(57)【要約】【課題】糸条から立ち上がった繊維のみを欠陥として検出することができる欠陥検査装置、及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】欠陥検査装置は、検査対象から所定距離以上離れた所定範囲に、光を照射する照明部と、所定範囲が位置する方向から、検査対象を撮像する撮像部と、検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、検査対象から所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する検出部と、を備える。検出部は、画素値としての明度に基づいて、立ち上がった部分を欠陥として検出してもよい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射する照明部と、
前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する撮像部と、
前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する検出部と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
【請求項２】
前記検出部は、前記画素値としての明度に基づいて、前記立ち上がった部分を欠陥として検出することを特徴とする請求項１に記載の欠陥検査装置。
【請求項３】
前記照明部は、光ファイバによって導かれた光を、前記所定範囲に照射することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の欠陥検査装置。
【請求項４】
前記照明部は、複数の前記検査対象のそれぞれの前記所定範囲に光を照射し、
前記検出部は、前記複数の検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記複数の検査対象の少なくとも一つから前記所定距離以上に立ち上がった部分を、欠陥として検出することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。
【請求項５】
前記照明部は、走行する前記検査対象の前記所定範囲に光を照射し、
前記検出部は、前記撮像された画像において連続する輝点としての複数の画素をまとめることにより、前記立ち上がった部分の形状を検出することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。
【請求項６】
前記検出部は、前記検査対象としての糸条から前記所定距離以上に立ち上がった部分としての繊維を、欠陥として検出することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。
【請求項７】
欠陥検査装置における欠陥検査方法であって、
照明部が、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射するステップと、
撮像部が、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像するステップと、
検出部が、前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出するステップと、
を有することを特徴とする欠陥検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥検査装置、及び欠陥検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
糸条（繊維束、トウ）を製造する製糸工程において、長手方向に走行する糸条を検査対象として、糸条に生じた欠陥を精度良く検出することを目的とした欠陥検査方法が、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−９２４７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、糸条に生じた欠陥の一例として、切れたことにより糸条から立ち上がった繊維がある。一方、糸条に付着した異物、及び、糸条の地合に生じた斑（地合斑）については、糸条に生じた欠陥でないとみなすことができる。しかしながら、欠陥検査装置は、糸条から立ち上がった繊維のみを欠陥として検出したい場合でも、糸条に生じた欠陥以外（例えば、地合斑）を欠陥として誤検出してしまうことがある、という問題がある。
【０００５】
本発明は、前記の点に鑑みてなされたものであり、糸条から立ち上がった繊維のみを欠陥として検出することができる欠陥検査装置、及び欠陥検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射する照明部と、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する撮像部と、前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する検出部と、を備えることを特徴とする欠陥検査装置である。
【０００７】
また、本発明の一態様は、前記検出部が、前記画素値としての明度に基づいて、前記立ち上がった部分を欠陥として検出することを特徴とする欠陥検査装置である。
【０００８】
また、本発明の一態様は、前記照明部が、光ファイバによって導かれた光を、前記所定範囲に照射することを特徴とする欠陥検査装置である。
【０００９】
また、本発明の一態様は、前記照明部が、複数の前記検査対象のそれぞれの前記所定範囲に光を照射し、前記検出部が、前記複数の検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記複数の検査対象の少なくとも一つから前記所定距離以上に立ち上がった部分を、欠陥として検出することを特徴とする欠陥検査装置である。
【００１０】
また、本発明の一態様は、前記照明部が、走行する前記検査対象の前記所定範囲に光を照射し、前記検出部が、前記撮像された画像において連続する輝点としての複数の画素をまとめることにより、前記立ち上がった部分の形状を検出することを特徴とする欠陥検査装置である。
【００１１】
また、本発明の一態様は、前記検出部が、前記検査対象としての糸条から前記所定距離以上に立ち上がった部分としての繊維を、欠陥として検出することを特徴とする欠陥検査装置である。
【００１２】
また、本発明の一態様は、欠陥検査装置における欠陥検査方法であって、照明部が、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射するステップと、撮像部が、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像するステップと、検出部が、前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出するステップと、を有することを特徴とする欠陥検査方法である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、照明部は、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射する。撮像部は、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する。
検査対象が糸条である場合、前記所定範囲まで糸条から立ち上がった繊維は、照明部から照射された光を散乱する。したがって、当該繊維は、明度が高く、撮像部に撮像される。一方、前記所定範囲まで糸条から立ち上がっていない異物及び斑には、照明部から光が照射されていない。したがって、当該異物及び斑は、明度が低く、撮像部に撮像されない。
これにより、欠陥検査装置、及び欠陥検査方法は、糸条から立ち上がった繊維のみを欠陥として検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施形態における、欠陥検査装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態における、照射範囲と、読み取り位置と、毛羽との位置関係の例を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態における、糸条の配置の例と、画素値の例とを示す図である。
【図４】本発明の一実施形態における、検査結果の出力例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明の一実施形態について図面を参照して詳細に説明する。以下、検査対象は、一例として、糸条であるものとして説明をする。また、以下、切れたことにより糸条から立ち上がった繊維を、「毛羽」という。欠陥検査装置は、糸条の地合に斑が生じている場合でも、糸条に生じた毛羽のみを、その糸条に生じた欠陥として検出することができる。
【００１６】
図１には、欠陥検査装置の構成例が、ブロック図により示されている。欠陥検査装置１００は、駆動部１１０と、駆動制御部１１１と、照明制御部１２０と、照明部１２１と、撮像制御部１３０と、撮像部１３１と、前処理部１４０と、２値化部１４１と、符号化部１４２と、検出部１４３と、制御部１５０と、出力部１５１とを備える。
【００１７】
駆動部１１０は、巻取部（不図示）と、ロータリエンコーダ（不図示）を有する。巻取部は、駆動制御部１１１による制御に基づいて回転することにより糸条を巻き取り、その糸条を長手方向に走行させる。ロータリエンコーダは、巻取部の回転角を示す情報を、駆動制御部１１１に出力する。
駆動制御部１１１（シーケンサ）は、巻取部の回転角を示す情報に基づいて、駆動部１１０の巻取部の回転を制御する。
【００１８】
照明制御部１２０は、照明部１２１から照射される光の光量を制御する。
照明部１２１は、光源（不図示）と、光ファイバ（不図示）とを有する。光源は、例えば、発光ダイオード（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）である。また、光ファイバの断面の直径は、例えば、０．５［ｍｍ］である。なお、光ファイバは、複数段（例えば、３段）に重ねられてもよい。また、照明部１２１は、光ファイバの代わりに、スリットを有していてもよい。
【００１９】
照明部１２１は、光ファイバによって光源から導かれた光を、糸条から所定距離以上に離れた照射範囲（図２及び図３を用いて後述する）に照射する。ここで、照明部１２１は、所定の照射角α（例えば、６０［度］）で光を照射する。なお、照明部１２１は、例えば、蛍光灯又は石英ロッド照明でもよい。
【００２０】
撮像制御部１３０は、撮像部１３１による撮像を制御する。
撮像部１３１は、光学系（不図示）と、ラインセンサ（不図示）とを有する。光学系は、例えば、焦点距離ｆ５０［ｍｍ］のレンズを有する。ラインセンサは、直線状に配置された複数の受光素子を有する。ラインセンサが有する受光素子の個数は、例えば、４０９６、５０００、６１４４、７４５０又は８１９２素子であり、欠陥検査装置１００に検出させたい毛羽（欠陥）のサイズなどに応じて、適宜定められてよい。なお、毛羽の直径は、例えば、数〜数十［μｍ］である。
【００２１】
ラインセンサは、巻き取られて長手方向に走行する糸条を俯瞰する位置から、糸条を撮像する。ラインセンサは、例えば、分解能０．１［ｍｍ］で糸条を撮像する。ここで、ラインセンサは、受光素子の配置に応じて直線状に定められた読み取り位置を含む検査範囲を含む所定範囲（１ライン）を、光学系を介して所定周期で撮像する。したがって、長手方向に巻き取られて走行する糸条は、当該読み取り位置を通過している部分が、当該読み取り位置を通過する際に、ラインセンサに撮像されることになる。
【００２２】
ラインセンサが撮像した画像を構成する画素の画素値は、各受光素子の出力値に基づいて定められる。ラインセンサは、画素値（例えば、明度）を示す情報を、受光素子に対応する画素毎に、前処理部１４０に出力する。画素値（出力値）の範囲は、例えば、値０〜２５５（８ビット）である。
【００２３】
前処理部１４０は、画素値を示す情報に基づいて、前処理として画素値を補正する。前処理部１４０は、画素値を示す情報に基づいて、前処理として画素値を強調してもよい。前処理部１４０は、前処理された画素値を示す情報を、２値化部１４１に出力する。
【００２４】
２値化部１４１は、前処理された画素値を、所定閾値に基づいて２値化する。２値化部１４１は、２値化された画素値（例えば、値０又は値１）を示す情報を、符号化部１４２に出力する。
【００２５】
符号化部１４２は、２値化された画素値を示す情報に、データ圧縮を施す。例えば、符号化部１４２は、２値化された画素値を示す情報に、連長圧縮（ランレングス圧縮）を施してもよい。
【００２６】
検出部１４３は、２値化された画素値を示す情報に基づいて、所定周期で撮像されたライン毎の画像を撮像順に並べることで、２次元画像を生成する。検出部１４３は、糸条が撮像された２次元画像における画素値に基づいて、糸条から所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出する。より具体的には、検出部１４３は、画素値としての明度に基づいて、糸条に生じた毛羽（欠陥）を検出する。
【００２７】
ここで、検出部１４３は、２次元画像における画素値に、連結性処理（例えば、膨張処理）を施す。これにより、検出部１４３は、撮像部１３１のラインセンサにより撮像されたライン毎の画像において隣接する画素の画素値がバラついている場合でも、連結性処理により連結された（まとめられた）複数の画素の画素値を、糸条に生じた同一の毛羽が撮像された画素（輝点）の画素値として、検出することができる。毛羽が撮像された画素（輝点）の詳細については、図４を用いて後述する。また、検出部１４３は、連結性処理により連結された複数の画素値に基づいて、糸条に生じた毛羽（欠陥）の位置、形状及びサイズを検出してもよい。
【００２８】
制御部１５０には、検査対象の欠陥を示す情報、すなわち、糸条に生じた毛羽を示す情報が、検出部１４３から入力される。ここで、糸条に生じた毛羽を示す情報とは、例えば、毛羽の有無を示す情報である。また、糸条に生じた毛羽を示す情報には、例えば、発生時刻、毛羽の位置、毛羽の形状、毛羽のサイズ、糸条の識別番号、及び、錘（糸条束）の識別番号を示す情報などが含まれていてもよい。
【００２９】
制御部１５０は、糸条に生じた毛羽を示す情報を、出力部１５１に出力する。糸条に生じた毛羽を示す情報は、例えば、音データ又は画像データの形式で出力されてもよい。制御部１５０は、糸条に生じた毛羽を示す情報を、検査中及び検査後のいずれのタイミングで出力してもよい。
【００３０】
制御部１５０には、検査条件を示す情報が、操作部（不図示）を介して入力されてもよい。制御部１５０は、検査条件を示す情報に基づいて、欠陥検査装置１００の各部を制御する。例えば、制御部１５０は、検査条件としての光量を示す情報を、照明制御部１２０に出力してもよい。また、例えば、制御部１５０は、検査条件としての巻き取り速度を示す情報を、駆動制御部１１１に出力してもよい。また、例えば、制御部１５０は、検査条件としての撮像周期を示す情報を、撮像制御部１３０に出力してもよい。なお、制御部１５０上では、オペレーティングシステムが動作していてもよい。このオペレーティングシステムは、例えば、リアルタイム・オペレーティングシステムでもよい。
【００３１】
出力部１５１は、糸条に生じた毛羽を示す情報に基づいて、検査結果を出力する。検査結果の出力例については、図４を用いて後述する。出力部１５１は、糸条に毛羽（欠陥）が検出された場合、制御部１５０による制御に応じて、発生時刻の通知、糸条の識別番号の通知、錘（糸条束）の識別番号の通知、警報の通知、及び、パトライト（登録商標）表示を実行してもよい。
【００３２】
図２には、照射範囲と、読み取り位置と、毛羽との位置関係の例が示されている。図２では、説明を簡便にするため、撮像部１３１を原点とするｘｙｚ座標系を設けて説明をする。撮像部１３１は、巻き取られることにより長手方向に走行する糸条２００を俯瞰する位置から、読み取り位置を通過する糸条２００に生じた毛羽２１０を撮像（スキャン）する。ここで、読み取り位置は、例えば、撮像部１３１から、ｚ軸負方向かつｘ軸方向により定まるｘｚ平面のうち、糸条２００が走行する位置である。
【００３３】
照明部１２１は、糸条２００からｚ軸正方向に距離ｈ（例えば、１５［ｍｍ］）だけ離れた位置、かつ、読み取り位置からｙ軸負方向に距離Ｌ（例えば、１７［ｍｍ］）だけ離れた位置に配置される。図２では、照明部１２１は、ｘ軸方向に長い所定の外形（例えば、直方体の外形）を有する。なお、照明部１２１は、長手方向に走行する糸条２００に生じた毛羽２１０が照明部１２１に直接当たらないように、カバー１２２を有していてもよい。
【００３４】
照明部１２１は、光ファイバにより導かれた光を、所定の照射角α（例えば、６０［度］）で照射しているので、ｘｚ平面において読み取り位置から距離Ｃ（例えば、約５［ｍｍ］）以上に離れた照射範囲５００に、その光を照射することになる。つまり、照明部１２１は、読み取り位置を走行している糸条２００の地合には、光を照射することがない。また、糸条２００に生じた毛羽２１０のうち、読み取り位置から距離Ｃ以上に立ち上がっている部分は、照射範囲５００を通過する際に、光を散乱して輝点となる。
【００３５】
これにより、撮像部１３１は、糸条２００に生じた毛羽２１０のうち、読み取り位置から距離Ｃ以上に立ち上がっている部分を、輝点として撮像することができる。検出部１４３は、画素値としての明度に基づいて、糸条に生じた毛羽２１０（欠陥）を検出することができる。一方、撮像部１３１は、糸条２００に付着した高さＣ未満の異物及び斑を、輝点として撮像することがない。検出部１４３は、画素値としての明度に基づいて、糸条に付着した異物及び斑（欠陥以外）を検出することがない。
【００３６】
図３には、糸条の配置の例と、画素値の例とが示されている。図３の上段には、糸条の配置の例が示されている。糸条２００−１〜２００−ｍ（図３では、ｍは、４以上の整数）は、互いに平行となるように配置され、それぞれ長手方向に走行している。１ライン（図３では、「ｘｚ平面」により示されている破線）に含まれる検査範囲４００には、ｘｚ平面（図２を参照）を含む直線状に定められた各読み取り位置が含まれている。
【００３７】
以下、糸条２００−１の読み取り位置の地合には、斑２２０が生じているものとする。また、糸条２００−２の読み取り位置には、毛羽２１０が生じているものとする。また、糸条２００−３の読み取り位置には、異物２３０が付着しているものとする。また、糸条２００−ｍの読み取り位置には、異物、斑及び毛羽のいずれも生じていないものとする。
【００３８】
また、ｘｚ平面において、糸条２００−１〜２００−ｍが走行している仮想平面から、ｚ軸正方向に距離Ｃ以上に離れた照射範囲５００（図２を参照）には、さらに、反射部３００が配置されている。反射部３００は、照明部１２１が照射した光を反射することで、検出部１４３により生成された２次元画像において、輝点として検出される。反射部３００が反射した光を受光した受光素子の出力値に基づく画素値は、輝点か否かを判定するための明度の基準値とされる。この基準値以上の画素値を有する画素は、検出部１４３により、輝点であると判定される。
【００３９】
図３の中段には、画素番号と画素値との関係の例が、検査範囲４００を含む１ラインについて示されている。縦軸は、画素値を示す。ここでは、８ビットで表されているため、画素値は、０〜２５５の範囲にある。また、横軸は、画素番号を示す。以下、画素番号は、０〜Ｎまでの番号ｎ１、ｎ２及びｎ３を含む。画素番号ｎ１は、反射部３００の位置が撮像された画素の番号である。また、画素番号ｎ２は、糸条２００−１の読み取り位置が撮像された画素の番号である。また、画素番号ｎ３は、糸条２００−２の読み取り位置が撮像された画素の番号である。
【００４０】
照明部１２１（図２を参照）は、ｘｚ平面において各読み取り位置から距離Ｃ（図２を参照）以上に離れた範囲、及び、反射部３００を含む範囲を照射範囲５００として、この照射範囲５００に光を照射している。ここで、照明制御部１２０（図１を参照）は、画素番号ｎ１が示す画素の画素値（基準値）が所定閾値以上となるように、照明部１２１から照射される光の光量を制御する。
【００４１】
画素番号ｎ３が示す画素の画素値は、糸条２００−２に生じた毛羽２１０に光が照射されているので、前記所定閾値以上となる。一方、画素番号ｎ２が示す画素の画素値は、糸条２００−１の読み取り位置に光が照射されていないので、前記所定閾値未満となる。また、画素番号ｎ４が示す画素の画素値は、糸条２００−３の読み取り位置に光が照射されていないので、前記所定閾値未満となる。また、糸条２００−１〜２００−ｍのそれぞれの隙間が撮像された画素の画素値は、閾値未満となる。例えば、画素番号ｎ２と画素番号ｎ３との間の画素番号が示す画素の画素値は、閾値未満となる。
【００４２】
図３の下段には、画素番号と、２値化された画素値との関係の例が、検査範囲４００を含む１ラインについて示されている。縦軸は、２値化された画素値を示す。ここでは、２値化されているため、画素値は、０又は１である。また、横軸は、画素番号を示す。
【００４３】
画素番号ｎ３が示す画素の画素値は、糸条２００−２に生じた毛羽２１０に光が照射されているので、値１となる。一方、画素番号ｎ２が示す画素の画素値は、糸条２００−１の読み取り位置に光が照射されていないので、値０となる。また、画素番号ｎ４が示す画素の画素値は、糸条２００−３の読み取り位置に光が照射されていないので、値０となる。また、糸条２００−１〜２００−ｍのそれぞれの隙間が撮像された画素の画素値は、値０となる。例えば、画素番号ｎ２と画素番号ｎ３との間の画素番号が示す画素の画素値は、値０となる。
【００４４】
このように、画素番号ｎ３が示す画素の画素値のみ、値が１となる。これにより、検出部１４３（図１を参照）は、画素値としての明度に基づいて、糸条２００−２に生じた毛羽２１０（欠陥）を、安定して検出することができる。また、検出部１４３は、糸条２００−１〜２００−ｍが蛇行した場合でも、画素値としての明度に基づいて、糸条に生じた毛羽２１０（欠陥）を検出することができる。
【００４５】
図４には、検査結果の出力例が示されている。出力部１５１は、検出部１４３により検査結果として生成された２次元画像を表示する。糸条に生じた毛羽２１０（図２及び図３を参照）の位置及び形状等は、検出部１４３により生成された２次元画像において連続する輝点によって示される。ここで、検出部１４３は、生成した２次元画像において輝点が連続するまで、連結性処理（例えば、膨張処理）を繰り返してもよい。また、検出部１４３は、生成した２次元画像において連続していない単独の輝点であっても、その輝点を毛羽（欠陥）として検出してもよい。
【００４６】
出力部１５１は、検査結果に基づく各種の測定値（例えば、画素単位で測定された毛羽２１０の面積）を表示してもよい。また、出力部１５１は、画素番号と画素値との関係を示すグラフ（図３の下段を参照）を、ライン毎に２次元画像と共に表示してもよい（図４の下段及び右列のグラフを参照）。
【００４７】
以上のように、欠陥検査装置１００（図１を参照）は、検査対象（例えば、糸条２００）から所定距離Ｃ（図２を参照）以上に離れた所定範囲（例えば、照射範囲５００）に、光を照射する照明部１２１と、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する撮像部１３１と、前記検査対象が撮像された画像における画素値（図３を参照）に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分（例えば、毛羽２１０）を欠陥として検出する検出部１４３と、を備える。
【００４８】
また、欠陥検査方法は、欠陥検査装置における欠陥検査方法であって、照明部１２１が、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射するステップと、撮像部１３１が、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像するステップと、検出部１４３が、前記検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記検査対象から前記所定距離以上に立ち上がった部分を欠陥として検出するステップと、を有する。
【００４９】
この構成により、照明部１２１は、検査対象から所定距離以上に離れた所定範囲に、光を照射する。撮像部１３１は、前記所定範囲が位置する方向から、前記検査対象を撮像する。
検査対象が糸条である場合、前記所定範囲まで糸条から立ち上がった繊維は、照明部１２１から照射された光を散乱する。したがって、当該繊維は、明度が高く、撮像部１３１に撮像される。一方、前記所定範囲まで糸条から立ち上がっていない異物及び斑（地合斑）には、照明部１２１から光が照射されていない。したがって、当該異物及び斑は、明度が低く、撮像部１３１に撮像されない。
これにより、欠陥検査装置１００、及び欠陥検査方法は、糸条から立ち上がった繊維（例えば、図３に示す毛羽２１０）のみを欠陥として検出することができる。ここで、撮像された画像において、糸条２００の地合の明度が低い一方で、毛羽２１０の明度が高いので（例えば、図４を参照）、欠陥検査装置１００、及び欠陥検査方法は、検査対象の欠陥としての毛羽２１０を、安定して検出することができる。
【００５０】
また、検出部１４３は、前記画素値としての明度に基づいて、前記立ち上がった部分を欠陥として検出してもよい。
また、照明部１２１は、光ファイバによって導かれた光を、前記所定範囲に照射してもよい。
【００５１】
また、照明部１２１は、複数の前記検査対象（例えば、図３に示す糸条２００−１〜２００−４）のそれぞれの前記所定範囲に光を照射し、検出部１４３は、前記複数の検査対象が撮像された画像における画素値に基づいて、前記複数の検査対象の少なくとも一つから前記所定距離以上に立ち上がった部分を、欠陥として検出してもよい。
【００５２】
また、照明部１２１は、走行する前記検査対象の前記所定範囲に光を照射し、検出部１４３は、前記撮像された画像において連続する輝点としての複数の画素をまとめることにより、前記立ち上がった部分の形状を検出してもよい。
また、検出部１４３は、前記検査対象としての糸条から前記所定距離以上に立ち上がった部分としての繊維を、欠陥として検出してもよい。
【００５３】
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【００５４】
なお、上記に説明した欠陥検査装置を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより、実行処理を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものであってもよい。
【００５５】
また、「コンピュータシステム」は、ＷＷＷシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境（あるいは表示環境）も含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。
【００５６】
さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（例えばＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ））のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。
さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【符号の説明】
【００５７】
１００…欠陥検査装置、１１０…駆動部、１１１…駆動制御部、１２０…照明制御部、１２１…照明部、１２２…カバー、１３０…撮像制御部、１３１…撮像部、１４０…前処理部、１４１…２値化部、１４２…符号化部、１４３…検出部、１５０…制御部、１５１…出力部、２００…糸条、２１０…毛羽、２２０…斑、２３０…異物、３００…反射部、４００…検査範囲、５００…照射範囲
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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