(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥管理領域(DMA)情報が、DMA情報を有する光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装置で適切に生成されるかどうかを確認する方法において、
テスト情報として、何のデータも記録されていない空テストディスク上に欠陥を検証しない初期化を行った後に生成されるDMAを生成する段階と、
欠陥を検証しない初期化のための基準テスト情報を使用してテスト情報を確認しテスト結果を提供する段階とを含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記テスト情報はDMAミラーファイルであることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記生成する段階は、欠陥を検証せずに初期化された前記テストディスク上のDMAからテスト情報を直接読出す段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記テスト結果をユーザに知らせる段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記確認する段階は、前記テスト情報を形成する、DMA構造、ディスク定義構造(DDS)、１次欠陥リスト(PDL)構造、及び２次欠陥リスト(SDL)構造をチェックする段階、及びPDL項目及びSDL項目が存在しているかどうかをチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記確認する段階は、前記テスト情報のDMA構造を確認する段階と、前記DMAでDDSを確認する段階と、前記DMAでPDL構造を確認する段階と、前記DMAでSDL構造を確認する段階とを含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記DMA構造を確認する段階は、エラー状態、DDS/PDL及びSDL更新カウンター及びDMA内容をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記エラー状態をチェックする段階は、前記テストディスク上で二つはリードイン領域に位置し、二つはリードアウト領域に位置する、前記テストディスク上の４つの位置に記録された４つのDMA中でいずれか一つでもエラーが存在しているかどうかをチェックする段階を含み、前記DDS/PDL更新カウンターをチェックする段階は、４つのDDS及び４つのSDL内のDDS/PDL更新カウンターの値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後のDDS/PDL更新カウンターでの差を示す８つのDDS/PDL更新カウンターの増分値が全て“０”であるかどうかをチェックする段階、及び前記８つのDDS/PDL更新カウンターの値が同一であるかどうかをチェックする段階を含み、前記SDL更新カウンターをチェックする段階は、前記４つのSDLでの前記SDL更新カウンターの値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を示す４つのSDL更新カウンターの増分値が全て“０”であるかどうかをチェックする段階、及び前記４つのSDL更新カウンターの値が同一であるかどうかをチェックする段階を含み、前記DMAの内容をチェックする段階は、前記４つのDMAの内容が同一であるかどうかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記DDSの確認段階は、DDS識別子、ディスク検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ数、地域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター番号の位置、各地域の開始論理セクター番号位置をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
前記DDS識別子のチェック段階は前記DDS識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階を含み、前記ディスク検証フラグのチェック段階は、前記ディスク検証フラグで進行中であるかどうかを示すビット値、使用者検証を示すビット値及びディスク製造業者検証を示すビット値が“０b”であるかどうかをチェックする段階を含み、前記DDS/PDL更新カウンターのチェック段階は、DDS/PDL更新カウンター値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記DDS/PDL更新カウンターでの差を示す前記DDS/PDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックする段階を含み、前記グループ数のチェック段階はグループの数が所定の数であるかどうかをチェックする段階を含み、前記地域数のチェック段階は地域の数が所定の数であるかどうかをチェックする段階を含み、前記１次余裕空間の位置をチェックする段階は前記１次余裕空間の最初及び最後のセクター番号が各々所定のセクター番号であるかどうかをチェックする段階を含み、前記最初の論理セクター番号のチェック段階は前記最初の論理セクター番号の位置が所定の論理セクター番号であるかどうかをチェックする段階を含み、前記開始論理セクター番号のチェック段階は各地域についての前記開始論理セクター番号が所定の論理セクター番号であるかどうかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記PDL構造の確認段階は、PDL識別子、PDL内の項目数、及びPDL項目の構成状態をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１２】
前記PDL識別子のチェック段階は前記PDL識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階を含み、前記項目の数をチェックする段階は前記PDLで項目の数が“０”に設定されたかどうかをチェックする段階を含み、前記PDLの構成状態のチェック段階は前記PDL項目が存在しているかどうかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記SDL構造の確認段階は、SDL識別子、SDL更新カウンター、２次余裕空間(SSA)の開始セクター番号、論理セクターの総個数、DDS/PDL更新カウンター、余裕空間フルフラグ、SDL内の項目数、SDL項目の構成状態、未使用領域、及び予備領域をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１４】
前記SDL識別子のチェック段階は前記SDL識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階を含み、前記SDL更新カウンターのチェック段階は、前記SDL更新カウンター値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を示すSDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックする段階を含み、前記DDS/PDL更新カウンターのチェック段階は、前記DDS/PDL更新カウンター及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記DDS/PDL更新カウンターの差を示すDDS/PDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックする段階を含み、前記SSAの開始セクター番号、論理セクターの総個数、前記余裕空間フルフラグ、前記SDLの項目数、及び前記SDL項目の構成状態のチェック段階は、前記SSAの開始セクター番号及び論理セクターの総個数が初期化する間に指定された値で正しく設定されるかどうか、前記余裕空間フルフラグが充満しているかどうか、SDLでの項目の数が“００h”であるかどうか、及び前記SDL項目に情報が存在しているかどうかを各々チェックする段階を含み、前記未使用領域及び予備領域のチェック段階は、前記SDLの未使用領域の大きさ及び前記未使用領域が所定の値であるかどうか、及び前記予備領域が所定の値であるかどうかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記記録及び再生装置はDVD-RAM(DVD-RAM:Digital versatile disc-random access memory)であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイルであることを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項１７】
前記基準DMAミラーファイルは、ドライブが正常に全ての動作を行った場合に作られる、エラー情報を全く有しないデータを含むことを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記４つのDMA中で一つでもエラーが存在しているかどうかをチェックする段階は、前記４つのDMAに任意の回復できないエラーがあるかどうかをチェックする段階と、任意の回復できないエラーが見つかった場合に確認が失敗したと決定する段階とを含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１９】
前記ディスク検証フラグで進行中であるかどうかを示すビットがb７であり、使用者検証を示すビットがb１であり、ディスク製造業者検証を示すビットがb０であり、前記ディスク検証フラグのビットb６ないしb２は予備ビットであり、前記ディスク検証のチェック段階は予備されたビットの各値が“０b”であるかどうかをチェックする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項２０】
前記PDL構造の確認段階は、前記PDLの未使用領域が所定の値であるかどうかをチェックする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の方法。
【請求項２１】
前記SDL構造の確認段階は、前記SDLの未使用領域が所定の値であるかどうかをチェックする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１４に記載の方法。
【請求項２２】
DMA情報が、DMA情報を有する光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装置で適切に生成されるかどうかを確認する方法において、
欠陥を検証しない初期化を行った後に生成される前記DMA情報からテスト情報を生成する段階と、基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認するためのテストを実行する段階とを含むことを特徴とする方法。
【請求項２３】
前記テスト情報はDMAミラーファイルであり、前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイルであることを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記テストを実行する段階は、前記テスト情報を形成するDMA構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【請求項２５】
DMA情報を有する記録及び再生可能な光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装置を、前記DMA情報が適切に生成されるかどうかを確認するためにテストするための装置において、
前記記録及び再生装置がテストディスクに対して欠陥を検証しない初期化を行った後に得られるテストディスクの生成されたDMA情報からテスト情報を生成する改造ドライブ装置と、テスト結果を確認するために、前記テスト情報を欠陥を検証しない前記初期化の所定のテスト情報と比較する確認器とを含む装置。
【請求項２６】
前記テスト情報はDMAミラーファイルであり、前記所定のテスト情報は基準DMAミラーファイルであることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２７】
前記改造ドライブ装置は、前記テストディスク上のDMA領域からテスト情報を読出し前記確認器に前記テスト情報を提供することを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２８】
前記テストディスクは、欠陥を検証しない初期化を行う前に空ディスク上の所定位置に物理的欠陥が形成されたディスクであることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２９】
前記確認器は前記テスト情報を形成する、DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックすることによって、前記テスト情報を前記所定のテスト情報と比較することを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項３０】
記録及び再生装置によりDMA情報が正確に生成されるか確認する方法において、
DMA情報を生成するために前記記録及び再生装置を使用してテストディスク上に欠陥を検証しない初期化を行う段階と、
生成されたDMA情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の確認を行う段階とを含むことを特徴とする方法。
【請求項３１】
前記DMA情報は前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造を含み、前記比較して確認を行う段階は前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項３０に記載の方法。
【請求項３２】
DMA情報を有する記録及び再生可能な光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装置を、DMA情報が適切に生成されているかどうかをチェックするためにテストする装置において、
テストディスク上に欠陥を検証しない初期化を行う再生装置により生成されたテストディスクのDMA情報に基づいてテスト情報を生成する改造ドライブ装置と、
前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の確認を行う確認器とを含むことを特徴とする装置。
【請求項３３】
前記改造ドライブ装置は、前記テスト情報としてDMAミラーファイルを生成するために前記テストディスクからDMA情報だけを読出し、前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイルであることを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３４】
前記確認器は、外部供給源から前記基準テスト情報を受け入れて前記テスト情報及び前記基準テスト情報間の比較を行うことを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３５】
前記確認器は前記テスト情報を形成する、DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックすることによって、前記テスト情報を前記所定のテスト情報と比較することを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３６】
光ディスク上に情報を記録及び再生するためのディスク記録及び再生装置において、
光を放出するための光源と、
前記情報を記録及び再生するために前記光を前記光ディスク上に集中させるための焦点要素と、
前記光源を制御するための制御器とを含み、
前記制御器は、テストディスク上に欠陥を検証しない初期化を行った後に生成されたDMA情報からテスト情報を生成し、前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の確認を行うことによってDMA情報が正確に生成されるかどうかを確認することを特徴とするディスク記録及び再生装置。
【請求項３７】
前記制御器は前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックすることを特徴とする請求項３６に記載のディスク記録及び再生装置。
【請求項３８】
DMA情報を有する記録及び再生可能な光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装置を、DMA情報が適切に生成されているかどうかをチェックするためにテストする装置において、
前記記録及び再生装置が何のデータも記録されていない空ディスク上に欠陥を検証しない初期化を行った後に得られる、前記テストディスク上に記録された前記DMA情報からテスト情報を生成する改造ドライブ装置と、
欠陥を検証しない初期化のための基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認することによってテスト結果を確認する確認器とを含むことを特徴とする装置。
【請求項３９】
前記テスト情報はDMAミラーファイルであることを特徴とする請求項３８に記載の装置。
【請求項４０】
前記改造ドライブ装置は、欠陥を検証せずに初期化された前記テストディスク上のDMA領域から、直接、テスト情報を読出すことを特徴とする請求項３８に記載の装置。
【請求項４１】
前記確認器は前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及びSDL構造をチェックし、PDL項目及びSDL項目が存在しているかどうかをチェックすることを特徴とする請求項３８に記載の装置。
【請求項４２】
前記確認器は、前記DMAのエラー状態、DDS/PDLとSDL更新カウンター及び前記DMAの内容をチェックすることによって前記DMA構造をチェックすることを特徴とする請求項４１に記載の装置。
【請求項４３】
前記確認器は、前記テストディスク上で二つはリードイン領域に位置し、二つはリードアウトに位置する、前記テストディスク上の４つの位置に記録された４つのDMAのいずれか一つにもエラーが存在しているかどうかをチェックし、４つのDDS内のDDS/PDL更新カウンターの値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後にDDS/PDL更新カウンターでの差を示すDDS/PDL更新カウンターの増分値が全て“０”であるかどうかをチェックし、４つのSDLでの前記SDL更新カウンターの値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を示す４つのDDS/PDL更新カウンターの増分値が全て“０”であるかどうかをチェックし、前記８つのDDS/PDL更新カウンターが同一であるかどうかをチェックし、前記４つのSDL更新カウンターの値が同一であるかどうかをチェックし、前記４つのDMAの内容が同一であるかどうかをチェックすることを特徴とする請求項４２に記載の装置。
【請求項４４】
前記確認器は、DDS識別子、ディスク検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ数、地域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター番号の位置、各地域の開始論理セクター番号位置をチェックすることによって前記DDSをチェックすることを特徴とする請求項４１に記載の装置。
【請求項４５】
前記確認器は前記DDS識別子が所定の値であるかどうかをチェックし、前記ディスク検証フラグで進行中であるかどうかを示すビット値、使用者検証を示すビット値及びディスク製造業者検証を示すビット値が“０b”であるかどうかをチェックし、DDS/PDL更新カウンター値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記DDS/PDL更新カウンターでの差を示す前記DDS/PDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックし、グループの数及び地域の数をチェックし、前記１次余裕空間の最初及び最後のセクター番号が所定のセクター番号であるかどうかをチェックし、前記最初の論理セクター番号の位置が所定の論理セクター番号であるかどうかをチェックし、各地域についての前記開始論理セクター番号が所定の論理セクター番号であるかどうかをチェックすることを特徴とする請求項４４に記載の装置。
【請求項４６】
前記確認器は、PDL識別子、PDL内での項目数、及びPDL項目の構成状態をチェックすることによって前記PDL構造をチェックすることを特徴とする請求項４１に記載の装置。
【請求項４７】
前記確認器は前記PDL識別子が所定の値であるか、前記PDL内の項目数が“０”に設定されたか、及び前記PDL項目が存在しているかどうかをチェックすることを特徴とする請求項４６に記載の装置。
【請求項４８】
前記確認器は、SDL識別子、SDL更新カウンター、SSAの開始セクター番号、論理セクターの総個数、DDS/PDL更新カウンター、余裕空間フルフラグ、SDL内の項目数、及びSDL項目の構成状態をチェックすることによって前記SDL構造をチェックすることを特徴とする請求項４１に記載の装置。
【請求項４９】
前記確認器は前記SDL識別子が所定の値であるかどうかをチェックし、前記SDL更新カウンター値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を示すSDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックし、前記DDS/PDL更新カウンター値及び欠陥を検証しない再初期化を行う前後に前記DDS/PDL更新カウンターの差を示すDDS/PDL更新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックし、前記SSAの開始セクター番号及び論理セクターの総個数が初期化する間に指定された値に正しく設定されるかどうかをチェックし、前記余裕空間フルフラグが充満しているかどうかをチェックし、SDLでの項目の数が“００h”であるかどうかをチェックし、及び前記SDL項目に情報が存在しているかどうかをチェックすることを特徴とする請求項４８に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録及び再生分野に係り、特に検証しない初期化時の記録あるいは再生できる光ディスクの欠陥管理領域情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
＜係る出願との交差参照＞
本発明はここで参照として統合されて開示された、韓国特許庁に２０００年８月８日出願された韓国出願番号００-１８５０１及び米国特許庁に２０００年４月１０日出願された仮出願番号６０/１９５,４６８の利得を請求する。
【０００３】
【従来の技術】
DVD-RAM(Digital Versatile Disc Random Access Memory)ディスクはディスク上の欠陥を正常的な記録領域と取り替えられる機能を有しているが、このような機能を欠陥管理といい、欠陥管理に必要な情報をディスク上の欠陥管理領域(Defect Management Area:DMA)という所に貯蔵している。DMAはディスク上のリードイン(Lead-in)領域とリードアウト(Lead-out)領域に各々２箇所ずつ４つの情報が反復記録されている。DMA情報はまたディスク定義構造(Disc Defintion Structure:DDS)、１次欠陥リスト(Primary Defect List:PDL)及び２次欠陥リスト(Secondary Defect List:SDL)に区分される。
【０００４】
このようなDMA情報には、ディスクを初期化しながら検証したりまたはディスクを使用する途中に見つかった欠陥に対する情報だけでなく余裕空間に関する情報と各地域別開始論理セクター番号に対する重要な情報を含んでいる。DMAに含まれている情報は直ちに読出して使用する場合もあるが、ディスク上の欠陥の位置と個数により変化する情報も含まれており、変化する情報としてDMAに登録されている欠陥情報に基づいて与えられたアルゴリズムによる複雑な計算を通じてのみ得られうるものもある。各地域の開始論理セクター番号または最初の論理セクター番号の位置情報がこれに該当する。
【０００５】
このようなDMA情報はデータの物理的な記録位置と密接な関係を有していて、ある一記録及び再生装置でDMA情報を生成または更新して記録したディスクを他の記録及び再生装置でも使用できる、すなわち、光ディスクのように移動できる記録媒体はDMA情報が間違った場合に記録及び再生装置間の互換性の問題が生じる。このような問題を解決するために記録及び再生装置がディスクからDMA情報を正確に解読しディスク上にDMA情報を正確に記録するかどうかを確認する手段と方法が必要である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明の目的は、光ディスク記録及び再生装置を通じて検証しない初期化時にDMA情報が正確に生成されるかどうかを確認するための方法を提供することにある。
【０００７】
本発明の他の目的は、多数回の反復記録あるいは再生が可能なDVD-RAM記録及び再生装置を通じて検証しない初期化時にDMA情報が正確に生成されるかどうかを確認するための方法を提供することにある。
【０００８】
本発明のまた他の目的は、光ディスク記録及び再生装置を通じて検証しない初期化時にDMA情報が正確に生成されるかどうかを確認するためのテスト装置を提供することにある。
本発明の追加的な目的及び長所は次の説明で一部説明されるが、一部は前記説明から明らかになったり、あるいは本発明の実施により理解される。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、DMA情報を有する光ディスクを記録あるいは再生する記録及び再生装置でDMA情報がうまく生成されるかどうかを確認する方法が提供される。前記方法は、何のデータも記録されていない空テストディスクを使用して検証しない初期化を行った後に生成された欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、テスト情報を検証しない初期化のための基準テスト情報を用い確認してテスト結果を提供する段階を含む。
【００１０】
前記の目的を達成するために、記録あるいは再生が可能でDMA情報を有する光ディスクを記録あるいは再生する記録及び再生装置でDMA情報がうまく生成されるかどうかをテストする装置がまた提供される。前記装置は、何のデータも記録されていない空テストディスクを使用する記録及び再生装置で検証しない初期化を行った後、テストディスクから生成されたDMA情報をテスト情報として生成する改造ドライブ装置及びテスト情報を検証しない初期化のための基準テスト情報を用いて確認してテスト結果を確認する確認器を含む。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の望ましい実施形態が添付した図面に示された例を参照して説明されるが、同じ参照符号は同じ要素を示す。前記図面を参照することによって本発明を説明するために前記実施形態が後述される。
【００１２】
本発明で使われる光ディスクは、４.７GBの容量を有する相変化記録方式のDVD-RAMに関する。DVD-RAMは、再記録できるディスクバージョン２.０のためのDVD規格書(DVD specification for Rewritable disc version２.０)に規定されているディスクをいう。
【００１３】
図１は、本発明に係る検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報の確認方法を行うテスト装置のブロック図である。
テストタイプディスク(以下C-１ディスクという)１１は空ディスク上に故意的に所定位置に周知の物理的欠陥だけを有するディスクであるが、本発明では何のデータも記録されていない単純な空テストディスクと取扱われる恐れがある。すなわち、前記C-１ディスク上に“情報”が記録されず物理的欠陥だけ存在するかぎり、前記C-１ディスクは空ディスクと見なされうる。テストするドライブ１１０はC-１ディスク１１を検証しない初期化を行ってDMA情報を生成し、C-１ディスク１１に生成されたDMA情報を記録する。テストするドライブ１１０から提供される検証せずに初期化されたC-１ディスク１２をDMA情報を読出しうる改造ドライブ１２０に装着する。
【００１４】
改造ドライブ１２０は製作業者により製作されたテスト専用ドライブであって基準ドライブと称しうる。この改造ドライブ１２０は、検証せずに初期化されたC-１ディスク１２に記録されたDMA情報だけを読出して、読出されたDMA情報をファイルシステム上で検証せずに初期化されたC-１ディスク１２のためのDMAミラーファイル１３で生成する。テストするドライブ１１０は一例としてDVD-RAM記録及び再生装置であり、DMA情報をミラーファイルで生成できない。
【００１５】
ここで、DVD-RAM記録及び再生装置の記録及び再生構造をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録及び再生装置を連結するホストインターフェース階層、物理的信号を記録あるいは再生する物理的なドライブ階層及び記録媒体階層のように区分する時、記録媒体と物理的なドライブによりディスクの物理的なセクター番号が割当てられ、ホストインターフェースとファイルシステムによりディスクの論理的なセクター番号が割当てられるためにDMA情報に関する記録及び解読は物理的なドライブ階層以下でなされる。
【００１６】
一般にコンピュータを通じて記録媒体上にデータを記録する場合には、ファイルシステムを通じて論理的なセクター番号を用いて記録する位置を決定する。このように論理的なセクター番号で決定されたファイルの位置は論理的な相対位置情報であり、ドライブで記録動作を行う時は欠陥などディスクの物理的な状況に合うように実際のデータが記録されるべき物理的なセクター番号に変換する過程が必要である。しかし、実際のファイルシステムで使用者データを記録する時は論理的なセクター番号だけを使用して使用者データを記録及び再生装置に伝送し、記録及び再生装置は論理的なセクター番号を実際のデータが記録されるべき物理的なセクター番号に変える過程で欠陥管理情報を使用する。したがって、一つの記録及び再生装置で欠陥管理情報を誤判読したり誤記録した場合には他の記録及び再生装置で正しいデータを読出したり書込めない問題が生じる。
【００１７】
また、DVD-RAMディスクの場合、あらゆる欠陥管理はドライブで処理するようになっているために、ファイルシステムやホストインターフェースはこのような物理的な欠陥管理内容を知らなくてもファイルを記録あるいは再生できて、大部分のドライブがDMAに記録または再生できないようになっているだけでなくこのDMAに記録あるいは再生するための標準命令も備わっていない。しかし、このようなDMAの情報がうまく形成されているかどうかを判断するためには、いかなる形態でもこれを分析できるコンピュータでデータを読出しうる状況に作らねばならなく、標準テストディスクを作るためには該当DMAに適切な情報を記録せねばならない。これを効果的に行うためのものが、DMAに情報を記録あるいは再生できるように改造した改造ドライブである。このような改造ドライブの設計または改造は該当分野の熟練した技術者によって容易になされうるために本発明では説明を省略する。
【００１８】
確認器１３０は、テストするドライブ１１０により生成されたDMA情報を有する前記ディスクから前記改造ドライブ１２０により生成された、検証せずに初期化されたC-１ディスク１２のためのDMAミラーファイル１３と、予め貯蔵されていたりまたは図面には示されなかったが、外部(DMAミラーファイルを生成するコントローラ)から提供されるC-１ディスク１１のための基準DMAミラーファイルを比較して検証しない初期化後に前記テストするドライブ１１０によりDMA情報がうまく生成されたかどうかについてのテスト結果を製作業者あるいは使用者に知らせる。ここで、DMAミラーファイルをテスト情報と称しうり、基準DMAミラーファイルをあらかじめ決まった基準テスト情報と称しうる。また、基準DMAミラーファイルは、ドライブが正常に全ての動作を行った場合に作られる、エラー情報を全く含まないータを有するDMA情報ファイルといえる。
【００１９】
本発明に係る確認方法は、何のデータも記録されていない空状態のテストディスクを使用して検証しない初期化を行った後に生成されたDMA情報からDMAミラーファイルをテスト情報として生成する段階及び、テスト情報を検証しない初期化のための基準テスト情報を用い確認してテスト結果を提供する段階を含む。前記DMAミラーファイルは、あらゆるDMA情報だけでなくテスト目的のための特定の情報を含む。前記改造ドライブ１２０はディスクのDMA領域にDMAミラーファイル内のDMA情報を記録でき、前記DMAミラーファイルに前記ディスクのDMA情報を貯蔵できる。検証しない初期化時に確認するためのDMA情報のテスト項目については図２ないし図５を関連づけて説明する。
【００２０】
図２に示したように、DMA構造を確認するためのチェック項目は、DMA１ないしDMA４のエラー状態、DDS１ないしDDS４及びSDL１ないしSDL４内のDDS/PDL更新カウンター、SDL１ないしSDL４内のSDL更新カウンター、及びDMA１ないしDMA４の内容である。
【００２１】
DMAエラー状態項目はリードイン領域とリードアウト領域に各々２箇所ずつ存在するDMAにエラーが存在するかどうかをチェックするものであって、４箇所のDMA１、DMA２、DMA３、DMA４に訂正されていないエラーがあってはいけないし、もしいずれか一つのDMAにも訂正されていないエラーが見つかれればこの確認は失敗したものであって、新しいテストディスクを使用してテストを再実行せねばならない。
【００２２】
検証しない初期化時、DDS/PDL、SDL更新カウンター項目を確認するために４箇所のDDS１、DDS２、DDS３、DDS４内のDDS/PDL更新カウンター値と、４箇所のSDL１、SDL２、SDL３、SDL４内のDDS/PDL更新カウンター値を示すMの値と、テスト前後の前記DDS/PDL更新カウンターでの差を示すDDS/PDL更新カウンターの増分を示すkの値が全て“０”であるかどうかをチェックし、DDS/PDL更新カウンターの８個の値 が全て同じであるかどうかをチェックする。ここで、DDS/PDL更新カウンター値はDDS/PDLブロックのための更新と再記入動作の総回数を示し、初期化の開始時には“０”とセットされねばならなく、DDS/PDLブロックが更新されたり再記入される時に１ずつ増分されねばならなく、DDS/PDLとSDLブロックは初期化が終れば全て同じ更新カウンター値を有せねばならない。同じく、４箇所のSDL１、SDL２、SDL３、SDL４内のSDL更新カウンター値を示すNの値と、前記テスト前後の前記SDL更新カウンターでの差を示すSDL更新カウンターの増分を示すkの値が全て“０”であるかどうかとSDL更新カウンターの４個の値が全て同じであるかどうかをチェックする。
【００２３】
しかし、検証しない初期化の場合には、ただ一回DMA生成作業だけが生じるために修正する過程が含まれなくて更新カウンター値は最初のDMAを記録する時に設定する値の“０”と設定されねばならない。
また、前記DMA内容を確認するためには４箇所のDMA１、DAM２、DMA３、DMA４内容が全て同一であるかどうかをチェックする。
【００２４】
DMA内のDDS構造を確認するためのチェック項目としては、図３に示したようにDDS識別子、ディスク検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ数、地域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター番号LSN０の位置、各地域の開始論理セクター番号位置などがある。
【００２５】
すなわち、DDS識別子が“０A０Ah”であるかどうかを確認し、１バイトのディスク検証フラグ中で進行中であるかどうかを示すビット位置b７の値が“０b”であるかどうかをチェックする。この時にビット位置b７の値が“０b”であればフォーマットが終ったことを示し、“１b”であればフォーマットが進行中であることを示すので、もし“１b”であればフォーマットが失敗したことを示す。また、ディスク検証フラグ中で予備されているビット位置b６〜b２が全て“０b”であるかどうかをチェックし、使用者検証フラグを示すビット位置b１の値が“０b”であるかどうかをチェックし、ディスク製造業者検証フラグを示すビット位置b０の値が“０b”であるかどうかをチェックする。
【００２６】
相応するDDS/PDL更新カウンターを確認するためにDDS/PDL更新カウンター値を示すMの値とDDS/PDLカウンターの増分を示すkの値が全て“０”であるかどうかをチェックし、グループの数が１つを示す“０００１h”であるかどうかと地域数が３５つを示す“００２３h”であるかどうかをチェックする。
【００２７】
また、１次余裕空間の最初のセクター番号が“０３１０００h”であるかどうかと１次余裕空間の最後のセクターのセクター番号が“０３４１FFh”であるかどうかをチェックする。最初の論理セクター番号LSN０の位置と各地域の開始論理セクター番号、すなわち、二番目の地域(Zone１)から３５番目の地域(Zone３４)の開始論理セクター番号が、検証しない初期化の場合には何の欠陥もないケースに該当するあらかじめ決まった論理セクター番号であるかどうかをチェックする。
【００２８】
DDS構造の残りの予備されている領域(バイト位置３９６から２０４７)が全て“００h”であるかどうかを確認する。
付加的に、欠陥管理のためのディスク上の余裕空間は１次余裕空間、２次余裕空間及び追加余裕空間に区分し下記のように定義する。
【００２９】
１次余裕空間は、欠陥の置換のためにディスクを初期化する時に一番最初に配置する余裕空間であって、飛越し置換にまず使われ、使われて残る余裕空間は線形置換のための２次余裕空間として使われうる。２次余裕空間は、ディスクを使用する途中に発生する欠陥を線形置換するための空間であって、初期化時に１次余裕空間中で飛越し置換により使われて残る余裕空間または別途に割当てた余裕空間を意味する。追加余裕空間は、ディスクを使用する途中に発生する欠陥を線形置換するための余裕空間であって、初期化が終わった後に追加で使用中に割当てた余裕空間を意味する。
【００３０】
初期化が終わった後、ディスクの使用中に線形置換のための余裕空間が足りない場合に線形置換のための追加余裕空間をファイルシステム上の論理的ボリューム空間の一番後ろから所定大きさずつ先に順次に余裕空間を増加させながら割当て、線形置換時には論理的ボリューム空間の一番後ろから逆順に使用している。DMA内のPDL構造の確認のためのチェック項目は図４に示したようにPDL識別子、PDL内の項目数、PDL項目の構成状態、未使用領域である。
【００３１】
PDL識別子が“０００１h”であるかどうかをチェックし、検証しない初期化時にはPDL内の項目の数は“０”の値を有し、PDL構成状態には情報が存在せねばならないために、PDL項目タイプとPDL項目が記録されるべき領域には未使用領域を示す“FFh”になっているかどうかをチェックする。
【００３２】
DMA内のSDL構造の確認のためのチェック項目は図５に示したように、SDL識別子、SDL更新カウンター、２次余裕空間(SSA)の開始セクター番号、論理セクターの総個数、DDS/PDL更新カウンター、余裕空間フルフラグ、前記SDL内の項目の数、前記SDL項目の構成状態、未使用領域、予備領域である。
【００３３】
すなわち、SDL識別子が“０００２h”であるかどうかをチェックし、相応するSDL更新カウンター値を示すN値とSDL更新カウンターの増分値を示すkの値が全て“０”であるかどうかをチェックする。相応するDDS/PDL更新カウンター値を示すM値とSDL更新カウンターの増分値を示すkの値が全て“０”であるかどうかをチェックする。
【００３４】
検証しない初期化時に前記SSAの開始論理セクター番号と論理セクターの総個数情報は、初期化時に使用者が指定した２次余裕空間の大きさに該当する開始論理セクター番号とこれに相応するように設定された論理セクターの総個数を有せねばならなく、余裕空間フルフラグ、SDL内の項目の数、SDL項目の状態を示すバイト位置には前記SDL項目に対する情報が存在せねばならないので余裕空間フルフラグはフルでないことを示せねばならない。SDL内の項目数の値は“００h”でねばならない。総使用されたSDL領域は周知のものであるので、前記SDLでの項目数がチェックされる場合に前記SDLの未使用領域の大きさが決定されうる。したがって、前記C-１ディスクのミラーファイルの未使用領域の大きさが前記SDLでの項目数に基づいて周知の前記SDLの未使用領域の大きさと同一であるかどうかがチェックされ、また前記未使用領域が“FFh”と設定されるかどうかもチェックされる。また、あらゆる予備領域の期待値が“００h”であるかどうかも確認される。
【００３５】
図６は、光を放出する光源２２、前記光源からの光をディスクD上に集中させるための焦点要素２４、及び前記光源２２を制御する制御器２６を有するテストするドライブ１１０を示す。前述された確認手順が前記制御器２６の適切な動作を確認するために試みられる。
【００３６】
【発明の効果】
前述したように、本発明は何のデータも記録されていない空テストディスクを使用して記録及び再生装置で検証しない初期化を行って生成されたDMA情報をうまく解読し処理できるかどうかを容易に確認できる効果がある。
【００３７】
わずか本発明のいくつかの実施形態を示して説明したが、本発明の原理及び真意、請求項で定義された範囲及びこれと均等なものからはずれずに前記実施形態が変更されうることは当技術分野の熟練者であれば理解するはずである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明に係る検証しない初期化時の光ディスクDMA情報の確認方法を行うテスト装置のブロック図である。
【図２】  検証しない初期化時にDMA構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図３】  検証しない初期化時にDDS構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図４】  検証しない初期化時にPDL構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図５】  検証しない初期化時にSDL構造を確認するためのチェック項目を整理したテーブルである。
【図６】  図１に示したテストされるドライブのブロック図である。
【符号の説明】
１１  テストディスク
１２  検証せずに初期化されたテストディスク
１３  DMAミラーファイル
１１０  テストするドライブ
１２０  改造ドライブ
１３０  確認器
【図１】
0003703730.tif 000002
【図２】
0003703730.tif 000003
【図３】
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【図４】
0003703730.tif 000005
【図５】
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【図６】
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