【手続補正書】
【提出日】令和3年9月1日(2021.9.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測距装置（２０）であって、
パルス光を発光する発光部（４０）と、
外部物体で反射された前記パルス光の反射光を受光する受光部（６０）と、
前記受光部で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記外部物体までの距離を演算する演算部（２００）と、
前記発光部と前記受光部とを収容するケースであって、前記パルス光及び前記反射光を通過させる窓（９２）を有するケース（９０）と、
予め定められた汚れ判定条件が成立する場合に、前記窓に汚れが存在するものと判定する判定部（３００）と、
を備え、
前記汚れ判定条件は、『前記測距装置の視野範囲内の少なくとも１つの画素において、前記発光部から前記窓までの光路の距離に相当する特定の飛行時間における受光強度が強度閾値以上であること』という第１の条件を含み、
前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成して前記判定部に提供するように構成されており、
前記判定部は、前記ヒストグラムのベースラインレベルに、固定値である閾値設定値を加算することによって、前記強度閾値を算出するように構成されており、
前記測距装置は、更に、
前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、
前記判定部は、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する、測距装置。
【請求項２】
測距装置（２０）であって、
パルス光を発光する発光部（４０）と、
外部物体で反射された前記パルス光の反射光を受光する受光部（６０）と、
前記受光部で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記外部物体までの距離を演算する演算部（２００）と、
前記発光部と前記受光部とを収容するケースであって、前記パルス光及び前記反射光を通過させる窓（９２）を有するケース（９０）と、
予め定められた汚れ判定条件が成立する場合に、前記窓に汚れが存在するものと判定する判定部（３００）と、
を備え、
前記汚れ判定条件は、『前記測距装置の視野範囲内の少なくとも１つの画素において、前記発光部から前記窓までの光路の距離に相当する特定の飛行時間における受光強度が強度閾値以上であること』という第１の条件を含み、
前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成して前記判定部に提供するように構成されており、
前記ヒストグラムにおいて、受光強度が取り得る最大値から前記ヒストグラムのベースラインレベルを減算した値を実効信号レンジ幅と呼ぶとき、
前記判定部は、前記実効信号レンジ幅に１未満の係数である閾値設定値を乗算し、その乗算結果に前記ベースラインレベルを加算することによって、前記強度閾値を算出するように構成されており、
前記測距装置は、更に、
前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、
前記判定部は、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する、測距装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の測距装置であって、
前記汚れ判定条件は、更に、
『前記視野範囲内において、前記特定の飛行時間における受光強度が前記強度閾値以上となる画素の画素数が、予め定められた第１の個数閾値以上であること』
又は、
『前記視野範囲内において、前記特定の飛行時間における受光強度が前記強度閾値以上となる複数の画素が互いに連続する画素集合体が存在しており、かつ、前記画素集合体の画素数が予め定められた第１の個数閾値以上であること』
という第２の条件を含む、測距装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載の測距装置であって、
前記受光部は、距離測定用の画素とは別に、窓の汚れ検出用の画素を含む、測距装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一項に記載の測距装置であって、
前記視野範囲内における受光強度の分布を示すデータの集合をフレームと呼び、Ｎを２以上の整数とするとき、
前記判定部は、連続するＮ個のフレームにおける前記受光強度と前記強度閾値とを用いて、前記窓に汚れが存在するか否かの判定を実行する、測距装置。
【請求項６】
請求項５に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記連続するＮ個のフレームにわたって前記汚れ判定条件が連続して成立した場合に、前記窓に汚れがあるものと判定する、測距装置。
【請求項７】
請求項５に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記Ｎを３以上の整数とし、Ｍを２以上Ｎ以下の整数とするとき、前記連続するＮ個のフレームのうちのＭ個のフレームにおいて前記汚れ判定条件が成立した場合に、前記窓に汚れがあるものと判定する、測距装置。
【請求項８】
請求項５に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記連続するＮ個のフレームにわたる前記受光強度及び前記強度閾値のそれぞれの合計値又は平均値を用いて、前記汚れ判定条件が成立するか否かを判定する、測距装置。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか一項に記載の測距装置であって、更に、
前記窓に汚れが存在するものと判定された場合に、前記窓の汚れを除去するための除去動作を実行するクリーンアップ部を備える測距装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の測距装置であって、
前記クリーンアップ部は、前記窓の汚れが存在する位置に応じて複数のクリーンアップ方法のうちの１つを選択して実行する、測距装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の測距装置であって、
前記クリーンアップ部は、前記窓の複数の異なる領域の汚れ除去をそれぞれ担当する複数のウォッシャ部を有し、前記複数の異なる領域のうちの前記汚れが存在する領域に応じて、汚れ除去を担当するウォッシャ部を選択してクリーンアップを実行する、測距装置。
【請求項１２】
請求項９に記載の測距装置であって、
前記クリーンアップ部は、前記窓の汚れの程度に応じて、汚れ除去能力が異なる複数のクリーンアップ方法のうちの１つを選択して実行する、測距装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記窓の汚れの程度を示す汚れ指標値として、
前記受光強度と前記強度閾値との差分を示す第１の汚れ指標値と、
前記汚れが存在する画素数を示す第２の汚れ指標値と、
前記受光強度と前記強度閾値との差分を、前記視野範囲内の複数の画素にわたって加算した加算値を示す第３の汚れ指標値と、
のうちのいずれか一つを算出し、
前記汚れ指標値を前記クリーンアップ部に通知する、測距装置。
【請求項１４】
請求項３に従属する請求項９に記載の測距装置であって、
前記特定の飛行時間における受光強度が前記強度閾値以上となる画素の画素数が前記第１の個数閾値以上である場合に、前記判定部は、
（ａ）前記画素数が前記第１の個数閾値よりも大きな第２の個数閾値以上の場合には、前記クリーンアップ部による除去動作を実行させることなく前記窓に汚れが存在する旨の通知を実行し、
（ｂ）前記画素数が前記第２の個数閾値未満の場合には、前記クリーンアップ部に前記除去動作を実行させる、測距装置。
【請求項１５】
請求項９に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記窓に汚れが存在する旨の判定がなされていない状態で、前記受光強度に応じて新たな閾値設定値を算出して前記記憶部に保存することによって、前記閾値設定値を更新する、測距装置。
【請求項１６】
請求項１〜１５のいずれか一項に記載の測距装置であって、
前記判定部は、前記窓の中で前記汚れが存在する位置を外部に通知する、測距装置。
【請求項１７】
請求項１〜１６のいずれか一項に記載の測距装置であって、
前記演算部は、前記窓の中で前記汚れが存在する領域において得られた前記距離を外部に通知せず、前記汚れが存在しない領域において得られた前記距離を外部に出力する、測距装置。
【請求項１８】
測距装置（２０）の窓の汚れを検出する方法であって、
前記測距装置は、
パルス光を発光する発光部（４０）と、
外部物体で反射された前記パルス光の反射光を受光する受光部（６０）と、
前記受光部で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記外部物体までの距離を演算する演算部（２００）と、
前記発光部と前記受光部とを収容するケースであって、前記パルス光及び前記反射光を通過させる窓（９２）を有するケース（９０）と、
を備え、
前記方法は、
（ａ）前記受光部の出力を用いて、前記発光部から前記窓までの光路の距離に相当する特定の飛行時間における受光強度を取得する工程と、
（ｂ）『前記測距装置の視野範囲内の少なくとも１つの画素において、前記特定の飛行時間における受光強度が強度閾値以上であること』という第１の条件を含む汚れ判定条件が成立する場合に、前記窓に汚れが存在するものと判定する工程と、
を備え、
前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成するように構成されており、
前記工程（ｂ）は、前記ヒストグラムのベースラインレベルに、固定値である閾値設定値を加算することによって、前記強度閾値を算出する工程を含み、
前記測距装置は、更に、
前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、
前記工程（ｂ）では、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する、方法。
【請求項１９】
測距装置（２０）の窓の汚れを検出する方法であって、
前記測距装置は、
パルス光を発光する発光部（４０）と、
外部物体で反射された前記パルス光の反射光を受光する受光部（６０）と、
前記受光部で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記外部物体までの距離を演算する演算部（２００）と、
前記発光部と前記受光部とを収容するケースであって、前記パルス光及び前記反射光を通過させる窓（９２）を有するケース（９０）と、
を備え、
前記方法は、
（ａ）前記受光部の出力を用いて、前記発光部から前記窓までの光路の距離に相当する特定の飛行時間における受光強度を取得する工程と、
（ｂ）『前記測距装置の視野範囲内の少なくとも１つの画素において、前記特定の飛行時間における受光強度が強度閾値以上であること』という第１の条件を含む汚れ判定条件が成立する場合に、前記窓に汚れが存在するものと判定する工程と、
を備え、
前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成するように構成されており、
前記ヒストグラムにおいて、受光強度が取り得る最大値から前記ヒストグラムのベースラインレベルを減算した値を実効信号レンジ幅と呼ぶとき、
前記工程（ｂ）は、前記実効信号レンジ幅に１未満の係数である閾値設定値を乗算し、その乗算結果に前記ベースラインレベルを加算することによって、前記強度閾値を算出する工程を含み、
前記測距装置は、更に、
前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、
前記工程（ｂ）では、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する、方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本開示の一形態によれば、測距装置（２０）が提供される。この測距装置は、パルス光を発光する発光部（４０）と、外部物体で反射された前記パルス光の反射光を受光する受光部（５０）と、前記受光部で受光された前記反射光の飛行時間を用いて、前記外部物体までの距離を演算する演算部（１００）と、前記発光部と前記受光部とを収容するケースであって、前記パルス光及び前記反射光を通過させる窓（８２）を有するケース（８０）と、予め定められた汚れ判定条件が成立する場合に、前記窓に汚れが存在するものと判定する判定部（３００）と、を備え、前記汚れ判定条件は、『前記測距装置の視野範囲内の少なくとも１つの画素において、前記発光部から前記窓までの光路の距離に相当する特定の飛行時間における受光強度が強度閾値以上であること』という第１の条件を含む。
第１の形態では、前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成して前記判定部に提供するように構成されており、前記判定部は、前記ヒストグラムのベースラインレベルに、固定値である閾値設定値を加算することによって、前記強度閾値を算出するように構成されており、前記測距装置は、更に、前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、前記判定部は、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する。
第２の形態では、前記演算部は、複数の飛行時間のそれぞれにおける受光強度を表すヒストグラムを作成して前記判定部に提供するように構成されており、前記ヒストグラムにおいて、受光強度が取り得る最大値から前記ヒストグラムのベースラインレベルを減算した値を実効信号レンジ幅と呼ぶとき、前記判定部は、前記実効信号レンジ幅に１未満の係数である閾値設定値を乗算し、その乗算結果に前記ベースラインレベルを加算することによって、前記強度閾値を算出するように構成されており、前記測距装置は、更に、前記視野範囲内における前記閾値設定値の分布を記憶する記憶部（３１０）を備え、前記判定部は、前記記憶部に記憶されている前記閾値設定値を用いて、前記視野範囲内の各画素毎に前記強度閾値を算出する。