(57)【要約】【構成】撮像装置２０は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する生画像データを出力する。カメラ処理回路２４は、レジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を、撮像装置２０から出力された生画像データに対して実行する。サブＣＰＵ４８は、撮像面への入射光量を定義するパラメータ（＝ズーム倍率または照度）を電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出し、検出されたパラメータが既定条件を満足するとき欠陥画素検出処理を実行する。撮像面に後天的に現れた欠陥画素はメインＣＰＵ２８によって検出され、レジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報は検出結果に基づいて更新される。【効果】後天的に発生した欠陥画素を補正する性能が向上する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、前記撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段、
前記撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段、
前記撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出手段、および
前記検出手段によって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき前記撮像面に現れた欠陥画素を特定して前記欠陥画素情報を更新する更新手段を備える、電子カメラ。
【請求項２】
前記撮像面の前方でズームレンズを支持する支持部材をさらに備える、請求項１記載の電子カメラ。
【請求項３】
前記検出手段は前記ズームレンズの倍率を前記パラメータとして測定する倍率検出手段を含み、
前記既定条件は前記倍率検出手段によって検出された倍率が既定範囲に属するという倍率条件を含む、請求項２記載の電子カメラ。
【請求項４】
前記検出手段はカメラ筐体の前方の照度を前記パラメータとして検出する照度検出手段をさらに含み、
前記既定条件は前記照度検出手段によって検出された照度が基準を下回るという条件をさらに含む、請求項３記載の電子カメラ。
【請求項５】
前記倍率検出手段によって検出された倍率が前記既定範囲から外れるとき前記電源オン操作までの期間に前記照度検出手段を間欠的に起動する間欠起動手段をさらに備える、請求項４記載の電子カメラ。
【請求項６】
前記更新手段の処理に関連して基準日を登録する登録手段、および
前記登録手段によって登録された基準日から前記電源オフ操作までの日数が既定数を上回るとき前記検出手段を起動する起動手段をさらに備える、請求項１ないし５のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項７】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、前記撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段、および
前記撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段を備える電子カメラのプロセッサに、
前記撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ、および
前記検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき前記撮像面に現れた欠陥画素を特定して前記欠陥画素情報を更新する更新ステップを実行させるための、画素欠陥補正プログラム。
【請求項８】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、前記撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段、および
前記撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段を備える電子カメラによって実行される画素欠陥補正方法であって、
前記撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ、および
前記検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき前記撮像面に現れた欠陥画素を特定して前記欠陥画素情報を更新する更新ステップを備える、画素欠陥補正方法。
【請求項９】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、前記撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段、
前記撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段、および
メモリに保存された内部制御プログラムに従う処理を実行するプロセッサを備える電子カメラに供給される外部制御プログラムであって、
前記撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ、および
前記検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき前記撮像面に現れた欠陥画素を特定して前記欠陥画素情報を更新する更新ステップを前記内部制御プログラムと協働して前記プロセッサに実行させるための、外部制御プログラム。
【請求項１０】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、前記撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段、
前記撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段、
外部制御プログラムを取り込む取り込み手段、および
前記取り込み手段によって取り込まれた外部制御プログラムとメモリに保存された内部制御プログラムとに従う処理を実行するプロセッサを備える電子カメラであって、
前記外部制御プログラムは、
前記撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ、および
前記検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき前記撮像面に現れた欠陥画素を特定して前記欠陥画素情報を更新する更新ステップを前記内部制御プログラムと協働して実行するプログラムに相当する、電子カメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子カメラに関し、特に撮像装置から出力された電子画像に画素欠陥補正を施す、電子カメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
この種のカメラの一例が、特許文献１に開示されている。この背景技術によれば、電源スイッチがオンされる毎に、基準日から所定期間以上が経過したかどうかが判別される。所定期間が経過したと判別されると、イメージセンサから欠陥画素が検出され、ＥＥＰＲＯＭの欠陥画素情報が更新される。イメージセンサによって撮影された被写体の画像信号は、このような欠陥画素情報に基づいて画素補正を施される。つまり、欠陥画素検出は電源が投入された日が基準日から所定期間以上経過しているときに実行される。これによって、操作性を損なうことなく、後天的に発生した欠陥画素を適切に補正することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−２７４２８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、背景技術は、光学系の設計ないし設定によって撮像面に漏れ込む光量が変動することを想定していない。このため、背景技術では、後天的に発生した欠陥画素の検出性能ひいては補正性能に限界がある。
【０００５】
それゆえに、この発明の主たる目的は、後天的に発生した欠陥画素を補正する性能を高めることができる、電子カメラを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に従う電子カメラ(10：実施例で相当する参照符号。以下同じ)は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段(20)、撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段(24)、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出手段(S59, S75)、および検出手段によって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する更新手段(S61~S63, S77, S81, S3, S31~S35)を備える。
【０００７】
好ましくは、撮像面の前方でズームレンズ(12)を支持する支持部材(MT)がさらに備えられる。
【０００８】
さらに好ましくは、検出手段はズームレンズの倍率をパラメータとして測定する倍率検出手段(S59)を含み、既定条件は倍率検出手段によって検出された倍率が既定範囲に属するという倍率条件を含む。
【０００９】
より好ましくは、検出手段はカメラ筐体(CHS)の前方の照度をパラメータとして検出する照度検出手段(S75)をさらに含み、既定条件は照度検出手段によって検出された照度が基準を下回るという条件をさらに含む。また、倍率検出手段によって検出された倍率が既定範囲から外れるとき電源オン操作までの期間に照度検出手段を間欠的に起動する間欠起動手段(S71)がさらに備えられる。
【００１０】
好ましくは、更新手段の処理に関連して基準日を登録する登録手段(S95~S97)、および登録手段によって登録された基準日から電源オフ操作までの日数が既定数を上回るとき検出手段を起動する起動手段(S55~S57)がさらに備えられる。
【００１１】
この発明に従う画素欠陥補正プログラムは、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段(20)、および撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段(24)を備える電子カメラ(10)のプロセッサ(48, 28)に、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ(S59, S75)、および検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する更新ステップ(S61~S63, S77, S81, S3, S31~S35)を実行させるための、画素欠陥補正プログラムである。
【００１２】
この発明に従う画素欠陥補正方法は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段(20)、および撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段(24)を備える電子カメラ(10)によって実行される画素欠陥補正方法であって、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ(S59, S75)、および検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する更新ステップ(S61~S63, S77, S81, S3, S31~S35)を備える。
【００１３】
この発明に従う外部制御プログラムは、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段(20)、撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段(24)、およびメモリ(28m, 48m)に保存された内部制御プログラムに従う処理を実行するプロセッサ(28, 48)を備える電子カメラ(10)に供給される外部制御プログラムであって、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ(S59, S75)、および検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する更新ステップ(S61~S63, S77, S81, S3, S31~S35)を内部制御プログラムと協働してプロセッサに実行させるための、外部制御プログラムである。
【００１４】
この発明に従う電子カメラ(10)は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する撮像手段(20)、撮像手段から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す補正手段(24)、外部制御プログラムを取り込む取り込み手段(54)、および取り込み手段によって取り込まれた外部制御プログラムとメモリ(28m, 48m)に保存された内部制御プログラムとに従う処理を実行するプロセッサ(28, 48)を備える電子カメラであって、外部制御プログラムは、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する検出ステップ(S59, S75)、および検出ステップによって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する更新ステップ(S61~S63, S77, S81, S3, S31~S35)を内部制御プログラムと協働して実行するプログラムに相当する。
【発明の効果】
【００１５】
撮像面への入射光量を定義するパラメータは、電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出される。撮像面に現れた欠陥画素は検出されたパラメータが既定条件を満足するときに特定され、欠陥画素情報は特定された欠陥画素に基づいて更新される。これによって、後天的に発生した欠陥画素を補正する性能が向上する。
【００１６】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】この発明の一実施例の基本的構成を示すブロック図である。
【図２】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図３】撮像面における評価エリアの割り当て状態の一例を示す図解図である。
【図４】図２実施例に適用されるレジスタの構成の一例を示す図解図である。
【図５】図２実施例に適用される他のレジスタの構成の一例を示す図解図である。
【図６】（Ａ）はカメラ筐体を前方から眺めた状態の一例を示す図解図であり、（Ｂ）はカメラ筐体およびマニュアルズームレンズを右側から眺めた状態の一例を示す図解図であり、（Ｃ）はマニュアルズームレンズをカメラ筐体に装着した状態の一例を示す図解図である。
【図７】図２実施例に適用されるメインＣＰＵの動作の一部を示すフロー図である。
【図８】図２実施例に適用されるメインＣＰＵの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図９】図２実施例に適用されるメインＣＰＵの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【図１０】図２実施例に適用されるサブＣＰＵの動作の一部を示すフロー図である。
【図１１】図２実施例に適用されるサブＣＰＵの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図１２】図２実施例に適用されるサブＣＰＵの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【図１３】図２実施例に適用されるサブＣＰＵの動作のさらにその他の一部を示すフロー図である。
【図１４】この発明の他の実施例の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
［基本的構成］
【００１９】
図１を参照して、この実施例の電子カメラは、基本的に次のように構成される。撮像手段１は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する電子画像を出力する。補正手段２は、撮像手段１から出力された電子画像に欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を施す。検出手段３は、撮像面への入射光量を定義するパラメータを電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出する。更新手段４は、検出手段３によって検出されたパラメータが既定条件を満足するとき撮像面に現れた欠陥画素を特定して欠陥画素情報を更新する。
【００２０】
撮像面への入射光量を定義するパラメータは、電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出される。撮像面に現れた欠陥画素は検出されたパラメータが既定条件を満足するときに特定され、欠陥画素情報は特定された欠陥画素に基づいて更新される。これによって、後天的に発生した欠陥画素を補正する性能が向上する。
［実施例］
【００２１】
図２を参照して、この実施例のディジタルカメラ１０は、電源回路４４を含む。電源回路４４は、互いに異なる電圧値を各々が示す複数の直流電圧を、バッテリ４４ｂｔに基づいて生成する。生成された複数の直流電圧の一部はサブＣＰＵ４８に直接的に与えられ、生成された複数の直流電圧の他の一部はスイッチ群４６を介してメインシステムＭＳに与えられる。したがって、サブＣＰＵ４８は常時起動される一方、メインシステムＭＳはスイッチ群４６のオン／オフに対応して起動／停止される。
【００２２】
電源ボタン５０によって電源オン操作が行われると、サブＣＰＵ４８は、メインシステムＭＳを全面起動するべくスイッチ群４６の全てをオンし、その後に全面起動通知をメインＣＰＵ２８に与える。
【００２３】
メインシステムＭＳは、レンズドライバ２２ａ，シャッタドライバ２２ｂ，絞りドライバ２２ｃおよびセンサドライバ２２ｄによってそれぞれ駆動されるフォーカスレンズ１４，シャッタ機構１６，絞り機構１８および撮像装置２０を有する。また、フォーカスレンズ１４の前方には、マニュアルズームレンズ１２が着脱自在に装着される。
【００２４】
サブＣＰＵ４８から全面起動通知が発行されると、メインＣＰＵ２８は、ドライバ２２ｂを通してシャッタ機構１６を開き、動画取り込み処理の実行をセンサドライバ２２ｄおよびカメラ処理回路２４に命令し、そして動画表示処理の実行をＬＣＤドライバ３６に命令する。
【００２５】
撮像シーンを表す光学像は、マニュアルズームレンズ１２，フォーカスレンズ１４および絞りユニット１４を経て、撮像装置１６の撮像面に照射される。撮像面には、複数の画素（＝受光素子）が２次元に配置される。また、撮像面は、Ｒ(Red)，Ｇ(Green)およびＢ(Blue)の色要素がベイヤ態様で配列された色フィルタ（図示せず）によって覆われる。各画素では、色フィルタを透過した光量に応じて異なる量の電荷が光電変換によって生成される。
【００２６】
センサドライバ２２ｄは、図示しないＳＧ(Signal Generator)から周期的に発生する垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して、撮像装置２０の撮像面を露光し、かつ撮像面で生成された電荷をラスタ走査態様で読み出す。撮像装置１６からは、読み出された電荷に基づく生画像データが周期的に出力される。
【００２７】
カメラ処理回路２４は、撮像装置１６から出力された生画像データにディジタルクランプ，画素欠陥補正，ゲイン制御，色分離，白バランス調整およびＹＵＶ変換の一連の処理を施す。特に、画素欠陥補正は、図４に示すレジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報を参照して実行される。これによって生成されたＹＵＶ形式の画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４の動画像エリア３４ａに書き込まれる。
【００２８】
ＬＣＤドライバ３６は、こうして書き込まれた画像データをメモリ制御回路３２を通して動画像エリア３４ａから繰り返し読み出し、読み出された画像データに基づいてＬＣＤモニタ３８を駆動する。この結果、撮像シーンを表す動画像（スルー画像）がＬＣＤモニタ３８に表示される。
【００２９】
図３を参照して、撮像装置１６の撮像面には、評価エリアＥＶＡが割り当てられる。評価エリアＥＶＡは水平方向および垂直方向の各々において１６分割され、２５６個の分割エリアが評価エリアＥＶＡを形成する。また、図２に示すカメラ処理回路２４は、ＹＵＶ形式の画像データを形成するＹデータをＡＥ／ＡＦ評価回路２６にも与える。
【００３０】
ＡＥ／ＡＦ評価回路２６は、与えられたＹデータのうち評価エリアＥＶＡに属するＹデータを、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生する毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＥ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＥ／ＡＦ評価回路２６から出力される。
【００３１】
ＡＥ／ＡＦ評価回路２６はまた、与えられたＹデータのうち評価エリアＥＶＡに属するＹデータの高周波成分を、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生する毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＦ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＥ／ＡＦ評価回路２６から出力される。
【００３２】
キー入力装置３０に設けられたシャッタボタン３０ｓｈが非操作状態にあるとき、メインＣＰＵ２８は、ＡＥ／ＡＦ評価回路２６から出力された２５６個のＡＥ評価値に基づいて簡易ＡＥ処理を実行し、適正ＥＶ値を算出する。算出された適正ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間は絞りドライバ２２ｃおよびセンサドライバ２２ｄに設定され、これによってスルー画像の明るさが大まかに調整される。
【００３３】
マニュアルズームレンズ１２が操作されると、ズーム倍率が変化し、これに応じてスルー画像の画角が変化する。図６（Ａ）〜図６（Ｃ）を参照して、マニュアルズームレンズ１２は着脱自在であり、装着時にはカメラ筐体ＣＨＳの前面に設けられたレンズマウントＭＴによって支持される。また、マニュアルズームレンズ１２の性質上、撮像面への漏光を完全に遮断することができないズーム倍率範囲が存在する。このズーム倍率範囲を“漏光範囲”と定義する。
【００３４】
シャッタボタン３０ｓｈが半押しされると、メインＣＰＵ２８は、ＡＥ／ＡＦ評価回路２６から出力された２５６個のＡＥ評価値に基づいて厳格ＡＥ処理を実行する。これによって最適ＥＶ値が算出され、算出された最適ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間もまた絞りドライバ２２ｃおよびセンサドライバ２２ｄに設定される。この結果、スルー画像の明るさが最適値に調整される。
【００３５】
メインＣＰＵ２８はまた、ＡＥ／ＡＦ評価回路２６から出力された２５６個のＡＦ評価値に基づいてＡＦ処理を実行する。フォーカスレンズ１４は合焦点の探索のためにレンズドライバ２２ａによって光軸方向に移動し、これによって発見された合焦点に配置される。この結果、スルー画像の鮮鋭度が向上する。
【００３６】
シャッタボタン３０ｓｈが全押しされると、メインＣＰＵ２８は、静止画取り込み処理を実行する。これによって、まずシャッタ機構１６が閉じられ、最新フレームの画像データが記録画像エリア３４ｂに取り込まれる。シャッタ機構１６は退避が完了した後に開かれる。
【００３７】
メインＣＰＵ２８は続いて、記録処理の実行をメモリＩ／Ｆ４０に命令する。メモリＩ／Ｆ４０は、記録画像エリア３４ｂに格納された１フレームの画像データをメモリ制御回路３２を通して読み出し、読み出された画像データを収めた画像ファイルを記録媒体４２に記録する。
【００３８】
電源ボタン５０によって電源オフ操作が行われると、サブＣＰＵ４８は、全面停止通知をメインＣＰＵ２８に与える。メインＣＰＵ２８はドライバ２２ｂを制御してシャッタ機構１６を閉じ、サブＣＰＵ４８はシャッタ機構１６が閉じられた後にスイッチ群４６の全てをオフする。メインシステムＭＳは、スイッチ群４６の全てがオフされることで全面停止される。
【００３９】
サブＣＰＵ４８によって参照されるレジスタＲＧＳＴ２には、前回の画素欠陥検出処理（＝後天的に発生する欠陥画素を検出する処理）が実行された日付が図５に示す要領で登録される。この登録日付からの経過日数が１０日以上で、かつマニュアルズームレンズ１２の現時点のズーム倍率が漏光範囲から外れていれば、画素欠陥検出処理が実行される。
【００４０】
これに対して、レジスタＲＧＳＴ２に登録された日付からの経過日数が１０日以上であっても、マニュアルズームレンズ１２の現時点のズーム倍率が漏光範囲に属していれば、撮像面の前方の照度が照度センサ５２によって検出される。検出された照度が基準値ＲＥＦを下回れば、ディジタルカメラ１０は暗所に置かれているとみなされ、このときも画素欠陥検出処理が実行される。なお、撮像面の前方の照度は１時間毎に検出され、検出された照度が５回連続して基準値ＲＥＦ以上であれば、画素欠陥検出処理は中止される。
【００４１】
画素欠陥検出処理において、サブＣＰＵ２８はまずスイッチ群４６の一部をオンする。これによって、メインシステムＭＳが部分的に（＝ＬＣＤドライバ３６およびＬＣＤモニタ３８を除いて）起動される。サブＣＰＵ２８は続いて、メインシステムＭＳの部分起動をメインＣＰＵ２８に通知する。
【００４２】
メインＣＰＵ２８は、部分起動通知が与えられたとき、欠陥画素検出用の静止画像データの取得をセンサドライバ２２ｄおよびカメラ処理回路２４に命令する。センサドライバ２２ｄは撮像面の露光動作とこれによって生成された電荷の読み出し動作を１回ずつ実行する。この時点ではシャッタ機構１６は閉じられているため、撮像装置１６から出力される生画像データは、黒画像を表す。カメラ処理回路２４は、撮像装置２０から出力された生画像データをＹＵＶ形式の画像データに変換し、変換された画像データをメモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４のワークエリア３４ｄに書き込む。
【００４３】
メインＣＰＵ２８は、輝度レベルが閾値を上回る画素（＝後天的に発生した欠陥画素）をワークエリア３４ｄに格納された画像データから検出し、レジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報を更新する。レジスタＲＧＳＴ１には、検出された欠陥画素の位置が追加される。
【００４４】
サブＣＰＵ４８は、ＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報が上述の要領で更新されたとき、レジスタＲＧＳＴ２に登録された日付を今日の日付に更新する。更新が完了すると、メインシステムＭＳを停止するべくスイッチ群４６をオフする。
【００４５】
メインＣＰＵ２８は、図７〜図９に示す撮像タスクを含む複数のタスクをマルチタスクＯＳの制御の下で並列的に実行する。また、サブＣＰＵ４８は、図１０〜図１３に示すフロー図に従う処理を実行する。なお、メインＣＰＵ２８によって実行される制御プログラムはフラッシュメモリ２８ｍに記憶され、サブＣＰＵ４８によって実行される制御プログラムはフラッシュメモリ４８ｍに記憶される。
【００４６】
図７を参照して、ステップＳ１では全体起動通知がサブＣＰＵ４８から与えられたか否かを判別し、ステップＳ３では部分起動通知がサブＣＰＵ４８から与えられたか否かを判別する。ステップＳ１の判別結果がＹＥＳであればステップＳ５に進み、シャッタドライバ２２ｂを制御してシャッタ機構１６を開く。ステップＳ７では動画取り込み処理を開始し、続くステップＳ９では動画表示処理を開始する。
【００４７】
ステップＳ５〜Ｓ９の処理の結果、撮像シーンを表す光学像が撮像面に照射され、撮像シーンを表すＹＵＶ形式の画像データがカメラ処理回路２４から繰り返し出力され、この画像データに基づくスルー画像がＬＣＤドライバ３６によってＬＣＤモニタ４０に表示される。
【００４８】
ステップＳ１１ではシャッタボタン３０ｓｈが半押しされたか否かを判別し、判別結果がＮＯであればステップＳ１３で簡易ＡＥ処理を実行する。この結果、スルー画像の明るさが大まかに調整される。ステップＳ１５では全体停止通知がサブＣＰＵ４８から与えられたか否かを判別し、判別結果がＮＯであればステップＳ１１に戻る一方、判別結果がＹＥＳであればステップＳ１７に進む。ステップＳ１７ではシャッタドライバ２２ｂを制御してシャッタ機構１６を閉じ、その後に撮像タスクを終了する。
【００４９】
ステップＳ１１の判別結果がＹＥＳであれば、ステップＳ１９で厳格ＡＥ処理を実行し、ステップＳ２１でＡＦ処理を実行する。この結果、スルー画像の輝度および鮮鋭度が最適値に調整される。ステップＳ２３ではシャッタボタン３０ｓｈが全押しされたか否かを判別し、ステップＳ２５ではシャッタボタン３０ｓｈの操作が解除されたか否かを判別する。ステップＳ２５の判別結果がＹＥＳであればステップＳ１１に戻り、ステップＳ２３の判別結果がＹＥＳであればステップＳ２７に進む。
【００５０】
ステップＳ２７では静止画取り込み処理を実行し、ステップＳ２９では記録処理の実行をメモリＩ／Ｆ４０に命令する。シャッタボタン３０ｓｈが全押しされた時点のシーンを表す１フレームの画像データは、静止画取り込み処理によって動画像エリア３４ａから記録画像エリア３４ｂに退避される。メモリＩ／Ｆ４０は、記録画像エリア３４ｃに格納された画像データをメモリ制御回路３０を通して読み出し、読み出された画像データを収めた画像ファイルを記録媒体４２に記録する。ステップＳ２９の処理が完了すると、ステップＳ１１に戻る。
【００５１】
ステップＳ３の判別結果がＹＥＳであればステップＳ３１に進み、欠陥画素検出用の静止画像データの取得をセンサドライバ２２ｄおよびカメラ処理回路２４に命令する。
【００５２】
センサドライバ２２ｄは撮像面の露光動作とこれによって生成された電荷の読み出し動作を１回ずつ実行する。この時点ではシャッタ機構１６は閉じられているため、撮像装置１６から出力される生画像データは、黒画像を表す。カメラ処理回路２４は、撮像装置２０から出力された生画像データをＹＵＶ形式の画像データに変換し、変換された画像データをメモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４のワークエリア３４ｄに書き込む。
【００５３】
ステップＳ３３では輝度レベルが閾値を上回る画素（＝後天的に発生した欠陥画素）をワークエリア３４ｄに格納された画像データから検出し、ステップＳ３５ではレジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報を更新する。更新後の欠陥画素情報には、ステップＳ３３で検出された欠陥画素の位置が追加される。ステップＳ３５の処理が完了すると、撮像タスクを終了する。
【００５４】
図１０を参照して、ステップＳ４１では電源オン操作が行われたか否かを繰り返し判別し、判別結果がＮＯからＹＥＳに更新されるとステップＳ４３でスイッチ群４６の全てをオンする。この結果、メインシステムＭＳが全面的に起動する。ステップＳ４３の処理が完了するとステップＳ４５に進み、メインシステムＭＳの全面起動をメインＣＰＵ２８に通知する。
【００５５】
ステップＳ４７では、電源オフ操作が行われたか否かを繰り返し判別する。判別結果がＮＯからＹＥＳに更新されるとステップＳ４９に進み、メインシステムＭＳの全面停止をメインＣＰＵ２８に通知する。ステップＳ５１では上述したステップＳ１７の処理が完了するまで待機し、ステップＳ５３ではスイッチ群４６の全てをオフする。この結果、メインシステムＭＳが全面的に停止する。
【００５６】
ステップＳ５５ではレジスタＲＧＳＴ２に登録された日付からの経過日数を測定し、ステップＳ５７では経過日数が１０日以上であるか否かを判別する。判別結果がＮＯであればステップＳ４１に戻り、判別結果がＹＥＳであればステップＳ５９に進む。ステップＳ５９ではマニュアルズームレンズ１２の現時点のズーム倍率を検出し、ステップＳ６１では検出されたズーム倍率が漏光範囲に属するか否かを判別する。判別結果がＮＯであれば、ステップＳ６３で画素欠陥検出処理を実行し、その後にステップＳ４１に戻る。
【００５７】
これに対して判別結果がＹＥＳであれば、ステップＳ６５で変数Ｋを“１”に設定し、ステップＳ６７でタイマＴＭのリセット＆スタートを実行する。ステップＳ６９では電源オン操作が行われたか否かを判別し、ステップＳ７１ではタイマＴＭにタイムアウトが生じたか否か（＝リセット＆スタートから１時間が経過したか否か）を判別する。ステップＳ６９の判別結果がＹＥＳであればステップＳ４３に戻り、ステップＳ７１の判別結果がＹＥＳであればステップＳ７３に進む。
【００５８】
ステップＳ７３では変数Ｋをインクリメントし、ステップＳ７５では照度センサ５２の出力を取得する。ステップＳ７７では取得された出力つまり照度が基準値ＲＥＦを下回るか否かを判別し、ステップＳ７９では変数Ｋが最大値Ｋｍａｘ（＝５）を上回るか否かを判別する。ステップＳ７９の判別結果がＮＯであればステップＳ６７に戻り、ステップＳ７９の判別結果がＹＥＳであればステップＳ４１に戻る。また、ステップＳ７７の判別結果がＹＥＳであれば、ステップＳ８１で画素欠陥検出処理を実行し、その後にステップＳ４１に戻る。
【００５９】
ステップＳ６３またはＳ８１の画素欠陥検出処理は、図１３に示すサブルーチンに従って実行される。まずステップＳ９１で、スイッチ群４６の一部をオンする。これによって、メインシステムＭＳが部分的に（＝ＬＣＤドライバ３６およびＬＣＤモニタ３８を除いて）起動する。ステップＳ９３ではメインシステムＭＳの部分起動をメインＣＰＵ２８に通知し、ステップＳ９５ではＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報が上述のステップＳ３５の処理によって更新されたか否かを繰り返し判別する。判別結果がＮＯからＹＥＳに更新されるとステップＳ９７に進み、レジスタＲＧＳＴ２に登録された日付を今日の日付に更新する。更新が完了すると、メインシステムＭＳを停止するべくステップＳ９９でスイッチ群４６をオフし、その後に上階層のルーチンに復帰する。
【００６０】
以上の説明から分かるように、撮像装置２０は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有し、撮像面で捉えられた光学像に対応する生画像データを出力する。カメラ処理回路２４は、レジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報を参照した画素欠陥補正を、撮像装置２０から出力された生画像データに対して実行する。サブＣＰＵ４８は、撮像面への入射光量を定義するパラメータ（＝ズーム倍率または照度）を電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出し(S59, S75)、検出されたパラメータが既定条件を満足するとき欠陥画素検出処理を実行する(S61~S63, S77, S81)。撮像面に後天的に現れた欠陥画素はメインＣＰＵ２８によって検出され(S31~S33)、レジスタＲＧＳＴ１に登録された欠陥画素情報は検出結果に基づいて更新される(S35)。
【００６１】
このように、撮像面への入射光量を定義するパラメータは、電源オフ操作から電源オン操作までの期間に検出される。撮像面に現れた欠陥画素は検出されたパラメータが既定条件を満足するときに特定され、欠陥画素情報は特定された欠陥画素に基づいて更新される。これによって、後天的に発生した欠陥画素を補正する性能が向上する。
【００６２】
なお、この実施例では、メインＣＰＵ２８によって実行される制御プログラムはフラッシュメモリ２８ｍに予め記憶され、サブＣＰＵ４８によって実行される制御プログラムはフラッシュメモリ４８ｍに予め記憶される。しかし、図１４に示すように通信Ｉ／Ｆ５４をディジタルカメラ１０に設け、一部の制御プログラムを内部制御プログラムとしてフラッシュメモリ２８ｍおよび４８ｍに当初から準備する一方、他の一部の制御プログラムを外部制御プログラムとして外部サーバから取得するようにしてもよい。この場合、上述の動作は、内部制御プログラムおよび外部制御プログラムの協働によって実現される。
【００６３】
また、この実施例では、メインＣＰＵ２８によって実行される処理を上述の要領で複数のタスクに区分するようにしている。しかし、各々のタスクをさらに複数の小タスクに区分してもよく、さらには区分された複数の小タスクの一部を他のタスクに統合するようにしてもよい。また、各々のタスクを複数の小タスクに区分する場合、その全部または一部を外部サーバから取得するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１０  …ディジタルカメラ
１２  …マニュアルズームレンズ
１６  …シャッタ機構
２４  …カメラ処理回路
２８  …メインＣＰＵ
４８  …サブＣＰＵ
５２  …照度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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