(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、前記光ビームを平行光束とする光学系と、前記平行光束を収束させることで情報記録媒体の記録面上にビームスポットを形成する対物レンズと、前記情報記録媒体からの反射光を受光することで前記ビームスポットと前記記録面上に形成された情報トラックとの位置ずれを示すトラッキングエラー信号を検出する受光素子とを有しており、前記トラッキングエラー信号の検出方式としてＤＰＤ法を採用した光ピックアップ装置において、
前記対物レンズの平行光束入射面における有効口径外には、前記平行光束を反射する反射部を設けており、前記反射部からの反射光を前記受光素子で受光することにより、前記対物レンズと前記光ピックアップ装置本体との相対位置を示す対物レンズ位置信号を検出することを特徴とする光ピックアップ装置であって、かつ、
前記受光素子の受光面は、第１、第２出力信号を生成する第１、第２受光面に分割されており、第１、第２出力信号の低周波成分を取り除くハイパスフィルタと、第１、第２出力信号の高周波成分を取り除くローパスフィルタと、前記ハイパスフィルタを介して得られる第１、第２出力信号の位相差に基づいて前記トラッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー信号生成回路と、前記ローパスフィルタを介して得られる第１、第２出力信号の強度差に基づいて前記対物レンズ位置信号を検出する対物レンズ位置信号生成回路と、を有して成ることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記対物レンズ位置信号に基づいて、前記対物レンズと前記装置本体との相対位置を制御する手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記受光素子から得られる出力信号に基づいて、前記情報記録媒体に記録された情報信号を検出する手段を有することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光源からの光ビームによって光ディスク等の情報記録媒体上に微小なビームスポットを形成し、情報の記録再生もしくは消去を行う光ピックアップ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図４は従来の光ピックアップ装置の一例を示す概略構成図である。半導体レーザ素子１から出射された光ビームはコリメートレンズ２によって平行光束とされ、ビームスプリッタ３を透過して対物レンズ４に入射される。対物レンズ４は入射された平行光束を集光し、光ディスク５の記録面上にビームスポットを形成する。なお、対物レンズ４の有効口径はＤである。
【０００３】
光ディスク５からの反射光は対物レンズ４によって再び平行光束とされた後に、ビームスプリッタ３で受光素子６に向けて反射される。受光素子６では検出される反射光束の強弱から、光ディスク５に記録された情報信号の読み取り等が行われる。
【０００４】
上記構成から成る光ピックアップ装置において、光ディスク５に対する情報の記録再生、もしくは消去といった動作を高精度に行うためには、光ディスク５の記録面における凹凸や、光ディスク５を回転させるスピンドル機構の精度等に影響されることなく、対物レンズ４と光ディスク５の記録面との距離を一定に保つ必要がある。また、光ディスク５の記録面上に形成される前記ビームスポットを、情報が記録されている列（以下、情報トラックと呼ぶ）に沿って正確に追従させる必要もある。
【０００５】
そのために、光ピックアップ装置に設けられた受光素子６は、単に光ディスク５に記録された情報信号の検出を行うだけでなく、光ディスク５の記録面上に形成された前記ビームスポットが正確に前記情報トラックを追従しているか否かの検出、すなわちトラッキングエラー信号ＴＥＳ（Tracking Error Signal）の検出を行うことができる構成とされている。
【０００６】
図５は従来の受光素子６の一例を示す概略構成図であり、ビームスプリッタ３側から受光素子６を見た場合の概略平面図である。ここでは、受光素子６を２分割受光素子とした場合を例に挙げて説明を行う。図中に示すように、この受光素子６は中央分割線６ｃによってその受光面を２分割されたＰＩＮフォトダイオード等で構成されており、各受光面を第１受光面６ａ、第２受光面６ｂと呼ぶことにする。
【０００７】
上記構成の受光素子６においては、ビームスプリッタ３から受光素子６に入射される反射光束を第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂによってそれぞれ検出することになり、各受光面６ａ、６ｂで得られた出力信号の強度差を求めることでトラッキングエラー信号ＴＥＳを得ることができる。このようなトラッキングエラー検出方式をプッシュプル法という。
【０００８】
なお、各受光面６ａ、６ｂから得られる出力信号の強度をそれぞれＶａ、Ｖｂとし、各出力信号を増幅するアンプ（図示せず）の増幅率をｋとすると、前述のトラッキングエラー信号ＴＥＳは次の（１）式で表される。
【数１】
0003722670.tif 000002
【０００９】
まず、図５中の（１）は半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置が一致している場合を示している。この場合、受光素子６に入射される反射光束Ｍ（図中の斜線部分）は中央分割線６ｃに対して対称となっている。ここで、光ディスク５の記録面上に形成されるビームスポットが前記情報トラック上に正確に形成されていると、反射光束Ｍ内における光強度分布は一様となり、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号の強度Ｖａ、Ｖｂは互いに等しくなる。よって、トラッキングエラー信号ＴＥＳは０となる。
【００１０】
しかし、前記ビームスポットが前記情報トラックからずれた位置に形成されていると、反射光束Ｍ内における光強度分布に偏りが生じて、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号の強度Ｖａ、Ｖｂは互いに異なる値（例えばＶａ＜Ｖｂ）となる。よって、トラッキングエラー信号ＴＥＳが０ではなくなる。
【００１１】
上記のように、プッシュプル法においてはトラッキングエラー信号ＴＥＳの値を検出することで、前記ビームスポットが前記情報トラックを正確に追従しているか否かを判断し、その判断結果に応じて光ピックアップ装置のトラッキングサーボを行う。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前述のトラッキングサーボを行う際に対物レンズ４をトラッキング方向に駆動させる光ピックアップ装置においては、半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置がずれた状態になる場合がある。
【００１３】
図５中の（２）は半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置がずれている場合を示している。この場合、受光素子６に入射される反射光束Ｍは中央分割線６ｃに対して非対称となるため、トラッキングエラー信号ＴＥＳにはオフセットが生じてしまう。よって、前記ビームスポットが前記情報トラック上に正確に形成されていたとしても、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号の強度Ｖａ、Ｖｂは互いに異なる値（本図の場合ではＶａ＜Ｖｂ）となり、トラッキングエラー信号ＴＥＳが０ではなくなる。
【００１４】
上記した理由から、トラッキングエラー検出方式としてプッシュプル法を採用している光ピックアップ装置では、光ピックアップ装置本体と対物レンズ４との相対位置を補正しなければ正確なトラッキングサーボができないという課題を有している。
【００１５】
光ピックアップ装置本体と対物レンズ４との相対位置を補正するために、従来の光ピックアップ装置では、対物レンズ４に位置センサを取り付けることで対物レンズ位置信号ＬＥＳ（Lens Error Signal）を検出し、その値に基づいて光ピックアップ装置本体に対する対物レンズ４のシフト量を抑制する構成が提案されている。
【００１６】
しかしながら、この方法では対物レンズ位置信号ＬＥＳを検出するための受光素子を別途設置せねばならず、装置の大型化を招くといった課題がある。また、対物レンズ４を保持するホルダ部の重量が増加するため、対物レンズ４を駆動させるアクチュエータの感度が低下するといった課題も有している。
【００１７】
一方、光ピックアップ装置本体に対して対物レンズ４がシフトしても、その影響を受けにくいトラッキングエラー検出方式として、ＤＰＤ（Differential Phase Detection）法がある。このＤＰＤ法は周知の技術であるため詳細な説明は省略するが、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる各出力信号の高周波成分から、その位相差を求めることによってトラッキングエラー信号ＴＥＳを得る方法である。なお、２分割受光素子を用いてＤＰＤ法を実現する構成並びにその有意性については、電子通信学会技術研究報告CPM80-70,p.1や、第５８回応用物理学会学術講演会講演予稿集4p-ZE-7,4pZE-8,p.1133〜p.1134(1997.10)等にて報告がなされている。
【００１８】
このように、ＤＰＤ法では第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号の強度Ｖａ、Ｖｂに依らずにトラッキングエラー信号ＴＥＳを得ることができる。よって、半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置がずれることで、受光素子６に入射される反射光束Ｍが中央分割線６ｃに対して非対称となっていた場合であっても、その影響をあまり受けることなくトラッキングエラー信号ＴＥＳを検出することができる。
【００１９】
しかしながら、ＤＰＤ法を採用している光ピックアップ装置であっても、装置本体に対する対物レンズ４のシフト量があまり大きくなると、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号のＳ／Ｎが悪化してしまい、トラッキングサーボ性能の劣化が生じることは避けられない。
【００２０】
こうしたトラッキングサーボ性能の劣化を回避するためには、やはり光ピックアップ装置本体と対物レンズ４との相対位置を補正する必要がある。そのため、ＤＰＤ法を採用した光ピックアップ装置であっても、対物レンズ位置信号ＬＥＳを検出するための位置センサや受光素子を別途設置しなけらばならず、装置本体の大型化や前記アクチュエータの感度低下といった前述と同様の課題を有している。
【００２１】
本発明は上記の問題点に鑑み、装置本体を大型化することなく簡易な構成で対物レンズ位置信号を検出することができ、良好なトラッキングサーボ性能を有する光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る光ピックアップ装置においては、光ビームを出射する光源と、前記光ビームを平行光束とする光学系と、前記平行光束を収束させることで情報記録媒体の記録面上にビームスポットを形成する対物レンズと、前記情報記録媒体からの反射光を受光することで前記ビームスポットと前記記録面上に形成された情報トラックとの位置ずれを示すトラッキングエラー信号を検出する受光素子とを有しており、前記トラッキングエラー信号の検出方式としてＤＰＤ法を採用した光ピックアップ装置において、
前記対物レンズの平行光束入射面における有効口径外には、前記平行光束を反射する反射部を設けており、前記反射部からの反射光を前記受光素子で受光することにより、前記対物レンズと前記光ピックアップ装置本体との相対位置を示す対物レンズ位置信号を検出する構成としている。
【００２３】
また、前記受光素子は２分割された受光面を有しており、前記対物レンズ位置信号は各受光面から得られる出力信号の差信号として検出される構成にするとよい。さらに、前記対物レンズ位置信号に基づいて、前記対物レンズと前記装置本体との相対位置を制御する手段を有する構成にするとよい。また、前記受光素子から得られる出力信号に基づいて、前記情報記録媒体に記録された情報信号を検出する手段を有する構成にしてもよい。
【００２４】
【発明の実施の形態】
図１は本発明に係る光ピックアップ装置の一実施形態を示す概略構成図である。図中（１）に示すように、半導体レーザ素子１から出射された光ビームはコリメートレンズ２によって直径Ａの平行光束とされ、ビームスプリッタ３を透過して対物レンズ４に入射される。対物レンズ４は入射された平行光束を集光し、光ディスク５の記録面上にビームスポットを形成する。なお、対物レンズ４の有効口径はＤである。
【００２５】
光ディスク５からの反射光は対物レンズ４によって再び平行光束とされた後に、ビームスプリッタ３で受光素子６に向けた反射光束とされる。本発明に係る光ピックアップ装置ではトラッキングエラーの検出方式としてＤＰＤ法を採用している。前述したように、ＤＰＤ法とは光ディスク５から戻ってくる前記反射光束を複数の受光面を有する受光素子６で受光し、各受光面で得られる高周波信号の位相差を検出することによってトラッキングエラー信号ＴＥＳを得る方法である。そして、このトラッキングエラー信号ＴＥＳに基づいてトラッキングサーボが行われる。
【００２６】
ここで、本実施形態における光ピックアップ装置では、対物レンズ４と光ピックアップ装置本体との相対位置を示す対物レンズ位置信号ＬＥＳを検出する手段として、対物レンズ４を構成するレンズ部４ａ（有効口径Ｄ）の外側に、対物レンズ光軸に垂直な反射面を有する反射部４ｂ（幅Ｂ）が設けられている。
【００２７】
図中（２）はビームスプリッタ３側から見た対物レンズ４の概略正面図である。なお、対物レンズ４の生産性を向上させるためには反射部４ｂを対物レンズ４本体と一体で成形することが望ましいが、別体として一体化することも可能である。
【００２８】
対物レンズ４を上記構成とすることにより、対物レンズ４に入射される平行光束（直径Ａ）のうち、対物レンズ４の有効口径Ｄより外側に入射される平行光束（幅Ｂ）については反射部４ｂによって反射されることになる。
【００２９】
図２は本実施形態における受光素子６を示す概略構成図であり、ビームスプリッタ３側から見た受光素子６の概略正面図である。ここでは、受光素子６を２分割受光素子とした場合を例に挙げて説明を行う。図中に示すように、この受光素子６は中央分割線６ｃによってその受光面を２分割されたＰＩＮフォトダイオード等で構成されており、各受光面を第１受光面６ａ、第２受光面６ｂと呼ぶことにする。
【００３０】
まず、図２中の（１）は半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置が一致している場合を示している。この場合、レンズ部４ａを透過して戻ってきた光ディスク５からの反射光束Ｍ（図中の斜線部分）、及び反射部４ｂによって反射された反射光束Ｒ（図中の横線部分）は、いずれも中央分割線６ｃに対して対称となっている。なお、反射光束Ｒは図中に示すように反射光束Ｍを取り巻くリング状に観測される。
【００３１】
一方、図２中の（２）は半導体レーザ素子１から出射された光ビームの光軸中心に対して対物レンズ４の中心位置がずれている場合を示している。この場合、受光素子６に入射される反射光束Ｍ及び反射光束Ｒは、いずれも中央分割線６ｃに対して非対称となる。
【００３２】
このため、光ピックアップ装置本体に対して対物レンズ４がシフトしている場合、受光素子６上の光強度分布は第１受光面６ａもしくは第２受光面６ｂのいずれかに偏ったものとなる。よって、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる各出力信号の強度差を求めることで、対物レンズ４のシフト量を示す対物レンズ位置信号ＬＥＳを得ることができる。
【００３３】
対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出動作について、さらに詳細な説明を行う。第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号のうち、反射光束Ｍを受光することで得られた強度をそれぞれＶａ（Ｍ）、Ｖｂ（Ｍ）とし、また反射光束Ｒを受光することで得られた強度をそれぞれＶａ（Ｒ）、Ｖｂ（Ｒ）とし、各出力信号を増幅するアンプ（図示せず）の増幅率をαとすると、対物レンズ位置信号ＬＥＳは次の（２）式で表される。
【数２】
0003722670.tif 000003
【００３４】
前述した通り、光ピックアップ装置本体に対して対物レンズ４がシフトしている場合、受光素子６上の光強度分布は第１受光面６ａもしくは第２受光面６ｂのいずれかに偏ったものとなる。すなわち、第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる各出力信号｛Ｖａ（Ｒ）＋Ｖａ（Ｍ）｝と｛Ｖｂ（Ｒ）＋Ｖｂ（Ｍ）｝との間には、対物レンズ４のシフト量に応じた強度差が生じることになる。よって、その強度差を検出することで対物レンズ位置信号ＬＥＳとすることができる。
【００３５】
ここで、上記（２）式中に含まれる各出力信号強度のうち、Ｖａ（Ｒ）及びＶｂ（Ｒ）は、光ピックアップ装置本体に対する対物レンズ４のシフト量のみに依存して相補的に増減する。よって、これらの強度差は光ピックアップ装置本体に対する対物レンズ４のシフト量を的確に示すものであると言える。
【００３６】
それに対して、上記（２）式中に含まれる各出力信号強度のうち、Ｖａ（Ｍ）及びＶｂ（Ｍ）は、光ピックアップ装置本体に対する対物レンズ４のシフト量だけでなく、光ディスク５上におけるビームスポットと情報トラックとの相対位置、すなわちトラッキング状態によっても変動する。
【００３７】
そのため、反射光束Ｍの光量に対して反射光束Ｒの光量が小さい場合には、対物レンズ位置信号ＬＥＳの変動量に対するトラッキング状態の影響が大きくなってしまうので、対物レンズ４のシフト量が正確に判断できなくなる。従って、対物レンズ位置信号ＬＥＳによって対物レンズ４のシフト量を精度良く検出するためには、反射光束Ｍの光量に対して反射光束Ｒの光量をできる限り大きくする方が望ましい。
【００３８】
上記したように、本発明に係る光ピックアップ装置においては、対物レンズ４に入射される平行光束のうち、対物レンズ入射面の有効口径Ｄより外側に入射される平行光束を対物レンズ４の外周部に設けた反射部４ｂで反射させ、その反射光束を受光素子６で検出する構成としている。
【００３９】
このような構成とすることにより、対物レンズ４に位置センサ等を設けることなく簡易に対物レンズ位置信号ＬＥＳを検出することができる。よって、対物レンズ４を駆動するためのアクチュエータを小型、軽量化することができる。
【００４０】
特に、本発明に係る光ピックアップ装置ではトラッキングエラー検出方式としてＤＰＤ法を採用しており、第１受光素子６ａと第２受光素子６ｂで得られた各出力信号の強度差ではなく、各出力信号が有する高周波成分の位相差からトラッキングエラー信号ＴＥＳを検出している。
【００４１】
そのため、トラッキングエラー検出用の受光素子６において、対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出動作にのみ必要な反射光束Ｒを受光する構成としても、トラッキングエラー信号ＴＥＳの検出にはほとんど影響がない。
【００４２】
このような構成とすることにより、対物レンズ位置信号ＬＥＳを検出するために新たな受光素子を追加する必要がなく、単一の受光素子６によってトラッキングエラー信号ＴＥＳと対物レンズ位置信号ＬＥＳの両方を検出することが可能となる。よって、光ピックアップ装置の大型化を招くことなく簡単な構成で、トラッキングエラー信号ＴＥＳと対物レンズ位置信号ＬＥＳを得ることができる。
【００４３】
さらに、本実施形態における光ピックアップ装置は、上記構成により検出した対物レンズ位置信号ＬＥＳに基づいて光ピックアップ装置本体に対する対物レンズ４のシフト量を判断し、その判断結果に応じて対物レンズ４と光ピックアップ装置本体との相対位置を制御する構成としている。
【００４４】
図３はトラッキングエラー信号ＴＥＳ及び対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出手段、並びに対物レンズ４及び光ピックアップ装置本体の位置制御手段の一構成例を示すブロック図である。
【００４５】
受光素子６を構成する第１受光面６ａ及び第２受光面６ｂから得られる出力信号は、それぞれ電流電圧変換回路７、８（以下、Ｉ／Ｖ変換回路７、８と呼ぶ）によって、トラッキングエラー信号ＴＥＳ及び対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出に必要な電圧レベルまで増幅される。
【００４６】
Ｉ／Ｖ変換回路７、８の各出力信号はハイパスフィルタ９（以下、ＨＰＦ９と呼ぶ）に送出され、そこで低周波成分を取り除かれた後にＴＥＳ生成回路１１に送出される。本実施形態におけるＴＥＳ生成回路１１ではトラッキングエラー検出方式としてＤＰＤ法を採用しており、Ｉ／Ｖ変換回路７、８の各出力信号が有する高周波成分の位相差に基づいてトラッキングエラー信号ＴＥＳの検出が行われる。
【００４７】
なお、ＴＥＳ生成回路１１にて良好なトラッキング信号ＴＥＳを得るために、本実施形態ではＴＥＳ生成回路１１の前段にＨＰＦ９を設けることで、不要な低周波成分を予め除去する構成としているが、ＨＰＦ９を設けない構成とすることも可能である。
【００４８】
ＴＥＳ生成回路１１で得られたトラッキングエラー信号ＴＥＳは対物レンズ駆動回路１３に送出される。対物レンズ駆動回路１３は入力されたトラッキングエラー信号ＴＥＳに基づいて対物レンズ駆動アクチュエータ１５を制御し、対物レンズ４を駆動させる。これにより、対物レンズ４によって光ディスク５の記録面上に形成されるビームスポットを記録情報の並ぶ情報トラックに追従させることができる。
【００４９】
一方、Ｉ／Ｖ変換回路７、８の各出力信号はローパスフィルタ１０（以下、ＬＰＦ１０と呼ぶ）にも送出され、そこで高周波成分を取り除かれた後にＬＥＳ生成回路１２に送出される。ＬＥＳ生成回路１２ではＩ／Ｖ変換回路７、８から得られる出力信号の強度差に基づいて対物レンズ位置信号ＬＥＳが検出される。
【００５０】
なお、ＬＥＳ生成回路１２にて良好な対物レンズ位置信号ＬＥＳを得るために、本実施形態ではＬＥＳ生成回路１２の前段にＬＰＦ１０を設けることで、不要な高周波成分を予め除去する構成としているが、ＬＰＦ１０を設けない構成とすることも可能である。
【００５１】
ＬＥＳ生成回路１２で得られた対物レンズ位置信号ＬＥＳはスライドモータ駆動回路１４に送出される。スライドモータ駆動回路１４は入力された対物レンズ位置信号ＬＥＳに基づいてスライドモータ１６を制御し、光ピックアップ装置本体を駆動させる。これにより、対物レンズ４と光ピックアップ装置本体との相対位置を補正して、対物レンズ４のシフト量を抑制することができる。
【００５２】
このような構成とすることにより、対物レンズ位置信号ＬＥＳに基づいて自動的に対物レンズ４と光ピックアップ装置本体の相対位置ずれを低減させることができるので、トラッキングエラー信号ＴＥＳのＳ／Ｎ劣化を抑制することが可能となる。よって、良好なトラッキングサーボ性能を有する光ピックアップ装置を実現することができる。
【００５３】
さらに、上記構成の光ピックアップ装置において、光ディスク５に記録された情報信号の読み取りについても、受光素子６によって行う構成にするとよい。本構成を実現するためには、第１受光素子６ａ及び第２受光素子６ｂで得られる出力信号を足し合わせた後で、その直流成分をコンデンサによりカットして交流成分のみを抽出する回路を組み込めばよい。
【００５４】
このような構成とすることにより、トラッキングエラー信号ＴＥＳや対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出に加えて、光ディスク５に記録された情報信号の検出をも単一の受光素子６で行うことができる。これにより、光ピックアップ装置をより小型、軽量化することが可能となる。
【００５５】
なお、上記した実施形態では受光素子６として２分割受光素子を用いた例を挙げて説明を行ったが、受光素子６の分割数はこれに限定されるものではなく、本発明は４分割受光素子といった多分割受光素子を有する光ピックアップ装置にも適用が可能である。
【００５６】
【発明の効果】
本発明に係る光ピックアップ装置においては、対物レンズに入射される平行光束のうち、対物レンズ入射面の有効口径より外側に入射される平行光束を前記対物レンズの外周部に設けた反射部で反射させ、その反射光束を受光素子で検出する構成としている。また、前記受光素子は２分割された受光面を有しており、前記対物レンズ位置信号は各受光面から得られる出力信号の差信号として検出される構成にするとよい。
【００５７】
このような構成とすることにより、前記対物レンズに位置センサ等を設けることなく簡易に対物レンズ位置信号を検出することができる。よって、前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータを小型、軽量化することができる。
【００５８】
特に、本発明に係る光ピックアップ装置ではトラッキングエラー検出方式としてＤＰＤ法を採用しているため、トラッキングエラー検出用の前記受光素子で前記対物レンズの反射部から戻ってくる反射光束を受光する構成としても、トラッキングエラー信号の検出にはほとんど影響がない。
【００５９】
このような構成とすることにより、前記対物レンズ位置信号を検出するために新たな受光素子を追加する必要がなく、単一の前記受光素子によって前記トラッキングエラー信号と前記対物レンズ位置信号の両方を検出することが可能となる。よって、光ピックアップ装置本体の小型、軽量化に貢献することができる。
【００６０】
さらに、前記対物レンズ位置信号に基づいて、前記対物レンズと前記光ピックアップ装置本体との相対位置を制御する手段を有する構成にするとよい。このような構成とすることにより、前記対物レンズ位置信号に基づいて自動的に前記対物レンズと前記光ピックアップ装置本体の相対位置ずれを低減することができるので、前記トラッキングエラー信号のＳ／Ｎ劣化を抑制することが可能となる。よって、良好なトラッキングサーボ性能を有する光ピックアップ装置を実現することができる。
【００６１】
また、前記受光素子から得られる出力信号に基づいて、前記情報記録媒体に記録された情報信号を検出する手段を有する構成にしてもよい。このような構成とすることにより、前記トラッキングエラー信号や前記対物レンズ位置信号の検出に加えて、前記情報信号の検出をも単一の前記受光素子で行うことができる。これにより、前記光ピックアップ装置をより小型、軽量化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明に係る光ピックアップ装置の一実施形態を示す概略構成図である。
【図２】  本実施形態における受光素子６を示す概略構成図である。
【図３】  トラッキングエラー信号ＴＥＳ及び対物レンズ位置信号ＬＥＳの検出手段、並びに対物レンズ４及び光ピックアップ装置本体の位置制御手段の一構成例を示すブロック図である。
【図４】  従来の光ピックアップ装置の一例を示す概略構成図である。
【図５】  従来の受光素子６の一例を示す概略構成図である。
【符号の説明】
１    半導体レーザ素子
２    コリメートレンズ
３    ビームスプリッタ
４    対物レンズ
４ａ  レンズ部
４ｂ  反射部
５    光ディスク
６    受光素子
６ａ  第１受光面
６ｂ  第２受光面
７    電流電圧変換回路
８    電流電圧変換回路
９    ハイパスフィルタ
１０  ローパスフィルタ
１１  ＴＥＳ生成回路
１２  ＬＥＳ生成回路
１３  対物レンズ駆動回路
１４  スライドモータ駆動回路
１５  対物レンズ駆動アクチュエータ
１６  スライドモータ
【図１】
0003722670.tif 000004
【図２】
0003722670.tif 000005
【図３】
0003722670.tif 000006
【図４】
0003722670.tif 000007
【図５】
0003722670.tif 000008