(57)【要約】【課題】伝送路の障害試験が可能な環境を提供できるようにする。【解決手段】伝送路障害試験装置１は、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器３へのパケットが送信される伝送路５の光レベルを調整する光調節器２２を有し、ＬＥＳＢ受信器２３で光レベルを減衰させたときのリンクフェイルの発生回数と、ＣＲＣエラーの発生回数を第２の情報処理機器２から取得する。制御装置２４は、リンクフェイルが発生する光減衰量より減衰量が少ない領域で最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、
前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、
を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置。
【請求項２】
前記制御装置は、
前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記光調節器における光レベルを変化する光レベル調節部と、
前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、その光減衰量で発生するＣＲＣエラーの発生回数をカウントするカウント部と、
前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けて格納する記憶部と、
ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する光レベル決定部と、
を含むことを特徴とする請求項１に記載の伝送路障害試験装置。
【請求項３】
複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路の光レベルを減衰させ、
前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、
ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法。
【請求項４】
前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量より光レベルの減衰量が少ない領域で、最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする請求項５又は請求項３に記載の伝送路の障害試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、伝送路障害試験装置及び伝送路の障害試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバによる情報の高速転送を実現するインターフェイスとしては、ＦＣ（Fibre Channel）インターフェイス（以下、ＦＣ‐ＩＦという）が知られている。ＦＣ―ＩＦを用いて情報を伝送するときには、複数の情報処理機器の間で伝送路を介してパケットを送受信することによって情報を伝達する。ここで、ＦＣ−ＩＦを用いた情報伝達に使用する伝送路の光減衰によって伝送路障害が生じたときには、情報の受け取り側の情報処理機器がリトライ動作として、パケットの再送を要求する。このために、情報処理端末は、リトライ動作が正しく実行されるように構成されている必要がある。また、伝送路障害が定常的に発生すると、リトライ動作が多発する。この動作に起因して情報処理機器がビジー状態になると、システムパニックに陥る可能性がある。
【０００３】
このために、ＦＣ―ＩＦを用いた情報伝達システムでは、情報処理機器が伝送路障害に正しく対応できることを予め試験することが重要である。ＦＣ−ＩＦで伝送路障害を試験する場合には、ＦＣ―ＩＦの伝送路を介して複数の情報処理機器の間でパケットを転送しているときに、伝送路上で擬似的に障害を起こす。そして、擬似的な伝送路の障害に伴って発生したエラーに対する情報処理機器のリトライ動作を検証する。
【０００４】
従来の伝送路障害試験では、情報処理機器を繋ぐ伝送中に所定の測定器を挿入し、伝送路で送信される多数のパケットの中から特定のパケットを選び、そのパケットにＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check：巡回冗長検査）エラーを発生させていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−７７０４６号公報
【特許文献２】特開２０１２−８４６６６号公報
【特許文献３】特開２００２−３５１７５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、伝送路障害の多くは、伝送路の光減衰による通信品質劣化であると考えられる。このために、伝送路の通信品質劣化が疑似的に発生するような環境で伝送路障害を試験する必要がある。しかしながら、従来の手法では、指定した特定パケットのみにしかＣＲＣエラーを発生できないという問題があり、フィールドで発生しているような状況を疑似することできなかった。
【０００７】
例えば、ＦＣ‐ＩＦの伝送路障害試験において、フィールドで発生しているような状況を再現するためには、ＣＲＣエラーが多発する領域を特定し、その状態を維持する必要がある。これを実現する手段として、２つの情報処理機器の間で通信している光を光調節器で減衰させることによってＣＲＣエラーを発生させ、疑似的に通信品質劣化状態を作り出す方法が考えられる。ところが、この方法では、ＣＲＣエラーが定常的に発生する特定の光減衰量に正確に設定しなければならない。しかしながら、従来の情報処理機器では、このような機能が搭載されていないので、光減衰量を精度良く調べることが困難であった。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、伝送路の障害試験が可能な環境を効率良く提供できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
実施形態の一観点によれば、複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置が提供される。
【０００９】
また、実施形態の別の観点によれば、複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路の光レベルを減衰させ、前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
伝送路の光減衰量を変化させながらＣＲＣエラーの発生回数が調べることによって、伝送路の障害試験に適した光減衰量を確実に検出することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置の概略構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置が受信する通信状態の情報の一例を示す図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置の制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置のリンクステータステーブルの構成の一例を示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置が試験を行う伝送路における光レベルと障害の発生状態の関係と、障害の概略の一例を示す図である。
【図６Ａ】図６Ａは、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置における処理の一例を示すフローチャートである（その１）。
【図６Ｂ】図６Ｂは、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置における処理の一例を示すフローチャートである（その２）。
【図７】図７は、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置における処理で使用されるパラメータの初期値の一例を示す図である。
【図８Ａ】図８Ａは、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置における処理の一例を示すフローチャートである（その３）。
【図８Ｂ】図８Ｂは、本発明の実施の形態に係る伝送路障害試験装置における処理の一例を示すフローチャートである（その４）。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
発明の目的及び利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素及び組み合わせによって実現され達成される。
前述の一般的な説明及び以下の詳細な説明は、典型例及び説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない。
【００１３】
伝送路障害試験装置１は、第１の情報処理機器２と、第２の情報処理機器３とを接続する伝送路５，６に接続されている。伝送路５，６は、光ファイバを用いて形成されている。
ここで、情報処理機器２，３は、互いにパケットの送受信が可能に構成されている。第１の情報処理機器２は、伝送路５を使用して第２の情報処理機器３にデータを送信するデータ送信部１１と、データ送信するデータを処理する処理部１２と、第２の情報処理機器３から伝送路６を通してデータを取得するデータ受信部１３とを有する。
同様に、第２の情報処理機器３は、伝送路５を通して第１の情報処理機器２からのデータを取得するデータ受信部１４と、データ処理を行う処理部１５と、伝送路６を使用して第１の情報処理機器２にデータを送信するデータ送信部１６を有する。
【００１４】
これら情報処理機器２，３としては、例えば、ＦＣ−ＳＷ（Fibre Channel SWitch）や、ＨＢＡ（Host Bus Adapter）があげられる。そして、情報処理機器２，３と伝送路５，６とを用いてＦＣが構築される。また、情報処理機器２，３は、ＨＢＡを搭載したサーバ装置や、ストレージ装置、その他のコンピュータであっても良い。
【００１５】
伝送路障害試験装置１は、ＲＬＳ（Read Link Status）送信器２１と、光調節器２２と、ＬＥＳＢ（Link Error Status Block）受信器２３と、全体の処理を統制する制御装置２４とを含んで構成されている。ＲＬＳ送信器２１及び光調節器２２は、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器２に送信されるパケットの伝送路５上に順番に配置される。一方、ＬＥＳＢ受信器２３は、第２の情報処理機器２から第１の情報処理機器２に送信されるパケットの伝送路６上に配置される。
【００１６】
ＲＬＳ送信器２１は、制御装置２４からのＲＬＳ送信命令を受けて、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器３に送信されるデータストリーム中にＲＬＳフレームを多重化する機能を有する。ＲＬＳは、ＡＮＳＩ（American National Standards Institute）によって規格化されたコマンドである。
光調節器２２は、光伝送路５上で、ＲＬＳ送信器２１より第２の情報処理機器２側に配置される。光調節器２２は、伝送路５を伝送される光を減衰させたり、遮断させたりする機能を有する。この伝送路障害試験装置１では、光調節器２２は、制御装置２４からの減衰命令に従って光レベル（光パワー）の減衰量を制御可能に構成されている。例えば、光調節器２２は、伝送路の光カップリングの間隔を変化したり、光ファイバの光軸をずらしたりすることで光レベルを減衰可能に構成されている。
【００１７】
ＬＥＳＢ受信器２３は、伝送路６上に配置され、第２の情報処理機器２から第１の情報処理機器２に送信されるデータのパケットを受信する受信部２５を有する。さらに、ＬＥＳＢ受信器２３は、第２の情報処理機器３から送信されるＡＣＣフレームを識別する判別部２６を有する。さらに、判別部２６は、ＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを取得し、制御装置２４に送信するように構成されている。
【００１８】
ここで、ＡＣＣフレームは、ＲＬＳフレームを受信した情報処理機器２，３が出力するデータである。図２に示すように、ＡＣＣフレーム３１は、ヘッダ３２と、ペイロード３３とを有し、ペイロード３３にＬＥＳＢが格納される。ＬＥＳＢは、Link Failure Count（リンクフェイルの発生回数：ＬＦｃｎｔ）と、Loss of Synchronization Count（リンクフェイルに伴い欠落した文字数）と、Loss of Signal Count（リンクフェイルに伴い欠落した信号数）と、Primitive Sequence Protocol Error（プリミティブシーケンスの手順エラー）、Invalid Transmission Word（定義されていない文字列）、Invalid CRC count（ＣＲＣエラーの発生回数：ＣＲＣｃｎｔ）の情報を含んで構成されている。
【００１９】
また、図３に示す伝送路障害試験装置１の制御装置１４は、コンピュータにプログラムを実行させることによって、光レベル調節部４１と、カウント部４２と、テーブル作成部４３と、リンクステータステーブル記憶部４４Ａと、光レベル決定部４５とに機能分割される。
【００２０】
光レベル調節部４１は、伝送路５，６の通信状態の情報に基づいて、光調節器２２における光レベルを変化させる。例えば、光調節器２２が光レベルの減衰度を光カップリングの間隔で制御可能に構成されている場合には、制御値として、光カップリングの間隔を指定する信号を作成する。また、光調節器２２が光の減衰量を直接変化可能に構成されている場合には、制御値として、光レベルの減衰量を指令する信号を作成する。
カウント部４２は、第２の情報処理機器３が伝送路５で送信されたデータの同期が取れなくなったときに発生させるＣＲＣエラーの発生回数をカウントしたり、リンクフェイルの発生回数をカウントしたりする。
テーブル作成部４３は、リンクフェイル時の光レベルと、リンクフェイル回数と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けてリンクステータステーブル４４を作成する。
リンクステータステーブル記憶部４４Ａは、リンクステータステーブル４４を記憶する機能を有する。
光レベル決定部４５は、リンクステータステーブル４４を検索し、ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光レベルを決定する。光レベル決定部４５で決定したリンクフェイル時の光レベルは、伝送路障害試験に適した光減衰量である。
【００２１】
図４に一例を示すように、リンクステータステーブル４４は、光レベルの減衰量と、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔの増加分と、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔの増加分とを関連付けた構成を有する。例えば、リンクステータステーブル４４の３列目のデータは、光の減衰量が「２００」のときに、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔの増加分が「１」回で、かつＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔの増加分が「２０」回であることを示している。このデータは、光調節器２２の光の減衰量を「２００」に設定したときに、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔが１回発生すると共に、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔが２０回発生したことを示している。
【００２２】
ここで、図５に伝送路５，６における光レベルと障害の発生状態の関係と、障害の概略の一例を示す。
例えば、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器３に情報を伝送する場合、伝送路５で伝送される光の光レベルが高いと、正常な動作、即ち正常な光通信が行える。これに対して、光レベルが低くなると、伝送路５を介して第２の情報処理機器３が受け取る情報のうち、一部のキャラクタが壊れ始める。このとき、第２の情報処理機器３でＣＲＣエラーが発生する。さらに、光レベルが低下して連続してキャラクタが壊れるようになると、これに少し遅れてリンクフェイル状態なる。そして光レベルがさらに低下して光同期ができなくなると、リンクダウン状態になる。
【００２３】
ＦＣ−ＩＦの伝送路障害試験を行うためには、定常的にＣＲＣエラーを発生させる必要がある。このために、伝送路障害試験装置１は、ＣＲＣエラーが定常的に発生する特定の光減衰量の領域（光減衰量息）に光調節器２２を制御する必要がある。特定の光減衰領域は、例えば、リンクフェイル信号が発生するポイントの少し前に、１％未満の狭い幅を有する領域として現れる。このようにＣＲＣエラーが多発する光減衰領域を特定するには、ＣＲＣエラー情報とリンクフェイルの情報とを確認するための統計情報を、常に確認しながら光減衰量を調節する必要がある。従って、伝送路障害試験装置１は、以下に示す処理を実行することで、伝送路５の光減衰量を制御しながら、ＣＲＣエラーの発生回数と、リンクフェイルの発生回数を調べ、自動処理によって伝送路５，６の障害試験に最適な光減衰量又は光レベルを決定する。
【００２４】
最初に、リンクフェイル位置の検出処理について説明する。伝送路障害試験装置１は、最初に光減衰量を大きく変化させてリンクフェイル位置を大まかに特定し、その後、光減衰量の変化量を徐々に小さくしながら、リンクフェイル位置を精度良く検出する。
【００２５】
例えば、図４に示すリンクステータステーブル４４に示すように、最初の領域ＡＲ１では、光減衰量を１００刻みで変化させて、リンクフェイルが発生位置を調べる。この後、２つ目の領域ＡＲ２に示すように、光減衰量をより小さい変化幅の１０刻みで変化させ、リンクフェイルの発生位置の検出精度を高める。さらに、３つ目の領域ＡＲ３に示すように、１刻みでリンクフェイルの発生位置をさらに精度良く調べる。
【００２６】
以下、図６Ａ及び図６Ｂのフローチャートを主に参照しながら、リンクフェイル位置の検出処理の詳細について説明する。
まず、ステップＳ１０１でパラメータの初期化処理を実行する。伝送路障害試験装置１が使用するパラメータと、パラメータの初期値の一例を図７に示す。例えば、試験開始地点の光減衰量Ｐｓｔは、ＣＲＣエラーやリンクフェイルが発生しない光レベルとし、具体的にはＰｓｔ＝０に設定する。また、光減衰度Ｐｃｕｒは、Ｐｃｕｒ＝０に設定し、リンクダウン地点の光減衰量Ｐｅｄは、Ｐｅｄ＝８００に設定する。ここで、光減衰量Ｐｅｄの初期値は、必ずリンクダウンが発生する値である。
【００２７】
また、開始時の光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲｃｎｔ＝０、リンクフェイル（ＬＦ）発生回数ＬＦｃｎｔ＝０に設定する。さらに、最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢ＝０、ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢ＝０、最新のＣＲＣエラーのステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰ＝１０に設定する。そして、ＬＦポイントＰｌｆ＝Ｐｅｄ、ＣＲＣエラーの発生回数の最大減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘ＝０に設定する。
【００２８】
次に、図６ＡのステップＳ１０２で、光レベル調節部４１が光調節器２２の光減衰量をＰｃｕｒに設定する。初期段階では、Ｐｃｕｒ＝０なので、光レベル調節部４１は、光減衰量＝０に設定する。この結果、光調節器２２は、光レベルを減衰させずにＣＲＣエラーの発生回数とリンクフェイルの発生回数をカウントする。光レベルの減衰量を設定したら、ステップＳ１０３でリンクの確認用に所定時間、例えば１秒待機する。所定時間は、リンクフェイルを検出できる時間であれば良く、１秒に限定されない。光レベルを減衰させることによって、第１の情報処理機器２から伝送路５を通して第２の情報処理機器３に送信される情報に通信エラーが発生した場合には、第２の情報処理機器２でＣＲＣエラーやリンクフェイルがカウントされる。
【００２９】
続いて、ステップＳ１０４では、光レベル調節部４１が光調節器２２に対して光減衰量をＰｓｔに設定するように指示する。この結果、例えば、ステップＳ１０２で光減衰量が大きくなってリンクフェイル状態になった場合でも、伝送路５，６の通信状態が回復する。伝送路５，６を用いたパケット送信が可能になるので、ステップＳ１０５でカウント部４２がＲＬＳ送信器２１に対してＲＬＳ送信命令を出力する。ＲＬＳ送信器２１から伝送路５を通して第２の情報処理機器３にＲＬＳフレームが送信されると、第２の情報処理機器３が伝送路６を使って第１の情報処理機器２に対してＡＣＣフレームを出力する。従って、ステップＳ１０６でＬＥＳＢ受信器２３の受信部２５がＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを受信するまで待機する。
【００３０】
ＬＥＳＢ受信器２３の判別部２６は、第２の情報処理機器３から伝送路５を通して第１の情報処理機器２に送信されるパケットを調べ、ＡＣＣフレームと判定されたパケットのペイロードからＬＥＳＢを抽出し、制御装置２４に送信する。
【００３１】
伝送路障害試験装置１が伝送路６からＬＥＳＢを受信した場合、ステップＳ１０７でＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢ＝１であるか調べる。ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢが「０」、即ち、ＬＥＳＢの初期化が１回目であれば、ステップＳ１０８でＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢを「１」にしてステップＳ１１１に進む。一方、ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢが「１」の場合は、ステップＳ１０９に進む。
【００３２】
ステップＳ１０９では、カウント部４２がＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出する。具体的には、受信したＬＥＳＢのＣＲＣエラーの発生回数から、前回のＣＲＣエラーの発生回数を引き算することによってＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出し、この値をＣＲＣエラーの発生回数の今回値としてＣＲＣｃｎｔに格納する。初回の計算では、前回のＣＲＣエラーの発生回数は、初期化処理で設定した値、ＣＲＣｃｎｔ＝０が使用される。ＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出するのは、ＬＥＳＢ内のＣＲＣエラーの発生回数は累積値なので、今回値を計算するために増分を算出する必要があるためである。
【００３３】
また、ステップＳ１１０で、カウント部４２がリンクフェイルの発生回数の増分を算出する。具体的には、受信したＬＥＳＢのリンクフェイルの発生回数から、前回のリンクフェイルの発生回数を引いて、増分を算出し、この値をリンクフェイルの発生回数の今回値としてＬＦｃｎｔに格納する。初回の計算では、前回のリンクフェイルの発生回数は、初期化処理で設定した値、ＬＦｃｎｔ＝０が使用される。リンクフェイルの発生回数の増分を算出するのは、ＬＥＳＢ内のリンクフェイルの発生回数は累積値なので、今回値を計算するために増分を算出する必要があるためである。
【００３４】
次に、ステップＳ１１１で、カウント部４２が最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢに受信したＬＥＳＢの値を入れる。２回目以降の処理では、ここに格納されたＣＲＣエラーの発生回数の累積値や、リンクフェイルの発生回数の累積値を基準にして、それぞれの今回値（増分）を算出する。そして、この後、端子Ａから進む図６ＢのステップＳ１１３を実行する。
【００３５】
ステップＳ１１２では、テーブル作成部４３がリンクステータステーブル記憶部４４Ａのリンクステータステーブル４４に光減衰量の設定値Ｐｃｕｒと、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔと、リンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔを格納する。
【００３６】
そして、ステップＳ１１３でリンクフェイルが発生していた場合、即ちリンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔが０であった場合には、ステップＳ１１４に進み、光レベル調節部４１が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを増加させる。具体的には、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光レベルの落とし幅Ｐｉｎを加算し、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒとする。例えば、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝１００、光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００のときには、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝１００＋１００＝２００になる。即ち、次回の試験は、１回目の試験に比べ、光レベルを１００だけ減衰させて試験を実施することになる。このように、リンクフェイルが発生していないときは、光レベルの落とし幅Ｐｉｎずつ、光レベルを減衰させながら前記の処理を繰り返し、ＣＲＣエラーの発生回数を調べる。
【００３７】
一方、ステップＳ１１３でリンクフェイルが発生している場合、即ちリンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔが０より大きい場合には、ステップＳ１１５に進み、ＬＦポイントＰｌｆに現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを代入する。続いて、ステップＳ１１６で、光レベル調節部４１が光の減衰量Ｐｃｕｒを新しい値に設定する。具体的には、新しい光の減衰量Ｐｃｕｒは、
[現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ]−[光レベルの落とし幅Ｐｉｎ]＋[光レベルの落とし幅Ｐｉｎ]×０．１
で算出する。例えば、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝２００、光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００の場合、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝２００−１００＋１００×０．１＝１１０になる。
【００３８】
さらに、ステップＳ１１７では、光レベル調節部４１が新しい光レベルの落とし幅Ｐｉｎとして、現在の光レベルの落とし幅Ｐｉｎを１／１０倍した値を代入する。例えば、現在の光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００の場合、新しい光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００×０．１＝１０になる。
【００３９】
ステップＳ１０３及びステップＳ１０４は、リンクフェイルが発生したときに実行される処理である。即ち、リンクフェイルがカウントされた場合は、光レベルの減衰量をリンクフェイルが発生する前の減衰量に戻し、かつ光レベルの落とし幅を０．１倍した値に変更する。そして、リンクフェイルがカウントされる前よりも、光レベルの減衰量の変化幅を小さくして前記の処理を繰り返し、ＣＲＣエラーの発生回数を再び調べる。
【００４０】
この後、ステップＳ１１８で、光レベルの落とし幅Ｐｉｎが０．１であれば、ここでの処理を終了する。これは、光レベルの減衰量の変化の最小単位である「１」以下にならないようにするためである。なお、光レベルの落とし幅Ｐｉｎの最小単位は、「１」に限定されない。
一方、ステップＳ１１８で、光レベルの落とし幅Ｐｉｎが０．１まで減少していなければ、ステップＳ１２１に進む。また、前記のステップＳ１１４が実行されたときにもステップＳ１２１が実行される。
【００４１】
ステップＳ１２１及びステップＳ１２２では、光レベル調節部４１が新しく設定された光減衰量が検査範囲外にないことを確認する。即ち、ステップＳ１２１で、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒがリングダウン地点の光減衰量Ｐｅｄ以下で、かつステップＳ１２２において光減衰量の設定値Ｐｃｕｒが０より大きい場合には、新しく設定した光減衰量を使用した試験が可能である。従って、端子ＢからステップＳ１０２に戻る。
一方、ステップＳ１２１で光減衰量の設定値Ｐｃｕｒがリングダウン地点の光減衰量Ｐｅｄ以上の場合には、光を減衰させ過ぎなので、ステップＳ１２３で光レベル調節部４１がエラーを通知した後、エラーとして処理を停止させる。同様に、ステップＳ１２２で光減衰量の設定値Ｐｃｕｒが０であった場合も、ステップＳ１２３でエラーを通知した後、エラーとして処理を停止させる。
【００４２】
図６Ａ及び図６Ｂの処理では、１回目のリンクフェイルが検出されるまで、光減衰量１００ずつ減少させて試験を行う。図４のリンクステータステーブル４４の例では、２回目の試験、即ち光減衰量が２００のときに、リンクフェイルが検出されたので、ステップＳ１１５〜ステップＳ１１７が実行され、リンクフェイルが検出される直前の光減衰量１００から、細かいステップ（１０ステップ刻み）でリンクフェイルを調べる。すると、光減衰量が１５０のときに、リンクフェイルが検出されたので、再びステップＳ１１５〜ステップＳ１１７が実行され、リンクフェイルが検出される直前の光減衰量１４０から、さらに細かいステップ（１刻ステップみ）でリンクフェイルを調べる。そして、ステップを１以下にはしないので、ここでの処理を終了する。
【００４３】
このリンクステータステーブル４４では、１００刻みでリンクフェイルを調べたときには、光減衰量が２００というデータが得られたのに対し、１０刻みでリンクフェイルを調べたときには、光減衰量が１５０というデータが得られた。さらに、１刻みでリンクフェイルを調べると、光減衰量が１４７というデータが得られた。即ち、光減衰量の変化量を細かくすることによって、リンクレイルの発生位置をより高い精度で検出することが可能になる。
【００４４】
次に、ＣＲＣエラーの発生位置検出処理について説明する。経験的には、リンクフェイルの直前で、光減衰量にして１１ステップ手前までの領域でＣＲＣエラーの最大発生ポイントがあると考えられる。従って、リンクフェイルがカウントされた光減衰量から−１１だけ戻した光減衰量から−１の位置までの間で、試験時間を長く設定した上で、ＣＲＣエラーの発生回数を調べ、その最大値が検出されたときの光減衰量を伝送路の障害試験に最適な光減衰量に決定する。この処理は、図６Ａ及び図６Ｂに示す処理でリンクフェイル位置を検出した後に実行される。以下、図８Ａ及び図８Ｂのフローチャートを参照して、ＣＲＣエラーの発生位置検出処理の詳細について説明する。
【００４５】
ステップＳ２０１で、光レベル調節部４１が各パラメータの初期値を設定する。例えば、最後のＣＲＣエラーのステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰ＝１０、光レベルの落とし量Ｐｉｎ＝１、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝Ｐｌｆ−Ｌａｓｔ＿ＳＴＥＰ−１とする。即ち、ここでの処理の初期値は、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒは、リンクフェイル位置の１１ポイント前の値に設定される。
【００４６】
続くステップＳ２０２では、光レベル調節部４１が光調節器２２に対して光レベルの減衰を光減衰量の設定値Ｐｃｕｒにするように指示する。この後、ステップＳ２０３で所定時間待機する。この待機処理は、フレーム送信でＣＲＣエラー後のリカバリー時間を考慮したもので、待機時間は例えば、３００秒とする。ここでの待機時間は、ＣＲＣエラーの最大値を発見するのに十分な時間であり、図６ＡのステップＳ１０３の待機時間より長くなっている。光レベルを減衰させることによって、第１の情報処理機器２から伝送路５を通して第２の情報処理機器３に送信される情報に通信エラーが発生した場合には、第２の情報処理機器２でＣＲＣエラーやリンクフェイルがカウントされる。
【００４７】
待機時間が終了したら、ステップＳ２０４において、光レベル調節部４１が、光調節器２２に対して光の減衰を試験開始時点での光減衰量Ｐｓｔに設定するように指示する。これによって、リンクフェイルが解消されるので、ステップＳ２０５で、カウント部４２がＲＬＳ送信器２１に対してＲＬＳ送信命令を出力する。この後、ステップＳ１０４と同様に、ステップＳ２０６でＬＥＳＢ受信器２３の受信部２５がＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを受信するまで待機する。
【００４８】
ＬＥＳＢを受信したら、ステップＳ２０７に進み、カウント部４２がＣＲＣエラーの増分を算出し、ＣＲＣエラーの発生回数の今回値を取得する。この処理は、ステップＳ１０９と同様である。続く、ステップＳ２０８では、カウント部４２がリンクフェイルの発生回数の増分を算出し、リンクフェイルの発生回数の今回値を取得する。この処理は、ステップＳ１１０と同様である。
【００４９】
続いて、ステップＳ２０９で、最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢに受信したＬＥＳＢを代入する。さらに、端子Ｃから進む図８ＢのステップＳ２１０で、テーブル作成部４３がリンクステータステーブル４４に現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒと、ＬＦ発生回数と、ＣＲＣエラーの発生回数を関連付けて格納する。この処理では、図４のリンクステータステーブル４４の４つ目の領域ＡＲ４に相当するデータが作成される。
【００５０】
ここで、ステップＳ２１１でＬＦ発生回数が「０」より大きければ、ステップＳ２１５に進む。リンクフェイルが発生した場合には、１１ステップ分の試験が終了する前であっても試験を終了させる。
一方、ステップＳ２１１でＬＦ発生回数が「０」であれば、リンクフェイルが発生していないので、ステップＳ２１２に進み、光レベル調節部４１が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを調整する。具体的には、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光レベルの落とし幅Ｐｉｎを加算し、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒとする。さらに、ステップＳ２１３では、光レベル調節部４１が最新のＣＲＣエラー検出用の光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰを１つ減少させる。そして、ステップＳ２１４で、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロになるまで、ステップＳ２０２からステップＳ２１３の処理を繰り返す。
【００５１】
ステップＳ２１４で光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロになったら、ステップＳ２１５に進み、光レベル決定部４５がＣＲＣエラーの発生回数が最大となる光減衰量を抽出する。具体的には、光レベル決定部４５がリンクステータステーブル４４をＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔでソートし、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔが最大となるときの光減衰量の設定値ＰｃｕｒをＣＲＣエラーが最大値となるときの光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘとする。
そして、ステップＳ２１６で、光レベル決定部４５が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘを代入し、ここでの処理を終了する。
一方、ステップＳ２１４で、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロでなければ、端子Ｄから図８ＡのステップＳ２０２に戻り、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロ、即ち、１１ステップ分の光減衰量の試験が終了するまで、前記の処理を繰り返す。
【００５２】
図８Ａ及び図８Ｂの処理では、リンクフェイル位置から１１ステップ手前からリンクフェイルとＣＲＣエラーの発生回数を１ステップ刻みで調べる。図４のリンクステータステーブル４４の例では、３つ目の領域ＡＲ３で決定したリンクフェイル時の光減衰量である１４７から、１１ステップ手前の１３６から、１ステップ手前の１４６までの範囲で、１ステップ刻みで試験する。そして、各光減衰量に対するＣＲＣエラーの発生回数が最も多い光減衰量である１４６を、光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘとする。これによって、伝送路５，６の障害試験に最適な領域として、リンクフェイル状態にはならないが、ＣＲＣエラーが多発する光減衰量を決定することができる。
【００５３】
ここまでの処理で、ＣＲＣエラーが多発する光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘを決定することができたので、そのような光減衰量が維持されるように光レベル調節部４１で光調節器２２を制御する。この状態で、情報処理機器２，３のリトライ動作を実行させ、リトライ動作の正当性を確認する試験を行う。
【００５４】
以上、説明したように、伝送路障害試験装置１は、光減衰量を変化させながらＲＬＳフレームを出力し、これに応じて出力されるＡＣＣフレームに含まれる通信状態の情報（ＬＥＳＢ）を取得するようにしたので、光通信に使用する伝送路５，６の障害試験を行うための光減衰量を決定することが可能になる。
【００５５】
光減衰量の制御は、光レベルで指定しても良いし、光カップリングの距離や、光軸のずれ量で指定しても良い。
また、伝送路障害試験に最適な光減衰量を決定する代わりに、試験に最適な光レベルを決定しても良い。
さらに、各処理における光減衰量の設定値や、光減衰量の変化のステップは、前記の数値に限定されない。
【００５６】
ここで挙げた全ての例及び条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明及び概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例及び条件に限定することなく解釈するものであり、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換及び変形を施すことができる。
【００５７】
以下に、前記の実施の形態の特徴を付記する。
（付記１）  複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置。
（付記２）  前記制御装置は、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記光調節器における光レベルを変化する光レベル調節部と、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、その光減衰量で発生するＣＲＣエラーの発生回数をカウントするカウント部と、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けて格納する記憶部と、ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する光レベル決定部と、を含むことを特徴とする付記１に記載の伝送路障害試験装置。
（付記３）  前記光レベル調節部は、光減衰量を変化させるステップ幅を変化可能で、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量が検出される度に、前記ステップ幅を減少させるように構成されていることを特徴とする付記２に記載の伝送路障害試験装置。
（付記４）  光レベル調節部は、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量より光レベルの減衰量が少ない領域において、最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定するように構成されていることを特徴とする付記２又は付記３に記載に伝送路障害試験装置。
（付記５）  複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路の光レベルを減衰させ、前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法。
（付記６）  前記伝送路のリンクフェイルが発生する度に、光減衰量を変化させるステップ幅を減少させ、リンクレイルが発生した光減衰量より少ない光減衰量から再び前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣエラーの発生回数とを調べることを特徴とする付記５に記載の伝送路の障害試験方法。
（付記７）  前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量より光レベルの減衰量が少ない領域で、最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする付記５又は付記６に記載の伝送路の障害試験方法。
【符号の説明】
【００５８】
１  伝送路障害試験装置
２  第１の情報処理機器
３  第２の情報処理機器
５，６  伝送路
２２  光調節器
２４  制御装置
４１  光レベル調節部
４２  カウント部
４４Ａ  リンクステータステーブル記憶部
４５  光レベル決定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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