(57)【要約】【課題】光トランシーバに接続される光ファイバとのウィグル特性を簡便且つ再現性よく検査する。【解決手段】ウィグル特性検査方法は、光トランシーバ１を搭載する基板６の端部から所定距離離して基板６に直交し且つ基板端部に平行な方向に設けられたリング状の検査治具（リング部材）８により、光トランシーバ１のウィグル特性を検査する。上記方法は、光トランシーバ１の光ファイバ引き出し点がリング部材８の中心と一致するように、光トランシーバ１を基板６にセットする工程と、光トランシーバ１に搭載された半導体光素子を動作させる工程と、光トランシーバ１から引き出した光ファイバ１１を光トランシーバ１の光軸に対して傾けた状態で、リング部材８のリング内周面に沿って移動させ、光トランシーバ１のウィグル特性を検査する工程とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光トランシーバを搭載する基板の端部から所定距離離して該基板に直交し且つ該端部に平行な方向に設けられたリング状の検査治具により、前記光トランシーバのウィグル特性を検査するウィグル特性検査方法であって、
前記光トランシーバの光ファイバ引き出し点が前記検査治具の中心と一致するように、前記光トランシーバを前記基板にセットする工程と、
前記光トランシーバに搭載された半導体光素子を動作させる工程と、
前記光トランシーバから引き出した光ファイバを該光トランシーバの光軸に対して傾けた状態で、前記検査治具のリングに沿って移動させ、前記光トランシーバのウィグル特性を検査する工程とを備えたことを特徴とするウィグル特性検査方法。
【請求項２】
前記検査治具のリングに、前記光トランシーバから引き出した光ファイバを傾けた状態で保持するための複数の凹部が形成されており、該複数の凹部の位置で、前記ウィグル特性を検査することを特徴とする請求項１に記載のウィグル特性検査方法。
【請求項３】
前記検査治具のリングに、前記光トランシーバから引き出した光ファイバを傾けた状態で保持するための光ファイバ保持部材が設けられており、該光ファイバ保持部材を前記リングに沿って移動させながら、前記ウィグル特性を検査することを特徴とする請求項１に記載のウィグル特性検査方法。
【請求項４】
前記光トランシーバから引き出した光ファイバは、前記光ファイバ引き出し点から所定長に渡ってスプリング部材によって保護されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載のウィグル特性検査方法。
【請求項５】
前記検査治具のリング上の任意の一点と前記光ファイバ引き出し点とを結ぶ線分と、前記光トランシーバの光軸とのなす角度が、前記光ファイバ引き出し点から所定長離した箇所に所定重量の負荷を与えたときの前記光ファイバと、前記光トランシーバの光軸とのなす角度になるように、前記基板の端部と前記検査治具との距離を調整することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のウィグル特性検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光トランシーバに接続される光ファイバとのウィグル特性を検査するための検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光トランシーバは、レーザダイオード（ＬＤ）およびフォトダイオード（ＰＤ）を搭載する光デバイスと、これらの光デバイスと外部の光ファイバとの間で光結合させるための光結合ユニットとで構成されている。外部の光ファイバの先端にはフェルールが付属しているが、このフェルールは円柱形状をなし、その中心軸に光ファイバが挿通されている。そして、光結合ユニットは、一般に、光レセプタクル内に円筒形状のスリーブを有し、このスリーブ内にはファイバスタブが内蔵されている。そして、スリーブ内に光ファイバのフェルールを装着することで、光ファイバと光デバイスとの間の光学調芯がなされる。この際、スリーブの内径とフェルールの外径とをほぼ同じに設定することで、光ファイバをスリーブの中心に位置させることが可能となり、光ファイバと光デバイスとの間で光結合が実現される。
【０００３】
上記のスリーブとしては、大きく二種類のものが知られている。一方は、所謂割れスリーブと呼ばれる形態のもので、スリーブの軸方向、すなわち、中心軸に並行な方向にスリットが形成されている。フェルールが挿通されていない状態では、スリーブの内径はフェルールの外径よりも小さくなっており、フェルールをスリーブに挿入する際に、スリットによりスリーブ内径を広げながら、スリーブ内に挿入され、その中心位置、すなわち、外部光ファイバのスリーブ内での位置が決定される。他方は、スリットを設けずに、スリーブの内径をフェルールの外径よりも僅か（数μｍ）程度大きくして、その範囲内で、フェルールに保持されている外部光ファイバの位置をスリーブ内で決定するものである。このようなタイプは一般に「精密スリーブ」と呼ばれる。
【０００４】
上記のようなフェルール、スリーブを用いた光学調芯系では、以下のような問題がある。特に、精密スリーブを用いた系では、フェルールとスリーブとの間に僅かな隙間（数μｍ程度）を設けるため、この隙間の範囲で光ファイバの中心軸がスリーブ内で動き得る。例えば、光ファイバに応力を加えたときにフェルールが隙間の範囲内で動いてしまい、結果として、光ファイバのフェルールとスリーブ内のファイバスタブとの間で光軸ずれを起こし、光ファイバと光デバイスとの間の光結合効率が変動してしまう。この現象は応力がそれほど大きくない場合でも起こり得る。これを一般にウィグル（Ｗｉｇｇｌｅ）特性と呼んでいる（例えば、特許文献１を参照）。
【０００５】
具体的には、光ファイバのフェルールをスリーブ内に挿入した後、フェルールから延びる光ファイバを軽くくねらせたときに、光ファイバと光デバイスとの間の光結合効率が変動する。すなわち、光トランシーバのＬＤでは、外部の光ファイバを介して得られる信号光の強度が変化し、また、光トランシーバのＰＤでは、受信光の強度が変化する。なお、割れスリーブが採用されている光トランシーバでは、このウィグル特性の変化はそれ程顕著に認められないものの、例えば、割れスリーブのスリットを広げる方向に光ファイバが揺すられたときなどには、光結合効率の変動が観測される。このため、光トランシーバの各メーカではウィグル特性試験が実施されている。
【０００６】
図１０は、特許文献１に記載されたウィグル特性試験を説明するための図である。光レセプタクル１０１には、発光素子１０２がＹＡＧ溶接等により結合される。光レセプタクル１０１は固定治具１０３の一端側に固定され、プラグフェルールを有する光コネクタ１０４は固定治具１０３の他端側に固定される。光レセプタクル１０１と光コネクタ１０４とは対向する状態で固定治具１０３に固定される。光コネクタ１０４は光ファイバ１０７の一端に接続され、光ファイバ１０７の他端には光コネクタ１０９が接続される。光コネクタ１０９は光パワーメータ１１０に接続され、発光素子１０２からの光出力を測定する。
【０００７】
図１０の例では、光コネクタ１０４の端（重り位置起点１０５）から１ｍ離れた位置を重り位置１０６として、３５０ｇｆの重り１０８が光ファイバ１０７に取り付けられている。そして、固定治具１０３は、水平からの傾き角度１１１が４５°に固定され、さらに、発光素子１０２から光を出力させたまま、光軸１１２を中心として、３６０°の範囲の回転角度１１３を固定治具１０３に与えて固定治具１０３を回転させ、光パワーメータ１１０で光パワーを測定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−７７０６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来、ウィグル特性の試験方法は厳密に定義されておらず、各メーカが独自に定めた方法によりウィグル特性を評価しているのが実情である。上記特許文献１に記載の方法もメーカ独自に定められた方法であるが、特殊な固定治具を必要とするため、簡便な検査方法とは言えなかった。より簡便な方法として、例えば、検査対象の光トランシーバを水平方向に保持した状態で、外部光ファイバのプラグフェルールが挿入される光レセプタクルのエッジから約１.５ｃｍの箇所に１００ｇの負荷を作用させ、外部の光ファイバをその先端のプラグフェルールを中心として、３６０°回転させる、といった方法もある。そして、光トランシーバのＬＤの場合、そのときの光出力の変動（最大値−最小値）が、所定の光出力強度に対して、例えば３０％以内である、等の規定によりウィグル特性を評価する。
【００１０】
上記方法の場合、光ファイバに所定重量の負荷（重り）が付与されるため、光ファイバが光トランシーバの光軸に対して傾くことになる。そして、この傾いた光ファイバを作業者が手動でプラグフェルールを中心として３６０°回転させるが、この光ファイバの傾き角度は作業者の目分量によるため、光ファイバに付与される応力が一定せず、ウィグル特性を再現性よく評価することができなかった。
【００１１】
本発明は、上述のような実情に鑑みてなされたもので、光トランシーバに接続される光ファイバとのウィグル特性を簡便且つ再現性よく検査するためのウィグル特性検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明によるウィグル特性検査方法は、光トランシーバを搭載する基板の端部から所定距離離して基板に直交し且つ端部に平行な方向に設けられたリング状の検査治具により、光トランシーバのウィグル特性を検査するウィグル特性検査方法であって、光トランシーバの光ファイバ引き出し点が検査治具の中心と一致するように、光トランシーバを基板にセットする工程と、光トランシーバに搭載された半導体光素子を動作させる工程と、光トランシーバから引き出した光ファイバを光トランシーバの光軸に対して傾けた状態で、検査治具のリングに沿って移動させ、光トランシーバのウィグル特性を検査する工程とを備える。
【００１３】
また、検査治具のリングに、光トランシーバから引き出した光ファイバを傾けた状態で保持するための複数の凹部が形成されており、複数の凹部の位置で、ウィグル特性を検査することが好ましい。
【００１４】
また、検査治具のリングに、光トランシーバから引き出した光ファイバを傾けた状態で保持するための光ファイバ保持部材が設けられており、光ファイバ保持部材をリングに沿って移動させながら、ウィグル特性を検査することが望ましい。
【００１５】
また、光トランシーバから引き出した光ファイバは、光ファイバ引き出し点から所定長に渡ってスプリング部材によって保護されていることが望ましい。
【００１６】
また、検査治具のリング上の任意の一点と光ファイバ引き出し点とを結ぶ線分と、光トランシーバの光軸とのなす角度が、光ファイバ引き出し点から所定長離した箇所に所定重量の負荷を与えたときの光ファイバと、光トランシーバの光軸とのなす角度になるように、基板の端部と検査治具との距離を調整することが好ましい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、光トランシーバの光軸に対する外部光ファイバの傾きをリング状の検査治具により一定の角度に維持することができるため、外部光ファイバと、光トランシーバに内蔵された光デバイスとの間におけるウィグル特性を簡便且つ再現性よく検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】ウィグル特性の検査対象である光トランシーバの一例を示す図である。
【図２】本発明による検査治具およびその周辺構成の一例を示す図である。
【図３】光トランシーバとリング部材との位置関係の一例を示す図である。
【図４】図２に示すリング部材の組立工程を説明するための図である。
【図５】本発明による検査治具およびその周辺構成の他の例を示す図である。
【図６】図５に示すリング部材の組立工程を説明するための図である。
【図７】本発明による検査治具の更に他の例を示す図である。
【図８】図７に示す光ファイバ保持部材およびその近傍のＸＸ断面を示す図である。
【図９】検査治具のその他の変形例を示す図である。
【図１０】特許文献１に記載されたウィグル特性試験を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１は、ウィグル特性の検査対象である光トランシーバの一例を示す図である。図中、１は光トランシーバ、２は筐体、３は光レセプタクルを示す。光レセプタクル３は、ＬＤ（発光モジュール）と外部光ファイバとを光結合するための送信側レセプタクル３ａと、ＰＤ（受光モジュール）と外部光ファイバとを光結合するための受信側レセプタクル３ｂとからなる。光トランシーバ１としては、ＳＦＰ型に限らず、例えば、ＳＦＰ＋型、ＸＦＰ型といった規格に準拠したものであってもよい。
【００２０】
以下では、外部光ファイバと光トランシーバ１のＬＤ（発光モジュール）との間におけるウィグル特性を検査する場合を例示して説明するが、本発明は、光トランシーバ１のＰＤ（受光モジュール）との間におけるウィグル特性を検査する場合についても同様に適用することができる。なお、ＬＤと外部光ファイバとを光結合する送信側レセプタクル３ａには図示しないスリーブが設けられ、このスリーブ内にはファイバスタブが内蔵されているものとする。
【００２１】
図２は、本発明による検査治具およびその周辺構成の一例を示す図である。図２（Ａ）は検査治具およびその周辺構成を斜めから見た図を示し、図２（Ｂ）は検査治具およびその周辺構成を側面から見た図を示す。図中、５はケージ、６は基板（検査基板）、７は電源供給部、８は検査治具（以下、リング部材という）、９は一対の脚部、１０は光ファイバ保護部材、１１は光ファイバ、１２は負荷（重り）、１３は光パワーメータ、１４はスプリング部材を示す。光トランシーバ１のＬＤには電源供給部７から電力が供給され、ＬＤから光ファイバ１１を介して送信された光信号の光パワーを光パワーメータ１３で測定し、ウィグル特性を検査する。
【００２２】
基板６上には、光トランシーバ１をセットするためのケージ５が装着されている。ケージ５は、光トランシーバ１がセットされたときに、光トランシーバ１の光レセプタクル３が基板６の端部よりも突出するように配置されている。また、光トランシーバ１の送信側レセプタクル３ａからは光ファイバ１１が引き出されている。この光ファイバ１１は、先端部の樹脂被覆が除去されており、露出した裸光ファイバにプラグフェルールが付加されている。このプラグフェルールとしては、例えば、一般的なＬＣ型光プラグに用いられるフェルールと同じものを用いることができる。
【００２３】
リング部材８は、リング形状をなす検査治具であって、基板６の端部から所定距離離して基板６に直交し且つ基板端部（基板端面）に平行な方向に設けられている。リング部材８には円孔を挟むように一対の脚部９が設けられ、この一対の脚部９がケージ５を挟むように基板６に取り付けられている。また、リング部材８は、リング部材８の中心が、ケージ５にセットされた光トランシーバ１の光ファイバ引き出し点と一致するように配置されている。本例の場合、図３に示すように、光ファイバ引き出し点は送信側レセプタクル３ａに相当する。すなわち、リング部材８の円孔中心が送信側レセプタクル３ａの中心に一致するように、リング部材８が配置されている。
【００２４】
図４は、図２に示すリング部材８の組立工程を説明するための図である。図４（Ａ）に示すように、リング部材８と一対の脚部９とがネジ８ａにより固定され、図４（Ｂ）に示す組立状態とされる。そして、一対の脚部９それぞれには長孔９ａが形成されており、この長孔９ａによりリング部材８が基板６にネジ止め固定される。
【００２５】
次に、図２に基づきウィグル特性検査方法について説明する。まず、光トランシーバ１の光ファイバ引き出し点（すなわち、送信側レセプタクル３ａの中心）がリング部材８の中心と一致するように、光トランシーバ１を基板６にセットする。すなわち、光トランシーバ１を基板６上のケージ５にセットする。次に、光トランシーバ１に搭載された半導体光素子の一例であるＬＤに電源供給部７から電力を供給し、ＬＤを動作させる。次に、光トランシーバ１から引き出した光ファイバ１１を光トランシーバ１の光軸に対して傾けた状態で、リング部材８のリング内周面に沿って移動させ、光ファイバ１１と光トランシーバ１のＬＤとのウィグル特性を検査する。
【００２６】
ここで、リング部材８のリング内周面の任意の一点と光ファイバ引き出し点とを結ぶ線分と、光トランシーバ１の光軸とのなす角度が、光ファイバ引き出し点から所定長離した箇所に所定重量の負荷１２を与えたときの光ファイバ１１と、光トランシーバ１の光軸とのなす角度になるように、基板６の端部とリング部材８との距離Ｌを調整する。具体的には、前述したように、例えば、光ファイバ１１に対して、送信側レセプタクル３ａのエッジから約１.５ｃｍの箇所に、１００ｇの負荷１２を与えると、光ファイバ１１は光トランシーバ１の光軸に対して約３０°の角度で傾いて安定する。従って、リング部材８のリング内周面の任意の一点と光ファイバ引き出し点とを結ぶ線分と、光トランシーバ１の光軸とのなす角度が約３０°になるように、距離Ｌを調整する。
【００２７】
上記距離Ｌの調整は、一対の脚部９それぞれに形成された長孔９ａによって行うことができる。つまり、長孔９ａの位置を基板６上で図２（Ｂ）の左右方向に動かすことで、距離Ｌを調整することができる。この際、一対の脚部９は長孔９ａを介して基板６にネジ止め固定される。なお、試験条件が大きく異なる場合などに、距離Ｌの調整だけでは対応できないことが想定される。この場合、リング部材８の円孔径、一対の脚部９の長さ等を変更したものを適宜作製すればよい。
【００２８】
光ファイバ１１は、上述したように、先端にプラグフェルールが付加されており、このプラグフェルールが送信側レセプタクル３ａ内のスリーブに挿入される。そして、プラグフェルールから外部へ延びる光ファイバ１１は、所定長（〜１ｃｍ程度）に渡ってスプリング部材１４によって保護され、さらに、光ファイバ保護部材１０によって保護される。なお、光ファイバ保護部材１０、および上述のリング部材８、一対の脚部９は、例えば、アルミニウムで形成されている。この光ファイバ保護部材１０には中央部分にフランジが形成されており、例えば、このフランジ部分をリング部材８のリング内周面に押し当てることで、傾けた光ファイバ１１と、光トランシーバ１の光軸とのなす角度を一定にすることができる。
【００２９】
上記において、光ファイバ保護部材１０は、後述の図６（Ａ）に示すように、光トランシーバ１側の端部にスプリング部材１４の一部を収納するための内孔１０ｃを有する。このような構造により、光ファイバ保護部材１０をリング内周面の所定位置に固定したときに、スプリング部材１４を介して先端のプラグフェルールが押圧され、プラグフェルールとスリーブ内のファイバスタブとの密着性を高めることができる。
【００３０】
そして、作業者は、光ファイバ保護部材１０をリング部材８のリング内周面に沿って移動させ、リング部材８の例えば上下左右の４ヶ所における光パワー（光出力強度）を光パワーメータ１３で測定し、測定結果より最大値、最小値を求め、前述した規定に基づいて、ウィグル特性の評価を行う。このように、光トランシーバ１の光軸に対する光ファイバ１１の傾きをリング部材８により一定の角度に維持することができるため、光ファイバ１１と、光トランシーバ１に内蔵されたＬＤとの間におけるウィグル特性を簡便且つ再現性よく検査することができる。
【００３１】
なお、上記例では、リング部材８を一対の脚部９により基板６に固定し、リング部材８のリング内周面に沿って、光ファイバ１１（光ファイバ保護部材１０）を移動させて光トランシーバ１のウィグル特性を検査したが、リング部材８を基板６に固定せず、リング部材８と基板６とを別々に保持する構造としてもよい。この場合、一対の脚部９が不要となるため、光ファイバ１１（光ファイバ保護部材１０）をリング部材８のリング外周面に沿って移動させ、光トランシーバ１のウィグル特性を検査することが可能となる。
【００３２】
図５は、本発明による検査治具およびその周辺構成の他の例を示す図である。図中、１５は検査治具（リング部材）を示す。図２の例とはリング部材の形態が異なるが、その他の構成要素は同じである。本例のリング部材１５は、リング内周面に、光トランシーバ１から引き出した光ファイバ１１を傾けた状態で保持するための複数の凹部１５ａが形成されており、複数の凹部１５ａの位置で、ウィグル特性を検査する。本例の場合、リング内周面の上下左右の４ヶ所に凹部１５ａが形成されており、これら４ヶ所の凹部１５ａにより光ファイバ保護部材１０を安定して保持することができる。これにより、光出力強度の測定をより安定して行うことが可能となる。
【００３３】
図６は、図５に示すリング部材１５の組立工程を説明するための図である。図６（Ａ）に示すように、リング部材１５と一対の脚部９とがネジ１５ｂにより固定され、図６（Ｂ）に示す組立状態とされる。そして、一対の脚部９それぞれには長孔９ａが形成されており、この長孔９ａによりリング部材１５が基板６にネジ止め固定される。
【００３４】
また、図６（Ａ）に基づき、光ファイバ保護部材１０の組立工程について説明する。光ファイバ保護部材１０は、２つの部品１０ａ，１０ｂからなり、中央にフランジが形成されている。そして、このフランジ部分が２つのネジ１０ｅ（例えば、２.５ｍｍφ）で固定され、２つの部品１０ａ，１０ｂが一体的に組み立てられる。また、光ファイバ保護部材１０は、軸方向に内径の異なる内孔１０ｃ，１０ｄが形成されている。内孔１０ｃは、例えば、内径５ｍｍφで、長さ（深さ）１５ｍｍとし、この内孔１０ｃにスプリング部材１４の一部を収納する。また、内孔１０ｄは、例えば、内径３ｍｍφで、長さ（深さ）を任意とし、この内孔１０ｄから光ファイバ１１が引き出される。
【００３５】
上記において、光ファイバ保護部材１０をリング内周面の所定位置に固定したときに、スプリング部材１４は、光ファイバ保護部材１０の内孔１０ｃによって押圧される。このため、スプリング部材１４を介して先端のプラグフェルールが押圧され、プラグフェルールとスリーブ内のファイバスタブとの密着性を高めることができる。
【００３６】
なお、上記例では、光ファイバ保護部材１０を２つの部品で構成したが、一つの円柱材から削り出して作製することもできる。この場合、フランジ部分にネジが突き出ていないため、リング部材８のリング内周面を押し回す際に、ネジがリング内周面に干渉することがなく、より望ましいといえる。
【００３７】
図７は、本発明による検査治具の更に他の例を示す図である。図中、１６はリング部材、１７は光ファイバ保持部材を示す。本例のリング部材１６は、リング内周面の近傍に、光トランシーバ１から引き出した光ファイバ１１を傾けた状態で保持するための光ファイバ保持部材１７が設けられている。ここでは、光ファイバ保持部材１７が設けられたリング部材１６が検査治具に相当する。光ファイバ保持部材１７およびその近傍のＸＸ断面を図８に示す。この光ファイバ保持部材１７は、光ファイバ１１が挿通された光ファイバ保護部材１０を保持するリング状のホルダ１７ａと、リング部材１６のリング内周面に沿って移動する支持脚１７ｂとからなる。作業者は、光ファイバ保持部材１７をリング内周面に沿って移動させながら、ウィグル特性を検査する。
【００３８】
上記において、光ファイバ保持部材１７のホルダ１７ａは、リング形状をなし、光ファイバ保護部材１０の円筒部分あるいはフランジ部分を保持固定する。また、リング部材１６のリング内周面には、全周に渡って溝１６ａが形成されており、この溝１６ａに光ファイバ保持部材１７の支持脚１７ｂが移動可能に嵌め合わされる。また、リング部材１６の光トランシーバ１側の面と反対側の面には、光ファイバ保持部材１７を着脱させるための切り欠き１６ｂが形成されている。なお、この切り欠き１６ｂは、光トランシーバ１側の面に形成してもよい。
【００３９】
ここで、光ファイバ保持部材１７は、光ファイバ保護部材１０を保持し易いように、支持脚１７ｂに対してホルダ１７ａが傾いている。図８の例に示すように、ホルダ１７ａは光トランシーバ１と反対側の方向に向けて傾いている。これにより、光ファイバ保護部材１０の挿入方向に対して、ホルダ１７ａの面を約９０°に保持することができるため、光ファイバ保護部材１０をホルダ１７ａの円孔にしっかり固定することが可能となる。
【００４０】
図９は、検査治具のその他の変形例を示す図である。図中、１８はリング部材、１９は光ファイバ保持部材を示す。本例のリング部材１８は、図７の検査治具と同様に、リング内周面の近傍に、光トランシーバ１から引き出した光ファイバ１１を傾けた状態で保持するための光ファイバ保持部材１９が設けられているが、図７の検査治具とは、リング部材の溝の位置および光ファイバ保持部材の形状が異なっている。本例の場合も、図７の例と同様に、光ファイバ保持部材１９が設けられたリング部材１８が検査治具に相当する。
【００４１】
光ファイバ保持部材１９は、光ファイバ１１が挿通された光ファイバ保護部材１０を保持するリング状のホルダ１９ａと、リング部材１８のリング内周面に沿って移動する支持脚１９ｂとからなる。作業者は、光ファイバ保持部材１９をリング内周面に沿って移動させながら、ウィグル特性を検査する。
【００４２】
上記において、光ファイバ保持部材１９のホルダ１９ａは、リング形状をなし、光ファイバ保護部材１０の円筒部分あるいはフランジ部分を保持固定する。また、リング部材１８のリング内周面の近傍には、リング内周面を囲むように同心円状に溝１８ａが形成されており、この溝１８ａに光ファイバ保持部材１９の支持脚１９ｂが移動可能に嵌め合わされる。なお、本例の場合、溝１８ａは、リング部材１８の光トランシーバ１側の面と反対側の面であって、リング内周面の近傍に形成されているが、リング部材１８の光トランシーバ１側の面に形成してもよい。
【００４３】
ここで、光ファイバ保持部材１９は、光ファイバ保護部材１０を保持し易いように、支持脚１９ｂに対してホルダ１９ａが傾いている。図９の例に示すように、ホルダ１９ａは光トランシーバ１と反対側の方向に向けて傾いている。これにより、光ファイバ保護部材１０の挿入方向に対して、ホルダ１９ａの面を約９０°に保持することができるため、光ファイバ保護部材１０をホルダ１９ａの円孔にしっかり固定することが可能となる。
【００４４】
このように、図７〜図９で説明した実施例によれば、リング部材に光ファイバ保持部材を設けたため、全周に渡って、常に光ファイバを一定の角度で傾けることができる。これにより、光出力強度の測定をより安定して行うことができる。
【符号の説明】
【００４５】
１…光トランシーバ、２…筐体、３…光レセプタクル、３ａ…送信側レセプタクル、３ｂ…受信側レセプタクル、５…ケージ、６…基板、７…電源供給部、８，１５，１６，１８…リング部材、９…一対の脚部、９ａ…長孔、１０…光ファイバ保護部材、１１…光ファイバ、１２…負荷、１３…光パワーメータ、１４…スプリング部材、１７，１９…光ファイバ保持部材。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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