(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の基準面に対する撮像装置の配置を設定する方法であって、
前記基準面上に所定のパターンの第１と第２の光ビームを投射する投射工程と、
前記基準面を第１の測定位置においたときの前記第１と第２の光ビームの前記基準面上における第１の像位置と、前記基準面を前記第１の測定位置と異なる第２の測定位置においたときの前記第１と第２の光ビームの前記基準面上における第２の像位置とを測定する測定工程と、
得られた前記第１の像位置と第２の像位置についての情報に基づいて、前記撮像装置の前記基準面に対する第１の配置パラメータを決定する決定工程とを具備することを特徴とする撮像装置の配置設定方法。
【請求項２】
前記第１の配置パラメータの決定に加えて、さらに、前記光ビームを放射する投光器の前記基準面に対する第２の配置パラメータを、前記第１の像位置と第２の像位置についての前記情報に基づいて決定することを特徴とする請求項１に記載の設定方法。
【請求項３】
前記撮像装置を用いて対象物体の画像データを得る工程を有し、
前記画像データに対して、請求項１に記載の前記第１のパラメータを用いて画像処理を施すことを特徴とする画像処理方法。
【請求項４】
前記撮像装置を用いて対象物体の画像データを得る工程を有し、
前記画像データに対して、請求項２に記載の前記第２のパラメータを用いて画像処理を施すことを特徴とする画像処理方法。
【請求項５】
前記第１の像位置は、前記第１の光ビームと第２の光ビームの夫々の前記基準面上における像位置を含み、
前記第２の像位置は、前記第２の光ビームの前記基準面上における像位置を含むことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記第２の光ビームの前記基準面上における像位置が、前記基準面が前記第１の測定位置にあるときに、前記撮像装置の光軸と前記基準面との交点に一致するように、前記第２の光ビームの方向を設定することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の方法。
【請求項７】
前記第２の測定位置は、前記第１の測定位置の前記撮像装置の光軸に沿った方向に設定されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
前記測定工程は、さらに、
前記基準面を第２の測定位置に移動した後に前記第１の測定位置に戻し、
前記基準面が前記第１の測定位置に戻ったときに、第３の光ビームを前記基準面に投射し、
前記第３の光ビームの前記基準面上の第３の像位置を求める工程を有し、
前記決定工程は、前記第１，第２，第３の像位置に基づいて、前記第１の配置パラメータを決定することを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
前記第３の光ビームを、前記基準面が前記第２の測定位置にあるときに、前記第３の光ビームが前記撮像装置の光軸と前記基準面との交点を通るように設定することを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記第１の像位置及び第２の像位置は、前記基準面上において実測されることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば位置認識に用いられる撮像装置の所定の基準面に対する配置パラメータを決定する方法、さらには、その配置パラメータを用いて所定の画像処理を行う画像処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
認識対象の物体の位置検出はカメラ等の撮像装置によって得た画像に基づいて行うことが多い。この場合、カメラ位置は事前に正確に認識しておくことが、対象物体の位置検出を正確に行うための前提となる。さらに、三次元的な位置検出には、カメラのみならず、投光器の位置も正確に認識することが必要となる。
【０００３】
例えば、特開平４−３８４０７号のビデオカメラの位置決め方法は、非測定物に対向配置されたビデオカメラに対して、そのビデオカメラの光軸と所定の角度で交差する光線を照射する光源を配置し、ビデオカメラの画像上で、予め定められた基準と、上記光源から照射した光線が非測定物の表面で反射した光線像とを一致させることにより、非測定物の表面に対するビデオカメラの間隔を決定するというものである。上記光源からの光線は具体的にはスリット光を用いている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記の特開平４−３８４０７号においては、非測定物の表面に対するビデオカメラの間隔を決定するに際しては、カメラと投光器との位置関係が明らかになっていることが前提となる。この場合、カメラと投光器の位置を既知の位置におくことによって、カメラと投光器の位置はその置かれた位置と倣すようにしている。
【０００５】
しかしながら、実際には、カメラ位置や投光器の実際の位置は、置かれた位置に与えられている座標位置と正確に一致しているとは限らず、位置上の誤差が発生している。この位置上の誤差が、対象物の測定に際して測定誤差を生む要因となっている。
カメラ及び投光器の位置を実際に測定すればそのような測定誤差は発生しないのであるが、従来では、カメラレンズ焦点や投光器のレンズ焦点が存在する位置を明確にできず、それ故に、カメラ及び投光器の位置の測定は粗いものとなっていた。
【０００６】
そこで、本発明はかかる従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、物体検出のためのカメラ及びまたは投光器の配置位置を簡単且つ正確に測定する方法を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成すべく、本発明の、所定の基準面に対する撮像装置の配置を設定する方法は、
前記基準面上に所定のパターンの第１と第２の光ビームを投射する投射工程と、
前記基準面を第１の測定位置においたときの前記第１と第２の光ビームの前記基準面上における第１の像位置と、前記基準面を前記第１の測定位置と異なる第２の測定位置においたときの前記第１と第２の光ビームの前記基準面上における第２の像位置とを測定する測定工程と、
得られた前記第１の像位置と第２の像位置についての情報に基づいて、前記撮像装置の前記基準面に対する第１の配置パラメータを決定する決定工程とを具備することを特徴とする。
【０００８】
本発明の好適な一態様に拠れば、前記第１の配置パラメータの決定に加えて、さらに、前記光ビームを放射する投光器の前記基準面に対する第２の配置パラメータを、前記第１の像位置と第２の像位置についての前記情報に基づいて決定する。
本発明の設定方法を画像処理に適用することにより、その画像処理方法は、
前記撮像装置を用いて対象物体の画像データを得る工程を有し、
前記画像データに対して、請求項１に記載の前記第１のパラメータを用いて画像処理を施す。
【０００９】
本発明の好適な一態様に拠れば、その画像処理方法は、
前記撮像装置を用いて対象物体の画像データを得る工程を有し、
前記画像データに対して、請求項２に記載の前記第２のパラメータを用いて画像処理を施すことを特徴とする。
本発明の好適な一態様に拠れば、前記第１の像位置は、前記第１の光ビームと第２の光ビームの夫々の前記基準面上における像位置を含み、
前記第２の像位置は、前記第２の光ビームの前記基準面上における像位置を含むことを特徴とする。
【００１０】
本発明の好適な一態様に拠れば、前記第２の光ビームの前記基準面上における像位置が、前記基準面が前記第１の測定位置にあるときに、前記撮像装置の光軸と前記基準面との交点に一致するように、前記第２の光ビームの方向を設定することを特徴とする。  本発明の好適な一態様に拠れば、前記第２の測定位置は、前記第１の測定位置の前記撮像装置の光軸に沿った方向に設定されていることを特徴とする。
【００１１】
本発明の好適な一態様に拠れば、前記測定工程は、さらに、
前記基準面を第２の測定位置に移動した後に前記第１の測定位置に戻し、
前記基準面が前記第１の測定位置に戻ったときに、第３の光ビームを前記基準面に投射し、
前記第３の光ビームの前記基準面上の第３の像位置を求める工程を有し、
前記決定工程は、前記第１，第２，第３の像位置に基づいて、前記第１の配置パラメータを決定することを特徴とする。
【００１２】
本発明の好適な一態様に拠れば、前記第３の光ビームを、前記基準面が前記第２の測定位置にあるときに、前記第３の光ビームが前記撮像装置の光軸と前記基準面との交点を通るように設定することを特徴とする。
本発明の好適な一態様に拠れば、前記第１の像位置及び第２の像位置は、前記基準面上において実測されることを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。
図１は、実施形態に係るカメラ等設定位置測定システムの構成を示す。同図において、６は測定対象物（不図示）を載置する基台であり、その上面は基準面を構成する。基台６はモータ７によって目的の距離（後述するように、距離Ｚ1）だけ正確に上下動が可能である。カメラ３は内部に固体撮像素子を有し、対象物の位置を測定するために用いる。カメラ３が撮像して得たディジタル画像は画像処理装置１に取り込まれ、ここで所定の画像処理を施される。尚、画像処理装置はカメラ３が撮像して得た画像において、画素レベルの精度で位置の特定が可能である。
【００１４】
５は投光器であり、内部にスリット光を発生する光源が設けられており、そのスリット光のパターンの例を図２Ａ〜図２Ｈに示す。スリットコントローラ４は投光器５を制御して、図２Ａ〜図２Ｈのいずれかのパターンを発生せしめる。モニタ２は、画像処理装置が生成した画像を必要に応じて表示するものである。
図３において、対象物１０が載置台６の上に載置され、投光器５から図２Ａ〜図２Ｈに示した１つの組み合わせのスリット光が物体１０側に照射されている。図３の１〜ｎの線は、載置台６の表面及び物体１０の表面に形成されたスリット光の像を示す。これらの線の像をカメラ５で取り込むと、図４のような画像が得られる。図４において、スリット光の基台６上の像の画像では、物体１０が高さを有するが故に、スリットの線にズレが発生している。
【００１５】
ここで、カメラ３と投光器５の位置が正確に測定されていれば、物体１０の位置は正確に測定できる筈である。以下、図５Ａ〜図５Ｉ並びに図６のフローチャートを参照しながら、カメラ３と投光器５の位置を正確に測定する実施形態に係る手法を説明する。
ステップ１
先ず、基台６を設定することにより、基準面（垂直Ｚ方向についての原点）を正確に設定する。ここで、カメラ３の座標系と投光器５の座標系を合わせるために、基台６の表面の法線方向をＺ軸とし、投光器５からのスリット光の延長方向をＸ軸とし、Ｘ軸，Ｚ軸に垂直な方向をＹ方向とする。
【００１６】
ステップ２
投光器５から所定のスリット光を少なくとも２本（Ｓ0，Ｓ1）基台６上に照射する。このスリット光は、複数本存在すれば必ずしも２本である必要はない。
ステップ３
図５Ａに示すように、基台６上に照射された２本のスリット光Ｓ0，Ｓ1の映像の基台６上の映像位置にマークする（目印を付ける）。そのマークをＰ00，Ｐ01とする。基台６上において、マークＰ00とマークＰ01との距離ｙ0を測定する。ここで、Ｐ00は、カメラ３の光軸と基台６の面（以下、基準面）との交点に設定するのが望ましい。交点Ｐ00にスリット光Ｓ0を通過させるには次のようにする。即ち、Ｐ00が光軸上にあるならば、その点はカメラ３のとった画像では中央にある筈であり、その中央の画素は観察者もしくは画像処理装置１が認識できるものである。そこで、投光器５から複数のスリット光を投射し、その中から画像中央に映じるスリット光を選択すればよい。
【００１７】
ステップ４
図５Ａに示すように、カメラ３によってマークＰ00，Ｐ01の撮像を行い、マークＰ00，Ｐ01の画素位置を求める。マークＰ00，Ｐ01の、カメラ３が得た画像内における画素位置をＶ0，Ｖ1とする。
ステップ５
基台６をＺ方向に距離Ｚ1だけ上昇させる。
【００１８】
ステップ６
２つのスリット光Ｓ0，Ｓ1の画像を取り込む一方、スリット光Ｓ0の基台６上における映像位置をＰ20とマークする（図５Ｂを参照）。マークＰ00からマークＰ20迄の距離ｙ2を基台６上において測る。さらに、図５Ｂに示すように、画素位置Ｖ1に対応する基台６上の位置をＰ11としてマークし、このマークＰ11からマークＰ00迄の距離ｙ1を基台６上において計測する。尚、Ｐ11のマーキングは、基台６上において、観察者が識別可能なマークをモニタ２の画面上で認識しながら移動させ、そのマークの位置が画素位置Ｖ1に一致したならば、その位置をＰ11としてマークするものである。
【００１９】
ステップ７
図５Ｃに示すように、マークＰ00に投射される第３のスリット光Ｓ2を特定する。尚、スリット光Ｓ0，Ｓ1，Ｓ2は観察者が見分け可能であるならば、３本を同時に照射しても構わない。
ステップ８
図５Ｄに示すように、基台６を初期高さ位置に戻し、スリット光Ｓ2の基台６面上の照射位置をＰ03としてマークする。マークＰ00からＰ03迄の距離ｙ3を基台６上において計測する。
【００２０】
ステップ９
所定の距離算出パラメータを演算する。この演算については図５Ｅ〜図５Ｉ並びに図９を用いて後に詳述する。このステップ９によりパラメータの校正動作は終了する。
ステップ１０
ステップ９で求められた校正済みのパラメータを用いて物体１０の測定を行う。この測定の動作原理については図７Ａ〜図７Ｅ、図１０を用いて後に詳述する。
【００２１】
〈校正パラメータの演算〉
以下、距離算出に係るパラメータの校正について説明する。
図５Ｅにおいて、投光器５から基準面（基台６の表面）への法線と、スリット光Ｓ0及びＳ1のなす角度を夫々θ0，θ1とすると、
【００２２】
【数１】
0003654378.tif 000002
【００２３】
【数２】
0003654378.tif 000003
【００２４】
が得られる。
以下、順に、Ｃ0（基準面からカメラのレンズ焦点までの距離）、ＳY（カメラレンズ焦点から投光器レンズ焦点までの距離）、ＳF（基準面から投光器レンズ焦点までの距離）、ＳZ（カメラレンズ焦点位置と投光器レンズ焦点位置の高さの差）、ＣP0（Ｚ基準面での１画素の大きさ）、ＳP0（基準面での１スリットの幅）等の校正パラメータを求めることができる。
【００２５】
基準面からカメラ３のレンズ焦点までの距離Ｃ0は、図５Ｆに従って、
【００２６】
【数３】
0003654378.tif 000004
【００２７】
によって得ることができる。また、カメラ３のレンズ焦点（カメラの原点を構成する）と投光器５のレンズ焦点との間のＹ方向の距離Ｓyは、図５Ｇに従って、
【００２８】
【数４】
0003654378.tif 000005
【００２９】
によって得ることができる。また、カメラ３のレンズ焦点と投光器５のレンズ焦点とのＺ方向の距離Ｓzは、図５Ｈに従って、
【００３０】
【数５】
0003654378.tif 000006
【００３１】
によって得ることができる。また、基準面から投光器５のレンズ焦点迄のＺ方向の距離ＳFは、図５Ｈに従って、
【００３２】
【数６】
0003654378.tif 000007
【００３３】
によって得ることができる。また、基台６のＺ基準面がカメラレンズ焦点までの距離Ｃ0にあるときに１画素がとらえる画像の大きさをＣP0で表せば、図５Ｉにおいて、長さｙ0が画素数｜Ｖ0−Ｖ1｜の範囲にとらえられるのであるから、
【００３４】
【数７】
0003654378.tif 000008
【００３５】
によって得ることができる。また、Ｚ基準面での１スリット分の幅をＳP0で表せば、図５Ｉに従って、
【００３６】
【数８】
0003654378.tif 000009
【００３７】
によって得ることができる。
尚、角度θ1については、数式１，数式２を用いないで求めても良い。即ち、投光器５からのスリット光を、図３又は図４に示すように、スリット光ラインの番号を識別可能にて複数本投射するようにする。すると、角度θ0を数式１に従って求める。次に、マークＰ03のスリットのライン番号を知る。そして、
【００３８】
【数９】
0003654378.tif 000010
【００３９】
【数１０】
0003654378.tif 000011
【００４０】
によってθ1を求める。このように、θ1を別途演算することも可能である。
以上のようにして、簡単かつ正確に測定可能な量であるところの、ｙ0，ｙ1，ｙ2，ｙ3，Ｚ1，Ｖ0，Ｖ1を用いて、カメラ３及び投光器５の距離に関する各種パラメータを正確に演算することができる。
次に、上記演算された各種パラメータを用い、カメラから物体までの距離を算出（ステップ１０）する手法について説明する。
【００４１】
図３，図８に示すような位置にある物体１０をカメラ３によって位置測定する場合を考える。この物体１０に対して、投光器５から、図２Ａ〜図２Ｈに示すスリット光パターンを順に照射する。図２Ａ〜図２Ｈに示すスリット光パターンは、８種類のグレーコードパターンを形成する。個々のパターンに対して得られた画像を図７Ａに示すように二値化する。こうして得られた８枚の二値化画像を図７Ｂに示すように重ね合わせる。図２Ａ〜図２Ｈに示す８種類のスリット光パターンの画像をビット毎に単純に重ね合わせる（加算を行う）と、２５６（＝２8）本の帯パターンが得られる。各々の帯パターンは夫々の明度を有し、その値は０〜２５５のいずれかの階調を有する。そこで、図７Ｃに示すように、各帯の濃度情報に基づいて各帯にラベル付けを行う。尚、図８の形状の物体１０に照射した場合には、図７Ｃに示すような段ズレの発生した帯の画像が得られる。次に、図７Ｃのラベル付けされた画像を明度に従ってソーテイングして並び替えを行って、図７Ｄのような画像を得る。さらに、二値化処理を行うと図７Ｅのような画像を得る。図７Ａの画像から、パターンの段差を演算することができる。
【００４２】
図１０において、物体１０の表面からカメラのレンズ焦点位置（カメラ原点）迄の距離ＴZを得ることを目的とする。この場合、物体１０の表面上の点１０ｙに注目する。
カメラ３の撮像した画像において、点１０ｙに対応するカメラＣＣＤ上の画素位置の、カメラの画像センサ原点からの距離をＣpyとし、同カメラ３のレンズ焦点（図１０）からカメラ３の画像センサ（ＣＣＤ）迄の距離をＣFとすると、
【００４３】
【数１１】
0003654378.tif 000012
【００４４】
が成立する。尚、ＣPY＝画素数×（カメラＣＣＤの画素ピッチ）である。
また、カメラ３の原点位置の基台６上の点をＰ0とし、同じく、投光器のレンズ原点の基台６上の点をＰ1とすると、角度φとψは図９のように定義される。すると、前述の校正手順によって得られたＳYとＳZとＳP0を用いて、
【００４５】
【数１２】
0003654378.tif 000013
【００４６】
【数１３】
0003654378.tif 000014
【００４７】
が得られる。ここで、ＳPYは、点１０ｙに投射するスリット光のスリット位置のＹ方向成分であり、式８で求めたＳP0を用いて、ＳPY＝Ｓp0×ｎ（ｎはスリット位置）で求めることができる。従って、上記式１２，式１３から、ＴYを消去することにより、
【００４８】
【数１４】
0003654378.tif 000015
【００４９】
を得ることができる。さらに、物体１０上の点１０ｙのＸ方向の段差の画像内における位置をＣPXとすると、
ＣPX＝ｎ×（カメラＣＣＤの画素ピッチ）（但し、ｎは点１０ｙの画素位置）で求めることができ、さらに、
【００５０】
【数１５】
0003654378.tif 000016
【００５１】
が成立するから、Ｘ方向についての物体位置ＴXは、
【００５２】
【数１６】
0003654378.tif 000017
【００５３】
によって得ることができる。数式１１〜数式１６において、ＣPY，ＣPX，ＣF，ＳPY等は正確に測定することが容易にできる。また、従来では簡単に測定することが困難であった、ＳY，ＳZは上記の校正手順によって簡単且つ正確に求めることができた。従って、物体の位置ＴZ、、ＴY、ＴXを正確且つ簡単に測定することができる。
【００５４】
なお、校正手順と物体の位置測定との間には図１１に示した関係が存在する。即ち、図１１に於いて、
ＣPY＝画素ピッチ×（点１０ｙの画素位置）、
Ｙ＝（画素数）×（特定基準高さ面での１画素に映る物体の大きさ、即ち、ＣP0）
であるから、
【００５５】
【数１７】
0003654378.tif 000018
【００５６】
が成立している。ここで、前述したように、ＣPYはカメラ座標に撮像素子の画素ピッチを乗したものであり、Ｙはカメラ座標に撮像素子の１画素にとられるところの物体の長さを乗したものである。即ち、式１７の意味するところは、カメラの焦点距離ＣFと撮像素子上に映る大きさＣPYの関係を、カメラの基準面からレンズ焦点までの距離と物体の大きさに置き換えて考えることを意味する。この置き換えの成立する理由を説明すると、図１２に示すように、
【００５７】
【数１８】
0003654378.tif 000019
【００５８】
が成り立ち、一方、
Ｙ＝画素数×（物体がＣ0だけ離れているときの１画素に映る大きさ）
であるから、
【００５９】
【数１９】
0003654378.tif 000020
【００６０】
が得られ、式１８，式１９から、
【００６１】
【数２０】
0003654378.tif 000021
【００６２】
が得られる。この式が上記置き換えを説明する。尚、この関係はｘ方向についても同様である。
図９に、図５Ａ〜図５Ｉで説明した本実施形態におけるパラメータ構成の原理を総括的に示す。同図から明らかなように、実施形態の計測システムでは、
▲１▼：基準面と、その基準面の初期位置（高さ位置）並びに移動位置（Ｚ1）を設定する。その上で、この基準面とカメラ３の光軸との交点Ｐ00を通るようなスリット光Ｓ0と、スリット光Ｓ0とは異なる任意のスリット光Ｓ1とを設定する。
▲２▼：基準面が初期位置にあるときに、Ｐ00から、スリット光Ｓ1の基準面上における照射位置Ｐ01までの距離ｙ0を計測し、その後に、基準面を移動位置まで移動して、上記点Ｐ00、Ｐ01がどのように変化したかを調べる。即ち、Ｐ00から、スリット光Ｓ0の移動位置にある基準面への照射位置Ｐ20への距離ｙ2を求め、また、基台６が初期位置にあったときに点Ｐ01が画像上に映じた画素位置に対応する基準面上の点は、基台６が移動位置に移動したときには、どの位置の点であるかを調べ、この点とマークＰ00迄の距離を求める。
▲３▼：さらに、マークＰ00を通るスリット光Ｓ2を探し、基台６を初期位置まで戻す。そして、マークＰ00から、スリット光Ｓ2が基台６上に照射するマークＰ03迄の距離ｙ3を求める。
▲４▼：以上の手順により、ｙ0、ｙ1、ｙ2、ｙ3、Ｚ1により、校正パラメータを演算することができる。
【００６３】
尚、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態では、カメラ３の光軸を基準面に対して垂直になるように設定していたが、マークＰ00は光軸上に有ればよいものである。また、マークＰ00は画像の中央に設定する必要はない。要は、マークＰ00に対応する画素位置Ｖ0が特定できればよい。
【００６４】
また、基台６を初期値に戻す必要はなく、戻り距離Ｚ2が既知で有ればよい。また、本発明においては、スリット光を多く同時に照射する必要はなく、少なくとも、１本の光ビームを基台上に特定可能に照射することができればよい。この場合、光ビームはスリット光である必要性もない。
また、本発明の実施形態に係る校正方法は、物体の位置認識装置の校正に限定的に適用されるものではなく、他の装置の校正にも適用可能である。
【００６５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の撮像装置の配置設定方法によれば、正確且つ簡単に測定可能な量のみを用いて、撮像装置と基準面に対する位置関係を正確に把握することができる。
さらに、この設定方法を画像処理に適用すれば精度の良い画像処理を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明を適用した好適な実施形態の構成を示す図。
【図２Ａ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｂ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｃ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｄ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｅ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｆ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｇ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図２Ｈ】  実施形態に用いられる投光器から照射されるスリット光のパターンを示す図。
【図３】  実施形態において、スリット光が物体に投射されたときの様子を示す図
【図４】  実施形態において、スリット光が物体に投射されたときの様子を示す図
【図５Ａ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｂ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｃ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｄ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｅ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｆ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｇ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｈ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図５Ｉ】  パラメータを校正する原理を説明する図。
【図６】  実施形態の動作手順を示すフローチャート。
【図７Ａ】  物体の位置認識のためのズレの量を求める手順を示す図。
【図７Ｂ】  物体の位置認識のためのズレの量を求める手順を示す図。
【図７Ｃ】  物体の位置認識のためのズレの量を求める手順を示す図。
【図７Ｄ】  物体の位置認識のためのズレの量を求める手順を示す図。
【図７Ｅ】  物体の位置認識のためのズレの量を求める手順を示す図。
【図８】  実施形態において、スリット光が物体に投射されたときの様子を示す図
【図９】  実施形態における校正パラメータを求める原理を示す図。
【図１０】  物体の位置認識の原理を示す図。
【図１１】  物体の位置認識の原理を示す図。
【図１２】  物体の位置認識の原理を示す図。
【符号の説明】
１：画像処理装置、
２：モニタ、
３：カメラ、
４：スリットコントローラ、
５：投光器、
６：基台、
７：モータ
【図１】
0003654378.tif 000022
【図２Ａ】
0003654378.tif 000023
【図２Ｂ】
0003654378.tif 000024
【図２Ｃ】
0003654378.tif 000025
【図２Ｄ】
0003654378.tif 000026
【図２Ｅ】
0003654378.tif 000027
【図２Ｆ】
0003654378.tif 000028
【図２Ｇ】
0003654378.tif 000029
【図２Ｈ】
0003654378.tif 000030
【図３】
0003654378.tif 000031
【図４】
0003654378.tif 000032
【図５Ａ】
0003654378.tif 000033
【図５Ｂ】
0003654378.tif 000034
【図５Ｃ】
0003654378.tif 000035
【図５Ｄ】
0003654378.tif 000036
【図５Ｅ】
0003654378.tif 000037
【図５Ｆ】
0003654378.tif 000038
【図５Ｇ】
0003654378.tif 000039
【図５Ｈ】
0003654378.tif 000040
【図５Ｉ】
0003654378.tif 000041
【図６】
0003654378.tif 000042
【図７Ａ】
0003654378.tif 000043
【図７Ｂ】
0003654378.tif 000044
【図７Ｃ】
0003654378.tif 000045
【図７Ｄ】
0003654378.tif 000046
【図７Ｅ】
0003654378.tif 000047
【図８】
0003654378.tif 000048
【図９】
0003654378.tif 000049
【図１０】
0003654378.tif 000050
【図１１】
0003654378.tif 000051
【図１２】
0003654378.tif 000052