(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
実装機の部品装着用ヘッドに部品を吸着させた後、撮像部に設けたラインセンサと上記部品装着用ヘッドとを相対応させた状態で上記部品装着用ヘッドをラインセンサに対して相対的に一定の走査方向に移動させつつ、上記部品装着用ヘッドに吸着された部品の画像を上記ラインセンサから取り込み、その画像に基づいて所定の画像処理により部品の認識を行う方法であって、上記走査方向と直交する方向に対する上記ラインセンサの傾き角度を検出し、この角度から実座標系の点とこれに対応する画像座標系の点との関係を示す座標変換式を求め、この座標変換式に基づいて実座標系と画像座標系とでの直線の勾配の関係、及び実座標系で直交する２直線の画像座標系での勾配の関係をそれぞれ示す関係式を求め、これらの式を用いて画像処理の中で補正を行うことを特徴とする部品認識方法。
【請求項２】
上記ラインセンサの傾き角度を検出するためのテスト認識処理として、ラインセンサを備えた撮像部に対して部品装着用ヘッドを相対的に一定の走査方向に移動させつつ上記部品装着用ヘッドに吸着された部品の画像を上記ラインセンサから取り込んでその画像に基づき部品を認識する処理を、少なくとも２回行い、その１回目の処理と２回目の処理とでラインセンサに対する部品装着用ヘッドの位置を所定量だけオフセットさせ、そのオフセット量と上記１回目及び２回目の各処理でそれぞれ求めた部品位置とから、上記ラインセンサの傾き角度を求めることを特徴とする請求項１記載の部品認識方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、ラインセンサを用いて部品の認識を行う部品認識方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、プリント基板にトランジスタ等の電子部品を装着する実装機において、部品装着位置の補正等のため、部品装着用ヘッドに吸着された部品を撮像し、その画像に基づいて部品の認識を行うようにした装置は知られている。
【０００３】
すなわち、上記実装機に装備される認識装置は、上記部品装着用ヘッドに吸着された部品を撮像するＣＣＤカメラ等の撮像手段を有するとともに、この撮像手段により撮像された部品の画像を取り込んでこれを処理する画像処理手段を備えており、この画像処理手段により部品の位置及び傾きが求められ、これに基づいてプリント基板に対する部品装着位置の補正等が行われるようになっている。
【０００４】
上記画像処理手段による部品認識の方法としては、画像座標上に部品の画像を表してその画像の走査及び演算等の処理を行い、例えば、画像座標上の種々の位置に設定したライン上で濃度値の変化を調べ、それによって部品の側辺やエッジ点等を調べ、これに基づいて部品の位置及び傾きを演算するものであり、その具体的方法は従来において種々考えられている（例えば特開平４−３３２１９９号公報参照）。
【０００５】
この種の部品認識のために部品を撮像する方法としては、エリアセンサを用い、このエリアセンサに対応する位置に部品装着用ヘッドを位置させた状態で、部品装着用ヘッドに吸着された部品を一度に撮像する方法と、ＣＣＤ素子等を線状に配列したラインセンサを用い、このラインセンサに対して部品装着用ヘッドを相対的に一定の走査方向に移動させ、その移動の間にラインセンサから部品の画像を取り込む方法とがあり、とくにラインセンサを用いれば撮像部のコンパクト化及びコストダウン等に有利となる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように撮像手段にラインセンサを用いて部品認識を行う場合、ラインセンサに対して部品装着用ヘッドを相対的に移動させる走査方向とラインセンサの方向とが直交するように設定されることにより、正しい部品画像が得られ、上記走査方向と直交する方向に対してラインセンサが傾くと画像に歪みが生じる。このため、従来ではラインセンサを正しく上記走査方向と直交させるべくセッティングに注意を払っているが、部品認識装置においては高精度の部品認識が要求されることから、それに見合うように精度良くラインセンサをセッティングすることは非常に難しく、組付け誤差等で多少の傾きが生じることは往々にしてある。そして、このようにラインセンサの傾きが生じた場合に、従来では、画像に歪みが生じることに伴い、その画像に基づいて求められる部品の位置や傾きに誤差が生じ、実装精度の低下を招くことになる。
【０００７】
本発明は、上記の事情に鑑み、ラインセンサが走査方向と直交する方向に対して傾いている場合でも、部品の認識を精度良く行うことができる部品認識方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係る発明は、実装機の部品装着用ヘッドに部品を吸着させた後、撮像部に設けたラインセンサと上記部品装着用ヘッドとを相対応させた状態で上記部品装着用ヘッドをラインセンサに対して相対的に一定の走査方向に移動させつつ、上記部品装着用ヘッドに吸着された部品の画像を上記ラインセンサから取り込み、その画像に基づいて所定の画像処理により部品の認識を行う方法であって、上記走査方向と直交する方向に対する上記ラインセンサの傾き角度を検出し、この角度から実座標系の点とこれに対応する画像座標系の点との関係を示す座標変換式を求め、この座標変換式に基づいて実座標系と画像座標系とでの直線の勾配の関係、及び実座標系で直交する２直線の画像座標系での勾配の関係をそれぞれ示す関係式を求め、これらの式を用いて画像処理の中で補正を行うものである。
【０００９】
請求項２に係る発明は、請求項１に係る部品認識方法において、上記ラインセンサの傾き角度を検出するためのテスト認識処理として、ラインセンサを備えた撮像部に対して部品装着用ヘッドを相対的に一定の走査方向に移動させつつ上記部品装着用ヘッドに吸着された部品の画像を上記ラインセンサから取り込んでその画像に基づき部品を認識する処理を、少なくとも２回行い、その１回目の処理と２回目の処理とでラインセンサに対する部品装着用ヘッドの位置を所定量だけオフセットさせ、そのオフセット量と上記１回目及び２回目の各処理でそれぞれ求めた部品位置とから、上記ラインセンサの傾き角度を求めるものである。
【００１０】
【作用】
上記請求項１に係る発明の部品認識方法によると、ラインセンサから取り込まれた画像に基づいて所定の画像処理により部品の認識が行われるときに、ラインセンサの傾き角度に応じた補正が加味されることにより、ラインセンサの傾きに起因して画像座標系による部品画像に歪みが生じている場合でも、その影響が是正される。
【００１１】
具体的には、実座標系の点とこれに対応する画像座標系の点との間の座標変換式に基づいて実座標系と画像座標系とでの直線の勾配の関係、及び実座標系で直交する２直線の画像座標系での勾配の関係をそれぞれ示す関係式を求め、これらの式に基づいて補正を行うことにより、ラインセンサから取り込まれた画像に基づく画像処理の中で、或る直線に対して直交関係にあるべき直線を求める際や、画像座標上の部品中心線の勾配から部品の傾きを求める際等に、ラインセンサの傾きに起因した部品画像に歪みの影響が是正される。
【００１２】
また、この方法において、上記請求項２のように少なくとも２回のテスト認識処理を行い、その１回目と２回目とで部品装着用ヘッドの位置を所定量だけオフセットさせると、そのオフセット量と１回目及び２回目の各処理でそれぞれ求めた部品位置とからラインセンサの傾きが演算により求められる。
【００１３】
【実施例】
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【００１４】
図１は部品認識装置の一実施例を示している。この図において、１は実装機に装備された部品装着用ヘッドであって、図外の部品供給部及びプリント基板に対して相対的に移動可能となっており、この部品装着用ヘッド１には吸着ノズル１ａが昇降及び回転可能に設けられている。そして、上記吸着ノズル１ａにより部品供給部から部品２を吸着した後、上記部品装着用ヘッド１がプリント基板上に移動し、プリント基板の所定装着位置に部品２を装着するようになっている。
【００１５】
３は撮像部であり、ＣＣＤ素子を直線状に配列したラインセンサ４（図２参照）を備えている。この撮像部３は実装機の所定位置に設置されており、その上方を部品装着用ヘッド１が移動し得るようになっている。また、撮像のための照明装置が撮像部３等に装備されており、図に示す例では、反射光での撮像と透過光での撮像とを選択的に行うことができるように、撮像部３の両側に反射光用照明装置６が設けられるとともに、撮像部３の上方もしくは部品装着用ヘッド１に透過光用照明装置７が設けられている。
【００１６】
また、実装機には、実装機コントローラ（駆動制御手段）８が設けられるとともに、上記撮像部３から取り込まれる部品の画像を処理する画像処理ユニット１０が設けられている。上記実装機コントローラ８は、上記部品装着用ヘッド１の駆動手段等を制御することにより、部品供給部からの部品の吸着、撮像部３上へのヘッド１の移動、部品認識のためのヘッド１の動作、プリント基板上へのヘッド１の移動及び部品装着を順次行わせるようになっており、上記部品認識のための動作としては、撮像部３のラインセンサ４に対してヘッド１を相対的に一定の走査方向に移動させるようになっている。また、この実装機コントローラ８には、上記部品装着用ヘッド１に吸着される部品２についての各種データを記憶する部品データ記憶部９が設けられている。
【００１７】
上記画像処理ユニット１０は、上記ラインセンサ４からの信号をアナログ・デジタル変換して取り込むＡ／Ｄ変換部１１と、このＡ／Ｄ変換部１１を経た画像を記憶する画像メモリ１２と、この画像メモリ１２から読み出した画像を処理して部品の位置及び傾きを演算する部品位置演算処理手段１３と、この部品位置演算処理手段１３と上記実装機コントローラ１０との間で情報の受け渡しを行うデュアルポートメモリ１４とを有している。さらに画像処理ユニット１０は、ラインセンサ傾き演算手段１５と、座標変換手段１６とを有している。
【００１８】
上記ラインセンサ傾き演算手段１５は、例えば後述のテスト認識処理に基づき、ラインセンサの傾き角度を演算により求めるようになっている。また、上記座標変換手段１６は、上記ラインセンサ４の傾き角度に応じてラインセンサ４による画像座標系と実座標系との間の座標変換式及びそれに基づく直線の勾配の関係式を求め、これらを記憶している。
【００１９】
また、上記部品位置演算処理手段１３は、上記画像メモリ１２から読み出した部品画像に基づき、種々の画像走査及び演算処理を行って部品の位置及び傾きを求めるが、この場合に、上記座標変換手段１６で求められた式を用いて画像走査方向や演算値等の補正を行う。
【００２０】
上記部品位置演算処理手段１３により求められた部品の重心位置及び傾きのデータは、デュアルポートメモリ１４を介して上記実装機コントローラ５に送られ、実装機コントローラ５により、部品重心位置のノズル中心に対するずれ及び部品の傾きに応じ、プリント基板に対する部品の装着位置及び角度が補正されるようになっている。
【００２１】
上記の部品認識装置によって行われる部品認識方法を、以下に具体的に説明する。
【００２２】
先ず、ラインセンサの傾きに応じた座標変換の方法を、図２〜図４を参照しつつ説明する。
【００２３】
図２に示すように、正規のラインセンサ配置方向をＸ方向とすると、部品認識時に部品装着用ヘッド１が移動する走査方向（図２中の矢印方向）は、上記Ｘ方向と直交するＹ方向に設定され、上記ヘッド１がラインセンサ４上を移動する間に、上記ヘッド１に吸着された部品の画像がＹ方向に順次取り込まれて、ラインセンサ４上を部品が完全に通過することにより部品全体の画像が得られる。この場合に、図２中に示すようにラインセンサ４が組付け誤差等によりＸ方向に対して傾いた状態に配置されていると、取り込まれた画像に歪みが生じる。例えば部品２が図２中に示すように平面視で長方形である場合、ラインセンサが正規の方向に配置されていれば図３（ａ）のように実物に対応した長方形の部品画像が得られるが、ラインセンサが傾いて配置されていると、図３（ｂ）のようにＸ方向の辺が傾いた状態に歪んだ画像となる。
【００２４】
そして、ラインセンサの傾き角度をθとし、図４に示すように点Ｐの実座標系（実際の座標系Ｘｒ，Ｙｒ）での座標を（ｘr，ｙr）、画像座標系（ラインセンサで取り込まれた画像の座標系Ｘｖ，Ｙｖ）での座標を（ｘv，ｙv）とすると、実座標系と画像座標系との間の関係は、次の（１）式のような座標変換式で表されることとなる。ただし、実座標系と画像座標系とで原点は一致するようにキャリブレートされているものとする。
【００２５】
【数１】
0003621450.tif 000002
【００２６】
また、上記座標変換式の応用例として、直線の勾配についての次の（２）〜（４）の関係式が得られる。
【００２７】
すなわち、画像座標系でｙ＝ａｘ＋ｂで示される直線の実座標系での勾配αは、（２）式のようになる。
【００２８】
【数２】
α＝ｔａｎ-1［｛ａ×ｓy／ｓx＋ｓｉｎθ｝／ｃｏｓθ］    …（２）
また、画像座標系でｙ＝ａｘ＋ｂで示される直線に実座標系で直交する画像座標系の直線ｘ＝ｃｙ＋ｄの勾配は、（３）式のようになる。
【００２９】
【数３】
ｃ＝−｛ａ×ｓy／ｓx＋ｓｉｎθ｝／（ｃｏｓθ×ｓy／ｓx）    …（３）
また、画像座標系でｘ＝ｃｙ＋ｄで示される直線に実座標系で直交する画像座標系の直線ｙ＝ａｘ＋ｂの勾配は、（４）式のようになる。
【００３０】
【数４】
ａ＝−｛ｃ×（ｓx／ｓy）×ｃｏｓθ＋ｓｉｎθ｝×ｓx／ｓy    …（４）
なお、|ａ|＜１、|ｃ|＜１である。
【００３１】
ところで、上記ラインセンサ４の傾き角度θは予め検出され、例えば、次のようなテスト認識処理とそれに基づく演算により求められる。
【００３２】
テスト認識処理も、通常の認識処理と同様に、ラインセンサ４上で部品装着用ヘッド１を走査方向に移動させて、部品の画像を取り込み、その画像に基づいて画像走査及び演算などの処理により部品位置を求めるが、このようなテスト認識処理を少なくとも２回行ない、かつ、２回目は１回目に対して部品装着用ヘッドを所定量だけオフセットさせた状態で行なう。なお、テスト認識処理の際に、ラインセンサの傾き角度θは未知であるが、０°付近の値であると思われるので、仮の値を０°としておく。そして、例えば後述の部品位置演算処理の具体例に示すような方法で、画像座標系で部品位置（部品の重心の位置）を求める。
【００３３】
このようにして求めた１回目のテスト認識処理による画像座標系での部品位置を（ｘv1，ｙv1）、２回目のテスト認識処理による画像座標系での部品位置を（ｘv2，ｙv2）とし（図５参照）、また１回目及び２回目の実座標系での部品位置を（ｘr1，ｙr1）及び（ｘr2，ｙr2）とすると、前記の座標変換式（１）より、
【００３４】
【数５】
ｘr1＝ｓx・ｘv1・ｃｏｓθ
ｙr1＝ｓx・ｘv1・ｓｉｎθ＋ｓy・ｙv1
ｘr2＝ｓx・ｘv2・ｃｏｓθ
ｙr2＝ｓx・ｘv2・ｓｉｎθ＋ｓy・ｙv2
となる。これらの式より、ラインセンサの傾き角度θは、
【００３５】
【数６】
θ＝ｔａｎ-1[[(ｙr1−ｙr2)−ｓy・(ｙv1−ｙv2)]／(ｘr1−ｘr2)]
となる。この式において、ｙv1、ｙv2はテスト認識処理により求められた値であり、ｓy は予め知られている値である。また、ｘr1、ｙr1、ｘr2、ｙr2の個々は未知の値であるが（ｘr1−ｘr2、）及び（ｙr1−ｙr2）は上記部品装着用ヘッドのオフセット量であって、設定された値である。従って、１回目及び２回目の各テスト認識処理による画像座標系での部品位置と上記オフセット量とから、ラインセンサの傾き角度θが求められることとなる。
【００３６】
なお、上記の方法を数回繰返し行ない、その平均をとることにより、精度を高めるようにすることが好ましい。
【００３７】
このようなラインセンサ４の傾き角度θの演算が上記ラインセンサ傾き演算手段１５によって行われ、上記座標変換手段１６において上記（１）〜（４）式に傾き角度θの演算値が当てはめられることにより、（１）式による実座標と画像座標との関係、（２）式による勾配ａ，αの関係、（３）式による勾配ａ，ｃの関係、及び（４）式による勾配ｃ，ａの関係がそれぞれ具体的に特定される。
【００３８】
そして、部品位置演算処理手段１３による部品位置演算処理の中で、上記のように特定された座標変換式や関係式が用いられて、ラインセンサの傾き角度に応じた補正が行われる。なお、上記部品位置演算処理手段１３は、具体的には後述する各種の部品位置演算処理の方法（第１例乃至第３例）のプログラムを有し、認識対象となる部品２の種類に応じていずれかの方法のプログラムを選択し、その方法を実行するようになっている。
【００３９】
認識対象となる部品としては、例えば図６〜図９に示すようなものがある。すなわち、図６（ａ）（ｂ）はチップ抵抗２Ａ及びその画像を示し、このチップ抵抗２Ａは両側辺部に電極２１を有する角ブロック状のものである。図７はアルミコンデンサ２Ｂの画像を示し、このアルミコンデンサ２Ｂは底部の中央部両側に電極２３を有している。図８（ａ）（ｂ）はミニトランジスタ２Ｃ及びその画像を示し、このミニトランジスタ２Ｃは両側辺部に複数個ずつ（図では２個ずつ）のピン２４を有している。図９はパワートランジスタ２Ｄの画像を示し、このパワートランジスタ２Ｄは一側辺部に３個のピン２５、他側辺部に１個のピン２６を有している。なお、これらの図に示す部品のほかにも、ＱＦＰ、ＳＯＰ、ＰＬＣＣ、ＢＧＡ等の部品を認識対象とすることができる。
【００４０】
上記各部品の画像を示す図６（ｂ）、図７、図８（ｂ）、図９の各図の中で、実線部分は反射照明による場合の画像、実線と破線とを含めた部分は透過照明による画像である。
【００４１】
次に、上記部品位置演算手段による部品位置演算処理の各種具体例（第１例〜第３例）を説明する。
【００４２】
なお、以下の説明の中で、濃度値に関しては反射照明を用いるものとして述べるが、透過照明を用いる場合は、濃度値の大小（明暗）を逆に考えればよい。
【００４３】
(1) 部品位置演算処理の第１例
図１０は部品位置演算処理の第１例をフローチャートで示している。本例は、上記チップ抵抗２Ａ、アルミコンデンサ２Ｂ、カラー抵抗等の、画像が長方形もしくはこれに準じる形状となる部品を認識対象とする場合に適するものであり、本例の処理を、図１１〜図１３を参照しつつ説明する。
【００４４】
先ずステップＳ１では、部品の画像を表した処理ウインド内を数画素おきに走査して、処理ウインド内の複数個所の濃度値を調べ、それに基づいてコーナー検出のための閾値を設定し、例えば調べた濃度値の中の最大値と最小値との中間値を閾値とする。
【００４５】
次にステップＳ２で、Ｘ軸，Ｙ軸に対して４５°傾斜した走査線Ｌｓによる画像走査で部品２の各コーナー部を検出する。すなわち、図１１に示すように、斜め４５°に設定した走査線を処理ウインドの隅部から中央部へ向けて順次平行移動させつつ、走査線上の画素の濃度値と上記閾値との比較を行うことにより、走査線が部品のコーナー部を横切ったときにこれを検出し、その走査線上においてコーナー部の頂点を挾む２辺の点（以下、コーナー候補点と呼ぶ）を求める。このような処理を左上、左下、右上、右下の各コーナー部について順次行い、各コーナー部について２点ずつのコーナー候補点ＮＷ１，ＮＷ２，ＳＷ１，ＳＷ２，ＮＥ１，ＮＥ２，ＳＥ１，ＳＥ２を求める。
【００４６】
このようにコーナー部を検出しているのは、後述のように側辺部に沿ったプロフィール測定ライン上の濃度値のプロフィールを調べるような場合にプロフィール測定ラインを容易に、かつ適正に設定することができるようにするためである。
【００４７】
このコーナー部の検出が終わると、実装機コントローラ５の部品データ記憶部６から読み出されるデータに基づき、部品２の電極が左右に配置されているか上下に配置されているかを判定し（ステップＳ３）、電極が左右に配置されている場合はステップＳ４〜Ｓ１６の各処理を行ない、電極が上下に配置されている場合はステップＳ１７〜Ｓ２９の各処理を行なう。
【００４８】
［電極左右配置の場合の処理］
ステップＳ４では、左側電極部分（左側辺部）のプロフィールを調べる。具体的には、図１２（ａ）中に示すように、左側電極部分において、上下両側コーナー部の各コーナー候補点のうちの２点（上辺側及び下辺側）ＮＷ１，ＳＷ２を通るプロフィール測定ラインＬＡ１を設定し、上記２点ＮＷ１，ＳＷ２からそれぞれ所定距離だけ離れた位置を始点ＳＴ及び終点ＥＮとして、始点ＳＴから終点ＥＮまでのラインＬＡ１上の各位置の濃度値を調べ、濃度値のプロフィール（位置と濃度値との対応図）をとる。
【００４９】
続いてステップＳ５では、上記プロフィールから、図１２（ｂ）中に示すような左側電極部分の上下方向の中心点ｂ１の位置を計算する。具体的には、例えば上記プロフィールの中での濃度値の最大値と最小値とから両者の中間値を閾値とし、上記プロフィールの濃度値を始点側から順に見ていって最初に閾値を越える点を調べて、上側エッジ点ａ１のＹ座標を補間演算によりサブピクセル単位で求め、これと同様の手法で下側エッジ点ａ２のＹ座標もサブピクセル単位で求める。そして、上側エッジ点ａ１のＹ座標と下側エッジ点ａ２のＹ座標の真中の値を左側電極部分の上下方向中心点ｂ１のＹ座標とし、上記プロフィール測定ラインＬＡ１の方程式から上記Ｙ座標に対応する上記中心点ｂ１のＸ座標を求める。
【００５０】
次にステップＳ６，Ｓ７では、ステップＳ４，Ｓ５と同様の処理を右側電極部分（右側辺部）について行なう。つまり、上下両側のコーナー候補点ＮＥ２，ＳＥ１を通るプロフィール測定ラインＬＡ２を設定してその始点及び終点を定め、上記始点から終点までの濃度値のプロフィールをとり、このプロフィールに基づき、上側エッジ点ａ４のＹ座標と下側エッジ点ａ３のＹ座標とを補間演算によりサブピクセル単位で求め、右側電極部分の上下方向中心点ｂ２のＹ座標及びＸ座標を求める（図１２（ｂ）参照）。
【００５１】
さらに精度向上のため、ステップＳ８〜Ｓ１３で、左右各電極部分についてそれぞれプロフィール測定ラインを修正して、再度上下方向中心点を算出する処理を行なう（図１２（ｂ）及び同（ｃ）参照）。
【００５２】
すなわち、上記ステップＳ５及びステップＳ７で求めた両側電極部分の中心点ｂ１，ｂ２を暫定中心点と呼ぶと、ステップＳ８では、上記両暫定中心点ｂ１，ｂ２を通る直線ＬＢの勾配を算出する。次にステップＳ９では、この直線ＬＢに直交して左側電極部分の暫定中心点ｂ１を通る直線ＬＣ１の方程式と、直線ＬＢに直交して右側電極部分の暫定中心点ｂ２を通る直線ＬＣ２の方程式とを求め、これらの直線ＬＣ１，ＬＣ２を新たなプロフィール測定ラインとする。この場合、正確にいえば直線ＬＢと直線ＬＣ１，ＬＣ２とが実座標系に変換したときに直交する関係となるように、前記（３）式を用いて直線ＬＢの勾配から直線ＬＣ１，ＬＣ２の勾配を求める。
【００５３】
そして、ステップＳ１０では左側電極部分において上記直線ＬＣ１上で所定範囲にわたって濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ１１ではステップＳ５と同様の手法で左側電極の上下方向の中心点ｃ１を算出する。さらに、ステップＳ１２では、右側電極部分において上記直線ＬＣ２上で所定範囲にわたって濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ１３ではステップＳ７と同様の手法で右側電極の上下方向の中心点ｃ２を算出する。
【００５４】
次に、ステップＳ１４では、図１１（ｃ）に示すような上記両側電極部分の中心点ｃ１，ｃ２を通る直線（中心線）ＬＤの方程式を求め、ステップＳ１５では、上記直線ＬＤ上で所定範囲にわたって濃度値のプロフィールをとる。
【００５５】
続いてステップＳ１６では、部品の重心位置及び傾きを算出する。具体的には、上記直線ＬＤ上のプロフィールの中で濃度値の最大値及び最小値を求め、これらの値の中間値を閾値とし、前記のステップＳ５で行ったエッジ点のＹ座標の算出と同様の手法により、上記直線ＬＤ上の左側エッジ点ｄ１のＸ座標及び右側エッジ点ｄ２のＸ座標をサブピクセル単位で算出する。そして、これらのエッジ点ｄ１，ｄ２のＸ座標から両者の中点のＸ座標を算出し、このＸ座標と上記直線ＬＤの方程式とからこの中点のＹ座標を算出し、この中点を画像座標上の部品重心位置ｗとし、前記（１）式を用いて座標変換することにより実座標上の部品重心位置を求める。また、上記直線ＬＤの方程式からその勾配を算出して、この勾配を前記（２）式を用いて変換することにより、部品の傾きδを求める。
【００５６】
［電極上下配置の場合の処理］
ステップＳ１７では上側左右のコーナー候補点ＮＷ２，ＮＥ１を通るプロフィール測定ラインＬＡ１（図１３参照）を設定してこのラインＬＡ１に沿った上側電極部分の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ１８ではこのプロフィールから上側電極部分の左右方向の中心を計算する。ステップＳ１９では下側左右のコーナー候補点ＳＷ１，ＳＥ２を通るプロフィール測定ラインＬＡ２（図１３参照）を設定してこのラインＬＡ２に沿った下側電極部分の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２０ではこのプロフィールから下側電極部分の左右方向の中心を計算する。
【００５７】
続いて、ステップＳ２１では上下両側電極部分の中心点（暫定中心点）を通る直線の勾配を算出し、ステップＳ２２では、上記直線に直交して上側電極部分の暫定中心点及び下側電極部分の暫定中心点をそれぞれ通る２つの直線（新たなプロフィール測定ライン）の方程式を計算する。そして、ステップＳ２３では上側電極部分の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２４では上側電極の左右方向の中心点を計算し、ステップＳ２５では下側電極部分の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２６では下側電極の左右方向の中心点を計算する。さらに、ステップＳ２７では上下両側電極部分の中心点を通る直線の方程式を算出し、ステップＳ２８では上下両側電極間の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２９では部品の重心位置及び傾きを算出する。
【００５８】
これらステップＳ１７〜Ｓ２９の処理は、前述のステップＳ８〜Ｓ１６の処理とほぼ同様である。ただし、電極上下配置の場合は、電極左右配置の場合の処理における左辺を上辺に、右辺を下辺に置き換えるとともに、上記ステップＳ２２では、ステップＳ２１で算出した直線の勾配から、この直線と直交する直線（正確には実座標系で直交する関係となる直線）の勾配を、前記（４）式を用いて求める。また、ステップＳ２９では、上下両側電極間のプロフィールに基づいて求めた画像座標上の部品重心位置を前記（１）式を用いて変換することにより実座標上の部品重心位置を求めるとともに、上下両側電極部分の中心点を通る直線と直交する直線（正確には実座標系で直交する関係となる直線）の勾配を、前記（４）式を用いて求め、さらに前記（２）式を用いて変換することにより、部品の傾きを求める。
【００５９】
以上のような部品位置演算処理の第１例によると、画像が長方形もしくはこれに準じる形状となる部品の重心位置及び傾きが精度良く求められる。
【００６０】
とくにこの第１例の処理の中で、左右（もしくは上下）の側辺部における暫定中心点ｂ１，ｂ２が求められた後にその側辺部の中心点を修正すべく改めてプロフィール測定ラインが設定される際にラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われ、また、最終的に部品重心位置ｗ及び傾きが算出されるときにもラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われることにより、精度が向上される。
【００６１】
すなわち、ステップＳ９（またはステップＳ２２）では、側辺部に沿ったプロフィール測定ラインが得られるように、直線ＬＢと直交して暫定中心線ｂ１，ｂ２を通る直線ＬＣ１，ＬＣ２の方程式が計算されるが、この際、直線ＬＢの勾配から（３）式（または（４）式）を用いて直線ＬＣ１，ＬＣ２の勾配が求められることにより、ラインセンサ４の傾き角度によって部品画像に歪みが生じている場合でも、プロフィール測定ラインとなる直線ＬＣ１，ＬＣ２が部品画像における部品側辺部に沿った方向となり、従って部品側辺部に沿った方向の濃度値のプロフィールに基づいて中心点ｃ１，ｃ２を求める処理が適正に行われる。
【００６２】
また、ステップＳ１６（またはステップＳ２９）で部品の重心位置ｗ及び傾きを算出する際、画像座標系での部品の重心位置及び傾きが求められた上で、（１）式を用いた部品重心位置の座標変換及び（２）式（または（３）式と（２）式）を用いた傾きの変換が行われることにより、ラインセンサ４の傾き角度によって部品画像に歪みが生じている場合でも、実際の部品の重心位置及び傾きが正しく求められることとなる。
【００６３】
(2) 部品位置演算処理の第２例
図１４は部品位置演算処理の第２例をフローチャートで示している。本例は、上記ミニトランジスタ２Ｃ等の、両側辺部（左右側辺部もしくは上下側辺部）に複数本ずつのリードピンが配設されている部品を認識対象とする場合に適するものであり、本例の処理を、図１５を参照しつつ説明する。
【００６４】
先ずステップＳ１０１ではコーナー部検出のための閾値を設定し、次にステップＳ１０２では、図１５（ａ）に示すように、Ｘ軸，Ｙ軸に対して４５°傾斜した走査線Ｌｓによる走査で、部品２Ｃの両側のピン列においてそれぞれ各両端のピンの外側コーナー部を検出し、これらのコーナー部について２点ずつ、都合８点のコーナー候補点ＮＷ１，ＮＷ２，ＳＷ１，ＳＷ２，ＮＥ１，ＮＥ２，ＳＥ１，ＳＥ２を求める。これらの処理は上記第１例におけるステップＳ１，Ｓ２の処理とほぼ同様である。
【００６５】
コーナー部の検出が終わると、実装機コントローラ５の部品データ記憶部６から読み出されるデータに基づき、部品の電極が左右に配置されているか上下に配置されているかを判定し（ステップＳ１０３）、電極が左右に配置されている場合はステップＳ１０４〜Ｓ１１４の各処理を行ない、電極が上下に配置されている場合はステップＳ１１５〜Ｓ１２５の各処理を行なう。
【００６６】
［電極左右配置の場合の処理］
ステップＳ１０４では、左辺側の上下のコーナー候補点ＮＷ１，ＳＷ２を通るプロフィール測定ラインＬＡ１を設定してその始点ＳＴ及び終点ＥＮを定め（図１５（ａ）参照）、このラインＬＡ１に沿った濃度値のプロフィールをとる。
【００６７】
次にステップＳ１０５では、上記プロフィールに基づいて、左辺の各ピンの中心を計算する。具体的には、上記プロフィールにおける濃度値の最大値と最小値との間の適当な値を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記各ピンについてそれぞれ上下両エッジ点を補間演算によりサブピクセル単位で算出し、その中点の座標を各ピンの中心点ｅ１，ｅ２の位置として求める（図１５（ｂ）参照）。
【００６８】
ステップＳ１０６では、上記プロフィール測定ラインＬＡ１と直交し、かつ上記中心点ｅ１，ｅ２を通る直線ＬＥ１，ＬＥ２の方程式を求める。この場合、正確にいえばプロフィール測定ラインＬＡ１と直線ＬＥ１，ＬＥ２とが実座標系に変換したときに直交する関係となるように、前記（４）式を用いてプロフィール測定ラインＬＡ１の勾配から直線ＬＥ１，ＬＥ２の勾配を求める。
【００６９】
そして、ステップＳ１０７では、上記各直線ＬＥ１，ＬＥ２上でそれぞれ所定範囲にわたって濃度値のプロフィールをとり、このプロフィールにおける濃度値の最大値と最小値との間の適当な値を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記各ピンの左側エッジ点ｆ１，ｆ２の座標を、補間演算によりサブピクセル単位で求める。
【００７０】
ステップＳ１０８では、上記各ピンの左側エッジ点ｆ１，ｆ２の座標からこれらの中心点ｇ１の座標を求める。
【００７１】
また、ステップＳ１０９〜Ｓ１１３では、ステップＳ１０４〜Ｓ１０８と同様の処理により、右辺側の上下のコーナー候補点ＮＥ２，ＳＥ１を通るプロフィール測定ラインＬＡ２に沿った濃度値のプロフィールをとり、このプロフィールから右辺各ピンの中心点ｅ３，ｅ４を計算し、上記プロフィール測定ラインＬＡ２と直交し、かつ上記中心点ｅ３，ｅ４を通る直線ＬＥ３，ＬＥ４の方程式を前記（４）式を用いて求め、右辺各ピンの右側エッジ点ｆ３，ｆ４を検出し、これらのエッジ点ｆ３，ｆ４に基づいて右辺ピン列の中心点ｇ２を計算する。
【００７２】
ステップＳ１１４では、部品重心位置ｗ及び傾きを算出する。具体的には、左辺ピン列の中心点ｇ１と右辺ピン列の中心点ｇ２とからこれらの中点を求めるとともに、両ピン列の中心点ｇ１，ｇ２を通る直線ＬＧの方程式からその勾配を求める。そして、上記中点の平均値を画像座標上の部品重心位置ｗの位置とし、前記（１）を用いた座標変換により実座標上の重心ｗの位置を求めるとともに、上記直線ＬＧの勾配を前記（２）式を用いて変換することにより、部品の傾きを求める。
【００７３】
［電極上下配置の場合の処理］
ステップＳ１１５では上辺側の左右のコーナー候補点を通るプロフィール測定ラインに沿った濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ１１６では上記プロフィールから上辺各ピンの中心点を計算し、ステップＳ１１７では上辺側のプロフィール測定ラインと直交し、かつ上辺各ピンの中心点を通る直線の方程式を演算し、ステップＳ１１８では上辺各ピンの上側エッジ点を検出し、ステップＳ１１９ではこれらのエッジ点に基づいて上辺ピン列の中心点を計算する。また、ステップＳ１２０では下辺側の左右のコーナー候補点を通るプロフィール測定ラインに沿った濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ１２１では上記プロフィールから下辺各ピンの中心点を計算し、ステップＳ１２２では下辺側のプロフィール測定ラインと直交し、かつ下辺各ピンの中心点を通る直線の方程式を演算し、ステップＳ１２３では下辺各ピンの下側エッジ点を検出し、ステップＳ１２４ではこれらのエッジ点に基づいて下辺ピン列の中心点を計算する。
【００７４】
これらステップＳ１１５〜Ｓ１２４の処理は、上記ステップＳ１０４〜Ｓ１１３の処理とほぼ同様である。ただし、電極上下配置の場合は、電極左右配置の場合の処理における左辺を上辺に、右辺を下辺に置き換えるとともに、ステップＳ１１７及びステップＳ１２２では上辺側（下辺側）のプロフィール測定ラインと直交する直線（正確には実座標系で直交する関係となる直線）の勾配を、前記（３）式を用いて求める。
【００７５】
そして、ステップＳ１２５では、上辺ピン列の中心点と下辺ピン列の中心点との中点を求め、前記（１）を用いて座標変換することにより実座標上の部品重心位置ｗを求めるとともに、上辺ピン列の中心点と下辺ピン列の中心点とを通る直線と直交する直線（正確には実座標系で直交する関係となる直線）の勾配を、前記（４）式を用いて求め、さらに前記（２）式を用いて変換することにより、部品の傾きを求める。
【００７６】
以上のような部品位置演算処理の第２例によると、ミニトランジスタ２Ｃ等の部品の重心位置及び傾きが精度良く求められる。
【００７７】
とくにこの第２例の処理の中で、左右（または上下）のプロフィール測定ライン上の各ピンの中心点ｅ１，ｅ２，ｅ３，ｅ４が求められた後に、この中心点の外方のエッジ点ｆ１，ｆ２，ｆ３，ｆ４を検出すべく、ステップＳ１０６及びステップＳ１１１（またはステップＳ１１７及びステップＳ１２２）で上記プロフィール測定ラインと直交してピン中心点を通る直線ＬＥ１，ＬＥ２，ＬＥ３，ＬＥ４の方程式が計算されるが、この際、前記（４）式（または前記（３）式）を用いて直線の勾配が求められることにより、ラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われる。また、ステップＳ１１４（またはステップＳ１２５）で部品の重心位置ｗ及び傾きを求める際、前記（１）式を用いた重心位置の座標変換及び前記（２）式（または前記（４）式と（２）式）を用いた傾きの変換により、ラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われる。
【００７８】
従って、ラインセンサ４の傾きによって部品画像に歪みが生じている場合でも、部品の重心位置及び傾きが正しく求められることとなる。
【００７９】
(3) 部品位置演算処理の第３例
図１６及び図１７は部品位置演算処理の第３例をフローチャートで示している。本例は、少なくとも一側辺部に複数のピンを有する部品を認識対象とし、とくに上記パワートランジスタ２Ｅ等の、片側の側辺部と反対側の側辺部とでピンの個数、配置が異なる部品を認識対象とする場合に適するものであり、本例の処理を、図１８を参照しつつ説明する。
【００８０】
先ずステップＳ２０１ではコーナー部検出のための閾値を設定する。次に、電極が左右に配置されているか上下に配置されているかを判定し（ステップＳ２０２）、電極が左右に配置されている場合は左右両辺うちのいずれの側のピン数が多いかを判定し（ステップＳ２０３）、電極が上下に配置されている場合は上下両辺うちのいずれの側のピン数が多いかを判定する（ステップＳ２０４）。そして、電極が左右配置で左辺側のピン数が多い場合にはステップＳ２０５〜Ｓ２１４の各処理を行い、電極が左右配置で右辺側のピン数が多い場合にはステップＳ２１５〜Ｓ２２４の各処理を行う。また、電極が上下配置で上辺側のピン数が多い場合にはステップＳ２２５〜Ｓ２３４の各処理を行い、電極が上下配置で下辺側のピン数が多い場合にはステップＳ２３５〜Ｓ２４４の各処理を行う。
【００８１】
［電極左右配置で左辺側のピン数が多い場合の処理］
ステップＳ２０５では、コーナー部検出の処理として、図１８（ａ）に示すように、Ｘ軸，Ｙ軸に対して４５°傾斜した走査線Ｌｓによる走査で、左辺のピン列の上下両端のピンの外側コーナー部を検出し、これらのコーナー部の各コーナー候補点ＮＷ１，ＮＷ２，ＳＷ１，ＳＷ２を求める。次にステップＳ２０６では、左辺側の上下のコーナー候補点ＮＷ１，ＳＷ２を通るプロフィール測定ラインＬＡを設定してその始点ＳＴ及び終点ＥＮを定め（図１８（ａ）参照）、このラインＬＡに沿った濃度値のプロフィールをとる。
【００８２】
ステップＳ２０７では、上記プロフィールに基づいて、左辺の各ピンの中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３の位置を計算する。具体的には、上記プロフィールにおける濃度値の最大値と最小値との間の適当の値を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記各ピンについてそれぞれ上下両エッジを補間演算によりサブピクセル単位で求め、その中点の座標を各ピンの中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３の位置として求める（図１８（ｂ）参照）。
【００８３】
ステップＳ２０８では、上記プロフィール測定ラインＬＡと直交し、かつ上記中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３を通る直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３の方程式を求める。この場合、正確にいえばプロフィール測定ラインＬＡと直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３とが実座標系に変換したときに直交する関係となるように、前記（４）式を用いてプロフィール測定ラインＬＡの勾配から直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３の勾配を求める。そして、ステップＳ２０９では、上記各直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３上でそれぞれ所定範囲にわたって濃度値のプロフィールをとり、このプロフィールにおける濃度値の最大値と最小値との間の適当な値を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記各ピンの左側エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３を、補間演算によりサブピクセル単位で算出する。
【００８４】
ステップＳ２１０では、上記各ピンの左側エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３の配置に基づき、部品の傾きを算出する。具体的には、上記各エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３のうちの２点の組合せの全て（図１８に示す例ではｉ１とｉ２、ｉ１とｉ３、ｉ２とｉ３の各組合せ）についてそれぞれ、２点を通る直線の勾配を求めて、その直線に直交する直線（正確には実座標系に変換したときに直交する関係となる直線）の勾配を前記（４）を用いて計算し、その平均値を求める。さらにステップＳ２１１では、ステップＳ２１０で求めた勾配の平均値を、前記（２）を用いて変換することにより、部品の傾きを算出する。
【００８５】
さらにステップＳ２１２では、上記各左側エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３に基づいて左辺ピン列の中心点ｊ１を計算し、つまり、これらのエッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３の座標の中心（平均値）をピン列の中心点ｊ１の座標とする（図１８（ｃ）参照）。
【００８６】
続いてステップＳ２１３では、中心線上の濃度値のプロフィールから右側エッジ点ｊ２を検出する。具体的には、左辺のピン列の中心点ｊ１を通り、かつ勾配が上記ステップＳ２１０で求めた勾配の平均値と等しい直線（中心線）ＬＪの方程式を求め、その中心線ＬＪ上で所定の始点ＳＴから終点ＥＮまでにわたる範囲の濃度値のプロフィールをとる。そして、このプロフィールにおける濃度値の最大値と最小値との間の適当な値を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記直線上における右辺ピンの右側エッジ点ｊ２を補間演算によりサブピクセル単位で求める。
【００８７】
ステップＳ２１４では、上記の左辺ピン列の中心点ｊ１と右辺ピンの右側エッジ点ｊ２との中点を求め、これを画像座標上の部品の重心位置ｗとし、前記（１）式を用いて座標変換することにより実座標上の部品の重心位置を算出する。
【００８８】
［電極左右配置で右辺側のピン数が多い場合の処理］
ステップＳ２１５では、斜め４５°の走査で、右辺のピン列の上下両端のピンの外側コーナー部を検出し、ステップＳ２１６では上記コーナー部検出に基づきプロフィール測定ラインを設定して右辺側の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２１７では上記プロフィールから右辺各ピンの中心点の位置を計算する。続いてステップＳ２１８では、前記（４）式を用いて、上記プロフィール測定ラインと直交して各ピンの中心点を通る直線の方程式を求め、ステップＳ２１９では右辺各ピンの右側エッジ点の位置を検出する。さらに、ステップＳ２２０では、右辺各ピンの右側エッジ点のうちの２点を通る直線に直交する直線の勾配を前記（４）式を用いて求めて、その平均値を算出し、ステップＳ２２１では、前記（２）式を用いて、部品の傾きを算出する。ステップＳ２２２では上記各右側エッジ点から右辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステップＳ２２３では左辺のピンの左側エッジ点を検出する。そして、ステップＳ２２４では上記右辺ピン列の中心点と左辺のピンの左側エッジ点とから部品の重心の位置を算出し、前記（１）式を用いた座標変換を行う。
【００８９】
これらステップＳ２１５〜Ｓ２２４の処理は、左辺側のピン数が多い場合の処理における左辺、右辺を置き換えれば、前述のステップＳ２０５〜Ｓ２１４と同様である。
【００９０】
［電極上下配置で上辺側のピン数が多い場合の処理］
ステップＳ２２５では、斜め４５°の走査で、上辺のピン列の左右両端のピンの外側コーナー部を検出し、ステップＳ２２６では上記コーナー部検出に基づきプロフィール測定ラインを設定して上辺側の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２２７では上記プロフィールから上辺各ピンの中心点の位置を計算する。続いてステップＳ２２８では、前記（３）式を用いて、上記プロフィール測定ラインと直交して各ピンの中心点を通る直線の方程式を求め、ステップＳ２２９では上記各中心点に対応した各ピンの上側エッジ点の位置を検出する。これらステップＳ２２５〜Ｓ２２９の処理は、電極左右配置で左辺側のピン数が多い場合の処理における左辺を上辺に、右辺を下辺に置き換えれば、前述のステップＳ２０５〜Ｓ２０９と同様である。
【００９１】
続いてステップＳ２３０では、上辺各ピンの上側エッジ点のうちの２点を通る直線の勾配の平均値を算出し、ステップＳ２３１では、上記直線の勾配を前記（２）式を用いて変換することにより、部品の傾きを算出する。
【００９２】
さらに、ステップＳ２３２では、上記各上側エッジ点から上辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステップＳ２３３では、上記上辺ピン列中心点を通る縦方向の中心線を求め、その中心線上の濃度値のプロフィールから、下辺ピンの下側エッジ点の位置を検出する。この際、上記縦方向の中心線の勾配は、ステップＳ２３０で計算した直線の勾配の平均値から、前記（３）式を用いて求める。
【００９３】
そして、ステップＳ２３４では上記上辺ピン列の中心点と下辺のピンの下側エッジ点とから部品の重心の位置を算出し、前記（１）式を用いた座標変換を行う。
【００９４】
［電極上下配置で下辺側のピン数が多い場合の処理］
ステップＳ２３５では、斜め４５°の走査で、下辺のピン列の左右両端のピンの外側コーナー部を検出し、ステップＳ２３６では上記コーナー部検出に基づきプロフィール測定ラインを設定して下辺側の濃度値のプロフィールをとり、ステップＳ２３７では上記プロフィールから下辺各ピンの中心点の位置を計算する。続いてステップＳ２３８では、前記（３）式を用いて、上記プロフィール測定ラインと直交して各ピンの中心点を通る直線の方程式を求め、ステップＳ２３９では下辺各ピンの下側エッジ点の位置を検出する。さらに、ステップＳ２４０では、下辺各ピンの下側エッジ点のうちの２点を通る直線の勾配の平均値を計算し、ステップＳ２４１では、前記（２）式を用いて、部品の傾きを算出する。ステップＳ２４２では上記各下側エッジ点から下辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステップＳ２４３では、下辺ピン列の中心点を通る縦方向の中心線を上記（３）を用いて求めて、その中心線上の濃度値のプロフィールから上辺のピンの上側エッジ点の位置を検出する。そして、ステップＳ２４４では上記下辺ピン列の中心点と上辺のピンの上側エッジ点とから部品の重心の位置を算出し、前記（１）式を用いた座標変換を行う。
【００９５】
これらステップＳ２３５〜Ｓ２４４の処理は、上辺側のピン数が多い場合の処理における上辺、下辺を置き換えれば、前述のステップＳ２２５〜Ｓ２３４と同様である。
【００９６】
以上のような部品位置演算処理の第３例によると、パワートランジスタ２Ｄ等の部品の重心位置及び傾きが精度良く求められる。
【００９７】
とくにこの第３例の処理の中で、電極左右配置の場合はステップＳ２０８またはステップＳ２１８（電極上下配置の場合はステップＳ２２８またはステップＳ２３８）で、左辺側または右辺側（上辺側または下辺側）のプロフィール測定ラインＬＡと直交してピン中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３を通る直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３の方程式が計算されるが、この際、前記（４）式（または前記（３）式）を用いて直線ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３の勾配が求められることにより、ラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われる。さらに、電極左右配置の場合はステップＳ２１０またはステップＳ２２０で、左辺または右辺の各ピンのエッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３のうちの２点を通る直線に直交する直線の勾配が計算され、電極上下配置の場合はステップＳ２３３またはステップＳ２４３で、ステップＳ２３０またはステップＳ２４０で計算された直線と直交する縦方向の中心線の方程式が計算されるが、これらの計算の際にも、前記（４）式（または前記（３）式）を用いて直線の勾配が求められることにより、ラインセンサ４の傾き角度に応じた補正が行われる。
【００９８】
また、部品の傾きを求める際（ステップＳ２３１，Ｓ２４１，Ｓ２５１，Ｓ２６１）には前記（２）を用いた変換が行われ、部品重心位置を求める際（ステップＳ２３４，Ｓ２４４，Ｓ２５４，Ｓ２６４）には前記（１）式を用いた座標変換が行われることにより、ラインセンサの傾き角度に応じた補正が行われる。
【００９９】
従って、ラインセンサの傾きによって部品画像に歪みが生じている場合でも、部品の重心位置及び傾きが正しく求められることとなる。
【０１００】
なお、上記各実施例では、部品位置演算処理の中で、或る直線に直交する直線の勾配を求める際、及び部品の傾きを求める際に、前記（２）〜（４）式を用いてラインセンサの傾き角度に応じた補正を行うとともに、部品重心位置を求める際に前記（１）を用いて座標変換を行っているが、部品重心位置の座標変換を部品位置演算処理の中で行わず、その代りに、画像座標上の部品重心位置とノズル中心位置とに基づいて部品吸着位置のずれ量（装着位置補正量）を求める際に、座標変換式に基づいて求めた補正係数を用いて補正を行うようにしてもよい。
【０１０１】
このほかにも、部品位置演算処理等の具体的方法は本発明の要旨を逸脱しない範囲で変更して差し支えない。
【０１０２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、ラインセンサから取り込んだ画像に基づいて部品の認識を行う方法において、ラインセンサの傾き角度を検出し、この傾き角度から座標変換式を求め、これに基づき上記画像処理において補正を行うようにしているため、ラインセンサの傾きに起因して画像座標系による部品画像に歪みが生じている場合でも、その影響を是正して、画像認識処理を精度良く行うことができる。
【０１０３】
とくに、実座標系の点とこれに対応する画像座標系の点との間の座標変換式を求め，これに基づいて実座標系と画像座標系とでの直線の勾配の関係、及び実座標系で直交する２直線の画像座標系での勾配の関係をそれぞれ示す関係式を求め、これらの式に基づいて補正を行うようにしているため、ラインセンサから取り込まれた画像に基づく画像処理の中で、或る直線に対して直交関係にあるべき直線を求める際や、部品の傾きを計算する際等に、ラインセンサの傾き角度に応じた補正を適切に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の部品認識装置の一実施例を示す概略図である。
【図２】ラインセンサの配置及び部品装着用ヘッドの移動方向を示す説明図である。
【図３】（ａ）はラインセンサが正規の方向に配置されている場合の部品の画像、（ｂ）ラインセンサが傾いて配置されている場合の部品の画像を示す図である。
【図４】実座標系と画像座標系との関係を示す図である。
【図５】テスト認識処理を示す説明図である。
【図６】（ａ）は電子部品の具体例としてのチップ抵抗の斜視図であり、（ｂ）はこのチップ抵抗の画像を示す図である。
【図７】電子部品の具体例としてのアルミコンデンサの画像を示す図である。
【図８】（ａ）は電子部品の具体例としてのミニトランジスタの斜視図であり、（ｂ）はこのミニトランジスタの画像を示す図である。
【図９】電子部品の具体例としてのパワートランジスタの画像を示す図である。
【図１０】部品位置演算処理の第１例を示すフローチャートである。
【図１１】部品画像のコーナー部を検出するための画像走査を示す説明図である。
【図１２】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記部品位置演算処理の第１例で順次行われる処理を示す説明図である。
【図１３】上記部品位置演算処理の第１例において電極上下配置の場合のプロフィール測定ラインを示す説明図である。
【図１４】部品位置演算処理の第２例を示すフローチャートである。
【図１５】（ａ）（ｂ）は上記部品位置演算処理の第２例で順次行われる処理を示す説明図である。
【図１６】部品位置演算処理の第３例を示すフローチャートの一部分である。
【図１７】部品位置演算処理の第３例を示すフローチャートの他の部分である。
【図１８】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記部品位置演算処理の第３例で順次行われる処理を示す説明図である。
【符号の説明】
１  部品装着用ヘッド
２  部品
３  撮像部
４  ラインセンサ
８  実装機コントローラ
１０  画像処理ユニット
１２  画像メモリ
１３  部品位置演算処理処理手段
１５  ラインセンサ傾き演算手段
１６  座標変換手段
【図１】
0003621450.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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