(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置本体に設けられたＸ線取出窓を開閉する開閉シャッタを備えたＸ線発生装置において、
前記開閉シャッタを駆動する電動アクチュエータと、
前記電動アクチュエータの通電回路へ直列に挿入したダイオード素子と、
このダイオード素子に生じた順電圧を検出する通電検出手段と、
前記開閉シャッタの開閉状態を検出する開閉検出手段と、
この開閉検出手段からの検出信号と前記通電検出手段からの検出信号とに基づき、各検出信号が正常を示しているときに正常と判別し、いずれか一方の検出信号が異常を示しているとき異常と判別する判別手段と、
を備えたことを特徴とするＸ線発生装置。
【請求項２】
請求項１記載のＸ線発生装置において、
前記通電検出手段と前記判別手段との間に、通電検出手段から送出された検出信号を一定の時間遅延させて前記判別手段に送る遅延手段を設けたことを特徴とするＸ線発生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、装置本体に設けられたＸ線取出窓を開閉する開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に関し、特に開閉シャッタの動作を監視して安全性を高めるための保安システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線回折装置等の分析機器に利用されるＸ線発生装置は、装置本体の内部で発生したＸ線を所定の方向へ取り出すために、Ｘ線取出窓を備えている。一般に、このＸ線取出窓には開閉シャッタが設けてあり、同シャッタの開閉により、必要なときのみＸ線を透過させ、それ以外はＸ線を遮蔽している。
開閉シャッタは、ソレノイド等の電動アクチュエータによって駆動され、Ｘ線取出窓を開閉する構成となっているが、その開閉動作が適正に行なわれない場合、Ｘ線の漏れ出しによる不測の弊害を引き起こしてしまう危険がある。このため、Ｘ線発生装置には、開閉シャッタの状態を監視するための保安システムが併設されている。
【０００３】
従来のこの種の保安システムは、開閉シャッタの開放位置および閉塞位置のそれぞれにマイクロスイッチ等の検出スイッチを設置しておき、該検出スイッチからの検出信号により開閉シャッタの状態を判別する構成となっていた。
例えば、開放位置に設けてある検出スイッチから検出信号が送られているときは、開閉シャッタが開放していると判断され、一方、閉塞位置に設けてある検出スイッチから検出信号が送られているときは、開閉シャッタが閉塞状態にあると判断される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、開閉シャッタの故障等に起因して、電動アクチュエータが通電状態にもかかわらず、開閉シャッタが閉塞状態のままであったり、逆に電動アクチュエータへの通電を停止したにもかかわらず、開閉シャッタが開放状態のままであったりした場合、Ｘ線分析を適正に行なえなかったり、あるいはＸ線の放出による不測の事故が生じたりするおそれがある。
【０００５】
そこで、このような不測の事故や弊害をも未然に防止できる信頼性の高い保安システムを実現すべく、本発明者は鋭意検討を重ね、本発明を完成するに至った。
すなわち、この発明は、開閉シャッタを駆動する電動アクチュエータへの通電状態と開閉スイッチの状態とに基づき、開閉シャッタの動作異常を的確に検出できるようにして、安全面での信頼性を向上させることを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するためにこの発明は、装置本体に設けられたＸ線取出窓を開閉する開閉シャッタを備えたＸ線発生装置において、開閉シャッタを駆動する電動アクチュエータと、電動アクチュエータの通電回路へ直列に挿入したダイオード素子と、このダイオード素子に生じた順電圧を検出する通電検出手段と、を備えている。
【０００７】
ダイオード素子は、微弱な順電流が流れただけで高出力の順電圧を生じさせる特性（順電流−順電圧特性）を有している。したがって、電動アクチュエータに流れる電流が微弱であっても高出力の電圧に変換させることができる。その結果、通電検出手段は、該ダイオード素子に生じた順電圧を、増幅させることなく検出することができ、それにより電動アクチュエータへの通電の有無を確実に検出することができる。
【０００８】
この構成によれば、ダイオード素子に生じた順電圧を増幅させること無く検出が可能であるため、高価格な増幅器を挿入する必要がなく、簡易かつ低コストに製作できるという利点もある
【０００９】
また、ダイオード素子の順電流−順電圧特性は、順電流の広範囲にわたり、順電圧があまり変化することなく高い値を示すことが知られている。本発明は、このようなダイオード素子の順電流−順電圧特性を利用しているので、電動アクチュエータの通電回路に流れる電流値が異なる各種定格のＸ線発生装置に、共通の仕様で適用することができ、汎用性が高い。
【００１０】
また通電検出手段を、ダイオード素子に生じた順電圧の印加により発光するフォトカプラとすることにより、通電回路と通電検出手段とを電気的に絶縁することができる。これにより、通電回路の異常から通電検出手段を保護し、一層信頼性を高めることが可能となる。
【００１１】
また、上記の構成に加え、開閉シャッタの開閉状態を検出する開閉検出手段と、この開閉検出手段からの検出信号と通電検出手段からの検出信号とに基づき、各検出信号が正常を示しているときに正常と判別し、いずれか一方の検出信号が異常を示しているとき異常と判別する判別手段と、を備えるようにしてもよい。この構成により、電動アクチュエータへの通電回路の異常をも含め、開閉シャッタの動作異常を自動的に検出できるようになる。
【００１２】
なお、電動アクチュエータの通電状態が切り替わる時間と、電動アクチュエータによる開閉シャッタの動作が完了する時間と、の間にはタイムラグがあるため、通電検出手段からの検出信号が先に切り替わり、その後、一定の時間遅れをもって開閉検出手段からの検出信号が切り替わることになる。
ゆえに、開閉検出手段からの検出信号が切り替わる間は、判別手段による判別結果が、常に異常となるおそれがある。
【００１３】
そこで、上記判別手段を備えた構成とする場合は、通電検出手段と判別手段との間に、通電検出手段から送出された検出信号を一定の時間遅延させて判別手段に送る遅延手段を設けることが好ましい。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
まず、図５を参照して、Ｘ線発生装置のＸ線取出窓に設けられた開閉シャッタと、その開閉状態を検出する検出スイッチについて説明する。なお、同図（ａ）はＸ線取出窓の開放状態、同図（ｂ）は開閉シャッタの動作途中の状態、同図（ｃ）はＸ線取出窓の閉塞状態を示している。
【００１５】
同図に示すようにＸ線発生装置本体１には、内部で発生したＸ線を所定方向に取り出すためのＸ線取出窓２が設けてある。開閉シャッタ３は、電動アクチュエータであるソレノイド４の駆動ロッド４ａに取り付けてあり、ソレノイド４によって図示左右方向に駆動され、Ｘ線取出窓２を開閉する。
この実施形態では、ソレノイド４は通電により駆動ロッド４ａを吸引して開閉シャッタ３を図示右方向に駆動する構成となっている。この駆動により、Ｘ線取出窓２は開放される。つまり、開閉シャッタ３はソレノイド４の通電により、Ｘ線取出窓２の開放動作を行なう。
【００１６】
また、ソレノイド４の通電を停止すると、駆動ロッド４ａの吸引状態が解除される。このとき、駆動ロッド４ａはコイルばね等の付勢手段５により図示左方向に移動する。この移動に伴い開閉シャッタ３も図示左方向に移動して、Ｘ線取出窓２を閉塞する。つまり、開閉シャッタ３はソレノイド４の通電停止により、Ｘ線取出窓２の開放動作を行なう。
【００１７】
開閉シャッタ３のＸ線取出窓２に対する開放位置には、開放状態検出スイッチ６が設けてあり、また閉塞位置には閉塞状態検出スイッチ７が設けてある。これら各検出スイッチ６，７としては、各種の物体検出センサを用いることができる。なお、この実施形態ではマイクロスイッチを用いている。
【００１８】
開閉シャッタ３は開放位置まで移動すると、開放状態検出スイッチ６の検出子に接触する（図５（ａ）参照）。このとき、同検出スイッチ６からは、Ｘ線取出窓２の開放を示す検出信号が出力される。一方、開閉シャッタ３は閉塞位置まで移動すると、閉塞状態検出スイッチ７の検出子に接触する（図５（ｃ）参照）。このとき、同検出スイッチ７からは、Ｘ線取出窓２の閉塞を示す検出信号が出力される。
【００１９】
図１は、この発明を適用したＸ線発生装置の保安システムに係る実施形態を示す回路図である。
ソレノイド４は、通電回路１０に直列に接続してある。通電回路１０には通電スイッチ１１が挿入してあり、同スイッチ１１をＯＮしたとき通電回路１０に直流電流（ソレノイド４電流Ｖｆ）が流れ、ソレノイド４は開閉シャッタ３を開放位置へ移動させる（図５（ａ）参照）。
一方、通電スイッチ１１をＯＦＦにしたときソレノイド４への通電が停止し、ソレノイド４は開閉シャッタ３を閉塞位置へ移動させる（図５（ｃ）参照）。
【００２０】
通電回路１０には、ダイオード素子１２が直列に挿入してある。ダイオード素子１２は、図２に示すような順電流−順電圧特性を有している。すなわち、ダイオード素子１２に順電流Ｉｆ（図１の通電回路１０では、ソレノイド４電流）が流れると、大きな順電圧Ｖｆが生じる。この順電圧Ｖｆは、順電流Ｉｆが微弱であっても大きな値を示す。しかも、順電圧Ｖｆは順電流Ｉｆが変化しても大きな変化を示さないという特性がある。この発明は、ダイオード素子１２のこのような順電流−順電圧特性を利用し、ソレノイド４の通電状態を簡易な構成で検出するようにしてある。
【００２１】
ダイオード素子１２の両端には、フォトカプラ１３が接続してある。フォトカプラ１３は、ダイオード素子１２に発生した順電圧Ｖｆの印加により入力側の発光ダイオード１３ａが発光し、その光を受光して出力側に設けたフォトトランジスタ１３ｂがＯＮとなり、出力側の電圧Ｖｏが変化する構成となっている。
このフォトカプラ１３の入力側と出力側とは、電気的に絶縁されているため、入力側に接続された通電回路１０に異常が生じても、その影響を出力側に伝えることはない。
【００２２】
また、単一のダイオード素子１２に生じる順電圧Ｖｆだけでは、フォトカプラ１３が作動しない（発光ダイオード１３ａが発光しない）ような場合は、図３に示すように複数個のダイオード素子１２を直列につなげたダイオード直列回路１２０を、通電回路１０へ直列に挿入することもできる。このダイオード直列回路１２０の両端には、各ダイオード素子１２に生じた順電圧Ｖｆが加算された大きな順電圧が生じるため、フォトカプラ１３を確実に作動させることが可能となる。
【００２３】
なお、既述したように、順電圧Ｖｆは順電流Ｉｆが変化しても大きな変化を示さないので、定格電流の異なるソレノイド４の通電回路１０にも、同じ構成でそのまま適用することができる。
【００２４】
通電回路１０にソレノイド電流（順電流Ｉｆ）が流れると、ダイオード素子１２に順電圧Ｖｆが生じ、その順電圧Ｖｆによりフォトカプラ１３がＯＮとなり、その出力側の電圧Ｖｏが変化する。この電圧変化を検出することにより、ソレノイド４への通電状態を検出することができる。一方、通電回路１０が遮断されると、ダイオード素子１２にソレノイド電流（順電流Ｉｆ）が流れなくなるので、ダイオード素子１２の順電圧Ｖｆが零となり、その結果、フォトカプラ１３がＯＦＦとなり、その出力側の電圧Ｖｏも変化する。この電圧変化を検出することにより、ソレノイド４への通電停止を検出することができる。
【００２５】
図４は、この発明を適用したＸ線発生装置の保安システムに係る実施形態を、更に具体的に示す回路図である。なお、図４において、先に示した図３および図１と同一部分には同一符号を付してある。
この実施形態では、フォトカプラ１３の出力と、Ｘ線発生装置本体１に設けた閉塞状態検出スイッチ７および開放状態検出スイッチ６の出力と、に基づき開閉シャッタ３の動作異常を自動的に検出する判別回路２０が設けてある。
この判別回路２０は、第１のＡＮＤ回路２１、第２のＡＮＤ回路２２、ＮＯＴ回路２３、およびＯＲ回路２４によって構成してある。
【００２６】
第１のＡＮＤ回路２１の入力ａには、フォトカプラ１３からの検出信号が送られてくる。この実施形態では、フォトカプラ１３の出力側に常時プラスの電圧＋Ｖｃが印加してあり、フォトカプラ１３がＯＦＦのとき、第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにはハイレベルの検出信号（出力電圧）Ｈが送られてくる。一方、フォトカプラ１３がＯＮのときは、第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにはローレベルの検出信号（出力電圧）Ｌが送られてくる。
【００２７】
第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯＴ回路２３を介してフォトカプラ１３からの検出信号が送られてくる。すなわち、フォトカプラ１３がＯＦＦのとき、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａにはＮＯＴ回路２３で反転されたローレベルの検出信号（出力電圧）Ｌが送られてくる。一方、フォトカプラ１３がＯＮのときは、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａにはＮＯＴ回路２３で反転されたハイレベルの検出信号（出力電圧）Ｈが送られてくる。
【００２８】
また、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂには、閉塞状態検出スイッチ７からの検出信号が送られてくる。この実施形態では、閉塞状態検出スイッチ７の出力側に常時プラスの電圧＋Ｖｃが印加してあり、閉塞状態検出スイッチ７がＯＦＦのとき、第１のＡＮＤ回路の入力ｂにはハイレベルの検出信号Ｈが送られてくる。一方、閉塞状態検出スイッチ７がＯＮのときは、第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにはローレベルの検出信号Ｌが送られてくる。
【００２９】
第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂには、開放状態検出スイッチ６からの検出信号が送られてくる。この実施形態では、開放状態検出スイッチ６の出力側に常時プラスの電圧＋Ｖｃが印加してあり、開放状態検出スイッチ６がＯＦＦのとき、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂにはハイレベルの検出信号Ｈが送られてくる。一方、開放状態検出スイッチ６がＯＮのときは、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａにはローレベルの検出信号Ｌが送られてくる。
【００３０】
ＯＲ回路２４は、各ＡＮＤ回路からの出力をそれぞれ入力し、それらの論理和を出力する。本実施形態では、このＯＲ回路２４の出力により、開閉シャッタ３の動作異常を自動的に検出する。
【００３１】
ところで、通電回路１０に挿入してある通電スイッチ１１が切り替わると、それに伴いフォトカプラ１３からの検出信号は速やかに切り替わるが、開放状態検出スイッチ６または閉塞状態検出スイッチ７から検出信号は、開閉シャッタ３の動作時間だけ切り替わりが遅延する。このため、開放状態検出スイッチ６または閉塞状態検出スイッチ７からの検出信号が切り替わるまでの間、判別手段による判別結果が、常に異常を示すおそれがある。
【００３２】
そこでこの実施形態では、第１，第２のＡＮＤ回路２１，２２とフォトカプラ１３との間に、遅延回路２６を挿入し、フォトカプラ１３からの検出信号を一定の時間遅延させて各ＡＮＤ回路２１，２２に送出するようにしてある。この遅延回路２６によって、フォトカプラ１３からの検出信号の出力タイミングを、開放状態検出スイッチ６または閉塞状態検出スイッチ７からの検出信号の出力タイミングに合わせることで、上記のような切り替わり時点における判別結果の混乱を回避することができる。
【００３３】
次に、図４に示したＸ線発生装置の保安システムによる開閉シャッタ３の動作検出例を具体的に説明する。
【００３４】
開閉シャッタが正常に開放動作する場合
通電スイッチ１１をＯＮにすると通電回路１０が閉じ、ダイオード素子１２に順電流Ｉｆが流れて順電圧Ｖｆが生じる。この順電圧Ｖｆによりフォトカプラ１３がＯＮとなり、ローレベルの検出信号Ｌが遅延回路２６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３に出力される。ＮＯＴ回路２３は、入力したローレベルの検出信号Ｌをハイレベルの検出信号Ｈに反転して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。
【００３５】
また、通電スイッチ１１をＯＮすることにより、ソレノイド４が通電し開閉シャッタ３を開放位置の方向へ駆動する。そして、開閉シャッタ３が閉塞位置を離間すると、閉塞状態検出スイッチ７がＯＦＦとなり、同スイッチ７からハイレベル検出信号Ｈが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。
続いて、開閉シャッタ３が開放位置に到達すると、開放状態検出スイッチ６がＯＮとなり、同スイッチ６からローレベルの検出信号Ｌが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。
【００３６】
入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力するため、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
【００３７】
その結果、ＯＲ回路２４はローレベルの信号Ｌを出力する。この実施形態では、ＯＲ回路２４からローレベルの信号Ｌが出力されたときを「正常」、ハイレベルの信号Ｈが出力されたときを「異常」として判定している。すなわち、上記の動作では、ＯＲ回路２４からローレベルの信号Ｌが出力されたので、開閉シャッタ３の開放動作が正常に行なわれたと判定される。
【００３８】
開閉シャッタの開放動作に異常が生じた場合
通電スイッチ１１をＯＮにして通電回路１０が正常に閉じた場合は、上記開閉シャッタ３が正常に開放動作する場合と同様に、フォトカプラ１３から第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにローレベルの検出信号Ｌが出力されるとともに、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯＴ回路２３を介してハイレベルの検出信号Ｈが出力される。
一方、開閉シャッタ３の開放動作に異常が生じ、同シャッタ３が開かなかった場合は、閉塞状態検出スイッチ７がＯＮのままとなり、同スイッチ７からローレベルの検出信号Ｌが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。
【００３９】
また、開放状態検出スイッチ６はＯＦＦのままとなり、同スイッチ６からハイレベルの検出信号Ｈが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。
入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにもハイレベルの検出信号Ｈを入力するため、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
その結果、ＯＲ回路２４は、異常を示すハイレベルの信号Ｈを出力する。
【００４０】
開閉シャッタが正常に閉塞動作する場合
通電スイッチ１１をＯＦＦにすると通電回路１０が開き、ダイオード素子１２に順電流Ｉｆが流れなくなり、順電圧Ｖｆも消滅する。したがって、フォトカプラ１３がＯＦＦとなり、ハイレベルの検出信号Ｈが遅延回路２６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３に出力される。ＮＯＴ回路２３は、入力したハイレベルの検出信号Ｈをローレベルの検出信号Ｌに反転して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。
【００４１】
また、通電スイッチ１１をＯＦＦすることにより、ソレノイド４への通電が停止し、開閉シャッタ３を閉塞位置の方向へ駆動する。そして、開閉シャッタ３が開放位置を離間すると、開放状態検出スイッチ６がＯＦＦとなり、同スイッチ６からハイレベル検出信号Ｈが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。
続いて、開閉シャッタ３が閉塞位置に到達すると、閉塞状態検出スイッチ７がＯＮとなり、同スイッチ７からローレベルの検出信号Ｌが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。
【００４２】
入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力するため、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
その結果、ＯＲ回路２４は正常を示すローレベルの信号Ｌを出力する。
【００４３】
開閉シャッタの閉塞動作に異常が生じた場合
通電スイッチ１１をＯＦＦにして通電回路１０が正常に開いた場合は、上記開閉シャッタ３が正常に閉塞動作する場合と同様に、フォトカプラ１３から第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにハイレベルの検出信号Ｈが出力されるとともに、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯＴ回路２３を介してローレベルの検出信号Ｌが出力される。
一方、開閉シャッタ３の開放動作に異常が生じ、同シャッタが閉じなかった場合は、開放状態検出スイッチ６がＯＮのままとなり、同スイッチ６からローレベルの検出信号Ｌが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。
【００４４】
また、閉塞状態検出スイッチ７はＯＦＦのままとなり、同スイッチ７からハイレベルの検出信号Ｈが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。
入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにもハイレベルの検出信号Ｈを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにもローレベルの検出信号Ｌを入力するため、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
その結果、ＯＲ回路２４は、異常を示すハイレベルの信号Ｈを出力する。
【００４５】
開閉シャッタが開放位置にあるとき通電異常が生じた場合
開閉シャッタ３が開放位置にあるときは、閉塞状態検出スイッチ７から第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂへハイレベルの検出信号Ｈが出力されるとともに、開放状態検出スイッチ６から第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂへローレベルの検出信号Ｌが出力されている。
このとき、通電回路１０に異常が生じ、通電回路１０に電流が流れなくなった場合は、ダイオード素子１２にも順電流Ｉｆが流れず順電圧Ｖｆが消滅する。したがって、フォトカプラ１３がＯＦＦとなり、ハイレベルの検出信号Ｈが遅延回路２６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３に出力されることになる。ＮＯＴ回路２３は、入力したハイレベルの検出信号Ｈをローレベルの検出信号Ｌに反転して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。
【００４６】
入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力するため、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
その結果、ＯＲ回路２４は異常を示すハイレベルの信号Ｈを出力する。
【００４７】
開閉シャッタが閉塞位置にあるとき通電異常が生じた場合
開閉シャッタ３が閉塞位置にあるときは、閉塞状態検出スイッチ７から第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂへローレベルの検出信号Ｌが出力されるとともに、開放状態検出スイッチ６から第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂへハイレベルの検出信号Ｈが出力されている。
このとき、通電回路１０に異常が生じ、通電回路１０が閉じた場合は、ダイオード素子１２に順電流Ｉｆが流れ、順電圧Ｖｆが生じる。したがって、フォトカプラ１３がＯＮとなり、ローレベルの検出信号Ｌが遅延回路２６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３に出力されることになる。ＮＯＴ回路２３は、入力したローレベルの検出信号Ｌをハイレベルの検出信号Ｈに反転して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。
【００４８】
入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力した第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ａに出力する。
一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂにもハイレベルの検出信号Ｈを入力するため、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。
その結果、ＯＲ回路２４は異常を示すハイレベルの信号Ｈを出力する。
このように、本実施形態では、通電回路１０の異常に関しても的確に検出することができる。
【００４９】
なお、この発明は上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、上述した実施形態では、ソレノイドが通電したとき開閉シャッタが開放動作をする構造となっていたが、逆にソレノイドが通電したとき開閉シャッタが閉塞動作をする構造のＸ線発生装置であっても、この発明を適用することができる。
【００５０】
【実施例】
図６はロータリー式の開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示している。
同図（ａ）はダイオード素子１２に流れる順電流Ｉｆの検出データ、同図（ｂ）はダイオード素子１２に生じた順電圧Ｖｆの検出データ、同図（ｃ）はフォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏの検出データである。
通電回路１０をＯＦＦからＯＮに切り替えたとき、ダイオード素子１２に同図（ａ）に示すようなほぼ一定の順電流Ｉｆが流れた。このときダイオード素子１２には、同図（ｂ）に示すようなほぼ一定の順電圧Ｖａが生じ、フォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏが同図（ｃ）に示すように低下した。
【００５１】
また、図７は直動式の開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示している。
同図おいても、（ａ）はダイオード素子１２に流れる順電流Ｉｆの検出データ、（ｂ）はダイオード素子１２に生じた順電圧Ｖｆの検出データ、（ｃ）はフォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏの検出データをそれぞれ示している。
通電回路１０をＯＦＦからＯＮに切り替えたとき、同図（ａ）に示すように開閉シャッタ３の駆動が続く間、ダイオード素子１２には大きな順電流Ｉｆが流れ、その後、開閉シャッタ３が開放位置で停止すると、順電流Ｉｆの値は低下した。
【００５２】
しかし、このような順電流Ｉｆの変化があっても、ダイオード素子１２には、同図（ｂ）に示すようなほぼ一定の順電圧Ｖａが生じ、フォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏが同図（ｃ）に示すように低下した。
これにより、通電回路１０の状態をフォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏによって的確に検出できることがわかる。
【００５３】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、簡易な構成で、開閉シャッタを駆動する電動アクチュエータへの通電状態と開閉スイッチの状態とに基づき、開閉シャッタの動作異常を的確に検出できるようにして、安全面での信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明を適用したＸ線発生装置の保安システムに係る実施形態を示す回路図である。
【図２】ダイオード素子の順電流−順電圧特性の例を示す図である。
【図３】ダイオード直列回路を示す図である。
【図４】この発明を適用したＸ線発生装置の保安システムに係る実施形態を更に具体的に示す回路図である。
【図５】開閉シャッタとその開閉状態を検出する検出スイッチを示す構成図である。
【図６】ロータリー式の開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示す図である。
【図７】直動式の開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示す図である。
【符号の説明】
１：Ｘ線発生装置本体          ２：Ｘ線取出窓
３：開閉シャッタ              ４：ソレノイド
６：開放状態検出スイッチ
７：閉塞状態検出スイッチ
１０：通電回路                １１：通電スイッチ
１２：ダイオード素子          １３：フォトカプラ
２０：判別回路            ２１：第１のＡＮＤ回路
２２：第２のＡＮＤ回路        ２３：ＮＯＴ回路
２４：ＯＲ回路                ２６：遅延回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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