(57)【要約】【課題】被走査面の画像領域にスポット像として結像させる安価な結像光学手段を用いても画像領域中での主走査方向の各ビームの印字位置ずれを低減でき、高精細な画像が形成できる簡易な構成の光走査装置を提供することにある。及びそれを用いた画像形成装置を提供する。【解決手段】光源手段から間欠的に出射するビームを主走査方向に偏向する偏向面を備えた偏向手段と、前記主走査方向に偏向された前記ビームを被走査面の画像領域に集光させて、前記主走査方向に沿って並んだ複数のスポットを形成する結像光学手段と、前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差と、前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する別の２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差とを、互いに異ならせる補正手段と、を有する。【選択図】図１
2014167504.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源手段から間欠的に出射するビームを主走査方向に偏向する偏向面を備えた偏向手段と、
前記主走査方向に偏向された前記ビームを被走査面の画像領域に集光させて、前記主走査方向に沿って並んだ複数のスポットを形成する結像光学手段と、
前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差と、前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する別の２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差とを、互いに異ならせる補正手段と、
を有することを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記主走査方向に沿って並んだ複数のスポットは、連続した複数のスポットを含む第１ブロックと、該第１ブロックと隣接し、連続した複数のスポットを含む第２ブロックとを含んでおり、
前記第１ブロックの内の複数のスポットのうち隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差と、前記第２ブロックの内の複数のスポットのうち隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差とが同じ時間差であって、
前記第１ブロックの内の最も前記第２ブロックに近い側のスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングと、前記第２ブロックの内の最も前記第１ブロックに近い側のスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングとの差とが異なることを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差を記憶する記憶手段を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記光源手段が、同時に第１のビーム、第２のビームを含む複数のビームを間欠的に射出しており、
前記偏向手段が、前記複数のビームを前記主走査方向に偏向しており、
前記結像光学手段が、前記偏向手段により偏向された前記複数のビームによる複数のスポットを前記被走査面に形成しており、
前記第１のビームにより形成される複数のスポットのうち隣接する第１スポットと第２スポットのために前記光源手段がビームを出射するタイミングの差と、
前記第２のビームにより形成される複数のスポットのうち、前記第１スポットおよび前記第２スポットと前記主走査方向の位置が同じであり互いに隣接する第３スポットと第４スポットのために前記光源手段がビームを出射するタイミングの差とが、互いに異なることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記光源手段は、互いに主走査方向に間隔を有し副走査方向にずれて配置された少なくとも３個以上の発光点を備え、
前記補正手段は、
前記少なくとも３個以上の発光点からの前記ビームを用いて予め測定された前記被走査面の画像領域における前記主走査方向の少なくとも２つ以上のビーム間隔のずれを、前記主走査方向に分割された複数のブロック毎に補正する補正データを格納する補正データ格納手段と、
前記補正データを用いて、前記複数のブロック毎に前記主走査方向のビームの発光を制御する発光制御手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか1項に記載の光走査装置。
【請求項６】
前記偏向面もしくはその近接位置に前記光源手段からの各ビームを前記主走査方向の焦線として夫々結像させる入射光学手段と、
前記光源手段と前記偏向手段との間の光路にあって、少なくとも前記主走査方向のビーム幅を規制する絞りと、を有し、
以下の式を満たすことを特徴とする請求項５に記載の光走査装置。
2014167504.tif 000015
但し、
Ｌ：前記主走査方向のビーム幅を規制する前記絞りから前記偏向面までの距離
Ｗ：前記発光点の前記主走査方向の間隔
ｆｆΘ：前記結像光学手段の主走査焦点距離
ｆｃｏｌ：前記入射光学手段の主走査焦点距離
Ｒ：主走査方向解像度
【請求項７】
全ての前記発光点は、前記主走査方向の位置に応じて２以上のグループにグループ化されており、各グループで前記補正データが異なることを特徴とする請求項５または６に記載の光走査装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光走査装置と、前記被走査面に配置された感光体と、前記光走査装置で走査された光束によって前記感光体に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像された前記トナー像を被転写材に転写する転写器と、転写された前記トナー像を前記被転写材に定着させる定着器と、を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項９】
請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光走査装置と、外部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して前記光走査装置に入力せしめるプリンタコントローラと、を有することを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置及びそれを用いた画像形成装置に関し、電子写真プロセスを有するレーザービームプリンタやデジタル複写機やマルチファンクションプリンタ（多機能プリンタ）に好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、複数の発光部（発光点）を有する光源手段（多ビーム光源）を用いた光走査装置として、多ビーム光源からの複数光束を被走査面としての感光ドラム（感光体）面上に走査レンズ（ｆθレンズ）を用いてスポット形成する光走査装置が提案されている。これらの光走査装置において、複数ビーム間で波長差が生じても画像の長さが一致するように電気的な補正を行っていた。特許文献１では、主走査方向における画像の両端部にセンサーを配置して、複数ビームの各ビームの画像長さ（全体倍率）を測定する手段と、測定した長さに応じてそれを補正する手段と、を有する画像形成装置に関する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−３２８０４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ここで、走査レンズ（ｆθレンズ）の製造誤差が発生すると、画像領域中で主走査方向の位置に応じて主走査方向のピント位置が変化し（主走査方向の像面湾曲）、画像領域中で各ビームの主走査方向の印字位置ずれ（部分倍率ずれ）が発生するという課題がある。
【０００５】
しかしながら、特許文献１では、全ビームの画像の長さ（全体倍率）は補正できるものの、画像領域中の複数ビームの主走査方向位置（部分倍率）は補正できない。何故なら、画像の両端部のセンサーで画像領域中の主走査方向の位置を測定することができないからである。
【０００６】
これにより、多ビーム光源を用いた光走査装置において、ｆΘレンズの主走査方向の像面湾曲により画像領域中でビームごとに主走査方向の印字位置ずれ（部分倍率ずれ）が発生し、モアレやジッタ−の画像不良が生じる。また異なる複数の画像を重ね合わせて画像形成を行うカラー画像形成装置においては、色ごとに印字位置ずれが生じる、所謂色ずれが発生する。
【０００７】
本発明の目的は、被走査面の画像領域にスポット像として結像させる安価な結像光学手段を用いても画像領域中での主走査方向の各ビームの印字位置ずれを低減でき、高精細な画像が形成できる簡易な構成の光走査装置を提供することにある。及びそれを用いた画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明に係る光走査装置は、光源手段から間欠的に出射するビームを主走査方向に偏向する偏向面を備えた偏向手段と、前記主走査方向に偏向された前記ビームを被走査面の画像領域に集光させて、前記主走査方向に沿って並んだ複数のスポットを形成する結像光学手段と、前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差と、前記複数のスポットのうち前記主走査方向に沿って隣接する別の２つのスポットを形成するために前記光源手段からビームが出射するタイミングの差とを、互いに異ならせる補正手段と、を有することを特徴とする。
【０００９】
また、上記光走査装置を用いた画像形成装置も本発明の他の一側面を構成する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、被走査面の画像領域にスポット像として結像させる安価な結像光学手段を用いても画像領域中での主走査方向の各ビームの印字位置ずれを低減でき、高精細な画像が形成できる簡易な構成の光走査装置及びそれを用いた画像形成装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】（ａ）は本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の主走査断面内のピントずれを示す模式図、（ｂ）は同一時刻におけるビーム間隔の説明図、（ｃ）はビーム間隔ずれを測定して発光タイミングを補正する全系を示す模式図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の主走査断面図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の偏向面近傍の主走査断面拡大図である。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の光路展開図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の光源を示す模式図である。
【図６】(ａ)は主走査方向のピントずれが無い場合の被走査面の画像領域におけるドット位置の模式図、（ｂ）は主走査方向のピントずれが有る場合の被走査面の画像領域におけるドット位置の模式図、（ｃ）は主走査方向におけるピント１ｍｍディフォーカスで発生する発光点１に対する発光点１６のドットずれ（敏感度）を示すグラフである。
【図７】本発明の第１の実施形態における補正値の決定を示すフローである。
【図８】本発明の第２の実施形態における補正値の決定を示すフローである。
【図９】本発明の第３の実施形態における補正値の決定を示すフローである。
【図１０】本発明の実施形態に係る光走査装置を搭載したカラー画像形成装置の要部概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。以下の説明において、主走査方向とは回転多面鏡の回転軸及び結像光学系の光軸に垂直な方向（回転多面鏡で光束が反射偏向（偏向走査）される方向）、副走査方向とは回転多面鏡の回転軸と平行な方向である。また、主走査断面とは主走査方向と結像光学系の光軸を含む平面、副走査断面とは結像光学系の光軸を含み主走査断面と垂直な断面である。
【００１３】
《第１の実施形態》
（画像形成装置）
図１０は、本発明の実施形態に係る光走査装置を搭載したカラー画像形成装置の模式図で、副走査方向の要部断面を示す。図９において、６０はカラー画像形成装置、７１、７２、７３、７４は後に詳述する光走査装置、１２１、１２２、１２３、１２４は各々像担持体（感光体）としての感光ドラム、３１、３２、３３、３４は各々現像器、５１は搬送ベルトである。
【００１４】
本実施形態におけるカラー画像形成装置６０には、パーソナルコンピュータ等の外部機器５２からＲ（レッド）、Ｇ（グリーン）、Ｂ（ブルー）の各色信号が入力する。これらの色信号は、装置内のプリンタコントローラ５３によって、入力したコードデータがＹ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｂ（ブラック）の各画像データ（ドットデータ）に変換される。これらの画像データは、光走査装置７１、７２、７３、７４に入力される。
【００１５】
そして、光走査装置７１、７２、７３、７４からは、各画像データに応じて変調された光ビーム４１、４２、４３、４４が出射され、これらの光ビームによって感光ドラム１２１、１２２、１２３、１２４の感光面が主走査方向に走査される。
【００１６】
本実施形態におけるカラー画像形成装置６０では、光走査装置７１、７２、７３、７４により４ビームを走査するが、各々のビームがＹ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｂ（ブラック）の各色に対応している。そして、各々平行して設けられる感光ドラム１２１、１２２、１２３、１２４の各ドラム面上に、画像信号（画像情報）に対応した潜像に応じたトナー像が現像器３１、３２、３３、３４により各々形成される。
【００１７】
このように本実施形態では、各光走査装置および各現像器により、各々の画像データに基づいた光ビームを用いて各色の静電潜像に応じたトナー像を各々対応する感光ドラム面上に高速印字している。その後、トナー像を被転写材である記録材に転写する転写器、更に転写されたトナー像を被転写材に定着する定着器により、記録材に多重転写された１枚のフルカラー画像を形成している。
【００１８】
外部機器５２としては、例えばＣＣＤセンサを備えたカラー画像読取装置が用いられても良い。この場合には、このカラー画像読取装置と、カラー画像形成装置６０とで、カラーデジタル複写機が構成される。
【００１９】
（光走査装置）
以下、図面を用いて本発明の第１の実施形態に係る光走査装置について説明する。図１（ａ）は本発明の第１の実施形態に係る光走査装置の主走査断面内のピントずれを示す模式図、（ｂ）は同一時刻におけるビーム間隔の説明図、（ｃ）はビーム間隔ずれを測定して発光タイミングを補正する全系を示す模式図である。また、図２は本実施形態に係る光走査装置の主走査断面図、図３は偏向面近傍の主走査断面拡大図である。
【００２０】
図中、１は間欠的に複数のビームを同時に出射する光源手段であり、図５に示すように１６個の発光点（ＬＤ１〜ＬＤ１６）を有する半導体レーザーより成っている。２は矩形形状の開口絞りであり、光源手段１から射出した光束を副走査方向のみ光束幅を規制している。３はコリメータレンズであり、開口絞り２を通過した光束を主走査方向、副走査方向共に略平行光束に変換している。４はシリンドリカルレンズであり、副走査方向にのみ所定の屈折力を有している。５は主走査方向に光束幅を規制する矩形形状の開口絞りであり、副走査方向はビーム幅より広い開口幅になっている。
【００２１】
なお、開口絞り２及び５、コリメータレンズ３、そしてシリンドリカルレンズ４等の各要素は入射光学手段の一要素を構成している。
【００２２】
６は偏向素子としての光偏向器であり、例えばポリゴンミラー（回転多面鏡）より成り、モーター等の駆動手段（不図示）により図中矢印Ａ方向に一定速度で回転している。１１はｆθ特性を有する走査レンズ（ｆθレンズ）であり、被走査面の画像領域にスポットとして光束を集光させる。なお、このスポットは、光源手段が発生させる発光点と共役な位置にある集光点であることが望ましいが、これ以外でもビームウェストが局所的に小さくなる場所としても構わない。
【００２３】
走査レンズ１１は、レンズ１１ａおよび１１ｂを備え、副走査断面内において光偏向器６の偏向面又はその近接位置と被走査面としての感光ドラム面１２又はその近傍との間を略共役関係にする。これにより、光偏向器の面倒れ補正機能を有している。
【００２４】
本実施形態において、画像情報に応じて光源手段１より光変調され射出した光束は、開口絞り２及び５によってその光束断面の大きさが制限され、コリメータレンズ３により略平行光束に変換され、シリンドリカルレンズ４に入射する。開口絞り５は、主走査方向の光束幅を規制する絞りであり、光源からの１６個の光束の幅を規制している。シリンドリカルレンズ４に入射した光束のうち、主走査断面内においてはそのままの状態で射出する。また副走査断面内においては収束し、光偏向器６の偏向面６ａにほぼ焦線の像（主走査方向に長手の線像）にて結像する。
【００２５】
光偏向器６の偏向面で反射偏向された光束は、走査レンズ１１により感光ドラム面１２上にスポット状に結像され、光偏向器６を矢印Ａ方向に回転させることによって、感光ドラム面１２上を矢印１３方向（主走査方向）に等速度で光走査する。これにより、記録媒体である感光ドラム面１２上に画像記録を行っている。
【００２６】
このとき、感光ドラム面１２上を光走査する前に感光ドラム面１２上の走査開始位置のタイミングを決定する。その為に、光偏向器５で反射偏向された光束をＢＤミラー７を介してＢＤレンズ８によりＢＤセンサー９に導光している。そしてＢＤセンサー９からの出力信号を検知して得られた同期信号（ＢＤ信号）を用いて発光点１から１６の感光ドラム面１２上への画像記録の走査開始位置タイミングを決定している。
【００２７】
ＢＤレンズ８は、主走査断面内においてはＢＤセンサー９にビームを結像させ、副走査断面内においては光偏向器６の偏向面とＢＤセンサー９のセンサー面とを光学的に略共役にし、倒れ補正機能（面倒れ補正系）を有している。これにより、光偏向器６の反射面が副走査方向に傾いてもＢＤセンサー９のセンサー面から光束が外れ難くしている。
【００２８】
なお、ＢＤミラー７、ＢＤレンズ８、そしてＢＤセンサー９等の各要素は、同期位置検出系（以下、ＢＤ検出系）の一要素を構成している。
【００２９】
図３において、２０１は、コリメータレンズ３の光軸を、２０２は発光点としてのＬＤ１からの光束の主光線（開口絞り５の中心を通る光線）を示している。また、２０３は発光点としてのＬＤ１６からの光束を示している。２０４は、コリメータレンズ３の光軸２０１とｆθレンズ１１の光軸の交点であり、以下軸上偏向点と記す。
【００３０】
２０５はｆθレンズ１１の光軸であり、画像中心へ向かう光束の光軸と平行な直線である。２１０は、画像中心へ向かう光束を偏向する際の偏向面の状態を、２１１はＢＤセンサー９の中心に向かう光束を偏向する場合の偏向面の状態を示す。また、本実施形態では、ＬＤ１及びＬＤ１６と、コリメータレンズ３の光軸２０１のなす角度が１ｄｅｇになっている。ＬＤ１及びＬＤ１６とコリメータレンズ３の光軸２０１とのなす角度は、発光点の主走査方向の幅Ｗｍと、コリメータレンズ３の焦点距離ｆｃｏｌにより
【００３１】
【数１】
2014167504.tif 000003
【００３２】
で計算できる。
【００３３】
（マルチビームを出射する光源）
図５に示すように、光源１は互いに主走査方向に間隔を有し副走査方向にずれて配置された複数個の発光点（ＬＤ１〜ＬＤ１６）を備える。同図において、横軸が反射面の主走査方向、縦軸が副走査方向を示す。同図において、ＬＤ１〜ＬＤ１６は、５０μｍ間隔に一次元配列されており、主走査方向、副走査方向共に等間隔で配置されている。また、副走査の解像度に応じてレーザーを傾けて配置するとともに、入射光学系や走査光学系のばらつきによって、被走査面で所望の副走査間隔になるように光軸回りに回転角度を変えられる構成となっている。
【００３４】
また、ＬＤ１６からのビームとＬＤ１からのビームとでは、入射角（コリメータ３の光軸２０１とｆθレンズ１１の光軸２０５のなす角）が異なる。従って、被走査面１２上では、ＬＤ１からのビームが走査下流側つまり走査先方、ＬＤ１６からのビームが走査上流側（走査後方）のビームとなる。また、ＬＤ１〜１６からの少なくとも一つのビームの同期位置検出信号により書きだしタイミングが決定される構成となっており、本実施形態では最も走査後方ビームであるＬＤ１６からのビームのみで書き出しタイミングを検知している。
【００３５】
図３で、ＢＤミラー７に向かう光束２００は、偏向器６の偏向面が矢印の方向に回転して２１１の状態の時に、走査角（走査レンズの光軸２０５となす角）が５４ｄｅｇ．でＢＤスリットの中心に光束が向かうように構成されている。なお、本実施形態の絞り５は軸上偏向点２０４（コリメータレンズの光軸２０１とｆθレンズの光軸２０５の交点）から２２．５ｍｍの位置に配置されている。
【００３６】
後述する表１は、本実施形態における光走査装置の設計値を示す。
【００３７】
（コリメータレンズ）
本実施形態のコリメータレンズ３の出射面は、以下の数式で表される回転対称非球面形状で構成されている。
【００３８】
【数２】
2014167504.tif 000004
【００３９】
出射面を非球面形状とすることにより、マルチビーム間の被走査面における焦点位置差を低減させ、スポット径差の発生を抑制している。
【００４０】
（シリンドリカルレンズ）
本実施形態では、シリンドリカルレンズ４の入射面に回折面を設け、環境変動によるスポット径変動を抑制している。位相関数は、以下の式で表される。
【００４１】
【数３】
2014167504.tif 000005
【００４２】
但し、ｍは回折次数、Ｅ１からＥ１０、Ｆ０からＦ１０は位相係数である。ここで、Ｆ０からＦ１０が副走査方向のパワーを表す項となっている。
【００４３】
（走査光学系）
第１、第２の走査レンズ（ｆθレンズ）１１ａ、１１ｂの形状は、以下の関数により表される。ここで、夫々の走査レンズと光軸との交点を原点とし、光軸に対して走査開始側と走査終了側で、光軸をＸ軸、主走査面内において光軸と直交する方向をＹ軸、副走査面内で光軸と直交する方向をＺ軸とする。
【００４４】
【数４】
2014167504.tif 000006
【００４５】
【数５】
2014167504.tif 000007
【００４６】
但し、Ｒは曲率半径、Ｋ、Ｂ４、Ｂ６、Ｂ８、Ｂ１０は非球面係数である。
【００４７】
本実施形態では主走査方向の形状を光軸に対し、対称に構成している、即ち走査開始側と走査終了側の非球面係数を一致させている。
【００４８】
また、副走査方向は光軸に対して走査開始側と走査終了側で第２走査レンズ１１ｂの１面の副走査面（光軸を含み主走査面と直交する面）内の曲率をレンズの有効部内において連続的に変化させており、主走査、副走査方向の形状を光軸に対して対称に構成している。副走査方向の形状は、光軸に対して走査開始側と走査終了側で光軸をＸ軸、主走査面内において光軸と直交する方向をＹ軸、副走査面内で光軸と直交する方向をＺ軸とするとき、以下の連続関数で表せる。
【００４９】
ｒ１、ｒ２、ｒ４面の副走査方向関数
【００５０】
【数６】
2014167504.tif 000008
【００５１】
【数７】
2014167504.tif 000009
【００５２】
（ｒ’は副走査方向曲率半径、Ｄ２、Ｄ４、Ｄ６、Ｄ８、Ｄ１０は係数）  
係数のサフィックスｓは走査開始側、ｅは走査終了側を表している。
【００５３】
ここで、副走査方向の曲率半径とは、主走査方向の形状（母線）に直交する断面内における曲率半径である。
【００５４】
【数８】
2014167504.tif 000010
【００５５】
【数９】
2014167504.tif 000011
【００５６】
（ｒ’は副走査方向曲率半径、Ｄ２、Ｄ４、Ｄ６、Ｄ８、Ｄ１０は係数）  
係数のサフィックスｓは走査開始側、ｅは走査終了側を表している。
【００５７】
本実施形態の走査レンズ１１は、レンズ１１ａ、１１ｂを光透過性のパワーを有するプラスティックレンズで構成し、軽量化を達成するとともに、非球面を用いることにより設計上の自由度を向上させることも可能としている。なお、走査レンズ１１はガラス製であってもよく、更に回折のパワーを有する光学素子であってもよい。ガラス材料や回折面で構成した場合は、環境特性に優れた光走査装置を提供することが可能となる。
【００５８】
また本実施形態では、走査レンズを２枚の結像光学素子で構成しているが、これに限らず、１枚もしくは３枚以上で構成しても上記の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００５９】
表１に本実施形態における光走査装置の各数値を示す。ここで「Ｅ−ｘ」は「１０−ｘ」を示している。
【００６０】
Ｒ１面は走査レンズ１１ａの光偏向器６側の面、Ｒ２面は走査レンズ１１ａの被走査面１２側の面、Ｒ３面は走査レンズ１１ｂの光偏向器６側の面、Ｒ４面は走査レンズ１１ｂの被走査面１２側の面である。
【００６１】
【表１】
2014167504.tif 000012
【００６２】
（主走査断面内のピント位置ずれと主走査方向の印字位置ずれ）
図１（ａ）に、走査レンズ１１の主走査断面内のピント位置ずれと、主走査方向の印字位置ずれの関係の模式図を示す。。１ａ、１ｃは光源手段１の主走査方向に最も離間した発光点、１ｂは光軸近傍の発光点を示している。また、発光点１ａからの光束を破線、発光点１ｃからの光束を一点鎖線で示している。光源手段１は、図５に示すように発光点を１６個有する面発光レーザーであり、図５の発光点であるＬＤ１が図１（ａ）の１ｃ、図５の発光点であるＬＤ８が図１（ａ）の１ｂ、図５の発光点であるＬＤ１６が図１（ａ）の１ａに相当している。また、ＬＤ８とＬＤ１もしくはＬＤ１６との主走査方向の間隔をＷとしている。
【００６３】
発光点１ｂから出た光束の主光線は、コリメータレンズ３の光軸近傍を通過し、主走査絞り５を通る。発光点１ａ、１ｂから出た光束の主光線は、コリメータレンズ３の軸外を通過し、主走査絞り５でお互い交差して偏向器６に入射する。なお、主走査絞り５と、走査レンズ１１の軸上へ光束が偏向される状態の偏向器６の偏向面と、の距離をＬとしている。偏向器６で偏向された光束は、走査レンズ１１を通過し、被走査面１２に結像している。
【００６４】
ここで、走査１１の主走査断面内のピント位置ずれが発生した場合に、主走査方向の印字位置ずれ（部分倍率ずれ）が発生する理由を説明する。図１（ａ）では、走査レンズ１１の製造誤差で主走査方向のピント位置が１４のように湾曲した場合（主走査像面湾曲が発生している場合）を示している。偏向光束は矢印１３の方向に走査しており、書き出し側１４ａから中央部１４ｂにおいては、主走査ピント位置が被走査面と一致している状態を示す。
【００６５】
一方、中央部１４ｂから書き終わり手前部１４ｃではプラス方向に主走査像面が湾曲した状態、中央部１４ｂから書き終わり側１４ｄではマイナス側に主走査像面が湾曲していることを示している。
【００６６】
即ち、図１（ａ）では、走査レンズ１１の焦点距離が部分的に設計値からずれて、主走査方向のピントずれが発生していることを示している。ここで、複数ビームをビーム走査方向に重ねると、図１（ｂ）のように、ピントがプラス側にある状態（書き終わり手前部１４ｃ）では、被走査面１２上でビーム１ｃ’’とビーム１ａ’’の間隔が、本来の間隔（ビーム１ｃ’とビーム１ａ’の間隔）より広くなる。一方、逆にピントがマイナス側にずれた状態（書き終わり側１４ｄ）では、ビーム１ｃ’’とビーム１ａ’’との間隔が本来の間隔（ビーム１ｃ’とビーム１ａ’との間隔）より狭くなる。
【００６７】
また、単一ビームを考えると、１つの列の中に並んでいる複数のスポットのうち隣接する２つのスポットを形成する位置の差が、同じ列の中に並んでいる別の隣接する２つのスポットを形成する位置の差とは異なることとなる。即ち、偏向手段が主走査方向に沿って単一ビームを走査する際、被走査面上には主走査方向に沿って（直線に近い形状で）スポットの列（複数のスポット）が形成されるが、走査レンズの焦点距離が部分的に設計値からずれる。すると、２つのスポットの主走査方向の間隔がずれてくる。
【００６８】
以上のように、像面湾曲がない場合は、発光点１ｃを先頭に発光点１ｂ、１ａの順にそれぞれ所定の時間間隔で主走査方向の同一位置を通過する。一方、主走査方向のピントずれ（像面湾曲）が発生すると、発光点１ａと１ｃの主走査方向の間隔が主走査方向のピントずれ量と方向に応じて所望の値からずれてしまうという問題が発生する。
【００６９】
ここで、図６（ａ）、（ｂ）に一定間隔でレーザーを発光制御した場合の被走査面におけるドット位置の模式図を示す。同図において、左右方向が副走査方向であり、上下方向が主走査方向である。図６（ａ）に示すように、主走査方向のピントずれがない場合は、ＬＤ１〜ＬＤ１０（ＬＤ１１〜ＬＤ１６は省略）が主走査方向に等間隔にドットが形成される。一方、主走査方向に像面湾曲がある場合は、ＬＤ１〜ＬＤ１０（ＬＤ１１〜ＬＤ１６は省略）が主走査方向に等間隔にドットが形成されない。
【００７０】
図６（ｂ）に、主走査方向のピント位置が、設計称呼位置に対してずれている（像面湾曲がある）場合のドット位置を示す。像面湾曲（ピントずれ）がある場合は、図６（ｂ）に示すように、ピントずれが発生して像高は、本来形成されるべきドット位置（図６（ａ））に対して主走査方向にずれた位置にドットが形成される。この主走査方向のずれが、多色を重ねた場合の色ずれとなってしまう。また、ずれがビーム周期（本実施形態では１６ビーム）で副走査方向に繰り返されるため、モアレが発生して画像品質を劣化させてしまう。
【００７１】
図６（ｃ）に、ピント１ｍｍディフォーカスで発生するＬＤ１に対するＬＤ１６のドットずれ、いわゆる敏感度を示す。同図において、横軸は被走査面における主走査方向の位置（像高）を示しており、縦軸は上記の敏感度を示す。同図において、像高（横軸）のプラスは書き出し側、マイナスは書き終わり側を示し、ドットずれ（縦軸）のマイナスはＬＤ１とＬＤ１６の主走査間隔が広がることを示す。また、プラス側（書き始め側）の敏感度が書き終わり側より高いのは、偏向器６の偏向面の走査レンズ１１の光軸方向の変位（サグ）の量がプラス側（書き始め側）の方が大きいためである。
【００７２】
（組み立て出荷時における全ビームの発光タイミング誤差の測定）
１）測定系
本実施形態では、主走査方向の像面湾曲（ピントずれ）が発生している走査レンズ１１を用いてもドットずれ量を低減できるように、走査光学系の組み立て出荷時に図１（ｃ）に示す複数のセンサーで全ビームの発光タイミング誤差を測定する。図１（ｃ）において、走査ビーム検知のために、被走査面（ドラム表面）相当位置に、ナイフエッジからなるスリット１００ａ等とフォトディテクター１００ｂ等で構成される光量検知系が配置される。
【００７３】
２）フロー説明
図７に、本実施形態における組み立て出荷時の測定に関するフローチャートを示す。先ず、ＬＤ１６からのビームをＢＤセンサー９で検知する。そして、得られたＢＤタイミングを基準にして、全ビームを図１（ｃ）に示すスリット１００ａを介してフォトディテクター１００ｂで検知する。これにより、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１〜１６がスリット１００ａを通過する時間Ｔ０（ＬＤ１）、Ｔ０（ＬＤ２）・・・Ｔ０（ＬＤ１６）が測定される。
【００７４】
次に、上記ＢＤタイミングを基準にして、全ビームをスリット１０１ａを介してフォトディテクター１０１ｂで検知する。これにより、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１〜１６がスリット１０１ａを通過する時間Ｔ１（ＬＤ１）、Ｔ１（ＬＤ２）・・・Ｔ１（ＬＤ１６）が測定される。同様に、上記ＢＤタイミングを基準にして、全ビームをスリット１０２ａを介してフォトディテクター１０２ｂで検知する。これにより、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１〜１６がスリット１０２ａを通過する時間が測定される。
【００７５】
更に、上記ＢＤタイミングを基準にして、全ビームをスリット１０３ａを介してフォトディテクター１０３ｂで検知する。これにより、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１〜１６がスリット１０３ａを通過する時間が測定される。同様に、上記ＢＤタイミングを基準にして、全ビームをスリット１０４ａを介してフォトディテクター１０４ｂで検知する。これにより、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１〜１６がスリット１０４ａを通過する時間が測定される。
【００７６】
全ビームの測定が終了しない場合は、ＬＤ１６からのビームによるＢＤセンサー９での検知に戻る。全ビームの測定が終了すると、測定されたＴ０（ＬＤ１）〜Ｔ４（ＬＤ１６）の８０個の値を基に、ビームずれ最小化算出手段２５０（図１（ｃ））はビームごとに関数近似する。そして、全ビームの画像領域全域でのビーム間隔ずれが最小になる主走査方向発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）を算出する。
【００７７】
算出された各ビームの発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）は、主走査方向に分割された複数のブロックである第１ブロック、第２ブロック（本実施形態では３２ブロック）毎にメモリーである補正データ格納手段３００に格納される。組み立て出荷時の測定はこれで終了する。
【００７８】
（発光タイミング制御による補正）
出荷後には、発光制御手段４００が、補正データ格納手段３００に格納された複数のブロック毎の補正データに基づく発光タイミングで全ビームの発光を制御する。具体的には、１つの列の中に並んでいる複数のスポットのうち隣接する２つのスポットを形成する際の発光タイミングの差が、同じ列の中に並んでいる別の隣接する２つのスポットを形成する際の発光タイミングの差とは異なるものとする。
【００７９】
即ち、偏向手段が主走査方向に沿って単一ビームを走査する際、被走査面上には主走査方向に沿って（直線に近い形状で）スポットの列（複数のスポット）が形成されるが、走査レンズ１１の焦点距離が部分的に設計値からずれると、発光タイミングの差を異ならせる。
【００８０】
（数値例）
本実施形態は、主走査方向の解像度Ｒが２４００ｄｐｉ、主走査絞りから偏向面までの距離Ｌ＝２２．５ｍｍ、発光点の主走査間隔Ｗ＝０．７４ｍｍ、ｆΘ光学系の主走査焦点距離ｆｆΘ＝２００．０ｍｍ、入射光学系の主走査焦点距離ｆｃｏｌ＝２５ｍｍとした。
これにより、以下の式が成立する。
【００８１】
【数１０】
2014167504.tif 000013
【００８２】
これは、以下の条件式を満足している。
【００８３】
【数１１】
2014167504.tif 000014
【００８４】
を満足している。
【００８５】
本条件式は、主走査方向のピントが１ｍｍずれたときの軸上におけるドットずれ量の範囲を規定している。光路展開図を示す図４に関連して、以下の等式が成立する。
【００８６】
Ｗ／２＝ｆｃｏｌ×ｔａｎα
Ｍ／２＝Ｌ×ｔａｎα
Ｍ／２＝ｆｆθ×ｔａｎβ
Ｘ／２＝１×ｔａｎβ
これより、Ｘ＝Ｌ×Ｗ／（ｆｃｏｌ×ｆｆθ）となる。ここで、一般的に主走査方向解像度Ｒが２４００ｄｐｉの画像形成装置では、ピント変化１ｍｍで１／１０画素乃至２画素の誤差に抑える必要がある。１インチが２５．４ｍｍであることから、上述した条件式を満足する必要があることが理解される。
【００８７】
上記条件式の上限を超えると、ピントずれが１ｍｍあるときのドットずれがモアレとして画像を劣化させるのでよくない。また、下限を超えると、主走査方向の発光点間隔が狭いレーザーを用いる必要があるのでコストアップになる。また、高出力レーザーを使用する必要がありコストアップになってしまうのでよくない。
【００８８】
以上のように、１６ビームすべての発光タイミングを主走査方向の５か所で測定し、主走査印字位置ずれが最小になるように各ビームの発光タイミングを算出する。そして、走査領域を３２分割して各領域ごとに各光源の発光タイミングを補正することにより、低価格で高精細な光走査装置を提供できる。また、カラー画像形成装置に用いる場合は、色ずれのない高精細なカラー画像装置を提供できる。
【００８９】
《第２の実施形態》
本実施形態において、第１の実施形態と異なる点は、各ビームの発光タイミングの算出方法であり、その他の構成は第１の実施形態と同様である。本実施形態の補正値算出フローを図８に示す。
【００９０】
本実施形態では、ビーム１がスリット１００ａを通過してからビーム２がスリット１００ａを通過するまでの時間差ΔＴ０（１−２）を測定する。同様にビーム２がスリット１００ａを通過してからビーム３が通過するまでの時間差ΔＴ０（２−３）を測定する。以下、ΔＴ０（３−４）、ΔＴ０（４−５）・・・ΔＴ０（１５−１６）を測定する。スリット１０１ａを通過する時間も同様にΔＴ１（１−２）、ΔＴ１（２−３）・・・ΔＴ１（１５−１６）を測定する。
【００９１】
１０２ａ、１０３ａ、１０４ａについても同様にΔＴ２（１−２）、ΔＴ２（２−３）・・・ΔＴ２（１５−１６）、ΔＴ３（１−２）、ΔＴ３（２−３）・・・ΔＴ３（１５−１６）、ΔＴ４（１−２）、ΔＴ４（２−３）・・・ΔＴ４（１５−１６）を測定する。そして、測定されたΔＴ０（１−２）〜ΔＴ４（１５−１６）の８０個の値をビーム間差ごと（ΔＴ０（１−２）、ΔＴ１（１−２）、ΔＴ２（１−２）、ΔＴ３（１−２）、ΔＴ４（１−２）を）に関数近似する。
【００９２】
関数近似で算出された各ビーム間の時間誤差からビーム間隔ずれが最小になるように主走査方向発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）＝誤差の逆符号を算出する。算出された各ビームの発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）は、不図示のメモリーにブロックごと（本実施形態では３２ブロック）に書き込まれ、画像領域全域における全ビームの書き出し位置が略一致するように補正する。なお、本実施形態の書き出しタイミング（ＢＤタイミング）は、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１６のみスリット１０２ａを通過する時間Ｔ２（ＬＤ１６）を別途測定して決めている。
【００９３】
本実施形態の方法で補正値を求めると、第１の実施形態と異なり、電気的なトリガー信号にＢＤ信号使用することなく時間算出できる、即ち、光偏向器６の同一の偏向面のデータから補正データを算出できるので、補正精度を向上させることができる。
【００９４】
以上のように、１６ビームすべての発光タイミング差を主走査方向の５か所で測定し、主走査印字位置ずれが最小になるように各ビームの発光タイミングを算出することにより、同一の偏向面で測定した誤差データから補正値を算出できる。また、走査領域を３２分割して領域ごとに各光源の発光タイミングを補正することにより、低価格で高精細な光走査装置を提供できる。また、カラー画像形成装置に用いる場合は、色ずれのない高精細なカラー画像装置を提供できる。
【００９５】
《第３の実施形態》
本実施形態において、第２の実施形態と異なる点は、補正値を面ごとに異ならせていることである。他の構成は第２の実施形態と同様である。本実施形態の補正値算出のフローを図９に示す。
【００９６】
本実施形態では、光偏向器６のポリゴンミラーの面数分（５面分）の各ビームの書き出し位置補正値を測定している。第２の実施形態と同様、補正値は以下のように工場出荷時に工具を用いて測定し、メモリーに書き込むことにより各ビームの発光タイミングを補正できるようにしている。
【００９７】
本実施形態では、偏向面であるポリゴンミラー面をＢＤ周期を測定することにより特定している。即ち、ポリゴンミラーを製造する時に発生する角度分割誤差をＢＤタイミングの変化として測定することにより、面を特定している。面特定が終了したら、第２の実施形態と同様に、各面について時間差を測定する。つまりビーム１がスリット１００ａを通過してからビーム２がスリット１００ａを通過するまでの時間差ΔＴ０（１−２）−Ａ面を測定する。
【００９８】
同様に、ビーム２がスリット１００ａを通過してからビーム３が通過するまでの時間差ΔＴ０（２−３）を測定する。以下、ΔＴ０（３−４）−Ａ面、ΔＴ０（４−５）−Ａ面・・・ΔＴ０（１５−１６）−Ａ面を測定する。スリット１０１ａを通過する時間も同様にΔＴ１（１−２）−Ａ面、ΔＴ１（２−３）−Ａ面・・・ΔＴ１（１５−１６）−Ａ面を測定する。
【００９９】
また１０２ａ、１０３ａについても同様にΔＴ２（１−２）−Ａ面、ΔＴ２（２−３）−Ａ面・・・ΔＴ２（１５−１６）−Ａ面、ΔＴ３（１−２）−Ａ面、ΔＴ３（２−３）−Ａ面・・・ΔＴ３（１５−１６）−Ａ面を測定する。１０４ａについても、ΔＴ４（１−２）−Ａ面、ΔＴ４（２−３）−Ａ面・・・ΔＴ４（１５−１６）−Ａ面を測定する。そして、次のポリゴンミラー面でも同様の測定を行い、５面分（Ａ面、Ｂ面、Ｃ面、Ｄ面、Ｅ面）の測定を行う。
【０１００】
測定されたΔＴ０（１−２）−Ａ面〜ΔＴ４（１５−１６）−Ｅ面の４００個の値を各面、各ビーム間差ごと（ΔＴ０（１−２）−Ａ面、ΔＴ１（１−２）−Ａ面、ΔＴ２（１−２）−Ａ面、ΔＴ３（１−２）−Ａ面、ΔＴ４（１−２）−Ａ面）に関数近似する。関数近似で算出された各ビーム間の時間誤差からビーム間隔ずれが最小になるように主走査方向発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）＝誤差の逆符号を算出する。
【０１０１】
算出された各ビームの発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）は、不図示のメモリーにブロックごと（本実施形態では３２ブロック）に書き込まれ、画像領域全域における各面ごとの全ビームの印字位置が副走査方向に一致するようにされる。なお、本実施形態の書き出しタイミング（ＢＤタイミング）は、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１６のみスリット１０２ａを通過する時間Ｔ２（ＬＤ１６）をポリゴンミラー面ごとに測定して決定している。即ち、書き出しタイミングも面ごとに変えている（Ｔ２（ＬＤ１６）−Ａ面〜Ｔ２（ＬＤ１６）−Ｅ面）。
【０１０２】
本実施形態の方法で補正値を求めると、ポリゴンミラーの製造ばらつきで発生する面ごとの部分倍率誤差も補正できるので、より、補正精度を向上させることができる。本実施形態では、第２の実施形態と同様、ビーム間の時間差をポリゴン面ごとに測定したが、第１の実施形態と同様、ＢＤタイミング基準で面ごとに測定してもよい。また測定センサー０―を５つ用いたが、精度を向上させるためには５以上のセンサーを使用してもよい。更に、主走査方向に３２ブロックに分割して補正データを格納しているが、分割数を６４にしてより高精度化してもよい。
【０１０３】
以上のように、ポリゴン面ごとに１６ビームすべての発光タイミング差を主走査方向の５か所で測定し、主走査印字位置ずれが最小になるように各ビームの発光タイミングを算出する。これにより、ポリゴンミラーの製造誤差で発生するビーム間部分倍率誤差も補正できるのでより安価なポリゴンミラーを使用しても高精細な光走査装置を提供できる。また、カラー画像形成装置に用いる場合は、色ずれのない高精細なカラー画像装置を提供できる。
【０１０４】
《第４の実施形態》
本実施形態において、第３の実施形態と異なる点は、補正値を面ごとかつビームごとに記憶するのではなく、隣接するビームは同一の補正値を記憶することである。これによりメモリー容量を削減でき、より安価な高精細用光走査装置を提供できる。本実施形態のその他の構成は第３の実施形態と同様である。
【０１０５】
本実施形態では、ポリゴンミラーの面数分（５面分）の奇数ビームの書き出し位置補正値を測定している。第２の実施形態と同様、補正値は以下のように工場出荷時に工具を用いて測定し、メモリーに書き込むことにより各ビームの発光タイミングを補正している。
【０１０６】
即ち、本実施形態ではポリゴンミラー面をＢＤ周期を測定することにより特定している。つまり、ポリゴンミラーを製造する時に発生する角度分割誤差をＢＤタイミングの変化として測定することにより面を特定している。面特定が終了したら、第２の実施形態と同様に、各面について時間差を測定する。即ち、ビーム１がスリット１００ａを通過してからビーム３がスリット１００ａを通過するまでの時間差ΔＴ０（１−３）−Ａ面を測定する。同様に、ビーム３がスリット１００ａを通過してからビーム５が通過するまでの時間差ΔＴ０（３−５）を測定する。
【０１０７】
以下、ΔＴ０（５−７）−Ａ面、ΔＴ０（７−９）−Ａ面・・・ΔＴ０（１３−１５）−Ａ面を測定する。スリット１０１ａを通過する時間も同様にΔＴ１（１−３）−Ａ面、ΔＴ１（３−５）−Ａ面・・・ΔＴ１（１３−１５）−Ａ面を測定する。また１０２ａ、１０３ａについても同様にΔＴ２（１−３）−Ａ面、ΔＴ２（３−５）−Ａ面・・・ΔＴ２（１３−１５）−Ａ面、ΔＴ３（１−３）−Ａ面、ΔＴ３（３−５）−Ａ面・・・ΔＴ３（１３−１５）−Ａ面を測定する。同様に、１０４ａについても、ΔＴ４（１−３）−Ａ面、ΔＴ４（３−５）−Ａ面・・・ΔＴ４（１３−１５）−Ａ面を測定する。
【０１０８】
そして、次のポリゴンミラー面でも同様の測定を行い、５面分（Ａ面、Ｂ面、Ｃ面、Ｄ面、Ｅ面）の測定を行う。測定されたΔＴ０（１−３）−Ａ面〜ΔＴ４（１３−１５）−Ｅ面の２００個の値を各面、各奇数ビーム間差ごと（ΔＴ０（１−３）−Ａ面、ΔＴ１（１−３）−Ａ面、ΔＴ２（１−３）−Ａ面、ΔＴ３（１−３）−Ａ面、ΔＴ４（１−３）−Ａ面）に関数近似する。関数近似で算出された各ビーム間の時間誤差からビーム間隔ずれが最小になるように主走査方向発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）＝誤差の逆符号を算出する。
【０１０９】
算出された各ビームの発光タイミング（主走査方向間隔補正データ）は、不図示のメモリーにブロックごと（本実施形態では３２ブロック）に書き込まれ、画像領域全域における各面ごとの全ビームの主走査印字位置が副走査方向に一致するように補正する。偶数ビームの印字タイミングは、設計上のビーム間隔から算出される発光タイミングに隣接する発光タイミング誤差を付加して決定することができる。また、隣接する奇数ビームの平均値で発光タイミングを決定してもよい。
【０１１０】
なお、本実施形態の書き出しタイミング（ＢＤタイミング）は、ビーム１６のＢＤ信号に対してビーム１６のみスリット１０２ａを通過する時間Ｔ２（ＬＤ１６）をポリゴンミラー面ごとに測定して決定している。即ち、書き出しタイミングも面ごとに変えている（Ｔ２（ＬＤ１６）−Ａ面〜Ｔ２（ＬＤ１６）−Ｅ面）。
【０１１１】
本実施形態では、奇数ビームを測定して補正値を求めたが、ＬＤ１とＬＤ１６（両端の発光点）を測定し、補正量を（ビーム数−１）で除算して他のビームの補正値を算出してもよい。
【０１１２】
本実施形態の方法で補正値を求めると、格納するデータ容量が小さいので、安価なメモリーを使用できる。また、測定するビームの数が少ないので製造タクトを短縮できるというメリットを有する。
【０１１３】
以上のように、ポリゴン面ごとに奇数ビームの発光タイミング差を主走査方向の５か所で測定し、主走査印字位置ずれが最小になるように各ビームの発光タイミングを算出する。これにより、測定データを削減でき、製造コストが削減できるだけでなく、より安価なメモリーを使用しても高精細な光走査装置を提供できる。また、カラー画像形成装置に用いる場合は、色ずれのない高精細なカラー画像装置を提供できる。
【０１１４】
（変形例１）
上述した実施形態では、副走査方向に複数の光源（発光点）を備えるマルチビーム方式であって、走査線に応じて補正量が変化する光走査装置について説明した。即ち、第１のビームにより形成される複数のスポットのうち隣接する第１スポットと第２スポットのためにビームを出射するタイミングの差を前提とした。そして、第２のビームにより形成される複数のスポットのうち、第１スポット及び第２スポットと主走査方向の位置が同じであり互いに隣接する第３スポットと第４スポットのために光源手段がビームを出射するタイミングの差とが、互いに異なるものとした。
【０１１５】
しかしながら、本発明はこのようなマルチビーム方式の光走査装置に限らず、単一の光源（発光点）を備えるシングルビーム方式の光走査装置についても適用できる。即ち、単一ビームを走査する際、被走査面上には主走査方向に沿ってスポットの列（複数のスポット）が形成されるが、走査レンズ１１の焦点距離が部分的に設計値からずれると、隣接する２つのスポットを形成する際の発光タイミングの差を異ならせる。
【０１１６】
即ち、上述した手法を用い、ピント位置が被走査面よりも手前（光源側）かその逆か、ピント位置に集光する光束の角度分布が主走査断面で見た時にどのようになっているか、によって、発光タイミング制御による補正を行う。このように構成することによって、ピント位置（ビームウェストが最も細い位置、集光位置）と被走査面との（光軸方向、光の進行方向における）位置関係が主走査方向の位置によって異なる場合であっても、スポットのピッチが均一に近い走査線を形成できる。
【０１１７】
なお、発光タイミングの決定に関しては、予め測定データを持っておいて、その測定データに基づいて発光タイミングを決定する他に、演算によって求めても良い。
【０１１８】
（変形例２）
上述した実施形態では、ブロック内で異なる発光タイミングを備えるものとしたが、ブロック内は同じで、異なるブロックとの間で発光タイミングを異ならせても良い。
【０１１９】
（変形例２）
上述した実施形態では、画像領域を４区間に等間隔で分割し、ＬＤ１６のＢＤタイミングを基準にしてビーム間隔ずれが最小になる時間を算出したが、より高精度な補正を行うために分割区間を増やしてもよい。また、図６（ｃ）に示すように、書き出し側の方がドットずれ敏感度が高いので、書き出し側の方がセンサーを多くしてもよい。更に、本実施形態では偏向器６の偏向面でのビーム蹴られ量のないＬＤ１６のＢＤタイミングを基準にしたが、偏向器６の偏向面で蹴られない他のビームのＢＤタイミングを基準にしてもよい。
【０１２０】
（変形例３）
また、全ての発光点が、主走査方向の位置に応じて２以上のグループにグループ化されており、各グループで補正データが異なるようにすることもできる。
【０１２１】
（変形例４）
上述した実施形態では、間欠的にビームを出射するのに光源手段（発光点）に依る発光自体を間欠的に行ったが、光源手段の直後にシャッター等の遮光部材を設け、この遮光部材による遮光を間欠的に行っても良い。なお、ビームの数（発光点の数）は、少なくとも３個以上であれば何個でも良い。
【符号の説明】
【０１２２】
１・・光源手段、６・・光偏向器、１１・・走査レンズ、３００・・補正データ格納手段、４００・・発光制御手段
【図５】
2014167504.tif 000016
【図１】
2014167504.tif 000017
【図２】
2014167504.tif 000018
【図３】
2014167504.tif 000019
【図４】
2014167504.tif 000020
【図６】
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【図７】
2014167504.tif 000022
【図８】
2014167504.tif 000023
【図９】
2014167504.tif 000024
【図１０】
2014167504.tif 000025