(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録装置において、
記録パワー時の光ビーム出力を検出して、該光ビーム出力が所定の目標値に一致するように、記録パワー時の光ビーム出力を制御する記録パワー制御ループと、
非記録パワー時の光ビーム戻り光を検出して、該戻り光検出出力が所定の目標値に一致するように、非記録パワー時の光ビーム出力を制御する非記録パワー制御ループとを具備し、
前記非記録パワー制御ループの応答周波数帯域を、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分に応答する帯域に設定し、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域を該光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる周期的変動成分に応答しない相対的に低い帯域に設定し、
記録パワー時に、前記記録パワー制御ループで生成されている光ビーム駆動信号と前記非記録パワー制御ループで前記周期的変動成分に応答して生成される光ビーム駆動信号とに応じて光ビーム源を駆動し、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる前記周期的変動成分を打ち消すように、記録パワー時の光ビーム出力を補正する光ディスク記録装置。
【請求項２】
記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる、記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動を検出し、該記録パワー時の戻り光検出出力の変動を打ち消す補正値を作成して、該補正値で前記記録パワー制御ループの目標値を補正する記録パワー目標値補正手段をさらに具備してなり、
該記録パワー目標値補正手段の応答周波数帯域を、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域に対し相対的に低く、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる周期的変動成分の周波数に応答しない周波数帯域に設定してなり、
もって、該記録パワー目標値補正手段が、記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる前記記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動に応答する請求項１記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスク記録装置に関し、光ディスクに面振れ（ディスク基板の周方向の波打ち）や偏芯｛ディスク中心軸に対するトラック（案内溝等）の偏芯｝があっても高品位に記録を行うことができ、また光ディスクに面振れや偏芯があっても適正な記録パワーを高精度に求められるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ（コンパクトディスク−レコーダブル）、ＣＤ−ＲＷ（コンパクトディスク−リライタブル）、ＤＶＤ−Ｒ（ディジタル多用途ディスク−レコーダブル）等の記録可能型光ディスクにおいては、本番の記録に先立ち、所定のテスト記録領域でレーザ光の記録パワーを順次変化させてテスト記録を行い、該テスト記録後これを再生して信号品位を測定し、該測定に基づき、最良の再生信号品位が得られる記録パワーを求め、レーザ光の記録パワーを該求められた記録パワーに設定して本番の記録を開始するようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
光ディスクには製造上の誤差や経時変化等により面振れや偏芯が生じている。面振れがあると、レーザ光軸がトラックに対してなす角度が周期的に（ディスク１回転を１周期として）変動し、またフォーカスずれ量が周期的に変動するので、トラックに照射されるレーザ光の光量（照度）が周期的に変動する。また、偏芯があると、トラッキングずれ量が周期的に変動するので、トラックに照射されるレーザ光の光量が周期的に変動する。このため、光ディスクに面振れや偏芯があると、記録パワーを一定に保って記録しても、ディスク周方向の位置によって記録品位に差が生じ、ディスク全周にわたり高品位に記録することができなかった。特に、記録速度倍率を高めて記録する場合ほど、この現象は顕著であった。また、テスト記録の際も、面振れや偏芯の影響を受けた状態で記録されるので、最適記録パワーを高精度に求めることができなかった。
【０００４】
なお、記録時のディスク基板の温度上昇やディスク径方向位置での記録膜の膜厚変化（スピンコートで記録膜を成膜する場合に生じる。）等による最適記録パワーの変動に対応するため、従来、ＲＯＰＣ（Running Optimum Power Control：実時間最適パワー制御）等と称して、本番記録中に実時間で最適記録パワーを求めて、レーザ光の記録パワーを該検出された最適記録パワーに制御する方法があるが、この方法は一般的にディスク径方向の状態の変化に対応するものであるため応答がきわめて遅く、ディスク１周内の変動である面振れや偏芯に対応することはできなかった。
【０００５】
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、光ディスクに面振れや偏芯があっても高品位に記録を行うことができ、また光ディスクに面振れや偏芯があっても適正な記録パワーを高精度に検出できるようにした光ディスクの記録装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ディスクの面振れや偏芯等による光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を検出して、該周期的変動成分に応じて、該周期的変動成分を打ち消すように、記録パワー時の光ビーム出力を補正するものである。これによれば、光ディスクの面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が周期的に変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、高品位に記録を行うことができる。
【０００７】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、記録パワー時の光ビーム出力を検出して、該光ビーム出力が所定の目標値に一致するように、記録パワー時の光ビーム出力を制御するとともに、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を、前記記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御とは異なる応答周波数帯域で検出して、該周期的変動成分に応じて、該周期的変動成分を打ち消すように、前記記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御とは異なる応答周波数帯（例えば、該記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御よりも高い応答周波数域）で、該記録パワー時の光ビーム出力を補正するものである。これによれば、記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御により、温度変化等による光ビーム出力の変動が抑えられるとともに、光ディスクの面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が周期的に変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、高品位に記録を行うことができる。
【０００８】
なお、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分の検出は、例えば、記録と並行して実時間で行い、あるいは、記録に先立ち行うことができる。また、記録信号の記録は、例えば、本番記録として、あるいは、本番記録に先立ち適正記録パワーを求めるために記録パワーを順次変化して行われるテスト記録として行うことができる。本番記録として行えば、高品位な記録を行うことができ、テスト記録として行えば、適正記録パワーを高精度に求めることができる。
【０００９】
この発明の光ディスク記録装置は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録装置において、記録パワー時の光ビーム出力を検出して、該光ビーム出力が所定の目標値に一致するように、記録パワー時の光ビーム出力を制御する記録パワー制御ループと、非記録パワー時の光ビーム戻り光を検出して、該戻り光検出出力が所定の目標値に一致するように、非記録パワー時の光ビーム出力を制御する非記録パワー制御ループとを具備し、前記非記録パワー制御ループの応答周波数帯域を、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分に応答する帯域に設定し、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域を該光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる周期的変動成分に応答しない相対的に低い帯域に設定し、記録パワー時に、前記記録パワー制御ループで生成されている光ビーム駆動信号と前記非記録パワー制御ループで前記周期的変動成分に応答して生成される光ビーム駆動信号とに応じて光ビーム源を駆動し、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる前記周期的変動成分を打ち消すように、記録パワー時の光ビーム出力を補正するものである。
【００１０】
この発明の光ディスク記録装置は、記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる、記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動を検出し、該記録パワー時の戻り光検出出力の変動を打ち消す補正値を作成して、該補正値で前記記録パワー制御ループの目標値を補正する記録パワー目標値補正手段をさらに具備してなり、該記録パワー目標値補正手段の応答周波数帯域を、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域に対し相対的に低く、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる周期的変動成分の周波数に応答しない周波数帯域に設定してなり、もって、該記録パワー目標値補正手段が、記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる前記記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動に応答するものである。
【００１１】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、記録に先立ち、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を検出して、ディスク周方向位置に応じた光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分特性として予めメモリに記憶し、記録の際に、ディスク周方向位置を順次検出して、前記メモリから各該当するディスク周方向位置における光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を順次読み出し、該周期的変動成分に応じて、該周期的変動成分を打ち消すように、記録パワー時の光ビーム出力を補正するものである。これによれば、光ディスクの面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が周期的に変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、高品位に記録を行うことができる。
【００１２】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、記録に先立ち、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を検出して、ディスク周方向位置に応じた光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分特性として予めメモリに記憶し、記録の際に、記録パワー時の光ビーム出力を検出して、該光ビーム出力が所定の目標値に一致するように、記録パワー時の光ビーム出力を制御するとともに、ディスク周方向位置を順次検出して、前記メモリから各該当するディスク周方向位置における光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を順次読み出し、該周期的変動成分に応じて、該周期的変動成分を打ち消すように、前記記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御とは異なる応答周波数帯（例えば、該記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御よりも高い応答周波数域）で、該記録パワー時の光ビーム出力を補正するものである。これによれば、記録パワー時光ビーム出力検出に基づく光ビーム出力制御により、温度変化等による光ビーム出力の変動が抑えられるとともに、光ディスクの面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が周期的に変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、高品位に記録を行うことができる。
【００１３】
なお、記録に先立ち行われる、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分の検出は、例えば、記録が行われない所定パワーの光ビームを光ディスクに照射して行うことができる。また、記録信号の記録は、例えば、本番記録として、あるいは、本番記録に先立ち適正記録パワーを求めるために記録パワーを順次変化して行われるテスト記録として行うことができる。
【００１４】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録装置の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録装置は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録装置において、装着されている光ディスクに関し、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる、ディスク周方向位置に応じた光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分の検出特性を記憶するメモリと、記録パワー時の光ビーム出力を検出して、該光ビーム出力が所定の目標値に一致するように、記録パワー時の光ビーム出力を制御する記録パワー制御ループと、記録が行われているディスク周方向位置を検出する周方向位置検出手段と、記録の際に、前記周方向位置検出手段で検出されるディスク周方向位置に応じて、前記メモリから各該当するディスク周方向位置における光ビーム戻り光検出出力の周期的変動成分を順次読み出し、該周期的変動成分に応じて、該周期的変動成分を打ち消すように、記録パワー時の光ビーム出力を補正する光ビーム出力補正手段とを具備し、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域を前記光ビーム出力補正手段による光ビーム出力補正に応答しない周波数帯域（例えば、該光ビーム出力補正よりも相対的に低い周波数帯域）に設定してなるものである。
【００１５】
後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録装置の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録装置は、記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる、記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動を検出し、該記録パワー時の戻り光検出出力の変動を打ち消す補正値を作成して、該補正値で前記記録パワー制御ループの目標値を補正する記録パワー目標値補正手段をさらに具備してなり、該記録パワー目標値補正手段の応答周波数帯域を、前記記録パワー制御ループの応答周波数帯域に対し相対的に低く、光ディスクの面振れまたは偏芯によって生じる周期的変動成分の周波数に応答しない周波数帯域に設定してなり、もって、該記録パワー目標値補正手段が、記録位置がディスク径方向へ移動するのに伴って生じる前記記録パワー時の光ビーム戻り光検出出力の変動に応答するものである。
【００１６】
なお、後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明を含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、本番記録に先立ち、ディスク１周について記録パワーを順次変化させてテスト記録を行い、該テスト記録後これを再生して、各記録パワーにおけるアシンメトリ値を測定し、該測定値から記録パワー値対アシンメトリ値の直線または二次近似特性を求め、該求められた直線または二次近似特性から、アシンメトリ値の所定の目標値を実現する記録パワー値を求め、該求められた記録パワー値を、本番記録開始時の記録パワー指令値として設定して本番記録を開始するものである。すなわち、光ディスクに面振れや偏芯があると記録パワー値対アシンメトリ値特性に正弦波状のうねりが生じるため、この特性から目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求めると、該目標アシンメトリ値を実現する真の記録パワー値に対し誤差を生じたものとなり、記録パワー値を該誤差を生じた値に設定して本番記録を行うと、高品位な記録を行うことができない。そこで、ディスク１周分のテスト記録に基づく記録パワー値対アシンメトリ値特性の測定結果からその直線または二次近似特性を求めることにより、該特性に含まれる光ディスクの面振れ成分や偏芯成分を打ち消して、目標アシンメトリを実現する記録パワー値を高精度に求めることができ、記録パワー値を該求められた値に設定して本番記録を行うことにより、高品位な記録を行うことができる。なお、近似特性は、例えば、最小二乗法により求めることができる。また、ディスク１周は、例えば、ディスク回転に伴いＦＧ（周波数発生器）から得られるＦＧパルスをカウントして検出することができる。
【００１７】
また、後述するこの発明の実施の形態は、次の光ディスク記録方法の発明をさらに含んでいる。すなわち、この光ディスク記録方法は、光ビームを、記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと、記録が行われない非記録パワーに変調して光ディスクのトラックに照射して、該記録信号の記録を行う光ディスク記録方法において、本番記録に先立ち、記録パワーを順次変化させてテスト記録を行い、該テスト記録後これを再生して、記録パワー値対アシンメトリ値特性およびアシンメトリ値対記録信号品位特性を求め、該アシンメトリ値対記録信号品位特性から該特性のアシンメトリ値方向の重心を求め、該求められたアシンメトリ値を実現する記録パワー値を前記記録パワー値対アシンメトリ値特性から求めて、該求められた記録パワー値を、本番記録開始時の記録パワー指令値として設定して本番記録を開始するものである。これによれば、記録信号品位が良好に得られるアシンメトリ値範囲の中央付近の値、すなわち、パワーマージンが広く得られるアシンメトリ値（記録信号品位が良好でかつ記録パワー値の変動による記録信号品位の低下が少ないアシンメトリ値）を求めることができ、該アシンメトリ値を目標アシンメトリ値として、該目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を記録パワー値対アシンメトリ値特性から求めることにより、適正な記録パワー値を高精度に求めることができ、記録パワー値を該求められた値に設定して本番記録を行うことにより、高品位な記録を行うことができる。なお、記録信号品位のパラメータとしては、例えば、Ｃ１エラー（リードソロモン補正１レベルエラー）やＣＵエラー（訂正不能エラー）の発生率、同期外れ発生率、ジッタ量等を用いることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、この発明をＣＤ−Ｒ／ＲＷドライブ（ＣＤ−ＲディスクとＣＤ−ＲＷディスクの記録および再生が可能な光ディスク記録装置）に適用した実施の形態を説明する。
【００１９】
（実施の形態１）
この発明の光ディスク記録装置の実施の形態１を図１に示す。これは、記録時に各ディスク周回位置の面振れや偏芯を実時間で検出して、該面振れや偏芯を打ち消すように記録パワーを補正しながら記録を行うようにしたものである。光ディスク（ＣＤ−ＲディスクまたはＣＤ−ＲＷディスク）１０は、スピンドルモータ１２で駆動され、光ピックアップ１３で記録および再生が行われる。スピンドルコントローラ１４は、光ディスク１０から検出されるウォブルもしくはＡＴＩＰ（Absolute Time In Pre-groove）信号と基準発振器１６から発振される基準クロックを分周した信号とを位相比較し、両者が位相同期するようにスピンドルモータ１２を制御する。光ピックアップ１３は、半導体レーザ等のレーザ光源１８からレーザ光２０を出射し、光ディスク１０の記録面に照射して、記録または再生を行う。レーザ光源１８から出射されるレーザ光２０の一部はフロントモニタ２３で受光される。光ディスク１０からの主ビームの戻り光（反射光）２０ａは４分割光検出器等の主ビーム用戻り光検出器２２で受光される。再生時に戻り光検出器２２から出力される再生ＥＦＭ信号は、ＥＦＭデコーダ２４でＥＦＭ復調されて、記録信号が復調される。記録信号生成回路２６は、テスト記録および本番記録を行う記録信号を生成する。レーザ駆動回路２８は、レーザ光源１８を駆動する回路で、レーザ光出力を、再生時は所定の再生パワーに制御し、記録時は記録信号に応じて、記録が行われる記録パワーと記録が行われない非記録パワー（例えば再生パワーと同じパワー）に変調する。
【００２０】
レーザ駆動回路２８の構成例を図２に示す。レーザ駆動回路２８は、再生時の再生パワーおよび記録時（本番記録時およびテスト記録時）の非記録パワーを実現するレーザ駆動電流Ｉbを供給する電流源３１と、記録時（本番記録時およびテスト記録時）の記録パワーを実現するレーザ駆動電流と電流源３１から供給される電流Ｉbとの差分に相当する電流Ｉtを供給する電流源３３を備える。両電流源３１，３３から供給される電流Ｉb，Ｉtは加算器３５で電流加算されてレーザ光源１８を駆動して、レーザ光２０を出射させる。記録パワーを実現する電流源３３の供給経路にはスイッチ４１が配置され、記録信号生成回路２６から出力される記録信号に応じてオン、オフされる。これにより、レーザ光源１８から出射されるレーザ光２０は、記録時には、記録信号に応じて記録パワーと非記録パワーに変調される。また、再生時はスイッチ４１はオフされたままとなり、レーザ光源１８から出射されるレーザ光２０は再生パワーに制御される。
【００２１】
図１において、ＡＬＰＣ１ループ３０は、本番記録時の記録パワーが所定の目標値に一致するように制御するＡＬＰＣ制御（Automatic Laser Power Control）ループを構成するもので、レーザ光源１８の温度変化等によるレーザ光出力の変動を抑える働きをする。すなわち、ＡＬＰＣ１ループ３０は、本番記録時に、フロントモニタ２３の検出出力を記録パワー時のタイミング｛図３（ｃ）参照｝でサンプルホールド回路ＳＨ１にサンプルホールドし、加え合わせ点３４で該サンプルホールド値と記録パワー目標値との偏差を求め、ＡＬＰＣ１回路３６で該偏差を打ち消すようにレーザ駆動回路２８を制御して（図２の構成の場合、電流源３３の電流値Ｉtを制御する。）、記録パワーを該目標値に制御する。ＡＬＰＣ１回路３６には、ＡＬＰＣ１ループ３０の応答周波数帯域を設定するローパスフィルタＬＰＦ１が組み込まれている。ＡＬＰＣ１回路３６は、テスト記録時には、例えば図４に示すように、所定期間（例えば１サブコードフレーム）ごとに所定ステップずつ変化する記録パワーを指示する。
【００２２】
非記録パワー指令値出力回路３７は、記録時の非記録パワーおよび再生時の再生パワーを指令し、該指令値を実現するようにレーザ駆動回路２８を制御する（図２の構成の場合、電流源３１の電流値Ｉbを制御する。）。ＡＬＰＣ２ループ３８は、記録時（本番記録時およびテスト記録時）に、非記録パワー時の戻り光検出出力が所定の目標値に一致するように制御するＡＬＰＣ制御ループを構成するもので、面振れや偏芯等に基づく、トラックに対するレーザ光２０の照射光量の変動による記録品位の低下を抑制する働きをする。すなわち、ＡＬＰＣ２ループ３８は、テスト記録時および本番記録時に、戻り光検出器２２の検出出力を非記録パワー時のタイミング｛図３（ｄ）参照｝でサンプルホールド回路ＳＨ２にサンプルホールドし、加え合わせ点４０で該サンプルホールド値とＡＬＰＣ２目標値出力回路４２から出力される非記録パワー時の戻り光強度目標値（非記録パワー時の戻り光検出出力の標準値として予め設定されている値）との偏差を求め、ローパスフィルタＬＰＦ２および加算点３９を介して、該偏差を打ち消すようにレーザ駆動回路２８を制御する（図２の構成の場合、電流源３１の電流値Ｉbを補正制御する。）。
【００２３】
記録パワー目標値算出回路２５は、テスト記録の再生時に、再生ＥＦＭ信号から記録パワーの各段階ごとのアシンメトリ値を計測し（図５実線）、該計測値を最小二乗法等の直線近似あるいは２次近似等で近似して、記録パワー値対アシンメトリ値特性を求める（図５点線）。なお、アシンメトリ値は、再生ＥＦＭ信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベルをｂ（符号は−）とすると（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）で求まる値である。光ディスク記録装置内のメモリ（図示せず）には、高品位記録が実現されるアシンメトリ値がディスク種類ごとに目標アシンメトリ値として予め記憶されており、光ディスク記録装置は光ディスクが装着された時に、そのディスク種類を判別して、メモリから該当する目標アシンメトリ値を読み出しす。そして、記録パワー目標値算出回路２５は、前記求められた記録パワー値対アシンメトリ値特性から、目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求め（図５参照）、該値を本番記録開始当初の記録パワー目標値として出力する。
【００２４】
サンプルホールド回路ＳＨ３は、戻り光検出器２２の検出出力を記録パワー時のタイミング｛図３（ｃ）参照｝でサンプルホールドする。ＲＯＰＣ回路４４は、本番記録開始後のディスク基板の温度上昇やディスク径方向位置での記録膜の膜厚変化等による最適記録パワーの変動に追従して記録パワーの目標値を変化させる働きをするもので、本番記録開始当初のサンプルホールド回路ＳＨ３のサンプルホールド値に対するその後の該サンプルホールド回路ＳＨ３のサンプルホールド値の変動量（記録深さ等の記録状態の変化に伴う戻り光強度の変動により生じる）を検出して、該変動量を打ち消す記録パワー目標値の補正値を作成する。作成された補正値は、加算点４６で本番記録開始当初の記録パワー目標値と加算されて、該記録パワー目標値を補正する。ＡＬＰＣ１ループ３０はこの補正された記録パワー目標値を新たな記録パワー目標値として、本番記録開始後の記録パワーのレーザ光出力を制御する。ＲＯＰＣ回路４４には自己の応答周波数特性を設定するローパスフィルタＬＰＦ３が組み込まれている。
【００２５】
ローパスフィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２、ＬＰＦ３による、ＡＬＰＣ１ループ３０、ＡＬＰＣ２ループ３８、ＲＯＰＣ回路４４の応答周波数帯域の設定例を図６に示す。ＡＬＰＣ２ループ３８の応答周波数帯域は面振れおよび偏芯に応答する帯域に設定されている。これにより、記録時にローパスフィルタＬＰＦ２からは、図７に示すように、ディスク周回ごとに繰り返される面振れや偏芯等による周期的変動成分が出力される。ＡＬＰＣ１ループ３０の応答周波数帯域は、レーザ光源１８の温度変化に応答し面振れおよび偏芯には応答しないＡＬＰＣ２ループ３８よりも低い帯域に設定されている。ＲＯＰＣ回路４４の応答周波数帯域は、ディスク径方向での状態変化（本番記録時のディスク基板の温度上昇やディスク径方向位置での記録膜の膜厚変化等）に伴う記録パワー時の戻り光検出出力の変動に応答しＡＬＰＣ１ループ３０よりも低い帯域に設定されている。このようにして、各制御系統ごとに応答周波数帯域が分割され、安定な制御を実現している。
【００２６】
図１の光ディスク記録装置による制御動作例を図８に示す。光ディスク記録装置に光ディスク１０が装着されると、自動的にテスト記録モードが開始される。すなわち、スピンドルモータ１２が起動され（Ｓ１）、非記録パワー指令値出力回路３７から所定の非記録パワー指令値が出力され、ＡＬＰＣ２目標値出力回路４２から非記録パワー時の戻り光強度目標値が出力され、ＡＬＰＣ１回路３６からステップ状に変化する記録パワーが指令され、レーザ駆動回路２８はレーザ光出力をテスト用ＥＦＭ信号に応じて、記録パワーと非記録パワーに変調してテスト記録を行う（Ｓ２）。このとき、ＡＬＰＣ２ループ３８はオンされており、光ディスク１０の面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、面振れや偏芯の影響を受けることなくテスト記録を行うことができる。なお、テスト記録時は、ＡＬＰＣ１ループ３０をオフし、ＡＬＰＣ１回路３６から出力されるステップ状に変化する記録パワー指令値によって記録パワーをオープンループで制御し、このとき各ステップごとの真の記録パワー値をフロントモニタ２３で検出し、この各ステップごとの真の記録パワーの検出値を用いて、テスト記録後の記録パワー値対アシンメトリ値特性を求めることができる。また、テスト記録時は、ＲＯＰＣ回路４４もオフすることができる。
【００２７】
テスト記録後これを再生して、記録パワー目標値算出回路２５にて、各記録パワーステップごとのアシンメトリ値を計測し（図５実線）、その計測結果（各ステップごとの、真の記録パワー値に対するアシンメトリ値のデータ）から記録パワー値対アシンメトリ値の近似特性（図５点線）を求め、該特性から目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求める（Ｓ３）。そして、該求められた記録パワー値を、本番記録開始当初の記録パワー目標値として設定する。これで、本番記録の準備が整う。本番記録が指令されると（Ｓ４）、非記録パワー指令値出力回路３７から所定の非記録パワー指令値（テスト記録時と同じ値）が出力され、ＡＬＰＣ２目標値出力回路４２から非記録パワー時の戻り光強度目標値（テスト記録時と同じ値）が出力され、記録パワー目標値算出回路２５からテスト記録で求められた本番記録開始当初の記録パワー目標値が出力され、ＡＬＰＣ１ループ３０、ＡＬＰＣ２ループ３８，ＲＯＰＣ回路４４をオンして、本番記録を開始する（Ｓ５）。本番記録中は、ＲＯＰＣ回路４４により記録パワー目標値が必要に応じて補正され、ＡＬＰＣ１ループ３０は該補正された記録パワー目標値を実現するように、記録パワーを制御する。また、光ディスク１０の面振れや偏芯によるトラック周回ごとのトラック照射光量の周期的変動は、ＡＬＰＣ２ループ３８により打ち消される。本番記録信号の記録が全て完了すると（Ｓ６）、本番記録を終了する（Ｓ７）。
【００２８】
（実施の形態２）
この発明の光ディスク記録装置の実施の形態２を図９に示す。これは、各ディスク周回位置の面振れや偏芯を予め検出してメモリに保存し、記録時にディスク周回位置に応じて該メモリを読み出して、該面振れや偏芯を打ち消すように記録パワーを補正しながら記録を行うようにしたものである。前記実施の形態１と共通する部分には同一の符号を用いる。光ディスク１０は、スピンドルモータ１２で駆動され、光ピックアップ１３で記録および再生が行われる。スピンドルコントローラ１４は、光ディスク１０から検出されるウォブルもしくはＡＴＩＰ信号と基準発振器１６から発振される基準クロックを分周した信号とを位相比較し、両者が位相同期するようにスピンドルモータ１２を制御する。スピンドルモータ１２からは、その回転に応じてＦＧパルスが発生される。カウンタ５０は光ディスク１０の適宜の周方向位置でリセットされ、ＦＧパルスをカウントする。光ピックアップ１３は、半導体レーザ等のレーザ光源１８からレーザ光２０を出射して、光ディスク１０の記録面に照射する。レーザ光源１８から出射されるレーザ光２０の一部はフロントモニタ２３で受光される。光ディスク１０からの主ビームの戻り光２０ａは４分割光検出器等の主ビーム用戻り光検出器２２で受光される。再生時に戻り光検出器２２から出力される再生ＥＦＭ信号は、ＥＦＭデコーダ２４でＥＦＭ復調されて、記録信号が復調される。記録信号生成回路２６は、テスト記録および本番記録を行う記録信号を生成する。レーザ駆動回路２８は、レーザ光源１８を駆動する回路で、レーザ光出力を、再生時は所定の再生パワーに制御し、記録時は記録信号に応じて記録が行われる記録パワーと記録が行われない非記録パワー（例えば再生パワーと同じパワー）に変調する。レーザ駆動回路２８は、例えば、前記図２のように構成される。
【００２９】
ＡＬＰＣ１ループ３０は、本番記録時に、フロントモニタ２３の検出出力を記録パワー時のタイミング｛図３（ｃ）参照｝でサンプルホールド回路ＳＨ１にサンプルホールドし、加え合わせ点３４で該サンプルホールド値と記録パワー目標値との偏差を求め、ＡＬＰＣ１回路３６で該偏差を打ち消すようにレーザ駆動回路２８を制御して（図２の構成の場合、電流源３３の電流値Ｉtを制御する。）、記録パワーを該目標値に制御する。ＡＬＰＣ１回路３６には、ＡＬＰＣ１ループ３０の応答周波数帯域を設定するローパスフィルタＬＰＦ１が組み込まれている。ＡＬＰＣ１回路３６は、テスト記録時には、例えば図４に示すように、所定期間（例えば１サブコードフレーム）ごとに所定ステップずつ変化する記録パワーを指示する。
【００３０】
非記録パワー指令値出力回路３７は、記録時の非記録パワーおよび再生時の再生パワーを指令し、該指令値を実現するようにレーザ駆動回路２８を制御する（図２の構成の場合、電流源３１の電流値Ｉbを制御する。）。制御経路５２は、記録時（本番記録時およびテスト記録時）に、面振れや偏芯等に基づく、トラックに対するレーザ光２０の照射光量の変動による記録品位の低下を抑制する働きをする。この制御経路５２は、テスト記録に先立つトレーニング動作で、光ディスク１０の周方向の各位置で面振れおよび偏芯成分を検出して周回メモリ５４に記憶し、テスト記録および本番記録時に、光ディスク１０の周方向位置に応じて、周回メモリ５４から該当する面振れおよび偏芯成分を読み出して、該面振れおよび偏芯成分を打ち消すように記録パワーを補正する。
【００３１】
テスト記録に先立つトレーニング動作は、例えば、次のようにして行われる。光ディスク１０を回転駆動し、レーザ光源１８から非記録パワー（再生パワー）のレーザ光２０を出射して光ディスク１０に照射し、その戻り光２０ａを戻り光検出器２２で検出する。非記録パワー戻り光強度標準値出力回路５６は、非記録パワー時の戻り光強度標準値（非記録パワー時の戻り光検出出力の標準値として予め設定されている値）を出力する。戻り光検出出力は、加え合わせ点５８で非記録パワー時の戻り光強度標準値との偏差がとられ、該偏差信号はローパスフィルタＬＰＦ４にて、面振れおよび偏芯成分よりも高域のノイズ成分が除去されて該面振れおよび偏芯成分が抽出され、サンプルホールド回路ＳＨ４に入力される。この状態で、光ディスク１０の適宜の周方向位置でカウンタ５０をリセットし、ＦＧパルスのタイミングごとに、戻り光検出出力をサンプルホールド回路ＳＨ４でサンプルホールドし、カウンタ５０のカウント値をアドレス値として、周回メモリ５４にディスク１周分のサンプルホールド値すなわち光ディスク１０の各周方向位置における面振れおよび偏芯成分を記憶する。このトレーニング動作で周回メモリ５４に記憶されるデータの一例を図１０に示す。
【００３２】
図９において、記録パワー目標値算出回路２５は、テスト記録の再生時に、再生ＥＦＭ信号から記録パワーの各段階ごとのアシンメトリ値を計測し（図５実線）、該計測値を最小二乗法等の直線近似あるいは２次近似等で近似して、記録パワー値対アシンメトリ値特性を求め（図５点線）、該特性から。所定の目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求め（図５参照）、該値を本番記録開始当初の記録パワー目標値として出力する。
【００３３】
サンプルホールド回路ＳＨ３は、戻り光検出器２２の検出出力を記録パワー時のタイミング｛図３（ｃ）参照｝でサンプルホールドする。ＲＯＰＣ回路４４は、本番記録開始当初のサンプルホールド回路ＳＨ３のサンプルホールド値に対するその後の該サンプルホールド回路ＳＨ３のサンプルホールド値の変動量を検出して、該変動量を打ち消す記録パワー目標値の補正値を作成する。作成された補正値は、加算点４６で本番記録開始当初の記録パワー目標値と加算されて、該記録パワー目標値を補正する。ＡＬＰＣ１ループ３０はこの補正された記録パワー目標値を新たな記録パワー目標値として、本番記録開始後の記録パワーのレーザ光出力を制御する。ＲＯＰＣ回路４４には自己の応答周波数特性を設定するローパスフィルタＬＰＦ３が組み込まれている。ＡＬＰＣ１ループ３０の応答周波数帯域は、レーザ光源１８の温度変化に応答し面振れおよび偏芯には応答しない相対的に低い帯域に設定されている。ＲＯＰＣ回路４４の応答周波数帯域は、ディスク径方向での状態変化（本番記録時のディスク基板の温度上昇やディスク径方向位置での記録膜の膜厚変化等）に伴う記録パワー時の戻り光検出出力の変動に応答する、ＡＬＰＣ１ループ３０よりも低い帯域に設定されている。
【００３４】
図９の光ディスク記録装置による制御動作例を図１１に示す。光ディスク記録装置に光ディスク１０が装着されると、自動的にトレーニングモードおよびこれに続いてテスト記録モードが開始される。すなわち、スピンドルモータ１２が起動され、光ディスク１０の適宜の周方向位置でカウンタ５０がリセットされ（Ｓ１１）、前述のトレーニング動作により周回メモリ５４に光ディスク１０の各周方向位置における面振れおよび偏芯成分が記憶される（Ｓ１２）。トレーニング動作が終了すると、引き続きテスト記録モードが開始される。すなわち、非記録パワー指令値出力回路３７から所定の非記録パワー指令値が出力され、ＡＬＰＣ１回路３６からステップ状に変化する記録パワーが指令され、レーザ駆動回路２８はレーザ光出力をテスト用ＥＦＭ信号に応じて、記録パワーと非記録パワーに変調してテスト記録を行う（Ｓ１３）。このとき、カウンタ５０はＦＧパルスをカウントして光ディスク１０の前記トレーニング時と同じ周方向位置に到達するごとにリセットされる。そして、カウンタ５０のカウント値をアドレス情報として、周回メモリ５４から各周方向位置の面振れおよび偏芯成分が順次読み出され、加算点３９を介して、該面振れおよび偏芯成分を打ち消すようにレーザ駆動回路２８が制御される（図２の構成の場合、電流源３１の電流値Ｉbを補正制御する。）。したがって、光ディスク１０の面振れや偏芯によってトラックに照射されるレーザ光の光量が変動しても、該変動を打ち消すように記録パワー時の光ビーム出力が補正されるので、面振れや偏芯の影響を受けることなくテスト記録を行うことができる。なお、テスト記録時は、ＡＬＰＣ１ループ３０をオフし、ＡＬＰＣ１回路３６から出力されるステップ状に変化する記録パワー指令値によって記録パワーをオープンループで制御し、このとき各ステップごとの真の記録パワー値をフロントモニタ２３で検出し、この各ステップごとの真の記録パワーの検出値を、テスト記録後の記録パワー値対アシンメトリ値特性の算出の際に用いることができる。また、テスト記録時は、ＲＯＰＣ回路４４もオフすることができる。
【００３５】
テスト記録後これを再生して、記録パワー目標値算出回路２５にて、各記録パワーステップごとのアシンメトリ値を計測し（図５実線）、その計測結果（各ステップごとの、真の記録パワー値に対するアシンメトリ値のデータ）から記録パワー値対アシンメトリ値の近似特性（図５点線）を求め、該特性から目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求める（Ｓ１４）。そして、該求められた記録パワー値を、本番記録開始当初の記録パワー目標値として設定する。これで、本番記録の準備が整う。本番記録が指令されると（Ｓ１５）、非記録パワー指令値出力回路３７から所定の非記録パワー指令値（テスト記録時と同じ値）が出力され、記録パワー目標値算出回路２５からテスト記録で求められた本番記録開始当初の記録パワー目標値が出力され、ＡＬＰＣ１ループ３０、ＲＯＰＣ回路４４をオンして、本番記録を開始する（Ｓ１６）。本番記録中は、テスト記録時と同様に、カウンタ５０のカウント値をアドレス情報として、周回メモリ５４から各周方向位置の面振れおよび偏芯成分を順次読み出し、加算点３９を介して、該面振れおよび偏芯成分を打ち消すようにレーザ駆動回路２８を制御する（図２の構成の場合、電流源３１の電流値Ｉbを補正制御する。）。また、本番記録中は、ＲＯＰＣ回路４４により記録パワー目標値が必要に応じて補正され、ＡＬＰＣ１ループ３０は該補正された記録パワー目標値を実現するように、記録パワーを制御する。本番記録信号の記録が全て完了すると（Ｓ１７）、本番記録を終了する（Ｓ１８）。
【００３６】
なお、前記実施の形態１、２では、非記録パワー時の戻り光から面振れ偏芯成分を検出したが、記録パワー時の戻り光から面振れ、偏芯成分を検出することもできる。このとき、レーザ駆動回路２８を図２のように構成する場合は、検出された面振れ、偏芯成分に応じて、電流源３３の電流値Ｉtを制御して、面振れ、偏芯成分を打ち消すことができる。
【００３７】
（実施の形態３）
前記実施の形態１、２では、テスト記録に、面振れや偏芯成分に応じて記録パワーを補正するようにしたが、該補正をすることなくテスト記録して、該テスト記録の再生データから記録パワー値対アシンメトリ値特性を求める際に、面振れや偏芯成分を除去することにより、目標アシンメトリ値を実現する記録パワーを高精度に求めることもできる。前記実施の形態１、２の構成においてこれを実現する場合の制御動作例を図１２を参照して説明する。光ディスク記録装置に光ディスク１０が装着されると、自動的にテスト記録モードが開始される。すなわち、スピンドルモータ１２が起動され（Ｓ２１）、非記録パワー指令値出力回路３７から所定の非記録パワー指令値が出力され、ＡＬＰＣ１回路３６からステップ状に変化する記録パワーが指令され、レーザ駆動回路２８はレーザ光出力をテスト用ＥＦＭ信号に応じて、記録パワーと非記録パワーに変調してテスト記録を行う（Ｓ２２）。このとき、図１の構成ではＡＬＰＣ２ループ３８をオフし、図９の構成では制御経路５２をオフして、記録パワーの補正動作を停止させる。このテスト記録は、丁度ディスク１周あるいはほぼ１周で完了するように記録パワーのステップ数を設定する。なお、テスト記録時は、ＡＬＰＣ１ループ３０をオフし、ＡＬＰＣ１回路３６から出力されるステップ状に変化する記録パワー指令値によって記録パワーをオープンループで制御し、このとき各ステップごとの真の記録パワー値をフロントモニタ２３で検出し、この各ステップごとの真の記録パワーの検出値を用いて、テスト記録後の記録パワー値対アシンメトリ値特性を求めることができる。また、テスト記録時は、ＲＯＰＣ回路４４もオフすることができる。
【００３８】
テスト記録後これを再生して（Ｓ２３）、記録パワー目標値算出回路２５にて、各記録パワーステップごとのアシンメトリ値を計測し、その計測結果（各ステップごとの、真の記録パワー値に対するアシンメトリ値のデータ）（図１３実線）から、記録パワー値対アシンメトリ値の近似特性を最小二乗法等により求める（図１３点線）（Ｓ２４）。テスト記録が丁度ディスク１周あるいはほぼ１周で完了しているので、この近似特性は面振れや偏芯成分が除去されたものとなる。したがって、該近似特性から目標アシンメトリ値を実現する記録パワー値を求めることにより、目標アシンメトリ値を実現する記録パワーが高精度に求められる（Ｓ２５）。該求められた記録パワー値を、本番記録開始当初の記録パワー目標値として設定することにより本番記録の準備が整い、本番記録の指令によって本番記録を開始することができる。なお、本番記録時は、前記実施の形態１、２で説明した、面振れや偏芯成分に応じた記録パワー補正を行うことができる。
【００３９】
（実施の形態４）
前記実施の形態１〜３では、目標アシンメトリ値が予めメモリに登録されているものとしたが、目標アシンメトリ値が予めメモリに登録されていない場合あるいは予め登録されているがより正確に目標アシンメトリ値を求めたい場合等、ユーザ使用段階で目標アシンメトリ値を求める必要が生じる場合がある。前記実施の形態１〜３の構成においてこれを実現する場合の制御動作例を図１４を参照して説明する。光ディスク記録装置に光ディスク１０が装着されると、自動的にテスト記録モードが開始される。すなわち、スピンドルモータ１２が起動され（Ｓ３１）、記録パワーがステップ状に変化してテスト記録が行われる（Ｓ３２）。テスト記録後これを再生して（Ｓ３３）、記録パワー目標値算出回路２５にて、各記録パワーステップごとのアシンメトリ値を計測し、その計測結果から記録パワー値対アシンメトリ値の近似特性を最小二乗法等により求める。また、記録パワー目標値算出回路２５は、ＥＦＭデコーダ２４のデコード結果から各記録パワーステップごとのＣ１エラーの発生回数を計測する。１ステップの期間を１サブコードフレーム（＝９８ＥＦＭフレーム）とすると、１ステップのＣ１エラー発生回数の最大値は９８である。そこで、記録パワーステップごとに、９８からＣ１エラー発生回数を引き算した値をＣ１エラー無しの回数として求め、アシンメトリ値に対するＣ１エラー無しの回数の特性を求める（Ｓ３４）。図１５はこのようにして求められたアシンメトリ値対Ｃ１エラー無し回数特性の一例である。記録パワー目標値算出回路２５は、該求められたアシンメトリ値対Ｃ１エラー無し回数特性から、そのアシンメトリ値軸方向の重心を求める。すなわち、各記録パワーにおけるＣ１エラー無し回数ＮＥＲｎと、次のステップの記録記録パワーのアシンメトリ値との差分Δβｎとを乗じ、総和をとることで、記録信号品位を評価する次式のパラメータ値ＳＱが得られる。
ＳＱ＝ΣΔβｎ＊ＮＥＲｎ
そして、このＳＱ値を全記録パワーにおけるＣ１エラー無し回数ＮＥＲｎの総数で割ることにより、アシンメトリ値軸方向の重心βｃが次式のように求まる。
βｃ＝ＳＱ／ΣＮＥＲｎ
【００４０】
求められたアシンメトリ値はパワーマージンが広く得られる値であり、その値を目標アシンメトリ値として設定する（Ｓ３５）。目標アシンメトリ値が求められたら、記録パワー対アシンメトリ値の近似特性から、該目標アシンメトリ値を実現する記録パワーが求められる（Ｓ３６）。該求められた記録パワー値を、本番記録開始当初の記録パワー目標値として設定することにより本番記録の準備が整い、本番記録の指令によって本番記録を開始することができる。なお、本番記録時は、前記実施の形態１、２で説明した、面振れや偏芯成分に応じた記録パワー補正を行うことができる。
【００４１】
なお、Ｃ１エラー特性に代えて、ジッタ特性を用いることもできる。その場合の制御動作例を図１６を参照して説明する。光ディスク記録装置に光ディスク１０が装着されると、自動的にテスト記録モードが開始される。すなわち、スピンドルモータ１２が起動され（Ｓ４１）、記録パワーがステップ状に変化してテスト記録が行われる（Ｓ４２）。テスト記録後これを再生して（Ｓ４３）、記録パワー目標値算出回路２５にて、各記録パワーステップごとのアシンメトリ値を計測し、その計測結果から記録パワー値対アシンメトリ値の近似特性を最小二乗法等により求める。また、記録パワー目標値算出回路２５は、テスト記録の再生ＥＦＭ信号から各記録パワーステップごとのジッタ（時間軸方向の誤差）を計測し、アシンメトリ値ごとのジッタを求める（Ｓ４４）。図１７（ａ）はこのようにして求められたアシンメトリ値対ジッタ特性（近似特性）の一例である。求められたアシンメトリ値対ジッタ特性を適宜のジッタ値でスライスし、図１７（ｂ）のように反転する。そして、反転した特性で囲まれる面積の重心のアシンメトリ値を求め、該値を目標アシンメトリ値として設定する（Ｓ４５）。目標アシンメトリ値が求められたら、記録パワー対アシンメトリ値の近似特性から、該目標アシンメトリ値を実現する記録パワーが求められる（Ｓ４６）。該求められた記録パワー値を、本番記録開始当初の記録パワー目標値として設定することにより本番記録の準備が整い、本番記録の指令によって本番記録を開始することができる。本番記録時は、前記実施の形態１、２で説明した、面振れや偏芯成分に応じた記録パワー補正を行うことができる。
【００４２】
なお、前記各各実施の形態では、この発明をＣＤ−Ｒ／ＲＷドライブに適用した場合について説明したが、これに限らず、ＤＶＤ記録ドライブその他の光ディスクドライブにも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の光ディスク記録装置の実施の形態を示すブロック図である。
【図２】図１のレーザ駆動回路２８の構成例を示す回路図である。
【図３】図１のサンプルホールド回路ＳＨ１，ＳＨ２，ＳＨ３のサンプルタイミングを示すタイムチャートである。
【図４】テスト記録時の記録パワー指令値の変化を示す図である。
【図５】テスト記録に基づき求められる記録パワー値対アシンメトリ値特性の一例を示す図である。
【図６】図１のＡＬＰＣ１ループ３０、ＡＬＰＣ２ループ３８、ＲＯＰＣ回路４４の応答周波数帯域の設定例を示す図である。
【図７】図１のローパスフィルタＬＰＦ２から出力される面振れや偏芯等による周期的変動成分を示す波形図である。
【図８】図１の光ディスク記録装置による制御動作例を示すフローチャートである。
【図９】この発明の光ディスク記録装置の他の実施の形態を示すブロック図である。
【図１０】図９の周回メモリ５４に記憶されるデータの一例を示す図である。
【図１１】図９の光ディスク記録装置による制御動作例を示すフローチャートである。
【図１２】光ディスク記録方法の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１３】図１２の方法によるテスト記録に基づき求められる記録パワー値対アシンメトリ値特性の一例を示す図である。
【図１４】光ディスク記録方法の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１５】図１４の方法により求められたアシンメトリ値対Ｃ１エラー無し回数特性の一例を示す図である。
【図１６】光ディスク記録方法の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１７】図１６の方法により求められたアシンメトリ値対ジッタ特性のおよびその反転特性の一例を示す図である。
【符号の説明】
１０…光ディスク、２０…光ビーム、２０ａ…戻り光、３０…ＡＬＰＣ１ループ（記録パワー制御ループ）、３８…ＡＬＰＣ２ループ（非記録パワー制御ループ）、４４…ＲＯＰＣ回路（記録パワー目標値補正手段）、５０…カウンタ（周方向位置検出手段）、５２…制御経路（光ビーム出力補正手段）、５４…周回メモリ（メモリ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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