(57)【要約】【課題】互いに測定範囲が異なる計数率計の出力の切り換え点での補正を容易に行う。【解決手段】実施形態によれば、ワイドレンジ放射線モニタ１００は、低放射線レベルの範囲を測定する第１の放射線検出器１１と、これと一部重複した高放射線レベルの範囲を測定する第２の放射線検出器２１と、第１の放射線検出器１１および第２の放射線検出器２１からの放射線レベル出力に基づいて放射線量の変化に対して連続した最終放射線レベル出力を発生させる最終出力生成装置３０とを備える。最終出力生成装置３０は、第１の放射線検出器１１と第２の放射線検出器２１の出力波形の相関値から重複範囲か否かを判定する判定部３３と、第１の放射線検出器１１と第２の放射線検出器２１の放射線レベル出力から合成出力を算出する合成出力演算部３４と、判定結果に応じて最終放射線レベル出力を選択して出力する切り換え部３５を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象の放射線レベルを測定し、低放射線レベルの範囲を測定範囲とする第１の放射線検出器と、
前記対象の前記放射線レベルを測定し、前記第１の放射線検出器の測定範囲よりは高放射線レベルの範囲であって前記第１の放射線検出器の測定範囲と一部重複する範囲を測定範囲とする第２の放射線検出器と、
前記第１の放射線検出器および第２の放射線検出器からの放射線レベル出力に基づいて放射線量の変化に対して連続した最終放射線レベル出力を発生させる最終出力生成装置と、
を備えるワイドレンジ放射線モニタであって、
前記最終出力生成装置は、
前記第１の放射線検出器の出力の時間的変化である第１の出力波形と前記第２の放射線検出器の出力の時間的変化である第２の出力波形の相関値を規定値と比較し、当該相関値が規定値以上であれば前記重複する範囲と判定する判定部と、
前記第１の放射線検出器の放射線レベル出力と前記第２の放射線検出器の放射線レベル出力とから合成出力を算出する合成出力演算部と、
前記判定部において前記重複する範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果を最終放射線レベル出力とし、前記重複する範囲と判定されなかった場合は前記第１の放射線検出器または前記第２の放射線検出器のうち当該放射線量を測定範囲とする放射線検出器の放射線レベルを最終放射線レベル出力とする切り換え部と、
を有することを特徴とするワイドレンジ放射線モニタ。
【請求項２】
前記最終出力生成装置は、
前記第１の出力波形を記憶する第１の波形メモリと、
前記第２の出力波形を記憶する第２の波形メモリと、
前記第１の波形メモリおよび前記第２の波形メモリそれぞれから受けた前記第１の出力波形および前記第２の出力波形に基づき両者の相関を演算する波形相関演算部と、
を有することを特徴とする請求項１に記載のワイドレンジ放射線モニタ。
【請求項３】
前記合成出力演算部は、重み付け係数を、重み付け係数＝Ｘ÷Ｙ＝Ｘ／Ｙにより算出し、
合成出力を、合成出力＝[（ＲＨ−Ｘ）×Ｘ×重み付け係数＋（Ｘ−ＲＬ）×Ｙ]÷（ＲＨ−ＲＬ）により算定する（ただし、ＲＨは前記重複する範囲の上限値、ＲＬは前記重複する範囲の下限値、Ｘは前記第１の放射線検出器の計数値、Ｙは前記第２の放射線検出器の計数値を表す。）ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のワイドレンジ放射線モニタ。
【請求項４】
前記第１の放射線検出器および前記第２の放射線検出器は、検出部と、計数率計とを有することを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか一項に記載のワイドレンジ放射線モニタ。
【請求項５】
対象の放射線レベルのうち、低放射線レベルの範囲を第１の放射線検出器によって測定する工程と、
前記対象の前記放射線レベルのうち、前記第１の放射線検出器の測定範囲よりは高放射線レベルの範囲であって前記第１の放射線検出器の測定範囲と一部重複する範囲を第２の放射線検出器によって測定する工程と、
前記第１の放射線検出器の出力の時間的変化である第１の出力波形と前記第２の放射線検出器の出力の時間的変化である第２の出力波形の相関値を規定値と比較し、当該相関値が規定値以上であれば前記重複する範囲と判定する工程と、
前記第１の放射線検出器の放射線レベル出力と前記第２の放射線検出器の放射線レベル出力とから合成出力を算出する工程と、
前記重複する範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果を最終放射線レベル出力とし、前記重複する範囲と判定されなかった場合は前記第１の放射線検出器または前記第２の放射線検出器のうち当該放射線量を測定範囲とする放射線検出器の放射線レベルを最終放射線レベル出力とする工程と、
を有することを特徴とする放射線測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、測定範囲の異なる複数の放射線検出器を用いたワイドレンジ放射線モニタおよび放射線測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線モニタ装置は、半導体検出器やシンチレーション検出器といった検出器とプリアンプ回路、波高弁別回路とカウント回路から構成されている。
【０００３】
これらの動作としては、半導体検出器に放射線が入射すると、微小な電荷パルスが発生し、パルスはチャージアンプによりパルス電圧信号に変換される。波高弁別回路ではパルス電圧信号は、しきい値電圧と比較され、しきい値電圧を超える信号のみをロジックレベルのパルス信号として出力する。このロジックレベルパルスをカウンタ回路でカウントする事により計数率を算出し、外部に出力している。 
たとえば、過酷事故後の原子力発電所の構内あるいは敷地内では、事故状態の調査あるいは事故状態からの復旧、処置などを行う際には、アクセスするエリアにおける放射線レベルが正確に把握されている必要がある。また、このような状況の下では、エリアの放射線のレベルが大きく変化する可能性がある。
【０００４】
このように、広いダイナミックレンジの放射線レベル、線量を計測する際に、一つの放射線モニタで計測しようとする場合、検出器の感度が一定とすると、チャージアンプの出力で、バルス信号が重なって飽和してしまい、 波高弁別回路からの出力は線量に比例せず頭打ちとなり、必要な精度が保てなくなる場合がある。
【０００５】
放射線量計測のワイドレンジ化のため、測定範囲の異なる複数の検出器または複数の計数率計を用いて、それらの出力を切り換えて、全体で一つの計数率計とする方式は広く用いられている。隣接する測定範囲の検出器の境界で、検出器を切り換える際に、それぞれの測定範囲に適合した感度特性を有する検出器を単純に切り換えてしまうと、切り換え点での出力値のバンプ、すなわち出力値が不連続的に変化してしまう事象が発生してしまう。バンプを軽減するために、一般的には重み付け係数を用いて、一方から他方に徐々に切り換える方式が用いられている。
【０００６】
最適な重み付け係数を求めるには、放射線源を使用し正確な線量を可変しながら照射して、その時の出力から重み付け係数を計算する。しかしこの方法では、重み付け係数設定に手間と時間がかかっていた。 
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−２２８３９号公報
【特許文献２】特開２００７−１８７６８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前述のように、従来の方法では、最適な重み付け係数の設定に手間がかかっていた。 また、従来の方法では、装置の経年劣化に伴う誤差の拡大に対応できないという問題もあった。
【０００９】
そこで、本発明の実施形態は、互いに測定範囲が異なる計数率計の出力の切り換えと切り換え点での補正を、容易に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述の目的を達成するため、本発明の実施形態は、対象の放射線レベルを測定し、低放射線レベルの範囲を測定範囲とする第１の放射線検出器と、前記対象の前記放射線レベルを測定し、前記第１の放射線検出器の測定範囲よりは高放射線レベルの範囲であって前記第１の放射線検出器の測定範囲と一部重複する範囲を測定範囲とする第２の放射線検出器と、前記第１の放射線検出器および第２の放射線検出器からの放射線レベル出力に基づいて放射線量の変化に対して連続した最終放射線レベル出力を発生させる最終出力生成装置と、を備えるワイドレンジ放射線モニタであって、前記最終出力生成装置は、前記第１の放射線検出器の出力の時間的変化である第１の出力波形と前記第２の放射線検出器の出力の時間的変化である第２の出力波形の相関値を規定値と比較し、当該相関値が規定値以上であれば前記重複する範囲と判定する判定部と、前記第１の放射線検出器の放射線レベル出力と前記第２の放射線検出器の放射線レベル出力とから合成出力を算出する合成出力演算部と、前記判定部において前記重複する範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果を最終放射線レベル出力とし、前記重複する範囲と判定されなかった場合は前記第１の放射線検出器または前記第２の放射線検出器のうち当該放射線量を測定範囲とする放射線検出器の放射線レベルを最終放射線レベル出力とする切り換え部と、を有することを特徴とする。
【００１１】
さらに上述の目的を達成するため、本発明の実施形態は、対象の放射線レベルのうち、低放射線レベルの範囲を第１の放射線検出器によって測定する工程と、前記対象の前記放射線レベルのうち、前記第１の放射線検出器の測定範囲よりは高放射線レベルの範囲であって前記第１の放射線検出器の測定範囲と一部重複する範囲を第２の放射線検出器によって測定する工程と、前記第１の放射線検出器の出力の時間的変化である第１の出力波形と前記第２の放射線検出器の出力の時間的変化である第２の出力波形の相関値を規定値と比較し、当該相関値が規定値以上であれば前記重複する範囲と判定する工程と、前記第１の放射線検出器の放射線レベル出力と前記第２の放射線検出器の放射線レベル出力とから合成出力を算出する工程と、前記重複する範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果を最終放射線レベル出力とし、前記重複する範囲と判定されなかった場合は前記第１の放射線検出器または前記第２の放射線検出器のうち当該放射線量を測定範囲とする放射線検出器の放射線レベルを最終放射線レベル出力とする工程とを、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の実施形態によれば、互いに測定範囲が異なる計数率計の出力の切り換えと切り換え点での補正を、容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の検出範囲を説明するグラフである。
【図３】第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の計数率計出力の信号変化の様子を説明するグラフである。
【図４】第１の実施形態に係る放射線測定方法の手順を示すフロー図である。
【図５】第２の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図６】第２の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の検出範囲を説明するグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタおよび放射線測定方法について説明する。ここで、互いに同一または類似の部分には、共通の符号を付して、重複説明は省略する。
【００１５】
［第１の実施形態］
図１は、第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【００１６】
本実施形態におけるワイドレンジ放射線モニタは、同一対象の放射線レベルを測定する高感度部計数率装置１０および低感度部計数率装置２０と、最終出力生成装置３０とを有する。
【００１７】
高感度部計数率装置１０は、高感度検出器１１と、高感度検出器１１の出力を受けて計数率を算出する計数率演算部１２とを有する。また、低感度部計数率装置２０は、低感度検出器２１と、低感度検出器２１の出力を受けて計数率を算出する計数率演算部２２とを有する。
【００１８】
ここで、高感度検出器１１は低放射線レベルの範囲を検出する検出器であり、低感度検出器２１は高放射線レベルの範囲を検出する検出器である。低放射線レベルおよび高放射線レベルとは互いに相対的に低放射線レベルおよび高放射線レベルという意である。
【００１９】
したがって、高感度検出器１１は、低感度検出器２１よりも低い範囲の放射線レベルを測定可能であるために、低感度検出器２１よりも高い感度を有する検出器である。
【００２０】
低感度検出器２１とは、高感度検出器１１が測定可能な低レベルの放射線を測定できるような感度を有していないが、高感度検出器１１では測定できない高レベルの放射線が測定可能な検出器である。
【００２１】
高感度検出器１１および低感度検出器２１は、高感度検出器１１の測定可能範囲のうちの高い方の放射線レベルの領域と、低感度検出器２１の測定可能範囲のうちの低い方の放射線レベルの領域が一部重複するように、それぞれの測定範囲を有している。
【００２２】
最終出力生成装置３０は、波形メモリ３１ａ、３１ｂ、波形相関演算部３２、判定部３３、合成出力演算部３４および切り換え部３５を有する。
【００２３】
波形メモリ３１ａは、高感度部計数率装置１０からの出力である検出波形を受けて記憶する。また、波形メモリ３１ｂは、低感度部計数率装置２０からの出力である検出波形を受けて記憶する。高感度部計数率装置１０および低感度部計数率装置２０から出力された出力波形は所定の時間ごとにそれぞれ波形メモリ３１ａ、３１ｂに送られ、その所定の時間分の波形が、記憶される。
【００２４】
波形相関演算部３２は、波形メモリ３１ａに記憶されている高感度部計数率装置１０の出力波形と、波形メモリ３１ｂに記憶されている低感度部計数率装置２０の出力波形を受け取り、両者の相関値を算出する。
【００２５】
判定部３３は、波形相関演算部３２で算出された波形間の相関値を規定値と比較する。ここで、規定値は、有意な相関があると判断される相関値の値であり、事前に判定部３３に格納されている。なお、規定値は、判定部３３に格納されることには限定されない。たとえば、外部から読み込むことでもよい。
【００２６】
相関値と規定値との比較の結果、相関値が規定値以上である場合は、高感度部計数率装置１０の出力波形と、低感度部計数率装置２０の出力波形間に相関があるということになる。この場合は、高感度部計数率装置１０および低感度部計数率装置２０のそれぞれが、有意な計測をしており、判定部３３は、両者の計測範囲が重複した範囲（重複範囲）にあるという判定を行う。
【００２７】
合成出力演算部３４は、高感度部計数率装置１０の出力である計数値と、低感度部計数率装置２０の出力である計数値に基づいて、重複範囲におけるワイドレンジ放射線モニタ１００としての出力を演算する。
【００２８】
切り換え部３５は、判定部３３において重複範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果をワイドレンジ放射線モニタ１００の出力とする。また、重複範囲と判定されなかった場合はその放射線量に対応する検出器の放射線レベルをワイドレンジ放射線モニタ１００の出力とする。
【００２９】
具体的には、重複範囲と判定されなかった場合は、放射線レベルの低い側を計測しているときは、高感度部計数率装置１０の出力、放射線レベルの高い側を計測しているときは、低感度部計数率装置２０の出力をワイドレンジ放射線モニタ１００の出力とする。
【００３０】
図２は、第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の検出範囲を説明するグラフである。横軸は、検出器の測定する放射線量、縦軸は、検出器からの出力を示す。ここで、高感度検出器１１と低感度検出器２１とは、同一対象の放射線のレベルを測定するものである。
【００３１】
また、出力については、高感度検出器１１と低感度検出器２１とがたとえば異なる原理の検出器であるために出力の形式（たとえば、カウント数、電圧値、電流値など）が異なる場合は、一方、あるいは両方の出力を換算して、互いに同一の形式で比較可能なように換算される。
【００３２】
いま、高感度検出器１１と低感度検出器２１の両者を計測可能な状態において、両者の設置場所の放射線量が、低い側から上昇した場合を想定する。
【００３３】
放射線量が低い場合は、高感度検出器１１からの高感度側出力Ｘは出力されるが、低感度検出器２１からは感度以下の放射線量であるために有意な出力は発生しない。その後、重複範囲の下限ＲＬ以上になると低感度検出器２１からも有意な出力が発生する。すなわち、低感度側出力Ｙが得られる。
【００３４】
さらに放射線量が増加して重複範囲の上限ＲＨ以上になると高感度検出器１１は飽和するため、高感度検出器１１からは有意な出力が得られなくなる。すなわち、有意な高感度側出力Ｘが得られなくなる。
【００３５】
また、重複範囲においては、高感度側出力Ｘおよび低感度側出力Ｙが得られるが、通常、両者の値は一致しない。
【００３６】
図３は、第１の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の計数率計出力の信号変化の様子を説明するグラフである。図３では、重複範囲での高感度検出器１１からの出力波形Ｗｘ、低感度検出器２１からの出力波形Ｗｙそれぞれの時間的な変化の様子を示している。
【００３７】
図３に示すように、高感度検出器１１および低感度検出器２１のいずれもが有意な信号を出力している重複範囲においては、出力波形ＷｘとＷｙの間には相関がある。図３の場合はＷｙの位相がＷｘより遅れ、かつ振幅はＷｙが大きくなっている。
【００３８】
このような、波形メモリ３１ａ（図１参照）に記憶された高感度検出器１１からの所定の時間分の出力波形Ｗｘと、波形メモリ３１ｂ（図１参照）に記憶された低感度検出器２１からの所定の時間分の出力波形Ｗｙの間の相関値が波形相関演算部３２（図１参照）において算出され、その相関値のピークが一定のしきい値以上になる波形メモリ３１ａに記憶された波形と波形メモリ３１ｂに記憶された波形との位置関係を探索する。
【００３９】
上記ピークが得られた場合であって、かつ検出範囲について重複範囲の信号値を含んでいる場合は、合成出力演算部３４において合成出力が算出される。
【００４０】
合成出力演算部３４は、補正係数算出部３４ａおよび補正計数率算出部３４ｂを有する。補正係数算出部３４ａは、高感度検出器１１の計数値および低感度検出器２１の計数値に基づき、低感度検出器２１の計数値を基準として、高感度検出器１１側の計数値を調整する。低感度検出器２１側の計数値を基準とする理由は、高感度検出器１１側の計数値は検出パルスの飽和により精度が低下するためである。
【００４１】
補正係数は、次の式（１）により求められる。
補正係数＝Ｘ／Ｙ                                    ・・・（１）
（ただし、Ｘは高感度検出器（第１の放射線検出器）の計数値、Ｙは低感度検出器（第２の放射線検出器）の計数値を表す。）
【００４２】
補正計数率算出部３４ｂは、重複範囲と判定された場合に、合成出力演算を行う。具体的には、補正係数算出部３４ａにおいて算出された補正係数、高感度検出器１１の計数値、低感度検出器２１の計数値に基づいて、次の式（２）により合成出力演算を行う。
合成出力＝[（ＲＨ−Ｘ）×Ｘ×重み付け係数＋（Ｘ−ＲＬ）×Ｙ]÷（ＲＨ−ＲＬ）
・・・（２）
（ただし、ＲＨは前記重複範囲の上限値、ＲＬは前記重複範囲の下限値を表す。）
【００４３】
なお、実使用にあたって、使用開始直後から高い精度を得るには、本ワイドレンジ放射線モニタ１００の校正が必要である。放射線照射設備を使用して、検出範囲の重複範囲の強度の放射線を高感度検出器１１と低感度検出器２１に同時に照射することで、補正係数が校正される。
【００４４】
ただし、高感度検出器１１と低感度検出器２１それぞれが単独で校正され、その校正情報が使用できる場合は、校正情報から補正係数を算出して設定することで、ワイドレンジ放射線モニタ１００全体の校正は不要となる。
【００４５】
あるいは、実際の使用環境において使用しながら、各放射線レベルにおいて両者の波形の相関をとり、計数値を確認しながら、式（１）、式（２）中のＸ、Ｙ、ＲＨおよびＲＬを求めて方法をとることができる場合には、この方法により、式（１）、式（２）を使用できるようにすることでもよい。
【００４６】
以上のように構成した本実施形態により、高感度検出器１１および低感度検出器２１の周囲の放射線のレベルが、たとえば低いレベルから増加していく場合、当初は、高感度検出器１１からのみ有意な計数値が出力される。
【００４７】
さらに放射線レベルが上昇すると、波形相関演算部３２において算出されている高感度検出器１１の出力波形と低感度検出器２１の出力波形の相関値が所定の値を超える。この結果、判定部３３において、高感度検出器１１と低感度検出器２１の重複範囲と判定される。
【００４８】
重複範囲と判定されると、合成出力演算部３４において合成出力の算出がなされる。また、このとき、切り換え部３５の出力は、高感度検出器１１出力から合成出力に切り換えられる。
【００４９】
さらに放射線レベルが上昇すると、波形相関演算部３２において算出されている高感度検出器１１の出力波形と低感度検出器２１の出力波形の相関値が所定の値未満となる。この結果、判定部３３において、重複範囲外と判定され、切り換え部３５の出力は、合成出力から低感度検出器２１出力に切り換えられる。
【００５０】
図４は、第１の実施形態に係る放射線測定方法の手順を示すフロー図である。
【００５１】
高感度検出器１１の測定範囲において、高感度検出器１１により対象の放射線レベルを測定する（工程Ｓ１）。
【００５２】
低感度検出器２１の測定範囲において、低感度検出器２１により対象の放射線レベルを測定する（工程Ｓ２）。
【００５３】
高感度検出器１１の出力波形と、低感度検出器２１の出力波形の相関値を規定値と比較して、相関値が規定値以上であれば重複する範囲と判定する（工程Ｓ３）。
【００５４】
重複する範囲と判定された場合には、高感度検出器１１の放射線レベル出力と、低感度検出器２１の放射線レベル出力とから合成出力を算出する（工程Ｓ４）。
【００５５】
ここで、重複する範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果を最終放射線レベル出力とし、重複する範囲と判定されなかった場合は、放射線レベルが低い場合には高感度検出器１１の出力、放射線レベルが高い場合は低感度検出器２１の出力を最終放射線レベル出力とする（工程Ｓ５）。
【００５６】
以上のように本実施形態により、自動的に有意な出力に維持され、人為的な操作は必要なく、また、高感度検出器１１あるいは低感度検出器２１の劣化に起因する感度変化が生じている場合においても、有意な出力の選択が維持される。このように、複数の計数率計の出力の切り換えと切り換え点での補正を、容易に行うことができる。
【００５７】
［第２の実施形態］
図５は、第２の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの構成を示すブロック図である。本実施形態は、第１の実施形態の変形である。
【００５８】
第１の実施形態の構成に加えて、さらに、中感度部計数率装置７０を有する。また、最終出力生成装置３０は、波形メモリ３１ｃをさらに有する。中感度部計数率装置７０は、中感度検出器７１および計数率演算部７２を有する。波形メモリ３１ｃは、中感度部計数率装置７０からの出力である検出波形を受けて記憶する。
【００５９】
図６は、第２の実施形態に係るワイドレンジ放射線モニタの放射線計数率計の検出範囲を説明するグラフである。
【００６０】
高感度検出器１１の検出可能放射線レベルよりも高放射線レベル側に中感度検出器７１の検出可能放射線レベルの領域がある。また、中感度検出器７１の検出可能放射線レベルより高放射線レベル側に低感度検出器２１の検出可能放射線レベルがある。
【００６１】
高感度検出器１１の検出可能放射線レベルの領域と、中感度検出器７１の検出可能放射線レベルの領域とは、高感度検出器１１の検出可能放射線レベルの領域の高放射能レベルの領域で重複している。
【００６２】
中感度検出器７１の検出可能放射線レベルの領域と、低感度検出器２１の検出可能放射線レベルの領域とは、中感度検出器７１の検出可能放射線レベルの領域の高放射能レベルの領域で重複している。
【００６３】
波形相関演算部３２は、波形メモリ３１ａに記憶されている高感度部計数率装置１０の出力波形、波形メモリ３１ｃに記憶されている中感度部計数率装置７０の出力波形、波形メモリ３１ｂに記憶されている低感度部計数率装置２０の出力波形を受け取る。
【００６４】
波形相関演算部３２は、波形メモリ３１ａに記憶されている高感度部計数率装置１０の出力波形と、波形メモリ３１ｃに記憶されている中感度部計数率装置７０の出力波形の相関値を算出する。
【００６５】
また、波形相関演算部３２は、波形メモリ３１ｃに記憶されている中感度部計数率装置７０の出力波形と、波形メモリ３１ｂに記憶されている低感度部計数率装置２０の出力波形の相関値を算出する。
【００６６】
判定部３３は、波形相関演算部３２で算出された波形間の相関値を規定値と比較する。高感度部計数率装置１０の出力波形と中感度部計数率装置７０の出力波形の相関値が規定値以上である場合は、高感度部計数率装置１０の出力波形と中感度部計数率装置７０の出力波形間に相関があるということになる。
【００６７】
この場合は、高感度部計数率装置１０および中感度部計数率装置７０のそれぞれが、有意な計測をしており、判定部３３は、両者の計測範囲が重複した範囲（重複範囲）にあるという判定を行う。
【００６８】
合成出力演算部３４は、高感度部計数率装置１０の出力である計数値と、中感度部計数率装置７０の出力である計数値に基づいて、重複範囲におけるワイドレンジ放射線モニタ１００としての出力を演算する。
【００６９】
また、中感度部計数率装置７０の出力波形と低感度部計数率装置２０の出力波形の相関値が規定値以上である場合は、中感度部計数率装置７０の出力波形と低感度部計数率装置２０の出力波形間に相関があるということになる。
【００７０】
この場合は、中感度部計数率装置７０および低感度部計数率装置２０のそれぞれが、有意な計測をしており、判定部３３は、両者の計測範囲が重複した範囲（重複範囲）にあるという判定を行う。
【００７１】
合成出力演算部３４は、中感度部計数率装置７０の出力である計数値と、低感度部計数率装置２０の出力である計数値に基づいて、重複範囲におけるワイドレンジ放射線モニタ１００としての出力を演算する。
【００７２】
切り換え部３５は、判定部３３において重複範囲と判定された場合は合成出力演算を行った結果をワイドレンジ放射線モニタ１００の出力とする。また、重複範囲と判定されなかった場合はその放射線量に対応する検出器の放射線レベルをワイドレンジ放射線モニタ１００の出力とする。
【００７３】
以上のように構成された本実施形態においては、高感度部計数率装置１０と中感度部計数率装置７０の重複範囲、中感度部計数率装置７０と低感度部計数率装置２０の重複範囲のいずれにおいても、自動的に最終出力生成装置３０の出力は連続的に行われる。
【００７４】
以上のように本実施形態により、自動的に有意な出力に維持され、人為的な操作は必要なく、また、高感度検出器１１あるいは低感度検出器２１の劣化に起因する感度変化が生じている場合においても、有意な出力の選択が維持される。このように、複数の計数率計の出力の切り換えと切り換え点での補正を、容易に行うことができる。
【００７５】
［その他の実施形態］
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。
【００７６】
また、各実施形態の特徴を組み合わせてもよい。
【００７７】
さらに、これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。
【００７８】
これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００７９】
１０…高感度部計数率装置、１１…高感度検出器（第１の放射線検出器）、１２…計数率演算部、２０…低感度部計数率装置、２１…低感度検出器（第２の放射線検出器）、２２…計数率演算部、３０…最終出力生成装置、３１ａ…波形メモリ、３１ｂ…波形メモリ、３１ｃ…波形メモリ、３２…波形相関演算部、３３…判定部、３４…合成出力演算部、３４ａ…補正係数算出部、３４ｂ…補正計数率算出部、３５…切り換え部、７０…中感度部計数率装置、７１…中感度検出器、７２…計数率演算部、１００…ワイドレンジ放射線モニタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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