(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
インサーキットテスタを用いて、プリント基板に実装したＩＣのピンと対応するパターン間の導通状態を示す電気量を測定し、その測定結果からＩＣの足浮きの有無を判定するＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法において、上記ＩＣのグランド又は電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続すべきパターンとにそれぞれ測定用ピンプローブを１本ずつ押し当て、そのグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にそれ等のグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとに絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様にグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、それ等の両電気量の差をしきい値と比べることを特徴とするＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法。
【請求項２】
請求項１記載のＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法に用い、ＩＣのグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとを押す足押え具において、上記ＩＣのグランド又は電源ピン、或いは被検査用入力又は出力ピンを押す絶縁性加圧用プローブとして、少なくとも先端部に絶縁材料を有する棒状体を２本備え、その両絶縁性加圧用プローブの基端部寄り箇所を支持部材を介して一体に結合することを特徴とする足押え具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＸ−Ｙ方式、ピンボード方式等のインサーキットテスタを用いて行なうプリント基板に実装したＩＣ（集積回路）の足浮き検出方法並びのその足押え具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、実装基板即ち多数の電子部品等を装着し、半田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブの先端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出し、或いは各部品の特性値等を電気的に測定して基板の良否の判定を行っている。この種のインサーキットテスタには被検査基板を載せる測定台上に検査治具たるフィクスチュアー（ピンボード）を設置するピンボード方式のものと、被検査基板を載せる測定台上にＸ−Ｙユニット等を設置するＸ−Ｙ方式のものとがある。
【０００３】
そして、ピンボード方式ではボードに被検査基板の測定点の数に等しい数のピンプローブを測定点の位置に対応させて設け、被検査基板の上にフィクスチュアーを載せることにより、各ピンプローブを各測定点にそれぞれ接触する。一方、Ｘ−Ｙ方式ではＸ軸方向に可動するアームの上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニットを備え、そのＺ軸ユニットで１本のピンプローブをＺ軸方向に可動可能に支持し、Ｘ−Ｙユニットを制御することにより、そのピンプローブを基板の上方からＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動して、予め設定した各測定点に順次接触する。それ故、ピンボード方式のものは多量の同一被検査基板の測定に適するのに対し、Ｘ−Ｙ方式のものは多品種少量の被検査基板の測定に適する。なお、通常は測定用ピンプローブとしてその先端が鋭く突出するものを使用する。
【０００４】
これ等の方式によるインサーキットテスタを用いて、プリント基板に実装したＩＣの半田付け不良によるピン（リード）とパターンとの接触不良即ちＩＣの足浮きを検査する場合、通常はＩＣのピンとそのピンが半田付けされるべき基板上のパターンにそれぞれ測定用ピンプローブを接触し、ピンと対応するパターン間の導通状態を示す抵抗値を測定することによって足浮きの有無の判定を行なっている。その際、ＩＣのピンに対して正確なプロービングを必要とする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ＩＣのピンピッチは近年狭くなってきており、ファインピッチ化が著しい。それ故、インサーキットテスタを用いてピンピッチの狭いＩＣに対し、足浮きの検査を実施しようとしても、ピン上に先端が鋭く突出した測定用ピンプローブを正確に立て難い。特に、足浮き検出の精度を上げるには、図３に示すような４端子法によって抵抗値の測定を行なう必要があるため、プロービングが一層困難になる。図中、１０がＩＣ、１２がそのピン、１４がプリント基板、１６がその配線用パターンである。又、１８が計測部、２０がその定電流源、２２が直流電流計、２４が直流電圧計、２６が測定用ピンプローブである。なお、測定用ピンプローブは先端が鋭く突出しているため、ＩＣのピンやパターンに押し当てると打痕傷が付く。
【０００６】
本発明はこのような従来の問題点に着目してなされたものであり、第１にＩＣのピンピッチのファイン化にも対応し易く、打痕傷を少なくすることのできるＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法を提供することを目的とする。又、第２にＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法に使用するのに好適な足押え具を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による第１目的対応のＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法ではインサーキットテスタを用いて、プリント基板に実装したＩＣのピンと対応するパターン間の導通状態を示す電気量を測定し、その測定結果からＩＣの足浮きの有無を判定する。
【０００８】
その際、ＩＣのグランド又は電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続すべきパターンとにそれぞれ測定用ピンプローブを１本ずつ押し当て、そのグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にそれ等のグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとに絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様にグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、それ等の両電気量の差をしきい値と比べる。
【０００９】
又、第２目的対応のＩＣのインサーキットテスタによる足浮き検出方法に用い、ＩＣのグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとを押す足押え具は、ＩＣのグランド又は電源ピン、或いは被検査用入力又は出力ピンを押す絶縁性加圧用プローブとして、少なくとも先端部に絶縁材料を有する棒状体を２本備え、その両絶縁性加圧用プローブの基端部寄り箇所を支持部材を介して一体に結合すると好ましくなる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下添付図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキットテスタに備える測定用ピンプローブ、足押え具のＩＣの足浮き検査時におけるピンとパターンに対する配置関係を示す図である。図中、２８がコ状の足押え具、３０（３０ａ、３０ｂ）がその棒状の絶縁性加圧用プローブ、３２が両絶縁性加圧用プローブ３０の基端部を結合する棒状の支持部材である。
【００１１】
この足押え具２８はＸ−ＹユニットのＺ軸ユニットに設置したエアシリンダ（図示なし）のピストンロッド先端部３４に装着する等して使用する。そして、ＩＣ１０の足浮き検査時には検査対象となっている１対のピン１２に、対応するプローブ３０でそれぞれ加圧力を与える。それ故、両加圧用プローブ３０は少なくとも各先端部３６（３６ａ、３６ｂ）を絶縁性にする必要があり、足押え具２８にコ状の金属棒を用いる場合には両先端部３６を絶縁材料でそれぞれ被覆する。その際、金属棒の先端を平らにしたり、絶縁材料としてゴム等の絶縁性を有するものを採用したりすると、当然ピン１２に打痕傷が付き難い。又、足押え具の全体をプラスチック等の絶縁材料で形成することもできる。なお、図１では従来例の説明で用いた番号を対応する同一部分に使用した。
【００１２】
このような測定用ピンプローブ２６、足押え具２８を備えたＸ−Ｙ方式インサーキットテスタを用いてＩＣ１０の足浮きを検査する場合、先ずＩＣ１０のグランド（ＧＮＤ）ピン１２ａが接続すべきパターン１６ａと被検査用に選んだ１本の入力又は出力ピン１２ｂが接続すべきパターン１６ｂとに測定用ピンプローブ２６（２６ａ、２６ｂ）をそれぞれ押し当てる。なお、測定用ピンプローブ２６はエアシリンダのピストンロッドとして動作させることができる。
【００１３】
そして、定電流源２０より両測定用ピンプローブ２６を通じてＩＣ１０に定電流を流す。すると、図２に示すようにグランドピン１２ａと多数存在する各入力又は出力ピン１２ｂ（１２ｂ1 、１２ｂ2 ）との間には常に寄生ダイオード３８（３８ａ、３８ｂ）が存在するため、その特性に従った電流が流れる。その際、グランドピン１２ａが足浮き状態にあり、対応するパターン１６ａとの間が離れていれば、電流は流れないが、被検査用入力又は出力ピン１２ｂが足浮き状態にあり、対応するパターン１６ｂとの間が離れていても、グランドピン１２ａと各パターン１６との間には通常他の複数の入力又は出力ピン１２ｂに関する寄生ダイオードが並列接続の状態で介在しているため電流が流れる。なお、図２では入力又は出力ピン１２ｂを２本だけ例示した。
【００１４】
そこで、電圧計２４によりグランドピン１２ａと対応するパターン１６ａの間及び被検査用入力又は出力ピン１２ｂと対応するパターン１６ｂの間の両導通状態を示す電圧値Ｖ１を測定する。次に足押え具２８を下降し、グランドピン１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとに絶縁性加圧用プローブ３０をそれぞれ押し当てる。すると、グランドピン１２ａや被検査用入力又は出力ピン１２ｂが足浮き状態であっても、それ等の各ピン１２ａ、１２ｂが対応する各パターン１６ｂとそれぞれ良好に接触するようになる。
【００１５】
再び、定電流源２０より両測定用ピンプローブ２６を通じてＩＣ１０に定電流を流し、電圧計２４によりグランドピン１２ａと対応するパターン１６ａの間及び被検査用入力又は出力ピン１２ｂと対応するパターン１６ｂの間の両導通状態を示す電圧値Ｖ2 を測定する。そして、両電圧値Ｖ1 、Ｖ2 の差をしきい値と比べ、その差がしきい値より大きい場合に被検査用入力又は出力ピン１２ｂが足浮きであると決定し、小さい場合に足浮きでないと決定する。なお、グランドピン１２ａが足浮きの場合には電圧値Ｖ1 が無限大に近づく等して大きくなるため、電圧値Ｖ1 を測定するだけで足浮きの判定を行なえる。
【００１６】
このようにして、２本の絶縁性加圧用プローブ３０を備えた足押え具２８を用いてＩＣ１０の足浮きの検査を行なうと、測定用ピンプローブ２６をピン１２に立てる必要がなく、ピン１２より通常少し幅広になっているパターン１６に立てればよいので、ＩＣ１０のピンピッチのファイン化にも対応できてプロービングを容易に行なえる。しかも、このような足押え具２８に両絶縁性加圧用プローブ３０のプローブ間距離可変機構（図示なし）を備えると、同一の足押え具２８を用いて、ＩＣ１０に備えられている多数の各入力又は出力ピン１２ｂの足浮きの検査を順次行なえるため一層好都合になる。なお、各絶縁性加圧用プローブ３０を独立したものにして、別々に操作してもよい。
【００１７】
なお、上記実施の形態では計測部１８に定電流源２０と直流電圧計２４を備え、両絶縁性加圧用プローブ３０でグランドピン１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとを押える前後で、電圧値Ｖ1 、Ｖ2 を測定して被検査用入力又は出力ピン１２ｂの足浮きの有無の判定を行なったが、計測部１８に定電圧源と直流電流計を備え、両絶縁性加圧用プローブ３０でグランドピン１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとを押える前後で電流値Ｉ1 、Ｉ2 を測定し、両電流値Ｉ1 、Ｉ2 の差を算出してしきい値と比べることによって被検査用入力又は出力ピン１２ｂの足浮きの有無の判定を行なうこともできる。
【００１８】
又、上記実施の形態では両絶縁性加圧用プローブ３０を用い、グランドピン１２ａと被検査用入力又は出力ピン１２ｂとを押える前後で電圧値、電流値等の電気量を測定して、被検査用入力又は出力ピン１２ｂの足浮きの有無の判定を行なったが、ＩＣにはその電源（Ｖｃｃ）ピンと各入力又は出力ピンとの間にも常に寄生ダイオードが存在するので、同様に両絶縁性加圧用プローブを用い、電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとを押える前後で電気量をそれぞれ測定して、被検査用入力又は出力ピンの足浮きの有無の判定を行なえる。但し、電源ピンと入力又は出力ピンとの間に存在する寄生ダイオードの方向性は反対である。
【００１９】
又、上記実施の形態では足押え具２８に備えた絶縁性加圧用プローブ３０をグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとにそれぞれ１本ずつ押し当てたが、ＩＣ１０の全ピン１２を一括して押せる絶縁性加圧用プローブを備えた足押え具を用いてもよい。
【００２０】
又、上記実施の形態ではＸ−Ｙ方式インサーキットテスタによるＩＣ１０の足浮き検出方法について説明したが、ピンボード方式インサーキットテスタによりＩＣ１０の足浮きの検出も行なえる。後者の場合にはＩＣ１０の全ピン１２に対応する各パターン１６に、ピンボードに備えた対応する各測定用ピンプローブをそれぞれ押し当てた後、グランドまたは電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量の測定を行なう。
【００２１】
【発明の効果】
以上説明した本発明によれば、請求項１記載の発明ではＩＣの足浮きを検査する際、測定用ピンプローブをピンより通常少し幅広になっているパターンに押し当て、ピンに対しては絶縁性加圧用プローブを押し当てるため、測定用ピンプローブを立て易く、ＩＣピンのファインピッチ化にも対応し易くなる。しかも、ＩＣピンに打痕傷を付けない。
【００２２】
又、請求項２記載の発明では、足押え具に備えられている２本の各絶縁性加圧用プローブをグランド又は電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続すべきパターンとに対し、同時に操作できるため、絶縁性加圧用プローブを操作するＸ−Ｙユニットの数等を少なくできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキットテスタに備える測定用ピンプローブ、足押え具のＩＣの足浮き検査時におけるピンとパターンに対する配置関係を示す図である。
【図２】ＩＣのグランドピンと入力又は出力ピンとの間に存在する寄生ダイオードを示す図である。
【図３】従来のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタに備える測定用ピンプローブの４端子法によるＩＣの足浮き検査時におけるピンとパターンに対する配置関係を示す図である。
【符号の説明】
１０…ＩＣ  １２ａ…グランドピン  １２ｂ…入力又は出力ピン  １４…プリント基板  １６…パターン  １８…計測部  ２０…定電流源  ２４…電圧計  ２６…測定用ピンプローブ  ２８…足押え具  ３０…絶縁性加圧用プローブ  ３２…支持部材  ３６…プローブ先端部  ３８…寄生ダイオード
【図１】
0003703042.tif 000002
【図２】
0003703042.tif 000003
【図３】
0003703042.tif 000004