(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースフレームと、
前記ベースフレームの一側に垂直に設置される垂直フレームと、
前記ベースフレームの上部面に平行に設置され、ＬＭガイドレールに沿ってスライディングすることができるように設置されたキャリアホルダーの上部に固定されるそれぞれのキャリアユニットと、
前記それぞれのキャリアユニットに対応して前記垂直フレームの一側部に設置され、前記キャリアユニットに収容されたモジュールICを押してテストソケットに接続させるそれぞれのプレスユニットと、
タイミングベルトによってそれぞれ連結され設置された前記キャリアユニットを左右にスライディングして移動させるために、前記垂直フレームの一側に設置されたプーリを備えた駆動モータによって構成されて、
前記キャリアユニットは、多数の前記モジュールICを収納するために前記キャリアホルダーの上部に固定されるボックス状のキャリアと、前記キャリアの左右両側部に固定されるブロックと、前記ブロックと前記キャリアホルダーとの間に設置され、前記キャリアの位置決めを弾力的に復元させるために設置されたそれぞれのスプリングと、前記モジュールICが正確な位置に収容されたかいなかを確認するためのそれぞれのセンサーと、前記キャリアの前後両側にそれぞれ設置され、前記プレスユニットのキャッチャーと結合され、キャリアをテストソケットから抜き取るためのキャッチャーホルダーと、からなることを特徴とするモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項２】
前記プレスユニツトは、前記垂直フレームの一側に設置され、上側部に形成されたモータブラケットが備えられたユニットブラケットと、
前記ユニットブラケットの上部両側に垂直に設置され上下に滑り移動可能に設置された一対のガイドと、
前記一対のガイド同士の間に垂直に設置されるボールスクリユーと、
前記ガイドとボールスクリユーとの上段部を互いに連結して固定するガイドプレートと、
前記一対のガイドの下段部にそれぞれ固定されるキャッチャー固定ブロックと、
前記キャッチャー固定ブロックの下部に設置され、モジュールICをテストするためにテストソケットに挿入するモジュールプレスユニットと、
前記キャッチャー固定ブロックの両側部にそれぞれ設置され、キャリアを抜き取るための多数のキャッチャーと、
前記モータブラケットの一側に固定され、前記ガイドプレートの上部に飛び出したボールスクリューの上段部が連結され、前記キャッチャー固定ブロックを上下に昇降させるためのプレスユニットモータと、から構成されることを特徴とする請求項１に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項３】
ベースフレームと、
前記ベースフレームの一側に垂直に設置される垂直フレームと、
前記ベースフレームの上部面に平行に設置され、ＬＭガイドレールに沿ってスライディングすることができるように設置されたキャリアホルダーの上部に固定されるそれぞれのキャリアユニットと、
前記それぞれのキャリアユニットに対応して前記垂直フレームの一側部に設置され、前記キャリアユニットに収容されたモジュールICを押してテストソケットに接続させるそれぞれのプレスユニットと、
タイミングベルトによってそれぞれ連結され設置された前記キャリアユニットを左右にスライディングして移動させるために、前記垂直フレームの一側に設置されたプーリを備えた駆動モータによって構成されて、
前記キャリアユニットは、多数の前記モジュールICを収納するためのケースと、
前記ケースの内側面に互いに対向するように水平に配置されたガイドと、
前記ガイドに支持されて、スライディングが可能に構成されると共に多数のモジュールICがはめ込まれるはめ込み部材が設置された移動支持台と、
前記移動支持台との間の間隔を調節し得るように構成された動作手段を含むことを特徴とするモジユールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項４】
前記動作手段は、
前記移動支持台に形成された移動孔と、
前記移動孔をスライディングするように貫通すると共に前記ケースに両端が固定されたガイド棒と、
前記ケースの両側の前記移動支持台に左ネジと右ネジでそれぞれ相異にネジ結合され回転する時、両側に対向された前記移動支持台と対向運動するボールスクリューと、
前記ボールスクリューを回転させるように連結され設置された駆動手段と、からなることを特徴とする請求項３に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項５】
前記駆動手段は、前記ボールスクリューに固定された第１のプーリと、
前記ケースに回転可能に設置された第２のプーリと、
前記第１、第２のプーリを連結して連動するように設置されたベルトと、
前記第２のプーリを所定速度で回転させるように回転軸に連結されたモータと、
前記モータを定速回転または加減速動作させるようにスイッチが設置された制御部と、からなることを特徴とする請求項４に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項６】
前記第２のプーリには、前記ベルトの張力を調節して動力伝達効率を維持するように連結され設置された調節手段を含むことを特徴とする請求項５に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項７】
前記調節手段は、前記第２のプーリが回転可能に設置されると共にモータが連結されたブラケットと、
前記ブラケットに形成された長孔と、
前記長孔を通じて前記ケースに前記ブラケットを固定させるボルトと、からなることを特徴とする請求項６に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項８】
前記移動支持台と前記ガイド棒との間には、移動された後、位置を固定させるように設置された位置制限手段を含むことを特徴とする請求項４項乃至第７項の内いずれか一項に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項９】
前記位置制限手段は、前記移動支持台に形成されると共に前記移動孔まで貫通された固定孔と、
前記固定孔にネジ結合するように設置された固定ボルトと、から構成されることを特徴とする請求項８に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【請求項１０】
前記駆動手段は、前記第２のプーリに連結され連動する回転ノブと、から構成されることを特徴とする請求項４に記載のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、生産の完了されたモジュールIC(module IC)の性能をテストする時、これを収容しているキャリアをハンドリングするための装置及びその方法に係るもので、さらに詳しくは、複数のモジュールICがローディングされたキャリアを工程間に移送させながら効果的にテストを行い、様々な長さのモジュールICを積載及び移送し得るキャリアを提供するモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置及びその方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、モジュールICとは、基板の一側面又は両側面に複数のIC及び部品を半田付け固定して独立的に回路を構成したもので、メイン基板に実装されて容量を拡張させる機能を有する。
【０００３】
こういうモジュールICは、生産の完了されたICをばらで販売することより高付加の価値を有するので、IC生産業体で主力商品として開発して販売している。
【０００４】
製造工程を経て組み立て生産されたモジュールICは、価額が高いので、それによって製品の信頼性も非常に重要である。生産業体では厳しい品質検査を行って良品と判定された製品だけを出荷し、不良品と判定されたモジュールICは修正または全量を廃棄処分する。
【０００５】
従来、生産の完了されたモジュールICをテストソケット内に自動にローディングしてテストを行った。そのテスト結果に応じて自動に分類し、顧客トレイ内にアンローディングする装備が開発されたことがない。
【０００６】
従って、生産の完了されたモジュールICをテストソケット内にローディングした後、設定された時間の間、テストを行う。そのテスト結果に応じてモジュールICを顧客トレイ内に分類して置かなければならないので、モジュールICのテストに応じる作業能率が低下された。
【０００７】
なお、単純労働による退屈で生産性が低下する問題があった。
【０００８】
従って、モジュールICのテストを行う時、モジュールICを自動にハンドリングするモジュールICハンドラーが出願人によって開発され、特許及び実用新案として多数出願されたことがある。
【０００９】
図１６は、従来のモジュールICハンドラーを概略的に示した平面図で、ローディング側トレイ内に収容されたモジュールICをハンドリングする方法を説明すれば、次のとおりである。
【００１０】
X-Y軸4,5に沿って移動するローディング側ピッカ6がローディング側に積載されたトレイ3に移送されて下降した後、トレイから多数のモジュールICをホールディングするようになる。
【００１１】
ローディング側ピッカ6がトレイ3から多数のモジュールICをホールディングして上死点まで上昇してから、X-Y軸4,5に沿ってローディング側ピッカ6が移送する。かつ、該ローディング側ピッカ6が下降するようになるので、多数のモジュールICをテストサイト7に設置されたテストソケットの上側に載置する。
【００１２】
このような動作によりテストソケットに多数のモジュールICを載置してから、上記したような動作を数回行い、テストサイト7内の全てのテストソケットにモジュールICをそれぞれ載置する。
【００１３】
前記テストソケットに多数のモジュールICが載せられてから前記テストソケットに載置されたモジュールICを同時に下方に押してモジュールICの両側に形成されたパターンをテストソケットの端子と接続させる。テストにより設定された時間の間、モジュールICの性能をテストし、その結果を中央処理装置に知らせるようになる。
【００１４】
モジュールICの性能を設定された時間の間、テストしてから別度のプッシャがテストソケットからモジュールICを取り出させる。かつ、これと共にY軸に設置されたアンローディング側ピッカ8がテストソケットから多数のモジュールICをホールディングし、顧客トレイ9内にテスト結果に応じて分類して収容するようになる。
【００１５】
上記した動作をさらに詳しく説明すれば、ローディング側ピッカ6がトレイ3内に収容されているモジュールICをホールディングするために、トレイ3側に移送する時、モジュールICの両端をホールディングするフィンガーは両側に最大限またがれた状態を維持する。
【００１６】
こういう状態においてローディング側ピッカ6がX-Y軸4,5に沿ってトレイ3側に移動が完了し、モジュールICの直上部に位置した後、下降してからフィンガーが内側に窄んでホールディングする。
【００１７】
このようにトレイ内のモジュールICをローディング側ピッカ6がホールディングしてからテストサイトに移動した後、下降してホールディングされたフィンガーをさらに外側に広げて、モジュールICがテストソケットに載せられるようになる。
【００１８】
ローディング側ピッカ6が多数のモジュールICをテストソケットに載せてからローディング側ピッカ6は、新しいモジュールICをホールディングするためにトレイ側に移送するようになる。
【００１９】
繰り返される動作によってテストサイトに設置された多数のテストソケットにテストすべきモジュールICが全てローディングされてからメインシリンダー及びホーキングシリンダーが順次に駆動してプッシャを下降させる。かつ、プッシャが下降しながらテストソケットに載せられたモジュールICの上面を押すことによって、モジュールICのパターンがテストソケットの端子と電気的に接続されるので、性能テストが行われる。
【００２０】
一方、モジュールICのテストが行われてから取り出しシリンダーの駆動により取り出しレバーを回動させ、テストソケットにはめ込まれたモジュールICを抜き取るようになる。
【００２１】
その後、アンローディング側に位置されたまた他のピッカがX-Y軸4,5に沿ってテストサイト側に移送され、テストの完了されたモジュールICをホールディングして、テスト結果に応じて顧客トレイ内にアンローディングするようになる。
【００２２】
しかしながら、従来のハンドラーにおいては、モジュールICをローディング側ピッカによりホールディングし、直にテストサイトに設置されたテストソケットに移送させるために次のような問題があった。
【００２３】
第１番目に、ピッカによりモジュールICをホールディングし、テストソケット内にローディング及びアンローディングするようになって、ピッカによっては密閉されたチャンバー内でモジュールICをハンドリングすることができないので、モジュールICを常温だけでテストすべきである。
【００２４】
従って、生産の完了されたモジュールICを常温でテストし、良品だけを出荷する反面、出荷されたモジュールICを製品に装着して実際使用する時には、駆動によって多くの熱の発生により高温の状態で駆動する。これによって、テストする時、条件と実際使用する時の条件の違いが発生するので、出荷された製品の信頼性が劣った。
【００２５】
第２番目に、トレイ内に収容されたモジュールIC及びテストソケット内に収容されていたモジュールICをピッカがホールディングして移送させる。そのため、モジュールICをテストする間には、モジュールICの移送が不可能になり、サイクルタイムが長くなるので、同一の時間内に多量のモジュールICをテストすることができなかった。
【００２６】
第３番目に、ピッカによりモジュールICを直にハンドリングするために、テストサイトにテストソケットを水平方向にのみ設置すべきである。これによって、テストするモジュールICのタイプが変える場合、ソケットアセンブリを交替する作業が煩わしい問題があった。
【００２７】
従って、上記した問題を解決するために、前記モジュールICをキャリアに収容してテスト工程間に移動するように製品の信頼性を向上させた。
【００２８】
しかしながら、上記したようにモジュールICをキャリアに収容して移動する場合の段階を探ってみると、先ず、ローディング側ピッカがトレイ内のモジュールICをホールディングし、ローディングポジションに位置した水平状態のキャリア内に順次にローディングする。そのモジュールICがローディングされたキャリアをローディング側ローテータに水平移送させ、ローディング側ローテータにロッキングさせる。かつ、ヒッティングチャンバーのシャッターを開放すると共にキャリアを垂直に立てた後、下降してキャリアのロッキング状態を解除した後、前記ヒッティングチャンバー内でキャリアを一ステップずつ移送させながらモジュールICをテスト条件にヒッティングする。
【００２９】
なお、ヒッティングチャンバーとテストサイトとの間にあるシャッターを開放して、ヒッティングチャンバー内のキャリアをテストサイト側に水平移送させ、水平移送されたキャリアを移送方向と直角方向に押してモジュールICのパターンテストソケットの端子と接続させた状態で設定された時間ほどテストを行う。かつ、テストサイトとアンローディングチャンバーとの間にあるシャッターを開放した後、キャリアを水平移送させ、アンローディング側ローテータにロッキングさせ、アンローディング側ローテータを水平方向に還元させると共に該アンローディング側ローテータからキャリアを引き出してアンローディングポジションに移送させる。該アンローディングポジションに位置した水平状態のキャリアからアンローディング側ピッカがモジュールICをホールディングし、テスト結果に応じて顧客トレイ内にアンローディングする。モジュールICがアンローディングの完了されたキャリアをローディングポジションに水平移送させることによって、該キャリアの移動段階が順次に行われる。
【００３０】
しかしながら、上記したように順次に行われたキャリアの移動は、システム内で一つのキャリアが移動される。その後、次のキャリアがつづいて供給すべきであるので、少量のテストを行う時には、あまり問題にならなかったが、多量のモジュールICをテストする場合には、供給時間が長くかかったが、それによって、作業が遅くなって、生産性が低下する問題があった。
【００３１】
なお、モジュールICの種類に応じてキャリア即ち、キャリアに設置された支持台の間隔をそれぞれ相異に形成するようになれば、比較的に様々のモジュールICの種類に応じて別のキャリアを制作すべきであるので、不必要な制作費が多くかかる問題があった。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、従来の上記したような問題等を解決するために案出したものであって、二つのキャリアを同時に提供すると共にハンドリング装置の構成を簡単にして装備の大きさを小さくし、その効率性を上昇させるためのことを目的とするモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置を提供する。
【００３３】
本発明の目的は、ハンドリングシステム内にモジュールICを収容した二つのキャリアを提供し、ローディング/アンローディング及びテストが同時に行われるようにすると共にテスト時間を短縮し、作業効率を向上させるためのモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング方法を提供することをその目的とする。
【００３４】
なお、本発明の他の目的は、モジュールICの長さによってキャリアの間隔を調節することによって、一つのキャリアとして様々な種類のモジュールICを移送及び積載することができるようにすることにある。
【００３５】
【課題を解決するための手段】
上記した目的を達成するために本発明のキャリアハンドリング装置は、ベースフレームと、前記ベースフレームの一側に垂直に設置される垂直フレームと、前記ベースフレームの上部面に平行に設置され、LMガイドレールに沿ってスライディングすることができるように設置されたキャリアホルダーの上部に固定されるそれぞれのキャリアユニットと、前記それぞれのキャリアユニットに対応して前記垂直フレームの一側部に設置され、前記キャリアユニットに収容されたモジュールICを接続させるそれぞれのプレスユニットと、タイミングベルトによってそれぞれ連結され設置された前記キャリアユニットを左右にスライディングして移動させるために、前記垂直フレームの一側に設置されたプーリを備えた駆動モータによって構成されたことを特徴とする。
【００３６】
またここで、前記キャリアユニットは、多数の前記モジュールICを収納するために前記キャリアホルダーの上部に固定されるボックス状のキャリアと、前記キャリアの左右両側部に固定されるブロックと、前記ブロックと前記キャリアホルダーとの間に設置され、前記キャリアの位置決めを弾力的に復元させる設置されたそれぞれのスプリングと、前記モジュールICが正確な位置に収容されたかいやかを確認するためのそれぞれのセンサーと、前記キャリアの前後両側にそれぞれ設置され、前記プレスユニットのキャッチャーと結合され、キャリアをテストソケットから抜き取るためのキャッチャーホルダーと、からなる。ここで、前記キャリアユニットは、多数の前記モジュールICを収納するためのケースと、前記ケースの内側面に互いに対向するように水平に配置されたガイドと、前記ガイドに支持され、スライディングが可能に構成されると共に多数の前記モジュールICがはめ込まれるはめ込み部材の設置された移動支持台と、前記移動支持台との間の間隔を調節し得るように構成された動作手段を含むことを特徴とする。
【００３７】
またここで、前記動作手段は、前記移動支持台に形成された移動孔と、前記移動孔をスライディングするように貫通すると共に前記ケースに両端が固定されたガイド棒と、前記ケースの両側の前記移動支持台に左ネジと右ネジでそれぞれ相異にネジ結合され回転する時、両側に対向された前記移動支持台と対向運動するボールスクリューと、前記ボールスクリューを回転させるように連結され設置された駆動手段と、からなる。
【００３８】
またここで、前記駆動手段は、前記ボールスクリューに固定された第１のプーリと、前記ケースに回転可能に設置された第２のプーリと、前記第１、第２のプーリを連結して連動するように設置されたベルトと、前記第２のプーリを所定速度で回転させるように回転軸に連結されたモータと、前記モータを定速回転または加減速動作させるようにスイッチが設置された制御部と、からなる。
【００３９】
また、前記第２のプーリには、前記ベルトの張力を調節して動力伝達効率を維持するように連結され設置された調節手段を含む。
【００４０】
さらに、前記調節手段は、前記第２のプーリが回転可能に設置されると共にモータが連結されたブラケットと、前記ブラケットに形成された長孔と、前記長孔を通じて前記ケースに前記ブラケットを固定させるボルトと、からなることを特徴とする。
【００４１】
また、前記移動支持台と前記ガイド棒との間には、移動された後、位置を固定させるように設置された位置制限手段を含むことを特徴とする。
【００４２】
また、前記位置制限手段は、前記移動支持台に形成されると共に前記移動孔まで貫通された固定孔と、前記固定孔にネジ結合するように設置された固定ボルトと、から構成される。
【００４３】
さらに、前記駆動手段は、前記第２のプーリに連結され連動する回転ノブと、から構成される。
【００４４】
また、前記プレスユニットは、前記垂直フレームの一側に設置され、上側部に形成されたモータブラケットが備えられたユニットブラケットと、前記ユニットブラケットの前部両側に垂直に設置され上下に滑り移動可能に設置された一対のガイドと、前記一対のガイドとの間に垂直に設置されるボールスクリューと、前記ガイドとボールスクリューとの上段部を互いに連結して固定するガイドプレートと、前記一対のガイドの下段部にそれぞれ固定されるキャッチャー固定ブロックと、前記キャッチャー固定ブロックの下部に設置され、モジュールICをテストするためにテストソケットに挿入するモジュールプレスユニットと、前記キャッチャー固定ブロックの両側部にそれぞれ設置され、キャリアを抜き取るための多数のキャッチャーと、前記モータブラケットの一側に固定され、前記ガイドプレートの上部に飛び出したボールスクリューの上段部が連結され、前記キャッチャー固定ブロックを上下に昇・下降させるためのプレスユニットモータと、から構成される。
【００４５】
上記した目的を達成するために本発明のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング方法は、モジュールICをテストするためにモジュールICが収容されたそれぞれのキャリアを初期位置で一側に設置されたプレス/テストポジション及びローディング/アンローディングポジションに移動させる分割(インデックシング)及びテスト段階と、前記分割及びテスト段階において前記プレス/テストポジションに移動されたキャリアに収容されたモジュールICをテストすると同時にローディング/アンローディングポジションに位置したキャリアをアンローディングトレイエレベータに移動させる段階と、前記キャリアがアンローディングエレベータに移動した後、ローディングトレイエレベータから違うキャリアをローディング/アンローディングポジションに移動させる段階と、前記プレス/テストポジションからテストが完了されたキャリアを初期位置に移動し、ローディング/アンローディングポジションに移動されたキャリアをテスト/プレスポジションに移動する分割/テスティング段階と、前記ローディング/アンローディングポジションからテスト/プレスポジションに移動したそれぞれのキャリアをテストすると共に前記テストが完了され、初期位置に戻すそれぞれのキャリアをアンローディングトレイエレベータに移動させる段階と、前記テストが完了されたそれぞれのキャリアがアンローディングトレイエレベータに移動した後、前記ローディングトレイエレベータから初期位置にキャリアをローディングさせる段階と、からなることを特徴とする。
【００４６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【００４７】
本発明は、ベースフレーム12と、垂直フレーム10と、キャリアユニット106と、プレスユニット104及び駆動モータ16と、から構成される。
【００４８】
前記垂直フレーム10は、ベースフレーム12の一側に垂直に設置される。
【００４９】
前記キャリアユニット106は、ベースフレーム12の上部面に平行に設置されたLM(Linear motion)ガイドレール14に沿って滑り移動が可能するように設置されたキャリアホルダー22の上部に固定される。
【００５０】
プレスユニット104は、それぞれのキャリアユニット106に対応して垂直フレーム10の一側部に設置され、該キャリアユニット106に収容されたモジュールICを接続させる。
【００５１】
駆動モータ16は、タイミングベルト20によってそれぞれ連結され設置された前記キャリアユニット106を左右にスライディング移動させるために前記垂直フレーム10の一側に設置されたプーリ18を備える。
【００５２】
ここで、キャリアユニット106は、キャリア24と、ブロック32と、スプリング28と、センサー30及びキャッチャーホルダー52と、から構成される。
【００５３】
キャリア24は、多数のモジュールICを収納するために、キャリアホルダー22の上部に固定され、ボックス状を持つ。ブロック32はキャリア24の左右両側部に固定される。スプリング28は、ブロック32とキャリアホルダー22との間に設置され、キャリアの位置決めを弾力的に復元させるために設置される。センサー30は、モジュールICが正確な位置に収容されているかいやかを確認する。キャッチャーホルダー52は、キャリア24の前後両側にそれぞれ設置され、プレスユニット104のキャッチャー48と結合され、キャリアをテストソケットから抜き取る。
【００５４】
ここで、キャリアは、図３乃至図７に図示したように、他の構成として使用することができる。以下では他の実施例のキャリアを添付した図面を参照して詳しく説明する。
【００５５】
図３は、本発明のモジュールICを収容するキャリアの一実施例を示す斜視図で、図４は、本発明のモジュールICを収容するキャリアの他の実施例を示す斜視図で、図５は、図４の平面図で、図６は、図４において固定ボルトの結合状態を図示したＡ−Ａ線に沿った拡大断面図で、図７は、本発明のモジュールICを収容するキャリアのまた他の実施例を示す斜視図である。
【００５６】
図面に示したようにキャリアは、ガイド201と、移動支持台203と、動作手段と、から構成される。ガイド201は、ケース200の内側面に互いに対向するように水平状に配置される。移動支持台203は、ガイド201に支持され、スライディング移動可能に構成されると共に多数のモジュールICがはめ込まれるようにはめ込み部材202が設置される。動作手段は、移動支持台203との間の間隔を調節し得るように構成される。
【００５７】
即ち、動作手段がモジュールICの大きさに応じて移動支持台203を一定間隔をおいて移動させると共に収納及び移送させることができるようになる。
【００５８】
動作手段は、移動孔204と、ガイド棒205と、両方向ネジ208と、駆動手段と、から構成される。移動孔204は移動支持台203に形成され、ガイド棒205は、移動孔204をスライディング移動可能に貫通すると共にケース200に両端が固定される。両方向ネジ208は、両側の移動支持台203に左ネジと右ネジとそれぞれ相異にネジ結合され、回転する時、両側に対向された移動支持台203が対向運動し、駆動手段は、両方向ネジ208を回転させるように連結され設置される。
【００５９】
駆動手段は、第１のプーリ209と、第２のプーリ210と、ベルト211と、モータ222と、制御部214と、から構成される。
【００６０】
第１のプーリ209は、両方向ネジ208に固定されて一対とからなる。第２のプーリ210は、ケース200に回転可能に固定設置され、ベルト211は、第１、第２のプーリ209、210を連結して連動するように設置される。モータ222は、第２のプーリ210を所定速度で回転させるように回転軸に連結され、制御部214は、モータ222を定速回転あるいは加減速動作させるようにスイッチ213が設置される。
【００６１】
ここで、モータ222は、減速器が内装された減速モータ等を用いると共に直流モータを用いて速度調節及び加減速等が容易く構成される。
【００６２】
なお、第２のプーリ210には、ベルト211の張力を調節し、動力伝達効率を維持するように調節手段が連結され設置される。調節手段は、ブラケット215と、長孔216と、ボルト217と、から構成される。ブラケット215は、第２のプーリ210が回転可能に設置されると共にモータ222が連結される。長孔216は、ブラケット215に形成され、ボルト217は、長孔216を通じてケース200にブラケット215を固定させる。
【００６３】
即ち、長孔216を用いてブラケット215が昇降可能になることにより、実質的にベルト211の張力を調節し得るようになることである。
【００６４】
前記移動支持台203とガイド棒205との間には移動された後、位置を固定させるように位置制限手段が設置されている。図６に図示されているように移動支持台203に形成されると共に移動孔204まで貫通された固定孔218と、該固定孔218にネジ結合するように設置された固定ボルト219と、から構成される。
【００６５】
即ち、固定ボルト219を縮めると、前記ガイド棒205の位置を制限することによって、移動支持台203の調節された状態を堅く固定させるようになることである。
【００６６】
前記駆動手段を設置せず、図７に図示したように第２のプーリ210に単純に回転ノブ220を連結し、作業者が直に手で微細に調節してもその効果は達成される。
【００６７】
上記したような本発明の作用効果を説明すれば、一定の大きさ、例えば、72ピンのモジュールICをキャリアに積載するために作業者が前記スイッチ213を動作させるようになる。
【００６８】
スイッチ213を動作させれば、前記モータ222が動作すると共に該モータ222に連結された第２のプーリ210が所定速度及び所定回転方向（時計方向又は反時計方向）に回転するようになる。
【００６９】
第２のプーリ210が回転するようになれば、該第２のプーリ210とベルト211に連結されている第１のプーリ209が回転運動するようになる。かつ、第１のプーリ209の回転に応じて両方向ネジ208が回転するようになり、これによって、移動支持台203との間の間隔が調節される。
【００７０】
例えば、両方向ネジ208が時計方向に回転する時、移動支持台203が近接された位置に移動すれば、反時計方向に回転する時には、移動支持台203が離隔される方向に移動するようになる。
【００７１】
移動支持台203の間隔が調節されば、前記固定ボルト219を縮めるようになる。該固定ボルト219を縮める時、固定ボルト219の底面がガイド棒205を加圧することにより、ガイド棒205が移動制限され、結果的に移動支持台203が固定されるようになる。
【００７２】
上記したように移動支持台203の間隔が調節された状態において72ピンのモジュールICを積載及び移送させるようになる。よって、移動対象物であるモジュールICが、例えば、128ピンのモジュールICに変更されば、固定ボルト219を解け、スイッチ213を動作させるようになる。
【００７３】
即ち、128ピンのモジュールICの場合、72ピンのモジュールICに比して長さが大幅に長くなる、よって、スイッチ213を動作させ、モータ222、第１、第２のプーリ209,210を回転させて移動支持台203との間が広げるようになる。
【００７４】
移動支持台203との間の問隔が広げながら、128ピンのモジュールICの長さに適するようになれば、モータ222の動作を停止させると共に上記したように固定ボルト219を縮めてガイド棒205を固定させた後、128ピンのモジュールICを積載及び移送させることができるようになる。
【００７５】
図７に示したように前記本発明の他の実施例のキャリアは、回転ノブ220を作業者が手で回転させ、移動支持台203との間の間隔を調節することができる。
【００７６】
なお、プレスユニット104は、ユニットブラケット36と、ガイド44と、ボールスクリュー42と、ガイドプレート40と、キャッチャー固定ブロック46と、モジュールプレスユニット104と、キャッチャー48と、プレスユニットモータ34と、から構成される。
【００７７】
ユニットブラケット36は、垂直フレーム10の一側に設置され、上側部に形成されたモータブラケット38が備えられる。ガイド44は、ユニットブラケット36の前部両側に垂直するように設置され、上下に滑り移動が可能になるように一対が設置される。ボールスクリュー42は、一対のガイド44との間に垂直に設置される。ガイドプレート40は、ガイド44とボールスクリュー42との上段部を互いに連結して固定する。キャッチャー固定ブロック46は、一対のガイド44の下段部にそれぞれ固定される。モジュールプレスユニット50は、キャッチャー固定ブロック46の下部に設置され、モジュールICをテストするためにテストソケットに挿入する。多数のキャッチャー48は、キャリアを抜き取るためにキャッチャー固定ブロック46の両側部にそれぞれ設置される。プレスユニットモータ34は、モータブラケット38の一側に固定され、ガイドプレート40の上部に飛び出したボールスクリュー42の上段部が連結され、キャッチャー固定ブロック46を上下に昇降動作させる。
【００７８】
図１は、本発明のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置を示す斜視図で、図２は、本発明のモジュールICをテストするためのプレスユニットを示す斜視図で、図３は、本発明のモジュールICを収容するキャリアを示す斜視図で、図８は、本発明のキャリアハンドリング装置の平面図である。
【００７９】
ベースフレーム12の上部一側に垂直フレーム10が垂直に設置され、その前部にそれぞれのテストサイト102が設置されている。
【００８０】
テストサイト102は、プレスユニット104と、キャリアユニット106と、から構成される。
【００８１】
なお、ベースフレーム12の上部面には、平行にLM(Linear motion)ガイドレール14が設置される。該LM(Linear motion)ガイドレール14の上部には、キャリアユニット106が左右にスライディングできるように設置されている。かつ、キャリアユニット106を移動させることができるようにプーリ18が備えられた駆動モータ16が設置されている。プーリ18には、タイミングベルト20が連結され、タイミングベルト20にキャリアユニット106が固定され移動するようになる。
【００８２】
一方、プレスユニット104は、垂直フレーム10の一側部にモータブラケット38が形成されたユニットブラケット36が設置される。該ユニットブラケット36の前部には、プレスユニット106を垂直に案内し得る一対のガイド44が垂直に設置されている。かつ、ボールスクリュー42が一対のガイド44との間に垂直に設置される。
【００８３】
なお、ボールスクリュー42とガイド44との下段部には、キャッチャー固定ブロック46が設置される。該キャッチャー固定ブロック46の両側部には、キャリアをホールディングし得るキャッチャー48が設置され、モジュールプレスユニット50がその下部に固定されている。
【００８４】
ボールスクリュー42とガイド44との上段部には、ガイドプレート40が設置される。ボールスクリュー42の上段には、プレスユニットモータ34が設置され、ボールスクリュー42を回転させることにより、モジュールプレスユニット50が下降され、キャリアに収容されたモジュールICをテストソケットに接続させる。
【００８５】
一方、テストが行われたモジュールICが収容されたキャリアユニット106は、キャリアホルダー22の上部にボックス状のキャリア24が固定された。かつ、該キャリア24に多数のモジュールICが収容されていた。
【００８６】
この時、キャリア24の左右側部にはブロック32がそれぞれ固定されていて、プレスユニット104が加圧された後、分離された時、元の位置に戻すためのスプリング28が前記ブロック34とキャリアホルダー22との間に設置される。キャリア24の左右側部にはモジュールICが正確に載置されたか位置を確認するセンサー30が多数設置されている。
【００８７】
図８は、本発明のハンドリング装置の平面図であって、キャリアユニット106が駆動モータ16が駆動することによって回転するプーリ18と、該プーリ18に連結され、キャリアユニット106を滑り移動させることができるように連結され設置される。かつ、タイミングベルト20によりキャリアユニット106が移動し、テストソケットに接続し得る位置に行けるようになっていた。
【００８８】
上記したように移動されるキャリアユニット106は、ベースフレーム12の上部に位置されたプレス/テストポジション108とその右側に連続して位置されたローディング/アンローディングポジション110に連続的に供給される。また、その右側には上記したような同一な構造のプレス/テストポジション108とローディング/アンローディングポジション110が位置し、テストするためのモジュールICを連続的に供給し得るように行われた。
【００８９】
上記したような構造として成されたモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置のハンドリング方法を探ってみれば、次のとおりである。
【００９０】
先ず、図９乃至図１５は、本発明のキャリアハンドリング装置を用いてハンドリングする方法を示す工程図で、図９は、本発明のキャリアハンドリング装置の全てのシステムを示す概略図で、図１０は、本発明のキャリアハンドリング装置を用いてキャリアを分割/テスティングする工程図で、図１１は、キャリアをアンローディングする段階を示す工程図で、図１２は、キャリアをトレイエレベータからローディングする段階を示す工程図で、図１３は、ローディングされたキャリアを分割/テスティングする段階を示す工程図で、図１４は、テスティングが行われたキャリアをアンローディングする段階を示す工程図で、図１５は、キャリアをトレイエレベータからローディングする段階を示す工程図である。
【００９１】
本発明のキャリアをハンドリングするための方法は、先ず、モジュールICをテストするためにモジュールICが収容されたそれぞれのキャリアを初期位置で一側に設置されたプレス/テストポジション108及びローディング/アンローディングポジション110に移動させる。
【００９２】
なお、プレス/テストポジション108に移動されたキャリアに収容されたモジュールICをテストすると共にローディング/アンローディングポジション110に位置したキャリアをアンローディングトレイエレベータに移動させる。
【００９３】
続いて、キャリアがアンローディングエレベータに移動した後、ローディングトレイエレベータから他のキャリアをローディング/アンローディングポジション110に移動させる。
【００９４】
また、プレス/テストポジション108においてテストの完了されたキャリアを初期位置に移動し、ローディング/アンローディングポジション110に移動されたキャリアをプレス/テストポジション108に移動する。
【００９５】
なお、ローディング/アンローディングポジション110からプレス/テストポジション108に移動したそれぞれのキャリアをテストすると共にテストが完了され、初期位置に戻したそれぞれのキャリアをアンローディングトレイエレベータに移動させる。
【００９６】
その後、テストの完了されたそれぞれのキャリアがアンローディングトレイエレベータに移動した後、前記ローディングトレイエレベータから初期位置にキャリアをローディングさせる。
【００９７】
以下、各図面を参考し、本発明のキャリアをハンドリングするための方法を詳しく説明する。
【００９８】
図９に図示されたように、多数のモジュールICを供給し得るエレベータ118が設置される。その上部にエレベータ118から供給されるそれぞれのローディングトレイ及びアンローディングトレイエレベータが設置される。その上部には、モジュールICをのテストが完了された後、取り出されるモジュールICを収納するリゼクトトレイとさらにテストするモジュールICを収納するリテストトレイ及びモジュールICの特性が不良として判定された時、収納する不良トレイが設置されている。
【００９９】
また、前記それぞれのトレイ上部位置には、プレス/テストポジション114とローディング/アンローディングポジション116が位置されている。 プレス/テストポジション114には、移動されたキャリア24をテストし得るようにテストヘッド112が設置されている。かつ、キャリア24は、左右に位置を移動し、テスト及びローディング・アンローディングが行われる。
【０１００】
この時、連続的にテスト及び供給し得るように同じ構造のプレス/テストポジション114と、ローディング/アンローディングポジション116がその右側に設置された。
【０１０１】
続いて、図１０乃至図１２を参照して本発明のハンドリング方法を説明すれば、初期位置でそれぞれのキャリア24がプレス/テストポジション114及びローディング/アンローディングポジション116に移動する。かつ、プレス/テストポジション114に移動されたキャリア24は、プレスユニット104によりテストヘッド112と接続され、テストが行われる分割/テスティング段階に位置する。
【０１０２】
キャリア24のテストが行われる間、ローディング/アンローディングポジション116に移動されたキャリア24は、図１０に示されたようにアンローディングトレイエレベータに移動が行われる。キャリア24がアンローディングトレイエレベータに移動すれば、図１１に示すようにローディングトレイエレベータからローディング/アンローディングポジション116に新しいキャリア24がローディングされる。
【０１０３】
続いて、図１３は、ローディングされたキャリアを分割/テスティングする段階を示す工程図で、図１４は、テスティングが行われたキャリアをアンローディングする段階を示す工程図で、図１５は、キャリアをトレイエレベータからローディングする段階を示す工程図である。
【０１０４】
前記図１１に示されたようにキャリア24がローディング/アンローディングポジション116にローディングが行われ、プレス/テストポジション114でテストが完了される。それぞれのキャリア24は、左側に移動し、前記プレス/テストポジション114でテストが行われたキャリア24は、ローディング/アンローディングポジション116に移動する。かつ、ローディング/アンローディングポジション116にローディングされたキャリア24は、プレス/テストポジション114に移動される。
【０１０５】
なお、プレス/テストポジション114に移動されたキャリア24がテストされる間、ローディング/アンローディングポジション116に位置したキャリア24は、さらにアンローディングトレイエレベータに移動される。かつ、キャリア24がアンローディングトレイエレベータに移動されば、図１５に示されているようにローディングトレイエレベータから新しいキャリア24がローディングすることにより、サイクルを終え、連続して上記したようなサイクルを繰り返して連続的なテストと供給が行われる。
【０１０６】
上記したような方法によって行われる本発明は、テストされるキャリアと供給されるキャリアが待機する時間が短縮されるので、作業時間が短くなり、連続的なテストと供給が行われるので生産性が向上される。
【０１０７】
また、キャリアのボールスクリューの回転によって、モジュールICを支持する移動支持台の間隔を容易く調節し得るようになれば、各種モジュールICの移送及び積載が一つのキャリアだけで可能になる。
【０１０８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、構造が簡単で、テスト時間が短縮される長所があり、一つのキャリアがテストされる間、その次のキャリアが連続的に待機しているので、作業時間が短縮され効率が増加すると共に生産性が向上される効果がある。
【０１０９】
なお、モジュールICの長さに応じて間隔を調節することによって、一つのキャリアで様々の種類のモジュールICを移送及び積載し得るようになって、キャリアをモジュールIC別に制作するのに応じる制作費が節減される利点がある。
【０１１０】
加えて、一つのキャリアのみ保管することで、モジュールICの移送及び積載に応じる部品等が節減され、これを保管するのに要る空間等が節減される利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のモジュールICハンドラーのキャリアハンドリング装置を示した斜視図である。
【図２】本発明のモジュールICをテストするためのプレスユニットを示す斜視図である。
【図３】本発明のモジュールICを収容するキャリアの一実施例を示す斜視図である。
【図４】本発明のモジュールICを収容するキャリアの他の実施例を示す斜視図である。
【図５】図４においてキャリアの平面図である。
【図６】図４においてA − A線に沿う拡大断面図である。
【図７】本発明のモジュールICを収容するキャリアの又他の実施例を示す斜視図である。
【図８】本発明のキャリアハンドリング装置の平面図である。
【図９】図９乃至図１５は、本発明のキャリアハンドリング装置を用いてハンドリングする方法を示す工程図であって、本発明のキャリアハンドリング装置の全体システムを示す概略図である。
【図１０】本発明のキャリアハンドリング装置を用いて分割/テスティングする工程図である。
【図１１】キャリアをアンローディングする段階を示す工程図である。
【図１２】キャリアをトレイエレベータからローディングする段階を示す工程図である。
【図１３】ローディングされたキャリアを分割/テスティングする段階を示す工程図である。
【図１４】テスティングが行われたキャリアをアンローディングする段階を示す工程図である。
【図１５】トレイエレベータからローディングする段階を示す工程図である。
【図１６】モジュールICハンドラーを概略的に示した平面図である。
【符号の説明】
10・・・垂直フレーム
12・・・ベースフレーム
14・・・LM(Linear motion)ガイドレール
16・・・駆動モータ
18・・・プーリ
20・・・タイミングベルト
22・・・キャリアホルダー
24・・・キャリア
26・・・モジュールIC
28・・・スプリング
30・・・センサー
32・・・ブロック
34・・・プレスユニットモータ
36・・・ユニットブラケット
38・・・モータブラケット
40・・・ガイドプレート
42・・・ボールスクリュー
44・・・ガイド
46・・・キャッチャー固定ブロック
48・・・キャッチャー
50・・・モジュールプレスユニット
52・・・キャッチャーホルダー
100・・・ハンドリング装置
102・・・テストサイト
104・・・プレスユニット
106・・・キャリア
108,114・・・プレス／テストポジション
110,116・・・ローディング／アンローディングポジション
112・・・テストヘッド
118・・・エレベータ
201・・・ガイド
202・・・はめ込み部材
203・・・移動支持台
204・・・移動孔
205・・・ガイド棒
206・・・左ネジ
207・・・右ネジ
208・・・両方向ネジ
209・・・第１のプーリ
210・・・第２のプーリ
211・・・ベルト
213・・・スイッチ
214・・・制御部
215・・・ブラケット
216・・・長孔
217・・・ボルト
218・・・固定孔
219・・・固定ボルト
220・・・回転ノブ
222・・・モータ
【図１】
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【図２】
0003704013.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
0003704013.tif 000006
【図６】
0003704013.tif 000007
【図７】
0003704013.tif 000008
【図８】
0003704013.tif 000009
【図９】
0003704013.tif 000010
【図１０】
0003704013.tif 000011
【図１１】
0003704013.tif 000012
【図１２】
0003704013.tif 000013
【図１３】
0003704013.tif 000014
【図１４】
0003704013.tif 000015
【図１５】
0003704013.tif 000016
【図１６】
0003704013.tif 000017