(57)【要約】【課題】反射型及び透過型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことのできる液晶パネル検査装置を提供する。【解決手段】反射型及び透過型の液晶パネル２００の画質の検査を行う液晶パネル検査装置１であって、光源１１を具備する光源部１０と、液晶パネル２００が設置されるパネル設置部９０と、照射された光の強さを検出する第１検出部７０及び第２検出部８０と、光源部１０から出射された光をパネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に照射し、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００が反射型である場合に、光源部１０から出射された光のうち当該液晶パネル２００で反射された光を第１検出部７０に照射するとともに、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００が透過型である場合に、光源部１０から出射された光のうち当該液晶パネル２００を透過した光を第２検出部８０に照射する光学系１０１と、を備える。【選択図】図３
2014010208.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
反射型液晶パネル及び透過型液晶パネルの画質の検査を行う液晶パネル検査装置であって、
光源を具備する光源部と、
液晶パネルが設置されるパネル設置部と、
照射された光の強さを検出する第１検出部及び第２検出部と、
前記光源部から出射された光を前記パネル設置部に設置された液晶パネルに照射し、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合に、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に照射するとともに、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合に、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルを透過した光を前記第２検出部に照射する光学系と、を備える、
ことを特徴とする液晶パネル検査装置。
【請求項２】
前記光学系は、
前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に向けて反射する、偏光ビームスプリッタを備える、
ことを特徴とする、請求項１に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項３】
前記偏光ビームスプリッタは、
前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路上の所定位置に配置され、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光を透過するとともに、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に向けて反射し、
前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路とは交差しない位置に配置される、
ことを特徴とする、請求項２に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項４】
前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路上の所定位置に前記偏光ビームスプリッタを配置し、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路とは交差しない位置に、前記偏光ビームスプリッタを前記所定位置から移動させる第１移動機構を備える、
ことを特徴とする、請求項３に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項５】
前記光源部は、
前記光源から出射された光のうち第１の直線偏光光を透過する第１偏光板を備え、前記第１の直線偏光光を出射し、
前記液晶パネルは、
前記第１の直線偏光光が照射された場合、前記第１の直線偏光光とは異なる偏光軸を有する第２の直線偏光光を含む光を出射し、
前記偏光ビームスプリッタは、
前記第１の直線偏光光を透過するとともに、前記第２の直線偏光光を反射する、
ことを特徴とする、請求項２乃至４のうちいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項６】
前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路と、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合に当該液晶パネルで反射され前記第１検出部に向かう光の光路との双方の光路と交差する位置、及び、双方の光路と交差しない位置の、一方の位置から他方の位置に入射側位相差補償板を移動させる第２移動機構を備え、
前記光学系は、前記入射側位相差補償板を含む複数の位相差補償板を備える、
ことを特徴とする、請求項１乃至５のうちいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項７】
前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合に当該液晶パネルを透過し前記第２検出部に向かう光の光路と交差する位置、及び、交差しない位置の、一方の位置から他方の位置に出射位相差補償板を移動させる第３移動機構を備え、
前記光学系は、前記出射側位相差補償板を含む複数の位相差補償板を備える、
ことを特徴とする、請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項８】
前記複数の位相差補償板は、
前記光学系の有する光軸を回転軸として回転させることが可能な回転型位相差補償板を含む、
ことを特徴とする、請求項６または７に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項９】
前記複数の位相差補償板は、
前記光学系の有する光軸と垂直に交わる平面上の第１直線を回転軸として回転させることが可能な第１傾斜型位相差補償板、及び、前記光軸及び前記第１直線に垂直に交わる第２直線を回転軸として回転させることが可能な第２傾斜型位相差補償板を含む、
ことを特徴とする、請求項６乃至８のうちいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項１０】
前記液晶パネル検査装置は、
前記第１検出部または前記第２検出部が検出する光の強さに基づいて、前記パネル設置部に設置された液晶パネルのコントラストまたは透過率のうち少なくとも一方を算出可能な検査部を備える、
ことを特徴とする、請求項１乃至９のうちいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶パネル検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶パネルの画質検査に関する技術が各種提案されている。例えば、特許文献１には、透過型の液晶パネルの画質を検査するための液晶パネル検査装置が提案されている。当該液晶パネル検査装置は、透過型の液晶パネルに光を照射し、液晶パネルを透過した光をスクリーンに投射させる。そして、スクリーン上に形成された画像を解析することで液晶パネルの画質を検査する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−９４１４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
液晶パネルには、反射型の液晶パネルの他に、透過型の液晶パネルが存在する。反射型の液晶パネルは、照射された光を反射するのに対して、透過型の液晶パネルは、照射された光を透過する。よって、反射型の液晶パネルの画質を検査するための液晶パネル検査装置を用いて、透過型の液晶パネルの画質を検査することはできない。そのため、反射型及び透過型の双方の液晶パネルを検査する必要がある場合には、反射型の液晶パネルの検査をするための液晶パネル検査装置の他に、透過型の液晶パネルの検査をするための液晶パネル検査装置を別途用意する必要があり、液晶パネルの検査に係るコストが増大するという問題が存在した。
【０００５】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的の一つは、透過型及び反射型の液晶パネルの双方の画質を検査することができる液晶パネル検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明に係る液晶パネル検査装置は、反射型液晶パネル及び透過型液晶パネルの画質の検査を行う液晶パネル検査装置であって、光源を具備する光源部と、液晶パネルが設置されるパネル設置部と、照射された光の強さを検出する第１検出部及び第２検出部と、前記光源部から出射された光を前記パネル設置部に設置された液晶パネルに照射し、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合に、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に照射するとともに、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合に、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルを透過した光を前記第２検出部に照射する光学系と、を備える、ことを特徴とする。
【０００７】
この発明によれば、液晶パネル検査装置は、光学系により、反射型液晶パネルで反射された光を第１検出部に導くとともに、透過型液晶パネルを透過した光を第２検出部に導くことができる。このため、１つの液晶パネル検査装置により、透過型及び反射型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことができる。
この場合、反射型液晶パネルの検査及び透過型の液晶パネルの検査の双方において、少なくとも光源部及びパネル設置部を共用することができるため、反射型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置及び透過型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置を個別に用意する場合に比べて、液晶パネルの検査に係るコストを低減させることができる。
なお、第1検出部及び第２検出部が検出する「光の強さ」とは、例えば、照度、光量等、液晶パネルのコントラストや透過率の検査に必要な情報であればどのようなものであってもよい。
【０００８】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記光学系は、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に向けて反射する、偏光ビームスプリッタを備える、ことが好ましい。
偏光ビームスプリッタは、特定の直線偏光光（例えば、Ｐ偏光光）を透過し、当該特定の直線偏光光とは異なる偏光軸を有する直線偏光光（例えば、Ｓ偏光光）を反射させる。このような偏光ビームスプリッタの性質を利用することで、光源部から出射した光のうち透過型液晶パネルにおいて反射されて光源部へと進行する光を、第１検出部に導くことができる。
このように、本発明によれば、１つの液晶パネル検査装置により透過型及び反射型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことができるため、反射型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置及び透過型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置を個別に用意する場合に比べて、液晶パネルの検査に係るコストを低減させることができる。
【０００９】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記偏光ビームスプリッタは、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路上の所定位置に配置され、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光を透過するとともに、前記光源部から出射された光のうち当該液晶パネルで反射された光を前記第１検出部に向けて反射し、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路とは交差しない位置に配置される、ことが好ましい。
この態様によれば、１つの液晶パネル検査装置により、透過型及び反射型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことができるため、液晶パネルの検査に係るコストを低減させることができる。
また、液晶パネル検査装置が透過型液晶パネルの検査を行う場合には、光源部から透過型液晶パネルに至る光路から外れた位置に偏光ビームスプリッタが配置されるため、透過型液晶パネルに照射される光が偏光ビームスプリッタにより反射または吸収されることを防止することができる。このため、光源から照射される光を有効に利用することができ、液晶パネル検査装置の低消費電力化が可能となる。
【００１０】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路上の所定位置に前記偏光ビームスプリッタを配置し、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路とは交差しない位置に、前記偏光ビームスプリッタを前記所定位置から移動させる第１移動機構を備える、ことが好ましい。
この態様によれば、１つの液晶パネル検査装置により、透過型及び反射型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことができるため、液晶パネルの検査に係るコストを低減させることができる。また、透過型液晶パネルの画質の検査を行う場合において、液晶パネルに照射される光が偏光ビームスプリッタを透過する際に生じる光の損失を防止して、光源から照射される光を有効に利用することができる。
【００１１】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記光源部は、前記光源から出射された光のうち第１の直線偏光光を透過する第１偏光板を備え、前記第１の直線偏光光を出射し、前記液晶パネルは、前記第１の直線偏光光が照射された場合、前記第１の直線偏光光とは異なる偏光軸を有する第２の直線偏光光を含む光を出射し、前記偏光ビームスプリッタは、前記第１の直線偏光光を透過するとともに、前記第２の直線偏光光を反射する、ことが好ましい。
この態様によれば、偏光ビームスプリッタは、光源部から液晶パネルに向けて照射される光を透過し、透過型液晶パネルで反射された光を反射させる。
このため、光源部から出射した光のうち透過型液晶パネルにおいて反射されて光源部へと進行する光を第１検出部に導くことができ、１つの液晶パネル検査装置により、透過型及び反射型の双方の液晶パネルの画質の検査を行うことができる。
【００１２】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記光源部から出射され前記パネル設置部に設置された液晶パネルに向かう光の光路と、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが反射型である場合に当該液晶パネルで反射され前記第１検出部に向かう光の光路との双方の光路と交差する位置、及び、双方の光路と交差しない位置の、一方の位置から他方の位置に入射側位相差補償板を移動させる第２移動機構を備え、前記光学系は、前記入射側位相差補償板を含む複数の位相差補償板を備える、ことが好ましい。
この態様によれば、入射側位相差補償板を、光路と交差する位置または光路と交差しない位置のうちいずれかに選択的に配置することができる。そのため、液晶パネル検査装置の検査対象である液晶パネルの種類や、コントラストの検査または透過率の検査等の検査の種類に応じて液晶パネル検査装置の構成を変更することが可能となる。
すなわち、本発明に係る液晶パネル検査装置は、複数種類の液晶パネルを検査対象とすることができるのと同時に、複数種類の検査を実行することができる。
【００１３】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記パネル設置部に設置された液晶パネルが透過型である場合に当該液晶パネルを透過し前記第２検出部に向かう光の光路と交差する位置、及び、交差しない位置の、一方の位置から他方の位置に出射位相差補償板を移動させる第３移動機構を備え、前記光学系は、前記出射側位相差補償板を含む複数の位相差補償板を備える、ことが好ましい。
この態様によれば、液晶パネル検査装置の検査対象である液晶パネルの種類や、液晶パネル検査装置で実施する検査の種類に応じて液晶パネル検査装置の構成を変更することが可能となる。このため、液晶パネル検査装置は、複数種類の液晶パネルを検査対象とすることができ、また、複数種類の検査を実行することができる。
【００１４】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記複数の位相差補償板は、前記光学系の有する光軸を回転軸として回転させることが可能な回転型位相差補償板を含む、ことが好ましい。
位相差補償板は、液晶パネルに照射された光が液晶パネルで反射（または透過）する際に生じる位相差を補償する。この位相差補償板による位相差の補償の程度は、位相差補償板の姿勢に応じて、変化する。位相差補償板が位相差を最適に補償した状態において、液晶パネルの検査を行うことで、液晶パネルのコントラストを正確に求めることができる。
この態様によれば、位相差補償板を回転させることができるため、液晶パネルにおいて生じた位相差を最適に補償した状態で、液晶パネルのコントラストを測定することが可能となる。
【００１５】
また、上述した液晶パネル検査装置において、前記複数の位相差補償板は、前記光学系の有する光軸と垂直に交わる平面上の第１直線を回転軸として回転させることが可能な第１傾斜型位相差補償板、及び、前記光軸及び前記第１直線に垂直に交わる第２直線を回転軸として回転させることが可能な第２傾斜型位相差補償板を含む、ことが好ましい。
この態様によれば、位相差補償板を回転させることができるため、液晶パネルにおいて生じた位相差を最適に補償した状態で、液晶パネルのコントラストを測定することが可能となる。
【００１６】
また、上述した液晶パネル検査装置は、前記第１検出部または前記第２検出部が検出する光の強さに基づいて、前記パネル設置部に設置された液晶パネルのコントラストまたは透過率のうち少なくとも一方を算出可能な検査部を備える、ことが好ましい。
この態様によれば、反射型液晶パネルの検査及び透過型の液晶パネルの検査の双方において、少なくとも光源部、パネル設置部、及び、検査部を共用することができるため、反射型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置及び透過型液晶パネルを検査するための液晶パネル検査装置を個別に用意する場合に比べて、液晶パネルの検査に係るコストを低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施形態に係る液晶パネル検査装置の検査対象となる液晶パネルの斜視図である。
【図２】同液晶パネル検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】同液晶パネル検査装置の光学機構の構成を示す説明図である。
【図４】同液晶パネル検査装置の光学機構の構成を示す説明図である。
【図５】同液晶パネル検査装置の光学機構の構成を示す説明図である。
【図６】同液晶パネル検査装置の位相差補償板を説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
＜実施形態＞
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
図１は、実施形態に係る液晶パネル検査装置の検査対象となる液晶パネル２００（反射型液晶パネル２００Ａ、透過型液晶パネル２００Ｂ）の構成を示す斜視図である。
図１（Ａ）に示す反射型液晶パネル２００Ａは、プロジェクターのライトバルブとして用いられる反射型の液晶パネルであり、表示部２１０Ａが図において上側から入射した光を上側に反射して変調像を生成する。表示部２１０Ａは、変調像の生成部分で開口したフレーム２２０にケーシングされている。
【００１９】
表示部２１０Ａは、複数の画素と、複数の画素毎に個別の画素電極を有する素子基板と、複数の画素にわたって共通のコモン電極を有する対向基板とが一定の間隙を保って電極形成面が互いに対向するように貼り合わせられるとともに、この間隙に液晶が挟持された構造である。
表示部２１０Ａには、ＦＰＣ（Flexible Printed Circuits）基板４００の一端が接続されている。ＦＰＣ基板４００には、ベアチップのドライバーＩＣ４１０が、ＣＯＦ（Chip On Film）技術によって実装される。また、ＦＰＣ基板４００は、その一端が表示部２１０Ａに接続されるとともに、当該一端と反対側の端子部４２０に複数の端子４３０が設けられている。端子部４２０が、後述する制御部１１０のコネクターに接続されて、当該制御部１１０から複数の端子４３０を介してそれぞれ各種の制御信号や映像信号が供給されると、ドライバーＩＣ４１０が表示部２１０Ａを駆動し、これにより表示部２１０Ａが、当該映像信号に応じた変調像を生成する構成となっている。
【００２０】
図１（Ｂ）に示す透過型液晶パネル２００Ｂは、プロジェクターのライトバルブとして用いられる透過型の液晶パネルであり、表示部２１０Ｂが図において下側から入射した光を上側に透過して変調像を生成する点を除いて、反射型液晶パネル２００Ａと同様に構成される。すなわち、表示部２１０Ｂは、複数の画素と、複数の画素毎に個別の画素電極を有する素子基板と、複数の画素にわたって共通のコモン電極を有する対向基板とが一定の間隙を保って電極形成面が互いに対向するように貼り合わせられるとともに、この間隙に液晶が挟持されている。また、表示部２１０Ｂには、ＦＰＣ基板４００の一端が接続されている。ＦＰＣ基板４００の端子部４２０が、制御部１１０のコネクターに接続され、当該制御部１１０から各種の制御信号や映像信号が供給されると、ドライバーＩＣ４１０が表示部２１０Ｂを駆動し、これにより表示部２１０Ｂが、当該映像信号に応じた変調像を生成する。
【００２１】
図２は、液晶パネル検査装置１の構成を示すブロック図である。液晶パネル検査装置１は、光学機構１００、制御部１１０、駆動機構１２０、入力部１５０、及び、出力部１６０を備え、反射型液晶パネル２００Ａ及び透過型液晶パネル２００Ｂの画質、例えば、液晶パネルのコントラストや透過率等を検査することができる。
光学機構１００は、各種光学部材を具備する光学系１０１、液晶パネル２００に向けて光を出射する光源部１０、液晶パネル２００（反射型液晶パネル２００Ａ）で反射された光の強さを検出する第１検出部７０、及び、液晶パネル２００（透過型液晶パネル２００Ｂ）を透過した光の強さを検出する第２検出部８０を備える。第１検出部７０及び第２検出部８０は、検出した光の強さを表す明度情報Ｂｒを出力する。
【００２２】
駆動機構１２０は、光学系１０１が備える各種光学部材が配置される位置、姿勢等を変化させるための第１移動機構Ｃ１、第２移動機構Ｃ２、第３移動機構Ｃ３、及び、回転機構Ｃ４を備える。
制御部１１０は、第１検出部７０または第２検出部８０から出力される明度情報Ｂｒに基づいて液晶パネル２００のコントラスト、透過率等を算出する検査部１１１を備える。この検査部１１１は、液晶パネル２００のコントラスト、透過率を算出し、算出結果に基づいて液晶パネル２００の表示品位を示す値を生成してこれを検査結果として出力する。ここで、表示品位とは、例えば、液晶パネル２００の有する複数の画素の表示（コントラスト、透過率等）の均一性である。
また、制御部１１０は、駆動機構１２０の動作を制御する制御信号Ｃｔｒ１、及び、光学機構１００の動作を制御する制御信号Ｃｔｒ２を出力するとともに、液晶パネル２００が備える複数の画素で表示すべき階調を規定する映像信号ＶＩＤＥＯを液晶パネル２００に（液晶パネル２００の端子部４２０を介して）供給する。
【００２３】
入力部１５０は、液晶パネル２００の検査を行うために必要な検査条件を入力するためのユーザインタフェースである。
ここで、検査条件には、液晶パネル検査装置１が液晶パネル２００に対してどのような検査を行うかを表す検査種別情報、及び、検査対象となる液晶パネル２００の種別を表す検査対象情報が含まれる。より具体的には、入力部１５０からは、検査種別情報として、例えば、コントラストの検査、透過率の検査、等といった実施する検査の種別が入力されるとともに、検査対象情報として、例えば、透過型・反射型といったパネルの種類や、パネルのサイズ等の検査の対象に係る情報が入力される。
出力部１６０は、検査部１１１が算出した検査結果を表示するためのユーザインタフェースである。
【００２４】
図３乃至図５を参照しつつ、液晶パネル検査装置１のうち光学機構１００の構成を説明する。
図３は、光学機構１００の構成を説明するための説明図である。光学機構１００は、液晶パネル２００（反射型液晶パネル２００Ａ、透過型液晶パネル２００Ｂ）が設置されるパネル設置部９０、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に向けて光を出射する光源部１０、パネル設置部９０に設置された反射型液晶パネル２００Ａで反射された光の強さを検出する第１検出部７０、パネル設置部９０に設置された透過型液晶パネル２００Ｂを透過した光の強さを検出する第２検出部８０、及び、各種光学部材を具備する光学系１０１、を備える。
【００２５】
パネル設置部９０には、液晶パネル検査装置１の検査対象である反射型液晶パネル２００Ａまたは透過型液晶パネル２００Ｂのいずれか一方を設置することができる。反射型液晶パネル２００Ａは、図３において、入射面及び出射面が下向きになるようにパネル設置部９０に設置される。また、透過型液晶パネル２００Ｂは、図３において、入射面が下向き、すなわち、出射面が上向きになるようにパネル設置部９０に設置される。
光学系１０１は、各種光学部材として偏光ビームスプリッタ２０を含んで構成される。この光学系１０１は、光源部１０から出射された光を、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の一部に照射する。但し、光学系１０１は、光源部１０から出射された光を、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の全面に対して照射するものであってもよい。
なお、以下では、光源部１０（厳密には、後述する光源１１）から出射された光が、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に至る光路を、光路ＬＰ１と称する（図４または図５を参照）。
【００２６】
図４は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置された場合の、光学機構１００、及び、光源部１０から出射された光の光路を示す図である。
図４に示すように、光学系１０１（偏光ビームスプリッタ２０、入射側位相差補償部３０、第１集光部５０）は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置された場合に、光源部１０から出射された光のうち当該反射型液晶パネル２００Ａで反射された光を第１検出部７０に導く。
なお、以下では、光源部１０から出射された光のうちパネル設置部９０に設置された反射型液晶パネル２００Ａにより反射された光が第１検出部７０に至る光路を、光路ＬＰ２と称する。
すなわち、光学系１０１は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置された場合、光源部１０から出射された光を、光路ＬＰ１及び光路ＬＰ２を経由させて、第１検出部７０に導く。
【００２７】
図５は、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置された場合の、光学機構１００、及び、光源部１０から出射された光の光路を示す図である。
図５に示すように、光学系１０１（出射側位相差補償部４０、第２集光部６０）は、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置された場合に、光源部１０から出射された光のうち当該透過型液晶パネル２００Ｂを透過した光を第２検出部８０に導く。
なお、以下では、光源部１０から出射された光のうちパネル設置部９０に設置された透過型液晶パネル２００Ｂを透過した光が第２検出部８０に至る光路を、光路ＬＰ３と称する。
すなわち、光学系１０１は、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置された場合に、光源部１０から出射された光を、光路ＬＰ１及び光路ＬＰ３を経由させて、第２検出部８０に導く。
【００２８】
図３乃至図５に示すように、光源部１０は、光源１１、絞り１６、２つのインテグレータレンズ１４、及び、３つのコンデンサレンズ１５を備える。
光源１１は、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に向けて光を出力するものであり、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）が用いられる。なお、以下では、光源１１（厳密には、光源１１のうち光を出射する出射口１１Ｌ）を通り、且つ、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に垂直な直線を、直線ＡＸ１と称する。
絞り１６は、その開口部が直線ＡＸ１と交わるように配置され、光源１１から出力される光の進行方向を、光源１１からパネル設置部９０を向いた一定の範囲に制限する。
複数のコンデンサレンズ１５は、その光軸が直線ＡＸ１と一致するような位置（または、一致するとみなすことができるような位置）に配置される。複数のインテグレータレンズ１４も、直線ＡＸ１と交差する位置に設けられる。これら複数のコンデンサレンズ１５及び複数のインテグレータレンズ１４は、光源１１から出力される光を、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に向けて集光する。
このとき、光源部１０（光源１１）から出射された光は、光路ＬＰ１を通ってパネル設置部９０に設置された液晶パネル２００に至る。
【００２９】
また、光源部１０は、偏光変換素子１２、及び、偏光板１３を備える。
偏光変換素子１２は、光源１１からパネル設置部９０に配置された液晶パネル２００に至る光路ＬＰ１と交差するように配置される。偏光変換素子１２は、特定の直線偏光光である第１の直線偏光光（例えば、Ｐ偏光光）を透過させるとともに、第１の直線偏光光とは異なる偏光軸を有する第２の直線偏光光（例えば、Ｓ偏光光）を第１の直線偏光光に変換したうえで透過させる。例えば、偏光変換素子１２は、図３に示すように、偏光変換素子１２の下方に配置された光源１１から発せられる光のうち、第１の直線偏光光はそのまま図の上側に透過させる一方、第２の直線偏光光は第１の直線偏光光に変換したうえで図の上側に透過させる。その結果、偏光変換素子１２を透過して図の上側に進む光は、第１の直線偏光光に揃えられる。
偏光板１３は、光源１１からパネル設置部９０に配置された液晶パネル２００に至る光路ＬＰ１と交差するように配置される。偏光板１３は、第１の直線偏光光を透過させるとともに、第２の直線偏光光を反射させる。
すなわち、光源部１０からは、第１の直線偏光光が出射される。
【００３０】
光学系１０１は、各種光学部材として、上述した偏光ビームスプリッタ２０の他に、入射側位相差補償部３０、出射側位相差補償部４０、第１集光部５０、第２集光部６０、第１検出部７０、及び、第２検出部８０を備える。
【００３１】
偏光ビームスプリッタ２０は、図２に示した第１移動機構Ｃ１により位置が制御され、図３に示す位置Ｐ１ｉｎ（所定位置）または位置Ｐ１ｏｕｔに配置される。すなわち、第１移動機構Ｃ１は、偏光ビームスプリッタ２０を、位置Ｐ１ｉｎ及び位置Ｐ１ｏｕｔの一方から他方へと移動させることができる。ここで、位置Ｐ１ｉｎとは、光路ＬＰ１と交差する位置である。また、位置Ｐ１ｏｕｔとは、光路ＬＰ１と交差しない位置である。なお、偏光ビームスプリッタ２０が位置Ｐ１ｉｎに配置される場合、偏光ビームスプリッタ２０は、その反射面と直線ＡＸ１とのなす角が４５度となるように設けられている。
偏光ビームスプリッタ２０は、例えば、例えばワイヤーグリッド偏光フィルムを含んで構成され、第１の直線偏光光を透過させ、第２の直線偏光光を反射させる。
反射型液晶パネル２００Ａに第１の直線偏光光が照射された場合、当該照射された第１の直線偏光光は、反射型液晶パネル２００Ａにより偏光されつつ反射される。そのため、反射型液晶パネル２００Ａから出射される光（反射型液晶パネル２００Ａで反射された光）は、第２の直線偏光光を含む光となる。従って、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置される場合、光源部１０から出射された光のうち、反射型液晶パネル２００Ａで反射された光は、偏光ビームスプリッタ２０によって反射され、光路ＬＰ２を通って第１検出部７０に至ることになる。
なお、偏光ビームスプリッタ２０と第１検出部７０とを結ぶ直線で、直線ＡＸ１と垂直に交わる直線を、直線ＡＸ２と称する場合がある。また、直線ＡＸ１及び直線ＡＸ２を、光学機構１００（または、光学系１０１）の光軸と総称する場合がある。
【００３２】
本実施形態において、第１移動機構Ｃ１は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置されたときに、偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｉｎに配置し（図４参照）、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置されたときに、偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｏｕｔに配置する（図５参照）。
このため、光学系１０１は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置されたときに、反射型液晶パネル２００Ａで反射された光を第１検出部７０に導くことができる一方、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置されたときに、光源部１０から出射された光が偏光ビームスプリッタ２０を通過することで減少することを防止することが可能となる。
【００３３】
入射側位相差補償部３０は、位相差補償板（入射側位相差補償板）３１〜３４を備える。これら位相差補償板３１〜３４は、図２に示した第２移動機構Ｃ２により位置が制御され、図３乃至図５に示す位置Ｐ２ｉｎまたは位置Ｐ２ｏｕｔに配置される。具体的には、第２移動機構Ｃ２は、位相差補償板３１〜３４の各々を、位置Ｐ２ｉｎ及び位置Ｐ２ｏｕｔの一方から他方へと移動させることができる。
ここで、位置Ｐ２ｉｎとは、光路ＬＰ１と交差し、且つ、パネル設置部９０が設けられる位置と位置Ｐ１ｉｎとの間の位置である。すなわち、位置Ｐ２ｉｎとは、図４及び図５に示す光路ＬＰ１と交差し、且つ、図４に示す光路ＬＰ２とも交差する位置である。また、位置Ｐ２ｏｕｔとは、光路ＬＰ１及び光路ＬＰ２から外れた位置（すなわち、光路ＬＰ１及び光路ＬＰ２の双方と交差しない位置）である。
【００３４】
図２に示した回転機構Ｃ４は、位相差補償板３１及び３２を、直線ＡＸ１を回転軸として回転させることができる。なお、これら位相差補償板３１及び３２を「回転型位相差補償板」と称する場合がある。
また、回転機構Ｃ４は、位相差補償板３３を、図６（Ａ）に示す直線Ｌ１を回転軸として回転させることができる。なお、この位相差補償板３３を「第１傾斜型位相差補償板」と称する場合がある。ここで、直線Ｌ１とは、直線ＡＸ１に垂直に交わる平面π１上の直線（すなわち、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の表示部２１０と平行な平面上の直線）であり、且つ、平面π１（または、表示部２１０）に垂直な方向から見たときに、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００（表示部２１０）の長辺とのなす角度が４５°となる直線である。
さらに、回転機構Ｃ４は、位相差補償板３４を、図６（Ｂ）に示す直線Ｌ２を回転軸として回転させることができる。なお、この位相差補償板３４を「第２傾斜型位相差補償板」と称する場合がある。ここで、直線Ｌ２とは、直線ＡＸ１と垂直に交わる平面π２上の直線（すなわち、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の表示部２１０と平行な平面上の直線）であり、直線ＡＸ１及び直線Ｌ１の双方に直交する直線である。
この入射側位相差補償部３０は、位相差補償板３１〜３４のいずれかが位置Ｐ２ｉｎに配置されることで、パネル設置部９０に設置された反射型液晶パネル２００Ａに照射された光が、反射型液晶パネル２００Ａにおいて反射する際に生じる位相差を補償する。
【００３５】
第１集光部５０は、偏光板５２及び集光レンズ５３を備える。
偏光板５２は、図３において偏光ビームスプリッタ２０の右側（３時方向）に設けられ、
偏光ビームスプリッタ２０の反射成分である第２の直線偏光光を透過し、第１の直線偏光光を反射させる。集光レンズ５３は、その光軸が、直線ＡＸ２と一致するような位置（または、一致するとみなすことができるような位置）に配置される。この集光レンズ５３は、光源部１０より出射され、パネル設置部９０に設けられた反射型液晶パネル２００Ａにより反射された光のうち、偏光ビームスプリッタ２０で反射された光を、第１検出部７０に向けて集光する。
このように、偏光ビームスプリッタ２０及び集光レンズ５３は、反射型液晶パネル２００Ａで反射された光を、光路ＬＰ２を経由させて第１検出部７０に集光する。
【００３６】
第１検出部７０は、光の強さを検出するセンサを備える。ここで、光の強さとは、例えば、当該センサの受光面に照射された光の照度または光量である。第１検出部７０は、センサの検出結果を明度情報Ｂｒとして出力する。
【００３７】
出射側位相差補償部４０は、位相差補償板（出射側位相差補償板）４１〜４４を備える。これら位相差補償板４１〜４４は、図２に示した第３移動機構Ｃ３により位置が制御され、図３乃至図５に示す位置Ｐ３ｉｎまたは位置Ｐ３ｏｕｔに配置される。具体的には、第３移動機構Ｃ３は、位相差補償板４１〜４４の各々を、位置Ｐ３ｉｎ及び位置Ｐ３ｏｕｔの一方から他方へと移動させることができる。
ここで、位置Ｐ３ｉｎとは、光路ＬＰ３と交差する、パネル設置部９０と第２集光部６０との間の位置である。また、位置Ｐ３ｏｕｔとは、光路ＬＰ３から外れた位置（すなわち、光路ＬＰ３と交差しない位置）である。
【００３８】
図２に示した回転機構Ｃ４は、位相差補償板４１及び４２を、直線ＡＸ１を回転軸として回転させることができる。なお、これら位相差補償板４１及び４２を「回転型位相差補償板」と称する場合がある。
また、回転機構Ｃ４は、位相差補償板４３を、直線Ｌ１と平行で且つ直線ＡＸ１と交わる、位相差補償板４３上の直線を回転軸として回転させることができる。なお、この位相差補償板４３を「第１傾斜型位相差補償板」と称する場合がある。
さらに、回転機構Ｃ４は、位相差補償板４４を、直線Ｌ２と平行で且つ直線ＡＸ１と交わる、位相差補償板４３上の直線を回転軸として回転させることができる。なお、この位相差補償板４４を「第２傾斜型位相差補償板」と称する場合がある。
この出射側位相差補償部４０は、位相差補償板４１〜４４のいずれかが位置Ｐ３ｉｎに配置されることで、パネル設置部９０に設置された透過型液晶パネル２００Ｂに照射された光が、透過型液晶パネル２００Ｂを透過する際に生じる位相差を補償する。
【００３９】
第２集光部６０は、偏光板６２及び集光レンズ６３を備える。第２集光部６０は、直線ＡＸ１と交差し、且つ、第２検出部８０と位置Ｐ３ｉｎとの間の位置に設けられる。
偏光板６２は、直線ＡＸ１と交差する位置に設けられ、第２の直線偏光光を透過し、第１の直線偏光光を反射させる。
透過型液晶パネル２００Ｂに第１の直線偏光光が照射された場合、当該照射された第１の直線偏光光は、透過型液晶パネル２００Ｂにより偏光されつつ透過型液晶パネル２００Ｂを透過する。そのため、透過型液晶パネル２００Ｂから出射される光（透過した光）は、第２の直線偏光光を含む光となる。偏光板６２は、透過型液晶パネル２００Ｂを透過した第２の直線偏光光を透過する。
集光レンズ６３は、その光軸が、直線ＡＸ１と一致するような位置（または、一致するとみなすことができるような位置）に配置される。この集光レンズ６３は、光源部１０より出射され、パネル設置部９０に設けられた透過型液晶パネル２００Ｂを透過した光を、第２検出部８０に向けて集光する。すなわち、集光レンズ６３は、透過型液晶パネル２００Ｂを透過した光を、光路ＬＰ３を経由させて第２検出部８０に集光される。
【００４０】
第２検出部８０は、第１検出部７０と同様、光の強さを検出するセンサを備え、センサでの検出結果を明度情報Ｂｒとして出力する。
【００４１】
以上のように、液晶パネル検査装置１は、反射型液晶パネル２００Ａ及び透過型液晶パネル２００Ｂの双方を検査対象とすることが可能な光学機構１００を備える。そして、図２で示した制御部１１０及び駆動機構１２０は、光学機構１００を、反射型液晶パネル２００Ａまたは透過型液晶パネル２００Ｂのいずれかの液晶パネル２００の検査をすることができるように動作させる。このため、液晶パネル検査装置１は、反射型液晶パネル２００Ａ及び透過型液晶パネル２００Ｂの双方の液晶パネル２００について、コントラストや透過率等の各種画質検査を行うこと可能となる。
以下、制御部１１０及び駆動機構１２０による、光学機構１００の動作の制御について説明する。
【００４２】
制御部１１０及び駆動機構１２０は、上述のとおり、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の種類に応じて、光学機構１００の動作を制御する。
具体的には、まず、制御部１１０は、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の種類に応じて、第１検出部７０または第２検出部８０のいずれかの動作を停止させる。例えば、制御部１１０は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置されている場合、第１検出部７０のみから明度情報Ｂｒが出力されるように、第２検出部８０の動作を停止させ、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置されている場合、第２検出部８０のみから明度情報Ｂｒが出力されるように、第１検出部７０の動作を停止させる。
また、制御部１１０及び駆動機構１２０は、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の種類に応じて、偏光ビームスプリッタ２０を移動させる。すなわち、制御部１１０及び駆動機構１２０は、上述のとおり、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置される場合には、偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｉｎに配置し、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置される場合には、偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｏｕｔに配置する。
【００４３】
また、制御部１１０は、検査種別に応じて、光学機構１００の動作を制御する。
具体的には、制御部１１０及び駆動機構１２０は、例えば、液晶パネル検査装置１が液晶パネル２００のコントラストを検査する場合、入射側位相差補償部３０が具備する４つの位相差補償板のうち少なくとも１つを位置Ｐ２ｉｎに配置するとともに、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００が透過型液晶パネル２００Ｂであれば、出射側位相差補償部４０が具備する４つの位相差補償板のうち少なくとも１つを位置Ｐ３ｉｎに配置する。
また、制御部１１０及び駆動機構１２０は、例えば、液晶パネル検査装置１が液晶パネル２００の透過率を検査する場合、入射側位相差補償部３０を位置Ｐ２ｏｕｔに配置するとともに、出射側位相差補償部４０を位置Ｐ３ｏｕｔに配置する。
【００４４】
以下では、液晶パネル検査装置１が透過型液晶パネル２００Ｂのコントラストを検査する場合を例示して、液晶パネル検査装置１の動作を説明する。
なお、当該事例では、入力部１５０から、検査の対象が透過型液晶パネル２００Ｂである旨、及び、検査の種別がコントラストの検査である旨を示す検査情報が入力されていることを前提とする。
第１に、制御部１１０及び駆動機構１２０は、偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｏｕｔに配置するとともに、入射側位相差補償部３０を位置Ｐ２ｉｎに配置し、出射側位相差補償部４０を位置Ｐ３ｉｎに配置する。また、制御部１１０は、第２検出部８０のみから明度情報Ｂｒが出力されるように、第１検出部７０の動作を停止させる。
第２に、制御部１１０は、光源１１をオンして光源１１から光を出力させるとともに、パネル設置部９０に設置された透過型液晶パネル２００Ｂに対し、例えば画素のすべてを白画素にする白画像を表示させ、次に黒画素にする黒画像を表示させる映像信号ＶＩＤＥＯを供給する。
第３に、制御部１１０（検査部１１１）は、第２検出部８０から出力される、白画像が表示されているときの明度情報Ｂｒと、黒画像が表示されているときの明度情報Ｂｒとから、表示された黒画像に対する白画像の明るさの比を求める。
第４に、制御部１１０及び駆動機構１２０（回転機構Ｃ４）は、例えば位相差補償板３１を直線ＡＸ１に対して所定方向（例えば制御部１１０から見て時計回りに）微小角度（例えば０．２度）だけ回転させる。
以降、制御部１１０及び駆動機構１２０は、第２から第４までの動作を上記比が最大値を迎えるまで繰り返す。この動作が繰り返し実行されると、位相差補償板が微小角度ずつ回転しながら、液晶パネル２００において黒画像に対する白画像の明るさの比が求められる。そして、上記比が最大値を迎えたとき、位相差補償板が液晶パネル２００において生じる位相差を最適に補償する地点に調整されたとみなすことができる。このため、検査部１１１は、当該比の最大値を当該液晶パネル２００のコントラスト（比）として出力する。
なお、液晶パネル２００の位相差は個体毎に異なるが、ある範囲におおよそ限られているので、位相差補償板を３６０度全周にわかって回転させる必要はない。このため、検査に要する時間は短くて済む。
【００４５】
なお、上記では透過型液晶パネル２００Ｂのコントラストの検査を例示して説明したが、反射型液晶パネル２００Ａのコントラストの検査も、制御部１１０及び駆動機構１２０が偏光ビームスプリッタ２０を位置Ｐ１ｉｎに配置する点、及び、制御部１１０が第１検出部７０のみから明度情報Ｂｒが出力されるように第２検出部８０の動作を停止させる点、を除き、透過型液晶パネル２００Ｂのコントラストの検査と同様である。
【００４６】
また、液晶パネル検査装置１は、液晶パネル２００の透過率を、パネル設置部９０に液晶パネル２００が設置されていない状態において光学機構１００から出力される明度情報Ｂｒと、パネル設置部９０に液晶パネル２００が設置された状態において光学機構１００から出力される明度情報Ｂｒと、に基づいて算出することができる。
この場合、制御部１１０及び駆動機構１２０は、液晶パネル２００において生じる位相差を補償するための機構、すなわち、入射側位相差補償部３０及び出射側位相差補償部４０を、光路と交差しない位置（つまり、位置Ｐ２ｏｕｔ、位置Ｐ３ｏｕｔ）に配置してもよい。これにより、入射側位相差補償部３０及び出射側位相差補償部４０における、光の反射等を防止し、液晶パネル２００の透過率を正確に測定することが可能となるとともに、光源１１からの光を有効利用することができる。
なお、液晶パネル２００が反射型である場合には、パネル設置部９０に液晶パネル２００が設置されていない状態において光学機構１００から出力される明度情報Ｂｒとして、第２検出部８０が出力する明度情報Ｂｒを用いればよい。
【００４７】
以上で説明したように、本実施形態に係る液晶パネル検査装置１は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置された場合に、当該反射型液晶パネル２００Ａが反射した光を第１検出部７０に導き、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置された場合に、当該透過型液晶パネル２００Ｂが透過した光を第２検出部８０に導く光学系１０１を備えるため、反射型及び透過型の双方の液晶パネル２００についての画質を検査することが可能である。すなわち、反射型及び透過型の双方の液晶パネルについて、同一の液晶パネル検査装置１を用いて画質の検査を行うことができる。このため、液晶パネル２００の種別に応じて、異なる液晶パネル検査装置を準備する場合に比べて、液晶パネル検査装置の設置場所の省スペース化、及び、液晶パネルの検査に係るコストの低減を図ることができる。
また、液晶パネル検査装置１は、反射型液晶パネル２００Ａを検査する場合と、透過型液晶パネル２００Ｂを検査する場合の双方の場合に対して、制御部１１０（及び、制御部１１０で実行されるソフトウェア）、光源部１０、入射側位相差補償部３０、パネル設置部９０を共通で使用する。このため、本実施形態によれば、液晶パネル２００の種別に応じて異なるになる液晶パネル検査装置を準備する場合に比べて、液晶パネルの検査に係るコストを低減することができる。
【００４８】
また、本実施形態に係る液晶パネル検査装置１は、制御部１１０及び駆動機構１２０が、入射側位相差補償部３０及び出射側位相差補償部４０が備える位相差補償板を、検査種別に応じた適切な位置に配置する。
このため、検査の種別に応じて異なる液晶パネル検査装置を個別に用意する場合に比べて、液晶パネル検査装置の設置場所の省スペース化と、液晶パネルの検査に係るコストの低減が可能となる。
【００４９】
また、本実施形態によれば、光源１１から発せられた拡散光は、コンデンサレンズ１５等によって集光されて、パネル設置部９０に設置された液晶パネル２００の一部に照射される。当該液晶パネル２００で反射された光（または透過した光）は、再び拡散光になるが、集光レンズ５３（または集光レンズ６３）によって集光されて第１検出部７０（または第２検出部８０）に導かれるので、検査にあたってスクリーンを用いる必要がなく、設置場所に制限を受けにくい。このため、省スペースで検査することが可能である。
また、液晶パネル２００のコントラストの検査にあたっては、黒の検出時における周辺光が誤差の大きな要因となり得るが、本実施形態においては、第１検出部７０（または第２検出部８０）には、液晶パネル２００で反射された光（または透過した光）が集光されて入射するので、迷光の影響を受けにくい。このためコントラストの検査精度を高めことが可能である。
また、本実施形態では、液晶パネル２００の全面ではなく一部に、集光した光を照射するので、出力の弱いＬＥＤを光源１１に用いても、ハロゲンランプやキセノンランプと同等な光束を液晶パネル２００に入射させることができる。このため、プロジェクターに組み込む前の液晶パネル２００を、安価に、かつ、低消費電力で、組み込んだときと同等な光束でコントラスト検査することが可能になる。特に、本実施形態では、光源部１０が、光源１１から出射された第２の直線偏光光を第１の直線偏光光に変換する偏光変換素子１２を備えるため、偏光変換素子１２を備えない場合に比べて、光源部１０が出力できる光量を多くする（光源１１が出射する光を有効活用する）ことができる。そのため、光源１１に出力の弱いＬＥＤを用いることができ、液晶パネルの検査の低消費電力化及び低コスト化が可能となる。
【００５０】
＜変形例＞
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、例えば次に述べるような各種の変形が可能である。また、次に述べる変形の態様は、任意に選択された一または複数を相互に矛盾しない範囲内で適宜に組み合わせることもできる。
【００５１】
＜変形例１＞
上述した実施形態では、光源１１にＬＥＤを用いるが、ハロゲンランプやキセノンランプなどのように液晶パネル２００を組み込むプロジェクターと同タイプのものや、固体光源としてＬＥＤ以外の例である半導体レーザーを用いても良い。ハロゲンランプやキセノンランプなどを用いることで、組み込むプロジェクターと同波長の光で検査することが可能になる。
さらに、本実施形態では、光源１１から出射される光は、コンデンサレンズ１５等により集光されて液晶パネル２００の一部に入射するため、光源１１にハロゲンランプやキセノンランプなどを用いる場合でも光量を落とすことができる。このため、光源１１の寿命の延命化が図られ、検査コストを低減することも可能になる。
【００５２】
＜変形例２＞
上述した実施形態及び変形例に係る光源部１０は、複数のコンデンサレンズ１５及び複数のインテグレータレンズ１４の一部が、偏光変換素子１２よりも光源１１側に設けられるが、複数のコンデンサレンズ１５及び複数のインテグレータレンズ１４の全部を、偏光変換素子１２よりも光源１１側に設けてもよい。但し、この場合には、偏光変換素子１２は、偏光板１３よりも光源１１側に設けられることが好ましい。
また、偏光変換素子１２を、複数のコンデンサレンズ１５及び複数のインテグレータレンズ１４よりも、光源１１側に設けてもよい。この場合、偏光板１３を、偏光変換素子１２とコンデンサレンズ１５及びインテグレータレンズ１４の間に設けてもよい。
また、上述した実施形態及び変形例では、偏光板５２を、集光レンズ５３の入射側に配置させたが、集光レンズ５３の出射側に配置しても良い。同様に、偏光板６２を、集光レンズ６３の出射側に配置してもよい。
【００５３】
＜変形例３＞
上述した実施形態及び変形例において、絞り１６とは別の絞りを、集光レンズ５３と第１検出部７０との間に設けて、第１検出部７０に到達する光束を自在に調整しても良い。同様に、集光レンズ６３と第２検出部８０との間に絞りを設けてもよい。
また、上述した実施形態及び変形例では、光源部１０は絞り１６を備えるが、光源部１０は絞り１６を備えない構成であってもよい。
【００５４】
＜変形例４＞
上述した実施形態及び変形例において、液晶パネル２００は、プロジェクターのライトバルブとして用いられるものであったが、プロジェクター以外の電子機器に適用されるものであってもよい。
例えば、液晶パネル２００は、パーソナルコンピューター、携帯電話機、携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）、スマートフォン、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、車載用の表示器（インパネ）、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンター、スキャナー、複写機、ビデオプレーヤー、タッチパネルを備えた機器等に適用されるものであってもよい。
【００５５】
＜変形例５＞
上述した実施形態及び変形例において、光源部１０は、３つのコンデンサレンズ１５及び２つのインテグレータレンズ１４を備えるものであるが、本発明はこのような形態に限定されるものではなく、光源部１０は、コンデンサレンズ１５を少なくとも１つ備えるものであればよい。
また、上述した実施形態及び変形例において、第１集光部５０は、２つの集光レンズ５３を備えるが、集光レンズ５３を１つ備えるものであってもよく、または、３つ以上備えるものであってもよい。同様に、第２集光部６０は、集光レンズ６３を１つ備えるものであってもよく、３つ以上備えるものであってもよい。
【００５６】
＜変形例６＞
上述した実施形態及び変形例において、偏光ビームスプリッタ２０は、パネル設置部９０に反射型液晶パネル２００Ａが設置される場合には位置Ｐ１ｉｎに配置され（図４参照）、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置される場合には位置Ｐ１ｏｕｔに設置されるが（図５参照）、本発明はこのような態様に限定されるものではなく、パネル設置部９０に透過型液晶パネル２００Ｂが設置される場合に、偏光ビームスプリッタ２０が位置Ｐ１ｉｎに配置されるものであってもよい。
この場合であっても、光源部１０から出射される第１の直線偏光光は、偏光ビームスプリッタ２０を透過して透過型液晶パネル２００Ｂに至るため、透過型液晶パネル２００Ｂの画質の検査を行うことができる。
【００５７】
＜変形例７＞
上述した実施形態及び変形例において、入力部１５０から入力される検査条件には、検査種別情報及び検査対象情報が含まれたが、これ以外の情報を含むものであってもよい。例えば、駆動機構１２０の動作、あるいは、光学系１０１が備える位相差補償板等の各種光学部材が配置される位置等を直接指定する情報を含むものであってもよい。
【００５８】
＜変形例８＞
上述した実施形態及び変形例において、光学系１０１が備える位相差補償板等の各種光学部材の配置位置は、制御信号Ｃｔｒ１に基づいて駆動機構１２０が移動させるものであるが、例えば、液晶パネル検査装置１のオペレータが手動で移動させるものであってもよい。
【００５９】
＜変形例９＞
上述した実施形態及び変形例において、光源部１０、偏光ビームスプリッタ２０、入射側位相差補償部３０、パネル設置部９０、出射側位相差補償部４０、第２集光部６０、及び、第２検出部８０は、直線ＡＸ１と交差する位置に直線状に配置されるものであったが、光学機構１００の配置はこのような形態に限定されるものではない。
例えば、図３において、偏光ビームスプリッタ２０の右側に光源部１０が配置され、偏光ビームスプリッタ２０の下側に第１集光部５０及び第１検出部７０が配置されるものであってもよい。この例において、光源部１０が第１の直線偏光光を出射する場合には、偏光ビームスプリッタ２０は、第１の直線偏光光を反射するとともに、第２の直線偏光光を透過するものであればよい。
【００６０】
＜変形例１０＞
上述した実施形態及び変形例において、第１の直線偏光光はＰ偏光光であり、第２の直線偏光光はＳ偏光光であるが、本発明はこのような態様に限定されるものではなく、第１の直線偏光光は、任意の直線偏光光であればよく、第２の直線偏光光は、第１の直線偏光光とは異なる偏光軸を有する直線偏光光であればよい。
【符号の説明】
【００６１】
１……液晶パネル検査装置、２００……液晶パネル、２００Ａ……反射型液晶パネル、２００Ｂ……透過型液晶パネル、１００……光学機構、１０……光源部、１１……光源、７０……第１検出部、８０……第２検出部、９０……パネル設置部、１０１……光学系、２０……偏光ビームスプリッタ、３０、４０……位相差補償部、５０、６０……集光部、１１０……制御部、１１１……検査部、１２０……駆動機構、Ｃ１〜Ｃ３……移動機構。
【図１】
2014010208.tif 000003
【図２】
2014010208.tif 000004
【図３】
2014010208.tif 000005
【図４】
2014010208.tif 000006
【図５】
2014010208.tif 000007
【図６】
2014010208.tif 000008