(57)【要約】【課題】状態遷移図において近い遷移イベント間の組合せを網羅したテストを設計する。【解決手段】テスト設計支援装置１０は、一の状態から同一又は他の状態に遷移する遷移イベントを記述した状態遷移図において、指定した状態を始点とした遷移イベントによる遷移経路を示す経路情報を生成し、経路情報に含まれるそれぞれの遷移イベントを因子、遷移イベントの種類を水準に設定し、設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの行列に割り付け、経路情報において指定された距離内に含まれる任意の複数因子間の全水準に係る組合せのうち、割り付けられた行列のいずれの行にも出現していない組合せを抽出し、抽出された組合せを含む行を行列に追加してテスト行列を生成する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一の状態から同一又は他の状態に遷移する遷移イベントを記述した状態遷移図において、指定した状態を始点とした遷移イベントによる遷移経路を示す経路情報を生成する手段と、
前記経路情報に含まれるそれぞれの遷移イベントを因子、該遷移イベントの種類を水準に設定する手段と、
前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの行列に割り付ける割付手段と、
前記経路情報において指定された距離内に含まれる任意の複数因子間の全水準に係る組合せのうち、前記割り付けられた行列のいずれの行にも出現していない組合せを抽出する手段と、
前記抽出された組合せを含む行を前記行列に追加してテスト行列を生成する手段と、を含む
ことを特徴とするテスト設計支援装置。
【請求項２】
前記距離は、前記経路情報において注目する２つの因子が隣り合う場合には１、整数ｉ個の因子を介して接続する場合には（ｉ＋１）とする情報である
ことを特徴とする請求項１に記載のテスト設計支援装置。
【請求項３】
前記状態遷移図において、任意の第１の状態から任意の第２の状態に遷移する複数のイベントがある場合には、該複数のイベントを１つの遷移イベントとし、該複数のイベントを該遷移イベントの種類に設定する手段をさらに含む
ことを特徴とする請求項１又は２に記載のテスト設計支援装置。
【請求項４】
前記割付手段は、前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの直交表を拡張した行列に割り付ける
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載のテスト設計支援装置。
【請求項５】
一の状態から同一又は他の状態に遷移する遷移イベントを記述した状態遷移図において、指定した状態を始点とした遷移イベントによる遷移経路を示す経路情報を生成する手段と、
前記経路情報に含まれるそれぞれの遷移イベントを因子、該遷移イベントの種類を水準に設定する手段と、
前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの行列に割り付ける割付手段と、
前記経路情報において指定された距離内に含まれる任意の複数因子間の全水準に係る組合せのうち、前記割り付けられた行列のいずれの行にも出現していない組合せを抽出する手段と、
前記抽出された組合せを含む行を前記行列に追加してテスト行列を生成する手段
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスト設計支援装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ソフトウェア等において複数因子間の設定の組合せによって異常な振る舞いが起きないかどうかを確認するためにテストを行うことがある（特許文献１を参照）。
【０００３】
また、ソフトウェア等において、１つの状態からイベントにより他の状態に遷移する場合に、状態遷移のテストを行うことがある。こうしたテストにおいて、全ての状態遷移の組合せを網羅するとテストケース数が膨大となってしまうため、テストケース数を絞り込む必要がある。ここで、状態遷移図における１つの状態遷移イベントに対しては、その状態遷移イベントに対して遠いイベントよりも近いイベントの方が、より影響を与えやすいと考えられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２８８０３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、状態遷移図において近い遷移イベント間の組合せを網羅したテストを設計できるテスト設計支援装置及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に係る発明は、一の状態から同一又は他の状態に遷移する遷移イベントを記述した状態遷移図において、指定した状態を始点とした遷移イベントによる遷移経路を示す経路情報を生成する手段と、前記経路情報に含まれるそれぞれの遷移イベントを因子、該遷移イベントの種類を水準に設定する手段と、前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの行列に割り付ける割付手段と、前記経路情報において指定された距離内に含まれる任意の複数因子間の全水準に係る組合せのうち、前記割り付けられた行列のいずれの行にも出現していない組合せを抽出する手段と、前記抽出された組合せを含む行を前記行列に追加してテスト行列を生成する手段と、を含むことを特徴とするテスト設計支援装置である。
【０００７】
請求項２に係る発明は、前記距離は、前記経路情報において注目する２つの因子が隣り合う場合には１、整数ｉ個の因子を介して接続する場合には（ｉ＋１）とする情報であることを特徴とする請求項１に記載のテスト設計支援装置である。
【０００８】
請求項３に係る発明は、前記状態遷移図において、任意の第１の状態から任意の第２の状態に遷移する複数のイベントがある場合には、該複数のイベントを１つの遷移イベントとし、該複数のイベントを該遷移イベントの種類に設定する手段をさらに含むことを特徴とする請求項１又は２に記載のテスト設計支援装置である。
【０００９】
請求項４に係る発明は、前記割付手段は、前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの直交表を拡張した行列に割り付けることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載のテスト設計支援装置である。
【００１０】
請求項５に係る発明は、一の状態から同一又は他の状態に遷移する遷移イベントを記述した状態遷移図において、指定した状態を始点とした遷移イベントによる遷移経路を示す経路情報を生成する手段と、前記経路情報に含まれるそれぞれの遷移イベントを因子、該遷移イベントの種類を水準に設定する手段と、前記設定されたそれぞれの因子と水準の組を、指定されたサイズの行列に割り付ける割付手段と、前記経路情報において指定された距離内に含まれる任意の複数因子間の全水準に係る組合せのうち、前記割り付けられた行列のいずれの行にも出現していない組合せを抽出する手段と、前記抽出された組合せを含む行を前記行列に追加してテスト行列を生成する手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１及び５に記載の発明によれば、状態遷移図において近い遷移イベント間の組合せを網羅したテストを設計できる。
【００１２】
請求項２に記載の発明によれば、状態遷移図において指定された数以内の因子を介して遷移可能な遷移イベント間の組合せを網羅したテストを設計できる。
【００１３】
請求項３に記載の発明によれば、本構成を有さない場合と比較して、状態遷移図の遷移イベントを水準を複数有する因子として行列に割り付けられる。
【００１４】
請求項４に記載の発明によれば、本構成を有さない場合と比較して、近傍の遷移イベントの組合せの網羅性を保ちつつ、テストケース数の増加を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本実施形態に係るテスト設計支援装置の機能ブロック図である。
【図２】状態遷移図の一例を示す図である。
【図３】状態遷移図における遷移イベントを集約した例を示す図である。
【図４】遷移パスの一例と遷移パスについて設定される因子と水準の例を示す図である。
【図５】直交表サイズの指定を受け付けるインターフェースの一例を示す図である。
【図６】テストマトリクス（行列）に割り付けられた因子・水準の例を示す図である。
【図７】図６のテストマトリクスの総当り表を示す図である。
【図８】網羅距離を指定するインターフェースの一例を示す図である。
【図９】網羅条件の一例を示す図である。
【図１０】図７の総当り表において抽出される因子・水準の組を示す図である。
【図１１】テストマトリクスの一例を示す図である。
【図１２】図１１のテストマトリクスの総当り表を示す図である。
【図１３】テスト設計支援装置により実行される処理のフローチャートである。
【図１４】テスト設計支援装置により実行される処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明を実施するための実施の形態（以下、実施形態という）を、図面に従って説明する。
【００１７】
［１．テスト設計支援装置１０に備えられる機能の説明］
図１には、本実施形態に係るテスト設計支援装置１０の機能ブロック図を示した。図１に示されるように、テスト設計支援装置１０は、状態遷移図データ取得部１１、遷移イベント集約部１２、遷移パス生成部１３、因子・水準情報設定部１４、直交表サイズ設定部１５、因子割付部１６、総当り表生成部１７、網羅距離設定部１８、追加因子・水準情報抽出部１９、テストマトリクス生成部２０、及びテストマトリクス出力部２１を備える。なお、本実施形態に係るテスト設計支援装置１０は、ソフトウェアのテストを実行する際の、テスト対象のそれぞれの因子の水準の組が各行に表れるテストマトリクスを生成するものである。すなわち、テストマトリクスの一行が一つのテストケースに対応することとなる。
【００１８】
テスト設計支援装置１０に備えられた上記の各部の機能は、ＣＰＵ等の制御手段、メモリ等の記憶手段、外部デバイスとデータを送受信する入出力手段等を備えたコンピュータが、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納されたプログラムを読み込み実行することで実現されるものとしてよい。なお、プログラムは光ディスク、磁気ディスク、磁気テープ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ等の情報記憶媒体によってコンピュータたるテスト設計支援装置１０に供給されることとしてもよいし、インターネット等のデータ通信網を介してテスト設計支援装置１０に供給されることとしてもよい。
【００１９】
状態遷移図データ取得部１１は、複数の状態と、該複数の状態における一の状態から同一又は他の状態に遷移するイベントの情報を含む状態遷移図のデータを取得する。例えば、状態遷移図データ取得部１１は、キーボードやマウス等の入力デバイス、又は外部デバイスから入力されたデータに基づいて状態遷移図のデータを取得することとしてよい。
【００２０】
図２には、状態遷移図の一例を示した。図２に示される状態遷移図には、状態Ａ，Ｂ，Ｃが存在し、状態Ａからイベントａ１，ａ２又はａ３により状態Ｂに遷移し、状態Ｂからイベントｂ１又はｂ２により状態Ｃに遷移し、状態Ｃからイベントｃ１又はｃ２により状態Ｃに遷移することが表されている。
【００２１】
遷移イベント集約部１２は、状態遷移図データ取得部１１により取得された状態遷移図において、第１の状態から第２の状態に遷移するイベントが複数（種類）ある場合に、それらのイベントを１つの遷移イベントに集約し、その複数のイベントを遷移イベントの水準値にそれぞれ設定することとする。すなわち、本実施形態において、遷移イベントの種類とは、該遷移イベントに集約した各々のイベントを表す。
【００２２】
図３には、図２に示した状態遷移図における遷移イベントを集約した例を示した。図３（ａ）に示されるように、例えば状態Ａから状態Ｂに遷移するイベントａ１，ａ２，ａ３を遷移イベントａ、状態Ｂから状態Ｃに遷移するイベントｂ１，ｂ２を遷移イベントｂ、状態Ｃから状態Ａに遷移するイベントｃ１，ｃ２を遷移イベントｃとして表す。そして、図３（ｂ）に示されるように、遷移イベント（因子）の水準として、因子ａについては、水準ａ１，ａ２，ａ３、因子ｂについては、水準ｂ１，ｂ２、因子ｃについては、水準ｃ１，ｃ２をそれぞれ設定する。
【００２３】
遷移パス生成部１３は、遷移イベントが集約された状態遷移図において、状態遷移を網羅するための遷移パスを生成する。例えば、遷移パス生成部１３は、Ｎスイッチカバレッジ（Ｎは０以上の整数）により遷移パスを生成することとしてよい。
【００２４】
図４（ａ）には、図３（ａ）に示した状態遷移図において生成される遷移パスの一例を示した。図４（ａ）に示される遷移パスは、状態Ａを始点として、遷移イベントａにより状態Ａから状態Ｂに遷移し、遷移イベントｂにより状態Ｂから状態Ｃに遷移し、遷移イベントｃにより状態Ｃから状態Ａに遷移することを示した情報であり、これにより全ての状態及び状態遷移が網羅されている。
【００２５】
因子・水準情報設定部１４は、遷移パス生成部１３により生成した遷移パスに基づいて、遷移イベントを因子、遷移イベントに含まれるイベントを水準に設定する。
【００２６】
図４（ｂ）には、図４（ａ）に示した遷移パスについて設定される因子と水準の例を示した。
【００２７】
直交表サイズ設定部１５は、因子・水準情報設定部１４により設定される因子を割り付ける基礎となる直交表（行列）のサイズを設定する。なお、直交表とは，正の整数の集合Ｓ＝｛０，１，２，……，ｓ−１｝に対して，行数がλ×ｓ２，列数がｍの行列Ａを考えた時に，Ａの任意の２列に対して，すべての順序対Ｓ×Ｓ＝｛（０，０），（０，１），…，（０，（ｓ−１）），（１，０），（１，１），…，（（ｓ−１），（ｓ−１））｝がちょうどλ個現れる場合の行列Ａのことを指す。そして、Ｌ４直交表とは、行数が４、列数が３の直交表である。
【００２８】
図５には、直交表サイズの指定を受け付けるインターフェースの一例を示した。図５は、水準集約法、Ｌ４直交表が選択された例を示しており、このように直交表サイズ設定部１５は、設定画面で入力された情報に基づいて直交表のサイズを設定することとしてよい。
【００２９】
因子割付部１６は、直交表サイズ設定部１５により設定されたサイズの直交表に基づき生成した行列に対して、因子・水準情報設定部１４により設定されたそれぞれの因子を割り付ける。例えば、因子割付部１６は、直交表サイズ設定部１５により設定されたサイズの直交表を横に繋げた表を生成し（すなわち、水準集約法による表拡張を実行し）、生成した表に因子を割り付けることとしてよい。
【００３０】
図６には、因子割付部１６により水準集約法でＬ４直交表に基づくテストマトリクス（行列）に割り付けられた因子・水準の例を示した。テストマトリクスにおける各行が状態遷移テストの１つのテストケースに対応している。
【００３１】
総当り表生成部１７は、因子割付部１６によりテストマトリクスに割り付けられた因子・水準の総当たり表を生成する。
【００３２】
図７には、図６の割付例に対して総当り表生成部１７により生成された総当り表の例を示した。なお、図７に示した総当り表において、Ｉ／Ｊが記入されていない箇所は、網羅されていない因子・水準の組み合わせを示しており、Ｉ／Ｊが記入されている箇所は、網羅されている因子・水準の組み合わせを示している。ここで、Ｊは、テストケースにおいて出現する回数を表しており、Ｉはテストにおけるバグの回数を表すこととしてよい。
【００３３】
網羅距離設定部１８は、テスト対象の遷移パスにおいて網羅すべき遷移イベントの組み合わせとして、任意の状態に対して指定された距離内にある他の状態に遷移する全ての遷移イベントの組を設定する。例えば、距離１が指定された場合には、任意の状態について距離が１となる状態との遷移イベントの組、例えば、状態ｉに対して状態ｉから状態（ｉ＋１）に遷移する遷移イベントＩと、状態（ｉ−１）から状態ｉに遷移する遷移イベント（Ｉ−１）の関係を網羅するようにする。また、距離ｄが指定された場合には、遷移パスにおいて、一の因子と（ｄ−１）個以内の因子を介して接続される他の因子との関係を網羅するようにする。
【００３４】
図８には、網羅距離を指定するインターフェースの一例を示した。図８に示した設定画面の例では、網羅すべき２つの状態（２パラメータ）の組み合わせの距離が指定可能となっている。そして、網羅距離設定部１８は、設定画面で指定された距離を網羅距離として設定することとしてよい。
【００３５】
追加因子・水準情報抽出部１９は、網羅距離設定部１８により設定された網羅距離に基づいて、網羅すべき因子・水準の組み合わせの条件（網羅条件）を生成し、生成した条件に合致する因子・水準の組であって、因子割付部１６により割り付けられていない因子・水準の組を抽出する。
【００３６】
図９には、網羅条件の一例を示した。図９に示される網羅条件は、図３（ａ）に示した状態遷移図において、網羅距離１が設定された場合に生成されるものである。図９に示される網羅条件は、因子（遷移イベント）ａと因子（遷移イベント）ｂの任意の値の組み合わせ、因子（遷移イベント）ｂと因子（遷移イベント）ｃの任意の値の組み合わせ、因子（遷移イベント）ｃと因子（遷移イベント）ａの任意の値の組み合わせを１００％網羅する条件となっている。
【００３７】
追加因子・水準情報抽出部１９は、例えば、総当り表生成部１７により生成した総当り表の中から、網羅条件を満足する因子・水準の組であって、因子割付部１６により割り付けられていない因子・水準の組を抽出する。ここで、図１０には、追加因子・水準情報抽出部１９により図７に示した総当り表において抽出される因子・水準の組を丸印で示した。
【００３８】
テストマトリクス生成部２０は、追加因子・水準情報抽出部１９により抽出された因子・水準の組に基づく追加行を、直交表サイズ設定部１５により設定されたサイズの直交表に基づく基礎のテストマトリクスに追加して、指定した条件が満足されたテストマトリクスを生成する。
【００３９】
図１１には、テストマトリクス生成部２０により生成されるテストマトリクスの一例を示した。図１１に示した例では、図６に示した基礎のテストマトリクスに対して、テストケースのＩＤが５及び６の行が追加されている。ここで、追加行は、図１０に示した因子ａと因子ｂについての（ａ２，ｂ１）と（ａ３，ｂ１）、因子ｃと因子ａについての（ｃ１，ａ２）と（ｃ２，ａ３）とを網羅する（ａ２，ｂ１，ｃ１，ａ２）と（ａ３，ｂ１，ｃ２，ａ３）となっている。
【００４０】
図１２には、テストマトリクス生成部２０により生成されたテストマトリクスの総当り表を示した。図１２に示されるように、テストマトリクス生成部２０により生成されたテストマトリクスでは、隣接する因子についての組み合わせの網羅率が１００％となっている。
【００４１】
テストマトリクス出力部２１は、テストマトリクス生成部２０により生成されたテストマトリクスを出力する。例えば、テストマトリクスの出力には、テストマトリクスを表示装置に表示させること、テストマトリクスをデータ送信させること、テストマトリクスを印刷出力させること等を含むこととしてよい。
【００４２】
［２．テスト設計支援装置１０により実行される処理の説明］
次に、図１３及び図１４に示されたフローチャートを参照しながら、テスト設計支援装置１０により実行される処理の詳細を説明する。
【００４３】
図１３に示されるように、テスト設計支援装置１０は、状態遷移図のデータ（例えば図２等のデータ）を取得し（Ｓ１０１）、取得した状態遷移図に含まれる全ての状態（Ｓ１〜ＳＭ）を抽出する（Ｓ１０２）。
【００４４】
テスト設計支援装置１０は、変数ｉ及びｊを１に初期化して（Ｓ１０３）、ＳｉからＳｊに遷移するイベントがある場合には（Ｓ１０４：Ｙ）、ＳｉからＳｊに遷移するイベント数Ｅｉｊを取得し（Ｓ１０５）、取得したイベント数を水準数とする遷移イベント（因子）Ｔｉｊを設定する（Ｓ１０６）。
【００４５】
テスト設計支援装置１０は、ＳｉからＳｊに遷移するイベントがない場合（Ｓ１０４：Ｎ）、又はＳ１０６の後に、変数ｊがＭに達していない場合には（Ｓ１０７：Ｎ）、ｊをインクリメント（ｊに１加算）して（Ｓ１０８）、Ｓ１０４に戻る。また、テスト設計支援装置１０は、Ｓ１０７で変数ｊがＭに達している場合には（Ｓ１０７：Ｙ）、Ｓ１０９に進む。
【００４６】
テスト設計支援装置１０は、Ｓ１０９で、変数ｉがＭに達していない場合には（Ｓ１０９：Ｎ）、ｊを１に初期化するとともにｉをインクリメント（ｉに１加算）して（Ｓ１１０）、Ｓ１０４に戻る。また、テスト設計支援装置１０は、Ｓ１０９で変数ｉがＭに達している場合には（Ｓ１０９：Ｙ）、Ｓ１１１に進む。
【００４７】
テスト設計支援装置１０は、例えばユーザから受け付けたデータに基づいて、スイッチカバレッジ数（Ｎ）を設定するとともに（Ｓ１１１）、状態Ｓ１〜ＳＭのうち始点（Ｓｐ）を設定する（Ｓ１１２）。
【００４８】
そして、テスト設計支援装置１０は、設定した始点Ｓｐと、Ｓｐからの他の状態に遷移する遷移イベントに基づき、Ｎスイッチカバレッジによるパス情報Ｐ１〜Ｐｋを生成する（Ｓ１１３）。Ｓ１１３以降の処理については、図１４に示したフローチャートを参照しながら説明する。
【００４９】
図１４に示されるように、テスト設計支援装置１０は、変数ｉを１に初期化して（Ｓ２０１）、パス情報Ｐｉに基づいて、Ｐｉに含まれる遷移イベントの因子、水準を設定する（Ｓ２０２）。
【００５０】
次に、テスト設計支援装置１０は、例えばユーザから受け付けたデータに基づいて、利用する直交表のサイズを設定し（Ｓ２０３）、設定したサイズの直交表に基づくテストマトリクスを生成する（Ｓ２０４）。例えば、テスト設計支援装置１０は、水準集約法により設定したサイズの直交表を横に２つ接続したテストマトリクスを生成することとしてよい。そして、テスト設計支援装置１０は、生成したテストマトリクスに対して、Ｓ２０２で設定した因子を割り付ける（Ｓ２０５）。
【００５１】
ここで、テスト設計支援装置１０は、例えばユーザからの指示に応じて、因子を割り付けたテストマトリクスについての総当り表（例えば図７参照）を生成する（Ｓ２０６）。
【００５２】
次に、テスト設計支援装置１０は、例えばユーザから受け付けたデータに応じて、パス情報Ｐｉに含まれる状態間の遷移イベント（因子）のうち、組み合わせを１００％網羅すべき因子間の距離を設定し（Ｓ２０７）、設定された距離内の因子の組合せであって追加が必要な因子の組合せを抽出する抽出条件を生成する（Ｓ２０８）。例えば、抽出条件とは、Ｓ２０７で設定された距離内の複数因子の全水準の組み合わせのうち、Ｓ２０５で割り付けられていない組み合わせを抽出する条件としてよい。
【００５３】
テスト設計支援装置１０は、Ｓ２０８で生成した抽出条件に基づいて、例えばＳ２０６で生成した総当り表から因子、水準の組を抽出する（Ｓ２０９）。
【００５４】
ここで、テスト設計支援装置１０は、Ｓ２０９で抽出された因子、水準の組がある場合には（Ｓ２１０：Ｙ）、抽出された因子、水準の組に基づいて追加すべきテスト行を生成し（Ｓ２１１）、生成したテスト行をＳ２０４で生成されたテストマトリクスに追加してテストマトリクスを更新する（Ｓ２１２）。
【００５５】
テスト設計支援装置１０は、Ｓ２０９で抽出された因子、水準の組がない場合（Ｓ２０９：Ｎ）、又はＳ２１２の後には、Ｓ２１３に進む。
【００５６】
テスト設計支援装置１０は、Ｓ２１３で、変数ｉがｋに達していない場合には（Ｓ２１３：Ｎ）、ｉをインクリメント（ｉに１加算）して（Ｓ２１４）、Ｓ２０２に戻り、変数ｉがｋに達した場合には（Ｓ２１３：Ｙ）、生成されたテストマトリクスを出力して（Ｓ２１５）、処理を終了する。
【００５７】
本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。また、以上説明したテスト設計支援装置１０により生成されたテストマトリクスの列ごとに、当該列の水準数に応じた因子及び水準の具体的な値を割り付けた後に、テストマトリクスの行ごとのテストケースを順次実行することとしてよい。
【符号の説明】
【００５８】
１０  テスト設計支援装置、１１  状態遷移図データ取得部、１２  遷移イベント集約部、１３  遷移パス生成部、１４  因子・水準情報設定部、１５  直交表サイズ設定部、１６  因子割付部、１７  総当り表生成部、１８  網羅距離設定部、１９  追加因子・水準情報抽出部、２０  テストマトリクス生成部、２１  テストマトリクス出力部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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