(57)【要約】【課題】アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを確実に補償し得る有機発光表示装置を提供する。【解決手段】ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域に形成された画素を含む表示パネルと；ゲートラインにゲート信号を供給するゲート駆動部と；データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及びセンシングラインを通じて画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングしてセンシングデータを生成するアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含むデータ駆動集積回路と；アナログ−デジタルコンバータのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと；ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいてセンシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調してデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部とを含む。【選択図】図３
2014126873.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を含む表示パネルと、
前記ゲートラインにゲート信号を供給するためのゲート駆動部と、
前記データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及び前記センシングラインを通じて複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングしてセンシングデータを生成する複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含む複数個のデータ駆動集積回路と、
前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと、
前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部と、を含んで構成されることを特徴とする、有機発光表示装置。
【請求項２】
前記タイミング制御部は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする、請求項１に記載の有機発光表示装置。
【請求項３】
前記タイミング制御部は、ＡＤＣばらつき補正モードの間、前記センシング部をプリチャージ期間とセンシング期間とに分けて駆動させ、
前記センシング部は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインのそれぞれにテスト電圧を供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される測定データを前記タイミング制御部に供給することを特徴とする、請求項１に記載の有機発光表示装置。
【請求項４】
前記タイミング制御部は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される電圧レベルによる測定データを取得して外部の誤差補正装置に提供し、前記誤差補正装置から提供される前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を前記メモリに保存することを特徴とする、請求項３に記載の有機発光表示装置。
【請求項５】
前記センシング部は、前記センシングラインを通じて、表示期間中、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、前記センシングデータを前記タイミング制御部に供給し、
前記タイミング制御部は、前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、前記水平ラインの画素に供給される入力データを変調することを特徴とする、請求項１に記載の有機発光表示装置。
【請求項６】
ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を有する表示パネルと、前記センシングラインに選択的に接続される複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部が内蔵された複数個のデータ駆動集積回路とを含む有機発光表示装置の駆動方法において、
前記センシングラインのそれぞれに供給されたテスト電圧による前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれの出力データに基づいて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する段階（Ａ）と、
前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを通じて、複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、各画素のセンシングデータを生成する段階（Ｂ）と、
前記ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正する段階（Ｃ）と、
補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給する段階（Ｄ）と、を含んでなることを特徴とする、有機発光表示装置の駆動方法。
【請求項７】
前記段階（Ｃ）は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、前記減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする、請求項６に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
【請求項８】
前記段階（Ａ）は、
前記ゲートラインにゲートオフ電圧レベルのゲート信号を供給する段階（Ａ１）と、
前記センシングラインにテスト電圧を供給し、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、前記テスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングする段階（Ａ２）と、
前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれから出力される前記データ電圧による測定データを取得する段階（Ａ３）と、
前記測定データに基づき、最小二乗法を用いて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出して、メモリに保存する段階（Ａ４）と、を含んでなることを特徴とする、請求項６に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
【請求項９】
前記段階（Ａ２）は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、段階的に増加するテスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングし、
前記段階（Ａ４）は、テスト電圧の一定区間別に前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することを特徴とする、請求項８に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
【請求項１０】
前記段階（Ａ４）は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出し、
前記段階（Ｃ）は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのセンシングデータに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を適用して補正することを特徴とする、請求項８に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光表示装置に係り、より具体的には、駆動トランジスタの特性変化を補償して、映像の輝度均一性を向上させることができるようにした有機発光表示装置及びその駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、マルチメディアの発達に伴い、平板表示装置の重要性が増大している。これに応じて、液晶表示装置、プラズマ表示装置、有機発光表示装置などの平板表示装置が商用化されている。
【０００３】
平板表示装置のうち有機発光表示装置は、電子と正孔との再結合によって光を発生する有機発光素子を用いて映像を表示するもので、高速の応答速度を有し、自発光であるから視野角に問題がないので、次世代平板表示装置として注目されている。
【０００４】
一般的な有機発光表示装置の１画素は、有機発光素子及びそれを駆動するための駆動トランジスタを含む画素回路からなる。しかし、一般的な有機発光表示装置は、薄膜トランジスタの製造工程の不均一、及び駆動時間によって各画素毎に駆動トランジスタの閾値電圧／移動度特性が異なるため、同一のデータ電圧を印加しても、各画素の駆動トランジスタに流れる電流量が互いに異なるようになる。このような各画素の駆動トランジスタに流れる電流量ばらつきは、各画素間の輝度ばらつきを誘発させて、画質の均一性を低下させる。このような問題点を解決するための方法は、特許文献１乃至特許文献３などに開示されている。
【０００５】
前記各特許文献は、各画素にセンシングトランジスタ及びセンシングラインを形成し、データ駆動部、すなわち、データ駆動集積回路に含まれたセンシング部のアナログ−デジタルコンバータを用いて、駆動トランジスタの駆動によってセンシングラインに充電される電圧をセンシングし、センシングされた電圧によってデータを補正することによって駆動トランジスタの特性変化を補償して、各画素間の輝度ばらつきによる画質の低下を防止する。
【０００６】
しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差（ｇａｉｎ  ｅｒｒｏｒ）及びオフセット誤差（ｏｆｆｓｅｔ  ｅｒｒｏｒ）を有し、データ駆動集積回路の製造工程におけるデータ駆動集積回路間の工程ばらつきによってアナログ−デジタルコンバータから出力される出力データのばらつきが発生し、さらに、データ駆動集積回路内のアナログ−デジタルコンバータ間でもばらつきが発生するようになる。
【０００７】
前記ゲイン誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力と比較して、実際のデジタル出力が一定の比率だけずれる誤差を意味するもので、アナログ入力範囲の中心部に正確に一致していた値がアナログ入力範囲の最低値と最高値に近接することによって発生する誤差である。即ち、増幅器における入力と出力との関係は、ある関数法則に基づいて変化している。このとき、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きが、理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとは一致しない場合がある。この傾きの差が、ゲイン誤差と称されている。即ち、ゲイン誤差とは、増幅器を通して得たゲインの値と、理想的なゲインの値との間に生じた誤差のことである。ゲイン誤差は、入出力直線の傾きの誤差として考えることができる。ゲイン誤差は、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きと理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとの比で表すこともできる。
【０００８】
前記オフセット誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力に対して、実際のデジタル出力が一定の量だけずれる誤差を意味するもので、使用者が知っている信号を計測した時に、測定値が全体的に高いか、または低く出る程度を意味する。即ち、オフセット誤差とは、ゼロのアナログ入力をアナログ−デジタル変換して得られるデジタル出力と理想的なデジタル出力（ゼロ）との差のことである。
【０００９】
図１は、アナログ−デジタルコンバータの入力電圧に対する出力データ（出力電圧）を示す波形図で、図２は、一般的な有機発光表示装置において、複数のデータ駆動集積回路間の出力ばらつきを説明するための波形図である。
【００１０】
図１において、Ａグラフは、入力電圧に対する理想的な出力データ（出力電圧）を示すグラフであり、Ｂグラフは、入力電圧に対する実際の出力データ（出力電圧）を示すグラフである。
【００１１】
図１からわかるように、アナログ−デジタルコンバータの入力端子に同一の入力電圧を印加しても、アナログ−デジタルコンバータの出力データにばらつきが発生するようになる。すなわち、ゲイン誤差及びオフセット誤差がない理想的なアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Ａグラフのように、入力電圧（ｘ）と理想的なゲイン（ａ）との乗算演算（×）によって決定される。しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差及びオフセット誤差を有するため、実際のアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Ｂグラフのように、入力電圧（ｘ）と実際のゲイン（ａ’）との乗算演算（×）値（ｘ×ａ’）と、実際のオフセット誤差（すなわち、０の入力電圧に対する出力）（ｂ）との和によって決定される。
【００１２】
このような、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきは、図２からわかるように、データ駆動集積回路（Ｄ−ＩＣ ＃１〜＃８）間でも発生することを確認することができる。
【００１３】
したがって、前記各特許文献は、前述したアナログ−デジタルコンバータのセンシングデータのばらつきによってずれたセンシングデータに基づいてデータを補正するため、駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償できない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】韓国公開特許第１０−２０１０−００４７５０５号公報
【特許文献２】韓国公開特許第１０−２０１１−００６６５０６号公報
【特許文献３】韓国登録特許第１０−１０７３２２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
このように、従来は、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを必ずしも十分に補償し得なかった。
【００１６】
本発明の目的は、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを確実に補償し得る有機発光表示装置及びその駆動方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
前述した技術的課題を達成するための本発明に係る有機発光表示装置は、ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を含む表示パネルと；前記ゲートラインにゲート信号を供給するためのゲート駆動部と；前記データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及び前記センシングラインを通じて複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングしてセンシングデータを生成する複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含む複数個のデータ駆動集積回路と；前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと；前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部と；を含んで構成されることを特徴とする。
【００１８】
前記タイミング制御部は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする。
【００１９】
前記タイミング制御部は、ＡＤＣばらつき補正モードの間、前記センシング部をプリチャージ期間とセンシング期間とに分けて駆動させ、前記センシング部は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインのそれぞれにテスト電圧を供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される測定データを前記タイミング制御部に供給することを特徴とする。
【００２０】
前記タイミング制御部は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される電圧レベルによる測定データを取得して外部の誤差補正装置に提供し、前記誤差補正装置から提供される前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を前記メモリに保存することを特徴とする。
【００２１】
前記センシング部は、前記センシングラインを通じて、表示期間中、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、前記センシングデータを前記タイミング制御部に供給し、前記タイミング制御部は、前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、前記水平ラインの画素に供給される入力データを変調することを特徴とする。
【００２２】
前述した技術的課題を達成するための本発明に係る有機発光表示装置の駆動方法は、ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を有する表示パネルと；前記センシングラインに選択的に接続される複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部が内蔵された複数個のデータ駆動集積回路と；を含む有機発光表示装置の駆動方法において、前記センシングラインのそれぞれに供給されたテスト電圧による前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれの出力データに基づいて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する段階（Ａ）と；前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを通じて、複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、各画素のセンシングデータを生成する段階（Ｂ）と；前記ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正する段階（Ｃ）と；補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給する段階（Ｄ）と；を含んでなることを特徴とする。
【００２３】
前記段階（Ｃ）は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、前記減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする。
【００２４】
前記段階（Ａ）は、前記ゲートラインにゲートオフ電圧レベルのゲート信号を供給する段階（Ａ１）と；前記センシングラインにテスト電圧を供給し、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、前記テスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングする段階（Ａ２）と；前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれから出力される前記データ電圧による測定データを取得する段階（Ａ３）と；前記測定データに基づき、最小二乗法を用い、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出して、メモリに保存する段階（Ａ４）と；を含んでなることを特徴とする。
【００２５】
前記段階（Ａ２）は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、段階的に増加するテスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングし、前記段階（Ａ４）は、テスト電圧の一定区間別に前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することを特徴とする。
【００２６】
前記段階（Ａ４）は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出し、前記段階（Ｃ）は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのセンシングデータに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を適用して補正することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきによるセンシングデータのばらつきを低減することができ、各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】アナログ−デジタルコンバータの入力電圧に対する出力データを示す波形図である。
【図２】一般的な有機発光表示装置において、複数のデータ駆動集積回路間の出力ばらつきを説明するための波形図である。
【図３】本発明の実施例に係る有機発光表示装置を説明するための図である。
【図４】図３に示した１画素の構造を示す図である。
【図５】図３に示したデータ駆動集積回路を説明するための図である。
【図６】本発明の実施例に係るアナログ−デジタルコンバータの誤差補正装置を説明するための図である。
【図７】図８に示した誤差補正装置の構成を説明するための図である。
【図８】本発明に係る誤差補正装置を用いたＡＤＣばらつき補正モード時の回路動作、及びゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する過程を説明するための図である。
【図９】図８に示したアナログ−デジタルコンバータのテスト電圧に対する測定データを示す波形図である。
【図１０】テスト電圧の区間別ゲイン誤差及びオフセット誤差の演算補正を説明するための図（その１）である。
【図１１】テスト電圧の区間別ゲイン誤差及びオフセット誤差の演算補正を説明するための図（その２）である。
【図１２】本発明に係るゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正を行う前後のセンシングデータをデータ駆動集積回路別に比較して示す図である。
【図１３】複数のデータ駆動集積回路のセンシングデータ間のばらつきを説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
単数の表現は、文脈上明らかに他の意味として定義しない限り、複数の表現を含むものと理解しなければならず、「第１」、「第２」などの用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別するためのもので、これらの用語によって権利範囲が限定されてはならない。
【００３０】
「含む」または「有する」などの用語は、一つまたはそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものの存在または付加可能性をあらかじめ排除しないものと理解しなければならない。
【００３１】
「少なくとも一つ」という用語は、一つ以上の関連項目から提示可能な全ての組み合わせを含むものと理解しなければならない。例えば、「第１項目、第２項目、及び第３項目のうち少なくとも一つ」の意味は、第１項目、第２項目、または第３項目のそれぞれだけでなく、第１項目、第２項目、及び第３項目のうち二つ以上から提示できる全ての項目の組み合わせを意味する。
【００３２】
以下では、本発明に係る有機発光表示装置及びその駆動方法の好ましい実施例を、添付の図面を参照して詳細に説明する。
【００３３】
図３は、本発明の実施例に係る有機発光表示装置を説明するための図であり、図４は、図３に示した１画素の構造を示す図であり、図５は、図３に示したデータ駆動集積回路を説明するための図である。
【００３４】
図３乃至図５を参照すると、本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、表示パネル１００、ゲート駆動部２００、複数のデータ駆動集積回路３００、メモリ４００、及びタイミング制御部５００を含む。
【００３５】
前記表示パネル１００は複数個の画素Ｐを含む。前記複数個の画素Ｐは、複数個のゲートライングループＧＬ、複数個のデータラインＤＬｉ、及び前記複数個のデータラインＤＬｉに並行する複数個のセンシングラインＳＬｉの交差によって確定される画素領域にそれぞれ形成される。
【００３６】
前記複数個のゲートライングループＧＬｉのそれぞれは、前記表示パネル１００の第１方向、例えば、水平方向に沿って並ぶように形成される。このとき、前記複数個のゲートライングループＧＬｉのそれぞれは、互いに隣接した第１及び第２ゲートラインＧＬａ，ＧＬｂからなる。このような各ゲートライングループＧＬｉの第１及び第２ゲートラインＧＬａ，ＧＬｂには、前記ゲート駆動部２００から第１及び第２ゲート信号ＧＳａ，ＧＳｂが個別的に供給される。
【００３７】
前記複数個のデータラインＤＬｉのそれぞれは、複数のゲートライングループＧＬｉのそれぞれと交差するように表示パネル１００の第２方向、例えば、垂直方向に沿って並ぶように形成される。このような各データラインＤＬｉには、前記データ駆動集積回路３００からデータ電圧Ｖｄａｔａが個別的に供給される。このとき、前記複数個のデータラインＤＬｉのそれぞれには、該当の画素Ｐに含まれた駆動トランジスタの閾値電圧及び移動度のそれぞれが補償されたデータ電圧Ｖｄａｔａが供給される。
【００３８】
前記複数個のセンシングラインＳＬｉのそれぞれは、複数個のデータラインＤＬｉのそれぞれに並ぶように形成される。このような各センシングラインＳＬｉには、前記データ駆動集積回路３００から基準電圧Ｖｒｅｆまたはプリチャージ電圧Ｖｐｒｅが選択的に供給される。すなわち、前記基準電圧Ｖｒｅｆは、表示モード時に各センシングラインＳＬｉに選択的に供給され、前記プリチャージ電圧Ｖｐｒｅは、センシングモード時にセンシングラインＳＬｉに選択的に供給される。一方、各センシングラインＳＬｉには、アナログ−デジタルコンバータのばらつき補正モード（以下、”ＡＤＣばらつき補正モード”という）時にテスト電圧が供給される。
【００３９】
前記表示パネル１００には、複数個のデータラインＤＬｉのそれぞれに並ぶように形成された複数個の駆動電圧ラインＰＬｉが形成されている。前記複数個の駆動電圧ラインＰＬｉのそれぞれには、電圧供給部（図示せず）から駆動電圧ＶＤＤが供給される。
【００４０】
前記複数個の画素Ｐのそれぞれは、有機発光素子ＯＬＥＤ、及び画素回路ＰＣを含む。
【００４１】
前記有機発光素子ＯＬＥＤは、画素回路ＰＣの駆動によって駆動電圧ラインＰＬｉからカソード電圧ＶＳＳラインに流れるデータ電流Ｉｏｌｅｄに比例して発光する。そのために、有機発光素子ＯＬＥＤは、アノード電極（図示せず）、アノード電極上に形成された有機層（図示せず）、及び有機層上に形成されたカソード電極ＣＥを含む。このとき、有機層は、正孔輸送層／有機発光層／電子輸送層の構造、または正孔注入層／正孔輸送層／有機発光層／電子輸送層／電子注入層の構造を有するように形成することができる。さらに、前記有機層は、有機発光層の発光効率及び／または寿命などを向上させるための機能層をさらに含んでなることができる。そして、カソード電極ＣＥは、複数の画素Ｐのそれぞれに個別的に形成するか、または複数の画素Ｐに共通に接続されるように形成することができる。
【００４２】
前記画素回路ＰＣは、第１スイッチングトランジスタＴｓｗ１、第２スイッチングトランジスタＴｓｗ２、駆動トランジスタＴｄｒ、及びキャパシタＣｓｔを含むことができる。ここで、トランジスタＴｓｗ１，Ｔｓｗ２，Ｔｄｒは、Ｎ型薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）であって、ａ−Ｓｉ  ＴＦＴ、ｐｏｌｙ−Ｓｉ  ＴＦＴ、Ｏｘｉｄｅ  ＴＦＴ、Ｏｒｇａｎｉｃ  ＴＦＴなどであってもよい。
【００４３】
前記第１スイッチングトランジスタＴｓｗ１は、ゲートライングループＧＬｉの第１ゲートラインＧＬａに接続されたゲート電極、隣接したデータラインＤＬｉに接続された第１電極、及び駆動トランジスタＴｄｒのゲート電極である第１ノードｎ１に接続された第２電極を含む。このような前記第１スイッチングトランジスタＴｓｗ１は、前記第１ゲートラインＧＬａに供給されるゲートオン電圧レベルの第１ゲート信号ＧＳａに応じて、データラインＤＬｉに供給される前記データ電圧Ｖｄａｔａを、第１ノードｎ１、すなわち、駆動トランジスタＴｄｒのゲート電極に供給する。
【００４４】
前記第２スイッチングトランジスタＴｓｗ２は、ゲートライングループＧＬｉの第２ゲートラインＧＬｂに接続されたゲート電極、隣接したセンシングラインＳＬｉに接続された第１電極、及び駆動トランジスタＴｄｒのソース電極である第２ノードｎ２に接続された第２電極を含む。このような第２スイッチングトランジスタＴｓｗ２は、前記第２ゲートラインＧＬｂに供給されるゲートオン電圧レベルの第２ゲート信号ＧＳｂに応じて、センシングラインＳＬｉに供給される前記基準電圧Ｖｒｅｆ（またはプリチャージ電圧Ｖｐｒｅ）を、第２ノードｎ２、すなわち、駆動トランジスタＴｄｒのソース電極に供給する。
【００４５】
前記キャパシタＣｓｔは、駆動トランジスタＴｄｒのゲート電極及びソース電極、すなわち、第１及び第２ノードｎ１，ｎ２間に接続される第１及び第２電極を含む。このようなキャパシタＣｓｔは、第１及び第２ノードｎ１，ｎ２のそれぞれに供給される電圧の差電圧を充電した後、充電された電圧によって駆動トランジスタＴｄｒをスイッチングさせる。
【００４６】
前記駆動トランジスタＴｄｒは、第１スイッチングトランジスタＴｓｗ１の第２電極及びキャパシタＣｓｔの第１電極に共通に接続されたゲート電極、第２スイッチングトランジスタＴｓｗ２の第１電極とキャパシタＣｓｔの第２電極及び有機発光素子ＯＬＥＤに共通に接続されたソース電極、及び駆動電圧ラインＰＬｉに接続されたドレイン電極を含む。このような駆動トランジスタＴｄｒは、キャパシタＣｓｔの電圧によってターンオンされることによって、駆動電圧ラインＰＬｉから有機発光素子ＯＬＥＤに流れる電流量を制御する。
【００４７】
このような画素回路ＰＣは、前記ゲート駆動部２００から供給されるゲート信号によるデータ充電期間及び発光期間で動作する。すなわち、前記画素回路ＰＣは、前記データ充電期間の間、前記キャパシタＣｓｔにデータ電圧Ｖｄａｔａと基準電圧Ｖｒｅｆとの差電圧（Ｖｄａｔａ−Ｖｒｅｆ）を充電し、前記発光期間の間、前記キャパシタＣｓｔに保存された電圧によって駆動トランジスタＴｄｒをターンオンさせて、データ電圧Ｖｄａｔａと基準電圧Ｖｒｅｆとの差電圧（Ｖｄａｔａ−Ｖｒｅｆ）によって決定されるデータ電流Ｉｏｌｅｄで有機発光素子ＯＬＥＤを発光させる。
【００４８】
上述した実施例においては、画素回路ＰＣが３個のトランジスタ及び一つのキャパシタで構成される場合を説明したが、画素回路ＰＣを構成するトランジスタ及びキャパシタの個数は多様に変形可能である。
【００４９】
前記ゲート駆動部２００は、前記表示パネル１００の一側及び／または両側の非表示領域に形成されて、ゲートラインＧＬに接続される。このとき、前記ゲート駆動部２００は、各画素Ｐのトランジスタ形成工程と共に表示パネル１００の基板に直接形成されて、前記ゲートラインＧＬのそれぞれの一側または両側に接続可能である。
【００５０】
前記ゲート駆動部２００は、前記タイミング制御部５００の制御によって、１水平期間（１水平走査期間）毎にゲートオン電圧レベルの第１及び第２ゲート信号ＧＳａ，ＧＳｂを生成して、ゲートライングループＧＬｉに順次供給する。このとき、前記第１及び第２ゲート信号ＧＳａ，ＧＳｂのそれぞれは、各画素Ｐのデータ充電期間の間にゲートオン電圧レベルを有し、各画素Ｐの発光期間の間にゲートオフ電圧レベルを有する。
【００５１】
また、前記ゲート駆動部２００は、前記タイミング制御部５００の制御によって、１フレーム期間中、一部の水平期間に設定されたセンシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Ｐを初期化期間、電圧充電期間及び電圧センシング期間で駆動するための第１及び第２ゲート信号ＧＳａ，ＧＳｂを生成して、該当のゲートライングループＧＬｉに供給する。このとき、前記第１ゲート信号ＧＳａは、前記初期化期間及び電圧充電期間の間にのみゲートオン電圧レベルを有し、前記第２ゲート信号ＧＳｂは、センシング期間の間にゲートオン電圧レベルを有する。
【００５２】
なお、前記ゲート駆動部２００は、集積回路（ＩＣ）の形態で形成されて、表示パネル１００の一側及び／または両側の非表示領域に実装されたり、または集積回路（ＩＣ）の形態で形成されて、ゲートフレキシブル回路フィルム（図示せず）に実装されてもよい。このとき、前記ゲートフレキシブル回路フィルムは、フィルム付着工程によって表示パネル１００に付着される。
【００５３】
前記複数個のデータ駆動集積回路３００のそれぞれは、前記データラインＤＬ及び前記センシングラインＳＬのそれぞれに接続される。このような前記複数個のデータ駆動集積回路３００のそれぞれは、前記タイミング制御部５００の制御によって、各画素Ｐにデータ電圧及び基準電圧を供給し、センシングラインを用いて、水平ラインのうち選択された水平ラインの各画素に含まれた駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧及び移動度特性の変化をセンシングして、駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧センシングデータ及び移動度センシングデータを生成して、タイミング制御部５００に提供する。このような前記複数個のデータ駆動集積回路３００のそれぞれは、データフレキシブル回路フィルム３１０に実装される。前記複数個のデータフレキシブル回路フィルム３１０の一側は、フィルム付着工程によって表示パネル１００に形成されたデータパッド部に付着され、複数個のデータフレキシブル回路フィルム３１０の他側は、フィルム付着工程によってデータプリント回路基板６００に付着される。
【００５４】
前記複数個のデータ駆動集積回路３００のそれぞれは、データ駆動部３０２及びセンシング部３２０を含む。
【００５５】
前記データ駆動部３０２は、１水平期間毎に前記タイミング制御部５００から各画素Ｐの画素データＤＡＴＡの供給を受けてデータ電圧Ｖｄａｔａに変換してデータラインＤＬｉに供給する。そして、前記データ駆動部３０２は、前記センシング期間の間に前記タイミング制御部５００から供給されるセンシング用データＤＡＴＡを、センシング用データ電圧Ｖｄａｔａに変換してデータラインＤＬｉに供給する。結果的に、前記データ駆動部３０２は、各水平期間のデータ充電期間の間、データ電圧ＶｄａｔａをデータラインＤＬｉに供給し、前記センシング期間の初期化期間、または初期化期間及び電圧充電期間の間、センシング用データ電圧ＶｄａｔａをデータラインＤＬｉに供給する。そのために、前記データ駆動部３０２は、前記タイミング制御部５００から供給されるデータスタート信号及びデータシフト信号に基づいてサンプリング信号を生成するシフトレジスタと、サンプリング信号に応じて画素データＤＡＴＡをラッチするラッチ部と、複数の基準ガンマ電圧を用いて複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、複数の階調電圧のうち、ラッチされたデータに対応する階調電圧をデータ電圧Ｖｄａｔａとして選択して出力するデジタル−アナログコンバータと、データ出力信号に応じて前記データ電圧ＶｄａｔａをデータラインＤＬｉに出力する出力部と、を含んで構成することができる。
【００５６】
なお、図５では、前記データ駆動部３０２が一つのデータラインＤＬｉに接続されるものと示したが、設定されたチャネル数に対応するデータラインに接続される。
【００５７】
前記センシング部３２０は、各画素ＰのセンシングラインＳＬｉ毎に接続されるもので、スイッチング部３２２及びアナログ−デジタルコンバータ３２４を含む。
【００５８】
前記スイッチング部３２２は、基準電圧Ｖｒｅｆが供給される基準電圧供給ラインＲＶＬ、プリチャージ電圧Ｖｐｒｅが供給されるプリチャージ電圧供給ラインＰＶＬ、及びアナログ−デジタルコンバータ３２４を、前記タイミング制御部５００の制御によって選択的にセンシングラインＳＬｉに接続させる。すなわち、前記スイッチング部３２２は、前記各水平期間の間、基準電圧供給ラインＲＶＬをセンシングラインＳＬｉに接続させる。反面、前記スイッチング部３２２は、前記センシング期間の初期化期間の間、プリチャージ電圧供給ラインＰＶＬをセンシングラインＳＬｉに接続させ、前記センシング期間のデータ充電期間の間、前記センシングラインＳＬｉをフローティング（ｆｌｏａｔｉｎｇ）させ、前記センシング期間の電圧センシング期間の間、前記センシングラインＳＬｉをアナログ−デジタルコンバータ３２４に接続させる。
【００５９】
前記基準電圧Ｖｒｅｆは、前記データ駆動部３０２の階調電圧生成部から出力される階調電圧のいずれか一つの電圧であってもよく、この場合、基準電圧供給ラインＲＶＬは前記階調電圧生成部に接続される。ここで、前記基準電圧Ｖｒｅｆは、０（Ｚｅｒｏ）の電圧レベルを有するか、または前記有機発光素子ＯＬＥＤの導通電圧未満の電圧レベルを有することができる。
【００６０】
また、前記プリチャージ電圧Ｖｐｒｅもまた、階調電圧生成部から出力される階調電圧のいずれか一つの電圧であってもよく、この場合、プリチャージ電圧供給ラインＰＶＬは前記階調電圧生成部に接続される。
【００６１】
前記アナログ−デジタルコンバータ３２４は、前記スイッチング部３２２のスイッチングによってセンシングラインＳＬｉに接続されると、前記センシングラインＳＬｉに充電された電圧をセンシングし、センシングされた電圧をデジタル変換してセンシングデータＳｄａｔａを生成し、生成されたセンシングデータＳｄａｔａをタイミング制御部５００に供給する。ここで、前記センシングデータＳｄａｔａは、プリント回路基板６００に形成されたセンシングデータ伝送ライン６１０及び信号伝送部材８００を介して、制御基板７００に実装されたタイミング制御部５００に供給される。
【００６２】
前記メモリ４００は、制御基板７００に実装されており、前述したセンシング部３２０に含まれた各アナログ−デジタルコンバータ３２４のゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されている。このような各アナログ−デジタルコンバータ３２４のゲイン誤差及びオフセット誤差は、有機発光表示装置の製品出荷前の最終検査工程で行われるＡＤＣばらつき補正モードによって、各アナログ−デジタルコンバータ３２４から出力される測定データに基づき、補正演算過程を通じて算出されて、前記メモリ４００に保存される。このとき、前記補正演算過程は、複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれに内蔵された全てのアナログ−デジタルコンバータ３２４のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を個別的に算出するか、またはデータ駆動集積回路３００単位でアナログ−デジタルコンバータ３２４のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出するか、または全てのアナログ−デジタルコンバータ３２４に共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することができる。このようなＡＤＣばらつき補正モード及び補正演算過程については後述する。
【００６３】
なお、前記メモリ４００は、タイミング制御部５００に内蔵することができる。
【００６４】
前記タイミング制御部５００は、前記制御基板７００に実装されており、前記ユーザーコネクタ７１０を介して外部のシステム本体（図示せず）またはグラフィックカード（図示せず）から入力されるタイミング同期信号及び映像データの供給を受ける。
【００６５】
まず、前記タイミング制御部５００は、垂直同期信号、水平同期信号、データイネーブル信号、クロック信号などのタイミング同期信号に基づいて、ゲート駆動部２００及び複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれの駆動タイミングを制御する。
【００６６】
前記タイミング制御部５００は、１水平期間単位で、前記各ゲートライングループＧＬｉに接続された各画素Ｐがデータ充電期間及び発光期間で駆動されるように、ゲート駆動部２００の駆動タイミングを制御し、データ充電期間の間、データラインＤＬｉにデータ電圧Ｖｄａｔａが供給され、基準電圧ＶｒｅｆがセンシングラインＳＬｉに供給されるように、複数のデータ駆動集積回路３００の駆動タイミングを制御する。
【００６７】
前記タイミング制御部５００は、前記センシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Ｐが初期化期間、電圧充電期間、及び電圧センシング期間で駆動されるように、ゲート駆動部２００の駆動を制御し、初期化期間または初期化期間及び電圧充電期間の間、データラインＤＬｉにセンシング用データ電圧Ｖｄａｔａが供給されるように、複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれの駆動を制御する。ここで、前記センシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Ｐに含まれた駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧及び移動度特性の変化をセンシングする方法は、特許文献１乃至３に詳細に記載されているので、これについての説明は省略する。
【００６８】
前記タイミング制御部５００は、前記メモリ４００に保存されたゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて、複数のデータ駆動集積回路３００のセンシング部３２０から供給された各画素Ｐの駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧及び移動度特性の変化に対応するセンシングデータＳｄａｔａを補正して、補正されたセンシングデータを算出し、算出された各画素Ｐの補正されたセンシングデータを別途のメモリ部（図示せず）に保存する。このとき、前記タイミング制御部５００は、下記の数式１のように、ゲイン誤差及びオフセット誤差によってセンシングデータＳｄａｔａを補正することができる。
【００６９】
【数１】
2014126873.tif 000003
【００７０】
数式１において、ｙは、補正されたセンシングデータを意味し、ｘは、センシングデータＳｄａｔａを意味し、ａは、アナログ−デジタルコンバータのゲイン誤差を意味し、ｂは、アナログ−デジタルコンバータのオフセット誤差を意味する。このような前記補正されたセンシングデータ（ｙ）は、前記アナログ−デジタルコンバータ３２４の入力電圧に対する測定データの誤差が補償された値を有する。
【００７１】
そして、前記タイミング制御部５００は、外部から入力データが入力されると、前記メモリ部に保存された該当の画素の補正されたセンシングデータによって該当の画素Ｐの入力データを変調して、複数のデータ駆動集積回路３００に供給する。これによって、タイミング制御部５００は、補正されたセンシングデータに基づいて、駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧及び移動度特性の変化を入力データに反映して、変調データを生成するようになる。
【００７２】
一方、前記タイミング制御部５００は、外部から供給される測定同期信号によって、ゲート駆動部２００及び複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれをＡＤＣばらつき補正モードで動作させる。
【００７３】
具体的に、前記ＡＤＣばらつき補正モードの際に、前記タイミング制御部５００は、全てのゲートライングループＧＬｉにゲートオフ電圧レベルのゲート信号ＧＳが供給されるように、ゲート駆動部２００の駆動を制御する。その後、前記タイミング制御部５００は、複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれに内蔵されたセンシング部３２０を、プリチャージ期間及びセンシング期間で駆動させる。次に、前記タイミング制御部５００は、前記センシング期間によってセンシング部３２０のアナログ−デジタルコンバータ３２４から出力される測定データを外部の誤差補正装置に出力し、前記誤差補正装置から供給されるアナログ−デジタルコンバータ３２４のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差、データ駆動集積回路３００単位のゲイン誤差及びオフセット誤差、全てのアナログ−デジタルコンバータ３２４に共通のゲイン誤差及びオフセット誤差をメモリ４００に保存する。
【００７４】
前記ＡＤＣばらつき補正モードの際に、前記センシング部３２０は、前記プリチャージ期間の間、センシングラインＳＬｉにテスト電圧Ｖｔｅｓｔを供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータ３２４から出力される測定データをタイミング制御部５００に供給する。このとき、前記タイミング制御部５００は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインＳＬｉに供給されるテスト電圧Ｖｔｅｓｔを複数の期間単位で増加させることができる。
【００７５】
このような本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、メモリ４００に保存されたセンシング部３２０のアナログ−デジタルコンバータ３２４のゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタＴｄｒの閾値電圧及び移動度特性に対応するセンシングデータを補正し、補正されたセンシングデータによって入力データを変調することによって、アナログ−デジタルコンバータ３２４間の出力ばらつきによるセンシングデータのばらつきを低減することができ、各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償することができる。
【００７６】
図６は、本発明の実施例に係るアナログ−デジタルコンバータの誤差補正装置を説明するための図であり、図７は、図６に示された誤差補正装置の構成を説明するための図である。
【００７７】
図６及び図７を参照すると、本発明に係る誤差補正装置９００は、前述した有機発光表示装置の制御基板７００に実装されたユーザーコネクタ７１０を通じて前述したタイミング制御部５００と通信しながら、前述したＡＤＣばらつき補正モードを行う。そのために、本発明に係る誤差補正装置９００は、測定同期信号生成部９１０、テスト電圧設定部９２０、及び誤差算出部９３０を含む。
【００７８】
前記測定同期信号生成部９１０は、ＡＤＣばらつき補正モードを生成するための測定同期信号Ｍｓｙｎｃを生成して、タイミング制御部５００に供給する。これによって、タイミング制御部５００は、測定同期信号Ｍｓｙｎｃに応じて表示パネル１００の駆動モードをＡＤＣばらつき補正モードに設定し、前述したゲート駆動部２００及び複数のデータ駆動集積回路３００のそれぞれをＡＤＣばらつき補正モードで動作させる。
【００７９】
前記テスト電圧設定部９２０は、前記測定同期信号Ｍｓｙｎｃに基づいて、センシングラインＳＬｉに供給されるテスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧値を設定するための電圧設定信号ＴＶＳを生成して、タイミング制御部５００に供給する。これによって、タイミング制御部５００は、前記電圧設定信号ＴＶＳに対応するテスト電圧ＶｔｅｓｔがセンシングラインＳＬｉに供給されるように電圧供給部を制御するか、または前述した基準ガンマ電圧生成部の出力電圧を制御する。
【００８０】
前記誤差算出部９３０は、タイミング制御部５００からデータ集積回路３００単位で供給される測定データＭｓｅｎｓｉｎｇを分析して、アナログ−デジタルコンバータ３２４のゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を算出する。このとき、前記誤差算出部９３０は、測定データＭｓｅｎｓｉｎｇに基づき、最小二乗法を用いて、ゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を算出することができる。
【００８１】
そして、前記誤差算出部９３０は、算出されたゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）をタイミング制御部５００に供給する。これによって、タイミング制御部５００は、前記誤差算出部９３０から供給される前記ゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）をメモリ４００に保存する。
【００８２】
図８は、本発明に係る誤差補正装置を用いたＡＤＣばらつき補正モード時の回路動作、及びゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する過程を説明するための図である。
【００８３】
まず、前記タイミング制御部５００は、前記測定同期信号Ｍｓｙｎｃのプリチャージ期間によって前記ゲート駆動部２００の駆動を制御して、表示パネル１００の全てのゲートライングループＧＬｉにゲートオフ電圧レベルのゲート信号ＧＳａ，ＧＳｂが供給されるようにする。これと同時に、前記タイミング制御部５００は、前記電圧設定信号ＴＶＳに対応するテスト電圧Ｖｔｅｓｔがプリチャージ電圧供給ラインＰＶＬに供給されるようにし、これと同時に、複数のデータ駆動集積回路３００に内蔵されたセンシング部３２０のスイッチング部３２２を制御して、センシングラインＳＬｉをプリチャージ電圧供給ラインＰＶＬに接続させることによって、各センシングラインＳＬｉにテスト電圧Ｖｔｅｓｔを充電する。
【００８４】
次に、前記タイミング制御部５００は、前記測定同期信号Ｍｓｙｎｃのセンシング期間によってセンシング部３２０のスイッチング部３２２を制御して、センシングラインＳＬｉをアナログ−デジタルコンバータ３２４に接続させる。これによって、各センシングラインＳＬｉに接続されたアナログ−デジタルコンバータ３２４のそれぞれは、該当のセンシングラインＳＬｉの電圧をデジタル変換して測定データＭｓｅｎｓｉｎｇを生成し、生成された測定データＭｓｅｎｓｉｎｇをタイミング制御部５００に供給し、タイミング制御部５００は、測定データＭｓｅｎｓｉｎｇを誤差算出部９３０に供給する。
【００８５】
次に、前記タイミング制御部５００は、前記電圧設定信号ＴＶＳに応じて前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルを段階的に増加させながら、電圧レベルによる期間別に、前述した過程を繰り返して行うことによって、図９に示したように、テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルに対する測定データＭｓｅｎｓｉｎｇを誤差算出部９３０に供給する。
【００８６】
次に、前記誤差算出部９３０は、前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルにおける測定データＭｓｅｎｓｉｎｇに基づき、最小二乗法（ｌｅａｓｔ  ｓｑｕａｒｅ  ｍｅｔｈｏｄ）を用い、測定データＭｓｅｎｓｉｎｇの散布度に基づいて、ＸとＹとの間に存在する標本回帰線（ｙ＝ａｘ＋ｂ）からゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を算出する。
【００８７】
具体的に、前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルによる測定データＭｓｅｎｓｉｎｇによる標本回帰線が、”ｙ＝ａｘ＋ｂ”であれば、誤差の二乗の和は、下記の数式２の通りである。
【００８８】
【数２】
2014126873.tif 000004
【００８９】
前記誤差算出部９３０は、下記の数式３のように、上記の数式２の関数（ｆ）のａ、ｂに対する偏微分値が０であるａ、ｂを求めることによって、前記ゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を算出する。
【００９０】
【数３】
2014126873.tif 000005
【００９１】
このとき、前記誤差算出部９３０は、前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルによって反復的に測定された測定データＭｓｅｎｓｉｎｇを平均化して、上記の数式２の関数の従属変数ｙｉに代入することによって、前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルによって間欠的に発生する測定データＭｓｅｎｓｉｎｇのエラー値を補正するようになる。すなわち、前記誤差算出部９３０は、加算される測定データＭｓｅｎｓｉｎｇと以前の測定データＭｓｅｎｓｉｎｇとを比較して、正常範囲を超えると、該当の測定データＭｓｅｎｓｉｎｇ値に平均測定データＭｓｅｎｓｉｎｇ値を加算し、正常範囲であるときは、加算される測定データＭｓｅｎｓｉｎｇと以前の測定データＭｓｅｎｓｉｎｇとを加算するようになる。
【００９２】
なお、前記アナログ−デジタルコンバータ３２４自体のゲイン誤差及びオフセット誤差による線形性の問題により、ゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）の補正値は、理想的に補正されなければならない測定データＭｓｅｎｓｉｎｇ値にずれを生じさせることがある。このようなずれを防止するために、前記誤差算出部９３０は、図１０に示されたＣグラフのように、前記テスト電圧Ｖｔｅｓｔの電圧レベルに対して測定データＭｓｅｎｓｉｎｇの線形性が維持される区間に分割して、区間別にゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を演算して補正する。このように、前記区間別にゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を演算して補正するようになれば、補正された測定データＭｓｅｎｓｉｎｇ値は、図１１に示された区間別に演算補正を行っていないＤグラフと比べて、Ｅグラフのように誤差が減少して、理想的なＡグラフに近似化するようになる。
【００９３】
一方、前記誤差算出部９３０は、データ駆動集積回路３００間のゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を補正して、全てのアナログ−デジタルコンバータに共通のゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を算出することができ、この場合、タイミング制御部５００は、水平ラインのセンシング期間時に複数個のアナログ−デジタルコンバータ３２４のそれぞれから供給されるセンシングデータＳｄａｔａに、共通のゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を適用して、補正されたセンシングデータを生成するようになる。
【００９４】
前述したような前記誤差算出部９３０は、最小二乗法を用いた回帰分析を通じて算出された各アナログ−デジタルコンバータ３２４に対するゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）を、タイミング制御部５００に提供する。これによって、前記タイミング制御部５００は、誤差算出部９３０によって提供される前記ゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）をメモリ４００に保存し、前述したＡＤＣばらつき補正モードを終了する。ここで、各アナログ−デジタルコンバータ３２４に対するゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）は、ルックアップテーブル（Ｌｏｏｋ  Ｕｐ  Ｔａｂｌｅ）を生成してメモリ４００に保存することができる。
【００９５】
図１２は、本発明に係るゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正を行う前後のセンシングデータをデータ駆動集積回路別に比較して示す図であり、図１２の（ａ）は、前記センシングデータにゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正が行わた後のセンシングデータを示し、図１２の（ｂ）は、前記センシングデータにゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正が行われていないセンシングデータを示す。
【００９６】
図１２の（ａ）からわかるように、前記ゲイン誤差及びオフセット誤差が適用されて補正されたセンシングデータの場合、データ駆動集積回路間のばらつきが減少されたことがわかる。
【００９７】
図１３は、複数のデータ駆動集積回路のセンシングデータ間のばらつきを説明するための図である。
【００９８】
図１３からわかるように、複数のデータ駆動集積回路のそれぞれから出力されるセンシングデータＳｄａｔａの場合、アナログ−デジタルコンバータ３２４のゲイン誤差及びオフセット誤差によってデータ駆動集積回路（Ｄ−ＩＣ ＃１〜＃８）毎にばらつきが発生するが、前述したＡＤＣばらつき補正モードによって算出されたゲイン誤差（ａ）及びオフセット誤差（ｂ）によって補正されたセンシングデータＳｄａｔａ'の場合、データ駆動集積回路（Ｄ−ＩＣ ＃１〜＃８）毎にばらつきが減少したことを確認することができる。
【００９９】
なお、本発明の実施例に係る有機発光表示装置において、表示パネル１００に形成された各画素Ｐの構造は、特許文献１乃至３に開示された画素構造からなることができる。この場合、本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、前述したように、特許文献１乃至３に開示されたセンシング方法によってセンシングされた各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化に対するセンシングデータを補正することによって、アナログ−デジタルコンバータの出力ばらつきによる問題点を解決することができる。
【０１００】
以上で説明した本発明は、前述した実施例及び添付の図面に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であるということが、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者にとって明らかである。
【符号の説明】
【０１０１】
１００    表示パネル
２００    ゲート駆動部
３００    データ駆動集積回路
３０２    データ駆動部
３２０    センシング部
３２２    スイッチング部
３２４    アナログ−デジタルコンバータ
４００    メモリ
５００    タイミング制御部
６００    プリント回路基板
７００    制御基板
９００    誤差補正装置
９１０    測定同期信号生成部
９２０    テスト電圧設定部
９３０    誤差算出部
【図１】
2014126873.tif 000006
【図２】
2014126873.tif 000007
【図３】
2014126873.tif 000008
【図４】
2014126873.tif 000009
【図５】
2014126873.tif 000010
【図６】
2014126873.tif 000011
【図７】
2014126873.tif 000012
【図８】
2014126873.tif 000013
【図９】
2014126873.tif 000014
【図１０】
2014126873.tif 000015
【図１１】
2014126873.tif 000016
【図１２】
2014126873.tif 000017
【図１３】
2014126873.tif 000018