(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射しこのＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線透過量から前記被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置であって、
前記被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射するＸ線発生器（３）と、
前記Ｘ線透過量を検出するＸ線検出器（４）と、
前記Ｘ線発生器又は前記Ｘ線検出器の少なくともいずれか一方のＸ線機器に一体に設けられ、前記Ｘ線の曝射状態を示すＸ線曝射情報が記憶されるＸ線曝射情報記憶手段（１７）と、
該Ｘ線曝射情報記憶手段と接続可能とされ、前記Ｘ線曝射情報を作成し、前記接続されたＸ線機器のＸ線曝射情報記憶手段に記憶させる記憶制御手段（４６）と、
前記Ｘ線曝射情報記憶手段に記憶されている前記Ｘ線曝射情報を一時的に保持するバックアップメモリ（３０）とを具備し、
前記記憶制御手段は、Ｘ線異物検出装置の起動時に前記Ｘ線曝射情報記憶手段内の前記Ｘ線曝射情報と前記バックアップメモリ内の前記Ｘ線曝射情報とを比較し、不一致の場合には前記バックアップメモリ内のＸ線曝射情報を前記Ｘ線曝射情報記憶手段に更新することを特徴とするＸ線異物検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対しＸ線を曝射するＸ線異物検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、金属、ガラス、石、骨などの異物が被検査物中に混入しているか否かを、曝射したＸ線の透過量から検出する装置である。
【０００３】
すなわち、Ｘ線発生器から被検査物に曝射されたＸ線は、被検査物やその中に混入されている異物により減衰される。被検査物（異物含む）等の成分（原子番号と密度）と厚みによって減衰の割合は変わり、「原子番号×密度」が高いほど、また厚みが厚い程減衰量が多くなる。
【０００４】
例えば金属や石等の異物は食品よりも「原子番号×密度」が高いため、これらの異物が混入した場所の下方にあるＸ線検出器によって検出されるＸ線量が減衰される。この得られたＸ線量を利用し、更に画像処理フィルタを用いて異物を強調する画像処理を施すことで、被検査物の影響の低減を行い、被検査物中に埋もれた異物の信号を抽出する。そして、所定の閾値により異物有りか否かの判定をすることで、被検査物内に混入されている異物が検出される（非特許文献１参照）。
【０００５】
図１１に示すように、このＸ線異物検出装置１００に用いられるＸ線発生器１０１は、操作部１０２からの操作入力により制御部１０３を介して電力供給されて、Ｘ線を曝射する。このＸ線発生器１０１、特にＸ線管は高価な消耗品である。
【０００６】
また、曝射されたＸ線を検出するＸ線検出器１０４も高価な消耗品である。Ｘ線検出器１０４は、Ｘ線を受けるシンチレータを介してフォトダイオードにより光電変換することによりＸ線量を検出するが、Ｘ線発生器１０１から曝射されたＸ線の一部は、シンチレータ以外にも、Ｘ線検出器内部のフォトダイオードやＩＣ等の電子部品を曝射する。この曝射が長時間に及ぶと曝射された部品を構成する物質の組成や性質に変化が起こるため、電子部品が破壊されることとなる。
【０００７】
このため、Ｘ線発生器１０４の通電時間を計時するために、Ｘ線異物検出装置１００には、装置１００本体にアワーメータ１０５が設けられている。アワーメータ１０５は、制御部１０３とＸ線発生器１０１とを接続する電源ライン１０６に接続されており、Ｘ線照射時間を計時する。そして、この積算された通電時間（計時時間）を目安として、Ｘ線発生器を交換するメンテナンス作業が行われている。
【０００８】
また、アワーメータ１０７を装置１００本体に設け、Ｘ線検出器１０４と電源ユニット１０８を接続する電源ライン１０９から引き出して接続することで、Ｘ線検出器１０４の通電時間を計時することも考えられる。アワーメータ１０７は、電源ユニット１０８からのＸ線検出器１０４への電源投入と同時に起動して計時を開始し、電源を切ると計時を停止する。そして、この積算された通電時間（計時時間）を目安として、Ｘ線検出器１０４を交換するメンテナンス作業が行われることとなる。
【０００９】
一方、下記特許文献１には、Ｘ線ラインセンサの検出レベルを記憶するＸ線検査装置が開示されている。このＸ線検査装置によれば、Ｘ線ラインセンサの検出レベルの低下を監視して、Ｘ線源やＸ線ラインセンサが使用に耐えない状態になる前にこれらを交換することができる。（特許文献１参照）
【００１０】
【非特許文献１】
阿部俊、「Ｘ線異物検出器ＫＤ７２０３ＡＷの開発」、アンリツテクニカル、アンリツ株式会社、２００２年１月３１日、第８０号、ｐ８１〜８９
【特許文献１】
特開２００２−１４８２１１号公報（第２頁−第７頁、第１図−第７図）
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のように、アワーメータ１０５，１０７が装置１００本体に取り付けられている状態で、Ｘ線発生器１０１又はＸ線検出器１０４を交換する場合、Ｘ線発生器１０１又はＸ線検出器１０４の交換時に、アワーメータ１０５，１０７の積算された通電時間を、別途管理者が紙に記録する必要がある。
【００１２】
しかし、積算された通電時間を管理者が記録し忘れると、交換により外されたＸ線発生器１０１又はＸ線検出器１０４の通電時間及び交換により新たに取り付けられたＸ線発生器１０１又はＸ線検出器１０４の通電時間が不明となり、使用者は使用可能時間が経過したか否かを判別することができないこととなる。これにより、交換せずに使用を継続すると、Ｘ線異物検出装置１００の検出精度が低下したまま使用を続行することとなり、誤検出してしまう場合がある。
【００１３】
また、装置の取扱説明書に記載されている使用可能時間は、メーカーが推奨する時間であり、使用者が設定するＸ線管の設定電力によりばらつきがあり、上記使用可能時間を経過する前に交換が必要となったり、上記使用可能時間が経過した後でも交換が不要とされる場合もある。
【００１４】
更に、上記特許文献１では、Ｘ線ラインセンサの検出レベルからＸ線源及びＸ線ラインセンサの寿命を把握することとしているが、Ｘ線ラインセンサの検出レベルの経時変化が、Ｘ線源の劣化によるものかＸ線ラインセンサの劣化によるものかが判別できず、まだ使用可能であるにもかかわらず使用に耐えない状態であるとして交換してしまうこととなる。
【００１５】
本発明は、上述した従来技術の問題点を解消するため、Ｘ線発生器又はＸ線検出器の交換時において、通電時間の記録を不要とし、管理上の人為的ミスの防止，管理の簡便化及び信頼性の向上を図ることを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
請求項１のＸ線異物検出装置は、被検査物ＷにＸ線を曝射しこのＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線透過量から前記被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置であって、
前記被検査物ＷにＸ線を曝射するＸ線発生器３と、
前記Ｘ線透過量を検出するＸ線検出器４と、
前記Ｘ線発生器又は前記Ｘ線検出器の少なくともいずれか一方のＸ線機器に一体に設けられ、前記Ｘ線の曝射状態を示すＸ線曝射情報が記憶されるＸ線曝射情報記憶手段１７と、
該Ｘ線曝射情報記憶手段と接続可能とされ、前記Ｘ線曝射情報を作成し、前記接続されたＸ線機器のＸ線曝射情報記憶手段に記憶させる記憶制御手段４６と、
前記Ｘ線曝射情報記憶手段に記憶されている前記Ｘ線曝射情報を一時的に保持するバックアップメモリ３０とを具備し、
前記記憶制御手段は、Ｘ線異物検出装置の起動時に前記Ｘ線曝射情報記憶手段内の前記Ｘ線曝射情報と前記バックアップメモリ内の前記Ｘ線曝射情報とを比較し、不一致の場合には前記バックアップメモリ内のＸ線曝射情報を前記Ｘ線曝射情報記憶手段に更新することを特徴とする。
【００１７】
請求項１によれば、Ｘ線機器３，４とＸ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）とが一体に設けられているため、Ｘ線機器３，４の交換作業と共にＸ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）も交換し、その内部のＸ線曝射情報も取得することができる。
【００１８】
また、交換後、Ｘ線機器３，４に一体に設けられたＸ線曝射情報をパソコン等のデータ取得装置に接続することによりＸ線機器３，４単体で管理することができ、管理の簡便化及び信頼性の向上を図ることができる。
【００１９】
さらに、Ｘ線曝射情報のＸ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）への書込み中に電源ユニットがＯＦＦになった場合、Ｘ線曝射情報が正常に記憶されない場合がある。そこで、電源ユニットの再投入時に、Ｘ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）とバックアップメモリ３０との記憶内容を比較して、不一致の場合にはバックアップメモリ３０の記憶内容に更新することで、Ｘ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）内のＸ線曝射情報を常に最新の情報にすることができる。また、これにより、その後に積算されるＸ線曝射情報も誤って積算されることなく、正確な情報を得ることができる。
【００３３】
【発明の実施の形態】
［Ｘ線異物検出装置１のハードウェア構成］
図１〜図３はＸ線異物検出装置１の概略ブロック構成図である。Ｘ線異物検出装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Ｗ中（表面も含む）に混入される金属、ガラス、石、骨などの異物の有無を検出するものである。
【００３４】
このＸ線異物検出装置１のハードウェア構成について説明する。Ｘ線異物検出装置１は、搬送部２，Ｘ線発生器３，Ｘ線検出器４，処理部５，操作入力部６，表示部７，電源ユニット８で略構成される。
【００３５】
搬送部２は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各種の被検査物Ｗを搬送するもので、例えば装置１本体に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。ベルトコンベア２は、４つのプーリ１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄに無端状の搬送ベルト１１が巻回されて構成されている。搬送部２は、プーリ１０ａに接続された駆動モータＭの駆動により予め設定された所定の搬送速度で被検査物Ｗを搬送させる。
【００３６】
図１に示すように、Ｘ線異物検出装置１は、搬送部２の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器３と、搬送部２内にＸ線発生器３と対向して設けられるＸ線検出器４を備えて構成される。
【００３７】
Ｘ線発生器３は、図２に示すように、金属製の箱体１２と、箱体１２に封入されている絶縁油１３と、絶縁油１３に浸漬されているＸ線管１４と、箱体１２開口部を封止するとともに絶縁油１３を冷却させる冷却フィン１５と、Ｘ線管１４に電力供給をする高圧基板１６と、第１のＸ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ）と、で構成されている。
【００３８】
Ｘ線管１４は、陽極と陰極とこれらを覆う円筒状の外筒によって構成される。陰極はタングステン等からなるフィラメントで構成され、ここに荷電した電子が陽極へ向けて放電する。陽極は電子の標的部位である。高圧基板１６からの電圧印加によってＸ線管１４により生成されたＸ線は、箱体１２底面にＸ線管１４の長手方向に沿って形成された不図示のスリットにより、下方のＸ線検出器４に向けて、略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００３９】
また、箱体１２には、第１のＸ線曝射情報記憶手段１７Ａが設けられている。図４に示すように、第１のＸ線曝射情報記憶手段１７Ａは、例えば、ケース１８（１８Ａ）と、リード／ライト可能な不揮発性メモリ２０（２０Ａ）と、コネクタ２１（２１Ａ）と、ケース１８Ａを箱体１２の一側面に取り付けるための取付部材２３（２３Ａ）と、で構成される。不揮発性メモリ２０Ａはケース１８Ａ内に設けられており、ケース１８Ａから取り出し可能とされている。コネクタ２１Ａはケース１８Ａから表出している。取付部材２３Ａは、例えばＬ字状に形成され、箱体１２側面に対しネジ２４（２４Ａ）等で固定される。なお、ケース１８ＡはＸ線発生器３に溶着されている構成としてもよい。
【００４０】
Ｘ線検出器４は、被検査物Ｗに対して曝射されたＸ線を検出する。図３に示すように、このＸ線検出器４には、例えば、ライン状に配列された複数のフォトダイオード２５と、フォトダイオード２５上に設けられたシンチレータ２６と、を備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００４１】
このＸ線検出器４では、被検査物Ｗに対してＸ線発生器３からＸ線が曝射されたときに、そのＸ線をシンチレータ２６で受けて光に変換する。さらにシンチレータ２６で変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオード２５によって受光される。そして、各フォトダイオード２５は、受光した光を電気信号に変換し、Ａ／Ｄ変換器によりデジタルデータに変換された後、バッファメモリ２７を介してデータメモリ２８に出力される。このデジタルデータは被検査物Ｗを透過したＸ線量に対応するＸ線透過データである。
【００４２】
また、Ｘ線検出器４には、第２のＸ線曝射情報記憶手段１７（１７Ｂ）が設けられている。第２のＸ線曝射情報記憶手段１７Ｂは、例えば、ケース１８（１８Ｂ）と、リード／ライト可能な不揮発性メモリ２０（２０Ｂ）と、コネクタ２１（２１Ｂ）と、ケース１８ＢをＸ線検出器４の一側面に取り付けるための取付部材２３（２３Ｂ）と、で構成される。不揮発性メモリ２０Ｂはケース１８Ｂ内に設けられており、ケース１８Ｂから取り出し可能とされている。コネクタ２１Ｂはケース１８Ｂから表出している。取付部材２３Ｂは、例えばＬ字状に形成され、Ｘ線検出器４側面に対しネジ２４（２４Ｂ）等で固定される。なお、ケース１８ＢはＸ線検出器４に溶着されている構成としてもよい。
【００４３】
図１に示すように、処理部５は、Ｘ線検出器４からのＸ線透過データが格納されるデータメモリ２８，バックアップメモリ３０，Ｘ線発生器３を駆動させるＸ線発生器駆動回路３１，モータＭを駆動させるモータ駆動回路３２，制御手段３３及び及びこれらを接続するバスラインで略構成される。
【００４４】
データメモリ２８はＲＡＭ，ＨＤ等のリード／ライト可能な半導体メモリであり、そのデータメモリ２８には、Ｘ線透過データが格納される。
【００４５】
Ｘ線発生器駆動回路３１は、図２に示すように、制御手段３３からの指令によりＸ線発生器３を駆動制御及び出力制御するコントローラ３４と、コントローラ３４から出力された電圧を交流に変換するインバータ３５と、で構成される。インバータ３５から出力された電圧は、高圧基板１６で高電圧に増幅されてＸ線管１４に印加する。
【００４６】
モータ駆動回路３２は、制御手段３３からの指令によりモータＭに対し所定電力を供給してモータＭを駆動させる。
【００４７】
制御手段３３は、ＣＰＵ，ワークエリアであるＲＡＭ，記憶制御プログラム，表示制御プログラム，異物検出プログラムが格納されているＲＯＭで略構成されている。制御手段３３は、各駆動回路３１，３２への駆動指令，データメモリ２８からのデジタルデータの読み出し，各プログラムの実行，その他データの転送，種々の演算等を行う。
【００４８】
バックアップメモリ３０は、半導体メモリである。バックアップメモリ３０としては、例えばＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリ等のリード／ライト可能な不揮発性メモリや、ＲＡＭ等のリード／ライト可能な揮発性メモリが用いられる。ＲＡＭを用いた場合は、電源ユニット８がＯＦＦの場合でも、電源ユニット８のバックアップバッテリから電源供給を受けることで記憶内容を保持できるようになっている。このバックアップメモリ３０は、各メモリ２０Ａ，２０ＢへＸ線曝射情報を書き込む前に、これらを一時的に保持するメモリである。したがって、各メモリ２０Ａ，２０ＢへのＸ線曝射情報の書き込み中に、停電や人為的操作ミスにより電源ユニット８がＯＦＦとなった場合でも、最新のＸ線曝射情報が保持される。
【００４９】
ケーブル３６は、第１のＸ線曝射情報記憶手段１７Ａと制御手段３３とを接続する。ケーブル３６の一端にはコネクタ３７が設けられ、第１のＸ線曝射情報記憶手段１７のコネクタ２１Ａと接続する。同様に、ケーブル３８は、第２のＸ線被曝情報記憶手段１７Ｂと制御手段３３とを接続する。ケーブル３８の一端にはコネクタ４０が設けられ、第２のＸ線曝射情報記憶手段１７Ｂのコネクタ２１Ｂと接続する。
【００５０】
操作入力部６は、バスを介して制御手段３３に接続される。図６に示すように、操作入力部６には、Ｘ線発生器３のＯＮ／ＯＦＦをするための曝射開始キー４１及び曝射停止キー４２，Ｘ線管１４の管電圧値及び管電流値の設定をする出力設定キー４３，各メモリ２０Ａ，２０Ｂ内に記憶された情報を表示するためのテンキー等の情報表示キー４４が設けられている。
【００５１】
表示部７は、バスを介して制御手段３３に接続される。表示部７は、例えば液晶ディスプレイ等が採用され、制御手段３３からの指令により、被検査物Ｗの透過画像，被検査物の判定結果，Ｘ線曝射情報記憶手段１７のメモリ２０に記憶されているＸ線曝射情報等が表示される。なお、操作入力部６と表示部７は、タッチパネルのような一体型であってもよい。
【００５２】
電源ユニット８は商用電源４５に接続される。また、電源ユニット８は、電源ライン１９，２９を介して、Ｘ線検出器４，処理部５等に接続される。電源ユニット８は、メインスイッチと、電源コントローラと、バックアップバッテリと、を有する。メインスイッチは、電源供給をＯＮ／ＯＦＦするためのスイッチであり、操作者がこのスイッチをＯＮにすると、Ｘ線検出器４，処理部５，操作入力部６及び表示部７に対し電源供給され、ＯＦＦにすると電源供給を遮断する。また、電源コントローラは、処理部５からの指令により、ＯＮ状態のメインスイッチをＯＦＦにする。更に、バックアップバッテリは、リチウム電池等のバッテリであり、処理部５内の記憶保持の為に用いられる。
【００５３】
［メモリ２０の記憶内容］
次に、Ｘ線曝射情報記憶手段１７（１７Ａ，１７Ｂ）のメモリ２０（２０Ａ，２０Ｂ）に格納される識別情報とＸ線曝射情報について説明する。
【００５４】
図５に示すように、識別情報はＩＤと製造情報を示すシリアル番号からなる。ＩＤは、このメモリ２０がＸ線発生器３かＸ線検出器４のいずれに取り付けられているかを判別するための情報である。ここでは、ＩＤが「１」であればＸ線発生器３、「２」であればＸ線検出器４である。
【００５５】
シリアル番号とは、このメモリ２０が取り付けられているＸ線機器３，４の製造番号である。ＩＤ及びシリアル番号は、予めメモリ２０内に記憶されており、上書きができないように設定されている。
【００５６】
図５に示すように、Ｘ線曝射情報は、管電圧・管電流別曝射時間，電力量，Ｘ線曝射時間及び交換来歴を含む。
管電圧値とは、現在使用しているＸ線管１４について設定された管電圧値である。管電流値とは、現在使用しているＸ線管１４について設定された管電流値である。管電圧・管電流別曝射時間とは、Ｘ線管１４に対して設定して印加された管電圧・管電流ごとの曝射時間である。本例では、管電圧値３０ｋＶ，管電流値１．５ｍＡ，曝射時間１００ｈと、管電圧値４０ｋＶ，管電流値１．５ｍＡ，曝射時間２００ｈが記憶されている。
【００５７】
Ｘ線管１４の電力量とは、各管電圧・管電流別曝射時間ごとの電力量が加算された総電力量がである。本例では、１６５００Ｗｈが記憶されている。
【００５８】
Ｘ線管１４の曝射時間とは、各管電圧・管電流別曝射時間ごとの曝射時間を合計した総曝射時間である。本例では、３００ｈである。
【００５９】
来歴とは、メンテナンス業者（製造元）にて書き込まれるＸ線管１４やフォトダイオード２５等の主要部品の交換情報であり、過去にＸ線管１４等を交換した日時及びその交換されたＸ線管１４の総曝射時間である。本例では、１回目の交換が、２００１年１０月２日１２時２６分で、このＸ線管１４の総曝射時間は１５００ｈである。また、２回目の交換が、２００２年４月２日１２時２６分で、このＸ線管１４の総曝射時間は１７００ｈである。来歴には、Ｘ線管１４を交換する度に交換日時及び総曝射時間が記憶される。
【００６０】
［制御手段３３の機能的構成］
次に、制御手段３３の機能ブロック構成について説明する。制御手段３３は、図６に示すように、記憶制御手段４６と、表示制御手段４７と、で機能的に構成される。上述した記憶処理プログラムは、ＣＰＵを記憶制御手段４６として機能させるものであり、表示制御プログラムは、ＣＰＵを表示制御手段４７として機能させるものである。
【００６１】
記憶制御手段４６は、フリーランの周期タイマを有し、カウンタ値Ｔを計数する。そして、曝射開始キー４１の入力時のカウンタ値Ｔ１と、曝射停止キー４２入力時のカウンタ値Ｔ２との差分（Ｔ２−Ｔ１）からＸ線曝射時間を算出する。そして、この算出されたＸ線曝射時間を、出力設定キー４３からの入力に基づいて、出力設定キー４３により設定された管電圧値及び管電流値毎の領域に分類してメモリ２０に記憶する。
【００６２】
表示制御手段４７は、情報表示キー４４の入力により、メモリ２０に記憶されているＸ線曝射情報を表示部７に出力し、視認可能にする。
【００６３】
なお、図示しないが、制御手段３３は、画像処理手段と異物検出手段とを有する。異物検出プログラムは、ＣＰＵを画像処理手段及び異物検出手段として実行させるものである。この画像処理手段は、データメモリ２８に格納されたデジタルデータを画素毎の最適輝度情報に変換して、透過画像を得る。透過画像は表示部７に表示される。異物検出手段は、透過画像の輝度情報から異物の有無を検出する。
【００６４】
［全体処理］
次に、Ｘ線異物検出装置１の全体処理について説明する。図７に示すように、全体処理では、まず、バックアップ処理を実行する（Ｓ１００）。これにより、Ｘ線異物検出装置１の起動時には常に最新の情報が保持されることとなる。次に、表示キー４４の入力があった場合（Ｓ２０１−ＹＥＳ）、表示処理を実行する（Ｓ２０２）。これにより、各メモリ２０Ａ，２０Ｂ内のＸ線曝射情報を表示部７にて確認することができる。このあと、異物検出プログラムによる異物検出処理と平行して記憶処理（Ｓ３００）を実行する。この後電源ユニットをＯＦＦにすると（Ｓ２０３−ＹＥＳ）終了する。ＯＮを維持するとＳ２０１に移行する。
【００６５】
［Ｘ線曝射情報の記憶処理手順］
次に、Ｘ線曝射情報の記憶処理について説明する。図８に示すように、まず、操作入力部６から出力設定キー４３により管電圧値及び管電流値の出力設定がされると（Ｓ３０１−ＹＥＳ）、設定された管電圧値及び管電流値が制御手段３３に一時的に保持される。
【００６６】
出力設定後、曝射開始キー４１の入力がされると（Ｓ３０２−ＹＥＳ）、このときの周期タイマのカウンタ値Ｔ１を取得するとともに（Ｓ３０３）、Ｘ線発生器３からＸ線が曝射される（Ｓ３０４）。計時開始時刻は制御手段３３に一時的に保持される。また、この曝射は曝射停止キー４２が入力されるまで継続する（Ｓ３０５−ＮＯ）。そして、使用者が曝射停止キー４２を入力すると（Ｓ３０５−ＹＥＳ）、Ｘ線の曝射が停止する（Ｓ３０６）。同時にこのときの周期タイマのカウンタ値Ｔ２を取得する（Ｓ３０７）。このカウンタ値Ｔ１，Ｔ２も制御手段３３に一時的に保持される。なお、制御手段３３に一時的に保持された設定管電圧値，管電流値，カウンタ値Ｔ１，Ｔ２は総てバックアップメモリ３０に保持される。この後、Ｘ線曝射情報のメモリ２０への書込みが実行される（Ｓ３０８）。
【００６７】
次に書込み処理について説明する。図９に示すように、まず、今回の曝射時間を算出して制御手段３３及びバックアップメモリ３０に保持する（Ｓ３１０）。今回の曝射時間は、制御手段３３に保持されているカウンタ値Ｔ１，Ｔ２との差分により算出される。
【００６８】
そして、算出された今回のＸ線曝射時間をバックアップメモリ３０内の総曝射時間に積算する（Ｓ３１１）。次に、今回の電力量を算出し、バックアップメモリ３０内の総電力量に積算する（Ｓ３１２）。そして、更新されたバックアップメモリ３０内のＸ線曝射情報をメモリ２０に上書き保存する。これにより、メモリ２０内のＸ線曝射情報は最新の情報が記憶される。
【００６９】
なお、Ｘ線発生器３を交換するときは、コネクタ２１Ａ，３７同士を外すとともに、Ｘ線発生器３の高圧基板１６から電源供給ライン９も外す。そして、新たなＸ線発生器３に対し、制御手段３３に接続されたケーブル３６先端のコネクタ３７と新たなＸ線発生器３のコネクタ２１Ａ同士を連結すると共に、高圧基板１６に電源供給ライン９を接続する。これにより、メモリ２０Ａの内容を紙に書き写したり、消去したりする作業をする必要がなく、管理上の人為的ミスの防止，管理の簡便化及び信頼性の向上を図ることができる。
【００７０】
同様に、Ｘ線検出器４を交換するときは、コネクタ２１Ｂ，４０同士を外すとともに、Ｘ線検出器４から電源供給ライン１９も外す。そして、新たなＸ線検出器４に対し、制御手段３３に接続されたケーブル３８先端のコネクタ４０と新たなＸ線検出器４のコネクタ２１Ｂ同士を連結すると共に、電源供給ライン１９を接続する。これにより、メモリ２０Ｂの内容を紙に書き写したり、消去したりする作業をする必要がなく、管理上の人為的ミスの防止，管理の簡便化及び信頼性の向上を図ることができる。
【００７１】
［バックアップ処理］
次に、Ｘ線曝射情報のバックアップ処理（Ｓ１００）について説明する。停電又は書込み中の電源ＯＦＦ操作等の人為的ミスにより、各メモリ２０Ａ，２０ＢへのＸ線曝射情報の書込み中に電源ユニット８がＯＦＦとなる場合がある。この場合に備えて、再度電源ユニット８がＯＮになったとき、図１０に示すように、メモリ２０に記憶されている識別情報と、バックアップメモリ３０に保持された識別情報と、を比較する（Ｓ１０１）。両者が一致していれば（Ｓ１０１−ＹＥＳ）、Ｘ線機器３，４が交換されていないとみなしてＳ１０３に移行する。両者が不一致であれば（Ｓ１０１−ＮＯ）、Ｘ線機器３，４が交換されたとみなしてメモリ２０から識別情報及びＸ線曝射情報を読み出してバックアップメモリ３０に展開する（Ｓ１０２）。そして、メモリ２０に記憶されているＸ線曝射情報と、バックアップメモリ３０に保持されたＸ線曝射情報と、を比較する（Ｓ１０３）。両者が一致していれば（Ｓ１０３−ＹＥＳ）、書込み内容が正常であるとみなし、上述した表示処理を実行する。一方、不一致の場合（Ｓ１０３−ＮＯ）、書込み内容に異常があるとみなし、バックアップメモリ３０のＸ線曝射情報をメモリ２０に書き込む（Ｓ１０４）。この後、バックアップメモリ３０内のＸ線曝射情報を消去して、上述した表示処理を実行する。
【００７２】
これにより、停電又は交換のための電源ＯＦＦ操作等の人為的ミスにより、各メモリ２０Ａ，２０ＢへのＸ線曝射情報の書込み中に電源ユニット８がＯＦＦとなっても、最新の情報が保持されたバックアップメモリ３０の情報を用いることによって、メモリ２０Ａ，２０Ｂ内の情報の修正が可能となり、最新の情報を保持することができる。
【００７３】
［交換後のＸ線曝射情報の取得］
交換により取り外されたＸ線発生器３と一体に取り付けられているＸ線曝射情報記憶手段１７Ａのコネクタ２１Ａに、所定のインターフェースを介してパソコン等のデータ取得装置を接続することで、メモリ２０Ａ内部のＸ線曝射情報を取得することができる。これにより、サービスマンの作業効率を向上させることができ、例えば、現場での作業はＸ線発生器３の交換のみとしてＸ線曝射情報の取得に際しての現場での人為的ミスを防止し、外されたＸ線発生器３が複数ある場合は、これらを持ち帰ってＸ線曝射情報取得作業を行うこととすれば、作業効率を向上させることができる。また、Ｘ線発生器３の主要部品、例えばＸ線管１４を製造元にて交換した場合でも、その交換情報をメモリ２０Ａに書き込むことができる。
【００７４】
また、Ｘ線曝射情報の取得作業において、Ｘ線発生器３からＸ線曝射情報記憶手段１７を取り外したり、ケース１８Ａ内のメモリ２０を取り出すことにより、Ｘ線発生器３とは分離してＸ線曝射情報記憶手段１７とデータ取得装置とを接続することができる。これにより、データ取得時における省スペース化を図ることができる。
【００７５】
同様に、交換により取り外されたＸ線検出器４と一体に取り付けられているＸ線被曝情報記憶手段１７Ｂのコネクタ２１Ｂに、所定のインターフェースを介してパソコン等のデータ取得装置を接続することで、メモリ２０Ｂ内部のＸ線曝射情報を取得することができる。これにより、サービスマンの作業効率を向上させることができ、例えば、現場での作業はＸ線検出器４の交換のみとしてＸ線曝射情報の取得に際しての現場での人為的ミスを防止し、外されたＸ線検出器４が複数ある場合は、これらを持ち帰ってＸ線曝射情報取得作業を行うこととすれば、作業効率を向上させることができる。また、Ｘ線検出器４の主要部品、例えばフォトダイオード２５や電子回路を製造元にて交換した場合でも、その交換情報をメモリ２０Ｂに書き込むことができる。
【００７６】
また、Ｘ線被曝情報の取得作業において、Ｘ線検出器４からＸ線曝射情報記憶手段１７Ｂを取り外したり、ケース１９Ｂ内のメモリ２０Ｂを取り出すことにより、Ｘ線検出器４とは分離してＸ線被曝情報記憶手段１７Ｂとデータ取得装置とを接続することができる。これにより、データ取得時における省スペース化を図ることができる。
【００７７】
なお、本実施の形態では、Ｘ線発生器３とＸ線検出器４にそれぞれ一体にＸ線曝射情報記憶手段１７を設けた例について説明したが、Ｘ線発生器３とＸ線検出器４のうち少なくともいずれか一方のＸ線機器にＸ線曝射情報記憶手段１７が一体に設けられていればよい。
【００７８】
【発明の効果】
請求項１によれば、Ｘ線機器とＸ線曝射情報記憶手段とが一体に設けられているため、Ｘ線機器の交換作業と共にＸ線曝射情報記憶手段も交換し、その内部のＸ線曝射情報も取得することができる。
【００７９】
また、交換後、Ｘ線機器に一体に設けられたＸ線曝射情報をパソコン等のデータ取得装置に接続することによりＸ線機器単体で管理することができ、管理の簡便化及び信頼性の向上を図ることができる。
【００８０】
さらに、Ｘ線曝射情報のＸ線曝射情報記憶手段への書込み中に電源ユニットがＯＦＦになった場合、Ｘ線曝射情報が正常に記憶されない場合がある。そこで、電源ユニットの再投入時に、Ｘ線曝射情報記憶手段とバックアップメモリとの記憶内容を比較して、不一致の場合にはバックアップメモリの記憶内容に更新することで、Ｘ線曝射情報記憶手段内のＸ線曝射情報を常に最新の情報にすることができる。また、これにより、その後に積算されるＸ線曝射情報も誤って積算されることなく、正確な情報を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の概略ブロック構成図である。
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置の一部を拡大した概略ブロック構成図である。
【図３】本発明によるＸ線異物検出装置の一部を拡大した概略ブロック構成図である。
【図４】（ａ）本発明のＸ線機器とＸ線曝射情報記憶手段との係合関係を示す側面図である。
（ｂ）同ブロック構成図である。
【図５】Ｘ線曝射情報記憶手段に記憶されているＸ線曝射情報を示す図である。
【図６】本発明によるＸ線異物検出装置の概略機能ブロック構成図である。
【図７】本発明によるＸ線異物検出装置の全体処理手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明によるＸ線異物検出装置の記憶処理手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明によるＸ線異物検出装置の書込み処理手順を示すフローチャートである。
【図１０】本発明によるＸ線異物検出装置のバックアップ処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】従来のＸ線異物検出装置の概略ブロック構成図である。
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置
３…Ｘ線発生器
４…Ｘ線検出器
７…表示部
１７（１７Ａ，１７Ｂ）…Ｘ線曝射情報記憶手段
３０…バックアップメモリ
３３…制御手段
４６…記憶制御手段
４７…表示制御手段
Ｗ…被検査物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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