(57)【要約】【課題】  多数のカメラモジュールを同時にテスト可能とするテスト装置及びテストチャートを提供する。【解決手段】  テスト装置１ａは、カメラモジュールＭに撮像される合成テストチャート１０ａと、複数のカメラモジュールＭを、光軸Ｆが平行になるとともに当該光軸Ｆと垂直な所定方向に並ぶように支持するカメラモジュール支持部２０と、を備える。カメラモジュール支持部２０は、隣接するカメラモジュールＭの撮像領域が所定方向に部分的に重なるように支持し、合成テストチャート１０ａは、単位パターンＰａが少なくとも１つ形成されている単位テストチャートＣａを、カメラモジュール支持部２０が支持するカメラモジュールＭの数だけ、所定方向にずらしながら背景Ｂａを透かして重畳的に合成することで生成される。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
カメラモジュールに撮像される合成テストチャートと、
複数の前記カメラモジュールを、光軸が平行になるとともに当該光軸と垂直な所定方向に並ぶように支持するカメラモジュール支持部と、を備え、
前記カメラモジュール支持部は、隣接する前記カメラモジュールの撮像領域が前記所定方向に部分的に重なるように、前記カメラモジュールを支持するものであり、
前記合成テストチャートは、背景とは異なる明度の図形である単位パターンが少なくとも１つ形成されている単位テストチャートを、前記カメラモジュール支持部が支持する前記カメラモジュールの数だけ、前記所定方向にずらしながら前記背景を透かして重畳的に合成されたものである、または、その合成されたものにおける前記単位パターンのそれぞれの一部を含むものであることを特徴とするテスト装置。
【請求項２】
前記カメラモジュール支持部が支持する前記カメラモジュールの前記所定方向における間隔と、前記合成テストチャートを生成する際に前記単位テストチャートを前記所定方向にずらした長さと、が等しいことを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項３】
前記単位パターンが部分的に重畳して成る合成パターンが、前記合成テストチャートに少なくとも一つ形成されていることを特徴とする請求項１または２に記載のテスト装置。
【請求項４】
直線状の端部を有する前記単位パターンが、前記単位テストチャートに少なくとも１つ形成されており、
前記端部同士が接続されることで全体として直線状となる合成端部を有する前記合成パターンが、前記合成テストチャートに少なくとも１つ形成されるように、前記単位テストチャートが合成されていることを特徴とする請求項３に記載のテスト装置。
【請求項５】
前記単位テストチャートに形成されている全ての前記単位パターンが、前記端部を有するものであり、
前記合成テストチャートに形成されている全ての前記合成パターンが、前記合成端部を有するものであることを特徴とする請求項４に記載のテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、解像度などのカメラモジュールの撮像性能をテストする際に用いられるテスト装置及びテストチャートに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルスチルカメラ及びデジタルビデオカメラなどの撮像装置や、撮像機能を備えた携帯電話などの電子機器に実装されるカメラモジュール（例えば、固体撮像素子やレンズなどを備えた撮像機能を有する装置、以下同じ）は、製造工程の最終段階において、解像度などの撮像性能のテストが行われる。通常、このようなカメラモジュールの撮像性能のテストは、所定のテストチャートをカメラモジュールで撮像して得られる画像データを解析することで行われる（非特許文献１参照）。
【０００３】
カメラモジュールの製造効率を向上させるためには、同時に複数のカメラモジュールに対して、上記のテストを行う必要がある。このようなテストを実行可能なテスト装置について、具体的に図８を参照して説明する。図８は、従来のテスト装置について示した平面図である。なお、図８（ａ）は、従来のテスト装置の全体構成を模式的に示した平面図である。また、図８（ｂ）は、従来のテスト装置で使用されるテストチャートについて示した平面図である。
【０００４】
以下では説明の便宜上、互いに垂直であるＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向を用いて、位置関係を記述する。なお、図８（ａ）は、テスト装置をＺ方向から見た平面図である。また、図８（ｂ）は、テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【０００５】
図８（ａ）に示すように、従来のテスト装置１００は、複数（図示の例では２つ）のテストチャート１１０と、複数（図示の例では２つ）のカメラモジュールＭを支持するカメラモジュール支持部１２０と、を備える。
【０００６】
テストチャート１１０は、Ｘ方向に並ぶように配置される。また、カメラモジュール支持部１２０は、光軸ＦがＹ方向に平行になるとともに隣接するカメラモジュールＭの撮像領域が重ならないように、カメラモジュールＭをＸ方向に並べて支持する。これにより、カメラモジュールＭ及びテストチャート１１０が１対１でＹ方向に対向して、１つのカメラモジュールＭの画角Ａに１つのテストチャート１１０のみが収まるように構成されている。なお、撮像領域とは、カメラモジュールＭによって撮像される空間であり、具体的には、カメラモジュールＭとテストチャート１１０との間かつ画角Ａの範囲内となる空間である。なお、図８（ａ）では、画角ＡのＸ方向における拡がりのみを図示しているが、画角ＡはＺ方向にも拡がっている。
【０００７】
また、図８（ｂ）に示すように、テストチャート１１０は、背景１１１（白色）とは異なる明度のパターン１１２（黒色）が複数形成されたものとなっている。そして、カメラモジュールＭがテストチャート１１０を撮像することで生成した画像データの中で、背景１１１とパターン１１２との間の境界を含むテスト領域Ｔを解析することによって、解像度などのカメラモジュールの撮像性能が求められる。なお、図８（ｂ）では、図示の便宜上、テスト領域Ｔを白黒の矩形の枠で表示しているが、この枠はテストチャート１１０の一部を成すものではない（以下、図２〜７についても同じ）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】有限責任中間法人カメラ映像機器工業会（ＣＩＰＡ）発行、「カメラ映像機器工業会規格  デジタルカメラの解像度測定方法」、２００３年
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、図８（ａ）及び（ｂ）に示すように、従来のテスト装置１００では、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを１つ増加させるだけで、ＬＸ×ＬＹ×ＬＺの空間がさらに必要になる（ＬＸ：テストチャート１１０のＸ方向の長さ、ＬＹ：カメラモジュールＭ及びテストチャート１１０のＹ方向における離間距離、ＬＺ：テストチャート１１０のＺ方向の長さ）。この空間の大きさは、例えば、ＬＸ＝３ｍ、ＬＹ＝４ｍ、ＬＺ＝４ｍとすると、４８ｍ３もの大きさになることから、現実的にごく僅かな数のカメラモジュールＭしか同時にテストすることができないため、問題となる。
【００１０】
そこで、本発明は、同時にテスト可能なカメラモジュールを増加させるために必要となる空間を小さくすることで、多数のカメラモジュールを同時にテスト可能とするテスト装置及びテストチャートを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明は、カメラモジュールに撮像される合成テストチャートと、複数の前記カメラモジュールを、光軸が平行になるとともに当該光軸と垂直な所定方向に並ぶように支持するカメラモジュール支持部と、を備え、前記カメラモジュール支持部は、隣接する前記カメラモジュールの撮像領域が前記所定方向に部分的に重なるように、前記カメラモジュールを支持するものであり、前記合成テストチャートは、背景とは異なる明度の図形である単位パターンが少なくとも１つ形成されている単位テストチャートを、前記カメラモジュール支持部が支持する前記カメラモジュールの数だけ、前記所定方向にずらしながら前記背景を透かして重畳的に合成することで生成されたものである、または、その合成されたものにおける前記単位パターンのそれぞれの一部を含むものであることを特徴とするテスト装置を提供する。
【００１２】
さらに、上記特徴のテスト装置において、前記カメラモジュール支持部が支持する前記カメラモジュールの前記所定方向における間隔と、前記合成テストチャートを生成する際に前記単位テストチャートを前記所定方向にずらした長さと、が等しいと、好ましい。
【００１３】
さらに、上記特徴のテスト装置において、前記単位パターンが部分的に重畳して成る合成パターンが、前記合成テストチャートに少なくとも一つ形成されていると、好ましい。
【００１４】
さらに、上記特徴のテスト装置において、直線状の端部を有する前記単位パターンが、前記単位テストチャートに少なくとも１つ形成されており、前記端部同士が接続されることで全体として直線状となる合成端部を有する前記合成パターンが、前記合成テストチャートに少なくとも１つ形成されるように、前記単位テストチャートが合成されていると、好ましい。
【００１５】
さらに、上記特徴のテスト装置において、前記単位テストチャートに形成されている全ての前記単位パターンが、前記端部を有するものであり、前記合成テストチャートに形成されている全ての前記合成パターンが、前記合成端部を有するものであると、好ましい。
【００１６】
さらに、上記特徴のテスト装置において、前記合成テストチャートに形成されている少なくとも１つの前記合成パターンは、前記単位パターンが重畳する領域の少なくとも一部が、前記背景と同じ明度になっていると、好ましい。
【００１７】
また、本発明は、背景とは異なる明度の図形である単位パターンが少なくとも１つ形成されている複数の単位テストチャートを、所定方向にずらしながら前記背景を透かして重畳的に合成することで生成されたものであることを特徴とするテストチャートを提供する。
【発明の効果】
【００１８】
上記特徴のテスト装置では、同時にテスト可能なカメラモジュールを増加させるために必要となる空間を、単位テストチャートをずらした長さに対応する空間だけで済ませることができる。したがって、同時にテスト可能なカメラモジュールを増加させるために必要となる空間を小さくすることで、多数のカメラモジュールを同時にテストすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１実施形態に係るテスト装置の全体構成を模式的に示した平面図。
【図２】本発明の第１実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図。
【図３】本発明の第２実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートとカメラモジュールの配置とについて示した平面図。
【図４】本発明の第３実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図。
【図５】本発明の第４実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図。
【図６】本発明の第５実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図。
【図７】本発明の第６実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図。
【図８】従来のテスト装置について示した平面図。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施形態についてそれぞれ説明する。ただし、以下では説明の具体化のため、カメラモジュールの撮像性能の一つである解像度をテストする際に用いられるテスト装置及びテストチャート（以下、特に「合成テストチャート」とよぶ）について例示する。
【００２１】
＜第１実施形態＞
最初に、本発明の第１実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係るテスト装置の全体構成を模式的に示した平面図である。また、図２は、本発明の第１実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図である。
【００２２】
以下では説明の便宜上、互いに垂直であるＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向を用いて、位置関係を記述する。なお、図１は、テスト装置をＺ方向から見た平面図である。また、図２（ａ）は、単位テストチャートをＹ方向から見た平面図である。また、図２（ｂ）は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【００２３】
図１に示すように、本発明の第１実施形態に係るテスト装置１ａは、１つの合成テストチャート１０ａと、複数（図示の例では２つ）のカメラモジュールＭを支持するカメラモジュール支持部２０と、を備える。
【００２４】
図２（ｂ）に示す合成テストチャート１０ａは、図２（ａ）に示す単位テストチャートＣａを、カメラモジュール支持部２０が支持するカメラモジュールＭの数だけ、Ｘ方向に長さＬｄＸ１だけずらしながら背景Ｂａを透かして重畳的に合成することで生成されたものである。なお、図２（ａ）に示す単位テストチャートＣａには、背景Ｂａ（例えば、白色）とは異なる明度（例えば、黒色）の図形である単位パターンＰａが形成され、図２（ｂ）に示す合成テストチャート１０ａには、この単位パターンＰａが部分的に重畳して成る合成パターン１１ａが形成されている。
【００２５】
また、図１に示すように、カメラモジュール支持部２０は、光軸ＦがＹ方向に平行になるとともに隣接するカメラモジュールＭの撮像領域が部分的に重なるように、複数のカメラモジュールＭをＸ方向に並べて支持する。なお、撮像領域とは、カメラモジュールＭによって撮像される空間であり、具体的には、カメラモジュールＭとテストチャート１０ａとの間かつ画角Ａの範囲内となる空間である。なお、図１では、画角ＡのＸ方向における拡がりのみを図示しているが、画角ＡはＺ方向にも拡がっている。
【００２６】
このとき、カメラモジュール支持部２０が支持するカメラモジュールＭのＸ方向における間隔を、合成テストチャート１０ａを生成する際に単位テストチャートＣａをＸ方向にずらした長さＬｄＸ１と等しくすることで、カメラモジュールＭと、合成テストチャート１０ａを成す単位テストチャートＣａと、をＹ方向に対して１対１で対向させることができる。
【００２７】
そして、図２（ｂ）に示すように、カメラモジュールＭが撮像により生成する画像データ中で、背景Ｂａと合成パターン１１ａとの間の境界（エッジ）を含むテスト領域Ｔを解析することによって、カメラモジュールＭの撮像性能が求められる。具体的に、テスト領域Ｔに相当するデータ中で、明度が急峻に変動するエッジが精度良く再現されているかを確認することによって、カメラモジュールＭの解像度が求められる。
【００２８】
このとき、図８（ａ）及び（ｂ）に示した従来のカメラモジュールＭのテストと同様に、あるカメラモジュールＭについてＹ方向に対向する単位テストチャートＣａ中のエッジを含むテスト領域Ｔを解析することで、当該あるカメラモジュールＭのテストが行われる。具体的に例えば、図２（ｂ）のそれぞれの合成パターン１１ａに対して設定されるＸ方向に並んだ２つのテスト領域Ｔのうち、それぞれの左側のテスト領域Ｔを解析することで、図１の左側のカメラモジュールＭのテストが行われる。
【００２９】
このように、カメラモジュールＭと、合成テストチャート１０ａを成す単位テストチャートＣａと、がＹ方向に対して１対１で対向していると、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データの同じ位置にエッジが形成されるため、それぞれの画像データ中のテスト領域Ｔの位置が等しくなる。そのため、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることが可能となる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを容易に行うことが可能となる。
【００３０】
以上のように、このテスト装置１ａでは、複数の単位テストチャートＣａを所定方向にずらしながら重畳的に合成することで生成された合成テストチャート１０ａを用いて、複数のカメラモジュールＭの撮像性能をテストする。そのため、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、単位テストチャートＣａをずらした長さＬｄＸ１に対応する空間ＬｄＸ１×ＬＹ×ＬＺだけで済ませることができる（ＬＹ：カメラモジュールＭ及びテストチャート１０ａのＹ方向における離間距離、ＬＺ：テストチャート１０ａのＺ方向の長さ）。
【００３１】
この空間の大きさは、例えばＬｄＸ１＝０．１ｍ、ＬＹ＝４ｍ、ＬＺ＝４ｍとすると、１．６ｍ３という小さなものである。したがって、このテスト装置１ａでは、多数のカメラモジュールＭを同時にテストすることが可能となる。
【００３２】
なお、図１には図示していないコンピュータなどから成る制御装置が、カメラモジュール支持部２０に支持されるカメラモジュールＭの撮像動作を制御し、当該カメラモジュールＭが撮像により生成した画像データを取得するとともにテスト領域Ｔを解析することで、自動的にカメラモジュールＭのテストを行うと、自動的にカメラモジュールＭのテストを行うことができるため、好ましい。
【００３３】
また、カメラモジュールＭが備える固体撮像素子の画素の配列が、Ｘ方向及びＺ方向のそれぞれに沿ったマトリクス状となるように、カメラモジュール支持部２０がカメラモジュールＭを支持する場合、図２（ｂ）に示すように、テスト領域Ｔ内における合成パターン１１ａの端部（エッジ）が、Ｘ方向及びＺ方向に対して平行ではないものとすると、固体撮像素子の画素の配列の影響を受けずに撮像性能（解像度）を求めることができるため、好ましい。
【００３４】
具体的に例えば、図２（ａ）に示すように、単位テストチャートＣａが、四辺がＸ方向またはＺ方向に平行な状態からわずかな角度（例えば、±８度）傾いた矩形状の単位パターンＰａが形成されたものとすると、好ましい。
【００３５】
＜第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。なお、本発明の第２実施形態に係るテスト装置は、合成テストチャートと、カメラモジュールの配置と、が本発明の第１実施形態に係るテスト装置１ａとは異なっている。そこで、ここでは、本発明の第２実施形態に係るテスト装置について、合成テストチャートと、カメラモジュールの配置と、についてそれぞれ説明し、他については詳細な説明を省略する。
【００３６】
図３は、本発明の第２実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャート及びカメラモジュールの配置について示した平面図である。なお、図３（ａ）は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。また、図３（ｂ）は、カメラモジュール支持部に支持されるカメラモジュールをＹ方向から見た平面図である。
【００３７】
図３（ａ）に示すように、本発明の第２実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャート１０ｂも、図２（ａ）に示した単位テストチャートＣａを、カメラモジュール支持部２０が支持するカメラモジュールＭの数だけ、Ｘ方向に長さＬｄＸ２だけずらしながら背景Ｂａを透かして重畳的に合成することで生成されたものである。
【００３８】
ただし、この合成テストチャート１０ｂは、単位パターンＰａの直線状の端部同士が接続されることで全体として直線状となる合成端部１２ｂを有する合成パターン１１ｂが、合成テストチャート１０ｂに少なくとも１つ形成されるように、単位テストチャートＣａが重畳的に合成されて生成されたものである。
【００３９】
このような合成テストチャート１０ｂは、接続しようとする端部の傾きに沿って単位テストチャートＣａをずらして重畳的に合成することで、実現することができる。なお、図２（ａ）に示した単位パターンＰａのように、Ｘ方向またはＺ方向に平行ではない単位パターンＰａの端部を接続しようとする場合は、図３（ａ）に示すように、Ｘ方向だけでなくＺ方向にも単位テストチャートＣａをずらして重畳的に合成すればよい。
【００４０】
ただし、Ｘ方向及びＺ方向の両方に単位テストチャートＣａをずらして重畳的に合成することで合成テストチャート１０ｂを生成する場合、カメラモジュールＭと、合成テストチャート１０ｂを成す単位テストチャートＣｂと、をＺ方向に対して１対１で対向させるためには、カメラモジュールＭもＸ方向及びＺ方向の両方にこれと同様の間隔を有する必要がある。具体的に、図３（ａ）に示すように、単位テストチャートＣａをＸ方向に長さＬｄＸ２だけずらすとともにＺ方向に長さＬｄＺ２だけずらして重畳的に合成することで合成テストチャート１０ｂを生成する場合、図３（ｂ）に示すように、カメラモジュールＭは、Ｘ方向に間隔ＬｄＸ２を有するとともに、Ｚ方向に間隔ＬｄＺ２を有する。
【００４１】
このテスト装置では、合成端部１２ｂにテスト領域Ｔを設定する限り、単位テストチャートＣｂをずらす長さをどれだけ小さくしても（単位パターンＰａをどれだけ近づけても）、テスト領域Ｔにエッジのみを含ませることが可能となる。したがって、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、さらに小さくすることができる。
【００４２】
なお、このテスト装置では、単位パターンＰａが近づきすぎることで、テスト領域Ｔを設定する予定の領域に、合成端部１２ｂ以外の端部が含まれることがあり得る。このような領域（テスト不能領域Ｎ）のデータについては、解析を行なっても他のテスト領域Ｔと同様に処理することができないため、データの解析を行わなくてもよい。なお、図３（ａ）では、図示の便宜上、テスト不能領域Ｎを、テスト領域Ｔと同様の白黒の矩形の枠で表示しているが、この枠はテストチャート１０ｂの一部を成すものではない（以下、図７についても同じ）。
【００４３】
＜第３実施形態＞
次に、本発明の第３実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。なお、本発明の第３実施形態に係るテスト装置は、単位テストチャート及び合成テストチャートが、本発明の第２実施形態に係るテスト装置と異なっている。そこで、ここでは、本発明の第３実施形態に係るテスト装置について、単位テストチャート及び合成テストチャートについて説明し、他については詳細な説明を省略する。
【００４４】
図４は、本発明の第３実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図である。なお、図４（ａ）は、単位テストチャートをＹ方向から見た平面図である。また、図４（ｂ）は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【００４５】
図４（ａ）に示すように、本発明の第３実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートを成す単位テストチャートＣｃは、単位パターンＰｃの傾きが全て等しい。そのため、図４（ｂ）に示すように、本発明の第２実施形態に係るテスト装置と同様の方法で単位テストチャートＣｃを重畳的に合成して生成される合成テストチャート１０ｃは、形成される全ての合成パターン１１ｃが、全体として直線状となる合成端部１２ｃを有する。
【００４６】
このテスト装置では、全ての合成パターン１１ｃに対して、例外なくテスト領域Ｔを設定することができる。即ち、テスト不能領域Ｎの発生を防止することができる。そのため、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることができる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを、容易に行うことが可能となる。
【００４７】
＜第４実施形態＞
次に、本発明の第４実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。なお、本発明の第４実施形態に係るテスト装置は、合成テストチャートが、本発明の第３実施形態に係るテスト装置と異なっている。そこで、ここでは、本発明の第４実施形態に係るテスト装置について、合成テストチャートについて説明し、他については詳細な説明を省略する。
【００４８】
図５は、本発明の第４実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図である。なお、図５は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【００４９】
図５に示すように、本発明の第４実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャート１０ｄは、単位テストチャートＣｃを、多数（図示の例では４つ）重畳的に合成することで生成されたものである。
【００５０】
上述の図１〜図４では、２つの単位テストチャートＣａ，Ｃｃを重畳的に合成することで生成された合成テストチャート１０ａ〜１０ｃについて例示した。しかし、図５に示すように、３つ以上の多数の単位パターンＰｃを重畳的に合成することで合成テストチャート１０ｄを生成することも、当然可能である。
【００５１】
＜第５実施形態＞
次に、本発明の第５実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。なお、本発明の第５実施形態に係るテスト装置は、合成テストチャートが、本発明の第４実施形態に係るテスト装置と異なっている。そこで、ここでは、本発明の第５実施形態に係るテスト装置について、合成テストチャートについて説明し、他については詳細な説明を省略する。
【００５２】
図６は、本発明の第５実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図である。なお、図６は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【００５３】
図６に示すように、本発明の第５実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャート１０ｅは、図中の破線で示したテストに使用されない合成パターン１１ｅの一部（テスト領域Ｔが設定されない部分）が、背景Ｂｃと同じ明度になっている。
【００５４】
このように、テスト領域Ｔが設定されない部分は、テストに影響を与えるものではないため、単位パターンＰｃと同じ明度にする必要はなく、背景Ｂｃと同じ明度にしてもよい。
【００５５】
＜第６実施形態＞
次に、本発明の第６実施形態に係るテスト装置について、図面を参照して説明する。なお、本発明の第６実施形態に係るテスト装置は、合成テストチャート及びテスト領域が、本発明の第１実施形態に係るテスト装置１ａと異なっている。そこで、ここでは、本発明の第６実施形態に係るテスト装置について、合成テストチャート及びテスト領域について説明し、他については詳細な説明を省略する。
【００５６】
図７は、本発明の第６実施形態に係るテスト装置で使用される合成テストチャートについて示した平面図である。なお、図７（ａ）は、単位テストチャートをＹ方向から見た平面図である。また、図７（ｂ）及び（ｃ）は、合成テストチャートをＹ方向から見た平面図である。
【００５７】
図７（ａ）に示す単位テストチャートＣｆは、図２（ａ）に示した本発明の第１実施形態に係るテスト装置１ａにおける単位テストチャートＣａと同様である。ただし、ここでは説明の都合上、２つの単位パターンＰｆのみに着目して拡大したものを、単位テストチャートＣｆとする。
【００５８】
図７（ｂ）に示す合成テストチャート１０ｆ１のように、本発明の第６実施形態に係るテスト装置では、合成テストチャート１０ｆ１を成す単位パターンＰｆの四辺に対して、それぞれテスト領域Ｔを設定する。
【００５９】
ただし、単位テストチャートＣｆをＸ方向にずらしながら重畳的に合成することで合成テストチャート１０ｆ１を生成する場合、Ｘ方向に対して略垂直な辺（図中の上下方向に伸びる辺）が、単位パターンＰｆの重畳部分に埋められてエッジとはならない。そのため、この辺についてはテスト領域Ｔを設定することができず、テスト不能領域Ｎとなる。そこで、このテスト不能領域Ｎのデータについては、解析を行わないものとする。
【００６０】
これに対して、図７（ｃ）に示す合成テストチャート１０ｆ２のように、単位パターンＰｆの重畳した部分の少なくとも一部（図示の例では全部）である反転領域１３を、背景Ｂｆと同じ明度になるようにしてもよい。この合成テストチャート１０ｆ２では、反転領域１３を背景Ｂｆと同じ明度にすることでエッジを作り出すことができるため、単位パターンＰｆの四辺の全てに対してテスト領域Ｔを設定することが可能になる。
【００６１】
本発明の第６実施形態に係るテスト装置において、図７（ｃ）に示す合成テストチャート１０ｆ２を使用すると、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることができる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを、容易に行うことが可能となる。
【００６２】
＜変形等＞
［１］  図１〜図７に例示する合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２は、全て単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが部分的に重畳して成る合成パターン１１ａ〜１１ｅ，１１ｆ１，１１ｆ２を有するものであるが、必ずしも単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆを部分的に重畳させなくてもよい。即ち、単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが互いに離間して並ぶように、単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆをずらしながら重畳的に合成することで、合成テストチャートを生成してもよい。
【００６３】
ただし、単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが部分的に重畳するように、単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆをずらす長さを小さくすると、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、さらに小さくすることができるため、好ましい。
【００６４】
［２］  合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２は、一枚の下地に合成パターン１１ａ〜１１ｅ，１１ｆ１，１１ｆ２を印刷等によって形成したものであってもよいし、背景Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆが透明または半透明である単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆをずらしながら単純に重ねたものであってもよい。
【００６５】
［３］  合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２を成す単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆには、単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが少なくとも１つ形成されていればよく、必ずしも複数形成されていなくてもよい。
【００６６】
［４］  図１〜図７では、単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆ及びカメラモジュールＭを、主としてＸ方向にずらす場合について例示しているが、主としてＺ方向にずらしてもよい。この場合、Ｚ方向に略平行なエッジに対してテスト領域Ｔを設定してもよいし、図７（ｃ）に示したような反転領域１３を形成するとともにＸ方向に略平行なエッジに対してテスト領域Ｔを設定してもよい。
【００６７】
［５］  本発明の第１〜第６実施形態に係るテスト装置は、矛盾無き限り相互に組み合わせて実施することが可能である。
【００６８】
＜まとめ＞
本発明の第１〜第６実施形態に係るテスト装置及びテストチャートは、例えば以下のように把握され得る。
【００６９】
本発明の第１〜第６実施形態に係るテスト装置は、カメラモジュールＭに撮像される合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２と、複数の前記カメラモジュールＭを、光軸Ｆが平行になるとともに当該光軸Ｆと垂直な所定方向に並ぶように支持するカメラモジュール支持部２０と、を備え、前記カメラモジュール支持部２０は、隣接する前記カメラモジュールＭの撮像領域が前記所定方向に部分的に重なるように、前記カメラモジュールＭを支持するものであり、前記合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２は、背景Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆとは異なる明度の図形である単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが少なくとも１つ形成されている単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆを、前記カメラモジュール支持部２０が支持する前記カメラモジュールＭの数だけ、前記所定方向にずらしながら前記背景Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆを透かして重畳的に合成することで生成されたものである、または、その合成されたものにおける前記単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆのそれぞれの一部を含むものである。
【００７０】
このテスト装置では、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆをずらした長さに対応する空間だけで済ませることができる。
【００７１】
さらに、上記のテスト装置において、カメラモジュール支持部２０が支持する前記カメラモジュールＭの前記所定方向における間隔と、前記合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２を生成する際に前記単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆを前記所定方向にずらした長さと、が等しい。
【００７２】
このテスト装置では、カメラモジュールＭと、合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２を成す単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆと、を所定方向に垂直な方向に対して１対１で対向させることができる。そのため、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることができる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを、容易に行うことが可能となる。
【００７３】
さらに、上記のテスト装置において、前記単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが部分的に重畳して成る合成パターン１１ａ〜１１ｅ，１１ｆ１，１１ｆ２が、前記合成テストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２に少なくとも一つ形成されている。
【００７４】
このテスト装置では、単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが重畳するまで、単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆをずらす長さを小さくする。したがって、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、さらに小さくすることができる。
【００７５】
さらに、上記のテスト装置において、直線状の端部を有する前記単位パターンＰａ，Ｐｃが、前記単位テストチャートＣｂ，Ｃｃに少なくとも１つ形成されており、前記端部同士が接続されることで全体として直線状となる合成端部１２ｂ，１２ｃを有する前記合成パターン１１ｂ，１１ｃが、前記合成テストチャート１０ｂ，１０ｃに少なくとも１つ形成されるように、前記単位テストチャートＣｂ，Ｃｃが合成されている。
【００７６】
このテスト装置では、合成端部１２ｂ，１２ｃをテスト領域Ｔとする限り、単位テストチャートＣｂ，Ｃｃをずらす長さをどれだけ小さくしても（単位パターンＰａ，Ｐｃをどれだけ近づけても）、テスト領域Ｔにエッジのみを含ませることが可能となる。したがって、同時にテスト可能なカメラモジュールＭを増加させるために必要となる空間を、さらに小さくすることができる。
【００７７】
さらに、上記のテスト装置において、前記単位テストチャートＣｃに形成されている全ての前記単位パターンＰｃが、前記端部を有するものであり、前記合成テストチャート１０ｃに形成されている全ての前記合成パターン１１ｃが、前記合成端部１２ｃを有するものである。
【００７８】
このテスト装置では、全ての合成パターン１１ｃに対して、例外なくテスト領域Ｔを設定することができる。そのため、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることができる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを、容易に行うことが可能となる。
【００７９】
さらに、上記のテスト装置において、前記合成テストチャート１０ｆ２に形成されている少なくとも１つの前記合成パターン１１ｆ２は、前記単位パターンＰｆが重畳する領域の少なくとも一部１３が、前記背景Ｂｆと同じ明度になっている。
【００８０】
このテスト装置では、単位パターンＰｆが重畳する領域の少なくとも一部１３を背景Ｂｆと同じ明度にすることで、エッジを作り出してテスト領域Ｔを設定することが可能になる。そのため、それぞれのカメラモジュールＭが生成する画像データに対して同じ処理を行うことで、それぞれのカメラモジュールＭの撮像性能をテストすることができる。したがって、カメラモジュールＭの撮像性能のテストを、容易に行うことが可能となる。
【００８１】
また、本発明の第１〜第６実施形態に係るテストチャート１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２は、背景Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆとは異なる明度の図形である単位パターンＰａ，Ｐｃ，Ｐｆが少なくとも１つ形成されている複数の単位テストチャートＣａ，Ｃｃ，Ｃｆを、所定方向にずらしながら前記背景Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆを透かして重畳的に合成することで生成されたものである。
【産業上の利用可能性】
【００８２】
本発明は、解像度などのカメラモジュールの撮像性能をテストする際に用いられるテスト装置及びテストチャートに、好適に利用され得る。
【符号の説明】
【００８３】
１ａ  ：  テスト装置
１０ａ〜１０ｅ，１０ｆ１，１０ｆ２  ：  合成テストチャート
１１ａ〜１１ｅ，１１ｆ１，１１ｆ２  ：  合成パターン
１２ｂ〜１２ｅ  ：  合成端部
１３  ：  反転領域
２０  ：  カメラモジュール支持部
Ｍ  ：  カメラモジュール
Ａ  ：  画角
Ｆ  ：  光軸
Ｔ  ：  テスト領域
Ｎ  ：  テスト不能領域
Ｃａ，Ｃｃ，Ｃｆ  ：  単位テストチャート
Ｐａ，Ｐｃ，Ｐｆ  ：  単位パターン
Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｆ  ：  背景
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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