(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、
該所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定することを特徴とする接点腐食防止方法。
【請求項２】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、
比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されていることを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項３】
前記入力信号ラインに入力される信号をアナログ／デジタル変換するアナログ／デジタル変換手段と、
アナログ／デジタル変換手段の変換結果を、前記所定電位と比較して前記比較手段としての動作と、前記スレッショルドレベルと比較しての前記論理判定の動作とを行う処理手段とを、
さらに含むことを特徴とする請求項２記載の接点腐食防止装置。
【請求項４】
前記所定電位および前記スレッショルドレベルを変更可能な、レベル変更手段をさらに含むことを特徴とする請求項２または３記載の接点腐食防止装置。
【請求項５】
前記比較手段は、前記所定電位にヒステリシスを有することを特徴とする請求項２〜４のいずれか１つに記載の接点腐食防止装置。
【請求項６】
接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
腐食防止電流を流す期間には、入力信号ラインに生じる電位変動の後段への影響を抑制することを特徴とする接点腐食防止方法。
【請求項７】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段によって低インピーダンス手段が能動化された場合には、少なくとも予め定められる最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持する電流保持手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項８】
接点に接続され、その電位によって、後段に接続される処理回路で接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに挿入され、比較手段によって低インピーダンス手段が能動化されて、腐食防止電流が流れる時点で、該後段に接続される処理回路の出力を固定する処理阻止手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項９】
前記入力信号ラインの後段には処理回路が接続され、
前記処理阻止手段は、前記腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定することを特徴とする請求項８記載の接点腐食防止装置。
【請求項１０】
前記処理阻止手段は、前記腐食防止電流が流れる期間だけでなく、その後、予め定める時間は前記後段の処理回路の出力を固定することを特徴とする請求項９記載の接点腐食防止装置。
【請求項１１】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
高インピーダンス手段は、入力信号ラインを高インピーダンスに保つインピーダンスを複数備え、いずれかあるいは複数のインピーダンスを選択可能であることを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１２】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
低インピーダンス手段は、比較手段が腐食と判定するときに出力される信号で駆動されるスイッチング素子を備え、
比較手段からスイッチング素子を駆動する信号の変化を緩和する信号緩和手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１３】
接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
腐食防止電流を流す回数を、接点が接続状態で腐食と判定する回数よりも低減することを特徴とする接点腐食防止方法。
【請求項１４】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段が腐食と判定するときの低インピーダンス手段に対する能動化を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うように遅延させる遅延手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１５】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段は、入力信号ラインの電位が所定電位を越える回数を計数するカウンタを備え、カウンタの計数値が規定回数に達すると、低インピーダンス手段を能動化して腐食防止電流を流すように制御することを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１６】
前記比較手段は、前記カウンタで、予め定める時間当りの回数を計数することを特徴とする請求項１５記載の接点腐食防止装置。
【請求項１７】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、滑らかに変化する脈流として供給する電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１８】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、群発的なパルス状に供給する電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項１９】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、通電パターンを変更して供給可能な電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項２０】
接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
ノイズを検出すると、入力信号ラインのインピーダンスを低下させることを特徴とする接点腐食防止方法。
【請求項２１】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、能動化によって前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段のインピーダンスよりもさらに低いインピーダンスにする第２の低インピーダンス手段と、
入力信号ラインのノイズを検出するノイズ検出手段とをさらに含み、
ノイズ検出手段がノイズを検出するときに、前記第２の低インピーダンス手段を能動化させて、入力信号ラインのインピーダンスを、接点が腐食と判定されるときに低インピーダンス手段が能動化される状態でのインピーダンスよりも、さらに低下させることを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項２２】
前記比較手段の所定電位は、前記接点が閉状態で腐食を生じていないときの入力信号ラインの電位と、接点の開状態での入力信号ラインの電位との間に設定され、
前記ノイズ検出手段は、該所定電位と該接点の開状態での入力信号ラインの電位との間に設定される基準レベルに基づいて、ノイズの有無を判定することを特徴とする請求項２１記載の接点腐食防止装置。
【請求項２３】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、高周波では、低インピーダンス手段の能動化によって低下する入力信号ラインのインピーダンスを、さらに低下させることが可能な高周波低インピーダンス素子を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置。
【請求項２４】
接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、能動化によって前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段のインピーダンスよりもさらに低いインピーダンスにする第２の低インピーダンス手段と、
電磁波障害を検出する障害検出手段とをさらに含み、
障害検出手段が電磁波障害を検出するときに、前記第２の低インピーダンス手段を能動化させて、入力信号ラインのインピーダンスを、接点が腐食と判定されるときに低インピーダンス手段が能動化される状態でのインピーダンスよりも、さらに低下させることを特徴とする接点腐食防止装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スイッチやコネクタなどの接点に生じる酸化被膜を、大電流を流して破壊し、腐食を防止する接点腐食防止および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、スイッチやコネクタなどの接点は、導電性の良好な金属材料で形成され、電気的な接続時の接触抵抗が小さいようにされている。このような接点は、オフの非接続時に接触部分の表面が酸化されて接触抵抗が増加するおそれがある。また、オンの接続持にも、接触部分の周辺で露出している部分の表面が酸化されて、形成される酸化物が接触部分に巻込まれ、接触抵抗を増加させる微摺動摩耗が進行するおそれもある。接点が酸化によって接触抵抗が増加しても、接触状態と非接触状態とが適宜繰返され、接触状態で比較的大電流が流れれば、電流による発熱等で酸化物を除去し、接触抵抗の増加を防ぐことができる。
【０００３】
接点に腐食防止が可能な大電流を常に流すようにすることは、電子機器への入力に関しては一般に必要ではなく、大電流の断続では、ノイズによる誤動作等の原因にもなりうる。また接点に大電流を流すと、接点の電気的寿命が極度に低下したり、接点が溶着したりするおそれもある。これらの問題点を解決するために、接点の接触抵抗を検出して、接触抵抗が予め定める基準値以上になると接点間に大電流を流す接点の電流制御装置が開示されている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
大電流用スイッチを電子化ユニットなどの低電流化されたシステムに使用するときに、スイッチの接点がオンの期間にパルス状に大電流を流すスイッチの腐食防止回路も開示されている（たとえば、特許文献２参照）。パルス状の腐食防止電流を、コンデンサへの充放電を利用して周期的に流す接点信号判別装置も開示されている（たとえば、特許文献３参照）。本件出願人も、スイッチの接点が開状態から閉状態に遷移する時点から少なくとも一定の保持時間は腐食防止用の大電流を流し、スイッチの接点が開状態のときには、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを低くするスイッチの接点腐食防止装置を開示している（たとえば、特許文献４参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開平２−２９７８１８号公報
【特許文献２】特開平６−９６６３７号公報
【特許文献３】特開平７−１４４６３号公報
【特許文献４】特開２００２−３４３１７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１〜４に開示されている先行技術では、腐食防止電流を流して接点の腐食防止動作を行っている間に、接点の開閉状態に応じて動作する後段が誤動作しないようにすることについては考慮されていない。たとえば接点の閉状態となって大電流の腐食防止電流が流れると、接触抵抗が増加している接点では電圧降下で発生する電圧も大きくなり、後段では接点が開状態である誤判定するおそれがある。また、腐食防止電流がパルス状に流れると、周囲に対してノイズを発生するおそれもある。
【０００７】
本発明の目的は、接点の腐食の防止を図り、かつ接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる接点腐食防止方法および装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、
腐食と判定する所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定することを特徴とする接点腐食防止方法である。
【０００９】
本発明に従えば、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、接点から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点を回復させ、腐食防止を図ることができる。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、腐食と判定する所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定する。たとえば接点がローサイド側のスイッチのものであれば、所定電位をスレッショルドレベルよりも接地電位側に設定する。また、接点がハイサイド側のスイッチのものであれば、所定電位をスレッショルドレベルよりも電源電位側に設定する。接点の腐食が進行していない状態では、スイッチの閉状態で、入力信号ラインの電位は、ローサイド側のスイッチでは接地電位と所定電位との間、ハイサイド側のスイッチでは電源電位と所定電位との間となる。接点の腐食が進行すると、スイッチの閉状態で、入力信号ラインの電位は、ローサイド側のスイッチでは所定電位より高くなってスレッショルドレベルの接地電位側、ハイサイド側のスイッチであれば所定電位よりも低くなってスレッショルドレベルの電源電位側となる。接点に腐食防止電流が流れても、入力信号ラインの電位は論理判定のスレッショルドレベルに達しないうちに接触抵抗が減少すると期待することができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００１０】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、
比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されていることを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００１１】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。入力信号ラインには、接点の接続論理判定される信号が入力され、腐食と判定する所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定するので、接点に腐食防止電流が流れても、入力信号ラインの電位は論理判定のスレッショルドに達しないうちに接触抵抗が減少すると期待することができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００１２】
また本発明で、前記入力信号ラインに入力される信号をアナログ／デジタル変換するアナログ／デジタル変換手段と、
アナログ／デジタル変換手段の変換結果を、前記所定電位と比較して前記比較手段としての動作と、前記スレッショルドレベルと比較しての前記論理判定の動作とを行う処理手段とを、
さらに含むことを特徴とする。
【００１３】
本発明に従えば、入力信号ラインがアナログ／デジタル変換手段の入力になっているような場合、個別に比較手段と論理判定の手段とを設ける必要がなく、アナログ／デジタル変換手段の変換値を有効に利用して、回路規模の小型化を図ることができる。
【００１４】
また本発明で、前記所定電位および前記スレッショルドレベルを変更可能な、レベル変更手段をさらに含むことを特徴とする。
【００１５】
本発明に従えば、所定電位およびスレッショルドレベルを変更可能なので、接点の種類によって最適な所定電位を選択可能となる。また、腐食防止電流を流す動作頻度や、動作状況に応じて、動的に所定電位を変更することも可能となる。たとえば、始動時には、接点に腐食防止電流を流す頻度を上げるために、所定電位を判定側、たとえばローサイド側のスイッチの接点では接地電位側、ハイサイド側のスイッチの接点では電源電位側に、それぞれ変更することができる。
【００１６】
また本発明で、前記比較手段は、前記所定電位にヒステリシスを有することを特徴とする。
【００１７】
本発明に従えば、腐食防止電流を流すための腐食判定の所定電位にヒステリシスを付けている。ヒステリシスを付けなければ、スイッチなどの接点が開閉時に機械的に断続を繰返すチャタリングに応じ、腐食との判定で腐食防止電流を流すことと、腐食でないとの判定で腐食防止電流を流さないこととを繰返し、入力信号ラインの電位が大きく変動して後段の処理に影響が生じるおそれがある。所定電位にヒステリシスを付ければ、腐食との判定で腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図る際にチャタリングが生じても、腐食防止電流が繰返して流れることを防止し、後段への影響を避けることができる。
【００１８】
さらに本発明は、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
腐食防止電流を流す期間には、入力信号ラインに生じる電位変動の後段への影響を抑制することを特徴とする接点腐食防止方法である。
【００１９】
本発明に従えば、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、接点から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点を回復させ、腐食防止を図ることができる。腐食防止電流を流す期間には、入力信号ラインに生じる電位変動の後段への影響を抑制するので、腐食防止電流を流して入力信号ラインの電位が変動しても、後段には影響しないようにすることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００２０】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段によって低インピーダンス手段が能動化された場合には、少なくとも予め定められる最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持する電流保持手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００２１】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、電流保持手段をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。
接点開状態では、入力信号ラインの電位は比較手段の所定電位よりも腐食と判定される判定側となり、比較手段は接点が腐食していることを表す信号を出力する。この状態が最小時間以上続けば、低インピーダンス手段が能動化される。ただし、接点が開状態であれば腐食防止電流は流れない。接点が開から閉の接続状態となるときに、入力信号ラインのインピーダンスが低インピーダンスになっていると、腐食防止電流が流れる。接点が腐食していないか腐食の程度が問題にならなければ、入力信号ラインの電位は所定電位に達しないので、比較手段の出力は、接点が腐食していないことを表すローレベルに変化する。ただし、この信号の変化は、たとえばディレイ回路によって遅延時間だけ遅れるので、結果的に最小限、遅延時間は腐食防止電流が保持されることになる。この場合ディレイ回路の遅延時間が予め定められる最小時間に相当する。
すなわち、電流保持手段は、比較手段によって低インピーダンス手段が入力信号ラインを低インピーダンスにするように制御されて、腐食防止電流が流れる時点で、予め定められる最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持する。比較手段が腐食と判定して腐食防止電流が流れると、入力信号ラインの電位が変動して、腐食と判定することを繰返すような腐食防止動作のチャタリングが生じるおそれがある。電流保持手段によって、予め設定される最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持するので、接点の腐食防止を図ることができ、かつ腐食防止動作のチャタリングを防止し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００２２】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、後段に接続される処理回路で接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに挿入され、比較手段によって低インピーダンス手段が能動化されて、腐食防止電流が流れる時点で、該後段に接続される処理回路の出力を固定する処理阻止手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００２３】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、処理阻止手段をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。処理阻止手段は、入力信号ラインに挿入され、比較手段によって低インピーダンス手段が能動化されて、腐食防止電流が流れる時点で、入力信号ラインを介する後段での処理回路からの出力を固定させるので、腐食防止電流による一時的な入力信号ラインの電位の変動が後段の処理に悪影響を与えないようにして、腐食防止電流による接点の腐食防止を図り、かつ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００２４】
また本発明で、前記入力信号ラインの後段には処理回路が接続され、
前記処理阻止手段は、前記腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定することを特徴とする。
【００２５】
本発明に従えば、入力信号ラインの後段には処理回路が接続され、処理阻止手段は、腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定するので、腐食防止電流による一時的な入力信号ラインの電位の変動が後段の処理回路に悪影響を与えないようにすることができる。
【００２６】
また本発明で、前記処理阻止手段は、前記腐食防止電流が流れる期間だけでなく、その後、予め定める時間は前記後段の処理回路の出力を固定することを特徴とする。
【００２７】
本発明に従えば、処理阻止手段は、腐食防止電流が流れる期間だけでなく、その後、予め定める時間は後段の処理回路の出力を固定するので、腐食防止電流の通電終了後、入力信号ラインの電位が安定するまでの間は、処理回路の出力を固定して、入力論理を後段の処理に使用しないで、誤動作を防ぐことができる。
【００２８】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
高インピーダンス手段は、入力信号ラインを高インピーダンスに保つインピーダンスを複数備え、いずれかあるいは複数のインピーダンスを選択可能であることを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００２９】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備える。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインを高インピーダンスに保つインピーダンスを複数備え、いずれかあるいは複数のインピーダンスを選択可能である。高インピーダンス手段は、入力信号ラインが接続される接点がローサイド側のスイッチのものであればプルアップ用のインピーダンス、ハイサイド側のスイッチのものであればプルダウン用のインピーダンスを、複数備えて選択可能である。接点の状態に応じて複数のインピーダンスを選択するようにすれば、接点腐食回路動作時のインピーダンス変化を小さくし、接点の腐食防止を図り、かつ、腐食防止電流が流れる時点での電位変動を抑制して、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００３０】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
低インピーダンス手段は、比較手段が腐食と判定するときに出力される信号で駆動されるスイッチング素子を備え、
比較手段からスイッチング素子を駆動する信号の変化を緩和する信号緩和手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００３１】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、さらに信号緩和手段を含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。低インピーダンス手段はスイッチング素子を備える。低インピーダンス手段のスイッチング素子は、比較手段が腐食と判定するときに出力される信号で駆動され、入力信号ラインのインピーダンスを低インピーダンスにして、接点が閉状態であれば腐食防止電流を流し、接点の腐食防止を図ることができる。信号緩和手段は、比較手段からスイッチング素子を駆動する信号の変化を緩和するので、スイッチング素子の駆動に伴う低インピーダンス手段でのインピーダンスの変化量を小さくして、腐食防止電流の変化も小さくし、酸化膜破壊時の接点電位変化量を抑制して、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００３２】
さらに本発明は、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
腐食防止電流を流す回数を、接点が接続状態で腐食と判定する回数よりも低減することを特徴とする接点腐食防止方法である。
【００３３】
本発明に従えば、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、接点から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点を回復させ、腐食防止を図ることができる。腐食防止電流を流す回数を腐食と判定する回数よりも低減するので、腐食防止電流を流す動作に伴う後段の誤動作の頻度も低減し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００３４】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段が腐食と判定するときの低インピーダンス手段に対する能動化を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うように遅延させる遅延手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００３５】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。低インピーダンス手段で入力信号ラインを低インピーダンスにして接点腐食防止電流を流すことができる状態にする制御を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うように遅延手段によって遅延させるので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００３６】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
比較手段は、入力信号ラインの電位が所定電位を越える回数を計数するカウンタを備え、カウンタの計数値が規定回数に達すると、低インピーダンス手段を能動化して腐食防止電流を流すように制御することを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００３７】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。比較手段はカウンタを備える。カウンタは、入力信号ラインの電位が所定電位を越える回数を計数する。比較手段は、カウンタの計数値が規定回数に達すると、低インピーダンス手段を能動化して腐食防止電流を流すように制御するので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００３８】
また本発明で、前記比較手段は、前記カウンタで、予め定める時間当りの回数を計数することを特徴とする。
【００３９】
本発明に従えば、比較手段は、カウンタで、予め定める時間当りの回数を計数するので、予め定める時間に腐食の判定が多くなされるときに、実際に腐食が生じていると判定し、腐食防止電流を流すようにすることができる。
【００４０】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、滑らかに変化する脈流として供給する電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００４１】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、電流供給手段をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。電流供給手段は、腐食防止電流を、滑らかに変化する脈流として供給するので、腐食防止電流を接点に供給して腐食防止を図り、かつ、腐食防止電流を滑らかに変化する脈流として供給して腐食防止動作の低ノイズ化を図ることができる。腐食防止動作時の低ノイズ化によって、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００４２】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、群発的なパルス状に供給する電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００４３】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、電流供給手段をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。電流供給手段は、腐食防止電流を、群発的なパルス状で供給するので、接点腐食と判定されるときの接点の回復を確実に行い、腐食防止動作の頻度を低下させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００４４】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
腐食防止電流を、通電パターンを変更して供給可能な電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００４５】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、電流供給手段をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。電流供給手段は、腐食防止電流を、通電パターンを変更して供給可能であるので、通電パターンを接点の種類に応じて選択したり、接点を回復することができないときに異なる通電パターンに切換えることも可能となり、確実な腐食防止を図ることができる。接点の腐食防止を確実にすることによって、腐食防止電流が流れる頻度を低下させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００４６】
さらに本発明は、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、
ノイズを検出すると、入力信号ラインのインピーダンスを低下させることを特徴とする接点腐食防止方法である。
【００４７】
本発明に従えば、接点に接続される入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、接点から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点を回復させ、腐食防止を図ることができる。ノイズを検出すると、入力信号ラインのインピーダンスを低下させるので、耐ノイズ性を向上させ、ノイズによる入力信号ラインの電位変動を抑制し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００４８】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、能動化によって前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段のインピーダンスよりもさらに低いインピーダンスにする第２の低インピーダンス手段と、
入力信号ラインのノイズを検出するノイズ検出手段とをさらに含み、
ノイズ検出手段がノイズを検出するときに、前記第２の低インピーダンス手段を能動化させて、入力信号ラインのインピーダンスを、接点が腐食と判定されるときに低インピーダンス手段が能動化される状態でのインピーダンスよりも、さらに低下させることを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００４９】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、ノイズ検出手段と第２の低インピーダンス手段とをさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。ノイズ検出手段は、入力信号ラインのノイズを検出し、第２の低インピーダンス手段は、ノイズ検出手段がノイズを検出するときに、低インピーダンス手段によって低インピーダンスに制御される入力信号ラインのインピーダンスを、さらに低下させるので、耐ノイズ性を向上させ、ノイズによる入力信号ラインの電位変動を抑制し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。ノイズ検出手段がノイズを検出しなければ、第２の低インピーダンス手段による入力信号ラインのインピーダンス低下は生じないので、常時インピーダンスを低下させないようにすることができる。常時インピーダンスを低下させると、腐食防止電流が増加するため、接点や後段の処理回路での信頼性低下を招くおそれがある。ノイズが検出されて、インピーダンスの低下が必要な状態でのみ、第２の低インピーダンス手段が入力信号ラインのインピーダンスを低インピーダンス手段による低インピーダンスよりも低下させて、必要な状態でのみインピーダンスを下げることができる。
【００５０】
また本発明で、前記比較手段の所定電位は、前記接点が閉状態で腐食を生じていないときの入力信号ラインの電位と、接点の開状態での入力信号ラインの電位との間に設定され、
前記ノイズ検出手段は、該所定電位と該接点の開状態での入力信号ラインの電位との間に設定される基準レベルに基づいて、ノイズの有無を判定することを特徴とする。
【００５１】
本発明に従えば、ノイズ検出手段は、比較手段の所定電位と接点の開状態での入力信号ラインの電位との間に設定される基準レベルに基づいてノイズ検出の有無を判定する。たとえば、接点がローサイド側のスイッチによるものであれば、スイッチが閉状態での腐食を判定する所定電位は接地電位側に設定され、スイッチが開状態でのノイズレベルを検出する基準レベルは電源電位側に設定し、ノイズによって入力信号ラインの電位が基準レベルよりも低下することを検出可能である。
【００５２】
さらに本発明は、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、高周波では、低インピーダンス手段の能動化によって低下する入力信号ラインのインピーダンスを、さらに低下させることが可能な高周波低インピーダンス素子を、
さらに含むことを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００５３】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、高周波低インピーダンス素子をさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。高周波低インピーダンス素子は、入力信号ラインに接続され、高周波では、低インピーダンス手段の能動化によって低下する入力信号ラインのインピーダンスを、さらに低くすることが可能であるので、入力信号ラインに高周波のノイズが混入しても、電位が高くならないようにして、ノイズの影響を受けないよう耐ノイズ性を向上させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００５４】
さらに本発明は、接点に接続され、その電位によって、接点の接続状態を判定するための入力信号ラインと、
入力信号ラインに接続され、能動化によって入力信号ラインに接点の腐食防止電流を流すことが可能な状態となる低インピーダンス手段と、
入力信号ラインに接続される高インピーダンス手段と、
入力信号ラインの電位と接点の腐食となりうる所定電位とを比較し、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化する比較手段とを備える接点腐食防止装置において、
入力信号ラインに接続され、能動化によって前記入力信号ラインのインピーダンスを、前記低インピーダンス手段のインピーダンスよりもさらに低いインピーダンスにする第２の低インピーダンス手段と、
電磁波障害を検出する障害検出手段とをさらに含み、
障害検出手段が電磁波障害を検出するときに、前記第２の低インピーダンス手段を能動化させて、入力信号ラインのインピーダンスを、接点が腐食と判定されるときに低インピーダンス手段が能動化される状態でのインピーダンスよりも、さらに低下させることを特徴とする接点腐食防止装置である。
【００５５】
本発明に従えば、接点腐食防止装置は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、障害検出手段と第２の低インピーダンス手段とをさらに含む。入力信号ラインには、接点の接続状態が論理判定される信号が入力され、比較手段の所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定されている。低インピーダンス手段は、能動化されることによって、接点に接続される入力信号ラインのインピーダンスを、接点に腐食防止電流を流すことが可能な低インピーダンスの状態にしうる。高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、低インピーダンス手段の能動化で低インピーダンスの状態にされない期間に、その低インピーダンスよりも高いインピーダンスに保つ。比較手段は、入力信号ラインの電位を、接点の腐食となりうる所定電位と比較して、接点が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段を能動化して入力信号ラインが低インピーダンスの状態となるようにするので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。障害検出手段は、ＥＭＩ（Electro-Magnetic Interference ）などの電磁波障害を検出し、第２の低インピーダンス手段は、障害検出手段が電磁波障害を検出するときに、低インピーダンス手段の能動化によって低下する入力信号ラインのインピーダンスを、さらに低下させる。障害検出手段が電磁波障害を検出しなければ、第２の低インピーダンス手段による入力信号ラインのインピーダンス低下は生じないので、常時インピーダンスを低下させないようにすることができる。常時インピーダンスを低下させると、腐食防止電流が増加するため、接点や後段の処理回路での信頼性低下を招くおそれがある。ノイズが検出されて、インピーダンスの低下が必要な状態でのみ、第２の低インピーダンス手段が入力信号ラインのインピーダンスを低インピーダンス手段による低インピーダンスよりも低下させて、必要な状態でのみインピーダンスを下げることができる。
【発明の効果】
【００５６】
本発明によれば、腐食防止方法として、接点に接続される入力信号ラインの電位を所定電位と比較して、接点が腐食していると判定するときには、接点に腐食防止電流を流して腐食防止を図ることができる。腐食と判定する所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定するので、接点に腐食防止電流が流れても、入力信号ラインの電位は論理判定のスレッショルドレベルに達しないうちに接触抵抗が減少すると期待することができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００５７】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、比較手段が入力信号ラインの電位を所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときに低インピーダンス手段の能動化によって入力信号ラインが低インピーダンスになるように制御するので、接点の腐食の判定時にのみ腐食防止電流を流して接点の腐食防止を図ることができる。腐食と判定する所定電位は、論理判定のスレッショルドレベルよりも、非判定側に設定するので、接点に腐食防止電流が流れても、入力信号ラインの電位は論理判定のスレッショルドに達しないうちに接触抵抗が減少すると期待することができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００５８】
また本発明によれば、入力信号ラインにアナログ／デジタル変換手段を設ければ、個別に比較手段と論理判定の手段とを設ける必要がなくなり、回路規模の小型化を図ることができる。
【００５９】
また本発明によれば、接点の種類によって最適な所定電位が選択可能となり、腐食防止電流を流す動作頻度や、動作状況に応じて、動的に所定電位を変更することも可能となる。
【００６０】
また本発明によれば、腐食防止電流を流すための腐食判定の所定電位にヒステリシスを付けて、チャタリングが生じて腐食防止電流が繰返して流れることを防止し、後段への影響を避けることができる。
【００６１】
さらに本発明によれば、接点腐食防止方法として、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、接点から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点を回復させ、腐食防止を図る期間には、入力信号ラインに生じる電位変動の後段への影響を抑制するので、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６２】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、比較手段が腐食と判定して腐食防止電流が流れると、電流保持手段によって、予め定められる最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持するので、接点の腐食防止を図ることができ、かつ腐食防止動作のチャタリングを防止し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６３】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、腐食防止電流が流れる時点で、入力信号ラインを介する後段での処理回路の出力を固定させるので、腐食防止電流による一時的な入力信号ラインの電位の変動が後段の処理に悪影響を与えないようにして、腐食防止電流による接点の腐食防止を図り、かつ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６４】
また本発明によれば、処理阻止手段は、腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定するので、腐食防止電流による一時的な入力信号ラインの電位の変動が後段の処理回路に悪影響を与えないようにすることができる。
【００６５】
また本発明によれば、腐食防止電流が流れると、入力信号ラインの電位が安定するまでの間は、処理回路の出力を固定して、誤動作を防ぐことができる。
【００６６】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、高インピーダンス手段は、入力信号ラインのインピーダンスを、複数備えていずれかまたは複数を選択可能である。接点の状態に応じて複数のインピーダンスのうちから１または複数のインピーダンスを選択し、接点腐食回路動作時のインピーダンス変化を小さくし、接点の腐食防止を図り、かつ、腐食防止電流が流れる時点での電位変動を抑制して、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６７】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、低インピーダンス手段のスイッチング素子を駆動する信号の変化を緩和するので、スイッチング素子の駆動に伴う低インピーダンス手段でのインピーダンスの変化量を小さくして、腐食防止電流の変化も小さくし、酸化膜破壊時の接点電位変化量を抑制して、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６８】
さらに本発明によれば、接点腐食防止方法として、接点に接続される入力信号ラインの電位を所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して腐食防止を図る回数を腐食と判定する回数よりも低減するので、腐食防止電流を流す動作に伴う後段の誤動作の頻度も低減し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００６９】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、比較手段が腐食と判定するときの低インピーダンス手段に対する制御を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うように遅延手段によって遅延させるので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７０】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、比較手段は、カウンタの計数値が規定回数に達すると、低インピーダンス手段を制御して腐食防止電流を流すように制御するので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７１】
また本発明によれば、予め定める時間に腐食の判定が多くなされるときに、実際に腐食が生じていると判定し、腐食防止電流を流すようにすることができる。
【００７２】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、電流供給手段は、腐食防止電流を、滑らかに変化する脈流として供給するので、腐食防止電流を接点に供給して腐食防止を図り、かつ、腐食防止動作時の低ノイズ化によって、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７３】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、腐食防止電流を群発的なパルス状で供給するので、接点腐食と判定されるときの接点の回復を確実に行い、腐食防止動作の頻度を低下させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７４】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、腐食防止電流を、通電パターンを変更して供給可能であるので、接点の腐食防止を確実に行い、腐食防止電流が流れる頻度を低下させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７５】
さらに本発明によれば、接点腐食防止方法として、接点に接続される入力信号ラインの電位を所定電位と比較して、接点が腐食と判定するときには、接点に腐食防止電流を流して、腐食防止を図り、ノイズの検出時には、入力信号ラインのインピーダンスを低下させるので、耐ノイズ性を向上させることができる。ノイズによる入力信号ラインの電位変動を抑制し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７６】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、入力信号ラインのノイズを検出するときに、入力信号ラインのインピーダンスを、第２の低インピーダンス手段によって、低インピーダンス手段の能動化による低下よりもさらに低下させるので、耐ノイズ性を向上させ、接点の開閉状態を利用する際のノイズによる誤動作を防止することができる。
【００７７】
また本発明によれば、ノイズ検出手段は、比較手段の所定電位に対して逆方向に設定される基準レベルに基づいてノイズ検出の有無を判定するので、後段側での論理判定の誤動作が生じる前に、接点腐食防止動作を行わせることができる。
【００７８】
さらに本発明によれば、接点腐食防止装置として、接点の腐食が進行すると、腐食防止電流を流して、腐食からの回復を図ることができるとともに、入力信号ラインに高周波のノイズが混入しても、ノイズの影響を受けないよう耐ノイズ性を向上させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【００７９】
さらに本発明よれば、接点腐食防止装置として、ＥＭＩなどの電磁波障害を検出するときに、入力信号ラインのインピーダンスを、第２の低インピーダンス手段によって、さらに低下させ、後段の処理への影響を防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００８０】
以下、本発明の実施の各形態について、図を参照して説明する。実施の各形態で、先行して説明している部分に対応する機能を有する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。ただし、同一の参照符を付している部分は全く同一の構成を有しているとは限らず、種々の変形形態を含むことはもちろんである。また実施の各形態は、特徴部分を他の実施の形態と組合わせることもできる。
【００８１】
図１は、本発明の実施の第１形態である接点腐食防止装置１の概略的な電気的構成および動作の例を示す。（ａ）は電気的構成を示し、接点腐食防止装置１は、スイッチ２の接点３の腐食防止の機能を有する。接点３は、入力信号ライン４を介して後段の電子制御装置５の入力側に接続される。接点３は、コネクタなどの接点であってもよい。接点腐食防止装置１は、大規模半導体集積回路（ＬＳＩ）の一部として実現される。電源６は、ＬＳＩの外部から供給される電力から論理回路動作用の電源電圧を生成して、ＬＳＩの内部に供給する。論理回路動作用の電源電圧は、たとえば５Ｖや３．３Ｖである。この電源電圧は、ローサイド側を接地してハイサイド側に出力される。なお、スイッチ２やコネクタの形式や構造に従って、接点３の数や構造も異なる。いずれにしても、接点３の接触抵抗は、相互に接触して電気的接続がなされる表面部分間の電気抵抗である。
【００８２】
スイッチ２は電源６のローサイド側に接続され、スイッチ２がオンになると、接点３は接地電位に接続される。入力信号ライン４には、低インピーダンス手段であるスイッチング素子７および高インピーダンス手段である抵抗８が電源６のハイサイド側に接続される。スイッチング素子７は、たとえばＰチャネルＭＯＳトランジスタで実現され、そのゲートにはコンパレータ９が入力信号ライン４の電位を基準電位源１０によって与えられる所定電位ＶＸと比較して、電位が所定電位ＶＸよりも高いと判定するときに出力する駆動信号が与えられる。所定電位は、接点３の腐食となりうる電位として設定される。コンパレータ９は、反転入力端子が入力信号ライン４に接続され、非反転入力端子が基準電位源１０によって与えられる所定電位ＶＸに接続される。基準電位源１０は、たとえば抵抗１０ａ，１０ｂによる分圧回路で、電源電位ＶＢを分圧するように形成される。入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸよりも接地電位側に低い場合、コンパレータ９からはハイレベル（Ｈｉ）の論理出力が駆動信号として導出され、ＰチャネルＭＯＳトランジスタであるスイッチング素子７オフ状態となる。入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸよりも電源６のハイサイド側に高い場合、コンパレータ９からはローレベル（Ｌｏ）の論理出力が導出され、ＰチャネルＭＯＳトランジスタであるスイッチング素子７はオン状態となる。スイッチ２がオフであれば、入力信号ライン４の電位は所定電位ＶＸよりも高くなり、スイッチング素子７はオン状態となる。スイッチング素子７がオン動作となるので、入力信号ライン４のインピーダンスは、スイッチング素子７のオフ動作時よりも低くなるけれども、スイッチ２はオフであるので、接点３には電流が流れず、消費電力が増加することはない。
【００８３】
スイッチング素子７のオン動作時には、抵抗８の抵抗値よりも低いインピーダンスで、入力信号ライン４と電源６のハイサイド側とを接続する。このときスイッチ２がオンであれば、接点３には酸化物を除去可能な腐食防止電流が流れる。スイッチング素子７のオフ時には、スイッチング素子７のインピーダンスは抵抗８の抵抗値よりも高くなり、入力信号ライン４と電源６のハイサイド側との間のインピーダンスも高くなり、スイッチ２がオンになっても、接点３に流れる電流は小さく、酸化物の除去の機能はなくなるけれども、消費電力は低減される。
【００８４】
（ｂ）は入力信号ライン４の電位変化を示し、（ｃ）はコンパレータ９の論理出力の変化を示す。（ｂ）に示すように、スイッチ２がローサイド側に接続されるときに、基準電位源１０からコンパレータ９に与えられる所定電位ＶＸは、後段の電子制御装置５で論理判定を行うスレッショルドレベルＶＴよりも接地電位側に設定される。たとえば、時刻ｔ０まではスイッチ２がオフ状態であると、接点３に接続される入力信号ライン４の電位は、ほとんど電源電位ＶＢに近くなり、（ｃ）に示すコンパレータ９の論理出力はローレベルとなり、スイッチング素子７はオンに駆動される。スイッチ２が時刻ｔ０でオン状態に操作されると、（ｂ）に示すように、入力信号ライン４の電位は接地電位付近まで低下する。この電位は、所定電位ＶＸよりも低いので、（ｃ）に示すように、コンパレータ９の論理出力はハイレベルとなり、スイッチング素子７はオフに駆動される。したがって、入力信号ライン４のインピーダンスは抵抗８の抵抗値による高インピーダンスの状態となり、スイッチ２の接点３を通って流れる電流は小さくなる。
【００８５】
接点３の微摺動摩耗などによって接触抵抗が増加し、（ｂ）に示すように、時刻ｔ１で入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸを越える場合を想定する。（ｃ）に示すように、コンパレータ９の論理出力はローレベルに遷移するので、スイッチング素子７はオン状態に駆動され、比較的大電流の腐食防止電流がスイッチング素子７を介して接点３に流れ、酸化物などを除去して、時刻ｔ２までに接触抵抗を減少させ、接点３を回復させる。（ｂ）に示すように、時刻ｔ１と時刻ｔ２との間は、接点３に比較的大電流が流れるので、入力信号ライン４の電位はさらに上昇する。しかしながら、所定電位ＶＸはスレッショルドレベルＶＴに比較して非判定側に設定されているので、電位変化はスレッシュレベルＶＴに達しないようにすることができ、後段の電子制御装置５などでの誤判定を防ぐことができる。
【００８６】
図２は、本発明の実施の第２形態である接点腐食防止装置１１の概略的な電気的構成および動作の例を示す。（ａ）は電気的構成を示し、接点腐食防止装置１１は、スイッチ１２の接点１３の腐食防止の機能を有する。接点１３は、入力信号ライン１４を介して後段の電子制御装置５の入力側に接続される。接点１３は、コネクタなどの接点であってもよい。接点腐食防止装置１１は、ＬＳＩの一部として実現される。電源６は、ＬＳＩの外部から供給される電力から論理回路動作用の電源電圧を生成して、ＬＳＩの内部に供給する。論理回路動作用の電源電圧は、たとえば５Ｖや３．３Ｖである。この電圧は、ローサイド側を接地してハイサイド側に出力される。なお、スイッチ１２やコネクタの形式や構造に従って、接点１３の数や構造も異なる。いずれにしても、接点１３の接触抵抗は、相互に接触して電気的接続がなされる表面部分間の電気抵抗である。
【００８７】
スイッチ１２は電源６のハイサイド側に接続され、スイッチ１２がオンになると、接点１３は電源電位ＶＢに接続される。入力信号ライン１４には、低インピーダンス手段であるスイッチング素子１７および高インピーダンス手段である抵抗１８が電源６のローサイド側に接続される。スイッチング素子１７は、たとえばＮチャネルＭＯＳトランジスタで実現され、そのゲートにはコンパレータ９が入力信号ライン１４の電位を基準電位源２０によって与えられる所定電位ＶＸと比較して、電位が所定電位ＶＸよりも低いと判定するときに出力する駆動信号が与えられる。コンパレータ９は、反転入力端子が入力信号ライン１４に接続され、非反転入力端子が基準電位源２０によって与えられる所定電位ＶＸに接続される。基準電位源２０は、たとえば抵抗２０ａ，２０ｂによる分圧回路で、電源電位ＶＢを分圧するように形成される。入力信号ライン１４の電位が所定電位ＶＸよりも電源電位ＶＢ側に高い場合、コンパレータ９からはローレベルの論理出力が駆動信号として導出され、ＮチャネルＭＯＳトランジスタであるスイッチング素子１７はオフ状態となる。入力信号ライン１４の電位が所定電位ＶＸよりも電源６のローサイド側に低い場合、コンパレータ９からはハイレベルの論理出力が導出され、ＮチャネルＭＯＳトランジスタであるスイッチング素子１７はオン状態となる。スイッチ１２がオフであれば、入力信号ライン１４の電位は所定電位ＶＸよりも低くなり、スイッチング素子１７はオン状態となる。スイッチング素子１７がオン動作となるので、入力信号ライン１４のインピーダンスは、スイッチング素子１７のオフ動作時よりも低くなるけれども、スイッチ１２はオフであるので、接点１３には電流が流れず、消費電力が増加することはない。
【００８８】
スイッチング素子１７のオン動作時には、抵抗１８の抵抗値よりも低いインピーダンスで、入力信号ライン１４と電源６のローサイド側である接地との間を接続する。このときスイッチ１２がオンであれば、接点１３には酸化物を除去可能な腐食防止電流が流れる。スイッチング素子１７のオフ時には、スイッチング素子１７のインピーダンスは抵抗１８の抵抗値よりも高くなり、入力信号ライン１４と電源６のローサイド側との間のインピーダンスも高くなり、スイッチ１２がオンになっても、接点１３に流れる電流は小さく、酸化物の除去の機能はなくなるけれども、消費電力は低減される。
【００８９】
（ｂ）は入力信号ライン１４の電位変化を示し、（ｃ）はコンパレータ９の論理出力の変化を示す。（ｂ）に示すように、スイッチ１２がハイサイド側に接続されるときに、基準電位源２０からコンパレータ９に与えられる所定電位ＶＸは、後段の電子制御装置５で論理判定を行うスレッショルドレベルＶＴよりも電源電位ＶＢ側に設定される。たとえば、時刻ｔ１０まではスイッチ１２がオフ状態であると、接点１３に接続される入力信号ライン１４の電位は、ほとんど接地電位に近くなり、（ｃ）に示すコンパレータ９の論理出力はハイレベルとなり、スイッチング素子１７はオンに駆動される。スイッチ１２が時刻ｔ１０でオン状態に操作されると、（ｂ）に示すように、入力信号ライン１４の電位は電源電位ＶＢ付近まで上昇する。この電位は、所定電位ＶＸよりも高いので、（ｃ）に示すように、コンパレータ９の論理出力はローレベルとなり、スイッチング素子１７はオフに駆動される。したがって、入力信号ライン１４のインピーダンスは抵抗１８の抵抗値による高インピーダンスの状態となり、スイッチ１２の接点１３を通って流れる電流は小さくなる。
【００９０】
接点１３の微摺動摩耗などによって接触抵抗が増加し、（ｂ）に示すように、時刻ｔ１１で入力信号ライン１４の電位が所定電位ＶＸよりも低下する場合を想定する。（ｃ）に示すように、コンパレータ９の論理出力はハイレベルに遷移するので、スイッチング素子１７はオン状態に駆動され、比較的大電流の腐食防止電流がスイッチング素子１７を介して接点１３に流れ、酸化物などを除去して、時刻ｔ１２までに接触抵抗を減少させ、接点１３を回復させる。（ｂ）に示すように、時刻ｔ１１と時刻ｔ１２との間は、接点１３に比較的大電流が流れるので、入力信号ライン１４の電位はさらに下降する。しかしながら、所定電位ＶＸはスレッショルドレベルＶＴに比較して非判定側に設定されているので、電位変化はスレッシュレベルＶＴに達しないようにすることができ、後段の電子制御装置５などでの誤判定を防ぐことができる。
【００９１】
図３は、本発明の実施の第３形態である接点腐食防止装置２１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置２１は、入力信号ライン４に入力される信号をアナログ／デジタル変換するアナログ／デジタル変換（Ａ／Ｄ）手段２２と、アナログ／デジタル変換手段２２の変換結果を、所定電位ＶＸと比較して比較手段としての動作と、スレッショルドレベルＶＴと比較しての論理判定の動作とを行う処理手段２３とを含む。入力信号ライン４がアナログ／デジタル変換手段２２の入力になっているような場合、個別に比較手段と論理判定の手段とを設ける必要がなく、アナログ／デジタル変換手段２２の変換値を有効に利用して、回路規模の小型化を図ることができる。
【００９２】
なお、スイッチ２は、図１と同様にローサイド側に設けているけれども、図２と同様なハイサイド側に設けるスイッチ１２を接続する場合は、図１と同様なハイサイド側のスイッチング素子７および抵抗８に代えて、ローサイド側にスイッチング素子１７および抵抗１８を接続すればよい。以下に示す実施の他の形態でも、ローサイド側またはハイサイド側の一方について説明していても、他方についても同様な構成が可能である。
【００９３】
また処理手段２３は、所定電位ＶＸおよびスレッショルドレベルＶＴを変更可能な、レベル変更手段として機能させることもできる。所定電位ＶＸおよびスレッショルドレベルＶＴを変更可能なので、接点３の種類によって最適な所定電位ＶＸを選択可能となる。また、腐食防止電流を流す動作頻度や、動作状況に応じて、動的に所定電位ＶＸを変更することも可能となる。たとえば、始動時には、接点３に腐食防止電流を流す頻度を上げるために、所定電位ＶＸを判定側、たとえばローサイド側のスイッチ２の接点３では接地電位側、ハイサイド側のスイッチ１２の接点１３であれば電源電位側に、それぞれ変更することができる。
【００９４】
また、図１および図２のコンパレータ９や図３の処理手段２３による比較手段は、所定電位ＶＸにヒステリシスを有することが好ましい。コンパレータ９としては、ヒステリシスコンパレータを使用すればよい。処理手段２３では、プログラム処理でコンパレータの機能を実現することができる。腐食防止電流を流すための腐食判定の所定電位ＶＸにヒステリシスを付けなければ、スイッチ２の接点３が開閉時に機械的に断続を繰返すチャタリングに応じ、腐食の判定で腐食防止電流を流すことと、腐食でないとの判定で腐食防止電流を流さないこととを繰返し、入力信号ライン４の電位が大きく変動して後段の処理に影響が生じるおそれがある。所定電位ＶＸにヒステリシスを付ければ、腐食との判定で腐食防止電流を流して接点３の腐食防止を図ることによってチャタリングが生じても、腐食防止電流が繰返して流れることを防止し、後段への影響を避けることができる。  なお、腐食の判定は、アナログ／デジタル変換手段２２の変換値に基づいて行っているけれども、図１および図２のようなコンパレータ９を使用してもよいことはもちろんである。以下に説明する実施の各形態でも、腐食の判定は、コンパレータで比較して行っても、電位のアナログ／デジタル変換値を処理することによって行ってもよいことはもちろんである。
【００９５】
図４は、本発明の実施の第４形態である接点腐食防止装置３１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置３１は、入力信号ライン４に処理阻止手段であるマスク手段３２が挿入される。アナログ／デジタル変換手段２２による電位の変換値が所定電位ＶＸを越えていると処理手段３３が判定すると、スイッチング素子７がオン状態に駆動されて低インピーダンス状態となり、さらに接点３が閉となって腐食防止電流が流れる期間、マスク手段３２が後段の電子制御装置５等への影響を阻止する。すなわち、接点３に接続される入力信号ライン４の電位を、接点３の腐食となりうる所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食と判定するときには、接点３に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法において、腐食防止電流を流す期間には、入力信号ライン４に生じる電位変動の後段への影響を、マスク手段３２で抑制することができる。接点３に接続される入力信号ライン４の電位を、たとえば接点３の腐食による接触抵抗の増加に対応して予め設定される所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食と判定するときには、接点３に腐食防止電流を流して、接点３から酸化物等を除去し、接触抵抗を減少させて接点３を回復させ、腐食防止を図ることができる。腐食防止電流を流す期間には、入力信号ライン４に生じる電位変動の後段への影響を抑制するので、腐食防止電流を流して入力信号ライン４の電位が変動しても、後段には影響しないようにすることができ、接点３の開閉状態を後段の電子制御装置５などで利用する際の誤動作を防止することができる。なお、マスク手段３２に代えて、フィルタなどを処理阻止手段として用いることもできる。
【００９６】
図５は、本発明の実施の第５形態である接点腐食防止装置４１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置４１は、コンパレータ９の論理出力とスイッチング素子７の制御信号電極との間にディレイ回路４２を設けている。ディレイ回路４２は、比較手段であるコンパレータ９によって低インピーダンス手段であるスイッチング素子７がオンになり、入力信号ライン４を低インピーダンスにするように制御されて、腐食防止電流が流れる時点で、予め設定される最小時間は該腐食防止電流を流し続ける状態を保持する電流保持手段として機能する。
【００９７】
図６は、図５に示すディレイ回路４２の動作を示す。（ａ）はコンパレータ９に入力される入力信号ライン４の電位の変化を示し、（ｂ）はコンパレータ９の論理出力を示し、（ｃ）はディレイ回路４２の出力を示す。（ａ）に示すように、時刻ｔ２０から時刻ｔ２１までに、コンパレータ９の入力が所定電位ＶＸを越えると、（ｂ）に示すようにコンパレータ９の出力はハイレベルになる。ディレイ回路４２は、たとえば５μｓ程度の遅延時間ｔｄを有し、しかもこの遅延時間ｔｄの間継続して同一の論理となる場合に、遅延時間ｔｄ後にその論理を出力するように形成される。したがって、（ｃ）に示すように、時刻ｔ２０から遅延時間ｔｄ経過後に、ディレイ回路４２の出力はハイレベルになり、破線で示すように、最小時間ｔｍｉｎとして、遅延時間ｔｄと同一の時間はハイレベルを続ける。時刻ｔ２０から時刻ｔ２１までの時間が遅延時間ｔｄよりも長ければ、時刻ｔ２１から遅延時間ｔｄ経過後の時刻にディレイ回路４２の出力はローレベルに変化する。
【００９８】
ディレイ回路４２は、電流保持手段として、コンパレータ９によってスイッチング素子７が入力信号ライン４を低インピーダンスにするように制御されて、腐食防止電流が流れる時点で、予め設定される最小時間ｔｍｉｎは該腐食防止電流を流し続ける状態を保持する。コンパレータ９が腐食と判定して腐食防止電流が流れると、入力信号ライン４の電位が変動して、腐食と判定することを繰返すような腐食防止動作のチャタリングが生じるおそれがある。ディレイ回路４２によって、予め設定される最小時間ｔｍｉｎは該腐食防止電流を流し続ける状態を保持するので、接点３の腐食防止を図ることができ、かつ腐食防止動作のチャタリングを防止し、接点３の開閉状態を後段の電子制御装置５などで利用する際の誤動作を防止することができる。
【００９９】
図５のディレイ回路４２は、比較手段であるコンパレータ９が腐食と判定するときの低インピーダンス手段であるスイッチング素子７に対する制御を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うように遅延させる遅延手段としても機能する。低インピーダンス手段で入力信号ライン４を低インピーダンスにして接点腐食防止電流を流すことができる状態にする制御を、腐食の判定が予め定める時間継続した後で行うようにディレイ回路４２によって遅延させるので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１００】
図７は、本発明の実施の第６形態である接点腐食防止装置５１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置５１は、処理手段５３を含む。処理手段５３は、比較手段としてスイッチング素子７の制御を行うとともに、入力信号ライン４の後段に接続される電子制御装置５５などの処理回路を制御する処理阻止手段としても機能する。処理阻止手段としての処理手段５３は、腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定する。腐食防止電流が流れる期間に、後段の処理回路の出力を固定するので、腐食防止電流による一時的な入力信号ライン４の電位の変動が後段の処理回路に悪影響を与えないようにすることができる。
【０１０１】
なお、処理阻止手段としての処理手段５３は、腐食防止電流が流れる期間だけでなく、その後、予め定める時間は後段の処理回路の出力を固定することが好ましい。腐食防止電流の通電終了後、入力信号ライン４の電位が安定するまでの間は、処理回路の出力を固定すれば、入力論理を後段の処理に使用しないので、誤動作を防ぐことができる。
【０１０２】
図８は、本発明の実施の第７形態である接点腐食防止装置６１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置６１は、処理手段６３を含み、高インピーダンス手段として複数の抵抗６８ａ，６８ｂを含む。抵抗６８ａ，６８ｂは、便宜的に２つ示しているけれども、３以上あってもよいことはもちろんである。処理手段６３は、複数の抵抗６８ａ，６８ｂを、スイッチング素子６９ａ，６９ｂを選択的に駆動して、選択することができる。処理手段６３は、接点３に接続される入力信号ライン４の電位を、アナログ／デジタル変換手段２２による変換値として、接点の腐食となりうる所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段であるスイッチング素子７をオンに駆動して、入力信号ライン４が低インピーダンスになるように制御する比較手段としても機能する。
【０１０３】
接点腐食防止装置６１は、低インピーダンス手段と高インピーダンス手段と比較手段とを備え、高インピーダンス手段は、入力信号ライン４を高インピーダンスに保つインピーダンスを複数備え、いずれかのインピーダンスを選択可能である。高インピーダンス手段は、図示しているように、入力信号ライン４が接続される接点３がローサイド側のスイッチ２のものであればプルアップ用のインピーダンス、図示しないハイサイド側のスイッチのものであればプルダウン用のインピーダンスを、複数備えて選択可能とすることができる。接点の状態に応じて複数のインピーダンスを選択するようにすれば、接点腐食回路動作時のインピーダンス変化を小さくし、接点の腐食防止を図り、かつ、腐食防止電流が流れる時点での電位変動を抑制して、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１０４】
図９は、本発明の実施の第８形態である接点腐食防止装置７１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置７１は、信号緩和手段７２を含む。信号緩和手段７２は、比較手段であるコンパレータ９から低インピーダンス手段であるスイッチング素子７を駆動する信号の変化を緩和する。スイッチング素子７は、比較手段としてのコンパレータ９が腐食と判定するときに出力される信号で駆動され、入力信号ライン７のインピーダンスを低インピーダンスにして、接点３が閉状態であれば腐食防止電流を流し、接点３の腐食防止を図ることができる。信号緩和手段７２は、コンパレータ９からスイッチング素子７を駆動する信号の変化を緩和するので、スイッチング素子７の駆動に伴う低インピーダンス手段でのインピーダンスの変化量を小さくして、腐食防止電流の変化も小さくし、酸化膜破壊時の接点電位変化量を抑制して、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１０５】
スイッチング素子７がＭＯＳトランジスタであるときは、ゲート・チャネル間の入力容量が比較的大きくなり、接点３が開状態でオンに駆動されても腐食防止電流が流れない場合であっても、入力容量を介して入力される駆動信号が入力信号ライン４に入り込み、ノイズとなるおそれもある。信号緩和手段７２で駆動信号の変化を緩和するので、ノイズの発生を抑制することもできる。
【０１０６】
図１０は、本発明の実施の第９形態である接点腐食防止装置８１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置８１は、カウンタ８２を備える処理手段８３が比較手段として機能する。カウンタ８２は、入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸを越える回数を計数する。処理手段８３は、カウンタ８２の計数値が規定回数に達すると、低インピーダンス手段であるスイッチング素子７を制御して腐食防止電流を流すように制御する。比較手段としての処理手段８３は、カウンタ８２の計数値が規定回数に達すると、スイッチング素子７を制御して腐食防止電流を流しうるオンに制御するので、腐食防止動作の過剰な反応を防止し、動作頻度を下げることができ、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１０７】
またカウンタ８２は、予め定める時間当りの回数を計数するようにしてもよい。比較手段としての処理手段８３は、カウンタ８２で、予め定める時間当りの回数を計数するので、予め定める時間に腐食の判定が多くなされるときに、実際に腐食が生じていると判定し、腐食防止電流を流すようにすることができる。
【０１０８】
以上のように、接点３に接続される入力信号ライン４の電位を、接点３の腐食となりうる所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食と判定するときには、接点３に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法で、腐食防止電流を流す頻度を低減することによって、腐食防止電流を流す動作に伴う後段の誤動作の頻度も低減し、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１０９】
図１１は、本発明の実施の第１０形態である接点腐食防止装置９１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置９１は、電流供給手段９２および処理手段９３を含む。処理手段９３は、入力信号ライン４の電位を、接点３の腐食となりうる所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食か否かを判定し、腐食と判定するときに低インピーダンス手段であるスイッチング素子７によって入力信号ライン４が低インピーダンスになるように制御する比較手段として機能する。電流供給手段９２は、腐食防止電流を、処理手段９３による制御で、通電パターンを変更して供給可能である。
【０１１０】
図１２は、電流供給手段９２によって実現される通電パターンの例を示す。（ａ）は入力信号ライン４での電位変化を示し、時刻ｔ３０で電位が所定電位ＶＸを越え、時刻ｔ３１で所定電位ＶＸより低下する場合を想定する。（ｂ）は、電流供給手段９２が脈流を腐食防止電流として供給する通電パターンを示す。（ｃ）は電流供給手段９２がバースト状に腐食防止電流を供給する通電パターンを示す。電流供給手段９２は、腐食防止電流を、通電パターンを変更して供給可能であるので、通電パターンを接点３の種類に応じて選択したり、接点３を回復することができないときに異なる通電パターンに切換えることも可能となり、確実な腐食防止を図ることができる。接点の腐食防止を確実にすることによって、腐食防止電流が流れる頻度を低下させ、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１１１】
電流供給手段９２が腐食防止電流を滑らかに変化する脈流として供給する場合は、腐食防止動作の低ノイズ化を図ることができる。腐食防止動作時の低ノイズ化によって、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。電流供給手段９２が腐食防止電流を、バースト状に供給する電流供給手段を、
さらに含むことを特徴とする場合は、接点腐食と判定されるときの接点の回復を確実に行い、腐食防止動作の頻度を低下させ、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１１２】
図１３は、本発明の実施の第１１形態である接点腐食防止装置１０１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置１０１は、複数の入力信号を選択する機能を有するＬＳＩとして形成されている。すなわち、複数のチャネルを有する入力回路ブロック１０２を有し、入力回路ブロック１０２からの複数チャネルの出力をマルチプレクサ１０３で選択して、コンパレータ１０４で論理判定し、判定結果を出力する。入力回路ブロック１０２は、回路構成が異なる入力回路ブロックＡ１０２Ａ、入力回路ブロックＢ１０２Ｂおよび入力回路ブロックＣ１０２Ｃを有する。マルチプレクサ１０３は、入力回路ブロックＡ１０２Ａのチャネルを選択するＭＰＸ１０３Ａ、入力回路ブロックＢ１０２Ｂのチャネルを選択するＭＰＸ１０３Ｂ、および入力回路ブロックＣ１０２Ｃのチャネルを選択するＭＰＸ１０３Ｃを有する。ＭＰＸ１０３Ａ，１０３Ｂ，１０３Ｃでそれぞれ選択された入力は、コンパレータ１０４内のコンパレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃでそれぞれ論理値として判定される。マルチプレクサ１０３でのチャネルの選択は、デコーダ１０５からの出力に応じて行われる。
【０１１３】
入力回路ブロック１０２には、電源１０６から正の電源電位ＶＢが供給される。コンパレータ１０４には、電源１０６から＋５Ｖである論理回路用の電源電位ＶＯＭ５が供給される。電源１０６に近接して、過熱検知手段１０７および異常判定手段１０８が設けられる。過熱検知手段１０７の検知結果および異常判定手段１０８の判定結果は、処理手段１０９に与えられ、保護動作として、外部端子１１０への異常信号出力を含む動作が行われる。
【０１１４】
入力回路ブロックＡ１０２Ａの複数の入力チャネルは、入力端子１１１，１１２，１１３，…にそれぞれ接続される。入力回路ブロックＢ１０２Ｂの複数の入力チャネルは、入力端子１２１，１２２，１２３，…にそれぞれ接続される。入力回路ブロックＣ１０２Ｃの複数の入力チャネルは、入力端子１３１，１３２，１３３，…にそれぞれ接続される。
【０１１５】
図１４は、入力回路ブロック１０２Ａの１つのチャネルの接点腐食防止装置１０２Ａｘの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン４が接続される入力端子１１ｘは、電源のローサイド側の接点に接続して使用することを想定している。入力信号ライン４は、コンパレータ１０４Ａに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。入力信号ライン４には減衰回路１４０が挿入される。高インピーダンス手段である抵抗８には、直列にダイオード８ｄが接続され、逆方向の電流を阻止する。比較手段であるコンパレータ９の出力は、ディレイ回路４２およびゲート回路１４１を介してスイッチング素子７に与えられる。スイッチング素子７がＰチャネルＭＯＳトランジスタで実現されるとき、ドレインと入力信号ライン４との間にはダイオード７ｄが接続され、逆方向の電流を阻止する。ＰチャネルＭＯＳトランジスタのバックゲートと電源電位ＶＢとの間にもダイオード７ｅが接続される。図１３の処理手段１０９からの過熱検知信号は、ゲート回路１４１の１つの入力に与えられる。過熱検知信号は、過熱状態が検知されなければローレベルであり、過熱状態が検知されるとハイレベルとなり、スイッチング素子７をオンにすることが禁止される。ゲート回路１４１は、ＯＲ回路と等価である。
【０１１６】
図１５は、入力回路ブロック１０２Ｂの１つのチャネルの接点腐食防止装置１０２Ｂｘの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン１４が接続される入力端子１２ｘは、電源のハイサイド側の接点に接続して使用することを想定している。入力信号ライン１４は、コンパレータ１０４Ｂに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。低インピーダンス手段としてのスイッチング素子１７、ＮチャネルＭＯＳトランジスタで実現され、高インピーダンス手段である抵抗１８とともに、入力信号ライン１４と接地との間に接続される。スイッチング素子１７であるＮチャネルＭＯＳトランジスタのドレインと入力信号ライン１４との間には、直列にダイオード１７ｄが接続され、逆方向の電流を阻止する。比較手段であるコンパレータ９の出力は、ディレイ回路４２およびゲート回路１４２を介してスイッチング素子１７に与えられる。図１３の処理手段１０９からの過熱検知信号は、ゲート回路１４２の１つの入力に与えられる。過熱検知信号は、過熱状態が検知されなければローレベルであり、過熱状態が検知されるとハイレベルとなって、スイッチング素子１７をオンにすることが禁止される。
【０１１７】
図１６は、入力回路ブロック１０２Ｃの１つのチャネルの接点腐食防止装置１０２Ｃｘの概略的な電気的構成を示す。入力信号ライン４が接続される入力端子１３ｘは、電源のローサイド側のみではなくハイサイド側の接点に接続して使用することも想定している。入力信号ライン４は、コンパレータ１０４Ｃに最終的には接続されるもので、その電位によりスイッチやコネクタ等のオン・オフ判定がなされる。コンパレータ９の論理出力は、スイッチング素子７にはディレイ回路４２からの出力が１つの入力として与えられるＮＡＮＤ回路１５１を介して与えられる。ＮＡＮＤ回路１５１の他の入力には、ＡＮＤ回路１５２からの出力が与えられる。コンパレータ９の論理出力は、スイッチング素子１７にはディレイ回路４２からの出力が１つの入力として与えられるＮＯＲ回路１５３を介して与えられる。ＮＯＲ回路１５３の他の入力には、ＯＲ回路１５４からの出力が与えられる。ＡＮＤ回路１５２には、ゲート回路１５５からの出力とＳＥＬ１の入力とが与えられる。ＯＲ回路１５４には、ゲート回路１５５の出力をインバータ１５６で論理反転した信号と、ＳＥＬ２の入力をインバータ１５７で論理反転した信号とが与えられる。ゲート回路１５５には、ＳＥＬ３の入力信号と、過熱検知信号とが与えられる。
【０１１８】
ＳＥＬ１の入力がハイレベルになると、スイッチ１５８がオンになって、抵抗８が入力信号ライン４と電源電位ＶＢとの間に高インピーダンス手段として接続される。ＳＥＬ２の入力がハイレベルになると、スイッチ１５９がオンになって、抵抗１８が入力信号ライン４と接地との間に高インピーダンス手段として接続される。ＳＥＬ２およびＳＥＬ１は、ハイレベルになると、基準電位源１６０のスイッチ１６１，１６２をそれぞれオンにする。これによって、抵抗１６３，１６４，１６５で形成する分圧回路を切換えて、コンパレータ９の所定電位を変化させることができる。
【０１１９】
図１７は、図１６の３つの選択信号ＳＥＬ１，ＳＥＬ２，ＳＥＬ３による入力回路ブロック１０２Ｃでの機能の選択状態を示す。ＳＥＬ１をハイレベルにすると、入力回路ブロック１０２Ａと同様に、ローサイド側にスイッチを接続することができる。ＳＥＬ２をハイレベルにすると、入力回路ブロック１０２Ｂと同様に、ハイサイド側にスイッチを接続することができる。ＳＥＬ３をハイレベルにすると、接点腐食防止機能を有りにすることができる。
【０１２０】
以上のように、腐食防止装置１０１では、複数の接点の各接点毎に入力信号ライン４，１４が接続されるチャネルが備えられる。過熱検知手段１０７は、いずれかのチャネルの入力信号ライン４に腐食防止電流が流れる期間に、予め定める過熱状態となっているか否かを検知する。腐食防止電流が流れないときには、発熱はほとんどないので、過熱状態にはならない。処理手段１０９は、過熱検知手段１０７の検知結果に応答し、過熱検知手段１０７によって過熱状態が検知されるときに、腐食防止電流を流しているチャネルの低インピーダンス手段であるスイッチング素子７，１７が該腐食防止電流を流す動作を禁止するように制御する動作禁止手段として機能する。制御手段１０９は、各チャネル毎に腐食防止電流が流れているか否かを検知する機能と、過熱検知信号を、腐食防止電流が流れているチャネルのみハイレベルにする機能とを備えている。腐食防止電流が流れ続けるような異常動作時には、その腐食防止電流が流れないようにして、発熱を低減するための保護動作を行い、かつ他の接点については腐食防止機能が無効になるのを防ぐことができる。
【０１２１】
また、異常判定手段１０８は、電源１０６から各入力信号ライン４，１４に流れる腐食防止電流を監視し、複数の入力信号ライン４，１４で、腐食防止電流が流れる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定する。また、スイッチング素子７，１７の駆動信号を監視して、スイッチング素子７，１７を能動化する駆動信号が重複すると異常と判定するようにしてもよい。本来、腐食防止電流の通電頻度は低いので、頻繁に複数の接点で腐食防止電流が重複して流れることはないはずである。接点異常時は複数の接点に対する腐食防止動作がそれぞれ独立して行われ、時間的に重複する可能性がある。異常判定手段は、各入力信号ラインに流れる腐食防止電流を監視し、複数の入力信号ラインで、腐食防止電流が流れる期間、または流れうる期間のうちの少なくとも一部が重複すると異常と判定するので、接点の異常判定を容易に行うことができる。
【０１２２】
図１８は、本発明の実施の第１２形態である接点腐食防止装置２０１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置２０１は、ノイズ検出手段２０２およびスイッチング素子２０７をさらに含む。ノイズ検出手段２０２は、入力信号ライン４のノイズを検出する。スイッチング素子２０７は、ノイズ検出手段２０２がノイズを検出するときに、低インピーダンス手段であるスイッチング素子７によって低インピーダンスに制御される入力信号ライン４のインピーダンスを、さらに低下させるインピーダンス低下手段として機能する。インピーダンス低下手段としてのスイッチング素子２０７は、ノイズ検出手段２０２がノイズを検出するときに、入力信号ライン４のインピーダンスを、さらに低下させるので、耐ノイズ性を向上させ、ノイズによる入力信号ラインの電位変動を抑制し、接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。ノイズ検出手段２０２がノイズを検出しなければ、スイッチング素子２０７による入力信号ライン４のインピーダンス低下は生じないので、常時インピーダンスを低下させるのは避けることができる。常時インピーダンスを低下させると、腐食防止電流が増加するため、接点や後段の処理回路での信頼性低下を招くおそれがある。ノイズが検出されて、インピーダンスの低下が必要な状態でのみ、入力信号ライン４のインピーダンスを低インピーダンス手段の能動化によって低下させるよりも、さらに低下させることができる。
【０１２３】
図１９は、スイッチ２がオフ状態での入力信号ライン４の電位変化とインピーダンス変化との関係の例を示す。（ａ）は電位変化を示し、（ｂ）インピーダンス変化を示す。スイッチのオフ状態では、スイッチング素子７がオンとなるので、入力信号ライン４のインピーダンスは低インピーダンスの状態となる。スイッチ２の接点は開状態であるので、入力信号ラインの電位はスレッショルドレベルＶＴよりも高く、電源電位ＶＢ付近となる。入力信号ライン４にノイズが重畳されると、電位は低下し、時刻ｔ４０でノイズ検出手段２０２の基準レベルＶＮよりも低下すると、スイッチング素子２０７もオンになり、入力信号ライン４のインピーダンスはさらに低下する。すなわち、入力信号ライン４の電位が基準レベルＶＮよりも低下する時刻ｔ４０からｔ４１までの間、および時刻ｔ４２からｔ４３までの間、それぞれ入力信号ライン４のインピーダンスが低下する。
【０１２４】
なお、図１９（ａ）に示すように、ノイズ検出手段２０２は、比較手段であるコンパレータ９の所定電位ＶＸに対して逆方向に設定される基準レベルＶＮに基づいてノイズ検出の有無を判定する。図のように、接点３がローサイド側のスイッチ２によるものであれば、スイッチ２が閉状態での腐食を判定する所定電位ＶＸは接地電位側に設定され、スイッチ２が開状態でのノイズレベルを検出する基準レベルＶＮは電源電位ＶＢ側に設定し、ノイズによって入力信号ライン４の電位が基準レベルＶＮよりも低下することを検出可能である。
【０１２５】
図２０は、本発明の実施の第１３形態である接点腐食防止装置２１１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置２１１は、入力信号ライン４に接続され、高周波では、低インピーダンス手段の能動化によって低下するインピーダンスよりも、入力信号ライン４のインピーダンスをさらに低くすることが可能な高周波低インピーダンス素子としてのコンデンサ２１２をさらに含む。接点３の腐食が進行すると、入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸを越えて、比較手段であるコンパレータ９によって腐食防止電流が流れる状態の低インピーダンスに制御され、腐食防止電流が流れれば接点３の腐食の進行を防止し、腐食からの回復を図ることができる。高周波低インピーダンス素子としてのコンデンサ２１２は、高周波では、低インピーダンス手段であるスイッチング素子７の能動化によって低下するインピーダンスよりも入力信号ライン４のインピーダンスをさらに低くすることが可能であるので、入力信号ライン４に高周波のノイズが混入しても、電位が高くならないようにして、ノイズの影響を受けないよう耐ノイズ性を向上させ、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【０１２６】
図２１は、本発明の実施の第１４形態である接点腐食防止装置２２１の概略的な電気的構成を示す。接点腐食防止装置２２１は、スイッチング素子２０７およびノイズ検出手段２２２をさらに含む。ノイズ検出手段２２２は、外部のＲＦ検出手段２２３からのＲＦ検出信号が入力され、電磁波障害を検出する障害検出手段として機能する。スイッチング素子２０７は、ノイズ検出手段２２２が電磁波障害を検出するときに、低インピーダンス手段であるスイッチング素子７の能動化によって低下する入力信号ライン４のインピーダンスを、さらに低下させるインピーダンス低下手段として機能する。ノイズ検出手段２２２が電磁波障害を検出しなければ、スイッチング素子２０７による入力信号ライン４のインピーダンス低下は生じないので、常時インピーダンスを低下させるのは避けることができる。常時インピーダンスを低下させると、腐食防止電流が増加するため、接点３や後段の処理回路での信頼性低下を招くおそれがある。
【０１２７】
以上のように、接点３に接続される入力信号ライン４の電位を、接点３の腐食となりうる所定電位ＶＸと比較して、接点３が腐食と判定するときには、接点３に腐食防止電流を流す接点腐食防止方法で、入力信号ライン４のインピーダンスを、ノイズに対して低下させるので、耐ノイズ性を向上させ、ノイズによる入力信号ライン４の電位変動を抑制し、接点３の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１２８】
【図１】本発明の実施の第１形態である接点腐食防止装置１の概略的な電気的構成を示すブロック図および動作の例を示すタイムチャートである。
【図２】本発明の実施の第２形態である接点腐食防止装置１１の概略的な電気的構成を示すブロック図および動作の例を示すタイムチャートである。
【図３】本発明の実施の第３形態である接点腐食防止装置２１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施の第４形態である接点腐食防止装置３１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施の第５形態である接点腐食防止装置４１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図６】図５の入力信号ライン４の電位変化の例、対応するコンパレータ９の論理判定結果、ディレイ回路４２の論理出力の変化をそれぞれ示すタイムチャートである。
【図７】本発明の実施の第６形態である接点腐食防止装置５１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の実施の第７形態である接点腐食防止装置６１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図９】本発明の実施の第８形態である接点腐食防止装置７１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の第９形態である接点腐食防止装置８１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１１】本発明の実施の第１０形態である接点腐食防止装置９１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１２】図１２の入力信号ライン４の電位変化の例、および電流供給手段９２によって供給可能な通電パターンの例をそれぞれ示すタイムチャートである。
【図１３】本発明の実施の第１１形態である接点腐食防止装置１０１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１４】図１３の入力回路ブロック１０２Ａに含まれる腐食防止装置１０２Ａｘの概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１５】図１３の入力回路ブロック１０２Ｂに含まれる腐食防止装置１０２Ｂｘの概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１６】図１３の入力回路ブロック１０２Ｃに含まれる腐食防止装置１０２Ｃｘの概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施の第１２形態である接点腐食防止装置２０１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【図１８】図１６の腐食防止装置１０２Ｃｘの機能を示す図表である。
【図１９】図１８の入力信号ライン４の電位変化およびインピーダンス変化の例をそれぞれ示すタイムチャートである。
【図２０】本発明の実施の第１３形態である接点腐食防止装置２１１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【０１２９】
【図２１】本発明の実施の第１４形態である接点腐食防止装置２２１の概略的な電気的構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１３０】
１，１１，２１，３１，４１，５１，６１，７１，８１，９１，１０１，１０２Ａｘ，１０２Ｂｘ，１０２Ｃｘ，２０１，２１１，２２１  腐食防止装置
２，１２，１５８，１５９，１６１，１６２  スイッチ
３，１３  接点
４，１４  入力信号ライン
６，１０６  電源
７，１７，６９ａ，６９ｂ，２０７  スイッチング素子
８，１０ａ，１０ｂ，１８，２０ａ，２０ｂ，６８ａ，６８ｂ，１６３，１６４，１６５  抵抗
９  コンパレータ
１０，２０，１６０  基準電位源
２２  アナログ／デジタル変換手段
２３，３３，５３，６３，８３，９３，１０９  処理手段
３２  マスク手段
４２  ディレイ回路
７２  信号緩和手段
８２  カウンタ
９２  電流供給手段
２０２，２２２  ノイズ検出手段
２１２  コンデンサ
【要約】
【課題】  接点の腐食の防止を図り、かつ接点の開閉状態を利用する際の誤動作を防止することができる接点腐食防止方法および装置を提供する。
【解決手段】  接点３の微摺動摩耗などによって接触抵抗が増加すると、（ｂ）に示すように、時刻ｔ１で入力信号ライン４の電位が所定電位ＶＸを越え、（ｃ）に示すように、コンパレータ９の論理出力はローレベルに遷移し、スイッチング素子７はオン状態に駆動され、比較的大電流の腐食防止電流が接点３に流れ、時刻ｔ２までに接触抵抗を減少させ、接点３を回復させる。所定電位ＶＸはスレッショルドレベルＶＴに比較して非判定側に設定されているので、電位変化はスレッシュレベルＶＴに達しないようにすることができ、後段の電子制御装置５などでの誤判定を防ぐことができる。
【選択図】      図１
【図１】
0003625473.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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