(57)【要約】【課題】  従来、二次電池を試験する充放電試験装置の校正精度や校正時の電源効率などに問題があった。【解決手段】  本発明では、充放電試験システムは、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、充放電試験装置は、充電回路または放電回路に設定可能な複数の充放電部を有し、充電回路に設定された充放電部と放電回路に設定された充放電部とを対向させて配置して、充電回路と放電回路との間に校正ユニットを接続し、校正ユニットは、充電回路と放電回路との間に挿入するシャント抵抗と、充放電試験装置が充放電試験を行う時の電気的特性を計測する計測部とを有することを特徴とする。【選択図】図４
2014224707.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、前記充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、
前記充放電試験装置は、充電回路または放電回路に設定可能な複数の充放電部を有し、前記充電回路に設定された前記充放電部と前記放電回路に設定された前記充放電部とを対向させて配置して、前記充電回路と前記放電回路との間に前記校正ユニットを接続し、
前記校正ユニットは、前記充電回路と前記放電回路との間に挿入するシャント抵抗と、前記充放電試験装置が充放電試験を行う時の電気的特性を計測する計測部とを有する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項２】
請求項１に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充放電試験装置は、前記二次電池の電源端子に接続するための接続端子を有し、
前記校正ユニットは、前記二次電池の前記電源端子と同じ配置の試験端子および前記二次電池と同形状の筐体で構成され、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置の前記接続端子に接続して、前記充放電試験装置の電気的特性を計測する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項３】
請求項１または２に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充電回路と前記放電回路とが互いに絶縁して接地されている場合、
前記シャント抵抗は、前記充電回路の接地と前記放電回路の接地との間に挿入される
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項４】
請求項３に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充電回路および前記放電回路の負電源または正電源が接地されている
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項５】
請求項４に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充放電試験装置の前記接続端子は、前記充電回路毎および前記放電回路毎に負電源端子と正電源端子とを有し、
前記校正ユニットは、前記充電回路の負電源端子と前記放電回路の負電源端子との間、または、前記充電回路の正電源端子と前記放電回路の正電源端子との間、に前記シャント抵抗を挿入するための第１の切替部を更に有する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充放電試験装置は、複数の前記充放電部の一部の前記充放電部から前記校正ユニットに電源を供給し、
前記校正ユニットは、前記充放電試験装置から電源が供給される前記充放電部の正電源端子および負電源端子と、前記充放電試験装置の電気的特性の計測に使用する前記充電回路または前記放電回路に設定される前記充放電部の正電源端子および負電源端子と、を切り替える第２の切替部を更に有する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項７】
二次電池の充放電試験を行うための充電回路または放電回路に設定可能な複数の充放電部を有する充放電試験装置を校正するための校正ユニットにおいて、
前記充放電試験装置の前記充電回路および前記放電回路との間に挿入するシャント抵抗と、
前記充放電試験装置が充放電試験を行う時の電気的特性を計測する計測部と
を有することを特徴とする校正ユニット。
【請求項８】
請求項７に記載の校正ユニットにおいて、
前記校正ユニットは、前記二次電池の電源端子と同じ配置の試験端子および前記二次電池と同形状の筐体で構成され、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置の接続端子に接続して、前記充放電試験装置の電気的特性を計測する
ことを特徴とする校正ユニット。
【請求項９】
請求項７または８に記載の校正ユニットにおいて、
前記充電回路と前記放電回路とが互いに絶縁して接地されている場合、
前記シャント抵抗は、前記充電回路の接地と前記放電回路の接地との間に挿入される
ことを特徴とする校正ユニット。
【請求項１０】
請求項９に記載の校正ユニットにおいて、
前記充電回路および前記放電回路の負電源または正電源が接地されている
ことを特徴とする校正ユニット。
【請求項１１】
請求項１０に記載の校正ユニットにおいて、
前記充放電試験装置の前記接続端子が前記充電回路毎および前記放電回路毎に負電源端子と正電源端子とを有する場合、
前記充電回路の負電源端子と前記放電回路の負電源端子との間、または、前記充電回路の正電源端子と前記放電回路の正電源端子との間、に前記シャント抵抗を挿入するための第１の切替部を更に有する
ことを特徴とする校正ユニット。
【請求項１２】
請求項７から請求項１１のいずれか一項に記載の校正ユニットにおいて、
前記充放電試験装置が複数の前記充放電部の一部の前記充放電部から前記校正ユニットに電源を供給する場合、
前記充放電試験装置から電源が供給される前記充放電部の正電源端子および負電源端子と、前記充放電試験装置の電気的特性の計測に使用する前記充電回路または前記放電回路に設定する前記充放電部の正電源端子および負電源端子と、を切り替える第２の切替部を更に有する
ことを特徴とする校正ユニット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充放電試験システムおよび校正ユニットに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電気自動車、太陽電池システムの夜間対応、災害時の非常用蓄電池など様々な分野で二次電池が注目されている。一方、二次電池は、製造時に充放電試験装置により予め設定された条件で充電試験や放電試験が行われる（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−２２３８９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
製造者は、二次電池の製品検査に使用する充放電試験装置の電気的特性が試験仕様に合致しているか否かを定期的に検査し、適正な特性を維持することが求められる。そこで、製造者は、例えば充放電試験装置の試験端子の電圧や電流を計測器で測定する校正作業を定期的に行っている。ところが、充放電試験装置の校正は、精度の良い電源装置や放電抵抗器などが用いられ、設備の大型化やコストなどの面で問題があった。また、充電試験および放電試験は、電気エネルギーが熱エネルギーとして無駄に消費されるため、電源ロスが大きく、省エネルギーの点でも問題があった。
【０００５】
本件開示の充放電試験システムおよび校正ユニットは、充放電試験装置の校正を精度良く行うと共に、校正時の電源ロスを低減できる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一つの観点によれば、充放電試験システムは、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、充放電試験装置は、充電回路または放電回路に設定可能な複数の充放電部を有し、充電回路に設定された充放電部と放電回路に設定された充放電部とを対向させて配置して、充電回路と放電回路との間に校正ユニットを接続し、校正ユニットは、充電回路と放電回路との間に挿入するシャント抵抗と、充放電試験装置が充放電試験を行う時の電気的特性を計測する計測部とを有することを特徴とする。
【０００７】
一つの観点によれば、校正ユニットは、二次電池の充放電試験を行うための充電回路または放電回路に設定可能な複数の充放電部を有する充放電試験装置を校正するための校正ユニットにおいて、充放電試験装置の充電回路および放電回路との間に挿入するシャント抵抗と、充放電試験装置が充放電試験を行う時の電気的特性を計測する計測部とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本件開示の充放電試験システムおよび校正ユニットは、充放電試験装置の校正を精度良く行うと共に、校正時の電源ロスを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】二次電池の試験を行うための充放電試験システムの例を示す図である。
【図２】充放電試験装置と校正ユニットおよび二次電池との接続例を示す図である。
【図３】充放電試験システムの例を示す図である。
【図４】校正ユニットの例を示す図である。
【図５】負電源の経路にシャント抵抗を挿入する場合の充電モードまたは放電モードの校正試験の例を示す図である。
【図６】充電特性の例を示す図である。
【図７】正電源の経路にシャント抵抗を挿入する場合の充電モードまたは放電モードの校正試験の例を示す図である。
【図８】充放電試験装置の処理例を示す図である。
【図９】校正ユニットの処理を示す図である。
【図１０】試験管理装置の処理を示す図である。
【図１１】スイッチアレイの例を示す図である。
【図１２】負電源の経路にシャント抵抗を挿入して校正試験を行う場合のスイッチアレイの例を示す図である。
【図１３】正電源の経路にシャント抵抗を挿入して校正試験を行う場合のスイッチアレイの例を示す図である。
【図１４】複数の充放電回路を同時に校正試験する場合の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を用いて実施形態を説明する。
【００１１】
図１は、二次電池の試験を行うための充放電試験システムの例を示す。図１に示した充放電試験システム１００は、製造された二次電池１５０を試験ラインに流して、充電性能や放電性能を検査する充放電試験を行うシステムである。充放電試験システム１００は、例えば試験内容別に複数の充放電試験装置１０１を用いる。図１の例では、充放電試験システム１００は、モードＡの試験を行う試験ラインＡ、モードＢの試験を行う試験ラインＢ、モードＣの試験を行う試験ラインＣの三種類の試験ラインを有する。ここで、モードＡ、モードＢおよびモードＣの各試験は、例えば充電電流の大きさや充電パターン、放電電流の大きさや放電パターンなどの試験内容が異なる。例えば、試験内容は、モードＡが急速充電、モードＢが連続放電、モードＣが充電と放電の繰り返し、などである。
【００１２】
図１において、試験ラインＡは、充放電試験装置１０１ａ１、充放電試験装置１０１ａ２、充放電試験装置１０１ａ３・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置１０１ａ１は、二次電池１５０＿１に対してモードＡの試験を行う。また、試験ラインＢは、充放電試験装置１０１ｂ１、充放電試験装置１０１ｂ２、充放電試験装置１０１ｂ３・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置１０１ｂ２は、二次電池１５０＿２に対してモードＢの試験を行う。同様に、試験ラインＣは、充放電試験装置１０１ｃ１、充放電試験装置１０１ｃ２、充放電試験装置１０１ｃ３・・・などの複数の試験装置を有する。そして、例えば充放電試験装置１０１ｃ１は、二次電池１５０＿３に対して、充放電試験装置１０１ｃ２は二次電池１５０＿４に対して、それぞれモードＣの試験を行う。
【００１３】
尚、充放電試験装置１０１ａ１、１０１ａ２、１０１ａ３、１０１ｂ１、１０１ｂ２、１０１ｂ３、１０１ｃ１、１０１ｃ２および１０１ｃ３は、試験モードの選択が可能な同一又は同様の機能を有する試験装置である。以降の説明において、これらの試験装置に共通の内容を説明する場合、試験装置の符号は、アルファベットのａ＊，ｂ＊，ｃ＊（＊は数字）を除いて、例えば充放電試験装置１０１と表記される。二次電池や校正ユニットなどについても同様の考え方で表記し、二次電池の符号は、例えば複数の二次電池に共通の場合は末尾の「＿数字」を除いて二次電池１５０と表記される。同様に、校正ユニットの符号は、複数の校正ユニットに共通の場合は末尾の「＿数字」を除いて校正ユニット１０２と表記される。
【００１４】
ここで、充放電試験システム１００において、従来の方法で校正試験を行う場合について説明する。保守者は、充放電試験装置１０１が二次電池１５０を試験する時の電気的特性を定期的に検査し、検査結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、充放電試験装置１０１が試験仕様を満たすように電気的特性を調整する。例えば、保守者は、二次電池１５０の充電試験を行う時の充電電流が規定範囲内にあるか否かを測定する。そして、保守者は、充電電流が規定範囲から外れている場合、充電電流が規定範囲の例えば中央値になるように充放電試験装置１０１を調整する。ここで、充電電流が規定範囲から外れている場合、その充放電試験装置１０１で過去に試験された二次電池１５０の再試験を行うことになるため、保守者は、規定範囲から外れかけている場合でも規定範囲から大きく外れないように調整を行って管理する。
【００１５】
このように、従来の校正作業は、保守者が手動で行っていたので、時間やコストが掛かっていた。また、校正には、精度の良い電源装置や放電抵抗器などが用いられ、設備の大型化やコストなどの面で問題があった。さらに、充電試験および放電試験は、電気エネルギーが熱エネルギーとして無駄に消費されるため、電源ロスが大きく、省エネルギーの点でも問題があった。
【００１６】
そこで、本実施形態では、保守者は、二次電池１５０の代わりに二次電池１５０の筐体と同一又は同様のサイズの校正ユニット１０２を各試験ラインに流すことにより、充放電試験装置１０１を精度良く自動的に校正することができる。
【００１７】
図２は、充放電試験装置１０１と校正ユニット１０２および二次電池１５０との接続例を示す。
【００１８】
図２（ａ）は、充放電試験装置１０１に二次電池１５０を接続する様子を示す。図２（ａ）において、充放電試験装置１０１の試験用の端子１１７は、二次電池１５０の端子１５１と一対一に対応するように配置されている。そして、端子１１７が端子１５１に接触した状態になると、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の試験を開始する。
【００１９】
図２（ｂ）は、充放電試験装置１０１に校正ユニット１０２を接続する様子を示す。校正ユニット１０２は、二次電池１５０と同一又は同様のサイズの筐体であり、二次電池１５０の端子１５１と同一又は同様の配置の端子１１８を有する。そして、校正時に、充放電試験装置１０１の端子１１７は、校正ユニット１０２の端子１１８に接触し、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１の電気的特性を計測する。
【００２０】
尚、図１において、二次電池１５０や校正ユニット１０２の試験ライン内での移動は、作業者が手動で行ってもよいし、コンベヤーやロボットなどで自動的に移動するようにしてもよい。また、校正ユニット１０２は、同じ試験モードのグループ内を移動するようにしてもよいし、異なる試験モードのグループ間を移動するようにしてもよい。さらに、校正ユニット１０２は、試験ラインに流さない場合、待機用ラック１６０などに置いておく。この場合、校正ユニット１０２は、作業者またはコンベヤーやロボットなどで待機用ラック１６０に移動され、校正時に再び試験ラインに流される。尚、校正スケジュールは、製造工程や製造検査項目に応じて予め決められており、校正スケジュールに従って充放電試験装置１０１の校正を行う。また、校正を自動的に行う場合、充放電試験システム１００は、校正スケジュールに従って校正ユニット１０２をコンベヤーやロボットなどで試験ラインに流し、各充放電試験装置１０１の校正を行う。
【００２１】
図３は、充放電試験システム１００の例を示す。充放電試験システム１００において、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２に接続され、試験管理装置１０３によって制御および管理される。充放電試験装置１０１は、試験管理装置１０３と例えばＬＡＮ（Local Area Network）で接続される。尚、試験管理装置１０３は、同じ試験グループの充放電試験装置１０１を管理してもよいし、複数の試験グループの充放電試験装置１０１を共通に管理してもよい。また、図３では、充放電試験装置１０１と試験管理装置１０３とを別の装置として分離したが、充放電試験装置１０１に試験管理装置１０３の機能を含めて充放電試験装置１０１としてもよい。
［充放電試験装置１０１の例］
図３において、充放電試験装置１０１は、例えば、充放電回路ブロック１１１と、制御回路１１２と、電源回路１１３とを有する。ここで、充放電試験システム１００は、製造ライン上の二次電池１５０や校正ユニット１０２が充放電試験装置１０１の接続されたことを検出するために、例えばＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）機能を有する。ＲＦＩＤ機能は、ＲＦＩＤタグ１９１に予め記憶された情報をＲＦＩＤリーダ１９２で読み取って、ＲＦＩＤタグ１９１が取り付けられた物品などを認識する技術である。図３の例では、二次電池１５０や校正ユニット１０２にＲＦＩＤタグ１９１を取り付けておき、ＲＦＩＤリーダ１９２は、ＲＦＩＤタグ１９１が数センチメートルの近距離に近づいた時にＲＦＩＤタグ１９１の情報を読み取る。読み取った情報は、制御回路１１２または試験管理装置１０３の制御パソコン１３３で解析される。尚、ＲＦＩＤタグ１９１に予め記憶される情報は、固有の識別情報である。固有の識別情報は、例えば、二次電池１５０や校正ユニット１０２の識別情報でもよいし、二次電池１５０や校正ユニット１０２との対応が分かっていれば、ＲＦＩＤタグ１９１自身の識別番号や識別符号などでもよい。この識別情報により、試験管理装置１０３は、二次電池１５０や校正ユニット１０２がどの充放電試験装置１０１に接続されているのかを知ることができる。尚、ＲＦＩＤ機能ではなく、識別情報をバーコードなどの符号に印刷して二次電池１５０や校正ユニット１０２に添付しておき、充放電試験装置１０１に設けたバーコードリーダで読み取るようにしてもよい。
【００２２】
充放電回路ブロック１１１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７までの７つの接地が絶縁された回路を有する。例えば、充放電回路ＣＯＮＶ１は、ｃｈ１とｃｈ２の２つの充放電回路を有する。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ２はｃｈ３とｃｈ４、充放電回路ＣＯＮＶ３はｃｈ５とｃｈ６、充放電回路ＣＯＮＶ４はｃｈ７とｃｈ８、充放電回路ＣＯＮＶ５はｃｈ９とｃｈ１０、充放電回路ＣＯＮＶ６はｃｈ１１とｃｈ１２、の２つずつの充放電回路を有する。また、充放電回路ＣＯＮＶ７はｃｈ１３の１つの充放電回路を有する。尚、以降の説明において、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７に共通の事項を説明する場合は、符号末尾の数字を省略して、充放電回路ＣＯＮＶと表記する。また、各充放電回路ＣＯＮＶは、制御回路１１２により、充電モードまたは放電モードに設定可能である。さらに、充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、二次電池１５０や校正ユニット１０２を接続するための端子１１７を有する。図３の例では、充放電試験装置１０１は、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの１３組のチャネルを有するが、１３組でなくてもよい。尚、各チャネルは、正電源（＋）端子と負電源（−）端子とを有する。また、本実施形態では負電源（−）側を接地する場合について説明するが、正電源（＋）を接地する場合についても同様に適用可能である。
【００２３】
そして、充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、制御回路１１２によって、充電回路または放電回路に設定される。制御回路１１２は、充電回路の充電電圧や充電電流、放電回路の放電電圧や放電電流などを制御する。充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、試験ライン上の二次電池１５０が接続された時に充放電試験を行い、充放電電流や充放電電圧などの電気的特性を計測して制御回路１１２に出力する。尚、二次電池１５０は、複数のセルが積層され、セル毎に充放電試験装置１０１の端子に接続され、セル毎に電気的特性が試験される。一方、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２が接続された時に、ｃｈ０１からｃｈ１３までの１３組の接続端子のうち予め決められた接続端子（例えばｃｈ１３）から校正ユニット１０２を動作させるための電源を供給する。例えば、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１３の出力電圧を制御して、ｃｈ１３から定電圧電源（ＤＣ（Direct Current）＋５Ｖなど）を校正ユニット１０２に供給する。
【００２４】
制御回路１１２は、ＬＡＮインターフェース回路を有し、試験管理装置１０３に接続され、予め設定された試験モード、或いは試験管理装置１０３から指示される試験内容に従って充放電回路ブロック１１１を制御する。例えば、制御回路１１２は、校正ユニット１０２が接続された時に、試験管理装置１０３から指示されるチャネルｃｈを充電回路や放電回路、或いは、校正ユニット１０２への電源供給回路、などを設定する。
【００２５】
電源回路１１３は、商用電源（ＡＣ（Alternating Current）１００Ｖなど）に接続され、充放電回路ブロック１１１および制御回路１１２が動作するための電源を供給する。
［試験管理装置１０３の例］
また、図３において、試験管理装置１０３は、例えば、ＨＵＢ１３１と、無線親機１３２と、制御パソコン１３３とを有する。
【００２６】
ＨＵＢ１３１は、複数の充放電試験装置１０１と、無線親機１３２と、制御パソコン１３３とをＬＡＮで接続するためのネットワーク装置である。
【００２７】
無線親機１３２は、試験ライン上の複数の校正ユニット１０２の無線子機１２２と無線で通信するための装置である。
【００２８】
制御パソコン１３３は、同じ試験グループ内の充放電試験装置１０１、または複数の試験グループの充放電試験装置１０１を制御し、二次電池１５０の製造試験や校正ユニット１０２による校正試験を行う。そして、制御パソコン１３３は、製造試験や校正試験の前には試験内容の設定、試験中は試験状態のモニタ、試験後は試験結果の取得および管理などを行う。また、制御パソコン１３３は、校正試験の結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、制御回路１１２に指令して、充放電試験装置１０１が試験仕様を満たすように、充放電回路ＣＯＮＶの電気的特性を調整する。尚、校正試験時に、制御パソコン１３３は、無線親機１３２を介して、試験ライン上の複数の校正ユニット１０２との間で制御情報を送受信したり、校正ユニット１０２の状態や計測結果などを受信する。
［校正ユニット１０２の例］
図３において、校正ユニット１０２は、例えば、制御回路１２０と、計測ブロック１２１と、無線子機１２２と、補助電源回路１２３と、切替回路１２４と、スイッチ駆動回路１２５とを有する。また、校正ユニット１０２は、先に説明したように、自ユニットの識別情報などが記憶されたＲＦＩＤタグ１９１を有し、充放電試験装置１０１は、ＲＦＩＤリーダ１９２によりＲＦＩＤタグ１９１の情報を読み出す。さらに、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１の端子１１７に接続される端子１１８を有する。
【００２９】
制御回路１２０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などで実現され、ＣＰＵ内部に記憶されたプログラムに従って校正ユニット１０２全体の動作を制御する。例えば、制御回路１２０は、計測ブロック１２１で計測した結果を無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。また、制御回路１２０は、スイッチ駆動回路１２５を介して切替回路１２４を制御し、充放電試験装置１０１の各チャネルｃｈを計測ブロック１２１に接続したり、充放電試験装置１０１のチャネルｃｈの一部を補助電源回路１２３に接続する。
【００３０】
計測ブロック１２１は、充放電試験装置１０１と接続される端子１１８の各チャネルの充放電時の電流特性や電圧特性などを計測する。制御回路１２０は、計測ブロック１２１の計測内容や回路の切り替えなどを制御したり、計測ブロック１２１の計測データを読み出す。ここで、計測ブロック１２１は、計測回路２０１と、シャント抵抗Ｒ１と、スイッチアレイ２０２とを有する。尚、計測ブロック１２１の詳細については後述する。
【００３１】
無線子機１２２は、試験管理装置１０３の無線親機１３２との間で無線回線（例えば無線ＬＡＮ回線）を確立し、校正ユニット１０２の情報（計測データ、ユニット情報など）やアラームなどの制御情報を試験管理装置１０３との間で送受信する。また、試験管理装置１０３は、無線親機１３２および無線子機１２２を介して、校正ユニット１０２の制御回路１２０に校正試験の指令を行う。
【００３２】
補助電源回路１２３は、充放電試験装置１０１から切替回路１２４を介して電源の供給を受ける。そして、補助電源回路１２３は、充放電試験装置１０１から供給される電源を、制御回路１２０、計測ブロック１２１、無線子機１２２、スイッチ駆動回路１２５などの動作に要する電圧に変換する。図３の例において、補助電源回路１２３は、充放電試験装置１０１から供給されるＤＣ＋５Ｖの電圧をＤＣ±１５Ｖに変換して計測ブロック１２１に供給する。また、補助電源回路１２３は、ＤＣ＋５Ｖの電圧をＤＣ＋３．３Ｖに変換して制御回路１２０やスイッチ駆動回路１２５に供給する。さらに、補助電源回路１２３は、ＤＣ＋５Ｖの電圧を無線子機１２２に供給する。
【００３３】
切替回路１２４は、充放電試験装置１０１から校正ユニット１０２に電源を供給するチャネルｃｈを切り替えるためのスイッチを有する。尚、スイッチの切り替えは、制御回路１２０により制御される。例えばｃｈ１３からＤＣ＋５Ｖの電源を供給する場合、制御回路１２０は、スイッチ駆動回路１２５を介して、充放電試験装置１０１に接続されるｃｈ１３を計測ブロック１２１側から補助電源回路１２３側に切り替える。
【００３４】
スイッチ駆動回路１２５は、制御回路１２０の指令に応じて、計測ブロック１２１や切替回路１２４のスイッチを駆動する。尚、計測ブロック１２１や切替回路１２４の詳細については後述する。
【００３５】
このように、校正ユニット１０２は、商用電源に接続するための電源コードが無く、試験ラインの二次電池１５０と同様に、スタンドアロンで扱うことができ、二次電池１５０に混ぜて試験ラインに流すことができる。尚、本実施形態に係る校正ユニット１０２は、二次電池１５０と同一又は同様のサイズの筐体および端子１１８を持ち、二次電池１５０の端子１５１と同一又は同様の配置の端子１１８を有する。そして、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１に接続されている期間、充放電試験装置１０１から動作に要する電源が供給される。
【００３６】
図４は、校正ユニット１０２の例を示す。尚、図４において、図３と同符号のブロックは、同一又は同様の機能を有する。また、図４において、図３で説明した計測ブロック１２１は、計測回路２０１と、シャント抵抗Ｒ１と、スイッチアレイ２０２とに分けて描かれている。さらに、計測回路２０１、スイッチ駆動回路１２５、制御回路１２０および補助電源回路１２３は、ＣＰＵ基盤２０３にまとめられ、校正ユニット１０２内のその他の部分と絶縁されている。例えば、補助電源回路１２３に供給される＋５ＶとＧＮＤの電源は、補助電源回路１２３内部のトランスにより絶縁されて各部に供給される。同様に、計測回路２０１の計測信号やスイッチ駆動回路１２５の制御信号なども内部で絶縁されている。一方、充放電試験回路１０１の充放電回路ブロック１１１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７までの７つの絶縁された充放電回路を有する。尚、各充放電回路は、それぞれ独立して接地され、互いに絶縁されている。例えば、充放電回路ＣＯＮＶ１は、チャネルｃｈ１とｃｈ２に共通の接地ＡＧＮＤ１を有する。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ２からＣＯＮＶ７は、それぞれ接地ＡＧＮＤ２からＡＧＮＤ７を有する。そして、接地ＡＧＮＤ１からＡＧＮＤ７は互いに絶縁されている。尚、校正ユニット１０２が充放電試験装置１０１に接続されている状態では、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３の接地ＡＧＮＤ１からＡＧＮＤ３は、校正ユニット１０２内部でシャント抵抗Ｒ１の端子ｂおよび計測回路２０１に共通に接続される。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ４からＣＯＮＶ７の接地ＡＧＮＤ４からＡＧＮＤ７は、校正ユニット１０２の内部でシャント抵抗Ｒ１の端子ａおよび計測回路２０１に共通に接続される。尚、計測回路２０１やスイッチ駆動回路１２５の内部の回路は、トランスなどで絶縁されている。例えば、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３の接地ＡＧＮＤ１からＡＧＮＤ３は、充放電回路ＣＯＮＶ４からＣＯＮＶ７の接地ＡＧＮＤ４からＡＧＮＤ７と絶縁されている。
【００３７】
そして、充放電回路ＣＯＮＶ１のｃｈ１からＣＯＮＶ３のｃｈ６までのいずれかのチャネルに対して放電モードの校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３と接地が絶縁された対向する充放電回路ＣＯＮＶを選択する。例えば、充放電試験装置１０１は、対向する充放電回路ＣＯＮＶとして、充放電回路ＣＯＮＶ４のｃｈ７からＣＯＮＶ７のｃｈ１３までのいずれかのチャネルを充電モードに設定する。そして、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、放電モードに設定されたチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルの放電電圧や放電電流を計測する。逆に、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３のチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルに対して充電モードの校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３と接地が絶縁された対向する充放電回路ＣＯＮＶを選択する。例えば、充放電試験装置１０１は、対向する充放電回路ＣＯＮＶとして、充放電回路ＣＯＮＶ４のｃｈ７からＣＯＮＶ７のｃｈ１３までのいずれかのチャネルを放電モードに設定する。そして、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、充電モードに設定されたチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルの充電電圧や充電電流を計測する。
【００３８】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３のチャネルｃｈ１からｃｈ６に対して、充電モードまたは放電モードの校正試験を行うことができる。
【００３９】
尚、充放電回路ＣＯＮＶ４からＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ７からｃｈ１３に対する充電モードまたは放電モードの校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ４からＣＯＮＶ７と接地が絶縁された対向する充放電回路ＣＯＮＶを選択する。例えば、充放電試験装置１０１は、対向する充放電回路ＣＯＮＶとして、充放電回路ＣＯＮＶ１のｃｈ１からＣＯＮＶ３のｃｈ６までのいずれかのチャネルを放電回路または充電回路として使用する。
【００４０】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の充放電回路ＣＯＮＶのチャネルｃｈの一方を充電モード、他方を放電モードにそれぞれ設定する。そして、充放電試験システム１００は、充電モードに設定された充放電回路ＣＯＮＶと放電モードに設定された充放電回路ＣＯＮＶとの間に校正ユニット１０２を配置して、充電電流、充電電圧、放電電流、放電電圧などを計測することができる。
【００４１】
次に、図４において、校正ユニット１０２の内部の回路について説明する。
【００４２】
計測回路２０１は、シャント抵抗Ｒ１の両端の電圧から充放電電流を計測し、充放電試験装置１０１の各チャネルｃｈの端子間電圧から充放電電圧を計測する。尚、計測回路２０１は、制御回路１２０により制御され、計測結果を制御回路１２０に出力する。
【００４３】
スイッチアレイ２０２は、１３個のチャネルｃｈを有する充放電回路ブロック１１１のどのチャネルｃｈを使用するかを切り替えるための複数のスイッチを有する。スイッチアレイ２０２は、制御回路１２０によりスイッチ駆動回路１２５を介して制御される。図４の例では、スイッチアレイ２０２は、スイッチＳＷ１からスイッチＳＷ１３の１３個のスイッチを有する。スイッチＳＷ１からスイッチＳＷ１３の一端は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１からチャネルｃｈ１３の正電源（＋）にそれぞれ接続され、スイッチＳＷ１からスイッチＳＷ１３の他端は、共通に接続されている。そして、充放電試験装置１０１は、例えばチャネルｃｈ１の充電モードの校正試験を行う場合、対向するチャネルｃｈ７からｃｈ１３のうち、例えばチャネルｃｈ７を放電モードに設定する。この場合、図３に示した試験管理装置１０３のパソコン１３３は、無線親機１３２および無線子機１２２を介して、チャネルｃｈ１の充電モードの校正試験をチャネルｃｈ７を放電モードにして計測するように制御回路１２０に指令する。尚、図３において、パソコン１３３は、ＨＵＢ１３１を介して充放電試験装置１０１の制御回路１１２にも、チャネルｃｈ１の充電モードの校正試験をチャネルｃｈ７を放電モードにして計測することを指令する。これにより、充放電試験装置１０１は、図４に示した充放電回路ブロック１１１の充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電モードに設定し、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電モードに設定する。
【００４４】
そして、校正ユニット１０２の制御回路１２０は、スイッチ駆動回路１２５を制御して切替信号ＣＮ１を出力し、チャネルｃｈ１の正電源（＋）の経路に配置されたスイッチＳＷ１をオンにする。同時に、制御回路１２０は、スイッチ駆動回路１２５を制御して切替信号ＣＮ７を出力し、チャネルｃｈ７の正電源（＋）の経路に配置されたスイッチＳＷ７をオンにする。このようにして、充電電流は、チャネルｃｈ１の正電源（＋）からチャネルｃｈ７の正電源（＋）に入り、チャネルｃｈ７の負電源（−）からシャント抵抗Ｒ１を介してチャネルｃｈ１の負電源（−）に戻る。
【００４５】
図５は、負電源の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入する場合の充電モードまたは放電モードの校正試験の例を示す。尚、図５において、（Ｖ）印は電圧計、（Ａ）印は電流計をそれぞれ示す。先ず、図５（ａ）はチャネルｃｈ１の充電モードの校正試験の例を示し、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、チャネルｃｈ１の正電源（ＶＳ１＋）と負電源（ＶＳ１−）との間の充電電圧の特性を計測する。同時に、計測回路２０１は、シャント抵抗Ｒ１を流れるチャネルｃｈ１の充電電流の特性を計測する。
【００４６】
逆に、チャネルｃｈ１の放電モードの校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、図４に示した充放電回路ブロック１１１の充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を放電モードに設定し、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を充電モードに設定する。そして、校正ユニット１０２の制御回路１２０は、スイッチＳＷ１およびＳＷ７をそれぞれオンにする。図５（ｂ）はチャネルｃｈ１の放電モードの校正試験の例を示し、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、チャネルｃｈ１の正電源（ＶＳ１＋）と負電源（ＶＳ１−）との間の放電電圧を計測する。同時に、計測回路２０１は、シャント抵抗Ｒ１を流れるチャネルｃｈ１の放電電流を計測する。
【００４７】
尚、チャネルｃｈ１およびｃｈ７以外の対向するチャネルｃｈを組み合わせて充電モードまたは放電モードの校正試験を行う場合についても、校正ユニット１０２は、スイッチＳＷ１からスイッチＳＷ１３を制御して、同様に計測することができる。
【００４８】
切替回路１２４は、スイッチＳＷ２１と、スイッチＳＷ２２とを有する。スイッチＳＷ２１およびＳＷ２２は、切替信号ＣＮ２１により連動して制御される。そして、充放電回路ＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１３からＤＣ＋５Ｖを補助電源回路１２３に供給する場合、制御回路１２０は、スイッチＳＷ２１およびＳＷ２２により、充放電回路ＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１３と補助電源回路１２３とを接続する。これにより、充放電回路ＣＯＮＶ７の正電源（＋）は補助電源回路１２３のＤＣ＋５Ｖに、充放電回路ＣＯＮＶ７の負電源（−）は補助電源回路１２３のＧＮＤに、それぞれ接続される。また、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１からＤＣ＋５Ｖを補助電源回路１２３に供給する場合、制御回路１２０は、スイッチＳＷ２１およびＳＷ２２により、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１と補助電源回路１２３とを接続する。これにより、充放電回路ＣＯＮＶ１の正電源（＋）は補助電源回路１２３のＤＣ＋５Ｖに、充放電回路ＣＯＮＶ１の負電源（−）は補助電源回路１２３のＧＮＤに、それぞれ接続される。
【００４９】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、校正ユニット１０２の切替回路１２４により、充放電試験装置１０１のチャネルｃｈ１またはチャネルｃｈ１３から校正ユニット１０２に電源を供給することができる。尚、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、チャネルｃｈ１の校正試験を行う時はチャネルｃｈ１３から校正ユニット１０２に電源を供給し、チャネルｃｈ１３の校正試験を行う時はチャネルｃｈ１から校正ユニット１０２に電源を供給する。
【００５０】
このように、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１から校正ユニット１０２に電源を供給する。また、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、校正試験の対象となる充放電回路ＣＯＮＶに他の充放電回路ＣＯＮＶを対向させて、その間にシャント抵抗Ｒ１を有する校正ユニット１０２を配置する。そして、充放電回路ＣＯＮＶの充電モードの校正試験を行う場合は、対向する充放電回路ＣＯＮＶを放電モードに設定して、試験時の充電電流を電源側に回生する。逆に、充放電回路ＣＯＮＶの放電モードの校正試験を行う場合は、対向する充放電回路ＣＯＮＶを充電モードに設定して、試験時の放電電流を電源側に回生する。これにより、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、校正試験時の電源効率を向上することができる。
【００５１】
ここで、従来は、充放電試験装置１０１を校正するために、充電用の電源装置と放電用の抵抗器とが用いられていた。これに対して、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１を充電用の電源装置と放電用の抵抗器として利用する。例えば、充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の一部のチャネルｃｈを充電回路に設定して充電用の電源装置の代わりに使用し、別のチャネルｃｈの放電特性を試験することができる。同様に、充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の一部のチャネルｃｈを放電回路に設定して放電用の抵抗器の代わりに使用し、別のチャネルｃｈの充電特性を試験することができる。これにより、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充電用の電源装置や放電用の抵抗器を使用しなくてもよく、コスト削減を図ることができる。また、従来の放電試験では、充電試験時の電気エネルギーが放電用の抵抗器により熱エネルギーに変換されて捨てられていたので、省エネルギーの観点から問題があった。また、従来は、放電用の大型の抵抗器や放熱器などが用いられるので、装置の小型化などが難しかった。これに対して、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の放電回路から電気エネルギーを電源側に戻す回生方式を用いており、充電回路から出力される電気エネルギーを回収できるので無駄な電力消費がなくなり、電源効率が良くなる。
【００５２】
また、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、接地が絶縁された充放電回路ＣＯＮＶを対向させて、接地側の負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入するので、簡単な計測回路で従来よりも精度の高い測定を行うことができる。ここで、正電源（＋）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入すれば接地が共通でもよいが、性能が良い差動アンプを用いてシャント抵抗Ｒ１の両端電圧を計測することが求められる。これは、正電源（＋）の電圧変動に対してシャント抵抗Ｒ１の電圧降下が微小なので、差動アンプは、シャント抵抗Ｒ１の電圧降下に比べて大きく変動する同相電圧を除去する性能が求められるからである。もし、差動アンプの性能が十分ではない場合、充放電電流の検出誤差が問題となる。
【００５３】
これに対して、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、接地側の負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入するので、性能が良い差動アンプを用いることなく、従来よりも高精度に充放電電流を計測することができる。
【００５４】
さらに、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、シャント抵抗Ｒ１を用いるので、次に説明するように、充放電特性が変化する過程を観測することができる。
【００５５】
図６は、充電特性の例を示す。図６において、横軸は電流Ｉ、縦軸は電圧Ｖ、をそれぞれ示している。定電圧定電流方式を用いた二次電池１５０の充電特性３０３は、先ず、二次電池の種類に応じて設定された定電圧（ＣＶ：（Constant Voltage））になるまで定電流（ＣＣ：（Constant Current））が流れて二次電池１５０の端子間電圧が上昇していく。そして、二次電池１５０の端子間電圧が定電圧に達すると、電流が徐々に減少していき、満充電に達すると電流が０になる。
【００５６】
例えば、設定電圧（ＣＶ）を１０Ｖ，設定電流（ＣＣ）を１００Ａとする定電圧定電流方式で校正を行う場合、従来は、次のように校正試験を行っていた。従来の校正試験は、オープン状態（符号３０２で示した部分）の電圧が（１０±α）Ｖになっているか否か、ショート状態（白丸印３０１で示した部分）の電流が（１００±β）になっているか否か、の２つの状態を計測する。ここで、αおよびβは、電圧および電流の許容範囲である。これに対して、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の複数の充放電回路ＣＯＮＶの一部を充電回路、他方を放電回路にそれぞれ設定して、充電回路と放電回路との間に挿入されたシャント抵抗Ｒ１により充放電電流の変化を計測する。同時に、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、校正試験を行う方の充電回路や放電回路の端子間の充電電圧や放電電圧の変化を計測する。このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、従来のようにオープン時の電圧やショート時の電流だけでなく、充電特性３０３の変化の過程を詳しく観測することができる。尚、図６は充電特性３０３の例を示したが、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、放電特性についても同様に計測できる。また、図６では、充電特性３０３が直線的に描かれているが、実際には異なる。
【００５７】
尚、図５の説明では、接地が独立した充放電回路ＣＯＮＶを対向させて校正試験を行うようにした。このため、接地側の負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入したが、接地が独立していない充放電回路ＣＯＮＶを対向させて校正試験を行う場合は、正電源（＋）の経路にシャント抵抗Ｒ１を入れてもよい。
【００５８】
図７は、正電源の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入する場合の充電モードまたは放電モードの校正試験の例を示す。尚、図７において、図５と同符号のものは同一又は同様の機能を有する。図７（ａ）は、チャネルｃｈ１の充電モードの校正試験の例を示し、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、チャネルｃｈ１の正電源（ＶＳ１＋）と負電源（ＶＳ１−）との間の充電電圧を計測する。同時に、計測回路２０１は、シャント抵抗Ｒ１を流れるチャネルｃｈ１の正電源（＋）の経路の充電電流を計測する。
【００５９】
逆に、チャネルｃｈ１の放電モードの校正試験を行う場合、例えば対向するチャネルｃｈ７を充電モードに設定して、スイッチＳＷ１およびスイッチＳＷ７をそれぞれオンにする。
【００６０】
また、図７（ｂ）はチャネルｃｈ１の放電モードの校正試験の例を示し、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、チャネルｃｈ１の正電源（ＶＳ１＋）と負電源（ＶＳ１−）との間の放電電圧を計測する。同時に、計測回路２０１は、シャント抵抗Ｒ１を流れるチャネルｃｈ１の正電源（＋）の経路の放電電流を計測する。
【００６１】
尚、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１およびｃｈ７以外の対向するチャネルｃｈを組み合わせて充電モードまたは放電モードの校正試験を行う場合も同様に計測することができる。
［充放電試験装置１０１の処理例］
図８は、充放電試験装置１０１の処理例を示す。
【００６２】
ステップＳ１０１において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、二次電池１５０（または校正ユニット１０２）が接続されたか否かを検出し、接続されるまで待機する。
【００６３】
尚、接続の有無は、例えば、図３で説明したＲＦＩＤリーダ１９２で校正ユニット１０２（または二次電池１５０）に取り付けられたＲＦＩＤタグ１９１の情報を読み取ることにより、検出できる。
【００６４】
ステップＳ１５１において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、接続された装置が校正ユニット１０２であるか否かを判別する。そして、制御回路１１２は、校正ユニット１０２である場合、ステップＳ１５２の処理に進み、二次電池１５０である場合、ステップＳ１０２の処理に進む。
【００６５】
尚、校正ユニット１０２であるか二次電池１５０であるかの判別は、ＲＦＩＤリーダ１９２がＲＦＩＤタグ１９１から読み取った情報により行うことができる。例えば、充放電試験装置１０１または試験管理装置１０３は、試験ラインを流れている校正ユニット１０２や二次電池１５０の識別情報を予め登録したテーブルを有する。そして、充放電試験装置１０１または試験管理装置１０３は、ＲＦＩＤリーダ１９２で読み取った識別情報とテーブルに登録された識別情報とを比較して、接続されている校正ユニット１０２（または二次電池１５０）の個体識別を行うことができる。
【００６６】
ステップＳ１５２において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、接続された装置が校正ユニット１０２なので、校正試験の準備を行う。例えば、制御回路１１２は、校正ユニット１０２が接続されたことを試験管理装置１０３の制御パソコン１３３に通知する。これを受けたパソコン１３３は、無線親機１３２および無線子機１２２を経由して校正ユニット１０２の制御回路１２０に校正試験の開始を指令する。一方、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、予め決められたチャネルｃｈへの電源供給を開始する。例えば図４の場合、校正ユニット１０２は、切替回路１２４によりチャネルｃｈ１３が補助電源回路１２３側に切り替えられている。これにより、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１３から校正ユニット１０２の補助電源回路１２３にＤＣ＋５Ｖの定電圧電源を供給する。尚、校正ユニット１０２に電源が供給されていない場合、切替回路１２４は、デフォルトでチャネルｃｈ１３が補助電源回路１２３に接続された状態になっている。そして、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２が接続されたことを検出すると、チャネルｃｈ１３をＤＣ＋５Ｖの定電圧電源に設定する。ここで、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１３の校正試験を行う場合、切替回路１２４によりチャネルｃｈ１側に補助電源回路１２３を接続して、チャネルｃｈ１からＤＣ＋５Ｖの定電圧電源の供給を受ける。尚、切替回路１２４をチャネルｃｈ１３からｃｈ１に切り替える時、瞬間的に補助電源回路１２３への電源供給が途切れるが、補助電源回路１２３の内部のコンデンサなどにより、動作が中断しないようになっている。また、チャネルｃｈ１３からｃｈ１へ切り替えるタイミングは、試験管理装置１０３の制御パソコン１３３が管理する。例えば試験管理装置１０３は、充放電試験装置１０１が充放電回路ＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１３から充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１に電源供給を切り替えるタイミングを調整する。この場合、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２の切替回路１２４が補助電源回路１２３に接続するチャネルをチャネルｃｈ１３からｃｈ１に切り替えるタイミングと合わせるように調整する。この時、試験管理装置１０３は、充放電試験装置１０１が時間的に重複してチャネルｃｈ１とチャネルｃｈ１３とからＤＣ＋５Ｖの定電圧電源を供給するようにしてもよい。
【００６７】
ステップＳ１５３において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、試験管理装置１０３のパソコン１３３から校正試験を開始するように指令される。尚、パソコン１３３は、校正ユニット１０２の制御回路１２０から起動が完了したことを無線子機１２２および無線親機１３２を介して通知されている。そして、パソコン１３３は、校正ユニット１０２の制御回路１２０に対しても校正試験の開始を指令する。この後、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、校正ユニット１０２に電源を供給しているチャネルｃｈ以外の各ｃｈに対して、予め設定された内容の校正試験を行う。例えばチャネルｃｈ１３からＤＣ＋５Ｖの定電圧電源を供給している場合、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１のチャネルｃｈ１からｃｈ１２までの各ｃｈで充電試験や放電試験を行う。ここで、校正試験において、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、例えば充放電試験装置１０１の充放電電圧や充放電電流などを計測し、計測結果は、適宜、制御回路１２０から試験管理装置１０３のパソコン１３３に無線で通知される。そして、制御パソコン１３３は、計測結果に応じて充放電試験装置１０１の制御回路１１２に指令して、充放電回路ＣＯＮＶの設定電圧や設定電流を調整する。
【００６８】
ステップＳ１５４において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、校正試験が終了したか否かを判別し、終了するまでステップＳ１５３の動作を継続する。そして、校正試験が終了した場合、制御回路１１２は、次のステップＳ１５５の処理に進む。尚、一連の処理は、校正ユニット１０２および試験管理装置１０３のそれぞれの処理と連携して行われる。例えば、試験管理装置１０３は、充放電試験装置１０１にチャネルｃｈを指定して充電試験を指示し、校正ユニット１０２に指定されたチャネルｃｈの充電電圧や充電電流を計測するよう指示する。また、試験管理装置１０３は、校正試験の対象となるチャネルｃｈに対向するチャネルｃｈの指定も行う。これにより、充放電試験システム１００は、例えばチャネルｃｈ１とチャネルｃｈ７とを対向させて、チャネルｃｈ１とｃｈ７の間にシャント抵抗Ｒ１を有する校正ユニット１０２を配置して、チャネルｃｈ１またはチャネルｃｈ７の校正試験を行うことができる。
【００６９】
ステップＳ１５５において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの全ｃｈに対する校正試験が終了したか否かを判別し、終了していない場合はステップＳ１５６の処理に進み、終了した場合はステップＳ１５７の処理に進む。尚、一連の処理は、校正ユニット１０２および試験管理装置１０３のそれぞれの処理と連携して行われる。そして、試験管理装置１０３は、校正ユニット１０２の切替回路１２４の状態や充放電試験装置１０１から校正ユニット１０２に電源を供給しているチャネルｃｈなどを管理する。
【００７０】
ステップＳ１５６において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、試験管理装置１０３からの指令に基づいて、校正ユニット１０２に電源を供給しているチャネルｃｈを校正試験が終了した他のチャネルｃｈに切り替える。先の例の場合、充放電試験装置１０１は、チャネルｃｈ１３から校正ユニット１０２に電源を供給していたので、校正試験が終了したチャネルｃｈ１に切り替えて校正ユニット１０２に電源を供給する。尚、充放電試験装置１０１は、ｃｈ１３からの電源供給を切る前にｃｈ１から電源供給を開始し、ｃｈ１からの電源供給が完了してからｃｈ１３からの電源供給を停止するようにしてもよい。これにより、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１およびｃｈ１３から時間的にオーバーラップして電源が供給されるので、校正ユニット１０２への電源供給が途切れることを防止できる。尚、試験管理装置１０３は、充放電試験装置１０１の動作と並行して、校正ユニット１０２に対しても、補助電源回路１２３に接続するチャネルｃｈをｃｈ１３からｃｈ１に切り替えるように指令する。そして、ステップＳ１５３に戻って、充放電試験装置１０１および校正ユニット１０２は、校正試験が終了していないｃｈ１３の校正試験を同様に行う。
【００７１】
ステップＳ１５７において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、試験管理装置１０３から各チャネルｃｈの校正試験が終了したことが通知されると、校正ユニット１０２への電源供給を停止する。先の例では、チャネルｃｈ１への電源供給を停止し、充放電回路ブロック１１１のチャネルｃｈ１の設定をＤＣ＋５Ｖの定電圧電源から二次電池１５０の充放電試験用の設定に戻しておく。これにより、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２の次に二次電池１５０が充放電試験装置１０１に接続された場合に、二次電池１５０の充放電試験を直ぐに行うことができる。
【００７２】
このようにして、充放電試験装置１０１、校正ユニット１０２および試験管理装置１０３は、一連の校正試験を終了する。
【００７３】
次に、ステップＳ１５１において、充放電試験装置１０１が二次電池１５０の接続を検出した場合、充放電試験装置１０１は、次のように処理を行う。
【００７４】
ステップＳ１０２において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、予め設定された試験モードで二次電池１５０の充放電試験を行う。例えば、制御回路１１２は、１０Ｖ、１００Ａの定電圧定電流方式で充電試験または放電試験を行い、二次電池１５０の充放電特性を計測する。
【００７５】
ステップＳ１０３において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、試験が終了したか否かを判別し、終了するまでステップＳ１０２の動作を継続する。そして、制御回路１１２は、試験が終了した場合は、次のステップに進む。
【００７６】
ステップＳ１０４において、充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、二次電池１５０の識別情報と試験結果とをＬＡＮを介して試験管理装置１０３の制御パソコン１３３に通知する。
【００７７】
このようにして、充放電試験装置１０１は、試験ライン上で二次電池１５０が接続された場合は二次電池１５０の充放電試験、校正ユニット１０２が接続された場合は校正ユニット１０２による校正試験、をそれぞれ行うことができる。
【００７８】
図９は、校正ユニット１０２の処理を示す。
【００７９】
ステップＳ２０１において、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１が接続されたか否かを検出し、接続されるまで待機する。実際には、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１から電源が供給されるまで動作しないので、充放電試験装置１０１および試験管理装置１０３は、校正ユニット１０２が起動されるまで待機する。
【００８０】
ステップＳ２０２において、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１が行う充放電試験の電流や電圧を計測し、計測結果を無線子機１２２に出力する。
【００８１】
ステップＳ２０３において、校正ユニット１０２は、計測結果を無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。尚、校正ユニット１０２は、計測結果を試験管理装置１０３に送信するときに、校正ユニット１０２自身の識別情報を計測結果と併せて試験管理装置１０３に送信する。試験管理装置１０３は、制御パソコン１３３で校正ユニット１０２から受信する識別情報と、充放電試験装置１０１のＲＦＩＤリーダ１９２により読み取った識別情報とを用いて、どの充放電試験装置１０１をどの校正ユニット１０２で校正したのかを管理する。
【００８２】
ステップＳ２０４において、校正ユニット１０２は、校正試験が終了したか否かを判別し、終了するまでステップＳ２０２の動作を継続する。そして、校正ユニット１０２は、計測が終了した場合、次のステップの処理に進む。尚、一連の処理は、充放電試験装置１０１の処理および試験管理装置１０３の処理と連携して行われ、校正ユニット１０２は、試験管理装置１０３から計測の終了が通知される。
【００８３】
ステップＳ２５１において、校正ユニット１０２は、試験管理装置１０３からの指令に基づいて、切替回路１２４により、電源供給を受けるチャネルｃｈを校正試験が終了した他のｃｈに切り替える。例えば図４の例では、校正ユニット１０２は、切替回路１２４によりチャネルｃｈ１３からｃｈ１に電源供給を受けるチャネルｃｈを切り替える。また、校正ユニット１０２は、電源供給を受けていたｃｈ１３を補助電源回路１２３側から計測回路２０１側に切り替える。
【００８４】
ステップＳ２５２において、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの全ｃｈに対する校正試験が終了したか否かを判別し、終了していない場合はステップＳ２０２の処理に戻り、終了した場合はステップＳ２０５の処理に進む。尚、一連の処理は、充放電試験装置１０１の処理および試験管理装置１０３の処理と連携して行われる。
【００８５】
ステップＳ２０５において、校正ユニット１０２は、校正ユニット１０２内の校正試験が終了したことを試験管理装置１０３に通知する。尚、試験管理装置１０３は、充放電試験装置１０１からも校正試験の終了通知を受けるので、校正ユニット１０２は、試験管理装置１０３への試験終了の通知を省略してもよい。
【００８６】
ステップＳ２５３において、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１から電源供給を受けるチャネルｃｈをデフォルトのチャネルｃｈに戻しておく。先の例では、最初に電源供給を受けるデフォルトのチャネルｃｈはｃｈ１３なので、校正ユニット１０２は、切替回路１２４によりチャネルｃｈ１３を補助電源回路１２３側に切り替え、チャネルｃｈ１からｃｈ１２までを計測回路２０１側に切り替えておく。
【００８７】
次に、試験管理装置１０３の動作例について説明する。
【００８８】
図１０は、試験管理装置１０３の処理を示す。尚、図１０のフローチャートは、校正試験時の制御パソコン１３３の処理である。制御パソコン１３３は、校正試験時の処理以外にも二次電池１５０の製造管理処理（二次電池１５０のシリアル番号毎に試験結果や試験日時を管理するなど）を行ったり、充放電試験装置１０１の校正日程や校正結果などを管理する処理を行う。
【００８９】
以下、試験管理装置１０３の校正時の処理について、順番に説明する。尚、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１に接続された状態にあり、充放電試験装置１０１は、予め設定された試験モードによる充放電試験の校正を開始し、これに合わせて校正ユニット１０２は、校正用の計測を開始した状態になっている。また、制御パソコン１３３は、先に説明したように、充放電試験装置１０１および校正ユニット１０２の識別情報を接続時に取得している。
【００９０】
ステップＳ３０１において、制御パソコン１３３は、校正ユニット１０２から計測値を受信するまで待機する。尚、実際には、無線親機１３２による割り込み処理なので、制御パソコン１３３は、待機中、他の処理を行っている。そして、制御パソコン１３３は、校正ユニット１０２から計測値を受信すると、次のステップＳ３０２の処理に進む。
【００９１】
ステップＳ３０２において、制御パソコン１３３は、ステップＳ３０１で受信した計測値と、充放電試験装置１０１に予め設定されている出力設定値（二次電池１５０の試験値）とを比較する。そして、比較結果が予め設定された出力設定値からずれている場合はステップＳ３０３の処理に進み、出力設定値からずれていない場合はステップＳ３０４の処理に進む。
【００９２】
ここで、充放電試験装置１０１が端子１１７のｃｈ１から出力する充電電圧の校正を行う場合を例に挙げて説明する。充放電試験装置１０１から出力される充電電圧の規定範囲が試験仕様で例えば１８Ｖ±０．５Ｖに決められている場合、試験管理装置１０３は、校正ユニット１０２が計測した端子１１８のｃｈ１の電圧が規定範囲内に収まっているか否かを確認する。実際には、先に説明したように、試験管理装置１０３は、計測電圧が例えば規定範囲の５０％（１８Ｖ±０．２５Ｖ）を外れた値（例えば１７．６Ｖなど）の場合、ステップＳ３０３の処理に進む。ここで、先に説明したように、校正ユニット１０２の計測値が二次電池１５０の試験仕様の規定範囲を超えている場合（例えば、計測値が１９Ｖや１７Ｖ）、製造者は、その充放電試験装置１０１で試験した過去の二次電池１５０の再試験を行うことが求められる。尚、校正ユニット１０２の計測値が二次電池１５０の試験仕様の規定範囲を超えている場合、試験管理装置１０３の制御パソコン１３３は、アラーム音を発生したり、警報メッセージを表示するようにしてもよい。これにより、製造管理者は、二次電池１５０の試験不良を知ることができる。
【００９３】
ステップＳ３０３において、制御パソコン１３３は、ステップＳ３０２の比較結果に応じて充放電試験装置１０１の端子１１７のチャネルｃｈ１の充電電圧を調整する。先の例では、制御パソコン１３３は、ＨＵＢ１３１を介して充放電試験装置１０１の制御回路１１２にチャネルｃｈ１の出力電圧（１７．６Ｖ）を１８Ｖに上げるように指令する。これを受けた充放電試験装置１０１の制御回路１１２は、充放電回路ブロック１１１のチャネルｃｈ１の出力電圧を０．４Ｖだけ上げるように充放電回路ブロック１１１を制御する。そして、制御パソコン１３３は、調整後の計測値を校正ユニット１０２に要求し、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１を再び計測して、制御パソコン１３３に送信する。制御パソコン１３３は、再計測値が規定範囲内に調整されているか否かを確認する。尚、調整が不十分な場合（例えばチャネルｃｈ１の出力電圧が１７．６Ｖから１７．７Ｖにしか上がらなかった場合）、制御パソコン１３３は、チャネルｃｈ１の出力電圧が規定範囲内に収まるまで、ステップＳ３０２およびステップＳ３０３の処理を繰り返す。
【００９４】
ステップＳ３０４において、制御パソコン１３３は、充放電試験装置１０１の校正試験の項目（充電電圧や充電電流など）を終了したか否かを判別し、終了していない項目がある場合は、ステップＳ３０１の処理に戻って、校正試験を継続する。尚、校正が正常に終了しなかった場合、制御パソコン１３３は、例えば画面に充放電試験装置１０１の識別情報と共に校正エラーを表示し、保守管理者に当該充放電試験装置１０１の使用停止を促す。ここで、校正が正常に終了しなかった場合の例として、例えば、ステップＳ３０３の調整で正常な値に設定できなかった場合や計測値が規定範囲を超えていた場合などがある。
【００９５】
ステップＳ３０５において、制御パソコン１３３は、充放電試験装置１０１の校正試験の結果をパソコン内のハードディスクなどに記録して管理する。以下は、記録される情報の例である。
・充放電試験装置１０１：識別情報＝１１１２
・校正日時：２０１３年２月３日  ６：００
・校正ユニット：識別情報＝００３３
・校正結果：正常
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１、校正ユニット１０２および試験管理装置１０３により、二次電池１５０の充放電試験を行いながら、同じ試験ライン上に校正ユニット１０２を流して自動的に充放電試験装置１０１の校正を行うことができる。
【００９６】
図１１は、スイッチアレイ２０２の例を示す。図１１において、スイッチアレイ２０２は、例えばチャネルｃｈ１用として、正電源（＋）の経路に配置されるスイッチＳＷｐａ１，ＳＷｐｂ１と、負電源（−）の経路に配置されるスイッチＳＷｎａ１，ＳＷｎｂ１とを有する。同様に、スイッチアレイ２０２は、例えばチャネルｃｈ２用として、正電源（＋）の経路に配置されるスイッチＳＷｐａ２，ＳＷｐｂ２と、負電源（−）の経路に配置されるスイッチＳＷｎａ２，ＳＷｎｂ２とを有する。また、スイッチアレイ２０２は、その他のチャネルｃｈ３からｃｈ１３についても、チャネルｃｈ１やｃｈ２と同様に複数のスイッチを有する。尚、各スイッチは、制御回路１２０がスイッチ駆動回路１２５を介して出力する切替信号によりオンオフが制御される。例えば、制御回路１２０は、切替信号ＣＮｐａ１によりスイッチＳＷｐａ１のオンオフを制御し、切替信号ＣＮｎａ１によりスイッチＳＷｎａ１のオンオフを制御する。その他のスイッチについても、制御回路１２０は、切替信号により同様にオンオフを制御する。
【００９７】
ここで、図１１において、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの正電源（＋）の経路または負電源（−）の経路に配置されている各スイッチＳＷの符号の付け方について説明する。先ず、正電源（＋）の経路に配置されるスイッチＳＷには、正電源（＋）を示す「ｐ」を付加して、スイッチＳＷｐと表記し、さらに、シャント抵抗Ｒ１のａ側に接続されるスイッチＳＷｐには「ａ」を付加して、スイッチＳＷｐａと表記する。そして、チャネルｃｈ１のスイッチＳＷｐａの場合は、チャネルｃｈ１の番号「１」を付加して、スイッチＳＷｐａ１と表記する。同様に、シャント抵抗Ｒ１のｂ側に接続されるチャネルｃｈ１のスイッチＳＷｐには「ｂ」を付加して、スイッチＳＷｐｂ１と表記する。
【００９８】
また、負電源（−）の経路に配置されるスイッチＳＷには、負電源（−）を示す「ｎ」を付加して、スイッチＳＷｎと表記し、以降は、正電源（＋）に配置されるスイッチと同じように符号が付加される。例えば、チャネルｃｈ１の負電源（−）の経路でシャント抵抗Ｒ１のｂ側に接続されるスイッチは、スイッチＳＷｎｂ１のように表記する。
【００９９】
尚、各スイッチの切替信号は、スイッチと同様の規則で符号が付加され、各スイッチの符号「ＳＷ」を切替信号を示す符号「ＣＮ」に置き換えればよい。例えば、スイッチＳＷｐａ１の切替信号はＣＮｐａ１、スイッチＳＷｎｂ１の切替信号はＣＮｎｂ１、とそれぞれ表記する。
【０１００】
また、シャント抵抗Ｒ１のａ側の経路には、スイッチＳＷＲａが配置され、シャント抵抗Ｒ１のｂ側の経路には、スイッチＳＷＲｂが配置されている。スイッチＳＷＲａおよびスイッチＳＷＲｂは、制御回路１２０が出力する切替信号ＣＮＲにより連携して動作する。そして、シャント抵抗Ｒ１を正電源（＋）の経路に挿入する場合、スイッチＳＷＲａおよびスイッチＳＷＲｂは、それぞれｐ側に切り替えられる。逆に、シャント抵抗Ｒ１を負電源（−）の経路に挿入する場合、スイッチＳＷＲａおよびスイッチＳＷＲｂは、それぞれｎ側に切り替えられる。
【０１０１】
このように、スイッチアレイ２０２は、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの１３個の充放電回路ＣＯＮＶのいずれか２つを選択する。且つ、スイッチアレイ２０２は、充放電回路ＣＯＮＶの正電源（＋）の経路または負電源（−）の経路のいずれかにシャント抵抗Ｒ１を挿入できるようにした回路である。
【０１０２】
ここで、図１１において、負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入する場合、制御回路１２０は、校正試験の対象とする充放電回路ＣＯＮＶと接地が絶縁された充放電回路ＣＯＮＶを対向する回路として選択する。尚、正電源（＋）の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入する場合は、対向する充放電回路ＣＯＮＶの接地が共通であってもよい。
［充放電回路ＣＯＮＶの接地が絶縁されている場合の例］
次に、対向する充放電回路ＣＯＮＶの接地が絶縁されている場合の校正試験の例について説明する。
【０１０３】
図１２は、負電源の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入して校正試験を行う場合のスイッチアレイ２０２の例を示す。尚、図１２は、接地が絶縁されたチャネルｃｈ１とｃｈ１２の充放電回路を対向させて、充電モードに設定されたチャネルｃｈ１の充電特性の校正試験または放電モードに設定されたチャネルｃｈ１２の放電特性の校正試験を行う時の電流の流れを示している。図１２において、放電モードに設定されたチャネルｃｈ１の正電源（＋）から出力される電流は、スイッチＳＷｐｂ１およびスイッチＳＷｐｂ１２を通って放電モードに設定されたチャネルｃｈ１２の正電源（＋）に流れる。ここで、チャネルｃｈ１の充放電回路ＣＯＮＶ１とチャネルｃｈ１２の充放電回路ＣＯＮＶ６は、接地が絶縁されているので、チャネルｃｈ１２の充放電回路ＣＯＮＶ６を通った電流は、スイッチＳＷｎｂ１２とＳＷＲｂとを通ってシャント抵抗Ｒ１のｂ側に流れる。そして、シャント抵抗Ｒ１のａ側からスイッチＳＷＲａおよびスイッチＳＷｎａ１を通ってチャネルｃｈ１の負電源（−）に戻る。
【０１０４】
このようにして、校正ユニット１０２は、負電源（−）の経路に挿入されたシャント抵抗Ｒ１により、充電電流または放電電流を計測することができる。
【０１０５】
尚、校正ユニット１０２は、充放電回路ＣＯＮＶの１つのチャネルｃｈで電流容量が不足する場合、複数のチャネルｃｈを並列にして使用してもよい。例えば図１２において、チャネルｃｈ１とチャネルｃｈ２を並列に使用する場合、制御回路１２０は、スイッチＳＷｐｂ１とスイッチＳＷｐｂ２とをオンにする。さらに、制御回路１２０は、スイッチＳＷｎａ１とスイッチＳＷｎａ２とをオンにする。これにより、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１とチャネルｃｈ２を並列に使用して校正試験を行うことができる。
［充放電回路ＣＯＮＶの接地が共通の場合の例］
次に、対向する充放電回路ＣＯＮＶの接地が共通の場合の校正試験の例について説明する。
【０１０６】
図１３は、正電源の経路にシャント抵抗Ｒ１を挿入して校正試験を行う場合のスイッチアレイ２０２の例を示す。尚、図１３は、接地が共通の充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１とｃｈ２の充放電回路を対向させて、充電モードに設定されたｃｈ１の充電特性の校正試験または放電モードに設定されたｃｈ２の放電特性の校正試験を行う時の電流の流れを示している。図１３において、充電モードに設定されたチャネルｃｈ１の正電源（＋）から出力される電流は、スイッチＳＷｐａ１およびスイッチＳＷＲａを通ってシャント抵抗Ｒ１のａ側に流れる。そして、シャント抵抗Ｒ１のｂ側からスイッチＳＷＲｂおよびスイッチＳＷｐｂ２を通ってチャネルｃｈ２の正電源（＋）に流れる。ここで、チャネルｃｈ１とｃｈ２は同じ充放電回路ＣＯＮＶ１に格納されており、接地ＡＧＮＤ１が共通なので、チャネルｃｈ２に流れ込んだ電流は、共通の接地ＡＧＮＤ１を通ってチャネルｃｈ１に戻る。
【０１０７】
このようにして、校正ユニット１０２は、正電源（＋）の経路に挿入されたシャント抵抗Ｒ１により、充電電流または放電電流を計測することができる。
【０１０８】
尚、図１２で説明したように、図１３においても、校正ユニット１０２は、１つのチャネルｃｈで電流容量が不足する場合、複数のチャネルｃｈを並列にして使用することができる。
【０１０９】
図１４は、複数の充放電回路ＣＯＮＶを同時に校正試験する場合の例を示す。尚、図１４において、図４と同符号のものは同一又は同様の機能を有する。図１４において、校正ユニット１０２は、複数のシャント抵抗（Ｒ１１，Ｒ１２およびＲ１３）を有し、計測回路２０１は、複数のシャント抵抗の端子間電圧を計測するための複数の絶縁された計測用の回路を有する。或いは、計測回路２０１は、１つの計測用の回路を時分割で切り替えて複数のシャント抵抗の端子間電圧を計測するようにしてもよい。これにより、充放電回路ＣＯＮＶ間の絶縁性は維持できる。
【０１１０】
図１４において、制御回路１２０は、スイッチＳＷ１（またはスイッチＳＷ２）をオンして充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１（またはチャネルｃｈ２）を選択する。そして、制御回路１２０は、スイッチＳＷ７（またはスイッチＳＷ８）をオンして充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７（またはチャネルｃｈ８）を対向する回路として選択する。これにより、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１（またはｃｈ２）の充放電回路とチャネルｃｈ７（またはｃｈ８）の充放電回路とを対向させて、負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１１を挿入して、充電電流または放電電流を計測することができる。
【０１１１】
同様に、シャント抵抗Ｒ１２についても、制御回路１２０は、スイッチＳＷ３（またはスイッチＳＷ４）により充放電回路ＣＯＮＶ２のチャネルｃｈ３（またはチャネルｃｈ４）を選択する。そして、対向する回路として、制御回路１２０は、スイッチＳＷ９（またはスイッチＳＷ１０）により充放電回路ＣＯＮＶ５のチャネルｃｈ９（またはチャネルｃｈ１０）を選択する。これにより、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ３（またはチャネルｃｈ４）とチャネルｃｈ９（またはチャネルｃｈ１０）とを対向させて、負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１２を挿入して、充電電流または放電電流を計測することができる。
【０１１２】
さらに、シャント抵抗Ｒ１３についても、制御回路１２０は、スイッチＳＷ５（またはスイッチＳＷ６）により充放電回路ＣＯＮＶ３のチャネルｃｈ５（またはチャネルｃｈ６）を選択する。そして、対向する回路として、制御回路１２０は、スイッチＳＷ１１（またはスイッチＳＷ１２）により充放電回路ＣＯＮＶ６のチャネルｃｈ１１（またはチャネルｃｈ１２）を選択する。これにより、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ５（またはチャネルｃｈ６）とチャネルｃｈ１１（またはチャネルｃｈ１２）とを対向させて、負電源（−）の経路にシャント抵抗Ｒ１３を挿入して、充電電流または放電電流を計測することができる。
【０１１３】
尚、複数のシャント抵抗を用いて複数の充放電回路ＣＯＮＶを校正試験する場合、充放電試験装置１０１側の充放電回路ＣＯＮＶのチャネルｃｈ選択と、校正ユニット１０２のスイッチの制御は、試験管理装置１０３のパソコン１３３により管理される。例えばパソコン１３３は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１と充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ８とを対向させて使用する場合、校正ユニット１０２の制御回路１２０に指令し、スイッチＳＷ１とスイッチＳＷ８とをオン状態にする。
【０１１４】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、複数の充放電回路ＣＯＮＶを同時に校正試験することができる。
【０１１５】
以上、説明したように、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、試験ライン上で二次電池１５０の性能を検査する充放電試験装置１０１を校正ユニット１０２により自動的に精度良く校正することができ、校正時の電源ロスを低減することができる。
【０１１６】
以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点および利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲がその精神および権利範囲を逸脱しない範囲で前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更に容易に想到できるはずである。したがって、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物に拠ることも可能である。
【符号の説明】
【０１１７】
１００・・・充放電試験システム；１０１，１０１ａ１，１０１ａ２，１０１ａ３，１０１ｂ１，１０１ｂ２，１０１ｂ３，１０１ｃ１，１０１ｃ２，１０１ｃ３・・・充放電試験装置；１０２，１０２＿１，１０２＿２，１０２＿３，１０２＿４，１０２＿５，１０２＿６，１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃ・・・校正ユニット；１０３・・・試験管理装置；１１１・・・充放電回路ブロック；１１２・・・制御回路；１１３・・・電源回路；１１７・・・端子；１１８・・・端子；１２０・・・制御回路；１２１・・・計測ブロック；１２２・・・無線子機；１２３・・・補助電源回路；１２４・・・切替回路；１２５・・・スイッチ駆動回路；１３１・・・ＨＵＢ；１３２・・・無線親機；１３３・・・制御パソコン；１５０，１５０＿１，１５０＿２，１５０＿３，１５０＿４・・・二次電池；１６０・・・待機用ラック；１９１・・・ＲＦＩＤタグ；１９２・・・ＲＦＩＤリーダ；２０１・・・計測回路；２０２・・・スイッチアレイ；２０３・・・ＣＰＵ基盤；ＣＯＮＶ・・・充放電回路；Ｒ１，Ｒ１１，Ｒ１２，Ｒ１３・・・シャント抵抗
【図１】
2014224707.tif 000003
【図２】
2014224707.tif 000004
【図３】
2014224707.tif 000005
【図４】
2014224707.tif 000006
【図５】
2014224707.tif 000007
【図６】
2014224707.tif 000008
【図７】
2014224707.tif 000009
【図８】
2014224707.tif 000010
【図９】
2014224707.tif 000011
【図１０】
2014224707.tif 000012
【図１１】
2014224707.tif 000013
【図１２】
2014224707.tif 000014
【図１３】
2014224707.tif 000015
【図１４】
2014224707.tif 000016