(57)【要約】【課題】フレキシブル配線基板を接続する前にクラック検出を可能とし、製造コストの低減と材料費の低減を図る。【解決手段】第１のクラック検出端子ＣＲ１からクラック検出線ＣＲＷがＴＦＴ基板１００の辺に沿って形成され、第２のクラック検出端子ＣＲ２に延在している。端子部１２０と対向する辺において、クラック検出線ＣＲＷと映像信号線５０との間に画像表示とクラック検出を切り換える切り替えトランジスタ２０が存在している。切り替えトランジスタ２０をONにするとともに、第１のクラック検出端子ＣＲ１、第２のクラック検出端子ＣＲ２の順に点灯検査用の電圧を加えることによって、クラック検出線ＣＲＷを断線するようなクラックが存在しているか否かを検出する。【選択図】図１
2014122974.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
映像信号線を有する表示領域と端子部を有するＴＦＴ基板を有する液晶表示装置であって、
前記ＴＦＴ基板は、端子部が存在する第１の辺と、前記端子部と対向する第２の辺と、前記端子部の左側に位置する第３の辺と、前記端子部の右側に位置する第４の辺を有し、
前記端子部の前記第３の辺の側に第１のクラック検出端子を有し、前記端子部の前記第４の辺の側に第２のクラック検出端子を有し、前記第１のクラック検出端子から前記第３の辺、前記第２の辺、前記第４の辺に沿って前記第２のクラック検出線が延在し、
前記第２の辺の側において、前記映像信号線と前記クラック検出線との間に画像表示とクラック検出とを切り換える、第１の切り替えトランジスタが存在していることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記クラック検出線は、前記第２の辺の側において、前記第２の辺の中央付近における第１の折り返し部において折り返されて前記第３の辺の側に延在し、前記第３の辺の付近における第２の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の側に延在し、前記第４の辺の付近における第３の折り返し部において、折り返されて前記第２の辺の中央付近に延在し、前記第２の辺の中央付近における第４の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の付近に延在し、その後、前記第４の辺に沿って延在することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記クラック検出線は、前記第２の辺の側において、前記第４の辺付近における第１の折り返し部において折り返されて前記第３の辺の側に延在し、前記第３の辺の付近における第２の折り返し部において折り返されて前記第４の辺の側に延在し、その後、前記第４の辺に沿って延在することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第１の切り替えトランジスタのゲートは、端子部に形成されたテストゲート端子への信号によって制御されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項５】
前記端子部には、画像表示と点灯検査を切り換える第２の切り替えトランジスタが存在し、前記第２の切り替えトランジスタのソースには、端子部に形成された赤画素端子、緑画素端子、または青画素端子が存在し、前記第１の切り替えトランジスタのゲートは、前記赤画素端子、緑画素端子、または青画素端子のいずれかと接続していることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
前記端子部には、画像表示と点灯検査を切り換える第２の切り替えトランジスタが存在し、
前記表示領域と前記第２の切り替えトランジスタの間に、第３の切り替えトランジスタが存在し、前記第３の切り替えトランジスタには映像信号線が入力し、前記第３の切り替えトランジスタから前記第２の切り替えトランジスタに引き出し配線が接続し、
前記引き出し配線の数は、前記映像信号線の数の１／３であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項７】
走査線を有する表示領域と端子部を有するＴＦＴ基板を有する液晶表示装置であって、
前記ＴＦＴ基板は、端子部が存在する第１の辺と、前記端子部と対向する第２の辺と、前記端子部の左側に位置する第３の辺と、前記端子部の右側に位置する第４の辺を有し、
前記端子部の前記第３の辺の側に第１のクラック検出端子を有し、前記端子部の前記第４の辺の側に第２のクラック検出端子を有し、前記第１のクラック検出端子から前記第３の辺、前記第２の辺、前記第４の辺に沿って前記第２のクラック検出線が延在し、
前記第２の辺の側において、前記走査線と前記クラック検出線との間に画像表示とクラック検出とを切り換える、第１の切り替えトランジスタが存在していることを特徴とする表示装置。
【請求項８】
前記クラック検出線は、前記第２の辺の側において、前記第２の辺の中央付近における第１の折り返し部において折り返されて前記第３の辺の側に延在し、前記第３の辺の付近における第２の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の側に延在し、前記第４の辺の付近における第３の折り返し部において、折り返されて前記第２の辺の中央付近に延在し、前記第２の辺の中央付近における第４の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の付近に延在し、その後、前記第４の辺に沿って延在することを特徴とする請求項７に記載の表示装置。
【請求項９】
前記クラック検出線は、前記第２の辺の側において、前記第４の辺付近における第１の折り返し部において折り返されて前記第３の辺の側に延在し、前記第３の辺の付近における第２の折り返し部において折り返されて前記第４の辺の側に延在し、その後、前記第４の辺に沿って延在することを特徴とする請求項７に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記第１の切り替えトランジスタのゲートは、端子部に形成されたテストゲート端子への信号によって制御されることを特徴とする請求項７乃至９のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記端子部には、画像表示と点灯検査を切り換える第２の切り替えトランジスタが存在し、前記第２の切り替えトランジスタのソースには、端子部に形成された赤画素端子、緑画素端子、または青画素端子が存在し、前記第１の切り替えトランジスタのゲートは、前記赤画素端子、緑画素端子、または青画素端子のいずれかと接続していることを特徴とする請求項７乃至９のいずれか１項に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に係り、ガラス基板の切断線におけるクラックの程度およびその影響を検出することが可能な液晶表示装置あるいは有機ＥＬ表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置では画素電極および薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等がマトリクス状に形成されたＴＦＴ基板と、ＴＦＴ基板に対向して、ＴＦＴ基板の画素電極と対応する場所にブラックマトリクスあるいはオーバーコート膜等が形成された対向基板が設置され、ＴＦＴ基板と対向基板の間に液晶が挟持されている。そして液晶分子による光の透過率を画素毎に制御することによって画像を形成している。
【０００３】
特に中小型の液晶表示装置では、外形を一定にしつつ、表示領域を大きくする要求が強い。この場合、表示領域の端部から液晶表示パネルの端部までの幅、すなわち、額縁領域が小さくなる。しかし、表示領域の外側には、走査線または映像信号線、あるいはコモン配線等の配線を形成することが必要である。これらの配線領域を確保するために、ＴＦＴ基板と対向基板を接着するシール材の下方にまで配線を形成する必要がある。
【０００４】
中小型の液晶表示装置は１個ずつ製造することはコスト上有利ではない。したがって、大きな基板に複数の液晶表示装置を形成して完成後個々の液晶表示装置を分離するというプロセスが取られる。すなわち、大きなマザーＴＦＴ基板に複数のＴＦＴ基板を形成し、また、大きなマザー対向基板に複数の対向基板を形成する。そして、マザーＴＦＴ基板とマザー対向基板を貼り合わせてマザー基板が形成される。マザー基板に、スクライビングを行い、その後、衝撃を加えて破断し、個々の液晶表示パネルに分離する。
【０００５】
このように、ガラスを破断する際、液晶表示パネルの周辺には、クラックが生ずることになる。額縁が小さく、引き出し線の配線等が液晶表示パネルの端部付近にまで、形成されていると、クラックの存在によって、周辺の引き出し線が断線してしまう危険がある。したがって、液晶表示パネルの内周にクラックを検出する配線を形成することがおこなわれている。
【０００６】
ところで、液晶表示パネルの検査は、クラックの検出のみでなく、画素の点灯検査、配線の断線検査等色々な検査が必要である。種々の検査すべてに対応して検査端子を用意すると、検査端子の数が多くなり、液晶表示パネルの端子部のスペースが足らなくなる。「特許文献１」、「特許文献２」、「特許文献３」には、切り替えトランジスタを用いることによって、検査端子の数を減らす構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００７−１７１９９３号公報
【特許文献２】特開２００８−９２４６号公報
【特許文献３】特開２００９−９２９６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
図７は、本発明が適用される液晶表示装置の例を示す平面図である。図７において、ＴＦＴ基板１００と対向基板２００の間に図示しない液晶が挟持されている。ＴＦＴ基板１００は対向基板２００よりも大きく作られており、ＴＦＴ基板が１枚となっている部分は、ＩＣドライバ４０が搭載され、かつ、種々の端子が形成されている端子部１２０となっている。端子部に１２０は、フレキシブル配線基板１１０が接続されている。
【０００９】
図７において、対向基板２００には、偏光板２１０が貼り付けられている。ＴＦＴ基板１００の裏側にも図示しない偏光板２１０が貼り付けられている。表示領域３００は偏光板２１０のやや内側に形成されている。図７において、わかりやすいように太線で示した線がクラック検出線ＣＲＷであり、ＴＦＴ基板１００の端部に沿って形成されている。
【００１０】
クラックは全てのガラス基板に存在しているが、クラックが大きくなって、配線を断線させてしまう、あるいは、ＴＦＴ基板１００と対向基板２００のシールの信頼性を損なうことが問題である。したがって、クラック検出線ＣＲＷは、クラックが所定の大きさよりも大きいか否かの検出を行うものである。以後特にことわらない限り、クラックの有無とは所定の大きさ以上のクラックの有無を言うものとする。
【００１１】
図７において、フレキシブル配線基板１１０を通して電流を供給し、クラックの有無を検出する。クラック検出線ＣＲＷがクラックによって断線すると、電流が流れなくなるので、電流が流れるか否かによって、クラックの有無を検出することが出来る。
【００１２】
図８は、図７に示す液晶表示装置において、従来例によるクラックを検出するための回路を示す模式図である。図８は、図をわかりやすくするために、種々の端子が形成されている端子部の面積が大きくなるように誇張して記載されている。図８における表示領域３００には、実際には画素毎にＴＦＴが存在しているが、図が複雑となるので、省略している。また、図８では、走査線は省略されているが、実際には存在し、この走査線は、ＩＣドライバ４０と接続し、クラック検出時は画素におけるＴＦＴをＯＮする信号を供給する。なお、ＩＣドライバを使用せず、走査信号回路が液晶表示パネルに内蔵されている場合は、走査線は、この内蔵走査信号回路と接続する。
【００１３】
図８において、ＴＦＴ基板１００と対向基板２００が重なった部分に表示領域３００が形成されている。表示領域３００には映像信号線５０が縦方向に延在し、横方向に配列している。映像信号線５０は端子部１２０に引き出され、点灯検査切り替えトランジスタ１０を解して赤画素端子Ｒ、緑画素端子Ｇ、青画素端子Ｂと接続している。
【００１４】
点灯検査切り替えトランジスタ１０をON/OFFさせるゲート線は第１テストゲート端子ＴＧ１および第２テストゲート端子ＴＧ２と接続している。点灯検査のときは、点灯検査切り替えトランジスタ１０をONし、通常の画像を形成するときは、点灯検査切り替えトランジスタ１０はOFFになっている。図８において、点灯検査切り替えトランジスタ１０はＩＣドライバ４０と同じ位置に配置されているが、ＩＣドライバ４０に形成されているのではなく、ＴＦＴ基板１００に形成されている。
【００１５】
図８において、クラック検出線ＣＲＷがＴＦＴ基板１００の端部から距離ｄの位置にＴＦＴ基板１００の辺に沿って形成されている。ｄは例えば、２００μｍである。したがって、クラックが２００μｍよりも深くなるとクラック検出線ＣＲＷは断線し、電流が流れなくなるので、この液晶表示パネルは不良となる。
【００１６】
図８に示す検出方法は、クラック検出線ＣＲＷに電流を流して検査する必要がある。電流を流すためには、図７に示すように、フレキシブル配線基板１１０を接続する必要がある。すなわち、従来の方法では、フレキシブル配線基板１１０を接続するまで、クラックの有無を検出することができなかった。
【００１７】
本発明の課題は、問題となるクラックの有無の検出を、フレキシブル配線基板１１０を接続する前の、点灯検査等を行う時点で、同時に行うことが出来るようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明は上記課題を克服するものであり、具体的な手段の主なものは次のとおりである。
【００１９】
（１）映像信号線を有する表示領域と端子部を有するＴＦＴ基板を有する液晶表示装置であって、前記ＴＦＴ基板は、端子部が存在する第１の辺と、前記端子部と対向する第２の辺と、前記端子部の左側に位置する第３の辺と、前記端子部の右側に位置する第４の辺を有し、前記端子部の前記第３の辺の側に第１のクラック検出端子を有し、前記端子部の前記第４の辺の側に第２のクラック検出端子を有し、前記第１のクラック検出端子から前記第３の辺、前記第２の辺、前記第４の辺に沿って前記第２のクラック検出線が延在し、前記第２の辺の側において、前記映像信号線と前記クラック検出線との間に画像表示とクラック検出とを切り換える、第１の切り替えトランジスタが存在していることを特徴とする表示装置。
【００２０】
（２）前記クラック検出線は、前記第２の辺の側において、前記第２の辺の中央付近における第１の折り返し部において折り返されて前記第３の辺の側に延在し、前記第３の辺の付近における第２の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の側に延在し、前記第４の辺の付近における第３の折り返し部において、折り返されて前記第２の辺の中央付近に延在し、前記第２の辺の中央付近における第４の折り返し部において、折り返されて前記第４の辺の付近に延在し、その後、前記第４の辺に沿って延在することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、フレキシブル配線基板を接続する前に問題となるクラックの有無を検出することが出来るので、不良品に対するクラック検出以後の工程を省くことが出来るので、製造コストを下げることが出来る。また、不良のパネルに対してフレキシブル配線基板を接続する必要が無くなり、材料費の低減になる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施例１の構成を示す模式図である。
【図２】本発明の実施例２の構成を示す模式図である。
【図３】本発明の実施例３の構成を示す模式図である。
【図４】本発明の実施例４の構成を示す模式図である。
【図５】本発明の実施例５の構成を示す模式図である。
【図６】本発明の実施例６の構成を示す模式図である。
【図７】本発明が適用される液晶表示装置の例である。
【図８】従来例のクラック検出の構成を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下に実施例を用いて本発明の内容を詳細に説明する。なお、図１乃至６における表示領域３００内には、画素毎にＴＦＴが存在しているが、図が複雑になるのを避けるために省略している。また、また、図１、２、３、５、６では、走査線は省略されているが、実際には存在し、この走査線は、ＩＣドライバ４０と接続し、クラック検出時は画素におけるＴＦＴをＯＮする信号を供給する。なお、ＩＣドライバを使用せず、走査信号回路が液晶表示パネルに内蔵されている場合は、走査線は、この内蔵走査信号回路と接続する。
【実施例１】
【００２４】
図１は本実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。図１における端子部１２０において、検査端子であるＣＲ１、ＣＲ２、ＴＧ１、ＴＧ２等の外側、すなわち図１における下側にフレキシブル配線基板１１０と接続するためのフレキシブル配線基板用端子３０が形成されている。図１における点灯検査のための端子、配線、回路等は、図８で説明したのと同じである。
【００２５】
すなわち、点灯検査は、点灯検査切り替えトランジスタ１０、赤画素端子Ｒ、緑画素端子Ｇ、青画素端子Ｂ、点灯検査切り替えトランジスタ１０をON/OFFさせるゲート線、第１テストゲート端子ＴＧ１および第２テストゲート端子ＴＧ２等によって行われる。点灯検査切り替えトランジスタ１０はＩＣドライバ４０と同じ位置に配置されているが、ＩＣドライバ４０に形成されているのではなく、ＴＦＴ基板１００に形成されていることは図８と同じである。
【００２６】
図１において、端子部１２０の存在する辺を第１の辺とし、端子部１２０と対向する辺を第２の辺とし、端子部１２０の左側の辺を第３の辺とし、端子部１２０の右側の辺を第４の辺とする。実施例１の特徴は、表示領域３００と端子部１２０と対抗する辺である第２の辺の間に、クラック検出のためのクラック検査切り替えトランジスタ２０が形成されていることである。クラック検査切り替えトランジスタ２０は映像信号５０の数だけ存在している。クラック検査切り替えトランジスタ２０は、第３テストゲート端子ＴＧ３及び第４テストゲート端子ＴＧ４と接続しているゲート線によって制御される。
【００２７】
図１において、クラック検出線ＣＲＷは、端子部１２０に形成された第１クラック検出端子ＣＲ１から、第３の辺に沿って第２の辺に向かい、第１の辺と第２の辺のコーナーで折れ曲がって、第２の辺に沿って第２の辺の中央付近に延在する。そして、第２の辺の中央付近における第１の折り返し部で第２の辺と平行に第３の辺に向かって延在し、第３の辺付近の第２の折り返し部において、再び第２の辺と平行に今度は第４の辺付近まで延在し、第４の辺付近における第３の折り返し部において、第２の辺と平行に、第２の辺の中央付近まで延在し、第２の辺の中央付近における第４の折り返し部において、第２の辺に沿って第４の辺に向かって延在する。そして、第２の辺と第４の辺のコーナー部において、折れ曲がり、第４の辺に沿って端子部における第２クラック検出端子ＣＲ２に接続する。なお、ＴＦＴ基板１００の端部と最も外側のクラック検出線ＣＲＷとの距離ｄは２００μｍ程度である。以下の実施例においても同様である。
【００２８】
クラック検出線ＣＲＷが第２の辺の付近において、このように４の折り返し部を有して、つづら折りとなっているのは、液晶表示パネルが第２の辺の中央部において、液晶の注入孔を有し、この部分において、液晶を封止している封止材１５０が存在しているためである。すなわち、封止材１５０は紫外線硬化樹脂で形成されているので、この部分において、クラック検出線ＣＲＷが存在すると、紫外線を遮光するので、封止材１５０の硬化を阻害する。そこで、第２の辺の中央付近において、クラック検出線ＣＲＷを折り返し、第２の辺の中央部において、封止材１５０に対する紫外線の照射が十分に行えるようにしている。
【００２９】
図１において、クラック検査切り替えトランジスタ２０は第２の辺のクラック検出線ＣＲＷと表示領域３００における映像信号線５０とを接続している。図１の構成において、第３テストゲート端子ＴＧ３と第４テストゲート端子ＴＧ４にON信号を加え、クラック検査切り替えトランジスタ２０をONにする。そして、第１クラック検出端子ＣＲ１に検出信号を加えると、クラック検出線ＣＲＷが断線していなければ、すべての映像信号線５０に検出信号が加わり、全ての画素電極が点灯することになる。
【００３０】
しかし、例えば、クラック検出線ＣＲＷが第１の辺において、クラックによって断線していると、全ての映像信号線５０に検出信号が加わらず、全ての画素が点灯しないことになる。また、第２の辺における、クラック検査切り替えトランジスタ２０と接続する最も内側のクラック検出線ＣＲＷがクラックによって切断すると、切断した辺から第４の辺側の映像信号線５０には検出信号が加わらないので、切断したクラック検出線ＣＲＷから第４の辺側の全ての画素は点灯しないことになる。
【００３１】
このように、第１のクラック検出端子ＣＲ１に検出信号を印加することによって、第３の辺と第２の辺のクラックの有無を検出することが出来る。しかし、図１において、第３の辺に沿ったクラック検出線ＣＲＷと、第２の辺のつづら折りとなっている第３の辺の側および最も内側のクラック検出線ＣＲＷ以外が断線しても、全画素が点灯することになるので、この部分におけるクラックは検出することは出来ない。
【００３２】
そこで、図１において、端子部１２０に第２のクラック検出端子ＣＲ２を配置し、第２のクラック検出端子ＣＲ２に検出信号を印加すると、第４の辺に沿うクラック検出線ＣＲＷおよび、第２の辺のつづら折りとなっている第４の辺の側および最も内側のクラック検出線ＣＲＷの断線の有無を検出することが出来る。これによって、第２乃至第４の辺に沿う全てのクラック検出線ＣＲＷの断線を検出することが出来、クラックの有無を検出することが出来る。
【００３３】
このようにして、本発明においては、クラック検出端子を端子部１２０の両端に配置することによって、第２、第３、第４の辺のクラックの有無を検出することが出来る。本発明の利点は、映像信号線５０を用い、画素を点灯させることによって、クラックの有無を検出できることである。
【００３４】
画素の点灯は電圧駆動であるから、大きな電流は流れないので、フレキシブル配線基板１１０を接続しなくとも、従来の点灯検査と同じように、検査端子ＣＲ１、ＣＲ２、ＴＧ３、ＴＧ４等を用いて測定することが出来る。したがって、クラック検出の検査工程を先に行い、そのときに、クラックが検出されれば、そのパネルは後の工程に流す必要が無いので、無駄な工程を行う必要が無くなり、製造コストを低減することが出来る。
【００３５】
なお、クラック検出を行うときは、第１テストゲート端子ＴＧ１および第２テストゲート端子ＴＧ２にOFF信号を加え、点灯検査切り替えトランジスタ１０をOFFにしておく。逆に、点灯検査を行うときは、クラック検出のための、クラック検査切り替えトランジスタ２０をOFFにしておく。つまり、従来からおこなわれてきた点灯検査と同様にしてクラックを検出することが出来る。
【００３６】
検査端子ＣＲ１、ＣＲ２、ＴＧ３、ＴＧ等の外側、すなわち、図１における検査端子の下側に形成されているフレキシブル配線基板用端子３０は、各々、第１乃至第４テストゲート端子ＴＧ１、ＴＧ、ＴＧ３、ＴＧ４および第１クラック検出端子ＣＲ１、第２クラック検出端子ＣＲ２と接続している。液晶表示装置が完成して、通常の映像信号を印加するときは、第１乃至第４テストゲート端子ＴＧ１−ＴＧ４にはOFF信号を印加し、第１、第２クラック検出端子ＣＲ１、ＣＲ２はアース電位としておけばよい。
【００３７】
なお、図１の端子部における第１クラック検出端子ＣＲ１と接続するフレキシブル配線基板用端子３０および第２クラック検出端子ＣＲ２と接続するフレキシブル配線基板用端子３０は、フレキシブル配線基板１１０接続後、セットメーカーにおいて、クラックが進行しているか否かの検査をするための端子として使用することが出来る。
【実施例２】
【００３８】
図２は本発明による第２の実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。本実施例におけるクラック検出の方法は、実施例１と同様である。本実施例が実施例１と異なる点は、画像の表示方法である。すなわち、画面が高精細になると、映像信号線５０の数が多くなり、それに対応して、映像信号線引き出し線の数が多くなり、それに伴って、ＩＣドライバ４０の端子数が多くなり、ＩＣドライバ４０のコストの上昇、接続端子の信頼性の低下が問題となる。また、映像信号線引き出し線が延在してくる端子部１２０のスペースも足りなくなる。
【００３９】
本実施例における動作は、点灯検査切り替えトランジスタ１０と表示領域３００の間に第３切り替えトランジスタ７０を配置することによって、１走査期間を３つに分け、赤画素、緑画素、青画素を別々に走査して映像信号を書き込む。これによって、映像信号線引き出し線の数は１／３になる。一方、走査線の数は３倍になるが、映像信号線５０の減少のほうが走査線の増加よりも多いので、全体としては引き出し線の数が少なくなる。
【００４０】
図２において、点灯検査切り替えトランジスタ１０のソースには、ソース端子Ｓが接続している。点灯検査切り替えトランジスタ１０のドレイン線、すなわち、映像信号線引き出し線は、表示領域３００における映像信号線５０の１／３の数である。第３切り替えトランジスタ７０のゲート電極には、色毎に、赤画素端子Ｒ、緑画素端子Ｇ、青画素端子Ｂが接続している。
【００４１】
このような、映像表示方法あるいは点灯検査を行う液晶表示装置においても、実施例１で説明したのと同様なクラック検査を行うことが出来る。すなわち、第１のクラック検出端子ＣＲ１からクラック検出線ＣＲＷが第３の辺から第２の辺にかけて延在し、第２の辺において、実施例１と同様に、つづら折りとなり、さらに、第４の辺に延在し、第２のクラック検出端子ＣＲ２に接続する。
【００４２】
ＴＦＴ基板１００に問題となるクラックが存在するか否かは、第１のクラック検出端子ＣＲ１に電圧を印加し、その後、第２のクラック検出端子ＣＲ２に電圧を印加することによって、全周のクラック検出線ＣＲＷが断線しているか否か、すなわち、クラック不良が存在しているか否かを検出することが出来る。なお、テストゲート端子ＴＧ１−ＴＧ４、フレキシブル配線基板用端子３０等の役割は、実施例１で説明したのと同様である。
【実施例３】
【００４３】
図３は本発明による第３の実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。本実施例におけるクラック検出の方法も基本的には、実施例１と同様である。実施例１では、クラック検査切り替えトランジスタ２０のゲートは、第３テストゲート端子ＴＧ３および第４テストゲート端子ＴＧ４と接続しているが、本実施例では、第３テストゲート端子および第４テストゲート端子は存在しない。本実施例では、クラック検査切り替えトランジスタ２０のゲートは、点灯検査切り替えトランジスタ２０のソースと接続する赤画素端子Ｒと接続している。
【００４４】
すなわち、本実施例では、第３テストゲート端子および第４テストゲート端子を省略することが出来、端子部１２０のスペースを節約することが出来る。クラック検査切り替えトランジスタ２０をＯＮしてクラック検出を行うときは、赤画素端子ＲにＯＮ信号を加えるが、この時、点灯検査切り替えトランジスタ１０はＯＦＦとなっているので、赤画素端子ＲにＯＮ信号が加わっても、本来の点灯検査の動作に影響が出るわけではない。
【００４５】
図３においては、クラック検査切り替えトランジスタ２０のゲートは、点灯検査のための赤画素端子Ｒと接続しているが、緑画素端子Ｇあるいは青画素端子Ｂと接続しても同様に動作することが出来る。図３におけるクラック検出の動作は実施例１で説明したのと同様であるので、説明を省略する。
【実施例４】
【００４６】
図４は本発明による第４の実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。本実施例の液晶表示装置は、実施例１乃至３の液晶表示装置と異なり、端子部１２０が横方向に配置している。このような配置の液晶表示装置は、デジタルスチルカメラ（ＤＳＣ）等に使用される。
【００４７】
図４において、端子部１２０が形成されている辺を第１の辺とし、端子部１２０と対向する辺を第２の辺とし、上側の辺を第３の辺、下側の辺を第４の辺とする。図４において、表示領域３００を走査線６０が横方向に延在している。点灯検査のための点灯検査切り替えトランジスタ１０のドレインは、走査線６０と接続し、ソース線は、端子部における第１走査端子Ｇ１あるいは第２走査端子Ｇ２と接続している。
【００４８】
図４では、映像信号線は図を複雑にしないために省略されているが、実際には表示領域３００内に映像信号線が存在し、ＩＣドライバ４０と接続している。クラック検出時には、検出のための映像信号がＩＣドライバ４０から供給される。
【００４９】
図４において、クラック検出のためのクラック検査切り替えトランジスタ２０のソースは走査線６０と接続し、ドレインはクラック検出線ＣＲＷと接続している。クラック検出をするときは、点灯検査切り替えトランジスタ１０のゲートと接続する第１テストゲート端子ＴＧ１および第２テストゲート端子ＴＧ２にＯＦＦ信号を加えておく。そして、第３テストゲート端子ＴＧ３および第４テストゲート端子ＴＧ４にＯＮ信号を加えてクラック検査切り替えトランジスタ２０をＯＮして、クラック検出線ＣＲＷに断線が存在するか否かを判定して問題のクラックが存在するか否かを検出する。
【００５０】
この場合も、第1クラック端子ＣＲ１と第２クラック端子ＣＲ２から時間的に別々に検出信号を加えて、表示領域３００の画素が点灯するか否かを検出することによって、全周のクラックの状態を検査することができるのは、実施例１と同様である。このように、クラック検出線ＣＲＷと接続するクラック検査切り替えトランジスタ２０を表示領域３００における走査線６０と接続しても、本発明は問題なく、適用することが出来る。
【実施例５】
【００５１】
図５は本発明による第５の実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。本発明は、端子部１２０と対向する第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷの形状が実施例１とは異なる点を除いて実施例１と同じである。また、図５は、図１乃至４と異なり、第2の辺における封止材１５０が存在していない。
【００５２】
液晶表示パネルに液晶を注入する方法として、封入孔から液晶を注入する方法と、ＴＦＴ基板１００と対向基板２００を接着材によって貼り合わせる前に、例えば、対向基板２００に液晶を滴下して封入する方法（Ｏｎｅ  Ｄｒｏｐ  Ｆｉｌｌ、ＯＤＦ）がある。液晶を滴下法によって注入する方法は、封止孔および封止材１５０を必要としない。したがって、封止孔付近において、紫外線硬化する封止材１５０に対して紫外線の照射を阻害しないように、第２の辺の中央付近において、クラック検出線を迂回させる必要が無い。したがって、本実施例においては、クラック検出線ＣＲＷは、第２の辺においても、第２の辺に沿った、単純な直線となっている。
【００５３】
図５において、クラック検出線ＣＲＷが、端子部１２０における第１クラック検出端子ＣＲ１から第３の辺の内周にそって延在し、第２の辺付近で折れ曲がり、第２の辺に沿って延在し、第４の辺付近で折れ曲がり、第４の辺に沿って延在して端子部１２０における第２クラック検出線ＣＲ２に接続する。第２の辺に沿うクラック検出線ＣＲＷは、実施例１乃至４とは異なり、つづら折りになっておらず、１本の線である。
【００５４】
第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷが１本であっても、クラック検出のための動作は実施例１で説明したのと同様である。したがって、本実施例における動作の説明は省略する。なお、第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷが直線である構成は、実施例２乃至４で説明したクラック検出方法についても同様に適用することが出来る。
【実施例６】
【００５５】
図６は本発明による第６の実施例による、クラックを検出するための回路を示す模式図である。本発明は、端子部１２０と対向する第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷの形状が実施例１とは異なる点を除いて実施例１と同じである。また、図６は、第５の実施例と同様、第2の辺における封止材１５０が存在していない。本実施例も液晶を滴下法によって注入する方式の液晶表示装置に対して適用される。
【００５６】
図６の第２の辺におけるつづら折りは、第２の辺の中央付近で折り返されるのではなく、第３の辺および第４の辺付近において折り返されている。クラック検出線ＣＲＷをこのようなつづら折りとすることによって、クラック検出線ＣＲＷを遮光膜あるいは、他の配線等との関係で、シール部を平坦にするための手段として用いることが出来る。
【００５７】
第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷを図６のようなつづら折りとしても、クラックの検出は、実施例１と同様に行うことが出来るので、クラックの検出方法の説明は省略する。また、図６に示すような、第２の辺におけるクラック検出線ＣＲＷの形状は、実施例２乃至４で説明したクラック検出方法に対しても適用することが出来る。
【００５８】
以上の説明は、液晶表示装置を例にとって説明したが、有機ＥＬ表示装置についても本発明を適用することが出来る。
【符号の説明】
【００５９】
１０…点灯検査切り替えトランジスタ、  ２０…クラック検査切り替えトランジスタ、  ３０…フレキシブル配線基板用端子、  ４０…ＩＣドライバ、  ５０…映像信号線、  ６０…走査線、  ７０…第３切り替えトランジスタ、  ８０…導電性粒子、  ９０…レジスト、  １００…ＴＦＴ基板、  １１０…フレキシブル配線基板、  １２０…端子部、  １５０…封止材、  ２００…対向基板、  ２１０…偏光板、  ＣＲ１…第１クラック検出端子、  ＣＲ２…第２クラック検出端子、  ＣＲＷ…クラック検出線、  Ｇ１…第１走査端子、  Ｇ２…第２走査端子、  Ｒ…赤画素端子、  Ｇ…緑画素端子、  Ｂ…青画素端子、  Ｓ…ソース端子、  ＴＧ１…第１テストゲート端子、  ＴＧ２…第２テストゲート端子、  ＴＧ３…第３テストゲート端子、  ＴＧ４…第４テストゲート端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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