(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【請求項２】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するＮビットシフトレジスタとを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【請求項３】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号及び前記第２の疑似ランダム信号に対して行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【請求項４】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号を行、前記第３の疑似ランダム信号を列として（ａ＊ｂ，ｃ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【請求項５】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号を行、前記第３の疑似ランダム信号を列として（ａ＊ｂ，ｃ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するＮビットシフトレジスタとを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【請求項６】
ａ（ａは、１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号及び前記第２の疑似ランダム信号に対して第１の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号及び前記第３の疑似ランダム信号に対して第２の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テスト対象モジュールを有する半導体集積回路に組込まれる自己テスト回路の中に搭載される疑似ランダム信号発生回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
自己テスト回路の中に搭載される疑似ランダム信号発生回路が検証のターゲットとしているマクロ（機能ブロック）はＰＨＹ（物理層）で、２０ビットと１０ビットのデータ幅を選べるモードを設置している。自己テスト回路は、このＰＨＹに規格のランダムデータ信号を含むパターンを送信し、ＰＨＹが期待値を出力してくることを検証するものである。上記ＰＨＹの２つのモードを自己テスト回路で一括してエラー検出しようとすれば、この自己テスト回路から出力される、規格のパターンであるランダムデータ信号も２０ビット幅と１０ビット幅の２つのモードを有しなければならない。
【０００３】
このように、テスト対象モジュールが要求するテストデータのビット幅Ｎが、Ｎ１ビット、Ｎ２ビット、Ｎ３ビット・・・のように、複数パターン（Ｎ＝Ｎ１、Ｎ２、Ｎ３・・・）選べる様にしなければならない時、解決法としては、特開平７−９８９９５号公報に開示されているように、最大ビット幅Ｎｍａｘのランダムデータ信号を生成するリニアフィードバック・シフトレジスタ（以下、ＬＦＳＲとする）から、最大ビット幅Ｎｍａｘと現時点で要求されているビット幅Ｎとの差分のＦＦ（フリップフロップ）を、スイッチにより切り離し、現時点で要求されているビット幅Ｎのランダムデータ信号を得る方法がある。
【０００４】
なお、当業者によく知られているように、ビット幅（ｂｉｔｗｉｄｔｈ）Ｎとは、幅がＮビットである（Ｎｂｉｔｓｉｎｗｉｄｔｈ）ことと意味において等価である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この方式だとランダムデータのパターン長が変化してしまい、要求されているビット幅Ｎの最小値Ｎｍｉｎと最大値Ｎｍａｘとの格差は、パターン長にして（２Ｎｍａｘ−１）／（２Ｎｍｉｎ−１）倍と指数関数的な格差を持ち、各々エラー検出が平等にならず、自己テスト回路としては致命的になる。
【０００６】
また、特開平５−２８８８０８号公報に開示されているように、要求されているビット幅Ｎの最小値Ｎｍｉｎと最大値Ｎｍａｘとの差分データビット数（Ｎｍａｘ−Ｎｍｉｎ）のランダムデータを作る第１のＬＦＳＲと、最小値Ｎｍｉｎを生成する第２のＬＦＳＲとを作り、ビット数（Ｎｍａｘ−Ｎｍｉｎ）のランダムデータを作る第１のＬＦＳＲの出力を、現時点で要求しているビット幅Ｎと最大値Ｎｍａｘの差分（Ｎｍａｘ−Ｎ）だけ圧縮し、最小値Ｎｍｉｎを生成する第２のＬＦＳＲから出力されたデータをつなげる（Ｎ＝［Ｎｍｉｎ］＋［（Ｎｍａｘ−Ｎｍｉｎ）−（Ｎｍａｘ−Ｎ）］）ことで合成する方法では、特定の場合（第１及び第２のＬＦＳＲが、同じビット数からなるデータ幅の信号を出力するＬＦＳＲで構成され、お互いの相互相関が取れているとき）を除きランダムデータのパタン長が前述の特開平７−９８９９５号公報の時と同様に変化してしまう。また圧縮することによって誤り見逃し率は増加してしまう。
【０００７】
上記自己テスト回路としての致命的問題を同じ回路構成で避けるためには、ランダムデータの重複なしで（テスト時間短縮の観点から）エラー検出を平等にするために自己テスト回路におけるランダムデータ生成を制御する信号（イネーブル信号）を作る制御回路を入力端子数ごとに個別に設計してやる手間が必要になる。
【０００８】
また前述の２つの引用例においてはいずれも、回路規模は所望のランダムデータの最大ビット数に比例してしまうために増大することは否めない。チップ上での占有面積を小さくするにはランダムデータの最大のデータ幅のビット数と同じＦＦ数の面積以下には出来ないという限界がある。
【０００９】
つまり同じ回路で複数のテストモジュールの入力端子数を選べるという汎用性と小面積化の利点はエラー検出の観点から見るとそのパターン数の格差において薄まっている。
【００１０】
本発明の課題は、上述した欠点を除去できる疑似ランダム信号発生回路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１２】
更に本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するＮビットシフトレジスタとを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１３】
また本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号及び前記第２の疑似ランダム信号に対して行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ）ビット幅を有する演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１４】
更に本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号を行、前記第３の疑似ランダム信号を列として（ａ＊ｂ，ｃ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１５】
また本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号を行、前記第２の疑似ランダム信号を列として（ａ，ｂ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号を行、前記第３の疑似ランダム信号を列として（ａ＊ｂ，ｃ）型行列の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するＮビットシフトレジスタとを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１６】
更に本発明によれば、
ａ（ａは１以上の整数）ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号を発生する第１の発生器と、
ｂ（ｂは、ａとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号を発生する第２の発生器と、
前記第１の疑似ランダム信号及び前記第２の疑似ランダム信号に対して第１の行列演算を行い、（ａ＊ｂ）ビット幅を有する第１の演算結果信号を出力する第１の行列演算器と、
ｃ（ｃは、ａ、ｂとは異なる１以上の整数）ビット幅を有する第３の疑似ランダム信号を発生する第３の発生器と、
前記第１の演算結果信号及び前記第３の疑似ランダム信号に対して第２の行列演算を行い、（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号を出力する第２の行列演算器と、
前記（ａ＊ｂ＊ｃ）ビット幅を有する第２の演算結果信号から、Ｎ（Ｎは（ａ＊ｂ＊ｃ）の約数）ビット幅を有する出力疑似ランダム信号を生成するビット幅調整回路とを有することを特徴とする疑似ランダム信号発生回路が得られる。
【００１７】
このように、本発明は、少数ビット幅を有する第１の疑似ランダム信号と、少数ビット幅を有する第２の疑似ランダム信号とに行列演算を行い、多数ビット幅を有する演算結果信号を出力する行列演算器を備え、多数ビット幅を有する演算結果信号を、Ｎビット幅を有する出力疑似ランダム信号に区分けすることでビット幅を調節する機能をもつ自己テスト用疑似ランダム信号発生回路である。
【００１８】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
【００１９】
図１を参照すると、本発明の第１の実施例による疑似ランダム信号発生回路は、疑似ランダムデータ発生器１００と、Ｎビットシフトレジスタ２００と、分周クロック生成器３００とを有する。疑似ランダムデータ発生器１００は、行列演算器１３０と、本疑似ランダム信号発生回路が出力するデータ幅が複数種の所望ビット幅（例えば、１０ビット幅と２０ビット幅）に対応できる事が期待されている前提で、それら複数種の所望ビット幅のビット数（すなわち、１０と２０）の最少公倍数（すなわち、２０）の互いに異なる約数（例えば、５と４）をビット幅に持った少なくとも２つ以上のＭ系列発生器を有するものである。１１０をａビットのＭ系列発生器とし、１２０をｂビットのＭ系列発生器とする。
【００２０】
複数種の所望ビット幅の疑似ランダム信号の発生を所望する場合に、本疑似ランダム信号発生回路の特徴が現れる。それは、擬似ランダムデータ発生器１００のＭ系列発生器１１０及び１２０の出力ビット幅を、それら複数種の所望ビット幅の疑似ランダム信号のビット数の最少公倍数の互いに異なる約数に設定し、ａビットのＭ系列発生器１１０から出力される疑似ランダムデータＡ［ａ−１：０］を行、ｂビットのＭ系列発生器１２０から出力される疑似ランダムデータＢ［ｂ−１：０］を列とみなして（ａ，ｂ）型行列の行列演算器１３０で乗算をし、行列演算器１３０の出力信号のビット幅は、要求されている（所望されている）各々の所望のビット幅の公倍数であるが、この行列演算器１３０の出力信号をシフトレジスタ２００で、各々の要求されているビット幅のデータに分割して出力することである。
【００２１】
なお、Ａ［ａ−１：０］は、Ａ［０］，Ａ［１］，…，Ａ［ａ−１］を表わす。同様に、Ｂ［ｂ−１：０］は、Ｂ［０］，Ｂ［１］，…，Ｂ［ｂ−１］を表わす。
【００２２】
よって、この方式によれば約数にあたる少数ビットのＭ系列発生器を用いているので、複数のビット幅をもつモードに１つの回路で対応できる。
【００２３】
図１の疑似ランダム信号発生回路の構成を詳細に説明する。
【００２４】
擬似ランダムデータ発生器１００は、ａビットの疑似ランダム信号Ａ［ａ−１：０］を出力するＭ系列発生器１１０と、ｂビットの疑似ランダム信号Ｂ［ｂ−１：０］を出力するＭ系列発生器１２０と、（ａ．ｂ）型行列を演算する行列演算器１３０から構成される。前記ａビットのＭ系列発生器１１０とｂビットのＭ系列発生器１２０は、周波数ｆ１を持つ基準クロックＣＬＫ１を分周クロック生成器３００で生成した周波数ｆ２のクロックＣＬＫ２が接続されている。ａビットのＭ系列発生器１１０の出力Ａ［ａ−１：０］と、ｂビットのＭ系列発生器１２０の出力Ｂ［ｂ−１：０］は、（ａ．ｂ）型行列を演算する行列演算器１３０の入力として接続され、その出力ＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］はＮビットシフトレジスタ２００の入力に接続されている。
【００２５】
図２はａビットのＭ系列発生器１１０の構成図である。ａビットのＭ系列発生器１１０は、ａ個のフリップ・フロップ（以下ＦＦと略す）１１１〜１１６と排他的論理和ゲート（以下ＥＸＯＲと略す）１１７から構成されている。
【００２６】
ＦＦ１１１〜１１６は、前段のＦＦの出力と後段のＦＦの入力を直列につないだシフトレジスタの構成をとっており、そのシフトレジスタの最終段のＦＦ１１６の出力Ａ［ａ−１］はＥＸＯ１１７に入力される。ＥＸＯＲ１１７にＡ［ａ−１］と共に入力されるこのシフトレジスタの中間のタップ位置から引き出されたデータＡ［ｉ］のｉは、原始多項式により求められ（前記多項式については符号理論を参照されたい）、ＥＸＯＲ１１７の出力ＡＩＯは初段のＦＦ１１１の入力に帰還される。また、ＦＦ１１１〜１１７の隣接するＦＦ間からＡ［０］〜Ａ［ａ−１］のタップを引き出し、ａビットのランダムデータを得る。
【００２７】
ここで、ビット幅ａは、セレクト信号ＳＥＬ（図１）に外部から入力される値αで選択できる出力のビット幅ＮがＮ１、Ｎ２、Ｎ３とすれば、そして、それらＮ１、Ｎ２、Ｎ３全ての最少公倍数をＮ’とした時のＮ’の約数を取るものとすれば、
Ｎ’ｍｏｄ（ａ）＝０かつＮ’ｍｏｄ（Ｎ）＝０・・・・（１）
（ｍｏｄ（ａ）：ａで割った場合の余り）
を満たすものである。
【００２８】
図３はｂビットのＭ系列発生器１２０の構成図である。ｂビットのＭ系列発生器１２０は、ｂ個のＦＦ１２１〜１２６とＥＸＯＲ１２７から構成されている。
【００２９】
ＦＦの構成は、ａビットのＭ系列発生器１１０と同様で、シフトレジスタの形を取っており、またＥＸＯＲ１２７にＢ［ｂ−１］と共に入力されるデータＢ［ｊ］のｊは、符号理論による原始多項式により求められ、ＥＸＯＲ１２７の出力ＢＩＯは初段のＦＦ１２１の入力に帰還される。また、ＦＦ１２１〜１２７の隣接するＦＦ間からＢ［０］〜Ｂ［ｂ−１］のタップを引き出し、ｂビットのランダムデータを得る。
【００３０】
ここで、ビット幅ｂは、セレクト信号ＳＥＬ（図１）に外部から入力される値αで選択できる出力のビット幅ＮがＮ１、Ｎ２、Ｎ３とすれば、そして、それらＮ１、Ｎ２、Ｎ３全ての最少公倍数をＮ’とした時のＮ’の約数を取るものとすれば、
Ｎ’ｍｏｄ（ｂ）＝０かつＮ’ｍｏｄ（Ｎ）＝０・・・・（２）
を満たすものである。
【００３１】
またこの時選ぶべきａとｂは、線形性複雑度を保つことを考えれば、素数であることが好ましい。
【００３２】
さらに、故障検出率を考えれば、自己テスト回路の要求するパターン長をＬとすれば、Ｍ系列発生器１１０の出力するパターン長Ｌａは、
Ｌａ＝２ａ−１
であり、Ｍ系列発生器１２０の出力するパターン長Ｌｂは、
Ｌｂ＝２ｂ−１
である。上記式を含む擬似ランダムデータ発生器１００のパターン長をＬ’とすれば、
Ｌ’Ｌ
となるようなａ、ｂを考えると、このＬ’はＬａとＬｂの最小公倍数であるから、Ｌ’＝Ｌａ＝Ｌｂとパターン長が最少とならない為にａとｂは等しくあってはならない。
【００３３】
すなわち、
ａ≠ｂ・・・・（３）
つまり、この時のパターン長Ｌ’は、
Ｌ’＝Ｌａ＊Ｌｂ
である。このように、ａとｂを等しくしないことが、持ちうる２つのＭ系列発生器１１０と１２０でパターン長を最大にすることが出来る。
【００３４】
さらに、Ｍ系列発生器１１０から出力されたａビットの疑似ランダムデータを（ａ，１）型行列とし、Ｍ系列発生器１２０から出力されたｂビットのランダムデータを（１，ｂ）型行列とし、これら２つの行列を、図４に示された行列演算器１３０において、ＥＸＯＲ１３１などで各成分の積を取ることで（ａ，ｂ）型行列とする。つまり、（ａ’，ｂ’）成分は、ａビットの疑似ランダムデータ（ａ，１）型行列中の（ａ’，１）成分と、ｂビットの疑似ランダムデータ（ｂ，１）型行列中の（ｂ’，１）成分の積、すなわちＥＸＯＲを取ったものである。よって、これら各成分の積を取るためにＥＸＯＲはａ＊ｂ個を配置した構成になっている。
【００３５】
これら（ａ，ｂ）型行列内の各成分をａ＊ｂビットのデータでＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］を成し、出力する。
【００３６】
ここで、ＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］のビット幅ａ＊ｂは、セレクト信号ＳＥＬ（図１）のαで選択できる出力のビット幅ＮがＮ１、Ｎ２、Ｎ３とすれば、ａ＊ｂはＮ１、Ｎ２、Ｎ３・・・・の最小公倍数であるので、
（ａ＊ｂ）ｍｏｄ（Ｎ）＝０（Ｎ＝Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３・・・）・・・・（４）
を満たす。
【００３７】
図１に示される様に、Ｎビットシフトレジスタ２００は、前段の擬似ランダムデータ発生器１００から出力されたＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］のデータと、分周クロック生成器３００で生成された、Ｎビットシフトレジスタ２００用のセレクト信号ＢＳＥＬと、基準クロック信号ＣＬＫ１が接続され、出力としてＮビットの疑似ランダムデータＤ［Ｎ−１：０］が出力される構成になっている。セレクト信号ＳＥＬは、値αを入力とし、ＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］のａ＊ｂビット幅を持つデータを周波数ｆ１の基準クロックＣＬＫ１でＮビットずつシフトしＮビット幅のデータとして出力できる構成になっている。
【００３８】
ここでセレクト信号ＳＥＬに入力された値αによって選択されるビット幅ＮがＮ１、Ｎ２、Ｎ３・・・とすれば、各々の取り得るセレクト信号ＳＥＬに外部から入力される値αとの関係は、
α＝（ａ＊ｂ）／Ｎ（Ｎ＝Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３・・・）・・・・（５）
である。
【００３９】
図１で示される様に、分周クロック生成器３００は周波数ｆ１の基準クロック信号ＣＬＫ１と任意のビット幅Ｎを選択するためのセレクト信号ＳＥＬが接続されている。セレクト信号ＳＥＬの値αによって任意に分周された周波数ｆ２の分周クロック信号ＣＬＫ２と、セレクト信号ＳＥＬをＮビットシフトレジスタ２００用に変換したＢＳＥＬが出力され、分周クロック信号ＣＬＫ２は疑似ランダムデータ発生器１００に、ＢＳＥＬはＮビットシフトレジスタ３００の入力に接続されている。
【００４０】
分周クロックＣＬＫ２の周波数ｆ２は任意のビット幅Ｎを選択するためのセレクト信号ＳＥＬに値αを入力とすれば、以下の式で決定される。
【００４１】
ｆ２＝ｆ１／α
ここで、実際に上記で使われている変数を値にし、選択されるビット幅Ｎが１０ビットと２０ビットであった場合、これら２つのビット数の最大公倍数Ｎ’は
Ｎ’＝２０
であるので、上記の式（１）、（２）より
Ｎ’ｍｏｄ（ａ）＝２０ｍｏｄ（ａ）＝０
Ｎ’ｍｏｄ（ｂ）＝２０ｍｏｄ（ｂ）＝０
を満たすａ、ｂを式（３）、（４）を条件として導き出せば、
ａ＝５
ｂ＝４
が導かれる。よってセレクト信号ＳＥＬに入力される値αは式（３）より、選択されるビット幅Ｎが１０ビットのときは、式（５）より
α＝（ａ＊ｂ）／Ｎ＝（５＊４）／１０＝２
であり、２０ビットのときは、
α＝（ａ＊ｂ）／Ｎ＝（５＊４）／２０＝１
となる。
【００４２】
このようにして求められた値を実際の回路として表したのが図５である。
【００４３】
図５を参照して、入力クロック信号ＣＬＫ１と入力リセット信号ＲＥＳＥＴと選択信号ＳＥＬを入力してクロック信号ＣＬＫ２とデータ選択信号ＢＳＥＬを出力する分周クロック生成回路３００と、クロック信号ＣＬＫ２と入力リセット信号ＲＥＳＥＴを入力してランダム生成データＰＤＡＴＡを出力する疑似ランダムデータ発生器１００と、入力クロック信号ＣＬＫと入力リセット信号とデータ選択信号ＢＳＬとランダム生成データＰＤＡＴＡを入力して２０ビットのランダム出力データＤＯＵＴを出力する２０ビットシフトレジスタ２００より構成される。
【００４４】
疑似ランダムデータ発生器１００は、５ビットＭ系列発生器１１０と、４ビットＭ系列発生器１２０と、（４，５）型行列を演算する行列演算器１３０より構成される。
【００４５】
５ビットＭ系列発生器１１０は、ＦＦ１１１〜１１５とＥＸＯＲ１１７から構成される。
【００４６】
ＦＦ１１１はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴがリセットに、ＥＸＯＲ１１７より出力されるＡＩＯをデータに入力して、データＡ０を出力する。
【００４７】
ＦＦ１１２はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＡ０をデータに入力して、データＡ１を出力する。
【００４８】
ＦＦ１１３はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＡ１をデータに入力して、データＡ２を出力する。
【００４９】
ＦＦ１１４はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＡ２をデータに入力して、データＡ３を出力する。
【００５０】
ＦＦ１１５はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＡ３をデータに入力して、データＡ４を出力する。
【００５１】
ＥＸＯＲ１１７はＦＦ１１３より出力されるデータＡ２とＦＦ１１５より出力されるデータＡ４を入力して、ＡＯＩを出力する。
【００５２】
４ビットＭ系列発生器１２０は、ＦＦ１２１〜１２４とＥＸＯＲ１２７から構成される。
【００５３】
ＦＦ１２１はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴがリセットに、ＥＸＯＲ１２７より出力されるＡＩＯをデータに入力して、データＢ０を出力する。
【００５４】
ＦＦ１２２はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＢ０をデータに入力して、データＢ１を出力する。
【００５５】
ＦＦ１２３はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＢ１をデータに入力して、データＢ２を出力する。
【００５６】
ＦＦ１２４はクロック信号ＣＬＫ２をクロックに、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセットに、データＢ２をデータに入力して、データＢ３を出力する。
【００５７】
ＥＸＯＲ１２７はＦＦ１２３より出力されるデータＢ２とＦＦ１２４より出力されるデータＢ３を入力して、ＢＯＩを出力する。
【００５８】
（４，５）型行列を演算する行列演算器１３０は４ビットデータ演算器１３５〜１３９より構成される。
【００５９】
４ビットデータ演算器１３５は、ＥＸＯＲ１３１〜１３４より構成され、これらＥＸＯＲ１３１〜１３４の片方には各々５ビットＭ系列生成器より出力されるデータＡ０が入力され、ＥＸＯＲ１３１のもう一方の入力には４ビットＭ系列発生器から出力されるデータＢ０が入力され、出力としてＡＢ［０］を得、ＥＸＯＲ１３２のもう一方の入力には前記データＢ１が入力され、出力としてＡＢ［１］を得、ＥＸＯＲ１３３のもう一方の入力には前記データＢ１が入力され、出力としてＡＢ［２］を得、ＥＸＯＲ１３４のもう一方の入力には前記データＢ１が入力され、出力としてＡＢ［３］を得る。
【００６０】
同様にして、４つのＥＸＯＲから構成される４ビットデータ演算器１３６は、５ビットＭ系列発生器から出力されるデータＡ１と４ビットＭ系列発生器から出力されるデータＢ［３：０］を入力し、ＡＢ［７：４］を出力する。
【００６１】
４ビットデータ演算器１３７は、５ビットＭ系列発生器から出力されるデータＡ２と４ビットＭ系列発生器から出力されるデータＢ［３：０］を入力し、ＡＢ［１１：８］を出力する。
【００６２】
４ビットデータ演算器１３８は、５ビットＭ系列発生器から出力されるデータＡ３と４ビットＭ系列発生器から出力されるデータＢ［３：０］を入力し、ＡＢ［１５：１２］を出力する。
【００６３】
４ビットデータ演算器１３９は、５ビットＭ系列発生器から出力されるデータＡ４と４ビットＭ系列発生器から出力されるデータＢ［３：０］を入力し、ＡＢ［１９：１６］を出力する。
【００６４】
２０ビットシフトレジスタ２０１は、下位１０ビットセレクタ２０１と上位１０ビットセレクタ２０２と下位１０ビットＦＦ２０３と上位１０ビットＦＦ２０４より構成される。
【００６５】
下位ビット１０ビットセレクタ２０１は、データ選択信号ＢＳＥＬでランダムデータＡＢ［１９：０］の下位１０ビットＡＢ［９：０］と上位１０ビットＡＢ［１９：１０］を選択し、下位選択データＡＢ［９：０］を出力する。
【００６６】
上位１０ビットセレクタ２０２は、データ選択信号ＢＳＥＬでランダムデータＡＢ［１９：０］の上位１０ビットＡＢ［１９：１０］とグランドレベル、即ち‘０’を選択して上位選択データＤ１９１０を出力する。
【００６７】
下位１０ビット２０３は、基準クロック信号ＣＬＫをクロック信号に、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセット信号に、下位選択データＤ９０をデータに入力し、ランダムデータＤＯＵＴ［９：０］を出力する。
【００６８】
上位１０ビット２０４は、基準クロック信号ＣＬＫをクロック信号に、入力リセット信号ＲＥＳＥＴをリセット信号に、上位選択データＤ１９１０をデータに入力し、ランダムデータＤＯＵＴ［１９：１０］を出力する。
【００６９】
分周クロック生成回路３００は、分周器３０１とセレクタ３０２より構成される。
【００７０】
分周回路３０１は入力リセット信号ＲＥＳＥＴで初期化され、基準クロック信号ＣＬＫ１を入力して基準クロック信号ＣＬＫ１と同じ周期の出力クロック信号ＣＫ２０と入力クロック信号の立ち上がりで分周して生成された分周クロック信号ＣＫ１０と入力リセット信号ＲＥＳＥＴで出力レベルがロウレベルとなる以外は前記分周クロックＣＫ１０の出力と反対の出力レベルを出力するデータ切り替え信号ＢＳＥＬ信号を出力する。セレクタ３０２は入力セレクト信号ＳＥＬで出力クロック信号ＣＫ２０と分周クロック信号ＣＫ１０を選択してクロック信号ＣＬＫ２を出力する。
【００７１】
以下、図１の実施例の動作につき説明する。
【００７２】
図２に示される様に、ａビットのＭ系列発生器１１０から出力されるデータＡ［ａ−１：０］は、特性多項式
Ａ（Ｘ）＝Ｘａ＋Ｘ（ａ−ｉ）＋１
によって求められる擬似ランダムデータである。
【００７３】
また、図３も同様に、ｂビットのＭ系列発生器１２０から出力されるデータＢ［ｂ−１：０］は、特性多項式
Ｂ（Ｘ）＝Ｘｂ＋Ｘ（ｂ−ｉ）＋１
によって求められる擬似ランダムデータである。
【００７４】
擬似ランダムデータＡ［ａ−１：０］を（ａ，１）型行列とし、Ｂ［ｂ−１：０］を（１，ｂ）型行列とし、これら２つの擬似ランダムデータを図１で示す（ａ，ｂ）型行列演算器１３０にてＥＸＯＲで積を取り、（ａ，ｂ）型行列とする。これら（ａ，ｂ）型行列内の各成分をａ＊ｂビットのデータとしてパラレルに振り分けＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］をなし、出力する。
【００７５】
これら出力された擬似ランダムデータＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］は、分周クロック生成器３００によって１／αに分周された周波数ｆ２を持つ分周クロック信号ＣＬＫ２に同期している。ここでαとは上記式（５）で表される、任意のビット幅Ｎを選択するためのセレクト信号ＳＥＬに入力される値である。
【００７６】
このＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］は、次段のＮビットシフトレジスタ２００に入力され、周波数ｆ１の基準クロック信号ＣＬＫ１に同期して、Ｎビットずつ出力される。
【００７７】
図６にＮビットシフトレジスタ２００に入力ＡＢ１［（ａ＊ｂ）−１：０］が入った時の出力Ｄ［Ｎ−１：０］の関係を示したタイミングチャートを示す。
【００７８】
まず、基準クロック信号ＣＬＫ１の周波数ｆ１は、
ｆ１＝１／Ｔ
で決定される時刻Ｔを周期とするものとする。
【００７９】
そこで、時刻０〜Ｔまでの間には、周波数ｆ１に同期したＮビットシフトレジスタは、ＡＢ１［（ａ＊ｂ）−１：０］のうち、上位Ｎビットを出力する。つまり、ここでの出力Ｄ［Ｎ−１：０］と入力ＡＢ１［（ａ＊ｂ）−１：０］の関係は、
Ｄ［Ｎ−１：０］＝ＡＢ１［Ｎ−１：０］＝ＡＢ１［（ａ＊ｂ）／α−１：０］
である。
【００８０】
次の時刻Ｔ〜２＊Ｔ間での間は、
Ｄ［Ｎ−１：０］＝ＡＢ１［２＊Ｎ−１：Ｎ］＝ＡＢ１［２＊（ａ＊ｂ）／α−１：２＊（ａ＊ｂ）］
となる。
【００８１】
前にも述べた様に、これらＮビットシフトレジスタの入力データＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］はクロック信号ＣＬＫ２の周波数ｆ２に同期しているので、
ｆ２＝１／Ｔ’
とすれば、分周されたクロック信号ＣＬＫ２の周波数ｆ２は分周クロック生成器３００によってその基準クロック信号ＣＬＫ１の周波数ｆ１との関係は、
ｆ２＝ｆ１／α
であり、そのセレクト信号ＳＥＬに入力される値αは式（３）が
α＝（ａ＊ｂ）／Ｎ
であるので、
Ｔ’＝α＊Ｔ
であらわせ、つまり、時刻ｔでの出力しているデータは、０＜ｔ＜α＊ＴでＡＢ１［（ａ＊ｂ）／α−１：０］を入力としているとすれば、
Ｄ［Ｎ−１：０］＝ＡＢ［（ｔ／Ｔ−ｔｍｏｄ（Ｔ））＊（ａ＊ｂ）−１：（ｔ／Ｔ−ｔｍｏｄ（Ｔ）−１）＊（ａ＊ｂ）］
である。
【００８２】
よって、時刻Ｔ’間でＮビットシフトレジスタは入力データＡＢ１［（ａ＊ｂ）−１：０］をＮビットに切り分けて全てを出力していることになる。
【００８３】
以下、図５で用いた実際の値を入力したものについて説明する。
【００８４】
図７は図５での回路のタイミングチャートである。
【００８５】
まず、入力リセット信号ＲＥＳＥＴにて疑似ランダム信号発生器１００は初期値に、分周クロック生成器３００は出力全てをロウレベルに、２０ビットシフトレジスタ２００の上位１０ビット２０３と下位１０ビットの２０４を０に初期化する。
【００８６】
セレクト信号ＳＥＬに値α＝２が与えられたとすると、周波数ｆ２のクロック信号ＣＬＫ２には周波数ｆ１の基準クロックＣＬＫ１を２分の１に分周したクロック信号ＣＫ１０がセレクタ３０２によって選択され、出力される。データの切り替え信号ＢＳＥＬは、上記でも述べたように分周クロックＣＫ１０の出力と反対の出力レベルを出力する。
【００８７】
これを受けて２０ビットシフトレジスタはＢＳＥＬがハイレベルのときセレクタ２０１が疑似ランダムデータからの出力ＡＢ［１９：０］のうちの下位１０ビットＡＢ［９：０］を選択し１０ビットのＦＦである２０３にデータを保持する。ＢＳＥＬがロウレベルのときは２０２が上位１０ビットＡＢ［１９：１０］を選択し、１０ビットのＦＦである２０４にデータを保持する。このように、下位１０ビットと上位１０ビットが交互に選択され、ＤＯＵＴ［９：０］の１０ビット出力データが出力される。
【００８８】
この時入力するデータＡＢ［１９：０］は疑似ランダム生成器１００で作られた疑似ランダムデータである。これは、５ビットのＭ系列発生器１１０が出力したデータＡ０〜Ａ４と、４ビットのＭ系列発生器１２０が出力したデータＢ０〜Ｂ３を上記で説明したように、各ビットを行列演算器１３０で合成し２０ビットのデータである。
【００８９】
ここで本実施例による効果を説明する。
【００９０】
Ｍ系列におけるｎビットのランダムデータのパターン数Ｐは、全てのビットがゼロの場合を除いた２ｎ−１で表現できる。これを、たとえば２０ビットのランダムデータを出力させるＭ系列発生器があったとすれば、ここでのパターン長Ｌは、
Ｌ＝２２０−１
であり、また１０ビットのランダムデータを出力するＭ系列発生器では、
Ｌ＝２１０−１
になる。つまり、一定時間ランダム信号を発生させて、自己テスト回路でエラーを検出していった場合、２０ビットのＭ系列発生器と１０ビットのＭ系列発生器では（２２０−１）／（２１０−１）倍の格差がでる。しかし、本発明の方式によれば２０ビット、１０ビット共に４ビットのＭ系列発生器と５ビットのＭ系列発生器を用いてデータを作成した場合、２０ビットでのパターン長Ｌは、
Ｌ＝（２５−１）＊（２４−１）
であり、また１０ビットでは、
Ｌ＝｛（２４−１）＊（２５−１）−１｝＊２
になり、その格差は２倍である。
【００９１】
これが意味するものは、一定時間ランダム信号を発生させたとき、パターン数の格差から自己テスト回路におけるエラー検出率が不平等になるのを押さえることが出来るということである。
【００９２】
また、回路規模においても、以下の効果が得られる。
【００９３】
従来のランダムデータ発生部は、２つ以上の複数のビット幅をもつランダムデータの発生モードを要求される時、最大データ幅と同じ数のＦＦを必要としていたが、本発明は要求されるビット幅より少数のビット幅を持つ２つの疑似ランダム信号発生器の出力を行及び列とみなし行列演算を用いて要求されるビット幅にするので、使うＦＦ数を少なく押さえられ、回路規模を縮小できるという効果が得られる。
【００９４】
図８を参照すると、本発明の第２の実施例による疑似ランダム信号発生回路が示されている。その基本的構成は上記第１の実施例の通りであるが、この第２の実施例のモチーフは、より多くの要求されるビット幅について対応できる様にさらに工夫している、ということである。
【００９５】
本図において、図１と違うアルゴリズムを持つ個所は擬似ランダムデータ発生器１００の内部の構成である。図８の擬似ランダムデータ発生器１００においては、より多くのビット数に対応できる様に、Ｎビットシフトレジスタ２００に入力するランダムデータを生成する約数ｃの幅の擬似ランダムデータを生成するｃビット幅のＭ系列発生器１３０を増やした。
【００９６】
まず、行列演算器１３０によってａビットのＭ系列発生器１１０から出力した（ａ，１）型である行列Ａ［ａ−１：０］と、ｂビットのＭ系列発生器１２０から出力した（１，ｂ）型行列であるＢ［ｂ−１：０］を、（ａ，ｂ）型の行列演算器１３０にかけて出力データにＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］を得る。
【００９７】
ここで、ｃビットのＭ系列発生器１４０を増やすことにより（ａ，ｂ）型行列演算器１３０の出力ＡＢ［（ａ＊ｂ）−１：０］を（ａ＊ｂ，１）型行列とみなし、ｃビットのＭ系列発生器１４０から出力した（１，ｃ）型行列であるＣ［ｃ−１：０］を（ａ＊ｂ，ｃ）型の行列演算器１５０にかけて出力データとしてａ＊ｂ＊ｃビット幅のＡＢＣ［（ａ＊ｂ＊ｃ）−１：０］を出力する。
【００９８】
ここで選択できるビット幅Ｎは、
（ａ＊ｂ＊ｃ）ｍｏｄ（Ｎ）＝０
を満たせばいくらでも取り得る。
【００９９】
また、ビット幅Ｎを選択するセレクト信号ＳＥＬに入力する値αは、
α＝（ａ＊ｂ＊ｃ）／Ｎ
である。
【０１００】
図９は図８の構成のタイミングチャートを示したものである。このように、擬似ランダムデータ発生器１００から出力され、Ｎビットシフトレジスタ２００に入力されたデータをＡＢＣ［（ａ＊ｂ＊ｃ）−１：０］とすれば、また、この時基準クロックの周波数ｆ１は、
ｆ１＝１／Ｔ
で決定される時刻Ｔを周期とするものとすれば、時刻ｔでの出力しているデータは、０＜ｔ＜α＊Ｔにおいて、
Ｄ［Ｎ−１：０］＝ＡＢＣ［（ｔ／Ｔ−ｔｍｏｄ（Ｔ））＊（ａ＊ｂ＊ｃ）−１：（ｔ／Ｔ−ｔｍｏｄ（Ｔ）−１）＊（ａ＊ｂ＊ｃ）］
である。
【０１０１】
このように、同様にして、擬似ランダムデータ発生器１００の部分に約数のＭ系列を増やすことでさらに多くのビット数に対応できる。
【０１０２】
次に本発明の第３の実施例による疑似ランダム信号発生回路を、図８を参照して説明する。
【０１０３】
第３の実施例による疑似ランダム信号発生回路の基本構成は第２の実施例と同じであるが、この第３の実施例のモチーフはパターン長を増やすために工夫することである。
【０１０４】
図８において、擬似ランダムデータ発生器１００のｃビット幅を出力するＭ系列発生器１４０は、上記の第２の実施例では、より多くの要求されるにビット幅について対応できる様に増やした約数であったが、これをパタン長を増やすための因子として用いる。
【０１０５】
図１の時のパタン長が
Ｌ＝（２ａ−１）＊（２ｂ−１）
であるのに対し、図８をモチーフにすれば、そのパターン長Ｌは、
Ｌ＝（２ａ−１）＊（２ｂ−１）＊（２ｃ−１）
になり、ａビットのＭ系列発生器１１０とｂビットのＭ系列発生器１２０を用いたときの（２ｃ−１）倍と長くなり、その線形性複雑度をまし、すなわちランダム性を増すことに繋がっている。
【０１０６】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、要求されるビット幅より少数のビット幅を持つ２つ以上の疑似ランダム信号の発生器の出力を行及び列とみなし行列演算を用いて要求されるビット幅にするので、使うＦＦ数を少なく押さえられ、回路規模を縮小できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例による疑似ランダム信号発生回路のブロック図である。
【図２】図１の疑似ランダム信号発生回路のａビットのＭ系列発生器１１０の構成図である。
【図３】図１の疑似ランダム信号発生回路のｂビットのＭ系列発生器１２０の構成図である。
【図４】図１の疑似ランダム信号発生回路の行列演算器１３０の構成図である。
【図５】図１の疑似ランダム信号発生回路の具体例を示した図である。
【図６】図１の疑似ランダム信号発生回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図７】図５に示された回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図８】本発明の第２の実施例による疑似ランダム信号発生回路のブロック図である。
【図９】図８の疑似ランダム信号発生回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【符号の説明】
１００    疑似ランダムデータ発生器
１１０    Ｍ系列発生器
１２０    Ｍ系列発生器
１３０    行列演算器
１４０    Ｍ系列発生器
１５０    行列演算器
２００    Ｎビットシフトレジスタ
３００    分周クロック生成器
【図１】
0003626105.tif 000002
【図２】
0003626105.tif 000003
【図３】
0003626105.tif 000004
【図４】
0003626105.tif 000005
【図５】
0003626105.tif 000006
【図６】
0003626105.tif 000007
【図７】
0003626105.tif 000008
【図８】
0003626105.tif 000009
【図９】
0003626105.tif 000010