(57)【要約】【課題】処理を中断することなく故障モジュールを特定することができる電子装置を提供する。【解決手段】  本発明における電子装置は、複数の電子モジュールの中から二の電子モジュールを選択して、選択された二の電子モジュールに同一の入力を与える第1のセレクタと、複数の電子モジュールの中から二の電子モジュールを選択する第２のセレクタと、第２のセレクタで選択された二の電子モジュールの出力を比較して出力の不一致を検出する比較部と、電子モジュールの出力を保持する出力保持部と、比較部により出力の不一致が検出されたときには、出力保持部に保持された電子モジュールの出力を制御する出力制御部と、を備える。【選択図】図１
2014186551.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子モジュールの中から二の電子モジュールを選択して、選択された前記二の電子モジュールに同一の入力を与える第1のセレクタと、
前記複数の電子モジュールの中から前記二の電子モジュールを選択する第２のセレクタと、
前記第２のセレクタで選択された二の電子モジュールの出力を比較して出力の不一致を検出する比較部と、
前記電子モジュールの出力を保持する出力保持部と、
前記比較部により出力の不一致が検出されたときには、前記出力保持部に保持された前記電子モジュールの出力を制御する出力制御部と、を備えた電子装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子回路や電子部品等の電子モジュールの故障を検出するには、検査対象の電子モジュールと同等の予備の電子モジュールを用意して、両方の電子モジュールから出力される値を比較して、出力値の不一致によって電子モジュールの故障を検出する、電子モジュールの２重化が行われてきた。２重化においては、故障の検出はできるものの、故障した電子モジュールの特定ができなかった。また、電子モジュールの３重化を行い、例えば多数決の原理により故障した電子モジュールを特定する技術があった。
【０００３】
一方、電子モジュールによる通常の処理を止めて、検査用の特別な処理を行うことにより、電子モジュールの故障を特定する技術があった。
（例えば、特許文献１、特許文献２を参照）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平０９−２４４９０９号公報
【特許文献２】特開２００８−２１３５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１に記載された従来の技術では、電子モジュールの多重化に高いコストが必要になり、また電子モジュールの多重化にともない装置が大型化してしまう不具合があった。
【０００６】
また、上記特許文献２に記載された従来の技術では、電子モジュール診断用の特別な動作が必要となり、通常の処理を継続しつつ故障した電子モジュールを特定することができなかった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記従来技術における問題点に鑑みてなされたものであり、処理を中断することなく故障モジュールを特定することができる電子装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題に鑑み、本発明における電子装置は、複数の電子モジュールの中から二の電子モジュールを選択して、選択された前記二の電子モジュールに同一の入力を与える第1のセレクタと、前記複数の電子モジュールの中から前記二の電子モジュールを選択する第２のセレクタと、前記第２のセレクタで選択された二の電子モジュールの出力を比較して出力の不一致を検出する比較部と、前記電子モジュールの出力を保持する出力保持部と、
前記比較部により出力の不一致が検出されたときには、前記出力保持部に保持された前記電子モジュールの出力を制御する出力制御部と、を備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の実施形態によれば、処理を中断することなく故障モジュールを特定することができる電子装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】電子装置の機能ブロック図
【図２】比較回路の判定結果を示す表
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
【００１２】
図１において、電子装置１は、２次ＩＩＲ回路Ａ１１、２次ＩＩＲ回路Ｂ１２、２次ＩＩＲ回路Ｃ１３、２次ＩＩＲ回路Ｄ１４、第１のセレクタ１５、第２のセレクタ１６、比較回路１７、出力バッファ１８、制御出力部１９、フィルタ出力記憶装置２０、第３のセレクタ２１、及びフィルタ係数記憶装置２２を備えている。
【００１３】
２次ＩＩＲ回路Ａ〜Ｄ（１１〜１４）は、「電子モジュール」の一例であり、２次ＩＩＲ回路は、例えばＩＩＲフィルタである。ＩＩＲ（Infinite impulse response）フィルタは、無限インパルス応答をするフィルタであり、出力を入力にフィードバックすることによりフィルタ係数に対する係数感度を高くすることができる。
【００１４】
フィルタ係数記憶装置２２は、２次ＩＩＲフィルタで使用するフィルタ係数を記憶する。記憶されたフィルタ係数は、所望するフィルタ特性に合わせて適宜読み出されて、第３のセレクタ２１によって、２次ＩＩＲフィルタに入力される。
【００１５】
本実施形態におけるＩＩＲフィルタは、次数が２次の２次ＩＩＲフィルタを例示している。２次ＩＩＲフィルタ（以下、「フィルタ」と略す）Ａ〜Ｄ（１１〜１４）のうち３つを処理フィルタとして使用して、２次＊３段＝６次のフィルタ処理を行う。また、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の残り１つを出力比較用の冗長フィルタとする。どのフィルタを冗長フィルタとするか、及びどのフィルタを何段目の処理フィルタとして使用するかは第１のセレクタ１５によって選択される。本実施形態においては、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）をどの段数のフィルタとして使用するかを、時刻の経過とともに順次変更していくことができる。
【００１６】
第１のセレクタ１５は、５入力４出力のセレクタである。第１のセレクタ１５の入力は、外部入力である「Input」の１つと、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の出力４つを、フィルタ出力記憶装置２０を介したものの計５つである。第１のセレクタは、例えば、外部入力を１段目のフィルタの入力とし、フィルタ出力記憶装置に記憶された前時刻におけるフィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の１段目の出力を２段目のフィルタの入力とし、さらに、前時刻におけるフィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の２段目の出力を３段目のフィルタの入力とするように入出力を選択する。第１のセレクタ１５入力と出力の選択は、所望するフィルタの特性によって適宜設定が可能である。
【００１７】
第２のセレクタ１６は、４入力７出力のセレクタである。第２のセレクタ１６の入力は、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の出力４つである。また、第２のセレクタ１６の出力は、四の第１のセレクタ１５へのフィードバック出力に加えて、一出力バッファ１８への出力、二の比較回路１７への出力の計７出力である。フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の出力のセレクタ１５へのフィードバック出力は、第１のセレクタ１５による入力の選択と併せて、各段数におけるフィルタで処理が所望する処理になるように選択される。
【００１８】
比較回路１７は、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の、処理フィルタとして使用される第１のセレクタ１５によって選択された一のフィルタの出力と、冗長フィルタとして使用される第１のセレクタ１５によって選択された一のフィルタの出力とを比較し、不一致を検出する。比較対象の上記二つのフィルタは、セレクタ１５によって同じ入力値が入力されるものとする。従って、出力値の不一致は、いずれかのフィルタが故障していることを意味する。比較回路による比較結果は、ＯＫあるいはＮＧとして外部出力「Diag」として出力されるとともに、出力制御部１９に入力される。
【００１９】
出力バッファ１８は、２次×３段のフィルタにより６次のフィルタ処理がされた出力を、
先入れ先出し（First In First Out）で記憶するキューである。この実施形態においては、キューの段数は４段であり、時刻ｔ２〜ｔ５の出力値が逐次記憶されているもの様子を示している。
【００２０】
出力制御部１９は、比較回路１７によりフィルタのいずれかの故障が検知された場合は、検知されたタイミングによって、出力バッファ１８のどの時点でのデータに故障したフィルタによる出力が含まれ得るかを特定し、その出力を、例えば出力停止／出力継続等の制御をすることができる。出力制御部１９による制御方法は、予め設定しておくことができる。制御方法として、例えば、同じフィルタによる故障が所定回数以上あった場合に出力を停止させることができる。また、所定の処理回数内での故障回数によって出力を停止させることができる。
【００２１】
ところで、比較回路１７によって、二つのフィルタの出力値の不一致が検出された場合には、いずれかのフィルタが故障していることは検出できるものの、どちらのフィルタが故障しているのかは分からない。そこで、本実施形態においては、比較するフィルタの組合せをセレクタ１５による選択によって順次変えていき、故障しているフィルタを特定することができる。故障フィルタの特定方法を、図２を用いて説明する。図２は、比較回路の判定結果の一例を示す表である。
【００２２】
図２において、「時刻」は、ｔ０、ｔ２、ｔ３、・・・、ｔ７の順番で推移する時刻である。「ファイル段数」は、フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）が、各時間において何段目のフィルタとして、あるいは冗長フィルタとして動作するかを表している。また、「判定結果」は、各フィルタＡ〜Ｄ（１１〜１４）の比較回路１７による不一致検出結果である。ここで「ＯＫ」は出力値が一致し、「ＮＧ」は出力値が不一致した場合の判定結果である。
【００２３】
ｔ０において、フィルタＡ１１は１段目、フィルタＢ１２は２段目、フィルタＣ１３は３段目の処理フィルタとして第１のセレクタ１５によって選択されて動作する。この処理フィルタの動作中において、フィルタＤ１４は、冗長フィルタとして選択されて動作し、フィルタＡと同じ値が入力されることを表している。判定結果はフィルタＡとフィルタＤの出力値が比較回路１７によって比較されて、一致検出によりＯＫ判定となっている。
【００２４】
ｔ１において、今度はフィルタＢ〜フィルタＤが、それぞれ１〜３段目の処理フィルタとして動作中に、フィルタＡが冗長フィルタとして動作し、フィルタＡとフィルタＢが比較される。
【００２５】
以後、ｔ２、及びｔ３は、冗長フィルタが順次切り替わって選択され、判定結果は全てＯＫだったことを示している。
【００２６】
ｔ４において、フィルタＡとフィルタＤとの比較判定がＮＧだったとする。この時点では、フィルタＡとフィルタＤのいずれかが故障したことが判断できる。
【００２７】
ｔ５において、今度はフィルタＡとフィルタＢとの比較判定がＮＧだったとすると、フィルタＡの故障であると判断できる。
【００２８】
図２の表で、ＮＧが発生する前にフィルタＡの比較がされたのはｔ１である。つまり、ｔ１時点でのフィルタ出力には問題が無いことがわかる。一方、フィルタＡはｔ２以降に故障している可能性があるので、ｔ２以降のフィルタ出力にはフィルタＡの故障が影響している可能性がある。
【００２９】
ここで、図１の出力バッファ１８には、時刻がｔ５の時点、つまり、フィルタＡの故障が判断された時点での出力値が記憶されているものとする。ｔ５時点での出力バッファに記憶された最古の出力値はｔ２である。上述の通り、フィルタの故障の発生がないｔ１でのフィルタ出力はOutputとして出力しても問題はない。一方、フィルタＡの故障が影響している可能性があるｔ２以降のフィルタ出力はまだOutputとして出力されていない。
【００３０】
従って、出力制御部は、ｔ２より後のフィルタ出力のOutputとして出力を制限することにより、Outputの出力の保証をすることができる。
【００３１】
一方、ｔ５においてフィルタＡの故障が特定できたので、ｔ２からｔ５までのフィルタ出力値を出力バッファ１８からクリアして、ｔ６からは、故障したフィルタＡを除く、フィルタＢ〜Ｄによってフィルタ処理を継続することができる。これにより、電子装置の可用性を向上させることができる。
【００３２】
以上、本発明を実施するための形態について詳述したが、本発明は斯かる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【００３３】
例えば、本実施形態においては、各フィルタに対する処理フィルタの段数の選択を逐次変更したが、処理フィルタとして連続して選択されるフィルタの段数は変更しない選択が可能である。
【００３４】
また、本実施形態では、フィルタＡの故障が判断された後は、フィルタＡの動作を停止させたが、例えば、複数回の不一致が検出されるまで動作させることができる。
【符号の説明】
【００３５】
１  電子装置１
１１  ２次ＩＩＲ回路Ａ
１２  ２次ＩＩＲ回路Ｂ
１３  ２次ＩＩＲ回路Ｃ
１４  ２次ＩＩＲ回路Ｄ
１５  第１のセレクタ
１６  第２のセレクタ
１７  比較回路
１８  出力バッファ
１９  制御出力部
２０  フィルタ出力記憶装置
２１  第３のセレクタ
２２  フィルタ係数記憶装置
【図１】
2014186551.tif 000003
【図２】
2014186551.tif 000004