(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体において、
前記ヘッダ領域の位置は半径方向について揃っており、前記ヘッダ領域には、光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンが互いに隣接するトラックのそれぞれに形成されるとともに、これら互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみが記録されており、前記長マークパターン同士が、半径方向において互いに異なる位置に配置されていることを特徴とする光磁気記録媒体。
【請求項２】
前記ヘッダ領域には、光ビームの再生パワーを制御するための、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、前記長マークパターンと前記短マークパターンの配置順が隣接トラックにおいて逆の順序で形成されていることを特徴とする請求項１記載の光磁気記録媒体。
【請求項３】
記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体において、
前記ヘッダ領域には、再生パワー制御用の短マークパターンが形成され、上記データ記録領域は、複数に区切られた情報データと前記情報データの間に挿入されたリシンク領域とから構成され、
上記リシンク領域の位置は半径方向について揃っているとともに、
上記リシンク領域には、再生パワー制御用の長マークパターンと、リシンクパターンを固有にするための短マークパターンを形成し、互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンが記録されており、前記長マークパターン同士が、半径方向において互いに異なる位置に配置されていることを特徴とする光磁気記録媒体。
【請求項４】
前記リシンク領域の前記長マークパターンと前記短マークパターンとの配列順が、隣接トラックにおいて逆の順序で形成されている特徴とする請求項３に記載の光磁気記録媒体。
【請求項５】
記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体に、光ビームの再生パワーを制御するための記録マークをヘッダ領域に記録する機能を有した光磁気記録再生装置において、
アドレス領域からアドレス情報を取得してセクタを確認し、セクタに対応するヘッダパターンを半径方向について揃った位置に出力するヘッダパターン生成手段を有し、
前記ヘッダパターン生成手段は、光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンを互いに隣接するトラックのそれぞれに形成するとともに、これら互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみを記録し、前記長マークパターン同士を、半径方向において互いに異なる位置に配置することを特徴とする光磁気記録再生装置。
【請求項６】
前記ヘッダパターン生成手段は、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、短マークパターンが記録された部分の隣には長マークパターンが、長マークパターンが記録された部分の隣には短マークパターンが記録されるように、短マークパターンと長マークパターンの出力順を隣接トラックにおいて逆の順序で出力することを特徴とする請求項５に記載の光磁気記録再生装置。
【請求項７】
記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生が可能となる光磁気記録媒体を記録するに際して、
アドレス領域からアドレス情報を取得するステップと、
前記アドレス情報を基にセクタを判別するステップと、
前記セクタに対応するヘッダパターンを半径方向について揃った位置に出力するステップと、
前記ヘッダパターンを光磁気記録媒体のヘッダ領域に光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンを互いに隣接するトラックのそれぞれに記録するステップを有し、
前記ヘッダパターンは、互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみが記録されており、前記長マークパターン同士を、半径方向において互いに異なる位置に配置することを特徴とする光磁気記録方法。
【請求項８】
前記ヘッダパターンは、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、短マークパターンが記録された部分の隣には長マークパターンが、長マークパターンが記録された部分の隣には短マークパターンが記録されるように、短マークパターンと長マークパターンの出力順を隣接トラックにおいて逆の順序であることを特徴とする請求項７に記載の光磁気記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気的超解像の光磁気記録媒体、光磁気記録再生装置及び光磁気記録方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、記録層と面内磁化を有する再生層とを備えた光磁気ディスクに、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分（以下、検出口またはアパーチャという）の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、光ビームのスポット径よりも小さい記録マークの再生を可能とする磁気的超解像方式が知られている。
【０００３】
この方式においては、光ビームを発生させる駆動電流を一定に保っていても、再生時の環境温度の変化に応じて光ビームの最適な再生パワーが変動してしまうことがある。
【０００４】
そして、再生パワーが強くなり過ぎるとアパーチャが大きくなり過ぎて、隣接するトラックからの再生信号の出力が増大し、再生されるデータに含まれる雑音信号の割合が多くなって、読み取りエラーの発生する確率が高くなる。また、再生パワーが弱くなり過ぎると、記録マークよりもアパーチャが小さくなるとともに、読み取ろうとしているトラックからの再生信号の出力も小さくなって、やはり読み取りエラーの発生確率が高くなる。
【０００５】
そこで、特開平８−６３８１７号公報には、光磁気ディスク上の２種類の異なる長さの記録マークを再生し、それらの再生信号の比が所定値に近づくように再生パワーを制御することによって、再生パワーを常に最適値に保持し、読み取りエラーの発生確率を減少させることが開示されている。
【０００６】
上記開示内容を説明するために、図１２に装置の概略構成図を示し、図１３に、図１２の光磁気ディスク３０の模式的構造図を示す。
【０００７】
まず、光磁気ディスクについて説明すると、図１３において、セクタ３００は、セクタの位置を示すアドレス領域３０１と、再生パワー制御用の記録マークとして短マークの繰り返しパターンと長マークの繰り返しパターンが記録された再生パワー制御用領域３０２と、デジタルデータを記録するデータ記録領域３０３とからなっている。
【０００８】
なお、ここで、長マークとは検出口の径よりも長いマークのことであり、短マークとは検出口の径よりも短いマークのことである。
【０００９】
次に、再生処理について説明すると、図１２において、半導体レーザ２からの出射光は、光磁気ディスク３０上のセクタ３００のアドレス領域３０１に到達すると、セクタアドレスを認識する。続いて出射光が再生パワー制御用領域３０２に照射されると、その領域に記録された短マーク及び長マークの繰り返しパターンからの反射光がフォトダイオード３によって再生信号に変換される。再生信号は振幅比検出回路４に入力され、検出された振幅比と目標振幅比が差動増幅器５によって比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるように、レーザパワー制御回路６が半導体レーザ２の駆動電流を制御する。
【００１０】
このようにして、最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光の駆動電流が制御された後、出射光はデータ記録領域３０３に照射され、読み出された再生信号が再生データ処理回路７に入力されて、エラーレートの低い再生情報データが出力される。
【００１１】
そして、出射光が次のセクタに到達すると、同様の処理が繰り返されて、新たに最適な再生パワーに設定し直される。
【００１２】
このように、再生パワー制御用の記録マークの記録領域をセクタ毎に分散して設けて、セクタ毎に再生パワー制御のための再生信号量を検出することにより、短い時間間隔で再生パワー制御が応答し、最適再生パワーの短時間の変動に追従することが可能となる。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
上述の磁気的超解像方式の光磁気再生では、記録媒体に記録された磁気と光ビームによる温度上昇に基づいて信号を読み出すという性質上、外部からの磁界の影響を受けやすい。すなわち、同じ長さの記録マークを同じ再生パワーで再生した信号の振幅値が、そこにかかる外部磁界の強弱によって変化する可能性がある。
【００１４】
外部磁界の原因としては、光学ヘッドのアクチュエータからの漏れ磁界等があるが、再生対象の記録マークの周辺に記録された記録マークからの磁界の影響も考えなくてはならない。
【００１５】
この周辺記録マークからの磁界の強さは、再生対象マークと周辺記録マークの大きさと極性の関係によって決まるので、磁気的超解像方式の光磁気再生においては、隣接トラックに記録される記録マークの種類によって再生信号の振幅値が変化し得る。
【００１６】
図１４に、再生対象トラックの両隣接トラックに記録マークがない場合と、再生対象トラックの記録マークと同じ長さの記録マークが両隣接トラックに記録された場合とについて、それぞれ再生パワーの変化に対する長短マーク（２Ｔパターンと８Ｔパターン）の振幅値を実測した結果のグラフを示す。ここで、横軸が再生パワーを表し、縦軸が振幅値（ピーク・トゥ・ピーク値）を表している。
【００１７】
この結果から、短マーク同士を隣接させた場合の振幅値は隣接の有無による影響をほとんど受けないが、長マーク同士を隣接させた場合は振幅値が大きく減少していることが分かる。
【００１８】
また、図１５に、上記２通りの場合における、再生パワーの変化に対する長短マークの振幅比（２Ｔ振幅値／８Ｔ振幅値）を示す。これは図１４の結果から求めたものであり、横軸が再生パワーを示し、縦軸が振幅比を示している。
【００１９】
この結果から、長マーク同士を隣接させた場合に、隣接に記録マークが無い場合と比べて振幅比が大きく変化していることが分かる。これは、長マーク同士を隣接させると、光磁気ディスクの再生層にかかる外部磁界が変化し、アパーチャ径が変化してしまうからである。
【００２０】
よって、同じ目標振幅比に対し、隣接無の状態で制御した場合に比べて、隣接有の状態で制御した場合には、より大きな再生パワーに制御されてしまうことになる。図１５のグラフに基づけば、目標振幅比を０．５とすると、隣接無だと２．４ｍＷになるが、隣接有では２．５ｍＷになる。
【００２１】
従って、隣接無の状態を基準として再生信号が最適な信号品質となるような振幅比を目標振幅比として決めた場合、隣接有の状態ではその目標振幅比になるように制御しても最適な再生パワーからずれたパワーになってしまう危険性がある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光磁気記録媒体は、上記課題の解決を目的としてなされたものであって、記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体において、前記ヘッダ領域の位置は半径方向について揃っており、前記ヘッダ領域には、光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンが互いに隣接するトラックのそれぞれに形成されるとともに、これら互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみが記録されており、前記長マークパターン同士が、半径方向において互いに異なる位置に配置されていることを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の光磁気記録媒体は、前記ヘッダ領域には、光ビームの再生パワーを制御するための、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、前記長マークパターンと前記短マークパターンの配置順が隣接トラックにおいて逆の順序で形成されていることを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の光磁気記録媒体は、記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体において、前記ヘッダ領域には、再生パワー制御用の短マークパターンが形成され、上記データ記録領域は、複数に区切られた情報データと前記情報データの間に挿入されたリシンク領域とから構成され、上記リシンク領域の位置は半径方向について揃っているとともに、上記リシンク領域には、再生パワー制御用の長マークパターンと、リシンクパターンを固有にするための短マークパターンを形成し、互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンが記録されており、前記長マークパターン同士が、半径方向において互いに異なる位置に配置されていることを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の光磁気記録媒体は、前記リシンク領域の前記長マークパターンと前記短マークパターンとの配列順が、隣接トラックにおいて逆の順序で形成されていることを特徴とする光磁気記録媒体である。また、前記リシンク領域の前記長マークパターンと前記短マークパターンとの配列順が、隣接トラックにおいて逆の順序で形成されていることを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の光磁気記録再生装置は、記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生を可能とし、かつアドレス領域と、ヘッダ領域と、デジタルデータを記録するデータ記録領域とを備えたセクタを有する光磁気記録媒体に、光ビームの再生パワーを制御するための記録マークをヘッダ領域に記録する機能を有した光磁気記録再生装置において、アドレス領域からアドレス情報を取得してセクタを確認し、セクタに対応するヘッダパターンを半径方向について揃った位置に出力するヘッダパターン生成手段を有し、前記ヘッダパターン生成手段は、光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンを互いに隣接するトラックのそれぞれに形成するとともに、これら互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみを記録し、前記長マークパターン同士を、半径方向において互いに異なる位置に配置することを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の光磁気記録再生装置は、前記ヘッダパターン生成手段は、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、短マークパターンが記録された部分の隣には長マークパターンが、長マークパターンが記録された部分の隣には短マークパターンが記録されるように、短マークパターンと長マークパターンの出力順を隣接トラックにおいて逆の順序で出力することを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の光磁気記録方法は、記録層と面内磁化を有する再生層とを備え、再生層側から光ビームを照射して、照射領域内で所定の温度以上に温度が上昇した部分の再生層のみが、対応する記録層の磁性が転写されて面内磁化から垂直磁化に移行することにより、記録される記録マークの再生が可能となる光磁気記録媒体を記録するに際して、アドレス領域からアドレス情報を取得するステップと、前記アドレス情報を基にセクタを判別するステップと、前記セクタに対応するヘッダパターンを半径方向について揃った位置に出力するステップと、前記ヘッダパターンを光磁気記録媒体のヘッダ領域に光ビームの再生パワーを制御するための長マークパターンを互いに隣接するトラックのそれぞれに記録するステップを有し、前記ヘッダパターンは、互いに隣接する各トラックにおいて、前記長マークパターンが記録された部分の隣には前記短マークパターンのみが記録されており、前記長マークパターン同士を、半径方向において互いに異なる位置に配置することを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の光磁気記録方法は、前記ヘッダパターンは、前記長マークパターンに加えて短マークパターンが形成され、短マークパターンが記録された部分の隣には長マークパターンが、長マークパターンが記録された部分の隣には短マークパターンが記録されるように、短マークパターンと長マークパターンの出力順を隣接トラックにおいて逆の順序であることを特徴とする。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、図をもとに本発明について詳細に説明する。
【００３１】
［実施例１］
以下、図１乃至図６をもとに実施例１について説明する。
【００３２】
図１は実施例１の磁気的超解像方式の光磁気ディスク記録再生装置の構成図であり、図２は図１の光磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【００３３】
まず、本実施例の光磁気ディスクについて説明する。この光磁気ディスクはランドトラックとグルーブトラックの両方にデータの記録を行うランドグルーブ記録方式のディスクである。
【００３４】
図２に示すように、本実施例の光磁気ディスクを構成する最小の記録単位であるセクタ１００、１０１は、セクタがランド上にあるかグルーブ上にあるかを示す情報を含む、セクタの位置を示すアドレス領域１０２、１０５と、再生クロックの位相を調整するための単一マークの繰り返しパターンからなる再生位相設定用パターンに加え、再生パワー制御用の記録マークとして短マークの繰り返しパターンと長マークの繰り返しパターンが記録されたヘッダ領域１０３、１０６と、デジタルデータを記録するデータ記録領域１０４、１０７とからなっている。
【００３５】
なお、ここで、長マークとは検出口の径よりも長いマークのことであり、短マークとは検出口の径よりも短いマークのことである。
【００３６】
また、セクタ１００、１０１の位置は半径方向について揃った形態となっている。
【００３７】
次に、本実施例の光磁気ディスク記録再生装置について説明する。この光磁気ディスク記録再生装置は、図１に示すように、従来装置同様に 半導体レーザ２、フォトダイオード３、振幅比検出回路４、差動増幅器５、レーザパワー制御回路６、再生データ処理回路７を備え、さらに、バッファメモリ８、ヘッダパターンを生成するヘッダパターン生成回路９、バッファメモリ８からの記録情報データとヘッダパターン生成回路９からのヘッダパターンとを切り替えて記録パターンを出力する記録データ処理回路１０、記録パターンに対応した磁界を発生する磁気ヘッド１１が設けられている。
【００３８】
次に、図３にヘッダパターン生成回路９が発生するヘッダパターンを示す。図３（ａ）はランド用ヘッダパターンであり、図３（ｂ）はグルーブ用ヘッダパターンである。
【００３９】
両者とも頭の部分は、再生クロックの位相を調整するための単一マークの繰り返しパターンからなる再生位相設定用パターン１１１となっている。ランド用パターンではこの後ろに短マークパターン１１２として２Ｔマークの繰り返し、続いて長マークパターン１１３として８Ｔマークの繰り返しが付加されている。一方、グルーブ用パターンでは再生位相設定用パターン１１１の後ろに長マークパターン１１３と短マークパターン１１２が逆の順序で付加されている。
【００４０】
ヘッダパターン生成回路９は、現在のトラックがランドトラックであるかグルーブトラックであるかをセクタのアドレス情報から認識し、上記２種類のパターンを切り替えて出力する。
【００４１】
次に、本実施例の光磁気ディスク記録再生装置の記録動作について詳細に説明する。
【００４２】
半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク１上のセクタ１００、１０１のアドレス領域１０２、１０５に到達して、認識したアドレス情報から記録対象セクタであることが確認されると、レーザパワー制御回路６が記録用の高パワーで半導体レーザ２を出射し、セクタ１００、１０１の記録が開始される。
【００４３】
ヘッダパターン生成回路９はセクタ１００、１０１がランド上であるかグルーブ上であるかをアドレス情報から認識し、対応するヘッダパターンを出力する。
【００４４】
記録データ処理回路１０は、半導体レーザ２がセクタ１００、１０１のヘッダ領域１０３、１０６を照射している間は、ヘッダパターン生成回路９から入力されたヘッダパターンに基づいて磁気ヘッド１１を駆動してヘッダパターンを記録する。光磁気ディスク１上ではランドのセクタ１００とグルーブのセクタ１０１との位置が半径方向で揃っているので、ランドのヘッダ領域１０３に記録されたヘッダパターンとグルーブのヘッダ領域１０６に記録されたヘッダパターンの位置は半径方向で揃うことになる。一方、半導体レーザ２がデータ記録領域１０４、１０７を照射している間は、バッファメモリ８から入力された記録情報データに基づいて磁気ヘッド１１を駆動してデータを記録する。
【００４５】
以上のような記録動作によって記録されたランド上のセクタのヘッダ領域１０３、およびその両隣接のグルーブ上のセクタのヘッダ領域１０６の状態を図４に示す。図４（ａ）は両隣接のグルーブに何も記録されていない状態を示し、図４（ｂ）は両隣接のグルーブにセクタが記録された状態を示している。
【００４６】
図４（ｂ）から分かるように、両隣接トラックに記録されている場合、短マークパターン１１２が記録された部分の隣には長マークパターン１１３が、長マークパターン１１３が記録された部分の隣には短マークパターン１１２が、それぞれ記録されている。
【００４７】
図４（ａ）の隣接無の場合や図４（ｂ）の隣接有の場合のように記録されたそれぞれのセクタについて、再生パワーの変化に対する長短マーク（２Ｔパターンと８Ｔパターン）の振幅値を実測した結果を図５に示す。ここで、横軸が再生パワーを表し、縦軸が振幅値（ピーク・トゥ・ピーク値）を表している。
【００４８】
この結果から、短マーク、長マーク共に、両隣接トラックの記録の有無による差はほとんど見られなくなっていることが分かる。これは、電磁気学の立場から、単位面積当たりの磁極の反転回数が多い領域ほど磁界が強くなるという現象に起因すると考えることができる。
【００４９】
また、図６に、上記２通りの場合における、再生パワーの変化に対する長短マークの振幅比（２Ｔ振幅値／８Ｔ振幅値）を示す。これは図５の結果から求めたものである。横軸が再生パワーを示し、縦軸が振幅比を示している。この結果から、隣接トラックの記録の有無によって振幅比はほとんど変化していないことが分かる。
【００５０】
このように記録されたセクタに対して、従来と同様の再生動作を行うと、ヘッダ領域から検出される振幅比が隣接トラックの記録の有無によって影響を受けないため、常に精度よく最適な再生パワーでデータ領域の再生を行うことができる。
【００５１】
なお、ここでは、セクタの位置がすべて半径方向について揃った形態の光磁気ディスクを用いて説明したが、ヘッダ領域の位置が半径方向について揃っていればよい。
【００５２】
［実施例２］
以下、図７乃至図１１をもとに実施例２について説明する。
【００５３】
図７は実施例２の磁気的超解像方式の光磁気ディスク記録再生装置の構成図であり、図８は図７の光磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【００５４】
まず、本実施例の光磁気ディスクについて説明する。この光磁気ディスクはランドトラックとグルーブトラックの両方にデータの記録を行うランドグルーブ記録方式のディスクである。
【００５５】
図８に示すように、本実施例の光磁気ディスクを構成する最小の記録単位であるセクタ２００、２０１は、セクタがランド上にあるかグルーブ上にあるかを示す情報を含む、セクタの位置を示すアドレス領域２０２、２０５と、ヘッダ領域２０３、２０６と、デジタルデータを記録するデータ記録領域２０４、２０７とからなっており、セクタ２００、２０１の位置は半径方向について揃った形態となっている。
【００５６】
さらに、セクタ２００、２０１のデータ記録領域２０４、２０７は、複数に区切られた情報データ２０９、２１１、２１３、２１５とその間に挿入されたリシンク（ＳＹ０Ｌ２０８、ＳＹ１Ｌ２１０、…，ＳＹ０Ｇ２１２、ＳＹ１Ｇ２１４、…）から構成される。
【００５７】
リシンクはデータ再生時の再同期に用いられるものであり、再生中に発生したビットシフトがセクタ全体に伝播するのを防ぐために、適当な長さの情報データ毎に挿入されている。各リシンクはそれぞれが固有のパターンとなっている。
【００５８】
次に、本実施例の光磁気ディスク記録再生装置について説明する。この光磁気ディスク記録再生装置は、図７に示すように、従来装置同様に 半導体レーザ２、フォトダイオード３、振幅比検出回路４、差動増幅器５、レーザパワー制御回路６、再生データ処理回路７を備え、さらに、バッファメモリ８、リシンクパターンを生成するリシンクパターン生成回路１２、バッファメモリ８からの記録情報データとリシンクパターン生成回路１２からのリシンクパターンを切り替えて記録パターンを出力する記録データ処理回路１３、記録パターンに対応した磁界を発生する磁気ヘッド１１が付加されている。
【００５９】
次に、図９にリシンクパターン生成回路１２が発生するリシンクパターンの数例を示す。図９（ａ）はランド用リシンクパターン（ＳＹ０Ｌ２０８、ＳＹ１Ｌ２１０、ＳＹｎＬ２１６）であり、図９（ｂ）はグルーブ用リシンクパターン（ＳＹ０Ｇ２１２、ＳＹ１Ｇ２１４、ＳＹｎＧ２１７）である。
【００６０】
どちらも再生パワー制御用マークの長マークパターンとして６Ｔが１周期分（１２ビット）含まれており、その他に個々のリシンクパターンを固有にするために、主に２Ｔ〜４Ｔの短いマークからなる区別可能な固有パターン（ＰＡＴｎＬ、ＰＡＴｎＧ）が含まれ、合わせて２４ビットで構成されている。リシンクパターン内での長マークパターンの位置は、ランドでは３ビット目から１４ビット目まで、グルーブでは１１ビット目から２２ビット目までとなっている。
【００６１】
リシンクパターン生成回路１２は、現在のトラックがランドトラックであるかグルーブトラックであるかをセクタのアドレス情報から認識し、上記２種類のパターンを切り替えて出力する。なお、再生パワー制御に必要な長マークは、アパーチャ径より大きいマークであればよいので、ここでは長マークとして８Ｔではなく６Ｔを用いている。
【００６２】
このようにリシンクパターンに再生パワー制御用の長マークパターンが含まれているため、図１０に示されるヘッダ領域２０３は、再生クロックの位相を調整するための再生位相設定用パターンと再生パワー制御用の短（２Ｔ）マークパターンのみの構成となる。よってヘッダ領域が短くなり、ディスクの利用効率が改善されている。
【００６３】
次に、本実施例の光磁気ディスク記録再生装置の記録動作について詳細に説明する。
【００６４】
半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク２０上のセクタ２００、２０１のアドレス領域２０２、２０５に到達して、認識したアドレス情報から記録対象セクタであることが確認されると、レーザパワー制御回路６が記録用の高パワーで半導体レーザ２を出射し、セクタ２００、２０１の記録が開始される。
【００６５】
リシンクパターン生成回路１２はセクタ２００、２０１がランド上であるかグルーブ上であるかをアドレス情報から認識し、対応するリシンクパターンを出力する。
【００６６】
記録データ処理回路１３は、半導体レーザ２がセクタ２００、２０１のヘッダ領域２０３、２０６を照射している間は、磁気ヘッド１１を駆動して図１０に示されるようなヘッダパターンを記録し、一方、半導体レーザ２がデータ記録領域２０４、２０７を照射している間は、バッファメモリ８から入力された記録情報データを一定長毎に区切って、その間にリシンクパターン生成回路１２から入力されたリシンクパターンを挿入しながら情報データを記録する。光磁気ディスク２０上ではランドのセクタ２００とグルーブのセクタ２０１の位置が半径方向に揃っており、かつリシンクパターンはデータ記録領域に一定間隔で挿入されていくので、ランドのデータ記録領域２０４に記録されたリシンクパターン２０８、２１０、・・・と、グルーブのデータ記録領域２０７に記録されたリシンクパターン２１２、２１４、・・・の位置はそれぞれ半径方向で揃うようになる。
【００６７】
以上のような記録動作によって記録されたランド及びその両隣接のグルーブ上のセクタのデータ記録領域２０４、２０７中のリシンクの状態を図１１に示す。図１１（ａ）は両隣接のグルーブトラックに何も記録されていない状態示し、図１１（ｂ）は両隣接のグルーブトラックにセクタが記録された状態を示している。
【００６８】
図１１から分かるように、両隣接トラックに記録されている場合、長マークパターンが記録された部分の隣には必ず短いマークが記録されている。従来例および実施例１にて挙げた、再生パワーの変化に対する長短マークの振幅値の実測結果から、短マークは隣接トラックの記録の有無によってほとんど影響を受けないこと、長マークは隣接に長マークが記録された時に大きく影響を受けるが、隣接に短マークが記録された時にはあまり影響を受けないこと、が分かっているので、本実施例においても短マーク、長マーク共に、隣接記録の有無による振幅値の変化はほとんどなく、よって振幅比もほとんど変化しない。
【００６９】
このように記録されたセクタに対する再生動作について詳細に説明する。
【００７０】
図７において、半導体レーザ２からの出射光は、光磁気ディスク２０上のセクタ２００のアドレス領域２０２に到達すると、セクタアドレスを認識する。続いて出射光がヘッダ領域２０３に照射されると、この領域に記録された短マーク（２Ｔ）パターンからの反射光がフォトダイオード３によって再生信号に変換され、振幅比検出回路４に入力されて短マークの振幅値が検出される。
【００７１】
続いて、出射光がデータ記録領域２０４に照射されて読み出された再生信号のうち、リシンクパターンからの再生信号については振幅比検出回路４に入力されると同時に再生データ処理回路７にも入力される。振幅比検出回路４は、各リシンクパターンの再生信号から長マークの振幅値を抽出すると、各振幅値を蓄積していき、セクタ内の各リシンクから抽出した全ての長マークの振幅値を平均化して、セクタ全体での長マークの振幅値として検出する。そして、先にヘッダ領域２０３から検出した短マークの振幅値と合わせて、これらの比を計算して検出振幅比を出力する。ここで求められる検出振幅比は、セクタ２００に隣接するグルーブトラックに記録データがあってもなくても、ほとんど変化しないことは上記にて説明した通りである。この検出振幅比が差動増幅器５によって目標振幅比と比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるように、レーザパワー制御回路６が半導体レーザ２の駆動電流を制御する。
【００７２】
一方、再生データ処理回路７は、入力されたリシンクパターンの再生信号によって再同期をかけながら、リシンクパターンと交互に入力される情報データからの再生信号の再生処理を行って、エラーレートの低い再生情報データとして出力し、バッファメモリ８に記憶していく。
【００７３】
このように、検出される振幅比が隣接トラックの記録の有無によって影響を受けないため、常に精度よく最適な再生パワーでデータ領域の再生を行うことができる。
【００７４】
なお、ここでは、セクタの位置がすべて半径方向について揃った形態の光ディスクを用いて説明したが、本発明の趣旨はリシンクが半径方向について揃っていればよいので、セクタの位置がリシンク挿入間隔の単位で半径方向についてずれた形態であってもよい。
【００７５】
また、ここでは、短マークをヘッダ領域に記録するフォーマットの例を用いて説明したが、これに限らず、リシンク長を長くして短マークも含めてしまう方法なども考えられる。本発明の趣旨は、長マーク同士が隣接し合わないようにすることであるため、短マークの記録方法については、なんら限定するものではない。
【００７６】
なお、以上の実施例１および２においては、再生パワーの制御を行うのに、短マークと長マークの２種類のマーク長のパターンを用いる場合で説明したが、本発明の要旨は長マーク同士が隣接し合わないようにすることであるため、マークの種類の数はいくつであっても構わない。つまり、本発明は長マークのみを用いて再生パワーを制御する場合においても効果があることは言うまでもない。
【００７７】
また、上記実施例では、長マークをヘッダ領域またはデータ記録領域のリシンクパターンに記録したが、これに限定されるものではない。
【００７８】
以上のように、本発明では、記録層と再生層とを有する磁気的超解像の光磁気記録媒体であって、光ビームの再生パワーを制御するための、光ビームを再生層に照射することにより照射範囲内に発生した検出口の径よりも長い記録マークが、半径方向において隣接トラック間で互いに異なる位置に記録されているので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【００７９】
また、本発明では、前記記録マークがヘッダ領域に記録されているので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【００８０】
また、本発明では、前記記録マークが情報データ領域のリシンクパターン内に記録されているので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。また、リシンクパターンに記録マークを含めるので、記録媒体の利用効率の改善が可能となる。
【００８１】
また、本発明では、記録層と再生層とを有する磁気的超解像の光磁気記録媒体に、光ビームの再生パワーを制御するための、光ビームを再生層に照射することにより照射範囲内に発生した検出口の径よりも長い記録マークを、半径方向において隣接トラック間で互いに異なる位置に記録する記録手段を備えるので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【００８２】
また、本発明では、前記記録手段は、隣接トラック間で異なる記録マークのパターンを生成する手段と、前記光磁気記録媒体の特定領域が半径方向において隣接トラック間で同じ位置になるように、前記生成された記録マークのパターンを前記特定領域に記録する手段とを有するので、半径方向で互いに隣接し合うトラックの記録マークの位置が必ず異なるようになり、簡単な構成で、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【００８３】
また、本発明では、前記光磁気記録媒体のランドトラック、グルーブトラックともに記録を行う光磁気記録再生装置であって、前記記録手段は、ランドトラック用の記録マークのパターンと、グルーブトラック用の記録マークのパターンとを生成する手段と、前記光磁気記録媒体の特定領域が半径方向において隣接トラック間で同じ位置になるように、記録対象トラックに応じた記録マークのパターンを前記特定領域に記録する手段とを有するので、半径方向で互いに隣接し合うトラックの記録マークの位置が必ず異なるようになり、簡単な構成で、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【００８４】
また、本発明では、前記特定領域は、ヘッダ領域またはデータ記録領域のリシンクパターンのいずれかであるので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。また、リシンクパターンに記録マークを含める場合は、記録媒体の利用効率の改善が可能となる。
【００８５】
【発明の効果】
以上のように、本発明の光磁気記録媒体、光磁気記録再生装置及び光磁気記録方法では、光ビームの再生パワーを制御するための、光ビームを再生層に照射することにより照射範囲内に発生した検出口の径よりも長い記録マークが、半径方向において隣接トラック間で互いに異なる位置に記録されるので、隣接トラックの影響を受けることなく、常に精度よく最適な再生パワーでデータ記録領域の再生を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  実施例１の磁気的超解像方式の光磁気ディスク記録再生装置の構成図である。
【図２】  光磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【図３】  ヘッダパターンの模式図である。
【図４】  ヘッダ領域の記録状態を説明する模式図である。
【図５】  再生パワーの変化に対する長短マークの振幅値の測定結果のグラフを示す図である。
【図６】  再生パワーの変化に対する長短マークの振幅比の測定結果のグラフを示す図である。
【図７】  実施例２の磁気的超解像方式の光磁気ディスク記録再生装置の構成図である。
【図８】  光磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【図９】  リシンクパターンの模式図である。
【図１０】  ヘッダ領域の記録状態を説明する模式図である。
【図１１】  データ記録領域の記録状態を説明する模式図である。
【図１２】  従来の磁気的超解像の光磁気ディスク再生装置の構成図である。
【図１３】  従来の光磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【図１４】  従来の、再生パワーの変化に対する長短マークの振幅値の測定結果のグラフを示す図である。
【図１５】  従来の、再生パワーの変化に対する長短マークの振幅比の測定結果のグラフを示す図である。
【符号の説明】
１、２０、３０：光磁気ディスク
２：半導体レーザ
３：フォトダイオード
４：振幅比検出回路
５：差動増幅器
６：レーザパワー制御回路
７：再生データ処理回路
８：バッファメモリ
９：ヘッダパターン生成回路
１０、１３：記録データ処理回路
１１：磁気ヘッド
１２：リシンクパターン生成回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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