(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
現像液の電導度が設定値より低いときに現像補充液を補充する補充装置を備えた感光性平版印刷版の現像装置において、
前記補充装置は、予め定めた周期毎に、感光性平版印刷版の該１周期内に処理された処理量を測定する処理量測定手段と、測定値に基づいて前記電導度の設定値を変更する制御手段と、前記１周期内に処理された処理量と電導度との適正な関係を記憶した記憶手段とを備え、電導度の前記設定値を前記１周期内に処理された処理量の増減に従って低高させることを特徴とする感光性平版印刷版の現像装置。
【請求項２】
前記電導度は、現像液の置換率と対応付けられた関係にあり、所定置換率に対応した電導度を補充制御用の設定値とすることを特徴とする請求項１記載の現像装置。
【請求項３】
前記電導度と置換率との関係を補正することにより、電導度の補充用設定値を処理量の増減に従って低高させることを特徴とする請求項１又は２に記載の現像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、感光性平版印刷版（以下、ＰＳ版と略称することもある）の現像装置において、現像処理中の現像液の活性度を一定に保ち現像感度を安定化させるための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＳ版の現像装置では、ＰＳ版の現像処理に伴い現像液中の処理成分が減少し現像性能が低下して行く。また、現像液が空気と接触すると、空気中の二酸化炭素が現像液中に溶け込み現像液の性能が低下する。このように、現像液は処理及び経時に伴い性能が低下することから、現像補充液を適宜補充して現像液の活性度を一定に保っている
従来の現像補充方法としては、例えば特開昭６１−６１１６４号公報に記載の技術がある。この技術は、現像液の電導度を測定し、この電導度があらかじめ設定された電導度以下になったら補充装置が作動して、現像補充液が補充されるようになっている。
上記の補充は、現像液の性能が低下すると電導度が低下するという知見に基づくものであり、現像性能と電導度が適正に関連付けられている条件のもとでは、現像液性能が適正に維持される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
例えば、現像液はＰＳ版を処理することによって劣化するのは当然であるが、現像液には常に空気中の二酸化炭素が溶け込み、現像液は溶け込んだ二酸化炭素の影響でも劣化する。したがって、現像液の性能を回復するための補充として、ＰＳ版の処理による劣化を補う補充と、二酸化炭素による劣化を補う補充とを実施する必要がある。
前記特開昭６１−６１１６４号公報に記載の技術のように、現像液の電導度を測定して、現像液の電導度に応じて補充液を補充する構成では、補充時期を判断する電導度を設定する必要があり、電導度の設定値も適宜上昇又は下降させる必要がある。これは、現像液の母液置換率（現像タンク内の現像母液に対する補充液の割合）が増加するに従って、そのときの適正な電導度も上昇又は下降するからである。
母液置換率と電導度との関係は、例えば図７に示すものであり、実験的に求められ、単位時間当たりの処理量を一定とし、かつ二酸化炭素による劣化を考慮して設定されている。
【０００４】
一方、ＰＳ版の処理頻度が高いとＰＳ版の処理による疲労度が大きく、処理頻度が低いとＰＳ版の処理による疲労度が小さい。単位時間当たりの二酸化炭素による疲労度は一定であるため、ＰＳ版の処理による疲労度と二酸化炭素による疲労度との比は、処理頻度によって異なる。すると、両者の疲労度の比が一定であるとして設定した、補充制御用の上記の置換率と電導度との関係が変わってしまい、適正な補充が行われなくなってしまう。
したがって、従来のように電導度だけに基づいて補充を行っているだけでは、現像感度を安定化させることができない。
また、各ユーザーごとに処理頻度を測定して、そのユーザーの処理頻度に応じて母液置換率と電導度との関係を設定すれば、適正な補充は可能であるが、補充に先立つ設定作業が煩雑であった。
また、従来の自動現像装置では、現像槽からの蒸発があると現像液が濃縮され、現像液の電導度が見かけ上増加し、処理能力としては低下しているのに電導度が十分高いとコンピュータが判断して補充が行われず、結果的に現像不良が発生する危険性があった。これを防止するために一定時間ごとに蒸発した分を見込んで水を補充する方法があるが、蒸発量は設置環境や季節変動で変化し、補充システムとして完璧とは言えなかった。
【０００５】
本発明の目的は、上記従来の問題を解決することにあり、ユーザーの処理頻度や設置環境が変わっても、安定した現像処理を長期間にわたって行うことができる現像装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の上記目的は下記構成により達成される。
（１）  現像液の電導度が設定値より低いときに現像補充液を補充する補充装置を備えた感光性平版印刷版の現像装置において、
前記補充装置は、予め定めた周期毎に、感光性平版印刷版の該１周期内に処理された処理量を測定する処理量測定手段と、測定値に基づいて前記電導度の設定値を変更する制御手段と、前記１周期内に処理された処理量と電導度との適正な関係を記憶した記憶手段とを備え、電導度の前記設定値を前記１周期内に処理された処理量の増減に従って低高させることを特徴とする感光性平版印刷版の現像装置。
【０００７】
（２）  前記電導度は、現像液の置換率と対応付けられた関係にあり、所定置換率に対応した電導度を補充制御用の設定値とすることを特徴とする前記（１）記載の現像装置。
【０００８】
（３）  前記電導度と置換率との関係を補正することにより、電導度の補充用設定値を処理量の増減に従って低高させることを特徴とする前記（１）又は（２）に記載の現像装置。
【０００９】
【作用】
単位時間当たりの処理量が少ないとき、すなわち閑散処理状態では、処理による疲労より二酸化炭素による疲労の割合が大きくなる。処理による疲労より二酸化炭素による疲労の方が、より高い電導度値で現像感度が回復することが実験的にわかっているので、処理量が少ないときは、補充制御用の置換率に対する電導度の設定値を高めることにより、現像感度を安定化することができる。
【００１０】
また逆に、単位時間当たりの処理量が多いとき、すなわち連続処理状態では、二酸化炭素による疲労より処理による疲労の割合が大きくなる。二酸化炭素による疲労より処理による疲労の方が、より低い電導度で現像感度が回復することが実験的にわかっているので、処理量が多いときは、補充制御用の置換率に対する電導度の設定値を低めることにより、現像感度を安定化することができる。
また、現像液の比重に影響する要因としては、感光層の溶解と水分蒸発及び現像補充液の比重が考えられる。すなわち、感光層が溶解すると、その比重が現像液の比重より大きければ現像液の比重も上昇する。水分蒸発は直接的に溶解成分の濃度を上昇させるので液の比重も上昇する。現像補充液の比重が現像仕込み液の比重より大きければ、補充が進んで補充液への置換率が大きくなるに従って現像槽内の現像液の比重は上昇する。したがって、感光層の溶解量、すなわちＰＳ版の処理面積と現像液の比重及び補充液への置換率との関係をあらかじめ実験によって求めプログラム化しておきコンピュータ制御することにより、蒸発量のバラツキにも影響されない安定な現像処理を行うことができる。
【００１１】
【実施例】
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図１は現像装置の構成図である。現像装置１は、ＰＳ版３の現像液を収容して現像処理を行う現像槽５と、現像後のＰＳ版３を洗浄するリンス槽７とを備えている。露光後のＰＳ版３は、搬送ローラ９により現像槽５内の現像液中に浸漬搬送されて現像処理が行われる。現像後のＰＳ版３は引き続きリンス槽７に搬送されて、リンス液を噴射されて洗浄が行われる。
現像槽５内の現像液は、フィルタ１１により濾過されポンプ１３により循環されながらＰＳ版３に向けて吹きつけられ、ＰＳ版３の被処理面での液交換率が高まるようになっている。なお、本実施例のように、現像槽５内の現像液は、浮き蓋１５で液面を覆うことにより空気との接触を出来る限り防止されることが好ましい。また、現像槽５に、上方空間を気密に覆うカバーを設けてもよい。また、現像促進手段として、版面をこする回転ブラシを設けてもよい。
【００１２】
現像槽５は、詳細を図２に示す現像補充液補充装置１７を備えている。補充装置１７は、キーボード・表示装置１９と、ＰＳ版３の処理量を測定する光電スイッチ２１と、現像液の電導度を測定する電導度センサ２３と、現像液の比重を測定する比重センサ２５と、現像液に異常が生じたときに警告を発する警告装置２７と、補充液２９と希釈水３１とを充填した各補充タンク３３，３５と、補充液２９を現像槽５に供給する現像補充ポンプ３７と、希釈水３１を現像槽５に供給する水補充ポンプ３９と、キーボード・表示装置１９や、光電スイッチ２１や、電導度センサ２３や、比重センサ２５からの信号に基づいて、警告装置２７、現像補充ポンプ３７、水補充ポンプ３９等の作動を制御するコントローラ４１とからなる。
なお、警告装置２７、現像補充ポンプ３７、水補充ポンプ３９は、それぞれ作動用リレー４３，４５，４７を介してコントローラ４１と接続されている。
【００１３】
コントローラ４１は、各要素の作動を制御するＣＰＵ４９と、補充を行う際の基準値として設定した電導度等を記憶する第１メモリ（ＲＡＭ）５１と、各補充液の補充量等の補充に必要な情報を記憶した第２メモリ（ＲＯＭ）５３と、入出力ポート５５と、タイマ５７と、Ａ／Ｄ変換器５９とを備えている。
第１メモリ（ＲＡＭ）５１には、ＰＳ版３の幅情報Ｗ、現像液の置換率情報Ｘ、処理面積を測定する周期ｔｉ  、測定した比重に基づく希釈水の補充量ｔｗ  、測定した電導度に基づく現像補充液の補充量ｔｄ  、測定した処理量Ｓ、単位時間当たりの処理量ΔＳ等を書換え可能に記憶している。
また第２メモリ（ＲＯＭ）は、単位希釈水補充量Ｈｗ  、水ポンプ流量Ｕｗ  、単位現像補充液補充量Ｈｄ  、現像ポンプ流量Ｕｄ  、搬送速度Ｖ、現像タンク容量Ｖｔ  、比重しきい値、電導度第１しきい値、電導度第２しきい値、ΔＳ１  ，………，ΔＳｎ  の各電導度第３しきい値等を記憶している。
【００１４】
この補充装置１７は、電導度センサ２３により常に現像液の電導度を測定し、測定した電導度が設定値を下回ったら、各タンク３３，３５内の補充液２９及び希釈水３１を補充するようになっている。
更に、光電スイッチ２１は例えば単位時間当たりのＰＳ版３の搬送量を測定し、ＣＰＵ４９はこの搬送量とＰＳ版３の幅とから処理量としての面積を算出する。面積の算出手段としては、幅検出センサ（例えば多数のマイクロスイッチを搬送方向と直交方向に並べ、ＯＮした個数で幅を検知するもの）を装置の挿入口に設けてＯＮしていた時間との積で求めるのもよい。そして、ＣＰＵ４９は、処理頻度に応じた適正な電導度を第２メモリ（ＲＯＭ）５３から読み込み、その電導度を新たに補充制御用の設定値として、前記第１メモリ（ＲＡＭ）５１に書き込み、常に適正な設定値を基準に補充を行うようになっている。
【００１５】
次に、上記現像補充液の補充動作について説明する。図３〜図５は補充制御処理を表すフローチャートであり、図３は比重に基づく補充制御、図４は電導率に基づく補充制御、図５は処理頻度を演算する制御である。
本実施例において、現像液の比重に基づく補充制御（図３）は、電導率に基づく補充制御（図４）に先立って行われる。
【００１６】
まず、電源がＯＮとなると（ステップＳ１）、ＰＳ版３の処理頻度を演算する周期ｔｉ  を設定する（ステップＳ３）。本実施例の場合、ｔｉ  ＝２４時間であり、２４時間ごとに処理頻度を演算するようになっている。
比重センサ２５により現像液の比重Ｄを測定すると（ステップＳ５）、測定した比重Ｄをその時の現像液置換率を参照して比較演算用に補正する（ステップＳ７）。次いで、あらかじめ補充制御用に設定してある比重しきい値を読み込み（ステップＳ９）、このしきい値と補正した測定比重Ｄａとを比較し、補充の要否を判断する（ステップＳ１１）。測定比重Ｄａが比重しきい値よりも大きければ、あらかじめ設定してある量の希釈水を補充して（ステップＳ１３）、現像液の比重を低下させる。また、測定比重Ｄａが比重しきい値よりも小さければ、希釈水の補充を行わず、次の電導度に基づく補充制御（図４）に移行する。
【００１７】
電導度に基づく補充制御は、まず処理頻度の測定周期（ｔｉ  ＝２４時間）をカウントするタイマを起動することから始まる（ステップＳ２１）。
次いで、電導度センサ２３により現像液の電導度Ｒを測定し（ステップＳ２３）する。次いで、このときの現像液置換率Ｘを第１メモリ（ＲＡＭ）５１から読み込み、測定した電導度Ｒを置換率に基づいて比較演算用に補正する（ステップＳ２５）。本例の場合、補正した測定電導度Ｒａは、下記数１式により得られる。
【００１８】
【数１】
Ｒａ＝Ｒ＋（１００−ｘ）・（Ｒｅ−Ｒｓ）／１００
Ｒｓ：置換率０％のときのしきい値
Ｒｅ：第３しきい値、あるいは置換率１００％のときのしきい値
【００１９】
次いで、第２メモリ（ＲＯＭ）５３から電導度の第１しきい値を読み込み（ステップＳ２７）、第１しきい値と補正した測定電導度（以下、単に測定電導度という）Ｒａとを比較し、測定電導度Ｒａが第１しきい値より低いか否かを判断する（ステップＳ２９）。測定電導度Ｒａが第１しきい値より低いときは、電導度があまりにも低すぎるときであり、これは異常と見なされ、警告が発せられる（ステップＳ３１）。
【００２０】
測定電導度Ｒａが第１しきい値より高いときは、次いで第２メモリ（ＲＯＭ）５３から電導度の第２しきい値を読み込み（ステップＳ３３）、測定電導度Ｒａが第２しきい値より低いか否かを判断する（ステップＳ３５）。測定電導度Ｒａが第２しきい値より高いときは、電導度があまりにも高すぎるときであり、これも何らかの異常と見なされ、警告が発せられる（ステップＳ３１）。
【００２１】
測定電導度Ｒａが第２しきい値よりも低ければ、第１メモリ（ＲＡＭ）５１から補充制御用の電導度の適切な第３しきい値Ｒｅを読み込む（ステップＳ３７）。ここで、第３しきい値Ｒｅは、置換率１００％のときの電導度しきい値であり、後述するＰＳ版３の処理頻度の演算結果に基づいて適切に設定された値であり、処理頻度が変わるごとに、第３しきい値Ｒｅも書き換えられる。例えば、処理頻度がΔＳ１  であれば、処理頻度ΔＳ１  に対応して適切に設定された電導度Ｒｅ１  が補充制御用の設定値として用いられる。同様に、処理頻度がΔＳｎ  であれば、処理頻度ΔＳｎ  に対応して適切に設定された電導度Ｒｅｎ  が補充制御用の設定値として用いられる。第２メモリ（ＲＯＭ）５３内には処理頻度に対応した補充制御用の電導度が記憶されており、例えば、下記数２式に示すような処理頻度と電導度との関係が記憶されている。
【００２２】
【数２】
Ｒｅ＝Ｒｓ＋ａ＋ｃ／（ΔＳ＋ｂ）
Ｒｅ：第３しきい値、あるいは置換率１００％のときの電導度しきい値
Ｒｓ：置換率０％のときの電導度しきい値
ΔＳ：単位時間当たりの処理量
ａ，ｂ，ｃ：定数
【００２３】
処理頻度が多いときは、第３しきい値Ｒｅを低く設定し、処理頻度が少ないときは、第３しきい値Ｒｅを高く設定する。
第３しきい値Ｒｅが設定されると、置換率０％のときの電導度しきい値Ｒｓとにより、置換率に対する電導度の特性曲線が決まり、この特性曲線によって補正された測定電導度Ｒａが、第３しきい値Ｒｅを下回ったときに補充液の補充が行われる。
【００２４】
適切な電導度の第３しきい値Ｒｅが読み込まれると、測定電導度Ｒａが第３しきい値Ｒｅより大きいかを判断する（ステップＳ３９）。測定電導度Ｒａが第３しきい値Ｒｅより小さいと、あらかじめ設定してある量の現像補充液を補充して（ステップＳ４１）、現像液の電導度を上昇させる。
測定電導度Ｒａが第３しきい値Ｒｅより大きいときは、現像補充液の補充が不要のときであるから、補充を行わずに、処理頻度の演算（図５）に移行する。また、所定の補充が行われると（ステップＳ４１）、補充した量に従って現像液置換率を更新し（ステップＳ４３）、処理頻度の演算（図５）に移行する。
このように、現像槽５内に所定量の補充液２９と希釈水３１とが補充されると、現像液は低下した活性度が回復し良好な現像を行い得るようになる。
【００２５】
次に、図５に示す処理頻度の演算について説明する。
光電スイッチ２１は、ＰＳ版３を検出し（ステップＳ５１）、ＰＳ版３の検出信号を累積加算して行くことで総処理量ｔｉ  を測定し（ステップＳ５３）、次いで処理頻度の演算時期であるかを判断する（ステップＳ５５）。処理頻度の演算時期でないとき、すなわち前回の処理頻度の演算から２４時間経過していないときは、処理頻度を演算することなく、電源がＯＦＦかを判断する（ステップＳ６５）。電源がＯＦＦでなければ、処理頻度の周期の測定を再開するステップＳに戻り、同じ内容が繰り返される。
【００２６】
ステップＳ５５において、処理頻度の演算時期であると判断すると、第２メモリ（ＲＯＭ）５３からＰＳ版３の幅Ｗ、搬送速度Ｖを読み込み（ステップＳ５７）、これらの値と測定した長さとからＰＳ版３の処理面積Ｓを演算する（ステップＳ５９）。次いで、ＰＳ版３の処理面積Ｓから単位時間当たりの（本例では２４時間当たりの）処理量ΔＳを演算する（ステップＳ６１）。次いで、この処理量ΔＳｎ  を第１メモリ（ＲＡＭ）５１に書き込んで更新し（ステップＳ６３）、次の電導度の第３しきい値の読み込みに際し、ΔＳｎ  に対応した電導度Ｒｎ  を補充制御用の第３しきい値として設定し、補充に用いる。
したがって、そのときどきの処理頻度に応じた適正な設定電導度に基づいて補充制御を行うことができ、処理頻度が変化したり、環境条件が変化しても、現像液の活性度を安定化させることができる。
【００２７】
以下に、図６を参照して電導度の具体的な設定について説明する。稼働を開始すると、図６中の直線（例えば、ａ，ｂ，ｃ，ｄ）により補正された測定電導度Ｒａと、第３しきい値Ｒｅとを比較して補充制御が行われる。補充制御用の設定値を変更する周期は例えば２４時間であり、本例では、２４時間当たりの処理量は、０ｍ２  ／日、１０ｍ２  ／日、５０ｍ２  ／日、１００ｍ２  ／日である。そして、処理量が１０ｍ２  ／日になったときの置換率は３０％、処理量が１００ｍ２  ／日になったときの置換率は６０％、処理量が５０ｍ２  ／日になったときの置換率は７０％である。
前記数２式において、実験により求めた定数としてＲｓ＝５０、ａ＝１０、ｂ＝２８、ｃ＝２８０を代入すると、下記数３式が得られる。
【００２８】
【数３】
Ｒｅ＝６０＋２８０／（ΔＳ＋２８）
【００２９】
この数３式において、処理量ΔＳが０ｍ２  ／日、１０ｍ２  ／日、５０ｍ２  ／日、１００ｍ２  ／日と変化したとき、第３しきい値Ｒｅは７０、６７．４、６３．６、６２．２と変化する。
したがって、処理開始直後、処理量ΔＳが０ｍ２  ／日のときは、第３しきい値Ｒｅは７０であることから、置換率０％での電導度しきい値Ｒｓとから、図６に符号ａで示す直線が設定される。そして、この特性曲線に基づいて測定電導度Ｒを補正する。この結果、処理量の演算を行ったとき、すなわち処理開始直後は、第３しきい値Ｒｅが７０の直線に基づいて補充制御が行われる。
【００３０】
また、次の処理量演算において（このときの現像液置換率を例えば３０％とする）、処理量ΔＳが１０ｍ２  ／日に増えると、第３しきい値Ｒｅは６７．４であることから、置換率０％での電導度しきい値Ｒｓとから、図６に符号ｂで示す直線が設定される。そして、この特性曲線により、測定電導度Ｒを補正する。この結果、処理量の演算を行ったとき、すなわち置換率が３０％となったとき以降は、第３しきい値Ｒｅが６７．４の直線に基づいて補充制御が行われる。
同様に、次の処理量演算において（このときの置換率は６０％）、処理量ΔＳが１００ｍ２  ／日に増えると、上記数３式より第３しきい値Ｒｅは６２．２となり、置換率０％での電導度しきい値Ｒｓと第３しきい値Ｒｅとにより決定される図６に符号ｄで示す直線が補充制御用の直線となり、この直線に従って測定電導度Ｒが補正される。そして、置換率６０％以降は、この直線に基づいて補充制御が行われる。
【００３１】
同様に、次の処理量演算において（このときの置換率は７０％）、処理量ΔＳが５０ｍ２  ／日に減ると、上記数３式より第３しきい値Ｒｅは６３．６となり、置換率０％での電導度しきい値Ｒｓと第３しきい値Ｒｅとにより決定される図６に符号ｃで示す直線が補充制御用の直線となり、この直線に従って測定電導度Ｒが補正される。そして、置換率７０％以降は、この直線に基づいて補充制御が行われる。
この結果、補充用の制御直線は図６に示すような、各置換率の間で異なる傾きＤの直線が設定された特性となり、この特性線で示す置換率と電導度との関係に従って、補充の要否を判断する。
【００３２】
【発明の効果】
本発明によれば、ＰＳ版の現像処理頻度が変わっても、そのときの処理頻度に応じた適正な電導度が補充制御用のしきい値として設定されるので、現像装置の設置環境や処理頻度に変動があっても、現像液の活性度を安定化させることができ、現像性能を一定に保持することができる。したがって、環境等の要因に左右されることなく常に良好な現像性能が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＰＳ版現像装置の概略構成図である。
【図２】補充装置のブロック構成図である。
【図３】比重に基づく補充制御のフローチャートである。
【図４】電導率に基づく補充制御のフローチャートである。
【図５】処理頻度を演算し設定するフローチャートである。
【図６】本発明実施例における、補充制御に用いられる置換率と電導度との関係を表すグラフである。
【図７】従来の補充制御に用いられる置換率と電導度との関係を表すグラフである。
【符号の説明】
１  ＰＳ版現像装置
３  ＰＳ版
５  現像槽
７  リンス槽
９  搬送ローラ
１３  ポンプ
１７  補充装置
２１  光電スイッチ
２３  電導度センサ
２５  比重センサ
２９  現像補充液
３１  希釈水
３３  補充液タンク
３５  希釈水タンク
３７  現像補充ポンプ
３９  水補充ポンプ
４１  コントローラ
４９  ＣＰＵ
５１  第１メモリ（ＲＡＭ）
５３  第２メモリ（ＲＯＭ）
５７  タイマ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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