(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
現像工程を経たあと漂白工程および定着工程のうち少なくともいずれか一方の工程を経ずに現像処理されて銀を含むフィルムのスキャン方法であって、
前記フィルムに光を照射する照射工程、および
前記フィルムに照射された光のうち反射された光を受光しかつ前記フィルムに存在する異常部位による光の乱れを利用して前記異常部位を検出する検出工程を備える、スキャン方法。
【請求項２】
前記検出工程では、前記フィルムのうち前記異常部位以外の部分で反射された光を受光することによって前記異常部位を検出する、請求項１に記載のスキャン方法。
【請求項３】
前記検出工程では、前記フィルムに対して垂直に照射され前記フィルムに対して垂直に反射された光を受光することによって前記異常部位を検出する、請求項１に記載のスキャン方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、スキャン方法に関し、より特定的には現像工程を経たあと漂白工程や定着工程を経ずに現像処理されたネガフィルムをスキャンするスキャン方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のスキャナ装置は、ネガフィルムに光を照射する光源を含む。ネガフィルムに照射され透過した光はＣＣＤセンサによって受光され、受光された光は電気信号である画素信号に変換される。この画素信号に所定の変換処理が施されて画像データが得られる。
ネガフィルムに傷や埃、指紋等、光源からＣＣＤセンサに至る光路を乱す異常部位が存在する場合、その異常部位に対応して白抜け等の異常な画像（以下、「傷画像」という。）がスキャンして得られるスキャン画像にあらわれてしまい問題である。
【０００３】
ネガフィルムに存在する異常部位を検出する技術として、デジタルアイス（Applied Science Fiction社の登録商標）が知られている。この技術では、ネガフィルムに赤外線を照射する。ネガフィルムのうち異常部位以外の部分に照射された赤外線はネガフィルムを透過してＣＣＤセンサ等の検出手段に受光されるが、異常部位に照射された赤外線は乱反射して検出手段に受光されない。このように、この技術はネガフィルムを透過する赤外線を受光することによって異常部位を検出するものである。
【０００４】
また、特開平１１−２１５３１９号に、ネガフィルムに存在する異常部位を検出する技術が提案されている。
図７を参照して、この技術で用いられるスキャナ装置１は、光源２を含む。光源２は、ネガフィルム３に対して拡散光を発する。ネガフィルム３に対して光源２の反対側にＣＣＤセンサ４が配置され、ネガフィルム３とＣＣＤセンサ４との間に投影用レンズ５が配置される。光源２は、ＣＣＤセンサ４からは直視できない位置に配置される。したがって、ネガフィルム３の異常部位以外の部分を透過した光は、直接ＣＣＤセンサ４に届かない。ネガフィルム３に異常部位が存在する場合には、光源２から発せられた光の光路は異常部位を透過する際に乱され、光路が乱された光は投影用レンズ５を通ってＣＣＤセンサ４に受光される。これによってネガフィルム３の異常部位が検出される。このように、特開平１１−２１５３１９号では、ネガフィルム３を透過する光によって異常部位を検出する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで近頃では、従来の一般的な現像処理に対して、迅速に現像処理する方法（以下、「迅速現像処理」という。）が提案されている。一般的な現像処理では、感光したハロゲン化銀を金属銀にするとともにカラーカプラーから色素を生成する発色現像工程、金属銀をハロゲン化銀に戻す漂白工程、ハロゲン化銀をネガフィルムから洗い流す定着工程、ネガフィルムに付着した薬品を洗浄して経時変化を抑制する安定工程、およびネガフィルムを乾燥させる乾燥工程のすべてを経て現像処理される。ここで、漂白工程および定着工程の両方が行われて脱銀される。これに対して、迅速現像処理では、発色現像工程を経たあと、漂白工程および定着工程のうち少なくともいずれか一方の工程を経ずに現像処理される。このため、迅速現像処理されたネガフィルムは、脱銀されていないため濃度が高い。
【０００６】
このような迅速現像処理されたネガフィルムでは、現像処理されても銀が残留するので、赤外線が照射されてもネガフィルム中に残留する銀によって反射されて透過できず、検出手段に届かない赤外線がある。したがって、異常部位で乱反射したために赤外線が検出手段に届かないのか、銀によって反射されたために届かないのかが識別できないので、デジタルアイスでは銀が残留するネガフィルムの異常部位の位置を検出することはできない。
【０００７】
また、特開平１１−２１５３１９号の技術は、一般的な現像処理が施されたネガフィルムをスキャンすることを前提としており、上述のようにネガフィルムの透過光を用いて異常部位を検出するものである。しかし、銀が残留するネガフィルムは濃度が高いので、このようなネガフィルムの異常部位を検出するためには非常に強い光を必要とし、拡散光を用いるこの技術では光量が不足してしまう。したがって、特開平１１−２１５３１９号の技術で、銀が残留するネガフィルムの異常部位を検出することは困難である。
それゆえにこの発明の主たる目的は、銀を含むフィルムの異常部位を検出することができるスキャン方法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために、請求項１に記載のスキャン方法は、現像工程を経たあと漂白工程および定着工程のうち少なくともいずれか一方の工程を経ずに現像処理されて銀を含むフィルムのスキャン方法であって、フィルムに光を照射する照射工程、およびフィルムに照射された光のうち反射された光を受光しかつフィルムに存在する異常部位による光の乱れを利用して異常部位を検出する検出工程を備える。
請求項２に記載のスキャン方法は、請求項１に記載のスキャン方法において、検出工程では、フィルムのうち異常部位以外の部分で反射された光を受光することによって異常部位を検出することを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載のスキャン方法は、請求項１に記載のスキャン方法において、検出工程では、フィルムに対して垂直に照射されフィルムに対して垂直に反射された光を受光することによって異常部位を検出することを特徴とする。
【００１２】
銀を含むフィルムでは、照射された光の中には銀によって反射されてしまう光があり光が透過しにくいが、請求項１に記載のスキャン方法では、銀が光を反射するという特性を逆に利用し、フィルムで反射された光を受光することによって異常部位を検出するので、銀を含むフィルムの場合でも特に多量の光をフィルムに照射する必要がない。また、異常部位による光路の乱れを利用することによって、異常部位と銀の部分とを容易に識別することができ、容易に異常部位を検出することができる。異常部位を検出できればたとえばデジタル画像処理で異常部位に対応する傷画像の部分の濃度を上げることによって、傷画像の目立たないスキャン画像を得ることができる。
【００１３】
現像工程を経たあと漂白工程および定着工程のうち少なくともいずれか一方の工程を経ずに迅速に現像処理されたフィルムは、脱銀されていないため濃度が高く、光が透過しにくい。請求項１に記載のスキャン方法では、透過光ではなく反射光を用いかつ異常部位と銀の部分とを識別できるので、特に多量の光をフィルムに照射する必要がなく、容易に異常部位を検出することができる。
請求項２に記載のスキャン方法では、異常部位以外の部分に照射された光はフィルムで反射されて受光される一方、異常部位に照射された光の光路は乱されるので異常部位に照射された光は受光されない。したがって、光が受光されない部分を異常部位として検出することで、異常部位の位置を検出することができる。
【００１４】
請求項３に記載のスキャン方法では、フィルムに対して垂直に光を照射し垂直に反射された光を受光するので、歪みのない理想的なフィルムの像を検出することができる。したがって、歪みを補正する等の作業を必要とせずに、異常部位の位置を検出することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態について説明する。
この発明の一実施形態のスキャナ装置１０は、たとえば図１に示すようにして迅速現像処理されたネガフィルム１２に存在する異常部位を検出するために用いられる。
【００１６】
具体的には、ネガフィルム１２は、パトローネ１４から引き出されると、発色現像槽１６の現像液１８に浸漬されて発色現像処理された（発色現像工程）後、乾燥装置２０によって乾燥され（乾燥工程）、スキャナ装置１０に搬送される。なお、ネガフィルム１２は、必要に応じてカッタ２２によって切断される。
ネガフィルム１２は、漂白工程や定着工程が省かれ脱銀されずに銀を含むため、迅速に現像処理されるものの濃度が高く光が透過しにくい。
このように、濃度が高く光が透過しにくいネガフィルム１２でも、容易に異常部位を検出できるように、スキャナ装置１０は、以下のように構成される。
【００１７】
図２を参照して、スキャナ装置１０は、検出手段となるＣＣＤセンサ２４を含む。ＣＣＤセンサ２４は、ネガフィルム１２で反射された光を受光するように、ネガフィルム１２に正対して配置される。また、光源となる２つのランプ２６が、ネガフィルム１２に対して等距離となる位置であってＣＣＤセンサ２４の上下近傍に配置される。これによってランプ２６は、ネガフィルム１２の所定範囲に均等な光を照射する。ＣＣＤセンサ２４とネガフィルム１２との間には、投影用レンズ２８が配置される。
【００１８】
ランプ２６から発せられた光がネガフィルム１２に照射されると、一部の光はネガフィルム１２を透過するが、ネガフィルム１２には銀が残留しているので、多くの光はネガフィルム１２で反射される。
【００１９】
図３をも参照して、ネガフィルム１２の表面（以下、「フィルム面」という。）１２ａには、傷や埃、指紋等、ランプ２６からＣＣＤセンサ２４に至る光路を乱す異常部位３０が存在する場合がある。フィルム面１２ａのうち異常部位３０以外の部分に照射された光３２ａおよび３２ｃは、フィルム面１２ａにおいて入射角と等しい反射角で反射され、投影用レンズ２８を介してＣＣＤセンサ２４に受光される。これに対して、異常部位３０に照射された光３２ｂは、異常部位３０で乱反射し、すなわち異常部位３０によって光路が乱され、ＣＣＤセンサ２４に届かない。このように、ＣＣＤセンサ２４では、フィルム面１２ａのうち異常部位３０以外の部分に照射された光３２ａおよび３２ｃのみが受光され、異常部位３０に照射された光３２ｂは受光されない。スキャナ装置１０は、受光されなかった部分を異常部位３０として検出することによって、フィルム面１２ａに存在する異常部位３０の位置を検出することができる。
【００２０】
フィルム面１２ａに存在する異常部位３０の位置を検出できれば、デジタル画像処理によって異常部位３０に対応する傷画像の部分の濃度を上げる等して、傷画像の目立たないスキャンデータを作成することができる。
ここで、フィルム面１２ａとは、ネガフィルム１２のいずれかの主面をいい、ネガフィルム１２の乳剤側またはベース材側の特定の主面のみを意味するものではない。
【００２１】
スキャナ装置１０によれば、銀が光を反射するという特性を逆に利用し、ネガフィルム面１２を透過した光ではなく光３２ａおよび３２ｃ等のネガフィルム１２で反射された光を受光することによって異常部位３０を検出するので、銀を含むネガフィルム１２の異常部位３０の位置を検出する場合でも特に多量の光をフィルムに照射する必要がない。また、異常部位３０による光路の乱れを利用することによって、異常部位３０と銀の部分とを容易に識別することができ、容易に異常部位３０の位置を検出することができる。
【００２２】
また、多量の光を発する光源は光とともに熱をも発することが多いが、そのような光源を用いる必要がないので、ネガフィルム１２を熱によって損傷してしまう危惧がない。
さらに、投影関係をほとんどあおらずに、すなわちネガフィルム１２にほとんど垂直な光を照射して異常部位３０を検出できるので、ＣＣＤセンサ２４ではほとんど歪みのないフィルム面１２ａの像を検出することができ、歪みの補正等の処理が必要ない。
【００２３】
なお、たとえば２つのランプ２６をそれぞれＣＣＤセンサ２４から遠ざけて、ネガフィルム１２をあおるように配置することによって、上述の実施形態の場合とは逆に、異常部位３０に照射された光だけがＣＣＤセンサ２４に受光され、異常部位３０以外の部分に照射された光はＣＣＤセンサ２４に届かないようにすることができる。これによっても上述の場合と同様に、ネガフィルム１２の異常部位３０の位置を検出することができる。
また、ランプ２６は、ＣＣＤセンサ２４の周囲に３つ以上設けて均等配置してもよい。
【００２４】
つぎに、図４を参照して、他の実施形態のスキャナ装置４０について説明する。スキャナ装置４０は光源となる１つのランプ４２を含む。ランプ４２は、ネガフィルム１２をあおるように、すなわちネガフィルム１２に斜め方向の光を照射するように配置される。ネガフィルム１２をあおるようにランプ４２から発せられ、ネガフィルム１２において入射角と等しい反射角で反射された光の光路上に、検出手段となるＣＣＤセンサ４４が配置される。ネガフィルム１２とＣＣＤセンサ４４との間の光路上には投影用レンズ４６が配置される。
【００２５】
ＣＣＤセンサ４４では、スキャナ装置１０の場合と同様に、フィルム面１２ａのうち異常部位３０以外の部分に照射された光のみが受光され、異常部位３０に照射された光は受光されない。スキャナ装置４０は、受光されなかった部分を異常部位３０として検出することによって、ネガフィルム１２に存在する異常部位３０の位置を検出することができる。
【００２６】
スキャナ装置４０によれば、銀が残留するネガフィルム１２であっても容易に異常部位３０の位置を検出できる。また、光源は１つで足り構成が簡単になる。
【００２７】
なお、スキャナ装置４０においても、ランプ４２およびＣＣＤセンサ４４等の位置を調節することによって、異常部位３０に照射された光だけがＣＣＤセンサ４４に受光され、異常部位３０以外の部分に照射された光はＣＣＤセンサ４４に届かないようにしてもよい。これによっても上述の場合と同様に、ネガフィルム１２の異常部位３０の位置を検出することができる。
【００２８】
図５を参照して、その他の実施形態のスキャナ装置５０について説明する。
スキャナ装置５０は、検出手段となるＣＣＤセンサ５２を含む。ＣＣＤセンサ５２はネガフィルム１２のフィルム面１２ａに正対するように配置される。ネガフィルム１２とＣＣＤセンサ５２との間には、偏光ビームスプリッタ５４（以下、「ＰＢＳ」という。）が配置される。ＰＢＳ５４は偏光分離膜５４ａを有する。偏光分離膜５４ａの回転軸は図５の紙面に垂直な方向に配置され、偏光分離膜５４ａは水平方向に対して４５度左上がりとなるように設定される。
【００２９】
ＰＢＳ５４の上方には、光源となるランプ５６が配置され、ランプ５６はＰＢＳ５４に向けて赤色光を発する。
ＰＢＳ５４とネガフィルム１２との間であってＰＢＳ５４近傍に、（１／４）λ板５８が配置される。また、ネガフィルム１２に対してＰＢＳ５４の反対側であってネガフィルム１２の近傍に、鏡６０がネガフィルム１２と平行に配置される。さらに、ＰＢＳ５４とＣＣＤセンサ５２との間には投影用レンズ６２が配置される。
【００３０】
ランプ５６から発せられＰＢＳ５４に入射した赤色の非偏光は、ＰＢＳ５４の偏光分離膜５４ａに照射されると偏光方向が互いに直交する２つの偏光成分、すなわちＰ偏光波とＳ偏光波とに分離される。具体的にはたとえばＰ偏光波は偏光分離膜５４ａを透過し、Ｓ偏光波だけが偏光分離膜５４ａで反射される。偏光分離膜５４ａで反射されたＳ偏光波は、（１／４）λ板５８を通過してネガフィルム１２に垂直に照射される。
【００３１】
上述のようにネガフィルム１２には銀が残留しているので、ネガフィルム１２に照射された光のうちの一部はネガフィルム１２中の銀によって垂直に反射され、再び（１／４）λ板５８を通過してＰＢＳ５４に入射する。このとき、ＰＢＳ５４に入射した光は、（１／４）λ板５８を往復で２回通過することで位相が（１／２）λずらされ偏光面が回転されたＰ偏光波に変換されており、偏光分離膜５４ａを透過することができる。偏光分離膜５４ａを透過した光は投影用レンズ６２によってＣＣＤセンサ５２に投影される。
【００３２】
また、ネガフィルム１２に照射された光のうち、ネガフィルム１２を透過した光は鏡６０によって垂直に反射され、再びネガフィルム１２を透過し（１／４）λ板５８を通過してＰＢＳ５４に入射する。このとき、ＰＢＳ５４に入射した光は、（１／４）λ板５８を往復で２回通過することで位相が（１／２）λずらされ偏光面が回転されたＰ偏光波に変換されており、偏光分離膜５４ａを透過することができる。偏光分離膜５４ａを透過した光は投影用レンズ６２によってＣＣＤセンサ５２に投影される。
【００３３】
しかし、ネガフィルム１２には異常部位３０が存在することがあるため、ネガフィルム１２に照射されたすべての光が上述のような光路をたどるわけではない。ネガフィルム１２に照射された光のうち異常部位３０に照射された光は、異常部位３０によって光路が乱されＣＣＤセンサ５２に受光されない。したがって、スキャナ装置５０は、受光されなかった部分を異常部位３０として検出することによって、ネガフィルム１２に存在する異常部位３０の位置を検出することができる。
【００３４】
スキャナ装置５０によれば、異常部位３０については、照射された光はＣＣＤセンサ５２に受光されないのに対し、異常部位３０以外の部分については、ネガフィルム１２で反射された光のみならず、ネガフィルム１２を透過した光までもがＣＣＤセンサ５２に受光される。したがって、銀が残留するネガフィルム１２であっても、ハイコントラストに異常部位３０に対応する傷画像が検出され、高精度に異常部位３０の位置を検出することができる。
【００３５】
また、光源として赤色光を発するランプ５６を用いているので、銀が残留するネガフィルム１２であっても、銀がない部分では他の波長の光と比較して光が透過しやすくＣＣＤセンサ５２の感度がよくなるので、いっそうハイコントラストに異常部位３０に対応する傷画像が検出され、高精度に異常部位３０の位置を検出することができる。
【００３６】
さらに、ネガフィルム１２に対して垂直に光を照射し垂直に反射された光を受光するので、歪みのない理想的なネガフィルム１２の像を検出することができる。したがって、歪みを補正する等の作業を必要とせずに異常部位３０の位置を検出することができる。
【００３７】
なお、図６を参照して、スキャナ装置１０，４０および５０は、発色現像処理された（発色現像工程）後、漂白槽６４の漂白液６６に浸漬されて漂白処理が施され（漂白工程）、さらに乾燥装置２０で乾燥される（乾燥工程）ことによって迅速現像処理されたネガフィルム１２に存在する異常部位３０を検出するために用いることもできる。
また、図６において、漂白工程に代えて定着工程を行った場合も金属銀がハロゲン化銀に戻されていないために脱銀されず、ネガフィルム１２の濃度が高くなるが、このようなネガフィルム１２に存在する異常部位３０を検出するためにもスキャナ装置１０，４０および５０を適用することができる。
【００３８】
さらに、迅速現像処理において、現像液１８や漂白液６６、または定着液等をネガフィルム１２に付与する手段は、発色現像槽１６や漂白槽６４等に浸漬させるものに限定されず、それぞれの液を刷毛やローラで塗布したり、スプレーで噴霧したり、または布等に染み込ませたものを用いて塗布してもよい。
また、スキャナ装置１０，４０および５０は、迅速現像処理されたネガフィルム１２のみならず、白黒用のネガフィルムに存在する異常部位３０を検出するために用いても有効である。
【００３９】
さらに、スキャナ装置１０では、上述のように光源として複数のランプ２６を設けることが好ましいが、１つのみ設けることを否定するものではない。また、ネガフィルム１２には光を均等に照射することが好ましいが、これに限定されるものではない。
また、スキャナ装置５０の光源には、上述のように赤色光を発するランプ５６を用いることが好ましいが、これに限定されず、他の波長の光を発する光源を用いてもよい。
【００４０】
【発明の効果】
この発明によれば、銀を含むフィルムの場合でも特に多量の光をフィルムに照射する必要がなく、容易に異常部位を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ネガフィルムの迅速現像処理の一例を示す図解図である。
【図２】この発明の一実施形態を示す図解図である。
【図３】異常部位に照射された光の光路が乱される様子を示す図解図である。
【図４】他の実施形態を示す図解図である。
【図５】その他の実施形態を示す図解図である。
【図６】ネガフィルムの迅速現像処理の他の例を示す図解図である。
【図７】従来のスキャナ装置を示す図解図である。
【符号の説明】
１０，４０，５０      スキャナ装置
１２      ネガフィルム
１２ａ      フィルム面
１６      発色現像槽
１８      現像液
２４，４４，５２      ＣＣＤセンサ
２６，４２，５６      光源
３０      異常部位
３２      光
５４      偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）
５４ａ      偏光分離膜
５８      （１／４）λ板
６４      漂白槽
６６      漂白液
【図１】
0003671904.tif 000002
【図２】
0003671904.tif 000003
【図３】
0003671904.tif 000004
【図４】
0003671904.tif 000005
【図５】
0003671904.tif 000006
【図６】
0003671904.tif 000007
【図７】
0003671904.tif 000008