(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査回路に動作用電源を供給する電圧供給回路を備えた回路検査装置において、
前記電圧供給回路から前記被検査回路に供給される電流値を検出する電流検出手段と、
前記電圧供給回路から前記被検査回路に供給される電流の制限値を設定する電流制限値設定手段と、
前記電流検出手段により検出された前記電流値と前記電流制限値とを比較し、前記被検査回路に供給される電流値が前記電流制限値を超えたときに前記被検査回路への動作用電源の供給を停止する電流供給制限手段と、
を備え、
前記電流制限値設定手段は、前記電流検出手段により検出された前記電流値と前記電流制限値に基づいて前記被検査回路の電源回路部が正常であると判定された場合には、前記電流制限値の設定を変更することを特徴とする回路検査装置。
【請求項２】
前記電流制限値設定手段は、前記被検査回路への電源投入直後における前記電流制限値を第１の状態に設定し、
前記電流検出手段により検出された前記電流値に基づいて、前記電源回路部が正常であると判定された場合には、前記電流制限値を前記第１の状態よりも高い第２の状態に設定することを特徴とする請求項１記載の回路検査装置。
【請求項３】
前記被検査回路は、ＣＭＯＳ構成を有する駆動回路を備えた回路装置であることを特徴とする請求項１又は２記載の回路検査装置。
【請求項４】
被検査回路に動作用電源を供給する電圧供給回路から供給される電流の制限値を第１の状態に設定する処理と、
前記電圧供給回路から供給される電流値を検出する処理と、
前記検出された電流値に基づいて、前記被検査回路の電源回路部が正常であるか否かを判定する処理と、
前記電源回路部が正常であると判定された場合に、前記電圧供給回路の前記電流制限値を前記第１の状態よりも高い第２の状態に設定する処理と、
を含むことを特徴とする回路検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路検査装置及び回路検査方法に関し、特に、動作試験の検査対象となる回路（以下、被検査回路という）に対して、試験用の動作電源を供給する電源供給手段を備えた回路検査装置、及び、その回路検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、液晶パネルモジュール等の動作試験は、液晶パネルを検査装置に装着し、この検査装置に搭載された駆動回路（ドライバ）、電源回路等を用いて実際に駆動させて、表示動作や、輝度ムラ、ドット欠陥等の不良や品質のバラツキを検出して、液晶パネルの製品評価を行っている。
このような検査に適用される検査装置には、上述したように検査対象となる液晶パネルに適合した駆動回路、電源回路等が予め組み込まれている。ここで、電源回路部分で短絡状態（ショート）が発生した場合や、駆動回路においてラッチアップ現象が発生した場合等には、検査対象として接続されている液晶パネル等に異常な過大電流が流れて、液晶パネルの破損を引き起こすという問題がある。
そこで、このような過大電流による液晶パネルの破損を防止するために、検査装置から液晶パネルへ動作電源を供給する電源回路に、過大な電流の流下を制限する電流制限手段が設けられ、一定値以上の電流が流下した場合には、検査装置と液晶パネル間の電位差（電源電圧）を降下させて、液晶パネルに流下する電流値を低減する構成が用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
一方、近年の半導体技術の進歩に伴い、上述した検査装置に限らず、被検査回路である液晶パネルモジュール等においても半導体集積回路が多用されている。例えば、液晶パネルの駆動回路においては、相補型ＭＯＳトランジスタ（ＣＭＯＳ）を用いた回路構成が一般に採用されている。ＣＭＯＳは、消費電力が少なく、高集積化が容易であるというメリットを有しているが、その反面、通常のスイッチング動作（ＯＮ／ＯＦＦ動作）時に、瞬間的に高電位電源側から低電位電源側への電路が形成されて、過大電流（貫通電流）が流れるというデメリットを有している。そのため、ＣＭＯＳ構成の駆動回路を正常な状態で動作させた場合であっても過大電流が流れてしまい、電源回路に設定された電流制限手段が起動して、電源電圧が瞬間的に降下する現象が生じる。このような電源電圧の瞬間的な降下は、検査対象である液晶パネルの誤動作を引き起こし、適正な動作試験や品質評価を困難にするという問題を有している。
【０００４】
上述した問題は、特にＣＭＯＳ構成を多用する液晶パネルの駆動回路やビデオ回路等のように、多くのＣＭＯＳ構成を有し、かつ、多くの回路が特定周期でスイッチング動作する場合に顕著になるものであるが、従来の検査装置においては、電流制限手段により被検査回路の破損を抑制しつつ、同時に、適正な動作試験や品質評価を実現することについては、何ら考慮されてこなかった。
【０００５】
そこで、本発明は、被検査回路の破損を抑制しつつ、適切に動作試験や品質評価を行うことができる回路検査装置及び回路検査方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の回路検査装置は、被検査回路に動作用電源を供給する電圧供給回路を備えた回路検査装置において、前記電圧供給回路から前記被検査回路に供給される電流値を検出する電流検出手段と、前記電圧供給回路から前記被検査回路に供給される電流の制限値を設定する電流制限値設定手段と、前記電流検出手段により検出された前記電流値と前記電流制限値とを比較し、前記被検査回路に供給される電流値が前記制限値を越えたときに前記被検査回路への動作用電源の供給を停止する電流供給制限手段と、を備え、前記電流制限値設定手段は、前記電流検出手段により検出された前記電流値と前記電流制限値に基づいて前記被検査回路の前記電源回路部が正常であると判定された場合には、前記電流制限値の設定を変更することを特徴とする。
請求項２記載の回路検査装置は、請求項１記載の回路検査装置において、前記電流制限値設定手段は、前記被検査回路への電源投入直後における前記電流制限値を第１の状態に設定し、前記電流検出手段により検出された前記電流値に基づいて、前記電源回路部が正常であると判定された場合には、前記電流制限値を前記第１の状態よりも高い第２の状態に設定することを特徴とする。
【０００７】
請求項３記載の回路検査装置は、請求項１又は２記載の回路検査装置において、前記被検査回路は、ＣＭＯＳ構成を有する駆動回路を備えた回路装置であることを特徴とする。
請求項４記載の回路検査方法は、被検査回路に動作用電源を供給する電圧供給回路から供給される電流の制限値を第１の状態に設定する処理と、前記電圧供給回路から供給される電流値を検出する処理と、前記検出された電流値に基づいて、前記被検査回路の電源回路部が正常であるか否かを判定する処理と、前記電源回路部が正常であると判定された場合に、前記電圧供給回路の前記電流制限値を前記第１の状態よりも高い第２の状態に設定する処理と、を含むことを特徴とする。
すなわち、本発明は、検査装置から被検査回路へ動作用電源を供給する電源回路の電流制限値が一定値ではなく、被検査回路の検査状態に応じて、変更設定されることを特徴としている。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の回路検査装置及び回路検査方法について、図面を参照しながら説明する。
まず、本発明に係る回路検査装置の基本構成について説明する。
図１は、本発明に係る回路検査装置に適用される電源供給回路の基本構成を示すブロック図である。
図１において、１０は電力増幅部、２０は出力電圧設定部、３０は出力電流設定部（電流制限値設定手段）、４０は出力電流測定部（電流検出手段）、５０は出力電圧測定部、６０は制御部、１００は液晶パネル等の被検査回路である。
【０００９】
電力増幅部１０は、基準電圧を増幅して、後述する出力電圧設定部２０及び出力電流設定部３０により設定される所定の電圧値及び電流値を有する動作電源を生成し、被検査回路１００に供給する。
出力電圧設定部２０及び出力電流設定部３０は、制御部６０からの指示に従って、被検査回路の動作試験に適合した動作電源用の電圧値及び電流値を電力増幅部１０に設定する。また、出力電流設定部３０は、電力増幅部１０から出力される出力電流値の上限（電流制限値）を規定する電流制限機能を備えている。
出力電流測定部４０及び出力電圧測定部５０は、電力増幅部１０から出力される電流値及び電圧値を随時測定、監視し、制御部６０に通知する。また、出力電流測定部４０は、測定された出力電流値を出力電流設定部３０の電流制限機能にも通知し、出力電流設定部３０による既存の電流制限値の維持、あるいは、変更の設定制御を促す。
制御部６０は、出力電流測定部４０及び出力電圧測定部５０により測定された出力電流値及び出力電圧値が、出力電圧設定部１２０及び出力電流設定部３０により予め設定した電流値及び電圧値に対して、正常な範囲内にあるか否か、すなわち、被検査回路に供給すべき動作電源に適合しているか否かを監視する。
【００１０】
次に、上述した回路検査回路における検査方法について、図面を参照して説明する。
図２は、回路検査方法の処理手順を示すフローチャートである。
まず、電源投入前において、制御部６０は、被検査回路１００に供給される電流値の上限に相当する電流制限値を、被検査回路やそれに付属する駆動回路を破壊しない範囲の、適切な低い値（第１の状態）に設定するように、出力電流設定部３０に指示する（Ｓ１０１）。
そして、電源投入後（Ｓ１０２）、被検査回路の電源回路部の正常／異常状態を判定する検査において、電源供給回路から被検査回路に供給される動作用電源の電流値を出力電流測定部４０により監視するとともに（Ｓ１０３）、出力電流設定部３０により設定された第１の状態の電流制限値と比較する（Ｓ１０４）。
【００１１】
この比較処理において、測定された電流値が電流制限値を超過する場合には、制御部６０は、電源回路部においてショート等の異常状態が発生しているものと判断し、過大電流が被検査回路に流入し、回路装置を破損することがないように、動作用電源の供給を即時に停止（遮断）する（Ｓ１０５）。
一方、測定された電流値が電流制限値以下の場合には、電源回路部が正常であると判断し、被検査回路の動作試験を実行する上で適切な高い電流制限値（第２の状態）に設定するように、出力電流設定部３０に指示する（Ｓ１０６）。ここで、第２の状態の電流制限値は、被検査回路やその駆動回路等を構成するＣＭＯＳのスイッチング動作時に瞬間的に流下する過大電流（貫通電流）によって生じる電源電圧の降下を阻止できる程度の制限値に設定する。
次いで、被検査回路に設けられた信号端子に対して、所定の試験用信号を入力して動作試験を実行し、品質等の評価を行う（Ｓ１０７）。
【００１２】
このように、本発明に係る回路検査装置及び回路検査方法によれば、電源投入時には、低い電流制限値が設定されているため、被検査回路の電源回路部にショートやラッチアップ等の異常状態が発生した場合であっても、被検査回路への過大な電流の流下が抑制されて、回路装置の破損を防止することができ、また、動作試験時には、高い電流制限値が設定されているため、駆動回路等を構成するＣＭＯＳのスイッチング動作により間欠的な大電流の流下が発生した場合であっても、電源電圧の降下が抑制されて、被検査回路の誤動作を防止して、適切な動作試験及び品質評価を行うことができる。
【００１３】
次に、本発明に係る回路検査装置の一実施形態について、図面を参照して説明する。
図３は、本実施形態に係る回路検査装置に適用される電源供給回路を示す回路構成図である。
図３において、１０ａは電力増幅回路、２０ａは出力電圧設定Ｄ／Ａ（デジタル−アナログ変換器）、３０ａは出力電流設定Ｄ／Ａ（デジタル−アナログ変換器）、３０ｂは電流制限値可変回路（電流供給制限手段）、６０ａはＣＰＵ、４０ａは出力電流測定Ａ／Ｄ（アナログ−デジタル変換器）、４０ｂは電流測定回路、５０ａは出力電圧測定Ａ／Ｄ（アナログ−デジタル変換器）である。また、ＳＷは電源投入用のスイッチ、ＲＩは電流検出抵抗、Ｖｃｃは基準電圧、Ｖｏは被検査回路に供給される電源電圧、Ｉｏは電流検出抵抗を流れる電流値である。なお、図示を省略した被検査回路が電源供給回路の出力端子（Ｖｏ）に接続されている。ここでは、被検査回路として液晶パネルを接続した場合について説明するものとする。
【００１４】
電力増幅回路１０ａは、基準電圧Ｖｃｃが印加される電源端子と、電流検出抵抗ＲＩとの間に接続され、基準電圧Ｖｃｃに基づいて、動作用電源を増幅、生成するｎｐｎバイポーラトランジスタ（以下、トランジスタと略記する）Ｑ１と、トランジスタＱ１のベース−コレクタ間に接続されたバイアス抵抗Ｒ１と、電源供給回路の出力端子（Ｖｏ）側に現れる電圧を非反転端子（＋）の入力とし、ＣＰＵ６０ａからの指示にしたがって出力電圧設定Ｄ／Ａ２０ａにより設定される出力電圧値を反転端子（−）の入力とするコンパレータＣ１と、トランジスタＱ１のベースと接地電位との間に接続され、コンパレータＣ１の出力に応じて動作するトランジスタＱ２とを有して構成されている。ここで、電力増幅回路１０ａと基準電圧Ｖｃｃが印加される電源端子との間には、電源供給回路の電源投入を操作するスイッチＳＷが接続されている。
【００１５】
電流検出抵抗ＲＩは、電力増幅回路１０ａと電源供給回路の出力端子との間に接続され、被検査回路である液晶パネルに供給される電流値Ｉｏに対応する電位差を生じさせる。
電流測定回路４０ｂは、電流検出抵抗ＲＩの両端電位（電位差）を入力とするオペアンプ（差動増幅回路）ＯＰにより構成され、液晶パネルに供給される電流値Ｉｏに対応する差動電圧を出力する。
電流制限値可変回路３０ｂは、電流測定回路４０ｂのオペアンプＯＰからの差動出力を非反転端子（＋）の入力とし、ＣＰＵ６０ａからの指示にしたがって出力電流設定Ｄ／Ａ３０ａにより設定される出力電流値、すなわち電流制限値を反転端子（−）の入力とするコンパレータＣ２により構成され、電流検出抵抗ＲＩを流下する電流値Ｉｏと電流制限値との比較結果を、電力増幅回路１０ａのトランジスタＱ１のベースに制御電圧として印加する。
【００１６】
出力電圧測定Ａ／Ｄ５０ａは、電源供給回路の出力端子に接続され、液晶パネルに供給される電源電圧Ｖｏを測定してＣＰＵ６０ａに出力する。
ＣＰＵ６０ａは、出力電流測定Ａ／Ｄ４０ａを介してデジタル信号として入力される電流測定回路４０ｂからの電流値Ｉｏに対応する出力、及び、出力電圧測定Ａ／Ｄ５０ａを介してデジタル信号として入力される電源供給回路の出力端子の電圧、すなわち電源電圧Ｖｏを監視する。また、出力電圧設定Ｄ／Ａ２０ａ及び出力電流設定Ｄ／Ａ３０ａを介して、液晶パネルに供給する動作用電源に適合する出力電圧及び出力電流及び電圧を、電力増幅回路１０ａ及び電流制限値可変回路３０ｂに設定する。
【００１７】
このような構成において、上述したフローチャートに示したように、まず、電源投入に先立って、ＣＰＵ６０ａにより予め初期値となる低い電流制限値が出力電流設定Ｄ／Ａ３０ａを介して電流制限値可変回路３０ｂに設定されるとともに、出力電圧設定Ｄ／Ａ２０ａを介して出力電圧値が電力増幅回路１０ａに設定される。ここで、低い電流制限値とは、電力増幅回路１０ａから供給される電流により、液晶パネルやその駆動回路を破損を生じることがない程度の電流値の上限をいう。
次いで、スイッチＳＷをＯＮすることにより電源が投入されて電源供給回路が起動するとともに、電力増幅回路１０ａから出力される電流値Ｉｏを、電流検出抵抗ＲＩの両端電位を検出し、電流測定回路４０ｂにより電流値Ｉｏに応じた差動電圧として、電流制限値可変回路３０ｂのコンパレータＣ２に入力するとともに、出力電流測定Ａ／Ｄ４０ａを介してデジタル信号としてＣＰＵ６０ａに取り込んで、電流値Ｉｏを監視する。
【００１８】
一方、電流制限値可変回路３０ｂは、電流測定回路４０ｂから出力された差動電圧と、出力電流設定Ｄ／Ａ３０ａにより設定された電流制限値とを比較し、その結果を電力増幅回路１０ａのトランジスタＱ１に印加して、出力電流（Ｉｏ）を制御する。すなわち、測定された電流値Ｉｏが、初期値として設定された制限値を超過する場合には、コンパレータＣ２の出力はローレベルとなり、トランジスタＱ１がＯＦＦして電源供給が停止され、電流値Ｉｏが制限値以下の場合には、コンパレータＣ２の出力はハイレベルになり、トランジスタＱ１はＯＮして、現在の電源供給が継続される。
これによって、液晶パネルの電源回路部に生じたショート等の異常状態を電流値Ｉｏを検出することにより判断することができ、その判断結果に基づいて、電源供給を制御することにより過大電流の流下による液晶パネルの破損を防止することができる。
【００１９】
次いで、電源投入時の電流値Ｉｏが制限値以下で液晶パネルの電源回路部が正常であると判断された場合には、ＣＰＵ６０ａにより動作試験に適合した高い電流制限値が出力電流設定Ｄ／Ａ３０ａを介して電流制限値可変回路３０ｂに設定される。ここで、高い電流制限値とは、液晶パネル動作試験において、液晶パネルの駆動回路を構成するＣＭＯＳのスイッチング動作により、瞬間的に生じる過大な貫通電流の電流値を許容する程度の電流値の上限をいい、貫通電流により電源電圧の降下を誘引し、液晶パネルやその駆動回路における誤動作を生じることがない程度に設定される。
次いで、図示を省略した液晶パネルの信号端子に所定の試験信号を供給することにより動作試験を実行する。
【００２０】
これによって、液晶パネルの動作試験において、駆動回路等を構成するＣＭＯＳが通常のスイッチング動作を行った場合でも過大な貫通電流により電流制限機能が働くことがないため、電源供給回路から供給される電源電圧の降下を抑制することができ、液晶パネル躍動回路における誤動作を防止することができる。
したがって、本実施形態によれば、電源投入時の被検査回路の破損を抑制しつつ、動作試験時に適切な試験用電源を供給して、正確な動作試験や品質評価を行うことができる。
なお、上述した実施形態においては、被検査回路として液晶パネルを例として示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、通常動作において、瞬間的に過大電流が流下するＣＭＯＳ構成を有する回路であれば、ビデオ回路や他の半導体集積回路であっても良いことはいうまでもない。
【００２１】
【発明の効果】
請求項１、２又は４記載の発明によれば、電源投入時には、少なくとも被検査回路を破損することなく、かつ、被検査回路の電源回路部の異常状態を検出することができる程度の低い電流制限値が設定され、また、動作試験時には、被検査回路の駆動回路等の通常の動作で発生する過大電流を許容する程度の高い電流制限値が設定されているため、電源投入時の被検査回路の破損を抑制しつつ、動作試験時に適切な試験用電源を供給して、的確な動作試験や品質評価を行うことができる回路検査装置及び回路検査方法を提供することができる。
また、請求項３記載の回路検査装置は、近年液晶パネルの駆動回路やその他の半導体集積回路に多用されているＣＭＯＳにおいて、上記構成及び検査方法を有することにより、通常のスイッチング動作時に流下する過大な貫通電流に起因する電源電圧の降下、及び、それに伴う回路の誤動作を抑制することができ、的確な動作試験や品質評価を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る回路検査装置に適用される電源供給回路の基本構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る回路検査方法の処理手順を示すフローチャートである。
【図３】一実施形態に係る回路検査装置に適用される電源供給回路を示す回路構成図である。
【符号の説明】
１０    電力増幅部
２０    出力電圧設定部
３０    出力電流設定部（電流制限値設定手段）
４０    出力電流測定部（電流検出手段）
５０    出力電圧測定部
６０    制御部
１００  被検査回路
【図１】
0003610803.tif 000002
【図２】
0003610803.tif 000003
【図３】
0003610803.tif 000004