(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の処理装置をマトリックス状に配列し、各行及び各列について、ループ状となるように互いに隣り合う処理装置間をそれぞれ中継線で接続して構成されるトーラスネットワークの接続状態の試験方法であって、
隣り合う複数の処理装置を構成要素とする試験パターンを一組とし、前記トーラスネットワークを構成する全ての処理装置を対象として、全ての試験パターンの組合せを算出する第１のステップと、
該第１のステップで求めた全ての試験パターンの組合せのうち、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる複数の試験パターン群を算出する第２のステップと、
該第２のステップで求めた複数の試験パターン群毎に逐次的に、該試験パターン群に含まれる全ての試験パターンについて同時に、接続状態の試験を行う第３のステップと、を有するトーラスネットワークの試験方法。
【請求項２】
請求項１に記載のトーラスネットワークの試験方法において、
前記試験パターンは、互いに隣り合う第１処理装置及び第２処理装置からなるトーラスネットワークの試験方法。
【請求項３】
請求項１に記載のトーラスネットワークの試験方法において、
前記試験パターンは、第１処理装置、該第１処理装置に隣り合う第２処理装置及び該第１処理装置の該第２処理装置と同方向反対側に隣り合う第３処理装置からなるトーラスネットワークの試験方法。
【請求項４】
請求項１に記載のトーラスネットワークの試験方法において、
前記試験パターンは、第１処理装置、該第１処理装置に隣り合う第２処理装置、該第１処理装置に隣り合う第３処理装置、及び該第２処理装置と該第３処理装置の双方に隣り合う第４処理装置からなるトーラスネットワークの試験方法。
【請求項５】
請求項１に記載のトーラスネットワークの試験方法において、
前記接続状態の試験は、前記試験パターンに含まれる第１処理装置と第２処理装置との間に他の第３処理装置が介在しない場合には該第１処理装置から該第２処理装置へ前記中継線を介して、該第１処理装置と該第２処理装置の間に他の第３処理装置が介在する場合には該第１処理装置から該第２処理装置へ該第３処理装置及び前記中継線を介して、所定のデータ列を送信し、送信されたデータ列と受信されたデータ列を比較することにより行うようにしたトーラスネットワークの試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、並列計算機を構成するのに採用される高速なネットワークであるトーラスネットワークの保守・点検を行うための試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
トーラスネットワークは、複数の処理装置をマトリックス状に配列し、行方向をＸ方向、列方向をＹ方向として、Ｘ方向にループ状となるように互いに隣り合う処理装置間をそれぞれＸ方向中継線で接続するとともに、Ｙ方向にループ状となるように互いに隣り合う処理装置間をそれぞれＹ方向中継線で接続して構成される。
【０００３】
このようなトーラスネットワークにおいて、各処理装置間の接続状態は常に正常である必要があるから、ネットワークの構成時にあるいは必要に応じて、各処理装置間の接続状態が正常であるか否かの試験が行われる。
【０００４】
トーラスネットワークの試験方法としては、以下のような方法が採用されている。なお、以下の説明では、４行４列のトーラスネットワーク（Ｘ＝０，１，２，３、Ｙ＝０，１，２，３）について、Ｘ方向に互いに隣り合う一対の処理装置を構成要素とする第１試験パターン及びＹ方向に互いに隣り合う一対の処理装置を構成要素とする第２試験パターンを採用して試験を行うものとし、各処理装置は〔Ｘ、Ｙ〕で表すことにする。
【０００５】
第１試験パターンについては、処理装置〔０、０〕と処理装置〔１、０〕について試験を行い、処理装置〔１、０〕と処理装置〔２、０〕について試験を行い、処理装置〔２、０〕と処理装置〔３、０〕について試験を行い、処理装置〔３、０〕と処理装置〔０、０〕について試験を行う。次いで、Ｙ＝１、２、３について順次同様に試験を行う。
【０００６】
第２試験パターンについては、処理装置〔０、０〕と処理装置〔０、１〕について試験を行い、処理装置〔０、１〕と処理装置〔０、２〕について試験を行い、処理装置〔０、２〕と処理装置〔０、３〕について試験を行い、処理装置〔０、３〕と処理装置〔０、０〕について試験を行う。次いで、Ｘ＝１、２、３について順次同様に試験を行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来技術の試験方法によると、一対の処理装置について組合せを変更しながら順次試験するものであるから、試験時間は処理装置の数に依存し、トーラスネットワークのシステム構成が小規模なものについては問題は少ないが、近時のようにシステム構成が大規模なものになると、試験時間が比例的に増加し、高効率的な試験を行うことができないという問題があった。
【０００８】
特に、トーラスネットワークの保守等に費やすことのできる時間は短縮される傾向にあるから、従来の試験方法では、大規模なトーラスネットワークの場合には、試験項目を削減せざるを得ず、十分な試験が行えない場合が生じていた。
【０００９】
よって、本発明の目的は、トーラスネットワークの規模に依存することなく、短時間で試験を実施することができるトーラスネットワークの試験方法を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
【００１１】
複数の処理装置をマトリックス状に配列し、各行及び各列について、ループ状となるように互いに隣り合う処理装置間をそれぞれ中継線で接続して構成されるトーラスネットワークの接続状態の試験方法であって、隣り合う複数の処理装置を構成要素とする試験パターンを一組とし、前記トーラスネットワークを構成する全ての処理装置を対象として、全ての試験パターンの組合せを算出する第１のステップと、該第１のステップで求めた全ての試験パターンの組合せのうち、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる複数の試験パターン群を算出する第２のステップと、該第２のステップで求めた複数の試験パターン群毎に逐次的に、該試験パターン群に含まれる全ての試験パターンについて同時に、接続状態の試験を行う第３のステップとを有するトーラスネットワークの試験方法である。
【００１２】
本発明方法によると、隣り合う複数の処理装置を構成要素とする試験パターンを一組とした全ての試験パターンの組合せのうち、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる複数の試験パターン群を算出し、一の試験パターン群に含まれる全ての試験パターンについて同時に接続状態の試験を行い、残余の試験パターン群について逐次同様に試験を行うようにしているから、トーラスネットワークの規模にかかわらず試験時間がほぼ一定になるとともに、試験時間の短縮化を図ることができる。
【００１３】
なお、試験パターン及び試験内容としては各種のものを採用することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明することにする。
図１は、本発明が適用されるトーラスネットワークの一例を示している。トーラスネットワークは、図１に示されているように、複数の処理装置（ＰＥ）１をｍ行ｎ列（図１では４行４列）のマトリックス状に配列し、行方向をＸ方向、列方向をＹ方向として、Ｘ方向にループ状となるように互いに隣り合う処理装置１間をそれぞれＸ方向中継線２で接続するとともに、Ｙ方向にループ状となるように互いに隣り合う処理装置１間をそれぞれＹ方向中継線３で接続して構成される。
【００１５】
図１においては図示の都合上、端部の処理装置１間の中継線、例えば、処理装置〔０、０〕と処理装置〔３、０〕とのＸ方向中継線２は切断されて表示されているが、実際にはこれらは接続されており、例えば、処理装置〔３、０〕と処理装置〔３、３〕とのＹ方向中継線３は切断されて表示されているが、実際にはこれらは接続されている。他の端部の処理装置についても同様である。
【００１６】
各処理装置１は、図２に示されているように、メッセージコントローラ（ＭＳＣ）／ルーティングコントローラ（ＲＴＣ）４を備えており、各処理装置１のメッセージコントローラ／ルーティングコントローラ４がトーラスネットワークの中継線２、３により接続されている。
【００１７】
また、図２において、５はトーラスネットワークの保守用のコントロールワークステーション（Ｃ−ＷＳ）であり、コントロールワークステーション５はシステムコントローラ（ＳＹＳＣＴＬ）６及び保守者とのインタフェース用のコンソール７を備えている。システムコントローラ６はシステムコントロールネットワーク８を介して各処理装置１のメッセージコントローラ／ルーティングコントローラ４に接続されている。
【００１８】
また、コントロールワークステーション５はローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）９を介して各処理装置１に接続されている。試験時においては、コントロールワークステーション５では、試験制御プログラム１０が実行され、被試験装置としての処理装置１においては、サブ制御プログラム１１を介して試験プログラム１２が実行される。
【００１９】
次に、試験制御処理について説明する。図３は、コントロールワークステーション５における試験制御の処理フローチャートである。オペレータはこのトーラスネットワークの試験を実施するときには、コントロールワークステーション５のコンソール７を用いて試験制御プログラム１０を起動する。
【００２０】
この試験制御プログラム１０の実行に伴う試験制御機能により、システムコントローラ６及びシステムコントロールネットワーク８を介して各処理装置１のルーティングコントローラ４が初期化されるとともに、各処理装置１についてのシステム構成情報を取得する（ステップ「以下ＳＴと略す」１）。
【００２１】
取得した各処理装置１のシステム構成情報を、トーラスネットワークの構成と同様な２次元配列に変換し（ＳＴ２）、２次元配列に変換したネットワーク構成情報に基づき、各試験パターン（Ｘ方向通信、Ｙ方向通信、Ｘ方向中継、Ｙ方向中継、方向転換中継）のうちの一の試験パターンを抽出する（ＳＴ３）。
【００２２】
抽出した試験パターンを一組として、このトーラスネットワークを構成する全ての処理装置を対象として、全ての試験パターンの組合せを算出し（ＳＴ４）、ＳＴ４で求めた全ての試験パターンの組合せのうち、互いに重複を生じない（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれない）複数の試験パターンからなる複数の試験パターン群を算出する（ＳＴ５）。
【００２３】
次に、これらの試験パターン群のうちの一の試験パターン群に含まれる各試験パターンをそれぞれ構成する各処理装置１の試験プログラム１２をそれぞれ同時に起動する（ＳＴ６）。
【００２４】
この起動はローカルエリアネットワーク９経由で行われ、起動命令には、起動対象である処理装置１のアドレス、処理内容（受信処理、送信処理）が含まれる。これにより、この試験パターン群に含まれる各試験パターンを構成する処理装置１間で、所定のデータ列の送受信等の試験が実施され、その結果をローカルエリアネットワーク９経由で取得する（ＳＴ７）。
【００２５】
全ての試験パターン群についての試験が終了しているか否かを判断し（ＳＴ８）、終了していない場合にはＳＴ６に戻って、他の試験パターン群について同様に試験を実施し、終了している場合には、さらに全ての試験パターンについて処理が終了しているか否かを判断する（ＳＴ９）。
【００２６】
ＳＴ９において、全ての試験パターンについて処理が終了していない場合には、ＳＴ３に戻って他の試験パターンについて同様の処理を行い、終了している場合には、結果を判定し、コンソール７に判定結果を出力して（ＳＴ１０）、この試験制御処理を終了する。
【００２７】
ここで、試験パターンの前提となる通信パターンについて考える。図１において、一の処理装置（例えば、処理装置〔１、１〕）に着目したときの基本的な通信パターンとしては、図４（ａ）〜図４（ｅ）に示すようなものがある。
【００２８】
図４（ａ）は他の処理装置からの受信の場合を示しており、東の処理装置〔２、１〕から、西の処理装置〔０、１〕から、南の処理装置〔１、２〕から、北の処理装置〔１、０〕からそれぞれ受信する場合の４つの通信パターンがある。
【００２９】
図４（ｂ）は他の処理装置への送信の場合を示しており、東の処理装置〔２、１〕へ、西の処理装置〔０、１〕へ、南の処理装置〔１、２〕へ、北の処理装置〔１、０〕へ送信する場合の４つの通信パターンがある。
【００３０】
図４（ｃ）は中継の場合であって、Ｘ方向からＸ方向へ中継する場合（Ｘ方向中継）、又はＹ方向からＹ方向へ中継する場合（Ｙ方向中継）を示しており、東の処理装置〔２、１〕から西の処理装置〔０、１〕へ、西の処理装置〔０、１〕から東の処理装置〔２、１〕へ、南の処理装置〔１、２〕から北の処理装置〔１、０〕へ、北の処理装置〔１、０〕から南の処理装置〔１、２〕への各通信についてそれぞれ中継する場合の４つの通信パターンがある。
【００３１】
図４（ｄ）は中継の場合であって、Ｘ方向からＹ方向に中継する場合（方向転換中継）を示しており、東の処理装置〔２、１〕から南の処理装置〔１、２〕へ、東の処理装置〔２、１〕から北の処理装置〔１、０〕へ、西の処理装置〔０、１〕から南の処理装置〔１、２〕へ、西の処理装置〔０、１〕から北の処理装置〔１、０〕への各通信についてそれぞれ中継する場合の４つの通信パターンがある。
【００３２】
図４（ｅ）は中継の場合であって、Ｙ方向からＸ方向に中継する場合（方向転換中継）を示しており、南の処理装置〔１、２〕から東の処理装置〔２、１〕へ、南の処理装置〔１、２〕から西の処理装置〔０、１〕へ、北の処理装置〔１、０〕から東の処理装置〔２、１〕へ、北の処理装置〔１、０〕から西の処理装置〔０、１〕への各通信についてそれぞれ中継する場合の４つの通信パターンがある。
【００３３】
従って、基本的な通信パターンは全部で２０パターン存在することになる。
次に、図１において一の処置装置（例えば、処理装置〔１、１〕）に着目したときの試験パターン及び試験内容について説明する。
【００３４】
図４（ａ）及び図４（ｂ）に示す送信及び受信の場合の８つの通信パターンについては、図５（ａ）〜図５（ｄ）に示されるような４つの試験パターン１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄについて、図６（ａ）及び図６（ｂ）に示されるような試験内容を実行すれば良い。
【００３５】
即ち、各試験パターン１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄに含まれる各処理装置において、図６（ａ）に示されているように、第２処理装置１ｂから第１処理装置１ａへ中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第２処理装置１ｂから送信されたデータ列と第１処理装置１ａで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００３６】
また、図６（ｂ）に示されているように、第１処理装置１ａから第２処理装置１ｂへ中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第１処理装置１ａから送信されたデータ列と第２処理装置１ｂで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００３７】
図４（ｃ）に示すＸ方向中継及びＹ方向中継の場合の４つの通信パターンについては、図７（ａ）及び図７（ｂ）に示されるような２つの試験パターン１４ａ、１４ｂについて、図８（ａ）及び図８（ｂ）に示されるような試験内容を実行すれば良い。
【００３８】
即ち、各試験パターン１４ａ、１４ｂに含まれる各処理装置において、図８（ａ）に示されているように、第１処理装置１ａの一方に隣り合う第２処理装置１ｂから第３処理装置１ｃへ第１処理装置１ａ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第２処理装置１ｂから送信されたデータ列と第３処理装置１ｃで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００３９】
図８（ｂ）に示されているように、第１処理装置１ａの一方に隣り合う第２処理装置１ｂへ第３処理装置１ｃから第１処理装置１ａ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第３処理装置１ｃから送信されたデータ列と第２処理装置１ｂで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４０】
図４（ｄ）に示すＸ方向からＹ方向への方向転換中継の場合の４つの通信パターンについては、図９（ａ）〜図９（ｄ）に示されるような４つの試験パターン１５ａ、１５ｂ、１５ｃ、１５ｄについて、図１０（ａ）〜図１０（ｄ）に示されるような試験内容を実行すれば良い。
【００４１】
即ち、各試験パターン１５ａ、１５ｂ、１５ｃ、１５ｄに含まれる各処理装置において、図１０（ａ）に示されているように、第１処理装置１ａから第３処理装置１ｃへ第２処理装置１ｂ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第１処理装置１ａから送信されたデータ列と第３処理装置１ｃで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４２】
図１０（ｂ）に示されているように、第３処理装置１ｃから第１処理装置１ａへ第４処理装置１ｄ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第３処理装置１ｃから送信されたデータ列と第１処理装置１ａで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４３】
図１０（ｃ）に示されているように、第２処理装置１ｂから第４処理装置１ｄへ第１処理装置１ａ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第２処理装置１ｂから送信されたデータ列と第４処理装置１ｄで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４４】
図１０（ｄ）に示されているように、第４処理装置１ｄから第２処理装置１ｂへ第３処理装置１ｃ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第４処理装置１ｄから送信されたデータ列と第２処理装置１ｂで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４５】
図４（ｅ）に示すＹ方向からＸ方向への方向転換中継の場合の４つの通信パターンについては、図９（ａ）〜図９（ｄ）に示されるような４つの試験パターン１５ａ、１５ｂ、１５ｃ、１５ｄについて、図１１（ａ）〜図１１（ｄ）に示されるような試験内容を実行すれば良い。
【００４６】
即ち、各試験パターン１５ａ、１５ｂ、１５ｃ、１５ｄにおいて、図１１（ａ）に示されているように、第１処理装置１ａから第３処理装置１ｃへ第４処理装置１ｄ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第１処理装置１ａから送信されたデータ列と第３処理装置１ｃで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４７】
図１１（ｂ）に示されているように、第３処理装置１ｃから第１処理装置１ａへ第２処理装置１ｂ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第３処理装置１ｃから送信されたデータ列と第１処理装置１ａで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４８】
図１１（ｃ）に示されているように、第２処理装置１ｂから第４処理装置１ｄへ第３処理装置１ｃ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第２処理装置１ｂから送信されたデータ列と第４処理装置１ｄで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００４９】
図１１（ｄ）に示されているように、第４処理装置１ｄから第２処理装置１ｂへ第１処理装置１ａ及び中継線２、３を介して、所定のデータ列を送信し、第４処理装置１ｄから送信されたデータ列と第２処理装置１ｂで受信されたデータ列を比較し、一致の場合には正常、不一致の場合には異常と判断する。
【００５０】
以上、特定の処理装置〔１、１〕に着目して、試験パターン及び試験内容について説明したが、次に、トーラスネットワーク全体について考察する。
通信の方向について着目して、試験パターンを考えると、Ｘ方向通信（Ｘ方向に隣り合う処理装置との通信）、Ｙ方向通信（Ｙ方向に隣り合う処理装置との通信）、Ｘ方向中継（Ｘ方向に隣り合う処理装置からＸ方向に隣り合う処理装置への中継）、Ｙ方向中継（Ｙ方向に隣り合う処理装置からＹ方向に隣り合う処理装置への中継）、方向転換中継（Ｘ方向に隣り合う処理装置からＹ方向に隣り合う処理装置への中継又はＹ方向に隣り合う処理装置からＸ方向に隣り合う処理装置への中継）をあげることができる。
【００５１】
〔Ｘ方向通信〕
図１２（ａ）及び図１２（ｂ）は、４行４列のトーラスネットワークのＸ方向通信についての試験パターン群を示している。
【００５２】
このトーラスネットワークにおいて、Ｘ方向通信を試験パターンとする全ての試験パターンの組合せは１６通りあり、この１６通りの組合せにおいて重複を生じないように（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれないように）分類して、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる試験パターン群を求めると、図１２（ａ）及び図１２（ｂ）のようになる。この場合の試験パターン群の数は２つである。
【００５３】
試験は、図１２（ａ）に示される各試験パターンに含まれる一対の処理装置間で、図６（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図６（ｂ）に示される試験を同様に実施する。次に、図１２（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる一対の処理装置間で、図６（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図６（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００５４】
図１３（ａ）及び図１３（ｂ）は、８行８列のトーラスネットワークのＸ方向通信についての試験パターン群を示している。ネットワーク規模が拡大した場合においても、試験パターン群の数は同様であり、試験に要する時間は、試験パターン群の数に依存し、処理装置の数に依存しないから、ネットワーク規模にかかわらず一定の時間で試験を行うことができる。
【００５５】
〔Ｙ方向通信〕
図１４（ａ）及び図１４（ｂ）は、４行４列のトーラスネットワークのＹ方向通信についての試験パターン群を示している。
【００５６】
このトーラスネットワークにおいて、Ｙ方向通信を試験パターンとする全ての試験パターンの組合せは１６通りあり、この１６通りの組合せにおいて、重複を生じないように（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれないように）分類して、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる試験パターン群を求めると、図１４（ａ）及び図１４（ｂ）のようになる。この場合の試験パターン群の数は２つである。
【００５７】
試験は、図１４（ａ）に示される各試験パターンに含まれる一対の処理装置間で、図６（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図６（ｂ）に示される試験を同様に実施する。次に、図１４（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる一対の処理装置間で、図６（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図６（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００５８】
図１５（ａ）及び図１５（ｂ）は、８行８列のトーラスネットワークのＹ方向通信についての試験パターン群を示している。ネットワーク規模が拡大した場合においても、試験パターン群の数は同様であり、試験に要する時間は、試験パターン群の数に依存し、処理装置の数に依存しないから、ネットワーク規模にかかわらず一定の時間で試験を行うことができる。
【００５９】
〔Ｘ方向中継〕
図１６（ａ）〜図１６（ｄ）は、４行４列のトーラスネットワークのＸ方向中継についての試験パターン群を示している。
【００６０】
このトーラスネットワークにおいて、Ｘ方向中継を試験パターンとする全ての試験パターンの組合せは１６通りあり、この１６通りの組合せにおいて、重複を生じないように（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれないように）分類して、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる試験パターン群を求めると、図１６（ａ）〜図１６（ｄ）のようになる。この場合の試験パターン群の数は４つである。
【００６１】
試験は、図１６（ａ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。図１６（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００６２】
次に、図１６（ｃ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。図１６（ｄ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００６３】
図１７（ａ）〜図１７（ｄ）は、７行７列のトーラスネットワークのＸ方向中継についての試験パターン群を示している。ネットワーク規模が拡大した場合においても、試験パターン群の数は同様であり、試験に要する時間は、試験パターン群の数に依存し、処理装置の数に依存しないから、ネットワーク規模にかかわらず一定の時間で試験を行うことができる。
【００６４】
〔Ｙ方向中継〕
図１８（ａ）〜図１８（ｄ）は、４行４列のトーラスネットワークのＹ方向中継についての試験パターン群を示している。
【００６５】
このトーラスネットワークにおいて、Ｙ方向中継を試験パターンとする全ての試験パターンの組合せは１６通りあり、この１６通りの組合せにおいて、重複を生じないように（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれないように）分類して、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる試験パターン群を求めると、図１８（ａ）〜図１８（ｄ）のようになる。この場合の試験パターン群の数は４つである。
【００６６】
試験は、図１８（ａ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。図１８（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００６７】
次に、図１８（ｃ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。図１８（ｄ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図８（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施した後、図８（ｂ）に示される試験を同様に実施する。
【００６８】
図１９（ａ）〜図１９（ｄ）は、７行７列のトーラスネットワークのＹ方向中継についての試験パターン群を示している。ネットワーク規模が拡大した場合においても、試験パターン群の数は同様であり、試験に要する時間は、試験パターン群の数に依存し、処理装置の数に依存しないから、ネットワーク規模にかかわらず一定の時間で試験を行うことができる。
【００６９】
〔方向転換中継〕
図２０（ａ）〜図２０（ｄ）は、４行４列のトーラスネットワークの方向転換中継（Ｘ方向からＹ方向への中継及びＹ方向からＸ方向への中継）についての試験パターン群を示している。
【００７０】
このトーラスネットワークにおいて、方向転換中継を試験パターンとする全ての試験パターンの組合せは１６通りあり、この１６通りの組合せにおいて、重複を生じないように（一の処理装置が同時に複数の試験パターンに含まれないように）分類して、互いに重複を生じない複数の試験パターンからなる試験パターン群を求めると、図２０（ａ）〜図２０（ｄ）のようになる。この場合の試験パターン群の数は４つである。
【００７１】
Ｘ方向からＹ方向への方向転換中継についての試験は、図２０（ａ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１０（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１０（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｄ）に示される試験を同様に実施する。図２０（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１０（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１０（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｄ）に示される試験を同様に実施する。
【００７２】
次に、図２０（ｃ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１０（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１０（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｄ）に示される試験を同様に実施する。図２０（ｄ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１０（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１０（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１０（ｄ）に示される試験を同様に実施する。
【００７３】
また、Ｙ方向からＸ方向への方向転換中継についての試験は、図２０（ａ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１１（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１１（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｄ）に示される試験を同様に実施する。図２０（ｂ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１１（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１１（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｄ）に示される試験を同様に実施する。
【００７４】
次に、図２０（ｃ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１１（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１１（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｄ）に示される試験を同様に実施する。図２０（ｄ）に示される各試験パターンに含まれる各処理装置間で、図１１（ａ）に示される試験を各試験パターンについて同時に実施し、図１１（ｂ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｃ）に示される試験を同様に実施し、図１１（ｄ）に示される試験を同様に実施する。
【００７５】
図２１（ａ）〜図２１（ｄ）は、８行８列のトーラスネットワークの方向転換中継についての試験パターン群を示している。ネットワーク規模が拡大した場合においても、試験パターン群の数は同様であり、試験に要する時間は、試験パターン群の数に依存し、処理装置の数に依存しないから、ネットワーク規模にかかわらず一定の時間で試験を行うことができる。
【００７６】
上述した本実施の形態によると、基本的な通信パターンから試験パターンを作成し、データ通信の方向性に着目して、互いに重複しない複数の試験パターンからなる複数の試験パターン群を求め、各試験パターン群のそれぞれについて逐次的に、該試験パターン群に含まれる各試験パターンについて同時に試験を実施するようにしたから、トーラスネットワークの規模の大小によらず、ほぼ一定の時間で試験を実施することができるとともに、試験時間の短縮化を図ることができる。
【００７７】
【発明の効果】
本発明方法を採用してトーラスネットワークの試験を実施することにより、トーラスネットワークの規模に依存することなく、短時間で試験を実施することができるようになるという効果がある。また、本発明方法では，各試験を通信の最小単位の処理装置の組合せ（隣接する処理装置や中継など）で実施することにより、障害が発生した処理装置や中継線が即座に特定できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態のトーラスネットワークの構成例を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態のトーラスネットワークの試験時における要部構成を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態の試験制御の処理フローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態の通信パターンを示す図であり、（ａ）は受信を、（ｂ）は送信を、（ｃ）はＸ方向中継及びＹ方向中継を、（ｄ）はＸ方向からＹ方向への方向転換中継を、（ｅ）はＹ方向からＸ方向への方向転換中継を示している。
【図５】本発明の実施の形態の送信及び受信の場合の試験パターンを示す図である。
【図６】本発明の実施の形態の送信及び受信の場合の試験内容を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態のＸ方向中継及びＹ方向中継の場合の試験パターンを示す図である。
【図８】本発明の実施の形態のＸ方向中継及びＹ方向中継の場合の試験内容を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態の方向転換中継の場合の試験パターンを示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態のＸ方向からＹ方向への方向転換中継の場合の試験内容を示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態のＹ方向からＸ方向への方向転換中継の場合の試験内容を示す図である。
【図１２】本発明の実施の形態の４行４列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｘ方向通信を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１３】本発明の実施の形態の８行８列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｘ方向通信を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１４】本発明の実施の形態の４行４列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｙ方向通信を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１５】本発明の実施の形態の８行８列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｙ方向通信を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１６】本発明の実施の形態の４行４列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｘ方向中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１７】本発明の実施の形態の７行７列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｘ方向中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１８】本発明の実施の形態の４行４列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｙ方向中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図１９】本発明の実施の形態の７行７列のトーラスネットワークを示す図であり、Ｙ方向中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図２０】本発明の実施の形態の４行４列のトーラスネットワークを示す図であり、方向転換中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【図２１】本発明の実施の形態の８行８列のトーラスネットワークを示す図であり、方向転換中継を試験パターンとする場合の試験パターン群を示している。
【符号の説明】
１  処理装置（ＰＥ）
２  トーラスネットワークのＸ方向中継線
３  トーラスネットワークのＹ方向中継線
４  メッセージコントローラ（ＭＳＣ）／ルーティングコントローラ（ＲＴＣ）
５  コントロールワークステーション（Ｃ−ＷＳ）
６  システムコントローラ（ＳＹＳＣＴＬ）
７  コンソール
８  システムネットワーク
９  ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）
１０  試験制御プログラム
１１  サブ制御プログラム
１２  試験プログラム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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