(57)【要約】      （修正有）【課題】検査成否判定手段が、再検査物品を保持部から排出させずに再検査させて、何度再検査を受けたかを把握可能とし、際限なく再検査する必要をなくし、物品分類の効率化をあげる。【解決手段】物品の保持部を有する回転体とその駆動手段とからなり、保持部から物品を排出する排出位置を有する搬送手段３と、搬送手段３の搬送経路上に設けられた保持部８への物品の供給手段および物品の特性の検査手段と、検査成功物品を排出位置１４で排出させ、検査失敗物品を再検査させる検査成否判定手段と、排出された物品を特性に基づき分類に振り分ける分配手段と、から構成される。検査成否判定手段は、再検査物品を保持部８から排出させずに排出位置１４および供給位置１０を通過させるとともに、再検査物品が供給位置１０を通過する際には、物品の供給を停止させることにより、再検査させる。【選択図】図１
2014055835.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品を保持する複数の保持部を有する回転体と、当該回転体を回転駆動する駆動手段とからなり、当該回転体の保持部から物品を排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の搬送経路上に設けられた供給位置において前記回転体の保持部に物品を供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記検査手段による検査の成否を判定し、検査が成功した物品を前記排出位置において前記搬送手段から排出させ、検査が失敗した物品を前記検査手段により再検査させる検査成否判定手段と、
前記搬送手段から排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類に振り分ける分配手段と、
からなる物品分類装置において、
前記検査成否判定手段は、前記検査手段により再検査させる再検査物品を前記回転体の保持部から排出させずに前記排出位置および前記供給位置を通過させるとともに、当該再検査物品が前記供給位置を通過する際には、前記供給手段からの物品の供給を停止させることにより、当該再検査物品を前記検査手段により再検査させる
ことを特徴とする物品分類装置。
【請求項２】
上記搬送手段は、
上記供給位置において物品が供給される上流側回転体と、当該上流側回転体と受渡位置を介して接続されるとともに上記排出位置を有する下流側回転体とからなり、上記駆動手段は前記上流側回転体および前記下流側回転体をそれぞれに独立して間欠回転可能とし、
上記検査成否判定手段は、上記再検査物品が前記下流側回転体の排出位置を通過して受渡位置の１ピッチ上流側の停止位置に到達した後、当該受渡位置に位置する前記上流側回転体の保持部から前記下流側回転体の保持部へと物品が受け渡されると、前記上流側回転体を停止させたまま前記下流側回転体を１ピッチだけ間欠送りして、物品を受け渡して空となった前記上流側回転体の保持部に上記再検査物品を受け渡す
ことを特徴とする請求項１記載の物品分類装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物品分類装置におけるテストハンドラに関する発明であり、詳しくは、物品の電気的特性や光学的特性などを検査して分類する装置において、特性検査を失敗した物品について、再検査させるときの動作に特徴を有する物品分類装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
物品分類装置の一つとして電子部品（ＬＥＤチップ）の分類装置がある。該装置でＬＥＤチップの検査時に、ＬＥＤチップに対するプローブのコンタクト不良や、ＬＥＤチップに対する昇温不良により検査失敗と判断される場合がある。装置要因によるＬＥＤチップの位置決め不良やＬＥＤチップ自体の不良であるバリや寸法ズレやゴミの付着等が主たる原因である。検査が失敗と判断されると再検査が必要となる。従来の再検査は次のように行われていた。
【０００３】
例えば特許文献１に示される物品分類装置では、振り分け先の分類容器の１つを再検査物品を収容する分類容器に割り当てておき、検査が失敗したＬＥＤチップは、この分類容器へ排出され、該分類容器に入ったＬＥＤチップは、再検査物品として、オペレータにより再度供給手段へ移され、この供給手段から検査が行われる搬送手段へと供給されていた。この再検査用の分類容器に入ったＬＥＤチップを再度供給手段に移す作業は人手に頼ることとなり、煩雑なものであった。
【０００４】
他方、人手を必要としないで、検査を行う搬送手段に再検査物品を供給する方法が採用された装置として特許文献２や特許文献３に示される物品分類装置があった。そこでは検査が行われている搬送手段にリターンコンベヤ等を設けて、再検査物品であるＬＥＤチップを、供給手段であるチップ部品フィーダ（特許文献３ではパーツフィーダの容器）に戻し、このＬＥＤチップを自動的に再検査するようにしていた。
【０００５】
しかし、上記いずれの物品分類装置の場合も、検査対象ＬＥＤチップが検査の行われている搬送手段から一端排出されてしまうため、検査対象ＬＥＤチップが再検査物品であるか否かの特定ができなくなってしまう。その結果、再検査物品であるＬＥＤチップを何度再検査したのかを把握できなくなってしまい、再検査物品が延々と検査され続けるという問題点を有していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特許第４４７４６１２号特許公報
【特許文献２】特許第２５８５１３３号特許公報
【特許文献３】特許第３２００６１２号特許公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、上記問題点を解決しようとするもので、検査手段が搬送手段の搬送経路に沿って設けられている物品分類装置において、検査成否判定手段が、検査手段により再検査させる再検査物品を、搬送手段である回転体の保持部から排出させずに再検査させることにより、何度再検査を受けたかを把握可能とし、同じ再検査物品を際限なく再検査する必要をなくし、物品分類の効率化をあげること、更には、再検査用の分類容器から供給手段へオペレータが人手により戻す場合に比べ、オペレータの作業負荷を減らすことを課題として提供された。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため、第１の発明は、物品分類装置に次の手段を採用する。
第１に、物品を保持する複数の保持部を有する回転体と、当該回転体を回転駆動する駆動手段とからなり、当該回転体の保持部から物品を排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の搬送経路上に設けられた供給位置において前記回転体の保持部に物品を供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記検査手段による検査の成否を判定し、検査が成功した物品を前記排出位置において前記搬送手段から排出させ、検査が失敗した物品を前記検査手段により再検査させる検査成否判定手段と、前記搬送手段から排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類に振り分ける分配手段と、からなる物品分類装置とする。
第２に、前記検査成否判定手段は、前記検査手段により再検査させる再検査物品を前記回転体の保持部から排出させずに前記排出位置および前記供給位置を通過させるとともに、当該再検査物品が前記供給位置を通過する際には、前記供給手段からの物品の供給を停止させることにより、当該再検査物品を前記検査手段により再検査させる。
【０００９】
第２の発明は、第１の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第１に、上記搬送手段は、上記供給位置において物品が供給される上流側回転体と、当該上流側回転体と受渡位置を介して接続されるとともに上記排出位置を有する下流側回転体とからなり、上記駆動手段は前記上流側回転体および前記下流側回転体をそれぞれに独立して間欠回転可能とする。
第２に、上記検査成否判定手段は、上記再検査物品が前記下流側回転体の排出位置を通過して受渡位置の１ピッチ上流側の停止位置に到達した後、当該受渡位置に位置する前記上流側回転体の保持部から前記下流側回転体の保持部へと物品が受け渡されると、前記上流側回転体を停止させたまま前記下流側回転体を１ピッチだけ間欠送りして、物品を受け渡して空となった前記上流側回転体の保持部に上記再検査物品を受け渡す。
【発明の効果】
【００１０】
第１の発明は、物品分類装置において、検査成否判定手段は、検査手段により再検査させる再検査物品を回転体の保持部から排出させずに排出位置および供給位置を通過させるとともに、当該再検査物品が供給位置を通過する際には、供給手段からの物品の供給を停止させて当該再検査物品を検査手段により再検査させることにより、再検査物品を搬送手段から排出することなく再検査でき、何度再検査を受けたかを把握することが可能となった。
【００１１】
上記の結果、同じ再検査物品を際限なく再検査する必要がなくなり、物品分類の効率化に繋がった。更には、再検査用の分類容器から供給手段へオペレータが人手により戻す場合に比べ、オペレータの作業負荷を減らすことができた。
【００１２】
第２の発明によれば、上流側回転体と下流側回転体を受渡位置を介して接続して構成した搬送手段においても、再検査物品を搬送手段から排出することなく再検査でき、第１の発明と同様の効果を発揮することができた。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施例を示す電子部品分類装置の概略平面説明図
【図２】同概略右側面図
【図３】インデックステーブルの断面説明図
【図４】点灯検査位置での検査方法を示す説明図であり、（Ａ）が点灯前を示し、（Ｂ）が点灯時を示す。
【図５】排出位置の部分拡大平面説明図
【図６】排出位置の部分拡大断面説明図
【図７】分類運転時のＬＥＤチップの搬送経路の他実施例を示す図
【図８】上流側インデックステーブルの保持部から下流側インデックステーブルの保持部へＬＥＤチップを受け渡す状態を示す部分説明図
【図９】再検査用ＬＥＤチップを上流側インデックステーブルの保持部へ受け渡す動作を示す説明図で、（Ａ）は再検査用ＬＥＤチップが下流側インデックステーブルでチップ受渡位置の１ピッチ上流側の停止位置に到達した時に分類運転用のＬＥＤチップが上流側インデックステーブル側に残っている場合を示し、（Ｂ）は（Ａ）と同じ位置で分類運転用のＬＥＤチップが下流側インデックステーブルに受け渡された状態を示し、（Ｃ）は上流側インデックステーブルが停止した状態で下流側インデックステーブルが１ピッチだけ間欠送りされた状態を示し、（Ｄ）は（Ｃ）と同じ位置で再検査用ＬＥＤチップが上流側インデックステーブルに受け渡された状態を示し、（Ｅ）は下流側インデックステーブルが停止した状態で上流側インデックステーブルが１ピッチだけ間欠送りされた状態を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図示の実施例と共に本発明の実施の形態について説明する。図１は、本発明の実施例を示す電子部品分類装置の概略平面説明図であり、図２は、同概略右側面図である。実施例においてワークである物品は、ＬＥＤチップＬであり、実施例における電子部品分類装置は該ＬＥＤチップＬを、断線チップか否かの電気的特性、使用環境下での色味・輝度などの光学的特性および割れ・カケチップか否かの外観的特性などを検査し、振り分け、分類容器Ｂに分類する装置である。
【００１５】
電子部品分類装置は、ＬＥＤチップＬ又は基準チップＳを搬送する搬送手段３と、搬送手段３にＬＥＤチップＬ又は基準チップＳを供給するチップ供給手段と、搬送手段３の搬送経路に沿って設けられるＬＥＤチップＬの特性を検査する検査手段と、検査手段による検査の成否を判定する検査成否判定手段と、搬送手段３から排出されたＬＥＤチップＬを物品の特性に基づき所要の分類容器Ｂに振り分ける分配手段とを有する。
【００１６】
搬送手段３は、図１に示されるように、上流側インデックステーブル４と、該上流側インデックステーブル４とチップ受渡位置１５を介して接続される下流側インデックステーブル５とからなる。上流側インデックステーブル４が、本発明における上流側回転体であり、下流側インデックステーブル５が、本発明における下流側回転体である。すなわち、搬送手段３は、上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５の２つの円盤状のテーブルを有している。尚、本願中第２の発明は、搬送手段３を上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５という２つのインデックステーブルで構成するが、第１の発明は、搬送手段３を単一のインデックステーブルで構成しても良い。
【００１７】
上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５の外周には所定間隔で多数の切り欠きが設けられており、この切り欠きが、直下に存在する固定テーブル６をチップ支持面としてＬＥＤチップＬ、基準チップＳを収容するポケット状の保持部８となる。尚、固定テーブル６の所定位置にはヒータが内蔵されている。上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５での検査はいずれもＬＥＤチップＬを加熱した上で行うためである。
【００１８】
上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５は、固定テーブル６上に装着され、駆動手段７によってそれぞれ独立して間欠回転可能とされている。実施例での回転方向は、上流側インデックステーブル４が反時計回りであり、下流側インデックステーブル５が時計回りである。尚、回転方向は、図７に示すように両インデックステーブル４，５とも反時計回りにすることも、他の組み合わせにすることも可能である。
【００１９】
上流側インデックステーブル４の搬送経路上には、分類対象のＬＥＤチップ供給位置９と、断線か否かを検査する点灯検査位置１１が設定されている。他方、下流側インデックステーブル５の搬送経路上には、テスト運転用の基準チップ供給・回収位置１０と、使用環境下での色味・輝度などの光学的特性を検査する光学検査位置１２と、割れ・カケチップか否かを検査する外観検査位置１３と、分類対象のＬＥＤチップＬを保持部８から排出する排出位置１４が設定されている。尚、符号１５が、上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５とが接続されるチップ受渡位置である。
【００２０】
チップ供給手段としては、分類運転時に用いる第１供給手段とテスト運転時に用いる第２の供給手段という２つの供給手段が設けられている。ここにおける分類運転とは、ＬＥＤチップＬを搬送手段で搬送しながら、その搬送経路上に設けられた検査手段で検査し、検査結果に従って、所要の分類容器Ｂへ振り分ける運転を意味する。他方、テスト運転とは、基準チップＳを搬送手段で搬送して、検査手段の調整の必要性の有無を検査する運転を意味する。
【００２１】
第１供給手段は、搬送手段３により搬送されるＬＥＤチップＬを所要の分類容器Ｂへ振り分ける分類運転において用いられる供給手段であって、搬送手段３にＬＥＤチップＬを供給するパーツフィーダ１である。詳記すれば、ＬＥＤチップＬは、上流側インデックステーブル４の保持部８へ供給される。
【００２２】
ＬＥＤチップ供給位置９で上流側インデックステーブル４に接続されるパーツフィーダ１は、多数のＬＥＤチップＬがランダムに収容されるフィーダボール１６と、レール１７で構成される。パーツフィーダ１は、振動によってＬＥＤチップＬをフィーダボール１６からレール１７へと長手方向１列に整列して送り出し、レール１７から上流側インデックステーブル４の保持部８にＬＥＤチップＬを供給する。
【００２３】
第２供給手段は、基準チップＳを循環搬送するテスト運転において下流側インデックステーブル５との間で基準チップＳを供給および回収する基準チップ用インデックステーブル２である。基準チップ用インデックステーブル２は、円盤状で外周に所定間隔で多数の切り欠きを形成し、該切り欠きを基準チップ保持部２６とした回転体であり、基準チップ供給・回収位置１０で基準チップＳを受け渡し可能なるよう下流側インデックステーブル５と接続され、下流側インデックステーブル５と同一ピッチで間欠回転する。
【００２４】
検査手段として、点灯検査手段となるプローブ１８と、光学検査手段となる積分球１９と、外観検査手段となるカメラ２７とが、搬送手段３の搬送経路上の各検査位置１１，１２，１３に設けられる。
【００２５】
図示されていないが、検査手段による検査の成否を判定し、検査が成功したＬＥＤチップＬは排出位置１４から排出させるようにし、検査が失敗したＬＥＤチップＬは上記検査手段により再検査させる検査成否判定手段が設けられている。
【００２６】
図５および図６に示されるように排出位置１４には、固定テーブル６を切り欠きして、保持部８で搬送されてきたＬＥＤチップＬを下方に配置される分配装置２０へ自然落下させる排出部２１が形成される。排出部２１は、排出部閉鎖手段となるシャッタ２２を有する。シャッタ２２は、開放時にはＬＥＤチップＬを自然落下させ、閉鎖時にはＬＥＤチップＬの落下を阻止して、排出部２１上を落下せずに通過させるものである。シャッタ２２は、図５および図６に示されるように、ＬＥＤチップＬが通過可能な排出孔２３を形成した円盤状のもので、軸２４を支点に回転可能とされている。尚、実施例では上記のような回転式のシャッタ２２を用いているが、進退式シャッタや、取り外し式シャッタであっても良い。
【００２７】
図２に示されるように排出部２１の下方には、排出されたＬＥＤチップＬを特性に基づき振り分ける分配装置２０と、更に、その下方には、分配装置２０から振り分けられチューブ２５を通って送り込まれたＬＥＤチップＬを貯留する多数の分類容器Ｂが配置されている。
【００２８】
続いて、搬送経路に従って分類運転について説明する。
先ず、ＬＥＤチップ供給位置９で、パーツフィーダ１は、上流側インデックステーブル４の保持部８にＬＥＤチップＬを供給する。分類運転時の供給手段としては第１供給手段であるパーツフィーダ１のみが作動しており、第２供給手段である基準チップ用インデックステーブル２は停止している。受け取ったＬＥＤチップＬは保持部８に吸着保持されて、ＬＥＤチップ供給位置９より図１の搬送経路上に示された矢印に示すように点灯検査位置１１に向かう。
【００２９】
点灯検査位置１１では、図４（Ａ）（Ｂ）に示されるように、プローブ１８をＬＥＤチップＬの電極に押し当てて通電することにより検査を行う。ＬＥＤチップＬが断線チップか否かを検査する。プローブ１８が接触不良であった場合も、これを検出できるようになっている。尚、点灯検査位置１１の手前（上流側）には温度計（熱伝対）が設けられており、所定温度（摂氏２００度）までＬＥＤチップＬを加熱上昇させたかをチェックしている。
【００３０】
点灯検査位置１１を通過したＬＥＤチップＬは図１の矢印に示すようにチップ受渡位置１５へと向かう。点灯検査および上昇温度を適正に通過したＬＥＤチップＬは、チップ受渡位置１５で図１の矢印に従って、上流側インデックステーブル４から下流側インデックステーブル５へと受け渡される。上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５は、保持部８の間隔を１ピッチとして間欠回転している。
【００３１】
図８に示すように、チップ受渡位置１５に至った上流側インデックステーブル４の保持部８にはＬＥＤチップＬが収容保持されており、相対する下流側インデックステーブル５の保持部８は空の状態である。この状態で、図１のチップ受渡位置１５に示されるように、上流側インデックステーブル４の保持部８から下流側インデックステーブル５の保持部８へＬＥＤチップＬが受け渡される。この受け渡しは、上流側インデックステーブル４の保持部８ではエアブローを行うと同時に下流側インデックステーブル５の保持部８では吸引するようにして行う。
【００３２】
下流側インデックステーブル５の保持部８に受け渡されたＬＥＤチップＬは図１の矢印に沿って、チップ受渡位置１５から光学検査位置１２に向かう。所定温度（摂氏８５度）の確認を行った後、積分球１９による光学的特性（色味・輝度）の検査を行う。続いて、下流側インデックステーブル５の間欠回転に従い、検査対象ＬＥＤチップＬは、外観検査位置１３に向かう。外観検査位置１３では、カメラ２７でＬＥＤチップＬの割れやカケチップか否かの検査をする。
【００３３】
外観検査位置１３での検査を終了したＬＥＤチップＬは、図１の矢印に従って、排出位置１４に向かう。この時、検査成否判定手段が検査成功と判定した場合、該当ＬＥＤチップＬは、排出位置１４より排出される。具体的には、シャッタ２２の排出孔２３を排出部２１上に合わせて、シャッタ２２を開く。該当ＬＥＤチップＬは、排出位置１４を通過する時に、開放された排出部２１より自然落下し、その下流に接続される分配装置２０により、物品の特性に基づき振り分けられ、チューブ２５を介して、所要の分類容器Ｂへと分類される。
【００３４】
検査成否判定手段が、検査が失敗と判定した場合、例えば、点灯検査位置１１での検査失敗や所定温度（摂氏２００度）までの上昇不足が発見された場合などには、当該再検査用ＬＥＤチップＬは、排出位置１４で下流側インデックステーブル５の保持部８から排出されずに、排出位置１４を通過する。具体的には、シャッタ２２の排出孔２３を排出部２１上方より外し、シャッタ２２を閉鎖し、該当ＬＥＤチップＬが閉鎖されたシャッタ２２上を通過し、再びチップ受渡位置１５へと循環搬送される。
【００３５】
チップ受渡位置１５に至った再検査用ＬＥＤチップＬは、上流側インデックステーブル４へと戻され再度の加熱や再度の点灯検査を受けることになる。以下、再検査用ＬＥＤチップＬ０を下流側インデックステーブル５の保持部８３より上流側インデックステーブル４の保持部８２へ戻す動作について図９に従って説明する。
【００３６】
図９（Ａ）に示すように、再検査用ＬＥＤチップＬ０が収容された下流側インデックステーブル５の保持部８３が、チップ受渡位置１５の１ピッチ上流側の停止位置２８に到達した時、上流側インデックステーブル４から下流側インデックステーブル５に受け渡される分類運転用のＬＥＤチップＬ１は上流側インデックステーブル４の保持部８２にある。この時、チップ受渡位置１５にある下流側インデックステーブル５の保持部８１は空になっている。
【００３７】
続いて、図９（Ｂ）に示されるように分類運転用のＬＥＤチップＬ１が下流側インデックステーブル５の空であった保持部８１に受け渡される。その結果、分類運転用のＬＥＤチップＬ１があった上流側インデックステーブル４の保持部８２が空となる。
【００３８】
その後、上流側インデックステーブル４が停止した状態を保持し、下流側インデックステーブル５が１ピッチだけ間欠送りされ、図９（Ｃ）に示すように、空の上流側インデックステーブル４の保持部８２の前に、再検査用ＬＥＤチップＬ０が収容されている下流側インデックステーブル５の保持部８３が位置する。
【００３９】
ここで図９（Ｄ）に示されるように、再検査用ＬＥＤチップＬ０が上流側インデックステーブル４の保持部８２に受け渡される。その結果、再検査用ＬＥＤチップＬ０が収容されていた下流側インデックステーブル５の保持部８３は空となる。
【００４０】
その後、図９（Ｅ）に示されるように、下流側インデックステーブル５が停止した状態で、上流側インデックステーブル４が１ピッチだけ間欠送りされる。上流側インデックステーブル４の保持部８４に収容されていた次の分類運転用のＬＥＤチップＬ２が空となった下流側インデックステーブル５の保持部８３に受け渡され、その後、上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５の動作は通常動作に戻る。
【００４１】
戻された再検査用ＬＥＤチップＬ０は、上流側インデックステーブル４の回転により巡回し、再度の加熱や再度の点灯検査を受けた後、下流側インデックステーブル５での検査を受けることになる。尚、再検査用ＬＥＤチップＬ０が、ＬＥＤチップ供給位置９を通過する際には、第１供給手段であるパーツフィーダ１からのＬＥＤチップＬの供給は停止させられている。
【００４２】
再検査用ＬＥＤチップＬ０は、排出せずにそのまま搬送し、再検査を継続する。規定回数検査不良の続く再検査用ＬＥＤチップＬ０は、規定回数の検査終了後、不良用の分類容器Ｂへ排出される。
【００４３】
次にテスト運転について説明する。テスト運転は主に色味・輝度の検査手段の校正の必要性を見るため、これらの基準を示す基準チップＳを用いる。本手段における色味・輝度の検査は下流側インデックステーブル５で行うため、基準チップ用インデックステーブル２は下流側インデックステーブル５に接続される。ちなみに、上流側インデックステーブル４では、ＬＥＤチップＬの断線を検出する検査を行っているため、特に校正する必要がなく、基準チップＳによるテスト運転は省略されている。
【００４４】
基準チップＳは、基準チップ用インデックステーブル２の基準チップ保持部２６から下流側インデックステーブル５の保持部８に供給される。その後、下流側インデックステーブル５は図１の矢印が示す方向（時計回り）に間欠回転する。この時、基準チップ用インデックステーブル２は反時計回りに間欠回転する。
【００４５】
下流側インデックステーブル５の排出位置１４には排出部２１を塞ぐシャッタ２２が設けられているので、テスト運転に際しては、これを閉じて、下流側インデックステーブル５を間欠回転させることで基準チップＳを排出部２１で落下させずに循環搬送する。所定周回だけ循環搬送した後は、基準チップ供給・回収位置１０で、基準チップＳを基準チップ用インデックステーブル２に回収する。
【００４６】
尚、テスト運転は、１日の始まりや、運転を開始してから所定時間、所定個数の検査が終了した時点で行うようにしても良い。また、温度計を設けて装置内の温度が所定温度以上となった場合に行うようにしても良い。
【００４７】
以上、実施例での搬送手段は、上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５のようにテーブル外周面に形成された保持部８でＬＥＤチップＬや基準チップＳを搬送するものであるが、回転体の外周で下方に向かって設置された吸引ノズルでチップを吸引保持し、回転搬送する搬送手段であっても本発明は実施可能である。
【符号の説明】
【００４８】
１・・・・・・・・・・・・・・・・パーツフィーダ
２・・・・・・・・・・・・・・・・基準チップ用インデックステーブル
３・・・・・・・・・・・・・・・・搬送手段
４・・・・・・・・・・・・・・・・上流側インデックステーブル
５・・・・・・・・・・・・・・・・下流側インデックステーブル
６・・・・・・・・・・・・・・・・固定テーブル
７・・・・・・・・・・・・・・・・駆動手段
８、８１、８２、８３、８４・・・・保持部
９・・・・・・・・・・・・・・・・ＬＥＤチップ供給位置
１０・・・・・・・・・・・・・・・基準チップ供給・回収位置
１１・・・・・・・・・・・・・・・点灯検査位置
１２・・・・・・・・・・・・・・・光学検査位置
１３・・・・・・・・・・・・・・・外観検査位置
１４・・・・・・・・・・・・・・・排出位置
１５・・・・・・・・・・・・・・・チップ受渡位置
１６・・・・・・・・・・・・・・・フィーダボール
１７・・・・・・・・・・・・・・・レール
１８・・・・・・・・・・・・・・・プローブ
１９・・・・・・・・・・・・・・・積分球
２０・・・・・・・・・・・・・・・分配装置
２１・・・・・・・・・・・・・・・排出部
２２・・・・・・・・・・・・・・・シャッタ
２３・・・・・・・・・・・・・・・排出孔
２４・・・・・・・・・・・・・・・軸
２５・・・・・・・・・・・・・・・チューブ
２６・・・・・・・・・・・・・・・基準チップ保持部
２７・・・・・・・・・・・・・・・カメラ
２８・・・・・・・・・・・・・・・停止位置
Ｂ・・・・・・・・・・・・・・・・分類容器
Ｌ、Ｌ１、Ｌ２・・・・・・・・・・ＬＥＤチップ
Ｌ０・・・・・・・・・・・・・・・再検査用ＬＥＤチップ
Ｓ・・・・・・・・・・・・・・・・基準チップ
【図１】
2014055835.tif 000003
【図２】
2014055835.tif 000004
【図３】
2014055835.tif 000005
【図４】
2014055835.tif 000006
【図５】
2014055835.tif 000007
【図６】
2014055835.tif 000008
【図７】
2014055835.tif 000009
【図８】
2014055835.tif 000010
【図９】
2014055835.tif 000011