(57)【要約】【課題】位相差検出画素を有する撮像素子によって取得する画像の画質の低下を防ぐことができる撮像装置および撮像方法を提供する。【解決手段】撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子と、位相差検出画素の出力を補正するゲインを得るゲイン取得部と、ゲイン取得部により得られた前記ゲインを用いて位相差検出画素の出力を補正する補正処理部とを備える撮像装置である。【選択図】図１
2014026062.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子と、
前記位相差検出画素の出力を補正するゲインを得るゲイン取得部と、
該ゲイン取得部により得られた前記ゲインを用いて前記位相差検出画素の出力を補正する補正処理部と
を備える撮像装置。
【請求項２】
前記ゲイン取得部は、前記撮影レンズに関する情報と、像高と、前記撮像素子の特性とに基づいて、前記ゲインを得る
請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記ゲイン取得部は、前記複数の位相差検出画素の中の一部の位相差検出画素の特性について前記ゲインを取得し、
前記補正処理部は、前記一部の位相差検出画素の特性について得られた前記ゲインを用いて前記複数の位相差検出画素の出力を補正する
請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記ゲイン取得部は、前記撮影レンズに関連する情報と前記像高に対応する口径食データを予め保持する口径食テーブルを参照することにより、前記口径食データを取得し、該口径食データと前記位相差検出画素の特性とに基づいて前記ゲインを得る
請求項２に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記撮像素子の特性は、前記撮像素子を構成する画素における受光分布である
請求項１に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記位相差検出画素は、前記撮像素子のＧ画素を用いる
請求項１に記載の撮像装置。
【請求項７】
撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子を備える撮像装置において、
前記位相差検出画素の出力を補正するゲインを得て、
前記ゲインを用いて前記位相差検出画素の出力を補正する
撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、撮像装置および撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、撮像装置において、位相差検出用の画素を撮像素子に埋め込むことにより、高速なＡＦ（Auto Focus）を実現する手法が普及してきている。しかし、撮像素子中の位相差検出画素が埋め込まれた箇所は欠損部として扱われることとなり、画質の低下を招くという問題がある。そこで、位相差検出画素の出力をその位相差検出画素の周辺の画素からの情報を用いて算出することにより、画質の低下を防ぐ技術が提案されている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−４４６３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、位相差検出画素の周辺の画素からの情報を使用する場合、高周波被写体においては画質の低下を防ぐことが出来ないという問題がある。
【０００５】
本技術はこのような問題点に鑑みなされたものであり、位相差検出画素を有する撮像素子によって取得する画像の画質の低下を防ぐことができる撮像装置および撮像方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するために、第１の技術は、撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子と、位相差検出画素の出力を補正するゲインを得るゲイン取得部と、ゲイン取得部により得られたゲインを用いて位相差検出画素の出力を補正する補正処理部とを備える撮像装置である。
【０００７】
また、第２の技術は、撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子を備える撮像装置において、位相差検出画素の出力を補正するゲインを得て、ゲインを用いて前記位相差検出画素の出力を補正する撮像方法である。
【発明の効果】
【０００８】
本技術によれば、位相差検出画素を有する撮像素子によって取得する画像の画質の低下を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、本技術に係る撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、撮像素子の構成を示す図である。
【図３】図３Ａは、第１位相差検出画素の構成を示す図であり、図３Ｂは、第２位相差検出画素の構成を示す図である。
【図４】図４Ａは、第１位相差検出画素における受光分布を説明するための図であり、図４Ｂは、第２位相差検出画素における受光分布を説明するための図である。
【図５】図５は、補正処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】図６Ａは、光軸上における口径食について説明するための図であり、図６Ｂは、光軸外における口径食について説明するための図である。
【図７】図７Ａは、第１位相差検出画素における受光分布と口径食について説明するための図であり、図７Ｂは、第２位相差検出画素における受光分布と口径食について説明するための図であり、図７Ｃは、Ｇ画素における受光分布と口径食について説明するための図である。
【図８】図８は、撮像装置の変形例の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本技術の実施の形態について図面を参照しながら説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．実施の形態＞
［１−１．撮像装置の構成］
［１−２．補正処理］
＜２．変形例＞
【００１１】
＜１．実施の形態＞
［１−１．撮像装置の構成］
本実施の形態に係る撮像装置１０の構成について説明する。図１は撮像装置１０の全体構成を示すブロック図である。
【００１２】
撮像装置１０は、光学撮像系１１、撮像素子１２、前処理回路１３、カメラ処理回路１４、画像メモリ１５、制御部１６、グラフィックＩ／Ｆ（Interface）１７、表示部１８、入力部１９、Ｒ／Ｗ（リーダ／ライタ）２１および記憶媒体２１から構成されている。これらのうち、光学撮像系１１、前処理回路１３、カメラ処理回路１４、画像メモリ１５、グラフィックＩ／Ｆ１７、入力部１９およびＲ／Ｗ２０は制御部１６に接続されている。また、制御部１６はゲイン取得部３１、補正処理部３２として機能する。
【００１３】
光学撮像系１１は、被写体からの光を撮像素子１２に集光するための撮影レンズ、撮影レンズを移動させてフォーカス合わせやズーミングを行うための駆動機構、シャッタ機構、アイリス機構などから構成されている。これらは制御部１６からの制御信号に基づいて駆動される。光学撮像系１１を介して得られた被写体の光画像は、撮像デバイスとしての撮像素子１２上に結像される。
【００１４】
撮像素子は、通常の撮像画素であるＲ（Red）画素、Ｇ（Green）画素、Ｂ（Blue）画素と、位相差検出を行う位相差検出画素とを有するものである。撮像素子１２を構成する各画素は被写体からの入射光を光電変換して電荷量に変換して、画素信号を出力する。そして、撮像素子１２は、最終的に画素信号からなる撮像信号を前処理回路１３に出力する。撮像素子１２としては、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）などが用いられる。なお、撮像素子の詳細な構成については後述する。
【００１５】
前処理回路１３は、撮像素子１２から出力された撮像信号に対して、ＣＤＳ（Correlated Double Sampling）処理によりＳ／Ｎ（Signal／Noise）比を良好に保つようにサンプルホールドなどを行う。さらに、ＡＧＣ（Auto Gain Control）処理により利得を制御し、Ａ／Ｄ（Analog/Digital）変換を行ってデジタル画像信号を出力する。
【００１６】
カメラ処理回路１４は、前処理回路１３からの画像信号に対して、ホワイトバランス調整処理や色補正処理、ガンマ補正処理、Ｙ／Ｃ変換処理、ＡＥ（Auto Exposure）処理などの信号処理を施す。
【００１７】
画像メモリ１５は、揮発性メモリ、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）で構成されるバッファメモリであり、前処理回路１３およびカメラ処理回路１４によって所定の処理が施された画像データを一時的に蓄えておくものである。
【００１８】
制御部１６は、例えばＣＰＵ、ＲＡＭおよびＲＯＭなどから構成されている。ＲＯＭには、ＣＰＵにより読み込まれ動作されるプログラムなどが記憶されている。ＲＡＭは、ＣＰＵのワークメモリとして用いられる。ＣＰＵは、ＲＯＭに記憶されたプログラムに従い様々な処理を実行してコマンドの発行を行うことによって撮像装置１０全体の制御を行う。また、制御部１６は所定のプログラムを実行することにより、ゲイン取得部３１３１、補正処理部３２として機能する。
【００１９】
ゲイン取得部３１は、撮像素子を構成する位相差検出画素から出力される画素信号の補正のために、画素信号に乗じるゲインを求めるものである。ゲインを求める方法の詳細については後述する。
【００２０】
補正処理部３２は、ゲイン取得部３１により得られたゲインを、撮像素子を構成する各画素から出力される画素信号に乗じることに各画素の出力である画素信号の補正を行うものである。
【００２１】
ただし、ゲイン取得部３１、補正処理部３２は、プログラムによって実現されるのみでなく、ゲイン取得部３１、補正処理部３２それぞれの機能を有するハードウェアによる専用の装置として実現されてもよい。
【００２２】
グラフィックＩ／Ｆ１７は、制御部１６から供給された画像信号から、表示部１８に表示させるための画像信号を生成して、この信号を表示部１８に供給することにより画像を表示させる。表示部１８は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＰＤＰ(Plasma Display Panel)、有機ＥＬ(Electro Luminescence)パネルなどにより構成された表示手段である。表示部１８には、撮像中のスルー画、記憶媒体２１に記録された画像などが表示される。
【００２３】
入力部１９は、例えば、電源オン／オフ切り替えのための電源ボタン、撮像画像の記録の開始を指示するためのレリーズボタン、ズーム調整用の操作子、表示部１８と一体に構成されたタッチスクリーンなどからなる。入力部１９に対して入力がなされると、その入力に応じた制御信号が生成されて制御部１６に出力される。そして、制御部１６はその制御信号に対応した演算処理や制御を行う。
【００２４】
Ｒ／Ｗ２０には、撮像により生成された画像データなどを記録する記録媒体２２が接続されるインターフェースである。Ｒ／Ｗ２０は、制御部１６から供給されたデータを記憶媒体２１に書き込み、また、記憶媒体２１から読み出したデータを制御部１６に出力する。記憶媒体２１は、例えば、ハードディスク、メモリースティック（ソニー株式会社の登録商標）、ＳＤメモリーカードなどの大容量記憶媒体である。画像は例えばＪＰＥＧなどの規格に基づいて圧縮された状態で保存される。また、保存された画像に関する情報、撮像日時などの付加情報を含むＥＸＩＦ（Exchangeable Image File Format）データもその画像に対応付けられて保存される。
【００２５】
ここで、上述した撮像装置１０における基本的な動作について説明する。画像の撮像前には、撮像素子１２によって受光されて光電変換された信号が、順次前処理回路１３に供給される。前処理回路１３では、入力信号に対してＣＤＳ処理、ＡＧＣ処理などが施され、さらに画像信号に変換される。
【００２６】
カメラ処理回路１４は、前処理回路１３から供給された画像信号を画質補正処理し、カメラスルー画像の信号として、制御部１６を介してグラフィックＩ／Ｆ１７に供給する。これにより、カメラスルー画像が表示部１８に表示される。ユーザは表示部１８に表示されるスルー画を見て画角合わせを行うことができる。
【００２７】
この状態で、入力部１９のレリーズボタンが押下されると、制御部１６は、光学撮像系１１に制御信号を出力して、光学撮像系１１を構成するシャッタを動作させる。これにより撮像素子１１からは、１フレーム分の画像信号が出力される。
【００２８】
カメラ処理回路１４は、撮像素子１１から前処理回路１３を介して供給された１フレーム分の画像信号に画質補正処理を施し、処理後の画像信号を制御部１６に供給する。制御部１６は、入力された画像信号を圧縮符号化し、生成した符号化データを、Ｒ／Ｗ２０に供給する。これにより、撮像された静止画像のデータファイルが記憶媒体２１に記憶される。
【００２９】
一方、記憶媒体２１に記憶された画像ファイルを再生する場合には、制御部１６は、入力部１９からの操作入力に応じて、選択された静止画像ファイルを記憶媒体２１からＲ／Ｗ２０を介して読み込む。読み込まれた画像ファイルは、伸張復号化処理が施される。そして、復号化された画像信号は制御部１６を介してグラフィックＩ／Ｆ１７に供給される。これにより、記憶媒体２１に記憶された静止画像が表示部１８に表示される。
【００３０】
次に、撮像素子１２の構成について説明する。図２は、撮像素子１２における通常画素および位相差検出画素の配列の様子を示す図である。ＲはＲ（Red）画素、ＧはＧ（Green）画素、ＢはＢ（Blue）画素と、それぞれ通常の撮像画素を示すものである。
【００３１】
また、図２において、Ｐ１が第１位相差検出画素を示し、Ｐ２が第２位相差検出画素を示すものである。位相差検出画素は、Ｐ１とＰ２とで一対となる構成となっている。位相差検出画素Ｐ１およびＰ２は通常の撮像画素とは光学特性が異なるものである。なお、図２においては、Ｇ画素を位相差検出画素としている。これは、Ｇ画素がＲ画素およびＢ画素に比べて倍の数存在しているためである。ただし、位相差検出画素はＧ画素に限られるものではない。
【００３２】
撮像素子１２は、通常画素に加え、位相差検出画素を有しており、撮像装置１０は、その位相差検出画素からの出力によりいわゆる像面位相差ＡＦ（Auto Focus）を行うことができるものである。
【００３３】
図３は、位相差検出画素の構成を示す図である。図３Ａは、第１位相差検出画素Ｐ１を示し、図３Ｂは、第２位相差検出画素Ｐ２を示す。
【００３４】
第１位相差検出画素Ｐ１は受光素子１０１を有する。また。光の入射側には、マイクロレンズ１０２が設けられている。さらに、受光素子１０１とマイクロレンズ１０２の間には、瞳分割を行うため、入射する光を遮る遮光層１０３が設けられている。遮光層１０３は、受光素子１０１の中心に対して片側方向に偏心した開口部１０４を有するように構成されている。
【００３５】
第１位相差検出画素Ｐ１はこのように構成されているため、図２Ａに示されるように入射光は一部のみが受光素子１０１に入射することとなる。
【００３６】
第２位相差検出画素は受光素子２０１を有する。また。光の入射側には、マイクロレンズ２０２が設けられている。さらに、受光素子２０１とマイクロレンズ２０２の間には、瞳分割を行うため、入射する光を遮る遮光層２０３が設けられている。遮光層２０３は、受光素子の中心に対して片側方向に偏心した開口部２０４を有するように構成されている。
【００３７】
遮光層２０４は、第１位相差検出画素Ｐ１において遮光層１０３が遮った方向とは逆側を遮るように構成されている。よって、第１位相差検出画素Ｐ１と第２位相差検出画素Ｐ２とは測距方向に対してそれぞれ逆側を遮光する構成となっている。
【００３８】
第２位相差検出画素Ｐ２はこのように構成されているため、図２Ｂに示されるように入射光は一部のみが受光素子２０１に入射することとなる。
【００３９】
図４は、入射光の角度に対する位相差検出画素の受光分布を示す図である。図４Ａは、図３Ａに示された第１位相差検出画素Ｐ１の受光分布を示す図であり、図４Ｂは、図３Ｂに示された第２位相差検出画素Ｐ２の受光分布を示す図である。
【００４０】
第１位相差検出画素Ｐ１と第２位相差検出画素Ｐ２とは、測距方向に対してそれぞれ逆側を遮光する構成となっているため、受光分布が異なっている。図４Ａに示される第１位相差検出画素Ｐ１では遮光されていない方向にのみ受光分布が広がっている。一方、図４Ｂに示される第２位相差検出画素Ｐ２では、第１位相差検出画素Ｐ１とは逆側の遮光されていない方向にのみ受光分布が広がっている。このように、第１位相差検出画素Ｐ１と第２位相差検出画素Ｐ２とでは感度差が生じることとなる。
【００４１】
このように、位相差検出画素においては遮光が行われることにより、遮光が行われない通常の画素に対して出力低下が生じることとなる。よって、何ら処理を施さないままでは撮像画素として用いることは難しい。
【００４２】
そこで、本技術は、その位相差検出画素からの出力にゲインを乗じることにより、位相差検出画素における出力低下を補い、画質の低下を防ぐものである。
【００４３】
［１−２．補正処理］
図５のフローチャートを参照して、本技術に係る補正処理について説明する。この処理は、例えば、ユーザが撮像装置１０のシャッタ入力を行った際に開始される。
【００４４】
まずステップＳ１で、ゲイン取得部３１は、光学撮像系１１からレンズ情報を取得する。このレンズ情報は、ズーム（焦点距離）、フォーカス（撮影距離）、絞り（Ｆ値）である。次にステップＳ２で、ゲイン取得部３１は、レンズ情報と像高とに基づいて口径食を求める。
【００４５】
ここで、口径食について説明する。口径食とは、レンズ周辺部に入射する光線束が有効口径である絞り径の全域を通ることなく、絞りの前後にあるレンズの縁や枠などによって遮断され、光量が低下する現象である。
【００４６】
図６は、横軸をｘ方向、縦軸をｙ方向として、口径食の形状を示した図である。図６Ａに示されるように、光軸上では光は遮られることなく、口径食は理想的な真円に近い形状となる。一方、図６Ｂに示されるように、軸外になるにつれてレンズの縁や枠によって光が遮断されることによりケラレが発生し、真円ではなくなる。
【００４７】
ゲイン取得部３１は、口径食データとレンズ情報と像高とが対応付けられた口径食テーブルを有している。ゲイン取得部３１は、レンズ情報と像高とを取得したら、レンズ情報と像高とに基づいてその口径食テーブルを参照することにより口径食データを取得する。
【００４８】
そして、ゲイン取得部３１は、口径食データと受光分布とに基づいて下記の数式１を用いて第１位相差検出画素Ｐ１の出力Ｐ１outを算出する。数式１におけるＫP1は第１位相差検出画素Ｐ１についての重み係数である。なお、図７Ａに示されるように、受光分布と口径食とが重畳する部分（ハッチング部分）にのみ光が入ることとなる。
【００４９】
【数１】
2014026062.tif 000003
【００５０】
また、口径食データと受光分布とに基づいて下記の数式２を用いて第２位相差検出画素Ｐ２の出力Ｐ２outを算出する。数式２におけるＫP2は第２位相差検出画素Ｐ２についての重み係数である。なお、図７Ｂに示されるように、受光分布と口径食とが重畳する部分（ハッチング部分）にのみ光が入ることとなる。
【００５１】
【数２】
2014026062.tif 000004
【００５２】
さらに、位相差検出画素の隣、または周辺に存在するＧ画素の受光分布の理論値または測定値に基づいて下記の数式３を用いてＧ画素の出力Ｇoutを算出する。数式３におけるＫGはＧ画素についての重み係数である。なお、図７Ｃに示されるように、受光分布と口径食とが重畳する部分（ハッチング部分）にのみ光が入ることとなる。
【００５３】
【数３】
2014026062.tif 000005
【００５４】
そして、次に、ステップＳ３でゲイン取得部はゲインを求める。ゲイン取得部３１は、下記の数式４を用いて、第１位相差検出画素Ｐ１の出力に乗じるゲインＰ１gainをＰ１outとＧoutの比から算出する。
【００５５】
【数４】
2014026062.tif 000006
【００５６】
さらに、ゲイン取得部３１は、下記の数式５を用いて、第２位相差検出画素の出力に乗じるゲインＰ２gainをＰ２outとＧoutの比から算出する。
【００５７】
【数５】
2014026062.tif 000007
【００５８】
このようにして、ゲイン取得部３１はゲインを求める。次にステップＳ４で、制御部１６は、所定の位相差検出画素についてゲインを算出したか否かを確認する。所定の位相差検出画素についてゲインを算出していない場合には処理はステップＳ１に進む（ステップＳ４のＮｏ）。そして、所定の位相差検出画素の全てについてゲインが算出されるまでステップＳ１乃至ステップＳ４を繰り返し行う。
【００５９】
ステップＳ４で、所定の位相差検出画素についてゲインを求めたことを確認した場合、処理はステップＳ５に進む（ステップＳ４のＹｅｓ）。なお、所定の位相差検出画素、すなわちゲインを求める対象となる位相差検出画素は、撮像素子１２が有する全ての位相差検出画素でもよいし、特定の位相差検出画素でもよい。
【００６０】
特定の位相差検出画素に基づいてゲインを求める場合、例えば、所定数のラインを空けて等間隔で存在する位相差検出画素についてゲインを求めてもよい。または、予め定めておいた位相差検出画素についてのみについてゲインを求めるようにしてもよい。そして、線形補間により、ゲインを取得していないライン上の位相差検出画素についてのゲインを補うようにしてもよい。これによりゲインを求める対象となる位相差検出画素の数を減らし、処理を行うゲイン取得部３１における負荷の軽減、処理の高速化などを図ることができる。
【００６１】
次に、ステップＳ５で、補正処理部３２は、ゲイン取得部３１により得られた第１位相差検出画素Ｐ１に対するゲインＰ１gainを第１位相差検出画素Ｐ１の出力に乗じることにより、第１位相差検出画素Ｐ１の出力を調整する。
【００６２】
さらに、補正処理部３２は、ゲイン取得部３１により得られた第２位相差検出画素Ｐ２に対するゲインＰ２gainを第２位相差検出画素Ｐ２の出力に乗じることにより、第２位相差検出画素Ｐ２の出力を調整する。
【００６３】
そして、ステップＳ６で、撮像素子１２を構成する通常画素と位相差検出画素から出力された画素信号からなる撮像信号に上述した、前処理回路１３、カメラ処理回路１４などにおける所定の処理を施すことにより、画像データを取得する。
【００６４】
以上のようにして、本技術に係る補正処理が行われる。本技術によれば、位相差検出画素からの画素信号にゲインを乗じることにより、位相差検出画素における出力低下を防ぐことができる。これにより、従来は欠陥画素として扱われていた位相差検出画素からの画素信号も通常画素からの画素信号と同様に用いることができる。特に、欠陥画素補正で影響が出やすい高周波画質の改善を図ることができる。
【００６５】
＜２．変形例＞
以上、本技術の実施の形態について具体的に説明したが、本技術は上述の実施形態に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
【００６６】
本技術は、カメラ本体とレンズとが一体的に構成された撮像装置だけでなく、カメラ本体とそのカメラ本体に取り付け可能ないわゆる交換レンズなどと称されるレンズとからなる撮像装置にも適用することが可能である。
【００６７】
図８を参照して、カメラ本体１１００と交換レンズとからなる撮像装置１０００について説明する。図８は、撮像装置１０００の概略構成を示す模式図である。図８に示されるように、撮像装置１０００を構成するカメラ本体１１００に対して、交換可能な交換レンズ１２００が取り付けられている。撮影レンズ１２０１等が鏡筒１２０２内に設けられることにより交換レンズが構成されている。
【００６８】
カメラ本体１１００内には撮像素子１１０１が設けられている。撮像素子１１０１は、上述の実施の形態で説明した、通常画素と位相差検出画素とを備えるものである。被写体光が撮影レンズ１２０１を介して撮像素子１１０１に入射することにより、上述したように最終的に画像が取得される。
【００６９】
撮像装置１０００のカメラ本体１１００には、電子式ビューファインダとしての機能を有するディスプレイ１１０２が設けられている。ディスプレイ１１０２は、上述の実施の形態における表示部に相当するものであり、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、有機ＥＬなどのフラットディスプレイなどである。ディスプレイ１１０２には、撮像素子１１０１から取り出された画像信号をカメラ処理部などで処理して得られる画像データが供給され、現在の被写体像（動画）が表示される。図８においては、ディスプレイ１１０２は、筺体の背面側に設けられているが、これに限られず、筺体上面などに設けてもよく、可動式や取り外し式としてもよい。
【００７０】
カメラ本体１１００には制御部１１０３が設けられている。この制御部１１０３は、図１を参照して説明した撮像装置における制御部と同様のものであり、撮像装置１０００の全体および各部の制御を行うとともに、ゲイン取得部および補正処理部として機能するものである。
【００７１】
また、カメラ本体１１００には、入力部としてのレリーズボタン１１０４が設けられている。ユーザがレリーズボタン１１０４が押下することにより、撮像素子１１０１からは、１フレーム分の画像信号が出力される。
【００７２】
交換レンズ１２００には、レンズ側マイコン１２０３が設けられている。レンズ側マイコン１２０３は、交換レンズ１２００内に設けられたマイクロコンピュータであり、レンズ情報である撮影レンズ１２０１のズーム（焦点距離）、フォーカス（撮影距離）、絞り（Ｆ値）を取得するものである。
【００７３】
カメラ本体１１００と交換レンズ１２００とが接続されると、例えば端子（図示せず。）の接触などによりレンズ側マイコン１２０３と制御部１１０３とが接続されて情報の送受信が可能な状態となる。この状態で、レンズ側マイコン１２０３がレンズ情報を取得し、そのレンズ情報を制御部１１０３に送信する。そして、制御部１１０３は、本技術に係る補正処理を行う。
【００７４】
このような構成とすることにより、カメラ本体１１００とレンズとが別筐体の撮像装置であっても本技術の実施することができる。また、レンズを別の種類のものに交換しても本技術の実施することができる。
【００７５】
本技術は以下のような構成も取ることができる。
【００７６】
（１）撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子と、
前記位相差検出画素の出力を補正するゲインを得るゲイン取得部と、
該ゲイン取得部により得られた前記ゲインを用いて前記位相差検出画素の出力を補正する補正処理部と
を備える撮像装置。
【００７７】
（２）前記ゲイン取得部は、前記撮影レンズに関する情報と、像高と、前記撮像素子の特性とに基づいて、前記ゲインを得る
前記（１）に記載の撮像装置。
【００７８】
（３）前記ゲイン取得部は、前記複数の位相差検出画素の中の一部の位相差検出画素の特性について前記ゲインを取得し、
前記補正処理部は、前記一部の位相差検出画素の特性について得られた前記ゲインを用いて前記複数の位相差検出画素の出力を補正する
前記（１）または（２）に記載の撮像装置。
【００７９】
（４）前記ゲイン取得部は、前記撮影レンズに関連する情報と前記像高に対応する口径食データを予め保持する口径食テーブルを参照することにより、前記口径食データを取得し、該口径食データと前記位相差検出画素の特性とに基づいて前記ゲインを得る
前記（１）から（３）のいずれかに記載の撮像装置。
【００８０】
（５）前記撮像素子の特性は、前記撮像素子を構成する画素における受光分布である
前記（１）から（４）のいずれかに記載の撮像装置。
【００８１】
（６）前記位相差検出画素は、前記撮像素子のＧ画素を用いる
前記（１）から（５）のいずれかに記載の撮像装置。
【００８２】
（７）撮影レンズの瞳分割を行う複数の位相差検出画素を有する撮像素子を備える撮像装置において、
前記位相差検出画素の出力を補正するゲインを得て、
前記ゲインを用いて前記位相差検出画素の出力を補正する
撮像方法。
【符号の説明】
【００８３】
１２・・・・・・・・撮像素子
３１・・・・・・・・ゲイン取得部
３２・・・・・・・・補正処理部
１０、１０００・・・撮像装置
１１・・・・・・・・光学撮像系
１２０１・・・・・・撮影レンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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