(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号発生部（４）の信号発生器（２）から出力される信号を信号発生部（４）の減衰器（３）で信号レベルを順次変更しながら所定の経路（１８ａ、１８ｂ、１８ｃ）を介して測定対象端末（９）へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータ（５）で測定する移動端末試験システムにおいて、
前記信号発生器から所定レベルの搬送波信号を前記減衰器を介して前記経路に出力した状態において、前記減衰器の減衰設定量（Ｄ）を順次変更した場合の前記経路の測定対象端末に対する出力端子（１４）における各信号レベルに基づいて、前記各減衰設定量に対する校正値（ＤＡ）として、減衰器校正テーブル（２５）に書込む減衰器校正テーブル作成手段（２８）と、
前記信号発生器から前記経路に出力する所定レベルの搬送波信号の周波数を順次変更した場合の前記経路の出力端における各信号レベルに基づいて、各周波数値に対する校正値（ＤＦ）として、周波数校正テーブル（２６）に書込む周波数校正テーブル作成手段（２９）と、
前記信号発生器と前記パワーメータを接続する折返し経路（１９）を介して前記信号発生器の所定レベルの搬送波出力信号と変調波出力信号のレベルを前記パワーメータを制御してそれぞれ測定し、搬送波出力信号の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））と変調波出力信号の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＭＯＤ））として基礎パワー校正テーブル（３２）に書込む基礎パワー校正テーブル作成手段（３０）と、
前記折返し経路を介して、前記信号発生器の所定レベルの変調波出力信号のレベルを前記測定対象端末の測定直前に前記パワーメータを制御して測定し、測定前パワー校正値（ＢＭ）として測定前パワー校正テーブル（３5）に書込む測定前パワー校正テーブル作成手段（３３）と、
前記基礎パワー校正テーブルの前記搬送波出力信号の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））と前記測定前パワー校正テーブルの前記測定前パワー校正値（ＢＭ）との偏差レベル又は前記基礎パワー校正テーブルの前記搬送波出力信号の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））と前記変調波出力信号の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＭＯＤ））との偏差レベルをパワー校正値（Ｂ）として算出し、パワー校正テーブル（２７）に書込むパワー校正テーブル作成手段（３４）と、
前記測定対象端末へ送出する信号の前記経路の出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、前記減衰器校正テーブル及び周波数校正テーブルの校正値を用いて、前記減衰器の減衰設定量の指定及び前記信号発生器の出力レベルの調整を行う出力信号補正手段（２３）と
を備えた移動端末試験システム。
【請求項２】
移動端末を試験するために搬送波信号（ＣＷ）と変調波信号（ＭＯＤ）を切換えて出力可能にされ、かつその出力信号のレベル及び周波数が可変な信号発生部（４）と、前記移動端末の試験項目に応じて切替が可能にされ、前記信号発生部の出力信号を前記移動端末へ送出するための複数の経路（１８ａ、１８ｂ、１８ｃ）と、前記移動端末からの出力信号のレベルを測定するためのパワーメータ（５）とを含む移動端末試験システムにおいて、
前記信号発生部の搬送波信号の所定周波数及び所定レベルを基準設定点として周波数及びレベルを可変設定し前記各経路の前記移動端末側の出力端におけるレベルを測定することによって予め得られた、前記出力端における第１の校正データを記憶する第１の校正手段（２８、２９、３０）と、
前記移動端末の測定前に、前記信号発生部の搬送波信号及び変調波信号の前記基準設定点の周波数及びレベルを設定させてその実際出力のレベルを前記パワーメータに測定させ、測定結果を受けて、それぞれ搬送波基準校正パワー及び変調波基準校正パワーとし、それらの校正パワーの差を演算して第２の校正データとして記憶する第２の校正手段（３３、３４）と、
前記移動端末の測定直前に、前記信号発生部に外部から周波数及びレベルの変調波信号を指定され前記経路を選択された場合に、選択された前記経路の出力端で指定されたレベルの変調波信号になるように、前記第１の校正データ及び第２の校正データを用いて、前記信号発生部の出力レベルを微調整する出力信号補正手段（２３）と
を備えた移動端末試験システム。
【請求項３】
前記第２の校正手段は、予め前記信号発生部の搬送波信号の前記基準設定点におけるレベルを前記パワーメータに測定させ、その測定値を受けて、搬送波基準校正パワーとして記憶し、前記移動端末の測定直前に、前記信号発生部の変調波信号の前記基準設定点におけるレベルを前記パワーメータに測定させて変調波基準校正パワーとして求め、さらに前記搬送波基準校正パワーと前記変調波基準校正パワーとの差を演算し第２の校正データを求めることを特徴とする請求項２記載の移動端末試験システム。
【請求項４】
前記第１の校正手段、第２の校正手段及び出力信号補正手段は、プログラムとそれを実行するコンピュータを有するとともに、第１の校正データ及び第２の校正データを記憶するためのメモリを含む構成からなることを特徴とする請求項２又は３記載の移動端末試験システム。
【請求項５】
信号発生器から出力される信号を減衰器で信号レベルを順次変更しながら所定の経路を介して測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータで測定する移動端末試験システムにおける前記測定対象端末へ送信する信号の補正方法において、
前記測定対象端末へ信号を送出するまえに、
前記信号発生器から信号を前記減衰器を介して前記経路に出力した状態において、前記減衰器の減衰設定量を順次変更した場合の前記経路の測定対象端末に対する出力端における各信号レベルを測定して、前記各減衰設定量に対する校正値を求め、
前記信号発生器から前記経路に出力する信号の周波数を順次変更した場合の前記経路の出力端における各信号レベルを測定して、各周波数値に対する校正値を求め、
折返し経路を用いて前記信号発生器から出力された信号のレベルを前記パワーメータで測定して基礎パワー校正値として求め、
折返し経路を用いて前記信号発生器の出力信号レベルを、前記測定対象端末の測定直前に前記パワーメータにて測定し、測定前校正値として求め、
前記各校正値を求めたのちに、
前記測定対象端末へ送出する信号の前記経路の出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、前記各校正値を用いて、前記減衰器の減衰設定量の指定及び前記信号発生器の出力レベルの調整を行う
ことを特徴とする信号の補正方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば携帯電話等に代表される移動端末の送受信性能を試験する移動端末試験システム、及びこのシステムにおける測定対象端末へ送信する信号を補正する信号の補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
移動体通信システムに用いられる例えば携帯電話等の移動端末の送受信性能を試験する移動端末試験システムは、例えば図１３に示すように構成されている。すなわち、この移動端末試験システム１内には、信号発生器２と減衰器３とが組込まれた信号発生部４、パワーメータ５とスペクトラムアナライザ６とが組込まれた送信機テスタ７と、インタフェースユニット８とが設けられている。
【０００３】
このインタフェースユニット８に対して測定対象端末９が接続される。さらに、この測定対象端末９に対して誤り測定装置１０が接続されている。前記インタフェースユニット８は、信号発生部４から出力された試験用の変調信号を測定対象端末９へ導くとともに、測定対象端末９から送信されてきた変調信号を送信機テスタ７へ導く複数の切換スイッチが組込まれた回路網で構成されている。
【０００４】
このような移動端末試験システム１において、信号発生部４の信号発生器２は、測定対象端末９に採用されている例えばＷ―ＣＤＭＡ方式の試験用の一定信号レベルを有した変調信号を出力する。この一定信号レベルを有した変調信号は減衰器３を介してインタフェースユニット８へ入力する。インタフェースユニット８を通過した試験用の変調信号は測定対象端末９へ送出される。測定対象端末９は受信した試験用の変調信号を復調して、元のデジタルの試験データを得て、誤り測定装置１０へ送出する。誤り測定装置１０は、測定対象端末９で復調されたデジタルの試験データの誤り率を測定する。
【０００５】
そして、減衰器３の減衰設定量（ｄＢ）を順次増加させて、信号発生部４から出力される試験用の変調信号の信号レベルを順次低下させていく。そして、各信号レベルの変調信号を受信した時点で、測定対象端末９から出力される復調された各試験データの誤り率を誤り測定装置１０で測定する。
【０００６】
そして、変調信号の信号レベルと誤り率との関係を誤り率特性として出力する。すなわち、測定対象端末９としての、許容誤り率（限界誤り率）時における下限信号レベルが求まる。すなわち、測定対象端末９の受信感度が求まる。
【０００７】
また、測定対象端末９から送信された変調信号はインタフェースユニット８で受信されて、送信機テスタ７のパワーメータ５とスペクトラムアナライザ６へ送信される。パワーメータ５は受信した測定対象端末９からの変調信号のパワーレベルを測定する。スペクトラムアナライザ６は、測定対象端末９からの変調信号の周波数特性を測定する。すなわち、送信機テスタ７は、測定対象端末９の基地局に対する送信機としての特性を測定する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図１３に示す移動端末試験システム１においてもまだ改良すべき次のような課題があった。
【０００９】
すなわち、この移動端末試験システム１において、測定対象端末９に送信する試験用の変調信号の信号レベルを順番に低減させていくと、この測定対象端末９で復調されたデジタルの試験データの誤り率は上昇して行くが、許容誤り率（限界誤り率）以下に低下した時点における試験用の変調信号の信号レベルを下限信号レベルとして正確に求める必要がある。
【００１０】
しかし、近年、測定対象端末９の受信感度が上昇し、かつ測定対象端末９内のエラー補正回路が動作して、この下限信号レベルは、通常の信号レベルに比較して大幅に低下している。
したがって、図１３に示す移動端末試験システム１から、測定対象端末９へ実際に送出している変調信号の信号レベルも大幅に低下している。この測定対象端末９へ送出する変調信号の信号レベルは減衰器３における−１ｄＢ、―２ｄＢ、―３ｄＢ、…、―３０ｄＢ、…等の減衰設定量の切換え操作によって実施される。しかし、一般に、この減衰器３における各減衰設定量と実際の減衰量との間に誤差が生じている。この誤差は、通常の信号レベルに対しては、ほぼ無視できる値であるが、前述した下限信号レベルに対しては無視できない値である。
【００１１】
さらに、図１３の移動端末試験システム１においては、制御される信号レベルは信号発生部４における減衰器３の出力端の信号レベルである。しかし、この減衰器３の出力端と測定対象端末９との間には、複数の切換スイッチが組込まれた回路網で構成されたインタフェースユニット８が存在する。変調信号がこのインタフェースユニット８を通過することによる抵抗損に起因する信号レベル低下も、前述した下限信号レベルに対しては無視できない値である。さらに、インタフェースユニット８の回路網が周波数特性を有する場合は、その信号レベルにおける周波数の寄与分も無視できない。
【００１２】
さらに、信号発生部４における信号発生器２は、例えば、０ｄＢｍ等の予め仕様で設定された一定の信号レベルを有した変調信号を出力する筈である。しかし、詳細に検討すると、仕様で定められた信号レベルと実際に出力される変調信号の信号レベルとの間に誤差が存在する。この誤差レベルも、前述した下限信号レベルに対しては無視できない値である。
【００１３】
さらに、信号発生部４における信号発生器２は、温度などの環境条件や、経時変化等の要因により、移動端末試験システム１の出荷時の出力とシステム設置場所における測定時における出力との間、出荷後の定期校正時の出力と測定時における出力との間、及び、システム稼働開始直後の出力と、長期間稼働させた場合の出力との間に誤差が生じる。この誤差レベルも、前述した下限信号レベルに対しては無視できない値である。
【００１４】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、信号発生器から測定対象端末までの経路に起因する損失、減衰器の減衰設定量の誤差、信号発生器の出力レベル誤差等に起因する校正値を予め求めておくことにより、実際に測定対象端末に入力される信号の信号レベルを指定された信号レベルに高い精度で設定でき、測定対象端末に対する試験精度を大幅に向上できる移動端末試験システム、及びこのシステムにおける測定対象端末へ送信する信号を補正する信号の補正方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、信号発生部の信号発生器から出力される信号を信号発生部の減衰器で信号レベルを順次変更しながら所定の経路を介して測定対象端末へ送信するとともに、該測定対象端末から送信された信号を受信してその信号レベルをパワーメータで測定する移動端末試験システムに適用される。
【００１６】
そして、上記課題を解消するために、本発明の移動端末試験システムにおいては、信号発生器から所定レベルの搬送波信号を減衰器を介して経路に出力した状態において、減衰器の減衰設定量を順次変更した場合の経路の測定対象端末に対する出力端における各信号レベルに基づいて、各減衰設定量に対する校正値として、減衰器校正テーブルに書込む減衰器校正テーブル作成手段と、信号発生器から経路に出力する所定レベルの搬送波信号の周波数を順次変更した場合の経路の出力端における各信号レベルに基づいて、各周波数値に対する校正値として、周波数校正テーブルに書込む周波数校正テーブル作成手段と、信号発生器とパワーメータを接続する折返し経路を介して信号発生器の所定レベルの搬送波出力信号と変調波出力信号のレベルをパワーメータを制御してそれぞれ測定し、基礎パワー校正値として基礎パワー校正テーブルに書込む基礎パワー校正テーブル作成手段と、折返し経路を介して、信号発生器の所定レベルの変調波出力信号のレベルを測定対象端末の測定直前にパワーメータを制御して測定し、測定前パワー校正値として測定前パワー校正テーブルに書込む測定前パワー校正テーブル作成手段と、基礎パワー校正テーブルの基礎パワー校正値と測定前パワー校正テーブルの測定前パワー校正値との偏差レベル又は基礎パワー校正テーブルの基礎パワー校正値と基礎パワー校正値との偏差レベルをパワー校正値として算出し、パワー校正テーブルに書込むパワー校正テーブル作成手段と、測定対象端末へ送出する信号の経路の出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、減衰器校正テーブル及び周波数校正テーブルの校正値を用いて、減衰器の減衰設定量の指定及び信号発生器の出力レベルの調整を行う出力信号補正手段とを備えている。
【００１７】
また、別の発明における信号の補正方法は、移動端末試験システムにおいて、
測定対象端末へ信号を送出するまえに、
信号発生器から信号を減衰器を介して経路に出力した状態において、減衰器の減衰設定量を順次変更した場合の経路の測定対象端末に対する出力端における各信号レベルを測定して、各減衰設定量に対する校正値を求め、信号発生器から経路に出力する信号の周波数を順次変更した場合の経路の出力端における各信号レベルを測定して、各周波数値に対する校正値を求め、折返し経路を用いて信号発生器から出力された信号のレベルをパワーメータで測定して基礎パワー校正値として求め、折返し経路を用いて信号発生器の出力信号レベルを、測定対象端末の測定直前にパワーメータにて測定し、測定前校正値として求める。
【００１８】
そして、各校正値を求めたのちに、
測定対象端末へ送出する信号の経路の出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、各校正値を用いて、減衰器の減衰設定量の指定及び信号発生器の出力レベルの調整を行う。
【００１９】
このように構成された移動端末試験システム及び信号の補正方法においては、信号発生器から一定信号レベルの信号を出力している状態において、減衰器の減衰設定量を順次変更した場合の経路の測定対象端末に対する出力端における各信号レベルを校正値として測定している。
【００２０】
したがって、出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、減衰器の減衰設定量及び信号発生器の出力レベルを調整すればよい。
【００２１】
よって、測定対象端末へ送出する信号の経路の出力端における信号レベルが指定された信号レベルになるように、各校正値を用いて、減衰器の減衰設定量の指定及び信号発生器の出力レベルの調整を行うことが可能となる。
【００２２】
さらに別の発明は、移動端末を試験するために搬送波信号と変調波信号を切換えて出力可能にされ、かつその出力信号のレベル及び周波数が可変な信号発生部と、移動端末の試験項目に応じて切替が可能にされ、信号発生部の出力信号を移動端末へ送出するための複数の経路と、移動端末からの出力信号のレベルを測定するためのパワーメータとを含む移動端末試験システムに適用される。
【００２３】
そして、上記課題を解消するために、本発明の移動端末試験システムにおいては、信号発生部の搬送波信号の所定周波数及び所定レベルを基準設定点として周波数及びレベルを可変設定し各経路の移動端末側の出力端におけるレベルを測定することによって予め得られた、出力端における第１の校正データを記憶する第１の校正手段と、移動端末の試験前に、信号発生部の搬送波信号及び変調波信号の基準設定点の周波数及びレベルを設定させてその実際出力のレベルをパワーメータに測定させ、測定結果を受けて、それぞれ搬送波基準校正パワー及び変調波基準校正パワーとし、それらの校正パワーの差を演算して第２の校正データとして記憶する第２の校正手段と、移動端末の試験直前に、信号発生部に外部から周波数及びレベルの変調波信号を指定され経路を選択された場合に、選択された経路の出力端で指定されたレベルの変調波信号になるように、第１の校正データ及び第２の校正データを用いて、信号発生部の出力レベルを微調整する出力信号補正手段とを備えている。
【００２４】
さらに別の発明は、上述した発明の移動端末試験システムにおいて、第２の校正手段は、予め信号発生部の搬送波信号の基準設定点におけるレベルをパワーメータに測定させ、その測定値を受けて、搬送波基準校正パワーとして記憶し、移動端末試験開始直前に、信号発生部の変調波信号の基準設定点におけるレベルを前記パワーメータに測定させて変調波基準校正パワーとして求め、さらに搬送波基準校正パワーと変調波基準校正パワーとの差を演算し第２の校正データを求めるようにしている。
【００２６】
さらに別の発明は、上述した発明の移動端末試験システムにおいて、第１の校正手段、第２の校正手段及び出力信号補正手段は、プログラムとそれを実行するコンピュータを有するとともに、第１の校正データ及び第２の校正データを記憶するためのメモリを含むようにしている。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。
図１及び図２は実施形態に係る信号の補正方法が適用される移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図である。図１３に示す従来の移動端末試験システムと同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明は省略する。
【００２８】
この実施形態の移動端末試験システム内には、信号発生器２と減衰器３とが組込まれた信号発生部４と、パワーメータ５とスペクトラムアナライザ６とが組込まれた送信機テスタ７と、インタフェースユニット１１と、コンピュータ等の情報処理装置からなる制御部１２と、校正用受信機１３と、校正用パワーメータ３１とが設けられている。インタフェースユニット１１の出力端子１４に対して測定対象端末９が接続される。さらに、この測定対象端末９に対して誤り測定装置１０が接続されている。
【００２９】
前記インタフェースユニット１１内には、例えば３個の切換スイッチ１５、１６、１７が組込まれている。そして、切換スイッチ１５、１６を切換制御することによって、信号発生部４から出力端子１４までの間に３つ以上の経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃを選択設定することが可能である。各経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃにはそれぞれ異なる回路部材が組込まれており、どの経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃを選択するかは、測定対象端末９に送信する変調信号の種類に応じて変化する。
【００３０】
さらに、このインタフェースユニット１１においては、切換スイッチ１６、１７を切換制御し、測定対象端末９から送信されてきた変調信号を出力端子１４から送信機テスタ７へ導く経路２０を形成可能である。
【００３１】
さらに、このインタフェースユニット１１内には、切換スイッチ１５、１７を切換制御して信号発生部４と送信テスタ７とを直接接続する折返し経路１９を形成可能である。なお、この折返し経路１９は、信号発生部４から測定対象端末９へ送信する試験用の信号を送信機テスタ７で測定（モニタ）するとときに使用する。なお、この折返し経路１９は、上述した他の各経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃ、２０に比較して格段に短く、経路損失はかなり小さい値である。
【００３２】
インタフェースユニット１１内に形成される各経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃ、１９，２０のうちどの経路を選択するかは、制御部１２からの経路選択信号２１にて指示される。
【００３３】
校正用受信機１３及び校正用パワーメータ３１は、この移動端末試験システムが、測定対象端末９に対する試験の実施に先だって実施する校正テーブル作成処理実施時に、測定対象端末９に代わって、インタフェースユニット１１の出力端子１４に接続される。そして、この校正用受信機１３及び校正用パワーメータ３１は、出力端子１４から出力される信号の信号レベルを測定して、制御部１２へ送出する。
【００３４】
信号発生部４、送信機テスタ７、校正用受信機１３、校正用パワーメータ３１、インタフェースユニット１１の各動作は制御部１２で制御される。
【００３５】
コンピュータ等の情報処理装置からなる制御部１２内には、図２に示すように、校正部２２、出力信号補正部２３、及び測定部２４が設けられている。そして、校正部２２内には、減衰器校正テーブル２５、周波数校正テーブル２６、基礎パワー校正テーブル３２、測定前パワー校正テーブル３５、パワー校正テーブル２７が設けられている。
【００３６】
減衰器校正テーブル２５内には、図３に示すように、信号発生部４の信号発生器２から例えば１０００ＭHz等の正弦波信号で、かつ例えば０ｄＢｍ等の一定信号レベルを有した校正用信号を出力した状態において、減衰器３の減衰設定量Ｄを０ｄＢ、１ｄＢ、２ｄＢ、…と順番に変更していった場合における、出力端子１４に接続された校正用受信機１３で測定された各信号レベルが校正値ＤＡとして書込まれる。そして、この各減衰設定量Ｄにおける各校正値ＤＡが各経路１８ａ（経路１）、１８ｂ（経路２）、１８ｃ（経路３）毎に記憶されている。
【００３７】
この実施形態の減衰器校正テーブル２５においては、経路１（経路１８ａ）における信号レベル低下（経路損失）が最も小さく、経路３（経路１８ｃ）における信号レベル低下（経路損失）が次に小さく、経路２（経路１８ｂ）における信号レベル低下（経路損失）が最も大きいことを示す。
【００３８】
周波数校正テーブル２６内には、図４に示すように、減衰器３の動作を停止させた、すなわち減衰器３をバイパスさせた状態において、信号発生部４の信号発生器２から例えば０ｄＢｍ等の一定信号レベルで、かつ、周波数Ｈを１０ＭHz、２０ＭHz、３０ＭHz…と順番に変化させていった校正用信号を出力した状態において、出力端子１４に接続された校正用パワーメータ３１で測定された各信号レベルが校正値ＤＦとして書込まれる。そして、各減衰設定量Ｄにおける各校正値ＤＦが各経路１８ａ（経路１）、１８ｂ（経路２）、１８ｃ（経路３）毎に記憶されている。なお、校正用信号は正弦波信号である。
この実施形態の周波数校正テーブル２６においては、周波数Ｈが高くなるにほど信号レベル低下が大きくなることを示す。
【００３９】
基礎パワー校正テーブル３２内には、図５（ａ）に示すように、減衰器３の動作を停止させた、すなわち減衰器３をバイパスさせた状態において、信号発生部４の信号発生器２から例えば０ｄＢｍ等の一定信号レベルで、２０００ＭHz等の搬送波周波数の変調信号を折返し経路１９を経由して、パワーメータ５で受信した信号レベルが基礎パワー校正値（ＢＦ）として記憶されている。
なお、基礎パワー校正テーブル３２内の基礎パワー校正値（ＢＦ）は、この移動端末試験システムの工場出荷時において測定されて書込まれる。
【００４０】
同様に、測定対象端末の測定前パワー校正テーブル３５内には、図５（ｂ）に示すように、減衰器３の動作を停止させた、すなわち減衰器３をバイパスさせた状態において、信号発生部４の信号発生器２から例えば０ｄＢｍ等の一定信号レベルで、２０００ＭHz等の搬送波周波数の変調信号を折返し経路１９を経由して、パワーメータ５で受信した信号レベルが測定前パワー校正値（ＢＭ）として記憶されている。
なお、測定前パワー校正テーブル３５内の測定前パワー校正値（ＢＭ）は、測定対象端末の測定直前において測定されて書込まれる。
この測定前パワー校正テーブル３５を設ける理由は、前述したように、信号発生部４における信号発生器２は、温度などの環境条件や、経時変化等の要因により、移動端末試験システム１の出荷時の出力とシステム設置場所における測定時における出力との間、出荷後の定期校正時の出力と測定時における出力との間、及び、システム稼働開始直後の出力と、長期間稼働させた場合の出力との間に誤差が生じる。この誤差レベルも、前述した下限信号レベルに対しては無視できない値であるからである。
【００４１】
さらに、パワー校正テーブル２７内には、図５（ｃ）に示すように、基礎パワー校正値（ＢＦ）と測定前パワー校正値（ＢＭ）とを比較して算出された誤差レベルが、パワー校正値（Ｂ）として、記憶されている。
【００４２】
この実施形態のパワー校正テーブル２７内においては、―０．３ｄＢが記憶されている。このことは、信号発生部４の信号発生器２は、測定時の信号レベルが、システム出荷時の出力レベルに対して、０．３ｄＢ低いことを示す。
【００４３】
校正部２２内には、上述した各校正テーブル２５、２６、２７、３２、３５、の他に、アプリケーション・プログラム上に形成された、減衰器校正テーブル作成部２８、周波数校正テーブル作成部２９、基礎パワー校正テーブル作成部３０、測定前パワー校正テーブル作成部３３、パワー校正テーブル作成部３４が設けられている。
【００４４】
校正部２２は、この移動端末試験システムの工場出荷に先だって、図６、図７，図８の流れ図に従って校正テーブル作成処理を実施する。
先ず、減衰器校正テーブル作成部２８による図３に示す減衰器校正テーブル２５の作成処理を図６を用いて説明する。
【００４５】
先ず、ステップＳ１において、測定する経路１８ａ〜１８ｃの経路Ｒ（経路番号）の初期化を行う（Ｒ＝１）。次に、インタフェースユニット１１へ経路選択信号２１を送出して、経路Ｒを選択する（Ｓ２）。Ｓ３にて、減衰器３の減衰設定量Ｄ（ｄＢ）を初期化する（Ｄ＝０）。
【００４６】
そして、信号発生部４の減衰器３に対して、減衰設定量Ｄを指定する（Ｓ４）。信号発生部４の信号発生器２へ０ｄＢｍ（１０００ＭHz、正弦波信号）の校正信号の出力指令を送出する（Ｓ５）。その結果、信号発生器２から出力された校正信号は、減衰器３で信号レベルが指定された減衰設定量Ｄだけ低下されたのち、インタフェースユニット１１内の指定された経路Ｒを経て出力端子１４を介して校正用受信機１３へ入力される。
【００４７】
この校正用受信機１３で受信した校正信号の信号値ＤＡ（ｄＢ）を読取り（Ｓ６）、この読取った信号値ＤＡ（ｄＢ）を、該当経路Ｒ、該当減衰設定量Ｄに対応する補正値ＤＡとして（Ｓ７）、図３に示す減衰器校正テーブル２５の対応する領域に書込む（Ｓ８）。
【００４８】
以上で、一つの校正値ＤＡの減衰器校正テーブル２５に対する書込み処理が終了したので、Ｓ９にて、減衰設定量Ｄを更新する（Ｄ＝Ｄ＋ａ）。但し、この実施形態においては、図３に示すように、減衰設定量Ｄを１ｄＢずつ変更するので、ａ＝１である。
【００４９】
更新後の減衰設定量Ｄが上限値Ｄｍ（この実施形態においては、図３に示すように、Ｄｍ＝１１）を越えていないことを確認すると（Ｓ１０）、Ｓ４へ戻り、更新後の減衰設定量Ｄを減衰器３へ設定し、該当減衰設定量Ｄに対する測定を開始する。
【００５０】
Ｓ１０にて、更新後の減衰設定量Ｄが上限値Ｄｍを越えると、Ｓ１１にて、経路Ｒ（経路番号）を更新する（Ｒ＝Ｒ＋１）。そして、更新後の経路Ｒ（経路番号）が上限値Ｒｍ（この実施形態においては、図１、図３に示すように、Ｒｍ＝３）を越えていないことを確認すると（Ｓ１２）、Ｓ２へ戻り、更新後の経路Ｒに対する測定を開始する。
【００５１】
Ｓ１２にて、更新後の経路Ｒ（経路番号）が上限値Ｒｍを越えると、減衰器校正テーブル２５に対する各校正値ＤＡの書込み処理が終了したので、この減衰器校正テーブル作成処理を終了する。
【００５２】
次に、周波数校正テーブル２６の作成処理を図７に示す。
周波数校正テーブル作成部２９は図７の流れ図に従って図４に示す周波数校正テーブル２６の作成処理を実施する。先ず、ステップＱ１において、測定する経路１８ａ〜１８ｃの経路Ｒ（経路番号）の初期化を行う（Ｒ＝１）。次に、インタフェースユニット１１へ経路選択信号２１を送出して、経路Ｒを選択する（Ｑ２）。Ｑ３にて、設定周波数Ｈ（ＭHz）を初期化する（Ｈ＝１０ＭHz）。
【００５３】
そして、信号発生部４の信号発生器２へ周波数Ｈ（ＭHz）を指定する（Ｑ４）。その後、該当の信号発生器２へ０ｄＢｍ（ＨＭHz、正弦波信号）の校正信号の出力指令を送出する（Ｑ５）。その結果、信号発生器２から出力された周波数Ｈを有する校正信号は、インタフェースユニット１１内の指定された経路Ｒを経て出力端子１４を介して校正用パワーメータ３１へ入力される。
【００５４】
この校正用パワーメータ３１で受信した校正信号のレベルより、その周波数における経路損失を含む校正値ＤＦ（ｄＢ）を算出し（Ｑ６）、該当経路Ｒ、該当周波数Ｈに対応する校正値ＤＦとして（Ｑ７）、図４に示す周波数校正テーブル２６の対応する領域に書込む（Ｑ８）。
【００５５】
以上で、一つの校正値ＤＦの周波数器校正テーブル２６に対する書込み処理が終了したので、Ｑ９にて、周波数Ｈを更新する（Ｈ＝Ｈ＋ｂ）。但し、この実施形態においては、図４に示すように、周波数Ｈを１０ＭHzずつ変更するので、ｂ＝１０ＭHzである。
【００５６】
更新後の設定周波数Ｈが上限値Ｈｍ（この実施形態においては、図４に示すように、Ｈｍ＝１２７５０ＭHz）を越えていないことを確認すると（Ｑ１０）、Ｑ４へ戻り、更新後の周波数Ｈを信号発生器２へ設定し、該当周波数Ｈに対する測定を開始する。
【００５７】
Ｑ１０にて、更新後の周波数Ｈが上限値Ｈｍを越えると、Ｑ１１にて、経路Ｒ（経路番号）を更新する（Ｒ＝Ｒ＋１）。そして、更新後の経路Ｒ（経路番号）が上限値Ｒｍ（この実施形態においては、図１、図３に示すように、Ｒｍ＝３）を越えていないことを確認すると（Ｑ１２）、Ｑ２へ戻り、更新後の経路Ｒに対する測定を開始する。
【００５８】
Ｑ１２にて、更新後の経路Ｒ（経路番号）が上限値Ｒｍを越えると、周波数校正テーブル２６に対する各校正値ＤＦの書込み処理が終了したので、この周波数校正テーブル２６作成処理を終了する。
【００５９】
また、変調信号を扱う場合、図５に示す基礎パワー校正テーブル３２は、ＣＷ（正弦波等の連続波）用と変調波（感度測定時にかける変調波）用との２つの基礎パワー校正テーブルで構成される。
【００６０】
校正部２２の基礎パワー校正テーブル作成部３０は、図８（ａ）の流れ図に従って、図５（ａ）に示す基礎パワー校正テーブル３２の作成処理を実施する。
【００６１】
先ず、インタフェースユニット１１に経路選択信号２１を送出して、折返し経路１９を形成させる（Ｔ１）。次に、減衰器３をバイパスさせた状態で、信号発生部４の信号発生器２に対して０ｄＢｍの信号レベルで、搬送周波数が２０００ＭHzであるＣＷ信号（無変調の連続信号）の出力指示を行う（Ｔ２）。その結果、信号発生器２から出力されたＣＷ信号は、インタフェースユニット１１内に形成された折返し経路１９を経由して送信機テスタ７のパワーメータ５へ入力される。
【００６２】
送信機テスタ７のパワーメータ５は、受信したＣＷ信号の信号レベルを読取り、制御部１２へ送信する。制御部１２のパワー校正テーブル作成部３０は、パワーメータ５から読取ったＣＷ信号の信号レベルを基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））として、図５（ａ）に示す基礎パワー校正テーブル３２へ書込む（Ｔ４）。
【００６３】
変調波についても同様に、基礎パワー校正テーブル作成部３０は、図８（ｂ）の流れ図に従って、変調信号の信号レベルを読取り、基礎パワー校正値（ＢＦ（ＭＯＤ））として、図５（ａ）に示す基礎パワー校正テーブル３２へ書込む。
【００６４】
以上で、この移動端末試験システムにおける工場出荷前の校正処理作業が終了したので、校正用受信機１３、又は校正用パワーメータ３１を出力端子１４から取外して、この移動端末試験システムを出荷する。
【００６５】
次に、校正済みの移動端末試験システムを用いて実際に携帯電話等の試験を実施する場合の信号の補正処理手順を説明する。
【００６６】
先ず、インタフェースユニット１１の出力端子１４に測定対象端末９を接続し、さらに、この測定対象端末９に誤り測定装置１０を接続した状態において、制御部１２の出力信号補正部２３は、図１１、図１２、図９、図１０に示す流れ図に従って、測定部２４で指定された試験用の変調信号の出力レベルの補正処理を実施する。
【００６７】
図１１の流れ図において、測定部２４から、測定対象端末９へ送信する試験用の変調信号の周波数（出力周波数）ＦＯ、信号レベル（出力レベル）ＤＯ、及び経路Ｒが指定されると（Ｕ１）、図９の測定前パワー校正テーブル３５作成処理の流れ図が開始され（Ｕ２）、信号発生部４の信号発生器２へ、周波数ＦＯ、信号レベル０ｄＢｍの変調信号の出力指令を出力するとともに、減衰器３へバイパス指示を出力する。そして、折返し経路１９を指定する（Ｔ１、Ｔ２）。この状態で、送信機テスタ７のパワーメータ５で折返し経路１９を経由した変調信号のレベルを測定して（Ｔ３）、測定前パワー校正値（ＢＦ）とし、図５（ｂ）に示す測定前パワー校正テーブル３５へ書込む（Ｔ４）。
【００６８】
そこで、図１１のＵ３において、校正部２２のパワー校正テーブル作成部３４が起動して、図１０の流れ図に従って、パワー校正テーブル２７の作成処理を実施する。
【００６９】
測定前パワー校正を実行する場合は（Ｔ５）、図５（ａ）の基礎パワー校正テーブル３２の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））と、図５（ｂ）の測定前パワー校正テーブル３５の測定前パワー校正値（ＢＭ）とを比較して、その誤差レベルをパワー校正値（Ｂ）として算出し（Ｔ６）、図５（ｃ）のパワー校正テーブル２７へ書込む（Ｔ８）。
【００７０】
逆に、測定前パワー校正を実行しない場合は（Ｔ５）、基礎パワー校正テーブル３２の連続波の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＣＷ））と、基礎パワー校正テーブル３２の変調波の基礎パワー校正値（ＢＦ（ＭＯＤ））とを比較して、その誤差レベルをパワー校正値（Ｂ）として算出し（Ｔ７）、図５（ｃ）のパワー校正テーブル２７へ書込む（Ｔ８）。
【００７１】
次に、図１１のＵ４において、測定信号の出力経路Ｒを設定し、周波数校正テーブル２６から、周波数ＦＯ、出力経路Ｒに対する周波数校正値ＤＦを読出す（Ｕ５）。そして、出力の調整レベルΔＤ’を算出する（Ｕ６）。
【００７２】
ΔＤ’（調整レベル）＝Ｂ（パワー校正値）＋ＤＦ（周波数校正値）
そして、信号発生器２の出力レベルＤＯ’を求める（Ｕ７）。
【００７３】
ＤＯ’（出力レベル）＝ＤＥ（出力端子レベル）―ΔＤ’（調整レベル）
但し、ＤＥは出力端子１４のレベルである。信号発生器２の出力レベルＤＯ’より、減衰設定値Ｄを算出し、対応する減衰器３の減衰設定量ＤＴ’を算出する（Ｕ８）。次に、減衰器校正テーブル２５から減衰器３の減衰設定量ＤＴ’に対応する減衰器校正値ＤＡを読出す（Ｕ９）。
【００７４】
そして、減衰器校正値ＤＡを反映させて調整レベルΔＤを再算出する（Ｕ１０）。
【００７５】
ΔＤ（調整レベル）＝Ｂ（パワー校正値）＋ＤＦ（周波数校正値）＋ＤＡ（減衰器校正値）
調整レベルΔＤより、信号発生器２の出力レベルＤＯを算出する（Ｕ１１）。
【００７６】
ＤＯ（出力レベル）＝ＤＥ（出力端子レベル）―ΔＤ（調整レベル）
信号発生器２の出力レベルＤＯより、減衰設定値Ｄを算出して、対応する減衰器３の減衰設定量ＤＴを算出する（Ｕ１２）。
【００７７】
次に、減衰器３の減衰設定量ＤＴ’とＤＴとを比較する（Ｕ１３）。一致しなければ、ＤＴ’の値をＤＴの値で更新（ＤＴ’＝ＤＴ）し（Ｕ１４）、調整レベルΔＤを再計算し、信号発生器２の出力レベルＤＯを設定する。
【００７８】
一致した場合は、この信号発生器２の出力レベルＤＯにて試験信号を出力する（Ｕ１５）。
【００７９】
このように構成された移動端末試験システム及び信号の校正方法においては、この移動端末試験システムを製造して工場出荷前に、校正用受信機１３及び校正用パワーメータ３１をインタフェースユニット１１の出力端子１４に接続し、インタフェースユニット１１内に形成される各経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃと減衰器３の各減衰設定量Ｄとの組合せを経由した校正信号の信号レベルＤＡが減衰器校正テーブル２５に登録される。また、校正信号の周波数を変化させた場合における各経路１８ａ、１８ｂ、１８ｃを経由した校正信号の信号レベルＤＦが周波数校正テーブル２６に登録される。さらに、信号発生器２の仕様上の出力レベル（実施形態においては０ｄＢｍ）と、この移動端末試験システムに組込まれているパワーメータ５で実測された正確な出力レベルとの誤差レベルＢがパワー校正テーブル２７に登録されている。
【００８０】
したがって、実際に携帯電話等の感度試験を実施する場合において、これらの校正値ＤＡ、ＤＦ、Ｂを用いて、出力端子１４から測定対象端末９へ印加される試験用の変調信号の信号レベルを測定部２４で指定された信号レベルに正確に一致させることが可能となる。
【００８１】
その結果、測定対象端末９へ印加される試験用の変調信号の信号レベルを高い信号レベルから極く低い信号レベルに亘って高い精度で制御でき、移動端末試験システムの試験精度を大幅に向上できる。
【００８２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の移動端末試験システム及び信号の補正方法においては、信号発生器から測定対象端末までの経路損失、減衰器の減衰設定量の誤差、信号発生器の出力レベル誤差等に起因する校正値を予め求めて各校正テーブルに登録して、実際の出力信号レベルを補正するようにしている。
【００８３】
したがって、実際に測定対象端末に入力される信号の信号レベルを指定された信号レベルを高い精度で設定でき、測定対象端末に対する試験精度を大幅に向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係わる信号の補正方法が適用される移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図
【図２】同移動端末試験システム内に組込まれた制御部の詳細構成を示すブロック図
【図３】同実施形態の移動端末試験システム内に形成された減衰器校正テーブルの記憶内容を示す図
【図４】同移動端末試験システム内に形成された周波数校正テーブルの記憶内容を示す図
【図５】同移動端末試験システム内に形成された各パワー構成テーブルの記憶内容を示す図
【図６】同移動端末試験システムにおける減衰器校正テーブル作成部の動作を示す流れ図
【図７】同移動端末試験システムにおける周波数校正テーブル作成部の動作を示す流れ図
【図８】同移動端末試験システムにおける各パワー校正テーブル作成部の動作を示す流れ図
【図９】同移動端末試験システムにおける測定前パワー校正テーブル作成部の動作を示す流れ図
【図１０】同移動端末試験システムにおけるパワー校正テーブル作成部の動作を示す流れ図
【図１１】同移動端末試験システムにおける出力信号補正部の動作を示す流れ図
【図１２】同じく同移動端末試験システムにおける出力信号補正部の動作を示す流れ図
【図１３】従来の移動端末試験システムの概略構成を示すブロック図
【符号の説明】
２…信号発生器
３…減衰器
４…信号発生部
５…パワーメータ
６…スペクトラムアナライザ
７…送信機テスタ
９…測定対象端末
１０…誤り測定装置
１１…インタフェースユニット
１２…制御部
１３…校正用受信機
１４…出力端子
１５、１６、１７…切換スイッチ
１８ａ、１８ｂ、１８ｃ…経路
１９…折返し経路
２２…校正部
２３…出力信号補正部
２４…測定部
２５…減衰器校正テーブル
２６…周波数校正テーブル
２７…パワー校正テーブル
２８…減衰器校正テーブル作成部
２９…周波数校正テーブル作成部
３０…パワー校正テーブル作成部
３１…校正用パワーメータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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