(57)【要約】【課題】光拡散部の検査に要する手間や時間を削減でき、光拡散部の形成状態をより正確に検査できる光制御フィルムの検査装置を提供する。【解決手段】本発明の検査装置１１は、基材２と光拡散部３と遮光層４とを備えた光制御フィルム１に対し、基材側、光拡散部側のいずれか一方に配置され、光制御フィルム１に向けて光を照射する光源部１２と、基材側、光拡散部側のいずれか他方に配置され、光源部１２から射出されて光制御フィルム１を透過する透過光の強度を測定する受光器１３と、を備え、透過光の強度測定結果に基づいて光拡散部３の傾斜面の状態を検査する。【選択図】図１
2014238534.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光透過性を有する基材と、前記基材の第１の面に設けられた光拡散部と、前記第１の面において前記光拡散部の形成領域以外の領域に設けられた遮光部と、を備え、前記光拡散部が、前記基材側に位置する光射出端面と、前記基材と反対側に位置し、前記光射出端面の面積よりも大きい面積を有する光入射端面と、前記光射出端面に対して傾斜した傾斜面と、を備え、前記光拡散部の前記光入射端面から前記光射出端面までの高さが前記遮光部の層厚よりも大きい光制御フィルムに対し、前記基材側、前記光拡散部側のいずれか一方に配置され、前記光制御フィルムに向けて光を照射する光源部と、
前記基材側、前記光拡散部側のいずれか他方に配置され、前記光源部から射出されて前記光制御フィルムを透過する透過光の強度を測定する測光手段と、を備え、
前記透過光の強度測定結果に基づいて、前記傾斜面の状態を検査することを特徴とする光制御フィルムの検査装置。
【請求項２】
前記測光手段は、前記光源部から前記光制御フィルムに入射する光の光入射面の面内に配置され、前記面内において強度が最も高い前記透過光の中心軸の極角を測定することを特徴とする請求項１に記載の光制御フィルムの検査装置。
【請求項３】
前記測光手段が、前記透過光の強度を測定したときに検出された前記光制御フィルムの不良箇所の位置情報を取得する位置情報取得手段を備えたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光制御フィルムの検査装置。
【請求項４】
前記光源部が、前記光拡散部側に配置され、前記光拡散部側から前記光制御フィルムに光を入射させることを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の光制御フィルムの検査装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の光制御フィルムの検査装置と、
複数の処理装置と、
前記複数の処理装置間において製造途中の前記光制御フィルムを搬送する搬送装置と、を備え、
前記検査装置が、前記搬送装置における前記光制御フィルムの搬送経路の途中に配置されたことを特徴とする光制御フィルムの製造装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光制御フィルムの検査装置および光制御フィルムの製造装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機等をはじめとする携帯型電子機器、もしくはテレビジョン、パーソナルコンピューター等のディスプレイとして、液晶表示装置が広く用いられている。ところが、一般に液晶表示装置は、正面からの視認性に優れる反面、視野角が狭いことが従来から知られており、視野角を広げるための様々な工夫がなされている。その一つとして、液晶パネル等の表示体から射出される光を拡散させるための部材を表示体の視認側に備える構成が考えられる。
【０００３】
例えば下記特許文献１には、透明基材と、透明基材の一面に形成されたテーパ状の反射面を有する光拡散部と、透明基材の一面における光拡散部の形成領域以外の領域に形成された遮光部と、を備えた光制御フィルムが開示されている。光制御フィルムにおいては、入射した光を光拡散部のテーパ状の反射面で反射させることにより、透過光の拡散角度を入射前よりも広げている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】国際公開第２０１２／０８１４１０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光制御フィルムの光拡散特性は、光拡散部の出来栄えに大きく影響を受ける。すなわち、所望の光拡散特性を得るためには、光拡散部の形状や寸法が当初の設計通りに仕上がっていることが重要である。しかしながら、光拡散部の形成状態を確認するには、光制御フィルムを切断し、顕微鏡等を用いて断面形状を観察する方法が一般的である。そのため、光拡散部の検査に手間や時間が掛かるという問題があった。また、光制御フィルムを切断した際に光拡散部が破損する場合があり、光拡散部の形成状態を正確に検査するのは難しいという問題があった。
【０００６】
本発明の一つの態様は、上記の課題を解決するためになされたものであり、光拡散部の検査に要する手間や時間を削減でき、光拡散部の形成状態をより正確に検査できる光制御フィルムの検査装置を提供することを目的の一つとする。本発明の一つの態様は、光拡散部の検査に要する手間や時間を削減でき、光拡散部の形成状態をより正確に検査しつつ光制御フィルムを製造できる光制御フィルムの製造装置を提供することを目的の一つとする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するために、本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置は、光透過性を有する基材と、前記基材の第１の面に設けられた光拡散部と、前記第１の面において前記光拡散部の形成領域以外の領域に設けられた遮光部と、を備え、前記光拡散部が、前記基材側に位置する光射出端面と、前記基材と反対側に位置し、前記光射出端面の面積よりも大きい面積を有する光入射端面と、前記光射出端面に対して傾斜した傾斜面と、を備え、前記光拡散部の前記光入射端面から前記光射出端面までの高さが前記遮光部の層厚よりも大きい光制御フィルムに対し、前記基材側、前記光拡散部側のいずれか一方に配置され、前記光制御フィルムに向けて光を照射する光源部と、前記基材側、前記光拡散部側のいずれか他方に配置され、前記光源部から射出されて前記光制御フィルムを透過する透過光の強度を測定する測光手段と、を備え、前記透過光の強度測定結果に基づいて、前記傾斜面の状態を検査することを特徴とする。
【０００８】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段は、前記光源部から前記光制御フィルムに入射する光の光入射面の面内に配置され、前記面内において強度が最も高い前記透過光の中心軸の極角を測定してもよい。
【０００９】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段が、前記透過光の中心軸の極角に基づいて前記光入射端面に対する前記傾斜面の傾斜角度を導出してもよい。
【００１０】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段は、当該測光手段の受光面の法線方向と前記基材の法線方向とのなす極角θが０°≦θ≦９０°を満たす範囲内で、移動可能とされていてもよい。
【００１１】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段が、前記基材の主面の法線方向から見た方位角方向に移動可能とされていてもよい。
【００１２】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部が、移動可能とされていてもよい。
【００１３】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部が、前記測光手段の移動と連動して移動可能とされていてもよい。
【００１４】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段は、当該測光手段の受光面の法線方向と前記基材の法線方向とのなす極角θが０°≦θ≦９０°の範囲内の特定の角度となる位置で、固定されていてもよい。
【００１５】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置は、前記光制御フィルムを前記基材の主面に平行な方向に移動させる搬送手段を備えていてもよい。
【００１６】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部は、前記搬送手段による前記光制御フィルムの移動方向と垂直な方向に間隔をおいて配置された複数の光源を含んでいてもよい。
【００１７】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部は、前記搬送手段による前記光制御フィルムの移動方向と平行な方向に間隔をおいて配置された複数の光源を含んでいてもよい。
【００１８】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段は、前記移動方向と平行な方向に間隔をおいて配置された複数の光源に対応して設けられた複数の受光器を含んでいてもよい。
【００１９】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部は、前記搬送手段による前記光制御フィルムの移動方向と直交する方向に延びる線状の光を射出する線光源を含んでいてもよい。
【００２０】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部は、面光源を含んでいてもよい。
【００２１】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記測光手段が、前記透過光の強度を測定したときに検出された前記光制御フィルムの不良箇所の位置情報を取得する位置情報取得手段を備えていてもよい。
【００２２】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部が、前記光拡散部側に配置され、前記光拡散部側から前記光制御フィルムに光を入射させる構成であってもよい。
【００２３】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部が、前記基材側に配置され、前記基材側から前記光制御フィルムに光を入射させる構成であってもよい。
【００２４】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部から射出される光の波長が５５０ｎｍであり、前記測光手段が、前記光制御フィルムを透過する透過光のＹ値を検出する構成であってもよい。
【００２５】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置において、前記光源部が高指向性光源であってもよい。
【００２６】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査方法は、光透過性を有する基材と、前記基材の第１の面に設けられた光拡散部と、前記第１の面において前記光拡散部の形成領域以外の領域に設けられた遮光部と、を備え、前記光拡散部が、前記基材側に位置する光射出端面と、前記基材と反対側に位置し、前記光射出端面の面積よりも大きい面積を有する光入射端面と、前記光射出端面に対して傾斜した傾斜面と、を備え、前記光拡散部の前記光入射端面から前記光射出端面までの高さが前記遮光部の層厚よりも大きい光制御フィルムに対し、前記基材側、前記光拡散部側のいずれか一方から光を照射し、前記基材側、前記光拡散部側のいずれか他方において前記光制御フィルムを透過する透過光の強度を測定し、前記透過光の強度測定結果に基づいて、前記傾斜面の状態を検査することを特徴とする。
【００２７】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの製造装置は、前記本発明の一つの態様の光制御フィルムの検査装置を備えたことを特徴とする。
【００２８】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの製造装置は、各々が異なる処理を行う複数の処理装置と、前記複数の処理装置間において製造途中の前記光制御フィルムを搬送する搬送装置と、を備え、前記検査装置が、前記搬送装置における前記光制御フィルムの搬送経路の途中に配置されていてもよい。
【００２９】
本発明の一つの態様の光制御フィルムの製造装置において、前記複数の処理装置が、感光性樹脂からなる前記光拡散部の形成に用いる露光装置を含み、前記検査装置による前記傾斜面の検査結果を前記露光装置の露光量にフィードバックする構成であってもよい。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の一つの態様によれば、光拡散部の検査に要する手間や時間を削減でき、光拡散部の形成状態をより正確に検査できる光制御フィルムの検査装置を提供することができる。本発明の一つの態様によれば、光拡散部の検査に要する手間や時間を削減でき、光拡散部の形成状態をより正確に検査できる光制御フィルムの検査方法を提供することができる。本発明の一つの態様によれば、光拡散部の検査に伴う生産性の低下を招くことなく、品質に優れた光制御フィルムを製造可能な光制御フィルムの製造装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】第１実施形態の光制御フィルムの検査装置を示す斜視図である。
【図２】検査装置の動作を説明するための側面図である。
【図３】光制御フィルムにおける反射光の強度分布を示す図である。
【図４】光制御フィルムにおける反射の様子を示す断面図である。
【図５】第２実施形態の検査装置の側面図である。
【図６】検査装置の平面図である。
【図７】第３実施形態の検査装置の斜視図である。
【図８】検査装置の位置情報の取得方法を説明するための斜視図である。
【図９】第４実施形態の検査装置の斜視図である。
【図１０】第５実施形態の検査装置の斜視図である。
【図１１】第６実施形態の検査装置の斜視図である。
【図１２】第７実施形態の検査装置の斜視図である。
【図１３】光制御フィルムにおける反射の様子を示す断面図である。
【図１４】第８実施形態の光制御フィルムの製造装置の側面図である。
【図１５】製造装置に組み込まれた検査装置の斜視図である。
【図１６】（Ａ）、（Ｂ）受光器の受光面の様子を示す斜視図である。
【図１７】第９実施形態の製造装置に組み込まれた検査装置の斜視図である。
【図１８】被検査対象である光制御フィルムの変形例を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
［第１実施形態］
以下、本発明の第１実施形態について、図１〜図４を用いて説明する。
第１実施形態では、光制御フィルムの検査装置の一例について説明する。
なお、以下で用いる全ての図面においては各構成要素を見やすくするため、構成要素によって寸法の縮尺を異ならせて示すことがある。
【００３３】
最初に、被検査対象である光制御フィルム１について詳細に説明する。
光制御フィルム１は、図１に示すように、基材２と、基材２の第１の面２ａに形成された複数の光拡散部３と、基材２の第１の面２ａに形成された遮光層４（遮光部）と、から構成されている。
【００３４】
基材２には、例えばトリアセチルセルロース（ＴＡＣ）フィルム、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリエーテルサルホン（ＰＥＳ）フィルム等の透明樹脂製の基材が好ましく用いられる。基材２は、製造プロセスにおいて、後で遮光層４や光拡散部３の材料を塗布する際の下地となるものであり、製造プロセス中の熱処理工程における耐熱性と機械的強度とを備える必要がある。したがって、基材２には、樹脂製の基材の他、ガラス製の基材等を用いても良い。
【００３５】
光拡散部３は、例えばアクリル樹脂やエポキシ樹脂等の光透過性および感光性を有する有機材料で構成されている。光拡散部３は、図４に示すように、水平断面（ｘｙ断面）の形状が円形であり、光射出端面となる基材２側の面３ａの面積が小さく、光入射端面となる基材２と反対側の面３ｂの面積が大きく、基材２側から基材２と反対側に向けて水平断面の面積が徐々に大きくなっている。すなわち、光拡散部３は、基材２側から見たとき、いわゆる逆テーパ状の円錐台状の形状を有している。
【００３６】
光拡散部３は、光制御フィルム１において光の透過に寄与する部分である。すなわち、光拡散部３に入射した光Ｌは、光拡散部３のテーパ状の傾斜面３ｃで全反射しつつ、光拡散部３の内部に略閉じこめられた状態で導光し、射出される。複数の光拡散部３は、基材２の主面の法線方向から見てランダムに配置されている。
【００３７】
例えば光制御フィルム１がディスプレイに貼付される場合、基材２が視認側（観察者側）に向き、光拡散部３がディスプレイ側に向くように配置される。そのため、円錐台状の光拡散部３の２つの対向面のうち、面積の小さい方の面が光射出端面３ａとなり、面積の大きい方の面が光入射端面３ｂとなる。光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaper（光入射端面３ｂと傾斜面３ｃとのなす角）は、一例として８０°〜８５°程度である。ただし、傾斜角度θtaperは、光制御フィルム１から射出する際に光を十分に拡散することが可能な角度であればよく、特に限定されない。
【００３８】
遮光層４は、基材２の第１の面２ａのうち、複数の光拡散部３の形成領域以外の領域に形成されている。遮光層４は、一例として、ブラックレジスト、黒色インク等の光吸収性および感光性を有する有機材料で構成されている。その他、Ｃｒ（クロム）やＣｒ／酸化Ｃｒの多層膜等の金属膜を用いても良い。遮光層４の層厚は、光拡散部３の光入射端面３ｂから光射出端面３ａまでの高さよりも小さく設定されている。本実施形態の場合、遮光層４の層厚は一例として１５０ｎｍ程度であり、光拡散部３の光入射端面３ｂから光射出端面３ａまでの高さは一例として２５μｍ程度である。複数の光拡散部３間の間隙は、基材２の第１の面２ａに接する部分には遮光層４が存在し、その他の部分には空気が存在している。
【００３９】
なお、基材２の屈折率と光拡散部３の屈折率とは略同等であることが望ましい。その理由は、例えば基材２の屈折率と光拡散部３の屈折率とが大きく異なっていると、光入射端面３ｂから入射した光が光拡散部３から射出しようとする際に光拡散部３と基材２との界面で不要な光の屈折や反射が生じて、所望の視野角が得られない、射出光の光量が減少する、等の不具合が生じる虞があるからである。
【００４０】
本実施形態の場合、隣接する光拡散部３間には空気が介在しているため、光拡散部３を例えば透明アクリル樹脂で形成したとすると、光拡散部３の傾斜面３ｃは透明アクリル樹脂と空気との界面となる。光拡散部３の周囲は、他の低屈折率材料で充填されていてもよい。しかしながら、光拡散部３の内部と外部との界面の屈折率差は、外部にいかなる低屈折率材料が存在する場合よりも空気が存在する場合が最大となる。したがって、Snellの法則より、本実施形態の構成においては臨界角が最も小さくなり、光拡散部３の傾斜面３ｃで光が全反射する入射角範囲が最も広くなる。その結果、光の損失がより抑えられ、高い輝度を得ることができる。
【００４１】
次に、光制御フィルム１の検査装置１１について説明する。以下の説明では、光制御フィルム１の検査装置１１を単に「検査装置１１」と称する。
図１に示すように、検査装置１１は、光源部１２と、受光器１３と、を備える。光源部１２は、光制御フィルム１の光拡散部３側に配置され、光制御フィルム１に向けて光を照射する。受光器１３は、光制御フィルム１の基材２側に配置され、光源部１２から射出されて光制御フィルム１を透過する透過光の強度を測定する。受光器１３は、特許請求の範囲の測光手段に相当する。検査装置１１は、受光器１３による透過光の強度測定結果に基づいて、光拡散部３の傾斜面３ｃの状態を検査する。
【００４２】
光源部１２は、例えば発光ダイオード（Light Emitting Diode, 以下、ＬＥＤと略記する）と、凹面ミラーからなるリフレクターと、を備えている。ＬＥＤには、例えば波長λ＝５５０ｎｍの緑色光を射出する緑色ＬＥＤが用いられる。ＬＥＤは特に指向性を有していなくてよい。リフレクターは、例えばパラボラ形状、放物面状等、焦点を有する２次曲面形状を有している。ＬＥＤの発光面の位置は、リフレクターの焦点の位置に略一致している。リフレクターは、ＬＥＤからの光を反射して一方向に射出する。
【００４３】
ＬＥＤの発光面の位置がリフレクターの焦点と一致しているため、ＬＥＤから発せられた光は、リフレクターに対してどのような角度で入射したとしても、リフレクターで反射した後にリフレクターの光軸に平行な方向に進行する。したがって、ＬＥＤから発せられた直後の拡散光は、リフレクターで反射することにより平行化された光、すなわち高い指向性を持つ光に変換され、射出される。このように、光源部１２は、高指向性光源であることが好ましい。そのような観点から、光源部１２として、例えばレーザー光源を用いてもよい。光源部１２は、光制御フィルム１上の１点をスポット状に照射する点光源である。
【００４４】
受光器１３は、光制御フィルム１を透過する透過光のＹ値を検出する。受光器１３には、一般の受光センサ等を用いることができる。光制御フィルム１の法線Ｖを含む任意の仮想平面Ｐを考えたとき、光源部１２と受光器１３とは、光源部１２の光射出面１２ａの法線Ｖ１（光源部１２の光軸）と受光器１３の光入射面１３ａの法線Ｖ２（受光器１３の光軸）とが光制御フィルム１の主面に垂直な同一の仮想平面Ｐ内に位置するように、配置されている。換言すると、受光器１３は、光源部１２から光制御フィルム１に入射する光の光入射面の面内に配置されている。
【００４５】
図２に示すように、受光器１３は、光源部１２との間で上記の位置関係を保ちつつ、光入射面１３ａの法線Ｖ２が光源部１２から射出された光の照射領域の中心Ｑを常に通るように矢印Ａ１で示す極角方向に移動できる構成となっている。受光器１３は、光入射面１３ａの法線Ｖ２と光制御フィルム１の法線Ｖとのなす角度θjが０°≦θj＜９０°の範囲内で移動可能な構成となっている。光制御フィルム１の法線Ｖと受光器１３の光入射面１３ａの法線Ｖ２とのなす角度θjは、受光器１３の移動に伴って変化する。
【００４６】
検査装置１１は、光源部１２および受光器１３を制御する制御部（図示略）を備えている。制御部は、光源部１２および受光器１３の動作を制御するとともに、受光器１３から得られた光強度の測定結果に基づいて強度分布を求め、さらに光制御フィルム１における光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを算出する機能を有する。検査装置１１は、光制御フィルム１における光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを算出し、所望の形状を有する光拡散部３が作製できているか否かを検査する。
【００４７】
傾斜角度θtaperの算出手順について説明する。
図２、図４に示すように、光源部１２は、光制御フィルム１の光拡散部３が形成された面に向けて光制御フィルム１の法線Ｖに対して極角θinだけ傾いた入射角度で、光制御フィルム１に光Ｌを照射する。言い換えると、光制御フィルム１の法線Ｖと入射光の光軸（光源部１２の光射出面１２ａの法線Ｖ１）とのなす角度が、入射角度θinである。光Ｌは、光拡散部３の光入射面３ｂで屈折し、光拡散部３に入射する。光拡散部３に入射した光Ｌは、傾斜面３ｃで全反射する。
【００４８】
光拡散部３の傾斜面３ｃで全反射した光Ｌは、基材２の第１の面２ａで屈折し、基材２に入射する。基材２に入射した光Ｌは、基材２の第２の面２ｂで屈折し、光制御フィルム１の法線Ｖに対して極角θoutだけ傾いた射出角度で外部空間に射出される。言い換えると、光制御フィルム１の法線Ｖと透過光の中心軸（受光器１３の光入射面１３ａの法線Ｖ２）とのなす角度が、射出角度θoutである。受光器１３は、極角方向に移動しつつ各極角における透過光の強度を測定する。受光器１３は、個々の極角における透過光強度の測定値から所定範囲の極角における強度分布を取得する。
【００４９】
図３は、受光器１３の測定結果から得られた透過光の強度分布曲線の一例である。光源部１２から光制御フィルム１に入射する光の入射角度θinを一定にし、受光器１３を極角方向に移動させると、図３のような強度分布曲線が得られる。強度分布曲線から、透過光の強度が最大値Ｉmaxとなる射出角度θoutが求められる。
【００５０】
図４において、光制御フィルム１の周囲の屈折率をｎ０、光拡散部３の屈折率をｎ１、基材２の屈折率をｎ２とする。光拡散部３の光入射端面３ｂでの屈折、光拡散部３の傾斜面３ｃでの反射、光拡散部３と基材２との界面での屈折、基材２の光射出面２ｂでの屈折を考慮すると、Snellの法則を用いて、下記の（１）式が導出される。（１）式に従って、傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperが求められる。なお、屈折率ｎ２の媒体、すなわち、光制御フィルム１は平行平板であるため、光は透過するだけであり、射出光の角度には影響を及ぼさない。したがって、射出光の角度（θout）から傾斜角度（θtaper）を求める（１）式には、傾斜面３ｃを有する光拡散部３の屈折率ｎ１と光の射出先である周囲の屈折率ｎ０の２つの屈折率が含まれ、基材２の屈折率ｎ２は含まれない。
【００５１】
【数１】
2014238534.tif 000003
【００５２】
通常、光制御フィルム１の周囲には空気が存在しているため、光制御フィルム１の周囲の屈折率ｎ０は空気の屈折率、すなわちｎ０＝１とする。光拡散部３の屈折率ｎ１が１．５５、基材２の屈折率ｎ２が１．５０、光Ｌの入射角度θinが２０°であったとする。受光器１３の測定結果から、透過光の射出角度θoutが３８°と求められたとすると、（１）式より、傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperは８５°と算出される。
【００５３】
以上説明したように、第１実施形態の検査装置１１によれば、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１における光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、検査者は、所望のテーパ形状を有する光拡散部３が作製できているか否かを検査することができる。このように、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる。また、光制御フィルム１の切断に伴う光拡散部３の破損が生じることがなく、光拡散部３の形成状態を確実に検査することができる。
【００５４】
本発明者らは、光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperが異なる２種類の光制御フィルム１について、光の入射角度θinを変えたときの光の射出角度θoutを実際に測定し、光の入射角度θinと光の射出角度θoutとの関係を求めた。その測定結果を［表１］、［表２］に示した。［表１］は傾斜角度θtaperが８５°の場合、［表２］は傾斜角度θtaperが８０°の場合の測定結果である。なお、屈折率ｎ０、ｎ１、ｎ２は上記の値と同一である。光源部１２の指向性を示す指標として、光源部１２から射出される光の全幅を±４°とした。
【００５５】
【表１】
2014238534.tif 000004
【００５６】
【表２】
2014238534.tif 000005
【００５７】
光拡散部３を構成する一般的な感光性材料の屈折率、および一般的な基材２の屈折率は１．４９〜１．５５の範囲である。この屈折率の範囲では、算出した射出角度θoutのばらつきは±０．４°であった。したがって、充分に高い精度で傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを求めることができた。
【００５８】
［第２実施形態］
以下、本発明の第２実施形態について、図５、図６を用いて説明する。
第２実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、受光器の動作が第１実施形態と異なる。
図５、図６において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００５９】
第１実施形態の検査装置においては、受光器は、光源部の光射出面の法線と受光器の光入射面の法線とを含む仮想平面内で極角方向に移動する構成となっていた。これに対し、第２実施形態の検査装置２１においても、図５に示すように、受光器１３は、光源部１２の光射出面１２ａの法線Ｖ１と受光器１３の光入射面１３ａの法線Ｖ２とを含み、光制御フィルム１の主面に垂直な仮想平面Ｐ内で矢印Ａ１で示す極角方向に移動する構成となっている。
【００６０】
さらに、図６に示すように、受光器１３は、一定の極角において光制御フィルム１の主面の法線方向（主面に垂直な方向）から見た仮想平面内において矢印Ａ２で示す方位角方向に移動する構成となっている。すなわち、第２実施形態では、光源部１２の光射出面１２ａの法線Ｖ１と受光器１３の光入射面１３ａの法線Ｖ２とは、光制御フィルム１の主面に垂直な仮想平面Ｐ内に常に位置しているとは限らず、ねじれた位置関係となる場合がある。受光器１３を方位角方向に移動させると、受光器１３は、方位角方向に対する反射光の強度分布を取得することができる。
【００６１】
第２実施形態の検査装置２１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１における光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部３の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００６２】
さらに、第２実施形態の検査装置２１によれば、受光器１３を方位角方向に移動させて方位角方向の反射強度分布を取得することにより、光拡散部３の平面形状を把握することができる。例えば平面形状が円形の光拡散部３を検査した際に、方位角方向の強度分布曲線がピーク強度を中心として左右対称であれば、光拡散部３の平面形状である円の曲率が測定点の近傍において一定であると推察できる。逆に、方位角方向の強度分布曲線がピーク強度を中心として左右非対称であれば、光拡散部３の平面形状である円の曲率が測定点の両側で変化していると推察できる。
【００６３】
また、傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperが方位角方向によって異なる非対称の光拡散部３を検査する場合、光源部１２と受光器１３とを連動させて方位角方向に移動させれば、所望の方位角方向における傾斜角度θtaperを算出することができる。
【００６４】
［第３実施形態］
以下、本発明の第３実施形態について、図７、図８を用いて説明する。
第３実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、受光器の動作が第１実施形態と異なる。
図７、図８において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００６５】
第３実施形態の検査装置３１において、図７に示すように、光源部１２は、光制御フィルム１の上方空間において、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内の直交する２方向（ｘ軸方向、ｙ軸方向）に移動できる構成となっている。受光器１３は、光制御フィルム１の下方空間において、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内の直交する２方向（ｘ軸方向、ｙ軸方向）に移動できる構成となっている。制御部（図示略）の制御により、光源部１２と受光器１３とは連動して移動する。光源部１２および受光器１３が極角方向に移動可能である点は、第１実施形態と同様である。なお、以下の図面では、図面を見やすくするため、光制御フィルム１を簡略化して１枚の板状に描いている。
【００６６】
第３実施形態の検査装置３１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１における光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００６７】
第１実施形態の検査装置１１は、基本的には光制御フィルム１の面内の１箇所の測定点の検査を行うものである。ただし、光源部１２および受光器１３に対する光制御フィルム１の位置をその都度変えれば、第１実施形態の検査装置１１であっても、複数箇所の測定点の検査が可能となる。これに対し、第３実施形態の検査装置３１では、光源部１２および受光器１３をｘ軸方向、ｙ軸方向の双方に適宜移動させることにより、光制御フィルム１の位置を変えることなく、複数箇所の測定点の検査が可能である。
【００６８】
第３実施形態の検査装置３１では、複数箇所の測定点の検査を行う際、仮にいずれかの測定点で光拡散部が当初の設計通りに形成されていなかった場合、言い換えると、光拡散部の不良箇所があった場合、その不良箇所の位置情報を取得することができる。
【００６９】
具体的には、例えば図８に示すように、光制御フィルム１の１つの角部を、光制御フィルム１の位置を示す座標の原点Ｏとし、原点Ｏに光が照射されているときの光源部１２の位置Ｔ１を光源部１２の基準位置とする。光源部１２の基準位置Ｔ１からの現在位置Ｔ２にある光源部１２の移動量として、ｙ軸方向の移動量をＷ’、ｘ軸方向の移動量をＬ’とすると、現在位置Ｔ２の光源部１２から射出された光の照射位置Ｓの座標（Ｌ，Ｗ）はＬ＝Ｌ’、Ｗ＝Ｗ’で表される。したがって、制御部は、光源部１２の基準位置Ｔ１からの現在位置Ｔ２の光源部１２の移動量に基づいて、光拡散部の不良箇所を座標として求め、記憶することができる。制御部は、特許請求の範囲における位置情報取得手段に相当する。
【００７０】
［第４実施形態］
以下、本発明の第４実施形態について、図９を用いて説明する。
第４実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、受光器の数が第１実施形態と異なる。
図９において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００７１】
図９に示すように、第４実施形態の検査装置４１は、複数の受光器１３を備えている。複数の受光器１３は、ｘ軸方向、ｙ軸方向の各々に互いに間隔をおいてマトリクス状に配置されている。第１実施形態と同様、複数の受光器１３の各々は、独立して極角方向に移動可能となっている。さらに、複数の受光器１３の各々は、独立して方位角方向に移動可能となっていてもよい。ただし、複数の受光器１３は、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内では移動しない。一方、光源部１２は、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内でｘ軸方向、ｙ軸方向に移動できる構成となっている。したがって、光源部１２は、各受光器１３に対応する光制御フィルム１上の複数の位置に移動できる。
【００７２】
第４実施形態の検査装置４１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００７３】
第４実施形態の検査装置４１は、第３実施形態の検査装置と同様、光制御フィルム１を移動させることなく、複数箇所の測定点の検査が可能である。第４実施形態の検査装置４１においても、複数箇所の測定点の検査を行い、光拡散部の不良箇所があった場合、その不良箇所の位置情報を取得することができる。
【００７４】
具体的には、複数の受光器１３に、例えばＪ１１，Ｊ１２，Ｊ１３，…，Ｊ３１，Ｊ３２，Ｊ３３というように、受光器１３を識別するための識別番号を付しておく。制御部は、複数の受光器１３のうち、不良箇所を検出した受光器１３の識別番号を記憶することにより、その受光器１３に対応する光制御フィルム１上の位置を不良箇所として特定することができる。例えば識別番号Ｊ１３の受光器１３が不良箇所ＦＬを検出したとすると、識別番号Ｊ１３の受光器１３に対応する光制御フィルム１上の位置が不良箇所として特定される。制御部は、特許請求の範囲における位置情報取得手段に相当する。
【００７５】
［第５実施形態］
以下、本発明の第５実施形態について、図１０を用いて説明する。
第５実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、光源部の形態が第１実施形態と異なる。
図１０において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００７６】
図１０に示すように、第５実施形態の検査装置５１は、線光源からなる光源部５２を備えている。光源部５２は、ｙ軸方向に延びる線状の光を射出する。光源部５２は、光制御フィルム１上の所定の線状領域Ｒｙを照射する光を射出する。受光器１３は、第１実施形態と同様のものである。受光器１３は、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内でｙ軸方向に平行移動する。受光器１３が極角方向に移動する点は第１実施形態と同様である。第２実施形態と同様、受光器１３は、方位角方向に移動可能となっていてもよい。さらに、光源部５２と受光器１３とは、互いに連動して光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内でｘ軸方向に平行移動してもよい。受光器１３に代えて、光源部５２に対応した線状の受光器を用いてもよい。
【００７７】
第５実施形態の検査装置５１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００７８】
第５実施形態の検査装置５１は、光制御フィルム１を移動させることなく、ｘ軸方向の特定位置においてｙ軸方向に沿う複数箇所の測定点の検査が可能である。さらに、光源部５２と受光器１３とが連動してｘ軸方向にも平行移動する構成とすれば、光制御フィルム１の全面において複数箇所の測定点の検査が可能である。第５実施形態の検査装置５１においても、第３実施形態と同様の手法により、複数箇所の測定点の検査を行い、光拡散部の不良箇所があった場合、その不良箇所の位置座標を取得する構成としてもよい。
【００７９】
［第６実施形態］
以下、本発明の第６実施形態について、図１１を用いて説明する。
第６実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、光源部の形態が第１実施形態と異なる。
図１１において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００８０】
図１１に示すように、第６実施形態の検査装置６１は、面光源からなる光源部６２を備えている。光源部６２は、光制御フィルム１上の所定の矩形領域Ｒxyを照射する光を射出する。光の照射領域は必ずしも矩形である必要はなく、例えば円形であってもよい。受光器１３は、光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内でｘ軸方向、ｙ軸方向の双方に平行移動する。受光器１３が極角方向に移動可能となっている点は第１実施形態と同様である。第２実施形態と同様、受光器１３は、方位角方向に移動可能となっていてもよい。さらに、光源部６２と受光器１３とは、互いに連動して光制御フィルム１の主面１ａと平行な仮想平面内でｘ軸方向およびｙ軸方向に平行移動してもよい。
【００８１】
第６実施形態の検査装置６１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００８２】
第６実施形態の検査装置６１は、光制御フィルム１を移動させることなく、光制御フィルム１上の複数箇所の測定点の検査が可能である。第６実施形態の検査装置６１においても、第３実施形態と同様の手法により、複数箇所の測定点の検査を行い、光拡散部の不良箇所があった場合、その不良箇所の位置座標を取得する構成としてもよい。
【００８３】
［第７実施形態］
以下、本発明の第７実施形態について、図１２、図１３を用いて説明する。
第７実施形態の検査装置の基本構成は第１実施形態と同様であり、光源部と受光器との位置関係が第１実施形態と異なる。
図１２、図１３において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００８４】
図１２に示すように、第７実施形態の検査装置７１において、光源部１２は、光制御フィルム１の基材２側に配置され、光制御フィルム１に向けて光を照射する。受光器１３は、光制御フィルム１の光拡散部３側に配置され、光源部１２から射出されて光制御フィルム１を透過する透過光の強度を測定する。すなわち、第７実施形態の検査装置７１は、光源部１２と受光器１３との位置関係が第１実施形態と逆になっている。その他の構成は、第１実施形態と同様である。
【００８５】
第７実施形態においては、図１３に示すように、光源部１２から基材２に入射する光Ｌの入射角度がθinであり、光拡散部３の光入射端面３ｂから射出される光の射出角度がθoutである。なお、ここで言う光入射端面３ｂとは、光制御フィルム１の使用時に光を入射する面という意味である。したがって、第７実施形態の検査装置７１の場合、光Ｌが光制御フィルム１内を進む向きは、光制御フィルム１の実際の使用形態とは逆であり、第１実施形態の検査装置とは逆である。光拡散部３の傾斜面３ｃの傾斜角度θtaperを算出する際には、以下の（２）式を用いることができる。（１）式と同様、屈折率ｎ２の媒体、すなわち、光制御フィルム１は平行平板であるため、光は透過するだけであり、射出光の角度には影響を及ぼさない。したがって、射出光の角度（θout）から傾斜角度（θtaper）を求める（２）式には、傾斜面３ｃを有する光拡散部３の屈折率ｎ１と光の射出先である周囲の屈折率ｎ０の２つの屈折率が含まれ、基材２の屈折率ｎ２は含まれない。
【００８６】
【数２】
2014238534.tif 000006
【００８７】
第７実施形態の検査装置７１においても、第１実施形態の検査装置と同様の手順により、受光器１３の測定結果から、光制御フィルム１の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを算出することができる。これにより、光制御フィルム１の非破壊検査が可能となり、光制御フィルム１の検査に要する手間や時間を削減できる、光拡散部の形成状態を確実に検査できる、といった第１実施形態と同様の効果が得られる。
【００８８】
図１８に示す光制御フィルム７５は、基材２と、基材２の第１の面２ａに形成された複数の遮光層７６と、複数の遮光層７６の形成領域以外の領域に形成された光拡散部７７と、を有する。遮光層７６の形成領域には円錐台状の空間７８が形成されており、空間７８内には空気が存在している。光制御フィルム７５は、空間７８以外の部分が壁状に連続した光拡散部７７を有している。
この光制御フィルム７５を被検査対象とした場合であっても、第１〜第７実施形態の検査装置を用いて同様に検査を行うことができる。
【００８９】
［第８実施形態］
以下、本発明の第８実施形態について、図１４〜図１６を用いて説明する。
第８実施形態では、第１〜第７実施形態と同様の検査装置を含む光制御フィルムの製造装置の例を挙げる。以下の説明では、「光制御フィルムの製造装置」のことを単に「製造装置」と称する。
図１４は、第８実施形態の製造装置の概略構成図である。
図１４〜図１６において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００９０】
第８実施形態の製造装置８１は、長尺の光制御フィルムを連続的に搬送しながら製造した後、個々の表示装置のサイズに合わせて切断する方式の製造装置である。
【００９１】
図１４に示すように、製造装置８１は、複数の処理装置と、複数の処理装置間において製造途中の光制御フィルムを搬送する搬送装置８２と、を備えている。複数の処理装置は、ラミネート装置８３、背面露光装置８４、現像・水洗・乾燥装置８５、キュア露光装置８６を含む。搬送装置８２には、例えばローラーコンベア等の一般の搬送装置が用いられる。製造装置８１は、その他、基材供給ローラー８７、感光性樹脂フィルム供給ローラー８８等を備える。
【００９２】
検査装置８９は、搬送装置８２における光制御フィルム１の搬送経路の途中に配置されている。具体的には、この例では、検査装置８９は、現像・水洗・乾燥装置８５とキュア露光装置８６との間に配置されている。
【００９３】
製造装置８１の全体的な処理の流れについて説明する。ここでは、図１８に示す光制御フィルム７５を製造する一例として説明する。
基材供給ローラー８７から、複数の遮光層が形成された基材２が供給される。一方、感光性樹脂フィルム供給ローラー８８から、後で光拡散部となるネガ型感光性樹脂からなる感光性樹脂フィルム９０が供給される。そして、ラミネート装置８３により、これら基材２と感光性樹脂フィルム９０とが貼り合わされる。
【００９４】
次に、背面露光装置８４において、感光性樹脂フィルム９０に対して基材２側から拡散光ＬＦが照射され、基材２を通して感光性樹脂フィルム９０の露光が行われる。このとき、基材２に遮光層が形成されているため、遮光層がマスクとなる。そのため、感光性樹脂フィルム９０のうち、遮光層を底面とする円錐台状の部分には光が照射されない。
【００９５】
次に、現像・水洗・乾燥装置８５において、感光性樹脂の現像処理を行うことにより、遮光層を底面とする円錐台状の部分が空間となった光拡散部が形成される。次いで、現像液を洗い流すための水洗処理、乾燥処理が行われる。
【００９６】
次に、検査装置８９により、光拡散部が形成された後の光制御フィルムの検査を行う。検査装置８９の詳細については後述する。
【００９７】
次に、キュア露光装置８６により、検査終了後の光制御フィルムに対して光拡散部を確実に硬化させるためのキュア露光を行う。
その後、視認側となる基材２の裏面の反射防止加工、切断等の工程を経て、光制御フィルムが完成する。
【００９８】
なお、光制御フィルムを液晶ディスプレイに用いる場合には、光制御フィルムを液晶ディスプレイに貼付する前に、光制御フィルムに対して先に偏光板を貼付する工程を追加してもよい。
【００９９】
図１５に示すように、検査装置８９は、光源部９１と受光器９２とからなる検査ユニット９３を２組備えている。以下の説明では、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈを光制御フィルム９４の長さ方向、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈと直交する方向を光制御フィルム９４の幅方向、と称することもある。光源部９１は、光制御フィルム９４の幅方向の寸法に略一致した寸法を有する線光源で構成される。同様に、受光器９２は、光制御フィルム９４の幅方向の寸法に略一致した寸法を有する受光面を有している。
【０１００】
光源部９１は、光制御フィルム９４の上方空間に配置されている。受光器９２は、光制御フィルム９４の下方空間に配置されている。光源部９１は、光制御フィルム９４に入射する光の光軸Ｖ１と光制御フィルム９４の法線方向Ｖとのなす入射角度θinが２０°となるように配置されている。光制御フィルム９４の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperが８５°である場合、受光器９２は、光制御フィルム９４から射出される光の光軸Ｖ２と光制御フィルム９４の法線方向Ｖとのなす射出角度θoutが３８°となるように配置される。
【０１０１】
受光器９２は、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperが８５°である場合に透過光強度がピーク強度となる位置に配置されている。本実施形態の検査装置８９は、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを計測するために用いられるものではない。本実施形態の検査装置８９は、基本的には、製造装置８１に組み込まれて光制御フィルム９４の光拡散部が所望の傾斜角度θtaperとなっているか否かの判定、いわば光拡散部の良／不良の判定を行うためのものである。そのため、第１実施形態の検査装置と異なり、受光器９２は、極角方向に移動する必要はない。ただし、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを計測できるように、受光器は極角方向に移動する構成であってもよい。
【０１０２】
第１の検査ユニット９３ａにおいて、光源部９１は、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈの上流側から下流側に向けて線状の光を斜めに照射する。受光器９２は、光制御フィルム９４の光拡散部で反射し、搬送方向Ｈの下流側から上流側に向けて斜めに進行する光を受ける。第２の検査ユニット９３ｂにおいて、光源部９１は、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈの下流側から上流側に向けて線状の光を斜めに照射する。受光器９２は、光制御フィルム９４の光拡散部で反射し、搬送方向Ｈの上流側から下流側に向けて斜めに進行する光を受ける。検査装置８９がこのような２組の検査ユニット９３ａ，９３ｂを備えることにより、２方向（ｘ軸方向正側、ｘ軸方向負側）から見た光拡散部の傾斜面の検査が可能となる。
【０１０３】
なお、一方の検査ユニット９３の光源部９１から射出された光の一部は、光制御フィルム９４の光拡散部で反射することなく、光制御フィルム９４を直進して透過する場合がある。そのような光が他方の検査ユニット９３の受光器９２に入射すると、正確な検査ができなくなる虞がある。そのような不具合が生じないように、第１の検査ユニット９３ａと第２の検査ユニット９３ｂとは、一方の検査ユニット９３の光源部９１から射出され、光制御フィルム９４を直進した光が他方の検査ユニット９３の受光器９２に入射しないだけの間隔を空けて配置することが好ましい。
【０１０４】
いずれの検査ユニット９３においても、光は光源部９１から常時射出され、光制御フィルム９４からの透過光は受光器９２で常時検出されている。
図１６（Ａ）、（Ｂ）は受光器９２の受光面９２ａを示しており、光が実際に検出された箇所をハッチングで示している。光源部９１からの光の入射角度θinが２０°の場合、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperが設計通りの８５°に形成されていたとすれば、射出角度θoutが３８°の光がピーク強度として受光器９２に検出されるはずである。したがって、光制御フィルム９４の幅方向の全領域の光拡散部が良品であれば、図１６（Ａ）に示すように、受光面９２ａの全域で光が検出される。
【０１０５】
これに対し、光制御フィルム９４の幅方向の一部の領域の光拡散部が不良品であると、図１６（Ｂ）に示すように、受光面９２ａの一部に光が検出されない暗部Ｂが生じる。暗部Ｂが検出された場合、ｘ軸座標として光制御フィルム９４の基準位置（例えば光制御フィルム９４の開始端）から現在の検出点までの距離を取り、ｙ軸座標として光制御フィルム９４の幅方向の一端から不良箇所までの距離を取る。このようにして、不良箇所の位置情報を取得することができる。
【０１０６】
本実施形態の製造装置８１は、光制御フィルム９４の搬送経路中に検査装置８９を備えたことにより、光拡散部の非破壊検査を連続的に行うことができる。したがって、光制御フィルム９４の搬送を途中で止めたりすることなく、生産性を低下させることなく品質に優れた光制御フィルムを製造することができる。
【０１０７】
［第９実施形態］
以下、本発明の第９実施形態について、図１７を用いて説明する。
第９実施形態の製造装置の基本構成は第８実施形態の製造装置と略同様であり、検査装置の構成が第８実施形態の製造装置と異なる。
図１７は、第９実施形態の製造装置に備えられた検査装置の概略構成図である。
図１７において、第８実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
【０１０８】
第９実施形態の製造装置は、長尺の光制御フィルムを間欠的に搬送しながら、各工程の処理を、光制御フィルムを長手方向に分割した個々の領域毎に行った後、個々の表示装置のサイズに合わせて切断する方式の製造装置である。
【０１０９】
図１７に示すように、検査装置９９は、光源部１００と複数の受光器１０１とからなる検査ユニット１０２を２組備えている。光源部１００は、ｙ軸方向の寸法が光制御フィルム９４の幅方向の寸法に略一致した寸法を有する面光源で構成される。光源部１００から射出される光の照射範囲Ｒは、光制御フィルム９４を間欠的に搬送する際の１ステップ分の移動に対応する範囲に等しい。複数の受光器１０１は、光制御フィルム９４の上記照射範囲Ｒから射出される透過光を受光できる範囲内にマトリクス状に配置されている。
【０１１０】
光源部１００は、光制御フィルム９４の上方空間に配置されている。複数の受光器１０１は、光制御フィルム９４の下方空間に配置されている。第８実施形態と同様、光源部１００は、光制御フィルム９４に入射する光の光軸と光制御フィルム９４の法線方向とのなす入射角度θinが２０°となるように配置されている。光制御フィルム９４の光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperが８５°の場合、複数の受光器１０１は、光制御フィルム９４から射出される光の光軸と光制御フィルム９４の法線方向とのなす射出角度θoutが３８°となる位置に配置されている。受光器１０１は、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperが８５°である場合に透過光強度がピーク強度となる位置に配置されている。受光器１０１は、極角方向に移動してもよいし、極角方向に移動しなくてもよい。
【０１１１】
第１の検査ユニット１０２ａにおいて、光源部１００は、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈの上流側から下流側に向けて面状の光を斜めに照射する。複数の受光器１０１は、光制御フィルム９４の光拡散部で反射し、搬送方向Ｈの下流側から上流側に向けて斜めに進行する光を受ける。第２の検査ユニット１０２ｂにおいて、光源部１００は、光制御フィルム９４の搬送方向Ｈの下流側から上流側に向けて面状の光を斜めに照射する。複数の受光器１０１は、光制御フィルム９４の光拡散部で反射し、搬送方向Ｈの上流側から下流側に向けて斜めに進行する光を受ける。検査装置９９がこのような２組の検査ユニット１０２を備えることにより、２方向（ｘ軸方向正側、ｘ軸方向負側）から見た光拡散部の傾斜面の検査が可能となる。
【０１１２】
なお、一方の検査ユニット１０２の光源部１００から射出された光のうち、光制御フィルム９４を直進して透過した光が他方の検査ユニット１０２の受光器１０１に入射しないように、第１の検査ユニット１０２ａと第２の検査ユニット１０２ｂとは、１ステップ分の移動距離以上の間隔を空けて配置することが好ましい。
【０１１３】
検査装置９９において、光は光源部１００から常時射出されており、光制御フィルム９４からの透過光は複数の受光器１０１で同時に検出されている。光制御フィルム９４の光照射領域のうち、一部の領域の光拡散部が仮に不良品であった場合、制御部は、光制御フィルム９４の基準位置（例えば光制御フィルム９４の開始端）から現在位置までのステップ数と、不良箇所を検出した受光器１０１の識別番号を不良箇所の位置情報とする。
【０１１４】
本実施形態の製造装置においても、生産性を低下させることなく品質に優れた光制御フィルムを製造できる、という第８実施形態と同様の効果が得られる。
【０１１５】
第８実施形態、第９実施形態の検査装置において、第１実施形態の検査装置１１と同様、受光器を極角方向に移動させ、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperを計測する構成としてもよい。その場合、検査装置は、光拡散部の良否を判定するだけでなく、傾斜角度θtaperの計測結果を製造装置内でフィードバックする構成としてもよい。
【０１１６】
一例として、傾斜角度θtaperの計測結果を背面露光装置にフィードバックする構成が考えられる。背面露光時の露光量が多い程、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperは小さくなり、背面露光時の露光量が少ない程、光拡散部の傾斜面の傾斜角度θtaperは大きくなる関係にある。したがって、傾斜角度θtaperの計測結果が傾斜角度θtaperの目標値よりも大きい場合には背面露光装置の露光量を増やし、傾斜角度θtaperの計測結果が傾斜角度θtaperの目標値よりも小さい場合には背面露光装置の露光量を減らせばよい。製造装置がこのようなフィードバックを行えば、光制御フィルムの良否が判定できるだけでなく、光制御フィルムの歩留まりを向上させることができる。
【０１１７】
第１〜第９実施形態の被検査対象として、基材２の第１の面２ａに形成された複数の光拡散部３と、複数の光拡散部３の形成領域以外の領域に形成された遮光層４と、を有する図１に示す光制御フィルム１の例を挙げた。ただし、全ての実施形態において、被検査対象は、図１に示す形態の光制御フィルム１に限ることはなく、図１８に示す光制御フィルムであってもよい。
【０１１８】
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば上記実施形態の検査装置では、光源部の数が一つの例を示したが、光源部が複数あってもよい。その他、光制御フィルムの検査装置および製造装置の具体的な構成については、上記実施形態で例示した以外に適宜変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１１９】
本発明は、液晶表示装置、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、プラズマディスプレイ等の各種表示装置に利用可能な光制御フィルムの検査に適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１２０】
１，７５，９４…光制御フィルム、２…基材、３，７７…光拡散部、４，７６…遮光層（遮光部）、１１，２１，３１，４１，５１，６１，７１，８９，９９…検査装置、１２，５２，６２，９１，１００…光源部、１３，９２，１０１…受光器（測光手段）、８１…製造装置、８２…搬送装置、８３…ラミネート装置（処理装置）、８４…背面露光装置（処理装置）、８５…現像・水洗・乾燥装置（処理装置）、８６…キュア露光装置（処理装置）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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