(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続走行するフェルト長尺体の厚さの連続測定装置であって、走行する長尺体上面に上下に揺動自在に配設されたレーザー光反射体と、前記レーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置とからなり、前記レーザー光反射体が、平板主体と、前記平板主体の両端側に上方に向かう折曲部を形成してなり、前記平板主体の上面が白色に形成されてなる厚さ連続測定装置。
【請求項２】
レーザー光反射体が、運搬手段の上方に配設してある固定台と、紐で連結されてなる請求項１に記載の厚さ連続測定装置。
【請求項３】
フェルト長尺体が炭素繊維フェルト長尺体で、レーザー光反射体の平板主体底面のフェルト長尺体に掛かる圧力が１３６１〜２７４４Ｐａで、平板主体の上面の白度がＪＩＳ Ｚ ８７２９に規定するＬ*ａ*ｂ*表色系でＬ*＝６０以上である請求項１に記載の厚さ連続測定装置。
【請求項４】
請求項１に記載の厚さ連続測定装置を用い、運搬手段の上面に載せられて連続走行するフェルト長尺体上面にレーザー光反射体を上下に揺動自在に配設し、上下に揺動するレーザー光反射体上面の高さ位置を、レーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置により連続測定し、このレーザー光反射体上面の高さ位置から、予め運搬手段の上面にフェルト長尺体を載せずに直接レーザー光反射体を載せてレーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置により測定したレーザー光反射体上面の高さ位置を差し引くことを特徴とする厚さ連続測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フェルト長尺体の厚さ連続測定装置及び厚さ連続測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のフェルト長尺体の検反(厚さの検査)は、ダイヤルシックネスゲージ等、機械的な厚さゲージなどの厚さ測定器により行っていた(非特許文献１)。
【０００３】
機械的な厚さゲージによる検反では、信頼性、耐久性の面で優れているものの、連続的に測定できないため、測定に手間が掛かり検査効率が悪くなる。
【０００４】
機械的な厚さゲージ以外の検反として、レーザー測定法がある(特許文献１及び２)。このレーザー測定法による検反は比較的簡便な方法であるため、各方面で応用されている。
【０００５】
しかし、このレーザー測定法による検反は、炭素繊維フェルトのようにシート状被検体の色が黒色若しくは濃色である場合、レーザー光の反射効率が悪く、計測が困難である。また、表面の凹凸がある被検体の場合、光が乱反射し、計測が困難である。
【０００６】
機械的な厚さゲージ、レーザー測定法以外の検反として、放射線による検反がある。しかし、この放射線による計測は、装置が大きくなるばかりではなく、作業時の安全面の考慮などで、レーザー測定法に比べ、コストアップになる。
【０００７】
【非特許文献１】
ＪＩＳ Ｌ １０８６-1983  （６．試験方法  ６．４厚さ）
【特許文献１】
特開平５−２０９７２３号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献２】
特開２００１−３３０４１３号公報  （特許請求の範囲）
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者等は、フェルト長尺体の厚さ測定における上記問題を解決するために種々検討しているうちに、連続走行する被検体のフェルト長尺体上面にレーザー光反射体を上下に揺動自在に配設することにより、被検体の色が黒色若しくは濃色であっても、被検体の表面にレーザー光を乱反射させる凹凸があっても、複雑で大がかりな測定装置を使用することなく、安全に、安価で、大量に且つ高精度に連続検反できることを知得した。
【０００９】
更に本発明者等は、被検体表面に凹凸があり、レーザー光反射体が凹凸に引っかかり連続検反に支障を来す場合、レーザー光反射体の形態を工夫することにより、レーザー光反射体が引っかかることなく、連続検反できることを知得し本発明を完成するに到った。
【００１０】
よって、本発明の目的とするところは、上記問題を解決した、連続走行するフェルト長尺体の厚さの連続測定装置及び連続測定方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明は、以下に記載のものである。
【００１２】
〔１〕  連続走行するフェルト長尺体の厚さの連続測定装置であって、走行する長尺体上面に上下に揺動自在に配設されたレーザー光反射体と、前記レーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置とからなる厚さ連続測定装置。
【００１３】
〔２〕  レーザー光反射体が、平板主体と、前記平板主体の両端側に上方に向かうに従って両端側間隔が大きくなる折曲部を形成した〔１〕に記載の厚さ連続測定装置。
【００１４】
〔３〕  レーザー光反射体上面が白色に形成された〔１〕に記載の厚さ連続測定装置。
【００１５】
〔４〕  運搬手段の上面に載せられて連続走行するフェルト長尺体上面にレーザー光反射体を上下に揺動自在に配設し、上下に揺動するレーザー光反射体上面の高さ位置を、レーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置により連続測定し、このレーザー光反射体上面の高さ位置から、予め運搬手段の上面にフェルト長尺体を載せずに直接レーザー光反射体を載せてレーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置により測定したレーザー光反射体上面の高さ位置を差し引くことを特徴とするフェルト長尺体の厚さ連続測定方法。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の厚さ連続測定装置の一例について図面を参照して詳細に説明するが、当該図面は本発明の測定装置の特徴を開示することが目的であって、これにより形状、大きさ、及びその他の制約を受けるものではない。
【００１７】
図１は、本発明の厚さ連続測定装置の一例を示す概略図であり、(Ａ)は、その平面図であり、(Ｂ)は、その側面図である。
【００１８】
図１中、２は厚さの連続測定装置である。６は運搬手段４に載置されてａ方向に走行するフェルト長尺体である。フェルト長尺体６の上面にはレーザー光反射体８が上下に揺動自在に配設されている。前記レーザー光反射体８の上方にはレーザー厚さ測定装置１０が配設されている。
【００１９】
レーザー光反射体８は、平板主体１４と、前記平板主体１４の両端側に上方に向かうに従って両端側間隔が大きくなる折曲部１６、１８を形成している。レーザー光反射体８は、折曲部１６から、平板主体１４、折曲部１８に至る方向をフェルト長尺体の走行方向に一致させている。
【００２０】
２０は固定台で、運搬手段４の上方に配設してある。この固定台２０の端部の両縁２２、２４近傍と、レーザー光反射体８の折曲部１６の上端部の両縁２６、２８近傍とは、それぞれ紐３０、３２で連結されている。この連結により、レーザー光反射体８は、フェルト長尺体６の走行方向ａ及び幅方向には変動することなく、フェルト長尺体６の上面に倣って上下方向に自在に揺動する。
【００２１】
紐３０、３２の材質としては、伸縮しないものなど走行方向ａ及び幅方向に変動しないものが好ましく、例えばステンレスワイヤー等を用いることが好ましい。
【００２２】
レーザー光反射体８の寸法としては、レーザー光反射体８が幅方向に変動しないもの、検反の誤差が生じないものであれば特に限定されるものではないが、折曲部１６、１８の上端部の幅ｂは６５〜７５ｍｍが好ましい。折曲部１６、１８の下端部の幅であり且つ平板主体１４の幅でもある幅ｃは５０〜６０ｍｍが好ましい。平板主体１４におけるフェルト長尺体６の走行方向ａの長さｄは５０〜６０ｍｍが好ましい。折曲部１６、１８の水平面に対する角度θは３０〜６０°が好ましい。レーザー光反射体８の質量は５００〜７００ｇが好ましい。平板主体１４の下面即ちフェルト長尺体６との接触面の表面粗さＲａは接触面の中心線平均粗さで６．３以下、ＪＩＳ Ｂ ０６０１−１９９４に規定する三角記号で▽▽以上が好ましい。平板主体１４の上面の白度はＪＩＳ Ｚ ８７２９に規定するＬ*ａ*ｂ*表色系でＬ*＝６０以上の白色系が好ましい。
【００２３】
固定台２０の端部における紐３０、３２との各接合点２２、２４間の距離ｅ[図１(Ａ)では、固定台２０の幅ｅ]は折曲部上端ｂの幅よりも長めの８０〜２００ｍｍが好ましい。
【００２４】
レーザー厚さ測定装置１０は市販の測定装置を利用できる。
【００２５】
図１では、折曲部１８は、折曲部１６と同一寸法で且つ折曲部１６と左右対称の形状であるが、折曲部１６との質量のバランスが取れれば必ずしも図１の形状に限定されるものではない。
【００２６】
なお、図１(Ａ)の点線のように、固定台２０の端部における中央部側の点３４、３６と、折曲部１６の上端部の両頂点２６、２８とを、それぞれ紐３８、４０で結ぶ場合は、レーザー光反射体８が幅方向に変動するため、検反の誤差が大きくなるので好ましくない。
【００２７】
上記厚さの連続測定装置２を用いて、フェルト長尺体６の検反を行うには、例えば以下の方法により行うことができる。
【００２８】
先ず、運搬手段４の上面にフェルト長尺体６を載せずに直接レーザー光反射体８を載せる。レーザー厚さ測定装置１０から発光されたレーザー光１２を、レーザー光反射体８の上面に照射し、このレーザー光反射体８の上面で反射されたレーザー光１２を、レーザー厚さ測定装置１０で受光することによりレーザー光反射体８の上面の高さ位置を測定し、これを基準高さ位置Ｈ0とする。
【００２９】
次に、運搬手段４の上面にフェルト長尺体６を載せ、このフェルト長尺体６の上面に、紐３０、３２を介して固定台２０に連結されたレーザー光反射体８を載せ、運搬手段４を方向ａに連続走行させる。このように配設することにより、連続走行するフェルト長尺体６の上面においてレーザー光反射体８は上下に自在に揺動する。この上下に揺動するレーザー光反射体８の高さ位置を、上記基準高さ位置Ｈ0の測定と同様の方法でレーザー厚さ測定装置１０により測定し、これを高さ位置Ｈ1とする。
【００３０】
以上の方法で測定された基準高さ位置Ｈ0と高さ位置Ｈ1とから、フェルト長尺体６の厚さＴはＴ＝Ｈ1−Ｈ0で算出することができる。
【００３１】
【実施例】
以下、実施例により本発明を詳細に説明する。
【００３２】
実施例１
下記寸法等の図１に示す厚さの連続測定装置２を用いて、フェルト長尺体６について検反を行った。その結果を表１に示す。
折曲部１６、１８の上端部の幅ｂ ： ７０ｍｍ
折曲部１６、１８の下端部の幅ｃ ： ５５ｍｍ
平板主体１４におけるフェルト長尺体６の走行方向ａの長さｄ ： ６０ｍｍ
固定台２０の幅ｅ ： １４０ｍｍ
折曲部１６、１８の水平面に対する角度θ ： ４５°
レーザー光反射体８の質量 ： ５７０ｇ
平板主体１４の下面即ちフェルト長尺体６との接触面の表面粗さＲａ ： ２．５(接触面の中心線平均粗さで)
平板主体１４の上面の白度 ： Ｌ*＝６０(ＪＩＳ Ｚ ８７２９に規定するＬ*ａ*ｂ*表色系で)
なお、測定は６秒間隔で、ｎ＝５０の測定点について連続して行い、測定時間は合計５分であり、短時間で検反が完了した。
【００３３】
比較例１
ダイヤルシックネスゲージＰＦ１４(ミツトヨ製)を用い、ＪＩＳ Ｌ １０８６-1983に基づいて実施例１と同じフェルト長尺体６について手作業による検反を行った。その結果、表１に示すようにｎ＝５０の測定点についての測定時間は合計１００分であり、検反には長時間を要した。
【００３４】
【表１】
0003694513.tif 000002
【００３５】
【発明の効果】
本発明の厚さの連続測定装置は、走行するフェルト長尺体上面に上下に揺動自在に配設されたレーザー光反射体と、前記レーザー光反射体の上方に配設されたレーザー厚さ測定装置とからなるので、、フェルト長尺体の色が黒色若しくは濃色であっても、フェルト長尺体の表面にレーザー光を乱反射させる凹凸があっても、複雑で大がかりな測定装置を使用することなく、安全に、安価で、大量に且つ高精度に連続検反できる。
【００３６】
更に、本発明の厚さの連続測定装置は、レーザー光反射体が引っかかり連続検反に支障を来す程のフェルト長尺体表面の凹凸がある場合は、レーザー光反射体を、平板主体と、前記平板主体の両端側に上方に向かうに従って両端側間隔が大きくなる折曲部を形成した形態(例えば、舟形)にすることにより、表面の凹凸が粗いフェルト長尺体であっても、レーザー光反射体が引っかかることなく、連続検反できる。
【００３７】
折曲部を設けているので、レーザー光反射体に引っかかって切取られたフェルト長尺体の表面の凹凸が、ケバや粉となって平板主体上面に載り、レーザー光が乱反射し、検反が困難になることを防止する。
【００３８】
レーザー光反射体上面を白色に形成する場合は、レーザー光の乱反射を防止でき、測定精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の厚さ連続測定装置の一例を示す概略図であり、(Ａ)は、その平面図であり、(Ｂ)は、その側面図である。
【符号の説明】
２    厚さの連続測定装置
４    運搬手段
６    フェルト長尺体
８    レーザー光反射体
１０    レーザー厚さ測定装置
１２    レーザー光
１４    平板主体
１６、１８    折曲部
２０    固定台
２２、２４    固定台端部の縁
２６、２８    折曲部上端部の縁
３０、３２、３８、４０    紐
３４、３６    固定台端部における中央部側の点
ａ    フェルト長尺体の走行方向
ｂ    折曲部上端部の幅
ｃ    折曲部下端部の幅
ｄ    平板主体におけるフェルト長尺体の走行方向の長さ
ｅ    固定台端部における二本の紐との各接合点間の距離
θ    折曲部の水平面に対する角度
【図１】
0003694513.tif 000003