(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、
読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データとを算出する手段と、
原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、
第１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、
原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する手段と、
該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、
前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、
前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えたことを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項２】
複数面のポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、
読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データと、ポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、  原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、
該１次元補正データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、
前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、
前記第１及び第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えたことを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項３】
前記第２の補正データ算出手段が、原画像データを副走査方向に平均化したデータをローパスフィルタでフィルタリングする手段を備えることを特徴とする請求項１又は２記載の放射線画像読取装置。
【請求項４】
複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、
読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと得る工程及び副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データを得る工程と、
原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する工程と、
第１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する工程と、
原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する工程と、
該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する工程と
により構成されることを特徴とする放射線画像読取方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は放射線画像情報を光学的に読み取る放射線画像読取装置及び方法に関し、特に輝尽性蛍光体を使用した読取装置のように、精細な濃淡情報を正確に再現する必要がある読取装置における読取画像データの補正技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図７は、輝尽性蛍光体プレートへの画像（例えば、医療用診断画像）の記録方法を示す図である。
【０００３】
Ｘ線源１から出射されたＸ線は、絞り２によって絞られた後、被写体３に照射される。被写体３を透過したＸ線は、輝尽性蛍光体プレート４（以下、単に蛍光体プレートという）に入射し、これによって、被写体３の画像の潜像が形成される。
【０００４】
この潜像の画像化は、レーザ光を走査して蛍光体プレート４を励起し、蓄積している潜像エネルギーを蛍光として放射させ、この蛍光を集光器により集光し、光電子増倍管（フォトマルチプライヤ）を備えた光検出器により検出し、得られるアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換してデジタル化した後、そのデータに所定の信号処理を施すことにより行われる。
【０００５】
本発明者は、より高精度な画像再現を行うために、読取画像データの補正技術について検討したが、その結果として以下の事項が明らかとなった。
補正の種類としては、集光系及び光学系によるムラ（シェーディング）の補正の他に、蛍光体の発光強度が時間経過とともに減衰するフェーディングに対する補正が必要である。
【０００６】
また、例えば、図８（ア）に示すようなポリゴン３５（反射面としてＡ面〜Ｈ面を持つ）を用いて光ビームを走査する場合、同図（イ）に例示されるように、Ａ面と他の面（例えばＥ面）とでは反射率に差があり、その結果、蛍光体プレートの同じ位置を走査したとしても、Ａ面を使用した場合とＥ面を使用した場合とでは、蛍光体プレートに達するレーザパワーが相違し、それによって、検出する信号レベルと面内での分布内容が相違する。また、各反射面毎の倒れ角の違いによっても信号レベルが相違する。従って、使用するポリゴン面を意識した補正を行う必要がある。
【０００７】
また、図８（ウ）に示すように、蛍光体プレートには、２次元的な感度ムラ（あるいはＸ線ムラに起因するムラ）が存在し、高精度化をねらう場合は、この２次元ムラに対する補正が必要である。
【０００８】
特開昭６３−１５３０４８号公報には、被写体を置かずに撮影したベタ画像を用いて被写体を置いて撮影した画像を補正する技術が開示されている。
また、特開昭６３−１５８５３６号公報には、被写体を置かずに撮影したベタ画像から主走査、副走査方向の補正データを求めて記憶しておき、被写体を置いて撮影した画像を補正する技術が開示されている。
【０００９】
また、特開平２−５８９７３号公報には、ポリゴンの面毎に主走査方向の特性を記憶し、ポリゴン面に対応して補正する技術が開示されている。
また、特開平５−３１３２６２号公報には、主走査、副走査方向の補正後に間引き補正データを作成し、補間した補正データで補正を行なう技術が開示されている。
【００１０】
また、特開平５−３１３２６４号公報には、ポリゴン面と副走査位置を特定し、補正データの作成時と補正時で特定関係が成立するように制御する技術が開示されている。
【００１１】
また、特開平７−２９５１２１号公報には、ポリゴンの反射面毎に、またポリゴンの反射面毎かつ主走査方向の各装置位置毎に補正する第１の補正データを作成し、該第１の補正データで画像を補正することにより、輝尽性蛍光体に起因するムラを補正するための第２の補正データを作成する技術が開示されている。
【００１２】
更に、本出願人が出願した特願平７−２７２６３３号には、被写体を置かずに撮影したベタ画像から、主走査方向の補正データ１を作成し、該補正データ１で撮影画像を補正することにより（画像１）ポリゴンの反射面かつ主走査方向の各走査位置毎に補正する補正データ２を作成し、該補正データ２で画像１を補正することにより（画像２）副走査方向の補正データ３を作成し、該補正データ３で画像２を補正することにより２次元ムラ補正データ（間引き補正データ）を作成し、これら全ての補正データに基づいて画素毎の補正データを作成する技術が開示されている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
前述したように、輝尽性蛍光体を用いた放射線画像読取装置では、以下のような要因による画像ムラが発生する。
【００１４】
▲１▼主走査方向ムラ
集光系ムラ、光学系によるムラ（励起光のパワー変動、走査速度ムラ）、蛍光体プレート感度ムラ
▲２▼副走査方向ムラ
輝尽性蛍光体のフェーディング、Ｘ線のヒール効果（特性に基づくムラ）、読取ユニットの移動ムラ、蛍光体プレート感度ムラ（全て副走査位置に起因）
▲３▼２次元ムラ
蛍光体プレート感度ムラ、Ｘ線の照度ムラ
▲４▼ポリゴンムラ
ポリゴンの各反射面毎の反射率差及び同一面内での反射率差、ポリゴンの倒れ前記特開昭６３−１５３０４８号公報、特開昭６３−１５８５３６号公報、特開平５−３１３２６２号公報では、ポリゴンによるムラが考慮されていないためポリゴンムラが補正されず、また、特開平２−５８９７３号公報では、ポリゴンムラと主走査方向ムラが対象であるため、その他のムラは補正されないという問題がある。
【００１５】
また、副走査方向には、位置に起因する副走査ムラと、偏向したポリゴン面に起因するムラが存在するため、特開平５−３１３２６４号公報のようにポリゴン面と副走査位置を特定し、補正データ作成用画像と実際の読み取り画像で関係を一致させる必要があるが、副走査の制御は極めて困難である。
【００１６】
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる放射線画像読取装置及び方法を提供することを目的としている。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
（１）前記した課題を解決するための第１の発明は、複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データとを算出する手段と、原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する手段と、該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えたことを特徴としている。
【００１８】
この発明の構成によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【００１９】
（２）前記した課題を解決する第２の発明は、複数面のポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データと、ポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次元補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えたことを特徴としている。
【００２０】
この発明の構成によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【００２１】
（３）この場合において、前記第２の補正データ算出手段が、原画像データを副走査方向に平均化したデータをローパスフィルタでフィルタリングする手段を備えることを特徴としている。
【００２２】
この発明の構成によれば、副走査方向に存在するポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波ムラ）を除去することができる。
（４）また、複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと得る工程と、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データとを算出する工程と、原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する工程と、第１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する工程と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する工程と、該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する工程とにより構成されることを特徴としている。
【００２３】
この発明の構成によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。
図１は本発明の一実施の形態例を示すブロック図である。図７と同一のものは、同一の符号を付して示す。図１において破線で囲んだ部分２０は輝尽性蛍光体プレートの読取部である。図２はこの輝尽性蛍光体プレート読取部の構成例を示す図である。
【００２５】
先ず、蛍光体プレート読取部について説明すれば、図２において、蛍光体プレート４は左側壁に固定されており、繰り返し使用される。読取ユニット３０は、副走査モータ（ステッピングモータ）４１によるボールネジ４２の駆動により、ガイドシャフト４３に沿って移動し、走査線（光ビーム）３１を副走査方向にスキャンする。
【００２６】
主走査方向のスキャンはポリゴン走査機構３２により行われる。ポリゴン走査機構３２は、ポリゴンと該ポリゴンを回転させる機構を含む。副走査モータ４１の動作は、副走査モータ制御機構４５により制御される。蛍光は集光器５により集光され、フォトマル６により電気信号に変換されるようになっている。
【００２７】
ＬＤ１はレーザ光源，ＰＤ１はフォトセンサであり、原点位置検出センサを構成している。この原点位置検出センサは、読取ユニット３０の副走査方向の原点位置を検出するものである。フォトセンサＰＤ１の出力は、副走査モータ制御機構４５に入力され、副走査モータ制御機構４５は読取ユニット３０の停止位置を制御する。
【００２８】
図１において、１はＸ線を発生するＸ線源、２は該Ｘ線源１から発生するＸ線を絞る絞り、３は該絞り２によって絞られたＸ線を受ける被写体、４は該被写体３を透過したＸ線を受ける蛍光体プレートである。該蛍光体プレート４には、被写体透過Ｘ線を入射して潜像が形成されるようになっている。１３は潜像の読出し時にレーザ光を発生するレーザ光源、３２は該レーザ光源１３からのレーザ光を受けて、蛍光体プレート４上をレーザ光で走査する光走査手段としてのポリゴン走査機構３２（図２参照）である。
【００２９】
５は蛍光体プレート４から発生する蛍光を集光する集光器、６は該集光器５で集光された蛍光を光電変換するフォトマルチプライヤ（以下フォトマルと略す）である。７は該フォトマル６に管電圧を供給する電源である。
【００３０】
８はフォトマル６の出力を増幅するアンプ、９は該アンプ６の出力を対数圧縮増幅するログアンプ、１０は該ログアンプ９の出力を受けてノイズ成分を除去するフィルタ、１１は該フィルタ１０の出力をサンプリングしてホールドするサンプルホールド回路、１２は該サンプルホールド回路１１の出力（アナログ信号）をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。
【００３１】
ＳＷは、補正データ作成時の信号経路と実際の画像読み取り時の信号経路とを切替えるスイッチであり、補正データ作成時には共通接点をＡ接点側に、画像読み取り時にはＢ接点側に切替える。
【００３２】
１５はＡ／Ｄ変換器１２の出力データ（読取画像データ）と、読み取った画像データを後述の補正手段で補正した画像データを記憶するフレームメモリ、１６は該フレームメモリ１５に記憶されたデータを受けて所定の処理を行なうコントローラ、１７は該コントローラ１６を介して送られてくる画像データを出力するプリンタ、自動現像機等の周辺機器（略してプリンタ・自現機）である。画像データはまた、コントローラ１６を介してホストＣＰＵ（図示せず）に出力されるようになっている。
【００３３】
１４はタイミング回路であり、該タイミング回路１４は、サンプルホールド回路１１、Ａ／Ｄ変換器１２、後述の補正用データ作成手段５２及び補正データメモリ６０にそれぞれタイミングクロックを供給するものである。タイミング回路１４は、放射線画像の撮影条件に応じて読み取り時の読取画素サイズを決定する。例えば、予め決められた０．１，０．１５，０．２ｍｍの３種類の読取画素サイズの中から、１つの読取画素サイズを選択して設定し、該設定された読取画素サイズで読み取りを行わせるようにサンプルホールド回路１１へタイミングクロックを供給する。
【００３４】
５０は輝尽性蛍光体プレート読取部２０で読み取られ、Ａ／Ｄ変換器１２でディジタルデータに変換されたディジタル読取画像データを、各種のムラに基づく補正データで補正する補正手段である。
【００３５】
補正手段５０は、読み取られた画像データを補正する補正回路５１と、読取画像データを補正するための各種補正データを作成する補正用データ作成手段５２と、主走査方向における補正データを記憶する主走査補正データメモリ５３と、ポリゴンに起因する補正データを記憶するポリゴン補正データメモリ５４と、副走査方向における補正データを記憶する副走査補正データメモリ５５と、２次元補正用の２次元ムラ補正データを記憶する間引きデータメモリ５６と、２次元ムラ補正データを補間して２次元ムラ補正データを作成する補間データ作成手段５７と、各メモリに記憶されている補正データを読み出して加算する加算手段５８と、補正データを計算する補正データ計算手段５９と、作成された補正データを格納する補正データメモリ６０とにより構成されている。このような補正手段５０は例えばマイクロプロセッサとメモリによって構成される。
【００３６】
このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の通りである。
（１）補正データ作成動作
図に示す回路は、切り替えスイッチＳＷをＡ接点側に投入した状態で、被写体なしのベタ画像をフレームメモリ１５に格納する。つまり、Ｘ線源１から発生するＸ線は被写体３を透過し、蛍光体プレート４に入射して潜像が形成される。潜像の読み出し時には、蛍光体プレート４上をポリゴン走査機構３２によりレーザ光で走査する。
【００３７】
この時、発生する蛍光は、続く集光器５により集光され、フォトマル６により光電変換される。該フォトマル６の出力信号は、アンプ８で増幅され、ログアンプ９で対数圧縮増幅され、フィルタ１０でノイズ成分が除去される。
【００３８】
そして、フィルタ１０の出力は、サンプルホールド回路１１によりタイミング回路１４からの発生タイミングによりサンプルホールドされる。該サンプルホールド回路１１の出力は、続くＡ／Ｄ変換器１２によりディジタルデータに変換され、切替えスイッチＳＷを介してフレームメモリ１５の所定の位置に格納される。以上の操作を主走査方向及び副走査方向に必要なだけ繰り返して、蛍光体プレート４の全面に記録されている画像情報をディジタル画像データに変換し、フレームメモリ１５に格納する。
【００３９】
そして、補正用データ作成手段５２は、フレームメモリ１５に格納されているベタ画像データを読み出して、後述する各種のムラ補正データを作成し、主走査補正データメモリ５３，ポリゴン補正データメモリ５４，副走査補正データメモリ５５及び間引きデータメモリ５６に記憶させる。
【００４０】
間引きデータメモリ５６には、ベタ画像データに所定の補正処理を加えた後、一定の規則に従ってサンプリングし、その周囲の画素データも加味したデータ（間引きデータ）から作成された２次元ムラ補正データが記憶される。補間データ作成手段５７は、間引きデータメモリ５６に記憶されている２次元ムラ補正データを読み出して、それに基づいて補間により２次元ムラ補正データを作成し、記憶する。この時、補間データ作成手段５７は、間引きデータメモリ５６に記憶されていない点の画像データの２次元ムラ補正データは、補間法を用いて作成する。
【００４１】
主走査補正データメモリ５３，ポリゴン補正データメモリ５４，副走査補正データメモリ５５及び補間データ作成手段５７の出力は、加算手段５８により画素毎に加算される。補正データ計算手段５９は、読取画素サイズに適合した補正データを計算し、補正データメモリ６０に記憶する。このようにして、補正データメモリ６０には、読取画素毎に補正データが記憶される。
【００４２】
（２）実際の画像データの読み取り処理
前記（１）により補正データが求まったら、切替えスイッチＳＷをＢ側に投入し、被写体３を配置した状態で画像データの読み取りを行なう。読み取られた画像データは、Ａ／Ｄ変換器１２から補正回路５１に与えられる。該補正回路５１は、読み込んだ画像データから補正データメモリ６０に記憶されている対応する画素の補正データを引算し、補正後の画像データを求める。このようにして求まった補正後画像データは、順次フレームメモリ１５に格納されていく。本発明によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、２次元ムラ及びポリゴンムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【００４３】
（３）ムラ補正データの作成
次に、補正用データ作成手段５２による各種のムラ補正データの作成方法について説明する。
【００４４】
被写体がない状態で、フレームメモリ１５に格納されたベタ画像データには、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ、２次元ムラが混在している。そこで、本発明では、フレームメモリ１５に格納されているベタ画像データを基にこれらムラの補正データを分離して抽出する。
【００４５】
図３は画像データの画素配置例を示す図である。画像データの主走査方向及び副走査方向の画素数をそれぞれｉ，ｊとし、各画素データをＸuv（ｕ＝０，１…ｉ−１、ｖ＝０，１…ｊ−１）と表わすことにする。主走査方向をｘ方向、副走査方向をｙ方向とする。
【００４６】
ここで、ポリゴンの反射面数を１０とすると、副走査方向の画素は偏向を行なった反射面に応じて、１０ｎ、１０ｎ＋１、…  、１０ｎ＋９（ｎ＝０，１，…９）と１０グループに分けることができる。つまり、ポリゴンの同じ反射面を用いた画像データは、副走査方向の１０行毎に現れることになる。図３を用いて説明すると、１０ｎ行目の画素データと、１０ｎ＋１０行目の画素データは、同じポリゴン面を用いて得られる。図中の画像データＸuvは、ｕ列・ｖ行の画素データを表わす。
【００４７】
（３−１）主走査ムラ補正データの作成
読み取ったベタ画像データＸのｘ方向の各列の平均信号値を求め、Ａ0、Ａ1、…、Ａi-1とする。各列の平均信号値Ａkは次式で表される。
【００４８】
【数１】
0003704838.tif 000002
【００４９】
これによって、ベタ画像が例えば図４の（ａ）に斜線で示すような濃度ムラを有する場合、同図（ｂ）のような平均値Ａ0〜Ａi-1のプロファイルが得られる。図（ｂ）において、縦軸は濃度レベル、横軸は主走査方向ｘである。ここで、Ａkの最小値をＡminとし、ＡkとＡminとの差Ｓkを求めると、Ｓkは次式で表される。
【００５０】
Ｓk＝Ａk−Ａmin  （ｋ＝0,1,…,ｉ−1）          （２）
このことは、図４の（ｂ）について説明すれば、最小値Ａminから上の部分（斜線領域Ｓ）を切り出し、この切り出した部分を主走査ムラ補正データとするものである。このようにして求めた差Ｓkを主走査ムラ補正データＳ0、Ｓ1、…、Ｓi-1として主走査補正データメモリ５３に記憶する。
【００５１】
また、異なった画素サイズで各列毎の画像データを得て、同様に補正データを求めることができる。なお、この主走査ムラ補正データＳ0、Ｓ1、…、Ｓi-1は、読み出し画像データを引算により補正する場合の補正データであり、読み出し画像データを加算により補正する場合には、図４の（ｂ）の最大値Ａmaxからの差分（斜線領域Ｓ’）を補正データとすることができる。このことは、いちいち記述しないが、以降の補正データについても同様である。
【００５２】
（３−２）副走査ムラ補正データの作成
読み取ったベタ画像データＸのｙ方向の各行の平均信号値を求め、Ｂ0、Ｂ1、…、Ｂj-1とする。各行の平均信号値Ｂlは次式で表される。
【００５３】
【数２】
0003704838.tif 000003
【００５４】
これによって、ベタ画像が例えば図４の（ａ）に斜線で示すような濃度ムラを有する場合、同図（ｄ）のような平均値Ｂ0〜Ｂj-1のプロファイルが得られる。ここで、Ｂlの最小値をＢminとし、ＢlとＢminとの差Ｃlを求めると、Ｃlは次式で表される。
【００５５】
Ｃl＝Ｂl−Ｂmin（ｌ＝0,1,…,ｊ−1）          （４）
このことは、図４の（ｄ）について説明すれば、最小値Ｂminから上の部分（斜線領域Ｃ）を切り出し、この切り出した部分を差分データＣ0、Ｃ1、…、Ｃj-1とするものである。
【００５６】
次に、（４）式で求めた差分データＣlをカットオフ空間周波数ｆのローパスフィルタでフィルタリングしたデータを副走査ムラ補正データＦ0、Ｆ1、…、Ｆj-1として副走査補正データメモリ５５に記憶する。副走査方向には、ポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波ムラ）と、副走査の位置に起因するムラ（低周波ムラ）がある。そこで、平均した画像データをローパスフィルタでフィルタリングすることにより、高周波ムラを除去しておくものである。なお、ローパスフィルタの機能をデータ処理で実現することは周知の技術であり、周知の方法を用いてフィルタリングする。
【００５７】
（３−３）ポリゴンムラ補正データの作成
▲１▼反射面毎かつ主走査方向補正データ
読み取ったベタ画像データＸの０列に属する各画素から主走査ムラ補正データＳ0を引算する。同様に、１列、２列、…ｉ−１列に属する各画素からそれぞれ主走査ムラ補正データＳ1、Ｓ2、…、Ｓi-1を引算する。この処理は、ベタ画像を主走査ムラ補正データを用いて補正し、補正後画像データＸ’を作成する処理である。補正後画像データＸ’は次式で表される。
【００５８】
Ｘ’＝Ｘkl−Ｓk （ｋ＝0，1，…，ｉ−１、ｌ＝0，1，…，ｊ−１）  （５）
この式は、図３において、各画素データから０列に属する画素データについては、Ｓ0を引算し、１列に属する画素データについては、Ｓ1を引算することを示す。以下の列についても同様である。
【００５９】
このようにして求めた補正後画像データＸ’の１０ｎ行に属するデータであって、かつ０列に属する全ての画素の平均信号値を求め、Ｄ0,0とする。同様にして、１０ｎ行に属するデータであって、かつ１列、２列、…、ｉ−１列に属する全ての画素の平均信号値を求め、それぞれＤ1,0、Ｄ2,0、…、Ｄi-1,0とする。
【００６０】
同様にして、１０ｎ＋１、１０ｎ＋２、…、１０ｎ＋９行に属し、かつ０列、１列，…、ｉ−１列に属する全ての画素の平均信号値を、Ｄ0,1〜Ｄi-1,1、Ｄ0,2〜Ｄi-1,2、…Ｄ0,9〜Ｄi-1,9とする。
【００６１】
このようにして求めた平均信号値Ｄk,n（ｋ＝０，１，…，ｉ−１、ｎ＝０，１，…，９）が、図４の（ｃ）に示すように得られたものとする。（ｃ）において縦軸は濃度レベル（平均値）、横軸は主走査方向ｘである。全ての平均信号値の最小値をＤminとし、Ｄk,nとＤminとの差を、ポリゴン面毎かつ主走査方向の補正データＰ0,0〜Ｐi-1,0、…、Ｐ0,9〜Ｐi-1,9としてポリゴン補正データメモリ５４に記憶する。
【００６２】
▲２▼反射面毎の補正データ
▲１▼の場合と同様にして、補正後画像データＸ’を作成する。次に、補正後画像データＸ’の１０ｎ行に属する全ての画素の平均信号値を求めＤ0とする。同様に、１０ｎ＋１、１０ｎ＋２、…、１０ｎ＋９行に属する全ての画素の平均信号値を求め、Ｄ1、Ｄ2、…、Ｄ9とする。Ｄn（ｎ＝０，１，…，９）の最小値をＤminとし、ＤnとＤminとの差を、ポリゴン面毎の補正データＰ0、Ｐ1、…、Ｐ9として、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶する。
【００６３】
上述の説明において、▲１▼で求めた反射面毎かつ主走査方向補正データと、▲２▼で求めた反射面毎の補正データは、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶されるが、実際の画像読み取りでは、これら補正データが同時に採用されることはない。即ち、ポリゴン補正データメモリ５４は予め決められたいずれかのポリゴン補正方法で必要なメモリ量だけあればよい。
【００６４】
（３−４）２次元ムラ補正データの作成
図８の（ウ）に示したように、蛍光体プレート４には、２次元的な感度ムラがあり、このような感度ムラは、主走査方向のみならず、副走査方向も加味した２次元の補正を行なう必要がある。
【００６５】
先ず、読み取ったベタ画像データＸの０列に属する各画素から主走査ムラ補正データＳ0を引算する。同様に、１列、２列、…、ｉ−１列に属する各画素から主走査ムラ補正データＳ1、Ｓ2、…、Ｓi-1を引算する。
【００６６】
同様にして、０行に属する各画素から副走査ムラ補正データＦ0を引算する。同様に、１行、２行、…、ｊ−１行に属する各画素から副走査ムラ補正データＦ1、Ｆ2、…、Ｆj-1を引算する。このようにして、ベタ画像データを、主走査、副走査ムラ補正データを用いて補正し、補正後画像データＸ’’を作成する。補正後画像データＸ’’は、次式で表される。
【００６７】
Ｘ’’＝Ｘkl−Ｓk−Ｆl  （ｋ＝0,1,…,i-1、ｌ＝0,1,…,j-1）      （６）
以上の処理により、蛍光体プレート全面にわたる２次元補正画像データが求まったことになる。ここで、各画素から一定の法則に従って特定の画素を抽出する。図５は間引き画像データと補間方法の説明図である。図では、主走査方向にＫ1〜Ｋ5の５個の間引きデータをとった場合を示している。副走査方向にも同様にして間引きデータを求める。
【００６８】
この間引き画像データＫ1〜Ｋ5は、単に前述の補正後画像データＸ’’からサンプリングして求めるのではなく、サンプリングした点の周囲のＭ×Ｎ画素のデータを平均して求める。
【００６９】
このようにして求めた間引き画像データについて、最小値との差を２次元ムラ補正データとする。即ち、求めた間引き画像データについて、最小値を求め、各間引きデータから最小値を引算することにより、２次元ムラ補正データを求めるものである。Ｕp1〜Ｕp5は、このようにして求めた図５に示す間引きデータＫ1〜Ｋ5の２次元ムラ補正データである。以上の操作は蛍光体プレート全面に対して行ない、２次元ムラ補正データを求める。このようにして求めた２次元ムラ補正データは、間引きデータメモリ５６に記憶される。
【００７０】
なお、この間引き画像データは、例えば主走査方向、副走査方向共に例えば５ｍｍに１個程度の割合で求める程度で、かなりの補間精度を維持できることが分かっている。従って、間引きデータメモリ５６の記憶容量を小さくすることができる。
【００７１】
２次元ムラ補正データＵp1〜Ｕp5が、図５に示すように求まると、各２次元ムラ補正データ間のデータは、補間して求める。補間方法として、例えば図に示すように、Ｕp1とＵp2 間の画素の２次元ムラ補正データを求める場合には、Ｕp1とＵp2 間が直線であるものとして、その間を線形補間することにより、２次元ムラ補正データＵrsを求ることができる。このような補間は、図１の補間データ作成手段５７が行なう。
【００７２】
（４）装置全体の動作
▲１▼補正データ作成用画像データとして、被写体を配置しない状態でベタ画像の撮影を行ない、得られた画像データはフレームメモリ１５に格納される。このベタ画像データを画像１とする。読み取った画像データには、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ、２次元ムラが混在している。
【００７３】
▲２▼そこで、補正用データ作成手段５２は、画像１を主走査方向に平均し、最小平均値との差を主走査方向のムラ補正データとし、主走査補正データメモリ５３に記憶する（前述の（３−１）参照）。
【００７４】
▲３▼次に、補正用データ作成手段５２は、画像１を副走査方向に平均する。副走査方向には、ポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波のムラ）と、位置に起因するムラ（低周波のムラ）がある。そこで、平均化したデータと最小値との差をとった後にローパスフィルタでフィルタリングすることにより、高周波ムラを除去する。
【００７５】
この結果、位置に起因する低周波ムラの特性を表わすデータが残るので、副走査補正データメモリ５５に記憶する（前述の（３−２）参照）。なお、フィルタリングは、平均化したデータに対して行ない、その後、最小値との差をとるようにしてもよい。
【００７６】
ここで、ローパスフィルタのカットオフ空間周波数ｆは、ポリゴン面数をＮ、読取画素サイズをｄとすると次式を満たすことが望ましい。
ｆ≧１／（Ｎ×ｄ）              （７）
空間周波数は、ポリゴン面数Ｎと読取画素サイズｄの関数となり、ポリゴン面Ｎが増えるほど、また読取画素サイズｄが大きいほど低くなる。従って、高周波ムラは、周期Ｎ×ｄ毎或いはその１／（整数）周期毎にスジ状の模様として現れる。このスジを除去するためには、カットオフ空間周波数ｆが（７）式を満たしている必要がある。
【００７７】
このように、本発明によれば、副走査方向に存在するポリゴンの反射面に起因するムラ（空間周波数及びその高調波成分に基づく高周波ムラ）を除去することができる。
【００７８】
▲４▼補正用データ作成手段５２は、前記画像１を主走査ムラ補正データで補正し、全域にわたる主走査ムラのない画像データを作成する。この画像データを画像２とする。ここで、前述の副走査ムラ補正データは、画像２から算出するようにしてもよい。
【００７９】
▲５▼次に、補正用データ作成手段５２は、画像２を偏向した反射面毎に主走査方向に平均し、最小平均値との差をポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正する補正データとし、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶する（前述の（３−３）の▲１▼参照）。この時の、補正データ数は、反射面数×主走査画素数となる。
【００８０】
なお、主走査方向に発生するポリゴンの面内反射率ムラは低周波であるため、補正データ又は算出途中のデータを主走査方向にスムージング処理して求めてもよい。
【００８１】
また、ポリゴンムラ補正データは、画像１を偏向した反射面毎に平均化し、最小平均値との差をポリゴンの各反射面毎に補正するデータとしてもよい（前述の（３−３）の▲２▼参照）。このポリゴンムラ補正データは、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶される。この場合のデータ数は、ポリゴンの反射面数となる。
【００８２】
この場合において、主走査方向に発生するポリゴンの面内反射率ムラは補正できないが、画像２を作成する必要がなくなる。なお、画像２からポリゴンの各反射面毎に補正するデータを作成するようにしてもよい。
【００８３】
▲６▼補正用データ作成手段５２は、画像１を主走査ムラ補正データと副走査ムラ補正データで補正し、画像３とする。
▲７▼この画像３には、蛍光体プレート感度ムラやＸ線の照度ムラ以外に、ポリゴンムラをはじめ、Ｘ線モトル（Ｘ線の位置的なゆらぎ）や、輝尽性蛍光体プレート４の欠陥や、ゴミ等の高周波ムラが残っている。この高周波ムラを除去するため、２次元的にスムージング（周囲画素との平均化）処理を行ないながら画像３の間引きデータを作成し、作成した間引きデータの最小値との差を２次元ムラ補正データとし、間引きデータメモリ５６に記憶する（前述の（３−４）参照）。
【００８４】
▲８▼以上の動作により、主走査補正データメモリ５３には主走査ムラ補正データが、副走査補正データメモリ５５には副走査ムラ補正データが、ポリゴン補正データメモリ５４にはポリゴンムラ補正データが、間引きデータメモリ５６には２次元ムラ補正データがそれぞれ記憶されたことになる。
【００８５】
▲９▼そこで、切替えスイッチＳＷをＢ側に投入し、被写体画像を輝尽性蛍光体プレート読取部２０で読み取り、Ａ／Ｄ変換器１２でディジタルデータに変換された被写体の画像データを補正回路５１に記憶させる。以上の読み取り操作を繰り返して、蛍光体プレート１枚分の読み取り画像データが補正回路５１に記憶される。
【００８６】
一方、加算手段５８は各データメモリ５３〜５６に記憶されている補正データを一挙に加算し、補正データ計算手段５９により所定の処理を経た補正データを順次、画素毎に補正データメモリ６０に記憶させていく。
【００８７】
この場合において、２次元ムラ補正データは、画素数だけ準備されていないので、２次元ムラ補正データの存在しない点の２次元ムラ補正データは、補間データ作成手段５７により補間して求めて加算手段５８に入力するようになっている。以上の加算操作を画素数だけ繰り返すことにより、補正データメモリ６０には１枚の蛍光体プレートの各画素点の補正データが記憶されることになる。
【００８８】
補正回路５１は、読み込んだ被写体画像データと補正データメモリ６０に記憶されている補正データとの対応をとりながら、被写体画像データから補正データ（全ての補正データの和）を引算する処理を全画素数繰り返す。
【００８９】
なお、２次元データの補間と各メモリ５３〜５６に記憶されている補正データの加算と補正データ計算手段５９による計算の合計処理速度が、画像データの読み取り速度以下であれば、読み取りを行ないながら各画素点の補正データを作成することが可能であり、その場合には、補正データメモリ６０は不要となる。
【００９０】
補正回路５１で補正された画像データはフレームメモリ１５に順次格納されていく。このように、本発明によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【００９１】
この場合において、ポリゴンで読み取る画像データは、補正データと読み取り画素データの面を一致させることが極めて重要である。例えば、ポリゴンのＥ面（図８参照）で読み取った画像データを、ポリゴンのＧ面の補正データで補正しても良好なムラ補正を行なうことはできない。ポリゴンのＥ面（図８参照）で読み取った画像データは、ポリゴンのＥ面の補正データで補正することにより、良好なムラ補正が行なえることになる。
【００９２】
そこで、ポリゴン面を識別する必要がある。読み取ったポリゴンの面を識別する方法としては、ポリゴンの各反射面にマーカをつけ、反射面を検出する方法や、読み取った画像データを解析することにより反射面を識別する方法等がある。
【００９３】
上述のムラ補正処理において、ポリゴン補正データメモリ５４には、前述の（３−３）の▲１▼で求めた反射面毎かつ主走査方向補正データと、（３−３）の▲２▼で求めた反射面毎の補正データが存在するが、読み取り画像を補正するにあたっては、何れか一方のみを用いる。同時に用いることはない。即ち、ポリゴン補正データメモリ５４は、予め決められたいずれかのポリゴン補正方法で必要なメモリ量だけあればよい。何れを用いるかは、ホストＣＰＵから指示したり、装置自体の操作部から指示してやることができる。
【００９４】
上述の実施の形態例において、各画素毎の補正データを求める際には、補正データ量に制限を加えることができる。なお、補正量の制限は主走査ムラ補正データを例にとって説明するが、他の副走査ムラ補正データ、ポリゴンムラ補正データ、２次元ムラ補正データについても同様にして補正の制限を行なうことができる。
【００９５】
例えば、ベタ画像の読み取りデータの主走査方向（ｘ方向）のプロファイル（平均値）として、図６の（ａ）に示すように、濃度が画面の大部分の領域において概ね平坦であるが左端部で急低下しているものが得られたとすると、主走査ムラ補正データは、最小値（レベル１）で切り出され、（ｂ）に示すようなものとなる。
【００９６】
このため、補正量を読み取り画像データから引算すると、画像データの実質信号範囲が狭くなるという不都合を生じることがある。そこで、このような場合には、（ｃ）に示すように補正量の切りだしレベルをレベル２まで上げて補正する。
【００９７】
このようにした場合、画面の端の部分のムラは補正しきれずに残るが、それ以外の面の大部分を占める領域についてはムラが補正されるので、実用上は許容できる。ここで、レベル２の値は、許容できるムラ領域の大きさ、又はムラの値と補正後の実質信号範囲の縮小量とのかねあいによって決められる。
【００９８】
例えば、許容できるムラ領域の大きさは、面の全画素数に対するムラ領域の画素数の割合によって規定することができる。即ち、この比率が所定値を越えないようにレベル２を決めるのである。これによれば、比較的単純なアルゴリズムによりレベル２、即ち補正の制限量を決めることができる。
【００９９】
また、上述の実施の形態例では、ある画素サイズで画像を読み取る場合を示したが、本発明はこれに限るものではない。読み取り画素サイズが変更可能な場合には、上記補正データを複数の画素サイズ毎に求め、メモリに記憶しておき、実際の撮影時の読み取り画素サイズに合わせて最適な補正データを用いてムラ補正を行なうようにすることができる。
【０１００】
また、ポリゴンの面数も上述した８面，１０面に限るものではなく、任意の面数を用いることができる。
【０１０１】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、
（１）請求項１記載の発明によれば、複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データとを算出する手段と、原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する手段と、該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えることにより、
各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【０１０２】
（２）請求項２記載の発明よれば、複数面のポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データと、ポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎に補正するための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次元補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正データを算出する手段とを備えることにより、
各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【０１０３】
（３）請求項３記載の発明によれば、前記第２の補正データ算出手段が、原画像データを副走査方向に平均化したデータをローパスフィルタでフィルタリングする手段を備えることにより、
副走査方向に存在するポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波ムラ）を除去することができる。
【０１０４】
（４）請求項４記載の発明によれば、複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラを補正するための第１の補正データと得る工程と、副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正データとを算出する工程と、原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する工程と、第１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する工程と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得する工程と、該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正データを算出する工程とにより構成されることにより、
各種のムラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態例を示すブロック図である。
【図２】輝尽性蛍光体プレート読取部の構成例を示す図である。
【図３】画像データの画素配置例を示す図である。
【図４】ベタ画像と補正データ作成の説明図である。
【図５】間引き画像データと補間方法の説明図である。
【図６】補正データに制限を加える場合の説明図である。
【図７】輝尽性蛍光体プレートへの画像の記録方法の説明図である。
【図８】ポリゴンミラーの面による読み取り信号の相違と輝尽性蛍光体プレートにおける２次元ムラを示す図である。
【符号の説明】
１  Ｘ線源
２  絞り
３  被写体
４  輝尽性蛍光体プレート
５  集光器
６  フォトマル
７  電源
８  アンプ
９  ログアンプ
１０  フィルタ
１１  サンプルールド回路
１２  Ａ／Ｄ変換器
１３  レーザ光源
１４  タイミング回路
１５  フレームメモリ
１６  コントローラ
１７  プリンタ・自現機
３２  ポリゴン走査機構
５０  補正手段
５１  補正回路
５２  補正用データ作成手段
５３  走査補正データメモリ
５４  ポリゴン補正データメモリ
５５  副走査補正データメモリ
５６  間引きデータメモリ
５７  補間データ作成手段
５８  加算手段
５９  補正データ計算手段
６０  補正データメモリ
【図１】
0003704838.tif 000004
【図２】
0003704838.tif 000005
【図３】
0003704838.tif 000006
【図４】
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【図５】
0003704838.tif 000008
【図６】
0003704838.tif 000009
【図７】
0003704838.tif 000010
【図８】
0003704838.tif 000011