(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
製造対象を製造する職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測する職場評価システムにおいて、
前記職場環境のうち不良発生の原因となる１以上の不良原因項目について、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分して定めたレベルの範囲を記憶する記憶手段と、
前記不良原因項目についての職場状態を示す情報の入力を受け付ける受付手段と、
前記受付手段が受け付けた前記職場状態を示す情報が、前記記憶手段に記憶した前記複数の段階に区分して定めたレベルの範囲のうち、いずれのレベルに属するかを判別する判別手段と、
前記判別手段により判別されたレベルの職場状態が、製造対象の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、不良品の出荷に影響する仕事別影響度を決定する仕事別影響度決定手段と、
前記仕事別影響度を用いて、当該職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測することを特徴とする職場評価システム。
【請求項２】
前記製造対象の製造から出荷までの過程における複数の仕事とは、製造対象の製造に関する仕事と、製造対象の検査に関する仕事と、検査結果に応じて実施する対策に関する仕事と、を含むことを特徴とする請求項１記載の職場評価システム。
【請求項３】
前記製造対象の製造に関する仕事における仕事別影響度は、不良品の作り込みに影響する影響度であり、
前記製造対象の検査に関する仕事における仕事別影響度は、不良品を出荷前に摘出することに影響する影響度であり、
検査結果に応じて実施する対策に関する仕事における仕事別影響度は、不良品を作り出す原因を除去するまでに要する時間の長さを決定することに影響する影響度である
ことを特徴とする請求項２記載の職場評価システム。
【請求項４】
前記仕事別影響度決定手段は、
前記不良原因項目別に項目別仕事別影響度を決定し、該項目別仕事別影響度から、仕事別影響度を決定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項記載の職場評価システム。
【請求項５】
前記記憶手段は、
前記個々の不良原因項目別に、当該不良原因項目の不良発生に対する影響度によって定めた重み係数を、さらに記憶し、
前記仕事別影響度決定手段は、
前記記憶手段に記憶した重み係数をさらに用いて、前記項目別仕事別影響度を算出する
ことを特徴とする請求項４記載の職場評価システム。
【請求項６】
前記不良原因項目は、少なくとも、作業者に関するカテゴリと、設備に関するカテゴリと、製造方法に関するカテゴリと、作業環境に関するカテゴリと、職場管理に関するカテゴリとに分類されることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項記載の職場評価システム。
【請求項７】
前記不良原因項目毎に、当該職場の項目別仕事別影響度に基づいて、当該職場項目別不良発生度を算出する当該職場項目別不良発生度算出手段と、
前記不良原因項目の前記当該職場項目別不良発生度に基づいて、当該職場不良発生度を算出する当該職場不良発生度算出手段と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きにくいレベルである理想職場について、前記項目別仕事別不良発生度を決定する理想職場項目別仕事別影響度決定手段と、
前記不良原因項目毎に、前記理想職場項目別仕事別影響度に基づいて、当該不良原因項目について、理想職場項目別不良発生度を算出する理想職場項目別不良発生度算出手段と、
前記不良原因項目の前記理想職場項目別不良発生度に基づいて、理想職場不良発生度を算出する理想職場不良発生度算出手段と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きやすいレベルである最悪職場について、前記項目別仕事別不良発生度を決定する最悪職場項目別仕事別影響度決定手段と、
前記不良原因項目毎に、前記最悪職場の項目別仕事別影響度に基づいて、当該不良原因項目について、最悪職場項目別不良発生度を算出する最悪職場項目別不良発生度算出手段と、
前記不良原因項目の前記最悪職場項目別不良発生度に基づいて、最悪職場不良発生度を算出する最悪職場不良発生度算出手段と、
前記当該職場不良発生度と、前記理想職場不良発生度と、前記最悪職場不良発生度と、に基づいて当該職場の評価を行うこと
を特徴とする請求項６記載の職場評価システム。
【請求項８】
前記不良原因項目毎に、当該職場の項目別仕事別影響度に基づいて、当該職場項目別不良発生度を算出する当該職場項目別不良発生度算出手段と、
前記カテゴリ毎に、当該カテゴリに属する前記不良原因項目の前記当該職場項目別不良発生度に基づいて、当該カテゴリについて、当該職場カテゴリ別不良発生度を算出する当該職場カテゴリ別不良発生度算出手段と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きにくいレベルである理想職場について、前記項目別仕事別不良発生度を決定する理想職場項目別仕事別影響度決定手段と、
前記不良原因項目毎に、前記理想職場項目別仕事別影響度に基づいて、当該不良原因項目について、理想職場項目別不良発生度を算出する理想職場項目別不良発生度算出手段と、
前記カテゴリ毎に、当該カテゴリに属する前記不良原因項目の前記理想職場項目別不良発生度に基づいて、当該カテゴリについて、理想職場カテゴリ別不良発生度を算出する理想職場カテゴリ別不良発生度算出手段と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きやすいレベルである最悪職場について、前記項目別仕事別不良発生度を決定する最悪職場項目別仕事別影響度決定手段と、
前記不良原因項目毎に、前記最悪職場の項目別仕事別影響度に基づいて、当該不良原因項目について、最悪職場項目別不良発生度を算出する最悪職場項目別不良発生度算出手段と、
前記カテゴリ毎に、当該カテゴリに属する前記不良原因項目の前記最悪職場項目別不良発生度に基づいて、当該カテゴリについて、最悪職場カテゴリ別不良発生度を算出する最悪職場カテゴリ別不良発生度算出手段と、
前記当該職場カテゴリ別不良発生度と、前記理想職場カテゴリ別不良発生度と、前記最悪職場カテゴリ別不良発生度と、に基づいて前記カテゴリ毎に当該職場の評価を行うこと
を特徴とする請求項６記載の職場評価システム。
【請求項９】
前記不良原因項目毎に、当該職場の項目別仕事別影響度に基づいて、当該職場項目別不良発生度を算出する当該職場項目別不良発生度算出手段と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きにくいレベルである理想職場について、前記項目別仕事別不良発生度を決定する理想職場項目別仕事別影響度決定手段と、
前記不良原因項目毎に、前記理想職場項目別仕事別影響度に基づいて、当該不良原因項目について、理想職場項目別不良発生度を算出する理想職場項目別不良発生度算出手段と、
前記理想職場項目別不良発生度と前記当該職場項目別不良発生度との差を、当該不良原因項目についての当該職場の改善余地として求め、前記改善余地の絶対値の大きさに応じて改善対策に関する情報を出力すること
を特徴とする請求項６記載の職場評価システム。
【請求項１０】
前記改善対策に関する情報は、前記改善余地の絶対値が前記カテゴリ内で最大の不良原因項目について出力すること、を特徴とする請求項９記載の職場評価システム。
【請求項１１】
前記改善対策は、長期的対策に関する情報と短期的対策に関する情報とを含むことを特徴とする請求項９および１０のいずれか一項記載の職場評価システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
製造職場の有する不良発生度合いを評価する職場評価方法及びシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、製造職場を評価するシステムとしては、工場の生産性を評価する「工場診断装置」（特開平9-62309号公報）や、「実装工場診断システム」（特開平10-79599号公報）などが知られている。また、工場で製造される製品の品質の高さを評価するものとしては、一般に外注工場審査のために種々の企業で作成している外注工場審査チェックシートが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
これらの工場の生産性を評価するシステムは、工場の内外における環境や現場の状況を分析して、工場が有する問題点を改善するためのものであるか、または工場の生産能力等を診断するものであり、工場が製造する製品の品質に対する評価は行っていない。また、外注工場審査チェックシートは、評価対象の工場の開発、製造、品質保証などの体制の良さを評価するものであり、その評価結果から該評価対象の工場が製造する製品にどれだけの割合で不良が発生するかを知ることはできない。
【０００４】
このように、いずれの従来技術も、工場から出荷される製品に、どのくらいの割合で不良品が含まれるのかを定量的に予測することはできない。従って、例えば、二つの工場を比較して、どちらの工場がどれだけ多くの不良品を出荷するかといったことを判断することはできなかった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、工場から出荷される製品に占める不良品の割合を予測する職場評価方法及びシステムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するための本発明にかかるシステムは、製造対象を製造する職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測する職場評価システムにおいて、前記職場環境のうち不良発生の原因となる１以上の不良原因項目について、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分して定めたレベルの範囲を記憶する記憶手段と、前記不良原因項目についての職場状態を示す情報の入力を受け付ける受付手段と、前記受付手段が受け付けた前記職場状態を示す情報が、前記記憶手段に記憶した前記複数の段階に区分して定めたレベルの範囲のうち、いずれのレベルに属するかを判別する判別手段と、前記判別手段により判別されたレベルの職場状態が、製造対象の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、不良品の出荷に影響する仕事別影響度を決定する仕事別影響度決定手段と、前記仕事別影響度を用いて、当該職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測することを特徴としている。
【０００７】
ここで、「製造対象」には販売される製品のほかに、製品として完成する前の半製品や、部品も含む。また、「出荷」とは、製品として工場から市場に出す場合のみならず、工場内である仕事から他の仕事へ、部品または半製品の状態で引き渡す場合も含む。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００９】
本発明を不良発生評価システムに適用した場合の構成を図２に示す。不良発生評価システム１は製品評価システム５と職場評価システム１０とから構成されている。
【００１０】
一般に、工場で製品を製造する場合に不良が生じる原因は、製品構造に起因するものと、製造職場のさまざまな環境に起因するものとに大別できる。すなわち、前者は、製品を構成する部品の形状、製品の機械的な構造または、組み立て方法の難しさなどによって決まる。従って、これは、作業者の技術力や作業環境には依存しない製品固有の要因である。後者は、製造職場の作業者の技術力や作業設備の管理状況、その他さまざまな職場環境によって決まる。従って、これは、職場固有のものであり、各職場の持つポテンシャルとも考えられる。
【００１１】
本実施の形態では、工場から出荷される製品に占める不良品の割合（以下、「不良率」と称する。）のうち、製品構造に依存するものは製品評価システム５で定量化し、製造職場に依存するものは職場評価システム１０で定量化する。従って、職場評価システム１０と製品評価システム５とをつなぐことで、製造職場に依存する不良率と、製品固有の不良率の組み合わせが可能となり、ある製品をある職場で製造したときの具体的な不良率を推定することが可能となる。
【００１２】
図１は、職場評価システム１０の機能ブロック図である。この職場評価システム１０は、
職場状態の入力を受け付ける受付手段２０と、当該職場のレベルを判別する判別手段２１と、職場レベルの定義情報を記憶した記憶手段２２と、仕事別に不良発生の影響度を算出する仕事別影響度算出手段２３と、不良率を算出する不良率算出手段２４と、出力手段２５と、職場状態に応じたメッセージを出力するメッセージ制御手段２６と、を備える。
【００１３】
受付手段２０は、不良発生の原因となる項目に関する職場状態を示す情報を受け付ける。判別手段２１は、受付手段２０が受け付けた職場状態を示す情報を、記憶手段２２に記憶されている職場レベルの定義情報と比較して、当該職場のレベルを判別する。記憶手段２２は、職場レベルの定義情報、およびメッセージを記憶している。職場レベルは、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分されたものである。不良発生影響度を算出する際には、このレベルに応じた評価がされる。メッセージは、メッセージ制御手段２５によって出力手段２６に出力される。
【００１４】
仕事別影響度算出手段２３は、製品の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、各仕事毎に、不良品の出荷に影響する仕事別の影響度を決定する。ここで、製造から出荷までの過程における複数の仕事とは、製品の製造に関する仕事と、製品の検査に関する仕事と、検査結果に応じて実施する対策に関する仕事と、を少なくとも含む。それぞれの仕事は、例えば、製造に関する仕事において、並行して検査に関する仕事や検査結果に応じて実施する仕事を行うことができ、各仕事間での状態遷移は任意に行うことができる。仕事別影響度算出手段２３は、項目別、かつ、仕事別に不良発生影響度を算出する項目別仕事別影響度算出手段２３ａと、項目別、かつ、仕事別の不良発生影響度に基づいて、各仕事別に、当該職場の仕事別影響度を算出する仕事別職場影響度算出手段２３ｂと、を有する。項目別仕事別影響度算出手段２３ａと仕事別職場影響度算出手段２３ｂで算出されたそれぞれの不良発生影響度は、ともに記憶手段２２に一時記憶される。不良率算出手段２４は、仕事別影響度算出手段２３で算出された仕事別の不良発生影響度を記憶手段２２から取得して、出荷される製品に不良品が含まれる不良率を算出する。
【００１５】
メッセージ制御手段２５は、職場状況に応じて出力するメッセージの制御を行う。出力するメッセージは、現状の分析、改善すべきポイントの指摘、または改善のための具体的な対策等である。これらのメッセージは記憶手段２２に記憶されている。メッセージ制御手段２５は、項目別影響度算出手段２５ａと、カテゴリ別影響度算出手段２５ｂと、メッセージ決定手段２５ｃと、を有する。項目別影響度算出手段２５ａは、記憶手段２２に記憶されている仕事別、かつ、項目別の不良発生影響度に基づいて、項目別の影響度を算出する。カテゴリ別影響度算出手段２５ｂは、前記項目を、その性質からいくつかのカテゴリに分類し、各カテゴリ別の影響度を算出する。メッセージ決定手段は、記憶手段２２に記憶されているメッセージの中から、項目別影響度に基づいて項目毎に出力するメッセージと、カテゴリ別影響度に基づいてカテゴリ別に出力するメッセージと、を決定する。出力手段２６は、不良率やメッセージを出力する。
【００１６】
次に、図１のような機能ブロックを有する職場評価システム１０を、コンピュータ上に実現した場合の実施形態について、図２を用いて詳細に説明する。
【００１７】
職場評価システム１０は、キーボード、マウス等の、入力手段を構成する入力装置１１、ディスプレイモニター等の出力手段を構成する出力装置１２と、本発明の評価処理を実行する制御装置１３と、職場を評価するための各種情報を記憶する記憶手段を構成する外部記憶装置１４とから構成される。
【００１８】
入力装置１１は、上述のもの以外に、例えば、ペン入力タブレット、記憶媒体の読み取り装置、ネットワークを介しての入力を行うための通信装置等でもよい。出力装置１２は、上述のもの以外に、例えば、プリンターなどの印刷手段、および、他システムへのネットワークを介しての出力を行うための通信装置等でもよい。制御装置１３は、所定のプログラムを格納したＲＯＭ３１、ＣＰＵ３２、各種データを一時格納するＲＡＭ３３、入出力インターフェース部３４およびバスライン３５などから構成される。外部記憶装置１４には、職場評価データベース６と、以下に説明する機能を実現するための計算プログラム４１及び入出力制御プログラム４２が格納されている。
【００１９】
一方、製品評価システム５も上記と同様な入力装置、出力装置、製品の評価処理を実行する制御装置と、製品を評価するための各種情報を記憶する外部記憶装置等により構成することができる。
【００２０】
図３には、職場評価データベース６の内容を示す。職場評価データベース６は、職場条件評価カテゴリ６０、項目番号６１、職場条件不良影響項目６２、職場レベル６３、項目間重み係数６４、不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７を含む。職場レベル６３、項目間重み係数６４、および不良発生度係数６５は、職場状況を評価した評価値を求めるためのデータである。対策ポイントアドバイス６６とコメント６７は、職場状況または職場状況の評価に対するメッセージであって、テキストデータとして格納されている。
【００２１】
職場条件評価カテゴリ（以下、単に「評価カテゴリ」と称する。）６０とは、職場条件不良影響項目６２を、その性質に基づいて分類したカテゴリをいう。ここでは、第１に作業者に関するもの、第２に設備・治工具に関するもの、第３に物理的環境に関するもの、第４に製造方法に関するもの、第５に職場のマネージメントに関するものの５つのカテゴリに分類する。それぞれの評価カテゴリ６０には、さらに詳細な条件が存在する。その条件が、職場条件不良影響項目６２（以下、単に「不良影響項目」と称する。）である。項目番号６１は、  不良影響項目６２と一対一に対応する。
【００２２】
不良影響項目６２とは、様々な職場条件の中から、特に不良率に影響する条件を示す項目をいう。例えば作業者に関するものとしては「出勤率」や「作業指示方法」、設備・治工具に関するものとしては「設備の担当者」、物理的環境に関するものとしては「照度」、製造方法に関するものとしては「生産形態」、職場のマネージメントに関するものとしては「教育・訓練内容」等がある。ここでは、作業者に関するカテゴリの評価項目として「出勤率」、設備・治工具に関するカテゴリの評価項目として「設備の担当者」、物理的環境に関するカテゴリの評価項目として「照度」を例にとり説明する。
【００２３】
職場レベル６３には、各評価項目に関する職場のポテンシャルがどのようなレベルにあるかを表すために、それぞれのレベルの範囲を定める閾値が格納されている。ここでは、３つレベルに区分してある。レベル１は、その評価項目に関して、最も不良が起きにくい（ポテンシャルが高い）理想的な職場であることを示す。レベル３は、その項目に関して、最も不良が起きやすい（ポテンシャルが低い）職場であることを示す。設定する職場レベルは、少なくともその職場状態の良し悪しを評価するためには２レベルは必要であるが、上限は特に無い。レベル数が多くなると、評価精度が向上できる長所はあるが、逆に入力時の選択肢が増え、入力の手間は増えることになる。
【００２４】
ここで、レベルの範囲は、例えば、当該企業の実情または過去の経験に基づいて定める。例えば、出勤率が９７％以上の職場はレベル１、９０％以上９７％未満の職場はレベル２、９０％未満の職場はレベル３としている。設備の担当者は、すべて決まっている場合がレベル１、９０％以上の設備で決まっている場合がレベル２、９０％未満の設備しか決まっていない場合がレベル３である。照度は1000lx以上の職場はレベル１、600lx以上1000lx未満の職場はレベル２、600lx未満の職場はレベル３である。レベル範囲の設定は、適宜変更することができる。
【００２５】
項目間重み係数６４とは、不良率への影響度の大小を項目間で相対的に比較して、調整するための係数である。すなわち、項目間重み係数６４が大きいほど、不良の発生にその項目が及ぼす影響が大きいことを示している。ここでは、出勤率は「２」、設備担当者は「１」、照度は「１」である。この設定も、経験則等に基づいて設定する。もちろん、変更可能である。
【００２６】
次に、不良発生度係数６５とは、不良発生に影響する程度を示す値である。不良発生係数６５は、不良作り込み係数６５ａ、不良流出係数６５ｂ及び不良対処時間係数６５ｃからなる。不良作り込み係数６５ａは、各項目が不良の作り込みに影響する度合いを示す。不良流出係数６５ｂは、各項目が不良品流出に影響する度合いを示す。不良対処時間係数６５ｃは、各項目が不良を取り除くまでの対処時間に影響する度合いを示す。各係数は、係数値が小さいほうが、不良がおきにくいことを示している。尚、この不良発生度係数６５は、従来の製造不良発生に関する実績データを基に定めておく。個々では、０〜３の整数値で与えられている。もちろん、整数値に限られない。
【００２７】
対策ポイントアドバイス６６とは、個々の不良影響項目６２に関する職場改善のためのアドバイスである。レベル２用及びレベル３用がそれぞれ用意されている。各レベル用のアドバイスには、すぐに実行可能な「短期的対策案」と、ある程度時間をかけて実行すべき「長期的対策案」がある。これらは、例えば、国定管理者等によって経験的に得られている対策を収集して、テキストデータ化して、格納したものである。
【００２８】
コメント６７は、個々の不良影響項目６２毎に現在の職場状況を評価したコメントが格納されている。レベル２用及びレベル３用がそれぞれ用意されている。コメント６７も、上記対策と同様にして、テキストデータ化して格納しておく。
【００２９】
図４は、職場条件入力画面７（以下、単に「入力画面」と称する。）の一例である。入力画面７は、評価対象職場名７１および職場条件７２の入力フィールドが表示される。この入力画面７はディスプレーモニター等の出力装置１２に表示され、評価者がマウス、キーボード等の入力装置１１から入力する。
【００３０】
評価対象職場名７１の入力フィールド７１ａには、不良率を求めたい職場名を入力する。職場条件７２は、評価カテゴリ６１別に、項目番号６１と質問項目７５を表示する。評価カテゴリ６０、項目番号６１、および質問項目７５は、職場評価データベース６に格納されている評価カテゴリ６０、項目番号６１、および不良影響項目６２を表示する。補足説明のボタン(７５ａ，７５ｂ，７５ｃ)を押すと，それぞれの質問項目の定義を示した文書が別のウィンドウ（図示しない）で表示される。
【００３１】
回答項目７６の入力フィールドには、職場データベース６に格納されている職場レベル６３に対応する３つの選択肢に対応する選択領域（７６ａ〜７６ｃ）が表示されている。回答者はいずれかの選択領域（７６ａ〜７６ｃ）をマウスでクリックするだけで選択可能となっている。ここでは、「出勤率」は「９０％以上９７％未満」でレベル２、「設備担当者」は「９０％未満の設備で決まっている」でレベル３、「照度」は「1000lx以上」でレベル１と入力されている。
【００３２】
職場条件情報の入力方法は、必ずしも図４に示すような選択式でなくても良く、例えば、数値や文字をキーボード等から入力する形式でも良い。その場合は、入力された数値等は、どのレベルに属するかが判断される。
【００３３】
さらに、入力は、上記のようにキーボードやマウスなどによる入力装置１１からの入力の他、コンピュータネットワークを通じて他の記憶装置に記憶されている職場情報を取り込むようにしてもよい。なお、フロッピーディスクなどの記憶媒体を介して、本システムに入力することもできる。必要に応じて、評価に必要な情報を検索でき読み出せるように構成すれば良い。
【００３４】
図５は、職場評価結果出力画面８（以下、単に「出力画面」と称する。）の一例である。この出力画面８には、評価対象職場名８１、職場不良率８２、職場診断結果１（８４）、職場診断結果２（８８）の表示エリアが表示される。この出力画面８は、ディスプレーモニター等の出力装置１２に表示されるほか、プリンタなどに出力してもよい。ここでは、職場不良率、職場診断結果１及び職場診断結果２の３種類の評価結果を出力する。
【００３５】
職場不良率８２とは、製造職場の環境に起因する不良率である。これは、図４の入力画面７で入力された職場情報と、職場評価データベース６の内容に基づいて算出し、表示する（８２ａ）。職場不良率の詳細な算出手順については後述する。職場診断結果１（８４）は、各評価カテゴリ毎に（８５〜８７）、評価点（８５ａ〜８７ａ）を算出し、職場評価データベース６に記憶されているコメント６７を表示している（８５ｂ〜８７ｂ）。評価点の算出と、コメントの表示手順の詳細は後述する。職場診断結果２（８８）は、不良評価項目８８ａ毎に、職場評価データベース６に記憶されている対策ポイントアドバイス６６の短期的対策８８ｂと長期的対策８８ｃを表示している。
【００３６】
次に、図７に示すフローチャートに沿って本システムの主な動作を説明する。
【００３７】
まず、評価者などによって本システムが起動されると、外部記憶装置１４に記憶されている入出力制御プログラム４２がＣＰＵ３２に読み込まれて、以下の処理が実行される。
【００３８】
ＣＰＵ３２は、図６（ａ）に示す新規入力か、既登録ファイル開くかの選択画面５１を表示する（ステップ１００ａ）。評価者が、「新規入力」５１ａを選択した場合（ステップ１００ｂ）、職場条件を入力するための入力画面７が表示される（ステップ１００ｃ）。「既登録ファイルを開く」５１ｂが選択され場合、図６（ｂ）に示すファイル選択画面５２が表示される(ステップ１００ｆ)。ファイル選択画面５２には、入力フィールド５２ａが表示されて、評価者はここにファイル名を入力する。ＣＰＵ３２は、入力フィールド５２ａに対する入力を待って、入力されたファイルを読み込み、その情報を埋め込んで入力画面７を表示する(ステップ１００ｇ、ステップ１００ｈ)。
【００３９】
新規入力の場合は、職場条件は何も入力されていないので、すべての評価項目について、入力する。既存ファイルを開いた場合、職場条件を変更する個所だけ入力する。ここでは、「出勤率が９３％」、「設備担当者が８０％の設備で決まっている」、「照明の照度が1200ルクス」という職場条件の「職場Ａ」を例にとり説明する。入力が完了すると、図４に示すようになる。すなわち、職場Ａの出勤率は９３％であるので、レベル２が選択されている。設備担当者は８０％の設備で決まっているので、レベル３が選択されている。照度は1200ルクスであるので、レベル１が選択されている。ＣＰＵ３２は入力された情報を受け付ける（ステップ１００ｅ）。
【００４０】
ここで、この処理で利用されるＲＡＭ３３上の作業領域３３ａを、図１２および図１３に示す。ＲＡＭ３３上の作業領域３３ａは評価カテゴリ901、項目番号９０、職場レベル９１、不良発生度の計算結果９２、理想職場と最悪職場の不良発生度９３、項目間重み係数９４、不良発生度係数９５、対策ポイントアドバイス９６、コメント９７、計算結果の合計９８、および職場不良率９９を備える。
【００４１】
評価カテゴリ901、項目番号９０、職場レベル９１には、入力画面７から得たそれぞれに対応する情報を一時記憶するための領域である。不良発生度の計算結果９２、理想職場と最悪職場の不良発生度９３、計算結果の合計９８、および職場不良率９９は、後述する処理によって得られるそれぞれに対応する情報を一時記憶するための領域である。項目間重み係数９４、不良発生度係数９５、対策ポイントアドバイス９６、およびコメント９７は、職場評価データベース６からそれぞれ対応する情報を読み出し、一時記憶するための領域である。
【００４２】
評価計算実行指示が与えられると、ＣＰＵ３２は入力された職場条件に基づき、職場レベルを判定する。そして、当該項目の評価カテゴリ７３は作業領域３３ａの評価カテゴリ901に、項目番号７４は作業領域３３ａの項目番号９０に、判定された職場レベルは作業領域３３ａの職場レベル９１に、それぞれ格納される。そして、項目番号９０をキーとして、職場評価データベース６を検索する。検索により取り出す情報は、項目間重み係数６４、不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７である（ステップ１１０）。ここで取り出した情報は、作業領域３３ａのそれぞれ対応するカラム（９４〜９７）に格納される。
【００４３】
図４に示す入力例では、「出勤率」は、評価カテゴリ７３が「１」、項目番号７４が「１」、および職場レベルは「レベル２」である。従って、作業領域３３ａの評価カテゴリ901が「１」、項目番号９０が「１」、および職場レベル９１が「２」であるレコードが生成され、職場評価データベース６から、項目番号６１が「１」のレコードを検索する。そして、そのレコードの不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７を、作業領域３３ａのそれぞれ対応する領域（９４〜９７）にコピーする。これを、入力されたすべての不良影響項目６２に関して繰り返して行う。この結果をＲＡＭ３３の作業領域３３ａに記憶された情報は、図１２に示すようになる。
【００４４】
次に、作業領域３３ａに記憶された情報に基づき、評価計算が実行される（ステップ１２０）。この計算を行うための計算プログラム４１は、外部記憶装置１４に記憶されており、ＣＰＵ３２に予め読み込んでおく。評価計算は各不良影響項目６２毎の不良発生度９２ｄの計算（ステップ１２１）、評価カテゴリ別の評価点の計算（ステップ１２２）、評価カテゴリ別のコメントの選定（ステップ１２３）、及び改善ポイントアドバイスの選定（ステップ１２４）の４つのステップからなる。
【００４５】
ステップ１２１の詳細な手順は、図８に示すとおりである。先ず、ＣＰＵ３２は、職場レベル９１、不良作り込み係数９５ａ、および項目間重み係数９４を乗算して不良作り込み度を算出し、作業領域３３ａの不良作り込み度９２ａの領域に記憶する（ステップ１２１ｂ）。これと同様に、不良流出度９２ｂと不良対処時間度合９２ｃを算出し、記憶する（ステップ１２１ｃ、ステップ１２１ｄ）。具体的には、それぞれ以下の式で求める。
【００４６】
【数１】
0003639466.tif 000002
【００４７】
【数２】
0003639466.tif 000003
【００４８】
【数３】
0003639466.tif 000004
【００４９】
上記不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ及び不良対処時間度合９２ｃを合計し、不良発生度を求め、作業領域３３ａの不良発生度９２ｄの領域に記憶する（ステップ１２１ｅ）。
【００５０】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１(出勤率)について、不良作り込み度９２ａは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×３（不良作り込み係数９５ａ）＝１２、不良流出度９２ｂは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×１（不良流出係数９５ｂ）＝４、不良対処時間度合９２ｃは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×２（不良対処時間係数９５ｃ）＝８となる。
【００５１】
次に、理想職場不良発生度９３ａと最悪職場不良発生度９３ｂを求める（ステップ１２１ｆ）。理想職場とは、すべての不良影響項目６２の職場レベル６３がレベル１である理想的な職場のことであり、すべての製造職場が目標とすべきものである。最悪職場とは、理想職場とは反対に、すべての不良影響項目６２の職場レベル６３がレベル３である職場のことである。従って、理想職場不良発生度９３ａは、職場レベルを１としてステップ１２１ｂからステップ１２１ｅと同様の手順で、不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ、不良対処時間度合９２ｃを求め、それを合計したものとなる。最悪職場不良発生度９３ｂは、職場レベルを３として、同様に計算し、それぞれをＲＡＭ３３の作業領域３３ａに記憶する。
【００５２】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１のレコードについて、理想職場不良発生度は、（１×２×３）＋（１×２×１）＋（１×２×２）＝１２、最悪職場不良発生度は、（３×２×３）＋（３×２×１）＋（３×２×２）＝３６となる。そして、それぞれ作業領域３３ａの理想職場不良発生度９３ａと最悪職場不良発生度９３ｂに格納される。
【００５３】
さらに、改善余地９２ｅを求める（ステップ１２１ｇ）。改善余地９２ｅとは、現在の職場が理想職場になるためには、どの程度改善が必要であるかを数値で表したものである。ステップ１２１ｆで求まった理想職場の不良発生度からステップ１２１ｅで求まった当該職場の不良発生度を引いて算出し、作業領域３３ａの改善余地９２ｅに記憶する。
【００５４】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１のレコードについて、改善余地は、２４（職場Ａの不良発生度）−１２（理想職場の不良発生度）＝１２となり、作業領域３３ａの改善余地９２ｅに格納される。
【００５５】
上述したステップ１２１ｂからステップ１２１ｇまでの処理を、すべての不良影響項目６２について、すなわち、作業領域３３ａ上のすべての項目番号９０に対応するデータについて行う。
【００５６】
そして、すべての項目番号９０について、不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ及び不良対処時間度合９２ｃのそれぞれについて総和を求め、その職場の不良作り込み度、不良流出度及び不良対処時間度合の合計値を算出し、それぞれ作業領域３３ａの不良作り込み度（合計）９８ａ、不良流出度（合計）９８ｂ及び不良対処時間度合（合計）９８ｃに記憶する（ステップ１２１ｉ）。
【００５７】
最後に、ステップ１２１ｉで求まったその職場の不良作り込み度（合計）９８ａ、不良流出度（合計）９８ｂ及び不良対処時間度合（合計）９８ｃから、その職場の職場不良率９９を計算する（ステップ１２１ｊ）。具体的には、以下の式で求める。
【００５８】
【数４】
0003639466.tif 000005
【００５９】
ステップ１２１が終了したとき、ＲＡＭ３３上の作業領域３３ａの状態は図１３のようになる。
【００６０】
本システムで職場不良率９９を算出することにより、職場の持つポテンシャルを数値化でき、不良品の発生しやすさを定量的に予測することが可能となる。また、職場不良率９９を比較することで、不良の起き易さを職場間で相対的に比較できる。
【００６１】
本システムでは、不良発生度係数６５を不良の作りこみ、不良の摘出度合い、不良対処時間の３つに定めている。この理由について説明する。
【００６２】
出荷する製品の中に含まれる不良品が少なく、ポテンシャルの高い職場とはどのような職場か考える。それは、まず第１に、そもそも不良品を作らない職場である。不良品を作らないことはきわめて重要である。それは、製造する製品の中に、不良品が少なければそれだけ出荷される不良品も少なくなるからである。従って、第１に不良作り込みの度合いの把握が必要である。
【００６３】
次に、万が一不良品を作りこんでしまった場合でも、出荷するまでの間の検査仕事等で不良品が発見され、取り除くことができれば、不良品は出荷されずに済むことになる。これは、不良品が作りこまれた後の事後的な処置であるが、不良品流出の未然防止という点では重要である。従って、第２に不良品の摘出度（または流出度（摘出できない度合い））の把握が必要である。
【００６４】
そして、不良が発生した場合、その不良の原因を突き止め、それを取り除くことができなければ、根本的な解決にはならない。しかも、その措置は迅速に行わなければ、原因が取り除かれるまでの間、次から次へと不良品が作られていくことになる。すなわち、不良発生時にその原因を取り除くまでの対処時間は短いほうが良いわけである。従って、第３に不良対処時間の把握が必要である。
【００６５】
これらの関係を模式的に表したのが図１４である。縦軸に単位時間あたりの生産台数、横軸に時間をとると、生産開始から生産終了までに製造される製品数はＡＢＣＤで表される面積に相当する。あるとき、何らかの原因で不良が発生し、一定時間後にその対策が完了し、不良が発生しなくなったとする。この間に製造される不良品の数は、ａｂｃｄで表される面積に相当する。
【００６６】
ここで、不良作り込み度９２ａは、単位時間当たりの不良発生台数（線分ａｂの長さに相当）に対応する。単位時間当たりの不良発生台数は少ないほうが、作りこむ不良品の数も少なくて済む。不良品を作りこんだ場合でも、不良流出度９２ｂが低ければ、流出する不良品の台数（aｂ'ｃ'ｄで表される面積に相当）が多くなる。さらに、不良対処時間度合９２ｃは不良発生時の対処時間（線分ａｄの長さに相当）に対応する。この対応時間が短ければ、作りこまれる不良品台数（ａｂｃｄで表される面積に相当）も少なくて済む。なお、図１４に示す模式図は、ディスプレィモニター等の出力装置１２に表示してもよい。模式図を表示することで、評価者は直感的に各職場の状態を理解することができる。
【００６７】
次に、職場診断結果１として、評価カテゴリ別に職場レベルの評価点を算出し、評価カテゴリ別にコメントを出力する。評価点を算出するステップ１２２の詳細な手順を図９に示す。
【００６８】
ＣＰＵ３２は、各評価カテゴリ毎に、その評価カテゴリに属する各不良影響項目６２に対する不良発生度９２ｄの合計値（数５のＳ）と、その評価カテゴリに属する各不良影響項目６２の理想職場不良発生度９３ａの合計値（数５のＲ）及び最悪職場不良発生度９３ｂを合計値（数５のＢ）をそれぞれ求める（ステップ１２２ｂ、１２２ｃ、１２２ｄ）。そして、評価点を次の式で計算し、結果を同様にＲＡＭ３３上の出力領域（図示しない）に記憶する（ステップ１２２ｅ）。
【００６９】
【数５】
0003639466.tif 000006
【００７０】
この評価点は、理想職場を１００点、最悪職場を０点とした場合、評価対象職場が相対的に、どこに位置するかを表すものである。この評価点の算出処理を、すべての評価カテゴリについて行う。なお、ここでは評価カテゴリ毎に評価点を算出したが、評価カテゴリ毎に分割しないで、職場全体の不良発生度、理想職場不良発生度、最悪職場不良発生度を求めて、評価点を算出してもよい。
【００７１】
評価カテゴリ別コメントを出力するステップ１２３の詳細手順を図１０に示す。
【００７２】
以下の処理は各評価カテゴリ毎に、すべての評価カテゴリについて行う。１つの評価カテゴリに属する各不良影響項目６２についての改善余地９２ｅのうち、その値が最大のものを選定する。そして、その不良影響項目６２（項目番号９０）に対して入力されている職場レベル９１に対応するコメント９７を作業領域３３ａから読み出し、ＲＡＭ３３上の出力領域に記憶する（ステップ１２３ｂ、１２３ｃ）。
【００７３】
さらに、職場診断結果２として、対策ポイントアドバイス９６を出力する。これは、改善余地の大きい、すなわち改善すると不良率低減効果の大きい、不良影響項目６２を職場改善ポイントとして、その対策案を提示する。対策案は、作業領域３３ａに記憶されている対策ポイントアドバイス９６を利用し、短期的にできうる対策案と長期的に取り組むべき対策案とに分けて提示する。
【００７４】
職場改善ポイント選定処理を行うステップ１２４の詳細な手順を図１１に示す。
【００７５】
すべての不良影響項目６２（項目番号９０）から改善余地の値が大きいものを３つ選定し、その項目に対して入力されている職場レベルに対応する対策ポイントアドバイス９６を、作業領域３３ａから読み出し、ＲＡＭ３３上の出力領域に記憶する（ステップ１２４ａ、１２４ｂ）。
【００７６】
こうすることで、改善すると不良率低減効果の大きい順に表示することができ、効率の良く、的を射た対策を行うのには好ましい。なお、対策ポイントアドバイスの提示をする項目数は、３つに限られないことはもちろんである。
【００７７】
以上、詳細に説明したステップ１２０の評価計算を実行したのち、ＲＡＭ３３上の出力領域の内容を出力画面８に表示する(ステップ１３０)。本システムの終了前に、必要に応じて入力情報と評価結果の情報を保存する(ステップ１４０、ステップ１５０)。
【００７８】
以上の説明からわかるように、本システムによれば、アンケート形式の質問に答える形の簡単な入力により、信頼性の高い職場評価結果を提供することが可能となる。また、この評価結果として、改善余地の大きな順に職場条件項目（即ち職場改善ポイント）を出力するので、すぐに効果的な職場改善に取りかかれる。さらに、本システムを使えば、評価対象の職場で実際に製品を作らなくても、その職場の不良の起こし易さが定量的に把握できる。
【００７９】
製造部門では、その職場における不良発生に影響の大きい職場条件項目と、その項目を改善、または対策すればどれだけ不良率が低減できるかが定量的に把握できるため、職場レベル向上を効率的に行うための職場改善計画立案に役立ち、不良発生防止の効果がある。また、生産前に評価を行えば、職場における重点管理ポイントが事前に明らかになるので、的確な検査仕事配置、検査方法の選択などが可能になり、不良摘出にも大きな効果がある。
【００８０】
また、設計・開発部門においては、事前に、製品を製造する予定の職場の不良率がわかるので、その職場に応じた製品開発・設計を効率的に行うことができる。
【００８１】
さらに、品質保証部門においては、本システムを工場の審査に使用することで、その工場の製造プロセスの評価が可能となり、必要な品質を満たす工場か否かの判定や、品質向上のための指導に活用することができ、品質向上に効果がある。
【００８２】
このように、本システムにより、設計・製造・品質保証の各部門で不良発生防止・不良摘出活動が的確にできるようになる。
【００８３】
以上のことより、製品の開発・製造の各プロセスの中で本発明のシステムを用いることで、製造仕事内で発生する不良、市場で発生する不良を大幅に低減できる。即ち、出荷製品の信頼性を大幅に高めることが可能になる。
【００８４】
【発明の効果】
本発明によれば、工場から出荷される製品に占める不良品の割合を算出する職場評価方法及びシステムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明のシステムの機能構成を示すブロック図である。
【図２】  本発明のシステムの構成を示す説明図である。
【図３】  不良発生度データベースの内容を示す説明図である。
【図４】  本発明のシステムの入力画面を示す説明図である。
【図５】  本発明のシステムの出力画面を示す説明図である。
【図６】  (a)は本発明のシステムの選択画面を示す説明図であり、(b)は本発明のシステムのファイル選択画面を示す説明図である。
【図７】  本発明のシステムにおける全体処理のフローチャートである。
【図８】  本発明のシステムにおいて、職場条件不良影響項目毎に不良発生度を求める処理のフローチャートである。
【図９】  本発明のシステムにおいて、職場条件評価カテゴリ別に評価点を求める処理のフローチャートである。
【図１０】  本発明のシステムにおいて、職場条件評価カテゴリ別のコメントを選定する処理のフローチャートである。
【図１１】  本発明のシステムにおいて、改善ポイントアドバイスを選定する処理のフローチャートである。
【図１２】  本発明のシステムで利用するＲＡＭ上の作業領域を示す説明図である。
【図１３】  本発明のシステムで利用するＲＡＭ上の作業領域を示す説明図である。
【図１４】  本発明のシステムでの不良率算出方法の原理を模式的に示す説明図である。
【符号の説明】
１…不良発生評価システム
１０…職場評価システム、１１…入力手段、１２…出力手段、1３…制御手段、1４…記憶手段、２０…製品評価システム、３１…ＲＯＭ、３２…ＣＰＵ、プログラム実行部、３３…ＲＡＭ、３４…入出力インターフェース部、３５…バスライン、
【図１】
0003639466.tif 000007
【図２】
0003639466.tif 000008
【図３】
0003639466.tif 000009
【図４】
0003639466.tif 000010
【図５】
0003639466.tif 000011
【図６】
0003639466.tif 000012
【図７】
0003639466.tif 000013
【図８】
0003639466.tif 000014
【図９】
0003639466.tif 000015
【図１０】
0003639466.tif 000016
【図１１】
0003639466.tif 000017
【図１２】
0003639466.tif 000018
【図１３】
0003639466.tif 000019
【図１４】
0003639466.tif 000020