(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、
撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、
前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力する第１のクリップ手段と、
前記高周波成分の前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以下の成分を除去して出力する第２のクリップ手段と、
前記第１のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第１の積算手段と、
前記第２のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第２の積算手段と、
前記第２の積算手段の積算値を参照して、前記第２の積算手段の積算値がゼロの場合は、前記第１の積算手段の積算結果の最大値を合焦位置とし、前記第２の積算手段の積算値がゼロ以外の場合は、前記第２の積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とする演算手段と、
を備えたことを特徴とする自動焦点検出装置。
【請求項２】
前記演算手段は、前記第２のクリップ手段の前記第２の閾値を変更可能であり、
前記第２の積算手段の積算値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うことを特徴とする請求項１に記載の自動焦点検出装置。
【請求項３】
複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、
撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、
前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力するクリップ手段と、
前記高周波成分が前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以上の場合に比較信号を出力する比較手段と、
前記クリップ手段の出力を積算して積算値を算出する積算手段と、
前記比較手段の出力をカウントして計数値を算出するカウント手段と、
前記カウント手段の計数値がゼロの場合は、前記積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とし、前記カウント手段の計数値がゼロ以外の場合には、前記カウント手段の計数値の最大値を合焦位置とする演算手段と、
を備えたことを特徴とする自動焦点検出装置。
【請求項４】
前記演算手段は、前記比較手段の前記第２の閾値を変更可能であり、
前記カウント手段の計数値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うことを特徴とする請求項３に記載の自動焦点検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、自動焦点検出装置に関し、詳細には、ビデオカメラ、デジタルカメラ等の撮像素子を用いた画像入力機器に適用される自動焦点検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、デジタルカメラ用の自動焦点検出回路としては、山登り方式（「山登りサーボ方式によるテレビカメラの自動焦点調整」：ＮＨＫ技術報告、昭和４０年、第１７巻、第１号、通巻８６号２１ページ）を使用したものが知られている。
【０００３】
かかる山登りサーボ方式は、撮像素子から画像信号を順次走査して読み出し、画像信号に含まれる高周波成分を抽出し積分する動作を撮像素子上のピント位置を変えて複数回行い、積分した出力が最大となるピント位置を合焦点とするものである。また、山登りサーボ方式は、撮像素子とその光学系で焦点検出を行うので他に焦点検出用の素子および光学系が不要となるという優れた方式で、現在でも画像信号に含まれる高域成分を抽出するフィルタやフィルタの出力を積分する積算器がデジタル化された回路で使用されている。
【０００４】
図１３は、山登り方式を採用した従来の自動焦点検出回路の一例を示すブロック図である。同図において、３０１は入力した画像データに含まれる高周波成分のみを通過させるＨＰＦ（ハイパスフィルタ）を示す。ここでＨＰＦ３０１の出力は、正負両方の極性となる。３０２はＨＰＦ３０１の出力の絶対値を算出するＡＢＳ回路（絶対値回路）を示す。３０３はＡＢＳ回路３０２の出力から所定レベル以下の出力を除去するベースクリップ回路を示す。３０４は画像毎にベースクリップ回路３０３の出力を積分する積算器を示す。３０５は積算器３０４の出力を一時記憶して複数の位置の積算器３０５の出力を比較して合焦位置を決定する演算回路を示す。
【０００５】
図１３の自動焦点検出回路の動作を説明する。まず、ＨＰＦ３０１は、レンズを移動した場合の各レンズ位置（ピント位置）毎に入力される画像データの高周波成分を抽出してＡＢＳ回路３０２に出力する。ＡＢＳ回路３０２は、入力されたＨＰＦ３０１の出力（正負両方の極性となる）の極性を統一してベースクリップ回路３０３に出力する。
【０００６】
ベースクリップ回路３０３は、入力されたＡＢＳ回路３０２の出力から一定レベル以下の成分、すなわちノイズの可能性が大きいものを除去して積算器３０４に出力する。積算器３０４は、ベースクリップ回路３０３の出力のうち画像データの中の予め設定した焦点検出範囲に含まれるものを積分して、画像毎に演算回路３０５に出力する。演算回路３０５は、各レンズ位置（ピント位置）での積算器３０４の出力を比較し、その中で最大の値となる位置を合焦位置として出力する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の自動合焦検出回路にあっては、光源のような高輝度被写体を含む画像では、積分した出力がピントが合っている位置ではなく、ピントが外れた位置で最大となるために誤動作を起こすという問題があった。これは、通常の画像では、ピントが外れて被写体がぼけて広がるとその部分の画像信号の出力の大きさが低くなるため、抽出される画素毎の高周波成分が小さくなって積分の出力がピントが合っている位置よりも低くなるのに対して、高輝度被写体を含む画像ではピントが外れても、高輝度被写体の画像信号が飽和しているか飽和に近い状態のために出力の大きさがピントが合っている位置よりも下がらない結果、抽出される画素毎の高周波成分が小さくならない。このため高輝度被写体がぼけて広がった分だけ積分の出力のピントが合っている位置よりも大きくなることが原因であった。
【０００８】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、高輝度の被写体を含む場合においても、高精度に合焦位置の検出が可能な自動焦点検出装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力する第１のクリップ手段と、前記高周波成分の前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以下の成分を除去して出力する第２のクリップ手段と、前記第１のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第１の積算手段と、前記第２のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第２の積算手段と、前記第２の積算手段の積算値を参照して、前記第２の積算手段の積算値がゼロの場合は、前記第１の積算手段の積算結果の最大値を合焦位置とし、前記第２の積算手段の積算値がゼロ以外の場合は、前記第２の積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とする演算手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の好ましい態様によれば、前記演算手段は、前記第２のクリップ手段の前記第２の閾値を変更可能であり、前記第２の積算手段の積算値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うことが望ましい。
【００１１】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力するクリップ手段と、  前記高周波成分が前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以上の場合に比較信号を出力する比較手段と、前記クリップ手段の出力を積算して積算値を算出する積算手段と、前記比較手段の出力をカウントして計数値を算出するカウント手段と、前記カウント手段の計数値がゼロの場合は、前記積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とし、前記カウント手段の計数値がゼロ以外の場合には、前記カウント手段の計数値の最大値を合焦位置とする演算手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の好ましい態様によれば、前記演算手段は、前記比較手段の前記第２の閾値を変更可能であり、前記カウント手段の計数値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うことが望ましい。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下に添付図面を参照して、この発明に係る自動焦点検出装置をデジタルスチルカメラに適用した好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１４】
図１は、本実施の形態に係るデジタルスチルカメラの構成を示すブロック図である。同図において、１０１は被写体を結像するレンズを示す。１０２はレンズ１０１を通過する光量を制限するための絞りを示す。１０３は被写体像を電気信号に変換して画像データとして出力するＣＣＤを示す。１０４はＣＣＤ１０３の出力信号に含まれるノイズ成分を除去して信号成分を増幅し、および整形・増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変換するＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換回路を示す。１０５は画素補間・色毎のゲイン補正・γ補正・アパーチャ補正等の画像処理を行う信号処理回路を示す。１０６は撮影時に撮影する画像データを表示すると共にメモリ１０８に保存された画像データを再生表示するＬＣＤモジュールを示す。
【００１５】
１０７は画像データを圧縮・伸張するＤＣＴ・コーダーを示す。１０８は画像データを保存するためのメモリを示す。１０９はＣＣＤ１０３およびＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換回路１０４の駆動パルスを発生するタイミングジェネレータを示す。１１０はモータ、ソレノイド等でレンズ１０１を動かして、ＣＣＤ１０３上に結像される画像のピント位置を変化させるレンズ駆動回路を示す。１１１はソレノイド等で絞り１０２の口径を変化させる絞り駆動回路を示す。１１２は自動露出（ＡＥ）制御するための自動露出制御回路を示す。１１３は撮像する画像の合焦位置を検出するための自動焦点（ＡＦ）検出回路を示す。１１４はオートホワイトバランス調整するための自動ホワイトバランス（ＡＷＢ）制御回路を示す。１１５はデジタルスチルカメラの各部の動作を制御するＣＰＵを示す。１１６はシャッタボタンや各種モードを設定するためのモードキー等を備えた操作部を示す。なお、シャッタボタンが半押しされると、画像のＬＣＤモジュール１０６への表示、および、ＡＥ・ＡＦ・ＡＷＢ等の撮影条件を決定するための処理が行われ、さらに、全押しされると画像のメモリ１０８への記録が行われる。
【００１６】
図１のデジタルスチルカメラの画像を記録する動作を説明する。まず、図示しない電源ボタンを投入して操作部１１６を操作して画像記録モードにした後に、操作部１１６のシャッタボタンを半押しされると、レンズ１０１を通り、絞り１０２で光量を調整され、ＣＣＤ１０３に被写体像が結像される。ＣＣＤ１０３では、被写体像が画素毎に光量に応じて電気信号に変換されて画像データとして一定時間毎にＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換回路１０４出力される。そして、ＣＤＳ・Ａ／Ｄ回路１０４では、画像データ（アナログ信号）のノイズ成分の除去と増幅が行われ、さらに、デジタルデータに変換される。ここでの画像データは、画素毎にＲ，Ｇ，Ｂ、またはＹｅ、Ｃｙ、Ｍｇ、Ｇ等のＣＣＤ１０３の受光素子上に形成されたカラーフィルターの色のデータを有している。
【００１７】
次に、信号処理回路１０５では、画像データは画素補間され（ＣＣＤ１０３のカラーフィルタがＲ，Ｇ，Ｂ以外の場合は、Ｒ，Ｇ，Ｂへの変換も行われる）画素毎にＲ，Ｇ，Ｂの各色成分に分離され、各色毎にゲイン補正・γ変換・アパーチャ補正等の画像処理が行われて、さらに、輝度信号（Ｙ）と色差信号（Ｕ，Ｖ）に変換されてＬＣＤモジュール１０６に出力される。ＬＣＤモジュール１０６では、デジタルスチルカメラが記録するモニタ画像が表示される。なお、モニタ画像は一定時間毎に更新される。
【００１８】
また、信号処理回路１０５の出力は、自動露出制御回路１１２、自動焦点検出回路１１３、および自動ホワイトバランス制御回路１１４にも入力される。これら自動露出制御回路１１２、自動焦点検出回路１１３、および自動ホワイトバランス制御回路１１４は、シャッタボタンが半押しから全押しされて、画像を記録するための撮影を行う際の撮影条件を決定するためのものである。
【００１９】
自動露出制御回路１１２には、信号処理回路１０５から画素毎のＲ，Ｇ，Ｂ各色の信号を輝度信号に変換した画像データが入力される。そして、自動露出制御回路１１３では、入力される画像データの中の予め設定した範囲について、ＣＣＤ１０３の露光量を計算して計算結果をＣＰＵ１１５に出力する。ＣＰＵ１１５は、この計算結果に基づいて、ＣＣＤ１０３の露光量が適正となるように、ＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換回路１０４中のアンプのゲインを変え、また、絞り駆動回路１１１を動作させ、さらに、タイミングジェネレータ１０９を介してＣＣＤ１０３の電子シャッタ速度を変える。これにより自動露出制御が行われる。
【００２０】
また、自動焦点検出回路１１３には、信号処理回路１０５から画素毎のＲ，Ｇ，Ｂ各色の信号を輝度信号に変換した画像データが入力される。そして、自動焦点検出回路１１３では、入力する画像データの中の予め設定した範囲について画像データに含まれる高周波成分の量を計算する。
【００２１】
この動作を、レンズ駆動回路１１０でレンズ１０１を動かしてＣＣＤ１０３上に結像される画像のピント位置を無限遠から至近距離に向かって（または至近距離から無限遠に向かって）変えながら複数のピント位置について行う。そして、自動焦点検出回路１１３は、計算結果が最大となるところにＣＣＤ１０３上に結像される画像のピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。ＣＰＵ１１５では、入力された合焦位置にレンズ駆動回路１１０を動作させてレンズ１０１を移動させる。
【００２２】
自動ホワイトバランス制御回路１１４には、信号処理回路１０５から画素毎のＲ，Ｇ，Ｂ各色の信号の画像データが入力される。そして、自動ホワイトバランス制御回路１１４では、入力する画像データの中の予め設定した範囲について入力の画像データのＲ，Ｇ，Ｂ各色の分布から入力画像の色の偏りを計算してその計算結果をＣＰＵ１１５に出力する。ＣＰＵ１１５は、色の偏りが無くなるように信号処理回路１０５の中で色毎のゲイン補正のゲインを変える。
【００２３】
自動露出制御回路１１２、自動焦点検出回路１１３、および自動ホワイトバランス制御回路１１４で撮像条件が決定された後（通常は図示されないＬＥＤの点灯等で撮影者に知らせる）、操作部１１６のシャッタボタンをさらに押すと画像の撮像が行われ、レンズ１０１、絞り１０２、ＣＣＤ１０３、ＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換器１０４、信号処理回路１０５を介した画像データは、ＤＣＴ／コーダー１０７により圧縮されてメモリ１０８に保存される。
【００２４】
次に、上記自動焦点検出回路１１３の構成例について、構成例１〜構成例８について図２〜図１１を参照して説明する。
【００２５】
本発明では、自動焦点検出回路のＨＰＦの出力の分布に着目した。図２はＨＰＦの出力分布の一例を示すもので、特に、高輝度被写体を含みピントが外れた位置で積分の出力が最大となる画像の焦点検出範囲について、ピントが合っている位置とピントが外れた位置で抽出した高周波成分の大きさの分布を示す。同図に示すように、ＨＰＦの出力は、ある値（同図ではｄ）以上で抽出された高周波成分の分布は、ピントが合っている位置の方がピントが外れた位置よりも大きくなることが分かる。
【００２６】
［構成例１］
図３は上記自動焦点検出回路１１３の構成例１を示すブロック図である。図４は、図３に示す自動検出回路１１３の積算器２０４ａ、２０４ｂの出力特性を示す図である。
【００２７】
図３において、２０１は入力画像に含まれる高周波成分のみを通過させるＨＰＦ（ハイパスフィルタ）を示す。２０２はＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の絶対値をとるＡＢＳ回路（絶対値回路）を示す。２０３ａ、２０３ｂはＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値以下の成分を除去するベースクリップ回路を示す。ベースクリック回路２０３ｂの閾値Ｔｂは、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔａに比して大きな値が設定されている（Ｔｂ＞Ｔａ）。
【００２８】
２０４ａ、２０４ｂは画像（各レンズ位置における画像）毎にベースクリップ回路２０３ａ，２０３ｂの出力をそれぞれ積算する積算器（積分器）を示す。２０５は積算器２０４ａ，２０４ｂの出力を一時記憶して、積算器２０４ａ，２０４ｂの出力が最大となるピント位置を求め、積算器２０４ａまたは２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する演算回路を示す。
【００２９】
次に、上記図３の自動焦点検出回路１１３の動作を説明する。まず、ＨＰＦ２０１では、入力される画像データから高周波成分を抽出してＡＢＳ回路２０２に出力する。ＡＢＳ回路２０２では入力されたＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の極性を統一しベースクリップ回路２０３ａ、２０３ｂに出力する。
【００３０】
ベースクリップ回路２０３ａでは、入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分（ノイズの可能性が大きい）を除去して積算器２０４ａに出力する。ベースクリップ回路２０３ｂでは入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔｂ（Ｔｂ＞Ｔａ）以下の成分を除去して積算器２０４ｂに出力する。
【００３１】
積算器２０４ａ，２０４ｂでは、ベースクリップ回路２０３ａ，２０３ｂのそれぞれの出力のうち画像データの中に予め設定した焦点検出範囲に含まれるものが積算されてその積算値が、画像毎に演算回路２０５に出力される。
【００３２】
ここで、通常の被写体を撮像した場合の積算器２０４ａ，２０４ｂのそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図４（ａ）に示すようになる。同図に示すように、通常の被写体の場合には、積算器２０４ａ、２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置は一致し、演算回路２０５は、この最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００３３】
また、高輝度被写体を含む画像を撮像した場合の積算器２０４ａ，２０４ｂのそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図４（ｂ）に示すようになる。同図に示すように、積算器２０４ａと積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置は一致しない。この場合の積算器２０４ａの最大値は焦点検出範囲内の光源がぼけて擬似的に大きくなったものであるので、演算回路２０５は、積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００３４】
また、低コントラストの画像を撮像した場合の積算器２０４ａ，２０４ｂのそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図４（ｃ）に示すようになる。同図に示すように、積算器２０４ｂの出力の最大値はゼロとなる。この場合は、演算回路２０５は、積算器２０４ａの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００３５】
以上説明したように、構成例１によれば、ベースクリップ回路２０３ａはＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａ以下の成分を除去して出力し、ベースクリップ回路２０３ｂはＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａに比して大なる第２の閾値Ｔｂ以下の成分を除去して出力し、そして、積算器２０４ａは、ベースクリップ回路２０３ａの出力を積算して積算値を算出し、積算器２０４ｂは、ベースクリップ回路２０３ｂの出力を積算して積算値を算出し、さらに、演算回路２０５は、積算器２０４ａおよび積算器２０４ｂの積算値に基づき合焦位置を検出することとしたので、簡単かつ小規模な回路構成で、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出することが可能となる。
【００３６】
［構成例２］
図５は上記自動焦点検出回路１１３の構成例２を示すブロック図である。同図において、図２と同等部分は同一符号を付してある。
【００３７】
図３において、２０１は入力画像に含まれる高周波成分のみを通過させるＨＰＦ（ハイパスフィルタ）を示す。２０２はＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の絶対値をとるＡＢＳ回路（絶対値回路）を示す。２０３ａ、２０３ｂはＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値以下の成分を除去するベースクリップ回路を示す。ベースクリック回路２０３ｂの閾値Ｔｂは、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔａに比して大きな値が設定されている（Ｔｂ＞Ｔａ）。
【００３８】
２０４ａ、２０４ｂは画像（各レンズ位置における画像）毎にベースクリップ回路２０３ａ，２０３ｂの出力をそれぞれ積算する積算器を示す。２０６は入力画像に含まれる高輝度成分を検出する高輝度被写体検出回路を示し、例えば、コンパレータで予め設定しておくレベル以上の信号が入力した場合に出力レベルを変え、焦点検出動作が終了するまでその状態を保持しておくものである。２０５は演算回路を示し、積算器２０４ａ，２０４ｂの出力を一時記憶して、積算器２０４ａ，２０４ｂの出力が最大となる位置を求め、高輝度被写体検出回路２０６の出力の状態に応じて積算器２０４ａまたは積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００３９】
次に、上記図３の自動焦点検出回路１１３の動作を説明する。まず、ＨＰＦ２０１では、入力される画像データから高周波成分を抽出してＡＢＳ回路２０２に出力する。ＡＢＳ回路２０２では入力されたＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の極性を統一しベースクリップ回路２０３ａ、２０３ｂに出力する。
【００４０】
ベースクリップ回路２０３ａでは、入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分（ノイズの可能性が大きい）を除去して積算器２０４ａに出力する。ベースクリップ回路２０３ｂでは入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔｂ（Ｔｂ＞Ｔａ）以下の成分を除去して積算器２０４ｂに出力する。
【００４１】
積算器２０４ａ，２０４ｂでは、ベースクリップ回路２０３ａ，２０３ｂのそれぞれの出力のうち画像データの中に予め設定した焦点検出範囲に含まれるものが積算されてその積算値が、画像毎に演算回路２０５に出力される。
【００４２】
演算回路２０５では、複数のピント位置の積算器２０４ａ、２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置を求め、高輝度被写体検出回路２０６の出力の状態に応じて、積算器２０４ａまたは積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。具体的には、演算回路２０５は以下のようにして合焦位置を決定する。
【００４３】
高輝度被写体検出回路２０６が入力画像から高輝度被写体を検出しない場合、すなわち、通常の被写体を撮像した場合の積算器２０４ａ，２０４ｂの出力の大きさのピント位置による変化は、図４（ａ）に示すようになる。同図に示すように、通常の被写体の場合には、積算器２０４ａ、２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置は一致し、演算回路２０５は、この最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００４４】
また、高輝度被写体検出回路２０６が入力画像から高輝度被写体を検出した場合の積算器２０４ａ，２０４ｂの出力の大きさのピント位置による変化は、図４（ｂ）に示すようになる。同図に示すように、高輝度被写体を含む場合には、積算器２０４ａと積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置は一致しない。この場合の積算器２０４ａの最大値は焦点検出範囲内の光源がぼけて擬似的に大きくなったものであるので、演算回路２０５は、積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００４５】
以上説明したように、構成例２によれば、ベースクリップ回路２０３ａはＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａ以下の成分を除去して出力し、ベースクリップ回路２０３ｂはＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａに比して大なる第２の閾値Ｔｂ以下の成分を除去して出力し、そして、積算器２０４ａは、ベースクリップ回路２０３ａの出力を積算して積算値を算出し、積算器２０４ｂは、ベースクリップ回路２０３ｂの出力を積算して積算値を算出し、さらに、演算回路２０５は、積算器２０４ａおよび積算器２０４ｂの積算値、並びに高輝度被写体検出回路２０６の検出結果に基づき合焦位置を検出することとしたので、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出することが可能となる。
【００４６】
［構成例３］
図６は上記自動焦点検出回路１１３の構成例３を示すブロック図である。同図において、図３と同等部分は同一符号を付してある。図６に示す構成例３は、図３の構成（構成例１）において、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを演算回路２０５で制御可能としたものである。
【００４７】
すなわち、構成例３は、高輝度被写体を含む画像を撮像するときに、積算器２０４ｂの最大値が設定した値よりも大きい場合に、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げることでベースクリップ回路２０３ａの計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、積算器２０４ｂの出力への高輝度被写体の影響をさらに少なくして焦点検出精度を上げるものである。
【００４８】
積算器２０４ａ、２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置が同じとなる通常の被写体の場合、また、積算器２０４ａ，２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置が一致しない高輝度被写体を含む画像で、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さい場合は、上記構成例１と同様な動作で合焦位置を決定する。
【００４９】
これに対して、演算回路２０５は、積算器２０４ａ、２０４ｂのそれぞれの出力が最大となるピント位置が一致しない高輝度被写体を含む画像の場合で、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合は、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げると共にＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。
【００５０】
ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなるまで同じ動作を繰り返す。
【００５１】
そして、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げて積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなった場合に、積算器２０３ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００５２】
なお、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げて積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さくなった場合には、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを下げる（この場合の下げ量は直前の閾値の上げ量よりも小さくする）と共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【００５３】
次に、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さい場合に、ベースクリップ回路２０３ａの閾値を下げることで積算器２０４ｂの計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、積算器２０４ｂの出力の最大値が小さい場合において焦点検出精度をより上げる方法を説明する。
【００５４】
積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きい場合は構成例１の自動焦点検出回路と同様な動作で合焦位置を決定する。
【００５５】
これに対して、演算回路２０５は、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さい場合は、演算回路２０５はベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを下げると共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。
【００５６】
ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うように間連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【００５７】
そして、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを下げて積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなったときに、積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００５８】
なお、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを下げて積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きくなったときには、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げる（この場合の上げ量は直前の閾値の下げ量よりも小さくする）と共にＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると。再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなるまで同じ動作を繰り返す。
【００５９】
また、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを積算器２０４ｂに対する設定値とは別のある値（閾値の下限値）まで下げても、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さいときは、積算器２０４ａの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００６０】
以上説明したように、構成例３によれば、構成例１において、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの第２の閾値Ｔｂを変更可能な構成とし、積算器２０４ｂの積算値の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）内に収まるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置の検出が可能となる。
【００６１】
［構成例４］
図７は上記自動焦点検出回路１１３の構成例４を示すブロック図である。同図において、図５と同等部分は同一符号を付してある。図７に示す構成例４は、図５の構成（構成例２）において、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを演算回路２０５で制御可能としたものである。
【００６２】
構成例４は、高輝度被写体を含む画像を撮像するときに、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合に、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げることで積算器２０４ｂの計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、積算器２０４ｂの出力への高輝度被写体の影響をさらに少なくして焦点検出精度を上げるものである。
【００６３】
高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されない場合、また、高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されても、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さい場合は、構成例２と同じ動作により合焦位置を決定する。
【００６４】
これに対して、演算回路２０５は、高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されて、さらに、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げると共にＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。
【００６５】
ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなるまでこの動作を繰り返す。
【００６６】
そして、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げて積算器２０４ｂの出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００６７】
なお、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値Ｔｂを上げて積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さくなったときには、ベースクリップ回路２０３ｂの閾値を下げる（この場合の下げ量は直前の閾値の上げ量よりも小さくする）と共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、積算器２０４ｂの出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【００６８】
以上説明したように、構成例４によれば、構成例２において、演算回路２０５は、ベースクリップ回路２０３ｂの第２の閾値Ｔｂを変更可能な構成とし、積算器２０４ｂの積算値の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）内に収まるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置の検出が可能となる。
【００６９】
［構成例５］
図８は上記自動焦点検出回路１１３の構成例５を示すブロック図である。図９は、図８に示す自動検出回路１１３の積算器２０４、カウンタ２０８の出力特性を示す図である。
【００７０】
図８において、２０１は入力画像に含まれる高周波成分のみを通過させるＨＰＦ（ハイパスフィルタ）を示す。２０２はＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の絶対値をとるＡＢＳ回路（絶対値回路）を示す。２０３はＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分を除去するベースクリップ回路を示す。２０７はコンパレータを示し、ＡＢＳ回路２０２の出力を閾値Ｔｂと比較して、閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号として出力する。このコンパレータ２０７の閾値Ｔｂはベースクリップ回路２０３の閾値Ｔａより大きな値が設定されている。
【００７１】
２０４は画像（各レンズ位置における画像）毎にベースクリップ回路２０３の出力を積分する積算器を示す。２０８はコンパレータ２０７の出力をカウントするカウンタを示す。２０５は演算回路を示し、積算器２０４，カウンタ２０８の出力を一時記憶して、積算器２０４，カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を求め、積算器２０４またはカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００７２】
次に、上記図８の自動焦点検出回路１１３の動作を説明する。まず、ＨＰＦ２０１では、入力される画像データから高周波成分を抽出してＡＢＳ回路２０２に出力する。ＡＢＳ回路２０２では入力されたＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の極性を統一しベースクリップ回路２０３およびコンパレータ２０７に出力する。
【００７３】
ベースクリップ回路２０３では、入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分（ノイズの可能性が大きい）を除去して積算器２０４に出力する。積算器２０４では、ベースクリップ回路２０３の出力のうち画像データの中の予め設定した焦点検出範囲に含まれるものが積算されてその積算値が、画像毎に演算回路２０５に出力される。
【００７４】
コンパレータ２０７では、ＡＢＳ回路２０２の出力を閾値Ｔｂ（Ｔｂ＞Ｔａ）と比較して、閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号として出力する。コンパレータ２０７から出力される比較信号は、閾値Ｔｂ以上の画素が論理値「１」となる。カウンタ２０８では、コンパレータ２０７から出力される比較信号のうち画像データの中の予め設定した焦点検出範囲に含まれるものをカウントしてカウント値を演算回路２０５に出力する。このカウント値は閾値Ｔｂ以上の画素数となる。すなわち、コンパレータ２０７は、入力される画像毎に閾値Ｔｂ以上となる画素の画素数をカウント値として演算回路２０５に出力する。
【００７５】
演算回路２０５では、複数のピント位置における積算器２０４、カウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置を求め、積算器２０４またはカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。具体的には、以下のようにして合焦位置を判定する。
【００７６】
例えば、通常の被写体を撮像した場合の積算器２０４，カウンタ２０８のそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図９（ａ）に示すようになる。同図に示すように、通常の被写体の場合には、積算器２０４、カウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置は一致し、演算回路２０５は、この最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００７７】
また、高輝度被写体を含む画像を撮像した場合の積算器２０４、カウンタ２０８のそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図９（ｂ）に示すようになる。同図に示すように、積算器２０４とカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置は一致しない。この場合の積算器２０４の最大値は焦点検出範囲内の光源がぼけて擬似的に大きくなったものであるので、演算回路２０５は、カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００７８】
また、低コントラストの被写体を撮像した場合の積算器２０４，カウンタ２０８のそれぞれの出力の大きさのピント位置による変化は、図９（ｃ）に示すようになる。同図に示すように、カウンタ２０８の出力の最大値はゼロとなる。この場合は、演算回路２０５は、積算器２０４の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００７９】
以上説明したように、構成例５によれば、ベースクリップ回路２０３はＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａ以下の成分を除去して出力し、コンパレータ２０７は、ＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａに比して大なる第２の閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号を出力し、そして、積算器２０４は、ベースクリップ回路２０３の出力を積算して積算値を算出し、カウンタ２０８はコンパレータ２０７の出力をカウントしてカウント値（計数値）を算出し、さらに、演算回路２０５は、積算器２０４の積算値およびカウンタ２０８のカウント値にに基づき合焦位置を検出することとしたので、簡単かつ小規模な回路構成で、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出することが可能となる。
【００８０】
［構成例６］
図１０は上記自動焦点検出回路１１３の構成例６を示すブロック図である。同図において、図８と同等部分は同一符号を付してある。
【００８１】
図１０において、２０１は入力画像に含まれる高周波成分のみを通過させるＨＰＦ（ハイパスフィルタ）を示す。２０２はＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の絶対値をとるＡＢＳ回路（絶対値回路）を示す。２０３はＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分を除去するベースクリップ回路を示す。２０７はコンパレータを示し、ＡＢＳ回路２０２の出力を閾値Ｔｂと比較して、閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号として出力する。このコンパレータ２０７の閾値Ｔｂはベースクリップ回路２０３の閾値Ｔａより大きな値が設定されている。
【００８２】
２０４は画像（各レンズ位置における画像）毎にベースクリップ回路２０３の出力を積算する積算器を示す。２０８はコンパレータ２０７の出力をカウントするカウンタを示す。２０６は入力画像に含まれる高輝度成分を検出する高輝度被写体検出回路を示し、例えば、コンパレータで予め設定しておくレベル以上の信号が入力した場合に出力レベルを変え、焦点検出動作が終了するまでその状態を保持しておくものである。２０５は演算回路を示し、積算器２０４，カウンタ２０８の出力を一時記憶して、積算器２０４，カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を求め、高輝度被写体検出回路２０６の出力の状態に応じて積算器２０４またはカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００８３】
次に、上記図１０の自動焦点検出回路１１３の動作を説明する。まず、ＨＰＦ２０１では、入力される画像データから高周波成分を抽出してＡＢＳ回路２０２に出力する。ＡＢＳ回路２０２では入力されたＨＰＦ２０１の出力（正負両方の極性となる）の極性を統一しベースクリップ回路２０３およびコンパレータ２０７に出力する。
【００８４】
ベースクリップ回路２０３では、入力されたＡＢＳ回路２０２の出力のうち閾値Ｔａ以下の成分（ノイズの可能性が大きい）を除去して積算器２０４に出力する。積算器２０４では、ベースクリップ回路２０３の出力のうち画像データの中の予め設定した焦点検出範囲に含まれるものが積算されてその積算値が、画像毎に演算回路２０５に出力される。
【００８５】
コンパレータ２０７では、ＡＢＳ回路２０２の出力を閾値Ｔｂ（Ｔｂ＞Ｔａ）と比較して、閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号として出力される。コンパレータ２０７から出力される比較信号は、閾値Ｔｂ以上の画素が論理値「１」となる。カウンタ２０８では、コンパレータ２０７から出力される比較信号のうち画像データの中の予め設定した焦点検出範囲に含まれるものをカウントしてカウント値を演算回路２０５に出力する。このカウント値は閾値Ｔｂ以上の画素数となる。すなわち、コンパレータ２０７は、入力される画像毎に閾値Ｔｂ以上となる画素の画素数をカウント値として演算回路２０５に出力する。
【００８６】
演算回路２０５では、複数のピント位置の積算器２０４、カウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置を求め、高輝度被写体検出回路２０６の出力の状態に応じて、積算器２０４またはカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。具体的には、演算回路２０５は以下のようにして合焦位置を決定する。
【００８７】
例えば、高輝度被写体検出回路２０６が入力画像から高輝度被写体を検出しない場合、すなわち、通常の被写体を撮像した場合の積算器２０４，カウンタ２０８の出力の大きさのピント位置による変化は、図９（ａ）に示すようになる。同図に示すように、通常の被写体の場合には、積算器２０４、カウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置は一致し、演算回路２０５は、この最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００８８】
また、高輝度被写体検出回路２０６が入力画像から高輝度被写体を検出した場合の積算器２０４，カウンタ２０８の出力の大きさのピント位置による変化は、図９（ｂ）に示すようになる。同図に示すように、高輝度被写体を含む場合には、積算器２０４とカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置は一致しない。この場合の積算器２０４の最大値は焦点検出範囲内の光源がぼけて擬似的に大きくなったものであるので、演算回路２０５は、カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００８９】
以上説明したように、構成例６によれば、ベースクリップ回路２０３はＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａ以下の成分を除去して出力し、コンパレータ２０７は、ＡＢＳ回路２０２の出力のうち第１の閾値Ｔａに比して大なる第２の閾値Ｔｂ以上の場合に比較信号を出力し、そして、積算器２０４は、ベースクリップ回路２０３の出力を積算して積算値を算出し、カウンタ２０８はコンパレータ２０７の出力をカウントしてカウント値（計数値）を算出し、さらに、演算回路２０５は、積算器２０４の積算値、カウンタ２０８のカウント値、およぼ高輝度被写体検出回路２０６の検出結果に基づき合焦位置を検出することとしたので、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出することが可能となる。
【００９０】
［構成例７］
図１１は上記自動焦点検出回路１１３の構成例７を示すブロック図である。同図において、図８と同等部分は同一符号を付してある。図１１に示す構成例７は、図８の構成（構成例５）において、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを演算回路２０５で制御可能としたものである。
【００９１】
すなわち、構成例７は、高輝度被写体を含む画像を撮像するときに、カウンタ２０８の出力の最大値が設定した値よりも大きい場合に、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げることでカウンタ２０８の計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、カウンタ２０８の出力に対して、高輝度被写体の影響を少なくして焦点検出精度を上げるものである。
【００９２】
演算回路２０５において、上述したように、積算器２０４とカウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置が同じとなる通常の被写体の場合、また、積算器２０４とカウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置が一致しない高輝度被写体を含む画像で、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さい場合は、上記構成例５と同様な動作で合焦位置を検出する。
【００９３】
これに対して、積算器２０４とカウンタ２０８のそれぞれの出力が最大となるピント位置が一致しない高輝度被写体を含む画像の場合で、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合は、演算回路２０５は、コンパレータ１０７の閾値Ｔｂを上げると共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。すなわち、コンパレータ１０７の閾値Ｔｂを上げてカウンタ２０８の出力の最大値が、設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH より小さくすることにより焦点検出精度を向上させるものである。
【００９４】
具体的動作を説明すると、まず、ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が、設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくするなるまで同じ動作を繰り返す。
【００９５】
そして、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げてカウンタ２０８の出力の最大値が、設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなった場合に、カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【００９６】
なお、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げてカウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さくなったときは、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げる（この場合の下げ量は直前の閾値の上げ量よりも小さくする）と共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【００９７】
次に、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さい場合に、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げることによりカウンタ２０８の計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、カウンタ２０８の出力の最大値が小さいときに焦点検出精度をより上げる方法を説明する。
【００９８】
カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きい場合は、構成例５の自動焦点検出回路と同じ動作で合焦位置を検出する。
【００９９】
これに対して、演算回路２０５は、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さい場合には、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げると共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。
【０１００】
ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく間連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が、設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【０１０１】
そして、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げてカウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなった場合に、カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【０１０２】
なお、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げてカウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きくなった場合には、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げる（この場合の上げ量は直前の閾値の下げ量よりも小さくする）と共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなるまで同じ動作を繰り返す。
【０１０３】
また、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂをカウンタ２０８に対する設定値とは別のある値（閾値の下限値）まで下げても、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さくなる場合には、カウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【０１０４】
以上説明したように、構成例７によれば、構成例５において、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の第２の閾値Ｔｂを変更可能な構成とし、カウンタ２０８のカウント値の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）内に収まるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置の検出が可能となる。
【０１０５】
［構成例８］
図１２は上記自動焦点検出回路１１３の構成例８を示すブロック図である。同図において、図１０と同等部分は同一符号を付してある。図１２に示す構成例８は、図１０の構成（構成例６）において、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを演算回路２０５で制御可能としたものである。
【０１０６】
すなわち、構成例８は、高輝度被写体を含む画像を撮像するときに、積算器２０４の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合に、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げることによりカウンタ２０８の計算対象の下限を上げて再度焦点検出動作を行い、カウンタ２０８の出力に対する高輝度被写体の影響をさらに少なくして焦点検出精度を上げるものである。
【０１０７】
なお、高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されない場合、また、高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されても、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さい場合は、構成例６と同じ動作を行って合焦位置を検出する。
【０１０８】
これに対して、演算回路２０５は、高輝度被写体検出回路２０６で高輝度被写体が検出されて、さらに、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも大きい場合には、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げると共にＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。
【０１０９】
ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の上限ＲH よりも小さくなるまでこの動作を繰り返す。
【０１１０】
そして、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げてカウンタ２０８の出力が最大となるピント位置を合焦位置としてＣＰＵ１１５に出力する。
【０１１１】
なお、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを上げてカウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも小さくなったときには、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の閾値Ｔｂを下げる（この場合の下げ量は直前の閾値の上げ量よりも小さくする）と共に、ＣＰＵ１１５に焦点検出動作のリトライを要求するリトライ信号を出力する。ＣＰＵ１１５では、リトライ信号が入力されると、再度焦点検出動作を行うべく関連ブロックを動作させ、カウンタ２０８の出力の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）の下限ＲL よりも大きくなるまでこの動作を繰り返す。
【０１１２】
以上説明したように、構成例８によれば、構成例６において、演算回路２０５は、コンパレータ２０７の第２の閾値Ｔｂを変更可能な構成とし、カウンタ２０８のカウント値の最大値が設定範囲（ＲL 〜ＲH ）内に収まるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置の検出が可能となる。
【０１１３】
なお、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で適宜変更可能である。
【０１１４】
また、本発明の自動焦点検出装置は、ビデオカメラ、デジタルカメラ等の撮像素子を用いた画像入力機器に広く適用可能である。
【０１１５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力する第１のクリップ手段と、前記高周波成分の前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以下の成分を除去して出力する第２のクリップ手段と、前記第１のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第１の積算手段と、前記第２のクリップ手段の出力を積算して積算値を算出する第２の積算手段と、前記第２の積算手段の積算値を参照して、前記第２の積算手段の積算値がゼロの場合は、前記第１の積算手段の積算結果の最大値を合焦位置とし、前記第２の積算手段の積算値がゼロ以外の場合は、前記第２の積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とする演算手段と、を備えたこととしたので、簡単かつ小規模な回路構成で、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出可能な自動焦点検出回路を提供することが可能となる。
【０１１６】
また、本発明によれば、前記演算手段は、前記第２のクリップ手段の前記第２の閾値を変更可能であり、前記第２の積算手段の積算値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置の検出が可能となる。
【０１１７】
また、本発明によれば、複数のピント位置における各画像の高周波成分に基づき合焦位置を検出する自動焦点検出装置において、撮像した画像に含まれる高周波成分を抽出する高周波成分抽出手段と、前記高周波成分の第１の閾値以下の成分を除去して出力するクリップ手段と、前記高周波成分が前記第１の閾値に比して大なる第２の閾値以上の場合に比較信号を出力する比較手段と、前記クリップ手段の出力を積算して積算値を算出する積算手段と、前記比較手段の出力をカウントして計数値を算出するカウント手段と、前記カウント手段の計数値がゼロの場合は、前記積算手段の積算結果の最大位置を合焦位置とし、前記カウント手段の計数値がゼロ以外の場合には、前記カウント手段の計数値の最大値を合焦位置とする演算手段と、を備えたこととしたので、簡単かつ小規模な回路構成で、高輝度被写体を含む被写体に対しても高精度に合焦位置を検出可能な自動焦点検出回路を提供することが可能となる。
【０１１８】
また、前記演算手段は、前記比較手段の前記第２の閾値を変更可能であり、前記カウント手段の計数値の最大値が設定範囲内になるまで焦点検出動作を行うこととしたので、より高精度に合焦位置を検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明に係る自動焦点検出装置を適用したデジタルスチルカメラの構成を示すブロック図である。
【図２】  自動焦点検出回路のＨＰＦの出力分布の一例を示す図である。
【図３】  図１の自動焦点検出回路の構成例１を示すブロック図である。
【図４】  図３の自動検出回路の積算器の出力特性を示す図である。
【図５】  図１の自動焦点検出回路の構成例２を示すブロック図である。
【図６】  図１の自動焦点検出回路の構成例３を示すブロック図である。
【図７】  図１の自動焦点検出回路の構成例４を示すブロック図である。
【図８】  図１の自動焦点検出回路の構成例５を示すブロック図である。
【図９】  図８の自動検出回路の積算器の出力特性を示す図である。
【図１０】  図１の自動焦点検出回路の構成例６を示すブロック図である。
【図１１】  図１の自動焦点検出回路の構成例７を示すブロック図である。
【図１２】  図１の自動焦点検出回路の構成例８を示すブロック図である。
【図１３】  従来の自動焦点検出回路の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０１    レンズ
１０２    絞り
１０３    ＣＣＤ
１０４    ＣＤＳ・Ａ／Ｄ変換回路
１０５    信号処理回路
１０６    ＬＣＤモジュール
１０７    ＤＣＴ・コーダー
１０８    メモリ
１０９    タイミングジェネレータ
１１０    レンズ駆動回路
１１１    絞り駆動回路
１１２    自動露出制御回路
１１３    自動焦点検出回路
１１４    自動ホワイトバランス制御回路
１１５    ＣＰＵ
１１６    操作部
２０１、３０１    ＨＰＦ
２０２、３０２    ＡＢＳ回路
２０３、２０３ａ、２０３ｂ、３０３    ベースクリップ回路
２０４、  ２０４ａ、２０４ｂ、３０４    積算器
２０５、３０５    演算回路
２０６    高輝度被写体検出回路
２０７    コンパレータ
２０８    カウンタ
【図１】
0003709294.tif 000002
【図２】
0003709294.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0003709294.tif 000008
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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