(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
誘電体となる酸化物系セラミック焼結体を製造する方法であって、
平均粒径が１μｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積が５ｍ2 ／ｇ以上であり、Ｔｉ系酸化物を主成分とし、かつ、Ｚｒ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｎｉ、Ｔａ、Ｂａ、Ｎｄ、ＰｂおよびＢｉの各化合物のうちの少なくとも１種を副成分として含む、高純度の原料粉末を成形することによって、セラミック成形体を得る工程と、
前記セラミック成形体を、酸素濃度が９５％以上の雰囲気中において、前記原料粉末の最低焼結温度より高い温度を付与しながら、前記最低焼結温度で焼結させ得る時間よりも短時間で焼成する工程と
を備え、かつ
前記焼成工程において、焼成時の昇温速度が１８０℃／時間以上に選ばれる、酸化物系セラミック焼結体の製造方法。
【請求項２】
前記セラミック成形体中の最大気孔径が０．５μｍ以下である、請求項１に記載の酸化物系セラミック焼結体の製造方法。
【請求項３】
前記焼成工程において、緻密な酸化物系セラミック焼結体を得るため、付与すべき温度をより高めることによって、焼成時間をより短くすることが行なわれる、請求項１または２に記載の酸化物系セラミック焼結体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、酸化物系セラミック焼結体の製造方法に関するもので、特に、緻密な酸化物系セラミック焼結体を得るための改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年の電子部品の高密度集積化技術の発展に伴い、電子部品や配線基板上に微細配線を形成するための技術も進んできている。これら電子部品や配線基板は、たとえば酸化物系セラミック焼結体をもってしばしば構成されるが、  一般の酸化物系セラミック焼結体は、多結晶体であるため、その焼結体表面に焼結過程で生成する数１０μｍ程度の大きさの気孔が存在し、これらの気孔が原因となって、電子部品や配線基板上に形成された微細配線に断線が生じるなどの問題を引き起こすことがある。
【０００３】
他方、緻密な焼結体の製造方法として、従来、たとえば、（１）特開平５−３２５１８０号公報に記載されるハードディスク用基板材料の製造方法や、（２）特開平６−１８３７３２号公報に記載されるＩＴＯ焼結体の製造方法や、（３）特公昭５５−１９０７３号公報に記載される圧電磁器の製造方法などが提案されている。
【０００４】
上記（１）の従来技術によれば、大気または還元もしくは不活性ガス雰囲気中で低温焼成を実施した後、ＨＩＰ処理を行なうようにされる。また、上記（２）によれば、原料粉末の粒度配合を調整することにより常圧での焼結を可能とする技術が提案される。また、上記（３）の従来技術によれば、焼成後の冷却速度を速める（１２００℃／時間）ことで粒成長を抑制するようにされる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
この発明の対象となる酸化物系セラミック焼結体は、より特定的には、マイクロ波帯やミリ波帯で使用されるフィルタや配線基板のための材料として、あるいは光学材料として用いられることが意図されている。この点に関して、上記（１）ないし（３）の各従来技術は、いずれも、対象とする材料および用途がこの発明の特定的な実施態様におけるそれらとは異なっている。
【０００６】
また、（１）の従来技術については、ＨＩＰ処理のための設備が高価であることや、焼成雰囲気を還元または不活性ガス雰囲気とする場合には、酸化物系セラミックの焼成に適さないことや、焼結体の製造方法が煩雑であることなどの問題がある。
【０００７】
また、上記（２）の従来技術については、ＩＴＯといった原料の種類による制限があり、他の材料への転用が必ずしも可能ではない。
【０００８】
また、上記（３）の従来技術については、冷却を急速に進めるため、大型の焼結体では、ひび割れが発生する可能性があるなどの問題がある。
【０００９】
そこで、この発明の目的は、上述した問題を解決しながら、気孔の極めて少ない緻密な誘電体となる酸化物系セラミック焼結体を製造するための方法を提供しようとすることである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る酸化物系セラミック焼結体の製造方法は、上述した技術的課題を解決するため、平均粒径が１μｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積が５ｍ2 ／ｇ以上であり、Ｔｉ系酸化物を主成分とし、かつ、Ｚｒ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｎｉ、Ｔａ、Ｂａ、Ｎｄ、ＰｂおよびＢｉの各化合物のうちの少なくとも１種を副成分として含む、高純度の原料粉末を成形することによって、セラミック成形体を得る工程と、このセラミック成形体を、酸素濃度が９５％以上の雰囲気中において、原料粉末の最低焼結温度より高い温度を付与しながら、前記最低焼結温度で焼結させ得る時間よりも短時間で焼成する工程とを備えることを第１の特徴としている。
【００１１】
上述のように、原料粉末の平均粒径を１μｍ以下、ＢＥＴ比表面積を５ｍ２  ／ｇ以上とそれぞれ限定したのは、平均粒径が１μｍを超えたり、ＢＥＴ比表面積が５ｍ２  ／ｇ未満となったりした場合には、セラミック成形体を作製した場合に、その中に形成される気孔が大きくなり過ぎ、その結果、得られたセラミック焼結体における気孔径が大きくなり過ぎるためである。
【００１２】
上述した原料粉末は、得ようとする酸化物系セラミック焼結体に含まれる個々の金属元素の酸化物または炭酸化物などの粉末を単に混合したものであっても、あるいは、このような混合粉末を仮焼して得られた粉末であってもよい。
【００１３】
また、上述したセラミック成形体を得る工程では、より均質な成形体が得られるようにされる。より具体的には、湿式成形が適用される場合には、高濃度かつ高分散度のスラリーが得られるようにされる。他方、乾式成形が適用される場合には、造粒にあたって、つぶれ性の良好な顆粒が得られるようにされる。
【００１４】
また、成形工程によって得られたセラミック成形体は、成形密度が低くても、その中の気孔径が十分に小さくかつ均一に分散していればよい。好ましくは、セラミック成形体中の最大気孔径は、０．５μｍ以下となるようにされる。
【００１５】
上述のように、セラミック成形体中の最大気孔径を０．５μｍ以下とするのが好ましいとしたのは、セラミック成形体中に０．５μｍを超える気孔径を有する気孔があると、焼結が不均一となって、異常な粒成長の原因となることがあり、その結果、得られたセラミック焼結体中に大きな気孔が生じることがあるためである。
【００１６】
また、前述したように、焼成工程は、酸素濃度が９５％以上の雰囲気中において実施されるが、この酸素濃度はできるだけ高い方が好ましく、より好ましくは９８％以上に設定される。
【００１７】
また、焼成工程において付与される温度および焼成工程を実施する時間に関して、従来の常識に従えば、より低温でより長時間焼成することによって気孔の成長を抑制しようとすることになるが、この発明では、前述したように、原料粉末の最低焼結温度より高い温度を付与しながら、この最低焼結温度で焼結させ得る時間よりも短時間で焼結を行なおうとすること、言い換えると、通常の焼成工程において適用される温度よりも高い温度を付与しながら、通常の焼成工程が実施される時間よりも短い時間で焼成しようとすることを特徴としている。
【００１８】
上述した焼成工程における温度および時間に関して、他の局面から表現すると、焼成工程において、付与すべき温度をより高めることによって、焼成時間をより短くすることが行なわれ、それによって緻密な酸化物系セラミック焼結体を得るようにされる。
【００１９】
また、緻密な酸化物系セラミック焼結体を得るためには、上述した焼成工程において、焼成時の昇温速度を従来の焼成条件における昇温速度より速くすることも有効である。したがって、この発明に係る酸化物系セラミック焼結体の製造方法は、焼成時の昇温速度が、１８０℃／時間以上になるように選ばれることを第２の特徴としている。
【００２０】
上述のように、焼成時の昇温速度を１８０℃／時間以上にしたのは、この昇温速度が１８０℃／時間未満である場合には、焼結が不均一となって、異常な粒成長の原因となることがあり、特に、Ｐｂなどの揮発成分を含む場合には、焼成途中でのＰｂの揮発量が多くなり、異常な粒成長がより顕著となることがあるからである。
【００２１】
また、この発明は、前述したように、誘電体となる酸化物系セラミック焼結体の製造方法に向けられる。
【００２２】
【実施例】
（実施例１）
原料粉末として、高純度のＴｉＯ２  、ＺｒＯ２  、ＳｎＯ２  、ＺｎＯ、ＮｉＯおよびＴａ２  Ｏ５  の各粉末を準備した。
【００２３】
これらの粉末を用いて、主成分として、ＴｉＯ２  を３８重量％、ＺｒＯ２  を４７重量％、およびＳｎＯ２  を１５重量％それぞれ含有し、さらに、この主成分１００重量部に対して、添加成分として、ＺｎＯを０．１２６重量部、ＮｉＯを０．５００重量部、およびＴａ２  Ｏ５  を０．７４０重量部それぞれ含有するように調合することによって原料粉末を得、この原料粉末を水および分散剤とともにボールミルに入れ、１６時間、湿式混合して、スラリーを得た。得られたスラリー中の混合された原料粉末の平均粒径は０．７μｍであり、ＢＥＴ比表面積は１９．０ｍ２  ／ｇであった。
【００２４】
次いで、このスラリーを用いて、平面形状が６０ｍｍ×６０ｍｍの正方形であり、肉厚が３ｍｍの板状のセラミック成形体を成形すべく鋳込み成形し、得られたセラミック成形体を３５℃で２４時間乾燥させた。
【００２５】
次いで、この乾燥後のセラミック成形体を焼成することによってセラミック焼結体を得た。
【００２６】
上述の焼成工程での焼成条件に関して、この実施例１では、９５％の酸素濃度を有する雰囲気中において、３００℃／時間の昇温速度をもって１４５０℃にまで昇温した後、これを３０分間保持するようにした。
【００２７】
他方、比較例１では、前述のようにして得られたセラミック成形体を焼成するにあたって、９５％の酸素濃度を有する雰囲気中において、６０℃／時間の昇温速度をもって１３５０℃にまで昇温した後、これを４時間保持することを行ない、セラミック焼結体を得た。
【００２８】
次いで、まず、このようにして得られた実施例１および比較例１のそれぞれに係るセラミック焼結体の表面をラップ盤にて鏡面加工し、この鏡面加工された表面の気孔を画像解析装置によって評価した。この評価結果が以下の表１に示されている。
【００２９】
【表１】
0003617345.tif 000002
表１から、実施例１によれば、比較例１に比べて、最大気孔径ならびに気孔占有面積率が大幅に改善されていることがわかる。
【００３０】
また、前述のようにして得られた実施例１および比較例１のそれぞれに係るセラミック焼結体をサーマルエッチングした後、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）によって観察した。この走査型電子顕微鏡を用いて撮影した写真が図１に示されている。
【００３１】
図１からわかるように、実施例１に係るセラミック焼結体は、比較例１に係るセラミック焼結体に比べて、より均一な結晶粒子径を有している。
【００３２】
（実施例２）
原料粉末として、高純度のＢａＣＯ３  、Ｎｄ２  Ｏ３  、ＴｉＯ２  、ＰｂＯおよびＢｉ２  Ｏ３  の各粉末を準備した。
【００３３】
これら粉末を用いて、主成分として、ＢａＣＯ３  を１２モル％、Ｎｄ２  Ｏ３  を２６モル％、およびＴｉＯ２  を６２モル％それぞれ含有し、さらに、この主成分１００重量部に対して、添加成分として、ＰｂＯを４．０重量部、およびＢｉ２  Ｏ３  を１１．０重量部それぞれ含有するように調合することによって原料粉末を得、この原料粉末を混合し、空気中において１１００℃で１時間仮焼した。
【００３４】
次いで、この仮焼された原料粉末を湿式粉砕した後、乾燥させて、平均粒径が０．５μｍで、ＢＥＴ比表面積が２０ｍ２  ／ｇの微粉砕粉末を得た。次いで、このようにして得られた微粉砕粉末を水および分散剤とともにボールミルに入れ、１６時間、混合し、スラリーを得た。
【００３５】
次いで、このスラリーを用いて、平面形状が６０ｍｍ×６０ｍｍの正方形であり、肉厚が３ｍｍの板状のセラミック成形体を成形すべく鋳込み成形し、得られたセラミック成形体を３５℃で２４時間乾燥させた。
【００３６】
次いで、上述のようにして乾燥させたセラミック成形体を焼成してセラミック焼結体を得た。
【００３７】
この焼成工程における焼成条件に関して、実施例２では、９５％の酸素濃度を有する雰囲気中において、３００℃／時間の昇温速度をもって１３５０℃にまで昇温した後、これを３０分間保持するようにした。
【００３８】
他方、比較例２では、９５％の酸素濃度を有する雰囲気中において、６０℃／時間の昇温速度をもって１２５０℃にまで昇温した後、これを４時間保持するようにした。
【００３９】
このようにして得られた実施例２および比較例２のそれぞれにに係るセラミック焼結体について、まず、気孔の状態を評価するため、それぞれのセラミック焼結体の表面をラップ盤によって鏡面加工し、この鏡面加工された表面の気孔を画像解析装置によって評価した。この評価結果が以下の表２に示されている。
【００４０】
【表２】
0003617345.tif 000003
表２から、実施例２によれば、比較例２に比べ、最大気孔径および気孔占有面積率が大幅に改善されていることがわかる。
【００４１】
また、得られた実施例２および比較例２のそれぞれに係るセラミック焼結体をサーマルエッチングした後、走査型電子顕微鏡で観察した。この走査型電子顕微鏡を用いて撮影した写真が図２に示されている。
【００４２】
図２からわかるように、実施例２は、比較例２に比べ、より均一な結晶粒子径を有するセラミック焼結体が得られている。
【００４３】
特に、この実施例では、原料粉末においてＰｂのような揮発性成分を含んでいるが、上述した実施例２に係るセラミック焼結体の製造方法によれば、短時間で焼結が完了するため、焼成されるべきセラミック成形体が高温にさらされる時間が短くなり、また、酸素雰囲気中で焼成するので、焼成時のＰｂなどの揮発性成分の蒸発を抑制することができる。このことは、得られたセラミック焼結体の緻密度の向上およびそこに含まれる結晶粒子径のより均一化に寄与するものである。
【００４４】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、平均粒径が１μｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積が５ｍ2 ／ｇ以上であり、Ｔｉ系酸化物を主成分とし、かつ、Ｚｒ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｎｉ、Ｔａ、Ｂａ、Ｎｄ、ＰｂおよびＢｉの各化合物のうちの少なくとも１種を副成分として含む、高純度の原料粉末を成形することによって、セラミック成形体を得る工程と、このセラミック成形体を、酸素濃度が９５％以上の雰囲気中において、原料粉末の最低焼結温度より高い温度を付与しながら、前記最低焼結温度で焼結させ得る時間よりも短時間で焼成する工程とを備えているので、緻密なセラミック成形体を作製し、これを低温焼成することによって気孔の成長を抑制したり、焼成時に、加圧したりするなどの対策を講じることなく、気孔が少なくかつ気孔径の小さい緻密な誘電体となる酸化物系セラミック焼結体を製造することができる。
【００４５】
また、この発明によれば、焼成工程において、焼成時の昇温速度を１８０℃／時間以上に選ぶようにしているので、均一な焼結を可能とし、異常な粒成長を抑制することができる。
この発明において、セラミック成形体中の最大気孔径が０．５μｍ以下となるようにすると、均一な焼結および異常な粒成長の抑制にとって、より効果的である。
【００４６】
このようなことから、この発明によって得られた酸化物系セラミック焼結体は、たとえば、マイクロ波帯やミリ波帯で使用されるフィルタまたは配線基板のための材料として、あるいは、光学材料として有利に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例１および比較例１のそれぞれによるセラミック焼結体の走査型電子顕微鏡写真である。
【図２】実施例２および比較例２のそれぞれによるセラミック焼結体の走査型電子顕微鏡写真である。
【図１】
0003617345.tif 000004
【図２】
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