(57)【要約】【課題】プリント基板などの電子回路を有する評価対象物に対して信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができるノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置を提供する。【解決手段】ノイズ耐性評価方法は、まず、作業者は、評価対象物ＷＫが設置される設置個所周辺に存在する電磁波放出源ＮＳから発生される電磁波ノイズを表すノイズ情報を取得する。次いで、作業者は、総合制御装置１１０に電磁波放出源ＮＳが発する電磁波ノイズにおける複数の周波数の各ピーク値からなる評価用ノイズを生成するための評価用ノイズ規定情報を生成させる。次に、作業者は、評価対象物ＷＫに対してノイズ付与体２００を介して評価用ノイズを与える。次に、作業者は、評価用ノイズが与えられた評価対象物ＷＫが発する電磁ノイズを測定して評価対象物ＷＫの耐性を評価する。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて前記評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価方法において、
前記評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波をノイズ情報として取得するノイズ情報取得ステップと、
前記ノイズ情報に基づく前記評価用ノイズを前記評価対象物に与える評価用ノイズ付与ステップと、
前記評価用ノイズを与えた際の前記評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得ステップとを含むことを特徴とするノイズ耐性評価方法。
【請求項２】
請求項１に記載したノイズ耐性評価方法において、さらに、
前記ノイズ情報を用いて前記評価用ノイズを規定する評価用ノイズ規定情報を生成する評価用ノイズ規定情報生成ステップを含み、
前記評価用ノイズ付与ステップは、
前記評価用ノイズ規定情報に基づいて前記評価用ノイズを前記評価対象物に与えることを特徴とするノイズ耐性評価方法。
【請求項３】
請求項２に記載したノイズ耐性評価方法において、
前記ノイズ情報取得ステップは、
前記電磁波放出源から発生する電磁波における周波数ごとの最大強度であるピーク値を含んだノイズ情報を取得し、
前記評価用ノイズ規定情報生成ステップは、
前記評価用ノイズ規定情報が前記ノイズ情報における電磁波の各周波数ごとの前記ピーク値の集合によって構成されていることを特徴とするノイズ耐性評価方法。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のうちのいずれか１つに記載したノイズ耐性評価方法において、
前記評価用ノイズ付与ステップは、
前記評価対象物に沿った面状に形成されるとともに同評価対象物に対して電気的に絶縁された導体からなるノイズ付与体を前記評価対象物の近傍に配置した状態で同ノイズ付与体から前記評価用ノイズを発生させることを特徴とするノイズ耐性評価方法。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のうちのいずれか１つに記載したノイズ耐性評価方法において、
前記評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて前記挙動情報取得ステップにて前記評価対象物に隣接した位置で前記評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得センサと、
前記評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて前記挙動情報取得センサを模した形状に形成されたダミー体とを用意しておき、
挙動情報取得ステップを実行する前に、前記ダミー体を前記評価対象物に接触させることにより前記評価対象物の形状情報を取得する形状情報取得ステップを含むことを特徴とするノイズ耐性評価方法。
【請求項６】
電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて前記評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価装置において、
前記評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波を表すノイズ情報を記憶するノイズ情報記憶手段と、
前記ノイズ情報に基づく前記評価用ノイズを前記評価対象物に与える評価用ノイズ付与手段と、
前記評価用ノイズを与えた際の前記評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得手段とを備えることを特徴とするノイズ耐性評価装置。
【請求項７】
請求項６に記載したノイズ耐性評価装置において、さらに、
前記ノイズ情報を用いて前記評価用ノイズを規定する評価用ノイズ規定情報を生成する評価用ノイズ規定情報生成手段を備え、
前記評価用ノイズ付与手段は、
前記評価用ノイズ規定情報に基づいて前記評価用ノイズを前記評価対象物に与えることを特徴とするノイズ耐性評価装置。
【請求項８】
請求項７に記載したノイズ耐性評価装置において、
前記ノイズ情報記憶手段は、
前記電磁波放出源から発生する電磁波における周波数ごとの最大強度であるピーク値を含んだノイズ情報を記憶しており、
前記評価用ノイズ規定情報生成手段は、
前記評価用ノイズ規定情報が前記ノイズ情報における電磁波の各周波数ごとの前記ピーク値の集合によって構成されていることを特徴とするノイズ耐性評価装置。
【請求項９】
請求項６ないし請求項８のうちのいずれか１つに記載したノイズ耐性評価装置において、
前記評価用ノイズ付与手段は、
前記評価対象物に沿った面状に形成されるとともに同評価対象物に対して電気的に絶縁された導体からなるノイズ付与体を前記評価対象物の近傍に配置した状態で同ノイズ付与体から前記評価用ノイズを発生させることを特徴とするノイズ耐性評価装置。
【請求項１０】
請求項６ないし請求項９のうちのいずれか１つに記載したノイズ耐性評価装置において、
前記挙動情報取得手段は、
前記評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて前記評価対象物に隣接した位置で前記評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得センサと、
前記評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて前記挙動情報取得センサを模した形状に形成されたダミー体とを備え、さらに、
前記ダミー体を前記評価対象物に接触させて取得した前記評価対象物の形状を表す形状情報を記憶する形状記憶手段を備えることを特徴とするノイズ耐性評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、家電、情報端末および自動車用の電子制御装置などを構成するプリント基板においては、外部から進入する電磁波ノイズによる誤動作を未然に防止するため、外来電磁波ノイズに対する耐性を評価するイミュニティ試験（例えば、電磁感受性（ＥＭＳ：Electro Magnetic Susceptibility）や電磁環境適合性（ＥＭＣ：Electro magnetic Compatibility）に関する評価）が行なわれている。
【０００３】
例えば、下記特許文献１には、プリント基板などの電子回路を有する評価対象物に対して外部から高周波の電磁波からなる評価用ノイズを与えて評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価方法が開示されている。この場合、評価対象物に与える評価用ノイズには、評価対象物に誤動作を生じさせ易い周波数の電磁波が用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−３１８２５２号公報
【０００５】
しかしながら、このようなノイズ耐性評価方法においては、評価対象物に付与する評価用ノイズが評価対象物に誤動作を生じさせ易い周波数の電磁波によって構成されているため、評価用ノイズを構成する電磁波成分に過不足が生じ易く評価対象物の耐性評価自体の信頼性が低いという問題があった。
【０００６】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、プリント基板などの電子回路を有する評価対象物に対して信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができるノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置を提供することにある。
【発明の概要】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明の特徴は、電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価方法において、評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波をノイズ情報として取得するノイズ情報取得ステップと、ノイズ情報に基づく評価用ノイズを評価対象物に与える評価用ノイズ付与ステップと、評価用ノイズを与えた際の評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得ステップとを含むことにある。
【０００８】
このように構成した本発明の特徴によれば、ノイズ耐性評価方法は、評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波をノイズ情報として取得するとともにこのノイズ情報に基づく評価用ノイズを評価対象物に対して与えている。すなわち、ノイズ耐性評価方法は、評価用ノイズが評価対象物の実働環境における電磁波ノイズに基づいて過不足なく生成されるため、評価対象物に対して実働環境に則した信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができる。
【０００９】
また、本発明の他の特徴は、前記ノイズ耐性評価方法において、さらに、ノイズ情報を用いて評価用ノイズを規定する評価用ノイズ規定情報を生成する評価用ノイズ規定情報生成ステップを含み、評価用ノイズ付与ステップは、評価用ノイズ規定情報に基づいて評価用ノイズを評価対象物に与えることにある。
【００１０】
このように構成した本発明の他の特徴によれば、ノイズ耐性評価方法は、評価対象物に与えられる評価用ノイズがノイズ情報に基づく評価ノイズ規定情報によって規定されている。これにより、ノイズ耐性評価方法は、ノイズ情報における時間、周波数または強さなどの要素を適宜加工した評価ノイズ規定情報に基づく評価用ノイズを評価対象物に与えることができるため、評価対象物の耐性を効率的または多面的に評価することができる。
【００１１】
また、本発明の他の特徴は、前記ノイズ耐性評価方法において、ノイズ情報取得ステップは、電磁波放出源から発生する電磁波における周波数ごとの最大強度であるピーク値を含んだノイズ情報を取得し、評価用ノイズ規定情報生成ステップは、評価用ノイズ規定情報がノイズ情報における電磁波の各周波数ごとのピーク値の集合によって構成されていることにある。
【００１２】
このように構成した本発明の他の特徴によれば、ノイズ耐性評価方法は、評価用ノイズが電磁波放出源から発生する電磁波における周波数ごとのピーク値の集合で構成されているため、評価用ノイズ信号が電磁波放出源から発生する電磁波をそのまま再現した場合に比べて効率的に評価試験を行うことができる。
【００１３】
また、係る本発明の他の特徴は、前記ノイズ耐性評価方法において、評価用ノイズ付与ステップは、評価対象物に沿った面状に形成されるとともに同評価対象物に対して電気的に絶縁された導体からなるノイズ付与体を評価対象物の近傍に配置した状態で同ノイズ付与体から評価用ノイズを発生させることにある。
【００１４】
このように構成した本発明の他の特徴によれば、ノイズ耐性評価方法は、評価対象物の近傍に電気的に絶縁された面状の導体からなるノイズ付与体を配置した状態でこのノイズ付与体から評価用ノイズを発生させている。これにより、ノイズ耐性評価方法は、評価対象物が導体の近傍に設置される場合、例えば、自動車の電子制御装置からなる評価対象物が自動車のボディの近傍に設置される場合などの環境を再現した状態で評価対象物に対して評価用ノイズ信号を付与することができるため、実働環境に則した信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができる。
【００１５】
また、係る本発明の他の特徴は、前記ノイズ耐性評価方法において、評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて挙動情報取得ステップにて評価対象物に隣接した位置で評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得センサと、評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて挙動情報取得センサを模した形状に形成されたダミー体とを用意しておき、挙動情報取得ステップを実行する前に、ダミー体を評価対象物に接触させることにより評価対象物の形状情報を取得する形状情報取得ステップを含むことにある。
【００１６】
このように構成した本発明の他の特徴によれば、ノイズ耐性評価方法は、挙動情報取得ステップに先立って挙動情報取得センサのダミー体を評価対象物に接触させることにより評価対象物の形状情報を取得している。これにより、ノイズ耐性評価方法は、挙動情報取得ステップにて評価対象物の挙動に関する情報を取得する際に挙動情報取得センサが評価対象物に接触することによる両者の破損を防止することができる。
【００１７】
また、本発明は、ノイズ耐性評価方法の発明として実施できるばかりでなく、ノイズ耐性評価装置の発明としても実施できるものである。
【００１８】
具体的には、ノイズ耐性評価装置は、電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価装置において、評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波を表すノイズ情報を記憶するノイズ情報記憶手段と、ノイズ情報に基づく評価用ノイズを評価対象物に与える評価用ノイズ付与手段と、評価用ノイズを与えた際の評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得手段とを備えるようにするとよい。
【００１９】
また、この場合、ノイズ耐性評価装置において、さらに、ノイズ情報を用いて評価用ノイズを規定する評価用ノイズ規定情報を生成する評価用ノイズ規定情報生成手段を備え、評価用ノイズ付与手段は、評価用ノイズ規定情報に基づいて評価用ノイズを評価対象物に与えるとよい。
【００２０】
また、この場合、前記ノイズ耐性評価装置において、さらに、ノイズ情報を用いて評価用ノイズを規定する評価用ノイズ規定情報を生成する評価用ノイズ規定情報生成手段を備え、評価用ノイズ付与手段は、評価用ノイズ規定情報に基づいて評価用ノイズを評価対象物に与えるとよい。
【００２１】
また、これらの場合、前記ノイズ耐性評価装置において、ノイズ情報記憶手段は、電磁波放出源から発生する電磁波における周波数ごとの最大強度であるピーク値を含んだノイズ情報を記憶しており、評価用ノイズ規定情報生成手段は、評価用ノイズ規定情報がノイズ情報における電磁波の各周波数ごとのピーク値の集合によって構成されているとよい。
【００２２】
また、これらの場合、前記ノイズ耐性評価装置において、ノイズ耐性評価装置において、評価用ノイズ付与手段は、評価対象物に沿った面状に形成されるとともに同評価対象物に対して電気的に絶縁された導体からなるノイズ付与体を前記評価対象物の近傍に配置した状態で同ノイズ付与体から評価用ノイズを発生させるとよい。
【００２３】
また、これらの場合、前記ノイズ耐性評価装置において、挙動情報取得手段は、評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて評価対象物に隣接した位置で評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得センサと、評価対象物に対して接近および離隔可能に支持されて挙動情報取得センサを模した形状に形成されたダミー体とを備え、さらに、ダミー体を評価対象物に接触させて取得した評価対象物の形状を表す形状情報を記憶する形状記憶手段を備えるとよい。これらによっても、上記ノイズ耐性評価方法と同様の作用効果を期待できる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施形態に係るノイズ耐性評価方法に用いられるノイズ耐性評価装置の装置構成の概略を示した模式図である。
【図２】図１に示したノイズ耐性評価装置におけるノイズ付与体の外観構成の概略を示す斜視図である。
【図３】評価対象物の電磁波ノイズに対する耐性を評価する作業工程の手順を示した流れ図である。
【図４】ノイズ情報取得工程で用いられるノイズ情報取得装置の装置構成の概略を示した模式図である。
【図５】図２に示すノイズ付与体から発生させる評価用ノイズを構成する周波数と強度との関係例を示した説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明に係るノイズ耐性評価方法の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、本発明に係るノイズ耐性評価方法の実施に用いられるノイズ耐性評価装置１００の装置構成の概略を示した模式図である。なお、本明細書において参照する各図は、本発明の理解を容易にするために一部の構成要素を誇張して表わすなど模式的に表している。このため、各構成要素間の寸法や比率などは異なっていることがある。
【００２６】
このノイズ耐性評価装置１００は、トランジスタ、ダイオード、抵抗、コンデンサーなどの回路素子Ｓおよびこれらの回路素子Ｓをパッケージ化したＩＣやＬＳＩなどからなる電子回路を有して構成された電子回路基板からなる評価対象物ＷＫの外来電磁波ノイズに対する耐性を評価するための機器である。
【００２７】
（ノイズ耐性評価装置１００の構成）
ノイズ耐性評価装置１００は、支持テーブル１０１を備えている。支持テーブル１０１は、評価対象物ＷＫおよび後述するノイズ付与体２００をそれぞれ支持する部分であり、平板状に形成されている。より具体的には、支持テーブル１０１は、図示上側平面中央部にノイズ付与体２００を着脱自在に支持するとともに、このノイズ付与体２００を支持する部分の外側に配置された支持柱１０２を介して評価対象物ＷＫを支持する。
【００２８】
支持柱１０２は、評価対象物ＷＫの隅部を着脱自在に支持するための柱状の部材であり、絶縁材料（例えば、樹脂材）によって構成されている。これにより、評価対象物ＷＫは、支持テーブル１０１上においてノイズ付与体２００の図示上方に対向配置されるとともにノイズ付与体２００に対して電気的に絶縁された状態で支持される。この場合、評価対象物ＷＫは、ノイズ付与体２００に対して電気的に絶縁される一方で、後述する総合制御装置１１０に対して電気的に接続され状態で支持柱１０２を介して支持テーブル１０１上に支持される。
【００２９】
支持テーブル１０１の上方には、センサプローブ１０３およびダミープローブ１０５がそれぞれ設けられている。センサプローブ１０３は、評価対象物ＷＫから放出される電磁波からなるノイズ（以下、「電磁波ノイズ」という）を測定するための円柱状の検出器であり、微小のループアンテナ備えて構成されている。本実施形態においては、センサプローブ１０３は、評価対象物ＷＫから発生する電界を検出するように構成されているが、電界に代えてまたは加えて磁界を検出するように構成することもできる。このセンサプローブ１０３は、スペクトラムアナライザ１０４を介して総合制御装置１１０に接続されている。
【００３０】
スペクトラムアナライザ１０４は、センサプローブ１０３によって検出された電磁波ノイズの周波数特性を測定する電気計測器（所謂スペアナ）であり、総合制御装置１１０によって作動が制御される。具体的には、スペクトラムアナライザ１０４は、総合制御装置１１０によって指示された周波数成分における電磁波ノイズの強度を測定して総合制御装置１１０に出力する。
【００３１】
ダミープローブ１０５は、評価対象物ＷＫが発生する電磁波ノイズを測定する際におけるセンサプローブ１０３の高さ方向の位置決め位置を測定するための部材であり、樹脂材をセンサプローブ１０３と同じ外形形状に形成して構成されている。これらのセンサプローブ１０３およびダミープローブ１０５は、駆動機構１０６によって同駆動機構１０６から下垂した状態で支持されている。駆動機構１０６は、センサプローブ１０３およびダミープローブ１０５を互いに直交する３軸方向（図示Ｘ，Ｙ，Ｚ軸方向）に変位させるとともにセンサプローブ１０３をＺ軸線方向回り（図示θ方向）に回転変位させるための駆動モータおよび送り機構などを備えた機械式送り機構である。
【００３２】
この場合、駆動機構１０６は、センサプローブ１０３およびダミープローブ１０５を一体的に互いに直交するＸ−Ｙ軸方向に変位させるとともに、このＸ−Ｙ軸方向に直交するＺ軸方向に対してセンサプローブ１０３およびダミープローブ１０５をそれぞれ独立して変位させることができる。この駆動機構１０６は、ノイズ耐性評価装置１００が備える図示しないフレームによって支持されているとともに駆動制御部１０７によって駆動が制御される。駆動制御部１０７は、総合制御装置１１０からの指示に従って駆動機構１０６の駆動を制御するドライバ回路である。
【００３３】
総合制御装置１１０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、図示しない各種制御プログラムを実行することにより、スペクトラムアナライザ１０４、駆動制御部１０７およびシグナルジェネレータ１１１の各作動を制御する。また、総合制御装置１１０は、支持テーブル１０１上に支持された評価対象物ＷＫの作動も制御する。この総合制御装置１１０は、作業者からの指示を入力するためにキーボードおよびマウスからなる入力装置（図示せず）を備えるとともに、総合制御装置１１０の作動状態および電磁波ノイズの測定結果などを表示するために液晶ディスプレイからなる表示装置（図示せず）をそれぞれ備えている。
【００３４】
すなわち、本実施形態において総合制御装置１１０は、個人向けパーソナルコンピュータ（所謂パソコン）を想定している。なお、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫ、スペクトラムアナライザ１０４、駆動制御部１０７およびシグナルジェネレータ１１１の各作動を制御することができれば、どのような形式のコンピュータ装置であってもよい。
【００３５】
この総合制御装置１１０には、シグナルジェネレータ１１１を介してノイズ付与体２００が接続されている。シグナルジェネレータ１１１は、総合制御装置１１０の指示に従って評価用ノイズ信号を生成する信号発生装置である。具体的には、シグナルジェネレータ１１１は、総合制御装置１１０から出力される評価用ノイズ規定情報に基づいた電磁波からなる評価用ノイズを発生するための評価用ノイズ信号を生成してノイズ付与体２００に出力する。ここで、総合制御装置１１０から出力される評価用ノイズ規定情報は、評価用ノイズを構成する複数の周波数およびこれらの各周波数の出力時間を規定した情報群である。
【００３６】
ノイズ付与体２００は、図２に示すように、シグナルジェネレータ１１１から出力される評価用ノイズ信号に基づいて評価用ノイズを発生させるプリント基板であり、平板状に形成されている。より具体的には、ノイズ付与体２００は、絶縁体基材２０１（例えば、ガラスエポキシ基板）上に導電性材料（例えば、銅箔）からなる面状の導体面２０２が形成されて構成されている。この場合、ノイズ付与体２００は、導体面２０２が評価対象物ＷＫよりも小さく形成されている。そして、このノイズ付与体２００は、支持テーブル１０１上に着脱自在に保持されている。
【００３７】
（ノイズ耐性評価装置１００の作動）
次に、上記のように構成したノイズ耐性評価装置１００の作動、すなわち、ノイズ耐性評価装置１００を用いたノイズ耐性評価方法の作業工程について図３を参照しながら説明する。図３は、評価対象物ＷＫの電磁波ノイズに対する耐性を評価する作業工程の手順を示した流れ図である。
【００３８】
まず、作業者は、第１工程において、ノイズ情報を取得する。この第１工程におけるノイズ情報の取得工程とは、評価対象物ＷＫが最終的に設置される設置個所の周辺に存在して電磁波を放出する電磁波放出源ＮＳから放出される電磁波をノイズ情報として取得する工程である。この場合、電磁波放出源ＮＳとしては、外部に電磁波を放出する機器であって、例えば、評価対象物ＷＫが自動車に搭載される制御機器であるとすれば、電動で動作するドアミラー、ワイパーまたはラジオなどが相当する。
【００３９】
このノイズ情報の取得工程は、図４に示すように、ノイズ情報取得装置３００を用いて行われる。ノイズ情報取得装置３００は、電磁波放出源ＮＳから放出される電磁波を電磁波の周波数（例えば、数ｋＨｚ〜数十ＧＨｚ）ごとに検出してノイズ情報として記憶する機器であり、主として、ノイズ取得プローブ３０１、スペクトラムアナライザ３０２およびコンピュータ装置３０３によって構成されている。ノイズ取得プローブ３０１は、前記センサプローブ１０３と同様に電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズを測定するためのループアンテナを備えた検出器である。
【００４０】
スペクトラムアナライザ３０２は、スペクトラムアナライザ１０４と同様に、ノイズ取得プローブ３０１によって検出された電磁波ノイズの周波数特性を測定する電気計測器（所謂スペアナ）であり、コンピュータ装置３０３によって作動が制御される。具体的には、スペクトラムアナライザ３０２は、コンピュータ装置３０３によって指示された周波数成分における電磁波ノイズの強度を測定してコンピュータ装置３０３に出力する。コンピュータ装置３０３は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成された所謂パソコンであり、図示しない各種制御プログラムを実行することによってスペクトラムアナライザ３０２の作動を制御することによりノイズ情報を取得し記憶する。
【００４１】
このノイズ情報の取得工程において、作業者は、まず、スペクトラムアナライザ３０２およびコンピュータ装置３０３をそれぞれ起動した後、ノイズ取得プローブ３０１を電磁波放出源ＮＳの近傍に配置して電磁波ノイズの検出および記憶可能な状態に設定する。この場合、作業者は、コンピュータ装置３０３およびスペクトラムアナライザ３０２に対してノイズ情報として取得する電磁波ノイズの複数の周波数を設定する。
【００４２】
次いで、作業者は、電磁波放出源ＮＳを作動させる。これにより、コンピュータ装置３０３は、ノイズ取得プローブ３０１およびスペクトラムアナライザ３０２をそれぞれ介して電磁波ノイズを取得してノイズ情報として記憶する。この場合、コンピュータ装置３０３は、電磁波放出源ＮＳが発生する電磁波ノイズを前記設定された各周波数ごとに強度値の変化をノイズ情報として記憶する。すなわち、この第１工程におけるノイズ情報の取得工程が本発明に係るノイズ情報取得ステップに相当する。また、ノイズ情報を記憶するコンピュータ装置３０３が、本発明に係るノイズ情報記憶手段に相当する。
【００４３】
次に、作業者は、第２工程において、評価用ノイズ規定情報を生成する。具体的には、作業者は、コンピュータ装置３０３内に記憶されているノイズ情報をノイズ耐性評価装置１００における総合制御装置１１０に記憶させた後、この総合制御装置１１０に図示しない評価用ノイズ規定情報生成プログラムを実行させることによって評価用ノイズ規定情報を生成する。ここで評価用ノイズ規定情報生成プログラムは、ノイズ情報に基づいて評価用ノイズ規定情報を生成するためのコンピュータプログラムであり、総合制御装置１１０の記憶装置に予め記憶されている。本実施形態においては、評価用ノイズ規定情報生成プログラムは、電磁波ノイズを構成する複数の周波数（例えば、数ｋＨｚ〜数十ＧＨｚ）ごとの最大強度値であるピーク値を抽出するとともに各抽出した各ピーク値と同各ピーク値の電磁波を出力する出力時間とをそれぞれ規定した情報群（パターンデータ）を評価用ノイズ規定情報として生成する。
【００４４】
すなわち、この第２工程における評価用ノイズ規定情報工程が、本発明に係る評価用ノイズ規定情報生成ステップに相当する。そして、総合制御装置１１０は、生成した評価用ノイズ規定情報をシグナルジェネレータ１１１に設定する。なお、本実施形態においては、評価用ノイズ規定情報生成プログラムを総合制御装置１１０に実行させることにより総合制御装置１１０に評価用ノイズ規定情報を生成させるように構成した。しかし、評価用ノイズ規定情報は、評価用ノイズ規定情報生成プログラムをノイズ情報取得装置３００におけるコンピュータ装置３０３に実行させることによりコンピュータ装置３０３に生成させるように構成することもできる。
【００４５】
次に、作業者は、第３工程において、評価対象物ＷＫの形状情報を取得する。この第３工程における形状情報の取得工程は、評価対象物ＷＫの図示Ｚ軸方向の高さ情報を取得するものである。具体的には、作業者は、支持テーブル１０１上に評価対象物ＷＫをセッティングした後、総合制御装置１１０に対して図示しない形状情報取得プログラムの実行を指示する。
【００４６】
この場合、作業者は、支持テーブル１０１上にセットした評価対象物ＷＫを図示しないワイヤーハーネスを介して総合制御装置１１０に接続する。また、形状情報取得プログラムは、評価対象物ＷＫ上において電磁波ノイズを測定する複数の測定位置ごとにダミープローブ１０５を位置決めした後下降させて評価対象物ＷＫに接触させることにより、評価対象物ＷＫの高さを検出するためのコンピュータプログラムである。
【００４７】
したがって、この形状情報取得プログラムの実行時において作業者は、評価対象物ＷＫ上における電磁波ノイズを測定する図示Ｘ−Ｙ軸平面上の位置を総合制御装置１１０に指示する。これにより、総合制御装置１１０は、駆動制御部１０７の作動を制御してダミープローブ１０５を評価対象物ＷＫ上における電磁波ノイズの測定位置に位置決めした後下降させて評価対象物ＷＫと接触する高さ方向の位置を検出する。そして、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫ上における電磁波ノイズを測定するＸ−Ｙ−Ｚ軸上の各位置を形状情報としてそれぞれ記憶する。すなわち、この第３工程における形状情報の取得工程が、本発明に係る形状情報取得ステップに相当する。また、ダミープローブ１０５が、本発明に係るダミー体に相当するとともに総合制御装置１１０が本発明に係る形状記憶手段に相当する。
【００４８】
次に、作業者は、第４工程において、電磁波ノイズの測定処理を実行する。具体的には、作業者は、総合制御装置１１０に対して図示しない電磁波ノイズ測定プログラムの実行を指示する。この場合、電磁波ノイズ測定プログラムは、評価対象物ＷＫ対する各測定位置ごとにセンサプローブ１０３を位置決めするとともにノイズ付与体２００から評価用ノイズを発生させて評価対象物ＷＫから発生する電磁波ノイズを検出するためのコンピュータプログラムである。
【００４９】
この第４工程における電磁波ノイズの測定処理は、次のサブステップ１〜サブステップ４の各処理によって構成されている。
【００５０】
サブステップ１：まず、総合制御装置１１０は、センサプローブ１０３の位置決めを行う。より具体的には、総合制御装置１１０は、駆動制御部１０７を介して駆動機構１０６の作動を制御することによってセンサプローブ１０３を評価対象物ＷＫ上における図示Ｘ−Ｙ軸方向平面内の測定位置に位置決めした後、センサプローブ１０３を下降させてセンサプローブ１０３の先端部を評価対象物ＷＫ対して近接配置する。この場合、総合制御装置１１０は、前記第３工程で取得した形状情報を用いてセンサプローブ１０３が評価対象物ＷＫに対して所定の隙間（例えば、０.５ｍｍ）を介した高さ位置に位置決めする。
【００５１】
サブステップ２：次に、総合制御装置１１０は、ノイズ付与体２００から評価用ノイズを発生させる。具体的には、総合制御装置１１０は、シグナルジェネレータ１１１に対して評価用ノイズ信号の出力を指示する。これにより、シグナルジェネレータ１１１は、総合制御装置１１０によって設定された評価用ノイズ規定情報に基づいて評価用ノイズ信号を生成してノイズ付与体２００に出力する。
【００５２】
これにより、ノイズ付与体２００における導体面２０２は、図５に示すように、評価用ノイズ信号に対応する評価用ノイズ、すなわち、電磁波放出源ＮＳから発生した電磁波ノイズを構成する複数の周波数（例えば、数ｋＨｚ〜数十ＧＨｚ）ごとの各ピーク値の集合からなる評価用ノイズを発生させる。すなわち、このサブステップ２におけるノイズ付与体２００からの評価用ノイズの発生処理が、本発明に係る評価ノイズ付与ステップに相当する。
【００５３】
サブステップ３：次に、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫが発生させる電磁波ノイズを測定する。具体的には、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫを作動状態にするとともにスペクトラムアナライザ１０４に対して評価対象物ＷＫが発生させる電磁波ノイズの測定の開始を指示する。この指示に応答してスペクトラムアナライザ１０４は、総合制御装置１１０から指示された周波数成分における電磁波ノイズの強度を測定して総合制御装置１１０に出力する。
【００５４】
この場合、スペクトラムアナライザ１０４は、シグナルジェネレータ１１１が複数の周波数の電磁波ノイズを発生させる間に複数の周波数領域で電磁波ノイズの測定を行う。すなわち、総合制御装置１１０は、シグナルジェネレータ１０４とスペクトラムアナライザ１０４とを同期した状態で作動させる。これにより、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫに対して外部から評価用ノイズを与えた際に評価対象物ＷＫから発生する電磁波ノイズを複数の周波数ごとに取得する。すなわち、このサブステップ３における電磁波ノイズ測定処理が、本発明に係る挙動情報取得ステップに相当する。
【００５５】
サブステップ４：次に、総合制御装置１１０は、電磁波ノイズ測定の終了判定を行う。具体的には、総合制御装置１１０は、前記第３工程において設定された電磁波ノイズの測定位置の全てについて電磁波ノイズの測定処理を行ったか否かを判定して全ての測定位置で電磁波ノイズの測定を行うまでの間、前記サブステップ１の処理に戻って電磁波ノイズの測定処理を繰り返し実行する。
【００５６】
そして、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫにおける全ての測定位置で電磁波ノイズの測定を行ったと判定した場合には、この第４工程における電磁波ノイズの測定処理を終了する。これにより、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫにおける電磁波ノイズの複数の測定位置ごとに評価対象物ＷＫに外部から評価用ノイズを与えた際における評価対象物ＷＫから発生する電磁波ノイズを複数の周波数ごとに取得したことになる。
【００５７】
次に、作業者は、第５工程において、電磁波ノイズの可視化処理を実行する。具体的には、総合制御装置１１０は、評価対象物ＷＫにおける電磁波ノイズの複数の測定位置ごとに取得した電磁波ノイズの各周波数ごとのピーク値を算出した後、これらの各ピーク値を電磁波ノイズの測定位置に関連付けて２次元平面上に表した２次元強度分布マップを作成
する。そして、総合制御装置１１０は、この作成した２次元強度分布マップを図示しない表示装置や印刷装置にそれぞれ出力する。これにより、作業者は、評価対象物ＷＫが発生する電磁波ノイズの状態を視覚的に認識することができ、評価対象物ＷＫにおける電磁波ノイズに対する耐性の評価作業を終了することができる。
【００５８】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、ノイズ耐性評価方法は、評価対象物ＷＫが設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源ＮＳから発生する電磁波をノイズ情報として取得するとともにこのノイズ情報に基づく評価用ノイズを評価対象物ＷＫに対して与えている。すなわち、ノイズ耐性評価方法は、評価用ノイズが評価対象物ＷＫの実働環境における電磁波ノイズに基づいて過不足なく生成されるため、評価対象物ＷＫに対して実働環境に則した信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができる。
【００５９】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００６０】
例えば、上記実施形態においては、作業者は、第１工程におけるノイズ情報の取得工程において電磁波放出源ＮＳの近傍にノイズ取得プローブ３０１を配置してノイズ情報を取得した。しかし、作業者は、評価対象ＷＫが設置される設置個所周辺に存在する電磁波放出源ＮＳから発生する電磁波ノイズを取得すればよく、必ずしも上記実施形態に限定されるものではない。ここで、評価対象ＷＫが設置される設置個所周辺とは、電磁波ノイズが評価対象物ＷＫに影響を与える範囲内である。したがって、作業者は、例えば、評価対象物ＷＫが実際に配置される個所にノイズ取得プローブ３０１を配置してノイズ情報を取得することもできる。これによれば、評価対象物ＷＫの実働環境により則した耐性の評価試験を行うことができる。
【００６１】
また、上記実施形態においては、ノイズ耐性評価装置１００は、第４工程における電波ノイズの測定工程において評価用ノイズ規定情報に基づいて評価対象物ＷＫに対して評価用ノイズを与えた。この場合、評価用ノイズ規定情報は、電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズにおける各周波数ごとのピーク値で構成されている。これにより、総合制御装置１１０は、短時間に効率的に評価用ノイズを評価対象物ＷＫに与えることができる。しかし、評価用ノイズは、電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズに基づいて生成されていればよく、必ずしも、上記実施形態に限定されるものではない。したがって、評価用ノイズは、例えば、電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズをそのまま評価対象物ＷＫに与えることもできる。これによれば、ノイズ耐性評価装置１００は、より実働環境に則した耐性の評価試験を行うことができる。
【００６２】
また、評価用ノイズ規定情報についてもノイズ情報に基づくことを前提として評価対象物ＷＫの耐性の評価試験の仕様に応じて適宜設定されていればよい。例えば、評価用ノイズ規定情報は、電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズにおける各周波数ごとのピーク値を超える強度（例えば、１.５倍や２倍）で構成することもできる。また、例えば、評価用ノイズ規定情報は、電磁波放出源ＮＳが発生させる電磁波ノイズにおける各周波数のうちの特定の周波数（例えば、ピーク値が所定値以上の周波数など）のピーク値で構成することもできる。
【００６３】
また、上記実施形態においては、ノイズ耐性評価装置１００は、第４工程における電磁波ノイズの測定工程において評価対象物ＷＫが発生させる電磁波ノイズを測定して記憶するように構成した。しかし、ノイズ耐性評価装置１００は、評価用ノイズを評価対象物ＷＫに与えた際における評価対象物ＷＫの挙動に関する情報であればよく、必ずしも上記実施形態に限定されるものではない。したがって、ノイズ耐性評価装置１００は、例えば、評価対象物ＷＫの作動状態を監視して評価対象物ＷＫへの作動指示に対する出力結果を取得するようにしてもよい。したがって、上記実施形態における第５工程における電磁波ノイズの可視化工程においても作業者が理解できればよいため、必ずしも電磁波ノイズの発生の状態を２次元強度分布マップで表す必要はなく、作業者が理解できる形態（例えば、文字や記号情報およびグラフ画像など）で表すようにすればよい。
【００６４】
また、上記実施形態においては、ノイズ耐性評価装置１００は、第４工程における電磁波ノイズの測定工程においてノイズ付与体２００を介して評価対象物ＷＫに対して評価用ノイズを与えるように構成した。しかし、ノイズ耐性評価装置１００は、ノイズ付与体２００を用いることなく評価対象物ＷＫに対して評価用ノイズを与えることもできる。例えば、ノイズ耐性評価装置１００は、シグナルジェネレータ１１１から出力信号（評価用ノイズ信号）を評価対象物ＷＫの回路パターン（例えば、グランドパターン）に直接出力するように構成してもよいし、評価対象物ＷＫと総合制御装置１１０とを接続するワイヤーハーネスに対して出力するように構成してもよい。
【００６５】
また、ノイズ付与体２００は、導体面２０２の大きさを評価対象物ＷＫの大きさよりも小さく形成した。これにより、総合制御装置１１０は、導体面２０２から放出される評価用ノイズをセンサプローブ１０３が検出することを抑制することができるため、評価対象物ＷＫの耐性評価の精度を向上させることができる。しかし、ノイズ付与体２００は、センサプローブ１０３による評価用ノイズの検出を無視できる場合には、導体面２０２の大きさを評価対象物ＷＫの大きさよりも大きく形成することもできる。これによれば、ノイズ耐性評価方法は、より実働環境に則した耐性の評価試験を行うことができる。なお、このノイズ付与体２００は、本発明に係るノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置以外の従来のノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置、すなわち、評価対象物ＷＫが実際に発生させる電磁波ノイズに基づかない評価用ノイズ（例えば、評価対象物に誤動作を生じさせ易い周波数の電磁波）を評価対象物ＷＫに与えて耐性を評価するノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置にも適用することができる。
【００６６】
また、上記実施形態においては、ノイズ耐性評価装置１００は、第３工程において評価対象物ＷＫの形状情報を取得した。しかし、ノイズ耐性評価装置１００は、評価対象物ＷＫの形状が既知の場合などには、ダミープローブ１０５を用いた形状情報の取得処理は不要である。また、ダミープローブ１０５を用いた評価対象物ＷＫの形状情報取得処理は、本発明に係るノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置以外の従来のノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置、すなわち、評価対象物ＷＫが実際に発生させる電磁波ノイズに基づかない評価用ノイズ（例えば、評価対象物に誤動作を生じさせ易い周波数の電磁波）を評価対象物ＷＫに与えて耐性を評価するノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置にも適用することができる。
【符号の説明】
【００６７】
Ｓ…回路素子、ＷＫ…評価対象物、ＮＳ…電磁波放出源、
１００…ノイズ耐性評価装置、１０１…支持テーブル、１０２…支持柱、１０３…センサプローブ、１０４…スペクトラムアナライザ、１０５…ダミープローブ、１０６…駆動機構、１０７…駆動制御部、１１０…総合制御装置、１１１…シグナルジェネレータ、
２００…ノイズ付与体、２０１…絶縁体基材、２０２…導体面、
３００…ノイズ情報取得装置、３０１…ノイズ取得プローブ、３０２…スペクトラムアナライザ、３０３…コンピュータ装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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