(57)【要約】【課題】ショート発生時のノイズを低減すること【解決手段】外部装置と接続するチャネルアダプタと並列に設置された抵抗の抵抗値を変更して、消費電流を増加させ、過電流閾値と消費電流との差を小さくして、ショート発生時の電流変化量を小さくする。【選択図】図１０
2014071527.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部装置と接続するチャネルアダプタと、
前記チャネルアダプタと並列に設置され、抵抗値が可変である第１の抵抗と、
前記第１の抵抗の抵抗値を制御する抵抗制御部と、
前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗に電力を供給する電源装置と、
前記電源装置と前記チャネルアダプタの間に設けられた第２の抵抗と、
前記電源装置から前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗への電流の導通を制御するスイッチと、
前記第２の抵抗の電圧を監視し、該電圧が閾値より大きい場合に、前記スイッチをオフとするスイッチ制御部と、
を備え、
前記抵抗制御部は、
前記第２の抵抗の電流、前記閾値、および前記第２の抵抗の抵抗値に基づいて、前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第１の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定することを特徴とする処理装置。
【請求項２】
前記抵抗制御部は、
前記閾値を前記第２の抵抗の抵抗値で除算し、除算した値に係数を乗算して目標消費電流を算出し、該目標消費電流と前記第２の抵抗の電流との差分から不足分消費電流を算出し、
前記第１の抵抗の電圧を前記不足分消費電流で除算して前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出することを特徴とする請求項１記載の処理装置。
【請求項３】
前記第２の抵抗は、抵抗値が可変であり、
前記抵抗制御部は、
前記閾値と前記チャネルアダプタの消費電流に基づいて、前記第２の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第２の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定することを特徴とする請求項１または２記載の処理装置。
【請求項４】
前記抵抗制御部は、前記閾値を前記チャネルアダプタの消費電流に１より大きい係数を乗算した値で除算することにより前記第２の抵抗に設定する抵抗値を算出することを特徴とする請求項３記載の処理装置。
【請求項５】
外部装置と接続するチャネルアダプタと、前記チャネルアダプタと並列に設置され、抵抗値が可変である第１の抵抗と、前記第１の抵抗の抵抗値を制御する抵抗制御部と、前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗に電力を供給する電源装置と、前記電源装置と前記チャネルアダプタの間に設けられた第２の抵抗と、前記電源装置から前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗への電流の導通を制御するスイッチと、前記第２の抵抗の電圧を監視し、該電圧が閾値より大きい場合に、前記スイッチをオフとするスイッチ制御部と、を備える処理装置が実行するノイズ低減方法であって、
前記第２の抵抗の電流を確認し、
前記第２の抵抗の電流、前記閾値、および前記第２の抵抗の抵抗値に基づいて、前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第１の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定する
処理を備えるノイズ低減方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、処理装置およびノイズ低減方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
サーバ等の情報処理装置、ストレージ装置、通信装置などの処理装置では、一つのユニット故障でも装置が停止しないように冗長設計が行われている。例えば、Redundant Arrays of Inexpensive Disks（RAID）装置において、ユニット内で電源とグランドがショートした場合、そのままであれば電源全体が停止してしまうが、これを防ぐためにホットスワップデバイスの過電流検出機能を用い、入力側電源と出力側電源を切り離すことで保護している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−３２７２４４号公報
【特許文献２】特開２００７−２２０１４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来の方法で電源の停止を回避しても、急激な電流の変動により大きなノイズが発生し、ノイズにより他のユニットが誤動作する危険性がある。
図１は、RAID装置内のリンギングノイズ発生を示す図である。
【０００５】
RAID装置１０は、コントローラモジュール１１−１、１１−２および電源装置１２を備える。
電源装置１２は、コントローラモジュール１１−１、１１−２に電力を供給している。
【０００６】
コントローラモジュール１１−１は、抵抗１３、Field Effect Transistor(FET)１４、およびホットスワップコントローラ１５を備える。
抵抗１３は、電源装置１２とFET１４の間に設置される。
【０００７】
FET１４のドレインは抵抗１３、ゲートはホットスワップコントローラ１５、ソースはホットスワップデバイス（不図示）とそれぞれ接続している。
ホットスワップコントローラ１５は、ホットスワップデバイス（不図示）の活栓挿抜の制御を行う。
【０００８】
ホットスワップコントローラ１５は、FET１４のゲート電圧を制御することにより、ドレイン−ソース間の電流のオンオフを制御する。
ホットスワップコントローラ１５は、抵抗１３の両端の電位差（電圧）を測定し、抵抗１３の電圧が閾値（電圧閾値）より大きい場合に、FET１４をオフにし、電流を遮断する。また、電圧閾値を抵抗１３の抵抗値で除算した値を、過電流閾値と呼ぶ。電圧＝抵抗×電流であるので、ホットスワップコントローラ１５は、抵抗１３を流れる電流が過電流閾値より大きい場合、FET１４をオフにし、電流を遮断する。
【０００９】
ここで、FET１４の出力側電源（ソース）とグランドがショートすると、抵抗１３を流れる電流は増加し、抵抗１３の電圧も増加する。
ホットスワップコントローラ１５は、抵抗１３の電圧が電圧閾値より大きくなる（すなわち、抵抗１３の電流が過電流閾値より大きくなる）と、FET１４をオフにし、電流を遮断する。
【００１０】
FET１４がオフとなることにより、基板上に寄生したインダクタ成分と急激な電流変化により入力電源側（FET１４のドレイン側）にリンギングノイズが発生する。
コントローラモジュール１１−１で発生したリンギングノイズが電源ユニット１２を共有しているコントローラモジュール１１−２に回り込んだとき、コントローラモジュール１１−２が誤動作をする場合がある。
【００１１】
図２は、従来のショート発生時の電流および電圧のグラフである。
図２の左側は抵抗１３の電流を示すグラフ、右側は抵抗１３の電圧を示すグラフである。
【００１２】
図２の左側において、時刻t1でショートが発生し、電流が増加する。時刻t2でホットスワップコントローラ１５は電流が過電流閾値を越える（すなわち、抵抗１３の電圧が閾値電圧を越える）ことを検出する。時刻t3でホットスワップコントローラ１５は、FET１４をオフにすることにより、電流を遮断する。
【００１３】
ショートが発生してからFET１４がオフとなるまでの時間はΔt1、FET１４がオフとなったときの電流とショート発生前の電流の差分はΔI1である。
図２の右側に示すように、電流変化の瞬間に大きなノイズが発生する。
【００１４】
ノイズの電圧をVnoise、寄生インダクタをL、電流の変動量をΔI、電流が変動した時間をΔtとすると、Vnoiseは、下式（１）で算出される。
Vnoise=L*(ΔI/Δt)  ・・・（１）
すなわち、電流の変動量が大きいほどノイズも大きくなる。
【００１５】
従来のRAID装置において、過電流閾値は、RAID装置の最大構成時の負荷（消費電流）にさらにマージンを加算した値となっている。このため、RAID装置が最小構成である場合、消費電力は小さいため、過電流閾値と消費電流の差は大きくなる。そのため、RAID装置が最小構成である時、ショートが発生すると大きなリンギングノイズが発生する。
【００１６】
本発明の課題は、ショート発生時のノイズを低減することである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
実施の形態の処理装置は、チャネルアダプタと、第１の抵抗と、抵抗制御部と、電源装置と、第２の抵抗と、スイッチと、スイッチ制御部と、を備える。
前記チャネルアダプタは、外部装置と接続する。
【００１８】
前記第１の抵抗と、前記チャネルアダプタと並列に設置され、抵抗値が可変である。
前記抵抗制御部は、前記第１の抵抗の抵抗値を制御する。
前記電源装置は、前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗に電力を供給する。
【００１９】
前記第２の抵抗は、前記電源装置と前記チャネルアダプタの間に設けられる。
前記スイッチは、前記電源装置から前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗への電流の導通を制御する。
【００２０】
前記スイッチ制御部は、前記第２の抵抗の電圧を監視し、該電圧が閾値より大きい場合に、前記スイッチをオフとする。
前記抵抗制御部は、前記第２の抵抗の電流、前記閾値、および前記第２の抵抗の抵抗値に基づいて、前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出し、前記第１の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定する。
【発明の効果】
【００２１】
実施の形態の処理装置によれば、ショート発生時のノイズを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】従来のRAID装置内のリンギングノイズ発生を示す図である。
【図２】従来のショート発生時の電流および電圧のグラフである。
【図３】実施の形態に係るRAID装置の構成図である。
【図４】第１の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
【図５】電流値テーブルを示す図である。
【図６】第１の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
【図７】各構成において算出される抵抗値を示す図である。
【図８】第１の実施の形態の抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
【図９】第１の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
【図１０】第２の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
【図１１】第２の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
【図１２】第２の実施の形態の抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
【図１３】第２の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
【図１４】第３の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
【図１５】第３の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
【図１６】第３の実施の形態の抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
【図１７】第３の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、図面を参照しながら実施の形態について説明する。
図３は、実施の形態に係るRAID装置の構成図である。
RAID装置１０１は、コントローラモジュールエンクロージャ２０１およびディスクエンクロージャ３０１−ｉ（ｉ＝１、２）を備える。
【００２４】
コントローラモジュールエンクロージャ２０１は、コントローラモジュール２１１−ｉ、電源ユニット２２１、およびパネル２３１を備える。
コントローラモジュール２１１−ｉは、CPU２１２−ｉ、メモリ２１３−ｉ、チャネルアダプタ２１４−ｉ−ｊ（ｊ＝１、２）を備える。
【００２５】
CPU２１２−ｉは、データの振り分けやパリティの算出等のRAID処理を行う。
メモリ２１３−ｉは、RAID装置１０１が処理するデータを一時的に格納する記憶装置である。
【００２６】
チャネルアダプタ２１４−ｉ−ｊは、ホストサーバ４０１−ｊと接続するアダプタカードである。チャネルアダプタ２１４とホストサーバ４０１は、Local Area Network(LAN)やファイバチャネルを介して接続される。
【００２７】
電源ユニット２２１は、コントローラモジュール２１１に電力を供給する電源装置である。
パネル２３１は、RAID装置１０１の設定やRAID装置１０１の情報の表示等を行うユーザインタフェースである。
【００２８】
ディスクエンクロージャ３０１は、複数のハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等のストレージ装置を格納する装置である。
ホストサーバ４０１は、RAID装置１０１に書き込みデータを送信し、書き込み指示を行う、またRAID装置１０１に読み出し指示を行い、RAID装置１０１から読み出しデータを受信する。
【００２９】
尚、RAID装置１０１が有するコンポーネント（コントローラモジュール、チャネルアダプタ、およびディスクエンクロージャ等）の数は、上述の例に限られず、任意の数とすることができる。
【００３０】
上記RAID装置１０１は、下記の各実施の形態において用いられる。
（第１の実施の形態）
図４は、第１の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
【００３１】
コントローラモジュール１２１１−ｉ（ｉ＝１、２）は、図３のコントローラモジュール２１１−ｉに対応する。
コントローラモジュール１２１１−ｉには、電源ユニット２２１からそれぞれ電力が供給される。
【００３２】
コントローラモジュール１２１１−２は、コントローラモジュール１２１１−１と同様の構成および機能を有するため、コントローラモジュール１２１１−１のみ詳細を説明する。
【００３３】
コントローラモジュール１２１１−１は、可変抵抗（電流測定抵抗）１２１２、FET１２１３、ホットスワップコントローラ１２１４、監視制御部１２１５、チャネルアダプタスロット１２１６−ｋ（ｋ＝１〜４）、およびチャネルアダプタ１２１７−ｉを備える。
【００３４】
可変抵抗１２１２は、電源装置２２１とFET１２１３の間に設置される。可変抵抗１２１２は、例えば、複数の並列接続した抵抗やFETにより実現される。
FET１２１３のドレインは可変抵抗１２１２、ゲートはホットスワップコントローラ１２１３、ソースはチャネルアダプタスロット１２１６とそれぞれ接続している。FET１２１３は、電流を導通または遮断するスイッチの一例である。
【００３５】
ホットスワップコントローラ１２１４はチャネルアダプタ１２１７の活栓挿抜の制御を行う。
ホットスワップコントローラ１２１４は、FET１２１３のゲート電圧を制御することにより、ドレイン−ソース間の電流のオンオフを制御する。
【００３６】
ホットスワップコントローラ１２１４は、可変抵抗１２１２の両端の電位差（電圧）を測定し、可変抵抗１２１２の電圧が閾値（電圧閾値）より大きい場合に、FET１２１３をオフにし、電流を遮断する。また、電圧閾値を可変抵抗１２１３の抵抗値で除算した値を、過電流閾値と呼ぶ。電圧＝抵抗×電流であるので、ホットスワップコントローラ１２１４は、可変抵抗１２１２を流れる電流が過電流閾値より大きい場合、FET１２１３をオフにし、電流を遮断する。
【００３７】
監視制御部１２１５は、コントローラモジュール１２１１−１に搭載されているチャネルアダプタ１２１７の構成情報（チャネルアダプタの種類や数）を取得し、可変抵抗１２１２に設定する抵抗値を電流値テーブルに基づいて算出する。電流値テーブルは、監視制御部１２１５のレジスタ等の記憶部に格納される。電流値テーブルの詳細については、後述する。
【００３８】
監視制御部１２１５は、可変抵抗１２１２の抵抗値を算出した抵抗値に変更する。可変抵抗１２１２の抵抗値が変更されることにより、過電流閾値も変更する。
可変抵抗１２１２の抵抗値の変更は、可変抵抗１２１２が複数の並列接続された抵抗である場合は、複数の並列接続された抵抗を切り替えることにより行われる。また、可変抵抗１２１２がFETである場合は、FETのゲート電圧を制御し、オン抵抗値を変化させることで抵抗値の変更を実現する。
【００３９】
監視制御部１２１５は、コントローラモジュール１２１１−１の構成が変更されると、可変抵抗１２１２の抵抗値を動的に変更する。
監視制御部１２１５は、例えば、ファームウェアを実行するMicro Processing Unit(MPU)により実現される。
【００４０】
チャネルアダプタスロット１２１６は、チャネルアダプタ１２１７を差し込むための差込口である。チャネルアダプタスロット１２１６−ｉには、チャネルアダプタ１２１７−ｉがそれぞれ接続されている。チャネルアダプタスロット１２１６−３、１２１６−４には、チャネルアダプタ１２１７は接続されておらず空きスロットとなっている。
【００４１】
チャネルアダプタ１２１７は、ホストサーバと接続するアダプタカードである。チャネルアダプタ１２１７は、電源がオンのまま挿抜可能、すなわちホットスワップ可能である。
【００４２】
ここで、電流値テーブルについて説明する。
図５は、電流値テーブルを示す図である。
尚、電圧閾値は９５ｍＶであり、可変抵抗１２１２の抵抗値は、１，６７mΩ、過電流閾値は５７Ａ（≒９５Ｖ／１．６７mΩ）とする。
【００４３】
電流値テーブル１２２１は、項目として、チャネルアダプタの種類（CA TYPE）と０枚から４枚までのチャネルアダプタの搭載枚数と有する。
電流値テーブル１２２１には、ある種類のチャネルアダプタがある枚数搭載された場合の消費電流（負荷）と、過電流閾値と消費電流との差分が記述される。
【００４４】
図５に示す電流値テーブル１２２１には、消費電流と、過電流閾値と消費電流との差分がＸＡ＋ΔＹＡの形式で記述されている。
Ｘは、チャネルアダプタの消費電流を示し、ΔＹは過電流閾値と消費電流との差分を示す。
【００４５】
例えば、電流値テーブル１２２１の１行目２列目の”１Ａ+Δ５６Ａ”は、チャネルアダプタFC2CAが１枚搭載されている場合、消費電流は１Ａであり、過電流閾値と消費電流との差分は５６Ａであることを示す。
【００４６】
図５の網掛け部分で示された過電流閾値と消費電流との差分が大きい（５５Ａ以上）の構成の場合には、ショート発生時に誤動作の恐れがある。
図６は、第１の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
【００４７】
ステップＳ１５０１において、監視制御部１２１５は、コントローラモジュール１２１１−１に搭載されているチャネルアダプタ１２１７の構成情報（チャネルアダプタの種類や数）を取得する。
【００４８】
ステップＳ１５０２において、監視制御部１２１５は、電流値テーブル１２２１を参照し、現在の構成の消費電流を算出する。消費電流は、コントローラモジュール１２１１−１に搭載されている各チャネルアダプタ１２１７の消費電流の合計で算出される。
【００４９】
監視制御部１２１５は、ホットスワップコントローラ１２１４に設定されている電圧閾値と現在の構成の消費電流に基づいて、過電流閾値と消費電流との差分が小さくなるような抵抗値を算出する。
【００５０】
ここでは、過電流閾値と消費電流との差分が３７Ａとなるような抵抗値を算出する。
例えば、図５で説明したように、電圧閾値は９５ｍＶとし、チャネルアダプタFC2CAが１枚搭載されており、消費電流は１Ａとする。
【００５１】
このとき、抵抗値＝閾値電圧／（消費電流＋差分）＝９５ｍＶ／（１Ａ＋３７Ａ）＝２．５ｍΩとなる。
【００５２】
ステップＳ１５０３において、監視制御部１２１５は、可変抵抗１２１２の抵抗値をステップＳ１５０２で算出した値に変更する。これにより、過電流閾値の値も低下する。
【００５３】
ステップＳ１５０４において、監視制御部１２１５は、チャネルアダプタ１２１７が挿入または抜去される等によりコントローラモジュール１２１１−１の構成が変更されたかチェックする。コントローラモジュール１２１１−１の構成が変更された場合、制御はステップＳ１５０１に戻り、コントローラモジュール１２１１−１の構成が変更されていない場合、構成が変更さるまで待機する。
【００５４】
図７は、各構成において算出される抵抗値を示す図である。
図７は、図５の電流値テーブルに示す各構成において、過電流閾値と消費電流との差分を３７Ａとした場合の算出される抵抗値を示す。
【００５５】
図７には、消費電流と、過電流閾値と消費電流との差分、さらに算出される抵抗値が記述されている。
例えば、チャネルアダプタFC2CAが１枚搭載されている場合は、上述のように抵抗値として２．５ｍΩが算出される。
【００５６】
図８は、抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
図８の左側は可変抵抗１２１２の電流を示すグラフ、右側は可変抵抗１２１２の電圧を示すグラフである。
【００５７】
図８の実線は抵抗値の変更後の電流および電圧グラフであり、点線は変更前（従来）の電流及び電圧のグラフである。
図８の左側において、時刻t1’でショートが発生し、電流が増加する。時刻t2’でホットスワップコントローラ１２１４は電流が変更後の過電流閾値を越える（すなわち、可変抵抗１２１２の電圧が閾値電圧を越える）ことを検出する。時刻t3’でホットスワップコントローラ１２１４は、FET１２１３をオフにすることにより、電流を遮断する。
【００５８】
可変抵抗１２１２の抵抗値を変更することにより、過電流閾値は低くなる。すなわち、変更前の過電流閾値は５７Ａ、変更後の過電流閾値は３７Ａである。
よって、ショートが発生したときに、過電流が検出される電流が低くなり、FET１２１３がオフとなったときの電流とショート発生前の電流の差分も小さくなる。それにより、図８の右側に示すように発生するノイズの電圧も小さくなる。
【００５９】
図９は、第１の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
第１の実施の形態に係るコントローラモジュール１２１１は、例えば、図９に示すようなコントローラモジュール１３１１により実現できる。
【００６０】
コントローラモジュール１３１１は、可変抵抗１３１２、FET１３１３、ホットスワップコントローラ１３１４、MPU１３１５、チャネルアダプタスロット１３１６−ｋ、チャネルアダプタ１３１７−ｉ、電源コネクタ１３１８、CPU１３１９、メモリ１３２０、Peripheral Component Interconnect Express(PCIe)スイッチ１３２１、Serial Attached SCSI(SAS)コントローラ１３２２、SASコネクタ１３２３、およびDC-DCコンバータ(DDC)１３２５−ｋを備える。
【００６１】
図４の可変抵抗１２１２、FET１２１３、ホットスワップコントローラ１２１４、監視制御部１２１５、チャネルアダプタスロット１２１６−ｋ、およびチャネルアダプタ１２１７−ｉは、それぞれ可変抵抗１３１２、FET１３１３、ホットスワップコントローラ１３１４、MPU１３１５、チャネルアダプタスロット１３１６−ｋ、およびチャネルアダプタ１３１７−ｉに対応する。
【００６２】
チャネルアダプタ１３１７−ｉは、コネクタ１３２４−ｉを備える。
コネクタ１３２４は、ホストサーバと接続するコネクタである。コネクタ１３２４は、例えば、LANコネクタ、またはファイバチャネルコネクタである。
【００６３】
電源コネクタ１３１８は、電源ユニットと接続するコネクタである。
CPU１３１９はデータの振り分けやパリティの算出等のRAID処理を行う。
メモリ１３２０はコントローラモジュール１３１１が処理するデータを一時的に格納する記憶装置である。
【００６４】
PCIeスイッチ１３２１は、CPU１３１９、チャネルアダプタ１３１７、およびSASコントローラ１３２２間のデータの中継を行う。
SASコントローラ１３２２は、SASの制御を行うコントローラである。
【００６５】
SASコネクタ１３２３は、SASによりディスクエンクージャと接続するコネクタである。
DC-DCコンバータ(DDC)１３２５は、直流電圧を変換するコンバータである。
第１の実施の形態に係るコントローラモジュールによれば、可変抵抗の抵抗値を変更して、過電流閾値を下げ、ショート発生時の電流の変化量を小さくして、ノイズ電圧を低減することができる。それにより、入力電源を共有する他のユニットが誤動作する可能性を低くすることができる。
【００６６】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態では、電流測定抵抗から得た負荷値（消費電流値）から、未実装のチャネルアダプタの負荷を補うために、ダミー負荷（可変抵抗）の抵抗値を変更し、負荷から過電流を検出する閾値までの急激な電流変動を抑制し、ノイズ電圧を低減する。
【００６７】
図１０は、第２の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
コントローラモジュール２２１１−ｉ（ｉ＝１、２）は、図３のコントローラモジュール２１１−ｉに対応する。
【００６８】
コントローラモジュール２２１１−ｉには、電源ユニット２２１からそれぞれ電力が供給される。
コントローラモジュール２２１１−２は、コントローラモジュール２２１１−１と同様の構成および機能を有するため、コントローラモジュール２２１１−１のみ詳細を説明する。
【００６９】
コントローラモジュール２２１１−１は、抵抗（電流測定抵抗）２２１２、FET２２１３、ホットスワップコントローラ２２１４、監視制御部２２１５、チャネルアダプタスロット２２１６−ｋ（ｋ＝１〜４）、チャネルアダプタ２２１７−ｉ、および可変抵抗２２３１を備える。
【００７０】
抵抗２２１２は、電源装置２２１とFET２２１３の間に設置される。
FET２２１３のドレインは抵抗２２１２、ゲートはホットスワップコントローラ２２１３、ソースはチャネルアダプタスロット２２１６および可変抵抗２２３１とそれぞれ接続している。FET２２１３は、電流を導通または遮断するスイッチの一例である。
【００７１】
ホットスワップコントローラ２２１４はチャネルアダプタ２２１７の活栓挿抜の制御を行う。
ホットスワップコントローラ２２１４は、FET２２１３のゲート電圧を制御することにより、ドレイン−ソース間の電流のオンオフを制御する。
【００７２】
ホットスワップコントローラ２２１４は、抵抗２２１２の両端の電位差（電圧）を測定し、抵抗２２１２の電圧が閾値（電圧閾値）より大きい場合に、FET２２１３をオフにし、電流を遮断する。また、電圧閾値を可変抵抗２２１３の抵抗値で除算した値を、過電流閾値と呼ぶ。電圧＝抵抗×電流であるので、ホットスワップコントローラ２２１４は、可変抵抗２２１２を流れる電流が過電流閾値より大きい場合、FET２２１３をオフにし、電流を遮断する。
【００７３】
監視制御部２２１５は、抵抗２２１２の電流の値を取得し、抵抗２２１２の電流に基づいて、可変抵抗２２３１に設定する抵抗値を算出する。
監視制御部２２１５は、可変抵抗２２３１の抵抗値を算出した抵抗値に変更する。可変抵抗２２３１の抵抗値が変更されることにより、消費電力も変更される。
【００７４】
可変抵抗２２３１の抵抗値の変更は、可変抵抗２２３１が複数の並列接続された抵抗である場合は、複数の並列接続された抵抗を切り替えることにより行われる。また、可変抵抗２２３１がFETである場合は、FETのゲート電圧を制御し、オン抵抗値を変化させることで抵抗値の変更を実現する。
【００７５】
監視制御部２２１５は、コントローラモジュール１２１１−１の構成が変更されると、可変抵抗２２３１の抵抗値を動的に変更する。
監視制御部２２１５は、例えば、ファームウェアを実行するMicro Processing Unit(MPU)により実現される。
【００７６】
チャネルアダプタスロット２２１６およびチャネルアダプタ２２１７は、第１の実施の形態のチャネルアダプタスロット１２１６およびチャネルアダプタ２２１７とそれぞれ同様の機能および構成を有するため説明は省略する。
【００７７】
可変抵抗２２３１は、チャネルアダプタスロット２２１６と並列に設置されている。可変抵抗２２３１は、例えば、複数の並列接続した抵抗やFETにより実現される。
【００７８】
図１１は、第２の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
ステップＳ２５０１において、監視制御部２２１５は、抵抗２２１２を流れる電流（消費電流）を測定し、確認する。尚、抵抗２２１２を流れる電流は、消費電流または負荷とも呼ぶ。また、初期状態では、可変抵抗２２３１に電流は流れないようになっている。すなわち、可変抵抗２２３１の抵抗値は無限大となっている。
【００７９】
ステップＳ２５０２において、監視制御部２２１５は、消費電流が適切であるか判定する。例えば、過電流閾値と消費電流との差分が所定の閾値以下である場合、または消費電流が過電流閾値に係数（例えば、０．８）を掛けた値以上である場合、消費電流は適切であると判定される。すなわち、過電流閾値と消費電流との差が小さい場合に、適切と判定される。消費電流が適切な場合、制御はステップＳ２５０１に戻り、消費電流が適切でない場合、制御はステップＳ２５０３に進む。
【００８０】
ステップＳ２５０３において、監視制御部２２１５は、現在の消費電流に基づいて、可変抵抗２２３１に設定する抵抗値を算出する。
詳細には、先ず、監視制御部２２１５は、目標とする消費電流の値を係数＊ホットスワップコントローラ２２１４の閾値電圧／抵抗２２１２の抵抗値で算出する。
【００８１】
係数は、０より大きく１未満の実数である。ただし、係数が小さすぎる場合、目標とする消費電流も小さくなり、過電流閾値と目標とする消費電流との差分が大きくなる。したがって、ショート発生時の電流の変化量が大きくなり、ノイズも大きくなってしまうので、係数は小さすぎない適当な値とする。
【００８２】
ここで、係数＝０．８、閾値電圧＝５０ｍＶ、抵抗２２１２の抵抗値＝５ｍΩとする。また、抵抗２２１２を流れる電流値、すなわち現在の消費電流は５Ａとする。
したがって、目標とする消費電流の値＝０．８＊５０ｍＶ／５ｍΩ＝８Ａである。
【００８３】
不足分電流を目標とする消費電流の値と現在の消費電流との差分で算出すると、３Ａ（＝８Ａ−５Ａ）となる。
【００８４】
監視制御部２２１５は、可変抵抗２２３１の電圧を不足分電流で除算し、可変抵抗２２３１に設定する抵抗値を算出する。尚、可変抵抗２２３１の電圧は、予め定められており、監視制御部２２１５は可変抵抗２２３１の電圧を予め分かっている。
【００８５】
ステップＳ２５０４において、監視制御部２２１５は、可変抵抗２２３１の抵抗値をステップＳ２５０３で算出した抵抗値に変更する。これにより、抵抗２２１２を流れる電流（消費電流）が増加する。
【００８６】
図１２は、抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
図１２の左側は抵抗２２１２の電流を示すグラフ、右側は抵抗２２１２の電圧を示すグラフである。
【００８７】
図１２の実線は抵抗値の変更後の電流および電圧グラフであり、点線は変更前（従来）の電流及び電圧のグラフである。
図１２の左側において、時刻t1’’で現在の消費電流に基づいて、可変抵抗２２３１の抵抗値を算出し、可変抵抗２２３１の抵抗値を変更する。
【００８８】
それにより、消費電流は増加し、時刻t2’’において、消費電流は、目標とする消費電流となる。
時刻t3’’でショートが発生し、電流が増加する。時刻t4’’でホットスワップコントローラ２２１４は電流が過電流閾値を越える（すなわち、抵抗２２１２の電圧が閾値電圧を越える）ことを検出する。時刻t5’’でホットスワップコントローラ２２１４は、FET２２１３をオフにすることにより、電流を遮断する。
【００８９】
可変抵抗２２３１の抵抗値を変更することにより、消費電流は増加し、過電流閾値と消費電流の差が小さくなる。
よって、ショートが発生したときに、FET２２１３がオフとなったときの電流とショート発生前の電流の差分が小さくなる。それにより、図１２の右側に示すように発生するノイズの電圧も小さくなる。
【００９０】
図１３は、第２の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
第２の実施の形態に係るコントローラモジュール２２１１は、例えば、図１３に示すようなコントローラモジュール２３１１により実現できる。
【００９１】
コントローラモジュール２３１１は、抵抗２３１２、FET２３１３、ホットスワップコントローラ２３１４、MPU２３１５、チャネルアダプタスロット２３１６−ｋ、チャネルアダプタ２３１７−ｉ、電源コネクタ２３１８、CPU２３１９、メモリ２３２０、PCIeスイッチ２３２１、Serial Attached SCSI(SAS)コントローラ２３２２、SASコネクタ２３２３、DC-DCコンバータ(DDC)２３２５−ｋ、および可変抵抗２３３１を備える。
【００９２】
図１０の抵抗２２１２、FET２２１３、ホットスワップコントローラ２２１４、監視制御部２２１５、チャネルアダプタスロット２２１６−ｋ、チャネルアダプタ２２１７−ｉ、および可変抵抗２２３１は、それぞれ抵抗２３１２、FET２３１３、ホットスワップコントローラ２３１４、MPU２３１５、チャネルアダプタスロット２３１６−ｋ、チャネルアダプタ２３１７−ｉ、および可変抵抗２３３１に対応する。
【００９３】
電源コネクタ２３１８、CPU２３１９、メモリ２３２０、PCIeスイッチ２３２１、SASコントローラ２３２２、SASコネクタ２３２３、コネクタ２３２４、およびDC-DCコンバータ(DDC)２３２５は、図９の電源コネクタ１３１８、CPU１３１９、メモリ１３２０、PCIeスイッチ１３２１、SASコントローラ１３２２、SASコネクタ１３２３、コネクタ１３２４、およびDC-DCコンバータ(DDC)１３２５とそれぞれ同様の機能を有するので説明は省略する。
【００９４】
第２の実施の形態に係るコントローラモジュールによれば、可変抵抗の抵抗値を変更して、消費電流の値を大きくし、ショート発生時の電流の変化量を小さくして、ノイズ電圧を低減することができる。それにより、入力電源を共有する他のユニットが誤動作する可能性を低くすることができる。
【００９５】
（第３の実施の形態）
第２の実施の形態では、可変抵抗の抵抗値を変更して、消費電流の値を大きくしているため、無駄な電力を消費してしまう。
【００９６】
第３の実施の形態では、第２の実施の形態に過電流閾値を変更する第１の実施の形態を組み合わせて、消費電力を改善する。
【００９７】
図１４は、第３の実施の形態に係るコントローラモジュールの構成図である。
コントローラモジュール３２１１−ｉ（ｉ＝１、２）は、図３のコントローラモジュール２１１−ｉに対応する。
コントローラモジュール３２１１−ｉには、電源ユニット２２１からそれぞれ電力が供給される。
【００９８】
コントローラモジュール３２１１−２は、コントローラモジュール３２１１−１と同様の構成および機能を有するため、コントローラモジュール３２１１−１のみ詳細を説明する。
【００９９】
コントローラモジュール３２１１−１は、第１の可変抵抗（電流測定抵抗）３２１２、FET３２１３、ホットスワップコントローラ３２１４、監視制御部３２１５、チャネルアダプタスロット３２１６−ｋ（ｋ＝１〜４）、チャネルアダプタ３２１７−ｉ、および第２の可変抵抗３２３１を備える。
【０１００】
可変抵抗３２１２は、電源装置２２１とFET３２１３の間に設置される。可変抵抗３２１２は、例えば、複数の並列接続した抵抗やFETにより実現される。
FET３２１３のドレインは可変抵抗３２１２、ゲートはホットスワップコントローラ３２１３、ソースはチャネルアダプタスロット３２１６および可変抵抗３２３１とそれぞれ接続している。FET３２１３は、電流を導通または遮断するスイッチの一例である。
【０１０１】
ホットスワップコントローラ３２１４はチャネルアダプタ３２１７の活栓挿抜の制御を行う。
ホットスワップコントローラ３２１４は、FET３２１３のゲート電圧を制御することにより、ドレイン−ソース間の電流のオンオフを制御する。
【０１０２】
ホットスワップコントローラ３２１４は、可変抵抗３２１２の両端の電位差（電圧）を測定し、可変抵抗３２１２の電圧が閾値（電圧閾値）より大きい場合に、FET３２１３をオフにし、電流を遮断する。また、電圧閾値を可変抵抗３２１３の抵抗値で除算した値を、過電流閾値と呼ぶ。電圧＝抵抗×電流であるので、ホットスワップコントローラ３２１４は、可変抵抗３２１２を流れる電流が過電流閾値より大きい場合、FET３２１３をオフにし、電流を遮断する。
【０１０３】
監視制御部３２１５は、コントローラモジュール３２１１−１に搭載されているチャネルアダプタ３２１７の構成情報（チャネルアダプタの種類や数）を取得し、可変抵抗３２１２に設定する抵抗値を電流値テーブルに基づいて算出する。電流値テーブルは、監視制御部３２１５のレジスタ等の記憶部に格納される。電流値テーブルは、上述の第１の実施の形態で説明した電流値テーブル１２２１と同様である。
【０１０４】
監視制御部３２１５は、可変抵抗３２１２の抵抗値を算出した抵抗値に変更する。可変抵抗３２１２の抵抗値が変更されることにより、過電流閾値も変更する。
監視制御部３２１５は、可変抵抗３２１２の電流の値を取得し、可変抵抗３２１２の電流に基づいて、可変抵抗３２３１に設定する抵抗値を算出する。
【０１０５】
監視制御部３２１５は、可変抵抗３２３１の抵抗値を算出した抵抗値に変更する。可変抵抗３２３１の抵抗値が変更されることにより、消費電力も変更される。
【０１０６】
可変抵抗３２１２、３２３１の抵抗値の変更は、可変抵抗３２１２、３２３１が複数の並列接続された抵抗である場合は、複数の並列接続された抵抗を切り替えることにより行われる。また、可変抵抗３２１２、３２３１がFETである場合は、FETのゲート電圧を制御し、オン抵抗値を変化させることで抵抗値の変更を実現する。
【０１０７】
監視制御部３２１５は、コントローラモジュール３２１１−１の構成が変更されると、可変抵抗３２１２、３２３１の抵抗値を動的に変更する。
監視制御部３２１５は、例えば、ファームウェアを実行するMicro Processing Unit(MPU)により実現される。
【０１０８】
チャネルアダプタスロット３２１６およびチャネルアダプタ３２１７は、第１の実施の形態のチャネルアダプタスロット１２１６およびチャネルアダプタ２２１７とそれぞれ同様の機能および構成を有するため説明は省略する。
【０１０９】
可変抵抗３２３１は、チャネルアダプタスロット３２１６と並列に設置されている。可変抵抗３２３１は、例えば、複数の並列接続した抵抗やFETにより実現される。
【０１１０】
図１５は、第３の実施の形態に係る可変抵抗設定処理のフローチャートである。
ステップＳ３５０１において、監視制御部３２１５は、コントローラモジュール３２１１−１に搭載されているチャネルアダプタ３２１７の構成情報（チャネルアダプタの種類や数）を取得する。また、初期状態では、可変抵抗３２３１に電流は流れないようになっている。すなわち、可変抵抗３２３１の抵抗値は無限大となっている。
【０１１１】
ステップＳ３５０２において、監視制御部３２１５は、電流値テーブル１２２１を参照し、現在の構成の消費電流を算出する。消費電流は、コントローラモジュール３２１１−１に搭載されている各チャネルアダプタ３２１７の消費電流の合計で算出される。
【０１１２】
監視制御部３２１５は、ホットスワップコントローラ３２１４に設定されている電圧閾値と現在の構成の消費電流に基づいて、過電流閾値と消費電流との差分が小さくなるような可変抵抗３２１２の抵抗値を算出する。
【０１１３】
可変抵抗３２１２の抵抗値は、下式（２）で求められる。
可変抵抗３２１２の抵抗値（Ω）＝電圧閾値（Ｖ）／（係数（例えば、１．１）＊チャネルアダプタの消費電力の合計）（Ａ）・・・（２）
【０１１４】
上式（２）の係数は、１より大きい実数である。ただし、係数が大きすぎると、過電流閾値が大きくなりすぎるため、適当な値とする。
【０１１５】
ステップＳ３５０３において、監視制御部１２３２１５は、可変抵抗３２１２の抵抗値をステップＳ３５０２で算出した値に変更する。これにより、過電流閾値の値も低下する。
【０１１６】
ステップＳ３５０４において、監視制御部３２１５は、可変抵抗３２１２を流れる電流（消費電流）を測定し、確認する。尚、可変抵抗３２１２を流れる電流は、消費電流または負荷とも呼ぶ。
ステップＳ３５０５において、監視制御部３２１５は、消費電流が適切であるか判定する。例えば、過電流閾値と消費電流との差分が所定の閾値以下である場合、または消費電流が過電流閾値に係数（例えば、０．８）を掛けた値以上である場合、消費電流は適切であると判定される。すなわち、過電流閾値と消費電流との差が小さい場合に、適切と判定される。消費電流が適切な場合、制御はステップＳ３５０４に戻り、消費電流が適切でない場合、制御はステップＳ３５０６に進む。
【０１１７】
ステップＳ３５０６において、監視制御部３２１５は、現在の消費電流に基づいて、可変抵抗３２３１に設定する抵抗値を算出する。
【０１１８】
詳細には、先ず、監視制御部３２１５は、目標とする消費電流の値を係数＊ホットスワップコントローラ３２１４の閾値電圧／可変抵抗３２１２の抵抗値で算出する。
【０１１９】
ここで、係数＝０．８、閾値電圧＝５０ｍＶ、可変抵抗３２１２の抵抗値＝５ｍΩとする。また、可変抵抗３２１２を流れる電流値、すなわち現在の消費電流は５Ａとする。
【０１２０】
係数は、０より大きく１未満の実数である。ただし、係数が小さすぎる場合、目標とする消費電流も小さくなり、過電流閾値と目標とする消費電流との差分が大きくなる。したがって、ショート発生時の電流の変化量が大きくなり、ノイズも大きくなってしまうので、係数は小さすぎない適当な値とする。
【０１２１】
したがって、目標とする消費電流の値＝０．８＊５０ｍＶ／５ｍΩ＝８Ａである。
不足分電流を目標とする消費電流の値と現在の消費電流との差分で算出すると、３Ａ（＝８Ａ−５Ａ）となる。
【０１２２】
監視制御部３２１５は、可変抵抗３２３１の電圧を不足分電流で除算し、可変抵抗３２３１に設定する抵抗値を算出する。尚、可変抵抗３２３１の電圧は、予め定められており、監視制御部３２１５は可変抵抗３２３１の電圧を予め分かっている。
【０１２３】
ステップＳ３５０７において、監視制御部３２１５は、可変抵抗３３３１の抵抗値をステップＳ３５０６で算出した抵抗値に変更する。これにより、可変抵抗３２１２を流れる電流（消費電流）が増加する。
【０１２４】
チャネルアダプタ３２１７が挿入または抜去された場合または定期的に割り込みが発生しステップＳ３５０８が実行される。
ステップＳ３５０８において、監視制御部１２３２１５は、コントローラモジュール１２１１−１３２１１−１の構成が変更されたかチェックする。コントローラモジュール１２１１−１３２１１−１の構成が変更された場合、制御はステップＳ３５０１に進み、コントローラモジュール１２１１−１３２１１−１の構成が変更されていない場合、制御はステップＳ３５０４に進む。
【０１２５】
図１６は、第３の実施の形態の抵抗値の変更後におけるショート発生時の電流および電圧のグラフである。
図１６の左側は可変抵抗３２１２の電流を示すグラフ、右側は可変抵抗３２１２の電圧を示すグラフである。
【０１２６】
図１６の実線は抵抗値の変更後の電流および電圧グラフであり、点線は変更前（従来）の電流及び電圧のグラフである。
【０１２７】
上述の可変抵抗設定処理が実行されることにより、可変抵抗３２１２の抵抗値が変更され、過電流閾値は可変抵抗３２１２の抵抗値の変更前に比べて低くなる。さらに、可変抵抗３２３１の抵抗値が変更され、消費電流（負荷）が可変抵抗３２３１の抵抗値の変更前に比べて増加する。
【０１２８】
このように、可変抵抗設定処理が実行されることにより、過電流閾値の低下と消費電流の増加が行われ、過電流閾値と消費電流の差が小さくなる。
【０１２９】
図１６の左側において、時刻t1’’’でショートが発生し、電流が増加する。時刻t2’’’でホットスワップコントローラ３２１４は電流が変更後の過電流閾値を越える（すなわち、抵抗３２１２の電圧が閾値電圧を越える）ことを検出する。時刻t3’’’でホットスワップコントローラ３２１４は、FET３２１３をオフにすることにより、電流を遮断する。
【０１３０】
上述のように、可変抵抗設定処理により、過電流閾値と消費電流の差は小さくなっている。
よって、ショートが発生したときに、FET３２１３がオフとなったときの電流とショート発生前の電流の差分が小さくなる。それにより、図１６の右側に示すように発生するノイズの電圧も小さくなる。
【０１３１】
図１７は、第３の実施の形態に係るコントローラモジュールのハードウェア構成図である。
第３の実施の形態に係るコントローラモジュール３２１１は、例えば、図１７に示すようなコントローラモジュール３３１１により実現できる。
【０１３２】
コントローラモジュール３３１１は、可変抵抗３３１２、FET３３１３、ホットスワップコントローラ３３１４、MPU３３１５、チャネルアダプタスロット３３１６−ｋ、チャネルアダプタ３３１７−ｉ、電源コネクタ３３１８、CPU３３１９、メモリ３３２０、PCIeスイッチ３３２１、SASコントローラ３３２２、SASコネクタ３３２３、DC-DCコンバータ(DDC)３３２５−ｋ、および可変抵抗３３３１を備える。
【０１３３】
図１４の可変抵抗３２１２、FET３２１３、ホットスワップコントローラ３２１４、監視制御部３２１５、チャネルアダプタスロット３２１６−ｋ、チャネルアダプタ３２１７−ｉ、および可変抵抗３２３１は、それぞれ抵抗３３１２、FET３３１３、ホットスワップコントローラ３３１４、MPU３３１５、チャネルアダプタスロット３３１６−ｋ、チャネルアダプタ３３１７−ｉ、および可変抵抗３３３１に対応する。
【０１３４】
電源コネクタ３３１８、CPU３３１９、メモリ３３２０、PCIeスイッチ３３２１、SASコントローラ３３２２、SASコネクタ３３２３、コネクタ３３２４、およびDC-DCコンバータ(DDC)３３２５は、図９の電源コネクタ１３１８、CPU１３１９、メモリ１３２０、PCIeスイッチ１３２１、SASコントローラ１３２２、SASコネクタ１３２３、コネクタ１３２４、およびDC-DCコンバータ(DDC)１３２５とそれぞれ同様の機能を有するので説明は省略する。
【０１３５】
第３の実施の形態に係るコントローラモジュールによれば、第１の可変抵抗の抵抗値を変更して、過電流閾値を下げ、ショート発生時の電流の変化量を小さくして、ノイズ電圧を低減することができる。
【０１３６】
また、第３の実施の形態に係るコントローラモジュールによれば、第２の可変抵抗の抵抗値を変更して、消費電流の値を大きくし、ショート発生時の電流の変化量を小さくして、ノイズ電圧を低減することができる。それにより、入力電源を共有する他のユニットが誤動作する可能性を低くすることができる。
【０１３７】
以上の実施の形態に関して、さらに以下の付記を開示する。
（付記１）
外部装置と接続するチャネルアダプタと、
前記チャネルアダプタと並列に設置され、抵抗値が可変である第１の抵抗と、
前記第１の抵抗の抵抗値を制御する抵抗制御部と、
前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗に電力を供給する電源装置と、
前記電源装置と前記チャネルアダプタの間に設けられた第２の抵抗と、
前記電源装置から前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗への電流の導通を制御するスイッチと、
前記第２の抵抗の電圧を監視し、該電圧が閾値より大きい場合に、前記スイッチをオフとするコントローラと、
を備え、
前記抵抗制御部は、
前記第２の抵抗の電流、前記閾値、および前記第２の抵抗の抵抗値に基づいて、前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第１の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定することを特徴とする処理装置）。
（付記２）
前記抵抗制御部は、
前記閾値を前記第２の抵抗の抵抗値で除算し、除算した値に係数を乗算して目標消費電流を算出し、該目標消費電流と前記第２の抵抗の電流との差分から不足分消費電流を算出し、
前記第１の抵抗の電圧を前記不足分消費電流で除算して前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出することを特徴とする付記１記載の処理装置。
（付記３）
前記第２の抵抗は、抵抗値が可変であり、
前記抵抗制御部は、
前記閾値と前記チャネルアダプタの消費電流に基づいて、前記第２の抵抗に設定する抵抗値を算出し）、
前記第２の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定することを特徴とする付記１または２記載の処理装置。
（付記４）
前記抵抗制御部は、前記閾値を前記チャネルアダプタの消費電流に１より大きい係数を乗算した値で除算することにより前記第２の抵抗に設定する抵抗値を算出することを特徴とする付記３記載の処理装置。
（付記５）
外部装置と接続するチャネルアダプタと、前記チャネルアダプタと並列に設置され、抵抗値が可変である第１の抵抗と、前記第１の抵抗の抵抗値を制御する抵抗制御部と、前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗に電力を供給する電源装置と、前記電源装置と前記チャネルアダプタの間に設けられた第２の抵抗と、前記電源装置から前記チャネルアダプタおよび前記第１の抵抗への電流の導通を制御するスイッチと、前記第２の抵抗の電圧を監視し、該電圧が閾値より大きい場合に、前記スイッチをオフとするコントローラ（と、を備える処理装置が実行するノイズ低減方法であって、
前記第２の抵抗の電流を確認し、
前記第２の抵抗の電流、前記閾値、および前記第２の抵抗の抵抗値に基づいて、前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第１の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定する
処理を備えるノイズ低減方法。
（付記６）
前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出する処理において、前記閾値を前記第２の抵抗の抵抗値で除算し、除算した値に係数を乗算して目標消費電流を算出し、該目標消費電流と前記第２の抵抗の電流との差分から不足分消費電流を算出し、前記第１の抵抗の電圧を前記不足分消費電流で除算して前記第１の抵抗に設定する抵抗値を算出することを特徴とする付記５記載のノイズ低減方法。
（付記７）
前記第２の抵抗は、抵抗値が可変であり、
前記閾値と前記チャネルアダプタの消費電流に基づいて、前記第２の抵抗に設定する抵抗値を算出し、
前記第２の抵抗の抵抗値を算出した抵抗値に設定する処理をさらに備える付記６または７記載のノイズ低減方法。
（付記８）
前記第２の抵抗の抵抗値を算出する処理において、前記閾値を前記チャネルアダプタの消費電流に１より大きい係数を乗算した値で除算することにより前記第２の抵抗の抵抗値を算出することを特徴とする付記７記載のノイズ低減方法。
【符号の説明】
【０１３８】
１０    RAID装置
１１    コントローラモジュール
１２    電源装置
１３    抵抗
１４    FET
１５    ホットスワップコントローラ
１０１    RAID装置
２０１    コントローラモジュールエンクロージャ
２１１    コントローラモジュール
２２１    電源ユニット
２３１    パネル
２１２    CPU
２１３    メモリ
２１４    チャネルアダプタ
３０１    ディスクエンクロージャ
４０１    ホストサーバ
１２１１、２２１１、３２１１    コントローラモジュール
１２１２、３２１２    可変抵抗
１２１３、２２１３、３２１３    FET
１２１４、２２１４、３２１４    ホットスワップコントローラ
１２１５、２２１５、３２１５    監視制御部
１２１６、２２１６、３２１６    チャネルアダプタスロット
１２１７，２２１７、３２１７    チャネルアダプタ
１２２１    電流値テーブル
１３１２、３３１２    可変抵抗
１３１３、２３１３、３３１３    FET
１３１４、２３１４、３３１４    ホットスワップコントローラ
１３１５、２３１５、３３１５    MPU
１３１６、２３１６、３３１６    チャネルアダプタスロット
１３１７、２３１７、３３１７    チャネルアダプタ
１３１８、２３１８、３３１８    電源コネクタ
１３１９，２３１９、３３１９    CPU
１３２０、２３２０、３３２０    メモリ
１３２１、２３２１，３３２１    PCIeスイッチ
１３２２、２３２２、３３２２    SASコントローラ
１３２３、２３２３、３３２３    SASコネクタ
１３２４、２３２４、３３２４    コネクタ
２２１２    抵抗
３２１２    抵抗
【図１】
2014071527.tif 000003
【図２】
2014071527.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図５】
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