(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスを含む破砕片が高周波および低周波の交流磁界内を通過するときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定するインダクタンス測定手段と、
測定した前記インダクタンス変化量に基づいて前記破砕片の中からステンレスを識別する第１の識別手段と、
破砕片の重量を測定する重量測定手段と、
測定した前記重量と前記インダクタンス変化量のうち前記破砕片に対して垂直方向および水平方向に発生した磁界によるインダクタンス変化量とに基づいて前記破砕片の中からアルミを識別する第２の識別手段と、
銅、真鍮、亜鉛別に固有の基準色が予め定められ、破砕片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を測定する色画像測定手段と、
測定した前記面積に基づいて前記破砕片の中から銅、真鍮、亜鉛を識別する第３の識別手段と、
前記各識別手段での識別結果に基づいて、破砕片を銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレス、その他に選別して回収する回収手段とを備えた金属の選別回収装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、金属を含む廃棄物から銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの５種類の非磁性金属を識別し、材質別に選別して回収する金属の選別回収装置、および選別回収方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、金属およびプラスチック等の非金属が混在した廃棄物から、鉄および銅、真鍮、アルミ、ステンレス、亜鉛等の高価な非磁性金属を一括して選別回収する処理が行われている。一般に、鉄の選別には磁気選別機が多く用いられ、鉄を除いた非磁性金属（銅、真鍮、アルミ、亜鉛等）の選別には回転ドラム式の渦電流選別機が用いられている。この渦電流選別機には円周上に磁石を備えた回転ドラムが設けられ、この回転ドラムによって生じる回転磁界により非磁性金属に渦電流が発生するので、非磁性金属は回転磁界から反発力を受けて回転ドラムから飛ばされ、これにより、反発力を受けない非金属との選別が可能となっている。
【０００３】
風力選別機や振動式選別機も一般的に使われている。これら風力選別機や振動式選別機は比重差を利用しており、比重の大きな銅、真鍮、亜鉛、ステンレス等の非磁性金属から、比重の小さなアルミの選別を比較的容易に行うことができる。また比重の大きな液体（重液）を使った比重選別機も使われている。この比重選別機は、水に鉄の微粉をコロイド状に拡散させた液からなる重液を用いたもので、例えば比重が３である重液を使えば、アルミは浮き、銅、真鍮、亜鉛、ステンレスは沈むため、この選別機もアルミの選別を容易に行うことができる。
【０００４】
また、比較的大きな形状の破砕片に対しては人手による選別（以下、手選別という）が多く行われている。例えば、特開昭５７−８１８７８号公報には、磁力選別機により鉄を除いた後、風力選別機により非金属を除き、その後、非磁性金属の選別を主として手選別で（小物に限っては風力選別機を利用して）行うことが開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の技術のうち、渦電流選別機では銅、真鍮、アルミ、亜鉛を非金属から容易に選別することはできるが、銅、真鍮、アルミ、亜鉛を各々材質別に分けるのは困難である。また、ステンレスは導電性が低いので非金属側に回収され、非金属とステンレスを選別する必要がある。
【０００６】
風力選別機や振動式選別機では、銅、真鍮、亜鉛、ステンレス等の非磁性金属からアルミを選別することは可能であるが、比重の近い銅、真鍮、亜鉛、ステンレスについては個々の選別が困難である。また、アルミの選別についても１０ｍｍ以下の比較的均一な形状の破砕片に対しては分離性能が良いが、１０〜２００ｍｍのように寸法の大きい破砕片については形状の影響を受けて選別が困難である。
【０００７】
また、重液を使った比重選別機の場合も、銅、真鍮、亜鉛、ステンレス等の非磁性金属からアルミを選別することは可能であるが、銅、真鍮、亜鉛、ステンレスの選別は困難である。また、重液を使うために、水処理設備が必要で設備が大型になり、さらに重液の比重管理等の保守が必要である。なお、ステンレスに対しては、高磁力ドラムによるステンレス選別機があるが、破砕片の大きさや形状に左右され、十分な回収は困難である。
【０００８】
さらに、上記公報に開示されたものでは、比較的大きな形状の破砕片を選別回収することが一つの狙いであるが、手選別に頼る部分が多いため、やむを得ず作業者を騒音、汚れ、寒暑等の厳しい環境においたり、長時間の単純作業に従事させることになってしまう。また、手選別に頼れば人件費等によって処理コストが高くなることは避けられない。
【０００９】
本発明の目的は、主要な非磁性金属である銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの選別を人手によらないで行うことのできる金属の選別回収装置、および金属の選別回収方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために、銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスを含む破砕片が高周波および低周波の交流磁界内を通過するときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定するインダクタンス測定手段と、測定した前記インダクタンス変化量に基づいて前記破砕片の中からステンレスを識別する第１の識別手段と、破砕片の重量を測定する重量測定手段と、測定した前記重量と前記インダクタンス変化量のうち前記破砕片に対して垂直方向および水平方向に発生した磁界によるインダクタンス変化量とに基づいて前記破砕片の中からアルミを識別する第２の識別手段と、銅、真鍮、亜鉛別に固有の基準色が予め定められ、破砕片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を測定する色画像測定手段と、測定した前記面積に基づいて前記破砕片の中から銅、真鍮、亜鉛を識別する第３の識別手段と、前記各識別手段での識別結果に基づいて、破砕片を銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレス、その他に選別して回収する回収手段とを備えた金属の選別回収装置を提案する。
【００１１】
上記構成によれば、インダクタンス測定手段は、例えば高周波と低周波の交流電圧を２つのコイルにそれぞれ印加して交流磁界を生じさせ、その交流磁界内を破砕片が通過するときの破砕片のインダクタンス変化を測定する。そして、第１の識別手段は、その測定したインダクタンス変化の比を求め、２周波数間におけるインダクタンス変化の勾配が大きいときは破砕片はステンレスと識別し、勾配が小さいときはステンレス以外の他の非磁性金属であると識別する。
【００１２】
次に、第２の識別手段は、前記２つのコイルで測定した破砕片の３方向の面の面積に相当したインダクタンス変化量を求め、さらにこの３方向の面に相当するインダクタンス変化量から破砕片の体積に相当するインダクタンス変化量を求める。この破砕片の体積に相当するインダクタンス変化量と、重量測定手段で測定した破砕片の重量との比をとると、この比の値が破砕片の密度の逆数に比例することから、この比の値の大きさからアルミと他の銅、真鍮、亜鉛とを識別することができる。
【００１３】
次に、色画像測定手段は、銅、真鍮、亜鉛の破砕片に対して各々材質固有の色を抽出して基準色として設定しておき、選別する破砕片に対して各々基準色と等価な色の部分の面積を測定する。そして、第３の識別手段は、色画像測定手段で測定した前記面積の総和を求めるとともに、その面積の総和に対する基準色別の各面積の比率を算出し、その比率が例えば５０％以上の場合に、破砕片が当該基準色に対応する材質の金属であると識別する。これにより、銅、真鍮、亜鉛を識別することができる。
【００１４】
そして最後に回収手段は、上記各識別手段での識別結果に基づいて、破砕片を銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレス、その他に分けて回収する。
【００１５】
なお、色画像測定手段の前工程に、破砕片の表面層を除去する表面層除去手段を設けることができる。破砕片の表面には、ダスト、油、錆等の汚れが付着していたり、また塗装やメッキが施されていたりする場合が多く、このような場合でも上記表面層除去手段を設けておけば、汚れ、塗装、メッキ等を除去して破砕片表面に金属面を露出させることができるので、色画像測定手段での測定が容易となる。
【００１６】
また、本発明の金属の選別回収方法は、金属を含む破砕片が交流磁界内を通過するときの該破砕片のインダクタンス変化量を測定し、その測定したインダクタンス変化量に基づいて前記破砕片の材質を識別する第１のステップと、破砕片の重量を測定し、その測定重量と前記第１のステップで測定したインダクタンス変化量に基づいて前記破砕片の材質を識別する第２のステップと、金属の材質別に金属固有の基準色を予め定めておき、破砕片の有する色が前記基準色と等価である部分の面積を測定し、その測定した面積に基づいて前記破砕片の材質を識別する第３のステップと、前記各ステップでの識別結果に基づいて材質別に破砕片を回収する第４のステップとを含むことを特徴としている。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に従って説明する。
図１は、本発明に係る金属の選別回収装置の全体構成図である。図１に示すように、破砕片の流れに沿って、ホッパ１００、第１の搬送装置２００、第２の搬送装置３００、ステンレス回収装置４００、重量測定装置５００、アルミ回収装置６００、第３の搬送装置７００、銅回収装置８００、真鍮回収装置８５０、亜鉛回収装置９００、その他回収装置９５０が配置されている。
【００１８】
そして、破砕機（図示せず）で破砕され、さらに篩（図示せず）で粒径１０ｍｍ以下を除かれた粒径１０〜２００ｍｍの金属を含む破砕片２は、ホッパ１００に投入される。ホッパ１００の下方には、振動フィーダ１０１，１０２が設けられ、破砕片２は振動フィーダ１０１によりホッパ１００から一定量づつ取り出され、振動フィーダ１０２により１列に整列され、さらに１個づつ間隔をあけて搬送装置２００に送られる。
【００１９】
搬送装置２００の上方にはフォトセンサ１８が搬送方向に沿って２箇所に設けられており、搬送装置２００上の破砕片２が１個づつ最小間隔（例えば３００ｍｍ）を確保できるように、最初のフォトセンサ１８で破砕片同士の間隔が計測される。また、搬送装置２００の後段には可動ガイド２０１が設けられ、搬送装置２００上の破砕片同士の間隔が設定値（例えば３００ｍｍ）より小さい場合は、当該破砕片の通過を２番目のフォトセンサ１８で検知して可動ガイド２０１を動作させ、破砕片を回収ライン２５０へ回収する。回収された破砕片は再度ホッパ１００へ投入される。
【００２０】
フォトセンサ１８はフォトセンサアンプ１９に接続され、フォトセンサアンプ１９はインターフェース８を介して演算・制御装置２１に接続されており、フォトセンサ１８からの信号はフォトセンサアンプ１９およびインターフェイス８を介して演算・制御装置２１に取り込まれる。なお、図１にはフォトセンサ１８が多数設けられているが、他のフォトセンサ１８も同様に演算・制御装置２１に接続されている。
【００２１】
また、可動ガイド２０１にはアクチュエータ１６が設けられている。このアクチュエータ１６はアクチュエータドライバ１７に接続され、アクチュエータドライバ１７はインターフェース８を介して演算・制御装置２１に接続されており、アクチュエータ１６は演算・制御装置２１からの出力信号によって駆動制御される。なお、図１にはアクチュエータ１６が多数設けられているが、他のアクチュエータ１６も、同様に演算・制御装置２１からの出力信号によって駆動制御される。
【００２２】
搬送装置３００には３組の検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃが設けられている。検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃはコイル用アンプ２０およびＡ／Ｄ変換器７を介してインターフェース８に接続されている。各検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃの前にはフォトセンサ１８が設けられ、破砕片２がフォトセンサ１８を通過した時の検出信号をもとに各検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃによりインダクタンス変化を検出する。また、破砕片２がコイルの検出部に無いときのインダクタンスを初期インダクタンスとして、次に送られてきた破砕片２が検出コイルを通過する時に検出したインダクタンスと初期インダクタンスとの差をインダクタンス変化量として求める。すなわち、励磁コイルに交流電圧を印加して発生した交流磁界内を破砕片２が通過すると、破砕片２が導電性の場合には破砕片２には渦電流が発生し、その結果、渦電流によって発生する逆向きの磁界によってコイルのインダクタンスが変化する。なお、図１では破砕片２の有無によって生じる検出コイルの出力電圧の差をインダクタンス変化量として検出する。
【００２３】
次に各コイルについて詳細に説明すると、検出用コイル９Ａは高周波数ｆ２の交流電圧が印加されており、搬送装置３００上の破砕片２に対して垂直方向に磁界を発生している。検出用コイル９Ｂは低周波数ｆ１の交流電圧が印加されており、搬送装置３００上の破砕片２に対して同様に垂直方向に磁界を発生している。また、検出用コイル９Ｃは高周波数ｆ２の交流電圧が印加されており、搬送装置３００上の破砕片２に対して水平方向に磁界を発生している。
【００２４】
ここで、検出用コイル９Ａと検出用コイル９Ｂにより測定した２周波数におけるインダクタンス変化の比をとりコイルの出力で表す（周波数ｆ１における出力電圧／周波数ｆ２における出力電圧）と、図２に示すように導電率の低いステンレスは他の銅、真鍮、アルミ、亜鉛に比べて小さい値を示す。そこで、予めしきい値を設定することでステンレスを識別することができる。また、非金属は高周波数ｆ２、低周波数ｆ１において共にコイルの出力が低いことから、同様に予めしきい値を設定することで識別可能である。
【００２５】
搬送装置３００上で検出用コイル９Ｃの後段にはエアーノズル３０１が設けられ、検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃにより非金属と識別された破砕片はエアーノズル３０１により搬送装置３００上から吹き飛ばされて回収される。エアーノズル３０１には電磁弁３０２を介してエアー源３０３が接続されており、電磁弁３０２を動作させることによりエアーノズル３０１からエアーが噴射される。なお、電磁弁３０２は電磁弁ドライバ３０４を介してインターフェース８に接続されており、演算・制御装置２１によりその動作が制御されている。
【００２６】
また、ステンレスは識別後、搬送装置３００の後段に設けられたステンレス回収装置４００に回収される。すなわち、ステンレス回収装置４００には搬送ガイドを兼ねたセパレータ４０１が設けられ、ステンレスが流れてきたときはセパレータ４０１を上方に開いて、そのステンレスを回収する。セパレータ４０１はアクチュエータ１６によって駆動される。
【００２７】
ステンレス回収装置４００で回収されなかった破砕片、つまりステンレス以外の非磁性金属は重量測定装置５００に送られる。重量測定装置５００は上部に傾斜受け台５０１を有し、破砕片が受け台５０１上を滑り落ちている間に、受け台５０１下部の荷重センサ５０２で破砕片の重量を測定する。荷重センサ５０２での測定信号は、ストレインアンプ６で増幅され、さらにＡ／Ｄ変換器７でデジタル信号に変換されてから、インターフェイス８を介して演算・制御装置２１に入力される。そして、ここで測定した破砕片の重量と、搬送装置３００上の検出用コイル９Ａ，９Ｃで測定したインダクタンス変化とからアルミを識別する。
【００２８】
ここで、図４、図５および図６を用いて、検出用コイル９Ａ，９Ｃによるインダクタンス測定方法を説明する。図４に示すように、搬送ベルト３０５上の破砕片２の３方向の投影面積Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３が測定できると、破砕片２の体積Ｖは近似的に（Ｓ１×Ｓ２×Ｓ３）の平方根で求まる。一方、破砕片の重量Ｗは破砕片２の体積と比重の積で表せる。その結果、破砕片２についてインダクタンス変化から求めた体積Ｖと重量Ｗの比をとると、この値は破砕片の比重の逆数を表す。したがって、比重約２.７のアルミと他の非鉄金属（比重約７.１の亜鉛，比重約８.９の銅、真鍮）とを識別することが可能となる。
【００２９】
また、図５および図６は、インダクタンス変化の測定波形から破砕片２の各方向の投影面積を検出する方法を示している。図５は検出用コイル９Ａの破砕片２の通過における検出波形をコイルの出力電圧で示したものである。横軸に時間をとると破砕片２が接近すると、図４における破砕片２の前方の側面に生じた渦電流により出力はマイナスの波形を示す。したがって、このマイナス区間の波形を積分した値が破砕片２の前方の側面積Ｓ３に相当する。次に破砕片２がコイルの中央を通過すると、出力波形は破砕片２の平面上に生じた渦電流によってプラスの出力を示す。したがって、同様にこのプラスの区間を積分した値が破砕片２の平面積Ｓ１に相当する。
【００３０】
また、図６は検出用コイル９Ｃの検出波形を同様にコイルの出力電圧で示したものである。検出用コイル９Ｃは搬送装置３００の搬送面に対して水平方向に磁界をかけているので破砕片２が検出用コイル９Ｃに近ずくとマイナスの波形を示し、その積分値は破砕片２の前方側面の投影面積Ｓ３に相当する。また、破砕片２がコイルの中央を通過する時はプラスの波形を示し、その積分値Ｖ２は破砕片２の側面積Ｓ２に相当する。したがって、検出用コイル９Ａのマイナス波形の積分値をＶ３、プラスの波形の積分値をＶ１とし、検出用コイル９Ｃのプラスの波形の積分値をＶ２とすると、破砕片２の体積は（Ｖ１×Ｖ２×Ｖ３）の平方根で表される。
【００３１】
したがって、破砕片２の体積に相当するコイル出力／重量は、
（Ｖ１×Ｖ２×Ｖ３）  ／  Ｗ
で表され、しきい値を設定することで図３に示すようにしきい値より大きければアルミ、小さければ銅、真鍮、亜鉛と識別できる。識別されたアルミは、図１に示したアルミ回収装置６００によって回収される。このアルミ回収装置６００にもステンレス回収装置４００と同様に、搬送ガイドを兼ねたセパレータ６０１が設けられ、アクチュエータ１６によってセパレータ６０１を開閉させることにより、アルミを回収することができる。
【００３２】
次に、非金属、ステンレス、アルミは取り除かれ銅、真鍮、亜鉛を含む破砕片２は、搬送装置７００へ送られる。そして、搬送装置７００の上方に設けられた画像センサ７０１で破砕片表面の色が検出される。画像センサ７０１は色画像抽出装置７０２に接続され、この色画像抽出装置７０２は積算カウンタ７０３を介してインターフェース８に接続されている。また、画像センサ７０１の周囲には照明装置７０４が設けられ、色画像を検出するのに十分な照度を得ている。
【００３３】
画像センサ７０１で破砕片表面の色が検出されることで、破砕片は銅、真鍮、亜鉛に識別され、その識別結果に基づき銅は銅回収装置８００に、真鍮は真鍮回収装置８５０に、亜鉛は亜鉛回収装置９００に、どれにも該当しないその他の破砕片はその他回収装置９５０にそれぞれ回収される。なお、銅回収装置８００、真鍮回収装置８５０、および亜鉛回収装置９００には、アクチュエータ１６によって開閉駆動されるセパレータ８０１，８５１，９０１がそれぞれ設けられている。
【００３４】
画像センサ７０１の検出信号は色画像抽出装置７０２に取り込まれ、予め設定した基準の色と等価の色を画素単位で検出する。さらに等価と検出された画素信号は積算カウンタ７０３に送られて二値化され、その画素数がカウントされる。そして、検出した画像から銅、真鍮、亜鉛の基準色と等価な色の画素数が算出され、その算出結果がインターフェイス８を介して演算・制御装置２１に取り込まれる。
【００３５】
次に、図７〜図１０を用いて、色の検出による識別方法について具体的に説明する。まず、図７は例として銅の破砕片について検出し、破砕片全体を二値化した画像を示している。すなわち、図中、白ぬけの図形は銅の破砕片を表しており、投影面積に相当している。この面積は二値化した画素をカウントすることで求められＳ０とする。
【００３６】
図８は基準色として銅の色と等価な色の画素を抽出し、二値化（白抜け）したものを示している。その面積をカウントしＳ１（銅色の面積）とする。同様に図９は、基準色として真鍮の色と等価な色の画素を抽出し、二値化（白ぬけ）したものを示している。その面積をカウントしてＳ２（真鍮色の面積）とする。さらに図１１は、基準色として亜鉛の色と等価な色の画素を抽出し、二値化（白ぬけ）したものを示している。その面積をカウントしてＳ３（亜鉛色の面積）とする。そして、これらの測定した基準色と等価な各々の色の面積とこれらの等価色の面積の総和との比から材質を識別する。
【００３７】
すなわち、銅の色を示す面積比率    Ｓ１／（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３）
真鍮の色を示す面積比率  Ｓ２／（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３）
亜鉛の色を示す面積比率  Ｓ３／（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３）
を求め、これらの比の値の中で一番大きい色の材質として識別する。または、予めしきい値を設定しておき、そのしきい値を越えた材質に識別することも可能である。
【００３８】
次に、図１１は本発明での識別結果を従来での識別結果と比較したものである。従来用いられている識別方法は、例えば特開平７−２７５８０２号公報に開示されているように、破砕片の面積（Ｓ０）に対する各々抽出した各材質の色の面積の比から識別する。
【００３９】
すなわち、銅の色を示す面積比率は      Ｓ１／Ｓ０
真鍮の色を示す面積比率は    Ｓ２／Ｓ０
亜鉛の色を示す面積比率は    Ｓ３／Ｓ０
を求め、その比の値が一番大きい色の材質に識別している。
【００４０】
図１１において横軸に識別率（破砕片に対して測定した各等価色の面積比率の最大値）を示し、縦軸には破砕片に対して測定した各等価色の面積比率の最大値が横軸に示す識別率の値より大きい破砕片の割合を識別可能率として示している。本発明の識別方法によれば、図中のプロット（■）で示すように全体の８５％が識別率９０％で識別可能であり、全体の９５％が識別率７０％で識別可能である。特に全体の１００％が識別率５０％で識別可能である。それに対して従来の識別方法では、図中のプロット（●）で示すように識別率が５０％となるのは全体で１０％しかなく、全体の９５％の破砕片は識別率が１０％である。識別率が１０％程度では汚れの多い破砕片に対しては識別が不良となる。
【００４１】
次に、図１２は、本発明によって非磁性金属５種類を識別する際のフローを示している。ホッパから供給された破砕片は間隔検出が行われ、間隔不良の破砕片については再供給のためにホッパに戻され、間隔良の破砕片のみ識別部へ搬送される（ステップＳ１，Ｓ２）。そして識別部ではインダクタンス変化検出を行い（ステップＳ３）、その値の大きさから非金属の識別を行って（ステップＳ４）、非金属を回収する。次に２周波数間におけるインダクタンス変化の勾配からステンレスの識別を行って（ステップＳ５）、ステンレスを回収する。さらに破砕片の重量検出を行って（ステップＳ６）、インダクタンス変化と重量の比からアルミの識別を行って（ステップＳ７）、アルミを回収する。
【００４２】
また、他の非鉄金属に対しては色画像検出を行って（ステップＳ８）、銅、真鍮、亜鉛に対する材質固有の色と等価な色の面積を検出し、各々検出した色の面積の総和に対する各固有の色の面積比率から銅、真鍮、亜鉛とその他を識別して各々材質別に回収する。
【００４３】
なお、本実施の形態では、検出用コイル９Ａ，９Ｂ，９Ｃはインダクタンス測定手段を、重量測定装置５００は重量測定手段を、画像センサ７０１および色画像抽出装置７０２は色画像測定手段をそれぞれ構成している。また、第１〜第３の識別手段は演算・制御装置２１内に設けられている。
【００４４】
また、色を検出する際、破砕片の表面の汚れ（ダスト、油、錆等）、塗装、メッキにより誤識別する可能性がある場合は、図１３に示すように、破砕片の表面層を除去する表面層除去装置７５０を、搬送装置７００の上流側に配置すると良い。この表面層除去装置７５０は、軸先端に設けたワイヤブラシ７５１をモータ７５２で回転させることにより、搬送ベルト７０５上の破砕片２の表面層を除去することができる。また、色画像検出のタイミングはフォトセンサ１８により破砕片先端の通過タイミングを検出し、先端から表面除去を行う位置を算出しておけば、色画像の検出時にも破砕片先端をフォトセンサ１８で検出して表面層除去部７５３が色画像検出部に達したタイミングで測定を行うことができる。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、第一ステップとしてステンレスを識別し、第二ステップとしてアルミを識別し、第三ステップとして銅、真鍮、亜鉛を識別することができ、銅、真鍮、アルミ、亜鉛、ステンレスの選別回収を高精度に且つ自動的に行うことができる。
【００４６】
また、破砕片の中に非金属が混入していても、非磁性金属に比べてインダクタンス変化量が小さいことから非金属を容易に識別可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る金属の選別回収装置の全体構成図である。
【図２】ステンレスと他の非磁性金属との識別結果を示した図である。
【図３】アルミと銅、真鍮、亜鉛との識別結果を示した図である。
【図４】コイルにより測定する破砕片の３方向の面積を示した図である。
【図５】破砕片の平面方向に磁界を発生するコイルで破砕片を測定した出力波形を示した図である。
【図６】破砕片の側面方向に磁界を発生するコイルで破砕片を測定した出力波形を示した図である。
【図７】破砕片の投影面積を示す二値化画像を示した図である。
【図８】銅の基準色と等価な色の面積を示す二値化画像を示した図である。
【図９】真鍮の基準色と等価な色の面積を示す二値化画像を示した図である。
【図１０】亜鉛の基準色と等価な色の面積を示す二値化画像を示した図である。
【図１１】色による識別の本発明による方法と従来方法との精度比較を示した図である。
【図１２】本発明に係る金属の選別回収方法のフローを示した図である。
【図１３】表面層除去装置の構成図である。
【符号の説明】
２  破砕片
９Ａ，９Ｂ，９Ｃ  検出用コイル
１８  フォトセンサ
２１  演算・制御装置
１００  ホッパ
２００，３００，７００  搬送装置
３０１  エアーノズル
４００  ステンレス回収装置
５００  重量測定装置
６００  アルミ回収装置
７０１  画像センサ
７０２  色画像抽出装置
７０３  積算カウンタ
７０４  照明装置
７５０  表面層除去装置
８００  銅回収装置
８５０  真鍮回収装置
９００  亜鉛回収装置
９５０  その他回収装置
【図１】
0003728581.tif 000002
【図２】
0003728581.tif 000003
【図３】
0003728581.tif 000004
【図４】
0003728581.tif 000005
【図５】
0003728581.tif 000006
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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