(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ある期間にわたって各データ・チャネルの動きを示す複数の順次デジタル・データ・サンプルを、複数のデータ・チャネルの各々から取り込むデジタル・データ取り込み手段と、
上記複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込まれた上記順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデータ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと、
蓄積された取り込みデータ記録の仮想ビューであって、上記複数のデータ・チャネルの各々に関連し、減少した複数の順次デジタル・データ・サンプルを含んだ上記仮想ビューを定義できるデータ抑制手段と、
上記データ取り込みメモリに蓄積された上記取り込みデータ記録の上記仮想ビューの内容を表示する表示手段とを具え、
サンプル軸に沿って上記順次デジタル・データ・サンプルが抑制される非連続のブロックを定めることにより上記仮想ビューを定義し、
上記抑制される順次デジタル・データ・サンプルの領域を定めるために、上記サンプル軸に対する上記順次デジタル・データ・サンプルの位置における特定の上記順次デジタル・データ・サンプルのブロックを定義し、
上記抑制された順次デジタル・データ・サンプルは、タイミング・ダイアグラムと異なる表示で上記表示手段に表示されることを特徴とする多チャネル電子取り込み測定機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、多チャネル電子取り込み測定機器の表示におけるデータのビューに関し、特に、多チャネル電子取り込み測定機器に表示される取り込んだデータのサブセットを選択的に処理する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
多チャネル電子取り込み測定機器（例えば、ロジック・アナライザ）とは、ある期間にわたってデータ・チャネルの動きを示す複数の順次（シーケンシャル）デジタル・データ・サンプルを、複数のデータ・チャネルの各々から取り込むデジタル・データ取り込み手段と；複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込まれた順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデータ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと；このデータ取り込みメモリに蓄積されたデータ記録を表示する表示手段とを具えている。従来から多チャネル電子取り込み測定機器において、データを取り込むためのチャネルのサブセットをユーザ（操作者）が表示することができた。この際、ユーザが現在関心のないチャネルに関連したデータをマスクした。データ抑制（サプレッション）のこの形式では、データのどのチャネルに関心があるかを選択できた。ユーザの好みに応じて、表示したり、又は、ビューから隠すために、個別のチャネル及びグループ化されたチャネルを選択できる。この選択の判断は、データを取り込む前後に行える。これらの判断を行う場合、ビューからデータ・チャネルをマスク（フィルタリング：フィルタ処理）すると都合がよい。
【０００３】
従来、サンプル（各時点で取り込んだ個別のデータ）を抑制する（表示などの処理から外す）最も一般的な方法では、データを取り込んだ時点で測定機器に蓄積されたサンプルの数を減らしている。しかし、これには、ユーザが評価用により多くのサンプルを必要とする場合、ユーザは、メモリの深さを深く設定し、データを再度取り込まなければならないという問題があった。分析すべき問題を再現するのが困難な場合には、時間がかかり、不経済であった。
【０００４】
従来は、他の形式のフィルタリング（マスク）も、サンプル軸又は時間軸に沿って利用可能であった。サンプル軸又は時間軸に沿う方法にて、その軸に沿ったデータのフィルタリングは、取り込んだデータにある種の依存をして、フィルタリングを行っている。ビット単位で試験をして、サンプルを表示するか、抑制するかを判断している。この判断は、「データ認定（ｄａｔａ  ｑｕａｌｉｆｉｃａｔｉｏｎ）」として知られており、取り込み処理期間中、又はデータが取り込まれた後に、上述の判断を適用できる。データ取り込み後に行う判断は、「後処理（ｐｏｓｔ−ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）」として知られている。
【０００５】
後処理のより複雑な形式は、「逆アセンブリ（ｄｉｓａｓｓｅｍｂｌｙ）」である。アセンブリは、プログラマが使用する言語であるマイクロプロセッサのコードを、特定形式のマイクロプロセッサが理解できる１及び０の特定パターンに変換することである。逆アセンブリは、マイクロプロセッサが使用する１及び０を、プログラマが理解できるアセンブリ言語に変換する逆処理である。この処理では、取り込んだ大量のデータを試験し、それをプロセッサのニモニック（ｍｎｅｍｏｎｉｃ）に変換する必要がある。
【０００６】
測定機器において逆アセンブリされたデータを表示する際に、種々のデータ簡略化法を適用できる。ハードウェア・サイクルを抑制して、ソフトウェア実行動作のみを、クリアに集中した形式で利用できるようにする。プログラム制御の流れは、プロセッサの実行期間中に、分岐、サブルーチン呼出、サブルーチンからの戻り、中断呼出又は中断戻りによるサンプルを除いて、総てのサンプルを取り去る。代わりに、プログラム・サブルーチンの入口サイクル及び出口サイクルのみを示して、実行したソフトウェア・サブルーチンの全体的なビューを作成できる。
【０００７】
「状態ベース」フィルタリング（入力データの状態に応じたフィルタ処理）は、汎用フィルタリングの他の形式である。ユーザが提供したフィルタは、取り込んだデータのサンプルを１度に１つずつ試験し、どのサンプルを表示するかを制御する。（ステート・マシンは、一般に、古いデータ及び新しいデータの状態を試験し、その結果に応じて、対応する次のステップに進む。）状態ベースのフィルタは、強力なツールであるが、データを表示する前に、これらデータを読み出し評価するのに長い処理時間が必要である。この形式のフィルタは、「状態ベース」として知られている。これは、取り込んだサンプルの各々が、前のデータ状態と、現在のデータ状態に応じて、トリガ・ステート・マシン（又は上述の一般的なステート・マシン）のように処理されるためである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
長年にわたって、メモリの値段が下がり続け、多チャネル電子取り込み測定機器が捕捉するデータ記録長が長くなっているので、比較的大容量で深さの深いメモリが、益々一般的になってきている。取り込みメモリ長が長くなり、取り込みに長い時間がかかり、分析が扱いにくくなっている。よって、ユーザの注意をデータの最も関心のある部分に向ける方法が益々重要になってきている。
【０００９】
非常に多くのデータ記録を処理するために、長時間が必要である。しかし、理想的には、フィルタリングを実施するツールは、表示処理に負担をかけないようにすることが必要である。このフィルタリング・ツールを他の形式のフィルタと一緒に用いることも期待されている。すなわち、このデータ・フィルタを交換することなく、他の形式のフィルタ機能も果たすことが期待されている。
【００１０】
したがって、本発明の目的は、任意の組み合わせのサンプルを表示及び分析から抑制できる多チャネル電子取り込み測定機器を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明の多チャネル電子取り込み測定機器は、ある期間にわたってデータ・チャネルの動きを示す複数の順次（シーケンシャル）デジタル・データ・サンプルを、複数のデータ・チャネルの各々から取り込むデジタル・データ取り込み手段と；複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込まれた順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデータ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと；蓄積された取り込みデータ記録の仮想ビューであって、複数チャネルの各々に関連し、減少した複数の順次デジタル・データ・サンプルを含んだ仮想ビューを定義できるデータ抑制手段と；蓄積され取り込まれたデータ記録のビューの内容を表示する表示手段とを具えている。
【００１２】
本発明によれば、任意の組み合わせのサンプルを表示及び分析から抑制できる。この結果の記録は、完全な形式、即ち、非抑制及び抑制、又は、省略、非抑制のみの形式でセーブされる。かかる記録を回収し、任意に部分的に抑制して、２回目又は３回目に、一連の小さいが完全でない取り込み履歴が作られる。これら記録の各々は、抑制したサンプルを用いても、又は用いないでもセーブできる。また、後で再表示し、初めからセーブされたこれらサンプル及びそれらのアトリビュート（属性）を確実に示す。なお、かかるアトリビュートは、サンプルが蓄積された時点や、その本来のサンプル数などである。抑制サンプルを利用しないでセーブした記録は、永久的に失われる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明によるサンプル抑制により、ユーザは、測定機器のどのサンプルが表示又は分析用に利用できるかを任意に制御できる。この制御は、「任意」と考えられる。これは、ユーザが測定機器の任意のサンプルを拾い、そのサンプルを表示（示す）するか抑制（隠す）するかを決めるためである。この選択は、サンプルがハードウェア又はソフトウェアの動作に関連しているかに左右されず、又、サンプルが任意の他の現象に付随しているかにも左右されない。
【００１４】
この形式のサンプル抑制により、ユーザは、どのサンプルを表示の部分とするか、どのサンプルを抑制するか決める「判断」ができる。これは、特定の取り込みにおいて収集された総てのサンプルが重要で且つ分析の価値があるわけではないため、有用である。さらに、検知した値や保持したサンプルの重要度を、異なるレベルの検査に応じて変更できる。よって、取り込み及びセーブしたデータに関してユーザが更に知識を得るので、連続した分析処理の一環として、更に抑制することが望ましいこともある。
【００１５】
以下の説明において、測定機器が、データを取り込み、蓄積し、表示する動作や、本発明による抑制の動作は、マイクロプロセッサ・システムを用いてソフトウェアが制御する。マイクロプロセッサ・システムの構成は、従来技術であるのでその説明は省略する。また、具体的にマイクロプロセッサがソフトウェアにより動作するかは、どのような表示を行うかが明瞭ならば、当業者には明らかなので、その説明も省略する。図１は、本発明により、取り込みメモリの部分から仮想ビューをどのように構成するかを示す概念図である。サンプル抑制処理を受けるデータのサンプル（電圧レベル、状態値、測定の時点など）は、「仮想ビュー」又は「仮想画像（イメージ）」として説明するのが望ましい。総てのデータ・ウィンドウは、この仮想ビューからのデータを表示する。ユーザの制御により、新たなデータを取り込むことなく、サンプル（個別のサンプル、又はサンプルのブロック）を画像に追加したり、画像から除去できる。これにより、ユーザは、サンプルの表示、分析、及びディスクへの最終的なセーブを完全に制御できる。
【００１６】
サンプルのブロックの数及びサイズは、最初に取り込んだサンプルの数のみにより制限される。測定機器のメモリの各サンプルは、仮想画像内に１度現れることができる。仮想画像内のサンプルの順序は、単調な順序である（即ち、実際のサンプル５は、仮想画像内の実際のサンプル４の前に現れることができない）。
【００１７】
データ・ウィンドウは、測定機器の仮想画像からサンプルを受ける。この例では、各ビューが仮想ビューの同じ部分又は異なる部分を表示できる。ユーザが測定機器のサンプルを仮想ビューに付加すると、これらは、総ての測定機器のビューにより表示される。
【００１８】
図２は、本発明による仮想ビュー管理ダイアログ・ボックス（測定機器の表示スクリーン（表示手段）に表示される）を示す図である。このダイアログ・ボックスにより、ユーザは、どのくらいのデータを最初にデータ・ビューに伝送するかを制御できる。測定機器は、総てをメモリに取り込み、メモリを一杯にするので、このダイアログ・ボックス内で定義されたサンプルのみが表示され、分析される。データ取り込みの後、ユーザは、その判断にて、リスト・ビュー又は波形ビューによる直接操作を用いて、より多くのサンプルを表示したり、抑制できる。なお、図２のダイアログ・ボックスにおいて、最上行の「Ｓａｍｐｌｅ  Ｓｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎ  ＬＡ１」は、ＬＡ１（第１ロジック・アナライザ）におけるサンプルの抑制であることを示している。また、第２行の「Ａｆｔｅｒ  ｅａｃｈ  ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ  ｒｅｓｅｔ  Ｓａｍｐｌｅ  Ｓｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎ  ｔｏ」は、各取り込みをリセットした後におけるサンプルの抑制であることを示している。次の行の「Ｓｈｏｗ  Ａｌｌ  Ａｃｑｕｉｒｅｄ  ｓａｍｐｌｅｓ」は、この行が選択された場合、取り込んだ総てのサンプルを表示することを示している。その次の行の「Ｓｈｏｗ［数字選択欄］ｓａｍｐｌｅｓ  ａｒｏｕｎｄ  ｔｒｉｇｇｅｒ」は、この行が選択された場合、トリガが周辺の選択した数（図示の場合、１０２４個）のサンプルを表示することを意味している。更に、次の行の「Ｒｅ−ｕｓｅ  ｅｘｉｓｔｉｎｇ  ｓｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎ  ｒｅｌａｔｉｖｅ  ｔｏ  ［機能選択］」は、この行が選択された場合、選択された機能（図示の場合、トリガ）に関連した既存の抑制を再利用することを示している。なお、図示の場合、抑制に関しては、各行の左端が二重丸になっている行が選択されている。なお、最終行の「ＯＫ」及び「Ｃａｎｃｅｌ（キャンセル）」表示は、かかるダイアログ・ボックスの設定を使用するか（ＯＫ）、キャンセルするかを選択するのものである。これらの設定は、マイクロプロセッサ・システムがデータ抑制手段として作用して制御する。
【００１９】
図３は、仮想ビューの一部の波形概略（時間軸に沿う）の表示スクリーンを示す図である。この表示の上部には、表示の名称である「Ｗａｖｅｆｏｒｍ  １」が示され、次の行の「Ｔｉｍｅ／Ｄｉｖ  １００ｎｓ」は、表示の横軸の１目盛り当たりの時間が１００ナノ秒であることを示している。この時間は、変更可能である。次の行の「Ｃ１：−５３ｎｓ」は、カーソルＣ１（波形図で下向きの矢印１が示す縦線）の位置が、トリガ点（波形図で下向きの矢印Ｔが示す縦線）に対して、５３ナノ秒前であることを示してる。また、「Ｃ２：−５０ｎｓ」は、カーソルＣ２（波形図で下向きの矢印２が示す縦線）の位置が、トリガ点に対して、５０ナノ秒後であることを示してる。「Ｄｅｌｔａ  Ｔｉｍｅ：  １０３ｎｓ」は、カーソルＣ１及びＣ２の間が１０３ナノ秒であることを示している。表示の左側の「Ｓａｍｐｌｅ」の下には、各サンプルの名称（例えば、プローブ・チップの名称）が表示されている。各サンプル名称の右側に、そのサンプルのデータを表す波形が表示されている。かかる表示において、データ抑制された部分では、点線が、失われたデータ（即ち、抑制されたデータ）の位置を示す。残りの総てのサンプルは、典型的なタイミング・ダイアグラム・フォーマットで表示されている。サンプルの抑制では、表示を水平方向に圧縮していない。もし、水平方向の圧縮を行うと、スクリーン上でのデータの時間関係が変化してしまい、ユーザの期待を裏切ってしまう。関心のないデータを除去、即ち、抑制することにより、ユーザは、最も関心のあるサンプルに焦点を当てることができる。
【００２０】
図４は、仮想ビューの一部を示すリスト（状態テーブル）を示す表示スクリーンの表示である。第１行の「Ｌｉｓｔｉｎｇ  １」は、この表示がリスト１であることを示し、「Ｓａｍｐｌｅ」の下の番号は、サンプル番号を示す。「ＣＫ０」は、クロック０の０及び１の状態を示す。「Ａ３」及び「Ａ２」の下の表示は、データＡ３及びＡ２の内容を１６進法で示している。「Ｔｉｍｅｓｔａｍｐ」の下の秒数は、基準に対する時間を示している。また、「Ｃ１：ＬＡ  １」及び「Ｃ２  ＬＡ  １」は、図３の表示と同様に、第１ロジック・アナライザ（ＬＡ１）における第１カーソル及び第２カーソルの位置を示している。かかる表示スクリーンの表示において、サンプル列（縦行）内の水平線は、サンプル抑制によって、どこにギャップ（抑制）が配置されたかを示す。ユーザのこの抑制により、ユーザは、どのくらいのデータを見ることができるかを直接制御できるので、必要な測定に関連したデータのみに集中することができる。この表示は、抑制したサンプルを、表示から完全に除去できるので、表示を圧縮できる点に留意されたい。この強化により、ユーザは、データの重要な部分に集中できる。ユーザは、マウス又はキーボードの如き直接制御操作手段を用いて、波形ウィンドウ又はリスト・ウィンドウにおいて、サンプルを表示したり、抑制できる。ユーザは、サンプル、又はサンプルのブロックを選択し、これらを表示するか、又は抑制するかを指示する。再び、図４及び上述のサンプルについて参照する。ユーザは、認識できる取り込みサンプル（例えば、サンプル１６３３４から１６３４５まで、及びサンプル１６３６０から１６３６９まで）と、抑制されたサンプル（サンプル０から１６３３３まで、及び１６３４６から１６３５９まで）とを知ることができる。この方法によって、リスト・ウィンドウは、サンプル抑制がデータ表示に現在どのような影響を与えるかという非常に詳細な情報を与えることができる。
【００２１】
サンプル抑制は、他の形式のデータ・フィルタ（状態ベース、逆アセンブラ、データ認定など）にも作用できる。これにより、ユーザは、測定機器メモリ内のどの程度のデータを他のソフトウェア・フィルタにより分析するかを制御できる。また、これにより、ユーザは、分析処理期間中に、一層高速にデータを前後にスクロールできる。これは、他のソフトウェア分析ツールが、抑制されたメモリの領域を分析するための時間を割く必要がないためである。必要ならば、任意の抑制されたサンプルを後で見つけたり、分析処理に追加することもできる。サンプルを非抑制する能力は、非常に重要である。しかし、抑制サンプルを用いずにセーブすることにより、これらサンプルが永久的に削除される。よって、ユーザは、これらサンプルをもはや非抑制できない。
【００２２】
このアプリケーションの利点は、データを抑制する処理を、データ内容の知識に基づいて注意深く、又は思慮深く行う必要がないことである。代わりに、取り込みの後、又は、どのデータが何であるかをユーザが注意深く理解する前に、データを任意に操作できる。従来、ほとんど総てのフィルタは、特定種類のデータを評価するように設計されていた。これらの動作では、取り込み及び表示アルゴリズムに応じて、測定機器が蓄積したデータを試験していた。これらツールは、用途特定であるので、総ての環境では動作しない。汎用状態ベースのフィルタは、データ・サンプル及びこれらのコンテクストを試験するように動作する。
【００２３】
測定機器は、サンプル又はサンプル範囲のリストの如きビット・マップ又は他の手段を用いて、仮想ビューを追跡できる。ビット・マップ・インデックスは、既存のメモリ内容へ、拡張用の単一ビット・データを追加することと機能的に等化である。これらビットは、抑制すべきデータ、又は表示及び分析すべきデータのいずれかを検知したり、又は知らせる。このビット・マップ・アプローチは、断片の数（サンプルの範囲）が多いと予測される場合に、最も効果的である。リストは、表示する又は抑制する（隠す）サンプルの範囲を識別する１対のサンプルの数を含んでいる。断片の数（サンプルの範囲）が少ないと予測される場合に、かかるリストをベースにしたアプローチが最も効果的である。
【００２４】
また、分離したアドレス・リストは、抑制すべきサンプルと、表示すべきサンプルとを識別できる。各アドレスは、アクティブ又は抑制サンプルに対する入口ポイント又は出口ポイントのいずれかとして作用する。代わりに、サンプル数又は識別アドレスの二重にインターリーブしたリストにより、仮想ビューを形成できる。１組は、抑制した又は表示したデータの開始点を意味し、他の組は、相補形式の（表示された又は抑制された）位置に対する開始点を意味する。サンプル、即ち、サンプル数又はサンプル・アドレスにより指示された項目は、状態値、電圧値又は時間値の如き任意の測定機器の測定結果や、そのサンプルに関連した任意の他の補助情報を含んでいる点に留意されたい。
【００２５】
サンプル抑制の１つのオプションとしての特徴は、これらサンプルのみを仮想ビューにセーブできる能力である。ユーザがこのファイルを開いたり表示すると、その結果、見えなくなったサンプルがもはや表示に利用できないことが判る。制限なく、総ての残りのサンプルを抑制できるし、表示することができる。これには、リストがどの抑制サンプルを現在セーブしているか、セーブされていないかを追跡する必要がある。これを実施するには、サンプルが現在蓄積されているか、表示に利用可能かを示すリストに特性を与える。
【００２６】
本発明による上述のフィルタ機能の好適実施例において、変更しないのが最良である取り込みデータには、いくつかの特性がある。例えば、通常、サンプルは、番号の付け替えをしない。各サンプルは、取り込みメモリにおける本来の蓄積位置を識別する独自の番号を有しており、それを変更しないのが最良である。また、表示順序は、一般的には変化しない。サンプル抑制リストを変更することは、一般的には、２個のサンプルの表示順序を違えることにはならない。これらは、他のアルゴリズム（逆アセンブラ又は状態ベースのフィルタ）による処理がこの一般的な規則に優先する場合である。サンプルの抑制状態又は表示状態における変更により、同じサンプルが表示に２回現れることはない。
【００２７】
通常、各測定機器には、単一の抑制リストがある。インプリメンテーションの形式においては、総てのデータ・ウィンドウが、共通抑制フィルタを通過したデータを表示する。他の可能性は、各データ・ウィンドウに対して個別の抑制を行うことである。次に、ユーザは、取り込んだデータの異なる部分を表示するために、いくつかの異なる表示を選択する。
【００２８】
本発明の好適な実施例について説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能である。
【００２９】
【発明の効果】
上述の如く、本発明の多チャネル電子取り込み測定機器によれば、任意の組み合わせのサンプルを表示しないように抑制したり、分析しないように抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明において、完全に取り込んだメモリ記録の部分からどのように仮想ビューを構成するかを示す概念図である。
【図２】本発明における仮想ビュー管理ダイアログ・ボックスの表示を示す図である。
【図３】本発明における仮想ビューの一部の波形（時間軸に沿っている）の表示を示す図である。
【図４】本発明における仮想ビューの一部でのリスト（状態図）の表示を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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