(57)【要約】【課題】試験測定装置に関する測定値表示能力を向上させる。【解決手段】試験測定装置は、入力信号をサンプルし、複数の測定値を生成するよう構成されるプロセッサを含む。プロセッサは、順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を有する測定値ティッカーを生成するよう構成される。各ティッカー要素は、入力信号に関連する測定値を有する。プロセッサは、複数の入力信号をサンプルするよう構成されても良く、各ティッカー要素は、複数の入力信号の少なくとも１つに関連する測定値を含んでも良い。各ティッカー要素は、信号源ＩＤ及び測定形式を更に含んでも良い。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成される試験測定装置であって、
上記入力信号をサンプルし、複数の測定値を生成するよう構成されるプロセッサを具え、
該プロセッサは、順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を有し、該ティッカー要素のそれぞれが上記入力信号に関連する測定値を有する測定値ティッカーを生成するよう構成される試験測定装置。
【請求項２】
上記プロセッサは、複数の入力信号をサンプルするよう構成され、上記ティッカー要素のそれぞれが、複数の上記入力信号の少なくとも１つに関連する測定値を含むことを特徴とする請求項１の試験測定装置。
【請求項３】
上記ティッカー要素のそれぞれが信号源ＩＤ及び測定形式を更に具えることを特徴とする請求項１の試験測定装置。
【請求項４】
上記ティッカー要素のそれぞれが、測定ＩＤを更に具える請求項３の試験測定装置。
【請求項５】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成される試験測定装置に測定値表示を提供する方法であって、
上記入力信号をサンプルし、複数の測定値を生成する処理と、
順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を有し、該ティッカー要素のそれぞれが上記入力信号に関連する測定値を有する測定値ティッカーを生成する処理と
を具える方法。
【請求項６】
複数の入力信号をサンプルする処理を更に具え、
上記ティッカー要素のそれぞれが、複数の上記入力信号の少なくとも１つと関連する測定値を含むことを特徴とする請求項５の方法。
【請求項７】
上記ティッカー要素のそれぞれが信号源ＩＤ及び測定形式を更に具えることを特徴とする請求項５の方法。
【請求項８】
上記ティッカー要素のそれぞれが、測定ＩＤを更に具える請求項７の試験測定装置。
【請求項９】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成される試験測定装置に測定値表示を提供する方法であって、
上記入力信号をサンプルし、複数の測定値を生成する処理と、
順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を有し、該ティッカー要素のそれぞれが上記入力信号に関連する測定値を有する測定値ティッカーを生成する処理と
を具える方法を実行するよう構成されるプロセッサで実行されるコンピュータ・プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定装置の分野に関し、特に、こうした装置のための改良した測定値表示に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近のデジタル・オシロスコープは、大まかに言えば、所与の入力信号の波形を生成する機能を提供する。こうした試験測定装置は、トリガ処理のハードウェアとソフトウェアを装備し、所望のイベントを捕捉するよう設定できる。多くのオシロスコープでは、取り込んだ波形の波形測定値を表示する能力がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−０７９３６８号公報
【特許文献２】米国特許第７,１９１,０７９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、多数の測定値が加えられたので、これらは、かなりのスクリーン・スペースを取るようになり、ユーザが重要な波形情報を見るのを妨げることがある。従って、こうした試験測定装置用に測定値を見せる機能を向上させる改良型測定値表示能力を提供するというニーズが存在する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成される試験測定装置を開示する。この試験測定装置は、入力信号をサンプルし、複数の測定値を生成するよう構成されるプロセッサを含む。このプロセッサは、順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を有する測定値ティッカーを生成するよう構成される。各ティッカー要素は、入力信号に関連する測定値を有する。
【０００６】
プロセッサは、複数の入力信号をサンプルするよう構成されても良く、そして、各ティッカー要素が、これら複数の入力信号の少なくとも１つに関連する測定値を含むようにしても良い。各ティッカー要素は、信号源ＩＤ及び測定形式を更に含んでいても良い。各ティッカー要素は、測定ＩＤを更に含んでいても良い。信号源ＩＤは、その入力信号に関連するチャンネル番号を特定するものであっても良い。測定形式は、次のものの少なくとも１つを含んでいても良い：周波数、ピーク・ピーク振幅、周期及び実効値（ＲＭＳ）の大きさ。測定ＩＤは、少なくとも次のものの１つを含む測定値に関する記述的情報を含んでいても良い：最小、最大、平均及び標準偏差。測定値は、ユニット情報を含んでいても良い。
【０００７】
試験測定装置は、ユーザ入力を受け、測定値ティッカーに関連するフォーマット（形式）を調整するよう構成されるユーザ・インタフェースも含んでいても良い。ユーザ・インタフェースは、ティッカー要素を追加し、ティッカー要素を削除し、ティッカー要素を編集し、ティッカー要素を開始及び停止させるよう作られていても良い。
【０００８】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成される試験測定装置において、測定値表示を提供する方法も開示する。この方法は、入力信号をサンプルする処理と、複数の測定値を生成する処理とを含む。順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう作られる複数のティッカー要素を有する測定値ティッカーが生成される。各ティッカー要素は、入力信号に関連する測定値を有する。
【０００９】
この方法は、複数の入力信号をサンプリングすることを含んでいても良く、このとき、各ティッカー要素が、これら複数の入力信号の少なくとも１つに関連する測定値を含むようにしても良い。各ティッカー要素は、信号源ＩＤ及び測定形式を更に含んでいても良い。各ティッカー要素は、測定ＩＤを更に含んでいても良い。信号源ＩＤは、その入力信号に関連するチャンネル番号を特定するものであっても良い。測定形式は、次のものの少なくとも１つを含んでいても良い：周波数、ピーク・ピーク振幅、周期及び実効値（ＲＭＳ）の大きさ。測定ＩＤは、少なくとも次のものの１つを含む測定値に関する記述的情報を含んでいても良い：最小、最大、平均及び標準偏差。測定値は、ユニット情報を含んでいても良い。
【００１０】
この方法は、また、ユーザ入力を受け、測定値ティッカーに関連するフォーマット（形式）を調整する処理を含んでいても良い。また、この方法は、ユーザ入力に基づいて、次の少なくとも１つを実行する処理を含んでいても良い：ティッカー要素追加処理、ティッカー要素削除処理、ティッカー要素編集処理、そして、測定値ティッカーを開始及び停止する処理。
【００１１】
少なくとも１つの入力信号を受けるよう構成された試験測定装置上に測定値表示を提供する方法を実行するように構成された、プロセッサによって実行可能なコンピュータ・プログラムをその上に蓄積させたコンピュータ読み出し可能なメディアも開示される。この方法は、入力信号をサンプルする処理と、複数の測定値を生成する処理とを含む。測定値ティッカーは、順次スクロールする形式で表示装置上に提示されるよう構成される複数のティッカー要素を用いて生成される。各ティッカー要素は、上記入力信号に関連する測定値を有する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１ａ】図１ａは、典型的な表示装置を有するオシロスコープのブロック図である。
【図１ｂ】図１ｂは、測定値の積み上げ型表示を有するオシロスコープの構成要素の関係を示す図である。
【図２】図２は、順次スクロール形式で測定値ティッカーを生成し表示するよう構成された試験測定装置のブロック図である。
【図３】図３は、測定値ティッカーの構成要素の関係を示す図である。
【図４】図４は、測定モジュールから表示装置への測定情報の流れを示すブロック図である。
【図５】図５は、表示装置の下端部に沿って配置された測定値ティッカーを有する表示の略図である。
【図６】図６は、設定ウィンドウを有する表示の略図である。
【図７】図７は、基本的なユーザ・インタフェースの機能性を大雑把に示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
多くのオシロスコープは、取り込んだ波形の波形測定を表示する能力を有する。しかし、多数の測定値が追加されると、これらは、かなりのスクリーン・スペースを取るようになり、ユーザが重要な波形情報を見るのを妨げることがある。この問題を解決するため、測定値出力の積み上げ（図１ｂ）の代わりに、スクロールする測定値表示（ティッカー）を用いる。ティッカーは、特定領域内に文字を表示するもので、このとき、これら文字が水平又は垂直に移動する。
【００１４】
図１ａは、複数の１４、１６に分割されることもある表示装置１２を有する試験測定装置（オシロスコープ）１０の構成要素の関係を示す図である。表示装置１２は、少なくとも１つの波形２４、２６や、例えば、測定情報を含む文字数字テキストといった他のグラフィカルな指示３４、３６をグラフィカルに表示するよう構成される。オシロスコープ１０は、また、ユーザ入力用の複数のユーザ・コントロール１８と、試験信号などを受けるよう構成される複数の電気入力端子２０を有している。
【００１５】
この例では、オシロスコープ１０は、取込みシステム２１と、プロセッサ２２と、プログラム情報及びデータを蓄積するよう構成されたメモリ２３とを有する単独型ユニットとして実現されている。当然ながら、プロセッサ２２は、例えば、Ｉ／Ｏ、グラフィック発生ハードウェアなどの付加的な回路に結合されていても良い。プロセッサ２２は、ユーザ・コントロール１８を介して選択された通りに、複数の入力部の少なくとも一部からデータを受けるように構成される。アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２５は、電気入力端子２０から受けた信号をデジタル化するように作られる。トリガ回路（トリガ・システム）２７は、後述のように、取込み処理を制御するためのタイミング信号を提供する。種々のトリガ処理モードが米国特許第７,１９１,０７９号に開示され、これは、この中に丸ごと組み込まれている。
【００１６】
プロセッサ２２は、また、表示装置１２で提示される情報の少なくとも一部を生成するよう構成される。当然ながら、オシロスコープは、例えば、デスクトップ、ラップトップ、タブレット、スマートフォンその他のコンピューティング・デバイスといったコンピューティング・デバイスを用いて実現される実施形態を含む種々のハードウェア及びソフトウェアを用いて実現されても良く、これらシステムのいくつかは、表示デバイスを提供又は必要とするものもあれば、そうでないものもある。デジタイザは、関連する表示装置のないシステムの例である。
【００１７】
図２は、順次スクロールする形式で測定値ティッカーを生成及び表示するよう構成されることがある試験測定装置３０のブロック図である。これは、図１ｂに示されるサンプル表示１１上で示されるような積み上げ型測定値出力２９のような伝統的な測定値表示に対する改良である。こうした表示形式を用いると、表示波形の少なくとも一部分が、その測定値表示によって分かり難くなる。こうした状況では、ユーザは、全ての波形情報を見るために、積み上げ型測定値表示をオフにする（消す）必要があるかもしれない。
【００１８】
図２に戻ると、試験測定装置３０は、点線５１、５３及び５５で大雑把に示すように、取込み回路３１、メモリ３３及び表示装置３４に結合されるホスト・プロセッサ３２を含んでいる。ホスト・プロセッサ３２は、測定モジュール３５及びユーザ・インタフェース・モジュール３７にも結合されている。当然ながら、測定モジュール３５及びユーザ・インタフェース・モジュール３７は、ホスト・プロセッサ３２に結合されたハードウェアと、ホスト・プロセッサ３２上で動くよう構成されても良いソフトウェアの両方を含んでいても良い。ライン４１及び４３は、取込み回路３１からメモリ３３へ、そして最終的には表示装置４３へのデータの流れを大まかに示している。この経路は、大まかに言えば、図１ａに示される例えば波形２４及び２６といった波形情報の取込み及び表示を示すことを意図している。
【００１９】
図２では、ライン４５、４７及び４９が、取込み回路３１からホスト・プロセッサ３２を通過して最終的には表示装置４３へのデータの流れを大まかに示す。この経路は、図１ａに示される測定値情報と、例えば、グラフィカルな指示３４などの他の指示の取込み、生成及び表示を大まかに示すことを意図している。測定モジュール３５は、大まかに言えば、取込みデータに基づいて測定を生成するように構成されている。ユーザ・インタフェース・モジュール３７は、大まかに言えば、その後の表示のために、測定値情報の選択及び大まかな形式を含む表示動作をユーザがコントロールできるように構成されている。
【００２０】
図３は、部分６１ａ、６１ｂ、６１ｃ及び６１ｄに分解された測定値ティッカー６１のブロック図である。部分６１ａ、６１ｂ、６１ｃ及び６１ｄは、大まかに言って、異なる時点における測定値ティッカーのスナップショットと理解して良い。当然ながら、測定値ティッカー６１は、試験測定装置に関連する表示装置上のどこに配置されても良い。
【００２１】
測定値ティッカー６１は、例えば、順次スクロールする形式で表示される６３ａ〜６３ｃといった複数のティッカー要素を含んでいる。これも当然であるが、全てのティッカー要素が表示されてスクロール表示が終わったら、これらは、繰り返すループ形式で再表示されても良い。各ティッカー要素は、信号源ＩＤ６２と、測定ＩＤ６４と、測定形式６６と、少なくとも１つの測定値６８を含んでいても良い。信号源ＩＤ６２は、その測定値から取られた試験測定装置の特定のチャンネルを特定するものとしても良い。測定形式６６は、大まかに言えば、ここで開示する種々の図で示されるように、例えば、周波数、ピーク・ピーク振幅、周期、実効値（ＲＭＳ）の大きさといった測定値の形式を記述するものとしても良い。当然ながら、この開示の範囲を離れることなく、次のものに限定されないが、これらを含む種々の測定形式を用いても良い：周波数、周期、立ち上がり時間、立ち下がり時間、遅延、位相、ポジティブ・パルス幅、ネガティブ・パルス幅、ポジティブ・デューティー・サイクル、ネガティブ・デューティー・サイクル、バースト幅、ピーク・ピーク（電圧）、振幅、最大、最小、ハイ（high）、ロー（low）、ポジティブ・オーバーシュート、ネガティブ・オーバーシュート、立ち上がりエッジ計数値、立ち下がりエッジ、計数値、エリア及びサイクル・エリア。測定ＩＤ６４は、大まかに言えば、例えば、最小、最大、標準偏差又は他のラベル情報といった測定値に関する記述的情報を更に提供しても良い。測定値６８は、大まかに言えば、測定値の結果、典型的には、数値情報を提供しても良く、また、ユニット情報を含んでいても良い。例えば、ティッカー要素６３ａは、１００.０ＭＨｚの電流値と、１０１ＭＨｚの最大値（履歴情報）の２つの測定値が含まれる。ティッカー要素６３ｂでは、２０ｍＶの電流値と、２２mVの最大値（履歴情報）の２つの測定値が含まれる。ティッカー要素６３ｃでは、１５ｍＶの電流値と、１６ｍＶの最大値（履歴情報）の２つの測定値が含まれる。
【００２２】
図４は、測定モジュール７５からメモリ７３を介した測定値ティッカー７４への測定値情報の流れを示すブロック図である。測定モジュール７５（図２中の参照番号３５も参照）は、大まかに言えば、取り込んだデータに基づく測定値を生成するよう構成される。ユーザ・インタフェース・モジュール３７（図２）は、大まかに言えば、ユーザが、その後の表示のために、測定値情報の選択及び大まかな形式を含む表示動作を制御できるように構成される。この例では、ユーザは、その後の表示のために、メモリ位置７１ａ〜７１ｉに蓄積される大まかに示した９つの異なるティッカー要素を選択している。矢印７７は、大まかに言えば、ひとたび９つのティッカー要素全てが表示されたら、表示プロセスが繰り返されても良いことを示すことを意図している。当然ながら、ユーザが選択したティッカー要素の数に応じて、もっと少ないか又は追加のメモリ位置を割り当てても良い。この例では、測定値ティッカー７４は、矢印７９で表されるように、大まかに言って、順次スクロールする形式で提示されるティッカー要素７１ｅ、７１ｂ及び７１cを示している。メモリ７３の一部分は、表示準備がなされたティッカー要素７１ｆを有している。
【００２３】
図５は、表示装置の長い方の端部に沿って配置された測定値ティッカー８４を有する表示８０のブロック図である。この例では、測定値ティッカーは、参照番号８４ｂ及び８４ｃで示されるように、左から右へとスクロールする。当然ながら、ティッカー要素値は、ある時間インターバル又は特定のイベントの後に更新されても良い。この例では、ティッカー要素値は、毎秒３回更新される。
【００２４】
図５は、ユーザ・インタフェースの一部、つまり、設定ウィンドウ８６ａも示している。設定ウィンドウは、測定値ティッカーを構成するために選択されることがあるティッカー設定ボタン８８を含んでいる。当然ながら、ユーザ・インタフェースは、ユーザが測定値ティッカーを構成できるようにするために、当業者に周知の種々の表示技術及び入力方法を用いても良い。
【００２５】
図６は、設定ウィンドウ８６ｂを用いて構成された表示８１の構成要素の関係を示す図である。この例では、設定ウィンドウ８６ｂは、スクロール速度９０と、ティッカー要素（測定値）数９２を選択するよう構成される複数のボタン／入力部を含んでいる。設定ウィンドウ８６ｂは、大まかに言えば、測定値ティッカーが表示されるか否かを制御するように構成されていても良い開始／停止ボタン９６も含んでいる。設定ウィンドウ８６ｂは、また、現在の測定値ティッカーの設定（「Tek」は、出願人である「Tektronix」の略である）を保存するのに用いることがある保存ボタン９８を含んでいる。編集ボタン９４は、種々のボタン／入力部、例えば、９０及び９２へのアクセスを得るために利用されても良い。当然ながら、ユーザが所望のティッカー要素を選択し、大まかに測定値ティッカーを構成できるように、周知のごとく、広く種々の選択機構、例えば、タッチ・スクリーン、グラフィカル・ポインタ、選択及びスクロール・ボタンが提供されて良い。
【００２６】
図７は、基本的なユーザ・インタフェース機能を実行するための全般的な処理ステップを大まかに示すフローチャート１００である。当然ながら、ここに含まれるどのフローチャートも例に過ぎず、典型的なシステム・ソフトウェアでは、他のプログラム・エントリ及び終了ポイント、タイム・アウト機能、エラー・チェック・ルーチンなど（図示せず）が、通常は実行されるであろう。これも当然であるが、システム・ソフトウェアは、起動された後、連続して動作しても良い。従って、どの開始及び終了ポイント、例えば、参照番号９０及び９７ａ〜９７ｄも、必要に応じて実行されるコードの一部分の論理的な開始及び終了ポイントを示すことを意図している。任意のブロックの実行の順番も、この開示の範囲から逸脱することなく、種々に変更して良い。これら観点の実現は、ここでの開示に基づいて、明白であり、十分に当業者の理解の範囲である。
【００２７】
処理は、大雑把に言えば、ユーザが次の機能の１つを選択したときに始まる：ブロック９１ａ〜９１ｄで大まかに示されるように、ティッカー要素追加、ティッカー要素削除、ティッカー要素編集、そして、ティッカー開始／停止。ティッカー要素追加機能は、大雑把に言えば、ブロック９３ａで示されるように、例えば、測定形式、チャンネルなどの選択といったティッカー要素情報を受ける処理を含む。図４に概略を示すように、当然ながら、適切なメモリ位置が割り当てられるようにしても良い。ブロック９５ａに概略が示されるように、所望のティッカー要素が全て追加されるまで、処理を繰り返しても良い。ティッカー要素削除機能は、ブロック９３ｂで示されるように、大まかに言えば、ティッカー要素削除情報を受ける処理を含むようにしても良い。例えば、図４に概略を示すように、当然ながら、関連するメモリ位置を割り当てから解放しても良い。ブロック９５ｂに概略が示されるように、所望のティッカー要素が全て削除されるまで、処理を繰り返しても良い。
【００２８】
ティッカー要素編集機能は、大まかに言えば、ブロック９３ｃで示されるように、例えば、測定形式、チャンネルなどの変更といったティッカー編集情報を受ける処理を含む。当然ながら、関連するメモリ位置は、例えば、図４に示されるように、必要に応じて、再割り当てされても良いし、さもなくば調整されても良い。この処理は、ブロック９５ｃで大まかに示されるように、全ての所望ティッカー要素が編集されるまで、繰り返されても良い。開始／停止ティッカー機能は、大まかに言えば、ブロック９３ｄで示されるように、ティッカー開始／停止入力情報を受ける処理を含む。当然ながら、開始／停止情報とは別に、ユーザは、現在の設定を保存したり、現在のティッカー要素を全てクリアするような他の機能を実行しても良い。従って、メモリ位置は、例えば、図４に示されるように、必要に応じて、割り当てられたり、割り当てが解放されたり、更新されたり、さもなくば調整されても良い。このプロセスは、ブロック９４ｄに示されるように、全ての開始／停止情報を受けるまで繰り返されても良い。
【００２９】
当然ながら、ここでの開示に基づいて、多くの変形が可能である。機能や構成要素を、特定の組み合わせにおいて上述したが、各機能や構成要素は、他の機能や構成要素なしで単独で利用可能であるし、さもなくば、他の機能や構成要素と伴うか又は伴わない様々な組み合わせの中で利用可能である。ここに開示される装置又は方法は、コンピュータ読み出し可能な（非一時的な）記録媒体中の汎用コンピュータ又はプロセッサで実行するためのコンピュータ・プログラム、ソフトウェア又はファームウェアで実現されても良い。コンピュータ読み出し可能記録メディアの例には、リード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、レジスタ、キャッシュ・メモリ、半導体メモリ・デバイス、内蔵ハードディスク及びリムーバブル・ディスのような磁気メディア、光磁気メディア、ＣＤ−ＲＯＭディスク及びデジタル・バーサタイル・ディスク（ＤＶＤ）のような光メディアが含まれる。
【００３０】
適切なプロセッサには、例としては、汎用プロセッサ、特定用途プロセッサ、従来型プロセッサ、デジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ）、複数のマイクロプロセッサ、ＤＳＰコアに関連する１つ以上のマイクロプロセッサ、コントローラ、マイクロコントローラ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）回路、他の任意形式の集積回路（ＩＣ）及び／又はステート・マシーンが含まれる。
【符号の説明】
【００３１】
３０  試験測定装置
３１  取込み回路
３２  ホスト・プロセッサ
３３  メモリ
３４  表示装置
３５  測定モジュール
３７  ユーザ・インタフェース・モジュール
４１  ライン
４３  ライン
４５  ライン
４７  ライン
４９  ライン
６１  測定値ティッカー
６２  信号源ＩＤ
６３  ティッカー要素
６４  測定ＩＤ
６６  測定形式
６８  測定値
７１ａ〜７１ｉ  メモリ位置
７３  メモリ
７４  測定値ティッカー
７５  測定モジュール
８０  表示
８１  表示
８４  測定値ティッカー
８６ａ  設定ウィンドウ
８６ｂ  設定ウィンドウ
８８  ティッカー設定ボタン
９０  スクロール速度選択ボタン
９２  ティッカー要素（測定値）数選択ボタン
９４  編集ボタン
９６  開始／停止ボタン
９８  保存ボタン
１００  フローチャート
【図１ａ】
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【図１ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【外国語明細書】
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