(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンと、該挿入検査ピンのブロック部の孔部内で該導通検査ピンと該ブロック部とを絶縁する絶縁スリーブと、該ブロック部をスライド自在に係合させるピンガイドとを備えたコネクタ導通検査具において、前記絶縁スリーブが前記ブロック部の前後に一対分割して配置されたことを特徴とするコネクタ導通検査具。
【請求項２】
コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンと、該挿入検査ピンのブロック部の孔部内で該導通検査ピンと該ブロック部とを絶縁する絶縁スリーブと、該ブロック部をスライド自在に係合させるピンガイドとを備えたコネクタ導通検査具において、前記ブロック部の長手方向中間部に、前記ピンガイドに対する磨耗カス逃がし用の切欠部が形成されたことを特徴とするコネクタ導通検査具。
【請求項３】
前記絶縁スリーブが前記ブロック部の前後に一対分割して配置され、該一対の絶縁スリーブの間に前記切欠部が位置することを特徴とする請求項２記載のコネクタ導通検査具。
【請求項４】
前記導通検査ピンの先端に、前記端子の先端に対する円錐状の位置決め凹部が形成されたことを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載のコネクタ導通検査具。
【請求項５】
前記挿入検査ピンの先端に、前記コネクタの係止ランス撓み空間の前部開口に対する湾曲状摺接部が形成されたことを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載のコネクタ導通検査具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コネクタ内の端子の導通検査と不完全挿入検知とを同時に行うセットピンをスライド自在に有し、セットピン内で導通検査ピンと挿入検査ピンとを絶縁スリーブで絶縁させたコネクタ導通検査具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図９〜図１０は特願平１０−９５９４０号に記載されたコネクタ導通検査具を示すものである。
【０００３】
このコネクタ導通検査具８１は、図９の如く、コネクタ８０をセットするための略門柱状のコネクタ保持部６３と、コネクタ保持部６３に対して進退可能な検査部６４とを備えたものであり、検査部６４は中空矩形状の本体ブロック６５を有し、本体ブロック６５のコネクタ嵌合室５０内に、コネクタ８０の各端子７２（図１０）に接触可能な円柱形の複数本の導通検査ピン６６と、端子７２の不完全挿入を検知するための板状の挿入検査ピン６７とを一体に有している。
【０００４】
導通検査ピン６６と挿入検査ピン６７は金属で形成され、挿入検査ピン６７は基部側に矩形状のブロック部５１を一体に有している。導通検査ピン６６と挿入検査ピン６７とは絶縁性のスリーブ６８で隔絶され、且つ圧入により固定されている。すなわち、導通検査ピン６６の外側に合成樹脂製の絶縁スリーブ６８が圧入され、絶縁スリーブ６８の外側に金属製のブロック部５１が圧入されている。導通検査ピン６６と絶縁スリーブ６８と挿入検査ピン６７とで一本のセットピン５２が構成されている。絶縁スリーブ６８は金属の丸棒から孔明けや外径の削り加工によって形成され、後端部にブロック部５１に対する位置決め兼停止用の鍔部５３を有している。
【０００５】
導通検査ピン６６はコイルばね６９（図１０）でコネクタ保持部６３側に弾性的に付勢されている。挿入検査ピン６７のブロック部５１は本体ブロック部６５の孔部５５（図１０）に沿って進退自在に案内される。コネクタ保持部６３はフレーム７０にコイルばね５６を介して固定され、本体ブロック部６５はレバー７１の回動操作でリンク（図示せず）を介してガイドシャフト５７に沿ってフレーム７０上をスライド自在である。
【０００６】
図９でコネクタ保持部６３内に上方からコネクタ８０を挿入し、レバー７１を手前側に倒して本体ブロック部６５をコネクタ８０側に移動させる。図１０の如くコネクタ８０の前半部が本体ブロック部６５内に挿入され、導通検査ピン６６の先端が端子７２の先端に当接する。端子側の電線７３（図９）と導通検査ピン６６側の電線７４（図９）とはチェッカ（図示せず）に接続されており、チェッカのランプの点滅等で端子７２の導通の有無が確認される。
【０００７】
また、図１０の上側の端子７２１  のようにコネクタハウジング７５の端子収容室７６内に不完全挿入である場合には、コネクタハウジング７５の可撓係止ランス７７が撓み空間７８側に撓んだ状態のままであるから、挿入検査ピン６６の先端が可撓係止ランス７７の先端に突き当たり、それ以上の導通検査ピン６６の進入ができないから、端子７２１  と導通検査ピン６６との接触が得られず、導通不良により、端子７２１  の不完全挿入が検知される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のコネクタ導通検査具８１にあっては、例えば導通検査ピン６６に対する挿入検査ピン６７の振れが大きい場合に、挿入検査ピン６７の先端が、コネクタハウジング７５（図１０）の係止ランス撓み空間７８に続く前部開口５８に対して位置ずれし、コネクタハウジング７５の前端に突き当たってしまう不具合を生じ、それを防止すべく（挿入検査ピン６７の振れを小さく抑えるべく）、ブロック部５１と絶縁スリーブ６８の全長を長くした場合には、導通検査ピン６６への絶縁スリーブ６８の圧入作業が難しくなると共に、絶縁スリーブ６８の孔明け加工時のドリルの振れ等によって絶縁スリーブ６８の肉厚差が大きくなり、局部的に絶縁スリーブ６８の肉厚が薄くなって、導通検査ピン６６と挿入検査ピン６７との絶縁性が悪くなると共に、絶縁スリーブ６８の孔部（内径部）５９（図９）が偏心して、かえって挿入検査ピン６７の位置精度が悪くなるという問題を生じた。
【０００９】
挿入検査ピン６７と導通検査ピン６６とは一体的に固定されているから、挿入検査ピン６７の位置精度が悪い場合には、挿入検査ピン６７がコネクタハウジング７５のランス撓み空間７８の前部開口５８に挿入された際に、端子７２に対する導通検査ピン６６の位置が狂い、導通検査精度が悪くなるという問題があった。
【００１０】
また、図１０の如く、セットピン５２が後退した際に、挿入検査ピン６７のブロック部５１が本体ブロック６５の孔部５５の内面と摺接し、特にブロック部５１の全長が長い場合には、摺動抵抗が大きくなって、セットピン５２がスムーズに動かなくなったり、本体ブロック６５の孔部５５の内面が磨耗し、磨耗カスがブロック部５１と孔部５５の内面との間につまって、セットピン５２のスムーズな動きができなくなったり、あるいはセットピン５２が傾いて位置精度が悪くなり、端子７２の導通検査精度や挿入検査精度が悪くなるという問題を生じた。
【００１１】
本発明は、上記した点に鑑み、導通検査ピンと挿入検査ピンとの絶縁性を悪化させることなく、導通検査ピンや挿入検査ピンの振れを抑える等して、各ピンの位置精度を高めることができ、また、挿入検査ピンのブロック部の全長を長くした場合でも、ブロック部との摺動荷重を低く抑え、磨耗カスによるセットピンの動きの悪化や位置精度の悪化を防止することのできるコネクタ導通検査具を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンと、該挿入検査ピンのブロック部の孔部内で該導通検査ピンと該ブロック部とを絶縁する絶縁スリーブと、該ブロック部をスライド自在に係合させるピンガイドとを備えたコネクタ導通検査具において、前記絶縁スリーブが前記ブロック部の前後に一対分割して配置されたことを第一の特徴とする（請求項１）。
また、コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンと、該挿入検査ピンのブロック部の孔部内で該導通検査ピンと該ブロック部とを絶縁する絶縁スリーブと、該ブロック部をスライド自在に係合させるピンガイドとを備えたコネクタ導通検査具において、前記ブロック部の長手方向中間部に、前記ピンガイドに対する磨耗カス逃がし用の切欠部が形成されたことを第二の特徴とする（請求項２）。
前記絶縁スリーブが前記ブロック部の前後に一対分割して配置され、該一対の絶縁スリーブの間に請求項２記載の切欠部が位置することも有効である（請求項３）。
また、前記導通検査ピンの先端に、前記端子の先端に対する円錐状の位置決め凹部が形成されたことも有効である（請求項４）。さらに、前記挿入検査ピンの先端に、前記コネクタの係止ランス撓み空間の前部開口に対する湾曲状摺接部が形成されたことも有効である（請求項５）。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１〜図６は、本発明に係るコネクタ導通検査具の一実施形態の要部を示すものである。コネクタ導通検査具のコネクタ保持部や検査部の駆動機構等は従来（図９）と同様であるので図示を省略する。
【００１４】
図１において、１はセットピン、７はコネクタを示す。セットピン１は、金属製の矩形状のブロック部６の前端に一体に突出形成された金属製の挿入検査ピン２と、ブロック部６を前後に貫通した孔部８に圧入された前後一対の合成樹脂製の絶縁スリーブ４，５と、一対の絶縁スリーブ４，５の内径部に圧入された金属製の導通検査ピン３とで構成されている。すなわち、絶縁スリーブ４，５をセットピン１の長手方向に分割して配置したことを特徴としている。
【００１５】
前側の絶縁スリーブ４は挿入検査ピン２のブロック部６の前端部側に配置され、後側の絶縁スリーブ５はブロック部６の後退部側に配置されている。後側の絶縁スリーブ５はブロック部６の後端に当接する鍔部９を一体に有している。鍔部９を除く各絶縁スリーブ４，５の長さは同一であり、それぞれブロック部６の長さの１／３程度の長さである。
【００１６】
各絶縁スリーブ４，５はＰＯＭ等の強靱なエンジニアリングプラスチックにより薄く形成されている。一例として各絶縁スリーブ４，５の長さは６ｍｍ程度、板厚は０．４ｍｍ程度に設定される。各絶縁スリーブ４，５と導通検査ピン３とブロック部６とは圧入により固定されている。導通検査ピン３の後端には後側の絶縁スリーブ５の鍔部９に当接する鍔部１０が一体に形成されている。
【００１７】
絶縁スリーブ４，５を分割して短くしたことにより、絶縁スリーブ４，５の加工精度が上がり、肉厚差（板厚のばらつき）が極めて小さくなり、且つ内径及び外径の精度も高くなっている。そして、短い絶縁スリーブ４，５をブロック部６の前後に配置し、絶縁スリーブ４，５の間に環状の空間１１をあけて導通検査ピン３を保持させることにより、導通検査ピン３が長くても、挿入検査ピン２に対して導通検査ピン３を振れなく位置精度良く配置し、且つブロック部６の孔部８に対する導通検査ピン３の心ずれをなくすことができると共に、従来の絶縁スリーブの偏肉に起因するブロック部６と導通検査ピン３との間の絶縁不良をなくすことができる。
【００１８】
図１の状態でコネクタ７には雄型の端子１２が完全挿入され、コネクタ７はコネクタ導通検査具の検査部１３（図６）に挿入されている。端子１２は合成樹脂製のコネクタハウジング１４の可撓係止ランス１５によって係止されている。端子１２は端子収容室１６内に収容される胴部１７と、胴部１７の先端から検査部１３（図６）コネクタ嵌合室１８内に突出したピン状の電気接触部１９とを有し、胴部１７の後端側は電線２０に圧着接続されている。可撓係止ランス１５はその突起部１５ａが胴部１７の前端側の孔部に係合している。
【００１９】
セットピン１の挿入検査ピン２の先端部側はコネクタハウジング１４の前部開口２１から係止ランス撓み空間２２内に進入し、導通検査ピン３の先端部は端子１２の電気接触部１９の先端に当接している。導通検査ピン３の後端はプローブピン２３（図６）の前端に接し、プローブピン２３のリード線２４と端子側の電線２０とを接続したチェッカ（図示せず）の表示により、導通の有無が検出される。
【００２０】
導通検査ピン３の先端部には円錐形の位置決め凹部２５が形成され、この位置決め凹部２５によって電気接触部１９の先端が確実に捕らえられる。円錐形の位置決め凹部２５の傾斜角は電気接触部１９の先端の傾斜角と同等ないしはそれ以上に設定されている。電気接触部１９が円柱形でなく幅狭の板状である場合でも、電気接触部１９の先端の上下又は左右の傾斜角のうちの大きい方の角度に対して同等ないしそれ以上に円錐形の位置決め凹部２５の傾斜角が設定される。このように、あらゆる形状の電気接触部１９に対応可能である。
【００２１】
図２はコネクタハウジング１４内に端子１２が不完全挿入である場合を示すものであり、可撓係止ランス１５は端子１２の底面で押されて係止ランス撓み空間２２内に撓んでおり、検査時に挿入検査ピン２の先端が可撓係止ランス１５の先端に突き当たって、導通検査ピン３の先端と端子１２の電気接触部１９の先端とに隙間Ｓが生じ、それにより、挿通検査がＮＧ（不良）となる。これによって端子１２の異常すなわち不完全挿入が検知される。
【００２２】
図３〜図５はセットピン１に組付方法を順に示すものであり、先ず図３の如く、円柱状の導通検査ピン３に前端から円筒状の第一（後側）の絶縁スリーブ５を押込み治具を用いて圧入する。圧入代は径で０．１ｍｍ程度である。図４の如く後側の絶縁スリーブ５は導通検査ピン３の後端側の鍔部１０に突き当たって停止する。
【００２３】
次いで図４で導通検査ピン３を挿入検査ピン２のブロック部６の孔部８に挿入しつつ、後側の絶縁スリーブ５を孔部８に圧入する。圧入作業は例えば導通ピン３の後端をハンマで軽く叩いて行う。孔部８はブロック部６の長手方向に貫通している。ブロック部６は矩形柱状に形成され、前端の一側部から板状の挿入検査ピン２が突設され、後端側には、セットピン１の前進位置を規制するストッパ２６としての段部が幅広部２７の前端に形成されている。
【００２４】
図５の如く導通検査ピン３はブロック部６を貫通して前端部側がブロック部６の前端から前方に突出する。円筒状の第二（前側）の絶縁スリーブ４が導通検査ピン３に沿って孔部８内に圧入される。前側の絶縁スリーブ４の前端４ａはブロック部６の前端６ａと同一面に位置する。導通検査ピン３の前端部は挿入検査ピン２と平行に位置する。
【００２５】
これにより、図１の如く前後一対の絶縁スリーブ４，５でブロック部６に導通検査ピン３が位置精度良く、且つ安定に固定される。導通検査ピン３が長い場合であっても、一対の絶縁スリーブ４，５により、長手方向の前後二箇所で支持されることで、振れが確実に防止され、且つ姿勢が安定し、真直度が良好に保たれる。
【００２６】
図１，図５の如く挿入検査ピン２の先端はアール状（湾曲状）に面取加工されており、この湾曲状摺接部２７によって、コネクタハウジング１４の係止ランス撓み空間２２の前部開口２１に挿入検査ピン２が突き当たりや引っ掛かりなくスムーズに挿入される。挿入検査ピン２の先端側は中間部及び基部側よりもやや薄肉に形成され、且つこの薄肉部２８（図５）は傾斜状の段部（傾斜面）２９を経て中間部に繋がっており、これによっても、挿入検査ピン２の引っ掛かりのないスムーズな挿入が可能となっている。
【００２７】
図６はコネクタ導通検査具の検査部１３を示すものであり、複数本のセットピン１が合成樹脂製ないしは金属製のピンガイド３１のガイド孔３２に挿入案内されて前後方向スライド自在に係合している。各セットピン１は図４のストッパ２６で前進位置が規定されている。導通検査ピン３の後端にプローブピン２３のスライド部３３が当接し、スライド部３３は内部のコイルばね（図示せず）で前方に付勢されている。プローブピン２３の後端にはリード線２４が接続されている。各セットピン１は独立して進退可能で、各セットピン１ごとに端子１２（図１）の導通検査と不完全挿入検査とを実施可能であり、且つ各セットピン１ごとに交換可能である。
【００２８】
ピンガイド３１は金属製のガイドブロック３４内に固定され、プローブピン２３は合成樹脂製のピンブロック３５に固定されている。ピンガイド３４とピンブロック３５とはボルト（図示せず）で締付固定されている。ガイドブロック３４は前側にコネクタ嵌合室１８を有し、コネクタ嵌合室１８の底壁３６にピンガイド３１の前端が位置し、コネクタ嵌合室３６内に挿入検知ピン２と導通検知ピン３とが突出している。
【００２９】
図７〜図８は、本発明に係るコネクタ導通検査具の他の実施形態の要部を示すものである。前記実施形態と同一の部分には同一の符号を用いて詳細な説明を省略する。
【００３０】
図７の如く、このコネクタ導通検査具においては、セットピン３８のブロック部３９の長手方向中間部を切欠して、ピンガイド３１に対する摺動抵抗を低減させると共に、ブロック部３９とピンガイド３１との摺動に伴う磨耗カスを切欠部４０内に逃がすことで、ブロック部３９とピンガイド３１との間への磨耗カスのつまりを防止している。
【００３１】
図８にも示す如く、切欠部４０は、前側の絶縁スリーブ４と後側の絶縁スリーブ５との間において、ブロック部３９の三面（例えば左右及び下側）を連続して切り欠いて形成されている。ブロック部３９の前側部分３９１  と後側部分３９２  とは板状の連結部４１で繋がっている。連結部４１は板状の挿入検査ピン２の延長上に位置している。連結部４１は挿入検査ピン２と同一幅で挿入検査ピン２よりもやや厚く形成されているが、挿入検査ピン２と同一厚さに形成してもよい。
【００３２】
図７の如く切欠部４０が連結部４１よりも下側に位置した場合には、磨耗カスが自重で切欠部４０内に落下し、連結部４１とブロック部３９との間への磨耗カスのつまりが確実に防止される。図７を横断面図と見た場合（連結部４１が側方に位置した場合）でも、切欠部４０が上下方向に貫通して切欠されているから、磨耗カスが連結部４１に沿って自然落下して切欠部４０内に逃がされる。
【００３３】
前記実施形態の図１においては前後一対の絶縁スリーブ４，５の間は環状の空間１１（図１）となっていたが、本実施形態においては、図８の如くこの環状の空間１１（図１）から導通検査ピン３の径方向にブロック部３９を切欠して、環状の空間１１（図１）を切欠部４０に一体化させている。前側の絶縁スリーブ４の後端が切欠部４０の前端４０ａと同一面に位置し、後側の絶縁スリーブ５の前端が切欠部４０の後端４０ｂと同一面に位置している。
【００３４】
切欠部４０を設けても、一対の絶縁スリーブ４，５による導通検査ピン３の固定力は前記実施形態と何ら変わることがない（弱くなることがない）。すなわち、導通検査ピン３と絶縁スリーブ４，５とブロック部３９との接触面積は前記実施形態と同一であり、三者４，５，３９の固定強度が弱まることがない。切欠部４０はブロック部３９の長手方向の中央に位置し、切欠部４０の長さはブロック部３９の長さの１／３程度である。
【００３５】
切欠部４０を設けたことでブロック部３９に対する摺動面積が小さくなるから、セットピン３８とブロック部３９の孔部４２，４３（図８）の内面との摺動抵抗（摺動荷重）が減少し、導通検査ピン３及びブロック部３９が長い場合でもセットピン３８の動きがスムーズ化すると共に、ブロック部３９とピンガイド３１（図６）との磨耗カスが切欠部４０内に溜まることで、ブロック部３９とピンガイド３１の孔部３２（図６）内面との間のつまりが防止され、セットピン３８のスムーズな動きが確保され、且つ磨耗カスのつまりに起因するセットピン３８の傾きが防止され、挿入検査ピン２及び導通検査ピン３の位置精度が確保され、端子１２（図１）の導通検査精度や挿入検査精度が良好に保たれる。
【００３６】
また、切欠部４０によってセットピン３８が軽量化し、セットピン３８の後退動作や特にプローブピン２３（図６）のコイルばねの力を利用したセットピン３８の復元動作（前進）がスムーズ化する。さらに、切欠部４０の前端４０ａ及び後端４０ｂを目視することで、絶縁スリーブ４，５の圧入状態を簡単に確認することができる。
【００３７】
なお、図８においてブロック部３９の前側部分３９１  と後側部分３９２  とを繋ぐ連結部４１がなくても、前側部分３９１  と後側部分３９２  とが導通検査ピン３で連結されているから、セットピンとして使用可能である。また、ブロック部３９が短いものであれば、絶縁スリーブ４，５は前後に分割しなくともよく、切欠部４０内に絶縁スリーブの中間部を露出させておいても構わない。但し、ブロック部３９が短いものであれば、切欠部４０の必要性は薄い。
【００３８】
【発明の効果】
以上の如くに、請求項１記載の発明によれば、導通検査ピンが長い場合でも、前後一対の短めの絶縁スリーブを用いることで、従来に較べて絶縁スリーブの加工上の孔明け距離が短くなり、ブロック部の孔部への組付距離も短くなるから、絶縁スリーブの偏肉や内径部と外径部の心ずれや内径部の肥大化が防止されて、導通検査ピンの振れがなくなり、端子に対する導通検査ピンの位置精度が向上し、導通検査精度が向上すると共に、従来の絶縁スリーブの偏肉（一部薄肉化）に起因する挿入検査ピンのブロック部と導通検査ピンとの間の絶縁性の悪化が防止され、絶縁性が良好に保たれる。
【００３９】
また、請求項２記載の発明によれば、挿入検査ピンのブロック部とピンガイドとの摺動によって生じる磨耗カスが切欠部内に逃がされることで、ブロック部とピンガイドとの間への磨耗カスのつまりが防止され、ブロック部すなわち挿入検査ピンの移動が常にスムーズに行われて、挿入検査及び導通検査が確実に行われると共に、磨耗カスによる磨耗の促進が防止されて、耐久性が向上し、さらに、磨耗カスのつまりによる挿入検査ピン及び導通検査ピンの振れが防止され、挿入検査ピン及び導通検査ピンの位置精度すなわち導通検査精度及び挿入検査精度が長期に渡って確保される。また、ブロック部の中間部に切欠部を設けることで、ピンガイドに対するブロック部の摺動面積が減少して摺動抵抗が低減されるから、ブロック部すなわち挿入検査ピンの移動が常にスムーズに行われて、挿入検査及び導通検査が確実に行われる。また、ブロック部が前側部分と後側部分とでピンガイドに支持されるから、請求項１記載の導通検査ピンと前後一対の絶縁スリーブとの関係と同様に、ピンガイドに対する挿入検査ピン及び導通検査ピンの振れが極めて小さく抑えられ、検査精度が向上する。
【００４０】
また、請求項３記載の発明によれば、一対の絶縁スリーブの間で不要なブロック部の中間部を切欠したことで、ブロック部が軽量化され、挿入検査ピンの動きがスムーズ化すると共に、切欠部を目視することで絶縁スリーブの組付状態を容易に確認することができる。
【００４１】
また、請求項４記載の発明によれば、端子に対する導通検査ピンの位置が上下左右の四方向の何れかに若干ずれた場合でも、導通検査ピンの先端の円錐状の位置決め凹部が端子の先端を確実に捕らえ（拾って）、端子のアライメントを吸収して、端子の位置を導通検査ピンに合わせて矯正し、導通検査ピンの中心に端子を確実に接触させるから、導通検査を確実に行うことができ、導通検査精度が向上する。また、請求項５記載の発明によれば、コネクタの前部開口に対する挿入検査ピンの位置が若干ずれた場合でも、挿入検査ピンの先端の湾曲状摺接部が前部開口の端縁にスムーズに摺接するから、挿入検査ピンが引っ掛かりなくスムーズに前部開口内に挿入され、可撓係止ランスの撓みの有無すなわち端子の不完全挿入の有無が確実に検査される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るコネクタ導通検査具の一実施形態の要部を示す断面図である。
【図２】同じく端子が不完全挿入である場合を示す断面図である。
【図３】導通検査ピンに後側の絶縁スリーブを組み付ける状態を示す分解斜視図である。
【図４】導通検査ピンをブロック部に組み付ける状態を示す分解斜視図である。
【図５】前側の絶縁スリーブを導通検査ピンに組み付ける状態を示す分解斜視図である。
【図６】コネクタ導通検査具の検査部を示す断面図である。
【図７】コネクタ導通検査具の他の実施形態の要部を示す断面図である。
【図８】同じく切欠部を有するセットピンを示す斜視図である。
【図９】従来のコネクタ導通検査具を示す斜視図（円内は拡大図）である。
【図１０】同じくコネクタを嵌合して検査する状態を示す断面図である。
【符号の説明】
２              挿入検査ピン
３              導通検査ピン
４，５          絶縁スリーブ
７              コネクタ
６，３９        ブロック部
８，４２，４３  孔部
１２            端子
１５            可撓係止ランス
２１            前部開口
２２            係止ランス撓み空間
２５            位置決め凹部
２７            湾曲状摺接部
３１            ピンガイド
４０            切欠部
【図１】
0003606433.tif 000002
【図２】
0003606433.tif 000003
【図３】
0003606433.tif 000004
【図４】
0003606433.tif 000005
【図５】
0003606433.tif 000006
【図６】
0003606433.tif 000007
【図７】
0003606433.tif 000008
【図８】
0003606433.tif 000009
【図９】
0003606433.tif 000010
【図１０】
0003606433.tif 000011