことで反響音が周期的に音響空間内の受聴者に知覚される現象である。第３特性解析部２６３は、音響空間内のブーミングを評価する。ブーミングは、音響空間内の定在波（共鳴）により音響の特定の帯域成分（典型的には低音域）が強調されて聴感的に不自然な音響と知覚される現象である。表示制御部２８は、解析処理部２６による解析の結果を表示装置１４に表示させる。
【００２０】
利用者は、入力装置１５を適宜に操作することで、ライブネスとフラッターエコーとブーミングとの何れかを評価対象として任意に選択することが可能である。音響特性評価装置１００は、利用者が選択した評価対象に応じた処理を実行する。音響特性評価装置１００の具体的な動作を評価対象毎に以下に詳述する。
【００２１】
＜ライブネス評価＞
図２は、音響空間のライブネスを評価する手順のフローチャートである。入力装置１５に対する利用者からの指示（ライブネス評価の開始指示）を契機として図２の動作が開始される。放音装置１７は、音響空間内の所定の位置（例えば隅部）に配置される。
【００２２】
図２の処理が開始すると、音響特性の測定に使用される測定音の音量を調整する音量調整処理が実行される（ＳA1）。具体的には、音響再生部２０は、測定用信号Ｘの供給により放音装置１７から測定音を放射させ、測定音の放射中に信号取得部２２が収音装置１６から取得する観測信号Ｙの信号強度が所定範囲内の数値となるように測定用信号Ｘの信号強度（測定音の音量）を調整する。なお、入力装置１５の操作により利用者が手動で測定音の音量を調整することも可能である。
【００２３】
音量調整処理が完了すると、音響空間内のＮ個（Ｎは２以上の自然数）の受音点の各々にてインパルス応答Ｒ[n]（Ｒ[1]〜Ｒ[N]）の測定が順次に実行される（ＳA2）。音響空間内で放音装置１７に対する位置関係が相違する各地点が受音点として好適に選定される。
【００２４】
具体的には、利用者は、音響空間内の各受音点に音響特性評価装置１００（収音装置１６）を移動させ、各受音点にて入力装置１５に測定音の測定の指示を付与する。第ｎ番目（ｎ＝１〜Ｎ）の受音点で測定音の測定が指示されると、音響再生部２０は、音量調整処理で設定された信号強度の測定用信号Ｘを供給することで所定時間にわたり放音装置１７から音響空間に測定音を放射させ、信号取得部２２は、測定用信号Ｘの供給が停止する時点から所定時間にわたる観測信号Ｙ[n]を収音装置１６から取得する。応答取得部２４は、信号取得部２２が取得した観測信号Ｙ[n]から音響空間のインパルス応答Ｒ[n]を算定して記憶装置１２に格納する。以上の処理がＮ個の受音点の各々にて順次に実行されることで、相異なる受音点に対応するＮ個のインパルス応答Ｒ[1]〜Ｒ[N]が記憶装置１２に格納される。
【００２５】
音響空間内のＮ個の受音点についてインパルス応答Ｒ[n]の測定が完了すると、利用者は、入力装置１５を操作することで音響空間のサイズＺを音響特性評価装置１００（解析処理部２６）に指示する（ＳA3）。例えば音響空間が直方体状である場合を想定すると、解析処理部２６は、音響空間の高さと幅と奥行きとをサイズＺとして利用者から受付ける。なお、各インパルス応答Ｒ[n]の測定前にサイズＺの指定を受付ける構成や、記憶装置１２に事前に記憶されたサイズＺを取得する構成も採用され得る。
【００２６】
以上の手順で受音点毎のインパルス応答Ｒ[n]の測定と音響空間のサイズＺの受付とが完了すると、第１特性解析部２６１は、音響空間のライブネスの適否の尺度となる評価指標ＳLを算定する（ＳA4）。表示制御部２８は、第１特性解析部２６１による評価結果（評価指標ＳL）を表示装置１４に表示させる（ＳA5）。
【００２７】
図３は、第１特性解析部２６１のブロック図である。図３に示すように、第１特性解析部２６１は、吸音特性解析部３２と評価処理部３４とを含んで構成される。吸音特性解析部３２は、受音点毎のインパルス応答Ｒ[n]を解析することで、周波数軸上のＭ個（Ｍは２以上の自然数）の帯域（以下「評価帯域」という）の各々について平均吸音率α[m]（α[1]〜α[M]）を算定する。平均吸音率α[m]（ｍ＝１〜Ｍ）は、第ｍ番目の評価帯域の音響成分が音響区間の壁面で吸音（吸収または透過）される割合に相当する。各評価帯域は、所定の帯域幅に設定される。例えば、１２５Ｈｚから４ｋＨｚまでの周波数帯域を１/１オクターブバンド毎に区分することで６個（Ｍ＝６）の評価帯域が設定される。
【００２８】
図３に示すように、吸音特性解析部３２は、帯域分割部３２２と残響時間解析部３２４と吸音率算定部３２６とを含んで構成される。帯域分割部３２２は、各受音点のインパルス応答Ｒ[n]に対してフィルタ（例えばバンドパスフィルタ）処理を実行することで、相異なる評価帯域に対応するＭ個の帯域インパルス応答ＲB[n,1]〜ＲB[n,M]をＮ個の受音点の各々について生成する。帯域インパルス応答ＲB[n,m]は、音響空間内の第ｎ番目の受音点で測定されたインパルス応答Ｒ[n]のうち第ｍ番目の評価帯域内の音響成分である。
【００２９】
残響時間解析部３２４は、帯域分割部３２２による処理後の各帯域インパルス応答ＲB[n,m]を解析することで、相異なる評価帯域に対応するＭ個の残響時間Ｔ[1]〜Ｔ[M]を算定する。残響時間Ｔ[m]は、第ｍ番目の評価帯域の音響成分の強度が音響空間内で減衰の開始から６０ｄＢだけ低下するまでの時間長に相当する。残響時間解析部３２４は、第ｍ番目の評価帯域に対応するＮ個の受音点の帯域インパルス応答ＲB[1,m]〜ＲB[N,m]に応じて残響時間Ｔ[m]を算定する。
【００３０】
残響時間Ｔ[m]の算定にはインパルス積分法（Schroeder法）が好適に利用される。具体的には、残響時間解析部３２４は、各帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち時間軸上の所定区間を積分範囲としたインパルス積分法で図４の残響曲線（減衰曲線）Ｃ[n,m]を算定し、第ｍ番目の評価帯域に対応するＮ個の受音点の残響曲線Ｃ[1,m]〜Ｃ[N,m]に応じた残響曲線ＣA[m]から第ｍ番目の評価帯域の残響時間Ｔ[m]を算定する。残響曲線ＣA[m]は、例えば、第ｍ番目の評価帯域に対応するＮ個の残響曲線Ｃ[1,m]〜Ｃ[N,m]の平均（すなわちアンサンブル平均）である。残響時間解析部３２４は、以上の処理をＭ個の評価帯域の各々について実行することで評価帯域毎の残響時間Ｔ[m]（Ｔ[1]〜Ｔ[M]）を算定する。なお、以上の例示ではＮ個の残響曲線Ｃ[1,m]〜Ｃ[N,m]を平均した残響曲線ＣA[m]から残響時間Ｔ[m]を算定したが、第ｍ番目の評価帯域に対応する各残響曲線Ｃ[n,m]（Ｃ[1,m]〜Ｃ[N,m]）から特定されるＮ個の残響時間を平均することで残響時間Ｔ[m]を算定することも可能である。
【００３１】
図３の吸音率算定部３２６は、残響時間解析部３２４が算定した残響時間Ｔ[1]〜Ｔ[M]と利用者が指示した音響空間のサイズＺとから、相異なる評価帯域に対応するＭ個の平均吸音率α[1]〜α[M]を算定する。具体的には、吸音率算定部３２６は、以下の数式(1)（Eylingの残響式）の演算で第ｍ番目の評価帯域の平均吸音率α[m]を算定する。
【数１】
2014026241.tif 000003
【００３２】
数式(1)の記号Ｓは、音響空間の内面積（内壁面の総面積）を意味し、記号Ｖは、音響空間の容積を意味する。内面積Ｓおよび容積Ｖは、図２のステップＳA3で利用者が指定した音響空間のサイズＺから算定される。また、記号Ｋは所定の室定数（例えばＫ＝0.162）である。以上が図３における吸音特性解析部３２の構成および動作である。
【００３３】
図３の評価処理部３４は、吸音特性解析部３２（吸音率算定部３２６）が算定した評価帯域毎の平均吸音率α[m]（α[1]〜α[M]）を解析することで音響空間のライブネスの評価指標ＳLを算定する。評価指標ＳLは、ライブネスの評価結果を区分した５段階（Excellent/ Good/ Fair/ Poor/ Bad）の何れかを指定する。具体的には、評価指標ＳLは、最低評価（Bad）に対応する数値「１」から最高評価（Excellent）に対応する数値「５」までの何れかに設定される。図３に示すように、評価処理部３４は、第１評価部３４２と第２評価部３４４と指標算定部３４６とを含んで構成される。
【００３４】
第１評価部３４２は、吸音特性解析部３２が算定したＭ個の平均吸音率α[1]〜α[M]に応じた第１指標値ＳL1を算定する。第１指標値ＳL1は、音響空間内における吸音の絶対量の大小（最適値からの乖離）の観点から音響空間のライブネスを評価する指標である。第１実施形態の第１指標値ＳL1は、評価結果を区分した各段階（Excellent/ Good/ Fair/ Poor/ Bad）に対応する１（最低評価）から５（最高評価）までの何れかの数値に設定される。
【００３５】
具体的には、第１評価部３４２は、平均吸音率α[m]を適用した演算で各評価帯域の基礎値σ[m]を算定し、相異なる評価帯域に対応するＭ個の基礎値σ[1]〜σ[M]に応じた第１指標値ＳL1を算定する。例えば、第１指標値ＳL1の各数値（１〜５）に対応する５個の数値範囲のうちＭ個の基礎値σ[1]〜σ[M]の平均値を内包する数値範囲に対応した数値（１〜５）が第１指標値ＳL1として算定される。
【００３６】
各評価帯域の基礎値σ[m]は、例えば、平均吸音率α[m]を適用した以下の数式(2)の演算で算定される。
【数２】
2014026241.tif 000004
数式(2)の記号abs[ ]は、絶対値を意味する。数式(2)の記号α0は、平均吸音率α[m]の最適値に相当する所定値であり、例えば0.25程度の数値に設定される。数式(2)の括弧内のlog10(α[m]／α0)は、平均吸音率α[m]と所定値α0との対数距離（対数値間の差分）を意味する。図５は、平均吸音率α[m]と基礎値σ[m]との関係を示すグラフである。数式(2)および図５から理解される通り、平均吸音率α[m]と所定値α0との相違（距離）が大きいほど基礎値σ[m]は大きい数値となる。各評価帯域の基礎値σ[m]が小さい（平均吸音率α[m]が所定値α0に近い）ほど第１指標値ＳL1が大きい数値（高評価を意味する数値）となるように、第１評価部３４２は第１指標値ＳL1を設定する。
【００３７】
数式(2)のように平均吸音率α[m]と所定値α0との対数距離を算定する構成では、図５から把握されるように、平均吸音率α[m]が所定値α0を下回る範囲ＱL内で平均吸音率α[m]が単位量だけ変化した場合の基礎値σ[m]の変化量が、平均吸音率α[m]が所定値α0を上回る範囲ＱH内で平均吸音率α[m]が単位量だけ変化した場合の基礎値σ[m]の変化量を上回る。すなわち、平均吸音率α[m]が低い範囲ＱLでは、平均吸音率α[m]が高い範囲ＱHと比較して、平均吸音率α[m]に連動して基礎値σ[m]が変動し易い。
【００３８】
残響量が多い音響空間（平均吸音率が低い空間）では残響量の変化に対する知覚感度が相対的に高く、残響量の増減に対して聴感的な違和感が発生し易いが、残響量が少ない音響空間（平均吸音率が高いデッドな空間）では残響量の変化に対する知覚感度が相対的に低く、残響量の増減に対して聴感的な違和感が発生し難いという概略的な傾向が人間の聴覚には存在する。平均吸音率α[m]と所定値α0との対数距離を算定する前述の構成では、平均吸音率α[m]が低い範囲ＱL内において、平均吸音率α[m]が高い範囲ＱHと比較して平均吸音率α[m]に対する基礎値σ[m]の変動が大きいから、以上に説明した聴覚の傾向に合致した適切な基礎値σ[m]（第１指標値ＳL1）を算定できるという格別の効果が実現される。
【００３９】
図３の第２評価部３４４は、吸音特性解析部３２が算定したＭ個の平均吸音率α[1]〜α[M]に応じた第２指標値ＳL2を算定する。第２指標値ＳL2は、評価帯域毎の平均吸音率α[m]の散布度（散らばりの度合）の観点から音響空間のライブネスを評価する指標である。第１実施形態の第２指標値ＳL2は、評価結果を区分した各段階（Excellent/ Good/ Fair/ Poor/ Bad）に対応する１（最低評価）から５（最高評価）までの何れかの数値に設定される。
【００４０】
具体的には、第２評価部３４４は、吸音特性解析部３２が算定したＭ個の平均吸音率α[1]〜α[M]の散布度Ｄを算定し、第２指標値ＳL2の各数値（１〜５）に対応する５個の数値範囲のうち散布度Ｄを内包する数値範囲に対応した数値（１〜５）を第２指標値ＳL2として算定する。散布度Ｄの好例は、標準偏差や分散である。Ｍ個の平均吸音率α[1]〜α[M]の散布度Ｄが小さい（散らばりが少ない）ほど第２指標値ＳL2が大きい数値（高評価を意味する数値）となるように、第２評価部３４４は第２指標値ＳL2を設定する。
【００４１】
図３の指標算定部３４６は、第１評価部３４２が算定した第１指標値ＳL1と第２評価部３４４が算定した第２指標値ＳL2とに応じた評価指標ＳLを算定する。具体的には、指標算定部３４６は、第１指標値ＳL1と第２指標値ＳL2との平均（単純平均または加重平均）や加算値に応じて、評価指標ＳLを最低評価１から最高評価５までの何れかの数値に設定する。したがって、各平均吸音率α[m]が所定値α0に近く（第１指標値ＳL1が大きく）、または、Ｍ個の平均吸音率α[1]〜α[M]の散布度Ｄが小さい（第２指標値ＳL2が大きい）ほど、評価指標ＳLは、高評価を意味する大きい数値に設定される。
【００４２】
表示制御部２８は、以上に説明した第１特性解析部２６１（評価処理部３４）による解析結果を表示装置１４に表示させる。具体的には、図６の評価画面８１と図７の残響特性画面８２と図８の吸音特性画面８３とが、入力装置１５に対する利用者からの指示に応じて選択的に表示装置１４に表示される。
【００４３】
図６の評価画面８１は、領域８１１と領域８１２と領域８１３とを含んで構成される。領域８１１には、評価処理部３４が算定した評価指標ＳLが表示される。具体的には、５段階の評価結果（Excellent/ Good/ Fair/ Poor/ Bad）のうち第１特性解析部２６１（指標算定部３４６）が算定した評価指標ＳLに対応する評価結果（図６の例示では「Good」）８１４と、評価指標ＳLの数値を表現する図像（図６の例示では星の個数で評価指標ＳLを表現する図像）８１５とが領域８１１に配置される。また、領域８１２には、第１評価部３４２が算定した第１指標値ＳL1が表示され、領域８１３には、第２評価部３４４が算定した第２指標値ＳL2が表示される。利用者は、評価画面８１を視認することで、音響空間におけるライブネス（残響感）の適否を定量的に把握することが可能である。
【００４４】
図７の残響特性画面８２は、横軸を周波数軸として評価帯域毎の残響時間Ｔ[1]〜Ｔ[M]を示すグラフである。利用者は、残響特性画面８２を視認することで、評価帯域毎の残響時間Ｔ[m]の相違や音響空間内の概略的な残響時間Ｔ[m]の長短の傾向を把握することが可能である。
【００４５】
図８の吸音特性画面８３は、横軸を周波数軸として評価帯域毎の平均吸音率α[1]〜α[M]を示すグラフである。利用者は、吸音特性画面８３を視認することで、評価帯域毎の平均吸音率α[m]の相違や音響空間内の概略的な平均吸音率α[m]の高低の傾向を把握することが可能である。以上がライブネス評価の詳細である。
【００４６】
以上に説明したように、第１実施形態では、音響空間のインパルス応答Ｒ[n]の解析で評価帯域毎に算定された平均吸音率α[m]に応じて評価指標ＳLが算定される。したがって、例えば各評価帯域の残響時間Ｔ[m]等の音響特性を測定結果として利用者に提示する構成と比較すると、音響特性に関する専門的な知識や技術的な熟練を必要とせずに、音響空間の音響特性の適否を利用者が直観的かつ簡明に把握できるという利点がある。
【００４７】
＜フラッターエコー評価＞
図９は、音響空間のフラッターエコーを評価する手順のフローチャートである。入力装置１５に対する利用者からの指示（フラッターエコー評価の開始指示）を契機として図９の動作が開始される。放音装置１７は、音響空間内の所定の位置に配置される。
【００４８】
図９の処理が開始すると、図２に例示したライブネス評価と同様に音量調整処理が実行され（ＳB1）、音響空間内の特定の１個の受音点にてインパルス応答Ｒの測定が実行される（ＳB2）。具体的には、音響再生部２０が測定用信号Ｘの供給で放音装置１７から測定音を放射させ、信号取得部２２は、測定用信号Ｘの供給が停止する時点から所定時間にわたる観測信号Ｙを収音装置１６から取得する。応答取得部２４は、信号取得部２２が取得した観測信号Ｙからインパルス応答Ｒを算定して記憶装置１２に格納する。
【００４９】
以上の手順により受音点でのインパルス応答Ｒの測定が完了すると、第２特性解析部２６２は、インパルス応答Ｒのうち特定の周波数帯域（以下「対象帯域」という）内の成分について時間軸上の包絡線ＥNVを算定する（ＳB3）。表示制御部２８は、第２特性解析部２６２による評価結果（包絡線ＥNV）を表示装置１４に表示させる（ＳB4）。
【００５０】
図１０は、第２特性解析部２６２のブロック図である。図１０に示すように、第２特性解析部２６２は、帯域選択部４２と包絡線算定部４４とを含んで構成される。帯域選択部４２は、インパルス応答Ｒのうち対象帯域内の音響成分（以下「対象インパルス応答Ｒ0」という）を選択的に抽出するバンドパスフィルタである。対象帯域は、フラッターエコーの影響が包絡線ＥNVに顕在化するように実験的に設定される。具体的には、２ｋＨｚを含む所定幅の帯域が対象帯域として好適である。例えば、２ｋＨｚを中心周波数とする１/１オクターブバンドの帯域（約１.４ｋＨｚから約２.８ｋＨｚ）が対象帯域として設定される。
【００５１】
包絡線算定部４４は、帯域選択部４２が抽出した対象インパルス応答Ｒ0の時間軸上の包絡線ＥNVを算定する。包絡線ＥNVの算定には公知の技術が任意に採用され得るが、対象インパルス応答Ｒ0に対するヒルベルト変換で包絡線ＥNVを算定する方法が好適である。
【００５２】
表示制御部２８は、第２特性解析部２６２（包絡線算定部４４）が算定した包絡線ＥNVを表示装置１４に表示させる。図１１および図１２は、包絡線ＥNVの表示例である。図１１および図１２の例示のように、横軸を時間軸として対象インパルス応答Ｒ0の包絡線ＥNVが表示される。音響空間にフラッターエコーが発生している場合、図１１の破線部のように、対象インパルス応答Ｒ0の包絡線ＥNVには信号強度の瞬間的な増大が周期的に発生する。他方、音響空間にフラッターエコーが発生していない場合、図１２のように、包絡線ＥNVの信号強度は時間の経過とともに略直線状に減少し、信号強度の周期的な増大は殆ど観察されない。したがって、利用者は、表示装置１４に表示された包絡線ＥNVを視認することで、音響空間内におけるフラッターエコーの有無や程度を視覚的に把握することが可能である。
【００５３】
＜ブーミング評価＞
図１３は、音響空間のブーミングを評価する手順のフローチャートである。入力装置１５に対する利用者からの指示（ブーミング評価の開始指示）を契機として図１３の動作が開始される。図１４の例示のように、音響特性評価装置１００の収音装置１６（受音点）と放音装置１７（放音点）とを音響空間内の相対向する対角の隅部に設置した状態で図１３の処理が実行される。なお、音響特性評価装置１００と放音装置１７との位置関係を図１４の例示から逆転させることも可能である。
【００５４】
図１３の処理が開始すると、図２に例示したライブネス評価と同様に音量調整処理が実行され（ＳC1）、図９のステップＳB2と同様に、音響空間内の１個の受音点にてインパルス応答Ｒの測定が実行される（ＳC2）。具体的には、放音装置１７に対する測定用信号Ｘの供給を停止した時点から所定時間にわたる観測信号Ｙからインパルス応答Ｒが算定される。
【００５５】
以上の手順により受音点でのインパルス応答Ｒの測定が完了すると、第３特性解析部２６３は、音響空間のインパルス応答Ｒから残響減衰特性Ｇを算定する（ＳC3）。残響減衰特性Ｇは、インパルス応答Ｒの周波数成分毎の信号強度の時間変化（減衰）である。具体的には、第３特性解析部２６３は、所定の標本化周波数ＦS1のインパルス応答Ｒを標本化周波数ＦS2（ＦS2＜ＦS1）で再標本化（ダウンサンプリング）し、再標本化後の時間波形を例えば高速フーリエ変換等の公知の周波数分析でフレーム毎に周波数領域に変換することで特定される累積位相（位相スペクトル）の時系列を残響減衰特性Ｇとして算定する。標本化周波数ＦS1は例えば４８ｋＨｚであり、再標本化後の標本化周波数ＦS2は例えば１ｋＨｚ程度である。なお、前述の通りブーミングは低音域で問題となるから、インパルス応答Ｒのうち低域側の帯域（例えば５０Ｈｚから５００Ｈｚ）を対象として残響減衰特性Ｇを算定することも可能である。
【００５６】
以上の処理が完了すると、表示制御部２８は、第３特性解析部２６３による評価結果（残響減衰特性Ｇ）を表示装置１４に表示させる（ＳC4）。図１５および図１６は、残響減衰特性Ｇの表示例である。図１５および図１６の例示のように、時間軸（横軸）と周波数軸（縦軸）とが設置された座標平面の各地点の階調や色彩を残響減衰特性Ｇの信号強度に応じて設定することで残響減衰特性Ｇの分布が表示される。図１５は、音響空間にブーミングが発生している場合の残響減衰特性Ｇの表示例であり、図１６は、音響空間に音場制御パネル（調音パネル）を設置することでブーミングが抑制された場合の残響減衰特性Ｇの表示例である。音響空間内にブーミング（定在波）が発生している場合、図１５に示すように、局所的な周波数成分が長時間にわたり継続し、各周波数成分の間の帯域にも時間的に増減を繰返す音響成分が観察される。すなわち、音響空間内の定在波が可視化される。他方、音響空間内にブーミングが発生していない場合、図１６に示すように、局所的な周波数成分の長時間にわたる継続は殆ど観測されない。したがって、利用者は、表示装置１４に表示された残響減衰特性Ｇを視認することで、音響空間内におけるブーミングの有無や程度を視覚的に把握することが可能である。
【００５７】
＜第２実施形態＞
本発明の第２実施形態を説明する。以下に例示する各形態において作用や機能が第１実施形態と同等である要素については、第１実施形態の説明で参照した符号を流用して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
【００５８】
第１実施形態では、評価帯域毎の残響時間Ｔ[m]の算定にインパルス積分法を利用した。インパルス積分法では、各評価帯域の帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち積分範囲として選択される区間（以下「抽出区間」という）の時間長が残響曲線Ｃ[n,m]の適否に影響するという傾向がある。例えば、抽出区間が適切な時間長に設定された場合に図４の残響曲線（理想的な残響曲線）Ｃ[n,m]が算定されると仮定する。抽出区間の時間長が最適値と比較して長い場合、図４に破線で図示された残響曲線ＣL[n,m]のように末尾側の信号強度が強調されるから、帯域インパルス応答ＲB[n,m]に重畳された電気的または音響的な雑音成分の影響が相対的に増大し、結果的に残響時間Ｔ[m]の特定精度が低下する。他方、抽出区間の時間長が最適値と比較して短い場合、図４に破線で図示された残響曲線ＣS[n,m]のように末尾側の信号強度が過度に抑圧されるから、残響時間Ｔ[m]の高精度な特定が阻害される。以上の事情を考慮して、本発明の第２実施形態では、残響時間Ｔ[m]を高精度に特定できるように帯域インパルス応答ＲB[n,m]の抽出区間を設定する。
【００５９】
第２実施形態の音響特性評価装置１００は、第１実施形態の残響時間解析部３２４を図１７の残響時間解析部３２４Aに置換した構成である。図１７に示すように、残響時間解析部３２４Aは、第１解析部５２と残響時間暫定部５４と第２解析部５６と残響時間算定部５８とを含んで構成される。
【００６０】
第１解析部５２は、図１８に示すように、帯域分割部３２２による処理後の帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1[n,m]を算定する。具体的には、第１解析部５２は、帯域インパルス応答ＲB[n,m]の開始点から所定長にわたる抽出区間Ｓ1を設定し、抽出区間Ｓ1を積分範囲としたインパルス積分法で残響曲線Ｃ1[n,m]を算定する。抽出区間Ｓ1の時間長は、図４を参照して説明した積分範囲の最適値と比較して長い時間長となるように実験的または統計的に設定される。
【００６１】
残響時間暫定部５４は、図１８に示すように、第１解析部５２が算定した残響曲線Ｃ1[n,m]から暫定的な残響時間（以下「暫定残響時間」という）Ｔ0[n,m]を設定する。具体的には、残響時間暫定部５４は、残響曲線Ｃ1[n,m]において信号強度が所定量だけ減衰する時間長τに応じて暫定残響時間Ｔ0[n,m]を算定する。前述のように抽出区間Ｓ1は最適値と比較して長い時間長に設定されるから、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち末尾側の信号強度は、図１８に破線で図示された理想的な残響曲線（以下「目標残響曲線」という）Ｃ0から乖離する。ただし、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち信号強度が減衰を開始する時点（以下「減衰開始点」という）ｔ0の直後の区間（初期的な減衰の区間）は目標残響曲線Ｃ0に近似するという傾向がある。以上の傾向を考慮して、第２実施形態では、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち減衰開始点ｔ0の直後の区間に応じて時間長τが特定される。
【００６２】
具体的には、残響曲線Ｃ1[n,m]のもとで減衰開始点ｔ0での初期値ｍ0と比較して信号強度が所定量Δ1（例えば５ｄＢ）だけ低下する時点ｔ1から、信号強度が初期値ｍ0と比較して所定量Δ1を上回る所定量Δ2（例えば１５ｄＢ）だけ低下する時点ｔ2までの時間（すなわち減衰開始点ｔ0の直後にて信号強度が所定量（Δ2−Δ1）だけ減衰する時間）が時間長τとして特定される。残響時間は、信号強度が６０ｄＢだけ減衰する時間長と定義されるから、残響時間暫定部５４は、信号強度が所定量（Δ2−Δ1）だけ減衰する時間長τを｛６０/（Δ2−Δ1）｝倍した数値を暫定残響時間Ｔ0[n,m]として算定する。
【００６３】
図１７の第２解析部５６は、図１８に示すように、帯域分割部３２２による処理後の帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち残響時間暫定部５４が設定した暫定残響時間Ｔ0[m]に応じた抽出区間Ｓ2に対応する残響曲線Ｃ2[n,m]を算定する。具体的には、第２解析部５６は、帯域インパルス応答ＲB[n,m]の開始点から所定長にわたる抽出区間Ｓ2を設定し、抽出区間Ｓ2を積分範囲としたインパルス積分法で残響曲線Ｃ2[n,m]を算定する。
【００６４】
抽出区間Ｓ2の時間長は、残響時間暫定部５４が設定した暫定残響時間Ｔ0[m]に応じて可変に設定される。具体的には、抽出区間Ｓ2は、暫定残響時間Ｔ0[n,m]に係数κを乗算した時間長（κＴ0[n,m]）に設定される。係数κは、１を上回る数値に設定され、例えば好適には２に設定される。以上の説明から理解されるように、第１解析部５２が設定する抽出区間Ｓ1と第２解析部５６が設定する抽出区間Ｓ2とでは時間長が相違し得る。具体的には、抽出区間Ｓ2は抽出区間Ｓ1と比較して短い区間に設定される可能性が高い。
【００６５】
図１７の残響時間算定部５８は、第２解析部５６が算定した残響曲線Ｃ2[n,m]から確定的な残響時間Ｔ[m]を算定する。具体的には、残響時間算定部５８は、第ｍ番目の評価帯域に対応するＮ個の受音点の帯域インパルス応答ＲB[m]の残響曲線Ｃ2[1,m]〜Ｃ2[N,m]に応じた残響曲線ＣA[m]から第ｍ番目の評価帯域の残響時間Ｔ[m]を算定する。例えば、Ｎ個の残響曲線Ｃ2[1,m]〜Ｃ2[N,m]を平均した残響曲線ＣA[m]のもとで信号強度が６０ｄＢだけ低下する時間長（または、例えば信号強度が(６０／β)ｄＢだけ低下する時間長のβ倍）が残響時間Ｔ[m]として算定される。
【００６６】
残響時間算定部５８は、以上の処理をＭ個の評価帯域の各々について実行することで評価帯域毎の残響時間Ｔ[m]（Ｔ[1]〜Ｔ[M]）を算定する。なお、以上の例示ではＮ個の残響曲線Ｃ2[1,m]〜Ｃ2[N,m]に応じた残響曲線ＣA[m]から残響時間Ｔ[m]を算定したが、第ｍ番目の評価帯域に対応する各残響曲線Ｃ2[n,m]（Ｃ2[1,m]〜Ｃ2[N,m]）から特定されるＮ個の残響時間に応じた数値（例えばＮ個の残響時間の平均値）を残響時間Ｔ[m]として算定することも可能である。残響時間算定部５８が算定した残響時間Ｔ[m]を利用した処理（平均吸音率α[m]の算定や評価結果の表示）は第１実施形態と同様である。
【００６７】
第２実施形態においても第１実施形態と同様の効果が実現される。また、第２実施形態では、帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1[n,m]から暫定残響時間Ｔ0[n,m]が特定され、帯域インパルス応答ＲB[n,m]のうち暫定残響時間Ｔ0[n,m]に応じた時間長の抽出区間Ｓ2に対応する残響曲線Ｃ2[n,m]から残響時間Ｔ[m]が算定される。したがって、帯域インパルス応答ＲB[n]に設定される抽出区間の長短の影響を低減して残響時間Ｔ[m]を高精度に特定できるという利点がある。例えば、前述のように抽出区間Ｓ1を最適値と比較して充分に長い時間長に設定した場合、残響曲線Ｃ1[n,m]から特定される暫定残響時間Ｔ0[n,m]は抽出区間Ｓ1と比較して短い時間長（すなわち最適値に近い時間長）となる。したがって、第２解析部５６が特定する残響曲線Ｃ2[n,m]は残響曲線Ｃ1[n,m]と比較して目標残響曲線Ｃ0に近付き、結果的に残響時間Ｔ[m]が高精度に特定される。
【００６８】
また、第２実施形態では、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち減衰開始点ｔ0の直後において信号強度が所定量（残響時間の本来的な基準となる６０ｄＢを下回る１０ｄＢ）だけ減衰する時間長τに応じて暫定残響時間Ｔ0[n,m]が算定される。したがって、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち末尾側（すなわち、残響曲線Ｃ1が目標残響曲線Ｃ0から乖離した区間）の信号強度に応じて暫定残響時間Ｔ0[n,m]を算定する構成や、信号強度が６０ｄＢだけ減衰する時間を残響曲線Ｃ1[n,m]から直接的に暫定残響時間Ｔ0[n,m]として算定する構成と比較すると、残響曲線Ｃ1[n,m]のうち目標残響曲線Ｃ0に近似する区間に応じた暫定残響時間Ｔ0[n,m]が算定される。したがって、残響時間Ｔ[m]を高精度に算定できるという効果は格別に顕著である。
【００６９】
＜変形例＞
以上の各形態は多様に変形され得る。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された２以上の態様は適宜に併合され得る。
【００７０】
（１）前述の各形態では、音響空間内の１回の測定結果を表示したが、複数回にわたる測定結果を対比的に表示することも可能である。例えば、前述の各形態で説明した音響特性の測定を複数回にわたり反復し、第１特性解析部２６１が算定した評価指標ＳL（ＳL1，ＳL2）や第２特性解析部２６２が算定した包絡線ＥNVや第３特性解析部２６３が算定した残響減衰特性Ｇを、相異なる複数の時点について表示制御部２８が対比的に表示装置１４に表示させる構成が好適である。複数の音響特性を対比的に表示する構成としては、各音響特性を相異なる領域に並列に表示する構成や各音響特性を重複的に表示する構成が例示され得る。以上の構成によれば、例えば音響空間の音響特性の調整（例えば音場制御パネルの設置）の前後の測定結果を対比的に表示することで音響特性の調整の効果を利用者が直観的に把握できるという利点がある。
【００７１】
（２）第１特性解析部２６１が評価指標ＳLを算定する方法は適宜に変更される。例えば、第１特性解析部２６１の第１評価部３４２が以下の数式(3)の演算で基礎値σ[m]を算定する構成も好適である。
【数３】
2014026241.tif 000005
数式(3)から理解される通り、距離δLおよび距離δHのうち大きい方が基礎値σ[m]として採択される。距離δLは以下の数式(4A)で算定され、距離δHは以下の数式(4B)で算定される。
【数４】
2014026241.tif 000006
【００７２】
図１９は、平均吸音率α[m]と基礎値σ[m]との関係を示すグラフである。数式(4A)および図１９から理解されるように、平均吸音率α[m]が所定値αLを下回る範囲ＱLでは、平均吸音率α[m]と所定値αLとの対数距離に応じて基礎値σ[m]が算定され、所定値αLから所定値αHまでの範囲ＱMでは基礎値σ[m]が０に設定され、平均吸音率α[m]が所定値αHを上回る範囲ＱHでは、平均吸音率α[m]と所定値αHとの対数距離に応じて基礎値σ[m]が算定される。所定値αLから所定値αHまでの範囲ＱMは、平均吸音率α[m]の好適な範囲（許容範囲）を意味する。具体的には、所定値αLおよび所定値αHは、例えば音響空間の用途等に応じて０.１５〜０.３５程度の数値に設定される。
【００７３】
以上の構成においても第１実施形態と同様の効果が実現される。また、平均吸音率α[m]が範囲ＱM内の数値である場合に基礎値σ[m]が０に設定されるから、Ｍ個の平均吸音率α[1]〜α[M]のうち範囲ＱM内の平均吸音率α[m]の個数が多い場合に第１指標値ＳL1を適切に大きい数値（高評価を意味する数値）に設定できるという利点もある。
【００７４】
（３）第１実施形態のライブネス評価では複数（Ｎ個）の受音点の各々にてインパルス応答Ｒ[n]（Ｒ[1]〜Ｒ[N]）を測定したが、１個の受音点のみについてインパルス応答Ｒを測定することも可能である。残響時間解析部３２４は、１個のインパルス応答Ｒを評価帯域毎に分割したＭ個の帯域インパルス応答ＲB[1]〜ＲB[M]の各々に対応する残響曲線Ｃ[m]から残響時間Ｔ[m]（Ｔ[1]〜Ｔ[M]）を算定する。
【００７５】
第２実施形態においても同様に、１個の受音点のみについてインパルス応答Ｒを測定することが可能である。残響時間解析部３２４Aでは、１個のインパルス応答Ｒを評価帯域毎に区分したＭ個の帯域インパルス応答ＲB[1]〜ＲB[M]の各々について、抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1[m]の特定と暫定残響時間Ｔ0[m]の算定とが実行され、暫定残響時間Ｔ0[m]に応じた抽出区間Ｓ2に対応する残響曲線Ｃ2[m]から残響時間Ｔ[m]が算定される。
【００７６】
（４）第１実施形態では、音響空間のライブネス評価とフラッターエコー評価とブーミング評価とを実行可能な音響特性評価装置１００を例示したが、以上に例示した３種類の評価のうち１種類または２種類の評価を実行する音響特性評価装置１００も実現され得る。すなわち、音響特性評価装置１００は、第１特性解析部２６１と第２特性解析部２６２と第３特性解析部２６３とのうちの少なくともひとつを具備する装置として包括される。
【００７７】
（５）第２実施形態では、残響時間解析部３２４Aが算定した残響時間Ｔ[m]をライブネス評価に利用したが、音響空間の残響時間を算定する残響時間解析装置としても第２実施形態は実現され得る。すなわち、第２実施形態の構成にとってライブネス評価は必須の要件ではない。前述の各形態で例示したライブネス評価では、各評価帯域の平均吸音率α[m]を算定するために残響時間Ｔ[m]を評価帯域毎に算定したが、残響時間の算定のみに着目すれば、評価帯域毎の処理は必須ではない。すなわち、残響時間解析装置（残響時間解析部３２４A）は、音響空間のインパルス応答Ｒ（帯域分割の有無は不問）の抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1を特定する第１解析部５２と、残響曲線Ｃ1において信号強度が所定量だけ減衰する時間に応じて暫定残響時間Ｔ0を設定する残響時間暫定部５４と、インパルス応答Ｒのうち暫定残響時間Ｔ0に応じた時間長（例えばκＴ0）にわたる抽出区間Ｓ2に対応する残響曲線Ｃ2を特定する第２解析部５６と、残響曲線Ｃ2から残響時間Ｔを算定する残響時間算定部５８とを具備する装置として表現される。
【００７８】
（６）第２特性解析部２６２によるフラッターエコー評価の内容は以上の例示に限定されない。例えば、図２０に示すように、前述の各形態の第２特性解析部２６２に残響曲線特定部４６と評価処理部４８とを追加した構成も採用され得る。残響曲線特定部４６は、帯域選択部４２による処理後の対象インパルス応答Ｒ0から残響曲線Ｃを特定する。残響曲線Ｃの特定には例えばインパルス積分法が好適に利用される。また、第２実施形態と同様に、音響空間のインパルス応答Ｒの抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1から暫定残響時間Ｔ0を算定し、インパルス応答Ｒのうち暫定残響時間Ｔ0に応じた時間長の抽出区間Ｓ2から残響曲線Ｃ（Ｃ2）を算定することも可能である。なお、帯域選択部４２による処理前のインパルス応答Ｒから残響曲線特定部４６が残響曲線Ｃを算定する構成も採用され得る。
【００７９】
包絡線算定部４４が算定する包絡線ＥNVではフラッターエコーの影響が顕在化するのに対し、インパルス応答Ｒの残響曲線Ｃではフラッターエコーの影響は減殺される。したがって、音響空間内にフラッターエコーが発生していない場合には包絡線ＥNVと残響曲線Ｃとが近似し、音響空間内のフラッターエコーが顕著であるほど包絡線ＥNVと残響曲線Ｃとの差異が増大するという傾向がある。以上の傾向を考慮して、図２０の評価処理部４８は、包絡線算定部４４が算定した包絡線ＥNVと残響曲線特定部４６が特定した残響曲線Ｃとの差異に応じて、音響空間でのフラッターエコーの発生度合の尺度となる評価指標ＳFを算定する。
【００８０】
例えば評価処理部４８は、包絡線ＥNVと残響曲線Ｃとの間で時間軸上の複数の時点の各々における信号強度の差分値|ＥNV−Ｃ|を算定し、各時点に対応する差分値|ＥNV−Ｃ|から評価指標ＳFを算定する。例えば複数の時点にわたる差分値|ＥNV−Ｃ|の累算値や平均値が評価指標ＳFとして算定される。したがって、音響空間内のフラッターエコーが顕著である（包絡線ＥNVと残響曲線Ｃとの相違が顕著である）ほど評価指標ＳFは大きい数値となる。表示制御部２８は、評価処理部４８による評価結果（例えば評価指標ＳF）を表示装置１４に表示させる。評価指標ＳFに応じた５段階の評価を表示する構成や、図１１および図１２に例示した包絡線ＥNVとともに評価処理部４８による評価結果を表示する構成も採用され得る。以上の構成によれば、音響空間内のフラッターエコーの発生度合を利用者が定量的に把握できるという利点がある。
【００８１】
（７）前述の各形態のブーミング評価では、インパルス応答Ｒの再標本化後の累積位相に応じて残響減衰特性Ｇを算定したが、残響減衰特性Ｇの算定方法は以上の例示に限定されない。例えば、応答取得部２４が特定したインパルス応答Ｒの周波数成分毎に残響曲線Ｃを算定し、残響曲線Ｃを周波数軸上に配列することで残響減衰特性Ｇを算定することも可能である。残響曲線Ｃの特定には例えばインパルス積分法が好適に利用される。また、第２実施形態と同様に、音響空間のインパルス応答Ｒの抽出区間Ｓ1に対応する残響曲線Ｃ1から暫定残響時間Ｔ0を算定し、インパルス応答Ｒのうち暫定残響時間Ｔ0に応じた時間長の抽出区間Ｓ2から残響曲線Ｃ（Ｃ2）を算定することも可能である。なお、前述の各形態で例示したようにインパルス応答Ｒに対する再標本化後の累積位相から残響減衰特性Ｇを算定する構成によれば、インパルス応答Ｒの周波数成分毎の残響曲線Ｃから残響減衰特性Ｇを算定する構成と比較して処理負荷（処理量や処理時間）が大幅に削減されるという利点がある。
【００８２】
（８）前述の各形態では、携帯電話機やスマートフォン等の可搬型の情報処理装置で音響特性評価装置１００を実現したが、移動通信網やインターネット等の通信網を介して端末装置と通信するサーバ装置（例えばウェブサーバ）で音響特性評価装置１００を実現することも可能である。すなわち、音響特性評価装置１００は、音響空間内の端末装置で収音された観測信号Ｙに応じたインパルス応答Ｒを取得する応答取得部２４と、応答取得部２４が取得したインパルス応答Ｒを利用して音響空間の音響特性を解析する解析処理部２６とを含んで構成される。応答取得部２４は、端末装置が音響特性評価装置１００に送信した観測信号Ｙからインパルス応答Ｒを特定する要素、または、端末装置にて観測信号Ｙから特定されたインパルス応答Ｒを端末装置から取得する要素である。解析処理部２６による解析結果が音響特性評価装置１００から端末装置に送信されて端末装置の利用者に報知（例えば表示）される。なお、前述の各形態で例示した解析処理部２６の処理の一部（例えば第２実施形態で例示した残響時間の算定）のみを音響特性評価装置１００（サーバ装置）が実行することも可能である。
【符号の説明】
【００８３】
１００……音響特性評価装置、１０……演算処理装置、１２……記憶装置、１４……表示装置、１５……入力装置、１６……収音装置、１７……放音装置、２０……音響再生部、２２……信号取得部、２４……応答取得部、２６……解析処理部、２６１……第１特性解析部、２６２……第２特性解析部、２６３……第３特性解析部、２８……表示制御部、３２……吸音特性解析部、３２２……帯域分割部、３２４……残響時間解析部、３２６……吸音率算定部、３４……評価処理部、３４２……第１評価部、３４４……第２評価部、３４６……指標算定部、４２……帯域選択部、４４……包絡線算定部、４６……残響曲線特定部、４８……評価処理部、５２……第１解析部、５４……残響時間暫定部、５６……第２解析部、５８……残響時間算定部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図１５】
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【図１６】
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