(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
劣化しやすい製品の品質インジケータであって、温度の関数としてはほとんど変化しない第一クロック信号を出力するためのクロック手段と、温度の関数として変化する第二クロック信号を出力する第二クロック手段と、第一及び第二クロック信号を受信し、第一クロック信号の関数として設定可能な時間間隔の期間中に前記第二クロック信号の関数としてカウント値を生成するカウンタ手段と、前記カウント値を受信し、前記カウント値を、前記時間間隔の期間における劣化しやすい製品の品質に対する温度の時間に渡る影響を表す時間温度値に翻訳するデータ手段と、前記データ手段により出力される前記時間温度値を加算し、蓄積時間温度信号を出力する加算手段とを含むことを特徴とする劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項２】
前記累積時間温度信号を受信し、これに応答して、ＬＣＤを変調することのできる前記累積時間温度信号を変調する変調信号を出力するＬＣＤ変調器手段を更に含む請求項１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項３】
前記累積時間温度信号が、劣化しやすい製品の貯蔵寿命の一部に対応する請求項１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項４】
温度に対して前記第二クロック信号を校正し且つ校正された第二クロック信号を発生する自己校正手段を更に含む請求項１の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項５】
前記第一クロック信号によって決定された期間中、前記校正された第二クロック信号をカウントすることによって、前記カウント値を発生する請求項４記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項６】
時間に渡って前記第一クロック信号を校正し且つ校正された第一クロック信号を発生するためのクロック信号校正手段を更に含む請求項１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項７】
前記カウンタ手段、データ手段、及び加算手段の各々が、前記校正された第一クロック信号に応答して、出力を提供する請求項６記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項８】
前記自己校正手段が、前記第二クロック信号を受信し且つ分周クロック信号を提供する分周器、温度と共に変化する期間を有するイネーブル信号を提供する周囲温度に対して校正された基準ゲート、前記時間間隔の期間において前記分周クロック信号を計数し且つ第二カウント値を出力として提供するカウンタを含み、前記分周器が前記第二カウント値を受信し且つ前記第二カウント値によって前記第二クロック信号を分周して前記校正された第二クロック信号を提供する、請求項４記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項９】
前記クロック校正手段が、前記第一クロック信号を受信し且つ分周クロック信号を提供する分周器、温度に関して実質的に変化しない期間を有するイネーブル信号を提供する温度補償基準ゲート、前記期間中に前記分周クロック信号をカウントし且つ出力として第二カウント値を提供するカウンタ、を含み、前記分周器が、前記第二カウント値を受信し且つ前記第二カウント値によって前記第一クロック信号を分周して、前記校正された第一クロック信号を生成することを特徴とする請求項６記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１０】
前記変調信号が、前記累積時間温度信号の周波数、振幅、デューティ・サイクル比少なくとも一つを変調し、前記ＬＣＤに表示されるべきデータを入力する請求項２記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１１】
劣化しやすい製品の品質インジケータであって、温度の関数としてはほとんど変化しない第一クロック信号を出力するためのクロック手段と、温度の関数として変化する第二クロック信号を出力する第二クロック手段と、第一及び第二クロック信号を受信し、第一クロック信号の関数として設定可能な時間間隔の期間中に前記第二クロック信号の関数としてカウント値を生成するカウンタ手段と、前記カウント値を受信し、前記カウント値を前記時間間隔の期間における前記劣化しやすい製品の品質に対する温度の時間に渡る影響を表す時間と温度の関係を表す時間温度値に翻訳するデータ手段と、前記第一クロック信号の関数として予め設定した数まで計数する第一カウンタと、前記予め設定した数まで前記第一カウンタが計数する各回数を計数するための第二カウンタとを含み、前記回数に応答して蓄積時間温度値を出力する加算手段とを含み、前記第一カウンタは、その計数を前記時間温度信号で決まる数で開始することを特徴とする劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１２】
前記累積時間温度信号を受信し且つこれに応答してＬＣＤを変調することのできる前記累積時間温度信号を変調する変調信号を出力するＬＣＤ変調器手段を更に含むことを特徴とする請求項１１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１３】
前記累積時間温度値が、劣化しやすい製品の貯蔵寿命の一部に対応する請求項１１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１４】
温度に対して前記第二クロック信号を校正し且つ校正された第二クロック信号を発生する自己校正手段を更に含むことを特徴とする請求項１１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１５】
前記カウンタ手段が、前記第一クロック信号によって決定された期間中、前記校正された第二クロック信号をカウントすることによって、前記カウント値を発生することを特徴とする請求項１４記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１６】
前記第一クロック信号を時間に渡って校正し且つ校正された第一クロック信号を発生するクロック信号校正手段を更に含むことを特徴とする請求項１１記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１７】
前記カウンタ手段、データ手段、及び加算手段の各々が、前記校正された第一クロック信号に応答して、出力を提供する請求項１６記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１８】
前記自己校正手段が、前記第二クロック信号を受信し且つ分周されたクロック信号を提供するための分周器、及び温度と共に変化する期間を有するイネーブル信号を提供する周囲温度に対して校正された基準ゲート、及び前記期間中前記第二クロック信号をカウントし且つ出力として第二カウント値を提供するカウンタとを含み、前記分周器が、前記第二カウント値を受信し且つ前記第二カウント値によって前記第二クロック信号を分周して、前記校正された第二クロック信号を発生する請求項１４記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項１９】
前記クロック信号校正手段が、前記第一クロック信号を受信し且つ分周されたクロック信号を提供する分周器、温度に関して実質的に変化しない期間を有するイネーブル信号を提供する温度補償基準ゲート、前記期間中に前記第一クロック信号をカウントし且つ出力として第二カウント値を提供するカウンタとを含み、前記分周器が前記第二カウント値を受信し且つ前記第二カウント値によって前記第一クロック信号を分周して、前記校正された第一クロック信号を生成する請求項１６記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【請求項２０】
前記変調信号が、前記累積時間温度信号の周波数、振幅、及びデューティ・サイクルの少なくとも一つを変調して、前記ＬＣＤ上に表示されるべきデータを入力する請求項１２記載の劣化しやすい製品の品質インジケータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、劣化しやすい製品の品質インジケータに関し、特に、劣化しやすい製品の貯蔵寿命を正確に決定するための装置に関する。
【従来の技術】
【０００２】
食品や薬品等の劣化しやすい製品は、温度下で時間と共に、それらの効力及び栄養価又はいずれかを失う。劣化しやすい製品が、栄養価及び効力又はそのいずれかを維持する期間は、貯蔵寿命として知られている。貯蔵寿命が過ぎると、劣化しやすい製品は、価値がなくなり、多くの場合は、腐敗食品のように、使用すれば有害である。
【０００３】
劣化しやすい製品は、所定の温度に於ける所定の貯蔵期間を有す。温度が高まるにつれ、貯蔵寿命は、通常、短くなり、貯蔵寿命は、普通、指数関数的に短くなる。異なったものの貯蔵寿命と品質は、最適貯蔵温度、製品が最適温度で維持される時間長、加熱による製品の劣化曲線及び減熱又は極寒により貯蔵寿命及び製品品質に対する影響の関数として変化する。
【０００４】
従来の技術では、貯蔵寿命は、実験的なデータに基づいて、更に、貯蔵期間の想定条件に基づいて各個別の製品に対してまえもって決定される。この推定貯蔵寿命に基づく有効期限が、製品にスタンプされ、有効期限後は、大抵の場合、これら劣化しやすい製品は、販売されない。この制度は、満足できるものであるが、一方で、この貯蔵寿命決定が、例えば、劣化しやすい製品が個別の店舗で貯蔵されている温度といった、実際の条件を正確に反映していないという問題をも有す。従って、過度に暑いか、過度に冷たい条件で貯蔵されていた製品は、貯蔵寿命を越えて貯蔵されたり、適切に貯蔵された製品が、実際の貯蔵寿命を過ぎる前にスタンプされた日付に従って除去されたりすることもよくある。
【本発明が解決しようとする課題】
【０００５】
貯蔵寿命は、時間と温度の関数である。時間と温度の偏差を測定する装置が従来技術で知られていて、温度偏差により出力周波数を変化させる発振回路を使用している。アナログ補償回路が、所定温度範囲での周波数偏差量を増加したり、低減したりするために使用され、周波数偏差は、推定温度偏差として測定される。これらの電子温度測定装置は、満足すべきものである一方、標準的な生産工程を使用して、一貫性のある温度特性を有す発振回路を精密に製造することは非常に高価であるという問題がある。従って、周波数校正回路が、工程のばらつきを補正するために組み込まれなければならない。この校正は、時間と特別な装置を必要とし、回路が校正インタフェースと多分かなりの不揮発性メモリとが必要とされるので、製品のコストを上昇させる。更に、周波数に関する発振器の温度安定度は、多くの因子の影響を受け、望む時間温度の応用に於て周波数補正曲線に対して正確な温度を達成することを難しくしている。更に、異なった劣化しやすい製品は、異なった貯蔵寿命のパラメタを有し、従来の発振器を利用した時間温度インジケータを非実用的及び不正確又はそのいずれかとしている。
【０００６】
従って、従来技術の問題を克服する製品貯蔵寿命を示す能力のある時間温度測定装置に対する要望があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一般に、本発明によれば、劣化しやすい製品の品質インジケータは、温度により周波数が変化しないクロックを出力する第一発振器を含む。自己校正回路は、第一発振器からのクロック出力を受信し、既知の安定クロック源に対して出力を校正する。第二の発振器が、温度と共に周波数が変化するクロックを出力する。第二自己校正回路が、温度に関して第二発振クロックを校正する。カウンタは、第二発振器からの校正されたクロック信号を受信する。カウンタは、第一発振器の校正出力により決定される時間中、第二発振器からの校正クロック信号をカウントする。データ表は、カウンタからカウント数を受信し、それに応答して、対象とする製品の劣化値を出力する。加算器が、この劣化値を受信し、データ表からの先行入力に加算することにより蓄積劣化値を計算する。ＬＣＤ変調器は、蓄積値を受信し、製品の残り貯蔵寿命を示すデータを表示するためにＬＣＤを変調する。
【０００８】
本発明の他に実施例によれば、加算器の代わりに二重カウンタが使用される。二重カウンタの第一のカウンタは、温度補償発振器からの自己校正クロック信号を計数する。第一のカウンタは、予め設定した数値まで計数し、その数値を第一カウンタがリセットされるまで維持する。第一カウンタは、叉、リセット入力を受信する。第一カウンタは、校正温度補償発振器から受信された第二信号に応答してリセットされる。データ表は、第一カウンタからの情報を受信し、第一カウンタが計数を開始する始点に対応したデータを出力する。二重カウンタの第二カウンタは、第一カウンタが予め設定した数値まで計数した回数を計数し、出力をＬＣＤ変調器に印加し、ＬＣＤ変調器は、残りの貯蔵寿命を示すためにＬＣＤを変調する。
【０００９】
時間の経過と共に第一発振器を校正するための自己校正回路は、温度補償発振器のクロック信号を受信するための分周器を含む。カウンタは、分周器からのクロック信号と、温度補償基準ゲートのためのイネーブル信号とを受信する。温度補償基準ゲートは、カウンタを既知の時間だけイネーブルとする。イネーブル期間の終了時に、カウンタは、フィードバックループを通じて、分周器へラッチカウント数を提供する。分周器は、温度補償発振器のクロック周波数をラッチカウント数で分周し、回路の他の部分で使用される第二クロック出力を提供する。カウンタは、ワンタイムイネーブルカウンタであり、従ってイネーブル期間が終了すると基準ゲートは、停止される。
【００１０】
時間の経過と共に第二発振器を校正するための自己校正回路は、叉、発振器のクロックを分周し、第一クロック信号を提供する分周器を含む。カウンタは、第一クロック信号を受信し、温度により補償された基準ゲートからのイネーブル入力を受信し、予め設定された期間、クロック信号を計数する。一旦、イネーブル期間が終了すると、ラッチカウント数が、分周器へ戻され、発振周波数は、ラッチカウント数により分周され、第二クロックが生成される。この第二クロックは、カウンタへ入力される。
【００１１】
以上説明したように、本発明の目的は、劣化しやすい製品の品質インジケータの改良型を提供することにある。
【００１２】
本発明の目的は、更に、発振回路の自動校正回路を提供することにある。
【００１３】
本発明の目的は、更に、異なった温度に於て発振器の校正のための回路を提供することにある。
【００１４】
本発明の目的は、更に、基準発振器として、低コストの非水晶制御型発振器を使用した正確な時間／温度インジケータを提供することにある。
【００１５】
本発明の目的は、更に、インタフェース回路、又はかなりの不揮発性メモリを使用せずに短時間で発振器の校正及び再校正する回路を提供することにある。
【００１６】
本発明の目的は、更に、低コストで小型の過去の経過時間温度測定結果を提供することにある。
【００１７】
本発明の目的は、更に、時間温度データの不連続な重みを使用して、過去の経過時間温度関係を測定するための装置を提供することにある。
【００１８】
本発明の目的は、更に、過去の経過時間温度関係を測定し、時間のいかなる時点に関しても、残りの貯蔵寿命、品質及び製品の劣化指数又はこれらのいずれかを表示するための装置を提供することにある。
【００１９】
本発明の目的は、更に、単一のピクセルインジケータ又は多重ピクセルインジケータが製品の求める予測寿命を示すための表示貯蔵寿命ゲージとして使用される、過去の経過時間温度を測定するための装置を提供することにある。
【００２０】
本発明の目的は、更に、正確な時間校正回路を使用して過去の経過時間温度を測定する装置を提供することにある。
【００２１】
本発明の他の目的及び効果は、以下の説明により明らかとなろう。
【００２２】
本発明は、以下の説明により例示される構成の一部又は組み合わせを含み、その範囲は、特許請求の範囲に於て示される。
【実施例】
【００２３】
図１、図３及び図４を参照する。劣化しやすい製品の品質インジケータが全体として１０で表される。温度補償発振器１１は、分周器１２に基準クロックＣＬＫＲを出力する。分周器１２は、ＣＬＫＲを分周し、ＣＬＫ１Ａを出力する。カウンタ１３は、ＣＬＫ１Ａをクロック入力として受信する。温度補償基準ゲート１４は、カウンタ１３へイネーブル信号を提供し、カウンタ１３に予め設定した期間だけＣＬＫ１Ａを計数させる。カウンタ１３は、ワンタイムイネーブルカウンタである。イネーブル期間の終了時に、カウント値は、ラッチ出力として、分周器１２に出力され、その分周器１２は、そのラッチ出力を除数として使用し、クロック信号ＣＬＫ１Ｂ、ＣＫＬ１Ｃ、ＣＬＫ１Ｄ、ＣＬＫ１Ｅを出力する。
【００２４】
第二発振器１５は、温度により変化する基準信号ＣＬＫＴを出力する。分周器１６は、信号ＣＬＫＴを受信し、この信号を分周し、ＣＬＫ２Ａを出力する。カウンタ１７は、周囲温度に対して補償された基準ゲート１８からイネーブル信号を受信し、叉、入力としてＣＬＫ２Ａを受信する。カウンタ１７は、イネーブル期間中、信号ＣＬＫ２Ａをカウントし、カウント値をラッチする。カウンタ１７は、叉、ワンタイムイネーブルカウンタであり、ラッチカウント値を分周器１６へ出力し、分周器１６は、ラッチカウント値を使用して、クロック信号ＣＬＫ２Ｂを提供する。
【００２５】
カウンタ１９は、信号ＣＬＫ２Ｂを受信し、このクロックをカウントする。カウンタ１９は、分周器１２により形成されたＣＬＫ１Ｂに応答してカウント値をリセットする一方で、得られたカウント値を出力する。カウンタ１９からのカウント値と、対象とする製品で経験した劣化量との関係に対応したデータ表を含むデータ表２０は、カウンタ１９からの出力に応答して劣化値を出力する。一実施例では、カウンタ１９からのカウント出力は、劣化値が記憶されるメモリアドレスに対応する。一実施例では、データ表２０は、曲線を記憶しているとされ、その曲線では、一軸は、カウント値であり、第二軸は、劣化値を示し、カウント値は、劣化曲線上での位置を示す。分周器１２により生成されたクロック信号ＣＬＫ１Ｃに応答して、データ表２０は、加算器２１に劣化値を出力する。加算器２１は、データ表２０からの出力を加算し、蓄積劣化値を導出する。分周器１２により生成されたクロック信号ＣＬＫ１Ｄに応答して、加算器２１は、蓄積劣化値に対応するデータを出力する。
【００２６】
ＬＣＤ変調器２２は、このデータを受信する。クロック信号ＣＬＫ１Ｅとデータに応答して、ＬＣＤ（図不指示）を変調する出力が得られる。ＬＣＤは、従来技術で知られたものである。同時に、多重セグメントＬＣＤドライバ２３は、同じクロックを及びデータ信号を受信し、ＬＣＤ出力をＬＣＤに供給する。
【００２７】
実施例の動作中は、温度補償発振器１１は、周波数３２７６８Ｈｚの信号ＣＬＫＲを出力する。分周器１２は、１／２分周回路であり、周波数１６３８４Ｈｚの信号ＣＬＫ１Ａを生成する。温度補償基準ゲート１４は、カウンタ１３を５００ミリ秒だけイネーブルする。カウンタ１３は、この外部基準ゲートの期間中のＣＬＫ１Ａのカウント値を記憶する。ラッチされた出力は、５００ミリ秒間に計数されたクロックＣＬＫ１Ａのカウント値に対応する８１９２である。数値８１９２は、ラッチ出力として分周器１２に出力される。分周器１２は、このカウント値を除数として使用する。信号ＣＬＫＲは、８１９２で分周され、４Ｈｚの内部基準クロックが得られ、これは、クロック信号ＣＬＫ１Ｂ、ＣＬＫ１Ｃ、ＣＬＫ１Ｄ及びＣＬＫ１Ｅとして出力される（図４）。カウンタ１３は、ワンタイムイネーブルカウンタであるので、温度補償基準ゲート１４は、一度カウンタ１３がイネーブルされると、停止され、分周器１２は、４Ｈｚ信号の出力を維持する。
【００２８】
図５及び図６に示される第二の実施例に於て、温度補償発振器１１は、３３０００Ｈｚの信号ＣＬＫＲを出力する。分周器１２は、信号を２で分周することにより１６５００Ｈｚのクロック信号ＣＬＫ１Ａを出力する。カウンタ１３のラッチ出力は、８２５０である。外部基準ゲート１４が一度停止されると、分周器１２は、カウンタ１３のラッチ出力に応答して８２５０で３３０００ＨｚのＣＬＫＲ信号を除し、分周器１２に４Ｈｚ内部基準クロック信号を生成する。温度補償素子として、発振器１１及び基準ゲート１４は、温度変化に対して出力を実質的に変化させることはない。
【００２９】
設計上、両例とも、分周器１２で４Ｈｚの内部基準クロックを提供する。分周器１２、カウンタ１３及び温度補償基準ゲート１４は、自己校正回路を形成し、時間に対して周波数を校正し、手動による介入無しに、低コストの発振器１１の出力を標準化する。分周器１２は、４Ｈｚ内部基準クロックを分周し、信号をシフトすることにより、ＣＬＫ１Ｂ、ＣＬＫ１Ｃ、ＣＬＫ１Ｄ及びＣＬＫ１Ｅを０．０３１２５Ｈｚで、即ち各クロックの１サイクルを３２秒毎に発生する。
【００３０】
図７から図１０が示すように、発振器１５は、温度によりそのクロック出力を変化させるように設計されている。例えば、発振器１５は、２２℃で３００ｋＨｚの基準周波数クロックＣＬＫＴを提供する（図７）。分周器１６は、ＣＬＫＴを１６で分周することによって、１８７５０Ｈｚのクロック信号ＣＬＫ２Ａを提供する。周囲温度に対して補償されている（温度補償されてはいない）基準ゲート１８は、その出力を温度により変化させ、発振器１５の周波数出力を校正する。２２℃で、基準ゲート１８は、カウンタ１７を５００ミリ秒間だけイネーブルし、その間、カウンタ１７は、クロック信号ＣＬＫ２Ａのクロックパルスの数を記録し、そのカウント値をラッチして、ラッチ出力を分周器１６へ提供する。２２℃では、ラッチ出力は、９３７５である。基準ゲート１８は、停止され、分周器１６は、クロック信号ＣＬＫＴを９３７５で常に除し、従って２２℃でＣＬＫ２Ｂとして３２Ｈｚクロック出力が得られる。
【００３１】
他の実施例では、発振器１５は、２２℃では２００ｋＨｚで動作し、クロック信号ＣＬＫ２Ａは、１２５００Ｈｚの周波数を有する。カウンタ１７のラッチ出力は、６２５０Ｈｚである。カウンタ１７は、ワンタイムイネーブルカウンタであるので、一つのイネーブル入力に対して応答してカウント値をラッチし、基準ゲート１８は、停止され、カウンタ１７は、６２５０の値を常に出力し、２００ｋＨｚのＣＬＫＴ信号を６２５０で除し、２２℃でクロック信号ＣＬＫ２Ｂの３２Ｈｚ出力を提供する。
【００３２】
温度が、例えば、３０℃に変化すると、発振器１５は、３７５ｋＨｚのＣＬＫＴクロック信号を出力する。分周器１６は、信号を１６で分周し、２３４３７Ｈｚのクロック信号ＣＬＫ２Ａを出力する（図１０）。基準ゲート１８は、叉、温度に応答してその出力を調整するので、基準ゲート１８は、より高い周囲温度に於て４００ミリ秒の期間（図９）だけイネーブル信号を出力する。カウンタ１７は、９３７５パルスを計数し、この数を分周器１６で使用される除数としての出力としてラッチする。分周器１６は、３７５ｋＨｚのＣＬＫＴ信号を９３７５で除し、内部クロック４０Ｈｚが得られ、従ってクロック信号ＣＬＫ２Ｂは、３０℃で４０Ｈｚ、２２℃で３２Ｈｚである。クロック信号ＣＬＫ２Ｂは、３０℃で、２２℃の場合のほぼ４／３倍の周波数で動作する。
【００３３】
分周器１６、カウンタ１７及び基準ゲート１８は、発振器１５が出力するクロック信号ＣＬＫＴの校正手段を形成する。その結果、この構成は、手動の介入無しに温度に依存した発振器の出力を標準化する。
【００３４】
カウンタ１９は、クロック信号ＣＬＫ２Ｂ及び分周器１２からリセット信号ＣＬＫ１Ｂを受信する。信号ＣＬＫ１Ｂは、校正された、温度から独立した、３２秒に一度発生する時間ウィンドウである。クロック信号ＣＬＫ２Ｂは、校正された、温度依存性の、２２℃では、１秒間に３２サイクルの周波数である。カウンタ１９は、信号ＣＬＫ１Ｂにより形成された時間ウィンドウ中の信号ＣＬＫ２Ｂのパルスを計数する。発振器１５が２２℃で３００ｋＨｚで動作し、３０℃で４００ｋＨｚで動作する例では、カウンタ１９は、２２℃で１０２４まで計数（３２秒で３２Ｈｚ計数）し、３０℃で１２８０まで計数（３２秒で４０Ｈｚ信号を計数）する。これらのカウント値は、温度に応答して得られるので、これらのカウント値は、温度測定値を構成する。
【００３５】
データ表２０は、カウンタ１９からのカウント値を受信し、これらのカウント値を製品別、貯蔵寿命／劣化データに変換するデータを含む。例えば、薬品について使用する場合は、データ表２０は、カウント入力値１０２４を受信し、この値を劣化値出力値２８に変換し、加算器２１に印加する。１２８０値のデータ表入力は、出力値４４に変換される。一方、チーズといった製品は、入力値１０２４が、劣化値１５３を出力するように、叉、入力値１２８０が、温度に対応したより短い貯蔵寿命を示す、加算器２１への出力値３３７を出力するように、データ表２０がプログラムされる。データ表２０は、データ表２０の翻訳関数を起動するクロック信号ＣＬＫ１Ｃに応答して出力するだけである。この起動は、３２秒毎に起こる。
【００３６】
加算器２１は、データ表２０からの出力を加算する。データ表２０からの新規出力は、クロックＣＬＫ１Ｄが出力される毎に、データ表２０の先行出力に加算される。加算器２１で得られた和は、最後のストローブ出力で更新された時間温度データを表す。これは、対象とする製品が、劣化曲線に沿ってどの程度進行しているかを示す。クロック信号ＣＬＫ１Ｄに応答して、加算器２１は、この情報をデータとしてＬＣＤ変調器２２及び多重セグメントＬＣＤドライバ２３へ出力する。
【００３７】
ＬＣＤ変調器は、加算器２１により出力されるデータに応答してＬＣＤ表示部を変調する。ＬＣＤ変調器２２は、周波数変調器、位相変調器、デューティーサイクル変調器等でよい。ＬＣＤが変調されると、ＬＣＤは、チラツキを禁止する。このチラツキは、人の目には６０Ｈｚまで検出可能である。チラツキは、約２００Ｈｚまで機械読取可能である。本発明の一実施例では、ＬＣＤは、６０Ｈｚより低い周波数で変調される場合は、不透明とし、６０Ｈｚより高い周波数で変調される場合は透明とするように、シャッタＬＣＤとすることも考えられる。赤点がＬＣＤの後方に配置される。ＬＣＤ変調器２２は、加算器２１により出力されるより高い和に応答して、より高い周波数でＬＣＤを変調する。ユーザは、低い周波数では赤点を視認することはないが、一旦、ＬＣＤ変調器２２がＬＣＤを６０Ｈｚより高い周波数で変調すると、赤点を視認可能である。加算器２１により提供される値が劣化値に対応するまでは、ＬＣＤ変調器２２は、６０Ｈｚの変調を越えないように校正されていて、赤点の出現は、ユーザ又は店舗のオーナーに、製品の貯蔵期間が経過したことを示す。
【００３８】
本発明の他の実施例では、鏡がＬＣＤの後方に配置されている。ＬＥＤ及び光センサといった光源を含む読取器は、ＬＣＤに光を照射する。ＬＣＤは、チラツキを表示するので、ＬＣＤ後方の鏡から反射光信号は、ちらつく。光センサは、チラツキの量を測定し、製品の貯蔵寿命に於ける進行度をチラツキの程度で決定する。同様な理由により、ＬＣＤのデューティーサイクルを変調することにより、反射光信号は、ＬＣＤのデューティーサイクルを制御することにより、データで符号化される。それが、反射光線内の変調デューティーサイクル内でチラツキを引き起こすからである。その結果、シャッタされたＬＣＤに接続されたＬＣＤ変調器は、データ表２０に応答した複雑なデータを出力する能力を有す。
【００３９】
シャッタＬＣＤと共に、又はシャッタＬＣＤの代わりに、多重セグメントＬＣＤドライバ２３が第二ＬＣＤに接続されていて、その第二ＬＣＤが駆動されて、標準文字表示部のシーケンシャルＬＣＤシャッタ、又はセグメントを点灯する。ＬＣＤのセグメントが点灯するか、又は（シャッタＬＣＤの場合）閉じた状態から開いた状態に変化すると、製品の増加カウント加算値の関数として現在の貯蔵寿命を示すガスゲージタイプの表示が形成される。
【００４０】
多数の製品の貯蔵寿命が月で測定される一方、以上説明した本発明の発振器、分周器及びカウンタは、数百ｋＨｚの周波数で動作することは留意する必要がある。カウンタ１９、データ表２０、加算器２１、ＬＣＤ変調器２２及び多重セグメントＬＣＤドライバ２３をストローブするための分周器１２の使用は、組み込みの遅延効果をもたらし、従って、データは、必ずしも毎秒更新する必要はなく、分周器１２が３２秒間で間隔を置かれる信号ＣＬＫ１Ｂ−１Ｅの全てを経過する期間で数分に一度更新されればよい。しかし、これは、制限事項ではなくて、必要なら要素の各々は、瞬時にストローブし、発振器のクロック信号の速度でＬＣＤを更新してもよい。
【００４１】
図２は、本発明の第二の実施例に従って校正された劣化しやすい製品の品質インジケータを示す。同一の部品には、同一の参照符号が使用されるが、インジケータ１００とインジケータ１０との違いは、加算器２１の代わりに二重カウンタ３１が使用され、データ表２０の動作に於ける変更は、分周器１２により生成されるクロック信号ＣＬＫ１Ｆの付加を必要とすることである。
【００４２】
インジケータ１０と同様に、温度補償発振器１１は、ＣＬＫＲを分周器１２に出力し、その分周器１２は、温度補償基準ゲート１４に応答してラッチされるカウンタ１３のラッチ出力に応答して、ＣＬＫＲを分周する。分周器１２は、４Ｈｚの標準化した内部信号を生成する。同様に、発振器１５は、温度で変化するクロックＣＬＫＴを出力する。分周器１６は、基準ゲート１８に応答してラッチされるカウンタ１７のラッチ出力に応答して、ＣＬＫＴを分周し、基準ゲート１８は、温度に応答してその出力を変化させている。分周器１６は、温度で変化するクロック信号ＣＬＫ２Ｂを出力する。カウンタ１９は、ＣＬＫ１Ｂの各サイクル期間で、クロックＣＬＫ２Ｂのクロックパルス数に対応するカウント値を出力する。
【００４３】
データ表３０は、カウンタ１９により得られた温度値を貯蔵寿命に関連付ける時間温度値を出力する。
【００４４】
二重カウンタ３１は、常に予め設定したカウント値まで計数する第一カウンタを含む。例えば、二重カウンタ３１の第一カウンタは、クロック信号ＣＬＫ１Ｄのクロックを、値が５１２となるまで計数する。二重カウンタ３１の第二カウンタは、二重カウンタ３１の第一カウンタにより得られる１サイクルの終了を計数する。従って、第一カウンタが５１２まで計数する毎に、第二カウンタは、そのカウント値を１増分する。
【００４５】
二重カウンタ３１の第一カウンタは、データ表３０による出力に応答して計数する。第一カウンタは、０を計数して各サイクルを開始はしない。そうではなくて、データ表３０で選択された数で各サイクルで計数を開始する。インジケータ１０に関連して既に説明した例では、カウンタ１９が値５１２を出力すると、データ表３０は、この信号を出力２８に翻訳している。従って、二重カウンタ３１内の第一カウンタは、２８から５１２までカウントする。その結果、二重カウンタ３１は、クロック信号ＣＬＫ１Ｄの４９４パルスを計数するのみである。二重カウンタの第一カウンタが、値５１２に達すると、二重カウンタ３１の第二カウンタは、１だけ増分される。第一カウンタが、計数の終了に応答してデータ表３０により選択された数にリセットされる。二重カウンタの第二カウンタのカウント値は、ＬＣＤ変調器２２及び多重セグメントＬＣＤドライバ２３にデータとして連続して出力される。
【００４６】
温度変化が発生すると、カウンタ１９からのカウント値が変化する。例として、カウンタ１９によるカウント値が６４０まで増加すると、データ表３０は、出力４４を与える。その結果、二重カウンタ３１の第一カウンタは、４４でその計数を開始し、値５１２により早く達する。温度上昇に伴って、計数すべき数がより少なくなるからである。従って、二重カウンタ３１の第二カウンタのカウント値は、貯蔵寿命に関連付ける場合に、温度上昇の効果をより早く反映するように上昇する。
【００４７】
ＬＣＤ変調器２２は、クロック信号ＣＬＫ１Ｆに応答して変調される。ＬＣＤの種類に応して、ＣＬＫ１Ｆは、クロックＣＬＫ１Ａ、ＣＬＫ１Ｂ、ＣＬＫ１Ｃ及びＣＬＫ１Ｄと同じ周波数である必要はない。変調器２２は、ＣＬＫ１Ｆと、二重カウンタ３１の出力の両方の関数としてＬＣＤを変調する。
【発明の効果】
【００４８】
時間に対して既知の割合で変化する第一クロックと、温度に対して既知の割合で変化する第二クロックを使用し、これらのクロックを所定の製品の貯蔵寿命に関連づけるデータ表を提供して時間／温度、貯蔵寿命／製品品質インジケータを構成することによって、効率的で、容易に製造可能で、低コストの貯蔵寿命インジケータが得られる。手動調整又は部品変更なしで、温度に対する温度変化クロックを校正するためにフィードバック校正器を提供することによって、全体の複雑さを低減し、安定度を増加させ、インジケータのコストを低減する。インジケータの個別内部部品を制御するための時間遅延サイクルを利用して、時間温度指示は、低速化され、従って出力が人が認識できるよりも高速に更新される代わりに数分に一度更新される。貯蔵寿命に対する温度の影響を離散時間間隔で離散値で計算することを可能とするデータ表補償器を使用して時間温度相関回路を提供することによって、非線形であり非指数関数的である、又はそのいずれかである温度測定値のいかなる関係も、温度入力及び貯蔵寿命決定の間の多数の離散測定点に於て表現される。デューティーサイクル、周波数等を変調することでＬＣＤ表示部を変調するＬＣＤ変調器を使用して、ＬＣＤインジケータが、提供され、このインジケータは、ＬＣＤ表示部の変調により複雑な情報を提供する能力でもって、情報を視覚的、電子的に読取可能としている。
【００４９】
一度基準ゲートが停止されると、ラッチ分周器を使用することによって、発振器は停止可能となり、分周器は、最小電力のみを使用して適切な校正値を記憶するので、記憶部を駆動するに要する電力のみとなる。装置は、後日再起動でき、従って装置により長い貯蔵寿命を与え、装置に他の貯蔵寿命指示に影響を与えずに輸送及び貯蔵を可能とする。
【００５０】
以上述べた目的は、効果的に実現でき、本発明の範囲及び精神を逸脱しないで変形を施すことが可能であり、以上の説明及び図面は、例示の目的であり、本発明を制限する目的ではない。
【００５１】
特許請求の範囲は、以上説明した本発明の一般及び個別の特徴と、本発明の範囲の全ての文言とを含み、従って本発明の範囲は特許請求の範囲により規定される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明により構成された劣化しやすい製品の品質インジケータのブロック図である。
【図２】  本発明の第二実施例により構成された劣化しやすい製品の品質インジケータのブロック図である。
【図３】  本発明の二つの実施例に於て使用される温度補償発振器、基準ゲート及び分周器のタイムチャートである。
【図４】  本発明の二つの実施例に於て使用される温度補償発振器、基準ゲート及び分周器のタイムチャートである。
【図５】  本発明の二つの実施例に於て使用される温度補償発振器、基準ゲート及び分周器のタイムチャートである。
【図６】  本発明の二つの実施例に於て使用される温度補償発振器、基準ゲート及び分周器のタイムチャートである。
【図７】  本発明の二つの実施例に於て使用される、発振器、基準ゲート、及び温度に応答して変化する出力を有する分周器のタイムチャートである。
【図８】  本発明の二つの実施例に於て使用される、発振器、基準ゲート、及び温度に応答して変化する出力を有する分周器のタイムチャートである。
【図９】  本発明の二つの実施例に於て使用される、発振器、基準ゲート、及び温度に応答して変化する出力を有する分周器のタイムチャートである。
【図１０】  本発明の二つの実施例に於て使用される、発振器、基準ゲート、及び温度に応答して変化する出力を有する分周器のタイムチャートである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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