(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ビームを射出する射出手段と、
入力される画像データに応じて、前記複数の光ビームの各々を駆動する駆動手段と、
前記複数の光ビームを同一感光体上の主走査方向に走査する主走査手段と、
前記主走査手段により走査される光ビームを検出して、前記光ビームの各々に対応する同期信号を生成する検出手段と、
前記感光体上に形成された潜像を顕像化して記録紙上に画像を形成するプリント手段とを有する光プリンタであって、
前記主走査方向に垂直な副走査方向に関して前記記録紙を複数の領域に分割し、分割された各領域において各々異なる単一の光ビームを用いて、前記副走査方向に伸びる縦線画像を各々主走査方向に関して同じ位置で形成するためのテストパターンデータを発生するテストパターンデータ発生手段を備えたことを特徴とする光プリンタ。
【請求項２】
さらに、前記複数の光ビームのうち１つを選択する選択手段を備え、
単一の前記発生手段により各光ビームのためのテストパターンデータを発生することを特徴とする請求項１記載の光プリンタ。
【請求項３】
さらに、前記同期信号に応答してクロック信号を発生するクロック信号発生手段を備え、
前記テストパターン発生手段は、前記クロック信号をカウントし、そのカウント値が所定値になる時に光ビーム射出させることを特徴とする請求項１記載の光プリンタ。
【請求項４】
複数の光ビームを射出する射出手段と、入力される画像データに応じて、前記複数の光ビームの各々を駆動する駆動手段と、前記複数の光ビームを同一感光体上の主走査方向に走査する主走査手段と、前記主走査手段により走査される光ビームを検出して、前記光ビームの各々に対応する同期信号を生成する検出手段と、前記感光体上に形成された潜像を顕像化して記録紙上に画像を形成するプリント手段とを有する光プリンタのテストパターン記録方法であって、
前記主走査方向に垂直な副走査方向に関して前記記録紙を複数の領域に分割し、分割された各領域において各々異なる単一の光ビームを用いて、前記副走査方向に伸びる縦線画像を各々主走査方向に関して同じ位置で形成することを特徴とするテストパターン記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の光ビームを用いて画像形成を行う光プリンタの異常事態を検出するためのテストパターンを記録する光プリンタに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ビームとして例えばレーザを複数用いて画像を形成する所謂マルチビームレーザプリンタが研究されている。
【０００３】
図１２に、このようなマルチビームレーザプリンタの一例を示し、図１３にこの動作タイミングを示す。
【０００４】
図１２において、レーザプリンタ１はコンピュータなどの外部機器３１に接続され、外部機器３１の制御に基づいて記録紙に画像形成を行う。外部機器３１はビデオコントローラ２７に各種制御信号および画像情報を供給し、ビデオ信号として出力する。プリント制御部２６は装置内の各部を制御するための制御回路である。ビデオコントローラ２７は、図１３（ａ）に示すように、外部機器３１からのＲＤＹ信号がＴＲＵＥになると、図１３（ｂ）のようにＰＲＩＮＴ信号をＴＲＵＥとする。プリント制御部２６はＰＲＩＮＴ信号がＴＲＵＥになると、図１３（ｆ）、（ｇ）のように、メインモータ２３、ポリゴンモータ１４の駆動を開始する。そして、メインモータ２３の駆動によって、感光ドラム１７、定着部９の定着ローラ、排紙ローラ１１が回転を開始する。この後、プリント制御部２６は半導体レーザＡ３の光量制御を開始するとともに、一次帯電器１９、現像器２０、転写帯電器２１の高圧の駆動を順次行う。
【０００５】
プリント制御部２６は図１３（ｇ）のように、ポリゴンモータ１４からの駆動開始から時間Ｔ１を経過し、ポリゴンモータ１４の回転が定常状態になると、図１３（ｈ）のように給紙クラッチ２４をオンして給紙ローラ５を駆動し、給紙カセット２内の記録紙３をレジストローラ６に向けて給紙する。そして、プリント制御部２６は記録紙Ｓをレジストローラ６に到達するタイミングで図１３（ｃ）のようにＶＳＲＥＱ信号をビデオコントローラ２７に出力し、かつ図１３（ｈ）のように給紙クラッチ２４をオフして給紙ローラ５の駆動を停止する。一方、ビデオコントローラ２７は外部機器３１からの画像情報のドットイメージへの展開を終えてＶＤＯ信号の出力の準備を完了すると、図１３（ｃ）のＶＳＲＥＱ信号がＴＲＵＥであることを確認した後、図１３（ｄ）に示すようにＶＳＹＮＣ信号をＴＲＵＥとする。そして、これに同期して図１３（ｅ）のように時間Ｔｖ後に１ページ分の画像データとしてＶＤＯ信号の出力を開始する。
【０００６】
このとき、プリント制御部２６は図１３（ｉ）のようにＶＳＹＮＣ信号の立ち上がりから時間Ｔ３後にレジストローラクラッチ２５をオンし、レジストローラ６を駆動している。レジストローラ６の駆動は図１３（ｉ）のように記録紙Ｓの後端がレジストローラ６を通過するまでのＴ４間行う。また、この間、プリント制御部２６はビデオコントローラ２７からのＶＤＯ信号に応じて半導体レーザＡ３を駆動する。
【０００７】
半導体レーザ３はレーザＡ及びレーザＢを有し、２本のレーザビーム即ちレーザビームＡ及びレーザビームＢを射出するものであり、プリント制御部２６では各々のレーザを各々のＶＤＯ信号に応じて駆動し、この２本のレーザビームはスキャナー部７のポリゴンミラー１５により回転させられるミラー１６によって偏向し、感光ドラム１７上の各々の走査路に走査される。即ち、感光ドラム１７上の例えば奇数ラインをレーザビームＡが走査し、例えば偶数ラインをレーザビームＢが走査するものとする。このようにして各々のＶＤＯ信号に応じて変調された２つのレーザビームを同時に感光ドラム１７上に走査することによって感光ドラム１７上に２ラインずつ潜像を形成し、以下同じ動作を繰り返すことによって感光ドラム１７上に１ページ分の潜像が形成される。なお、レーザビームＡ及びレーザビームＢの走査路上で且つ画像形成領域外に不図示のビーム検出器が備えられており、係るビーム検出器はレーザビームＡ及びレーザビームＢを検出して、各々に対応する／ＢＤ１信号及び／ＢＤ信号２を生成する。この２つのＢＤ信号に基づいて、レーザビームの変調タイミングが制御される。
【０００８】
感光ドラム１７に形成された潜像は現像器２０によって現像され、その後、転写帯電器２１によって記録紙Ｓにトナー像が転写される。転写を終了すると、記録紙Ｓは定着器９に搬送されてトナー像が記録紙Ｓに定着された後、排紙ローラ１１によって機外に排紙される。また、続けて次のページのプリントを行う場合は、プリント制御部２６は図１３（ｂ）のように時間Ｔ５後に再びＰＲＩＮＴ信号をＴＲＵＥとし、１ページ目のプリントと同様の制御を行う。
【０００９】
このようなマルチビームレーザプリンタのテストパターンデータ発生回路として、例えば２ビームレーザプリンタで縦線のテストパターンデータを発生する回路を例に挙げ、その構成図を図１４に、動作タイミングを図１５に各々示す。
【００１０】
以下、図１４の構成及び作用を説明する。マスク信号発生タイミングレジスタは１０１は、テストプリントに必要な／ＭＡＳＫ１信号１２４と／ＭＡＳＫ２信号２２４を解除するタイミング（＝カウンタ値）及び発生するタイミング（＝カウンタ値）を格納するレジスタである。レジスタ１０１への格納は、テストプリントの始めに行われる。
【００１１】
図１４において、テストプリントの水平同期を取るため、／ＢＤ１信号１２０は第１位相同期発振器１０２及び第１主走査カウンタ１０３に入力されている。
【００１２】
図１５（ａ）のように／ＢＤ１信号１２０がＴＲＵＥになると、まず第１主走査カウンタ１０３がリセットされる。続いて、第１位相同期発振器１０２が図１８（ｂ）に示すように、／ＢＤ１信号１２０に同期した画像クロック信号（ＣＬＫ１信号）１２１を発生する。ＣＬＫ１信号１２１は第１主走査カウンタ１０３及びテストパターンデータを生成するためのカウンタ１０６に入力される。第１主走査カウンタ１０３はクロックパルスの数を計測するため、第１主走査カウンタ値１２２は時と共に増加していく。主走査カウンタ値１２２はコンパレータ１０４にて、マスク信号タイミング設定レジスタ１０１にセットされたマスクを解除するカウンタ値と比較される。一方、この時カウンタ１０６の値は０のままである。なぜなら、／書き込み禁止信号１２６がＴＲＵＥであるため、カウンタ１０６はクリアされ続けるからである。
【００１３】
図１５（ｆ）のように／ＢＤ１信号１２０に続いて、／ＢＤ２信号２２０がＦＡＬＳＥからＴＲＵＥになる。すると、先に説明した第１主走査カウンタ１０３同様、第２主走査カウンタ２０３がリセットされ、図１５（ｇ）のように第２位相同期発振器２０２が第２画像クロックパルス信号（ＣＬＫ２信号）２２１を発生させる。そして第２主走査カウンタ２０３がクロックパルスの数を計測する。第２コンパレータ２０４においてもレーザＢのマスク解除値と第２主走査カウンタ値２２２が比較される。その結果、第２主走査カウンタ値２２２の方が小さい間、／ＭＡＳＫ２信号２２４はＴＲＵＥのままである。
【００１４】
第１主走査カウンタ値１２２がマスク解除の値となると、図１５（ｃ）のようにレーザＡのマスクが解除される。／ＭＡＳＫ１信号はＮＡＮＤゲート１０５に入力される。
【００１５】
この時、ＮＡＮＤゲート１０５にＦＡＬＳＥの／ＴＯＰＥ信号１２５が入力されると、図１５（ｄ）のようにカウンタ１０６がカウントを始める。４ビットのカウンタ１０６のそれぞれのビットを入力値とするＮＡＮＤゲート１０７が／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号１２７を生成する。図１５（ｅ）のように第１カウンタ値＝Ｆｈの時、／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号１２７がＴＲＵＥになる。
【００１６】
第２主走査カウンタ値２２２もマスク解除の値に達すると、同様な過程を経て／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ２信号２２７が生成される。
【００１７】
そして、第１主走査カウンタ値１２２がマスク発生の値になると、／ＴＥＳＴＰＡＴＴＥＲＮ１信号１２７はＦＡＬＳＥとなる。レーザＢについても同様にマスクが発生して書き込みが禁止される。１連の主走査は、／ＴＯＰＥ信号１２５がＴＲＵＥになるまで繰り返される。こうして、縦線のテストパターンがプリントされる。
【００１８】
次に、マルチビームレーザ特有の異常事態例をあげ、上述の従来構成における課題を指摘する。
（異状事態例１）  まず、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、複数の光ビームのうち何れか１つが劣化して完全に点灯しない場合について考える。上述の従来構成において、縦線を出力してテストプリントを行うと、図１６で示される縦方向の実線５３としてプリントされる。即ち、図１６の画像においては、例えば縦方向に１ドットスペースの破線が形成される筈であるが、静電写真の条件により完全に再現されないことが多く、仮に再現されていても、副走査方向が例えば６００ｄｐｉ相当の記録密度の場合目視で確認することは極めて困難である。まして、どちらのビームが異常であるかを特定することは不可能である。このように、１ビームが劣化して完全に点灯していなかったとしても、少し濃度が薄い縦線パターンとして認知されるだけで、異状事態が検出されない場合がある。
（異状事態例２）  次に、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、水平同期制御に異状が発生している場合について考える。なお、この異状は例えばビームの光路上のゴミやレンズの傷などによりＢＤ信号が遅れることにより生じる。上述の従来構成において、縦線を出力してテストプリントを行うと、図１７で示される縦方向の実線５３としてプリントされる。図１７をみると、水平同期制御に何らかの異状が発生していることを認知できるものの、２ビームの各々のタイミングが相対的にずれているだけなのか、またはいずれか一方のＢＤ信号にジッタよる影響が出ているのかは、特定できない。
（異状事態例３）  また、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、複数の光ビームの光量の各々が均一でないという事態が考えられる。ビーム光量が均一でないと、濃度むらを招くこととなる。上述の従来構成を多少変更することによりテストパターンとしてハーフトーンのベタ画像を記録したとすると、図１８で示されるハーフトーンパターン替えられる。このように全体に少しだけ濃度が薄くなるだけであり、上述の異状事態例１で述べた場合と同様、特定のビームのプリント結果のみ濃度が薄いことは判別しにくい。
【００１９】
また、上述の従来構成のようなテストパターンデータ発生回路は、複数のビームを個別にＯＮ／ＯＦＦするよう、各々のレーザに１つずつのプリントパターン発生回路が設ける必要であるためコスト高となることは否めない。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、複数の光ビームを用いて画像形成を行う光プリンタにおいて、各ビーム間の主走査同期のずれを目視可能なテストパターンを形成することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明における光プリンタは、複数の光ビームを射出する射出手段と、入力される画像データに応じて、前記複数の光ビームの各々を駆動する駆動手段と、前記複数の光ビームを同一感光体上の主走査方向に走査する主走査手段と、前記主走査手段により走査される光ビームを検出して、前記光ビームの各々に対応する同期信号を生成する検出手段と、前記感光体上に形成された潜像を顕像化して記録紙上に画像を形成するプリント手段とを有する光プリンタであって、前記主走査方向に垂直な副走査方向に関して前記記録紙を複数の領域に分割し、分割された各領域において各々異なる単一の光ビームを用いて、前記副走査方向に伸びる縦線画像を各々主走査方向に関して同じ位置で形成するためのテストパターンデータを発生するテストパターンデータ発生手段を備えたことを特徴とする。
【００２２】
また本発明におけるテストパターン記録方法は、複数の光ビームを射出する射出手段と、入力される画像データに応じて、前記複数の光ビームの各々を駆動する駆動手段と、前記複数の光ビームを同一感光体上の主走査方向に走査する主走査手段と、前記主走査手段により走査される光ビームを検出して、前記光ビームの各々に対応する同期信号を生成する検出手段と、前記感光体上に形成された潜像を顕像化して記録紙上に画像を形成するプリント手段とを有する光プリンタのテストパターン記録方法であって、前記主走査方向に垂直な副走査方向に関して前記記録紙を複数の領域に分割し、分割された各領域において各々異なる単一の光ビームを用いて、前記副走査方向に伸びる縦線画像を各々主走査方向に関して同じ位置で形成することを特徴とする。
【００２４】
【発明の実施の形態】
（実施例１）
図１は、例えば２本のレーザビームを用いる２ビームレーザプリンタにおいて、本発明を実現するテストパターンデータ発生回路の一例である。即ち、本実施例においては、例えばテスト画像上の例えば上半分の領域においてはレーザＡを選択してレーザビームＡを駆動するとともにレーザＢの駆動を禁止し、下半分の領域においてはレーザＢを駆動するとともにレーザＡの駆動を禁止するものとする。
【００２５】
図１において、まず２つのレーザ及びレーザビームを選択するためのＳＥＬ信号３３０が、マルチプレクサ３１０及びＢＤ信号同期回路３１１に入力される。
【００２６】
マルチプレクサ３１０は、入力されるＳＥＬ信号３３０に応じて、／ＢＤ１信号３３１または／ＢＤ２信号３３１のうちいずれか一方を選択して、位相同期発振器３０２、主走査カウンタ３０３、及びＢＤ信号同期回路３１１の各々へ入力する。ここで、ＳＥＬ信号３３０が、レーザＡを選択すべく指示するものであるとすると、／ＢＤ１信号３３１が選択される。以下、レーザＡを駆動するべくＳＥＬ信号３３０により指示される場合について説明する。
【００２７】
このようにレーザＡが選択されている状態で、レーザビームＡがビーム検出器を通過することにより、／ＢＤ１信号３３１がＴＲＵＥになると、これをトリガーとして位相同期発振器３０２が、／ＢＤ１信号３１１に同期した画像クロック信号（ＣＬＫ信号）３２１の生成を開始する。画像クロック信号（ＣＬＫ信号）３２１は、主走査カウンタ３０３、及びテストパターンデータを発生するカウンタ３０６に入力される。
【００２８】
また、同じく／ＢＤ１信号３３１がＴＲＵＥになるタイミングに同期して、主走査カウンタ３０３がリセットされる。なお、この主走査カウンタ３０３は、ＢＤ信号によってリセットされ、ＣＬＫ３２１をカウントするものであり、注目するレーザビームが現在、主走査方向のどの位置に走査されているかを計測するためのものである。この主走査カウンタ３０３の出力即ち主走査カウンタ値３２２は、コンパレータ３０４にて、マスク信号タイミング設定レジスタ３０１に予め設定された値と比較され、比較結果に応じて、マスク信号（／ＭＡＳＫ信号）３２４が出力される。なお、マスク信号タイミングレジスタには、予めプリント制御部２６によりマスク解除とマスク発生の各々の主走査位置を示す２つの値が設定されている。これらと現在レーザビームが走査されている位置を比較してマスク信号を出力することにより、主走査水平方向の書き込み禁止の制御を行っている。一方、副走査方向の書き込み禁止の制御信号は、プリント制御部２６より／トップイレース信号（／ＴＯＰＥ信号）３２５として入力される。これら主走査方向及び副走査方向の書き込み禁止の制御信号、即ち／ＭＡＳＫ信号３２４と／ＴＯＰ信号３２５は、ゲート３０５によって書き込み禁止信号３２６にまとめられている。
【００２９】
また、テストパターンの画像データは、４ビットのカウンタ３０６とＮＡＮＤゲート３０７より生成される。なお、カウンタ３０６のビット長はプリントパターンに合わせて選択されるべきものであり、必ずしも４ビットでなくてよい。これらにおいて、上述の書き込み禁止信号３２６がＦＡＬＳＥになることにより、書き込み禁止が解除されると、カウンタ３０６はＣＬＫ信号３２１を計数し始める。このカウンタ３０６の値がＦｈになった時、／テストプリント信号３２７がＴＲＵＥになる。一方、書き込み禁止信号３２６がＦＡＬＳＥの時はカウンタ３０６がクリアされ、／テストプリント信号３２７は必ずＦＡＬＳＥになる。この／テストプリント信号３２７は、デマルチプレクサ３１２を通して、／ＴＥＳＴＰＡＴＴＥＲＮ１信号３３４として出力されることにより、／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号３３４に従って、レーザＡがＯＮまたはＯＦＦされる。なお、デマルチプレクサ３１２は、／ＢＤ１信号３１１に同期したＳＥＬ信号３３３に応じて、／テストプリント信号３２７を／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１として半導体レーザ３のレーザＡへ出力する。
【００３０】
以上のように、書き込み禁止中は必ずレーザはＯＦＦとなり、一方、書き込み禁止が解除されている間は、／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号３３４が１６クロック周期で１クロック分ＴＲＵＥになることにより、レーザＡは主走査方向に一定間隔で黒画素を記録していくことになる。なお、このようにレーザＡが選択されている期間は、レーザＢはその駆動が禁止されている。
【００３１】
一方、ＳＥＬ信号３３０によりレーザＢを選択すべく指示されている期間も、同様な過程を経て／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ２信号３３５にしたがって、レーザＢがＯＮ／ＯＦＦされるとともに、レーザＡはその駆動が禁止されている。
【００３２】
以上説明したテストパターンデータ発生の構成にあっては、１個のみ設けられたテストパターンデータ発生回路を、複数のレーザが時分割して利用することで、各々のレーザに対してテストパターンデータ発生回路を複数設ける必要がなくなる。
【００３３】
図２は、図１に示したＳＥＬ信号３３０を制御するフローチャート図である。
【００３４】
まず、ステップＳ１ではテストプリントの指示を待つ。テストプリントが指示されると、ステップＳ２に移行する。ステップＳ２では、レーザカウンタ変数ｎ、スキャン変数ｓｃａｎ、レーザ切り換え値ｓｃａｎ１の初期化を行う。ステップＳ２の後、ステップＳ３を行う。ステップＳ３ではレーザを選択している。その結果、ステップＳ４またはステップＳ５が実行される。ステップＳ４ではレーザＡを選択するセレクト信号（ＳＥＬ信号）３３０を出力している。ステップＳ５ではレーザＢを選択するセレクト信号（ＳＥＬ信号）３３０を出力している。ＳＥＬ信号３３０が送られた後、ステップＳ６が実行される。ステップＳ６では／ＴＯＰＥ信号３２５による副走査方向の書き込み禁止が解除されるまで待機する。解除されたら、ステップ７を実行する。ステップ７ではマルチプレクサ３０８通過後の／ＢＤ信号３２０がＴＲＵＥになるまで待機する。／ＢＤ信号３２０がＴＲＵＥになったら、ステップ８においてスキャン変数ｓｃａｎが１つインクリメントされる。ステップＳ８の後、ステップＳ９が実行される。ステップＳ９では、スキャン変数ｓｃａｎがレーザ切り換え値ｓｃａｎ１と比較される。ｓｃａｎ＝ｓｃａｎ１の時はステップＳ１０を実行し、ｓｃａｎ≠ｓｃａｎ１の時はステップＳ１１を実行する。ステップＳ１０はレーザカウンタ変数ｎを１つインクリメントする。ステップ１０を行った後、ステップＳ３が実行される。一方、ステップ１１では、／ＴＯＰＥによる副走査方向の書き込み禁止が禁止されていなければ、ステップ７を実行をする。／ＴＯＰＥによる副走査方向の書き込み禁止が禁止されている時は終了する。なお、レーザ切り替え値ｓｃａｎ１は任意である。例えば、用紙中央で切り換える場合には、“中央に到達するまでの走査線数÷２”の値をとる。
【００３５】
図３は、何れの光ビームも正常である場合に、実施例１のテストパターンデータ発生回路を実行した時に出力されるテストパターン結果の例である。図３では、レーザＡによる縦線５１が紙面上の領域にプリントされ、レーザＢによる縦線５２が紙面下の領域にプリントされている。縦線５１および５２は縦方向に長い１ドット１スペースの破線として感光ドラム１７に露光される。しかし静電プロセスを経ることにより、実際は縦方向の実線に近い線としてプリントされる。
【００３６】
一方、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、複数の光ビームのうち何れか１つが劣化して完全に点灯しない場合（異状事態例１）には、実施例１によれば、図４で示すテストパターン結果が得られる。即ち図４においては、その下半分４４の領域が真っ白となっているので、レーザＢの劣化を容易に判断できる。なお、この図では完全に劣化してしまった場合の例であり、その過渡的状態においては５５の領域が薄い縦線となって印字される。このように本発明を用いることにより、完全に劣化してしまう以前の過渡的状態においても検出可能なテストパターンデータを発生させることができる。
【００３７】
また、テストパターンとして縦線パターンを用いることにより検査できる項目として、例えば印字が可能であること、斜行の程度、スキャナモータのジッタの程度、マスク領域の確認等があげられる（ただし、マスク領域の確認は、テストプリント時と／ＶＤＯ信号によるプリント時のマスクの発生回路が同じ場合である）が、これらの、確認項目についても、本実施例により得られるレーザＡで描いた縦線５１とレーザＢで描いた縦線５２からも確認する事ができる。
【００３８】
以上、本実施例は２ビームレーザを例に挙げて説明を行ってきた。本発明は２ビームに限定されるものではなく、ビームを複数本使用するマルチビームレーザに適用することが可能である。
【００３９】
また、本実施例は１枚の用紙の片面を２つの領域に分割し、各々の領域において１本のビームでテストパターンを書くことを例に挙げて説明してきた。しかし、本発明は１枚の用紙の片面にプリントすることに限定するものではない。例えば、１枚目の用紙を１本目のビームで書き、２枚目の用紙は２本目のビームで書くことや、用紙の表面は１本目のビームで書き、用紙の裏面は２本目のビームで書くことが可能である。
【００４０】
また、縦線パターンの縦線の間隔はカウンタ３０６のビット数等により決定されるものであるが、これらを変更可能なように構成することで、テストパターン発生の度にユーザが指定する任意の縦線パターンを出力できるよう構成してもよい。
【００４１】
（実施例２）
次に図５を用いて第２の実施例について説明する。図６は図１のＳＥＬ信号３３０の制御方法についてのフローチャートであり、第１の実施例で説明した機能にさらに水平同期制御の異常判定機能を追加するためのものである。
【００４２】
ステップＳ２１ではテストプリントの指示を待つ。テストプリントが指示されると、ステップＳ２２に移行する。ステップＳ２２では、レーザカウンタ変数ｎ、スキャン変数ｓｃａｎ、レーザ切り換え値ｓｃａｎ１の初期化を行う。ステップＳ２２の後、ステップＳ２３を行う。ステップＳ２３ではレーザを選択している。その結果、ステップＳ２４またはステップＳ２５が実行される。ステップＳ２４ではレーザＡを選択するセレクト信号（ＳＥＬ信号）３３０を出力している。ステップＳ２５ではレーザＢを選択するセレクト信号（ＳＥＬ信号）３３０を出力している。ＳＥＬ信号３３０が送られた後、ステップＳ２６が実行される。ステップＳ２６では／ＴＯＰＥ信号３２５による副走査方向の書き込み禁止が解除されるまで待機する。解除がとけたら、ステップ２７を実行する。ステップ２７ではマルチプレクサ３１０通過後の／ＢＤ信号３２０がＴＲＵＥになるまで待機する。／ＢＤ信号３２０がＴＲＵＥになったら、ステップ２８においてスキャン変数ｓｃａｎが１つインクリメントされる。ステップＳ２８の後、ステップＳ２９が実行される。ステップＳ２９では、スキャン変数ｓｃａｎがレーザ切り換え値ｓｃａｎ１と比較される。ｓｃａｎ  ｍｏｄ  ｓｃａｎ１＝０の時はステップＳ３０を実行し、ｓｃａｎ  ｍｏｄ  ｓｃａｎ１≠０の時はステップＳ３１を実行する。ステップＳ３０はレーザカウンタ変数ｎを１つインクリメントする。ステップ３０を行った後、再びステップＳ２３より実行される。一方、ステップ３１では、／ＴＯＰＥ信号３２５による副走査方向の書き込み禁止が禁止されていなければ、ステップ２７を実行をする。／ＴＯＰＥ信号３２５による副走査方向の書き込み禁止が禁止されている時は終了する。なお、先の実施例同様、レーザ切り替え値ｓｃａｎ１は任意である。図６では、１枚プリントされる間の総スキャン数を７０００回と仮定して、ｓｃａｎ１の値を１７５０とした。
【００４３】
図６は、何れの光ビームも同期制御が正常である場合に、実施例２のテストパターンデータ発生回路を実行した時に出力されるテストパターンの例である。図６で示したテストパターンは、上からレーザＡによる縦線６１、レーザＢによる縦線６２、レーザＡによる縦線６３、レーザＢによる縦線６４の順にプリントされる。縦線６１〜６４は縦方向に長い１ドット１スペースの破線として感光ドラムに露光される。しかし、静電プロセスを経ることにより、実際は縦方向の実線に近い線としてプリントされる。
【００４４】
一方、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、水平同期制御に異状が発生している場合（異状事態例２）であって、さらに例えば２ビームの主走査方向の書き込みタイミングがずれている場合には、図７に示すテストパターン結果が得られる。また、／ＢＤ信号（／ＢＤ１信号１２０及び／ＢＤ２信号２２０）を検出する手段のジッタが大きい時には、図８に示すテストパターン結果が得られる。
【００４５】
このように、実施例２によれば実施例１で得られる効果に加え、１ビームのみでプリントする領域を繰り返し設けることにより、水平同期があっていない場合に、２ビームのうちの１ビームの水平同期が合っていないことが原因であるのか、／ＢＤ信号（／ＢＤ１信号１２０及び／ＢＤ２信号２２０）を検出する手段のジッタが大きいことが原因であるのかを明確に判別できることである。
【００４６】
本実施例においても先の実施例同様、２ビームレーザを例に挙げて説明を行ってきた。本発明は２ビームに限定されるものではなく、ビームを複数本使用するマルチビームレーザに適用することが可能である。
【００４７】
また、本実施例は１枚の用紙の片面に１本のビームで書く領域を２つ設けてプリントすることを例に挙げて説明してきた。しかし、本発明は１枚の用紙の片面にプリントすることに限定するものではない。例えば、１枚目の用紙を１本目のビームで書き、２枚目の用紙は２本目のビームで書くことや、用紙の表面は１本目のビームで書き、用紙の裏面は２本目のビームで書くことが可能である。
【００４８】
また、レーザの切り換え間隔は、ｓｃａｎ１の値により決定されるものであるが、これは必ずしも固定にするのでなく、テストパターン発生の度にユーザが指定してもよい。さらに、実施例１でも述べたように、縦線パターンの縦線の間隔を変更可能なように構成することで、テストパターン発生の度にユーザが指定する任意の縦線パターンを出力できるよう構成してもよい。
【００４９】
（実施例３）
図９は、本発明の実施例３を実現するテストパターンデータ発生回路の構成図である。図９においてＳＥＬ信号４３０は、これからテストプリントを行うレーザを選択する信号である。ＳＥＬ信号４３０は、マルチプレクサ４１０およびＢＤ信号同期回路４１１に入力される。ＳＥＬ信号４３０を受け取ったマルチプレクサ４１０は、これから駆動するレーザに必要な入力信号／ＢＤ１信号若しくは／ＢＤ２信号をテストパターン発生回路に接続する役割を担っている。
【００５０】
以下、レーザＡを駆動するＳＥＬ信号がマルチプレクサ４１０に入力された場合について説明する。マルチプレクサ４１０から出力された／ＢＤ１信号は、位相同期発振器４０２、主走査カウンタ４０３とＢＤ信号同期回路４１１へ入力される。／ＢＤ１信号がＴＲＵＥになるタイミングで、主走査カウンタ４０３はリセットされる。同じく／ＢＤ１信号がＴＲＵＥになるタイミングで、ＢＤ信号同期回路４１１は保持していたＳＥＬ信号４３０をデマルチプレクサ４１２に入力する。／ＢＤ１信号に４３１に同期したＳＥＬ信号４３３を受け取ったデマルチプレクサ４１２は、入力されている／テストプリント信号４２６をレーザＡに／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１として出力する。また、／ＢＤ１信号４３１がＴＲＵＥになることをトリガーとして位相同期発振器４０２は／ＢＤ１信号４３１に同期した画像クロック信号（ＣＬＫ信号）４２１を生成に取り掛かる。画像クロック信号（ＣＬＫ信号）４２１は、主走査カウンタ４０３及びＮＯＲゲート４０５に入力される。主走査カウンタ４０３はＣＬＫ信号３２１のパルスを計測する。主走査カウンタ値４２２は、コンパレータ３０４にて、マスク信号タイミング設定レジスタ４０１に設定された値と比較される。比較の結果、／マスク信号（／ＭＡＳＫ信号）４２４がコンパレータ４０４から出力される。（プリント制御部２６が予めマスク信号発生タイミング設定レジスタ４０１に、マスク解除とマスク発生の２つのカウンタ値が設定されている。このようにして、水平方向の書き込み禁止の制御を行っている。また、垂直方向の書き込み禁止制御は、プリント制御部２６より／トップイレース信号（／ＴＯＰＥ信号）４２５として受け取る。／ＭＡＳＫ信号４２４、／ＴＯＰＥ信号４２５、ＣＬＫ信号４２１はＮＯＲゲート４０５に入力される。書き込み禁止が解除された時、ＮＯＲゲート４０５はＣＬＫ信号４２１を反転した／テストパターン信号４２６を出力する。／テストパターン信号４２６は、デマルチプレクサ４１２を通って／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号４３４として出力される。そして／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号４３４にしたがって、レーザＡがＯＮ／ＯＦＦされる。なお、このようにレーザＡが選択されている期間は、レーザＢはその駆動が禁止されている。
【００５１】
一方、ＳＥＬ信号４３０によりレーザＢを選択すべく指示されている期間も、同様な過程を経て／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ２信号４３５にしたがって、レーザＢがＯＮ／ＯＦＦされるとともに、レーザＡはその駆動が禁止されている。
【００５２】
図９に記載したＳＥＬ信号は、実施例１で示した図２のＳＥＬ信号を制御するフローチャート図にしたがって生成する（ただし、マルチプレクサ３１０の記述をマルチプレクサ４１０に置き換える）。
【００５３】
図１０は、何れの光ビームも互いに均一な強度に制御されている場合に、本実施例のテストパターンデータ発生回路を実行した時に出力されるテストパターンの例である。図１０では、レーザＡによるハーフトーン８１が紙面上の領域にプリントされ、レーザＢによるハーフトーン８２が紙面下の領域にプリントされている。
【００５４】
一方、光ビームを複数用いた場合特有の異常事態例として、複数の光ビームの光量の各々が均一でないという事態（異常事態例３）が考えられる。例えばレーザビームＢの基準値より弱い場合には、実施例３によれば、図１１に示すテストパターン結果が得られる。即ち、図１１に示すように、下半分の領域８５の濃度が薄くなっていることによりレーザビームＢの強度が弱くなっていることが相対的に検知できる。
【００５５】
また、テストパターンとしてハーフトーンパターンを用いることにより検査できる項目として、例えば印字が可能であること、濃度むらの確認、マスク領域の確認等があげられる（ただし、マスク領域の確認は、テストプリント時と／ＶＤＯ信号によるプリント時のマスクの発生回路が同じ場合である）が、これらの、確認項目については、レーザＡで描いたハーフトーンパターン８１とレーザＢで描いたハーフトーンパターン８２からも確認することができる。
【００５６】
以上のように、実施例３によれば、マルチビームレーザプリンターにおいて１つのレーザビームで描いたハーフトーンパターンより、レーザビームの強度のバラツキに起因する画像の濃度のバラツキを検知することができる。
【００５７】
実施例３においても先の実施例同様、２ビームレーザを例に挙げて説明を行ってきたが、本発明は２ビームに限定されるものではなく、ビームを複数本使用するマルチビームレーザに適用することが可能である。
【００５８】
また、本実施例は１枚の用紙の片面に１本のビームで書く領域を２つ設けてプリントすることを例に挙げて説明してきた。しかし、本発明は１枚の用紙の片面にプリントすることに限定するものではない。例えば、１枚目の用紙を１本目のビームで書き、２枚目の用紙は２本目のビームで書くことや、用紙の表面は１本目のビームで書き、用紙の裏面は２本目のビームで書くことが可能である。
【００５９】
（その他の実施例）
以上、実施例１〜３においては、１つのテストパターンデータ発生回路より発生されるテストパターンデータを、何れか１つのレーザに入力する構成について説明したが、複数のレーザに対して各々に対応するテストパターンデータ発生回路を設けてもよい。また、画像メモリに図３、図６、図１０のテストパターンを記憶しておき、これに基づきプリントを行ってもよい。
【００６０】
以上、種々の構成により種々のテストパターンを記録する例について説明してきたが、これらの構成を組み合わせ、外部からの指示信号に応じて上述の種々のパターンを発生するよう切り換え可能な構成にするとなおよい。
【００６１】
【発明の効果】
本発明によれば、複数の光ビームを用いて画像形成を行う光プリンタにおいて、各ビーム間の主走査同期のずれを目視可能なテストパターンを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例１及び実施例２のテストパターンデータを発生する回路図
【図２】実施例１においてＳＥＬ信号３３０を制御するためのフローチャート
【図３】実施例１において正常時のテストパターンのプリント結果を示す図
【図４】実施例１において一方のレーザビームが射出されない事態におけるテストパターンのプリント結果を示す図
【図５】実施例２においてＳＥＬ信号３３０を制御するためのフローチャート
【図６】実施例２において正常時のテストパターンのプリント結果を示す図
【図７】実施例２において両方のレーザビームの水平同期がずれている事態におけるテストパターンのプリント結果を示す図
【図８】実施例２において、ＢＤ信号を検出する手段のジッタが大きい事態におけるテストパターンのプリント結果を示す図
【図９】実施例３のテストパターンデータを発生する回路図
【図１０】実施例３において正常時のテストパターンのプリント結果を示す図
【図１１】実施例３において両方のレーザビームの強度が均一でない事態におけるテストパターンのプリント結果を示す図
【図１２】マルチビームレーザプリンタの構成例を示す図
【図１３】図１２のマルチビームレーザプリンタの動作を説明するためのタイムチャート
【図１４】従来のマルチビームレーザプリンタのテストパターンデータを発生する回路図
【図１５】図１４（従来のマルチビームレーザプリンタのテストパターンデータ発生回路図）の動作を説明するためのタイムチャート
【図１６】一方のレーザビームが射出されない事態における従来のテストパターンのプリント結果を示す図
【図１７】レーザビームの水平同期制御に異常が生じている事態における従来のテストパターンのプリント結果を示す図
【図１８】両方のレーザビームの強度が均一でない事態における従来のテストパターンのプリント結果を示す図
【符号の説明】
３１０  マルチプレクサ
３０３  主走査カウンタ
３０４  コンパレータ
３０６  カウンタ
３１２  デマルチプレクサ
３３４  ／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ１信号
３３５  ／ＴＥＳＴ  ＰＡＴＴＥＲＮ２信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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