(57)【要約】【課題】容器処理の不良要因となるパラメータの設定値が不適正になった場合に自動的に適正値に調整する。【解決手段】パラメータの自動調整制御装置６０は、ラベル装着不良が発生すると、不良率演算部６０ｅで不良率ＲNGを算出し、ＲNG≧ＲTH（閾値）であれば、パラメータ変更値設定部６０ｄでラベル基材の走行ラインＸとラベルの開口量Ｓの２つのパラメータの適正値を探索する。パラメータ変更値設定部６０ｄは２つのパラメータの現在の設定値に対してそれぞれ±ΔＸ、±ΔＳだけ変化させた８種類のパラメータ変更値を作成し、２つのパラメータを順次各パラメータ変更値に変更して不良率演算部６０ｅで不良率ＲNGを算出する。パラメータ適正値設定部６０ｆは最小の不良率ＲNGを有するパラメータ変更値を適正値に設定し、パラメータ設定部６０ｇが２つのパラメータを適正値に変更する。【選択図】図２３
2014000989.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の容器を一列に並べて所定の容器搬送経路で搬送する容器搬送手段と、
前記複数の容器にそれぞれ対応付けて配設され、各容器が前記容器搬送経路を移動している間に各容器に対して所定の処理を行う複数の容器処理手段と、
を備えた容器処理システムであって、
前記複数の容器処理手段による前記複数の容器に対する処理状態が規定の処理状態から外れているか否かを判別する判別手段と、
前記判別手段で前記処理状態が前記規定の処理状態から外れていると判別されると、前記容器に対する前記処理の結果に直接影響を与える所定のパラメータについて、前記処理状態を前記規定の処理状態にするパラメータ適正値を探索するパラメータ適正値探索手段と、
前記パラメータの設定値を前記パラメータ適正値探索手段で求められた前記パラメータ適正値に変更するパラメータ変更手段と、
を備えたことを特徴とする容器処理システム。
【請求項２】
前記規定の処理状態は、前記複数の容器処理手段で所定数の前記処理が行われる毎に算出した場合の不良率が予め設定された閾値以下となる状態であり、
前記判別手段は、
前記容器処理手段が前記容器に前記所定の処理を行う毎にその処理結果の良否を判定する処理判定手段と、
システムの運転開始後若しくは前記パラメータ変更手段で前記パラメータの設定値が前記パラメータ適正値に変更された後に前記複数の容器処理手段が前記所定の処理を開始してから前記処理判定手段で最初に処理不良と判定されるまでの処理数を計測する計測手段と、
前記計測手段で計測された処理数に基づいて前記不良率を算出する第１の不良率算出手段と、
前記第１の不良率算出手段で算出された前記不良率を前記閾値と比較する比較手段と、
を含み、前記不良率が前記閾値より大の場合に前記処理状態は前記規定の処理状態から外れていると判別する、請求項１に記載の容器処理システム。
【請求項３】
前記処理判定手段は、
前記容器に前記所定の処理が正常に行われたときの画像を基準画像として記憶する基準画像記憶手段と、
前記容器処理手段で前記容器に前記所定の処理が行われる毎に当該処理状態を示す画像を取得する画像取得手段と、
前記基準画像に対する前記画像取得手段で取得された画像のずれに基づいて前記処理結果の良否を判定する判定手段と、
含む、請求項２に記載の容器処理システム。
【請求項４】
前記パラメータ適正値探索手段は、
前記パラメータの現在設定値に対して所定の変化量で変化させた複数のパラメータ変更値を作成するパラメータ変更値作成手段と、
前記パラメータの値を所定の順番で前記複数のパラメータ変更値に変更するパラメータ変更手段と、
前記パラメータ変更手段で前記パラメータの値が前記パラメータ変更値に変更される毎に、変更後に前記複数の容器処理手段で前記所定数の処理が行われたときの前記不良率を算出する第２の不良率算出手段と、
前記第２の不良率算出手段で前記複数のパラメータ変更値についてそれぞれ算出された複数の不良率のうち、前記閾値以下で且つ最小の不良率を有するパラメータ変更値の中から所定のパラメータ変更値を前記パラメータ適正値に設定するパラメータ適正値設定手段と、
を含む、請求項２又は３に記載の容器処理システム。
【請求項５】
前記所定のパラメータには２種類のパラメータが含まれ、
前記パラメータ変更値作成手段は、前記パラメータの現在設定値を中心として各パラメータをそれぞれ所定の変化量で正又は負の方向に変化させた８種類のパラメータ変更値を生成し、
前記パラメータ変更手段は、前記８種類のパラメータ変更値を前記２種類のパラメータのいずれか一方だけを変化させた４種類のパラメータ変更値からなる第１のグループと前記２種類のパラメータの両方を変化させた４種類のパラメータ変更値からなる第２のグループに分け、前記パラメータの値を前記第１のグループ内の４種類パラメータ変更値について順番に変更した後、前記第２のグループ内の４種類のパラメータ変更値について順番に変更する、請求項１乃至４のいずれかに記載の容器処理システム。
【請求項６】
前記パラメータ変更手段は、
前記第１のグループ内の４種類のパラメータ変更値について前記不良率が算出されると、前記第１の不良率算出手段で算出された前記パラメータの現在設定値に対する不良率よりも大きい不良率を有するパラメータ変更値に隣接する前記第２のグループ内のパラメータ変更値を前記パラメータの変更対象から除外し、前記第２のグループ内の残りのパラメータ設定値について前記パラメータの値を順番に変更する、請求項５に記載の容器処理システム。
【請求項７】
前記容器処理手段は、
複数の前記ラベルが一列に印刷され、シート状に折り畳まれた帯状のラベル基材を所定のラベル基材切断位置に搬送し、前記ラベル基材から切り離して各ラベルを生成するラベル生成手段と、
前記容器搬送経路に設けられたラベル受取位置を通過するときに前記容器の上方位置で前記ラベル生成手段により生成された前記ラベルを受け取るラベル受取手段と、
前記ラベル受取手段で受け取った前記ラベルを筒状に開いた後下降させて前記容器に装着するラベル装着手段と、を含み、
前記所定のパラメータに含まれる２種類のパラメータは、前記ラベル生成手段で搬送される前記ラベル基材の搬送経路上の幅方向における走行位置と前記ラベル装着手段が筒状に開いたときの前記ラベルの開口量であり、
前記ラベル基材を前記ラベル基材切断位置に搬送する基材搬送経路上に設けられ、当該基材搬送経路の幅方向における前記ラベル基材の走行位置を調整する走行位置調整手段と、
前記ラベル装着手段に設けられ、前記ラベルを筒状に開いたときの開口量を調整する開口量調整手段と、
を備え、
前記パラメータ変更手段は、前記パラメータ変更値に含まれる前記ラベル基材の走行位置と前記ラベルの開口量のデータをそれぞれ前記走行位置調整手段と前記開口量調整手段に出力して前記ラベル基材の走行位置と前記ラベルの開口量を変更する、請求項１乃至６のいずれかに記載の容器処理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の容器を一列に並べて所定の容器搬送経路で搬送し、各容器の上方位置に配設した容器処理装置で各容器が容器搬送経路を移動している間に所定の容器処理を行う容器処理システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、上記の容器処理システムとして、多数の容器を一列に並べてラベル装着装置に供給するとともに、多数のラベルが一列に印刷されたラベル基材を搬送しながら各ラベルを切り離してラベル装着装置の各ボトルに供給し、ラベル装着装置でラベルを筒状に開いてボトルに被せるように装着するラベル装着システムが知られている。
【０００３】
図３２は、従来のラベル装着システムの基本的な構成を示す図である。
【０００４】
図３２に示すラベル装着システム１００は、主としてラベル供給装置１０１と、ボトル供給装置１０２と、ラベル装着装置１０３と、ボトル排出装置１０４とを有機的に組み合わせて構成されている。
【０００５】
ラベル供給装置１０１は、多数のラベルが一列に印刷され、シート状に折り畳まれたシュリンクフィルムからなる帯状のラベル基材を所定の速度でラベル基材切断位置（図示省略）に搬送し、そのラベル基材切断位置でラベル一枚分が搬送される周期でラベル基材を切断することにより多数のラベルＬを連続的に生成する。そして、連続的に生成した各ラベルＬを回転軸の周りを一定の間隔で回転する複数のラベル受渡部材１０１ａに順次受け渡し、各ラベル受渡部材１０１ａを介してラベル装着装置１０３に供給する。
【０００６】
ボトル供給装置１０２は、ベルトコンベア１０２ａで多数のボトルＢを一列に並べて搬送し、ベルトコンベア１０２ａの先端部でスクリュー１０２ｂにより所定のボトル間隔を設けた後、スターホイール１０２ｃによって各ボトルＢをラベル装着装置１０３のボトル受取位置Ｑ１に搬送し、ラベル装着装置１０３に供給する。
【０００７】
ラベル装着装置１０３は、主軸１０３ａに取り付けられ、周縁に所定の間隔でボトル保持部（図示省略）が設けられた支持盤１０３ｂと、主軸１０３ａから各ボトル保持部に放射状に伸びる複数のアームにそれぞれ取り付けられた複数のラベル装着ヘッド（図示省略）を備え、ボトル供給装置１０２から供給されるボトルＢをボトル受取位置Ｑ１で各ボトル保持部によって受け取るとともに、ラベル供給装置１０１から供給されるラベルＬをラベル受取位置Ｑ２で各ラベル装着ヘッドにより受け取る。そして、ラベル装着装置１０３は、支持盤１０３ｂの回転によってボトルＢがボトル搬出位置Ｑ３に搬送されるまでの間に、各ラベル装着ヘッドでラベルＬを筒状に開いた後下降させる動作をさせてラベルＬをボトルＢに被せるようにして装着する。
【０００８】
ラベル排出装置１０４は、ラベル装着装置１０３のラベル排出位置Ｑ３に搬送されたラベル付きボトルＢ（ラベルＬが装着されたボトルＢ）をスターホイール１０４ｂで受け取った後、ベルトコンベア１０４ａに受け渡し、そのベルトコンベア１０４ａで各ラベル付きボトルＢを下流側のラベルＬの収縮工程等を行う装置に搬送する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１１−１４８５５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ラベル装着システム１００は、各ボトルＢの上方位置に昇降可能に設けられたラベル装着ヘッドでラベル供給装置１０１からラベルＬを受け取り、そのラベルＬを筒状に開いた後下降させてボトルＢに被せるようにして装着するので、図３３（ａ）に示すように、円形状に開いたラベルＬの開口の中心ＯLが円形状のボトルＢの外径形状の中心ＯBに対してずれていると、ラベル装着不良が生じる。また、図３３（ｂ）に示すように、ラベルＬの開口量がボトルＢの外径寸法に対して小さ過ぎた場合もラベル装着不良が生じる。ラベルＬの開口量がボトルＢの外径寸法に対して大き過ぎた場合も同様である。
【００１１】
ボトルＢに対するラベルＬの開口位置が適正位置からずれる要因として、ラベル供給装置１０１におけるラベル基材の走行ラインの幅方向の変動がある。ラベル供給装置１０１は、原反からラベル基材を繰り出し、所定の長さの搬送経路を高速で走行させてラベル切断位置に搬送するので、図３４に示すように、その搬送中にラベル基材の走行ラインが幅方向に微小に変動する。この変動は、ラベル装着ヘッドがラベル受渡部材１０１ａからラベルＬを受け取る時のラベル受取位置の変動として表れるので、ラベル装着ヘッドがラベル受渡部材１０１ａから受け取ったラベルＬに対して開口動作をすると、ラベルＬの開口中心ＯLが正規の位置からずれることになり、図３３（ａ）の状態が生じることになる。
【００１２】
ラベル装着システム１００は、ラベル装着装置１０３に設けられた複数のラベル装着ヘッドが所定のディレイタイミングでラベルＬをボトルＢに装着する動作を繰り返すことによって１分間に数百本の速度でラベル付きボトルＢを生産するシステムである。ラベル装着システム１００が運転を開始した後、ラベル基材の走行ラインとラベルＬの開口量に起因するラベル装着不良が発生し出すと、連続して多数のラベル付きボトルＢがラベル装着不良となり、不良率が急激に悪化するので、ラベル装着システム１００の運転前やラベル装着不良によりラベル装着システム１００が停止してメンテナンスを必要とする場合にはラベル基材の走行ラインとラベルＬの開口量を最適値に調整する必要がある。
【００１３】
このため、ラベル供給装置１０１には、ラベル基材の走行ラインの位置（具体的には、ラベル基材の一方のエッジの幅方向における走行位置）を調整するエッジコントローラが設けられ、ラベル装着装置１０３の各ラベル装着ヘッドにはラベルＬを筒状に開く開口量を調整する開口量調整機構が設けられている。
【００１４】
しかしながら、従来のラベル装着システム１００は、作業者がラベル装着システム１００を仮運転させてエッジコントローラによるラベル基材の走行ラインの調整やラベル装着装置の開口量調整機構によるラベルＬの開口量の調整をする構成であるので、その調整のための労力と時間の負担が大きいという問題がある。また、ラベル装着不良によりラベル装着システム１００が停止する頻度が増加すると、ラベル装着システム１００の稼働率が低下し、生産性を悪化するという問題もある。
【００１５】
上記の問題は容器処理システムの所定の処理が容器にラベルを装着するラベル装着処理の場合に関するものであるが、所定の処理が容器にラベルを添付したり、文字等を印字したり、容器に収容物を充填したりするなどの処理の場合でも同様に生じる問題である。
【００１６】
すなわち、一般に容器処理システムを設置する際、複数のロットに対して仮運転を行って不良率が所定の閾値以下となるように、当該不良率に直接的に影響を与える主要なパラメータが調整されて所定のパラメータ値に設定されるが、システム設置後に大量の容器処理が繰り返されると、そのパラメータ値が変動して不良率が所定の閾値より大きくなるように容器処理システムの状態が変化することは、ラベル装着システム以外のシステムでも同様である。
【００１７】
従って、ラベル装着システム以外の容器処理システムでも、システム設置後の運転によってシステム設置時に設定した所定のパラメータ値が不適切になった場合、容器処理不良により容器処理システムが停止する頻度が増加し、稼働率が低下して生産性を悪化することになる。また、容器処理システムが停止する度に、作業者はパラメータの適正値を探索し、パラメータ値をその適正値に再設定をしなければならず、その作業負担も大きい。
【００１８】
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、システムの運転中に容器処理の不良に直接影響する所定のパラメータが不適正になった場合、自動的にそのパラメータの適正値を求め、その適正値に自動調整することができる容器処理システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明によって提供されるラベル装着装置は、複数の容器を一列に並べて所定の容器搬送経路で搬送する容器搬送手段と、前記複数の容器にそれぞれ対応付けて配設され、各容器が前記容器搬送経路を移動している間に各容器に対して所定の処理を行う複数の容器処理手段と、を備えた容器処理システムであって、前記複数の容器処理手段による前記複数の容器に対する処理状態が規定の処理状態から外れているか否かを判別する判別手段と、前記判別手段で前記処理状態が前記規定の処理状態から外れていると判別されると、前記容器に対する前記処理の結果に直接影響を与える所定のパラメータについて、前記処理状態を前記規定の処理状態にするパラメータ適正値を探索するパラメータ適正値探索手段と、前記パラメータの設定値を前記パラメータ適正値探索手段で求められた前記パラメータ適正値に変更するパラメータ変更手段と、を備えたことを特徴とする（請求項１）。
【００２０】
上記の容器処理システムにおいて、前記規定の処理状態は、前記複数の容器処理手段で所定数の前記処理が行われる毎に算出した場合の不良率が予め設定された閾値以下となる状態であり、前記判別手段は、前記容器処理手段が前記容器に前記所定の処理を行う毎にその処理結果の良否を判定する処理判定手段と、システムの運転開始後若しくは前記パラメータ変更手段で前記パラメータの設定値が前記パラメータ適正値に変更された後に前記複数の容器処理手段が前記所定の処理を開始してから前記処理判定手段で最初に処理不良と判定されるまでの処理数を計測する計測手段と、前記計測手段で計測された処理数に基づいて前記不良率を算出する第１の不良率算出手段と、を含み、前記第１の不良率算出手段で算出された前記不良率を前記閾値と比較して前記不良率が前記閾値より大の場合に前記処理状態は前記規定の処理状態から外れていると判別するとよい（請求項２）。
【００２１】
上記の容器処理システムにおいて、前記処理判定手段は、前記容器に前記所定の処理が正常に行われたときの画像を基準画像として記憶する基準画像記憶手段と、前記容器処理手段で前記容器に前記所定の処理が行われる毎に当該処理状態を示す画像を取得する画像取得手段と、前記基準画像に対する前記画像取得手段で取得された画像のずれに基づいて前記処理結果の良否を判定する判定手段と、含むとよい（請求項３）。
【００２２】
上記の容器処理システムにおいて、前記パラメータ適正値探索手段は、前記パラメータの現在設定値に対して所定の変化量で変化させた複数のパラメータ変更値を作成するパラメータ変更値作成手段と、前記パラメータの値を所定の順番で前記複数のパラメータ変更値に変更するパラメータ変更手段と、前記パラメータ変更手段で前記パラメータの値が前記パラメータ変更値に変更される毎に、変更後に前記複数の容器処理手段で前記所定数の処理が行われたときの前記不良率を算出する第２の不良率算出手段と、前記第２の不良率算出手段で前記複数のパラメータ変更値についてそれぞれ算出された複数の不良率のうち、前記閾値以下で且つ最小の不良率を有するパラメータ変更値の中から所定のパラメータ変更値を前記パラメータ適正値に設定するパラメータ適正値設定手段と、を含むとよい（請求項４）。
【００２３】
上記の容器処理システムにおいて、前記所定のパラメータには２種類のパラメータが含まれ、前記パラメータ変更値作成手段は、前記パラメータの現在設定値を中心として各パラメータをそれぞれ所定の変化量で正又は負の方向に変化させた８種類のパラメータ変更値を生成し、前記パラメータ変更手段は、前記８種類のパラメータ変更値を前記２種類のパラメータのいずれか一方だけを変化させた４種類のパラメータ変更値からなる第１のグループと前記２種類のパラメータの両方を変化させた４種類のパラメータ変更値からなる第２のグループに分け、前記パラメータの値を前記第１のグループ内の４種類パラメータ変更値について順番に変更した後、前記第２のグループ内の４種類のパラメータ変更値について順番に変更するとよい（請求項５）。
【００２４】
上記の容器処理システムにおいて、前記パラメータ変更手段は、前記第１のグループ内の４種類のパラメータ変更値について前記不良率が算出されると、前記第１の不良率算出手段で算出された前記パラメータの現在設定値に対する不良率よりも大きい不良率を有するパラメータ変更値に隣接する前記第２のグループ内のパラメータ変更値を前記パラメータの変更対象から除外し、前記第２のグループ内の残りのパラメータ設定値について前記パラメータの値を順番に変更するとよい（請求項６）。
【００２５】
上記の容器処理システムにおいて、前記所定の処理は、前記容器搬送手段で搬送される前記容器にラベルを装着するラベル装着処理であるとよい。
【００２６】
ラベル装着処理を行う容器処理システムにおいて、前記容器処理手段は、複数の前記ラベルが一列に印刷され、シート状に折り畳まれた帯状のラベル基材を所定のラベル基材切断位置に搬送し、前記ラベル基材から切り離して各ラベルを生成するラベル生成手段と、前記容器搬送経路に設けられたラベル受取位置を通過するときに前記容器の上方位置で前記ラベル生成手段で生成された前記ラベルを受け取るラベル受取手段と、前記ラベル受取手段で受け取った前記ラベルを筒状に開いた後下降させて前記容器に装着するラベル装着手段と、を含み、前記所定のパラメータに含まれる２種類のパラメータは、前記ラベル生成手段で搬送される前記ラベル基材の搬送経路上の幅方向における走行位置と前記ラベル装着手段が筒状に開いたときの前記ラベルの開口量であり、前記ラベル基材を前記ラベル基材切断位置に搬送する基材搬送経路上に設けられ、当該基材搬送経路の幅方向における前記ラベル基材の走行位置を調整する走行位置調整手段と、前記ラベル装着手段に設けられ、前記ラベルを筒状に開いたときの開口量を調整する開口量調整手段と、を備え、前記パラメータ変更手段は、前記パラメータ変更値に含まれる前記ラベル基材の走行位置と前記ラベルの開口量のデータをそれぞれ前記走行位置調整手段と前記開口量調整手段に出力して前記ラベル基材の走行位置と前記ラベルの開口量を変更するとよい（請求項７）。
【００２７】
上記のラベル装着処理を行う容器処理システムにおいて、前記走行位置調整手段は、前記ラベル基材の長手方向に対して直交する方向を基準にローラ軸が傾斜可能に配設され、当該ラベル基材に圧接されたローラと、前記基材搬送経路の幅方向における前記ラベル基材のエッジの位置を検出するセンサと、前記ローラ軸の前記基準の方向に対する傾斜角を制御する傾斜角制御手段と、を含み、前記パラメータ変更手段から入力される前記ラベル基材の走行位置のデータと前記センサの検出データとに基づいて前記ローラを前記基準の方向に対して傾斜させることにより前記ラベル基材の走行位置を調整するとよい。
【００２８】
上記のラベル装着処理を行う容器処理システムにおいて、前記ラベル装着手段は、水平面内で互いに逆方向に回転移動して開閉動作を行う一対の垂直方向に延びる吸引杆からなる第１の開閉部材と、前記一対の吸引杆と向かい合わせて配置され、水平面内で互いに逆方向に回転移動して開閉動作を行う一対の垂直方向に延びる吸引杆からなる第２の開閉部材と、前記ラベル受取手段で受け取ったシート状の前記ラベルを前記第１の開閉部材の一対の吸引杆と前記第２の開閉部材の一対の吸引杆とで挟んで吸着した後、前記４つの吸引杆を前記ラベルに対して外側に所定の角度だけ回転移動させて当該ラベルを筒状に開く動作をさせる前記第１，第２の開閉部材の駆動機構と、を備え、前記開口量調整手段は、前記パラメータ変更手段から入力される前記ラベルの開口量のデータに基づいて前記前記第１，第２の開閉部材の開動作における前記４つの吸引杆の回転角を制御することにより前記ラベルの開口量を調整するとよい。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、複数の容器処理手段が多数の容器に所定の処理を行う動作を繰り返すことによって容器処理システムの容器処理状態が規定の処理状態（所定数の容器処理毎の不良率が所定の閾値以下となる処理状態）から外れると、容器処理の結果に直接影響を与える所定のパラメータ（不良率に直接影響を与えるパラメータ。例えば、容器処理装置がボトルに容器を被せるように装着するラベル装着システムの場合、ラベルの開口量やボトルに対する開口したラベルの位置を制御するパラメータ等）の設定値は不適正として、パラメータ適正値を探索する処理を行う。
【００３０】
そして、パラメータ適正値を求めると、現在設定されているパラメータの値をそのパラメータ適正値に変更する。これにより、容器処理中にその容器処理状態が規定の処理状態から外れても速やかに規定の処理状態に戻されるので、処理不良の増大を防止することができる。
【００３１】
また、容器処理システムを停止して、作業者がパラメータの適正値を探索し、現在のパラメータの設定値をその適正値に再設定する必要がなくなるので、容器処理システムの稼働率を低下させることがない。また、作業者によるパラメータの適正値の探索作業とパラメータの設定値をその適正値に再設定する作業の労力と時間を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明に係るラベル装着システムの外観を示す斜視図である。
【図２】同ラベル装着システムを上から見た図である。
【図３】同ラベル装着システムを正面から見た図である。
【図４】ラベル基材の構成を示す図である。
【図５】エッジコントローラを示す図である。
【図６】エッジコントローラの基本構成を示す斜視図である。
【図７】エッジ検出用のセンサの出力信号の波形を示す図である。
【図８】ラベル供給装置のラベル生成ユニットの構成を示す図である。
【図９】ラベル供給装置からラベル装着装置にラベルを受け渡す構成を示す図である。
【図１０】ラベル装着装置の構成を示す側面図である。
【図１１】ラベル装着ヘッドの構成を示す正面図である。
【図１２】同ラベル装着ヘッドの構成を示す側面図である。
【図１３】ラベル受取ユニットの構成を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。
【図１４】ラベル装着ユニットの構成を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。
【図１５】図１２のＸ−Ｘ線に沿った断面図である。
【図１６】図１２のＹ−Ｙ線に沿った断面図である。
【図１７】カムの高さ切換機構を示す上面図である。
【図１８】カムの高さ切換機構を示す側面図である。
【図１９】４本の吸引杆の「閉位置」から「開位置」までの回転角とラベルの開口量との関係を示す図である。
【図２０】ラベル装着装置におけるラベルのボトルへの装着シーケンスを示す要部斜視図である。
【図２１】撮影ユニットの構成を示す側面図である。
【図２２】撮影画像の一例を示す図である。
【図２３】自動調整制御装置の構成を示すブロック図である。
【図２４】ラベル基材の走行ラインとラベルの開口量の変更値の一例を示す図である。
【図２５】第１グループの４つのパラメータ変更値に対する不良率の算出例を示す図である。
【図２６】第１グループの４つのパラメータ変更値に対する不良率の他の算出例を示す図である。
【図２７】ラベル装着処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図２８】ラベル供給調整処理の処理手順（ステップＳ１０〜Ｓ２１の部分）を示すフローチャートである。
【図２９】ラベル供給調整処理の処理手順（ステップＳ２２〜Ｓ３４の部分）を示すフローチャートである。
【図３０】不良率算出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図３１】ラベル供給調整処理の処理手順（ステップＳ２２〜Ｓ３４の部分）の変形例を示すフローチャートである。
【図３２】従来のラベル装着システムの基本構成の一例を示す図である。
【図３３】ラベル装着不良の要因を説明するための図である。
【図３４】ラベル基材の走行ラインの幅方向における変動を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、本発明の好ましい実施の形態を、容器処理システムの一つであるラベル装着システムを例に、添付図面を参照して具体的に説明する。
【００３４】
図１は、本発明に係るラベル装着システムの外観を示す斜視図であり、図２は、同ラベル装着システムを上から見た図であり、図３は、同ラベル装着システムを正面から見た図である。図４は、ラベル装着システムに適用されるラベル基材の構成を示す図である。
【００３５】
ラベル装着システム１は、有機的に結合されたボトル供給装置２、ラベル供給装置３、ロータリー型のラベル装着装置４、ボトル搬出装置５及びラベル供給調整装置６を備える。
【００３６】
ボトル供給装置２は、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）などの合成樹脂からなる多数のボトルタイプの容器Ｂ（以下、「ボトルＢ」という。）を所定のボトル間隔ＤB［ｍｍ］で連続的にラベル装着装置４に供給する。
【００３７】
ラベル供給装置３は、ボトル供給装置２がボトルＢをラベル装着装置４に供給する周期ＴBと同一の周期でシート状に折り畳まれたラベルＬを連続的に生成し、各ラベルＬをラベル装着装置４に供給する。ラベル供給装置３は、帯状のラベル基材ＬＳ（図４参照）を所定の速度ｖ1［ｍｍ／秒］でラベル切断位置Ｐ０（図８参照）に搬送し、周期ＴBでラベル基材ＬＳを切断することによりラベルＬを連続的に生成する。ラベル供給装置３は、生成した各ラベルＬを速度ｖ1よりも速い所定の速度ｖ2［ｍｍ／秒］ラベル装着装置４に供給する。
【００３８】
ラベル基材ＬＳは、図４に示すように、同一の絵柄（ラベルＬ）が一定間隔で印刷されたポリエステル系樹脂やポリエチレン系樹脂などからなる帯状の熱収縮フィルム（シュリンクフィルム）を筒状に整形し、シート状に折り畳んだものである。ラベル基材ＬＳにはラベルＬ同士の間にクリア部ＣＬが設けられ、そのクリア部ＣＬの中央位置が正規のカット位置Ｃに設定されている。
【００３９】
ラベル装着装置４は、ボトル供給装置２からボトル間隔ＤBで供給されるボトルＢを所定の円軌道上に搬送しながらそのボトルＢにラベル供給装置３から供給されるラベルＬを装着する。
【００４０】
ボトル搬出装置５は、ラベル装着装置４でラベルＬが装着されたボトルＢ（ラベル付きボトルＢ）を受け取り、後工程に搬出する。
【００４１】
ラベル供給調整装置６は、ラベル装着システム１の運転中にラベル装着不良が発生したとき、その不良が発生するまでに運転開始時若しくは前回の不良が発生した時からラベル装着の処理された本数ｍ［本］に基づき算出される不良率ＲNG＝（１／ｍ）×１００［％］が所定の閾値ＲTHより大きい場合にラベル供給装置３におけるラベル基材ＬＳの走行ラインの位置（以下、単に「走行ライン」という。）とラベル装着装置４におけるラベルＬの開口量の２つのパラメータが不適正であるとして両パラメータの適正値を求め、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量をその適正値に自動的に調整する。
【００４２】
すなわち、ラベル供給調整装置６は、ラベル装着システム１の運転中にラベル装着不良が発生すると、前回のラベル装着不良の発生時（運転開始後の場合は運転開始時）からそのラベル装着不良が発生した時（１本目のラベル装着不良が発生した時）までのラベル装着処理数ｍに対する不良率ＲNGを監視し、ＲNG＞ＲTHであれば、ラベル装着システム１のラベル装着処理状態は規定のラベル装着状態（ＲNG≦ＲTHでラベル装着処理をしている状態）から外れたシステム不良の状態にある、すなわち、ラベル装着処理状態の適否に直接影響を与える（不良率ＲNGに直接影響を与える）ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の２つのパラメータが不適正であると判定する。そして、ラベル供給調整装置６は、運転を停止することなく２つのパラメータの適正値を探索する処理に移行し、適正値が見つかると、２つのパラメータを自動的にその適正値に変更してラベル装着システム１のラベル装着処理状態を規定のラベル装着状態に戻す処理をする。
【００４３】
ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の適正値は、ラベル装着処理の不良率ＲNG［％］が閾値ＲTH［％］未満となるパラメータ値である。不良率ＲNGは、ラベル装着処理数ＮMに対する「不良」と判定されたラベル装着不良数ＮNGの比（ＮNG／ＮM）をパーセントで表わしたものとして定義されるが、ラベル装着システム１は、作業者が操作表示装置１０（図２４参照）で設定した処理速度（例えば、６５０本／分）でボトルＢへのラベル装着処理を連続的に行うから、時系列上のラベル装着処理数ＮMの取り方によって不良率ＲNGが異なる。
【００４４】
不良率ＲNGが閾値ＲTH以上であるときにラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の現在設定値を「不適正」として検出する場合、ラベル装着処理数ＮMを比較的大きい値に設定すると（例えば、数千本単位でラベル装着処理数ＮMを設定すると）、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の現在設定値の不適正な状態の検出が遅れるという不都合が生じる。一方、ラベル装着処理数ＮMを比較的小さい値に設定すると（例えば、数十本単位でラベル装着処理数ＮMを設定すると）、ラベル装着処理数ＮMよりも大きい間隔でラベル装着不良が繰り返し発生するような場合は、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の現在設定値の不適正な状態を検出することができないという不都合が生じる。
【００４５】
本実施形態では、作業者によって設定される閾値ＲTHに応じてラベル装着処理数ＮMを数百本単位で設定している。すなわち、本実施形態では、ＮM＝１００／ＲTHによりラベル装着処理数ＮMを設定している。従って、例えば、作業者が操作表示装置１０でＲTH＝０．２［％］を設定すると、ラベル装着処理数ＮMは１００／０．２＝５００［本］に設定される。
【００４６】
本実施形態に係るラベル装着システム１は、ラベル供給調整装置６を備える点に顕著な特徴を有する。ラベル供給調整装置６の構成及び動作の詳細は後述する。
【００４７】
図１〜図３において、ラベル装着装置４を基準に見ると、正面視でボトル供給装置２はラベル装着装置４の手前左側に配置され、ボトル搬出装置５はラベル装着装置４の手前右側に配置されている（図２，図３参照）。ラベル供給装置３は、正面視でラベル装着装置４の右側上部に配置されている。ラベル供給装置３は、原反からラベル基材ＬＳを繰り出し、そのラベル基材ＬＳをラベル切断位置Ｐ０（図８参照）に搬送して切断する機構を備えるが、図１〜図３では、ラベル基材ＬＳを原反からラベル切断位置Ｐ０に搬送する部分の機構は省略している。
【００４８】
ラベル装着装置４は、時計回りに回転するリング状の支持盤４０を備える。この支持盤４０には周縁に沿って３０個のボトルＢを保持するボトル保持部４０１（図１０〜図１２参照）が等間隔（角度で１２°間隔）で設けられている。各ボトル保持部４０１には吸引孔が設けられ、その吸引孔はパイプ４０１ａ（図１０参照）によって図示省略の真空ポンプなどの吸引装置に接続されている。ラベル装着システム１の運転中はボトル保持部４０１の吸引動作が行われており、ボトル供給装置２から供給されるボトルＢは、その底面が吸着によって各ボトル保持部４０１に保持される。
【００４９】
各ボトル保持部４０１の上部にラベル装着ヘッド４１（図１０〜図１２参照）が設けられている。ラベル装着ヘッド４１は、ラベル供給装置３から供給されるシート状に折り畳まれたラベルＬを受け取り、当該ラベルＬを筒状に開いて各ボトル保持部４０１に保持されているボトルＢに被せるようにして装着する。
【００５０】
図２において、リング状の支持盤４０の中心から右方向を回転の基準方向Ｐrとし、この基準方向Ｐrの線上でラベル装着ヘッド４１が通過する位置を各ラベル装着ヘッド４１の回転基準位置αとすると、その回転基準位置αの所定の高さ位置にラベル受取位置Ｐ１（図８参照）が設けられている。回転基準位置αから時計回り（支持盤４０が回転する方向）に回転角「＋θ°」を取ると、＋１２°の方向にラベル装着ヘッド４１がボトルＢにラベルＬを装着するラベル装着位置Ｐ２が設けられ、＋６０°の方向にボトル搬出装置５にボトルＢを受け渡すボトル搬出位置Ｐ３が設けられ、＋１２０°の方向にボトル供給装置２からボトルＢを受け取るボトル受取位置Ｐ４が設けられている。
【００５１】
ボトル供給装置２は、多数のボトルＢを一列に並べて搬送するベルトコンベア２０と、ベルトコンベア２０で搬送される多数のボトルＢにボトル間隔ＤBを設けるスクリュー２１と、スクリュー２１によってボトル間隔ＤBで搬送される各ボトルＢを受け取ってラベル装着装置４のボトル受取位置Ｐ４に搬送するスターホイール２２とを備える。
【００５２】
スクリュー２１は、ベルトコンベア２０の下流端部に設けられ、スターホイール２２はスクリュー２１の後端部とラベル装着装置４の間に配置されている。スターホイール２２には、周縁に等間隔で１６個のネッククランパ（図示省略）が設けられている。スターホイール２２は、上面視で反時計周りに回転する。スターホイール２２は、クランプ位置Ｐ６でスクリュー２１によって搬送される各ボトルＢのネックを各ネッククランパでクランプし、ラベル装着装置４のボトル受取位置Ｐ４まで搬送すると、各ボトルＢを開放してラベル装着装置４のボトル保持部４０１に受け渡す。
【００５３】
ボトル搬出装置５は、ラベル装着装置４からラベル付きボトルＢを受け取るボトル受取ユニット５０と、このボトル受取ユニット５０で受け取ったボトルＢを後工程に搬送するベルトコンベア５１とを備える。ボトル受取ユニット５０は、ベルトコンベア５１の前端部とラベル装着装置４の間に配置されている。
【００５４】
ボトル受取ユニット５０は、図示省略の回転軸に放射状に設けられた１６個のボトルクランプ部材５０ａを有し、各ボトルクランプ部材５０ａでラベル付きボトルＢを受け取る。ボトル受取ユニット５０は、上面視で反時計周りに回転する。ボトル受取ユニット５０は、ラベル装着装置４によりボトル搬出位置Ｐ３に搬送された各ラベル付きボトルＢを各ボトルクランプ部材５０ａで受け取り、ベルトコンベア５１の搬出位置Ｐ７まで搬送する。
【００５５】
多数のボトルＢは、正面視で、ベルトコンベア２０により左側から右側に搬送され、スクリュー２１でボトル間隔ＤBが設定された後、スターホイール２２に受け渡され、当該スターホイール２２でラベル装着装置４のボトル受取位置Ｐ４に搬送される。ボトル受取位置Ｐ４に搬送されたボトルＢはラベル装着装置４の支持盤４０のボトル保持部４０１に保持され、当該支持盤４０の回転によってボトル搬出位置Ｐ３まで搬送される。支持盤４０のボトル保持部４０１に保持されたボトルＢは、ボトル搬出位置Ｐ３に搬送されるまでの間に当該ボトルＢの上部に設けられたラベル装着ヘッド４１によってラベルＬが装着される。支持盤４０によってボトル搬出位置Ｐ３に搬送されたラベル付きボトルＢは、ボトルクランプ部材５０ａに受け渡され、ボトル受取ユニット５０の回転によってベルトコンベア５１の搬出位置Ｐ７まで搬送される。そして、ラベル付きボトルＢはベルトコンベア５１によって再び左側から右側に後工程に向けて搬送される。
【００５６】
次に、ラベル供給装置３の構成と動作について、図５〜図９を用いて説明する。
【００５７】
ラベル供給装置３には、ラベル供給装置３のラベル基材ＬＳから各ラベルＬを切り離してラベル装着装置４に供給する部分（以下、「ラベル生成ユニット」という。）の上流側に原反から繰り出されるラベル基材ＬＳをラベル生成ユニットに導く搬送経路が設けられている。搬送経路はラベル基材ＬＳをガイドする複数のローラや搬送用の駆動ローラ等によって構成され、その搬送経路上の適所にエッジコントローラ３０が配設されている。
【００５８】
エッジコントローラ３０は、ラベル装着装置４におけるラベル装着処理の不良率ＲNGが閾値ＲTH以上になった場合に、ラベル供給調整装置６が不良率ＲNGを閾値ＲTHより小さくするラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の組合せをサーチする際の走行ラインの適正値のサーチと当該走行ラインを適正値に保持する制御を行う。
【００５９】
図５はエッジコントローラ３０を横から見た図で、ローラＲ１，Ｒ２，Ｒ３はラベル基材ＬＳをガイドするローラである。エッジコントローラ３０は、基本構成として、ラベル基材ＬＳのエッジを検出するセンサ３０１、ラベル基材ＬＳの走行ラインを幅方向に調整するための一対のローラ３０２，３０３及びセンサ３０１の検出信号に基づきローラ３０２，３０３の調整動作を制御する制御装置３０４を備える。
【００６０】
ラベル基材ＬＳは、原反から繰り出されてラベル生成ユニットまでの搬送経路上に設けられているローラＲ１，Ｒ２，Ｒ３等のガイド用のローラと搬送用の駆動ローラ（図示省略）や走行ライン調整用のローラ３０２，３０３に一定の張力で架け渡され、張力が掛った状態で長手方向に沿ってラベル生成ユニット側に搬送される。
【００６１】
ラベル基材ＬＳの搬送速度ｖ1は、ｖ1＝Ｄc／ＴB（Ｄcはカット位置Ｃの間隔（カット長）、ＴBはラベル基材ＬＳの切断周期）で表わされるから、例えば、ラベル装着システム１のラベル装着速度を６００本／分、カット長Ｄcを１５０［ｍｍ］とすると、ＴB＝６０／６００＝１／１０［秒／本］より、ラベル基材ＬＳは、搬送経路上をｖ1＝１５０×１０＝１５００［ｍｍ／秒］の高速度で搬送される。このため、ラベル基材ＬＳの幅方向の中心のライン（走行ライン）は、高速搬送中に正規の走行ライン（以下、「基準走行ライン」という。）に対して幅方向に微小変動をする。走行ラインはラベル基材ＬＳの幅方向の両端（エッジ）のラインと平行であるから、搬送中のラベル基材ＬＳのエッジの幅方向の位置を検出することにより走行ラインの基準走行ラインに対するずれ方向とずれ量が分かる。以下の説明では、ラベル基材ＬＳのエッジが走行するラインをラベル基材ＬＳの走行ラインとして説明する。
【００６２】
センサ３０１は、図６に示すように、搬送中のラベル基材ＬＳの一方のエッジＥの幅方向の位置ｘ（ラベル基材ＬＳの走行ラインの位置）を検出するセンサである。センサ３０１は、コの字型のケースに複数対の発光素子と受光素子とが発光面と受光面とを向かい合わせて配列されたフォトインタラプタ（Photo-interrupter）で構成される。センサ３０１は、走行ライン調整用のローラ３０２よりも上流側の適所に、ラベル基材ＬＳの一方のエッジ（図６では走行方向に対して左側のエッジ）を挟むように配設されている。
【００６３】
センサ３０１の検出信号は、制御装置３０４に入力される。図７に示すように、センサ３０１からはラベル基材ＬＳの幅方向に直線状の受光信号が出力されるが、ラベル基材ＬＳによって遮光された部分には受光信号が出力されないので、制御装置３０４では、受光レベルが階段状に変化する位置ｘSがラベル基材ＬＳの走行ラインの位置として検出される。
【００６４】
ラベル基材ＬＳは、ラベル装着システム１の運転準備作業で仮運転をして、作業者によりラベル基材ＬＳがカット位置Ｃで切断され、かつ、ラベル基材ＬＳが基準走行ライン上を走行するようにラベル供給装置３にセットされる。ラベル基材切断位置Ｐ０で回転刃３２ｂ（図８参照）がラベル基材ＬＳのカット位置Ｃを切断するように調整するのは、ラベル基材ＬＳから各ラベルＬを正確に切り離すための調整である。
【００６５】
ラベル供給装置３は、ラベル基材ＬＳを高速搬送しながらラベル基材切断位置Ｐ０で切断してラベルＬを生成し、そのラベルＬをラベル移送部３３（図８参照）で更に高速度でラベル受取位置Ｐ１まで直線的に搬送するので、ラベル基材ＬＳの走行ラインが基準走行ラインからずれると、そのずれはテイクアップ部材４２３がラベルＬを受け取った際のテイクアップ部材４２３におけるラベルＬの受取位置の幅方向のずれとして現れる。テイクアップ部材４２３における幅方向の正規の受取位置は、ラベルＬの幅方向の中心ＷL0（図９参照）がテイクアップ部材４２３の受取面の幅方向の中心ＷT0（図９参照）に一致する位置である。
【００６６】
従って、ラベル基材ＬＳの基準走行ラインは、搬送中のラベル基材ＬＳの幅方向の中心ＷL0が走行するラインがテイクアップ部材４２３の受取面の幅方向の中心ＷT0に一致するラインである。本実施形態では、ラベル基材ＬＳのエッジＥの走行ラインによってラベル基材ＬＳの走行ラインを制御するので、制御装置３０４には、図７に示すように、作業者によってエッジＥの基準走行ラインの位置ｘO（センサ３０１のｘ方向の検出位置における基準走行ラインの位置。以下、「基準走行位置ｘO」という。）が予め設定されている。
【００６７】
制御装置３０４は、センサ３０１の検出信号によってエッジＥの位置ｘSを検出すると、基準走行位置ｘOを基準とした検出位置ｘSの相対的な位置ｘE＝ｘS−ｘOを演算し、その演算値ｘEをラベル基材ＬＳの現在の走行ラインの位置とする。図７の例では、ｘE＜０であるから、ラベル基材ＬＳの走行ラインは基準走行ラインから外側にｅ＝｜ｘS−ｘO｜だけずれていることになる。
【００６８】
走行ライン調整用の一対のローラ３０２，３０３には、図示はしていないが、水平面内でローラ軸を傾斜させる駆動機構が設けられている。ローラ３０２，３０３の各ローラ軸を基準方向Ｍ（ラベル基材ＬＳの走行ラインに対して垂直の方向）に対して同一方向に傾けると、ラベル基材ＬＳの走行ラインが変化する。図６において、傾斜角θの＋方向を基準方向Ｍに対して反時計回りとし、−方向を基準方向Ｍに対して時計回りとすると、ローラ３０２，３０３の各ローラ軸Ｍ1，Ｍ2をそれぞれ平行状態にして反時計回り（−θ方向）に傾けると、ラベル基材ＬＳの走行ラインが左側に変化し（エッジＥの走行ラインが外側に変化し）、時計回り（＋θ方向）に傾けると、ラベル基材ＬＳの走行ラインが右側に変化する（エッジＥの走行ラインが内側に変化する）。
【００６９】
ラベル基材ＬＳの走行ラインの変化量は、ローラ３０２，３０３の各ローラ軸Ｍ1，Ｍ2の傾斜角θの大きさに比例するから、制御装置３０４は、走行ラインの補正データが入力されると、その補正データを傾斜角θのデータに変換し、その傾斜角θに基づいて駆動機構の動作を制御して一対のローラ３０２，３０３の各ローラ軸Ｍ1，Ｍ2を傾斜させ、これによりラベル基材ＬＳの走行ラインを変化させる（走行ラインを補正する）。制御装置３０４は、例えば、＋Ａ［ｍｍ］の補正データが入力されると、＋Ａの補正データを傾斜角＋θAに変換し、一対のローラ３０２，３０３の各ローラ軸Ｍ1，Ｍ2を基準方向Ｍに対して反時計回りに角度θAだけ傾け、−Ａ［ｍｍ］の補正データが入力されると、−Ａの補正データを傾斜角−θAに変換し、一対のローラ３０２，３０３のローラ軸を基準方向Ｍに対して時計回りに角度θAだけ傾ける。
【００７０】
図８は、ラベル供給装置３のラベル生成ユニットの構成を示す図である。図９は、ラベル供給装置３からラベル装着装置４にラベルＬを受け渡す構成を示す図である。
【００７１】
ラベル生成ユニットは、ラベル基材ＬＳをラベル切断位置Ｐ０に繰り出すラベル基材繰出部３１と、ラベル基材ＬＳを切断するラベル基材切断部３２と、切断されたラベルＬを吸着してラベル受取位置Ｐ１に移送するラベル移送部３３と、ラベル移送部３３におけるラベルＬの吸着を補助する吸着補助部３４と、ラベル移送部３３から移送される各ラベルＬをラベル受取位置Ｐ１でラベル装着装置４のラベル受取部材に受け渡すラベル受渡部３５とを備える。ラベル基材繰出部３１、ラベル基材切断部３２、ラベル移送部３３及びラベル受渡部３５は、この順に垂直下方向に配置されている。また、吸着補助部３４は、ラベル移送部３３に対向配置されている。
【００７２】
ラベル基材繰出部３１は、周面が圧接された駆動ローラ３１ａと従動ローラ３１ｂからなる。ラベル基材繰出部３１は、両ローラ３１ａ，３１ｂの間にラベル基材ＬＳを挟み込み、駆動ローラ３１ａを所定の回転速度で回転させてラベル基材ＬＳをラベル切断位置Ｐ０に繰り出す。ラベル基材繰出部３１がラベル基材ＬＳを繰り出す搬送速度は上述した搬送速度ｖ1である。
【００７３】
ラベル基材切断部３２は、ラベル切断位置Ｐ０に固定された固定刃３２ａとこの固定刃３２ａに対向して回転可能に配置された回転刃３２ｂで構成され、回転刃３２ｂが回転してラベル切断位置Ｐ０を通過する毎に当該回転刃３２ｂと固定刃３２ａによってラベル基材ＬＳを切断する。回転刃３２ｂは、周期ＴBで１回転する。ラベル基材繰出部３１は、周期ＴBでカット長Ｄcだけラベル基材ＬＳを繰り出すから、ラベル切断位置Ｐ０での回転刃３２ｂの切断タイミングとラベル基材ＬＳのカット位置Ｃがラベル切断位置Ｐ０を通過するタイミングが一致していれば、ラベル基材ＬＳの各カット位置Ｃが周期ＴBで切断される（すなわち、各ラベルＬが周期ＴBで生成される）ことになる。
【００７４】
ラベル移送部３３は、切り離されたラベルＬの幅方向の両端部を一対のフィードベルト３３１で吸着し、当該フィードベルト３３１を下方向に移動させることによりラベルＬをラベル受取位置Ｐ１に移送する。ラベル切断位置Ｐ０の下流側とラベル受取位置Ｐ１の上流側にガイドローラ３３３とガイドローラ３３４が配置されている。一方のガイドローラ３３３，３３４と他方のガイドローラ３３３，３３４に対してそれぞれ三角形を描くように駆動プーリ３３２が設けられている。一方のフィードベルト３３１は、一方の駆動プーリ３３２、ガイドローラ３３３及びガイドローラ３３４に掛け渡され、他方のフィードベルト３３１は、他方の駆動プーリ３３２、ガイドローラ３３３及びガイドローラ３３４に掛け渡されている。
【００７５】
一対のフィードベルト３３１にはそれぞれ長手方向に沿って所定の間隔で多数の吸着孔３３１ａ（図９参照）が設けられ、各フィードベルト３３１の垂直に走行する部分の背面に吸引チャンバー３３５が配置されている。各フィードベルト３３１は、図８において、駆動プーリ３３２によって時計回りに回転される。
【００７６】
ラベル移送部３３は、ラベル基材繰出部３１のラベル基材ＬＳを搬送する搬送速度ｖ1よりも速い搬送速度ｖ2で各ラベルＬを搬送する。搬送速度ｖ2を搬送速度ｖ1より高速にすることによりラベル移送部３３の搬送経路を移動するラベルＬ同士にラベル間隔ΔＤが生じ、これによりラベル受取位置Ｐ１でラベルＬ同士が重複するという不都合が防止される。
【００７７】
吸着補助部３４は、フィードベルト３３１の吸引孔３３１ａと吸引チャンバー３３５によるラベルＬのフィードベルト３３１への吸着を補助する。吸着補助部３４は、無端ベルトによるラベルＬのフィード機構で構成され、無端ベルト３４１、駆動プーリ３４２及び３個のガイドローラ３４３，３４４，３４５を含む。ラベル移送部３３のフィードベルト３３１がラベルＬの幅方向に対して２個設けられるのに対応して吸着補助部３４のフィードベルト３４１も各フィードベルト３３１に対応して２個設けられている。
【００７８】
吸着補助部３４の３個のガイドローラ３４３，３４４，３４５のうち、上段のガイドローラ３４３はラベル移送部３３のガイドローラ３４３の近接位置に離間させて配置されている。一方、中段のガイドローラ３４４と下段のガイドローラ３４５はそれぞれ吸引チャンバー３３５の中央に対して上寄りの位置と下寄りの位置に当該吸引チャンバー３３５に接するように配置されている。駆動プーリ３４２は、図８において、反時計回りにラベル移送部３３の駆動プーリ３３２と同一の速度で回転する。
【００７９】
吸着補助部３４は、中段のガイドローラ３４４と下段のガイドローラ３４５の区間の無端ベルト３４１をフィードベルト３４１に吸着されたラベルＬに圧接することによりフィードベルト３４１のラベルＬの吸引力を補助し、ラベルＬが当該フィードベルト３４１から離脱することを防止する。
【００８０】
ラベル移送部３３は、フィードベルト３３１がラベル切断位置Ｐ０の真下からラベル受取位置Ｐ１まで吸引動作をしながら直線的に速度ｖ2で移動することにより、ラベル基材切断部３２でラベル基材ＬＳから切り離された各ラベルＬを吸着により受け取り、ラベル間隔ΔＤを設けて順次、ラベル受取位置Ｐ１まで移送する。このラベルＬの移送動作では、移送経路の中間部分で吸着補助部３４の無端ベルト３４１がラベルＬをフィードベルト３３１側に押し付けるので、フィードベルト３３１からラベルＬが離脱することはない。
【００８１】
ラベル受渡部３５は、ラベル移送部３３と同一のフィードベルトによるラベルＬの移送構成を有し、当該ラベル移送部３３の下側に配置されている。ラベル受渡部３５の配設位置がラベル受取位置Ｐ１になっている。ラベル受渡部３５は、図９に示すように、ラベルＬの幅方向の中央に配置された１個のフィードベルト３５１によりラベル移送機構が構成される。ラベル受渡部３５では、ラベル移送部３３の下側のガイドローラ３３４をフィードベルト３５１の駆動プーリとして利用している。このため、フィードベルト３５１は、上下のガイドローラ３５２，３５３とラベル移送部３３の下側のガイドローラ３３４とに掛け渡されている。
【００８２】
ラベル移送部３３の下側のガイドローラ３３４とラベル受渡部３５の下側のガイドローラ３５３の間に吸引チャンバー３５４が設けられている。フィードベルト３４１にも幅方向の中央部に長手方向に沿って所定の間隔で多数の吸着孔３５１ａが設けられている（図９参照）。吸引チャンバー３５４には図示省略のチューブ等の吸引管によって図示省略の真空ポンプ等の吸引装置に接続されている。
【００８３】
ラベル移送部３３の駆動プーリ３３２による回転力はフィードベルト３３１とラベル移送部３３の下側のガイドローラ３３４によってラベル受渡部３５のフィードベルト３５１に伝達されるので、フィードベルト３５１はフィードベルト３３１と同一の速度でラベルＬをラベル受取位置Ｐ１に移送する。
【００８４】
ラベル受渡部３５には、ラベルＬがラベル受取位置Ｐ１に移送されたことを検出するラベル検出センサ３６が設けられている。ラベル検出センサ３６は光センサからなり、吸引チャンバー３５４の所定の高さ位置を臨む位置に設けられている。この位置はラベル受取位置Ｐ１に対応するものである。ラベル受取位置Ｐ１を上から下に移動すると、ラベル検出センサ３６は当該ラベルＬを相対的に上下方向に走査することになるので、ラベル検出センサ３６から出力される当該ラベルＬの走査信号のうち、上辺を抽出することにより、ラベルＬがラベル受取位置Ｐ１に移送されたことが検出される。
【００８５】
ラベル装着部４の各ラベル装着ヘッド４１には、図１２に示すように、一対の棒状のテイクアップ部材４２３が取り付けられたラベル受取ユニット４２が設けられている。一対のテイクアップ部材４２３の間隔は、一対のフィードベルト３３１の間隔とほぼ同じに設定されている。ラベル受取位置Ｐ１において、テイクアップ部材４２３のラベルＬに当接する面には複数の吸引孔４２３ａが設けられている。テイクアップ部材４２３は、ラベル受取位置Ｐ１を横方向に通過してラベル受渡部３５からラベルＬを受け取り、そのラベルＬを吸着によって保持する。
【００８６】
次に、ラベル装着ヘッド４１について、図１０〜図１８を用いて簡単に説明する。
【００８７】
図１０は、ラベル装着装置４を横から見た図、図１１はラベル装着ヘッド４１の構成を示す正面図、図１２は同ラベル装着ヘッド４１の構成を示す側面図である。また、図１３はラベル受取ユニット４２の構成を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。図１４はラベル装着ユニット４３の構成を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。また、図１５は図１２のＸ−Ｘ線に沿った断面図であり、図１６は図１２のＹ−Ｙ線に沿った断面図である。また、図１７はカムの高さ切換機構を示す上面図であり、図１８はカムの高さ切換機構を示す側面図である。
【００８８】
ラベル装着ヘッド４１は、ラベル供給装置３から供給されるシート状のラベルＬを受け取るラベル受取ユニット４２と、ラベル受取ユニット４２が受け取ったシート状のラベルＬを筒状に開らいてボトルＢの胴部に被せるようにして装着するラベル装着ユニット４３とを備える。ラベル装着ユニット４３とラベル受取ユニット４２は、取付部材４３１と取付部材４２１とによってそれぞれ支持フレーム４１１に昇降可能に取り付けられている。支持フレーム４１１には角型のガイドレール４１１ａが設けられており、図１５に示すように、このガイドレール４１１ａに取付部材４３１の一方の側面に設けられた嵌合部材４３１ａの凹部が上下動可能に装着されている。取付部材４２１の一方の側面にも同様の嵌合部材が設けられ、その嵌合部材の凹部がガイドレール４１１ａに上下動可能に装着されている。
【００８９】
ラベル受取ユニット４２の昇降動作は、カム機構４２２によって行われる。カム機構４２２は、取付部材４２１に取り付けられたカムフォロア４２２ａと第１円筒体７Ａに設けられたカム溝４２２ｂとで構成される。ラベル装着ユニット４３の昇降動作は、カム機構４３２によって行われる。カム機構４３２は、取付部材４３１に取り付けられたカムフォロア４３２ａと第１円筒体７Ａに設けられたカム溝４３２ｂとで構成される。第１円筒体７Ａは、３０個のラベル装着ヘッド４１が配設されている円周の内側に配置されている（図１０参照）。
【００９０】
ラベル受取ユニット４２とラベル装着ユニット４３の昇降動作をカム機構によって制御するのは、ラベル受取ユニット４２とラベル装着ユニット４３の支持盤４０の基準方向Ｐrからの回転位置によって高さ位置を制御するためである。
【００９１】
ラベル受取ユニット４２のカムフォロア４２２ａは第１円筒体７Ａのカム溝４２２ｂに嵌装され、ラベル装着ユニット４３のカムフォロア４３２ａは第１円筒体７Ａのカム溝４３２ｂに嵌装されている。カム溝４２２ｂ，４３２ｂは、第１円筒体７Ａの周面上に所定の波形を描くように形成されている。支持盤４０が回転すると、ラベル装着ヘッド４１が第１円筒体７Ａの周面に沿って移動するので、その周回移動によりカムフォロア４２２ａ，４３２ａがそれぞれカム溝４２２ｂ，４３２ｂに沿って移動し、これによりラベル受取ユニット４２とラベル装着ユニット４３が所定の昇降動作を周期的に繰り返す。
【００９２】
ラベル受取ユニット４２及びラベル装着ユニット４３が周期的に繰り返す昇降動作の軌跡の高さ方向における位置は、第１円筒体７Ａを上下させることによって調整することができる。第１円筒体７Ａを上下動させる駆動機構については後述する。
【００９３】
ラベル受取ユニット４２の取付部材４２１には、図１２に示すように、上側に平行に延びる一対の棒状のテイクアップ部材４２３が取り付けられている。一対のテイクアップ部材４２３のラベルＬを受け取る面には一列に吸引孔４２３ａが設けられている。両テイクアップ部材４２３は、図示省略のパイプによって真空ポンプなどの吸引装置に接続されており、ラベル受取位置Ｐ１でラベルＬを受け取るときには吸引動作が行われている。従って、一対のテイクアップ部材４２３がラベル受渡部３５のフィードベルト３５１と交差してラベルＬを受け取ると、そのラベルＬのテイクアップ部材４２３における受取位置は吸着によって保持される。
【００９４】
ラベル装着ユニット４３の取付部材４３１には、上面視で中央部が開口された直方体形状の本体４３３が取り付けられている。本体４３３は、図１５に示すように、環状の上側ベース４３３ａと下側ベース４３３ｂを上下方向に所定の間隔を設けて連結板と連結ロッドで結合した枠体である。上側ベース４３３ａの下面の４つの隅部には、先端が内側に屈曲した鉤形の開閉アーム４３４Ａ〜４３４Ｄ（図１６参照）が外側に開閉可能に取り付けられている。４つの開閉アーム４３４Ａ〜４３４Ｄの先端部にそれぞれ下方向に延びる４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄが取り付けられている。各吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの基部には図示省略のチューブ等の吸引管によって図示省略の真空ポンプ等の吸引装置に接続され、各吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの内側の側面には一列に吸引孔４３５ａが設けられている（図１４（ｂ）参照）。従って、各吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄは、吸着によってラベルＬを保持することができる。
【００９５】
図１６に示すように、本体４３３の取付部材４３１側（以下、本体４３３の取付部材側を「内側」という。）にある１組の開閉アーム４３４Ａ，４３４Ｃと本体４３３の先端側（以下、本体４３３の先端側を「外側」という。）にある１組の開閉アーム４３４Ｂ，４３４Ｄは、閉状態では両鉤形の先端面が本体４３３の開口の幅方向の中心線Ｎ上で接触し、開状態では両鉤形の先端面が中心線Ｎから互いに離れる。
【００９６】
従って、内側の開閉アーム４３４Ａ，４３４Ｃと外側の開閉アーム４３４Ｂ，４３４Ｄが閉動作を行うと、内側の２本の吸引杆４３５Ａ，４３５Ｃと外側の２本の吸引杆４３５Ｂ，４３５Ｄとが互いに近接してラベルＬを挟む動作を行い、この状態で吸引しながら内側の開閉アーム４３４Ａ，４３４Ｃと外側の開閉アーム４３４Ｂ，４３４Ｄが開動作を行うと、内側の吸引杆４３５Ａ，４３５Ｃと外側の吸引杆４３５Ｂ，４３５Ｄとが互いに離間してラベルＬを開く動作を行う。
【００９７】
本体４３３の上面には、４個の開閉アーム４３４Ａ〜４３４Ｄに開閉動作を行わせるための開閉機構４３６が設けられている。開閉機構４３６で４個の開閉アーム４３４Ａ〜４３４Ｄに開閉動作をさせることによって４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄが上述したラベルＬを挟み、筒状に広げるという動作を行う。
【００９８】
図１５に示すように、開閉機構４３６は、４個の鉤形の開閉アーム４３４Ａ〜４３４Ｄのうち、図１５において上側の開閉アーム４３４Ａ，４３４Ｂと下側の２個の開閉アーム４３４Ｃ，４３４Ｄに対してそれぞれ左右方向に移動可能な２個のラック４３７Ａ，４３７Ｂを備える。内側の２個の開閉アーム４３４Ａ，４３４Ｃの回転軸にはそれぞれセクタ歯車４３８ａ，４３８ｃが固着されている。セクタ歯車４３８ａは上側のラック４３７Ａに連結され、セクタ歯車４３８ｃは下側のラック４３７Ｂに連結されている。
【００９９】
一方、外側の２つの開閉アーム４３４Ｂ，４３４Ｄの回転軸には、図１６に示すように、下側ベース４３３ｂの近傍位置でそれぞれ平歯車４３８ｅ，４３８ｆが固着されている。図１６において上側の開閉アーム４３４Ｂの平歯車４３８ｅがセクタ歯車４３８ｂの回転軸に固着された平歯車４３８ｇに連結され、下側の開閉アーム４３４Ｄの平歯車４３８ｆがセクタ歯車４３８ｄの回転軸に固着された平歯車４３８ｈに連結されている。また、図１５に示すように、セクタ歯車４３８ｂは上側のラック４３７Ａに連結され、セクタ歯車４３８ｄは下側のラック４３７Ｂに連結されている。
【０１００】
この構成により、ラック４３７Ａ，４３７Ｂを外側に移動させると、開閉アーム４３４Ａと開閉アーム４３４Ｄは時計回りに回転し、開閉アーム４３４Ｂと開閉アーム４３４Ｃは反時計回りに回転するので、内側の開閉アーム４３４Ａと開閉アーム４３４Ｃは閉動作を行い、外側の開閉アーム４３４Ｂと開閉アーム４３４Ｄも閉動作を行う。すなわち、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄは閉動作を行う。
【０１０１】
逆に、ラック４３７Ａ，４３７Ｂを内側に移動させると、開閉アーム４３４Ａと開閉アーム４３４Ｄは反時計回りに回転し、開閉アーム４３４Ｂと開閉アーム４３４Ｃは時計回りに回転するので、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄは開動作を行う。
【０１０２】
開閉機構４３６には、ラック４３７Ａ，４３７Ｂにそれぞれ外側に向かう方向（４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄを閉じる方向）の付勢力を常時付与するためのバネ４３９Ａ，４３９Ｂと、ラック４３７Ａ，４３７Ｂの位置を４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄが閉じる「閉位置」と４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄが開く「開位置」とに切り換えるためのカム部材４４（図１４（ｂ）参照）が設けられている。図１４（ｂ）において、カム部材４４を下方向に移動させると、ラック４３７Ａ，４３７Ｂがバネ４３９Ａ，４３９Ｂの付勢力に抗して内側に移動し、「開位置」に設定される。逆に、カム部材４４を上方向に移動させると、ラック４３７Ａ，４３７Ｂがバネ４３９Ａ，４３９Ｂの付勢力によって外側に移動し、「閉位置」に設定される。
【０１０３】
開閉機構４３６には、カム部材４４を上下動させるためにカム機構４５が設けられている。４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの開閉動作もラベル装着ユニット４３の基準方向Ｐrからの回転位置によって制御する必要があるので、開閉機構４３６のカム機構４５もラベル装着ユニット４３の昇降動作と同様に当該開閉機構４３６に設けられたカムフォロア４５ａと第２円筒体７Ｂに形成されたカム溝４５ｂによって構成されている。なお、図１５に示すように、ラック４３７Ａ，４３７Ｂの内側の端部にそれぞれカム部材４４の下端のカム面が当接するカムフォロア４４ａが設けられ、カム部材４４が上昇すると、ラック４３７Ａ，４３７Ｂが外側に移動して「閉位置」に設定され、カム部材４４が下降すると、ラック４３７Ａ，４３７Ｂが内側に移動して「開位置」に設定される。
【０１０４】
第２円筒体７Ｂは、第１円筒体７Ａと同一の断面形状（円形）を有し、図１０に示すように、第１円筒体７Ａの上側に上下動可能に設けられている。第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂに対して、第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂを一体的に上下動させる第１の駆動機構８と、第２円筒体７Ｂだけを上下動させる第２の駆動機構９が設けられている。
【０１０５】
第１の駆動機構８は、第１円筒体７Ａに形成されたカム溝４２２ｂ，４３２ｂの高さ位置（すなわち、ラベル受取ユニット４２及びラベル装着ユニット４３が周期的に繰り返す昇降動作の軌跡の高さ位置）を調整するための駆動機構である。第２の駆動機構９は、カム溝４２２ｂ，４３２ｂに対するカム溝４５ｂの高さ方向における相対的な位置を微調整するための駆動機構である。
【０１０６】
第１円筒体７Ａに対して第２円筒体７Ｂだけを相対的に上昇させると、第２円筒体７ｂにおけるカム溝４５ｂの高さ位置の変動範囲の最下位の位置がカム溝４２２ｂ，４３２ｂに対して上昇する。カム溝４５ｂの高さ位置の変動範囲の最下位の位置は、カム部材４４が下降する最低の位置に対応し、カム部材４４の下降位置によって「開位置」での４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの開口量が決定される。
【０１０７】
すなわち、第２の駆動機構９によってカム溝４２２ｂ，４３２ｂに対するカム溝４５ｂの高さ方向における相対的な位置を上昇させると、図１９に示すように、各吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの「閉位置」から「開位置」までの回転角φが小さくなり、ラベルＬの開口量Ｓを小さくすることができ、下降させると、各吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの「閉位置」から「開位置」までの回転角φが大きくなり、ラベルＬの開口量Ｓを大きくすることができる。
【０１０８】
従って、第２の駆動機構９は、ラベル装着装置４におけるラベル装着処理の不良率ＲNGが閾値ＲTH以上になった場合に、ラベル供給調整装置６が不良率ＲNGを閾値ＲTHより小さくするラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の適正値をサーチする際のラベルＬの開口量Ｓの適正値のサーチと当該ラベルＬの開口量Ｓを適正値に保持する制御を行う。
【０１０９】
第１の駆動機構８は、図１７，図１８に示すように、４本の脚体４６の上部に水平に固定された一対の支持部材４７に設けられている。第１の駆動機構８は、駆動力を発生するモータ８０１と、４個の送りネジ装置８０２と、モータ８０１の駆動力を４個の送りネジ装置８０２に伝達する無端ベルト８０３と、送りネジ装置８０２によって上下動する可動板８０４と、第１円筒体７Ａが取り付けられる４本の中空の支持棒８０５とで構成される。
【０１１０】
送りネジ装置８０２は、棒状の送りネジ８０２ａと内径にその送りネジ８０２ａに螺合するナットが形成されたプーリ８０２ｂとで構成される。４個の送りネジ装置８０２のプーリ８０２ｂは、一対の支持部材４７の上面適所に回転自在に取り付けられ、各プーリ８０２ｂのナットに螺合する送りネジ８０２ａが支持部材４７の上面に軸受けを介して回転自在に取り付けられている。４本の送りネジ８０２ａの上端には可動板８０４が固定されている。４個の送りネジ装置８０２は一対の支持部材４７の上面に四角形を形成するように取り付けられている。
【０１１１】
一対の支持部材４７で挟まれた中間部分の適所に図示省略の取付部材によってモータ８０１が配設され、モータ８０１のロータと４個の送りネジ装置８０２のプーリ８０２ｂに無端ベルト８０３が架け渡されている。４本の支持棒８０５は、一対の支持部材４７の送りネジ装置８０２より外側の位置に当該支持部材４７を貫通させて上下動可能に取り付けられている。４本の支持棒８０５の上端は可動板８０４の下面に固定されている。
【０１１２】
第１の駆動機構８は、可動板８０４を上下動させることによって４本の支持棒８０５を同時に上下動させる構成である。図１７において、例えば、モータ８０１を時計回りに回転させると（４個の送りネジ装置８０２の各プーリ８０２ｂを時計回りに回転させると）、４個の送りネジ装置８０２の各送りネジ８０２ａが同時に上昇して（可動板８０４が上昇して）４本の支持棒８０５が同時に上昇する。逆に、モータ８０１を反時計回りに回転させると、４個の送りネジ装置８０２の各送りネジ８０２ａが同時に下降して（可動板８０４が下降して）４本の支持棒８０５が同時に下降する。
【０１１３】
第１円筒体７Ａの内側の上端と下端にはそれぞれ４本の支持棒８０５に向かって延びる４個のアーム７０ａ（図１０参照）が設けられ、各アーム７０ａの先端には円形のリングが形成されている。各リングの内径は支持棒８０５の外形と略同じサイズである。４本の支持棒８０５の中間位置と下端には抜け防止用の鍔８０５ａ，８０５ｂが形成されており、第１円筒体７Ａの８個のアーム７０ａのリングに各支持棒８０５を嵌入させる形で第１円筒体７Ａが４本の支持棒８０５に取り付けられている。
【０１１４】
第１円筒体７Ａは重量が重いので、自重による第１円筒体７Ａの下方移動を各支持棒８０５の鍔８０５ａ，８０５ｂが規制することによって第１円筒体７Ａが４本の支持棒５０５の下部に保持されている。すなわち、各アーム７０ａの上側のリングが各支持棒５０５の上側の鍔８０５ａに当接し、各アーム７０ａの下側のアーム７０ａのリングが各支持棒５０５の下側の鍔８０５ｂに当接して第１円筒体７Ａの下方移動が規制され、これにより第１円筒体７Ａが４本の支持棒８０５の下部に保持されている。
【０１１５】
第２円筒体７Ｂの内側の上端と下端にもそれぞれ４本の支持棒８０５に向かって第１円筒体７Ａと同様の４個のアーム７０ｂが設けられており、各アーム７０ｂには円形のリングが形成されている。そして、第１円筒体７Ａと同様に、第２円筒体７Ｂの４対のアーム７０ｂのリングに４本の支持棒８０５をそれぞれ嵌入させる形で第２円筒体７Ｂが４本の支持棒４７５に取り付けられている。第２円筒体７Ｂは、第１円筒体７Ａの上側に重ねるようにして嵌入されているので、自重による第２円筒体７Ｂの下方移動は第１円筒体７Ａの上側のアーム７０ａによって規制され、これにより第２円筒体７Ｂが４本の支持棒８０５の第１円筒体７Ａの上側に保持されている。
【０１１６】
第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂは、第１の駆動機構８によって４本の支持棒８０５を上下動させると、第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂが一体となって上下動する。すなわち、第１の駆動機構８の４個の送りネジ装置８０２の各送りネジ８０２ａを反時計回りに回転させると、４本の支持棒８０５が同時に上昇して第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂが一体的に上昇し、時計回りに回転させると４本の支持棒８０５が同時に下降して第１円筒体７Ａと第２円筒体７Ｂが一体的に下降する。
【０１１７】
第２の駆動機構９は、図１７，図１８に示すように、駆動力を発生するモータ９０１と、４個の送りネジ装置９０２と、モータ９０１の駆動力を４個の送りネジ装置９０２に伝達する無端ベルト９０３とで構成される。送りネジ装置９０２は、支持棒８０５の上端から管内に挿入された棒状の送りネジ９０２ａとその送りネジ９０２ａに螺合するナットが形成されたプーリ９０２ｂとで構成される。各支持棒８０５の送りネジ９０２ａの下端が臨む側面には高さ方向の長孔８０５ｃ（図１０参照）が設けられ、送りネジ９０２ａの下端部が長孔８０５ｃを通る固定部材９０２ｃによって第２円筒体７Ｂの上側のアーム７０ｂの先端に固定されている。
【０１１８】
４個のプーリ９０２ｂは、４本の支持棒８０５の上端にそれぞれ軸受けによって回転自在に取り付けられている。そして、図１７の下側の２本の支持棒８０５で挟まれた中間部分の適所に図示省略の取付部材によってモータ９０１が配設され、そのモータ９０１のロータと４個のプーリ９０２ｂに無端ベルト９０３が架け渡されている。
【０１１９】
第２の駆動機構９は、４個の送りネジ装置９０２の送りネジ９０２ａを上下動させることによって第２の円筒体７Ｂの４個のアーム７０ｂを同時に上下動させる構成である。図１７において、例えば、モータ９０１を時計回りに回転させると（４個の送りネジ装置９０２の各プーリ９０２ｂを時計回りに回転させると）、４個の送りネジ装置９０２の各送りネジ９０２ａが同時に上昇し、モータ９０１を反時計回りに回転させると各送りネジ９０２ａが同時に下降する。
【０１２０】
４本の送りネジ９０２ａの下端部には固定部材９０２ｃによって第２の円筒体７Ｂの４個のアーム７０ｂが固定されているので、第２の駆動機構９により４本の送りネジ９０２ａを上下動させることによって第２の円筒体７Ｂだけが４本の支持棒８０５をガイドとして上下動する。これにより第１の円筒体７Ａのカム溝４２２ｂ，４３２ｂに対する第２の円筒体７Ｂのカム溝４５ａの高さ方向の相対的な位置が上下動し、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの「開位置」の回転角φ（すなわち、ラベルＬの開口量Ｓ）が変化する。
【０１２１】
次に、図２０を用いて、ラベル装着装置４におけるラベルＬのボトルＢへの装着シーケンスについて説明する。
【０１２２】
ラベル装着装置４のラベル装着ヘッド４１は、（１）ラベル受取ユニット４２のテイクアップ部材４２３でラベルＬを受け取る、（２）テイクアップ部材４２３が受け取ったラベルＬをラベル装着ユニット４３の４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄに渡す、（３）４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５ＤがラベルＬを筒状に開く、（４）４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５ＤがラベルＬを筒状に開いた状態で下降することによりボトルＢに被せるようにして装着する、という４つの動作を行うことによってボトルＢにラベルＬを装着する。
【０１２３】
各ラベル装着ヘッド４１は、回転基準位置αを通過するときにラベル供給装置３からラベルＬを受け取る（動作（１））。ラベル受取ユニット４２とラベル装着ユニット４３は回転基準位置αよりも上流側の所定の位置でそれぞれの昇降範囲の最も下位の位置に下降され、その状態で回転基準位置αを通過する。その下降動作のときにラベル装着ユニット４３はボトルＢに対してラベルＬの装着動作を行う。ラベル装着装置４が回転基準位置αを通過する時には、ラベル受取ユニット４２の２本のテイクアップ部材４２３はラベル装着ユニット４３の本体４３３の開口部分を下側から貫通し、当該本体４３３から上に出ている状態となっている。
【０１２４】
従って、回転基準位置αでは、図２０（ａ）に示すように、ラベル受取ユニット４２の２本のテイクアップ部材４２３がラベル受取位置Ｐ１を通過することによってラベル供給装置３から供給されるラベルＬを受け取る動作を行う。一方、ラベル装着ユニット４３は、ラベル装着装置４が回転基準位置αを通過する前に行ったラベル装着動作の状態（４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５ＤがラベルＬをボトルＢに被せた状態）を保持している。
【０１２５】
ラベル装着ヘッド４１が回転基準位置αを通過してボトル搬出位置Ｐ３まで移動する間は、ラベル受取ユニット４２は最下位の位置に保持される（図２０（ａ）〜（ｄ）のラベル受取ユニット４２の高さ位置参照）。一方、ラベル装着ユニット４３は、回転基準位置αを通過すると、直ちに４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの吸引を解除し、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄを開いた状態で最上位の位置に移動する。これにより、２本のテイクアップ部材４２３で保持されているラベルＬが４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄで囲まれる状態となる（図２０（ｂ）のラベルＬと４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの位置関係参照）。
【０１２６】
次に、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄのうち、ラベルＬに対向している２本の吸引杆４３５Ｃ，４３５Ｄを閉じて当該２本の吸引杆４３５Ｃ，４３５Ｄと２本のテイクアップ部材４２３でラベルＬを挟み（図２０（ｃ）の状態参照）、２本の吸引杆４３５Ｃ，４３５Ｄの吸引を開始すると同時に２本のテイクアップ部材４２３の吸引を解除して２本の吸引杆４３５Ｃ，４３５ＤにラベルＬを受け渡す（図２０（ｄ）参照。動作（２））。
【０１２７】
なお、図２０（ｄ）のタイミングはラベル装着ヘッド４１がボトル搬出位置Ｐ３を通過するタイミングで、ボトル保持部４０１に保持されていたラベル付きボトルＢはボトル搬出装置５によって搬出されるので、図２０（ｄ）ではラベル付きボトルＢが描かれていない。
【０１２８】
次に、ラベル装着ヘッド４１がボトル搬出位置Ｐ３からボトル受取位置Ｐ４に移動するまでの間にラベル受取ユニット４２が最上位の位置に上昇する（図２０（ｅ）参照）。この上昇動作は、２本の吸引杆４３５Ｃ，４３５Ｄに受け渡されたラベルＬを残りの２本の吸引杆４３５Ａ，４３５Ｂで挟み、筒状に広げる動作をする際にラベル装着ヘッド４１が障害となるので、ラベル受取ユニット４２を退避させる動作である。
【０１２９】
ラベル受取ユニット４２の退避動作が完了すると、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄに閉じる動作を行わせて本体４３３の内側の一組の吸引杆４３５Ａ，４３５Ｃと外側の一組の４３５Ｂ，４３５ＤでラベルＬの幅方向の両端部を挟み込み（図２０（ｆ）の状態参照）、全ての吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄの吸引動作を行わせた後、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄに開く動作を行わせる（図２０（ｇ）の状態参照）。この動作により各吸引杆４３５Ｃ〜４３５ＤがラベルＬの幅方向の両端部を外側に引っ張るので、図２０（ｇ）に示すようにラベルＬが筒型に開かれる（動作（３））。
【０１３０】
４本の吸引杆４３５Ｃ〜４３５ＤによるラベルＬを開く動作が完了すると、その状態を保持してラベル装着ユニット４３は最下位の位置に移動し、同時にラベ受取ユニット４２も最下位の位置に移動する。すなわち、ラベル受取ユニット４２及びラベル装着ユニット４３は同時にボトル保持部４０１に保持されているボトルＢに向かって下降し、最下位の位置に到達すると、図２０（ｈ）に示すように、４本の吸引杆４３５Ｃ〜４３５Ｄで開いたラベルＬがボトルＢに被せられ、ボトルＢへのラベルＬの装着が完了する（動作（４））。
【０１３１】
ラベル装着の完了タイミングは、ラベル装着ヘッド４１が回転基準位置αを通過する前の所定のタイミングに調整されているので、その時のラベル受取ユニット４２とラベル装着ユニット４３の状態が保持されてラベル装着ヘッド４１は回転基準位置αに戻る（図２０（ａ）の状態参照）。従って、各ラベル装着ヘッド４１は、支持盤４０によってロータリーを周回する毎に、上述した図２０（ａ）〜（ｈ）に示す動作を行ってボトルＢにラベルＬを装着する。
【０１３２】
次に、ラベル装着システム１の特徴的な構成であるラベル供給調整装置６について説明する。
【０１３３】
ラベル供給調整装置６は、ボトルＢにラベルＬを装着した後の所定の位置Ｐ５（図２参照。以下、「ラベル撮影位置Ｐ５」という。）で各ラベル付きボトルＢの検査部分を撮影する撮影ユニット６１と、この撮影ユニット６1の撮影動作を制御するとともに、撮影画像を用いた各ラベル付きボトルＢのラベル装着状態の良否判定、所定数の良否判定結果に基づく不良率ＲNGの算出及び不良率ＲNGが所定の閾値ＲTH以上の場合のラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の適正値への自動調整の各処理を行う自動調整制御装置６０（図２参照）とで構成される。なお、図１，図３では、自動調整制御装置６０を省略している。
【０１３４】
本実施形態では、ラベル撮影位置Ｐ５は、ラベル装着位置Ｐ２よりボトル間隔ＤBだけ下流側の位置（＋２４°の方向の位置）に設けられている。ラベル撮影位置Ｐ５は、ラベル装着位置Ｐ２とボトル搬出位置Ｐ３の間に任意の位置に設けることができる。
【０１３５】
図２１は、撮影ユニット６１の構成を示す側面図である。
【０１３６】
撮影ユニット６１は、固体撮像素子としてＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサを用いたカメラ６１１とラベルＬが装着されたボトルＢを照明する一対の照明灯６１２とを備える。カメラ６１１及び照明灯６１２はそれぞれ取付台６１３，６１４に固定され、両取付台６１３，６１４は固定部材によりラベル装着装置４のフレーム４８に固定されている。取付台６１３は、カメラ６１１がボトルＢの胴部に装着されたラベルＬを正面視するように略水平に取り付けられている。
【０１３７】
カメラ６１１は、ボトルＢの胴部に装着されたラベルＬが画面の略中央に配置される画像Ｇを撮影する。画像Ｇは、図２２に示すように、ラベルＬの文字の部分などのパターンマッチングによる検査が可能な図柄の画像ＧLが含まれる画像である。カメラ６１１は、自動調整制御装置６０から入力されるレリーズ信号（パルス信号）によって撮影動作を行い、その撮影画像のデータを一旦カメラ本体内のメモリに保存した後、自動調整制御装置６０に転送する。
【０１３８】
照明灯６１２は、複数のＬＥＤ等の発光素子を一列に配列した縦長の照明灯である。一対の照明灯６１２は、カメラ６１１の視野を妨害しないようにボトルＢに対して左右に所定角度開いた方向に配置されている。一対の照明灯６１２は、ボトルＢのラベルＬが装着された位置を照明する。
【０１３９】
自動調整制御装置６０は、カメラ６１１の撮影制御と、カメラ６１１の撮影画像を用いてラベルＬが装着されたボトルＢの良否判定と、その良否判定に基づくラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の設定値（以下、「パラメータ設定値」という。）が適正であるか否かの判定と、パラメータ設定値が不適正の場合にラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の適正値（以下、「パラメータ適正値」という。）をサーチし、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量をそのパラメータ適正値に自動的に調整する処理とを行う。
【０１４０】
ラベル装着システム１が設置される際、作業者はラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの各値を変化させては複数のラベル基材ＬＳのロットに対してラベル装着処理を行って不良率ＲNGを算出し、その不良率ＲNGが最も安定して閾値ＲTH未満となるラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の値をラベル装着システム１の設定値として設定する。
【０１４１】
ラベル装着システム１では、システム設置後に大量のラベル装着処理が繰り返されると、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量のいずれか一方若しくは両方が変動し、これによりパラメータ設定値が不適正となる状態が生じる。
【０１４２】
本実施形態では、不良率ＲNGが作業者によって操作表示装置１０で設定された所定の閾値ＲTH以上であるか否かを判別することによってパラメータ設定値が不適正となっているか否かの検出をする。
【０１４３】
なお、作業者が操作表示装置１０で設定した閾値ＲTHに基づいて決定されるラベル装着処理数ＮMの計測を開始してから１本目のラベル装着不良が発生した本数ｍがＮM以下であるか否かによって検出してもよい。
【０１４４】
例えば、閾値ＲTH＝０．２［％］に設定され、ＲNG≧ＲTHの場合はパラメータ設定値を「不適正」と判定し、ＲNG＜ＲTHの場合はパラメータ設定値を「適正」と判定する場合、ラベル装着処理数ＮMの計測を開始してから５００本を超えた任意の時点で１本目のラベル装着不良が発生したときは、ＮM＝５００の時点での不良率ＲNGは０［％］であり、１本目のラベル装着不良が発生した時点での不良率ＲNG1は必ずＲNG1＝（１／ｍ）×１００＜０．２（但し、ｍ＞５００）となる。従って、ラベル装着不良が発生することなくラベル装着処理数ＮMの計測値が５００本になった場合は、不良率ＲNGを算出して閾値ＲTHと比較するまでもなく、パラメータ設定値を「適正」と判定することができる。
【０１４５】
その一方、ラベル装着処理数ＮMの計測を開始してから５００本以内の任意の時点で１本目のラベル装着不良が発生すると、その時点の不良率ＲNG1は必ずＲNG1＞０．２であり、ＮM＝５００の時点での不良率ＲNGは必ずＲNG≧０．２となるから、いずれの時点で不良率ＲNGを算出し、その不良率ＲNGに基づきパラメータ設定値の適否を判定してもパラメータ設定値を「不適正」と判定することになる。
【０１４６】
従って、ラベル装着処理数ＮMの計測を開始してから５００本以内に１本目のラベル装着不良が発生すると、その時点でパラメータ設定値は「不適正」と判定し、ラベル装着不良が発生することなくラベル装着処理数ＮMの計測値が５００本になると、パラメータ設定値は「適正」と判定し、ラベル装着処理数ＮMの計測値を「０」にリセットして次に５００本について同様の判定処理をするようにしてもよい。
【０１４７】
自動調整制御装置６０は、ラベル装着システム１の動作を統括制御する制御装置が所定のラベル供給調整プログラムを実行するによって実現される。制御装置は、ＣＰＵ（Central Process Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を含むマイクロコンピュータで構成されている。
【０１４８】
ＲＯＭには、ラベル装着システム１におけるラベル装着装置４へのボトルＢとラベルＬの供給、ラベル装着装置４でのボトルＢへのラベルＬの装着及びラベル装着装置４からラベル付きボトルＢの搬出の一連の処理を制御するためのラベル装着処理プログラムとそのラベル装着処理プログラムを実行するために必要なデータが記憶されている。ＣＰＵがＲＯＭに記憶されたラベル装着処理プログラムを実行することにより、ラベル装着システム１のラベル装着処理を統括的に制御する。また、ＲＯＭには、ラベル供給調整プログラムとそのラベル供給調整プログラムを実行するために必要なデータが記憶されており、ＣＰＵがＲＯＭに記憶されたラベル供給調整プログラムを実行することにより、制御装置が自動調整制御装置６０として機能する。
【０１４９】
図２３は、制御装置が自動調整制御装置６０として機能する部分をブロック図で示したものである。同図において、図１〜図２１に示される部材と同一の部材には同一の符号を付している。
【０１５０】
図２３に示す操作表示装置１０は、作業者が制御装置にラベル装着動作に関する各種の設定（ラベル基材ＬＳの種類やカット位置Ｃの間隔、ラベル装着の生産速度等）を行ったり、ラベル装着動作の状態を表示したりする部材である。ラベル供給調整処理に対しては、操作表示装置１０から作業者によって不良率ＲNGの演算条件や、閾値ＲTH、ラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量を変化させてパラメータの変更値を生成する際の変更条件等の情報が入力される。
【０１５１】
操作表示装置１０は、タッチパネル式の表示部を有しており、作業者はタッチパネルに所定のタッチ操作をして所望の情報を制御装置に入力する。操作表示装置１０の表示部には作業者の設定によりラベル装着動作に関する各種の情報が表示される。作業者は、例えば、ラベル装着速度やラベル装着動作の監視内容等の情報を表示させることができる。また、作業者が運転中の自動調整制御装置６０によるラベル供給調整処理の表示を選択した場合は、操作表示装置１０の表示部に不良率ＲNGの変化やラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の適正値の変化状況などが表示される。
【０１５２】
自動調整制御装置６０は、撮影制御部６０ａ、画像解析部６０ｂ、解析データ記憶部６０ｃ、パラメータ変更値設定部６０ｄ、不良率演算部６０ｅ、パラメータ適正値設定部６０ｆ、パラメータ変更部６０ｇ及びインターフェース部６０ｈの機能ブロックを含む。自動調整制御装置６０にはインターフェース部６０ｈを介して操作表示装置１０、エッジコントローラ３０、第２の駆動機構９及び撮影ユニット６１が接続されている。
【０１５３】
撮影制御部６０ａは、カメラ６１１の撮影動作を制御する。撮影制御部６０ａは、ラベルＬが装着されたボトルＢがラベル撮影位置Ｐ５に到達する毎にカメラ６１１にレリーズ指令信号を出力する。カメラ６１１は、レリーズ指令信号が入力される毎に撮影動作を行い、その撮影画像のデータを自動調整制御装置６に転送する。自動調整制御装置６に転送された撮影画像のデータは解析データ憶部６０ｃに記憶される。
【０１５４】
撮影制御部６０ａは、支持盤４０の回転軸（主軸）に設けられたパルスエンコーダから出力されるパルス信号を用いてレリーズ指令信号を生成する。主軸のパルスエンコーダからは、支持盤４０のボトル保持部４０１が回転基準位置αを通過する毎（ボトルＢがボトル間隔ＤBだけ移動する毎）に所定数のパルス（例えば、５０００パルス）が出力される。主軸のパルスエンコーダの出力パルス数をカウントすることによってボトルＢがラベル撮影位置Ｐ５を通過するタイミングを知ることができる。従って、撮影制御部６０ａは、主軸のパルスエンコーダから出力されるパルス信号に基づきボトルＢがラベル撮影位置Ｐ５を通過するタイミングでレリーズ指令信号を生成し、カメラ６１１に出力する。
【０１５５】
画像解析部６０ｂは、カメラ６１１から撮影画像のデータが転送される毎にその撮影画像と予め用意された基準の撮影画像（正常にラベルＬが装着されたラベル付きボトルＢの検査箇所を撮影した画像。以下、「基準画像」という。）とパターンマッチング手法により照合してボトルＢに装着されたラベルＬの装着状態を解析する。
【０１５６】
画像解析部６０ｂは、例えば、基準画像に対する撮影画像の上下方向のズレ量と左右方向のズレ量を算出し、それらのズレ量が所定の許容範囲内にあるか否かを判定する。画像解析部６０ｂは、両ずれ量が許容範囲内であれば、ラベルＬの装着状態は「良」と判定し、いずれか一方又は両方のズレ量が許容範囲外であれば、ラベルＬの装着状態は「不良」と判定し、その判定結果を解析データ記憶部６０ｃに記憶された撮影画像のデータに対応付けて記憶する。
【０１５７】
解析データ記憶部６０ｃは、ＲＡＭ内の所定の領域に設けられる記憶領域である。解析データ記憶部６０ｃは、所定の枚数分（例えば、１００枚分）の記憶容量を有し、最新のものからその枚数分の撮影画像のデータと解析データとが保存される。
【０１５８】
画像解析部６０ｂで１本目のラベル装着不良の判定結果が出ると、その判定結果が出るまでのラベル装着処理数ＮMが５００［本］を超えていれば、自動調整制御装置６０は、ラベル装着処理数ＮMの計測値を「０」にリセットして同様の処理を繰り返すが、ラベル１本目の装着不良の判定結果が５００［本］以内であれば、自動調整制御装置６０は、パラメータ変更値設定部６０ｄ、不良率演算部６０ｅおよびパラメータ適正値設定部６０ｆによってパラメータ適正値をサーチし、パラメータ変更部６０ｇによってラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量をパラメータ適正値に変更する。
【０１５９】
パラメータ変更値設定部６０ｄは、画像解析部６０ｂで１本目のラベル装着不良の判定結果が出たときのラベル装着処理の本数ｍが５００以内の場合、パラメータ適正値をサーチするために、現在のパラメータ設定値を中心として走行ラインＸと開口量Ｓをそれぞれ±ΔＸ，±ΔＳだけ変化させた８種類のパラメータ変更値を生成し、所定の順番で各パラメータ変更値のラベル基材ＬＳの走行ラインＸの情報をエッジコントローラ３０に出力するとともにラベルＬの開口量Ｓの情報を第２の駆動機構９に出力して、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸ又はラベルＬの開口量Ｓの状態を現在のパラメータ設定値から変化させる。
【０１６０】
図２４は、８種類のパラメータ変更値の一例を示す図である。
【０１６１】
図２４において、中央のパラメータ変更値Ｐ(0)＝（ＸC，ＳC）は、現在のパラメータ設定値である。８種類のパラメータ変更値は、パラメータ設定値Ｐ(0)を中心としたＰ(1)＝（ＸC−ΔＸ，ＳC）、Ｐ(2)＝（ＸC，ＳC−ΔＳ）、Ｐ(3)＝（ＸC＋ΔＸ，ＳC）、Ｐ(4)＝（ＸC，ＳC＋ΔＳ）、Ｐ(5)＝（ＸC−ΔＸ，ＳC−ΔＳ）、Ｐ(6)＝（ＸC−ΔＸ，ＳC＋ΔＳ）、Ｐ(7)＝（ＸC＋ΔＸ，ＳC−ΔＳ）、Ｐ(8)＝（ＸC＋ΔＸ，ＳC＋ΔＳ）である。
【０１６２】
ラベル基材ＬＳの走行ラインの変化量ΔＸ［ｍｍ］とラベルＬの開口量ΔＳ［ｍｍ2］は、作業者によって操作表示装置１０から設定される。変化量ΔＸは、ラベル基材ＬＳのエッジＥを図６のｘ方向で変化させる変化量である。開口量ΔＳは、図１９に示すように、４本の吸引杆４３５Ａ〜４３５Ｄを「開位置」に開いた回転角φの変化量Δφに基づくラベルＬの変化量である。回転角φは、カム溝４５ｂの高さ位置によって変化するから、第２の駆動機構９に対しては回転角φの変化量Δφに対応するカム溝４５ｂの高さ位置の変化量ΔＤ［ｍｍ］が制御値となっている。図２４では、説明の便宜上、ラベルＬの開口量Ｓの変化量ΔＳで説明している。
【０１６３】
パラメータ変更値設定部６０ｄは、８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝１，２，…８。ｉ＝０は現在のパラメータ設定値）を生成すると、ｉの番号順で各パラメータ変更値Ｐ(i)をエッジコントローラ３０と第２の駆動機構６に出力してラベル装着システム１のラベル基材ＬＤの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを現在の設定値Ｐ(0)＝（Ｘc，Ｓc）から各パラメータ設定値Ｐ(i)に変更する。
【０１６４】
すなわち、パラメータ変更値設定部６０ｄは、先ず上下左右のパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)について、ラベル基材ＬＤの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを現在のパラメータ設定値Ｐ(0)に対して上、左、右、下の順に変更し、その後、残りのパラメータ変更値Ｐ(5)〜Ｐ(8)について左上、右上、左下、右下の順に変更する。
【０１６５】
本実施形態では、８種類のパラメータ変更値を上下左右の４つのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)の第１グループと残りの４つのパラメータ変更値Ｐ(5)〜Ｐ(8)の第２グループに分け、グループ順にラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを変更することを基本とする。第１グループは、ラベル基材ＬＳのライン走行ＸとラベルＬの開口量Ｓの２つのパラメータのいずれか一方だけを現在のパラメータ設定値Ｐ(0)から変化させた４個のパラメータ変更値であり、第２グループは、２つのパラメータの両方を現在のパラメータ設定値Ｐ(0)から変化させた４個のパラメータ変更値である。
【０１６６】
各グループ内での順番は上記の順番に限定されるものではなく、第１グループでは左、右、上、下や上、下、左、右等の任意の順番にすることができる。同様に、第２グループでも左上、左下、右上、右下や左上、右下、右上、左下等の任意の順番にすることができる。
【０１６７】
８種類のパラメータ変更値を第１グループと第２グループに分け、ラベル装着システム１のラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをグループ順に変更するのは、８種類のパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(8)の中から可及的に速くパラメータ適正値を見つけるためである。本実施形態では、ラベル装着システム１のラベル基材ＬＤの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)に変更してそれぞれ後述する方法で不良率ＲNG(i)（ｉは、パラメータ変更値Ｐ(i)の不良率ＲNGであることを示す）を算出し、それらの中で最小値を有するパラメータ変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値としている。
【０１６８】
例えば、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してからｍ＝３３０で１本目のラベル装着不良が発生したので（この時の不良率ＲNG1＝（１／３３０）×１００＝０．３［％］）、パラメータ変更値設定部６０ｄが図２４に示す８種類のパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(8)を生成し、ラベル装着システム１のラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを第１グループのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)に順次変更して不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)を算出した場合、その算出結果が、例えば、図２５に示すようになったとする。
【０１６９】
パラメータ変更値Ｐ(1)，Ｐ(4)の不良率ＲNG(1)，ＲNG(4)は共に現在のパラメータ設定値Ｐ(0)の不良率ＲNG(0)よりも小さい０．２［％］であるから、右上のパラメータ変更値Ｐ(6)の不良率ＲNG(6)は不良率ＲNG(0)（０．３［％］）以下になると推定することができる。一方、パラメータ変更値Ｐ(2)，Ｐ(3)の不良率ＲNG(2)，ＲNG(3)は共に不良率ＲNG(0)よりも大きい０．５［％］であるから、左下のパラメータ変更値Ｐ(7)の不良率ＲNG(7)は不良率ＲNG(0)（０．３［％］）よりも大きくなると推定することができる。また、全体的に左下から右上に向かって不良率ＲNGが良くなる傾向が見られるから、右上のパラメータ変更値Ｐ(6)の不良率ＲNG(6)は、左上のパラメータ変更値Ｐ(5)の不良率ＲNG(5)と右下のパラメータ変更値Ｐ(8)の不良率ＲNG(8)よりも良好になると推定することができる。
【０１７０】
以上より、第２グループのパラメータ変更値Ｐ(5)〜Ｐ(8)については、固定の順番で不良率ＲNGを算出するよりも第１グループのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)の不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)の分布から順番を決定し、第１グループの不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)よりも不良率ＲNGが小さくなると推定されるパラメータ変更値Ｐ(6)について最初に不良率ＲNGを算出し、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(7)，Ｐ(8)については不良率ＲNGの算出処理を除外してもよい可能性がある。
【０１７１】
そこで、本実施形態では、第１グループのパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝１，２，３，４）の不良率ＲNG(i)を算出すると、その算出結果ＲNG(i)が現在のパラメータ設定値Ｐ(0)の不良率ＲNG(0)以上であるパラメータ変更値Ｐ(i)の属する行または列に含まれる第２グループのパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝５，６，７，８）を不良率ＲNGの算出処理から除外し、残りのパラメータ変更値Ｐ(i)について変更順に不良率ＲNGの算出処理をするようにしている。
【０１７２】
例えば、図２５の例では、ＲNG(2)＞ＲNG(0)、ＲNG(3)＞ＲNG(0)であるから、パラメータ変更値Ｐ(2)の属する第１列とパラメータ変更値Ｐ(3)の属する第３行に含まれる第２グループのパラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(7)，Ｐ(8)が不良率ＲNGの算出処理から除外され、右上のパラメータ変更値Ｐ(6)についてだけ不良率ＲNG(6)の算出処理が行われることになる。
【０１７３】
また、第１グループのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)の不良率ＲNG(1)〜Ｐ(4)が図２６に示すようになった場合、ＲNG(3)＞ＲNG(0)であるから、パラメータ変更値Ｐ(3)の属する第３行に含まれる第２グループのパラメータ変更値Ｐ(7)だけが不良率ＲNGの算出処理から除外され、左上のパラメータ変更値Ｐ(5)と右上のパラメータ変更値Ｐ(6)については不良率ＲNG(5)，ＲNG(6)の算出処理が行われる。
【０１７４】
不良率演算部６０ｅは、パラメータ変更値設定部６０ｄがラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ変更値Ｐ(i)に変更する毎にそのパラメータ変更値Ｐ(i)でのラベル装着処理における不良率ＲNG(i)を算出する。本実施形態では、ラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの現在のパラメータ設定値Ｐ(0)の適否を判定する場合は、上述したように１本目のラベル装着不良が発生した時点での不良率ＲNG1は算出せず、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してから１本目のラベル装着不良が発生するまでの本数ｍがラベル装着処理数ＮM以内であるか否かによって判定するが、ラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ変更値Ｐ(i)に変更した場合は、不良率演算部６０ｅによりそのパラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)を算出する。
【０１７５】
不良率演算部６０ｅは、ラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ変更値Ｐ(i)に変更した後、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してからラベル装着処理数ＮM［本］（本実施形態では５００本）のラベル装着処理が行われるまでのラベル装着不良数ＮNGが１本以下であれば、ラベル装着処理数ＮMのラベル装着処理が終了した時点の不良率ＲNG＝（ＮNG／ＮM）×１００［％］をパラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)とする。ラベル装着不良数ＮNGは０本又は１本であるから、不良率ＲNG(i)は０［％］又は１００／ＮM［％］となる。
【０１７６】
例えば、ＮM＝１／ＲTH＝１／０．２＝５００とすると、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してから１本目のラベル装着不良が発生するまでの本数Ｎ1がＮ1≧５００であれば、１本目のラベル装着不良が発生した時点の不良率ＲNG1は、必ずＲNG1≦０．２［％］となる。複数のパラメータ変更値Ｐ(i)で不良率ＲNG(i)がＲNG(i)≦０．２［％］となる場合は、各パラメータ変更値Ｐ(i)で１本目のラベル装着不良が発生する本数Ｎ1に関係なく各パラメータ変更値Ｐ(i)はパラメータ適正値の候補となる可能性があるから、本実施形態では、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してから５００［本］のラベル装着処理が行われるまでのラベル装着不良数ＮNGが１本以下であれば、５００［本］のラベル装着処理が終了した時点の不良率ＲNGをパラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)としている。
【０１７７】
一方、ラベル装着処理の本数ｍの計測を開始してから５００［本］以内に２本以上のラベル装着不良が発生する場合、１本目のラベル装着不良が発生したときのラベル装着処理の本数をＮ1、２本目のラベル装着不良が発生したときのラベル装着処理の本数をＮ2（０＜Ｎ1＜Ｎ2＜５００）とすると、不良率演算部６０ｅは、１本目のラベル装着不良から２本目のラベル装着不良までのラベル装着処理の本数Ｎ（＝Ｎ2−Ｎ1）を算出し、（１／Ｎ）×１００［％］をパラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)として算出する。
【０１７８】
パラメータ適正値設定部６０ｆは、不良率演算部６０ｅで算出されたパラメータ変更値Ｐ(i)毎に算出された不良率ＲNG(i)の中から最小値を抽出し、その不良率ＲNG(i)を有するパラメータ変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値に設定する。図２５の例で、パラメータ変更値Ｐ(6)の不良率ＲNG(6)が０．１［％］又は０．０［％］であると、算出した不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)，ＲNG(6)の中で不良率ＲNG(6)が最小になるから、パラメータ変更値Ｐ(6)がパラメータ適正値に設定される。また、パラメータ変更値Ｐ(6)の不良率ＲNG(6)が０．２［％］であると、算出した不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)，ＲNG(6)の中で最小となるパラメータ変更値Ｐ(1)，Ｐ(4)，Ｐ(6)のうち、変更順の最も若いパラメータ変更値Ｐ(1)がパラメータ適正値に設定される。
【０１７９】
図２６の例では、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(6)の不良率ＲNG(5)，ＲNG(6)のいずれかが０．１［％］又は０．０［％］であると、そのパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉは5又は６)がパラメータ適正値に設定される。一方、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(6)の不良率ＲNG(5)，ＲNG(6)がいずれも０．２[％]以上であれば、不良率ＲNGが０．２[％]となるパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(6)の中から変更順の最も若いパラメータ変更値Ｐ(1)がパラメータ適正値に設定される。
【０１８０】
本実施形態では、算出した不良率ＲNGの最小値が複数個存在する場合、変更順の最も若いパラメータ変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値に設定しているが、これは処理手順の便宜上、その方法を採用しているだけで、最小の不良率ＲNGを有するパラメータ変更値Ｐ(i)のいずれをパラメータ適正値に設定してもよい。
【０１８１】
パラメータ変更部６０ｇは、パラメータ適正値設定部６０ｆで設定されたパラメータ適正値のラベル基材ＬＳの走行ラインＸの情報をエッジコントローラ３０に出力するとともにラベルＬの開口量Ｓの情報を第２の駆動機構９に出力して、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸ又はラベルＬの開口量Ｓの状態を現在のパラメータ設定値Ｐ(0)からパラメータ適正値に変更する。
【０１８２】
次に、自動調整制御装置６０の行う処理手順について、図２７〜図３０のフローチャートを用いて説明する。以下の説明では、作業者により０．２［％］の閾値ＲTHが設定されている場合について説明する。
【０１８３】
図２７は、ラベル装着システム１が運転を開始した後、運転中に自動調整制御装置６０がラベル供給調整処理に移行する処理手順を示すフローチャートである。
【０１８４】
ラベル装着システム１が運転を開始すると、自動調整制御装置６０は、ラベル装着処理数ＮMをカウントするカウント値ｍを「１」に設定し（Ｓ１）、ラベル装着ヘッド４によりラベルＬが装着されたボトルＢがラベル撮影位置Ｐ５を通過するタイミングでカメラ６１１により当該ボトルＢのラベルＬを撮影させる（Ｓ２）。自動調整制御装置６０は、カメラ６１１から転送される撮影画像のデータをＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する。
【０１８５】
続いて、自動調整制御装置６０は、撮影画像からラベルＬの装着状態を解析してその良否を判定し、その判定結果を解析データ記憶部６０ｂの撮影画像のデータに対応付けて記憶する（Ｓ３）。自動調整制御装置６０は、判定結果が「不良」判定であったか否かを判別し（Ｓ４）、「不良」判定でなければ（「良」判定であれば）（Ｓ４：ＮＯ）、カウント値ｍを「１」だけ増加して（Ｓ５）、ステップＳ２に戻り、ラベルＬが装着された次のボトルＢについて同様の処理を行う（Ｓ２〜Ｓ４）。
【０１８６】
自動調整制御装置６０は、ステップＳ３の判定結果が「不良」判定であれば（Ｓ４：ＹＥＳ）、カウント値ｍに基づく不良率ＲNG＝（１／ｍ）×１００［％］が作業者によって設定された閾値ＲTH＝０．２［％］よりも大であるか否かを判別する（Ｓ６）。
【０１８７】
自動調整制御装置６０は、ＲNG≦０．２であれば（Ｓ６：ＮＯ）、ステップＳ１に戻る。すなわち、自動調整制御装置６０は、１本目の不良が発生したときの不良率ＲNGが閾値ＲTH以下であるので、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの現在のパラメータ設定値Ｐ(0)＝（Ｘc，Ｓc）は適正値と見なしてラベル供給調整処理に移行することなく、ステップＳ１に戻り、カウント値ｍを「０」にリセットして新たに１本目のラベル装着不良が発生したときに同様の判定処理（ラベル供給調整処理に移行するか否かの判定処理）を行う。
【０１８８】
ステップＳ６でＲNG＞０．２であれば（Ｓ６：ＹＥＳ）、不良率ＲNGを現在のパラメータ設定値Ｐ(0)＝（Ｘc，Ｓc）に対する不良率ＲNG(0)として解析データ記憶部６０ｂに記憶した後（Ｓ７）、「ラベル供給調整処理」に移行する（Ｓ８）。
【０１８９】
本実施形態では、ステップＳ６でカウント値ｍから不良率ＲNGを算出し、そのＲNGを閾値ＲTH＝０．２と比較しているが、カウント値ｍと閾値ＲTHの逆数１／０．２＝５００を比較するようにしてもよい。すなわち、ラベル装着システム１が運転を開始してから（ラベル装着処理数ｍの計測を開始から）ｍ本目で１本目のラベル装着不良が発生した場合、ｍ＞（１／ＲTH）であれば、１本目のラベル装着不良発生時の不良率ＲNG1＝（１／ｍ）×１００［％］はＲNG1＜ＲTHであり、ｍ≦（１／ＲTH）であれば、ＲNG1≧ＲTH［％］であるから、ステップＳ６でｍ＞（１／ＲTH）＝５００であれば、ステップＳ１に戻り、ｍ≦（１／ＲTH）＝５００であれば、ステップＳ７に移行するようにしてもよい。
【０１９０】
図２８，図２９は、ステップＳ８で移行するラベル供給調整処理の処理手順を示すフローチャートである。
【０１９１】
自動調整制御装置６０は、「ラベル供給調整処理」に移行すると、まず、現在のパラメータ設定値Ｐ(0)＝（Ｘc，Ｓc）を中心として走行ラインＸと開口量Ｓをそれぞれ所定の変化量±ΔＸ，±ΔＳだけ変化させた８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝１，２，…８。図２４参照）を作成する（Ｓ１０）。パラメータ変更値Ｐ(i)の符号ｉは、パラメータ変更値Ｐ(i)を変化させる順番を示す番号である。
【０１９２】
続いて、自動調整制御装置６０は、パラメータ変更値Ｐ(i)をカウントするカウント値ｉを「０」にリセットした後（Ｓ１１）、カウント値ｉを「１」だけ増加し（Ｓ１２）、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓのパラメータをその番号ｉの変更値Ｐ(i)に変更する（Ｓ１３）。
【０１９３】
例えば、ステップＳ１２〜Ｓ１５のループでｉ＝１の場合、パラメータ変更値Ｐ(1)はＰ(1)＝（Ｘｃ−ΔＸ，Ｓｃ）であるから、自動調整制御装置６０は、エッジコントローラ３０にだけ補正値「−ΔＸ」を出力する。エッジコントローラ３０は、センサ３０１の出力信号に基づきラベル基材ＬＳの走行ラインの位置ｘSを検出し、現在の設定値ＸCに対する補正量Δｘ＝ｘS−ＸCを監視しながら、補正値の符号「−」に対応する方向（図６では反時計回りの方向）にローラ３０２，３０３の各ローラ軸を傾け、Δｘ＝−ΔＸとなる回転位置に設定する。これにより、ラベルＬの開口量Ｓは現在の開口量「Ｓc」に保持されるが、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸは現在の位置「ＸC」から「ＸC−ΔＸ」（走行ラインを現在位置ＸCよりも外側にΔＸだけずらした位置）に変更される。
【０１９４】
また、例えば、ｉ＝４の場合は、パラメータ変更値Ｐ(4)はＢ＝（Ｘｃ，Ｓｃ＋ΔＳ）であるから、自動調整制御装置６０は、ΔＳをモータ９０１の回転量ΔＳ’のデータに変換し、そのデータΔＳ’に時計回りの回転方向を示す「＋」符号を付した補正値＋ΔＳ’だけをモータ９０１に出力する。モータ９０１は、補正値の符号「＋」に対応する方向（図１７では反時計回りの方向）に回転量ΔＳ’だけ回転して４個の送りネジ装置９０２の送りネジ９０２ａを同時に下降させる。これにより、ラベル基材ＬＳの走行ラインの位置は現在の位置「ＸC」に保持されるが、ラベルＬの開口量は現在の開口量「ＳC」から「Ｓｃ＋ΔＳ」に変更される。
【０１９５】
続いて、自動調整制御装置６０は、図３０に示す「不良率算出処理」に移行し、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ変更値Ｐ(i)に変更した場合の不良率ＲNG(1)を算出する（Ｓ１４）。
【０１９６】
自動調整制御装置６０は、「不良率算出処理」に移行すると、ラベル装着不良の本数をカウントするカウント値ｋ、ラベル装着処理数をカウントするカウント値ｍ、１本目のラベル不良が発生するまでのラベル装着処理数Ｎ1及び１本目のラベル不良が発生してから２本目のラベル不良が発生するまでのラベル装着処理数Ｎ2を全て「０」のリセットする（Ｓ４０）。
【０１９７】
続いて、自動調整制御装置６０は、カウント値ｍを「１」だけ増加し（Ｓ４１）、ラベル装着ヘッド４によりラベルＬが装着されたボトルＢがラベル撮影位置Ｐ５を通過するタイミングでカメラ６１１により当該ボトルＢのラベルＬを撮影させ、カメラ６１１から転送される撮影画像のデータをＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する（Ｓ４２）。
【０１９８】
続いて、自動調整制御装置６０は、撮影画像からラベルＬの装着状態を解析してその良否を判定し、その判定結果を解析データ記憶部６０ｂの撮影画像のデータに対応付けて記憶する（Ｓ４３）。自動調整制御装置６０は、判定結果が「不良」判定であったか否かを判別し（Ｓ４４）、「不良」判定でなければ（「良」判定であれば）（Ｓ４４：ＮＯ）、ステップＳ４８に移行し、更にカウント値ｍが「５００」になっているか否かを判別する。この判別における「５００」も閾値ＲTHの逆数（１／ＲTH）＝１／０．２によって設定された値である。
【０１９９】
一方、ステップＳ４４の判定結果が「不良」判定であれば（Ｓ４４：ＹＥＳ）、自動調整制御装置６０は、カウント値ｋを「１」だけ増加し（Ｓ４５）、そのカウント値ｋが「２」になっているか否か（２本目のラベル装着不良であるか否か）を判別し（Ｓ４６）、ｋ＜２であれば（１本目のラベル装着不良の発生であれば）（Ｓ４６：ＮＯ）、ラベル装着処理数Ｎ1にカウント値ｍを設定して（Ｓ４７）、ステップＳ４８に移行し、カウント値ｍが「５００」になっているか否かを判別する。
【０２００】
ステップＳ４８でｍ＜５００であれば（Ｓ４８：ＮＯ）、ステップＳ４１に戻り、ラベルＬが装着された次のボトルＢについて同様の処理を行う（Ｓ４１〜Ｓ４４，Ｓ４８又はＳ４１〜Ｓ４８）。
【０２０１】
そして、ステップＳ４１〜Ｓ４４，Ｓ４８のループ処理若しくはステップＳ４１〜Ｓ４８のループ処理で、ｍ＝５００になると（Ｓ４８：ＹＥＳ）、自動調整制御装置６０は、（ｋ／５００）×１００［％］を演算し、その演算値をパラメータの変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)としてＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶した後（Ｓ４９）、図２８のフローチャートのステップＳ１５に戻る。ステップＳ４８でｍ＝５００になる場合は、ラベル装着不良の本数ｋが０本又は１本であるから、不良率ＲNG(i)は０．０［％］若しくは０．２［％］となるが、この値は不良率ＲNG(i)が０．０［％］若しくは０．２［％］未満であることを意味するものである。
【０２０２】
ｍ＜５００でのステップＳ４１〜Ｓ４８のループ処理で、ｋ＝２になると（２本目のラベル装着不良が発生すると）（Ｓ４６：ＹＥＳ）、自動調整制御装置６０は、ラベル装着処理数Ｎ2にカウント値ｍを設定した後（Ｓ５０）、そのラベル装着処理数Ｎ2からラベル装着処理数Ｎ1を減算して１本目のラベル装着不良が発生してから２本目のラベル装着不良が発生するまでのラベル装着処理数Ｎ（＝Ｎ2−Ｎ1）を算出する（Ｓ５１）。
【０２０３】
そして、自動調整制御装置６０は、（１／Ｎ）×１００［％］を演算し、その演算値をパラメータの変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)としてＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶した後（Ｓ５２）、図２８のフローチャートのステップＳ１５に戻る。ステップＳ５２で算出される不良率ＲNG(i)は、Ｎ＜５００であるから、ＲNG(i)≧０．２［％］となる。従って、この値は不良率ＲNG(i)が０．２［％］以上であることを意味するものである。
【０２０４】
自動調整制御装置６０は、「不良率算出処理」をして図２８のフローチャートのステップＳ１５に戻ると、カウント値ｉが「４」になっているか否かを判別する。本実施形態では、上述したように８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)を上下左右の４つのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)の第１グループと残りの４つのパラメータ変更値Ｐ(5)〜Ｐ(8)の第２グループに分け、グループ順にラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓを変更するので、ステップＳ１５は、第１グループの４つのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)の全てについて不良率ＲNGの算出処理が終了したか否かを判別するものである。
【０２０５】
自動調整制御装置６０は、ステップＳ１５でｍ＜４であれば（Ｓ１５：ＮＯ）、ステップＳ１２に戻り、第１グループ内の次のパラメータの変更値Ｐ(i+1)について不良率ＲNG(i+1)の算出処理を行い（Ｓ１２，Ｓ１３）、ステップＳ１５でｍ＝４であれば（Ｓ１４：ＹＥＳ）、ステップＳ１６〜Ｓ２２に移行し、第２グループ内のパラメータ変更値Ｐ(5)〜Ｐ(8)について不良率算出処理から除外するパラメータ変更値Ｐ(j)（ｊ＝５〜８）を抽出し、ｉのカウント値からその値ｊを除外する。
【０２０６】
すなわち、自動調整制御装置６０は、第１グループ内の４つのパラメータ変更値Ｐ(1)〜Ｐ(4)に対して算出した不良率ＲNG(1)〜ＲNG(4)をステップＳ７で算出した現在のパラメータ設定値Ｐ(0)に対する不良率ＲNG(0)と比較し（Ｓ１６，Ｓ１８，Ｓ２０，Ｓ２２）、不良率ＲNG(1)＞不良率ＲNG(0)の場合（Ｓ１６：ＹＥＳ）、パラメータの変更値Ｐ(1)の属する第１行に含まれる５番目と６番目のパラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(6)を不良率算出処理の不要なパラメータ変更値とし、ｉのカウント値から「５」と「８」を除外する（Ｓ１７）。また、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(6)に対する不良率ＲNG(5)，ＲNG(6)に不良率として取り得ない数値（例えば、「９９９」）を設定し、ＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する。
【０２０７】
また、自動調整制御装置６０は、不良率ＲNG(2)＞不良率ＲNGCの場合（Ｓ１８：ＹＥＳ）、パラメータの変更値Ｐ(2)の属する第１列に含まれる５番目と７番目のパラメータの変更値Ｐ(5)，Ｐ(7)を不良率算出処理の不要な変更値とし、ｉのカウント番号から「５」と「７」を除外する（Ｓ１９）。また、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(7)に対する不良率ＲNG(5)，ＲNG(7)に不良率として取り得ない数値（例えば、「９９９」）を設定し、ＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する。
【０２０８】
また、自動調整制御装置６０は、不良率ＲNG(3)＞不良率ＲNGCの場合（Ｓ２０：ＹＥＳ）、パラメータの変更値Ｐ(3)の属する第３行に含まれる７番目と８番目のパラメータの変更値Ｐ(7)，Ｐ(8)を不良率算出処理の不要な変更値とし、ｉのカウント値から「７」と「８」を除外する（Ｓ２１）。また、パラメータ変更値Ｐ(7)，Ｐ(8)に対する不良率ＲNG(7)，ＲNG(8)に不良率として取り得ない数値（例えば、「９９９」）を設定し、ＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する。
【０２０９】
また、自動調整制御装置６０は、不良率ＲNG(4)＞不良率ＲNGCの場合（Ｓ２２：ＹＥＳ）、パラメータの変更値Ｐ(4)の属する第３列に含まれる６番目と８番目のパラメータの変更値Ｐ(5)，Ｐ(8)を不良率算出処理の不要な変更値とし、ｉのカウント番号から「５」と「８」を除外する（Ｓ２３）。また、パラメータ変更値Ｐ(5)，Ｐ(8)に対する不良率ＲNG(5)，ＲNG(8)に不良率として取り得ない数値（例えば、「９９９」）を設定し、ＲＡＭの所定の記憶領域（解析データ記憶部６０ｂ）に記憶する。
【０２１０】
続いて、自動調整制御装置６０は、ｉのカウント番号から「５」〜「８」の全てが除外されているか否かを判別し（Ｓ２４）、除外されていれば（Ｓ２４：ＹＥＳ）、ステップＳ３０に移行し、ラベル装着システム１のラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ適正値に変更する処理を行う。
【０２１１】
一方、ｉのカウント番号から「５」〜「８」の全てが除外されていなければ（Ｓ２４：ＮＯ）、自動調整制御装置６０は、カウント値iに除外されていないカウント値の最小値を設定し（Ｓ２５）、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ変更値Ｐ(i)に変更した後（Ｓ２６）、図３０のフローチャートに示した「不良率算出処理」を行って当該パラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)を算出する（Ｓ２７）。自動調整制御装置６０は、除外されていないカウント番号ｉについて小さい番号順に各パラメータ変更値Ｐ(i)に対する不良率ＲNG(i)の算出を行い（ステップＳ２６〜Ｓ２９のループ）、第２グループ内の除外したもの以外のパラメータ変更値Ｐ(i)の全てについて不良率ＲNG(i)を算出すると（Ｓ２８：ＹＥＳ）、ステップＳ３０に移行し、ラベル装着システム１のラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ適正値に変更する処理を行う。
【０２１２】
ステップＳ３０に移行すると、自動調整制御装置６０は、８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)について算出した不良率ＲNG(i)の中の最小値を有するパラメータ変更値Ｐ(i)を抽出する。自動調整制御装置６０は、最小値を有するパラメータ変更値Ｐ(i)が２以上存在しない場合は（Ｓ３１：ＹＥＳ）、抽出したパラメータ変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値に設定し（Ｓ３２）、最小値を有するパラメータの変更値Ｐ(i)が２以上存在する場合は（Ｓ３１：ＮＯ）、変更番号ｉの最も若いパラメータの変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値に設定する（Ｓ３３）。
【０２１３】
そして、自動調整制御装置６０は、ラベル装着システム１のラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ適正値に設定したパラメータの変更値Ｐ(i)に変更する処理を行い（Ｓ３４）、図２７のフローチャートのステップＳ１に戻る。
【０２１４】
なお、ステップＳ３４におけるラベル装着システム１のラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの変更処理は、上述したステップＳ１３でのラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの変更処理と同一である。
【０２１５】
本実施形態によれば、ラベル装着システム１が運転を開始すると、不良率ＲNGに基づいてラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓからなる現在のパラメータ設定値Ｐ(0)が適正であるか否か（パラメータ設定値Ｐ(0)での不良率ＲNG(0)が閾値ＲTH未満であるか否か）を監視し、不適正になっていることが検出されると、パラメータ設定値Ｐ(0)を中心としてラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをそれぞれ±ΔＸと±ΔＳずつ変化させた８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝１，２，…，８）を生成し、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをそれらのパラメータ変更値Ｐ(i)に変更してはそれぞれ不良率ＲNG(i)を算出し、その算出結果の最小値を有するパラメータ変更値Ｐ(i)をパラメータ適正値としてラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをそのパラメータ変更値Ｐ(i)に自動的に調整するようにしているので、ラベル装着システム１の稼働率を低下させることなく不良率ＲNGを閾値ＲTH未満に制御することができる。
【０２１６】
また、ラベル装着システム１を運転しながらラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓのパラメータ適正値を自動的に求めるので、作業者によるパラメータ適正値を求める作業負担を低減することができる。
【０２１７】
また、８種類のパラメータ変更値Ｐ(i)の不良率ＲNG(i)を算出する処理では、ラベル基材ＬＳのライン走行ＸとラベルＬの開口量Ｓのいずれか一方だけを現在のパラメータ設定値Ｐ(0)から変化させた４個のパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝１，２，３，４)について不良率ＲNG(i)を算出し、これらの不良率ＲNG(i)の変化傾向から残りの４個のパラメータ変更値Ｐ(i)（ｉ＝５，６，７，８)の不良率ＲNG(i)を推定し、現在のパラメータ設定値Ｐ(0)に対する不良率ＲNG(0)よりも不良率NG(i)が悪化するパラメータ変更値Ｐ(i)を不良率演算処理から除外するようにしているので、パラメータ適正値を可及的に迅速に求めることができる。これにより、ラベル装着不良の発生数を可及的に抑制してラベル装着システム１の不良率ＲNGを閾値ＲNG未満に制御することができる。
【０２１８】
本実施形態では、ラベル装着システム１の運転中に不良率ＲNG(0)を監視し、不良率ＲNG(0)が閾値ＲTH以上になると、パラメータ適正値をサーチし、ラベル基材ＬＳのライン走行ＸとラベルＬの開口量Ｓの現在のパラメータ設定値Ｐ(0)を自動的にパラメータ適正値に変更するようにしているが、ラベル基材ＬＳのライン走行ＸとラベルＬの開口量Ｓの現在のパラメータ設定値Ｐ(0)をパラメータ適正値に変更するか否かを作業者が決定するようにしてもよい。
【０２１９】
すなわち、操作表示装置１０にフルオートモードとセミオートモードを設け、作業者がフルオートモードを設定している場合は、自動調整制御装置１０に上述した図２７〜図３０のフローチャートの処理を行わせるが、作業者がセミオートモードを設定している場合は自動調整制御装置１０に図２９のフローチャートのステップＳ３２，Ｓ３３，Ｓ３４の処理に代えて図３１に示すステップＳ３２，Ｓ３３，Ｓ３３−１，Ｓ３３−２，Ｓ３４の処理を行わせる。
【０２２０】
すなわち、セミオートモードでは、自動調整制御装置１０は、ステップＳ３２，Ｓ３３でパラメータ適正値を設定すると、現在のパラメータ設定値(0)が不適正である旨とラベル基材ＬＳのライン走行ＸとラベルＬの開口量Ｓのパラメータ適正値の内容を操作表示装置１０に表示し（Ｓ３３−１）、作業者により操作表示装置１０に設けられたパラメータ設定値を変更するか否かを指示する操作ボタンが操作されるのを待機する（Ｓ３３−２）。そして、作業者が現在のパラメータ設定値Ｐ(0)をパラメータ適正値に変更する指示の操作ボタンを操作すると（Ｓ３３−２：ＹＥＳ）、自動調整制御装置１０は、ステップＳ３４に移行してラベル装着システム１のラベルＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ適正値に設定されたパラメータの変更値Ｐ(i)に変更してステップＳ１に戻り、作業者が現在のパラメータ設定値Ｐ(0)をパラメータ適正値に変更しない指示の操作ボタンを操作するとＳ３３−２：ＮＯ）、自動調整制御装置１０は、ステップＳ３４をスキップしてステップＳ１に戻る。
【０２２１】
セミオートモードでは、作業者が現在のパラメータ設定値Ｐ(0)が不適正であることとパラメータ適正値の内容を確認し、必要に応じてラベル装着システム１のラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓをパラメータ適正値に変更するので、ラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの変更処理に作業者の経験を生かすことができ、不適切な変更処理を防止することができる。
【０２２２】
また、操作表示装置１０にマニュアルモード設け、作業者がマニュアルモードを設定した場合、ラベル装着システム１にラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓの仮のパラメータ設定値を設定して仮運転を行わせ、その仮運転でステップＳ１０〜Ｓ３３の処理を行わせてラベル基材ＬＳの走行ラインＸとラベルＬの開口量Ｓのパラメータ適正値を求めるようするとよい。マニュアルモードによって、作業者がラベル装着システム１を設置する際のラベル基材ＬＳの走行ラインとラベルＬの開口量の設定値を求める作業の労力と時間を低減することができる。
【０２２３】
本実施形態では、容器処理システムとしてラベル装着処理を行うラベル装着システムについて説明したが、本発明は、ラベル装着処理以外の処理を行う容器処理システムに広く適用することができる。例えば、容器の胴部にラベルを貼付したり、ラベルやその他の情報を印字したり、容器内に内容物を充填してキャップで封止したりする等の各種の容器処理を行う容器処理システムに適用することができる。
【０２２４】
すなわち、複数の容器を一列に並べて所定の容器搬送経路で搬送しながら、各容器に対応付けて配設された容器処理装置で所定の処理を行う容器処理システムでは、一般に、大量の容器処理を繰り返すうちに、システム設置時に設定されたパラメータの設定値が変動し、不良率に直接的に影響を与える所定のパラメータの設定値が変動した場合は、容器処理システムが規定の処理状態（不良率が所定の閾値未満となっている処理状態）から外れ、所定のパラメータの設定値を調整する必要が生じる。
【０２２５】
例えば、容器の湾曲した胴部に所定の文字、図形等のラベルを貼付する場合、ラベル貼付装置が容器の胴部にラベルを貼付する際の当該ラベルの容器に対する相対的な位置や当該ラベルの容器の湾曲面への押付力等が不適切になると、ラベル貼付不良が生じる。従って、ラベル貼付装置が、ラベル生成装置からラベルを受け取って容器の湾曲した胴部の所定の位置に押し付ける動作を行う場合、ラベル生成装置からのラベルの受取位置や湾曲面へのラベルの押当力等のパラメータを適切な値に設定若しくは調整する必要がある。
【０２２６】
このような容器処理システムに対しても運転中に不良率を監視し、不良率が所定の閾値以上になると、パラメータの適正値を探索する処理に移行し、その適正値が求まると、ラベルの受取位置やラベルの押当力のパラメータの値をその適正値に自動的に変更することにより、上述した本実施形態に係るラベル装着システム１と同様の効果を得ることができる。
【符号の説明】
【０２２７】
１  ラベル装着システム（容器処理システム）
２  ボトル供給装置（容器搬送手段）
３  ラベル供給装置（ラベル生成手段）
３０  エッジコントローラ（走行位置調整手段，傾斜角制御手段）
３０１  センサ
３０２  走行ライン調整用のローラ
３０３  走行ライン調整用のローラ
３０４  制御装置
３１  ラベル基材繰出部
３２  ラベル基材切断部
３３  ラベル移送部
３３１  フィードベルト
３３２  駆動プーリ
３３３，３３４  ガイドローラ
３３５  吸引チャンバー
３４  吸着補助部
３４１  無端ベルト
３４２  駆動プーリ
３４３，３４４，３４５  ガイドローラ
３５  ラベル受渡部
３５１  フィードベルト
３５２，３５３  ガイドローラ
３６  ラベル検出センサ
４  ラベル装着装置（容器処理手段）
４０  支持盤（容器搬送手段）
４０１  ボトル保持部
４１  ラベル装着ヘッド
４１１  支持フレーム
４２  ラベル受取ユニット（ラベル受取手段）
４２１  取付部材
４２２  カム機構
４２３  テイクアップ部材
４３  ラベル装着ユニット（ラベル装着手段）
４３１  取付部材
４３２  カム機構
４３３  本体
４３４Ａ〜４３４Ｄ  開閉アーム（駆動機構の要素）
４３５Ａ〜４３５Ｄ  吸引杆（第１，第２の開閉部材）
４３６  開閉機構（駆動機構）
４３７Ａ，４３７Ｂ  ラック
４３８ａ，４３８ｂ，４３８ｃ，４３８ｄ  セクタ歯車（駆動機構の要素）
４３８ｅ，４３８ｆ，４３８ｇ，４３８ｈ  平歯車（駆動機構の要素）
４３９Ａ，４３９Ｂ  バネ（駆動機構の要素）
４４  カム部材
４５  カム機構
４６  脚体
４７  支持部材
４８  フレーム
５  ボトル搬出装置
５０  ボトル受取ユニット
５１  ベルトコンベア
６  ラベル供給調整装置
６０  自動調整制御装置
６０ａ  撮影制御部
６０ｂ  画像解析部（判定手段，処理判定手段）
６０ｃ  解析データ記憶部（基準画像記憶手段）
６０ｄ  パラメータ変更値設定部（パラメータ適正値探索手段，パラメータ変更値作成手段，）
６０ｅ  不良率演算部（計測手段，第１，第２の不良率算出手段）
６０ｆ  パラメータ適正値設定部（パラメータ適正値設定手段）
６０ｇ  パラメータ変更部（パラメータ変更手段，パラメータ変更手段，パラメータ適正値設定手段）
６０ｈ  インターフェース部
６１  撮影ユニット
６１１  カメラ（画像取得手段）
６１２  照明灯
６１３，６１４  取付台
７Ａ  第１円筒体
７Ｂ  第２円筒体
８  第１の駆動機構
８０１  モータ
８０２  送りねじ装置
８０３  無端ベルト
８０４  可動板
８０５  支持棒
９  第２の駆動機構（開口量調整手段）
９０１  モータ
９０２  送りねじ装置
９０３  無端ベルト
１０  操作表示装置
α  回転基準位置
Ｐ０  ラベル切断位置
Ｐ１  ラベル受取位置
Ｐ２  ラベル装着位置
Ｐ３  ボトル搬出位置
Ｐ４  ボトル受取位置
Ｐ５  ラベル撮影位置
Ｐ６  クランプ位置
Ｐ７  搬出位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
2014000989.tif 000005
【図４】
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【図５】
2014000989.tif 000007
【図６】
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【図７】
2014000989.tif 000009
【図８】
2014000989.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2014000989.tif 000012
【図１１】
2014000989.tif 000013
【図１２】
2014000989.tif 000014
【図１３】
2014000989.tif 000015
【図１４】
2014000989.tif 000016
【図１５】
2014000989.tif 000017
【図１６】
2014000989.tif 000018
【図１７】
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【図１８】
2014000989.tif 000020
【図１９】
2014000989.tif 000021
【図２０】
2014000989.tif 000022
【図２１】
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【図２２】
2014000989.tif 000024
【図２３】
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【図２４】
2014000989.tif 000026
【図２５】
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【図２６】
2014000989.tif 000028
【図２７】
2014000989.tif 000029
【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
2014000989.tif 000032
【図３１】
2014000989.tif 000033
【図３２】
2014000989.tif 000034
【図３３】
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【図３４】
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