(57)【要約】      （修正有）【課題】個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにすること。【解決手段】発光素子と、その駆動回路と、発光素子から発せられた光を導光して出射端から放射する光ファイバと、を具備する要素光源のそれぞれの光ファイバの放射光を総合して１個の出力光束と成して出力する光源装置であって、光センサを有し、出力光束の光量に相関する光量測定データを得ることができ、制御回路は、要素光源の１個を選択し、選択された駆動回路が発光素子に規定電流を流す状態それ以外の全ての駆動回路が発光素子に電流を流さない状態になるように制御し、そのときの、光量測定データを取得することを、要素光源の全てに亘って順に選択して実行するシーケンスを実施し、取得された光量測定データからなる測定データ集合に基づいて異常を検知する。【選択図】図１
2014167610.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１個以上の発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）を駆動する駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）から発せられた光を集光する集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）と、前記集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）が集光した光を入射端（Ｅｉ１，Ｅｉ２，…）で受け導光して出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）から放射する光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）と、を具備するユニットを１個の要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）として、該要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の複数個を有し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の出力光束（Ｆｏ）と成して出力する光源装置であって、該光源装置は、さらに、光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）と、前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）からの信号を受信して前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）への入射光量を測定し光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成する光量測定回路（Ｈ，Ｈｘ，Ｈｙ，…）と、前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信するとともに前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）を制御する制御回路（Ｍｃ）と、を有し、前記光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の光束と成した、少なくともその一部を前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）に照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、状態Ａと状態Ｂとを、前記駆動回路が前記発光素子に規定電流を流す状態、または前記駆動回路が前記発光素子に電流を流さない状態の何れかとして、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の１個を選択し、選択された前記要素光源に属する少なくとも１個の前記駆動回路の状態Ａと、それ以外の全ての前記駆動回路の状態Ｂとが、異なる状態になるように制御し、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を取得することを、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の全てに亘って順に選択して実行するシーケンスを実施し、取得された前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）からなる測定データ集合に基づいて異常を検知することを特徴とする光源装置。  
【請求項２】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、選択された前記要素光源に属する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個を選択し、選択された前記駆動回路の状態Ａと、それ以外の全ての前記駆動回路の状態Ｂとを、異なる状態であるように制御し、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を取得することを、前記した選択された前記要素光源に属する前記駆動回路の全てに亘って順に選択して実行することを特徴とする請求項１に記載の光源装置。  
【請求項３】
前記状態Ａが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に規定電流を流す状態、前記状態Ｂが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に電流を流さない状態であることを特徴とする請求項１から２に記載の光源装置。  
【請求項４】
前記状態Ｂが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に規定電流を流す状態、前記状態Ａが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に電流を流さない状態であることを特徴とする請求項１から２に記載の光源装置。  
【請求項５】
前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）は、発光波長が複数種類の異なる波長帯域に属するものを含んでおり、前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）は、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）を備えた複数個のもので構成してあり、光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの複数種類の波長帯域の放射光を総合して１個の光束と成して、少なくともその一部を、複数個の前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）のそれぞれに照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記出力光束（Ｆｏ）のなかのそれぞれの前記波長帯域の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、前記シーケンスにおける前記測定データ集合の生成に際しては、少なくとも前記制御回路（Ｍｃ）が規定電流を流す状態にされている前記発光素子が存在する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データを取得することを特徴とする請求項１から４に記載の光源装置。  
【請求項６】
前記測定データ集合に対応する、光源装置が正常な状態である場合に取得されるべきデータ集合を予め準備し、これと、実際に取得した前記測定データ集合とを比較することを特徴とする請求項１から５に記載の光源装置。  
【請求項７】
前記測定データ集合のなかで、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの特定の前記要素光源に属する前記駆動回路が規定電流を流す状態に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）の全てにおいて、光量の有意な不足を検知した場合には、前記した特定の前記要素光源に属する前記光ファイバの異常を検知することを特徴とする請求項１から６に記載の光源装置。  
【請求項８】
前記測定データ集合のなかで、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちの、前記した異常が検知された前記光ファイバを含む前記要素光源に属さない、特定の前記駆動回路に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）において、光量の有意な不足を検知した場合には、前記した特定の前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組の異常を検知することを特徴とする請求項２から７に記載の光源装置。  
【請求項９】
前記シーケンスを実施していない期間において、前記制御回路（Ｍｃ）は、それぞれの前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）が、それぞれの目標値との誤差が小さくなるよう、それぞれの前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）が前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に流す電流値をフィードバック制御によって調整することを特徴とする請求項１から８に記載の光源装置。  
【請求項１０】
前記出力光束（Ｆｏ）を利用する外部機器が出力する異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信可能とし、該異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信したときに前記シーケンスを開始することを特徴とする請求項１から９に記載の光源装置。  
【請求項１１】
前記出力光束（Ｆｏ）を利用する外部機器が出力するシーケンスステップ信号（Ｓｓ）を受信可能とし、該シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を受信したときに前記シーケンスにおける、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択した後の、前記した、前記駆動回路のうちの少なくとも１個の選択から開始してそのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）の取得で終了する一連の工程を１個のステップとして開始することを特徴とする請求項１から１０に記載の光源装置。  
【請求項１２】
請求項１から１０に記載の光源装置を利用して画像を投影表示するプロジェクタであって、前記異常検知起動信号（Ｓｂ）または前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を前記光源装置に送信することを特徴とするプロジェクタ。  
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、プロジェクタなどの光学装置において使用可能な、半導体レーザなどの発光素子と光ファイバを用いた光源装置に関する。  
【背景技術】
【０００２】
例えば、ＤＬＰ(TM)プロジェクタや液晶プロジェクタのような画像表示用のプロジェクタや、フォトマスク露光装置においては、これまで、キセノンランプや超高圧水銀ランプなどの高輝度放電ランプ（ＨＩＤランプ）が使用されてきた。  
一例として、本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図である、図４を用いてプロジェクタの原理について述べる（参考：特開２００４−２５２１１２号など）。
【０００３】
前記したように、高輝度放電ランプ等からなる光源（ＳｊＡ）からの光は、凹面反射鏡やレンズ等からなる集光手段（図示を省略）の助けを借りるなどして、光均一化手段（ＦｍＡ）の入射端（ＰｍｉＡ）に入力され、射出端（ＰｍｏＡ）から出力される。  
ここで、前記光均一化手段（ＦｍＡ）として、例えば、光ガイドを使うことができ、これは、ロッドインテグレータ、ライトトンネルなどの名称でも呼ばれており、ガラスや樹脂などの光透過性の材料からなる角柱によって構成され、前記入射端（ＰｍｉＡ）に入力された光は、光ファイバと同じ原理に従って、前記光均一化手段（ＦｍＡ）の側面で全反射を繰り返しながら、前記光均一化手段（ＦｍＡ）の中を伝播することにより、仮に前記入射端（ＰｍｉＡ）に入力された光の分布にムラがあったとしても、前記射出端（ＰｍｏＡ）上の照度が十分に均一化されるように機能する。
【０００４】
なお、いま述べた光ガイドに関しては、前記した、ガラスや樹脂などの光透過性の材料からなる角柱によって構成されるものの他に、中空の角筒で、その内面が反射鏡になっており、同様に内面で反射を繰り返しながら光を伝播させ、同様の機能を果たすものもある。
【０００５】
前記射出端（ＰｍｏＡ）の四角形の像が、２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）上に結像されるよう、照明レンズ（Ｅｊ１Ａ）を配置することにより、前記射出端（ＰｍｏＡ）から出力された光によって前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）が照明される。  
ただし、図４においては、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ａ）と前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）との間にミラー（ＭｊＡ）を配置してある。
そして前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）は、映像信号に従って、画素毎に光を投影レンズ（Ｅｊ２Ａ）に入射される方向に向かわせる、あるいは入射されない方向に向かわせるように変調することにより、スクリーン（Ｔｊ）上に画像を表示する。
【０００６】
なお、前記したような２次元光振幅変調素子は、ライトバルブと呼ばれることもあり、図４の光学系の場合は、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）として、一般にＤＭＤ(TM)（ディジタル・マイクロミラー・デバイス）が使われることが多い。  
【０００７】
光均一化手段に関しては、前記した光ガイドの他に、フライアイインテグレータという名称で呼ばれるものもあり、この光均一化手段を使ったプロジェクタについて、一例として、本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図である、図５を用いてその原理を述べる（参考：特開２００１−１４２１４１号など）。
【０００８】
高輝度放電ランプ等からなる光源（ＳｊＢ）からの光は、凹面反射鏡やレンズ等からなるコリメータ手段（図示を省略）の助けを借りるなどして、略平行光束として、フライアイインテグレータによる光均一化手段（ＦｍＢ）の入射端（ＰｍｉＢ）に入力され、射出端（ＰｍｏＢ）から出力される。  
ここで、前記光均一化手段（ＦｍＢ）は、入射側の前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）と射出側の後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）と照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の組合せで構成される。  
前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）ともに、同一焦点距離、同一形状の四角形のレンズを、縦横それぞれに多数並べたものとして形成されている。
【０００９】
前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）の各レンズと、それぞれの後段にある、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の対応するレンズとは、ケーラー照明と呼ばれる光学系を構成しており、したがって、ケーラー照明光学系が縦横に多数並んでいることになる。  
一般にケーラー照明光学系とは、２枚のレンズから構成され、前段レンズが光を集めて対象面を照明するに際し、前段レンズは、対象面に光源像を結像するのではなく、後段レンズ中央の面上に光源像を結像し、後段レンズが前段レンズの外形の四角形を対象面（照明したい面）に結像するよう配置することにより、対象面を均一に照明するものである。  
後段レンズの働きは、もしこれが無い場合は、光源が完全な点光源でなく有限の大きさを持つとき、その大きさに依存して対象面の四角形の周囲部の照度が落ちる現象を防ぐためで、後段レンズによって、光源の大きさに依存せずに、対象面の四角形の周囲部まで均一な照度にすることができる。  
【００１０】
ここで、図５の光学系の場合、前記光均一化手段（ＦｍＢ）には略平行光束が入力されることを基本としているため、前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）と前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）との間隔は、それらの焦点距離に等しくなるように配置され、よってケーラー照明光学系としての均一照明の対象面の像は無限遠に生成される。  
ただし、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の後段には、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）を配置してあるため、対象面は、無限遠から前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の焦点面上に引き寄せられる。  
縦横に多数並んでいるケーラー照明光学系は、入射光軸（ＺｉＢ）に平行であり、それぞれの中心軸に対して略軸対称に光束が入力されるため、出力光束も略軸対称であるから、レンズ面に同じ角度で入射した光線は、レンズ面上の入射位置によらず、焦点面上の同じ点に向かうよう屈折される、というレンズの性質、即ちレンズのフーリエ変換作用により、全てのケーラー照明光学系の出力は、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の焦点面上の同じ対象面に結像される。
【００１１】
その結果、前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）の各レンズ面での照度分布が全て重ね合わされ、よって、ケーラー照明光学系が１個の場合よりも照度分布がより均一となった、１個の合成四角形の像が、前記入射光軸（ＺｉＢ）上に形成されることになる。
前記合成四角形の像の位置に２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）を配置することにより、前記射出端（ＰｍｏＢ）から出力された光によって、照明対象である前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）が照明される。  
ただし、照明に際しては、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）と前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）との間に偏光ビームスプリッタ（ＭｊＢ）を配置して、これにより光が前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）に向けて反射されるようにしてある。
そして前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）は、映像信号に従って、画素毎に光の偏光方向を９０度回転させる、あるいは回転させないように変調して反射することにより、回転させられた光のみが、前記偏光ビームスプリッタ（ＭｊＢ）を透過して投影レンズ（Ｅｊ３Ｂ）に入射され、スクリーン（Ｔｊ）上に画像を表示する。
【００１２】
なお、図５の光学系の場合、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）として、一般にＬＣＯＳ(TM)（シリコン液晶デバイス）が使われることが多い。  
このような液晶デバイスの場合、規定の偏光方向の光の成分しか有効に変調できないため、普通は、規定の偏光方向に平行な成分はそのまま透過させるが、規定の偏光方向に垂直な成分のみ偏光方向を９０度回転させ、結果として全ての光を有効利用できるようにするための偏光整列機能素子（ＰｃＢ）が、例えば前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の後段に挿入される。
また、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）には略平行光が入射されるよう、例えばその直前に、フィールドレンズ（Ｅｊ２Ｂ）が挿入される。
【００１３】
なお、２次元光振幅変調素子に関しては、図５に記載したような反射型のものの他に、透過型の液晶デバイス（ＬＣＤ）も、それに適合する光学配置にして使用される（参考：特開平１０−１３３３０３号など）。
【００１４】
ところで、通常のプロジェクタでは、画像をカラー表示するために、例えば、前記光均一化手段の後段にカラーホイールなどの動的色フィルタを配置して、Ｒ・Ｇ・Ｂ（赤および緑、青）の色順次光束として前記２次元光振幅変調素子を照明し、時分割によってカラー表示を実現したり、あるいは、前記光均一化手段の後段にダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置してＲ・Ｇ・Ｂの３原色に色分解した光で各色独立に設けた２次元光振幅変調素子を照明し、Ｒ・Ｇ・Ｂの３原色の変調光束の色合成を行うためのダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置したりするが、複雑になることを避けるため、図４、図５においては省略してある。
【００１５】
しかしながら、前記した高輝度放電ランプは、投入電力から光パワーへの変換効率が低い、すなわち発熱損が大きい、あるいは寿命が短い、などの欠点を有していた。  
これらの欠点を克服した代替光源として、近年、ＬＥＤや半導体レーザ等の固体光源が注目されている。  
このうち、ＬＥＤについては、放電ランプと比較して発熱損が小さく、また長寿命であるが、放射される光に関しては、放電ランプと同様に指向性が無いため、前記したプロジェクタや露光装置等の、特定の方向の光のみが利用可能な用途においては、光の利用効率が低いという問題があった。
【００１６】
一方、半導体レーザについては、その高い可干渉性に起因してスペックルが発生するという欠点があるが、例えば拡散板を用いるなどの種々の技術的改良により克服が可能であり、ＬＥＤと同様に、発熱損が小さく、長寿命である上に、指向性が高いため、前記したプロジェクタや露光装置等の、特定の方向の光のみが利用可能な用途においても、光の利用効率が高いという利点がある。
また、高い指向性を活かして、光ファイバによる光伝送を高効率で行えるため、半導体レーザの設置場所と、プロジェクタなど、その光を利用する場所とを分離することが可能であり、装置設計の自由度を高めることができる。
【００１７】
ただし、半導体レーザは、同じ電流を流す場合でも、環境温度変化または自己発熱による温度上昇によって、さらに累積通電時間の増加に伴う劣化によって明るさが変化するため、これをプロジェクタに応用する場合は、光量安定化を行うべくフィードバック制御されることが望ましい。
それを実現するためには、光量を測定する手段が必須であり、特に、プロジェクタへの光の入り口、即ち、光ファイバの出射端においてＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの光量を測定するための光センサを設置することが望ましい。
【００１８】
ところで、光ファイバについては、前記した利便性の反面、石英などの脆弱なガラスを素材としているため、破断の危険性があるという欠点がある。
例えば、１万ＡＮＳＩルーメンの明るさを有するプロジェクタを実現しようとする場合、光学系の効率にもよるが、約２００Ｗの光パワーを光ファイバで伝送する必要がある。
このために、仮に６本の光ファイバに分けて伝送するとしても、１本あたり３０Ｗ以上の光パワーを伝送しなければならないことになる。
因みに、光ファイバの本数をさらに増せば、１本あたりのパワーを減らすことができるが、コスト増となるため、無闇に光ファイバの本数を増すことはできない。
このような大きなパワーを伝送する光ファイバが破断すると、破断箇所から光パワーが漏洩して光ファイバを機械的に保護するために設けた被覆材に吸収され、被覆材が焼損に至る可能性があるため、光ファイバの破断が起きれば、それを検知して半導体レーザを消灯する安全対策が必要となる。
【００１９】
このような部材の焼損の可能性があるような高パワー応用のものから通信用などの低パワー応用のものまで、従来より光ファイバの破断を検知するための技術が開発されて来た。
例えば、特開平０６−０５０８４１号には、主として通信用の光ファイバに対し、伝送すべき波長の光とともに、それとは異なる波長のモニタ用の光を送信側から送出し、受信側ではモニタ用の光を反射して戻すフィルタを備え、送信側でモニタ用の光の戻りの有無を監視することにより、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２０】
さらに、例えば特開平０９−２６９２４８号には、主として通信用の光ファイバに対し、パルス光を入射したときの戻り光の波形に基づいて、光ファイバの破断の有無を検知し、破断している場合は破断点までの距離を算出する技術が記載されている。  
【００２１】
また、例えば特開平１０−０３８７５１号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、入射端側および出射端側それぞれのレンズ系近傍に、レンズ系内の迷光を検出する光センサを設けておき、両方の光センサの検出光量を比較して光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２２】
さらに、例えば特開平１１−００５１８７号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、それを覆う保護管を設け、その内側に光ファイバから漏洩するレーザ光を検出する複数のセンサを並べて配置し、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２３】
さらに、例えば特開平１１−３４４４１７号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、伝送すべき波長の光とともに、それとは異なる波長のモニタ用の光を送信側から送出し、受信側でモニタ用の光の有無を監視することにより、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２４】
さらに、例えば特開２００２−３５０６９４号、および特開２００４−２１９２４４号には、通信用やレーザ加工用の光ファイバに対し、その外周面に導電性被膜を設け、入射端側と出射端側の間の導通状態を監視することにより光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２５】
さらに、例えば特開２００３−２７９４４４号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、多数の温度ヒューズを直列接続したケーブルを沿わせて設置し、温度ヒューズの溶断によって光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２６】
さらに、例えば特開２００６−０６４３９９号には、主として通信用の光ファイバに対し、変調を加えた光を入射したときの戻り変調光の位相差に基づいて、光ファイバの破断の有無を検知し、破断している場合は破断点までの距離を算出する技術が記載されている。  
【００２７】
さらに、例えば特開２０１２−１４７８６０号には、主として内視鏡照明用の光ファイバに対し、光の入射端側で測定した入射光量と戻り光量の比に基づいて光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２８】
しかしながら、これら従来の技術は、前記したようなプロジェクタ用光源として半導体レーザを応用する場合に適用する事は有利ではなかった。
その理由は、複数本の光ファイバを併用する場合、モニタ用光源や破断検出機構などの何らかの仕掛けを光ファイバの１本づつに施すことはコスト高となるからである。
前記したように、光量安定化を目的として、光ファイバの出射端においてＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの光量を測定するための光センサを設置するのであれば、これを流用できる光ファイバの破断検知技術を確立することが有利である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２９】
【特許文献１】特開平０６−０５０８４１号公報
【特許文献２】特開平０９−２６９２４８号公報
【特許文献３】特開平１０−０３８７５１号公報
【特許文献４】特開平１１−００５１８７号公報
【特許文献５】特開平１１−３４４４１７号公報
【特許文献６】特開２００２−３５０６９４号公報
【特許文献７】特開２００４−２１９２４４号公報
【特許文献８】特開２００３−２７９４４４号公報
【特許文献９】特開２００６−０６４３９９号公報
【特許文献１０】特開２０１２−１４７８６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００３０】
本発明が解決しようとする課題は、個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにした光源装置およびプロジェクタを提供することにある。  
【課題を解決するための手段】
【００３１】
本発明における第１の発明の光源装置は、１個以上の発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）を駆動する駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）から発せられた光を集光する集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）と、前記集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）が集光した光を入射端（Ｅｉ１，Ｅｉ２，…）で受け導光して出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）から放射する光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）と、を具備するユニットを１個の要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）として、該要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の複数個を有し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の出力光束（Ｆｏ）と成して出力する光源装置であって、該光源装置は、さらに、光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）と、前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）からの信号を受信して前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）への入射光量を測定し光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成する光量測定回路（Ｈ，Ｈｘ，Ｈｙ，…）と、前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信するとともに前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）を制御する制御回路（Ｍｃ）と、を有し、前記光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の光束と成した、少なくともその一部を前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）に照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、状態Ａと状態Ｂとを、前記駆動回路が前記発光素子に規定電流を流す状態、または前記駆動回路が前記発光素子に電流を流さない状態の何れかとして、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の１個を選択し、選択された前記要素光源に属する少なくとも１個の前記駆動回路の状態Ａと、それ以外、すなわち前記した選択された前記要素光源に属する少なくとも１個の前記駆動回路以外の全ての前記駆動回路の状態Ｂとが、異なる状態になるように制御し、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を取得することを、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の全てに亘って順に選択して実行するシーケンスを実施し、取得された前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）からなる測定データ集合に基づいて異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３２】
本発明における第２の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、選択された前記要素光源に属する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個を選択し、選択された前記駆動回路の状態Ａと、それ以外、すなわち前記した選択された前記駆動回路以外の全ての前記駆動回路の状態Ｂとを、異なる状態であるように制御し、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を取得することを、前記した選択された前記要素光源に属する前記駆動回路の全てに亘って順に選択して実行することを特徴とするものである。  
【００３３】
本発明における第３の発明の光源装置は、前記状態Ａが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に規定電流を流す状態、前記状態Ｂが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に電流を流さない状態であることを特徴とするものである。  
【００３４】
本発明における第４の発明の光源装置は、前記状態Ｂが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に規定電流を流す状態、前記状態Ａが前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に電流を流さない状態であることを特徴とするものである。  
【００３５】
本発明における第５の発明の光源装置は、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）は、発光波長が複数種類の異なる波長帯域に属するものを含んでおり、前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）は、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）を備えた複数個のもので構成してあり、光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの複数種類の波長帯域の放射光を総合して１個の光束と成して、少なくともその一部を、複数個の前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）のそれぞれに照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記出力光束（Ｆｏ）のなかのそれぞれの前記波長帯域の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、前記シーケンスにおける前記測定データ集合の生成に際しては、少なくとも前記制御回路（Ｍｃ）が規定電流を流す状態にされている前記発光素子が存在する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データを取得することを特徴とするものである。  
【００３６】
本発明における第６の発明の光源装置は、前記測定データ集合に対応する、光源装置が正常な状態である場合に取得されるべきデータ集合、すなわち比較用正常データ集合を予め準備し、これと、実際に取得した前記測定データ集合とを比較することを特徴とするものである。  
【００３７】
本発明における第７の発明の光源装置は、前記測定データ集合のなかで、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの特定の前記要素光源に属する前記駆動回路が規定電流を流す状態に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）の全てにおいて、光量の有意な不足を検知した場合には、前記した特定の前記要素光源に属する前記光ファイバの異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３８】
本発明における第８の発明の光源装置は、前記測定データ集合のなかで、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちの、前記した異常が検知された前記光ファイバを含む前記要素光源に属さない、特定の前記駆動回路に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）において、光量の有意な不足を検知した場合には、前記した特定の前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組の異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３９】
本発明における第９の発明の光源装置は、前記シーケンスを実施していない期間において、前記制御回路（Ｍｃ）は、それぞれの前記光センサ（Ａ，Ａｘ，Ａｙ，…）に対応する前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）が、それぞれの目標値との誤差が小さくなるよう、それぞれの前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）が前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に流す電流値をフィードバック制御によって調整することを特徴とするものである。  
【００４０】
本発明における第１０の発明の光源装置は、前記出力光束（Ｆｏ）を利用する外部機器が出力する異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信可能とし、該異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信したときに前記シーケンスを開始することを特徴とするものである。  
【００４１】
本発明における第１１の発明の光源装置は、前記出力光束（Ｆｏ）を利用する外部機器が出力するシーケンスステップ信号（Ｓｓ）を受信可能とし、該シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を受信したときに前記シーケンスにおける、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択した後の、前記した、前記駆動回路のうちの少なくとも１個の選択から開始してそのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）の取得で終了する一連の工程を１個のステップとして開始することを特徴とするものである。  
【００４２】
本発明における第１２の発明のプロジェクタは、第１から１０の発明に記載の光源装置を利用して画像を投影表示するプロジェクタであって、前記異常検知起動信号（Ｓｂ）または前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を前記光源装置に送信することを特徴とするものである。  
【発明の効果】
【００４３】
個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにした光源装置およびプロジェクタを提供することができる。  
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図を表す。
【図２】本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図を表す。
【図３】本発明の光源装置の実施例の一形態を簡略化して示す図を表す。
【図４】本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図を表す。
【図５】本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図を表す。
【発明を実施するための形態】
【００４５】
先ず、本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図である図１を用いて、本発明を実施するための形態について説明する。  
要素光源（Ｕ１）に設けられている発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）は、駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）によって駆動されて発光し、発せられた光は、例えばレンズから成る集光光学系（Ｅｃ１）によって光ファイバ（Ｅｆ１）の入射端（Ｅｉ１）に集光され、前記光ファイバ（Ｅｆ１）のコアを伝播して出射端（Ｅｏ１）から放射される。
【００４６】
なお、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）については、ここでは、例えば半導体レーザや、半導体レーザの放射光を、高調波発生・光パラメトリック効果などのような非線形光学現象を利用して波長変換する光源などであり、そのような光源の複数個を直列接続、あるいは並列接続、さらには直並列接続するなどして、１個の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）によって駆動できるものとしている。
また、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）については、ここでは、直流電源（図示を省略）によって給電される、例えば降圧チョッパや昇圧チョッパなど方式の回路によって構成された、ＤＣ／ＤＣコンバータであり、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）に規定の電力を投入できるものとしている。
【００４７】
本発明の光源装置は、前記要素光源（Ｕ１）と同様の要素光源の複数個を有しており、これら要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光は、総合されて１個の出力光束（Ｆｏ）として本発明の光源装置から出力される。
なお、複数個の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光の総合方法としては、最も簡単には、前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）が同一平面上に位置するように揃えて、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端部を束ねる事により実現することができる。
【００４８】
前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量測定データ（Ｓｈ）を生成するために、前記出力光束（Ｆｏ）と同様に、前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光の一部を総合した測定用出力光束（Ｆｏ’）を生成して光センサ（Ａ）に照射し、該光センサ（Ａ）の信号（Ｓｇ）を光量測定回路（Ｈ）によって増幅やＡＤ変換等の必要な処理を行い、前記光量測定データ（Ｓｈ）を生成する。
なお、前記測定用出力光束（Ｆｏ’）は、前記出力光束（Ｆｏ）から分割して生成してもよいし、前記出力光束（Ｆｏ）の生成に際して生じた、有効に利用できない、迷光となる光などでもよく、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量を有するものであれば、どのような光でも利用できる。
【００４９】
そして制御回路（Ｍｃ）は、生成された前記光量測定データ（Ｓｈ）を受信することができ、さらに、駆動回路制御信号（Ｊ１ａ，Ｊ１ｂ，…，Ｊ２ａ，Ｊ２ｂ，…）を介して前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）毎に独立に制御し、それぞれの前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に規定電流を流す状態、または電流を流さない状態に切換えることができるように構成されている。
【００５０】
制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択して、その要素光源に属する光ファイバのみに規定光量の光を通すとともに、選択された要素光源以外の要素光源に属する各光ファイバには光を通さない状態として、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得する。
次に制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの別の１個を選択し、同様に前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得する。
このようにして、全ての前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）に亘って１個づつ順に選択しながら、前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得するシーケンスを実施し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の個数に対応した個数の前記光量測定データ（Ｓｈ）から成る測定データ集合を生成する。
【００５１】
制御回路（Ｍｃ）は、このようにして得られた前記測定データ集合を検査し、例えば、Ｎを前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の個数以下の整数として、例えばＮ番目の光量測定データ（Ｓｈ）が、他のものに比して有意に小さいと判定した場合、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちのＮ番目に選択したものに異常があることを検知することができる。
【００５２】
ここで、ある光量測定データ（Ｓｈ）が有意に小さいことの判定は、すなわち、例えば、正常な場合にも存在する前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）毎の前記光量測定データ（Ｓｈ）のバラツキや変動等の不確定割合が、例えば２０％であるとしたとき、前記測定データ集合のうちの最大値Ｓｈｍａｘから前記不確定割合分を差し引いた値、すなわちＳｈｍａｘの８０％を閾値として、該閾値よりも、その光量測定データ（Ｓｈ）が小さいことにより判定すればよい。
何となれば、この値が小さいということは、その要素光源からの光の寄与が想定より小さく、異常が生じている可能性があるからである。
【００５３】
あるいは、制御回路（Ｍｃ）が、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択したとき、選択された要素光源に属する光ファイバのみには光を通さず、選択された要素光源以外の要素光源に属するそれぞれの光ファイバに規定光量の光を通す状態として、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得してもよく、この仕方の場合も前記と同様に、全ての前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）に亘って１個づつ順に選択しながら、前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得するシーケンスを実施し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の個数に対応した個数の前記光量測定データ（Ｓｈ）から成る測定データ集合を生成する。
【００５４】
そして、この仕方の場合は、制御回路（Ｍｃ）は、このようにして得られた前記測定データ集合を検査し、例えば、Ｎを前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の個数以下の整数として、例えばＮ番目の光量測定データ（Ｓｈ）が、他のものに比して有意に大きいと判定した場合、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちのＮ番目に選択したものに異常があることを検知することができる。
【００５５】
ここで、ある光量測定データ（Ｓｈ）が有意に大きいことの判定は、すなわち、例えば、正常な場合にも存在する前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）毎の前記光量測定データ（Ｓｈ）のバラツキや変動等の不確定割合が、例えば２０％であるとしたとき、前記測定データ集合における各光量測定データ（Ｓｈ）に対応して、その値から全ての光ファイバに規定光量の光を通した状態での光量測定データＳｈｆｕｌｌを減算した値の絶対値、すなわち差分値Ｓｄを算出して差分データ集合を生成し、そのうちの最大値Ｓｄｍａｘから前記不確定割合分を差し引いた値、すなわちＳｄｍａｘの８０％を閾値として、該閾値よりも、前記差分値Ｓｄが小さいことにより判定すればよい。
何となれば、この値が小さいということは、その要素光源からの光の寄与が想定より小さく、異常が生じている可能性があるからである。
【００５６】
なお、図１に関し、これまで行った説明では、前記した、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択して、その要素光源に属する光ファイバのみに規定光量の光を通す場合、あるいは選択された要素光源以外の要素光源に属するそれぞれの光ファイバに規定光量の光を通す場合の、各要素光源の発光量を同じにすることを前提としていたが、これを前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）毎に相違させるようにしても構わず、その場合は、前記測定データ集合、または前記差分データ集合に対し補正を加えることにより正しく異常を検知することができる。
【００５７】
具体的には、Ｎを前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の個数以下の整数、αを適当な実数として、例えばＮ番目の要素光源の発光量が、他の要素光源のそれのα倍であるとするならば、前記した、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択して、その要素光源に属する光ファイバのみに規定光量の光を通す場合については前記測定データ集合に対して、また、選択された要素光源以外の要素光源に属するそれぞれの光ファイバに規定光量の光を通す場合については前記差分データ集合に対して、それぞれＮ番目の光量測定データ（Ｓｈ）をαで除算する補正を加えればよい。
また、複数の要素光源の光量が他と異なる場合は、それぞれ同様に補正を加えればよい。
【００５８】
したがって、前記した、選択された前記要素光源に属する前記駆動回路が複数個存在するときは、それらのうちから適当に選んだ任意個数のものが、それぞれに接続された前記発光素子に対し、それぞれ適当な値に規定した電流を流す状態に制御することができ、その状態のときの前記した、選択された前記要素光源に関する総合光量に応じ、前記した補正を加えることを行えば、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の何れかに生じている異常を正しく検出することができる。
【００５９】
なお、前記したように、光量の寄与が小さいことで検出した前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常は、安全上の観点からは、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の異常、すなわち前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の破断として扱っても構わない。
何となれば、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常には、例えば、それに属する直流電源のダウンが原因の場合もあり、この異常は、装置の機能不全として問題ではあるも、直流電源自体や前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の安全対策が完備していれば、安全上の問題を引き起こすことはないが、より危険性の高い前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の破断として警告を発し、それが結果的に誤検知であったとしても、少なくとも危険を見過ごす問題を起こすことはないからである。
当然、直流電源自体や前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の異常を検知する仕組みが完備していれば、その異常を検知した場合には、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常を検知しても、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の破断の警告を発しないようにしても構わない。
【００６０】
一方、前記した、選択された前記要素光源に属する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個を選択し、選択された前記駆動回路のみがそれに接続された前記発光素子に規定電流を流すとともに、選択された前記駆動回路以外の前記駆動回路は電流を流さない状態として、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得する動作を行うこととし、この動作を前記した、選択された前記要素光源に属する全ての前記駆動回路に亘って１個づつ順に選択しながら実行するよう前記制御回路（Ｍｃ）が制御することにより、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）全体に含まれる前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の個数の合計数に等しい個数の前記光量測定データ（Ｓｈ）から成る前記測定データ集合が生成される。
【００６１】
制御回路（Ｍｃ）は、このようにして得られた前記測定データ集合を検査し、例えば、ｎを前記した、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の個数の合計数以下の整数として、例えばｎ番目の光量測定データ（Ｓｈ）が、他のものに比して有意に小さいと判定した場合、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちのｎ番目に選択したものに対応する前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組に異常がある可能性があることを検知することができる。
【００６２】
ここで、前記と同様に、ある光量測定データ（Ｓｈ）が有意に小さいことの判定は、すなわち、例えば、正常な場合にも存在する前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）毎の前記光量測定データ（Ｓｈ）のバラツキや変動等の不確定割合が、例えば２０％であるとしたとき、前記測定データ集合のうちの最大値Ｓｈｍａｘから前記不確定割合分を差し引いた値、すなわちＳｈｍａｘの８０％を閾値として、該閾値よりも、その光量測定データ（Ｓｈ）が小さいことにより判定すればよい。
何となれば、この値が小さいということは、その駆動回路からの光の寄与が想定より小さく、異常が生じている可能性があるからである。
【００６３】
あるいは、制御回路（Ｍｃ）が、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちの１個を選択したとき、選択された駆動回路のみが電流を流さず、選択された駆動回路以外の駆動回路に接続されたそれぞれの発光素子に規定電流を流す状態として、そのときの前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得する動作としてもよく、この仕方の場合も前記と同様に、全ての前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）に亘って１個づつ順に選択しながらこの動作を実行することにより、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）全体に含まれる前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の個数の合計数に等しい個数の前記光量測定データ（Ｓｈ）から成る前記測定データ集合が生成される。
【００６４】
そして、この仕方の場合は、制御回路（Ｍｃ）は、このようにして得られた前記測定データ集合を検査し、例えば、ｎを前記した、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の個数の合計数以下の整数として、例えばｎ番目の光量測定データ（Ｓｈ）が、他のものに比して有意に大きいと判定した場合、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちのｎ番目に選択したものに対応する前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組に異常がある可能性があることを検知することができる。
【００６５】
ここで、前記と同様に、ある光量測定データ（Ｓｈ）が有意に大きいことの判定は、すなわち、例えば、正常な場合にも存在する前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）毎の前記光量測定データ（Ｓｈ）のバラツキや変動等の不確定割合が、例えば２０％であるとしたとき、前記測定データ集合における各光量測定データ（Ｓｈ）に対応して、その値から全ての光ファイバに規定光量の光を通した状態での光量測定データＳｈｆｕｌｌを減算した値の絶対値、すなわち差分値Ｓｄを算出して差分データ集合を生成し、そのうちの最大値Ｓｄｍａｘから前記不確定割合分を差し引いた値、すなわちＳｄｍａｘの８０％を閾値として、該閾値よりも、前記差分値Ｓｄが小さいことにより判定すればよい。
何となれば、この値が小さいということは、その駆動回路からの光の寄与が想定より小さく、異常が生じている可能性があるからである。
【００６６】
また、前記と同様に、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）毎に相違させるようにしても構わず、その場合は、前記測定データ集合、または前記差分データ集合に対し補正を加えることにより正しく異常を検知することができる。
具体的には、ｎを前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の個数以下の整数、αを適当な実数として、例えばｎ番目の要素光源の発光量が、他の要素光源のそれのα倍であるとするならば、前記した、選択された前記駆動回路のみがそれに接続された前記発光素子に規定電流を流す場合については前記測定データ集合に対して、また、選択された駆動回路以外の駆動回路に接続されたそれぞれの発光素子に規定電流を流す場合については前記差分データ集合に対して、それぞれｎ番目の光量測定データ（Ｓｈ）をαで除算する補正を加えればよい。
また、複数の要素光源の光量が他と異なる場合は、それぞれ同様に補正を加えればよい。
【００６７】
なお、前記した、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択して、その要素光源に属する光ファイバのみに規定光量の光を通すシーケンス、または選択された前記駆動回路のみがそれに接続された前記発光素子に規定電流を流すシーケンスによる方式の場合よりも、前記した、選択された要素光源以外の要素光源に属するそれぞれの光ファイバに規定光量の光を通すシーケンス、または選択された駆動回路以外の駆動回路に接続されたそれぞれの発光素子に規定電流を流すシーケンスによる方式の場合は、個々の前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）が消灯している期間が短いという特徴がある。
【００６８】
前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）が消灯している期間が長い場合は、その期間に前記発光素子の温度が低下する割合が大きいため、前記発光素子を再点灯させたとき、元の安定点灯状態に戻るまでに長い時間を必要とする問題が生じるため、前記発光素子が消灯している期間は短いほどよい。
その点で、前記した、選択された要素光源以外の要素光源に属するそれぞれの光ファイバに規定光量の光を通すシーケンス、または選択された駆動回路以外の駆動回路に接続されたそれぞれの発光素子に規定電流を流すシーケンスによる方式の方が有利であることが判る。
この方式の場合、消灯している期間を十分に短くできれば、本発明の光源装置を利用するプロジェクタにおいて、通常の映像投影中に前記したシーケンスを実行することも可能となる。
【００６９】
前記した測定データ集合の検査の方法としては、これまで説明した仕方以外にも、例えば、前記測定データ集合に対応する、光源装置が正常な状態である場合に取得されるべきデータ集合、すなわち比較用正常データ集合を予め準備し、これと、実際に取得した前記測定データ集合とを比較するようにしてもよい。
【００７０】
前記比較用正常データ集合の準備方法として最も簡単なものは、実際に光源装置が正常な状態であるときに、前記した、前記測定データ集合の生成シーケンスを実施し、そのときに得られた測定データ集合を、前記比較用正常データ集合とすることである。
ただし、本光源装置が含む前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の一部または全部の出力電流を増加または減少させて調光を行った場合は、前記比較用正常データ集合を再生成する必要がある。
なお、調光を行わない場合でも、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）は、累積点灯時間の増加に伴う劣化により発光量が低下するため、前記比較用正常データ集合の生成を定期的に行うなどが必要である。
【００７１】
前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のそれぞれに対応した前記光量測定データ（Ｓｈ）から成る前記測定データ集合に対する前記した検査において、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの特定の前記要素光源に属する全ての前記駆動回路に共通に異常を検知した場合は、その要素光源の異常として検知すればよい。
このとき、前記したように前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常は、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の破断による異常として扱っても構わない。
【００７２】
また、前記測定データ集合に対する前記した検査において、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のなかのある前記駆動回路に異常を検知したとき、もし、それが属する前記要素光源には、異常を検知しない前記駆動回路が他に存在する場合は、前記要素光源に属する前記光ファイバの異常ではないため、前記した異常を検知した駆動回路と、それに接続されている前記発光素子からなる組の異常として扱うことができる。
【００７３】
なお、図１に記載の本光源装置に関しては、これまで前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の波長帯域、すなわち色について、特に述べなかったが、これは、図１に記載の本光源装置が、例えば画像をカラー表示する応用などに適用できないことを意味するのではなく、複数種類の異なる波長帯域、例えばＲ色の発光素子のみを実装した単色のＲ色の本光源装置と、Ｇ色の発光素子のみを実装した単色のＧ色の本光源装置と、Ｂ色の発光素子のみを実装した単色のＢ色の本光源装置、すなわち、合わせて３台の単色のＲ色、Ｇ色、Ｂ色の本光源装置を用いて、例えば、カラー表示が可能なプロジェクタを構成することが可能である。
【００７４】
具体的には、例えば図４のような構造のプロジェクタ光学系において、第１の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、図１の第１のＲ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第１の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＲ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＲ色の画像を生成する第１の光学系と、同様に第２の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、第２のＧ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第２の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＧ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＧ色の画像を生成する第２の光学系と、第３の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、第３のＢ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第３の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＢ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＢ色の画像を生成する第３の光学系とを用意し、生成されたＲ・Ｇ・Ｂ３色の画像を合成して投影レンズ（Ｅｊ２Ａ）を用いてスクリーン（Ｔｊ）に投影するように構成すればよい。
なお、前記した３台の本光源装置において、前記制御回路（Ｍｃ）は共通とすることができる。
【００７５】
次に、本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図である図２を用いて、本発明を実施するためのさらなる形態について説明する。  
要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）が有する発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）には、その発光波長が、例えばＲ・Ｇ・Ｂなど、複数種類の異なる波長帯域に属するものを含んでいる。
図１について説明したものと同様に、要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端からの複数種類の波長帯域が混合された放射光は、総合されて１個の、例えば白色の出力光束（Ｆｏ）として本発明の光源装置から出力される。
当然、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）のそれぞれについて、１個の光ファイバに単一の波長帯域の光を導光させるようにしてもよいし、１個の光ファイバに複数の波長帯域の光を混合して、例えば白色光として導光させるようにしてもよい。
【００７６】
そして、波長帯域別に前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成するために、前記出力光束（Ｆｏ）と同様に、前記出射端からの複数種類の波長帯域が混合された放射光の一部を総合した測定用出力光束（Ｆｏ’）を生成して光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）に照射し、該光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）の信号（Ｓｇｘ，Ｓｇｙ，…）を光量測定回路（Ｈｘ，Ｈｙ，…）によって増幅やＡＤ変換等の必要な処理を行い、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成する。
ただし、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）には、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）が前置されている。
【００７７】
前記制御回路（Ｍｃ）は、生成された波長帯域別の前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）をそれぞれ受信できるが、前記測定データ集合の生成に際しては、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）のうち、前記制御回路（Ｍｃ）が規定電流を流す状態にされている前記発光素子が存在する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データのみを取得すればよい。
何となれば、電流が流されている前記発光素子が存在しない波長帯域に対応する前記光センサからの前記光量測定データは、基本的に無効だからである。
なお、波長帯域によって、あるいは前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）毎のバラツキによって光検出感度の差異がある場合は、前記光量測定回路（Ｈｘ，Ｈｙ，…）のゲイン設定などにより、その差異を吸収するか、前記測定データ集合に対して前記した補正を加えればよい。
【００７８】
ところで、分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）の分光特性が前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の発光波長帯域と完全に整合していない場合、例えば、前記発光素子のうちの一つの波長帯域のもののみを発光させたとき、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）においては、二つの色のデータが現れるような現象が起き、色データ混合が生じるため、そのままでは正しい処理ができない問題が生じる。  
このような場合は、前記制御回路（Ｍｃ）は、色毎の前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）それぞれの線形演算によって正しい光量測定データに色補正して問題を回避することができる。  
【００７９】
具体的には、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）のＲ・Ｇ・Ｂ各色の信号値を Ｖｒ，Ｖｇ，Ｖｂ とすると、色補正された波長帯域毎の信号値 Ｖｘ，Ｖｙ，Ｖｚ は、次の線形演算式
Ｖｘ ＝ Ｋ１１・Ｖｒ ＋ Ｋ１２・Ｖｇ ＋ Ｋ１３・Ｖｂ
Ｖｙ ＝ Ｋ２１・Ｖｒ ＋ Ｋ２２・Ｖｇ ＋ Ｋ２３・Ｖｂ
Ｖｚ ＝ Ｋ３１・Ｖｒ ＋ Ｋ３２・Ｖｇ ＋ Ｋ３３・Ｖｂ
によって求めればよい。  
ここで、 Ｋ１１，Ｋ１２，…，Ｋ３２，Ｋ３３ は、線形演算のための定数係数であり、前記した色データ混合が補正されるような組み合わせを実験的に求めればよい。  
因みに、前記した色データ混合が生じない場合は、前記した線形演算式において対角成分 Ｋ１１，Ｋ２２，Ｋ３３ 以外を０とすればよい。  
【００８０】
以上のように構成することにより、前記測定データ集合の各光量測定データは、それがどの波長帯域のものであったかとは無関係に、前記した検査を行うことができ、したがって、複数種類の異なる波長帯域の光が混合された前記出力光束（Ｆｏ）を生成するものであっても、図２に記載の本発明の光源装置は、前記したシーケンスを実施することにより、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常、または前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）とそれ接続される前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）とからなる組の異常を検出することができる。
【００８１】
図１の本光源装置は、前記シーケンスを実施していない期間においても、自身の前記出力光束（Ｆｏ）の光量と比例関係にある前記測定用出力光束（Ｆｏ’）の明るさに相関する前記光量測定データ（Ｓｈ）を生成し、これを前記制御回路（Ｍｃ）が受信できるため、前記駆動回路制御信号（Ｊ１ａ，Ｊ１ｂ，…，Ｊ２ａ，Ｊ２ｂ，…）を介し、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれに接続された前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に流す電流量を設定できるようにしておけば、本発明の光源装置は、前記光量測定データ（Ｓｈ）が、その目標値との誤差が小さくなるよう、フィードバック制御を行うことにより、光量安定化を行うことができる。
【００８２】
なお、前記光量測定データ（Ｓｈ）の大きさが複数の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の寄与の総和による場合、それら駆動回路全部の電流量を同時に増減してフィードバック制御を行うこともできるし、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のうちの一部のみの電流量を増減してフィードバック制御を行うこともできる。
また、複数種類の異なる波長帯域、例えばＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの色毎の複数台の本光源装置を用いる応用の場合は、色毎の光量安定化を行うことができ、したがって、色の安定化を行うことができる。
【００８３】
さらに、図２の本光源装置は、複数種類の異なる波長帯域、例えばＲ・Ｇ・Ｂが混合された前記出力光束（Ｆｏ）を生成するが、前記分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）を前置した前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）を設けてあるため、Ｒ・Ｇ・Ｂそれぞれの色毎の前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成し、これを前記制御回路（Ｍｃ）が受信できるため、前記駆動回路制御信号（Ｊ１ａ，Ｊ１ｂ，…，Ｊ２ａ，Ｊ２ｂ，…）を介し、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれに接続された前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）に流す電流量を設定できるようにしておけば、本発明の光源装置は、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）それぞれが、その目標値との誤差が小さくなるよう、フィードバック制御を行うことにより、光量安定化を行うことができ、同時に色の安定化を行うことができる。
【００８４】
ところで、本発明の光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を利用する外部機器が、例えばプロジェクタである場合、映像を投影中に前記シーケンスが実施されると前記出力光束（Ｆｏ）に変動が生じる結果、映像にチラツキが混入するなどの悪影響が生ずる恐れがあるため、本光源装置の始動時以外では、本光源装置単独の判断では、前記シーケンスを開始することができない問題がある。
【００８５】
この問題は、外部機器から異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信できるようにし、外部機器は、前記出力光束（Ｆｏ）が変動しても不都合の無いタイミングで前記異常検知起動信号（Ｓｂ）を送信し、本光源装置は、前記異常検知起動信号（Ｓｂ）を受信したときに前記シーケンスを開始するように構成することにより解決が可能である。
前記したように、外部機器がプロジェクタである場合、例えば映像の暗転時など、比較的長い映像の切れ目において前記異常検知起動信号（Ｓｂ）を送信することにより、悪影響無く、本光源装置に前記シーケンスを実行させることができる。
【００８６】
さらに、前記したシーケンスを細分化して複数のステップに分割し、外部機器は、１個のステップを開始・実行可能なタイミングが来る度にシーケンスステップ信号（Ｓｓ）を送信し、本光源装置は、前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を受信すると、前記シーケンスにおける、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちの１個を選択した後の、前記した、前記駆動回路のうちの少なくとも１個の選択から開始してそのときの前記光量測定データ（Ｓｈ，Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）の取得で終了する一連の工程を１個のステップとして開始・実行することとし、複数回の前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）の受信によって前記したシーケンスを完遂するようにしてもよい。
【００８７】
前記したように、外部機器がプロジェクタである場合、例えば、立体映像投影のための、右眼用画像と左用画像との切り換わり目などの短時間の黒画面挿入時に前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を送信することにより、悪影響無く、本光源装置に前記シーケンスを実行させることができる。
なお、前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）については、外部機器から継続的に送信されており、外部機器が前記したシーケンスの実行が必要と判断したときに、前記異常検知起動信号（Ｓｂ）を送信し、本光源装置がこれを受信すると、前記シーケンスを開始し、前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）を使って前記したシーケンスを遂行する方式とすることができる。
【００８８】
あるいは、外部機器が前記したシーケンスの実行が必要と判断したときから、前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）の送信を開始し、本光源装置がそれを受信しながら前記したシーケンスを遂行する方式とすることもできる。
ただし後者の方式の場合は、外部機器は前記したシーケンスの完遂までに必要な前記シーケンスステップ信号（Ｓｓ）の個数が不明であるため、前記したシーケンスが完遂すれば、その旨を通知する信号を本光源装置から外部機器に対して出力するように構成するとよい。
【００８９】
次に、本発明の光源装置の実施例の一形態を簡略化して示す図である図３を用いて、本発明を実施するための形態として、本発明の光源装置を利用した、本発明のプロジェクタの、特に光ファイバおよびその出射端以降の、より具体的な構成について述べる。
本光源装置は、Ｒ・Ｇ・Ｂ３原色に対応して、各色複数本の光ファイバ、すなわちＲ色光源用光ファイバ（ＥｆＲ１，ＥｆＲ２，…）、Ｇ色光源用光ファイバ（ＥｆＧ１，ＥｆＧ２，…）、Ｂ色光源用光ファイバ（ＥｆＢ１，ＥｆＢ２，…）は、それぞれ出射端を揃えて束ねられた、ファイババンドルとして構成され、これら３本のファイババンドルの出射端を、それぞれコリメータレンズ（ＥｓＲ，ＥｓＧ，ＥｓＢ）で無限遠の像に変換した光束を、ミラー（ＨｕＲ）およびダイクロイックミラー（ＨｕＧ，ＨｕＢ）を用いて色合成して、本光源装置の出力光束（Ｆｏ）を生成するように構成してある。
【００９０】
そして、前記出力光束（Ｆｏ）は集光レンズ（Ｅｕ）に入力され、スペックルを除去するための拡散素子（Ｅｄｍ）を介して、ロッドインテグレータによる光均一化手段（Ｆｍ）の入射端（Ｐｍｉ）に入射される。
前記光均一化手段（Ｆｍ）の射出端（Ｐｍｏ）以降の光学系については、先に図４に関して述べたものと同様である。
当然ながら、本発明の光源装置は、フライアイインテグレータによる光均一化手段を用いた、先に図５に関して述べたプロジェクタにおいても利用できる。
【００９１】
前記ダイクロイックミラー（ＨｕＢ）は、Ｒ・Ｇ色の光を可能な限り多く透過し、かつＢ色の光を可能な限り多く反射するように作成されているが、Ｒ・Ｇ色の反射光、およびＢ色の透過光が少なからず存在し、普通これらの光は迷光として捨てられるが、図３の本光源装置においては、これを有効利用して測定用出力光束（Ｆｏ’）を得るようにしてある。
前記測定用出力光束（Ｆｏ’）は、スペックルの影響による測定バラツキを抑えるための拡散素子（Ｅｄｓ）を介して、Ｒ・Ｇ・Ｂ各色をそれぞれ選択的に透過する分光フィルタ（ＥｒＲ，ＥｒＧ，ＥｒＢ）を前置した、光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）によって、Ｒ・Ｇ・Ｂ各色毎の光量を測定できるように構成されている。
なお、このようにして生成した前記測定用出力光束（Ｆｏ’）のＲ・Ｇ・Ｂ各色光の成分比は、前記出力光束（Ｆｏ）のそれと同じとは限らないが、前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）の後段に設けられる、先に図２に関して述べた、各色毎の光量測定回路のゲインの設定によって補正が可能である。
【００９２】
なお、前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）の設置に関しては、図３に記載の仕方以外にも、前記コリメータレンズ（ＥｓＲ，ＥｓＧ，ＥｓＢ）の直後の３箇所の光束それぞれに対し、半透過ミラーを挿入するなどして一部を分割し、分割されたそれぞれの光束を前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）に別々に照射するように構成することもできる。
この構成の場合、前記した光束分割用の半透過ミラーが追加で必要になる反面、前記分光フィルタ（ＥｒＲ，ＥｒＧ，ＥｒＢ）が不要になる。
因みに、この構成としたときは、前記した合わせて３台の単色のＲ色、Ｇ色、Ｂ色の本光源装置を用いる場合に対応する。
【産業上の利用可能性】
【００９３】
本発明は、プロジェクタなどの光学装置において使用可能な、半導体レーザなどの発光素子と光ファイバを用いた光源装置を設計・製造する産業において利用可能である。  
【符号の説明】
【００９４】
Ａ        光センサ
ＡＢ      光センサ
ＡＧ      光センサ
ＡＲ      光センサ
Ａｘ      光センサ
Ａｙ      光センサ
ＤｍｊＡ  ２次元光振幅変調素子
ＤｍｊＢ  ２次元光振幅変調素子
Ｅｃ１    集光光学系
Ｅｃ２    集光光学系
Ｅｄｍ    拡散素子
Ｅｄｓ    拡散素子
Ｅｆ１    光ファイバ
Ｅｆ２    光ファイバ
ＥｆＢ１  Ｂ色光源用光ファイバ
ＥｆＢ２  Ｂ色光源用光ファイバ
ＥｆＧ１  Ｇ色光源用光ファイバ
ＥｆＧ２  Ｇ色光源用光ファイバ
ＥｆＲ１  Ｒ色光源用光ファイバ
ＥｆＲ２  Ｒ色光源用光ファイバ
Ｅｉ１    入射端
Ｅｉ２    入射端
Ｅｊ１Ａ  照明レンズ
Ｅｊ１Ｂ  照明レンズ
Ｅｊ２Ａ  投影レンズ
Ｅｊ２Ｂ  フィールドレンズ
Ｅｊ３Ｂ  投影レンズ
Ｅｏ１    出射端
Ｅｏ２    出射端
ＥｒＢ    分光フィルタ
ＥｒＧ    分光フィルタ
ＥｒＲ    分光フィルタ
Ｅｒｘ    分光フィルタ
Ｅｒｙ    分光フィルタ
ＥｓＢ    コリメータレンズ
ＥｓＧ    コリメータレンズ
ＥｓＲ    コリメータレンズ
Ｅｕ      集光レンズ
Ｆ１Ｂ    前段フライアイレンズ
Ｆ２Ｂ    後段フライアイレンズ
Ｆｍ      光均一化手段
ＦｍＡ    光均一化手段
ＦｍＢ    光均一化手段
Ｆｏ      出力光束
Ｆｏ’    測定用出力光束
Ｈ        光量測定回路
ＨｕＢ    ダイクロイックミラー
ＨｕＧ    ダイクロイックミラー
ＨｕＲ    ミラー
Ｈｘ      光量測定回路
Ｈｙ      光量測定回路
Ｊ１ａ    駆動回路制御信号
Ｊ１ｂ    駆動回路制御信号
Ｊ２ａ    駆動回路制御信号
Ｊ２ｂ    駆動回路制御信号
ＬＣＤ    液晶デバイス
Ｍｃ      制御回路
ＭｊＡ    ミラー
ＭｊＢ    偏光ビームスプリッタ
Ｐ１ａ    駆動回路
Ｐ１ｂ    駆動回路
Ｐ２ａ    駆動回路
Ｐ２ｂ    駆動回路
ＰｃＢ    偏光整列機能素子
Ｐｍｉ    入射端
ＰｍｉＡ  入射端
ＰｍｉＢ  入射端
Ｐｍｏ    射出端
ＰｍｏＡ  射出端
ＰｍｏＢ  射出端
Ｓｂ      異常検知起動信号
Ｓｇ      信号
Ｓｇｘ    信号
Ｓｇｙ    信号
Ｓｈ      光量測定データ
Ｓｈｘ    光量測定データ
Ｓｈｙ    光量測定データ
ＳｊＡ    光源
ＳｊＢ    光源
Ｓｓ      シーケンスステップ信号
Ｔｊ      スクリーン
Ｕ１      要素光源
Ｕ２      要素光源
Ｙ１ａ    発光素子
Ｙ１ｂ    発光素子
Ｙ２ａ    発光素子
Ｙ２ｂ    発光素子
ＺｉＢ    入射光軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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