(57)【要約】【課題】検査対象物のサイズに応じた判定基準値の設定作業を容易に行うことができる判定基準値の設定方法及びはんだ印刷部の検査方法を提供する。【解決手段】作業員はポインタ２２ａを介して判定値設定画面２１ａ上の複数のデータ点Ｐ１〜Ｐ４を指定して下限値、上限値、中間値１及び中間値２を特定する。これを受け、関数作成部はデータ点Ｐ１〜Ｐ２、Ｐ２〜Ｐ３、Ｐ３〜Ｐ４間をそれぞれ補間する補間関数を生成し、さらにデータ点Ｐ１以下の開口部面積とデータ点Ｐ４以上の開口部面積に適用するかすれ判定基準値を一定とする線分を表示する処理を行う。これにより、開口部面積と適用するかすれ判定基準値の相関関係を表す関数が作成される。その後、作業員による適用スイッチ２９の操作を受け、判定値設定部は検査データ上の個々のはんだ印刷部のサイズを読み取り、各サイズに対応するかすれ判定基準値を作成された関数から求める。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に存在する複数の検査対象物を検査する際の良否判定に使用される判定基準値の設定方法であって、
検査対象物のサイズに関する情報と当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値との組合せを複数設定する組合せ設定工程と、
設定した複数の組合せに基づいて検査対象物のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶する関数作成工程と、
予め作成した複数の検査対象物のサイズに関する情報を含む検査データから所望の検査対象物のサイズを読み取り、読み取った検査対象物のサイズと前記関数から当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値を導出する判定基準値導出工程とを含むことを特徴とする判定基準値の設定方法。
【請求項２】
前記組合せ工程において、少なくとも判定基準値の最小値とこの最小値が適用されるサイズの検査対象物のグループのうちの最大サイズの検査対象物の組合せと、判定基準値の最大値とこの最大値が適用されるサイズの検査対象物のグループのうちの最小サイズの検査対象物の組合せを設定することを特徴とする請求項１記載の判定基準値の設定方法。
【請求項３】
前記検査対象物が基板に印刷されたはんだペーストから成るはんだ印刷部であり、前記判定基準値が前記はんだ印刷部のかすれの度合いを示す数値であることを特徴とする請求項１又は２に記載の判定基準値の設定方法。
【請求項４】
前記検査対象物が基板に搭載された電子部品であり、前記判定基準値が前記電子部品の位置ずれの度合いを示す数値であることを特徴とする請求項１又は２に記載の判定基準値の設定方法。
【請求項５】
基板上の複数のはんだ印刷部の検査方法であって、
はんだ印刷部のサイズに関する情報と当該サイズのはんだ印刷部に適用する判定基準値との組合せを複数設定する組合せ設定工程と、
設定した複数の組合せに基づいてはんだ印刷部のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶する関数作成工程と、
予め作成した複数のはんだ印刷部のサイズに関する情報を含む検査データから所望のはんだ印刷部のサイズを読み取り、読み取ったはんだ印刷部のサイズと前記関数から当該サイズのはんだ印刷部に適用する判定基準値を導出する判定基準値導出工程と、
基板上の複数のはんだ印刷部を撮像して当該複数のはんだ印刷部の画像データを取得する画像データ取得工程と、
前記画像データを認識することによりはんだ印刷部のかすれの度合いを示す数値を求め、この数値を前記判定基準値導出工程で設定した判定基準値と比較してはんだ印刷部の良否を判定するはんだ印刷部検査工程とを含むことを特徴とするはんだ印刷部の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板上に存在する複数の検査対象物を検査する際の良否判定に使用される判定基準値の設定方法及び基板上の複数のはんだ印刷部の検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
基板に電子部品を搭載して実装基板を生産するための部品実装用装置を複数配設して構成される電子部品実装システムにおいては、基板の電極に対応したパターン孔が複数形成されたマスクプレートを用いて電極に半田ペーストをスクリーン印刷する印刷装置、電極に印刷された半田ペースト上に電子部品を搭載する電子部品搭載装置、電極に印刷された半田ペーストの状態を検査する印刷検査装置、及び基板に搭載された電子部品の状態を検査する搭載検査装置を含んだ形態のものが一般に用いられている。
【０００３】
各種の検査装置には検査用カメラが備えられており、電極に印刷された半田ペースト（基板に搭載された電子部品）を検査用カメラで撮像し、取得した撮像データを画像処理して各種の検査が実行される（例えば特許文献１，２）。ここで、印刷検査装置での検査項目の一つに印刷量の良否判定があり、基準面積に対して半田ペーストが何パーセント印刷されているかによってその良否が判断され、印刷量が所定の割合以下である場合に「かすれ（印刷不足）」と判定される。この「かすれ」の判定基準値は印刷部位毎に設定され、当該判定基準値を含む検査データが作業員によって検査前に作成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１１７９７５号公報
【特許文献２】特開２０００−２６６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
電極に印刷される半田ペーストのサイズ（面積）は電極や搭載対象となる電子部品のサイズによって異なり、これに伴って判定基準値も半田ペーストのサイズによって異なる。そのため、検査データの作成においては半田ペーストを一定範囲のサイズ毎にグループ分けし、グループ毎に判定基準値を設定する等の方法が用いられていた。しかしながら、設定すべき半田ペーストのサイズ（グループ）の数が膨大である場合、検査データの作成に多大な労力と手間が生じていた。また、判定基準値は作業員の経験に基づいて設定されるため、必ずしも適切な値を設定することができなかった。そしてこの課題は、搭載検査装置で電子部品のサイズに応じて搭載状態（例えば位置ずれ）の良否を判定する際に用いられる判定基準値を設定する場合においても共通するものであった。
【０００６】
そこで本発明は、検査対象物のサイズに応じた判定基準値の設定作業を容易に行うことができる判定基準値の設定方法及びはんだ印刷部の検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１記載の本発明は、基板上に存在する複数の検査対象物を検査する際の良否判定に使用される判定基準値の設定方法であって、検査対象物のサイズに関する情報と当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値との組合せを複数設定する組合せ設定工程と、設定した複数の組合せに基づいて検査対象物のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶する関数作成工程と、予め作成した複数の検査対象物のサイズに関する情報を含む検査データから所望の検査対象物のサイズを読み取り、読み取った検査対象物のサイズと前記関数から当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値を導出する判定基準値導出工程とを含む。
【０００８】
また請求項５記載の本発明は、基板上の複数のはんだ印刷部の検査方法であって、はんだ印刷部のサイズに関する情報と当該サイズのはんだ印刷部に適用する判定基準値との組合せを複数設定する組合せ設定工程と、設定した複数の組合せに基づいてはんだ印刷部のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶する関数作成工程と、予め作成した複数のはんだ印刷部のサイズに関する情報を含む検査データから所望のはんだ印刷部のサイズを読み取り、読み取ったはんだ印刷部のサイズと前記関数から当該サイズのはんだ印刷部に適用する判定基準値を導出する判定基準値導出工程と、基板上の複数のはんだ印刷部を撮像して当該複数のはんだ印刷部の画像データを取得する画像データ取得工程と、前記画像データを認識することによりはんだ印刷部のかすれの度合いを示す数値を求め、この数値を前記判定基準値導出工程で設定した判定基準値と比較してはんだ印刷部の良否を判定するはんだ印刷部検査工程とを含む。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、検査対象物のサイズに関する情報と当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値との組合せを複数設定し、設定した複数の組合せに基づいて検査対象物のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶し、予め作成した複数の検査対象物のサイズに関する情報を含む検査データから所望の検査対象物のサイズを読み取り、読み取った検査対象物のサイズと関数から当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値を導出するので、検査対象物のサイズに応じた判定基準値の設定作業を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施の形態における電子部品実装ラインの平面図
【図２】本発明の実施の形態における基板の平面図
【図３】本発明の実施の形態における基板の平面図
【図４】本発明の実施の形態における印刷はんだ検査装置の平面図
【図５】本発明の実施の形態における検査データの説明図
【図６】（ａ）本発明の実施の形態における検査データ作成装置の説明図（ｂ）本発明の実施の形態における検査データ作成装置の制御系の構成を示すブロック図
【図７】本発明の実施の形態における判定値表示画面の説明図
【図８】本発明の実施の形態における判定値表示画面の説明図
【図９】本発明の実施の形態における判定値表示画面の説明図
【図１０】本発明の実施の形態における判定値表示画面の説明図
【図１１】本発明の実施の形態における判定値表示画面の説明図
【図１２】本発明の実施の形態の応用例を示す判定値表示画面の説明図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
まず図１を参照して、電子部品実装ラインについて説明する。電子部品実装ライン１は、基板２に電子部品３を搭載して実装基板を生産するための各種装置をＸ方向に複数配設して成り（図３も併せて参照）、上流側から基板供給装置Ｍ１、はんだ印刷装置Ｍ２、印刷はんだ検査装置Ｍ３、電子部品搭載装置Ｍ４、Ｍ５、Ｍ６、リフロー装置Ｍ７及び基板回収装置Ｍ８を含んで構成される。
【００１２】
基板供給装置Ｍ１は、作業対象となる基板２をはんだ印刷装置Ｍ２に供給する。はんだ印刷装置Ｍ２は、基板２に形成された電極に応じて開口部が複数形成されたマスクプレートを基板２の上面に当接させ、へら状のスキージをマスクプレート上で摺動させることによって、開口部を介してマスクプレート上に供給されたはんだペーストを基板２にスクリーン印刷する。これにより図２に示すように、基板２の電極にははんだペーストが印刷された個別のはんだ印刷部Ｐが形成される。印刷はんだ検査装置Ｍ３は、はんだ印刷装置Ｍ２で基板２の電極上に印刷された検査対象物としてのはんだ印刷部Ｐ（図２参照）の状態を検査する。電子部品搭載装置Ｍ４〜Ｍ６は、はんだ印刷部Ｐが形成された基板２の電極に対して電子部品３を搭載する（図３参照）。リフロー装置Ｍ７は、電子部品３が搭載された基板２を所定の加熱プロファイルに従ってリフロー（加熱）することにより、はんだ印刷部Ｐを溶融させて基板２と電子部品３をはんだ接合させる。基板回収装置Ｍ８は、リフロー後の基板２を回収する。
【００１３】
次に図４を参照して、印刷はんだ検査装置Ｍ３の構成について説明する。印刷はんだ検査装置Ｍ３の基台４の上面には、はんだ印刷装置Ｍ２と連結された基板搬送機構５と基板位置決め部６が配置されている。また基板位置決め部６の上方には、Ｘ方向と直交するＹ方向に伸びたＹ軸テーブル７とＸ方向に伸びた移動ビーム８より成るカメラ移動機構によって水平移動する検査用カメラ９が配設されている。カメラ移動機構を作動させることにより、検査用カメラ９は基板位置決め部６によって所定の検査位置に位置決めされた基板２の上方でＸＹ方向に水平移動してはんだ印刷部Ｐを撮像する。
【００１４】
はんだ印刷部Ｐの撮像データは印刷はんだ検査装置Ｍ３に備えられた検査処理部によって認識処理され、当該認識処理結果に基づいてはんだ印刷部Ｐ、すなわち基板２に印刷されたはんだペーストの印刷状態の各種検査が実行される。ここでの検査項目の一つにはんだ印刷部Ｐのかすれ判定があり、認識処理結果と予め作成した検査データ１０（図５参照）を照合することによってなされる。なお、印刷はんだ検査装置Ｍ３が有する機能をはんだ印刷装置Ｍ２に組み入れ、はんだ印刷装置Ｍ２ではんだ印刷部Ｐの印刷状態の検査を実行するようにしてもよい。
【００１５】
次に、図５を参照して検査データ１０について説明する。検査データ１０は、はんだ印刷部Ｐの印刷量の良否判定に必要な各種の情報を含んでおり、基板品種毎に作成される。この検査データ１０には、基板２にはんだペーストを印刷することにより形成されたはんだ印刷部Ｐを個別に識別する識別情報としての「番号」１１と、各「番号」１１に対応する「位置Ｘ」１２、「位置Ｙ」１３、「装着点」１４、「面積」１５、「かすれ判定基準値」１６に関する情報が含まれる。
【００１６】
「位置Ｘ」１２、「位置Ｙ」１３は、基板２上のはんだ印刷部ＰのＸ座標、Ｙ座標を示す。「装着点」１４は、はんだ印刷部Ｐに搭載される電子部品の名称又は当該電子部品の基板２に対する装着位置の番号を示す。「面積」１５は、はんだペーストの印刷時に用いられるマスクプレートの開口部の面積（以下、単に「開口部面積」と称する）であり、検査対象のはんだ印刷部Ｐに対応する開口部面積を示す。なお、マスクプレートは均一な厚みを有する薄板であり、はんだ印刷部Ｐの平面形状は開口部の形状と一致することから、ここでは「面積」１５をはんだ印刷部Ｐのサイズに関する情報として用いるようにしている。
【００１７】
「かすれ判定基準値」１６は、はんだ印刷部Ｐの「かすれ（印刷不足）」の良否判定に使用される判定基準値である。ここでかすれの度合いを示す「かすれ判定値」について説明する。「かすれ判定値」はマスクプレートの開口部面積に対するはんだ印刷部Ｐの非印刷面積の割合を示す数値であり、数値が高いほど「かすれ」の度合いが大きくなる。そしてはんだ印刷部Ｐの検査時においては、「かすれ判定値」が「かすれ判定基準値」以上であれば印刷不良を意味する「かすれ」と判定される。このように、「かすれ判定基準値」１６は基板２上に存在する複数の検査対象物（はんだ印刷部Ｐ）を検査する際の良否判定に使用される判定基準値となっている。
【００１８】
ここで、はんだ印刷部Ｐのサイズと「かすれ判定基準値」との関係について説明する。大きい開口部面積で印刷されたはんだ印刷部Ｐは、かすれによりはんだ量が多少不足したとしてもある程度の量（面積）で印刷されていれば電子部品３の実装品質に悪影響を及ぼす可能性は低い。その一方で、小さい開口部面積で印刷されたはんだ印刷部Ｐは、かすれが発生してわずかでも量（面積）が不足すると接続不良となるおそれが高い。そのため、基板に印刷されたはんだ印刷部Ｐはサイズが小さくなるほど印刷品質、とりわけ「かすれ」による量の不足を厳しく判定する必要がある。従って、「かすれ判定基準値」はサイズの小さいはんだ印刷部Ｐほど低い数値に設定される。
【００１９】
次に、図６（ａ）、（ｂ）を参照して検査データ１０の作成装置（以下、「検査データ作成装置」と称する）について説明する。図６（ａ）において、検査データ作成装置Ｍ９は図示しない通信ネットワークを介して印刷はんだ検査装置Ｍ３と接続されており、作成した検査データ１０を印刷はんだ検査装置Ｍ３に送信可能となっている。図６（ｂ）において、この検査データ作成装置Ｍ９は処理・演算部１７を備えており、検査データ記憶部１８、関数作成部１９及び判定値設定部２０を含んで構成されている。また、処理・演算部１７は表示部２１と入力部２２に接続されている。
【００２０】
検査データ記憶部１８は、「かすれ判定基準値」１６以外の各種情報を記録した検査データ１０を記憶する。関数作成部１９は、はんだ印刷部Ｐのサイズ（開口部面積）と各サイズのはんだ印刷部Ｐに適用するかすれ判定基準値との相関関係を表す関数（グラフ）を作成するとともに、これを記憶する。判定値設定部２０は、関数作成部１９によって作成された関数に基づき、検査データ１０上の各「番号」１１に対応する「かすれ判定基準値」１６を設定・記録する。
【００２１】
表示部２１はモニタ等の表示装置から成り、処理・演算部１７が有する表示処理機能によって各種の情報や操作用スイッチを含む判定値設定画面２１ａ（図７参照）を表示する。入力部２２はキーボードやマウス等の入力装置から成り、キーボードを介しての数値データの入力や、マウス操作により判定値設定画面２１ａ上でポインタ２２ａ（図７参照）を介して任意の位置を指定（クリック）する等の入力操作を行う。
【００２２】
次に、図７を参照して判定値設定画面２１ａについて説明する。判定値設定画面２１ａはかすれ判定基準値の設定作業を行う際に用いられる各種の情報を表示する。この判定値設定画面２１ａには、はんだ印刷部Ｐのサイズ（開口部面積）と適用するかすれ判定基準値との相関関係を表す関数（図９参照）を表示する関数表示部２１ｂが設けられている。また、判定値設定画面２１ａには下限値表示欄２３、上限値表示欄２４、中間値表示欄２５Ａ，２５Ｂ、検査対象リストスイッチ２６、関数（グラフ）スイッチ２７、関数設定スイッチ２８、適用スイッチ２９及び判定値設定スイッチ３０（図９〜図１１参照）が併せて表示される。
【００２３】
下限値表示欄２３、上限値表示欄２４、中間値表示欄２５Ａ，２５Ｂには、ポインタ２２ａによって指定した判定値設定画面２１ａ上の各データ点Ｐ１〜Ｐ４（図８参照）の開口部面積とかすれ判定基準値が表示される（画面上では「面積」、「判定値」と表示）。このうち下限値表示欄２３には、指定した複数のデータ点のうちかすれ判定基準値が最小となるデータ点Ｐ１の開口部面積と当該かすれ判定基準値の組合せである「下限値」が表示される。また上限値表示欄２４には、指定した複数のデータ点のうちかすれ判定基準値が最大となるデータ点Ｐ４の開口部面積と当該かすれ判定基準値の組合せである「上限値」が表示される。さらに中間値表示欄２５Ａ、２５Ｂには、下限値から上限値までの範囲内で指定したデータ点Ｐ２，Ｐ３の開口部面積とかすれ判定基準値の組合せである「中間値１」、「中間値２」が表示される。このように、下限値、上限値、中間値１、中間値２は、はんだ印刷部Ｐのサイズに関する情報と当該サイズのはんだ印刷部Ｐに適用するかすれ判定基準値との組合せによって表される。
【００２４】
次に、図８〜図１１を参照して検査データ作成装置Ｍ９を用いたかすれ判定基準値の設定方法について説明する。なお、検査データ１０に含まれる「かすれ判定基準値」１６以外の情報は、基板２やマスクプレートの設計データに基づいて既に求められていることとする。すなわちかすれ判定基準値の設定時には、検査データ１０に含まれる複数のはんだ印刷部Ｐのサイズに関する情報が予め作成された状態となっている。
【００２５】
まず図８に示すように、作業員はポインタ２２ａを移動させて判定値設定画面２１ａ上の複数のデータ点Ｐ１〜Ｐ４を指定して下限値、上限値、中間値１及び中間値２を特定する。なお、当該指定は作業員の知識と経験に基づいてなされる。また、ポインタ２２ａによるデータ点の指定は下限値、上限値、中間値１、中間値２の順で行う。つまり最初に指定したデータ点Ｐ１が下限値に対応し、データ点Ｐ１の指定を受けて処理・演算部１７は下限値表示欄２３にデータ点Ｐ１の開口部面積とかすれ判定基準値を表示する。また２，３，４番目に指定したデータ点Ｐ４，Ｐ２，Ｐ３はそれぞれ上限値、中間値１、中間値２に対応し、各データ点の指定を受けて処理・演算部１７は各表示欄２４，２５Ａ，２５Ｂにそれぞれ対応するデータ点の開口部面積とかすれ判定基準値を表示する。すなわちここでは、はんだ印刷部Ｐのサイズに関する情報と当該サイズのはんだ印刷部Ｐに適用するかすれ判定基準値との組合せを複数設定する（ＳＴ１：組合せ設定工程）。
【００２６】
データ点Ｐ１〜Ｐ４を指定後、作業員は関数（グラフ）スイッチ２７を操作する。これを受け、図９に示すように関数作成部１９はデータ点Ｐ１〜Ｐ２、Ｐ２〜Ｐ３、Ｐ３〜Ｐ４間をそれぞれ補間する補間関数を生成する。ここでは、補間関数として各データ点間を簡易的に直線近似する例を示しており、データ点Ｐ１とＰ２、Ｐ２とＰ３、Ｐ３とＰ４を線分で結ぶ処理が行われる。これに加え、関数作成部１９はデータ点Ｐ１以下の開口部面積に適用するかすれ判定基準値を一定とする線分を表示する処理を行うとともに、データ点Ｐ４以上の開口部面積に適用するかすれ判定基準値を一定とする線分を表示する処理を行う。これにより、開口部面積（はんだ印刷部Ｐのサイズ）と適用するかすれ判定基準値の相関関係を表す関数が作成される。
【００２７】
より具体的には、データ点Ｐ１からＰ２までの開口部面積に対するかすれ判定基準値は開口部面積Ａを変数とする関数ｆ（Ａ）にて設定され、データ点Ｐ２からＰ３までの開口部面積に対するかすれ判定基準値は関数ｇ（Ａ）にて設定され、データ点Ｐ３からＰ４までの開口部面積に対するかすれ判定基準値は関数ｈ（Ａ）にて設定される。そして、作成された関数は処理・演算部１７に記憶される。すなわちここでは、設定した複数の組合せに基づいてはんだ印刷部Ｐのサイズと適用するかすれ判定基準値との相関関係を表す関数を作成して記憶する（ＳＴ２：関数作成工程）。
【００２８】
ここで、データ点Ｐ１以下とＰ４以上の開口部面積に適用するかすれ判定基準値を一定とする意義について説明する。前述のとおり、かすれ判定基準値は開口部面積が小さくなるにつれ低くなるが、これを厳守すると所定サイズ以下のはんだ印刷部Ｐに対する「かすれ」の許容範囲が過度に狭くなり、検査において過判定が頻出するという弊害が生じ得る。そのため、所定サイズ以下のはんだ印刷部Ｐを一つのグループとし、当該グループについてはかすれ判定基準値を一定にしている。つまり、かすれ判定基準値の最小値とこの最小値が適用されるサイズのはんだ印刷部Ｐのグループのうちの最大サイズのはんだ印刷部Ｐの組合せとなるデータ点Ｐ１に下限値を設定するようにしている。これにより、サイズの小さいはんだ印刷部Ｐに対する「かすれ」の許容範囲が過度に狭くなることによって生じる「かすれ」の過判定を防止することができる。
【００２９】
また、かすれ判定基準値は開口部面積が大きくなるにつれ高くなるが、これを厳守すると所定サイズ以上のはんだ印刷部Ｐに対する「かすれ」の許容範囲が過度に広くなり、検査において「かすれ」と判定すべきものが看過されてしまうという弊害が生じ得る。そのため、所定サイズ以上のはんだ印刷部Ｐを一つのグル―プとし、当該グループについてはかすれ判定基準値を一定にしている。つまり、かすれ判定基準値の最大値とこの最大値が適用されるサイズのはんだ印刷部Ｐのグループのうちの最小サイズのはんだ印刷部Ｐの組合せとなるデータ点Ｐ４に上限値を設定するようにしている。これにより、サイズの大きいはんだ印刷部Ｐに対する「かすれ」の許容範囲が過度に広くなることによって生じる誤判定を防止することができる。また、データ点Ｐ１以下とＰ４以上の開口部面積に適用するかすれ判定基準値を一定とすることには、関数で定義する範囲を下限値から上限値までの範囲に限定するという意味も含まれている。
【００３０】
関数を作成後、作業員は適用スイッチ２９を操作する。これを受け、判定値設定部２０は検査データ１０から個々のはんだ印刷部Ｐのサイズ（「面積」１５）を読み取り、読み取ったサイズに対応するかすれ判定基準値を作成された関数から求め、検査データ１０上の「かすれ判定基準値」１６に入力する。これにより、検査データ１０上の個々のはんだ印刷部Ｐに適用される「かすれ判定基準値」１６が設定される。
【００３１】
すなわちここでは、予め作成した複数のはんだ印刷部Ｐのサイズに関する情報を含む検査データ１０から所望のはんだ印刷部Ｐのサイズを読み取り、読み取ったはんだ印刷部Ｐのサイズと関数から当該サイズのはんだ印刷部Ｐに適用するかすれ判定基準値を導出する（ＳＴ３：判定基準値導出工程）。これにより、はんだ印刷部Ｐのサイズに応じたかすれ判定基準値の設定作業を容易に行うことができる。また適用スイッチ２９の操作を受け、処理・演算部１７は判定値設定画面２１ａ上に判定値設定スイッチ３０を表示する。
【００３２】
また、本実施の形態では様々な関数を設定することが可能であり、作業員が関数設定スイッチ２８を操作すると、処理・演算部１７は判定値設定画面２１ａ上に「直線」、「曲線」、「ステップ関数」の何れかを選択可能な選択画面２１ｃを表示する（図１０参照）。そして作業員が任意のものを選択して適用スイッチ２９を操作すると、処理・演算部１７は選択画面２１ｃの表示を解除するとともに、関数表示部２１ｂ上の表示を選択した関数に切り替える。これに併せて、判定値設定部２０は検査データ１０上の「かすれ判定基準値」１６の設定を選択した関数に基づいた数値に変更する。なお、ステップ関数を選択した場合には「ステップ数」の選択も可能である。図１１は、ステップ関数を表示した判定値設定画面２１ａを示している。
【００３３】
関数を設定後、作業員は判定値設定スイッチ３０を操作する。これを受け、判定値設定部２０は設定した検査データ１０上の「かすれ判定基準値」１６を記録し、これにより検査データ１０が完成する。完成した検査データ１０は検査データ記憶部１８に記憶され、その後、印刷はんだ検査装置Ｍ３に送信される。
【００３４】
その後、印刷はんだ検査装置Ｍ３においては、受信した検査データ１０を用いてはんだ印刷装置Ｍ２で基板２の電極上に印刷されたはんだ印刷部Ｐの検査（かすれ判定）が行われる。すなわち、印刷はんだ検査装置Ｍ３の検査処理部は検査用カメラ９によって基板２に印刷された所望のはんだ印刷部Ｐを撮像して画像データを取得する（ＳＴ４：画像データ取得工程）。次に、検査処理部は取得した画像データを認識処理して印刷されたはんだ印刷部Ｐの面積を測定し、測定した面積に基づいて「かすれ判定値」を算出する。そして、検査処理部は算出した「かすれ判定値」と検査データ１０に記録された対応するはんだ印刷部Ｐの「かすれ判定基準値」１６を比較し、「かすれ判定値」が「かすれ判定基準値」以上であれば「かすれ」と判定し、「かすれ判定値」が「かすれ判定基準値」以下であれば印刷量は十分である（印刷量ＯＫ）と判定する（ＳＴ５：はんだ印刷部検査工程）。すなわち、はんだ印刷部検査工程では、取得した画像データを認識することによりはんだ印刷部Ｐのかすれの度合いを示す数値を求め、この数値を判定基準値導出工程で設定した判定基準値と比較してはんだ印刷部Ｐの良否を判定する。
【００３５】
そして、かすれ判定を含む全ての検査をクリアした基板２は電子部品搭載装置Ｍ４に送られ、部品搭載動作が実行される。その一方で、「かすれ」を含む印刷不良の判定を受けたはんだ印刷部Ｐを有する基板２については、電子部品実装ラインから取り出されて所定の修復作業が行われる。
【００３６】
次に、図１２を参照して本実施の形態の応用例を説明する。なお、既に説明した構成と同一のものについては同一符号を付し、説明を省略する。この応用例では、判定基準値として「位置ずれ判定基準値」が設定される。位置ずれ判定基準値とは、基板２に対する電子部品３の位置ずれの度合いを示す数値であって、数値が高いほど位置ずれの度合いが大きくなる。この位置ずれ判定基準値は、検査対象物である電子部品３のサイズ（寸法）によって異なり、リフロー後の基板２に対する検査の一つに含まれる電子部品３の位置ずれの良否判定で用いられる。なお、ここでの電子部品３の種類としては、チップ部品等の微小部品が挙げられる。
【００３７】
ここで、電子部品３のサイズと要求される搭載精度の関係について説明する。基板２に搭載される電子部品３は、そのサイズが小さくなるにつれ高い搭載精度が要求され、位置ずれを許容する範囲が狭くなる傾向にある。その一方、電子部品３のサイズが大きくなるにつれ要求される搭載精度は低くなり、位置ずれを許容する範囲が広くなる傾向にある。そして、電子部品３のサイズが小さいほど位置ずれ判定基準値は小さくなる。
【００３８】
このような電子部品３のサイズと要求される搭載精度の関係に基づき、判定値設定画面２１ａ上で電子部品３のサイズ（画面上では「部品寸法」と表示）と適用する位置ずれ判定基準値の相関関係を表す関数を上述の方法によって作成する。なお、電子部品３のサイズは規格で定められており、連続的に変化するものではないので、位置ずれ判定基準値はステップ関数によって設定した方が実用的である。また、判定値設定画面２１ａ上で表示される下限値表示欄２３ａ、上限値表示欄２４ａ、中間値表示欄２５Ａａ、２５Ｂａには、ポインタ２２ａによって指定した各データ点Ｐ１ａ〜Ｐ４ａの部品寸法と位置ずれ判定基準値が表示される（画面上では「寸法」、「判定値」と表示）。
【００３９】
また、この応用例でもデータ点Ｐ１ａ以下の部品寸法に適用する位置ずれ判定基準値とデータ点Ｐ４ａ以上の部品寸法に適用する位置ずれ判定基準値を一定としている。これにより、サイズの小さい電子部品３に対する位置ずれの許容範囲が過度に狭くなることに起因する過判定を防止することができるとともに、サイズの大きい電子部品３に対する位置ずれの許容範囲が過度に広くなることに起因する誤判定を防止することができる。
【００４０】
作業員は作成した関数に基づき所定サイズの電子部品３に適用する位置ずれ判定基準値を求め、求めた位置ずれ判定基準値の情報を含む検査データ（図示せず）を作成する。そして、専用の検査装置（図示せず）で当該検査データを用いた電子部品３の位置ずれの良否判定を行う。
【００４１】
以上説明したように本発明によれば、検査対象物のサイズと適用する判定基準値との相関関係を表す関数から当該サイズの検査対象物に適用する判定基準値を導出するようにしている。したがって、検査対象物のサイズが多数存在する場合であっても、作業員に対して多大な手間と労力をかけることなく判定基準値を迅速且つ容易に設定することができるとともに、適切な値を設定することができる。
【００４２】
なお、本発明はこれまで説明した実施の形態に限定されるものではない。例えば、中間値の設定数は任意であり、中間値を多く設定することで精密な近似直線（近似曲線）を求めることができる。また、中間値を設定せずに上限値と下限値のみで関数を作成してもよい。さらに、かすれ判定基準値、位置ずれ判定値以外の判定基準値を設定してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明によれば、検査対象物のサイズに応じた判定基準値の設定作業を容易に行うことができ、基板にはんだペーストを介して電子部品を実装する電子部品実装分野において有用である。
【符号の説明】
【００４４】
２  基板
３  電子部品
１０  検査データ
１６  かすれ判定基準値
Ｐ  はんだ印刷部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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