【手続補正書】
【提出日】令和3年2月16日(2021.2.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１スキャン入力と第１データ入力と第１選択入力と第１出力とを有し、前記第１選択入力で第１信号が受信されたことに応じて前記第１スキャン入力に対応する値を前記第１出力に出力し、前記第１選択入力で第２信号が受信されたことに応じて前記第１データ入力に対応する値を前記第１出力に出力するように構成された第１スキャンフリップフロップと、
第２スキャン入力と第２データ入力と第２選択入力と第２出力とを有し、前記第２スキャン入力が前記第１出力に接続され、前記第２データ入力が不定値を受け取るように構成され、前記第２データ入力が不定値に対応していることに応じて前記第２選択入力が前記第１信号を受信するように構成された第２スキャンフリップフロップ
とを備え、
前記第２スキャンフリップフロップが、前記第１信号が前記第２選択入力で受信されたことに応じて前記第２スキャン入力に対応する値を前記第２出力に出力するように構成され、
前記第２出力に出力される値が前記第１出力に出力される値に対応している
半導体集積回路。
【請求項２】
更に、
複数のスキャンフリップフロップをそれぞれ含む複数のスキャンチェーンと、
圧縮テストデータを展開して前記複数のスキャンチェーンに供給するテストデータを生成する展開回路部と、
前記複数のスキャンチェーンから出力される出力応答に基づいて圧縮テスト結果データを生成する圧縮回路部
とを備え、
前記第１及び前記第２スキャンフリップフロップが、前記複数のスキャンチェーンのうちの一つの一部分である
請求項１に記載の半導体集積回路。
【請求項３】
第１の種類のスキャンテストについては前記第１信号が前記第２選択入力で受信され、第２の種類のスキャンテストについては前記第２信号が前記第２選択入力で受信されるように構成されたセレクタを更に備える
請求項１に記載の半導体集積回路。
【請求項４】
スキャンテストの種類に対応する値を出力するように構成されたフリップフロップを更に備え、
前記セレクタが、更に、前記スキャンテストの種類に対応する、前記出力された値を受け取るように構成された
請求項３に記載の半導体集積回路。
【請求項５】
前記第１の種類のスキャンテストがＡＣスキャンに対応し、前記第２の種類のスキャンテストがＤＣスキャンに対応するか、
前記第１の種類のスキャンテストがＤＣスキャンに対応し、前記第２の種類のスキャンテストがＡＣスキャンに対応する
請求項３に記載の半導体集積回路。
【請求項６】
第３スキャン入力、第３データ入力、第３選択入力及び第３出力を備え、前記第３データ入力が、不定である確率が０％より大きく１００％より小さい値を受け取るように構成され、前記第３選択入力で前記第１信号が受信されたことに応じて前記第３スキャン入力に対応する値を前記第３出力に出力し、前記第３選択入力で前記第２信号が受信されたことに応じて前記第３データ入力に対応する値を前記第３出力に出力するように構成された第３スキャンフリップフロップと、
前記第１信号又は前記第２信号が前記第３選択入力で選択的に受信されるようにするセレクタと、
を備える請求項１に記載の半導体集積回路。
【請求項７】
コンピュータが、少なくとも一のスキャンフリップフロップが、キャプチャモードにおいて、スキャン入力に入力された値をキャプチャ可能であるように、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップを含む半導体集積回路のネットリストを生成することと、
前記ネットリストに基づいて前記半導体集積回路を製造することと
を含み、
前記ネットリストが、１以上のスキャンフリップフロップが不定値をキャプチャする確率に基づいている
半導体集積回路の設計方法。
【請求項８】
前記ネットリストを生成することが、スキャンテストが行われるときにアサートされる制御信号を前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項７に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項９】
前記ネットリストを生成することが、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、第１信号と第２信号とを選択的に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項８に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１０】
前記ネットリストを生成することが、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、スキャンテストの種類に応じて前記第１信号又は前記第２信号を選択的に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項９に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１１】
前記ネットリストを生成することが、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、前記半導体集積回路の外部から供給される前記制御信号に応じて前記第１信号又は第２信号を選択的に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項９に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１２】
前記ネットリストを生成することは、
データ入力を介して不定値をキャプチャするスキャンフリップフロップを抽出することと、
抽出された前記スキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、第１信号を供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項７に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１３】
前記ネットリストを生成することは、
或るスキャンフリップフロップがデータ入力を介して不定値をキャプチャする確率を特定することと、
特定された前記確率に基づき、前記或るスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、第１信号を供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項７に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１４】
前記ネットリストを生成することは、
前記少なくとも一のスキャンフリップフロップを含むスキャンチェーンを含む複数のスキャンチェーンと、圧縮テストデータを展開して前記複数のスキャンチェーンに供給するテストデータを生成する展開回路部と、前記複数のスキャンチェーンから出力される出力応答に基づいて圧縮テスト結果データを生成する圧縮回路部とを挿入すること
を含む
請求項７に記載の半導体集積回路の設計方法。
【請求項１５】
少なくとも一のスキャンフリップフロップが、キャプチャモードにおいて、スキャン入力に入力された値をキャプチャ可能であるように、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップを含む半導体集積回路のネットリストを生成することと、
前記半導体集積回路を製造するためのデータを出力することと、
を、コンピュータに実行させ、
前記ネットリストが、１以上のスキャンフリップフロップが不定値をキャプチャする確率に基づいている
プログラム。
【請求項１６】
前記ネットリストを生成することは、前記ネットリストを、スキャンテストが行われるときにアサートされる制御信号を前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１７】
前記ネットリストを生成することが、前記少なくとも一のスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、スキャンテストの種類に応じて第１信号又は第２信号を選択的に供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１８】
前記ネットリストを生成することは、
データ入力に接続された回路から不定値をキャプチャするスキャンフリップフロップを抽出することと、
抽出された前記スキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に、第１信号を供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１９】
前記ネットリストを生成することは、
或るフリップフロップが、データ入力を介して不定値をキャプチャする確率を特定することと、
前記確率に基づき、前記或るスキャンフリップフロップのスキャンイネーブル端子に第１信号を供給するように前記ネットリストを生成することを含む
請求項１５に記載のプログラム。