(57)【要約】【課題】  １個の傾斜計を回転台に配置される光ファイバジャイロ背面に設置し、前記１個の傾斜計によりＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測する、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法を提供する。【解決手段】  外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、光ファイバジャイロ１５を計測器本体１１の回転台１４に配置するとともに、この光ファイバジャイロ１５の背面に１台の傾斜計１６を配置し、リンク機構を用いず、前記１台の傾斜計１６でＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測する。【選択図】  図２
2014055887.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバジャイロを計測器本体の回転台に配置するとともに、該光ファイバジャイロの背面に１台の傾斜計を配置し、リンク機構を用いず、前記１台の傾斜計でＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測することを特徴とする外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法。
【請求項２】
請求項１記載の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、
（ａ）光ファイバジャイロを回転台に配置し、所定角度に回転して停止し、前記光ファイバジャイロの出力を多数回計測して平均値を求め、そのときの前記光ファイバジャイロの平均出力を記録し、
（ｂ）上記（ａ）の状態から前記回転台を１８０度反転して停止し、該光ファイバジャイロの出力を記録し、
（ｃ）前記回転台を所定角度ずらしながら、上記（ａ）及び（ｂ）の動作を初期状態から半回転するまで繰り返し、
（ｄ）前記光ファイバジャイロの回転角と該光ファイバジャイロの出力の関係をプロットし、前記光ファイバジャイロの出力が０となる該光ファイバジャイロの回転角を求め、該光ファイバジャイロの回転角を中心に±３０度の範囲で２度ずつずらしながら上記（ａ）及び（ｂ）と同様の反転測定を行い、
（ｅ）反転測定の光ファイバジャイロの出力の結果から、光ファイバジャイロの出力のオフセットを求め、光ファイバジャイロの出力データのオフセット補正を行い、
（ｆ）上記（ｄ）で求めたデータの点間を補間して規格化信号を作成し、
（ｇ）計測器本体の基準軸を原点として、３６０度で一周期となる余弦波を基準信号として作成し、
（ｈ）前記基準信号と前記規格化信号の誤差二乗和について、前記規格化信号をずらしながら演算し、前記基準信号と前記規格化信号との位相差である、誤差二乗和が最小となる、ずれ量を演算して、前記光ファイバジャイロの感度軸が最も地軸方向に近づく角度θ0 とし、
（ｉ）前記計測器本体に取付けられた１台の傾斜センサでＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、測定位置における緯度は既知として、装置主軸の方位角を求めることを特徴とする外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法。
【請求項３】
請求項１記載の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、前記Ｘ，Ｙ軸方向の傾斜角度がロール角、ピッチ角であることを特徴とする外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法に関しては、以下に示されるようなものがあった。
（１）光ジャイロの経時変化バイアスを除去、及び移動体の振動による方位誤差の除去を可能にする方位センサ（下記特許文献１参照）
（２）機械的な水平整準機構を設けずに、基準台の傾斜角とその点の緯度より方位角を補正して方位を計測するレートジャイロ方位計（下記特許文献２参照）
（３）振動、衝撃に強く、機構が簡素で、応答が速く、立ち上げ時間が短い方位センサ（下記特許文献３参照）
（４）小型かつ小口径で、測定精度が高く且つ価格が安いジャイロコンパス装置（下記特許文献４参照）
（５）必要な計測精度を達成するために、適切な回数の計数を行うことができ、高い計測精度を得ることができるジャイロ装置（下記特許文献５参照）
（６）小型かつ小口径で、測定精度と信頼性が高く且つ価格が安いジャイロ装置（下記特許文献６参照）
（７）数分程度の短時間で方位角を測定でき、且つ測定条件の悪い場所でも使用可能な高精度の方位計（下記特許文献７参照）
（８）方位検出における精度向上を図ることができる方位検出方法（下記特許文献８参照）
また、本願発明者らによって、（９）水平方向掘削先端位置の測定装置（下記特許文献９参照）、（１０）水平方向掘削先端位置の測定システム（下記特許文献１０参照）、（１１）外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法（下記特許文献１１参照）
がそれぞれ提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１２６７８２号公報
【特許文献２】特開平７−１６７６５８号公報
【特許文献３】特開平１０−７３４３６号公報
【特許文献４】特許第４６２９８９５号公報
【特許文献５】特許第４５４６６９５号公報
【特許文献６】特許第３８５２５９２号公報
【特許文献７】特許第２６０９９７６号公報
【特許文献８】特開２００１−２１５１２１号公報
【特許文献９】特許第４５３６４９９号公報
【特許文献１０】特許第４５３６５００号公報
【特許文献１１】特開２００７−２６３６８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記した特許文献３では、光ファイバループに左右両回り光を伝搬させた後に合波してその位相差を検出する光学系と、上記光ファイバループをループ面に直交する回転面上に載せて回転することによりループ面の向きを変えさせる回転台と、この回転台に取付けられた回転面の水平に対する傾きを検出する傾斜センサと、上記位相差から地球自転角速度のループに沿う方向の成分を計測し、この地球自転角速度成分のループ面の向きに対する変化から仮の方位を求め、この計測を行っている地点の緯度と上記傾斜センサで検出される複数方向の回転面の傾きとを用いて上記仮の方位を赤道水平座標系に変換して真の方位を求める演算部とを備えたことを特徴とする方位センサが提案されている。
【０００５】
本発明では、上記した特許文献３における、実施例の段落〔００２２〕に示された仮の方位（φ３′）を求めることは行わず、また、実施例の段落〔００３４〕に示された〔数５〕も使用しない。
また、本願発明者らの提案による上記特許文献１１においては、ジャイロ回転軸が鉛直でなく傾斜している場合において、装置の方位角を的確に計測できるものの、傾斜計か２個必要であり、また、リンク方式のものであるからこれを改善する必要があった。
【０００６】
本発明は、上記状況に鑑みて、１個の傾斜計を回転台に配置される光ファイバジャイロ背面に設置し、前記１個の傾斜計によりＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置車軸の方位角を計測する、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上記目的を達成するために、
〔１〕外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、光ファイバジャイロ（１５）を計測器本体（１１）の回転台（１４）に配置するとともに、この光ファイバジャイロ（１５）の背面に１台の傾斜計（１６）を配置し、リンク機構を用いず、前記１台の傾斜計（１６）でＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測することを特徴とする。
【０００８】
〔２〕上記〔１〕記載の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、
（ａ）光ファイバジャイロを回転台に配置し、所定角度に回転して停止し、前記光ファイバジャイロの出力を多数回計測して平均値を求め、そのときの前記光ファイバジャイロの平均出力を記録し、
（ｂ）上記（ａ）の状態から前記回転台を１８０度反転して停止し、この光ファイバジャイロの出力を記録し、
（ｃ）前記回転台を所定角度ずらしながら、上記（ａ）及び（ｂ）の動作を初期状態から半回転するまで繰り返し、
（ｄ）前記光ファイバジャイロの回転角とこの光ファイバジャイロの出力の関係をプロットし、前記光ファイバジャイロの出力が０となるこの光ファイバジャイロの回転角を求め、この光ファイバジャイロの回転角を中心に±３０度の範囲で２度ずつずらしながら上記（ａ）及び（ｂ）と同様の反転測定を行い、
（ｅ）反転測定の光ファイバジャイロの出力の結果から、光ファイバジャイロの出力のオフセットを求め、光ファイバジャイロの出力データのオフセット補正を行い、
（ｆ）上記（ｄ）で求めたデータの点間を補間して規格化信号を作成し、
（ｇ）計測器本体の基準軸を原点として、３６０度で一周期となる余弦波を基準信号として作成し、
（ｈ）前記基準信号と前記規格化信号の誤差二乗和について、前記規格化信号をずらしながら演算し、前記基準信号と前記規格化信号との位相差である、誤差二乗和が最小となる、ずれ量を演算して、前記光ファイバジャイロの感度軸が最も地軸方向に近づく角度θ0 とし、
（ｉ）前記計測器本体に取付けられた１台の傾斜センサでＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、測定位置における緯度は既知として、装置主軸の方位角を求めることを特徴とする。
【０００９】
〔３〕上記〔１〕記載の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、前記Ｘ，Ｙ軸方向の傾斜角度がロール角、ピッチ角であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法において、１個の傾斜計を回転台に配置される光ファイバジャイロ背面に設置し、前記１個の傾斜計によりＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、簡単な構成で装置車軸の方位角を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施例を示す外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測システムの全体模式図である。
【図２】本発明の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測システムの内部構造を示す模式図である。
【図３】本発明の実施例の計測器に拘束される座標系（Ａ座標系）の模式図である。
【図４】本発明の実施例の水平面展開座標（Ｂ座標）の模式図である。
【図５】本発明の実施例の方位座標系（Ｓ座標系）の模式図である。
【図６】本発明の実施例の施工座標系（Ｋ座標系）の模式図である。
【図７】本発明の実施例のＢ座標から見たＺA ベクトルの模式図である。
【図８】本発明の実施例のＹB 方向から見たピッチ角α（Ｘ方向傾斜角）の模式図である。
【図９】本発明の実施例のロール角βとＹ方向傾斜角β′との関係を示す模式図である。
【図１０】本発明の実施例の真北とジャイロ出力最大位置の関係を示す図である。
【図１１】本発明の実施例のＺ軸方向から見たＳ座標とＢ座標の関係を示す図である。
【図１２】本発明の実施例を示す回転台を所定角度ψに回転した状態を示す図である。
【図１３】本発明の実施例を示す回転台を１８０度反転した状態を示す図である。
【図１４】本発明の実施例を示す所定角度ずつずらした状態を示す図である。
【図１５】本発明の実施例を示す光ファイバジャイロの回転角ψとジャイロ出力ｖの関係を示す図である。
【図１６】本発明の実施例を示すオフセット補正後のジャイロ回転角と出力の関係を示す図である。
【図１７】本発明の実施例を示す基準信号Ｓ1 と規格化信号Ｓ2 を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法は、光ファイバジャイロ（１５）を計測器本体（１１）の回転台（１４）に配置するとともに、この光ファイバジャイロ（１５）の背面に１台の傾斜計（１６）を配置し、リンク機構を用いず、前記１台の傾斜計（１６）でＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測する。
【実施例】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
まず、本発明の実施を示す外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測システムとその内部構造の概略について説明する。
図１は本発明の実施例を示す外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測システムの全体模式図、図２はその内部構造を示す模式図である。
まず、座標系の定義について説明する。
【００１４】
図１において、１は地上に配置される掘削制御装置であり、掘削制御機２と計測用コンピュータ３が配置されている。この掘削制御装置１から配線４により通信用モデム５、ストローク計６を介して推進装置７に接続されている。この推進装置７の後端部には推進架台８が配置され、推進装置７の内部にレーザターゲット９及び管推進工事向け地中位置計測装置（Ｓリードとも呼ぶ）１０が配置されている。
【００１５】
この管推進工事向け地中位置計測装置１０は、図２に示すように、計測器本体１１と制御・電源ボックス１２とが制御配線１３で接続されている。
そこで、計測器本体１１は、回転台（ターンテーブル）１４上に光ファイバジャイロ１５と、その光ファイバジャイロ１５の背面に１台の傾斜計１６が配置されている。また、回転制御装置１７が配置されている。また、制御・電源ボックス１２には制御基板１８とモータドライバ１９が配置されている。
【００１６】
まず、現行の方位計測における座標計算について詳細に説明する。なお、本システムにおいては座標系はすべて右手系で取り扱う。
図３は計測器に拘束される座標系（Ａ座標系）の模式図である。
（１）回転台（ターンテーブル）が設置されている基台上面２１を基準面とし、その基準面２１とジャイロ回転軸ＺA の交点を原点ＯA とする。
【００１７】
（２）上方向を正として、ジャイロ回転軸をＺ軸（ＺA ）とする。
（３）掘削方向を正として、基台中心線をＸ軸（ＸA ）とする。
（４）ＹA ＝ＺA ×ＸA をＹ軸とする。
図４は水平面展開座標（Ｂ座標）の模式図である。
（１）ＯB ＝ＯA を原点とする。
【００１８】
（２）上方を正とする鉛直軸（重力加速度ベクトルの逆方向）をＺ軸（ＺB ）とする。
（３）水平面から見たＸA ベクトル式（１）を用いて、Ｙ軸（ＹB ）を下記の式（２）で定義する。
【００１９】
【数１】
2014055887.tif 000003
【００２０】
【数２】
2014055887.tif 000004
【００２１】
図５は方位座標系（Ｓ座標系）の模式図である。図５において、２３は掘削方向である。
（１）原点ＯS を竪坑２２の中心、出発位置高さとする。
（２）上方を正とする鉛直軸をＺ軸（ＺS ）とする。
（３）地球の自転軸ベクトルをＮとし、Ｙ軸ベクトル（ＹS ）を下記の式（３）で定義する。
【００２２】
【数３】
2014055887.tif 000005
【００２３】
（４）ＸS ＝ＹS ×ＺS をＸ軸とする。
図６は施工座標系（Ｋ座標系）の模式図であり、図６（ａ）はその平面図、図６（ｂ）はその側面図である。ここで、２４は初期掘削進行線である。
（１）原点ＯK を竪坑２２の中心、出発位置高さとする。
（２）初期掘削方向勾配α，ＯK からＩＰに向かう線をＸK とする。
【００２４】
（３）そのＩＰに向かう線ＸK と鉛直ベクトルｇの外積から、Ｙ軸ベクトル（ＹK ）を下記の式（４）で定義する。
【００２５】
【数４】
2014055887.tif 000006
【００２６】
（４）ＺK ＝ＸK ×ＹK をＺ軸とする。
次に、Ａ座標からＢ座標への変換について説明する。
図７はＢ座標から見たＺA ベクトルの模式図である。
傾斜計はＺA を中心として回転する。
Ａ座標系はＢ座標系に対して、ピッチ角α（＝Ｘ方向傾斜角）、ロール角β（≠Ｙ方向傾斜角β′）を持つものとする。また、記述を簡単にするため、ここでは、軸の名称に〜（チルダ）つけて、各軸上の単位ベクトルを示すものとする。
【００２７】
図８はＹB 方向から見たピッチ角α（Ｘ方向傾斜角）の模式図である。
Ｂ座標系の定義より、
【００２８】
【数５】
2014055887.tif 000007
【００２９】
図９はロール角βとＹ方向傾斜角β′との関係を示す模式図であり、図９（ａ）はＹB 方向から見た図、図９（ｂ）はＸA 方向から見た図である。
図９に示すように、ロール角βとＹ方向傾斜角β′とは次の関係がある。
ｃｏｓα＝ＹA ｓｉｎβ′／ＹA ｓｉｎβ
β＝ｓｉｎ-1（ｓｉｎβ′／ｃｏｓα）
2014055887.tif 000008
【００３０】
次に、傾斜角の推定について説明する。
以上より、Ｂ座標系で表したＡ座標系上の単位ベクトル BＩA は下記の式（８）となる。
【００３１】
【数６】
2014055887.tif 000009
【００３２】
ピッチ角α、ロール角βでＢ座標系からＡ座標系への変換行列、上記の式（８）のＢ座標系で表したＡ座標系上の単位ベクトル BＩA 
【００３３】
【数７】
2014055887.tif 000010
【００３４】
BＩA はＡ座標からＢ座標への変換行列である。
2014055887.tif 000011
【００３５】
このとき、各点において観測されるはずの傾斜計出力は、下記の式（１０）となる。
2014055887.tif 000012
【００３６】
次に、Ａ，Ｂ座標系の相互の変換について説明する。
2014055887.tif 000013
【００３７】
次に、方位角の導出について説明する。
地球の自転軸ベクトルをＮとし、ジャイロ出力が最大値をとるときのジャイロセンサ感度軸ベクトルをＶとする。ジャイロ出力が最大となる回転角θm とすると、Ｂ座標系で表したＶは、
【００３８】
【数８】
2014055887.tif 000014
【００３９】
このときＮ，ＺA ，Ｖは同じ平面内にあり、ｎ＝ＺA ×Ｖはこの平面の法線となる。測定点の緯度をＬa とすると、Ｎの BＺ成分は、                                       BＺN ＝ｓｉｎＬa                   …（１４）
2014055887.tif 000015
【００４０】
図１０は真北とジャイロ出力最大位置の関係を示す図である。
上記式（１６）を満たすγを用いて、Ａ座標から見たＮは下記の式（１７）、Ｂ座標上では下記の式（１８）となる。
【００４１】
【数９】
2014055887.tif 000016
【００４２】
【数１０】
2014055887.tif 000017
【００４３】
図１１はＺ軸方向から見たＳ座標とＢ座標の関係を示す図である。
ＺS ＝ＺB                                     …（１９）
【００４４】
【数１１】
2014055887.tif 000018
【００４５】
よって、Ｂ座標系から見たＳ座標系の単位ベクトル BＩS は、
BＩS ＝Ｒｏｔ（〔０  ０  １〕′，φ）Ｉ      …（２１）
BＩS は、Ｓ座標系からＢ座標系への変換行列を示す。
Ｂ座標系からＳ座標系への変換は、
SＩB ＝ BＩS -1＝ BＩ′S                     …（２２）
となる。
【００４６】
上記した座標系の定義に基づいて、以下、本発明の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法について説明する。
本発明によれば、外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法であって、光ファイバジャイロを計測器本体の回転台に配置するとともに、この光ファイバジャイロの背面に１台の傾斜計を配置し、リンク機構を用いず、前記１台の傾斜計でＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置主軸の方位角を計測することができる。
【００４７】
以下、本発明の詳細な説明を行う。
図１２は本発明の実施例を示す回転台を所定角度ψに回転した状態を示す図、図１３は本発明の実施例を示す回転台を１８０度反転した状態を示す図、図１４は本発明の実施例を示す所定角度ずつずらした状態を示す図、図１５は本発明の実施例を示す光ファイバジャイロの回転角ψとジャイロ出力ｖの関係を示す図、図１６は本発明の実施例を示すオフセット補正後のジャイロ回転角と出力の関係を示す図、図１７は本発明の実施例を示す基準信号Ｓ1 と規格化信号Ｓ2 を示す図である。
【００４８】
（ａ）光ファイバジャイロ１５を回転台１４に配置し、所定角度ψに回転して停止し、前記光ファイバジャイロ１５の出力ｖを多数回計測して平均値を求め、そのときの前記光ファイバジャイロ１５の平均出力値を記録する。つまり、図１２に示すように、回転台１４を所定角度ψ（現在の設定では３０度）に回転して停止し、その位置において、光ファイバジャイロ１５の平均出力値を求める。
【００４９】
（ｂ）上記（ａ）の状態から前記回転台１４を１８０度反転して停止し、この光ファイバジャイロ１５の出力値を記録する。つまり、図１３に示すように、回転台１４を１８０度反転して停止し、（ａ）と同様に光ファイバジャイロ１５の出力値を求める。
（ｃ）前記回転台１４を所定角度ずらしながら、上記（ａ）及び（ｂ）の動作を初期状態から半回転するまで繰り返す。つまり、上記（ａ）の状態から図１４に示すように、６０度ずれた位置で停止して、（ａ）及び（ｂ）の動作を行う。その後、（ａ）の状態から９０，１２０，１８０度ずれた位置で同様の動作を行い、初期状態から半回転（１８０度回転）するまで繰り返す。
【００５０】
（ｄ）前記光ファイバジャイロ１５の回転角ψとこの光ファイバジャイロ１５の出力ｖの関係をプロットし、前記光ファイバジャイロ１５の出力ｖが０となるこの光ファイバジャイロ１５の回転角ψを求め、この光ファイバジャイロ１５の回転角ψを中心に±３０度の範囲で２度ずつずらしながら上記（ａ）及び（ｂ）と同様の反転測定を行う。つまり、光ファイバジャイロ１５の回転角ψとこの光ファイバジャイロ１５の出力ｖの関係は、図１５のようになる。ジャイロの出力ｖが０となる回転角ψ（図１５のＡ領域）を中心に±３０度の範囲で２度ずつずらしながら（ａ）〜（ｃ）の動作を繰り返す。これによって、より正確なジャイロ回転角ψとジャイロ出力ｖの関係が求まる。
【００５１】
（ｅ）反転測定の光ファイバジャイロ１５の出力ｖの結果から、光ファイバジャイロ１５の出力ｖのオフセットを求め、光ファイバジャイロ１５の出力データのオフセット補正を行う。つまり、反転測定により、図１５のようにジャイロ出力ｖのオフセットを求め、出力データにオフセット補正を行う。
（ｆ）上記（ｅ）で求めたデータの点間を補間して規格化信号Ｓ2 を作成する。つまり、上記（ｄ），（ｅ）で求めたデータを用いて補間し、振幅の最大値が１となるように規格化を行った規格化信号Ｓ2 を作成する。
【００５２】
（ｇ）計測器本体１１の基準軸を原点として、３６０度で一周期となる余弦波を基準信号として作成する。
（ｈ）前記基準信号と前記規格化信号の誤差二乗和について、前記規格化信号をずらしながら演算し、その値が最小となる、計測器本体１１の基準軸からのずれ量を求める。つまり、図１６に示すように、基準信号と規格化信号の誤差二乗和を、規格化信号をずらしながら演算して、誤差二乗和が最小となる図１７に示す基準軸からのずれ量ｃを求める。
【００５３】
（ｉ）前記回転台１４に配置した傾斜計１６から、Ｘ，Ｙ軸方向の傾斜角度（ロール角，ピッチ角）を推定し、測定位置における緯度は既知であるとして上記（ｈ）で求めた光ファイバジャイロ１５のずれ量ｃによる補正を行い、計測器本体１１の基準軸の方位角を求める。
なお、上記した計測器本体１１の基準軸からのずれ量ｃが、光ファイバジャイロ１５の感度が最も地軸方向に近づく角度θ0 である。
【００５４】
また、上記したＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度がロール角、ピッチ角である。
なお、詳細な計算が、現行の方位計測方法の座標計算の「傾斜角の推定」および「方位の導出」に示されている。
また、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
本発明の外部情報を得られない環境における装置主軸の方位計測方法は、１個の傾斜計を回転台に配置される光ファイバジャイロ背面に設置し、前記１個の傾斜計によりＸ，Ｙ軸方向の傾斜角度を測定し、装置車軸の方位角を計測することができる。
【符号の説明】
【００５６】
１    地上に配置される掘削制御装置
２    掘削制御機
３    計測用コンピュータ
４    配線
５    通信用モデム
６    ストローク計
７    推進装置
８    推進架台
９    レーザターゲット
１０    管推進工事向け地中位置計測装置（Ｓリードとも呼ぶ）
１１    計測器本体
１２    制御・電源ボックス
１３    制御配線
１４    回転台（ターンテーブル）
１５    光ファイバジャイロ
１６    １台の傾斜計
１７    回転制御装置
１８    制御基板
１９    モータドライバ
２１    基台上面
２２    竪坑
２３    掘削方向
２４    初期掘削進行線
【図１】
2014055887.tif 000019
【図２】
2014055887.tif 000020
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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