(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
（ａ）インナリードに対して半導体チップが絶縁されるように支持される段階と、
（ｂ）前記半導体チップの連結端子のボンディングパッドを露出した開口部を除いて第１の絶縁層を前記半導体チップの上面に形成させる段階と、
（ｃ）前記半導体チップの連結端子のボンディングパッドと前記インナリードの端部の一部を露出した開口部を除いて第２の絶縁層を前記半導体チップ及びインナリードの上面に形成させる段階と、
（ｄ）前記ボンディングパッドとインナリードとの端部の一部が相互に電気的接続されるように前記開口部に導電層を形成させる段階とを含む半導体パッケージの製造方法。
【請求項２】
前記段階（ａ）は絶縁接着材により前記半導体チップの縁部に前記インナリードを付着させる段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の半導体パッケージの製造方法。
【請求項３】
前記段階（ａ）は前記半導体チップのボンディングパッドの縁部に前記インナリードを絶縁接着材により付着させる段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の半導体パッケージの製造方法。
【請求項４】
前記第２の絶縁層は少なくとも２層よりなることを特徴とする請求項１に記載の半導体パッケージの製造方法。
【請求項５】
前記第１の絶縁層の上面は前記インナリードの上面と同一な高さで形成されることを特徴とする請求項１に記載の半導体パッケージの製造方法。
【請求項６】
前記段階（ｄ）は前記導電層の一部と前記絶縁層の一部とを除去する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の半導体パッケージの製造方法。
【請求項７】
インナリードと、
前記インナリードに対して相互絶縁されるように支持され、連結端子のボンディングパッドを有する半導体チップと、
前記ボンディングパッドの除いた部分に塗付された第１の絶縁層と、
前記インナリードの所定部と前記ボンディングパッドを除いた部分に塗布された第２の絶縁層と、
前記インナリードの所定部と前記ボンディングパッドとを相互に電気的接続させるように形成された導電層とを含む半導体パッケージ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体パッケージに係り、特にワイヤーの代りに導電層により半導体チップとリードとを連結させる半導体パッケージ及びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
半導体パッケージにおいて、半導体チップはリードフレームにより支持され、前記リードフレームのリードが前記半導体チップと外部回路とを電気的に連結する。
【０００３】
一般の半導体パッケージを示した図１を参照すれば、パッド１１上に記憶素子の半導体チップ１２が搭載され、前記半導体チップ１２の周りにはリードフレームのインナリード１４が両面絶縁テープのような接着材１３によりパッド１１に付着される。そして、前記半導体チップ１２とインナリード１４とがワイヤー１５によりボンディングされた後、成形材１６により封止される。
【０００４】
一方、半導体チップが小型化されることにより、ワイヤーボンディング法により小型半導体チップとリードとを連結させることが難しくなった。即ち、半導体チップの小型化に対応するために前記インナリードの間隔(以下、ピッチと称する）が相対的に小さくなる。従って、微細ピッチを有するインナリードに対してワイヤーを精密にボンディングさせることは易くない。実際に、ワイヤーボンディング法はインナリード間のピッチが０．２ｍｍ以下の場合には適用しにくいため、半導体パッケージの信頼性が確保できない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は半導体チップとインナリードとをワイヤーの代りに導電層を塗布して連結させることにより、微細ピッチを有するインナリードに対しても適用しうる半導体パッケージ製造方法及びこれにより製造された半導体パッケージを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の半導体パッケージの製造方法は、（ａ）インナリードに対して半導体チップが絶縁されるように支持される段階と、（ｂ）前記半導体チップの連結端子のボンディングパッドと前記インナリードの端部の一部を露出させた開口部を除いて絶縁層を前記半導体チップ及びインナリードの上面に形成させる段階と、（ｃ）前記ボンディングパッドとインナリードとの端部の一部が相互に電気的接続されるように前記開口部に導電層を形成させる段階とを含む。
【０００７】
ここで、前記段階（ｂ）は前記ボンディングパッドを除いた前記半導体チップの上面に１次絶縁層を形成させる段階と、前記１次絶縁層の上面及び前記インナリードの端部の一部を除いた上面の所定部に２次絶縁層を形成させる段階とを含む。
【０００８】
また、前記２次絶縁層は少なくとも２層よりなることが望ましい。
【０００９】
また、前記１次絶縁層の上面は前記インナリードの上面と同一な高さで形成される。
【００１０】
本発明の他の側面によれば、インナリードと、前記インナリードに対して相互絶縁されるように支持され、連結端子のボンディングパッドを有する半導体チップと、前記インナリードの所定部と前記ボンディングパッドを除いた部分に塗布された絶縁層と、前記インナリードの一部と前記ボンディングパッドとを相互に電気的接続させるように形成された導電層とを含む半導体パッケージが提供される。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明によれば、半導体チップとインナリードとは導電層により相互に電気的接続される。
【００１２】
以下、図２乃至図８に基づき本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明する。
【００１３】
図２に示されるように、半導体チップ３２の電気的連結端子のボンディングパッド３２ａのある面の縁部にリードフレームのインナリード３４を接着する。前記インナリード３４は両面絶縁テープ３３のような絶縁接着材により接着されることが望ましい。
【００１４】
次いで、前記半導体チップ３２のボンディングパッド３２ａがある部分を除いた上面には図3に示されたように、１次絶縁層３５が形成される。従って、ボンディングパッド３２ａは開口部３８を通して露出される。前記１次絶縁層３５はその上面が前記インナリード３４の上面と同一な高さとなるように形成されることが望ましい。
【００１５】
前記１次絶縁層３５はポリアミド系物質よりなることが望ましい。また、前記１次絶縁層３５は絶縁物質を繰り返し塗布して所定のパターンを形成する塗布法(dispensing）等によって形成されうる。代案として、所定のパターンよりなる絶縁テープを付着することによって絶縁層を形成させうる。
【００１６】
次いで、図４に示されるように、前記１次絶縁層３５の上面、及びインナリード３４の端部の上面の一部３４ａを除いた所定領域の上面に２次絶縁層３６が形成される。従って、半導体チップ３２のボンディングパッド３２ａは相変らず開口部３８を通して露出された状態であり、前記インナリード３４の端部の上面の一部３４ａも露出されている。前記２次絶縁層３６の材質と形成方法は１次絶縁層３５のそれと同一である。
【００１７】
前記１次及び２次絶縁層３５、３６が別に形成されるのは膜の形成工程上の便宜のためである。
【００１８】
次いで、図５に示されるように、前記２次絶縁層３６の上面には３次絶縁層３７が形成される。この３次絶縁層３７の形成により開口部３８はさらに深くなる。３次絶縁層３７の材質と形成方法は前記絶縁層３５、３６のそれと同一である。
【００１９】
前記１次、２次、３次絶縁層３５、３６、３７の形成が完了すると、図６に示されるように、開口部３８に導電性メッキ液を注入して導電層３９を形成させる。前記導電層３９は露出されたインナリード３４の上面の一部３４ａ（図４参照）及び半導体チップ３２のボンディングパッド３２ａを覆い、３次絶縁層３７の上面まで覆うように形成される。
【００２０】
次いで、図７に示されるように、３次絶縁層３７とその上面に塗布された導電層３９の一部を除去する。これは３次絶縁層３７の上面に塗布された導電層が不要な部分まで拡大されて隣接するリードに短絡を発生させることを防止するためである。
【００２１】
従って、前記導電層３９はインナリード３４とボンディングパッド３２ａとを電気的に接続させた状態となる。
【００２２】
最後に、図８に示されるように、１次及び２次絶縁層３５、３６の形成された半導体チップ３２とインナリード３４とは成形材３１により成形されることによりパッケージが完成する。この時、インナリード３４の他端は外部に突出されるように接続される。
【００２３】
本実施例によれば、半導体チップ３２とインナリード３４は従来のワイヤーの代りに導電層３９により相互に電気的接続される。
【００２４】
本発明は多様な形の半導体パッケージに適用しうる。例えば、図９に示された半導体パッケージの製造においては、半導体チップ３２０がパッド３２２に付着されて支持される。即ち、この場合、インナリード３４０は、前述した実施例のように半導体チップ３２０に直接付着されるのでなく、絶縁接着材３３０によりパッド３２２の縁部に付着される。
【００２５】
以降、半導体チップ３２０のボンディングパッド３２１とインナリード３４０とを導電層３９０で連結する工程は前述した実施例と同様であり、最終的に完成された半導体パッケージが図１０に図示されている。
【００２６】
【発明の効果】
本発明によれば、前記半導体チップとインナリードとを導電層を塗布して連結させるので、従来の機械的なワイヤーボンディング方法に比べて精度が向上される。従って、微細ピッチを有するインナリードの接続が具現でき、結果的に半導体パッケージの信頼性を高めうる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の半導体パッケージの構造を概略的に示した断面図である。
【図２】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図３】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図４】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図５】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図６】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図７】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図８】本発明の一実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図９】本発明の他の実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【図１０】本発明の他の実施例による半導体パッケージの製造方法を説明するための図面である。
【符号の説明】
１１  パッド
１２  半導体チップ
１３  接着材
１４  インナリード
１５  ワイヤー
１６  成形材
３１  成形材
３２  半導体チップ
３２ａ  ボンディングパッド
３３  絶縁接着材
３４  インナリード
３４ａ  上面の一部
３５  １次絶縁層
３６  ２次絶縁層
３７  ３次絶縁層
３８  開口部
３９  導電層
２１０  成形材
３２０  半導体チップ
３２１  ボンディングパッド
３２２  パッド
３３０  絶縁接着材
３４０  インナリード
３５０  １次絶縁層
３６０  ２次絶縁層
３９０  導電層
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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