(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品を検査する製品検査システムにおいて、
製品より検査に必要な信号を読み取りＡＤ変換して形成されたデータを送信する複数の検査信号読み取りユニット、
前記複数の検査信号読み取りユニットより送られてきた前記データを解析して製品を検査する検査装置、
前記複数の検査読み取りユニットと前記検査装置間をデータ送受可能に接続するネットワークを備え、
前記検査装置は、前記複数の検査信号読み取りユニットより送られてきた前記データを記憶する記憶手段、該データをアナログ信号に変換するＤＡコンバータ、該アナログ信号に基づいて製品の特性を測定する計測モジュールを備え、前記データを記憶手段より順次読み取りアナログ信号に変換し、該アナログ信号を前記計測モジュールに入力し、該計測モジュールの測定結果に基づいて製品を検査することを特徴とする製品検査システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は製品を検査する製品検査システムに係わり、特に製品から検査に必要な信号を読み取って該信号に基づいて製品を検査する製品検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、製造ラインにおいて人によって行なわれてきた製品検査は、技術の進歩により、コンピュータを備えた製品検査システムによって自動的に行なわれるようになっている。
図７は従来のカーステレオにおける製品検査システムの構成を示す図である。５１はパーソナルコンピュータ（以下ＰＣ）で、接続されている周辺機器を製品検査のために制御したり、検査結果に基づいて製品の良否判定を行なう。５２はＰＣ５１の拡張汎用スロットに測定項目毎の計測ボードを挿入して構成され、カーステレオより入力された信号に基づいて歪率、Ｓ／Ｎ等の測定を行なう計測モジュールである。５３は検査の対象となるカーステレオ（製品）、５４はカーステレオ５３のラジオの特性を測定するために必要な周波数を発生するシグナルジェネレータ、５５はカーステレオ５３より出力される信号（フロント／リア）の切り換えを行なうシグナルセレクタ、５６はカーステレオ５３をコントロールするための信号をカーステレオ５３に入力したりするバスインターフェースである。
【０００３】
図８は上述した製品検査システムによって測定、検査される内容を示した図である。測定は項目１から順に実行され、実行時の測定が終了してから次の測定を行ない、全項目についての測定が終了したところで、全項目の測定結果についての総合判定が行なわれる。
例えば、測定項目Ｎｏ．７のラジオのＳ／Ｎ測定において、ＰＣ５１は、ラジオのＳ／Ｎを測定する指示を計測モジュール５２、シグナルジェネレータ５４、シグナルセレクタ５５に送信する。この指示により、カーステレオ５３はバスインターフェース５６を介してラジオモードになり所定のバンド周波数にセットする。シグナルジェネレータ５４は所定の周波数をＯＮ／ＯＦＦし、計測モジュール５２はシグナルセレクタ５５を介してカーステレオ５３より出力される測定に必要な信号が入力すると、ラジオのＳ／Ｎを測定しＰＣ５１に測定結果を送信する。ＰＣ５１はこの測定結果を記憶すると共に次の測定項目Ｎｏ．８のＭＩＸ測定を行なう指示を各周辺機器に送信する。
以下同様に各項目についての測定を行ない、測定項目Ｎｏ．１０のテープスピードの測定が終了したところで、ＰＣ５１は全ての測定結果に基づいて製品の良否を判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
図９は、上述した製品検査システムにおける検査の流れを示す図である。この検査の流れ図より従来の製品検査システムは、１つの測定が終了してから次の測定を開始するまでに測定を準備するための時間が生じている。これは１つの測定が完了後、次の測定を行なえるようになるまでに、▲１▼カーステレオ５３が測定項目に対するモード（ラジオモード、テープモード等）になって、▲２▼そのモードで動作し、▲３▼測定に必要な安定した信号を計測モジュール５２へ出力できる状態になるまで時間が必要で、その状態になってはじめて測定が開始されるからである。このため、従来の製品検査システムは測定準備するための待ち時間が生じてしまい、１システム当たりのコストパフォーマンスが悪いといった問題がある。
以上から本発明の目的は、測定を準備するための待ち時間を利用して他の製品の測定を行なうことで、製品検査システム全体の稼動率を上げコストパフォーマンスの高い製品検査システムを提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題は本発明によれば、製品より検査に必要な信号を読み取りＡＤ変換して形成されたデータを送信する複数の検査信号読み取りユニット、前記複数の検査信号読み取りユニットより送られてきた前記データを解析して製品を検査する検査装置、前記複数の検査読み取りユニットと前記検査装置間をデータ送受可能に接続するネットワークを備え、前記検査装置は、前記複数の検査信号読み取りユニットより送られてきた前期データを記憶する記憶手段、該データをアナログ信号に変換するＤＡコンバータ、該アナログ信号に基づいて製品の特性を測定する計測モジュールを備え、前記データを記憶手段より順次読み取りアナログ信号に変換し、該アナログ信号を該計測モジュールに入力し、該計測モジュールの測定結果に基づいて製品を検査することにより達成される。かかる製品検査システムによれば、複数のユニットから送られてくるデータを記憶し、記憶されているデータを順次処理するため、測定準備の待ち時間をなくすことが可能になる。
【０００６】
【発明の実施の形態】
（ａ）本発明の製品検査システムの構成
図１は本発明の製品検査システムの構成を説明する図である。１は検査装置、２は検査の対象となるカーステレオ（製品）、３はカーステレオ２より検査に必要な波形信号を取り込みＡＤ変換して送信する計測クライアント（検査信号読み取りユニット）、４はイーサネットにより検査装置１と各計測クライアント３間の通信を行なうためのＬＡＮ（Local Area Network）用ケーブル、５はハブであり、ＬＡＮ用ケーブル４とハブ５等からネットワークが構成されている。検査装置１において、１１は各計測クライアント３より送信されてくる波形データを元のアナログ波形信号に変換するＤＡコンバータ、１２は測定項目毎の計測ボートで構成されＤＡコンバータ１１より出力されるアナログ波形信号に基づいて測定を行なう計測モジュールである。１３は計測サーバーであり、この計測サーバー１３は、ＬＡＮ用ケーブル４、ハブ５を介して▲１▼各計測クライアント３へ測定開始要求や測定結果を送信すると共に、▲２▼各計測クライアント３より送信されてくる測定に必要なデータ（波形データ）を受信してメモリに記憶し、▲３▼又、メモリに記憶した波形データを読み出しＤＡ変換して計測モジュール１２に入力し、▲４▼更に、計測モジュール１２より送信されてくる測定結果と規格値を照合し製品良否の判定を行なう。１４は各計測クライアント３より送信されてくる波形データを一時格納する計測サーバー１３内部のメモリ（記憶手段）である。
【０００７】
図２はメモリ１４のデータ構造を示す図である。メモリ１４は待ち行列（キュー）のデータ構造をもち、各計測クライアント３より送信されてくる波形データは、送られてきた順に随時メモリ１４へ格納されていく。メモリ１４に格納された波形データは計測サーバー１３の指示により格納された順に待ち行列から取り出されＤＡコンバータ１１へ送られる。
【０００８】
（ｂ）計測クライアントの内部構成
図３は計測クライアント３の内部構成を示す図である。２は検査の対象となるカーステレオ（製品）、３は計測クライアント本体、６はカーステレオ２と計測クライアント３を接続するケーブルである。計測クライアント３において、２１は計測サーバー１３とのデータ送受制御や計測データの読み取り制御等を行なうＣＰＵ、２２は計測サーバー１３と通信を行なうためのイーサネット部（ＬＡＮインターフェース）、２３はカーステレオ２より出力される波形信号（フロント／リア）の切り換えを行なうシグナルセレクタ部、２４はシグナルセレクタ２３部より出力される波形信号をＡＤ変換し波形データとするＡＤコンバータ部、２５はＡＤコンバータ部２４で変換された波形データを一時記憶するメモリ、２６は計測クライアント３内のバスラインである。
【０００９】
図４は本発明を適用した製品検査システムにおける検査の流れを示す図である。各計測クライアント３は順次検査に必要な信号を取り込みＡＤ変換して計測サーバー１３へ送信する。計測サーバー１３は、送信されてきたデータをメモリ１４の待ち行列の末尾に接続して格納すると共に、格納されているデータを待ち行列の先頭から順次読み出して測定する。このため、本発明の製品検査システムによれば、従来の製品検査システムのように測定するための準備時間がなくなり、常時製品の測定及び検査を行なうことができる。
【００１０】
（ｃ）本発明の処理フロー
（ｃ−１）計測クライアントの処理フロー
図５は本発明の計測クライアント３の処理フローを説明する図である。計測クライアント３は検査の対象となるカーステレオ２（製品）がセットされたか否か確認する（ステップ１０１）。セットされていなければカーステレオ２がセットされるまで待機する。カーステレオ２がセットされれば計測クライアント３は測定準備が整ったことを示す測定可能通知を計測サーバー１３へ送信し（ステップ１０２）、計測サーバー１３より測定開始要求が送信されてくるまで待機する（ステップ１０３）。計測クライアント３は計測サーバー１３より送信されてくる測定開始要求を受信すると、所定の測定項目について測定を開始する（ステップ１０４）。測定中の計測クライアント３は、測定項目毎にカーステレオ２より出力される波形信号をシグナルセレクタ２３でフロント出力／リア出力のどちらかに選択後、ＡＤコンバータ２４でディジタル化し送信するまでメモリ２５に一時記憶する。ついで、計測クライアント３は、メモリ２５に記憶してある測定データをパケット化して計測サーバー１３にイーサネット部２２を介して送信し（ステップ１０５）、全測定項目の測定が終了したか否か確認する（ステップ１０６）。終了しなければステップ１０４に戻り次の測定項目について測定を開始し、終了すれば計測サーバー１３からの総合判定通知が送信されてくるまで待機する（ステップ１０７）。計測クライアント３は計測サーバー１３より送信されてくる総合判定通知を受信すると、検査の結果をディスプレイやランプやブザー等で知らせ、以後次の検査対象となるカーステレオ２がセットされるまで待機する。
【００１１】
（ｃ−２）計測サーバーの処理フロー
図６は本発明の計測サーバー１３の処理フローを説明する図である。計測サーバー１３は各計測クライアント３より送信されてくる測定可能通知を受信したか否か確認する（ステップ２０１）。受信したら計測サーバー１３は測定項目等の情報を含む測定開始要求を計測クライアント３に送信し（ステップ２０２）、受信しなければステップ２０３へ移行する。ついで、計測サーバー１３は計測クライアント３より送信されてくる測定データを受信したか否か確認する（ステップ２０３）。受信したら計測サーバー１３は、メモリ１４の待ち行列に測定データを投入し（図２参照、ステップ２０４）、受信しなければステップ２０５へ移行する。次に、計測サーバー１３は計測モジュール１２からの測定結果を受信したか否か確認する（ステップ２０５）。受信しなければステップ２０１へ移行し、受信したら計測サーバー１３はメモリ１４の先頭にある測定データを待ち行列から取り出して、ＤＡコンバータ１１でＤＡ変換後計測モジュール１２に入力する（ステップ２０６）。その後、計測サーバー１３は所定クライアントについて、全測定項目に対する測定結果（Ｓ／Ｎ、歪率、ワウフラッタ等）を計測モジュール１２より受信したか否か、すなわち該計測クライアント３について測定が完了したか否かを確認する（ステップ２０７）。全測定結果を受信しなければステップ２０１へ移行し、受信したら全測定結果について規格値と照合し製品良否の判定及びその結果を記憶すると共に、計測クライアント３へ検査の判定を送信する（ステップ２０８）。以後、２０１へ戻って各計測クライアントから送信されてくる測定可能通知の受信を確認する。
【００１２】
以上では、計測クライアント（検査読み取りユニット）において、製品からの信号をＡＤ変換し計測サーバーへ送信する機能のみ説明してきたが、計測クライアントに簡単な測定（信号レベル測定等）機能を持たせ検査することができる。又以上では、計測クライアントから送られてきたデータを計測サーバーにおいてＤＡ変換しアナログ信号に復元してから測定を行なう検査を説明してきたが、検査内容によってはＤＡ変換せずそのままディジタル処理で検査することも可能である。
又以上では、本発明をカーステレオにおける製品検査システムに限って説明してきたが、本発明はかかる製品検査システムに限定されず、いかなる製品検査システムにおいても適用できるものである。
【００１３】
【発明の効果】
以上本発明によれば、計測サーバーは、各計測クライアントより送信されてくる製品の項目毎の測定データをメモリに作成した待ち行列の末尾に順次接続する。そして、計測サーバーは所定項目の特性（Ｓ／Ｎ、歪率、ワウフラッタ等）の測定が終了する毎に、該待ち行列の先頭より次の項目の測定データを取り出して測定及び検査する。以上により測定準備等の待ち時間をなくすことができ、１システム当たりのコストパフォーマンスを高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の製品検査システムの構成を示す図である。
【図２】メモリ１４のデータ構造を示す図である。
【図３】計測クライアントの内部構成を示す図である。
【図４】本発明の製品検査システムにおける検査の流れを示す図である。
【図５】本発明の計測クライアント３の処理フローを示す図である。
【図６】本発明の計測サーバー１３の処理フローを示す図である。
【図７】従来の製品検査システムの構成を示す図である。
【図８】製品検査システムによる測定内容を示す図である。
【図９】従来の製品検査システムにおける検査の流れを示す図である。
【符号の説明】
１・・検査装置
２・・カーステレオ（製品）
３・・計測クライアント
４・・ＬＡＮ（Local Area Network）
１１・・ＤＡコンバータ
１２・・計測モジュール
１４・・メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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