(57)【要約】【課題】目視検出よりも欠陥が過検出されるのを削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置を提供する。【解決手段】表示パネルの少なくとも青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯工程（Ｓ２）と、複数の絵素を撮像して画像データとして取得する画像データ取得工程（Ｓ３）と、画像データの画素の撮像画素輝度信号量と非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出工程（Ｓ４，Ｓ５）と、欠陥部位絵素特定工程（Ｓ６）と、絵素の色によって異なる補正係数をコントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程（Ｓ７，Ｓ８）とを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯工程と、
上記表示パネルの複数の絵素からなる画素を撮像して画像データとして取得する画像データ取得工程と、
上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出工程と、
上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定工程と、
上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程とを含むことを特徴とする表示パネルの欠陥検出方法。
【請求項２】
前記絵素点灯工程において、前記表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、
青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）
となるように点灯することを特徴とする請求項１記載の表示パネルの欠陥検出方法。
【請求項３】
前記絵素点灯工程において、前記表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、
青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）
となるように点灯することを特徴とする請求項２記載の表示パネルの欠陥検出方法。
【請求項４】
前記絵素点灯工程を行うことなく、画像データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行う非点灯時欠陥検出手順と、
前記絵素点灯工程を行った後、上記データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行う点灯時欠陥検出手順との両方を行うことを特徴とする請求項１，２又は３記載の表示パネルの欠陥検出方法。
【請求項５】
表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯手段と、
上記表示パネルの複数の絵素からなる画素を撮像カメラにて撮像して画像データとして取得する画像データ取得手段と、
上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出手段と、
上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定手段と、
上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定手段とを含むことを特徴とする表示パネルの欠陥検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネルにおける各表示画素の欠陥検出方法及び欠陥検出装置に関するものであり、詳細には、欠陥検出感度の改善に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示パネルは、その製造後半工程において、該液晶表示パネルの各表示画素に欠陥がないか否か検査される。尚、本明細書で取り扱う欠陥は、例えば、液晶表示パネルにおける液晶層内の異物が発生起因となる輝点欠陥を対象としている。このため、主にＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）基板における例えば配線の短絡又は断線による不具合を発生起因とする輝点欠陥は含まれない。
【０００３】
上述した液晶表示パネルの各表示画素に欠陥がないか否かの検査には、点灯された液晶表示パネルを作業者の目視により検査する目視検査と、液晶表示パネルをラインセンサやエリアセンサのようなセンサカメラにて撮像して得られた信号を処理する欠陥検出装置にて行う自動検査とが存在する。
【０００４】
上記の自動検査として、例えば特許文献１に開示された欠陥検出装置を用いた欠陥検出方法が知られている。
【０００５】
この特許文献１に開示された欠陥検出方法は、欠陥部位候補が、例えば、赤の絵素とその隣にある緑の絵素とを含む大きな欠陥部位等における複数種類の色の絵素を含む場合に、複数種類の色の絵素を含まない単一色と判定され、該判定された単一色の判定基準に基づいて欠陥部位候補の良否を判定することによる欠陥の誤検出の発生防止を解決するために提案されたものである。
【０００６】
この課題を解決するために、特許文献１に開示された欠陥検出装置の欠陥検出方法は、複数の絵素からなる画素を撮像して画像データとして取得するステップと、上記画像データの画素の輝度信号量と画素に欠陥がない場合の該画素の輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するステップと、上記欠陥部位候補の絵素の色を特定するステップと、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に欠陥と判定するステップとを実行する欠陥検出方法であって、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、上記絵素の色毎のコントラスト値に該絵素の色によって異なる補正係数を乗じた後に合計して欠陥度を算出するステップを含むことを特徴としている。
【０００７】
これにより、絵素の色毎に欠陥を検出するので、例えば、赤の絵素とその隣にある緑の絵素とを含む大きな欠陥部位等における複数種類の色の絵素を含む場合に、赤の絵素のみの欠陥であるとの誤検出されることを防止できるようになっている。
【０００８】
尚、特許文献１に開示された欠陥検出装置の欠陥検出方法では、バックライトは点灯するが、表示パネルの各絵素については点灯することなく欠陥検出を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１１−１９６６８５号公報（２０１１年１０月６日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところで、欠陥検出装置にて行う自動検査と点灯された液晶表示パネルを作業者の目視により行う目視検査とでは、例えば１絵素以下の大きさを持つ微小欠陥の場合、人の目視検出感度と欠陥検出装置の検出感度との差が大きく、目視限度レベル以上の微小欠陥でも欠陥検出装置は検出してしまう。
【００１１】
ここで、液晶表示パネルを視聴するのは人間であり、人間の目で見て欠陥と認識し得ないものであれば、その欠陥は欠陥として認識して修理する必要はない。
【００１２】
しかしながら、従来の欠陥検出装置による欠陥検出方法では、目視検出よりも欠陥を過検出しており、工程の歩留まりが低下するという問題点を有している。
【００１３】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の一態様における表示パネルの欠陥検出方法は、上記の課題を解決するために、表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯工程と、上記表示パネルの複数の絵素からなる画素を撮像して画像データとして取得する画像データ取得工程と、上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出工程と、上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定工程と、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程とを含むことを特徴としている。
【００１５】
本発明の一態様における表示パネルの欠陥検出装置は、上記の課題を解決するために、表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯手段と、上記表示パネルの複数の絵素からなる画素を撮像カメラにて撮像して画像データとして取得する画像データ取得手段と、上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出手段と、上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定手段と、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定手段とを含むことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の一態様によれば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置を提供するという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施形態１における表示パネルの欠陥検出装置による表示パネルの欠陥検出方法を示すフローチャートである。
【図２】上記表示パネルの欠陥検出方法を行うための欠陥検出装置の構成を示すブロック図である。
【図３】（ａ）は液晶表示パネルの全体構成を示す平面図であり、（ｂ）はバックライトのみ点灯し、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素を点灯しない状態の液晶表示パネルの構成を示す要部平面図であり、（ｃ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの青色（Ｂ）の絵素のみ点灯した状態の液晶表示パネルの構成を示す要部平面図である。
【図４】上記液晶表示パネルの絵素配列を示す平面図である。
【図５】上記表示パネルの欠陥検出方法において、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素に輝点欠陥が発生している場合における補正係数の一例を示す図である。
【図６】（ａ）は青色（Ｂ）の絵素に欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの青色（Ｂ）の絵素のみ点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【図７】本発明の実施形態２における表示パネルの欠陥検出方法を示すフローチャートである。
【図８】（ａ）は上記表示パネルの欠陥検出方法を示すものであって、赤色（Ｒ）の絵素及び緑色（Ｇ）の絵素の両方に跨る欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの赤色（Ｒ）の絵素と青色（Ｂ）の絵素を点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【図９】本発明の実施形態３における表示パネルの欠陥検出方法を示すフローチャートである。
【図１０】（ａ）は上記表示パネルの欠陥検出方法を示すものであって、緑色（Ｇ）の絵素に欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素の全ての絵素を点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【図１１】本発明の実施形態４における表示パネルの欠陥検出方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態について図１〜図６に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
【００１９】
本実施の形態の欠陥検出装置１０の構成について、図２に基づいて説明する。図２は、本実施の形態の欠陥検出装置１０と欠陥検出対象である液晶表示パネル１との構成を示すブロック図である。
【００２０】
本実施の形態の欠陥検出装置１０は、図２に示すように、表示パネルとしての液晶表示パネル１に表示入力信号を印加するための表示パネル操作部２と、撮像カメラ１１と、欠陥部位検出部１２と、色特定部１３と、欠陥判定部１４と、結果出力部１５とを備えている。尚、本実施の形態の欠陥検出装置１０での絵素の欠陥部位を検出した後に、該欠陥部位が修復されるようになっている。
【００２１】
上記液晶表示パネル１は、赤（Ｒ：Red）、緑（Ｇ：Green）、青（Ｂ：Blue）の３色の絵素からなる画素がマトリクス状に複数配設されたものからなっている。この液晶表示パネル１は、図示しないＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）基板、カラーフィルタ基板、及びこれらの間に介装された液晶層からなるパネル本体と、そのパネル本体の裏面に配されたバックライトとを有している、したがって、この液晶表示パネル１は、表示パネル操作部２にて絵素毎に電圧を印加することができるものとなっている。尚、本実施の形態では、表示パネルとしての液晶表示パネル１を使用しているが、本発明においては必ずしも液晶表示パネルに限らず、他の表示パネルであってもよい。
【００２２】
表示パネル操作部２は、バックライトのオン・オフを行うと共に、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素に点灯のための駆動信号を印加することができるようになっている。
【００２３】
撮像カメラ１１は、液晶表示パネル１を撮像して、画像データとして取得するものであり、ラインセンサ又はエリアセンサ等のセンサカメラからなっている。したがって、撮像カメラ１１は、画素の列又は行をラインに沿って撮像するか、又は一定の大きさの領域つまり一定のマトリクス領域毎に撮像して画像データとして取得するようになっている。また、本実施の形態では、センサカメラは、モノクロカメラからなっている。
【００２４】
欠陥部位検出部１２は、画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するようになっている。
【００２５】
色特定部１３は、欠陥部位候補の絵素の色を特定する。また、欠陥判定部１４は、絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定するようになっている。さらに、結果出力部１５は、液晶表示パネル１の画像データ中のどの絵素が欠陥であるかを表示するようになっている。
【００２６】
上記構成を有する欠陥検出装置１０における欠陥検出方法について、図１及び図３に基づいて説明する。図１は本実施の形態における液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すフローチャートである。図３（ａ）は液晶表示パネル１の全体構成を示す平面図であり、図３（ｂ）はバックライトのみ点灯し、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素を点灯しない状態の液晶表示パネル１の構成を示す要部平面図であり、図３（ｃ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの青色（Ｂ）の絵素のみ点灯した状態の液晶表示パネル１の構成を示す要部平面図である。
【００２７】
尚、本実施の形態において、取り扱う欠陥は、液晶表示パネルにおける液晶層内の異物が発生起因となる輝点欠陥を対象としている。このため、主にＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）基板における例えば配線の短絡又は断線による不具合を発生起因とする輝点欠陥は含まれない。
【００２８】
本実施の形態の欠陥検出装置１０にて絵素に生じている欠陥を検出する場合には、図１に示すように、まず、液晶表示パネル１におけるバックライトを点灯し（Ｓ１）、続いて、絵素点灯工程において、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素を点灯する（Ｓ２）。
【００２９】
次いで、液晶表示パネル１における上記の点灯状態の表示パターンを表示しているときに、画像データ取得工程において、撮像カメラ１１にて該表示パターンを撮像し、画像データとして取得する（Ｓ３）。尚、本明細書においては、撮像カメラ１１の受光素子が受けた光の強度に応じて該受光素子が出力した信号の大きさを「輝度信号量」と呼ぶこととする。したがって、画像データの各画素の値は輝度信号量となっている。
【００３０】
具体的には、液晶表示パネル１におけるバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）のいずれの絵素にも電圧を印加しない場合には、図３（ａ）（ｂ）に示すように、画像データにおいては、液晶表示パネル１の赤色絵素Ｒｐ・緑色絵素Ｇｐ・青色絵素Ｂｐの輝度は低い値となっている。そして、この状態で、青色絵素Ｂｐを点灯した場合には、図３（ｃ）に示すように、青色絵素Ｂｐの輝度が高くなる。
【００３１】
次に、欠陥部位候補抽出工程において、欠陥部位検出部１２が画像データに関してコントラスト値の計算を行ない、コントラスト画像を作成する（Ｓ４）。ここで、コントラスト値とは、画像データの最小単位である絵素について、画像データの絵素の輝度信号量と、液晶表示パネル１に表示パターンが正常に表示された場合、つまり絵素に欠陥がない場合における輝度信号量との差を言う。この絵素に欠陥がない場合における輝度信号量は、予め求めた値を使用してもよいが、その都度、得られた画像データから予測する非欠陥画素輝度信号量としてもよい。
【００３２】
ここで、非欠陥画素輝度信号量を得られた画像データから予測する方法を採用してコントラスト値を求める方法の一例について、図４に基づいて説明する。図４は、液晶表示パネル１の赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素の絵素配列１ａを示す平面図である。尚、この配列においては、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素が横方向に配設されて１つの単位を構成し、かつこの１単位が縦方向及び横方向にそれぞれ複数配列されている。ここでは、ｍ行ｎ列目の単位を構成する赤の絵素をＲｍｎ、緑の絵素をＧｍｎ、青の絵素をＢｍｎにて示している。
【００３３】
まず、図４に示す液晶表示パネル１の絵素配列１ａにおいては、横方向１単位を空間的周期とするパターンとなるので、例えば、欠陥のある絵素Ｒ２２に対して欠陥のない絵素Ｒ２１・Ｒ２３がそれぞれ横に１周期離れた同位相の絵素となる。周期が異なっても位相が同じであれば、その輝度信号量は類似するはずであり、絵素Ｒ２１の輝度信号量と絵素Ｒ２３の輝度信号量との平均は、パターンが正常に表示された場合つまり欠陥がない場合の絵素Ｒ２２の輝度信号量と近似するはずである。
【００３４】
したがって、例えば、欠陥のある絵素Ｒ２２におけるコントラスト値ＣＲ２２を、
ＣＲ２２＝Ｒ２２−（Ｒ２１＋Ｒ２３）／２
として求めることができる。
【００３５】
これにより、画像データから表示パターンの空間的周期性及び液晶表示パネル１上の絵素配列１ａの空間的周期性を原因とする輝度信号量の変動が排除される。
【００３６】
続いて、図１に示すように、欠陥部位候補抽出工程において、画像データのコントラスト画像から欠陥部位候補を抽出する（Ｓ５）。すなわち、上述したコントラスト値の計算により、欠陥ない正常な絵素のコントラスト値は約０となっているはずであるので、コントラスト画像において０と大きく異なる値を有する画素に対応する液晶表示パネル１の部位は、欠陥である可能性が高い。したがって、コントラスト値の絶対値があるしきい値よりも大きな絵素を欠陥部位候補として抽出すればよい。
【００３７】
次に、欠陥部位絵素特定工程において、色特定部１３が、欠陥部位候補に含まれる各画素についての対象物である絵素の色を特定する（Ｓ６）。色の特定は、画像データにおける輝度信号量に基づいて特定する。ただし、必ずしもこれに限らず、例えば、液晶表示パネル１に位置合せ用の表示パターンを表示し、該表示パターンを撮像カメラ１１にて撮像して画像データとし、該表示パターンと画像データにおける表示パターンとを照合して対応関係を特定する位置合せ情報を作成し、画素の座慓と該位置合せ情報とに基づいて画素に対応する絵素を特定し、さらに液晶表示パネル１の設計情報に基づき、特定された絵素から該絵素の色を特定することによって特定してもよい。
【００３８】
次に、欠陥判定工程において、欠陥判定部１４が、特定された色に基づいて欠陥度を算出する（Ｓ７）。コントラスト値の絶対値と欠陥度との比である補正係数は、表示パターン及び絵素の色により異なる。以下に、３つの例を示す。
【００３９】
例えば、表示パターンに基づいて黒色で表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は黒で表示される。該黒で表示されるべき絵素が赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）のいずれか（コントラスト値が正）で表示された場合、輝点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度は緑色（Ｇ）に対し高く、青色（Ｂ）に対しては低い。欠陥度を人間の目の感度に一致させるため、黒で表示されるべき絵素が青色（Ｂ）で表示される場合については、小さな補正係数を乗じ、黒で表示されるべき絵素が緑色（Ｇ）で表示される場合については、大きな補正係数を乗ずる。尚、撮像カメラ１１がモノクロカメラであるので、輝点欠陥がいずれの色で表示されているかは不明であるが、輝点欠陥において、絵素本来の色と異なる色で表示される確率は、極めて希であるので、色特定部１３が特定する色で表示されたと推定して上記の補正係数を乗ずることとする。
【００４０】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）それぞれの絵素の色で表示される。赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）のいずれかで表示されるべき絵素が黒（コントラスト値が負）で表示された場合、黒点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、小さな補正係数を乗じ、緑で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、大きな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。
【００４１】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）それぞれの絵素の色で表示される。赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）のいずれかで表示されるべき絵素が白（コントラスト値が正）で表示された場合、白点欠陥と考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青色（Ｂ）で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、大きな補正係数を乗じ、緑色（Ｇ）で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、小さな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。尚、白色欠陥は、カラーフィルタにインクが載っておらず、全ての光を透過する場合等に発生する。
【００４２】
具体的な、補正係数の一例について、図５に基づいて説明する。図５は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素に輝点欠陥が発生している場合における補正係数の一例を示す図である。
【００４３】
すなわち、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素に輝点欠陥が発生している場合に、図５に示すように、輝度信号量を目視感度に一致させるため、目視感度／輝度信号量を補正係数とする。例えば、液晶表示パネル１が表示する赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各色における画像データの輝度信号量が０．４、０．３、０．３であったとする。また、人間の目視感度が０．３、０．６、０．１であったとする。この場合、赤色（Ｒ）に関する補正係数は０．３／０．４＝０．７５とし、緑色（Ｇ）に関する補正係数は０．６／０．３＝２．０とし、青色（Ｂ）に関する補正係数は０．１／０．３＝０．３３とする。尚、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各色の目視感度は、液晶表示パネル１に表示された各色を色彩輝度計によって測定することによって特定することができる。
【００４４】
上述のように、表示パターンとコントラスト値の符号及び色特定部１３が特定した色とに基づき、適切な補正係数を選択し、コントラスト値に乗ずる。尚、補正係数は、絵素の色、及び絵素の色に対する受光素子の感度によって、設定するべき値であり、上記の以外の補正係数であってもよい。
【００４５】
また、欠陥部位候補が複数の絵素からなる場合は、該複数の絵素の欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度とすればよい。すなわち、１つの欠陥が複数種類の色の絵素を含んでいる場合には、該色毎のコントラスト値に該色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することとなる。
【００４６】
続いて、図１に示すように、欠陥判定工程において、欠陥を判定する（Ｓ８）。具体的には、Ｓ５にて抽出された各欠陥部位候補について、欠陥度と判定値とを比較し、判定値よりも欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。
【００４７】
最後に、結果出力部１５が、欠陥と判定された部位に関する情報を出力する（Ｓ９）。欠陥と判定された部位に関する情報としては、その表示パネルにおける欠陥の座慓値、色、欠陥の種類等がある。液晶表示パネル１における欠陥の座慓値は、コントラスト画像における欠陥の座標値を、画素データの各画素に対応する絵素を特定する情報に基づいて、液晶表示パネル１における座慓に変換することにより可能である。また、欠陥の種類としては、黒点欠陥、輝点欠陥、白点欠陥等がある。
【００４８】
本実施の形態によれば、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて欠陥度に補正を行なうので、適切な基準で判断することができ、誤検出を防止し、欠陥を正確に検出することができる。
【００４９】
尚、本実施の形態では、以下の操作については説明を省略するが、この後の工程として、欠陥の修復が行われる。
【００５０】
上記の欠陥検出装置１０における欠陥検出方法を、図６（ａ）（ｂ）の具体例に基づいて説明する。図６（ａ）は青色（Ｂ）の絵素に欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、図６（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの青色（Ｂ）の絵素のみ点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【００５１】
図６（ａ）に示すように、例えば青色絵素Ｂｐに欠陥Ｆが存在しているとする。このとき、バックライトの点灯のみ行い、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を点灯しないときは、絵素が黒系の無彩色で表示されるように制御されているため、正常な場合つまり欠陥がない場合には、濃い黒の無彩色で表示される。したがって、図６（ａ）に示すように、コントラスト画面において、青色絵素Ｂｐで一部が明るく表示されているので、欠陥Ｆであると考えられる。すなわち、赤色絵素Ｒｐ・緑色絵素Ｇｐ・青色絵素Ｂｐのいずれか又は複数で一部が明るく表示された場合、一定の輝度差以上となるので欠陥Ｆであると判断される。
【００５２】
しかし、人の目視感度は、緑色（Ｇ）に対して高く、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対しては低い。そこで、欠陥検出装置１０の検出感度を人の目視感度に合わせるため、表示パネル操作部２にて、青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、目視感度比は、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の合計が１となるように正規化した場合、おおよそ、
赤色（Ｒ）：緑色（Ｇ）：青色（Ｂ）＝０．３：０．６：０．１
となる。
【００５３】
したがって、青色（Ｂ）、赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の順に印加電圧を高くするのが好ましい。本実施の形態では、例えば、赤色（Ｒ）＝０、緑色（Ｇ）＝０、及び青色（Ｂ）＝１５の印加電圧比となるように、表示パネル操作部２にて、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、このとき、印加する入力信号は、電圧[Ｖ]であり、輝度値ではないため、所望の背景輝度値が得られるように入力信号を調整する。
【００５４】
これにより、図６（ａ）に示すように、例えば、青色絵素Ｂｐに存在していた欠陥Ｆは、図６（ｂ）に示すように、欠陥Ｆではなくなる。
【００５５】
したがって、目視検出よりも欠陥Ｆが過検出されるのをさらに効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る液晶表示パネル１の欠陥検出方法を提供することができる。
【００５６】
このように、本実施の形態の欠陥検出装置１０における液晶表示パネル１の欠陥検出方法では、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯工程と、液晶表示パネル１の複数の絵素からなる画素を撮像カメラ１１にて撮像して画像データとして取得する画像データ取得工程と、画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出工程と、欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定工程と、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程とを含んでいる。
【００５７】
すなわち、従来、液晶表示パネル１の欠陥を欠陥検出装置にて検出する場合には、液晶表示パネル１の画素を構成する各絵素に電圧を印加することなく、画像データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行って欠陥を検出していた。しかしながら、欠陥検出装置１０にて行う自動検査と点灯された表示パネルを作業者の目視により行う目視検査とでは、例えば１絵素以下の大きさを持つ欠陥の場合、人の目視検出感度と欠陥検出装置の検出感度との差が大きく、目視限度レベル以上の微小欠陥でも欠陥検出装置は検出してしまう。例えば、図６（ａ）に示すように、青色絵素Ｂｐに欠陥Ｆが存在する場合に、青色絵素Ｂｐの背景輝度と欠陥Ｆの輝度との輝度差が大きいので、欠陥検出装置は直ちに青色絵素Ｂｐに欠陥Ｆが存在すると判断する。
【００５８】
ここで、液晶表示パネル１を視聴するのは人間であり、人間の目で見て欠陥と認識し得ないものであれば、その欠陥は欠陥として認識して修理する必要はない。この結果、従来の欠陥検出装置による欠陥検出方法では、欠陥を目視検出よりも過検出しており、工程の歩留まりが低下するという問題点を有していた。ここで、記絵素の色によって異なる補正係数をコントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程における補正係数を変更する方法も考えられるが、絵素の点灯時と非点灯時とでは絵素の背景輝度に差があるので、補正係数を変更する方法では、正確な欠陥検出は困難である。
【００５９】
そこで、本実施の形態の欠陥検出装置１０では、従来の画像データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とを行う際に、まず、絵素点灯工程にて、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する。
【００６０】
ここで、少なくとも青色（Ｂ）の絵素を点灯するのは、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差が、青色(Ｂ)の絵素の場合に最も大きいためである。すなわち、バックライトのみの点灯時においては、青色(Ｂ)の絵素は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうち、青色（Ｂ）の絵素の輝度が最も小さい。このため、青色（Ｂ）の絵素に欠陥が存在する場合に、欠陥の輝度は大きいので、従来の欠陥検出装置による欠陥検出方法では、この青色（Ｂ）の絵素の欠陥を抽出し易い傾向がある。一方、本実施の形態のように、図６（ｂ）に示すように、青色絵素Ｂｐを点灯して欠陥検出を行えば、青色絵素Ｂｐの背景輝度と欠陥Ｆの輝度との輝度差が小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【００６１】
ここで、液晶表示パネル１の視聴時においては青色（Ｂ）の絵素が点灯されている場合が多いので、人間の目視観察においては、青色（Ｂ）の絵素に存在する欠陥を認識しないことが多い。このため、このような欠陥検出方法を採用しても、実質的には問題は生じない。
【００６２】
したがって、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち、目視検出よりも欠陥が過検出される頻度が多い青色（Ｂ）の絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る液晶表示パネル１の欠陥検出方法を提供することができる。
【００６３】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態について図７及び図８に基づいて説明すれば、以下のとおりである。尚、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６４】
前記実施の形態１の欠陥検出装置１０の欠陥検出方法では、絵素点灯工程においては、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち青色（Ｂ）の絵素にのみ印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯していた。
【００６５】
しかしながら、本実施の形態の欠陥検出装置１０における液晶表示パネル１の欠陥検出方法では、絵素点灯工程において、液晶表示パネル１前記表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）となるように点灯している点が異なっている。
【００６６】
すなわち、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差は、青色(Ｂ)の絵素の場合の次に赤色（Ｒ）の絵素の場合が大きい。このため、青色（Ｂ）の絵素に加えて赤色（Ｒ）の絵素を、各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）となるように点灯することによって、青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素の背景輝度と欠陥の輝度との輝度差がそれぞれ小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【００６７】
したがって、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素のうち、目視検出よりも欠陥が過検出される頻度が多い青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのをさらに効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る液晶表示パネル１の欠陥検出方法を提供することができる。
【００６８】
本実施の形態の欠陥検出装置１０における欠陥検出方法について、図７及び図８に基づいて説明する。図７は本実施の形態における液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すフローチャートである。図８（ａ）は上記液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すものであって、赤色（Ｒ）の絵素及び緑色（Ｇ）の絵素の両方に跨る欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、図８（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうちの青色（Ｂ）の絵素と赤色（Ｒ）の絵素を点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【００６９】
本実施の形態の欠陥検出装置１０にて絵素に生じている欠陥を検出する場合には、図７に示すように、まず、液晶表示パネル１におけるバックライトを点灯し（Ｓ１）、続いて、絵素点灯工程において、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）となるように点灯する（Ｓ１１）。
【００７０】
この後の工程Ｓ３〜Ｓ９は、前記実施の形態１において図１に示すフローチャートにて説明したと同じであるので、ここではその説明を省略する。
【００７１】
上記の欠陥検出装置１０における欠陥検出方法を具体例にて説明する。
【００７２】
図８（ａ）に示すように、例えば赤色絵素Ｒｐと緑色絵素Ｇｐとに跨る欠陥Ｆが存在しているとする。このとき、バックライトの点灯のみ行い、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を点灯しないときは、絵素が黒系の無彩色で表示されるように制御されているため、正常な場合つまり欠陥がない場合には、濃い黒の無彩色で表示される。したがって、図８（ａ）に示すように、コントラスト画面において、各赤色絵素Ｒｐ及び緑色絵素Ｇｐで一部が明るく表示されているので、欠陥Ｆであると考えられる。すなわち、赤色絵素Ｒｐ・緑色絵素Ｇｐ・青色絵素Ｂｐのいずれか又は複数で一部が明るく表示された場合、一定の輝度差以上となるので欠陥Ｆであると判断される。
【００７３】
しかし、人の目視感度は、緑色（Ｇ）に対して高く、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対しては低い。そこで、欠陥検出装置１０の検出感度を人の目視感度に合わせるため、表示パネル操作部２にて、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、目視感度比は、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の合計が１となるように正規化した場合、おおよそ、
赤色（Ｒ）：緑色（Ｇ）：青色（Ｂ）＝０．３：０．６：０．１
となる。
【００７４】
したがって、青色（Ｂ）、赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の順に印加電圧を高くするのが好ましい。本実施の形態では、例えば、赤色（Ｒ）＝１０、緑色（Ｇ）＝０、及び青色（Ｂ）＝１５の印加電圧比となるように、表示パネル操作部２にて、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、このとき、印加する入力信号は、電圧[Ｖ]であり、輝度値ではないため、所望の背景輝度値が得られるように入力信号を調整する。
【００７５】
これにより、図８（ａ）に示すように、例えば、赤色絵素Ｒｐと緑色絵素Ｇｐとに跨って存在していた欠陥Ｆは、図８（ｂ）に示すように、赤色絵素Ｒｐにおいては欠陥Ｆではなくなる。
【００７６】
すなわち、図８（ａ）（ｂ）に示す例では、赤色絵素Ｒｐに位置する欠陥Ｆの輝度値と赤色絵素Ｒｐの輝度値との輝度差が小さくなり、その結果、欠陥Ｆのコントラスト体積が小さくなる。このため、コントラスト体積の小さい目視限度レベル以上の欠陥Ｆが欠陥検出装置１０にて検出され難くなる。尚、輝度値とは、撮像カメラ１１が受けた光の強度に応じて、撮像カメラ１１が出力した信号の大きさをいう。また、コントラスト体積とは、ある絵素における撮像カメラ１１の輝度値と、液晶表示パネル１に画面が絵素が正常に表示された場合における輝度値の予測値との差分の絶対値を、欠陥領域にて加算した値をいう。
【００７７】
したがって、目視検出よりも欠陥が過検出されるのをさらに効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る液晶表示パネル１の欠陥検出方法を提供することができる。
【００７８】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施の形態について図９及び図１０に基づいて説明すれば、以下のとおりである。尚、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１及び実施の形態２と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１及び実施の形態２の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００７９】
前記実施の形態１の欠陥検出装置１０の欠陥検出方法では、絵素点灯工程においては、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち青色（Ｂ）の絵素にのみ印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯していた。
【００８０】
しかしながら、本実施の形態の欠陥検出装置１０における液晶表示パネル１の欠陥検出方法では、絵素点灯工程において、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）となるように点灯している点が異なっている。
【００８１】
すなわち、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差は、青色(Ｂ)の絵素、赤色（Ｒ）の絵素、緑色(Ｇ)の絵素の順に大きい。このため、青色（Ｂ）の絵素に加えて赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の絵素を、各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）となるように点灯することによって、青色（Ｂ）、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）の絵素の背景輝度と欠陥の輝度との輝度差がそれぞれ小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【００８２】
したがって、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素のうち、全ての絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを確実に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法を提供することができる。
【００８３】
本実施の形態の欠陥検出装置１０における欠陥検出方法について、図９及び図１０に基づいて説明する。図９は本実施の形態における液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すフローチャートである。図１０（ａ）は液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すものであって、緑色（Ｇ）の絵素に欠陥がある場合にバックライトのみを点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図であり、（ｂ）はバックライトを点灯し、かつ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素の全ての絵素を点灯したときの背景絵素と欠陥との輝度差を示す要部平面図である。
【００８４】
本実施の形態の欠陥検出装置１０にて絵素に生じている欠陥を検出する場合には、図９に示すように、まず、液晶表示パネル１におけるバックライトを点灯し（Ｓ１）、続いて、絵素点灯工程において、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）となるように点灯する（Ｓ２１）。
【００８５】
この後の工程Ｓ３〜Ｓ９は、前記実施の形態１において図１に示すフローチャートにて説明したと同じであるので、ここではその説明を省略する。
【００８６】
上記の欠陥検出装置１０における欠陥検出方法を具体例にて説明する。
【００８７】
図１０（ａ）に示すように、例えば、緑色絵素Ｇｐに欠陥Ｆが存在しているとする。このとき、バックライトの点灯のみ行い、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を点灯しないときは、絵素が黒系の無彩色で表示されるように制御されているため、正常な場合つまり欠陥がない場合には、濃い黒の無彩色で表示される。したがって、図１０（ａ）に示すように、コントラスト画面において、緑色絵素Ｇｐの一部が明るく表示された場合、欠陥Ｆであると考えられる。すなわち、赤色絵素Ｒｐ・緑色絵素Ｇｐ・青色絵素Ｂｐのいずれか又は複数で一部が明るく表示された場合、一定の輝度差以上となるので欠陥Ｆであると判断される。
【００８８】
しかし、人の目視感度は、緑色（Ｇ）に対して高く、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対しては低い。そこで、欠陥検出装置１０の検出感度を人の目視感度に合わせるため、表示パネル操作部２にて、赤色（Ｒ）及び青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、目視感度比は、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の合計が１となるように正規化した場合、おおよそ、
赤色（Ｒ）：緑色（Ｇ）：青色（Ｂ）＝０．３：０．６：０．１
となる。
【００８９】
したがって、青色（Ｂ）、赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の順に印加電圧を高くするのが好ましい。本実施の形態では、例えば、赤色（Ｒ）＝１０、緑色（Ｇ）＝５、及び青色（Ｂ）＝１５の印加電圧比となるように、表示パネル操作部２にて、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）及び青色（Ｂ）に対して電圧を印加する。尚、このとき、印加する入力信号は、電圧[Ｖ]であり、輝度値ではないため、所望の背景輝度値が得られるように入力信号を調整する。
【００９０】
これにより、図１０（ａ）に示すように、例えば、緑色絵素Ｇｐに存在していた欠陥Ｆは、図１０（ｂ）に示すように、絵素の点灯後においては欠陥Ｆではなくなる。
【００９１】
したがって、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを確実に効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る液晶表示パネル１の欠陥検出方法を提供することができる。
【００９２】
〔実施の形態４〕
本発明のさらに他の実施の形態について図１１に基づいて説明すれば、以下のとおりである。尚、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１〜実施の形態３と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１〜実施の形態３の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００９３】
前記実施の形態１〜実施の形態３の欠陥検出装置１０の欠陥検出方法では、いずれの実施の形態においても、少なくとも青色（Ｂ）の絵素の点灯を行う絵素点灯工程を行った後、データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行う点灯時欠陥検出手順にて欠陥検出を採用していた。
【００９４】
しかしながら、この点灯時欠陥検出手順ばかりを行っていれば、欠陥検出装置１０にて実際にどの程度の欠陥Ｆが存在するのかを把握できなくなる。
【００９５】
そこで、本実施の形態の欠陥検出装置１０における液晶表示パネル１の欠陥検出方法では、点灯時欠陥検出手順と絵素の点灯を行わない非点灯時欠陥検出手順との両方を行う。これにより、実際に存在する欠陥Ｆを把握することができるものとなる。
【００９６】
本実施の形態の欠陥検出装置１０における液晶表示パネル１の欠陥検出方法について、図１１に基づいて説明する。図１１は本実施の形態における液晶表示パネル１の欠陥検出方法を示すフローチャートである。
【００９７】
本実施の形態の液晶表示パネル１の絵素に生じている欠陥を欠陥検出装置１０にて検出する場合には、図１１に示すように、まず、液晶表示パネル１におけるバックライトを点灯し（Ｓ１）、続いて、絵素点灯工程において、液晶表示パネル１における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうちの少なくとも青色（Ｂ）の各絵素を点灯する（Ｓ３１）。すなわち、このＳ３１の絵素点灯工程は、前記実施の形態１〜３のいずれかの絵素点灯工程と同じ絵素点灯工程（図１に示すＳ２、図７に示すＳ１１、及び図９に示すＳ２１）になっている。そして、その後、工程Ｓ３〜Ｓ９を行う。この工程Ｓ３〜Ｓ９は、前記実施の形態１において図１に示すフローチャートにて説明したと同じであるので、その説明を省略する。これにより、Ｓ３１〜Ｓ９に示す点灯時欠陥検出手順が行われる。したがって、目視検査レベルの欠陥検出結果が得られる。
【００９８】
しかしながら、実際の詳細な欠陥の発生状況を把握したい場合もある。
【００９９】
そこで、本実施の形態の液晶表示パネル１の欠陥検出方法では、続いて、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素を点灯しないで欠陥の検出を行う非点灯時欠陥検出手順を実行する。
【０１００】
具体的には、図１１に示すように、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を非点灯とし（Ｓ３２）、その後、同様にＳ３〜Ｓ９の工程を実行する。
【０１０１】
これにより、実際の詳細な欠陥の発生状況を把握することができる。
【０１０２】
尚、本実施の形態の液晶表示パネル１の欠陥検出方法を採用するに際しては、処理時間に余裕があることが好ましい。
【０１０３】
また、本実施の形態では、最初に、点灯時欠陥検出手順を行った後、非点灯時欠陥検出手順を行ったが、必ずしもこれに限らず、最初に、従来のとおり非点灯時欠陥検出手順を行った後、点灯時欠陥検出手順を行うことも可能である。すなわち、点灯時欠陥検出手順と非点灯時欠陥検出手順とは、いずれを先に行ってもよい。いずれを先に行っても、詳細レベルの真欠陥の把握と目視観察レベルの欠陥の把握とが可能になるためである。
【０１０４】
（まとめ）
本発明の態様１における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法は、表示パネル（液晶表示パネル１）における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯工程（Ｓ２，Ｓ１１，Ｓ２１）と、上記表示パネル（液晶表示パネル１）の複数の絵素からなる画素を撮像して画像データとして取得する画像データ取得工程（Ｓ３）と、上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出工程と（Ｓ４，Ｓ５）、上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定工程（Ｓ６）と、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定工程（Ｓ７，Ｓ８）とを含むことを特徴としている。
【０１０５】
本発明の態様５における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出装置１０は、表示パネル（液晶表示パネル１）における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する絵素点灯手段（表示パネル操作部２）と、上記表示パネル（液晶表示パネル１）の複数の絵素からなる画素を撮像して画像データとして取得する画像データ取得手段（撮像カメラ１１）と、上記画像データの画素の撮像画素輝度信号量と画素に欠陥がない非欠陥画素における画像データの該非欠陥画素の非欠陥画素輝度信号量との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位候補抽出手段（欠陥部位検出部１２）と、上記欠陥部位候補の絵素の色を特定する欠陥部位絵素特定手段（色特定部１３）と、上記絵素の色によって異なる補正係数を上記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、該欠陥度が判定値よりも大きい場合に該色の絵素が欠陥であると判定する欠陥判定手段（欠陥判定部１４）とを含むことを特徴としている。
【０１０６】
本発明の一態様によれば、従来の画像データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とを行う際に、まず、絵素点灯工程にて、表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）の絵素に印加電圧を付与して該青色（Ｂ）の絵素を点灯する。
【０１０７】
ここで、少なくとも青色（Ｂ）の絵素を点灯するのは、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差が、青色(Ｂ)の絵素の場合に最も大きいためである。すなわち、バックライトのみの点灯時においては、青色(Ｂ)の絵素は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の絵素のうち、青色（Ｂ）の絵素の輝度が最も小さい。このため、青色（Ｂ）の絵素に欠陥が存在する場合に、欠陥の輝度は大きいので、従来の欠陥検出装置による欠陥検出方法では、この青色（Ｂ）の絵素の欠陥を抽出し易い傾向がある。一方、本発明のように、青色（Ｂ）の絵素を点灯して欠陥検出を行えば、青色（Ｂ）の絵素の背景輝度と欠陥の輝度との輝度差が小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【０１０８】
ここで、表示パネルの視聴時においては青色（Ｂ）の絵素が点灯されている場合が多いので、人間の目視観察においては、青色（Ｂ）の絵素に存在する欠陥を認識しないことが多い。このため、このような欠陥検出方法を採用しても、実質的には問題は生じない。
【０１０９】
したがって、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち、目視検出よりも欠陥が過検出される頻度が多い青色（Ｂ）の絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置を提供することができる。
【０１１０】
本発明の態様２における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法は、前記態様１における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法において、絵素点灯工程（Ｓ１１）において、前記表示パネル（液晶表示パネル１）における赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素のうち少なくとも青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）となるように点灯することが好ましい。
【０１１１】
すなわち、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差は、青色(Ｂ)の絵素の場合の次に赤色（Ｒ）の絵素の場合が大きい。このため、青色（Ｂ）の絵素に加えて赤色（Ｒ）の絵素を、各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）となるように点灯することによって、青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素の背景輝度と欠陥の輝度との輝度差がそれぞれ小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【０１１２】
したがって、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素のうち、目視検出よりも欠陥が過検出される頻度が多い青色（Ｂ）及び赤色（Ｒ）の絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのをさらに効率的に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法を提供することができる。
【０１１３】
本発明の態様３における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法は、前記態様２における表示パネルの欠陥検出方法において、絵素点灯工程（Ｓ２１）において、前記表示パネルにおける赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の各絵素を、該各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）となるように点灯することが好ましい。
【０１１４】
すなわち、人間の目視観察においては、バックライトのみを点灯したときと、バックライトに加えて赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素を点灯したときとの輝度差は、青色(Ｂ)、赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の絵素の順に大きい。このため、青色（Ｂ）の絵素に加えて赤色（Ｒ）、緑色(Ｇ)の絵素を、各絵素に付与する印加電圧が、青色（Ｂ）＞赤色（Ｒ）≧緑色（Ｇ）となるように点灯することによって、青色（Ｂ）、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）の絵素の背景輝度と欠陥の輝度との輝度差がそれぞれ小さくなるので、欠陥として抽出され難くなる。
【０１１５】
したがって、赤色(Ｒ)、緑色(Ｇ)、青色(Ｂ)の各絵素のうち、全ての絵素を点灯して欠陥検出を行えば、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを確実に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法を提供することができる。
【０１１６】
本発明の態様４における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法は、前記態様１，２又は３における表示パネル（液晶表示パネル１）の欠陥検出方法において、前記絵素点灯工程を行うことなく、画像データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行う非点灯時欠陥検出手順（Ｓ３２〜Ｓ９）と、前記絵素点灯工程を行った後、上記データ取得工程と欠陥部位候補抽出工程と欠陥部位絵素特定工程と欠陥判定工程とをこの順で行う点灯時欠陥検出手順（Ｓ３１〜Ｓ９）との両方を行うことが好ましい。
【０１１７】
すなわち、絵素点灯を行う点灯時欠陥検出手順のみにて欠陥検出を行えば、上述のように、目視検出よりも欠陥が過検出されるのを確実に削減し、延いては工程の歩留まり低下を抑制し得る表示パネルの欠陥検出方法を提供することができる。
【０１１８】
しかしながら、この点灯時欠陥検出手順ばかりを行っていれば、欠陥検出装置にて実際にどの程度の真欠陥が存在するのかを把握できなくなる。
【０１１９】
そこで、本発明では、点灯時欠陥検出手順と非点灯時欠陥検出手順との両方を行う。これにより、実際に存在する真欠陥を把握することができる。
【０１２０】
尚、点灯時欠陥検出手順と非点灯時欠陥検出手順とは、いずれを先に行ってもよい。いずれを先に行っても、詳細レベルの真欠陥の把握と目視観察レベルの欠陥の把握とが可能になるためである。
【０１２１】
尚、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１２２】
本発明は、多色の絵素から構成される例えば液晶表示パネル、有機ＥＬ表示パネル、プラズマディスプレイ、ＬＣＤ表示パネル等の表示パネルの欠陥を検出又は修復するに際して利用可能である。
【符号の説明】
【０１２３】
１        液晶表示パネル（表示パネル）
２        表示パネル操作部（絵素点灯手段）
１０        欠陥検出装置
１１        撮像カメラ（画像データ取得手段）
１２        欠陥部位検出部（欠陥部位候補抽出手段）
１３        色特定部（欠陥部位絵素特定手段）
１４        欠陥判定部（欠陥判定手段）
１５        結果出力部
Ｆ        欠陥
Ｒｐ      赤色絵素
Ｇｐ      緑色絵素
Ｂｐ      青色絵素
【図１】
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【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図３】
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【図８】
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