(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するＡＴＭスイッチ部と、前記ＡＴＭスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎを測定し、測定結果が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する揺らぎ測定部と、前記揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とするバックプレッシャ閾値自動変更方式。
【請求項２】
前記揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視する揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値を算出する揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値と予め設定された許容揺らぎ値とを比較して前記揺らぎ値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする請求項１記載のバックプレッシャ閾値自動変更方式。
【請求項３】
前記閾値制御部が、前記閾値変更要求信号の受信により新たな閾値を決定する閾値決定部と、前記閾値決定部で決定した閾値を前記出力バッファ部に設定する閾値変更機能とを備えることを特徴とする請求項１または請求項２記載のバックプレッシャ閾値自動変更方式。
【請求項４】
入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するＡＴＭスイッチ部と、前記ＡＴＭスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎ値及び遅延値を測定し、前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ測定部と、前記遅延及び揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とするバックプレッシャ閾値自動変更方式。
【請求項５】
前記遅延及び揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視する遅延及び揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値及び遅延値を算出する遅延及び揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値及び前記遅延値を予め設定された許容揺らぎ値及び許容遅延値と各々比較して前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする請求項４記載のバックプレッシャ閾値自動変更方式。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はバックプレッシャ閾値自動変更方式に関し、特にＡＴＭ交換システムのバックプレッシャ閾値自動変更方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のバックプレッシャ閾値自動変更方式は、例えば特開平６−２４４８５８号公報に記載されたＡＴＭ網のバッファ閾値制御システムのように、高品質ＡＴＭセルの廃棄低減を目的として用いられている。
【０００３】
図１０は、従来のバックプレッシャ閾値自動変更方式の構成を示すブロック図である。図１０を参照すると従来のバックプレッシャ閾値自動変更方式は、到着したＡＴＭセルを蓄積するバッファ１０と、バッファ１０のキュー長を測定するキュー長測定手段１１と、キュー長測定手段１１の出力と別途入力される閾値とを比較する比較手段１２と、信号メッセージから与えられる情報を基に１つの呼を受け付ける毎に最適な閾値を比較手段１２に与える制御部２０と、比較手段１２の比較結果に応じてバッファ１０に到着するＡＴＭセルの廃棄制御を行うセル廃棄手段１３とを備える。
【０００４】
次に動作を説明する。入力ラインからはＡＴＭセルと信号メッセージを受ける。制御部２０では信号メッセージからＣＬＰ検出部２１でＡＴＭセル毎にＣＬＰビットの値を検出してＣＰＵ２２に通知する。さらに、ＣＰＵ２２は１つの呼毎にＣＬＰの比率を計算し、メモリ２３内の閾値テーブル２３ａから対応する閾値を読み出して、キュー長閾値として比較手段１２の入力に与える。
【０００５】
比較手段１２ではキュー長測定手段１１からのバッファ使用率と前記の閾値を比較する。低品質ＡＴＭセルの到着が多い場合には、閾値を小さくする。そして、セル廃棄手段１３で低品質ＡＴＭセルの廃棄を行い、高品質ＡＴＭセルの廃棄をなるべく少なくする。
【０００６】
これにより、高品質ＡＴＭセルが到着したときには、バッファ１０に空きがある限りそのセルを蓄積するが、低品質ＡＴＭセルが到着したときには、キュー長が閾値を越えているならば、セル廃棄手段１３によりそのＡＴＭセルを廃棄する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来技術では、高品質ＡＴＭセルの廃棄低減しか考慮されていないため、高品質ＡＴＭセルの遅延及び揺らぎに伴うセル欠落、ＰＣＲ（ＰＥＡＫ  ＣＥＬＬ  ＲＡＴＥ）超過、及びエコー等が生じてしまうという問題があった。
【０００８】
また従来の技術では、低品質ＡＴＭセルを廃棄するためにセル廃棄手段を新たに設けなければならないという問題があった。
【０００９】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、高品質ＡＴＭセルの遅延及び揺らぎの低減することができるバックプレッシャ閾値自動設定方式を提供することにある。
【００１０】
本発明の他の目的は、セル廃棄手段を使用せずに低品質ＡＴＭセルの廃棄が可能なバックプレッシャ閾値自動設定方式を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、バックプレッシャ閾値自動変更方式であって、入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するＡＴＭスイッチ部と、前記ＡＴＭスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎを測定し、測定結果が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する揺らぎ測定部と、前記揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とする。
【００１２】
請求項２記載の発明は、前記揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視する揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値を算出する揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値と予め設定された許容揺らぎ値とを比較して前記揺らぎ値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
請求項３記載の発明は、前記閾値制御部が、前記閾値変更要求信号の受信により新たな閾値を決定する閾値決定部と、前記閾値決定部で決定した閾値を前記出力バッファ部に設定する閾値変更機能とを備えることを特徴とする。
【００１４】
請求項４記載の発明は、バックプレッシャ閾値自動変更方式であって、入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するＡＴＭスイッチ部と、前記ＡＴＭスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎ値及び遅延値を測定し、前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ測定部と、前記遅延及び揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
請求項５記載の発明は、前記遅延及び揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視する遅延及び揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値及び遅延値を算出する遅延及び揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値及び前記遅延値を予め設定された許容揺らぎ値及び許容遅延値と各々比較して前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明にかかるバックプレッシャ閾値自動変更方式の実施形態の構成を示すブロック図である。図１を参照すると本発明の実施形態は、入力バッファ部１と、ＡＴＭスイッチ部２と、出力バッファ部３と、揺らぎ測定部４と、閾値制御部５と、回線出力部６とを備える。
【００１７】
入力バッファ部１は、サービスクラス毎に入力セルを一時的に蓄積し、ＡＴＭスイッチ部２に出力する。また出力バッファ部３からバックプレッシャ要求を受信すると、低品質ＡＴＭセルの送出を抑制し、低品質ＡＴＭセル用入力バッファが満杯になると低品質ＡＴＭセルを廃棄する。
【００１８】
ＡＴＭスイッチ部２は、入力バッファ部１と出力バッファ部３の間に接続され、セルの交換接続を行う。通常、ＡＴＭスイッチ部２には回線セル入力１００からセルが入力され、出力バッファ入力線１１０を通り、出力バッファ部３へと蓄積される。出力バッファ部３から出力したセルは、出力バッファ出力線１５０から回線出力部６を経由して出力される。
【００１９】
出力バッファ部３は、ＡＴＭスイッチ部２から出力されたセルを一時的に蓄積し、回線出力部６を介して回線に出力する。出力バッファ部３が蓄積できるセル数は、キュー長閾値として予め設定されており、セル蓄積量が閾値を超えると入力バッファ部１に対してセル送出を抑制するバックプレッシャを発生する。なお、キュー長閾値は外部から変更することができる。また出力バッファ部３は、受信したセルのサービスクラスを示すサービスクラス通知信号１２０を揺らぎ測定部４に出力する。
【００２０】
揺らぎ測定部４は、出力バッファ部３から受信したサービスクラス通知信号１２０から、所定のタイミングで高品質ＡＴＭセルの揺らぎの測定を行い、測定値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号１３０を出力する。
【００２１】
ここにおいて、サービスクラスとはパス毎に決定されるトラヒックタイプを指し、本実施形態では輻輳時に優先度の高い高品質ＡＴＭセルと優先度の低い低品質ＡＴＭセルの２つのクラスで説明する。なお、本発明におけるサービスクラスは２つとは限らず、２つ以上の複数有することも可能である。
【００２２】
閾値制御部５は、揺らぎ測定部４から閾値変更要求信号１３０を受信すると、適切なキュー長閾値を決定して閾値変更信号１４０を出力バッファ部３に出力する。
【００２３】
図２は図１における揺らぎ測定部４の内部構成を示すブロック図である。
図２を参照すると、揺らぎ測定部４は、閾値変更タイマー機能４１と、揺らぎ監視機能４２と、揺らぎ値算出機能４３と、最大許容揺らぎ値記憶機能４４と、最小許容揺らぎ値記憶機能４５と、揺らぎ値比較機能４６とを備える。
【００２４】
閾値変更タイマー機能４１は、揺らぎ監視機能４２に接続され、閾値変更の実行タイミングを示す監視タイミング通知信号を出力する。閾値変更タイマー機能４１には予めタイマー値が設定されており、このタイマー値に基づいて監視タイミング通知信号が出力される。タイマー値の設定例としては、システム起動初期時のみや一定サイクル毎の設定が挙げられる。
【００２５】
揺らぎ監視機能４２は、閾値変更タイマー機能４１から監視タイミング通知信号が通知されると、サービスクラス通知信号１２０から高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視し、その監視結果を揺らぎ値算出機能４３に出力する。揺らぎ値算出機能４３は、揺らぎ監視機能４２から受信した監視結果から高品質ＡＴＭセルの揺らぎ値を算出して揺らぎ値比較機能４６に出力する。
【００２６】
最大許容揺らぎ値記憶機能４４は、揺らぎ値比較機能４６に接続されており、高品質ＡＴＭセルの最大許容揺らぎ値が予め記憶されている。最大揺らぎ値とはセルの欠落が生じない範囲でとりうる最大の揺らぎ値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはＶＰＩ／ＶＣＩ毎の設定も可能である。
【００２７】
最小許容揺らぎ値記憶機能４５は、揺らぎ値比較機能４６に接続されており、高品質ＡＴＭセルの最小許容揺らぎ値が予め記憶されている。最小許容揺らぎ値とは出力回線側の許容最大速度を超えない範囲でとりうる最小の揺らぎ値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはＶＰＩ／ＶＣＩ毎の設定も可能である。
【００２８】
揺らぎ値比較機能４６は、揺らぎ値算出機能４３から受信した揺らぎ値が許容範囲内であるか判定を行い、許容範囲外の時は閾値制御部５に対して閾値変更要求信号１３０を出力する。また判定時の上限値及び下限値は、最大許容揺らぎ値記憶機能４４に記憶された最大許容値と最小許容揺らぎ値記憶機能４５に記憶された最小許容値を使用する。
【００２９】
図３は図１における閾値制御部５の内部構成を示すブロック図である。
図３を参照すると、閾値制御部５は、閾値決定機能５１と、閾値増加値記憶機能５２と、閾値減少値記憶機能５３と、閾値変更機能５４とを備える。
【００３０】
閾値決定機能５１は、閾値変更要求信号１３０を受信すると揺らぎ測定値が許容範囲を上回っているのか、下回っているのかを判断して閾値の減少または増加を行う。閾値増加値記憶機能５２は、閾値決定機能５１に接続され、閾値決定機能５１が閾値を増加する際の増加量が記憶されている。閾値減少値記憶機能５３は、閾値決定機能５１に接続され、閾値決定機能５１が閾値を減少する際の減少量が記憶されている。
【００３１】
閾値変更機能５４は、閾値決定機能５１で確定した閾値を受信し、出力バッファ部３へバックプレッシャの閾値変更処理手続きを送出して、出力バッファ部３の閾値を閾値決定機能５１から受信した閾値に変更する。
【００３２】
次に図１の実施形態の動作について詳細に説明する。
入力セルは、一旦、入力バッファ部１に蓄積された後、入力バッファ出力線１００を介してＡＴＭスイッチ部２に出力される。ＡＴＭスイッチ部２は入力したセルの交換処理を行い、所定の出力バッファ部３に出力する。出力バッファ部３は、受信したセルを一時的に蓄積し、その後、回線出力部６を介してセルを出力する。
一方、揺らぎ測定部４は、常に出力バッファ部３からサービスクラス通知信号１２０を受信しており、以下の手順で揺らぎの測定を行う。
【００３３】
図４は、揺らぎ測定部４における揺らぎの測定手順を示すフローチャート図である。
揺らぎ測定部４は、閾値変更タイマー機能４１で予め設定されたタイマー値から閾値を変更するタイミングであると判断した場合（例えばタイマー値オーバーフロー）に、揺らぎ監視機能４２に対して監視タイミング信号を出力する（ステップ４０１）。揺らぎ監視機能４２は監視タイミング信号を受信すると、直ちに高品質ＡＴＭセルの到着間隔をＶＰＩ／ＶＣＩ毎に監視し、その結果を揺らぎ値算出機能４３へ出力する（ステップ４０２）。
【００３４】
揺らぎ値算出機能４３は揺らぎ監視機能４２から到着間隔の結果を受信すると、各高品質ＡＴＭセル毎に揺らぎ値を算出し、揺らぎ値比較機能４６へ出力する（ステップ４０３）。揺らぎ値比較機能４６は、揺らぎ値算出機能４３からの入力値と最大許容揺らぎ値記憶機能４４および最小許容揺らぎ値記憶機能４５からの入力値とを比較して、測定値がこの許容範囲内に収まっているか否かを判断する（ステップ４０４）。
【００３５】
そして範囲内であれば高品質ＡＴＭセルの揺らぎに問題はないと判断して、揺らぎ測定部４は監視タイミング信号受信待ちの状態となる。また、範囲外であれば揺らぎ値比較機能４６は閾値制御部５に対して閾値変更要求信号１３０を送出する（ステップ４０５）。閾値変更要求信号１３０を受信した閾値制御部５は、以下の手順で閾値の変更を行う。
【００３６】
図５は、閾値制御部５における閾値の変更手順を示すフローチャート図である。
閾値制御部５は、閾値決定機能５１で閾値変更要求信号１３０を受信すると（ステップ５０１）、揺らぎ測定値が許容範囲を上回っているか否かを判断する（ステップ５０２）。閾値決定機能５１において、許容範囲を上回っていると判断された場合は、閾値減少値記憶機能５３から受信した閾値の減少量と出力バッファ部３に設定されている閾値とから変更すべき閾値が決定される（ステップ５０３）。
【００３７】
また閾値決定機能５１において、許容範囲を下回っていると判断された場合には、閾値増加値記憶機能５２から受信した閾値の増加量と出力バッファ部３に設定されている閾値とから変更すべき閾値が決定される（ステップ５０４）。閾値変更機能５４は閾値決定機能５１で確定した閾値を基に、出力バッファ部３へ閾値変更処理手続きを送出して、出力バッファ部３の閾値変更を実施する（ステップ５０５）。
【００３８】
これら一連の手順で出力バッファ部３の閾値変更が行われ、閾値が減少した場合はバックプレッシャが起こりやすくなり、低品質ＡＴＭセルを抑制し、高品質ＡＴＭセルの揺らぎを低下させることが可能となる。また抑制された低品質ＡＴＭセルは、低品質ＡＴＭセル用バッファ部が満杯になった時点で低品質ＡＴＭセルの廃棄を開始する。一方、閾値が増加するとバックプレッシャが起こりにくくなり、低品質ＡＴＭセルの品質が向上する。
【００３９】
以上、説明したように第１の実施形態では、揺らぎを監視して出力バッファ部３の閾値を最適化することによって、高品質ＡＴＭセルの品質を確保しつつ、低品質ＡＴＭセルの遅延あるいは廃棄処理を減少するさせることが可能となる。
【００４０】
次に本発明の第２の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
図６は第２の実施形態の構成を示すブロック図で、第１の実施形態における揺らぎ測定部４に代えて遅延及び揺らぎ測定部７を備えたことを特徴とする。遅延及び揺らぎ測定部７は、揺らぎ値の測定に加えて遅延値の測定も行う。なお図６において、図１に示す符号と同一符号は同一機能を有するものとして詳細の説明を省略する。
【００４１】
図７は遅延及び揺らぎ測定部７の内部構成を示すブロック図である。図７を参照すると、遅延及び揺らぎ測定部７は、遅延及び揺らぎ監視機能７１と、閾値変更タイマー機能４１と、遅延及び揺らぎ値算出機能７２と、最大許容揺らぎ値記憶機能４４と、最小許容揺らぎ値記憶機能４５と、最大許容遅延値記憶機能７３と、遅延及び揺らぎ値比較機能７４とを備える。なお、図２に示す符号と同一符号は同一機能を有するものとして詳細を説明する。
【００４２】
遅延及び揺らぎ監視機能７１は、閾値変更タイマー機能４１から監視タイミング通知信号が通知されると、サービスクラス通知信号１２０から高品質ＡＴＭセルの到着間隔を監視し、その監視結果を遅延及び揺らぎ値算出機能７２に出力する。遅延及び揺らぎ値算出機能７２は、遅延及び揺らぎ監視機能７１から受信した監視結果から高品質ＡＴＭセルの遅延値及び揺らぎ値を算出して遅延及び揺らぎ値比較機能７４に出力する。
【００４３】
最大許容遅延値記憶機能７３は、遅延及び揺らぎ値比較機能７４に接続され、高品質ＡＴＭセルの最大許容遅延値が予め記憶されている。最大許容遅延値とはエコーが生じない範囲でとりうる最大の遅延値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはＶＰＩ／ＶＣＩ毎の設定も可能である。
【００４４】
遅延及び揺らぎ値比較機能７４は、遅延及び揺らぎ値算出機能７２から受信した遅延値及び揺らぎ値が許容範囲内であるか判定を行い、許容範囲外の時は閾値制御部５に対して閾値変更要求信号１３０を出力する。また許容範囲の上限値及び下限値は、最大許容揺らぎ値記憶機能４４に記憶された最大許容値と最小許容揺らぎ値記憶機能４５に記憶された最小許容値を使用し、遅延値判定時の上限値は最大許容遅延値記憶機能７３に記憶された最大遅延値を使用する。
【００４５】
次に第２の実施形態の動作について図面を参照して詳細に説明する。なお、第２の実施形態は、第１の実施形態に対して遅延及び揺らぎ測定部７及び閾値制御部５の動作の一部が異なるだけなので、これらのポイントに絞って説明し、他の部分については説明を省略する。
【００４６】
遅延及び揺らぎ測定部７は、常に出力バッファ部３からサービスクラス通知信号１２０を受信しており、以下の手順で遅延及び揺らぎの測定を行う。
【００４７】
図８は遅延及び揺らぎ測定部７における遅延及び揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
遅延及び揺らぎ測定部７は、閾値変更タイマー機能４１で予め設定されたタイマー値から閾値を変更するタイミングであると判断した場合（例えばタイマー値オーバーフロー）に、遅延及び揺らぎ監視機能７１に対して監視タイミング信号を出力する（ステップ８０１）。遅延及び揺らぎ監視機能７１は監視タイミング信号を受信すると、直ちに高品質ＡＴＭセルの到着間隔をＶＰＩ／ＶＣＩ毎に監視し、その結果を遅延及び揺らぎ値算出機能７２へ出力する（ステップ８０２）。
【００４８】
遅延及び揺らぎ値算出機能７２は遅延及び揺らぎ監視機能７１から到着間隔の結果を受信すると、各高品質ＡＴＭセル毎に遅延値及び揺らぎ値を算出し、遅延及び揺らぎ値比較機能７４へ出力する（ステップ８０３）。遅延及び揺らぎ値比較機能７４は、遅延及び揺らぎ値算出機能７２からの入力値と最大許容揺らぎ値記憶機能４４及び最小許容揺らぎ値記憶機能４５からの入力値とを比較して、測定値がこの許容範囲内に収まっているか否かを判断する（ステップ８０４）。
そして、範囲外であれば遅延及び揺らぎ値比較機能７４は閾値制御部５に対して閾値変更要求信号１３０を送出する（ステップ８０６）。
【００４９】
一方、範囲内であれば次に遅延及び揺らぎ値算出機能７２からの遅延値と最大許容遅延値記憶機能７３からの入力値を比較して、条件に適合しているか否かを判断する（ステップ８０５）。そして適合していなければ同じく閾値制御装置４に対して閾値変更要求信号１３０を送出する（ステップ８０６）。また条件に適合している場合は高品質ＡＴＭセルの遅延及び揺らぎに問題はないと判断する。閾値変更要求信号１３０を受信した閾値制御部５は、図９のフローチャート図に示した手順に従って閾値の変更を行う。
【００５０】
以上、説明したように第２の実施形態では、揺らぎ及び遅延を監視して出力バッファ部３の閾値を最適化することによって、高品質ＡＴＭセルの品質を確保しつつ、低品質ＡＴＭセルの遅延あるいは廃棄処理を減少するさせることが可能となる。
【００５１】
【発明の効果】
第１の効果は、低品質ＡＴＭセルの廃棄率を低下しつつ、高品質ＡＴＭセルの品質を確保することが可能になるということである。その理由は、高品質ＡＴＭの揺らぎが生じた際に、適正なバックプレッシャ閾値を算出して変更するからである。第２の効果は、低品質ＡＴＭセルの廃棄手段が不要なことである。その理由は、入力バッファ部が満杯になるとセルの廃棄が行われるからである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】揺らぎ測定部４の内部構成を示すブロック図である。
【図３】閾値制御部５の内部構成を示すブロック図である。
【図４】第１の実施形態の揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
【図５】第１の実施形態の閾値変更手順を示すフローチャート図である。
【図６】本発明の第２の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図７】遅延及び揺らぎ測定部７の内部構成を示すブロック図である。
【図８】第２の実施形態の遅延及び揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
【図９】第２の実施形態の閾値変更手順を示すフローチャート図である。
【図１０】従来技術の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  入力バッファ部
２  ＡＴＭスイッチ部
３  出力バッファ部
４  揺らぎ測定部
５  閾値制御部
６  回線出力部
７  遅延及び揺らぎ測定部
４１  閾値変更タイマー機能
４２  揺らぎ監視機能
４３  揺らぎ値算出機能
４４  最大許容揺らぎ値記憶機能
４５  最小許容揺らぎ値記憶機能
４６  揺らぎ値比較機能
５１  閾値決定機能
５２  閾値増加値記憶機能
５３  閾値減少値記憶機能
５４  閾値変更機能
７１  遅延及び揺らぎ監視機能
７２  遅延及び揺らぎ値算出機能
７３  最大許容遅延値記憶機能
７４  遅延及び揺らぎ値比較機能
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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