(57)【要約】【課題】放射線の分布を表示するにあたり、線源の情報を示すことを可能とする。【解決手段】この発明では、放射線を示す粒子Ｕを、空間を分割する各評価点メッシュＧ内において、放射線の強度に応じた数、放射線の方向に移動表示させる。このような表示態様とすることで、粒子Ｕの数から放射線の強度を認識することが出来、粒子Ｕの移動方向から線源の位置を認識することが出来る。また、放射線を示す粒子Ｕの数を、放射線の強度の指数関数にすると、放射線の強度の変化に対して粒子数Ｎの変化が大きくなるので、ユーザが放射線の強度の変化を認識しやすくなり、好ましい。また、各評価点メッシュＧ内において、放射線を示す粒子Ｕの発生位置と発生時期をランダムにすると、表示が自然に見え、好ましい。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を示す粒子を、空間を分割する各３次元メッシュ内において、放射線の強度に応じた数、放射線の方向に移動表示させることを特徴とする放射線の表示方法。
【請求項２】
前記放射線を示す前記粒子の粒子数を、前記放射線の強度の指数関数にすることを特徴とする請求項１に記載の放射線の表示方法。
【請求項３】
前記各３次元メッシュ内において、前記放射線を示す前記粒子の発生位置と発生時期を、ランダムにすることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の放射線の表示方法。
【請求項４】
入力操作に応答して、前記放射線を示す前記粒子の大きさ、移動速度、前記粒子数のうち少なくとも１つを、前記各３次元メッシュにて一括変更することを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか一項に記載の放射線の表示方法。
【請求項５】
空間を分割する各３次元メッシュにおける評価点の放射線の強度を、線源の放射能と、線源から評価点までの距離と、前記線源と前記３次元メッシュの評価点を結ぶ直線上に存在する構造体とに基づいて計算する計算部と、
表示部と、
前記表示部に対して、前記放射線を示す前記粒子を、前記各３次元メッシュ内において、前記放射線の強度に応じた数、前記放射線の方向に移動表示させる表示制御部と、を備えた放射線表示装置。
【請求項６】
前記表示制御部は、前記放射線を示す前記粒子の粒子数を、前記放射線の強度の指数関数にすることを特徴とする請求項５に記載の放射線表示装置。
【請求項７】
前記表示制御部は、前記各３次元メッシュ内において、前記放射線を示す前記粒子の発生位置と発生時期を、ランダムにすることを特徴とする請求項５又は請求項６に記載の放射線表示装置。
【請求項８】
前記表示制御部は、入力操作に応答して、前記放射線を示す前記粒子の大きさ、移動速度、前記粒子数のうち少なくとも１つを、前記各３次元メッシュにて一括変更することを特徴とする請求項５ないし請求項７のいずれか一項に記載の放射線表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線を表示する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
空間内における放射線の分布を直観的に認識するには、放射線の分布を３次元的に表示する方法が有効であると考えられる。従来、放射線の分布を３次元的に表示する方法として、放射線量の分布を、等高線や断面を用いて表示する方法がある（例えば、下記特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−４９１４８公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来からある３次元の表示方法（等高線や断面による表示）では、その場の放射線の強さは認識できるものの、どこに放射線の線源があるか示すことができなかった。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、線源の情報（位置や方向）を示すことが可能な表示方法を提案することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の放射線の表示方法は、放射線を示す粒子を、空間を分割する各３次元メッシュ内において、放射線の強度に応じた数、放射線の方向に移動表示させるところに特徴を有する。尚、放射線には、α線やβ線などの粒子線やγ線などの電磁波が含まれる。
【０００６】
本発明の放射線表示装置は、空間を分割する各３次元メッシュにおける評価点の放射線の強度を、線源の放射能と、線源から評価点までの距離と、前記線源と前記３次元メッシュの評価点を結ぶ直線上に存在する構造体とに基づいて計算する計算部と、表示部と、前記表示部に対して、前記放射線を示す前記粒子を、前記各３次元メッシュ内において、前記放射線の強度に応じた数、前記放射線の方向に移動表示させる表示制御部と、を備えたところに特徴を有する。尚、放射能とは、放射性物質の種類と量を意味する。
【０００７】
本発明では、表示される粒子の数から放射線の強度を認識することが出来、粒子の移動方向から放射線の線源の位置を認識することが出来る。
【０００８】
この発明の実施態様として、次の構成が好ましい。
・前記放射線を示す前記粒子の数を、前記放射線の強度の指数関数にする。放射線の強度の変化に対して粒子数Ｎの変化が大きくなるので、ユーザが放射線の強度の変化を認識しやすくなる。
【０００９】
・前記各３次元メッシュ内において、前記放射線を示す前記粒子の発生位置と発生時期を、ランダムにする。各３次元メッシュ間で粒子の移動経路や粒子の発生時期が重なっていると、粒子Ｕの移動が規則的になって、表示が不自然になる。各３次元メッシュ間で、粒子の発生位置と粒子の発生時期が重ならないようにすることで、粒子の移動が不規則になり、表示が自然となる。
【００１０】
・入力操作に応答して、前記放射線を示す前記粒子の大きさ、移動速度、前記粒子数のうち少なくとも１つを、前記各３次元メッシュにて一括変更する。表示の調整が可能となるので、表示が見易くなる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、放射線の強さに加えて、放射線の線源の情報（すなわち、位置や方向）を示すことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施形態１にて、線源から放射される放射線を粒子で表示した図
【図２】原子炉建屋の構造を模式的に示した図
【図３】放射線表示装置の斜視図
【図４】コンピュータ本体の電気的構成を示すブロック図
【図５】放射線分布の表示フローを示す図
【図６】格納容器の平面図（模式図）
【図７】線量率の計算シーケンスを示す図
【図８】表示処理の内容を示す図
【図９】粒子Ｕの表示例を示す図
【図１０】粒子Ｕの表示例を示す図
【図１１】粒子Ｕの表示例を示す図
【図１２】粒子の流れを矢印で示した図（発明の効果を示す図）
【図１３】実施形態２にて、線量率Ｄと粒子数Ｎの関係を示したグラフ
【図１４】実施形態３にて、粒子の大きさを示す図（変更前後を示す）
【図１５】実施形態４にて、粒子の粒子数を示す図(変更前後を示す)
【発明を実施するための形態】
【００１３】
＜実施形態１＞
本発明の実施形態１を図１ないし図１２によって説明する。実施形態１示す表示方法は、空間内における放射線の分布を、粒子Ｕを利用して表示するものである（図１参照）。そして、本表示方法では、表示する粒子Ｕの数を、空間内の各部における放射線の強度（線量率Ｄ）に応じた数とし、各粒子Ｕを放射線の方向に移動表示させる。このような表示態様とすることで、各部に表示される粒子Ｕの数から、その場所における放射線の強度を認識することが出来、粒子Ｕの移動方向から線源の位置や方向を認識することが出来る。
【００１４】
以下、原子炉建屋を例にとって放射線（一例としてγ線）の分布の表示方法を説明する。図２は原子炉建屋の構造を模式的に示す図であり、符号１０は格納容器、符号１２は圧力容器、符号１６は放射線の線源となる配管である。尚、配管１６が線源となるのは放射性物質を含んだ水が配管を循環するためである。
【００１５】
図３は放射線の分布を表示する放射線表示装置２０である。放射線表示装置２０は演算機能、モニタ３５の表示制御機能を持つコンピュータ本体２１、キーボート３１、マウス３３、モニタ３５から構成されている。コンピュータ本体２１の電気的構成は、図４に示す通りであり、ＣＰＵよりなる演算制御部２２、図５に示す放射線分布の表示フローの実行プログラムを記憶したＲＯＭ２３と、各種のデータを記憶するためのＲＡＭ２４、インターフェース２５からなる。
【００１６】
そして、コンピュータ本体２１の演算制御部２２にて、図５に示す放射線分布の表示フローを実行することで、格納容器１０の内部空間における放射線の強度（各点の線量率Ｄ）の計算が実行され、得られた結果に基づいて、格納容器１０の内部空間における放射線の分布が、放射線を模した粒子Ｕを用いてモニタ３５上に表示される構成となっている。
【００１７】
図５に示すように、放射線分布の表示フローは、Ｓ１０からＳ６０の６つのステップから構成されており、Ｓ１０は、入力データを読み込む処理が演算制御部２２にて実行される。ここでいう、入力データとは、格納容器データ、放射線の線源データ、放射線の遮蔽物となる構造物のデータである。
【００１８】
尚、格納容器データとは、格納容器１０の大きさ、形状等に関するデータである。また、放射線の線源データとは、放射線の線源となる配管１６の大きさ、材質、形状や位置のデータと、配管周辺部の放射線の強度（配管線量率）の測定データである。構造物のデータは、ポンプや線源となる配管を含む配管および鉛や鉄からなる遮蔽材など格納容器１０内に設置されている構造物の材質、厚さ、大きさ、形状、位置及び内容物の有無・種類などのデータである。
【００１９】
そして、上記した入力データが読み込まれると、次に計算条件を読み込む処理が演算制御部２２にて実行される（Ｓ２０）。計算条件とは、格納容器１０の内部空間を分割する３次元格子からなる評価点メッシュＧに関する条件（例えば、評価点メッシュの大きさ）、線源Ｊの分割条件（例えば、線源Ｊの分割数ｍ）、構造物の分割条件（例えば、構造物の分割数ｒ）である。
【００２０】
その後、計算条件の読み込みが完了すると、Ｓ３０に移行して、計算条件に従って線源Ｊと構造物Ｋをデータ上分割する処理が、演算制御部２２にて実行される。例えば、図６の例では、格納容器１０の内部に線源Ｊとなる配管（図中太線枠で示す）が２組通っており、２組の配管１６Ａ、１６Ｂがトータルｍ個に分割されることになる。また、図６の例では、線源Ｊとなる配管１６Ａ、１６Ｂに対応してその前側に４枚の遮蔽材が設置されており、４枚の遮蔽材１８Ａ〜１８Ｄがトータルｒ個に分割されることになる。
【００２１】
尚、図６は格納容器の内部空間の一部を示した平面図であり、図中の一点鎖線格子Ｇは評価点メッシュを示し、格子の中心が各評価点Ｉを示している。また、図６は平面図であることから、評価点メッシュＧを二次元格子で示してあるが、実際の評価点メッシュは３次元格子である点に留意が必要である。
【００２２】
Ｓ３０の処理が完了すると、次はＳ４０に移行する。Ｓ４０では、演算制御部２２にて各評価点における放射線の線量率Ｄが計算される。放射線の線量率計算は、図７に示すＳ４１〜Ｓ４６の処理から構成されている（線量率計算シーケンス）。
【００２３】
順に説明すると、まずＳ４１では、評価点Ｉｎが１番から順に読み出され、Ｓ４２では線源Ｊｍが１番から順に読み出される。続く、Ｓ４３では、評価点Ｉｎと線源Ｊｍとの間で、構造物（この例では遮蔽材１８）が遮蔽になるか判定する処理が実行される。
【００２４】
最初に読み出される評価点Ｉｎと線源Ｊｍは、共に１番であるから、図６の例であれば、評価点Ｉ１と線源Ｊ１との間で構造物（この例では、遮蔽材１８）が遮蔽になるか判定される。
【００２５】
図６の例であれば、評価点Ｉ１と線源Ｊ１とを結ぶ直線上から遮蔽材１８Ａは外れているので、評価点Ｉ１と線源Ｊ１との間で遮蔽になる構造体はなしと判定される。その後、処理はＳ４４に移行する。
【００２６】
そして、Ｓ４４では、評価点Ｉｎにおける線源Ｊｍからの線量率Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）、すなわち単位時間当たりの放射線の量が計算される。具体的には、まず、ゲルマニウム半導体検出器等で測定した配管周辺部における放射線の強度（配管線量率）の測定データと、配管１６の大きさ、材質等のデータに基づいて、線源（配管）Ｊｍの放射能、すなわち線源Ｊｍの放射性物質の種類と量が算出される。
【００２７】
そして、算出した線源Ｊｍの放射能と、線源Ｊｍから評価点Ｉｎまでの距離とに基づいて、評価点Ｉｎにおける線源Ｊｍからの線量率Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）が計算される。従って、ここでは、線源Ｊ１の放射能と、線源Ｊ１から評価点Ｉ１までの距離に基づいて、評価点Ｉ１について線源Ｊ１からの線量率Ｄ（Ｉ１，Ｊ１）が計算されることになる。
【００２８】
Ｓ４４にて、線量率Ｄ（Ｉ１，Ｊ１）を計算し終えると、処理はＳ４２に戻り、２番目の線源Ｊ２が読み出される。そして、続く、Ｓ４３にて、評価点Ｉ１と線源Ｊ２との間で構造物（この例では遮蔽材１８）が遮蔽になるか判定される。
【００２９】
図６の例であれば、評価点Ｉ１と線源Ｊ２とを結ぶ直線上に、遮蔽材１８Ａの一部が重なっているので、評価点Ｉ１と線源Ｊ２との間を遮蔽する構造体は有りと判定される。その後、処理はＳ４４に移行する。
【００３０】
そしてＳ４４では、評価点Ｉ１について線源Ｊ２からの線量率Ｄ（Ｉ１，Ｊ２）が計算されることになる。尚、評価点Ｉ１と線源Ｊ２との間は、遮蔽材１８Ａの一部Ｋ１により遮られているので、線量率Ｄ（Ｉ１、Ｊ２）は、遮蔽材１８Ａの一部Ｋ１による遮蔽を考慮して、線量率Ｄが下記の（１）式に従って計算されることになる。
【００３１】
Ｄ（Ｉ１、Ｊ２）＝Ｄ０（Ｉ１、Ｊ２）×ｅ（−μ×ｔ）・・・・（１）式
【００３２】
尚、Ｄ０は遮蔽材を考慮しない場合の線量率である。「μ」は遮蔽材の材質に応じたγ線減衰係数である。「ｔ」は遮蔽材の厚みである。
【００３３】
上記遮蔽材による遮蔽を考慮した線量率Ｄの計算は、評価点Ｉ１と線源Ｊ２との間を遮る全ての遮蔽材について繰り返して計算される。遮蔽を考慮した線量率Ｄの計算方法については、例えば「放射線施設のしゃへい計算実務マニュアル」（財）原子力安全技術センター（2001年6月）に記載されている。
【００３４】
上記の計算方法に従って、評価点Ｉ１について各線源Ｊ（ｍ）からの線量率Ｄ（Ｉ１、Ｊｍ）が繰り返し計算される（Ｓ４２〜Ｓ４４）。そして、評価点Ｉ１について全線源Ｊからの線量率Ｄ（Ｉ１、Ｊｍ）を計算し終わると、次にＳ４５に移行する。
【００３５】
Ｓ４５では、評価点Ｉｎにおける線量率Ｄが高い線源Ｊｍをｔ個（一例として３個）抽出する処理が、演算制御部２２により行われる。従って、ここでは、評価点Ｉ１における線量率Ｄ（Ｉ１、Ｊｍ）の高い線源Ｊが３個抽出される。以下、評価点Ｉ１における線量率Ｄの高い線源としてＪ１、Ｊ１９、Ｊ２５の３つの線源Ｊが抽出されたものとして説明を続ける。
【００３６】
Ｓ４５にて線量率Ｄの高い線源Ｊが抽出されると、次はＳ４６に移行する。そして、Ｓ４６では、評価点Ｉ（ｎ）における線量率Ｄ（Ｉｎ）が、演算制御部２２にて算出される。具体的には、Ｓ４５で抽出されたｔ個の線量率Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）の和が、下記の（２）式に基づいて算出される。
【００３７】
Ｄ（Ｉｎ）＝ΣｔＤ（Ｉｎ、Ｊｍ）・・・・・・・（２）式
【００３８】
従って、ここでは、評価点Ｉ１における線量率Ｄ（Ｉ１）が、次の（３）式に示すように線源Ｊ１、Ｊ１９、Ｊ２５からの線量率Ｄの和として算出される。
【００３９】
Ｄ（Ｉ１）＝Ｄ（Ｉ１、Ｊ１）＋Ｄ（Ｉ１、Ｊ１９）＋Ｄ（Ｉ１、Ｊ２５）・・・（３）式
【００４０】
Ｓ４６にて評価点Ｉ１における線量率Ｄ（Ｉ１）が算出されると、処理はＳ４１に戻り、２番目の評価点Ｉ２が読み出される。そして２番目の評価点Ｉ２の線量率Ｄ（Ｉ２）が算出される（Ｓ４２〜Ｓ４６）。
【００４１】
その後、３番目の評価点Ｉ３の線量率Ｄ（Ｉ３）、４番目の評価点Ｉ４の線量率Ｄ（Ｉ４）が順に算出され、全評価点Ｉｎについて線量率Ｄの計算をし終えると、図７に示す線量率計算シーケンスは終了する。尚、演算制御部２２により実行されるＳ４１〜Ｓ４６の処理により、本発明の「計算部」の果たす処理機能が実現されている。
【００４２】
そして、線量率計算シーケンスの終了後は、図５の表示フローのＳ５０に戻る。Ｓ５０では、Ｓ４０にて求めた次の（１）〜（３）のデータ（以下、表示データ）をＲＡＭ２４に対して記憶する処理が実行される。
【００４３】
（１）各評価点Ｉｎにおける各線源Ｊｍからの方向のデータ
（２）各評価点Ｉｎにおける各線源Ｊｍからの線量率Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）のデータ
（３）各評価点Ｉｎにおける線量率Ｄ（Ｉｎ）のデータ
尚、各線源ＪｍはＳ４５にて抽出されたｔ個の線源を指す。また、線量率Ｄ（Ｉｎ）はＳ４６にて算出されたものを指す。
【００４４】
そして、Ｓ５０に続くＳ６０では格納容器１０内における放射線の分布を、モニタ３５上に表示させる処理がコンピュータ本体２１の演算制御部２２により行われる。表示の仕方は、モニタ３５上に再現された格納容器１０の内部空間に放射線を模した粒子Ｕを移動表示することにより、放射線の分布を表示するものである。
【００４５】
以下、Ｓ６０の表示処理の内容を、図８〜図１１を参照して説明する。
図８に示すように、Ｓ６０の表示処理は、Ｓ６１とＳ６３の２つの処理から構成されている。そして、Ｓ６１では、各評価点Ｉｎについて放射線の表示データ（具体的には上記した（１）〜（３）の各データ）を、ＲＡＭ２４から順番に読み出す処理が行われる。続くＳ６３では、読み出した表示データに従って、空間を分割する各評価点メッシュＧに複数の粒子Ｕを移動表示させる処理がコンピュータ本体２１の演算制御部２２により行われる。
【００４６】
各粒子Ｕの表示規則は、表示する粒子数（粒子の総数）Ｎ、粒子の移動方向、同じ移動方向となる粒子数ｎの３つの規則からなる。
【００４７】
（ａ）評価点メッシュＧ（ｎ）に表示する粒子数（粒子Ｕの総数）Ｎは、下記の（４）式で示すように線量率Ｄ（Ｉｎ）に任意の定数Ｐを乗じた数とする。
Ｎ＝Ｄ（Ｉｎ）×Ｐ個・・・・・・・（４）式
Ｎは粒子数である。
【００４８】
（ｂ）粒子Ｕの移動方向は、線源Ｊｍから評価点Ｉｎに向う方向とする。
尚、「線源Ｊｍ」とは、Ｓ４５にて抽出されたｔ個の線源を指す。
【００４９】
（ｃ）同じ移動方向となる粒子数ｎは、下記の（５）、（６）式とする。
ｎ＝Ｎ×ｄ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（５）式
ｄ＝Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）÷Ｄ（Ｉｎ）・・・・・・・・・・（６）式
Ｄ（Ｉｎ）は、評価点Ｉ（ｎ）における線量率である。
Ｄ（Ｉｎ、Ｊｍ）は、評価点Ｉｎにおける線源Ｊｍからの線量率である。
【００５０】
次に評価点メッシュＧ（１）を例にとって粒子Ｕの表示例を説明する。先に説明したように、評価点Ｉ１に対する線量率の高い線源Ｊｍは「Ｊ１」、「Ｊ１９」、「Ｊ２５」の３箇所であることから、評価点メッシュ内における粒子Ｕの移動方向は、図９に示すように、線源Ｊ１から評価点Ｉ１に向かう方向Ｌ１と、線源Ｊ１９から評価点Ｉ１に向かう方向Ｌ１９と、線源Ｊ２５から評価点Ｉ１に向かう方向Ｌ２５の３方向となる。
【００５１】
そして、各方向に移動する粒子の数は、各線源Ｊｍからの線量率Ｄ（Ｉ１、Ｊｍ）の大きさに応じた数に設定される。従って、例えば、評価点Ｉ１に対する各線源Ｊ１、Ｊ１９、Ｊ２５からの線量率Ｄの比率が「２」、「３」、「１」である場合には、各方向Ｌ１、Ｌ１９、Ｌ２５に移動する粒子数の比率が「２」、「３」、「１」となる。
【００５２】
図９の例であれば、線源Ｊ１から評価点Ｉ１に向かう方向Ｌ１に「２個」の粒子Ｕ１、Ｕ２を移動表示させており、また、線源Ｊ１９から評価点Ｉ（１）に向かう方向Ｌ１９に「１個」の粒子Ｕ３を移動表示させてあり、線源Ｊ２５から評価点Ｉ（１）に向かう方向Ｊ２５に「３個」の粒子Ｕ４、Ｕ５、Ｕ６を移動表示させている。尚、演算制御部２２に実行されるＳ６３の処理により、本発明の表示制御部の果たす処理機能が実現されている。
【００５３】
また、粒子Ｕは、図１０に示すように、評価点メッシュＧのうち、境界面ＧＡから別の境界面ＧＢまでの移動を繰り返すように表示（繰り返し表示）させることが好ましい。そのようにすることで、隣接する評価点メッシュ間で粒子Ｕの動きに連続性が生まれ、粒子Ｕの動きに流れを持たせることが可能となる。
【００５４】
ただし、各評価点メッシュＧ間で粒子Ｕの移動経路や粒子Ｕの発生時期が重なっていると、粒子Ｕの移動が規則的になって、表示が不自然になる。そのため、コンピュータ本体２１の演算制御部２１２にて、乱数などを用いて、各評価点メッシュＧの粒子Ｕの発生位置（すなわち、始点の位置）と発生時期をランダムに設定することが好ましい。
【００５５】
各評価点メッシュＧ間で、粒子Ｕの発生位置と粒子Ｕの発生時期が重ならないようにすることで、粒子Ｕの移動が不規則になり、表示が自然となる。尚、粒子Ｕの発生位置や発生時期は、各評価点メッシュＧ間で異なっていればよい。そのため、粒子Ｕを繰り返し表示する都度、乱数を用いて発生位置や発生時期を決定する必要はなく、初回に乱数を用いて、発生位置と発生時期を決定したら、あとは決定した発生位置と発生時期に基づいて、粒子Ｕを所定の繰り返し周期で、繰り返し表示するようにすればよい。
【００５６】
また、各粒子Ｕの移動速度を均一にすると、やはり、粒子Ｕの動きが規則的になり過ぎてそれが不自然さを生じさせる。そのため、コンピュータ本体２１の演算制御部２２にて、乱数などを利用して、各粒子Ｕの移動速度をばらばらにすると、表示が見やすくなる。
【００５７】
本実施形態では、格納容器１０の内部空間を分割する全ての評価点メッシュＧ（ｎ）にて、評価点メッシュＧ（１）と同様に、上記（ａ）〜（ｃ）の表示規則に従って、複数の粒子Ｕを繰り返し移動表示する。尚、図１１では、Ｇ（１）とＧ（２）の２組の評価点メッシュについてのみ粒子Ｕを表示させているが、実際には、同じ要領でそれ以外の評価点メッシュについても粒子Ｕが表示されることとなる。
【００５８】
以上説明したように、本表示方法では、表示する粒子Ｕの数を放射線の強度（線量率）に応じた数とし、各粒子Ｕを放射線の方向に移動表示させる。そのため、表示される粒子Ｕの数が多い場所は、線量率Ｄすなわち放射線の強度が高いと認識できる。また、粒子Ｕの移動方向から線源Ｊの方向を特定することが出来る。例えば、図１２に示すように、Ａ方向に大きな粒子の流れがあれば、強い線源ＪがＡ方向に存在していると認識出来る。図１２では、粒子の流れを矢印で示し、流れの大きさ（流れる粒子数）を矢印の大きさで示している。
【００５９】
＜実施形態２＞
本発明の実施形態２を図１３によって説明する。実施形態１では、評価点メッシュＧ（ｎ）に表示する粒子数Ｎを、（４）式に示したように、放射線の線量率Ｄに比例する数とした。実施形態２では、演算制御部２２にて下記の（７）式に示す演算を行い、評価点メッシュＧ（ｎ）に表示する粒子数Ｎを、放射線の線量率Ｄの指数関数とする（図１３参照）。
【００６０】
Ｎ＝ＡＤ（Ｉｎ）−１・・・・・・・・・・・（７）式
「Ｎ」は粒子数、「Ｄ（Ｉｎ）」は評価点Ｉｎの線量率である。また「Ａ」は定数である。
【００６１】
表示する粒子数Ｎを線量率Ｄの指数関数にした場合、線量率Ｄの変化に対して粒子数Ｎの変化が大きくなるので、ユーザがモニタ３５の表示から線量率Ｄの変化を認識しやすくなる。
【００６２】
尚、表示する粒子数Ｎを線量率Ｄの指数関数にする場合も、実施形態１と同様に、粒子Ｕの移動方向は、線源Ｊｍから評価点Ｉｎに向う方向であり、同じ方向に移動する粒子数ｎは、上記の（５）式、（６）式に基づいて決定される。
【００６３】
＜実施形態３＞
本発明の実施形態３を図１４によって説明する。
実施形態３は、実施形態１又は実施形態２の放射線表示装置２０に対して、粒子Ｕの大きさの変更機能を追加したものである。
【００６４】
具体的に説明すると、実施形態３の放射線表示装置２０では、キーボート３１、マウス３３等のユーザインターフェースを通じて、モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさを選択操作できる構成となっている。ここでは、小さな粒子Ｕｓと、大きな粒子Ｕｂの２パターンが選択できるものとする。
【００６５】
ユーザがキーボート３１、マウス３３等のユーザインターフェースを通じて、モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさを選択操作（本発明の「入力操作」に相当）すると、コンピュータ本体２１の演算制御部２２は選択操作を受け付ける処理をまず行う。次に、コンピュータ本体２１の演算制御部２２は、選択操作の指示に従い、モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさを変更する。
【００６６】
例えば、当初、小さな粒子Ｕｓが選択されている状態から大きな粒子Ｕｂの表示が選択された場合、図１４に示すように、コンピュータ本体２１の演算制御部２２は、モニタ３５に表示される粒子Ｕを、小さな粒子Ｕｓから大きな粒子Ｕｂ変更する。尚、粒子Ｕの大きさの変更は、全ての評価点メッシュＧを対象に一括して行われる。
【００６７】
放射能を粒子表示する場合、表示の見やすさは、粒子Ｕの大きさが同じであっても、モニタ３５のサイズやモニタ３５からの距離によって異なる。本実施形態では、粒子Ｕの大きさの変更により、表示の調整が可能となり、モニタ３５の表示が見易くなるというメリットがある。
【００６８】
＜実施形態４＞
本発明の実施形態４を図１５によって説明する。
実施形態３では、ユーザの選択操作に応答して、モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさを変更する例を示した。実施形態４は、ユーザの選択操作に応答して、モニタ３５に表示する粒子数Ｎを変更する。すなわち、実施形態１の（４）式や、実施形態２の（７）式に基づいて算出した各評価点メッシュＧ（ｎ）の粒子数Ｎについて、各評価点メッシュＧ間における粒子数Ｎの比率は変えないで、表示する粒子の総数を変更する。
【００６９】
具体的に説明すると、実施形態４の放射線表示装置２０では、キーボート３１、マウス３３等のユーザインターフェースを通じて、モニタ３５に表示する粒子数Ｎが多いパターンと、少ないパターンを選択操作できる構成となっている。尚、少ないパターンの粒子数Ｎは実施形態１の（４）式や実施形態２の（７）式に基づいて算出された粒子数であり、表示する粒子数Ｎの多いパターンは、少ないパターンの粒子数Ｎに対して２倍の粒子数を表示するものとする。
【００７０】
ユーザがキーボート３１、マウス３３等のユーザインターフェースを通じて、モニタ３５に表示する粒子数Ｎのパターンを選択操作（本発明の「入力操作」に相当）すると、コンピュータ本体２１の演算制御部２２は選択操作を受け付ける処理をまず行う。次にコンピュータ本体２１の演算制御部２２は、選択操作の指示に従い、モニタ３５に表示する粒子数Ｎのパターンを変更する。
【００７１】
例えば、当初、粒子数Ｎが少ないパターンが選択されている状態から、粒子数Ｎが多いパターンが選択された場合、コンピュータ本体２１の演算制御部２２は、全評価点メッシュＧを対象として、表示する粒子数Ｎを２倍に変更する。
【００７２】
図１５の例では、図中左側の評価点メッシュＧ１は、変更前の粒子数Ｎが１個であることから、粒子数Ｎは２個に変更される。また、図１５の例では、図中右側の評価点メッシュＧ２は、変更前の粒子数Ｎが２個であることから、粒子数Ｎは４個に変更される。尚、粒子Ｕの移動方向は、変更前後で変わることはなく、線源Ｊｍから評価点Ｉｎに向う方向である。
【００７３】
放射能を粒子表示する場合、表示の見やすさは、粒子Ｕの総数が同じであっても、モニタ３５のサイズやモニタ３５からの距離によって異なる。本実施形態では、粒子数Ｎの変更により、表示の調整が可能となり、モニタ３５の表示が見易くなるというメリットがある。
【００７４】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
【００７５】
（１）上記実施形態１〜実施形態３では、放射線の一例としてγ線の分布を表示する例を示したが、α線やβ線の分布を表示するようにしてもよい。
【００７６】
（２）上記実施形態１〜実施形態３では、放射線を示す粒子Ｕの一例として球形状の粒子を示したが、それ以外の形状、例えば、立方体などにすることも可能である。また、粒子に色を付けて表示するようにしてもよい。
【００７７】
（３）上記実施形態２では、評価点メッシュＧ（ｎ）に表示する粒子数Ｎを、放射線の線量率Ｄの指数関数とした例を示したが、線量率Ｄの変化に対して粒子数Ｎの変化が比例関係よりも顕著に表れるものであれば適用可能であり、例えば、評価点メッシュＧ（ｎ）に表示する粒子数Ｎを、放射線の線量率Ｄの二次関数や三次関数等にしてもよい。また、放射線の線量率Ｄを複数の領域に区分して、領域間で線量率Ｄに対する粒子数Ｎの表示比率に差を付けることにより、違いを出してもよい。
【００７８】
（４）上記実施形態３では、コンピュータ本体２１の演算制御部２２により、モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさを大小の２パターンで変更する例を示した。本発明は粒子Ｕの大きさを、各評価点メッシュＧにて一括変更するものであればよく、大、中、小など３パターン又はそれ以上変更できるようにしてもよい。また、実施形態４では、モニタ３５に表示する粒子数Ｎを、表示する粒子数Ｎの多いパターンと、少ないパターンの２パターンで変更する例を示した。本発明は粒子数Ｎを、各評価点メッシュＧにて一括変更するものであればよく、表示する粒子数Ｎを３パターン又はそれ以上変更できるようにしてもよい。
【００７９】
（５）上記実施形態３では、コンピュータ本体２１の演算制御部２２により、モニタ３５に表示する放射線を示す粒子Ｕの大きさを変更する例を示した。また、実施形態４では、モニタ３５に表示する粒子数Ｎを変更する例を示した。モニタ３５に表示する粒子Ｕの大きさや粒子数を変更する以外に、ユーザからの選択操作に応答して、粒子Ｕの移動速度を、全評価点メッシュＧの各粒子Ｕについて一括して変更するようにしてもよい。尚、各粒子Ｕ間で移動速度が同じである場合は、全粒子Ｕの移動速度を同じように変更し、各粒子Ｕ間で移動速度が異なる場合は、移動速度の比率は変えないで、各粒子Ｕの移動速度を変更するとよい。
【符号の説明】
【００８０】
１０...格納容器
１６...線源となる配管
２０...放射線表示装置
２１...コンピュータ本体
２２...演算制御部（本発明の「計算部」、「表示制御部」に相当）
３５...モニタ（本発明の「表示部」に相当）
Ｇ...評価点メッシュ（本発明の「三次元メッシュ」に相当）
Ｕ...粒子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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