(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子炉格納容器の雰囲気ガスをサンプリングラック内に抽出して酸素検出器により酸素濃度を測定する測定器と、前記酸素検出器を校正する校正ラックを備えた格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置において、前記酸素検出器の前段に温度計を配設すると共に前記測定器に濃度測定部と温度測定部及び誤差補正方式による濃度補正演算部とを備え、前記誤差補正方式は次の式のようにサンプリングガスの酸素濃度ｘ及び温度ｔと誤差補正計数Ｋの関係としたことを特徴とする格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置。
Ｋ＝θ（ｘ）×ｔ＋λ（ｘ）…（１）
θ（ｘ）＝ΣＣｎ×ｘｎ    ｎ＝０〜Ｎ…（２）
λ（ｘ）＝ΣＤｎ×ｘｎ    ｎ＝０〜Ｎ…（３）
ここで、θ（ｘ）、θ（ｘ）はサンプリングガスの酸素濃度ｘにおける関数、ｔは雰囲気ガスの温度、Ｃｎ、Ｄｎは定数。
また、ある酸素濃度のときの補正式を次の式（４）のように複数求める。
ｘ＝ａ（１）のとき  Ｋ＝α（１）×ｔ＋β（１）
：
ｘ＝ａ（ｍ）のとき  Ｋ＝α（ｍ）×ｔ＋β（ｍ）…（４）
α（ｍ）、β（ｍ）は定数。
式（４）でｍ＝３とすると、式（２）、（３）のｎも３として式（１）と（４）の比較から、定数Ｃｎ、Ｄｎを求め、誤差補正計数Ｋを求める。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、原子力発電所における原子炉格納容器内の酸素濃度を測定する格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の格納容器内雰囲気モニタにおける酸素測定装置については、図９のブロック構成図に示すように、原子炉を格納した原子炉格納容器１内の雰囲気ガスをガス吸気配管２とガス排気配管３を介して、サンプリングラック４内に設けたガス吸引ポンプ５及びガス排気ポンプ６でサンプリングラック４内へ導入する。
【０００３】
サンプリングラック４内へ導入されたガスは、ガス冷却器７とガス除湿器８により水分を除去され、切替弁Ａ９と減圧弁10を経由して酸素検出器11及び水素検出器12において、それぞれの濃度測定が行われる。
なお、前記サンプリングラック４内にサンプリングしたガスの圧力と流量を一定に保つために、前記減圧弁10と共に流量制御計Ａ13が設置されており、また、前記ガス冷却器７とガス除湿器８に対する冷媒は、外部に設置した冷却水装置14から冷水が循環されるように構成されている。
【０００４】
また、前記酸素検出器11及び水素検出器12に対する校正操作は、切替弁Ｂ15を介して接続された校正ラック16内にある、Ｎ2 ガスボンベ等のＮ2 ガス源17，Ｏ2 ガスボンベ等のガス源18，Ｈ2 ガスボンベ等のＨ2 ガス源19について、それぞれＮ2 減圧弁20，Ｏ2 減圧弁21，Ｈ2 減圧弁22と、Ｎ2 止弁23，Ｏ2 止弁24，Ｈ2 止弁25を操作して行う。
【０００５】
この校正に際しては、サンプリングラック４内の切替弁Ａ９を閉じた後に切替弁Ｂ15を開き、前記校正ラック16内のＮ2 止弁23，Ｏ2 止弁24，Ｈ2 止弁25の内で所定の１つを開いて、当該Ｎ2 減圧弁20，Ｏ2 減圧弁21，Ｈ2 減圧弁22により圧力を調整した所望のガスをサンプリングラック４内に供給して校正を行う。
【０００６】
なお、前記測定器26においては、酸素検出器11と水素検出器12、及び流量制御計Ａ13からのデータの処理と、サンプリングラック４及び校正ラック16における各種のポンプや弁の制御を行う。
前記酸素検出器11は、磁気風式と呼ばれる方式を用いており、その原理は酸素の常磁性が温度に反比例するという現象を利用して、検出部に強磁界と弱磁界の不均一磁界を形成し、加熱素子により高温域と低温域の温度勾配を形成する。
【０００７】
酸素検出器11に酸素が入ってくると、この酸素は強磁界域に吸引されて、そこにある加熱素子の加熱により常磁性が弱められるるために、加熱されていない酸素に押し出されて弱磁界域に流れる。
この流れを磁気風と呼び、風の強さはサンプリングガスの酸素量に比例し、この風の強さは加熱素子の抵抗値変化として検出される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
従来の酸素検出器11は、その加熱素子の抵抗変化を測定する方式であることから、サンプリングガス温度により、酸素濃度が同じでも測定誤差の要因になっている。
原子炉格納容器１内から抽出した雰囲気ガスであるサンプリングガスの温度は、周囲温度の影響で変化することから、格納容器内雰囲気モニタで使用している酸素検出器11が設置されている部屋においても、たとえ空気調和設備があるものの、場合によっては室温が40℃程度まで変化することがある。
【０００９】
従って、前記酸素検出器11に導入されるサンプリングガスの温度が、この室温変化の影響を受けて変動すると、酸素検出器11においては濃度測定の結果に誤差が生ずるという支障があった。
【００１０】
本発明の目的とするところは、正確な酸素濃度の測定を行う格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項１記載の発明に係る格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置は、原子炉格納容器の雰囲気ガスをサンプリングラック内に抽出して酸素検出器により酸素濃度を測定する測定器と、前記酸素検出器を校正する校正ラックを備えた格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置において、前記酸素検出器の前段に温度計を配設すると共に前記測定器に濃度測定部と温度測定部及び誤差補正方式による濃度補正演算部とを備え、前記誤差補正方式は次の式のようにサンプリングガスの酸素濃度ｘ及び温度ｔと誤差補正計数Ｋの関係としたことを特徴とする格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置。
Ｋ＝θ（ｘ）×ｔ＋λ（ｘ）…（１）
θ（ｘ）＝ΣＣｎ×ｘｎ    ｎ＝０〜Ｎ…（２）
λ（ｘ）＝ΣＤｎ×ｘｎ    ｎ＝０〜Ｎ…（３）
ここで、θ（ｘ）、θ（ｘ）はサンプリングガスの酸素濃度ｘにおける関数、ｔは雰囲気ガスの温度、Ｃｎ、Ｄｎは定数。
また、ある酸素濃度のときの補正式を次の式（４）のように複数求める。
ｘ＝ａ（１）のとき  Ｋ＝α（１）×ｔ＋β（１）
：
ｘ＝ａ（ｍ）のとき  Ｋ＝α（ｍ）×ｔ＋β（ｍ）…（４）
α（ｍ）、β（ｍ）は定数。
式（４）でｍ＝３とすると、式（２）、（３）のｎも３として式（１）と（４）の比較から、定数Ｃｎ、Ｄｎを求め、誤差補正計数Ｋを求める。
【００１８】
酸素検出器前段でサンプリングガス温度を検出し、この温度値から測定器の濃度補正演算部において、誤差補正式による酸素濃度の補正をすることで、正確な酸素濃度の測定を行う。
【００２４】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。なお、上記した従来技術と同じ構成部分には、同一符号を付して詳細な説明を省略する。
第１実施の形態は、図１のブロック構成図に示すように、格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置におけるサンプリングラック27は、原子炉を格納した原子炉格納容器１に対して、内部雰囲気であるガスを抽出するガス吸引配管２とガス排気配管３とで接続されている。
【００２５】
サンプリングラック27の内部には、吸引配管２と接続されたガス冷却器７と、順次ガス除湿器８及び切替弁Ａ９、ガス吸引ポンプ５と減圧弁10を経由して、前段配管28と接続された酸素検出器11及び水素検出器12が接続されている。
また、前記水素検出器12には、前記減圧弁10と共にサンプリングガスの圧力と流量を一定に保つための流量制御計Ａ13が接続されていて、ガス排気ポンプ６を介してガス排気配管３に接続している。
【００２６】
さらに、前記酸素検出器11における前段配管28には、加熱ヒータ29とこの加熱ヒータ29により前段配管28を通過するガスの温度を一定に制御する温度制御装置30を取付けて構成されている。
なお、前記ガス冷却器７とガス除湿器８に対しては、外部に設置して冷媒の冷水を循環させる冷却水装置14が接続されている。
【００２７】
また、前記切替弁Ａ９の後段には切替弁Ｂ15が接続されていて、この切替弁Ｂ15を介して前記酸素検出器11及び水素検出器12の校正を行う校正ラック16が接続されている。
この校正ラック16は、Ｎ2 ガス源17，Ｏ2 ガス源18，Ｈ2 ガス源19と、それぞれのＮ2 減圧弁20，Ｏ2 減圧弁21，Ｈ2 減圧弁22、及びＮ2 止弁23，Ｏ2 止弁24，Ｈ2 止弁25により構成されている。
【００２８】
なお、前記酸素検出器11と水素検出器12、さらに流量制御計Ａ13と接続した測定器26においては、前記酸素検出器11と水素検出器12、及び流量制御計Ａ13から出力されるデータの処理と、サンプリングラック27及び校正ラック16における各種のポンプや弁の制御が行われるように構成されている。
【００２９】
次に、上記構成による作用について説明する。サンプリングラック27におけるガス吸引ポンプ５とガス排気ポンプ６の運転により、原子炉格納容器１内の雰囲気であるガスは、ガス吸気配管２を経由して、サンプリングガスとしてサンプリングラック27へ導入される。
【００３０】
サンプリングラック27内に導入されたサンプリングガスは、冷却水装置14から循環される冷水によりガス冷却器７とガス除湿器８において水分が除去され、切替弁Ａ９と減圧弁10を経由して、酸素検出器11及び水素検出器12において、それぞれの濃度測定が行われる。
なお、この際にサンプリングガスは、前記減圧弁10と流量制御計Ａ13により圧力と流量が一定に保たれると共に、前段配管28において加熱ヒータ29と温度制御装置30により、温度制御装置30に予め設定された設定温度に制御される。
【００３１】
この設定温度は、例えばサンプリングラック27の周囲温度が、40℃程度までになることを考慮すると、この予想される周囲温度より高い40℃以上に設定しておく。
前記温度制御装置30においては、酸素検出器11に導入されるサンプリングガスの温度が設定値となるように、前段配管28に設けた加熱ヒータ29をＯＮ／ＯＦＦする等制御して容易に一定温度に維持する。
【００３２】
これにより、酸素検出器11にサンプリングされるガス温度は、周囲温度に影響されることなく常に高温で一定の設定温度となることから、予め前記設定温度にて酸素検出器11を校正しておけば、酸素濃度の測定に際して誤差が生じることがなく、一定した高い測定精度で測定ができる。
【００３３】
なお、前記酸素検出器11及び水素検出器12に対する校正操作は、切替弁Ｂ15を介して接続された校正ラック16により、前記設定温度を温度条件として上記した従来技術と同様の手法により行う。
また、測定器26における前記酸素検出器11と水素検出器12、及び流量制御計Ａ13からのデータの処理、及びサンプリングラック４と校正ラック16における各種のポンプや弁の制御についても、上記した従来技術と同様にして実施される。
【００３４】
第２実施の形態は、なお、第１実施の形態と同様の構成部分と、その作用及び効果については、その構成と詳細な説明を省略する。
図２の要部ブロック構成図は格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置で、サンプリングラック31における酸素検出器11の周辺のみを示したものであり、酸素検出器11における前段配管28は、周囲を冷却水管32で覆われている。
【００３５】
さらに、この冷却水管32には、外部に設置された冷水を供給して循環させる冷却水装置14が接続されている。なお、その他の部分は上記図１と同様の構成としている。
【００３６】
次に、上記構成による作用について説明する。酸素検出器11に導入されるサンプリングガスは、圧力と流量が一定に保たれると共に、前段配管28において周囲の冷却水管32に冷却水装置14から循環される冷水により冷却されて、低温で一定温度に制御される。
【００３７】
この温度は、例えば、サンプリングラック31の周囲温度が、空気調和により通常20℃程度になっている場合に、冷媒として10℃程度の冷水で冷却することにより、サンプリングガスの温度は容易に周囲温度より低く、しかも一定温度に保つことができる。
【００３８】
これにより、酸素検出器11に導入されるサンプリングガスの温度が一定になることから、予め、この低い設定温度で図示しない校正ラック16により、酸素検出器11の校正を実施しておけば、酸素濃度の測定に際して誤差が生じることがなく、高精度で一定した酸素濃度の測定を行うことができる。
【００３９】
上記第２実施の形態の変形例としては、図３の要部ブロック構成図に示すように、格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置でサンプリングラック33における酸素検出器11の前段に、冷却水装置14からの冷水を必要としない、例えば空冷式冷却機によるガス冷却装置34を設置して構成する。
【００４０】
上記構成による作用については、酸素検出器11に導入されるサンプリングガスは、前記ガス冷却装置34において冷却されて、吸引されたサンプリングガスの温度及び周囲温度より低い一定温度に調節される。
【００４１】
これにより、前記冷却水装置14による冷水の供給が困難な設置場所であっても、上記第２実施の形態と同様に、一定した高い精度で酸素濃度の測定を容易に行うことができる。
【００４２】
第３実施の形態は、なお、第１実施の形態と同様の構成部分と、その作用及び効果については、その構成と詳細な説明を省略する。
図４の要部ブロック構成図は格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置であり、サンプリングラック35におけるガス冷却器７及びガス除湿器８と酸素検出器11の周辺を示したもので、ガス冷却器７及びガス除湿器８には外部に設置された冷却水装置14が接続されている。
【００４３】
また、前記ガス除湿器８と酸素検出器11との間には、切替弁Ａ９と吸引ポンプ５、及び減圧弁10が介挿されていて、この間においては配管等を断熱材36で覆った保温構成とされている。
なお、前記切替弁Ａ９の後段には、切替弁Ｂ15を介して校正ラック16が接続されているが、その他の部分は上記図１と同様の構成となっている。
【００４４】
次に、上記構成による作用について説明する。酸素検出器11に導入されたサンプリングガスは、ガス冷却器７及びガス除湿器８において冷却水装置14から循環される冷水により湿分が除去される。
また、減圧弁10において圧力と流量が一定に保たれることから、このサンプリングガスは、断熱材36で覆われた配管を経て酸素検出器11に入るまで、周囲温度に影響を受けずに一定温度に保たれる。
【００４５】
これにより、酸素検出器11において濃度を測定するサンプリングガスの温度が一定になっていることから、予め、この温度で校正ラック16により、酸素検出器11の校正を実施しておけば、酸素濃度の測定に際して誤差が生じることがなく、一定した高い精度で酸素濃度の測定が行われる。
【００４６】
第４実施の形態は、なお、第１実施の形態と同様の構成部分と、その作用及び効果については、その構成と詳細な説明を省略する。
図５の要部ブロック構成図は格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置で、サンプリングラック37における酸素検出器11の周辺を示し、酸素検出器11の前段配管28には、サンプリングガスの温度計38が設置されている。
【００４７】
また、測定器39は濃度測定部40と温度測定部41、及び濃度補正演算部42で形成されていて、前記酸素検出器11が濃度測定部40に、前記温度計38は温度測定部41と接続して構成されている。なお、その他の部分は上記図１と同様の構成となっている。
【００４８】
次に、上記構成による作用について説明する。前記の前段配管28を経由して酸素検出器11に導入されるサンプリングガスは、その温度を温度計38により測定され、この温度信号が測定器39の温度測定部41に入力される。
【００４９】
また、前記酸素検出器11で測定されたサンプリングガスの酸素濃度は、その濃度信号が濃度測定部40に入力されて、この濃度測定部40と前記温度測定部41とのデータは、濃度補正演算部42において補正されて酸素濃度値を算出する。
なお、酸素検出器11におけるサンプリングガスの温度による酸素濃度の誤差についての特性は、その実験結果から例として図６の特性図に示すように、サンプリングガスの濃度により誤差の程度が異なる。
【００５０】
温度計38の精度が±２％FS（フルスパン）以下は可能であることから、この精度±２％FSとして評価すると、０〜50℃の±２％は±１℃となる。従って、ここで高濃度（30％）における０〜40℃の濃度誤差が＋９〜−５％であることから、前記±１℃の誤差補正に与える誤差は、14／40＝0.35％となる。
これにより、温度計精度が±２％であることより、温度による補正は温度補正カーブが正確ならば適用可能と考えられる。
【００５１】
なお、誤差の程度は濃度の違いにかかわらず、温度による誤差傾向に傾きを持った直線で近似できるため、この近似線のデータを前記濃度補正演算部42において適用することにより、前記濃度測定部40で測定した値と、温度測定部41で測定した値とから誤差の補正値を求めて、その補正値により濃度補正をすることで、高精度で酸素濃度値を求めることができる。
【００５２】
即ち、濃度測定部40で求めた酸素濃度値をｘ（％）とし、温度測定部41で求めた温度値をｔ（℃）、Ｋを誤差補正係数とすると、補正後の酸素濃度値Ｘ（％）は次の式（１）と（２）のようにして求める。
【００５３】
ａ(0) ＜ｘ≦ａ(1) ならＫ＝α(1) ×ｔ＋β(1)
：                      ：
ａ(n-1) ＜ｘ≦ａ(n) ならＫ＝α(n) ×ｔ＋β(n)   …（１）
Ｘ＝Ｋ×ｘ  …（２）
【００５４】
ここで、ａ(n) は予め決めた酸素濃度値、式（１）のＫ＝α(n) ×ｔ＋β（ｎ）は、ａ(n) のときの温度による誤差補正式であり、これらは、前記濃度補正演算部42にデータとして登録している。
以上のように測定器39において、サンプリングガスの温度と酸素濃度による補正演算を行うことにより、より正確な酸素濃度値が求めることができる。
【００５５】
第５実施の形態は、第４実施の形態の変形例であり、従って、その構成は上記第４実施の形態に示す図５と同様である。また作用及び効果について上記第４実施の形態と異なる部分についてのみ説明する。
本第５実施の形態では、前記測定器39の濃度補正演算部42における補正方法が多項式を用いた方式として、酸素濃度及び温度と誤差補正係数Ｋの関係を次の式（３）〜（５）のように定義する。
【００５６】
Ｋ＝θ(x) ×ｔ＋λ(x)   …（３）
θ(x) ＝ΣＣｎ×ｘn   ｎ＝０〜Ｎ  …（４）
λ(x) ＝ΣＤｎ×ｘn   ｎ＝０〜Ｎ  …（５）
【００５７】
ここで、θ(x) ，λ(x) は酸素濃度ｘにおける関数、ｔは温度、Ｃｎ，Ｄｎは定数である。また、ある酸素濃度のときの補正式を次の式（６）のように複数求めたとする。なお、α(m) ，β(m) は定数である。
【００５８】
ｘ＝ａ(1) のとき  Ｋ＝α(1) ×ｔ＋β(1)
：                      ：
ｘ＝ａ(m) のとき  Ｋ＝α(m) ×ｔ＋β(m)   …（６）
【００５９】
式（６）でｍ＝３とすると、式（４），（５）のｎも３として式（３）と（６）の比較から、定数Ｃｎ，Ｄｎを求めることができる。
このようにすると、幾つかの式（６）があれば、式（３）の酸素濃度及び温度の関数として誤差補正係数Ｋが求められる。
従って、前記誤差補正係数Ｋにより前記濃度補正演算部42において、上記式（２）による補正演算を行うことにより、さらに、正確な酸素濃度値が求めることができる。
【００６０】
第６実施の形態は、なお、第１実施の形態と同様の構成部分と、その作用及び効果については、その構成と詳細な説明を省略する。
図７の要部ブロック構成図は格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置で、サンプリングラック43における酸素検出器11の周辺を示し、酸素検出器11の前段配管28には、サンプリングガスの温度計38が設置されている。
【００６１】
さらにその前段には、切替弁Ａ９と吸引ポンプ５、及びサンプリングガスの圧力と流量を一定に保つ減圧弁10が介挿されていて、前記切替弁Ａ９の後段には切替弁Ｂ15を介して校正ラック16が接続されている。
【００６２】
また、測定器44は濃度測定部40と温度測定部41、及び濃度補正演算部42と前記酸素検出器11の校正操作をする制御部45で形成されていて、前記酸素検出器11が濃度測定部40に、前記温度計38は温度測定部41と接続し、さらに制御部45は、前記サンプリングラック43及び校正ラック16における各種のポンプや弁と接続して構成されている。
なお、前記校正ラック16を含めて、その他の部分は上記図１と同様の構成となっている。
【００６３】
次に、上記構成による作用について説明する。サンプリングガスに含まれる酸素濃度の測定に際しては、事前に酸素検出器11の校正を行う。前記温度計38ではサンプリングガスの温度を測定するために、前段配管28における温度の信号を測定器44の温度測定部41に伝達し、温度測定部41においては、予め設定した温度値毎に、制御部45に対して校正指示信号を出力する。
【００６４】
制御部45における制御操作としては、前記温度測定部41から入力された校正指示信号を基にして、酸素検出器11の校正を行うために、サンプリングラック43内の切替弁Ａ９を閉じた後に切替弁Ｂ15を開く。
【００６５】
さらに、校正ラック16内のＮ2 止弁23とＯ2 止弁24を順番に開閉して行く。また制御部45からは、校正中の信号を濃度校正部42に出力することにより、濃度校正部42においては、前記校正ラック16のＮ2 （０％），Ｏ2 （５％）ガスにより濃度測定部40で測定した酸素濃度測定値から補正係数を求める。
なお、この酸素濃度測定値と真値とはリニアの関係であることから、０／５％の校正点で補正式の係数は次の式（７）と（８）により求められる。
【００６６】
０＝ａ×ｘ(0) ＋ｂ  …（７）
５＝ａ×ｘ(5) ＋ｂ  …（８）
【００６７】
ここで、ｘ(0) ，ｘ(5) は、濃度測定部40で測定した０／５％時の酸素濃度値で、ａ，ｂは補正式の係数である。
前記測定部44においては、通常の酸素濃度測定時に濃度測定部40の測定値に、濃度校正部42において補正式で補正して出力する。
【００６８】
これにより、酸素検出器11に供給されるサンプリングガスの温度に対応して、設定温度毎に酸素検出器11の校正をして酸素濃度の測定を行うので、より正確な酸素濃度値が求めることができる。
【００６９】
第７実施の形態は、なお、第１実施の形態と同様の構成部分と、その作用及び効果については、その構成と詳細な説明を省略する。
図８の要部ブロック構成図は格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置で、サンプリングラック46における酸素検出器11の周辺を示したもので、酸素検出器11の前段には、切替弁Ａ９と吸引ポンプ５、及びサンプリングガスの圧力と流量を一定に保つ減圧弁10が介挿されている。
【００７０】
また、酸素検出器11の後段には、水素検出器12と流量制御計Ａ13が接続していて、さらに、前記切替弁Ａ９の後段には、切替弁Ｂ15と流量制御計Ｂ47を介して校正ラック16が接続されている。
【００７１】
測定器48は濃度測定部40と流量演算部49、及び濃度演算部50で形成されていて、前記酸素検出器11が濃度測定部40に、前記流量制御計Ａ13と流量制御計Ｂ47が流量演算部49に接続して構成されている。
なお、前記校正ラック16を含めて、その他の部分は上記図１と同様の構成となっている。
【００７２】
次に、上記構成による作用について説明する。サンプリングラック46内の切替弁Ａ９と切替弁Ｂ15は両方を共に開いて、校正ラック16におけるＮ2 止弁23を開にする。
これにより、切替弁Ａ９から流入するサンプリングガスは、切替弁Ｂ15からのＮ2 ガスで希釈され、酸素濃度が薄めらた状態で酸素検出器11おいて酸素濃度の検出が行われる。
【００７３】
ここで流量演算部49では、流量制御計Ｂ47と流量制御計Ａ13の各流量値をそれぞれｘ，ｙとすると、真のサンプリングガス流量ｚを次の式（９）で求める。
【００７４】
ｚ＝ｙ−ｘ  …（９）
【００７５】
流量演算部49は、その流量比率データ（ｙ／ｚ）を濃度演算部50へ出力することから、濃度演算部50においては、前記酸素検出器11からの入力による濃度測定部40からの濃度データに、流量演算部49からの流量比率データを乗じて真の酸素濃度値を算出する。
【００７６】
酸素検出器11における温度特性については、上記図６に示すように高濃度の場合に比べて、低濃度のときは誤差が少ないことから、酸素検出器11による酸素濃度の検出を、予め流量比率が明確な酸素濃度に薄めて行うことにより、測定精度を向上することができる。
【００７７】
【発明の効果】
以上本発明によれば、格納容器内雰囲気モニタの酸素測定装置において、酸素濃度の測定に際して、正確な酸素濃度を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る第１実施の形態の酸素測定装置のブロック構成図。
【図２】本発明に係る第２実施の形態の酸素測定装置の要部ブロック構成図。
【図３】本発明に係る第２実施の形態の変形例を示す要部ブロック構成図。
【図４】本発明に係る第３実施の形態の酸素測定装置の要部ブロック構成図。
【図５】本発明に係る第４と第５実施の形態の酸素測定装置の要部ブロック構成図。
【図６】酸素検出器の温度特性図。
【図７】本発明に係る第６実施の形態の酸素測定装置の要部ブロック構成図。
【図８】本発明に係る第７実施の形態の酸素測定装置の要部ブロック構成図。
【図９】従来の酸素測定装置のブロック構成図。
【符号の説明】
１…原子炉格納容器、２…ガス吸気配管、３…ガス排気配管、４，27，31，33，35，37，43，46…サンプリングラック、５…ガス吸引ポンプ、６…ガス排気ポンプ、７…ガス冷却器、８…ガス除湿器、９…切替弁Ａ、10…減圧弁、11…酸素検出器、12…水素検出器、13…流量制御計Ａ、14…冷却水装置、15…切替弁Ｂ、16…校正ラック、17…Ｎ2 ガス源、18…Ｏ2 ガス源、19…Ｈ2 ガス源、20…Ｎ2 減圧弁、21…Ｏ2 減圧弁、22…Ｈ2 減圧弁、23…Ｎ2 止弁、24…Ｏ2 止弁、25…Ｈ2 止弁、26，39，44，48…測定器、28…前段配管、29…加熱ヒータ、30…温度制御装置、32…冷却水管、34…ガス冷却装置、36…断熱材、38…温度計、40…濃度測定部、41…温度測定部、42…濃度補正演算部、45…制御部、47…流量制御計Ｂ、49…流量演算部、50…濃度演算部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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