(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第２の部材と、
棒状体の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に前記第２の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成され、前記左ネジと前記右ネジとのいずれか一方の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を前記凹部の延長方向回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材を支持する前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を、前記回転手段が前記凹部の延長方向回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方に固定されている前記支持部材を、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか他方に支持させる
ものであるサンプルの支持機構。
【請求項２】
端部の内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
端部の内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第２の部材と、
棒状体の中央部位の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に前記第２の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成され、前記左ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材を前記端部に向かう方向で付勢した状態で、前記凹部の延長方向回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材の右ネジが前記第２の部材のネジ溝にネジ結合しているときに、前記支持部材の左ネジのネジ山と前記第１の部材のネジ溝とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の左回りに回転させると、前記支持部材の左ネジが前記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに前記支持部材の右ネジと前記第２の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、前記サンプルが前記第１の部材の凹部内に位置しているときに、前記支持部材の右ネジのネジ山と前記第２の部材のネジ溝とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の右回りに回転させると、前記支持部材の右ネジが前記第２の部材のネジ溝にネジ結合するとともに前記支持部材の左ネジと前記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第２の部材に支持される
ものであるサンプルの支持機構。
【請求項３】
内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
右ネジが形成された第２の部材と、
棒状体の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に前記第２の部材の右ネジがネジ結合するネジ溝が内周側に形成された凹部を備え、前記左ネジの端部または前記凹部の底部とのいずれか一方にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を前記凹部の延長方向回りにまたは前記右ネジの軸線回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材を支持する前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を、前記回転手段が前記凹部の延長方向回りまたは前記右ネジの軸線回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方に固定されている前記支持部材を、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか他方に支持させる
ものであるサンプルの支持機構。
【請求項４】
端部の内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
右ネジが形成された第２の部材と、
棒状体の中央部位の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側の端部の内周側に前記第２の部材の右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備え、前記左ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材を前記端部に向かう方向で付勢した状態で、前記凹部の延長方向回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材のネジ溝が前記第２の部材の右ネジに結合しているときに、前記支持部材の左ネジのネジ山と前記第１の部材のネジ溝とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の左回りに回転させると、前記支持部材の左ネジが前記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに前記支持部材のネジ溝と前記第２の部材の右ネジとのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、前記サンプルが前記第１の部材の凹部内に位置しているときに、前記支持部材のネジ溝と前記第２の部材の右ネジのネジ山とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の右回りに回転させると、前記支持部材のネジ溝が前記第２の部材の右ネジにネジ結合するとともに前記支持部材の左ネジと前記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第２の部材に支持される
ものであるサンプルの支持機構。
【請求項５】
内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
左ネジが形成された第２の部材と、
棒状体の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成されるとともに他方側に前記第２の部材の左ネジがネジ結合するネジ溝が内周側に形成された凹部を備え、前記右ネジの端部または前記凹部の底部とのいずれか一方にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を前記凹部の延長方向回りにまたは前記左ネジの軸線回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材を支持する前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方を、前記回転手段が前記凹部の延長方向回りまたは前記左ネジの軸線回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか一方に固定されている前記支持部材を、前記第１の部材または前記第２の部材のいずれか他方に支持させる
ものであるサンプルの支持機構。
【請求項６】
端部の内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、
左ネジが形成された第２の部材と、
棒状体の中央部位の一方側に前記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成されるとともに他方側の端部の内周側に前記第２の部材の左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備え、前記右ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、
前記第１の部材を前記端部に向かう方向で付勢した状態で、前記凹部の延長方向回りに回転する回転手段と
を有し、
前記支持部にサンプルが支持された前記支持部材のネジ溝が前記第２の部材の左ネジに結合しているときに、前記支持部材の右ネジのネジ山と前記第１の部材のネジ溝とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の右回りに回転させると、前記支持部材の右ネジが前記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに前記支持部材のネジ溝と前記第２の部材の左ネジとのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、前記サンプルが前記第１の部材の凹部内に位置しているときに、前記支持部材のネジ溝と前記第２の部材の左ネジのネジ山とを係合させ、前記回転手段によって前記第１の部材を付勢した状態で前記凹部の延長方向の左回りに回転させると、前記支持部材のネジ溝が前記第２の部材の左ネジにネジ結合するとともに前記支持部材の右ネジと前記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、前記サンプルは前記第２の部材に支持される
ものであるサンプルの支持機構。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、サンプルの支持機構に関し、さらに詳細には、膨大な数のサンプルを管理する際に用いて好適なサンプルの支持機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、膨大な数のサンプル、例えば、凍結結晶をそれぞれ専用のサンプルピンにマウントし、さらにそのサンプルピンの１つ１つを個別のバイアルに保存しておき、測定に際しては手作業によりバイアルからサンプルピンを取り出して所定の位置にセットした後、所定の測定装置を用いてサンプルの測定を行う方法が知られている。
【０００３】
しかしながら、こうした従来のバイアルを用いたサンプルの測定方法においては、膨大な数のサンプルの１つ１つをマウントしたサンプルピンがバイアルに保存されるので、大量のバイアルの１つ１つから作業者がサンプルピンを取り出して所定の位置にセットするという煩雑な作業があり、膨大な数のサンプルの処理が非常に非効率であるという問題点があった。
【０００４】
また、作業者が手作業によりバイアルから取り出したサンプルピンを所定の位置にセットするので、サンプルがマウントされているサンプルピンの位置決めを正確に行うことが困難であり、作業者による手作業での煩雑な位置決め作業を行う必要があるとともに、サンプルの測定を高精度に行うことができないという恐れがあった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記したような従来の技術の有する種々の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、膨大な数のサンプルを効率的に処理することができるようにしたサンプルの支持機構を提供しようとするものである。
【０００６】
また、本発明の目的とするところは、膨大な数のサンプルそれぞれを所定の測定装置によって測定する場合に、サンプルの測定を高精度に行うことができるようにしたサンプルの支持機構を提供しようとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明のうち請求項１に記載の発明は、内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第２の部材と、棒状体の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に上記第２の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成され、上記左ネジと上記右ネジとのいずれか一方の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を上記凹部の延長方向回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材を支持する上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を、上記回転手段が上記凹部の延長方向回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方に固定されている上記支持部材を、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか他方に支持させるようにしたものである。
【０００８】
また、本発明のうち請求項２に記載の発明は、端部の内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、端部の内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第２の部材と、棒状体の中央部位の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に上記第２の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成され、上記左ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材を上記端部に向かう方向で付勢した状態で、上記凹部の延長方向回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材の右ネジが上記第２の部材のネジ溝にネジ結合しているときに、上記支持部材の左ネジのネジ山と上記第１の部材のネジ溝とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の左回りに回転させると、上記支持部材の左ネジが上記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに上記支持部材の右ネジと上記第２の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、上記サンプルが上記第１の部材の凹部内に位置しているときに、上記支持部材の右ネジのネジ山と上記第２の部材のネジ溝とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の右回りに回転させると、上記支持部材の右ネジが上記第２の部材のネジ溝にネジ結合するとともに上記支持部材の左ネジと上記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第２の部材に支持されるようにしたものである。
【０００９】
また、本発明のうち請求項３に記載の発明は、内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、右ネジが形成された第２の部材と、棒状体の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側に上記第２の部材の右ネジがネジ結合するネジ溝が内周側に形成された凹部を備え、上記左ネジの端部または上記凹部の底部とのいずれか一方にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を上記凹部の延長方向回りにまたは上記右ネジの軸線回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材を支持する上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を、上記回転手段が上記凹部の延長方向回りまたは上記右ネジの軸線回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方に固定されている上記支持部材を、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか他方に支持させるようにしたものである。
【００１０】
また、本発明のうち請求項４に記載の発明は、端部の内周側に左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、右ネジが形成された第２の部材と、棒状体の中央部位の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な左ネジが形成されるとともに他方側の端部の内周側に上記第２の部材の右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備え、上記左ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材を上記端部に向かう方向で付勢した状態で、上記凹部の延長方向回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材のネジ溝が上記第２の部材の右ネジに結合しているときに、上記支持部材の左ネジのネジ山と上記第１の部材のネジ溝とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の左回りに回転させると、上記支持部材の左ネジが上記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに上記支持部材のネジ溝と上記第２の部材の右ネジとのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、上記サンプルが上記第１の部材の凹部内に位置しているときに、上記支持部材のネジ溝と上記第２の部材の右ネジのネジ山とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の右回りに回転させると、上記支持部材のネジ溝が上記第２の部材の右ネジにネジ結合するとともに上記支持部材の左ネジと上記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第２の部材に支持させるようにしたものである。
【００１１】
また、本発明のうち請求項５に記載の発明は、内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、左ネジが形成された第２の部材と、棒状体の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成されるとともに他方側に上記第２の部材の左ネジがネジ結合するネジ溝が内周側に形成された凹部を備え、上記右ネジの端部または上記凹部の底部とのいずれか一方にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を上記凹部の延長方向回りにまたは上記左ネジの軸線回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材を支持する上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方を、上記回転手段が上記凹部の延長方向回りまたは上記左ネジの軸線回りに回転させる方向を左回りまたは右回りのいずれかに変更することにより、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか一方に固定されている上記支持部材を、上記第１の部材または上記第２の部材のいずれか他方に支持させるようにしたものである。
【００１２】
また、本発明のうち請求項６に記載の発明は、端部の内周側に右ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備えた第１の部材と、左ネジが形成された第２の部材と、棒状体の中央部位の一方側に上記第１の部材のネジ溝とネジ結合可能な右ネジが形成されるとともに他方側の端部の内周側に上記第２の部材の左ネジがネジ結合するネジ溝が形成された凹部を備え、上記右ネジが形成された側の端部にサンプルを支持する支持部を備えた支持部材と、上記第１の部材を上記端部に向かう方向で付勢した状態で、上記凹部の延長方向回りに回転する回転手段とを有し、上記支持部にサンプルが支持された上記支持部材のネジ溝が上記第２の部材の左ネジに結合しているときに、上記支持部材の右ネジのネジ山と上記第１の部材のネジ溝とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の右回りに回転させると、上記支持部材の右ネジが上記第１の部材のネジ溝にネジ結合するとともに上記支持部材のネジ溝と上記第２の部材の左ネジとのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第１の部材の凹部内に位置した状態で支持され、上記サンプルが上記第１の部材の凹部内に位置しているときに、上記支持部材のネジ溝と上記第２の部材の左ネジのネジ山とを係合させ、上記回転手段によって上記第１の部材を付勢した状態で上記凹部の延長方向の左回りに回転させると、上記支持部材のネジ溝が上記第２の部材の左ネジにネジ結合するとともに上記支持部材の右ネジと上記第１の部材のネジ溝とのネジ結合が解除されて、上記サンプルは上記第２の部材に支持させるようにしたものである。
【００１３】
従って、本発明のうち請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５ならびに請求項６に記載の発明それぞれによれば、回転手段が第１の部材あるいは第２の部材を回転させる方向を左回りと右回りとのいずれかに変更することにより、第１の部材から第２の部材へ、あるいは、第２の部材から第１の部材へと、サンプルが支持された支持部材が移動するので、大量のサンプルをそれぞれ支持する大量の支持部材の１つ１つは、自動的に所定の位置にセットされ、大量のサンプルの測定を短時間で行うことができ、膨大な数のサンプルを効率的に処理することができるとともに、支持部材の位置決めを正確に行うことができ、サンプルの測定を高精度に行うことができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照しながら、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例について詳細に説明するものとする。
【００１５】
なお、以下に説明する実施の形態においては、本発明によるサンプルの支持機構をサンプル測定システムにおいて実施した場合について説明する。
【００１６】
図１には、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムを示す説明図が示されている。
【００１７】
このサンプル測定システム１００は、サンプル２００をサンプル支持部材１０２に固定するサンプル固定システム１０４と、サンプル２００が固定されたサンプル支持部材１０２を保存するサンプル保存ラック１０６と、サンプルの測定を行う測定システム１０８とを有して構成されている。
【００１８】
なお、サンプル測定システム１００は、この実施の形態においては、タンパク質の立体構造決定の過程におけるタンパク質のＸ線結晶構造解析の方法を実現するシステムとして説明することとする。
【００１９】
従って、サンプル固定システム１０４においては、サンプル（試料）２００としてタンパク質の微小結晶がサンプル支持部材１０２に固定され、当該サンプル支持部材１０２に固定されたタンパク質のＸ線結晶構造解析が測定システム１０８においてなされる。
【００２０】
ここで、図２には、サンプル支持部材１０２を示す概略構成説明図が示されている。このサンプル支持部材１０２は、全体が略円柱状の棒状体形状からなり、棒状体の中央部１０の面１０ａ側に延長されるサンプル固定部１０２ａと、棒状体の中央部１０の面１０ｂ側に延長される取り付け部１０２ｂとを備えている。
【００２１】
より詳細には、サンプル固定部１０２ａは、中央部１０の一方の面１０ａに形成された左ネジ１２と、左ネジ１２から延設された平滑面部１６と、平滑面部１６の先端１６ａに突設された支持部２０とを有して構成されている。一方、取り付け部１０２ｂは、中央部１０の他方の面１０ｂに形成された右ネジ１４と、右ネジ１４から延設された平滑面部１８とを有して構成されている。
【００２２】
そして、中央部１０の中心軸、左ネジ１２の中心軸ならびに右ネジ１４の中心軸は、サンプル支持部材１０２の中心軸Ｏ−Ｏ（図２参照）に一致しており、中心軸Ｏ−Ｏ上に平滑面部１６の先端１６ａと、平滑面部１８の先端１８ａと、支持部２０の支持柄２０ａと、支持ループ２０ｂとが位置している。
【００２３】
また、左ネジ１２のピッチＰＬと右ネジ１４のピッチＰＲとは略等しくなるようにして寸法設定されているとともに、左ネジ１２の中心軸Ｏ−Ｏ方向に沿った全長ＬＬと右ネジ１４の中心軸Ｏ−Ｏ方向に沿った全長ＬＲとが略等しくなるようにして寸法設定されている。
【００２４】
なお、平滑面部１６は左ネジ１２側を基部として先端１６ａを頂点とする略円錐形状をなしており、平滑面部１８は右ネジ１４側を基部して先端１８ａを頂点とする略円錐形状をなしている。
【００２５】
また、支持部２０は、平滑面部１６の先端１６ａから中心軸Ｏ−Ｏに沿って突設された支持柄２０ａと、支持柄２０ａの先端の支持ループ２０ｂとからなり、支持ループ２０ｂにサンプル２００たるタンパク質の結晶が支持される。
【００２６】
なお、このサンプル支持部材１０２は、例えば、ステンレスにより一体成形されており、支持部の支持ループ２０ｂは、例えば、１０μｍ〜２０μｍの太さのナイロンなどの高分子繊維糸により形成されている。
【００２７】
また、支持ループ２０ｂの先端から平滑面部１８の先端１８ａまでの全長Ｌは、例えば、２ｃｍ〜３ｃｍとなされており、支持部の支持ループ２０ｂの直径Ｒはおよそ０．１ｍｍ〜０．２ｍｍとなされている。
【００２８】
サンプル固定システム１０４においては、サンプル支持部材１０２が固定部材１０１によって固定的に支持された状態で、サンプル２００としてサンプル支持部材１０２の支持ループ２０ｂにタンパク質の微小結晶が凍結固定される。なお、サンプル支持部材１０２の支持ループ２０ｂへのタンパク質の固定に際しては、各種の公知の手法を用いることができるので、詳細な説明は省略することとする。
【００２９】
サンプル保存ラック１０６は、こうしてサンプル固定システム１０４においてサンプルが固定されたサンプル支持部材１０２を複数載置するものである（図１参照）。具体的には、サンプル保存ラック１０６には、５行５列の総数２５個の丸孔（図示せず。）が穿設されている。
【００３０】
なお、この丸孔は、サンプル支持部材１０２の中央部１０が係止されるようにして寸法設定されているものである。また、サンプル保存ラック１０６の外周面１０６ａには、サンプル保存ラック１０６を識別するためのバーコードが貼付されている。
【００３１】
そして、サンプル保存ラック１０６には、サンプル固定システム１０４において支持ループ２０ｂにサンプル２００が固定されたサンプル支持部材１０２が作業者によって保存される。この際、サンプル支持部材１０２の平滑面部１８側からサンプル保存ラック１０６の丸孔にサンプル支持部材１０２を挿入し、サンプル保存ラック１０６の丸孔にサンプル支持部材１０２の中央部１０を係止させる。
【００３２】
こうして図１に示すように、１つのサンプル保存ラック１０６には、サンプル２００が固定された２５個のサンプル支持部材１０２が、サンプル固定部１０２ａ側をサンプル保存ラック１０６の開口部１０６ｂ側に位置させた状態で載置される。そして、サンプル支持部材１０２が載置されたサンプル保存ラック１０６は液体窒素中に保存される。
【００３３】
測定システム１０８においては、サンプル支持部材１０２に固定されたサンプル２００たるタンパク質のＸ線結晶構造解析がなされる。
【００３４】
図３には、測定システムを中心に示した概略構成説明図が示されており、図４（ａ）には、ゴニオメーターの要部を示した概略構成一部断面図が示されており、図４（ｂ）には、サンプル交換装置とゴニオメーターとを示す概略構成説明図が示されており、図４（ｃ）には、サンプル交換装置の要部を示した概略構成一部断面図が示されており、図４（ｄ）には、回転軸の要部を示した概略構成一部断面図が示されている。
【００３５】
測定システム１０８は、固定系のベース部材１１０と、ベース部材１１０に配設されたサンプル交換装置１１２と、サンプル支持部材１０２を３次元方向で移動自在に支持するゴニオメーター１１４と、ＣＣＤ検出器１１６と、ベース部材１１０にＸ軸方向（図３に示す座標系を示す参考図を参照する。）に移動自在に配設されたＸ線検出器１１８とを有して構成されている。
【００３６】
なお、上記した測定システム１０８は、後述するモーターの駆動制御を含む全体の動作をマイクロコンピューターなどにより制御されているものである。
【００３７】
サンプル交換装置１１２は、ベース部材１１０にＸ軸方向（図４（ｂ）における矢印Ａ方向である。）ならびにＹ軸方向（図４（ｂ）における矢印Ｂ方向である。）の２方向で移動自在に配設されるとともにサンプル保存ラック１０６が載置されるステージ２２と、ベース部材１１０に立設された支柱２４と、支柱２４に支軸２６を中心に回転されたアーム３０とからなるものである。
【００３８】
図示しないモーターの駆動によって、アーム３０は支軸２６を中心に矢印Ｃ方向（図４（ｂ）参照）あるいは矢印Ｄ方向（図４（ｂ）参照）に回転自在となされている。
【００３９】
アーム３０は、図４（ｃ）に示すように、略円筒状体であってガイド部３２ａが形成された主軸３２と、軸受３４−１，３４−２を介して主軸３２の内周側に回動自在に支持された回転軸３６と、回転軸３６を軸線回りに回転させる回転用モーター３８と、回転軸３６を付勢するコイルバネ４０−１，４０−２と、軸４２を内挿しコイルバネ４０−１に当接するボールネジ４４と、軸４２を軸線回りに回転させる駆動するモーター４６とを有して構成されている。
【００４０】
ここで、回転軸３６は、例えば、ステンレスにより形成されており、回転軸３６の主軸３２のガイド部３２ａ内に位置する端部３６ａとは反対側の端部３６ｂ、即ち、主軸３２の外部に位置する端部３６には、略円柱状体の凹部３６ｃが形成されている（図４（ｄ）参照）。
【００４１】
この凹部３６ｃの延長方向は、回転軸３６の軸線方向と一致している。凹部３６ｃの底部３６ｄは、頂点が回転軸３６の中心軸上に位置する円錐状となされており、凹部３６ｃの開口部３６ｅ近傍、即ち、回転軸３６の端部３６ｂの内周側には、左ネジ１２がネジ結合可能なネジ溝３６ｆが形成されている。
【００４２】
ネジ溝３６ｆは、サンプル支持部材１０２の左ネジ１２がネジ結合可能となされており、ネジ溝３６ｆの回転軸３６の軸線方向に沿った長さＬ１は、サンプル支持部材１０２の左ネジ１２の全長ＬＬと略等しくなるようにして寸法設定されている。
【００４３】
また、回転軸３６の直径Ｌ３は、サンプル支持部材１０２の中央部１０の直径と略等しくなるようにして寸法設定されており、回転軸３６の凹部３６ｃの全長Ｌ２は、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａの全長Ｌａより長くなるようにして寸法設定されている。
【００４４】
コイルバネ４０−１，４０−２はそれぞれ、拡開（伸張）方向への付勢力（バネ力）を有するものである。従って、回転軸３６は、端部３６ａから端部３６ｂに向かう方向、即ち、凹部３６ｃの底部３６ｄから開口部３６ｅに向かう方向（図４（ｃ）における矢印Ｅ方向参照）で、所定の付勢力で付勢されている。
【００４５】
そして、回転用モーター３８の駆動に伴い、回転軸３６は軸線回りに矢印Ｆ方向あるいは矢印Ｇ方向に回転自在となされている。なお、以下の説明においては、回転軸３６の矢印Ｆ方向への回転を、回転軸３６の左回りの回転と称することとし、回転軸３６の矢印Ｇ方向への回転を、回転軸３６の右回りの回転と称することとする。
【００４６】
また、モーター４６の駆動に伴い、軸４２が軸線回りに回転するのに伴って、ボールネジ４４が軸４２に沿って矢印Ｈ方向あるいは矢印Ｉ方向に移動する。ここで、ボールネジ４４が矢印Ｈ方向に移動すると、ボールネジ４４が当接しているコイルバネ４０−１が圧縮されて、コイルバネ４０−１の付勢力の変化に応じて、回転軸３６は主軸３２のガイド部３２ａに沿って矢印Ｊ方向に移動する。逆に、ボールネジ４４が矢印Ｉ方向に移動すると、ボールネジ４４が当接しているコイルバネ４０−１が伸張されて、コイルバネ４０−１の付勢力の変化に応じて、回転軸３６は主軸３２のガイドに沿って矢印Ｋ方向に移動する。
【００４７】
このように、回転軸３６は、 回転軸３６は軸線回りに、即ち、凹部３６ｃの延長方向回りに、左回りの回転（図４（ｂ）における矢印Ｆ参照）と右回りの回転（図４（ｂ）における矢印Ｆ参照）とが可能となされているととともに、回転軸３６の軸線方向に沿った移動（図４（ｃ）における矢印Ｊならびに矢印Ｋ参照）が可能となされており、軸受３４−１，３４−２はこうした回転軸３６に応じた所定の２次元可動機構を備えるものである。
【００４８】
ゴニオメーター１１４は、上記したようにサンプル支持部材１０２を３次元方向で移動自在に支持するものである。より詳細には、ゴニオメーター１１４には、３次元方向で移動自在な基台部１１４ａと、基台部１１４ａに突設された略円柱状体の取り付け部１１４ｂとを備えている。
【００４９】
そして、取り付け部１１４ｂの基台部１１４ａとは反対側の端部１１４ｃには、略円柱状体の凹部１１４ｄが形成されている（図４（ａ）参照）。凹部１１４ｄの底部１１４ｅは、略円形形状の平面状となされており、凹部１１４ｄの開口部１１４ｆ近傍、即ち、取り付け部１１４ｂの端部１１４ｃの内周側には、右ネジ１４がネジ結合可能なネジ溝１１４ｇが形成されている。
【００５０】
ネジ溝１１４ｇは、サンプル支持部材１０２の右ネジ１４がネジ結合可能となされており、ネジ溝１１４ｇの回転軸３６の軸線方向に沿った長さＬ４は、サンプル支持部材１０２の右ネジ１４の全長ＬＲと略等しくなるようにして寸法設定されている。
【００５１】
また、取り付け部１１４ｂの直径Ｌ６は、サンプル支持部材１０２の中央部１０の直径や回転軸３６の直径Ｌ３に比べて長くなるようにして寸法設定されており、取り付け部１１４の凹部１１４ｄの全長Ｌ５は、サンプル支持部材１０２の取り付け部１０２ｂの全長Ｌｂより長くなるようにして寸法設定されている。
【００５２】
以上の構成において、図５ならびに図６を参照しながら、上記したサンプル測定システム１００において、タンパク質のＸ線結晶構造解析を行う場合の動作の説明を行うものとする。
【００５３】
まず、サンプル固定システム１０４において、サンプル２００としてタンパク質の微小結晶を、サンプル支持部材１０２の支持ループ２０ｂに凍結固定する（図１参照）。
【００５４】
それから、サンプル２００たるタンパク質の微小結晶が支持ループ２０ｂに固定されたサンプル支持部材１０２を、作業者が、サンプル保存ラック１０６に載置する。このサンプル保存ラック１０６は液体窒素中に保存されるので、サンプル保存ラック１０６内のサンプル支持部材１０２に固定されたサンプル２００たるタンパク質の微小結晶は、低温状態で凍結結晶のまま保存される。
【００５５】
この後、サンプル保存ラック１０６を測定システム１０８のサンプル交換装置１１２のステージ２２に載置する（図５（ａ）参照）。この際、ステージ２２へのサンプル保存ラック１０６の移動は、作業者によりなされるようにしてもよいし、あるいは、ロボットアームなどを用いて自動的になされるようにしてもよい。
【００５６】
こうしてサンプル交換装置１１２のステージ２２にサンプル保存ラック１０６が載置されると、サンプル保存ラック１０６が載置されているステージ２２がＸ軸方向（図５（ｂ）における矢印Ａ方向参照）ならびにＹ軸方向（図５（ｂ）における矢印Ｂ方向参照）の２方向で移動する。この際、図示しないモーターの駆動によって、アーム３０が支軸２６を中心に矢印Ｃ方向に回転して、アーム３０の回転軸３６の延長方向がＺ軸方向に一致するようになる（図５（ｂ）参照）。
これにより、サンプル保存ラック１０６内の２５個のサンプル支持部材１０２のうちの所定のサンプル支持部材１０２と、回転軸３６の凹部３６ｃとが対向するようになる。
【００５７】
そして、モーター４６が駆動すると回転軸３６が矢印Ｊ方向に移動し、即ち、回転軸３６がＺ軸方向において下降して、回転軸３６の端部３６ｂのネジ溝３６ｆの先端（即ち、最も凹部３６ｃの開口部３６ｅ側のネジ溝３６ｆ）と、サンプル支持部材１０２の左ネジ１２のネジ山の先端（即ち、左ネジ１２の最も平滑面部１６側のネジ山）とが係合する。
【００５８】
こうして回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆの先端とサンプル支持部材１０２の左ネジ１２のネジ山の先端とが係合した状態で、回転用モーター３８が駆動すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６を左回りに回転（図５（ｂ）における矢印Ｆ参照）して、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とがネジ結合する。この際、円錐形状の平滑面部１６にガイドされてサンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａが回転軸３６の凹部３６ｃ内を移動するので、サンプル支持部材１０２の偏心が補正される。
【００５９】
その結果、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａ全体が、回転軸３６の凹部３６ｃ内に位置するようになる（図６（ａ）参照）。従って、サンプル支持部材１０２の支持ループ２０ｂに固定されているサンプル２００は、回転軸３６の凹部３６ｃ内に位置するので、外気に直接触れることがない。また、回転軸３６はステンレスにより形成されており、回転軸３６の熱伝導度は低く保温性が高いので、回転軸３６の凹部３６ｃ内に位置しているサンプル２００たるタンパク質の微小結晶を凍結結晶のまま維持することができる。
【００６０】
こうしてサンプル支持部材１０２がサンプル交換装置のアーム３０の回転軸３６に支持されると、図示しないモーターの駆動によって、アーム３０が支軸２６を中心に矢印Ｄ方向に回転するとともに、モーター４６の駆動によって、回転軸３６が矢印Ｊ方向あるいは矢印Ｋ方向に移動する。その結果、サンプル支持部材１０２はサンプル保存ラック１０６から取り出され、回転軸３６の端部３６ｂは、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂの端部１１４ｃと対向するようになる。
【００６１】
そして、回転軸３６に支持されているサンプル支持部材１０２の右ネジ１４のネジ山の先端（即ち、右ネジ１４の最も平滑面部１８側のネジ山）と、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂの端部１１４ｃのネジ溝１１４ｇの先端（即ち、最も凹部１１４ｄの開口部１１４ｆ側のネジ溝１１４ｇ）とが係合した状態で、回転用モーター３８が駆動すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６を右回りに回転（図５（ａ）における矢印Ｇ参照）して、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４の凹部１１４ｄのネジ溝１１４ｇとサンプル支持部材１０２の右ネジ１４とがネジ結合する（図６（ｂ）参照）。この際、円錐形状の平滑面部１８にガイドされてサンプル支持部材１０２の取り付け部１０２ｂがゴニオメーター１１４の凹部１１４ｄ内を移動するので、サンプル支持部材１０２の偏心が補正される。
【００６２】
さらに、回転用モーター３８の駆動を継続すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６が右回りに回転（図５（ａ）における矢印Ｇ参照）し続けて、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とのネジ結合が解除される。
【００６３】
この後、モーター４６の駆動によって、回転軸３６が矢印Ｋ方向に移動するとともに、図示しないモーターの駆動によって、アーム３０が支軸２６を中心に矢印Ｃ方向に回転する。
【００６４】
すると、図６（ｃ）に示すように、取り付け部１０２ｂ全体がゴニオメーター１１４の凹部１１４ｄ内に位置した状態で、サンプル支持部材１０２、即ち、サンプル２００がゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂに取り付けられる。
【００６５】
そして、測定システム１０８においては、ゴニオメーター１１４によって取り付け部１１４ｂに配設されたサンプル２００たるタンパク質の微小結晶を３次元方向で移動させながら、ＣＣＤ検出器１１６やＸ線検出器１１８によるタンパク質のＸ線結晶構造解析を行う。
【００６６】
この際、ゴニオメーター１１４に取り付けられたサンプル２００に対しては、測定システム１０８における図示しない装置により、冷却窒素ガスの吹付けがなされており、Ｘ線によるサンプル２００の劣化が防止されている。
【００６７】
こうした測定システム１０８におけるタンパク質のＸ線結晶構造解析が終了すると、図示しないモーターの駆動によって、アーム３０が支軸２６を中心に矢印Ｄ方向に回転するとともに、モーター４６の駆動によって、回転軸３６が矢印Ｊ方向あるいは矢印Ｋ方向に移動する。
【００６８】
その結果、回転軸３６の端部３６ｂのネジ溝３６ｆの先端とゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂに固定されているサンプル支持部材１０２の左ネジ１２のネジ山の先端とが係合するようになる。そして、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆの先端とサンプル支持部材１０２の左ネジ１２のネジ山の先端とが係合した状態で、回転用モーター３８が駆動すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６を左回りに回転（図５（ａ）における矢印Ｆ参照）して、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とがネジ結合する。この際、円錐形状の平滑面部１６にガイドされてサンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａが回転軸３６の凹部３６ｃ内を移動するので、サンプル支持部材１０２の偏心が補正される。
【００６９】
さらに、回転用モーター３８の駆動を継続すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６が左回りに回転（図５（ａ）における矢印Ｆ参照）し続けて、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４の凹部１１４ｄのネジ溝１１４ｇとサンプル支持部材１０２の右ネジ１４とのネジ結合が解除される。
【００７０】
この結果、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａ全体が、回転軸３６の凹部３６ｃ内に位置した状態で、サンプル支持部材１０２はサンプル交換装置のアーム３０の回転軸３６に支持され、ゴニオメーター１１４から取り外される。そして、アーム３０が支軸２６を中心に矢印Ｃ方向に回転するとともに、モーター４６の駆動によって、回転軸３６が矢印Ｊ方向あるいは矢印Ｋ方向に移動する。これにより、サンプル保存ラック１０６内の丸孔と、回転軸３６に支持されたサンプル支持部材の平滑面部１８とが対向するようになる。
【００７１】
さらに、回転用モーター３８の駆動を継続すると、矢印Ｅ方向に付勢された回転軸３６が右回りに回転（図５（ｂ）における矢印Ｇ参照）し続けて、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とのネジ結合が解除され、サンプル支持部材１０２はサンプル保存ラック１０６内に保存される。
【００７２】
こうして、サンプル保存ラック１０６内の２５個のサンプル支持部材１０２のうち、所定のサンプル支持部材１０２が、サンプル交換装置１１２によってゴニオメーター１１４に取り付けられ、測定システム１０８における測定がなされて、サンプル保存ラック１０６内に戻されると、同様な動作がサンプル保存ラック１０６内の他のサンプル支持部材１０２についても順次行われ、２５個のサンプル支持部材１０２それぞれに固定されているサンプル２００それぞれの測定が自動的に行われる。
【００７３】
そして、複数のサンプル保存ラック１０６がある場合には、測定システム１０８のサンプル交換装置１１２のステージ２２に載置されるサンプル保存ラック１０６を順次交換して、測定を繰り返すようにすればよい。
【００７４】
上記したように、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システム１００においては、サンプル２００が固定されたサンプル支持部材１０２が、サンプル交換装置１１２の回転軸３６が左回りに回転することによって、回転軸３６に支持されるようになり、この後、回転軸３６が右回りに回転することによって、回転軸３６からゴニオメーター１１４に取り付けられるようにしたため、上記した「従来の技術」の項において記載したようにして大量のバイアルの１つ１つに保存される大量のサンプルピンを人手により処理する必要はなくなり、大量のサンプル支持部材１０２の１つ１つはサンプル交換装置１１２によって自動的に所定の位置にセットされるので、大量のサンプルの測定を短時間で行うことができ、膨大な数のサンプルを効率的に処理することができる。
【００７５】
また、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システム１００においては、サンプル交換装置１１２の回転軸３６とゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂとサンプル支持部材１０２とにより、サンプル交換装置１１２がサンプル支持部材１０２を自動的にゴニオメーター１１４に取り付けてセットするので、作業者が手作業で所定の位置にセットするのとは異なり、サンプル支持部材１０２の位置決めを正確に行うことができ、サンプル２００の測定を高精度に行うことができる。
【００７６】
さらに、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システム１００においては、サンプル２００はサンプル支持部材１０２に固定されるので、サンプル２００をバイアルに保存する場合とは異なり、小型のサンプル支持部材１１２を保存ラック１０６に載置して容易に保存や運搬することができる。また、サンプル支持部材１０２が回転軸３６に支持されるときには、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａ全体が回転軸３６の凹部３６ｃ内に位置するので（図６（ａ）参照）、サンプル２００は外気に触れることなく移動され、測定が行われるときのサンプル２００の状態が良好な状態で維持され、サンプル２００の測定を一層高精度に行うことができる。
【００７７】
なお、上記した実施の形態は、以下の（１）乃至（６）に説明するように変形することができる。
【００７８】
（１）上記した実施の形態においては、サンプル支持部材１０２は、例えば、ステンレスにより形成し、支持部の支持ループ２０ｂは、例えば、高分子繊維糸により形成するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、サンプル支持部材１０２や回転軸３６の材質などは、サンプル支持部材１０２に固定するサンプル２００の種類や測定システム１０８における測定方法などに応じて適宜変更するようにしてもよい。
【００７９】
例えば、サンプル支持部材１０２が支持するサンプル２００として、ガラスキャピラリーなどの試料セルに封入された液体や、あるいは、粉末のサンプルなどを用いる場合には、こうしたサンプルの種類に応じて各種変更を行うことにより、本発明によるサンプルの支持機構を各種サンプルの支持に用いることができる。
【００８０】
（２）上記した本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システム１００においては、サンプル支持部材１０２の右ネジ１４がネジ結合するネジ溝１１４ｆをゴニオメーター１１４に形成するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、サンプル支持部材１０２の右ネジ１４がネジ結合するネジ溝を、例えば、サンプル固定システム１０４の固定部材１０１やサンプル保存ラック１０６などにも形成するようにしてもよい。
【００８１】
また、サンプル支持部材１０２の左ネジ１２がネジ結合されるネジ溝３６が形成された回転軸３６が支持されているアーム３０を、サンプル交換装置１１２としてベース部材１１０に固定的に配設するのではなく、手持ちサイズの手動工具として構成するようにしてもよい。
【００８２】
そして、手動工具として構成されたアームを作業者が用いて、サンプル支持部材１０２を固定部材１０１やサンプル保存ラック１０６にセットすることもできる。
【００８３】
（３）上記した本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システム１００においては、サンプル支持部材１０２をゴニオメーター１１４に取り付けるときに（図６（ｂ）参照）、回転軸３６を右回りに回転して、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４の凹部１１４ｄのネジ溝１１４ｇとサンプル支持部材１０２の右ネジ１４とをネジ結合させ、さらに、回転軸３６を右回りに回転し続けて、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とのネジ結合を解除するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論である。
【００８４】
例えば、モーター４６の駆動による回転軸３６の矢印Ｋ方向への移動を制御するなどして、回転軸３６が所定量だけ右回りに回転したときに、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４の凹部１１４ｄのネジ溝１１４ｇとサンプル支持部材１０２の右ネジ１４とのネジ結合と、回転軸３６の凹部３６ｃのネジ溝３６ｆとサンプル支持部材１０２の左ネジ１２とのネジ結合の解除とが同時に行われるようにしてもよい。
【００８５】
（４）上記した実施の形態においては、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａに左ネジ１２を形成し、取り付け部１０２ｂに右ネジ１４を形成するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、サンプル支持部材１０２のサンプル固定部１０２ａに右ネジ１４を形成し、取り付け部１０２ｂに左ネジ１２が形成するようにしてもよい。
【００８６】
この際、サンプル交換装置１１２の回転３６のネジ溝３６ｆを右ネジがネジ結合可能に変更するとともに、ゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂのネジ溝１１４ｇを左ネジがネジ結合可能に変更する。また、各種変更に応じて左ネジ１２の全長ＬＬと右ネジ１４の全長ＬＲとは、略等しくなるようにして寸法設定するのに限られることなしに、いずれか一方の全長に比べて他方の全長が長くなるようにしてもよい。
【００８７】
また、サンプル支持部材１０２の取り付け部１０２ｂの右ネジ１４とゴニオメーター１１４の取り付け部１１４ｂのネジ溝１１４ｇとを入れ換えるようにして、サンプル支持部材の取り付け部に凹部３００を形成し、この凹部３００の内周側に右ネジがネジ結合可能なネジ溝３０２の形成するとともに、ゴニオメーターに取り付け部３０４を突設し、この取り付け部３０４の周壁に右ネジ３０６を形成してもよい（図７参照）。さらに、図７に示すサンプル支持部材のサンプル固定部の左ネジを右ネジに変更するとともに、サンプル支持部材の取り付け部のネジ溝３０２を左ネジがネジ結合可能なものとし、ゴニオメーターの取り付け部３０４の周壁に左ネジを形成するようにしてもよい。
【００８８】
こうした場合においても、図２に示すようなサンプル支持部材１０２と同様にして、ゴニオメーターへのサンプル支持部材のセットなどを行うことができるとともに、サンプル支持部材１０２の全長Ｌ（図２参照）を短くしてサンプル支持部材を小型化することができる。
【００８９】
なお、図７に示すように、サンプル支持部材が左ネジまたは右ネジのいずれか一方と、左ネジがネジ結合可能なネジ溝が形成された凹部または右ネジがネジ結合可能なネジ溝が形成された凹部のいずれか一方とから構成されるときには、タンパクの結晶などのサンプルは、支持ループのようなサンプル支持部材の端部の支持部に支持されるようにしてもよいし、あるいは、サンプル支持部材に形成された凹部３００の底部３００ａに支持されるようにしてもよい。この際、サンプルが支持される位置に応じて、ゴニオメーターと回転軸とに寸法設定などの各種変更を行うようにするとよい。
【００９０】
さらに、大量のサンプル支持部材それぞれを識別するような構成をサンプル支持部材に備えるようにしてもよい。例えば、サンプル支持部材１０２の中央部１０の外周面１０ｃに、サンプル支持部材１０２を識別するためのバーコードを貼付してもよい。
【００９１】
（５）上記した実施の形態においては、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を、サンプル測定システム１００において実施した場合について説明したが、これに限られるものではないことは勿論であり、各種サンプルに対して、特に大量のサンプルのそれぞれに対して、光（Ｘ線）散乱回折装置や吸収蛍光スペクトル測定装置、あるいは、所定の加工を施す加工装置などにおいて本発明によるサンプルの支持機構を実施してもよく、これにより、サンプルの測定だけではなく、サンプルの加工なども高効率でしかも高精度に行うことができる。
【００９２】
（６）上記した実施の形態ならびに上記（１）乃至（５）に示す変形例は、適宜に組み合わせるようにしてもよい。
【００９３】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているので、膨大な数のサンプルを効率的に処理することができるという優れた効果を奏する。
【００９４】
また、本発明は、以上説明したように構成されているので、膨大な数のサンプルそれぞれを所定の測定装置によって測定する場合に、サンプルの測定を高精度に行うことができるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムを示す説明図である。
【図２】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムのサンプル支持部材を示す概略構成説明図である。
【図３】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムの測定システムを中心に示した概略構成説明図である。
【図４】（ａ）は、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムの測定システムのゴニオメーターの要部を示した概略構成一部断面図であり、（ｂ）は、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムの測定システムのサンプル交換装置とゴニオメーターとを示す概略構成説明図であり、（ｃ）は、本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムの測定システムのサンプル交換装置の要部を示した概略構成一部断面図であり、（ｄ）は、（ｃ）に示すサンプル交換装置の回転軸の要部を示した概略構成一部断面図である。
【図５】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムの測定システムの要部を示した概略構成説明図であり、（ａ）は、サンプル交換装置のアームがゴニオメーターと対向した状態を示す説明図であり、（ｂ）は、サンプル交換装置のアームがサンプル保存ラックと対向した状態を示す説明図である。
【図６】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の一例を用いたサンプル測定システムにおいてサンプル支持部材のゴニオメーターへの取り付けを中心に示した説明図であり、（ａ）は、回転軸に支持されているサンプル支持部材を示す説明図であり、（ｂ）は、ゴニオメーターに取り付けられるときのサンプル支持部材を示す説明図であり、（ｃ）は、ゴニオメーターに取り付けられたサンプル支持部材を示す説明図である。
【図７】本発明によるサンプルの支持機構の実施の形態の他の例を示した概略構成説明図である。
【符号の説明】
１０          中央部
１０ａ        面
１０ｂ        面
１２          左ネジ
１４          右ネジ
１６          平滑面部
１６ａ        先端
１８          平滑面部
１８ａ        先端
２０          支持部
２０ａ        支持柄
２０ｂ        支持ループ
２２          ステージ
２４          支柱
３０          アーム
３２          主軸
３２ａ        ガイド部
３４−１，３４−２    軸受
３６          回転軸
３６ａ        端部
３６ｂ        端部
３６ｃ        凹部
３６ｄ        底部
３６ｅ        開口部
３６ｆ        ネジ溝
３８          回転用モーター
４０−１，４０−２    コイルバネ
４２          軸
４４          ボールネジ
４６          モーター
１００          サンプル測定システム
１０２          サンプル支持部材
１０２ａ        サンプル固定部
１０２ｂ        取り付け部
１０４          サンプル固定システム
１０６          サンプル保存ラック
１０６ａ        外周面
１０６ｂ        開口部
１０８          測定システム
１１０          ベース部材
１１２          サンプル交換装置
１１４          ゴニオメーター
１１４ａ        基台部
１１４ｂ        取り付け部
１１４ｃ        端部
１１４ｄ        凹部
１１４ｅ        底部
１１４ｆ        開口部
１１４ｇ        ネジ溝
１１６          ＣＣＤ検出器
１１８          Ｘ線検出器
２００          サンプル
【図１】
0003640383.tif 000002
【図２】
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【図３】
0003640383.tif 000004
【図４】
0003640383.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
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