(57)【要約】【課題】移動する検査対象に対し空間分解能と感度に優れた高精細画像データを収集する。【解決手段】Ｘ線診断装置１００は、被検体に対する高精細撮影モードのＸ線撮影を所定の撮影期間において複数回行ない複数の高精細投影データを生成するＸ線撮影部１と、前記高精細投影データの各々に基づいて複数のサブ画像データを生成するサブ画像データ生成部９１と、前記複数のサブ画像データの相対的な位置ズレを検出し、これらの検出結果に基づいて前記位置ズレを補正する位置ズレ補正部９２１と、位置ズレ補正された前記複数のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成する合成処理９２２と、前記高精細画像データを表示する表示部１０を備える。【選択図】  図１
2014090960.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に対する高精細撮影モードのＸ線撮影を所定の撮影期間において複数回行ない複数の高精細投影データを生成するＸ線撮影手段と、
前記高精細投影データの各々に基づいて複数のサブ画像データを生成するサブ画像データ生成手段と、
前記複数のサブ画像データの相対的な位置ズレを検出し、これらの検出結果に基づいて前記位置ズレを補正する位置ズレ補正手段と、
位置ズレ補正された前記複数のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成する合成処理手段と、
前記高精細画像データを表示する表示手段とを
備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項２】
前記Ｘ線撮影手段は、前記撮影期間において複数回のＸ線照射を行なうＸ線発生手段と、前記Ｘ線照射の各々に対応してＸ線検出素子に蓄積された信号電荷を読み出すことにより前記被検体を透過したＸ線を検出する高精細Ｘ線検出手段と、前記高精細Ｘ線検出手段によって読み出された前記信号電荷に基づいて前記複数の高精細投影データを生成する高精細投影データ生成手段を備えたことを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項３】
前記Ｘ線撮影手段は、前記撮影期間において１回のＸ線照射を行なうＸ線発生手段と、前記Ｘ線照射の期間中にＸ線検出素子に順次蓄積される信号電荷を複数回に渡って読み出すことにより前記被検体を透過したＸ線を検出する高精細Ｘ線検出手段と、前記高精細Ｘ線検出手段によって読み出された前記信号電荷に基づいて前記複数の高精細投影データを生成する高精細投影データ生成手段を備えたことを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項４】
前記高精細Ｘ線検出手段は、前記Ｘ線検出素子に順次蓄積される信号電荷を非破壊読み出しすることを特徴とする請求項３記載のＸ線診断装置。
【請求項５】
前記高精細Ｘ線検出手段は、ＣＭＯＳイメージセンサを前記Ｘ線検出素子として用いることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項６】
前記サブ画像データ生成手段は、前記Ｘ線撮影手段によって時系列的に生成される前記高精細投影データの中の互いに隣接する高精細投影データに対し減算処理を行なうことによって前記複数のサブ画像データを生成することを特徴とする請求項３記載のＸ線診断装置。
【請求項７】
前記Ｘ線撮影手段による標準撮影モードのＸ線撮影によって生成された標準投影データに基づいて標準画像データを生成する標準画像データ生成手段と、前記高精細Ｘ線検出手段を所望の位置へ移動させる移動手段を備え、前記移動手段は、前記標準画像データに示された精密検査領域に対して前記高精細Ｘ線検出手段を移動させることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項８】
前記位置ズレ補正手段は、前記複数のサブ画像データに対しパターンマッチング処理を適用することによりサブ画像データ間の位置ズレを検出することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項９】
被検体に対する高精細撮影モードのＸ線撮影によって収集した高精細投影データに基づいて高精細画像データを生成するＸ線診断装置に対し、
前記高精細撮影モードのＸ線撮影を所定の撮影期間において複数回行ない複数の高精細投影データを生成するＸ線撮影機能と、
前記高精細投影データの各々に基づいて複数のサブ画像データを生成するサブ画像データ生成機能と、
前記複数のサブ画像データの相対的な位置ズレを検出し、これらの検出結果に基づいて前記位置ズレを補正する位置ズレ補正機能と、
位置ズレ補正された前記複数のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成する合成処理機能と、
前記高精細画像データを表示する表示機能を
実行させることを特徴とする制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、被検体の検査対象領域における高精細画像データを選択的に収集することが可能なＸ線診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置、ＭＲＩ装置、Ｘ線ＣＴ装置等を用いた医用画像診断は、コンピュータ技術の発展に伴って急速な進歩を遂げ、今日の医療において必要不可欠なものとなっている。特に、カテーテル手技の発展に伴って進歩を遂げている循環器領域のＸ線画像診断は心血管系をはじめ全身の動静脈を対象としており、通常、造影剤が投与された血管領域のＸ線撮影により収集される透視画像データの観察によって行なわれる。
【０００３】
例えば、循環器領域の診断を目的としたＸ線診断装置は、Ｘ線発生部及びＸ線検出部（以下、これらを纏めて撮像系と呼ぶ。）、撮像系を保持する保持部、被検体を載置する天板等を備え、上述の天板や保持部に設けられたＣアーム等を所望の方向へ移動させることにより被検体に対し最適な方向からのＸ線撮影を可能にしている。
【０００４】
上述のＸ線診断装置が有する空間分解能は、通常、Ｘ線検出部に設けられた検出素子の幅や配列間隔等によって決定され、標準的な空間分解能を有するＸ線検出部を用いて細い血管やこれらの血管に挿入されたステント等の微細な血管内デバイスの画像化を行なう場合、十分な解像度を有した画像データを得ることは困難な場合が多い。
【０００５】
このような問題点を解決するために、Ｘ線検出部の他に狭範囲な撮影領域での高分解能化を可能とする高精細Ｘ線検出部を別途装備し、Ｘ線検出部を用いて生成された画像データの中で特に精密な検査を要する精密検査領域の空間分解能が不十分な場合には、Ｘ線検出部を高精細Ｘ線検出部に切り替えて用いることにより精密検査領域における良質な画像データを収集する方法が提案されている。
【０００６】
一方、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサは民生用デジタルカメラ等に広く用いられている撮像素子であり、センサ部や画素アンプ等が一体化されたシステムオンチップ構造により信号電荷の並列読み出しや非破壊読み出しが可能なため、高速なＸ線撮影を可能とするＸ線診断装置のＸ線検出素子として従来の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）に替わって使用されつつある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００８−２２９２７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上述した従来の方法によれば、微細なＸ線検出素子を有し比較的狭範囲な領域を高い空間分解能で撮影することが可能な高精細Ｘ線検出部を選択的に用いることにより、精密検査領域等における良好な画像データを容易に得ることができる。
【０００９】
しかしながら、高精細Ｘ線検出部が備えるＸ線検出素子では、既に述べたように撮影領域が狭く、又、検出素子間隔（即ち、画素間隔）が小さいため、検査対象領域がＸ線照射期間内で移動した場合には、標準的なＸ線検出部を用いた場合と同様な位置ズレが発生するため空間分解能を改善することが不可能となる。又、各々の画素に対する相対的な位置ズレは増大するため、高精細Ｘ線検出部によって収集された狭範囲な画像データを通常の表示サイズで拡大表示する場合には、検査対象領域の移動に起因した位置ズレの影響はむしろ増大する、
一方、上述の位置ズレを低減する方法として、１枚の画像データに要するＸ線照射期間を短縮する方法が考えられるが、この方法によれば、一定のＸ線信号を得る為には、単位時間当たりのＸ線照射量を増やす必要があり、大容量のＸ線管が必要になる等の問題点を有していた。また高精細な画像を得るために画素毎のピッチを狭くすると、各画素に蓄えることが出来る電荷量が本質的に下がるため、画像のＳ／Ｎが劣化してしまう。これを補うためにはＸ線検出部の場合より更に大容量のＸ線管を用意する必要がでてしまう。
【００１０】
本開示は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、複数個の微細な検出素子を有するＸ線検出部を用いて高精細画像データを生成する際、前記Ｘ線検出部に蓄積された信号電荷の読み出し速度を高速化することにより所定の撮影期間にて複数のサブ画像データを収集し、これらのサブ画像データに対し位置ズレ補正と加算合成を行なうことにより良好な感度と空間分解能を有した高精細画像データを収集することが可能なＸ線診断装置及び制御プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本開示のＸ線診断装置は、被検体に対する高精細撮影モードのＸ線撮影を所定の撮影期間において行ない高精細投影データを生成するＸ線撮影手段と、前記高精細投影データに基づいて複数のサブ画像データを生成するサブ画像データ生成手段と、前記複数のサブ画像データの相対的な位置ズレを検出し、これらの検出結果に基づいて前記位置ズレを補正する位置ズレ補正手段と、位置ズレ補正された前記複数のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成する合成処理手段と、前記高精細画像データを表示する表示手段とを備えたことを特徴としている。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態におけるＸ線診断装置の全体構成を示すブロック図。
【図２】本実施形態のＸ線診断装置が備えるＸ線撮影部の具体的な構成を示すブロック図。
【図３】本実施形態における高精細撮影モードのＸ線撮影によって収集される複数のサブ画像データに基づいた高精細画像データの生成方法を説明するためのタイムチャート。
【図４】本実施形態における高精細画像データの収集手順を示すフローチャート。
【図５】本実施形態の変形例における高精細画像データの生成方法を説明するためのタイムチャート。
【図６】本実施形態の変形例における高精細画像データ生成部の具体的な構成を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して本開示の実施形態を説明する。
【００１４】
（実施形態）
本実施形態における高精細撮影モードのＸ線撮影では、先ず、素子間隔が狭く高速の電荷読み出しが可能なＣＭＯＳイメージセンサ等を有した高精細Ｘ線検出部を用い複数回のＸ線照射、電荷蓄積及び電荷読み出しを所定の撮影期間において行ない複数のサブ画像データを収集する。次いで、サブ画像データ間の相対的な位置ズレを検出し、この検出結果に基づいて位置ズレ補正した上記複数のサブ画像データを加算合成することによって高精細画像データを生成する。
【００１５】
尚、以下では、循環器領域の検査に適用されるＸ線診断装置について述べるが、腹部等の他の領域の検査を目的としたＸ線診断装置であっても構わない。
【００１６】
（装置の構成及び機能）
本実施形態におけるＸ線診断装置の構成と機能につき図１乃至図３を用いて説明する。尚、図１は、本実施形態におけるＸ線診断装置の全体構成を示すブロック図であり、図２は、このＸ線診断装置が備えるＸ線撮影部の具体的な構成を示すブロック図である。
【００１７】
図１に示すＸ線診断装置１００は、被検体３００の検査対象領域に対し標準的なＸ線検出部３ａを用いた撮影モード（以下、標準撮影モードと呼ぶ。）及び高精細Ｘ線検出部３ｂを用いた撮影モード（以下、高精細撮影モードと呼ぶ。）のＸ線を照射し、前記検査対象領域を透過したＸ線を検出して投影データを生成するＸ線撮影部１と、上述のＸ線照射を行なうＸ線発生部２とＸ線検出を行なうＸ線検出部３ａ及び高精細Ｘ線検出部３ｂを有した撮像系を保持するＣアーム等の保持部６と、被検体３００を載置する天板７と、上述の撮像系が取り付けられた保持部６や被検体３００を載置した天板７、更には、前記撮像系の高精細Ｘ線検出部３ｂを所望の位置へ移動させる移動機構部８と、Ｘ線撮影部１から出力された標準撮影モードの投影データ（標準投影データ）を用いて標準画像データを生成する標準画像データ生成部９ａと、Ｘ線撮影部１から出力された高精細撮影モードの投影データ（高精細投影データ）を処理して高精細画像データを生成する高精細画像データ生成部９ｂと、得られた標準画像データ及び高精細画像データを表示する表示部１０を備え、更に、被検体情報の入力、撮影モードの選択、Ｘ線照射条件の設定、画像データ生成条件の設定、各種指示信号の入力等を行なう入力部１１と、上述の各ユニットを統括的に制御するシステム制御部１２を備えている。
【００１８】
Ｘ線撮影部１は、図１に示すように被検体３００に対してＸ線を照射するＸ線発生部２と、被検体３００を透過したＸ線を検出するＸ線検出部３ａ及び高精細Ｘ線検出部３ｂと、Ｘ線検出部３ａによって検出された透過Ｘ線情報に基づいて標準投影データを生成する標準投影データ生成部４ａと、高精細Ｘ線検出部３ｂによって検出された透過Ｘ線情報に基づいて高精細投影データを生成する高精細投影データ生成部４ｂと、Ｘ線発生部２に対して高電圧を供給する高電圧発生部５を備え、被検体３００の検査対象領域に対して標準撮影モードのＸ線撮影と高精細撮影モードのＸ線撮影を行なう機能を有している。この場合、Ｘ線発生部２とＸ線検出部３ａを組み合わせることにより標準撮影モードの撮像系（第１の撮像系）が形成され、Ｘ線発生部２と高精細Ｘ線検出部３ｂを組み合わせることにより高精細撮影モードの撮像系（第２の撮像系）が形成される。
【００１９】
図２は、Ｘ線撮影部１に設けられた上述の各ユニットの具体的な構成を示すブロック図であり、Ｘ線発生部２は、被検体３００の検査対象領域に対してＸ線を照射するＸ線管２１と、Ｘ線管２１から放射されたＸ線に対して所定範囲のＸ線錘（コーンビーム）を形成する可動絞り器２２を備えている。Ｘ線管２１は、Ｘ線を発生する真空管であり、加熱された陰極（フィラメント）から生ずる熱電子を高電圧発生部５から供給される高電圧によって加速させタングステン陽極に衝突させてＸ線を発生させる。
【００２０】
一方、可動絞り器２２は、被検体３００に対する被曝線量の低減と画像データの画質向上を目的として用いられ、Ｘ線管２１から放射されたＸ線を所定の照射範囲に絞りこむ上羽根と、この上羽根に連動して移動することにより散乱線や漏れ線量を低減する下羽根と、吸収量が少ない媒質を透過したＸ線を選択的に低減させることによりハレーションを防止する補償フィルタ（何れも図示せず）を有している。
【００２１】
特に、本実施形態における高精細撮影モードのＸ線照射範囲は、移動機構部８４が備える後述の検出部移動機構８１によって移動する高精細Ｘ線検出部３ｂの領域情報に基づいてその位置が制御された可動絞り器２２の絞り羽根によって決定され、高精細Ｘ線検出部３ｂの比較的狭範囲な領域にＸ線照射範囲を限定することにより被検体３００に対する被曝線量を低減することが可能となる。
【００２２】
次に、標準撮影モードに用いられる本実施形態のＸ線検出部３ａは、図２に示すように被検体３００を透過したＸ線を検出する標準Ｘ線検出器３１と、検出されたＸ線を信号電荷として読み出すための駆動信号を標準Ｘ線検出器３１へ供給するゲートドライバ３２を有している。
【００２３】
標準Ｘ線検出器３１は、入射したＸ線を可視光線に変換するシンチレータを有し、その背後にＴＦＴ（薄膜トランジスタ）が配置された構造となっている。ＴＦＴは２次元配列された画素を備えており、その各々にフォトダイオード等の光電変換部と、光電変換部によって生成された信号電荷を蓄積する電荷蓄積コンデンサと、電荷蓄積コンデンサに蓄積された信号電荷を所定のタイミングで読み出すＴＦＴ（薄膜トランジスタ）（何れも図示せず）を備えている。
【００２４】
尚、以下では、上述の様に入射したＸ線を一旦可視光線に変換するシンチレータをもつ、間接変換型の標準Ｘ線検出器３１について述べるが、フォトコンダクタを備え、Ｘ線を直接電荷信号に変換する直接変換型の標準Ｘ線検出器３１であっても構わない。
【００２５】
標準投影データ生成部４ａは、上述の標準Ｘ線検出器３１から、例えば、ライン方向単位でパラレルに読み出された信号電荷を電圧に変換する電荷・電圧変換器４１と、電荷・電圧変換器４１の出力をデジタル信号に変換することによって投影データのデータ要素を生成するＡ／Ｄ変換器４２と、得られた投影データのデータ要素を時系列的なデータ要素に変換するパラレル・シリアル変換器４３を備えている。そして、パラレル・シリアル変換器４３から時系列的に出力された投影データのデータ要素は、図１の標準画像データ生成部９ａへ供給される。
【００２６】
一方、高精細撮影モードに用いられる本実施形態の高精細Ｘ線検出部３ｂ及び高精細投影データ生成部４ｂは、Ｘ線検出部３ａ及び標準投影データ生成部４ａと略同様の構成を有しているが、Ｘ線検出部３ａの標準Ｘ線検出器３１が備えるＴＦＴの替わりに、例えば、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）トランジスタを用いた２次元のイメージセンサ（以下、ＣＭＯＳイメージセンサと呼ぶ。）を備えている。
【００２７】
ＣＭＯＳイメージセンサを用いることにより各々の検出素子に対応した増幅器や並列出力するための処理回路等との一体化が容易なため、読み出し速度を大幅に向上させることができる。そして、高精細投影データ生成部４ｂから時系列的に出力された高精細投影データのデータ要素は、図１の高精細画像データ生成部９ｂへ供給される。
【００２８】
図１へ戻って、高電圧発生部５は、Ｘ線管２１の陰極から発生する熱電子を加速するために、陽極と陰極の間に印加する高電圧を発生する高電圧発生器５２と、システム制御部１２から供給される標準撮影モード及び高精細撮影モードのＸ線照射条件と撮影タイミング信号に基づいて高電圧発生器５２における管電流、管電圧、Ｘ線照射時間、Ｘ線照射周期、Ｘ線照射タイミング等を制御する高電圧制御部５１を備えている。
【００２９】
次に、移動機構部８は、高精細Ｘ線検出部３ｂを所望の領域（即ち、Ｘ線検出部３ａを用いた標準撮影モードのＸ線撮影によって観察される上述の検査対象領域の中で特に精密な検査を必要とする領域（精密検査領域））へ移動させる検出部移動機構８１と、Ｘ線発生部２、Ｘ線検出部３ａ及び高精細Ｘ線検出部３ｂ（第１の撮像系及び第２の撮像系）が取り付けられた保持部６を被検体３００の周囲で回動あるいは移動させる保持部移動機構８２と、天板７を被検体３００の体軸方向（図１のｚ方向）及び体軸と直交する方向（図１のｘ方向及びｙ方向）へ移動させる天板移動機構８３と、Ｘ線発生部２に設けられた可動絞り器２２の絞り羽根を所定の位置へ移動させる図示しない絞り移動機構と、上述の検出部移動機構８１、保持部移動機構８２、天板移動機構８３及び絞り移動機構を制御する移動機構制御部８４を備えている。
【００３０】
そして、移動機構制御部８４は、例えば、標準画像データの観察下で入力部１１からシステム制御部１２を介して供給される検出部移動指示信号に基づいて生成した移動制御信号を検出部移動機構８１へ供給することにより高精細Ｘ線検出部３ｂを精密検査領域へ移動させ、又、入力部１１から供給される撮像系移動指示信号に基づいて生成した移動制御信号を保持部移動機構８２へ供給して撮像系が取り付けられた保持部６を被検体３００の周囲で回動あるいは移動させることにより当該Ｘ線撮影に好適な撮影位置及び撮影方向を設定する。
【００３１】
同様にして、移動機構制御部８４は、入力部１１から供給される天板移動指示信号に基づいて生成した移動制御信号を天板移動機構８３へ供給して天板６を被検体３００の体軸方向あるいは体軸と直交する方向へ平行移動させることにより検査対象領域の中心を設定し、更に、上述の検出部移動指示信号に基づいて生成した移動制御信号を図示しない絞り移動機構へ供給することによりＸ線発生部２の可動絞り器２２に設けられた複数の絞り羽根を高精細Ｘ線検出部３ｂに対応した領域へ移動させる。
【００３２】
尚、精密検査領域に対する高精細Ｘ線検出部３ｂの具体的な配置方法については、上述の特許文献１等に記載されているため詳細な説明は省略する。
【００３３】
次に、標準画像データ生成部９ａは、例えば、図示しない投影データ記憶部と画像データ処理部を備え、標準撮影モードのＸ線撮影においてＸ線撮影部１の標準投影データ生成部４ａから時系列的に出力された標準投影データのデータ要素は、検出素子のライン方向及び列方向に対応させて投影データ記憶部に順次保存され標準画像データが生成される。そして、画像データ処理部は、上述の投影データ記憶部から読み出した標準画像データに対してフィルタリング処理等の画像処理を必要に応じて行ない、処理後の標準画像データを表示部１０へ供給する。
【００３４】
一方、高精細画像データ生成部９ｂは、高速読み出しが可能な高精細Ｘ線検出部３ｂを用いた高精細撮影モードのＸ線撮影によって複数からなる合成処理前の画像データ（以下では、サブ画像データと呼ぶ。）を所定の撮影期間（即ち、１つの標準画像データや高精細画像データが収集される期間）において収集し、これらのサブ画像データに対して位置ズレ補正と加算合成を行なうことにより空間分解能と感度に優れた高精細画像データを生成する機能を有している。
【００３５】
即ち、高精細画像データ生成部９ｂは、図１に示すようにサブ画像データ生成部９１、画像データ合成部９２及び画像データ処理部９３を備え、高精細撮影モードのＸ線撮影においてＸ線撮影部１の高精細投影データ生成部４ｂから時系列的に出力された高精細投影データのデータ要素は、サブ画像データ生成部９１の図示しない投影データ記憶部に順次保存され上述のサブ画像データが生成される。
【００３６】
画像データ合成部９２は、位置ズレ補正部９２１と合成処理部９２２を備えている。位置ズレ補正部９２１は、先ず、上述の撮影期間において収集されサブ画像データ生成部９１の投影データ記憶部に保存された複数のサブ画像データを読み出し、これらのサブ画像データに対し、例えば、パターンマッチング等の相互相関処理を行なうことによりサブ画像データ間の相対的な位置ズレを検出する。次いで、複数のサブ画像データの中から選択した基準サブ画像データに対する残りのサブ画像データの位置ズレを位置ズレ検出結果に基づいて補正する。一方、合成処理部９２２は、位置ズレ補正された複数のサブ画像データを加算合成することによって高精細画像データを生成する。
【００３７】
次に、画像データ処理部９３は、画像データ合成部９２から供給された高精細画像データに対してフィルタリング処理等の画像処理を必要に応じて行ない、処理後の高精細画像データを表示部１０へ供給する。
【００３８】
次に、高精細撮影モードのＸ線撮影とこのＸ線撮影によって収集されたサブ画像データに基づく高精細画像データの生成につき図３のタイムチャートを用いて説明する。
【００３９】
図３は、標準撮影モードのＸ線撮影と高精細撮影モードのＸ線撮影を比較したものであり、図３（ａ）乃至図３（ｃ）は、標準撮影モードのＸ線照射期間、電荷蓄積／読み出し期間及び標準画像データ生成期間を、又、図３（ｄ）乃至図３（ｇ）は、図３（ａ）乃至図３（ｃ）の各期間に対応する高精細撮影モードのＸ線照射期間、電荷蓄積／読み出し期間、サブ画像データ生成期間及び高精細画像データ生成期間を夫々示している。
【００４０】
但し、図３では、高精細撮影モードのＸ線撮影における電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間の各々が、標準撮影モードのＸ線撮影における電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間に対して略１／２に短縮されている場合について示しているが、高精細撮影モードにおける電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間の短縮率は１／２に限定されるものではなく、又、電荷蓄積期間の短縮率と電荷読み出し期間の短縮率は異なっていても構わない。そして、このような電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間の短縮は、既に述べたようにＣＭＯＳイメージセンサを有する高精細Ｘ線検出部３ｂを用いることにより容易に実現することが可能である。
【００４１】
即ち、標準撮影モードのＸ線撮影では、予め設定されたＸ線照射条件に基づいて図３（ａ）に示すような時刻ｔ１０、ｔ２０、ｔ３０、・・・を基準とする照射期間αｘ及び照射周期（撮影期間）ＴｘのＸ線照射が高電圧発生部５及びＸ線発生部２によって繰り返し行なわれ、このＸ線照射に対応した図３（ｂ）の期間［ｔ１０〜ｔ１１］、［ｔ２０〜ｔ２１］、・・・における信号電荷の蓄積と期間［ｔ１１〜ｔ２０］、［ｔ２１〜ｔ３０］、・・・における信号電荷の読み出しがＸ線検出部３ａによって行なわれる。そして、標準投影データ生成部４ａ及び標準画像データ生成部９ａによる上述の信号電荷に基づいた標準投影データ及び標準画像データの生成が、図３（ｃ）の時刻ｔ２０、ｔ３０、・・・を基準とする期間βｘにおいて行なわれる。
【００４２】
一方、高精細撮影モードのＸ線撮影では、予め設定されたＸ線照射条件に基づいて図３（ｄ）に示すような時刻ｔ１０、ｔａ１ｂ、ｔ２０、ｔａ２ｂ、・・・を基準とする照射期間αａ及び照射周期（撮影期間）ＴａのＸ線照射が高電圧発生部５及びＸ線発生部２によって繰り替えされ、このＸ線照射に対応した図３（ｅ）の期間［ｔ１０〜ｔａ１１］、［ｔａ１２〜ｔａ１３］、［ｔ２０〜ｔａ２１］、［ｔａ２２〜ｔａ２３］、・・・における信号電荷の蓄積と期間［ｔａ１１〜ｔａ１２］、［ｔａ１３〜ｔ２０］、［ｔａ２１〜ｔａ２２］、［ｔａ２３〜ｔ３０］、・・・における信号電荷の読み出しが高精細Ｘ線検出部３ｂにおいて行なわれる。
【００４３】
そして、高精細投影データ生成部４ｂ及び高精細画像データ生成部９ｂのサブ画像データ生成部９１による上述の読み出し電荷に基づいた高精細投影データ及びサブ画像データの生成が、図３（ｆ）の時刻ｔａ１２、ｔ２０、ｔａ２２、ｔ３０、・・・を基準とする期間γａにおいて行なわれ、図３（ｇ）の時刻ｔ２０においてｔａ１２のサブ画像データとｔ２０のそれが、画像データ合成部９２によって合成される。同様にｔ３０において、ｔａ２２のサブ画像データとｔ３０のそれが合成される。この場合、時刻ｔ２０、ｔ３０、・・・を基準とする期間βａでは、各サブ画像データの比較評価による位置ズレ検出とこの検出結果に基づく位置ズレ補正が画像データ合成部９２の位置ズレ補正部９２１によって行なわれ、補正されたサブ画像データの合成が合成処理部９２２によって行なわれる。
【００４４】
再び図１へ戻って、表示部１０は、図示しない表示データ生成部、データ変換部及びモニタを備え、表示データ生成部は、標準画像データ生成部９ａにおいて生成された標準画像データ及び高精細画像データ生成部９ｂにおいて生成された高精細画像データを所定の表示フォーマットに変換した後、被検体情報や各種の検査情報等を付加して表示データを生成し、データ変換部は、前記表示データに対してＤ／Ａ変換やテレビフォーマット変換等の変換処理を行なってモニタに表示する。
【００４５】
尚、上述の表示データ生成部は、標準画像データと高精細画像データを重畳あるいは並列配置して表示データを生成してもよく、又、これら画像データの各々に対して表示データを生成してもよい。この場合、高精細画像データの拡大率を標準画像データの拡大率より大きく設定することが望ましいが、特に限定されない。
【００４６】
入力部１１は、表示パネルやキーボード、トラックボール、ジョイスティック、マウスなどの入力デバイスを備えたインタラクティブなインターフェースであり、被検体情報の入力、標準撮影モード及び高精細撮影モードの選択、各々の撮影モードにおけるＸ線照射条件（管電流、管電圧、Ｘ線照射時間、Ｘ線照射周期、Ｘ線照射タイミング等）やＸ線撮影条件の設定、画像データ生成条件及び画像データ表示条件の設定、精密検査領域の設定、検出部移動指示信号、撮像系移動指示信号、天板移動指示信号をはじめとする各種指示信号の入力等を行なう。
【００４７】
システム制御部１２は、図示しないＣＰＵと入力情報記憶部を備え、入力部１１において入力／設定／選択された各種情報は、上述の入力情報記憶部に保存される。そして、ＣＰＵは、これらの情報に基づいてＸ線診断装置１００が有する上述の各ユニットを統括的に制御し、標準撮影モードのＸ線撮影による標準画像データの生成／表示及び高精細撮影モードのＸ線撮影による高精細画像データの生成／表示を実行させる。特に、高精細撮影モードでは、信号電荷の読み出し速度が速く検出素子の配列間隔が狭い高精細Ｘ線検出部３ｂを用いて収集した複数のサブ画像データに対して位置ズレ補正と合成処理を実行させることにより空間分解能と感度に優れた高精細画像データの生成を実現する。
【００４８】
（高精細画像データの収集手順）
次に、信号電荷の高速読み出しが可能な高精細Ｘ線検出部３ｂを用いた高精細画像データの収集手順につき図４のフローチャートを用いて説明する。
【００４９】
高精細画像データの収集に先立ち、Ｘ線診断装置１００を操作する医師や検査師等の医療従事者（以下では、これらを纏めて操作者と呼ぶ。）は、入力部１１において被検体情報を入力した後、標準撮影モード及び高精細撮影モードにおけるＸ線照射条件、Ｘ線撮影条件、画像データ生成条件及び画像データ表示条件の設定を行ない、これらの入力情報や設定情報をシステム制御部１２の入力情報記憶部に保存する（図４のステップＳ１）。
【００５０】
上述の初期設定が終了したならば、操作者は、被検体３００が載置された天板７と、被検体３００の周囲に設けられた第１の撮像系（Ｘ線発生部２及びＸ線検出部３ａ）を保持する保持部６を所定の方向へ移動／回動させることにより被検体３００に対する標準撮影モードの撮影位置や撮影方向を設定する（図４のステップＳ２）。
【００５１】
次いで、操作者は、入力部１１において標準撮影モードの選択と撮影開始指示信号の入力を行ない、この指示信号がシステム制御部１２へ供給されることにより、第１の撮像系を用いた標準撮影モードのＸ線撮影が開始される（図４のステップＳ３）。
【００５２】
即ち、システム制御部１２は、自己の入力情報記憶部から読み出した標準撮影モードのＸ線照射条件とＸ線を発生するための指示信号を高電圧発生部５の高電圧制御部５１へ供給し、この指示信号を受信した高電圧制御部５１は、前記Ｘ線照射条件に基づいて高電圧発生器５２を制御しＸ線発生部２のＸ線管２１に高電圧を印加する。そして、高電圧が印加されたＸ線管２１は、Ｘ線絞り器２２を介して被検体３００に対し標準撮影モードのＸ線を所定期間照射し、被検体３００を透過したＸ線は、その後方に設けられたＸ線検出部３ａの標準Ｘ線検出器３１によって検出される。
【００５３】
このとき、標準Ｘ線検出器３１において２次元配列された検出素子の光電膜は、被検体３００を透過したＸ線を受信し、そのＸ線透過量に比例した信号電荷を電荷蓄積コンデンサに蓄積する。そして、Ｘ線照射が終了したならばゲートドライバ３２は、標準Ｘ線検出器３１のＴＦＴに対し駆動パルスを供給することによって電荷蓄積コンデンサに蓄積された信号電荷を順次読み出す。
【００５４】
読み出された信号電荷は、標準投影データ生成部４ａの電荷・電圧変換器４１において電圧変換され、Ａ／Ｄ変換器４２においてデジタル信号に変換された後パラレル・シリアル変換器４３のバッファメモリに１ライン分の投影データとして一旦保存される。次いで、パラレル・シリアル変換器４３は、自己のバッファメモリに保存された投影データのデータ要素をライン単位でシリアルに読み出し、標準画像データ生成部９ａの投影データ記憶部に順次保存することにより、投影データ記憶部には２次元の標準画像データが生成される。そして、標準画像データ生成部９ａの画像データ処理部は、投影データ記憶部から読み出した標準画像データに対してフィルタリング処理等の画像処理を必要に応じて行ない、処理後の標準画像データを表示部１０のモニタに表示する（図４のステップＳ４）。
【００５５】
一方、表示部１０に表示された標準画像データを観察した操作者は、この標準画像データに示された検査対象領域の中で特に精密な検査を必要とする精密検査領域を入力部１１の入力デバイスを用いて設定し、更に、高精細Ｘ線検出部３ｂを精密検査領域へ移動するための検出部移動指示信号を入力する。
【００５６】
そして、システム制御部１２を介して上述の設定情報と指示信号を受信した移動機構部８の移動機構制御部８４は、これらの情報に基づいて生成した移動制御信号を検出部移動機構８１へ供給し、検出部移動機構８１は、この移動制御信号に基づいて高精細Ｘ線検出部３ｂを精密検査領域に設定する（図４のステップＳ５）。
【００５７】
精密検査領域に対する高精細Ｘ線検出部３ｂの設定が終了したならば、操作者は、入力部１１において高精細撮影モードの選択と撮影開始指示信号の入力を行ない、この指示信号がシステム制御部１２へ供給されることにより、第２の撮像系（Ｘ線発生部２及び高精細Ｘ線検出部３ｂ）を用いた高精細撮影モードのＸ線撮影が開始される（図４のステップＳ６）。
【００５８】
即ち、上述のステップＳ４と同様の手順により、システム制御部１２は、自己の入力情報記憶部から読み出した高精細撮影モードのＸ線照射条件とＸ線を発生するための指示信号を高電圧発生部５の高電圧制御部５１へ供給し、この指示信号を受信した高電圧制御部５１は、上述のＸ線照射条件に基づいて高電圧発生器５２を制御しＸ線発生部２のＸ線管２１に高電圧を印加する。このとき、高電圧が印加されたＸ線管２１は、被検体３００に対し高精細撮影モードのＸ線照射を所定の時間間隔で複数回行ない、各々のＸ線照射において被検体３００を透過したＸ線は、その後方に設けられた高精細Ｘ線検出部３ｂによって検出される。
【００５９】
一方、高精細投影データ生成部４ｂは、高精細Ｘ線検出部３ｂによって検出された透過Ｘ線量に対応する信号電荷に基づいて高精細投影データを生成し、高精細画像データ生成部９ｂは、高精細投影データ生成部４ｂからＸ線照射単位で時系列的に供給される高精細投影データを自己のサブ画像データ生成部９１が備える投影データ記憶部に保存することによりサブ画像データを生成する（図４のステップＳ７）。
【００６０】
例えば、図３に示すように、撮影期間Ｔｘにおいて高精細撮影モードのＸ線照射を２回行なう場合、高電圧発生部５によって高電圧が印加されたＸ線管２１は、Ｘ線照射期間αａを有した第１のＸ線照射を期間［ｔ１０〜ｔａ１ａ］において行ない、高精細画像データ生成部９ｂのサブ画像データ生成部９１は、この第１のＸ線照射に伴って高精細投影データ生成部４ｂから供給される高精細投影データを自己の投影データ記憶部に保存することにより第１のサブ画像データを生成する。
【００６１】
次いで、Ｘ線管２１は、Ｘ線照射期間αａを有した第２のＸ線照射を第１のＸ線照射からＴａ後の期間［ｔａ１ｂ〜ｔａ１ｃ］において行ない、高精細画像データ生成部９ｂのサブ画像データ生成部９１は、この第２のＸ線照射に伴って高精細投影データ生成部４ｂから供給される高精細投影データを前記投影データ記憶部に保存することにより第２のサブ画像データを生成する。
【００６２】
このような手順によって１つの撮影期間において行なわれた複数回のＸ線照射に対応する複数のサブ画像データの生成と保存が終了したならば、画像データ合成部９２の位置ズレ補正部９２１は、上述の撮影期間において生成されサブ画像データ生成部９１の投影データ記憶部に保存された複数のサブ画像データを読み出し、これらのサブ画像データに対しパターンマッチング等の相互相関処理を行なうことによってサブ画像データ間の位置ズレを検出する（図４のステップＳ８）。そして、得られた位置ズレの検出結果に基づいてサブ画像データの位置ズレを補正する（図４のステップＳ９）。
【００６３】
例えば、位置ズレ補正部９２１は、投影データ記憶部から読み出した複数のサブ画像データの中から基準サブ画像データを抽出し、この基準サブ画像データに対する他のサブ画像データの位置ズレを検出する。そして、得られた位置ズレ検出結果に基づいて他のサブ画像データの位置ズレを補正する。
【００６４】
次いで、画像データ合成部９２の合成処理部９２２は、位置ズレ補正された複数のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成し、画像データ処理部９３は、画像データ合成部９２から供給された高精細画像データに対してフィルタリング処理等の画像処理を必要に応じて行ない表示部１０のモニタに表示する（図４のステップＳ１０）。
【００６５】
（変形例）
次に、本実施形態の変形例について説明する。
【００６６】
上述の実施例では、高精細Ｘ線検出部による高速の駆動に応じて短い幅のＸ線パルスを照射する場合について述べたが、本変形例では、高速のパルス間隔または短時間のパルスを照射することができない高電圧発生装置及びＸ線管を用いた場合に、標準Ｘ線検出器を用いる時と同じパルスの照射間隔ながら、標準Ｘ線検出器を用いる時と同等以上のＸ線パルス幅を照射しつつ、そのパルス幅内にて、収集された非破壊読み出し画像を使用して位置ズレ補正を行いながら合成する方法について説明する。
【００６７】
即ち、本変形例では、高精細撮影モードのＸ線撮影において検出素子の各々に蓄積された信号電荷を読み出してサブ画像データ及び高精細画像データを生成する際、非破壊読み出しが可能なＣＭＯＳイメージセンサ等を有する高精細Ｘ線検出部３ｂを用いた場合のサブ画像データの生成とこのサブ画像データに基づいた高精細画像データの生成につき図５及び図６を用いて説明する。
【００６８】
図５は、標準撮影モードのＸ線撮影と本変形例における高精細撮影モードのＸ線撮影をタイムチャートによって比較したものであり、標準撮影モードのＸ線照射期間、電荷蓄積／読み出し期間及び標準画像データ生成期間を示した図５（ａ）乃至図５（ｃ）は、既に示した図３（ａ）乃至図３（ｃ）と同様であるため説明は省略する。
【００６９】
一方、図５（ｄ）乃至図５（ｇ）は、図５（ａ）乃至図５（ｃ）の各期間に対応した本変形例の高精細撮影モードにおけるＸ線照射期間、電荷蓄積／読み出し期間、高精細投影データ生成期間及び高精細画像データ生成期間を夫々示している。但し、図５は、高精細撮影モードの電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間の各々が標準撮影モードの電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間に対して略１／３に短縮された場合を示しており、各々の撮影期間Ｔｘにおいて３回の電荷蓄積及び電荷読み出しと１回の電荷リセットが行なわれる。一方、撮影期間ＴｘにおけるＸ線照射は、最初の電荷蓄積が開始される時刻ｔ１０から３回目の電荷蓄積が略終了する時刻ｔｂ１までの期間αｂにおいて継続して行なわれる。
【００７０】
即ち、本変形例の高精細撮影モードにおけるＸ線撮影では、予め設定されたＸ線照射条件に基づき、図５（ｄ）に示すような時刻ｔ１０、ｔ２０、ｔ３０、・・・を基準とする照射期間αｂ及び照射周期Ｔｂ（Ｔｂ＝Ｔｘ）のＸ線照射が高電圧発生部５及びＸ線発生部２によって繰り返し行なわれる。このとき、例えば、最初の撮影期間Ｔｘでは、図５（ｅ）の期間［ｔ１０〜ｔｂ１１］、［ｔｂ１２〜ｔｂ１３］及び［ｔｂ１４〜ｔｂ１５］における信号電荷の蓄積と、期間［ｔｂ１１〜ｔｂ１２］、［ｔｂ１３〜ｔｂ１４］及び［ｔｂ１５〜ｔｂ１６］における信号電荷の読み出しと、期間［ｔｂ１６〜ｔ２０］における信号電荷のリセット（消去）が高精細Ｘ線検出部３ｂによって行なわれる。
【００７１】
そして、高精細投影データ生成部４ｂによる上述の読み出し電荷に基づいた高精細投影データの生成が図５（ｆ）の時刻ｔｂ１２、ｔｂ１４及びｔｂ１６を基準とする期間γｂにおいて行なわれ、図５（ｇ）の時刻ｔ２０を基準とする期間βｂでは、時刻ｔｂ１２において生成された第１の高精細投影データ、時刻ｔｂ１４において生成された第２の高精細投影データ及び時刻ｔｂ１６において生成された第３の高精細投影データに基づいた高精細画像データの生成が後述の高精細画像データ生成部９ｂｘによって行なわれる。
【００７２】
尚、本変形例の高精細撮影モードにおける電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間の標準撮影モードに対する短縮率は１／３に限定されない。又、電荷蓄積期間の短縮率と電荷読み出し期間の短縮率は異なっていても構わない。
【００７３】
次に、本変形例における高精細画像データ生成部の具体的な構成と機能につき図６のブロック図を用いて説明する。
【００７４】
図６に示す本変形例の高精細画像データ生成部９ｂｘは、図５（ｄ）に示したＸ線照射期間αｂにおいて連続して行なわれるＸ線照射のもとで信号電荷の非破壊読み出しを高速で行なうことが可能なＣＭＯＳイメージセンサ等を高精細Ｘ線検出部３ｂとして用い、標準撮影モードのＸ線撮影より高速な高精細撮影モードのＸ線撮影を撮影期間Ｔｘにおいて複数回行なって得られた複数の高精細投影データに基づいて空間分解能と感度に優れた高精細画像データを生成する機能を有している。
【００７５】
尚、図６において、図１に示した高精細画像データ生成部９ｂの各ユニットと同一の構成及び機能を有する高精細画像データ生成部９ｂｘのユニットは同一の符号を付加し、詳細な説明は省略する。
【００７６】
即ち、本変形例における高精細画像データ生成部９ｂｘは、図６に示すようにサブ画像データ生成部９１ｘ、画像データ合成部９２及び画像データ処理部９３を備え、サブ画像データ生成部９１ｘは、投影データ記憶部９１１、減算処理部９１２及びサブ画像データ記憶部９１３を備えている。
【００７７】
そして、例えば、図５の時刻ｔｂ１２、ｔｂ１４及びｔｂ１６においてＸ線撮影部１の高精細投影データ生成部４ｂから供給された第１の高精細投影データ乃至第３の高精細投影データは、サブ画像データ生成部９１ｘの投影データ記憶部９１１に順次保存される。
【００７８】
次いで、サブ画像データ生成部９１ｘの減算処理部９１２は、第２の高精細投影データと第１の高精細投影データとの減算処理により期間［ｔｂ１２〜ｔｂ１３］をＸ線照射期間とした場合のサブ画像データと等価な第２のサブ画像データを生成し、同様にして、第３の高精細投影データと第２の高精細投影データとの減算処理により期間［ｔｂ１４〜ｔｂ１５］をＸ線照射期間とした場合のサブ画像データと等価な第３のサブ画像データを生成する。そして、上述の減算処理部９１２において生成された第２のサブ画像データ及び第３のサブ画像データと第１の高精細投影データをそのまま用いて生成した第１のサブ画像データは、サブ画像データ生成部９１ｘのサブ画像データ記憶部９１３に一旦保存される。
【００７９】
一方、画像データ合成部９２の位置ズレ補正部９２１は、サブ画像データ記憶部９１３から読み出した第１のサブ画像データ乃至第３のサブ画像データの位置ズレを検出し、得られた位置ズレ検出結果に基づいて各々のサブ画像データの位置ズレを補正する。そして、画像データ合成部９２の合成処理部９２２は、位置ズレ補正された第１のサブ画像データ乃至第３のサブ画像データを加算合成することにより高精細画像データを生成する。
【００８０】
次いで、画像データ処理部９３は、画像データ合成部９２から供給された高精細画像データに対してフィルタリング処理等の画像処理を必要に応じて行ない、処理後の高精細画像データを表示部１０へ供給する。
【００８１】
以上述べた本開示の実施形態及びその変形例によれば、ピクセルピッチの細かな高精細Ｘ線検出部を用いて高精細画像データを生成する際、高精細Ｘ線検出部に蓄積された信号電荷の読み出し速度を高速化することにより所定の撮影期間にて複数のサブ画像データを収集し、これらのサブ画像データに対し位置ズレ補正と加算合成を行なうことにより良好な感度と空間分解能を有した高精細画像データを収集することができる。
【００８２】
特に、一回あたりのＸ線照射期間が短くなるため照射期間に起因した動態ボケが少なくなる。又、このような短い照射期間のＸ線を用いて収集したサブ画像データを合成することにより、標準Ｘ線検出器を用いた場合と略同等のＸ線量を用いて高精細画像データを収集することが可能となり、画像データのＳ／Ｎ劣化を防ぐことができる。
【００８３】
又、時間辺りの管電流を増大させないため、Ｘ線管球において大きな焦点サイズを選択する必要性が無く空間分解能の劣化を防ぐことができる。
【００８４】
一方、上述の変形例によれば、高精細Ｘ線検出部が備える非破壊読み出し機能を用いることにより、高速なパルスレートを行なわなくとも感度と空間分解能に優れた上述の高精細画像データを収集することが可能となる。
【００８５】
以上、本開示の実施形態とその変形例について述べてきたが、本開示は、上述の実施形態及びその変形例に限定されるものではなく、更に変形して実施することが可能である。例えば、上述の実施形態では、循環器領域の検査に適用されるＸ線診断装置について述べたが、腹部等の他の領域の検査を目的としたＸ線診断装置であっても構わない。
【００８６】
又、上述の実施形態では、標準撮影モードのＸ線撮影に対して電荷蓄積期間及び電荷読み出し期間が１／２に短縮された高精細撮影モードのＸ線撮影について述べ、変形例では、１／３に短縮された高精細撮影モードのＸ線撮影について述べたが、短縮率はこれらの値に限定されない。又、電荷蓄積期間の短縮率と電荷読み出し期間の短縮率は異なっていてもよい。
【００８７】
尚、本実施形態のＸ線診断装置１００に含まれる各ユニットは、例えば、ＣＰＵ、ＲＡＭ、磁気記憶装置、入力装置、表示装置等で構成されるコンピュータをハードウェアとして用いることでも実現することができる。例えば、Ｘ線診断装置１００のシステム制御部１２は、上記のコンピュータに搭載されたＣＰＵ等のプロセッサに所定の制御プログラムを実行させることにより各種機能を実現することができる。この場合、上述の制御プログラムをコンピュータに予めインストールしてもよく、又、コンピュータ読み取りが可能な記憶媒体への保存あるいはネットワークを介して配布された制御プログラムのコンピュータへのインストールであっても構わない。
【００８８】
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行なうことができる。これらの実施形態やその変形例は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００８９】
１…Ｘ線撮影部
２…Ｘ線発生部
３ａ…Ｘ線検出部
３ｂ…高精細Ｘ線検出部
４ａ…標準投影データ生成部
４ｂ…高精細投影データ生成部
５…高電圧発生部
６…保持部
７…天板
８…移動機構部
８１…検出部移動機構
８２…保持部移動機構
８３…天板移動機構
８４…移動機構制御部
９ａ…標準画像データ生成部
９ｂ、９ｂｘ…高精細画像データ生成部
９１…サブ画像データ生成部
９１１…投影データ記憶部
９１２…減算処理部
９１３…サブ画像データ記憶部
９２…画像データ合成部
９２１…位置ズレ補正部
９２２…合成処理部
９３…画像データ処理部
１０…表示部
１１…入力部
１２…システム制御部
１００…Ｘ線診断装置
【図１】
2014090960.tif 000003
【図２】
2014090960.tif 000004
【図３】
2014090960.tif 000005
【図４】
2014090960.tif 000006
【図５】
2014090960.tif 000007
【図６】
2014090960.tif 000008