(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブロック体に複数の検知ピンを進退自在に収容した検査具本体を有し、検査対象となるコネクタの各端子収容室に、各検知ピンを挿入することにより、各端子収容室内の端子の挿入不良の有無を検査するコネクタ検査具において、
垂直な長孔と水平な長孔を直交させることによって、前記検査具本体に複数の矩形開口部を形成し、これら矩形開口部に前記検知ピンを挿通することにより、これら検知ピンの縦横方向の移動を制限したことを特徴とするコネクタ検査具。
【請求項２】
前記検査具本体を形成するブロック体に、垂直又は水平な第一長孔を複数平行に穿設し、該ブロック体の第一長孔の開口面に、水平又は垂直な第二長孔を複数平行に穿設したプレートを取り付けることによって、これら第一及び第二長孔を直交させ、複数の前記矩形開口部を形成した請求項１記載のコネクタ検査具。
【請求項３】
前記ブロック体における前記第一長孔どうしを仕切る壁部と、前記プレートにおける前記第二長孔どうしを仕切る壁部とを、互いに直交かつ嵌合させることによって、四つの壁面に囲まれた複数の前記矩形開口部を形成した請求項２記載のコネクタ検査具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コネクタ内の端子の挿入不良を検知するコネクタ検査具に関し、特に、検査具本体における検知ピンのがたつきをなくし、該検知ピン等の破損防止を図ったコネクタ検査具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のコネクタ検査具について、図３〜図５を参照しつつ説明する。
図３は従来のコネクタ検査具を示す斜視図である。また、図４（ａ），（ｂ）は上記従来のコネクタ検査具の検査動作を示す断面図である。さらに、図５（ａ），（ｂ）は図４（ａ），（ｂ）の拡大図である。
【０００３】
図３において、１００は従来のコネクタ検査具であり、主として、基台１０に平行に設けた二本のガイドシャフト５０，５０に、ホルダ２０と検査具本体３００を摺動自在に取り付けた構成となっている。
【０００４】
ホルダ２０は、検査対象となるコネクタ８０のハウジング８１を保持する枠状となっており、各ガイドシャフト５０に挿通した二つのスプリング６０，６０によって検査具本体３００側に付勢されている。
【０００５】
同図及び図４（ａ）に示すように、検査具本体３００には、コネクタ８０のハウジング８１の先端側に嵌合する凹状の嵌合部３０１と、コネクタ８０の各端子収容室８２に対応する複数の貫通孔３０２とが設けてある。
【０００６】
図５（ａ）に示すように、検査具本体３００の各貫通孔３０２には、検知ピン４０が収容してある。各検知ピン４０の先端側には、導通検知部４０ａと挿入不良検知部４０ｂとが設けてあり、各検知ピン４０は、スプリング４１によってホルダ２０側に付勢されている。
【０００７】
このような構成の検査具本体３００は、図４（ａ），（ｂ）に示すように、操作レバー７０によって前後に進退可能となっている。
【０００８】
図３及び図５（ａ）に示すように、コネクタ８０は、ハウジング８１内に複数の前記端子収容室８２を有し、各端子収容室内８２には、可撓性を有するランス８３が一体成形してある。
【０００９】
各端子収容室８２に端子８４を挿入すると、該端子８４に設けた切欠部８４ａにランス８３が係合し、端子８４が端子収容室８２に保持される。
但し、端子収容室８２に端子８４が完全に挿入されていない、すなわち、端子８４の挿入不良があった場合は、図５（ｂ）に示すように、ランス８３が端子８４の切欠部８４ａに係合しない状態となる。
【００１０】
なお、検知ピン４０及び端子８４に接続された電線４２，８５（図３参照）は、図示しないチェッカに接続してあり、作業者は、該チェッカによって、端子８４の挿入不良や導通不良の有無を確認している。
【００１１】
次に、図４（ａ），（ｂ）及び図５（ａ），（ｂ）を参照しつつ、従来のコネクタ検査具１００による検査動作について説明する。
【００１２】
図４（ａ）及び図５（ａ）において、コネクタ検査具１００のホルダ２０にコネクタ８０をセットし、操作レバー７０を操作して、検査具本体３００をコネクタ８０側に移動させる。
【００１３】
すると、図４（ｂ）及び図５（ｂ）に示すように、検査具本体３００の嵌合部３０１にコネクタ８０の先端側が嵌合し、該コネクタ８０の各端子収容室８２に各検知ピン４０が挿入される。
【００１４】
ここで、端子収容室８２に端子８４が完全に挿入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知部４０ｂがランス８３の下に入り込み、これによって、該検知ピン４０の導通検知部４０ａが端子８４と接触し、前記チェッカがランプ等を点灯させて導通を表示する。
【００１５】
また、端子収容室８２に端子８４が不良挿入されている場合は、検知ピン４０の挿入不良検知部４０ｂがランス８３に当接し、これによって、該検知ピン４０の導通検知部４０ａが端子８４に接触できず、前記チェッカがランプ等を点灯させないことにより非導通を表示する。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上述した従来のコネクタ検査具１００では、図６に示すように、矩形の検知ピン４０に対して、検査具本体３００の貫通孔３０２がこれより若干大きい長円状となっていたため、該貫通孔３０２の円弧部分で検知ピン４０のがたつきが生じ、検査具本体３００とコネクタ８０を嵌合させたときに、検知ピン４０がハウジング８１に衝突して、これらの一方又は両方が破損してしまうという問題があった。
【００１７】
このような問題は、検査具本体３００の貫通孔３０２を、検知ピン４０と同じ矩形とすれば解決できる。
しかし、検査具本体３００の貫通孔３０２は、エンドミルなどの回転刃によって切削形成することが一般的であるため、このような工具によって、矩形の貫通孔３０２を形成することは不可能であった。
【００１８】
また、従来は、検査具本体３００に複数の貫通孔３０２を一つずつ切削形成していたため、各貫通孔３０２の位置的な精度が低く、これが検知ピン４０とハウジング８１の衝突をまねくという問題もあった。
【００１９】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、検査具本体における検知ピンのがたつきをなくすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を確実に防止することができるコネクタ検査具の提供を目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載のコネクタ検査具は、ブロック体に複数の検知ピンを進退自在に収容した検査具本体を有し、検査対象となるコネクタの各端子収容室に、各検知ピンを挿入することにより、各端子収容室内の端子の挿入不良の有無を検査するコネクタ検査具において、垂直な長孔と水平な長孔を直交させることによって、前記検査具本体に複数の矩形開口部を形成し、これら矩形開口部に前記検知ピンを挿通することにより、これら検知ピンの縦横方向の移動を制限した構成としてある。
【００２１】
このような構成によれば、垂直な長孔と水平な長孔を直交させることによって、たとえ、これら長孔の両端が円弧状となっていても、検知ピンの外形に対応した複数の矩形開口部を形成することができる。
【００２２】
該矩形開口部に検知ピンを挿通することにより、検知ピンの縦横方向の移動が制限され、がたつきをなくすことができる。これによって、検知ピンとコネクタハウジングの衝突による破損を確実に防止することができる。
【００２３】
また、垂直な長孔と水平な長孔を直交させることによって、複数の矩形開口部を形成しているので、検知ピンを収容する貫通孔を一つずつ穿設していた従来技術に比べ、これら矩形開口部の位置的な精度を大幅に向上させることができ、これによっても、検知ピン等の破損防止を図ることができる。
【００２４】
好ましくは、請求項２記載のコネクタ検査具のように、前記検査具本体を形成するブロック体に、垂直又は水平な第一長孔を複数平行に穿設し、該ブロック体の第一長孔の開口面に、水平又は垂直な第二長孔を複数平行に穿設したプレートを取り付けることによって、これら第一及び第二長孔を直交させ、複数の前記矩形開口部を形成した構成とする。
【００２５】
このような構成によれば、既存のブロック体又はプレートを、第一又は第二長孔の数が異なる他のブロック体又はプレートに交換することにより、端子数の異なる多種類のコネクタの検査に容易に対応することができる。
【００２６】
好ましくは、請求項３記載のコネクタ検査具のように、前記ブロック体における前記第一長孔どうしを仕切る壁部と、前記プレートにおける前記第二長孔どうしを仕切る壁部とを、互いに直交かつ嵌合させることによって、四つの壁面に囲まれた複数の前記矩形開口部を形成した構成とする。
【００２７】
このような構成によれば、仕切壁（第一長孔どうしを仕切る壁部、及び、第二長孔どうしを仕切る壁部）の四つの壁面に囲まれた矩形開口部を形成することができ、検知ピンをより安定した状態で保持することができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のコネクタ検査具の一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００２９】
なお、本発明のコネクタ検査具は、検査具本体の構成に特徴があり、その他の部分は従来と同様になっているため、検査具本体以外の構成要素の詳細な説明は省略する。
【００３０】
図１は本発明の一実施形態に係るコネクタ検査具の検査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正面図，同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図（ｃ）は同図（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。
また、図２（ａ）は上記検査具本体を構成するブロック体の正面図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成するプレートの正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレートを組み付けた状態の正面図である。
【００３１】
図１（ａ）〜（ｃ）において、検査具本体３０は、ブロック体３１と二枚のプレート３２，３２を備えた構成となっている。
【００３２】
図２（ａ）に示すように、ブロック体３１の正面には、検査対象となるコネクタ８０（図３参照）が嵌合する凹状の嵌合部３１ａが設けてある。
【００３３】
該嵌合部３１ａの奥には、ブロック体３１の背面に貫通する水平な第一長孔３１ｂが複数平行に穿設してある。
なお、これら第一長孔３１ｂは、図示しないエンドミルなどの回転刃によって切削形成しているため、孔の両端が円弧状となっている。
【００３４】
同図及び図１（ｃ）に示すように、これら第一長孔３１ｂを区画する各仕切壁３１ｃの前後端には、プレート３２の各仕切壁３２ｂ（図２（ｂ）参照）が嵌合する切欠部３１ｄがそれぞれ形成してある。
【００３５】
図２（ｂ）に示すように、各プレート３２には、垂直な第二長孔３２ａが複数平行に穿設してある。
なお、上述した第一長孔３１ｂと同様、第二長孔３２ａもエンドミルなどの回転刃によって切削形成しているため、孔の両端が円弧状になっている。
【００３６】
同図及び図１（ｂ），（ｃ）に示すように、各プレート３２は、その仕切壁３２ｂを上述したブロック体３１の仕切壁３１ｃ（切欠部３１ｄ）に嵌合させることにより、第一長孔３１ｂの前後開口面にそれぞれ取り付けられる。
【００３７】
このように、プレート３２をブロック体３１に取り付けると、図１（ａ）及び図２（ｃ）に示すように、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔３２ａが互いに直交し、検知ピン４０の外形に対応する複数の矩形開口部３３が形成される。
【００３８】
ここで、上述した検査具本体３０の組み立ては、まず、ブロック体３１に二枚のプレート３２，３２をそれぞれ取り付けて、複数の矩形開口部３３を形成し、次いで、各矩形開口部３３に検知ピン４０をそれぞれ挿通するといった手順を採っている。
【００３９】
このように、複数の矩形開口部３３を形成してから、これら矩形開口部３３に各検知ピン４０を挿通することにより、従来のような各検知ピン４０に個別に対応する貫通孔３０２（図４（ａ）参照）がなくても、各検知ピン４０をスムーズに組み付けることができる。
【００４０】
上記構成からなる本実施形態のコネクタ検査具によれば、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔３２ａを直交させることによって、たとえ、これら長孔３１ｂ，３２ａの両端が円弧状となっていても、検知ピン４０の外形に対応した複数の矩形開口部３３を形成することができる。
【００４１】
該矩形開口部３３に検知ピン４０を挿通することにより、検知ピン４０の縦横方向の移動が制限され、がたつきをなくすことができる。
これによって、検知ピン４０と、検査対象となるコネクタ８０のハウジング８１（図３参照）の衝突による破損を確実に防止することができる。
【００４２】
また、水平な第一長孔３１ｂと垂直な第二長孔３２ａを直交させることによって、複数の矩形開口部３３を形成しているので、検知ピン４０を収容する貫通孔３０２（図４（ａ）参照）を一つずつ穿設していた従来技術に比べ、これら矩形開口部３３の位置的な精度を大幅に向上させることができ、これによっても、検知ピン４０等の破損防止を図ることができる。
【００４３】
さらに、図示した既存のブロック体３１又はプレート３２を、第一又は第二長孔３１ｂ，３２ａの数が異なる他のブロック体又はプレートに交換することにより、端子数の異なる多種類のコネクタの検査に容易に対応することができる。
【００４４】
これに加え、本実施形態では、第一長孔３１ｂの仕切壁３１ｃと、第二長孔３２ａの仕切壁３２ｂとを互いに嵌合させて、これら長孔３１ｂ，３２ａを直交させているので、各仕切壁３１ｃ，３２ｂの四つの壁面に囲まれた矩形開口部３３を形成することができ、検知ピン４０をより安定した状態で保持することができる。
【００４５】
なお、本発明のコネクタ検査具は、上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、検査具本体３０を形成するブロック体３１に垂直な第一長孔を形成し、プレート３２に水平な第二長孔を形成した構成としてもよい。
【００４６】
【発明の効果】
以上のように、本発明のコネクタ検査具によれば、検査具本体における検知ピンのがたつきをなくすと同時に、精度の向上を図り、検知ピン等の破損を確実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係るコネクタ検査具の検査具本体を示すものであり、同図（ａ）は正面図，同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ断面図，同図（ｃ）は同図（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。
【図２】同図（ａ）は上記検査具本体を構成するブロック体の正面図，同図（ｂ）は上記検査具本体を構成するプレートの正面図，同図（ｃ）はブロック体にプレートを組み付けた状態の正面図である。
【図３】従来のコネクタ検査具を示す斜視図である。
【図４】同図（ａ），（ｂ）は上記従来のコネクタ検査具の検査動作を示す断面図である。
【図５】同図（ａ），（ｂ）は図４（ａ），（ｂ）の拡大図である。
【図６】上記従来のコネクタ検査具における検知ピンと、これを収容する貫通孔とを示す正面拡大図である。
【符号の説明】
３０    検査具本体
３１    ブロック体
３１ａ  嵌合部
３１ｂ  第一長孔
３１ｃ  仕切壁
３１ｄ  切欠部
３２    プレート
３２ａ  第二長孔
３２ｂ  仕切壁
３３    矩形開口部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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