(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査プローブを用いて検査を行うことができる液晶表示パネルであって、
対向配置された第１の及び第２の透明基板と、
当該第１の及び第２の透明基板の間隙内に液晶封入領域を区画形成するシール材と、
前記液晶封入領域内に封入された液晶と、
前記第２の透明基板上に第１の検査間隔で並んで配列された複数の第１の電極と、
前記第１の検査間隔とは異なる間隔で、前記第２の透明基板上に前記第１の電極と並んで配列された複数の第２電極と、
前記複数の第２の電極の各々から延設された複数の第１の検査用電極と、
前記第２の透明基板上の前記液晶封入領域外に第２の検査間隔で並んで配列され、前記第１の透明基板上に配列された端子と電気的に接続する複数の第３の電極と、
前記第３の電極を横切る方向に構成された第２の検査領域とを有し、
前記複数の第３の電極は、前記第１の検査用電極と並んで配列されており、
前記複数の第３の電極の間隔と前記複数の第１の検査用電極の間隔とが前記第２の検査間隔であることを特徴とする液晶表示パネル。
【請求項２】
前記複数の第３の電極は、前記第１の透明基板上に配列された端子と導電性のシール材を介して電気的に接続していることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の液晶表示パネルの検査方法であって、
検査プローブと該検査プローブによって検査すべき基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを検査領域上で検査箇所となる各電極を横切る方向に走査していき、
前記各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の１つずつに順次接触していく間に当該検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて当該各電極間に短絡があるか否かを検査することを特徴とする液晶パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の電極が形成された一対の透明基板間に液晶を封入した液晶表示パネルに関するものである。また、本発明は、この液晶表示パネルにおいて透明基板上に形成した複数の電極間に短絡が有るか否かを検査する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、一般に、一対の透明基板をシール材によって間隙をおいて接着し、その間隙内に液晶を封入することによって製造される。そして、液晶表示パネルに対して液晶駆動用ＩＣ、バックライト、ケーシング等といった付帯機器が装着されることによって液晶表示装置が製造される。
【０００３】
液晶表示パネルには、液晶に電圧を印加するための複数の透明電極がそれぞれの透明基板上に形成される。これらの透明電極は、ストライプ状、あるいは数字、文字、特定の絵柄等といった特殊パターン状に形成される。これらの透明電極は非常に微細な寸法に形成されるので、互いに接触して短絡不良を発生するおそれがある。それ故、液晶表示パネルを製造するに際しては、製造工程の前段階で、透明電極間に短絡が生じているかどうかを検査する必要がある。
【０００４】
このような検査を行う際に、従来は、所定の間隔をおいて並べた２つの検査プローブを各透明電極に接触させていき、検査プローブ同士が導通したか否かに基づいて、透明電極同士が短絡しているか否かを検査する。通常は２つの検査プローブを、隣り合う２つの透明電極にそれぞれ当てながら前記の検査を行う。このような検査方法は、例えば特開昭６１−１９４４８４号公報に開示されている。この公報には、一定間隔で並べられた検査用パターンに検査プローブを接触させてショート等の検査を行う方法が開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の検査方法はいずれも、検査用パターンの全てが、検査プローブの間隔に一致した間隔で並べられていることが前提であり、その間隔が変化する場合は考慮されていない。従って、検査用パターンの間隔が変化する場合にはその変化に対応して検査プローブ間の間隔もその都度調整しなければならない。しかし、検査プローブの間隔をその都度、調整することは、液晶表示パネルの生産性を著しく低下させるので、好ましくない。そこで、検査対象となる透明基板の検査用パターンに併せて特殊な形態に検査プローブを配置することが考えられる。しかし、このように構成したものはある特殊な検査用パターンには適用できるが、その他の電極パターンに対して用いることができないので、汎用性が著しく低いという問題点がある。
【０００６】
一方、検査プローブを用いた検査方法としては、所定の検査間隔をおいて配置した２つの検査プローブを検査対象である複数の透明電極に対して走査させる方法がある。しかし、この検査方法も、検査用パターンの全てが検査プローブ間の間隔（検査間隔）で並んでいれば支障なく実行できるが、検査プローブの走査領域内（検査領域内）にその検査間隔と異なる間隔で並べられた検査用パターンが存在する場合には、２つの検査プローブをそれらの検査用パターンに同時に接触させることはできないので、このような検査用パターンに関しては検査を行うことができない。
【０００７】
そこで、本発明の課題は、上記の問題点を解消するものであり、検査対象となる透明基板に形成されている電極の中に間隔の異なる電極が含まれている場合でも一定間隔に配置された汎用の検査プローブを用いて全ての電極について支障なく検査を行うことができる液晶表示パネル、及びその検査方法を提供することにある。
【０００８】
上記の課題を解決するため、本発明においては、検査プローブを用いて検査を行うことができる液晶表示パネルであって、対向配置された第１の及び第２の透明基板と、当該第１の及び第２の透明基板の間隙内に液晶封入領域を区画形成するシール材と、前記液晶封入領域内に封入された液晶と、前記第２の透明基板上に第１の検査間隔で並んで配列された複数の第１の電極と、前記第１の検査間隔とは異なる間隔で、前記第２の透明基板上に前記第１の電極と並んで配列された複数の第２電極と、前記複数の第２の電極の各々から延設された複数の第１の検査用電極と、前記第２の透明基板上の前記液晶封入領域外に第２の検査間隔で並んで配列され、前記第１の透明基板上に配列された端子と電気的に接続する複数の第３の電極と、前記第３の電極を横切る方向に構成された第２の検査領域とを有し、前記複数の第３の電極は、前記第１の検査用電極と並んで配列されており、前記複数の第３の電極の間隔と前記複数の第１の検査用電極の間隔とが前記第２の検査間隔であることを特徴とする。また、前記複数の第３の電極は、前記第１の透明基板上に配列された端子と導電性のシール材を介して電気的に接続していることを特徴とする。また、上述の液晶表示パネルの検査方法であって、検査プローブと該検査プローブによって検査すべき基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを検査領域上で検査箇所となる各電極を横切る方向に走査していき、前記各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の１つずつに順次接触していく間に当該検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて当該各電極間に短絡があるか否かを検査することを特徴とする。
【０００９】
本発明において、第１及び第２の電極は、それぞれ異なる間隔で形成されているため、第１の検査間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第１の電極の短絡を検査できても、第２の電極の短絡を直接、検査できない。しかるに本発明では、第２の電極から延設された第１の検査用電極は、それが属する検査領域の検査間隔で並列している。従って、第２の電極の間隔のままでは検査プロ−ブで短絡の有無を検査できない場合でも、第１の検査用電極の間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブをそのまま第１の検査用電極に当てていけば、第２の電極の短絡も検査できる。従って、検査箇所となる電極の間隔に検査プローブの間隔を調整し、そのまま当該電極の各々に各検査プローブを１本ずつ当てていくだけで、検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて第１及び第２の電極の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。
【００１０】
本発明において、前記第１の電極および前記第２の電極は、例えば前記液晶封入領域内に形成されている液晶用駆動用の電極である。
【００１１】
本発明において、更に、前記液晶封入領域内から外れた位置に第２の検査間隔で並列に形成された複数の第３の電極と、該複数の第３の電極を横切る方向に構成された第２の検査領域とを有し、前記第１の検査用電極は、前記第２の検査領域内に前記複数の第３の電極と並列に前記第２の検査間隔で形成されていることが好ましい。このように構成すれば、第２の検査領域で第３の電極について短絡の有無を検査するときに、第２の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第２の電極用に設ける必要がなく、かつ、第２の電極だけの検査を行う必要がない。
【００１２】
本発明において、前記第２の電極と前記第１の検査用電極とは、前記第２の電極より狭い線幅をもって前記第２の電極の形成間隔よりも狭い間隔で基板外周側に形成された配線パターンにより電気的に接続されていることが好ましい。このような配線パターンは、液晶表示パネルを製造し終えた後は、表示動作に寄与しないものである。そこで、これらの配線パターンを狭い間隔で、かつ狭い線幅で基板外周側に形成することにより、これらの配線パターンが占有する領域を可能な限り狭くし、かつ、表示動作に寄与する電極等の形成を妨げないようにすることが好ましい。
【００１３】
このようにして、前記第２の電極と前記第１の検査用電極との間を電気的に接続する配線パターンが占有する面積を狭めた場合には、この配線パターンの外周側に前記シール材を形成する領域を確保できる。従って、前記シール材としては、前記第１の透明基板に形成されている電極と前記第２の透明基板に形成されている電極とを電気的に接続する導電粒子を含んでいるものを使用することができる。すなわち、導電粒子を含むシール材を用いるときには、第１の透明基板側と第２の透明基板側との間で不要な電気的接続を避けるために、シール材の形成領域に前記配線パターンを極力形成しない方がよい。しかるに本発明では、前記配線パターンが占有する面積を狭めてあるので、この配線パターンが形成されている領域を避けるようにしてそこより基板外周側にシール材を形成する領域を確保することができる。このような領域にシール材を形成するのであれば、シール材の形成領域に配線パターンを形成しなくて済むか、あるいはシール材の形成領域を通る配線パターンを必要最小限に止めることができる
【００１４】
本発明において、更に、前記液晶封入領域内で前記第１の検査領域から外れた位置に複数の第４の電極が形成される場合がある。この場合には、前記複数の第４の電極の各々から延設された第２の検査用電極を前記第２の検査領域内に前記第３の電極と並列に前記第２の検査間隔で形成することが好ましい。このように構成すれば、第２の検査領域で第３の電極について短絡の有無を検査するときに、第４の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第４の電極用に設ける必要がなく、かつ、第４の電極だけの検査を行う必要がない。
【００１５】
本発明において、前記第１の検査用電極は、前記第１の検査領域内に前記第１の電極と並列に第１の検査間隔で形成してもよい。このように構成すれば、第１の検査領域で第１の電極について短絡の有無を検査するときに、第２の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第２の電極用に設ける必要がなく、かつ、第２の電極だけの検査を行う必要がない。
【００１６】
本発明において、前記検査間隔は、検査箇所となる電極のうち隣接する電極の１つずつに接触して当該隣接する電極間の導通の有無を検査する複数の検査プローブの間隔に相当する。
【００１７】
すなわち、本発明において、「検査領域」とは、例えば検査箇所である複数の電極に対して２本の検査プローブを走査移動させる場合にはその走査移動領域のことを意味し、多数の検査プローブを一定の間隔で並べた検査装置を用いる場合には、これらの検査プロ−ブが配列される領域のことを意味する。また、本発明において、「検査間隔」とは、２本の検査プローブを用いる場合にはこれらの検査プローブの間隔に相当し、多数の検査プローブを用いる場合には個々の検査プローブの間隔に相当する。但し、前記の複数の検査プローブは斜めに配置される場合があり、この場合の「検査間隔」は、電極を直角に横切る方向における検査プローブのずれ量に相当する。
【００１８】
このように構成した液晶表示パネルに対しては、以下の方法で検査を行うことができる。すなわち、前記検査プローブと該検査プローブによって検査すべき前記透明基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを前記の検査領域上で検査箇所となる前記の各電極を横切る方向に走査していく。その結果、前記の各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の１つずつに順次接触していく。従って、その間に検査プローブ同士が導通するか否かを監視すれば、その監視結果に基づいて、検査対象である電極間に短絡があるか否かを検査することができ、その自動化も容易である。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係る液晶表示パネルの外観を示す斜視図であり、図２は、その分解斜視図である。
【００２０】
これらの図において、液晶表示パネル１０は、例えば透明なガラスによって形成された第１の透明基板１と、同じく透明なガラスによって形成された第２の透明基板２とを有している。これらの透明基板１、２の一方にはシール材３が印刷等によって形成され、そのシール材３を間に挟んで第１透明基板１と第２透明基板２とが接着される。そして、第１透明基板１と第２透明基板２との間に形成される間隙（セルギャップ）のうち、シール材３で区画形成された液晶封入領域４０の内側に液晶４１が封入される。
【００２１】
第１透明基板１の外側表面には偏光板４ａが粘着剤等によって粘着される。一方、第２透明基板２の外側表面にも偏光板４ｂが粘着剤等によって粘着される。ここにいう粘着というのは、取り外しができないように強固に接着するということではなく、比較的弱い力で容易に剥がすことができる程度に貼り付けることを意味している。
【００２２】
ここで、第２の透明基板２は第１の透明基板１よりも大きいので、第２の透明基板２に第１の透明基板１を重ねた状態において、第２の透明基板２は、その一部が第１の透明基板１の下端縁より張り出す。この張出し部にはＩＣ装着位置９が形成されており、ここに液晶駆動用ＩＣ１３が接着される。この接着は、例えばＡＣＦ（  Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ  ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ  ｆｉｌｍ：異方性導電膜）を第２の透明基板２と液晶駆動用ＩＣ１３との間に挟んだ上でそれらを加熱圧着することによって行われる。また、第２の透明基板２において、ＩＣ装着位置９より下端側には入力端子１２が形成されており、これら入力端子１２にはフレキシブル配線板（図示せず。）、例えばヒートシールが接続される。
【００２３】
図３及び図４は、それぞれ第１の透明基板１及び第２の透明基板２に形成した透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【００２４】
図３に示すように、第１の透明基板１の内側表面には、複数のストライプ状電極６ａと、特定の絵柄として形成された特殊パターン電極６ｂとが形成されている。これらの電極６ａ、６ｂは、第１の透明基板１の端部に形成した各端子８にそれぞれ配線接続されている。これらの透明電極はいずれもＩＴＯ膜（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ）などで形成される。
【００２５】
図４に示すように、第２の透明基板２の内側表面のうち、シール材３で区画形成された液晶封入領域４０には、複数のストライプ状電極７ａと、これらのストライプ状電極７ａに接続する複数の特殊パターン電極７ｂと、ストライプ状電極７ａから独立した特殊パターン電極７ｇ（第４の電極）が形成されている。これらの電極のうち、ストライプ状電極７ａおよび特殊パターン電極７ｂ、７ｇは、ＩＣ装着位置９に形成された各端子１１に配線接続されている。また、第２の透明基板２の下端部では、入力端子１２からＩＣ装着位置９に向かって配線が形成されている。さらに、第２の透明基板２には、ＩＣ用端子１１につながる電極２１が所定の間隔で形成されている。
【００２６】
このように構成した第１透明基板１と第２透明基板２とを、図１及び図５に示すように接着した状態で、第１の透明基板１のストライプ状電極６ａと、第２の透明基板２のストライプ状電極７ａとは交差し、各交差点で１つの画素が形成される。また、第１の透明基板１の特殊パターン電極６ｂと、第２の透明基板２の特殊パターン電極７ｂ、７ｇとが重なり合って個々の特殊パターンが形成される。
【００２７】
また、第１透明基板１と第２透明基板２とを接着した状態で、第１の透明基板１の各端子８と、第２透明基板２の各電極２１とは、図６に模式的に示すように、対向する。従って、第１の透明基板１の内側表面のうち図３に一点鎖線で示す領域、または第２透明基板２の表面のうち図４に一点鎖線で示す領域にギャップ材及び導電粒子を含むシール材３を塗布しておき、しかる後に、第１の透明基板１と第２の透明基板２と張り合わせれば、図７に拡大して示すように、第１の透明基板１の各端子８と、第２透明基板２の電極２１とは、シール材３に含まれる導電粒子３１を介して導通することになる。ここで、導電粒子３１は、弾性変形可能なプラスチチックビーズの表面にめっきを施したもので、その粒径は約６．６μｍである。これに対して、ギャップ材３２の径は約５．６μｍである。それ故、第１の透明基板１と第２の透明基板２と重ねた状態でその間隙を狭めるような力を加えながらシール材３を硬化させると、導電粒子３１は、第１の透明基板１と第２の透明基板２の間で押し潰された状態で第１の透明基板１の各端子８と第２透明基板２の電極２１とを導通させる。この状態で、第１の透明基板１と第２透明基板２との間隙はギャップ材３２で規定されることになる。
【００２８】
さらに、第１の透明基板１と第２の透明基板２との間において、シール材３によって区画形成された液晶封入領域４０内には液晶４１が封入される。従って、入力端子１２及びヒートシールを通して液晶駆動用ＩＣ１３に液晶駆動用電力及び駆動信号が送られると、液晶駆動用ＩＣ１３は、送られてきた駆動信号に基づいて希望する適宜のストライプ状電極６ａ、７ａ、あるいは特殊パターン電極６ｂ、７ｂ、７ｇに電圧を印加することによって液晶４１の配向状態を制御し、液晶表示パネル１０上に希望の像を表示する。
【００２９】
このように構成された液晶表示パネル１０において、正常な像を表示するためには、ストライプ状電極６ａ、７ａ、並びに特殊パターン電極６ｂ、７ｂ、７ｇを問わず、全ての電極が短絡状態にないことが要求される。電極が短絡状態にあるか否かを検査するため、本実施形態では液晶表示パネル１０の電極配線パターンを以下のように構成している。なお、以下の説明では、第２の透明基板２の上に形成された各透明電極に対して検査を行う場合を考える。
【００３０】
まず、図４において、液晶封入領域４０内にはストライプ状電極７ａを直角に横切る位置に第１の検査領域１４ａを設定し、それとは別に、液晶封入領域４０から外れた位置に第２の検査領域１４ｂを設定する。第１の検査領域１４ａは、第１の検査間隔Ｄ１（第１の検査領域１４ａに固有の検査間隔）をおいて並べられた２個の検査プローブ１６を第２の透明基板２に対して相対的に走査移動させたときの移動領域に相当する。また、第２の検査領域１４ｂは、第２の検査間隔Ｄ２（第２の検査領域１４ｂに固有の検査間隔）をおいて並べられた２個の検査プローブ１７を第２の透明基板２に対して相対的に走査移動させたときの移動領域に相当する。ここで、検査プローブ１６、１７は斜めに配置され、この場合の検査間隔Ｄ１、Ｄ２は、電極を直角に横切る方向における検査プローブのずれ量に相当する。
【００３１】
検査プローブ１６、１７は、検査対象の電極よりも小さな面積又はほぼ等しい面積の先端接触部分を有しており、さらに図示しない検査回路に接続される。これらの検査プローブは、その先端接触部分の所で検査箇所である電極に接触し、それらの電極が持っている電気的状態、例えばショートしているか否か等の状態を電気信号の形で検査回路へ伝達する。この検査回路は、少なくとも一対の検査プローブの間にショートが生じているかどうか、すなわち所定量以上の電流が流れるかどうかを検知できる回路を含んでいる。このような電気回路は従来より広く知られており、また種々の回路構成とすることができるので、詳しい説明は省略する。
【００３２】
第１の検査領域１４ａでは、ストライプ状電極７ａに属するほとんどのストライプ状電極７ｆ（第１の電極）が、検査プローブ１６の第１の検査間隔Ｄ１と同じ間隔、すなわち同じピッチで並んでいる。このため、２本の検査プローブ１６をストライプ状電極７ｆの１つずつに順次当てていくだけで、検査プローブ１６同士が導通するか否かに基づいてストライプ状電極７ｆの全てについて短絡が有るか否かを検査することができる。
【００３３】
しかし、図面に向かって左側の３個のストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ（第２の電極）は間隔Ｄ３で並んでおり、その間隔は第１の検査間隔Ｄ１と異なっている。たとえば、ストライプ状電極７ｆの各間隔は０．１５ｍｍないし０．３６ｍｍであるのに対して、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの各間隔はかなり広い。そこで、本形態では、これらのストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅからは配線パターン１８ａが延びていてそれらの配線パターン１８ａの先端に第１の検査用電極１９ａが形成されている。ここで、配線パターン１８ａの各間隔は、たとえば０．１ｍｍないし０．１２ｍｍである。また、第１の検査用電極１９ａの各間隔は、たとえば０．１８ｍｍないし０．３４ｍｍである。これらの第１の検査用電極１９ａは、第１の検査領域１４ａとは別の第２の検査領域１４ｂにおいて、検査プローブ１７の第２の検査間隔Ｄ２で並んでいる。また、第２の検査領域１４ｂの中には、ＩＣ用端子１１に電気的接続する電極２１が検査プローブ１７の第２の検査間隔Ｄ２で並んでおり、これらの電極２１の一部分が検査用電極として利用される。しかも、第２の検査領域１４ｂにおいて、第１の検査用電極１９ａと電極２１とは、同じ間隔（検査プローブ１７の第２の検査間隔Ｄ２／同じピッチ）で並列に配置された状態にある。従って、第２の検査間隔Ｄ２をもつ検査プローブ１７を第１の検査用電極１９ａおよび電極２１の１つずつに順次当てていくだけで、検査プローブ１７同士が導通するか否かに基づいて第１の検査用電極１９ａおよび電極２１の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。すなわち、電極２１に短絡が有るか否かを検査しながら、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅに短絡が有るか否かを同時に検査することができる。それ故、検査工程を簡略化できるとともに、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの短絡検査を行うための検査領域を別途、確保する必要がないという利点がある。
【００３４】
また、特殊パターン電極７ｇからも配線パターン１８ｂが延びていてそれらの配線パターンの先端に第２の検査用電極１９ｂが形成されている。これらの第２の検査用電極１９ｂも第２の検査領域１４ｂの中において、第１の検査用電極１９ａおよび電極２１と並列に配置され、かつ、第２の検査間隔Ｄ２で並んでいる。従って、第２の検査間隔Ｄ２をもつ検査プローブ１７を第１の検査用電極１９ａ、第２の検査用電極１９ｂ、および電極２１の１つずつに順次当てていくだけで、電極２１及びストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅに加えて、特殊パターン電極７ｇについても短絡が有るか否かを検査することができる。それ故、検査工程を簡略化できるとともに、特殊パターン電極７ｇの短絡検査を行うための検査領域を別途、確保する必要がないという利点がある。
【００３５】
このような検査工程は、第２の透明基板２を多数取りするための大型のガラス基板上に各電極を形成した以降、第２の透明基板２を切り出す前に行うと作業効率がよい。また、第２の透明基板２に短絡等の欠陥があったときには、レーザ光などを用いて短絡箇所を修復することもできる。但し、以下の説明では、検査の方法が分かりやすいように、大型のガラス基板から第２の透明基板２を切り出した状態で検査を自動的に行う場合を説明する。
【００３６】
まず、検査プローブ１６、１７が設置されている検査ステージ上の所定位置に、検査対象である第２の透明基板２をセットする。そして、検査プローブ１６、１７を第２の透明基板２の各検査領域１４ａ、１４ｂの端部に位置合わせし、しかる後に、検査プローブ１６、１７を第２の透明基板２に対して移動させる。あるいは、第２の透明基板２を検査プローブ１６、１７に対して移動させる。その結果、各検査プローブ１６、１７は、第２の透明基板２の表面で各検査領域１４ａ、１４ｂに沿って走査することになる。
【００３７】
この走査中に、ストライプ状電極７ｆ内のいずれかの電極間で短絡が発生していれば、第１の検査領域１４ａ内を移動する検査プローブ１６がその短絡の原因である電極に到来したときにその短絡が検出される。また、ＩＣ端子１１につながる電極２１に短絡が発生していれば、第２の検査領域１４ｂ内を移動する検査プローブ１７がその短絡の原因である電極に到来したときにその短絡が検出される。
【００３８】
但し、第１の検査領域１４ａにおいて、検査プローブ１６が左端部のストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの所まで移動したとしても、その検査プローブ１６ではそれらの電極間の検査を行うことはできない。検査プローブ１６の検査間隔Ｄ１と、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの間隔（ピッチ）とが異なるからである。また、特殊パターン電極７ｇについても検査を行うことができない。検査プローブ１６の検査間隔Ｄ１と、配線パターン１８ｂの間隔（ピッチ）と異なるからである。しかるに本形態では、これらのストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ、及び特殊パターン電極７ｇにつながる第１および第２の検査用電極１９ａ、１９ｂが第２の検査領域１４ｂまで延びていて、しかも第１および第２の検査用電極１９ａ、１９ｂ間の間隔が第２の検査領域１４ｂ固有の検査間隔、すなわち第２の検査プローブ１７の検査間隔Ｄ２に一致している。従って、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの検査、及び特殊パターン電極７ｇの検査は、第１の検査プローブ１６によって直接には実行できないが、第２の検査プローブ１７によって行うことができる。それ故、本発明の液晶表示パネル１０及び液晶表示パネル１０の検査方法によれば、検査対象の電極の中にピッチの異なる電極が存在する場合でも、これらの電極には所定の間隔で並列する検査用電極が電気的に接続しているので、一定間隔で並べられた汎用の検査プローブを用いて支障なく、かつ、自動的に検査を行うことができる。
【００３９】
また、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅと検査用電極１９ａとを電気的に接続する配線パターン１８ａは、液晶表示パネル１０を製造し終えた後は、表示動作に寄与しないものである。そこで、配線パターン１８ａについては、シール材３の形成領域の内側領域に間隔Ｄ２、Ｄ３のいずれよりも狭い間隔で、かつ、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅより狭い線幅で基板外周側に形成されている。従って、配線パターン１８ａが占有する領域を可能な限り狭くし、かつ、表示動作に寄与するストライプ状電極７ａの形成等を妨げないようにしてある。また、配線パターン１８ａが占有する面積を狭めた場合には、この配線パターン１８ａの外周側にシール材３を形成する領域を確保できる。従って、シール材３としては、第１の透明基板１の端子８と第２の透明基板２の電極２１とを電気的に接続する導電粒子３１を含んでいるものを使用することができる。すなわち、導電粒子３１を含むシール材３を用いるときには、第１の透明基板１の側と第２の透明基板２の側との間で不要な電気的接続を避けるために、シール材３の形成領域に配線パターンを極力形成しない方がよい。しかるに本形態では、配線パターン１８ａが占有する面積を狭めてあるので、この配線パターン１８ａが形成されている領域を避けるようにしてそこより基板外周側にシール材３を形成する領域を確保することができる。このような基板外周側にシール材３を形成するのであれば、シール材３の形成領域に配線パターン１８ａを形成しなくて済むか、あるいはシール材３の形成領域を通る配線パターン１８ａを必要最小限に止めることができる。
【００４０】
図８は、液晶表示パネルに用いた第２の透明基板の平面図である。なお、図８に示す第２の透明基板は、基本的な構成が図４に示した第２の透明基板と同一なので、共通する部分には同一の符号を付してそれらの詳細な説明を省略する。
【００４１】
上記形態では、第１の検査用電極１９ａは、第２の検査領域１４ｂ内に電極２１と並列に形成したが、図８に示すように、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ（第２の電極）に電気的接続する第１の検査用電極１９ａを、第１の検査領域１４ａ内にストライプ状電極７ｆ（第１の電極）と並列に形成してもよい。この場合には、第１の検査用電極１９ａの間隔とストライプ状電極７ｆの間隔とを等しくする。すなわち、第１の検査用電極１９ａの間隔も、検査プローブ１６の第１の検査間隔Ｄ１とする。このように構成すれば、第１の検査領域１４ａでストライプ状電極７ｆについて短絡の有無を検査するときに、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅについても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上にストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの検査領域を別途設ける必要がなく、かつ、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅだけの検査を行う必要がない。つまり、全てのストライプ状電極７ａの検査領域を１個だけとすることができる。
【００４２】
以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものではなく、請求の範囲に記載した技術的範囲内で種々に改変できる。
【００４３】
例えば、図４に示す実施形態では、１つの検査領域１４ａ、１４ｂにつきそれぞれ２本の検査プローブ１６、１７を用いたが、これに代えて、多数の検査プローブを検査領域１４ａ、１４ｂに沿って一定の検査間隔Ｄ１、Ｄ２で連続して並べることにより、多数の電極を同時に検査することもできる。
【００４４】
また、上記形態では、第２の透明基板２の上に液晶駆動用ＩＣ１３を直接に搭載する形式のいわゆるＣＯＧ（  Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ）形式の液晶表示パネルに本発明を適用したものであるが、それ以外の任意の形式の液晶表示パネルに本発明が適用できることはもちろんである。
【００４５】
また、以上の説明では、図４に示す第２の透明基板２上に形成したストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ、および特殊パターン電極７ｇに対して検査用電極１９ａ、１９ｂを設けた場合を示したが、図３に示す第１の透明基板１上に形成した電極に対しても、本発明を適用してもよい。
【００４６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る液晶表示パネルにおいて、第１及び第２の電極は、それぞれ異なる間隔で形成されているため、第１の検査間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第１の電極の短絡を検査できても、第２の電極の短絡を直接、検査できないが、第２の電極から延設された第１の検査用電極は、それが属する検査領域の検査間隔で並列している。従って、第２の電極の間隔のままでは検査プロ−ブで短絡の有無を検査できない場合でも、第１の検査用電極の間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブをそのまま第１の検査用電極に当てていけば、第２の電極の短絡も検査できる。従って、検査箇所となる電極の間隔に検査プローブの間隔を調整し、そのまま当該電極の各々に各検査プローブを１本ずつ当てていくだけで、検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて第１及び第２の電極の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した液晶表示パネルの斜視図である。
【図２】図１に示した液晶表示パネルの分解斜視図である。
【図３】図１に示す液晶表示パネルを構成する一方の透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【図４】図１に示す液晶表示パネルを構成する他方の透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【図５】図１に示す液晶表示パネルのＡ−Ａ′線に相当する位置で切断したときの縦断面図である。
【図６】図１に示す液晶表示パネルのＢ−Ｂ′線に相当する位置で切断したときの縦断面図である。
【図７】図１に示す液晶表示パネルのシール材の塗布領域を拡大して示す縦断面図である。
【図８】液晶表示パネルに用いた透明基板の平面図である。
【符号の説明】
１        第１透明基板
２        第２透明基板
３        シール材
４ａ、４ｂ  偏光板
５        液晶表示パネル
６ａ      ストライプ状電極
６ｂ      特殊パターン電極
７ａ      ストライプ状電極
７ｂ      特殊パターン電極
７ｃ、７ｄ、７ｅ  ストライプ状電極（第２の電極）
７ｆ      ストライプ状電極（第１の電極）
７ｇ      特殊パターン電極（第４の電極）
８        端子
９        ＩＣ装着位置
１１        端子
１２        入力端子
１３        液晶駆動用ＩＣ
１４ａ      第１の検査領域
１４ｂ      第２の検査領域
１６、１７  検査プローブ
１８ａ、１８ｂ      配線パターン
１９ａ    第１の検査用電極
１９ｂ    第２の検査用電極
２１      電極（第３の電極）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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