(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定手段と、
前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定手段と、
仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、前記繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出手段と、
前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出手段と、
前記両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定手段と、
を備えたセパレータの抵抗関連値推定装置。
【請求項２】
入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出手段を備え、
前記繊維位置設定手段は、前記繊維本数算出手段の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定することを特徴とする請求項１に記載のセパレータの抵抗関連値推定装置。
【請求項３】
前記再設定手段にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定手段と、
重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換手段と、
を備えて
前記電位算出手段は、この書換手段にて繊維位置が書き換えられた後の繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のセパレータの抵抗関連値推定装置。
【請求項４】
前記書換手段の書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載のセパレータの抵抗関連値推定装置。
【請求項５】
仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定工程と、
前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定工程と、
仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出工程と、
前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出工程と、
前記両抵抗の関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定工程と、
を備えたセパレータの抵抗関連値推定方法。
【請求項６】
前記繊維位置設定工程の前に、
入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出工程を備え、
前記繊維位置設定工程は、前記繊維本数算出工程の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定することを特徴とする請求項５に記載のセパレータの抵抗関連値推定方法。
【請求項７】
前記再設定工程にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定工程と、
重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換工程と、
を備え、
前記電位算出工程は、この書換工程にて繊維位置が書き換えられた後の繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算することを特徴とする請求項５又は請求項６に記載のセパレータの抵抗関連値推定方法。
【請求項８】
前記書換工程による書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外工程を備えたことを特徴とする請求項７に記載のセパレータの抵抗関連値推定方法。
【請求項９】
コンピュータに、
仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定手段と、
前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定手段と、
仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、前記繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出手段と、
前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出手段と、
前記両抵抗の関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定手段
として機能させるためのセパレータの抵抗関連値推定プログラム。
【請求項１０】
コンピュータに、
入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出手段として機能させ、
前記繊維位置設定手段として、前記繊維本数算出手段の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定するように
機能させることを特徴とする請求項９に記載のセパレータの抵抗関連値推定プログラム。
【請求項１１】
コンピュータに、
前記再設定手段にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定手段と、
重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換手段
として機能させることを特徴とする請求項９又は請求項１０に記載のセパレータの抵抗関連値推定プログラム。
【請求項１２】
コンピュータに、
前記書換手段の書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外手段
として機能させることを特徴とする請求項１１に記載のセパレータの抵抗関連値推定プログラム。
【請求項１３】
前記請求項９に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項１４】
請求項１０に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項１５】
請求項１１に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項１６】
前記請求項１２に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、アルミ電界コンデンサ等に使用されるセパレータのようなセパレータの抵抗関連値推定方法及び装置並びにそのプログラム、同プログラムを記録した記録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
アルミ電界コンデンサでは、互いに対向配置した両電極間の短絡を防止し、電解液を保持するための隔離紙（セパレータ）が使用されている。このセパレータは電界液を含浸した状態で、低抵抗であることが望ましい。
【０００３】
従来、セパレータの密度や透気度は電気的抵抗（以下、抵抗という）に大きな影響を与える要因であることが指摘されている。しかし、セパレータの密度や透気度で一義的に抵抗値が決まる訳ではなく、同じ密度、同じ透気度でも抵抗値は相当ばらつくことが知られている。すなわち、電流はセパレータを構成している繊維の隙間に入った電解液を通って流れるため、繊維が占める割合やその配列状態が抵抗値に影響を与える。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来は、低抵抗のセパレータを開発する場合、実際にセパレータを製造し、その抵抗を計測する必要があった。
【０００５】
また、セパレータの抵抗を推定するためのシミュレーション装置や、その推定方法、及びその推定を実行するためのプログラムや、プログラムを記録した記録媒体は提案されておらず、セパレータの開発上、セパレータを製造することなく、セパレータの抵抗を推定することが大いに要望されている。
【０００６】
本発明の目的は、セパレータを実際に製造することなく、セパレータの抵抗に関連する値を推定することができるセパレータの抵抗関連値推定方法及びその装置、並びにそのプログラム及び同プログラムを記録した記録媒体を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、この請求項１の発明は、仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定手段と、前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定手段と、仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、前記繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出手段と、前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出手段と、前記両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定手段と、を備えたセパレータの抵抗関連値推定装置を要旨とするものである。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１において、入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出手段を備え、前記繊維位置設定手段は、前記繊維本数算出手段の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定することを特徴とする。
【０００９】
請求項３の発明は、請求項１又は請求項２において、前記再設定手段にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定手段と、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維が所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換手段とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項４の発明は、請求項３において、前記書換手段の書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外手段を備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項５の発明は、仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定工程と、前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定工程と、仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出工程と、前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出工程と、前記両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定工程と、を備えたセパレータの抵抗関連値推定方法を要旨とするものである。
【００１２】
請求項６の発明は、請求項５において、前記繊維位置設定工程の前に、入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出工程を備え、前記繊維位置設定工程は、前記繊維本数算出工程の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定することを特徴とする。
【００１３】
請求項７の発明は、請求項５又は請求項６において、前記再設定工程にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定工程と、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換工程と、を備え、
前記電位算出工程は、この書換工程にて繊維位置が書き換えられた後の繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算することを特徴とする。
【００１４】
請求項８の発明は、請求項７において、前記書換工程による書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外工程を備えたことを特徴とする。
【００１５】
請求項９の発明は、コンピュータに、
仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置と厚み方向と直交する方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定手段と、前記設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定手段と、仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点のうち、前記繊維内に存在しない各メッシュ点の電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出手段と、前記算出された各メッシュ点の電位に基づいて、厚み方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗に関連する値を算出する抵抗関連値算出手段と、前記両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定手段として機能させるためのセパレータの抵抗関連値推定プログラムを要旨とするものである。
【００１６】
請求項１０の発明は、請求項９において、コンピュータに、
入力された気孔率、繊維径に基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出手段として機能させ、前記繊維位置設定手段として、前記繊維本数算出手段の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定するように機能させることを特徴とする。
【００１７】
請求項１１の発明は、請求項９又は請求項１０において、コンピュータに、
前記再設定手段にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定手段と、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換手段として機能させることを特徴とする。
【００１８】
請求項１２の発明は、請求項１１において、コンピュータに、
前記書換手段の書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外手段として機能させることを特徴とする。
【００１９】
請求項１３の発明は、前記請求項９に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体を要旨とするものである。
請求項１４の発明は、請求項１０に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体を要旨とするものである。
【００２０】
請求項１５の発明は、請求項１１に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体を要旨とするものである。
請求項１６の発明は、前記請求項１２に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体を要旨とするものである。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のセパレータの抵抗関連値推定装置及び抵抗関連値推定方法及びプログラムを具体化した一実施形態について図１〜図１５を参照して説明する。
【００２２】
セパレータの抵抗関連値推定装置１は、コンピュータ２、キー入力が可能なキーボード３、表示装置４、及び外部記憶装置５を備えている。コンピュータ２は、ＣＰＵ１０を備え、ＲＯＭ１１に記憶したセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムを実行する。ＲＯＭ１１は前記ＣＰＵ１０が実行する制御プログラムやデータを格納する。ＲＡＭ１３はＣＰＵ１０が各種制御を実行する際に作業領域となるメモリ空間となる。外部記憶装置５はハードディスク等からなっている。
【００２３】
キーボード３はＣＰＵ１０に対して、各種のデータ入力を行う。表示装置４は、ＣＰＵ１０の制御により、各種の表示を行う。
前記コンピュータ２は、繊維位置設定手段、再設定手段、電位算出手段、抵抗関連値算出手段、繊維本数算出手段、重なり判定手段、書換手段、及び除外手段に相当する。
【００２４】
次に、本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムを図６に示したフローチャートを参照して説明する。
（Ｓ１０）
シミュレートするセパレータの気孔率ｐｒ、及び繊維径ｄｆを格納している外部記憶装置５から読み出す。なお、これらのデータは、予めキーボード３により入力され、外部記憶装置５に格納される。なお、キーボード３により直接入力してＳ１０でそのデータを使用してもよい。又、本プログラムで仮想している繊維は、円柱状のものとし、横断面円形を有している。
【００２５】
（Ｓ２０）
このステップは繊維本数の算出処理である。すなわち、繊維本数ＮＦを下記（１）式に基づいて演算する。
【００２６】
【数１】
0003629463.tif 000002
なお、ＮＸは、仮想セパレータの断面構造において、ｘ方向に並んだメッシュ点の数をいい、仮想セパレータの面方向の長さに相当する。ＮＹは仮想セパレータの横断面構造において、ｙ方向（ｘ方向に直交する）に並んだメッシュ点の数であり、仮想セパレータの厚み方向の長さに相当する。ｘ方向は、図２に示すように、繊維が延びる方向（セパレータの長さ方向と一致、図２で示した断面に直交する方向）とは直交する方向である。
【００２７】
メッシュ点ａとは、図２に示すようにｘ方向（面方向），ｙ方向（厚み方向）において、それぞれ等間隔に配置された点をいう。図２においては、一部のメッシュ点ａのみを図示している。なお、メッシュ点ａは仮想セパレータの外形線（境界線）上にも配置されている。
【００２８】
（Ｓ３０）
このステップでは、繊維位置設定のための演算を行う。この演算により、Ｓ２０で算出された繊維本数ＮＦ分の個々の繊維の位置設定が行われる。
【００２９】
１．まず、最初は、図７のＳ３１に示すように各繊維のｅｆ値（削除対象識別フラグ）をすべて「１」に設定する。なお、このｅｆ値は、後の処理において、繊維が削除対象とするか否かの判定に使用され、ｅｆ値が「０」となると、削除対象となる。なお、図１１は、繊維番号、ｘ方向位置、ｙ方向位置、ｅｆ値の関係を示す説明図である。
【００３０】
２．次に、各（ｉ番目の）繊維のｘ方向位置（ｘｆ値）を乱数を使用した下記の式を使用して設定する（図７のＳ３２参照）。この式には繊維が計算領域（図２で示す仮想セパレータの断面で示した部分）からはみ出さないように補正する項（ｄｆ／２）が含まれている。なお、ｄｆは繊維径（直径）であり、式中ｒａｎｄｏｍは乱数発生関数である。ｘ方向位置は、ｙ方向位置に対し直交する方向位置に相当する。繊維のｘ方向位置、ｙ方向位置は、二次元の繊維位置に相当する。
【００３１】
【数２】
0003629463.tif 000003
３．さらに、各（ｉ番目の）繊維のｙ方向位置（ｙｆ値）を乱数を使用した下記の式を使用して設定する（図７のＳ３３参照）。この式には繊維が計算領域からはみ出さないように補正する項（ｄｆ／２）が含まれている。
【００３２】
【数３】
0003629463.tif 000004
４．次にｙ方向に密度の偏りを作るため、ｙ方向の位置を下記式で補正する（図７のＳ３４参照）。
【００３３】
【数４】
0003629463.tif 000005
上記（４）式中、ｃｄはｙ方向密度分布係数であり、指数である。ｃｄ＝１の場合、ｙ方向の繊維の密度が等密度分布となる。ｃｄ＞１の場合、仮想セパレータ上部が高密度、下部が低密度となる繊維配置が得られる。又、ｃｄ＜１の場合、仮想セパレータの上部が低密度、下部が高密度の繊維配置が得られる。本実施形態では、ｃｄ＞１で算出する。
【００３４】
なお、ｙ方向密度分布係数ｃｄは、格納している外部記憶装置５から読み出す。このデータは、予めキーボード３により入力され、外部記憶装置５に格納されている。
【００３５】
このとき、各繊維に対して、ｘ方向位置、及びｙ方向位置の順に繊維番号ｋを付与する。
（Ｓ４０）
このステップでは、ソート処理を行う。
【００３６】
ソート処理は、繊維番号「０」から「ＮＦ−１」まで順番に、未整列区間「ＮＦ−１」〜「ｉ」で最小のｘ方向位置（ｘｆ値）をｉ番目に持ってくる。すなわち、隣り合う２つの数値（ｘｆ値同士）を比較し、小さい値が図２で示す仮想セパレータの断面で示した部分において、大きい値よりも左に位置するように入れ替える。このとき、大きい値と小さい値とを入れ替えるとともに、繊維番号を互いに入れ替える処理をする。
【００３７】
図１２は、繊維番号、ｘ方向位置、ｙ方向位置、ｅｆ値の関係を示し、前記入れ替え処理の概念を示す説明図である。
（Ｓ５０）
このステップでは、メッシュ点に対する繊維関連番号付与処理を行う。
【００３８】
図９は繊維関連番号付与処理ルーチンのフローチャートである。
具体的には、
１．  Ｓ５１において、まず、計算領域全てのメッシュ点ａのｆＮ値（＝ｆＮ［ｉ］［ｊ］：以下、繊維関連番号という）を「−１」に設定する。なお、前記ｆＮ値のｉ，ｊは、それぞれメッシュ点に係るｘｙ座標のｘ方向位置、ｙ方向位置を示し、整数である。
【００３９】
ｆＮ（ｉ）（ｊ）＝−１
２．  次に、繊維番号ｋ順に下記の処理を実行する。
Ｓ５２において、着目している繊維番号の繊維に関する重なり判定フラグｃｆを０に設定する。この重なり判定フラグｃｆが０のときは、重なりがないと判定し、１の場合は重なりがあると判定するためのものである。
【００４０】
次にＳ５３において、着目している繊維番号ｋの繊維について、他の繊維との重なりの判定条件を満たすか否かを判定する。本実施形態では、判定条件は、第１条件及び第２条件があり、ともにこの条件を満足するか否かを判定する。
【００４１】
第１の条件は、下記式（５）を満たすか否かである。
（ｉ−ｘｆ（ｋ））２＋（ｊ−ｙｆ（ｋ））２＜  （ｄｆ／２）２    …（５）
図８は上記（５）式の説明図である。
【００４２】
同図に示すようメッシュ点ａのｘｙ座標は（ｉ，ｊ）、着目している繊維ｋの中心点Ｏのｘｙ座標は（ｘｆ（ｋ），ｙｆ（ｋ））で表すことができる。
両点間の距離Ｃが、着目している繊維ｋの繊維半径（ｄｆ／２）よりも小さければ、すなわち、
Ｃ＜ｄｆ／２    …（６）
であれば、メッシュ点ａは、繊維ｋ内の領域（以下、繊維領域という）に属しないと判定できる。
【００４３】
ここで、
Ｃ２＝Ａ２＋Ｂ２  …（７）
で表すことができる。
【００４４】
なお、Ａ＝ｉ−ｘｆ（ｋ）    …（８）
Ｂ＝ｊ−ｙｆ（ｋ）    …（９）
である。上記式（６）〜（９）式より、式（５）が導き出される。
【００４５】
第２の条件は、下記の通りである。
ｆＮ（ｉ）（ｊ）≠１        …（１０）
すなわち、上記対象となっているメッシュ点ａのｆＮ（ｉ）（ｊ）が−１でないときは、ｆＮ（ｉ）（ｊ）が−１以外の繊維関連番号が付与されていて、すでに他の繊維領域内にあることを意味している。
【００４６】
この第１、第２の条件をともに満足しているとき、繊維の重なりありとして、Ｓ５４に移行する。そうでない場合、すなわち、重なりがない場合には、Ｓ５７に移行する。
【００４７】
Ｓ５４においては、重なり判定フラグｃｆを１にセットする。
Ｓ５５では、重なり判定フラグｃｆ＝１がセットされた繊維（当該着目されている繊維ｋ）が他の繊維との重なりがあるため、当該繊維ｋの位置をずらす処理、すなわち、重なり解消処理を行う。
【００４８】
この処理は、当該繊維ｋのｘ方向位置を、変更する処理であり、下記の式（１１）を使用する処理である。
当該繊維ｋの中心点Ｏのｘ方向位置ｘｆ（ｋ）を次式（１１）を使用して補正する。
【００４９】
ｘｆ（ｋ）＝ｘｆ（ｋ）＋ｇ      …（１１）
なお、（１１）式中、右辺のｘｆ（ｋ）は、補正前の当該繊維ｋの中心点Ｏのｘ方向位置を表し、左辺のｘｆ（ｋ）は補正後のｘ方向位置を表す。
す。ｇは繊維間隙間の長さであり、下記（１２）式で表される。
【００５０】
ｇ＝Ｌ−ｄｆ        …（１２）
Ｌは、図３に示すように、繊維が均等に分布している場合の平均的な隣接繊維中心間距離Ｌである。同図に示すように、互いに隣接する繊維の中心点Ｏを結ぶと正三角形となり、Ｌはその正三角形の１辺の長さとなる。このことから、上記（１２）式が導き出される。
【００５１】
又、気孔率ｐｒは下記（１３）式で表される。
ｐｒ＝１−  π＊ｄｆ２／（２＊３１／２＊Ｌ２）    …（１３）
（１３）式から、Ｌは下記のようになる。
【００５２】
【数５】
0003629463.tif 000006
（１２）式、及び（１４）式とより、
【００５３】
【数６】
0003629463.tif 000007
この結果、前記（１１）式は、下記（１６）式となり、この式にて当該繊維ｋのｘ方向位置を演算する。
【００５４】
【数７】
0003629463.tif 000008
Ｓ５６では、ずらした結果、計算領域外となった場合には、該当する繊維のｅｆ値（削除対象識別フラグ）を「０」に設定し、当該繊維番号ｋの繊維を排除し、ＲＡＭ１３に記録する。
【００５５】
この後、Ｓ５２にジャンプする。このジャンプにより、再度、繊維の重なりありの判定をＳ５３で行うようにする。
Ｓ５７では、着目している当該繊維番号ｋの繊維に他の繊維との重なりがない場合であって、前記排除されていない繊維番号ｋの繊維、すなわち、ｅｆ値（削除対象識別フラグ）が「１」の繊維に対しては、当該繊維内に位置する全メッシュ点ａに対してｆＮ［ｉ］［ｊ］＝ｋ番の繊維関連番号を付与する。
【００５６】
なお、当該繊維内に位置するメッシュ点ａの判別は、計算領域内の全てのメッシュ点ａについて、前記Ｓ５３の第１条件と同様の判別で行う。
そして、上記と異なり繊維関連番号が付与されなかったメッシュ点は、
ｆＮ［ｉ］［ｊ］＝−１
のままである。
【００５７】
Ｓ５８では、次の着目する繊維があるか否かを判定し、ある場合には、Ｓ５２にジャンプする。
Ｓ５８で、次の着目する繊維がなければ、Ｓ５０の処理を終了する。
【００５８】
（Ｓ６０）
このステップでは、仮想セパレータの抵抗増加率の演算を行う。
詳しく説明すると、図１０はこのルーチンのフローチャートである。
【００５９】
Ｓ６１では、メッシュ点ａのうち、ｆＮ値（ｆＮ［ｉ］［ｊ］）＝−１のメッシュ点ａの電位を２次元電界解析の手法（差分法）で演算する。すなわち、繊維領域内に属しないメッシュ点ａは、電解液に浸されるメッシュ点ａであり、この電位を算出する。
【００６０】
なお、本プログラムの初期条件として、上部平板電極の電位を１００Ｖ、下部平板電極の電位を０としている。上部平板電極は、仮想セパレータの上部平面に接合される電極である。又、下部平板電極は、仮想セパレータの下部平面に接合される電極である。
【００６１】
前記差分法は公知であるため、詳細な説明は省略するが、図４を参照して、各メッシュ点の電位算出式を簡単に説明する。
あるメッシュ点ａの電位ｖ’［ｉ］［ｊ］の算出は下記のように行う。なお、ｉ，ｊは、ｘｙ座標のｘ方向位置、ｙ方向位置を示す。
【００６２】
ｖ’［ｉ］［ｊ］＝（ｖ［ｉ］［ｊ］＋ｖ［ｉ−１］［ｊ］＋ｖ［ｉ＋１］［ｊ］＋ｖ［ｉ］［ｊ＋１］）／４    …（１７）
なお、ｖ’［ｉ］［ｊ］はｎ回目の計算値、ｖ［ｉ］［ｊ］はｎ−１回目の計算値である。
【００６３】
あるメッシュ点ａ（すなわち、図４における［ｉ］［ｊ］点）の電位ｖ’［ｉ］［ｊ］は、周囲から流れ込む電流の合計値が０を示す下記（１８）式から導き出される。図４において、メッシュ点ａ１〜ａ４のうち、メッシュ点ａ４は繊維領域内に属しているものとし、メッシュ点ａは、メッシュ点ａ１，ａ２，ａ３の３周囲が電解液に浸されているものとする。なお、計算領域と外部の境界線及び同境界線近辺を除いた大部分のメッシュ点ａは、ｘ方向とｙ方向にそれぞれ２つの隣接する他のメッシュ点が存在する。このように１つのメッシュ点を中心としてその隣接した周囲にあるメッシュ点の数を、本明細書ではｍ周囲という。ｍ＝１，２，３，４である。
【００６４】
0003629463.tif 000009
４周囲のうち、メッシュ点ａ４（［ｉ］［ｊ−１］点）は、電界液に浸されていないため、その電位ｖ［ｉ］［ｊ−１］はｖ［ｉ］［ｊ］の電位と同じである（メッシュ点ａ４からメッシュ点ａへの電流は０）。
【００６５】
従って、ｖ［ｉ］［ｊ−１］＝ｖ［ｉ］［ｊ］を（１８）式に代入すると、（１７）式が得られる。
なお、メッシュ点ａを中心として、３周囲が電解液、残り１周囲が繊維領域内に入る組合せは４通りある。このため、それぞれの場合において、（１７）式と同様の式が使用される。
【００６６】
又、４周囲がともに電解液中の場合、２周囲のみが電解液中の場合，１周囲のみが電解液中の場合も同様の方法で（１７）式に相当する式が導出できる。以下の（１９）式、（２０）式、（２１）式は、それぞれ電解液中に存在する隣接したメッシュ点の数が４周囲，２周囲、１周囲の場合のメッシュ点の電位算出のための式の例である。４周囲が電界液中の場合を除いた、２周囲、１周囲の場合の（２０）式及び（２１）式は、例であり、その組合せに応じた式が使用される。
【００６７】
0003629463.tif 000010
上記の（１７）式、（１９）〜（２０）式等を使用することにより、繊維領域内に属しない各メッシュ点ａの電位が求まる。
【００６８】
図５は、上記方法により得られた仮想セパレータの、各メッシュ点の電位分布を数値で表した説明図である。
次のＳ６２では、ｒｕ，ｒｌの演算を行う。ｒｕは上部平板電極から流入する電流から計算した抵抗増加率であり、ｒｌは下部平板電極に流入する電流から計算した抵抗増加率である。
【００６９】
なお、このＳ６２での演算の前提として、繊維の部分は電流は流れず、隙間部分だけを流れるものとし、上部平板電極を１００Ｖ、下部平板電極を０Ｖとし、仮想セパレータの左右側面からの電流の出入りはないものとして演算する（図５参照）。
【００７０】
本実施形態では、下記の関数ＤＣＴにより、ｒｕ及びｒｌの演算を行っている。
（関数ＤＣＴ処理）：
１）変数ｓｕＶ，ｓｌＶの初期値をそれぞれ０とし、
ｉが０〜ＮＸ（ただし、ｉ＜ＮＸ）までの間をインクリメントする間、下記（２２）式，（２３）式の演算を繰り返す。
【００７１】
そして、
イ）  もし、前記Ｓ６１で算出したｖ［ｉ］［１］が０でない場合、
変数ｓｕＶ’＝ｓｕＶ＋（ｖ［ｉ］［０］−ｖ［ｉ］［１］）    …（２２）  とする。
【００７２】
なお、変数ｓｕＶ’は、ｎ回目の計算値、変数ｓｕＶはｎ−１回目の計算値である。前記（２２）式は、下部平板電極とその一つ次のメッシュ点（ｖ［ｉ］［１］の電位をもつメッシュ点）の電位差を積算する式である。ｖ［ｉ］［１］が０である場合、そのメッシュ点が繊維領域内なので積算に入れないようにしている。
【００７３】
又、
ロ）  もし、Ｓ６１で算出したｖ［ｉ］［ＮＹ−２］が０でない場合、
変数ｓｌＶ’＝ｓｌＶ＋ｖ［ｉ］［ＮＹ−２］    …（２３）
とする。
【００７４】
なお、変数ｓｌＶ’は、ｎ回目の計算値、変数ｓｌＶはｎ−１回目の計算値である。前記（２３）式は、上部平板電極とその１つ前のメッシュ点の電位差を積算する式である。ｖ［ｉ］［ＮＹ−２］が０の場合は、そのメッシュ点が繊維領域内であるので、積算に入れないようにしている。
【００７５】
２）上記演算が終了後、ｒｕ（上流側電極から算出した抵抗増加率）とｒｌ（下流側電極から算出した抵抗増加率）とを下記（２４）式及び（２５）式にて演算する。
【００７６】
【数８】
0003629463.tif 000011
次のＳ６３では、（２６）式の左辺を算出して、この数値が０．０１未満であるか否かを判定する。
【００７７】
【数９】
0003629463.tif 000012
Ｓ６３において、（２６）式の左辺が１％未満でなければ、Ｓ６１にジャンプし、再度Ｓ６１の処理、Ｓ６２の処理を繰り返す。なお、（２６）式の左辺が１％未満に達しない場合、Ｓ６１〜Ｓ６３の処理が繰り返されるが、この回数が所定回数以上となった場合、例えば、５万回等を超えた場合には、このステップ６０を終了するように設定されている。そして、この場合には、Ｓ１０で読み込まれる各種数値を設定し直し、再度このプログラムを実行する。
【００７８】
（Ｓ７０）
上流側電極から算出した抵抗増加率ｒｕと下流側電極から算出した抵抗増加率ｒｌとの比が１％以内であれば、フローチャートを終了してＳ７０において、両抵抗増加率を、ＲＡＭ１３及び外部記憶装置５に記憶し、その数値を表示装置４に表示し、このフローチャートを終了する。
【００７９】
（実施形態の作用効果）
さて、上記のように構成された抵抗関連値推定制御プログラムを使用した場合の効果の確認を行った。
【００８０】
図１３の菱形のプロット点γ０〜γ５は、気孔率ｐｒを同図に示す値とし、かつｙ方向密度分布係数ｃｄを、１．０３〜１．２６にして、上記推定プログラムを実行させて得た抵抗増加率ｒｕ（≒ｒｌ）である。線γは、これらの値に基づいて得られた特性線である。この特性は、表面がやや高密度層になっており、繊維密度分布に方向性がある特性を示している。
【００８１】
図において、横軸は気孔率、縦軸は抵抗増加率を示している。
図１３の菱形のプロット点β０〜β１４は、気孔率ｐｒを同図に示す値とし、かつｙ方向密度分布係数ｃｄを、０．９４〜１．０２にして、上記推定プログラムを実行させて得た抵抗増加率ｒｕ（≒ｒｌ）である。線βは、これらの値に基づいて得られた特性線である。この特性は、繊維密度分布の方向性が小さいものの場合の特性線となっている。
【００８２】
又、図１３には、実際にセパレータを製造して、そのＥＳＲを測定するとともに、抵抗増加率を算出した結果も、（１）〜（６）に示すようにプロットしている。
【００８３】
このことから、実際にセパレータを製造して測定して、算出した抵抗増加率と、本実施形態の推定プログラムで得られた抵抗増加率に関する特性線γとは、その特性が同じように得られていることが分かる。
【００８４】
なお、前記推定プログラムでの抵抗増加率ｒｕ（≒ｒｌ）は、電解液を含浸した紙（セパレータ）の抵抗が、電解液のみの抵抗に比べ、何倍増加するかを示している。
【００８５】
図１３中、αで示したラインは、電界液が完全並列になっている場合の理論値である。この理論値については後述する。
なお、セパレータのＥＳＲ測定及び抵抗増加率の算出は、下記の通りである。
【００８６】
（１．セパレータのＥＳＲ測定）
ここで、上記推定プログラムによって得られた抵抗に関する値、すなわち、抵抗増加率が、どれだけ、実際のセパレータの抵抗増加率と一致するかを確認するために、実際にセパレータのＥＳＲ（等価直列抵抗）測定を行った。この測定方法は下記の通りに行われた。
【００８７】
図１４は測定に使用した簡易コンデンサの概略を示している。簡易コンデンサは、互いに対向する一対の押し板１００の内面に対してそれぞれアルミニウム材からなる電極板１０１を配置している。電極板１０１の表面には、さらに、エッジング処理したアルミ箔１０２が添着されている。一対の電極板１０１間には、ＰＴＦＥ（ポリテトラフルオロエチレン）スペーサ１０３が介在している。
【００８８】
アルミ箔１０２とスペーサ１０３で囲まれた空間に、電界液、又は電解液と製造されたセパレータがセットされる。
アルミ箔１０２と接する面積は、２×３ｃｍ２であり、ＰＴＦＥスペーサ１０３の厚みは１ｍｍである。
【００８９】
試験片となるセパレータは、予め３０℃、３３％ＲＨ（Ｍｇｃｌ２による調湿）の雰囲気に３日以上保管したものを１．９×２．９ｃｍ２に切断して使用した。
本測定では、ＥＳＲが大幅に異なる下記の電界液Ａ（ＧＢＬ系）と電界液Ｂ（ＥＧ系）の２種類を用いた。
【００９０】
電界液Ａの成分はγ−ブチルラクトン（１０％）、サンレックＰＨ−５２０（三洋化成工業製）（９０％）である。
電界液Ｂの成分は、エチレングリコール（８２％）、アンモニウム１０％、水（８％）である。
【００９１】
ＥＳＲの測定は、ＹＨＰ４１９２インピーダンスメータ（横河ヒューレットパッカード製）を用い、４端子法で測定した。測定温度は常温（２０℃）とし、測定電圧は５００ｍＶ、測定周波数は１０Ｈｚ〜１００ｋＨｚで行った。
【００９２】
測定に使用したセパレータ（低密度紙）は下記の表のＮｏ．１〜Ｎｏ．６のものを使用した。
【００９３】
【表１】
0003629463.tif 000013
（２．抵抗増加率の算出方法）
セパレータのＥＳＲは、含浸する電界液のＥＳＲにほぼ比例するが、電界液のみのＥＳＲに対するセパレータのＥＳＲの比は、電界液の影響を受けない。このセパレータ固有の値をセパレータの抵抗増加率と呼び、次式のように定義される。
【００９４】
セパレータの抵抗増加率＝セパレータ１枚のＥＳＲ／セパレータと同じ厚みの電界液のＥＳＲ
このため、抵抗増加率は、前記電解液Ａ，Ｂに関して、セパレータと同じ厚みの電界液のＥＳＲの測定、及び前記Ｎｏ．１〜Ｎｏ．６のセパレータの１枚のＥＳＲを測定して上記式を使用して算出した。
【００９５】
図１３では、電解液Ａ，Ｂで測定した前記ＮＯ．１〜Ｎｏ．６のセパレータの抵抗増加率を、それぞれ（１）〜（６）で示している。
（理論値及び異方率の説明）
ここで、理論値及び異方率ｐについて説明をする。
【００９６】
複合誘電体の特性をマクロに計算する手法は、例えば「電気絶縁紙（昭和４４年発行、コロナ社）に論じられている。この考え方を踏襲して、セパレータの抵抗を表現できる。
【００９７】
図１５（ａ）〜（ｃ）は複合材料の直並列配置を示しており、図１５（ａ）は並列構造、図１５（ｃ）は直列構造を示し、図１５（ｂ）は、その間に存在する種々の構造の概念を示したものである。このような複合材料からなる複合誘電体であって、２成分からなる複合誘電体の誘電率εは、各材料が並列配置の場合（図１５（ａ）参照）、
ε＝θａ・εａ  ＋  θｂ・εｂ    …（Ａ１）
で、直列配置の場合（図１５（ｃ）参照）は、
１／ε＝θａ／εａ  ＋  θｂ／εｂ  …（Ａ２）
と表わされる。ここで、εａ，εｂは成分ａ，ｂの誘電率、θａ，θｂは、成分ａ，ｂの比容積である。
【００９８】
ｐという変数を用いて、
εｐ＝θａ・εａｐ  ＋  θｂ・εｂｐ    …（Ａ３）
で表すとｐ＝１のとき並列、ｐ＝−１のとき直列となり、ｐの値によって構造の影響を表現できる。
【００９９】
２成分からなる複合導電体の場合は、前記誘電率の替わりに導電率を入れれば、上記（Ａ３）と同様の式になると考えられる。
ここで、導電率の逆数が抵抗率である。
【０１００】
紙繊維の抵抗率は電界液の抵抗率に比較して十分小さく、ｐ＞０（並列に近い）と考えられるため、繊維の抵抗率が関係する項が省略でき、次の簡単な式になる。
【０１０１】
ｒ＝θ−１／ｐ        …（Ａ４）
ここで、ｒは電解液の抵抗率に対するセパレータの抵抗率の比（抵抗増加率という）、θは気孔率（電解液の比容積）である。
【０１０２】
図１３の電界液完全並列構造のαは、ｐ＝１にしたときのものであり、ほぼ電解液のみの場合の値である。
さて、上記のように構成したセパレータの抵抗関連値推定装置１及び抵抗関連値推定方法及びプログラムの特徴を説明する。
【０１０３】
（１）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定装置１では、仮想セパレータに係る繊維の本数（繊維本数）に応じて、仮想セパレータ内の厚み方向位置（ｙ方向位置）と厚み方向と直交する方向位置（ｘ方向位置）の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定するコンピュータ２（繊維位置設定手段）を備えた。
【０１０４】
又、設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、ｙ方向密度分布係数ｃｄ（所定の密度分布係数）に基づいて、ｙ方向位置（厚み方向位置）を再設定するコンピュータ２（再設定手段）としている。
【０１０５】
さらに、仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点ａのうち、繊維内に存在しない各メッシュ点ａの電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算するコンピュータ２（電位算出手段）とした。
【０１０６】
又、算出された各メッシュ点ａの電位に基づき、ｙ方向において、電流が流れる方向の上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータの抵抗増加率（抵抗に関連する値）を算出するコンピュータ２（抵抗関連値算出手段）とした。
【０１０７】
又、両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とするコンピュータ２（判定手段）とした。
すなわち、本実施形態では、ｒｌ／ｒｕ（両抵抗増加率の比）が（２６）式で示す条件を満たす場合に、仮想セパレータの抵抗増加率とした。
【０１０８】
この結果、仮想セパレータの抵抗増加率を推定することができる。
（２）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定装置１では、入力された気孔率ｐｒ、繊維径ｄｆに基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出するコンピュータ２（繊維本数算出手段）としている。又、コンピュータ２（繊維位置設定手段）は、前記繊維本数に基づいて繊維位置を設定するようにした。
【０１０９】
この結果、入力された気孔率ｐｒ、繊維径ｄｆを変数とすることにより、異なる繊維本数の仮想セパレータの抵抗増加率を推定することができる。
（３）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定装置１では、繊維のｙ方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定するコンピュータ２（重なり判定手段）としている。
【０１１０】
そして、コンピュータ２は、書換え手段として、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、平均的な隣接繊維中心間距離Ｌとなり、所定量の繊維間隙間ｇを有するように、その二次元の繊維位置を書き換えるようにした。
【０１１１】
さらに、コンピュータ２（電位算出手段）は、繊維位置が書き換えられた後の繊維内に存在しない各メッシュ点ａの電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算するようにした。
【０１１２】
この結果、重なりがある場合には、平均的な隣接繊維中止間距離Ｌとなり、所定量の繊維間隙間の長さｇを有するように離間配置することができる。
なお、前記実施形態では、Ｓ５５の重なり解消処理において、繊維が均等に分布している場合の、平均的な隣接繊維中心間距離Ｌを基に、その繊維間隙間ｇを算出するようにしている。
【０１１３】
これ以外の方法としては、重なった繊維を除外する方法があるが、この場合、高密度器配置が困難となる問題がある。又、他の方法として、繊維に下方向から番号を付して、その番号順に繊維を置いて繊維に重なりが生じれば重ならないように繊維の位置を挙げる方法も考えられる（濾過堆積法）。しかし、この方法では、縦に繊維が並ぶ問題がある。
【０１１４】
それに対して、本実施形態では、繊維にＸ方向から番号を順に付け、番号順に繊維をおいて、繊維に重なりが生じた場合、重ならないよう位置まで、繊維の位置をＸ方向へ移すようにした。この方法によれば、上記の問題はなくなる。
【０１１５】
又、重なった場合の水平方向の移動では、他に重ならないぎりぎりの距離（繊維間の隙間０）まで移動させることも考えられる。しかし、この方法では、くっついた繊維のため、異常に高いＥＳＲが発生しやすい欠点がある。
【０１１６】
（４）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定装置１では、
コンピュータ２（書換手段）が二次元の繊維位置を書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外するコンピュータ２（除外手段）とした。
【０１１７】
この結果、不要な繊維を除外して、仮想セパレータの抵抗増加率を推定を推定することができる。
（５）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定方法は仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて仮想セパレータ内のｙ方向位置とｘ方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定工程（Ｓ３２，Ｓ３３）を備えた。さらに、設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、ｙ方向密度分布係数ｃｄに基づいて、ｙ方向位置を再設定する再設定工程（Ｓ３４）を備えた。
【０１１８】
さらに、仮想セパレータ内に予め点在するように設定された複数のメッシュ点ａのうち、繊維内に存在しない各メッシュ点ａの電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出工程（Ｓ６１）を備えた。
【０１１９】
又、算出された各メッシュ点ａの電位に基づいて、ｙ方向において、電流が流れる方向の上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗増加率（抵抗に関連する値）を算出する抵抗関連値算出工程（Ｓ６２）を備えた。
【０１２０】
又、前記両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定工程（Ｓ６３）を備えた。
この結果、上記（１）と同様の効果を奏する。
【０１２１】
（６）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定方法は、繊維位置設定工程の前に、入力された気孔率ｐｒ、繊維径ｄｆに基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出工程を備えた。さらに、繊維位置設定工程は、繊維本数算出工程の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定するようにした。
【０１２２】
この結果、上記（２）の同一の効果を奏する。
（７）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定方法は、再設定工程にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定工程を備えた。
【０１２３】
そして、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換工程を備えた。
【０１２４】
又、電位算出工程は、この書換工程にて繊維位置が書き換えられた後の繊維内に存在しない各メッシュ点ａの電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算するようにした。
【０１２５】
この結果、上記（３）と同様の効果を奏する。
（８）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値定方法は、書換工程による書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外工程を備えた。
【０１２６】
この結果、上記（４）と同様の効果を奏する。
（９）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムは、コンピュータ２に、仮想セパレータに係る繊維の本数に応じて、仮想セパレータ内のｙ方向位置とｘ方向位置の二次元の繊維位置を乱数に基づいて設定する繊維位置設定手段として機能させた。
【０１２７】
又、コンピュータ２に、設定された各繊維の二次元の繊維位置のうち、所定の密度分布係数に基づいて、厚み方向位置を再設定する再設定手段として機能させている。
【０１２８】
さらに、コンピュータ２に、繊維内に存在しない各メッシュ点ａの電位を仮想セパレータの最外周に設定された電位に基づいて演算する電位算出手段として機能させている。さらに、算出された各メッシュ点の電位に基づいて、ｙ方向において、電流が流れる方向である上流側と下流側からそれぞれ仮想セパレータに関する抵抗値を算出する抵抗関連値算出手段として機能させている。
【０１２９】
さらに、コンピュータ２に、両抵抗に関連する値の比が所定値以内のとき仮想セパレータの抵抗に関連する値とする判定手段として機能させている。
この結果、上記（１）の効果を奏する。
【０１３０】
（１０）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムは、コンピュータ２に、入力された気孔率ｐｒ、繊維径ｄｆに基づいて仮想セパレータの繊維本数を算出する繊維本数算出手段として機能させている。
【０１３１】
又、コンピュータ２に、前記繊維位置設定手段として、繊維本数算出手段の算出結果の繊維本数に基づいて繊維位置を設定するように機能させている。
この結果、上記（２）の効果を奏する。
【０１３２】
（１１）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムは、コンピュータ２に、再設定手段にて、繊維の厚み方向位置が再設定された際、再設定された繊維と他の繊維とに重なりがあるか否かを判定する重なり判定手段として機能させた。
【０１３３】
又、コンピュータ２に、重なりがある場合には、重なりがある繊維について、隣接する繊維との間に所定量の隙間が存在するようにその二次元の繊維位置を書き換える書換手段として機能させている。
【０１３４】
この結果、上記（３）の効果を奏する。
（１２）  本実施形態のセパレータの抵抗関連値推定制御プログラムは、コンピュータ２に、書換手段の書換え後に、ずらされた繊維が仮想セパレータの範囲外となった際には、その繊維を除外する除外手段として機能させている。
【０１３５】
この結果、上記（４）の効果を奏する。
（１３）  本実施形態のＲＯＭ１１は、上記（９）に記載のプログラムを記録した。この結果、このプログラムを記憶したＲＯＭ１１を備えたコンピュータ２は上記（１）の効果を奏することができる。
【０１３６】
（１４）  本実施形態のＲＯＭ１１は、上記（１０）に記載のプログラムを記録した。この結果、このプログラムを記憶したＲＯＭ１１を備えたコンピュータ２は上記（２）の効果を奏することができる。
【０１３７】
（１５）  本実施形態のＲＯＭ１１は、上記（１１）に記載のプログラムを記録した。この結果、このプログラムを記憶したＲＯＭ１１を備えたコンピュータ２は上記（３）の効果を奏することができる。
【０１３８】
（１６）  本実施形態のＲＯＭ１１は、上記（１２）に記載のプログラムを記録した。この結果、このプログラムを記憶したＲＯＭ１１を備えたコンピュータ２は上記（４）の効果を奏することができる。
【０１３９】
なお、本実施形態は、前記実施形態に限定されるものではなく、下記のように変更してもよい。
○  前記（２６）式の右辺を０．０１以外の数値としてもよい。精度を上げるには、この値をさらに小さくしても良い、又、精度が荒くても良い場合には、この数値よりも大きくしても良い。
【０１４０】
○  前記実施形態では、セパレータの抵抗関連値推定制御プログラムをＲＯＭ１１に記憶させたが、記憶媒体として外部記憶装置５に記憶させても良い。さらに、フレキシブルディスク、ＭＯ，ＣＤ、ＤＶＤ等のコンピュータ読取り可能な記憶媒体に記憶させてもよい。
【０１４１】
○  前記実施形態では、ｙ方向密度分布係数ｃｄ＞１としたが、ｃｄ＜１としてもよい。
【０１４２】
【発明の効果】
以上詳述したように、請求項１乃至請求項４に記載の発明によれば、セパレータを実際に製造することなく、セパレータの抵抗に関連する値を推定することができるセパレータの抵抗関連値推定装置を提供することができる。
【０１４３】
請求項５乃至請求項８に記載の発明によれば、セパレータを実際に製造することなく、セパレータの抵抗に関連する値を推定することができるセパレータの抵抗関連値推定方法を提供することができる。
【０１４４】
請求項９乃至請求項１２に記載の発明によれば、セパレータを実際に製造することなく、セパレータの抵抗に関連する値を推定することができるプログラムを提供することができる。
【０１４５】
請求項１３乃至請求項１６に記載の発明によれば、セパレータを実際に製造することなく、セパレータの抵抗に関連する値を推定することができるプログラムを記憶したコンピュータ読取り可能な記録媒体を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】セパレータの抵抗関連値推定装置の概略電気ブロック図。
【図２】仮想セパレータの断面図。
【図３】繊維間の距離を示す説明図。
【図４】メッシュ点の電位計算の説明図。
【図５】各メッシュ点の電位分布を数値で表した説明図。
【図６】セパレータの抵抗関連値推定制御プログラムのフローチャート。
【図７】繊維位置設定処理のフローチャート。
【図８】条件式の説明図。
【図９】繊維関連番号付与処理のフローチャート。
【図１０】抵抗増加率演算処理のフローチャート。
【図１１】繊維番号、ｘ方向位置、ｙ方向位置、ｅｆ値の関係を示す説明図。
【図１２】繊維番号、ｘ方向位置、ｙ方向位置、ｅｆ値の関係を示し、前記入れ替え処理の概念を示す説明図。
【図１３】セパレータの抵抗関連値推定制御プログラムにて得られた抵抗増加率、と比較例の抵抗増加率を示す特性図。
【図１４】簡易コンデンサの概略図
【図１５】（ａ）は複合材料の並列構造の概念図、（ｂ）は他の構造の概念図、（ｃ）は直列構造の概念図。
【符号の説明】
１…セパレータの抵抗関連値推定装置
２…コンピュータ（繊維位置設定手段、再設定手段、電位算出手段、抵抗関連値算出手段、収束演算手段、繊維本数算出手段、重なり判定手段、書換手段、及び除外手段）、
５…外部記憶装置
１１…ＲＯＭ
【図１】
0003629463.tif 000014
【図２】
0003629463.tif 000015
【図３】
0003629463.tif 000016
【図４】
0003629463.tif 000017
【図５】
0003629463.tif 000018
【図６】
0003629463.tif 000019
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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