(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御すべき制御対象に対して予め設定された一定周波数の外乱信号を印加する印加手段と、
前記外乱信号を印加した結果、前記制御対象から制御結果として出力され且つ前記外乱信号の周波数と異なる周波数を有する結果信号の波形及び前記印加された外乱信号の波形に基づき、当該外乱信号の値が予め設定された第１の閾値と等しくなるタイミングと、前記結果信号の値が予め設定された第２の閾値と等しくなり且つ当該結果信号の波形の傾きを示す符号が同一であるタイミングと、を比較することにより、前記結果信号に含まれる波形変形であって前記制御対象の制御における制御偏差に起因する波形変形を検出する検出手段と、
前記検出された波形変形に基づいて前記制御偏差を生成する生成手段と、
を備えることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の制御偏差検出装置において、
前記第１の閾値は前記外乱信号の平均電位レベルであると共に、前記第２の閾値は前記結果信号の平均電位レベルであることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項３】
制御すべき制御対象に対して予め設定された一定周波数の外乱信号を印加する印加手段と、
前記外乱信号を印加した結果、前記制御対象から制御結果として出力され且つ前記外乱信号の周波数と異なる周波数を有する結果信号の波形及び前記印加された外乱信号の波形に基づき、当該外乱信号の値が予め設定された第１の閾値と等しくなるタイミングと、前記結果信号が極大値又は極小値のいずれか一方をとるタイミングと、を比較することにより、前記結果信号に含まれる波形変形であって前記制御対象の制御における制御偏差に起因する波形変形を検出する検出手段と、
前記検出された波形変形に基づいて前記制御偏差を生成する生成手段と、
を備えることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか一項に記載の制御偏差検出装置において、
前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置において、当該光ビームの光軸と再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当該情報が記録された情報記録面とのなす角度であるチルト角度を制御するチルトサーボ制御手段であると共に、
前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信号であり、
更に、前記制御偏差は、前記チルト角度の予め設定された正規のチルト角度からのずれであることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項５】
請求項４に記載の制御偏差検出装置において、
前記チルトサーボ制御手段は、液晶パネルを用いて前記光ビームに光路差を与えることにより前記チルト角の変化に起因する収差を補正すると共に、
前記制御対象は、前記液晶パネルを駆動するための駆動手段であることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項６】
請求項１から３のいずれか一項に記載の制御偏差検出装置において、
前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置において、再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当該情報が記録された情報記録面に垂直な方向における前記光ビームの集光位置を制御するフォーカスサーボ制御手段であると共に、
前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信号であり、
更に、前記制御偏差は、前記集光位置の前記情報記録面からのずれであることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項７】
請求項１から３のいずれか一項に記載の制御偏差検出装置において、
前記制御対象は、光ビームを用いた情報再生装置において、再生すべき情報が記録されている情報記録媒体の当該情報が記録された情報記録面に平行な方向における前記光ビームの集光位置を制御するトラッキングサーボ制御手段であると共に、
前記結果信号は、前記光ビームの前記情報記録面からの前記情報に対応した反射光に基づいて検出される再生信号であり、
更に、前記制御偏差は、前記集光位置の前記情報記録面上に前記情報により形成されたトラック位置からのずれであることを特徴とする制御偏差検出装置。
【請求項８】
請求項１から７のいずれか一項に記載の制御偏差検出装置と、
前記制御偏差を消去するように前記制御対象を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする制御装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、光ディスクから記録されている情報を再生するための情報再生装置におけるトラッキングサーボ制御等において発生する制御偏差を検出する制御偏差検出装置の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば、上記情報再生装置等においては、光ビームを本来再生すべき情報が記録されている位置に正確に照射するために、当該光ビームの照射位置をサーボ制御するための上記トラッキングサーボ制御や、光ビームの集光位置（焦点位置）をサーボ制御するためのフォーカスサーボ制御や、光ディスクと光ビームの光軸との間の傾きをサーボ制御するためのチルトサーボ制御等が常時実行されている。
【０００３】
ここで、これらのサーボ制御系では、種々の原因により、当該サーボ制御のための制御信号の中心レベルが、予め設定された所定のレベルからずれる、いわゆるオフセット（制御偏差）が含まれる場合が多い。そして、従来の情報再生装置では、製品出荷時に手動により当該オフセットが夫々予め設定された既定値以下となるように調整していた。
【０００４】
しかしながら、上記オフセットについては、厳密には各光ディスク一枚毎に（すなわち、偏芯の状態や厚さが夫々異なる光ディスク一枚毎に）異なるものであり、更に同一の光ディスクでも部分的な反り等によりその光ディスクの内周部と外周部とでオフセットの値が異なるものである。そして、本来ならばこれら夫々の場合に対応してオフセットを正確に消去すべきである。
【０００５】
そこで、従来、例えば、特開平８−１２９７６９号公報に開示されているように、再生されたＲＦ信号について、所定の期間におけるその振幅の最大値を検出し、再生ＲＦ信号の振幅が最大値のときにオフセットが零であるとして当該オフセットを消去していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の方法においては、当該所定期間内の再生ＲＦ信号を積分して平均値を求めてから他の期間における再生ＲＦ信号の平均値と比較し、これにより再生ＲＦ信号の振幅の最大値を検出する必要があるため、積分処理と比較処理が必要となり、そのための所要時間が長いために高速で動作するサーボ制御機構に追随してオフセットを消去できない場合があるという問題点があった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その課題は、制御偏差（オフセット）を正確且つ高速に検出することが可能な制御偏差検出装置及び当該制御偏差検出装置を備えて正確且つ高速に制御偏差を低減することが可能な制御装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、制御すべき制御対象に対して予め設定された一定周波数の外乱信号を印加するＶ−ｆ変換器等の印加手段と、前記外乱信号を印加した結果、前記制御対象から制御結果として出力され且つ前記外乱信号の周波数と異なる周波数を有する結果信号の波形及び前記印加された外乱信号の波形に基づき、当該外乱信号の値が予め設定された第１の閾値と等しくなるタイミングと、前記結果信号の値が予め設定された第２の閾値と等しくなり且つ当該結果信号の波形の傾きを示す符号が同一であるタイミング或いは前記結果信号が極大値又は極小値のいずれか一方をとるタイミングのいずれか一方と、を比較することにより、前記結果信号に含まれる波形変形であって前記制御対象の制御における制御偏差に起因する波形変形を検出する位相比較器等の検出手段と、前記検出された波形変形に基づいて前記制御偏差を生成するスイッチ等の生成手段と、を備える。
【０００９】
上記の課題を解決するために、請求項３に記載の発明は、制御すべき制御対象に対して予め設定された一定周波数の外乱信号を印加するＶ−ｆ変換器等の印加手段と、前記外乱信号を印加した結果、前記制御対象から制御結果として出力され且つ前記外乱信号の周波数と異なる周波数を有する結果信号の波形及び前記印加された外乱信号の波形に基づき、当該外乱信号の値が予め設定された第１の閾値と等しくなるタイミングと、前記結果信号が極大値又は極小値のいずれか一方をとるタイミングと、を比較することにより、前記結果信号に含まれる波形変形であって前記制御対象の制御における制御偏差に起因する波形変形を検出する位相比較器等の検出手段と、前記検出された波形変形に基づいて前記制御偏差を生成するスイッチ等の生成手段と、を備える。
【００３０】
【発明の実施の形態】
次に、本発明に好適な実施の形態について説明する。
【００３１】
（Ｉ）第１実施形態
始めに、本発明に係る第１の実施形態について、図１乃至図７を用いて説明する。なお、以下に説明する第１実施形態は、光ディスクに記録されている記録情報を再生する情報再生装置であって、当該光ディスクの情報記録面と情報再生用の光ビームの光軸との間に生じている傾斜（以下、チルトと称する。）に起因して光ビームに発生している波面収差を、当該光ビームの光路上に配置された液晶パネルを用いて補正する機能を有する情報再生装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００３２】
先ず、第１実施形態の情報再生装置の全体構成について図１を用いて説明する。
【００３３】
図１に示すように、第１実施形態の情報再生装置Ｓ1は、レーザダイオード１と、偏向ビームスプリッタ２と、液晶パネル３と、対物レンズ４と、光ディスク５と、集光レンズ６と、ディテクタ７と、制御偏差検出装置としてのエラー検出回路８と、制御手段及びチルトサーボ制御手段としての液晶パネル制御回路９と、再生回路１０と、により構成されている。
【００３４】
次に、動作概要を説明する。
【００３５】
レーザダイオード１は、情報再生用の光ビームＢを生成し、偏向ビームスプリッタ２に出射する。
【００３６】
そして、偏向ビームスプリッタ２は、入射した光ビームＢを反射し、液晶パネル３に入射させる。
【００３７】
そして、液晶パネル３は、液晶パネル制御回路９からの駆動信号Ｓdvにより駆動されて通過する光ビームＢに対して光路差を与え、チルトにより生じている波面収差を補正する。このとき、当該液晶パネル３における液晶は、図１に示すように光ビームＢの光路に垂直な面内で碁盤目上に区分されており、当該碁盤目毎に独立して電位差が与えられることにより、光ビームＢの各部分毎に異なる位相差が与られて波面収差が補正されるように構成されている。このため、液晶パネル制御回路９は、液晶パネル３における碁盤目毎の電位差を制御すべく上記駆動信号Ｓdvを出力する。
【００３８】
一方、対物レンズ４は、液晶パネル３を通過した光ビームＢを光ディスク５の情報記録面上に集光する。
【００３９】
次に、光ディスク５の情報記録面で反射されることにより、当該情報記録面上に記録情報に対応して形成されているピットにより強度変調されると共に偏光面が回転された光ビームＢは、液晶パネル３を再び通過し、更に偏向ビームスプリッタ２を透過して集光レンズ６によりディテクタ７の受光面上に集光される。
【００４０】
そして、ディテクタ７は、受光した光ビームＢに基づいて、上記記録情報に対応する検出信号Ｓpを生成し、エラー検出回路８に出力する。
【００４１】
その後、エラー検出回路８は、検出信号Ｓpに基づいて記録情報に対応する再生ＲＦ（Radio  Frequency）信号Ｓrfを生成し、再生回路１０に出力する。
【００４２】
そして、再生回路１０は入力された再生ＲＦ信号Ｓrfに基づいてこれを復調し、記録情報に対応する再生信号Ｓppとして外部に出力する。
【００４３】
これと並行して、エラー検出回路８は、チルトに起因して発生した光ビームＢの波面収差により再生ＲＦ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのチルトエラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓccとして液晶パネル制御回路９に出力する。そして、当該液晶パネル制御回路９は、偏差信号Ｓccに基づいて発生しているチルトエラーを除去すべく上記駆動信号Ｓdvを生成する。
【００４４】
次に、本発明に係るエラー検出回路８の構成及び動作について、図２乃至図７を用いて説明する。
【００４５】
始めに、エラー検出回路８の構成について、図２を用いて説明する。
【００４６】
図２に示すように、エラー検出回路８は、Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換器１１と、エンベロープ検出器１２と、バンドパスフィルタ１３と、ゼロクロス検出器１４及び２４と、片エッジ検出器１５と、検出手段としての位相比較器１６と、反転器１７と、生成手段としてのスイッチ１８と、ＡＧＣ（Automatic  Gain  Controller）３０と、温度センサ２２と、印加手段としてのＶ−ｆ（電圧−周波数）変換器２３と、両エッジ検出器２５と、ゲインコントローラ２６と、生成手段としての加算器２７と、ループフィルタ２８と、バンド選択器３１により構成されている。
【００４７】
また、ＡＧＣ３０は、整流器１９と、積分器２０と、減算器２１と、基準電圧発生器２９と、により構成されている。
【００４８】
次に、エラー検出回路８の動作について、図２乃至図７を用いて説明する。
【００４９】
始めに、光ディスク５と光ビームＢとの間にチルトが生じていない場合の動作について、図２乃至図４を用いて説明する。
【００５０】
温度センサ２２は、情報再生装置Ｓ1の周囲温度を検出し、検出信号Ｓtを出力する。
【００５１】
そして、Ｖ−ｆ変換器２３は、検出信号Ｓtに基づいて、検出された周囲温度と予め設定されている周波数テーブルとを比較し、周囲温度が変化しても第１実施形態のチルトサーボ制御機構に注入する外乱量が変動しないように周波数を選択した外乱信号としての基準信号Ｓosc（図３最上段参照）を生成する。このとき、基準信号Ｓoscの周波数ｆ0は、エラー検出回路８としての応答速度の低下を防止するためにある程度高い周波数とする必要があり、具体的には、常温で例えば２００Ｈｚとされる。
【００５２】
ここで、第１実施形態において基準信号Ｓoscの発生に温度センサ２２とＶ−ｆ変換器２３を用いる理由は、一般に、その駆動信号の周波数が一定の場合、液晶パネル３のゲイン特性は周囲温度により変化し、これによって、第１実施形態のチルトサーボ制御機構に注入する外乱量が変化することを回避するためである。すなわち、例えば、周囲温度が低温の場合には液晶パネル３のゲインは小さくなるが、高温の場合にはゲインは大きくなることにより、結果として上記注入される外乱量が多くなって再生ＲＦ信号Ｓrfに与える影響が大きくなってしまうことを回避するのである。
【００５３】
次に、基準信号Ｓoscは、後述の制御信号Ｓcにより制御されるゲインコントローラ２６によりそのゲインが最適化され、加算器２７において後述の平均化エラー信号Ｓderが加算された後、外乱信号を含む偏差信号Ｓccとして液晶パネル制御回路９に出力される。
【００５４】
一方、基準信号Ｓoscはゼロクロス検出器２４にも出力されて当該基準信号Ｓoscにおけるゼロクロス点が検出され、当該ゼロクロス検出器２４により、当該ゼロクロス点を境にして基準信号Ｓoscが正のとき「ＨＩＧＨ」となり負のとき「ＬＯＷ」となる検出信号Ｓzr（図３下から２段目参照）が生成されて両エッジ検出器２５及びスイッチ１８へ出力される。
【００５５】
そして、両エッジ検出器２５は、入力されている検出信号Ｓzrに基づき、基準信号Ｓoscにおけるゼロクロス点のタイミングにおいて「ＨＩＧＨ」となる両エッジ信号Ｓbeg（図３下から四段目参照）を生成し位相比較器１６の一方の入力端子へ出力する。
【００５６】
次に、偏差信号Ｓccを用いて液晶パネル制御回路９により生成された駆動信号Ｓdvにより駆動される液晶パネル３を通過して波面収差が補正された光ビームＢの反射光を受光して得られた検出信号Ｓpは、Ｉ−Ｖ変換器１１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換され、エンベロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出力される。
【００５７】
ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形について詳説すると、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは、図３上から三段目に示すように、基準信号Ｓoscの位相を９０度だけ遅らせた遅延基準信号Ｓoscd（図３破線参照）に同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有するようになる。これは、液晶パネル３を用いたチルトエラーの補正機構全体がいわゆる１次遅れ系の制御機構を構成していると共に、上述のようにエラー検出回路８としての応答速度を維持するために基準信号Ｓoscの周波数ｆ0を高く設定しているからである。
【００５８】
すなわち、図４（ａ）に示すように、一般に１次遅れ系の制御機構においては、操作量（第１実施形態の場合、基準信号Ｓosc）の周波数を高くすると、当該操作量を制御対象（第１実施形態の場合、液晶パネル３を用いたチルトに起因する波面収差の補正機構）に入力した結果得られる制御量（第１実施形態の場合、再生ＲＦ信号Ｓrf）の位相は、操作量の位相に比して最大９０度遅れる。そこで、第１実施形態の情報再生装置Ｓ1では、エラー検出回路８としての応答速度を維持することを考慮すると共に位相遅れが定常状態となるための基準信号Ｓoscの周波数として、図４（ａ）に示す周波数ｆ0を選択し、この結果、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープが図３に示す波形（遅延基準信号Ｓoscdに同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有する波形）となるのである。
【００５９】
なお、基準信号Ｓoscの周波数としては、エラー検出回路８としての応答速度を考慮する必要がない場合には、図４（ａ）に示す周波数ｆ1であってもよい。
【００６０】
次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過することによりエンベロープ信号Ｓenv（図３上から四段目参照）として整流器１９及びゼロクロス検出器１４に出力される。
【００６１】
ここで、バンドパスフィルタ１３の中心周波数は、基準信号Ｓoscの周波数の変化に対応するように、検出信号Ｓtに基づくバンド選択器３１からの選択信号Ｓbsにより選択される。
【００６２】
次に、整流器１９において当該エンベロープ信号Ｓenvが整流され、更に積分器２０において所定周期で平均化された後、上記ゲインコントローラ２６におけるゲインの目標値に対応する基準電圧（基準電圧発生器２９により生成されている。）と比較され、その差が減算器２１において生成されてゲインコントローラ２６のゲインを制御すべく上記制御信号Ｓcとして当該ゲインコントローラ２６へ出力される。これにより、ゲインコントローラ２６においては、周囲温度の変化によらず常に一定量の外乱注入が可能な基準信号Ｓoscを生成できることとなる。このとき、上述の温度に応じて基準信号Ｓoscの周波数を変化させることが外乱注入量一定化のための粗調整手段となり、上記ゲインコントローラ２６におけるレベルコントロールが外乱注入量一定化のための微調整手段となり、これら基準周波数Ｓoscの周波数の変更とゲインコントローラ２６の動作とが協調動作することになる。
【００６３】
一方、ゼロクロス検出器１４に出力されているエンベロープ信号Ｓenvは、当該ゼロクロス検出器１４においてゼロクロス点が検出され、更に片エッジ検出器１５において、検出されたゼロクロス点のうち、エンベロープ信号Ｓenvが負から正に変わるゼロクロス点のタイミングで「ＨＩＧＨ」となる片エッジ信号Ｓseg（図３下から三段目参照）が生成されて位相比較器１６の他方の入力端子に入力される。
【００６４】
そして、位相比較器１６は、夫々に入力されている両エッジ信号Ｓbegと片エッジ信号Ｓsegとを位相比較し、両エッジ信号Ｓbegが「ＨＩＧＨ」となるタイミングで「ＬＯＷ」から「ＨＩＧＨ」に変わり、その直後に片エッジ信号Ｓsegが「ＨＩＧＨ」となるタイミングで「ＨＩＧＨ」から「ＬＯＷ」に変わる位相信号Ｓtpを生成し、スイッチ１８の一方の入力端子にそのまま出力すると共に反転器１７に出力する。このとき、反転器１７は入力されている位相信号Ｓtpの正負を反転し、反転信号Ｓrevを生成してスイッチ１８の他方の入力端子に出力する。
【００６５】
これにより、スイッチ１８は、検出信号Ｓzrに基づいて、検出信号Ｓzrが正のとき位相信号Ｓtpをエラー信号Ｓerとして出力し、検出信号Ｓzrが負のとき反転信号Ｓrevをエラー信号Ｓerとして出力する。
【００６６】
この結果、エラー信号Ｓerの波形としては、図３最下段に示すように正のパルスと負のパルスが交互に現れる波形となる。
【００６７】
ここで、当該エラー信号Ｓerの波形について検討すると、チルトに起因する波面収差がないときは、エンベロープ信号Ｓenvが遅延基準信号Ｓoscdに同期すると共に当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有するので、その結果として、図３に示すように、エラー信号Ｓerの波形は正側のパルス幅（位相信号Ｓtpに対応する。図３中符号ｔ0で示す。）と負側のパルス幅（反転信号Ｓrevに対応する。図３中符号ｔ0'で示す。）とが等しい波形となっている。
【００６８】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８（ローパスフィルタの機能を有している。）で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderはゼロレベルの直流信号となる。
【００６９】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓccは、直流のレベルシフトを伴わない基準信号Ｓoscそのものとなる。
【００７０】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して何ら位相差を与えないように（すなわち、光ビームＢの波面収差を補正することなく当該光ビームＢを透過するように）液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成する。
【００７１】
次に、光ディスク５と光ビームＢとの間に一の方向（以下、その方向を負の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエラー検出回路８の動作について、図５を用いて説明する。
【００７２】
負の方向のチルトが発生している場合には、基準信号Ｓoscとしてはチルトが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓccに含まれて液晶パネル制御回路９に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図５上から三段目に示すように、チルトがない場合（図３参照）に比して波形変形が生じる。
【００７３】
この理由について、図６を用いて説明する。なお、図６は、遅延基準信号Ｓoscdとチルトエラーの有無に伴う再生ＲＦ信号Ｓrfの振幅との関係を示したものである。
【００７４】
図６に示すように、チルトエラーがない場合、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは、遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零のときに最大振幅となり、遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零以外のときにゼロレベルを中心として正負対称に同量の振幅を有する波形となる。従って、チルトエラーがないときはエンベロープ信号Ｓenvはそのピークが等間隔に現れる波形となる（図３参照）
ところが、例えば、正又は負のいずれかの方向にチルトエラーが生じている場合には、図６に示すように、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零でないときに最大振幅となる。これにより、チルトエラーがあるときはエンベロープ信号Ｓenvのピークのタイミングは遅延基準信号Ｓoscdがゼロレベルになるタイミングとは一致せず、従って、当該各ピークも等間隔とはならないのである（図５又は図７参照）。
【００７５】
以上の理由により、再生ＲＦ信号Ｓrfに波形変形が生じるので、エンベロープ信号Ｓenvも、図５に示すように波形が非周期的となり、従って、そのゼロレベルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎にずれることとなる。
【００７６】
なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbegと検出信号Ｓzrの波形は、図３に示す場合と同様である。
【００７７】
よって、これらにより、エラー信号Ｓerの波形としては、図５最下段に示すように、正側のパルス幅（図５中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）が負側のパルス幅（図５中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）よりも長い波形となっている。
【００７８】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderは正レベルの直流信号となる。
【００７９】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓccは、正側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【００８０】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ディスク５と光ビームＢとの間に生じているチルトの量と方向を認識でき、これにより光ビームＢに対して当該正側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、負の方向のチルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【００８１】
最後に、光ディスク５と光ビームＢとの間に、図５に対応する方向とは逆の方向（以下、その方向を正の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエラー検出回路８の動作について、図７を用いて説明する。
【００８２】
正の方向のチルトが発生している場合には、基準信号Ｓoscとしては上述のようにチルトが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscに対応して得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図７上から三段目に示すように、図５に示す場合とは逆の波形変形を生じる。この理由は上記図５の場合において説明した通りである。
【００８３】
従って、エンベロープ信号Ｓenvも、図７に示すように波形が非周期的となり、そのゼロレベルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎に図５に示す場合とは反対の方向にずれることとなる。
【００８４】
なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbegと検出信号Ｓzrの波形は、図３に示す場合と同様である。
【００８５】
よって、これらにより、エラー信号Ｓerの波形としては、図７最下段に示すように、正側のパルス幅（図５中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）が負側のパルス幅（図５中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）よりも短い波形となっている。
【００８６】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderは負レベルの直流信号となる。
【００８７】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓccは、負側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【００８８】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ディスク５と光ビームＢとの間に生じているチルトの量と方向を認識でき、これにより光ビームＢに対して当該負側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、正方向のチルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【００８９】
以上説明したように、第１実施形態の情報再生装置Ｓ1の動作によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行うことなくチルトエラーの量と方向が検出できるので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエラーの量と方向を検出することができる。
【００９０】
また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがゼロレベルに到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向を検出することができる。
【００９１】
更に、情報再生装置Ｓ1のチルトサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出することができる。
【００９２】
更にまた、チルトサーボ制御機構が液晶パネル３を用いて光ビームＢに光路差を与えることによりチルト角の変化に起因する収差を補正するので、正確且つ高速に制御偏差を検出して当該液晶パネル３を駆動することができる。
【００９３】
なお、上述の第１実施形態では、周囲温度に応じて液晶パネル３のゲインが変化することに起因する上記問題点を解消するための構成として温度センサ２２及びＶ−ｆ変換器２３、ＡＧＣ３０及びゲインコントローラ２６並びにバンド選択器３１を有する構成を用いたが、これ以外に、温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３及びバンド選択器３１のみにより上記問題点を解消する構成或いはＡＧＣ３０及びゲインコントローラ２６のみにより上記問題点を解消する構成とすることもできる。
【００９４】
（II）第２実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態である第２の実施形態について、図８乃至図１３を用いて説明する。なお、以下に説明する第２実施形態は、光ディスクに記録されている記録情報を再生する情報再生装置におけるフォーカスサーボ制御機構及びトラッキングサーボ制御機構に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００９５】
始めに、第２実施形態の情報再生装置の全体構成について図８及び図９を用いて説明する。なお、図８は第２実施形態の情報再生装置のうちトラッキングサーボ制御（いわゆる３ビーム法によるトラッキングサーボ制御）に関する部分のみを示す図であり、図９は第２実施形態の情報再生装置のうちフォーカスサーボ制御（いわゆる非点収差法によるトラッキングサーボ制御）に関する部分のみを示す図である。また、図８及び図９において図１と同様の部材については、同様の部材番号を付して細部の説明は省略する。
【００９６】
図８に示すように、第２実施形態の情報再生装置Ｓ2のうちトラッキングサーボ制御に関する部分は、レーザダイオード１と、偏向ビームスプリッタ２と、回折格子２’と、対物レンズ４と、光ディスク５と、集光レンズ６と、ディテクタ７’と、制御偏差検出装置としてのエラー検出回路８’と、制御手段及びトラッキングサーボ制御手段としてのドライバ３３と、再生回路１０と、トラッキングエラー検出回路３１と、イコライザ３２と、加算器３４と、により構成されている。
【００９７】
このうち、ディテクタ７’は、主ディテクタ７ｃと副ディテクタ７ａ及び７ｂとにより構成されている。
【００９８】
次に、概要動作を説明する。
【００９９】
レーザダイオード１は、情報再生用の光ビームＢを生成し、回折格子２’に出射する。
【０１００】
そして、回折格子２’は、入射した光ビームＢを、情報再生用の主ビームＢＭとトラッキングエラー信号を生成するための副ビームＢ1及びＢ2に分離して夫々偏向ビームスプリッタ２に出射する。
【０１０１】
次に、偏向ビームスプリッタ２は、入射した主ビームＢＭ、副ビームＢ1及びＢ2を反射し、対物レンズ４に入射させる。
【０１０２】
そして、対物レンズ４は、主ビームＢＭ、副ビームＢ1及びＢ2を光ディスク５の情報記録面上に集光する。
【０１０３】
次に、光ディスク５の情報記録面で反射されることにより、当該情報記録面上に記録情報に対応して形成されているピットにより強度変調されると共に偏光面が回転された主ビームＢＭ、副ビームＢ1及びＢ2は偏向ビームスプリッタ２を透過して集光レンズ６によりディテクタ７’の受光面上に集光される。このとき、主ビームＢＭは主ディテクタ７ｃ上に集光され、副ビームＢ1は副ディテクタ７ａ上に集光され、副ビームＢ2は副ディテクタ７ｂ上に集光される。
【０１０４】
そして、主ディテクタ７ｃは、受光した主ビームＢＭに基づいて、上記記録情報に対応する検出信号Ｓpを生成し、エラー検出回路８’に出力する。
【０１０５】
一方、副ディテクタ７ａ及び７ｂは夫々受光した副ビームに対応して、トラッキング信号Ｓta及びＳtbを夫々生成してトラッキングエラー検出回路３１に出力する。
【０１０６】
そして、トラッキングエラー検出回路３１は、３ビーム法によりトラッキング信号Ｓtaとトラッキング信号Ｓtbの差を算出し、トラッキングエラー信号Ｓteを生成してイコライザ３２に出力する。
【０１０７】
その後、イコライザ３２はトラッキングエラー信号Ｓteの周波数特性を補正して補正トラッキングエラー信号Ｓtを生成し、加算器３４に出力する。
【０１０８】
次に、エラー検出回路８’は、入力されている検出信号Ｓpに基づいて記録情報に対応する再生ＲＦ信号Ｓrfを生成し、再生回路１０に出力する。
【０１０９】
そして、再生回路１０は入力された再生ＲＦ信号Ｓrfに基づいてこれを復調し、記録情報に対応する再生信号Ｓppとして外部に出力する。
【０１１０】
これと並行して、エラー検出回路８’は、主ビームＢＭのトラッキング位置のずれに起因して再生ＲＦ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのトラッキングエラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓcc1として加算器３４に出力する。そして、当該加算器３４により偏差信号Ｓcc1と補正トラッキングエラー信号Ｓtとが加算され、トラッキング偏差信号Ｓtcとしてドライバ３３に出力される。そして、当該ドライバ３３は、トラッキング偏差信号Ｓtcに基づいて発生しているトラッキングエラーを除去すべく、対物レンズ４を光ディスク５の情報記録面に平行な方向に移動するための図示しないトラッキングアクチュエータを駆動するためのトラッキング駆動信号Ｓdtを生成する。
【０１１１】
このとき、ドライバ３３は、トラッキングエラーが大きいときにこれを補正するいわゆる粗調整時にはトラッキング偏差信号Ｓtcに含まれる補正トラッキングエラー信号Ｓtを主に用いてトラッキングエラーを補正し、粗調整後にトラッキングエラーが小さくなったときにこれを補正するいわゆる微調整時には補正トラッキングエラー信号Ｓt及び偏差信号Ｓcc1を含むトラッキング偏差信号Ｓtcを用いて再生ＲＦ信号Ｓrfに含まれているオフセット（上記トラッキングエラーに起因して発生しているオフセットであり、上記粗調整のみでは除去できないものである。）を除去しつつトラッキングエラーを補正する。
【０１１２】
次に、情報再生装置Ｓ2のうちフォーカスサーボ制御に関する部分について図９を用いて説明すると、当該フォーカスサーボ制御に関する部分は、上述したレーザダイオード１、偏向ビームスプリッタ２、回折格子２’、対物レンズ４、光ディスク５、集光レンズ６及び再生回路１０に加えて、円筒レンズ６’と、ディテクタ７’と、エラー検出回路８”（上記エラー検出回路８’と同様の構成を備えた別個のもの）と、制御手段、フォーカスサーボ制御手段としてのドライバ３７と、フォーカスエラー検出回路３５と、イコライザ３６と、加算器３８と、により構成されている。
【０１１３】
このとき、主ディテクタ７ｃは後述のフォーカスエラー検出信号Ｓffを生成するためにその受光面が均等な面積を有する扇形の四つの部分ディテクタに分割されている。
【０１１４】
次に、概要動作を説明する。
【０１１５】
レーザダイオード１、回折格子２’、偏向ビームスプリッタ２、対物レンズ４、及び集光レンズ６は上述した図８に示す場合と同様の動作を行う。
【０１１６】
そして、円筒レンズ６’は、主ビームＢＭに非点収差を与えて主ディテクタ７ｃに入射させる。
【０１１７】
そして、上述のように四つの部分ディテクタに分割されている主ディテクタ７ｃは、夫々の部分ディテクタにおいて生成される受光信号を加算して検出信号Ｓpとしてエラー検出回路８”に出力すると共に、夫々の部分ディテクタのうち対向する二つの部分ディテクタにおける受光信号の和信号を夫々算出し、夫々の和信号の差をとることにより、いわゆる非点収差法に基づいて主ビームＢＭに含まれているフォーカスエラーを示す上記フォーカスエラー検出信号Ｓffを生成し、フォーカスエラー検出回路３５に出力する。
【０１１８】
そして、フォーカスエラー検出回路３５は、上記非点収差法によりフォーカスエラー検出信号Ｓffからフォーカスエラーに対応する具体値を含むフォーカスエラー信号Ｓfeを生成してイコライザ３６に出力する。
【０１１９】
その後、イコライザ３６はフォーカスエラー信号Ｓfeの周波数特性を補正して補正フォーカスエラー信号Ｓfを生成し、加算器３８に出力する。
【０１２０】
次に、エラー検出回路８”は検出信号Ｓpに基づいて記録情報に対応する再生ＲＦ信号Ｓrfを生成し、再生回路１０に出力する。
【０１２１】
そして、再生回路１０は再生ＲＦ信号Ｓrfに基づいてこれを復調し、上記再生信号Ｓppとして外部に出力する。
【０１２２】
これと並行して、エラー検出回路８”は、主ビームＢＭのフォーカス位置のずれに起因して再生ＲＦ信号Ｓrfに生じている制御偏差としてのフォーカスエラー（波形変形）を検出し、偏差信号Ｓcc2として加算器３８に出力する。そして、当該加算器３８により偏差信号Ｓcc2と補正フォーカスエラー信号Ｓfとが加算され、フォーカス偏差信号Ｓfcとしてドライバ３７に出力される。そして、当該ドライバ３7は、フォーカス偏差信号Ｓfcに基づいて、発生しているフォーカスエラーを除去すべく、対物レンズ４を光ディスク５の情報記録面に垂直な方向に移動するための図示しないフォーカスアクチュエータを駆動するためのフォーカス駆動信号Ｓdfを生成する。
【０１２３】
このとき、ドライバ３７は、フォーカスエラーが大きいときにこれを補正するいわゆる粗調整時にはフォーカス偏差信号Ｓfcに含まれる補正フォーカスエラー信号Ｓfを主に用いてフォーカスエラーを補正し、粗調整後にフォーカスエラーが小さくなったときにこれを補正するいわゆる微調整時には補正フォーカスエラー信号Ｓf及び偏差信号Ｓcc2を含むフォーカス偏差信号Ｓfcを用いて再生ＲＦ信号Ｓrfに含まれているオフセット（上記フォーカスエラーに起因して発生しているオフセットであり、上記粗調整では除去できないものである。）を除去しつつフォーカスエラーを補正する。
【０１２４】
次に、第２実施形態のエラー検出回路の構成及び動作について、図１０乃至図１３を用いて説明する。なお、以下の説明では、エラー検出回路８’とエラー検出回路８”とを代表してエラー検出回路８’の構成及び動作について説明する。また、図１０において、図２に示すエラー検出回路８と同一の部材については同一の部材番号を付して細部の説明は省略する。
【０１２５】
先ず、エラー検出回路８’の構成について図１０を用いて説明する。
【０１２６】
図１０に示すように、エラー検出回路８’は、図２において説明したＩ−Ｖ変換器１１、エンベロープ検出器１２、バンドパスフィルタ１３、ゼロクロス検出器１４及び２４、片エッジ検出器１５、位相比較器１６、反転器１７、スイッチ１８、ＡＧＣ３０、両エッジ検出器２５、ゲインコントローラ２６、加算器２７及びループフィルタ２８と、発振器３２と、反転器４０と、インバータ４１とにより構成されている。
【０１２７】
次に、エラー検出回路８’の動作について、図１０乃至図１３を用いて説明する。
【０１２８】
始めに、トラッキング位置のずれが生じていない場合の動作について、図１０及び図１１を用いて説明する。
【０１２９】
発振器３２は、予め設定された所定周波数の基準信号Ｓoscを生成する。
【０１３０】
そして、ゲインコントローラ２６及び加算器２７は図２において説明した動作と同様の動作を行い、偏差信号Ｓcc1に出力する。
【０１３１】
一方、ゼロクロス検出器２４は基準信号Ｓoscにおけるゼロクロス点を検出し、上記検出信号Ｓzr（図１１下から三段目参照）を生成して両エッジ検出器２５及びインバータ４１へ出力する。そして、インバータ４１は、検出信号Ｓzrの極性を反転し、反転検出信号Ｓzrrを生成してスイッチ１８に出力する。
【０１３２】
一方、両エッジ検出器２５は、入力されている検出信号Ｓzrに基づき、上記両エッジ信号Ｓbeg（図１１下から五段目参照）を生成し、位相比較器１６の一方の入力端子へ出力する。
【０１３３】
次に、偏差信号Ｓcc1を用いてドライバ３３により生成された駆動信号Ｓdtにより対物レンズ４を駆動した結果得られる検出信号Ｓpは、Ｉ−Ｖ変換器１１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換され、エンベロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出力される。
【０１３４】
ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形について詳説すると、再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１１上から三段目に示すように、基準信号Ｓoscの位相を１８０度だけ遅らせた遅延基準信号Ｓoscd（図１１上から二段目参照）に同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有するようになる。これは、トラッキングサーボ制御機構全体がいわゆる２次遅れ系の制御機構を構成していると共に、エラー検出回路８’としての応答速度を維持するために基準信号Ｓoscの周波数ｆ0を高く設定しているからである。
【０１３５】
すなわち、図４（ｂ）に示すように、一般に２次遅れ系の制御機構においては、操作量（第２実施形態の場合、基準信号Ｓosc）の周波数を高くすると、当該操作量を制御対象（第２実施形態の場合、トラッキングサーボ制御機構又はフォーカスサーボ制御機構）に入力した結果得られる制御量（第２実施形態の場合、再生ＲＦ信号Ｓrf）の位相は、操作量の位相に比して最大１８０度遅れる。そこで、第２実施形態の情報再生装置Ｓ2では、エラー検出回路８’としての応答速度を維持することを考慮すると共に位相遅れが定常状態となるための基準信号Ｓoscの周波数として、図４（ｂ）に示す周波数ｆ0を選択し、この結果、再生ＲＦ信号rfのエンベロープが図１１に示す波形（遅延基準信号Ｓoscdに同期すると共に、当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有する波形）となるのである。
【０１３６】
なお、基準信号Ｓoscの周波数としては、エラー検出回路８’としての応答速度を考慮する必要がない場合には、図４（ｂ）に示す周波数ｆ1であってもよい。
【０１３７】
次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過することによりエンベロープ信号Ｓenv（図１１上から四段目破線参照）として整流器１９及び反転器４０に出力される。
【０１３８】
ここで、整流器１９、積分器２０、基準電圧発生器２９及び減算器２１により構成されるＡＧＣ３０並びにゲインコントローラ２６は、上記図２の場合と同様の動作を行い、一定ゲインの基準信号Ｓoscを生成する。
【０１３９】
一方、反転器４０は、入力されているエンベロープ信号Ｓenvの極性を反転し、反転信号Ｓrを生成してゼロクロス検出器１４に出力する。そして、当該ゼロクロス検出器１４において反転信号Ｓrのゼロクロス点が検出され、更に片エッジ検出器１５において上記片エッジ信号Ｓseg（図１１下から四段目実線参照）が生成されて位相比較器１６の他方の入力端子に入力される。
【０１４０】
そして、位相比較器１６は、夫々に入力されている両エッジ信号Ｓbegと片エッジ信号Ｓsegとを位相比較し、上記位相信号Ｓtp（図１１下から二段目参照）を生成し、スイッチ１８の一方の入力端子にそのまま出力すると共に反転器１７に出力する。このとき、反転器１７は上記反転信号Ｓrevを生成してスイッチ１８の他方の入力端子に出力する。
【０１４１】
ここで、エラー検出回路８’においてインバータ４１及び反転器４０を用いる理由は、トラッキングサーボ制御機構においては、上述のように基準信号Ｓoscの位相と再生ＲＦ信号Ｓrfの位相とが１８０度ずれるので、もし、反転器４０を介さずにエンベロープ信号Ｓenvをそのままゼロクロス検出器１４に入力すると、生成される片エッジ信号Ｓsegは図１１下から四段目に破線で示す波形となり、従って、位相比較器１６により生成される位相信号Ｓtpも図１１下から二段目に破線で示すように長いパルス幅を有する波形となる。そして、このような波形の位相信号Ｓtpでは、スイッチ１８等の動作において、当該位相信号Ｓtpにおける隣接するパルス同士を識別できなくなる場合がある（位相信号Ｓtpにおける隣接するパルス同士が近づきすぎることに起因する。）。これにより、エラー検出回路８’ではエンベロープ信号Ｓenvを反転させた反転信号Ｓrから片エッジ信号Ｓsegを生成し、これに伴って検出信号Ｓzrを反転させた反転検出信号Ｓzrrを用いてスイッチ１８を切り替えるのである。
【０１４２】
この結果、スイッチ１８からは、図１１最下段に示すような、各パルスを明確に識別することが可能なエラー信号Ｓerが生成される。
【０１４３】
ここで、当該エラー信号Ｓerの波形においては、図３に示す場合と同様に、トラッキング位置のずれがないときは、エンベロープ信号Ｓenvが遅延基準信号Ｓoscdに同期すると共に当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有するので、その結果として、図１１に示すように、エラー信号Ｓerの波形は正側のパルス幅（位相信号Ｓtpに対応する。図１１中符号ｔ0で示す。）と負側のパルス幅（反転信号Ｓrevに対応している。図１１中符号ｔ0'で示す。）とが等しい波形となっている。
【０１４４】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderはゼロレベルの直流信号となる。
【０１４５】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓcc1は、直流のレベルシフトを伴わない基準信号Ｓoscそのものとなる。
【０１４６】
これにより、微調整時において当該偏差信号Ｓcc1が入力されるドライバ３３では、トラッキングサーボ制御の状態（光ビームＢＭにより形成される光スポットの光ディスク５上のトラックに対する位置）を現状から変化させないようにトラッキングアクチュエータを駆動すべく上記駆動信号Ｓdtを生成する。
【０１４７】
次に、光スポットの位置がトラックの位置に比して一の方向、例えば、内側にずれている場合のエラー検出回路８’の動作について、図１２を用いて説明する。
【０１４８】
トラッキングが内側にずれている場合には、基準信号Ｓoscとしてはトラッキング位置のずれが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓcc1に含まれてドライバ３３に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１２上から三段目に示すように、トラッキング位置のずれがない場合（図１１参照）に比して波形変形が生じる。
【０１４９】
この理由は、上記第１実施形態の場合と同様に、トラッキング位置のずれがない場合、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは、遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零のときに最大振幅となり、遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零以外のときにゼロレベルを中心として正負対称に同量の振幅を有する波形となる。従って、トラッキング位置のずれがないときはエンベロープ信号Ｓenvはそのピークが等間隔に現れる波形となる（図１１参照）
ところが、例えば、光ディスク５の内側又は外側にトラッキング位置のずれが生じている場合には、再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープは遅延基準信号Ｓoscdのレベルが零でないときに最大振幅となる。これにより、トラッキング位置のずれがあるときはエンベロープ信号Ｓenvのピークのタイミングは遅延基準信号Ｓoscdがゼロレベルのタイミングとは一致せず、従って、当該各ピークも等間隔とはならないのである（図１２又は図１３参照）。
【０１５０】
以上の理由により、再生ＲＦ信号Ｓrfに波形変形が生じているので、反転信号Ｓrも、図１２に示すように波形が非周期的となり、従って、そのゼロレベルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎にずれることとなる。
【０１５１】
なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbegと検出信号Ｓzrの波形は、図１１に示す場合と同様である。
【０１５２】
よって、これらにより、エラー信号Ｓerの波形としては、図１２最下段に示すように、正側のパルス幅（図１２中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）は負側のパルス幅（図１２中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）よりも短い波形となっている。
【０１５３】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderは負レベルの直流信号となる。
【０１５４】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓcc1は、負側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【０１５５】
これにより、当該偏差信号Ｓcc1が入力されるドライバ３３では、当該負側の直流レベルシフトが零となる外側の方向に光スポットの位置を移動させるようにトラッキングアクチュエータを駆動すべく上記駆動信号Ｓdtを生成し、よって、内側にずれているトラッキングが外側に補正されて正常なトラッキングができるようになる。
【０１５６】
最後に、光スポットの位置がトラックの位置に比して外側にずれている場合のエラー検出回路８’の動作について、図１３を用いて説明する。
【０１５７】
トラッキングが外側にずれている場合には、基準信号Ｓoscとしてはトラッキング位置のずれが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓcc1に含まれてドライバ３３に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１３上から三段目に示すように、トラッキング位置のずれがない場合（図１１参照）に比して、図１２に示す場合とは逆の波形変形を生じる。
【０１５８】
この理由は、上記図１２に示す場合において説明した通りである。
【０１５９】
従って、反転信号Ｓrも、図１３に示すように波形が非周期的となり、従って、そのゼロレベルのタイミングを示す片エッジ信号Ｓsegの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎に図１２に示す場合とは反対の方向にずれることとなる。
【０１６０】
なお、このときでも、両エッジ信号Ｓbegと検出信号Ｓzrの波形は、図１１に示す場合と同様である。
【０１６１】
よって、これらにより、エラー信号Ｓerの波形としては、図１３最下段に示すように、正側のパルス幅（図１３中符号（ｔ0＋Δｔ）で示す。）は負側のパルス幅（図１３中符号（ｔ0−Δｔ）で示す。）よりも長い波形となっている。
【０１６２】
そこで、当該エラー信号Ｓerをループフィルタ２８で平均化すると、得られる上記平均化エラー信号Ｓderは正レベルの直流信号となる。
【０１６３】
従って、当該平均化エラー信号Ｓderを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓcc1は、正側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【０１６４】
これにより、当該偏差信号Ｓcc1が入力されるドライバ３３では、当該正側の直流レベルシフトが零となる内側の方向に光スポットの位置を移動させるようにトラッキングアクチュエータを駆動すべく上記駆動信号Ｓdtを生成し、よって、外側にずれているトラッキングが内側に補正されて正常なトラッキングができるようになる。
【０１６５】
なお、上記エラー検出回路８’と図９に示すエラー検出回路８”とは、夫々の構成は基本的に同様であるが、動作上異なる点は、基準信号Ｓoscの周波数が異なる（ただし、エラー検出回路８’における基準信号Ｓoscの周波数とエラー検出回路８”における基準信号Ｓoscの周波数とは、共に、図４（ｂ）に示す位相が１８０度ずれる範囲の周波数とされる。）と共に、それに伴ってバンドパスフィルタ１３の中心周波数（基準信号Ｓoscの周波数の２倍の周波数である。）が相互に異なっている点である。これにより、エラー検出回路８’ではトラッキング位置のずれに起因する再生ＲＦ信号Ｓrfのオフセットのみを抽出してこれに基づくエラー信号Ｓerを生成してトラッキングサーボ制御を施すことができ、また、エラー検出回路８”においても、フォーカス位置のずれに起因する再生ＲＦ信号Ｓrfのオフセットのみを抽出してこれに基づくエラー信号Ｓerを生成してフォーカスサーボ制御を施すことができる。
【０１６６】
以上説明したように、第２実施形態の情報再生装置Ｓ2の動作によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行うことなくフォーカスエラー又はトラッキングエラーの量と方向が検出できるので、簡易な構成で正確且つ高速に当該フォーカスエラー又はトラッキングエラーの量と方向を検出することができる。
【０１６７】
また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達するタイミングと反転信号Ｓrがゼロレベルに到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且つ高速に波形変形を検出してフォーカスエラー又はトラッキングエラーの量と方向を検出することができる。
【０１６８】
更に、情報再生装置Ｓ2のトラッキングサーボ又はフォーカス制御において簡易な構成で正確且つ高速にトラッキング位置のずれ又はフォーカス位置のずれを検出することができる。
【０１６９】
なお、上述の第２実施形態においては、異なる周波数を有する基準信号Ｓoscを用いてトラッキングサーボ制御におけるオフセットの除去又はフォーカスサーボ制御におけるオフセットの除去を行ったが、これ以外に一のエラー検出回路（基準信号Ｓoscの周波数は一種類である。）をトラッキングサーボ制御におけるオフセットの除去とフォーカスサーボ制御におけるオフセットの除去とで共用することもできる。この場合には、トラッキングサーボ制御に用いる場合とフォーカスサーボ制御に用いる場合とで時分割的にエラー検出回路の出力を切り替えて夫々のドライバに出力し、いずれか一方のオフセットが除去された後に他方のオフセットを除去すべく当該共通のエラー検出回路を動作させることとなる。
【０１７０】
（III）第３実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態である第３実施形態について、図１４乃至図１７を用いて説明する。
【０１７１】
上述の第１及び第２実施形態においては、基準信号Ｓoscがゼロレベルとなるタイミングとエンベロープ信号Ｓenv（又は反転信号Ｓr）が負から正に変わるタイミングとを比較することによりエラー信号Ｓerを生成していたが、第３実施形態においては、基準信号Ｓoscがゼロレベルとなるタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがピーク値となるタイミングとを比較することによりエラー信号Ｓerを生成する。
【０１７２】
始めに、第３実施形態の情報再生装置におけるエラー検出回路の構成について、図１４を用いて説明する。なお、第３実施形態の情報再生装置では、エラー検出回路以外の構成及び動作は第１実施形態の情報再生装置Ｓ1と全く同様であるので、細部の説明は省略する。また、図１４において、図２に示すエラー検出回路８と同一の部材については同一の部材番号を付して細部の説明は省略する。
【０１７３】
図１４に示すように、第３実施系形態の情報再生装置におけるエラー検出回路８"'は、図２において説明したＩ−Ｖ変換器１１、エンベロープ検出器１２、バンドパスフィルタ１３、ゼロクロス検出器２４、ＡＧＣ３０、温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３、ゲインコントローラ２６、加算器２７、ループフィルタ２８及びバンド選択器３１と、ピーク検出器４５と、アンド回路４７及び４８と、ＲＳ型のフリップフロップ回路４９と、ローパスフィルタ４６及び５０と、減算器５１とにより構成されている。
【０１７４】
次に、エラー検出回路８"'の動作について、図１４乃至図１７を用いて説明する。
【０１７５】
始めに、光ディスク５と光ビームＢとの間にチルトが生じていない場合の動作について、図１４及び図１５を用いて説明する。
【０１７６】
温度センサ２２、Ｖ−ｆ変換器２３、ゲインコントローラ２６及び加算器２７は図２において説明した動作と同様の動作を行い、偏差信号Ｓccを液晶パネル制御回路９に出力する。
【０１７７】
一方、ゼロクロス検出器２４は基準信号Ｓoscにおけるゼロクロス点を検出し、上記検出信号Ｓzr（図１５下から五段目参照）を生成してアンド回路４７及び４８の一方の入力端子並びにローパスフィルタ４６に出力する。このとき、アンド回路４７に対しては検出信号Ｓzrがそのまま入力されるが、アンド回路４８に対しては検出信号Ｓzrの極性が反転されて入力される。
【０１７８】
そして、ローパスフィルタ４６は入力された検出信号Ｓzrを平均化して平均化検出信号Ｓezrとして減算器５１に出力する。
【０１７９】
次に、偏差信号Ｓccを用いて液晶パネル制御回路９により生成された駆動信号Ｓdvにより駆動される液晶パネル３を通過して波面収差が補正された光ビームＢの反射光を受光して得られた検出信号Ｓpは、Ｉ−Ｖ変換器１１により対応する再生ＲＦ信号Ｓrfに変換され、エンベロープ検出器１２及び上記再生回路１０へ出力される。
【０１８０】
ここで、当該再生ＲＦ信号Ｓrfの波形については図３について説明した場合と同様の波形となる。
【０１８１】
次に、この再生ＲＦ信号Ｓrfのエンベロープがエンベロープ検出器１２により検出され、更に中心周波数２×ｆ0のバンドパスフィルタ１３を通過することによりエンベロープ信号Ｓenv（図１５上から四段目参照）として整流器１９及びピーク検出器４５に出力される。
【０１８２】
ここで、整流器１９、積分器２０、基準電圧発生器２９及び減算器２１により構成されるＡＧＣ３０並びにゲインコントローラ２６は、上記図２の場合と同様の動作を行い、周囲温度の変化によらず常に一定ゲインの基準信号Ｓoscを生成する。
【０１８３】
一方、ピーク検出器４５は、入力されているエンベロープ信号Ｓenvがピーク値となるタイミングを検出し、当該タイミングで「ＨＩＧＨ」となるピーク信号Ｓpk（図１５上から五段目参照）を生成してアンド回路４７及び４８の他方の入力端子にそのまま出力する。
【０１８４】
そして、アンド回路４７はピーク信号Ｓpkと検出信号Ｓzrの論理積を算出し、セット信号Ｓst（図１５下から四段目参照）としてフリップフロップ回路４９のセット端子に出力する。
【０１８５】
これと並行して、アンド回路４８は検出信号Ｓzrを反転した信号とピーク信号Ｓpkとの論理積を算出し、リセット信号Ｓrt（図１５下から三段目参照）としてフリップフロップ回路４９のリセット端子に出力する。
【０１８６】
これらにより、フリップフロップ回路４８は、セット信号Ｓstが「ＨＩＧＨ」となったときに「ＬＯＷ」から「ＨＩＧＨ」に変化すると共に、リセット信号Ｓrtが「ＨＩＧＨ」となったときに「ＨＩＧＨ」から「ＬＯＷ」に変化するピーク間隔信号Ｓq（図１５下から二段目参照）を生成してローパスフィルタ５０に出力する。そして、ローパスフィルタ５０は、ピーク間隔信号Ｓqを平均化して平均化ピーク間隔信号Ｓlqとして減算器５１に出力する。
【０１８７】
ここで、上記検出信号Ｓzrとピーク間隔信号Ｓqとを比較すると、チルトに起因する波面収差がないときは、上述のようにエンベロープ信号Ｓenvが遅延基準信号Ｓoscdに同期すると共に当該遅延基準信号Ｓoscdの２倍の周波数を有するので、その結果として、図１５に示すように、検出信号Ｓzrとピーク間隔信号Ｓqとは、同一の波形で位相が相互に１／４周期分だけずれた波形を有することとなる。
【０１８８】
従って、減算器５１において、検出信号Ｓzrを平均化した平均化検出信号Ｓezrからピーク間隔信号Ｓqを平均化した平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算すると、その結果であるエラー信号Ｓerとしてはゼロレベルの直流信号となる。
【０１８９】
よって、当該エラー信号Ｓerを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓccは、直流のレベルシフトを伴わない基準信号Ｓoscそのものとなる。
【０１９０】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して何ら位相差を与えないように液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成する。
【０１９１】
次に、光ディスク５と光ビームＢとの間に一の方向（以下、その方向を負の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエラー検出回路８"'の動作について、図１６を用いて説明する。
【０１９２】
負の方向のチルトが発生している場合には、第１実施形態の場合と同様に、基準信号Ｓoscとしてはチルトが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscが偏差信号Ｓccに含まれて液晶パネル制御回路９に出力された結果得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１６上から三段目に示すように、チルトがない場合（図１５参照）に比して波形変形が生じる。
【０１９３】
この理由は、第１実施形態の図２に示す場合において説明した通りである。
【０１９４】
そして、この再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形により、エンベロープ信号Ｓenvも図１６に示すように波形が非周期的となり、従って、それがピーク値となるタイミングを示すピーク間隔信号Ｓqの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎にずれて「ＨＩＧＨ」の期間が「ＬＯＷ」の期間より短くなる。
【０１９５】
なお、このときでも、検出信号Ｓzrの波形は、図１５に示す場合と同様である。
【０１９６】
これらにより、減算器５１において平均化検出信号Ｓezrから平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算した結果であるエラー信号Ｓerとしては正レベル（図１６中符号ｅ1で示すレベル）の直流信号となる。
【０１９７】
従って、当該エラー信号Ｓerを加算器２７で基準信号Ｓoscに加算して得られる上記偏差信号Ｓccは、正側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【０１９８】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して当該正側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、負方向のチルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【０１９９】
最後に、光ディスク５と光ビームＢとの間に図１６で説明した方向とは反対方向（以下、この方向を正の方向と称する。）のチルトが生じている場合のエラー検出回路８"'の動作について、図１７を用いて説明する。
【０２００】
正の方向のチルトが発生している場合には、基準信号Ｓoscとしては上述のようにチルトが生じていない場合に比して何ら変化することなく生成されるが、この基準信号Ｓoscに対応して得られる再生ＲＦ信号Ｓrfは、図１７上から三段目に示すように、図１６に示す場合とは逆の波形変形を生じる。この理由は上記図５の場合において説明した通りである。
【０２０１】
従って、エンベロープ信号Ｓenvも、図１７に示すように波形が非周期的となり、それがピーク値となるタイミングを示すピーク間隔信号Ｓqの周期も、基準信号Ｓoscの半周期毎にずれて「ＨＩＧＨ」の期間が「ＬＯＷ」の期間より長くなる。
【０２０２】
なお、このときでも、検出信号Ｓzrの波形は、図１５に示す場合と同様である。
【０２０３】
これらにより、減算器５１において平均化検出信号Ｓezrから平均化ピーク間隔信号Ｓlqを減算した結果であるエラー信号Ｓerとしては負レベル（図１７中符号ｅ2で示すレベル）の直流信号となる。
【０２０４】
従って、上記偏差信号Ｓccは、負側に直流のレベルシフトを伴う信号となる。
【０２０５】
これにより、当該偏差信号Ｓccが入力される液晶パネル制御回路９では、光ビームＢに対して当該負側の直流レベルシフトが零となる位相差を与えるように液晶パネル３を駆動すべく上記駆動信号Ｓdvを生成し、よって、正方向のチルトにより生じている波面収差が補正されて正常な情報再生ができるようになる。
【０２０６】
以上説明したように、第３実施形態のエラー検出回路８"'の動作によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行うことなくチルトエラーの量と方向が検出できるので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエラー量と方向を検出することができる。
【０２０７】
また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがピーク値に到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向を検出することができる。
【０２０８】
更に、情報再生装置のチルトサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出することができる。
【０２０９】
（IV）第４実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態である第４実施形態について、図１８及び図１９を用いて説明する。
【０２１０】
上述の第１乃至第３実施形態のエラー検出回路においては、外乱信号としての基準信号Ｓoscの影響を受けた再生ＲＦ信号Ｓrfをそのまま用いてエンベロープ信号Ｓenvを生成していたが、第４実施形態のエラー検出回路では、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの混入に起因する変化のみを抽出してエンベロープ信号Ｓenvを生成すると共に当該再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの影響を除去して再生回路１０に出力するように構成する。
【０２１１】
図１８に示すように、第４実施形態のエラー検出回路５７は、図２に示すエラー検出回路８の構成に加えて、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの混入に起因する変化のみを抽出して抽出信号Ｓrf"を生成し、エンベロープ検出器１２に出力するハイパスフィルタ５５と、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの影響を除去して再生ＲＦ信号Ｓrf'を生成し、再生回路１０に出力するハイパスフィルタ５６とを備えて構成される。その他の構成及び動作は第１実施形態のエラー検出回路８と全く同様であるので、細部の説明は省略する。
【０２１２】
このとき、ハイパスフィルタ５５のカットオフ周波数ｆc1は、図１９（ａ）左に示すように、基準信号Ｓoscの周波数ｆ0の２倍の周波数付近の周波数を有する信号のみを透過し、それ以下の周波数を有する信号を減衰させるように設定される。
【０２１３】
また、ハイパスフィルタ５６のカットオフ周波数ｆc2は、図１９（ａ）右に示すように、基準信号Ｓoscの周波数ｆ0の２倍の周波数よりも高く設定され、周波数２×ｆ0の信号を減衰させるように設定されている。
【０２１４】
そして、エンベロープ検出器１２は、ハイパスフィルタ５５を通過した抽出信号Ｓrf"に基づいて上記エンベロープ信号Ｓenvを生成し、一方、再生回路１０はハイパスフィルタ５６を通過した再生ＲＦ信号Ｓrf'を用いて再生信号Ｓppを出力する。
【０２１５】
以上説明したように、第４実施形態のエラー検出回路５７によれば、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの混入に起因する変化のみを抽出してエンベロープ信号Ｓenvを生成するので、より正確にチルトエラーの量と方向を検出できると共に、再生ＲＦ信号Ｓrfから基準信号Ｓoscの影響を除去して再生回路１０に出力するので、再生ＲＦ信号Ｓrfの信号対雑音比が良好となってより忠実に光ディスク５上の記録情報を再生することができる。
【０２１６】
なお、ハイパスフィルタ５６については、これを図１９（ｂ）に示すような減衰特性を有するバンドエリミネーションフィルタに代えることもできる。この場合は、低周波数域の記録情報をも忠実に再生することができることとなる。
【０２１７】
また、第４実施形態の各ハイパスフィルタを第２又は第３実施形態のエラー検出回路におけるＩ−Ｖ変換器１１とエンベロープ検出器１２と間及びＩ−Ｖ変換器１１と再生回路１０との間に配置しても第４実施形態の場合と同様の効果が得られる。
【０２１８】
（Ｖ）第５実施形態
次に、本発明の他の実施形態である第５実施形態について、図２０を用いて説明する。
【０２１９】
上述の第１実施形態では、液晶パネル３を用いてチルトに起因する波面収差を補正することにより、当該チルトの再生ＲＦ信号Ｓrfへの影響を除去したが、第５実施形態では、光ビームＢの光軸を傾斜させることによりチルトそのものを除去するように構成する。
【０２２０】
図２０に示すように、第５実施形態の情報再生装置Ｓ5は、第１実施形態におけるレーザダイオード１、偏向ビームスプリッタ２、対物レンズ４、光ディスク５、集光レンズ６、ディテクタ７、エラー検出回路８及び再生回路１０に加えて、光ディスク５におけるチルトを検出するチルトセンサ６０と、減算器６４と、加算器６１と、チルトドライバ６２と、チルトモータ６３とを備えて構成される。
【０２２１】
また、チルトセンサ６０は、光ディスク５の半径方向に分離された部分ディテクタ６０ａ及び６０ｂを備えている。
【０２２２】
次に、動作を説明する。
【０２２３】
チルトセンサ６０は、チルト検出用の光ビームＣを出射し、その光ディスク５からの反射光を部分ディテクタ６０ａ及び６０ｂで夫々受光することにより、チルト信号Ｓa及びＳbを出力する。そして、減算器６４は、チルト信号Ｓbからチルト信号Ｓaを減算することにより、チルト検出信号Ｓceを生成する。このとき、部分ディテクタ６０ａ及び６０ｂが夫々光ディスク５の半径方向に分離して配置されているため、夫々が受光した光ビームの強度差に対応するチルト検出信号Ｓceは光ディスク５の半径方向のチルトを示すこととなる。
【０２２４】
そして、当該チルト検出信号Ｓceが加算器６１においてエラー検出回路８からの偏差信号Ｓccと加算され、チルトエラー信号Ｓmとしてチルトドライバ６２に出力される。
【０２２５】
その後、チルトドライバ６２は、入力されたチルトエラー信号Ｓmに基づいて、発生しているチルトを除去するべくチルトモータ６３を駆動するための駆動信号Ｓcdを生成する。そして、当該チルトモータ６３が駆動信号Ｓcdにより駆動され、光ビームＢの光軸が傾斜されてチルトそのものが除去されることとなる。
【０２２６】
以上説明した第５実施形態の情報再生装置Ｓ5の動作によれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行うことなくチルトエラーの量と方向が検出できるので、簡易な構成で正確且つ高速にチルトエラーの量と方向を検出することができる。
【０２２７】
また、基準信号Ｓoscがゼロレベルに到達するタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがゼロレベルに到達するタイミングとを比較することにより再生ＲＦ信号Ｓrfの波形変形を検出するので、簡易な構成で正確且つ高速に波形変形を検出してチルトエラーの量と方向を検出することができる。
【０２２８】
更に、情報再生装置Ｓ5のチルトサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速にチルトを検出することができる。
【０２２９】
更にまた、チルトサーボ制御機構がチルトモータ６３を用いて光ビームＢの光軸を傾斜させることにより直接チルトそのものを除去するので、正確且つ高速にチルトエラーを解消することができる。
【０２３０】
また、第５実施形態において、チルトセンサ６０、減算器６４及び加算器６１を用いずに、偏差信号Ｓccをそのままチルトドライバ６２に入力しても第５実施形態とほぼ同様の効果を得ることができる。
【０２３１】
なお、上述の各実施形態では光ディスク５から情報を再生する場合について本発明を適用したが、これ以外に、記録可能な光ディスクに対して光ビームを用いて情報を記録する場合に本発明を適用することもできる。
【０２３２】
また、上述の各実施形態においては、ゼロクロス検出器１４及び２４は、基準信号Ｓosc又はエンベロープ信号Ｓenvがぞれぞれの信号のゼロレベルに到達するタイミングを検出したが、これ以外に、基準信号Ｓosc又はエンベロープ信号Ｓenvの夫々が直流成分を含んでいる場合は、夫々の平均電圧レベルに到達するタイミングを検出するように構成してもエンベロープ信号Ｓenvの波形変形を検出することができる。
【０２３３】
更に、ゼロクロス検出器１４は、エンベロープ信号Ｓenvの平均電圧レベルに限らず、エンベロープ信号Ｓenvの振幅の範囲内であれば、いずれの閾値に到達するタイミングを検出してもよい。すなわち、ゼロクロス検出器１４としては、エンベロープ信号Ｓenvに波形変形が生じたときに、その波形の非周期性を検出できればよいのである。
【０２３４】
一方、ゼロクロス検出器２４については、基準信号Ｓoscの平均電圧レベルに限らず、基準信号Ｓoscのピーク又はボトムのタイミングを検出してもよい。すなわち、ゼロクロス検出器２４としては、エンベロープ信号Ｓenvの波形変形（非周期性）を検出するための基準となる周期的タイミングを示す信号を検出できればよいのである。
【０２３５】
以上説明したように、各実施形態に係る情報再生装置Ｓによれば、積分処理又は比較を伴う学習処理等を行うことなく制御偏差が生成されるので、簡易な構成で正確且つ高速に制御偏差を検出することができる。
【０２３６】
また、外乱信号Ｓoscがその平均電位レベルとクロスするタイミングとエンベロープ信号Ｓenvがその平均電位レベルとクロスするするタイミングとを比較することにより波形変形を検出する場合は、簡易な構成で高速に波形変形を検出して制御偏差を検出することができる。
【０２３７】
更に、各閾値が夫々の信号の平均電位レベルであるので、より簡易な構成で波形変形を検出することができる。
【０２３８】
更にまた、エンベロープ信号Ｓenvがピーク値となるタイミングと外乱信号Ｓoscがその平均電位レベルとクロスするタイミングとを比較することにより波形変形を検出する場合にも、簡易な構成で高速に波形変形を検出して制御偏差を検出することができる。
【０２３９】
また、制御偏差がチルト角度の予め設定された正規のチルト角度からのずれであるので、情報再生装置のチルトサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速にチルト角度のずれを検出することができる。
【０２４０】
更に、液晶パネル３を用いて光ビームに光路差を与えることによりチルト角の変化に起因する収差を補正すると共に、制御対象が液晶パネルを駆動するための液晶パネル制御回路９であるので、正確且つ高速に制御偏差を検出して液晶パネル制御回路９を駆動することができる。
【０２４１】
更にまた、制御対象をフォーカスサーボとして、制御偏差を光ビームの集光位置の情報記録面からのずれであるとすれば、情報再生装置のフォーカスサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速に集光位置のずれを検出することができる。
【０２４２】
また、制御対象をトラッキングサーボとして、制御偏差を光ビームの集光位置のトラック位置からのずれであるとすれば、情報再生装置のトラッキングサーボ制御において簡易な構成で正確且つ高速に集光位置のトラック位置からのずれを検出することができる。
【０２４３】
更に、検出された制御偏差を消去するように制御対象を制御するので、簡易な構成で高速に制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の情報再生装置の概要構成を示すブロック図である。
【図２】第１実施形態のエラー検出回路の概要構成を示すブロック図である。
【図３】第１実施形態においてチルトエラーがないときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図４】基準信号周波数と再生ＲＦ信号の位相差との関係を示す図であり、（ａ）は１次遅れ系の制御機構の場合を示す図であり、（ｂ）は２次遅れ系の制御機構の場合を示す図である。
【図５】第１実施形態において負の方向のチルトエラーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図６】再生ＲＦ信号の振幅と基準信号の振幅との関係を示す図である。
【図７】第１実施形態において正の方向のチルトエラーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図８】第２実施形態の情報再生装置の概要構成を示すブロック図（Ｉ）である。
【図９】第２実施形態の情報再生装置の概要構成を示すブロック図（II）である。
【図１０】第２実施形態のエラー検出回路の概要構成を示すブロック図である。
【図１１】第２実施形態においてチルトエラーがないときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１２】第２実施形態においてトラッキング位置が内側にずれているときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１３】第２実施形態においてトラッキング位置が外側にずれているときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１４】第３実施形態のエラー検出回路の概要構成を示すブロック図である。
【図１５】第３実施形態においてチルトエラーがないときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１６】第３実施形態において負の方向のチルトエラーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１７】第３実施形態において正の方向のチルトエラーがあるときの各部の波形を示すタイミングチャートである。
【図１８】第４実施形態のエラー検出回路の概要構成を示すブロック図である。
【図１９】第４実施形態における各フィルタの周波数特性を示す図であり、（ａ）は第４実施形態のエラー検出回路における各ハイパスフィルタの周波数特性を示す図であり、（ｂ）は第４実施形態のエラー検出回路におけるバンドエリミネーションフィルタの周波数特性を示す図である。
【図２０】第５実施形態の情報再生装置の概要構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１…レーザダイオード
２…偏向ビームスプリッタ
２’…回折格子
３…液晶パネル
４…対物レンズ
５…光ディスク
６…集光レンズ
６’…円筒レンズ
７、７’…ディテクタ
７ａ、７ｂ…副ディテクタ
７ｃ…主ディテクタ
８、８’８”８"'、５７…エラー検出回路
９…液晶パネル制御回路
１０…再生回路
１１…Ｉ−Ｖ変換器
１２…エンベロープ検出器
１３…バンドパスフィルタ
１４、２４…ゼロクロス検出器
１５…片エッジ検出器
１６…位相比較器
１７、４０…反転器
１８…スイッチ
１９…整流器
２０…積分器
２１、５１、６４…減算器
２２…温度センサ
２３…Ｖ−ｆ変換器
２５…両エッジ検出器
２６…ゲインコントローラ
２７、３４、３８、６１…加算器
２８…ループフィルタ
２９…基準電圧発生器
３０…ＡＧＣ
３１…トラッキングエラー検出回路
３２、３６…イコライザ
３３、３７…ドライバ
３５…フォーカスエラー検出回路
４１…インバータ
４５…ピーク検出器
４６、５０…ローパスフィルタ
４７、４８…アンド回路
４９…フリップフロップ回路
５５、５６…ハイパスフィルタ
６０…チルトセンサ
６０ａ、６０ｂ…部分ディテクタ
６２…チルトドライバ
６３…チルトモータ
Ｓrf、Ｓrf'…再生ＲＦ信号
Ｓrf"…抽出信号
Ｓpp…再生信号
Ｓp、Ｓt、Ｓzr…検出信号
Ｓzrr…反転検出信号
Ｓcc、Ｓcc1、Ｓcc2…偏差信号
Ｓdv、Ｓdt、Ｓdf、Ｓcd…駆動信号
Ｓosc…基準信号
Ｓbeg…両エッジ信号
Ｓenv…エンベロープ信号
Ｓseg…片エッジ信号
Ｓtp…位相信号
Ｓrev、Ｓr…反転信号
Ｓer…エラー信号
Ｓder…平均化エラー信号
Ｓc…制御信号
Ｓte…トラッキングエラー信号
Ｓt…補正トラッキングエラー信号
Ｓtc…トラッキング偏差信号
Ｓta、Ｓtb…トラッキング信号
Ｓfe…フォーカスエラー信号
Ｓf…補正フォーカスエラー信号
Ｓfc…フォーカス偏差信号
Ｓff…フォーカスエラー検出信号
Ｓpk…ピーク信号
Ｓst…セット信号
Ｓrt…リセット信号
Ｓq…ピーク間隔信号
Ｓlq…平均化ピーク間隔信号
Ｓezr…平均化検出信号
Ｓm…チルトエラー信号
Ｓa、Ｓb…チルト信号
Ｓce…チルト検出信号
Ｂ、Ｃ…光ビーム
ＢＭ…主ビーム
Ｂ1、Ｂ2…副ビーム
Ｓ1、Ｓ2、Ｓ5…情報再生装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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