(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体空間の開口数を有する物体面と像面開口数を有する像面とを有する反射屈折縮小光学系であって、長い共役側端部から短い共役側端部までに、
第１のダブレットと、
第１の正のレンズと、
第２の正のレンズと、
シェルと、
第３の正のレンズと、
第１の負のレンズと、
第４の正のレンズと、
第２の負のレンズと、
ビームスプリッタキューブと、
第１の４分の１波長板と、
凹面鏡と、
第２の４分の１波長板と、
第５の正のレンズと、
第２のダブレットと、
第６の正のレンズと、
第３のダブレットとを含み、
系に入射するビームが前記第１のダブレット、前記第１の正のレンズ、前記第２の正のレンズ、前記シェル、前記第３の正のレンズ、前記第１の負のレンズ、前記第２の負のレンズ、前記ビームスプリッタキューブ、および前記第１の４分の１波長板を通過し、前記凹面鏡に反射されて逆方向に前記第１の４分の１波長板および前記ビームスプリッタキューブを通過し、前記第２の４分の１波長板、前記第５の正のレンズ、前記第２のダブレット、前記第６の正のレンズ、および前記第３のダブレットを通過し、像面開口数が０．７であるよう配置され、
像面は物体面と平行である、反射屈折縮小光学系。
【請求項２】
前記シェルと前記第３の正のレンズとの間に置かれる偏向鏡をさらに含む、請求項１に記載の縮小光学系。
【請求項３】
物体空間の開口数を有する物体面と像面開口数を有する像面とを有する反射屈折縮小光学系であって、長い共役側端部から短い共役側端部までに、
第１のダブレットと、
第２のダブレットと、
第１の正のレンズと、
第２の正のレンズと、
第１の負のレンズと、
第３の正のレンズと、
第２の負のレンズと、
ビームスプリッタキューブと、
第１の４分の１波長板と、
凹面鏡と、
第２の４分の１波長板と、
第４の正のレンズと、
第３のダブレットと、
第５の正のレンズと、
シェルと、
第６の正のレンズとを含み、
系に入射するビームが前記第１のダブレット、前記第２のダブレット、前記第１の正のレンズ、前記第２の正のレンズ、前記第１の負のレンズ、前記第３の正のレンズ、前記第２の負のレンズ、前記ビームスプリッタキューブ、および前記第１の４分の１波長板を通過し、前記凹面鏡に反射されて逆方向に前記第１の４分の１波長板および前記ビームスプリッタキューブを通過し、前記第２の４分の１波長板、前記第４の正のレンズ、前記第３のダブレット、前記第５の正のレンズ、前記シェル、および前記第６の正のレンズを通過し、像面開口数が０．７であるよう配置され、
像面は物体面と平行である、反射屈折縮小光学系。
【請求項４】
前記第１の正のレンズと前記第２の正のレンズとの間に置かれる偏向鏡をさらに含む、請求項３に記載の縮小光学系。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の背景】
この発明は一般に、半導体の製造において使用される光学系に関し、より特定的には、比較的高い開口数を有する、暗くない反射屈折縮小光学系に関する。
【０００２】
【関連技術の説明】
半導体は通常、種々のフォトリソグラフィー技術を用いて製造される。半導体で用いられる回路は、レチクルから半導体チップに複写される。この複写はしばしば、光学系を使用することによって達成される。これらの光学系の設計は複雑なことが多く、半導体チップ上に置かれる、小さくなる一方の構成要素を複写するのに必要な所望の解像力を得るのが難しい。したがって、０．３５ミクロンを下回る、非常に微細な構成要素の形状を複写することができる光学系を開発するために多大な努力がなされてきた。非常に微細な構成要素の形状を複写できる光学系を開発する必要性に加えて、開口数を増すことによって系の性能を高める必要がある。というのは開口数を増すと、光学系の解像度がより高くなるからである。
【０００３】
この発明の光学系に類似するものが、１９９０年９月４日にウィリアムスン（Williamson）に発行された「縮小光学系」（Optical Reduction System）と題される米国特許第４，９５３，９６０号に開示されている。そこに開示されるのは、０．４５の開口数を有し、２４８ナノメートルの範囲で動作する縮小光学系である。別の類似した光学系は、１９９２年２月１８日にシンフ（Singh ）らに発行された「高分解能の縮小用反射屈折リレーレンズ」（High Resolution Reduction Catadioptric Relay Lens ）と題される、米国特許第５，０８９，９１３号に開示されている。それに開示されるのは、２４８ナノメートルに制限されたスペクトル波長を有し、かつ０．６の開口数を有する光学系である。
【０００４】
これらの先行技術の光学系はその意図される目的のためには十分に機能するが、開口数を高めることによって系の性能を向上する必要性は増大する一方である。したがって、比較的大きなスペクトル波長で、許容可能な系の性能を実現し、かつ比較的高い開口数を有する光学系が必要とされている。
【０００５】
【発明の概要】
この発明は、対象物即ち長い共役側端部から、縮小像即ち短い共役側端部までに、第１のレンズ群と、第２のレンズ群と、ビームスプリッタキューブと、実質的にまたはほぼ同心の凹面鏡と、第３のレンズ群とを有する反射屈折縮小光学系を含む。凹面鏡は、実質的にほぼ単位倍率で動作する。これによって、鏡によってもたらされる収差、およびビームスプリッタキューブに入射するビームの直径が減じられる。凹面鏡の前方にある第１および第２のレンズ群の屈折力は、無限遠の入射ひとみを凹面鏡またはその近傍にある開口絞りに結像するのに十分なだけである。凹面鏡の後方の第３のレンズ群は、開口絞りを無限遠の射出ひとみに投影するのに加えて、光学系の対象物から像までの実質的な縮小を行う。非球面凹面鏡を用いることによって高次の収差が低減される。
【０００６】
したがって、この発明のある目的は、比較的高い開口数を有する光学系を提供することである。
【０００７】
この発明の別の目的は、このように高い開口数でこれまで得られたものよりも実質的に広いスペクトルバンド幅を有する光学系を提供することである。
【０００８】
この発明の利点は、凹面鏡が実質的に単位倍率により近く動作することである。
【０００９】
この発明の特徴は、凹面鏡前方のレンズ群の屈折力が、凹面鏡またはその近傍にある開口絞りに無限遠の入射ひとみを結像するのに十分なだけであることである。
【００１０】
この発明のさらに別の特徴は、系の対象物から像への縮小のほとんどが凹面鏡後方のレンズ群によって行なわれることである。
【００１１】
これらのおよび他の目的、利点および特徴は、以下の詳細な説明を考慮して容易に明らかになるであろう。
【００１２】
【好ましい実施例の説明】
図１は、この発明の縮小光学系の一実施例を示す。縮小光学系はその長い共役側端部から、対象物即ちレチクル面１０、第１のレンズ群ＬＧ１、偏向鏡２０、第２のレンズ群ＬＧ２、ビームスプリッタキューブ３０、第１の４分の１波長板３２、凹面鏡３４、第２の４分の１波長板３８、および第３のレンズ群ＬＧ３を含む。像は、像面即ちウエハ面５０で結像される。第１のレンズ群ＬＧ１は、シェル１２と、正のレンズ１４および負のレンズ１６を含む空隙ダブレットと、正のレンズ１８とを含む。シェル１２は、屈折力がほとんど０のレンズである。第２のレンズ群ＬＧ２は、正のレンズ２２と、負のレンズ２４および正のレンズ２６を含む空隙ダブレットと、負のレンズ２８とを含む。第３のレンズ群ＬＧ３は、強い正である２つの正のレンズ４０および４２と、シェル４４と、弱い正である２つの正のレンズ４６および４８とを含む。偏向鏡２０は、この発明の動作に不可欠なわけではない。しかしながら、偏向鏡によって対象物の面と像面とを平行にすることができるので、ステップアンドスキャン系でのフォトリソグラフィーを用いる半導体装置の製造という、この発明の光学系で意図される応用には好都合である。
【００１３】
ビームはレチクル即ち長い共役側端部で系に入射し、第１のレンズ群ＬＧ１を通過し、偏向鏡２０によって反射され、第２のレンズ群ＬＧ２を通過する。ビームは、ビームスプリッタキューブ３０に入射し、表面３６から反射され、４分の１波長板３２を通過して、凹面鏡３４によって反射される。次に、ビームは逆方向に４分の１波長板３２、ビームスプリッタキューブ３０、４分の１波長板３８、第３のレンズ群ＬＧ３を通過し、像面即ちウエハ面５０に焦点が合わされる。
【００１４】
鏡の前方のレンズ群ＬＧ１およびＬＧ２の屈折力は、凹面鏡３４またはその近傍の開口絞りに無限遠の入射ひとみを結像するのに十分なだけである。レンズ群ＬＧ１およびＬＧ２を併せた屈折力は、やや負である。シェル１２と空隙ダブレット１４および１６とは、非点収差、像面湾曲、および歪曲を含む収差補正を助ける。凹面鏡３４後方のレンズ群ＬＧ３は、開口絞りを無限遠の射出ひとみに投影するのに加えて、対象物から像寸法への縮小のほとんどを行う。２つの強い正のレンズ４０および４２は、像での高い開口数を与え、射出ひとみを無限遠に結像する。シェル４４はほとんど屈折力を持たない。２つの弱い正のレンズ４６および４８は、高次の収差を補正するのを助ける。
【００１５】
第２のレンズ群ＬＧ２における負のレンズ２４は、ビームスプリッタキューブ３０および凹面鏡３４に向けられる大きく発散するビームを与える。強い正のレンズ２２は、横方向の色補正を与える。レンズ２４および２６を含む空隙ダブレットは、球面収差およびコマ収差を補正するのを助ける。凹面鏡３４は好ましくは非球面であり、したがって高次の収差をさらに低減するのを助ける。
【００１６】
ビームスプリッタキューブ３０によってもたらされる透過の損失は、対象物即ちレチクルを平面偏光で照射し、かつビームスプリッタキューブ３０と凹面鏡３４との間に真の４分の１波長板３２を設けることによって最小になる。真の４分の１波長板とは、ＳおよびＰ偏光状態の間で４分の１波長分位相の遅れをもたらす複屈折材料の厚さを有するものを意味する。これは、２分の１＋４分の１波長の整数倍またはその位相の遅れが４分の１波長だけ異なる材料の２つの厚さを有するものとは大きく異なる。入射角の大きなばらつきという悪影響は、このような真の０次波長板を用いることによって、および入射面における像面寸法を制限することによって高い開口数で最小になる。さらに、凹面鏡３４およびビームスプリッタキューブ３０後方のレンズ群ＬＧ３における開口数を増すことによって、これらの素子において最大の入射角度のばらつきが認められない。
【００１７】
しかしながら、約０．５を上回る開口数で平面偏光を使用すると、結像の際に小さいがそれとわかる非対称をもたらす。この発明において、これは、ビームスプリッタキューブ３０を最後に通過した後に第２の４分の１波長板３８を導入し、平面偏光を円偏光に変換することによって効果的に除去できる。この円偏光は、その結像動作においては偏光されていない光と区別できない。
【００１８】
図１に示される光学系は、４対１の縮小率で動作するように設計される。したがって、像空間における開口数は、０．７から４のファクタだけ低減されて、対象物すなわちレチクルにおいて０．１７５になる。第１のレンズ群ＬＧ１を出る際に、凹面鏡３４の近傍の系の開口絞りに無限遠の入射ひとみを結像するためにレンズ群ＬＧ１において必要な正の屈折力の結果、開口数は０．１２に低減される。第２のレンズ群ＬＧ２を出てビームスプリッタに入射する際の開口数は、０．１９である。これは、第２のレンズ群ＬＧ２の全体の負の屈折力によって、物体空間の開口数０．１７５に非常に類似している。これは、ビームスプリッタキューブに入射する際の開口数が典型的には０に近い、またはほとんどコリメートされる先行技術の系とは対照的である。凹面鏡３４はほとんど同心であるので、それから反射されるビームの開口数は、０．１９から０．３５にわずかに増加する。第３のレンズ群ＬＧ３は、ウエハ面即ち像面５０において開口数を２倍にして、その最終値を０．７にする。
【００１９】
この発明は、負の第２の群ＬＧ２および強い正の第３のレンズ群ＬＧ３によってビームスプリッタキューブのエッジによる妨害なく、比較的高い開口数を達成する。この発明において板状のビームスプリッタではなくビームスプリッタキューブ３０を用いることが重要であるのは、約０．４５を上回る開口数ではビームスプリッタキューブの方がより優れた性能を与えるからである。ガラスの屈折率によってキューブ内の開口数が低減される上に、傾斜板ビームスプリッタではビームスプリッタに入射する非平行ビームにおいてもたらされるであろう収差がない。
【００２０】
この発明に従う、図１に示されるレンズ系に関する構成データは、以下の表１〜表３で与えられる。
【００２１】
【表１】
0003636212.tif 000002
【００２２】
【表２】
0003636212.tif 000003
【００２３】
【表３】
0003636212.tif 000004
【００２４】
表３の素子番号５０の欄を参照して、開口直径が２６．５０１９ｍｍとなっている。この開口は像面寸法に直すと約２６×５ｍｍになる。すなわち、この発明によれば、２６×５ｍｍの像面に０．３５ミクロンを下回るパターンを焼付けることができる。
【００２５】
凹面鏡３４は以下の式に従う非球面の反射表面を有する。
【００２６】
【数１】
0003636212.tif 000005
【００２７】
ここで定数は以下のとおりである。
ＣＵＲＶ＝−０．００２８９０５１
Ｋ      ＝  ０．００００００
Ａ      ＝  ６．０８９７５  ×  １０-11 
Ｂ      ＝  ２．６４３７８  ×  １０-14 
Ｃ      ＝  ９．８２２３７  ×  １０-19 
Ｄ      ＝  ７．９８０５６  ×  １０-23 
Ｅ      ＝−５．９６８０５  ×  １０-27 
Ｆ      ＝  ４．８５１７９  ×  １０-31 
表１〜表３の構成に従うレンズは、２４８．４ナノメートルを中心とするビームに関して最適化される。石英ガラスの単一の屈折材料および屈折力の大部分が、図１に示される実施例のスペクトルバンド幅を、約１０ピコメートルつまり０．０１ナノメートルに制限する。これは、線の細められたフッ化クリプトンエキシマレーザ光源のために十分なスペクトルバンド幅である。図１に示される実施例は、石英ガラスが十分に透過させるいかなる波長に関しても最適化され得る。
【００２８】
より広いスペクトルバンド幅は、分散の異なる２つの光学材料を用いることによって達成され得る。この発明の第２の実施例は、図２に示される。第２の実施例に係る光学系はその長い共役側端部から、対象物即ちレチクル面１０、レンズ群ＬＧ４、偏向鏡１２２、レンズ群ＬＧ５、表面１３８を有するビームスプリッタキューブ１３２、第１の４分の１波長板１３４、凹面鏡１３６、第２の４分の１波長板１４０、レンズ群ＬＧ６を含む。像は、像面即ちウエハ面５０で結像される。レンズ群ＬＧ４は、負のレンズ１１２および正のレンズ１１４を含む空隙ダブレットと、弱い正のレンズ１１６と、正のレンズ１１８とシェル１２０とを含む。レンズ群ＬＧ５は、正のレンズ１２４、負のレンズ１２６、正のレンズ１２８、および負のレンズ１３０を含む。レンズ群ＬＧ６は、２つの正のレンズ１４２と、正のレンズ１４４および負のレンズ１４６を含む「接合された」ダブレットと、正のレンズ１４８と、シェル１５０および正のレンズ１５２を含む「接合された」ダブレットとを含む。
【００２９】
この第２の実施例は、レンズ群ＬＧ４の個々の正のレンズの１つ、レンズ群ＬＧ５の負のレンズ、およびレンズ群ＬＧ６の２つの正のレンズにフッ化カルシウムを用いる。
【００３０】
この発明の図２に示される第２の実施例の構成データは、以下の表４〜表６に示される。
【００３１】
【表４】
0003636212.tif 000006
【００３２】
【表５】
0003636212.tif 000007
【００３３】
【表６】
0003636212.tif 000008
【００３４】
ここで表３の下の式で用いられる非球面鏡１３４に関する定数は以下のとおりである。
【００３５】
ＣＵＲＶ＝−０．００２８６７４４
Ｋ      ＝  ０．００００００
Ａ      ＝−１．９２０１３  ×  １０-09 
Ｂ      ＝−３．５０８４０  ×  １０-14 
Ｃ      ＝  ２．９５９３４  ×  １０-19 
Ｄ      ＝−１．１０４９５  ×  １０-22 
Ｅ      ＝  ９．０３４３９  ×  １０-27 
Ｆ      ＝−１．３９４９４  ×  １０-31 
この第２の実施例は、約２００ピコメートルつまり０．２ナノメートルのスペクトルバンド幅を有し、かつ１９３．３ナノメートルを中心とするビームに関して最適化される。やや細くされたフッ化アルゴンエキシマレーザは光源として十分である。さらに、屈折材料の両方が十分に透過させるいかなる波長に関してもこの設計は最適化され得る。材料の分散が減少するにつれて、バンド幅は一般により長い波長に関して増大する。たとえば、約２４８．４ナノメートルであれば、このような２つの材料での設計は、少なくとも４００ピコメートル、０．４ナノメートルのバンド幅で動作する。
【００３６】
波長が３６０ナノメートルよりも長くなると、より広範囲の光学ガラスが十分な透過を有し始める。図３に示される第３の実施例は、このガラスの選択が広がったことおよび分散がさらに低減されたことを活用する。その長い共役側端部から、これは対象物またはレチクル面１０、レンズ群ＬＧ７、偏向鏡２２２、レンズ群ＬＧ８、表面２３８を有するビームスプリッタキューブ２３２、第１の４分の１波長板２３４、凹面鏡２３６、第２の４分の１波長板２４０、およびレンズ群ＬＧ９を含む。像は、像面またはウエハ面５０で結像される。レンズ群ＬＧ７は、負のレンズ２１２および正のレンズ２１４を含む空隙ダブレット、正のレンズ２１６および負のレンズ２１８を含む空隙ダブレット、ならびに正のレンズ２２０を含む。レンズ群ＬＧ８は、正のレンズ２２４、負のレンズ２２６、正のレンズ２２８、および負のレンズ２３０を含む。レンズ群ＬＧ９は、正のレンズ２４２、正のレンズ２４４および負のレンズ２４６を含む接合されたダブレット、正のレンズ２４８、ならびにシェル２５０および正のレンズ２５２を含む接合されたダブレットを含む。
【００３７】
図３に示される第３の実施例の構成データは、以下の表７〜表９に示される。
【００３８】
【表７】
0003636212.tif 000009
【００３９】
【表８】
0003636212.tif 000010
【００４０】
【表９】
0003636212.tif 000011
【００４１】
ここで表３の下の式で用いられる非球面鏡２３４に関する定数は以下のとおりである。
【００４２】
ＣＵＲＶ＝−０．００２９１６４８
Ｋ      ＝  ０．００００００
Ａ      ＝−１．２７２８５  ×  １０-9
Ｂ      ＝−１．９２８６５  ×  １０-14 
Ｃ      ＝  ６．２１８１３  ×  １０-19 
Ｄ      ＝−６．８０９７５  ×  １０-23 
Ｅ      ＝  ６．０４２３３  ×  １０-27 
Ｆ      ＝  ３．６４４７９  ×  １０-32 
この第３の実施例は、３６５．５ナノメートルの波長を中心として、８ナノメートルのスペクトルバンド幅で動作する。このスペクトルバンド幅のビームは、Ｉライン波長でろ波された水銀アークランプによって与えられ得る。この第３の実施例において用いられる石英ガラス以外の光学ガラスは、一般にＩラインガラスとして既知である。これらの光学ガラスは、水銀Ｉライン波長で最小の吸収またはソラリゼーション効果を有する。これらのガラスは、アメリカ合衆国、０８８８７６−３５１９、ニュージャージー州（New Jersey）、ソマビル市（Somerville）、ブランチバーグタウンシップ（Branchburg Township ）、コロンビアロード（Columbia Road ）５０に所在するオハラコーポレイション（O'Hara Corporation）の一般的に入手可能なガラスカタログに見い出されるだろう。
【００４３】
図４は、この発明の縮小光学系の第４の実施例を示す。この実施例は、０．６３の開口数を有し、２４８．４ナノメートルの波長を中心として、３００ピコメートル、好ましくは１００ピコメートルのスペクトルバンド幅で動作し得る。第４実施例の光学系は共役側端部から、対象物即ちレチクル面４１０、第１のレンズ群ＬＧ１、偏向鏡４２０、第２のレンズ群ＬＧ２、ビームスプリッタキューブ４３０、第１の４分の１波長板４３２、凹面鏡４３４、第２の４分の１波長板４３８、および第３のレンズ群ＬＧ３を含む。像は、像面即ちウエハ面４５０で結像する。
【００４４】
第１のレンズ群ＬＧ１は、シェル４１２と、正のレンズ４１４および負のレンズ４１６を含む空隙ダブレットと、正のレンズ４１８とを含む。第２のレンズ群ＬＧ２は、正のレンズ４２２と、負のレンズ４２４および正のレンズ４２６を含む空隙ダブレットと、負のレンズ４２８とを含む。第３のレンズ群ＬＧ３は、２つの正のレンズ４４０および４４２と、シェル４４４と、２つの正のレンズ４４６および４４８とを含む。やはり、図１に示される実施例のように、図４の偏向鏡４２０はこの発明の動作に不可欠なわけではないが、対象物４１０と像面４５０とが互いに平行になるのを可能にし、フォトリソグラフィーを用いる半導体装置の製造に好都合である。
【００４５】
図４に示される第４の実施例の構成データは、以下の表１０〜表１４に示される。
【００４６】
【表１０】
0003636212.tif 000012
【００４７】
【表１１】
0003636212.tif 000013
【００４８】
【表１２】
0003636212.tif 000014
【００４９】
【表１３】
0003636212.tif 000015
【００５０】
【表１４】
0003636212.tif 000016
【００５１】
表３の下の数１で用いられる非球面鏡４３４に関する定数は以下のとおりである。
【００５２】
ＣＵＲＶ＝−０．００３３２６１４
Ｋ      ＝  ０．００００００
Ａ      ＝−４．３２２６１Ｅ−１０
Ｂ      ＝  ３．５０２２８Ｅ−１４
Ｃ      ＝  ７．１３２６４Ｅ−１９
Ｄ      ＝  ２．７３５８７Ｅ−２２
この第４の実施例は、２４８．４ｎｍを中心とするビームに関して最適化される。石英ガラスである単一の屈折材料および屈折力の大部分が、図４に示される実施例のスペクトルバンド幅を制限する。しかしながら、第４の実施例の最大開口数は、初めの３つの実施例の０．７ではなく０．６３なので、第４の実施例は３００ピコメートル、好ましくは１００ピコメートルのスペクトル全幅半値バンド幅にわたる許容可能な結像を与える。したがって、前者においては狭くされない、後者においては狭くされるエキシマレーザが、照射源のために用いられ得る。
【００５３】
第４の実施例のＬＧ１およびＬＧ２の正味の屈折力が、弱い負である最初の３つの実施例とは異なり、弱い正である点において、第４の実施例は、最初の３つの実施例とは異なる。さらに、このことは、ＬＧ１とＬＧ２を加えた全体の結像力が正であっても負であってもよく、それでも凹面鏡２３４でまたはその近傍で無限遠の入射ひとみが結像できることを示している。
【００５４】
図５は、この発明の縮小光学系の第５の実施例を示す。好ましくは、この実施例は０．６０の開口数を有し、２４８．４ナノメートルを中心とし、３００ピコメートルのスペクトルバンド幅で動作する。第５の実施例に係る光学系は長い共役側端部から、対象物即ちレチクル面５１０、第１のレンズ群ＬＧ１、偏向鏡５２０、第２のレンズ群ＬＧ２、ビームスプリッタキューブ５３０、第１の４分の１波長板５３２、凹面鏡５３４、第２の４分の１波長板５３８、および第３のレンズ群ＬＧ３を含む。像は、像面またはウエハ面で結像される。
【００５５】
第１のレンズ群ＬＧ１は、シェル５１２と、正のレンズ５１４および負のレンズ５１６を含む空隙ダブレットと、正のレンズ５１８とを含む。第２のレンズ群ＬＧ２は、正のレンズ５２２と、負のレンズ５２４および正のレンズ５２６を含む空隙ダブレットと、負のレンズ５２８とを含む。第３のレンズ群ＬＧ３は、２つの正のレンズ５４０および５４２と、シェル５４４と、２つの正のレンズ５４６および５４８とを含む。やはり、図１に示される実施例のように、図５の偏向鏡５２０はこの発明の動作に不可欠なわけではないが、対象物の面と像面とが互いに平行になるのを可能にし、フォトリソグラフィーを用いる半導体装置の製造に好都合である。
【００５６】
図５に示される第５の実施例の構成データは、以下の表１５〜表１９に示される。
【００５７】
【表１５】
0003636212.tif 000017
【００５８】
【表１６】
0003636212.tif 000018
【００５９】
【表１７】
0003636212.tif 000019
【００６０】
【表１８】
0003636212.tif 000020
【００６１】
【表１９】
0003636212.tif 000021
【００６２】
表３の下の数１に用いられる非球面鏡５３４に関する定数は以下のとおりである。
【００６３】
ＣＵＲＶ＝−０．００３２５９９５
Ｋ      ＝  ０．００００００
Ａ      ＝−６．９１７９９Ｅ−１０
Ｂ      ＝  ５．２６９５２Ｅ−１５
Ｃ      ＝  ６．１００４６Ｅ−１９
Ｄ      ＝  １．５９４２９Ｅ−２２
この第５の実施例は、２４８．４ｎｍを中心とするビームに関して最適化される。石英ガラスである単一の屈折材料および屈折力の大部分が、図５に示される実施例のスペクトルバンド幅を制限する。しかしながら、第５の実施例は、最初の３つの実施例の０．７ではなく０．６の最大開口数を有するので、第５の実施例は３００ピコメートルのスペクトル全幅半値バンド幅にわたる許容可能な結像を与える。したがって、狭くされないエキシマレーザが照射源のために用いられ得る。
【００６４】
第５の実施例は、第５の実施例のＬＧ１およびＬＧ２の正味の屈折力が、最初の３つの実施例のように弱い負ではなく、弱い正である点において、最初の３つの実施例とは異なる。さらに、このことは、ＬＧ１とＬＧ２を加えた全体の結像力が正であっても負であってもよく、それでも凹面鏡５３４でまたはその近傍で無限遠の入射ひとみが結像できることを示している。
【００６５】
好ましい実施例が示され、説明されたが、この発明の範囲および精神を逸脱することなく種々の変更が可能であることが当業者には明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】単一の屈折材料を用いるこの発明の一実施例の概略図である。
【図２】２つの異なる屈折材料を用いるこの発明の別の実施例の図である。
【図３】２つ以上の異なる屈折材料を用いるこの発明のさらに別の実施例の図である。
【図４】この発明の縮小光学系の第４の実施例を示す図である。
【図５】この発明の縮小光学系の第５の実施例を示す図である。
【符号の説明】
ＬＧ１  第１のレンズ群
ＬＧ２  第２のレンズ群
ＬＧ３  第３のレンズ群
３０  ビームスプリッタキューブ
３２  ４分の１波長板
３４  凹面鏡
３８  ４分の１波長板
【図１】
0003636212.tif 000022
【図２】
0003636212.tif 000023
【図３】
0003636212.tif 000024
【図４】
0003636212.tif 000025
【図５】
0003636212.tif 000026