(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光磁気記録媒体に信号を記録および／または再生する光磁気ディスク装置であって、
前記光磁気記録媒体のチルトを検出するチルト検出手段と、
対物レンズによりレ−ザ光を前記光磁気記録媒体に照射し、その反射光を検出する光学ヘッドと、
前記光磁気記録媒体に発生したチルトの影響を除去するように前記対物レンズのトラッキングサーボを行なうサーボ手段と、
前記光磁気記録媒体に磁界を印加する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを駆動する磁気ヘッド駆動手段と、
制御回路を備え、
前記制御回路は、信号を記録する際、前記光学ヘッドに記録レーザパワーを設定し、記録動作中に前記チルト検出手段からチルト検出信号を受けると、強度を変化させて、記録信号によって変調された磁界を前記光磁気記録媒体に印加するための第１の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力し、前記磁界の強度を変化させて記録した記録信号を前記光学ヘッドによって検出した光磁気信号に基づいて前記磁界の好適な強度を決定し、その後の記録動作においては、前記記録時のレーザパワーを保持させたまま、その決定した好適な強度に前記磁界の強度を設定するための第２の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力し、
前記磁気ヘッド駆動手段は、前記第１または第２の駆動信号に基づいて前記磁気ヘッドを駆動し、
前記磁気ヘッドは、記録信号によって変調された磁界を前記光磁気記録媒体に印加することを特徴とした光磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記光学ヘッドが検出した光磁気信号を復号および復調した再生信号のエラーレートを検出するエラー検出回路をさらに備え、
前記制御回路は、
前記磁界の強度を変化させて記録した記録信号に対応する再生信号のエラーレートを前記エラー検出回路から受け、
前記再生信号のエラーレートが飽和値になる前記磁界の第１および第２の強度を検出し、
その検出した第１の強度と第２の強度との平均値を最適強度と決定し
その決定した最適強度に前記磁界の強度を設定するための第３の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力し、
前記磁気ヘッド駆動手段は、
前記第３の駆動信号を受けると前記第２の駆動信号に代えて前記第３の駆動信号に基づいて前記磁気ヘッドを駆動する、請求項１に記載の光磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記光学ヘッドが検出した光磁気信号の振幅を検出する振幅検出回路をさらに備え、
前記制御回路は、前記磁界の強度を変化させて記録した記録信号に対応する光磁気信号の振幅を前記振幅検出回路から受け、その受けた振幅が飽和する前記磁界の強度範囲を前記好適な強度と決定する、請求項１に記載の光磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記制御回路は、
前記光磁気信号の振幅が飽和値になる前記磁界の第１および第２の強度を検出し、
その検出した第１の強度と第２の強度との平均値を最適強度と決定し
その決定した最適強度に前記磁界の強度を設定するための第３の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力し、
前記磁気ヘッド駆動手段は、
前記第３の駆動信号を受けると、前記第２の駆動信号に代えて前記第３の駆動信号に基づいて前記磁気ヘッドを駆動する、請求項３に記載の光磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光磁気記録媒体のチルト量を検出し、その検出したチルト量に応じて光磁気記録媒体に印加される磁界の強度を調整する光磁気ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
書換え可能で、記憶容量が大きく、かつ、信頼性の高い記録媒体として光磁気記録媒体が注目されており、コンピュータメモリ等として実用化され始めている。そして、最近では、記録容量が６．０Ｇｂｙｔｅｓの光磁気記録媒体がＡＳ−ＭＯ（Ａｄｖａｎｃｅｄ  Ｓｔｏｒａｇｅ  Ｍａｇｎｅｔｏ  Ｏｐｔｉｃａｌ  ｄｉｓｋ）規格として規格化され、実用化されようとしている。
【０００３】
ＡＳ−ＭＯ規格による光磁気記録媒体は、ランドとグループとを径方向に交互に配置したトラック構造を有し、ランドとグループとの両方に信号を記録することによって記録密度の高密度化を図っている。そして、光磁気記録媒体に信号を記録するとき、レーザ光を光磁気記録媒体に照射し、記録信号によって変調された磁界を光磁気記録媒体に印加する。つまり、レーザ光を照射することによって光磁気記録媒体の磁性膜の温度をキュリー点よりも高い温度まで昇温させ、磁性膜の温度が、再度、キュリー点を通過して降温するタイミングで記録信号によって変調された磁界を磁性膜に印加する。そして、記録信号によって変調された磁化を有する磁区を磁性膜に形成する。したがって、通常、レーザ光の光軸は、磁界強度の強い領域と一致している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、光磁気記録媒体は、ポリカーボネート等から成る基板のそりに起因してチルトが発生する。そして、光磁気記録媒体にチルトが発生すると、磁界の中心がランドまたはグルーブの中心からずれるため、印加された磁界の強度はランドまたはグルーブの径方向において変化する。すなわち、図１５を参照して、光磁気記録媒体１０にチルトが発生していないとき、外部から印加される磁界Ｈｅｘの強度は、光磁気記録媒体１０のランド１またはグルーブ２の径方向ＤＲ１の各位置に対してほぼ均一になる（図１５の（ａ）参照）。一方、光磁気記録媒体１０にチルトが発生すると、光磁気記録媒体１０は傾くため、磁界Ｈｅｘは光磁気記録媒体１０のランド１またはグルーブ２に対して斜めから印加される。そうすると、ランド１の領域１１に印加される磁界の強度は、領域１２に印加される磁界の強度と異なり、ランド１において径方向ＤＲ１に均一な磁区が形成されない（図１５の（ｂ）参照）。これは、磁界Ｈｅｘがグルーブ２に印加される場合にも生じる。その結果、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、信号を正確に記録できないという問題が生じる。
【０００５】
そこで、本発明は、かかる問題を解決するためになされたものであり、その目的は、光磁気記録媒体にチルトが発生したとき、その発生したチルト量に応じて磁界強度を光磁気記録媒体に信号を正確に記録するための磁界強度に調整可能な光磁気ディスク装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明によれば、光磁気ディスク装置は、光磁気記録媒体に信号を記録および／または再生する光磁気ディスク装置であって、光磁気記録媒体のチルトを検出するチルト検出手段と、対物レンズによりレーザ光を光磁気記録媒体に照射し、その反射光を検出する光学ヘッドと、光磁気記録媒体に発生したチルトの影響を除去するように対物レンズのトラッキングサーボを行なうサーボ手段と、光磁気記録媒体に磁界を印加する磁気ヘッドと、磁気ヘッドを駆動する磁気ヘッド駆動手段と、制御回路を備える。更に制御回路は、信号を記録する際、前記光学ヘッドに記録レーザパワーを設定し、記録動作中に前記チルト検出手段からチルト検出信号を受けると、強度を変化させて、記録信号によって変調された磁界を前記光磁気記録媒体に印加するための第１の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力し、前記磁界の強度を変化させて記録した記録信号を前記光学ヘッドによって検出した光磁気信号に基づいて前記磁界の好適な強度を決定し、その後の記録動作においては、前記記録時のレーザパワーを保持させたまま、その決定した好適な強度に前記磁界の強度を設定するための第２の駆動信号を前記磁気ヘッド駆動手段へ出力する。また、磁気ヘッド駆動手段は、第１または第２の駆動信号に基づいて磁気ヘッドを駆動し、磁気ヘッドは、記録信号によって変調された磁界を光磁気記録媒体に印加する。
【０００７】
好ましくは、光磁気ディスク装置は、光学ヘッドが検出した光磁気信号を復号および復調した再生信号のエラーレートを検出するエラー検出回路をさらに備え、制御回路は、磁界の強度を変化させて記録した記録信号に対応する再生信号のエラーレートをエラー検出回路から受け、再生信号のエラーレートが飽和値になる磁界の第１および第２の強度を検出し、その検出した第１の強度と第２の強度との平均値を最適強度と決定し、その決定した最適強度に磁界の強度を設定するための第３の駆動信号を磁気ヘッド駆動手段へ出力し、磁気ヘッド駆動手段は、第３の駆動信号を受けると第２の駆動信号に代えて第３の駆動信号に基づいて磁気ヘッドを駆動する。
【０００９】
好ましくは、光磁気ディスク装置は、光学ヘッドが検出した光磁気信号の振幅を検出する振幅検出回路をさらに備え、制御回路は、磁界の強度を変化させて記録した記録信号に対応する光磁気信号の振幅を振幅検出回路から受け、その受けた振幅が飽和する磁界の強度範囲を好適な強度と決定する。
【００１０】
好ましくは、制御回路は、光磁気信号の振幅が飽和値になる磁界の第１および第２の強度を検出し、その検出した第１の強度と第２の強度との平均値を最適強度と決定し、その決定した最適強度に磁界の強度を設定するための第３の駆動信号を磁気ヘッド駆動手段へ出力し、磁気ヘッド駆動手段は、第３の駆動信号を受けると、第２の駆動信号に代えて第３の駆動信号に基づいて磁気ヘッドを駆動する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００１４】
［実施の形態１］
図１を参照して、この発明の実施の形態１による光磁気ディスク装置１００は、光学ヘッド１０１と、再生信号増幅回路１０２と、外部同期信号生成回路１０３と、サーボ回路１０４と、サーボ機構１０５と、スピンドルモータ１０６と、ＢＰＦ１０７と、ＡＤ変換器１０８と、波形等化回路１０９と、復号回路１１０と、復調回路１１１と、デコーダ１１２と、チルト検出回路１１３と、制御回路１１４と、エンコーダ１１５と、変調回路１１６と、磁気ヘッド駆動回路１１８と、レーザ駆動回路１１９と、磁気ヘッド１２０とを備える。
【００１５】
光学ヘッド１０１は、波長６５０ｎｍ（許容誤差：±１５ｎｍ、以下同じ）のレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射し、その反射光を検出する。再生信号増幅回路１０２は、光学ヘッド１０１が光磁気記録媒体１０から検出したトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、ファインクロックマーク信号、チルトマーク信号、および光磁気信号を所定のレベルまで増幅し、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ、およびチルトマーク信号ＣＨＭをサーボ回路１０４へ出力し、ファインクロックマーク信号ＦＣＭを外部同期信号生成回路１０３へ出力し、チルトマーク信号ＣＨＭをチルト検出回路１１３へ出力し、光磁気信号ＲＦをＢＰＦ１０７へ出力する。
【００１６】
外部同期信号生成回路１０３は、後述する方法によってファインクロックマーク信号ＦＣＭに基づいて外部同期信号ＣＬＫを生成し、その生成した外部同期信号ＣＬＫをサーボ回路１０４、ＡＤ変換器１０８、波形等化回路１０９、復号回路１１０、復調回路１１１、制御回路１１４および変調回路１１６へ出力する。サーボ回路１０４は、トラッキングエラー信号ＴＥおよびフォーカスエラー信号ＦＥに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボおよびフォーカスサーボを行なうようにサーボ機構１０５を制御する。また、サーボ回路１０４は、外部同期信号ＣＬＫに同期してスピンドルモータ１０６を所定の回転数で回転させる。さらに、サーボ回路１０４は、制御回路１１４からの制御によって、チルトマーク信号ＣＨＭに基づいて対物レンズのトラッキングサーボを行なうようにサーボ機構１０５を制御する。
【００１７】
サーボ機構１０５は、サーボ回路１０４からの制御に基づいて光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボおよびフォーカスサーボを行なう。スピンドルモータ１０６は、光磁気記録媒体１０を所定の回転数で回転させる。ＢＰＦ１０７は、光磁気信号ＲＦの高域と低域とを除去する。ＡＤ変換器１０８は、外部同期信号生成回路１０３からの外部同期信号ＣＬＫに同期して光磁気信号ＲＦをアナログ信号からデジタル信号に変換する。
【００１８】
波形等化回路１０９は、外部同期信号生成回路１０３からの外部同期信号ＣＬＫに同期して、デジタル信号に変換された光磁気信号ＲＦにＰＲ（１，１）波形等化を行なう。すなわち、波形等化回路１０９は、光磁気信号ＲＦの前後のデータが１対１に波形干渉を行なうように等化する。復号回路１１０は、外部同期信号生成回路１０３からの外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦを多値から２値に変換する。復調回路１１１は、外部同期信号生成回路１０３からの外部同期信号ＣＬＫに同期して、記録時に施されたデジタル変調を解くための復調を行なう。デコーダ１１２は、復調された再生信号の誤り訂正を行ない、再生データとして出力するとともに、誤り訂正の結果である再生信号のエラーレートを制御回路１１４へ出力する。
【００１９】
チルト検出回路１１３は、後述する方法によって、チルトマーク信号ＣＨＭに基づいてチルトを検出し、チルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。制御回路１１４は、光磁気ディスク装置１００の各部を制御する。また、制御回路１１４は、チルト検出回路１１３からチルト検出信号ＣＨＤＴを受けると、強度を変化させて記録信号によって変調された磁界を光磁気記録媒体に印加するための駆動信号ＭＧＤを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤを出力する。そして、制御回路１１４は、磁界の強度を変化させて記録した記録信号に対応する再生信号のエラーレートをデコーダ１１２から受け、再生信号のエラーレートが飽和する磁界の強度を決定し、その決定した強度に磁界の強度を設定するための駆動信号ＭＧＤＰＦＲを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤＰＦＲを出力する。また、制御回路１１４は、再生信号のエラーレートが飽和値になる磁界強度から最適な磁界強度を決定し、その決定した最適強度に磁界の強度を設定するための駆動信号ＭＧＤＯＴを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤＯＴを出力する。さらに、制御回路１１４は、光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を駆動するための駆動信号ＰＷ，ＰＲを生成し、その生成した駆動信号ＰＷ，ＰＲをレーザ駆動回路１１９へ出力する。なお、駆動信号ＰＷは、光磁気記録媒体１０に信号を記録するときの半導体レーザの駆動信号であり、駆動信号ＰＲは、光磁気記録媒体１０から信号を再生するときの半導体レーザの駆動信号である。
【００２０】
エンコーダ１１５は、記録データに誤り訂正符号を付加する。変調回路１１６は、外部同期信号生成回路１０３からの外部同期信号ＣＬＫに同期して、エンコーダ１１５からの記録信号を所定の方式に変調する。
【００２１】
磁気ヘッド駆動回路１１８は、制御回路１１４からの駆動信号ＭＧＤ，ＭＧＤＰＦＲ，ＭＧＤＯＴまたは変調回路１１６からの記録信号に基づいて磁気ヘッド１２０を駆動する。レーザ駆動回路１１９は、制御回路１１４からの駆動信号ＰＷ，ＰＲに基づいて、光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を駆動する。磁気ヘッド１２０は、記録信号によって変調された磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。
【００２２】
図２を参照して、光磁気記録媒体１０からの光磁気信号ＲＦ、チルトマーク信号ＣＨＭ、およびファインクロックマーク信号ＦＣＭの検出について説明する。光磁気記録媒体１０は、径方向（「ラジアル方向」とも言う）ＤＲ１にランド１とグルーブ２とを交互に配列したトラック構造を有する。そして、光磁気記録媒体１０は、周方向（「タンジェンシャル方向」とも言う）ＤＲ２に一定間隔ごとにファインクロックマーク３およびチルトマーク４を含む。ファインクロックマーク３は、ランド１に１μｍ程度のグルーブを、グルーブ２に１μｍ程度のランドを、それぞれ、形成することによって光磁気記録媒体１０の製造時にプリフォーマットされる。また、チルトマーク４は、グルーブ２の両側の壁に一定間隔ごとにウォブルを形成することによって光磁気記録媒体１０の製造時にプリフォーマットされる。なお、光磁気記録媒体１０においては、ファインクロックマーク３およびチルトマーク４が形成されていない領域に信号が記録される。
【００２３】
光学ヘッド１０１の光検出器１０１０は、６つに分割されたＡ領域１０１１、Ｂ領域１０１２、Ｃ領域１０１３、Ｄ領域１０１４、Ｅ領域１０１５、およびＦ領域１０１６を有する。Ａ領域１０１１とＤ領域１０１４、Ｂ領域１０１２とＣ領域１０１３は、光磁気記録媒体１０のラジアル方向ＤＲ１に配置され、Ａ領域１０１１とＢ領域１０１２、Ｃ領域１０１３とＤ領域１０１４、およびＥ領域１０１５とＦ領域１０１６は光磁気記録媒体１０のタンジェンシャル方向ＤＲ２に配置される。
【００２４】
Ａ領域１０１１、Ｂ領域１０１２、Ｃ領域１０１３、およびＤ領域１０１４は、それぞれ、光磁気記録媒体１０に照射されたレーザ光ＬＢのＡ領域、Ｂ領域、Ｃ領域、およびＤ領域での反射光を検出する。また、Ｅ領域１０１５、およびＦ領域１０１６は、レーザ光ＬＢのＡ領域、Ｂ領域、Ｃ領域、およびＤ領域の全体で反射されたレーザ光を、光学ヘッド１０１のウォラストンプリズム（図示せず）によって偏光面の異なる２つの方向に回折されたレーザ光を検出する。
【００２５】
ファインクロックマーク３およびチルトマーク４が形成されていない領域に記録された記録信号を再生した光磁気信号ＲＦは、光検出器１０１０のＥ領域１０１５で検出されたレーザ光強度［Ｅ］とＦ領域１０１６で検出されたレーザ光強度［Ｆ］との差を演算することによって検出される。すなわち、回路３０の減算器３０１は、Ｅ領域１０１５で検出されたレーザ光強度［Ｅ］とＦ領域１０１６で検出されたレーザ光強度［Ｆ］との差分を演算し、光磁気信号ＲＦ＝［Ｅ］−［Ｆ］を出力する。
【００２６】
ウォブルによって光磁気記録媒体１０に形成されたチルトマーク４の再生信号は、ラジアルプッシュプル法によって検出され、Ａ領域１０１１で検出されたレーザ光強度［Ａ］とＢ領域１０１２で検出されたレーザ光強度［Ｂ］との和からＣ領域１０１３で検出されたレーザ光強度［Ｃ］とＤ領域１０１４で検出されたレーザ光強度［Ｄ］との和を減じたものとして検出される。すなわち、チルトマーク信号ＣＨＭは、回路４０を構成する加算器４０１，４０２と減算器４０３とによって検出される。加算器４０１は、Ａ領域１０１１で検出されたレーザ光強度［Ａ］とＢ領域１０１２で検出されたレーザ光強度［Ｂ］とを加算した［Ａ＋Ｂ］を出力する。加算器４０２は、Ｃ領域１０１３で検出されたレーザ光強度［Ｃ］とＤ領域１０１４で検出されたレーザ光強度［Ｄ］とを加算した［Ｃ＋Ｄ］を出力する。そして、減算器４０３は、加算器４０１の出力［Ａ＋Ｂ］から加算器４０２の出力［Ｃ＋Ｄ］を減算してチルトマーク信号ＣＨＭ＝［Ａ＋Ｂ］−［Ｃ＋Ｄ］を出力する。
【００２７】
また、ファインクロックマーク３は、タンジェンシャルプッシュプル法により検出され、Ａ領域１０１１で検出されたレーザ光強度［Ａ］とＤ領域１０１４で検出されたレーザ光強度［Ｄ］との和からＢ領域１０１２で検出されたレーザ光強度［Ｂ］とＣ領域１０１３で検出されたレーザ光強度［Ｃ］との和を減じたものとして検出される。すなわち、ファインクロックマーク３は、回路４０を構成する加算器４０４，４０５と減算器４０６とによって検出される。加算器４０４は、Ａ領域１０１１で検出されたレーザ光強度［Ａ］とＤ領域１０１４で検出されたレーザ光強度［Ｄ］とを加算した［Ａ＋Ｄ］を出力する。加算器４０５は、Ｂ領域１０１２で検出されたレーザ光強度［Ｂ］とＣ領域１０１３で検出されたレーザ光強度［Ｃ］とを加算した［Ｂ＋Ｃ］を出力する。そして、減算器４０６は、加算器４０４の出力［Ａ＋Ｄ］から加算器４０５の出力［Ｂ＋Ｃ］を減算してファインクロックマークの再生信号ＦＣＭ＝［Ａ＋Ｄ］−［Ｂ＋Ｃ］を出力する。
【００２８】
図３を参照して、外部同期信号ＣＬＫの生成について説明する。光学ヘッド１０１の光検出部１０１０は、上記図２を参照して説明したようにタンジェンシャルプッシュプル法によりファインクロックマーク信号ＦＣＭを検出し、その検出したファインクロックマーク信号ＦＣＭを再生信号増幅回路１０２を介して外部同期信号生成回路１０３へ出力する。外部同期信号生成回路１０３は、入力されたファインクロックマーク信号ＦＣＭに基づいてファインクロックマーク検出信号ＦＣＭＴを生成する。すなわち、外部同期信号生成回路１０３においては、ファインクロックマーク信号ＦＣＭは、所定のレベルでコンパレートされ、信号ＦＣＭＣに変換される。そして、信号ＦＣＭＣは信号／ＦＣＭＣに反転される。その後、ファインクロックマーク信号ＦＣＭの極性が切替わる点Ｐの位置に立ち上がりエッジが同期し、かつ、６ＤＣＢの振幅幅を有する検出窓信号ＤＥＷＩＮが生成され、信号／ＦＣＭＣと検出窓信号ＤＥＷＩＮとの論理積が演算されて信号ＦＣＭＴが生成される。そして、信号ＦＣＭＴの隣接する２つの成分間に一定個数（たとえば、５３２個）の周期信号が存在するように外部同期信号ＣＬＫが生成される。
【００２９】
なお、図３のファインクロックマーク信号ＦＣＭは、レーザ光が光磁気記録媒体１０のグルーブ２を走行する場合に検出されるファインクロックマーク信号について説明した。レーザ光がランド１を走行する場合に検出されるファインクロックマーク信号は、その極性が変わるだけであり、点Ｐの位置は変化しない。したがって、レーザ光がランド１を走行する場合も、同様に信号ＦＣＭＴを生成できる。
【００３０】
図４を参照して、チルト検出回路１１３におけるチルトの検出動作について説明する。光学ヘッド１０１は、上述したように光磁気記録媒体１０からチルトマーク信号ＣＨＭを検出し、再生信号増幅回路１０２を介してチルトマーク信号ＣＨＭをチルト検出回路１１３へ出力する。光軸がグルーブ２の中心ＧＣに一致しているレーザ光ＬＢ１が光磁気記録媒体１０に照射されたとき、光学ヘッド１０１は、チルトマーク信号ＣＨＭ１を検出する。また、光軸がグルーブ２の中心ＧＣから一方にずれたレーザ光ＬＢ２が光磁気記録媒体１０に照射されたとき、光学ヘッド１０１は、チルトマーク信号ＣＨＭ２を検出する。さらに、光軸がグルーブ２の中心ＧＣから他方にずれたレーザ光ＬＢ３が光磁気記録媒体１０に照射されたとき、光学ヘッド１０１は、チルトマーク信号ＣＨＭ３を検出する。
【００３１】
チルトマーク信号ＣＨＭ１は、成分Ｓ１，Ｓ１，・・・から成る。成分Ｓ１は、基準レベルに対して２つのピーク値Ｐ１，Ｐ２を有する。そして、ピーク値Ｐ１は、ピーク値Ｐ２に等しい。したがって、レーザ光ＬＢ１がグルーブ２の中心ＧＣに照射されるとき、２つのピーク値Ｐ１，Ｐ２が等しいチルトマーク信号ＣＨＭ１が検出される。また、チルトマーク信号ＣＨＭ２は、成分Ｓ２，Ｓ２，・・・から成る。成分Ｓ２においては、ピーク値Ｐ１はピーク値Ｐ２よりも大きい。したがって、グルーブ２の中心ＧＣから一方にずれたレーザ光ＬＢ２が照射されるとき、ピーク値Ｐ１＞ピーク値Ｐ２となるチルトマーク信号ＣＨＭ２が検出される。さらに、チルトマーク信号ＣＨＭ３は、成分Ｓ３，Ｓ３，・・・から成る。成分Ｓ３においては、ピーク値Ｐ１は、ピーク値Ｐ３よりも小さい。したがって、グルーブ２の中心ＧＣから他方にずれたレーザ光ＬＢ３が照射されるとき、ピーク値Ｐ１＜ピーク値Ｐ２となるチルトマーク信号ＣＨＭ３が検出される。
【００３２】
チルト検出回路１１３は、再生信号増幅回路１０２から入力されたチルトマーク信号ＣＨＭの２つのピーク値Ｐ１，Ｐ２を検出し、その検出したピーク値Ｐ１をピーク値Ｐ２と比較する。そして、チルト検出回路１１３は、ピーク値Ｐ１がピーク値Ｐ２に等しいとき、レーザ光ＬＢの光軸がグルーブ２の中心ＧＣに一致していると判定する。また、チルト検出回路１１３は、ピーク値Ｐ１がピーク値Ｐ２よりも大きいとき、レーザ光ＬＢの光軸がグルーブ２の中心ＧＣから一方にずれていると判定する。さらに、チルト検出回路１１３は、ピーク値Ｐ１がピーク値Ｐ２よりも小さいとき、レーザ光ＬＢの光軸がグルーブ２の中心ＧＣから他方にずれていると判定する。そして、チルト検出回路１１３は、レーザ光ＬＢの光軸がグルーブ２の中心ＧＣからずれていると判定したとき、チルト検出信号ＣＨＤＴを生成し、その生成したチルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。
【００３３】
レーザ光ＬＢがランド１を走行する場合も、チルト検出回路１１３は、上述した方法と同じ方法によってチルト検出信号ＣＨＤＴを生成し、その生成したチルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。
【００３４】
図５〜図７を参照して、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したときの磁界強度の調整方法について説明する。図５を参照して、光磁気記録媒体１０にチルトが発生していないとき、磁界Ｈｅｘ１は、その中心がランド１またはグルーブ２の中心に一致して印加される。また、レーザ光ＬＢは、その光軸ＬＢ０がランド１またはグルーブ２の中心に一致して照射される（図５の（ａ）参照）。光磁気記録媒体１０にチルトが発生すると、そのチルトが発生した部分は傾くため、磁界Ｈｅｘ１は、その中心がランド１の中心から一方にずれて印加される。また、レーザ光ＬＢは、その光軸ＬＢ０がランド１の中心から一方にすれて照射される。その結果、ランド１の領域１１は、領域１２に比べ強い磁界が印加され、高温に昇温される。そうすると、ランド１には、ラジアル方向ＤＲ１に不均一な磁区が形成される（図５の（ｂ）参照）。
【００３５】
そこで、本発明においては、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、チルトによる光軸ずれを補正し、ラジアル方向ＤＲ１に均一な磁区がランド１またはグルーブ２に形成されるように磁界Ｈｅｘ１の強度を調整する。すなわち、図５の（ｃ）に示すように、ランド１またはグルーブ２の中心からずれた光軸ＬＢ０をランド１またはグルーブ２の中心に一致するように対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを掛け直す。この対物レンズのトラッキングサーボの掛け直しは、チルトマーク信号ＣＨＭに基づいて行ない、光学ヘッド１０１が検出したチルトマーク信号が図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ１になるように行なう。そして、レーザ光ＬＢの光軸ＬＢ０のずれを補正した後、磁界の強度をラジアル方向ＤＲ１に均一な磁区がランド１またはグルーブ２に形成される強度に調整する。したがって、強度が補正されると、ランド１またはグルーブ２に磁界Ｈｅｘ２が印加される。
【００３６】
図６を参照して、磁界の強度を調整するとき、制御回路１１４は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、強度が変化され、かつ、記録信号ＷＤによって変調された磁界を生成するための駆動信号ＭＧＤを生成し、その生成した駆動信号ＭＧＤを磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力する。駆動信号ＭＧＤの成分ＭＧＤ１，ＭＧＤ２，・・・，ＭＧＤｎは、全て「１０１１０１」から成る記録信号ＷＤによって変調されており、磁界強度を設定するための振幅が相互に異なる。磁界強度の調整においては、１．４２２×１０4〜１．８９６×１０4Ａ／ｍの範囲で７９０Ａ／ｍのステップで強度を変化させる。したがって、成分ＭＧＤ１は、１．４２２×１０4Ａ／ｍの強度を有し、記録信号ＷＤによって変調された磁界を生成するための駆動信号である。また、成分ＭＧＤ２は、１．５０１×１０4Ａ／ｍの強度を有し、記録信号ＷＤによって変調された磁界を生成するための駆動信号である。さらに、成分ＭＧＤｎは、１．８９６×１０4Ａ／ｍの強度を有し、記録信号ＷＤによって変調された磁界を生成するための駆動信号である。
【００３７】
また、制御回路１１４は、記録時の強度を有するレーザ光を生成するための駆動信号ＰＷをレーザ駆動回路１１９へ出力する。
【００３８】
レーザ駆動回路１１９は、制御回路１１４からの駆動信号ＰＷに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を駆動し、光学ヘッド１０１は、記録時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。なお、記録時のレーザ光の強度は、１０〜１４ｍＷである。一方、磁気ヘッド駆動回路１１８は、制御回路１１４からの駆動信号ＭＧＤに基づいて磁気ヘッド１２０を駆動し、磁気ヘッド１２０は、記録信号ＷＤによって変調され、かつ、強度が異なる磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。これによって、記録信号ＷＤは、磁界強度を変えて光磁気記録媒体１０に記録される。
【００３９】
記録信号ＷＤの記録が終了すると、制御回路１１４は、再生時の強度を有するレーザ光を生成するための駆動信号ＰＲをレーザ駆動回路１１９へ出力する。レーザ駆動回路１１９は、駆動信号ＰＲに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を駆動し、光学ヘッド１０１は、再生時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。そして、光学ヘッド１０１は、光検出器１０１０によって光磁気記録媒体１０からの反射光を検出して光磁気信号ＲＦを出力する。
【００４０】
光磁気信号ＲＦは、再生信号増幅回路１０２、ＢＰＦ１０７、ＡＤ変換器１０８、波形等化回路１０９、復号回路１１０、および復調回路１１１を介して再生信号としてデコーダ１１２へ入力される。デコーダ１１２は、入力された再生信号の誤り訂正を行ない、再生信号のエラーレートを制御回路１１４へ出力する。制御回路１１４は、磁界強度を変化させて記録した記録信号に対応する再生信号のエラーレートをデコーダ１１２から受け、図７に示すエラーレートと磁界強度との関係図を作成する。そして、制御回路１１４は、図７に示す関係に基づいて再生信号のエラーレートが飽和する磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２を検出する。図７に示す場合は、磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２として１．７３８×１０4〜１．８９６×１０4Ａ／ｍの範囲を検出する。そうすると、制御回路１１４は、磁界強度の範囲１．７３８×１０4〜１．８９６×１０4Ａ／ｍに含まれる磁界強度を好適な強度と決定し、その決定した好適な強度に磁界の強度を設定するための駆動信号ＭＧＤＰＦＲを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤＰＦＲを出力する。磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤＰＦＲに基づく磁界強度を有し、変調回路１１６からの記録信号によって変調された磁界を生成するように磁気ヘッド１２０を駆動する。
【００４１】
このようにして、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、ラジアル方向ＤＲ１に均一な磁区がランド１またはグルーブ２に形成されるように磁界強度が調整される。
【００４２】
なお、制御回路１１４は、再生信号のエラーレートが飽和する磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２に含まれる磁界強度を好適な強度として決定するとして説明したが、本発明においては、磁界強度Ｈ１と磁界強度Ｈ２との平均値を最適な磁界強度Ｈｏｐｔとして決定し、その決定した最適強度Ｈｏｐｔに磁界の強度を設定してもよい。この場合、制御回路１１４は、磁界の強度を最適強度Ｈｏｐｔに設定するための駆動信号ＭＧＤＯＴを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤＯＴを出力する。そして、磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤＯＴに基づく磁界の強度を有し、変調回路１１６からの記録信号によって変調された磁界を生成するように磁気ヘッド１２０を駆動する。このように、再生信号のエラーレートが飽和する磁界強度の範囲の両端を検出し、その検出した２つの磁界強度の平均値を磁界強度の最適強度として決定することにより、光磁気記録媒体１０への信号の記録に用いる磁界強度のマージンを大きくできる。
【００４３】
再び、図１を参照して、光磁気ディスク装置１００における光磁気記録媒体１０への信号の記録動作について説明する。光磁気ディスク装置１００に光磁気記録媒体１０が装着されると、制御回路１１４は、スピンドルモータ１０６を所定の回転数で回転させるようにサーボ回路１０４を制御するとともに、所定強度のレーザ光を生成するようにレーザ駆動回路１１９を制御する。サーボ回路１０４は、スピンドルモータ１０６を所定の回転数で回転させ、スピンドルモータ１０６は、光磁気記録媒体１０を所定の回転数で回転する。また、レーザ駆動回路１１９は、所定強度のレーザ光を出射するように光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を駆動し、光学ヘッド１０１は、所定強度のレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射し、その反射光を検出する。そして、光学ヘッド１０１は、検出したトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ、およびチルトマーク信号ＣＨＭを再生信号増幅回路１０２へ出力する。
【００４４】
再生信号増幅回路１０２は、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ、およびチルトマーク信号ＣＨＭを所定のレベルに増幅し、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ、およびチルトマーク信号ＣＨＭをサーボ回路１０４へ出力し、ファインクロックマーク信号ＦＣＭを外部同期信号生成回路１０３へ出力し、チルトマーク信号ＣＨＭをチルト検出回路１１３へ出力する。外部同期信号生成回路１０３は、上述した方法によって、ファインクロックマーク信号ＦＣＭに基づいて外部同期信号ＣＬＫを生成し、その生成した外部同期信号ＣＬＫをサーボ回路１０４、ＡＤ変換器１０８、波形等化回路１０９、復号回路１１０、復調回路１１１、制御回路１１４および変調回路１１６へ出力する。
【００４５】
一方、サーボ回路１０４は、トラッキングエラー信号ＴＥおよびフォーカスエラー信号ＦＥに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボおよびフォーカスサーボを行なうとともに、外部同期信号ＣＬＫに同期してスピンドルモータ１０６を所定の回転数で回転する。
【００４６】
そうすると、制御回路１１４は、入力された記録信号を変調して磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力するように変調回路１１６を制御するとともに、レーザ光の強度を記録時の強度に設定するための駆動信号ＰＷをレーザ駆動回路１１９へ出力する。その後、記録データがエンコーダ１１５に入力され、エンコーダ１１５は、記録データに誤り訂正を付加して変調回路１１６へ出力する。変調回路１１６は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、エンコーダ１１５からの記録信号を所定の方式に変調し、その変調した記録信号を磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力する。
【００４７】
レーザ駆動回路１１９は、駆動信号ＰＷに基づいて、レーザ光の強度を記録時の強度に設定するように光学ヘッド１０１に含まれる半導体レーザ（図示せず）を制御し、光学ヘッド１０１は、記録時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。また、磁気ヘッド駆動回路１１８は、記録信号によって変調された電流を磁気ヘッド１２０のコイルに流し、磁気ヘッド１２０は、記録信号によって変調された磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。これによって、記録信号が光磁気記録媒体１０に記録される。
【００４８】
チルト検出回路１１３は、再生信号増幅回路１０２から入力されたチルトマーク信号ＣＨＭに基づいて、上述した方法によってチルトを検出する。この場合、チルト検出回路１１３は、図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ１が入力される限り、チルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力しないので、光磁気記録媒体１０にチルトが発生するまでは、上述した磁界強度の調整は行なわれない。
【００４９】
チルト検出回路１１３は、図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ２（またはＣＨＭ３）が入力されると、上述した方法によってチルト検出信号ＣＨＤＴを生成し、その生成したチルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。そうすると、制御回路１１４は、駆動信号ＭＧＤを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤを出力するとともに、チルトマーク信号ＣＨＭに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行なうようにサーボ回路１０４を制御する。サーボ回路１０４は、入力されたチルトマーク信号ＣＨＭに基づいて、レーザ光が光磁気記録媒体１０のランド１またはグルーブ２の中心に照射されるようにサーボ機構１０５を制御する。すなわち、サーボ回路１０４は、図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ１が得られるようにサーボ機構１０５を制御する。そして、サーボ機構１０５は、サーボ回路１０４からの制御に基づいて対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行ない、レーザ光は、ランド１またはグルーブ２の中心に照射される。
【００５０】
一方、磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤに基づいて磁気ヘッド１２０を駆動し、磁気ヘッド１２０は、強度が変化し、かつ、記録信号「１０１１０１」によって変調された磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。これによって、磁界強度を変化させながら記録信号ＷＤが光磁気記録媒体１０に記録される。
【００５１】
記録信号「１０１１０１」が光磁気記録媒体１０に記録されると、制御回路１１４は、レーザ光の強度を再生時の強度に設定するための駆動信号ＰＲをレーザ駆動回路１１９へ出力する。レーザ駆動回路１１９は、駆動信号ＰＲに基づいてレーザ光の強度を再生時の強度に設定し、光学ヘッド１０１は、再生時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。そして、光学ヘッド１０１は、光磁気記録媒体１０からの反射光を検出して光磁気信号ＲＦを再生信号増幅回路１０２へ出力する。再生信号増幅回路１０２は、光磁気信号ＲＦを所定のレベルに増幅した後、光磁気信号ＲＦをＢＰＦ１０７へ出力する。ＢＰＦ１０７は、光磁気信号ＲＦの高域と低域とを除去し、ＡＤ変換器１０８は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦをアナログ信号からデジタル信号に変換する。そして、波形等化回路１０９は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦの前後のデータが１対１に波形干渉を行なうように波形等化を行ない、復号回路１１０は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦを多値から２値に変換する。復調回路１１１は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、記録時に施されたデジタル変調を解くための復調を行ない、デコーダ１１２は、復調された再生信号の誤り訂正を行ない、エラーレートを制御回路１１４へ出力する。
【００５２】
そして、制御回路１１４は、入力されたエラーレートに基づいて好適な磁界強度を決定し、磁界の強度を好適な強度に設定するための駆動信号ＭＧＤＰＦＲを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力する。
【００５３】
磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤＰＦＲに基づく強度を有し、かつ、変調回路１１６からの記録信号に基づいて変調された磁界を発生するように磁気ヘッド１２０を駆動して、記録信号が光磁気記録媒体１０に記録される。
【００５４】
次に、光磁気ディスク装置１００における光磁気記録媒体１０からの信号の再生動作について説明する。光磁気記録媒体１０が外部同期信号ＣＬＫに同期して所定の回転数で回転され、光学ヘッド１０１の対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボおよびフォーカスサーボが行なわれるまでの動作は、記録動作の場合と同じである。その後、光学ヘッド１０１は、再生時の強度を有するレーザ光によって光磁気記録媒体１０から光磁気信号ＲＦを検出して再生信号増幅回路１０２へ出力する。
【００５５】
再生信号増幅回路１０２は、光磁気信号ＲＦを所定のレベルに増幅した後、光磁気信号ＲＦをＢＰＦ１０７へ出力する。ＢＰＦ１０７は、光磁気信号ＲＦの高域と低域とを除去し、ＡＤ変換器１０８は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦをアナログ信号からデジタル信号に変換する。そして、波形等化回路１０９は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦの前後のデータが１対１に波形干渉を行なうように波形等化を行ない、復号回路１１０は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、光磁気信号ＲＦを多値から２値に変換する。復調回路１１１は、外部同期信号ＣＬＫに同期して、記録時に施されたデジタル変調を解くための復調を行ない、デコーダ１１２は、復調された再生信号の誤り訂正を行ない、再生データを出力する。これによって、光磁気記録媒体１０からの信号の再生動作が終了する。
【００５６】
実施の形態１によれば、光磁気ディスク装置は、光磁気記録媒体にチルトが発生したとき、レーザ光の光軸が光磁気記録媒体のランドまたはグルーブの中心に一致するように対物レンズのトラッキングサーボを行ない、径方向に均一な磁区が形成されるように磁界強度を調整するので、記録信号を光磁気記録媒体に正確に記録できる。
【００５７】
［実施の形態２］
図８を参照して、実施の形態２による光磁気ディスク装置２００は、図１に示す光磁気ディスク装置１００に振幅検出回路１２１を追加したものであり、その他は、光磁気ディスク装置１００と同じである。光磁気ディスク装置２００においては、再生信号増幅回路１０２は、光磁気信号ＲＦを振幅検出回路１２１へも出力する。また、外部同期信号生成回路１０３は、外部同期信号ＣＬＫを振幅検出回路１２１へも出力する。振幅検出回路１２１は、再生信号増幅回路１０２から入力された光磁気信号ＲＦの振幅を外部同期信号ＣＬＫに同期して検出し、その検出した振幅を制御回路１１４へ出力する。
【００５８】
図９を参照して、振幅検出回路１２１における光磁気信号ＲＦの振幅の検出方法について説明する。振幅検出回路１２１は、外部同期信号ＣＬＫの各タイミングにおいて、光磁気信号ＲＦの振幅値ＰＫ１〜ＰＫ１３を検出して振幅信号ＲＦＰを生成する。そして、振幅検出回路１２１は、検出した振幅信号ＲＦＰの振幅値ＰＫ１，ＰＫ４，ＰＫ５，ＰＫ７，ＰＫ９，ＰＫ１２の平均値ＰＫＡ１と、振幅値ＰＫ２，ＰＫ３，ＰＫ６，ＰＫ８，ＰＫ１０，ＰＫ１１，ＰＫ１３の平均値ＰＫＡ２とを求め、平均値ＰＫＡ１の絶対値と平均値ＰＫＡ２の絶対値との和を光磁気信号ＲＦの振幅ＰＫとして求める。
【００５９】
図１０および図１１を参照して、光磁気記録媒体１０にチルトが発生した場合に、光磁気信号ＲＦの振幅に基づいて磁界強度を調整する方法について説明する。実施の形態２においては、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、実施の形態１と同じように磁界強度を変化させながら記録信号「１０１１０１」を記録し、その記録信号「１０１１０１」に対応する光磁気信号ＲＦの振幅が最大になる（「飽和する」とも言う、以下同じ）ように磁界強度を調整する。すなわち、制御回路１１４は、チルト検出回路１１３からチルト検出信号ＣＨＤＴを受けると、駆動信号ＭＧＤ，ＰＷを生成して駆動信号ＭＧＤを磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力し、駆動信号ＰＷをレーザ駆動回路１１９へ出力する。そして、レーザ駆動回路１１９は、記録時の強度を有するレーザ光を生成するように半導体レーザ（図示せず）を駆動し、光学ヘッド１０１は、記録時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。また、磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤに基づいて磁気ヘッド１２０を駆動し、磁気ヘッド１２０は、強度が変化し、かつ、記録信号「１０１１０１」によって変調された磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。これによって、磁界強度を変化させながら記録信号「１０１１０１」が光磁気記録媒体１０に記録される。
【００６０】
図１０を参照して、磁界の中心がランド１またはグルーブ２の中心に一致しているとき、光磁気信号ＲＦ１が検出され、振幅検出回路１２１は、上述した方法によって最も大きい振幅を検出する。磁界の中心がランド１またはグルーブ２の中心からずれると、光磁気信号ＲＦ２，ＲＦ３が検出され、光磁気信号ＲＦ２，ＲＦ３の順で振幅が小さくなる。したがって、本発明においては、光磁気信号ＲＦ１が検出されるように、磁界強度を調整する。
【００６１】
制御回路１１４は、振幅検出回路１２１から光磁気信号ＲＦの振幅を受け、図１１に示すように、光磁気信号の振幅と磁界強度との関係図を作成し、光磁気信号ＲＦの振幅が最大になる磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２を検出し、その検出した磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２に含まれる強度を好適な磁界強度として決定する。制御回路１１４は、好適な磁界強度を決定すると、磁界の強度を好適な強度に設定するための駆動信号ＭＧＤＰＦＲを生成し、その生成した駆動信号ＭＧＤＰＦＲを磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力する。その後の動作は、実施の形態１において説明したのと同じである。このように、実施の形態２においては、光磁気記録媒体１０から検出した光磁気信号ＲＦの振幅が最大になるように磁界強度が調整される。
【００６２】
なお、制御回路１１４は、再生信号の振幅が飽和する磁界強度の範囲Ｈ１〜Ｈ２に含まれる磁界強度を好適な強度として決定するとして説明したが、本発明においては、磁界強度Ｈ１と磁界強度Ｈ２との平均値を最適な磁界強度Ｈｏｐｔとして決定し、その決定した最適強度Ｈｏｐｔに磁界の強度を設定してもよい。この場合、制御回路１１４は、磁界の強度を最適強度Ｈｏｐｔに設定するための駆動信号ＭＧＤＯＴを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ駆動信号ＭＧＤＯＴを出力する。そして、磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤＯＴに基づく磁界の強度を有し、変調回路１１６からの記録信号によって変調された磁界を生成するように磁気ヘッド１２０を駆動する
光磁気記録媒体１０にチルトが発生しない場合の光磁気記録媒体１０への信号の記録動作および光磁気記録媒体１０からの信号の再生動作は実施の形態１における説明と同じである。そこで、光磁気記録媒体１０にチルトが発生した場合の光磁気ディスク装置２００における動作について説明する。
【００６３】
チルト検出回路１１３は、図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ２（またはＣＨＭ３）が入力されると、上述した方法によってチルト検出信号ＣＨＤＴを生成し、その生成したチルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。そうすると、制御回路１１４は、駆動信号ＭＧＤを生成し、その生成した駆動信号ＭＧＤを磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力するとともに、チルトマーク信号ＣＨＭに基づいて光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行なうようにサーボ回路１０４を制御する。サーボ回路１０４は、入力されたチルトマーク信号ＣＨＭに基づいて、レーザ光が光磁気記録媒体１０のランド１またはグルーブ２の中心に照射されるようにサーボ機構１０５を制御する。すなわち、サーボ回路１０４は、図４に示すチルトマーク信号ＣＨＭ１が得られるようにサーボ機構１０５を制御する。そして、サーボ機構１０５は、サーボ回路１０４からの制御に基づいて対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行ない、レーザ光は、ランド１またはグルーブ２の中心に照射される。
【００６４】
一方、磁気ヘッド駆動回路１１８は、駆動信号ＭＧＤに基づいて磁気ヘッド１２０を駆動し、磁気ヘッド１２０は、強度が変化し、かつ、記録信号「１０１１０１」によって変調された磁界を光磁気記録媒体１０に印加する。これによって、磁界強度を変化させながら記録信号「１０１１０１」が光磁気記録媒体１０に記録される。
【００６５】
記録信号「１０１１０１」が光磁気記録媒体１０に記録されると、制御回路１１４は、レーザ光の強度を再生時の強度に設定するための駆動信号ＰＲをレーザ駆動回路１１９へ出力する。レーザ駆動回路１１９は、駆動信号ＰＲに基づいてレーザ光の強度を再生時の強度に設定し、光学ヘッド１０１は、再生時の強度を有するレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射する。そして、光学ヘッド１０１は、光磁気記録媒体１０からの反射光を検出して光磁気信号ＲＦを再生信号増幅回路１０２へ出力する。再生信号増幅回路１０２は、光磁気信号ＲＦを所定のレベルに増幅した後、光磁気信号ＲＦを振幅検出回路１２１へ出力する。
【００６６】
振幅検出回路１２１は、上述した方法によって光磁気信号ＲＦの振幅を検出して制御回路１１４へ出力する。制御回路１１４は、上述した方法によって好適な磁界強度を決定し、磁界の強度を好適な磁界強度に設定するための駆動信号ＭＧＤＰＦＲを生成して磁気ヘッド駆動回路１１８へ出力する。その後の動作は実施の形態１における説明と同じである。これによって、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、ラジアル方向ＤＲ１に均一な磁区が形成されるように磁界強度が調整される。
【００６７】
その他は、実施の形態１と同じである。
実施の形態２によれば、光磁気ディスク装置は、光磁気記録媒体にチルトが発生した場合、磁界強度を変化させながら記録した記録信号に対応する光磁気信号の振幅が最大になるように磁界強度を調整するので、光磁気記録媒体にチルトが発生しても、光磁気記録媒体に信号を正確に記録できる。
【００６８】
［実施の形態３］
図１２を参照して、実施の形態３による光磁気ディスク装置３００は、図１に示す光磁気ディスク装置１００にチルトセンサ１２２を追加し、チルト検出回路１１３をチルト検出回路１１３Ａに代えたものであり、その他は、光磁気ディスク装置１００と同じである。チルトセンサ１２２は、２つのレーザ光を光磁気記録媒体１０に照射し、その２つのレーザ光の光磁気記録媒体１０での反射光を別々の検出部で検出し、その検出した２つの反射光強度をサーボ回路１０４およびチルト検出回路１１３Ａへ出力する。
【００６９】
図１３を参照して、チルトセンサ１２２は、発光部１２２１と、センサ１２２２，１２２３とから成る。発光部１２２１は、レーザ光ＬＢＣ１，ＬＢＣ２を発光する。センサ１２２２は、レーザ光ＬＢＣ１の光磁気記録媒体１０での反射光を検出する。センサ１２２３は、レーザ光ＬＢＣ２の光磁気記録媒体１０での反射光を検出する。
【００７０】
光磁気記録媒体１０にチルトが発生していない場合、センサ１２２２が検出する反射光強度ＩＰＨ１は、センサ１２２３が検出する反射光強度ＩＰＨ２に等しい。すなわち、ＩＰＨ１＝ＩＰＨ２になる（図１３の（ａ）参照）。また、光磁気記録媒体１０にスピンドルモータ１０６側へのチルトが発生している場合、センサ１２２２が検出する反射光強度ＩＰＨ１は、センサ１２２３が検出する反射光強度ＩＰＨ２よりも大きい。すなわち、ＩＰＨ１＞ＩＰＨ２になる（図１３の（ｂ）参照）。さらに、光磁気記録媒体１０にスピンドルモータ１０６と反対側へのチルトが発生している場合、センサ１２２２が検出する反射光強度ＩＰＨ１は、センサ１２２３が検出する反射光強度ＩＰＨ２よりも小さい。すなわち、ＩＰＨ１＜ＩＰＨ２になる（図１３の（ｃ）参照）。
【００７１】
チルトセンサ１２２は、センサ１２２２，１２２３で検出した反射光強度ＩＰＨ１，ＩＰＨ２をサーボ回路１０４およびチルト検出回路１１３Ａへ出力する。チルト検出回路１１３Ａは、入力された反射光強度ＩＰＨ１，ＩＰＨ２に基づいて２つの反射光強度の大小関係を判定する。そして、チルト検出回路１１３Ａは、ＩＰＨ１＝ＩＰＨ２であれば、光磁気記録媒体１０にチルトが発生していないと判定し、ＩＰＨ１＞ＩＰＨ２であれば、光磁気記録媒体１０にスピンドルモータ１０６側へのチルトが発生していると判定し、ＩＰＨ１＜ＩＰＨ２であれば、光磁気記録媒体１０にスピンドルモータ１０６と反対側へのチルトが発生していると判定する。チルト検出回路１１３Ａは、ＩＰＨ１＞ＩＰＨ２、またはＩＰＨ１＜ＩＰＨ２と判定したとき、チルト検出信号ＣＨＤＴを生成し、その生成したチルト検出信号ＣＨＤＴを制御回路１１４へ出力する。チルト検出信号ＣＨＤＴを受けた制御回路１１４の動作は、実施の形態１で説明したのと同じである。
【００７２】
サーボ回路１０４は、光磁気記録媒体１０にチルトが発生している場合、制御回路１１４からの制御によって、反射光強度ＩＰＨ１が反射光強度ＩＰＨ２に等しくなるように光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行なう。これによって、光磁気記録媒体１０にチルトが発生してもレーザ光の光軸を光磁気記録媒体１０のランド１またはグルーブ２の中心に一致させることができる。
【００７３】
光磁気記録媒体１０にチルトが発生したときの磁界強度を調整する方法は、実施の形態１で説明した方法と同じである。
【００７４】
チルトセンサ１２２は、光磁気記録媒体１０にチルトが発生し易い位置（径方向ＤＲ１の位置）に設置しておいても良いし、光学ヘッド１０１の径方向ＤＲ１への移動に伴って径方向ＤＲ１に移動するようにしても良い。
【００７５】
また、チルトセンサ１２２によって光磁気記録媒体１０のチルトを検出する場合、光磁気記録媒体１０は、チルトマークを含まなくても良い。
【００７６】
さらに、光磁気記録媒体１０がチルトマークを含む場合、サーボ回路１０４は、再生信号増幅回路１０２から入力されるチルトマーク信号ＣＨＭに基づいて、光学ヘッド１０１に含まれる対物レンズ（図示せず）のトラッキングサーボを行なうように構成してもよい。
【００７７】
その他は、実施の形態１における説明と同じである。
実施の形態３によれば、光磁気ディスク装置は、光磁気記録媒体にチルトが発生したとき、レーザ光の光軸が光磁気記録媒体のランドまたはグルーブの中心に一致するように対物レンズのトラッキングサーボを行ない、径方向に均一な磁区が形成されるように磁界強度を調整するので、記録信号を光磁気記録媒体に正確に記録できる。
【００７８】
［実施の形態４］
図１４を参照して、実施の形態４による光磁気ディスク装置４００は、図８に示す光磁気ディスク装置２００にチルトセンサ１２２を追加し、チルト検出回路１１３をチルト検出回路１１３Ａに代えたものであり、その他は光磁気ディスク装置２００と同じである。また、チルトセンサ１２２およびチルト検出回路１１３Ａの説明は、実施の形態３における説明と同じである。したがって、光磁気ディスク装置４００においても、光磁気記録媒体１０にチルトが発生したとき、そのチルトの影響を除去するように磁界強度を調整できる。
【００７９】
その他は、実施の形態２，３と同じである。
実施の形態４によれば、光磁気ディスク装置は、光磁気記録媒体にチルトが発生したとき、レーザ光の光軸が光磁気記録媒体のランドまたはグルーブの中心に一致するように対物レンズのトラッキングサーボを行ない、径方向に均一な磁区が形成されるように磁界強度を調整するので、記録信号を光磁気記録媒体に正確に記録できる。
【００８０】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  実施の形態１による光磁気ディスク装置のブロック図である。
【図２】  光磁気信号、チルトマーク信号、およびファインクロックマーク信号の検出方法を説明するための図である。
【図３】  外部同期信号の生成方法を説明するための図である。
【図４】  チルトの検出方法を説明するための図である。
【図５】  実施の形態１におけるチルトによる影響を除去する方法を説明するための断面図である。
【図６】  図１に示す光磁気ディスク装置における信号のタイミングチャートである。
【図７】  再生信号のエラーレートと磁界強度との関係を示す図である。
【図８】  実施の形態２による光磁気ディスク装置のブロック図である。
【図９】  光磁気記録媒体から検出した光磁気信号の振幅検出における信号のタイミングチャートである。
【図１０】  実施の形態２におけるチルト検出に用いる光磁気信号のタイミングチャートである。
【図１１】  光磁気信号の振幅と磁界強度との関係を示す図である。
【図１２】  実施の形態３による光磁気ディスク装置のブロック図である。
【図１３】  チルトセンサによるチルトの検出方法を説明するための図である。
【図１４】  実施の形態４による光磁気ディスク装置のブロック図である。
【図１５】  従来の問題点を説明するための断面図である。
【符号の説明】
１  ランド、２  グルーブ、３  ファインクロックマーク、４  チルトマーク、１０  光磁気記録媒体、１１，１２，１０１１〜１０１６  領域、３０，４０回路、１００，２００，３００，４００  光磁気ディスク装置、１０１  光学ヘッド、１０２  再生信号増幅回路、１０３  外部同期信号生成回路、１０４  サーボ回路、１０５  サーボ機構、１０６  スピンドルモータ、１０７  ＢＰＦ、１０８  ＡＤ変換器、１０９  波形等化回路、１１０  復号回路、１１１  復調回路、１１２  デコーダ、１１３，１１３Ａ  チルト検出回路、１１４  制御回路、１１５  エンコーダ、１１６  変調回路、１１８  磁気ヘッド駆動回路、１１９  レーザ駆動回路、１２０  磁気ヘッド、１２１  振幅検出回路、１２２チルトセンサ、３０１，４０３，４０６  減算器、４０１，４０２，４０４，４０５  加算器、１０１０  光検出器、１２２１  発光部、１２２２，１２２３
センサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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