(57)【要約】【課題】Ｉｄｑドリフトを補償する時間を短縮すること。【解決手段】送信装置に、第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、増幅前の信号の電力と、第１の歪補償係数に基づいて、増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、増幅前の信号の電力と、第２の歪補償係数に基づいて、増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、第１及び第２の参照範囲に基づいて、第２の補償係数を補正する補正係数を算出するデジタル信号処理装置を備える。【選択図】図３
2014017670.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第１の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、
第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第２の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、
前記第１及び第２の参照範囲に基づいて、前記第２の補償係数を補正する補正係数を算出するデジタル信号処理装置
を備える、送信装置。
【請求項２】
前記デジタル信号処理装置は、前記第１及び第２増幅器により増幅されたトレーニング信号に基づく第１及び第２参照範囲に基づいて、前記第２補償係数を補正する補正係数を算出する、請求項１に記載の送信装置。
【請求項３】
温度を取得する温度モニタ回路
を有し、
前記デジタル信号処理装置は、前記温度モニタ回路により取得された温度毎に、前記補正係数を算出する、請求項１又は２に記載の送信装置。
【請求項４】
前記デジタル信号処理装置は、前記補正係数により補正された歪補償係数に基づいて、歪補償係数の参照範囲を設定し、前記増幅前の信号の歪補償処理を行う、請求項１ないし３のいずれか１項に記載の送信装置。
【請求項５】
第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第１の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、
第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第２の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、
前記第１及び第２の参照範囲に基づいて、前記第２の補償係数を補正する補正係数を算出する、送信装置における送信方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線通信装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
無線通信システムに用いられる増幅器は、無線信号スペクトラム特性の劣化や、信号歪みに起因する伝送特性の劣化を抑えるために、増幅特性（入出力特性）に高い線形性が求められる。また、無線通信システムに用いられる増幅器は、高い電力効率が求められる。線形性と電力効率は、相反する特性であるため、両特性を備えるために、歪補償機能を備えた増幅器がある。
【０００３】
歪補償方式の１つとして、プリディストーション方式がある。プリディストーション方式は、増幅器の入力信号に対して歪補償係数を乗算する。つまり、増幅器の入力信号に対して、増幅器の歪特性と逆の特性を予め付加することにより、増幅器は、歪を抑制した所望の信号を出力する。
【０００４】
無線通信システムの基地局等では、高出力且つ高効率の増幅器として、窒化ガリウム（ｇａｌｌｉｕｍ  ｎｉｔｒｉｄｅ：  ＧａＮ）等を材料としたデバイスの適用が進んでいる。
【０００５】
ＧａＮデバイスは、広いバンドギャップや高移動度等の特徴により、ＬＤＭＯＳ、ＧａＡｓ系等のデバイスでは得られない優れた高周波高出力特性が実現可能である。
【０００６】
ＭＯＳ−ＦＥＴのホットキャリア劣化は、ゲート酸化膜にホットキャリアが注入・蓄積されることが要因となって、Ｉｄｑ（ドレインバイアス電流）が低下する現象で、比較的長い時間応答でゆるやかに電流が変動する。
【０００７】
一方、ＧａＮデバイスには、Ｉｄｑドリフトと呼ばれる現象がある。Ｉｄｑドリフトとは、高いＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号が入力されたあと、ＲＦ信号レベルが低下したときにＩｄｑが低下する現象である。ＧａＮデバイスのＩｄｑドリフトは半導体中の不純物準位にキャリアがトラップされることが要因となってＩｄｑが低下していく現象で、比較的短い時間応答で電流が変動し、その変動量も無線信号強度や環境温度等の動作条件によって大きく異なる。このため、ＧａＮデバイスの場合は装置運用中の無線送信状態の各瞬間での歪補償係数を更新し続け、歪補償係数を最適値に近づけることが望まれる。
【０００８】
図１は、瞬間的に高い信号強度の無線信号が入力されたときのＧａＮデバイスのＩｄｓの時間変化を示す。Ｉｄｓは、ドレインとソースとの間を流れる電流である。無線信号が入力される前はＩｄｓが規定値に設定されている。しかし、無線信号が入力された後にＩｄｓは大きく低下し、その後時間経過と共に規定値に戻る。Ｉｄｓが変動するとＧａＮデバイスの利得も変動する。このような特性変動は基地局等、増幅回路と歪補償回路とを組み合わせた装置の運用の際に、歪補償性能の劣化や、歪補償の演算複雑化などの問題を引き起こす。
【０００９】
Ｉｄｑドリフトが生じると増幅器の入出力特性に変化が生じ、これに伴い歪補償回路では歪補償係数を最適化する演算処理が進められる。しかし、Ｉｄｑドリフトの変化が大きいと歪補償係数の演算収束に時間を要し、演算収束までの間、隣接チャネルへの電力漏洩が大きくなるという問題が生じる。
【００１０】
モニタ用素子で温度を測定し、補正テーブルで回路特性を補償する半導体装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開平１１−４５９２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
Ｉｄｑドリフトにより、歪補償特性が劣化する問題や、所望の歪補償係数に収束するまでに時間がかかる問題を解決するため、ＲＦ増幅用のＧａＮデバイスと、モニタ用ＧａＮデバイスとを組み合わせて歪補償を行う回路がある。
【００１３】
しかし、ＲＦ増幅用のＧａＮデバイスと、モニタ用ＧａＮデバイスとを組み合わせて歪補償を行う回路では、ＲＦ増幅用ＧａＮデバイスと、モニタ用ＧａＮデバイスとの間の特性のバラツキのため、Ｉｄｑドリフトを補償する補正精度を上げることができない。
【００１４】
また、ＧａＮデバイスには、温度特性にバラツキがあるため、Ｉｄｑドリフト特性を補償する補正精度を上げることができない。
【００１５】
開示の送信装置は、Ｉｄｑドリフトを補償する時間を短縮するとともに、補正精度を改善することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
開示の一実施例の送信装置は、
第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第１の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、
第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第２の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、
前記第１及び第２の参照範囲に基づいて、前記第２の補償係数を補正する補正係数を算出するデジタル信号処理装置
を備える。
【発明の効果】
【００１７】
開示の実施例によれば、Ｉｄｑドリフトを補償する時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】Ｉｄｑドリフトの一例を示す図である。
【図２】基地局の一実施例を示す図である。
【図３】送信装置の一実施例を示す図である。
【図４】演算処理部の一実施例を示す図である。
【図５】歪補償係数の補正の一実施例を示す図である。
【図６】第１の補正係数の一実施例を示す図である。
【図７】メモリに格納される情報の一実施例を示す図である。
【図８】歪補償係数の補正の一実施例を示す図である。
【図９】第２の補正係数の一実施例を示す図である。
【図１０】基地局の動作の一実施例を示すフローチャート（その１）である。
【図１１】基地局の動作の一実施例を示すフローチャート（その２）である。
【図１２】基地局の動作の一実施例を示すフローチャート（その３）である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面に基づいて、実施例を説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を用い、繰り返しの説明は省略する。
【００２０】
＜基地局＞
図２は、基地局１００の一実施例を示す。図２には、主に、基地局１００のハードウェア構成が示される。
【００２１】
基地局１００は、ベースバンド処理装置（ＢＢＵ：  Ｂａｓｅ  Ｂａｎｄ  Ｕｎｉｔ）６００と、送信装置２００とを有する。送信装置２００は、リモートレディオヘッド（ＲＲＨ：  Ｒｅｍｏｔｅ  Ｒａｄｉｏ  Ｈｅａｄ）と呼ばれてもよい。図１には、１台の送信装置２００が示されているが、２台以上でもよい。ベースバンド処理装置６００は、ベースバンド信号処理を行う。具体的には、ベースバンド処理装置６００は、ネットワークとの間で送受信されるデータの処理を行う。例えば、ベースバンド処理装置６００には、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）が含まれてもよい。また、ベースバンド処理装置６００には、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）が含まれてもよい。また、ベースバンド処理装置６００には、専用のＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）が含まれてもよい。
【００２２】
ベースバンド処理装置６００は、データを送信装置２００に送出する。例えば、ベースバンド処理装置６００は、電気信号を光信号へ変換して、光ファイバーを介して、送信装置２００へ送出するようにしてもよい。また、ベースバンド処理装置６００は、パラレル信号をシリアル信号へ変換して、デジタル信号伝送路を介して、送信装置２００へ送出するようにしてもよい。
【００２３】
また、ベースバンド処理装置６００は、送信装置２００からの光信号を電気信号へ変換し、処理するようにしてもよい。また、ベースバンド処理装置６００は、送信装置２００からのシリアル信号をパラレル信号へ変換し、処理するようにしてもよい。
【００２４】
送信装置２００は、基地局１００の無線部である。送信装置２００は、デジタル信号処理装置３００と、変換装置４００と、電力増幅装置５００とを備える。
【００２５】
ベースバンド処理装置６００からのデータ信号は、デジタル信号処理装置３００に入力される。デジタル信号処理装置３００は、ＦＰＧＡや、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）により実現されてもよい。ベースバンド処理装置６００と、デジタル信号処理装置３００との間を接続するコネクタは、例えば、ＣＰＲＩ（Ｃｏｍｍｏｎ  Ｐｕｂｌｉｃ  Ｒａｄｉｏ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）と呼ばれるもので構成されてもよい。デジタル信号処理装置３００は、ベースバンド処理装置６００からのデータ信号に対して信号処理を行う。信号処理は、歪を補償する処理を含む。デジタル信号処理装置３００は、変換装置４００へ、信号処理を行ったデータ信号を入力する。
【００２６】
変換装置４００は、デジタル信号処理装置３００と接続される。変換装置４００は、アナログ信号へ、デジタル信号処理装置３００により信号処理が行われたデータ信号を変換する。変換装置４００は、電力増幅装置５００へ、アナログ信号を入力する。
【００２７】
電力増幅装置５００は、変換装置４００と接続される。電力増幅装置５００は、変換装置４００からの信号を電力増幅する。電力増幅装置５００は、アンテナ（図示無し）から、電力増幅した信号を送信する。また、電力増幅装置５００は、変換装置４００へ、電力増幅した信号を入力する。
【００２８】
変換装置４００は、電力増幅装置５００からの信号をダウンコンバートする。変換装置４００は、デジタル信号へ、ダウンコンバートした信号を変換する。変換装置４００は、デジタル信号処理装置３００へ、デジタル信号へ変換した信号を入力する。
【００２９】
信号処理装置３００は、変換装置４００からの信号を利用して、歪を補償する処理を行う。
【００３０】
＜送信装置２００＞
図３は、送信装置２００の一実施例を示す。送信装置２００は、デジタル非線形歪補償方式（ＤＰＤ：  Ｄｉｇｉｔａｌ  ＰｒｅＤｉｓｔｏｒｔｉｏｎ）に従って歪補償を行う。
【００３１】
送信装置２００は、ミキサ２０２及び２２２と、Ｄ／Ａ変換器２０４と、直交変調部（ＱＭＯＤ）２０６と、局部発振器２０８及び２２４と、方向性結合器２１０と、切替部２１２及び２２０と、第１の増幅器２１４と、第２の増幅器２２６とを備える。
【００３２】
送信装置２００は、方向性結合器２１６と、アッテネータ２１８及び２２８と、温度モニタ回路２３０と、制御回路２３２と、歪補償係数演算回路２３４と、抵抗２６０とを有する。
【００３３】
歪補償係数演算回路２３４は、アドレス生成部２３６と、ＬＵＴ（ＬｏｏｋＵｐＴａｂｌｅ）２３８と、スイッチ２４０と、遅延調整部２４２及び２４４と、Ａ／Ｄ変換器２４６と、演算処理部２５０と、歪補償係数演算部２５２とを備える。歪補償係数演算部２５２は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ比較部２５６と、演算部２６２と、メモリ２５８とを備える。歪補償係数演算回路２３４により実行される処理は、ＦＰＧＡにより実行されてもよい。
【００３４】
送信装置２００の一実施例では、歪補償係数演算回路２３４は、トレーニング信号により、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴを生成する。トレーニング信号は、ベースバンド処理装置６００から入力されてもよいし、他の方法により入力されてもよい。歪補償係数演算回路２３４は、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとを比較し、その差分を補正するための第１の補正係数αを求める。歪補償係数演算回路２３４は、第１の補正係数αを内部のメモリに格納する。第１の補正係数αを求め、格納することにより、常温における、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を補正できる。第１の補正係数αは、工場での送信装置２００の試験の際に求められてもよい。
【００３５】
また、温度変動によりＩｄｑドリフトの程度が変動し、Ｉｄｑドリフトの変動に伴い出力電力とＬＵＴの特性も変化する。温度によるＬＵＴの変化量は、第２の増幅器２２６と、第１の増幅器２１４とで異なる。そこで、送信装置２００の一実施例では、温度情報を取得し、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を補正するための第２の補正係数βを求める。歪補償係数演算回路２３４は、第２の補正係数βを内部のメモリに格納する。第２の補正係数βを求め、格納することにより、温度が変化した場合における、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を補正できる。第２の補正係数βは、送信装置２００の試作の際に求められてもよい。ここで、歪補償係数演算回路２３４に格納される第２の補正係数βは、試作の際に、事前に抽出された製品について求められたものであってもよい。試作された全製品について、第２の補正係数βを求めるには、時間を要するためである。つまり、第２の補正係数βの初期値が設定される。
【００３６】
さらに、送信装置２００の運用の際には、歪補償係数演算回路２３４は、温度情報を取得し、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を補正するための第２の補正係数βを追加する。第２の補正係数βを追加することにより、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を少なくできる。第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を少なくできるため、Ｉｄｑドリフト特性の補正精度を高めることができる。Ｉｄｑドリフト特性の補正精度を高めることができるため、起動された送信装置２００の送信開始前後で、歪補償係数のズレを低減できる。送信開始前後で歪補償係数のズレを低減できるため、歪補償の収束時間が短縮できるとともに、ＧａＮデバイスのようにＩｄｑドリフトの影響で利得変動が大きくなるデバイスでも、隣接チャネルへの漏洩電力を低減できる。
【００３７】
＜第１の補正係数αを求める処理＞
第１の補正係数αを求める処理では、送信装置２００へ、トレーニング用テスト信号（以下、「テスト信号」という）が入力される。
【００３８】
例えば、送信装置２００を製造する際、送信装置２００へ、テスト信号が入力される。送信装置２００へ、テスト信号が入力されるときの温度は常温であってもよい。
【００３９】
制御回路２３２は、切替部２１２を制御することにより、方向性結合器２１０の出力信号が抵抗２６０へ入力されるように切替える。つまり、切替部２１２において端子１と、端子２とが接続される。換言すれば、制御回路２３２は、方向性結合器２１０の出力信号が終端されるように、切替部２１２を制御する。
【００４０】
また、制御回路２３２は、切替部２２０を制御することにより、アッテネータ２２８の出力信号がミキサ２２２へ入力されるように切替える。つまり、切替部２２０において端子１と、端子２とが接続される。
【００４１】
また、制御回路２３２は、スイッチ２４０を制御することにより、演算処理部２５０の出力信号が歪補償係数演算部２５２へ入力されるように切替える。
【００４２】
送信装置２００へ入力されるテスト信号は、Ｄ／Ａ変換器２０４、アドレス生成部２３６、及び遅延調整部２４２へ入力される。
【００４３】
Ｄ／Ａ変換器２０４は、アナログ信号へ、テスト信号を変換し、直交変調部（ＱＭＯＤ）２０６へ入力する。
【００４４】
直交変調部２０６は、Ｄ／Ａ変換器２０４と接続される。直交変調部２０６は、局部発信回路２０８からのキャリアに対して、Ｄ／Ａ変換部２０４からのアナログ信号に応じて直交変調する。直交変調部２０６は、方向性結合器２１０へ、直交変調したアナログ信号を入力する。
【００４５】
方向性結合器２１０は、直交変調部２０６と接続される。方向性結合器２１０は、切替部２１２へ、直交変調部２０６からの直交変調信号を入力するとともに、第２の増幅器２２６へ、直交変調部２０６からの直交変調信号の一部を入力する。
【００４６】
切替部２１２は、方向性結合器２１０と接続される。切替部２１２は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を、抵抗２６０により終端する。
【００４７】
第２の増幅器２２６は、方向性結合器２１０と接続される。第２の増幅器２２６は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を増幅する。第２の増幅器２２６は、モニタ用のデバイスである。第２の増幅器２２６は、ＧａＮ、ＧａＡｓ等を材料としたものであってもよい。また、第２の増幅器２２６は、ＬＤＭＯＳ（Ｌａｔｅｒａｌｌｙ  Ｄｉｆｆｕｓｅｄ  Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）であってもよい。第２の増幅器２２６により増幅された信号は、アッテネータ２２８に入力される。
【００４８】
アッテネータ２２８は、第２の増幅器２２６と接続される。アッテネータ２２８は、適切な信号レベルに、第２の増幅器２２６により増幅された信号を減衰させる。アッテネータ２２８は、切替部２２０へ、減衰させた信号を入力する。
【００４９】
切替部２２０は、アッテネータ２２８と接続される。切替部２２０は、ミキサ２２２へ、アッテネータ２２８からの信号を入力する。
【００５０】
ミキサ２２２は、切替部２２０と接続される。ミキサ２２２は、局部発振器２２４からのキャリアに対して、切替部２２０からの信号をダウンコンバートする。ミキサ２２２は、ダウンコンバートした信号をＡ／Ｄ変換部２４６へ入力する。
【００５１】
Ａ／Ｄ変換器２４６は、ミキサ２２２と接続される。Ａ／Ｄ変換器２４６は、デジタル信号へ、ミキサ２２２からの信号を変換する。Ａ／Ｄ変換器２４６は、遅延調整部２４４へ、デジタル信号を入力する。
【００５２】
遅延調整部２４４は、Ａ／Ｄ変換器２４６と接続される。遅延調整部２４４は、Ａ／Ｄ変換器２４６からのデジタル信号を反転させて、加算器２４８へ入力する。遅延調整部２４４は、デジタル信号を反転させて加算器２４８へ入力する際、遅延調整部２４２との間で入力するタイミングを調整する。例えば、遅延調整部２４２から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、遅延調整部２４４は、加算部２４８へデジタル信号を入力するタイミングを調整する。
【００５３】
遅延調整部２４２は、加算部２４８へ、テスト信号を入力する。遅延調整部２４２は、遅延調整部２４４から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、テスト信号を入力するタイミングを調整する。
【００５４】
加算器２４８は、遅延調整部２４２及び２４４と接続される。加算器２４８は、遅延調整部２４２からのテスト信号と、遅延調整部２４４からのデジタル信号との差分信号を求める。加算器２４８は、差分信号を演算処理部２５０へ入力する。
【００５５】
演算処理部２５０は、加算部２４８と接続される。演算処理部２５０は、加算部２４８からの差分信号に基づいて、入力信号に乗算するための歪補償係数ｈ２ｎ（ｐ）を算出する。ここで、「２」は、第２の増幅器２２６により増幅された信号に基づく歪補正係数であることを示す。ｎは繰り返し回数、ｐは入力信号のパワー（入力電力）であり、ｐ＝（Ｉ２＋Ｑ２）（ＩはＩ信号の値、ＱはＱ信号の値）である。すなわち、歪補償係数ｈ２ｋ（ｐ）（ｋは１以上の整数）(以降、歪補償係数を代表して表すときｈ２ｋ（ｐ）と表す。)は、入力信号とフィードバック信号との差分に応じて繰り返し算出される。なお、ｐは、（Ｉ２＋Ｑ２）の代わりに（Ｉ２＋Ｑ２）（１／２）を用いてもよい。
【００５６】
アドレス生成部２３６は、歪補償前の入力信号からパワーｐを求め、該パワーｐに基づいてアドレス信号を生成する。アドレス信号は、例えば、パワーｐのレベルに応じて定まる１０ビットのアドレス値（０〜１０２３のいずれかの値）であってもよい。さらに、アドレス生成部２３６は、ＬＵＴ２３８において歪補償係数を更新する際、アドレス信号を遅延出力する。
【００５７】
＜演算処理部２５０＞
図４は、演算処理部２５０の一実施例を示す。
【００５８】
図４は、ｎ番目の歪補償係数ｈｎ（ｐ）を算出する場合について示す。一例として、ＬＭＳ（Ｌｅａｓｔ  Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ）アルゴリズムを用いた適応信号処理により、歪補償係数ｈｎ（ｐ）を算出する場合について説明する。他のアルゴリズムにより、歪補償係数が算出されてもよい。
【００５９】
以下、Ｉ信号及びＱ信号からなる入力信号を複素数表示でｘ（ｔ）とし、入力信号に対応するフィードバック信号を複素数表示でｙ（ｔ）とし、差分信号をｅ（ｔ）とする。
【００６０】
加算器２４８は、乗算器４０２へ、差分信号ｅ（ｔ）を入力する。
【００６１】
乗算器４０２は、加算器２４８と接続される。乗算器４０２は、差分信号ｅ（ｔ）に更新量のステップパラメータサイズを表すμを乗算する。乗算器４０２は、差分信号ｅ（ｔ）にμが乗算された信号μｅ（ｔ）を、乗算器４０４に入力する。
【００６２】
遅延調整部２４４の出力信号ｙ（ｔ）は、複素共役生成部４０８に入力される。
【００６３】
複素共役生成部４０８は、遅延調整部２４４と接続される。複素共役生成部４０８は、出力信号ｙ（ｔ）の複素共役ｙ*（ｔ）を生成する。複素共役生成部４０８は、乗算部４１０へ、複素共役ｙ*（ｔ）を入力する。
【００６４】
一方、アドレス生成部２３６から遅延調整部４１２に、アドレス信号ｈ（ｐ）が入力される。
【００６５】
遅延調整部４１２は、アドレス生成部２３６と接続される。遅延調整部４１２は、加算部４０６及び乗算部４１０へ、アドレス信号ｈ（ｐ）を入力する。遅延調整部４１２は、加算部４０６へ、アドレス信号ｈ（ｐ）を入力する際、タイミングを調整する。
【００６６】
乗算部４１０は、遅延調整部４１２と、複素共役生成部４０８と接続される。乗算部４１０は、遅延調整部４１２からのアドレス信号ｈ（ｐ）と、複素共役生成部４０８からのｙ*（ｔ）とを乗算する。乗算部４１０は、アドレス信号ｈ（ｐ）と、複素共役ｙ*（ｔ）とを乗算した信号ｈ（ｐ）ｙ*（ｔ）を乗算部４０４に入力する。
【００６７】
乗算器４０４は、乗算器４０２及び４１０と接続される。乗算器４０４は、乗算部４０２からの信号μｅ（ｔ）に、乗算部４１０からの信号ｈ（ｐ）・y*（ｔ）を乗算する。ここで、y*（ｔ）は、y（ｔ）複素共役である。乗算部４０４は、加算部４０６へ、信号μｅ（ｔ）に、信号ｈ（ｐ）・y*（ｔ）を乗算した信号を入力する。
【００６８】
加算部４０６は、乗算部４０４と、遅延調整部４１２と接続される。乗算部４０６は、乗算部４０４の出力信号ｈ（ｐ）・y*（ｔ）・μ・ｅ（ｔ）と、遅延調整部４１２の出力信号ｈ（ｐ）とを加算することにより、ｎ番目の歪補償係数ｈｎ（ｐ）を算出する。加算部４０６は、スイッチ２４０へ、ｎ番目の歪補償係数ｈｎ（ｐ）を入力する
スイッチ２４０は、演算処理部２５０、制御回路２３２と接続される。スイッチ２４０は、制御回路２３２からの制御信号に応じて、ＬＵＴ２３８と、サブＬＵＴ２５４との間で、演算処理部２４０からの歪補正係数の出力先を切替える。ここでは、スイッチ２４０は、サブＬＵＴ２５４に、演算処理部２４０からの歪補正係数の出力先を切替える。
【００６９】
サブＬＵＴ２５４は、演算処理部２５０から出力される歪補償係数を、入力信号のパワーｐから定まるアドレス値と対応付けて、歪補償係数ｈ（ｐ）として記録したテーブルである。サブＬＵＴ２５４は、アドレス生成部２３６からアドレス信号が供給されると、該アドレス信号を用いてサブＬＵＴ２５４の入力信号のパワーｐに対応する歪補償係数を参照して取り出し、この歪補償係数をＬＵＴ比較部２５６に出力する。
【００７０】
また、制御回路２３２は、切替部２１２を制御することにより、方向性結合器２１０の出力信号が第１の増幅器２１４へ入力されるように切替える。つまり、切替部２１２において端子１と、端子３とが接続される。
【００７１】
さらに、制御回路２３２は、切替部２２０を制御することにより、アッテネータ２１８の出力信号がミキサ２２２へ入力されるように切替える。つまり、切替部２２０において端子１と、端子３とが接続される。
【００７２】
Ｄ／Ａ変換器２０４は、アナログ信号へ、テスト信号を変換し、直交変調部２０６へ入力する。
【００７３】
直交変調部２０６は、局部発信回路２０８からのキャリアに対して、Ｄ／Ａ変換部２０４からのアナログ信号に応じて直交変調する。直交変調部２０６は、方向性結合器２１０へ、直交変調したアナログ信号を入力する。
【００７４】
方向性結合器２１０は、切替部２１２へ、直交変調部２０６からの直交変調信号を入力するとともに、第２の増幅器２２６へ、直交変調部２０６からの直交変調信号の一部を入力する。
【００７５】
第２の増幅器２２６へ入力された直交変調信号の一部は、アッテネータ２２８に入力される。アッテネータ２２８は、直交変調信号を減衰させ、切替部２２０の端子２に入力する。しかし、切替部２２０では、端子１と、端子３とが接続されているため、アッテネータ２２８からの信号は、ミキサ２２２へは入力されない。
【００７６】
切替部２１２は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を、第１の増幅器２１４に入力する。
【００７７】
第１の増幅器２１４は、切替部２１２と接続される。第１の増幅器２１４には、ＲＦ増幅用のＧａＮデバイスが含まれる。第１の増幅器２１４は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を増幅する。第１の増幅器２１４は、方向性結合器２１６に、増幅した直交変調信号を入力する。
【００７８】
方向性結合器２１６は、第１の増幅器２１４からの信号を出力するとともに、その一部の信号をアッテネータ２１８へ入力する。
【００７９】
アッテネータ２１８は、方向性結合器２１６と接続される。アッテネータ２１８は、適切な信号レベルに、第１の増幅器２１４により増幅された信号を減衰させる。アッテネータ２１８は、切替部２２０へ、減衰させた信号を入力する。
【００８０】
切替部２２０は、アッテネータ２１８と接続される。切替部２２０は、ミキサ２２２へ、アッテネータ２１８からの信号を入力する。
【００８１】
ミキサ２２２は、局部発振器２２４からのキャリアに対して、切替部２２０からの信号をダウンコンバートする。ミキサ２２２は、ダウンコンバートした信号をＡ／Ｄ変換部２４６へ入力する。
【００８２】
Ａ／Ｄ変換器２４６は、デジタル信号へ、ミキサ２２２からの信号を変換する。Ａ／Ｄ変換器２４６は、遅延調整部２４４へ、デジタル信号を入力する。
【００８３】
遅延調整部２４４は、Ａ／Ｄ変換器２４６からのデジタル信号を反転させて、加算器２４８へ入力する。遅延調整部２４４は、デジタル信号を反転させて加算器２４８へ入力する際、遅延調整部２４２との間で入力するタイミングを調整する。例えば、遅延調整部２４２から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、遅延調整部２４４は、加算部２４８へデジタル信号を入力するタイミングを調整する。
【００８４】
遅延調整部２４２は、加算部２４８へ、テスト信号を入力する。遅延調整部２４２は、遅延調整部２４４から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、テスト信号を入力するタイミングを調整する。
【００８５】
加算器２４８は、遅延調整部２４２からのテスト信号と、遅延調整部２４４からのデジタル信号との差分信号を求める。加算器２４８は、差分信号を演算処理部２５０へ入力する。
【００８６】
演算処理部２５０は、加算部２４８からの差分信号に基づいて、入力信号に乗算するための歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を算出する。ここで、「１」は、第１の増幅器２２６により増幅された信号に基づく歪補正係数であることを示す。ｎは繰り返し回数、ｐは入力信号のパワー（入力電力）であり、ｐ＝（Ｉ２＋Ｑ２）（ＩはＩ信号の値、ＱはＱ信号の値）である。すなわち、歪補償係数ｈ１ｋ（ｐ）（ｋは１以上の整数）(以降、歪補償係数を代表して表すときｈ１ｋ（ｐ）と表す。)は、入力信号とフィードバック信号との差分に応じて繰り返し算出される。なお、ｐは、（Ｉ２＋Ｑ２）の代わりに（Ｉ２＋Ｑ２）（１／２）を用いてもよい。
【００８７】
演算処理部２５０は、スイッチ２４０に、歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する。
【００８８】
スイッチ２４０は、制御回路２３２からの制御信号に応じて、ＬＵＴ２３８に、演算処理部２５０からの歪補正係数の出力先を切替える。
【００８９】
スイッチ２４０は、ＬＵＴ２３８に、演算処理部２５０からの歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する。
【００９０】
ＬＵＴ２３８は、演算処理部２５０からの歪補償係数を、入力信号のパワーｐから定まるアドレス値と対応付けて、歪補償係数ｈ（ｐ）として記録したテーブルである。ＬＵＴ２３８は、アドレス生成部２３６からアドレス信号が供給されると、該アドレス信号を用いてＬＵＴ２３８の入力信号のパワーｐに対応する歪補償係数ｈ（ｐ）を参照して取り出し、この歪補償係数ｈ（ｐ）をＬＵＴ比較部２５６に出力する。
【００９１】
ＬＵＴ比較部２５６は、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数と、ＬＵＴ２３８からの歪補償係数に基づいて、補正係数（以下、「第１の補正係数α」という）を算出する。具体的には、ＬＵＴ比較部２５６は、ＬＵＴ２３８からの歪補償係数に、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数を合わせるための第１の補正係数αを計算する。例えば、ＬＵＴ比較部２５６は、第１の増幅器２１２の歪補償係数と、第２の増幅器２２６の歪補償係数との間の差分を求めることにより第１の補正係数αを求める。差分を求めるのは一例であり、他の方法により第１の補正係数αを求めるようにしてもよい。
【００９２】
図５は、ＬＵＴ比較部２５６の処理を説明するための図である。
【００９３】
図５において、横軸は電力、縦軸は歪補償係数である。
【００９４】
図５には、入力信号の電力に対して、第１の増幅器２１４の歪補償係数、第２の増幅器２２６の歪補償係数、及び補正後の第２の増幅器２２６の歪補償係数が示される。
【００９５】
図５によれば、第１の増幅器２１４の歪補償係数と、第２の増幅器２２６の歪補償係数との間で、低電力から高電力のいずれでもずれが生じているのが分かる。また、高電力よりも、低電力でずれが大きいのが分かる。
【００９６】
また、第１の補正係数αで、第２の増幅器２２６の歪補償係数を補正することにより、第１の増幅器２１４の補正係数に近づけることができる。図５に示される例では、主に動作電力近傍の歪補償係数が近づいている。
【００９７】
図６は、第１の補正係数αの設定の一実施例を示す。
【００９８】
第１の補正係数αは、電力に対して略同一の値が設定される。第１の補正係数αにより主に、高電力側における歪補償係数が補正される。
【００９９】
ＬＵＴ比較部２５６は、メモリ２５８に、第１の補正係数αを格納する。
【０１００】
＜第２の補正係数βを求める処理＞
Ｉｄｑドリフト特性は温度によって変動する。また、Ｉｄｑドリフトの温度特性は、増幅器による個体差（バラツキ）がある。Ｉｄｑドリフト特性の温度変動により、第１の補正係数αによる補正にも限界がある。
【０１０１】
そこで、温度変動による特性変化に対応するため第２の補正係数βを用いる。第２の補正係数βの初期値は、メモリ２５８に格納される。第２の補正係数の初期値は、事前に抽出した複数サンプルの製品試験結果を用いて設定されてもよい。
【０１０２】
第２の補正係数βは、温度に対応して、複数設定されてもよい。温度に対応して、複数の第２の補正係数βｌ−ｍ、βｌ、βｌ＋ｍ等が設定される。
【０１０３】
図７は、メモリ２５８に格納される補正係数の一実施例を示す。
【０１０４】
メモリ２５８に格納される補正係数には、第１の補正係数α、第２の補正係数βの初期値、第２の補正係数βｌ−ｍ、・・・、第２の補正係数βｌ、・・・、第２の補正係数βｌ＋ｍ、・・・が含まれる。
【０１０５】
第２の補正係数β、βｌ−ｍ、・・・、βｌ、・・・、βｌ＋ｍ、・・・を求める場合には、送信装置２００へ、テスト信号が入力される。
【０１０６】
制御回路２３２は、切替部２１２を制御することにより、方向性結合器２１０の出力信号が抵抗２６０へ入力されるように切替える。
【０１０７】
また、制御回路２３２は、切替部２２０を制御することにより、アッテネータ２２８の出力信号がミキサ２２２へ入力されるように切替える。
【０１０８】
また、制御回路２３２は、スイッチ２４０を制御することにより、演算処理部２５０の出力信号が歪補償係数演算部２５２へ入力されるように切替える。
【０１０９】
送信装置２００へ入力されるテスト信号は、Ｄ／Ａ変換器２０４、アドレス生成部２３６、及び遅延調整部２４２へ入力される。
【０１１０】
Ｄ／Ａ変換器２０４は、アナログ信号へ、テスト信号を変換し、直交変調部２０６へ入力する。
【０１１１】
直交変調部２０６は、局部発信回路２０８からのキャリアに対して、Ｄ／Ａ変換部２０４からのアナログ信号に応じて直交変調する。直交変調部２０６は、方向性結合器２１０へ、直交変調したアナログ信号を入力する。
【０１１２】
方向性結合器２１０は、切替部２１２へ、直交変調部２０６からの直交変調信号を入力するとともに、第２の増幅器２２６へ、直交変調部２０６からの直交変調信号の一部を入力する。
【０１１３】
切替部２１２は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を、抵抗２６０により終端する。
【０１１４】
第２の増幅器２２６は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を増幅する。第２の増幅器２２６により増幅された信号は、アッテネータ２２８に入力される。
【０１１５】
アッテネータ２２８は、適切な信号レベルに、第２の増幅器２２６により増幅された信号を減衰させる。アッテネータ２２８は、切替部２２０へ、減衰させた信号を入力する。
【０１１６】
切替部２２０は、ミキサ２２２へ、アッテネータ２２８からの信号を入力する。
【０１１７】
ミキサ２２２は、局部発振器２２４からのキャリアに対して、切替部２２０からの信号をダウンコンバートする。ミキサ２２２は、ダウンコンバートした信号をＡ／Ｄ変換部２４６へ入力する。
【０１１８】
Ａ／Ｄ変換器２４６は、デジタル信号へ、ミキサ２２２からの信号を変換する。Ａ／Ｄ変換器２４６は、遅延調整部２４４へ、デジタル信号を入力する。
【０１１９】
遅延調整部２４４は、Ａ／Ｄ変換器２４６からのデジタル信号を反転させて、加算器２４８へ入力する。遅延調整部２４４は、デジタル信号を反転させて加算器２４８へ入力する際、遅延調整部２４２との間で入力するタイミングを調整する。例えば、遅延調整部２４２から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、遅延調整部２４４は、加算部２４８へデジタル信号を入力するタイミングを調整する。
【０１２０】
遅延調整部２４２は、加算部２４８へ、テスト信号を入力する。遅延調整部２４２は、遅延調整部２４４から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、テスト信号を入力するタイミングを調整する。
【０１２１】
加算器２４８は、遅延調整部２４２からのテスト信号と、遅延調整部２４４からのデジタル信号との差分信号を求める。加算器２４８は、差分信号を演算処理部２５０へ入力する。
【０１２２】
演算処理部２５０は、加算部２４８と接続される。演算処理部２５０は、加算部２４８からの差分信号に基づいて、入力信号に乗算するための歪補償係数ｈ２ｎ（ｐ）を算出する。演算処理部２５０は、スイッチ２４０へ、歪補償係数ｈ２ｎ（ｐ）を入力する
スイッチ２４０は、制御回路２３２からの制御信号に応じて、サブＬＵＴ２５４に、演算処理部２５０からの歪補正係数の出力先を切替える。
【０１２３】
サブＬＵＴ２５４は、アドレス生成部２３６から供給されるアドレス信号を用いてサブＬＵＴ２５４の入力信号のパワーｐに対応する歪補償係数を参照して取り出し、この歪補償係数をＬＵＴ比較部２５６に出力する。
【０１２４】
ＬＵＴ比較部２５６は、温度モニタ回路２３０から温度情報を取得する。ＬＵＴ比較部２５６は、メモリ２５８から、温度情報に対応する第２の補正係数を選択する。例えば、ＬＵＴ比較部２５６は、温度情報に近い温度に対応する第２の補正係数を選択するようにしてもよい。ＬＵＴ比較部２５６は、第１の補正係数αと、選択した第２の補正係数βとにより、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数ｈ２ｎ（ｐ）を補正する。例えば、ＬＵＴ比較部２５６は、歪補償係数ｈ２ｎ（ｐ）に、第１の補正係数α、選択した第２の補正係数βを加算するようにしてもよい。加算は一例であり、他の方法により補正してもよい。ＬＵＴ比較部２５６は、補正した歪補償係数を保持する。
【０１２５】
また、制御回路２３２は、切替部２１２を制御することにより、方向性結合器２１０の出力信号が第１の増幅器２１４へ入力されるように切替える
さらに、制御回路２３２は、切替部２２０を制御することにより、アッテネータ２１８の出力信号がミキサ２２２へ入力されるように切替える。
【０１２６】
Ｄ／Ａ変換器２０４は、アナログ信号へ、テスト信号を変換し、直交変調部２０６へ入力する。
【０１２７】
直交変調部２０６は、局部発信回路２０８からのキャリアに対して、Ｄ／Ａ変換部２０４からのアナログ信号に応じて直交変調する。直交変調部２０６は、方向性結合器２１０へ、直交変調したアナログ信号を入力する。
【０１２８】
方向性結合器２１０は、切替部２１２、第２の増幅器２２６へ、直交変調部２０６からの直交変調信号の一部を入力する。
【０１２９】
切替部２１２は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を、第１の増幅器２１４に入力する。
【０１３０】
第１の増幅器２１４は、方向性結合器２１０からの直交変調信号を増幅する。第１の増幅器２１４は、方向性結合器２１６に、増幅した直交変調信号を入力する。
【０１３１】
方向性結合器２１６は、第１の増幅器２１４からの信号を出力するとともに、その一部の信号をアッテネータ２１８へ入力する。
【０１３２】
アッテネータ２１８は、方向性結合器２１６と接続される。アッテネータ２１８は、適切な信号レベルに、第１の増幅器２１４により増幅された信号を減衰させる。アッテネータ２１８は、切替部２２０へ、減衰させた信号を入力する。
【０１３３】
切替部２２０は、アッテネータ２１８と接続される。切替部２２０は、ミキサ２２２へ、アッテネータ２１８からの信号を入力する。
【０１３４】
ミキサ２２２は、局部発振器２２４からのキャリアに対して、切替部２２０からの信号をダウンコンバートする。ミキサ２２２は、ダウンコンバートした信号をＡ／Ｄ変換部２４６へ入力する。
【０１３５】
Ａ／Ｄ変換器２４６は、デジタル信号へ、ミキサ２２２からの信号を変換する。Ａ／Ｄ変換器２４６は、遅延調整部２４４へ、デジタル信号を入力する。
【０１３６】
遅延調整部２４４は、Ａ／Ｄ変換器２４６からのデジタル信号を反転させて、加算器２４８へ入力する。遅延調整部２４４は、デジタル信号を反転させて加算器２４８へ入力する際、遅延調整部２４２との間で入力するタイミングを調整する。例えば、遅延調整部２４２から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、遅延調整部２４４は、加算部２４８へデジタル信号を入力するタイミングを調整する。
【０１３７】
遅延調整部２４２は、加算部２４８へ、テスト信号を入力する。遅延調整部２４２は、遅延調整部２４４から加算部２４８へデジタル信号が入力されるタイミングと略同一となるように、テスト信号を入力するタイミングを調整する。
【０１３８】
加算器２４８は、遅延調整部２４２及び２４４と接続される。加算器２４８は、遅延調整部２４２からのテスト信号と、遅延調整部２４４からのデジタル信号との差分信号を求める。加算器２４８は、差分信号を演算処理部２５０へ入力する。
【０１３９】
演算処理部２５０は、加算部２４８からの差分信号に基づいて、入力信号に乗算するための歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を算出する。演算処理部２５０は、スイッチ２４０に、歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する。
【０１４０】
スイッチ２４０は、制御回路２３２からの制御信号に応じて、ＬＵＴ２３８に、演算処理部２５０からの歪補正係数の出力先を切替える。
【０１４１】
スイッチ２４０は、ＬＵＴ２３８に、演算処理部２５０からの歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する。
【０１４２】
ＬＵＴ２３８は、アドレス生成部２３６から供給されるアドレス信号を用いてＬＵＴ２３８の入力信号のパワーｐに対応する歪補償係数を参照して取り出し、ＬＵＴ比較部２５６に出力する。
【０１４３】
ＬＵＴ比較部２５６は、保持しているサブＬＵＴ２５４からの歪補償係数と、ＬＵＴ２３８からの歪補償係数に基づいて、第２の補正係数βを算出する。具体的には、ＬＵＴ比較部２５６は、ＬＵＴ２３８からの歪補償係数に、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数を合わせるための第２の補正係数βを計算する。ＬＵＴ比較部２５６は、例えば、ＬＵＴ２３８からの歪補償係数と、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数との間の差分を求めることにより第２の補正係数βを求める。差分を求めるのは一例であり、他の方法により第２の補正係数βを求めるようにしてもよい。
【０１４４】
図８は、ＬＵＴ比較部２５６の処理を説明するための図である。
【０１４５】
図８において、横軸は電力、縦軸は歪補償係数である。
【０１４６】
図８には、入力信号の電力に対して、第１の増幅器２１４の歪補償係数、第２の増幅器２２６の歪補償係数、及び補正後の第２の増幅器２２６の歪補償係数が示される。
【０１４７】
図８によれば、第１の増幅器２１４の歪補償係数と、第２の増幅器２２６の歪補償係数との間で、低電力から高電力でずれが生じているのが分かる。また、高電力よりも、低電力でずれが大きいのが分かる。
【０１４８】
また、第２の補正係数βで、第２の増幅器２２６の歪補償係数を補正することにより、第１の増幅器２１４の補正係数に近づけることができる。
【０１４９】
第２の補正係数βは、メモリ２５８に、温度モニタ回路２３０により検出された温度に対応する第２の補正係数が記憶されていない場合に求められてもよい。この場合、所定の温度幅について、第２の補正係数が対応付けられてもよい。
【０１５０】
メモリ２５８に、温度モニタ回路２３０により検出された温度に対応する第２の補正係数βが記憶されている場合について説明する。演算処理部２５０により加算部２４８からの差分信号に基づいて、入力信号に乗算するための歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）が算出される。演算処理部２５０は、スイッチ２４０に、歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する
スイッチ２４０は、制御回路２３２からの制御信号に応じて、サブＬＵＴ２５４に、演算処理部２５０からの歪補正係数の出力先を切替える。
【０１５１】
スイッチ２４０は、サブＬＵＴ２５４に、演算処理部２５０からの歪補償係数ｈ１ｎ（ｐ）を入力する。
【０１５２】
サブＬＵＴ２５４は、アドレス生成部２３６から供給されるアドレス信号を用いてサブＬＵＴ２５４の入力信号のパワーｐに対応する歪補償係数を参照して取り出し、演算部２６２に出力する。
【０１５３】
演算部２６２は、メモリ２５８から、温度モニタ回路２３０により検出された温度に対応する第２の補正係数を取得し、サブＬＵＴ２５４からの歪補償係数に対して演算することにより補正する。演算部２６２は、ＬＵＴ２３８に、補正した歪補償係数を出力する。
【０１５４】
ＬＵＴ２３８は、演算部２６２からの歪補償係数に基づいて、処理を行う。
【０１５５】
図９は、第２の補正係数βの設定の一実施例を示す。
【０１５６】
第２の補正係数βは、電力に対して、低電力側の方が高電力側よりも高い値となるような値が設定される。換言すれば、高電力側の方が低電力側よりも低い値となるような値が設定される。第２の補正係数βは、温度によって異なるものであってもよい。
【０１５７】
ＬＵＴ比較部２５６は、メモリ２５８に、第２の補正係数βを格納する。
【０１５８】
＜基地局１００の動作＞
図１０−図１３は、基地局１００の動作の一実施例を示す。
【０１５９】
図１０は、第１の補正係数αを設定する処理の一実施例を示す。この処理は、基地局１００を試験する際に実行されてもよい。例えば、工場で実施されてもよい。
【０１６０】
ステップＳ１００２では、送信装置２００の電源がオンにされる。
【０１６１】
ステップＳ１００４では、ＰＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）部の電源がオンにされる。つまり、送信装置２００の電力増幅装置５００の電源がオンにされる。
【０１６２】
ステップＳ１００６では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子２とが接続されるように切替える。
【０１６３】
ステップＳ１００８では、送信装置２００へ、トレーニング用テスト信号を入力する。
【０１６４】
ステップＳ１０１０では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４を生成する。
【０１６５】
ステップＳ１０１２では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子３とが接続されるように切替える。
【０１６６】
ステップＳ１０１４では、送信信号のループで、テスト信号を出力させる。
【０１６７】
ステップＳ１０１６では、歪補償係数演算回路２３４は、ＬＵＴ２３８を生成する。
【０１６８】
ステップＳ１０１８では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８とを比較する。歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８との間の差分を補正する第１の補正係数αを算出する。
【０１６９】
ステップＳ１０２０では、歪補償係数演算回路２３４は、メモリ２５８に、第１の補正係数αを格納する。
【０１７０】
第１の補正係数αにより歪補償係数を補正することにより、増幅器の特性のばらつきを補正できる。ＦＥＴ等のデバイスは素子により特性のばらつきが存在する。つまり、第１の増幅器２１４と、第２の増幅器２２６との間で、特性のばらつきが存在する。このばらつきを工場で行なう常温での全数試験において補正できる。
【０１７１】
図１１は、第２の補正係数βを設定する処理の一実施例を示す。
【０１７２】
この処理は、基地局１００の運用開始の際に実行されてもよい。
【０１７３】
ステップＳ１１０２では、送信装置２００の電源がオンにされる。
【０１７４】
ステップＳ１１０４では、ＰＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）部の電源がオンにされる。つまり、送信装置２００の電力増幅装置５００の電源がオンにされる。
【０１７５】
ステップＳ１１０６では、歪補償係数演算回路２３４は、温度モニタ回路２３０から、温度情報を取得する。
【０１７６】
ステップＳ１１０８では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子２とが接続されるように切替える。
【０１７７】
ステップＳ１１１０では、送信装置２００へ、トレーニング用テスト信号を入力する。
【０１７８】
ステップＳ１１１２では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４を生成する。
【０１７９】
ステップＳ１１１４では、歪補償係数演算回路２３４は、温度情報に基づいて、予めメモリ２５８に格納された第２の補正係数から、最も温度が近いものを選択する。
【０１８０】
ステップＳ１１１６では、歪補償係数演算回路２３４は、第１の補正係数αと、第２の補正係数βを用いて、サブＬＵＴを補正する。
【０１８１】
ステップＳ１１１８では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子３とが接続されるように切替える。
【０１８２】
ステップＳ１１２０では、送信信号のループで、テスト信号を出力させる。
【０１８３】
ステップＳ１１２２では、歪補償係数演算回路２３４は、ＬＵＴ２３８を更新する。
【０１８４】
ステップＳ１１２４では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８とを比較する。
【０１８５】
ステップＳ１１２６では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８との間の差分を補正する第２の補正係数βを算出する。
【０１８６】
ステップＳ１１２８では、歪補償係数演算回路２３４は、メモリ２５８に、温度と関連付けて第２の補正係数βを格納する。
【０１８７】
Ｉｄｑドリフト特性は温度変動によって変化し、その温度特性にもデバイスによる個体差（バラツキ）がある。つまり、個々のデバイスによって、温度特性が異なる場合がある。
【０１８８】
従って、第１の補正係数αでは、第２の増幅器のサブＬＵＴ、第１の増幅器のＬＵＴの補正にも限界がある。
【０１８９】
そこで、第２の補正係数βにより温度変動により生じる場合がある特性変化を補正する。例えば、第２の補正係数βは、事前に抽出した複数サンプル製品の試験結果を用いて、その初期値が設定される。第２の補正係数βの初期値は、メモリに格納される。第２の補正係数βの初期値は、温度に対応して、複数設定されてもよい。
【０１９０】
また、第１の補正係数αにより、常温における送信装置毎の特性が補正される。このようにすることにより、工場で、温度試験を実施する装置の台数を減少させることができる。
【０１９１】
送信装置の運用が開始される際に、メモリに格納した第２の補正係数βの初期値を利用して、第１の増幅器のＬＵＴと、第２の増幅器のＬＵＴとの間の差分を補正するための第２の補正係数を求める。
【０１９２】
図１２は、第２の補正係数βを設定する処理の一実施例を示す。
【０１９３】
この処理は、基地局１００の運用中に実行されてもよい。また、基地局１００の運用中に一時的に停止し、再度立ち上げる場合に実行されてもよい。
【０１９４】
ステップＳ１２０２では、送信装置２００の電源がオンにされる。
【０１９５】
ステップＳ１２０４では、ＰＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）部の電源がオンにされる。つまり、送信装置２００の電力増幅装置５００の電源がオンにされる。
【０１９６】
ステップＳ１２０６では、歪補償係数演算回路２３４は、温度モニタ回路２３０から、温度情報を取得する。
【０１９７】
ステップＳ１２０８では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子２とが接続されるように切替える。
【０１９８】
ステップＳ１２１０では、送信装置２００へ、トレーニング用テスト信号を入力する。
【０１９９】
ステップＳ１２１２では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４を生成する。
【０２００】
ステップＳ１２１４では、歪補償係数演算回路２３４は、温度情報に基づいて、予めメモリ２５８に格納された第２の補正係数から、最も温度が近いものを選択する。
【０２０１】
ステップＳ１２１６では、歪補償係数演算回路２３４は、第２の補正係数βを用いて、サブＬＵＴを補正する。
【０２０２】
ステップＳ１２１８では、制御部２３２は、切替部２１２の端子１と端子３とが接続されるように切替える。
【０２０３】
ステップＳ１２２０では、送信信号のループで、テスト信号を出力させる。
【０２０４】
ステップＳ１２２２では、歪補償係数演算回路２３４は、ＬＵＴ２３８を更新する。
【０２０５】
ステップＳ１２２４では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８とを比較する。
【０２０６】
ステップＳ１２２６では、歪補償係数演算回路２３４は、サブＬＵＴ２５４と、ＬＵＴ２３８との間の差分を補正する第２の補正係数βを算出する。
【０２０７】
ステップＳ１２２８では、歪補償係数演算回路２３４は、メモリ２５８に、温度と関連付けて第２の補正係数βを格納する。
【０２０８】
送信装置２００の運用の際には、温度の変動に応じて、第１の増幅器２１４のＬＵＴと、第２の増幅器２２６のＬＵＴとの間の差分を補正するための第２の補正係数βを求め、メモリに追加する。メモリに追加する際には、温度情報と対応付ける。
【０２０９】
第２の補正係数βを追加していくこにより、第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を低減する。第２の増幅器２２６のＬＵＴと、第１の増幅器２１４のＬＵＴとの間の差分を低減することにより、Ｉｄｑドリフト特性の補正精度を高めることができる。
【０２１０】
Ｉｄｑドリフト特性の補正精度を高めることにより、送信装置２００が起動された際、送信開始前後における歪補償係数のずれを低減できる。送信開始前後における歪補償係数のずれを低減できるため、収束時間を短縮でき、ＧａＮデバイスのようにＩｄｑドリフトの影響で利得変動が大きくなるデバイスでも、隣接チャネルへの漏洩電力を低減できる。
【０２１１】
以上の動作を運用中に繰り返すことで、第２の補正係数βを追加できるため、Ｉｄｑドリフトの影響を補正する精度を上げることができる。また、歪補償の収束時間を短縮できるため、ＧａＮデバイスのようにＩｄｑドリフトの影響で利得変動が大きくなるデバイスでも、隣接チャネルへの漏洩電力を低減できる。
【０２１２】
以上、歪補償係数を補正する送信装置を実施例を用いて詳細に説明したが、当業者にとっては、本明細書中に説明した実施例に限定されるものではないということは明らかである。特許請求の範囲の記載により定まる趣旨及び範囲を逸脱することなく修正及び変更態様として実施することができる。従って、本明細書の記載は、例示説明を目的とするものであり、本発明に対して何ら制限的な意味を有するものではない。
【０２１３】
以上の実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第１の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、
第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第２の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、
前記第１及び第２の参照範囲に基づいて、前記第２の補償係数を補正する補正係数を算出するデジタル信号処理装置
を有する、送信装置。
（付記２）
前記デジタル信号処理装置は、前記第１及び第２増幅器により増幅されたトレーニング信号に基づく第１及び第２参照範囲に基づいて、前記第２補償係数を補正する補正係数を算出する、付記１に記載の送信装置。
（付記３）
温度を取得する温度モニタ回路
を有し、
前記デジタル信号処理装置は、前記温度モニタ回路により取得された温度毎に、前記補正係数を算出する、付記１又は２に記載の送信装置。
（付記４）
前記デジタル信号処理装置は、前記補正係数により補正された歪補償係数に基づいて、歪補償係数の参照範囲を設定し、前記増幅前の信号の歪補償処理を行う、付記１ないし３のいずれか１項に記載の送信装置。
（付記５）
第１の増幅器により増幅された信号に基づいて第１の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第１の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第１の参照範囲を設定し、
第２の増幅器により増幅された信号に基づいて第２の歪補償係数を演算し、前記増幅前の信号の電力と、前記第２の歪補償係数に基づいて、前記増幅前の信号に歪補償を行う際に使用する歪補償係数の第２の参照範囲を設定し、
前記第１及び第２の参照範囲に基づいて、前記第２の補償係数を補正する補正係数を算出する、送信装置における送信方法。
（付記６）
付記１ないし４のいずれか１項に記載の送信装置を有する基地局。
（付記７）
前記第１及び第２の増幅器には、ＧａＮデバイスが含まれる、付記１ないし４のいずれか１項に記載の送信装置。
（付記８）
前記第１及び第２の増幅器のドリフト特性は、略同一である、付記１ないし４のいずれか１項に記載の送信装置。
【符号の説明】
【０２１４】
１００  基地局
２００  送信装置
２３４  歪補償係数演算回路
２５２  歪補償係数演算部
２５４  サブＬＵＴ
２５６  ＬＵＴ比較部
２５８  メモリ
３００  デジタル信号処理装置
４００  変換装置
５００  電力増幅装置
６００  ベースバンド処理装置
【図１】
2014017670.tif 000003
【図２】
2014017670.tif 000004
【図３】
2014017670.tif 000005
【図４】
2014017670.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
2014017670.tif 000009
【図８】
2014017670.tif 000010
【図９】
2014017670.tif 000011
【図１０】
2014017670.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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