(57)【要約】【課題】複数の光ディスクと光ディスクドライブとディスク搬送機構を搭載するディスクライブラリ装置において、光ディスクを高密度に搭載した場合、ディスク搬送機構の位置制御の精度を上げる必要がある。【解決手段】ディスク搬送機構に反射型光センサを搭載する。反射型光センサは光ディスクを搭載するカートリッジラックに対向して配置し、カートリッジラックからの反射光を位置情報として検出し、ディスク搬送機構の位置制御信号として使用する。【選択図】図１
2014220024.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数ディスクに対して情報の記録再生を行なうディスクライブラリ装置において、
複数のディスクを搭載するディスクカートリッジと、
前記ディスクを記録あるいは再生するディスクドライブと、
前記ディスクカートリッジと前記ディスクドライブ間で前記ディスクを搬送するディスク搬送機構と、
前記ディスク搬送機構を制御するディスク搬送機構制御部を備え、
前記ディスクカートリッジは、前記ディスクを保持するための溝部を有するカートリッジラックを備えており、
前記ディスク搬送機構には前記カートリッジラックの形状を検出する位置検出センサが前記カートリッジラックと対向する位置に配置され、
前記ディスク搬送機構により、前記ディスクカートリッジから前記ディスクを取り出すとき、あるいは前記ディスクカートリッジへ前記ディスクを搭載するときに、前記位置検出センサによる前記カートリッジラックの形状の検出結果に基づいて前記ディスク搬送機構制御部が前記ディスク搬送機構の位置制御を行い、目標となる前記カートリッジラックの溝部前面に前記ディスク搬送機構を移動することを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項２】
請求項１記載のディスクライブラリ装置において、
前記位置検出センサは反射型光センサを用い、光スポットが前記溝部に当たる位置に配置されたことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載のディスクライブラリ装置において、
前記ディスク搬送機構には、前記ディスクを取り込むディスク挿入口があり、前記位置検出センサは、前記ディスク挿入口に対し前記ディスク搬送機構移動方向に所定の距離を設けて両側の位置に配置されたことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項４】
請求項３記載のディスクライブラリ装置において、
前記位置検出センサが配置された前記所定の距離Ａは、前記ディスクカートリッジに搭載された前記ディスクの間隔Ｐに対し、
Ａ≒ｎ・Ｐ                （ｎは整数）
としたことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項５】
請求項３記載のディスクライブラリ装置において、
前記位置検出センサが配置された前記所定の距離Ａは、前記ディスクカートリッジに搭載された前記ディスクの間隔Ｐに対し、
Ａ≒（１/４＋ｎ）・Ｐ     （ｎは整数）
としたことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項６】
請求項３記載のディスクライブラリ装置において、
両側に取り付けた前記位置検出センサから得られた位置検出信号により位置制御を行い、前記位置検出信号と位置制御目標値との残差を両側の前記位置検出センサでそれぞれ取得し、前記残差が等しくなるように前記ディスク搬送機構を位置制御したことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項７】
請求項２記載のディスクライブラリ装置において、
前記光スポットの前記ディスク搬送機構移動方向の幅Ｘは、前記ディスクカートリッジに搭載された前記ディスクの間隔をＰ、前記溝幅をＰ１とすると、
Ｐ＜２×Ｐ１のとき、Ｐ１＜Ｘ＜（２×Ｐ−Ｐ１）
Ｐ≧２×Ｐ１のとき、（Ｐ―Ｐ１）＜Ｘ＜（Ｐ＋Ｐ１）
を満たすことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項８】
請求項５記載のディスクライブラリ装置において、
前記カートリッジラックの溝部を前記ディスク搬送機構が通過したときの前記位置検出センサの検出信号の最大値、最小値を取得し、その割合から位置制御の目標値を決定して位置制御を行うことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項９】
複数ディスクに対して情報の記録再生を行なうディスクライブラリ装置において、
複数のディスクを搭載するディスクカートリッジと、
前記ディスクを記録あるいは再生するディスクドライブと、
前記ディスクカートリッジと前記ディスクドライブ間で前記ディスクを搬送するディスク搬送機構と、
前記ディスク搬送機構を制御するディスク搬送機構制御部を備え、
前記ディスクカートリッジは、前記ディスクを保持するための溝部を有するカートリッジラックを備えており、
前記ディスク搬送機構には前記カートリッジラックの形状を検出する位置検出センサが前記カートリッジラックと対向する位置に配置され、
また前記ディスクライブラリ装置は、前記カートリッジラックの溝部の位置および前記ディスクドライブの位置にスリットを設けたスリット板と、前記ディスク搬送機構に前記スリット板のスリットを検出するスリットセンサを搭載しており、
前記ディスク搬送機構により、前記ディスクカートリッジから前記ディスクを取り出すとき、あるいは前記ディスクカートリッジへ前記ディスクを搭載するときに、前記スリットセンサの信号により目標となる前記カートリッジラックの溝部前面近傍に前記ディスク搬送機構が移動した後、前記位置検出センサによる前記カートリッジラックの形状の検出結果に基づいて前記ディスク搬送機構制御部が前記ディスク搬送機構の位置制御を行い、目標となる前記カートリッジラックの溝部前面に前記ディスク搬送機構を移動することを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項１０】
複数ディスクに対して情報の記録再生を行なうディスクライブラリ装置において、
複数のディスクを搭載するディスクカートリッジと、
前記ディスクを記録あるいは再生するディスクドライブと、
前記ディスクカートリッジと前記ディスクドライブ間で前記ディスクを搬送するディスク搬送機構と、
前記ディスク搬送機構を制御するディスク搬送機構制御部手段を備え、
前記ディスクカートリッジは、前記ディスクを保持するための溝部を有するカートリッジラックを備えており、
前記ディスク搬送機構には前記カートリッジラックの形状を検出する位置検出センサが前記カートリッジラックと対向する位置に配置され、また前記ディスクライブラリ装置は、前記カートリッジラックの溝部の位置および前記ディスクドライブの位置にスリットを設けたスリット板と、前記ディスク搬送機構に前記スリット板のスリットを検出するスリットセンサを搭載しており、
前記ディスク搬送機構で、前記ディスクを搬送する前に、前記位置検出センサと前記スリットセンサが示す位置のオフセット量を取得しておき、
前記ディスク搬送機構により、前記ディスクカートリッジから前記ディスクを取り出すとき、あるいは前記ディスクカートリッジへ前記ディスクを搭載するときに、前記スリットセンサの信号と前記位置検出センサとの前記オフセット量を用いて前記ディスク搬送機構制御部が前記ディスク搬送機構の位置制御を行い、目標となる前記カートリッジラックの溝部前面に前記ディスク搬送機構を移動することを特徴とするディスクライブラリ装置。
【請求項１１】
複数ディスクに対して情報の記録再生を行なうディスクライブラリ装置において、
複数のディスクを搭載するディスクカートリッジと、
前記ディスクを記録あるいは再生するディスクドライブと、
前記ディスクカートリッジと前記ディスクドライブ間で前記ディスクを搬送するディスク搬送機構と、
前記ディスク搬送機構を制御するディスク搬送機構制御部手段を備え、
前記ディスクカートリッジは、前記ディスクを保持するための溝部を有するカートリッジラックを備えており、前記ディスク搬送機構には前記カートリッジラックの形状を検出する位置検出センサが前記カートリッジラックと対向する位置に配置され、また前記ディスクライブラリ装置は、前記カートリッジラックの溝部の位置および前記ディスクドライブの位置にスリットを設けたスリット板と、前記ディスク搬送機構に前記スリット板のスリットを検出するスリットセンサを搭載しており、
また前記ディスクライブラリ装置は、前記ディスク搬送機構が移動した距離を測定するリニアエンコーダとエンコーダセンサを搭載しており、
前記ディスク搬送機構で、前記ディスクを搬送する前に、前記位置検出センサと前記スリットセンサが示す位置のオフセット量を前記エンコーダセンサで取得しておき、
前記ディスク搬送機構により、前記ディスクカートリッジから前記ディスクを取り出すとき、あるいは前記ディスクカートリッジへ前記ディスクを搭載するときに、前記スリットセンサの信号で前記ディスク搬送機構を位置制御した後、前記エンコーダセンサにで前記オフセット量前記ディスク搬送機構を移動して、目標となる前記カートリッジラックの溝部前面に前記ディスク搬送機構の移動を行なうことを特徴とするディスクライブラリ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はディスクライブラリ装置に関するものであり、特にディスク搬送機構の位置制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
複数枚の光ディスクと光ディスクに記録再生する光ディスクドライブと光ディスクを搬送するディスク搬送機構を搭載するディスクライブラリ装置では、ディスク搬送機構によって光ディスクをピックアップするため、ディスク搬送機構を光ディスクの位置へ位置制御する必要がある。ディスク搬送機構の位置制御方法としては例えば特許文献１に記載されている。特許文献１では光ディスクや光ディスクドライブの位置を示すスリットを設けたスリット板と、スリットを検出するために搬送部に設置されたスリットセンサによってディスク搬送機構の位置制御を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１１３５５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のディスクライブラリ装置ではスリット板に設けたスリットをスリットセンサにより検出して位置制御を行っている。ここでスリットの位置が光ディスクを搭載した位置とずれがある場合、ディスク搬送機構を正確に位置制御することが出来ない。しかし光ディスクとスリットの位置は部品の機械精度に依存し、ある程度の機械誤差は生じてしまう。この機械誤差は、ディスク搬送機構を高精度に位置制御する場合に問題となる。以上を鑑みて、本発明の課題は光ディスクを複数搭載したディスクライブラリ装置において、ディスク搬送機構を適切なディスク搭載位置に位置制御することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題は一例として特許請求の範囲に記載の発明により改善される。
【０００６】
本願において開示される発明の代表的な一例を示せば以下の通りである。すなわち、例えば、ディスクカートリッジが溝部を有するカートリッジラックを備え、ディスク搬送機構に前記カートリッジラックの形状を検出する位置検出センサがカートリッジラックと対向する位置に配置され、ディスク搬送機構により、ディスクカートリッジからディスクを取り出すとき、あるいは搭載するときに、前記位置検出センサによる前記カートリッジラックの形状の検出結果に基づいて前記ディスク搬送機構制御部が前記ディスク搬送機構の位置制御を行い、目標となるカートリッジラックの溝部前面にディスク搬送機構を移動するディスクライブラリ装置を用いる。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光ディスクを複数搭載したディスクライブラリ装置において、ディスク搬送機構を適切なディスク搭載位置に位置制御することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施例を説明した図で、ディスクライブラリ装置のブロック図である。
【図２】本実施例を説明した図で、光ディスクドライブ、ディスクカートリッジおよびディスク搬送機構の概観図であり、反射型光センサによる位置制御について説明した図である。
【図３】本実施例を説明した図で、ディスク搬送機構の概観図である。
【図４】本実施例のディスクライブラリ装置の反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号例を示した図である。
【図５】本実施例を説明した図で、反射型光センサの取り付け位置を示した図である。
【図６】本実施例を説明した図で、反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号例を示した図である。
【図７】本実施例を説明した図で、反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号例を示した図である。
【図８】本実施例を説明した図で、反射型光センサの取り付け位置を示した図である。
【図９】本実施例のディスクライブラリ装置の反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号例を示した図であり、反射型光センサの取り付け位置に誤差があるときの検出信号例を示した図である。
【図１０】反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号の関係を説明した図である。
【図１１】反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号の関係を説明した図であり、スポットサイズが小さい場合の検出信号を示した図である。
【図１２】反射型光センサの光スポットと、反射型光センサから出力される検出信号の関係を説明した図であり、スポットサイズが大きい場合の検出信号を示した図である。
【図１３】反射型光センサのスポットサイズとカートリッジラックの溝部の大きさの関係を説明した図である。
【図１４】反射型光センサから出力される検出信号を示した図であり、カートリッジラックの形状や反射率にばらつきがある場合の検出信号例を示した図である。
【図１５】本実施例を説明した図で、反射型光センサとセンサ検出信号処理手段を構成する信号処理回路のブロック図である
【図１６】本実施例を説明した図で、反射型光センサの検出信号から目標検出信号値を取得する方法について説明した図である。
【図１７】本実施例を説明した図で、ディスク搬送機構の位置制御を説明したフローチャートである。
【図１８】本実施例を説明した図で、ディスクライブラリ装置の光ディスクドライブ、ディスクカートリッジおよびディスク搬送機構の概観図であり、反射型光センサ、スリットセンサによる位置制御について説明した図である。
【図１９】本実施例を説明した図で、ディスクライブラリ装置の光ディスクドライブ、ディスクカートリッジおよびディスク搬送機構の概観図であり、反射型光センサ、スリットセンサ、エンコーダセンサによる位置制御について説明した図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は本発明の１実施例のディスクライブラリ装置のブロック図である。ディスクライブラリ装置には光ディスクドライブ１、光ディスクを複数搭載したディスクカートリッジ２、光ディスクを光ディスクドライブ１とディスクカートリッジ２間で搬送するディスク搬送機構４、ディスク搬送機構４を移動するディスク搬送機構移動手段３１およびディスクライブラリ制御手段２２により構成されている。ディスク搬送機構４にはディスクカートリッジ２に搭載された光ディスクを取り出すディスク取り出し機構２９および、ディスク搬送機構４内に光ディスクを引き込むディスク引き込み機構３０が配置されており、ディスク取り出し制御手段２６、ディスク引き込み制御手段２７により制御されている。またディスク搬送機構移動手段３１はディスク搬送機構制御手段２５によりディスクカートリッジ２に搭載された光ディスクの位置あるいは光ディスクドライブ１の位置にディスク搬送機構４を移動する。ディスク搬送機構４の移動には反射型光センサ１０の検出信号をセンサ検出信号処理手段２４により信号処理して位置情報を生成し使用する。光ディスクドライブ１はディスクカートリッジ２に搭載された任意の光ディスクに対し、記録あるいは再生を行い記録再生データはインターフェース２８を通して外部機器と通信される。 
次に図２によりディスクライブラリ装置の具体的な動作例について説明する。図２は光ディスクドライブ１、ディスクカートリッジ２、光ディスクを搬送するディスク搬送機構４の概観図である。ディスクカートリッジ２には、光ディスク１７を搭載、固定するカートリッジラック３があり、カートリッジラック３に形成された溝部２１に光ディスク１７は搭載されている。カートリッジラック３の溝部２１は、光ディスク１７を一定の隙間を有しながら、ディスク厚み方向に積層できるように形成されている。またディスク搬送機構４は搬送レール７にガイドされ、図示していない駆動源により光ディスク２が積層された方向に移動可能である。この搬送レール７、図示していない駆動源がディスク搬送機構移動手段３１に相当する。また光ディスクドライブ１はスロットローディング方式のドライブであり、挿入口から一定量光ディスクを押し込むと自動的に光ディスクをローディングし、またイジェクトコマンドを受信すると、光ディスクドライブから光ディスクを一定量排出する機能を有している。
【００１０】
次に、光ディスク１７をディスクカートリッジ２から光ディスクドライブ１へ搬送する方法について説明する。まずディスク搬送機構４を目的の光ディスク１７に対向する位置まで移動する。ディスク搬送機構４の位置制御はディスク搬送機構４に取り付けられた反射型光センサ１０を用いて行う。この反射型光センサ１０はカートリッジラック３に対向した位置にあり、カートリッジラック３に形成された溝部２１に光をあて、その反射光の強弱を電気信号に変換し検出信号とする。この検出信号から溝部２１の形状を検出して位置情報とし位置制御を行う
次に、キッカーアーム８先端に取り付けたディスクキッカー９をキッカーモータ１１の駆動力により回動し光ディスク１７の背面を押す。ディスクキッカー９により押し出された光ディスク１７はディスク搬送機構４方向へ移動し、ディスクカートリッジ２から取り出すことが出来る。ディスク搬送機構４では、クランパモータ６により、ディスククランパ５をディスクカートリッジ２方向に移動し、ディスクカートリッジ２から移動してきた光ディスク１７のセンタホールをディスククランパ５でクランプし、再度クランパモータ６で、ディスククランパ５でクランプした光ディスク１７を、ディスク搬送機構４内へ引き込む。ここで、ディスクキッカー９およびキッカーモータ１１がディスク取り出し機構２９に相当し、ディスククランパ５、クランパモータ６がディスク引き込み機構３０に相当する。
【００１１】
次に、ディスク搬送機構４を光ディスクドライブ１と対向する位置に移動する。このときも、反射型光センサ１０の検出信号を用いてディスク搬送機構４の位置を検出して移動する。光ディスクドライブ１には光ディスクを挿入する開口部があるため、この開口部を反射型光センサ１０で検出し位置制御を行う。ディスク搬送機構４を移動した後、クランパモータ６により、ディスククランパ５でクランプした光ディスク１７を光ディスクドライブ１方向へ移動する。ディスククランパ５を光ディスクドライブ１方向へ最大量移動したあと光ディスク１７のクランプを解除し、ディスククランパ５を反対方向に移動する。移動後、ディスククランパ５を再動作させ、光ディスク１７の後部端に接触させる。この状態でディスククランパ５を光ディスクドライブ１方向へ再移動し、光ディスクドライブ１内に光ディスク１７を押し込む。ディスククランパ５は、センタホールをクランプした状態では光ディスク１７を光ディスクドライブ１に途中までしか押し込むことが出来ない。このため一旦、ディスククランパ５をディスク搬送機構４の内部に戻し、光ディスク１７の後部端を押し出すことで、完全に光ディスク１７を光ディスクドライブ１に挿入する。この方法により、ディスクカートリッジ２から光ディスクドライブ１へ光ディスク１７を搬送することができる。光ディスクドライブ１からディスクカートリッジ２へ光ディスク１７を搬送するときは、光ディスクドライブ１に光ディスクドライブ制御手段２３からイジェクトコマンドを発行し、光ディスク１７を取り出してディスク搬送機構４に取り込み、他は同様の方法で実現できる。
【００１２】
なお、ディスク搬送機構４を光ディスクドライブ１位置に移動する際、反射型光センサ１０の検出信号ではなく、従来のスリット板およびスリットセンサによる位置制御を行ってもよい。図１８は反射型光センサ１０のほかに従来のスリット板１３およびスリットセンサ１４を取り付けた図であり、スリット板１３には光ディスクドライブ１の位置を示すスリットが設けてある。この構成によりスリットセンサ１４でスリット位置を検出し光ディスクドライブ１への位置制御を行うことが出来る。光ディスクドライブ１は光ディスクに記録再生するための記録再生手段を内蔵しているためある程度の厚みがあり、この厚みはディスクカートリッジ２内で高密度に積層された光ディスクの間隔に比べ十分に大きい。よって光ディスクドライブ１への位置制御はディスクカートリッジ２への位置制御ほど精度は求められず、従来の位置検出方法でも問題は発生しない。一方、反射型光センサ１０によって光ディスクドライブ１の開口部を検出する必要がなくなるため、反射型光センサ１０の性能や取り付け位置を溝部２１の検出に最適化することができ信頼性を向上することが出来る。
【００１３】
図３はディスク搬送機構４をディスクカートリッジ２と対向する方向から見た概観図である。ディスク搬送機構４には、光ディスク１７をディスク搬送機構４内に取り込むディスク挿入口１２があり、ディスクキッカー９で押し出された光ディスク１７はディスク挿入口１２を通って、ディスク搬送機構４の中に移動する。ディスク挿入口１２の下部には、反射型光センサ１０ａ、１０ｂが、ディスク搬送機構４移動方向に一定の距離をおいて取り付けてある。この反射型光センサ１０ａ、１０ｂは、溝部２１と対向する位置に取り付けられている。
【００１４】
図４により反射型光センサにより取得される検出信号について説明する。図４はカートリッジラック３と反射型光センサの光スポット１５の位置および、反射型光センサの検出信号１６の関係について説明した図である。光スポット１５が溝部２１を形成するための仕切り板２０部分にあるときは反射光が強くなり、溝部２１にあるときは反射光が弱くなる。この反射光の強弱を反射型光センサは検出することができ、この検出信号により光スポット１５がカートリッジラック３のどの位置にあるかを検出することが出来る。
【００１５】
次に反射型光センサ１０ａ、１０ｂの取り付け位置について説明する。図５は反射型光センサ１０ａ、１０ｂとディスク挿入口１２との距離について説明した図である。ディスク挿入口１２の中心に対し、反射型光センサ１０ａ、１０ｂの配置位置までの所定の距離をＡとして以下説明する。
【００１６】
ディスクカートリッジ２において、光ディスクは所定の間隔で積層されている。このときの間隔をＰとしたとき、ディスク挿入口１２の中心から反射型光センサ１０の取り付け位置までの距離Ａを、
Ａ≒ｎ×Ｐ  （ｎは整数）
とする。このように反射型光センサ１０を取り付けたディスクライブラリ装置において、検出信号１６より光スポット１５が溝部に位置づくようにディスク搬送機構を位置制御する。この場合、ディスク挿入口１２は位置づけされた溝部からｎ個離れた溝部２１に位置づけされ、溝部２１に搭載された光ディスク１７をディスク搬送機構４に取り込むことが出来る。例えば、反射型光センサ１０が溝部２１にある場合、検出信号１６が小さくなるように回路が構成されている場合、反射型光センサ１０の検出信号１６が当該位置近傍で最小になる位置に位置制御を行えばよい。
【００１７】
なお、反射型光センサは２個取り付けてありどちらの反射型光センサの検出信号を使用して位置制御してもよい。また２個の反射型光センサの検出信号を用い、それぞれの検出信号の位置制御時の残差が等しくなるように制御してもよい。この場合、２個の反射型光センサの検出信号を平均した位置に制御されることになるので、カートリッジラック３の溝部の間隔にばらつきがあった場合、そのばらつきを２個の反射型光センサの検出信号で平均化して位置制御することが出来る。
【００１８】
なお本実施例では、目標となる光ディスクに対して精度の高い位置検出信号を使用し正確に位置制御する方法について説明している。複数の光ディスクの中から目標の光ディスク近傍に位置制御する方法については、例えば反射型光センサの出力波形の大小の数をカウントして行う方法などで行えばよい。
【００１９】
また図６により他の反射型光センサ１０ａ、１０ｂの取り付け位置の実施例について説明する。図６では、光ディスク１７の積層間隔をＰとしたとき、反射型光センサの取り付け位置Ａを、
Ａ≒（１／４＋ｎ）×Ｐ  （ｎは整数）
としたときのカートリッジラック３と光スポット１５ａ、１５ｂおよび反射型光センサの出力波形１６ａ、１６ｂを説明した図である。反射型光センサの出力波形１６ａ、１６ｂが正弦波状の出力波形であり、反射型光センサの取り付け位置を１／４ピッチずらして取り付けた場合、ディスク挿入口１２の位置をカートリッジラック３の溝部２１にあわせると、光スポット１５ａ、１５ｂの位置はｎ個隣接した溝部２１の端となり、出力波形１６ａ、１６ｂは信号振幅の中心値をとる。よって反射型光センサ１０の検出信号１６が、信号振幅の中心値になるように位置制御することで、ディスク搬送機構４の位置制御が出来る。信号振幅の中心値で制御した場合、位置ずれに対し検出信号の感度が最も高いので、より正確な位置制御が可能になる。
【００２０】
次にカートリッジラック３端の溝部２１への位置制御について図７を用いて説明する。例えば、図７に示すようにカートリッジラック３の右端の溝部２１に搭載された光ディスク１７を搬送するためにディスク搬送機構４を位置制御する場合は、反射型光センサ１０ａから出力される検出信号１６ａを用いて行う。カートリッジラック３の右端では反射型光センサ１５ｂはカートリッジラック３の外に位置づけられるため、カートリッジラック３を検出することができないが、反射型光センサ１０ａはカートリッジラック３を検出できるため、位置制御が可能である。同様にカートリッジラック３の左端では反射型光センサ１０ｂを用いて位置制御を行う。このように、挿入口１２を挟んで２個の反射型光センサ１０を備えることにより、カートリッジラック３を少なくとも１個の反射型光センサが検出可能であるので、すべてのカートリッジラック３の溝部２１に対し位置制御が可能になる。
【００２１】
次に、反射型光センサの取り付け誤差に対する対応例について図８、図９を用いて説明する。図８に示すように反射型光センサ１０ａを（Ａ＋δ）の位置に取り付けた場合、目的の光ディスク１７にディスク搬送機構４のディスク挿入口１２を位置づけると、図９に示すように反射型光センサの光スポット１５ａは、カートリッジラック３の仕切り板２０の端からδずれた位置となり、検出信号１６ａも振幅の中心値からＢずれることになる。この場合、反射型光センサ１０ａをディスク搬送機構４に取り付け後、取り付け誤差により発生する出力Ｂを測定し、制御目標をＢとして位置制御を行うことで、反射型光センサ１０ａの物理的な取り付け精度を緩和できる。
【００２２】
次にカートリッジラックの溝部の大きさと反射型光センサの光スポットの大きさの関係に対する、検出信号の変化について図１０、図１１、図１２、図１３を用いて説明する。図１０はカートリッジラック３に光スポット１５が照射されているときの溝部２１と光スポット１５の大きさの関係と、反射型光センサ１０から出力される検出信号について示した図である。ここでは、光スポット１５の反射光が強いほど出力波形は大きくなるとしている。図１０に対し、光スポット１５が仕切り板２０の厚さあるいは溝部２１の幅より小さい場合は、図１１に示すように検出信号１６は台形波上の波形となり、検出信号の最大点や最小点での位置制御が難しくなる。また中点制御を行う場合でも、検出信号が変化する範囲が狭いため反射型光センサの取り付け誤差に対して補正できる範囲が狭くなる。一方、図１０に対し、光スポット１５が複数の仕切り板２０、溝部２１にかかるほど大きい場合は、図１２に示すように光が当たっている場所の反射光が平均化されるため検出信号１６は振幅値が小さくなり、Ｓ／Ｎ的に不利となる。以上のように溝部の大きさと光スポットの大きさには適正な関係がある。図１３により溝部の大きさに対する光スポットの適正な大きさについて説明する。光スポット１５の大きさをＸ、光ディスクの積層間隔つまり溝部２１の間隔をＰ、溝部２１の幅をＰ１とする。ここで、
Ｐ＜２×Ｐ１のとき、Ｐ１＜Ｘ＜（２×Ｐ−Ｐ１）
Ｐ≧２×Ｐ１のとき、（Ｐ―Ｐ１）＜Ｘ＜（Ｐ＋Ｐ１）
が成り立つように、光スポットの大きさと、カートリッジラック３の溝部２１の大きさを設定するとよい。上記のように設定した場合、仕切り板２つとその間の溝部、あるいは仕切り板１つとその両側の溝部にのみ光スポットは照射される。少なくとも１つの仕切り板あるいは溝幅よりも光スポットは大きいので、出力波形は台形波とはならない。また、光スポットは仕切り板および溝部をそれぞれ同時に２つ以上照射していないので、反射光が平均化されて検出信号が小さくなることを防ぐこともできる。
【００２３】
次に、反射型光センサの検出信号の信号処理方法について説明する。カートリッジラックの溝形状、反射率が一定の場合、ディスク搬送機構を移動すると検出信号は、一定の振幅値で変化する。しかし実際のカートリッジラックでは、溝形状の成型上のばらつき、反射率のばらつきにより図１４のように振幅のばらつき、あるいは検出信号にオフセットが発生する。信号処理では、これらの振幅ばらつき、オフセット変動を考慮する必要がある。
【００２４】
図１５は、本発明の１実施例のセンサ検出信号処理手段２４を構成する信号処理回路を示した図である。センサ１０１の信号は、オフセット除去回路１０２、増幅回路１０３を経てＡＤコンバータ１０４でデジタル化し、ＣＰＵ１０５で処理を行う。図１６は信号処理例を示す。検出信号のうち目標となるカートリッジラック溝部の検出信号を切り出す。ここで切り出した信号の最小値がオフセット除去回路１０２で除去するオフセット量に相当する。また最大値と最小値との差が信号振幅となり、増幅回路１０３で目標となる信号振幅値まで増幅し、ＡＤコンバータ１０４でデジタル化する。ＡＤコンバータ１０４の前までの処理がアナログ信号であり、ＡＤコンバータに十分な信号振幅を入力することで、量子化誤差を少なくすることが出来る。そしてデジタル化した信号は、信号振幅値Ｃに対し、目標となる信号値Ｄを設定し位置制御を行う。例えば、検出信号に対し、中心値で位置制御する場合は、Ｄ＝Ｃ／２で位置制御を行えばよい。
【００２５】
図１７に位置制御の処理フローを示す。まずディスク搬送機構のディスク挿入口が目標の光ディスクがある手前のカートリッジラック溝部に来るように移動する（２０１）。反射型光センサで次のカートリッジラック溝部をスキャンする（２０２）。スキャンした検出信号の最大値、最小値を取得し、必要であれば振幅調整、オフセット除去調整を行う（２０４）。取得された最大値、最小値から目標となる信号値を決定する（２０５）。カートリッジラック溝部を再スキャンする（２０６）。現在の検出信号が目標の信号値になった時点で、ディスク搬送機構の移動を終了する（２０７）。以上の処理フローを行うことにより、本実施例の位置制御が可能になる。
【００２６】
なお、ディスク搬送機構４を目標の光ディスクドライブ１近傍に移動する際、反射型光センサ１０の検出信号をカウントする方法ではなく、従来のスリット板およびスリットセンサによる位置制御を行ってもよい。図１８は反射型光センサ１０のほかに従来のスリット板１３およびスリットセンサ１４を取り付けた図であり、スリット板１３にはカートリッジラック３の溝部を示すスリットが設けてある。この構成によりスリットセンサ１４でスリット位置を検出し目標の光ディスク１７近傍への位置制御を行うことが出来る。従来のスリットセンサ１４による検出はスリットの有無を検出しているため本発明の反射型光センサを使ったときのような、オフセットや振幅ばらつきが少なく確実なカウントを行うことが出来る。スリットセンサ１４と反射型光センサ１０を併用することにより、確実で高精度な位置制御が可能になる。
【００２７】
また、本発明の他の実施例として反射型光センサ１０とスリットセンサ１４をディスクライブラリ装置に搭載し、反射型光センサ１０によりスリットセンサ１４の誤差を補正する行う方法について説明する。ディスクカートリッジ２をディスクライブラリ装置に装着した際、ディスク搬送機構１４を移動し、反射型光センサ１０でカートリッジラック３の溝部２１の位置を検出すると同時にスリットセンサ１４の検出信号も取得する。反射型光センサ１０で取得された溝部２１の位置と、スリットセンサ１４で得られたスリット位置の差を取得し、各溝部での差分を記憶する。以降のディスク搬送機構の位置制御ではスリットセンサ１４の検出信号に反射型センサ１０との差分を加えた値で制御を行う。反射型光センサ１０による位置制御では、最大値、最小値の取得処理、振幅調整、オフセット除去処理が必要であり、毎回実施すると位置制御に時間がかかる。これを短縮するためにスリットセンサ１４のずれ量を事前に取得し、通常の位置制御はスリットセンサ１４で行うことで位置制御の時間を短縮することが出来る。反射型光センサとスリットセンサとの差分を検出するための補正量の取得処理は、ディスクカートリッジ２を装着したときのほか、長期間使用を続けたとき、環境温度が変化したときなどに行うと、経時変化の影響や温度による収縮の影響を排除することが出来る。またこれ以外にも定期的に補正量の取得処理を行ってもよい。
【００２８】
スリットセンサ１４と反射型光センサ１０の差分を制御する実施例について図１９で説明する。図１９はエンコーダセンサ１８とリニアエンコーダ１９を搭載したディスクライブラリ装置を示している。エンコーダセンサ１８がリニアエンコーダ１９を検出することにより、ディスク搬送機構４の相対的な移動量を検出することが出来る。これにより、スリットセンサ１４によるスリット検出位置と反射型光センサ１０によるカートリッジラック溝検出位置の差分を測定する。以降、ディスク搬送機構４の位置制御は、スリットセンサ１４により求められる位置から、差分をエンコーダセンサ１８により検出して移動を行う。
【００２９】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加、削除、置換をすることが可能である。 
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。 
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【００３０】
１・・・光ディスクドライブ
２・・・ディスクカートリッジ
３・・・カートリッジラック
４・・・ディスク搬送機構
５・・・ディスククランパ
６・・・クランパモータ
７・・・搬送レール
８・・・キッカーアーム
９・・・ディスクキッカー
１０、１０ａ、１０ｂ・・・反射型光センサ
１１・・・キッカーモータ
１２・・・ディスク挿入口
１３・・・スリット板
１４・・・スリットセンサ
１５、１５ａ、１５ｂ・・・光スポット
１６、１６ａ、１６ｂ・・・反射型光センサ検出信号
１７・・・光ディスク
１８・・・エンコーダセンサ
１９・・・リニアエンコーダ
２０・・・カートリッジラック仕切り板
２１・・・カートリッジラック溝部
２２・・・ディスクライブラリ制御手段
２３・・・光ディスクドライブ制御手段
２４・・・センサ検出信号処理手段
２５・・・ディスク搬送機構制御手段
２６・・・ディスク取り出し制御手段
２７・・・ディスク引き込み制御手段
２８・・・インターフェース
２９・・・ディスク取り出し機構
３０・・・ディスク引き込み機構
３１・・・ディスク搬送機構移動手段
１０１・・・反射型光センサ
１０２・・・オフセットキャンセル回路
１０３・・・ゲインアンプ
１０４・・・ＡＤコンバータ
１０５・・・ＣＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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