(57)【要約】【課題】劣化量を精度良く求めるとともに、求めた劣化量に応じて輝度を補正することが可能な、自発光表示装置を提供する。【解決手段】電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得部と、供給される映像信号に基づき画像を各前記画素に表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出部と、前記劣化量算出部が算出した劣化量を、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新部と、を備える、自発光表示装置が提供される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得部と、
供給される映像信号に基づき画像を各前記画素に表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出部と、
前記劣化量算出部が算出した劣化量に、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量を反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新部と、
を備える、自発光表示装置。
【請求項２】
前記劣化量算出部は、前記累積劣化量に基づき生成される補正データに基づいてゲインが補正された後の前記映像信号に対して前記劣化量を算出する、請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項３】
前記累積劣化量に基づいて補正データを生成し、供給される前記映像信号に該補正データを適用する映像信号補正部を更に備える、請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項４】
前記映像信号補正部は、供給される前記映像信号に適用するゲインを前記累積劣化量に基づいて生成する、請求項３に記載の自発光表示装置。
【請求項５】
前記映像信号補正部は、供給される前記映像信号に適用するオフセット量を前記累積劣化量に基づいて生成する、請求項３に記載の自発光表示装置。
【請求項６】
前記劣化量算出部は、供給される映像信号の輝度における劣化特性を、予め用意されている劣化特性から線形補間によって算出し、算出した劣化特性を用いて劣化量を算出する、請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項７】
前記累積劣化量は、複数の画素を１つのブロックとするブロック単位で保持され、
前記劣化量取得部は、ブロック間の補間によって各画素に対する累積劣化量を取得する、請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項８】
前記累積情報更新部は、前記映像信号の供給中における所定の期間中に、前記劣化量算出部が算出した劣化量に、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量を反映させて新たな累積劣化量として更新する、請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項９】
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、
供給される映像信号に基づき画像を表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、
前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、
を備える、自発光表示装置の制御方法。
【請求項１０】
コンピュータに、
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、
供給される映像信号に基づき画像を表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、
前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、
を実行させる、コンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、自発光表示装置、自発光表示装置の制御方法及びコンピュータプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
平面で薄型の表示装置として、液晶を用いた液晶表示装置、プラズマを用いたプラズマ表示装置等が実用化されている。
【０００３】
液晶表示装置は、バックライトを設け、電圧の印加によって液晶分子の配列を変化させることでバックライトからの光を通過させたり遮断したりすることで画像を表示する表示装置である。また、プラズマ表示装置は、基板内に封入されたガスに対して電圧を印加することでプラズマ状態となり、プラズマ状態から元の状態に戻る際に生じるエネルギーによって発生する紫外線が、蛍光体に照射されることで可視光となり、画像を表示する表示装置である。
【０００４】
一方、近年においては、電圧を印加すると素子自体が発光する有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）素子を用いた自発光型の表示装置の開発が進んでいる。有機ＥＬ素子は、電解によってエネルギーを受けると、基底状態から励起状態へ変化し、励起状態から基底状態に戻るときに、差分のエネルギーを光として放出する。有機ＥＬ表示装置は、この有機ＥＬ素子が放出する光を用いて画像を表示する表示装置である。
【０００５】
自発光型表示装置は、バックライトを必要とする液晶表示装置とは異なり、素子が自ら発光するためにバックライトを必要としないため、液晶表示装置に比べて薄く構成することが可能である。また、液晶表示装置と比べて、動画特性、視野角特性、色再現性等が優れているため、有機ＥＬ素子を用いた自発光型表示装置は次世代の平面薄型表示装置として注目されている。
【０００６】
自発光型表示装置は素子が自ら発光するために、発光を続けると発光素子の劣化が生じる。そして、発光素子は色の三原色である赤、緑、青のそれぞれで異なる劣化特性を有している。従って、発光素子の劣化に伴って赤、緑、青の３色の発光バランスが崩れてしまい、その結果、画像の色温度が所望するものと異なって画面に表示されてしまう。このような現象は、一般的に焼き付き現象と呼ばれている。そこで、特許文献１では、映像信号から発光時間を算出し、算出した発光時間から発光素子の輝度を取得して、取得した輝度の情報に基づいて焼き付きの補正を行う技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】国際公開第２００８／１４３１３０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記特許文献１で開示された技術は、上述したように映像信号から発光時間を算出し、算出した発光時間から発光素子の輝度を取得して、焼き付きを補正していたが、ある特定の輝度による劣化特性を用いて焼き付きの補正を行うものであった。しかし、有機ＥＬ素子を用いた自発光型表示装置は輝度に応じて劣化特性は異なるので、劣化量をより精度よく求めるとともに、その劣化量に応じて焼き付きを補正する自発光型表示装置が求められている。
【０００９】
そこで本開示は、劣化量を精度良く求めるとともに、求めた劣化量に応じて輝度を補正することが可能な、新規かつ改良された自発光表示装置、自発光表示装置の制御方法及びコンピュータプログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本開示によれば、電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得部と、供給される映像信号に基づき画像を各前記画素に表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出部と、前記劣化量算出部が算出した劣化量を、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新部と、を備える、自発光表示装置が提供される。
【００１１】
また本開示によれば、電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、供給される映像信号に基づき画像を各前記画素に表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、を備える、自発光表示装置の制御方法が提供される。
【００１２】
また本開示によれば、コンピュータに、電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、供給される映像信号に基づき画像を表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、を実行させる、コンピュータプログラムが提供される。
【発明の効果】
【００１３】
以上説明したように本開示によれば、劣化量を精度良く求めるとともに、求めた劣化量に応じて輝度を補正することが可能な、新規かつ改良された自発光表示装置、自発光表示装置の制御方法及びコンピュータプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０の構成例について説明する説明図である。
【図２】表示制御部１００の構成例を示す説明図である。
【図３】本開示の一実施形態に係る補正データ記憶部１１０の構成例を示す説明図である。
【図４】本開示の一実施形態に係る全体輝度制御部１０２の構成例を示す説明図である。
【図５】本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０５の構成例を示す説明図である。
【図６】本開示の一実施形態に係る焼き付き検波部１０７の構成例を示す説明図である。
【図７】本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０８の構成例を示す説明図である。
【図８】表示制御部１００での焼き付きの補正処理の概要を示す説明図である。
【図９】補正データの線形補間処理の概要について示す説明図である。
【図１０】補正データのアップコンバート処理の概要について示す説明図である。
【図１１】本開示の一実施形態に係る表示制御部１００の動作を示す流れ図である。
【図１２】本開示の一実施形態に係る表示制御部１００の動作を示す流れ図である。
【図１３】複数の階調についての劣化特性のルックアップテーブルを示す説明図である
【図１４】図１３に示したルックアップテーブルに対応する、複数の階調についての劣化特性を示す説明図である。
【図１５】複数の階調についての劣化特性のルックアップテーブルを示す説明図
【図１６】図１５に示したルックアップテーブルに対応する、複数の階調についての劣化特性を示す説明図である。
【図１７】焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を説明する説明図である。
【図１８】焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を説明する説明図である。
【図１９】５０階調における傾きを線形補間によって求める際のグラフを示す説明図である。
【図２０】傾きの関係を示す説明図である。
【図２１】ルックアップテーブルの格子を跨ぐ場合の例を示す説明図である。
【図２２】温度パラメータとルックアップテーブルとの関係を示す説明図である。
【図２３】温度パラメータの値が１５０の場合における傾きを、劣化量算出部１３２が線形補間によって求める際のグラフを示す説明図である。
【図２４】累積効率の格子単位での平均化を示す説明図である。
【図２５】累積効率蓄積データが更新される様子をグラフで示す説明図である。
【図２６】累積シフト量蓄積データが更新される様子をグラフで示す説明図である。
【図２７】焼き付き補正部１０５’の構成例を示す説明図である。
【図２８】焼き付き検波部１０７’の構成例を示す説明図である。
【図２９】焼き付き補正部１０８’の構成例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１６】
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．本開示の一実施形態＞
［自発光表示装置の構成例］
［表示制御部の構成例］
［自発光表示装置の動作例］
＜２．まとめ＞
【００１７】
＜１．本開示の一実施形態＞
［自発光表示装置の構成例］
まず、図面を参照しながら本開示の一実施形態に係る自発光表示装置の構成例について説明する。図１は、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０の構成例について説明する説明図である。以下、図１を用いて本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０の構成例について説明する。
【００１８】
図１に示した自発光表示装置１０は、電圧を印加すると素子自体が発光する有機ＥＬ素子を用いた有機ＥＬ表示パネル２００で映像を表示する装置である。図１に示したように、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０は、表示制御部１００と、有機ＥＬ表示パネル２００と、を含んで構成される。自発光表示装置１０は、映像信号の供給を受けると、その映像信号を分析して、分析した内容に従って、有機ＥＬ表示パネル２００の内部に配置される画素を点灯することで、有機ＥＬ表示パネル２００を通じて映像を表示するものである。
【００１９】
表示制御部１００は、自発光表示装置１０に供給される映像信号に対して信号処理を施して、有機ＥＬ表示パネル２００で映像を表示するための信号を有機ＥＬ表示パネル２００に供給する。表示制御部１００が実行する信号処理には、例えば表示時の輝度を制御する処理、有機ＥＬ表示パネル２００に画面が焼き付かないようにするための焼き付き防止処理等がある。表示制御部１００の詳細な構成については後に詳述する。
【００２０】
有機ＥＬ表示パネル２００は、上述したように電圧を印加すると素子自体が発光する有機ＥＬ素子を用いた表示パネルであり、有機ＥＬ素子を有する画素がマトリクス状に配置された構成を有する。図１には図示しないが、有機ＥＬ表示パネル２００は、所定の走査周期で画素を選択する走査線と、画素を駆動するための輝度情報を与えるデータ線と、輝度情報に基づいて電流量を制御し、電流量に応じて発光素子である有機ＥＬ素子を発光させる画素回路とが、マトリクス状に配置されて構成されており、このように走査線、データ線および画素回路が構成されていることで、自発光表示装置１０は映像信号に従って映像を表示することができる。
【００２１】
本開示の一実施形態に係る有機ＥＬ表示パネル２００は、Ｒ（赤）Ｇ（緑）Ｂ（青）の色の三原色で画像を表示する表示パネルであってもよく、色の三原色に加えＷ（白）を入れた４色で画像を表示する表示パネルであってもよい。以下の説明では、本開示の一実施形態に係る有機ＥＬ表示パネル２００はＲ、Ｇ、Ｂ、Ｗの４色で画像を表示する表示パネルであるとして説明する。
【００２２】
以上、図１を用いて本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０の構成例について説明した。次に、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０に含まれる表示制御部１００の構成例について説明する。
【００２３】
［表示制御部の構成例］
図２は、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０に含まれる表示制御部１００の構成例を示す説明図である。以下、図２を用いて本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０に含まれる表示制御部１００の構成例について説明する。
【００２４】
図２に示したように、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００は、リニアガンマ回路１０１と、全体輝度制御部１０２と、ＷＲＧＢ変換部１０３と、電流密度補正部１０４と、焼き付き補正部１０５、１０８と、ガンマ変換部１０６と、焼き付き検波部１０７と、階調変換部１０９と、補正データ記憶部１１０と、を含んで構成される。
【００２５】
リニアガンマ回路１０１は、入力に対する出力がガンマ特性を有する映像信号を、ガンマ特性からリニア特性を有するように変換する信号処理を行うものである。リニアガンマ回路１０１で入力に対する出力がリニア特性を有するように信号処理を行うことで、有機ＥＬ表示パネル２００で表示する画像に対する様々な処理が容易になる。リニアガンマ回路１０１は、変換後の信号を全体輝度制御部１０２に供給する。
【００２６】
全体輝度制御部１０２は、リニアガンマ回路１０１から供給される映像信号に対して、全体的に一律な輝度の制御を実行する。具体的には後述するが、全体輝度制御部１０２は、後述の焼き付き補正部１０５でのゲイン制御に先立って、補正データ記憶部１１０に格納されている補正データを用いて、映像信号に対する、一律に輝度を低下させる制御を実行する。全体輝度制御部１０２は、輝度制御後の映像信号をＷＲＧＢ変換部１０３に供給する。
【００２７】
ＷＲＧＢ変換部１０３は、輝度制御が行われた映像信号を、Ｒ、Ｇ、Ｂ、Ｗの４色で映像を有機ＥＬ表示パネル２００で表示するための映像信号に変換する。ＷＲＧＢ変換部１０３によって変換された映像信号は、電流密度補正部１０４へ供給される。
【００２８】
電流密度補正部１０４は、ＷＲＧＢ変換部１０３から供給される映像信号に対する信号処理により、電流密度を補正する。Ｗの画素は、信号の階調によって色度変化を起こす。電流密度補正部１０４はそのＷの画素で生じる色度変化を補正する。電流密度補正部１０４による補正処理の一例を説明する。電流密度補正部１０４は、Ｗ画素の階調に応じた補正ＬＵＴ（ΔＲ，ΔＧ，ΔＢ）を予め用意しておき、ＷＲＧＢ変換部１０３から供給される映像信号の内のＲ、Ｇ、Ｂに対し、ＬＵＴから取得した補正値（ΔＲ，ΔＧ，ΔＢ）を加算する。ΔＲ，ΔＧ，ΔＢは正負両方の値を採り得る補正値である。
【００２９】
電流密度補正部１０４による補正処理で用いられる補正値は、画素の経時劣化によって変化する。そこで電流密度補正部１０４は、焼き付き補正部１０５から供給される補正データを用いてＷ画素の劣化状態を取得し、Ｗ画素の劣化状態に応じて参照する補正ＬＵＴを切り替えて補正値を算出する。電流密度補正部１０４は、補正後の映像信号を焼き付き補正部１０５に供給する。
【００３０】
焼き付き補正部１０５は、電流密度補正部１０４から供給される映像信号に対し、補正データ記憶部１１０に格納されている補正データを用いて映像信号に対してゲインを適用することで、焼き付きを補正する。焼き付き補正部１０５は、映像信号に対してゲインを適用することで、焼き付きが生じてしまった場合でも、ムラの無い画像を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させることが出来る。焼き付き補正部１０５は、ゲインを適用した映像信号をパネルガンマ回路１０６及び焼き付き検波部１０７に供給する。
【００３１】
パネルガンマ回路１０６は、焼き付き補正部１０５から供給される映像信号に対し、有機ＥＬ表示パネル２００が備えるトランジスタのＶＩ特性を打ち消すために、有機ＥＬ表示パネル２００固有のガンマ曲線とは逆のガンマ曲線を掛け合わせる処理を実行する。パネルガンマ回路１０６は、有機ＥＬ表示パネル２００固有のガンマ曲線とは逆のガンマ曲線を掛け合わせる処理を実行した後の映像信号を焼き付き補正部１０８に供給する。
【００３２】
焼き付き検波部１０７は、焼き付き補正部１０５から供給される映像信号に対して、その映像信号に基づいて有機ＥＬ表示パネル２００で映像を表示した場合の画素の劣化量を推定する。焼き付き検波部１０７は、画素の劣化量を推定すると、その推定した劣化量から導出されるデータを、焼き付き補正部１０５、１０８で使用される補正データとして用いるために補正データ記憶部１１０に格納する。焼き付き検波部１０７の構成については後に詳述する。
【００３３】
焼き付き補正部１０８は、パネルガンマ回路１０６から供給される映像信号に対し、補正データ記憶部１１０に格納されている補正データを用いて、映像信号に対してオフセットを適用することで、焼き付きを補正する。焼き付き補正部１０８は、オフセットを適用した映像信号を階調変換部１０９に供給する。
【００３４】
階調変換部１０９は、焼き付き補正部１０８から供給される映像信号に対し、入力される映像信号より出力される映像信号の方が高い階調となるように階調を変換して出力する。階調変換部１０９は、入力より高い階調となるように階調を変換することで、有機ＥＬ表示パネル２００に高階調の映像を表示させることが出来る。
【００３５】
補正データ記憶部１１０は、全体輝度制御部１０２及び焼き付き補正部１０５、１０８による輝度制御処理において用いられる補正データを記憶する。詳細な構成は後述するが、補正データ記憶部１１０は、例えばフラッシュメモリと、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ（Ｄｏｕｂｌｅ−Ｄａｔａ−Ｒａｔｅ  Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）とで構成される。フラッシュメモリには、上述した輝度制御処理で用いられる補正データが格納されるが、自発光表示装置１０の起動時や、起動後の任意のタイミングにおいて、補正データ記憶部１１０は、フラッシュメモリに格納されている補正データをＤＤＲ  ＳＤＲＡＭに読み出す。全体輝度制御部１０２及び焼き付き補正部１０５、１０８は、輝度制御処理の際にＤＤＲ  ＳＤＲＡＭに読み出されている補正データを用いる、そして焼き付き検波部１０７は、画素の劣化量を推定すると、その劣化量から導出されるデータをＤＤＲ  ＳＤＲＡＭに書き込む。
【００３６】
以上、図２を用いて本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０に含まれる表示制御部１００の構成例について説明した。続いて、図２に示した表示制御部１００に含まれる各部の詳細な構成について説明する。
【００３７】
図３は、本開示の一実施形態に係る補正データ記憶部１１０の構成例を示す説明図である。以下、図３を用いて本開示の一実施形態に係る補正データ記憶部１１０の構成例について説明する。
【００３８】
図３に示したように、本開示の一実施形態に係る補正データ記憶部１１０は、フラッシュメモリ１５０と、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０と、を含んで構成される。
【００３９】
フラッシュメモリ１５０は、上述したように全体輝度制御部１０２及び焼き付き補正部１０５、１０８による輝度制御処理において用いられる補正データを記憶する。しかし、フラッシュメモリ１５０は、一般的にデータの書き込みに時間が掛かるので、焼き付き検波部１０７で生成されたデータの逐次更新には適さない。そこで、補正データ記憶部１１０は、図３に示すようにＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０を含んで構成される。ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０は、フラッシュメモリ１５０に比べて一般的にデータの書き込み時間が短いので、焼き付き検波部１０７で生成されたデータの逐次更新に適している。
【００４０】
そして図３に示したように、フラッシュメモリ１５０には、累積効率蓄積データ１５１と、累積シフト量蓄積データ１５２が格納され、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０には、累積効率蓄積データ１５１を基にした補正データ１６１及び累積効率蓄積データ１６２、並びに累積シフト量蓄積データ１５２を基にした累積シフト量蓄積データ１６３及び補正データ１６４が格納される。
【００４１】
上述したように、自発光表示装置１０の起動時に、補正データ記憶部１１０は、フラッシュメモリ１５０に格納されている補正データをＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に読み出す。本実施形態では、累積効率蓄積データ１５１及び累積シフト量蓄積データ１５２はそれぞれ２４ビットのビット長を有する。
【００４２】
累積効率蓄積データ１５１はＲ・Ｇ・Ｂの各色についてそれぞれ２４ビットのビット長のデータを有すると共に、ＷについてはＹ成分とＺ成分についてそれぞれ２４ビットのビット長のデータを有する。累積シフト量蓄積データ１５２はＲ・Ｇ・Ｂ・Ｗの各色についてそれぞれ２４ビットのビット長のデータを有する。つまり、累積効率蓄積データ１５１は５種類の、累積シフト量蓄積データ１５２は４種類のデータを有する。
【００４３】
累積効率蓄積データ１５１は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０への展開時に、上位１０ビットが補正データ１６１となり、また下位８ビットに所定のビット（例えば「１」）が追加されることで、３２ビットの累積効率蓄積データ１６２となる。同様に、累積効率蓄積データ１５１は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０への展開時に、上位１０ビットが補正データ１６４となり、また下位８ビットに所定のビット（例えば「０」）が追加されることで、３２ビットの累積シフト量蓄積データ１６３となる。
【００４４】
以上、図３を用いて本開示の一実施形態に係る補正データ記憶部１１０の構成例について説明した。次に、本開示の一実施形態に係る全体輝度制御部１０２の構成例について説明する。
【００４５】
図４は、本開示の一実施形態に係る全体輝度制御部１０２の構成例を示す説明図である。図４に示した全体輝度制御部１０２は、後段の焼き付き補正部１０５での焼き付き補正処理に先立って、入力される映像信号の輝度を画面全体で一律に低下させる制御を実行するよう構成されている。図４に示したように、本開示の一実施形態に係る全体輝度制御部１０２は、最小値検出部１１１と、最小値選択部１１２と、乗算器１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃと、を含んで構成される。
【００４６】
最小値検出部１１１は、フラッシュメモリ１５０に格納されている、Ｒ・Ｇ・Ｂ及びＷのＹ成分の累積効率蓄積データ１５１の中から最小値を検出する。最小値検出部１１１は、累積効率蓄積データ１５１の最小値を検出することで、最も劣化している画素を検出することができる。最小値検出部１１１は、累積効率蓄積データ１５１の最小値を最小値選択部１１２に供給する。最小値検出部１１１はフラッシュメモリ１５０に格納されている累積効率蓄積データ１５１の中から最小値を検出するので、自発光表示装置１０の起動時に最小値の計算を実行し、全体輝度制御の際には当該計算によって得られた固定値を最小値選択部１１２へ出力する。
【００４７】
最小値選択部１１２は、最小値検出部１１１から供給された累積効率蓄積データ１５１の最小値及びパラメータを用いて、最小値を選択して乗算器１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃへ出力する。乗算器１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃは、最小値選択部１１２から出力されたゲインをＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの信号に乗算し、ＷＲＧＢ変換部１０３に出力する。
【００４８】
以上、図４を用いて本開示の一実施形態に係る全体輝度制御部１０２の構成例について説明した。次に、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０５の構成例について説明する。
【００４９】
図５は、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０５の構成例を示す説明図である。図５に示した焼き付き補正部１０５は、映像信号の輝度を画面全体で一律に低下させる制御が実行された映像信号に対し、補正データ１６１を用いたゲインの適用により焼き付きを補正するよう構成されている。図５に示したように、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０５は、補正データ格子補間部１２１と、ゲイン値算出部１２２と、乗算器１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄと、を含んで構成される。また図５には、電流密度補正部１０４も併せて図示されている。なお、「ｕｘ＿ｙ（＿ｚ）」は、符号無しのｙビットデータであり、精度がｚビットであり、ゲインの適用により入力に対してｘビット倍までの値を取りうることを示したものである。つまり、「ｕ２＿１０＿６」は、符号無しの１０ビットデータであり、精度が６ビットであり、入力に対して４倍までの値を取りうることを示す。
【００５０】
補正データ格子補間部１２１は、補正データ１６１に対する補間処理を実行する。後述するが、補正データ１６１は、全ての画素について存在するものではなく、所定の格子状の補正幅で１つずつ存在する。従って補正データ格子補間部１２１は、全ての画素に対して焼き付きを補正するために、線形補間によって補正データ１６１を全ての画素に展開する。補正データ格子補間部１２１は、全ての画素に展開した後の補正データをゲイン値算出部１２２に供給する。また、補正データ格子補間部１２１は、全ての画素に展開した後の補正データの内、ＷのＹ成分及びＺ成分の補正データを電流密度補正部１０４に供給する。
【００５１】
ゲイン値算出部１２２は、補正データ格子補間部１２１によって全ての画素に展開された補正データを用いて、映像信号に適用するゲイン値を算出する。具体的な処理については後に詳述するが、ゲイン値算出部１２２は、Ｒ・Ｇ・Ｂの３色及びＷのＹ成分の補正データに対して逆数を求めることで、映像信号に適用するゲイン値を算出する。ゲイン値算出部１２２は、Ｒ・Ｇ・Ｂの３色及びＷのＹ成分の補正データについてそれぞれ逆数を求めてゲイン値を算出すると、ゲイン値をそれぞれ乗算器１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄに出力する。
【００５２】
乗算器１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄは、それぞれ、Ｒ・Ｇ・Ｂ・Ｗそれぞれの信号に、ゲイン値算出部１２２が、Ｒ・Ｇ・Ｂの３色及びＷのＹ成分の補正データから算出したゲイン値を乗算して出力する。乗算器１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄが、Ｒ・Ｇ・Ｂ・Ｗの各色の補正データを、各信号階調で一律に乗算して出力することで、焼き付き補正部１０８はガンマ空間での焼き付き補正処理を実行する。
【００５３】
以上、図５を用いて本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０５の構成例について説明した。次に、本開示の一実施形態に係る焼き付き検波部１０７の構成例について説明する。
【００５４】
図６は、本開示の一実施形態に係る焼き付き検波部１０７の構成例を示す説明図である。図６に示した焼き付き検波部１０７は、焼き付き補正部１０５で補正された後の映像信号を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させる際に、各画素がその映像信号に基づく画像の表示によりどの程度劣化するかを算出するよう構成されている。
【００５５】
図６に示したように、本開示の一実施形態に係る焼き付き検波部１０７は、補正データ変換部１３１、１３４と、劣化量算出部１３２、１３５と、平均値算出部１３３、１３６と、を含んで構成される。
【００５６】
補正データ変換部１３１は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０へ読み出された累積効率蓄積データ１６２を全ての画素に展開する。同様に、補正データ変換部１３４は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０へ読み出された累積シフト量蓄積データ１６３を全ての画素に展開する。補正データ変換部１３１、１３４は、上述の補正データ格子補間部１２１での補間処理とは異なる処理で各データを全ての画素に展開する。補正データ変換部１３１、１３４でのデータの展開処理については後に詳述する。
【００５７】
劣化量算出部１３２、１３５は、焼き付き補正部１０５で補正された後の映像信号を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させる際の劣化量を算出する。劣化量算出部１３２、１３５、それぞれ表示時間と劣化量との関係を有するルックアップテーブルを有する。劣化量算出部１３２が有しているルックアップテーブルは、後に詳述するが、効率及び階調における劣化カーブの傾きを持つ２次元ルックアップテーブルである。また劣化量算出部１３５が有しているルックアップテーブルは、後に詳述するが、シフト量及び階調における劣化カーブの傾きを持つ２次元ルックアップテーブルである。
【００５８】
劣化量算出部１３２は、ルックアップテーブルを参照して、焼き付き補正部１０５で補正された後の映像信号を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させる際の劣化量を算出すると、全ての画素に展開された累積効率蓄積データ１６２（更新前累積効率と称する）から、その算出した劣化量を画素ごとに減算する。更新前累積効率から劣化量が減算されたものを更新後累積効率と称する。劣化量算出部１３２は、更新後累積効率を全ての画素について求めると、その更新後累積効率を平均値算出部１３３に供給する。
【００５９】
劣化量算出部１３５は、ルックアップテーブルを参照して、焼き付き補正部１０５で補正された後の映像信号を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させる際の劣化量を算出すると、全ての画素に展開された累積シフト量蓄積データ１６３（更新前累積シフト量と称する）に、その算出した劣化量を画素ごとに加算する。更新前累積シフト量に劣化量が加算されたものを更新後累積シフト量と称する。劣化量算出部１３５は、更新後累積シフト量を全ての画素について求めると、その更新後累積シフト量を平均値算出部１３６に供給する。
【００６０】
平均値算出部１３３は、劣化量算出部１３２から供給される更新後累積効率について、所定の格子状の補正幅における平均値を算出する。同様に平均値算出部１３６は、劣化量算出部１３５から供給される更新後累積シフト量について、所定の格子状の補正幅における平均値を算出する。そして平均値算出部１３３、１３６は、平均値を求めると、所定の期間中（例えば、垂直ブランキング期間中）に、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に格納されている累積効率蓄積データ１６２及び累積シフト量蓄積データ１６３を求めた平均値で書き換える。
【００６１】
以上、図６を用いて本開示の一実施形態に係る焼き付き検波部１０７の構成例について説明した。次に、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０８の構成例について説明する。
【００６２】
図７は、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０８の構成例を示す説明図である。図７に示した焼き付き補正部１０８は、パネルガンマ回路１０６から供給される映像信号に対し、補正データを加算して出力するよう構成されている。図７に示したように、本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０８は、補正データ格子補間部１４１と、加算器１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ、１４２ｄと、を含んで構成される。
【００６３】
補正データ格子補間部１４１は、Ｒ・Ｇ・Ｂ・Ｗの各色の補正データ１６４に対する補間処理を実行する。補正データ１６４は、補正データ１６１と同様に、全ての画素について存在するものではなく、所定の格子状の補正幅で１つずつ存在する。従って補正データ格子補間部１４１は、全ての画素に対して焼き付きを補正するために、線形補間によって補正データ１６４を全ての画素に展開する。補正データ格子補間部１４１は、全ての画素に展開した後の補正データを加算器１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ、１４２ｄに供給する。
【００６４】
加算器１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ、１４２ｄは、それぞれ、Ｒ・Ｇ・Ｂ・Ｗの映像信号に、補正データ格子補間部１４１によって全ての画素に展開されたＲ・Ｇ・Ｂ・Ｗの各色の補正データを加算して出力する。加算器１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ、１４２ｄが、Ｒ・Ｇ・Ｂ・Ｗの各色の補正データを、全信号階調で一律に加算して出力することで、焼き付き補正部１０８はガンマ空間での焼き付き補正処理を実行する。
【００６５】
以上、図７を用いて本開示の一実施形態に係る焼き付き補正部１０８の構成例について説明した。続いて、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０の動作について説明する。
【００６６】
［自発光表示装置の動作例］
本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０は、表示制御部１００において焼き付きを補正する処理を実行する。表示制御部１００での焼き付きの補正処理の概要について図面を参照して説明する。
【００６７】
図８は、表示制御部１００での焼き付きの補正処理の概要を示す説明図である。図８には３つのグラフが示されている。図８の３つのグラフの縦軸は画素の輝度の劣化の度合いを示す発光効率であり、１．０の時が全く劣化していないことを示す。また図８の３つのグラフの横軸は、有機ＥＬ表示パネル２００における、ある行（または列）の座標位置を示す。
【００６８】
図８の左のグラフは、有機ＥＬ表示パネル２００における、ある行（または列）の画素の輝度の変化の一例を示している。有機ＥＬ表示パネル２００は、映像を表示し続けると発光効率が劣化するが、その発光効率の劣化の度合いは画素によって異なる。従って、同じ時間映像を表示していても、その映像の輝度の違いによって発光効率の劣化の度合いも画素によって異なってくる。図８の左のグラフは、発光効率の劣化の度合いが画素によって異なっている状態の一例を示すものである。
【００６９】
表示制御部１００での焼き付きの補正処理は、発光効率が最も劣化している画素に発光効率を合わせることで焼き付きを補正する処理である。従って、発光効率が最も劣化している画素に発光効率を合わせるために、まず表示制御部１００は最も劣化している画素の発光効率Ｌｍｉｎを、全ての画素に対して一律に乗じる。Ｌｍｉｎを全ての画素に対して一律に乗じた状態が、図８の中央のグラフである。
【００７０】
そして、発光効率が最も劣化している画素に発光効率を合わせるために、続いて表示制御部１００は、劣化後の各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じる。劣化後の各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じた状態が、図８の右のグラフである。図８の右のグラフのように劣化後の各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じることで、発光効率が最も劣化している画素に全ての画素の発光効率が合うことになる。
【００７１】
Ｌｍｉｎを全ての画素に対して一律に乗じる処理を実行するのが、図２及び図４に示した全体輝度制御部１０２である。そして各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じる処理を実行するのが、図２及び図５に示した焼き付き補正部１０５である。
【００７２】
最も劣化している画素の発光効率Ｌｍｉｎを探索するのが、全体輝度制御部１０２に含まれる最小値検出部１１１である。各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を求めるのが、焼き付き補正部１０５に含まれるゲイン値算出部１２２である。そして、各画素について逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じる処理を実行するのが、焼き付き補正部１０５に含まれる乗算器１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄである。
【００７３】
表示制御部１００での焼き付きの補正処理を数式で示すと下記の数式のとおりである。ＷＲＧＢｉｎ（ｘ，ｙ）は入力される映像信号、ＷＲＧＢｏｕｔ（ｘ，ｙ）は出力される映像信号を示す。
【００７４】
【数１】
2014126699.tif 000003
【００７５】
上述したように、発光効率が最も劣化している画素に発光効率を合わせるために、全ての画素について、各画素の発光効率Ｌ（ｘ、ｙ）の逆数１／Ｌ（ｘ、ｙ）を乗じる処理が行われる。しかし、発光効率のデータを全ての画素について保持するとデータ量が膨大になり、データ量を保持するためのフラッシュメモリ１５０やＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０のコストが増大する。従って本実施形態に係る自発光表示装置１０は、複数の画素に対して１つの補正データを持つようにして、データ量を保持するためのフラッシュメモリ１５０やＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０のコストを抑えている。
【００７６】
図９は、フラッシュメモリ１５０やＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に保持される補正データの線形補間処理の概要について示す説明図である。図９では、縦ｎ画素×横ｎ画素（ｎは２のべき乗であり、例えばｎ＝２、４、８、１６のいずれか）に対して１つの補正データを用いる場合が示されている。
【００７７】
図９では、１つの正方形が１つの画素を意味し、縦ｎ画素×横ｎ画素の範囲で１つの格子であるとしている。また図９に示したｎ画素分の幅を格子補正幅と称する。補正データは、各格子の中央に位置するものとして、上述の補正データ格子補間部１２１、１４１は、補正データを全ての画素に展開する際に、各画素の近傍の４つの補正データの線形補間を行う。
【００７８】
一方、上述したように、焼き付き検波部１０７の補正データ変換部１３１、１３４は、補正データ格子補間部１２１、１４１による線形補間ではなく、各格子における補正データをその格子内の画素全てに展開する処理（アップコンバート処理とも称する）を実行する。
【００７９】
図１０は、フラッシュメモリ１５０やＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に保持される補正データのアップコンバート処理の概要について示す説明図である。図１０に示すように、補正データ変換部１３１、１３４は、各格子における補正データをその格子内の画素全てに展開する処理を実行する。つまり補正データ変換部１３１、１３４は、各格子における補正データをその格子内の画素に対してコピーする処理を実行する。補正データ変換部１３１、１３４は、各格子における補正データをその格子内の画素に対してコピーする処理として、例えば０次ホールドを用いても良い。
【００８０】
続いて、表示制御部１００での焼き付きの補正処理の流れを説明する。図１１は、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００の動作を示す流れ図である。図１１に示した流れ図は、自発光表示装置１０が起動された際に表示制御部１００が実行する処理である。
【００８１】
表示制御部１００は、焼き付きの補正処理を実行するにあたって、まずは累積効率蓄積データ１５１から、全体輝度制御の補正レベルを算出する（ステップＳ１０１）。この全体輝度制御の補正レベルの算出は、上述したように最小値検出部１１１が、最も劣化している画素の発光効率Ｌｍｉｎを探索することで実行する。
【００８２】
上記ステップＳ１０１で、累積効率蓄積データ１５１から全体輝度制御の補正レベルを算出すると、続いて表示制御部１００は、フラッシュメモリ１５０に格納されている累積効率蓄積データ１５１及び累積シフト量蓄積データ１５２から、焼き付き補正で用いる補正データを取り出す（ステップＳ１０２）。このステップＳ１０２の補正データを取り出す処理は、補正データ記憶部１１０に対し、フラッシュメモリ１５０に格納されている累積効率蓄積データ１５１及び累積シフト量蓄積データ１５２を、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に読みだして展開する処理である。
【００８３】
上述したように、累積効率蓄積データ１５１は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０への展開時に、上位１０ビットが補正データ１６１となり、また下位８ビットに所定のビット（例えば「１」）が追加されることで、３２ビットの累積効率蓄積データ１６２となる。同様に、累積効率蓄積データ１５１は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０への展開時に、上位１０ビットが補正データ１６４となり、また下位８ビットに所定のビット（例えば「０」）が追加されることで、３２ビットの累積シフト量蓄積データ１６３となる。
【００８４】
図１２は、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００の動作を示す流れ図である。図１２に示した流れ図は、自発光表示装置１０の起動中に表示制御部１００で焼き付きの補正する処理を実行する際の動作を示したものである。
【００８５】
表示制御部１００は、焼き付きを補正するにあたり、上記ステップＳ１０１で算出した全体輝度制御の補正レベルを用いて、入力される映像信号に対して、画面全体の輝度を一律に低下させるような信号処理を実行する（ステップＳ１１１）。このステップＳ１１１の信号処理は全体輝度制御部１０２が実行する。
【００８６】
上述したように、最小値検出部１１１が、最も劣化している画素の発光効率Ｌｍｉｎを求める。そして、乗算器１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃ、１１３ｄが、発光効率Ｌｍｉｎを各画素に対する映像信号に乗じて出力する。
【００８７】
上記ステップＳ１１１で、表示制御部１００に入力される映像信号に対して画面全体の輝度を一律に低下させるような信号処理を実行すると、続いて表示制御部１００は、信号処理が実行された映像信号に対して焼き付きを補正するための補正データを補間する（ステップＳ１１２）。
【００８８】
上述したように、本実施形態では、画素単位ではなく格子単位で補正データが用意されるので、全ての画素に対する補正データに変換するために、ステップＳ１１２で補正データを補間する。このステップＳ１１２の補間処理は、上述したように、補正データ格子補間部１２１、１４１が実行する。
【００８９】
上記ステップＳ１１２で、補正データを補間する処理を実行すると、続いて表示制御部１００は、補間されて全ての画素に展開された補正データを用いた焼き付き補正処理を実行する（ステップＳ１１３）。この焼き付き補正処理は焼き付き補正部１０５、１０８が実行する。
【００９０】
上述したように、焼き付き補正部１０５は映像信号に対してゲインを適用することで発光効率が最も劣化している画素に全ての画素の発光効率を合わせることができる。また焼き付き補正部１０８は、ガンマ空間の映像信号に対してオフセット量を加算することで焼き付きを補正する。
【００９１】
上記ステップＳ１１３で、全ての画素に展開された補正データを用いた焼き付き補正処理を実行すると、続いて表示制御部１００は、焼き付き補正部１０５で焼き付きが補正された映像信号を用いて、累積効率及び累積シフト量を算出する（ステップＳ１１４）。ステップＳ１１４の累積効率及び累積シフト量の算出は、焼き付き検波部１０７が実行する。
【００９２】
上記ステップＳ１１４で、累積効率及び累積シフト量を算出すると、続いて表示制御部１００は、算出した累積効率・シフト量をＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に更新する（ステップＳ１１５）。また表示制御部１００は、算出した累積効率・シフト量を、所定の間隔でフラッシュメモリ１５０にも更新する。ステップＳ１１５の累積効率・シフト量の更新処理は、焼き付き検波部１０７が実行する。
【００９３】
表示制御部１００は、各フレームで、上述のステップＳ１１１からステップＳ１１５の処理を実行することで、映像の表示によって発光効率が各画素でまちまちに低下しても、各画素の発光バランスが崩れていない映像を有機ＥＬ表示パネル２００に表示させることができる。
【００９４】
以上で、表示制御部１００での焼き付きの補正処理の流れを説明したが、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０は、上記ステップＳ１１４の累積効率及び累積シフト量の算出において、その算出精度を高めたことを特徴とする。続いて、表示制御部１００での焼き付きの補正処理時の、累積効率及び累積シフト量の算出処理について、より詳細に説明する。
【００９５】
画素に有機ＥＬ素子を用いた有機ＥＬ表示パネル２００は、映像を表示し続けると発光効率が劣化するが、その発光効率の劣化の度合いは画素によって異なる。これは、同じ時間映像を表示していても、その映像の輝度に応じて劣化特性も異なるからである。そこで本実施形態では、複数の階調についての劣化特性を劣化量算出部１３２、１３５で保持しておき、階調に応じた劣化量を算出することで、累積効率及び累積シフト量を精度良く求めている。
【００９６】
まず、劣化量算出部１３２で保持させる、複数の階調についての劣化特性の例を示す。図１３は、劣化量算出部１３２で保持させる、複数の階調についての劣化特性のルックアップテーブルを示す説明図であり、図１４は、図１３に示したルックアップテーブルに対応する、複数の階調についての劣化特性を示す説明図である。
【００９７】
図１４には、階調が１０ビット（１０２４階調）で表されている場合における、３２階調のゲイン劣化カーブと、６４階調のゲイン劣化カーブとが示されている。図１４に示すように、３２階調より６４階調の方が、劣化ペースは早い。
【００９８】
本実施形態では、ゲイン劣化カーブを複数の効率で区切り、区切られた区間ではある一定の傾きを有する直線で近似することで、累積効率を算出することを特徴とする。図１４では、効率が０．９９９９９（≒１）から０．９６８７５までの間は、３２階調のゲイン劣化カーブは傾き（１）の直線で近似され、６４階調のゲイン劣化カーブは傾き（４）の直線で近似されていることを示している。
【００９９】
同様に、効率が０．９６８７５から０．９３７５までの間は、３２階調のゲイン劣化カーブは傾き（２）の直線で近似され、６４階調のゲイン劣化カーブは傾き（５）の直線で近似されている。そして効率が０．９３７５から０．９０６２５までの間は、３２階調のゲイン劣化カーブは傾き（３）の直線で近似され、６４階調のゲイン劣化カーブは傾き（６）の直線で近似されていることを示している。
【０１００】
この、階調と効率に応じた傾きの関係が規定されているのが図１３に示したルックアップテーブルである。劣化量算出部１３２は、供給される映像信号の階調を求め、その階調に対応する傾きに発光時間を乗じ、更新前累積効率から減算することで、更新後累積効率を求める。
【０１０１】
本実施形態では、図１３に示したルックアップテーブルに格納される傾きは１６ビットのビット長を有する。そしてルックアップテーブルは、Ｒ、Ｇ、Ｂ、ＷのＹ成分、ＷのＺ成分の５つに対し、それぞれ低温、基準温度、高温の３つの温度のテーブルが用意される。またルックアップテーブルの格子点は、階調は０／３２／６４／１２８／２５６／３８４／５１２／６４０／７６８／８９６／１０２４の１１点、効率は１（０．９９９９９）／０．９６８７５／０．９３７５／０．９０６２５／０．８７５／０．８４３７５／０．８１２５／０．７８１２５／０．７５／０．７１８７５／０．６８７５／０．６５６２５／０．６２５／０．５９３７５／０．５６２５／０．５３１２５の１６点である。もちろん、格子点の値や数は係る例に限定されるものではないことは言うまでもない。
【０１０２】
次に、劣化量算出部１３５で保持させる、複数の階調についての劣化特性の例を示す。図１５は、劣化量算出部１３５で保持させる、複数の階調についての劣化特性のルックアップテーブルを示す説明図であり、図１６は、図１５に示したルックアップテーブルに対応する、複数の階調についての劣化特性を示す説明図である。
【０１０３】
図１６には、階調が１０ビット（１０２４階調）で表されている場合における、３２階調のオフセット劣化カーブと、６４階調のオフセット劣化カーブとが示されている。図１４に示すように、３２階調より６４階調の方が、劣化ペースは早い。
【０１０４】
本実施形態では、オフセット劣化カーブを複数の効率で区切り、区切られた区間ではある一定の傾きを有する直線で近似することで、累積効率を算出することを特徴とする。図１４では、シフト量が０から２までの間は、３２階調のオフセット劣化カーブは傾き（１）の直線で近似され、６４階調のゲイン劣化カーブは傾き（４）の直線で近似されていることを示している。
【０１０５】
同様に、シフト量が２から４までの間は、３２階調のオフセット劣化カーブは傾き（２）の直線で近似され、６４階調のオフセット劣化カーブは傾き（５）の直線で近似されている。そしてシフト量が４から６までの間は、３２階調のオフセット劣化カーブは傾き（３）の直線で近似され、６４階調のオフセット劣化カーブは傾き（６）の直線で近似されていることを示している。
【０１０６】
本実施形態では、図１５に示したルックアップテーブルに格納される傾きは１６ビットのビット長を有する。そしてルックアップテーブルは、Ｒ、Ｇ、Ｂ、Ｗの４つに対し、それぞれ低温、基準温度、高温の３つの温度のテーブルが用意される。またルックアップテーブルの格子点は、階調は０／３２／６４／１２８／２５６／３８４／５１２／６４０／７６８／８９６／１０２４の１１点、シフト量は０／２／４／６／８／１０／１２／１４／１６／１８／２０／２２／２４／２６／２８／３０／３２／３４／３６／３８／４０／４２／４４／４６／４８／５０／５２／５４／５６／５８／６０／６２の３２点である。もちろん、格子点の値や数は係る例に限定されるものではないことは言うまでもない。
【０１０７】
図１３及び図１５に示したルックアップテーブルは、例えば有機ＥＬ表示パネル２００で２次元の映像を表示させる場合と、３次元の映像を表示させる場合とで異なるものが用いられるようにしても良い。また、詳細は後述するが累積効率や累積シフト量の算出の際に用いる係数が、複数用意されていても良い。例えば、焼き付き検波部１０７は、（効率係数，シフト量係数）の組を、（Ｄｇ１，Ｄｏ１）、（Ｄｇ２，Ｄｏ２）、（Ｄｇ３，Ｄｏ３）の３つの中から選択しても良い。なお、効率係数及びシフト量係数の範囲は任意であるが、例えば０〜４の間の値を取り得るようにしてもよい。
【０１０８】
続いて、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理について詳細に説明する。以下の説明では、６４階調の映像信号が焼き付き検波部１０７に供給された場合の、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を例に挙げて説明する。
【０１０９】
図１７は、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を説明する説明図である。図１７のグラフには、６４階調でのゲイン劣化カーブが示されている。また、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理に用いられる効率係数はＤｇ１であるとする。
【０１１０】
劣化量算出部１３２は、補正データ変換部１３１でアップコンバートされた補正データから、対象画素の更新前累積効率を取得する。続いて劣化量算出部１３２は、更新前累積効率における６４階調の劣化カーブの傾きを、図１３に示すルックアップテーブルから導出する。例えば図１７に示すように、劣化量算出部１３２は、ルックアップテーブルを参照し、更新前累積効率における６４階調の劣化カーブの傾きを傾き（３）と導出する。
【０１１１】
６４階調の劣化カーブの傾きを導出すると、続いて劣化量算出部１３２は、導出した傾きに発光時間Δｔを乗じて、劣化量ΔＬを算出する。劣化量ΔＬを算出すると、続いて劣化量算出部１３２は、更新前累積効率から、算出した劣化量ΔＬに効率係数はＤｇ１を乗じたものを減算して更新後累積効率を算出する。
【０１１２】
更新後累積効率を劣化量算出部１３２で算出すると、平均値算出部１３３は、格子内での更新後累積効率の平均値を求め、所定の期間（例えば、垂直ブランキング期間）において、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に格納されている累積効率蓄積データ１６２をその平均値で更新する。
【０１１３】
焼き付き検波部１０７は、上述の処理を実行することでＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０に格納されている累積効率蓄積データ１６２を更新することができる。上述の説明は、ルックアップテーブルに対応する階調が格納されている場合の処理についてのものであったが、焼き付き検波部１０７に供給される映像信号の階調の情報がルックアップテーブルに格納されていない場合も当然考えられる。焼き付き検波部１０７に供給される映像信号の階調の情報がルックアップテーブルに格納されていない場合は、劣化量算出部１３２は、ルックアップテーブルに格納されている傾きを線形補間することで、その階調の傾きを求める。
【０１１４】
以下の説明では、更新前累積効率が０．９５であり、５０階調の映像信号が焼き付き検波部１０７に供給された場合の、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を例に挙げて説明する。図１８は、焼き付き検波部１０７での累積効率の算出処理を説明する説明図である。図１８のグラフには、３２階調及び６４階調でのゲイン劣化カーブが示されている。
【０１１５】
更新前累積効率が０．９５であるので、劣化量算出部１３２は、図１３で示されたルックアップテーブルから効率が０．９６８７５の軸を選択する。そして、映像信号の階調が５０階調であるので、劣化量算出部１３２は、図１３で示されたルックアップテーブルから３２階調及び６４階調の軸を選択する。つまり劣化量算出部１３２は、更新前累積効率が０．９５であり、５０階調の映像信号が焼き付き検波部１０７に供給された場合に、図１３で示されたルックアップテーブルから傾き（２）及び傾き（５）を選択する。
【０１１６】
図１３で示されたルックアップテーブルから傾き（２）及び傾き（５）を選択すると、劣化量算出部１３２は、傾き（２）及び傾き（５）を用いて、図１８に示す、５０階調における傾きを線形補間によって求める。図１９は、劣化量算出部１３２が、５０階調における傾きを線形補間によって求める際のグラフを示す説明図である。図１９に示したように、３２階調と６４階調との間で、ゲイン劣化カーブを直線で近似した際の傾きが、一定の傾きで変化するとして、劣化量算出部１３２は５０階調における傾きを算出する。図２０は、３２階調における傾き（２）、６４階調における傾き（５）、及び傾き（２）と傾き（５）とから求めた５０階調における傾きの関係を示す説明図である。
【０１１７】
劣化量算出部１３２は５０階調における傾きを算出すると、上述の６４階調における処理の場合と同様に、傾きに発光時間Δｔを乗じて劣化量ΔＬを算出し、更新前累積効率から、算出した劣化量ΔＬに効率係数はＤｇ１を乗じたものを減算して更新後累積効率を算出する。
【０１１８】
このように、焼き付き検波部１０７に供給される映像信号の階調の情報がルックアップテーブルに格納されていない場合は、劣化量算出部１３２は、ルックアップテーブルに格納されている傾きを線形補間で求め、その求めた傾きを用いて更新後累積効率を算出することができる。
【０１１９】
焼き付き検波部１０７は、上述していたように更新後累積効率を算出するが、更新後累積効率を算出するにあたって、発光時間Δｔ進めた結果、ルックアップテーブルの格子を跨ぐ場合も考えられる。図２１は、焼き付き検波部１０７で更新後累積効率を算出するにあたって、発光時間Δｔ進めた結果、ルックアップテーブルの格子を跨ぐ場合の例を示す説明図である。図２１に示した例は、発光時間Δｔ進めた結果、更新後累積効率がルックアップテーブルの効率の格子である０．９６８７５を跨ぐ場合についてのものである。
【０１２０】
このように、発光時間Δｔ進めた結果、ルックアップテーブルの格子を跨ぐ場合は、劣化量算出部１３２は、更新前累積効率での傾きを用いて劣化量ΔＬを算出する。図２１に示した例では、劣化量算出部１３２は、更新前累積効率での傾き（１）を用いて劣化量ΔＬを算出する。更新前累積効率での傾きを用いて劣化量ΔＬを算出することで、図２１に示したように、本来のゲイン劣化カープから外れて誤差が生じる。しかし、図２１に示した例は説明の便宜上、傾きが効率＝０．９６８７５の前後で極端に変わる場合であって、実際には発光時間Δｔは極めて小さい値であり、誤差が生じても、その誤差は無視できるレベルである。
【０１２１】
上述したように、劣化量算出部１３２が参照するルックアップテーブルは、Ｒ、Ｇ、Ｂ、ＷのＹ成分、ＷのＺ成分の５つに対し、それぞれ低温、基準温度、高温の３つの温度のテーブルが用意される。つまり劣化量算出部１３２は、同じ階調であっても温度に応じてゲイン劣化カーブの傾きを変更して累積効率を算出する。
【０１２２】
本実施形態に係る焼き付き検波部１０７は、温度パラメータと称するパラメータを用いて温度に対応させる。温度パラメータは、例えば０〜２５５の間の値を採り得るパラメータであり、温度パラメータと実際の温度との関係は、ソフトウェアで設定が可能であるとしてもよい。
【０１２３】
図２２は、温度パラメータとルックアップテーブルとの関係を示す説明図である。温度パラメータを、０〜２５５の間の値を採り得るパラメータとした場合に、図２２に示したように、劣化量算出部１３２は、温度パラメータが６４の場合は低温のルックアップテーブルを参照する。また劣化量算出部１３２は、温度パラメータが１２８の場合は基準温度のルックアップテーブルを、また劣化量算出部１３２は、温度パラメータが１９２の場合は高温のルックアップテーブルを参照する。また温度パラメータが６４、１２８、１９２以外の値であった場合は、劣化量算出部１３２は線形補間によって傾きを決定する。
【０１２４】
例えば、温度パラメータの値が１５０であった場合は、劣化量算出部１３２は、基準温度のルックアップテーブルと、高温のルックアップテーブルとから線形補間で傾きを求める。さらに、階調の値がルックアップテーブルに格納されていない場合は、上述したように線形補間によって当該階調における傾きを算出する。
【０１２５】
図２３は、温度パラメータの値が１５０の場合における傾きを、劣化量算出部１３２が線形補間によって求める際のグラフを示す説明図である。図２３に示したように、温度パラメータの値が１２８と１９２との間で、５０階調での傾きが一定の傾きで変化するとして、劣化量算出部１３２は、温度パラメータの値が１５０の場合における傾きを算出する。
【０１２６】
焼き付き検波部１０７は、指定されたラインに対して劣化量を検波し、線順次スキャンによって画面の上から下まで順次劣化量を検波する。この線順次スキャンの速度は、フレーム単位でパラメータによる設定が可能であってもよい。焼き付き検波部１０７は、次のラインに移るまでは指定ラインでの検波を続けて累積加算を継続する。そして次のラインに移るタイミングで、焼き付き検波部１０７は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０から累積効率蓄積データ１６２を取得する。
【０１２７】
上述したように、焼き付き検波部１０７は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０へ累積効率蓄積データ１６２を更新する際に、累積効率を格子単位で平均化する。図２４は、焼き付き検波部１０７による、累積効率の格子単位での平均化を示す説明図である。上述したように、焼き付き検波部１０７は、指定されたラインに対して劣化量を検波し、線順次スキャンによって画面の上から下まで順次劣化量を検波する。そして図２４に示すように、焼き付き検波部１０７は、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０へ累積効率蓄積データ１６２を更新する際に、累積効率を格子単位で平均化する。
【０１２８】
本実施形態に係る表示制御部１００は、累積効率蓄積データの効率０．９９９９〜０．５を、０ｘＦＦＦＦＦＦ〜０ｘ００００００で表現している。従って、累積効率蓄積データは、初期値０ｘＦＦＦＦＦＦから減算されていき、０ｘ００００００に達した時点で更新が停止される。
【０１２９】
図２５は、累積効率蓄積データが更新される様子をグラフで示す説明図である。表示制御部１００は、図２５に示したように、累積効率蓄積データを初期値０ｘＦＦＦＦＦＦから減算していく。しかし、累積効率蓄積データが０ｘ００００００に達すると、表示制御部１００は、累積効率蓄積データの更新を停止する。
【０１３０】
ここまでの説明では、劣化量算出部１３２による累積効率蓄積データの算出処理について説明したが、劣化量算出部１３５による累積シフト量蓄積データの算出処理についても累積効率蓄積データの算出処理と同様の処理で実行が可能である。
【０１３１】
そして本実施形態に係る表示制御部１００は、累積シフト量蓄積データのシフト量０〜６４（≒６３．９９９９）を、０ｘ００００００〜０ｘＦＦＦＦＦＦで表現している。従って、累積シフト量蓄積データは、初期値０ｘ００００００から加算されていき、０ｘＦＦＦＦＦＦに達した時点で更新が停止される。
【０１３２】
図２６は、累積シフト量蓄積データが更新される様子をグラフで示す説明図である。表示制御部１００は、図２６に示したように、累積シフト量蓄積データを初期値０ｘ００００００から加算していく。しかし、累積シフト量蓄積データが０ｘＦＦＦＦＦＦに達すると、表示制御部１００は、累積効率蓄積データの更新を停止する。
【０１３３】
以上説明した様に本開示の一実施形態に係る表示制御部１００は、階調に応じた劣化カーブを用いた累積効率蓄積データ及び累積シフト量蓄積データの算出を行うことで、劣化量を精度良く求めるとともに、求めた劣化量に応じて輝度を補正することが可能となる。
【０１３４】
ここで、上述の説明では、累積効率蓄積データ及び累積シフト量蓄積データから生成される補正データを、各格子に１つずつ有する場合を示したが、本開示は係る例に限定されるものではない。例えば、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００は、各色について画面全体で１つの補正データを有していてもよい。各色について画面全体で１つの補正データを有するようにすることで、上述した補正データの線形補間やアップコンバート処理が不要になる。
【０１３５】
図２７は、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００に含まれる焼き付き補正部１０５の変形例である、焼き付き補正部１０５’の構成例を示す説明図であり、補正データ１６１に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データである場合の例である。図２７に示した焼き付き補正部１０５’は、図５に示した焼き付き補正部１０５から補正データ格子補間部１２１が削除されている。これは、補正データ１６１に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データであるためである。
【０１３６】
図２８は、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００に含まれる焼き付き検波部１０７の変形例である、焼き付き検波部１０７’の構成例を示す説明図であり、補正データ１６１、１６４に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データである場合の例である。図２８に示した焼き付き検波部１０７’は、図６に示した焼き付き検波部１０７から補正データ変換部１３１、１３４が削除されている。これは、補正データ１６１、１６４に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データであるためである。
【０１３７】
図２９は、本開示の一実施形態に係る表示制御部１００に含まれる焼き付き補正部１０８の変形例である、焼き付き補正部１０８’の構成例を示す説明図であり、補正データ１６１に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データである場合の例である。図２９に示した焼き付き補正部１０９’は、図７に示した焼き付き補正部１０８から補正データ格子補間部１４１が削除されている。これは、補正データ１６４に格納される補正データが、各色について画面全体で１つの補正データであるためである。
【０１３８】
このように、各色について画面全体で１つの補正データとする場合には、図２７〜図２９に示したように、焼き付きの補正処理や蓄積データの更新処理のための構成を簡略化させることができる。
【０１３９】
各色について画面全体で１つの補正データとする場合には、データ量が少なく済むので、ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ１６０の替わりに、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）の内部メモリや、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）の内部メモリ等を用いてもよい。
【０１４０】
＜２．まとめ＞
以上説明したように本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０は、階調に応じた劣化カーブを用いた累積効率蓄積データ及び累積シフト量蓄積データの算出を行う。階調に応じた劣化カーブを用いた累積効率蓄積データ及び累積シフト量蓄積データの算出を行うことで、本開示の一実施形態に係る自発光表示装置１０は、劣化量を精度良く求めるとともに、求めた劣化量に応じて輝度を補正することができる。
【０１４１】
本明細書の各装置が実行する処理における各ステップは、必ずしもシーケンス図またはフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はない。例えば、各装置が実行する処理における各ステップは、フローチャートとして記載した順序と異なる順序で処理されても、並列的に処理されてもよい。
【０１４２】
また、各装置に内蔵されるＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲＡＭなどのハードウェアを、上述した各装置の構成と同等の機能を発揮させるためのコンピュータプログラムも作成可能である。また、該コンピュータプログラムを記憶させた記憶媒体も提供されることが可能である。また、機能ブロック図で示したそれぞれの機能ブロックをハードウェアで構成することで、一連の処理をハードウェアで実現することもできる。
【０１４３】
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示はかかる例に限定されない。本開示の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１４４】
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
（１）
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得部と、
供給される映像信号に基づき画像を各前記画素に表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出部と、
前記劣化量算出部が算出した劣化量に、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量を反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新部と、
を備える、自発光表示装置。
（２）
前記劣化量算出部は、前記累積劣化量に基づき生成される補正データに基づいてゲインが補正された後の前記映像信号に対して前記劣化量を算出する、前記（１）に記載の自発光表示装置。
（３）
前記累積劣化量に基づいて補正データを生成し、供給される前記映像信号に該補正データを適用する映像信号補正部を更に備える、前記（１）または（２）に記載の自発光表示装置。
（４）
前記映像信号補正部は、供給される前記映像信号に適用するゲインを前記累積劣化量に基づいて生成する、前記（３）に記載の自発光表示装置。
（５）
前記映像信号補正部は、供給される前記映像信号に適用するオフセット量を前記累積劣化量に基づいて生成する、前記（３）に記載の自発光表示装置。
（６）
前記劣化量算出部は、供給される映像信号の輝度における劣化特性を、予め用意されている劣化特性から線形補間によって算出し、算出した劣化特性を用いて劣化量を算出する、前記（１）〜（５）のいずれかに記載の自発光表示装置。
（７）
前記累積劣化量は、複数の画素を１つのブロックとするブロック単位で保持され、
前記劣化量取得部は、ブロック間の補間によって各画素に対する累積劣化量を取得する、前記（１）〜（６）のいずれかに記載の自発光表示装置。
（８）
前記累積情報更新部は、前記映像信号の供給中における所定の期間中に、前記劣化量算出部が算出した劣化量に、前記劣化量取得部が取得した累積劣化量を反映させて新たな累積劣化量として更新する、前記（１）〜（７）のいずれかに記載の自発光表示装置。
（９）
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、
供給される映像信号に基づき画像を表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、
前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、
を備える、自発光表示装置の制御方法。
（１０）
コンピュータに、
電流量に応じて自発光する発光素子を有する複数の画素がマトリクス状に配置された画面内の各前記画素に対する累積劣化量を取得する劣化量取得ステップと、
供給される映像信号に基づき画像を表示した際の劣化量を、前記映像信号の輝度に応じて決まる劣化特性を用いて算出する劣化量算出ステップと、
前記劣化量算出ステップで算出された劣化量を、前記劣化量取得ステップで取得された累積劣化量に反映させて新たな累積劣化量として更新する累積情報更新ステップと、
を実行させる、コンピュータプログラム。
【符号の説明】
【０１４５】
１０    自発光表示装置
１００    表示制御部
１０１    リニアガンマ回路
１０２    全体輝度制御部
１０３    ＷＲＧＢ変換部
１０４    電流密度補正部
１０５、１０８    焼き付き補正部
１０６    ガンマ変換部
１０７    焼き付き検波部
１０９    階調変換部
１１０    補正データ記憶部
１３１、１３４    補正データ変換部
１３２、１３５    劣化量算出部
１３３、１３６    平均値算出部
１５０    フラッシュメモリ
１６０    ＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ
【図１】
2014126699.tif 000004
【図２】
2014126699.tif 000005
【図３】
2014126699.tif 000006
【図４】
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【図５】
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【図６】
2014126699.tif 000009
【図７】
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【図８】
2014126699.tif 000011
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2014126699.tif 000014
【図１２】
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【図１３】
2014126699.tif 000016
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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