(57)【要約】【課題】コンパクトな装置構成で副走査方向の走査位置ずれを検出する新規な光走査装置及び当該光走査装置を搭載した画像形成装置を提供する。【解決手段】本発明によれば、副走査方向に連続するＮ本の主走査ラインを形成するためのＮ個の検査用光源と、前記感光体の像面の延長上に配設される光検知センサであって、２つの受光素子が副走査方向に所定の離間距離をもって並設される受光面と、前記受光素子ごとに設けられ、該受光素子の受光量に応じた出力信号レベルと基準レベルとの比較結果を出力する比較器とを備える、少なくとも１つの光検知センサと、２つの前記比較器の出力に基づいて副走査方向の走査位置ずれを検知する位置ずれ検知手段とを含み、前記２つの受光素子は、前記Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の主走査ラインの束を副走査方向に二分する線に対して線対称の位置に並設される光走査装置が提供される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体に潜像を形成するための光走査装置であって、
副走査方向に連続するＮ本（Ｎは１以上の整数）の主走査ラインを形成するためのＮ個の検査用光源と、
前記感光体の像面の延長上に配設される光検知センサであって、２つの受光素子が副走査方向に所定の離間距離をもって並設される受光面と、前記受光素子ごとに設けられ、該受光素子の受光量に応じた出力信号レベルと基準レベルとの比較結果を出力する比較器とを備える、少なくとも１つの光検知センサと、
２つの前記比較器の出力に基づいて副走査方向の走査位置ずれを検知する位置ずれ検知手段とを含み、
前記２つの受光素子は、前記Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の主走査ラインの束を副走査方向に二分する線に対して線対称の位置に並設される、
光走査装置。
【請求項２】
各前記受光素子は、同じ大きさの長方形をなし、その長手方向が副走査方向に平行に沿う形で並設される、請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記受光素子の長さと並設位置は、前記Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の検査用ラインの合計幅が、前記２つの受光素子の前記離間距離以上、且つ、該２つの受光素子の長さと前記離間距離の合計以下になるように定義される、請求項２に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記受光素子の長さと並設位置は、前記Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の検査用ラインの合計幅が、前記２つの受光素子の前記離間距離より大きく、且つ、該２つの受光素子の長さと前記離間距離の合計より小さくなるように定義され、
前記比較器は、前記受光素子の受光量に応じた出力信号レベルが基準レベルより大きい場合に真を出力し、
前記位置ずれ検知手段は、副走査方向上流側の前記受光素子について設けられた前記比較器の出力が真のときに、副走査方向上流側の走査位置ずれを検知し、副走査方向下流側の前記受光素子について設けられた前記比較器の出力が真のときに、副走査方向下流側の走査位置ずれを検知する、
請求項３に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記光検知センサは、前記感光体の主走査方向上流側端および下流側端にそれぞれ１つずつ配設され、主走査方向の同期検知手段として機能する、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の光走査装置を搭載する画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置及び画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザプリンタやデジタル複写機などのレーザー光書込方式を採用するカラー画像形成装置では、経時的に光学素子(レンズ、ミラー、ポリゴンなど)や光源の位置が変化する場合がある。そのような場合、副走査方向の走査位置ずれが生じ、色ずれの原因となる。この点につき、特開２００８−２１６２７６号公報（特許文献１）は、副走査方向の走査位置ずれを検出するための光検知センサを開示する。以下、図８に基づいて特許文献１が開示する手法を説明する。
【０００３】
特許文献１の光検知センサは、副走査方向に平行に配置される長方形の第１の受光部５２と、フォトダイオード５２の主走査方向下流側に副走査方向に対して角度θ（０＜θ＜９０°）だけ傾斜して配置される第２の受光部５４を含んで構成されている。ここで、特許文献１においては、第１の受光部５２が検査光（矢線は検査光の主走査ラインを意味する）を検出する時刻から第２の受光部５４が検査光を検出する時刻までの時間間隔Ｔｓとし、図８(ａ)に示す位置ずれの無い基準状態における時間間隔Ｔｓを基準値とする。
【０００４】
ここで、図８(ｂ)の矢線が示す位置を検査光が走査する際の時間間隔Ｔｓは、基準値より大きくなり、図８(ｃ)の矢線が示す位置を検査光が走査する際の時間間隔Ｔｓは、基準値より小さくなる。つまり、特許文献１では、時間間隔Ｔｓが基準値より大きくなった場合に主走査ラインが副走査方向上流側にずれていると判断し、時間間隔Ｔｓが基準値より小さくなった場合に主走査ラインが副走査方向下流側にずれていると判断し、時間間隔Ｔｓと基準値との差分ΔＴｓから副走査方向のずれ量Δｈを算出する。
【０００５】
しかしながら、特許文献１の光検知センサは、第２の受光部５４のように非平行な辺縁を有する特殊なフォトダイオードを必要とするためコストが高くなり、また、そのサイズも汎用フォトダイオードに比べて大きくなるので、光検知センサのパッケージの幅が主走査方向に大きくなってしまうという問題があった。光検知センサ・パッケージが大型化すると、主走査方向の走査範囲をその分拡大しなければならなくなるため、光路長の増大や光学系の広角化を余儀なくされ、結果的に、画像形成装置の大型化を引き起こす。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、上記従来技術における課題に鑑みてなされたものであり、本発明は、コンパクトな装置構成で副走査方向の走査位置ずれを検出する新規な光走査装置及び当該光走査装置を搭載した画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者は、コンパクトな装置構成で副走査方向の走査位置ずれを検出する新規な光走査装置につき鋭意検討した結果、以下の構成に想到し、本発明に至ったのである。
【０００８】
すなわち、本発明によれば、感光体に潜像を形成する光走査装置であって、副走査方向に連続するＮ本（Ｎは１以上の整数）の主走査ラインを形成するためのＮ個の検査用光源と、前記感光体の像面の延長上に配設される光検知センサであって、２つの受光素子が副走査方向に所定の離間距離をもって並設される受光面と、前記受光素子ごとに設けられ、該受光素子の受光量に応じた出力信号レベルと基準レベルとの比較結果を出力する比較器とを備える、少なくとも１つの光検知センサと、２つの前記比較器の出力に基づいて副走査方向の走査位置ずれを検知する位置ずれ検知手段とを含み、前記２つの受光素子は、前記Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の主走査ラインの束を副走査方向に二分する線に対して線対称の位置に並設される光走査装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施形態の光走査装置を示す図。
【図２】本実施形態の光走査装置の機能ブロック図。
【図３】副走査方向の走査位置ずれを検出する機構を説明するための概念図。
【図４】副走査方向の走査位置ずれを検出する機構を説明するための概念図。
【図５】副走査方向の走査位置ずれを検出する機構を説明するための概念図。
【図６】光走査装置が実行する処理を示したフローチャート。
【図７】検査用ラインと受光素子の関係を説明するための概念図。
【図８】従来技術を説明するための概念図。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明を、実施形態をもって説明するが、本発明は後述する実施形態に限定されるものではない。なお、以下に参照する各図においては、共通する要素について同じ符号を用い、適宜、その説明を省略するものとする。
【００１１】
図１は、本発明の実施形態である光走査装置１００を模式的に示す。なお、図１では、光走査装置１００の構成を簡略化しており、本発明の要旨に直接関係しない周知構成については、適宜、その図示を省略しているものとして参照されたい。
【００１２】
図１は、タンデム方式のフルカラーデジタル複写機（画像形成装置）に搭載された光走査装置１００を示す。光走査装置１００は、回転する感光体ドラム１０に対して主走査方向にレーザー光を走査して潜像を形成する。ここで、本実施形態の光走査装置１００は、画像出力の高速化のためにマルチビーム方式の走査光学系を採用しているものとして参照されたい。
【００１３】
本実施形態の光走査装置１００は、光源ユニット１１、光束分割プリズム１３、液晶偏向素子１４、シリンダレンズ１５、ポリゴンミラー１６、ｆθレンズ１７、折り返しミラー（図示せず）、トロイダルレンズ（図示せず）、および、光検知センサ２０を含んで構成されている。ここで、光源ユニット１１および光束分割プリズム１３以外の部材は、１つの感光体ドラム１０に対して１つずつ設けられているものとして参照されたい。また、図１は、説明の便宜上、２つの感光体ドラム１０ｙ（イエロー），感光体ドラム１０ｍ（マゼンタ）に係る光学系のみを示し、その余の２つの感光体ドラム（シアン、ブラック）に係る光学系を省略している。
【００１４】
光源ユニット１１は、レーザーアレイ（後述する）とコリメートレンズを含んで構成される。レーザーアレイから照射されるビームは、コリメートレンズにより平行光束化された後、光束分割プリズム１３に入射して２つの平行光線に分割される。分割された各ビームは、対応する液晶偏向素子１４およびシリンダレンズ１５を透過した後、ポリゴンミラー１６に反射してｆθレンズ１７に入射する。その後、ｆθレンズ１７を透過したビームは、折り返しミラー（図示せず）に反射した後、トロイダルレンズ（図示せず）を透過し、最終的に感光体ドラム１０ｙおよび感光体ドラム１０ｍのそれぞれの像面上に光スポットとして照射される。このとき、ポリゴンミラー１６が回転することによってビームの反射方向が偏向され、その結果、ビーム（光スポット）が感光体ドラム１０上を主走査方向に走査する。
【００１５】
本実施形態における光検知センサ２０は、副走査方向の走査位置ずれを検知するためのセンサである。光検知センサ２０は、感光体ドラム１０上の走査を終えたビームが入射するように、その受光面が感光体ドラム１０の像面（主走査ライン）の延長上に位置するように配設されている。なお、図１に示す例では、１つの感光体ドラム１０に対して、２つの光検知センサ２０が主走査方向上流側端および下流側端にそれぞれ１つずつ配置されており、各光検知センサ２０は、先端同期検知手段および後端同期検知手段（主走査方向の同期検知手段）としても機能するように構成されている。
【００１６】
図１右側に、光検知センサ２０の受光面を拡大して示す。破線で囲んで示すように、光検知センサ２０の受光面には、同じ大きさの長方形をなす２つの受光素子２２ａ，２２ｂが、その長手方向が副走査方向に平行に沿う形で、副走査方向に所定の離間距離をもって並設されている。
【００１７】
ここで、本実施形態における光検知センサ２０においては、受光素子２２ａおよび受光素子２２ｂを副走査方向に並設することで、受光面を副走査方向に縦長にすることができるので、光検知センサ２０のパッケージの主走査方向の幅を小さくすることが可能になる。また、受光素子２２ａ，２２ｂのような長方形の受光素子は、汎用フォトダオードを流用することができるので、光検知センサ２０にかかる製造コストを低減することができる。
【００１８】
図２は、本実施形態の光走査装置１００の機能ブロック図を示す。なお、図２においては、発明の要旨に関わる一部の構成のみを示し、その余の構成を省略している。
【００１９】
本実施形態の光走査装置１００、先に述べたようにマルチビーム方式の走査光学系を採用するため、光源ユニット１１は、レーザー光源としてレーザーアレイ１２を備えている。ここで、レーザーアレイ１２は、複数（例えば３２個）のレーザー発光素子が１つの基板上にマトリックス状に配置された面発光型半導体として参照することができる。マルチビーム方式では、レーザーアレイ１２に配置された複数のレーザー発光素子を同時に点灯させることによって、感光体ドラム１０上に複数の主走査ラインを同時形成することができる。
【００２０】
ここで、本実施形態においては、副走査方向の走査位置ずれを検出するにあたり、主制御部３０が位置ずれ検知手段として機能する。主制御部３０は、まず、レーザーアレイ１２を制御して、副走査方向に連続するＮ本（Ｎは１以上の整数、以下同様）の主走査ラインを形成するＮ個のレーザー発光素子（以下、検査用光源という）のみを選択的に点灯させる。ここでいう主走査ラインは、像面に照射される光スポット径に応じた一定の幅を有する。
【００２１】
一方、光検知センサ２０は、２つの受光素子２２ａ，２２ｂと、各受光素子２２からの出力信号（受光量に応じた光電変換信号）を増幅するためのアンプと、当該アンプの出力信号レベルを予め設定されている基準レベル（Ｖｓ）と比較し、その比較結果を出力するための比較器を備えている。
【００２２】
ここで、光検知センサ２０の受光面には、２つの受光素子２２ａ，２２ｂが副走査方向に離間距離ｄをもって並設されており、上述した検査用光源の点灯によって形成される主走査ラインが受光素子２２ａ，２２ｂの上を横断するように構成されている。
【００２３】
本実施形態において、２つの受光素子２２ａ，２２ｂは、Ｎ個の検査用光源の点灯によって形成されるＮ本の主走査ラインからなる束を幅方向（副走査方向）に等しく二分する線に対して線対称の位置に配置される（そうなるように光検知センサ２０を位置決めする）。その結果、検査用光源に係る主走査ラインが受光素子２２ａ，２２ｂの上を横断すると、光検知センサ２０の比較器１および比較器２から比較結果が出力される。主制御部３０は、比較器１および比較器２からの入力（比較結果）に基づいて副走査方向の走査位置ずれを検出する。
【００２４】
ここで、液晶偏向素子１４は、印加電位に応じてビームの射出軸を鉛直方向に傾けることができるように構成されており、主制御部３０は、検出した副走査方向の走査位置ずれに応じて、液晶偏向素子１４を制御してビームの射出軸を偏向する。
【００２５】
以上、本実施形態の光走査装置１００の構成について概説してきたが、続いて、光走査装置１００が副走査方向の走査位置ずれを検出する機構を具体例に基づいて説明する。なお、以下においては、位置ずれ検出のために、５個の検査用光源を点灯して連続する５本の主走査ラインを形成し、光検知センサ２０の比較器が参照する基準レベル（Ｖｓ）を１．５ライン分の出力レベル（１本の主走査ラインが受光素子２２を横断した場合のアンプ２の出力レベルの１．５倍に相当する値）に設定した場合について説明する。
【００２６】
図３（ａ）は、走査位置にずれのない状態（以下、基準状態という）における、検査用光源に係る主走査ライン（以下、検査用ラインという）と２つの受光素子２２ａ，２２ｂの位置関係を示す。図３（ａ）に示すように、基準状態において、２つの受光素子２２ａ，２２ｂは、５個の検査用光源１〜５の点灯によって形成される５本の主走査ラインの束を幅方向（副走査方向）に等しく二分する線Ｓに対して線対称の位置に配置されている。その結果、検査用ライン１〜５のうち、中央に位置する３本の検査用ライン２〜４が２つの受光素子２２ａ，２２ｂの間を横断し、残りの２本の検査用ライン１および検査用ライン２は、それぞれ、受光素子２２ａおよび受光素子２２ｂの上を横断している。
【００２７】
図３（ａ）に示す基準状態においては、検査用ライン１および検査用ライン２が、それぞれ、受光素子２２ａおよび受光素子２２ｂの上を横断しているので、アンプ１およびアンプ２の出力は、いずれも、１ライン分の出力レベルになる。この場合、図３（ｂ）に示すように、アンプ１およびアンプ２の出力レベルは、いずれも、基準レベル（Ｖｓ）を超えないので、比較器１および比較器２の出力は、いずれもLow（偽）になる。
【００２８】
一方、図４（ａ）は、走査位置が副走査方向上流側に０．８ライン分（検査用ラインの幅の０．８倍に相当する移動量）ずれたときの検査用ラインと２つの受光素子２２ａ，２２ｂの位置関係を示す。図４（ａ）に示す例では、検査用ライン１および検査用ライン２の８割に相当する部分が受光素子２２ａの上を横断する一方で、検査用ライン５の２割に相当する部分が受光素子２２ｂの上を横断している。
【００２９】
この場合、図４（ｂ）に示すように、アンプ１の出力レベルが基準レベル（Ｖｓ）を超えるのに対し、アンプ２の出力レベルは、基準レベル（Ｖｓ）を超えない。その結果、比較器１の出力は、High（真）になり、比較器２の出力は、Low（偽）になる。
【００３０】
一方、図５（ａ）は、走査位置が副走査方向下流側に０．８ライン分ずれたときの検査用ラインと２つの受光素子２２ａ，２２ｂの位置関係を示す。図５（ａ）に示す例では、検査用ライン１の２割に相当する部分が受光素子２２ａの上を横断する一方で、検査用ライン５および検査用ライン４の８割に相当する部分が受光素子２２ｂの上を横断している。
【００３１】
この場合、図５（ｂ）に示すように、アンプ１の出力レベルが基準レベル（Ｖｓ）を超えないのに対し、アンプ２の出力レベルは、基準レベル（Ｖｓ）を超える。その結果、比較器１の出力は、Low（偽）になり、比較器２の出力は、High（真）になる。
【００３２】
以上、走査位置のずれに応じて比較器１および比較器２の出力が変化する態様について説明してきたが、続いて、光走査装置１００の主制御部３０が副走査方向の走査位置のずれを検出し、必要な補正を実施するまでの処理の流れを図６に示すフローチャートに基づいて説明する。なお、以下においては、図２を適宜参照するものとする。
【００３３】
まず、ステップ１０１において、比較器１の出力（真・偽）を確認する。その結果、比較器１の出力＝真であった場合は、現在の走査位置が副走査方向上流側にずれていることを検知する（ステップ１０２）。この場合、主制御部３０は、走査位置が現在の位置から所定のオフセット量Δｈだけ副走査方向下流側にずれるように、液晶偏向素子１４に対する印加電位を制御してビームの射出軸を補正する（ステップ１０３）。
【００３４】
ここで、オフセット量Δｈは、上述した基準レベル（Ｖｓ）に応じた適切な値とする。上述した例では、基準レベル（Ｖｓ）を１．５ライン分の出力レベルに設定しており、０．５ライン分（検査用ラインの幅の０．５倍に相当する移動量）以上のずれを検出可能に構成しているので、この場合は、オフセット量Δｈを０．５ライン分以下に設定することが好ましい。
【００３５】
以降、比較器１の出力＝偽になるまで、ステップ１０１〜１０３の処理が繰り返される。その結果、ステップ１０１において、出力＝偽となると、処理は、ステップ１０４に進み、比較器２の出力（真・偽）を確認する。ここで、比較器１の出力＝偽の場合、通常は、比較器２の出力＝偽となる。したがって、この場合は、位置ずれが解消したものと判断して処理を終了する。
【００３６】
一方、最初のステップ１０１において、比較器１の出力＝偽であった場合は、ステップ１０４に進んで、比較器２の出力（真・偽）を確認する。その結果、比較器２の出力＝真であった場合は、現在の走査位置が副走査方向下流側にずれていることを検知する（ステップ１０５）。この場合、主制御部３０は、ステップ１０６において、走査位置が現在の位置からオフセット量Δｈだけ副走査方向上流側にずれるように、液晶偏向素子１４に対する印加電位を制御してビームの射出軸を傾ける（偏向する）。
【００３７】
以降、比較器２の出力＝偽になるまで、ステップ１０１〜１０６の処理が繰り返される。その結果、ステップ１０１において出力＝偽となり、ステップ１０４において出力＝偽となった時点で、位置ずれが解消したとものとして処理を終了する。
【００３８】
以上、副走査方向の走査位置ずれを検出する機構を具体例に基づいて説明してきたが、本実施形態は、図３に示した態様に限定されるものではなく、受光素子２２の長さとその並設位置に関して、種々の設計変更が可能である。
【００３９】
まず、本実施形態は、検査用ラインの本数を限定するものではなく、アライメント性を考慮した適切な数とすればよい。また、基準状態における受光素子２２の長さとその並設位置（以下、位置関係という）は、Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の検査用ラインの合計幅Ｗ、受光素子２２ａ，２２ｂの離間距離ｄ、および、受光素子２２の副走査方向の長さＬによって定義される所定の条件を満たしている限りにおいて、種々の設計変更が可能となる。以下、この点について、図７に基づいて説明する。
【００４０】
本実施形態においては、第１に、Ｎ本の検査用ラインの合計幅Ｗが、２つの受光素子２２の長さＬとその離間距離ｄの合計（２Ｌ+ｄ）以下となることを条件とする。
【００４１】
図７（ａ）は、“Ｗ＝２Ｌ+ｄ”を満たした位置関係を示す。この条件においては、基準状態では、２つの受光素子２２ａ，２２ｂの出力レベルは等しく最大となり、検査用ラインの束が副走査方向にずれることに応答して、ずれ方向の反対側に位置する受光素子２２の出力レベルが減少し、ずれ方向側に位置する受光素子２２の出力レベルはそのまま維持される。したがって、この条件を採用する場合は、アンプの出力レベルが所定の基準レベル（Ｖｓ）より小さくなるときにHigh（真）が出力されるように光検知センサ２０を構成すればよい。
【００４２】
本実施形態においては、第２に、Ｎ本の検査用ラインの合計幅Ｗが２つの受光素子２２の離間距離ｄ以上となることを条件する。
【００４３】
図７（ｂ）は、“Ｗ＝ｄ”を満たした位置関係を示す。この条件においては、基準状態では、２つの受光素子２２ａ，２２ｂの出力レベルは等しく最低（０）を示し、検査用ラインの束が副走査方向にずれることに応答して、ずれ方向側に位置する受光素子２２の出力レベルが増大し、ずれ方向の反対側に位置する受光素子２２の出力レベルはそのまま維持される。したがって、この条件を採用する場合は、アンプの出力レベルが所定の基準レベル（Ｖｓ）より大きくなるときにHigh（真）が出力されるように光検知センサ２０を構成すればよい。
【００４４】
図７（ｃ）は、“Ｗ＜２Ｌ+ｄ”且つ“Ｗ＞ｄ”を満たした位置関係を示す。この位置関係は、すなわち、図３に示した位置関係を表している。
【００４５】
以上述べたように、本実施形態においては、受光素子２２の長さＬと並設位置は、Ｎ本（Ｎは１以上の整数）の検査用ラインの合計幅Ｗが、２つの受光素子２２の離間距離ｄ以上、且つ、２つの受光素子２２の長さＬと離間距離ｄの合計（２Ｌ+ｄ）以下になるように定義する。その上で、定義した位置関係に応じて適切な基準レベル（Ｖｓ）を設定することによって、副走査方向の走査位置ずれを検出する。
【００４６】
以上、説明したように、本実施形態が副走査方向の走査位置ずれを検出するために使用する光検知センサは、縦長の受光素子を副走査方向に並設する配置を採用するため、光検知センサのパッケージの主走査方向の幅を小さくすることが可能になる。また、本実施形態においては、計算を介さずに受光素子の受光光量レベルを直接的に利用して位置ずれを検出するので、位置ずれ検出のための余計な計算負荷が生じない。
【００４７】
上述した実施形態の各機能は、Ｃ、Ｃ＋＋、Ｃ＃、Ｊａｖａ（登録商標）などのオブジェクト指向プログラミング言語などで記述された装置実行可能なプログラムにより実現でき、本実施形態のプログラムは、ハードディスク装置、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ、フレキシブルディスク、ＥＥＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭなどの装置可読な記録媒体に格納して頒布することができ、また他装置が可能な形式でネットワークを介して伝送することができる。
【００４８】
以上、本発明について実施形態をもって説明してきたが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、当業者が推考しうる実施態様の範囲内において、本発明の作用・効果を奏する限り、本発明の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００４９】
１０…感光体ドラム
１１…光源ユニット
１２…レーザーアレイ
１３…光束分割プリズム
１４…液晶偏向素子
１５…シリンダレンズ
１６…ポリゴンミラー
１７…ｆθレンズ
２０…光検知センサ
２２…受光素子
３０…主制御部
５２…第１の受光部
５４…第２の受光部
１００…光走査装置
【先行技術文献】
【特許文献】
【００５０】
【特許文献１】特開２００８−２１６２７６号公報
【図１】
2014134628.tif 000003
【図２】
2014134628.tif 000004
【図３】
2014134628.tif 000005
【図４】
2014134628.tif 000006
【図５】
2014134628.tif 000007
【図６】
2014134628.tif 000008
【図７】
2014134628.tif 000009
【図８】
2014134628.tif 000010