(57)【要約】      （修正有）【課題】静電容量方式のタッチパネルを搭載した電子機器に関し、近接検出での誤検出を回避したものを提供する。【解決手段】近接検出処理において第一の電極或いは第二の電極で検出された第一或いは第二の静電容量測定値、或いは第一或いは第二の静電容量補正値を基に手持ち状態にあると判定された場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の第一の電極からなる第一の電極群と、前記第一の電極と上面視で交差する複数の第二の電極からなる第二の電極群と、前記第一の電極群及び前記第二の電極群の上面に配置されるカバーレンズとを備えた静電容量方式の透明タッチパネルと、
前記透明タッチパネルの下方に配置された表示装置と、
前記第一の電極群及び前記第二の電極群と接続される座標検出回路と、
前記座標検出回路から出力される座標信号と接触／近接信号が入力され前記表示装置の表示を変化させる制御回路を備え、
前記座標検出回路は、前記カバーレンズへの対象物の接触を検出する接触検出処理と前記カバーレンズへの非接触での対象物の近接を検出する近接検出処理を行い、さらに前記近接検出処理において、前記第一の電極群で検出された第一の静電容量測定値或いは第一の静電容量補正値、或いは前記第二の電極群で検出された第二の静電容量測定値或いは第二の静電容量補正値を基に手持ち状態にあると判定された場合に近接検出用キャリブレーション処理を実施する電子機器。
【請求項２】
前記手持ち状態にあると判定する条件として、前記第一の静電容量補正値のうち両端二本が第一の閾値を越え、かつ前記第一の静電容量補正値のうち中央二本が前記第一の閾値より低く、かつ前記第二の静電容量補正値のうち第二の閾値を越えた前記第二の電極の本数が前記第二の電極群の全体の本数の半分以上とする請求項１記載の電子機器。
【請求項３】
前記近接検出処理において前記第一の静電容量補正値或いは前記第二の静電容量補正値がいずれかの電極で負の値となっている場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施する請求項１記載の電子機器。
【請求項４】
前記手持ち状態の判定は少なくとも２秒以内の間隔で繰り返し行われる請求項１記載の電子機器。
【請求項５】
複数の第一の電極からなる第一の電極群と、前記第一の電極と上面視で交差する複数の第二の電極からなる第二の電極群と、前記第一の電極群及び前記第二の電極群の上面に配置されるカバーレンズとを備えた静電容量方式の透明タッチパネルと、
前記透明タッチパネルの下方に配置された表示装置と、
前記第一の電極群及び前記第二の電極群と接続される座標検出回路と、
前記座標検出回路から出力される座標信号と接触／近接信号が入力され前記表示装置の表示を変化させる制御回路を備え、
前記座標検出回路は、前記カバーレンズへの対象物の接触を検出する接触検出処理と前記カバーレンズへの非接触での対象物の近接を検出する近接検出処理を行い、さらに前記近接検出処理において前記第一の電極群で検出された第一の静電容量補正値が前記第一の電極のうち隣り合わない三本以上で第一の閾値を越え、または前記第二の電極群で検出された前記第二の静電容量補正値が前記第二の電極のうち隣り合わない三本以上で第二の閾値を越える場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施する電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、主に静電容量方式のタッチパネルを用いて操作を行う電子機器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話や音楽プレーヤやスマートフォン等の各種電子機器の高機能化や小型化が進むに伴い、多様な操作を行えるものが求められている。
【０００３】
このような従来の電子機器について、図１１及び図１２を用いて説明する。
【０００４】
なお、これらの図面は構成を判り易くするために、部分的に寸法を拡大して表している。
【０００５】
図１１は従来の入力装置２０の断面図、図１２は入力装置２０を用いた電子機器３０の分解斜視図である。
【０００６】
ここで、入力装置２０は、タッチパネル１と、表示装置２と、ダンパシート３と、回路基板４を備える。
【０００７】
タッチパネル１は、カバーレンズ６と第一の電極群７と第一の基板８と第二の電極群９と第二の基板１０と接続基板１１を備える。
【０００８】
ここで、第一の基板８の上面に略帯状で酸化インジウム錫等の光透過性の第一の電極群７が複数個並べて形成され、さらに第一の電極群７を覆って光透過性のカバーレンズ６が配置される。
【０００９】
また、光透過性の第二の基板１０の上面に、略帯状で酸化インジウム錫等の光透過性の第二の電極群９が複数個並べて形成されており、ここで第一の電極群７と第二の電極群９は直交して配置される。
【００１０】
また、接続基板１１はフレキシブルプリント配線板等の可撓性を有する基板で第一の基板８と第二の基板１０の間に挟まれて配置されており、第一の電極群７及び第二の電極群９を構成する複数の電極に一端が電気的に接続される。
【００１１】
さらに、表示装置２は上面を表示面とする液晶ディスプレイ等で、ダンパシート３は角孔３Ａを有するゴム等を材料としたシートである。
【００１２】
また、回路基板４は、配線基板１６と、配線基板１６の上面に配置された制御回路１７と、検出回路１８と、駆動回路１９を有する。
【００１３】
なお、制御回路１７は、マイコン等の半導体素子から形成され、検出回路１８や駆動回路１９は抵抗やダイオードなどの電子部品から構成される。そして、配線基板１６には、接続基板１１の一端が接続されると共に配線基板１６に形成された配線を介して、検出回路１８や駆動回路１９が第一の電極群７と第二の電極群９に接続される。また、検出回路１８や駆動回路１９は配線基板１６に形成された配線を介して、制御回路１７に接続される。
【００１４】
図１２において、電子機器３０は、入力装置２０と、上筐体２１と下筐体２２とパネルシート２３から構成される。
【００１５】
ここで略箱型で絶縁樹脂製の上筐体２１の上面にフィルム状のパネルシート２３が貼付されると共に、この上筐体２１と下筐体２２内に入力装置２０が収納される。
【００１６】
以上の構成において、表示装置２に、例えば複数のアイコン等のメニュー（図示せず）が表示された状態で、所望のアイコン上のカバーレンズ６上面に操作者が指を接触すると、駆動回路１９に接続された第一の電極群７や第二の電極群９から放出された電界の一部が指で吸収される。
【００１７】
これにより電界が変化し、この変化が第一の電極群７や第二の電極群９に接続された検出回路１８で検出され、指の接触位置を制御回路１７が検出し、所定のアイコン等が選択されて、表示装置２には選択したアイコンに対応した各種アプリケーションが表示される。
【００１８】
なお、電子機器３０は使用する環境（温度や湿度等）の変化により電気的特性が変化すると接触検出用のキャリブレーション処理を行い、接触位置を正しく検出できるように補正を行う。
【００１９】
また、操作者が指をカバーレンズ６上面に近づけるだけで検出する近接検出を行う場合には、駆動回路１９が複数の第一の電極群７或いは第二の電極群９から電界を放出することにより、操作者の指の近接による電界の変化を検出回路１８で検出することができる。
【００２０】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１、２が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２１】
【特許文献１】特開２００７−２０８６８２号公報
【特許文献２】特開２０１１−２５３３９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２２】
しかしながら、上記従来の電子機器においては、近接検出はタッチ検出に比べ電子機器の側面にも電界が強く発散しているため、タッチパネル上に指を近づけていないのに、電子機器を片手で持つ手持ち状態では電子機器を持った指を検出してしまうという誤検出が生じることがあった。
【００２３】
本発明は、このような従来の課題を解決するものであり、近接検出での誤検出を回避した入力装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記目的を達成するために本発明の入力装置は、近接検出処理において第一の電極或いは第二の電極で検出された静電容量測定値或いは静電容量補正値を基に手持ち状態にあると判定された場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施する。
【発明の効果】
【００２５】
以上のように本発明によれば、近接検出処理において第一の電極或いは第二の電極で検出された静電容量測定値或いは静電容量補正値を基に手持ち状態にあると判定された場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施するため近接検出での誤検出を回避した入力装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施の形態による電子機器の断面図
【図２】同電子機器の分解斜視図
【図３】座標検出回路の接続を示すシステム構成図
【図４】判定部が行う座標検出プログラムの内容を示すフローチャート
【図５】第一の電極が送信電極となる際の第二の静電容量測定値を説明する図
【図６】第二の電極が送信電極となる際の第一の静電容量測定値を説明する図
【図７】第一の電極と第二の電極の静電容量による近接位置の推定を説明する図
【図８】電子機器の手持ち状態における斜視図
【図９】手持ち状態での第一の静電容量補正値と第二の静電容量補正値を示す図
【図１０】外来ノイズを受けている状態での第一の静電容量補正値と第二の静電容量補正値を示す図
【図１１】従来の入力装置の断面図
【図１２】従来の入力装置を用いた電子機器の分解斜視図
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下、本発明の実施の形態について、図１〜図１０を用いて説明する。
【００２８】
なお、これらの図面は構成を判り易くするために、部分的に寸法を拡大して表している。
【００２９】
（実施の形態）
図１は本発明の一実施の形態による電子機器１００の断面図、図２は同電子機器１００の分解斜視図であり、同図において、電子機器１００は、タッチパネル３１と、表示装置３２と、回路基板３３と、カバーレンズ３４と、筐体３５を備える。
【００３０】
タッチパネル３１は、第一の電極群４１と第一の基板４２と第二の電極群４３と第二の基板４４と接続基板４５を備える。
【００３１】
第一の基板４２はガラスや光透過性樹脂などを材料とするシート、第二の基板４４は同じくガラスや光透過性樹脂などを材料とするシートである。
【００３２】
第一の電極群４１は複数の帯状の第一の電極４１０１〜４１１０から構成され、第一の電極４１０１〜４１１０は光透過性の酸化インジウム錫や酸化錫等を材料とする。第一の電極群４１は第一の基板４２の上面にスパッタ法等で構成される。
【００３３】
第二の電極群４３は複数の帯状の第二の電極４３０１〜４３１８から構成され、第二の電極４３０１〜４３１８は光透過性の酸化インジウム錫や酸化錫等を材料とする。第二の電極群４３は第二の基板４４の上面にスパッタ法等で構成される。なお、第二の電極４３０１〜４３１８は上面視で第一の電極４１０１〜４１１０と交差するように配置される。
【００３４】
接続基板４５はフレキシブルプリント配線板等の可撓性を有する基板である。この接続基板４５は、第一の基板４２と第二の基板４４の間に配置され、第一の基板４２と第二の基板４４に対し異方性導電ペースト等により貼り付けられる。接続基板４５の内部には複数の配線が配置され、その一端は第一の電極４１０１〜４１１０及び第二の電極４３０１〜４３１８に接続され、他端は回路基板３３に接続される。
【００３５】
なお、第一の基板４２と第二の基板４４の間は、接続基板４５が配置された部分を除き、アクリル性接着剤等で接着される。
【００３６】
表示装置３２はタッチパネル３１に表示面が面するように配置された液晶ディスプレイや有機ＥＬ（ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイ等の表示面にアイコン等が表示されるディスプレイである。
【００３７】
回路基板３３は、上下面に配線が配置された配線基板５１と、配線基板５１に配置された座標検出回路５２と表示制御回路５３を備える。
【００３８】
座標検出回路５２は半導体により構成された回路で、内部に保存されたプログラム或いは論理回路などで構成されたハードウェアにより所定の処理を行う。
【００３９】
ここで、座標検出回路５２は第一の電極群４１或いは第二の電極群４３から駆動信号ＳＧ１を出力することで、カバーレンズ３４に対する指等の対象物の接触を検出する接触検出処理と、カバーレンズ３４の上面へ対象物が近づいていることを検出する近接検出処理を行う。また、座標検出回路５２は、判定した対象物の座標を示す座標信号ＳＧ２と接触／近接の対象物の状態の差異を示す接触／近接信号ＳＧ３を表示制御回路５３に送る。
【００４０】
この座標検出回路５２の内部構造について以下、詳細に説明する。
【００４１】
図３は座標検出回路５２の接続を示すシステム構成図である。
【００４２】
座標検出回路５２は、駆動部６１と、判定部６２と、記憶部６３を備える。
【００４３】
駆動部６１は、第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８から電界を送信する回路である。
【００４４】
駆動部６１は、回路基板３３に接続された接続基板４５を介して第一の電極４１０１〜４１１０及び第二の電極４３０１〜４３１８に接続される。そして、第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８に駆動信号を送り、第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８のうち一本或いは複数本を駆動させる。
【００４５】
判定部６２は接触検出処理或いは近接検出処理において、カバーレンズ３４への対象物の接触或いは近接を検出する回路で、半導体の演算回路等で構成される。
【００４６】
判定部６２も回路基板３３に接続された接続基板４５を介して第一の電極４１０１〜４１１０及び第二の電極４３０１〜４３１８に接続される。そして、第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８から静電容量を検出する。なお、駆動部６１は判定部６２が制御する。
【００４７】
ここで、第二の電極４３０１〜４３１８のいずれかが送信電極として駆動している場合には、第一の電極４１０１〜４１１０は受信電極として静電容量を検出し、この取得値が第一の静電容量測定値８１となる。
【００４８】
一方、第一の電極４１０１〜４１１０のいずれかが送信電極として駆動している場合には、第二の電極４３０１〜４３１８は受信電極として静電容量を検出し、この取得値が第二の静電容量測定値８２となる。
【００４９】
記憶部６３は、ＲＡＭ（Ｒｅａｄ  Ａｖａｉｌａｂｌｅ  Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を用いたメモリ回路で、判定部６２で実行される座標検出プログラム７１や近接検出処理で用いられる第一の基準データ７２や第二の基準データ７３が保存される。
【００５０】
なお、第一の基準データ７２や第二の基準データ７３は、座標検出プログラム７１を判定部６２が実行する際に、判定部６２が座標検出プログラム７１内で近接検出用キャリブレーション処理を行うと書き換えられる。
【００５１】
そして、判定部６２は座標検出プログラム７１を実行し、第一の静電容量測定値８１と、第二の静電容量測定値８２と、第一の基準データ７２と、第二の基準データ７３を基に第一の静電容量補正値９１と第二の静電容量補正値９２を作成し、それらを基に座標信号ＳＧ２と接触／近接信号ＳＧ３を生成する。
【００５２】
表示制御回路５３は座標信号ＳＧ２と接触／近接信号ＳＧ３が入力され、座標信号ＳＧ２と接触／近接信号ＳＧ３に対応して表示装置３２の表示を切り替える等、電子機器１００の動作を制御する。
【００５３】
そして、タッチパネル３１の上面に光透過性でガラス或いは樹脂等を材料とするカバーレンズ３４が固定され、タッチパネル３１の下方に表示装置３２が配置される。また、表示装置３２の下方に回路基板３３が配置される。筐体３５は上面開口の略方形箱状で、タッチパネル３１と、表示装置３２と、回路基板３３が内部に配置され、筐体３５の上面をカバーレンズ３４が覆っている。
【００５４】
（接触検出処理および近接検出処理）
図４は、判定部６２が行う座標検出プログラム７１の内容を示すフローチャートである。
【００５５】
接触検出処理と、近接検出処理について、以下説明する。
【００５６】
接触検出処理は、接触検出用センサスキャン（Ｓ１）、接触判断（Ｓ２）、信号生成（Ｓ３）で構成される。
【００５７】
接触検出用センサスキャン（Ｓ１）において、判定部６２は駆動部６１を制御し、第二の電極４３０１〜４３１８を一本ずつ切り替えながら送信電極として機能させる。第一の電極４１０１〜４１１０は受信電極として機能し、第二の電極４３０１〜４３１８からの送信が切り替えられる毎に第一の電極４１０１〜４１１０から判定部６２が第一の静電容量測定値８１を取得する。
【００５８】
例えば、第二の電極４３０１から送信している間に第一の電極４１０１〜４１１０から第一の静電容量測定値８１を取得し、次に第二の電極４３０２へ送信が切り替えられ、第二の電極４３０２から送信している間に第一の電極４１０１〜４１１０から第一の静電容量測定値８１を取得する。これを第二の電極４３１８が送信するまで繰り返す。
【００５９】
次に接触判断（Ｓ２）として、第一の静電容量測定値８１は取得され次第、接触検出の為の所定の補正を行い、第一の静電容量補正値９１として、所定の閾値と比較される。第一の静電容量補正値９１において、いずれかの第一の電極４１０１〜４１１０で所定の閾値を越えていれば、「接触有り」と判定する。閾値を越えた第一の電極と、その時に送信電極となっていた第二の電極から接触したＸ座標及びＹ座標が判定される。
【００６０】
そして、信号生成（Ｓ３）では、カバーレンズ３４に接触したＸ座標及びＹ座標に対応した座標信号ＳＧ２と、接触を示す接触／近接信号ＳＧ３が生成される。
【００６１】
近接検出処理は、近接検出用センサスキャン（Ｓ５）、近接判断（Ｓ１０）、信号生成（Ｓ３）で構成される。
【００６２】
例えば操作者が電子機器１００のカバーレンズ３４の上方から、第一の電極４１０５と第二の電極４３０９の交点上に対象物を近づけているものとする。
【００６３】
図５は第一の電極が送信電極となる際の第二の静電容量測定値８２Ａを説明する図、図６は第二の電極が送信電極となる際の第一の静電容量測定値８１Ａを説明する図、図７は第一の電極と第二の電極の静電容量による近接位置の推定を説明する図である。
【００６４】
近接検出用センサスキャン（Ｓ５）では、まず図５に示すように第一の電極４１０１〜４１１０が送信電極となる。第一の電極４１０１〜４１１０は複数の第一の電極から構成されるブロックＴＸ１１〜ＴＸ１３に分割され、それぞれのブロックＴＸ１１、ＴＸ１２、ＴＸ１３内では、第一の電極４１０１〜４１０３、第一の電極４１０４〜４１０７、第一の電極４１０８〜４１１０は同時に送信波形として例えば連続したパルス波が印加される。ここでブロックＴＸ１１〜ＴＸ１３は送信電極として高速に切り替えられており、このときに受信電極として機能する第二の電極４３０１〜４３１８から第二の静電容量測定値８２Ａを取得する。
【００６５】
ここで、第二の静電容量測定値８２ＡはＹ座標Ｙ１〜Ｙ１８毎に静電容量が測定される。Ｙ座標Ｙ１〜Ｙ１８は第二の電極４３０１〜４３１８にそれぞれ対応しており、第二の静電容量測定値８２Ａでは、対象物が近づく第二の電極４３０９に対応するＹ座標Ｙ９で静電容量の値が大きくなっている。
【００６６】
次に図６に示すように第二の電極４３０１〜４３１８を送信電極として電界を送信する。第二の電極４３０１〜４３１８は複数の第一の電極から構成されるブロックＴＸ１４〜ＴＸ１６に分割され、それぞれのブロックＴＸ１４、ＴＸ１５、ＴＸ１６内では、第二の電極４３０１〜４３０６、第二の電極４３０７〜４３１２、第二の電極４３１３〜４３１８は同時に送信波形として例えば連続したパルス波が印加される。ここでブロックＴＸ１４〜ＴＸ１６は送信電極として高速に切り替えられており、このときに受信電極として機能する第一の電極４１０１〜４１１０の出力を第一の静電容量測定値８１Ａとなる。
【００６７】
ここで、第一の静電容量測定値８１ＡはＸ座標Ｘ１〜Ｘ１０毎に静電容量が測定される。Ｘ座標Ｘ１〜Ｘ１０は第二の電極４１０１〜４１１０にそれぞれ対応しており、第一の静電容量測定値８１Ａでは、対象物が近づく第一の電極４１０５に対応するＸ座標Ｘ５で静電容量の値が大きくなっている。
【００６８】
次に近接判断（Ｓ１０）では、第一の静電容量測定値８１Ａから第一の基準データ７２を減算し、第一の静電容量補正値９１Ａを算出する。第二の静電容量測定値８２Ａから第二の基準データ７３を減算し、第二の静電容量補正値９２Ａを算出する。
【００６９】
第一の基準データ７２及び第二の基準データ７３は対象物が近接していない場合での、第一の電極４１０１〜４１１０及び第二の電極４３０１〜４３１８の静電容量測定値となる。図７では、第一の基準データ７２及び第二の基準データ７３は、いずれの電極においても静電容量がゼロの例を示している。
【００７０】
そして、第一の静電容量補正値９１Ａに対して第一の閾値ＴＸ１と比較し、第二の静電容量補正値９２Ａに対して第二の閾値ＴＹ１と比較し、第一の閾値ＴＸ１或いは第二の閾値ＴＹ１を越えている位置に対象物が近接していると判定する。例えば同図では、第一の電極４１０５（Ｘ座標Ｘ５）と第二の電極４３０９（Ｙ座標Ｙ９）が上面視で重なる位置に対象物が近接していると判定する。
【００７１】
信号生成（Ｓ３）では、対象物が近接したＸ座標Ｘ５及びＹ座標Ｙ９に対応した座標信号ＳＧ２と、近接を示す接触／近接信号ＳＧ３が生成される。
【００７２】
このように電子機器１００では接触検出処理及び近接検出処理を行うが、近接検出処理での誤判定を防ぐ為に、電子機器１００の手持ち状態や外部ノイズ環境等の所定の状態を検出して第一の基準データ７２及び第二の基準データ７３を書き換える近接検出用キャリブレーション処理が行われる。
【００７３】
これらの近接検出用キャリブレーション処理を行う所定の状態に関し、以下説明する。
【００７４】
（手持ち状態における近接検出用キャリブレーション処理）
図８は電子機器１００の手持ち状態における斜視図である。同図に示すようにスマートフォンや携帯電話などの電子機器１００を操作する際に、一方の手で保持し、他方の手の指で操作することが多い。同図に示す状態では、電子機器１００の右側面に四本、左側面に一本の指が接し、片手で電子機器１００を保持している。
【００７５】
接触検出処理では、対象物の検出範囲がカバーレンズ３４の上面までで良いので、第一の電極群４１或いは第二の電極群４３からの電界の放射も弱くて良い。これに対し、対象物の近接を検出する近接検出処理では、カバーレンズ３４の上面を越えた対象物の検出範囲が必要となり、第一の電極群４１或いは第二の電極群４３からの電界の放射も増大する。これにより、電子機器１００の左右側面の指も検出し、誤検出の原因となる。
【００７６】
図４のフローチャートにおいて、手持ち状態で非操作であれば、接触判定（Ｓ２）で「接触無し」と判定し、近接検出用センサスキャン（Ｓ５）へ進む。
【００７７】
近接検出用センサスキャン（Ｓ５）で、Ｘ軸方向の静電容量分布にあたる第一の静電容量測定値８１と、Ｙ軸方向の静電容量分布にあたる第二の静電容量測定値８２が取得される。
【００７８】
判定部６２では、第一の静電容量測定値８１から第一の基準データ７２を減算し、第一の静電容量補正値９１を取得し、第二の静電容量測定値８２から第二の基準データ７３を減算し、第二の静電容量補正値９２を取得する。
【００７９】
そして、異常判定（Ｓ６）されなければ、手持ち判定（Ｓ８）を行う。
【００８０】
図９は手持ち状態での第一の静電容量補正値９１Ｂと第二の静電容量補正値９２Ｂを示す図である。
【００８１】
手持ち判定（Ｓ８）では、第一の静電容量補正値９１Ｂと第二の静電容量補正値９２Ｂが所定の手持ち条件に合致していないか判定する。手持ち条件は、例えば、下記の（１）〜（３）の全ての条件を満たしたときに手持ち状態と判定する。
【００８２】
（１）第一の静電容量補正値９１のうち両端二本が第一の閾値ＴＸ２を越える。
【００８３】
（２）第一の静電容量補正値９１のうち中央二本が第一の閾値ＴＸ２より低い。
【００８４】
（３）第二の静電容量補正値９２のうち第二の閾値ＴＹ２を越えた第二の電極が、第二の電極群４３全体の半分以上となる。
【００８５】
図９の第一の静電容量補正値９１Ｂと第二の静電容量補正値９２Ｂは、上記の条件を満たすので、手持ち状態と判定する。
【００８６】
そして、手持ち状態と判定する（Ｓ９）と、近接検出用キャリブレーション処理（Ｓ１１）に進み、第一の基準データ７２或いは第二の基準データ７３を減算する前の第一の静電容量測定値８１と第二の静電容量測定値８２を第一の基準データ７２と第二の基準データ７３として更新する。
【００８７】
そして開始に戻り、手持ち状態のまま操作者がカバーレンズ３４に指を近接させると、近接位置が検出される（Ｓ１０）。
【００８８】
なお、手持ち判定は少なくとも２秒以内の間隔で繰り返し行う。望ましくは１０ｍｓｅｃ〜５０ｍｓｅｃ以内の間隔で繰り返し行う。これにより、電子機器１００の操作者が入力する際に速やかに近接検出処理を行うことが可能となる。
【００８９】
（手離し状態での近接検出用キャリブレーション処理）
操作者が操作を終え、電子機器１００を持った手を離すと、第一の電極４１０１〜４１１０及び第二の電極４３０１〜４３１８で検出される静電容量が変化する。
【００９０】
このとき、近接検出用センサスキャン（Ｓ５）で、手持ち状態で更新された第一の基準データ７２及び第二の基準データ７３を用いて第一の静電容量補正値９１と第二の静電容量補正値９２を取得する。
【００９１】
次に、第一の静電容量補正値９１と第二の静電容量補正値９２が所定の異常条件に合致していないか判定する（Ｓ６）。
【００９２】
所定の異常条件とは例えば、下記の条件のいずれかを満たすことである。
【００９３】
（１）第一の静電容量補正値が、いずれかの第一の電極で負の値になる。
【００９４】
（２）第二の静電容量補正値が、いずれかの第二の電極で負の値になる。
【００９５】
少なくとも手持ち状態で更新された第一の基準データ７２では第一の電極４１０１〜４１１０のうち両端二本が比較的大きな値となっており、手離し状態になると当該電極での第一の静電容量取得値は小さな値となる。したがって、第一の静電容量補正値はＸ座標Ｘ１、Ｘ２、Ｘ９、Ｘ１０に対応する第一の電極４１０１、４１０２、４１０９、４１１０で負の値となっているので、異常条件に合致する。異常判定（Ｓ７）で異常検出されると近接検出用キャリブレーション処理（Ｓ１１）が行われる。
【００９６】
近接検出用キャリブレーション処理は、上述したように、第一の静電容量測定値８１と第二の静電容量測定値８２を第一の基準データ７２、第二の基準データ７３として更新する。
【００９７】
（外乱ノイズ判定による近接検出用キャリブレーション処理）
電子機器１００は、第二の電極４３０１〜４３１８が受信電極と送信電極を兼ねる為、第二の電極４３０１〜４３１８がグランド板としての機能を発揮することを妨げられ、表示装置３２からの電磁ノイズを受けやすい構造になっている。
【００９８】
ここで、表示装置３２からの電磁ノイズを受けているか否かは、第一の静電容量補正値９１Ｃと第二の静電容量補正値９２Ｃが所定の異常条件に合致していないかで判定する（Ｓ６）。
【００９９】
図１０は外乱ノイズを受けている状態での第一の静電容量補正値９１Ｃと第二の静電容量補正値９２Ｃを示す図である。
【０１００】
例えば、下記の（１）、（２）の両条件、または（３）、（４）の両条件、のいずれかを満たすとき、異常条件に合致していると判定する。
【０１０１】
（１）第二の静電容量補正値９２が四本以上の第二の電極で第二の閾値ＴＹ３を越えており、第二の閾値ＴＹ３を越えていない第二の電極で第二の静電容量補正値９２はゼロではない。
【０１０２】
（２）第二の閾値ＴＹ３を越えた第二の静電容量補正値９２に対応する電極は連続していない。
【０１０３】
（３）第一の静電容量補正値９１が、三本以上の第一の電極で第一の閾値ＴＸ３を越えており、第一の閾値ＴＸ３を越えていない第一の静電容量補正値９１はゼロではない。
【０１０４】
（４）第一の閾値ＴＸ３を越えた第一の静電容量補正値９１に対応する電極は連続していない。
【０１０５】
図１０では、第二の静電容量補正値９２Ｃが（１）及び（２）の条件を満たすので、異常条件に合致する。「異常有り」と判定（Ｓ７）されると近接検出用キャリブレーション処理（Ｓ１１）が行われる。
【０１０６】
近接検出用キャリブレーション処理は、上述したように、第一の静電容量測定値８１と第二の静電容量測定値８２を第一の基準データ７２、第二の基準データ７３として更新する。
【０１０７】
なお、外乱ノイズによる異常を判定する条件としては、少なくとも近接検出処理において第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８で検出された第一の静電容量補正値９１Ｃ或いは第二の静電容量補正値９２Ｃが第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８で隣り合わない三本以上が閾値ＴＸ３、ＴＹ３を越えていれば良い。
【０１０８】
（グランドレベル変化判定による近接検出用キャリブレーション処理）
電子機器１００は、第二の電極４３０１〜４３１８が受信電極と送信電極を兼ねる為、第二の電極４３０１〜４３１８と表示装置３２の間で接続基板が揺動した場合に静電容量を検出するグランドレベルが変動しやすい。
【０１０９】
ここで、グランドレベル変化が生じているか否かは、第一の静電容量補正値９１と第二の静電容量補正値９２が所定の異常条件に合致していないかで判定（Ｓ６）する。
【０１１０】
所定の異常条件とは例えば、下記の条件のいずれかを満たすことである。
【０１１１】
（１）第一の静電容量補正値９１が、いずれかの第一の電極で負の値になる。
【０１１２】
（２）第二の静電容量補正値９２が、いずれかの第二の電極で負の値になる。
【０１１３】
「異常有り」と判定する（Ｓ７）と、第一の静電容量測定値８１と第二の静電容量測定値８２を第一の基準データ７２、第二の基準データ７３として更新する近接検出用キャリブレーション処理（Ｓ１１）を行う。
【０１１４】
このように、手持ち状態、手離し状態、外来ノイズ等に対応し、近接検出用キャリブレーション処理を行う為、対象物の誤検出を回避しうる。
【０１１５】
以上の構成において、表示装置３２に、例えば複数のアイコン等のメニュー（図示せず）が表示された状態で、所望のアイコン上のカバーレンズ３４の上方に操作者が指を近接させるか或いは上面に操作者が指を接触すると、座標検出回路５２により指が検出され、座標検出回路５２から座標信号ＳＧ２や接触／近接信号ＳＧ３が入力された表示制御回路５３が表示装置３２の表示を変化させる。
【０１１６】
なお、上述の説明では、第一の電極４１０１〜４１１０の延伸方向に沿った方向となるＹ軸側から電子機器１００を手持ちした場合について説明したが、手持ち判定の条件の第一の静電容量補正値９１Ｂと第二の静電容量補正値９２Ｂを入れ替えれば、Ｘ軸側から電子機器１００を手持ちした場合についても検出可能である。
【０１１７】
また、手持ち状態、手離し状態、外乱ノイズ、グランドレベル変化を判定する条件は、電子機器ごとに変化するものであり、判定条件は上述のそれぞれの判定条件に限られない。
【０１１８】
また、座標検出回路５２は配線基板５１に配置されるものとして説明したが、座標検出回路５２は接続基板４５に配置され、タッチパネル３１と一体として構成されていても良い。
【０１１９】
また、第一の基準データ７２を用いて第一の閾値ＴＸ１〜３を第一の電極４１０１〜４１１０毎に異なる閾値で手持ち判定或いは異常判定するようにしても良い。同様に、第二の基準データ７３を用いて第二の閾値ＴＹ１〜３を第二の電極４３０１〜４１１８毎に異なる閾値で手持ち判定或いは異常判定するようにしても良い。このようにすれば、第一の静電容量補正値９１および第二の静電容量補正値９２は算出しなくても良い。
【０１２０】
このように本実施の形態によれば、近接検出処理において第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８で検出された第一の静電容量測定値８１、第二の静電容量測定値８２或いは第一の静電容量補正値９１、第二の静電容量補正値９２を基に手持ち状態にあると判定された場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施するため近接検出での誤検出を回避した電子機器を提供することができる。
【０１２１】
なお、手持ち状態にあると判定する条件として、第一の静電容量補正値９１のうち両端二本が第一の閾値ＴＸ１を越え、かつ第一の静電容量補正値９１のうち中央二本が第一の閾値ＴＸ１より低く、かつ第二の静電容量補正値９２のうち第二の閾値ＴＹ１を越えた第二の電極が第二の電極４３０１〜４３１８全体の半分以上としているため、精度良く手持ち状態を判定しうる。
【０１２２】
また、近接検出処理において第一の電極４１０１〜４１１０で検出された第一の静電容量補正値９１或いは第二の電極４３０１〜４３１８で検出された第二の静電容量補正値９２がいずれかの電極で負の値となっている場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施するため手持ち状態から手を離した場合にも誤検出することを回避できる。
【０１２３】
また、手持ち状態の判定は少なくとも２秒以内の間隔で繰り返し行っている為、電子機器１００に対し操作者が入力する際に速やかに近接検出処理を行うことが可能となる。
【０１２４】
さらに、近接検出処理において第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８で検出された第一の静電容量補正値９１、第二の静電容量補正値９２が第一の電極４１０１〜４１１０或いは第二の電極４３０１〜４３１８で隣り合わない三本以上が閾値を越えた場合に、近接検出用キャリブレーション処理を実施するため外乱ノイズを受けた場合にも誤検出することを回避できる。
【産業上の利用可能性】
【０１２５】
本発明による電子機器は、近接検出での誤検出を回避したものを実現することができるという有利な効果を有する。
【符号の説明】
【０１２６】
３１  タッチパネル
３２  表示装置
３３  回路基板
３４  カバーレンズ
３５  筐体
４１  第一の電極群
４１０１〜４１１０  第一の電極
４２  第一の基板
４３  第二の電極群
４３０１〜４３１８  第二の電極
４４  第二の基板
４５  接続基板
５１  配線基板
５２  座標検出回路
５３  表示制御回路
６１  駆動部
６２  判定部
６３  記憶部
７１  座標検出プログラム
７２  第一の基準データ
７３  第二の基準データ
８１Ａ  第一の静電容量測定値
８２Ａ  第二の静電容量測定値
９１、９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ  第一の静電容量補正値
９２、９２Ａ、９２Ｂ、９２Ｃ  第二の静電容量補正値
１００  電子機器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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