(57)【要約】【課題】数値制御装置１００が有寿命部品１９０を交換された模造品であるか否かを判定できるようにすることを目的とする。【解決手段】現在残寿命値測定部３００が有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を測定する。残寿命値比較部２３０が有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１と過去残寿命値２９１とを比較する。現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より小さい場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００が正規品であると判定し、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上である場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００が模造品であると判定し、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。【選択図】図１
2014228938.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
劣化する第一の劣化部品を使用することができる残り期間の長さを表す残寿命値として過去に測定された過去残寿命値を記憶する過去残寿命値記憶部と、
劣化する第二の劣化部品を使用することができる残りの期間の長さを表す残寿命値として今回測定された現在残寿命値を取得する現在残寿命値取得部と、
前記現在残寿命値取得部によって取得された前記現在残寿命値と前記過去残寿命値記憶部に記憶された前記過去残寿命値とに基づいて、前記第一の劣化部品と前記第二の劣化部品とが同一の劣化部品であるか否かを判定する部品判定部と
を備えることを特徴とする部品判定装置。
【請求項２】
前記部品判定部は、前記現在残寿命値が前記過去残寿命値より短い残り期間を表す場合、前記第一の劣化部品と前記第二の劣化部品とが同一の劣化部品であると判定する
ことを特徴とする請求項１記載の部品判定装置。
【請求項３】
前記部品判定部は、
前記過去残寿命値に基づいて前記第一の劣化部品の現在の残寿命値を予測残寿命値として予測し、
前記予測残寿命値と前記現在残寿命値との差が誤差閾値より小さい場合、前記第一の劣化部品と前記第二の劣化部品とが同一の劣化部品であると判定する
ことを特徴とする請求項１記載の部品判定装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３いずれかに記載の部品判定装置と、
前記部品判定装置によって過去残寿命値が測定された第一の劣化部品と現在残寿命値が測定された第二の劣化部品とが同一の劣化部品であると判定された場合、工作機械を制御するためのプログラムを実行する演算装置と
を備えることを特徴とする数値制御装置。
【請求項５】
過去残寿命値記憶部と、現在残寿命値取得部と、部品判定部とを備える部品判定装置を用いる部品判定方法であって、
前記過去残寿命値記憶部は、劣化する第一の劣化部品を使用することができる残り期間の長さを表す残寿命値として過去に測定された過去残寿命値を記憶する記憶部であり、
前記現在残寿命値取得部が、劣化する第二の劣化部品を使用することができる残りの期間の長さを表す残寿命値として今回測定された現在残寿命値を取得し、
前記部品判定部が、前記現在残寿命値取得部によって取得された前記現在残寿命値と前記過去残寿命値記憶部に記憶された前記過去残寿命値とに基づいて、前記第一の劣化部品と前記第二の劣化部品とが同一の劣化部品であるか否かを判定する
ことを特徴とする部品判定方法。
【請求項６】
請求項１から請求項３いずれかに記載の部品判定装置としてコンピュータを機能させるための部品判定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、数値制御装置が部品を交換された模造品であるか否かを判定するための部品判定装置、数値制御装置、部品判定方法および部品判定プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図８は、従来の数値制御装置１１０の構成図である。
従来の数値制御装置１１０は、図８に示すように、ＣＰＵ１０１（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、主メモリ１０２、不揮発メモリ１０３、入出力装置１０４、バス１０５、主電源回路１９１、バックアップ電源１９２などを備える。ＣＰＵ１０１は、認証処理を要求するための認証信号１０９を出力する。
また、数値制御装置１１０は、模造を防止するため、セキュリティ制御装置１１１を備える。
【０００３】
セキュリティ制御装置１１１は、認証処理部１１２と、秘密情報１１４を記憶する秘密情報保存部１１３とを備える。
認証処理部１１２は、認証信号１０９に含まれる情報と秘密情報１１４とを用いて、数値制御装置１１０が正規品であるか否かを判定するための認証処理を行う。そして、認証処理部１１２は、認証処理の結果に基づいて動作制御信号１１５を出力する。
数値制御装置１１０の動作を許可することを意味する動作制御信号１１５が出力された場合、ＣＰＵ１０１は工作機械を数値制御する。
【０００４】
ここで、数値制御装置１１０が故障などによって廃棄された場合、不正な第三者は、廃棄された数値制御装置１１０のセキュリティ制御装置１１１を再利用することによって、数値制御装置１１０の模造品を製造することができる。
但し、不正な第三者は、廃棄された数値制御装置１１０から一つのセキュリティ制御装置１１１しか取り出せないため、数値制御装置１１０の模造品を無制限に製造することはできない。
【０００５】
特許文献１は、違法コピー防止機能と正規品の量産機能とを両立させるＰＬＣ（プログラマブル・ロジック・コントローラ）構成モジュールについて開示している。
非特許文献１は、ＦＰＧＡ（フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ）を著作権侵害から保護するための認証方式について開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−１０６９９８号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】Ｂｅｒｎｈａｒｄ  Ｌｉｎｋｅ、“著作権侵害からのＦＰＧＡの保護：ＳＲＡＭベースのＦＰＧＡ設計のＩＰを保護するコスト効率に優れた認証方式”、［ｏｎｌｉｎｅ］、２０１０年３月１日、アプリケーションノート４５９４  Ｍａｘｉｍ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｐｒｏｄｕｃｔｓ、［２０１３年４月８日検索］、インターネット（ＵＲＬ：ｈｔｔｐ：／／ｐｄｆｓｅｒｖ．ｍａｘｉｍｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ．ｃｏｍ／ｊｐ／ａｎ／ＡＮ４５９４Ｊ．ｐｄｆ）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、例えば、数値制御装置が部品を交換された模造品であるか否かを判定できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の部品判定装置は、
劣化する第一の劣化部品を使用することができる残り期間の長さを表す残寿命値として過去に測定された過去残寿命値を記憶する過去残寿命値記憶部と、
劣化する第二の劣化部品を使用することができる残りの期間の長さを表す残寿命値として今回測定された現在残寿命値を取得する現在残寿命値取得部と、
前記現在残寿命値取得部によって取得された前記現在残寿命値と前記過去残寿命値記憶部に記憶された前記過去残寿命値とに基づいて、前記第一の劣化部品と前記第二の劣化部品とが同一の劣化部品であるか否かを判定する部品判定部とを備える。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、過去残寿命値が測定されたときの部品（第一の劣化部品）と現在残寿命値が測定されたときの部品（第二の劣化部品）とが同一の部品であるか否かを判定することができる。同一の部品でない場合、数値制御装置は部品を不正に交換された模造品である、と考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１における数値制御装置１００の構成図である。
【図２】実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理を示すフローチャートである。
【図３】正規品である数値制御装置１００の残寿命を示すグラフである。
【図４】数値制御装置１００が模造された場合の残寿命を示すグラフである。
【図５】実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図６】実施の形態２における数値制御装置１００の構成図である。
【図７】実施の形態２におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理を示すフローチャートである。
【図８】従来の数値制御装置１１０の構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
実施の形態１．
数値制御装置が部品を交換された模造品であるか否かを部品の残寿命値に基づいて判定する形態について説明する。
【００１３】
図１は、実施の形態１における数値制御装置１００の構成図である。
実施の形態１における数値制御装置１００の構成について、図１に基づいて説明する。
【００１４】
数値制御装置１００は、工作機械を数値制御する装置である。
数値制御装置１００は、ＣＰＵ１０１（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、主メモリ１０２と、不揮発メモリ１０３と、入出力装置１０４とを備える。
数値制御装置１００は、有寿命部品１９０（劣化部品の一例）を備える。
数値制御装置１００は、セキュリティ制御装置２００（部品判定装置の一例）と、現在残寿命値測定部３００とを備える。なお、現在残寿命値測定部３００はセキュリティ制御装置２００に備わる構成であっても構わない。
数値制御装置１００が備えるこれらの構成はバス１０５を介して接続される。
【００１５】
ＣＰＵ１０１は、工作機械を数値制御するための数値制御プログラムを実行する演算装置である。数値制御プログラムは、主メモリ１０２または不揮発メモリ１０３に記憶される。
例えば、ＣＰＵ１０１は、数値制御プログラムを実行することにより、以下のように動作する。
ＣＰＵ１０１は、工作機械の数値制御を開始する前に、認証処理を要求するための認証信号１０９をセキュリティ制御装置２００に出力する。
ＣＰＵ１０１は、セキュリティ制御装置２００から出力される動作制御信号１１５・２１１を入力する。
動作制御信号１１５と動作制御信号２１１との両方の信号が数値制御装置１００の動作を許可することを意味する信号である場合、ＣＰＵ１０１は工作機械を数値制御する。
【００１６】
有寿命部品１９０は、数値制御装置１００に電力を供給する主電源回路１９１またはバックアップ電源１９２など、数値制御装置１００を動作させるために必要な部品である。
有寿命部品１９０は使用または時間の経過に従って劣化する。つまり、有寿命部品１９０は寿命を有する。
有寿命部品１９０の劣化が許容範囲を超えた場合、つまり、有寿命部品１９０の寿命が尽きた場合、数値制御装置１００の故障または不具合が発生し、数値制御装置１００の寿命が尽きる。
【００１７】
セキュリティ制御装置２００は、数値制御装置１００が正規品であるか否かを判定する装置である。
セキュリティ制御装置２００は、模造判定部２１０（部品判定部の一例）と、認証処理部１１２と、制御装置記憶部２９０（過去残寿命値記憶部の一例）とを備える。
【００１８】
模造判定部２１０は、数値制御装置１００が正規品であるか否かを判定する。
数値制御装置１００が正規品であると判定した場合、模造判定部２１０は数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。
数値制御装置１００が正規品ではなく模造品であると判定した場合、模造判定部２１０は数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。
【００１９】
模造判定部２１０は、現在残寿命値取得部２２０と、残寿命値比較部２３０と、動作制御信号出力部２４０とを備える。
但し、模造判定部２１０は、現在残寿命値取得部２２０の代わりに、現在残寿命値測定部３００を備えても構わない。
【００２０】
現在残寿命値取得部２２０は、現在残寿命値測定部３００から有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を取得する。
また、現在残寿命値取得部２２０は、取得した現在残寿命値３０１を次回に用いる過去残寿命値２９１として制御装置記憶部２９０に記憶する。
有寿命部品１９０の残寿命値は、有寿命部品１９０を使用することができる残り期間の長さを表す。
【００２１】
残寿命値比較部２３０は、現在残寿命値３０１と過去残寿命値２９１とを比較し、現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より短い残り期間を表すか否かを判定する。
【００２２】
動作制御信号出力部２４０は、現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より短い残り期間を表す場合、現在残寿命値３０１が測定されたときの有寿命部品１９０と過去残寿命値２９１が測定されたときの有寿命部品１９０とが同一の有寿命部品１９０であると判定する。そして、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。数値制御装置１００は有寿命部品１９０が不正に交換された模造品ではない、と考えられるからである。
動作制御信号出力部２４０は、現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上の残り期間を表す場合、現在残寿命値３０１が測定されたときの有寿命部品１９０と過去残寿命値２９１が測定されたときの有寿命部品１９０とが同一の有寿命部品１９０でないと判定する。そして、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。数値制御装置１００は有寿命部品１９０が不正に交換された模造品である、と考えられるからである。
【００２３】
認証処理部１１２は、認証信号１０９に含まれる認証情報と秘密情報１１４とを用いて、数値制御装置１１０が正規品であるか否かを判定するための認証処理を行う。
数値制御装置１１０が正規品であると判定した場合、認証処理部１１２は数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号１１５を出力する。
数値制御装置１１０が正規品ではなく模造品であると判定した場合、認証処理部１１２は数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号１１５を出力する。
例えば、認証処理部１１２は、認証信号１０９に含まれる認証情報と秘密情報１１４とを照合する。そして、認証情報と秘密情報１１４とが一致または対応する情報である場合、認証処理部１１２は数値制御装置１００が正規品であると判定する。
【００２４】
制御装置記憶部２９０は、セキュリティ制御装置２００で使用するデータを記憶する。
例えば、制御装置記憶部２９０は、過去残寿命値２９１および秘密情報１１４などを記憶する。
【００２５】
現在残寿命値測定部３００は、有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を測定する。現在残寿命値測定部３００は、現在残寿命値３０１の測定方法として公知技術を用いることができる。
【００２６】
数値制御装置１００が複数の有寿命部品１９０を備える場合、現在残寿命値測定部３００は、複数の有寿命部品１９０のそれぞれの現在残寿命値３０１を測定してもよいし、いずれか特定の有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を測定してもよい。
複数の有寿命部品１９０のそれぞれの現在残寿命値３０１が測定される場合、残寿命値比較部２３０は、有寿命部品１９０毎に、有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より短い残り期間を表すか否かを判定する。
そして、全ての有寿命部品１９０について現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より短い残り時間を表すと判定された場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。
また、少なくともいずれかの有寿命部品１９０について現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上の残り時間を表すと判定された場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。
【００２７】
図２は、実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理を示すフローチャートである。
実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理について、図２に基づいて説明する。
【００２８】
Ｓ１１０において、現在残寿命値測定部３００は、有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を測定する。ここで、現在残寿命値測定部３００は、現在残寿命値３０１の測定方法として公知技術を用いることができる。
例えば、現在残寿命値測定部３００は、以下のように現在残寿命値３０１を測定する。
（１）現在残寿命値測定部３００は、数値制御装置１００に備わるバッテリ（有寿命部品１９０の一例）の電圧値を測定する。
（２）現在残寿命値測定部３００は、電圧値と残寿命値とを対応付けた残寿命値テーブルから、測定した電圧値に対応付けられた残寿命値を現在残寿命値３０１として取得する。なお、残寿命値テーブルは制御装置記憶部２９０に予め記憶しておく。
但し、現在残寿命値測定部３００は、バッテリの電圧値を現在残寿命値３０１として測定しても構わない。バッテリの電圧値が高いほど、バッテリを使用することができる残り期間は長い。
Ｓ１１０の後、処理はＳ１２０に進む。
【００２９】
Ｓ１２０において、現在残寿命値取得部２２０は、現在残寿命値測定部３００から現在残寿命値３０１を取得する。
Ｓ１２０の後、処理はＳ１３０に進む。
【００３０】
Ｓ１３０において、残寿命値比較部２３０は、過去残寿命値２９１（前回の現在残寿命値３０１）を制御装置記憶部２９０から取得する。
Ｓ１３０の後、処理はＳ１３１に進む。
【００３１】
Ｓ１３１において、残寿命値比較部２３０は、Ｓ１２０で取得された現在残寿命値３０１とＳ１３０で取得した過去残寿命値２９１とを比較する。
現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１より短い残り期間を表す場合（ＹＥＳ）、処理はＳ１４０に進む。
現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上の残り期間を表す場合（ＮＯ）、処理はＳ１４２に進む。
【００３２】
Ｓ１４０において、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。
Ｓ１４０の後、処理はＳ１４１に進む。
【００３３】
Ｓ１４１において、現在残寿命値取得部２２０は、Ｓ１２０で取得した現在残寿命値３０１を次回の過去残寿命値２９１として制御装置記憶部２９０に記憶する。
例えば、現在残寿命値取得部２２０は、測定された日時と共に、現在残寿命値３０１を次回の過去残寿命値２９１として記憶する。
Ｓ１４１の後、模造判定処理は終了する。
【００３４】
Ｓ１４２において、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。
Ｓ１４２の後、模造判定処理は終了する。
【００３５】
図３は、正規品である数値制御装置１００の残寿命を示すグラフである。
図４は、数値制御装置１００が模造された場合の残寿命を示すグラフである。
現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上の残り期間（残寿命）を表す場合、数値制御装置１００が模造品であると考えられる理由について、図３および図４に基づいて説明する。
【００３６】
図３において、数値制御装置１００の有寿命部品１９０は時間の経過と共に劣化する。
そして、有寿命部品１９０の残寿命が数値制御装置１００の性能および安全性などを保障するために許容される下限に達した場合、数値制御装置１００の寿命が尽きる。
【００３７】
そこで、不正な利用者は、数値制御装置１００の寿命を延ばすために有寿命部品１９０を勝手に交換し、数値制御装置１００の模造品を生産する。
もしくは、不正な利用者は、正規品である数値制御装置１００からセキュリティ制御装置２００を取り出し、取り出したセキュリティ制御装置２００を数値制御装置１００の模造品に組み込んで再利用する。
【００３８】
図４において、数値制御装置１００が模造された場合、有寿命部品１９０の残寿命は回復し、有寿命部品１９０の残寿命は模造前の残寿命より長くなる。
現在残寿命値３０１が過去残寿命値２９１以上の残寿命を表す場合、現在残寿命値３０１が測定されたときの有寿命部品１９０と過去残寿命値２９１が測定されたときの有寿命部品１９０とは同一の部品ではなく異なる部品である。この場合、数値制御装置１００は有寿命部品１９０が不正に交換された模造品である、と考えられる。
【００３９】
そこで、セキュリティ制御装置２００の模造判定部２１０は、現在残寿命値３０１と過去残寿命値２９１とを比較することによって、数値制御装置１００が模造品であるか否かを判定する。
数値制御装置１００が模造品であると判定した場合、模造判定部２１０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力することによって、数値制御装置１００の動作を停止させる。
【００４０】
図５は、実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００のハードウェア構成の一例を示す図である。
実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００のハードウェア構成の一例について、図５に基づいて説明する。
【００４１】
セキュリティ制御装置２００は、バス９０９に接続している演算装置９０１、補助記憶装置９０２、主記憶装置９０３、通信装置９０４および入出力装置９０５を備える。
【００４２】
演算装置９０１は、プログラムを実行するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）である。
補助記憶装置９０２は、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリまたはハードディスク装置である。
主記憶装置９０３は、例えば、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）である。
通信装置９０４は、有線または無線でインターネット、ＬＡＮ（ローカルエリアネットワーク）、電話回線網またはその他のネットワークを介して通信を行う。
入出力装置９０５は、例えば、マウス、キーボード、ディスプレイ装置である。
【００４３】
プログラムは、通常は補助記憶装置９０２に記憶されており、主記憶装置９０３にロードされ、演算装置９０１に読み込まれ、演算装置９０１によって実行される。
例えば、オペレーティングシステム（ＯＳ）が補助記憶装置９０２に記憶される。また、「〜部」として説明している機能を実現するプログラム（部品判定プログラムの一例）が補助記憶装置９０２に記憶される。そして、ＯＳおよび「〜部」として説明している機能を実現するプログラムは主記憶装置９０３にロードされ、演算装置９０１によって実行される。
【００４４】
「〜の判断」、「〜の判定」、「〜の抽出」、「〜の検知」、「〜の設定」、「〜の登録」、「〜の選択」、「〜の生成」、「〜の入力」、「〜の出力」等の処理の結果を示す情報、データ、信号値または変数値が主記憶装置９０３または補助記憶装置９０２にファイルとして記憶される。また、セキュリティ制御装置２００が使用するその他のデータが主記憶装置９０３または補助記憶装置９０２に記憶される。
【００４５】
また、図５は実施の形態１におけるセキュリティ制御装置２００のハードウェア構成の一例を示すものであり、セキュリティ制御装置２００のハードウェア構成は図５に示す構成と異なる構成であってもよい。
なお、実施の形態１に係る方法（部品判定方法の一例）はフローチャート等を用いて説明している手順または一部異なる手順によって実現することができる。
【００４６】
実施の形態１において、現在残寿命値測定部３００はセキュリティ制御装置２００に備わる構成であっても構わない。
例えば、セキュリティ制御装置２００の模造判定部２１０は、現在残寿命値取得部２２０の代わりに、現在残寿命値測定部３００を備えても構わない。
【００４７】
実施の形態１において、数値制御装置１００が有寿命部品１９０を交換された模造品であるか否かを有寿命部品１９０の残寿命値に基づいて判定する形態について説明した。
【００４８】
実施の形態２．
過去残寿命値２９１に基づいて現在残寿命値を予測し、予測した現在残寿命値と測定した現在残寿命値３０１とに基づいて数値制御装置１００が模造品であるか否かを判定する形態について説明する。
以下、実施の形態１と異なる事項について主に説明する。説明を省略する事項については実施の形態１と同様である。
【００４９】
図６は、実施の形態２における数値制御装置１００の構成図である。
実施の形態２における数値制御装置１００の構成について、図６に基づいて説明する。
【００５０】
数値制御装置１００は、実施の形態１（図１参照）と同様に、セキュリティ制御装置２００と、現在残寿命値測定部３００と、有寿命部品１９０とを備える。また、数値制御装置１００は、その他にＣＰＵ１０１などを備える。
【００５１】
セキュリティ制御装置２００の模造判定部２１０は、実施の形態１で説明した構成に加えて、残寿命値予測部２５０を備える。
【００５２】
残寿命値予測部２５０は、前回以前に測定された１つ以上の残寿命値（過去残寿命値２９１）に基づいて、有寿命部品１９０の現在の残寿命値を予測する。残寿命値予測部２５０は、現在の残寿命値の予測方法として公知技術を用いることができる。
以下、予測した現在の残寿命値を「予測残寿命値２５１」という。
【００５３】
残寿命値比較部２３０は、現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１とを比較し、現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が所定の誤差閾値以下であるか否かを判定する。
【００５４】
動作制御信号出力部２４０は、現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が所定の誤差閾値以下である場合、現在残寿命値３０１が測定されたときの有寿命部品１９０と過去残寿命値２９１が測定されたときの有寿命部品１９０とが同一の有寿命部品１９０であると判定する。そして、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。数値制御装置１００は有寿命部品１９０が不正に交換された模造品でない、と考えられるからである。
動作制御信号出力部２４０は、現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が所定の誤差閾値より大きい場合、現在残寿命値３０１が測定されたときの有寿命部品１９０と過去残寿命値２９１が測定されたときの有寿命部品１９０とが同一の有寿命部品１９０でないと判定する。そして、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。数値制御装置１００は有寿命部品１９０が不正に交換された模造品である、と考えられるからである。
【００５５】
数値制御装置１００が複数の有寿命部品１９０を備える場合、現在残寿命値測定部３００は、複数の有寿命部品１９０のそれぞれの現在残寿命値３０１を測定してもよいし、いずれか特定の有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１を測定してもよい。
複数の有寿命部品１９０のそれぞれの現在残寿命値３０１が測定される場合、残寿命値予測部２５０は、有寿命部品１９０毎に、有寿命部品１９０の過去残寿命値２９１に基づいて予測残寿命値２５１を算出する。
また、残寿命値比較部２３０は、有寿命部品１９０毎に、有寿命部品１９０の現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が誤差閾値以下であるか否かを判定する。
そして、全ての有寿命部品１９０について現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が誤差閾値以下である場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可することを意味する動作制御信号２１１を出力する。
また、少なくともいずれかの有寿命部品１９０について現在残寿命値３０１と予測残寿命値２５１との差が誤差閾値より大きい場合、動作制御信号出力部２４０は、数値制御装置１００の動作を許可しないことを意味する動作制御信号２１１を出力する。
【００５６】
図７は、実施の形態２におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理を示すフローチャートである。
実施の形態２におけるセキュリティ制御装置２００の模造判定処理について、図２に基づいて説明する。
【００５７】
セキュリティ制御装置２００は、実施の形態１（図２参照）で説明したＳ１３０およびＳ１３１の代わりに、Ｓ１３０ＢからＳ１３２Ｂを実行する。
【００５８】
Ｓ１３０Ｂにおいて、残寿命値予測部２５０は、１つ以上の過去残寿命値２９１を制御装置記憶部２９０から取得する。
Ｓ１３０Ｂの後、処理はＳ１３１Ｂに進む。
【００５９】
Ｓ１３１Ｂにおいて、残寿命値予測部２５０は、１つ以上の過去残寿命値２９１に基づいて有寿命部品１９０の現在の残寿命値を予測することによって、予測残寿命値２５１を算出する。ここで、残寿命値予測部２５０は、現在の残寿命値の予測方法として公知技術を用いることができる。
例えば、残寿命値予測部２５０は、以下のように予測残寿命値２５１を算出する。
（１）残寿命値予測部２５０は、前々回に測定された過去残寿命値２９１から前回測定された過去残寿命値２９１を引いた値を残寿命減少量として算出する。
（２）残寿命値予測部２５０は、前々回の測定日時から前回の測定日時までの経過時間を前回経過時間として算出する。
（３）残寿命値予測部２５０は、残寿命減少量を前回経過時間で割った値を単位減少量として算出する。
（４）残寿命値予測部２５０は、前回の測定日時から今回の測定日時（現在残寿命値３０１の測定日時）までの経過時間を今回経過時間として算出する。
（５）残寿命値予測部２５０は、今回経過時間に単位減少量を掛けた値を予測減少量として算出する。
（６）残寿命値予測部２５０は、前回測定された過去残寿命値２９１から予測減少量を引いた値を予測残寿命値２５１として算出する。
Ｓ１３１Ｂの後、処理はＳ１３２Ｂに進む。
【００６０】
Ｓ１３２Ｂにおいて、残寿命値比較部２３０は、Ｓ１２０で取得された現在残寿命値３０１とＳ１３１Ｂで算出された予測残寿命値２５１との差を残寿命値差として算出し、算出した残寿命値差と所定の誤差閾値とを比較する。
残寿命値差が誤差閾値以下である場合（ＹＥＳ）、処理はＳ１４０に進む。
残寿命値差が誤差閾値より大きい場合（ＮＯ）、処理はＳ１４２に進む。
【００６１】
その他の処理（Ｓ１１０、Ｓ１２０、Ｓ１４０からＳ１４２）は実施の形態１と同様である。
【００６２】
実施の形態２において、過去残寿命値２９１に基づいて現在残寿命値を予測し、予測した現在残寿命値と測定した現在残寿命値３０１とに基づいて数値制御装置１００が模造品であるか否かを判定する形態について説明した。
【００６３】
各実施の形態は、数値制御装置１００の形態の一例である。
つまり、数値制御装置１００は、各実施の形態で説明した機能または構成の一部を備えなくても構わない。
また、数値制御装置１００は、各実施の形態で説明していない機能または構成を備えても構わない。
さらに、各実施の形態は、矛盾が生じない範囲で一部または全てを組み合わせても構わない。
【符号の説明】
【００６４】
１００  数値制御装置、１０１  ＣＰＵ、１０２  主メモリ、１０３  不揮発メモリ、１０４  入出力装置、１０５  バス、１０９  認証信号、１１０  数値制御装置、１１１  セキュリティ制御装置、１１２  認証処理部、１１３  秘密情報保存部、１１４  秘密情報、１１５  動作制御信号、１９０  有寿命部品、１９１  主電源回路、１９２  バックアップ電源、２００  セキュリティ制御装置、２１０  模造判定部、２１１  動作制御信号、２２０  現在残寿命値取得部、２３０  残寿命値比較部、２４０  動作制御信号出力部、２５０  残寿命値予測部、２５１  予測残寿命値、２９０  制御装置記憶部、２９１  過去残寿命値、３００  現在残寿命値測定部、３０１  現在残寿命値、９０１  演算装置、９０２  補助記憶装置、９０３  主記憶装置、９０４  通信装置、９０５  入出力装置、９０９  バス。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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