(57)【要約】      （修正有）【課題】搬送手段に分類運転用物品を供給する第１供給手段と、搬送手段との間で基準物品を供給及び回収する第２供給手段とを設け、テスト運転において、第２供給手段により基準物品を供給し、所定周回だけ循環搬送させ、テストした後、第２供給手段により基準物品を回収して、自動化するとともに、基準物品の混交を防止すること。【解決手段】物品分類装置に、搬送手段３と、搬送手段３の保持部８に物品を供給する供給手段１，２と、物品の特性の検査手段と、分類容器に振り分ける分配手段とを備え、供給手段１，２は、分類運転において搬送手段３に物品を供給する第１供給手段１と、テスト運転において搬送手段との間で基準物品を供給及び回収する第２供給手段２とを有し、第２供給手段２は、搬送手段３に基準物品を供給すると共に、所定周回だけ循環搬送した基準物品を回収する。【選択図】図１
2014055041.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品を保持する複数の保持部を有する回転体と、当該回転体を回転駆動する駆動手段とからなり、当該回転体の保持部から物品を排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の搬送経路上に設けられた供給位置において前記回転体の保持部に物品を供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記搬送手段から排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段と、
からなる物品分類装置において、
前記供給手段は、
前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転において当該搬送手段に物品を供給する第１供給手段と、
前記搬送手段により物品を循環搬送するテスト運転において当該搬送手段との間で基準物品を供給および回収する第２供給手段とを有し、
前記第２供給手段は、前記搬送手段に基準物品を供給すると共に、該搬送手段によって所定周回だけ循環搬送された基準物品を回収するようにした
ことを特徴とする物品分類装置。
【請求項２】
上記第２供給手段は回転体を有し、
上記搬送手段の回転体および前記第２供給手段の回転体は、
共に外周に物品を収容保持する複数の保持部を有しており、
両回転体の保持部に保持される基準物品を、基準物品供給・回収位置において受け渡し可能に接続される
ことを特徴とする請求項１記載の物品分類装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物品分類装置におけるテストハンドラに関する発明であり、詳しくは、物品分類装置の搬送装置に分類運転用の物品を供給する第１供給手段と、該搬送装置に検査装置調整のためのテスト運転用の基準チップを供給する第２供給手段を設けたことを特徴とする物品分類装置である。
【背景技術】
【０００２】
従来より、物品の分類装置、特に、電子部品の分類装置では、電子部品の光学的特性や電気的特性を検査装置で検査し、その特性に基づき分類を行うようにされていた。従って、電子部品の分類装置の稼働開始時や、検査する電子部品の生産ロットや品種が変更された場合などには、該検査装置の調整のため、テスト運転を行う必要があった。
【０００３】
このテスト運転は、予め電子部品の特性を検査しておいた検査装置の校正用の基準チップを搬送手段であるインデックステーブル上で連続循環搬送させ、繰り返し検査することで行われる。テスト運転での検査結果に基づき検査装置は調整されていた。このようなテスト運転は、一日に数回程度行われるのが通常であった。
【０００４】
この従来の物品分類装置では、テスト運転の終了後に基準チップをインデックステーブルから排出する際に、分類ビンに排出すると複数の基準チップが混交して判別不可能な状態となるため、人手により一つずつ取り出すという面倒な作業が必要であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献２】特許第４４７４６１２号特許公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、搬送手段に分類運転用の物品を供給する第１供給手段と、搬送手段との間で基準物品を供給および回収する第２供給手段と、を設け、テスト運転において、搬送手段に第２供給手段により基準物品を供給し、搬送手段によって所定周回だけ循環搬送させ、校正の必要性をテストした後、第２供給手段により基準物品を回収して、基準物品の供給から回収までを第２供給手段が自動で行うことを可能とするとともに、更には、基準物品の混交を防止することを可能とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、第１の発明は、物品分類装置に次の手段を採用する。
第１に、物品を保持する複数の保持部を有する回転体と、当該回転体を回転駆動する駆動手段とからなり、当該回転体の保持部から物品を排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の搬送経路上に設けられた供給位置において前記回転体の保持部に物品を供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記搬送手段から排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段と、からなる物品分類装置とする。
第２に、前記供給手段は、前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転において当該搬送手段に物品を供給する第１供給手段と、前記搬送手段により物品を循環搬送するテスト運転において当該搬送手段との間で基準物品を供給および回収する第２供給手段とを有する。
第３に、前記第２供給手段は、前記搬送手段に基準物品を供給すると共に、該搬送手段によって所定周回だけ循環搬送された基準物品を回収する。
【０００８】
第２の発明は、第１の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第１に、上記第２供給手段は回転体を有する。
第２に、上記搬送手段の回転体および前記第２供給手段の回転体は、共に外周に物品を収容保持する複数の保持部を有しており、両回転体の保持部に保持される基準物品を、基準物品供給・回収位置において受け渡し可能に接続される。
【発明の効果】
【０００９】
第１の発明は、搬送手段により物品を循環搬送するテスト運転において当該搬送手段との間で基準物品を供給および回収する第２供給手段が、搬送手段に基準物品を供給すると共に、該搬送手段によって所定周回だけ循環搬送された基準物品を回収するようにしたことにより、基準物品の供給および回収が第２供給手段により自動で行うことが可能となった。
【００１０】
第２の発明の効果ではあるが、搬送手段の回転体および第２供給手段の回転体は、共に外周に物品を収容保持する複数の保持部を有しており、両回転体の保持部に保持される基準物品を、基準物品供給・回収位置において受け渡し可能に接続されることにより、基準物品を供給した順に回収することが可能となり、基準物品の混交を防止することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１実施例を示す電子部品分類装置の概略平面説明図
【図２】同概略右側面図
【図３】インデックステーブルの断面説明図
【図４】点灯検査位置での検査方法を示す説明図であり、（Ａ）が点灯前を示し、（Ｂ）が点灯時を示す。
【図５】排出位置の部分拡大平面説明図
【図６】排出位置の部分拡大断面説明図
【図７】基準物品の搬送経路を示す図であり、（Ａ）は第１実施例でのテスト運転を示し、（Ｂ）は第２実施例でのテスト運転を示し、（Ｃ）は第３実施例でのテスト運転を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図示の実施例と共に本発明の実施の形態について説明する。図１は、本発明の第１実施例を示す電子部品分類装置の概略平面説明図であり、図２は、同概略右側面図である。実施例においてワークである物品は、ＬＥＤチップＬであり、第１実施例における電子部品分類装置は該ＬＥＤチップＬを、断線チップか否かの電気的特性、使用環境下での色味・輝度などの光学的特性および割れ・カケチップか否かの外観的特性を検査し、振り分け、分類容器Ｂに分類する装置である。
【００１３】
電子部品分類装置は、ＬＥＤチップＬ又は基準チップＳを搬送する搬送手段３と、搬送手段３にＬＥＤチップＬ又は基準チップＳを供給するチップ供給手段と、搬送手段３の搬送経路に沿って設けられるＬＥＤチップＬの特性を検査する検査手段と、搬送手段３から排出されたＬＥＤチップＬを物品の特性に基づき所要の分類容器Ｂに振り分ける分配手段とを有する。
【００１４】
チップ供給手段としては、分類運転時に用いる第１供給手段とテスト運転時に用いる第２の供給手段という２つの供給手段が設けられている。
【００１５】
第１供給手段は、搬送手段３により搬送されるＬＥＤチップＬを所要の分類容器Ｂへ振り分ける分類運転において用いられる供給手段であって、搬送手段３にＬＥＤチップＬを供給するパーツフィーダ１である。ＬＥＤチップ供給位置９で搬送手段３に接続されるパーツフィーダ１は、多数のＬＥＤチップＬがランダムに収容されるフィーダボール１６と、レール１７で構成される。パーツフィーダ１は、振動によってＬＥＤチップＬをフィーダボール１６からレール１７へと長手方向１列に整列して送り出し、レール１７から上流側搬送手段３１の保持部８にＬＥＤチップＬを供給する。
【００１６】
第２供給手段は、搬送手段３により基準チップＳを循環搬送するテスト運転において搬送手段３との間で基準チップＳを供給および回収する基準チップ用インデックステーブル２である。基準チップ用インデックステーブル２は、円盤状で外周に所定間隔で多数の切り欠きを形成し、該切り欠きを基準チップ保持部２６とした回転体であり、基準チップ供給・回収位置１０で基準チップＳを受け渡し可能なるよう下流側搬送手段３２の下流側インデックステーブル５と接続され、下流側インデックステーブル５と同一ピッチで間欠回転する。
【００１７】
搬送手段３は、図１および図３に示されるように、固定テーブル６上に駆動手段７により間欠的に回転可能に装着された円盤状の上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５で構成される。
【００１８】
第１実施例での搬送手段３は、上流側インデックステーブル４を有する上流側搬送手段３１と、下流側インデックステーブル５を有する下流側搬送手段３２の２つに区分されるが、単一のインデックステーブルからなる１つの搬送手段であっても良い。尚、上流側インデックステーブル４と下流側インデックステーブル５が、本発明における回転体である。
【００１９】
両インデックステーブル４，５の外周には所定間隔で多数の切り欠きが設けられており、この切り欠きが、直下に存在する固定テーブル６をチップ支持面としてＬＥＤチップＬ、基準チップＳを収容するポケット状の保持部８となる。尚、固定テーブル６の所定位置にはヒータが内蔵されている。上流側搬送手段３１および下流側搬送手段３２での検査はいずれもＬＥＤチップＬを加熱した上で行うためである。
【００２０】
搬送手段３の搬送経路上には、ＬＥＤチップ供給位置９と基準チップ供給・回収位置１０と各種検査位置１１，１２，１３と排出位置１４が設定されている。第１実施例では、上流側搬送手段３１の搬送経路上には、分類対象のＬＥＤチップ供給位置９と、断線か否かを検査する点灯検査位置１１が設定されている。
【００２１】
他方、下流側搬送手段３２の搬送経路上には、テスト運転用の基準チップ供給・回収位置１０と、使用環境下での色味・輝度などの光学的特性を検査する光学検査位置１２と、割れ・カケチップか否かを検査する外観検査位置１３と、分類対象のＬＥＤチップＬの排出位置１４が設定されている。
【００２２】
尚、上流側搬送手段３１と下流側搬送手段３２の２つに区分されているため、両搬送経路上の最も近接する位置がチップ受渡位置１５に設定されている。
【００２３】
続いて、分類運転での搬送経路に従って説明する。ＬＥＤチップ供給位置９で、パーツフィーダ１は、上流側インデックステーブル４の保持部８にＬＥＤチップＬを供給する。分類運転時の供給手段としては第１供給手段であるパーツフィーダ１のみが作動しており、第２供給手段である基準チップ用インデックステーブル２は停止している。受け取ったＬＥＤチップＬは保持部８に吸着保持されて、ＬＥＤチップ供給位置９より図１の搬送経路上に示された矢印に示すように点灯検査位置１１に向かう。
【００２４】
点灯検査位置１１では、図４（Ａ）（Ｂ）に示されるように、プローブ１８をＬＥＤチップＬの電極に押し当てて通電することにより検査を行う。ＬＥＤチップＬが断線チップか否かを検査する。プローブ１８が接触不良であった場合も、これを検出できるようになっている。尚、点灯検査位置１１の手前（上流側）には温度計（熱伝対）が設けられており、所定温度（摂氏２００度）までＬＥＤチップＬを加熱上昇させたかをチェックしている。
【００２５】
点灯検査位置１１を通過したＬＥＤチップＬは図１の矢印に示すようにチップ受渡位置１５へと向かう。点灯検査および上昇温度を適正に通過したＬＥＤチップＬは、チップ受渡位置１５で図１の矢印に従って、上流側インデックステーブル４から下流側インデックステーブル５へと受け渡される。
【００２６】
上流側インデックステーブル４の保持部８から下流側インデックステーブル５の保持部８へのＬＥＤチップＬの受け渡しは、上流側インデックステーブル４ではエアブローを行うと同時に下流側インデックステーブル５では吸引するようにして行う。
【００２７】
点灯検査位置１１での検査失敗や所定温度（摂氏２００度）までの上昇不足が発見された場合には、チップ受渡位置１５での当該ＬＥＤチップＬの受け渡しは行われず、上流側インデックステーブル４の回転により巡回し、再度の加熱や再度の点灯検査を受けることになる。
【００２８】
下流側インデックステーブル５の保持部８に受け渡されたＬＥＤチップＬは図１の矢印に沿って、チップ受渡位置１５から光学検査位置１２に向かう。所定温度（摂氏８５度）の確認を行った後、積分球１９による光学的特性（色味・輝度）の検査を行う。続いて、下流側インデックステーブル５の間欠回転に従い、検査対象ＬＥＤチップＬは、外観検査位置１３に向かう。外観検査位置１３では、カメラ２７でＬＥＤチップＬの割れやカケチップか否かの検査をする。
【００２９】
外観検査位置１３での検査を終了したＬＥＤチップＬは、図１の矢印に従って、排出位置１４に向かう、排出位置１４には、固定テーブル６を切り欠きして、保持部８で搬送されてきたＬＥＤチップＬを下流側搬送手段３２の下方に配置される分配装置２０へ自然落下させる排出部２１が形成される。排出位置１４での排出部２１を除いた固定テーブル６の上面は、保持部８におけるＬＥＤチップＬの支持面となる。
【００３０】
排出部２１には、排出部閉鎖手段となるシャッタ２２が設けられる。シャッタ２２は、開放時にはＬＥＤチップＬを自然落下させ、閉鎖時にはＬＥＤチップＬの落下を阻止して、排出部２１上を落下せずに通過させるものである。シャッタ２２は、図５および図６に示されるように、ＬＥＤチップＬが通過可能な排出孔２３を形成した円盤状のもので、軸２４を支点に回転可能とされている。尚、第１実施例では上記のような回転式のシャッタ２２を用いているが、進退式シャッタや、取り外し式シャッタであっても良い。
【００３１】
排出部２１の下方には、排出されたＬＥＤチップＬを特性に基づき振り分ける分配装置２０と、更に、その下方には、分配装置２０から振り分けられチューブ２５を通って送り込まれたＬＥＤチップＬを貯留する多数の分類容器Ｂが配置されている。
【００３２】
排出孔２３を通り排出部２１から排出されたＬＥＤチップＬは、図６および図２に示されるように、自然落下し、その下流に接続される分配装置２０により、物品の特性に基づき、振り分けられ、チューブ２５を介して、所要の分類容器Ｂへと分類される。
【００３３】
次にテスト運転について説明する。テスト運転は主に色味・輝度の検査装置の校正の必要性を見るため、これらの基準を示す基準チップＳを用いる。本装置における色味・輝度の検査は下流側搬送手段３２で行うため、基準チップ用インデックステーブル２は下流側インデックステーブル５に接続される。ちなみに、上流側搬送手段３１では、ＬＥＤチップＬの断線を検出する検査を行っているため、特に校正する必要がなく、基準チップＳによるテスト運転は省略されている。
【００３４】
基準チップＳは、基準チップ用インデックステーブル２の基準チップ保持部２６から下流側インデックステーブル５の保持部８に供給される。その後、下流側インデックステーブル５は図７（Ａ）の矢印が示す方向（時計回り）に間欠回転する。このとき、基準チップ用インデックステーブル２は反時計回りに間欠回転する。
【００３５】
下流側搬送手段３２の排出位置１４には排出部２１を塞ぐシャッタ２２が設けられているので、テスト運転に際しては、これを閉じて、下流側インデックステーブル５を間欠回転させることで基準チップＳを排出部２１で落下させずに循環搬送する。所定周回だけ循環搬送した後は、基準チップ供給・回収位置１０で、基準チップＳを基準チップ用インデックステーブル２に回収する。
【００３６】
尚、テスト運転は、１日の始まりや、運転を開始してから所定時間、所定個数の検査が終了した時点で行うようにしても良い。また、温度計を設けて装置内の温度が所定温度以上となった場合に行うようにしても良い。
【００３７】
第１実施例によれば上流側搬送手段３１では、ＬＥＤチップＬの断線を検出する検査を行っているため、特に校正する必要がなく、基準チップＳによるテスト運転は省略されている。従って、基準チップ用インデックステーブル２は図７（Ａ）に示されるように下流側インデックステーブル５と接続される位置にのみ設置されている。
【００３８】
しかし、図７（Ｂ）に示されるように、基準チップ用インデックステーブル２を上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５と接続されるように２カ所に設け、上流側搬送手段３１および下流側搬送手段３２で個々にテスト運転を行っても良いし、図７（Ｃ）に示されるように、上流側インデックステーブル４と接続される位置に設け、上流側搬送手段３１でのテスト運転の後、下流側インデックステーブル５へ基準チップＳを受け渡し、下流側搬送手段３２でのテスト運転を行っても良い。
【００３９】
以上、実施例での搬送手段は、上流側インデックステーブル４および下流側インデックステーブル５のようにテーブル外周面に形成された保持部８でＬＥＤチップＬや基準チップＳを搬送するものであるが、回転体の外周で下方に向かって設置された吸引ノズルでチップを吸引保持し、回転搬送する搬送手段であっても本発明は実施可能である。
【符号の説明】
【００４０】
１・・・・・・・・パーツフィーダ
２・・・・・・・・基準チップ用インデックステーブル
３・・・・・・・・搬送手段
４・・・・・・・・上流側インデックステーブル
５・・・・・・・・下流側インデックステーブル
６・・・・・・・・固定テーブル
７・・・・・・・・駆動手段
８・・・・・・・・保持部
９・・・・・・・・ＬＥＤチップ供給位置
１０・・・・・・・基準チップ供給・回収位置
１１・・・・・・・点灯検査位置
１２・・・・・・・光学検査位置
１３・・・・・・・外観検査位置
１４・・・・・・・排出位置
１５・・・・・・・チップ受渡位置
１６・・・・・・・フィーダボール
１７・・・・・・・レール
１８・・・・・・・プローブ
１９・・・・・・・積分球
２０・・・・・・・分配装置
２１・・・・・・・排出部
２２・・・・・・・シャッタ
２３・・・・・・・排出孔
２４・・・・・・・軸
２５・・・・・・・チューブ
２６・・・・・・・基準チップ保持部
２７・・・・・・・カメラ
３１・・・・・・・上流側搬送手段
３２・・・・・・・下流側搬送手段
Ｂ・・・・・・・・分類容器
Ｌ・・・・・・・・ＬＥＤチップ
Ｓ・・・・・・・・基準チップ
【図１】
2014055041.tif 000003
【図２】
2014055041.tif 000004
【図３】
2014055041.tif 000005
【図４】
2014055041.tif 000006
【図５】
2014055041.tif 000007
【図６】
2014055041.tif 000008
【図７】
2014055041.tif 000009