(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パチンコ機の構成部材の駆動電力を供給するための電力供給源から前記構成部材に供給される電力の電圧および電流の少なくともいずれか一方を検出するための検出回路と、前記構成部材に電力を供給する状態と該電力の供給を停止させる状態とのいずれかをとる供給停止回路と、前記検出回路によって検出された検出値が予め定められた許容範囲から外れている場合に予め定められた時間の計測を開始し該時間の計測中に前記電力の供給を所定周期で断続させるための信号を前記供給停止回路に入力するチョッピングタイマ回路と、前記供給停止回路の温度が予め定められた許容範囲から上限を越えて過熱された場合、その過熱状態を検出し、過熱検出信号を前記供給停止回路に入力する過熱検出回路とを設け、前記供給停止回路は前記過熱検出信号の入力により前記構成部材への電力の供給を停止することを特徴とするパチンコ機の保護回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、パチンコ機に設けられたランプおよびソレノイドなどの構成部材だけでなく、これら構成部材を駆動する電気回路を保護するために使用するパチンコ機の保護回路の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
パチンコ機は多種多彩な構成部材からなり、近年いわゆる役物とよばれる入賞装置を設けた機種が主流を占める傾向にある。この役物は、所定条件が満足されたときに、通常遊技時とは異なる動作をすることでパチンコ球の流れ、延いてはパチンコ遊技全体に変化をもたらせるようにしている。
【０００３】
役物は、上記構成部材としてソレノイドを動力源に使用することが一般的で、ソレノイドにパルス信号を入力し、その入力タイミングによって適宜励磁・解磁を繰り返すことで役物の動作を制御する。
【０００４】
また役物の駆動時、その旨を表示するために効果音を発生させる機種があり、これと同時にパチンコ機の各所に上記構成部材としてランプなどからなる表示器を点灯または点滅することにより、効果音による聴覚への刺激だけではなく、表示器の光によって視覚に対しても刺激を付与している。
【０００５】
これによりパチンコ機の構成部材は聴覚および視覚を通して遊技変化を一層増大させるようにしている。
【０００６】
ところで上述した役物をはじめとするパチンコ機の構成部材は、微細な動作を各構成部材間で互いに複雑に絡み合わせることにより、遊技者の注意を引きつけ、遊技意欲を良好に保つようにしている。
【０００７】
つぎに従来のパチンコ機の構成部材を図４および図５に示すランプＬ１，Ｌ２の場合を例として以下に説明する。
【０００８】
図４にあっては抵抗Ｒ１が出力段のトランジスタTr１に並列接続され、この一端にランプＬ１が直列に接続されている。パチンコ機に使用されるランプにおいて消灯時におけるフィラメントは、抵抗値が点灯時の１０分の１程度まで低減する機種が主流を占めているので、消灯から点灯への移行時に瞬間的に過大な電流が流れないようにする必要がある。
【０００９】
そこで消灯時に抵抗Ｒ１の抵抗値に依存する僅かな電流を流し、フィラメントを弱く加熱しておくことにより、フィラメントの抵抗値低下を抑制し、点灯時の起動電流の過大な流れを抑止している。
【００１０】
また図５に示す従来例ではトランジスタTr２、抵抗Ｒ２、ランプＬ２を直列接続することにより、瞬間電流の流量を制限している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら図４の電気回路ではランプＬ１の点灯・消灯にかかわらず、常時電流をフィラメントに流すことになるので、ランプ寿命を短縮するだけでなく、ランプの数、パチンコ機の台数が多いときには電力消費量が莫大になるという経済的問題を招く。
【００１２】
また抵抗Ｒ１の抵抗値は比較的高いのものの選定を要し、その選定のためにも実験データを採らなければならないので、その労力および時間を費され、開発時間短縮化を困難にする。さらにランプＬ１が短絡した場合、電流は抵抗Ｒ１にほとんど流れないので、トランジスタTr１に過電流が流れ、トランジスタTr１の破壊を招く。
【００１３】
これに対して図５に示した電気回路は、ランプＬ２の明るさへの影響を抑制するため、抵抗Ｒ２の抵抗値を小さくすることが望ましいが、抵抗Ｒ２が回路の効率の良好化を妨げる。また抵抗Ｒ２の抵抗値を適値に定めるためには上記同様に実験データを要し、開発時間短縮化を困難にする。
【００１４】
またパチンコ機の構成部材は、遊技中に単調な動作で繰り返されるわけではなく、近年、微細に制御いいかえれば比較的短時間で集中的にＯＮ−ＯＦＦを繰り返し制御される傾向がある。このため構成部材は本体だけでなく、そのドライバ回路にも破壊を招き易い。
【００１５】
本発明は、上記のような実情に鑑みてなされたもので、パチンコ機の構成部材およびそのドライバ回路の過電流破壊を防止でき、また過電流に起因した熱破壊も防止できるパチンコ機の保護回路を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、パチンコ機の構成部材の駆動電力を供給するための電力供給源から前記構成部材に供給される電力の電圧および電流の少なくともいずれか一方を検出するための検出回路と、前記構成部材に電力を供給する状態と該電力の供給を停止させる状態とのいずれかをとる供給停止回路と、前記検出回路によって検出された検出値が予め定められた許容範囲から外れている場合に予め定められた時間の計測を開始し該時間の計測中に前記電力の供給を所定周期で断続させるための信号を前記供給停止回路に入力するチョッピングタイマ回路と、前記供給停止回路の温度が予め定められた許容範囲から上限を越えて過熱された場合、その過熱状態を検出し、過熱検出信号を前記供給停止回路に入力する過熱検出回路とを設け、前記供給停止回路は前記過熱信号の入力により前記構成部材への電力の供給を停止することを特徴とする。
【００１７】
上記の構成によれば、構成部材は供給停止回路によって電力供給源から供給される電力によって駆動される一方、その電力が適正な電圧または電流であるか否かが検出回路によって検出され、その検出値が適正であるときに構成部材の駆動が継続され、検出値が許容範囲から外れたとき、供給停止回路に所定の信号を入力することによって構成部材への電力の供給を所定周期で断続させる。また、供給停止回路の温度が許容範囲から上限を越えて過熱されたとき、過熱検出信号を前記供給停止回路に入力することによって構成部材への電力の供給を停止する。
【００１８】
【発明の実施の形態】
つぎに本発明に係るパチンコ機の保護回路の一実施形態を図１および図２に基いて以下に説明する。
図１は、図２に示すパチンコ機１に設けられた本発明のパチンコ機の保護回路（以下、保護回路と略記する。）であり、２で示す保護回路は図示を省略した電力供給源に接続されている。
【００１９】
保護回路２は仮想線で示す検出回路３、同じく仮想線で示す供給停止回路４およびチョッピングタイマ回路５を主構成とする集積回路によって形成されており、ゲート端子Ｇ、ドレイン端子Ｄおよびソース端子Ｓを有する３端子構造になっている。
【００２０】
このように集積回路で形成することによって、保護回路２の取り扱いを容易にするとともに保護回路２を個別部品で構成する場合と比較して、基板などへの実装面積を縮小する。
【００２１】
保護回路２は図２中、符号６，７で示す表示器、ここでは装飾用のランプ、および図示を省略したソレノイドなどからなるパチンコ機１の構成部材と、この構成部材の各ドライバ回路（図示省略）とをともに電気的に保護するためのものである。上記ソレノイドは図２中、符号８で示す大入賞口に設けられている。
【００２２】
これら構成部材は、通常遊技時においてゲート端子Ｇに図示を省略した制御回路からバイアス電流が流されており、上記ランプ６，７は消灯状態であり、また上記ソレノイドは解磁状態である。これにより大入賞口８は閉止状態になるため、パチンコ球は大入賞口８に入賞しない。
【００２３】
他方、遊技の進行に応じて所定条件が満足された場合、上記制御回路から、上記構成部材を駆動するための駆動信号が保護回路２のゲート端子Ｇに入力される。
【００２４】
この駆動信号がゲート端子Ｇに入力されると、入力保護回路13及び抵抗器Ｒを介して供給回路４の後述ＦＥＴ12のゲート端子ｇに上記駆動信号が流れ、同ＦＥＴ12のドレイン端子ｄおよびソース端子ｓ間が閉じる。
【００２５】
このため保護回路２のソース端子Ｓおよびドレイン端子Ｄ間はＯＮ状態となり、上記構成部材に電流が流れる。
【００２６】
そして上記ランプ６，７を点灯状態にせしめる一方、上記ソレノイドは励磁状態になる。これにより閉止状態にある大入賞口８は開放状態になってパチンコ球を入賞し易くするので、遊技者にとって有利な権利が発生する。
【００２７】
図１に戻り、保護回路２の検出回路３は過電流検出回路９と、過電圧検出回10とから構成されている。検出回路３は上記構成部材に供給される電力の電流値および電圧値を常時検出（あるいは計測）している。
【００２８】
過電圧検出回路10はサージ電圧などの過電圧を検出するためのものであり、過電圧を検出した場合に後述ＦＥＴ12のｇ端子およびソース端子ｓ間に電圧を印加して同ＦＥＴ12をＯＮ状態にせしめることにより、ドレイン端子ｄおよびソース端子ｓ間に印加される過電圧を低減させ、ＦＥＴ12を過電圧から保護している。
【００２９】
なお本実施例において検出回路３は電流および電圧の検出値の両方を検出している場合を説明するが、電流および電圧の検出値のいずれか一方のみ、たとえば電流値のみを検出回路３によって検出するように構成してもよい。
【００３０】
供給停止回路４は上記電力供給源から上記構成部材に電力を供給する状態と、この電力の供給を停止させる状態とのいずれか一方をとり、開閉回路11とパワーモスＦＥＴ（以下、ＦＥＴ）12とから構成されている。
【００３１】
開閉回路11はＦＥＴ12のゲート端子ｇとソース端子ｓとの間に接続され、ＦＥＴ12は開閉回路11からゲート端子ｇに入力される後述する駆動信号に応じてドレイン端子ｄおよびソース端子ｓ間を開閉する。
【００３２】
これにより供給停止回路４は上述した構成部材への電力供給状態と、この電力の供給を停止させる状態との二つの状態のいずれか一方の状態をとることができる。
【００３３】
またＦＥＴ12のドレイン端子ｄ、ゲート端子ｇおよびソース端子ｓの各間に上記過電流検出回路９が接続され、ＦＥＴ12のソース端子ｓおよびドレイン端子ｄ間に上記過電圧検出回路10が接続されている。
【００３４】
これによりＦＥＴ12はゲート端子Ｇから入力されたゲート端子ｇへの信号の入力有無に基いてドレイン端子ｄおよびソース端子ｓ間、延いてはドレイン端子Ｄおよびソース端子Ｓ間の電力の供給を所定周期で断続させる。
【００３５】
さらにＦＥＴ12のゲート端子ｇと保護回路２のゲート端子Ｇとは、抵抗器Ｒおよび入力保護回路13を介して接続されている。抵抗器Ｒおよび入力保護回路13は保護回路２をゲート端子Ｇへの入力から保護する（後述）。
【００３６】
過電流検出回路９は、その過電流検出回路９による電流検出値が予め定められた許容範囲から外れた場合、本実施例では許容範囲の上限を越えた電流を検出した場合に上記構成部材に異常が発生したとみなし、過電流検出信号をチョッピングタイマ回路５に入力する。
【００３７】
そしてチョッピングタイマ回路５は過電流検出信号の入力と同時に予め定められたチョッパ時間の計測を開始し、このチョッパ時間の計測と同時にチョッピングタイマ回路５はチョッパ信号Ｃを発生させ、チョッパ時間の計測中、チョッパ信号Ｃの発生を継続させる（後述〜図３参照）。
【００３８】
上述したチョッパ信号Ｃは電力の供給を所定周期 (たとえば数百μsec)で断続させるためのもので、チョッピングタイマ回路５は発生させたチョッパ信号Ｃを供給停止回路４の開閉回路11に入力する。
【００３９】
つづいて開閉回路11はチョッパ信号Ｃの周期に基いてＦＥＴ12のソース端子ｓおよびドレイン端子ｄ間をチョッパ信号Ｃと同周期で開閉するための開閉信号をゲート端子ｇに入力する。
【００４０】
これにより保護回路２のソース端子Ｓおよびドレイン端子Ｄ間がチョッパ信号Ｃと同周期で開閉されて、電力の供給はドレイン端子Ｄからソース端子Ｓを経て上記構成部材に所定周期で断続される。
【００４１】
また図１の点線に示すように設定部材14を設けてもよい。設定部材14はチョッピングタイマ回路５に設けられ、チョッピングタイマ回路５から延設された端子Ｔ１，Ｔ２と、抵抗器ｒとから構成されている。
【００４２】
抵抗器ｒはチョッパ時間を設定するためのものであり、チョッパ時間は抵抗器ｒの抵抗値に依存し、その抵抗値は上記構成部材の種別および仕様に対応して任意に設定されている。
【００４３】
この抵抗器ｒの仕様が決定されると、抵抗器ｒは両端子Ｔ１，Ｔ２間にハンダ付けで接続される。なお抵抗器ｒは端子Ｔ１，Ｔ２にハンダ付けで接続する代わりに着脱可能なソケットなどの手段を介して接続すれば、任意のチョッパ時間を容易に設定できる。
【００４４】
本実施例ではチョッパ時間が抵抗器ｒの抵抗値に依存して設定される構成を説明したが、これに限定されるものではなく、抵抗値の増減に依存させる代わりに図示を省略したコンデンサの容量増減に応じてチョッパ時間を設定するように構成してもよい。
【００４５】
また図１中15は過熱検出回路で、過熱検出回路15は保護回路２内の温度が上記構成部材への電力供給の異常に起因して、予め定められた許容範囲から外れたとき、ここでは上限を越えたとき、開閉回路11を用いてＦＥＴ12をＯＦＦ状態にせしめ、つづいて上記温度が許容範囲内まで下降した時点でゲート端子Ｇへの入力に応じてＯＮ状態に移行またはＯＦＦ状態を維持する。
【００４６】
過熱検出回路15には図示を省略した温度センサが内蔵されており、ソース端子Ｓおよび開閉回路11間に接続されている。過熱検出回路15はソース端子Ｓの周辺回路が上記温度センサに予め設定された許容温度範囲から外れて、いいかえれば上限を越えて過熱された場合、その過熱状態を検出して異常とみなし、過熱検出信号を開閉回路11に入力する。
【００４７】
このように構成された本発明の保護回路２を使用する場合、通常遊技時にあっては上記駆動信号が発生されておらず、保護回路２の供給停止回路４は非動作状態にあるため、パチンコ機１の上記構成部材には電力が供給されていない。
【００４８】
遊技の進行に応じて所定条件が満足されると、上述したように保護回路２のソース端子Ｓおよびドレイン端子Ｄ間がゲート端子Ｇへの上記駆動信号の入力に基いてＯＮ状態となり、上記構成部材に電流が流れる。
【００４９】
検出回路３は過電流検出回路９による電流の検出値が許容範囲内である場合、現遊技が維持される一方、過電流検出回路９による電流の検出値が許容範囲の上限を越えた場合、チョッピングタイマ回路５は上記チョッパ時間の計測を開始し、上記チョッパ時間の計測中、チョッパ信号Ｃを継続的に発生させる。
【００５０】
このように過電流検出回路９による電流の検出値が許容範囲いいかえれば許容範囲の上限を越えた場合、供給停止回路４にはチョッパ信号Ｃが入力されるので、開閉回路11は開閉信号をゲート端子ｇに入力する。
【００５１】
これにより供給停止回路４は上記構成部材への電力の供給をドレイン端子ｄからソース端子ｓ間の開閉により、チョッパ信号Ｃと同周期で断続させることができる。
【００５２】
このため上記構成部材に過電流が流れた場合であってもチョッパ信号Ｃに基く電力供給を所定周期で断続させられるため、上記構成部材およびそのドライバ回路への総電力供給量を減少させ、電力の過大供給に起因した上記構成部材およびその周辺回路の破壊を防止するほか、ＦＥＴ12自体の破壊をも防止できる。
【００５３】
なおランプ６，７にあっては、そのフィラメント（図示省略）における点灯時および消灯時の抵抗値の差が１０倍程度あることから、過電流になる傾向はきわめて大きい。
【００５４】
そこで過電流検出回路９による電流の検出値が許容範囲の上限を越えるまで電力の供給を継続させ、その上限を越えた時点で上記構成部材への電力の供給をチョッパ信号Ｃと同周期で断続させるようにすれば、上記ランプのフィラメントを余熱することになる。
【００５５】
そして上記余熱によって抵抗値を増大させることでランプ６，７への供給電力の電流値は漸次減少するため、その電流値が許容範囲まで低下したときにチョッパ信号Ｃの発生が停止され、ランプ６，７を破損させることなく通常状態の点灯に移行できる。
【００５６】
またソース端子Ｓの周辺回路が何らかの理由たとえば短絡に起因して過熱され、過熱検出回路15の上記温度センサに予め設定された温度を越えた場合、その過熱状態を検出して異常とみなし、過熱検出信号を開閉回路11に入力し、ＦＥＴ12をＯＦＦ状態にせしめることで上記構成部材への電力供給を停止する。
【００５７】
このため上記構成部材およびそのドライバ回路への総電力供給量を零にせしめるので、過熱検出回路15の上記温度センサによる検出温度も漸次低下する。そして上記温度センサに予め設定された温度範囲内まで低下したときに通常状態の電力供給に移行できる。
【００５８】
このため電力の過大供給に起因した上記構成部材、その周辺回路およびＦＥＴ12自体の破壊が防止される。
【００５９】
なおドレイン端子Ｄおよびソース端子Ｓ間に予め設定された許容値を越えた電圧が印加された場合、その旨は過電圧検出回路10によって検出される。そして過電圧検出回路10はＦＥＴ12をＯＮ状態にして上記構成部材、その周辺回路および保護回路２自体の破壊を防止する。
【００６０】
【発明の効果】
本発明は以上のように構成したので、電力供給源から構成部材に供給される電力が所定の許容範囲から外れたとき、チョッピングタイマ回路が供給停止回路に所定の信号を入力することによって電力の供給を所定周期で断続させる。
【００６１】
これにより構成部材への過大な電力供給を未然に防止できるので、構成部材だけでなく、その周辺回路の破壊をともに防止することによって構成部材およびその周辺回路、延いては製品の寿命を伸長させるという経済的効果を奏する。
【００６２】
また、供給停止回路の温度が許容範囲から上限を越えて過熱されたとき、過熱検出信号を前記供給停止回路に入力することによって構成部材への電力の供給を停止する。
【００６３】
これによれば、過電流に起因した構成部材やその周辺回路の熱破壊も未然に防止でき、経済的効果大である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるパチンコ機の保護回路の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１に示す回路が適用されたパチンコ機の正面図である。
【図３】図１に示す回路の動作タイミングを示す図である。
【図４】従来の例を示す過電流防止のための回路図である。
【図５】図４と異なる従来の例を示す回路図である。
【符号の説明】
２  保護回路
３  検出回路
４  供給停止回路
５  チョッピングタイマ回路
６，７  ランプ
12  ＦＥＴ
14  設定部材
15  過熱検出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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