(57)【要約】  【課題】  本発明は、ボルト(ネジ)の紛失の極力抑えることができる開口部カバー取付機構及びそれを用いたディスク表面検査装置を提供することにある。  【解決手段】  本発明は、開口部を覆う開口部カバーと、開口部カバーを固定し周辺部の長手方向に設けられた第１の鍵溝を備える第１の雌ネジを有するカバー固定ブロックと、第１の雌ネジに対応する位置に設けられた円筒部の周辺部の長手方向に設けられ、第１の鍵溝と同一断面を備える第２の鍵溝と、円筒部の第１の雌ネジ側に円筒部より径が大きい第２の空間部とを有する落下防止ブロックと、第１の雌ネジと嵌合する雄ネジと、該雄ネジの先端側に第１の雌ネジの内径よりも径が小さく、先端に第１の鍵溝と第２の鍵溝と嵌合可能な鍵を有する先端非ネジ部と、ボルト頭と雄ネジをとの間に設けられ、締め付け状態時に雄ネジが第１の雌ネジと嵌合する長さを有する接続非ネジ部とを有する鍵機能付ボルトと、を有する。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
開口部を覆う開口部カバーと、
該開口部カバーを固定する位置に設けられ、周辺部の長手方向に設けられた第１の鍵溝を備える第１の雌ネジを有するカバー固定ブロックと、
該第１の雌ネジに対応する位置に設けられた円筒部と、該円筒部の周辺部の長手方向に設けられ、前記第１の鍵溝と同一断面を備える第２の鍵溝と、前記円筒部の前記第１の雌ネジ側に前記円筒部より直径が大きく同心円状に設けられた第２の空間部と、を有する落下防止ブロックと、
前記第１の雌ネジと嵌合する雄ネジと、該雄ネジの先端側に前記第１の雌ネジの内径よりも直径が小さく、先端に前記第１の鍵溝と前記第２の鍵溝と嵌合可能な鍵を有する先端非ネジ部と、前記雄ネジの根元側に設けられたボルト頭と、該ボルト頭と前記雄ネジをとの間に設けられ、締め付け状態時に前記雄ネジが前記第１の雌ネジと嵌合する長さを有する接続非ネジ部と、を有する鍵機能付ボルトと、
を有することを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項２】
請求項１に記載の開口部カバー取付機構であって、
前記円筒部に前記第１の雌ネジと同一構造を有し、前記ボルト頭に側に設けられた第２の雌ネジを設け、
前記接続非ネジ部は、該第２の雌ネジと前記雄ネジを接続することを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の開口部カバー取付機構であって、
前記カバー固定ブロックは、前記第１の雌ネジの前記落下防止ブロックとの接続側に、前記第１の雌ネジと同心円状に設けられ、前記第２の空間部と同一直径の第１の空間部を有し、
前記第２の空間部は、前記雄ネジが前記円筒部にいる時に、前記先端非ネジ部が収納される長さを有する、
ことを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の開口部カバー取付機構であって、
前記第２の空間部は、前記雄ネジが前記円筒部を通過した時に、前記先端非ネジ部が収納される長さを有することを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかに記載の開口部カバー取付機構であって、
前記鍵、前記第１の鍵溝及び前記第２の鍵溝の高さを前記第１の雌ネジ及び前記第２の雌ネジの谷の径の内側の又は外側に伸びる高さとすることを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかに記載の開口部カバー取付機構であって、
前記開口部カバーは、前記カバー固定ブロックを有する壁面に設けた突起部に、その短辺部を引っ掛けることができる逆Ｌ字形状構造を有することを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項７】
請求項６に記載の開口部カバー取付機構であって、
前記開口部カバーは、前記短辺部に前記突起部に設けられた位置決め部に係合する係合部を有することを特徴とする開口部カバー取付機構。
【請求項８】
ディスクについて表面の欠陥の有無を光学的に検査する光学式検査室と、
前記光学式検査室と壁を介して設けられ、前記ディスクを前記光学式検査室との間を搬入出する搬送手段を有する搬送室と、
前記壁に設けられたメンテナンス用の開口部をカバーする前記開口部カバーを取付る請求項１乃至７に記載の開口部カバー取付機構と、
を有することを特徴とするディスク表面検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、開口部カバー取付機構及びそれを用いたディスクの表面を検査するディスク表面検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に磁気ディスクの検査工程では、ディスクの基板であるサブストレート段階、磁性膜等をスパッタ（蒸着）した後の表面加工処理段階で、ディスク表面形状や磁性膜の記録特性を光学的、電気的に検査し、良／不良を判定する。前記光学的検査手段を有する光学的検査室は、光学的検査室内の機器をメンテナンスするために、作業員がアプローチできる開口部を有する。そして、検査精度を維持するために粉塵などの異物の搬入を低減する、或いは、検査光源として用いるレーザ光を遮光するために、ボルト（ネジ）で取付け取外し可能な開口部カバーを有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−１７５１２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、開口部カバーを取外しする際に、ボルト（ネジ）を光学的検査室又は光学的検査室に隣接した作業室にボルト(ネジ)を紛失してしまうことがあった。この結果、紛失場所によって室内の機器に影響を与える可能性があり、光学的検査室内での紛失は、その紛失したボルトが検査精度に影響を与える可能性があった。
【０００５】
本発明の目的は、ボルト(ネジ)の紛失の極力抑えることができる開口部カバー取付機構及びそれを用いたディスク表面検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記目的を達成すために、少なくとも次の特徴を有する。
本発明の開口部カバー取付機構は、開口部を覆う開口部カバー
該開口部カバーを固定する位置に設けられ、周辺部の長手方向に設けられた第１の鍵溝を備える第１の雌ネジを有するカバー固定ブロックと、
該第１の雌ネジに対応する位置に設けられた円筒部と、該円筒部の周辺部の長手方向に設けられ、前記第１の鍵溝と同一断面を備える第２の鍵溝と、前記円筒部の前記第１の雌ネジ側に前記円筒部より直径が大きく同心円状に設けられた第２の空間部と、を有する落下防止ブロックと、
前記第１の雌ネジと嵌合する雄ネジと、該雄ネジの先端側に前記第１の雌ネジの内径よりも直径が小さく、先端に前記第１の鍵溝と前記第２の鍵溝と嵌合可能な鍵を有する先端非ネジ部と、前記雄ネジの根元側に設けられたボルト頭と、該ボルト頭と前記雄ネジをとの間に設けられ、締め付け状態時に前記雄ネジが前記第１の雌ネジと嵌合する長さを有する接続非ネジ部と、を有する鍵機能付ボルトと、を有する。
【０００７】
また、本発明の開口部カバー取付機構は、前記円筒部に前記第１の雌ネジと同一構造を有し、前記ボルト頭に側に設けられた第２の雌ネジを設け、前記接続非ネジ部は、該第２の雌ネジと前記雄ネジを接続してもよい。
【０００８】
さらに、本発明のディスク表面検査装置は、
ディスクについて表面の欠陥の有無を光学的に検査する光学式検査室と
前記光学式検査室と壁を介して設けられ、前記ディスクを前記光学式検査室との間を搬入出する搬送手段を有する搬送室と、
前記壁に設けられたメンテナンス用の開口部をカバーする前記開口部カバーを取付る請求項１乃至７に記載の開口部カバー取付機構と、を有する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、開口部カバーにボルトが落下するのを防止する落下防止手段を設けることによって、ボルト(ネジ)の紛失の極力抑えることができる開口部カバー取付機構及びそれを用いたディスク表面検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明のディスク表面検査装置の一実施例を示す平面図である。
【図２】光学的検査室を模式的に示した図で、図２(ａ)は図１において矢印Ａから開口部カバー付近を見た側面図、図２(ｂ)は図１において、矢印Ｂから光学的検査室内部と開口部カバーを見た側面図である。
【図３】本実施例における落下防止手段を構成する落下防止ブロックカバーと鍵機能付ボルトを示す断面構造図で、開口部カバーを固定部であるカバー壁に取り付けた状態を示す図である。
【図４】本実施例における開口部カバーを最初にカバー壁に固定するフローを示す図である。
【図５】図３で示した落下防止ブロックや鍵機能付ボルトの変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明のディスク表面検査装置の一実施例を示す平面図である。本装置では、検査対象ディスクについて、事前にセンシング部１１にて損傷（大きなキズや割れ欠け）の有無を調べるセンシング（予備検査）を行い、損傷なしとされたディスクについて光学式欠陥検査部１０にて表面の微細な欠陥検査（本検査）を行うようにした。検査対象ディスク３０は、ディスク搬送カゴ（以下、搬送カゴ）３１に複数枚単位で収納して検査装置内を搬送する。本検査でランク良とされたディスクとランク不良とされたディスクは区別され、それぞれカセット３２に収納されて回収する。
【００１２】
本装置は、大きく分けて次の８つの機能ユニットから構成される。
検査エリアユニット１は、光学式欠陥検査部１０にてディスク表面の微細な欠陥検査（本検査）を行う。ディスク搬送ロボット１９は、搬送カゴ３１からディスク３０を１枚ごと取り出して光学式欠陥検査部１０へ搬送する。また、本検査でランク不良とされたディスクは、不良品カセット収納部２１に収納される。
搬送カゴ投入レーンユニット２は、検査対象ディスクを収納した搬送カゴ３１を投入する搬送カゴ投入部１２と、ディスク３０のセンシング（予備検査）を行うセンシング部１１を有する。センシング部１１では各ディスクについて損傷の有無を調べ、検査結果を記憶部２２に記憶する。
【００１３】
空カセット投入レーンユニット３は、空のカセット３２を投入する空カセット投入レーン１３を有する。投入後のカセットは、良品カセット収納部２０にて良品ディスクを区分して収納するために用いられる。
搬送カゴ回収レーンユニット４は、ディスク本検査後の空になった搬送カゴ３１を回収する搬送カゴ回収レーン１４を有する。
【００１４】
良品カセット回収レーンユニット５は、良品カセット収納部２０にてディスク３０が満杯になったカセットを回収する良品カセット回収レーン１５を有する。
搬送カゴＣＶ（Ｃｏｎｖｅｙｏｒ）レーンユニット６は、搬送カゴを移載する搬送カゴ移載部１６を有し、ディスク搬送ロボット１９にてディスク取出部１７へコンベア搬送する。
【００１５】
カセットＣＶレーンユニット７は、本検査によりランク良とされたディスク３０を収納する良品カセット収納部２０を有する。
搬送シャトルユニット８は、搬送カゴ３１を移載する搬送カゴ移載部１８を有し、搬送カゴを各ユニットの間で搬送を行う。同様に搬送シャトルユニット８は、カセット３２についても各ユニットの間で搬送を行う。
検査装置内の搬送カゴ３１の移動を矢印４１で、カセット３２の移動を矢印４２で、またディスク３０の取り出しと収納を矢印４０で示す。
【００１６】
検査エリアユニット１は、レーザ光によってディスク３０を検査する光学的検査室１０Ｋと、ディスク搬送ロボット１９でディスク３０を光学的検査室１０Ｋに搬入出する搬送室１０Ｈを有する。
光学的検査室１０Ｋと搬送室１０Ｈとの間には、粉塵の搬入を抑えるための鉄製のカバー壁５０が設けられている。
光学的検査室１０Ｋは、搬入出するディスク３０を一次的に保持する保持台５２と、保持台５２から搬送されたディスク３０を検査するための検査台５３を有する。この搬送は、図示しない搬送用ロボットで行われる。
検査は、検査光又は検査台５３を走査することによってディスク３０全面で行われる。
【００１７】
以上の通り本実施例によれば、ディスクの予備検査としてセンシング処理により損傷（大きなキズや割れ欠け）の有無を判定し、損傷ディスクについては、本検査を行う検査エリアユニット１内に持ち込まないようにした。これより、検査エリア内に微粒子が持込まれて検査環境に悪影響を与えたり、搬送中に損傷ディスクが割れてその小片により検査装置自体を損傷させてしまう恐れがなくなる。
【００１８】
また、損傷ディスクを本検査（光学式欠陥検査部１０）へ搬送する無駄な時間が短縮されるとともに、損傷ディスクは搬送カゴ回収レーン１４にて搬送カゴ３１とともに自動回収されるので、従来のように操作者が装置の運転を停止させ、検査エリアなどから損傷ディスクを除去する作業が不要になる。
【００１９】
図２は、光学的検査室１０Ｋを模式的に示した図で、図２(ａ)は図１において矢印Ａから開口部カバー６０Ｃ付近を見た側面図、図２(ｂ)は図１において、矢印Ｂから光学的検査室１０Ｋ内部と開口部カバー６０Ｃを見た側面図である。
光学的検査室１０Ｋは、検査光としてレーザ光５４を発生するレーザ装置５５を有する。検査は、レーザ光５４又は検査台５３を走査することによってディスク３０の全面で行われる。
【００２０】
カバー壁５０は、ディスク３０を搬入出すための搬入出開口部（図示せず）が２か所と、光学的検査室１０Ｋ内の機器をメンテナンスするための保守開口部５０Ｈとを有する。また、カバー壁５０には、保守開口部５０Ｈを覆い、レーザ光を遮蔽する開口部カバー６０Ｃが固定されている。
【００２１】
このような構成において、作業員は、図示しない扉から搬送室１０Ｈに入り、鍵機能付ボルト８０を操作し、開口部カバー６０Ｃを取り外したり、取り付けたりする。そして、作業員は、例えば、前述した搬送用ロボットをメンテナンスする。開口部カバー６０Ｃの取り外しは、安全で確実に行われなければならないし、取り付けるためのボルト(ネジ)の紛失がないようにしなければならない。
【００２２】
以下、上述した要求を満たす開口部カバー取付機構について説明する。
図３は、本実施例における開口部カバー取付機構を構成する図２におけるＣ−Ｃ断面図である。
開口部カバー取付機構は、落下防止ブロック６０と、カバー固定ブロック７０と、両者を接続し締め付ける鍵機能付ボルト８０とを有する。
また、図３は、開口部カバー６０Ｃをカバー壁５０に取り付けた状態を示す図である。
【００２３】
カバー壁５０は、その保守開口部５０Ｈの左右の内側に、カバー固定ブロック７０を設けている。
開口部カバー６０Ｃは、保守開口部５０Ｈを覆う面積を備え、カバー固定ブロック７０に対応する位置に落下防止ブロック６０を設けている。また、開口部カバー６０Ｃは、図１に示すように、その強度を維持するために逆Ｌ字形状を有する。また、開口部カバー６０Ｃは、その持ち運びの安全性を維持するために、丸みを帯びた角部を有する。開口部カバー６０Ｃの材料は、アルミなどの軽いものが望ましい。
【００２４】
落下防止ブロック６０は、開口部カバー６０Ｃの固定面と反対側に、ネジ長Ｌ２を備える雌ネジ６１を上下に２か所有する。雌ネジ６１は、その周辺部であるその内径と谷の径の間に、雌ネジ６１の長手方向に貫通する鍵溝６２を有する。鍵溝６２の位置は、雌ネジ６１の周方向のどの位置でもよいが、分かり易い、例えば上部位置が望ましい。
また、落下防止ブロック６０は、雌ネジ６１の開口部カバー６０Ｃ側に、直径Ｄ１がネジ径より大きい長さＬ４の空間部６３を有する。空間部６３は、円筒の他角筒でもよい。
【００２５】
カバー固定ブロック７０は、カバー壁５０側で、雌ネジ６１に対応した位置に雌ネジ６１と同一構造を有する雌ネジ７１を２か所有する。雌ネジ７１も、その周辺部であるその内径と谷の径の間に、雌ネジ７１の長手方向に貫通し、鍵溝６２と同一断面を備える鍵溝７２を有する。鍵溝７２の位置は、雌ネジ７１の周方向のどの位置でもよいが、鍵溝６２に対応した位置が望ましい。
また、カバー固定ブロック７０は、落下防止ブロック６０側に、空間部６３に接し当該空間部６３と同一直径Ｄ１を備え、長さＬ３を有する空間部７３を有する。空間部７３も、円筒の他角筒でもよい。
【００２６】
鍵機能付ボルト８０は、ボルト頭８６と、ボルト頭８６から順に、接続非ネジ部８１、雄ネジ８２、先端非ネジ部８３を有する。接続非ネジ部８１は、カバー固定ブロック７０から落下防止ブロック６０に亘る長さを有する。先端非ネジ部８３は、その先端側に、鍵溝６２、７２を通過する鍵８４を有する。ボルト頭８６は、鍵８４の位置を認識できるように、鍵８４の対応する位置に凸状の認識部８５を有する。認識部は、凸状の他、ボルト頭８６の平坦部等に溝付ける等、位置が分かれば何でもよい。
【００２７】
接続非ネジ部８１の長さＬ５は、図３に示す締め付け状態時に、雄ネジ８２がカバー固定ブロック７０の雌ネジ７１と嵌合する長さとする。先端非ネジ部８３の長さＬ１は、雄ネジ８２が雌ネジ７１と嵌合し始める時に、鍵８４が雄ネジ７１の鍵溝７２を貫けた位置にいる長さとする。なお、長さＬ６は、ボルト頭８６を除くボルトの長さを示す。
【００２８】
また、接続非ネジ部８１及び先端非ネジ部８３の直径Ｄ２は、雌ネジ６１、７１の内径より、所定の長さ短い方がよい。その理由は、接続非ネジ部８１又は先端非ネジ部８３が雌ネジ６１、７１をスムーズに通過できるようにするためである。特に、先端非ネジ部８３の直径における前述した所定の長さは、鍵８４の高さ以内が望ましい。その理由は、鍵８４が雌ネジ７１の鍵溝７２に入り易く、且つ鍵溝７２と絡み合うようにするためである。
【００２９】
図４は、上述した構成によって、開口部カバー６０Ｃを最初にカバー壁５０に固定するフローを示す図である。
まず、鍵機能付ボルト８０の鍵８４を雌ネジ６１の鍵溝６２に挿入し、貫通させる((図４(ａ))。鍵８４が貫通したら、雄ネジ８２を雌ネジ６１と完全に嵌合させる((図４(ｂ))。図４(ａ)及び(図４(ｂ)の動作を、開口部カバー６０Ｃの左右両辺に有する落下防止ブロック６０に２か所ずつ計４か所の鍵機能付ボルト８０に対して順次行う。順次行うことは、以下同様である。鍵機能付ボルト８０の数は、各落下防止ブロック６０に１箇所又は３箇所以上でもよい。
【００３０】
次に、開口部カバー６０Ｃを持ち上げ、左右両辺に有する落下防止ブロック６０を、カバー壁５０に設けられたカバー固定ブロック７０の位置に一致させる(図４(ｃ))。このとき、鍵機能付ボルト８０の先端非ネジ部８３が落下防止ブロック６０の空間部６３から飛び出ていると、先端非ネジ部８３がカバー固定ブロック７０や構造物等と接する可能ある。従って、飛び出ないように、空間部６３の長さＬ３を先端非ネジ部８３の長さＬ１より長くすることが望ましい。
【００３１】
次に、各鍵機能付ボルト８０のボルト頭８６を操作しネジを締め、雄ネジ８２が雌ネジ６１を通過する。その結果、先端非ネジ部８３は、カバー固定ブロック７０の空間部７３に挿入される(図４(ｄ))。
図４(ｄ)の状態で、図４(ｃ)のように、先端非ネジ部８３が飛び出ないように、空間部６３の長さＬ４を、さらに図３に示す空間部７３の長さＬ３＋開口部カバー６０Ｃの厚さを足した長さとしてもよい。その場合は、空間部７３の長さは零でもよい。
【００３２】
次に、鍵８４の位置が見えないので認識部８５を上部位置にし、鍵８４をカバー固定ブロック７０の鍵溝７２に挿入し(図４(ｅ))、貫通させる。
最後に、鍵８４が貫通したら、雄ネジ８２を雌ネジ７１と嵌合させ、確りと締めつける(図４(ｆ))。
この結果、開口部カバー６０Ｃをカバー壁５０に確実に取り付けることができる。
【００３３】
開口部カバー６０Ｃをカバー壁５０から取り外す時は、図４(ｆ)から逆に図４(ｂ)の状態に向けた動作を行う。先端非ネジ部８３がカバー固定ブロック７０との干渉の可能性が低い時は、図４(ｄ)の状態で外してもよい。
そして、メンテナンスをしている間は、鍵機能付ボルト８０を、図４(ｂ)又は図４(ｄ)の然るべき状態で紛失することなく保持できる。
従って、２回目の開口部カバー６０Ｃの取付け、取外しは、図４(ｂ)又は図４(ｄ)と図４(ｆ)との動作を行えばよい。
【００３４】
以上説明した開口部カバー６０Ｃの取付け取外しにおいて、ボルトを光学式欠陥検査部内に紛失することなく作業を行うことができる。その結果、光学的検査室１０Ｋにおける粉塵を低減でき、信頼度の高い検査を行うことができる。
【００３５】
図５は、図３で示した落下防止ブロック６０や鍵機能付ボルト８０の変形例を示す図である。なお、変形例は、以下に示す構成のうち少なくとも一つを含む。
第１に、図４(ｃ)に示す落下防止ブロック６０のカバー固定ブロック７０との位置合わせ動作を容易にする機構を設ける点である。図５においては、カバー壁５０に落下防止ブロック６０を支持する突起部５６を設ける点である。この結果、落下防止ブロック６０の逆Ｌ字形状の短辺部６１Ｃを突起部５６に引っ掛けることで、落下防止ブロック６０を、その自重を軽減して、カバー固定ブロック７０に位置に合わせすることができる。
第２に、図４(ｃ)に示す落下防止ブロック６０のカバー固定ブロック７０との位置合わせ動作を容易にする位置決め機構を設ける点である。図５においては、位置決め部は、突起部５６に設けた一つ又は複数の凹部５７と、前記短辺部６１Ｃに設けられた前記凹部に係合する係合部である凸部６２Ｃとを有する。
【００３６】
第３に、鍵８４、鍵溝６２，６３の高さＨを雌ネジ６１、７１の谷の径Ｄ３より外側に伸びるように高くした点である。この結果、図４(ｂ)〜図４(ｄ)、特に図４(ｄ)において、鍵８４が落下防止ブロック６０の空間部６３に引っ掛かり、鍵機能付ボルト８０が落下し難くなり、鍵機能付ボルトの紛失の可能性を下げることができる。
第４に、落下防止ブロック６０に雌ネジ６１を設けず、雌ネジ６１の谷の径Ｄ３よりやや小さな径を備える雌ネジに代わる円筒部６４としてもよい。
以上説明した変形例においても、図３で説明した実施例同様の効果を奏することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１：検査エリアユニット              ２：搬送カゴ投入レーンユニット
３：空カセット投入レーンユニット    ４：搬送カゴ回収レーンユニット
５：良品カセット回収レーンユニット  ６：搬送カゴＣＶレーンユニット
７：カセットＣＶレーンユニット      ８：搬送シャトルユニット
１０：光学式欠陥検査部              １０Ｈ：搬送室
１０Ｋ：光学的検査室                ３０：ディスク
３１：搬送カゴ              ３２：カセット
５０：カバー壁                      ５０Ｈ：保守開口部
５２：保持台                        ５３：検査台
５４：レーザ光                      ５５：レーザ装置
５６：突起部                        ５７：突起部に設けた凹部
６０Ｃ：開口部カバー
６１Ｃ：逆Ｌ字形状した落下防止ブロックの短辺部
６０：落下防止ブロック              ６１：雌ネジ
６２：鍵溝                          ６３：空間部
６４：雌ネジに代わる円筒部          ７０：カバー固定ブロック
７１：雌ネジ                        ７２：鍵溝
７３：空間部                        ８０：鍵機能付ボルト
８１：接続非ネジ部                  ８２：雄ネジ
８３：先端非ネジ部                  ８４：鍵
８５：認識部                        ８６：ボルト頭
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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