(57)【要約】      （修正有）【課題】光ピックアップ装置の性能に関する検査を行う検査装置を識別する。【解決手段】光ディスク５の信号記録面に対して信号の記録又は再生動作を行う際の性能に関する検査を行う検査装置の検査結果を示す検査情報と、前記検査装置を識別する識別情報と、が記されたシール３３、３４が貼付される。前記シールは、光ピックアップ装置１００のフレキシブル回路基板３１に貼付される。前記検査装置は、フロントモニタダイオードから出力される電圧を測定して検査する装置、レーザ光を信号記録面の所定位置に照射するための、光ディスク５に対するハウジング２の角度を測定して検査する装置である。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの信号記録面に対して信号の記録又は再生動作を行う際の性能に関する検査を行う検査装置の検査結果を示す検査情報と、前記検査装置を識別する識別情報と、が記されたシールが貼付される
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記検査情報及び前記識別情報は、符号化された情報である
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
光ピックアップ装置を制御する制御装置に接続されるフレキシブル回路基板、を備え、
前記シールは、前記フレキシブル回路基板に貼付される
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記信号記録面に対して信号の記録又は再生動作が行われるように、レーザダイオードから出射されるレーザ光の強度に応じた電圧を出力するフロントモニタダイオード、を備え、
前記検査装置は、前記フロントモニタダイオードから出力される電圧を測定して検査する装置である
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記信号記録面に対して信号の記録又は再生動作が行われるようにレーザ光を出射するレーザダイオードが載置されるハウジング、を備え、
前記検査装置は、前記レーザ光を前記信号記録面の所定位置に照射するための、前記光ディスクに対する前記ハウジングの角度を測定して検査する装置である
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、光ディスクの信号記録面に対して信号の記録又は再生動作を行う光ピックアップ装置が知られている（例えば特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２０４４９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ピックアップ装置は、特許文献１の光ピックアップ装置も含め、例えば、光ディスクの信号記録面に対して信号の記録又は再生動作を行う際の性能に関する検査が検査装置によって行われる。この検査が行われた後、光ピックアップ装置の性能に関する検査を再度同じ検査装置を用いて行うために、上述の検査装置の識別が必要となることがある。この場合、例えば、光ピックアップ装置の性能に関する検査を行うための工場内には、上述の検査装置と同様な検査装置が複数設けられているために、上述の検査装置の識別が困難となる虞がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前述した課題を解決する主たる本発明は、光ディスクの信号記録面に対して信号の記録又は再生動作を行う際の性能に関する検査を行う検査装置の検査結果を示す検査情報と、前記検査装置を識別する識別情報と、が記されたシールが貼付されることを特徴とする光ピックアップ装置である。
【０００６】
本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかとなる。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光ピックアップ装置の性能に関する検査を行う検査装置を識別することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系の一部の構成を示す図である。
【図３】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置を示す斜視図である。
【図４】本発明の実施形態に係る第２ラベルを示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置の一部を示す斜視図である。
【図６】本発明の実施形態における第２ラベルの符号部に記されている情報を示す図である。
【図７】本発明の実施形態における第１レーザダイオードのＦＭＤ電圧試験の結果を示す図である。
【図８】本発明の実施形態における第２レーザダイオードのＦＭＤ電圧試験の結果を示す図である。
【図９】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置の受け渡しの手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１０】
＝＝＝光ピックアップ装置の光学系＝＝＝
以下、図１、図２を参照して、本実施形態における光ピックアップ装置の光学系について説明する。図１は、本実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系の構成を示す図である。図２は、本実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系の一部の構成を示す図である。
【００１１】
光ピックアップ装置１００は、回転する光ディスク５（図３）にレーザ光を照射し、光ディスク５で反射されるレーザ光の反射光を検出する装置である。光ピックアップ装置１００によって情報の記録又は再生が行われる光ディスク５は、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）規格の光ディスク（以下、「第１光ディスク５Ａ」とも称する）、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）規格の光ディスク（以下、「第２光ディスク５Ｂ」とも称する）等である。光ピックアップ装置１００は、第１光ディスク５Ａ、第２光ディスク５Ｂに照射されるレーザ光の光路に沿った光学系を有する。
【００１２】
光ピックアップ装置１００の光学系は、ＤＶＤ規格及びＣＤ規格用の光学系であり、レーザ光源１１、回折格子１２、光検出器１３、非点収差発生板１４、ビームスプリッタ１５、１／４波長板１６、コリメートレンズ１７、立ち上げミラー１８、フロントモニタダイオード１９、対物レンズ１０１（図２）（以下、「光ピックアップ装置１００の光学部品」とも称する）から構成される。
【００１３】
レーザ光源１１は、第１光ディスク５Ａに照射する赤色波長帯（６４５ｎｍ〜６７５ｎｍ）のうち例えば６５５ｎｍの波長と、第２光ディスク５Ｂに照射する赤外波長帯（７６５ｎｍ〜８０５ｎｍ）のうち例えば７８５ｎｍの波長の、異なる２波長のレーザ光を選択的に出射する。レーザ光源１１は、例えば６５５ｎｍの波長のレーザ光を出射する第１レーザダイオード１１１と、例えば７８５ｎｍの波長のレーザ光を出射する第２レーザダイオード１１２とを有する。
【００１４】
回折格子１２は、レーザ光源１１が出射したレーザ光から、０次光、＋１次回折光、−１次回折光を生成する。また、回折格子１２は、偏光方向を９０度変換する１／２波長板機能も有する複合光学部品となっている。
【００１５】
ビームスプリッタ１５は、例えば、Ｓ偏光のレーザ光を反射し、Ｐ偏光のレーザ光を透過する平板型のビームスプリッタである。ビームスプリッタ１５は、回折格子１２から入射するＳ偏光のレーザ光を１／４波長板１６の方向へ反射する。このとき、ビームスプリッタ１５は、レーザ光の強度を調整するために、レーザ光の一部をフロントモニタダイオード１９の方向に透過するものとする。つまり、ビームスプリッタ１５を透過したレーザ光がフロントモニタダイオード１９に照射されることとなる。又、１／４波長板１６から入射するレーザ光の反射光は、例えば、第１光ディスク５Ａ又は第２光ディスク５Ｂで反射してＰ偏光のレーザ光となっている。よって、ビームスプリッタ１５は、レーザ光の反射光を非点収差発生板１４の方向へ透過する。
【００１６】
フロントモニタダイオード１９は、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度を調整するための光電子部品である。フロントモニタダイオード１９は、ビームスプリッタ１５から入射された一部のレーザ光の強度に応じた電圧を出力する。つまり、フロントモニタダイオード１９は、光ディスク５の信号記録面に対して信号の記録又は再生動作が行われるように、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度に応じた電圧を出力する。
【００１７】
１／４波長板１６は、ビームスプリッタ１５から入射するレーザ光を、直線偏光光から円偏光光に変換する。又、１／４波長板１６は、コリメートレンズ１７から入射するレーザ光の反射光を、円偏光光から直線偏光光に変換する。
【００１８】
コリメートレンズ１７は、１／４波長板１６から入射する赤色波長帯のレーザ光を平行光に変換し、赤外波長帯のレーザ光を弱発散光に変換する。
【００１９】
立ち上げミラー１８は、コリメートレンズ１７から入射するレーザ光を、第１光ディスク５Ａ又は第２光ディスク５Ｂの信号記録面に垂直な方向に反射する。又、立ち上げミラー１８は、対物レンズ１０１から入射するレーザ光の反射光を、コリメートレンズ１７の方向に反射する。
【００２０】
対物レンズ１０１は、立ち上げミラー１８から入射したレーザ光を、第１光ディスク５Ａ又は第２光ディスク５Ｂの信号記録面における信号記録層に集光する。
【００２１】
第１光ディスク５Ａ又は第２光ディスク５Ｂの信号記録層で反射したレーザ光の反射光は、対物レンズ１０１に戻り、立ち上げミラー１８、コリメートレンズ１７を介して１／４波長板１６に入射し、１／４波長板１６によって円偏光光から直線偏光光に変換される。直線偏光光となったレーザ光の反射光は、ビームスプリッタ１５を介して非点収差発生板１４に入射する。
【００２２】
非点収差発生板１４は、ビームスプリッタ１５から入射されるレーザ光の反射光にフォーカス制御に用いられる非点収差を発生させる。
【００２３】
光検出器１３には、非点収差発生板１４から入射されるレーザ光の反射光が照射される。光検出器１３は、当該照射されたレーザ光の反射光に基づいて光電変換して、光ディスク５の情報データ信号及びフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を出力する。
【００２４】
＝＝＝光ピックアップ装置＝＝＝
以下、図３を参照して、本実施形態に係る光ピックアップ装置について説明する。図３は、本実施形態に係る光ピックアップ装置を示す斜視図である。尚、光ディスク５を回転させるためのスピンドルモータ（不図示）の回転軸５Ｃは、一点鎖線で示されている。光ディスク５は、一部が省略された状態で、一点鎖線で示されている。第１ラベル３３、第２ラベル３４は見えない状態となっているが、説明の便宜上、点線で示される。
【００２５】
本実施形態において、Ｚ軸は、光ディスク５を回転させるスピンドルモータの回転軸５Ｃの長手方向（フォーカス方向、垂直方向）に沿う軸であり、光ピックアップ装置１００から光ディスク５（上側）へ向かう方向を＋Ｚ方向とし、光ディスク５から光ピックアップ装置１００（下側）へ向かう方向を−Ｚ方向とする。尚、第１光ディスク５Ａ、第２光ディスク５Ｂのうち、スピンドルモータによって回転される光ディスクを、説明の便宜上、光ディスク５とも称する。Ｘ軸は、光ディスク５の径方向（トラッキング方向、ラジアル方向）に光ピックアップ装置１００が移動する方向に沿う軸であり、光ピックアップ装置１００が回転軸５Ｃから離れる方向を−Ｘ方向とし、光ピックアップ装置１００が回転軸５Ｃに近づく方向を＋Ｘ方向とする。Ｙ軸は、光ディスク５のタンジェンシャル方向に沿う軸であり、一方の側壁２１から他方の側壁２２に向かう方向を＋Ｙ方向とし、他方の側壁２２から一方の側壁２１に向かう方向を−Ｙ方向とする。
【００２６】
光ピックアップ装置１００は、ハウジング２、光ピックアップ装置１００の光学部品、フレキシブルケーブル３１（フレキシブル回路基板）、第１ラベル３３、第２ラベル３４を有する。
【００２７】
ハウジング２は、光ピックアップ装置１００の光学部品が載置される例えば樹脂製のハウジングである。ハウジング２は、タンジェンシャル方向（Ｙ軸）に延びた形状を呈する。トラッキング方向（Ｘ軸）における回転軸５Ｃに近い側（＋Ｘ）の端部２４は、例えば、スピンドルモータ（不図示）を回避するように所定の曲率をもって抉られた形状を呈する。トラッキング方向において回転軸５Ｃから遠い側（−Ｘ）の端部２３のタンジェンシャル方向の幅は、例えば、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置（不図示）の筺体の形状に沿う様に、回転軸５Ｃから離れるにつれて短くなっている。
【００２８】
フレキシブルケーブル３１は、光ピックアップ装置１００を制御するためのケーブルである。フレキシブルケーブル３１の一端は、光ピックアップ装置１００における端部２３側に接続される。この構成により、例えばフレキシブルケーブル３１が光ディスク５と接触するのが防止される。フレキシブルケーブル３１の他端には、端子３２が設けられる。端子３２は、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置のコネクタに対して接続される。つまり、フレキシブルケーブル３１の他端は、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置のコネクタに対して着脱される。
【００２９】
第１ラベル３３、第２ラベル３４は、光ピックアップ装置１００に関する情報を示す符号等が記されているシールである。尚、第１ラベル３３、第２ラベル３４については、後述する。
【００３０】
＝＝＝第１ラベル＝＝＝
以下、図３を参照して、本実施形態における第１ラベルについて説明する。  
第１ラベル３３は、例えば、フレキシブルケーブル３１の一方の面（例えば−Ｚ）の端子３２寄りの位置に貼付される。  
第１ラベル３３には、例えば、光ピックアップ装置１００の製造番号を示す情報が記されている。光ピックアップ装置１００の製造番号を示す情報は、例えば二次元コードに符号化された状態で記されていても良く、数字（文字）として記されていてもよい。
【００３１】
＝＝＝第２ラベル＝＝＝
以下、図３及び図４を参照して、本実施形態における第２ラベルについて説明する。図４は、本実施形態に係る第２ラベルを示す図である。
【００３２】
第２ラベル３４は、光ピックアップ装置１００に関する情報を示す符号等が表示されているラベルである。第２ラベル３４は、例えば、フレキシブルケーブル３１の一方の面（例えば−Ｚ）における端子３２寄りの位置に貼付される。第２ラベル３４は、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置のコネクタに対してフレキシブルケーブル３１の端子３２が接続されたときに、当該制御装置の筐体から露出する位置に設けられる。第２ラベル３４は、例えば、第１ラベル３３の近傍における第１ラベル３３よりも端子３２寄りの位置に設けられる。尚、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置の筐体には、第２ラベル３４を露出させるための露出窓（不図示）が設けられていることとする。つまり、第２ラベル３４は、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置のコネクタに対してフレキシブルケーブル３１の端子３２が接続されたときに、当該制御装置の露出窓から露出することになる。
【００３３】
第２ラベル３４は、符号部３４Ａ、数字部３４Ｂを有する。
【００３４】
数字部３４Ｂには、例えば、光ピックアップ装置１００の試験（検査）に関する情報等を示す１６進数の数字が表示されている。数字部３４Ｂには、例えば、光ピックアップ装置１００の試験が行われた工場を示す数字（文字）等が表示されていることとしてもよい。
【００３５】
符号部３４Ａには、例えば、光ピックアップ装置１００の試験（検査）に関する情報等を示す符号が表示されている。符号部３４Ａに表示されている符号は、例えば、光ピックアップ装置１００の試験に関する情報等を示す所定桁数の１６進数の数字が符号化されたものであることとする。第２ラベル３４に表示されている符号は、例えば、二次元コードであることとしてもよい。符号部３４Ａの符号には、例えば、光ピックアップ装置１００の試験（検査）の結果を示す情報（検査情報）、試験装置を識別する情報（識別情報）、数字部３４Ｂにおいて示されている情報、光ピックアップ装置１００の型番（モデルナンバー）を示す情報、光ピックアップ装置１００の製造番号（シリアルナンバー）を示す情報等が示されている。尚、例えば、第２ラベル３４のサイズを小さくするために、第２ラベル３４における数字部３４Ｂが省略されることとしてもよい。光ピックアップ装置１００の試験、試験装置については、後述する。
【００３６】
＝＝＝光ピックアップ装置の試験及び試験装置＝＝＝
以下、図１及び図５を参照して、本実施形態におけるピックアップ装置の試験及び試験装置について説明する。図５は、本実施形態に係る光ピックアップ装置の一部を示す斜視図である。尚、光ディスク５を回転させるためのスピンドルモータ（不図示）の回転軸５Ｃは、一点鎖線で示されている。光ディスク５は、一部が省略された状態で、一点鎖線で示されている。フレキシブルケーブル３１（図３）は、説明の便宜上、省略されている。スキュー試験を行う際の光ピックアップ装置１００の回動軸５１、５２が、説明の便宜上、点線で示されている。
【００３７】
光ピックアップ装置１００においては、光ピックアップ装置１００が製造された際に、例えば、スキュー試験、ＦＭＤ電圧試験（検査）が行われる。
【００３８】
＝スキュー試験＝
スキュー試験は、光ピックアップ装置１００が製造された際に行われる試験である。スキュー試験は、例えば、光ディスク５に対する光ピックアップ装置１００の傾きに関する試験である。つまり、スキュー試験は、光ディスク５に対するハウジング２の傾きに関する試験である。スキュー試験においては、例えば、光検出器１３（図１）から出力される情報データ信号に基づいて、第１スキュー値及び第２スキュー値が決定される。
【００３９】
第１スキュー値は、例えば、ラジアル方向（Ｘ軸）に沿った回動軸５１（図５）を中心に光ピックアップ装置１００を回動させたときの、ＹＺ平面上における光ディスク５に対する光ピックアップ装置１００の角度である。スキュー試験においては、例えば、情報データ信号の振幅が所定範囲内となり、且つ、情報データ信号のジッター値が最小となったときの、ＹＺ平面における光ディスク５に対する光ピックアップ装置１００の角度が、第１スキュー値とされるものとする。
【００４０】
第２スキュー値は、例えば、タンジェンシャル方向（Ｙ軸）に沿った回動軸５２を中心に光ピックアップ装置１００を回動させたときの、ＸＺ平面上における光ディスク５に対する光ピックアップ装置１００の角度である。スキュー試験においては、例えば、情報データ信号の振幅が所定範囲内となり、且つ、情報データ信号のジッター値が最小となったときの、ＸＺ平面上における光ディスク５に対する光ピックアップ装置１００の角度が、第２スキュー値とされるものとする。
【００４１】
つまり、スキュー試験においては、レーザ光を光ディスク５の信号記録面の所定位置に照射するための、光ディスク５に対するハウジング２の角度が測定されて検査されている。スキュー試験は、第１試験装置（不図示）（検査装置）によって行われるものとする。第１試験装置は、光ピックアップ装置１００の回動と、光ピックアップ装置１００の回動が行われたときの情報データ信号の検出等を行い、スキュー試験の結果として、第１スキュー値及び第２スキュー値を出力するものとする。第１試験装置は、スキュー試験が行われるとき、例えば、光ピックアップ装置１００におけるフレキシブルケーブル３１の端子３２に接続されるものとする。第１試験装置は、光ピックアップ装置１００が製造される工場等に、例えば、複数台設けられているものとする。光ピックアップ装置１００は、複数台の第１試験装置のうちの、何れか１つの第１試験装置によって、スキュー試験が行われる。
【００４２】
＝ＦＭＤ電圧試験＝
ＦＭＤ電圧試験は、光ピックアップ装置１００が製造された際に行われる試験である。ＦＭＤ電圧試験は、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度と、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧とに関する試験である。ＦＭＤ電圧試験においては、各レーザ光の強度に対するフロントモニタダイオード１９から出力される電圧の測定が行われる。
【００４３】
ここで、レーザ光源１１は、レーザ光源１１に印加される電圧に応じた強度のレーザ光を出力する。よって、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度は、レーザ光源１１に印加される電圧の値に応じて定まることになる。レーザ光源１１においては、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度と、レーザ光源１１に印加される電圧の値との関係が、予め定められているものとする。
【００４４】
ＦＭＤ電圧試験は、第２試験装置（不図示）（検査装置）によって行われるものとする。第２試験装置は、レーザ光源１１に対して電圧を印加し、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧を検出するための装置である。第２試験装置は、ＦＭＤ試験が行われるとき、例えば、光ピックアップ装置１００におけるフレキシブルケーブル３１の端子３２に接続されるものとする。第２試験装置は、光ピックアップ装置１００が製造される工場等に、例えば、複数台設けられているものとする。光ピックアップ装置１００は、複数台の第２試験装置のうちの、何れか１つの第２試験装置によって、ＦＭＤ試験が行われる。
【００４５】
ＦＭＤ電圧試験は、レーザ光源１１における第１レーザダイオード１１１及び第２レーザダイオード１１２毎に行われる。
【００４６】
第２試験装置は、第１レーザダイオード１１１に対して、例えば、第１レーザダイオード１１１から２ｍＷ、１０ｍＷ、３０ｍＷ、６０ｍＷのレーザ光が出力されるように予め決められている電圧を順次印加する。第２試験装置は、第１レーザダイオード１１１に印加される電圧毎に、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧を検出する。第２試験装置は、第１レーザダイオード１１１におけるＦＭＤ電圧試験の結果として、フロントモニタダイオード１９から検出した電圧の値を出力する。
【００４７】
更に、第２試験装置は、第２レーザダイオード１１２に対して、例えば、第１レーザダイオード１１２から２ｍＷ、１０ｍＷ、３０ｍＷ、６０ｍＷのレーザ光が出力されるように予め決められている電圧を順次印加する。第２試験装置は、第２レーザダイオード１１２に印加される電圧毎に、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧を検出し、当該検出された電圧の値を出力する。第２試験装置は、第２レーザダイオード１１２におけるＦＭＤ電圧試験の結果として、更に、フロントモニタダイオード１９から検出した電圧の値を出力する。
【００４８】
尚、例えば、第１レーザダイオード１１１及び第２レーザダイオード１１２に対して２ｍＷのレーザ光が出力されるように予め定められている電圧を印加する場合、当該電圧に対して高周波を重畳させることとしてもよい。一方、例えば、第１レーザダイオード１１１及び第２レーザダイオード１１２に対して１０ｍＷ、３０ｍＷ、６０ｍＷのレーザ光が出力されるように予め定められている電圧を印加する場合、当該電圧に対して高周波を重畳させないこととしてもよい。
【００４９】
又、例えば、第１レーザダイオード１１１及び第２レーザダイオード１１２に対して２ｍＷ、１０ｍＷのレーザ光が出力されるように予め定められている電圧を印加する場合、第２試験装置は、直流電圧を印加することとしてもよい。又、例えば、第１レーザダイオード１１１及び第２レーザダイオード１１２に対して３０ｍＷ、６０ｍＷのレーザ光が出力されるように予め定められている電圧を印加する場合、第２試験装置は、パルス電圧等の交流電圧を印加することとしてもよい。
【００５０】
＝＝＝第２ラベルの符号部に記されている情報＝＝＝
以下、図６を参照して、本実施形態における第２ラベルの符号部に記されている情報について説明する。図６は、本実施形態における第２ラベルの符号部に記されている情報を示す図である。
【００５１】
試験情報Ｄ１００は、光ピックアップ装置１００の試験に関する情報である。試験情報Ｄ１００は、符号化された状態で第２ラベル３４の符号部３４Ａに記されている。試験情報Ｄ１００は、光ピックアップ装置１００の試験に関する情報等を示す所定桁数の１６進数の数字である。試験情報Ｄ１００には、例えば、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３、第２試験装置情報Ｄ４、第１試験装置情報Ｄ５が含まれている。
【００５２】
第１結果情報Ｄ１、Ｄ２は、スキュー試験の結果を示す情報である。第１結果情報Ｄ１、Ｄ２は、例えば、第１メーカから第２メーカに納品された光ピックアップ装置１００の性能が予め定められている性能を満たしているか否かを、第２メーカが判断するのに用いられる。尚、第１メーカは、光ピックアップ１００の製造を行う例えば部品メーカである。第２メーカは、第１メーカから納品された光ピックアップ装置１００を例えば光ディスク装置に実装するセットメーカである。第１結果情報Ｄ１は、第１スキュー値を示す例えば２桁の１６進数の数字である。第１結果情報Ｄ２は、第２スキュー値を示す例えば２桁の１６進数の数字である。
【００５３】
第２結果情報Ｄ３は、ＦＭＤ電圧試験の試験結果を示す情報である。第２結果情報Ｄ３は、例えば、光ピックアップ装置１００の性能が予め定められている性能を満たしているか否かを、第２メーカが判断するのに用いられる。第２結果情報Ｄ３は、第１レーザダイオード１１１におけるＦＭＤ電圧試験の結果を示す例えば１２桁の１６進数の数字と、第２レーザダイオード１１２におけるＦＭＤ電圧試験の結果を示す例えば１２桁の１６進数の数字とである。つまり、第２結果情報Ｄ３は、２４桁の１６進数の数字とである。尚、第２結果情報Ｄ３については、後述する。
【００５４】
第２試験装置情報Ｄ４（識別情報）は、第２試験装置のＩＤ番号を示す例えば２桁の１６進数の数字である。尚、複数の第２試験装置夫々には、固有のＩＤ番号が付されているものとする。つまり、このＩＤ番号は、第２試験装置を識別するのにも用いられる。
【００５５】
第１試験装置情報Ｄ５（識別情報）は、第２試験装置のＩＤ番号を示す例えば５桁の１６進数の数字である。尚、複数の第１試験装置夫々には、固有のＩＤ番号が付されているものとする。つまり、このＩＤ番号は、第１試験装置を識別するのにも用いられる。
【００５６】
試験情報Ｄ１００には、例えば、数字部３４Ｂにおいて示されている情報を示す１６進数の数字、光ピックアップ装置１００の型番（モデルナンバー）を示す１６進数の数字、光ピックアップ装置１００の製造番号（シリアルナンバー）を示す１６進数の数字等が更に含まれていることとする。
【００５７】
＝＝＝第２結果情報＝＝＝
以下、図７及び図８を参照して、本実施形態における第２結果情報について説明する。図７は、本実施形態における第１レーザダイオードのＦＭＤ電圧試験の結果を示す図である。図８は、本実施形態における第２レーザダイオードのＦＭＤ電圧試験の結果を示す図である。
【００５８】
第２結果情報Ｄ３は、第１情報Ｄ３１（図７）、第２情報Ｄ３２、第３情報Ｄ３３、第４情報Ｄ３４、第５情報Ｄ３５（図８）、第６情報Ｄ３６、第７情報Ｄ３７、第８情報Ｄ３８を有する。
【００５９】
第１情報Ｄ３１乃至第４情報Ｄ３４は、第１レーザダイオード１１１におけるＦＭＤ電圧試験の結果を示す情報である。
【００６０】
第１情報Ｄ３１は、第１レーザダイオード１１１から２ｍＷのレーザ光が出力されるように予め決められている電圧が第１レーザダイオード１１１に対して印加されたときの、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧の値を示す３桁の１６進数の数字である。尚、第２情報Ｄ３２乃至第４情報Ｄ３４の構成は、第１情報Ｄ３１の構成と同様であるので、その説明については省略する。
【００６１】
第５情報Ｄ３５は、第２レーザダイオード１１２から２ｍＷのレーザ光が出力されるように予め決められている電圧が第２レーザダイオード１１２に対して印加されたときの、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧の値を示す３桁の１６進数の数字である。尚、第６情報Ｄ３６乃至第８情報Ｄ３８の構成は、第５情報Ｄ３５の構成と同様であるので、その説明については省略する。
【００６２】
第２結果情報Ｄ３においては、最上位桁から順次第１情報Ｄ３１乃至第８情報Ｄ３８が示されている。
【００６３】
＝＝＝光ピックアップ装置の性能の判断の一例＝＝＝
以下、図６乃至図８を参照して、本実施形態における光ピックアップ装置の性能の判断の一例について説明する。
【００６４】
一般に、光ピックアップ装置１００は、第１メーカで製造され、第１メーカから第２メーカに対して納品される。
【００６５】
第２メーカは、納品された光ピックアップ装置１００の性能が予め定められている性能（以下、「基準性能」とも称する）を満たしているか否かを判断する。第２メーカは、第２ラベル３４における、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３に基づいて、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしているか否かを判断する。
【００６６】
第２メーカは、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２に示されている第１スキュー値、第２スキュー値、第２結果情報Ｄ３に示されているフロントモニタダイオード１９からの電圧の値が、第１スキュー値、第２スキュー値、フロントモニタダイオード１９からの電圧の値毎に予め定められている範囲内であるか否かに応じて、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしているか否かを判断する。
【００６７】
例えば、第１スキュー値、第２スキュー値、フロントモニタダイオード１９からの電圧の値の全てが、予め定められている範囲内である場合、第２メーカは、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしていると判断することとする。一方、例えば、第１スキュー値、第２スキュー値、フロントモニタダイオード１９からの電圧の値のうちの少なくとも一つが、予め定められている範囲外である場合、第２メーカは、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしていないと判断することとする。
【００６８】
第２メーカは、基準性能を満たしていると判断した光ピックアップ装置１００については、例えば光ディスク装置に実装する。一方、第２メーカは、基準性能を満たしていないと判断した光ピックアップ装置１００については、例えば第１メーカに対して返品したりする。
【００６９】
基準性能を満たしていない光ピックアップ装置１００については、一般的に、第１メーカにおいて不良品として処分されることがある。
【００７０】
ここで、例えば、第１試験装置及び第２試験装置の故障等に基づいて、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３において本来の光ピックアップ装置１００の性能が示されてないことがある。この場合、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしているにも関わらず、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしていないものと、第２メーカが誤判断することがある。このとき、基準性能を満たす光ピックアップ装置１００が、ご判断に基づいて処分されるのを防止するために、第１メーカは、返却された光ピックアップ装置１００について、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験を再度行うことがある。
【００７１】
この場合、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３に示されている光ピックアップ装置１００の性能が、本来の光ピックアップ装置１００の性能を示しているか否かの確認ために、第１メーカから第２メーカへの光ピックアップ装置１００の納品前のスキュー試験及びＦＭＤ電圧試験（以下、「納品前の試験」とも称する）と同様な試験環境下で、再度試験することが望ましい。つまり、第１メーカから第２メーカへの光ピックアップ装置１００の納品前のスキュー試験及びＦＭＤ電圧試験が行われた第１試験装置及び第２試験装置を特定する必要がある。
【００７２】
＝＝＝第１メーカと第２メーカとの間の光ピックアップ装置の受け渡しの一例＝＝＝
以下、図９を参照して、本実施形態における第１メーカと第２メーカとの間の光ピックアップ装置の受け渡しの一例について説明する。図９は、本実施形態に係る光ピックアップ装置の受け渡しの手順を示すフローチャートである。尚、ステップＳ１乃至Ｓ４、Ｓ７、Ｓ８については、第１メーカが行う。ステップＳ５、Ｓ６については、第２メーカが行う。
【００７３】
第１メーカは、所定の工場において光ピックアップ装置１００を製造する（ステップＳ１）。第１メーカは、光ピックアップ装置１００のフレキシブルケーブル３１に対して、第１ラベル３３を貼付する（ステップＳ２）。第１メーカは、光ピックアップ装置１００について、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験を行う（ステップＳ３）。第１メーカは、光ピックアップ装置１００のフレキシブルケーブル３１に対して、ステップＳ３での試験結果が反映された第２ラベル３４を貼付する（ステップＳ４）。この後、第１メーカは、光ピックアップ装置１００を第２メーカに対して納品する。
【００７４】
第２メーカは、納品された光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たすか否かを、第２ラベル３４に示されている第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３等に基づいて判断する。
【００７５】
例えば、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たすと判断した場合（ステップＳ５のＹＥＳ）、第２メーカは、例えば光ディスク装置に対して光ピックアップ装置１００を実装する（ステップＳ６）。一方、例えば、光ピックアップ装置１００の性能が基準性能を満たしていないと判断した場合（ステップＳ５のＮＯ）、第２メーカは、光ピックアップ装置１００を第１メーカに対して返品する。
【００７６】
光ピックアップ装置１００が第２メーカから第１メーカに対して返品された場合、第１メーカは、返品された光ピックアップ装置１００について、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験を再度行う（ステップＳ７）。この後、第１メーカは、ステップＳ７での試験結果に応じた対応を行う。
【００７７】
ステップＳ７においては、第１メーカは、第２ラベル３４に示されている第３情報Ｄ４（図６）及び第４情報Ｄ５に基づいて、第１メーカから第２メーカに納品される前のスキュー試験及びＦＭＤ電圧試験に用いられた第１試験装置及び第２試験装置を特定する。第１メーカは、当該特定された第１試験装置及び第２試験装置を用いて、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験（以下、「再試験」とも称する）を、再度行い、試験結果を確認する。
【００７８】
例えば、再試験の結果が基準性能を満たすものであった場合（以下、「第１の場合」とも称する）、第１メーカは、第２ラベル３４を、当該再試験の結果が反映された状態の第２ラベル３４に張り替えて、光ピックアップ装置１００を、再度、第２メーカに対して納品することとしてもよい。
【００７９】
一方、例えば、再試験の結果が基準性能を満たすものでない場合、第１メーカは、再試験の際に用いられた第１試験装置及び第２試験装置以外の第１試験装置及び第２試験装置を用いて、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験（以下、「再々試験」とも称する）を、再度行い、試験結果を確認する。
【００８０】
例えば、再々試験の結果が基準性能を満たすものであった場合（以下、「第２の場合」とも称する）、第１メーカは、第２ラベル３４を、当該再々試験の結果が反映された状態の第２ラベル３４に張り替えて、光ピックアップ装置１００を、再度、第２メーカに対して納品することとしてもよい。この場合、第１メーカは、再試験において用いられた第１試験装置及び第２試験装置が故障していること等を確認し上で、光ピックアップ装置１００を、再度、第２メーカに対して納品することとしてもよい。
【００８１】
一方、例えば、再々試験の結果が基準性能を満たすものでない場合、第１メーカは、再々試験が行われた光ピックアップ装置１００を不良品として処分することとしてもよい。
【００８２】
尚、例えば、第１メーカは、上述の第１の場合においては、スキュー試験及びＦＭＤ電圧試験を行う作業者による作業ミス等により、納品前の試験において、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３に対して本来の光ピックアップ装置１００の性能を反映できなかったものと判断することができる。又、例えば、第１メーカは、上述の第２の場合においては、納品前の試験において用いられた第１試験装置及び第２試験装置の故障により、納品前の試験において、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３に対して本来の光ピックアップ装置１００の性能を反映できなかったものと判断することができる。
【００８３】
前述したように、光ピックアップ装置１００には、第２ラベル３４が貼付される。第２ラベル３４には、第１試験装置の試験結果（検査結果）を示す第１結果情報Ｄ１、Ｄ２と、第１試験装置を識別するための第１試験装置情報Ｄ５が記されている。第２ラベル３４には、更に、第２試験装置の試験結果（検査結果）を示す第２結果情報Ｄ３と、第２試験装置を識別するための第２試験装置情報Ｄ４が記されている。従って、第２ラベル３４に記されている情報に基づいて、光ピックアップ装置１００の性能に関する試験を行う際に用いられた第１試験装置及び第２試験装置を識別することが可能となる。
【００８４】
又、第１結果情報Ｄ１、Ｄ２、第２結果情報Ｄ３、第１試験装置情報Ｄ５、第２試験装置情報Ｄ４は符号化された情報である。第２ラベル３４における符号部３４Ａの面積を比較的小さくすることができる。よって、光ピックアップ装置１００のサイズを小さくしたときにも、この光ピックアップ装置１００に対して第２ラベル３４を確実に貼付することが可能となる。
【００８５】
又、光ピックアップ装置１００は、光ピックアップ装置１００を制御する制御装置に接続されるフレキシブルケーブル３１を有する。第２ラベル３４は、フレキシブルケーブル３１に貼付される。つまり、第２ラベル３４は、光ピックアップ装置１００が動作する際に光ピックアップ装置１００で発生する熱が比較的伝達されにくい位置に設けられることになる。よって、第２ラベル３４に対する上述の熱の伝達に基づいて、第２ラベル３４が光ピックアップ装置１００から剥がれるのを防止することができる。
【００８６】
又、光ピックアップ装置１００は、フロントモニタダイオード１９を有する。フロントモニタダイオード１９は、光ディスク５の信号記録面に対して信号の記録又は再生動作が行われるように、レーザ光源１１から出力されるレーザ光の強度に応じた電圧を出力する。第２試験装置は、フロントモニタダイオード１９から出力される電圧を測定して検査する。従って、光ピックアップ装置１００のＦＭＤ試験に用いられた第２試験装置を識別することが可能となる。
【００８７】
又、光ピックアップ装置１００は、ハウジング２を有する。ハウジング２には、光ディスク５の信号記録面に対して信号の記録又は再生動作が行われるようにレーザ光を出射するレーザ光源１１が載置される。第１試験装置は、レーザ光を光ディスク５の信号記録面の所定位置に照射するための、光ディスク５に対するハウジング２の角度を測定して検査する。従って、光ピックアップ装置１００のスキュー試験に用いられた第１試験装置を識別することが可能となる。
【００８８】
尚、本実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。
【００８９】
本実施形態においては、第２ラベル３４がフレキシブルケーブル３１に貼付されることについて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、第２ラベル３４がハウジング２に貼付されることとしてもよい。この場合、例えば、ハウジング２に対して第２ラベル３４が貼付される際に、ハウジング２を所定の位置に位置決めすることにより、ハウジング２に対して第２ラベル３４を貼付する作業を比較的容易に行うことができる。従って、製造が容易な光ピックアップ装置１００を提供することができる。
【符号の説明】
【００９０】
２              ハウジング
５              光ディスク
１１            レーザ光源
１９            フロントモニタダイオード
３１            フレキシブルケーブル
３４            第２ラベル
１００          光ピックアップ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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