(57)【要約】  【課題】  本発明は、書込み信号による高周波ノイズの低減し、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供することである。  【解決手段】  本発明は、書込みヘッドを備え、前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された磁気ヘッドの書込みヘッドで試験データを前記磁気ディスクに書込み、前記磁気ヘッド又は他の磁気ヘッドの前記書込みヘッドで書込まれた試験データを読込み、磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査する装置又は方法であって、全ての前記書込みヘッドから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、前記試験データの書込み波形の位相を変えて各前記書込みヘッドに引加する。【選択図】  図３
2014010861.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクを回転可能に支持するスピンドルと、
試験データを前記磁気ディスクに書込む書込みヘッドを備え、前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された１組又は複数組の磁気ヘッドを備える磁気ヘッドと、
前記書込みヘッドで書込まれた試験データを読込む前記磁気ヘッド又は他の磁気ヘッドと、
全ての前記書込みヘッドから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、前記試験データの書込み波形の位相を変えて各前記書込みヘッドに引加する試験データ書込み回路と、
読み込まれた前記試験データに基づいて前記磁気ヘッドまたは前記磁気ディスクの特性を検査する特性検査部と、
を備えることを特徴とする磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置。
【請求項２】
前記磁気ヘッドは前記試験データを前記ディスクに書込む書込み専用の磁気ヘッドであり、前記他の磁気ヘッドは、前記磁気ヘッドと異なる位置で書込まれた前記試験データを読込む読込み専用の磁気ヘッドである、ことを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置。
【請求項３】
前記磁気ヘッドが配置された前記磁気ディスクを支持する前記スピンドルを複数備え、
前記磁気ヘッドは、書込まれた前記試験データを読込む読込みヘッドを備え、前記試験データを書込んだ前記スピンドル周回後に、前記読込みヘッドで書込まれた前記試験データを読込む、ことを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置。
【請求項４】
前記試験データ書込み回路は、前記一方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は同位相に印加し、前記他方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は逆位相に印加する回路構成を備える、ことを特徴とする請求項２又は３記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置。
【請求項５】
前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された複数組の磁気ヘッドを備え、
前記試験データ書込み回路は、前記磁気ディスクの両面側に配置された同一組の前記書込みヘッドには、互いに前記試験データの前記書込み波形の位相が反転するように印加し、隣接する組と対角位置ある書込みヘッドには、互いに前記試験データの書込み波形の位相が同相に印加する回路構成を備える、ことを特徴とする請求項２又は３記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置。
【請求項６】
磁気ディスクを回転させ、
書込みヘッドを備え、前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された磁気ヘッドで試験データを前記磁気ディスクに書込み、
前記磁気ヘッド又は他の磁気ヘッドの前記書込みヘッドで書込まれた試験データを読込み、
全ての前記書込みヘッドから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、前記試験データの書込み波形の位相を変えて各前記書込みヘッドに引加し、
読み込まれた前記試験データに基づいて前記磁気ヘッドまたは前記磁気ディスクの特性を測定する、
ことを特徴とする磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法。
【請求項７】
前記磁気ヘッドは前記試験データを前記ディスクに書込む書込み専用の磁気ヘッドであり、前記磁気ヘッドと異なる位置で配置された前記他の磁気ヘッドで書込まれた前記試験データを読込む、ことを特徴とする請求項６記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法。
【請求項８】
前記磁気ディスクを複数備え、
書込まれた前記試験データを読込む読込みヘッドを備える前記磁気ヘッドで、書込んだ前記試験データを周回後に、前記読込みヘッドで書込まれた前記試験データを読込む、ことを特徴とする請求項６記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法。
【請求項９】
前記一方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は同位相に印加し、前記他方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は逆位相に印加する、ことを特徴とする請求項７又は８記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法。
【請求項１０】
前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された複数組の磁気ヘッドを備え、
前記磁気ディスクの両面側に配置された同一組の前記書込みヘッドには、互いに前記試験データの前記書込み波形の位相が反転するように印加し、隣接する組と対角位置ある書込みヘッドには、互いに前記試験データの書込み波形の位相が同相に印加する、ことを特徴とする請求項７又は８記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置に関わり、特に、書込み信号による読込み信号への高周波ノイズを低減し、高品質な検査を確保できる技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置では、両面に読書き可能なディスクを、又は当該ディスクを用いて磁気ヘッドを効率的に検査するために、ディスクの上下に書込みヘッド及び読込みヘッドを設けて検査する。また、更に、複数スピンドルをコンパクトに配置し効率的な検査を行っている。
【０００３】
近年のＨＤＤ（ハードディスクドライブ装置）では記録密度向上に伴い、検査信号の高周波化が進んでいる。検査は、書込みヘッドでデータを書込み、読込みヘッドでデータを読込んで行う。高周波信号での書込み時に読込み動行を行なうと、書込み時に発生する高周波ノイズの読込み信号への影響が大きくなり、読込み信号のＳ／Ｎ比が低下する。
【０００４】
このような課題を解決方法として、特許文献１に記載された技術がある。特許文献１では、書込みヘッドにコモンモードチョークを用いて高周波ノイズを低減している。コモンモードチョークは、加わる信号が相互に逆相になる２つのコイルを備えている。書込みヘッドの＋端子、−端子を当該２つのコイルを介して差動アンプに接続し、高周波ノイズを低減している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−８３４０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、今後、さらに高周波化が進むものと予想され、より高周波化での書込み信号による高周波ノイズの低減、即ち読込み信号のＳ／Ｎの向上が望まれる。
【０００７】
従って、本発明の目的は、書込み信号による高周波ノイズの低減し、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記の目的を達成するために、少なくとも下記の特徴を有する。
【０００９】
本発明は、書込みヘッドを備え、前記磁気ディスクの両面側に対峙して配置された磁気ヘッドの書込みヘッドで試験データを前記磁気ディスクに書込み、前記磁気ヘッド又は他の磁気ヘッドの前記書込みヘッドで書込まれた試験データを読込み、磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査する装置又は方法であって、全ての前記書込みヘッドから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、前記試験データの書込み波形の位相を変えて各前記書込みヘッドに引加する。
【００１０】
また、本発明は、前記一方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は同位相に印加し、前記他方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する前記試験データの前記書込み波形は逆位相に印加してもよい。
【００１１】
さらに、本発明は、前記磁気ディスクの両面側に配置された同一組の前記書込みヘッドには、互いに前記試験データの前記書込み波形の位相が反転するように印加し、隣接する組と対角位置ある書込みヘッドには、互いに前記試験データの書込み波形の位相が同相に印加してもよい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、書込み信号による高周波ノイズの低減し、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第１の実施形態の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置のシステムブロック図を示す図である。
【図２】実施形態１における本発明の第１の実施例の基本的な概念を示す図である。
【図３】実施例１の磁界モデルを実現する試験データ書込み回路の一例を示す図である。
【図４Ａ】従来技術の読込み専用の磁気ヘッドの読込みヘッドの高周波ノイズを測定した結果を示す。
【図４Ｂ】実施例１の読込み専用の磁気ヘッドの読込みヘッドの高周波ノイズを測定した結果を示す。
【図５】本発明の第２の実施形態の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置のシステムブロック図を示す図である。
【図６Ａ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが２組配置された第１の例の構成を示す図である。
【図６Ｂ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが２組配置された第２の例の構成を示す図である。
【図６Ｃ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが２組配置された第３の例の構成を示す図である。
【図６Ｄ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが２組配置された従来技術の構成を示す図である。
【図７Ａ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが４組配置された第１の例の構成を示す図である。
【図７Ｂ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが４組配置された第２の例の構成を示す図である。
【図７Ｃ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが４組配置された第３の例の構成を示す図である。
【図７Ｄ】実施形態１又は２における対峙する書込みヘッドが４組配置された第４の例の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
（実施形態１）
図１は、本発明の第１の実施形態の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置１００のシステムブロック図を示す。
【００１５】
同検査装置１００では、磁気ディスク１４の書込みヘッドＷＨ（図２参照）及び読込みヘッドを備える、所謂複合磁気ヘッド（以下、単に磁気ヘッドという）１０を４つ有する。4つのうち2つの磁気ヘッド１０は、磁気ディスク１４を挟んで上下に配置された添え字にｗを示す書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄである。書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄといえども、サーボトラック制御するために、読込みヘッドは必要である。
【００１６】
残りの２つの磁気ヘッド１０は、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄに対して異なる位置、例えば半周した位置に磁気ディスク１４を挟んで上下に配置され、添え字ｒを示す読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄである。読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄでは、書込みヘッドＷＨは不要であり、必ずしも複合磁気ヘッドでなくともよい。なお、実施形態１は、上下１組の書込み専用と上下１組の読込み用磁気ヘッドを用いたが、それぞれ複数組設けてもよい。
なお、添え字ｕは上側を、ｄは下側示し、その他の符号においても同様である。磁気ヘッドの符号
１０は、４つの磁気ヘッドを総称して示す場合に用いる。
【００１７】
各磁気ヘッド１０は、それぞれステージ１２に固定されている。書込み信号発生部１９からの書込み信号は書込みアンプ１８を介して書込みヘッドＷＨに入力される。また、読込みヘッドからの読込み信号は、読込みアンプ１７を介して特性計測部２０に入力される。なお、読込みアンプ１７、書込みアンプ１８及びステージ１２は、符号の煩雑さを避けるために、磁気ヘッド１０ｗｕに関するもののみに記す。
【００１８】
スピンドル部１５は磁気ディスク１４を保持して回転し、磁気ヘッド１０を同ディスク上に浮上させる。書込み信号発生部１９の出力で生成された試験データは、書込みアンプ１８を介して、磁気ディスク１４内の目標とするトラック上に記録される。次に、記録した試験データを半周遅れで磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄで読み出し、読込みアンプ１７で増幅して再生信号として特性計測部２０とサーボ制御部２３に入力する。特性計測部２０は、再生信号のＳ／Ｎなどの電気特性を計測してテスタバス２１を介して検査装置のホストコンピュータ２２に出力する。ホストコンピュータ２２は、その特性検査部２２ａで該出力データをもとにして被試験対象である磁気ヘッドまたは磁気ディスクの良否判定やクラス分け等の検査を行う。
【００１９】
ここで、磁気ディスク１４上には、検査開始前にあらかじめ各磁気ヘッド１０を目標トラック上に位置決めするためのサーボトラック制御を行うために、各セクタにサーボ信号が書き込まれている。各サーボ信号は、まずサーボ制御部２３に入力され、サーボ信号成分以外の周波数成分（雑音）を除去などの処理が行われ、ヘッド位置検出および制御部９に出力される。
【００２０】
以上、説明した実施形態１の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置１００は、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄで磁気ディスク１４の両面に同時試験データを書き込み、書き込んだ試験データを半周した位置に設けられた読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄで読み込む。
【００２１】
即ち、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄが磁気ディスク１４に試験データを書き込んでいるときに、同時に読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄは、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄが半周前に書き込んだ試験データを読込む。書込みヘッド１０ＷＨによる発生磁界が読込みヘッドの高周波ノイズ源となる。なお、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕ、１０ｗｄの読込みヘッドがサーボ信号を読み込むときは、当該磁気ヘッドの書込みヘッドは動作していないので、当該読込みヘッドの高周波ノイズ源とはならない。
【００２２】
次に、上記で説明した高周波ノイズを低減する実施形態１における実施例を以下に説明する。
【００２３】
（実施例１）
図２は、実施形態１における本発明の第１の実施例の基本的な概念を示す図である。また図２は、実施例１と共に従来技術の磁界モデルを示し、図３は、実施例１の磁界モデルを実現する試験データ書込み回路の一例を示す。本例では、試験データ書込み回路は、アンプ１８及び書込みヘッド１０ＷＨで構成される。
【００２４】
図２に示すように、従来技術では、磁気ディスク１４の上下に対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄから発生する磁界が、矢印に示すよう重畳するように発生させている。一方は、実施例１では、磁気ディスク１４の上下に対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄから発生する磁界が、矢印に示すように互いに相殺するように発生させている。この結果、磁気ヘッド１４の半周位置に存在する読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄの読込みヘッドに発生する書込みヘッド１０ＷＨの磁界が、従来技術では重畳されるに対し、実施例１では相殺され、読込みヘッドから得られる読込み信号の高周波ノイズが低減する。
【００２５】
これを実現するために、実施例１では、書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄに印加される電圧を互いに逆相に接続する、言い換えれば、両者への書込み波形の位相が反転するように印加する。図３に示す実施例１の試験データ書込み回路は、書込みアンプ１８からの書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄへの接続する位置を逆にしている。また、書込みヘッド１０ＷＨへの接続する位置を逆にする代わりに、書込みアンプ１８の入力または出力を逆にしてもよい。なお、試験データは、図３に示すように、“１”、“０”のデジタル信号で形成されるパターンを有する。
【００２６】
図４に、実施例１と従来技術との読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄの読込みヘッドの高周波ノイズを測定した結果を示し、その時の検査信号は１２０ＭＨｚの高周波信号である。図４によれば、従来技術では−３３．７６ｄＢｍに対し、実施例１では、−３７．２２ｄＢｍであり、３．４６ｄＢｍ改善できた。
【００２７】
以上説明したように、磁気ディスク１４の上下に対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄへの書込み波形の位相が反転するように印加することで、読込み信号の高周波ノイズを低減できる。
その結果、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供できる。
【００２８】
（実施形態２）
次に、図５に示す本発明の第２の実施形態の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置２００における本発明の実施例を示す。図５は、実施形態２の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置２００のシステムブロック図を示す。
【００２９】
まず、磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置２００を説明する。実施形態２の実施形態１と異なる点は、次の２点である。その他の点は実施形態１と同じである。
【００３０】
第１に、互いに異なる、例えば半周の位置に対峙するように配置された４つの複合磁気ヘッド１０ｕｍ、１０ｄｍ、１０ｕｈ、１０ｄｈの全てが書込み、読込みし、テストする。即ち、実施形態１とは異なり、４つの複合磁気ヘッド１０は、書込み用、読込み用の区別がなく、実施形態２では、各磁気ヘッド１０は、１周分試験データを書込み、次の１周で試験データを読み込む。なお、また前記異なる位置は、２か所に限らず３か所以上であってもよい。
また、図５において、添え字ｕ、ｄは図１と同様は上側は下側を示し、ｍは図面右側を、ｈは図面左側を示す。また、右側組と左側組の磁気ヘッドでは、磁気ディスク１４の検査領域を分けて検査する。例えば、右側組は内側領域を、左側組は外側領域を検査する。
【００３１】
第２に、図５の上部の枠線に示す検査部Ｓ１を複数設けている点である。即ち、実施形態２の磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置２００は、複数のスピンドル部１５を備え、複数の磁気ヘッド１４を同時にテストできる装置である。本実施形態では、８検査部Ｓ１乃至Ｓ８を備える。
【００３２】
（実施例２）
実施形態２では、各検査部の全ての磁気ヘッドは、同期して書込み、読込むので、書込みヘッド１０ＷＨによる磁界発生は、同じ検査部内の読込みヘッドの高周波ノイズとはならない。しかし、各検査部は、検査効率の関係上、非同期で検査している。従って、例えば検査部Ｓ４で試験データを書き込むと、その時に発生した磁界が、その時他の検査部、特に隣接する検査部Ｓ３、Ｓ５で読込み動作を実施している読込みヘッドの高周波ノイズ源となる。逆に、検査部Ｓ４で試験データを書き込むときに、その時他の検査部、特に隣接する検査部Ｓ３、Ｓ５で書込み動作を実施していると、他の検査部の書込みヘッドにより発生した磁界が、検査部Ｓ４の読込みヘッドの高周波ノイズ源となる。
【００３３】
そこで、実施形態２における本発明の第２の実施例では、右側で対峙する右側組みの対峙の磁気ヘッド１０ｕｍ、１０ｄｍ及び左側で対峙する左側組み磁気ヘッド１０ｕｈ、１０ｄｈに、それぞれ図２、図３に示す接続方法で書込みヘッドに試験データを印加する。右側組、左側組の両方またはどちらか一方の接続方法を、図２、図３に示す接続方法とは逆にしてもよい。
【００３４】
この結果、他の検査部から試験データ書込み時の高周波ノイズ、及び他の検査部への試験データを書込み時の高周波ノイズを低減でき、各検査部での読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供できる。
【００３５】
（実施例３）
図６は、実施形態１又は２における本発明の第３の実施例における書込みヘッド１０ＷＨの構成を示している。実施例３の実施例１、２と異なる点は、書込み専用の磁気ヘッド１０ｗｕと１０ｗｄ及び読込み専用の磁気ヘッド１０ｒｕ、１０ｒｄを磁気ディスク１４の径方向に複数を設けた点である。図６は、対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄが２組配置された第１乃至第２の例と従来技術の構成を示す。実施例３の試験データ書込み回路は、４つの書込みヘッド１０ＷＨから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、各書込みヘッド１０ＷＨへの試験データの印加する位相を変える。例えば、磁気ディスク１４の両面側の一方の面側に配置された前記書込みヘッドから発生する第１の磁界を、前記両面側の他方の面側に配置された前記書込みヘッドから発生する第２の磁界で低減するように、各書込みヘッドに前記試験データの位相を変えて引加するように、例えば図３の示す書込みアンプ１８及び書込みヘッドＷＨを構成する。
【００３６】
図６Ａは、図２に示した実施例１、２の一組の書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄのパターンを、隣接する対峙する他の一組にも設け、４つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法を示した例である。言い換えれば、一方の面側に配置された書込みヘッドに入力する試験データは同位相に印加し、前記他方の面側に配置された前記書込みヘッドに入力する試験データは逆位相に印加する試験データ書込み回路を有する。
【００３７】
図６Ｂは、対峙する２組のうち１組は実施例１、２と同様に印加し、他の１組は上下逆転して書込みヘッドに書込み波形の位相が反転するように印加し、４つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法を示した例である。言い換えれば、磁気ディスクの両面側に配置された同一組の書込みヘッドＷＨは、互いに試験データの書込み波形の位相が反転するように印加し、隣接する組と対角位置ある書込みヘッドＷＨは、互いに試験データの書込み波形の位相が同相に印加する試験データ書込み回路を備える。
【００３８】
図６Ｃは、同一に組の書込みヘッド１０ＷＨｕ、１０ＷＨｄは、試験データの書込み波形は同位相に印加し、隣接する組の書込みヘッド１０ＷＨｕ同士及び１０ＷＨｄ同士は、試験データの書込み波形は位相が反転するように印加する。この構成によって、４つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法である。
【００３９】
なお、図６Ｄは、従来技術を示し、全ての書込みヘッドの書込み波形が同位相になるように印加されている。
【００４０】
以上説明した実施例３によれば、実施形態１、２において、４つの書込みヘッドから発生する磁界を低減でき、読込み信号の高周波ノイズを低減できる。
その結果、実施形態１、２において、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供できる。
【００４１】
（実施例４）
図７は、実施形態１又は２における対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕ、１０ＷＨｄが４組配置された第４の実施例の第１乃至第４の構成を示している。実施例３では、対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄが２組配置された例を示したが、実施例４は、対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄが４組配置された例を示す。実施例４の試験データ書込み回路は、８つの書込みヘッド１０ＷＨから発生する磁界による高周波ノイズが減少するように、各書込みヘッド１０ＷＨへの試験データの印加する位相を変える。例えば、実施例３と同様に、磁気ディスク１４の両面側の一方の面側に配置された前記書込みヘッドから発生する第１の磁界を、前記両面側の他方の面側に配置された前記書込みヘッドから発生する第２の磁界で低減するように、各書込みヘッドに前記試験データの位相を変えて引加するように、例えば図３の示す書込みアンプ１８及び書込みヘッドＷＨを構成する。
【００４２】
図７において、図７Ａ乃至図７Ｂの考え方は、それぞれ図６Ａ乃至及び図６Ｃに対応する。
図７Ａは、図２に示した実施例１、２の一組の書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄのパターンを、隣接する対峙する他の３組にも設け、８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法を示した例である。言い換えれば、一方の面側、例えば上側の面に配置された書込みヘッド１０ＷＨｕに入力する試験データは同位相に印加し、前記他方の面（下）側に配置された書込みヘッド１０ＷＨｄに入力する試験データは逆位相に印加する試験データ書込み回路を有する。
【００４３】
図７Ｂは、対峙する４組のうち左から１組及び３組は実施例１、２と同様に、左から２及び３組は上下逆転して書込みヘッドに書込み波形の位相が反転するように印加し、８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法を示した例である。
言い換えれば、磁気ディスクの両面側に配置された同一組の書込みヘッドＷＨは、互いに試験データの書込み波形の位相が反転するように印加し、隣接する組と対角位置ある書込みヘッドＷＨとは、互いに試験データの書込み波形の位相が同相に印加する試験データ書込み回路を備える。
【００４４】
図７Ｃは、図７Ｂと同様に、同一組の書込みヘッド１０ＷＨｕ、１０ＷＨｄは、試験データの書込み波形は同位相に印加し、隣接する組の書込みヘッド１０ＷＨｕ同士及び１０ＷＨｄ同士は、試験データの書込み波形は位相が反転するように印加する。この構成によって、８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法である。
【００４５】
図７Ｄは、左から１組及び２組を図７Ｂと同様に印加し、左か３組及び４組は、２組と３組を境にして左から１組及び２組と対称に印加し、８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減する方法を示した例である。
【００４６】
図７Ａ乃至図７Ｄの他に色々な組み合わせが考えられるが、要は８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減するようにすればよい。
【００４７】
以上説明した実施例４によれば、実施形態１、２において、８つの書込みヘッドから発生する磁界を低減でき、読込み信号の高周波ノイズを低減できる。
その結果、実施形態１、２において、読込み信号のＳ／Ｎを向上させ、高品質な検査を確保できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置及びそれらの検査方法を提供できる。
【００４８】
実施例３、４において対峙する書込みヘッド１０ＷＨｕと１０ＷＨｄが２組または４組配置された例を示したが、３組又は５組以上においても同様にして、構成する書込みヘッドからの磁界発生を低減し、読込み信号のＳ／Ｎを向上させることができる。
【００４９】
例えば、６以上の偶数組ならば、図６Ａ乃至図６Ｃ又は図７の各例の繰り返し、或いは図６Ａ乃至図６Ｃとまたは図７の各例の組み合わせることで、構成する全ての書込みヘッドから発生する磁界を低減できる。３以上の奇数組みならば、実施例１の図２に示す１組と図６Ａ乃至図６Ｃ、図７の各例との組み合わせることで、構成する全ての書込みヘッドから発生する磁界を低減できる。
【符号の説明】
【００５０】
９：ヘッド位置検出および制御部  
１０、１０ｗｕ、１０ｗｄ、１０ｒｕ、１０ｒｄ：磁気ヘッド
１０ｕｍ、１０ｄｍ、１０ｕｈ、１０ｄｈ：磁気ヘッド
１０ＷＨ、１０ＷＨｕ、１０ＷＨｄ：書込みヘッド
１２：ステージ                            １４：磁気ディスク
１５：スピンドル部                        １７：読込みアンプ
１８：書込みアンプ                        １９：書込み信号発生部
２０：特性計測部                          ２１：テスタバス
２２：ホストコンピュータ                  ２２ａ：特性検査部
２３：サーボ制御部
１００、２００：磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置
Ｓ１乃至Ｓ８：検査部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【図６Ｄ】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図７Ｃ】
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【図７Ｄ】
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