(57)【要約】【課題】機械的な検査において、不良となるギラツキの有無を正確に判定できる反射型スクリーンの検査方法を提供する。【解決手段】反射型スクリーン２の検査方法は、スクリーン基板２１の表面に複数の凹部２２を有し、凹部２２に選択的に反射部２３が形成され、投射光Ｌｐを反射して画像を表示する反射型スクリーン２の検査方法であって、反射型スクリーン２の表面における画像をＣＣＤカメラ１１により撮像する撮像工程Ｓ１と、撮像された画像の輝度データに基づき、ヒストグラムを生成するヒストグラム生成工程Ｓ３と、生成されたヒストグラムを微分処理し、プラス領域の個数を算出する処理工程Ｓ４と、プラス領域の個数により反射型スクリーン２の不良の有無を判定する判定工程Ｓ５と、を備えている。また、判定工程Ｓ５では、プラス領域の個数が２つの場合を不良無しとして判定する。【選択図】図６
2014134446.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スクリーン基板の表面に複数の凹部または凸部を有し、当該凹部または当該凸部に選択的に反射部が形成され、投射光を反射して画像を表示する反射型スクリーンの検査方法であって、
前記反射型スクリーンの前記表面における前記画像を撮像素子により撮像する撮像工程と、
撮像された前記画像の輝度データに基づき、ヒストグラムを生成するヒストグラム生成工程と、
生成された前記ヒストグラムを微分処理し、プラス領域の個数を算出する処理工程と、
前記プラス領域の個数により前記反射型スクリーンの不良の有無を判定する判定工程と、を備えていることを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の反射型スクリーンの検査方法であって、
前記判定工程では、前記プラス領域の個数が２つの場合を不良無しとして判定することを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の反射型スクリーンの検査方法であって、
前記撮像工程で撮像された前記画像を複数の検査領域に分割する分割工程を備え、
次工程の前記ヒストグラム生成工程、前記処理工程、前記判定工程では、前記検査領域ごとに処理を行うことを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【請求項４】
請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の反射型スクリーンの検査方法であって、
前記撮像工程では、前記反射型スクリーンの前記表面の法線方向に対して傾いた方向から前記画像を撮像することを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【請求項５】
請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の反射型スクリーンの検査方法であって、
前記撮像工程では、１つの前記凹部または前記凸部に対し、前記撮像素子は４画素以上で撮像することを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【請求項６】
請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の反射型スクリーンの検査方法であって、
前記ヒストグラム生成工程では、平均化処理工程を含んでいることを特徴とする反射型スクリーンの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射型スクリーンの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、プロジェクター等の投射装置から投射された投射光をスクリーンで反射させて画像を表示する反射型スクリーンが知られている。特許文献１では、平面上において互いに間隔を設けて並列された複数の凸部を有し、凸部は、平面の法線の方向以外の所定の方向から入射する斜め入射光である投写エンジン部からの光を反射させ、かつ斜め入射する光を反射させることで平面のうち凸部同士の間の領域に対して投写エンジン部からの光を遮る反射型スクリーンが開示されている。なお、反射型スクリーンは、凸部の他、凹部を有しているものもある。
【０００３】
このような反射型スクリーンに対して検査を行う場合、２通りの検査方法を用いている。１つは、限度見本を設定し、検査者がその限度見本と反射型スクリーンとを目視で比較することにより検査する方法である。もう１つは、輝度計を用いて反射型スクリーンの輝度測定を行い、測定された輝度データを基にして機械的に検査を行う方法である。なお、輝度計を用いる機械的な検査では、輝度を測定し、この測定値と初期的に設定された検査基準値とを比較して、不良の有無を判定している。
【０００４】
検査者による限度見本を用いた検査は、反射型スクリーンのシミやムラ、およびギラツキ等の検査を行う場合に用いている。なお、ギラツキは、凹部形状または凸部形状の形状欠陥により光が散乱される現象である。また、輝度計を用いる機械的な検査は、主に、反射型スクリーンのシミやムラ等の検査を行う場合に用いている。
【０００５】
なお、特許文献２では、電子部品の外観不良を発見するための外観検査方法に関し、電子部品の外観画像を撮影し、外観画像を複数の検査領域に分割し、あらかじめ検査領域ごとに設定しておいた検査基準値と、各検査領域における画像データから算出される判別パラメーターとを比較し、その結果に基づいて、外観不良の存否を判定することが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−１１６９１１号公報
【特許文献２】特開２００２−２４３６５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、反射型スクリーンの検査を行う場合、限度見本を用いた目視による検査は、検査者の熟練が必要となる官能検査となるため、検査者の熟練度に起因する要因や、実際に反射型スクリーンを見る位置等の不確定な要因等により、判断基準が曖昧になるという課題があった。また、反射型スクリーンのギラツキの検査に、従来の機械的な検査を用いた場合、測定した輝度データの輝度差が小さいためノイズに隠れてしまい、判定が困難になるという課題があった。そのため、ギラツキの検査は限度見本による検査に頼らざるを得ないという課題があった。
従って、機械的な検査において、不良となるギラツキの有無を正確に判定できる反射型スクリーンの検査方法が要望されていた。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上述した課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
【０００９】
［適用例１］本適用例に係る反射型スクリーンの検査方法は、スクリーン基板の表面に複数の凹部または凸部を有し、凹部または凸部に選択的に反射部が形成され、投射光を反射して画像を表示する反射型スクリーンの検査方法であって、反射型スクリーンの表面における画像を撮像素子により撮像する撮像工程と、撮像された画像の輝度データに基づき、ヒストグラムを生成するヒストグラム生成工程と、生成されたヒストグラムを微分処理し、プラス領域の個数を算出する処理工程と、プラス領域の個数により反射型スクリーンの不良の有無を判定する判定工程と、を備えていることを特徴とする。
【００１０】
このような反射型スクリーンの検査方法によれば、処理工程において、ヒストグラムを微分処理することによりプラス領域の個数を算出し、判定工程において、算出された個数により不良の有無を判定する。これにより、不良となるギラツキの有無を正確に判定することが可能となる。
【００１１】
［適用例２］上記適用例に係る反射型スクリーンの検査方法において、判定工程では、プラス領域の個数が２つの場合を不良無しとして判定することが好ましい。
【００１２】
このような反射型スクリーンの検査方法によれば、処理工程において算出されたプラス領域の個数が２つの場合を不良無し、と判定し、例えば、個数が０個または１つの場合、および３つ以上の場合を不良有り、と判定することにより、ギラツキの有無を容易に判定することが可能となる。
【００１３】
［適用例３］上記適用例に係る反射型スクリーンの検査方法において、撮像工程で撮像された画像を複数の検査領域に分割する分割工程を備え、次工程のヒストグラム生成工程、処理工程、判定工程では、検査領域ごとに処理を行うことが好ましい。
【００１４】
このような反射型スクリーンの検査方法によれば、分割工程により、画像を複数の検査領域に分割することで、検査領域ごとに、不良となるギラツキの有無の判定を行うことができ、反射型スクリーンの検査を詳細に行うことができる。そして、検査領域ごとに検査を行うことにより、不良が存在する領域を特定でき、ギラツキに対する対策を実施しやすくなる。
【００１５】
［適用例４］上記適用例に係る反射型スクリーンの検査方法において、撮像工程では、反射型スクリーンの表面の法線方向に対して傾いた方向から画像を撮像することが好ましい。
【００１６】
スクリーン基板の表面に複数の凹部または凸部を有する反射型スクリーンでは、観察者が画像を見る位置を想定して、反射される画像の見栄えに角度依存性を持たせている場合がある。このような場合、上述する反射型スクリーンの検査方法によれば、撮像工程で、反射型スクリーンの表面の法線方向に対して傾いた方向から画像を撮像することにより、観察者の画像を見る方向（画像視認方向）に合わせて、不良を検査することができる。従って、反射型スクリーンの角度依存性（観察者の画像視認方向）に対応させた検査を行うことができる。
【００１７】
［適用例５］上記適用例に係る反射型スクリーンの検査方法において、撮像工程では、１つの凹部または凸部に対し、撮像素子は４画素以上で撮像することが好ましい。
【００１８】
反射型スクリーンにおいて、１つの凹部または凸部に投射された画像を、撮像素子の１つの画素で撮像した場合には、取り込んだ画像にモアレ（周期的なパターン模様）が発生し易くなる。その場合、１つの凹部または凸部に対して撮像素子の画素を２画素以上対応させることが必要となる。なお、これは、投射光を反射する反射部が、１つの凹部または凸部の全体に形成されている場合である。しかし、反射型スクリーンの１つの凹部または凸部には、反射部が選択的に形成されることにより、投射光を吸収する吸収部もそれぞれ形成される。従って、１つの凹部または凸部に対して撮像素子の画素を４画素以上対応させて撮像することにより、モアレによるノイズを含まない適正な画像データを得ることができる。
【００１９】
［適用例６］上記適用例に係る反射型スクリーンの検査方法において、ヒストグラム生成工程では、平均化処理工程を含んでいることが好ましい。
【００２０】
このような反射型スクリーンの検査方法によれば、輝度データにノイズとなる異常値が含まれる場合、平均化処理することにより、異常値を除外した適正な検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】第１実施形態に係る反射型スクリーンを説明する模式図であり、（ａ）は反射型スクリーンの垂直方向の概断面図、（ｂ）は反射型スクリーンの概正面図。
【図２】反射型スクリーンにおいて投射光が反射された状態を撮像した図であり、（ａ）はギラツキが無い状態を示す図、（ｂ）はギラツキが有る状態を示す図。
【図３】検査装置の概略構成を示す図。
【図４】ＣＣＤカメラの画素と反射型スクリーンの凹部との対応を示す模式図。
【図５】反射型スクリーンの検査方法を工程順に示す概図。
【図６】反射型スクリーンの検査方法を示すフローチャート。
【図７】分割工程で分割された分割検査領域を模式的に示す図。
【図８】フローチャートの各工程に対応する図であり、（ａ）は階調分布図、（ｂ）は移動平均化処理後の階調分布図。
【図９】フローチャートの各工程に対応する図であり、（ａ）は微分処理中の図、（ｂ）は微分処理した結果の図。
【図１０】フローチャートの各工程に対応する図であり、（ａ）は階調分布図、（ｂ）は微分処理中の図、（ｃ）は微分処理した結果の図。
【図１１】第２実施形態に係る反射型スクリーンの検査方法を示す図。
【図１２】反射型スクリーンの検査方法を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、実施形態を図面に基づいて説明する。
（第１実施形態）
【００２３】
図１は、第１実施形態に係る反射型スクリーン２を説明する模式図であり、図１（ａ）は、反射型スクリーン２の垂直方向の概断面図であり、図１（ｂ）は、反射型スクリーン２の概正面図である。図１を参照して、反射型スクリーン２の構成を簡略に説明する。
【００２４】
反射型スクリーン２は、シート状のスクリーン基板２１をベース基板として、その表面には、凹状に形成される複数の凹部２２が形成されている。なお、スクリーン基板２１には黒色の塩化ビニルを使用している。また、凹部２２は、図１（ｂ）に示すように、反射型スクリーン２のスクリーン基板２１表面の略全領域に渡って形成される。凹部２２は、図１（ｂ）に示すように、反射型スクリーン２の左右方向の中心線Ｙｃ上の所定位置を中心とする円弧状に配列され、上下方向において、この所定位置を中心とする同心円状に配列されて形成されている。本実施形態の凹部２２は、ピッチ３００μｍ程度、深さ１８５μｍ程度の略半球状となるように形成される。
【００２５】
凹部２２には、図１（ａ）に示すように、投射光Ｌｐを観察者に向けて反射する反射部２３と、投射光Ｌｐを反射させずに吸収する吸収部２４と、が選択的に形成されている。詳細には、図１（ａ）に示すように、反射部２３は、投射光Ｌｐの仮想光源位置Ｐに対応させた位置に設置した蒸着源Ｓからの凹部２２に向けた斜め方向からの蒸着により選択的に形成される。本実施形態では、蒸着材料としてアルミニウムを使用している。なお、凹部２２において、反射部２３以外の部分は、スクリーン基板２１（黒色の塩化ビニル）の地肌が露出する構造となり、この部分が吸収部２４となる。
【００２６】
図２は、反射型スクリーン２において白色の投射光Ｌｐが反射された状態を撮像した図であり、図２（ａ）はギラツキが無い状態を示す図であり、図２（ｂ）はギラツキが有る状態を示す図である。なお、図２は、反射型スクリーン２の表面部分の一部を拡大して示している。
【００２７】
本発明者は、ギラツキ現象を解析するために、図２に示すように、反射型スクリーン２において、白色の投射光Ｌｐが反射された状態を撮像して、ギラツキの有無による画像を解析した。その結果、図２（ａ）に示すように、ギラツキが無い状態では、各凹部２２の反射部２３で反射する光（白色部分Ａ）と、吸収部２４で吸収される光（黒色部分Ｂ）とが明確に分布する状態となる。また、図２（ｂ）に示すように、ギラツキが有る状態では、反射部２３で反射する光と吸収部２４で吸収される光とが不明確となり、中間の明るさの光（灰色部分Ｃ）が分布する状態となる。以上のことが解った。
【００２８】
言い換えると、図２（ａ）に示すように、ギラツキが無い状態では、明るい部分（高輝度の部分）と暗い部分（低輝度の部分）とが明確に分布した状態となる。また、図２（ｂ）に示すように、ギラツキが有る状態では、明るい部分（高輝度の部分）と暗い部分（低輝度の部分）とが不明確となり、中間の明るさ部分（中間輝度の部分）が分布する状態となる。以上のことが解った。
【００２９】
そして、本発明者は、輝度データを基にヒストグラムを取ったところ、後述する図８（ａ）に示すように、ギラツキが無い状態では、高輝度部分と低輝度部分とにピークを持つ２つの山形状となることを見いだした。また、後述する図１０（ａ）に示すように、ギラツキが有る状態では、中間の輝度部分にピークを持つ１つの山形状となることを見いだした。また、ギラツキが有る状態では、図示省略するが、この山が不明確で０個の状態または山が３つの状態となることを見いだした。なお、ギラツキは、凹部２２の形状が一部崩れる等の欠陥により投射光Ｌｐが乱反射されることで発生する現象である。
【００３０】
本発明者は、上述したギラツキ現象の解析結果を基に、本発明となる反射型スクリーン２の検査方法に至った。そして、本実施形態は、上述したギラツキ現象の解析結果を基に、機械的に反射型スクリーン２のギラツキの有無の検査を行う検査方法として適用した実施形態となる。
【００３１】
図３は、検査装置１の概略構成を示す図である。図３を参照して、本実施形態の検査装置１の概略構成を説明する。
【００３２】
図３に示すように、反射型スクリーン２には、正面側に設置されるプロジェクターＰＪから投射光Ｌｐが投射される。なお、投射光Ｌｐは白色としている。検査装置１は、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラ１１と画像処理部１２と制御部１３とモニター装置１４等で構成される。撮像素子で構成されるＣＣＤカメラ１１は、プロジェクターＰＪから投射された投射光Ｌｐが反射型スクリーン２の表面で反射した画像（白画像）を撮像する。画像処理部１２は、ＣＣＤカメラ１１で撮像した画像を輝度データに変換して処理する。モニター装置１４は、画像処理部１２で処理された結果を表示する。制御部１３は、画像処理部１２、ＣＣＤカメラ１１、およびモニター装置１４を統括制御する。
【００３３】
本実施形態の反射型スクリーン２は、画面サイズとして、略１００インチ、アスペクト比１６：９を確保して構成されている。また、ＣＣＤカメラ１１は、本実施形態では、反射型スクリーン２の約１０ｃｍ×１０ｃｍの四角形部分を撮像している。また、ＣＣＤカメラ１１は、反射型スクリーン２の表面に平行に設置して撮像している。
【００３４】
図４は、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆと反射型スクリーン２の凹部２２との対応を示す模式図である。図４を参照して、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆと反射型スクリーン２の凹部２２との対応を説明する。
【００３５】
１つの凹部２２に対し、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆを１つ（１画素）対応させて画像を撮像した場合、取り込んだ画像にモアレ（周期的なパターン模様）が発生し易くなってしまう。この場合、１つの凹部２２に対し、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆを２画素以上対応させることが必要となる。なお、これは、投射光Ｌｐを反射する反射部２３が、１つの凹部２２の全体に形成されている場合である。
【００３６】
しかし、本実施形態では、１つの凹部２２に対し、上述したように反射部２３と吸収部２４とがそれぞれ形成されている。従って、本実施形態では、図４に示すように、１つの凹部２２に対し、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆを４画素対応させて撮像することで、モアレの発生を防止している。
【００３７】
図５は、反射型スクリーン２の検査方法を工程順に示す概図である。図５を参照して、検査装置１の大略の検査方法を説明する。
【００３８】
検査方法は、大略、撮像工程Ｓ１と分割工程Ｓ２とヒストグラム生成工程Ｓ３と処理工程Ｓ４と判定工程Ｓ５とを有して構成されている。各工程での概略の内容を説明する。撮像工程Ｓ１では、反射型スクリーン２の表面に投射されて反射した画像をＣＣＤカメラ１１により撮像する。分割工程Ｓ２では、撮像された画像を複数の検査領域（分割検査領域）に分割する。ヒストグラム生成工程Ｓ３では、撮像された画像の輝度データに基づき、ヒストグラムを生成する。処理工程Ｓ４では、生成されたヒストグラムを微分処理し、プラス領域の個数（上述した山の個数に対応）を算出する。なお、プラス領域の個数に関しては後述する。判定工程Ｓ５では、プラス領域の個数により反射型スクリーン２の不良（ギラツキ）の有無を判定する。
【００３９】
図６は、反射型スクリーン２の検査方法を示すフローチャートである。図７は、分割工程Ｓ２で分割された分割検査領域Ｉを模式的に示す図である。図８は、フローチャートの各工程に対応する図であり、図８（ａ）は階調分布図であり、図８（ｂ）は移動平均化処理後の階調分布図である。図９は、フローチャートの各工程に対応する図であり、図９（ａ）は微分処理中の図であり、図９（ｂ）は微分処理した結果の図である。図６〜図９を参照して、検査装置１の検査方法を詳細に説明する。
【００４０】
図６に示すように、最初に、ステップＳ１１では、ＣＣＤカメラ１１で反射型スクリーン２の所定の検査領域Ｈ（図７）を撮像して画像データを取り込む。なお、ステップＳ１１は、撮像工程Ｓ１に対応する。
【００４１】
次に、ステップＳ２１では、画像処理部１２は、取得した画像データを複数の検査領域（分割検査領域Ｉ（図７））に分割する。なお、分割数は、本実施形態では、図７に示すように、４行４列の１６分割となるように分割する。ここで、説明の便宜上、各分割検査領域Ｉに対して（１，１）から（４，４）までの符号を付記する。なお、ステップＳ２１は、分割工程Ｓ２に対応する。
【００４２】
次に、ステップＳ２２では、分割した全ての分割検査領域Ｉの検査（判定）が終了したか否かを判別する。本実施形態では、分割検査領域Ｉ（１，１）からスタートして、分割検査領域Ｉ（４，４）までを順次検査する仕様となっている。
【００４３】
ここで、現在の分割検査領域Ｉは（１，１）であるとして、以降のフローを説明する。この場合、ステップＳ２２では、「ＮＯ」となり次工程（ステップＳ３１）に移行する。
【００４４】
ステップＳ３１では、画像処理部１２は、分割検査領域Ｉ（１，１）に対応する輝度データを基に、階調分布を取得（階調のヒストグラムを生成）する。図８（ａ）は、階調分布を表すヒストグラムであり、横軸Ｘは階調（輝度）を示し、縦軸Ｙは度数（画素数）を示している。図８（ａ）に示すように、分割検査領域Ｉ（１，１）は、高輝度部分と低輝度部分とにピークを持つ２つの山形状となっていることがわかる。これは、後述するが、ギラツキ無し、と判定されることになる。
【００４５】
次に、ステップＳ３２では、特異点やノイズ等による階調のバラツキを無くすために、移動平均化処理（平均化処理工程）を行う。本実施形態の移動平均化処理では、所定の階調に隣接する２０階調の画素数の平均値をとり、前記所定の階調における新たな画素数としている。図８（ｂ）は、移動平均化処理後の階調分布を示している。なお、ステップＳ３１，Ｓ３２は、ヒストグラム生成工程Ｓ３に対応する。
【００４６】
次にステップＳ４１では、画像処理部１２は、取得した階調分布を基に、微分処理を行う。詳細には、最初に、隣接する階調に含まれる画素数の差をとる（図９（ａ））。次に、隣接する階調に含まれる画素数の差が所定割合より大きいか否かで１または０に変換し、次に、隣接する階調との差をとり、微分処理が終了する。図９（ｂ）は最終的に微分処理した結果を示す図である。
【００４７】
ステップＳ４２では、画像処理部１２は、図９（ｂ）に示す図中で、プラス側を１として、プラス側（プラス領域）での個数を算出する。図９（ｂ）に示すように、プラス領域での個数は２つとなる。なお、ステップＳ４１，Ｓ４２は、処理工程Ｓ４に対応する。
【００４８】
次に、ステップＳ５１では、プラス領域の個数が２つであるか否かを判別する。本実施形態では、プラス領域の個数が２つのため、ギラツキ無し、として判定される（ステップＳ５２）。これにより、本実施形態の分割検査領域Ｉ（１，１）は、ギラツキが検出されない領域として判定される。
【００４９】
なお、本実施形態では、プラス領域の個数が２つの場合が、上述したように、ギラツキ（不良）が無い状態となる。なお、判定結果は、検査装置１のモニター装置１４に表示される。ここで、ステップＳ５１，Ｓ５２は、判定工程Ｓ５に対応する。
【００５０】
次に、再度、ステップＳ２２に戻り、次の分割検査領域Ｉ（１，２）の検査に移行する。
【００５１】
図１０は、フローチャートの各工程に対応する図であり、図１０（ａ）は階調分布図であり、図１０（ｂ）は微分処理中の図であり、図１０（ｃ）は微分処理した結果の図である。図６、図１０を参照して、ギラツキが有る場合を説明する。
【００５２】
ステップＳ３１では、画像処理部１２は、分割検査領域Ｉ（１，２）に対応する輝度データを基に、階調分布を取得する。図１０（ａ）は、階調分布を表すヒストグラムである。図１０（ａ）に示すように、分割検査領域Ｉ（１，２）は、中間の輝度部分にピークを持つ１つの山形状となっていることがわかる。これは、後述するが、ギラツキ有り、と判定されることになる。次に、ステップＳ３２では、上述したと同様に、移動平均化処理を行う。
【００５３】
次に、ステップＳ４１では、取得した階調分布を基に、微分処理を行う。詳細には、最初に、隣接する階調に含まれる画素数の差をとる（図１０（ｂ））。次に、隣接する階調に含まれる画素数が所定割合より大きいか否かで１または０に変換し、次に、隣接する階調との差をとり、微分処理が終了する。図１０（ｃ）は最終的に微分処理した結果を示す図である。
【００５４】
ステップＳ４２では、プラス領域での個数を算出する。図１０（ｃ）に示すように、プラス領域での個数は１つとなる。
【００５５】
次に、ステップＳ５１では、プラス領域の個数が２つであるか否かを判別する。本実施形態では、プラス領域の個数が１つのため、ギラツキ有り、として判定される（ステップＳ５３）。これにより、本実施形態の分割検査領域Ｉ（１，２）は、ギラツキが検出された領域として判定される。
【００５６】
なお、本実施形態では、プラス領域の個数が１つの場合が、上述したように、ギラツキ（不良）が有る状態となる。なお、判定結果は、検査装置１のモニター装置１４に表示される。ここで、ステップＳ５３は、判定工程Ｓ５に対応する。
【００５７】
次に、再度、ステップＳ２２に戻り、次の分割検査領域Ｉ（１，３）の検査に移行する。以降、上述したと同様に、分割検査領域Ｉを順次検査して、最後の分割検査領域Ｉ（４，４）の検査が終了するまで検査を繰り返す。最後の分割検査領域Ｉ（４，４）まで検査が終了した場合、本フローは終了する。なお、検査装置１のモニター装置１４には、分割検査領域Ｉごとの判定結果が表示される。
【００５８】
なお、本ルーチンが終了した場合、反射型スクリーン２の新たな所定領域にＣＣＤカメラ１１を移動させて撮像し、再び本フローを開始する。以上の動作を順次繰り返すことで、反射型スクリーン２の表面全体のギラツキの有無を判定する。
【００５９】
上述したように、判定工程Ｓ５では、プラス領域の個数が２つの場合（ヒストグラムにおいて山が２つの場合）をギラツキ無し（不良無し）、として判定する。そして、判定工程Ｓ５では、プラス領域の個数が１つの場合（ヒストグラムにおいて山が１つの場合）をギラツキ有り（不良有り）、として判定すると共に、プラス領域の個数が０個の場合や３つ以上の場合にも、ギラツキ有り、として判定する。
【００６０】
上述した実施形態によれば、以下の効果が得られる。
本実施形態の検査方法によれば、処理工程Ｓ４において、ヒストグラムを微分処理することによりプラス領域の個数を算出し、判定工程Ｓ５において、算出された個数によりギラツキの有無を判定する。これにより、不良となる輝度差が小さいギラツキの有無を正確に判定することが可能となる。
【００６１】
本実施形態の検査方法によれば、判定工程Ｓ５において、処理工程Ｓ４で算出されたプラス領域の個数が２つの場合をギラツキ無し（不良無し）、と判定し、個数が０個または１つの場合、および３つ以上の場合をギラツキ有り（不良有り）、と判定することにより、ギラツキの有無を容易に判定することが可能となる。
【００６２】
本実施形態の検査方法によれば、分割工程Ｓ２により、画像を複数の分割検査領域Ｉに分割することで、分割検査領域Ｉごとに、不良となるギラツキの有無の判定を行うことができ、反射型スクリーン２の検査を詳細に行うことができる。そして、分割検査領域Ｉごとに検査を行うことにより、不良が存在する領域を特定でき、ギラツキに対する対策を実施しやすくなる。
【００６３】
本実施形態の検査方法によれば、反射型スクリーン２の１つの凹部２２に対し、ＣＣＤカメラ１１（撮像素子）の画素Ｆを４画素対応させて撮像している。これにより、反射型スクリーン２の１つの凹部２２に、反射部２３と吸収部２４とが形成されていても、モアレの発生を防止することができ、ノイズを含まない適正な画像データを得ることができる。
【００６４】
本実施形態の検査方法によれば、ヒストグラム生成工程Ｓ３では、ステップＳ３２として、所定の階調に隣接する２０階調の画素数の平均値をとり、前記所定の階調における新たな画素数としてヒストグラムを生成する平均化処理工程（移動平均化処理）を備えている。これにより、取得した輝度データにノイズとなる異常値が含まれる場合にも、異常値を除外した適正な検査を行うことができる。
（第２実施形態）
【００６５】
図１１は、第２実施形態に係る反射型スクリーン２の検査方法を示す図である。図１１は、反射型スクリーン２を上方から見た状態を模式的に示している。図１２は、反射型スクリーン２の検査方法を示すフローチャートである。図１１、図１２を参照して、反射型スクリーン２の検査方法を説明する。
【００６６】
本実施形態の反射型スクリーン２の検査方法は、第１実施形態での検査方法と比較して以下の点が異なっている。第１実施形態では、ＣＣＤカメラ１１は、反射型スクリーン２の表面（検査領域Ｈ）に対して平行に設置して撮像しているのに対し、本実施形態では、ＣＣＤカメラ１１は、反射型スクリーン２の表面（検査領域Ｈ）に対して角度を有して設置して撮像していることが異なる。
【００６７】
また、本実施形態では、撮像した画像は分割しないことが第１実施形態と異なる。そのため、図１２に示すフローチャートにおいては、画像分割の工程となるステップＳ２１が削除されている。そして、ステップＳ２２を、新たに、全ての角度の検査領域の検査が終了したか否かを判断する工程に変更している。それ以外は、第１実施形態と同様となる。
【００６８】
詳細には、撮像工程Ｓ１（図５）において、図１１に示すように、反射型スクリーン２の検査領域Ｈの法線Ｎ方向に対し、ＣＣＤカメラ１１は、傾いた方向から画像を撮像する。本実施形態では、法線Ｎを中心として左右方向に±６０°の範囲で、１０°ごとに撮像する。従って、合計１３枚の画像を取得することになる。
【００６９】
なお、図１２に示すように、ステップＳ１１で取り込んだ画像に対して、１枚ごとに第１実施形態と同様に、ステップＳ２２以降のフローを実行し、それぞれギラツキの有無を判定する。なお、ステップＳ２２以降のフローは第１実施形態と同様のため、説明を省略する。
【００７０】
上述した実施形態によれば、第１実施形態と同様となる工程においては、第１実施形態と同様の効果を得ることができる他、以下の効果が得られる。
【００７１】
本実施形態の反射型スクリーン２では、スクリーン基板２１の表面に複数の凹部２２を有し、また、観察者が画像を見る位置を想定して、選択的に反射部２３を形成することで反射される画像の見栄えに角度依存性を持たせている。このような場合、本実施形態の反射型スクリーン２の検査方法によれば、撮像工程Ｓ１（ステップＳ１１）で、法線Ｎを中心として左右方向に±６０°の範囲で、１０°ごとに撮像することにより、観察者の画像を見る方向（画像視認方向）に合わせて、不良となるギラツキの有無を検査することができる。従って、反射型スクリーン２の角度依存性（観察者の画像視認方向）に対応させた検査を行うことができる。
【００７２】
なお、上述した実施形態に限定されず、その要旨を逸脱しない範囲において種々の変更や改良等を加えて実施することが可能である。変形例を以下に述べる。
【００７３】
前記第１実施形態の反射型スクリーン２は、複数の凹部２２を有する構成としている。しかし、反射型スクリーンは、複数の凸部を有し、凸部に選択的に形成される反射部と、吸収部とを有する構成であってもよい。また、１つの凸部に対し、撮像素子は４画素以上で撮像することでもよい。これは、前記第２実施形態でも同様となる。
【００７４】
前記第１実施形態の検査方法において、分割工程Ｓ２（ステップＳ２１）では１６分割している。しかし、分割数は、ＣＣＤカメラ１１の画素数に応じて決めることでよい。
【００７５】
前記第１実施形態の検査方法において、分割工程Ｓ２を有しているが、有さなくてもよい。
【００７６】
前記第２実施形態の検査方法において、分割工程Ｓ２を有していないが、有してもよい。
【００７７】
前記第１実施形態の検査方法において、平均化処理を行っているが、平均化処理を行わなくてもよい。これは、前記第２実施形態でも同様となる。
【００７８】
前記第１実施形態の検査方法において、反射型スクリーン２の検査領域として約１０ｃｍ×１０ｃｍの四角形部分を撮像している。しかし、検査領域は、この大きさの領域に限定されることはない。ＣＣＤカメラ１１を構成する撮像素子の画素数に対応させて、適宜、検査領域の大きさを設定することでよい。これは、前記第２実施形態でも同様となる。また、ＣＣＤカメラ１１の画素数を多く有することが可能であれば、前記第１実施形態の検査方法においては、検査領域の大きさを反射型スクリーン２の全領域と一致させて、一度に撮像してもよい。また、反射型スクリーン２の一端部から他端部に向けて撮像素子を走査することで画像を取得してもよい。
【００７９】
前記第１、第２実施形態の検査方法において、反射型スクリーン２の１つの凹部２２に対し、ＣＣＤカメラ１１（撮像素子）の画素Ｆを４画素対応させて撮像している。しかし、１つの凹部２２に対して、ＣＣＤカメラ１１の画素Ｆを４画素ではなく、５画素以上対応させて撮像してもよい。これにより、更に、モアレによるノイズを含まない適正な画像データを得ることができる。
【００８０】
前記第１実施形態の検査方法において、反射型スクリーン２の１つの検査領域Ｈの検査が終了した後、次の検査領域Ｈを撮像して同様に検査を行っている。しかし、撮像順序はこれに限られず、最初に、反射型スクリーン２の全体に対して、検査領域Ｈごとに連続して撮像を行い、全体の撮像が終了した後、検査領域Ｈごとに撮像した画像データを読み出して検査を行うことでもよい。これは、前記第２実施形態でも同様となる。
【００８１】
前記第２実施形態の検査方法において、撮像工程Ｓ１（ステップＳ１１）で、法線Ｎを中心として左右方向に±６０°の範囲で、１０°ごとに撮像している。しかし、撮像する方向は左右方向には限定されず、上下方向でもよい。また、撮像する角度範囲も反射型スクリーン２の視野角を加味して決めることでよい。また、撮像角度も等角度ごとでもよいし等角度でなくてもよい。いずれにしても、反射型スクリーン２を使用する観察者の使用状態に合わせた撮像とすることがよい。
【００８２】
前記第１実施形態の検査方法において、分割検査領域Ｉごとにギラツキの有無を判定している。また、１つの検査領域Ｈの検査が終了した場合、次の検査領域Ｈを検査して反射型スクリーン２全体の検査を行っている。ここで、検査終了した反射型スクリーン２を良品とするか不良品とするかは、ギラツキ有りと判定された領域の数により良品・不良品を判断することでよい。これは、前記第２実施形態でも同様となる。
【００８３】
前記第１、第２実施形態の検査方法は、検査者の目視による検査（ギラツキの有無の検査）を行った後の、目視ではギラツキの有無を判断できない曖昧な領域に対して用いることでもよい。これにより、目視検査で曖昧となる領域の判断を正確に行うことができ、目視検査を補助することができる。
【符号の説明】
【００８４】
１…検査装置、２…反射型スクリーン、１１…ＣＣＤカメラ（撮像素子）、２２…凹部、２３…反射部、Ｓ１…撮像工程、Ｓ２…分割工程、Ｓ３…ヒストグラム生成工程、Ｓ４…処理工程、Ｓ５…判定工程、Ｆ…画素（撮像素子）、Ｈ…検査領域、Ｉ…分割検査領域、Ｎ…法線、Ｌｐ…投射光。
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図２】
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