(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
陰極線管に設けられる補正手段であって、上記陰極線管が置かれる環境の変化の影響を抑えるための調整が行われる補正手段と、
環境の変化を検出する検出手段としての地磁気の方向に応じた検出値を出力する地磁気センサおよび温度を検出する温度センサと、
上記陰極線管の使用開始からの時間を検出する時定数回路と、
予め基準となる条件下における上記地磁気センサ、温度センサおよび時定数回路の出力を基準値として記憶する記憶手段と、
上記陰極線管が設置された環境における上記検出手段および上記時定数回路の検出値から上記記憶手段に記憶されたそれぞれの基準値を減算して調整値を決定する演算手段と、
上記演算手段により求められた調整値に基づく調整を上記補正手段に対して行う駆動回路と
を備えることを特徴とする陰極線管の補正装置。
【請求項２】
請求項１記載の陰極線管の補正装置において、
上記地磁気センサ、温度センサおよび時定数回路による複数回の検出値の平均値がそれぞれの検出値とされる
ことを特徴とする陰極線管の補正装置。
【請求項３】
請求項２記載の陰極線管の補正装置において、
上記補正手段は、上記陰極線管の表示面の背面側周辺部の四隅に対してそれぞれ設けられるランディング補正コイル、上記陰極線管の表示面の周囲を周回する補正コイル、および上記陰極線管のファンネルを周回するローテーション補正コイルであって、
上記駆動回路は、上記演算手段により求められた調整値に基づく電流を上記ランディング補正コイル、補正コイル、およびローテーション補正コイルに供給し、
上記地磁気センサ、温度センサ及び時定数回路で検出された各検出値を用いて上記ランディング補正コイル、補正コイル、およびローテーション補正コイルに供給される電流値を決定する際に用いる各補正係数値及び極性を上記記憶手段に記憶させる
ことを特徴とする陰極線管の補正装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば高解像度のコンピュータディスプレイ装置に使用して好適なランディング補正装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
例えば高解像度のコンピュータディスプレイ装置として、１７〜２０インチクラスの大きさで、解像度で１２８０ドット×１０２４ラインの装置が主流になりつつある。さらに例えば２２〜２４インチクラスの大きさでは、解像度で１６００ドット×１２００ラインの装置の要求が高まっている。一方、蛍光体ピッチにおいても、現在主流の０．３１ミリピッチから、０．２６ミリのファインピッチの高精細陰極線管が要求されている。
【０００３】
ところがこのような高解像度のコンピュータディスプレイ装置においては、地磁気等の影響によるランディングの変動が、ディスプレイの色純度の劣化の大きな原因となっている。すなわち、特に上述のように蛍光体ピッチの細かい高精細陰極線管では、同じミスランディング量でも色純度に与える影響が大きく、地磁気の悪影響が大きく現れてしまうものである。
【０００４】
そこでこのような地磁気等の影響によるランディングの変動を防止する方法としては、
（１）  地磁気等の影響を受けにくくするために磁気シールドを強化する。
（２）  地磁気等の影響によるランディングの変化を補正する手段を設ける。
等の対策が考えられた。しかし（１）の磁気シールドを強化するだけでは対策が不充分であり、（２）の補正手段によるランディングの補正が検討された。
【０００５】
すなわちこのようなランディングを補正する装置としては、例えば図１６に示すように、陰極線管７０の背面側において、表示面の四隅に対してそれぞれ第１〜第４の補正コイル７１〜７４が設けられる。そしてこれらの補正コイル７１〜７４に対して、それぞれ例えば図１７に示すような補正回路からの補正電流が供給される。
【０００６】
この図１７の補正回路においては、例えば製造時にランディングを補正する標準の調整値や、ディスプレイ装置の設置時等にサービスマン等によって調整された地磁気の影響に対するランディング補正を行うための調整値の設定される個別調整手段Ａ８０が設けられる。そしてこの個別調整手段Ａ８０からの各補正電流の調整値が加減算回路８１〜８４に供給される。
【０００７】
また、その他の調整値等の設定される個別調整手段Ｂ８５が設けられる。そしてこの個別調整手段Ｂ８５からの調整値が加減算回路８１〜８４に供給される。さらにこれらの加減算回路８１〜８４からの値が補正コイル７１〜７４の駆動回路８７〜９０に供給される。このようにして各調整値に従った補正電流が、補正コイル７１〜７４に供給される。
【０００８】
ところでこのような補正回路において、例えばディスプレイ装置の移動などにより陰極線管の向けられる方角が変えられたときには、個別調整手段Ａ８０に設けられる地磁気の影響に対するランディング補正の調整値を変更する必要がある。その場合に調整値の変更は、例えば陰極線管の表示面を測定しながらランディングの調整を行い、そのときの調整値を個別調整手段Ａ８０に再設定することになるが、そのためには特別な測定装置や専門的な知識が要求されるものである。
【０００９】
このため従来は、例えば使用者が容易に調整値の設定等を行うことができず、ディスプレイ装置の設置時や移動を行う際には、専門的な知識を有するサービスマン等が出向いて行うなど手続きが煩雑になる。あるいは使用者が独自に調整を行った場合には、なかなか満足できる結果を得ることができないものであった。また、上述のように補正回路をハードウェアで形成している場合には、回路構成が極めて複雑且つ大規模になってしまうものであった。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
この出願はこのような点に鑑みて成されたものであって、解決しようとする問題点は、従来の装置では、例えば地磁気の影響に対するランディング補正の調整値の変更を行う場合に特別な測定装置や専門的な知識が要求され、特に高精細陰極線管の使用されたディスプレイ装置では、容易に設置や移動を行うことができなかったというものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
このため本発明においては、地磁気の方向を検出する地磁気センサを設け、この地磁気センサで検出された検出値を用いて補正コイルに供給される電流値を決定するような補正をソフトウェアにより実現したものであって、この補正式に補正項目を追加することによって、環境温度が変化した場合や、地磁気の方向が変化した場合、長時間使用した場合にも、自動的に補正コイルに供給される電流値の調整が行われて、常に良好なランディング補正を行うことができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
すなわち本発明においては、陰極線管に設けられる補正手段であって、陰極線管が置かれる環境の変化の影響を抑えるための調整が行われる補正手段と、環境の変化を検出する検出手段としての地磁気の方向に応じた検出値を出力する地磁気センサおよび温度を検出する温度センサと、陰極線管の使用開始からの時間を検出する時定数回路と、予め基準となる条件下における地磁気センサ、温度センサおよび時定数回路の出力を基準値として記憶する記憶手段と、陰極線管が設置された環境における検出手段および時定数回路の検出値から記憶手段に記憶されたそれぞれの基準値を減算して調整値を決定する演算手段と、演算手段により求められた調整値に基づく調整を補正手段に対して行う駆動回路とを備えるものである。
【００１３】
以下、図面を参照して本発明を説明するに、図１は本発明を適用したランディング補正装置の一例の構成を示すブロック図である。
【００１４】
この図１において、メモリ１には、例えば工場等でのディスプレイ装置の製造過程で、所定の条件下で求められた調整値や後述するセンサの基準値等の設定パラメータが書き込まれている。また地磁気センサ２には地磁気の方向を検出する手段が設けられ、例えばセンサ２の設置される方角に応じて図２に示すような地磁気の大きさを示す２軸の検出出力が電圧Ｖｘ、Ｖｙで出力されている。さらに温度センサ３及び時定数回路４からは、それぞれ環境温度及び陰極線管の使用開始からの時間が電圧変化で出力されるものである。
【００１５】
これらのメモリ１及び地磁気センサ２、温度センサ３、時定数回路４からの信号がマイクロコンピュータ５に供給される。そしてこのマイクロコンピュータ５では、上述の地磁気センサ２からの２軸の検出信号と、温度センサ３及び時定数回路４からの検出信号が、それぞれＡ／Ｄ変換器６〜９でデジタルデータに変換され、メモリ１からのデータと共に中央処理装置（ＣＰＵ）１０に供給されて、後述するソフトウェアに従って演算処理が行われる。
【００１６】
さらにこのＣＰＵ１０で演算処理された各補正コイルに供給される電流値を決定する値が、それぞれＤ／Ａ変換器１１〜１６でアナログ信号に変換される。そして変換されたアナログ信号が、それぞれ駆動回路２１〜２６を通じて、例えば図３に示すように、陰極線管３０の背面側において、表示面の四隅に対してそれぞれ設けられた第１〜第４の補正コイル３１〜３４と、表示面の周囲に設けられた第５の補正コイル３５と、陰極線管のファンネル部に設けられたローテーション補正コイル３６とに供給される。
【００１７】
そしてこの装置において、上述の地磁気センサ２からの検出信号Ｖｘ、Ｖｙ、及び温度センサ３、時定数回路４からの検出信号を用いて、ＣＰＵ１０では以下に述べるような処理手順が実行される。これによってＣＰＵ１０では、例えば各補正コイル３１〜３６を、それぞれ駆動回路２１〜２６を通じて地磁気及び環境温度等を補正するように所定の電流値で駆動するための、Ｄ／Ａ変換器１１〜１６に供給される値が形成される。
【００１８】
すなわち図４はメインの処理である。なお以下の説明では、デジタル値は０〜２５５で形成されるものとする。
【００１９】
この図４において、処理がスタートされると、まずステップ〔２〕で後述するサブルーチン〔get lcc delta 〕が実行される。次にステップ〔３〕でデガウスが実行中であるか否か判断される。そしてデガウスが実行中のとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔４〕でＤ／Ａ変換器１１〜１６に供給される値（lcc lt,lcc lb,lcc rt,lcc rb,lcc ns,rotation ）に全て中心値１２８が設定される。
【００２０】
さらにステップ〔３〕でデガウスが実行中でないとき（ｎｏ）は、ステップ〔５〕で補正コイル３１〜３６での補正を行うか否か（ＬＣＣ  ＥＮＡＢＬＥ）が判断される。そして補正が行われないとき（ｎｏ）は、ステップ〔６〕で上述の値（lcc lt,lcc lb,lcc rt,lcc rb,lcc ns）に中心値１２８が設定されると共に、、計算パラメータ（vns delta=0 ）が設定された後、ステップ〔７〕で後述するサブルーチン〔calc tilt 〕が実行される。
【００２１】
またステップ〔５〕で補正を行うとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔８〕で後述するサブルーチン〔calc lcc〕が実行された後に、ステップ〔７〕のサブルーチン〔calc tilt 〕が実行される。そしてこのステップ〔７〕のサブルーチン〔calc
tilt 〕が実行された後にメインの処理は終了（エンド）される。
【００２２】
次に図５は上述のステップ〔２〕で実行されるサブルーチン〔get lcc delta 〕の処理を示す。この図５において、サブルーチン〔get lcc delta 〕の処理が開始されると、まずステップ〔９〕で計算パラメータ（vns delta=lcc ns-lcc ns fact）と計算パラメータ（vrot delta=TILT-tilt fact ）が設定される。
【００２３】
ここで値（lcc ns）は、上述の第５の補正コイル３５を駆動する電流値を形成するためにＤ／Ａ変換器１５に供給される値であって、例えば前回の処理で求められた値が用いられる。また値（lcc ns fact ）は、例えば工場等でのディスプレイ装置の製造過程で、所定の条件下（例えば０磁界、環境温度２５°Ｃ、陰極線管の使用開始から３０分）で求められた値（lcc ns）の工場調整値である。
【００２４】
さらに値（TILT）は、画面の回転歪みに対して装置の設置後にサービスマンまたは使用者によって補正された値である。また値（tilt fact ）は、例えば工場等でのディスプレイ装置の製造過程で、上述の所定の条件下で求められた値（TILT）の工場調整値である。
【００２５】
そしてステップ〔９〕での設定が終了すると、ステップ〔１０〕で後述するサブルーチン〔get vtemp delta 〕が実行される。このステップ〔１０〕が終了すると、ステップ〔１１〕で後述するサブルーチン〔get vxy delta 〕が実行される。さらにこのステップ〔１１〕が終了すると、ステップ〔１２〕で後述するサブルーチン〔get tdri delta〕が実行される。そしてこのステップ〔１２〕が終了すると、上述のメインの処理に復帰（リターン）される。
【００２６】
さらに図６は上述のステップ〔１０〕で実行されるサブルーチン〔get vtemp delta 〕の処理を示す。この図６において、サブルーチン〔get vtemp delta 〕の処理が開始されると、まずステップ〔１３〕で、例えばＡ／Ｄ変換器８からの温度センサ３で検出された環境温度を示す検出電圧（Ｖ  ＴＥＭＰ）を変換したデジタル値が読み込まれ、この値の例えば過去４回分を平均した値が後述する値（vtemp m ）に代入される。
【００２７】
次にステップ〔１４〕で、前回の処理で求められた環境温度の値（vtemp steady）と、ステップ〔１３〕で代入された値（vtemp m ）との差の絶対値がＡ／Ｄ変換の誤差を考慮した所定の許容値（LCC AD TOL）より大きいか否か判断される。そして差が許容値より大きくなったとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔１５〕で値（vtemp steady=vtemp m）に設定される。
【００２８】
またステップ〔１５〕の処理の終了後、及びステップ〔１４〕で差が許容値より小さいとき（ｎｏ）は、ステップ〔１６〕で環境温度による補正を行うか否か（ＴＥＭＰ  ＥＮＡＢＬＥ）が判断される。そして補正を行うとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔１７〕で値（vtemp delta=vtemp steady-LCC TEMP ）が設定される。ここで値（LCC TEMP）は、上述の所定の条件下で温度センサ３で検出される環境温度の検出電圧（Ｖ  ＴＥＭＰ）のデジタル値の工場調整値である。
【００２９】
さらにステップ〔１６〕で補正を行わないとき（ｎｏ）は、ステップ〔１８〕で値（vtemp delta=0 ）が設定される。そしてこれらのステップ〔１７〕または〔１８〕が終了すると、上述のサブルーチン〔get lcc delta 〕の処理に復帰（リターン）される。
【００３０】
また図７は上述のステップ〔１１〕で実行されるサブルーチン〔get vxy delta 〕の処理を示す。この図７において、サブルーチン〔get vxy delta 〕の処理が開始されると、まずステップ〔１９〕でＡ／Ｄ変換器６、７からの、地磁気センサ２で検出されたＸ軸及びＹ軸の検出電圧Ｖｘ、Ｖｙを変換したデジタル値が読み込まれ、この値の例えば過去４回分を平均した値が後述する値（vx m, vy m）に代入される。
【００３１】
次にステップ〔２０〕で、前回の処理で求められた検出電圧Ｖｘの値（vx steady ）と、ステップ〔１９〕で代入された値（vx m）との差の絶対値がＡ／Ｄ変換の誤差を考慮した所定の許容値（LCC AD TOL）より大きいか否か判断される。そして差が許容値より大きくなったとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔２１〕で値（vx steady=vx m）に設定される。
【００３２】
またステップ〔２１〕の処理の終了後、及びステップ〔２０〕で差が許容値より小さいとき（ｎｏ）は、ステップ〔２２〕で演算（vy m=vy m-LCC K POL VY NS*LCC K VY NS/128*(lcc ns-128)）が行われて、値（vy m）が設定される。なおこの演算で、値（LCC K VY NS ）は、後述する補正コイル３５を流れる電流による検出電圧Ｖｙへの影響を補正するためのの補正係数値、値（LCC K POL VY NS ）はその極性である。
【００３３】
さらにステップ〔２３〕で、前回の処理で求められた値（vy steady ）と、ステップ〔２２〕で求められた値（vy m）との差の絶対値がＡ／Ｄ変換の誤差を考慮した所定の許容値（LCC AD TOL）より大きいか否か判断される。そしてステップ〔２３〕で差が許容値より大きくなったとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔２４〕で値（vy steady=vy m）に設定される。
【００３４】
またステップ〔２４〕の処理の終了後、及びステップ〔２３〕で差が許容値より小さいとき（ｎｏ）は、ステップ〔２５〕で地磁気による補正を行うか否か（ＭＩ  ＥＮＡＢＬＥ）が判断される。そして補正を行うとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔２６〕で値（vx delta=vx steady-LCC VX, vy delta=vy steady-LCC VY）が設定される。ここで値（LCC VX, LCC VY）は、上述の所定の条件下で地磁気センサ２で検出される検出電圧Ｖｘ、Ｖｙのデジタル値の工場調整値である。
【００３５】
さらにステップ〔２５〕で補正を行わないとき（ｎｏ）は、ステップ〔２７〕で値（vx delta=0, vy delta=0）が設定される。そしてこれらのステップ〔２６〕または〔２７〕が終了すると、上述のサブルーチン〔get lcc delta 〕の処理に復帰（リターン）される。
【００３６】
さらに図８は上述のステップ〔１２〕で実行されるサブルーチン〔get tdri delta〕の処理を示す。この図８において、サブルーチン〔get tdri delta〕の処理が開始されると、まずステップ〔２８〕で、例えばＡ／Ｄ変換器９からの時定数回路４で検出された陰極線管の使用開始からの時間経過を示す検出電圧（ＴＤＲＩ）を変換したデジタル値が読み込まれ、この値の例えば過去４回分を平均した値が後述する値（tdri m）に代入される。
【００３７】
次にステップ〔２９〕で、前回の処理で求められた時間経過の値（tdri steady ）と、ステップ〔２８〕で代入された値（vtemp m ）との差の絶対値がＡ／Ｄ変換の誤差を考慮した所定の許容値（LCC AD TOL）より大きいか否か判断される。そして差が許容値より大きくなったとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔３０〕で値（tdri steady=tdri m）に設定される。
【００３８】
またステップ〔３０〕の処理の終了後、及びステップ〔２９〕で差が許容値より小さいとき（ｎｏ）は、ステップ〔３１〕で時間経過による補正を行うか否か（ＴＤＲＩ  ＥＮＡＢＬＥ）が判断される。そして補正を行うとき（ｙｅｓ）は、ステップ〔３２〕で値（tdri delta=TDRI REF-tdri steady ）が設定される。ここで値（TDRI REF）は、温度ドリフト補正用の基準データであって、例えばシミュレーションによって求められ、あらかじめ設定された値である。
【００３９】
さらにステップ〔３１〕で補正を行わないとき（ｎｏ）は、ステップ〔３３〕で値（tdri delta=0）が設定される。そしてこれらのステップ〔３２〕または〔３３〕が終了すると、上述のサブルーチン〔get lcc delta 〕の処理に復帰（リターン）される。このようにして上述のサブルーチン〔get lcc delta 〕の処理が実行される。
【００４０】
また図９は、上述のステップ〔７〕で実行されるサブルーチン〔calc tilt 〕の処理を示す。この図９において、サブルーチン〔calc tilt 〕は演算の処理であって、例えば次のような値（rotation）を求める演算のステップ〔３４〕からなる。
【００４１】
rotation＝ 255−TILT
＋LCC K POL ROT FOR NS×LCC K ROT FOR NS／128 ×(lcc ns-lcc ns fact)
【００４２】
なおこの演算で、値（LCC K ROT FOR NS）は後述する補正コイル３５を流れる電流の変化に対するローテーションの補正係数値、値（LCC K POL ROT FOR NS）はその極性である。
【００４３】
これによって、上述のローテーション補正コイル３６に対して、駆動回路２６を通じて地磁気及び環境温度等を補正するように所定の電流値で駆動するための、Ｄ／Ａ変換器１６に供給される値（rotation）が形成される。なお、値（rotation）は０〜２５５の値で求められる。
【００４４】
さらに図１０は上述のステップ〔８〕で実行されるサブルーチン〔calc lcc〕の処理を示す。この図１０において、サブルーチン〔calc lcc〕は演算の処理であって、例えば次のような値（lcc lt,lcc lb,lcc rt,lcc rb,lcc ns）を求める演算のステップ〔３５〕からなる。
【００４５】
0003721672.tif 000002
【００４６】
0003721672.tif 000003
【００４７】
0003721672.tif 000004
【００４８】
0003721672.tif 000005
【００４９】
0003721672.tif 000006
【００５０】
なおこのステップ〔３５〕の演算で、値（LCC LT,LCC LB,LCC RT,LCC RB,LCC NS）は、それぞれ上述の所定の条件下でランディング補正を行った際の、上述の第１〜第５補正コイル３１〜３５に対して、それぞれ駆動回路２１〜２５を通じて地磁気及び環境温度等を補正するように所定の電流値で駆動するための、Ｄ／Ａ変換器１１〜１５に供給されるデジタル値の工場調整値、あるいはそれを使用者が変更した値である。
【００５１】
また、値（LCC K TEMP）は、後述する環境温度の変化に対する補正係数値、値（LCC K POL TEMP）はその極性である。値（LCC K EW C）は、後述する東西方向の方角の変化に対する補正係数値、値（LCC K POL EW C）はその極性である。値（LCC K NS C）は、後述する南北方向の方角の変化に対する補正係数値、値（LCC K POL NS C）はその極性である。
【００５２】
さらに、値（LCC K TDRI LT 〜RB）は、それぞれ後述する補正コイル３１〜３４の陰極線管の使用開始からの時間経過に対する補正係数値、値（LCC K POL TDRI）はその極性である。また、値（LCC K NS）は、後述する南北方向の方角の変化に対する補正係数値、値（LCC K POL NS）はその極性である。値（LCC K NS FOR ROT）は、後述するローテーションの変化に対する補正コイル３５の補正係数値、値（LCC K POL NS FOR ROT）はその極性である。
【００５３】
そしてこの演算によって、上述の第１〜第５補正コイル３１〜３５に対して、それぞれ駆動回路２１〜２５を通じて地磁気及び環境温度等を補正するように所定の電流値で駆動するための、Ｄ／Ａ変換器１１〜１５に供給される値（lcc lt,lcc lb,lcc rt,lcc rb,lcc ns）が形成される。なおこの演算で、値（lcc lt,lcc lb,lcc rt,lcc rb,lcc ns）は０〜２５５の値で求められる。
【００５４】
従ってこの装置において、地磁気の方向を検出する地磁気センサを設け、この地磁気センサで検出された検出値を用いて補正コイルに供給される電流値を決定するような補正をソフトウェアによって実現することによって、環境温度が変化した場合や、地磁気の方向が変化した場合、長時間使用した場合にも、自動的に補正コイルに供給される電流値の調整が行われて、常に良好なランディング補正を行うことができる。
【００５５】
これによって、従来の装置では、例えば地磁気の影響に対するランディング補正の調整値の変更を行う場合に特別な測定装置や専門的な知識が要求され、特に高精細陰極線管の使用されたディスプレイ装置では、容易に設置や移動を行うことができなかったものを、本発明によれば専門的な知識を持たない使用者であっても、ディスプレイ装置の設置や移動を容易に行うことができるものである。
【００５６】
さらに上述の装置において、演算に用いられる各補正係数値は、例えば以下のようにして求めることができる。なお、以下の説明では、コンピュータディスプレイ装置に適用した場合の実施例を示している。
【００５７】
すなわちこの場合に、例えばＤ／Ａ変換器１１〜１４に供給されるデジタル値が大きくされたときの表示面に生じるランディングの変化が、図１１のＡの矢印Ｆの向きとなるように補正コイル３１〜３４が取り付けられる。また、Ｄ／Ａ変換器１５に供給されるデジタル値が大きくされたときの表示面に生じるランディングの変化が、図１１のＢの矢印Ｆの向きとなるように補正コイル３５が取り付けられる。
【００５８】
またこの場合に、例えば駆動回路２１〜２５によって形成される駆動電流値の変化が、デジタル値の±１の変化に対して±１．０ｍＡとなるように回路設計がなされているものとする。
【００５９】
この場合に、補正コイル３１〜３４によって生じるランディングの変化は、計測の結果、デジタル値の±１の変化に対して１．０μｍであり、また補正コイル３１、３２の間、及び３３、３４の間で相互に生じるランディングの変化は、デジタル値の±１の変化に対して０．５μｍである。また、補正コイル３５によって生じるランディングの変化は、同じくデジタル値の±１の変化に対して１．０μｍであった。
【００６０】
そしてこの実施例において、例えば環境温度の変化に対する補正係数値（LCC K TEMP）は以下のようにして得ることができる。
【００６１】
すなわち上述の装置において、環境温度が２５°Ｃの状態を基準としてランディング補正が行われている場合に、環境温度が低下したときのランディングは、画面の左側は左に、右側は右に変化され、例えば環境温度が１０°Ｃの状態でその変化量は１５μｍであった。また環境温度が上昇したときのランディングは、画面の左側は右に、右側は左に変化され、例えば環境温度が４０°Ｃの状態でその変化量は１５μｍであった。
【００６２】
そこでこのランディングの変化は、補正コイル３１〜３４で補正することができ、そのためには環境温度が低下したときには図１２のＡ、また環境温度が上昇したときには図１２のＢに示すような補正が得られればよい。なおこの場合に、各補正コイル３１〜３４での補正量は相互間で同じ方向に働くため、デジタル値の±１の変化に対して１．０＋０．５＝１．５μｍとなる。従って上述の１５μｍの変化量を得るためには、デジタル値の±１０の変化が必要である。
【００６３】
一方、上述の装置において温度センサ３で検出される環境温度の検出電圧（ＶＴＥＭＰ）のデジタル値は、例えば２５°Ｃでの値（LCC TEMP）は１００であり、１０°Ｃの状態では９０、４０°Ｃの状態では１１０であって、その変化はデジタル値１０であった。
【００６４】
従って上述のステップ〔３５〕の演算式で、
（補正のためのデジタル値）＝（LCC K TEMP）×（vtemp delta ）／１２８
とするためには、補正係数値（LCC K TEMP）を１２８とすることによって、補正を行うことができるものである。なお、この場合の補正電流値は、最大±１０．０ｍＡである。
【００６５】
またこの実施例において、例えば東西方向の方角の変化に対する補正係数値（LCC K EW C）は以下のようにして得ることができる。
【００６６】
すなわち上述の装置において、０磁界の状態を基準としてランディング補正が行われている場合に、装置を東に向けたときのランディングは、画面の左上は左に、左下は右に、右上は右に、右下は左に変化され、真東に向いた状態でその変化量は１０μｍであった。また装置を西に向けたときのランディングは、画面の左上は右に、左下は左に、右上は左に、右下は右に変化され、真西に向いた状態でその変化量は１０μｍであった。
【００６７】
そこでこのランディングの変化は、例えば補正コイル３１〜３４で補正することができ、そのためには東に向いたときには図１３のＡ、また西に向いたときには図１３のＢに示すような補正が得られればよい。なおこの場合に、各補正コイル３１〜３４での補正量は相互間で逆の方向に働くため、デジタル値の±１の変化に対して１．０−０．５＝０．５μｍとなる。従って上述の１０μｍの変化量を得るためには、デジタル値の±２０の変化が必要である。
【００６８】
一方、上述の装置において地磁気センサ２で検出されるＸ軸の地磁気の検出電圧Ｖｘのデジタル値は、例えば図２に示したように、０磁界での値（LCC VX）は１００であり、真東に向いた状態では１４０、真西に向いた状態では６０であって、その変化はデジタル値４０であった。
【００６９】
従って上述のステップ〔３５〕の演算式で、
（補正のためのデジタル値）＝（LCC K EW C）×（vx delta）／１２８
とするためには、補正係数値（LCC K EW C）を６４とすることによって、補正を行うことができるものである。なお、この場合の補正電流値は、最大±２０．０ｍＡである。
【００７０】
さらにこの実施例において、例えば南北方向の方角の変化は、補正コイル３５、もしくは補正３１〜３４、あるいはこれら２つの組み合わせという３つの方法で補正することができる。そこでそれぞれの補正方法に対する補正係数値（LCC K NS）と（LCC K NS C）は以下のようにして得ることができる。
【００７１】
すなわち上述の装置において、０磁界の状態を基準としてランディング補正が行われている場合に、装置を南に向けたときのランディングは、画面の上側は右に、下側は左に変化され、真南に向いた状態でその変化量は１０μｍであった。また装置を北に向けたときのランディングは、画面の上側は左に、下側は右に変化され、真北に向いた状態でその変化量は１０μｍであった。
【００７２】
そこでこのランディングの変化は、補正コイル３５で補正することができ、そのためには南に向いたときには図１４のＡ、また北に向いたときには図１４のＢに示すような補正が得られればよい。またこの場合に、補正コイル３５での補正量はデジタル値の±１の変化に対して１．０μｍである。従って上述の１０μｍの変化量を得るためには、デジタル値の±１０の変化が必要である。
【００７３】
また、補正コイル３１〜３４での補正量は、相互間で逆方向に働くため、デジタル値の±１の変化に対して１．０−０．５＝０．５μｍとなる。従って上述の１０μｍの変化量を得るためには、デジタル値の±２０の変化が必要である。
【００７４】
一方、上述の装置において地磁気センサ２で検出されるＹ軸の地磁気の検出電圧Ｖｙのデジタル値は、例えば図２に示したように、０磁界での値（LCC VY）は１００であり、真南に向いた状態では１４０、真北に向いた状態では６０であって、その変化はデジタル値４０であった。
【００７５】
従って上述のステップ〔３５〕の演算式で、
（補正のためのデジタル値）＝（LCC K NS）×（vy delta）／１２８
とするためには、補正係数値（LCC K NS）を３２とすることによって、補正を行うことができるものである。なお、この場合の補正電流値は、最大±１０．０ｍＡである。
【００７６】
また、上述のステップ〔３５〕の演算式で、
（補正のためのデジタル値）＝（LCC K NS C）×（vy delta）／１２８
とするためには、補正係数値（LCC K NS C）を６４とすることによって、補正を行うことができるものである。なお、この場合の補正電流値は、最大±２０．０ｍＡである。
【００７７】
さらに上述の装置において、陰極線管の使用開始からの３０分の状態を基準としてランディング補正が行われている場合に、使用開始直後（０分）のときのランディングは、画面の左側は右に、右側は左に変化され、その変化量は１５μｍであった。また装置を使用開始から１８０分後のときのランディングは、画面の左側は左に、右側は右に変化され、その変化量は１５μｍであった。
【００７８】
そこでこのランディングの変化は、補正コイル３１〜３４で補正することができ、そのためには使用開始から３０分以前のときには図１５のＡ、また３０分経過後のときには図１５のＢに示すような補正が得られればよい。またこの場合に、補正コイル３１〜３４での補正量はデジタル値の±１の変化に対して１．５μｍであるから、このときの補正電流値は±１０．０ｍＡである。
【００７９】
この場合に、陰極線管の使用開始からの経過時間によるランディングの変化は、例えばアパーチャグリルの熱膨張等によって生じるものであるが、この変化は非直線的なものである。そこでこの経過時間による変化を補正するために補正係数値（LCC K TDRI LT 〜RB）と（TDRI REF）を用いることよって上述の演算が行われている。
【００８０】
また、補正コイル３５を流れる電流による検出電圧Ｖｙへの影響を補正するための補正係数値（LCC K VY NS ）は計測によって、例えば上述の実施例では値８０に定められる。さらに補正コイル３５を流れる電流の変化に対するローテーションの補正係数値（LCC K ROT FOR NS）は計測によって、例えば上述の実施例では値６４に定められる。
【００８１】
さらに、ローテーションの変化に対する補正コイル３５の補正係数値（LCC K NS FOR ROT）、補正コイル３１〜３４における南北方向の方角の変化に対する補正係数値（LCC K NS C）は計測によって、例えば上述の実施例では値０に定められる。しかしながらこれらの補正係数値も、対象とされる装置の構成によっては必要となるものである。
【００８２】
また、各補正係数値の極性を示す値（LCC K POL TEMP, LCC K POL EW C, LCC K POL NS C, LCC K POL NS, LCC K POL TDRI, LCC K POL NS FOR ROT, LCC K POL VY NS, LCC K POL ROT FOR NS ）も、上述の実施例では演算式によって全て＋となるようにしたが、これらの極性の値を用いて演算が行われるようにしてもよい。
【００８３】
さらに上述の装置では、ソフトウェア上で（ＲＥＭＯＴＥ）（ＬＣＣ  ＥＮＡＢＬＥ）（ＴＥＭＰ  ＥＮＡＢＬＥ）（ＭＩ  ＥＮＡＢＬＥ）（ＴＤＲＩ  ＥＮＡＢＬＥ）等が判断されることによって、全体の補正のオンオフや、環境温度や地磁気、使用経過時間等による補正を選択的に実行することができる。
【００８４】
また上述の装置において、地磁気センサ２は例えば陰極線管の偏向ヨークの真下に設置される。その場合に、偏向ヨークで発生される交流磁界の影響は、アルミシールド等を設けることによって除去される。また、補正コイル３５の補正磁界による影響は、上述のサブルーチン〔get vxy delta 〕のステップ〔２２〕の演算によって除去されているものである。
【００８５】
さらに上述の装置においては、例えば演算に用いる各補正係数値及び極性をメモリ１に記憶させることによって、これらの記憶値を任意に変更することが可能である。これによって補正量の変更を容易に行うことができる。また、工場での調整値をオフセットとして持ち、演算においては変化分を使用しているので、装置やセンサ等のばらつきをこの演算によって吸収することができる。なお、補正コイルのばらつきを含めた陰極線管の個体差による変動は、上述のサブルーチン〔calc lcc〕において、LCC LT、LB、RT、RB、NSに工場調整値を入力することによって、吸収することができる。
【００８６】
また上述の装置においては、センサの検出電圧に対してＡ／Ｄ変換のずれの許容値を設定し、また複数の検出値の平均を取ることによってデジタルフィルタを構成しているので、動作の安定性を得ることができる。さらに、デガウス時には各補正コイルに供給される電流値を０にすることによって、良好なデガウス処理が行われるものである。
【００８７】
こうして上述の陰極線管の補正装置によれば、陰極線管に設けられる補正手段であって、陰極線管が置かれる環境の変化の影響を抑えるための調整が行われる補正手段と、環境の変化を検出する検出手段としての地磁気の方向に応じた検出値を出力する地磁気センサおよび温度を検出する温度センサと、陰極線管の使用開始からの時間を検出する時定数回路と、予め基準となる条件下における地磁気センサ、温度センサおよび時定数回路の出力を基準値として記憶する記憶手段と、陰極線管が設置された環境における検出手段および時定数回路の検出値から記憶手段に記憶されたそれぞれの基準値を減算して調整値を決定する演算手段と、演算手段により求められた調整値に基づく調整を補正手段に対して行う駆動回路とを備えることにより、地磁気の方向が変化した場合にも自動的に補正コイルに供給される電流値の調整が行われて、常に良好な補正を行うことができるものである。
【００８８】
【発明の効果】
この発明によれば、地磁気の方向を検出する地磁気センサを設け、この地磁気センサで検出された検出値を用いて補正コイルに供給される電流値を決定するような補正をソフトウェアにより実現することによって、環境温度が変化した場合や、地磁気の方向が変化した場合、長時間使用した場合にも、自動的に補正コイルに供給される電流値の調整が行われて、常に良好なランディング補正を行うことができるようになった。
【００８９】
これによって、従来の装置では、例えば地磁気の影響に対するランディング補正の調整値の変更を行う場合に特別な測定装置や専門的な知識が要求され、特に高精細陰極線管の使用されたディスプレイ装置では、容易に設置や移動を行うことができなかったものを、本発明によれば専門的な知識を持たない使用者であっても、ディスプレイ装置の設置や移動を容易に行うことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の適用されるランディング補正装置の一例の構成図である。
【図２】地磁気センサの説明のための図である。
【図３】本発明の適用されるランディング補正装置の補正コイルの配置を示す構成図である。
【図４】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図５】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図６】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図７】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図８】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図９】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図１０】本発明の動作の説明のためのフローチャート図である。
【図１１】本発明の補正係数値の説明のための図である。
【図１２】本発明の補正係数値の説明のための図である。
【図１３】本発明の補正係数値の説明のための図である。
【図１４】本発明の補正係数値の説明のための図である。
【図１５】本発明の補正係数値の説明のための図である。
【図１６】従来のランディング補正装置の補正コイルの配置を示す構成図である。
【図１７】従来のランディング補正装置の構成図である。
【符号の説明】
１  メモリ、２  地磁気センサ、３  温度センサ、４  時定数回路、５  マイクロコンピュータ、６〜９  Ａ／Ｄ変換器、１０  中央処理装置（ＣＰＵ）、１１〜１６  Ｄ／Ａ変換器、２１〜２６  駆動回路、３１〜３６  補正コイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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