(57)【要約】【課題】Ｘ線源と通信できないＸ線画像検出装置において、動画撮影を適切に行なえるようにする。【解決手段】Ｘ線画像検出装置は、Ｘ線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数のマトリクスに配列された画素によりＸ線画像を検出するＦＰＤを有している。Ｘ線画像検出装置の制御部は、ＦＰＤの短絡画素の出力電圧Ｖｏｕｔに基づいて、単位時間あたりのＸ線の照射量を表す照射プロファイルと、単位時間あたりのＸ線の積算検出量を表す検出プロファイルとを作成し、照射プロファイルから設定した閾値Ｔｓと、検出プロファイルから特定した積算検出量がほぼ一定となる期間Ｔｆとを比較し、期間Ｔｆが閾値Ｔｓよりも短い場合には、先に照射されたパルス状のＸ線の立ち下がり部と、次に照射されたＸ線の立ち上がり部とが重なっていると判定し、ＦＰＤの動作モードを連続照射対応モードに設定する。【選択図】図４
2014195480.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線源による放射線の照射を受けて放射線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列された撮像領域を有し、被写体を透過した放射線の照射を受けて放射線画像を検出する画像検出手段と、
前記放射線源から照射された放射線を検出して、放射線の入射量に応じた検出信号を出力する放射線検出手段と、
前記放射線検出手段の検出信号に基づいて、前記放射線源から先に照射されたパルス状の放射線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状の放射線の立ち上がり部との重なり状態を測定し、この測定結果に基づいて、前記画像検出手段の動作モードを、放射線のパルス照射に同期して信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返すパルス照射対応モードと、連続的な放射線照射中における一定時間の信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返す連続照射対応モードとのいずれかに設定する制御手段と、
を備えたことを特徴とする放射線画像検出装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記放射線検出手段の検出信号に基づいて、単位時間あたりの放射線の積算検出量を表す検出プロファイルを作成し、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間の長さに応じて、前記画像検出手段の動作モードを設定することを特徴とする請求項１記載の放射線画像検出装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間が閾値よりも短い場合には、前記画像検出手段の動作モードを前記連続照射対応モードに設定することを特徴とする請求項２記載の放射線画像検出装置。
【請求項４】
前記閾値は、パルス状の放射線の立ち下がり期間に基づいて設定されることを特徴とする請求項３記載の放射線画像検出装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記連続照射対応モード時に、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間内に、前記画像検出手段に前記画素に蓄積された信号電荷を排出させるリセット動作を行なわせることを特徴とする請求項３または４記載の放射線画像検出装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記パルス照射対応モード時に前記放射線検出手段の検出信号に基づいて前記放射線源による放射線の照射開始を監視し、前記放射線源による放射線の照射開始を検出したときに、前記画像検出部に信号電荷の蓄積を開始させることを特徴とする請求項１〜５いずれか記載の放射線画像検出装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記パルス照射対応モード時に前記放射線検出手段の検出信号に基づいて前記放射線源による放射線の照射終了を監視し、前記放射線源による放射線の照射終了を検出したときに、前記画像検出部に信号電荷の蓄積を終了させて信号電荷の読み出しを開始させることを特徴とする請求項６記載の放射線画像検出装置。
【請求項８】
前記放射線検出手段は、前記画素と前記画素から前記信号電荷を読み出すための信号線とを常時短絡させた短絡画素であり、前記短絡画素は、前記放射線の入射量に応じた信号電荷を前記信号線に常時出力することを特徴とする請求項１〜７いずれか記載の放射線画像検出装置。
【請求項９】
放射線源による放射線の照射を受けて放射線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列された画像検出手段を有し、被写体を透過した放射線の照射を受けて放射線画像を検出する放射線画像検出装置の制御方法において、
放射線の照射量を検出する放射線検出手段の検出信号に基づいて、前記放射線源から先に照射されたパルス状の放射線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状の放射線の立ち上がり部との重なり状態を測定するステップと、
前記測定結果に基づいて、前記画像検出手段の動作モードを、放射線のパルス照射に同期して信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返すパルス照射対応モードと、連続的な放射線照射中における一定時間の信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返す連続照射対応モードとのいずれかに設定するステップと、
を含むことを特徴とする放射線画像検出装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被写体を透過した放射線の照射を受けて放射線画像を検出する放射線画像検出装置と、放射線画像検出装置の制御方法とに関する。
【背景技術】
【０００２】
医療分野において、放射線、例えばＸ線を利用したＸ線撮影システムが知られている。Ｘ線撮影システムは、Ｘ線を発生するＸ線管を有するＸ線源と、被写体を透過したＸ線の照射を受けて、被写体の画像情報を表すＸ線画像を検出するＸ線画像検出装置とからなる。Ｘ線源には、Ｘ線の単位時間当たりの線量を決める管電流や、Ｘ線の線質（エネルギースペクトル）を決める管電圧が撮影条件として与えられ、撮影条件は、被写体となるＸ線検査の被検者の撮影部位や年齢などに応じて撮影毎に決められる。Ｘ線源は、与えられた撮影条件に応じたＸ線を照射する。
【０００３】
Ｘ線画像検出装置としては、従来のＸ線フイルムやイメージングプレート（ＩＰ）の代わりに、Ｘ線画像検出器（ＦＰＤ：Flat Panel Detector）を利用したものが実用化されている（特許文献１参照）。ＦＰＤは、マトリクスに配列され、Ｘ線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素と、各画素に接続され信号電荷を読み出すための信号線とが配設された撮像領域を有する検出パネルと、各画素が蓄積した信号電荷を電圧信号として読み出して、読み出した電圧信号をデジタルな画像データに変換する信号処理回路とを備えている。これにより、ＦＰＤを用いたＸ線画像検出装置では、撮影後すぐにＸ線画像を観察することができる。
【０００４】
検出パネルは、撮像領域内の各画素が、光電変換素子であるフォトダイオードとＴＦＴ（Thin Film Transistor）とから構成され、撮像領域上にはＸ線を可視光に変換するシンチレータ（蛍光体）が設けられている。ＴＦＴは、フォトダイオードと信号線の電気的な接続をオンオフすることで、画素の動作を切り替えるスイッチング素子である。ＴＦＴがオフされると、フォトダイオードと信号線が非導通状態となり、フォトダイオードに信号電荷が蓄積される蓄積動作が開始され、ＴＦＴがオンされると、フォトダイオードと信号線が導通状態になり、フォトダイオードからＴＦＴ及び信号線を通じて信号電荷を読み出す読み出し動作が開始される。
【０００５】
ＦＰＤは、Ｘ線フイルムやＩＰプレートと異なり、Ｘ線の照射タイミングに同期させて蓄積動作や読み出し動作を開始させる同期制御が必要となる。同期制御の方法としては、Ｘ線源とＸ線画像検出装置の間で同期信号を通信する方法や、Ｘ線の照射量をＸ線画像検出装置で測定し、測定したＸ線の照射量の変動を監視して、Ｘ線の照射開始や照射終了の各タイミングをＸ線画像検出装置において自己検出する方法がある。
【０００６】
特許文献１に記載されているように、Ｘ線画像検出装置では、ＦＰＤに蓄積動作と読み出し動作とを所定のフレームレートで交互に繰り返し行なわせることにより、透視撮影等の動画撮影を行なうことができる。また、特許文献１には、動画撮影時にＸ線を連続照射すること、あるいはＸ線を所定間隔でパルス照射することも開示されている。パルス照射による動画撮影は、連続照射に比べ、単位時間当たりの照射量を増やしながら被爆量を抑制することができるという利点がある。また、特許文献２には、放射線パルスを検出手段により検出し、検出手段の検出結果に基づいて放射線パルスのパルス幅及び周期を演算し、この演算結果に基づいて撮像手段を制御することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−３０１０５３号公報
【特許文献２】特開２００６−１２２６６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
Ｘ線のパルス照射によって動画撮影を行なう場合には、Ｘ線のパルス照射に同期してＦＰＤを制御できるようにするため、Ｘ線源とＸ線画像検出装置とが通信可能に接続されていることが望ましい。しかし、Ｘ線フイルム等からＦＰＤを用いたＸ線画像検出装置へと切り換える際に、Ｘ線画像検出装置のみを単体で購入して既存のＸ線撮影システムに組み込むことが従来から行なわれているが、このような新旧の装置が組み合わされたＸ線撮影システムでは、Ｘ線画像検出装置とＸ線源との組み合わせによっては、Ｘ線画像検出装置とＸ線源との間で通信が行なえない場合も多い。
【０００９】
Ｘ線画像検出装置とＸ線源との通信が行なえない場合には、Ｘ線画像検出装置によってＸ線の照射開始及び照射終了を自己検出し、これにＦＰＤを同期させて動画撮影を行なうことが考えられる。しかし、図１０に示すように、一般的な２極管からなるＸ線管から照射されたＸ線の照射量は、Ｘ線の照射開始から徐々に立ち上がり、管電流に応じたピークまで上昇してほぼ定常な状態を保ち、Ｘ線の照射終了とともに徐々に下降するため、Ｘ線の照射量がＸ線の照射終了から「０」になるまでの時間、すなわち波尾が長くなってしまい、Ｘ線をパルス状に照射して行なわれる動画撮影には適さない。波尾が長いＸ線をパルス照射すると、動画撮影時のフレームレートによっては、図１１に示すように、先に照射されたＸ線の波尾と、後から照射されたＸ線の立ち上がり部分とが重なって実質的にＸ線が連続照射されている状態に近くなり、Ｘ線の照射開始及び照射終了が検出できなくなるからである。
【００１０】
Ｘ線照射量の波尾の長さは、Ｘ線管を抵抗として見たときの容量、管電流及び管電圧によって変化し、例えば管電流が小さくまたは管電圧が高くなるほど長くなり、管電流が大きくまたは管電圧が低くなるほど短くなる。そのため、２極管からなるＸ線管であっても、Ｘ線管の種類、管電流及び管電圧の組み合わせによっては波尾が短くなるので、フレームレートとの兼ね合いにより、Ｘ線画像検出装置でパルス照射を自己検出して同期制御を行なうことができる。しかし、ユーザーが、Ｘ線管の種類、管電流、管電圧及びフレームレートに基づいて、パルス照射による動画撮影が可能か否かを判断することは難しい。
【００１１】
上記問題は、波尾を直ちに減衰させる機能を備えたＸ線管、例えば３極管やテトロード管等を用いれば解決可能であるが、これらのＸ線管は高価であり、コスト面からＸ線画像検出装置のみを導入したＸ線撮影システムにこれらの高価なＸ線源を導入することは難しい。また、このような問題を解決する手段は、特許文献１、２にも開示されていない。
【００１２】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、Ｘ線源と通信できないＸ線画像検出装置において、動画撮影を適切に行なえるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の放射線画像検出装置は、放射線源による放射線の照射を受けて放射線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列された撮像領域を有し、被写体を透過した放射線の照射を受けて放射線画像を検出する画像検出手段と、放射線源から照射された放射線を検出して、放射線の入射量に応じた検出信号を出力する放射線検出手段と、放射線検出手段の検出信号に基づいて、前記放射線源から先に照射されたパルス状の放射線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状の放射線の立ち上がり部との重なり状態を測定し、この測定結果に基づいて、前記画像検出手段の動作モードを、放射線のパルス照射に同期して信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返すパルス照射対応モードと、連続的な放射線照射中における一定時間の信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返す連続照射対応モードとのいずれかに設定する制御手段とを備えたものである。
【００１４】
制御手段は、前記放射線検出手段の検出信号に基づいて、単位時間あたりの放射線の積算検出量を表す検出プロファイルを作成し、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間の長さに応じて、前記画像検出手段の動作モードを設定してもよい。
【００１５】
制御手段は、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間が閾値よりも短い場合には、前記画像検出手段の動作モードを前記連続照射対応モードに設定してもよい。
【００１６】
閾値は、パルス状の放射線の立ち下がり期間に基づいて設定されることが好ましい。
【００１７】
制御手段は、前記連続照射対応モード時に、前記検出プロファイルの積算検出量がほぼ一定となる期間内に、前記画像検出手段に前記画素に蓄積された信号電荷を排出させるリセット動作を行なわせてもよい。
【００１８】
制御手段は、前記パルス照射対応モード時に前記放射線検出手段の検出信号に基づいて前記放射線源による放射線の照射開始を監視し、前記放射線源による放射線の照射開始を検出したときに、前記画像検出部に信号電荷の蓄積を開始させてもよい。
【００１９】
制御手段は、前記パルス照射対応モード時に前記放射線検出手段の検出信号に基づいて前記放射線源による放射線の照射終了を監視し、前記放射線源による放射線の照射終了を検出したときに、前記画像検出部に信号電荷の蓄積を終了させて信号電荷の読み出しを開始させてもよい。
【００２０】
放射線検出手段は、前記画素と前記画素から前記信号電荷を読み出すための信号線とを常時短絡させた短絡画素であり、前記短絡画素は、前記放射線の入射量に応じた信号電荷を前記信号線に常時出力することが好ましい。
【００２１】
本発明の放射線画像検出装置の制御方法は、放射線源による放射線の照射を受けて放射線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列された画像検出手段を有し、被写体を透過した放射線の照射を受けて放射線画像を検出する放射線画像検出装置の制御方法において、放射線の照射量を検出する放射線検出手段の検出信号に基づいて、前記放射線源から先に照射されたパルス状の放射線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状の放射線の立ち上がり部との重なり状態を測定するステップと、  前記測定結果に基づいて、前記画像検出手段の動作モードを、放射線のパルス照射に同期して信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返すパルス照射対応モードと、連続的な放射線照射中における一定時間の信号電荷の蓄積と信号電荷の読み出しとを交互に繰り返す連続照射対応モードとのいずれかに設定するステップと、を含むものである。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、先に照射されたパルス状の放射線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状の放射線の立ち上がり部との重なり状態に基づいて、画像検出手段の動作モードをパルス照射対応モードと連続照射対応モードとのいずれかに自動的に設定することができるので、安価な放射線管を使用しても高画質な動画像を撮影することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】Ｘ線撮影システムの概略的構成を示す説明図である。
【図２】Ｘ線画像検出装置の構成を示す外観斜視図である。
【図３】ＦＰＤの構成を示す説明図である。
【図４】パルス照射対応モード時の照射プロファイル、検出プロファイル及びＦＰＤの動作状態を示す説明図である。
【図５】パルス状Ｘ線の立ち下がり部と立ち上がり部とが重なっている状態を示す照射プロファイル及び検出プロファイルのグラフである。
【図６】連続照射対応モード時の照射プロファイル、検出プロファイル及びＦＰＤの動作状態を示す説明図である。
【図７】ＦＰＤの動作モードの設定手順を示すフローチャートである。
【図８】ＦＰＤのパルス照射対応モードの制御手順を示すフローチャートである。
【図９】ＦＰＤの連続照射対応モードの制御手順を示すフローチャートである。
【図１０】Ｘ線の照射量の波尾を説明するためのグラフである。
【図１１】波尾の長いＸ線をパルス状に照射した状態を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
図１において、Ｘ線撮影システム１０は、外部装置と通信を行なう機能を備えていないＸ線発生装置１１と、フイルム用カセッテやＩＰ用カセッテが取り付け可能な撮影台２２とからなる既存のＸ線撮影システムに、Ｘ線画像検出装置２１、撮影制御装置２３及びコンソール２４からなるＸ線撮影装置１２を組み込んだものである。
【００２５】
Ｘ線発生装置１１は、Ｘ線源１３と、Ｘ線源１３を制御する線源制御装置１４と、照射スイッチ１５とで構成される。Ｘ線源１３は、Ｘ線を放射するＸ線管１３ａと、Ｘ線管１３ａが放射するＸ線の照射野を限定する照射野限定器（コリメータ）１３ｂとを有する。
【００２６】
Ｘ線管１３ａは、熱電子を放出するフィラメントからなる陰極と、陰極から放出された熱電子が衝突してＸ線を放射する陽極（ターゲット）とを有している。照射野限定器１３ｂは、例えば、Ｘ線を遮蔽する複数枚の鉛板を井桁状に配置し、Ｘ線を透過させる照射開口が中央に形成されたものであり、鉛板の位置を移動することで照射開口の大きさを変化させて、照射野を限定する。
【００２７】
線源制御装置１４は、Ｘ線源１３に対して高電圧を供給する高電圧発生器１４ａと、Ｘ線源１３が照射するＸ線の線質（エネルギースペクトル）を決める管電圧、単位時間当たりの線量を決める管電流、及びＸ線の照射時間を制御する線源制御部１４ｂとを備えている。高電圧発生器１４ａは、トランスによって入力電圧を昇圧して高圧の管電圧を発生し、高電圧ケーブル１４ｃを通じてＸ線源１３に駆動電力を供給する。管電圧、管電流、Ｘ線の照射時間、及び撮影目的等の撮影条件は、線源制御装置１４の操作パネルを通じて放射線技師などのオペレータにより手動で線源制御部１４ｂに設定される。なお、撮影条件に含まれている撮影目的とは、例えば、静止画撮影及び動画撮影等の撮影の種類である。
【００２８】
照射スイッチ１５は、線源制御装置１４に信号ケーブルによって接続されている。照射スイッチ１５は、放射線技師によって操作可能な二段階押しのスイッチであり、一段階押しでＸ線源１３のウォームアップを開始させるためのウォームアップ開始信号を発生し、二段階押しでＸ線源１３に照射を開始させるための照射開始信号を発生する。これらの信号は信号ケーブルを通じて線源制御装置１４に入力される。
【００２９】
線源制御部１４ｂは、照射スイッチ１５からの制御信号に基づいて、Ｘ線源１３の動作を制御する。照射スイッチ１５から照射開始信号を受けると、線源制御部１４ｂは、Ｘ線源１３に対して開始指令を発して電力供給を開始する。これによりＸ線源１３は照射を開始する。線源制御部１４ｂは、静止画撮影時には、電力供給の開始とともに、タイマを作動させてＸ線の照射時間の計測を開始する。そして、撮影条件で設定された照射時間が経過すると、線源制御部１４ｂは、Ｘ線源１３に対して停止指令を発して電力供給を停止する。Ｘ線源１３は、停止指令を受けるとＸ線の照射を停止させる。また、線源制御部１４ｂは、動画撮影時には、例えば照射スイッチ１５が操作されている間、設定されたフレームレートに対応する時間間隔でＸ線源１３にＸ線をパルス状に照射させる。
【００３０】
撮影台２２は、フイルム用カセッテやＩＰ用カセッテが着脱自在に取り付けられるスロットを有し、Ｘ線が入射する入射面がＸ線源１３と対向するように配置されている。なお、撮影台２２として、被検者Ｈを立位姿勢で撮影する立位撮影台を例示しているが、被検者Ｈを臥位姿勢で撮影する臥位撮影台でもよい。
【００３１】
Ｘ線撮影装置１２は、Ｘ線画像検出装置２１、撮影制御装置２３、およびコンソール２４から構成される。Ｘ線画像検出装置２１は、ＦＰＤ３６（図３参照）と、ＦＰＤ３６を収容する可搬型の筐体とからなり、Ｘ線源１３から照射されて被検者（被写体）Ｈを透過したＸ線を受けて被検者ＨのＸ線画像を検出する、可搬型の放射線画像検出装置である。Ｘ線画像検出装置２１は、平面形状が略矩形の偏平な筐体を有し、平面サイズはフイルム用カセッテやＩＰ用カセッテと略同様の大きさであるため、撮影台２２にも取り付け可能である。
【００３２】
撮影制御装置２３は、有線方式や無線方式によりＸ線発生装置１１、Ｘ線画像検出装置２１及びコンソール２４と通信を行なう通信部と、通信部を介してＸ線画像検出装置２１を制御する撮影制御部とを有している。撮影制御装置２３は、Ｘ線画像検出装置２１に撮影条件を送信して、ＦＰＤ３６の信号処理の条件、すなわち動作モードを設定させる。また、撮影制御装置２３は、Ｘ線画像検出装置２１が出力する画像データを受信してコンソール２４に送信する。
【００３３】
コンソール２４は、患者の性別、年齢、撮影部位、撮影目的といった情報が含まれる検査オーダの入力を受け付けて、検査オーダをディスプレイに表示する。検査オーダは、ＨＩＳ（病院情報システム）やＲＩＳ（放射線情報システム）といった患者情報や放射線検査に係る検査情報を管理する外部システムから入力されるか、放射線技師などのオペレータにより手動入力される。オペレータは、検査オーダの内容をディスプレイで確認し、その内容に応じた撮影条件をコンソール２４の操作画面を通じて入力する。
【００３４】
コンソール２４は、撮影制御装置２３に対して撮影条件を送信するとともに、撮影制御装置２３から送信されるＸ線画像のデータに対して、ガンマ補正、周波数処理等の各種画像処理を施す。画像処理済みのＸ線画像はコンソール２４のディスプレイに表示される他、そのデータがコンソール２４内のハードディスクやメモリ、あるいはコンソール２４とネットワーク接続された画像蓄積サーバといったデータストレージデバイスに格納される。
【００３５】
図２に示すように、Ｘ線画像検出装置２１は、矩形状の上面が放射線の照射面とされた筐体２５を備えている。筐体２５は、照射面が設けられている天板２６と、天板２６以外を構成する筐体本体２７とからなり、例えば、天板２６はカーボン等から構成され、筐体本体２７は金属や樹脂等から構成されている。これにより、天板２６によるＸ線の吸収を抑制しつつ、筐体本体２７の強度が確保される。
【００３６】
筐体２５の上面には、Ｘ線画像検出装置２１の動作状態等を報知する報知手段であるインジケータ２８が設けられている。インジケータ２８は、例えば複数の発光部からなり、各発光部の発光状態の組み合わせによって、Ｘ線画像検出装置２１の動作状態やバッテリの残容量等が表示される。動作状態としては、例えば撮影待機状態を表す「レディ状態」や、撮影後の画像データを送信中であることを表す「データ送信中」等がある。インジケータ２８には、ＬＣＤ等の表示装置を用いてもよい。
【００３７】
Ｘ線画像検出装置２１の筐体２５内には、照射面に対面するように、Ｘ線画像を検出する画像検出手段であるＦＰＤ３６が配置されている。ＦＰＤ３６は、Ｘ線を可視光に変換するシンチレータ２９と、シンチレータ２９によって変換された可視光を光電変換する検出パネル３０とを備えた間接変換型であり、シンチレータ２９のＸ線照射面側に検出パネル３０を配置した「表面読取方式（ＩＳＳ：Irradiation Side Sampling)」となっている。なお、ＦＰＤ３６は、シンチレータ２９と検出パネル３０との配置を逆にした「裏面読取方式(ＰＳＳ：Penetration Side Sampling)」であってもよい。
【００３８】
筐体２５の内部には、照射面の短手方向に沿った一端側に、各種電子回路３１、バッテリ３２、通信部３３が配置されている。各種電子回路３１は、ＦＰＤ３６を制御するための電子回路であり、各種電子部品がＸ線の照射によって損傷しないようにＸ線遮蔽性を有する材料によって保護されている。バッテリ３２は、充電可能かつ着脱自在なように筐体２５に組み込まれており、ＦＰＤ３６、各種電子回路３１及び通信部３３に電力を供給する。通信部３３は、有線方式または無線方式により、撮影制御装置２３と通信を行なう。
【００３９】
図３において、ＦＰＤ３６は、ＴＦＴアクティブマトリクス基板を有し、この基板上にＸ線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素３７を配列してなる撮像領域３８を有する検出パネル３０と、画素３７を駆動して信号電荷の読み出しを制御するゲートドライバ３９と、画素３７から読み出された信号電荷をデジタルデータに変換して出力する信号処理回路４０と、ゲートドライバ３９と信号処理回路４０を制御して、ＦＰＤ３６の動作を制御する制御部４１とを備えている。制御部４１には、有線方式または無線方式によって撮影制御装置２３と通信を行なう通信部４５が接続されている。複数の画素３７は、所定のピッチで二次元にｎ行（ｘ方向）×ｍ列（ｙ方向）のマトリクスに配列されている。
【００４０】
ＦＰＤ３６は、Ｘ線を可視光に変換するシンチレータ（図示せず）を有し、シンチレータによって変換された可視光を画素３７で光電変換する間接変換型である。シンチレータは、画素３７が配列された撮像領域３８の全面と対向するように配置されている。シンチレータは、ＣｓＩ（ヨウ化セシウム）やＧＯＳ（ガドリニウムオキシサルファイド）などの蛍光体からなる。なお、Ｘ線を直接電荷に変換する変換層（アモルファスセレン等）を用いた直接変換型のＦＰＤを用いてもよい。
【００４１】
画素３７は、可視光の入射によって電荷（電子−正孔対）を発生する光電変換素子であるフォトダイオード４２、フォトダイオード４２が発生した電荷を蓄積するキャパシタ（図示せず）、およびスイッチング素子として薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）４３を備える。
【００４２】
フォトダイオード４２は、ａ−Ｓｉ（アモルファスシリコン）などの半導体層（例えばＰＩＮ型）を有し、その上下に上部電極および下部電極が配されている。フォトダイオード４２は、下部電極にＴＦＴ４３が接続され、上部電極にはバイアス線（図示せず）が接続される。
【００４３】
バイアス線を通じて、撮像領域３８内の全画素３７に対して、フォトダイオード４２の上部電極にバイアス電圧が印加される。バイアス電圧の印加によりフォトダイオード４２の半導体層内に電界が生じ、光電変換により半導体層内で発生した電荷（電子−正孔対）は、一方がプラス、他方がマイナスの極性を持つ上部電極と下部電極に移動し、キャパシタに電荷が蓄積される。
【００４４】
ＴＦＴ４３は、ゲート電極が走査線４７に、ソース電極が信号線４８に、ドレイン電極がフォトダイオード４２にそれぞれ接続される。走査線４７と信号線４８は格子状に配線されている。走査線４７は撮像領域３８内の画素３７の行数分（ｎ行分）設けられ、各走査線４７は各行の複数の画素３７に接続される共通配線である。信号線４８は画素３７の列数分（ｍ列分）設けられ、各信号線４８は各列の複数の画素３７に接続される共通配線である。各走査線４７はゲートドライバ３９に接続され、各信号線４８は信号処理回路４０に接続される。
【００４５】
ゲートドライバ３９は、ＴＦＴ４３を駆動することにより、Ｘ線の入射量に応じた信号電荷を画素３７に蓄積する蓄積動作と、画素３７から信号電荷を読み出す読み出し動作と、画素３７に蓄積される電荷をリセットするリセット動作とを行わせる。制御部４１は、ゲートドライバ３９によって実行される上記各動作の開始タイミングを制御する。
【００４６】
蓄積動作ではＴＦＴ４３がオフ状態にされ、その間に画素３７に信号電荷が蓄積される。読み出し動作では、ゲートドライバ３９から同じ行のＴＦＴ４３を一斉に駆動するゲートパルスＧ１〜Ｇｎを順次発生して、走査線４７を一行ずつ順に活性化し、走査線４７に接続されたＴＦＴ４３を一行分ずつオン状態とする。
【００４７】
一行分のＴＦＴ４３がオン状態になると、一行分の画素３７のそれぞれに蓄積された信号電荷が、各信号線４８を通じて信号処理回路４０に入力される。信号処理回路４０において、一行分の信号電荷は電圧に変換されて出力され、各信号電荷に応じた出力電圧が、電圧信号Ｄ１〜Ｄｍとして読み出される。アナログの電圧信号Ｄ１〜Ｄｍはデジタルデータに変換されて、一行分の各画素の濃度を表すデジタルな画素値である画像データが生成される。画像データは、Ｘ線画像検出装置２１の筐体に内蔵されるメモリ５６に出力される。
【００４８】
フォトダイオード４２の半導体層には、Ｘ線の入射の有無に関わらず暗電流が発生する。暗電流に応じた電荷である暗電荷はバイアス電圧が印加されているためにキャパシタに蓄積される。暗電荷は、画像データに対してはノイズ成分となるので、これを除去するためにリセット動作が行われる。リセット動作は、画素３７において発生する暗電荷を、画素３７から信号線４８を通じて掃き出す動作である。
【００４９】
リセット動作は、例えば、一行ずつ画素３７をリセットする順次リセット方式で行われる。順次リセット方式では、信号電荷の読み出し動作と同様、ゲートドライバ３９から走査線４７に対してゲートパルスＧ１〜Ｇｎを順次発生して、画素３７のＴＦＴ４３を一行ずつオン状態にする。ＴＦＴ４３がオン状態になっている間、画素３７から暗電荷が信号線４８を通じて信号処理回路４０に入力される。
【００５０】
リセット動作では、読み出し動作と異なり、信号処理回路４０において、暗電荷に応じた出力電圧の読み出しは行われない。リセット動作では、各ゲートパルスＧ１〜Ｇｎの発生と同期して、制御部４１から信号処理回路４０にリセットパルスＲＳＴが出力される。信号処理回路４０においてリセットパルスＲＳＴが入力されると、後述する積分アンプ４９のリセットスイッチ４９ａがオンされて、入力された暗電荷がリセットされる。
【００５１】
順次リセット方式に代えて、配列画素の複数行を一グループとしてグループ内で順次リセットを行い、グループ数分の行の暗電荷を同時に掃き出す並列リセット方式や、全行にゲートパルスを入れて全画素の暗電荷を同時に掃き出す全画素リセット方式を用いてもよい。並列リセット方式や全画素リセット方式によりリセット動作を高速化することができる。
【００５２】
信号処理回路４０は、積分アンプ４９、ＭＵＸ５０およびＡ／Ｄ変換器５１等からなる。積分アンプ４９は、各信号線４８に対して個別に接続される。積分アンプ４９は、オペアンプとオペアンプの入出力端子間に接続されたキャパシタとからなり、信号線４８はオペアンプの一方の入力端子に接続される。積分アンプ４９のもう一方の入力端子（図示せず）はグランド（ＧＮＤ）に接続される。積分アンプ４９は、信号線４８から入力される信号電荷を積算し、電圧信号Ｄ１〜Ｄｍに変換して出力する。
【００５３】
各列の積分アンプ４９の出力端子は、電圧信号Ｄ１〜Ｄｍを増幅する増幅器（図示せず）や、電圧信号Ｄ１〜Ｄｍを保持するサンプルホールド部（図示せず）を介して、ＭＵＸ５０に接続されている。ＭＵＸ５０は、パラレルに接続される複数の積分アンプ４９から１つを選択し、選択した積分アンプ４９から出力される電圧信号Ｄ１〜ＤｍをシリアルにＡ／Ｄ変換器５１に入力する。Ａ／Ｄ変換器５１は、アナログの電圧信号Ｄ１〜Ｄｍをそれぞれの信号レベルに応じたデジタルな画素値に変換する。
【００５４】
蓄積動作後、信号電荷を読み出す読み出し動作においては、ゲートパルスによってＴＦＴ４３が一行ずつオン状態にされ、一行内の各列の画素３７のキャパシタに蓄積された信号電荷が信号線４８を介して積分アンプ４９に入力される。
【００５５】
積分アンプ４９から一行分の電圧信号Ｄ１〜Ｄｍが出力されると、制御部４１は、積分アンプ４９に対してリセットパルス（リセット信号）ＲＳＴを出力し、積分アンプ４９のリセットスイッチ４９ａをオンする。これにより、積分アンプ４９に蓄積された一行分の信号電荷がリセットされる。積分アンプ４９がリセットされると、ゲートドライバ３９から次の行のゲートパルスが出力され、次の行の画素３７の信号電荷の読み出しを開始させる。これらの動作を順次繰り返して全行の画素３７の信号電荷を読み出す。
【００５６】
全行の読み出しが完了すると、一画面分のＸ線画像を表す画像データがメモリ５６に記録される。メモリ５６に記録された画像データに対しては、ＦＰＤ３６の個体差や環境に起因して生じる固定パターンノイズであるオフセット成分を除去するオフセット補正や、各画素３７のフォトダイオード４２の感度のばらつきや信号処理回路４０の出力特性のばらつきなどを補正するための感度補正といった画像補正処理が施される。画像データは、メモリ５６から読み出されて撮影制御装置２３に出力され、コンソール２４に送信される。こうして被検者ＨのＸ線画像が検出される。
【００５７】
また、ＦＰＤ３６は、Ｘ線源１３との間で同期信号の遣り取りをすることなく、Ｘ線源１３の照射タイミングを自己検出することが可能である。図３においてハッチングで示すように、ＦＰＤ３６の撮像領域３８内には、Ｘ線の照射開始及び照射終了の各タイミングを検出するための検出素子として短絡画素６２が設けられている。画素３７は、ＴＦＴ４３のオンオフによって信号線４８との電気的な接続のオンオフが切り替えられるのに対して、短絡画素６２は、信号線４８と常時短絡している。
【００５８】
短絡画素６２は、構造は画素３７とほぼ同様であり、フォトダイオード４２とＴＦＴ４３とを有しており、フォトダイオード４２はＸ線の入射量に応じた信号電荷を発生する。短絡画素６２において、画素３７との構造上の相違点は、ＴＦＴ４３のソースとドレインが結線により短絡している点であり、短絡画素６２のＴＦＴ４３のスイッチング機能は失われている。これにより、短絡画素６２のフォトダイオード４２が発生する信号電荷が常時信号線４８に流出し、積分アンプ４９に入力される。なお、短絡画素６２のＴＦＴ４３のソースとドレインを結線する代わりに、短絡画素６２についてはＴＦＴ４３そのものを設けずに、フォトダイオード４２と信号線４８を直接接続してもよい。
【００５９】
制御部４１は、短絡画素６２の出力に基づいて、Ｘ線源１３からＦＰＤ３６に照射されるＸ線の照射量を測定して、Ｘ線の照射量の変化を監視する。制御部４１は、ＭＵＸ５０によって、短絡画素６２からの信号電荷が入力される積分アンプ４９を選択して、積分アンプ４９の電圧信号を、短絡画素６２の出力電圧Ｖｏｕｔとして読み出す。制御部４１は、出力電圧Ｖｏｕｔを１回読み出すと、積分アンプ４９をリセットする。制御部４１は、照射中のＸ線の強度変化を監視できるように、蓄積動作中において、出力電圧Ｖｏｕｔを読み出す動作をＸ線の照射時間に対して非常に短い間隔で繰り返す。
【００６０】
制御部４１は、出力電圧Ｖｏｕｔの値をデジタルデータに変換してメモリ５６に記録する。制御部４１は、メモリ５６に記録された出力電圧Ｖｏｕｔの経時変化に基づいて、Ｘ線源１３から照射されるＸ線の照射量の変化を監視して、Ｘ線の照射開始及び照射終了を検出する。
【００６１】
制御部４１は、短絡画素６２によるＸ線の検出結果に基づいて、ＦＰＤ３６の動作モードを、パルス照射対応モードと連続照射対応モードとのいずれかに設定する。パルス照射対応モードは、パルス状に照射されたＸ線の照射量に基づいてＸ線の照射開始及び照射終了を検出してＦＰＤ３６を同期制御させるモードである。連続照射対応モードとは、連続的な放射線照射中における一定時間の蓄積動作と読み出し動作とを交互に繰り返すモードである。
【００６２】
図１０に示すように、Ｘ線管１３ａから照射されるＸ線の照射量は、照射終了から「０」まで立ち下がる時間、すなわち波尾が長くなってしまい、動画撮影時のフレームレートによっては、図１１に示すように、先に照射されたＸ線の波尾と、次に照射されたＸ線の立ち上がり部分とが重なって実質的にＸ線が連続照射されている状態に近くなり、Ｘ線の照射開始及び照射終了が検出できなくなる。
【００６３】
照射終了後のＸ線の照射量は、管電流及び管電圧に応じて求められる時定数τで指数関数的に下降し、照射量が「０」になるには、時定数τの３〜５倍の時間がかかることが知られている。例えば、Ｘ線管を抵抗Ｒとして見たとき、管電流Ｉと管電圧Ｖとの間で、Ｒ＝Ｖ／Ｉの関係が成り立つ。また、Ｘ線管の容量をＣＴｕｂｅ［ｐＦ］、Ｘ線管と高電圧発生器とを接続する高電圧ケーブルの容量をＣＬｉｎｅ［ｐＦ／ｍ］、ケーブル長をＬとしたとき、Ｘ線管と高電圧ケーブルとを合わせた容量Ｃは、Ｃ＝ＣＴｕｂｅ＋ＣＬｉｎｅ×Ｌにより求められる。よって、Ｘ線源の時定数τは、τ＝ＲＣ＝Ｖ／Ｉ（ＣＴｕｂｅ＋ＣＬｉｎｅ×Ｌ）により求めることができる。
【００６４】
以上から、Ｘ線の波尾の長さは、Ｘ線管及び高電圧ケーブルの容量Ｃと、管電流Ｉ及び管電圧Ｖによって変化し、例えば容量Ｃが大きく、または管電流が小さく、あるいは管電圧が高くなるほど長くなる。したがって、安価な２極管からなるＸ線管であっても、波尾の長さとフレームレートとの組み合わせによっては、パルス照射対応モードで動画撮影を行なうことができる。
【００６５】
制御部４１は、図４に示すように、短絡画素６２の出力電圧Ｖｏｕｔに基づいて、単位時間あたりのＸ線の照射量を表す照射プロファイルと、単位時間あたりのＸ線の積算検出量を表す検出プロファイルとを作成する。図７に示すように、制御部４１は、照射プロファイルに基づいて、パルス状のＸ線の照射量が「０」になるまでにかかる立ち下がり時間、すなわちＸ線の照射量の波尾の長さに基づいて閾値Ｔｓを設定する。次いで、制御部４１は、検出プロファイルに基づいて、パルス状のＸ線の積算検出量がほぼ一定となる期間Ｔｆを特定し、閾値Ｔｓと期間Ｔｆとを比較する。なお、ほぼ一定とは、例えば特定の値の上下２０％程度の範囲をいう。
【００６６】
制御部４１は、図４に示すように、期間Ｔｆが閾値Ｔｓとほぼ同じ場合には、ＦＰＤ３６の動作モードをパルス照射対応モードに設定する。この状態では、先に照射されたパルス状のＸ線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状のＸ線の立ち上がり部とが重なっていないため、パルス状のＸ線の照射開始と照射終了とを検出することができるからである。
【００６７】
制御部４１は、パルス照射対応モードにおいて、Ｘ線源１３からパルス状に照射されたＸ線の照射量を短絡画素６２により測定し、Ｘ線の照射量の変化を監視してＸ線の照射開始を検出する。制御部４１は、Ｘ線の照射開始を検出している間、ＦＰＤ３６を待機状態に移行させ、ＦＰＤ３６にリセット動作を実行させる。
【００６８】
Ｘ線の照射開始が検出されると、制御部４１は、画素３７のＴＦＴ４３をオフして待機状態から蓄積動作に移行させる。また、制御部４１は、Ｘ線が照射されている間、信号線４８に流出する短絡画素６２の出力に基づいて、Ｘ線照射量の変動の監視を継続し、Ｘ線の照射終了を検出したときに、ＦＰＤ３６の蓄積動作を終了させ、読み出し動作に移行させる。制御部４１は、パルス状のＸ線が照射されている間、上記動作を繰り返し行なうことにより、被写体の透視を透視した動画を撮影する。
【００６９】
また、制御部４１は、図５に示すように、期間Ｔｆが閾値Ｔｓよりも短い場合には、ＦＰＤ３６の動作モードを連続照射対応モードに設定する。この状態では、先に照射されたパルス状のＸ線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状のＸ線の立ち上がり部とが重なっているため、パルス状のＸ線の照射開始と照射終了とを検出することができないからである。
【００７０】
図６に示すように、制御部４１は、連続照射対応モードにおいて、検出プロファイルの積算検出量の立ち上がり期間内で、ＦＰＤ３６に一定時間の蓄積動作と読み出し動作とを行なわせる。また、制御部４１は、積算検出量がほぼ一定となる期間Ｔｆ内でＦＰＤ３６リセット動作を行なわせる。連続照射対応モードでは、これらの動作が繰り返されることにより、被写体の透視を透視した動画が撮影される。
【００７１】
図８のフローチャートを参照して、Ｘ線画像検出装置２１の作用について説明する。Ｘ線画像検出装置２１がセットされた撮影台２２に対して、被検者Ｈの撮影部位とＸ線源１３の照射位置を位置合わせする。Ｘ線源１３には、管電圧、管電流、照射時間等の撮影条件が設定され、コンソール２４には、患者の性別、年齢、撮影部位、撮影目的等の検査オーダと、これに基づく撮影条件とが入力される。コンソール２４に入力された撮影条件は、撮影制御装置２３を介してＸ線画像検出装置２１に送信される。
【００７２】
Ｘ線画像検出装置２１の制御部４１に、撮影制御装置２３から撮影準備指示が入力されると、ＦＰＤ３６は待機状態に移行する（Ｓ１０１）。待機状態に移行すると、ＦＰＤ３６はリセット動作を開始するとともに、Ｘ線の照射量の測定を開始する（Ｓ１０２）。
【００７３】
照射スイッチ１５の押下によってＸ線源１３に対して照射開始指令が入力されると、Ｘ線源１３は、被検者Ｈに向けてパルス状のＸ線の照射を開始する。制御部４１は、出力電圧Ｖｏｕｔと閾値Ｖｔｈを比較して、Ｘ線照射量の変化を監視する（Ｓ１０３）。そして、Ｘ線の照射量が上昇して、出力電圧Ｖｏｕｔが閾値Ｖｔｈを超えたときにＸ線の照射が開始されたことを検出する（Ｓ１０４）。制御部４１は、照射開始を検出すると、短絡画素６２の出力電圧Ｖｏｕｔに基づいてＦＰＤ３６の動作モードを設定する（Ｓ１０５）。
【００７４】
制御部４１は、ＦＰＤ３６の動作モードをパルス照射対応モードに設定したときには、次のパルス状のＸ線の照射量の測定を開始し（Ｓ１０６）、出力電圧Ｖｏｕｔと閾値Ｖｔｈを比較して、Ｘ線照射量の変化を監視する（Ｓ１０７）出力電圧Ｖｏｕｔが閾値Ｖｔｈを超えたときにＸ線の照射開始を検出し（Ｓ１０８）、照射開始に同期してＦＰＤ３６に蓄積動作を開始させる（Ｓ１０９）。
【００７５】
ＦＰＤ３６は、蓄積動作中も出力電圧Ｖｏｕｔと閾値Ｖｔｈを比較して、Ｘ線の照射量の変化を監視する（Ｓ１１０）。Ｘ線源１３には、撮影条件として設定された照射時間が経過すると停止指令が入力され、Ｘ線の強度が下降を開始する。制御部４１は、出力電圧Ｖｏｕｔが閾値Ｖｔｈ以下になったときに、Ｘ線の強度が下降を開始したと判定して、照射終了を検出する（Ｓ１１１）。制御部４１は、照射終了の検出とともにＦＰＤ３６の蓄積動作を終了させ、読み出し動作を開始させる（Ｓ１１２）。読み出されたＸ線画像は、メモリ５６に記録される。制御部４１は、Ｘ線がパルス状に照射されている間、上記Ｓ１０６〜Ｓ１１２のステップを繰り返し（Ｓ１１３）、被写体を透視した動画を撮影する。撮影された動画像は、メモリ５６からコンソール２４に送信される。
【００７６】
次に、図９のフローチャートを参照して、ＦＰＤ３６が連続照射対応モードに設定された場合の作用について説明する。制御部４１は、パルス照射対応モード時と同様に、Ｘ線の照射量の測定を開始し（Ｓ２０１）、Ｘ線の積算検出量がほぼ一定となる期間Ｔｆ内でＦＰＤ３６にリセット動作を行なわせる（Ｓ２０２）。制御部４１は、リセット動作後、Ｘ線の積算検出量の立ち上がり期間内で一定時間の蓄積動作と（Ｓ２０３）、読み出し動作（Ｓ２０４）とを行なわせる。制御部４１は、Ｘ線が照射されている間、上記Ｓ２０１〜Ｓ２０４のステップを繰り返し（Ｓ２０５）、被写体を透視した動画を撮影する。撮影された動画像は、メモリ５６からコンソール２４に送信される。
【００７７】
上述したように、本実施形態では、先に照射されたパルス状のＸ線の立ち下がり部と、次に照射されたパルス状のＸ線の立ち上がり部との重なり状態に基づいて、ＦＰＤ３６の動作モードをパルス照射対応モードと連続照射対応モードとのいずれかに自動的に設定することができるので、安価なＸ線管を使用して高画質な動画像を撮影することができる。
【００７８】
なお、撮像領域３８内に設けられた短絡画素６２によって、Ｘ線の照射量を測定しているが、短絡画素６２は、通常の画素３７とほぼ同一構造であり、Ｘ線に対する感度もほぼ同一であるため、Ｘ線の強度を正確に測定することが可能であり、照射開始及び照射終了、総照射量を精度良く検出することができる。また、構造がほぼ同一であるので、製造もしやすく、製造コストの増加も少ない。
【００７９】
また、短絡画素以外の方法でＸ線の強度を測定してもよい。例えば、画素を構成するフォトダイオードにはバイアス電圧が印加されるが、フォトダイオードで発生する信号電荷の量に応じてバイアス線に流れるバイアス電流も変化する。こうしたバイアス電流を検出して、Ｘ線の強度を測定してもよい。また、画素のＴＦＴをオフした状態でも、フォトダイオードで発生する信号電荷の量に応じて、僅かであるが信号線にリーク電流が流れる。このリーク電流を検出して、Ｘ線の強度を測定してもよい。また、Ｘ線検出専用の素子をＸ線画像検出装置内に設けてもよく、この専用素子は、撮像領域内、または撮像領域外に設けてもよい。
【００８０】
また、ガラス基板を使用してＴＦＴマトリックス基板を形成したＴＦＴ型のＦＰＤを例に説明したが、半導体基板を使用したＣＭＯＳイメージセンサやＣＣＤイメージセンサを使用したＦＰＤでもよい。このうちＣＭＯＳイメージセンサを使用すると、次のようなメリットがある。ＣＭＯＳイメージセンサの場合、画素に蓄積される信号電荷を読み出し用の信号線に流出させることなく、各画素に設けられたアンプを通じて電圧信号として読み出す、いわゆる非破壊読み出しが可能である。これによれば、蓄積動作中においても、撮像領域内の任意の画素を選択して、その画素から信号電荷を読み出すことによりＸ線の強度測定が可能である。したがって、ＣＭＯＳイメージセンサを使用する場合には、上記短絡画素のように、Ｘ線の強度測定用の専用の検出素子を用いることなく、通常の画素のいずれかを、強度測定用の検出素子として兼用させることが可能となる。
【００８１】
さらに、本発明に係るＸ線画像検出装置は、上記実施形態に限らず、本発明の要旨を逸脱しない限り種々の構成を採り得ることはもちろんである。
【００８２】
Ｘ線画像検出装置は、病院の撮影室に据え置かれるＸ線撮影システムに用いられる他、病室を巡回して撮影が可能な回診車に搭載してもよいし、事故、災害等の緊急医療対応が必要な現場や在宅診療を受ける患者の自宅に持ち運んでＸ線撮影を行うことが可能な可搬型のシステムに適用してもよい。
【００８３】
上記例では、Ｘ線画像検出装置と、撮影制御装置を別体で構成した例で説明したが、撮影制御装置の機能をＸ線画像検出装置の制御部に内蔵する等、Ｘ線画像検出装置と撮影制御装置を一体化してもよい。
【００８４】
上記実施形態では、可搬型のＸ線画像検出装置を例に説明したが、据え置き型のＸ線画像検出装置に本発明を適用してもよい。
【００８５】
本発明は、Ｘ線に限らず、γ線等の他の放射線を使用する撮影システムにも適用することができる。
【符号の説明】
【００８６】
１０  Ｘ線撮影システム
１１  Ｘ線発生装置
１２  Ｘ線撮影装置
１３  Ｘ線源
１３ａ  Ｘ線管
１４  線源制御装置
２１  Ｘ線画像検出装置
２３  撮影制御装置
２４  コンソール
２８  インジケータ
３６  ＦＰＤ
３７  画素
６２  短絡画素
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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