(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定箇所に配置される複数のセンサ用光ファイバと、いずれかのセンサ用光ファイバを選択的に切換える光ファイバ切換装置と、選択されたセンサ用光ファイバに光パルスを入射し、該センサ用光ファイバから戻ってくる少なくとも２波長の散乱光を検出する検出装置と、全センサ用光ファイバの一部を覆う均熱ケースと、該均熱ケース内に設けられ、該均熱ケース内の温度を測定する温度センサと、上記検出装置を制御すると共に、上記検出装置より得られた散乱光のデータ及び上記温度センサからの温度データより上記センサ用光ファイバの長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器とを備えたことを特徴とする光ファイバを用いた温度分布測定センサ。
【請求項２】
上記光ファイバ切換装置は、損失の波長特性が周囲温度等の環境変化により変化する光学機器である請求項１に記載の光ファイバを用いた温度分布測定センサ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバを用いた温度分布測定センサに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ファイバを用いた物理量測定センサとしては、一般に光ファイバに沿った温度分布を測定する温度分布測定センサが知られている。
【０００３】
図３は温度分布測定センサの従来例を示すブロック図である。
【０００４】
同図に示す温度分布測定センサは、主に被測定箇所に配置されるセンサ用光ファイバ１と、センサ用光ファイバ１に光パルスを入射し、センサ用光ファイバ１から戻ってくる少なくとも２波長の散乱光を検出する検出装置２と、検出装置２内に配置され、センサ用光ファイバ１の一部を覆う均熱ケース３と、均熱ケース３内に設けられセンサ用光ファイバ１の温度を測定する温度センサ４と、検出装置２を制御すると共に、検出装置２より得られた散乱光のデータ及び温度センサ４からの温度データよりセンサ用光ファイバ１の長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器５とで構成されたものである。
【０００５】
センサ用光ファイバ１の一端に、検出装置２の光源６で発生した光パルスを光カプラや光分波器等の光分岐・分波器７を介して入射させる。この光パルスがセンサ用光ファイバ１内を伝搬するに従い、センサ用光ファイバ１の各位置で発生する散乱光のうちセンサ用光ファイバ１の光入射端（一端）に戻ってくる後方散乱光を光分岐・分波器７により、測定すべき第一の波長の散乱光と第二の波長の散乱光とを分離して取出し、それぞれ光／電気変換器（以下「Ｏ／Ｅ」という。）８ａ、８ｂにより電気信号に変換し、一定の大きさの電気信号になるように増幅率が調節された増幅器９ａ、９ｂにより増幅し、増幅された信号を高速加算器１１で加算し、計算・制御器５で時間間隔ｔｓでサンプリングし、第一の波長の散乱光及び第二の波長の散乱光の時間関数ｇ1 （ｔ）、ｇ2 （ｔ）を計算する。なお、１２は同期信号を発生する同期回路である。
【０００６】
ここで、センサ用光ファイバ１内で発生する散乱光の光量は微弱であり、時間関数ｇ1 （ｔ）、ｇ2 （ｔ）のＳＮ比が悪いので、ＳＮ比を改善するために計算・制御器５で光パルスの入射からサンプリングまでの操作を多数回繰り返し、時間関数ｇ1 （ｔ）、ｇ2 （ｔ）の平均化処理を行ってＳＮ比を改善したＧ1 （ｔ）、Ｇ2 （ｔ）をそれぞれ得る。
【０００７】
ここで、センサ用光ファイバ１内での光速ｖが既知であれば、時間の関数として測定したＧ1 （ｔ）、Ｇ2 （ｔ）をサンプリング距離間隔ｘｓのサンプリング点毎に定義されるセンサ用光ファイバ１に沿った距離の関数Ｇ1 （ｘ）、Ｇ2   （ｘ）に置き換えることができる。このようにして得られた距離の関数Ｇ1 （ｘ）、Ｇ2 （ｘ）は、それぞれ第一の波長及び第二の波長の後方散乱光強度をセンサ用光ファイバ１の一端で測定したものであるため、ｘｍ地点における散乱光の発生確率Ｒ1 （ｘ）、Ｒ2 （ｘ）との間には数１式及び数２式で表される関係がある。
【０００８】
【数１】
0003690252.tif 000002
【０００９】
【数２】
0003690252.tif 000003
【００１０】
但し、Ｐ0 ：センサ用光ファイバの入射光強度
α0 ：入射光波長の光ファイバ伝送損失ｄＢ／ｍ
γ：後方散乱係数
α1 、α2 ：第一、第二の波長の光ファイバ伝送損失
Ｍ1 、Ｍ2 ：第一、第二の波長のＯ／Ｅの変換効率
従って、ｘｍ地点における第一、第二の波長の散乱光の発生確率は、それぞれ数３式及び数４式で表され、Ｋ1 、Ｋ2 が分れば測定値Ｇ1 （ｘ）、Ｇ2 （ｘ）を用いて求めることができる。
【００１１】
【数３】
0003690252.tif 000004
【００１２】
【数４】
0003690252.tif 000005
【００１３】
但し、Ｋ1 ＝Ｐ0 ×Ｍ1 ×１０-γ/10 
Ｋ2 ＝Ｐ0 ×Ｍ2 ×１０-γ/10 
一方、センサ用光ファイバ１内で発生する第一、第二の波長の散乱光の発生確率Ｒ1 、Ｒ2 と、温度Ｔとの間には数５式に表されるような関係があり、センサ用光ファイバ１の距離ｘでの温度Ｔ（ｘ）は、数６式を用いて求めることができる。
【００１４】
【数５】
Ｔ＝Ｑ（Ｒ1 ，Ｒ2 ）
【００１５】
【数６】
Ｔ（ｘ）＝Ｑ｛Ｒ1 （ｘ），Ｒ2 （ｘ）｝
このようにして、センサ用光ファイバ１の長手方向に沿った温度分布Ｔ（ｘ）を求めることができる。これらの関係を詳細に示すと、以下のようになる。すなわち、第一の波長の散乱光としてはラマン散乱光のストークス光を、第二の波長の散乱光としてはラマン散乱光のアンチストークス光を用いる。これらの散乱光の発生確率Ｒｓ、Ｒａｓと、センサ用光ファイバ１の温度Ｔとの間には数７式に示す関係がある。
【００１６】
【数７】
0003690252.tif 000006
【００１７】
従って、距離ｘにおける温度は数８式で表される。
【００１８】
但し、ｋ1 、ｋ2 は使用する光源６及びセンサ用光ファイバ１により決まる定数である。
【００１９】
【数８】
0003690252.tif 000007
【００２０】
定数Ｋは、センサ用光ファイバ１の特定点ｘｒの温度Ｔ（ｘｒ）が分かれば求めることができ、ストークス光及びアンチストークス光波長での光ファイバの伝送損失α1 、α2 は予め測定することができる。従って、ストークス光及びアンチストークス光の波長での後方散乱光強度分布Ｇ1 （ｘ）、Ｇ2 （ｘ）を測定することにより、センサ用光ファイバ１の長手方向に沿って温度分布を求めることができる。
【００２１】
また、数８式から分るように、センサ用光ファイバ１の伝送損失α1 、α2 がセンサ用光ファイバ１に対する外圧により生じたマイクロベンド損等によりΔαずつ変化してもこの変化分は相殺され、温度分布Ｔ（ｘ）はこの影響を受けずに求めることができる。
【００２２】
なお、後方散乱光は、非常に微弱な信号であるため、Ｏ／Ｅ８ａ、８ｂの変換効率Ｍ1 、Ｍ2 は周囲の温度変化により容易に変化してしまう。
【００２３】
そこで、増幅器９ａ、９ｂを計算・制御器５から外部制御してＯ／Ｅ８ａ、８ｂの変換効率Ｍ1 、Ｍ2 が常に一定になるように行っている。この場合、制御方法として計算・制御器５はｘ（ｒ）位置の後方散乱光の大きさが一定になるように増幅器９ａ、９ｂの増幅率を調整している。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、数８式は、伝送損失α1 、α2 の項を含んでおり、これらの値が予め測定された値と異なるときやこれらの伝送損失の変化Δαが波長によって異なるときは温度分布Ｔ（ｘ）の正確な測定ができない。
【００２５】
特にその影響が顕著に見られる例が１台の検出装置で複数の光ファイバの温度を測定するために図４に示す構成を用いた場合である。
【００２６】
図４は温度分布測定センサの他の従来例を示すブロック図である。図５は図４に示した装置の光ファイバ切換装置の概念図である。
【００２７】
図４に示す温度分布測定センサは、被測定箇所に配置される複数のセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎと、いずれかのセンサ用光ファイバ１３を選択的に切換える光ファイバ切換装置１４と、センサ用光ファイバ１３からの散乱光を検出する検出装置２と、検出装置２より得られた散乱光のデータ及び検出装置２内に配置された温度センサ（図３参照）４からの温度データよりセンサ用光ファイバ１の長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器５とで構成されたものである。
【００２８】
図５に示す光ファイバ切換装置は、センサ用光ファイバ１からの出射光をコリメートレンズ１５で平行光化し、対向する光ファイバ１３−１へは他のコリメートレンズ１６−１で集光して結合させる。本光ファイバ切換装置は、メカニカルに出射側光学系あるいは入射側光学系を選択されたセンサ用光ファイバごとに結合系を組む構成をとっている。すなわち、センサ用光ファイバ１とコリメートレンズ１５とを破線で示す位置にメカニカルに平行移動させて対向するコリメートレンズ１６−１、１６−２、…、１６−ｎ及びセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの対に平行光を照射するようになっている。
【００２９】
しかし、光ファイバ切換装置の周囲温度の変化等により、コリメートレンズ１５、１６−１、１６−２、…、１６−ｎとセンサ用光ファイバ１との間のアライメントが変化し、初期値からずれて光ファイバ切換装置の結合効率が変化してしまう。
【００３０】
しかも、このような空間伝搬の結合系では、波長依存をもった損失の変化を伴うため伝送損失の変化Δαが波長により異なり、光ファイバ切換装置より遠方の温度を正確に測定することができない。
【００３１】
ところで、光ファイバ切換装置の損失の長期的な変化については、定期的に損失値を見直すことで解決できる。しかし、損失値を見直すための手間がかかってしまう。また、光ファイバの切換装置の周囲温度の変化による損失の変化については、光ファイバ切換装置の周囲温度を一定に保持する機構を設けることで解決できる。
【００３２】
しかし、光ファイバ切換装置の周囲温度を一定に保持する機構が必要となり、コストがかかってしまうという問題があった。
【００３３】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、散乱光の波長による測定誤差を低減した低コストの光ファイバを用いた温度分布測定センサを提供することにある。
【００３４】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサは、被測定箇所に配置される複数のセンサ用光ファイバと、いずれかのセンサ用光ファイバを選択的に切換える光ファイバ切換装置と、選択されたセンサ用光ファイバに光パルスを入射し、センサ用光ファイバから戻ってくる少なくとも２波長の散乱光を検出する検出装置と、全センサ用光ファイバの一部を覆う均熱ケースと、均熱ケース内に設けられ、均熱ケース内の温度を測定する温度センサと、検出装置を制御すると共に、検出装置より得られた散乱光のデータ及び温度センサからの温度データよりセンサ用光ファイバの長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器とを備えたものである。
【００３５】
上記構成に加え本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサの光ファイバ切換装置は、損失の波長特性が周囲温度等の環境変化により変化する光学機器であるのが好ましい。
【００３７】
本光ファイバを用いた温度分布測定センサが作動すると、センサ用光ファイバで発生した後方散乱光の測定結果が検出装置内で高速加算器に取り込まれる際にＯ／Ｅの変換効率が常に一定になるように制御される。すなわち、光ファイバ切換装置から出射される後方散乱光の光強度が一定になるように増幅率が常に制御される。数８式の定数Ｋを計算するための光ファイバの特定点ｘｒとしては光ファイバ切換装置のセンサ用光ファイバ側の参照部を用い、この参照部の位置（ｘ＝ｘr2）での後方散乱光の光強度Ｇ１（ｘr2）、Ｇ２（ｘr2）と、温度センサで測定した温度データＴ（ｘr2）とを用いることで数８式の定数Ｋが計算でき、光ファイバに沿った温度を測定することができる。この場合、光ファイバ切換装置の挿入損失Δαが波長依存によって変化したとしても、計算した温度にはその影響がみられず、正確な温度分布測を行うことができる。
【００３８】
すなわち、本発明によれば、被測定箇所に配置された複数のセンサ用光ファイバのいずれかのセンサ用光ファイバを光ファイバ切換装置で選択的に切換えると共に、光ファイバ切換装置の近傍に配置され、全センサ用光ファイバの一部を覆う均熱ケース内の全センサ用光ファイバの温度を温度センサで測定し、検出装置でセンサ用光ファイバから戻ってくる散乱光を検出し、検出装置からの散乱光のデータ及び温度センサからの温度データを計算・制御器で計算することによりセンサ用光ファイバの長手方向に沿った温度分布が計算されるので、低コスト化でき、散乱光の波長による測定誤差を低減することができる。
【００３９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて詳述する。
【００４０】
図１は本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサの一実施の形態を示すブロック図である。なお、図３に示した従来例と同様の部材には共通の符号を用いた。
【００４１】
同図に示す光ファイバを用いた温度分布測定センサは、主に、被測定箇所に配置される複数のセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎと、いずれかのセンサ用光ファイバ１３を選択的に切換える光ファイバ切換装置１４と、選択されたセンサ用光ファイバ１３に光パルスを入射し、センサ用光ファイバ１３から戻ってくる少なくとも２波長の散乱光を検出する検出装置１７と、光ファイバ切換装置１４の近傍に配置され、全センサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの一部を覆う均熱ケース１８と、均熱ケース１８内に設けられ、全センサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの温度を測定し、計算・制御器５に温度データを送る温度センサ４と、検出装置１７を制御すると共に、検出装置１７より得られた散乱光のデータ及び温度センサ４からの温度データよりセンサ用光ファイバ１３の長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器５とで構成されている。
【００４２】
検出装置１７は、同期信号を発生する同期回路１２と、同期信号に応じてパルス光を発光する光源６と、光源６からのパルス光を光ファイバ切換装置に入射する前段（図では左側）の光ファイバ１ａと、光ファイバ１ａを覆う均熱ケース３と、センサ用光ファイバからの散乱光を分波する光分岐器・分波器７と、光分岐器・分波器７で分波された散乱光を電気信号に変換する複数（図では２台であるが限定されない。）のＯ／Ｅ８ａ、８ｂと、Ｏ／Ｅ８ａ、８ｂからの電気信号を増幅する増幅器９ａ、９ｂと、同期信号に同期して増幅器９ａ、９ｂからの出力信号を加算する高速加算器１１とで構成されている。
【００４３】
温度センサ４には白金抵抗体、熱電対、サーミスタ等が用いられる。温度センサ４からの均熱ケース１８内のセンサ用光ファイバ１３の温度データは、計算・制御器５に送られるようになっている。
【００４４】
計算・制御器５は、センサ用光ファイバ１３の温度データと選択した１本のセンサ用光ファイバ１３の後方散乱光データからセンサ用光ファイバ１３の各サンプリング区間毎の温度Ｔ（ｎ）を求めるものである。
【００４５】
光ファイバ切換装置１４は、例えばスターカプラと、スターカプラの分岐導波路に設けられた複数の光スイッチとを用いた光学機器が用いられる（図示せず。）。光スイッチは、各分岐導波路のコアを横断するように形成された溝と、溝内に充填された屈折率整合液と、溝の近傍に配置され、屈折率整合液を溝から蒸発させるヒータと、溝上に配置され蒸発した屈折率を収容するタンクとで構成された公知のスイッチである。
【００４６】
次に図１に示した温度分布測定センサの作用について説明する。
【００４７】
計算・制御器５は、光ファイバ切換装置１４を制御することにより、測定すべきセンサ用光ファイバ１３と、検出装置１７とを光学的に接続する。同期回路１２より一定の周期でトリガ信号を出力し、この信号を受けて、光源６からパルス光が発生される。パルス光は、光分岐・分波器７を通過した後、均熱ケース３及び光ファイバ切換装置１４を介して選択された１本のセンサ用光ファイバ１３内を伝搬する。
【００４８】
ここで、前段の光ファイバ１ａの位置をｘr1とし、センサ用光ファイバ１３の位置をｘr2とする。センサ用光ファイバ１３の各点で発生する散乱光のうち、後方散乱光成分は入射側に戻る。後方散乱光のうち、ストークス光成分及びアンチストークス光成分のみ、光分岐・分波器７を介してそれぞれＯ／Ｅ８ａ、８ｂで受光され電気信号に変換される。変換された電気信号は増幅器９ａ、９ｂで一定の増幅率で増幅された後、高速加算器１１で一定時間、間隔ｔｓでアナログ／デジタル変換され、時間関数ｇs （ｔ）、ｇas（ｔ）を測定する。但し、ｇs （ｔ）はパルス光発生後、ｔ時間後のストークス光の大きさを表し、ｇas（ｔ）はパルス光発生後、ｔ時間後のアンチストークス光の大きさを表す。
【００４９】
また、Ｓ／Ｎ比を改善するために、一定の回数繰り返し、平均化された値Ｇs （ｔ）、Ｇas（ｔ）をそれぞれ得る。なお、センサ用光ファイバ１３内の光の速度ｖが既知であるので、時間の関数からセンサ用光ファイバ１３の位置の関数に変換でき、それぞれＧs （ｘ）、Ｇas（ｘ）とする。
【００５０】
計算・制御器５では、後方散乱光データを高速加算器１１より受信するが、Ｇs （ｘr1）及びＧas（ｘr1）が常に一定の大きさになるように増幅器９ａ、９ｂの増幅率を調整する。得られた後方散乱光データからｘ＝ｘr2の点について注目すると、数８式より数９式が得られる。
【００５１】
【数９】
0003690252.tif 000008
【００５２】
なお、Ｔ（ｘr2）は温度センサ４で測定した既知値であり、Ｇas（ｔ）及びＧs （ｔ）も後方散乱光データから求まる。従って定数Ｋも既知値となる。
【００５３】
同様にしてｘ（ｘ＞ｘr2）の位置の温度は数１０式で表される。
【００５４】
【数１０】
0003690252.tif 000009
【００５５】
この数１０式の意味するところは、温度計算時に用いられる数１１式で表される損失データ
【００５６】
【数１１】
0003690252.tif 000010
【００５７】
が波長により損失変化の考えられる前半部Ａ（数１２式）
【００５８】
【数１２】
0003690252.tif 000011
【００５９】
と損失変化の無い後半部Ｂ（数１３式）
【００６０】
【数１３】
0003690252.tif 000012
【００６１】
に分割することができる。すなわち、数１１式の前半部Ａは測定ごとの後方散乱光データから求めることができ、数１１式の後半部Ｂは予め測定したデータを用いることで計算できる。
【００６２】
このように、波長依存を伴った損失変化の可能性がある光学部分（光ファイバ切換装置１４）があっても、その後段（図では右側）に全センサ用光ファイバ１３の一部を覆う均熱ケースを設け、その位置で温度センサ４で測定した温度データを利用することにより、正確な温度分布測定が可能となる。
【００６３】
（最適条件についての根拠）
図１に示した実施の形態では、光ファイバ切換装置１４の前段に増幅器９ａ、９ｂの増幅率を制御するための参照部としての均熱ケース３と、光ファイバ切換装置１４の後段に温度を計算するための参照部としての均熱ケース１８の二つの参照部を設けた（増幅器９ａ、９ｂの増幅率を制御するために用いる参照部を光ファイバ切換装置１４の後段に設けた参照部と同様に温度センサを設けた構成としてもよい。）。
【００６４】
すなわち、本実施の形態は、増幅率制御を参照部の信号を用いて行うことによりセンサ用光ファイバ１３の長手方向に沿った温度分布測定を正確に行うことができる。この場合、計算が簡単になり、光ファイバ切換装置１４での挿入損失が変化しても温度計算に誤差が発生しない。
【００６５】
ところで、万一、光ファイバ切換装置１４が故障し、例えばセンサ用光ファイバ１３の切換動作が全く行われない状況になると、光ファイバ切換装置１４から遠方の信号は略零に近い値になってしまう。計算・制御器５で光ファイバ切換装置１４の故障を検知できない場合、非常に大きい増幅率設定を増幅器９ａ、９ｂに行うため、増幅器９ａ、９ｂの故障の原因となる。
【００６６】
そこで、本発明者は増幅率設定用と温度計算用の参照部の位置を分けることにした。
【００６７】
図２は本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサの他の実施の形態を示すブロック図である。
【００６８】
図１に示した実施の形態との相違点は、直列接続された複数のセンサ用の光ファイバを所定の間隔で均熱ケースで覆い、各均熱ケースの温度を温度センサで測定し、温度センサで得られた温度データを利用するようにした点である。なお、図１に示した実施の形態と同様の要素には共通の符号を用いた。
【００６９】
すなわち、本光ファイバを用いた温度分布測定センサは、主に被測定箇所に配置され直列接続される複数のセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎと、センサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎに光パルスを入射し、センサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎから戻ってくる少なくとも２波長の散乱光を検出する検出装置１７と、センサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎを所定の間隔で覆う参照部としての均熱ケース２０−１、２０−２、…、２０−ｎと、各均熱ケース２０−１、２０−２、…、２０−ｎ内に設けられ各均熱ケース２０−１、２０−２、…、２０−ｎ内の温度を測定する温度センサ４−１、４−２、…、４−ｎと、検出装置１７を制御すると共に、検出装置１７より得られた散乱光のデータ及び各温度センサ４−１、４−２、…、４−ｎからの温度データよりセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの長手方向に沿った温度分布を計算する計算・制御器５とで構成されたものである。
【００７０】
なお、２１−１、２１−２、…、２１−ｎは波長依存を伴った測定変化を発生する光ファイバ回路の一部である。
【００７１】
波長依存性をもった損失変化がセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの長手方向に沿って複数箇所存在し、かつ、発生箇所の後段に参照部を設けることができ、かつ、参照部の温度を測定することができる場合、図１に示した実施の形態のセンサ用の光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎを直列に組んだ図２に示す構成を用いることによりセンサ用光ファイバ１３−１、１３−２、…、１３−ｎの全ての経路にわたって正確な温度分布測定を行うことができる。
【００７２】
（使用方法、応用システム等）
本発明は、センサ用光ファイバに沿って全長にわたって波長による損失変化を伴わない場合、かつ、波長変化を伴う損失変化が検出装置に近い場所だけに発生する温度計測システムに有効であり、特に、光ファイバ切換装置を用いてセンサ用の光ファイバにより複数の海底ケーブルの温度測定等の用途において有効である。
【００７３】
以上において、本発明によれば、
(1) 光ファイバ切換装置のような波長依存を伴った損失変化の状況下の光ファイバ回路でも正確な温度計測を行うことができる。
【００７４】
(2) 低コストで手間がかからず正確に温度分布を測定することができる。
【００７５】
【発明の効果】
以上要するに本発明によれば、次のような優れた効果を発揮する。
【００７６】
散乱光の波長による測定誤差を低減した低コストの光ファイバを用いた温度分布測定センサの提供を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサの一実施の形態を示すブロック図である。
【図２】本発明の光ファイバを用いた温度分布測定センサの他の実施の形態を示すブロック図である。
【図３】温度分布測定センサの従来例を示すブロック図である。
【図４】温度分布測定センサの他の従来例を示すブロック図である。
【図５】図４に示した装置の光ファイバ切換装置の概念図である。
【符号の説明】
４  温度センサ
５  計算・制御器
１３（１３−１、１３−２、…、１３−ｎ）  センサ用光ファイバ
１４  光ファイバ切換装置
１７  検出装置
１８  均熱ケース
【図１】
0003690252.tif 000013
【図２】
0003690252.tif 000014
【図３】
0003690252.tif 000015
【図４】
0003690252.tif 000016
【図５】
0003690252.tif 000017