(57)【要約】【課題】小型の分光画像撮像装置であっても、正反射の影響を抑制することができ、対象物の正確な分光分析を可能とする分光画像撮像装置を提供する。【解決手段】光源装置と、撮像装置と、を備え、前記光源装置は、光源部と、第１レンズ群と、第１偏光手段と、を備え、前記撮像装置は、第２偏光手段と、第２レンズ群と、光フィルターと、撮像手段と、を備える分光画像撮像装置。【選択図】図１
2014010093.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源装置と、撮像装置と、を備え、
前記光源装置は、光源部と、第１レンズ群と、第１偏光手段と、を備え、
前記撮像装置は、第２偏光手段と、第２レンズ群と、光フィルターと、撮像手段と、を備える、
ことを特徴とする分光画像撮像装置。
【請求項２】
前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、直線偏光部を備え、
前記第１偏光手段による直線偏光方向と、前記第２偏光手段による直線偏光方向と、が直交するように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されている、
ことを特徴とする請求項１に記載の分光画像撮像装置。
【請求項３】
前記直線偏光部が、直線偏光板である、
ことを特徴とする請求項２に記載の分光画像撮像装置。
【請求項４】
前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、円偏光部を備え、
前記第１偏光手段による円偏光の回転方向と、前記第２偏光手段による円偏光の回転方向と、が同方向となるように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されている、
ことを特徴とする請求項１に記載の分光画像撮像装置。
【請求項５】
前記円偏光部が、λ／４位相差板を含む、
ことを特徴とする請求項４に記載の分光画像撮像装置。
【請求項６】
前記光フィルターが、波長可変光フィルターである、
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の分光画像撮像装置。
【請求項７】
光源と、第１偏光手段と、第２偏光手段と、光フィルターと、撮像手段と、を備え、
前記第１偏光手段は、前記光源と撮像対象物との間の光路上に配置され、
前記第２偏光手段は、前記撮像対象物と前記撮像手段との間の光路上に配置されている、
ことを特徴とする分光画像撮像装置。
【請求項８】
前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、直線偏光部を備え、
前記第１偏光手段による直線偏光方向と、前記第２偏光手段による直線偏光方向と、が直交するように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されている、
ことを特徴とする請求項７に記載の分光画像撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光画像撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
対象物の成分、あるいは含有物の情報を、対象物を破壊せずに取得する方法として、対象物のスペクトル画像データを取り込み、このデータを分析して成分情報などを得る方法が広く用いられている。例えば、特許文献１では対象物の特定部位のスペクトルデータを取得する方法として、対象物全体を撮像し対象物画像を取得する画像データ取得装置と、取得された対象物画像より狭い範囲におけるスペクトルデータを取得するスペクトルデータ取得装置と、を備え、画像データ取得装置より高い波長分解能をスペクトルデータ取得装置が備えることよって、大まかな対象物の特徴を画像データ取得装置で得、そのデータの特徴的な部位の詳細な分析をスペクトルデータ取得装置が取得する。この詳細部位の決定手段を装置自体に備えることにより、対象物の特徴、すなわち解析を操作者（人）の判断を経ずに行い、速やか、且つ安定した解析を行う分光画像入力システムが開示されている。
【０００３】
また、特許文献２では単板方式のデジタルカメラであっても、狭帯域の透過波長特性を持つ分光フィルターを用い、透過波長帯域を変化させて対象物の撮像画像を取得し、取得した各波長帯域の画像を合成することで対象物の分光画像を得ることができる撮像装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−３２９６１７号公報
【特許文献２】特開２００９−３３２２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、近年、健康維持、食品安全性の確保などの動向から、食品の成分、糖度などを測定する小型のフードチェッカー等の要求が高まっている。しかし、特許文献１に開示された分光画像入力システムでは、対象物の全体画像を取得する撮像装置に加え、特定部位のスペクトル画像を取得するスペクトルデータ取得装置も必要とし、大型の装置となってしまっていた。また、装置の小型化は、言い換えると近接した対象物を撮像することを可能とすることとなるが、食品成分などの測定は、その表面ではなく内部を測定する必要があり、撮像対象食品が光沢表面を有する物であった場合、光沢面からの正反射光による影響を抑制しなければならない。しかし、特許文献２に示す撮像装置では、近接した対象物の撮像方法を示唆する記載はあるが、正反射の影響に関する開示はされていない。
【０００６】
そこで、小型の分光画像撮像装置であっても、正反射の影響を抑制することができ、対象物の正確な分光分析を可能とする分光画像撮像装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
【０００８】
〔適用例１〕本適用例の分光画像撮像装置は、光源装置と、撮像装置と、を備え、前記光源装置は、光源部と、第１レンズ群と、第１偏光手段と、を備え、前記撮像装置は、第２偏光手段と、第２レンズ群と、光フィルターと、撮像手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
本適用例の分光画像撮像装置によれば、光源装置に備える第１偏光手段によって出射される偏光光は成分分析される対象物にその偏光光が投射されると、対象物の内部に侵入し、内部成分によって反射される光は出射光の偏光が解消された光となる。一方、対象物表面において正反射される光は、出射された偏光光の偏光を維持して反射される。撮像装置側では、対象物の内部成分によって偏光が解消された反射光と、対象物表面で正反射された偏光光と、が混在した分析光が入射される。入射された分析光から、撮像装置に備える第２偏光手段によって、偏光光が吸収されて対象物の内部成分によって偏光が解消された反射光だけが撮像部に到達する。従って、対象物表面による正反射成分が除去された分析光を撮像部で受光させることができるため、正確な対象物の分光分析画像を形成することができる分光画像撮像装置が得られる。
【００１０】
〔適用例２〕上述の適用例において、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、直線偏光部を備え、前記第１偏光手段による直線偏光方向と、前記第２偏光手段による直線偏光方向と、が直交するように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されていることを特徴とする。
【００１１】
上述の適用例における「直交」とは、厳密な角度９０度での交差を意味するものではない。少なくとも一般的な装置の組み立て上の位置精度、あるいは部品そのもののばらつきが考慮された角度９０度を狙い値として所定の角度範囲を有しているものである。上述の適用例によれば、第１偏光手段および第２偏光手段が直線偏光に偏光する直線偏光部であることにより、対象物表面での正反射光の偏光の乱れ（ずれ）が少なく、撮像装置では、より確実に正反射光の除去を行うことができ、正確な対象物の分光分析画像を形成することができる分光画像撮像装置が得られる。
【００１２】
〔適用例３〕上述の適用例において、前記直線偏光部が、直線偏光板であることを特徴とする。
【００１３】
上述の適用例によれば、装置構成が簡単で、第１偏光手段と第２偏光手段との偏光軸の調整が容易な分光画像撮像装置を得ることができる。
【００１４】
〔適用例４〕上述に適用例において、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、円偏光部を備え、前記第１偏光手段による円偏光の回転方向と、前記第２偏光手段による円偏光の回転方向と、を同方向となるように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されていることを特徴とする。
【００１５】
上述の適用例によれば、第１偏光手段および第２偏光手段が円偏光に偏光する円偏光部であることにより、対象物表面での正反射光の偏光の乱れ（ずれ）が少なく、撮像装置では、光軸に対する光軸周りの第２偏光手段の配置ずれがあっても、円偏光であることにより確実に正反射光の除去を行うことができる。従って、正確な対象物の分光分析画像を形成することができる分光画像撮像装置が得られる。
【００１６】
〔適用例５〕上述の適用例において、前記円偏光部が、λ／４位相差板を含むことを特徴とする。
【００１７】
上述の適用例によれば、偏光板にλ／４位相差板を重ねることで容易に偏光を得ることができ、更に第１偏光手段と第２偏光手段とが、同じ円偏光部を備えることができるため、円偏光の方向を容易に合わせることができる分光画像撮像装置を得ることができる。
【００１８】
〔適用例６〕上述の適用例において、前記光フィルターが、波長可変光フィルターであることを特徴とする。
【００１９】
上述の適用例によれば、対象物が含む多様な成分から所望の成分の分光画像を取得する波長域を、波長可変光フィルターを用いることで、一台の分光画像撮像装置で所望の分光画像を取得可能とすることができる。
【００２０】
〔適用例７〕本適用例の分光画像撮像装置は、光源と、第１偏光手段と、第２偏光手段と、光フィルターと、撮像手段と、を備え、前記第１偏光手段は、前記光源と撮像対象物との間の第１の光路上に配置され、前記第２偏光手段は、前記撮像対象物と前記撮像手段との間の第２の光路上に配置されていることを特徴とする。
【００２１】
本適用例の分光画像撮像装置によれば、光源装置に備える第１偏光手段によって出射される偏光光は成分分析される対象物にその偏光光が投射されると、対象物の内部に侵入し、内部成分によって反射される光は出射光の偏光が解消された光となる。一方、対象物表面において正反射される光は、出射された偏光光の偏光を維持して反射される。撮像装置側では、対象物の内部成分によって偏光が解消された反射光と、対象物表面で正反射された偏光光と、が混在した分析光が入射される。入射された分析光から、撮像装置に備える第２偏光手段によって、偏光光が吸収されて対象物の内部成分によって偏光が解消された反射光だけが撮像部に到達する。従って、対象物表面による正反射成分が除去された分析光を撮像部で受光させることができるため、正確な対象物の分光分析画像を形成することができる分光画像撮像装置が得られる。
【００２２】
〔適用例８〕上述の適用例において、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段は、直線偏光部を備え、前記第１偏光手段による直線偏光方向と、前記第２偏光手段による直線偏光方向と、が直交するように、前記第１偏光手段および前記第２偏光手段が配置されていることを特徴とする。
【００２３】
上述の適用例においても、「直交」とは、厳密な角度９０度での交差を意味するものではない。少なくとも一般的な装置の組み立て上の位置精度、あるいは部品そのもののばらつきが考慮された角度９０度を狙い値として所定の角度範囲を有しているものである。上述の適用例によれば、第１偏光手段および第２偏光手段が直線偏光に偏光する直線偏光部であることにより、対象物表面での正反射光の偏光の乱れ（ずれ）が少なく、撮像装置では、より確実に正反射光の除去を行うことができ、正確な対象物の分光分析画像を形成することができる分光画像撮像装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】第１実施形態に係る分光画像撮像装置を示す、（ａ）は概略構成のブロック図、（ｂ）は光源装置のブロック図、（ｃ）は撮像装置のブロック図。
【図２】第１実施形態に係る分光画像撮像装置における、（ａ）は光源装置から射出される光と、撮像装置に入射される光の関係を模式的に示す概念図、（ｂ）は正反射を説明する光量分布の模式図。
【図３】第１実施形態に係る分光画像撮像装置に備える光フィルターの概略構成の断面図。
【図４】第２実施形態に係る分光画像撮像装置を示す、（ａ）は概略構成のブロック図、（ｂ）は光源装置のブロック図、（ｃ）は撮像装置のブロック図。
【図５】第２実施形態に係る分光画像撮像装置における、（ａ）は光源装置から射出される光と、撮像装置に入射される光の関係を模式的に示す概念図、（ｂ）〜（ｄ）は円偏光の方向を説明する矢視図。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、図面を参照して、本発明に係る実施形態を説明する。
【００２６】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る分光画像撮像装置の概略構成を示すブロック図である。図１（ａ）に示すように、第１実施形態に係る分光画像撮像装置１００は、光源装置１０と撮像装置２０を備える画像取得装置３０（以下、分光カメラ部３０という）と、光源装置１０の制御および撮像装置２０で得られる画像の画像処理を行う処理制御部４０とを含んで構成される。
【００２７】
図１（ｂ）に示すように、光源装置１０は、光源となるランプを備える光源部１と、光源部１からのランプ光Ｌａを平行光Ｌｂにする第１レンズ群２と、第１レンズ群２からの平行光Ｌｂを直線偏光Ｌｐに偏光する第１偏光手段としての第１偏光板３と、を備えている。光源部１から出射されたランプ光Ｌａは、第１レンズ群２と第１偏光板３を通過し、直線偏光Ｌｐとなって対象物Ｍに向けて出射される。なお、第１レンズ群２は、作図では１枚のレンズで描画してあるが、複数のレンズを組み合わせて構成されている。
【００２８】
光源装置１０から発光された直線偏光Ｌｐは、対象物Ｍの分析項目により適宜選択されるが、例えば対象物Ｍが食品であり、その内部成分の分析を行う場合には赤外線を用いることが好ましい。また、対象物Ｍの表面の測色の場合には可視光を用いることもできる。従って、赤外線を用いる場合には、光源部１はタングステンランプ、赤外ＬＥＤなどの光源を用いる。
【００２９】
図１（ｃ）に示すように、撮像装置２０は、対象物Ｍからの反射光Ｌｒを直線偏光Ｌｃに偏光する第２偏光手段としての第２偏光板４と、偏光された直線偏光Ｌｃを集光し平行光Ｌｄにする第２レンズ群５と、第２レンズ群５による平行光Ｌｄを所望の波長の分析光Ｌｅにフィルタリングする光フィルター６と、光フィルター６を通過した所望の波長を有する分析光Ｌｅによる画像を撮像する撮像手段としての撮像素子７と、を備えている。なお、第２レンズ群５は、作図では１枚のレンズで描画してあるが、複数のレンズを組み合わせて構成されている。
【００３０】
図２（ａ）は、光源装置１０から射出される光と、撮像装置２０に入射される光の関係を模式的に示す概念図である。図２（ａ）に示すように、光源部１から第１レンズ群２を透過してきた平行光Ｌｂは、平行光ではあっても、あらゆる方向に振動する光の集合である。その平行光Ｌｂを、直線振動方向Ｐ１に偏光する第１偏光板３を透過させることにより直線振動方向Ｐ１に偏光された直線偏光Ｌｐが対象物Ｍに向けて投射される。
【００３１】
対象物Ｍに投射された直線偏光Ｌｐが上述した赤外線の波長領域であるため、対象物Ｍの表面だけではなく、内部にまで直線偏光Ｌｐは到達する。対象物Ｍの内部に到達した直線偏光Ｌｐは、対象物Ｍの内部での反射を繰り返すことにより偏光が解消され、あらゆる方向に振動する光の集合である反射光Ｌｒとして反射される。しかし、この反射光Ｌｒには、対象物Ｍの表面で直線偏光Ｌｐが正反射された偏光反射光ＬｒPが含まれている。正反射された偏光反射光ＬｒPは、図１に示す撮像素子７に投射される光量分布、すなわち反射光Ｌｒの光量分布では、図２（ｂ）に示すように正反射した偏光反射光ＬｒＰが、他の正反射を含まない領域の光量を超える光量として反射される。このように、正反射により光量の多い部位が存在することによって、対象物Ｍの内部成分を示す分光画像に大きな誤差を生じてしまう。
【００３２】
そこで、図２（ａ）に示すように、反射光Ｌｒを受光する撮像装置２０に備える第２偏光板４の偏光軸が、第１偏光板３の偏光軸、すなわち偏光方向Ｐ１に対して直交する方向に偏光方向Ｐ２となるように、第２偏光板４を配置することにより、正反射成分である偏光反射光ＬｒＰが除去された直線偏光Ｌｃを得る。これにより、直線偏光Ｌｃが第２レンズ群５と光フィルター６を透過した分析光Ｌｅによって得られる分光画像は、光量の分布に著しい偏りが少ないものを得ることができる。従って、より正確な分析結果が得られる分光画像を得ることができる。
【００３３】
図１（ｃ）に示すように、第２偏光板４を透過し、直線偏光Ｌｃとなった入射光は第２レンズ群５により集光され、平行光Ｌｄとなって光フィルター６へ導光される。光フィルター６は、本実施形態では可変波長光フィルターを用いて説明する。可変波長光フィルターは、いわゆるエタロンフィルターと呼ばれ、図３にその概略断面図を示す。図３に示すように可変波長光フィルターの光フィルター６は、第１基板６ａと第２基板６ｂとが接合されて形成される。第１基板６ａ、第２基板６ｂは透明部材、例えばソーダガラス、結晶性ガラス、石英ガラス、鉛ガラス、カリウムガラス、ホウケイ酸ガラス、無アルカリガラスなどの各種ガラス、あるいは水晶などの光透過性の材料から形成される。
【００３４】
第１基板６ａの中央部の第２基板６ｂに対向する面には第１反射膜６ｃが形成され、第１反射膜６ｃに対向する第２基板６ｂの内部突起６ｄの上面に第２反射膜６ｅが形成されている。反射膜６ｃ，６ｅは高屈折率層と低屈折率層とが交互に複数層積層された誘電体多層膜により構成されている。光フィルター６が可視光線あるいは赤外線の波長領域で用いられる場合、誘電体多層膜の高屈折率層を形成する材料としては、例えば酸化チタン（ＴｉＯ2）、酸化タンタル（Ｔａ2Ｏ5）、酸化ニオブ（Ｎｂ2Ｏ5）などが用いられ、低屈折率層を形成する材料としては、例えばフッ化マグネシウム（ＭｇＦ2）、酸化ケイ素（ＳｉＯ2）などが用いられる。また、光フィルター６を紫外線の波長領域で用いる場合、高屈折層を形成する材料としては、例えば酸化アルミニウム（Ａｌ2Ｏ3）、酸化ハフニウム（ＨｆＯ2）、酸化ジルコニウム（ＺｒＯ2）、酸化トリウム（ＴｈＯ2）などが用いられ、低屈折率層を形成する材料としては、例えばフッ化マグネシウム（ＭｇＦ2）、酸化ケイ素（ＳｉＯ2）などが用いられる。また、反射膜６ｃ、６ｅとして、たとえば銀などの金属系反射膜を用いてもよい。
【００３５】
第１基板６ａの第１反射膜６ｃの外周には円環状の第１電極６ｆが形成されている。第２基板６ｂには、第１電極６ｆに対向して第２電極６ｇが形成されている。第１電極６ｆおよび第２電極６ｇに、図１（ａ）に示す処理制御部４０の制御に基づいて電流が流され、その電流の強さ、向き等によって第１電極６ｆと第２電極６ｇとが引き合う力を発生させる。この引き合う力によって、第１電極６ｆが形成されている第１基板６ａの領域が円環状の薄肉部６ｈに形成されていることにより、薄肉部６ｈが撓まされ、第１反射膜６ｃと第２反射膜６ｅとの間隔Ｇ（以下、ギャップＧという）を任意に変えることにより、ギャップＧの間での光の多重干渉によって、入射される平行光Ｌｄをフィルタリングして、所定の波長の分析光Ｌｅを出射させることができる。
【００３６】
分析光Ｌｅは図１（ｃ）に示すように、撮像素子７は、例えばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｃｉｃｅ）イメージセンサーを用い、分析光Ｌｅを画像信号に変換する。分析光Ｌｅは、光フィルター６を駆動させＮ種の波長の異なる分析光Ｌｅ1，Ｌｅ2，・・・，ＬｅNを出射させて、それぞれの分析光Ｌｅ1，Ｌｅ2，・・・，ＬｅNに基づく画像信号を処理制御部４０に送り、所定の分析画像（データ）を作成する。これらＮ種の分析光Ｌｅ1，Ｌｅ2，・・・，ＬｅNは、対象物Ｍの各主成分に特徴付けられた波長の光を反射光Ｌｒから抽出し、処理制御部４０において、画像処理されてデータとして分光画像を出力する。
【００３７】
上述のように、第１実施形態に係る分光画像撮像装置１００は、光源装置１０に備える第１偏光板３と、撮像装置２０に備える第２偏光板４と、を互いの偏光方向を直交させることによる、対象物Ｍからの正反射成分が除去された分析光Ｌｅを得ることができる。従って、精度の高い分光分析用の画像を得ることができる。また、正反射を容易に除去できる構成であることから、図２（ａ）に示す出射光である直線偏光Ｌｐの光軸と、反射光Ｌｒの光軸と、の成す角度θを、正反射を多く受光し易くなる０度に近い鋭角にして装置構成することが可能となる。従って、図１（ａ）に示したように分光カメラ部３０をより小型化することが可能となり、例えば一般的なデジタルカメラのように、手に持っての分析撮影が可能となる。更に、処理制御部４０も分光カメラ部３０と一体的に構成することによって、持ち運びが可能な分光画像撮像装置１００を得ることができる。
【００３８】
（第２実施形態）
第２実施形態として、第１実施形態に係る分光画像撮像装置１００に備える第１偏光板３と第２偏光板４が異なる形態の分光画像撮像装置２００を説明する。なお、第２実施形態に係る分光画像撮像装置２００において、第１実施形態に係る分光画像撮像装置１００と同じ構成には同じ符号を付し、説明を省略することがある。
【００３９】
図４は、第２実施形態に係る分光画像撮像装置２００の、（ａ）は概略構成を示すブロック図、（ｂ）は光源装置の構成を示すブロック図、（ｃ）は撮像装置の構成を示すブロック図である。図４（ａ）に示すように、分光画像撮像装置２００は、第１実施形態に示す分光画像撮像装置１００と同じ構成を備え、分光カメラ部２３０に備える光源装置２１０および撮像装置２２０に、図４（ｂ），（ｃ）に示すように円偏光の第１円偏光板２０３と第２円偏光板２０４を備えている。光源装置２１０からは光源部１から出射された光を第１円偏光板２０３によって円偏光された円偏光ＬｐSが出射される。出射された円偏光ＬｐSが対象物Ｍによって反射された反射光Ｌｒは、第２円偏光板２０４によって右円偏光と左円偏光とに分離後、一方の円偏光ＬｃSのみを透過して、第２レンズ群５によって集光され平行光Ｌｄとなって光フィルター６に導光される。光フィルター６により所望の波長の分析光Ｌｅが得られ、撮像素子７により画像データが生成される。なお、円偏光板２０３，２０４は、直線偏光板にλ／４位相差板の軸を４５度傾けて接合された偏光板を用いることにより、円偏光に偏光して出射することができる。
【００４０】
図５は、光源装置２１０から射出される光と、撮像装置２２０に入射される光の関係を模式的に示す概念図である。図５（ａ）に示すように、第１レンズ群２を透過した平行光Ｌｂはλ／４位相差板を備える第１円偏光板２０３を透過し、円偏光ＬｐSに偏光されて出射し、対象物Ｍへ照射される。この円偏光ＬｐSは、図示する円偏光ＬｐSの光軸に沿った矢印Ｗｐ方向からの矢視の図５（ｂ）に示すように、本例では図示左回転で出射されるように偏光されている。
【００４１】
円偏光ＬｐSは、対象物Ｍに照射されると、対象物Ｍの内部に到達し反射され反射光Ｌｒとなる。反射光Ｌｒは、対象物Ｍの内部で円偏光ＬｐSの円偏光が解消され、あらゆる方向に振動する光の集合である反射光となる。しかし、この反射光Ｌｒには、対象物Ｍの表面で円偏光ＬｐSが正反射された円偏光反射光ＬｒSが含まれている。この円反射光ＬｒSは、図示する反射光Ｌｒの光軸に沿った矢印Ｗｒ方向からの矢視の図５（ｃ）に示すように、本例では図示右回転で反射される。すなわち正反射光ＬｒSは出射された円偏光ＬｐSの円偏光の回転方向とは逆方向の回転を有する円偏光ＬｒSになる。
【００４２】
反射光Ｌｒは、第２円偏光板２０４に入射される。第２円偏光板２０４は、図示する反射光Ｌｒの光軸に沿った矢印Ｗｒ方向からの矢視の図５（ｄ）に示すように、図示左回転の円偏光ＬｃSに偏光する。従って、第２円偏光板２０４に入射される反射光Ｌｒに含まれる円偏光反射光ＬｒSは、逆方向の回転に偏光する第２円偏光板２０４によって吸収されてしまう。
【００４３】
このように、第２実施形態に係る分光画像撮像装置２００では、光源装置１０に備える第１円偏光板２０３と、撮像装置２０に備える第２円偏光板２０４と、を互いに出射する円偏光の回転方向を同じにさせることにより、対象物Ｍからの正反射成分が除去された分析光Ｌｅを得ることができる。従って、精度の高い分光分析用の画像を得ることができる。なお、第２実施形態に係る分光画像撮像装置２００において、図５（ｂ）では円偏光ＬｐSは図示左回転、図５（ｃ）では円偏光反射光ＬｒSは図示右回転、図５（ｄ）では円偏光ＬｃSは図示左回転、として説明したが、これに限定されず、円偏光ＬｐSと円偏光ＬｃSが同じ回転方向の円偏光であればよい。
【００４４】
上述の第１実施形態に係る分光画像撮像装置１００の第１偏光板３は、偏光変換素子、例えばＰＢＳ（Ｐｏｌａｒｉｚｅｄ  Ｂｅａｍ  Ｓｐｌｉｔｔｅｒ）であってもよい。偏光変換素子を用いることにより光源装置１０からの出射光Ｌｐの光量の減量を少なくすることができ、分析画像の明度、コントラスト等の品質を高めることができる。従って、より正確な分析が可能な分光画像撮像装置を得ることができる。
【符号の説明】
【００４５】
Ｍ…対象物、１…光源部、２…第１レンズ群、３…第１偏光板、４…第２偏光板、５…第２レンズ群、６…光フィルター、１０…光源装置、２０…撮像装置、３０…画像取得装置（分光カメラ部）、４０…処理制御部、１００…分光画像撮像装置。
【図１】
2014010093.tif 000003
【図２】
2014010093.tif 000004
【図３】
2014010093.tif 000005
【図４】
2014010093.tif 000006
【図５】
2014010093.tif 000007