(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の表面のくぼみを検出すべきシート状物を走行せしめるステップと、
前記表面に対してライン状照明装置により光を照射するステップと、
この照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光をラインセンサにて受光するステップと、
前記ラインセンサの出力信号を２値化するステップと、
前記２値化された信号についてランレングス符号化を行うステップと、
前記ランレングス符号化により得られたランレングス符号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたがる連結性処理を行うステップと、
前記連結性処理の結果、前記シート状物の走行方向を縦方向とするとき、くぼみの可能性ありとして検出された領域の縦横比を検出するステップと、
前記縦横比が所定値以下のときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の面積を用い、一方前記縦横比が前記所定値を超えるときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の横の長さを用いて、くぼみの検出の有無を判定するステップとを、
有するシート状物のくぼみ検出方法。
【請求項２】
前記縦横比が前記所定値を超えるときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の横の長さを用いて円換算面積を算出し、その値をもって、前記くぼみの検出の有無を判定するステップを実行する請求項１記載のシート状物のくぼみ検出方法。
【請求項３】
一方の表面のくぼみを検出すべきシート状物を走行せしめる手段と、
前記表面に対して入光を照射するライン状照明装置と、
前記ライン状照明装置からの照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光を受光するラインセンサと、
前記ラインセンサの出力信号を２値化する２値化手段と、
前記２値化された信号についてランレングス符号化を行う符号化手段と、
前記ランレングス符号化により得られたランレングス符号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたがる連結性処理を行う連結性処理手段と、
前記連結性処理の結果、前記シート状物の走行方向を縦方向とするとき、くぼみの可能性ありとして検出された領域の縦横比を検出する検出手段と、
前記縦横比が所定値以下のときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の面積を用い、一方前記縦横比が前記所定値を超えるときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の横の長さを用いて、くぼみの検出の有無を判定する判定手段とを、
有するシート状物のくぼみ検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走行するシート状物に含まれるくぼみを検出する方法に関し、特に人工大理石に含まれるピッツといわれるくぼみ（凹部）を検出する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
人工大理石の表面にはくぼみがあるが、これは人工大理石の表面を研磨したとき、表面付近の内部に混入していた泡が空洞、すなわちくぼみ（ピッツ）となったものである。人工大理石に含まれるかかるピッツの検査は、従来、目視により行われていた。なお、シート状物の欠陥検査方法として、各種の画像処理装置を使用した方法が発表されているが、人工大理石に含まれるピッツの検査を自動化した方法については、見当らない。また、本発明者の一部はフィルムや不織布などの薄いシート状物の欠陥検査装置を開発し、既に特許出願している（特開平５−３３２９５０号公報及び特開平６−１１４５８号公報参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来の人工大理石のピッツ検査方法は、目視判定のみであるため、作業性が悪く、検出精度も個人差が出て、不安定であった。また、本発明者らが先発明した上記欠陥検査装置を、人工大理石のくぼみ検出に応用した場合、人工大理石の走行状態により、測定値が大幅に変化するという次の問題があった。
【０００４】
（１）すなわち、欠陥検査装置による検査と目視による検査を平行して行う場合は、人工大理石は検査途中で一旦、停止し、再度、走行する。停止前後の速度が低下しているときにくぼみを検出すると、速度に反比例した長い画像となる。また、確率としては低いが、停止しているときにくぼみを検出すると、非常に長い画像となる。
【０００５】
（２）上記（１）で人工大理石が停止後、幅方向の両端に設けられたローラーなどで人工大理石の傾きを補正している。このとき、人工大理石全体が幅方向に急激に移動する。人工大理石が幅方向に移動しているときにくぼみを検出すると、くぼみの部分の画像が幅方向にずれる。ＣＣＤカメラの走査周期の間に、くぼみ画像分の移動があると、１つのくぼみも画像が分離し、複数個の画像となる。
【０００６】
したがって本発明は、人工大理石などのシート状物が、検査中にその移動速度が低下したり、移動が停止したり、再度走行を開始したり、停止時に人工大理石などが幅方向に急激に移動したりしても測定条件などを一々変更せずに、くぼみのみを精度良く検出するための方法及び検出装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は次のように構成されている。
１）くぼみの画像について、長さ（縦、横）、面積を測定する。なお、シート状物の走行方向を縦方向とする。
２）測定時に、膨張処理を行うことで、人工大理石全体が幅方向に急激に移動するときにくぼみがあっても、１個のくぼみとして認識する。
３）測定値により欠陥判定するための測定項目を変更する。
ａ）縦横比が予め設定した値以下のとき、すなわち、シートが等速で走行している場合は、面積で判定する。
ｂ）縦横比が予め設定した値を超えるとき、すなわち、シートの速度が低下、あるいは、停止した場合は、長さ（横）、あるいは、円換算面積（πＤ2／４）で判定する（Ｄは横方向長さ）。
【０００８】
すなわち本発明によれば、一方の表面のくぼみを検出すべきシート状物を走行せしめるステップと、
前記表面に対してライン状照明装置により光を照射するステップと、
この照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光をラインセンサにて受光するステップと、
前記ラインセンサの出力信号を２値化するステップと、
前記２値化された信号についてランレングス符号化を行うステップと、
前記ランレングス符号化により得られたランレングス符号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたがる連結性処理を行うステップと、
前記連結性処理の結果、前記シート状物の走行方向を縦方向とするとき、くぼみの可能性ありとして検出された領域の縦横比を検出するステップと、
前記縦横比が所定値以下のときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の面積を用い、一方前記縦横比が前記所定値を超えるときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の横の長さを用いて、くぼみの検出の有無を判定するステップとを、
有するシート状物のくぼみ検出方法が提供される。
【０００９】
さらに本発明によれば、一方の表面のくぼみを検出すべきシート状物を走行せしめる手段と、
前記表面に対して入光を照射するライン状照明装置と、
前記ライン状照明装置からの照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光を受光するラインセンサと、
前記ラインセンサの出力信号を２値化する２値化手段と、
前記２値化された信号についてランレングス符号化を行う符号化手段と、
前記ランレングス符号化により得られたランレングス符号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたがる連結性処理を行う連結性処理手段と、
前記連結性処理の結果、前記シート状物の走行方向を縦方向とするとき、くぼみの可能性ありとして検出された領域の縦横比を検出する検出手段と、
前記縦横比が所定値以下のときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の面積を用い、一方前記縦横比が前記所定値を超えるときは前記くぼみの可能性ありとして検出された領域の横の長さを用いて、くぼみの検出の有無を判定する判定手段とを、
有するシート状物のくぼみ検出装置が提供される。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下図面と共に、本発明のシート状物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置の実施の形態を好ましい実施例によって説明する。図１は、本発明の好ましい実施例を模式的に示す図である。複数の回転可能なローラ１が並べて配置され、この上を検査対象２が図中左方向へ走行するものとする。検査対象２は人工大理石シートであり、そのサイズは例えば幅７６０ｍｍ、長さ１５００〜３６８０ｍｍ、厚さ数ｍｍ〜１９ｍｍである。ここで長さと厚さに範囲があるのは、複数種類の人工大理石シートの規格の違いによるものであり、同一規格のシートでのバラツキではない。
【００１１】
検査対象２はローラ１上を走行するとき、わずかに振動する。検査対象２の上下方向の振動の大きさは５ｍｍ以下である。検査面の上下動（位置の変化範囲）は、厚さのバラツキや振動量を含めて約±１０ｍｍ以下である。検査対象２の表面には、黒い流れ模様もある。検査対象２はローラ１の回転により、走行時は等速で走行している。しかし、検査の途中で目視を行う目的などの理由で急激に停止することがある。また、検査対象２が進行方向に対して傾くことがあり、この場合、検査対象の傾きを修正すべく幅方向両端に設けられたローラなどで位置の補正を行うこととなる。その場合、検査対象２はほとんどの場合、横方向（進行方向に直角方向）に移動することとなる。目視が終了すると、検査対象２は再度等速での走行を開始する。
【００１２】
照明装置３としては、高周波点灯蛍光灯を検査対象２に対して入射角６０゜で設置している。照明幅Ｗは照明装置３から出射される光線の光軸と直角方向に測った実効幅であり、シート状物の幅方向の寸法のことではない。照明装置３による照明幅Ｗは次の式で求められる。Ｗ≧Ｌｓｉｎ２α／ｃｏｓα  ここで、Ｌ＝２１ｍｍとするとＷ＝２１ｓｉｎ１２０°／ｃｏｓ６０°＝３６．４（ｍｍ）となり、照明幅Ｗは３６．４ｍｍ以上必要となることがわかる。そこで、照明装置３として、蛍光管を２灯近接して配置している。また、検査対象２のくぼみ部分に、暗い影を作るようにするため、照明装置３には光の指向性が高いアパーチャ管を使用している。
【００１３】
入射角αを大きくするほど、検査対象２の正常部とくぼみ部分の明暗差が大となるが、入射角αを大きくするほど、照明幅Ｗを大きくする必要がある。入射角αは４５°〜７０゜の範囲でくぼみを検出できるが、照明幅Ｗを考慮すると、α＝６０゜程度にすることが望ましい。受光素子であるラインセンサ４として三菱レイヨン（株）製ラインＣＣＤカメラ（型名  ＳＣＣ−５０００）を３台使用している。このラインＣＣＤカメラは、素子数  ５０００、クロック  ２０ＭＨｚである。ラインＣＣＤカメラ４は、受光角β＝６０°で設置されていて、検査対象２からの正反射光を受光するようにしている。ラインＣＣＤカメラ４は、検査対象２の幅方向に、３台設置し、走行する検査対象２を、分解能０．１ｍｍ／素子で読み取っている。
【００１４】
ラインＣＣＤカメラ４の出力信号は、微分処理回路５へ送られて微分処理されることにより、検査対象２に含まれる各種の模様の影響を防止している。微分処理回路５の出力信号は、画像処理装置６へ送られる。この画像処理装置６のハードウェアとしては三菱レイヨン（株）製造のＬＳＣ−１００型を用いることができる。画像処理装置６の構成及びその動作については後で詳細に説明する。微分処理回路５の出力は、画像処理装置６により、８ビットでＡ／Ｄ変換された後、予め設定されたしきい値で、２値化され、データ圧縮のためランレングス符号化される。次いで、連続する走査ラインに含まれるランレングス符号の連結性をチェックしながら、くぼみの測定が行われる。ホストコンピュータ７は画像処理装置６の出力信号を受けて測定結果を基に、ディスプレイへの表示、生産ラインへの出力などを行う。
【００１５】
図２は、本発明の画像の例を説明するための図である。ピッツ、すなわち欠陥の判定条件は、４〜４００画素、縦横比の条件は２と設定している。図２は（ａ）〜（ｃ）は、人工大理石の走行状態が異なった場合の、同じピッツの画像の例である。（ａ）は検査対象２が等速で走行しているときに検出したピッツの画像を示している。（ｂ）はシートが急激に停止したピッツの画像を示している。縦が１００００画素、横が３画素であり、縦横比が３３３３である。面積では、ピッツの判定条件を満足していない。しかし、予め設定した縦横比より大であるため、横の長さＤから求めた円換算面積（πＤ2／４）を採用する。円換算面積は７画素であり、ピッツと判定できる。
【００１６】
（ｃ）は検査対象の傾きを補正するため、シート全体が幅方向に急激に移動するとき検出したピッツの画像を示している。ＣＣＤカメラの走査周期の時間に３画素分、右方向に移動している。このため、１個のピッツが、３個の画像に分割されており、面積は、１、３、１画素となっている。しかし、ランレングス符号の連結性をチェックするとき、膨張処理係数を１０画素としているため、１つのくぼみとして測定している。なお、測定時の面積は、膨張処理前の値としている。縦横比は３／７であり、予め設定して縦横比以下であるため、面積の測定値を採用する。面積は５画素であり、ピッツと判定する。
【００１７】
図３は画像処理装置６に用いられている後述するＣＰＵ（中央演算処理装置）における判定の処理手順を示すフローチャートである。電源が投入されると、ステップ１にてメモリなどをクリアする所定のイニシャライズを行い、ステップＳ２で連結性処理の結果ピッツの可能性のある画素が検出されたか否かを判断する。ピッツの可能性のある画素が検出されたときは、ステップＳ３でその可能性のある画素領域の縦横比Ｒを測定・演算する。次のステップＳ４で縦横比Ｒが２を超えているか否かを判断する。Ｒが２以下のときは、ステップＳ５で、ピッツを構成する画素領域の面積を採用し、これを計算する。一方、Ｒが２を超えているときは、縦の長さを無視し、横の長さのみを採用し、これを用いて円換算面積を計算する。ステップＳ５又はＳ６が終了すると、ステップＳ７ではステップＳ５又はＳ６で得た面積を用いてピッツの可能性のある領域の面積、すなわち画素数が上記判定条件である４〜４００画素の範囲内か否かを判断する。
【００１８】
なお、ピッツの判定条件、縦横比の条件は、ＣＣＤカメラの分解能、走査周期、欠陥とすべきピッツサイズから、適正値を設定することが必要である。また、横の長さの測定値は、フェレ径（最大長）を測定しているが、シートの蛇行の影響が有る場合は、ピッツの画像のうち、横の長さの最大値を採用すればよい。
【００１９】
次に前述の連結性をチェックする連結性処理とランレングス符号の膨張処理について説明する。図４は、図１の画像処理装置６の構造を示すブロック図、図５は、くぼみのパターンを分類して示す説明図、図６は、ランレングス符号をライン間で連結性処理する場合のアルゴリズムを説明するためのフローチャート、図７は、くぼみの判定処理を示す説明図である。
【００２０】
図４の画像処理装置６は上述のＣＰＵの他にＡ／Ｄコンバータ２３、コンパレータ２４、ランレングス符号化回路２５、メモリ２６などを有し、さらにＣＰＵが実行する検査プログラム等が予め格納されたＲＯＭ（リードオンリメモリ）１４と、ＣＰＵ１５の作業エリア等を有するＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１３と、ホストコンピュータ７との間で検査条件や検査結果等のデータを転送するためのＧＰＩＢインタフェース１６を有する。ホストコンピュータ７では、このくぼみ検査装置の検査条件が設定されたり、検査結果が表示等される。
【００２１】
微分処理回路５の出力信号は、Ａ／Ｄコンバータ２３により例えば８ビットのデジタルデータに変換され、このデジタルデータは、メモリ２６（しきい値メモリ１１）の画素毎のしきい値に基づいてコンパレータ２４により２値化されてくぼみの幅が検出され、この２値化データがランレングス符号化回路２５によりランレングス符号化される。
【００２２】
メモリ２６は論理指定部２７と、ライン数指定部２８と、ランレングスバッファ２９と、ランレングスバッファ系列切替指定部３０と、しきい値メモリ３１と基準値メモリ３２を有し、ＣＰＵ（中央処理装置）１５の主メモリが用いられる。論理指定部２７には予め、検出されるくぼみが白（＝「０」）か黒（＝「１」）かに応じてセットされ、ライン数指定部２８には予め、ランレングス符号化回路２５の処理単位のライン数がセットされる。ランレングスバッファ２９は、例えば１２８ｋＢの容量のものが２系統用いられ、ランレングス符号化回路２５が符号化し、ＣＰＵ１５が連結性処理するために各系統が交互に用いられる。ランレングスバッファ系列切替指定部３０には、ランレングス符号化回路２５が用いるランレングスバッファ２９の系統がセットされる。
【００２３】
しきい値メモリ３１には予め、ラインＣＣＤカメラ４の素子間の感度ばらつきや、主走査方向の照明ムラやレンズの歪みを補正するためにラインＣＣＤカメラ４の素子毎の２値化用しきい値が設定される。基準値メモリ３２は、透過率または反射率が均一な被検査物を予め読み取った際の各画素のレベルデータを記憶し、この各画素のレベルデータと透過率または反射率の積がしきい値としてしきい値メモリ３１に格納される。したがって、コンパレータ２４は、ラインＣＣＤカメラ４の素子間の感度ばらつきや、照明ムラやレンズの歪みを補正して各画素を２値化することができる。
【００２４】
次に、検査処理について説明する。走行する帯状の検査対象２の表面をラインＣＣＤカメラ４が被検査物の幅方向に走査して一次元画像を読み取った場合、その読み取りにより得られるアナログ信号のレベルは、例えばくぼみの位置においてはくぼみの幅と反射レベルに応じて低くなる。なお、ラインＣＣＤカメラ４の出力信号レベルが画素毎に異なるが、これはラインＣＣＤカメラ４の素子間の感度ばらつきや、照明ムラやレンズの歪みに基づくものであり、微分処理回路５の出力信号についてコンパレータ２４がしきい値メモリ３１の各画素毎のしきい値により２値化することにより補正される。
【００２５】
コンパレータ２４により２値化されたデータは、ランレングス符号化回路２５により符号化され、ＣＰＵ１５により後述するような連結性処理が行われる。なお連結性処理とは、複数の連続する走査ラインにおけるデータ間で比較しつつ処理することをいう。ここで、記号ｓ（＝スタート）をくぼみの始点座標とし、記号ｅ（＝エンド）を終点座標とすると、くぼみデータは次のようなランレングス符号で表される。
【００２６】
【表１】
ａis：ｎ−１行目のｉ番目のくぼみの始点座標
ａie：ｎ−１行目のｉ番目のくぼみの終点座標
ｂjs：ｎ行目のｊ番目のくぼみの始点座標
ｂje：ｎ行目のｊ番目のくぼみの終点座標
【００２７】
図５は一例として２行分（２走査ライン）のくぼみデータを示し、このくぼみは４種類のパターンに分類される。すなわち、連続パターンでは、１つのくぼみが行間で図５中に矢印で示す副走査方向に連続しており、収束パターンでは、前の行の複数（図では２個）のくぼみが次の行において１つのくぼみに収束しており、分散パターンでは、前の行の１つのくぼみが次の行において複数（図では２個）のくぼみに分散しており、消滅パターンでは前の行の１つのくぼみが次の行において消滅している。
【００２８】
図６は、このパターンを分類するために、ｎ−１行目とｎ行目のくぼみデータのパターンを比較し、連続、収束、分散、消滅の４つのパターンに分類し、消滅時にそのくぼみの測定が終了する連結性処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。まず、ステップＳ１においてｎ−１行目のくぼみを示すカウンタｉを「０」にセットし、ｎ行目のくぼみを示すカウンタｊを「１」にセットし、続くステップＳ２においてカウンタｉを１つインクリメントし、また、カウンタｊを１つデクリメントする。
【００２９】
そして、ｎ−１行目のｉ番目のくぼみの始点座標ａisがＣＣＤカメラ４の画素数＋１でない場合にステップＳ４以下に進み、連続、収束、分散、消滅の４つのパターンに分類する処理を実行する。なお、この処理では上記ランレングス符号に対してくぼみの幅が中間的に用いられる。
【００３０】
【表２】
ａia＝ａie−ａis（ｎ−１行目のｉ番目のくぼみの幅）
ｂja＝ｂje−ｂjs（ｎ行目のｊ番目のくぼみの幅）
【００３１】
まず、ステップＳ４においてｎ行目のｊ番目のくぼみの幅ｂjaが「０」か否かを判別し、「０」の場合にステップＳ５においてカウンタｊを１つデクリメントしてステップＳ４に戻り、カウンタｊが示すくぼみの幅ｂjaが「０」でなくなるまでこの処理を繰り返す。そして、くぼみの幅ｂjaが「０」でなくなると、ステップＳ６においてｂjs＜ａie＋ｗ、かつｂje＞ａis−ｗか、すなわちｎ−１行目のくぼみの幅を左右にそれぞれ−ｗ、＋ｗ画素分だけ膨張した後ａi＝ｂjか否かを判別し、ａi＝ｂjの場合に ステップＳ７において収束パターンと判定し、ステップＳ１３に進む。なお、このステップＳ７では、後述するような副走査方向の膨張処理を主走査方向と同様に共に行って判定する。
【００３２】
ステップＳ６においてａi＝ｂjでない場合には、ステップ８においてカウンタｊを１つインクリメントした後、ステップＳ９においてくぼみの幅ｂjaが「０」か否かを判別し、「０」の場合にステップＳ８に戻り、カウンタｊが示すくぼみの幅ｂjaが「０」でなくなるまでこの処理を繰り返す。そして、くぼみの幅ｂjaが「０」でなくなると、ステップＳ１０においてステップＳ６に示す主走査方向と副走査方向の膨張処理を行った後ａi＝ｂjか否かを判別し、ａi＝ｂjでない場合にステップＳ１１において消滅パターンと判定し、ステップＳ２に戻る。
【００３３】
ステップＳ１０においてａi＝ｂjの場合には、続くステップＳ１２において連続パターンと判定する。ついで、ステップＳ１３においてカウンタｊをインクリメントした後、ステップＳ１４においてくぼみの幅ｂjaが「０」か否かを判別し、「０」の場合にステップＳ１３に戻り、カウンタｊが示すくぼみの幅ｂjaが「０」でなくなるまでこの処理を繰り返す。そして、くぼみの幅ｂjaが「０」でなくなると、ステップＳ１５において同様な膨張処理を行った後ａi＝ｂjか否かを同様に判別し、ａi＝ｂjの場合にステップＳ１６において分散パターンと判定する。
【００３４】
そして、ステップＳ１７においてカウンタｊをインクリメントした後ステップＳ１５に戻り、ａi＝ｂjでない場合にステップＳ１５からステップＳ２に戻り、ステップＳ２〜Ｓ１７においてｎ行目のｊ番目のくぼみについての処理を繰り返す。
【００３５】
そして、ステップＳ３においてｎ−１行目のｉ番目のくぼみの始点座標ａisがＣＣＤカメラ４の画素数＋１になると、１行分の連結性処理を終了してステップＳ３からステップＳ１８に分岐し、ｎ行目のランレングス符号ｂjをｎ−１行目の ランレングス符号ａiに移動する。図６においてａi＝ｂjは、ｎ行目のランレン グス符号ｂjとｎ−１行目のランレングス符号ａiが連結、すなわち１つのくぼみであることを示している。
【００３６】
次に、図７を参照してエッジとくぼみの相互識別判断処理を説明する。図７（ａ）において符号１８、１８′は実際は１つのくぼみの２値画像を示し、２値化の結果ここでは２つのくぼみとして２値化されている。また、符号１８″は別のくぼみの２値画像を示す。したがって、くぼみデータ１８、１８′とくぼみデータ１８″はそれぞれ、１つのくぼみとして判断されなければならない。
【００３７】
そこで、図７（ａ）に示すように濃く示されるくぼみデータ１８、１８′、１８″を主走査方向に±ｗ（＝２）画素分、副走査方向にＬ（＝３）画素分膨張し、淡く示されるデータ１９、１９′とする。この処理は、ステップＳ６、Ｓ１０、Ｓ１５においてランレングス符号の水平方向の連結性判定基準をｂjs＜ａie＋ｗ、かつｂje＞ａis−ｗとし、垂直方向の連結性判定基準を、連結する画像が消滅後に消滅前画像を垂直方向にＬ画素分継続することにより可能となり、ステップＳ６、Ｓ１０、Ｓ１５においてイエスの場合にそれぞれ収束、連続、分散の各パターンに分類される。すなわち、画素膨張を施すことによって２つのくぼみと認識されていたものが１つのくぼみとして認識され、かつ他の離れたくぼみとは別個のものとして把えられている。よって図７（ａ）の場合、くぼみの数のカウントは１９と１９′の２つということとなる。
【００３８】
図７（ａ）に示す画素１９、１９′は、消滅時のランレングス符号を継続した場合を示し、図７（ｂ）に示す画素１９、１９′は、消滅時と１行前の状態の変化を継続した場合を示す。図７（ｂ）に示す場合には、膨張画素１９、１９′がくぼみデータ１８、１８′の方向に均一に膨張されているので、斜め方向のくぼみを正確に判断することができる。
【００３９】
上記図６のフローチャートの処理と前述の図３のフローチャートの処理は、いずれもＣＰＵ１５実行されるが、これらの処理は例えば時間割込みなどにより順次実行することができる。
【００４０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のシート状物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置によれば、次の効果がある。
（１）人工大理石が、検査途中で、一旦、停止し、再度、走行しても、くぼみを精度よく検出できる。
（２）上記（１）で人工大理石が停止後、人工大理石の傾きを補正したとき、人工大理石全体が幅方向に急激に移動しても、くぼみを精度よく検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明のシート状物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置の実施例を模式的に示す図である。
【図２】  図１の実施例における画像処理の手順を説明するためのピッツ領域の３つの例を示す図である。
【図３】  本発明の好ましい実施例における画像処理の手順を示すフローチャートである。
【図４】  図１の画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図５】  くぼみのパターンを分類して示す説明図である。
【図６】  ランレングス符号をライン間で連結性処理する場合のアルゴリズムを説明するためのフローチャートである。
【図７】  連結性処理で膨張されたくぼみデータを示す説明図である。
【符号の説明】
１  ローラ（走行せしめる手段）
２  検査対象
３  照明装置
４  ラインＣＣＤカメラ（ラインセンサ）
５  微分処理回路
６  画像処理装置
７  ホストコンピュータ
１３  ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）
１４  ＲＯＭ（リードオンリーメモリ）
１５  ＣＰＵ（連結性処理手段、検出手段、判定手段）
１６  ＧＰＩＢ
２４  コンパレータ（２値化手段）
２５  ランレングス符号化回路（符号化手段）
２６  メモリ
２７  論理指定部
２８  ライン数指定部
２９  ランレングスバッファ
３０  ランレングスバッファ系列切替指定部
３１  しきい値メモリ
３２  基準値メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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