(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、
前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第１試験再生工程と、
前記第１試験再生工程によって生成されたＲＦ信号のうち情報が消去されているとともに、当該ＲＦ信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ
前記基準消去電力と、前記ＲＦ信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定工程と、
前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組み合わせに基づく複数の記録波形パターンを用い、供給電力を所定の記録電力の範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、
前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再生工程と、
前記第２試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、
抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、を備え、
前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような記録波形パターンを選択することを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法。
【請求項２】
所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段と、
前記試験消去手段によって消去した範囲当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第１試験再生手段と、
前記第１試験再生手段によって生成されたＲＦ信号のうち、情報が消去されているとともに、当該ＲＦ信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ
前記基準消去電力と、前記ＲＦ信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定手段と、
前記基準電力決定手段によって決定した前記基準消去電力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録手段と、
前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再生手段と、
前記第２試験再生手段によって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、
抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段と、を備え、
前記試験記録手段は、前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組合わせに基づく複数の記録波形パターンを用いて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続的に変化させる記録波形制御手段を有し、
前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような前記記録波形パターンを選択することを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆる相変化型の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体についての電力設定技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
書換可能な光記録媒体として、アモルファス（amorphous ）−結晶間の状態変化の可逆性を利用した相変化型の光ディスクが研究されている。
【０００３】
相変化型光ディスクは、Ｔｅ等のカルコゲナイド（chalcogenide）系の記録材料を使用する。これら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶状態（消去状態）とアモルファス状態（記録状態）とでは、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデータの「１」と「０」とに対応させることができる。すなわち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビットを形成し、情報記録を行っている。
【０００４】
ところで、相変化型光ディスクは、記録材料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビットを形成するために照射する光ビームのパワー（電力）がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリードインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザパワーをコード化して記録していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうという問題がある。
【０００６】
また、相変化型光ディスクは同一の記録材料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適のレーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かった。
【０００７】
すなわち、従来のように、同種の光ディスクに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化すること等の影響によって、安定した情報記録が行えないという不都合を生じていたのである。
【０００８】
そこで、本願発明は、記録媒体毎、環境毎に最適な条件で情報を記録する光記録媒体のための電力設定方法、装置を提供することを課題とする。さらに、この電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分抽出装置を提供することをも課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第１試験再生工程と、前記第１試験再生工程によって生成されたＲＦ信号のうち情報が消去されているとともに、当該ＲＦ信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記ＲＦ信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定工程と、前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組み合わせに基づく複数の記録波形パターンを用い、供給電力を所定の記録電力の範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再生工程と、前記第２試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、を備え、前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【００１０】
また請求項２に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定装置において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段と、前記試験消去手段によって消去した範囲当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第１試験再生手段と、前記第１試験再生手段によって生成されたＲＦ信号のうち、情報が消去されているとともに、当該ＲＦ信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記ＲＦ信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定手段と、前記基準電力決定手段によって決定した前記基準消去電力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録手段と、前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再生手段と、前記第２試験再生手段によって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段と、を備え、前記試験記録手段は、前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組合わせに基づく複数の記録波形パターンを用いて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続的に変化させる記録波形制御手段を有し、前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような前記記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【００１１】
図１に本発明の原理説明図を示す。本発明は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段Ｐe 、ＳＷe と、試験消去手段Ｐe 、ＳＷe によって消去した光記録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐp によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され且つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出手段３１と、ＲＦレベル検出手段３１により検出された最小レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力として設定する消去電力設定手段３２とを備えて構成される。
【００１２】
【実施例】
本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参照して説明する。
（Ｉ）第１実施例。
（１） 構成の説明
図２に、本第１実施例の電力設定装置を示す。
【００１３】
図２に示すように、本実施例の電力設定装置１００は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置４（時間軸変動分抽出手段に相当）及びＲＦボトム検出装置５（ＲＦレベル検出手段に相当）が存在する点で異なる。
【００１４】
ピックアップ装置２は、相変化型光ディスクＤＫに対し、供給される供給電力に対応する強度の光ビームを照射し、ディスクＤＫにより反射した戻り光の強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド３は、ピックアップ装置２のサーボに必要なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路７に供給する。また、ＲＦ信号を生成する。
【００１５】
ジッタ測定装置４は、例えば、本発明の時間軸変動分抽出装置を適用でき、ＲＦ信号に含まれるピット情報について、時間軸変動分（ジッタ成分）を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第３実施例で説明する。
【００１６】
ＲＦボトム検出装置５は、ＲＦ信号の信号波形のうち下側のピーク（＝信号レベルの極小値：以下「ボトム」という。）の電圧レベルを検出し、ボトムレベルＳr として出力する。
【００１７】
位置情報検出装置６は、ＲＦ信号に基づいてディスクの半径方向についてのピックアップ装置２の位置を検出する。サーボ回路７は、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサーボを行う。レーザーパワー制御装置８は、マイクロコンピュータ１の制御に基づいて、消去電力Ｐe、記録電力Ｐw、再生電力Ｐp をそれぞれピックアップ装置２のレーザダイオードに供給する。エンコーダ９は、デジタル音声信号をデジタル変調し、デコーダ１０は、ＲＦ信号を復号しデジタル音声信号に変換する。
【００１８】
図３に、実施例で使用する相変化型光ディスクＤＫの構造を示す。図３（Ａ）は光ディスクの断面図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアにおいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、リードインエリアの内側に存在する電力設定領域ＰＣＡ（Power Calibration Area）において行われる。
【００１９】
図３（Ｂ）は電力設定領域ＰＣＡの拡大図である。電力設定領域ＰＣＡは１００のカウントエリアＣ１〜Ｃ１００と、１０のテストエリアＴ１〜Ｔ１０とに分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験的な記録のための分割領域である。
（２） 動作の説明
次に、本第１実施例の動作を図４にフローチャートを参照して説明する。
【００２０】
本実施例では、装着された相変化型光ディスクＤＫのために最適な消去電力及び一応の記録電力を設定するために粗調整を行う（図４（Ａ））。粗調整後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う（図４（Ｂ））。
【００２１】
粗調整（図４（Ａ））
粗調整では、まず、カウントエリアを検索し、Ｃ１からＣ１００までの領域のうち、未記録領域を探す（ステップＳ１）。
【００２２】
記録済みのカウントエリアが存在しない場合は（ステップＳ２：ＮＯ）、未記録用の電力設定を行う。これについては、第２実施例で説明する。記録済みのカウントエリアが存在する場合には（ステップＳ２：ＹＥＳ）、ステップＳ３以降の処理を行う。ここでは、ＣＮまでが記録済み、Ｃ（Ｎ＋１）以降が未記録状態であると仮定する。
【００２３】
カウントエリアの番号と、使用すべきテストエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップＳ３において、検索できたカウントエリア番号Ｎからテストエリア番号ｊを算出する。例えば、カウントエリアの番号Ｎを、Ｎ＝１００ｘ＋１０ｙ＋ｚで表現したとき、テストエリア番号ｊは、ｊ＝９ｘ＋ｙ＋１と表現される。
【００２４】
次に、ＲＦ信号が検出される記録済みのプログラムエリア内の領域（任意の領域）を検索し（ステップＳ４）、再生される情報Ｗp を所定のメモリ等に記憶する（ステップＳ５）。
【００２５】
最適な消去電力を設定するために、マイクロコンピュータ１は、情報Ｗpが記録されていた領域を試験的に消去する（ステップＳ６）。このとき、マイクロコンピュータ１は、図５（Ａ）に示すように、レーザパワー制御装置８を制御して、消去電力Ｐeを段階的に変化させる。消去電力Ｐeは、例えば、１フレーム（＝１３．３ｍｓ）の周期毎に、３ステップ（最大供給電力３０ステップに分割した場合）ずつ増加させる。
【００２６】
消去後、ステップＳ７において、情報Ｗpが記録されていた領域を試験的に再生する。このときにＲＦボトム検出装置５にて検出されるＲＦ信号のボトムレベルＳr は、図５（Ｂ）のような波形となる。
【００２７】
相変化型光ディスクは、例えば周期３Ｔ〜１１Ｔのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、ＲＦ信号の変調度が異なる。記録（消去）に用いた電力の多少にしたがってＲＦ信号のボトムレベルが変動する。ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小（黒の部分）で、かつ、ＲＦ信号のボトムレベル（直流電圧値）が最も高くなるときの電力を必要消去電力Ｐe（standard）と呼ぶ。また、ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小で、かつ、ＲＦ信号のボトムレベルが最小となるときの電力をＰe（mod.max ）とする。ボトムレベルが最小になるときは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力として適する。
【００２８】
図５（Ｂ）によれば、消去電力のステップが１５（以下、括弧書きの中にステップを記載して、Ｐe（１５）と表現する）までは、消去電力が不足していたため、ＲＦ信号の残留成分（黒の部分）が検出されている。Ｐe（１８）以上の供給電力で、ＲＦ信号の残留成分のレベルは最小になる。Ｐe（１８）にて最大のＲＦ信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力Ｐe（standard）となる。Ｐe（２７）で最小のＲＦ信号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い電力Ｐe（mod.max ）となる。
【００２９】
ステップＳ８において、マイクロコンピュータ１は、ボトムレベルＳr が最大を示すときの位置を、位置情報検出装置６から供給されている位置情報を参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電力値より、必要消去電力Ｐe（standard）（＝Ｐe（１８））を特定する。また、マイクロコンピュータ１は、検出信号Ｓr が最小のボトムレベルを示すときの電力を同様の手順で認識し、Ｐe（mod.max ）（＝Ｐe（２７））を特定する。
【００３０】
ところで、実際にマイクロコンピュータ１が把握すべき記録電力Ｐwは、一定レベルの消去電力Ｐeに加算される電力である（図１参照）。そこで、マイクロコンピュータ１は式（１）にしたがって、最も変調度が高くなると想定される記録電力Ｐw（mod.max ）を算出する。
【００３１】
Ｐe （standard）（必要消去電力）＋Ｐw （mod.max ）（求めるべき記録電力）＝Ｐe （mod.max ）（最大変調時の消去電力）・・・（１）
上記のように、粗調整を行うことにより、一度の消去動作によって消去電力と記録電力とを求めることができるので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮できる。
【００３２】
微調整（図４（Ｂ））
微調整では、まず、ステップＳ３において算出されたｊを用いて、テストエリアＴj の領域の開始点を検索する（ステップＳ１０）。
【００３３】
ステップＳ１１において、一定の周期（例えば、１フレーム＝１３．３ｍｓ）毎に、記録条件を変化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図６のように、消去電力Ｐeを３段階、記録電力Ｐwを３段階、記録波形を５種類というように条件を変更する。
【００３４】
図６において、フレーム１〜１６までの区間では、消去電力Ｐeとして粗調整で求めた必要消去電力Ｐe（standard）を供給する。一つの記録波形に対し、記録電力Ｐwを、粗調整で求めたＰe（mod.max ）を中心（＝Ｐw（ｋ））に、前後１ステップ（Ｐw（ｋ−１）、Ｐw（ｋ＋１））ずつ変化させる。記録波形は、図８に示すように、Ｉ〜Ｖまでの５パターンを用意する。
【００３５】
パターンを変化させる理由について述べる。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布により最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なるものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領域が光スポットの領域より広がることが知られている。実際に光ディスクに形成すべきピット（３Ｔ〜１１Ｔ）の形状に対し、ピット情報の先頭部分Ｂについては、実際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Ａについては、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体差、種類毎の差が存在する。
【００３６】
このため、本実施例では、記録電力の立下がりのタイミングＡについて、５通りに変化させ、最も好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記録終了後、再度このテストエリアＴj の先頭部分を検索し（ステップＳ１２）、試験的な再生を行ってジッタ測定装置４から供給されるジッタの大きさを測定する（ステップＳ１３）。
【００３７】
図７に、ジッタ測定装置４からマイクロコンピュータ１に供給されるジッタ成分の大きさに対応する電圧値Ｓj の変化を示す。当図は、図６の記録電力の変化に対応するものである。
【００３８】
ジッタ成分は小さい程、理想的なピットに近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。ピットの形状は、最終的には、消去電力Ｐe 、記録電力Ｐw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディスクが有する特性との関係によって定まる。図７のジッタの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成されたピットの形状に対応している。
【００３９】
したがって、これらジッタ成分の最も小さいフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディスクについて最適な条件である。図７では、フレーム２４の条件、すなわち、消去電力Ｐe はＰe （standard＋１）（＝Ｐe （１９））、記録電力ＰｗはＰw （ｋ＋１）、記録波形はパターンＩＩＩからなる組み合わせた最適な条件として把握できる（ステップＳ１４）。
【００４０】
マイクロコンピュータ１は、把握された記録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定し、この条件によりステップＳ５で記憶した情報Ｗp を対応する領域に書き込む（ステップＳ１５）。最後に、カウントエリアＣ（Ｎ＋１）に、Ｎ＋１回書き換えた旨の情報を記録し、微調整を終了する（ステップＳ１６）。
【００４１】
上記の如く本第１実施例によれば、粗調整により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクについて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化しても、最適な記録条件を設定できる。
（ＩＩ）第２実施例
第１実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディスクを設定対象としたが、本第２実施例は情報が全く記録されていない光ディスクに対する設定手順を開示する。
【００４２】
本第２実施例は、第１実施例と全く同様の構成の元、第１実施例の粗調整（図４（Ａ））の変形例を示す。したがって、図４（Ａ）において、記録済みエリアが存在しないと判断された場合（ステップＳ２：ＮＯ）以降の処理（Ｃ）に関する。
【００４３】
第２実施例の処理を図９のフローチャートに示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場合（ステップＳ２：ＮＯ）、最初のテストエリアＴ1 の先頭部分が検索される（ステップＳ２０）。
【００４４】
ステップＳ２１で、消去電力を変化（掃引）させながらテストエリアＴ1 を消去する。図５（Ａ）と同等に、掃引する消去電力Ｐe は、階段状に電力が増加していくように変化させる。
【００４５】
テストエリアＴ1 の消去が終了した後、再度このテストエリアＴ1 を再生する（ステップＳ２２）。本実施例は第１実施例（図５（Ｂ）参照）と異なり、ＲＦ信号の残留成分が存在しない（図１０（Ａ）参照）。そこで、ＲＦレベル検出装置５により検出される検出レベルＳr が最小になるときの電力を、最も変調度が高くなる電力Ｐe （mod.max ）（＝Ｐe （２７））として設定する。
【００４６】
ステップＳ２３にて、最も変調度が高くなる電力Ｐe （mod.max ）を使用して、再度テストエリアＴ1 を均一に消去する（図１０（Ｂ）参照）。再度、テストエリアＴ1 を検索し（ステップＳ２４）、第１実施例のステップＳ６と同様に、消去電力を変化（掃引）させながら、テストエリアＴ1 を消去する（ステップＳ２５）。このときの消去電力Ｐe の変化は図５（Ａ）と同等のものとなる。
【００４７】
ステップＳ２６にて、再度、テストエリアＴ1 を再生し、ＲＦレベル検出装置５により検出レベルを検出する。図１０（Ｃ）に、この検出レベルの変化を示す。これより、最も反射率の高くなる（検出レベルが最大になる）電力を必要消去電力Ｐe （standard）（＝Ｐe（１８））として認識する。
【００４８】
ステップＳ２７にて、マイクロコンピュータ１は、式（１）（第１実施例参照）に基づく演算で、最も変調度が高くなる記録電力Ｐw （mod.max ）を算出し、設定すべき記録電力とする。
【００４９】
以上で本実施例の粗調整が終了するので、第１実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第２実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであっても、粗調整が行える。
（ＩＩＩ）第３実施例
本第３実施例は、第１実施例で使用したジッタ測定装置に適する。
（１） 構成の説明
図１１に、本第３実施例のジッタ測定装置を示す。
【００５０】
本ジッタ測定装置は、光ディスク等から再生されるＲＦ信号のうち、特定のピット幅についてのジッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能を有する。マイクロコンピュータ１は、本ジッタ測定装置４から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
【００５１】
波形整形回路２０は、例えば、アナログ信号であるＲＦ信号（Ａ）を所定のしきい値（Ａ）をコンパレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻なパルス波形（Ｂ）に整形する。
【００５２】
ウインドウ生成回路２１は、波形整形されたパルス波形（Ｂ）のエッジから、ワンショットマルチバイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後から所定期間有効状態となるウインドウパルス（Ｃ）を生成する。検出すべきエッジは、ＲＦ信号に含まれるピット情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット情報（例えば、３Ｔパルス）の先頭部分に対応するエッジである。
【００５３】
積分回路２２は、ウインドウパルスの最初のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加（又は減少）する電流値を出力する。積分値は、ウインドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
【００５４】
ホールドタイミング生成回路２３は、パルス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間のみ動作するように禁則処理を行う。禁則処理のためには、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成したウインドウパルス等を使用してもよい。
【００５５】
ホールド回路２４は、このホールド信号により積分回路２２から出力された積分電圧をホールドする。
（２）動作の説明
図１２は、図１１に示した構成の各部分の波形を示したものである。
【００５６】
本図では、検出対象となるピット長が３Ｔである場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち最も短い３Ｔのピット情報を採用した理由は、ピット長が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するためである。
【００５７】
ＲＦ信号に含まれるピット情報が理想的なピット長を有している場合、波形整形回路２０の出力（Ｂ）は３Ｔのパルス幅を有する。ジッタの測定対象となるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在によりその位置が多少変動する。そのため、ジッタによりエッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこで、一種類のピット長を有するピットについてのパルスのエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できるようなパルス幅が必要となる。
【００５８】
例えば、本実施例では、図１３（Ａ）（Ｂ）に示すように、３Ｔ〜１１Ｔのピット長を有するピット列の再生情報から、３Ｔのピット長を有するピットについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパルス生成回路２１が生成するウインドウパルス（Ｃ）は、２．６Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態（ここでは、Ｌレベル）となるものとし、他のピット長のパルスを排除する。
【００５９】
積分回路２２は、ウインドウパルス（Ｃ）の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態（Ｌレベル）の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路２３により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタイミングである。
【００６０】
ジッタによりピット情報の立下がりエッジの位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、３Ｔの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路２２の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。したがって、例えば、図１３（Ｅ）に示すように、ピット情報のピット長が正確に３Ｔならば、ホールド信号の位置はｔA となりホールド回路２４の出力はαとなる（（Ｆ）参照）。（Ｃ）のようにピット長が標準より短く、時刻ｔB で立下がるならば積分出力はβとなり、（Ｄ）のようにピット長が標準より長く、時刻ｔC で立下がるならば積分出力はγとなる。
【００６１】
出力の増加と、時間軸変動分（ジッタ成分）の量は比例しているので、マイクロコンピュータ１により、このホールド回路２４の出力を判定すれば、ジッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
【００６２】
上記の如く本第３実施例によれば、第１、第２実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを測定するのに適する。
（ＩＶ）その他の変形例
本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
【００６３】
例えば、本発明を適用する光記録媒体は、相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ＩＣカードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適用可能である。
【００６４】
【発明の効果】
本発明によれば、レーザーパワーを連続的に変化させてデータの記録・再生による最適レーザーパワーの設定を、一度のデータ記録時に連続的に可変させることによって設定させることができ、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】実施例の電力設定装置の構成図である。
【図３】実施例に使用する相変化型光ディスクの構造を示す説明図である。
【図４】第１実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図５】第１実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図６】第１実施例の記録波形図である。
【図７】第１実施例の再生波形図である。
【図８】記録波形のパターン例である。
【図９】第２実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図１０】第２実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図１１】第３実施例のジッタ測定装置の構成図である。
【図１２】ジッタ測定装置の各部の波形である。
【図１３】ジッタ検出の説明図である。
【符号の説明】
１・・・マイクロコンピュータ
２・・・ピックアップ装置
３・・・再生ヘッド
４・・・ジッタ測定装置
５・・・ＲＦボトム検出装置
６・・・位置情報検出装置
７・・・サーボ回路
２０・・・波形整形回路
２１・・・ウインドウ生成回路
２２・・・積分回路
２３・・・ホールドタイミング生成回路
２４・・・ホールド回路
３０・・・時間軸変動分抽出手段
３１・・・ＲＦレベル検出手段
３２・・・電力設定手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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