(57)【要約】【課題】測定用ダミーファイバの誤挿入による誤った良否判定を防止することができる光ファイバ測定装置を提供する。【解決手段】光ファイバ測定装置１０は、被測定用光ファイバＦ１の伝送特性を測定する測定器と、一端側が測定器に接続され、他端側が被測定用光ファイバＦ１と突き合わされる測定用ダミーファイバＦ０と、測定用ダミーファイバＦ０を保持する測定用ダミーテープホルダ２１を備え、Ｖ溝ブロック１４上で測定用ダミーファイバＦ０の他端と被測定用光ファイバＦ１とを突き合わせる測定補助装置１２と、測定用ダミーファイバＦ０と被測定用光ファイバＦ１との突き合わせ位置と測定用ダミーテープホルダ２１との間に、測定用ダミーファイバＦ０に上方向から下方向に向けて力を加えるように測定用ダミーファイバＦ０を保持する第１のガイド部材２８と、を備えている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、
一端側が前記測定器に接続され、他端側が前記被測定用光ファイバと突き合わされる測定用ダミーファイバと、
前記測定用ダミーファイバを保持するダミーファイバホルダを備え、Ｖ溝ブロック上で前記測定用ダミーファイバの他端と前記被測定用光ファイバとを突き合わせる測定補助装置と、
前記測定用ダミーファイバの前記他端側の先端部と前記ダミーファイバホルダとの間に、前記測定用ダミーファイバを下方向から保持する第１のガイド部材と、
を備えている光ファイバ測定装置。
【請求項２】
前記第１のガイド部材は、前記測定用ダミーファイバと接する位置に第１のＶ溝を備えている、請求項１に記載の光ファイバ測定装置。
【請求項３】
前記第１のガイド部材と前記測定用ダミーファイバの前記他端側の先端部との間に、前記測定用ダミーファイバに上方向から前記下方向に向けて力を加えるように前記測定用ダミーファイバを保持する第２のガイド部材を備えている、請求項１または２に記載の光ファイバ測定装置。
【請求項４】
前記第２のガイド部材は、前記測定用ダミーファイバの長手方向に沿って前記第１のＶ溝と整合する位置に設けられた第２のＶ溝を備えている、請求項３に記載の光ファイバ測定装置。
【請求項５】
前記第１のＶ溝の底部には、その長手方向に沿って切欠きが設けられている、請求項２に記載の光ファイバ測定装置。
【請求項６】
前記測定用ダミーファイバは、前記被測定用光ファイバと突き合わせた際に、前記第１のガイド部材と前記ダミーファイバホルダとの間で、撓むように前記ダミーファイバホルダに保持されている、請求項１から５のいずれか一項に記載の光ファイバ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ケーブルにおける伝送特性検査を行う光ファイバ測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ケーブルに収納されている光ファイバの伝送特性検査は、ＯＴＤＲ測定器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｍｅｔｅｒ）で行われている。多心の光ファイバが測定対象である場合は、測定補助装置（ＭＡＳ：Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ａｌｉｇｎｍｅｎｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）が使用される（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−９０７８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような光ファイバの伝送特性検査は、具体的には以下のように行われる。まず、測定用のダミーファイバと接続するために、ＭＡＳ上に並列状に位置決め固定されている複数の各Ｖ溝内に、被測定用光ファイバである複数のテープ心線の端末を挿入する。次に、可動ヘッドを位置制御して、被測定用光ファイバがセットされている適切な各Ｖ溝内にダミーファイバを順次挿入する。これにより、被測定用光ファイバの端部とダミーファイバの端部が突き合わされる。その後、検査ソフトをインストールしたコンピュータによりＯＴＤＲ測定器と可動ヘッドとの動作を制御して、各テープ心線の伝送特性の良否を自動判定する。
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の測定補助装置においては、ダミーファイバの最終拘束点からダミーファイバ先端部までの距離が長いため、ダミーファイバの先端部でぶれが大きくなり、ダミーファイバが適切なＶ溝内に挿入されない場合がある。このように、ダミーファイバが適切なＶ溝内に挿入されないと、伝送特性の正しい評価がされず、誤った良否判定をする可能性がある。
【０００６】
そこで、本発明は、測定用ダミーファイバの異なる突き合わせ位置への誤挿入を防止することができる光ファイバ測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するために、本発明の光ファイバ測定装置は、
被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、
一端側が前記測定器に接続され、他端側が前記被測定用光ファイバと突き合わされる測定用ダミーファイバと、
前記測定用ダミーファイバを保持するダミーファイバホルダを備え、Ｖ溝ブロック上で前記測定用ダミーファイバの他端と前記被測定用光ファイバとを突き合わせる測定補助装置と、
前記測定用ダミーファイバの前記他端側の先端部と前記ダミーファイバホルダとの間に、前記測定用ダミーファイバを下方向から保持する第１のガイド部材と、
を備えている。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、測定用ダミーファイバの異なる突き合わせ位置への誤挿入を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ファイバ測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１のＭＡＳの要部を示す拡大図である。
【図３】図２のＭＡＳのＶ溝ブロック上での光ファイバの接続端部を示す概略図である。
【図４】（ａ）は、図３の第１のガイド部材の断面図であり、（ｂ）は、図３の第２のガイド部材の断面図である。
【図５】Ｖ溝内に挿入されたダミーファイバの端部を示す概略図である。
【図６】光ファイバおよびダミーファイバの先端部の配列状態の一例を示す概略図である。
【図７】光ファイバの端部とダミーファイバの端部とが突き合わされた状態を示す概略図である。
【図８】図４の第１のガイド部材の変形例を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
[本願発明の実施形態の説明]
最初に本願発明の実施形態の内容を列記して説明する。
本願発明の実施形態に係る光ファイバ測定装置は、
（１）被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、
一端側が前記測定器に接続され、他端側が前記被測定用光ファイバと突き合わされる測定用ダミーファイバと、
前記測定用ダミーファイバを保持するダミーファイバホルダを備え、Ｖ溝ブロック上で前記測定用ダミーファイバの他端と前記被測定用光ファイバとを突き合わせる測定補助装置と、
前記測定用ダミーファイバの前記他端側の先端部と前記ダミーファイバホルダとの間に、前記測定用ダミーファイバを下方向から保持する第１のガイド部材と、
を備えている。
第１のガイド部材により測定用ダミーファイバを適正な位置で保持することができるため、測定用ダミーファイバが適切なＶ溝に挿入され、誤った良否判定を防止することができる。
【００１１】
（２）前記第１のガイド部材は、前記測定用ダミーファイバと接する位置に第１のＶ溝を備えていることが好ましい。
第１のＶ溝により測定用ダミーファイバを保持することで測定用ダミーファイバのガイド位置を適正に維持することができるためである。
【００１２】
（３）前記第１のガイド部材と前記測定用ダミーファイバの前記他端側の先端部との間に、前記測定用ダミーファイバに前記上方向から前記下方向に向けて力を加えるように前記測定用ダミーファイバを保持する第２のガイド部材を備えていることが好ましい。
第２のガイド部材により測定用ダミーファイバを上側から押えることで、第１のガイド部材と協働して測定用ダミーファイバを上下方向の所定の位置でガイドすることができるためである。
【００１３】
（４）前記第２のガイド部材は、前記測定用ダミーファイバの長手方向に沿って前記第１のＶ溝と整合する位置に設けられた第２のＶ溝を備えていることが好ましい。
第２のＶ溝により測定用ダミーファイバを保持することで測定用ダミーファイバのガイド位置をさらに適正に維持することができるためである。
【００１４】
（５）前記第１のＶ溝の底部には、その長手方向に沿って切欠きが設けられていることが好ましい。
第１のＶ溝に侵入したマッチングオイルを切欠きに溜めることで第１のＶ溝内における測定用ダミーファイバの浮き上がりを防止することができるためである。
【００１５】
（６）前記測定用ダミーファイバは、前記被測定用光ファイバと突き合わせた際に、前記第１のガイド部材と前記ダミーファイバホルダとの間で、撓むように前記ダミーファイバホルダに保持されていることが好ましい。
測定用ダミーファイバの先端部の位置を撓みにより自動調節することで、測定用ダミーファイバの先端部と被測定用光ファイバの先端部との突き合わせ状態を適切に維持することができるためである。
【００１６】
[本願発明の実施形態の詳細]
以下、本発明の光ファイバ測定装置の一実施形態を添付の図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能な大きさとするために縮尺を適宜変更している。本実施形態においては、被測定用ファイバが４心テープ心線の場合を一例として説明する。
【００１７】
図１に示すように、本実施形態の光ファイバ測定装置１０は、主に測定用ダミーファイバＦ０の一端側が接続されたＯＴＤＲ測定器１１と、Ｖ溝ブロック１４上で測定用ダミーファイバＦ０と被測定用光ファイバＦ１とを突き合わせる測定補助装置（ＭＡＳ）１２と、ＯＴＤＲ測定器１１及びＭＡＳ１２を動作制御する制御装置１３とを備えている。本例では、ＯＴＤＲ測定器１１は、４台設置されている。
【００１８】
被測定用光ファイバＦ１は、４本の光ファイバ心線が一平面上に並列されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されている（図２参照）。これにより、被測定用テープＴ１が形成されている。１本の光ファイバ心線は、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含む樹脂で被覆されている。
【００１９】
ＯＴＤＲ測定器１１は、測定用ダミーファイバＦ０を介して被測定用光ファイバＦ１に光パルスを入射し、各部位からの後方散乱光の戻り時間と光量を測定することで、被測定用光ファイバＦ１上の損失分布や損失値（ロス値）、欠陥位置等を算出する。被測定用光ファイバＦ１自体に局所的にロスが高い箇所があると、ＯＴＤＲ波形上では傾きの変化（段差量、区間ロス値）として現れ、このような傾きの変化を段差異常や区間ロス異常として認識する。
【００２０】
制御装置１３は、伝送特性検査用の検査ソフトがインストールされている。制御装置１３は、ＯＴＤＲ測定器１１へ制御信号１５を発信して測定器自体の動作制御を行うとともに、ＯＴＤＲ測定器１１から取得した測定データ１６を受信して、測定データ１６を解析して良否判定を行う。同時に、ＭＡＳ１２へ制御信号１７を発信して、後述する可動ベース板２０及びＭＡＳヘッド部材２７の動作制御を行って、Ｖ溝ブロック１４上の接続部Ｐに位置決めされている各被測定用光ファイバＦ１に、測定用ダミーファイバＦ０の他端側を突き合わせる。
【００２１】
図２に示すように、ＭＡＳ１２は、ガイドレール２２上を移動する可動ベース板２０に設置されたＭＡＳヘッド部材２７と、４心の被測定用テープＴ１を保持する被測定用テープホルダ２３と、被測定用テープホルダ２３毎に被測定用テープＴ１を配置する複数列のステージ２４とを備えている。各ステージ２４の前方には、複数のＶ溝３０（図３参照）を有するＶ溝ブロック１４が設けられている。ステージ２４は、Ｖ溝ブロック１４に向かって所定角度だけ傾斜している。４心の被測定用テープＴ１は、その外周に設けられた着色層を含む所定長さの樹脂を剥くことで被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４が露出している。
【００２２】
図３に示すように、Ｖ溝ブロック１４のＶ溝３０は、谷部３１と山部３２が交互に形成されることで、第１溝部３０ａ、第２溝部３０ｂ、第３溝部３０ｃおよび第４溝部３０ｄを含む８または１２の溝部が形成されている。このＶ溝３０のピッチＸは、被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の隣接するガラスファイバの間隔、例えば、第１ガラスファイバＧｈ１と第２ガラスファイバＧｈ２の中心軸間の間隔Ｗに一致する。したがって、可動ベース板２０に設置されたＭＡＳヘッド部材２７の矢印２５方向への最小移動距離は、Ｖ溝３０のピッチＸに一致するように設定される。
【００２３】
図２に示すように、可動ベース板２０に設置されたＭＡＳヘッド部材２７は、ガイドレール２２によって矢印２５方向に移動可能なように設計されている。ＭＡＳヘッド部材２７上には、４本の測定用ダミーファイバＦ０を束ねた測定用ダミーテープＴ０を保持するダミーファイバホルダ２１を備えている。可動ベース板２０が下降することにより、一体化されたＭＡＳヘッド部材２７やダミーファイバホルダ２１も下降する。それに伴い測定用ダミーファイバＦ０の先端部は、移動方向２５に対して直角な矢印２６方向にあるＶ溝３０に挿入され、さらに被測定用光ファイバＦ１側へ押し出されることにより、測定用ダミーファイバＦ０と被測定用光ファイバＦ１のファイバ先端同士が突合される。
【００２４】
被測定用光ファイバＦ１と同様に、測定用ダミーファイバＦ０は、４本の光ファイバ心線が一平面上に並列されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されている。これにより、被測定用テープＴ０が形成されている。１本の光ファイバ心線は、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含む樹脂で被覆されている。
測定用ダミーテープＴ０は、ダミーファイバホルダ２１により保持されている。この測定用ダミーテープＴ０の一端側においては、４本の測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が一平面上に並列されている。一方、測定用ダミーテープＴ０の他端側においては、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が１心毎に、それぞれのＯＴＤＲ測定器１１に接続されている。４心の測定用ダミーテープＴ０は、ダミーファイバホルダ２１への取付け前にその先端部分の外被を剥ぐことで測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が露出されている。露出された測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の長さは、例えば４５ｍｍである。
【００２５】
４本の測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の並列ピッチは、４本の被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４と同一の並列ピッチとされている。また、測定用ダミーテープホルダ２１から伸びている測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の矢印２６方向への移動距離は、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部とＶ溝ブロック１４上に配置された突き合わせ相手の被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の先端部との間隔Ｙに概ね一致するように設定される。
【００２６】
ダミーファイバホルダ２１は可動ベース板２０に固定されたＭＡＳヘッド部材２７にセットされている。ＭＡＳヘッド部材２７は、第１のガイド部材２８と第２のガイド部材２９とを備えている。図２および図３に示すように、第１のガイド部材２８は、被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４と突き合わされる測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部とダミーファイバホルダ２１との間に設けられている。測定用ダミーテープＴ０から測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が露出された位置から第１のガイド部材２８までの距離は、例えば２７ｍｍである。この第１のガイド部材２８は、図４（ａ）に示すように、その上面部に測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４をガイドする複数の第１のＶ溝２８Ａを備えている。これにより、第１のガイド部材２８の上面は測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４と接し、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を下方向から保持している。
【００２７】
第２のガイド部材２９は、第１のガイド部材２８と測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部との間に設けられている。この第２のガイド部材２９は、図４（ｂ）に示すように、その下面部に測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４をガイドする複数の第２のＶ溝２９Ａを備えている。これにより、第２のガイド部材２９の下面は測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４と接し、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４へ上方向から下方向への力を加えることで第１のガイド部材２８とともに測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４のガイド位置を固定している。
【００２８】
本実施形態に係る光ファイバ測定装置１０では、図５に示すように、Ｖ溝ブロック１４上に複数のＶ溝３０（第１〜第４溝部３０ａ〜３０ｄ）が設けられている。また、各Ｖ溝３０内には、被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４に塗布されたマッチングオイルＭが侵入している。４心の測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４は、可動ベース板２０やＭＡＳヘッド部材２７等によって、被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４が配置された各Ｖ溝３０内の谷部３１中央に位置制御される。測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４は、ダミーファイバホルダ２１による保持位置から先端部までの長さ（以下、自由長とする）が例えば３０ｍｍ以上である。測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の自由長が長いと、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端がぶれやすくなり、挿入されるべき正しいＶ溝３０に挿入されない場合がある。
そのため、従来は、測定用ダミーガラスファイバが適切なＶ溝に挿入されずに、被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の端部と測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の端部との突き合わせ位置不良が発生し、結果として被測定用ガラスファイバの伝送特性について誤った良否判定がされてしまうことがあった。
【００２９】
これに対して、上述したように本実施形態の光ファイバ測定装置１０においては、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４は測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部とダミーファイバホルダ２１との間に設けられている第１のガイド部材２８によりガイドされているため、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の自由長を短くすることが可能となる。そのため、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端がぶれにくい状態で各Ｖ溝３０内に挿入され得る。また、第１のガイド部材２８により測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４に対して測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を第１のＶ溝２８Ａに接した状態で保持することができる。以上より、ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４のＶ溝３０内への誤挿入による測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４と被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４との突き合わせ位置不良の発生を防止することができる。
【００３０】
なお、図６に示すように、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４または被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４は、その先端部の位置が不揃いである場合がある。本実施形態においては、測定用ダミーテープＴ０から測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４が露出された位置から第１のガイド部材２８までの位置が約２７ｍｍと、ある程度の長さを確保し、図７に示すように、ダミーファイバホルダ２１と第１のガイド部材２８との間に配置された測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４に意図的に所定のたるみを持たせておくことが好ましい。これにより、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部と被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の先端部とが地点Ｐにおいて突き合わされた場合に、被測定用ガラスファイバとの突き合わせが強いダミーガラスファイバ（図７においては、測定用ダミーガラスファイバＧｄ２）については撓みを大きくしてダミーガラスファイバの先端部をダミーファイバホルダ２１側に引き戻すことができる。一方、被測定用ガラスファイバとの突き合わせが弱いダミーガラスファイバ（図７においては、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１）については撓みを小さくしてダミーガラスファイバの先端部を被測定用ガラスファイバ側に押し出すことができる。測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４をたるませておくことで、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部の位置を自動調節して、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部と被測定用ガラスファイバＧｈ１〜Ｇｈ４の先端部との突き合わせ状態を適切に維持することができる。
【００３１】
また、本実施形態によれば、第１のガイド部材２８は、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４と接する位置に第１のＶ溝２８Ａを備えている。そのため、第１のＶ溝２８Ａにより測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４をそれぞれ保持することで、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４のガイド位置を適正に維持することができる。
【００３２】
また、本実施形態によれば、第１のガイド部材２８と測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部との間に、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４に上方向から下方向への力を加えるように測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を保持する第２のガイド部材２９を備えている。そのため、第２のガイド部材２９により測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を上側から押えることで、第１のガイド部材２８と協働して測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４をその上下方向の所定の位置でガイドすることができる。
【００３３】
また、本実施形態によれば、第２のガイド部材２９は、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の長手方向に沿って第１のＶ溝２８Ａと整合する位置に設けられた第２のＶ溝２９Ａを備えている。そのため、第２のＶ溝２９Ａにより測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を保持することで測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４のガイド位置をさらに適正に維持することができる。
なお、第１のガイド部材２８の第１のＶ溝２８ＡにマッチングオイルＭが付着してしまった場合には、第１のＶ溝２８Ａによる測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の適切な保持が損なわれ、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部でのぶれが起こりやすくなる。しかし、本実施形態によれば、第１のガイド部材２８の第１のＶ溝２８ＡにマッチングオイルＭが付着してしまった場合でも、第２のガイド部材２９の第２のＶ溝２９Ａによって測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４を保持しながら上側から押えつけることができる。そのため、測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の先端部のぶれを抑えて、Ｖ溝３０内への測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の誤挿入を防止することができる。
【００３４】
以上、本発明を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。また、上記説明した構成部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定されず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等に変更することができる。
【００３５】
例えば、図８（ａ）に示すように、第１のガイド部材２８に設けられる第１のＶ溝２８Ａの底部に、第１のＶ溝２８Ａの長手方向に沿って切欠き２８Ｂが設けられていてもよい。測定用ダミーガラスファイバＧｄと被測定用ガラスファイバとを突き合わせて被測定用ガラスファイバの伝送特性の測定を繰り返していくと、第１のＶ溝２８ＡにもマッチングオイルＭが侵入する場合がある。しかし、本例においては、マッチングオイルＭが第１のＶ溝２８Ａに侵入したとしても、そのマッチングオイルＭは切欠き２８Ｂ内に溜められるため、第１のＶ溝２８Ａで保持されるダミーガラスファイバＧｄの浮き上がりを防止することができる。
【００３６】
また、図８（ｂ）に示すように、第１のＶ溝２８Ａの底部に、第１のＶ溝２８Ａの長手方向に沿って排出溝２８Ｃ（切欠きの一例）が設けられていてもよい。本例においても、第１のＶ溝２８Ａに侵入したマッチングオイルＭが排出溝２８Ｃを介して第１のＶ溝２８Ａの外部に排出されるため、第１のＶ溝２８Ａで保持される測定用ダミーガラスファイバＧｄの浮き上がりを防止することができる。
【００３７】
なお、第１のＶ溝２８Ａに設けられる切欠き２８Ｂまたは排出溝２８Ｃと同様の構成を、Ｖ溝ブロック１４上に設けられる各Ｖ溝３０が備えていてもよい。この構成によれば、各Ｖ溝３０内に侵入したマッチングオイルＭを各Ｖ溝３０内に設けられた切欠きへ溜めたり、排出溝から排出することにより、各Ｖ溝３０内における測定用ダミーガラスファイバＧｄ１〜Ｇｄ４の浮き上がりをより確実に防止することができる。
【００３８】
上記の実施形態においては、４心の被測定用光ファイバＦ１に対して４心の測定用ダミーファイバＦ０を用いたが、被測定用光ファイバＦ１及び測定用ダミーファイバＦ０の心数は４心に限らない。例えば、被測定用光ファイバＦ１が２心であれば、測定用ダミーファイバＦ０も２心、被測定用光ファイバＦ１が８心であれば、測定用ダミーファイバＦ０も８心としてもよい。
【符号の説明】
【００３９】
１０：光ファイバ測定装置
１１：ＯＴＤＲ測定器
１２：ＭＡＳ（測定補助装置）
１３：制御装置
１４：Ｖ溝ブロック
２０：可動ベース板
２１：ダミーファイバホルダ
２２：ガイドレール
２３：被測定用ダミーテープホルダ
２４：ステージ
２７：ＭＡＳベース部材
２８：第１のガイド部材
２８Ａ：第１のＶ溝
２９：第２のガイド部材
２９Ａ：第２のＶ溝
２８Ｂ：切欠き
２８Ｃ：排出溝
３０：Ｖ溝
３０ａ：第１溝部
３０ｂ：第２溝部
３０ｃ：第３溝部
３０ｄ：第４溝部
３１：谷部
３２：山部
Ｆ０：測定用ダミーファイバ
Ｆ１：被測定用光ファイバ
Ｔ０：測定用ダミーテープ
Ｔ１：被測定用テープ
Ｇｄ１〜Ｇｄ４：測定用ダミーガラスファイバ
Ｇｈ１〜Ｇｈ４：被測定用ガラスファイバ
Ｍ：マッチングオイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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