(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を持つディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能を検証する方法において、
テスト基準情報を持つテスト用ディスクを使用して前記記録及び再生装置にて前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項２】
前記再初期化の実行は前記テストディスクに対して検定せずに前記再初期化モードを行うことを含む請求項１に記載の検証方法。
【請求項３】
前記再初期化の実行において前記テスト基準情報はミラーファイルであることを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項４】
前記再初期化の実行において前記テスト基準情報は１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に複数の欠陥が存在するように構成されたＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項５】
前記テスト情報はミラーファイルであることを特徴とする請求項４に記載の検証方法。
【請求項６】
前記比較は前記Ｇ２リストとＳＤＬとが前記テスト情報に存在しているかをチェックする請求項５に記載の検証方法。
【請求項７】
前記比較は前記テスト基準情報に含まれているＰリスト及びＧ１リストが前記テスト情報にそのまま維持されているかをチェックすることを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
【請求項８】
前記比較は、
前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証する段階と、
前記テスト情報のディスク定義構造（ＤＤＳ）を検証する段階と、
前記テスト情報のＰＤＬ構造を検証する段階と、
前記テスト情報のＳＤＬ構造を検証する段階とを含む請求項５に記載の検証方法。
【請求項９】
前記ＤＭＡ構造の検証はＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ及びＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容を含むことを特徴とする請求項８に記載の検証方法。
【請求項１０】
前記ＤＭＡエラー状態のチェックは前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ存在する全てで４カ所のＤＭＡのどの一つでもエラーが存在するかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記４カ所のＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるかということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェックする段階と、
前記４カ所のＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるかということと前記ＳＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェックする段階と、
前記４カ所のＤＭＡ内容が同一かをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項９に記載の検証方法。
【請求項１１】
前記ＤＤＳ検証はＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号位置のチェックを含む請求項８に記載の検証方法
【請求項１２】
前記ＤＤＳ識別子のチェックは前記ＤＤＳの識別子が所定値なのかをチェックすることを含み、
前記ディスク検定フラグのチェックは前記ディスク検定フラグで進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」であるかということとディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」なのかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックすることを含み、
前記グループ数のチェックは前記グループ数が所定数であるかをチェックすることを含み、
前記領域数のチェックは前記領域数が所定数であるかをチェックすることを含み、
前記最初の論理セクタ番号のチェックは前記１次余裕空間（ＰＳＡ）の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号がそれぞれ所定セクタ番号なのかをチェックすることを含み、
前記最初の論理セクタ番号のチェックは前記最初の論理セクタ番号位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックすることを含み、
前記開始論理セクタ番号のチェックは前記各領域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されているかをチェックすることを含む請求項１１に記載の検証方法。
【請求項１３】
前記ＰＤＬ構造の検証はＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態のチェックを含む請求項８に記載の検証方法。
【請求項１４】
前記ＰＤＬ識別子のチェックは前記ＰＤＬ識別子が所定値なのかをチェックすることを含み、
前記項目数のチェックは前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥の数と一致するかをチェックすることを含み、
前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは前記ＰＤＬ項目の構成状態にＰリスト、Ｇ１リストは存在してＧ２リストは存在しないかをチェックすることを含む請求項１３に記載の検証方法。
【請求項１５】
前記ＳＤＬ構造の検証はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンタ、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間及び予備空間のチェックを含む請求項８に記載の検証方法。
【請求項１６】
ＳＤＬ識別子のチェックは前記ＳＤＬ識別子が所定値なのかをチェックすることを含み、
前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタ差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックすることを含み、
ＳＳＡの開始セクタ番号及び論理セクタの総数チェックは前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックすることを含み、
前記余裕空間フルフラグ、ＳＤＬの項目数、及びＳＤＬ項目の構成状態のチェックは、前記余裕空間フルフラグがＳＳＡはぎっしり詰まっていない状態を示すかをチェックし、ＳＤＬ内の項目数が存在しないことを示す「００ｈ」に設定されているかをチェックし、かつＳＤＬ項目に関する情報が存在しないかをチェックし、
前記未使用領域及び予備空間チェックは、ＳＤＬの未使用空間の大きさ及び未使用空間が所定値であるか、前記予備空間の所定値であるかをチェックすること
を含む請求項１５に記載の検証方法。
【請求項１７】
前記テストディスクは前記再初期化が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含んでいることを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項１８】
前記テストディスクは各領域の最初のセクタと最後のセクタとをエラーと処理し、各領域の使用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように構成されたことを特徴とする請求項１７に記載の検証方法。
【請求項１９】
前記検証方法は、空きディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テストディスクを生成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
【請求項２０】
前記テスト基準情報は前記空きディスクが持っている物理的条件に関係なく前記テスト基準情報を前記空きディスクに記録することを特徴とする請求項１９に記載の検証方法。
【請求項２１】
ＤＭＡ情報を持つディスクに情報を記録または前記ディスクから情報を再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能をテストする装置において、
前記記録及び再生装置がテスト基準情報と物理的欠陥を持つテストディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、前記テストディスクのＤＭＡ情報からテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、
前記テスト基準情報を基として予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する検証器とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うテスト装置。
【請求項２２】
前記基準ディスク駆動装置は、前記テスト用ディスクに対して検定せずに前記再初期化モードを行った前記テスト用ディスクから前記テスト情報を生成することを特徴とする請求項２１に記載のテスト装置。
【請求項２３】
前記テスト基準情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２１に記載のテスト装置。
【請求項２４】
前記テスト基準情報はあらゆる種類の欠陥リストを含むように構成したＤＭＡミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２１に記載のテスト装置。
【請求項２５】
前記記録及び再生装置はＧ２リストとＳＤＬとを含む前記記録及び再生装置により除去された所定欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う請求項２４に記載のテスト装置。
【請求項２６】
前記テスト情報はミラーファイルであることを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
【請求項２７】
前記検証器は前記テスト情報に前記Ｇ２リストとＳＤＬとの存在有無を確認するように構成されたことを特徴とする請求項２６に記載のテスト装置。
【請求項２８】
前記検証器は前記テスト基準情報に含まれているＰリスト及びＧ１リストが前記テスト情報にそのまま維持されているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項２７に記載のテスト装置。
【請求項２９】
前記検証器は前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証し、前記テスト情報のＤＤＳを検証し、前記テスト情報のＰＤＬ構造を検証し、前記テスト情報のＳＤＬ構造を検証するように構成されたことを特徴とする請求項２６に記載のテスト装置。
【請求項３０】
前記検証器はＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容をチェックしてＤＭＡ構造を検証する請求項２９に記載のテスト装置。
【請求項３１】
前記検証器は前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ存在する全てで４カ所のＤＭＡのどれ一つでもエラーが存在するかをチェックし、前記４カ所のＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と４カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるかということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェックし、前記４カ所のＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるかということと前記ＳＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェックし、前記４カ所のＤＭＡ内容が全て同一かをチェックする請求項３０に記載のテスト装置。
【請求項３２】
前記検証器はＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号位置をチェックしてＤＤＳを検証する請求項２９に記載のテスト装置。
【請求項３３】
前記検証器は前記ＤＤＳの識別子をチェックし、前記ディスク検定フラグで進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」であるかということとディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」なのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックし、前記グループ数をチェックし、前記領域数をチェックし、前記初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号とをチェックし、前記最初の論理セクタ番号位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックし、前記各領域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されているかをチェックする請求項３２に記載のテスト装置。
【請求項３４】
前記検証器はＰＤＬ構造を検証するためのチェック項目として、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックして前記ＰＤＬ構造を検証する請求項２９に記載のテスト装置。
【請求項３５】
前記検証器は、前記ＰＤＬ識別子をチェックし、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥の数と一致するかをチェックし、前記ＰＤＬ項目の構成状態にＰリスト、Ｇ１リストは存在してＧ２リストは存在しないかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項３４に記載のテスト装置。
【請求項３６】
前記検証器はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間及び予備空間をチェックしてＳＤＬ構造を検証する請求項２９に記載のテスト装置。
【請求項３７】
前記検証器は、前記ＳＤＬ識別子をチェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということとＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックし、前記余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「０」に設定され、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないかをチェックし、ＳＤＬの未使用空間の大きさをチェックして未使用空間が所定値を持っているかをチェックし、予備空間が所定値を持っているかをチェックする請求項３６に記載のテスト装置。
【請求項３８】
前記テスト用ディスクは前記再初期化が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含んでいることを特徴とする請求項２１に記載のテスト装置。
【請求項３９】
前記基準ディスク駆動装置は、空きディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テスト用ディスクを生成する請求項２１に記載のテスト装置。
【請求項４０】
前記基準ディスク駆動装置は前記空きディスクが持っている物理的条件と関係なく前記テスト基準情報を前記空きディスクに記録することを特徴とする請求項３９に記載のテスト装置。
【請求項４１】
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置にて前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかを検証する方法において、
テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化にともなうテスト基準を設定する段階と、
前記テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化により前記記録及び再生装置により生成または更新された前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト基準を使用して前記テスト情報を検証するためのテストを実行する段階とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項４２】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４１に記載の検証方法。
【請求項４３】
前記テスト情報はテストディスクのＤＭＡ領域から直接読込むことを特徴とする請求項４１に記載の検証方法。
【請求項４４】
前記テスト情報の生成はあらかじめ固定された内容のＤＭＡを記録して追加余裕空間がぎっしり詰まっていないＤＭＡミラーファイルを選択する段階を含む請求項４１に記載の検証方法。
【請求項４５】
前記検証方法は、
空きディスク上の所定位置に物理的欠陥を形成して第１テストディスクを得る段階と、
前記第１テストディスクにあらかじめ固定された内容のＤＭＡを記録し、前記第１テストディスクで前記追加余裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト情報を生成するにあたり前記第２テストディスクを使用する段階をさらに含む請求項４４に記載の検証方法。
【請求項４６】
前記テスト実行段階は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定ＤＭＡ構造によっているかをチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストが維持されているかをチェックし、前記Ｇ２リストとＳＤＬとが除去されたかをチェックし、前記第２テストディスク各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うことを含む請求項４５に記載の検証方法。
【請求項４７】
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置にて前記ＤＭＡ情報が正確に生成または更新されているかを検証する方法において、
テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化するテストモードにより前記記録または再生装置により生成または更新される前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記ＤＭＡ情報を検証するためのテスト基準を使用して前記テスト情報を検証する段階とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項４８】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４７に記載の検証方法。
【請求項４９】
ＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可能な光ディスク上に情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生して前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかをチェックする記録及び再生装置をテストするための装置において、
前記記録及び再生装置がテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化に相応するＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行った後で得られるテストディスクの生成または更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する変形ディスク駆動装置と、
前記テスト情報と前記テストディスクとに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化に相応する所定テスト情報を比較してテスト結果を検証する検証器とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うテスト装置。
【請求項５０】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４９に記載のテスト装置。
【請求項５１】
前記変形ディスク駆動装置は前記テストディスクのＤＭＡ領域から前記テスト情報を読込んで前記テスト情報を前記検証器に提供することを特徴とする請求項４９に記載のテスト装置。
【請求項５２】
前記テストディスクは空きディスクの所定位置に物理的欠陥が形成されて追加余裕領域がぎっしり詰まっていないミラーファイルが記録された第１テストディスクにあらかじめ固定された内容のＤＭＡを記録した第２テストディスクであることを特徴とする請求項５１に記載のテスト装置。
【請求項５３】
前記記録及び再生装置は前記テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行い、前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか、ＰリストとＧ１リストとが維持されているかチェックし、Ｇ２リストとＳＤＬリストとが除去されたかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項５２に記載のテスト装置。
【請求項５４】
記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に記録及び処理しているかを検証する方法において、
前記記録及び再生装置を使用して所定の欠陥情報を含んでいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報と前記欠陥情報に基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階を含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項５５】
前記方法は、
空きディスクの所定位置に物理的欠陥を作って第１テストディスクを生産する段階と、
前記第１テストディスクにあらかじめ固定された内容のＤＭＡを記録して前記第１テストディスクに追加余裕領域がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイルを記録する第２テストディスクを得る段階と、
前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクの欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成する段階と、
基準ディスク駆動装置を使用して前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読込んでテストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として発生する段階とを含み、
前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５４に記載の検証方法。
【請求項５６】
前記比較段階は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかチェックし、Ｇ２リストとＳＤＬリストとが除去されたかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項５５に記載の検証方法。
【請求項５７】
記録及び再生装置が正確にＤＭＡ情報を正常に生成または更新し処理しているか検証する方法において、
所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクを準備する段階と、
前記記録及び再生装置が前記テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うことを基としてテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報に対して前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報を用いて検証を行う段階とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項５８】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む請求項５７に記載の検証方法。
【請求項５９】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項５８に記載の検証方法。
【請求項６０】
記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に読込んで処理しているかを検証する方法において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥とテスト基準ＤＭＡミラーファイルとを持っているテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、
生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う検証方法。
【請求項６１】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む請求項６０に記載の検証方法。
【請求項６２】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項６１に記載の検証方法。
【請求項６３】
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項５８に記載の検証方法。
【請求項６４】
記録及び再生装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、
前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理とにより検証され、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う装置。
【請求項６５】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項６４に記載の記録及び再生装置。
【請求項６６】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項６５に記載の記録及び再生装置。
【請求項６７】
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項６４に記載の記録及び再生装置。
【請求項６８】
記録及び再生装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する処理と、
前記ＤＭＡ情報から生成されたテスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理とにより検証され、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う記録及び再生装置。
【請求項６９】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項６８に記載の記録及び再生装置。
【請求項７０】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項６９に記載の記録及び再生装置。
【請求項７１】
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項６８に記載の記録及び再生装置。
【請求項７２】
ＤＭＡ情報を正確に生成しているかをチェックするためにＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可能な光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに存在する欠陥を除去しつつ再初期化を行う再生装置により生成されたテストディスクのＤＭＡ情報を基としてテスト情報を生成してＤＭＡ情報を生成する変形ディスク駆動装置と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う検証器とを含み、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う装置。
【請求項７３】
前記変形ディスク駆動装置はＤＭＡ情報を持つ前記テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込み、ＤＭＡミラーファイルを前記テスト情報として生成し、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７２に記載の装置。
【請求項７４】
前記変形ディスク駆動装置は所定位置に物理的欠陥を持っている第１テストディスクにあらかじめ固定された内容のＤＭＡを記録し、前記第１テストディスクに追加余裕領域がぎっしり詰まっていないことを示すテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第２テストディスクを生成し、
前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成し、
前記変形ディスク駆動装置は前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込んで前記テスト情報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、
前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７２に記載の装置。
【請求項７５】
前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行い、前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかをチェックし、Ｇ２リスト及びＳＤＬが除去されたかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックする請求項７４に記載の装置。
【請求項７６】
前記検証器は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックして前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較する請求項７２に記載の装置。
【請求項７７】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項７２に記載の装置。
【請求項７８】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項７７に記載の装置。
【請求項７９】
前記基準テスト情報を前記検証器に提供して前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較させるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含む請求項４９に記載の装置。
【請求項８０】
光ディスクに情報を記録及び再生するディスク記録及び再生装置において、
光を放射する光源と、
情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォーカスするフォーカシング素子と、
前記光源を制御する制御器とを含み、
前記制御器は、
前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテスト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってテスト情報を生成し、
前記テスト情報と前記欠陥情報と前記テスト基準ＤＭＡ情報とに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置を検証することにより、
前記ＤＭＡ情報が正常に生成または更新するかを検証され、
前記再初期化の実行において前記テストディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（ＳＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うことを特徴とするディスク記録及び再生装置。
【請求項８１】
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項８０に記載のディスク記録及び再生装置。
【請求項８２】
前記ＤＤＳの検証は残りの予備空間が所定値を持っているかをチェックすることをさらに含む請求項１２に記載の方法。
【請求項８３】
前記ＰＤＬ構造の検証は未使用空間が所定値なのかをチェックすることを含む請求項１４に記載の方法。
【請求項８４】
前記ＤＭＡミラーファイルはディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を持つＧ２リストを含む請求項４９に記載の装置。
【請求項８５】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を持つＧ２リストを含む請求項５７に記載の装置。
【請求項８６】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を持つＧ２リストを含む請求項６４に記載の装置。
【請求項８７】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を持つＧ２リストを含む請求項６８に記載の装置。
【請求項８８】
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を持つＧ２リストを含む請求項７２に記載の装置。
【請求項８９】
前記方法は、
前記テスト情報の生成段階は前記テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化にともなう前記テスト情報生成を含み、
前記検証段階は前記欠陥リストを除去しつつ再初期化した後でＳＤＬに登録された欠陥情報とＰＤＬのＧ２リストに登録された欠陥情報とが整理されたかをチェックすることを含む請求項４１に記載の方法。
【請求項９０】
前記記録及び再生装置は欠陥リストを除去しつつ再初期化を行い、前記検証器は前記欠陥リストを除去しつつ再初期化した後でＳＤＬに登録された欠陥情報とＰＤＬのＧ２リストに登録された欠陥情報とが整理されたかをチェックすることを特徴とする請求項４９に記載の記録及び再生装置。
【請求項９１】
前記欠陥リストを除去しつつ再初期化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項４１に記載の方法。
【請求項９２】
前記欠陥リストを除去しつつ再初期化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は記録及び再生が可能なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、ディスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ、以下ＤＭＡと略称する）情報を正常に生成または更新するかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前述した記録及び再生が可能なディスクはレーザなどのように光の性質を利用して情報を記録し再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭを例として挙げられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再度記録が可能なディスクである。「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」規格によれば、前述したＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥を管理するためにディスクの１面当たり４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在するようになっている。
【０００３】
この４つのＤＭＡ中でＤＭＡ１とＤＭＡ２は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接したリードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスクの外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。そして、各ＤＭＡには予備セクタが後続する。
【０００４】
このようなＤＭＡにはそれぞれディスク定義構造（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト（Ｐｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＰＤＬ」と略称）及び２次欠陥リスト（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）が保存される。前述したＤＤＳにはディスク検定フラグ、ＤＤＳ/ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別の開始論理セクタ番号などディスクのフォーマットされた構造に関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発見されたディスク上の全ての欠陥セクタに関する情報が含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中に発生した欠陥ブロックの最初のセクタのセクタ番号と欠陥ブロックと置換される余裕ブロックの最初のセクタのセクタ番号に関する情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
【０００５】
このようにＤＭＡに保存されている情報は直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含まれていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基にした演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基にした演算を通じ得られる情報としては各地域の開始セクタ番号または論理セクタ番号０の位置情報などである。
【０００６】
このようなＤＭＡがディスクの１面当たり４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーで誤った欠陥管理がなされることを防止するためである。そして、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクタと密接な関係を持つので、移動が可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭＡの情報が過って記録及び判読される場合にディスク記録及び再生装置間の互換性問題が発生するようになる。
【０００７】
これはディスク記録及び再生装置（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録再生が可能なディスク記録及び再生装置を繋げるホストインタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装置）階層及び記録媒体階層などに区分する時、物理的なディスク記録及び再生装置階層以下にてＤＭＡ情報に関する記録及び判読がなされるためである。
【０００８】
すなわち、実際のファイルシステムでは論理的なセクタ番号だけを使用して記録または再生を所望する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡し、ディスク記録及び再生装置は論理セクタ番号を物理的なセクタ番号に変えて使用者情報に関する記録または再生処理を行うようになるのであるが、この時ＤＭＡ情報を使用するようになる。従って、一つのディスク記録及び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデータを正しく読んだり使えない問題が発生するようになる。
【０００９】
従って、ディスク記録及び再生装置にてディスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してディスク上にＤＭＡ情報を正確に記録し生成または更新するかを確認することができる方法が要求されていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前述した要求により案出したもので、ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法を提供するところにその目的がある。
【００１１】
本発明の他の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したディスクのＤＭＡ情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法を提供するところにある。
【００１２】
本発明のさらに他の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するかを確認するためのテスト装置を提供するところにある。
【００１３】
本発明の追加的な目的及びメリットは、以下の詳細な説明にて説明され詳細な説明から明らかにされるであろうし、本発明の実施形態により分かるであろう。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明がなそうとする目的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法において、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用し、記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含むことが望ましい。
【００１５】
本発明がなそうとする目的を達成するために本発明による装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置において、テスト基準情報を有するテスト用ディスクと、テスト用ディスクを利用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、テスト用ディスクに記録されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する基準ディスクの駆動装置と、テスト基準情報を基として予測された基準情報とテスト情報を比較し、テスト情報に関する検証結果を提供する検証器を含むことが望ましい。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成要素は同一の番号を引用する。
図２は本発明によるディスク駆動装置のテスト装置に関する機能ブロック図であり、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３、基準ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディスク２０７、テスト対象のディスク駆動装置２０９、Ｃ−２'ディスク２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３及び検証器２１５により構成される。
【００１７】
Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭのように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物理的な欠陥が存在するように製作したテスト用ディスクであり、何らの情報も記録されていない空白ディスクである。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せずに故意的な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスク２０１は空いていると見なされうる。
【００１８】
このＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする時、あらかじめ知っている情報として利用される。さらに、Ｃ−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスクに関する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」規格書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を満足できるように構成されたディスクである。
【００１９】
ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報を含み、追加余裕領域がぎっしり詰まった状態ではない条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイルを提供する。
【００２０】
特に、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにディスク製造者により定義された欠陥セクタに関する情報で構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクに対する検定処理期間中に発見された欠陥セクタに関する情報で構成されたＧ１−ｌｉｓｔ及び検定なくしてＳＤＬから移動した欠陥セクタに関する情報で構成されたＧ２−ｌｉｓｔを全て含む。追加余裕領域はディスク使用中に発生する欠陥を線形置換するための余裕空間であり、初期化時または初期化後追加で割り当てられる領域である。
【００２１】
さらに、テスト効果を高めるために、テスト対象のディスク駆動装置２０９にて再初期化を行う時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように特別の位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように最初の論理的なセクタが位置しなければならない物理的なセクタ周辺に集中的にエラーセクタが配置されるように構成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供するようにして「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」規格書に提示してある全ての場合のアルゴリズムを満足するようにする。
【００２２】
かつ、各領域の最初のセクタと最後のセクタとをエラーと処理し、各領域の使用可能な総セクタの数が１６倍数にならないように欠陥セクタを設定したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。前述したミラーファイルは実際のファイルのような内容を持っているが物理的に実際のファイルが位置できる所と他の位置に存在する形をもったファイルである。
【００２３】
基準ディスクの駆動装置２０５はディスクに情報を記録及び再生できる記録及び再生装置をテストするために変形されたテスト用ディスク駆動装置である。この基準ディスクの駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基準のＤＭＡミラーファイルが提供されれば、テスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するよう構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録されるテスト基準のＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録される。従って、Ｃ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく前述したテストのための基準欠陥の状況を仮定して作ったテスト基準のＤＭＡミラーファイルを含め、Ｃ−２ディスク２０７に記録されたＤＭＡ情報は使用者が知っている情報である。Ｃ−２ディスク２０７は再度記録が可能なディスクに関する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０」の規格書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を満足できるように構成されたディスクである。
【００２４】
さらに、基準ディスクの駆動装置２０５は後述する検定せずにＧ２リスト及びＳＤＬを除去しつつ再初期化したＣ−２'ディスク２１１が設置されれば、設置されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接読み、読まれたＤＭＡ情報を基としたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３をテスト情報として出力するよう構成される。この時、テスト情報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３に存在する一部情報でもありうる。例えば、一部の情報は図４（Ａ）に図示されたものに対応する情報になりうる。
【００２５】
テスト対象のディスク駆動装置２０９は再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディスク記録及び再生装置である。このテスト対象のディスク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２ディスク２０７が設置されれば、検定せずにＤＭＡのＰＤＬに格納されているＧ２リストとＳＤＬ格納されている欠陥情報を除去しつつ再初期化する過程を行う。
【００２６】
これによりテスト対象のディスク駆動装置２０９にて正常に前述した再初期化がなされれば、Ｃ−２'ディスク２１１のＤＭＡはＣ−２ディスク２０７のＤＭＡに存在するＧ２リストとＳＤＬとが除去されたＤＭＡである。Ｃ−２'ディスク２１１はテスト対象のディスク駆動装置２０９にてＣ−２ディスク２０７に対して再初期化モードを行うことにより発生したものであり、再度記録が可能なディスクに関する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を満足できるように構成されたディスクである。このＣ−２'ディスク２１１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられ、前述したようにテスト情報を出力するようになる。
【００２７】
基準ディスクの駆動装置２０５から出力されたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト情報を提供するように具現できる。
【００２８】
検証器２１５はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＧ２リスト及びＳＤＬを除去しつつ再初期化した過程が正常になされる場合に得られるＤＭＡに対する予測された基準情報（または期待値）を利用し、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。予測された基準情報はＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供されたＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮し、検証器２１５にて設定したり図４（Ａ）ないし図４（Ｄ）に図示されたようにＤＭＡ情報テーブルを事前に具備して利用するように具現できる。
【００２９】
図４（Ａ）はＤＭＡ検証のために検証器２１５に備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ/ＰＤＬ更新カウンタ、及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在する。
【００３０】
ＤＭＡエラー状態の項目はリードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ存在するＤＭＡにエラーが存在するかをチェックするものであり、４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂正できないエラーがあってはならず、もし何れか一つのＤＭＡにでも訂正できないエラーが発見されれば検証結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７のＤＭＡの生成または更新に失敗したことを知らせることができるように出力される。出力方式は成敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で具現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗した場合に、使用者は新たなテストディスクを使用してはじめからテストを改めて試さなければならない。
【００３１】
ＤＤＳ/ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタ項目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値を示す「Ｍ＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が「１」であることによる値を有するかをチェックする。これはＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ/ＰＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９が検証なしに欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う前のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの値である。そして、ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在する８つのＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じかをチェックする。
【００３２】
さらに、４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンタ値を示す「Ｎ＋ｋ」値は「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であることによる値を有するかをチェックする。ＳＤＬの更新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９が検証なしに欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタの値である。そして、４カ所のＳＤＬの更新カウンタ値が同じかをチェックする。
【００３３】
さらに、４カ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡの内容が全て同じかをチェックする。
【００３４】
図４（Ｂ）はＤＤＳ構造を検証するために検証器２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤＳの識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置などが存在する。
【００３５】
すなわち、ＤＤＳ識別子が「０Ａ０Ａｈ」なのかをチェックし、１バイトのディスク検定フラグのうちで進行中なのかを示すビット位置ｂ７の値が「０ｂ」なのかをチェックする。この時、ビット位置ｂ７の値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが完了したことを示し、「１ｂ」ならばフォーマッティングが進行であることを示すので、もし「１ｂ」ならば検証器２１５はフォーマッティングが失敗したことと認識する。さらに、ディスク検定フラグのうちで予備ビット位置ｂ６〜ｂ２が全て「０ｂ」なのかをチェックし、使用者検定フラグを示すビット位置ｂ１の値が「１ｂ」なのかをチェックし、ディスク製造業者検定フラグを示すビット位置ｂ０の値が「１ｂ」なのかをチェックする。
【００３６】
ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを確認するためにＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が「以前の値」であるかということとテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬカウンタの増分を示すｋの値が「１」なのかをチェックし、グループの数が１を示す「０００１ｈ」であるかということと地域数が３５なのかを示す「００２３ｈ」であるかをチェックする。
【００３７】
さらに、初期余裕空間の最初のセクタ番号が「０３１０００ｈ」であるかということと最後のセクタのセクタ番号が「０３４１ＦＦｈ」であるかをチェックし、最初の論理セクタ番号（ＬＳＮ０）の位置はＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェックする。そして、各地域の開始論理セクタ番号、すなわち二番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領域（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクタ番号がＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたかをチェックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考慮したものである。
【００３８】
また、ＤＤＳ構造の残り予備領域（バイトの位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」なのかを確認する。
【００３９】
ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図４（Ｃ）に示したようにＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域などである。
【００４０】
すなわち、ＰＤＬ識別子が「０００１ｈ」なのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されたテスト基準のＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の構成状態は項目タイプと欠陥セクタ番号をチェックする。ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「００ｂ」と使用者検定時に発生した欠陥セクタのＧ１＿ｌｉｓｔを示す「１０ｂ」を持っているかをチェックし、ＳＤＬ変換により生成されるＧ２リストを示す「１１ｂ」は持っていないかをチェックする。
【００４１】
これは図５に示したように本発明による再初期化モードを行う時、Ｃ−２ディスク２０７に存在する旧ＰＤＬ５１０のＰ＿ｌｉｓｔ５１１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１に存在する新ＰＤＬ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３３にそのまま維持されるように登録される一方、旧ＰＤＬ５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に存在する欠陥情報は削除されるためである。
【００４２】
そして、ＰＤＬの欠陥セクタ番号はセクタ番号が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇ ｏｒｄｅｒ）で記入されたかをチェックし、使われないＰＤＬ領域は「ＦＦｈ」なのかをチェックする。
【００４３】
ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図４（Ｄ）に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間、予備空間などである。
【００４４】
すなわち、ＳＤＬの識別子が「０００２ｈ」であるかをチェックし、対応するＳＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示すＮ値が「以前の値」であるかということとカウンタの増分値を示すｋの値が「１」なのかをチェックする。ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」であるかということとカウンタの増分値を示すｋ値が「１」なのかをチェックする。
【００４５】
さらに、余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示すかをチェックし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しないことを示す「０」に設定されているかをチェックする。また、ＳＤＬの総使用空間を知っているためにＳＤＬの項目数をチェックすれば、ＳＤＬの未使用空間の大きさを決定できる。従って、Ｃ−２’ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３の未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数を基として知っているＳＤＬの未使用空間の大きさと同一であるかをチェックし、未使用空間が「ＦＦｈ」に設定されているかをチェックする。さらに、全ての予備空間の値が「００ｈ」に設定されているかチェックする。これはテスト対象のディスク駆動装置２０９にて検定せずにＳＤＬリストを除去しつつ再初期化する過程が正常になされる場合に、図５に示したようにＣ−２ディスク２０７に存在する旧ＳＤＬ５２０に登録されていた欠陥情報は全て除去されるためである。
【００４６】
検証器２１５は図４（Ａ）〜４（Ｄ）のように設定された基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル提供部２０３に存在する情報を比較し、テスト対象のディスク駆動装置２０９が検定せずにＧ２＿ｌｉｓｔ５１５と旧ＳＤＬ５２０を除去しつつ再初期化の時、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成または更新したかを検証する。
【００４７】
検証された結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔ及びＳＤＬを除去しつつ再初期化したモードに対するテスト結果として出力される。Ｇ２リストは、検定せずに初期化する間にＳＤＬから伝送される情報を含む一方、ＳＤＬは検定しつつ初期化する間にＳＤＬのために生成された欠陥情報を含む。検証結果は使用者が見るためにディスプレーできるよう具現できる。このために本発明による装置は別のディスプレー手段をさらに具備するよう具現できる。これにより使用者はテスト対象のディスク駆動装置２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔとＳＤＬの欠陥情報を除去しつつ再初期化モードを行なう時、設置されたディスクのＤＭＡを正常に判読するかということと発生した欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または更新しているか否かを把握するようになる。
【００４８】
図６は本発明による検証方法に対する動作フローチャートであり、段階６０１にて前述した図２のような条件を備えた空白ディスクのＣ−１ディスク２０１に前述した図２のような条件を有するテスト基準のＤＭＡミラーファイルを記録してＣ−２ディスク２０７を生成する。
【００４９】
その次に、段階６０２にてテスト対象のディスク駆動装置２０９にＣ−２ディスク２０７を設置してＣ−２ディスク２０７に対する再初期化過程がなされる。この時、再初期化はＣ−２ディスク２０７に対する全体的な検定をせずに欠陥リストが除去されるようにする。この時、除去される欠陥リストはＰＤＬに含まれているＧ２−ｌｉｓｔとＳＤＬである。
【００５０】
そして、段階６０３にて再初期化されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読み出し、前述したＤＭＡ情報を基としたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を生成する。段階６０４にてＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。検証は前述した図２の検証器２１５にてなされたのと同じように予測された基準情報（または期待値）を利用して行われる。すなわち、ＰＤＬのＧ２−ｌｉｓｔ及びＳＤＬに登録されている欠陥情報が全て除去されたかをチェックする。検証が完了すれば、段階６０５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象のディスク駆動装置２０９の前述した再初期化モードでＤＭＡに対する生成または更新に対する機能を評価できるようにする。
【００５１】
図７は、光を放射する光源、ディスクＤ上に光源からの光をフォーカシングするフォーカシング素子２４及び光源を制御する制御器２６を持つテスト対象ディスクの駆動装置１１０を示す。前述の検証処理は、制御器２６の適した動作を検証する。
【００５２】
【発明の効果】
前述したように本発明はいかなる情報も記録されていない空白ディスクと全ての種類の欠陥情報を含んでいるテスト環境に適合したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したＣ−２ディスクを所望のディスク記録及び再生装置に設置し、検定せずにＧ２リストとＳＤＬのような欠陥リストを除去しつつ再初期化するようにした後、ディスクに存在するＤＭＡを検証し該当するディスク記録及び再生装置をテストすることにより、短時間内に所望のディスク記録及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能を確認することができ、全ての種類の欠陥情報を含んでいるC−２ディスクをテスト基準のＤＭＡミラーファイルと空白ディスクを利用し、使用者が直接製作し使用できるので製造者が前述したテスト用C−２ディスクを別途に製作及び提供するにともなう経済的損失を食い止められる。使用者は基準ディスクの駆動装置２０５、ＤＭＡミラーファイル制御部２０３、及びＣ−１ディスク２０１を用いてＣ−２ディスクを生産できる。
【００５３】
本発明は前述の実施形態に限定されず、本発明の思想内にて当業者による変形が可能であることは言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範囲は詳細な説明の範囲内で決まるのではなく、請求範囲により限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  再度記録が可能なディスクの概略的な構造図である。
【図２】  本発明によるテスト装置についての機能ブロック図である。
【図３】  Ｃ−２ディスクタイプの欠陥構造図である。
【図４】  （Ａ）〜（Ｄ）は図２に示した検証器によって行われる検証のための詳細チェックリストの例を示す図である。
【図５】  本発明による再初期化前のＣ−２ディスクのＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後Ｃ−２ディスクのＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック図である。
【図６】  図６は本発明による検証方法に対する動作フローチャートである。
【図７】  図２に図示されたテスト対象ディスクの駆動装置のブロック図である。
【符号の説明】
２０１  Ｃ−１ディスク
２０３  ＤＭＡミラーファイル提供部
２０５  基準ディスクの駆動装置
２０７  Ｃ−２ディスク
２０９  テスト対象ディスクの駆動装置
２１５  検証器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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