(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験光を試験光線路（８、２３、２４、２６）に入射して該試験光線路と接続した通信光線路（９）に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器（２０）と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置（２１）とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、
試験光線路に設けた試験ポート（２７）に反射手段（３５、４１）を設けて反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第１の工程と、試験ポートに反射防止手段（３３）を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第２の工程とを備えてなり、第１、第２の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システムの試験方法。
【請求項２】
試験光を試験光線路（８、２３、２４、２６）に入射して該試験光線路と接続した通信光線路（９）に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器（２０）と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置（２１）とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、
反射手段により反射端を構成する全反射ポート（３１ｂ、４２）と、反射防止手段により無反射端あるいは低反射端を構成する無反射ポート（３１ａ）とを備える試験部品（３１、４０）を、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに接続して、該試験ポートの試験光線路に全反射ポートと無反射ポートのいずれか一方を接続した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第３の工程と、第３の工程の完了後、試験部品を付け替えて試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第４の工程とを備えてなることを特徴とする光線路監視システムの試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路監視システムの試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図６は、光線路監視システムを示す。
図６中符号１は光試験装置（ＯＰＴ部）、２は心線選択装置、３は光源、４は光パワーメータ（ＯＰＭ）、５は光パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical  Time  Domain  Reflectometer）、６は光スイッチ、７は光部品収納ケース、８は試験光線路、９は通信光線路である。
光線路監視システムは、光試験装置１と、心線選択装置２とを備えて構成される。光試験装置１と心線選択装置２との間は試験光配線８によって光接続され、心線選択装置２は内蔵した光部品収納ケース７にて通信光線路９と接続される。
光試験装置１は光源３と、光パワーメータ４と、光パルス試験器５とを装備し、これら光源３、光パワーメータ４、光パルス試験器５を２本の試験光配線８、８と接続している。
なお、通信光線路９は、光ファイバ等から構成された光配線である。
【０００３】
心線選択装置２は光スイッチ６と光部品収納ケース７とを備えている。
光スイッチ６は、１あるいは複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００本の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２本の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光ファイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に位置決めすることで、光ファイバ配列台６ａ上に配列させた目的の光ファイバ１１、１１とそれぞれ接続する。なお、可動ヘッド１２、１２の制御は光スイッチ６内蔵のＣＰＵによりなされる。
光部品収納ケース７は、光スイッチ６から引き出された単心あるいは多心の光ファイバ１１ａと、この光ファイバ１１ａの途中に介在させた光合分波器１０（光カプラ）とを収納し、光ファイバ１１ａと通信光線路９とを光コネクタ１３を介して接続する。また、光部品収納ケース７は、図示していない伝送装置側の光線路が接続される接続用ポート１４を有し、この接続用ポート１４を介して通信光線路９や光ファイバ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。
なお、試験光配線８と光ファイバ１１、１１ａとは、光試験装置１と心線選択装置２内の他の光部品とともに試験光線路を構成する。
【０００４】
この光線路監視システムでは、光スイッチ６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続することで、目的の通信光線路９と光試験装置１とが接続される。そして、光源３から試験光配線８に入射した試験光を、光スイッチ６、光部品収納ケース７を介して通信光線路９へ入射し、この逆順で光試験装置１に帰還した反射光を光パルス試験器５で観測することで、周知の光パルス試験を行う。試験光波長としては、通信光波長である１．３１μｍ、あるいは通信光とは異なる波長としては例えば１．５５μｍや１．６５μｍを用いることが一般的である。
【０００５】
ところで、光線路監視システム自体の光線路に異常があると通信光線路の光パルス試験が無意味になってしまうため、近年では、光線路監視システムの試験方法が提案されている。
この試験方法の一例としては、まず、図６中符号１５の測定ポートと、１６の確認ポートの２個のポートを光スイッチ６に確保し、これら測定ポート１５と確認ポート１６とをループバック用光ファイバ１７で接続する。そして、光スイッチ６を駆動させて測定ポート１５と確認ポート１６とに試験光配線８、８をそれぞれ接続した後、光源６から試験光配線８に入射した試験光をループバック用光ファイバ１７を介して光パワーメータ４へ帰還させることで、光試験装置１から光スイッチ６までの試験光配線８、８の確認と、光スイッチ６まわりの配線確認、光スイッチ６の動作確認を行う。すなわち、光パワーメータ４で帰還した試験光の強度を基準値と比較し、光パルス試験器５で試験光の入射から帰還までの時間（距離）から試験光配線８および通信光線路９の異常を観測し、両観測データを照合することで異常の有無を確認している。
なお、この試験方法では、２本の試験光配線８とループバック用光ファイバ１７とを通って入射試験光が光試験装置１に帰還されるようにすれば良いので、ループバック用光ファイバ１７の取り付け位置は自由であり、例えば、光部品収納ケース７にて光ファイバ１１ａに取り付けることも可能である。この場合、測定ポートと確認ポートとを光部品収納ケース７に設置する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記のような光線路監視システムの試験方法の場合、光パワーメータ４が高価であるため、光線路監視システムのコストが上昇するといった問題があった。なお、光パワーメータ４は、この試験においてループバックされた試験光強度を基準値と比較することだけに機能し、通信光線路９のパルス試験等の他の試験には利用されないため、ループバック光用の光パワーメータ４を設置しないで安価で実施できる試験方法の開発が求められていた。
また、前記光線路監視システムでは、１心の通信光線路９に対して２心の試験光線路が必要となることに鑑みて、光スイッチ６や光部品収納ケース７に２ポートを確保する必要があり、これにより、例えば、光スイッチ６の対応心数の増加やコンパクト化の妨げになるといった問題が生じていた。伝送装置側の光パルス試験が不要である場合には、光部品収納ケース７では伝送装置側の光線路の試験用ポートを省略できるはずであるが、このポートをループバック用に残しておく必要があるため、光部品収納ケース７を小型化できないといった不満があった。
【０００７】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、
（１）光スイッチや光部品収納ケースに確保すべき試験ポートの数が減少するため、光スイッチの対応心数の増大やコンパクト化が可能になる、
（２）光パワーメータが不要となるため、コンパクト化、低コスト化できる
（３）試験部品が簡便であるので、試験を低コスト化できる
（４）試験部品の光線路への取り付けが容易であり、光パルス試験装置から目的の範囲の試験光線路を簡便に試験することができる、
（５）通信光線路の試験にも利用することができる
光線路監視システムの試験方法を提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、試験光を試験光線路に入射して該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、試験光線路に設けた試験ポートに反射手段を設けて反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第１の工程と、試験ポートに反射防止手段を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第２の工程とを備えてなり、第１、第２の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システムの試験方法を前記課題の解決手段とした。
【０００９】
試験ポートを設ける試験光線路としては、光パルス試験器と心選択装置の全ての試験光線路が採用可能である。これにより、従来のように光スイッチに試験ポートを確保する必要が無くなり、光スイッチの対応心数の増大や、コンパクト化が可能になる。また、試験ポートは、試験光線路の光ファイバ部分に設けることが好ましく、この光ファイバは単心、多心のいずれであっても良い。
反射手段としては、全反射膜や、光ファイバグレーティング等の各種構成の採用が可能である。また、試験光線路端末の周囲に空間を形成することにより、反射端を形成する構成も採用可能である。
反射防止手段としては、例えばコアレス光ファイバや、光吸収膜等や、フィルタ部を通過する試験光波長帯域のみ反射を防止する光アイソレータ等の各種構成の採用が可能である。また、反射防止手段としては、試験光を吸収する構成である必要は無く、例えば、半径を小さく巻いた光ファイバ等によって試験光の損失を大きくした構成等も採用可能である。
【００１０】
第１、第２の工程は、同一波長の試験光で実施することが好ましい。また、第１、第２の工程の実施順は、どちらが先でも良い。
試験光波長としては、例えば１．３１μｍや１．５５μｍ、１．６５μｍ等が採用される。
また、本発明の光線路監視システムの試験方法によれば、第１、第２の工程で試験光の通過と反射とを光パルス試験器で観測することで、試験光をループバックさせること無く試験光線路の異常を検出できるので、ループバック光を受光するための光パワーメータが不要になる。
【００１１】
本発明の光線路監視システムの試験方法では、請求項２に記載したように、試験光を試験光線路に入射して該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、反射手段により反射端を構成する全反射ポートと、反射防止手段により無反射端あるいは低反射端を構成する無反射ポートとを備える試験部品を、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに接続して、該試験ポートの試験光線路に全反射ポートと無反射ポートのいずれか一方を接続した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第３の工程と、第３の工程の完了後、試験部品を付け替えて試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第４の工程とを備えてなる構成も採用可能である。
【００１２】
前記試験部品は、いわゆる光ファイバテープ心線等の多心光ファイバに接続するか、複数本の光ファイバを集合して一括して接続する。また、試験部品としては、多心光コネクタを利用して、この光コネクタのフェルールやハウジングに反射手段や反射防止手段を組み込んで全反射ポート、無反射ポートを形成した構成であることが好ましく、特に着脱自在な多心光コネクタを利用した構成であることがより好ましい。光コネクタとしては、例えばＪＩＳ Ｃ ５９８１に制定されるプラスチック製多心光コネクタ（いわゆるＭＴ形光コネクタ：Mechanically Transferable）等の各種光コネクタの採用が可能である。これにより、試験光線路に設置された多心のコネクタ接続部を試験ポートして試験部品を接続し、この試験ポートに試験部品を付け替えて、試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換するだけで、第３、第４の工程を簡便に実施することができる。前記プラスチック製多心光コネクタを利用した試験部品では、同一の試験部品を向きを反転させて接続し直すだけで試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換することができ、作業性が大幅に向上する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下本発明の光線路監視システムの実施の形態を、図１から図４を参照して説明する。
図１は、本発明に係る光線路監視システムの試験方法を適用する光線路監視システムを示す。
なお、図中図６と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化す
る。
図１において、本発明に係る光線路監視システムは、光パルス試験器２０（ＯＴＤＲ）と、心線選択装置２１とを備えて構成されている。光パルス試験器２０は、試験光配線８に試験光を入射する光源（図示せず）を内蔵している。この光パルス試験器２０には試験光配線８を一本接続している。この試験光配線８は、心線選択装置２１の光スイッチ２２にて可動ヘッド２２ａに支持され、該可動ヘッド２２ａを駆動することで、光ファイバ配列台２２ｂに配列支持した多数本の光ファイバ２３に対して選択的に接続される。前記光ファイバ２３は多心光ファイバ２４に変換して光スイッチ２２外に引き出され、光部品収納ケース２５に収納した多心光ファイバ２６と多心光コネクタ２７を介して切替可能に接続される。この多心光コネクタ２７は、光線路監視システムの試験の際に試験ポートとして使用する。多心光ファイバ２６は光コネクタ２８を介して通信光線路９と接続される。多心光ファイバ２６の途中には光カプラ２９を介在させている。また、光部品収納ケース２５は、伝送装置側の図示しない光線路が接続される接続用ポート３０を有している。
本実施の形態では、多心光ファイバ２４、２６はいずれも８心光ファイバテープ心線であり、多心光コネクタ２７はＪＩＳ  Ｃ  ５９８１に制定されるプラスチック製多心光コネクタ（いわゆるＭＴ形光コネクタ：Mechanically Transferable）であり、多心光ファイバ２４、２６を切替可能に接続する。
なお、光ファイバ２３は、多心、単心のいずれであってもよい。
【００１４】
図２は、本実施の形態に係る試験部品３１を示す。この試験部品３１は、ＪＩＳ Ｃ ５９８１に制定されるプラスチック製多心光コネクタのフェルールを利用したものであり、プラスチック製のフェルール本体３２と、４個の反射防止手段３３（コアレス光ファイバ）とを備えている。本実施の形態では、フェルール本体３２の前記多心光コネクタ２７と突き合わせ接続される接合端面３４には合計８個の光ファイバ挿入穴３５を開口し、これら光ファイバ挿入穴３５に一つおきに反射防止手段３３を固定している。これにより、接合端面３４では、光ファイバ挿入穴３５に反射防止手段３３を固定してなる無反射ポート３１ａと、何も入っていない空の光ファイバ挿入穴３５である全反射ポート３１ｂとが交互に形成される。全反射ポート３１ｂは全反射膜を組み込むこと等によっても得られるが、空の光ファイバ挿入穴３５を適用する場合には、この光ファイバ挿入穴３５が請求項１記載の反射手段として機能している。また、試験部品３１は多心光コネクタ２７で使用するガイドピン３６が嵌合されるガイドピン穴３７を有している。したがって、試験部品３１と多心光コネクタ２７とは、双方のガイドピン穴３７、３８にガイドピン３６を嵌合することで位置決めされる。そして、この状態で接合端面３４、３９同士を接合して図示しないクランプバネで突き合わせ力を確保することで、多心光コネクタ３７によって成端された裸ファイバ２４ａに各反射防止手段３３が接続される。前記裸ファイバ２４ａは、光スイッチ２２から多心光コネクタ２７までの試験光配線を構成している。
【００１５】
次に、本実施の形態の光線路監視システムの試験方法を説明する。
［第１の手順］まず、試験部品３１を組み立て、選択した多心光コネクタ２７を試験ポートとして試験部品３１を接続し、無反射ポート３１ａおよび全反射ポート３１ｂを多心光コネクタ２７の裸ファイバ２４ａにそれぞれ接続する。
［第２の手順］次に、光パルス試験装置２０から波長１．５５μｍの試験光を試験光配線８に入射して光パルス試験器２０で反射光を観測する。各試験光線路の試験は、光スイッチ２２を駆動して、前記多心光コネクタ２７に係る８本の裸ファイバ２４ａに対して試験光配線８の接続を切り替えつつ試験光を各裸ファイバ２４ａに順に入射して行う。
［第３の手順］第２の手順の完了後、試験部品３１を付け替えて試験光配線８に接続する無反射ポート３１ａと全反射ポート３１ｂとを交換した後、光パルス試験器２０から試験光配線８に、再び波長１．５５μｍの試験光を入射して光パルス試験器２０で反射光を観測する。この時、多心光コネクタ２７から取り外した試験部品３１の向きを反転させて、再度、多心光コネクタ２７と接続するだけで、無反射ポート３１ａと全反射ポート３１ｂとを極めて簡便に交換することができる。なお、第２、第３の手順は、請求項１記載の第１、第２の工程、並びに請求項２記載の第３、第４の工程に相当する。
【００１６】
以下、この光線路監視システムの試験方法の作用および効果を説明する。まず、第２の手順にて、無反射ポート３１ａと接続した裸ファイバ２４ａに係る試験光線路の試験について説明する。第２の手順にて、この試験光線路にフレネル反射が確認されたなら（図３参照）、この試験光線路の途中に断線等の異常が存在することが判明する。しかしながら、フレネル反射が確認されない場合（図４参照）では、この試験光線路が正常であることは断定できない。すなわち、光ファイバの潰れ等による無反射性（光吸収性）の異常が存在する場合には、入射した試験光がこの異常箇所で吸収され光パルス試験装置２０で反射光が受光されない可能性があるため、異常が無い場合と区別が付かないためである。第３の手順では、この試験光線路は今度は全反射ポート３１ｂと接続されることになる。ここで、試験を実施した結果、第２の手順では異常が検出されていない試験光線路にフレネル反射が確認できた（図３参照）なら異常が無いことが判明するが、逆に、フレネル反射が確認できない場合（図４参照）では、無反射性の異常がこの試験光線路の途中に存在することが判明する。
【００１７】
一方、第２の手順にて全反射ポート３１ｂと接続した裸ファイバ２４ａに係る試験光線路について説明すると、第２の手順にて、この試験光線路にフレネル反射が確認されない場合（図４参照）では、前述の無反射性の異常の存在が判明する。しかしながら、フレネル反射が確認された場合（図３参照）では、試験光線路の途中の断線や損傷やコネクタ接続部での接続不良等による反射光を拾っている可能性が有り、この反射光と試験光線路端末（裸ファイバ２４ａ先端）からの正規の反射光との区別が付かないため、試験光線路が正常であることを断定することは出来ない。
この試験光線路に関して第３の手順を実施した結果、第２の手順にて異常が検出されていない試験光線路にフレネル反射が確認できない（図４参照）なら異常が無いことが判明するが、フレネル反射が確認できた（図３参照）なら断線や接続不良等の異常が途中に存在することが判明する。
【００１８】
この光線路監視システムの試験方法によれば、第１の手順の後、第２、第３の手順を連続して実施することで、光パルス試験装置２０から裸ファイバ２４ａ先端までの試験光線路の異常箇所を確実に検出することができ、光線路監視システムの信頼性を向上することができる。
また、１ポートで試験を実施できるので、別途試験用のポートを設ける必要が無く、試験光線路に試験部品３１を接続するだけで簡便に試験を実施することができる。これにより、図１に示すように、光スイッチ２２に試験用のポートを確保する必要が無くなり、光スイッチ２２の容積に対する光ファイバ２３の実装密度を向上することができるので、光スイッチ２２の対応心数の増加や、コンパクト化が可能になる。また、伝送装置側の光線路の試験を省略する場合には、光部品収納ケース７に設ける試験光線路用のポートも一つで済むため、光部品収納ケース７の小型化、低コスト化が可能になる（図１参照）。
また、光パワーメータを使用すること無く試験を行うことができるので、試験を低コスト化することができ、光線路監視システム自体の小型化、低コスト化も可能になる。
【００１９】
多心光コネクタ２７に着脱可能な光コネクタフェルールを利用して組み立てた試験部品３１を、試験光線路の途中に介在された多心光コネクタ２７に着脱するだけで試験を実施することができるので、光線路監視システムの試験の作業性が大幅に向上する。すなわち、試験部品３１を取り付けるために試験光線路を切断したり、接続用ポートを試験光線路に組み立てる必要が無いので、試験部品３１は極めて短時間で試験光線路に取り付けることができる。また、試験部品３１を反転させるだけで、第２、第３の手順を連続して実施できるので、作業性が大幅に向上して、試験時間を短縮することができる。
また、この試験部品３１を利用したことで、複数（本実施の形態では８心）の試験光線路の試験を連続して効率良く実施することができ、試験時間を一層短縮することができる。
ループバック用の試験光線路を必要としないので、試験を容易に実施することができる。
試験部品３１は、多心光コネクタ２７に対して着脱が容易であるので、試験後の撤去も極めて短時間で行うことができ、通信光線路の試験等の他の作業に与える影響が少ない。
【００２０】
なお、試験部品は、図２に示した構成に限定されず、各種構成の採用が可能である。図２の試験部品３１では、反転して多心光コネクタ２７と再度接続した際に、試験光線路に接続する無反射ポート３１ａと全反射ポート３１ｂとが丁度入れ替わる構成であれば良く、例えば、図２において、左側の４つの光ファイバ挿入穴３５に無反射ポート３１ａを形成し、残りの４つの光ファイバ挿入穴３５に全反射ポート３１ｂを形成した構成等も採用可能である。また、４心用の多心光コネクタに試験部品３１ａを装着すると、４心光ファイバテープ心線からなる試験光線路を試験することもできる。試験部品は、４心用のフェルール本体の全ての光ファイバ挿入穴にコアレス光ファイバを固定した構成も採用可能である。この試験部品は、８心用である多心光コネクタ２７に装着した際に、多心光コネクタ２７側の裸ファイバ２４ａに各コアレス光ファイバを接続して無反射ポートとして機能させ、かつコアレス光ファイバが接続されない裸ファイバ２４ａの周囲に空間を形成して全反射ポートとして機能させる。この試験部品では、多心光コネクタ２７に対して装着位置を移動することで、試験光線路に対する無反射ポートと全反射ポートとの接続を切り替えることができる。
【００２１】
図５は、試験部品の別態様を示す。この試験部品４０は、図２に示したフェルール本体３２の全ての光ファイバ挿入穴３５にコアレス光ファイバ３３を固定し、半数のコアレス光ファイバ３３のフェルール本体３２後方（図５中右奥）に引き出された端部に金蒸着膜等からなる反射手段４１を備えている。この試験部品４０は、反射手段４１が設けられたコアレス光ファイバ３３を全反射ポート４２として多心光コネクタ２７の裸ファイバ２４ａに接続するようになっている。全反射ポート４２を構成する４本のコアレス光ファイバ３３は、これらコアレス光ファイバ３３を同一被覆材中に一体的に固定したテープ心線を構成しており、このテープ心線の端部を単心に切り分けた部分を光ファイバ挿入穴３５に固定している。一方、全反射ポート４２を構成しない４本のコアレス光ファイバ３３も、これらコアレス光ファイバ３３を一体的に固定してなるテープ心線を構成しており、このテープ心線の端部を単心に切り分けた部分を光ファイバ挿入穴３５に固定している。なお、反射手段４１を設けていないコアレス光ファイバ３３を無反射ポート３１ａとして機能させることは図２の試験部品３１と同じである。この試験部品４０によれば、コアレス光ファイバ３３をフェルール本体３２に組み込む工程が在来品の多心光コネクタと同様になるため、簡便に効率良く組み立てることができる。
【００２２】
ＪＩＳ Ｃ ５９８１に制定されるプラスチック製多心光コネクタのフェルールを利用した試験部品は、試験光線路のコネクタ接続箇所に同じタイプの多心光コネクタを使用するだけで試験光線路の随所に接続することが可能になり、これにより試験光線路全線を効率良く試験することができる。例えば、図１に示す光コネクタ２８に、試験部品と接続可能な多心光コネクタを使用した場合には、光部品収納ケース２５内の試験光線路も含んで、試験光線路の全線に試験を実施することができる。また、長大な試験光線路を試験する場合、この試験光線路の途中に試験部品を付け替えて順次光パルス試験装置に近付きながら試験を繰り返し実施すると、異常箇所の確定等が容易になる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光線路監視システムの試験方法によれば、以下のような優れた効果を奏する。
（１）試験光線路の適宜箇所に設けた試験ポートに、試験光線路に入射した試験光の反射端を構成する反射手段と、無反射端あるいは低反射端を構成する反射防止手段とを付け替えるだけで試験を実施できるので、簡便かつ低コストで光線路監視システムに試験を実施することができる。
（２）（１）の結果、心線選択装置の光スイッチに試験ポートを確保する必要が無くなるので、光スイッチの対応心数の増加や、コンパクト化が可能になる。
（３）ループバック光用の光パワーメータを使用すること無く試験を行うことができるので、試験を低コスト化することができ、光線路監視システム自体の小型化、低コスト化も可能になる。
（４）第１、第２の工程のいずれか一方、第３、第４の工程の内の第３の工程を先行して実施した後、第１、第２の工程の他方あるいは第４の工程を実施することで、試験光線路の断線以外の各種異常をも確実に検出することができるので、試験の信頼性が向上する。
（５）（４）の結果、光線路監視システムによる通信光線路の試験の信頼性が向上する。
（６）光ループバック用の試験光線路を必要としないので、試験を容易に実施することができる。
（７）（１）の結果、伝送装置側の光線路の試験を省略する場合には、光部品収納ケースに形成する試験用のポートを減少することができ、光部品収納ケースの小型化、低コスト化が可能になる。
【００２４】
請求項２記載の光線路監視システムによれば、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに試験部品を接続して試験を行うので、複数の試験光線路の試験を連続して効率良く実施することができ、試験時間を一層短縮することができるといった優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の光線路監視システムの試験方法を適用する光線路監視システムの一例を示す平面図である。
【図２】  本発明の光線路監視システムの試験方法で使用する試験部品の一例を示す斜視図である。
【図３】  光パルス試験器で観測される時間（距離）と試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であって、フレネル反射を示す。
【図４】  光パルス試験器で観測される時間（距離）と試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であって、フレネル反射が観測されない状態を示す。
【図５】  試験部品の別態様を示す斜視図である。
【図６】  従来例の光線路監視システムの試験方法に係る光線路監視システムを示す平面図である。
【符号の説明】
８…試験光線路（試験光配線）、９…通信光線路、２０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、２１…心線選択装置、２３…試験光線路（単心光ファイバ）、２４…試験光線路（多心光ファイバ）、２６…試験光線路（多心光ファイバ）、２７…試験ポート（多心光コネクタ）、３１…試験部品、３１ａ…無全反射ポート、３１ｂ…全反射ポート、３３…反射防止手段（コアレス光ファイバ）、３５…反射手段（光ファイバ挿入穴）、４０…試験部品、４１…反射手段（金蒸着膜）、４２…全反射ポート。
【図１】
0003636560.tif 000002
【図２】
0003636560.tif 000003
【図３】
0003636560.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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