(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報が書き換え可能な光記録媒体に対して情報を記録する光記録装置において、
光ビームの再生パワーを制御するためのパワー制御パターンに応じた信号を発生する第１のパターン発生手段と、
前記パワー制御パターンを再生する際の再生クロックの位相を調整するための位相調整パターンに応じた信号を発生する第２のパターン発生手段と、
第１のパターン発生手段の出力と第２のパターン発生手段の出力とを切り替えて、前記光記録媒体の各セクタ毎に前記位相調整パターンおよび前記パワー制御パターンをこの順に記録するパターン記録手段とを備えており、
前記パワー制御パターンは、マーク長およびスペース長の短い短マーク・スペースパターンと、マーク長およびスペース長の長い長マーク・スペースパターンとを含んでおり、
前記位相調整パターンのマーク長およびスペース長は、最短記録長よりも大きいことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光記録装置であって、
前記短マーク・スペースパターンのマーク長およびスペース長は、何れかが最短記録長であることを特徴とする光記録装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光記録装置であって、
前記短マーク・スペースパターンは、マーク長およびスペース長が異なっており、
前記位相調整パターンは、マーク長およびスペース長が等しいことを特徴とする光記録装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載の光記録装置であって、
前記パターン記録手段は、前記パワー制御パターン及び前記位相調整パターンを各セクタの先頭のヘッダ部に記録することを特徴とする光記録装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の光記録装置であって、
前記位相調整パターンおよび前記パワー制御パターンのどちらとも異なる同期パターンを発生する第３のパターン発生手段をさらに備えており、
前記パターン記録手段は、第１のパターン発生手段の出力の直前に前記第３のパターン発生手段の出力を加えて、前記パワー制御パターンの直前に前記同期パターンを記録することを特徴とする光記録装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光記録装置であって、
前記パターン記録手段は、前記位相調整パターン、前記同期パターン、および前記パワー制御パターンの順番で連続して記録することを特徴とする光記録装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の光記録装置によって記録された光記録媒体を再生する光再生装置であって、
前記光記録媒体に記録された位相調整パターンによって再生クロックの位相を調整する位相調整手段と、
前記位相調整手段の出力のタイミングによって、前記光記録媒体に記録されたパワー制御パターンからの再生信号のＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換手段と、
前記Ａ／Ｄ変換手段の出力から前記パワー制御パターンからの再生信号の振幅値を検出する振幅検出手段と、
前記振幅検出手段によって検出された振幅値に基づいて再生パワーを制御するパワー制御手段とを備えることを特徴とする光再生装置。
【請求項８】
請求項５または請求項６に記載の光記録装置によって記録された光記録媒体を再生する光再生装置であって、
前記光記録媒体に記録された位相調整パターンによって再生クロックの位相を調整する位相調整手段と、
前記光記録媒体に記録された同期パターンを検出する同期検出手段と、
前記位相調整手段の出力のタイミングによって、前記光記録媒体に記録されたパワー制御パターンからの再生信号のＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換手段と、
前記同期検出手段による前記同期パターンの検出に基づき、前記Ａ／Ｄ変換手段の出力から前記パワー制御パターンからの再生信号の振幅値の検出を開始する振幅検出手段とを備えることを特徴とする光再生装置。
【請求項９】
請求項１乃至請求項６の何れか１項に記載の光記録装置によって記録されたことを特徴とする光記録媒体。
【請求項１０】
請求項９に記載の光記録媒体であって、最短記録長をＴとしたときに、前記位相調整パターンは長さ２Ｔのマークと長さ２Ｔのスペースとの繰り返しからなるパターンであり、前記パワー制御パターンの短マーク・スペースパターンは長さ２Ｔのマークと長さ１Ｔのスペースとの繰り返しからなるパターンであることを特徴とする光記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気的超解像方式の光記録媒体に制御用パターンを記録して、その再生信号に基づいて光ビームの再生パワーを制御する光記録装置及び光再生装置及び光記録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ビームのスポット径よりも小さい記録マークの再生を可能とする磁気的超解像方式の光磁気ディスクが注目されている。この光磁気ディスクは、例えば、記録層と室温で面内磁化を示す再生層とを備えた構成からなり、情報の再生時には、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分（以下、アパーチャという）のみの再生層を、面内磁化から垂直磁化に移行させ記録層の磁性を転写させる。
【０００３】
この方式においては、光ビームを発生させる駆動電流を一定に保っていても、再生時の環境温度の変化に応じて光ビームの最適な再生パワーが変動してしまうことがある。そして、再生パワーが強くなり過ぎるとアパーチャが大きくなり過ぎて、隣接するトラックからの再生信号の出力が増大し、再生されるデータに含まれる雑音信号の割合が多くなって、読み取りエラーの発生する確率が高くなる。また、再生パワーが弱くなり過ぎると、記録マークよりもアパーチャが小さくなるとともに、読み取ろうとしているトラックからの再生信号の出力も小さくなって、やはり読み取りエラーの発生確率が高くなる。
【０００４】
そこで、特開平１１−７６６８号公報では、異なる２種類のマーク・スペース長の再生パワー制御用パターンを再生し、それらの再生信号振幅の比が所定値に近づくように再生パワーを制御することによって、再生パワーを常に最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させている。なお、ここでは、２種類の再生パワー制御用パターンのうちの短い方のパターンとして、１Ｔ（Ｔは最短記録長）では振幅値が小さいためＳ／Ｎ比が低すぎ、２Ｔでは振幅値が大きいため最適なアパーチャを検出するために十分な振幅比変化の感度が得られないので、１Ｔと２Ｔの混合パターンを用いている。
【０００５】
図５は、この記録再生装置の構成を示すブロック図である。図６は、上述の記録再生装置において用いる光磁気ディスク２０の構造を示す図である。図７は、再生パワー制御用の短マーク・スペースパターンと長マーク・スペースパターンを説明する図である。以下、これらの図を用いて上記記録再生装置について、特に、再生パワーの制御動作について説明する。
【０００６】
図６に示すように、光磁気ディスク２０にはセクタ２００単位でデータが記録される。各セクタ２００の先頭には短マーク・スペース記録領域１０３，長マーク・スペース記録領域１０４が配置され、その後ろに情報データを記録するデータ記録領域１０５が配置されている。
【０００７】
図７（ａ）（ｂ）に示すように、短マーク・スペース記録領域１０３は２Ｔマークと１Ｔスペースの繰り返しにより形成されており、長マーク・スペース記録領域１０４は８Ｔマークと８Ｔスペースの繰り返しにより形成されている。
【０００８】
このような光磁気ディスク２０に再生パワー制御用パターンを記録する動作について説明する。
【０００９】
半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク２０上のセクタ２００の先頭領域に配置された短マーク・スペース記録領域１０３に照射される。このとき、レーザパワー制御回路１３から半導体レーザ２に供給される駆動電流は記録用の高パワーとなる。
【００１０】
また、同時に、磁気ヘッド１８から外部磁界が光磁気ディスク２０に印加される。この際、パワー制御パターン発生回路１６が１Ｔと２Ｔの時間間隔で磁気ヘッド１８の極性を切り換える。
【００１１】
これにより、短マーク・スペース記録領域１０３には図７（ａ）のような２Ｔマークと１Ｔスペースが記録される。同様に、長マーク・スペース記録領域１０４には、パワー制御パターン発生回路１６が８Ｔの時間間隔で磁気ヘッド１８の極性を切り換えることによって、図７（ｂ）のような８Ｔマークと８Ｔスペースが記録される。
【００１２】
次に、上記記録再生装置の再生動作を説明する。半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク２０上のセクタ２００の短マーク・スペース記録領域１０３に照射されると、その領域に記録された短マーク・スペースパターンからの反射光がフォトダイオード３によって再生信号に変換される。そして、増幅器４によって低域成分を除去された上で、Ａ／Ｄ変換器５の入力レンジに適したレベルに増幅される。続いて、Ａ／Ｄ変換器５によってＡ／Ｄ変換され、更に、短マーク・スペース振幅検出回路９に入力されて短マーク・スペースパターンの振幅値が求められる。同様にして、長マーク・スペース記録領域１０４からの反射光は、フォトダイオード３、増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５、長マーク・スペース振幅検出回路８を経て、長マーク・スペースパターンの振幅値が求められる。
【００１３】
尚、ここでのＡ／Ｄ変換は、それぞれの再生信号から再生クロック抽出回路１９において抽出されたクロックのタイミングによって行われる。こうして求められた短マーク・スペースパターン、及び長マーク・スペースパターンの振幅値は、割り算回路１１に入力されて振幅比として出力され、この検出振幅比と目標値が差動増幅器１２によって比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるように、レーザパワー制御回路１３によって半導体レーザ２の駆動電流が制御される。
【００１４】
このようにして、最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光の駆動電流が制御された後、出射光はデータ記録領域１０５に照射され、そこからの反射光がフォトダイオード３、増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を経て再生データ処理回路１０に入力されて、エラーレートの低い再生情報データが出力される。そして、出射光が次のセクタに到達すると、同様の処理が繰り返されて、新たに最適な再生パワーに設定し直される。
【００１５】
以上説明したように、従来の記録再生装置では、再生パワー制御用マークの記録領域をセクタ毎に分散して設けて、セクタ毎に再生パワー制御のための再生信号量を検出することにより、短い時間間隔で再生パワー制御が応答し、最適再生パワーの短時間の変動に追従することが可能となる。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来の記録再生装置では以下に示すような問題があった。
【００１７】
（課題１）
従来例の記録再生装置におけるＡ／Ｄ変換は、既に説明したように、それぞれの再生信号から再生クロック抽出回路１９において抽出されたクロックのタイミングによって行われる。そのため、ここで抽出されるクロックの周波数や位相が正常な値からずれていると、検出される短マーク・スペースの振幅値が実際の値とはずれた値となるので、これに基づいて制御される光ビームの再生パワーが異常な値となってしまい、エラーレートの低い再生を行うどころか、記録データを消去してしまったり、最悪の場合、半導体レーザを破壊してしまう危険性さえあった。
【００１８】
（課題２）
図８は、従来例において、短マーク・スペースパターンの再生信号から抽出されるクロックを説明するものである。（ａ）で示されるような２Ｔマークと１Ｔスペースからなる短マーク・スペースパターンを再生すると、（ｂ）のような再生波形が得られる。この波形を０レベルで二値化すると、（ｃ）で示すようにマーク端に対応したエッジを持つ二値化信号が得られるので、このエッジに位相が合った（ｄ）のようなクロックを抽出することができる。このクロックの立ち上がりタイミングでＡ／Ｄ変換のサンプリングを行えば、（ｅ）に○で示すように最適な位相で再生波形をサンプリングすることができる。
【００１９】
ところが、短マーク・スペースパターンはマークとスペースの長さが異なっているため、その再生信号に低域周波数成分を含んでおり、この低域成分は増幅器４を通過する際に除去される。この低域成分除去は、増幅器４内のＨＰＦ（Ｈｉｇｈ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）によって実現されており、ＨＰＦの時定数（応答性を表す定数）によって程度は異なるが、いくらかの時間的遅れを伴って作用する。
【００２０】
従って、短マーク・スペース記録領域１０３の最初の部分を再生する際には、上述のように適正なクロックが抽出できるが、徐々に低域成分が失われていくにつれて、再生波形は（ｆ）で示すように０レベルに対して上下対称に近づいていくため、二値化信号（ｇ）のエッジに位相を合わせたクロック（ｈ）の立ち上がりタイミングで再生波形をサンプリングすると、（ｉ）に示すように、最適な位相から最大１／４クロックずれた位相でサンプリングされてしまう。
【００２１】
こうなると、得られる短マーク・スペースの振幅値が実際の値とは大きくずれたものとなるので、これに基づいて制御される光ビームの再生パワーも異常な値となってしまい、エラーレートの低い再生を行うどころか、記録データを消去してしまったり、最悪の場合、半導体レーザを破壊してしまう危険性さえあった。
【００２２】
本発明は、上記問題点を解決するものであって、位相の安定したクロックに基づいて再生パワー制御用パターンを再生し、適切な振幅値を求めることのできる光記録装置，光再生装置及びそれに用いる光磁気記録媒体を提供することを目的とする。
【００２３】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の光記録装置は、情報が書き換え可能な光記録媒体に対して情報を記録する光記録装置において、光ビームの再生パワーを制御するためのパワー制御パターンに応じた信号を発生する第１のパターン発生手段と、前記パワー制御パターンを再生する際の再生クロックの位相を調整するための位相調整パターンに応じた信号を発生する第２のパターン発生手段と、第１のパターン発生手段の出力と第２のパターン発生手段の出力とを切り替えて、前記光記録媒体の各セクタ毎に前記位相調整パターンおよび前記パワー制御パターンをこの順に記録するパターン記録手段とを備えており、前記パワー制御パターンは、マーク長およびスペース長の短い短マーク・スペースパターンと、マーク長およびスペース長の長い長マーク・スペースパターンとを含んでおり、前記位相調整パターンのマーク長およびスペース長は、最短記録長よりも大きいことを特徴とする。
【００２４】
請求項２に記載の光記録装置は、請求項１に記載の光記録装置であって、前記短マーク・スペースパターンのマーク長およびスペース長は、何れかが最短記録長であることを特徴とする。
【００２５】
請求項３に記載の光記録装置は、請求項１または請求項２に記載の光記録装置であって、前記短マーク・スペースパターンは、マーク長およびスペース長が異なっており、前記位相調整パターンは、マーク長およびスペース長が等しいことを特徴とする。
【００２６】
請求項４に記載の光記録装置は、請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載の光記録装置であって、前記パターン記録手段は、前記パワー制御パターン及び前記位相調整パターンを各セクタの先頭のヘッダ部に記録することを特徴とする。
【００２７】
請求項５に記載の光記録装置は、請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の光記録装置であって、前記位相調整パターンおよび前記パワー制御パターンのどちらとも異なる同期パターンを発生する第３のパターン発生手段をさらに備えており、前記パターン記録手段は、第１のパターン発生手段の出力の直前に前記第３のパターン発生手段の出力を加えて、前記パワー制御パターンの直前に前記同期パターンを記録することを特徴とする。
【００２８】
請求項６に記載の光記録装置は、請求項５に記載の光記録装置であって、前記パターン記録手段は、前記位相調整パターン、前記同期パターン、および前記パワー制御パターンの順番で連続して記録することを特徴とする。
【００２９】
請求項７に記載の光再生装置は、請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の光記録装置によって記録された光記録媒体を再生する光再生装置であって、前記光記録媒体に記録された位相調整パターンによって再生クロックの位相を調整する位相調整手段と、前記位相調整手段の出力のタイミングによって、前記光記録媒体に記録されたパワー制御パターンからの再生信号のＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段の出力から前記パワー制御パターンからの再生信号の振幅値を検出する振幅検出手段と、前記振幅検出手段によって検出された振幅値に基づいて再生パワーを制御するパワー制御手段とを備えることを特徴とする。
【００３０】
請求項８に記載の光再生装置は、請求項５または請求項６に記載の光記録装置によって記録された光記録媒体を再生する光再生装置であって、前記光記録媒体に記録された位相調整パターンによって再生クロックの位相を調整する位相調整手段と、前記光記録媒体に記録された同期パターンを検出する同期検出手段と、前記位相調整手段の出力のタイミングによって、前記光記録媒体に記録されたパワー制御パターンからの再生信号のＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換手段と、前記同期検出手段による前記同期パターンの検出に基づき、前記Ａ／Ｄ変換手段の出力から前記パワー制御パターンからの再生信号の振幅値の検出を開始する振幅検出手段とを備えることを特徴とする。
【００３１】
請求項９に記載の光記録媒体は、請求項１乃至請求項６の何れか１項に記載の光記録装置によって記録されたことを特徴とする。
【００３２】
請求項１０に記載の光記録媒体は、請求項９に記載の光記録媒体であって、最短記録長をＴとしたときに、前記位相調整パターンは長さ２Ｔのマークと長さ２Ｔのスペースとの繰り返しからなるパターンであり、前記パワー制御パターンの短マーク・スペースパターンは長さ２Ｔのマークと長さ１Ｔのスペースとの繰り返しからなるパターンであることを特徴とする。
【００３５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の光記録装置，光再生装置，光記録媒体についてその実施の形態を説明する。
【００３６】
なお、以下では光記録媒体として、記録層と室温で面内磁化を示す再生層とを備えた構成からなり、情報の再生時には、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分（以下、アパーチャという）のみの再生層を、面内磁化から垂直磁化に移行させ記録層の磁性を転写させるという磁気的超解像光磁気記録媒体を使用する場合について説明する。但し、本発明の光記録装置，光再生装置，光記録媒体は、この磁気的超解像光磁気記録媒体を使用するものに限定されるものではない。
【００３７】
図２は、光磁気ディスク１の一構成例を説明する模式図である。この光磁気ディスク１では、従来例の光磁気ディスク２０と同様、セクタ１００の先頭、すなわちデータ記録領域１０５の前に、ヘッダとして短マーク・スペース記録領域１０３と長マーク・スペース記録領域１０４が設けられているが、それに加えて、位相調整パターン記録領域１０１と同期パターン記録領域１０２が短マーク・スペース記録領域１０３の直前に設けられている。
【００３８】
図３は、セクタ１００の各領域に記録されるパターンを示す模式図である。図３（ａ）に示すように、位相調整パターンは同一長さのマークとスペースが繰り返されたパターンであり、具体的には２Ｔマークと２Ｔスペースの繰り返しパターンからなる。同期パターンは、短マーク・スペースパターンの開始位置を示すためのパターンであり、具体的には、図３（ｂ）に示すように４Ｔマークと４Ｔスペースからなるパターンからなる。短マーク・スペースパターンは長さの異なるマークとスペースの繰り返しパターンであり、具体的には、図３（ｃ）に示すように２Ｔマークと１Ｔスペースの繰り返しパターンからなる。長マーク・スペースパターンは図３（ｄ）に示すように、長マークと長スペースの繰り返しパターンであり、具体的には８Ｔマークと８Ｔスペースの繰り返しパターンからなる。
【００３９】
図１は、上記したような光磁気ディスク１に対して情報を記録・再生する記録再生装置の構成を説明するブロック図である。以下、この記録再生装置を用いて、図２，３に示した光磁気ディスク１を記録再生する動作を説明する。ただし、図５に示した従来装置と同様の機能を有する部分については、同じ番号を付して説明を省略する。
【００４０】
図１において、半導体レーザ２、フォトダイオード３、増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５、長マーク・スペース振幅検出回路８、短マーク・スペース振幅検出回路９、再生データ処理回路１０、割り算回路１１、差動増幅器１２、レーザパワー制御回路１３、パワー制御パターン発生回路１６、磁気ヘッド１８は図５で示した従来例と同様である。本実施の形態では、更に、同期パターン検出回路７、位相調整パターン発生回路１４、同期パターン発生回路１５、記録データ選択回路１７を具備している。また、再生クロック抽出回路１９の代わりに、位相調整パターンからの再生信号のみでクロックの位相調整を行い、それ以外のパターンを再生する時は位相を固定する、再生クロック抽出固定回路６が付加されている。
【００４１】
まず、この装置により再生制御用パターンを記録する動作について説明する。
【００４２】
半導体レーザ２からの出射光を光磁気ディスク１上のセクタ１００の位相調整パターン記録領域１０１に到達させる。そして、レーザパワー制御回路１３により半導体レーザ２の出射光パワーを記録用の高パワーとする。それと同時に、記録データ選択回路１７が、位相調整パターン発生回路１４が発生する２Ｔの時間間隔の信号を選択して、そのタイミングで磁気ヘッド１８の極性を切り換える。これにより、図３（ａ）のような２Ｔマークと２Ｔスペースからなる位相調整パターンが記録される。
【００４３】
続いて、半導体レーザ２からの出射光が同期パターン記録領域１０２に到達すると、記録データ選択回路１７は、同期パターン発生回路１５が発生する４Ｔの時間間隔の信号を選択して磁気ヘッド１８の極性を切り換える。これにより、同期パターン記録領域１０２に図３（ｂ）のような、一対の４Ｔマークと４Ｔスペースからなる同期パターンが記録される。
【００４４】
さらに続いて、半導体レーザ２からの出射光が再生制御用パターン記録領域（短マーク・スペース記録領域１０３，長マーク・スペース記録領域１０４）に到達すると、記録データ選択回路１７がパワー制御パターン発生回路１６の出力を選択して磁気ヘッド１８の極性を切り換える。これにより、短マーク・スペース記録領域１０３に図３（ｃ）のような２Ｔマークと１Ｔスペースからなる短マーク・スペースパターンが、長マーク・スペース記録領域１０４に図３（ｄ）のような８Ｔマークと８Ｔスペースからなる長マーク・スペースパターンが、記録される。なお、データ記録領域１０５では情報データに応じて磁気ヘッド１８が反転して、情報が記録される。
【００４５】
このように記録された光磁気ディスク１に対する再生動作を図１，図４を用いて説明する。なお、図４は位相調整パターンの再生信号から抽出されるクロックを説明する図である。
【００４６】
半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク１上のセクタ１００の位相調整パターン記録領域１０１に照射されると、この領域に記録された位相調整パターン（図４（ａ））からの反射光がフォトダイオード３によって再生信号に変換される。
【００４７】
その再生信号は、増幅器４によって低域成分を除去された上で再生クロック抽出固定回路６に入力される。２Ｔスペースと２Ｔマークから構成される位相調整パターンは低域周波数成分を持たないため、この再生信号は図４（ｂ）に示すように０レベルに対して上下対称となる。
【００４８】
再生クロック抽出固定回路６は、この信号（図４（ｂ））を０レベルで二値化した信号（図４（ｃ））のエッジから、安定して最適な位相を持つクロック（図４（ｄ））を得る。
【００４９】
次に、出射光が同期パターン記録領域１０２を照射すると、その再生信号が増幅器４を介して同期パターン検出回路７に入力する。同期パターン検出回路７は、同期パターンが再生されたことを認識して、再生クロック抽出固定回路６と短マーク・スペース振幅検出回路９に同期検出信号を送る。
【００５０】
再生クロック抽出固定回路６は、同期検出信号を受けると、再生信号によるクロック位相の調整を中断して、その時点での位相、即ち位相調整パターンによって調整された位相に固定して、再生信号によらない固定位相のクロック（図４（ｄ））を出力する。これにより、再生クロックの位相を位相調整パターンのみに基づいて調整することができるので、常に安定して最適な位相をもつクロックを出力することが可能となる。
【００５１】
続いて、出射光が短マーク・スペース記録領域１０３を照射すると、この領域に記録された短マーク・スペースパターン（図４（ｅ））からの反射光は、増幅器４を介してＡ／Ｄ変換器５に入力する。ここで、Ａ／Ｄ変換が行われるタイミングとしては、クロック抽出固定回路６が位相調整パターンによって調整した位相に固定されたクロック（図４（ｄ））が用いられるため、図４（ｆ）に○で示した位置でサンプリングされた値が短マーク・スペース振幅検出回路９に入力する。
【００５２】
短マーク・スペース振幅検出回路９は、同期パターン検出回路７から受け取った同期検出信号をきっかけとして、順次入力されるサンプリング値の平均化を開始し、短マーク・スペースパターン全体の再生信号から振幅値を求めていく。
【００５３】
続いて、同様の手順によって、長マーク・スペース記録領域１０４に記録された長マーク・スペースパターンは、フォトダイオード３、増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５、長マーク・スペース振幅検出回路８を通って、長マーク・スペースパターンの振幅値を検出する。
【００５４】
この長マーク・スペースパターンの振幅値と先に検出した短マーク・スペースパターンの振幅値から、割り算回路１１が検出振幅比を求め、これと目標値を差動増幅器１２にて比較した結果に基づいてレーザパワー制御回路１３が半導体レーザ２の駆動電流を制御する。
【００５５】
このようにして、常に安定して最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光の駆動電流が制御された後、出射光はデータ記録領域１０５に照射され、その反射光が、フォトダイオード３、増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５、再生データ処理回路１０を通って、エラーレートの低い再生情報データが出力される。
【００５６】
以上のように、本実施の形態の記録再生装置では、情報データの記録方式（ここでは光磁気記録）と同一の記録方式により位相調整パターンを記録し、その位相調整パターンを用いて再生クロックの位相を調整するため、常に安定した位相に基づいて、短マーク・スペースパターンからの再生信号をサンプリングしてその振幅値を求めることができ、再生パワー制御を安定に実施することが可能となる。
【００５７】
また、再生パワー制御パターンとしてマーク長とスペース長が異なるパターンを、位相調整パターンとしてマーク長とスペース長が等しいパターンを、それぞれ用いているので、各々の目的に適した最適なパターンによって正確な位相調整及び正確な再生パワー制御を実現することが可能となる。
【００５８】
また、短マーク・スペース記録領域の先頭部分で同期を取っているため、この領域に記録された短マーク・スペースパターンからの再生信号をすべて、振幅値の計算に用いることができ、誤差の少ない振幅値を求めることが可能となる。
【００５９】
なお、上記実施の形態では、短マーク・スペースパターンとして、１Ｔと２Ｔの混合パターンを用いたが、これは、１Ｔ（Ｔは最短記録長）では振幅値が小さいためＳ／Ｎ比が低すぎ、２Ｔでは振幅値が大きいため最適なアパーチャを検出するために十分な振幅比変化の感度が得られないためである。また、位相調整パターンとして２Ｔのマークとスペースからなるパターンを用いたが、これは１Ｔでは振幅値が小さいため安定した位相調整が行えず、長すぎると（＞３Ｔ）位相調整を行うために十分な数の信号の立ち上がり（立ち下がり）部分を得るために記録領域の長さを大きくしなければならなくなるからである。
【００６０】
但し、光記録媒体の特性や光学ヘッドの特性によって、再生パワー制御と位相調整の各々に最適なパターンは変化するので、上記実施の形態において用いた位相調整パターンと再生パワー制御パターンに限るものではない。
【００６１】
また、以上説明した実施の形態においては、位相調整パターン，短マーク・スペースパターン，長マーク・スペースパターンをヘッダに記録する場合で説明したが、これに限るものではなく、ヘッダ以外に記録しても構わない。但し、位相調整パターンは再生クロックの位相を調整するものであるため、ヘッダに記録することが最も望ましく、短マーク・スペースパターンは位相変動の影響を受けないためには位相調整パターンの近傍に記録することが望ましい。一方、長マーク・スペースパターンからの再生信号の振幅値はサンプリング位相の変動による影響をほとんど受けないので、特に位相調整パターンの近傍に記録する必要はない。この点からすると、ヘッダには位相調整パターン，短マーク・スペースパターンを記録し、長マーク・スペースパターンはその他の領域、例えばビットずれに対する再同期をとる目的でデータ記録領域内に離散的に配置されるリシンクパターン等に含めてもよい。なお、このように、短マーク・スペースパターンと長マーク・スペースパターンを１セクタ内で分離して配置した場合、ある１つのセクタを再生実行中に短マーク・スペースパターンと長マーク・スペースパターンからの再生信号の振幅比を求め、それに基づき、次のセクタの半導体レーザの再生パワーを制御するような手法が適用できる。
【００６２】
また、上記実施の形態では位相調整パターンの再生時にクロックの位相調整を行い、同期パターンを検出した時点で位相を固定し、その位相で短マーク・スペースパターンの再生を行っているが、クロックの位相を固定するタイミングはこれに限るものではない。なお、短マーク・スペースパターンに続く、データ記録領域や長マークパターンの再生時におけるクロックの位相は、上記固定した位相であっても良いし、それぞれの再生信号に基づき調整した位相であっても良い。
【００６３】
更に、上記実施の形態においては、再生パワーの制御を行うのに、短マーク・スペースと長マーク・スペースの２種類の長さのパターンを用いる場合で説明したが、上記本実施の形態の趣旨はマーク長とスペース長が異なるパターンを再生パワー制御に用いる場合に、マーク長とスペース長が等しい位相調整用パターンを別に設けることであるため、マーク長とスペース長が異なる短マーク・スペースのみを用いて再生パワーを制御する場合においても効果があることは言うまでもない。
【００６４】
なお、本発明の主旨は、正確に調整されたクロック位相に基づいて再生パワー制御パターンの振幅を検出することによって、より正確な再生パワー制御を実現することにあるため、その主旨の範囲で様々な変形が可能である。例えば、パワー制御パターン（短マーク・スペースパターン）をマーク長とスペース長が等しいパターンで構成しても良い。
【００６５】
【発明の効果】
本発明の光記録装置，光再生装置，光記録媒体では、セクタ毎に記録された位相調整パターンによって正確に位相調整されたクロックに基づいて、その後に記録された短マーク・スペースパターンからの再生信号をサンプリングしてその振幅値を求めることができるため、再生パワー制御を常に安定に実施することが可能となる。
【００６６】
また、マーク長とスペース長が等しい位相調整パターンと、マーク長とスペース長が異なるパワー制御パターンを、セクタ毎に記録することにより、再生時に位相の安定したクロックに基づいてパワー制御パターンの振幅値を求めることができるので、常に精度よく最適な再生パワーで情報データの再生を行うことが可能となる。
【００６７】
また、パワー制御パターンの直前に、位相調整パターンともパワー制御パターンとも異なる同期パターンを記録することにより、再生時にこの同期パターンの検出をきっかけにしてパワー制御パターンのサンプリングを開始することができるので、パワー制御パターンの振幅値を確実に検出することが可能となる。
【００６８】
さらに、位相調整パターンとパワー制御パターンを各セクタの先頭（ヘッダ）に記録すれば、再生クロックの位相の安定な調整と、パワー制御パターンからの安定な振幅値の読み取りを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光磁気ディスク記録再生装置の構成図である。
【図２】図１における光磁気ディスク１のセクタ構造を説明する模式図である。
【図３】図２におけるセクタ１００の各領域に記録されるパターンを説明する模式図である。
【図４】図３における位相調整パターンの再生信号から抽出されるクロックを説明する図である。
【図５】従来の光磁気ディスク記録再生装置の構成図である。
【図６】従来の光磁気ディスク２０のセクタ構造を説明する模式図である。
【図７】従来におけるセクタ２００の各領域に記録されるパターンを説明する模式図である。
【図８】従来における短マーク・スペースパターンの再生信号から抽出されるクロックを説明する図である。
【符号の簡単な説明】
１、２０  光磁気ディスク
２  半導体レーザ
３  フォトダイオード
４  増幅器
５  Ａ／Ｄ変換器
６  再生クロック抽出固定回路
７  再生データ処理回路
８  長マーク・スペース振幅検出回路
９  短マーク・スペース振幅検出回路
１０  再生データ処理回路
１１  割り算回路
１２  差動増幅器
１３  レーザパワー制御回路
１４  位相調整パターン発生回路
１５  同期パターン発生回路
１６  パワー制御パターン発生回路
１７  記録データ選択回路
１８  磁気ヘッド
１９  再生クロック抽出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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