(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ノズル開口に連通すると共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力発生素子とを備えた液体噴射ヘッドの前記圧力室内に収容された液体に対する固有振動周期を測定する固有振動周期測定方法において、
圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定した第２評価パルスとを圧力発生素子へ供給することで、第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量測定工程と、
該測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取得する液体量比取得工程と、
該液体量比を予め取得しておいた液体量比と固有振動周期の相関関係にあてはめることで、圧力室内の液体に関する固有振動周期を決定する固有振動周期決定工程とを経ることを特徴とする液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２】
励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、
前記固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が増加する増加時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の一方を設定すると共に、固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が減少する減少時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の他方を設定したことを特徴とする請求項１に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項３】
前記増加時間範囲を、最大周期液体量変動曲線におけるピーク点から最小周期液体量変動曲線における直近のボトム点までの範囲に設定し、
前記減少時間範囲を、最大周期液体量変動曲線におけるボトム点から最小周期液体量変動曲線における直近のピーク点までの範囲に設定したことを特徴とする請求項２に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項４】
前記励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、
前記第１時間間隔及び第２時間間隔を、標準周期液体量変動曲線における単位時間当たりの液体量の変化が最大となるタイミングで吐出要素が供給される間隔に設定したことを特徴とする請求項２又は３に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項５】
前記増加時間範囲と減少時間範囲とを、互いに隣り合う時間範囲に定めたことを特徴とする請求項２から４の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項６】
励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、
前記第１時間間隔及び第２時間間隔は、吐出要素の供給タイミングが、最大周期液体量変動曲線のピーク点から直近の最小周期液体量変動曲線のピーク点までの範囲内となる間隔に設定されていることを特徴とする請求項１に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項７】
前記励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、
該標準周期液体量変動曲線のボトム点に対応する励振要素から吐出要素までの時間間隔を標準時間間隔とすると共に、前記第１時間間隔と第２時間間隔の中央値を該標準時間間隔に一致させたことを特徴とする請求項６に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項８】
前記第１時間間隔は、標準時間間隔から標準固有振動周期の１／４を減じた時間間隔であり、第２時間間隔は、標準時間間隔に標準固有振動周期の１／４を加えた時間間隔であることを特徴とする請求項７に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項９】
前記励振要素の電位差を、前記吐出要素の電位差の９０％以上に設定したことを特徴とする請求項１から８の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１０】
前記励振要素の電位差を、前記吐出要素の電位差の９５％以上に設定したことを特徴とする請求項１から８の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１１】
液体量比取得工程で取得された液体量比が判断基準範囲内か否かを判定する液体量比判定工程と、
前記判断基準範囲を越えていると判定された場合に、第１評価パルスと第２評価パルスの少なくとも一方を再設定する評価パルス再設定工程と、
該評価パルス再設定工程で再設定された新たな評価パルスを用いて液体量を測定する液体量再測定工程と、
該液体量再測定工程で測定された液体量を用いて液体量比を再取得する液体量比再取得工程とを、前記固有振動周期決定工程に先立って行うことを特徴とする請求項１から１０の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１２】
前記評価パルス再設定工程は、前記液体量比取得工程で取得された液体量比を、仮の標準振動周期を示す情報として用い、第１評価パルスと第２評価パルスの両方を再設定することを特徴とする請求項１１に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１３】
前記評価パルス再設定工程は、第１評価パルスと第２評価パルスの一方を再設定し、
前記液体量比再取得工程は、新たな評価パルスに対応する液体量と既測定の液体量とを用いて新たな液体量比を取得することを特徴とする請求項１１に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１４】
前記評価パルス再設定工程は、決定された固有振動周期が許容判断基準範囲未満の場合に前記第１評価パルスの時間間隔を第１時間間隔よりも短い第３時間間隔に再設定し、決定された固有振動周期が許容判断基準範囲よりも長かった場合に前記第２評価パルスの時間間隔を第２時間間隔よりも長い第４時間間隔に再設定することを特徴とする請求項１３に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１５】
前記固有振動周期決定工程では、前記固有振動周期を、液体量比と固有振動周期の相関関係とに基づいて決定することを特徴とする請求項１から１４の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１６】
前記液体量比と固有振動周期の相関関係を、液体量比を変数とする一次式によって定めたことを特徴とする請求項１５に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１７】
前記一次式は、複数設定された液体量比の範囲毎に傾き及び切片が与えられることを特徴とする請求項１６に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１８】
前記液体量比の範囲は、標準固有振動周期に対応する標準液体量比よりも小さい側の第１範囲と、標準液体比以上の第２範囲とからなることを特徴とする請求項１７に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項１９】
前記液体量比の範囲は、標準固有振動周期に対応する標準液体量比を含む第３範囲と、第３範囲よりも小さい側の第４範囲と、第３範囲よりも大きい側の第５範囲とからなることを特徴とする請求項１７に記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２０】
前記液体量測定工程は、圧力発生素子に対して１０ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及び第２評価パルスを供給することを特徴とする請求項１から１９の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２１】
前記液体量測定工程は、圧力発生素子に対して５ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及び第２評価パルスを供給することを特徴とする請求項１から１９の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２２】
測定環境の温度を測定する環境温度測定工程と、測定された環境温度に基づいて固有振動周期を補正する固有振動周期補正工程とを行うことを特徴とする請求項１から２１の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２３】
液体供給口、圧力室及びノズル開口のうちの少なくともいずれかの寸法情報を取得する寸法情報取得工程と、取得された寸法情報に基づいて固有振動周期を補正する固有周期補正工程とを行うことを特徴とする請求項１から２２の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２４】
前記液体が描画用の色材を含有するインクであることを特徴とする請求項１から２３の何れかに記載の液体噴射ヘッドの固有振動周期測定方法。
【請求項２５】
ノズル開口に連通すると共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力発生素子とを備え、圧力室内に生じた圧力変動を利用してノズル開口から液滴を吐出可能な液体噴射ヘッドの前記圧力室内に収容された液体の固有振動周期を測定する固有振動周期測定装置において、
圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定した第２評価パルスとを発生し、圧力発生素子に供給可能な駆動手段と、
前記第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量測定手段と、
液体量測定手段によって測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取得する液体量比取得手段と、
該液体量比取得手段が取得した液体量比を予め取得しておいた液体量比と固有振動周期の相関関係にあてはめることで、圧力室内の液体についての固有振動周期を決定する固有振動周期決定手段とを備えていることを特徴とする液体噴射ヘッドの固有振動周期測定装置。
【請求項２６】
請求項１から２４の何れかに記載の固有振動周期測定方法で固有振動周期が測定された液体噴射ヘッドであって、
前記決定された固有振動周期を固有情報として付与したことを特徴とする液体噴射ヘッド。
【請求項２７】
請求項１から２４の何れかに記載の固有振動周期測定方法で固有振動周期が測定された液体噴射ヘッドであって、
前記取得された液体量比を固有情報として付与したことを特徴とする液体噴射ヘッド。
【請求項２８】
前記固有情報を記憶する固有情報記憶手段を備えたことを特徴とする請求項２６又は２７に記載の液体噴射ヘッド。
【請求項２９】
前記固有情報を光学的に読み取り可能な態様で表記部材に表記し、該表記部材をケース表面に貼設したことを特徴とする請求項２６又は２７に記載の液体噴射ヘッド。
【請求項３０】
圧力発生素子の作動によって圧力室内の液体に圧力変動を生じさせることでノズル開口から液滴を吐出可能であって、圧力室内の液体についての固有振動周期を示す固有情報が付与された液体噴射ヘッドと、
圧力発生素子に供給するための駆動信号を発生する駆動信号発生手段と、
前記固有情報に基づき駆動信号の波形形状を適正化する波形設定手段とを備えた液体噴射装置において、
前記固有情報は、請求項１から２４の何れかに記載の固有振動周期測定方法によって測定された固有振動周期を示す情報であることを特徴とする液体噴射装置装置。
【請求項３１】
前記固有情報は、圧力室内の液体についての固有振動周期の数値を示す数値情報であることを特徴とする請求項３０に記載の液体噴射装置。
【請求項３２】
前記固有情報は、前記液体量比を示す液体量比情報であることを特徴とする請求項３０に記載の液体噴射装置。
【請求項３３】
前記固有情報を記憶可能な固有情報記憶手段を設け、
前記波形設定手段は、前記固有情報記憶手段に記憶された固有情報に基づいて波形形状を適正化することを特徴とする請求項３０から３２の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項３４】
前記駆動信号は圧力発生素子に供給される駆動パルスを有し、該駆動パルスを液滴を吐出させるための吐出要素を含む複数の波形要素によって構成し、
前記波形設定手段は、前記固有情報に基づき、調整対象となる波形要素の制御因子を定めることを特徴とする請求項３０から３３の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項３５】
前記制御因子が波形要素の発生時間であり、
前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて変動する第１補正時間を、調整対象となる波形要素の基準発生時間に加算することで、当該波形要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３４に記載の液体噴射装置。
【請求項３６】
前記波形設定手段は、装置が使用される環境温度に応じて変動する第２補正時間を前記基準発生時間に加算することで、調整対象となる波形要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５に記載の液体噴射装置。
【請求項３７】
前記調整対象となる波形要素は、液滴吐出後におけるメニスカスの振動抑制に係わる振動抑制要素であることを特徴とする請求項３４から３６の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項３８】
前記駆動パルスは、圧力室を膨張させることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動を緩和する膨張制振要素と、前記吐出要素と膨張制振要素との間に発生される一定電位の制振ホールド要素とを備え、
前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて制振ホールド要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５から３７の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項３９】
前記駆動パルスは、圧力室を収縮させることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動を吸収する収縮制振要素を備え、
前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて収縮制振要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５から３７の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項４０】
前記駆動パルスは、圧力室を膨張させることでメニスカスを圧力室側に引き込む膨張要素と、前記吐出要素と膨張要素との間に発生される一定電位の膨張ホールド要素とを備え、
前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて膨張ホールド要素の発生時間を定めることを特徴とする請求項３５から３７の何れかに記載の液体噴射装置。
【請求項４１】
前記駆動信号は圧力発生素子に供給される駆動パルスを有し、該駆動パルスの始終端電位を駆動信号における中間電位に設定し、
前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて駆動信号の中間電位を定めることを特徴とする請求項３４に記載の液体噴射装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、インクジェット式記録装置、ディスプレー製造装置、電極形成装置、或いは、バイオチップ製造装置等に用いられ、各種の液体を液滴として吐出可能な液体噴射ヘッドに係り、圧力室内に収容された液体の固有振動周期を測定する方法及び装置、並びに、測定された固有振動周期に基づいて駆動信号の波形を定める液体噴射装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液体を液滴の状態で吐出可能な液体噴射ヘッドを有する液体噴射装置としては、例えば、インク滴を吐出して記録紙上に画像等を記録する画像記録装置、液状の電極材を基板上に吐出して電極を形成する電極形成装置、生体試料を吐出してバイオチップを製造するバイオチップ製造装置、或いは、所定量の試料を容器に吐出するマイクロピペットが提案されている。
【０００３】
上記の液体噴射ヘッドは、液滴を吐出させるにあたり、圧力室内に収容された液体の圧力変動を利用している。この液体噴射ヘッドでは、圧力変動に伴って圧力室内の液体には圧力室内が恰も音響管であるかのように振る舞う圧力振動が励起される。この圧力振動の周期は、液体噴射ヘッドの種類毎に定まるので固有振動周期とも呼ばれる。そして、この固有振動周期は、同種の液体噴射ヘッド同士の間でもばらつきが生じ得る。これは、液体噴射ヘッドを構成する部品の寸法や取付精度にばらつきが生じてしまうからである。この固有振動周期のばらつきによって、液滴の吐出特性、例えば、液滴の吐出量や飛行速度がばらついてしまう。これは、同一の駆動信号で駆動した場合、液体圧力の変化が固有振動周期に応じて異なり、液滴吐出時点におけるメニスカス（ノズル開口で露出している液体の自由表面）の位置や移動速度が相違するからである。
【０００４】
このような事情に基づき、液体噴射ヘッドの固有振動周期を測定し、その測定結果に基づいて駆動信号を構成する各波形要素を制御する装置が提案されている。固有振動周期の測定方法は種々提案されているが、測定に長時間要すると生産性の低下を招く。この点を考慮し、励振信号から吐出信号までの時間間隔を異ならせた３種の評価パルスを用い、各評価パルスに対応する液体吐出量に基づいて液体噴射ヘッドを複数のＴｃランクに分類する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。この方法では、１つの液体噴射ヘッドについて吐出液体量の測定を３回行えば足りるので、測定作業を効率良く行うことができ、量産に適する。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００２−１５４２１２号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、さらなる生産性の向上を図るには、固有振動周期の測定を一層効率化する必要がある。また、液滴の吐出量や飛行速度をより高い精度で制御すべく、その液体噴射ヘッドの固有振動周期そのものを測定することが望まれている。
【０００７】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その主たる目的は、固有振動周期の測定を一層効率化すると共に、固有振動周期の測定精度を向上させることにある。また、他の目的は、液滴の吐出量や飛行速度をより高い精度で制御することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために提案されたものであり、ノズル開口に連通すると共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力発生素子とを備えた液体噴射ヘッドの前記圧力室内に収容された液体に対する固有振動周期を測定する固有振動周期測定方法において、
圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定した第２評価パルスとを圧力発生素子へ供給することで、第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量測定工程と、
該測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取得する液体量比取得工程と、
該液体量比を予め取得しておいた液体量比と固有振動周期の相関関係にあてはめることで、圧力室内の液体に関する固有振動周期を決定する固有振動周期決定工程とを経ることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明は、ノズル開口に連通すると共に液体を収容可能な圧力室と、該圧力室に液体を供給する液体供給口と、前記圧力室内の液体に圧力変動を生じさせる圧力発生素子とを備えた液体噴射ヘッドの前記圧力室内に収容された液体に対する固有振動周期を測定する固有振動周期測定装置において、
圧力室内の液体に圧力振動を励起させる励振要素、及び、該励振要素よりも後に発生されてノズル開口から液滴を吐出させる吐出要素とを含み、励振要素から吐出要素までの時間間隔を第１時間間隔に設定した第１評価パルスと前記時間間隔を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔に設定した第２評価パルスとを発生し、圧力発生素子に供給可能な駆動手段と、
前記第１評価パルスに対応する第１液体量と第２評価パルスに対応する第２液体量とを測定する液体量測定手段と、
液体量測定手段によって測定された第１液体量と第２液体量から液体量比を取得する液体量比取得手段と、
該液体量比取得手段が取得した液体量比を予め取得しておいた液体量比と固有振動周期の相関関係にあてはめることで、圧力室内の液体についての固有振動周期を決定する固有振動周期決定手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
これらの発明によれば、第１液体量と第２液体量の液体量比を用いているので、１つの液体噴射ヘッドに対して液体量の測定が２回で済む。このため、簡便であり製造ラインの自動化への対応も容易である。従って、生産性を落とすことなく液体噴射へッドを製造でき、量産に適する。さらに、固有振動周期と液体量比とは高い相関関係を有しているので、上記測定によって得た液体量比を予め取得しておいた液体量比と固有振動周期の相関関係にあてはめることで、その液体噴射ヘッドの固有振動周期を精度良く決定できる。
【００１１】
前記発明において、励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、
前記固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が増加する増加時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の一方を設定すると共に、固有振動周期の増加に伴って吐出液体量が減少する減少時間範囲内に前記吐出要素が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の他方を設定することが好ましい。
なお、「最大固有振動周期」とは液体噴射ヘッドの製造上生じ得る最大値の固有振動周期である。また、「最小固有振動周期」とは液体噴射ヘッドの製造上生じ得る最小値の固有振動周期である。また、「測定用信号」とは、液体量変動曲線（励振要素から吐出要素までの時間間隔と吐出液量との相関関係を示す曲線）を取得するために圧力発生素子に供給される信号である。
この発明によれば、固有振動周期が増加側（或いは減少側）に順次変化すると、第１液体量と第２液体量の一方は増加し他方は減少する。このため、固有振動周期の単位変化量に対する液体量比の変化量を、他の設定よりも大きくすることができる。その結果、固有振動周期を高い精度で決定できる。
【００１２】
前記発明において、前記増加時間範囲を、最大周期液体量変動曲線におけるピーク点から最小周期液体量変動曲線における直近のボトム点までの範囲に設定し、前記減少時間範囲を、最大周期液体量変動曲線におけるボトム点から最小周期液体量変動曲線における直近のピーク点までの範囲に設定することが好ましい。
【００１３】
前記発明において、前記励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、
前記第１時間間隔及び第２時間間隔を、標準周期液体量変動曲線における単位時間当たりの液体量の変化が最大となるタイミングで吐出要素が供給される間隔に設定することが好ましい。さらに、前記増加時間範囲と減少時間範囲とを、互いに隣り合う時間範囲に定めることが好ましい。
なお、「標準固有振動周期」とはその液体噴射ヘッドにおける設計値通りの固有振動周期である。
この発明によれば、固有振動周期の変化幅に対する液体量比の変化幅を可及的に広げることができ、液体量比から固有振動周期を高い精度で決定できる。
【００１４】
前記発明において、励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を、最大固有振動周期の液体噴射ヘッドと最小固有振動周期の液体噴射ヘッドとに供給することで、最大周期液体量変動曲線と最小周期液体量変動曲線とを予め取得し、
前記第１時間間隔及び第２時間間隔は、吐出要素の供給タイミングが、最大周期液体量変動曲線のピーク点から直近の最小周期液体量変動曲線のピーク点までの範囲内となる間隔に設定されていることが好ましい。
【００１５】
この発明によれば、測定対象となる液体噴射ヘッドの液体量変動曲線は、最大周期液体量変動曲線と最小周期液体量変動曲線の間に存在する。このため、液体量比取得工程で取得された液体量比に基づき、圧力室内の液体についての固有振動周期を極めて高い精度で決定できる。
【００１６】
前記発明において、前記励振要素から吐出要素までの時間間隔を段階的に変えた複数の測定用信号を標準固有振動周期を有する液体噴射ヘッドに供給することで、標準周期液体量変動曲線を予め取得し、
該標準周期液体量変動曲線のボトム点に対応する励振要素から吐出要素までの時間間隔を標準時間間隔とすると共に、前記第１時間間隔と第２時間間隔の中央値を該標準時間間隔に一致させることが好ましい。
この発明において、前記第１時間間隔を標準時間間隔から標準固有振動周期の１／４を減じた時間間隔に設定し、第２時間間隔を標準時間間隔に標準固有振動周期の１／４を加えた時間間隔に設定することが好ましい。
【００１７】
前記発明において、前記励振要素の電位差を、前記吐出要素の電位差の９０％以上に設定することが好ましく、９５％以上に設定することがより好ましい。
【００１８】
前記発明において、液体量比取得工程で取得された液体量比が判断基準範囲内か否かを判定する液体量比判定工程と、
前記判断基準範囲を越えていると判定された場合に、第１評価パルスと第２評価パルスの少なくとも一方を再設定する評価パルス再設定工程と、
該評価パルス再設定工程で再設定された新たな評価パルスを用いて液体量を測定する液体量再測定工程と、
該液体量再測定工程で測定された液体量を用いて液体量比を再取得する液体量比再取得工程とを、前記固有振動周期決定工程に先立って行うことが好ましい。
この発明では、固有振動周期が設計値から大きく外れた液体噴射ヘッドであっても、その固有振動周期を精度良く測定することができる。
【００１９】
前記発明において、前記評価パルス再設定工程は、前記液体量比取得工程で取得された液体量比を、仮の標準振動周期を示す情報として用い、第１評価パルスと第２評価パルスの両方を再設定することが好ましい。
また、前記発明において、前記評価パルス再設定工程は、第１評価パルスと第２評価パルスの一方を再設定し、前記液体量比再取得工程は、新たな評価パルスに対応する液体量と既測定の液体量とを用いて新たな液体量比を取得することが好ましい。具体的には、前記評価パルス再設定工程にて、決定された固有振動周期が許容判断基準範囲未満の場合に前記第１評価パルスの時間間隔を第１時間間隔よりも短い第３時間間隔に再設定し、決定された固有振動周期が許容判断基準範囲よりも長かった場合に前記第２評価パルスの時間間隔を第２時間間隔よりも長い第４時間間隔に再設定する。
【００２０】
前記発明において、前記固有振動周期決定工程では、前記固有振動周期を、液体量比と固有振動周期の相関関係とに基づいて決定することが好ましい。この場合において、前記液体量比と固有振動周期の相関関係を、液体量比を変数とする一次式によって定めることが好ましい。具体的には、前記一次式は、複数設定された液体量比の範囲毎に傾き及び切片が与えられることが好ましい。さらに、この範囲は、標準固有振動周期に対応する標準液体量比よりも小さい側の第１範囲と、標準液体比以上の第２範囲とから構成される。また、この範囲は、標準固有振動周期に対応する標準液体量比を含む第３範囲と、第３範囲よりも小さい側の第４範囲と、第３範囲よりも大きい側の第５範囲とから構成される。
これらの発明によれば、液体量比に基づいて固有振動周期を精度良く決定できる。
【００２１】
前記発明において、前記液体量測定工程では、圧力発生素子に対して１０ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及び第２評価パルスを供給することが好ましい。さらには、５ｋＨｚ以下の低周波数で第１評価パルス及び第２評価パルスを供給することがより好ましい。
この発明によれば、液滴を安定した状態で吐出させることができ、液滴の重量をより精度良く測定することができる。
【００２２】
前記発明において、測定環境の温度を測定する環境温度測定工程と、測定された環境温度に基づいて固有振動周期を補正する固有振動周期補正工程とを行うことが好ましい。
なお、この発明において「固有振動周期の補正」とは、液体量を補正することによって固有振動周期を補正する場合と、決定された固有振動周期を直接的に補正する場合の両方を含む。
この発明によれば、測定環境の温度に応じて液体の粘性が変化しても精度良く固有振動周期を決定することができる。
【００２３】
前記発明において、液体供給口、圧力室及びノズル開口のうちの少なくともいずれかの寸法情報を取得する寸法情報取得工程と、取得された寸法情報に基づいて固有振動周期を補正する固有周期補正工程とを行うことが好ましい。
なお、この発明において「固有振動周期の補正」とは、液体量を補正することによって固有振動周期を補正する場合と、決定された固有振動周期を直接的に補正する場合の両方を含む。
【００２４】
前記発明において、前記液体は、描画用の色材を含有するインクであることが好ましい。
【００２５】
また、前記発明で決定された固有振動周期は、その固有振動周期を示す固有情報（数値情報や液体量比を示す液体量比情報）の形態で情報付与媒体（固有情報記憶手段や表記部材）に記録され、液体噴射ヘッドに付与される。
そして、液体噴射ヘッドに付与された固有情報は波形設定手段に参照され、波形設定手段はこの固有情報に基づいて駆動信号の波形形状を適正化する。さらに、駆動信号発生手段は波形形状が適正化された駆動信号を発生し、この駆動信号は圧力発生素子に供給される。
具体的には、前記駆動信号は圧力発生素子に供給される駆動パルスを有するものであり、この駆動パルスを、液滴を吐出させるための吐出要素を含む複数の波形要素によって構成する。そして、前記波形設定手段は、前記固有情報に基づき、調整対象となる波形要素の制御因子を定める。
この発明によれば、適正化された駆動信号によって圧力発生素子を駆動するので、液滴の吐出量や飛行速度をより高い精度で制御することができる。
【００２６】
上記発明において、前記制御因子を波形要素の発生時間とし、前記波形設定手段は、調整対象となる波形要素の発生時間を定めるにあたり、前記固有情報に応じて変動する第１補正時間を調整対象となる波形要素の基準発生時間に加算する構成が好ましい。さらに、前記波形設定手段は、装置が使用される環境温度に応じて変動する第２補正時間を前記基準発生時間に加算することで、調整対象となる波形要素の発生時間を定める構成が好ましい。
この発明によれば、演算によって波形要素の発生時間を容易に定めることができる。なお、この発明において、第１補正時間及び第２補正時間は、正数及び負数が含まれる。
【００２７】
上記発明において、前記調整対象となる波形要素は、液滴吐出後におけるメニスカスの振動抑制に係わる振動抑制要素であることが好ましい。
例えば、圧力室を膨張させることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動を緩和する膨張制振要素と、前記吐出要素と膨張制振要素との間に発生される一定電位の制振ホールド要素とを備えた駆動パルスにおいては、前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて制振ホールド要素の発生時間を定める。また、圧力室を収縮させることで液滴吐出後における圧力室内の液体圧力の変動を吸収する収縮制振要素を備えた駆動パルスにおいては、前記波形設定手段は、前記固有情報に応じて収縮制振要素の発生時間を定める。
この発明によれば、振動抑制要素の適正化により、液滴吐出後のメニスカスの振動を速やかに収束させることができ、高周波駆動時における液滴の吐出特性を安定化できる。なお、「メニスカス」とは、ノズル開口で露出している液体の自由表面を意味する。
【００２８】
上記発明において、前記調整対象となる波形要素は、吐出要素と膨張要素との間に発生される一定電位の膨張ホールド要素であることが好ましい。また、固有情報に応じて駆動信号の中間電位を定める構成であることが好ましい。
【００２９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、液体噴射装置の一種であるインクジェット式プリンタ（以下、単にプリンタという）を例に挙げる。このプリンタは、画像記録装置の一種であり、インクジェット式記録へッド（液体噴射ヘッドの一種，以下、記録へッドという。）から液体状のインク（液体の一種）を液滴の状態で吐出させ、記録紙等の印刷記録媒体上に文字や画像を記録する。
【００３０】
まず、図１及び図２に基づき、記録へッド１の構造について説明する。例示した記録へッド１は、複数の圧電振動子２、固定板３、及び、フレキシブルケーブル４等をユニット化した振動子ユニット５と、この振動子ユニット５を収納可能なケース６と、ケース６の先端面に接合される流路ユニット７を備えている。
【００３１】
ケース６は、振動子ユニット５を収納し固定するための収納空部８を内部に形成した合成樹脂製のブロック状部材である。この収納空部８は、ケース６の高さ方向を貫通する空部であり、収納される振動子ユニット５の数と同じ数だけ設けられる。そして、振動子ユニット５は、圧電振動子２の先端面を収納空部８の先端側開口に臨ませた状態で収納され、固定板３が収納空部８を区画するケース６内壁面に接着されている。
【００３２】
圧電振動子２は、圧力発生素子の一種であり、入力された電気エネルギーに応じて変形する電気機械変換素子の一種でもある。本実施形態の圧電振動子２は、３０μｍ〜１００μｍ程度の極めて細い幅の櫛歯状に切り分けられている。また、この圧電振動子２は、圧電体と内部電極とを交互に積層して構成された積層型の圧電振動子であり、圧電体と内部電極との間の電位差に応じ、電界方向と直交する方向に伸縮する。各圧電振動子２は、所謂片持ち梁の状態で固定板３上に取り付けられている。即ち、各圧電振動子２の基端側部分を固定板３上に接合することで、自由端部分を固定板３の縁よりも外側に突出させている。そして、各圧電振動子２の先端面は、それぞれ流路ユニット７の島部９に接合されている。また、フレキシブルケーブル４は、固定板３とは反対側となる基端側部分の表面で、各圧電振動子２と電気的に接続されている。
【００３３】
流路ユニット７は、図２に示すように、流路形成基板１０を間に挟んでノズルプレートを流路形成基板１０の一方の表面に配置し、弾性板１２をノズルプレート１１とは反対側となる他方の表面に配置して接着することで構成されている。
【００３４】
上記のノズルプレート１１は、ドット形成密度に対応したピッチで複数のノズル開口１３を列状に開設したステンレス鋼製の薄いプレートである。本実施形態では、１８０ｄｐｉのピッチで９６個のノズル開口１３を開設し、これらのノズル開口１３によってノズル列を構成する。そして、このノズル列を、インク供給源毎、例えば、インクカートリッジ毎に複数列形成する。
【００３５】
上記の流路形成基板１０は、ノズルプレート１１の各ノズル開口１３と同じピッチで圧力室１４となる空部及びインク供給口１５となる溝部を複数形成すると共に、共通インク室１６となる空部を形成した板状の部材である。この流路形成基板１０は、例えばシリコンウエハーをエッチング加工したり、ニッケル等の金属板をプレス加工することにより作製されている。本実施形態では、この流路形成基板１０を、シリコンウエハーのエッチング加工によって作成している。上記の圧力室１４は、ノズル開口１３の列設方向（ノズル列方向）に対して直交する方向に細長い室である。インク供給口１５は、共通インク室１６と圧力室１４との間を連通する流路幅の狭い溝である。また、圧力室１４内における共通インク室１６から最も離れた位置には、ノズル開口１３と圧力室１４とを連通するためのノズル連通口１７を板厚方向に貫通させた状態で設けている。
【００３６】
弾性板１２は、支持板１８の表面に弾性体膜１９を積層した二重構造である。本実施形態では、ステンレス製の支持板１８の表面にＰＰＳ（ポリフェニレンサルファイド）やＰＩ（ポリイミド）製の樹脂フィルムを弾性体膜１９としてラミネートしている。そして、この弾性板１２には、圧力室１４の一方の開口面を封止するダイヤフラム部２０が設けられると共に、共通インク室１６の一方の開口面を封止するコンプライアンス部２１が設けられている。そして、ダイヤフラム部２０は、圧力室１４に対応した部分の支持板１８を環状にエッチング加工することで作製され、弾性体膜１９のみの弾性部２２と圧電振動子２が接合される島部９とが設けられている。また、コンプライアンス部２１は、共通インク室１６に対応する部分の支持板１８をエッチング加工で除去し、弾性体膜１９のみとしている。
【００３７】
上記構成の記録へッド１では、振動子電位に応じて圧電振動子２が素子長手方向に伸縮し、圧力室１４の容積が変化する。例えば、放電によって振動子電位を下降させると圧電振動子２は伸張し、島部９がノズルプレート１１側に押圧される。この島部９の押圧によって、ダイヤフラム部２０の弾性部２２が変形して圧力室１４は収縮する。一方、充電によって振動子電位を上昇させると圧電振動子２は収縮し、島部９が圧電振動子２側に引っ張られる。この島部９の移動によって圧力室１４は膨張する。
【００３８】
このような圧力室１４の容積変化によって圧力室１４内のインク圧力が変動する。即ち、インク圧力は、圧力室１４の収縮によって上昇し、圧力室１４の膨張によって下降する。従って、圧力室１４の容積を制御することで、ノズル開口１３からインク滴を吐出させることができる。例えば、膨張によって圧力室１４内を負圧化し、インク供給口１５を通じて圧力室１４内にインクを充填する。インクの充填後に圧力室１４を急激に収縮させると、圧力室１４内のインクが加圧されるので、ノズル開口１３からインク滴を吐出させることができる。
【００３９】
次に、この記録へッド１の製造工程について説明する。この製造工程は、各構成部品から記録へッド１を組み立てる組立工程と、組立後の記録へッド１について圧力室１４内のインク圧力についての固有振動周期Ｔｃを測定する測定工程と、測定工程で得られた固有振動周期Ｔｃを示す情報（固有情報）を記録へッド１に付与する情報付与工程とからなる。
【００４０】
上記の組立工程では、それぞれ別個に作製されたケース６、振動子ユニット５、及び、流路ユニット７から記録へッド１を組み立てる。この組立工程では、まず、ケース６の先端面に流路ユニット７を接合する。この接合は、例えば、接着剤を用いて行う。ケース６と流路ユニット７とを接合したならば、振動子ユニット５をケース６の収納空部８内に収納し固定する。この場合、まず、振動子ユニット５を治具で支持して移動させ、収納空部８内に挿入する。そして、圧電振動子２の先端面を弾性板１２の島部９に当接させた状態で位置決めする。位置決めをしたならば、この位置決め状態で固定板３の背面とケース６の内壁との間に接着剤を注入して振動子ユニット５を接着する。
【００４１】
記録へッド１を組み立てたならば測定工程に移行する。この測定工程では、インク量の測定を行うインク量測定工程と、このインク量測定工程で得られたインク量に基づき、インク量比を取得するインク量比取得工程と、圧力室１４内のインクの固有振動周期Ｔｃを決定する固有振動周期決定工程とを順に行う。そして、これらの各工程は、図３に示す固有振動周期測定装置を用いて行われる。
【００４２】
例示した固有振動周期測定装置は、圧電振動子２を駆動可能な駆動手段の一種である評価パルス発生回路３１（圧電振動子２を駆動するための評価パルスＴＰを発生する評価パルス発生手段とも表現できる。）と、液体量測定手段の一種である電子天秤３２（重量計測装置，重量計測手段とも表現できる。）と、これらの評価パルス発生回路３１及び電子天秤３２に対して電気的に接続され、液体量比取得手段及び固有振動周期決定手段の一種としても機能する制御部３３とを備えている。この制御部３３は、ＣＰＵ３３ａ，ＲＯＭ３３ｂ，ＲＡＭ３３ｃ，及び情報記憶部３３ｄ（例えばＥＥＰＲＯＭ）等を備えている。
【００４３】
インク量測定工程は、本発明における液体量測定工程の一種である。本実施形態のインク量測定工程では、評価パルス発生回路３１と記録へッド１とを電気的に接続し、評価パルス発生回路３１が発生した評価パルスＴＰを圧電振動子２に供給して記録へッド１からインク滴を吐出させる。そして、吐出させたインク滴の重量を電子天秤３２で測定する。
【００４４】
このインク量測定工程において評価パルス発生回路３１は、図４に示すように、励振要素ＰＳ１から吐出要素ＰＳ３までの時間間隔Ｐｗｈ１を第１時間間隔にした第１評価パルスＴＰ１と、この時間間隔Ｐｗｈ１を第１時間間隔よりも長い第２時間間隔にした第２評価パルスＴＰ２とをそれぞれ圧電振動子２に供給し、第１評価パルスＴＰ１に対応する第１インク量ＩｗＳと第２評価パルスＴＰ２に対応する第２インク量ＩｗＬとを測定する。なお、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２については、後で詳しく説明する。
【００４５】
また、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いた場合、記録へッド１から吐出されるインク滴は、１滴が十数ピコリットル（ｐＬ）程度の少量となる。このため、１滴の重量も十数ナノグラム（ｎｇ）程度であり、１滴毎に正確な重量を測定することは困難である。そこで、電子天秤３２でインク滴の重量を測定する際には、複数のインク滴を各ノズル開口１３から吐出させ、その総重量を測定する。例えば、総吐出回数が１００，０００回となるように各ノズル開口１３からインク滴を吐出させ、全体の重量を測定する。
【００４６】
この場合において、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２は、１０ｋＨｚ以下の低周波数にて、特には５ｋＨｚ以下の低周波数にて、圧電振動子２に供給されることが好ましい。これは、１０ｋＨｚよりも高い高周波数で評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を圧電振動子２に供給すると、吐出されるインク量が、周波数変動の影響を受けて変動してしまう虞があるためである。評価パルスの供給周期とインク量の関係を図５に示す。
【００４７】
そして、制御部３３は、測定されたインク重量を第１インク量ＩｗＳ或いは第２インク量ＩｗＬとして取得する。この場合において、制御部３３は、測定されたインク重量をそのまま第１インク量ＩｗＳ或いは第２インク量ＩｗＬとして取得してもよい。また、測定されたインク重量を総吐出回数で除算した１滴のインク重量を、第１インク量ＩｗＳ或いは第２インク量ＩｗＬとして取得してもよい。なお、吐出されたインク量が判れば良いので、吐出されたインク滴を捕集し、その容積を測定してもよい。
【００４８】
また、インク量比取得工程は、本発明における液体量比取得工程の一種である。本実施形態では、電子天秤３２から受信した第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬの重量情報に基づき、制御部３３がインク量比（第１インク量ＩｗＳ／第２インク量ＩｗＬ，液体量比の一種）を演算する。即ち、制御部３３は、インク量比取得手段（液体量比取得手段の一種）として機能しており、演算結果をインク量比として取得する。
【００４９】
また、固有振動周期決定工程は、予め取得しておいたインク量比と固有振動周期Ｔｃの相関関係に基づき、測定対象となる記録ヘッド１の固有振動周期Ｔｃを決定する。即ち、制御部３３は、取得したインク量比をこの相関関係にあてはめることで固有振動周期Ｔｃを決定する。従って、制御部３３は、固有振動周期決定手段としても機能する。なお、本実施形態において、このインク量比と固有振動周期Ｔｃの相関関係を示す情報（相関関係情報）は、上記のＲＯＭ３３ｂ、又は、情報記憶部３３ｄに記憶されている。
【００５０】
以下、これらのインク量測定工程、インク量比取得工程、及び固有振動周期Ｔｃ取得工程について、詳細に説明する。
【００５１】
まず、インク量測定工程について説明する。このインク量測定工程で使用する評価パルスＴＰは、上記したように、図４に示す形状のパルス信号である。即ち、評価パルスＴＰは、基準電位としての中間電位Ｖｍから最大電位Ｖｈまで一定勾配で電位を上昇させる励振要素ＰＳ１と、励振要素ＰＳ１に続いて発生されて最大電位Ｖｈを維持する第１ホールド要素ＰＳ２と、第１ホールド要素ＰＳ２に続いて発生されて最大電位Ｖｈから最低電位ＶＬまで一定の急勾配で電位を下降させる吐出要素ＰＳ３と、吐出要素ＰＳ３に続いて発生されて最低電位ＶＬを維持する第２ホールド要素ＰＳ４と、最低電位ＶＬから中間電位Ｖｍまで一定勾配で電位を上昇させる制振要素ＰＳ５とから構成されている。
【００５２】
上記の励振要素ＰＳ１は、圧力室１４内のインクに圧力振動を励起させる要素である。この励振要素ＰＳ１が圧電振動子２に供給されると、詳しくは、励振要素ＰＳ１を供給し、その後最大電位Ｖｈを維持すると、圧力室１４は、中間電位Ｖｍに対応する基準容積から最大電位Ｖｈに対応する最大容積まで膨張する。この最大電位Ｖｈが供給されている期間において、圧力室１４は最大容積を維持する。この容積変化によって圧力室１４内のインク圧力は、例えば図６（ａ）に示すように変動する。即ち、圧力室１４が膨張されると、圧力室１４内のインク圧力は定常状態よりも低くなる。そして、励振要素ＰＳ１の供給が終了すると、続いて、インク供給口１５を通じて圧力室１４内にインクが流入する等によって圧力室１４内のインク圧力は上昇し、定常状態よりも高くなる。その後、圧力室１４内のインク圧力は降下し、定常状態よりも低くなる。その結果、この励振要素ＰＳ１が圧電振動子２に供給されると、圧力室１４内のインクには固有振動周期Ｔｃの圧力振動が励起される。
【００５３】
この励振要素ＰＳ１の発生時間Ｐｗｃ１、即ち、圧電振動子２への供給時間は、固有振動周期Ｔｃの圧力振動を励起させ得る時間に設定される。そして、圧力振動を効率よく励起させるという目的からすれば、この時間Ｐｗｃ１は、圧力室１４内におけるインクの固有振動周期Ｔｃの設計値以下に設定されることが好ましく、設計値の１／２以下に設定されるのがより好ましい。なお、本実施形態の記録へッド１では固有振動周期Ｔｃの設計値が７．２μｓであるので、励振要素ＰＳ１の発生時間Ｐｗｃ１をその略１／２に相当する３．５μｓに設定している。
【００５４】
吐出要素ＰＳ３は、圧力室１４を急激に収縮させることでインクを加圧し、ノズル開口１３からインク滴を吐出させる要素である。この吐出要素ＰＳ３が圧電振動子２に供給されると、圧力室１４は、最大電位Ｖｈに対応する最大容積から最低電位ＶＬに対応する最小容積まで急激に収縮される。この圧力室１４の急激な収縮に伴い、圧力室１４内のインク圧力が急激に上昇し、ノズル開口１３からはインク滴が吐出される。
そして、この吐出要素ＰＳ３の発生時間Ｐｗｄ１は、インク滴を吐出させるために必要な圧力が得られる時間に設定される。この発生時間Ｐｗｄ１は、圧電振動子２を用いた記録へッド１の場合、好ましくは、圧電振動子２の固有振動周期Ｔａの設計値に設定される。本実施形態において、固有振動周期Ｔａの設計値が固有振動周期Ｔｃの略１／２であることから、発生時間Ｐｗｄ１は、励振要素ＰＳ１の発生時間Ｐｗｃ１と同じ長さに設定されている。
【００５５】
第１ホールド要素ＰＳ２は、励振要素ＰＳ１の終端から吐出要素ＰＳ３の始端までを同電位で接続する要素であり、励振要素ＰＳ１から吐出要素ＰＳ３までの時間間隔、言い換えれば、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを規定する。そして、この第１ホールド要素ＰＳ２の時間幅Ｐｗｈ１を変化させると、吐出されるインク量が変化する。これは、励振要素ＰＳ１の供給によって圧力室１４内のインクに固有振動周期Ｔｃの圧力振動が生じるためである。
【００５６】
以下、この点について説明する。上記の励振要素ＰＳ１を圧電振動子２へ供給して振動子電位を最大電位Ｖｈで維持すると、図６（ａ）に模式的に示すように、圧力室１４内のインク圧力は、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃで周期的に上下動する。そして、このインク圧力の周期的な変動によってメニスカス（即ち、ノズル開口で露出しているインクの自由表面）の状態も変化する。
例えば、圧力室１４内のインクが定常圧力の場合には、図６（ｂ）に示すように、メニスカスＭはノズル面（ノズルプレート１１の外側表面）と略同一位置で静止する。そして、インク圧力が定常圧力よりも高い場合には、図６（ｃ）に示すように、メニスカスＭはノズル面よりも外側（インク滴の吐出側）に隆起した状態となる。一方、インク圧力が定常圧力よりも低い場合には、図６（ｄ）に示すように、メニスカスＭはノズル面よりも奥側（圧力室１４側）に引き込まれた状態となる。
【００５７】
そして、吐出されるインク量は、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングにおけるメニスカスＭの状態によって定められる。例えば、図６（ｂ）に示す状態、即ち、メニスカスの定常状態で吐出要素ＰＳ３が供給された場合のインク量を基準にすると、図６（ｃ）に示すメニスカスの隆起状態では、定常状態からの隆起分だけインク量が基準よりも増加する。一方、図６（ｄ）に示すメニスカスの引き込み状態では、定常状態から引き込まれた分だけインク量が基準よりも減少する。
【００５８】
これは、励振要素ＰＳ１の供給による圧力室１４内のインクの振動エネルギーよりも、圧電振動子２から加えられるエネルギーの方が十分に大きいからと考えられる。即ち、圧電振動子２からの圧力変動がインクの圧力振動よりも十分に大きければ、インク滴吐出時における圧力室１４の収縮速度や収縮量に関し、インクの圧力振動の影響は殆ど受けず、メニスカスＭの位置の差がインク量の差となって現れると考えられる。
【００５９】
そして、図６（ａ）に示すように、メニスカスＭの状態は圧力室１４内のインク圧力の変動に伴って周期的に変化する。このため、第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔Ｐｗｈ１をｔ１に設定するとメニスカスＭが定常状態となって基準インク量のインク滴が吐出される。また、この時間間隔Ｐｗｈ１をｔ２に設定するとメニスカスＭが隆起状態となって基準のインク量よりも多い量のインク滴が吐出される。さらに、この時間間隔Ｐｗｈ１をｔ３に設定するとメニスカスＭが引き込み状態となるので、基準のインク量よりも少ない量のインク滴が吐出される。従って、各評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いてインク量を測定すると、第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔に応じたインク量が得られる。
【００６０】
ところで、上記の記録へッド１では、振動子ユニット５や流路ユニット７の寸法精度や取付精度等の累積公差によって、圧力室１４内におけるインクの固有振動周期Ｔｃにばらつきが生じる。また、この固有振動周期Ｔｃが同じであったとしても、各圧電振動子２から発生される力（押圧力や引っ張り力）が振動子ユニット５毎にばらつく。そして、固有振動周期Ｔｃがばらついた場合には、図８に示すように、インクの圧力変動周期が時間軸方向に伸縮し、これに伴いメニスカスＭの振動周期も時間軸方向に伸縮する。このため、吐出されるインク量も、メニスカスＭの振動周期と同期して変動する。その結果、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを一定にしたとしても、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃに応じて吐出されるインク量が相違する。また、圧電振動子２からの力が変化した場合には、図７に示すように、インク量の変動周期は同じであるが、吐出されるインク量が相違する。以下、これらの点について説明する。
【００６１】
まず、固有振動周期Ｔｃの違いによって吐出されるインク量が変動する点について説明する。以下の説明では、設計値通りの固有振動周期Ｔｃを有する標準の記録へッドと、製造上生じ得る最大の固有振動周期Ｔｃの記録へッドと、製造上生じ得る最小の固有振動周期Ｔｃの記録へッドの３種類の記録へッド１を例に挙げて説明することにする。
【００６２】
なお、以下の説明においては、便宜上、設計値通りの固有振動周期Ｔｃを標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄといい、この標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄを有する記録へッド１を標準周期記録へッドという。そして、製造上生じ得る最大の固有振動周期Ｔｃを最大固有振動周期Ｔｃｍａｘといい、この最大固有振動周期Ｔｃｍａｘを有する記録へッド１を最大周期記録へッドという。また、製造上生じ得る最小の固有振動周期Ｔｃを最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎといい、この最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎを有する記録へッド１を最小周期記録へッドという。
【００６３】
また、組立後の記録へッド１から標準周期記録へッド、最大周期記録へッド、及び最小周期記録へッドを選別するには、その固有振動周期Ｔｃを別方法で測定する必要がある。この固有振動周期Ｔｃの測定は、例えば、インク量変動曲線における変動周期を測定することで行う。
【００６４】
ここで、インク量変動曲線とは、図７の下半に、実線、二点鎖線、点線で示された曲線であって、第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔Ｐｗｈ１と吐出されるインク量との関係を示す曲線である。このインク量変動曲線は、例えば、上記の時間間隔Ｐｗｈ１を微小ステップ単位で段階的に異ならせた複数種類の評価パルスＴＰ毎に測定用信号を構成し、各測定用信号を用いてインク量の測定を行うことで得られる。例示したインク量変動曲線では、時間間隔Ｐｗｈ１が長くなる程にインク量が周期的に増減する。そして、このインク量変動曲線は、次式（１）によって近似することができる。
【００６５】
Ｉｗ＝Ａ×ｓｉｎ｛２π（ｔ／Ｔｃ）＋α｝＋Ｏ  …  （１）
この式（１）において、Ｉｗはインク滴（液滴）重量，Ａは振動重量振幅，αは初期位相項，Ｏはベース重量である。なお、上記Ａは、吐出要素ＰＳ３の電位差Ａ（図４参照）に対応する。
【００６６】
図７及び図８から判るように、このインク量変動曲線の変動周期は、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃに相当する。即ち、標準周期記録へッドでは、圧力室１４内のインク圧力、メニスカスＭの位置、及び、インク量は、それぞれ、図８に実線で示すように、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄで周期的に変動する。そして、最大周期記録へッドでは、圧力室１４内のインク圧力、メニスカスＭの位置、及び、インク量は、それぞれ、図８に二点鎖線で示すように、最大固有振動周期Ｔｃｍａｘで周期的に変動する。また、最小周期記録へッドでは、圧力室１４内のインク圧力、メニスカスＭの位置、及び、インク量は、それぞれ、図８に点線で示すように、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎで周期的に変動する。
【００６７】
このため、インク量変動曲線における隣り合う２つのボトム点同士、或いは、ピーク点同士の時間間隔を測定することにより、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが測定できる。
なお、以下の説明においては、便宜上、標準周期記録へッドのインク量変動曲線を標準周期インク量変動曲線（標準周期液体量変動曲線の一種）という。同様に、最大周期記録へッドのインク量変動曲線を最大周期インク量変動曲線（最大周期液体量変動曲線の一種）といい、最小周期記録へッドのインク量変動曲線を最小周期インク量変動曲線（最小周期液体量変動曲線の一種）という。
【００６８】
そして、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが相違すると、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１を固定しても吐出されるインク量が相違する。例えば、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ４に設定した場合には、最大周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗａ３は、標準周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗａ２よりも多くなる。一方、最小周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗａ１は、標準周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗａ２よりも少なくなる。また、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ５に設定した場合には、最大周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗｂ３は標準周期記録へッドのインク量Ｉｗｂ２よりも少なくなり、最小周期記録へッドにおけるインク量Ｉｗｂ１は標準周期記録へッドのインク量Ｉｗｂ２よりも多くなる。
【００６９】
次に、圧電振動子２からの力が変化した場合について説明する。この場合には、上記したように、インク量の変動周期は同じであるが、吐出されるインク量が相違する。例えば、標準的な力の圧電振動子２を有する振動子ユニット５を用いた場合には、図７に実線のインク量変動曲線で示すように、吐出されるインク量が周期的に変化する。そして、標準よりも強い力の圧電振動子２を有する振動子ユニット５を用いた場合には、図７に点線で示すように、インク量変動曲線は、標準的な振動子ユニット５によるインク量変動曲線よりも全体的に上昇すると共に、その上昇分に比例してインク量の変動幅も広くなる。反対に、標準よりも弱い力の圧電振動子２を有する振動子ユニット５を用いた場合には、図７に二点鎖線で示すように、インク量変動曲線は、標準的な振動子ユニット５によるインク量変動曲線よりも全体的に下降すると共に、その下降分に比例してインク量の変動幅も狭くなる。
従って、圧電振動子２からの力が相違した場合にも、固有振動周期Ｔｃが相違した場合と同様に、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１を固定したとしても吐出されるインク量が相違する。
【００７０】
以上から、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１を一定時間に固定した場合、吐出されるインク量は、その記録へッド１におけるインクの固有振動周期Ｔｃに応じて変化するが、振動子ユニット５の特性等によっても変化することが判る。このため、１つの評価パルスＴＰのみを用いてインク量を測定した場合には、インク量の設計値からの差は判るが、その差が固有振動周期Ｔｃの差に起因するものなのか、振動子ユニット５の特性差に起因するものなのかは判断できない。
【００７１】
そこで、本実施形態では、インク量測定工程にて第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬを測定し、インク量比測定工程にてこれらの第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬとからインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を求め、固有振動周期決定工程にてこのインク量比と固有振動周期Ｔｃの相関関係から測定対象の記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを決定するようにした。以下、この点について説明する。
【００７２】
振動子ユニット５の特性が相違する複数のインク量変動曲線同士の間では、上記したように、ベースレベル（例えば平均インク量）の変動に比例してその振幅が変化する。また、各インク量変動曲線の振動周期は、振動子ユニット５の特性に拘わらず揃っている。このため、上記のインク量比は、固有振動周期Ｔｃが同じであればベースレベルが変動しても略一定値となる。
これに対して、固有振動周期Ｔｃが相違する複数のインク量変動曲線は、固有振動周期Ｔｃの差によって時間軸方向に伸縮する。このため、固有振動周期Ｔｃが相違する場合、インク量比は固有振動周期Ｔｃに応じて変化する。
【００７３】
例えば、図７に示すように、振動子ユニット５の特性が相違する場合には、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ６として測定したインク量Ｉｗｃ１，Ｉｗｃ２，Ｉｗｃ３と、この発生時間Ｐｗｈ１をｔ７として測定したインク量Ｉｗｄ１，Ｉｗｄ２，Ｉｗｄ３の間では、次式（２）の関係が成立する。
【００７４】
Ｉｗｃ１／Ｉｗｄ１＝Ｉｗｃ２／Ｉｗｄ２＝Ｉｗｃ３／Ｉｗｄ３  …  （２）
【００７５】
また、これらのインク量Ｉｗｄ１，Ｉｗｄ２，Ｉｗｄ３と、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ８として測定したインク量Ｉｗｅ１，Ｉｗｅ２，Ｉｗｅ３との間では、次式（３）の関係が成立する。
【００７６】
Ｉｗｄ１／Ｉｗｅ１＝Ｉｗｄ２／Ｉｗｅ２＝Ｉｗｄ３／Ｉｗｅ３  …  （３）
【００７７】
同様に、これらのインク量Ｉｗｃ１，Ｉｗｃ２，Ｉｗｃ３と、インク量Ｉｗｅ１，Ｉｗｅ２，Ｉｗｅ３との間では、次式（４）の関係が成立する。
【００７８】
Ｉｗｃ１／Ｉｗｅ１＝Ｉｗｃ２／Ｉｗｅ２＝Ｉｗｃ３／Ｉｗｅ３  …  （４）
【００７９】
一方、固有振動周期Ｔｃが相違する場合には、図８に示すように、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ４及びｔ５に設定してそれぞれインク量を測定すると、即ち、最小周期記録へッドに対応するインク量Ｉｗａ１，Ｉｗｂ１と、標準周期記録へッドに対応するインク量Ｉｗａ２，Ｉｗｂ２と、最大周期記録へッドに対応するインク量Ｉｗａ３，Ｉｗｂ３とを測定すると、次式（５）の関係が成立する。
【００８０】
Ｉｗａ１／Ｉｗｂ１＜Ｉｗａ２／Ｉｗｂ２＜Ｉｗａ３／Ｉｗｂ３  …  （５）
【００８１】
これらのインク量Ｉｗａ１、Ｉｗａ２、及び、Ｉｗａ３に関し、Ｉｗａ１はＩｗａ２よりも少なく、Ｉｗａ２はＩｗａ３よりも少ない。そして、Ｉｗａ１は最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎにおけるインク量であり、Ｉｗａ３は最大固有振動周期Ｔｃｍａｘにおけるインク量であるので、発生時間Ｐｗｈ１をｔ４に設定した場合のインク量は、固有振動周期Ｔｃが増加する程に増加している。
一方、Ｉｗｂ１、Ｉｗｂ２、及び、Ｉｗｂ３に関し、Ｉｗｂ１はＩｗｂ２よりも多く、Ｉｗｂ２はＩｗｂ３よりも多い。そして、Ｉｗｂ１は最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎにおけるインク量であり、Ｉｗｂ３は最大固有振動周期Ｔｃｍａｘにおけるインク量であるので、発生時間Ｐｗｈ１をｔ５に設定した場合のインク量は、固有振動周期Ｔｃが増加する程に減少するといえる。
従って、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１をｔ４及びｔ５に設定して取得したインク量比（Ｉｗａ／Ｉｗｂ）は、その記録へッド１におけるインクの固有振動周期Ｔｃと１対１に対応する。
【００８２】
以上の説明から明らかなように、インク量比取得工程で取得する第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬのインク量比は、振動子ユニット５の特性差等に起因するインク量のばらつきについては無効化し、圧力室１４内におけるインクの固有振動周期Ｔｃの差に応じて変動するパラメータとなる。
従って、このインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）と固有振動周期Ｔｃの相関関係を予め取得しておくことで、組立後の記録へッド１のインク量（即ち、インク量比）からその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃが決定できる。
【００８３】
この場合において、上記励振要素ＰＳ１の電位差が大きい程、つまり、励振要素ＰＳ１の電位勾配が急峻である程、インク量変動曲線における振幅が大きくなるという知見が得られた。これは、励振要素ＰＳ１の電位差が大きい程にメニスカスＭの振幅が大きくなるからと考えられる。例えば、図９に示すように、吐出要素ＰＳ３の電位差Ａに対する励振要素ＰＳ１の電位差Ｂの比（Ｂ／Ａ，図４参照）に関し、３５％に設定した場合と９５％に設定した場合とを比較すると、９５％に設定した場合の方がインク量の変化が顕著になっている。このように、インク量の変化が顕著であると、固有振動周期Ｔｃの僅かな違いをインク量比で表すことができる。このため、固有振動周期Ｔｃの検出感度を向上させることができて好ましい。そして、この実験結果から、吐出要素ＰＳ３の電位差Ａに対する励振要素ＰＳ１の電位差Ｂの比に関し、９０％以上となっていることが好ましく、９５％以上となっていることがより好ましいといえる。
【００８４】
また、固有振動周期Ｔｃを取得する際に用いる２種類の評価パルスＴＰ１，ＴＰ２に関し、各評価パルスＴＰ１，ＴＰ２における第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔，第２時間間隔）、即ち、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングは任意に設定できる。しかし、この第１ホールド要素ＰＳ２の時間間隔Ｐｗｈ１の選択の仕方によって固有振動周期Ｔｃの検出精度が相違する。例えば、第１時間間隔と第２時間間隔との差を比較的小さく設定すると、固有振動周期Ｔｃの変化量に対するインク量比の変化量も小さくなり、検出感度が低くなってしまう。
【００８５】
本実施形態では、図１０に示すように、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングが最大周期インク量変動曲線のピーク点から直近の最小周期インク量変動曲線のピーク点までの範囲となるように、時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔，第２時間間隔）を設定する。言い換えれば、最大周期インク量変動曲線における２つの隣り合うピーク点同士の間に属し、且つ、最小周期インク量変動曲線における２つの隣り合うピーク点同士の間に属する重複範囲に時間間隔Ｐｗｈ１を設定する。
この範囲に時間間隔Ｐｗｈ１を設定すると、測定対象となる記録へッド１のインク量変動曲線は、最大周期インク量変動曲線と最小周期インク量変動曲線の間に存在する。このため、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）からその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを高精度に定めることができる。
【００８６】
さらに詳しくは、上記範囲内において、標準周期インク量変動曲線のボトム点で吐出要素ＰＳ３が供給される時間間隔Ｐｗｈ１（時間間隔ｔ９）を標準時間間隔とし、第１時間間隔をこの標準時間間隔から標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄの１／４を減じた時間間隔に設定すると共に、第２時間間隔をこの標準時間間隔に標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄの１／４を加えた時間間隔に設定する。この設定により、第１時間間隔と第２時間間隔の中央値を標準時間間隔に一致させている。
【００８７】
このように設定すると、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄを有する記録へッド１については、第１評価パルスＴＰ１に対応するインク量ＩｗＳと第２評価パルスＴＰに対応するインク量ＩｗＬとが略等しくなり、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）は値１．０００に近くなる。そして、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１については、インク量ＩｗＳがインク量ＩｗＬよりも小さくなり、インク量比は値１．０００よりも小さくなる。また、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１については、インク量ＩｗＳがインク量ＩｗＬよりも大きくなり、インク量比は値１．０００よりも大きくなる。
【００８８】
なお、標準時間間隔と第１時間間隔の差、及び標準時間間隔と第２時間間隔の差は、上記の例に限らず適宜に設定することができる。少なくとも標準固有振動周期Ｔｃの０．１倍（０．１Ｔｃｓｔｄ）程度の差があれば、固有振動周期Ｔｃを好適に測定できる。
【００８９】
次に、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）から固有振動周期Ｔｃを決定する工程、即ち、固有振動周期決定工程について説明する。
【００９０】
ここで、図１１は、固有振動周期Ｔｃを縦軸に、インク量比を横軸にそれぞれ設定し、複数の記録へッド１について固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係を示した図である。この図１１から、固有振動周期Ｔｃとインク量比とは高い相関関係があることが判る。即ち、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも短ければ短いほどインク量比の値は小さくなり、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも長ければ長いほどインク量比の値は大きくなる。また、固有振動周期Ｔｃが設計値（７．２μｓ）に近ければ近いほどインク量比は値１．０００に近づく。
【００９１】
さらに、この図１１より、固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係は、インク量比を変数とする一次式によって表せることが判る。言い換えれば、固有振動周期Ｔｃとインク量比との関係は、直線状の検量線で表すことができる。
この場合において、インク量比の全範囲を単一の一次式で近似することもできる。しかし、この例では、インク量比の値１．０００（標準インク量比に相当）を境に、インク量比の小さい側と大きい側とで有意の差がみられる。このため、値１．０００よりも小さい側の範囲（第１範囲に相当）と、値１．０００以上の範囲（第２範囲に相当）とに分けて一次式を設定することが好ましい。例えば、値１．０００よりも小さい側の範囲を符号ＬＡ１の検量線に相当する一次式で近似し、値１．０００以上の範囲を符号ＬＡ２の検量線に相当する一次式で近似する。このように、複数範囲毎に一次式（ＬＡ１，ＬＡ２）を設定すると、単一の一次式で近似した場合よりも精度よく固有振動周期Ｔｃを取得できる。
【００９２】
なお、この観点からすれば、図１２に示すように、インク量比の範囲を、値１．０００を中心とし、値０．９５０以上であって値１．０５０未満に設定された標準範囲（第３範囲に相当）と、この標準範囲よりも小さい側の範囲（第４範囲に相当）と、標準範囲よりも大きい側の範囲（第５範囲に相当）とに分け、各範囲毎に一次式（検量線ＬＢ１〜ＬＢ３）を設定してもよい。このようにすれば、より高い精度で固有振動周期Ｔｃを取得できる。
【００９３】
このように、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）と固有振動周期Ｔｃが高い相関関係を有しているので、いくつかのサンプルを用いて一次式（検量線ＬＡ１〜ＬＡ２，検量線ＬＢ１〜ＬＢ３）を予め設定し、制御部３３のＲＯＭやＥＥＰＲＯＭに記憶させておくことで、インク量比から固有振動周期Ｔｃを簡便に取得できる。即ち、制御部３３（固有振動周期決定手段）は、上記の一次式にインク量比を代入する演算を行うことで、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを取得できる。そして、この方法では、インク量比が固有振動周期Ｔｃに１対１に対応しているので、固有振動周期Ｔｃを精度良く取得できる。
【００９４】
組立後の記録へッド１について固有振動周期Ｔｃを測定したならば、情報付与工程に移行し、得られた固有振動周期Ｔｃを表す情報（固有情報）を記録へッド１に付与する。
【００９５】
この情報付与工程では、例えば、得られた固有振動周期Ｔｃの値を固有情報とし、図１３（ａ）に示すように、固有振動周期Ｔｃの値を文字やバーコード等の光学的に読み取り可能な態様で粘着シール３５（表記部材の一種）に表記し、この粘着シール３５をケース表面（例えば、側面）に貼設する。また、図１３（ｂ）に示すように、記録へッド１内に設けたＲＯＭ等の情報記憶素子３６（固有情報記憶手段の一種）に記憶させてもよい。即ち、固有振動周期Ｔｃを表す固有情報は、粘着シール３５や情報記憶素子３６等の情報付与媒体を介して記録へッド１に付与される。
なお、上記したように、インク量比が固有振動周期Ｔｃと１対１に対応しているので、上記の固有情報としてはインク量比の値を用いることもできる。
【００９６】
以上説明した製造方法によれば、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１が異なる２種類の評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いてインク量の測定を行うことで、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを測定できる。そして、このインク量測定は簡便であり、自動化への対応も容易であるので、量産に適する。
【００９７】
ところで、上記した第１実施形態では、標準周期インク量変動曲線のボトム点に対応する標準時間間隔（時間間隔ｔ９，図１０参照。）を基準とし、この標準時間間隔から規定時間短い第１時間間隔、及び規定時間長い第２時間間隔を用いてインク量ＩｗＳ，ＩｗＬ、及びインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を取得する構成について説明したが、本発明はこの構成に限定されるものではない。
例えば、固有振動周期Ｔｃの増加に伴ってインク量が増加する増加時間範囲内で吐出要素ＰＳ３が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の一方を設定し、且つ、固有振動周期Ｔｃの増加に伴ってインク量が減少する減少時間範囲内で吐出要素ＰＳ３が供給されるように、第１時間間隔及び第２時間間隔の他方を設定してもよい。
【００９８】
以下、このように構成した第２実施形態について説明する。なお、インク量比を用いることで振動子ユニット５の特性差等に起因するインク量のばらつきの影響は無視できるため、以下の説明では振動子ユニット５の特性差等に起因するインク量のばらつきは考慮しないことにする。
【００９９】
図１４は、図８のインク量変動曲線における符号Ｘで示す領域を拡大して示した図である。この図１４において、点線は最小周期インク量変動曲線であり、二点鎖線は最大周期インク量変動曲線である。また、実線は標準周期インク量変動曲線である。さらに、この例では、最小周期記録へッドと標準周期記録へッドの中間の固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１（便宜上、第１中間記録へッドという。）のインク量変動曲線を破線で示し、最大周期記録へッドと標準周期記録へッドの中間の固有振動周期Ｔｃを有する記録へッド１（便宜上、第２中間記録へッドという。）のインク量変動曲線を一点鎖線で示している。
【０１００】
また、この図１４において、最大周期インク量変動曲線における１番目のピーク点をタイミングｐ１とし、最小周期インク量変動曲線における１番目のボトム点をタイミングｐ２としている。そして、最大周期インク量変動曲線における１番目のボトム点をタイミングｐ３とし、最小周期インク量変動曲線における２番目のピーク点をタイミングｐ４としている。この例では、上記の増加時間範囲は、タイミングｐ１以上であってタイミングｐ２以下の時間範囲Ｘ１となり、上記の減少時間範囲は、タイミングｐ３以上であってタイミングｐ４以下の時間範囲Ｘ２となる。
【０１０１】
この増加時間範囲内に属するタイミングｐ５でのインク量Ｉｗｆ１〜Ｉｗｆ５を比較すると次の関係が成立する。即ち、固有振動周期Ｔｃが最も短い最小周期記録へッドのインク量Ｉｗｆ１が最も少なく、固有振動周期Ｔｃが２番目に短い第１中間記録へッドのインク量Ｉｗｆ２が２番目に少なく、標準周期記録へッドのインク量が３番目に少なくなる。また、固有振動周期Ｔｃが２番目に長い第２中間記録へッドのインク量Ｉｗｆ４が２番目に多く、固有振動周期Ｔｃが最も長い最大周期記録へッドのインク量Ｉｗｆ５が最も多くなる。そして、これらのインク量Ｉｗｆ１〜Ｉｗｆ５の関係は、タイミングｐ１からｐ２の範囲で同じように成立する。言い換えると、各インク量変動曲線は、タイミングｐ１からｐ２の範囲内では交差しない。従って、このタイミングｐ１からｐ２の範囲内では、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを固定すると、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃの増加に伴ってインク量が増加する。
【０１０２】
一方、減少時間範囲内に属するタイミングｐ６でのインク量Ｉｗｇ１〜Ｉｗｇ５を比較すると次の関係が成立する。即ち、固有振動周期Ｔｃが最も短い最小周期記録へッドのインク量Ｉｗｇ１が最も多く、固有振動周期Ｔｃが２番目に短い第１中間記録へッドのインク量Ｉｗｇ２が２番目に多く、標準周期記録へッドのインク量が３番目に多い。また、固有振動周期Ｔｃが２番目に長い第２中間記録へッドのインク量Ｉｗｇ４が２番目に少なく、固有振動周期Ｔｃが最も長い最大周期記録へッドのインク量Ｉｗｇ５が最も少ない。そして、これらのインク量Ｉｗｇ１〜Ｉｗｇ５の関係は、タイミングｐ３からｐ４の範囲で同じように成立する。即ち、各インク量変動曲線は、タイミングｐ３からｐ４の範囲内では交差しない。従って、このタイミングｐ３からｐ４の範囲内では、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングを固定すると、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃの増加に伴ってインク量が減少する。
【０１０３】
そして、第１評価パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３の供給タイミング（第１供給タイミング）を増加時間範囲内に設定し、第２評価パルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミング（第２供給タイミング）を減少時間範囲内に設定すると、換言すれば、インク量変動曲線における同一次数のボトム範囲が第１供給タイミングと第２供給タイミングの間に存在するように設定すると、算出したインク量比からその記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得することができる。
【０１０４】
即ち、インク量比は、第１評価パルスＴＰ１の第１インク量ＩｗＳが分子となり、第２評価パルスＴＰ２の第２インク量ＩｗＬが分母となっている。このため、固有振動周期Ｔｃが増加する程に第１インク量ＩｗＳは増加し第２インク量ＩｗＬは減少することになる。反対に、固有振動周期Ｔｃが減少する程に第１インク量ＩｗＳは減少し第２インク量ＩｗＬは増加することになる。
その結果、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対するインク量比の変化幅を、後述する比較例よりも大きくすることができ、インク量比からその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得することができる。
【０１０５】
例えば、第１評価パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ２とし、第２評価パルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ３とした場合には、図１５に示すように、固有振動周期Ｔｃの変化幅が約６．６μｓ〜８．５μｓの範囲であるのに対し、インク量比の変化幅が約０．８５０〜１．１５０になる。そして、この範囲内においては、実線で示すように、固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係は、インク量比を変数とする一次式（符号ＬＣで示す検量線）で表すことができる。このように、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対してインク量比の変化幅が十分に広いため、インク量比からその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを高い精度で取得することができる。
なお、この例に用いた記録へッド１は、固有振動周期Ｔｃの設計値が７．５μｓである。
【０１０６】
ところで、この図１５の相関関係を取得する際に用いた各評価パルスＴＰ１，ＴＰ２に関し、その吐出要素ＰＳ３の供給タイミングｐ２，ｐ３は、何れもインク量変動曲線のボトム点に近い側であった。そして、これらの供給タイミングｐ２，ｐ３は、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対するインク量の変化幅が、増加時間範囲や減少時間範囲内において比較的小さいタイミングである。
【０１０７】
例えば、この供給タイミングｐ２を供給タイミングｐ５と比較すると、供給タイミングｐ５では最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまで固有振動周期Ｔｃが変化すると、インク量がＩｗｆ１からＩｗｆ５まで変化する。これに対して、供給タイミングｐ２では、固有振動周期Ｔｃが最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまで変化すると、インク量がＩｗｈ１からＩｗｈ５まで変化する。そして、図から明らかなように、インク量Ｉｗｆ５とＩｗｆ１の差はインク量Ｉｗｈ５とＩｗｈ１の差よりも大きい。
また、供給タイミングｐ１では、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまで固有振動周期Ｔｃが変化すると、インク量がＩｗｉ１からＩｗｉ５まで変化する。そして、その変化幅は、供給タイミングｐ５でのインク量Ｉｗｆ１からＩｗｆ５までの差よりも小さい。
【０１０８】
以上から、増加時間範囲内及び減少時間範囲内において、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングに最適値があることを意味する。以下、この最適値について説明する。
【０１０９】
図１６は、上記の増加時間範囲（ｐ１以上ｐ２以下）におけるインク量の変化を、固有振動周期Ｔｃが相違する上記５種類の記録へッド１毎に示した図であり、図１７は、上記の減少時間範囲（ｐ３以上ｐ４以下）におけるインク量の変化を上記５種類の記録へッド１毎に示した図である。図１６において、タイミングｐ１２は、標準周期インク量変動曲線（実線）における単位時間当たりのインク量の変化が最大となるタイミングである。そして、タイミングｐ１１はタイミングｐ１とｐ１２の中間のタイミングであり、タイミングｐ１３はタイミングｐ１２とｐ２の中間のタイミングである。また、図１７において、タイミングｐ２２は、標準周期インク量変動曲線（実線）における単位時間当たりのインク量の変化が最大となるタイミングである。そして、タイミングｐ２１はタイミングｐ３とｐ２２の中間のタイミングであり、タイミングｐ２３はタイミングｐ２２とｐ４の中間のタイミングである。
【０１１０】
これらの図より明らかなように、増加時間範囲においては、各インク量変動曲線は、タイミングｐ１２におけるインク量の変化幅（Ｉｗｊ５−Ｉｗｊ１）が最も大きい。同様に、減少時間範囲においては、各インク量変動曲線は、タイミングｐ２２におけるインク量の変化幅（Ｉｗｋ１−Ｉｗｋ５）が最も大きい。
従って、増加時間範囲では吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ１２に設定することで、固有振動周期Ｔｃの増減に伴うインク量の増減幅を最大にできる。一方、減少時間範囲では吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ２２に設定することで、固有振動周期Ｔｃの増減に伴うインク量の増減幅を最大にできる。
その結果、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対するインク量比の変化幅を可及的に大きくすることができ、インク量比からその記録へッド１における固有振動周期Ｔｃをより高い精度で取得できる。
【０１１１】
なお、この場合、第１評価パルスＴＰ１及び第２評価パルスＴＰ２を設定するにあたり、標準周期インク量変動曲線を取得する必要がある。この標準周期インク量変動曲線は、上記したように、励振要素ＰＳ１から吐出要素ＰＳ３までの時間間隔を変えた複数の評価パルスＴＰを測定用信号として用い、この測定用信号を標準周期記録へッドに供給することで測定できる。
【０１１２】
次に、比較例として、上記の増加時間範囲及び減少時間範囲外の時間範囲を用いた場合について説明する。ここでは、上記の増加時間範囲Ｘ１と減少時間範囲Ｘ２とに挟まれた範囲Ｘ３、即ち、タイミングｐ２よりも遅くタイミングｐ３よりも早い範囲（以下、ボトム範囲という。）を例に挙げて説明する。
【０１１３】
図１８は、このボトム範囲内におけるにおけるインク量の変化を、固有振動周期Ｔｃが相違する上記５種類の記録へッド１毎に示した図である。そして、この図１８に示すように、ボトム範囲内には、インク量と固有振動周期Ｔｃとが１対１に対応しないタイミングがある。例えば、タイミングｐ３１を吐出要素ＰＳ３の供給タイミングにすると、標準周期記録へッドと最小周期記録へッドとがほぼ同じインク量Ｉｗｍ１となる。さらに、第１中間記録へッドのインク量Ｉｗｍ２は、上記のインク量Ｉｗｈ１よりも少なくなっている。このことは、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎから標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄまでの範囲内では、インク量が固有振動周期Ｔｃの増加に伴って一旦減少してから上昇するという逆転現象が生じていることを意味する。従って、測定対象の記録へッド１がこの範囲内の固有振動周期Ｔｃを有する場合には、測定されたインク量に対する固有振動周期Ｔｃが２つ存在することになる。
【０１１４】
同様に、上記のタイミングｐ３１よりも少し遅いタイミングｐ３３を吐出要素ＰＳ３の供給タイミングにした場合には、標準周期記録へッドと第２中間記録へッドとがほぼ同じインク量Ｉｗｎ３となり最も少ない。さらに、最大周期記録へッドと第１中間記録へッドとがほぼ同じインク量Ｉｗｎ４となる。このため、第１中間記録へッドの固有振動周期Ｔｃから最大周期記録へッドの最大固有振動周期Ｔｃｍａｘまでの広い範囲でインク量の逆転現象が生じ、１つのインク量に対する固有振動周期Ｔｃが２つ存在することになる。
【０１１５】
従って、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをこのボトム範囲内に設定すると、１つのインク量に対する固有振動周期Ｔｃが２つ存在するタイミング同士を用いることになり、測定精度を高めるという点で好ましくない。さらに、この範囲内は、インク量変動曲線のボトム点付近であるので、固有振動周期Ｔｃの増加量に対するインク量の増減量が少ない。この点でも、測定精度を高め難くなるので好ましくない。
【０１１６】
その結果、２つの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをこのボトム範囲内に設定した場合には、固有振動周期Ｔｃの変化幅に対するインク量比の変化幅が、上記実施形態よりも小さくなり、固有振動周期Ｔｃの測定精度が低下する。
例えば、第１評価パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ３２とし、第２評価パルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングをタイミングｐ３３とした場合には、図１９に符号ＬＤの検量線で表される一次式のように、固有振動周期Ｔｃの変化幅が約６．６μｓ〜８．５μｓの範囲であるのに対し、インク量比の変化幅が約０．９６０〜１．０７０になる。
【０１１７】
これを、図１５の例、即ち、上記した増加時間範囲及び減少時間範囲を用いた例と比較すると、固有振動周期Ｔｃの変化幅は両方とも約６．６μｓ〜８．５μｓである。しかし、インク量比の変化幅に関し、図１３の例では約０．８５０〜１．１５０の範囲で変動するが、図１９の例では約０．９６０〜１．０７０の範囲でしか変動しない。このため、増加時間範囲及び減少時間範囲を用いることで、測定対象の記録へッド１における固有振動周期Ｔｃをより高い精度で測定できることが判る。
【０１１８】
そして、インク量比取得工程では、上記したように、測定工程で測定した第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬからインク量比を求め、固有振動周期決定工程では、求めたインク量比を固有振動周期Ｔｃとインク量比との相関関係にあてはめることで、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを決定する。さらに、情報付与工程では、決定した固有振動周期Ｔｃの情報を情報付与媒体を介して記録へッド１に付与する。
【０１１９】
図１５の例で説明すると、その記録へッド１におけるインク量比が０．９５０であった場合には固有振動周期Ｔｃは７．２５μｓと判定し、インク量比が０．９９０であった場合には固有振動周期Ｔｃは７．５μｓと判定する。
【０１２０】
以上説明したようにこの第２実施形態でも、第１ホールド要素ＰＳ２の発生時間Ｐｗｈ１が異なる２種類の評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を用いてインク量の測定を行うことで、その記録へッド１における固有振動周期Ｔｃを測定できる。そして、このインク量測定は簡便であり、自動化への対応も容易であるので、量産に適する。
さらに、この実施形態では、吐出要素ＰＳ３の供給タイミングに関し、第１評価パルスＴＰ１は増加時間範囲内に設定し、第２評価パルスＴＰ２は減少時間範囲内に設定しているので、測定対象の記録へッド１について固有振動周期Ｔｃを精度良く測定することができる。
【０１２１】
なお、増加時間範囲と減少時間範囲の組み合わせに関し、上記実施形態の組み合わせに限られない。例えば、増加時間範囲に関し、図８に符号Ｙで示すように、最大周期インク量変動曲線における２番目のピーク点から最小周期インク量変動曲線における２番目のボトム点までの範囲としても良い。この場合、第１評価パルスＴＰ１における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングが減少時間範囲内に設定され、第２評価パルスＴＰ２における吐出要素ＰＳ３の供給タイミングが増加時間範囲内に設定されることになる。そして、このように構成した場合にも、上記実施形態と同様の作用効果を奏する。
【０１２２】
なお、増加時間範囲と減少時間範囲の組み合わせは、互いに隣り合う時間範囲であることが好ましい。これは、増加時間範囲と減少時間範囲の組み合わせが２周期以上時間軸方向に離隔すると、後側の時間範囲において、最小固有振動周期Ｔｃｍｉｎと最大固有振動周期Ｔｃｍａｘとの差（変化幅）が大きくなり過ぎ、また、減衰によってインク量の変化幅も小さくなり過ぎてしまい、固有振動周期Ｔｃの測定精度が低下する虞があるためである。
【０１２３】
ところで、上記各実施形態では、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を取得するための検量線（一次式）は、１種類の第１評価信号ＴＰ１及び第２評価信号ＴＰ２によって作成されていた。このため、測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れている場合には、決定された固有振動周期Ｔｃの精度が低くなってしまう。これは、検量線には最適な測定範囲があるからである。このような記録へッド１は、通常、不良品として扱われる。しかし、生産性向上のためには、このような記録へッド１であっても、固有振動周期Ｔｃを精度良く測定してプリンタに搭載することが求められている。
【０１２４】
この場合において、インク量比取得工程で取得されたインク量比が判断基準範囲を越えていると判定された場合に、第１評価信号と第２評価信号の少なくとも一方を再設定すると、検量線による測定範囲を変えることができる。このため、固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れている記録へッド１であってもプリンタに搭載することができる。以下、このように構成した第３実施形態について説明する。
【０１２５】
この第３実施形態では、図２０に示すように、検量線ＬＥ１〜ＬＥ３に対応する３種類の一次式を用いて固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係を表している。具体的には、標準固有振動周期Ｔｃ用の一次式（便宜上、第１の一次式ＬＥ１という。）と、標準固有振動周期Ｔｃよりも短い固有振動周期Ｔｃ用の一次式（便宜上、第２の一次式ＬＥ２という。）と、標準固有振動周期Ｔｃよりも長い固有振動周期Ｔｃ用の一次式（便宜上、第３の一次式ＬＥ３という。）によって固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係を表している。
なお、第１の一次式ＬＥ１は、インク量比取得工程で取得されたインク量比が判断基準範囲内であった場合に用いられる相関関係を表している。そして、第２の一次式ＬＥ２は、取得されたインク量比が判断基準範囲を超えて小さかった場合に用いられる相関関係を表している。また、第３の一次式ＬＥ３は、取得されたインク量比が判断基準範囲を超えて大きかった場合に用いられる相関関係を表している。
【０１２６】
本実施形態において第１の一次式ＬＥ１は、第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を３．５μｓに、第２評価パルスＴＰの時間間隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を７μｓにそれぞれ設定し、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を固有振動周期Ｔｃが異なる複数の記録へッド１に供給して得られたインク量（インク量比）に基づいて定められている。
また、第２の一次式ＬＥ２は、第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を２．７μｓに、第２評価パルスＴＰの時間間隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を５．７μｓにそれぞれ設定し、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を固有振動周期Ｔｃが異なる複数の記録へッド１に供給して得られたインク量（インク量比）に基づいて定められている。
同様に、第３の一次式ＬＥ３は、第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を４．３μｓに、第２評価パルスＴＰの時間間隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を８．３μｓにそれぞれ設定し、これらの評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を固有振動周期Ｔｃが異なる複数の記録へッド１に供給して得られたインク量（インク量比）に基づいて定められている。
なお、本実施形態における標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄ（固有振動周期Ｔｃの設計値）は、６．８μｓである。
【０１２７】
以下、本実施形態における測定工程について説明する。この測定工程では、まず、第１の一次式ＬＥ１の取得時に使用した評価パルスＴＰ１，ＴＰ２（第１時間間隔＝３．５μｓ，第２時間間隔＝７μｓ）をそれぞれ圧電振動子２に供給することにより、ノズル開口１３から所定数のインク滴を吐出させる。そして、このインク滴を捕集して電子天秤３２で重量を測定し、基準となる第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬを得る（インク量測定工程）。
基準の第１インク量ＩｗＳと第２インク量ＩｗＬを測定したならば、制御部３３は、電子天秤３２から取得したこれらの第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬからインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を演算によって取得する（インク量比取得工程）。
【０１２８】
インク量比を取得したならば、制御部３３は、このインク量比が判断基準範囲内にあるか、判断基準範囲を超えているかを判定する（インク量比判定工程，液体量比判定工程の一種）。
本実施形態では、判断基準範囲が０．９〜１．１である。このため、取得したインク量比が０．９以上１．１以下の範囲内にあれば、制御部３３（液体量比判定手段）は、判断基準範囲内にあると判定する。そして、取得したインク量比が０．９よりも小さかった場合、制御部３３は、インク量比が判断基準範囲を超えて小さいと判定する。同様に、取得したインク量比が１．１よりも大きかった場合、制御部３３は、インク量比が判断基準範囲を超えて大きいと判定する。
【０１２９】
ここで、インク量比が判断基準範囲内にあると判定された場合には、制御部３３（固有振動周期決定手段）は、第１の一次式ＬＥ１を用いて測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを決定する（固有振動周期決定工程）。
この場合には、上記した各実施形態と同様の手順で固有振動周期Ｔｃが決定される。即ち、制御部３３は、取得したインク量比を第１の一次式ＬＥ１に代入することで固有振動周期Ｔｃを決定する。
【０１３０】
一方、インク量比が判断基準範囲を超えて小さいと判定された場合には、制御部３３（評価パルス再設定手段）は、第１評価パルスＴＰと第２評価パルスＴＰの両方を再設定する。具体的には、第２の一次式ＬＥ２の取得時に使用した評価パルスＴＰ１，ＴＰ２（第１時間間隔＝２．７μｓ，第２時間間隔＝５．７μｓ）に設定する（評価パルス再設定工程）。
【０１３１】
評価パルスＴＰを再設定したならば、制御部３３は、再設定された新たな評価パルスＴＰ１，ＴＰ２を圧電振動子２に供給する。そして、電子天秤３２は、新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬを測定する（液体量再測定工程の一種であるインク量再測定工程。）。
なお、このインク量再測定工程における具体的動作は、上記のインク量取得工程と同様であるので、その説明は省略する。
【０１３２】
新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬを測定したならば、制御部３３（液体量比再取得手段）は、これらの第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬに基づいてインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を再取得する（液体量比再取得工程の一種であるインク量比再取得工程）。
【０１３３】
インク量比を再取得したならば、制御部３３（固有振動周期決定手段）は、第２の一次式ＬＥ２を用いて測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを決定する（固有振動周期決定工程）。
この場合にも、上記した各実施形態と同様の手順で固有振動周期Ｔｃが決定される。即ち、制御部３３は、再取得したインク量比を第２の一次式ＬＥ２に代入することで固有振動周期Ｔｃを決定する。
【０１３４】
なお、インク量比が判断基準範囲を超えて大きいと判定された場合も、同様の手順によって固有振動周期Ｔｃが決定される。
簡単に説明すると、まず、評価パルス再設定工程にて、制御部３３は、第１評価パルスＴＰ１の時間間隔Ｐｗｈ１（第１時間間隔）を４．３μｓに設定すると共に、第２評価パルスＴＰ２の時間間隔Ｐｗｈ１（第２時間間隔）を８．３μｓに設定する。次に、インク量再測定工程に移行し、制御部３３及び電子天秤３２によって、新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬが測定される。そして、インク量比再取得工程に移行し、制御部３３によって、新たな第１インク量ＩｗＳ及び第２インク量ＩｗＬからインク量比が再取得される。最後に、固有振動周期決定工程に移行し、制御部３３は、取得したインク量比と第３の一次式ＬＥ３とから測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを決定する。
【０１３５】
本実施形態の構成では、固有振動周期Ｔｃの設計値を基準とする評価パルスＴＰ１，ＴＰ２でインク量比を取得し、このインク量比が判断基準範囲（許容範囲）から外れていた場合、即ち、測定対象となる記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れていた場合には、その固有振動周期Ｔｃに適した評価パルスＴＰ１，ＴＰ２でインク量比を再取得する。そして、再取得されたインク量比を、対応する一次式（第２の一次式ＬＥ２，第３の一次式ＬＥ３）にあてはめて固有振動周期Ｔｃを決定する。このため、固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れた記録へッド１であっても、その固有振動周期Ｔｃを精度良く測定することができる。
【０１３６】
なお、この実施形態では、インク量比が判断基準範囲を超えていると判定された場合、第１評価パルスＴＰと第２評価パルスＴＰの両方が再設定されるが、本発明は、この構成に限定されるものではない。例えば、インク量比が判断基準範囲を超えていると判定された場合、第１評価パルスＴＰと第２評価パルスＴＰの何れか一方を再設定する構成としてもよい。
【０１３７】
例えば、基準の評価パルスＴＰ１、ＴＰ２で取得されたインク量比が判断基準範囲を超えて小さいと判定された場合、制御部３３は、評価パルス再設定工程にて、時間間隔Ｐｗｈ１の短い側である第１評価パルスＴＰ１を再設定する。即ち、制御部３３は、この第１評価パルスＴＰ１の第１時間間隔を標準よりも短い時間（上記の例では２．７μｓ）に設定する。
反対に、判断基準範囲を超えて大きいと判定された場合には、制御部３３は、時間間隔Ｐｗｈ１の長い側である第２評価パルスＴＰ２を再設定する。即ち、制御部３３は、この第１評価パルスＴＰ１の第１時間間隔を標準よりも長い時間（上記の例では８．３μｓ）に設定する。
【０１３８】
次に、インク量再測定工程では、制御部３３及び電子天秤３２は、再設定された評価パルスＴＰについてインク量を測定する。また、インク量比再取得工程では、再設定された評価パルスＴＰのインク量と、再設定されなかった評価パルスＴＰのインク量とを用いてインク量比を再取得する。
【０１３９】
インク量比を再取得したならば、上記の実施形態と同様の手順で固有振動周期Ｔｃを決定する（固有振動周期決定工程）。
なお、この場合における一次式に関し、第２の一次式ＬＥ２は、第１時間間隔を２．７μｓにした評価パルスＴＰ１と第２時間間隔を７μｓにした評価パルスＴＰ２とによって作成される。また、第３の一次式ＬＥ３は、第１時間間隔を３．５μｓにした評価パルスＴＰ１と第２時間間隔を８．３μｓにした評価パルスＴＰ２とによって作成される。
【０１４０】
そして、この実施形態の構成でも、上記実施形態と同様に、固有振動周期Ｔｃが設計値から大きく外れた記録へッド１であっても、その固有振動周期Ｔｃを精度良く測定することができる。
【０１４１】
なお、上記構成は、第１実施形態のように評価パルスＴＰ１，ＴＰ２の時間間隔Ｐｗｈ１を、標準時間間隔（時間間隔ｔ９）からの差で規定するようにした実施形態にも同様に適用できる。
この場合、制御部３３は、インク量比取得工程で取得されたインク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）を、仮の標準振動周期Ｔｃｓｔｄを示す情報として用い、標準時間間隔を再設定する。そして、再設定された標準時間間隔を基準として第１評価パルスＴＰと第２評価パルスＴＰの両方を再設定する。
【０１４２】
ところで、発生時間Ｐｗｈ１とインク重量（インク量）との相関関係は、環境温度に依存して変化する。これは、環境温度に応じてインクの粘度が変動するためと考えられる。即ち、図２１に例示するように、インクの粘度が高いほど、インク滴の吐出量が減少することが確認できている。従って、測定温度が変化し得る環境下で固有振動周期Ｔｃの測定を行う場合を考慮すると、測定環境の温度に応じて固有振動周期Ｔｃの情報を補正できる構成が好ましい。
【０１４３】
この場合、例えば、図３に示すように、記録へッド１に設けられたサーミスタ３７（温度検出手段の一種）によって測定環境の温度を測定し、測定結果（温度情報）を制御部３３に入力する（環境温度測定工程）。そして、制御部３３は、決定された固有振動周期Ｔｃの値をこの温度情報に基づいて補正する（固有振動周期補正工程）。
これにより、測定環境が標準温度（例えば、測定装置の仕様で指定された環境温度）から外れざるを得ない環境下であっても、精度良く固有振動周期Ｔｃを測定できる。
【０１４４】
なお、測定された温度情報に応じて吐出されたインク量を補正してもよい。この場合、例えば、サーミスタ３８（温度検出手段の一種，図３参照）を電子天秤３２に対して電気的に接続する。電子天秤３２は、測定したインク重量の値をこのサーミスタ３８からの測定結果（温度情報）に基づいて補正する（環境温度測定工程，固有振動周期補正工程）。そして、制御部３３は、補正したインク重量の値に基づいてインク量比を取得し、固有振動周期Ｔｃを決定する。この構成でも精度良く固有振動周期Ｔｃを測定できる。
【０１４５】
また、発生時間Ｐｗｈ１とインク重量（インク量）との相関関係は、インク供給口１５、圧力室１４、ノズル開口１３のうちの少なくともいずれかの寸法に依存して変化し得る。例えば、図２２に例示するように、ノズル開口１３の開口径に関し、開口径が２０μｍの記録へッド１と２１μｍの記録へッド１とでは、２０μｍの記録へッド１の方がインク量が少し多くなることが確認できている。これは、他の因子、インク供給口１５、圧力室１４についても同様と考えられるので、寸法に対してインク量の情報を補正できる構成が好ましい。
【０１４６】
この場合、例えば、キーボードやバーコードリーダ等の各種入力装置（図示せず）を制御部３３に対して電気的に接続し、この入力装置を通じて測定対象となる記録へッド１の寸法情報を制御部３３に入力する。そして、制御部３３は、決定された固有振動周期Ｔｃの値をこの寸法情報に基づいて補正する（固有振動周期補正工程）。
また、寸法情報に基づいてインク量を補正してもよい。この場合には、上記の入力装置を電子天秤３２に対して電気的に接続し、この入力装置を通じて測定対象となる記録へッド１の寸法情報を制御部に入力する。そして。電子天秤３２は、インク重量の測定値（第１インク量ＩｗＳ，第２インク量ＩｗＬ）をこの寸法情報に基づいて補正する（固有振動周期補正工程）。これにより、記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを精度良く測定できる。
【０１４７】
次に、上記の手順で測定された固有振動周期Ｔｃの使用方法について説明する。ここで、図２３は、プリンタの電気的構成を説明するブロック図である。
【０１４８】
まず、プリンタの構成について説明する。例示したプリンタは、プリンタコントローラ４１とプリントエンジン４２とを備えている。プリンタコントローラ４１は、ホストコンピュータ（図示せず）等からの印刷データ等を受信するインターフェース４３と、各種データの記憶等を行うＲＡＭ４４と、各種データ処理のための制御ルーチン等を記憶したＲＯＭ４５と、ＣＰＵ等からなる制御部４６と、発振回路４７と、記録へッド１へ供給する駆動信号を発生する駆動信号発生回路４８と、印刷データをドット毎に展開することで得られた記録データや駆動信号等をプリントエンジン４２に送信するためのインターフェース４９とを備えている。
【０１４９】
また、プリントエンジン４２は、記録へッド１と、キャリッジ機構５１と、紙送り機構５２とから構成されている。そして、記録へッド１は、記録データがセットされるシフトレジスタ５３と、シフトレジスタ５３にセットされた記録データをラッチするラッチ回路５４と、電圧増幅器として機能するレベルシフタ５５と、圧電振動子２に対する駆動信号の供給を制御するスイッチ回路５６と、圧電振動子２とを備えている。
なお、上記の記録へッド１には情報記憶素子３６が備えられている。この情報記憶素子３６は、固有情報記憶手段の一種であり、上記の固有情報が記憶されている。そして、この情報記憶素子３６は制御部４６と電気的に接続されている。これにより、制御部４６は、情報記憶素子３６に格納された固有情報（固有振動周期Ｔｃを表す情報）を適宜読み出すことができる。
【０１５０】
また、固有情報を粘着シール３５等の表記部材によって表記し、この表記部材を記録へッド１に貼設した場合には、スキャナーやラインセンサ等の情報読取装置６１（情報読取手段）やキーボードやタッチパネル等の情報入力装置６２（情報入力手段）によって固有情報が制御部４６に送信される。例えば、固有情報がバーコード等の機械的に読み取り可能な情報であった場合には、情報読取装置６１を用いて固有情報を読み取り、制御部４６に送信する。また、固有情報がアルファベットや数字等によって構成されたコード情報であった場合には、情報入力装置６２によってコード情報を入力し、制御部４６に送信する。そして、制御部４６は、受信した固有情報を不揮発性の情報記憶部（例えばＥＥＰＲＯＭ，固有情報記憶手段の一種，図示せず）に記憶する。
【０１５１】
上記の制御部４６は主制御手段として機能し、ＲＯＭ４５に記憶された動作プログラムに基づいてプリンタの各部を制御する。そして、駆動信号発生回路４８は、制御部４６によって定められた波形形状の駆動信号ＣＯＭを発生する。即ち、この駆動信号発生回路４８は、駆動信号発生手段の一種として機能する。
駆動信号発生回路４８から発生される駆動信号ＣＯＭは、駆動パルス（インク滴を吐出させるために必要な波形要素を複数有するパルス信号）を印刷周期中に少なくとも１つ含んでおり、印刷周期単位で繰り返し発生される。そして、この駆動信号ＣＯＭ（駆動パルス）は、上記のスイッチ回路５６を介して、圧電振動子２へ選択的に供給される。
【０１５２】
また、制御部４６は波形設定手段としても機能し、情報記憶素子３６に記憶された固有情報（波形設定情報）に基づいて波形要素の制御因子を定める。これにより、駆動パルスの波形形状を、使用される記録へッド１の固有振動周期Ｔｃに応じて適正化する。
なお、制御因子とは、制御対象となる波形要素を定めるための条件であり、例えば発生時間や電位差がある。この制御因子は、その波形要素が定められれば良いので、発生時間と電位差の組み合わせに限られるものではない。例えば、発生時間と電位勾配の組み合わせであっても良い。そして、本実施形態では、後述するように、この制御因子を波形要素の発生時間に設定している。
【０１５３】
次に、駆動信号発生回路４８が発生する駆動信号ＣＯＭの具体例と、固有情報に基づく駆動信号ＣＯＭの適正化（駆動パルスの適正化）について説明する。
【０１５４】
図２４に例示した第１駆動信号ＣＯＭ１は、波形形状を同一にしたノーマルドット駆動パルスを複数一連に接続した信号である。即ち、この第１駆動信号ＣＯＭ１は、印刷周期Ｔの最初に発生される第１ノーマルドット駆動パルスＤＰ１と、この第１ノーマルドット駆動パルスＤＰ１に続いて発生される第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２と、第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２に続いて発生される第３ノーマルドット駆動パルスＤＰ３とを備えており、これらの各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を印刷周期Ｔ毎に繰り返し発生する。
【０１５５】
これらの各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３は、単独でインク滴を吐出可能な駆動パルスであり、中間電位ＶＭから最大電位ＶＰまでインク滴を吐出させない程度の一定勾配で電位を上昇させる膨張要素Ｐ１１と、最大電位ＶＰを所定時間保持する膨張ホールド要素Ｐ１２と、最大電位ＶＰから最低電位ＶＬまで急勾配で電位を下降させる吐出要素Ｐ１３と、最低電位ＶＧを所定時間保持する制振ホールド要素Ｐ１４と、最低電位ＶＧから中間電位ＶＭまで電位を上昇させる膨張制振要素Ｐ１５とから構成されている。なお、これらの膨張要素Ｐ１１〜膨張制振要素Ｐ１５が、このノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３における波形要素に相当する。
そして、各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３が圧電振動子２に供給される毎に、ノーマルドットを形成し得る量、例えば、１３ｐＬ程度のインク滴がノズル開口１３から吐出される。
【０１５６】
この第１駆動信号ＣＯＭ１では、ドットパターンデータがスモールドットのデータであった場合に第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２のみを圧電振動子２に供給する。また、ミドルドットのデータであった場合に第１ノーマルドット駆動パルスＤＰ１と第３ノーマルドット駆動パルスＤＰ３とを圧電振動子２に供給し、ラージドットのデータであった場合に各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を圧電振動子２に供給する。
【０１５７】
そして、制御部４６（波形設定手段）は、その記録へッド１の固有情報（測定された固有振動周期Ｔｃ）に応じて駆動信号発生回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この例では、制振ホールド要素Ｐ１４の発生期間Ｐｗｈ１２を定め、併せて、隣り合うノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３同士の間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３を定める。
【０１５８】
この制振ホールド要素Ｐ１４の発生期間Ｐｗｈ１２は、インク滴吐出後における膨張制振要素Ｐ１５の供給開始タイミングを規定する。即ち、この発生期間Ｐｗｈ１２を設計値よりも短く設定すると膨張制振要素Ｐ１５が早めのタイミングで供給され、設計値よりも長く設定すると膨張制振要素Ｐ１５が遅めのタイミングで供給される。
そして、装着された記録へッド１の固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い場合には膨張制振要素Ｐ１５を早めのタイミングで供給し、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には膨張制振要素Ｐ１５を遅めのタイミングで供給する。
この構成により、膨張制振要素Ｐ１５をその記録へッド１に適したタイミングで供給でき、メニスカスＭの振動を効果的に（速やかに）収束させることができる。
【０１５９】
従って、制振ホールド要素Ｐ１４の発生時間Ｐｗｈ１２に関し、測定された固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄに等しい場合には、この発生期間Ｐｗｈ１２も設計値に設定する。そして、測定された固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い場合には、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも短く設定し、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも長く設定する。
【０１６０】
この発生時間Ｐｗｈ１２の設定は、テーブル情報を用いることで行うことができる。例えば、測定された固有振動周期Ｔｃと発生時間Ｐｗｈ１２の関係を示すテーブル情報をプリンタコントローラ４１のＲＯＭ４５や不揮発性の情報記憶部（例えばＥＥＰＲＯＭ，固有情報記憶手段の一種，図示せず）に記憶し、制御部４６によって発生時間Ｐｗｈ１２を取得させる。即ち、制御部４６は、このテーブル情報と情報記憶素子３６の固有情報とに基づき、発生時間Ｐｗｈ１２を設定する。
【０１６１】
この場合において、発生時間Ｐｗｈ１２の変更ステップは、決定された固有振動周期Ｔｃに応じて細かく設定することができる。例えば、発生時間Ｐｗｈ１２の調整代が設計値を中心に±１μｓである場合、変更ステップを設計値よりも短い側に２０ステップ（即ち、０．０５μｓ間隔）及び長い側に２０ステップ（即ち、０．０５μｓ間隔）まで細かく設定できる。従って、その記録へッド１に最適な発生時間Ｐｗｈ１２を高い精度で設定できる。
【０１６２】
また、本実施形態では、制御因子が波形要素（制振ホールド要素Ｐ１４）の発生時間であるので、固有情報に応じて変動する第１補正時間を、調整対象となる波形要素の基準発生時間に加算することで、この波形要素の発生時間を定めることができる。この場合において、プリンタが使用される環境温度に応じて変動する第２補正時間を、波形要素の基準発生時間に加算すると、調整対象となる波形要素の発生時間をより精度良く定めることができる。
【０１６３】
例えば、制御部４６は、次式（６）〜（８）に示す計算式に基づいて発生時間Ｐｗｈ１２を定めることができる。
【０１６４】
Ｐｗｈ１２＝ＢＴ＋ＲＴ１＋ＲＴ２          …  （６）
ＲＴ１＝（Ｔｃ−Ｔｃｓｔｄ）×ａ          …  （７）
ＲＴ２＝ｂ×（ｔ−ｔａ）／（ｔｂ−ｔａ）  …  （８）
なお、上記各式において、Ｐｗｈ１２は制振ホールド要素の発生時間，ＢＴは基準発生時間、ＲＴ１は第１補正時間、ＲＴ２は第２補正時間、Ｔｃは測定された固有振動周期、Ｔｃｓｔｄは標準固有振動周期、ａは第１補正係数、ｂは第２補正係数、ｔは測定温度、ｔａは温度範囲の上限値、ｔｂは温度範囲の下限値である。
【０１６５】
また、ノーマルドット駆動パルス同士の間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３は、制振ホールド要素Ｐ１４の発生時間Ｐｗｈ１２に併せて変更される。これは、記録周期Ｔは一定であるため、単に制振ホールド要素Ｐ１４の発生時間Ｐｗｈ１２を変更しただけでは不都合が生じ得るからである。
【０１６６】
例えば、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも短く設定した場合には、第３ノーマルドット駆動パルスＤＰ３の発生終了時から次記録周期における第１ノーマルドット駆動パルスＤＰ１の発生開始時までの間隔Ｐｄｉｓ１が、他の間隔Ｐｄｉｓ２，Ｐｄｉｓ３よりも長くなる。この間隔の違いによりインク滴の着弾間隔に差が生じ、ベタ記録の場合（塗りつぶしの場合）等において色むらの原因となる。従って、この場合には、発生時間Ｐｗｈ１２が短くなった分だけ間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３を長く設定し、ノーマルドット駆動パルス同士の間隔を揃える。
【０１６７】
一方、発生時間Ｐｗｈ１２を設計値よりも長く設定した場合には、第３ノーマルドット駆動パルスＤＰ３の発生終了時が記録周期Ｔの発生終了時点を越えてしまう。この場合、第３ノーマルドット駆動パルスＤＰ３の膨張制振要素Ｐ１５が途中で切れてしまうことになる。従って、この場合には、発生時間Ｐｗｈ１２が長くなった分だけ間隔Ｐｄｉｓ１〜Ｐｄｉｓ３を短く設定し、ノーマルドット駆動パルス同士の間隔を揃えつつ各ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３を記録周期Ｔ内に収める。
【０１６８】
また、制御部４６（波形設定手段）により、その記録へッド１の固有情報に応じて、膨張ホールド要素Ｐ１２の発生時間Ｐｗｈ１１を変更するようにしてもよい。この場合には、吐出要素Ｐ１３の供給タイミングにおけるメニスカスＭの状態を、固有振動周期Ｔｃの違いに拘わらず揃えることができる。これにより、インク滴の吐出量を揃えることができ、ひいては画質の向上が図れる。
【０１６９】
また、制御部４６（波形設定手段）により、その記録へッド１の固有情報に応じて、第１駆動信号ＣＯＭ１の中間電位ＶＭ（基準電位）を変えてもよい。例えば、固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い記録へッド１では、圧力室１４内のインクの運動エネルギーが、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄの記録へッド１における運動エネルギーよりも大きいと考えられる。反対に、固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い記録へッド１では、圧力室１４内のインクの運動エネルギーが、標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄの記録へッド１における運動エネルギーよりも小さいと考えられる。
【０１７０】
そして、中間電位ＶＭは、膨張要素要素Ｐ１１の電位差、即ち、圧力室１４の膨張しろ（代）を規定する。このため、中間電位ＶＭを設計値よりも低く設定することで圧力室１４の膨張代が増え、圧力室１４内のインクに付与される運動エネルギーをその分だけ高くできる。反対に、中間電位ＶＭを設計値よりも高くすることにより圧力室１４の膨張代が減り、圧力室１４内のインクに付与される運動エネルギーをその分だけ低くできる。
【０１７１】
従って、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも短い記録へッド１については中間電位ＶＭを設計値よりも高く設定し、固有振動周期Ｔｃが設計値よりも長い記録へッド１については中間電位ＶＭを設計値よりも低く設定することにより、固有振動周期Ｔｃに応じてばらつくインクの運動エネルギーを均一化でき、インク滴の吐出特性を揃えることができる。
【０１７２】
次に、図２５に例示した第２駆動信号ＣＯＭ２について説明する。この第２駆動信号ＣＯＭ２は、メニスカスＭを微振動させる微振動パルスＶＰ１と、この微振動パルスＶＰ１の後に発生され、マイクロドットを形成し得る極く少量のインク滴をノズル開口１３から吐出させるマイクロドット駆動パルスＤＰ４と、ミドルドットを形成し得る少量のインク滴をノズル開口１３から吐出させるミドルドット駆動パルスＤＰ５とを含み、これらの各パルスＶＰ１，ＤＰ４，ＤＰ５を印刷周期Ｔ毎に繰り返し発生する。
【０１７３】
この第２駆動信号ＣＯＭ２では、インク滴を吐出させない場合に微振動パルスＶＰ１のみを選択して圧電振動子２に供給し、ドットパターンデータがマイクロドットのデータであった場合にマイクロドット駆動パルスＤＰ４のみを圧電振動子２に供給する。また、ミドルドットのデータであった場合にミドルドット駆動パルスＤＰ５のみを圧電振動子２に供給し、ラージドットのデータであった場合にマイクロドット駆動パルスＤＰ４とミドルドット駆動パルスＤＰ５とを圧電振動子２に供給する。
【０１７４】
なお、この第２駆動信号ＣＯＭ２における各インク滴のインク量は、対応する第１駆動信号ＣＯＭ１のインク滴のインク量よりも少ない。即ち、マイクロドット駆動パルスＤＰ４の供給によって吐出されるインク量は、第２ノーマルドット駆動パルスＤＰ２の供給によって吐出されるインク量よりも少ない。そして、ミドルドット駆動パルスＤＰ５の供給によって吐出されるインク量は、２つのノーマルドット駆動パルスＤＰ１，ＤＰ３によって吐出される合計のインク量よりも少ない。さらに、マイクロドット駆動パルスＤＰ４及びミドルドット駆動パルスＤＰ５の供給によって吐出される合計のインク量は、３つのノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３の供給によって吐出される合計のインク量よりも少ない。
【０１７５】
上記の微振動パルスＶＰ１は、最低電位ＶＧから微振動膨張電位ＶＥまで、インク滴を吐出させない程度の比較的緩やかな電位勾配で電位を上昇させる微振動膨張要素Ｐ２１と、微振動膨張要素Ｐ２１に続いて発生されて微振動膨張電位ＶＥを所定時間維持する微振動ホールド要素Ｐ２２と、微振動ホールド要素Ｐ２２に続いて発生されて微振動膨張電位ＶＥから最低電位ＶＧまで比較的緩やかな電位勾配で電位を下降させる微振動収縮要素Ｐ２３とから構成される。そして、この微振動パルスＶＰ１が圧電振動子２に供給されると、インク滴が吐出されない程度の圧力変動が圧力室１４内のインクに生じ、メニスカスＭが微振動する。これにより、ノズル開口１３付近のインク増粘が防止される。
【０１７６】
マイクロドット駆動パルスＤＰ４は、最低電位ＶＧから最大電位ＶＰまで比較的急峻な勾配で電位を上昇させる引き込み要素Ｐ２４と、引き込み要素Ｐ２４に続いて発生されて最大電位ＶＰを極く短時間維持する引き込みホールド要素Ｐ２５と、最大電位ＶＰから吐出電位ＶＦまで比較的急峻な勾配で電位を下降させる吐出要素Ｐ２６と、吐出電位ＶＦを極く短い時間維持する吐出ホールド要素Ｐ２７と、吐出電位ＶＦから最低電位ＶＧまで比較的緩やかな電位勾配で電位を下降させる収縮制振要素Ｐ２８とから構成される。そして、このマイクロドット駆動パルスＤＰ４が圧電振動子２２に供給されると、上記したように極く少量のインク滴が吐出される。
【０１７７】
ミドルドット駆動パルスＤＰ５は、インク滴を吐出する吐出パルスＰ１とこの吐出パルスＰ１の後に発生されてインク滴吐出後におけるメニスカスＭの振動を抑制する制振パルスＰ２とを備える。
【０１７８】
吐出パルスＰ１は、最低電位ＶＧから第２最大電位ＶＰ´までインク滴を吐出させない程度の勾配で電位を上昇させる充填要素Ｐ２９と、充填要素Ｐ２９に続いて発生されて第２最大電位ＶＰ´を所定時間維持する充填ホールド要素Ｐ３０と、第２最大電位ＶＰ´から最低電位ＶＧまで比較的急峻な勾配で電位を下降させる吐出要素Ｐ３１とから構成される。なお、第２最大電位ＶＰ´は、最大電位ＶＰよりも低く吐出電位ＶＦよりも高い電位に設定される。
制振パルスＰ２は、最低電位ＶＧから制振電位ＶＤまで、インク滴を吐出させない程度の比較的緩やかな電位勾配で電位を上昇させる膨張制振要素Ｐ３２と、膨張制振要素Ｐ３２に続いて発生されて制振電位ＶＤを所定時間維持する制振ホールド要素Ｐ３３と、制振ホールド要素Ｐ３３に続いて発生されて制振電位ＶＤから最低電位ＶＧまで比較的緩やかな電位勾配で電位を下降させる収縮復帰要素Ｐ３４とから構成される。
そして、このミドルドット駆動パルスＤＰ５では、これらの吐出パルスＰ１と制振パルスＰ２との間を定電位のパルス接続要素Ｐ３５で接続している。
【０１７９】
このミドルドット駆動パルスＤＰ５が圧電振動子２に供給されると、上記したように少量のインク滴が吐出される。そして、このミドルドット駆動パルスＤＰ５では、吐出パルスＰ１の供給によってノズル開口１３からインク滴が吐出され、制振パルスＰ２の供給によってインク滴吐出直後における圧力室１４内のインクの圧力変動が吸収される。
【０１８０】
そして、制御部４６（波形形状設定手段）は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この例では、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２、及び、パルス接続要素Ｐ３５の発生時間Ｐｗｈｍ２を変更する。
【０１８１】
まず、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２について説明する。この発生時間Ｐｗｄμ２は収縮制振要素Ｐ２８による圧力室１４の収縮速度を規定する。従って、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短くすると圧力室１４の収縮速度が設計値よりも速くなり、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも長くすると圧力室１４の収縮速度が設計値よりも遅くなる。
【０１８２】
そして、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２に関し、固有情報が示す固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄであった場合には、この発生時間Ｐｗｄμ２も設計値に設定する。そして、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い場合には、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短く設定する。一方、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも長く設定する。このようにすると、収縮制振要素Ｐ２８を固有振動周期Ｔｃに応じて最適化でき、この固有振動周期Ｔｃに応じて変化するインク滴吐出後のインクの運動エネルギーを効率良く吸収できる。
【０１８３】
なお、この収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２の変更は、上記した第１駆動信号ＣＯＭ１と同様にして行うことができる。例えば、固有振動周期Ｔｃと発生時間Ｐｗｄμ２の関係を規定するテーブル情報を用意し、このテーブル情報を制御部４６に参照させることで発生時間Ｐｗｄμ２を定めることができる。
この場合において、制御因子は波形要素の発生時間であるので、基準発生時間に第１補正時間と第２補正時間を加算することで発生時間Ｐｗｄμ２を定めてもよい。
【０１８４】
また、この収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２を設計値から変えた場合には、併せて、マイクロドット駆動パルスＤＰ４の終端とミドルドット駆動パルスＤＰ５（吐出パルスＰ１）の始端とを最低電位ＶＧで接続する定電位要素Ｐ３６の発生時間Ｐｗｈμ３も変更する。即ち、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも短く設定した場合には定電位要素Ｐ３６の発生時間をＰｗｈμ３をその分長く設定し、発生時間Ｐｗｄμ２を設計値よりも長く設定した場合には定電位要素Ｐ３６の発生時間をＰｗｈμ３をその分短く設定する。
これにより、マイクロドット駆動パルスＤＰ４の終端とミドルドット駆動パルスＤＰ５の間隔、詳しくは、吐出要素Ｐ２６と吐出要素Ｐ３１の間隔を一定にすることができ、インク滴の着弾位置のばらつきを防止できる。
【０１８５】
次に、パルス接続要素Ｐ３５の発生時間Ｐｗｈｍ２について説明する。この発生時間Ｐｗｈｍ２は、ミドルドット駆動パルスＤＰ５における膨張制振要素Ｐ３２の供給開始タイミングを規定する。即ち、上記したノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３における制振ホールド要素Ｐ１４と同様な機能を有する。
従って、この発生時間Ｐｗｈｍ２に関し、固有情報が示す固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄであった場合には、この発生時間Ｐｗｈｍ２も設計値に設定する。そして、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも短い場合には、Ｐｗｈｍ２を設計値よりも短く設定する。一方、この固有振動周期Ｔｃが標準固有振動周期Ｔｃｓｔｄよりも長い場合には、Ｐｗｈｍ２を設計値よりも長く設定する。
その結果、膨張制振要素Ｐ３２をその記録へッド１に適したタイミングで供給でき、メニスカスＭの振動を効果的に収束させることができる。
【０１８６】
次に、図２６に例示した第３駆動信号ＣＯＭ３について説明する。この第３駆動信号ＣＯＭ３は、上記の第２駆動信号ＣＯＭ２と同じく、微振動パルスＶＰ１（Ｐ２１〜Ｐ２３）、マイクロドット駆動パルスＤＰ４（Ｐ２４〜Ｐ２８）、ミドルドット駆動パルスＤＰ５（Ｐ２９〜Ｐ３５）とを含み、これらの各パルスＶＰ１，ＤＰ４，ＤＰ５を印刷周期Ｔ毎に繰り返し発生する。これらの各パルスは、各波形要素の電位差や時間幅に多少の相違があるものの上記した第２駆動信号ＣＯＭ２の各パルスと同等なものであるので、その詳細な説明は省略する。
【０１８７】
この第３駆動信号ＣＯＭ３では、記録へッド１の往路走査時と復路走査時とでこれらの駆動パルスの発生順序を入れ替えている。即ち、記録へッド１の往路走査時において駆動信号発生回路４８は、（ａ）に示すように、印刷周期の開始時からミドルドット駆動パルスＤＰ５を発生し、次にマイクロドット駆動パルスＤＰ４を発生し、最後に微振動パルスＶＰ１を発生する。一方、記録へッド１の復路走査時において駆動信号発生回路４８は、（ｂ）に示すように、印刷周期の開始時からマイクロドット駆動パルスＤＰ４を発生し、次に微振動パルスＶＰ１を発生し、最後にミドルドット駆動パルスＤＰ５を発生する。
【０１８８】
そして、制御部４６（波形形状設定手段）は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この例では、上記した第２駆動信号ＣＯＭ２と同様に、収縮制振要素Ｐ２８の発生時間Ｐｗｄμ２、パルス接続要素Ｐ３５の発生時間Ｐｗｈｍ２を変更する。
【０１８９】
なお、固有情報（測定された固有振動周期Ｔｃ）に基づく駆動パルスの適正化は、上記した各駆動パルスに限定されるものではない。即ち、種々の駆動パルスについて適正化することができる。例えば、図２７に示すマイクロドット駆動パルスＤＰ６についても固有情報に基づく適正化が行える。
【０１９０】
このマイクロドット駆動パルスＤＰ６は、最低電位ＶＧから第１最大電位ＶＰ１までインク滴を吐出させない程度の勾配で電位を可及的に上昇させる引き込み要素Ｐ４１と、第１最大電位ＶＰ１を極く短時間保持する引き込みホールド要素Ｐ４２と、第１最大電位ＶＰ１から吐出電位ＶＦまで可及的急勾配で電位を下降させる吐出要素Ｐ４３と、吐出電位ＶＦを極く短時間維持する第１吐出ホールド要素Ｐ４４と、吐出電位ＶＦから第２最大電位ＶＰ２まで可及的急勾配で電位を上昇させる吐出引き込み要素Ｐ４５と、第２最大電位を極く短時間維持する第１制振ホールド要素Ｐ４６と、第２最大電位から制振電位ＶＢまで一定勾配で電位を下降させる第１制振要素Ｐ４７と、制振電位ＶＢを所定時間維持する第２制振ホールド要素Ｐ４８と、制振電位ＶＢから最低電位ＶＧまで一定勾配で電位を下降させる第２制振要素Ｐ４９とから構成されている。
【０１９１】
このマイクロドット駆動パルスＤＰ６が圧電振動子２に供給されると、ノズル開口１３からはマイクロドットに対応する極く少量のインク滴が吐出される。なお、このマイクロドット駆動パルスＤＰ６の供給によって吐出されるインク滴の量は、上記したマイクロドット駆動パルスＤＰ４のの供給によって吐出されるインク滴の量よりも少ない。
【０１９２】
そして、制御部４６（波形形状設定手段）は、その記録へッド１の固有情報に応じて駆動信号発生回路４８（駆動信号発生手段）を制御し、メニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素の制御因子を定める。この例では、第１制振ホールド要素Ｐ４６の発生時間Ｐｗｈ３を変更して適正化する。この適正化により、インク滴吐出直後におけるメニスカスＭの振動を速やかに収束させることができ、高周波駆動を行った場合に、インク滴の吐出量や飛行速度等を安定化することができる。
【０１９３】
以上説明したように、上記各実施形態において、制御部４６は、固有情報に基づいて駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ６を構成する波形要素（例えば、制振ホールド要素Ｐ１４，吐出ホールド要素Ｐ２７）の制御因子（例えば、発生時間）を変更する。そして、この固有情報は、インク量比（ＩｗＳ／ＩｗＬ）に基づいて取得されているので、その記録へッド１の固有振動周期Ｔｃを高い精度で表している。従って、圧力室１４内のインクの固有振動周期Ｔｃが個々の記録へッド１同士の間でばらついたとしても、その記録へッド１に適した波形形状の駆動信号ＣＯＭで駆動することができる。その結果、製造段階における固有振動周期Ｔｃのばらつきを補正でき、各記録へッド１におけるインク滴の吐出特性を揃えることができる。
【０１９４】
ところで、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて種々の変更が可能である。
【０１９５】
まず、固有情報に応じて変更される波形要素に関し、上記実施形態では、インク滴吐出後におけるメニスカスＭの振動抑制に係わる波形要素として、制振ホールド要素Ｐ１４、収縮制振要素Ｐ２８、パルス接続要素Ｐ３５などを例に挙げて説明したが、他の波形要素を変更してもよい。例えば、インク滴の飛行特性に影響を及ぼす波形要素、例えば、ノーマルドット駆動パルスＤＰ１〜ＤＰ３の膨張要素Ｐ１１や、ミドルドット駆動パルスＤＰ５の充填ホールド要素Ｐ３０を変更してもよい。
【０１９６】
また、上記の固有情報に代えて、インク量比を表すインク量比情報（本発明の波形設定情報の一種）を記録へッド１に付与してもよい。そして、制御部４６は、情報記憶素子３６に記憶される等したインク量比情報に基づき、駆動パルスに対する波形変更を同様に行う。
【０１９７】
また、圧力発生素子は、圧電振動子２に限られるものではなく、他の素子を用いてもよい。例えば、発熱素子を用いてもよい。また、磁歪素子や静電アクチュエータ等の電気機械変換素子も用いることができる。
【０１９８】
また、上記実施形態では、固有振動周期Ｔｃ（インク量比）を記録へッド１の全体で測定していたが、これをノズル列毎に測定するようにしてもよい。この場合には、各ノズル列毎に固有振動周期Ｔｃが付与されるので、きめ細かな制御が実現できる。
【０１９９】
また、以上は、液体噴射装置の一種であるインクジェット式プリンタを例に挙げて説明したが、本発明は他の液体噴射装置にも適用することができる。例えば、液晶ディスプレー等のカラーフィルタを製造するディスプレー製造装置，有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレーやＦＥＤ（面発光ディスプレー）等の電極を形成する電極製造装置，バイオチップ（生物化学素子）を製造するチップ製造装置，極く少量の試料溶液を正確な量供給するマイクロピペットにも適用することができる。
そして、ディスプレー製造装置では、色材噴射ヘッドからＲ（Red）・Ｇ（Green）・Ｂ（Blue）の各色材の溶液を吐出する。また、電極製造装置では、電極材噴射ヘッドから液状の電極材料を吐出する。チップ製造装置では、生体有機物噴射ヘッドから生体有機物の溶液を吐出する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  記録ヘッドの構造を説明する断面図である。
【図２】  流路ユニットの構造を説明する要部拡大断面図である。
【図３】  固有振動周期測定装置を説明するブロック図である。
【図４】  評価パルス発生回路から発生される評価パルスの説明図である。
【図５】  評価パルスの供給周期とインク量の関係を説明する図である。
【図６】  （ａ）は、励振要素を供給した際における圧力室の圧力変動及びメニスカスの位置を説明する図、（ｂ）〜（ｄ）は、励振要素を供給した際におけるメニスカスの位置を説明する図である。
【図７】  メニスカスの位置とインク量の関係を説明する図である。
【図８】  固有振動周期が相違する複数の記録ヘッドに関する圧力室の圧力変動、メニスカスの位置、インク量の関係を説明する図である。
【図９】  励振要素の電位差を変えた場合における発生時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明する図である。
【図１０】  第１評価パルス及び第２評価パルスの設定を説明する図である。
【図１１】  複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を２つの一次式で近似した例である。
【図１２】  複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を３つの一次式で近似した例である。
【図１３】  固有情報を付与する情報付与媒体を説明する図であり、（ａ）は粘着シールによる態様を示し、（ｂ）は情報記憶素子による態様を示す。
【図１４】  図８におけるＸ部を拡大した図である。
【図１５】  複数の記録へッドについて固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係を示した図であり、相関関係を一次式で近似した例である。
【図１６】  固有振動周期の相違に伴うインク量の違いを説明する図であり、増加時間範囲を拡大して示した図である。
【図１７】  固有振動周期の相違に伴うインク量の違いを説明する図であり、減少時間範囲を拡大して示した図である。
【図１８】  比較例を説明する図であり、ボトム範囲における固有振動周期毎のインク量の違いを説明する図である。
【図１９】  比較例における固有振動周期Ｔｃとインク量比の関係を示した図である。
【図２０】  ３種類の一次式を用いて固有振動周期Ｔｃとインク量比の相関関係を近似した例である。
【図２１】  測定環境の温度（インク粘度）が変化した場合における発生時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明する図である。
【図２２】  ノズル開口の径が変化した場合における発生時間Ｐｗｈ１とインク量の関係を説明する図である。
【図２３】  プリンタの構成を説明するブロック図である。
【図２４】  駆動信号発生回路から発生される第１駆動信号を説明する図である。
【図２５】  駆動信号発生回路から発生される第２駆動信号を説明する図である。
【図２６】  （ａ），（ｂ）は、駆動信号発生回路から発生される第３駆動信号を説明する図である。
【図２７】  マイクロドット駆動パルスの他の例を説明する図である。
【符号の説明】
１…インクジェット式記録ヘッド，２…圧電振動子，３…固定板，４…フレキシブルケーブル，５…振動子ユニット，６…ケース，７…流路ユニット，８…収納空部，９…島部，１０…流路形成基板，１１…ノズルプレート，１２…弾性板，１３…ノズル開口，１４…圧力室，１５…インク供給口，１６…共通インク室，１７…ノズル連通口，１８…支持板，１９…弾性体膜，２０…ダイヤフラム部，２１…コンプライアンス部，２２…弾性部，３１…評価パルス発生回路，３２…電子天秤，３３…固有振動周期測定装置の制御部，３５…粘着シール，３６…情報記憶素子，３７，３８…サーミスタ，４１…プリンタコントローラ，４２…プリントエンジン，４３…インターフェース，４４…ＲＡＭ，４５…ＲＯＭ，４６…制御部，４７…発振回路，４８…駆動信号発生回路，４９…インターフェース，５１…キャリッジ機構，５２…紙送り機構，５３…シフトレジスタ，５４…ラッチ回路，５５…レベルシフタ，５６…スイッチ回路，６１…情報読取装置，６２…情報入力装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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