(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線により基準物質を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンし、
それらスキャンによってＸ線検出器で得られた各チャンネルの基準物質測定データを基準物質校正データでそれぞれ校正して各チャンネルの校正済みの基準物質測定データを前記スキャン毎に求め、
所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記各チャンネルの校正済みの基準物質測定データを積算した値と各スキャン時間でのスキャンにおける前記各チャンネルの校正済みの基準物質測定データを積算した値との実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求め、
Ｘ線による被検体のスキャン時にはそのスキャンによって前記Ｘ線検出器で得られた各チャンネルの被検体測定データを被検体校正データで校正し、
校正済みの被検体測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正することを特徴とするデータ補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載のデータ補正方法において、
前記基準物質は空気又は水ファントムであることを特徴とするデータ補正方法。
【請求項３】
多チャンネルのＸ線検出器を有し、Ｘ線によりスキャン対象を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンするスキャン手段と、
前記スキャン手段によって得られた各チャンネルの測定データを校正データで校正し各チャンネルの校正済みの測定データを求める校正手段と、
前記スキャン手段に基準物質をスキャン対象とするスキャンを行なわせ、所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを積算した値と各スキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを積算した値との実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求める補正値作成手段と、
前記スキャン手段に被検体を対象とするスキャンを行なわせ、前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正する補正手段と具備することを特徴とするデータ補正装置。
【請求項４】
請求項３に記載のデータ補正装置において、
前記基準物質は空気又は水ファントムであることを特徴とすることを特徴とするデータ補正装置。
【請求項５】
多チャンネルのＸ線検出器を有し、Ｘ線によりスキャン対象を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンするスキャン手段と、
前記スキャン手段によって得られた各チャンネルの測定データを校正データで校正し各チャンネルの校正済みの測定データを求める校正手段と、
前記スキャン手段に基準物質をスキャン対象とするスキャンを行なわせ、所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを積算した値と各スキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを積算した値との実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求める補正値作成手段と、
前記スキャン手段に被検体を対象とするスキャンを行なわせ、前記校正手段による各チャンネルの校正済みの測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正する補正手段と、
前記補正手段によって補正された各チャンネルの前記校正済みの測定データに基づいて前記被検体の画像を再構成する再構成手段とを具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
請求項５に記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記基準物質は空気又は水ファントムであることを特徴とすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
請求項５又は請求項６に記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記複数のスキャン時間は、１秒、１．５秒、２秒及び３秒であることを特徴とすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ補正方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置に関する。さらに詳しくは、スキャン時間の相違によるデータ収集装置の出力データの変化を補正するデータ補正方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置である。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、Ｘ線ＣＴ装置においては、被検体をＸ線でスキャンして得た測定データを校正データで校正し、この校正済みの測定データを用いて被検体の画像を再構成するようになっている。
【０００３】
測定データは多チャンネルのＸ線検出器の測定チャンネルから得られる。校正データは多チャンネルのＸ線検出器の校正チャンネルから得られる。この校正チャンネルにはＸ線が被検体を透過することなく入射するようになっている。測定データの校正は校正データで測定データを除算することにより行なわれる。
【０００４】
このような測定データの校正は、被検体におけるＸ線の吸収率を求めるための不可欠の処理であり、また同時にＸ線の照射量の変動による測定データの変動を除去する効果も上げている。
【０００５】
測定データも校正データもＸ線検出器の各チャンネルの検出信号をそれぞれの測定回路により積分することによって得られる。検出信号の積分は１スキャンの間にデータ収集のタイミングに従って周期的に行なわれかつリセットされる。
【０００６】
被検体をスキャンするにはスキャン装置の動作速度に応じた時間がかかる。通常、スキャン装置の動作速度は可変になっており、それによって複数通りのスキャン時間でスキャンできるようになっている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
校正データの測定回路は、Ｓ／Ｎ(signal-to-noise) 比の良い高精度の校正データを得るために、例えば複数の校正チャンネルのデータ間での平均値あるいは経時的な移動平均値を求める回路を付加すること等により、測定データの測定回路とは異なる構成とすることがある。
【０００８】
そのような場合、Ｘ線検出信号に対する実効的な積分時間とリセット時間との比率が、測定データ系と校正データ系ではスキャン時間毎に微妙に変化することがある。
【０００９】
そのような時間比率の変化の影響により、同一の被検体をスキャンしてもスキャン時間によって再構成画像のＣＴ値が相違したり、あるいは例えばＸ線検出器の感度補正等の精度が劣化して再構成画像の品質を低下させる。
【００１０】
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、スキャン時間の相違による校正済み測定データへの悪影響を生じないデータ補正方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置を実現することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
課題を解決するための第１の発明は、Ｘ線により基準物質を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンし、それらスキャンによって得られた測定データを校正データでそれぞれ校正して校正済みの測定データを前記スキャン毎に求め、所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける前記校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求め、Ｘ線による被検体のスキャン時にはそのスキャンによって得られた測定データを校正データで校正し、校正済みの測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正することを特徴とするデータ補正方法である。
【００１２】
なお、課題を解決するための第１の発明における「基準物質」の範疇には少なくとも下記のものが含まれる。なお、下記は例示であって限定を意味しない。
（１）空気
（２）基準ファントム(phantom)
課題を解決するための第１の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による校正済み測定データへの悪影響を生じないデータ補正方法を実現することができる。
【００１３】
課題を解決するための第２の発明は、Ｘ線によりスキャン対象を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンするスキャン手段と、前記スキャン手段によって得られた測定データを校正データで校正し校正済みの測定データを求める校正手段と、前記スキャン手段に基準物質をスキャン対象とするスキャンを行なわせ所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求める補正値作成手段と、前記スキャン手段に被検体をスキャン対象とするスキャンを行なわせ前記校正手段による校正済みの測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正する補正手段とを具備することを特徴とするデータ補正装置である。
【００１４】
なお、課題を解決するための第２の発明における「基準物質」の範疇は前述の通りである。
課題を解決するための第２の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による校正済み測定データへの悪影響を生じないデータ補正装置を実現することができる。
【００１５】
課題を解決するための第３の発明は、Ｘ線によりスキャン対象を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンするスキャン手段と、前記スキャン手段によって得られた測定データを校正データで校正し校正済みの測定データを求める校正手段と、前記スキャン手段に基準物質をスキャン対象とするスキャンを行なわせ所定のスキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける前記校正手段による校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値を前記各スキャン時間毎にそれぞれ求める補正値作成手段と、前記スキャン手段に被検体をスキャン対象とするスキャンを行なわせ前記校正手段による校正済みの測定データを前記被検体のスキャン時間に対応する前記補正値で補正する補正手段と、前記補正手段によって補正された前記校正済みの測定データに基づいて前記被検体の画像を再構成する再構成手段とを具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【００１６】
なお、課題を解決するための第３の発明における「基準物質」の範疇は前述の通りである。
課題を解決するための第３の発明において、前記校正済みの測定データの前処理に使用する校正データを前記補正値によって補正する第２の補正手段を有することが前処理の精度劣化を防止する点で好ましい。
【００１７】
課題を解決するための第３の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による再構成画像への悪影響を生じないＸ線ＣＴ装置を実現することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図１にＸ線ＣＴ装置のブロック図を示す。本装置は本発明の実施の形態の一例である。なお、本装置の構成によって本発明の装置に関する実施の形態の一例が示される。また、本装置の動作によって本発明の方法に関する実施の形態の一例が示される。
【００１９】
図１において、Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器ＤＴが支持枠ＦＭによって支持されている。支持枠ＦＭは紙面に垂直な軸Ｏを中心として回転できるようになっている。Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器ＤＴは軸Ｏを挟んで互いに対向するように支持枠ＦＭ上に配置されている。
【００２０】
Ｘ線照射器ＸＳはＸ線源として例えばＸ線管を有する。Ｘ線照射器ＸＳはＸ線検出器ＤＴに向けて扇状のＸ線ビームＦＢを照射するようになっている。扇状のＸ線ビームＦＢのビーム幅（紙面に垂直な方向の厚み）は図示しないスリットによって調節されるようになっている。
【００２１】
Ｘ線検出器ＤＴは多チャンネルのＸ線検出器であり、扇状のＸ線ビームＦＢの広がりの方向に配列された多数（例えば１０００個）のＸ線検出素子のアレイを有するものである。これらのＸ線検出素子がそれぞれＸ線検出チャンネルを形成する。Ｘ線検出素子としては例えば電離箱型検出素子、シンチレータ型検出素子、半導体Ｘ線検出素子等が用いられる。
【００２２】
Ｘ線検出器ＤＴの両端部のいくつかの検出素子は校正用のチャンネル（校正チャンネル）に割り当てられ、それ以外の検出素子は測定用のチャンネル（測定チャンネル）に割り当てられる。
【００２３】
扇状のＸ線ビームＦＢの開き角の範囲内に被検体ＯＢが配置される。扇状のＸ線ビームＦＢによる被検体ＯＢの投影像がＸ線検出器ＤＴに投影される。その際、被検体ＯＢの投影像は常にＸ線検出器ＤＴの測定チャンネルが存在する範囲に投影され校正チャンネルにはかからないようになっている。すなわち、校正チャンネルにはＸ線ビームが被検体ＯＢを透過することなく照射される。
【００２４】
なお、Ｘ線照射器ＸＳの前面には図示しないボウタイフィルタ(bow tie filter)を配置し、校正チャンネルに入射するＸ線と測定チャンネルに入射するＸ線との差を縮めるようにしている。
【００２５】
被検体ＯＢは支持板ＴＢ上に載置される。支持板ＴＢは上下方向に移動できるようになっており、これによって被検体ＯＢの上下方向の位置が調節できるようになっている。支持板ＴＢは、また、紙面に垂直な方向に進退できるようになっており、被検体ＯＢをＸ線照射領域に搬入およびそこから搬出できるようになっている。
【００２６】
Ｘ線制御部ＸＣはＸ線照射器ＸＳを制御するものである。これによってＸ線の強度、照射タイミング等が制御される。
回転制御部ＲＣは支持枠ＦＭの回転を制御するものである。これによって支持枠ＦＭの回転速度、起動および停止等が制御される。
【００２７】
支持板制御部ＴＣは支持板ＴＢを制御するものである。これによって支持板ＴＢの上下移動とＸ線照射領域への進退が制御される。
データ収集部ＤＡＳはＸ線検出器ＤＴから出力される多チャンネルのＸ線検出信号を収集するものである。データ収集部ＤＡＳはＸ線検出器ＤＴのチャンネル数に等しい数の積分器を有し、それら積分器によって各チャンネルのＸ線検出信号をそれぞれ積分するようになっている。
【００２８】
以上説明したＸ線照射器ＸＳからデータ収集部ＤＡＳまでの構成は本発明におけるスキャン手段の実施の形態の一例である。
データ収集部ＤＡＳの１チャンネル分の構成を図２に示す。図２に示すように、Ｘ線検出器ＤＴの検出素子ＤＴｅの出力信号が積分器ＩＮＴによって積分され、積分器ＩＮＴの出力信号がマルチプレクサＭＸを通じてＡ／Ｄ(analog to digital) 変換器ＡＤＣに与えられ、ディジタル信号に変換されてメモリＭＥＭに記憶される。
【００２９】
マルチプレクサＭＸの入力側には他のチャンネルの積分器が複数個接続されており、それらが順次切り換えられてＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続される。
制御装置ＣＮＴは積分器ＩＮＴの動作を制御し、所定の周期で積分とリセットを行なわせる。すなわち、例えば図３に示すように、周期ＴｓのうちＴｉ時間で積分を行なわせＴｒ時間でリセットを行なわせる。
【００３０】
制御装置ＣＮＴはマルチプレクサＭＸを制御し、積分器ＩＮＴがＴｉ時間の積分を完了したタイミングでそれをＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続する。制御装置ＣＮＴはさらにメモリＭＥＭの書込アドレスを制御してＡ／Ｄ変換器ＡＤＣの出力信号を検出素子ＤＴｅのチャンネルに対応したアドレスに記憶させる。
【００３１】
コンピュータＣＯＭはＸ線制御部ＸＣ、回転制御部ＲＣおよび支持板制御部ＴＣを統括し、所定のシーケンスに基づくスキャンを遂行する。
コンピュータＣＯＭはまたデータ収集部ＤＡＳが収集したデータに基づいて被検体ＯＢの画像を再構成し画像出力部ＩＭを通じて出力する。画像出力部ＩＭは例えばＣＲＴ(cathod-ray tube) 等を用いた画像表示装置やフィルム等に画像を撮影する写真撮影装置によって構成される。
【００３２】
コンピュータＣＯＭには操作部ＯＰが接続され、それを通じて操作者がコンピュータＣＯＭに各種の指令等を与えることができるようになっている。操作者は操作部ＯＰを操作することにより本装置に所望の動作を行なわせる。
【００３３】
操作者により、スキャンに先立って操作部ＯＰを通じてスキャン条件が設定される。これによって撮影部位、スライス厚、スライス数、Ｘ線強度（管電圧、管電流）、スキャン時間等が指定される。スキャン時間は例えば１秒、１．５秒、２秒、３秒のように予め規定された複数のスキャン時間の中から所望のものが選ばれる。
【００３４】
スキャン実行時にはそれらスキャン条件に従ってスキャンが実行される。すなわち、支持板制御部ＴＣによって被検体ＯＢの撮影部位が位置決めされ、支持枠制御部ＲＣによって支持枠ＦＭの回転が制御され、Ｘ線制御部ＸＣによってＸ線照射器ＸＳから指定強度の扇状のＸ線ビームが指定スライス厚に対応したビーム幅で照射される。
【００３５】
Ｘ線検出器ＤＴの各検出素子は入射Ｘ線の強度に比例した出力信号を生じ、それらの出力信号がデータ収集部ＤＡＳによって収集される。Ｘ線照射のタイミングまたはデータ収集のタイミングを制御することにより、被検体ＯＢの投影データはＸ線照射器ＸＳの１回転の間に例えば約１０００方向のビューにおいて採取される。
【００３６】
コンピュータＣＯＭは、データ収集部ＤＡＳが収集したデータについて、測定チャンネルのデータを校正チャンネルのデータで除算する校正処理を行なう。この校正処理はビュー毎に行なわれる。ここで、コンピュータＣＯＭは本発明における校正手段の実施の形態の一例である。
【００３７】
本装置においては、スキャン時間の相違による再構成画像への悪影響を防ぐために、コンピュータＣＯＭにより校正済みの測定データの補正を行なうようになっている。以下、それについて説明する。
【００３８】
まず、補正値の算出が行なわれる。補正値は、基準物質を複数のスキャン時間でそれぞれスキャンして得たデータから求められる。
基準物質は空気とするのが、Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器ＤＴの間に何も置かないでスキャンできる点で好ましい。Ｘ線照射器ＸＳの前面のボウタイフィルタ等も取り除いてスキャンするのが良い。この場合、Ｘ線検出器ＤＴにはほとんど減衰しないＸ線が入射するので、Ｓ／Ｎ比の良い測定データに基づく精度の高い補正値を得ることができる。
【００３９】
勿論、空気の代わりに例えば水ファントム等、特定の物質からなる基準物質を用いるようにしても良い。
補正値は本装置を稼働サイトに設置したときに一度求めておけば、以後システムに変更がない限り同じ値を繰り返して用いることができる。
【００４０】
図４に補正値を求める動作のフロー図を示す。図４において、ステージＳＴ０１において操作者によりスキャン時間ｔｋが設定される。このスキャン時間ｔｋは、本装置において予め規定されている複数のスキャン時間、例えば１秒、１．５秒、２秒、３秒の中から選ばれたものである。先ず最初に１秒のスキャン時間が設定されたものとする。
【００４１】
次に、ステージＳＴ０２においてスキャンを実行し、基準物質をスキャンしたデータを収集する。これによって、測定データＤtk（ｉ，ｊ）および校正データＲtk（ｉ，ｊ）が収集される。ここで、ｔｋはスキャン時間、ｉはチャンネル番号、ｊはビュー番号である。
【００４２】
次に、ステージＳＴ０３において測定データを校正データで除算し、校正済みの測定データ
【００４３】
【数１】
0003703898.tif 000002
【００４４】
を求める。
次に、ステージＳＴ０４において、全てのスキャン時間でスキャンしたかどうかが判定される。いま、１秒スキャンを終えたところであり、まだ１．５〜３秒スキャンが残っているのでステージＳＴ０１に戻る。
【００４５】
次に、ステージＳＴ０１においては例えば１．５秒スキャンが設定される。そして、ステージＳＴ０２およびＳＴ０３によって１．５秒スキャンによるデータ収集とその校正が行なわれる。
【００４６】
以下、同様な動作の繰り返しにより、２秒スキャンおよび３秒スキャンが行なわれそれぞれ校正済みの測定データが求められる。
すべてのスキャン時間について校正済みの測定データを求め終わったら、ステージＳＴ０５において補正値の計算が行なわれる。補正値の計算は、上記のスキャンによって求められた各スキャン時間毎の校正済み測定データを用いて、次式によって行なわれる。
【００４７】
【数２】
0003703898.tif 000003
【００４８】
ここで、ｔ０は複数のスキャン時間の中から基準として選んだスキャン時間である。どれを選ぶかは任意である。
（２）式において、右辺の分子はスキャン時間ｔｋにおける校正済みの測定データをチャンネル方向およびビュー方向に全加算したものとなっている。また、分母はスキャン時間ｔ０における校正済みの測定データをチャンネル方向およびビュー方向に全加算したものとなっている。そして、補正値Ｇtkは両者の比の逆数で与えられる。
【００４９】
ここで、コンピュータＣＯＭは本発明における補正値作成手段の実施の形態の一例である。
なお、（２）式において、分子および分母は、それぞれスキャンデータの総和の代わりにそれらをそれぞれチャンネル数とビュー数の積で除算した平均値であっても良い。このようにしても、それらの比はスキャンデータの総和の比と等しくなるので、補正値としては同じ値が得られる。
【００５０】
同一の基準物質をスキャンしたので、データ収集部ＤＡＳの挙動がスキャン時間によって変わらない限り、スキャン時間ｔｋにおける校正済みの測定データをチャンネル方向およびビュー方向に全加算したもの（またはその平均値）と、スキャン時間ｔ０における校正済みの測定データをチャンネル方向およびビュー方向に全加算したもの（またはその平均値）とは同じ値になる筈である。
【００５１】
逆に、両者の値が相違するときは、それはスキャン時間によるデータ収集部ＤＡＳの挙動の変化によるものである。したがって、両者の比は、基準スキャン時間ｔ０で得たデータに対するスキャン時間ｔｋで得たデータの変化率を示す。したがって、その逆数をとってデータの変化量を補正する補正値Ｇtkとすることができる。
【００５２】
この補正値Ｇtkは各スキャン時間ｔｋに対応してそれぞれ求められる。このように求められたスキャン時間毎の補正値Ｇtkが、ステージＳＴ０６においてコンピュータＣＯＭの内部メモリ（図略）に保存される。
【００５３】
被検体ＯＢをスキャンしたときは、そのスキャン時間ｔｋに対応した補正値Ｇtkを用いて測定データの補正が行なわれる。
次に、測定データの補正について説明する。図５に、被検体ＯＢをスキャンする場合の動作のフロー図を示す。図５において、先ずステージＳＴ１１で操作部ＯＰを通じてスキャン条件の設定が行なわれる。スキャン条件の設定の中にスキャン時間ｔｋの設定が含まれる。
【００５４】
次に、ステージＳＴ１２においてスキャンが実行される。これによって測定データＤtk（ｉ，ｊ）と校正データＲtk（ｉ，ｊ）がそれぞれ収集される。
次に、ステージＳＴ１３において測定データの校正が行なわれる。これによって校正済みの測定データ
【００５５】
【数３】
0003703898.tif 000004
【００５６】
が得られる。
次に、ステージＳＴ１４において校正済みの測定データについての補正が行なわれる。補正は校正済みの測定データＣtk（ｉ，ｊ）に補正値Ｇtkを乗じることによって行なわれる。これによって、補正された校正済みの測定データ
【００５７】
【数４】
0003703898.tif 000005
【００５８】
が得られる。
ここで、コンピュータＣＯＭは本発明における補正手段の実施の形態の一例である。
【００５９】
次に、ステージＳＴ１５において、補正された校正済みの測定データＣ’tk（ｉ，ｊ）についてチャンネル毎の感度補正、温度補正、ビームハードニング補正等を含む所定の前処理がなされる。このような前処理過程におけるこれらの補正に使用する校正データについても補正値Ｇtkによる補正が施され、前述の各種の補正の精度劣化を防止している。
【００６０】
次に、ステージＳＴ１６において前処理済みのデータを用いて画像再構成が行なわれる。画像再構成には例えばフィルタード・バックプロジェクション法等が用いられる。
【００６１】
ここで、コンピュータＣＯＭは本発明における再構成手段の実施の形態の一例である。
画像再構成は、補正された校正済みの測定データＣ’tk（ｉ，ｊ）を精度劣化なく前処理したデータを用いて行なわれるので、スキャン時間の相違によるＣＴ値の変化や前処理精度の劣化によるアーチファクトのない品質の良い再構成画像を得ることができる。
【００６２】
次に、ステージＳＴ１７においてイメージ出力が行なわれ、再構成された画像が画像出力部ＩＭを通じて出力される。出力画像はスキャン時間の如何に関わらず品質の一定した高画質のものとなる。
【００６３】
なお、補正値は（２）式の代わりに次式によって求めるようにしても良い。
【００６４】
【数５】
0003703898.tif 000006
【００６５】
（５）式は、補正値を個々の測定データ毎に求めるようにしたものである。このような補正値を用いる場合、測定データの補正は次式によって行なう。
【００６６】
【数６】
0003703898.tif 000007
【００６７】
（６）式は、校正済みの測定データを対応する補正値で個々に補正することを示す。
【００６８】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、課題を解決するための第１の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による校正済み測定データへの悪影響を生じないデータ補正方法を実現することができる。
【００６９】
また、課題を解決するための第２の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による校正済み測定データへの悪影響を生じないデータ補正装置を実現することができる。
【００７０】
また、課題を解決するための第３の発明によれば、基準物質に関する所定のスキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データと各スキャン時間でのスキャンにおける校正済みの測定データとの実質的な比に基づく補正値によって、被検体に関する各スキャン時間での校正済みの測定データを補正するようにしたので、スキャン時間の相違による再構成画像への悪影響を生じないＸ線ＣＴ装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態の一例の装置におけるデータ収集部のブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態の一例の装置におけるデータ収集部の動作説明図である。
【図４】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロー図である。
【図５】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロー図である。
【符号の説明】
ＸＳ  Ｘ線照射器
ＦＢ  Ｘ線ビーム
ＯＢ  被検体
ＴＢ  支持板
ＤＴ  Ｘ線検出器
ＦＭ  支持枠
ＸＣ  Ｘ線制御部
ＲＣ  回転制御部
ＴＣ  支持板制御部
ＤＡＳ  データ収集部
ＣＯＭ  コンピュータ
ＩＭ  画像出力部
ＯＰ  操作部
ＤＴｅ  検出素子
ＩＮＴ  積分器
ＭＸ  マルチプレクサ
ＡＤＣ  アナログ・ディジタル変換器
ＭＥＭ  メモリ
ＣＮＴ  制御装置
【図１】
0003703898.tif 000008
【図２】
0003703898.tif 000009
【図３】
0003703898.tif 000010
【図４】
0003703898.tif 000011
【図５】
0003703898.tif 000012