(57)【要約】【課題】テスト用の入力フレームパターンと内部レジスタ値との組合せからなる検査項目が多数存在する場合でも、効率よく検証を行う。【解決手段】検証フレームワーク１５Ａが、検証シナリオ１４Ａに基づいて、検証項目ごとに、検証用のフレームパターンを含む入力フレーム情報１４Ｂと検証用の各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報１４Ｃを生成し、フレームパターン生成部１５Ｂが、入力フレーム情報１４Ｂから、検査時に通信用ＬＳＩ３０へ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報１４Ｄを生成し、レジスタ値リスト生成部１５Ｃが、書込レジスタ情報１４Ｃから、検査時に通信用ＬＳＩ３０の各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リスト１４Ｅを生成する。この際、検証フレームワーク１５Ａが、フレームパターンと各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象となる通信用ＬＳＩにフレーム入出力装置を介してテスト用の入力フレームパターンを入力するフレーム制御部と、前記通信用ＬＳＩの各内部レジスタにテスト用の書込レジスタ値を設定するレジスタ制御部とを有し、前記入力フレームパターンの入力および前記書込レジスタ値の設定に応じた前記通信用ＬＳＩでのフレーム処理後、当該通信用ＬＳＩから前記フレーム入出力装置を介して取得した照合用の出力フレームパターン、または／および、当該フレーム処理後に当該通信用ＬＳＩから取得した照合用の読出レジスタ値を、それぞれの期待値と比較することにより、通信用ＬＳＩの機能を検証する通信用ＬＳＩ検証装置であって、
前記通信用ＬＳＩに対して実行する検証項目ごとに、当該検証の内容が記述された検証シナリオを記憶する記憶部と、
前記検証シナリオに基づいて、前記検証項目ごとに、当該検証で用いるフレームパターンを含む入力フレーム情報を生成するとともに、当該検証で用いる各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報を生成する検証フレームワークと、
前記入力フレーム情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩへ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報を生成するフレームパターン生成部と、
前記書込レジスタ情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩの各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リストを生成するレジスタ値リスト生成部と
を備え、
前記検証フレームワークは、前記フレームパターンと前記各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成し、
前記フレーム制御部は、前記フレームパターン生成部で生成された前記入力フレームパターン情報に含まれる入力フレームパターンを、前記フレーム入出力装置を介して前記通信用ＬＳＩに入力し、
前記レジスタ制御部は、前記レジスタ値リスト生成部で生成された前記書込レジスタ値リストに含まれる各書込レジスタ値を、前記通信用ＬＳＩの対応する内部レジスタにそれぞれ書き込む
ことを特徴とする通信用ＬＳＩ検証装置。
【請求項２】
請求項１に記載の通信用ＬＳＩ検証装置において、
前記検証フレームワークは、前記書込レジスタ値をランダムに生成する際、当該検証で用いる前記フレームパターンのうちから、当該書込レジスタ値と比較する部分フレームパターンを抽出し、当該部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置のランダムなビット数についてビット値を反転させることにより、当該書込レジスタ値を生成することを特徴とする通信用ＬＳＩ検証装置。
【請求項３】
検査対象となる通信用ＬＳＩにフレーム入出力装置を介してテスト用の入力フレームパターンを入力するフレーム制御部と、前記通信用ＬＳＩの各内部レジスタにテスト用の書込レジスタ値を設定するレジスタ制御部とを有し、前記入力フレームパターンの入力および前記書込レジスタ値の設定に応じた前記通信用ＬＳＩでのフレーム処理後、当該通信用ＬＳＩから前記フレーム入出力装置を介して取得した照合用の出力フレームパターン、または／および、当該フレーム処理後に当該通信用ＬＳＩから取得した照合用の読出レジスタ値を、それぞれの期待値と比較することにより、通信用ＬＳＩの機能を検証する通信用ＬＳＩ検証装置で用いられる通信用ＬＳＩ検証方法であって、
記憶部が、前記通信用ＬＳＩに対して実行する検証項目ごとに、当該検証の内容が記述された検証シナリオを記憶する記憶ステップと、
検証フレームワークが、前記検証シナリオに基づいて、前記検証項目ごとに、当該検証で用いるフレームパターンを含む入力フレーム情報を生成するとともに、当該検証で用いる各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報を生成する検証フレームワークステップと、
フレームパターン生成部が、前記入力フレーム情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩへ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報を生成するフレームパターン生成ステップと、
レジスタ値リスト生成部が、前記書込レジスタ情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩの各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リストを生成するレジスタ値リスト生成ステップと、
前記フレーム制御部が、前記フレームパターン生成ステップで生成された前記入力フレームパターン情報に含まれる入力フレームパターンを、前記フレーム入出力装置を介して前記通信用ＬＳＩに入力するフレーム制御ステップと、
前記レジスタ制御部が、前記レジスタ値リスト生成ステップで生成された前記書込レジスタ値リストに含まれる各書込レジスタ値を、前記通信用ＬＳＩの対応する内部レジスタにそれぞれ書き込むレジスタ制御ステップと
を備え、
前記検証フレームワークステップは、前記フレームパターンと前記各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成する
ことを特徴とする通信用ＬＳＩ検証方法。
【請求項４】
請求項３に記載の通信用ＬＳＩ検証方法において、
前記検証フレームワークステップは、前記書込レジスタ値をランダムに生成する際、当該検証で用いる前記フレームパターンのうちから、当該書込レジスタ値と比較する部分フレームパターンを抽出し、当該部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置のランダムなビット数についてビット値を反転させることにより、当該書込レジスタ値を生成することを特徴とする通信用ＬＳＩ検証方法。
【請求項５】
コンピュータを、請求項１または請求項２に記載の通信用ＬＳＩ検証装置を構成する各部として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＳＩ（Large Scale Integration）検証技術に関し、特にフレームの送受信に用いる通信用ＬＳＩの機能を検証する通信用ＬＳＩ検証技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
フレームの送受信に用いる通信用ＬＳＩの実機検証手法として、次のような手法が提案されている（例えば、特許文献１など参照）。
まず、予め策定した検証項目に従って、ＬＳＩ内部のレジスタ値やテスト用フレームパターンのパラメータ値や入力条件を設定し、所定数のテスト用フレームパターンをＬＳＩに導通した後、ＬＳＩ内部のカウンタ値やＬＳＩが出力したフレームパターンを取得する。次に、ＬＳＩの内部レジスタに設定した値およびテスト用フレームパターンを機能モデルへ設定して、カウンタ値およびフレームパターンの期待値を算出する。そして、ＬＳＩから取得したデータと機能モデルが算出した期待値とを照合することで、検証結果を判定する。
【０００３】
このような検証手法では、入力するフレームのサイズやフレームの入力間隔などのフレームの入力条件が特定の値である場合や、また、ＬＳＩ内部のレジスタ値が特定の値である場合など、極めて稀な条件でのみ発生する不具合を検出するために、ランダムに生成した値を検証対象の各種レジスタに設定するランダム検証が用いられる。また、複数の機能の処理結果を反映して入力フレームの処理内容を判定する場合など、複数の機能を組合せて動作した場合に発生する不具合を検出するため、組合せ検証が用いられる。
これにより、統計情報に基づき、一度入力したパターンを再度入力しないような検証手順とすることで、網羅性を改善しており、ランダム検証に費やす時間が短縮される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−９２３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
通信用ＬＳＩには、ＬＳＩの内部レジスタに設定したレジスタ値と入力するテスト用の入力フレームパターンを比較して処理内容を決定する機能を有しているものがある。このため、このような機能を検証するには、入力するテスト用の入力フレームパターンとレジスタ値とを関連付けた多数の組合せについて、網羅的に検証をする必要がある。
しかしながら、前述した従来技術によれば、検証項目毎に検証に必要な設定パラメータを手作業で設定するものとなっているため、ＬＳＩの多機能化に伴い、検証すべき項目数が増加した場合、これらすべての検証項目毎に各種設定値を手作業で設定する必要があり、検証作業が繁雑となり、１検証項目あたりに費やす時間が増加するという問題点があった。
【０００６】
本発明はこのような課題を解決するためのものであり、テスト用の入力フレームパターンと内部レジスタ値との組合せからなる検査項目が多数存在する場合でも、効率よく検証を行うことができる通信用ＬＳＩ検証技術を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このような目的を達成するために、本発明にかかる通信用ＬＳＩ検証装置は、検査対象となる通信用ＬＳＩにフレーム入出力装置を介してテスト用の入力フレームパターンを入力するフレーム制御部と、前記通信用ＬＳＩの各内部レジスタにテスト用の書込レジスタ値を設定するレジスタ制御部とを有し、前記入力フレームパターンの入力および前記書込レジスタ値の設定に応じた前記通信用ＬＳＩでのフレーム処理後、当該通信用ＬＳＩから前記フレーム入出力装置を介して取得した照合用の出力フレームパターン、または／および、当該フレーム処理後に当該通信用ＬＳＩから取得した照合用の読出レジスタ値を、それぞれの期待値と比較することにより、通信用ＬＳＩの機能を検証する通信用ＬＳＩ検証装置であって、前記通信用ＬＳＩに対して実行する検証項目ごとに、当該検証の内容が記述された検証シナリオを記憶する記憶部と、前記検証シナリオに基づいて、前記検証項目ごとに、当該検証で用いるフレームパターンを含む入力フレーム情報を生成するとともに、当該検証で用いる各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報を生成する検証フレームワークと、前記入力フレーム情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩへ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報を生成するフレームパターン生成部と、前記書込レジスタ情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩの各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リストを生成するレジスタ値リスト生成部とを備え、前記検証フレームワークは、前記フレームパターンと前記各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成し、前記フレーム制御部は、前記フレームパターン生成部で生成された前記入力フレームパターン情報に含まれる入力フレームパターンを、前記フレーム入出力装置を介して前記通信用ＬＳＩに入力し、前記レジスタ制御部は、前記レジスタ値リスト生成部で生成された前記書込レジスタ値リストに含まれる各書込レジスタ値を、前記通信用ＬＳＩの対応する内部レジスタにそれぞれ書き込むようにしたものである。
【０００８】
本発明にかかる上記通信用ＬＳＩ検証装置の一構成例は、前記検証フレームワークが、前記書込レジスタ値をランダムに生成する際、当該検証で用いる前記フレームパターンのうちから、当該書込レジスタ値と比較する部分フレームパターンを抽出し、当該部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置のランダムなビット数についてビット値を反転させることにより、当該書込レジスタ値を生成するようにしたものである。
【０００９】
また、本発明にかかる通信用ＬＳＩ検証方法は、検査対象となる通信用ＬＳＩにフレーム入出力装置を介してテスト用の入力フレームパターンを入力するフレーム制御部と、前記通信用ＬＳＩの各内部レジスタにテスト用の書込レジスタ値を設定するレジスタ制御部とを有し、前記入力フレームパターンの入力および前記書込レジスタ値の設定に応じた前記通信用ＬＳＩでのフレーム処理後、当該通信用ＬＳＩから前記フレーム入出力装置を介して取得した照合用の出力フレームパターン、または／および、当該フレーム処理後に当該通信用ＬＳＩから取得した照合用の読出レジスタ値を、それぞれの期待値と比較することにより、通信用ＬＳＩの機能を検証する通信用ＬＳＩ検証装置で用いられる通信用ＬＳＩ検証方法であって、記憶部が、前記通信用ＬＳＩに対して実行する検証項目ごとに、当該検証の内容が記述された検証シナリオを記憶する記憶ステップと、検証フレームワークが、前記検証シナリオに基づいて、前記検証項目ごとに、当該検証で用いるフレームパターンを含む入力フレーム情報を生成するとともに、当該検証で用いる各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報を生成する検証フレームワークステップと、フレームパターン生成部が、前記入力フレーム情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩへ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報を生成するフレームパターン生成ステップと、レジスタ値リスト生成部が、前記書込レジスタ情報に基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩの各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リストを生成するレジスタ値リスト生成ステップと、前記フレーム制御部が、前記フレームパターン生成ステップで生成された前記入力フレームパターン情報に含まれる入力フレームパターンを、前記フレーム入出力装置を介して前記通信用ＬＳＩに入力するフレーム制御ステップと、前記レジスタ制御部が、前記レジスタ値リスト生成ステップで生成された前記書込レジスタ値リストに含まれる各書込レジスタ値を、前記通信用ＬＳＩの対応する内部レジスタにそれぞれ書き込むレジスタ制御ステップとを備え、前記検証フレームワークステップは、前記フレームパターンと前記各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成するようにしたものである。
【００１０】
本発明にかかる上記通信用ＬＳＩ検証方法の一構成例は、前記検証フレームワークステップが、前記書込レジスタ値をランダムに生成する際、当該検証で用いる前記フレームパターンのうちから、当該書込レジスタ値と比較する部分フレームパターンを抽出し、当該部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置のランダムなビット数についてビット値を反転させることにより、当該書込レジスタ値を生成するようにしたものである。
【００１１】
また、本発明にかかるプログラムは、コンピュータを、上記通信用ＬＳＩ検証装置を構成する各部として機能させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、検証シナリオに基づいて、検証項目ごとに、順次、通信用ＬＳＩに入力すべきテスト用の入力フレームパターンと、通信用ＬＳＩの内部レジスタに設定すべき書込レジスタ値との組が、ランダムに自動生成されて、通信用ＬＳＩが検証される。
したがって、通信用ＬＳＩの検証において、検証対象のＬＳＩの内部レジスタ設定およびテスト用フレームパターンの生成、フレーム入出力装置の制御、検証結果の判定といった一連の検証手順を、検証シナリオに記述することで、ランダム検証および組合せ検証を自動制御することができる。
【００１３】
このため、１つの検証項目あたりに費やす時間を短縮できる。また、検証手順の自動化により、単位時間当たりに実施する試行回数を増やすことができるため、検証の網羅率が高くなる効果がある。
したがって、内部レジスタ値との組合せからなる検証項目が多数存在する場合でも、効率よく検証を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】通信用ＬＳＩ検証装置の構成を示すブロック図である。
【図２】通信用ＬＳＩ検証装置の要部構成を示すブロック図である。
【図３】パラメータ生成処理を示すフローチャートである。
【図４】書込レジスタ情報生成処理を示すフローチャートである。
【図５】レジスタ設定値生成処理を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
次に、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。
［本実施の形態の構成］
まず、図１および図２を参照して、本実施の形態にかかる通信用ＬＳＩ検証装置１０について説明する。図１は、通信用ＬＳＩ検証装置の構成を示すブロック図である。図２は、通信用ＬＳＩ検証装置の要部構成を示すブロック図である。
【００１６】
この通信用ＬＳＩ検証装置１０は、全体としてサーバ装置やパーソナルコンピュータなどの情報処理装置からなり、フレーム入出力装置２０を用いて、検証対象となる通信用ＬＳＩ３０の各種機能の動作を検証する装置である。
【００１７】
フレーム入出力装置２０は、市販のＬＡＮ（Local Area Network）アナライザなどの一般的な通信用計測装置からなり、入力フレームパターン２１を含む通信用ＬＳＩ検証装置１０からの制御信号に基づいて通信用ＬＳＩ３０にテスト用の入力フレームパターン２２を入力するフレーム送信機能と、通信用ＬＳＩ３０が出力するテスト用の出力フレームパターン２３を受信するフレーム受信機能と、送信および受信したフレーム数やデータ量を計測して通信用ＬＳＩ検証装置１０へ通知するカウンタ機能と、受信した出力フレームパターン２３をキャプチャして一時的に記憶し、フレームパターン２４として通信用ＬＳＩ検証装置１０へ通知信号で通知する機能とを有している。
【００１８】
通信用ＬＳＩ３０は、検証対象となる通信用ＬＳＩからなり、フレーム入出力装置２０から入力された入力フレームパターン２２を、ＬＳＩ内部に設けられている内部レジスタ（図示せず）に通信用ＬＳＩ検証装置１０から設定された書込レジスタ値３１に基づいて処理する機能と、この処理により得られたフレームパターンを出力フレームパターン２３としてフレーム入出力装置２０へ出力する機能と、この処理により得られたレジスタ値を読出レジスタ値３２として通信用ＬＳＩ検証装置１０へ出力する機能とを有している。
【００１９】
本発明は、通信用ＬＳＩ検証装置１０とフレーム入出力装置２０とを制御伝送路４０を介して接続するとともに、通信用ＬＳＩ検証装置１０と通信用ＬＳＩ３０とを制御バス４１を介して接続し、さらに、フレーム入出力装置２０と通信用ＬＳＩ３０とをテスト用の通信回線４２を介して接続することにより、通信用ＬＳＩ検証システム１を構成している。
【００２０】
この通信用ＬＳＩ検証システム１において、通信用ＬＳＩ検証装置１０は、予め設定された検証シナリオの各検証項目に合わせて、通信用ＬＳＩ３０に入力するテスト用の入力フレームパターンを生成し、フレーム入出力装置２０を介して通信用ＬＳＩ３０へ送信し、また、各検証項目に合わせて、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタに設定するレジスタ値を生成して、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタに直接設定し、これに応じた通信用ＬＳＩ３０でのフレーム処理の後、通信用ＬＳＩ３０からの出力フレームパターンをフレーム入出力装置２０を介して取得して、当該出力フレームパターンの期待値と照合し、通信用ＬＳＩ３０からレジスタ値を直接読み出して、当該レジスタ値の期待値と照合する。
【００２１】
この際、通信用ＬＳＩ検証装置１０において、入力フレームパターンを生成する際、入力フレームパターンをランダムに生成し、レジスタ値を生成する際、レジスタ値をランダムに生成するようにしたものである。そして、これら入力フレームおよびレジスタ値を生成するごとに、通信用ＬＳＩ３０に設定して、検証を行うようにしたものである。
【００２２】
これにより、通信用ＬＳＩ３０の検証時、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタ設定およびテスト用の入力フレームパターンの生成、フレーム入出力装置２０の制御、検証結果の判定といった一連の検証手順を、検証シナリオ１４Ａに記述することで、入力フレームパターンやレジスタ値にランダム値を用いたランダム検証、および、入力フレームパターンとレジスタ値とを組合せた組合せ検証が自動制御され、１つの検証項目あたりに費やす時間が短縮される。
【００２３】
なお、本実施の形態では、個々の検証で用いるフレームパターンと各書込レジスタ値について、これら両方をランダムに生成する場合を例として説明するが、これに限定されるものではなく、フレームパターンまたは各書込レジスタ値のいずれか一方のみをランダムに生成するようにしてもよい。
また、本実施の形態では、通信用ＬＳＩ３０の検証時、出力フレームパターンおよび読出レジスタ値の両方を、それぞれの期待値と比較する場合を例として説明するが、これに限定されるものではなく、出力フレームパターンまたは読出レジスタ値のいずれか一方のみを、それぞれの期待値と比較するようにしてもよい。
【００２４】
次に、図１および図２を参照して、本実施の形態にかかる通信用ＬＳＩ検証装置１０の構成について詳細に説明する。
検証時、通信用ＬＳＩ検証装置１０は、フレーム入出力装置２０に対する制御信号を生成し、制御伝送路４０を介してフレーム入出力装置２０へ送信することで、フレーム入出力装置２０を制御する。この制御信号は、フレーム入出力装置２０に対するテスト用の入力フレームパターンの設定のほか、テスト用の入力フレームパターンの送出を開始および停止するための契機や、予めフレーム入出力装置２０に具備されている送受信フレーム数や送受信データ量等を計測するためのカウンタの動作を開始および停止するための契機や、受信フレームパターンの取得および蓄積を開始および停止するための契機の指示に用いられる。
【００２５】
また、通信用ＬＳＩ検証装置１０は、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタに対する書込レジスタ値を生成し、制御バス４１を介して通信用ＬＳＩ３０に送信することで、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタの設定を実施する。また、通信用ＬＳＩ検証装置１０は、通信用ＬＳＩ３０の設定状態、動作状況、動作結果、統計情報などのレジスタ値を、内部レジスタから取得するためのコマンドを送出することで、読出レジスタ値を取得・表示する。
【００２６】
図１に示すように、通信用ＬＳＩ検証装置１０には、主な機能部として、通信Ｉ／Ｆ部１１、操作入力部１２、画面表示部１３、記憶部１４、および演算処理部１５が設けられている。
【００２７】
通信Ｉ／Ｆ部１１は、通信回線を介して接続された外部装置（図示せず）との間で、各種データを送受信する機能を有している。
操作入力部１２は、キーボード、マウス、タッチパッドなどの操作入力装置からなり、オペレータの操作を検出して演算処理部１５へ出力する機能を有している。
画面表示部１３は、ＬＣＤなどの画面表示装置からなり、演算処理部１５からの出力に基づいて、操作画面、設定画面、検証結果などの各種データを画面表示する機能を有している。
【００２８】
記憶部１４は、ハードディスクや半導体メモリなどの記憶装置からなり、演算処理部１５で実行する検証処理で用いる各種処理データやプログラムを記憶する機能を有している。
プログラム（図示せず）は、外部装置や記録媒体から通信Ｉ／Ｆ部１１を介して記憶部１４に予め格納される。
【００２９】
記憶部１４で記憶する主な処理データとして検証シナリオ１４Ａがある。検証シナリオ１４Ａは、検証項目ごとに検証内容が記述された情報である。具体的には、検証項目に合わせたテスト用の入力フレームパターンの構成（例えばフレーム長、フレーム構成など）や当該入力フレームパターンの入力条件（例えば送信間隔、送信フレーム数など）と、検証項目に合わせた通信用ＬＳＩ３０の各内部レジスタの設定値や設定方法（ランダム値または固定値、ランダム値の範囲など）とが記述されている。
【００３０】
演算処理部１５は、ＣＰＵとその周辺回路を有し、記憶部１４からプログラムを読み込んで実行することにより、通信用ＬＳＩ３０の検証処理を実行するための各種処理部を実現する機能を有している。
【００３１】
図２に示すように、演算処理部１５で実現される主な処理部としては、検証フレームワーク１５Ａ、フレームパターン生成部１５Ｂ、書込レジスタ値リスト生成部１５Ｃ、フレーム制御部１５Ｄ、レジスタ制御部１５Ｅ、機能モデル１５Ｆ、フレームパターン照合部１５Ｇ、およびレジスタ値リスト照合部１５Ｈがある。
【００３２】
検証フレームワーク１５Ａは、記憶部１４に格納されている検証シナリオ１４Ａを入力として、検証項目ごとに実際の検証内容を構成する検証内容構成部であり、検証シナリオ１４Ａに基づいて、検証項目ごとに、当該検証項目で用いるフレームパターンをランダムに生成し、当該フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレーム情報１４Ｂを生成して出力する機能と、検証項目ごとに、当該検証で用いる書込レジスタ値をランダムに生成し、当該書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報１４Ｃを生成して出力する機能を有している。
【００３３】
なお、本実施の形態では、検証フレームワーク１５Ａにおいて、個々の検証で用いるフレームパターンと各書込レジスタ値について、これら両方をランダムに生成する場合を例として説明するが、これに限定されるものではなく、検証フレームワーク１５Ａにおいて、フレームパターンまたは各書込レジスタ値のいずれか一方のみをランダムに生成し、他方については、例えば検証シナリオ１４Ａに設定されている固定値を用いるようにしてもよい。
【００３４】
フレームパターン生成部１５Ｂは、検証フレームワーク１５Ａから出力された入力フレーム情報１４Ｂを入力として、当該入力フレーム情報１４Ｂに基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩへ入力する入力フレームパターンを生成する機能と、生成した入力フレームパターンと、当該入力フレーム情報１４Ｂで指定された入力条件とを含む入力フレームパターン情報１４Ｄを出力する機能とを有している。
【００３５】
レジスタ値リスト生成部１５Ｃは、検証フレームワーク１５Ａから出力された書込レジスタ情報１４Ｃを入力として、この書込レジスタ情報１４Ｃに基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩの各内部レジスタに書き込む書込レジスタ値ごとに、内部レジスタへの書込指示コマンド、および書込先内部レジスタを示す書込先アドレス値からなる書込方法を特定する機能と、これら書込レジスタ値および書込方法の組を書込レジスタ値リスト１４Ｅとして出力する機能を有している。
【００３６】
フレーム制御部１５Ｄは、フレームパターン生成部１５Ｂから出力された入力フレームパターン情報１４Ｄを入力として、制御伝送路４０を介してフレーム入出力装置２０へ制御信号を出力することにより、当該入力フレームパターン情報１４Ｄに含まれる入力フレームパターンをテスト用の入力フレームパターン２１として設定する機能と、当該入力フレームパターン２１の入力条件を設定する機能と、制御伝送路４０を介したフレーム入出力装置２０からの通知信号により、通信用ＬＳＩ３０が出力したテスト用の出力フレームパターン２４を所定数取得し、出力フレームパターン情報１４Ｆとして出力する機能を有している。
【００３７】
レジスタ制御部１５Ｅは、レジスタ値リスト生成部１５Ｃから出力された書込レジスタ値リスト１４Ｅを入力として、制御バス４１を介して通信用ＬＳＩ３０へ、当該書込レジスタ値リスト１４Ｅに含まれる書込方法、すなわち書込指示コマンドおよび書込先アドレス値を用いて、当該書込レジスタ値リスト１４Ｅに含まれる書込レジスタ値３１を出力して、通信用ＬＳＩ３０の書込先内部レジスタへ設定する機能と、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタの読出レジスタ値を、予め設定されている読出指示コマンドおよび読出先アドレス値を用いて、制御バス４１を介して読み出し、レジスタ値リスト１４Ｇとして出力する機能とを有している。
【００３８】
機能モデル１５Ｆは、フレームパターン生成部１５Ｂから出力された入力フレームパターン情報１４Ｄ、およびレジスタ値リスト生成部１５Ｃから出力された書込レジスタ値リスト１４Ｅを入力として、これら入力フレームパターン情報１４Ｄおよび書込レジスタ値リスト１４Ｅに基づき、通信用ＬＳＩ３０が出力すべき期待値として出力フレームパターンと読出レジスタ値を計算し、これら出力フレームパターン期待値１４Ｈおよび読出レジスタ値リスト期待値１４Ｉを出力する機能を有している。
【００３９】
フレームパターン照合部１５Ｇは、フレーム制御部１５Ｄからの出力フレームパターン情報１４Ｆと機能モデル１５Ｆからの出力フレームパターン期待値１４Ｈとを入力として、通信用ＬＳＩ３０が出力した出力フレームパターン情報１４Ｆと期待される出力フレームパターン期待値１４Ｈとを照合することにより、両者の一致・不一致を判定し、得られた判定結果を照合結果１４Ｊの一部として出力する機能を有している。
【００４０】
レジスタ値リスト照合部１５Ｈは、レジスタ制御部１５Ｅからの読出レジスタ値リスト１４Ｇと機能モデル１５Ｆからの読出レジスタ値リスト期待値１４Ｉとを入力として、これら読出レジスタ値リスト１４Ｇのうち、通信用ＬＳＩ３０から取得したレジスタ値と機能モデル１５Ｆから取得したレジスタ値の期待値とを照合することにより、両者の一致・不一致を判定し、得られた判定結果を照合結果１４Ｊの一部として出力する機能を有している。
【００４１】
なお、通信用ＬＳＩ検証装置１０の構成は上記に限らない。例えば、機能モデル１５Ｆを別個の演算処理装置を用いて実現し、照合時に、この別個の演算処理装置から、出力フレームパターンおよび読出レジスタ値リストの期待値を取得するようにしてもよい。
また、機能モデル１５Ｆは、通信用ＬＳＩ３０を設計する際に用いる資料（要求仕様書または機能仕様書）から予め作成しておけばよい。
【００４２】
また、通信用ＬＳＩ検証装置１０の検証シナリオ１４Ａにおいて、検証結果の判定方法について記述しておき、この記述に基づきフレームパターン照合部１５Ｇおよびレジスタ値リスト照合部１５Ｈで照合するようにしてもよい。
また、読出レジスタ値３２を読み出す照合対象レジスタは、予めレジスタ制御部１５Ｅで規定しておいてもよいが、検証シナリオ１４Ａにおいて、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタのうち、読出レジスタ値３２を読み出す照合対象レジスタを記述しておき、これを書込レジスタ情報１４Ｃさらには書込レジスタ値リスト１４Ｅを介してレジスタ制御部１５Ｅへ通知することにより、検証シナリオ１４Ａで読出レジスタ値３２を読み出す内部レジスタを特定するようにしてもよい。
【００４３】
また、フレーム制御部１５Ｄにおいて、フレーム入出力装置２０が計測するカウンタ値を取得し、フレームパターン照合部１５Ｇまたはレジスタ値リスト照合部１５Ｈにおいてカウンタ値を検証結果の判定に用いるようにしてもよい。
また、レジスタ値リスト照合部１５Ｈでのみ検証結果を判定する場合や、フレームパターン照合部１５Ｇでのみ検証結果を判定する場合もある。この際、機能モデル１５Ｆは、出力フレームパターンまたは読出レジスタ値のうち、実際の検証に用いるいずれか一方に関する期待値、すなわち出力フレームパターン期待値１４Ｈまたは読出レジスタ値リスト期待値１４Ｉを計算して出力すればよい。
【００４４】
なお、検証時、通信用ＬＳＩ３０に対して多量の入力フレームパターンを入力する場合、機能モデル１５Ｆでの計算処理量を削減し計算時間を短縮するために、機能モデル１５Ｆが出力する期待値を通信用ＬＳＩ３０へ入力したフレーム数分で等倍した値を計算し、この値に基づき一致・不一致判定をするようにしてもよい。
【００４５】
［本実施の形態の動作］
次に、図３を参照して、検証フレームワーク１５Ａで実行される、検証シナリオ１４Ａから検証に必要な各種パラメータを生成するためのパラメータ生成処理について詳細に説明する。図３は、パラメータ生成処理を示すフローチャートである。
【００４６】
まず、検証フレームワーク１５Ａは、検証項目に合わせたテスト用の入力フレームパターンの構成（例えばフレーム長、フレーム構成など）や当該入力フレームパターンの入力条件と、検証項目に合わせた通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタの設定値や設定方法（ランダム値または固定値、ランダム値の範囲など）とが記述された検証シナリオ１４Ａを、記憶部１４から読み込む（ステップ１００）。
【００４７】
次に、検証フレームワーク１５Ａは、実施する検証項目について、読み込んだ検証シナリオ１４Ａに基づき、テスト用の入力フレームパターンを生成するとともに、フレーム長、送信間隔、送信フレーム数などの入力条件を特定し、入力フレーム情報１４Ｂを生成する（ステップ１０１）。
また、検証フレームワーク１５Ａは、実施する検証項目について、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタの設定値を特定し、書込レジスタ情報１４Ｃを生成し（ステップ１０２）、一連のパラメータ生成処理を終了する。
これらステップ１０１，１０２は、各検証項目の実施に合わせて繰り返し実行される。
【００４８】
なお、パラメータ生成処理手順は上記に限らない。例えば、通信用ＬＳＩ検証装置１０からフレーム入出力装置２０に対して検証に必要な全てのパラメータを設定するのに要する時間、すなわちフレーム入出力装置設定時間と、通信用ＬＳＩ３０に対して検証に必要な全てのレジスタ値を設定するのに要する時間、すなわちレジスタ設定時間とを比較したとき、フレーム入出力装置設定時間がレジスタ設定時間より長い場合には、検証開始時または所定の検証サイクル毎に、フレーム入出力装置２０に対する設定を実施し、通信用ＬＳＩ３０に対するレジスタ値の設定は毎回実施するようにしてもよい。一方、レジスタ設定時間がフレーム入出力装置設定時間より長い場合には、検証開始時または所定の検証サイクル毎に、通信用ＬＳＩ３０に対するレジスタ値の設定を実施し、フレーム入出力装置２０に対する設定は毎回実施するようにしてもよい。
【００４９】
次に、図４を参照して、図３のステップ１０２で実行される、検証フレームワーク１５Ａの書込レジスタ情報生成処理について詳細に説明する。図４は、書込レジスタ情報生成処理を示すフローチャートである。
【００５０】
まず、検証フレームワーク１５Ａは、検証シナリオ１４Ａに記述された通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタのうち、レジスタ値が特定されていない未設定のレジスタを１つ選択する（ステップ１１０）。
次に、検証フレームワーク１５Ａは、検証シナリオ１４Ａに基づき、選択レジスタの値をランダムに設定するか否かを判定する（ステップ１１１）。
【００５１】
ここで、選択レジスタの値をランダムに設定しない場合（ステップ１１１：ＮＯ）、検証フレームワーク１５Ａは、選択レジスタの値として、所定の固定値または検証シナリオ１４Ａに記述された固定値を設定する（ステップ１１７）。
【００５２】
この後、検証フレームワーク１５Ａは、検証シナリオ１４Ａに記述されているレジスタのうち、レジスタ値が特定されていない未設定のレジスタがあるか否かを判定し（ステップ１１５）、未設定のレジスタがある場合（ステップ１１５：ＹＥＳ）、ステップ１１０へ戻る。また、未設定のレジスタがない場合（ステップ１１５：ＮＯ）、一連の処理を終了する。
【００５３】
一方、レジスタの値をランダムに設定する場合（ステップ１１１：ＹＥＳ）、検証フレームワーク１５Ａは、検証シナリオ１４Ａに基づいて、選択レジスタの値が、入力フレームパターン情報１４Ｄに含まれるテスト用の入力フレームパターンの所定位置から所定ビット数分だけ抽出した部分フレームパターンの値と一致・不一致を比較するためのパターン比較用レジスタ値であるか否かを判定する（ステップ１１２）。
【００５４】
ここで、選択レジスタの値がパターン比較用レジスタ値ではない場合（ステップ１１２：ＮＯ）、検証フレームワーク１５Ａは、選択レジスタの値として、レジスタの値を所定の範囲内からランダムに生成した値を設定し（ステップ１１６）、ステップ１１５へ移行する。
【００５５】
また、選択レジスタの値がパターン比較用レジスタ値である場合（ステップ１１２：ＹＥＳ）、検証フレームワーク１５Ａは、ランダム生成したテスト用の入力フレームパターンのうち、比較判定に用いられる所定箇所のフレームパターン、すなわち所定位置から所定ビット数分だけ部分フレームパターンとして抽出する（ステップ１１３）。
【００５６】
続いて、検証フレームワーク１５Ａは、選択レジスタの値として、少なくとも１つ以上のレジスタ値は部分フレームパターンと一致するように設定し、残りのレジスタ値については、部分フレームパターンのうち、１以上のランダムな位置のランダムなビット数だけビット値を反転させた値を設定し（ステップ１１４）、ステップ１１５へ移行する。
【００５７】
なお、書込レジスタ情報１４Ｃの生成処理は上記に限らない。例えば、ステップ１１６において、レジスタ値を所定の範囲内で均一に分布させるのではなく、１つ以上の部分範囲を定めて、各部分範囲で発生確率を変えてレジスタ値を生成するようにしてもよい。これにより、検証対象の動作が変わる境界値や各種パラメータ値の上限および下限、または通常運用時に想定される設定について重点的に検証ができるため、検証効率が向上する。
また、通信用ＬＳＩ３０が具備するレジスタ値の全てに対して、前述の書込レジスタ情報１４Ｃを生成しなくともよい。この場合、レジスタ値には初期設定値が用いられる。
【００５８】
次に、図５を参照して、図４のステップ１１３で実行される、検証フレームワーク１５Ａのレジスタ設定値生成処理について詳細に説明する。図５は、レジスタ設定値生成処理を示す説明図である。ここでは、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタのうち、レジスタ＃０〜＃３の４つの内部レジスタの値が、部分フレームパターンのパターン比較用レジスタ値として用いられる場合を例として説明するが、内部レジスタが４つ以外でもよく、検証項目によって内部レジスタ数を変化させてもよい。
【００５９】
まず、検証フレームワーク１５Ａは、ランダム生成したテスト用の入力フレームパターンのうち、所定の位置から所定のビット数分だけフレームパターンを部分フレームパターンとして抽出する。
次に、検証フレームワーク１５Ａは、部分フレームパターンそのものを対応内部レジスタのうちランダムなインデックス番号（例えば＃０）のレジスタの設定値とする。つまり、少なくとも１つ以上のレジスタ値は部分フレームパターンの値を、ビット反転せずにそのまま設定する。これにより、入力フレームパターンとの比較一致判定が正しく行われるか否かを検証できる。また、入力フレームパターンと前記内部レジスタの値が一致した場合にのみ後段の処理が実施されるとき、前記後段の処理に対する検証効率を向上させる効果がある。
【００６０】
さらに、検証フレームワーク１５Ａは、残りのレジスタ値（＃１〜＃３）について、所定の数だけ部分フレームパターンをもとに生成したレジスタ値を設定する。このとき、図５のように、部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置からランダムなビット数だけビット値を反転させた値を設定する。部分フレームパターンの一部ビットを反転させたレジスタ値を設定することで、レジスタ設定におけるランダム性を担保しつつ、部分フレームパターンとレジスタ値とが一致する確率を高める効果がある。
【００６１】
このように、検証対象へ入力するテスト用フレームパターンに含まれる部分フレームパターンと、検証対象に設定するレジスタ値が同じ値を示す場合に、検証対象の１つ以上の機能が動作する場合に、部分フレームパターンとレジスタ値を１つの検証パラメータとして生成し部分フレームパターンとレジスタ値の両者に用いることで、各々独立して生成した場合と比較して、機能が動作する確率が向上するため検証効率が向上する。
【００６２】
［本実施の形態の効果］
このように、本実施の形態は、検証フレームワーク１５Ａが、検証シナリオ１４Ａに基づいて、検証項目ごとに、当該検証で用いるフレームパターンを含む入力フレーム情報１４Ｂを生成するとともに、当該検証で用いる各書込レジスタ値を含む書込レジスタ情報１４Ｃを生成し、フレームパターン生成部１５Ｂが、入力フレーム情報１４Ｂに基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩ３０へ入力する入力フレームパターンとその入力条件とを含む入力フレームパターン情報１４Ｄを生成し、レジスタ値リスト生成部１５Ｃが、書込レジスタ情報１４Ｃに基づいて、実際の検査時に通信用ＬＳＩ３０の各内部レジスタに書き込む各書込レジスタ値を含む書込レジスタ値リスト１４Ｅを生成し、この際、検証フレームワークは、フレームパターンと各書込レジスタ値のいずれか一方または両方をランダムに生成するようにしたものである。
【００６３】
これにより、検証シナリオ１４Ａに基づいて、検証項目ごとに、通信用ＬＳＩ３０に入力すべきテスト用の入力フレームパターンと、通信用ＬＳＩ３０の内部レジスタに設定すべき書込レジスタ値との組が、ランダムに自動生成されて、順次、通信用ＬＳＩ３０が検証される。
したがって、通信用ＬＳＩの検証において、検証対象のＬＳＩの内部レジスタ設定およびテスト用フレームパターンの生成、フレーム入出力装置２０の制御、検証結果の判定といった一連の検証手順を、検証シナリオ１４Ａに記述することでランダム検証および組合せ検証を自動制御することができる。
【００６４】
このため、１つの検証項目あたりに費やす時間を短縮できる。また、検証手順の自動化により、単位時間当たりに実施する試行回数を増やすことができるため、検証の網羅率が高くなる効果がある。
したがって、内部レジスタ値との組合せからなる検証項目が多数存在する場合でも、効率よく検証を行うことができる。
【００６５】
また、本実施の形態において、レジスタ値リスト生成部１５Ｃで、書込レジスタ値を生成する際、入力フレームパターンのうちから、当該書込レジスタ値と比較する部分フレームパターンを抽出し、当該部分フレームパターンのうち１以上のランダムな位置のランダムなビット数についてビット値を反転させることにより、当該書込レジスタ値を生成するようにしてもよい。
これにより、レジスタ設定におけるランダム性を担保しつつ、部分フレームパターンとレジスタ値とが一致する確率を高める効果がある。
【００６６】
また、本実施の形態において、検証シナリオ１４Ａで各種パラメータを設定する際、所定の範囲に重みを付けランダム値を生成するようにしてもよい。これにより、検証対象の動作が変わる境界値や各種パラメータ値の上限および下限、または通常運用時に想定される設定について重点的に検証ができるため、検証効率が向上する。
【００６７】
また、本実施の形態において、検証対象へ入力するテスト用フレームパターンに含まれる部分フレームパターンと、検証対象に設定するレジスタ値が同じ値を示す場合に、検証対象の１つ以上の機能が動作する場合に、部分フレームパターンとレジスタ値を１つの検証パラメータとして生成し部分フレームパターンとレジスタ値の両者に用いるようにしてもよい。これにより、各々独立して生成した場合と比較して、機能が動作する確率が向上するため検証効率が向上する。
【００６８】
［実施の形態の拡張］
以上、実施形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明のスコープ内で当業者が理解しうる様々な変更をすることができる。
【符号の説明】
【００６９】
１…通信用ＬＳＩ検証システム、１０…通信用ＬＳＩ検証装置、１１…通信Ｉ／Ｆ部、１２…操作入力部、１３…画面表示部、１４…記憶部、１４Ａ…検証シナリオ、１４Ｂ…入力フレーム情報、１４Ｃ…書込レジスタ情報、１４Ｄ…入力フレームパターン情報、１４Ｅ…書込レジスタ値リスト、１４Ｆ…出力フレームパターン情報、１４Ｇ…読出レジスタ値リスト、１４Ｊ…照合結果、１５…演算処理部、１５Ａ…検証フレームワーク、１５Ｂ…フレームパターン生成部、１５Ｃ…レジスタ値リスト生成部、１５Ｄ…フレーム制御部、１５Ｅ…レジスタ制御部、１５Ｆ…機能モデル、１５Ｇ…フレームパターン照合部、１５Ｈ…レジスタ値リスト照合部、２０…フレーム入出力装置、２１，２２…入力フレームパターン、２３，２４…出力フレームパターン、３０…通信用ＬＳＩ、３１…書込レジスタ値、３２…読出レジスタ値、４０…制御伝送路、４１…制御バス、４２…通信回線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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