(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査方法であって、
前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加する工程と、
前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する工程と、を備えることを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に、前記所定レベル以上の信号を検出する信号検出手段を接続することを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項３】
請求項２に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記信号検出手段は、少なくとも、データ信号入力端子、クロック信号入力端子、信号出力端子を有するフリップフロップ回路であって、
前記データ信号入力端子から、常時、ハイレベルの信号を入力し、
前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に、前記クロック信号入力端子を接続することを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項４】
請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端を、抵抗を介して接地することを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項５】
請求項４に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記抵抗の抵抗値を、前記同軸ケーブルの特性インピーダンス値と等しくすることを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項６】
請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端から、常時、前記所定レベルより小さいレベルの信号を入力することを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項７】
請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に、２つの抵抗を接続するものであって、
一方の前記抵抗の一端から、常時、ハイレベルの信号を入力し、他方の前記抵抗の一端を接地し、
前記一方の抵抗の他端と、前記他方の抵抗の他端と、前記芯線の他端とを接続することを特徴とする同軸ケーブルの検査方法。
【請求項８】
同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査装置であって、
前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加するノイズ印加手段と、
前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する信号検出手段と、を備えることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項９】
請求項８に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記信号検出手段は、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に接続されていることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記信号検出手段は、少なくとも、データ信号入力端子、クロック信号入力端子、信号出力端子を有するフリップフロップ回路であって、
前記データ信号入力端子には、常時、ハイレベルの信号が入力され、
前記クロック信号入力端子には、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端が接続されていることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項１１】
請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に接続される抵抗をさらに備え、
前記抵抗の一端が接地されていることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記抵抗の抵抗値は、前記同軸ケーブルの特性インピーダンス値と等しいことを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項１３】
請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端から、常時、前記所定レベルより小さいレベルの信号を入力する信号入力手段を、さらに備えることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【請求項１４】
請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、
前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に接続される２つの抵抗をさらに備え、
一方の前記抵抗の一端から、常時、ハイレベルの信号が入力され、他方の前記抵抗の一端が接地され、
前記一方の抵抗の他端と、前記他方の抵抗の他端と、前記芯線の他端とが接続されていることを特徴とする同軸ケーブルの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、同軸ケーブルにおける金属シールド（例えば、アルミシールド）に発生しうる傷や破断などの破損の有無を非破壊で検査する技術分野に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年のコンピュータシステムの小型化に伴い、同軸ケーブルにおいても、より小型軽量化が求められ、細芯の同軸ケーブルを実現するために、いわゆるアルミシールド（アルペット）構造が多く普及している。図５に、一般的な細芯（例えば、直径約１ｍｍ）の同軸ケーブルの断面構造の一例を示す。図５に示す同軸ケーブル１０は、信号用導体である芯線１１の周囲を絶縁体１３で覆い、更に、絶縁体１３をアルミシールド１４で覆うアルミシールド構造をしている。このようなアルミシールド構造では、アルミシールド１４が接地されており、外部からの様々なノイズを遮蔽する利点を有している。
【０００３】
しかしながら、このようなアルミシールド構造は、周知のいわゆる巻き線構造と比較して強度が弱く、傷や破断などの破損が発生しやすい。図６は、同軸ケーブル１０のアルミシールド１４に破損が生じた場合のようす（但し、同軸ケーブル１０の外皮１５の図示は省略している。）を示している。図６に示すように、同軸ケーブル１０のアルミシールド１４に破損が生じた場合、同軸ケーブル１０の諸特性に影響を及ぼし、例えば、特性インピーダンスの悪化や不均一、伝搬遅延時間の長大化、および伝送波形の劣化などの問題が発生する可能性があった。その結果、コンピュータシステムの性能、或いは運用に大きく支障を来たしてしまうことになりかねなかった。
【０００４】
このような同軸ケーブル１０のアルミシールド１４に発生しうる傷や破断などの破損を検査するために、従来から、Ｘ線装置を用いた検査方法や、同軸ケーブル１０の外皮１５を剥ぐ、或いは溶かすなどの破壊を伴う検査方法が知られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＸ線装置を用いた検査方法では、解像度によっては、微細な破損を検出することが困難であり、定量的に確実な判断をすることが難しく、また、高い検出率を実現するためには高価で大規模な装置が必要となるという問題があった。
【０００６】
また、ケーブル外皮を剥ぐ、或いは溶かすなどの破壊を伴う検査方法では、代表的な同軸ケーブル１０の検査に留まり、同軸ケーブル１０の全数検査することができないという問題があった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することが可能な同軸ケーブルの検査方法および同軸ケーブルの検査装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査方法であって、前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加する工程と、前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する工程と、を備えるように構成する。同軸ケーブルにおける金属シールドの破損には、傷、破断、切断、クラック、破れなどが含まれる。
【０００９】
請求項１に記載の発明によれば、同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加する。そして、その印加により同軸ケーブルにおける信号用導体である芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する。従って、かかる信号が検出されれば、同軸ケーブルにおける金属シールドに破損が有ることが判るので、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に、前記所定レベル以上の信号を検出する信号検出手段を接続するように構成する。
【００１１】
請求項２に記載の発明によれば、同軸ケーブルにおける芯線の一端に信号検出手段を接続することにより、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記信号検出手段は、少なくとも、データ信号入力端子、クロック信号入力端子、信号出力端子を有するフリップフロップ回路であって、前記データ信号入力端子から、常時、ハイレベルの信号を入力し、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に、前記クロック信号入力端子を接続するように構成する。
【００１３】
請求項３に記載の発明によれば、同軸ケーブルの外皮への静電気ノイズの印加により同軸ケーブルにおける芯線に所定レベル以上の信号が生じた場合、フリップフロップ回路のクロック信号入力端子に、その信号が入力され、フリップフロップ回路は、その信号を認識する。これにより、フリップフロップ回路の信号出力端子からハイレベルの信号が出力されるため、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。
【００１４】
請求項４に記載の発明は、請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端を、抵抗を介して接地するように構成する。
【００１５】
請求項４に記載の発明によれば、同軸ケーブルにおける芯線の他端を、抵抗を介して接地することにより、同軸ケーブルにおける信号用導体である芯線の状態を安定させることができる。
【００１６】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記抵抗の抵抗値を、前記同軸ケーブルの特性インピーダンス値と等しくするように構成する。
【００１７】
請求項５に記載の発明によれば、同軸ケーブルの特性インピーダンス値と等しくすることにより、同軸ケーブルにおける信号用導体である芯線の状態を、一層安定させることができる。
【００１８】
請求項６に記載の発明は、請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端から、常時、前記所定レベルより小さいレベルの信号を入力するように構成する。
【００１９】
請求項６に記載の発明によれば、同軸ケーブルにおける芯線の他端から、常時、前記所定レベルより小さいレベルの信号を入力することにより、同軸ケーブルにおける芯線に生じた上記所定レベル以上の信号に対し、ゲタをはかせることができるため、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損が小さい場合でも、かかる破損を的確に検出することができる。
【００２０】
請求項７に記載の発明は、請求項２または３に記載の同軸ケーブルの検査方法において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に、２つの抵抗を接続するものであって、一方の前記抵抗の一端から、常時、ハイレベルの信号を入力し、他方の前記抵抗の一端を接地し、前記一方の抵抗の他端と、前記他方の抵抗の他端と、前記芯線の他端とを接続するように構成する。
【００２１】
請求項７に記載の発明によれば、２つの抵抗の抵抗値を的確に選定することにより、所望の信号検出感度に容易に設定することができる。
【００２２】
請求項８に記載の発明は、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査装置であって、前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加するノイズ印加手段と、前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する信号検出手段と、を備えるように構成する。
【００２３】
請求項８に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項１に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができ、これにより、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。
【００２４】
請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記信号検出手段は、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端に接続されているように構成する。
【００２５】
請求項９に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項２に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００２６】
請求項１０に記載の発明は、請求項９に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記信号検出手段は、少なくとも、データ信号入力端子、クロック信号入力端子、信号出力端子を有するフリップフロップ回路であって、前記データ信号入力端子には、常時、ハイレベルの信号が入力され、前記クロック信号入力端子には、前記同軸ケーブルにおける芯線の一端が接続されているように構成する。
【００２７】
請求項１０に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項３に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００２８】
請求項１１に記載の発明は、請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に接続される抵抗をさらに備え、前記抵抗の一端が接地されているように構成する。
【００２９】
請求項１１に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項４に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００３０】
請求項１２に記載の発明は、請求項１１に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記抵抗の抵抗値は、前記同軸ケーブルの特性インピーダンス値と等しいように構成する。
【００３１】
請求項１２に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項５に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００３２】
請求項１３に記載の発明は、請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端から、常時、前記所定レベルより小さいレベルの信号を入力する信号入力手段を、さらに備えるように構成する。
【００３３】
請求項１３に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項６に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００３４】
請求項１４に記載の発明は、請求項９または１０に記載の同軸ケーブルの検査装置において、前記同軸ケーブルにおける芯線の他端に接続される２つの抵抗をさらに備え、一方の前記抵抗の一端から、常時、ハイレベルの信号が入力され、他方の前記抵抗の一端が接地され、前記一方の抵抗の他端と、前記他方の抵抗の他端と、前記芯線の他端とが接続されているように構成する。
【００３５】
請求項１４に記載の発明によれば、当該同軸ケーブルの検査装置により、請求項７に記載する同軸ケーブルの検査方法を実現することができる。
【００３６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
（第１実施形態）
先ず、本発明にかかる第１実施形態における同軸ケーブルの検査方法について、図１および図２を参照して説明する。図１は、第１実施形態における同軸ケーブルの検査方法を実施するための同軸ケーブルの検査装置の概要構成を示す図である。なお、図１において、被検査体となる同軸ケーブルは、図５における細芯の同軸ケーブル１０と同様のものである。
【００３７】
図１に示すように、同軸ケーブルの検査装置１は、ノイズ印加手段としての静電気ノイズ発生器２０と、信号検出手段としてのフリップフロップ回路３０と、抵抗としての終端抵抗ＲＴと、を含んで構成される。
【００３８】
静電気ノイズ発生器２０は、例えば、約２００Ｖのインパルス性の静電気ノイズを発生するものである。そして、静電気ノイズ発生器２０は、同軸ケーブル１０の外皮１５に、かかる静電気ノイズを印加するために使用される。なお、同軸ケーブル１０の外皮に印加する電圧は、２００Ｖに限定されるものではなく、１００Ｖ〜数ｋＶの静電気ノイズを印加するようにしても、本発明の効果を得ることができる。
【００３９】
フリップフロップ回路３０は、かかる静電気ノイズの印加により同軸ケーブル１０における信号用導体である芯線１１に生じた所定レベル以上の信号を検出するためのものであり、図示のように、データ信号入力端子Ｄ、クロック信号入力端子Ｃ、リセット信号入力端子Ｒ、信号出力端子Ｑを有している。このフリップフロップ回路３０としては、例えば、いわゆるＲＳＴフリップフロップ、ＪＫフリップフロップなどが適用可能である。
【００４０】
終端抵抗ＲＴは、同軸ケーブル１０における信号用導体の状態を安定させるために用いるものであり、同軸ケーブル１０の特性インピーダンス値と同じ抵抗値とするのが望ましい。これは、同軸ケーブル１０の芯線１１に信号が生じた場合に、終端抵抗ＲＴから反射ノイズが戻ってくるのを防止するためである。
【００４１】
このような構成において、フリップフロップ回路３０のデータ信号入力端子Ｄから、常時、固定的なハイレベル（“１”レベル）の信号（フリップフロップ回路３０の信号検出レベル以上の信号）を入力する。かかる信号は、例えば、ＤＣ／ＤＣコンバータから出力する。
【００４２】
また、フリップフロップ回路３０のクロック信号入力端子Ｃには、同軸ケーブル１０における芯線１１の一端１０ａを接続する。また、フリップフロップ回路３０の信号出力端子Ｑには、例えば、ＬＥＤ（発光ダイオード）や、ブザーを接続する。
【００４３】
また、同軸ケーブル１０における芯線１１の他端１０ｂを、終端抵抗ＲＴを介して接地する。これにより、同軸ケーブル１０の芯線１１は、０Ｖの状態になる。
【００４４】
さらに、同軸ケーブル１０における金属シールドとしてのアルミシールド１４の両端（一端１０ａおよび他端１０ｂ）を接地する。
【００４５】
このような状態において、静電気ノイズ発生器２０を、同軸ケーブル１０に沿って一端１０ａから他端１０ｂまで移動させつつ、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加していく。
【００４６】
図２は、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加した場合において、フリップフロップ回路３０のクロック信号入力端子Ｃから入力される入力信号と、信号出力端子Ｑから出力される出力信号を示した概念図である。
【００４７】
図２（Ａ）に示すように、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４が正常な場合には、静電ノイズの影響を殆ど受けず、静電気ノイズの印加により同軸ケーブル１０における芯線１１に生じる信号のレベルは、フリップフロップ回路３０の信号検出レベル（フリップフロップ回路３０がクロック信号入力端子Ｃからの入力信号がハイレベル（“１”レベル）であると認識するスレシュホールドレベル）に達しないため、フリップフロップ回路３０は、クロック信号入力端子Ｃからの入力信号がローレベル（“０”レベル）であると認識し、信号出力端子Ｑからの出力信号のレベルは、ローレベル（“０”レベル）のままとなる。
【００４８】
一方、図２（Ｂ）に示すように、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損がある場合には、その遮蔽効果が十分でないために、静電ノイズの影響を受け、静電気ノイズの印加により同軸ケーブル１０における芯線１１に生じる信号のレベルは、フリップフロップ回路３０の信号検出レベル以上となるため、フリップフロップ回路３０は、クロック信号入力端子Ｃからの入力信号がハイレベル（“１”レベル）であると認識し、その結果、信号出力端子Ｑからの出力信号のレベルは、ハイレベル（“１”レベル）に変化することになる。
【００４９】
これにより、フリップフロップ回路３０の信号出力端子Ｑに接続されたＬＥＤが点灯し、また、ブザーが鳴ることになる。つまり、静電気ノイズ発生器２０を、同軸ケーブル１０に沿って一端１０ａから他端１０ｂまで移動させていった際に、静電気ノイズ発生器２０が、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損がある箇所にさしかかると、ＬＥＤが点灯し、また、ブザーが鳴ることになる。従って、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４のどの箇所に破損が生じているかが判明することになる。
【００５０】
また、信号出力端子Ｑからの出力信号が一旦、ハイレベル（“１”レベル）に変化すれば、リセット信号入力端子Ｒからリセット信号を入力しない限り、出力信号は、ハイレベル（“１”レベル）の状態を維持することになるので、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損の情報を保持することができる。
【００５１】
また、信号出力端子Ｑからの出力信号が一旦、ハイレベル（“１”レベル）に変化した後、フリップフロップ回路３０のリセット信号入力端子Ｒからリセット信号を入力し、信号出力端子Ｑからの出力信号を、ローレベル（“０”レベル）に戻した後、静電気ノイズ発生器２０を、同軸ケーブル１０に沿って、再び、移動させつつ、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加していけば、同じ同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４の他の破損を検出することができる。
【００５２】
以上説明したように第１実施形態によれば、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加することにより芯線１１に生じた所定レベル（フリップフロップ回路３０のスレシュホールドレベル）以上の信号を検出するように構成したので、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４の傷や破断などの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。また、本発明における信号検出手段としてのフリップフロップ回路３０を適用することにより、回路構成の簡単化および、コスト低減を実現することができる。
（第２実施形態）
次に、本発明にかかる第２実施形態における同軸ケーブルの検査方法について、図３および図４を参照して説明する。図３は、第２実施形態における同軸ケーブルの検査方法を実施するための同軸ケーブルの検査装置の概要構成を示す図である。なお、図３において、第１実施形態における各構成部分と同一の部分については、同一の符号を付して説明する。また、第２実施形態において、第１実施形態における説明と重複する説明は省略する。
【００５３】
図３に示すように、同軸ケーブルの検査装置２は、第１実施形態と同様、静電気ノイズ発生器２０と、フリップフロップ回路３０と、を備え、さらに、ＤＣ／ＤＣコンバータ４０と、終端抵抗ＲＴ１およびＲＴ２と、を備えている。このＤＣ／ＤＣコンバータ４０、終端抵抗ＲＴ１、およびＲＴ２は、信号入力手段として機能する。なお、終端抵抗ＲＴ１とＲＴ２の並列抵抗値は、同軸ケーブル１０の特性インピーダンス値と同じ抵抗値とするのが望ましい（同軸ケーブルの特性インピーダンスをＺとすると、Ｚ＝（ＲＴ１＊ＲＴ２）／（ＲＴ１＋ＲＴ２）となる）。これは、第１実施形態と同様、終端抵抗から反射ノイズが戻ってくるのを防止するためである。
【００５４】
このような構成において、同軸ケーブル１０の他端１０ｂにおける接続状態が、第１実施形態と異なる。同軸ケーブル１０における芯線１１の他端１０ｂに、終端抵抗ＲＴ１およびＲＴ２を図３に示すように接続する。そして、一方の終端抵抗ＲＴ1の一端には、ＤＣ／ＤＣコンバータ４０を接続して、常時、固定的なハイレベル（“１”レベル）の信号を入力するとともに、他方の終端抵抗ＲＴ２の他端を接地する。
【００５５】
ここで、同軸ケーブル１０における芯線１１の他端１０ｂには、終端抵抗ＲＴ１とＲＴ２との間の電圧ＶＴが印加されることになる。この電圧ＶＴは、終端抵抗ＲＴ１とＲＴ２との抵抗値の比によって決まる値であり、より具体的には、ＤＣ／ＤＣコンバータ４０から、終端抵抗ＲＴ１の一端に入力される信号の電圧をＶＤＤとすると、電圧ＶＴ＝ＶＤＤ＊ＲＴ２／（ＲＴ１＋ＲＴ２）となる。
【００５６】
即ち、電圧ＶＴは、ハイレベル（“１”レベル）の電圧ＶＤＤより小さいレベルの電圧であり、同軸ケーブル１０の芯線１１は、かかる電圧ＶＴのレベルの維持されることになる。従って、フリップフロップ回路３０がクロック信号入力端子Ｃからの入力信号は、電圧ＶＴのレベルとなる。つまり、静電気ノイズを同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加する前において、第１実施形態では、同軸ケーブル１０の芯線１１は、０Ｖの状態であるのに対し、第２実施形態では、同軸ケーブル１０の芯線１１は、０Ｖより大きく、かつ、ハイレベル（“１”レベル）より小さいレベルの状態になる。
【００５７】
従って、この状態では、フリップフロップ回路３０は、クロック信号入力端子Ｃからの入力信号がローレベル（“０”レベル）であると認識し、信号出力端子Ｑからの出力信号のレベルは、ローレベル（“０”レベル）のままとなる。
【００５８】
このような状態において、静電気ノイズ発生器２０を、同軸ケーブル１０に沿って一端１０ａから他端１０ｂまで移動させつつ、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加していくと、第１実施形態と同様、静電気ノイズ発生器２０が、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損がある箇所にさしかかると、ＬＥＤが点灯し、また、ブザーが鳴ることになる。従って、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４のどの箇所に破損が生じているかが判明することになる。
【００５９】
ところで、第１実施形態においては、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損が小さい（静電ノイズの影響が小さい）ために、静電気ノイズの印加により同軸ケーブル１０における芯線１１に生じる信号のレベルが、フリップフロップ回路３０の信号検出レベル以上とならず、かかる破損を検出できない場合が考えられる。このような場合にも、第２実施形態においては、的確に、かかるの破損を検出することができる。
【００６０】
図４は、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損が小さいときに、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加した場合において、第１実施形態と第２実施形態との比較を示したものであり、フリップフロップ回路３０のクロック信号入力端子Ｃから入力される入力信号と、信号出力端子Ｑから出力される出力信号を示した概念図である。なお、図４（Ａ）が、第１実施形態における場合を示し、図４（Ｂ）が、第２実施形態における場合を示したものである。
【００６１】
第１実施形態の場合、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損が小さいために、図４（Ａ）に示すように、静電気ノイズの印加により同軸ケーブル１０における芯線１１に生じる信号のレベルが、フリップフロップ回路３０の信号検出レベル以上とならないので、フリップフロップ回路３０は、クロック信号入力端子Ｃからの入力信号がローレベル（“０”レベル）であると認識し、信号出力端子Ｑからの出力信号のレベルは、ローレベル（“０”レベル）のままとなる。
【００６２】
一方、第２実施形態の場合、同軸ケーブル１０の芯線１１は、０Ｖより大きく、かつ、ハイレベル（“１”レベル）より小さいレベル（ＶＴ）の状態にあるので、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損が小さく、同軸ケーブル１０における芯線１１に生じる信号のレベルが小さくても、図４（Ｂ）に示すように、フリップフロップ回路３０は、クロック信号入力端子Ｃからの入力信号がハイレベル（“１”レベル）であると認識し、その結果、信号出力端子Ｑからの出力信号のレベルは、ハイレベル（“１”レベル）に変化することにより、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４の傷や破断などの破損を的確に検出することができる。
【００６３】
以上説明したように第２実施形態によれば、第１実施形態における効果に加え、同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４の傷や破断などの破損が小さい場合でも、かかる破損を的確に検出することができる。
【００６４】
また、終端抵抗ＲＴ１とＲＴ２の抵抗値を的確に選定することにより、所望の信号検出感度に容易に設定することができる。
【００６５】
なお、上記第１および第２実施形態においては、同軸ケーブルの金属シールドとして、アルミシールドを例にとって説明したが、これに限定されるものではなく、その他の導体、例えば、銅シールドに適用した同軸ケーブルに対しても、本発明は適用可能である。
【００６６】
また、上記第１および第２実施形態においては、いわゆる細芯の同軸ケーブルの検査方法を例にとって説明したが、いわゆる細芯以外の同軸ケーブルに適用することができることはもちろんである。
【００６７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加することにより芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出するように構成したので、同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊、かつ、安価で簡単な方法で検査することができ、更に、当該破損の有無を定量的に判断することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態における同軸ケーブルの検査方法を実施するための同軸ケーブルの検査装置の概要構成を示す図である。
【図２】同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加した場合において、フリップフロップ回路３０のクロック信号入力端子Ｃから入力される入力信号と、信号出力端子Ｑから出力される出力信号を示した概念図である。
【図３】第２実施形態における同軸ケーブルの検査方法を実施するための同軸ケーブルの検査装置の概要構成を示す図である。
【図４】同軸ケーブル１０におけるアルミシールド１４に傷や破断などの破損が小さいときに、同軸ケーブル１０の外皮１５に静電気ノイズを印加した場合において、第１実施形態と第２実施形態との比較を示したものであり、フリップフロップ回路３０のクロック信号入力端子Ｃから入力される入力信号と、信号出力端子Ｑから出力される出力信号を示した概念図である。
【図５】一般的な細芯の同軸ケーブルの断面構造の一例を示す図である。
【図６】同軸ケーブル１０のアルミシールド１４に破損が生じた場合のようすを示す図である。
【符号の説明】
１，２  同軸ケーブルの検査装置
１０  同軸ケーブル
１１  芯線
１２  ドレイン線
１３  絶縁体
１４  アルミシールド
１５  外皮
２０  静電気ノイズ発生器
３０  フリップフロップ回路
４０  ＤＣ／ＤＣコンバータ
ＲＴ，ＲＴ１，ＲＴ２  終端抵抗
Ｄ  データ信号入力端子
Ｃ  クロック信号入力端子
Ｒ  リセット信号入力端子
Ｑ  信号出力端子
【図１】
0003624879.tif 000002
【図２】
0003624879.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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