(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各グループ単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各グループのうち同一グループ内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はそのグループが異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【請求項２】
前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各治具のうち同一治具内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はその治具が異常であると判定することを特徴とする請求項１に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【請求項３】
電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各治具のうち同一治具内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はその治具が異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【請求項４】
前記検査手段によって電解コンデンサの不良が、前記各ポジションのうち同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、前記判定手段は、そのポジションが異常であると判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【請求項５】
電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって電解コンデンサの不良が、前記各ポジションのうち同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、前記判定手段は、そのポジションが異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【請求項６】
前記エージング手段を制御する制御手段を備え、
前記判定手段による判定結果に基づいて前記制御手段を制御するようにしたことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【請求項７】
前記制御手段は、異常を報知するための報知手段へ異常信号を出力可能となっていることを特徴とする請求項６に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記エージング手段の作動を停止するための停止信号を出力可能となっていることを特徴とする請求項６又は７に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【請求項９】
前記検査手段は、少なくとも前記エージング処理の施された電解コンデンサのリーク電流を検査するものであることを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電解コンデンサのエージング装置に関する技術分野に属するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、電解コンデンサの製造過程において、製造中に生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復するべく、エージング装置によって、エージング処理が施される。かかるエージング装置においては、多数の電解コンデンサを治具の所定ポジションに保持させた状態で、加熱炉内に入れて過熱するとともに、保持された電解コンデンサに所定の電圧を供給することが行われる。
【０００３】
このようなエージング装置の異常を検査するにあたって、従来ではエージング処理を停止し、エージング装置内から電解コンデンサを全て取り出すことが行われていた。すなわち、各治具に関し、電解コンデンサを保持するポジション１つ１つについて、所定の電圧が的確に供給される状態にあるか否かを作業者が検査するようになっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記技術では、多数のポジション１つ１つについて異常の有無を検査する必要があるため、非常に手間がかかっていた。また、エージング装置全体の作動を停止して検査する必要があるため、いつでも検査が実施可能という訳ではなく、異常が発生した時点で速やかに当該異常を検出することは、極めて困難であった。従って、異常が発生したとしても、その異常を検知するまでに非常に時間がかかったり、或いは異常のあるポジションに電解コンデンサが供給されて無駄に不良品を製造してしまうといった不具合の生じるおそれがあった。
【０００５】
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、異常検出のための作業性の低下を招くことなく、速やかに異常を検出することの可能なエージング装置を提供することを主たる目的の一つとしている。
【０００６】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記目的を達成し得る特徴的手段について以下に説明する。また、各手段につき、特徴的な作用及び効果を必要に応じて記載する。
【０００７】
手段１．電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段とを備えた電解コンデンサのエージング装置において、前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設けたことを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【０００８】
上記手段１によれば、エージング手段によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング手段の異常の有無が判定される。このように、エージング装置自身によって異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング手段を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング手段を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。
【０００９】
手段２．電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、前記エージング手段を制御する制御手段と、前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段とを備えた電解コンデンサのエージング装置において、前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、当該判定手段による判定結果に基づいて前記制御手段を制御するようにしたことを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【００１０】
上記手段２によれば、エージング手段によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング手段の異常の有無が判定される。このように、エージング装置自身によって異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング手段を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング手段を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。さらに、判定手段の判定結果に基づき、制御手段によってエージング手段が制御される。このため、比較的早期に対策を講じることができる。
【００１１】
手段３．前記制御手段は、異常を報知するための報知手段へ異常信号を出力可能となっていることを特徴とする手段２に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００１２】
上記手段３によれば、異常が検出されると、制御手段によって報知手段へ異常信号が出力される。すると、報知手段により作業者等へ報知される。これにより、確実に異常を検知し、より確実に早期に対策を講じることができる。
【００１３】
手段４．前記制御手段は、前記エージング手段の作動を停止するための停止信号を出力可能となっていることを特徴とする手段２又は３に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００１４】
上記手段４によれば、異常が検出されると、制御手段によってエージング手段の作動を停止するための停止信号が出力され、エージング手段が停止される。これにより、電解コンデンサが異常のあるエージング手段によりエージング処理され、無駄に不良品が製造されてしまうといった不具合が抑制される。
【００１５】
手段５．前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっていることを特徴とする手段１乃至４のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００１６】
上記手段５によれば、エージング手段には、複数の治具が備えられており、該治具には、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションが備えられている。また、判定手段には、管理部が備えられており、管理部によって各ポジション単位及び各治具単位で検査結果が管理される。管理されたデータに基づいて、判定手段では、エージング手段の少なくとも各ポジション単位及び各治具単位の異常が判定される。このように、異常の発生した範囲に応じて異常個所を特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。また、異常の発生原因の推測にも役立つ。さらに、部品交換等を必要最小限に抑えることが可能となる。
【００１７】
手段６．前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各グループ単位の異常を判定可能となっていることを特徴とする手段１乃至４のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００１８】
上記手段６によれば、エージング手段には、複数の治具が備えられており、該治具には、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションが備えられている。また、判定手段には、管理部が備えられており、管理部によって各ポジション単位、各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果が管理される。管理されたデータに基づいて、判定手段では、エージング手段の少なくとも各ポジション単位、各治具単位及び各グループ単位の異常が判定される。このように、異常の発生した範囲に応じて異常個所を特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。また、異常の判定単位がポジション、治具及びグループに分かれているため、異常の発生原因の推測にも一層役立つ。さらに、部品交換等を必要最小限に抑えることが可能となる。
【００１９】
手段７．前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各グループのうち同一グループ内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はそのグループが異常であると判定することを特徴とする手段６に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００２０】
上記手段７によれば、検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、同一グループ内において所定個数以上であるとき、判定手段によってそのグループが異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高いグループについて異常判定されることで、グループ単位での不良をより確実に判定することができる。
【００２１】
手段８．前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各治具のうち同一治具内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はその治具が異常であると判定することを特徴とする手段５乃至７のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００２２】
上記手段８によれば、検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、同一治具内において所定個数以上であるとき、判定手段によってその治具が異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高い治具について異常判定されることで、治具単位での不良をより確実に判定することができる。
【００２３】
手段９．前記検査手段によって電解コンデンサの不良が、前記各ポジションのうち同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、前記判定手段は、そのポジションが異常であると判定することを特徴とする手段５乃至８のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００２４】
上記手段９によれば、検査手段によって電解コンデンサの不良が、同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、判定手段によってそのポジションが異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高いポジションについて異常判定されることで、ポジション単位での不良をより確実に判定することができる。尚、「所定回数検出されたとき」に代えて、「連続して所定回数検出されたとき」としてもよい。
【００２５】
手段１０．前記検査手段は、少なくとも前記エージング処理の施された電解コンデンサのリーク電流を検査するものであることを特徴とする手段１乃至９のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００２６】
上記手段１０によれば、検査手段によって、少なくともエージング処理の施された電解コンデンサのリーク電流が検査される。リーク電流の検査において電解コンデンサが不良品である場合、エージング処理が不適切である可能性が高く、、エージング手段に異常があることに大いに関連する。従って、判定手段によって、リーク電流の検査結果が用いられることで、より確実かつ、比較的容易にエージング手段の異常を検出できる。
【００２７】
手段１１．複数の治具の複数ポジションに取り付けられる電解コンデンサをエージング処理するためのエージング装置の異常を検出するための異常検出装置であって、前記エージング装置にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と、前記検査手段の検査結果に基づき、少なくとも前記治具単位及び前記ポジション単位で異常の判定を行う判定手段とを備えたことを特徴とするエージング装置の異常検出装置。
【００２８】
上記手段１１によれば、エージング装置によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング装置の異常の有無が判定される。このように、異常検出装置によってエージング装置の異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング装置を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング装置を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。
【００２９】
手段１２．複数の治具の複数ポジションに取り付けられる電解コンデンサをエージング処理するためのエージング装置の異常を検出するための異常検出装置であって、前記エージング装置にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と、前記検査手段の検査結果に基づき、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理し、管理されるデータに基づいて前記エージング装置の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常の有無を判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき、少なくともエージング装置に備えられた異常を報知するための報知手段へ異常信号を出力することで、前記エージング装置を制御する制御手段とを備えたことを特徴とするエージング装置の異常検出装置。
【００３０】
上記手段１２によれば、エージング装置によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果は、判定手段によって、各ポジション単位及び各治具単位で管理され、管理されたデータに基づいて、エージング装置の治具単位及びポジション単位で異常の有無が判定される。このように、異常検出装置によってエージング装置の異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。また、異常の発生した範囲に応じて異常個所を治具単位、ポジション単位で特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。従って、検査効率の悪化を防止することができる。さらに、エージング装置を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング装置を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。加えて、判定手段の判定結果に基づき、制御手段によってエージング装置に備えられた報知手段へ異常信号が出力されることで、作業者等へ報知される。これにより、確実に異常を検知し、早期に対策を講じることができる。
【００３１】
手段１３．前記制御手段は、異常の検出された前記ポジション及び前記治具に電解コンデンサの供給を停止するための停止信号を出力可能となっていることを特徴とする手段５に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【００３２】
上記手段１３によれば、異常が検出されると、制御手段によって異常の検出された前記ポジション及び前記治具に電解コンデンサの供給を停止するための停止信号が出力される。すると、異常の検出された前記ポジション及び前記治具には電解コンデンサが供給されない。これにより、電解コンデンサが異常のある状態でエージング処理されて、無駄に不良品が製造されてしまうといった不具合が抑制される。
【００３３】
【発明の実施の形態】
以下に、一実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【００３４】
図１，２に示すように、本実施の形態におけるエージング装置１は、搬送手段２、図示しない供給取出手段、エージング手段３、管理ユニット４、検査手段５及び制御手段６（図８参照）を備えている。
【００３５】
エージング前の電解コンデンサ（コンデンサ素子）７（図４，７参照）は、搬送手段２によってエージング手段３の方へと搬送されるようになっている。搬送された電解コンデンサ７は、供給取出手段によってエージング手段３に供給され、それぞれ所定位置にセットされるようになっている。また、エージング手段３によって、電解コンデンサ７にエージング処理等が施されるようになっている。
【００３６】
ここで、エージング手段３の基本構成について説明する。図３に示すように、エージング手段３は、電解コンデンサ７を加熱するための加熱機構８と、電解コンデンサ７を保持するための治具９と、電解コンデンサ７を回転させつつ送るための送り機構１０とを備えている。
【００３７】
送り機構１０は、軸受１１を備えており、軸受１１には回転軸１２が回転可能に支持されている。該回転軸１２には、ホイール状の二対の（一対でもよい）回転体１３が所定間隔を隔てて取り付けられており、これら回転体１３は、図示しない駆動モータの回転に基づいてゆっくりと回転するようになっている。回転体１３の外周には、複数個（例えば６０〜１００個：本実施の形態では８０個）の長尺状の前記治具９が、所定間隔を隔てて取り付けられている。
【００３８】
また、治具９の移送経路の外周には、加熱機構８が設けられている。加熱機構８は、加熱炉１４を備えており、該加熱炉１４は、治具９の移送経路の外周を環状に囲み、かつ、外部から隔てられている。加熱炉１４は、軸受１１に取り付けられた略ホイール状のフレーム１５により回転軸１２と同心状に支えられている。また、加熱炉１４の円周方向の一端縁側には、図示しないヒータ及び送風機が設けられており、これにより、加熱炉１４内に熱風が送られ、電解コンデンサ７が加熱されるようになっている。
【００３９】
図４，５，６に示すように前記治具９は、電解コンデンサ７を取り付けるための基板１８（１８Ａ，１８Ｂ）と、取り付けられた電解コンデンサ７を挟持するための挟持手段１９とを有している。基板１８Ａ，１８Ｂは、一対の長板状をなし、その中央側端部同士が連結されている。また、基板１８は、絶縁板２０と電極板２１，２２とを備えている。一方の電極板２１は、絶縁板２０の一方の面に沿って延びるように設けられており、他方の電極板２２は、絶縁板２０の他方の面に複数設けられている。これら両電極板２１，２２には、フレーム１５側の電極端子から一方の基板１８Ａへと所定の電圧が供給されるようになっている。さらに、各基板１８Ａ，１８Ｂの連結部１８ａに設けられた端子を通じて他方の基板１８Ｂへと前記電圧が供給されるようになっている。
【００４０】
また、図７に示すように、基板１８を挟むようにして一対のレバー２３がピン２４を支点として回動自在に取り付けられている。レバー２３の先端部には、基板１８とほぼ平行に延びる一対のばねホルダ支え２５が取り付けられている。ばねホルダ支え２５の基板１８側の凹部内には、絶縁材製のばねホルダ２６が取り付けられている。該ばねホルダ２６の中央の凹部内には、導電材料よりなる板ばね２７が取り付けられている。かかる板ばね２７は、ばねホルダ支え２５の伸長方向に互いに接触しないように複数個配置されている。これらレバー２３、ばねホルダ支え２５、ばねホルダ２６、板ばね２７等により挟持手段１９が構成されている。
【００４１】
電解コンデンサ７（のリード部）は、１対の板ばね２７に１個挟持されるようになっており、本実施の形態では、１つの基板１８あたり４０個、すなわち、１つの治具９あたり８０個の電解コンデンサ７が保持されるようになっている。従って、エージング手段３内における全ての電解コンデンサ７のポジション数は６４００となり、「ポジションＮｏ．１〜６４００」まで存在することとなる。
【００４２】
ここで、治具９及び基板１８についても番号付けを行うこととする。治具９については、１つの治具９あたり８０個の電解コンデンサ７が取り付けられるようになっているので、１番目の治具９（「治具Ｎｏ．１」）については「ポジションＮｏ．１〜８０」が、２番目の治具９（「治具Ｎｏ．２」）については「ポジションＮｏ．８１〜１６０」が、３番目の治具９（「治具Ｎｏ．３」）については「ポジションＮｏ．１６１〜２４０」・・・がそれぞれ対応することとなる。従って、治具９に関しては、「治具Ｎｏ．１」〜「治具Ｎｏ．８０」まで存在することとなる。また、基板１８（１８Ａ、１８Ｂ）に関しては、１つの治具９あたり２つよりなるので、１番目の基板１８Ａ（「基板Ｎｏ．１」）については「ポジションＮｏ．１〜４０」が、２番目の基板１８Ｂ（「基板Ｎｏ．２」）については「ポジションＮｏ．４１〜８０」が、３番目の基板１８Ａ（「基板Ｎｏ．３」）については「ポジションＮｏ．８１〜１２０」・・・がそれぞれ対応することとなる。従って、基板１８に関しては、「基板Ｎｏ．１」〜「基板Ｎｏ．１６０」まで存在することとなる。さらに、エージング手段３には、「治具Ｎｏ．１」の治具９の位置を確認するための図示しないセンサが備えられている。
【００４３】
また、エージング処理された電解コンデンサ７は、供給取出手段によって、エージング手段３から取り出され、搬送手段２によって検査手段５の方へと搬送されるようになっている。そして、検査手段５では、ＬＣ（リーク電流）、Ｃ（容量）、Ｄ（損失分ｔａｎδ）、ＥＳＲ（直列等価抵抗）等の検査が実施され、良品と不良品とが選別される。これととともに、電解コンデンサ７の１つのポジションごとに測定結果読取信号及び検査結果信号が管理ユニット４に送られるようになっている。
【００４４】
図８に示すように管理ユニット４は、検査結果等を表示する表示手段３１と、検査結果に応じて治具９等の異常を判定する判定手段３２とを備えている。該判定手段３２は、検査結果を集計管理する管理部３３を備え、判定結果信号を制御手段６へと送るようになっている。尚、管理ユニット４には、さらに、電解コンデンサ７に関する初期データや判定条件等を入力するための入力設定手段３４等が設けられている。
【００４５】
次に、本実施の形態におけるエージング装置１の動作等について説明する。まず、搬送手段２によって搬送された電解コンデンサ７は、供給取出手段によって８０個単位で基板１８Ａ，１８Ｂに取り付けられ、挟持手段１９によって挟持される。次に、送り機構１０において、回転体１３は、所定方向にゆっくりと間欠回転される。すると、治具９が移送されつつ、電解コンデンサ７が加熱機構８によって加熱された状態で、かつ、電解コンデンサ７に対し電圧が供給されることで、エージング処理が施される。
【００４６】
そして、回転体１３が１周して治具９が所定位置に来ると、供給取出手段によって、エージング処理された電解コンデンサ７が取り出され、別の新たな電解コンデンサ７が取り付けられる。このとき、「治具Ｎｏ．１」の治具９が所定位置に到来した場合にのみ、前記センサによって「治具Ｎｏ．１」信号が管理ユニット４へと送られる。取り出された電解コンデンサ７は、搬送手段２によって検査手段５の方へと搬送される。
【００４７】
検査手段５においては、１回の検査につき、「ポジションＮｏ．１〜６４００」までの電解コンデンサ７が１度ずつ検査される。このとき、前記「治具Ｎｏ．１」信号に続いて管理ユニット４に到達する１つ目の測定結果読取信号が、「ポジションＮｏ．１」の信号であると認識される。さらに、「ポジションＮｏ．１」の信号に続いて、検査結果信号が管理ユニット４に到達させられる。すると、この検査結果信号は、「ポジションＮｏ．１」の信号であると認識される。尚、本実施の形態では、検査結果信号として、ＬＣ検査による検査結果による判定に基づき、そのポジションに電解コンデンサ７が存在した場合には、検査手段５から不良信号又は良品信号が出力される。但し、そのポジションに電解コンデンサ７が存在しない場合には、信号が出力されない。そして、順に２つ目、３つ目、・・・の測定結果読取信号はポジションＮｏ．２，３，・・・の信号であると認識され、それぞれ測定結果読取信号に続く検査結果信号もポジションＮｏ．２，３，・・・の信号であると認識される。
【００４８】
また、検査結果信号が出力されると、管理ユニット４では、表示手段３１によって検査結果等が表示される。また、判定手段３２では、管理部３３によって集計管理された検査結果に基づき、異常の有無が判定され、判定結果信号が制御手段６へと送られる。そして、制御手段６によって、判定結果に基づいてエージング手段３が制御される。
【００４９】
ここで、本実施の形態における判定手段３２による異常判定方法について説明する。異常判定は、検査結果信号を利用して行われる。異常内容として、ポジションごとに発生する板ばね２７等の挟持不良等に起因する異常や、基板１８ごとに発生する連結部１８ａに備えられた端子の接続不良等に起因する異常や、治具９ごとに発生するフレーム１５からの電圧供給がされないこと等に起因する異常がある。これらの異常の有無を判定するべく、管理ユニット４において、検査結果信号は、各ポジション別、各基板１８別、各治具９別に管理される。
【００５０】
あるポジションについて１つの不良信号が管理ユニット４に入力されると、そのポジション及びそのポジションが含まれる基板１８、治具９に関しそれぞれ１個の不良が検出されることになる。
【００５１】
本実施の形態では、１回の検査において、各基板１８ごとに、同一基板１８内の不良検出個数がカウントされる。そして、ある基板１８における不良検出個数が所定個数（Ｒ個）以上の場合には、判定手段３２によってその基板１８の異常として判定される。同様に、１回の検査において、各治具９ごとに、同一治具９内の不良検出個数がカウントされる。そして、ある治具９における不良検出個数が所定個数（Ｓ個）以上の場合には、その治具９の異常として判定される。また、エージング装置１が連続して稼動させられる場合には、同一ポジションにおける検査が繰り返し行われることになり、各ポジションごとに検査結果が蓄積される。あるポジションにおいて、不良検出が連続して複数回（例えば５回）カウントされたとき、判定手段３２によってそのポジションの異常として判定される。但し、そのポジションに電解コンデンサ７が存在しないときはカウントされず、次に電解コンデンサ７が存在するときに続けてカウントされる。尚、上記異常判別のための回数や個数は、入力設定手段３４によって、設定変更可能である。
【００５２】
上記のように判定した異常内容に応じて、制御手段６からそのポジション、基板１８又は治具９に電解コンデンサ７を取り入れないように信号が出力されることによって供給取出手段が制御されたりする。また、制御手段６から報知信号が出力されることで図示しない報知手段が作動させられ、作業者へ異常内容の報知が行われたりする。さらに、エージング手段３が停止されるよう、制御手段６からエージング手段３へと停止信号が出力されるようにしてもよい。
【００５３】
以上詳述したように、本実施の形態によれば、エージング装置１を稼動させた状態でそれ自身によって異常内容が検出させられるため、エージング手段３を停止し、人手によってポジション１つ１つを異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。その結果、検査に際しての作業性の低下を防止できる。
【００５４】
また、エージング装置１の稼動中において速やかに異常検出ができる。そのため、比較的早期に対策を講じることができる。しかも、異常のあるポジション、基板１８及び治具９には、電解コンデンサ７が供給されないので、無駄に不良品を製造してしまうといった不具合が抑制される。
【００５５】
尚、上記実施の形態の記載内容に限定されず、例えば次のように実施してもよい。
【００５６】
（ａ）上記実施の形態では、ＬＣ検査に基づいて検査結果信号が出力されるようになっているが、他の検査、例えば、Ｃ、Ｄ、ＥＳＲ等の検査に基づいて検査結果信号が出力されるようにしてもよい。
【００５７】
（ｂ）異常判別の手法としては、必ずしも上記実施の形態に限定されるものではなく、例えば、基板１８又は治具９内の全てのポジションについて連続Ｎ回の不良がカウントされた場合においてのみ、基板１８又は治具９に関しての異常と認識するようにしてもよい。
【００５８】
（ｃ）上記実施の形態ではポジション、基板１８、治具９のグループに分けて異常検出を行っているが、エージング手段３の構造に合わせて、検出するグループを変更してもよい。例えば、１枚の基板１８で治具９が構成されている場合には、ポジションと治具９とのグループに分けてもよい。
【００５９】
（ｄ）管理ユニット４や検査手段５をエージング装置１から独立させて設けてもよい。また、判定手段３２をエージング装置１から独立させて設け、異常検出装置としてもよい。
【００６０】
（ｅ）異常が検出された場合に、必ずしも上記実施の形態のような措置を全て講ずる必要はなく、例えば、作業者へ異常を報知するだけの構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施の形態におけるエージング装置を示す図であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図２】エージング装置を示す側面図である。
【図３】エージング手段の構成を示す断面図である。
【図４】エージング手段に位置する治具等を示す部分断面図である。
【図５】基板と治具との関係を示す図である。
【図６】電極板に関する電解コンデンサ及び板ばねの位置関係を示す図である。
【図７】治具の取付状態を示す側面図である。
【図８】管理ユニット等の電気的構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１…エージング装置、３…エージング手段、５…検査手段、６…制御手段、７…電解コンデンサ、９…治具、３２…判定手段、３３…管理部。
【図１】
0003712656.tif 000002
【図２】
0003712656.tif 000003
【図３】
0003712656.tif 000004
【図４】
0003712656.tif 000005
【図５】
0003712656.tif 000006
【図６】
0003712656.tif 000007
【図７】
0003712656.tif 000008
【図８】
0003712656.tif 000009