(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
疑似検査治具ロッドによって、ＦＤＤ等のヘッドロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのトータル３点のずれ量であるヘッドアジムスを拡大し、その拡大された情報をカメラにて撮像することによって、ロータ用加工穴センターの輝度重心とヘッドロッドガイド加工精度を画像処理技術によって高速高精度に測定できるようにしたことを特徴とするＦＤＤベース加工精度測定方法。
【請求項２】
ＦＤＤのロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのずれ量を拡大する疑似検査治具ロッドと、前記疑似検査治具ロッドを容易にセットできる強力磁石と、拡大されたずれ量情報を撮像するカメラと、前記拡大されたずれ量情報を画像処理技術によって高速高精度に測定できるようにした画像処理装置を備えたことを特徴とするＦＤＤベース加工精度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＦＤＤ(フロッピディスクドライブ)等のベース加工(アルミダイキャスト，板金等)の加工精度測定、特にヘッドロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのトータル３点のずれ量(ヘッドアジムス)を、高速高精度に測定するためのＦＤＤベース加工精度測定方法とその方法を用いた装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図５は従来のＦＤＤベース加工精度測定の構成を示す図(a)と動作説明図(b)であり、図５において、18は加工精度を測定する３次元測定器としての３次元センサーであり、プローブ19により、ＦＤＤベース６の加工面にならって追従するように構成されている。
【０００３】
次に上記従来例の動作について説明する。図５において、３次元センサー18のプローブ19によりＦＤＤロータ用加工穴13のセンターを算出し、ロッドガイド10の加工２点を順次測定し、ロッドガイド10の２点間の延長線上とロータ用加工穴13のセンター位置のずれを算出する。
【０００４】
このように上記従来のＦＤＤベース加工精度測定装置では、３次元センサーを用いることにより高精度に測定することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のＦＤＤベース加工精度測定装置では３次元センサー18を用い、１点１点測定していかなければならず、測定時間がかかるため、ＦＤＤなどの量産の測定においては、効率よく高速高精度に測定できないという問題を有していた。
【０００６】
本発明は、上記従来の問題を解決するもので、カメラを用い非接触で画像計測技術により、高速高精度にＦＤＤベース加工精度を測定する方法とＦＤＤベース加工精度測定装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記問題を解決し目的を達成するために、疑似検査治具ロッドによって、ＦＤＤベースのロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのずれ量を拡大し、その拡大された情報を１つのカメラにて撮像し、画像処理技術によって高速高精度に測定できるようにしたものである。
【０００８】
以上により、カメラを用いて非接触で画像計測技術により、高速高精度にＦＤＤベース加工精度を測定する方法とＦＤＤベース加工精度測定装置が得られる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１に記載の発明は、疑似検査治具ロッドによって、ＦＤＤベースのロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのずれ量をカメラ視野内にて拡大し、その拡大された情報をカメラにて撮像することによって、ロータ用加工穴センターの輝度重心と、ロッドガイド加工精度(方位ベクトル)を画像処理技術によって高速高精度に測定することができるという作用を有する。
【００１０】
また、請求項２に記載の発明は、ＦＤＤベースのロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのずれ量を拡大する疑似検査治具ロッドと、この疑似検査治具ロッドを容易にセットできる強力磁石と、拡大されたずれ量情報を撮像するカメラと、この拡大されたずれ量情報を画像処理技術によって高速高精度に測定できるようにした画像処理装置を備え、疑似検査治具ロッドを引き寄せることのできる強力磁石をＦＤＤベース下部に設置することにより簡単に位置決めを行うことができるという作用を有する。
【００１１】
以下、本発明の各実施の形態について、図１から図４を用いて説明する。
【００１２】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１におけるＦＤＤベース加工精度測定システムの構成図を示し、図１において画像計測装置１は、撮像画面２を画像計測する作用を行うもので、図示せざるコンピュータ，画像取り込みボード及びカメラ４から構成されている。照明装置３は、ＦＤＤベース６の照明を行うもので、反射照明５及び透過照明８から構成されている。ＦＤＤベース６はアルミダイキャスト及び板金等により構成されている。磁石７は、疑似検査治具ロッド９を容易にセットするもので、永久磁石により構成されている。
【００１３】
図２は本発明の実施の形態１におけるＦＤＤの機能説明図(a)とＦＤＤベース加工精度測定治具設定図(b)を示す。図２(a)において、ヘッドロッドガイドシャフト14は、ヘッド11をガイドするもので、鉄ロッドにより構成されている。ロッドガイド10は、ヘッドロッドガイドシャフト14のアジムス(方位)12をロータ用加工穴13の中心になるようにするもので、切削加工により精度を確保する。
【００１４】
図２(b)において、疑似検査治具ロッド９は、ＦＤＤのロッドガイド10の加工の２点とロータ用加工穴13の中心の１点とのずれ量を拡大するものである。
【００１５】
次に、ＦＤＤベース加工精度測定装置の測定方法について、図３を用いてその動作を説明する。
【００１６】
図３(a)は本発明の実施の形態１におけるＦＤＤベース加工精度画像計測のマイナス側にずれが生じたときの図、(b)はずれがないときの図、(c)はプラス側にずれが生じたときの図である。
【００１７】
図３(a)において、疑似検査治具ロッド９のベクトル抽出ライン16はロッドガイド10の加工精度(方位)がマイナス側にずれを生じているとき、ロータ用加工穴13の中心との間にマイナス差異が発生する。図３(b)において、疑似検査治具ロッド９のベクトル抽出ライン16はロッドガイド10の加工精度(方位)にずれが生じていないとき、ロータ用加工穴13の中心との間に差異は発生しない。
【００１８】
図３(c)において、疑似検査治具ロッド９のベクトル抽出ライン16はロッドガイド10の加工精度(方位)がプラス側にずれを生じているとき、ロータ用加工穴13の中心との間にプラス差異が発生する。
【００１９】
この像をカメラ４で撮像し、画像計測装置１にて算出する。透過照明８により輪郭の明確なロータ用加工穴13からの光の輝度重心17を算出し、また、反射照明５により捕らえた疑似検査治具ロッド９の方位ベクトルを算出し、その差異を求める。
【００２０】
以上のように本発明の実施の形態１によれば、ロッドガイド10にヘッドロッドガイドシャフト14より長く、ロータ用加工穴13とカメラの視野15に入る疑似検査治具ロッド９を設けることにより、ロッドガイド10の２点と、ロータ用加工穴13の中心の１点との合計３点間の直線性をカメラ１台で高分解能にて撮像し画像計測することができる。
【００２１】
(実施の形態２)
図４は、本発明の実施の形態２における測定治具ロッド固定方法を示す平面図(a)とその側面図(b)である。図４において、磁石７は、疑似検査治具ロッド９の位置決めを行うものである。
【００２２】
以上のように構成された測定治具ロッド固定方法について、図４を用いてその動作を説明する。まず、疑似検査治具ロッド９をロッドガイド10にセットすることにより、ロッドガイドのコーナー方向に磁石７を設けていることにより、疑似検査治具ロッド(鉄)９は自動的にコーナーに吸い寄せられ自動位置決めを行う。
【００２３】
以上のように本発明の実施の形態２によれば、ロッドガイドのコーナー方向に磁石７を設けていることにより、疑似検査治具ロッド９は自動的にコーナーに吸い寄せられ自動位置決めを行うことができる。
【００２４】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、ＦＤＤベースのロッドガイドに疑似検査治具ロッドをセットすることにより、ＦＤＤのロッドガイド加工の２点とロータ用加工穴センターの１点とのずれ量をカメラ視野内にて拡大し、その拡大された情報をカメラにて撮像することによって、ロータ用加工穴センター(輝度重心)と、ロットガイド加工精度(方位ベクトル)を画像処理技術によって高速高精度に測定することができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１におけるＦＤＤベース加工精度測定システムの構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１におけるＦＤＤ機能説明図(a)とＦＤＤベース加工精度測定治具設定図(b)である。
【図３】本発明の実施の形態１におけるＦＤＤベース加工精度画像計測の各例図である。
【図４】本発明の実施の形態２における測定治具ロッド固定方法を示す平面図(a)とその側面図(b)である。
【図５】従来のＦＤＤベース加工精度測定装置の構成図(a)とその動作説明図(b)である。
【符号の説明】
1…画像計測装置、  ２…撮像画面、  ３…照明装置、  ４…カメラ、  ５…反射照明、  ６…ＦＤＤベース、  ７…磁石、  ８…透過照明、  ９…疑似検査治具ロッド、  10…ロッドガイド、  11…ヘッド、  12…アジムス、  13…ロータ用加工穴、  14…ヘッドロッドガイドシャフト、  15…カメラ視野、  16…ベクトル抽出ライン、  17…輝度重心、  18…３次元センサー、  19…プローブ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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