(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転駆動される記録媒体と、この記録媒体に対して情報をリードおよび／またはライトするヘッドと、このヘッドが格納されるランプロード機構とを備えた回転記憶装置の制御方法であって、
前記ヘッドを、前記ランプロード機構から前記記録媒体上にロードするステップと、
前記ロードの後に、前記ヘッドを前記記録媒体の外周側有効記録領域外のトラック上方で所定の期間維持するステップと、
前記所定の期間維持後に引き続き前記ヘッドを前記記録媒体上の更に外周方向に移動するステップと、
前記ヘッドが前記記録媒体上の外周側有効記録領域外のトラック上方にある間に前記ヘッドを内周方向に移動させるステップと、
を有する回転記憶装置の制御方法。
【請求項２】
前記トラックの位置は、前記ヘッドの空気ベアリング面（ＡＢＳ：air bearing surface）が前記有効記憶領域の上方にかからない位置である請求項１記載の制御方法。
【請求項３】
前記ヘッドを内周方向に移動するステップの後に、前記ヘッドを前記記録媒体上の外周方向に移動するステップを有し、
前記ヘッドの前記外周方向への移動の速度が前記内周方向への移動の速度より大きい請求項１または２記載の制御方法。
【請求項４】
前記内周方向に移動するステップと前記外周方向に移動するステップとの組み合わせを複数回繰り返す請求項３記載の制御方法。
【請求項５】
回転駆動される記録媒体と、
前記記録媒体に対して情報をリードおよび／またはライトするヘッドと、
前記ヘッドが格納され、前記記録媒体上に前記ヘッドをロードするランプロード機構と、
前記ヘッドが読み取った前記記録媒体に記録された位置情報から、前記ヘッドの前記記録媒体に対する相対位置を制御し、前記ヘッドを前記記録媒体の外周側有効記録領域外のトラック上方で所定の期間維持した後に続いて前記記録媒体上の前記外周側有効記録領域外の更に外周方向に移動させ、前記ヘッドが前記記録媒体上の外周側有効記録領域外のトラック上方にある間に向きを変えて内周方向に移動させるコントローラと、
を備えた回転記憶装置。
【請求項６】
前記トラックの位置は、前記ヘッドの空気ベアリング面（ＡＢＳ：air bearing surface）が前記有効記憶領域の上方にかからない位置である請求項５に記載の回転記録媒体。
【請求項７】
前記コントローラは、
前記ヘッドを更に外周側に移動した後に、前記ヘッドを前記記録媒体上の内周方向に移動させ、更に前記ヘッドを前記内周方向に移動する速度より大きい速度で前記記録媒体上の外周方向に移動させる動作を繰り返す請求項５または６に記載の回転記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回転記憶装置およびその制御方法に関し、特にハードディスク装置内に存在するコンタミネーションの対策、あるいはコンタミネーション等に起因する書込み不良の対策に適用して有効な技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
たとえばハードディスク装置の内部に塵等の汚染物（コンタミネーション）が存在した場合、このコンタミネーションがヘッドに付着し、ヘッドの飛行を不安定化させる要因になることが認識されている。また、ハードディスク装置内の磁気ディスク媒体上にコンタミネーションが付着した場合には、ヘッドへの付着の原因となり、あるいは磁気ディスク媒体への情報の書込み読出しの障害要因になることが認識されている。
【０００３】
このため、ハードディスク装置の組み立て工程においては、各部品の十分な洗浄、清浄環境（クリーンルーム等）での組み立て、機械化等による自動化工程の採用等、コンタミネーション対策が施される。しかしながら、全工程の完全な自動化は困難であり、どうしても発塵の原因となる人の手を介した工程を皆無にすることはできない。また、工程能力のばらつき等により部品洗浄が不十分になる事態を避けることはできない。よってある程度のコンタミネーションの存在は容認せざるを得ない。
【０００４】
そこで、従来技術においては、各種のコンタミネーション対策あるいはコンタミネーションに起因する欠陥、欠陥成長の対策が施されている。
【０００５】
たとえば、特開２０００−１５６０５１号公報には、磁気ディスクの欠陥が成長する前に最小限の隣接セクタを交換することを目的に、回復可能なリードエラーでオフセットリードにて回復できるエラーに対して隣接欠陥登録が必要であると判断し、当該セクタおよびオフセット方向とは逆方向のセクタを隣接欠陥登録する技術が開示されている。このようにリードエラーを検知して隣接欠陥登録を行うことにより欠陥成長前に最小限の欠陥登録を行うことが可能になり、最小限の不良セクタ数で高いデータ信頼性を得ることを可能にしている。
【０００６】
たとえば特開平５−２８６７５号公報には、磁気ヘッドに堆積する微小ダストの除去を目的とし、磁気ヘッドリフト機構を利用して磁気ディスクの回転直前に磁気ヘッドを磁気ディスクに接触させ、その状態で磁気ディスクを回転させる技術が開示されている。磁気ヘッドの磁気ディスクへの接触によって微小ダストが除去できるとしている。
【０００７】
たとえば特開平５−５４５７７号公報には、磁気ヘッドに堆積するダストを除去することを目的とし、磁気ヘッドがリードライト動作を行っていない時にスピンドルの回転を停止しあるいは回転数を落として磁気ヘッドを磁気ディスクに接触させる技術が開示されている。磁気ヘッドの磁気ディスクへの接触によって微小ダストが除去できるとしている。
【０００８】
たとえば特開平６−２０３５０３号公報には、ディスク損傷を防止しヘッドレール面に付着したごみを取除くことを目的に、ＣＳＳ（コンタクトスタートストップ）へのヘッド付着の接線力の変化に着目してロードおよびアンロードの期間を工夫する技術が開示されている。すなわちディスク回転数が低い間にロードアンロードを行うよう制御することによりディスクの損傷を防止し塵除去の作用を両立させている。
【０００９】
たとえば特開２０００−９０６１２号公報には、接触型ヘッドスライダに付着集積した塵埃を効果的に除去することを目的に、ロード時アンロード時のディスク回転数を制御することによりヘッドスライダのピッチ角を制御し接触パッドに付着した塵埃を除去する技術が開示されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、近年の記録密度の向上により、さらに精密なコンタミネーションおよびディスク表面欠陥、欠陥成長の対策が必要とされている。従来問題にならなかったコンタミネーションあるいは欠陥のレベルでさえも高記録密度を実現するハードディスク装置においては問題となる。
【００１１】
従来技術におけるコンタミネーション対策は、何れもヘッドと磁気ディスク媒体とを接触させるものであり、より高密度な記録密度を前提とする高記録密度のハードディスク装置には妥当でない。ヘッドとディスクとの接触によって新たなコンタミネーションの発生の恐れもある。
【００１２】
また、前記特開２０００−１５６０５１号公報に記載の技術では、欠陥成長に対し一定の効果が期待できるものの、現に存在する欠陥に対しては何らの対策も施されず、その周辺の記憶領域を欠陥セクタと見なして利用しないという消極的な対策に止まる。
【００１３】
本発明の目的は、ヘッドとディスクとの接触によって新たなコンタミネーションを発生させることなくコンタミネーションを除去する技術を提供することにある。
【００１４】
また、本発明の目的は、欠陥が存在しても、その欠陥周辺へのライト信頼性を向上し、磁気ディスク媒体の記録面を最大限有効に活用することにある。
【００１５】
また本発明の目的は、ライト動作のパフォーマンスを低下させることなくライト信頼性を向上することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本願の発明の概略を説明すれば、以下の通りである。すなわち、本発明のハードディスク装置ではランプロード機構を採用し、ランプロードからヘッドが磁気ディスク媒体上にロードされた後に、一定期間、有効記録領域外のディスク外周部でトラックフォロイングを行う。
【００１７】
本発明者らの実験検討によれば、ランプロード機構からロードされた直後のヘッドにコンタミネーションが多く付着している場合が多い。ヘッドに付着したコンタミネーションは、ロード直後のヘッド飛行の不安定性との相乗効果によってコンタミネーションを磁気媒体表面に擦り付ける作用をすると考えられる。コンタミネーションが擦り付けられた磁気媒体表面は局所的に高い温度に達し、記録された磁気情報が消失する問題を発生する。本発明はこのような問題の対策に有効である。つまり、ロード直後のヘッド位置は有効記憶領域外のディスク外周部であるのでデータ消失の問題は発生しない。また、ディスク外周部で一定期間トラックフォロイングを行うのでこの間にヘッド飛行の安定化が図れる。
【００１８】
さらに、トラックフォロイング中の風圧によって多くのコンタミネーションを吹き飛ばすことができる。すなわち本発明によって、ランプロード機構からロードされた直後のコンタミネーションの除去を行い、コンタミネーションに起因するデータ消失の問題を回避できる。さらにヘッド飛行の安定化を図ることができる。
【００１９】
また、本発明は、ディスク外周部でのトラックフォロイングの後、外周部において、ディスク内側への移動、外側への移動を繰り返すことができ、この外側移動の速度を内側移動の速度より大きく、好ましくは数倍程度にすることができる。すなわち、ゆっくりと内部にヘッドを移動させ、速やかに外部にヘッドを移動させる。これにより、ディスク外周部に存在するコンタミネーションを有効にディスク外に掃き出すことができる。
【００２０】
そしてコンタミネーションをトラップするフィルタは通常ディスク外周近傍に設けられるので、有効にコンタミネーションをトラップし、ハードディスク装置内のコンタミネーションのレベルを効果的に低減できる。またこのような掃き出し動作は同時にヘッドへの横方向振動を加えることになる。ディスク回転による風圧と横方向振動によりヘッドに付着したコンタミネーションを効果的に除去できる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。ただし、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本実施の形態の記載内容に限定して解釈すべきではない。なお、実施の形態の全体を通して同じ要素には同じ番号を付するものとする。
【００２４】
（実施の形態１）
図１は、本発明の一実施の形態であるハードディスク装置の一例を示したブロック図である。本実施の形態１のハードディスク装置は、情報が磁気的に記録されるディスク１（磁気記録媒体）と、このディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、ディスク１に情報を記録するあるいは記録された情報を読み出す磁気ヘッド３と、磁気ヘッド３を支持するアーム４と、アーム４を駆動するボイスコイルモータ５（アクチュエータ）とを有する。ボイスコイルモータ５の駆動はＶＣＭドライバ６によって行われ、ボイスコイルモータ５の逆起電力はバックｅｍｆモニタ７でモニタされる。ＶＣＭドライバ６の制御はサーボコントローラ８で行われる。
【００２５】
ヘッド３のアナログ出力はヘッドプリアンプ９で増幅され、リード/ライトチャネル１０に入力される。リード/ライトチャネル１０ではヘッド３からのアナログ信号がオートゲイン回路で一定の振幅に調整され、Ａ／Ｄ変換された後にリードあるいはライトデータとしてハードディスクコントローラ１１に送られる。なお、リード/ライトチャネル１０からはオートゲイン回路のゲイン値を取り出すことができるが、この点は後に説明する。
【００２６】
ハードディスクコントローラ１１は、ハードディスク装置全体を制御する。たとえばリード/ライトチャネル１０からのサーボ信号を受けてＶＣＭドライバ６にドライバ信号を出力する。あるいはホスト装置１６からのリード要求、ライト要求等のコマンドを受けてリード/ライトチャネル１０にリードゲート、ライトゲートを送り、リードおよびライト動作を制御する。
【００２７】
ハードディスクコントローラ１１は、ＲＡＭ１２、ＲＯＭ１３、ホストインターフェイス１４とバス１５を介して接続される。ホストインターフェイス１４はホスト装置１６とインターフェイスする。ＲＯＭ１３には、ハードディスクコントローラ１１内のＭＰＵで処理されるプログラムが格納され、ＲＡＭ１２には、たとえばハードディスク装置を制御するプログラムが磁気記録媒体１からロードされる。あるいはＲＡＭ１２は、ディスク装置から入力されディスク装置に出力されるデータのバッファとして、また、後に説明する欠陥リストあるいはばらつきテーブルの記憶領域として機能する。
【００２８】
なお、本実施の形態のディスク装置ではランプロード機構１７を有する。ディスク１が停止している状態ではヘッド３はランプロード機構１７に格納される。ランプロード機構１７の採用により、振動、衝撃その他機械的ハザードに対して耐性を増すことができる。
【００２９】
図２は、本実施の形態の制御方法の一例を示したフローチャートである。処理は、電源の投入あるいはスリープモードからの解除等ハードディスク装置の起動によって開始する。停止状態のディスク１がスピンドルモータ２により回転駆動され、所定の回転数に達した段階でヘッド３がディスク１上にロードされる（ステップ２０）。ディスク１の回転が停止している状態ではヘッド３はランプロード機構１７に格納されているので、ロードはランプロード機構１７から回転状態のディスク１上にヘッド３を移動することにより行われる。このロードの際、バックｅｍｆモニタ７でボイスコイルモータ５からの出力をモニタし、ヘッド３が緩やかにディスク１上に移動するようにアーム４の動きを制御することができる。サーボコントローラ８からの信号によってＶＣＭドライバ６で駆動電流を生成し、ボイスコイルモータ５を駆動することによってアーム４の動きを制御する。
【００３０】
ディスク１上に移動したヘッド３によって、位置情報であるサーボパターンの検出が試みられる。サーボパターンはディスク１に予め記録されている。サーボパターンが適正に読み取られた時、ヘッド３の位置が確認できる。ヘッド３のロードは、このサーボパターンの読み込みに成功したことによってその完了を判断する（ステップ２１）。ロードが完了するまでは継続してサーボパターンの読取りを試みる。
【００３１】
ヘッド３のロードが完了したと判断されれば、シリンダ番号ｘ＝−１２８のシリンダへのシークを開始する（ステップ２２）。ヘッド３が−１２８シリンダに達した後、このシリンダをフォロイングする状態を一定期間たとえば４０ｍｓの間維持する（ステップ２３）。
【００３２】
本明細書においてシリンダ番号ｘはディスク１の外周から内周に向けて値が大きくなるように定める。すなわち、ディスク内周側の方がシリンダ番号が大きい。但し、最外周がシリンダ番号０に指定されるのではなく、ディスク最外周からいくらか内側に入ったトラックに相当するシリンダの番号が０になる。シリンダ番号０以上の領域は有効記憶領域であり、ユーザの使用領域とシステムによって予約される予約領域として使用される。シリンダ番号０未満の領域はディスク周辺領域であり、データの記憶操作には使用されない。前記−１２８シリンダはディスク周辺領域に存在する。
【００３３】
図３(ａ)は、ヘッド３が−１２８シリンダにトラックフォロイングされる状態を模式的に示した側面図である。破線で示したヘッド３はランプロード機構１７からロードされてくる様子を模式的に示している。また、ディスク１の右側（ディスク１の中心部分）は省略している。
【００３４】
図示するようにヘッド３はディスク周辺領域（有効記録領域以外の領域）にあるｘ＝−１２８のシリンダに含まれるトラックにフォロイングする。なお、実際には複数枚のディスク１が存在し、またディスク１の両面にヘッド３が配置されるが、図示においては省略している。なお、本明細書において、ヘッドが「トラックの上方」あるいは「トラック上」という表現を用いる場合、ヘッドが磁気記録媒体１の磁気記録面の表面から法線方向に一定の距離を有して存在する状態を表す。すなわち、ヘッド３と磁気記録媒体１との位置関係は相対的なものであり、ヘッドが「トラック上」あるいは「トラックの上方」に存在するという場合には、磁気記録面が下、横あるいは斜めに向いていた場合の「下方」「横方向」「斜め方向」の何れの方向も含み、ヘッドと記録面との間には設計で予定されたギャップ（間隔）が存在することはもとよりである。
【００３５】
このようにヘッド３のロード後の一定期間たとえば４０ｍｓの期間に、有効記録領域外のディスク周辺領域でトラックフォロイングすることにより、ヘッド３に付着しているコンタミネーションをディスクの回転による風圧で吹き飛ばすことができる。特に、本発明者らの知見によれば、ランプロード機構１７からのロード直後のヘッド３にコンタミネーションが多く付着している場合が多い。このような場合、ロード直後にディスク周辺領域でトラックフォロイングすれば、ロード初期の段階で多くのコンタミネーションがヘッド３から除去される。このためその後のオペレートでのコンタミネーションの影響を有効に抑制でき、ライト信頼性を向上できる。また、トラックフォロイングはディスク周辺領域で行われるので、仮にヘッド３に付着したコンタミネーションがディスク１の磁気記録面に擦り付けられても、ディスク周辺領域はデータ記録には使用されないのでデータ消失の恐れはない。さらに本発明者らの知見によれば、ロード直後のヘッド３の飛行は比較的不安定である。このためロード直後の一定期間のトラックフォロイングはヘッド飛行を早い段階で安定させる作用もある。これにより以降のオペレートを安定したヘッド飛行状態で行うことができ、ライト信頼性の向上等に寄与できる。
【００３６】
ここでは−１２８シリンダにトラックフォロイングする例を示しているが、その他のディスク周辺領域に存在するシリンダにフォロイングしても良いことは勿論である。但し、ディスク周辺領域の最内周においてはヘッド３のＡＢＳ（air bearing surface）が０シリンダにかからない位置でフォロイングすることが好ましい。図３(ａ)の破線で示すヘッド３’はディスク周辺領域の最内周でトラックフォロイングしている状態を図示している。経験的にコンタミネーションはヘッド３のＡＢＳ外周領域に多く蓄積されることを本発明者らは認識している。ＡＢＳの最外周領域に多くのコンタミネーションが蓄積されている状態であっても、少なくとも前記の条件を満足する限り０シリンダに位置するトラック領域にコンタミネーションが擦り付けられることはない。よって、データ記録領域の保護の万全が図れる。ヘッド３がトラックフォロイングできるディスク周辺領域の最外周は、ランプロード機構１７への衝突等の危険性を考慮して定められる。
【００３７】
ステップ２３の終了後、シリンダ番号ｘに−２００を指定し（ステップ２４）、シリンダ番号ｘへのシークを開始する（ステップ２５）。シリンダ番号−２００はランプロード機構１７への衝突等の危険性を考慮して定めたヘッド３がシークできるディスク１の最外周である。但し、シリンダ番号−２００はあくまでも例示であり、トラック密度、ランプロード機構１７の配置その他の条件によって変化することは勿論である。
【００３８】
次に、ｘを２増分し（ステップ２６）、ｘが０未満であるかを判断する（ステップ２７）。そしてｘが０未満であればステップ２５に戻ってｘシリンダへのシークを開始する。つまりヘッド３がフォロイングしようとしている目標シリンダがディスク周辺領域にある場合は、増分２に相当する速度でヘッド３をディスク１の内周方向に移動させる。
【００３９】
ステップ２７でｘが０以上と判断されたとき、つまりヘッド３の目標シリンダが有効記憶領域に入った時にはステップ２８に進み、ｘシリンダにシークした後、ｘの増分を−１０に指定して（ステップ２９）、ｘが−２００より大きいかを判断し（ステップ３０）、−２００より大きければｘシリンダへのシークを開始する（ステップ２８）。つまり、今度は増分−１０に相当する速度で、ヘッド３をディスク１の外周方向に移動する。この外周方向への移動は目標シリンダが−２００シリンダに達するまで行われる。
【００４０】
上記内周方向への移動と外周方向への移動を模式的に示したのが図３（ｂ）の側面図である。ヘッド３はその内周方向の限度を０シリンダ、外周方向の限度を−２００シリンダとして、その間を内周方向に向けては速度Ｖｉｎで、外周方向に向けては速度Ｖｏｕｔで移動する。速度Ｖｉｎはシリンダ増分２に相当し、速度Ｖｏｕｔはシリンダ増分１０に相当する。つまり、内周に向けてはゆっくりと、外周に向けてはより早く移動させる。
【００４１】
このようなヘッド３の動作は外周方向への掃き出し動作であり、ディスク周辺領域でのディスク外周方向へのコンタミネーションの掃き出し作用を有する。また、ヘッド３自体に横方向振動を与えることになり、この振動によってヘッド３に付着したコンタミネーションを振り落とす作用がある。ディスク１の回転による風圧との相乗作用により、より確実にコンタミネーションを除去できる効果が期待できる。
【００４２】
ステップ３１において変数Ｌｏｏｐを１増加し、Ｌｏｏｐが３以上であるかを判断する（ステップ３２）。そしてＬｏｏｐが３以下ならばステップ２５に戻って前記掃き出し動作を行う。このような掃き出し動作は３回行われることになる。その後通常の制御を開始する（ステップ３３）。
【００４３】
図４は、上記した制御によりヘッド３が辿るシリンダ位置を時間の関数として示したグラフである。サーボパターンの読取りを時刻ｔ０で成功したとすれば、−１２８シリンダへのシークを開始し、時刻ｔ１からｔ２の一定期間このヘッド位置を維持する。その後−２００シリンダにシークし、緩やかに０シリンダに移動する。０シリンダに達する時刻はｔ３である。その後速やかに−２００シリンダに移動して１回目の掃き出し動作を行う。−２００シリンダに達する時刻はｔ４である。同様の動作をさらに２回繰り返し、時刻ｔ８から通常の制御を開始する。
【００４４】
本実施の形態１のハードディスク装置および制御方法によれば、ヘッドロード初期の一定期間のトラックフォロイングにより、ヘッド３に付着したコンタミネーションの多くを除去することが可能である。このロード初期のトラックフォロイングはディスク周辺領域で行うためコンタミネーションの擦り付けに起因するデータ消失の問題も回避できる。また、ディスク周辺領域でのヘッド掃き出し動作により、コンタミネーションのディスク外周への掃き出し、さらにヘッド３への横方向振動によってヘッド３からのより効果的なコンタミネーションの除去が期待できる。
【００４５】
なお、本実施の形態で例示したシリンダ番号、内周あるいは外周への移動速度を決めるシリンダ増分の数値、掃き出し動作の繰り返し数は言うまでもなく例示である。トラック密度、１回のシークにかかる時間等の条件で適宜変更できることは当業者には周知である。
【００４６】
（実施の形態２）
図５は、本発明の他の実施の形態であるハードディスク装置の一例を示したブロック図である。本実施の形態のハードディスク装置の概要は図１に示したものと同様である。但し、図５に示す通り、本実施の形態のハードディスク装置ではゾーンごとのヘッド振幅ばらつきテーブル１２ｂと欠陥リスト１２ｃを備える。なお、データバッファ１２ａは実施の形態１のＲＡＭ１２の機能として説明した機能の１つである。ばらつきテーブル１２ｂと欠陥リスト１２ｃはディスク１から読み出されてＲＡＭ１２に記録される。なお、ここではテーブル１２ｂと欠陥リスト１２ｃがディスク１に記録されている例を示しているが、これらテーブルは必ずしもディスク１に記録されている必要はない。たとえばハードディスク装置内の半導体不揮発性メモリ等に記録されていてもよい。
【００４７】
ばらつきテーブル１２ｂは、ディスク１を同心円状に区分したゾーンごとにヘッド３からの信号振幅のばらつきを記録したテーブルである。信号振幅はリード/ライトチャネル１０に備えられているオートゲイン回路のゲイン値から求められる。ヘッド３からの信号はヘッドプリアンプ９で増幅されてリード/ライトチャネル１０に入力されるが、ある程度の振幅のばらつきを有する。リード/ライトチャネル１０ではＡ／Ｄ変換する前に信号レベルをそろえるためオートゲイン回路を用いる。このオートゲイン回路のゲイン値を計測すれば信号振幅を知ることができ、そのばらつきによって信号振幅のばらつきを把握できる。ばらつきは、振幅の平均値、最大値と最小値の幅で表現できる。これらばらつきの値はディスク１の径方向で相違するため、同心円状に区分したゾーンごとにばらつき値をテーブルとして記録する。ばらつきテーブル１２ｂには正常稼動時のばらつき値を記録する。このようなばらつきテーブルを参照して後に説明する制御が行える。
【００４８】
欠陥リスト１２ｃは、工場出荷時の検査で欠陥であると判断されたセクタあるいは欠陥セクタの周辺のセクタを欠陥とみなして登録したリストである。欠陥セクタの周辺セクタを予め登録しておくのは欠陥の成長を見込むためである。また、使用中に欠陥であると判断されたセクタについては２次テーブルとして随時欠陥リストに追加登録する。このような欠陥リストを参照することにより、後に説明する制御を行える。
【００４９】
図６は、本実施の形態のハードディスク装置の制御方法の一例を示したフローチャートである。
【００５０】
処理の開始後、ホスト装置１６からデータを受け取る（ステップ３４）。ここではライトコマンドをデータとして受け取った場合を考える。次にベリファイフラグを「０」に設定する。ベリファイフラグはライト処理の後にベリファイが必要か示すフラグであり「１」の時にベリファイが必要とする。
【００５１】
次に、ライトコマンドの処理時刻がヘッドのロード直後であるかを判断する（ステップ３６）。ヘッドロードの直後であるか否かはたとえば内部クロックを用いてヘッドロードの処理時点から一定期間が経過したか、あるいは適当なカウンタを用いて一定数のコマンドを処理したか、を判断することにより行える。たとえば一定時間を選択した時には、数秒（たとえば１０秒以下、５秒程度）の時間を設定し、この時間が経過したかを判断する。経過していなければベリファイフラグを「１」に設定し（ステップ３７）、経過していればステップ３８に進む。
【００５２】
ヘッドロードの直後には、ヘッド３の飛行が不安定であり、飛行高度が高い状態でコマンドが実行される場合がある。このような状態でライト処理を行うと正常に書き込みが行われない場合が多い。これらの知見は発明者らの実験検討の結果に基づく。よって、ロード直後の場合には後に説明するようにベリファイ処理を行うこととしたものである。
【００５３】
次に、受け取ったデータに含まれる論理アドレスを物理アドレスに変換する（ステップ３８）。物理アドレスはシリンダ、ヘッド、セクタで特定される。目標シリンダが判るので、この段階で欠陥リスト１２ｃを参照し、目標シリンダの近傍に欠陥セクタが存在しないかを判断する（ステップ３９）。ここで、「近傍」の概念として数トラック分離れた位置のシリンダまでを近傍と考える。好ましくは隣接する場合をいう。目標シリンダに隣接あるいは近傍にあるシリンダに欠陥セクタを含む場合にはベリファイフラグを「１」に設定する（ステップ４０）。そうでない場合はステップ４１に進む。
【００５４】
欠陥セクタは一般にディスク面の突起として存在したり、欠陥部で剥離しかけた磁性膜が凸状に存在したりする。このような突起物にヘッド３が衝突すると、ヘッドの高度が上昇する。衝突しないまでもディスク１の回転による気流が乱されヘッド３の高度が上昇する。このようなヘッド高度の上昇が書込み不良の原因になることは前記の通りである。よって、欠陥セクタの周辺を飛行する場合もベリファイが必要としたものである。
【００５５】
次に、目標シリンダに向けてシークを開始し（ステップ４１）、目標シリンダが含まれるゾーンのばらつき値をばらつきテーブル１２ｂから取得する（ステップ４２）。
【００５６】
次に、目標シリンダに近づいたところでヘッド３の信号振幅のばらつき値を計測する（ステップ４３）。ばらつき値は、前記した通りリード/ライトチャネルのオートゲイン回路を用いて取得できる。近年はリード/ライトチャネルの出力としてゲイン値を出力させるものがあり、この機能をそのまま利用することができる。ばらつき値は、たとえばターゲット（書込み対象のセクタ）近傍のサーボパターンごとにそのグレイコード等を読み取った際の信号の最大値、最小値を記録することにより計測できる。
【００５７】
そして、ヘッド３がターゲットセクタに達すればハードディスクコントローラ１１はライトゲートを上げ、書込みデータをディスク１に書込む（ステップ４４）。全てのデータが正常に書込まれたかを判断し（ステップ４５）、書込まれていなければステップ４４に戻ってリトライを行い、書込まれていればコマンド終了のステータスを発行する（ステップ４６）。
【００５８】
この段階で、取得したばらつき値（最大値と最小値の差）がテーブルに記録されたばらつきの値と比較して予定の範囲にあるかを判断する（ステップ４７）。たとえばテーブルに記録されたばらつきを４０％超える場合には所定の範囲外と判断することができる。範囲外であればベリファイフラグを「１」に設定する。所定の範囲外であると判断されるような状況はヘッド高度が大きく揺らいでいる状況である。このような状況ではヘッド高度が高い状態で書込み動作が行われる確率が高いため、ベリファイ必要としたものである。
【００５９】
次に、ベリファイフラグが「１」であるかを判断し、「１」ならベリファイ処理を行う（ステップ５０）。ベリファイはエラーコード（ＥＣＣ）を参照して行い、エラーコードの一致を比較することにより行える。エラーコードが一致しているかを判断し（ステップ５１）、一致の場合は処理を終了する（ステップ５３）。不一致の場合は再度書込み処理を行う（ステップ５２）。その後再度ベリファイを行い、問題がなくなるまでこれを繰り返す。一方ステップ４９でベリファイが不要（ベリファイフラグ＝０）の場合にはそのまま処理を終了する（ステップ５３）。
【００６０】
本実施の形態のハードディスク装置および制御方法によれば、ロード直後か否か、欠陥近傍への書込みか否か、ヘッドが安定飛行状態での書込みか否かの各々を判断して書込み処理を行う。このような状態での書込みは経験的にエラーを生ずる場合が多いのでベリファイ処理を行う。そしてそれ以外の場合にはベリファイ処理を行わない。上記の場合の全てにベリファイ処理を行っても、本発明者らの検討によれば全処理の１％以下である。このため、ハードディスク装置のパフォーマンスを低下させることなく、書込みエラーを低減してハードディスク装置の処理信頼性を向上できる。
【００６１】
なお、前記ロード直後か否か、欠陥近傍への書込みか否か、ヘッドが安定飛行状態での書込みか否かの各判断は、全て行うことが好ましいが、このうちの１つだけ、あるいは任意の組み合わせで書込みおよびベリファイを実施することができる。
【００６２】
以上、本発明者によってなされた発明を発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００６３】
たとえば、前記実施の形態では、アーム制御手段としてボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を例示したが、これに限られず、その他のモータ、アクチュエータを用いることも可能である。
【００６４】
また、前記実施の形態では回転記憶装置の一例としてハードディスク装置を例示して説明したが、ハードディスク装置に限られず、回転型記録媒体を有する記憶装置、たとえばＣＤ−Ｒ／Ｗ、ＤＶＤ、ＭＯ記憶装置等書き換え可能な光学的、光学的磁気的記録装置にも適用できる。また、たとえばＺＩＰ装置、フロッピィディスク装置等リムーバルな回転型磁気記録装置にも適用が可能である。
【００６５】
【発明の効果】
本願で開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果は、以下の通りである。ヘッドとディスクとの接触によって新たなコンタミネーションを発生させることなくコンタミネーションを除去することができる。また、欠陥が存在してもその欠陥周辺へのライト信頼性を向上し、磁気ディスク媒体の記録面を最大限有効に活用することができる。また、ライト動作のパフォーマンスを低下させることなくライト信頼性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態であるハードディスク装置の一例を示したブロック図である。
【図２】本発明の一実施の形態である制御方法の一例を示したフローチャートである。
【図３】ディスク周辺領域の近傍を模式的に示した側面図であり、(ａ)は、ヘッドが−１２８シリンダにトラックフォロイングされる状態を示し、（ｂ）はヘッドが掃き出し動作を行っている状態を示す。
【図４】本実施の形態の制御方法によりヘッドが辿るシリンダ位置を時間の関数として示したグラフである。
【図５】本発明の他の実施の形態であるハードディスク装置の一例を示したブロック図である。
【図６】本発明の一実施の形態であるハードディスク装置の制御方法の一例を示したフローチャートである。
【符号の説明】
１…ディスク、２…スピンドルモータ、３，３’…ヘッド（磁気ヘッド）、４…アーム、５…ボイスコイルモータ、６…ＶＣＭドライバ、７…バックｅｍｆモニタ、８…サーボコントローラ、９…ヘッドプリアンプ、１０…リード/ライトチャネル、１１…ハードディスクコントローラ、１２…ＲＡＭ、１２ａ…データバッファ、１２ｂ…ばたつきテーブル、１２ｃ…欠陥リスト、１３…ＲＯＭ、１４…ホストインターフェイス、１５…バス、１６…ホスト装置、１７…ランプロード機構、Ｖｉｎ…内周方向速度、Ｖｏｕｔ…外周方向速度、ｘ…シリンダ番号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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