(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定ベース上に搬送部材を移動可能に配置し、該搬送部材にチップ部品を収納する収納凹部を形成するとともに、該チップ部品を吸引保持する真空吸引通路を形成し、上記収納凹部内にチップ部品を吸引保持した状態で上記固定ベース上を搬送するようにしたチップ部品の搬送装置において、上記搬送部材の収納凹部の上面に低摩擦シートを配設するとともに、該低摩擦シートの上面にアッパプレートを配設して上記収納凹部を覆い、上記真空吸引通路を上記収納凹部の上部コーナ部を切り欠くことにより形成し、上記チップ部品を、上記収納凹部内の固定ベースの反対側の上部コーナ部と上記低摩擦シートとで位置決めしかつ上記固定ベースとの間に隙間を設けた状態で吸引保持することを特徴とするチップ部品の搬送装置。
【請求項２】
請求項１において、上記収納凹部にチップ部品を外部に排出するための圧縮空気吹き出し口が形成されていることを特徴とするチップ部品の搬送装置。
【請求項３】
請求項１又は２において、上記アッパプレートが、チップ部品に作用する下方からの衝撃力を吸収する弾性体により構成されていることを特徴とするチップ部品の搬送装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、搬送部材に形成された収納凹部内にてチップ部品を吸引保持した状態で固定ベース上を搬送するようにしたチップ部品の搬送装置に関する。本発明の搬送装置は、チップ状電子部品の電気的特性を測定選別するようにした測定選別装置に適しているので、以下、これに適用した場合を例にとって説明する。
【０００２】
【従来の技術】
チップ状電子部品の電気的特性を測定して良品を選別するようにした測定選別装置として、従来、図８ないし図１０に示すものがある。この測定選別装置は、固定ベース５０の上面５０ａに搬送部材としてのターンテーブル５１を回転可能に配置し、該ターンテーブル５１の外周部にチップ部品５２が収納される収納凹部５１ａを形成した構造のものである。
【０００３】
この測定選別装置では、部品供給ステーションにてチップ部品５２を各収納凹部５１ａに供給し、該チップ部品５２を真空源により吸引保持した状態でターンテーブル５１を図示矢印方向に回転させることによりチップ部品５２を各作業ステーションＡ，Ｂ，Ｃに順次搬送し、この作業ステーションＡ〜Ｃにて測定，検査，加工等の所定作業を行い、しかる後、取り出しステーションに搬送するよう構成されている。
【０００４】
またチップ部品５２を吸引保持するにあたっては、ターンテーブル５１の各収納凹部５１ｂの下部コーナ部に真空源に連通接続された吸引通路５１ｂを形成し、該下部コーナ部にチップ部品５２を位置決めするとともに吸引保持するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の測定選別装置では、図１１に示すように、チップ部品５２を搬送する際に電極５２ａが固定ベース５０の上面５０ａに擦れることから、電極５２ａに擦れによる傷が付く場合がある。この電極表面の擦れ傷の如何によっては、ワーク実装工程ではんだ付け不良が生じる場合があり、品質に対する信頼性を高めるうえでの改善が要請されている。
【０００６】
本発明は、上記従来の状況に鑑みてなされたもので、チップ部品を搬送する際の擦れ傷を回避でき、ひいては実装不良を防止できるチップ部品の搬送装置を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、固定ベース上に搬送部材を移動可能に配置し、該搬送部材にチップ部品を収納する収納凹部を形成するとともに、該チップ部品を吸引保持する真空吸引通路を形成し、上記収納凹部内にチップ部品を吸引保持した状態で上記固定ベース上を搬送するようにしたチップ部品の搬送装置において、上記搬送部材の収納凹部の上面に低摩擦シートを配設するとともに、該低摩擦シートの上面にアッパプレートを配設して上記収納凹部を覆い、上記真空吸引通路を上記収納凹部の上部コーナ部を切り欠くことにより形成し、上記チップ部品を、上記収納凹部内の固定ベースの反対側の上部コーナ部と上記低摩擦シートとで位置決めしかつ上記固定ベースとの間に隙間を設けた状態で吸引保持することを特徴としている。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１において、上記収納凹部にチップ部品を外部に排出するための圧縮空気吹き出し口が形成されていることを特徴としている。
【００１１】
請求項３の発明は、請求項１又２において、上記アッパプレートが、チップ
部品に作用する下方からの衝撃力を吸収する弾性体により構成されていることを特徴としている。
【００１２】
【発明の作用効果】
請求項１の発明にかかる搬送装置によれば、チップ部品を収納凹部内の固定ベースの反対側にて吸引保持するので、チップ部品は固定ベースから浮いた状態で搬送されることとなり、固定ベースに擦れるのを抑制でき、電極に擦れ傷が生じるのを回避することができる。その結果、ワーク実装時のはんだ付け不良を防止でき、品質に対する信頼性を向上できる。
【００１３】
請求項１の発明では、チップ部品を固定ベースとの間に隙間を設けた状態で吸引保持したので、チップ部品が固定ベースに擦れるのを確実に防止でき、品質に対する信頼性をさらに向上できる。また収納凹部の上面をアッパプレートで覆うとともに、該アッパプレートとチップ部品との間に低摩擦シートを介設したので、チップ部品を収納凹部に供給する際に引っかけたりすることなくスムーズに吸引保持することができ、チップ部品の位置決めを容易確実に行なうことができる。
【００１４】
請求項２の発明では、収納凹部に圧縮空気吹き出し口を形成したので、収納凹部からチップ部品を容易に取り出すことができる。
【００１６】
請求項３の発明では、上記アッパプレートを弾性体により構成したので、チップ部品に下方から作用する衝撃力を吸収することができ、チップ部品に衝撃力が直接加わるのを防止できる。例えば、固定ベースの下方からプローブピン等を突出させてチップ部品の電気的特性を測定する場合の衝撃力がチップ部品に直接作用するのを回避できる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１ないし図７は、本発明の一実施形態によるチップ部品の測定選別装置（搬送装置）を説明するための図であり、図１は測定選別装置の概略図、図２はチップ部品収納部の斜視図、図３はチップ部品収納部の断面図（図２のIII-III 線断面図）、図４はチップ部品収納部の正面図、図５はターンテーブルの収納凹部の斜視図、図６，図７は測定機器の斜視図である。
【００１９】
図において、１は測定選別装置を示しており、これは固定ベース２の上面２ａに直方体状のチップ型電子部品（以下、チップ部品と略記する）３を各作業ステーションＡ，Ｂ，Ｃに順次搬送するターンテーブル４を回転可能に配置した構成となっている。上記各作業ステーションＡ〜Ｃではチップ部品３の電気的特性の測定，検査，あるいは加工等を行なうように構成されており、例えば作業ステーションＡには上記チップ部品３の電気的特性を測定する測定機器５が配設されている。
【００２０】
上記測定機器５は、図６，図７に示すように、プローブユニット６と該プローブユニット６を昇降駆動する昇降駆動機構７とを備えている。この昇降駆動機構７は、固定ブラケット８にスライド板９を固定するとともに、該スライド板９にスライド軸受部材１０を上下方向に摺動自在に係合させ、該スライド軸受部材１０に水平方向に延びる帯板状のスライダ１１を固定した構造のものであり、このスライダ１１の一端側にはマグネット１２が配設されており、他端側には上記プローブユニット６が取付け固定されている。
【００２１】
上記プローブユニット６は、端子ブロック１５内に第１，第２測定端子１６，１７を上下方向に進退可能に挿入配置し、該各測定端子１６，１７を加圧ばね１８により上方に付勢した構造のものである。上記プローブユニット６は固定ベース２の下方に配置され、該固定ベース２に形成された貫通孔２ｂ，２ｂ内に上記各測定端子１６，１７が出没可能に挿入配置されている。この各測定端子１６，１７はリード線を介して計測器に接続されている。
【００２２】
そしてチップ部品３が作業ステーションＡに搬送されるとマグネット１２がスライダ１１を上昇させ、これに伴って第１，第２測定端子１６，１７が固定テーブル２の上面２ａから突出し、チップ部品３の電極３ａ，３ａに当接する。この状態で所定の測定が行われる。この測定が終了するとスライダ１１が下降し、各測定端子１６，１７が固定ベース２内に退避する。
【００２３】
上記ターンテーブル４は円板状のものであり、これの外周部には半径方向に延びる矩形状の収納凹部４ａが周方向に所定間隔をあけて形成されている。この各収納凹部４ａの高さ寸法及び幅寸法はチップ部品３の外形寸法より大き目に設定されている。
【００２４】
上記ターンテーブル４の上面には各収納凹部４ａの上方を覆うようにテフロン（登録商標）等からなる低摩擦シート２０が配設されており、該低摩擦シート２０の上面にはゴム等からなるアッパプレート２１が配設されている。このターンテーブル４の収納凹部４ａ，固定ベース２の上面２ａ，及び低摩擦シート２０により囲まれた収納空間部にチップ部品３が収納配置されている。
【００２５】
上記ターンテーブル４の上面の各収納凹部４ａに臨む部分には半径方向に延びる溝状の吸引通路４ｂが形成されている。この各吸引通路４ｂは収納凹部４ａの左側上部コーナ部Ｒを切り欠くことにより形成されたものであり、これの上面は上記低摩擦シート２０，アッパプレート２１により気密に閉塞されている。このようにしてチップ部品３は収納凹部４ａの上部コーナ部Ｒと低摩擦シート２０とで位置決めされており、かつ上記固定ベース２の上面２ａとの間に僅かな隙間を設けた状態で吸引保持されている。
【００２６】
また上記各吸引通路４ｂは吸引孔４ｂ´を介して固定ベース２に形成された共通の真空通路２ｃに連通しており、該真空通路２ｃの延長端には真空ポンプ（不図示）が接続されている。この真空通路２ｃはチップ部品３の供給ステーションから取り出しステーションに渡る長さを有している。
【００２７】
また上記各吸引通路４ｂには圧縮空気吹き出し口４ｃが形成されており、該圧縮空気吹き出し口４ｃは固定ベース２に形成された圧縮空気供給通路２ｄを介して圧縮ポンプ（不図示）に接続されている。この圧縮空気供給通路２ｄはターンテーブル４が取り出しステーションに位置したときに上記圧縮空気吹き出し口４ｃに連通するようになっている。
【００２８】
上記測定選別装置１を用いてチップ部品３を測定選別するには、まず部品供給ステーションにてチップ部品３を各収納凹部４ａ内に供給する。すると真空吸引力によってチップ部品３は収納凹部４ａの上部コーナ部Ｒと低摩擦シート２０とで位置決め保持され、この状態でターンテーブル４が各チップ部品３を各作業ステーションＡ〜Ｃに順次搬送する。各ステーションＡ〜Ｃにおいてチップ部品３の測定，検査，加工等の作業が行われ、この各種の作業が終了すると、チップ部品３は取り出しステーションに搬送され、ここで収納凹部４ａ内に圧縮空気が吹き込まれて外部に排出される。
【００２９】
上記作業ステーションＡでは、第１，第２測定端子１６，１７が固定ベース２の上面２ａから突出してチップ部品３の電気的特性を測定することとなる。この場合、各測定端子１６，１７の衝撃力を低摩擦シート２０を介してアッパプレート２１が弾性変形して吸収することとなり、チップ部品３に衝撃力が直接加わるのを防止している。
【００３０】
このように本実施形態によれば、ターンテーブル４の各収納凹部４ａの上部コーナ部Ｒに吸引通路４ｂを形成し、これによりチップ部品３を固定ベース２の上面２ａとの間に隙間を設けた状態で吸引保持したので、チップ部品３を固定ベース２から浮かせた状態で搬送することができ、固定ベース２との接触を確実に防止でき、電極３ａに擦れ傷が生じるのを防止することができる。その結果、ワーク実装時のはんだ付け不良を防止でき、品質に対する信頼性を向上できる。
【００３１】
また上記各収納凹部４ａに圧縮空気吹き出し口４ｃを形成したので、取り出しステーションでチップ部品３を容易に取り出すことができる。
【００３２】
本実施形態では、上記収納凹部４ａの上面をテフロン等からなる低摩擦シート２０で覆ったので、供給ステーションにてチップ部品３を吸引する際に引っ掛かったりすることなくスムーズに吸引することができ、チップ部品３の位置決めを容易確実に行なうことができる。
【００３３】
また上記低摩擦シート２０の上面にアッパブレート２１を配設し、該アッパプレート２１をゴム等の弾性体により構成したので、作業ステーションＡにて各測定端子１６，１７を突出させてチップ部品３に当接させる際の衝撃力を吸収することができ、チップ部品３に衝撃力が直接加わるのを回避でき、割れや欠け等の問題を解消できる。これによりプローブユニット６の昇降スピードを速めることが可能となり、測定効率の向上を図ることができる。
【００３４】
また本実施形態では、各測定端子１６，１７とターンテーブル４との位置合わせを行った後、ターンテーブル４に低摩擦シート２０，アッパプレート２１を取付けることにより、各測定端子１６，１７とターンテーブル４との位置合わせを容易に行なうことができ、組立ミスによる測定ミスを防止できる。
【００３５】
なお、上記実施形態では、チップ部品の電気的特性を測定選別するようにした測定選別装置に適用した場合を例に説明したが、本発明の搬送装置はこれに限られるものではなく、例えばチップ部品を搬送してプリント基板に装着するようにした部品装着装置にも適用でき、要はチップ部品を搬送部材により吸引保持した状態で固定ベース上を搬送するようにしたものであれば何れにも適用可能である。
【００３６】
また上記実施形態では、チップ部品をターンテーブルを回転させることにより搬送する場合を説明したが、本発明の搬送装置は、チップ部品を固定ベース上を直線移動させることにより搬送するようにした場合にも勿論適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態によるチップ部品の測定選別装置の概略図である。
【図２】上記測定選別装置のチップ部品収納部の斜視図である。
【図３】上記チップ部品収納部の断面図（図２のIII-III 線断面図）である。
【図４】上記チップ部品収納部の正面図である。
【図５】上記測定選別装置のターンテーブルの斜視図である。
【図６】上記測定選別装置の測定機器の斜視図である。
【図７】上記測定機器のプローブユニットの斜視図である。
【図８】従来の一般的な測定選別装置の概略図である。
【図９】従来のチップ部品収納部の斜視図である。
【図１０】従来の収納凹部の斜視図である。
【図１１】従来の問題点を示す図である。
【符号の説明】
１              測定選別装置（搬送装置）
２              固定ベース
２ａ            上面
３              チップ部品
４              ターンテーブル（搬送部材）
４ａ            収納凹部
４ｂ            吸引通路
４ｃ            圧縮空気吹き出し口
２０            低摩擦シート
２１            アッパプレート
【図１】
0003690257.tif 000002
【図２】
0003690257.tif 000003
【図３】
0003690257.tif 000004
【図４】
0003690257.tif 000005
【図５】
0003690257.tif 000006
【図６】
0003690257.tif 000007
【図７】
0003690257.tif 000008
【図８】
0003690257.tif 000009
【図９】
0003690257.tif 000010
【図１０】
0003690257.tif 000011
【図１１】
0003690257.tif 000012