(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各種の不良情報に対応する部位を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を上記記憶部から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項２】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を上記記憶部から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項３】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各種の不良情報ごとに、当該不良情報が発生すると連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報を記憶するとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を上記記憶部から検索し、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項４】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各種の不良情報ごとに、当該不良情報の発生に先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶するとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を上記記憶部から検索し、当該不良情報が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項５】
上記記憶部は、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が出力されるまでの一定時間と、他の不良情報が出力されてから当該不良情報が出力されるまでの一定時間とを記憶することを特徴とする請求項３または請求項４記載の保護継電装置。
【請求項６】
上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けする分類部を設け、上記検索部は不良部位を特定するに際し、各グループごとに当該グループに属する不良情報のみを考慮して不良部位を特定し、他のグループに属する不良情報を考慮しないことを特徴とする請求項３または請求項４記載の保護継電装置。
【請求項７】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各種の不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けする分類部と、上記分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ上記記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項８】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けする分類部と、上記分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、上記可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ上記記憶部から検索して、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項９】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶し、上記検索部は、上記可能性のある不良情報のすべてが上記分類部から出力され、かつ、上記可能性のない不良情報が上記分類部から出力されていない部位を上記記憶部から検索することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１０】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と、発生する可能性のある不良情報と、発生する可能性のない不良情報とを記憶し、上記検索部は、上記必ず発生する不良情報が上記分類部から出力されたときに限り、不良部位を特定するための処理を開始することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１１】
上記記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１２】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力する制御用ＣＰＵと、互いに関連性のある各不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する複数の記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、複数の不良情報を上記複数の記憶部に対応してグループ分けする分類部と、上記分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ上記記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により特定された不良部位を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項１３】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名及び表示先を記憶し、上記表示部は、上記検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１４】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を記憶し、上記表示部は、上記検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報名の表示が有りの場合、その不良情報名を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１５】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報の優先順位を記憶し、上記表示部は、上記検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１６】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び不良部位の優先順位を記憶し、上記表示部は、上記検索部により複数の不良部位が特定されると、優先順位が高い不良部位から順次、当該不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１７】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を記憶し、上記表示部は、上記検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度，故障名及び故障の検査に必要な情報を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１８】
上記記憶部は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び詳細な不良情報を取得するための要求コマンドを記憶し、上記表示部は、上記検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報を出力したＣＰＵに対して当該要求コマンドを出力して、そのＣＰＵから詳細な不良情報を取得し、その詳細な不良情報を表示することを特徴とする請求項８記載の保護継電装置。
【請求項１９】
上記検索部が上記記憶部を検索しても不良部位を特定できない場合、上記表示部が不良部位を特定できない旨を表示することを特徴とする請求項７または請求項８記載の保護継電装置。
【請求項２０】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報を出力する制御用ＣＰＵと、各種の不良情報及び不良復帰情報に対応する部位を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を上記記憶部から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により不良情報に対応する不良部位が特定されると当該不良部位を表示する一方、不良復帰情報に対応する不良部位が特定されると当該不良部位が復帰した旨を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項２１】
電力系統の状態を示す状態信号を入力する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報を出力する入力用ＣＰＵと、上記入力用ＣＰＵにより入力された状態信号を用いてリレー演算を実施し、その演算結果に基づいて電力系統に設けられている保護装置を制御する一方、自己診断を実施して、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報を出力する制御用ＣＰＵと、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶する記憶部と、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を上記記憶部から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部と、上記検索部により不良情報に対応する不良部位が特定されると当該不良部位を表示する一方、不良復帰情報に対応する不良部位が特定されると当該不良部位が復帰した旨を表示する表示部とを備えた保護継電装置。
【請求項２２】
上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵは、自己に発生した不具合が修理によって解消され、再度電源が投入された場合、不良復帰情報を出力することを特徴とする請求項２０または請求項２１記載の保護継電装置。
【請求項２３】
上記記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶することを特徴とする請求項２１記載の保護継電装置。
【請求項２４】
上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵは、自己に発生したすべての不具合が解消したとき不良復帰情報を出力し、上記記憶部は、その不良復帰情報に対応する不良部位をＣＰＵ単位で記憶することを特徴とする請求項２０記載の保護継電装置。
【請求項２５】
上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵは、自己に発生したすべての不具合が解消したとき不良復帰情報を出力し、上記記憶部は、各ＣＰＵごとに、不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶することを特徴とする請求項２１記載の保護継電装置。
【請求項２６】
上記検索部から出力される情報を上記表示部に対して伝送する伝送制御部を設けたことを特徴とする請求項１から請求項２５のうち何れか１項記載の保護継電装置。
【請求項２７】
上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵから出力される不良情報を入力する入力処理部と、上記入力処理部が入力する不良情報を上記検索部に対して伝送する伝送制御部とを設けたことを特徴とする請求項１から請求項２５のうち何れか１項記載の保護継電装置。
【請求項２８】
ＣＰＵの種類に応じて発生する可能性のある不良情報を記憶するデータベースと、上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を指定されると、上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報を上記データベースから読み取り、その不良情報を上記記憶部に書き込むデータ書込み部とを設けたことを特徴とする請求項１から請求項２５のうち何れか１項記載の保護継電装置。
【請求項２９】
ＣＰＵの種類に応じて発生する可能性のある不良情報，試験制御情報及び試験結果情報を記憶するデータベースと、上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を指定されると、上記入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報，試験制御情報及び試験結果情報を上記データベースから読み取り、その不良情報，試験制御情報及び試験結果情報を上記記憶部に書き込むデータ書込み部と、上記試験制御情報に応じた模擬系統の状態を示す状態信号を上記入力用ＣＰＵに出力したのち、上記検索部により特定された不良部位と試験結果情報を比較する比較部とを設けたことを特徴とする請求項１から請求項２５のうち何れか１項記載の保護継電装置。
【請求項３０】
上記表示部は、上記入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから出力された不良情報，不良復帰情報，不良情報及び不良復帰情報の出力時刻及びグループ名，並びに上記検索部により特定された不良部位を必要に応じて表示することを特徴とする請求項１から請求項２５のうち何れか１項記載の保護継電装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、電力系統の電圧・電流等に基づいて故障の有無を判定し、判定結果に応じて遮断器等を制御する保護継電装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図５６は例えば「三菱電機技報」Ｖｏｌ．６３，Ｎｏ．８  １９８９年発行  第１０頁に示された従来の保護継電装置を示す構成図であり、図において、１は電力系統の状態を示す電圧・電流等の状態信号を入力する一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するアナログ入力ＣＰＵ（入力用ＣＰＵ）、２はアナログ入力ＣＰＵ１により入力された状態信号を用いてリレー演算を行う一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するリレーＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、３はリレーＣＰＵ２の演算結果に基づいてシーケンス演算を行い、制御する必要のある遮断器等の制御信号を生成する一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するシーケンスＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、４は各ＣＰＵ１〜３をバックアップするために設けられた事故検出ＣＰＵであり、各ＣＰＵ１〜３と同等の機能を有している。
【０００３】
また、５はシーケンスＣＰＵ３が出力する制御信号に基づいて遮断器等を制御する出力ボード、６は各ＣＰＵの動作を管理するマンマシンＣＰＵ、７は不良部位の故障を示すＬＥＤ等から構成された表示器、８はシステムバス、９，１０は信号線である。
【０００４】
また、図５７は従来の保護継電装置の要部を示す構成図であり、図において、１１〜１４は自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報１５を出力する監視部、１５は不良情報、１６は各ＣＰＵ１〜４から不良情報１５が出力されると論理演算を行い、不良部位を特定する論理演算部、１７は論理演算部１６により特定された不良部位の故障を示すＬＥＤを点灯する表示制御部である。
【０００５】
次に動作について説明する。
まず、アナログ入力ＣＰＵ１が、電圧・電流等のアナログ量を電力系統の状態信号として入力すると、そのアナログ量をディジタル量に変換し、そのディジタル量に変換した状態信号をシステムバス８を介してリレーＣＰＵ２に出力する。そして、アナログ入力ＣＰＵ１から状態信号が出力されると、リレーＣＰＵ２が、その状態信号を用いてリレー演算を行い、電力系統における故障の有無を判定する。
【０００６】
そして、リレーＣＰＵ２におけるリレー演算が終了すると、その演算結果がシステムバス８を介してシーケンスＣＰＵ３に出力され、シーケンスＣＰＵ３が、その演算結果に基づいてシーケンス演算を行い、制御する必要のある遮断器等の制御信号を生成する。
そして、その制御信号がシステムバス８を介して出力ボード５に出力され、出力ボード５がその制御信号に基づいて遮断器等を制御する。
これにより、電力系統で事故が発生しても、事故発生部分が除去され、電力系統の機器や送電線等が保護されることになる。
【０００７】
このように、各ＣＰＵ１〜４等が常に正常に動作していれば、電力系統の機器や送電線等を保護することができるが、各ＣＰＵ１〜４等に不具合が発生して、正常に動作できなくなると、電力系統の機器や送電線等を保護できなくなるので、各ＣＰＵ１〜４はそれぞれ自己診断を実施する監視部１１〜１４を有しており、自己に不具合が発生すると不良情報１５を出力するようにしている。
【０００８】
因に、不良情報１５は、図５８に示すように、不良の種類に応じてコード化されており、各監視部１１〜１４からは不良の種類に応じたコードが出力されるようになっている。例えば、アナログ入力ＣＰＵ１が自己診断を行った結果、ＰＴ回路チェック不良と診断した場合には、”Ｅ００１”のコードを不良情報１５として出力する。
【０００９】
そして、各監視部１１〜１４から不良情報１５が出力されると、論理演算部１６が、不良情報１５を用いて論理演算を行い、不良部位を特定する。
具体的には、図５９及び図６０に示すような論理演算がプログラミングされており（通常、アセンブラ言語やＣ言語を用いて論理演算がプログラミングされている）、例えば、”Ｅ００１”，”Ｅ００２”，”Ｅ００３”または”Ｅ００４”の何れかのコードが不良情報１５として出力された場合には、アナログ入力の部位が不良と判断される。
【００１０】
そして、論理演算部１６により不良部位が特定されると、表示制御部１７が、不良と判断された部位の故障を示す表示器７のＬＥＤを点灯し、一連の処理を終了する。
これにより、不良部位を認識できるため、不良部位を迅速に復旧することができるようになる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
従来の保護継電装置は以上のように構成されているので、表示器７のＬＥＤを監視すれば不良部位を認識することができるが、電力系統の規模が大きくなる程、不良情報１５の数が増大して、不良部位を特定するための論理演算が複雑になる関係上、電力系統の規模が大きくなるにしたがって論理演算のプログラムサイズが大きくなり、そのため、論理演算のプログラミングに多大な時間と労力を要し、現実的には、電力系統の規模が大きくなると不良部位を細分化することができず、不良部位を大まかにしか特定できない問題点があった。
また、論理演算のプログラミングはアセンブラ言語等を用いて作成しなければならない関係上、プログラミングに対する専門的な知識を有する技術者でなければ作成することができないなどの問題点もあった。
【００１２】
この発明は上記のような問題点を解消するためになされたもので、論理演算のプログラミングを不要にし、電力系統の規模が大きくなっても不良部位をきめ細かく特定することができる保護継電装置を得ることを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明に係る保護継電装置は、各種の不良情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたものである。
【００１４】
請求項２の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたものである。
【００１５】
請求項３の発明に係る保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報が発生すると連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するようにしたものである。
【００１６】
請求項４の発明に係る保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報の発生に先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するようにしたものである。
【００１７】
請求項５の発明に係る保護継電装置は、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が出力されるまでの一定時間と、他の不良情報が出力されてから当該不良情報が出力されるまでの一定時間とを記憶部に記憶しておくようにしたものである。
【００１８】
請求項６の発明に係る保護継電装置は、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けし、不良部位を特定するに際し、各グループごとに当該グループに属する不良情報のみを考慮して不良部位を特定し、他のグループに属する不良情報を考慮しないようにしたものである。
【００１９】
請求項７の発明に係る保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するようにしたものである。
【００２０】
請求項８の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、その可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ記憶部から検索して、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定するようにしたものである。
【００２１】
請求項９の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶部に記憶しておき、その可能性のある不良情報のすべてが分類部から出力され、かつ、その可能性のない不良情報が分類部から出力されていない部位を記憶部から検索するようにしたものである。
【００２２】
請求項１０の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と、発生する可能性のある不良情報と、発生する可能性のない不良情報とを記憶部に記憶しておき、必ず発生する不良情報が分類部から出力されたときに限り、不良部位を特定するための処理を開始するようにしたものである。
【００２３】
請求項１１の発明に係る保護継電装置は、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしたものである。
【００２４】
請求項１２の発明に係る保護継電装置は、互いに関連性のある各不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する複数の記憶部と、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、複数の不良情報を複数の記憶部に対応してグループ分けする分類部とを設け、その分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するようにしたものである。
【００２５】
請求項１３の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名及び表示先を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するようにしたものである。
【００２６】
請求項１４の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報名の表示が有りの場合、その不良情報名を表示するようにしたものである。
【００２７】
請求項１５の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示するようにしたものである。
【００２８】
請求項１６の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び不良部位の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により複数の不良部位が特定されると、優先順位が高い不良部位から順次、当該不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するようにしたものである。
【００２９】
請求項１７の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度，故障名及び故障の検査に必要な情報を表示するようにしたものである。
【００３０】
請求項１８の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び詳細な不良情報を取得するための要求コマンドを記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報を出力したＣＰＵに対して当該要求コマンドを出力して、そのＣＰＵから詳細な不良情報を取得し、その詳細な不良情報を表示するようにしたものである。
【００３１】
請求項１９の発明に係る保護継電装置は、記憶部を検索しても不良部位を特定できない場合、不良部位を特定できない旨を表示するようにしたものである。
【００３２】
請求項２０の発明に係る保護継電装置は、各種の不良情報及び不良復帰情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたものである。
【００３３】
請求項２１の発明に係る保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたものである。
【００３４】
請求項２２の発明に係る保護継電装置は、自己に発生した不具合が修理によって解消されて、再度電源が投入された場合、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたものである。
【００３５】
請求項２３の発明に係る保護継電装置は、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしたものである。
【００３６】
請求項２４の発明に係る保護継電装置は、不良復帰情報に対応する不良部位をＣＰＵ単位で記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたものである。
【００３７】
請求項２５の発明に係る保護継電装置は、各ＣＰＵごとに、不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたものである。
【００３８】
請求項２６の発明に係る保護継電装置は、検索部から出力される情報を表示部に対して伝送する伝送制御部を設けたものである。
【００３９】
請求項２７の発明に係る保護継電装置は、入力処理部が入力する不良情報を検索部に対して伝送する伝送制御部を設けたものである。
【００４０】
請求項２８の発明に係る保護継電装置は、入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を指定されると、その入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報をデータベースから読み取り、その不良情報を記憶部に書き込むようにしたものである。
【００４１】
請求項２９の発明に係る保護継電装置は、試験制御情報に応じた模擬系統の状態を示す状態信号を入力用ＣＰＵに出力したのち、検索部により特定された不良部位と試験結果情報を比較するようにしたものである。
【００４２】
請求項３０の発明に係る保護継電装置は、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから出力された不良情報，不良復帰情報，不良情報及び不良復帰情報の出力時刻及びグループ名，並びに検索部により特定された不良部位を必要に応じて表示するようにしたものである。
【００４３】
【作用】
請求項１の発明における保護継電装置は、各種の不良情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたことにより、論理演算をプログラミングすることなく、各種の不良情報に対応する部位を記憶部に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる。
【００４４】
請求項２の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたことにより、論理演算をプログラミングすることなく、その可能性のある不良情報を記憶部に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる。
【００４５】
請求項３の発明における保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報が発生すると連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するようにしたことにより、１つの部位に不良が発生して複数の不良情報が出力されても、実際に不良が発生した部位を的確に特定することができるようになる。
【００４６】
請求項４の発明における保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報の発生に先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するようにしたことにより、１つの部位に不良が発生して複数の不良情報が出力されても、実際に不良が発生した部位を的確に特定することができるようになる。
【００４７】
請求項５の発明における保護継電装置は、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が出力されるまでの一定時間と、他の不良情報が出力されてから当該不良情報が出力されるまでの一定時間とを記憶部に記憶しておくようにしたことにより、各不良情報間の関連性に応じて、適宜一定時間を変更することができるようになる。
【００４８】
請求項６の発明における保護継電装置は、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けし、不良部位を特定するに際し、各グループごとに当該グループに属する不良情報のみを考慮して不良部位を特定し、他のグループに属する不良情報を考慮しないようにしたことにより、不良部位の特定に考慮すべきでない時間的に古い不良情報の影響を受けずに、不良部位を特定できるようになる。
【００４９】
請求項７の発明における保護継電装置は、各種の不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するようにしたことにより、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができるようになる。
【００５０】
請求項８の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、その可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ記憶部から検索して、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定するようにしたことにより、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができるようになる。
【００５１】
請求項９の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶部に記憶しておき、その可能性のある不良情報のすべてが分類部から出力され、かつ、その可能性のない不良情報が分類部から出力されていない部位を記憶部から検索するようにしたことにより、請求項８の発明より更に細かく不良部位を特定することができるようになる。
【００５２】
請求項１０の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と、発生する可能性のある不良情報と、発生する可能性のない不良情報とを記憶部に記憶しておき、必ず発生する不良情報が分類部から出力されたときに限り、不良部位を特定するための処理を開始するようにしたことにより、必ず発生する不良情報が分類部から出力されない場合には、不良部位を特定するための処理が開始されなくなる結果、処理時間が短縮されるようになる。
【００５３】
請求項１１の発明における保護継電装置は、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしたことにより、記憶部を検索するときの処理時間が短縮されるようになる。
【００５４】
請求項１２の発明における保護継電装置は、互いに関連性のある各不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する複数の記憶部と、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、複数の不良情報を複数の記憶部に対応してグループ分けする分類部とを設け、その分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するようにしたことにより、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができるようになる。
【００５５】
請求項１３の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名及び表示先を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するようにしたことにより、不良部位の認識が容易になるとともに、当該故障が電力系統に対してどの程度影響を与えるものであるのかを把握できるようになる。
【００５６】
請求項１４の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報名の表示が有りの場合、その不良情報名を表示するようにしたことにより、電力系統を監視するうえで、不良情報の内容を認識することが有用である場合には、不良情報名を表示することができるようになる。
【００５７】
請求項１５の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示するようにしたことにより、出力されたすべての不良情報を１画面に表示しきれない場合、重要な不良情報を優先的に表示できるようになる。
【００５８】
請求項１６の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び不良部位の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により複数の不良部位が特定されると、優先順位が高い不良部位から順次、当該不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するようにしたことにより、複数の不良部位が特定され、そのすべての不良部位を１画面に表示しきれない場合、重要な不良部位を優先的に表示できるようになる。
【００５９】
請求項１７の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度，故障名及び故障の検査に必要な情報を表示するようにしたことにより、特定された不良部位に故障が実際に生じているか否かの検査を速やかに行うことができるようになる。
【００６０】
請求項１８の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び詳細な不良情報を取得するための要求コマンドを記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報を出力したＣＰＵに対して当該要求コマンドを出力して、そのＣＰＵから詳細な不良情報を取得し、その詳細な不良情報を表示するようにしたことにより、不良発生時点の様相を詳細に分析することができるようになる。
【００６１】
請求項１９の発明における保護継電装置は、記憶部を検索しても不良部位を特定できない場合、不良部位を特定できない旨を表示するようにしたことにより、あらかじめ予想していなかった現象が発生したことを認識できるようになる一方、不良情報が出力されたにもかかわらず不良部位が表示されない結果、不良情報が出力された事実を知り得ない不具合を解消できるようになる。
【００６２】
請求項２０の発明における保護継電装置は、各種の不良情報及び不良復帰情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたことにより、不良部位が復帰したことを容易に認識することができるようになる。
【００６３】
請求項２１の発明における保護継電装置は、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたことにより、不良部位が復帰したことを容易に認識することができるようになる。
【００６４】
請求項２２の発明における保護継電装置は、自己に発生した不具合が修理によって解消されて、再度電源が投入された場合、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたことにより、当該装置を停止して修理した場合でも、当該装置を起動後ただちに不良部位が復帰したことを表示できるようになる。
【００６５】
請求項２３の発明における保護継電装置は、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしたことにより、記憶部を検索するときの処理時間が短縮されるようになる。
【００６６】
請求項２４の発明における保護継電装置は、不良復帰情報に対応する不良部位をＣＰＵ単位で記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたことにより、記憶部の記憶内容を低減することができるようになる。
【００６７】
請求項２５の発明における保護継電装置は、各ＣＰＵごとに、不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するようにしたことにより、記憶部の記憶内容を低減することができるようになる。
【００６８】
請求項２６の発明における保護継電装置は、検索部から出力される情報を表示部に対して伝送する伝送制御部を設けたことにより、検索部と表示部を切り離して、表示部を遠隔地に設置することができるようになる。
【００６９】
請求項２７の発明における保護継電装置は、入力処理部が入力する不良情報を検索部に対して伝送する伝送制御部を設けたことにより、入力処理部と検索部を切り離して、表示部を遠隔地に設置することができるようになる。
【００７０】
請求項２８の発明における保護継電装置は、入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を指定されると、その入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報をデータベースから読み取り、その不良情報を記憶部に書き込むようにしたことにより、入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を入力するだけで、不良情報を記憶部に記憶させることができるようになる。
【００７１】
請求項２９の発明における保護継電装置は、試験制御情報に応じた模擬系統の状態を示す状態信号を入力用ＣＰＵに出力したのち、検索部により特定された不良部位と試験結果情報を比較するようにしたことにより、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができるようになる。
【００７２】
請求項３０の発明における保護継電装置は、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから出力された不良情報，不良復帰情報，不良情報及び不良復帰情報の出力時刻及びグループ名，並びに検索部により特定された不良部位を必要に応じて表示するようにしたことにより、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができるようになるとともに、当該装置の一連の動作を分析することができるようになる。
【００７３】
【実施例】
実施例１．
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
図１はこの発明の実施例１による保護継電装置を示す構成図であり、図において従来のものと同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
２１は各ＣＰＵ１〜４から出力された不良情報１５を入力する入力処理部、２２は各種の不良情報１５に対応する部位を記憶する記憶部、２３は入力処理部２１により入力された不良情報１５に対応する部位を記憶部２２から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部、２４は検索部２３により特定された不良部位を表示器２５に表示させる表示制御部（表示部）、２５は不良部位を表示する表示器（表示部）である。
因に、図２はこの発明の実施例１による保護継電装置の動作を示すフローチャートである。
【００７４】
次に動作について説明する。
電力系統の状態を示す状態信号を用いてリレー演算を行い、その演算結果に基づいて遮断器等を制御する動作は従来のものと同様であるため説明を省略する。
【００７５】
まず、各ＣＰＵ１〜４の監視部１１〜１４が、一定周期ごとに（例えば、電気角で３０度に相当する時間ごと）、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると、従来のものと同様に、コード化された不良情報１５を出力する。
そして、各監視部１１〜１４から不良情報１５が出力されると、入力処理部２１が、その不良情報１５を入力し（ステップＳＴ１）、その不良情報１５に対応するアドレスのメモリの論理を”０”から”１”に書き換える処理を行う。
例えば、不良情報１５として、”Ｅ０１１”のコード（ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止を示すコード）だけを入力した場合、図３に示すように、１１番地のメモリの論理を”０”から”１”に書き換え、他の番地のメモリの論理は”０”を保持する。ただし、当該不良情報１５が出力される前には、不良部位が発生していなかったものとする。
【００７６】
そして、入力処理部２１がメモリの論理を書き換えると割り込み信号を検索部２３に対して出力する。
このようにして、割り込み信号を受けると検索部２３が、メモリの論理を読み取ることにより、不良情報１５として”Ｅ０１１”のコードが出力されたことを認識する。そして、その不良情報１５に対応する部位を記憶部２２から検索し、その検索した部位を不良部位として特定する（ステップＳＴ２）。
具体的に説明すると、記憶部２２には、図４（ａ）に示すように、各種の不良情報に対応して不良の可能性のある部位が定義されているので（図４（ｂ）は具体例）、不良情報１５として”Ｅ０１１”のコードが出力された場合、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”を見出しとする不良情報の項目をサーチし、その項目に定義されている部位、即ち、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定する。
【００７７】
そして、検索部２３がアナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定すると、表示制御部２４が、アナログ入力ＣＰＵ１に不良が発生した旨を表示器２５に表示させ（ステップＳＴ３）、一連の処理を終了する。
【００７８】
以上のように、この実施例１によれば、各種の不良情報に対応する部位を記憶部２２に記憶しておき、各ＣＰＵ１〜４から不良情報１５が出力されると、その不良情報１５に対応する部位を記憶部２２から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたので、上記従来例のように、論理演算をプログラミングすることなく、各種の不良情報１５に対応する部位を記憶部２２に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる結果、電力系統の規模が大きくなって不良情報１５の数が増大しても、不良部位をきめ細かく特定することができるとともに、当該保護継電装置を短期間で構築することができる効果がある。
また、論理演算をプログラミングする必要がないので、プログラミングに対する専門的な知識を有する技術者でなくても、当該保護継電装置を構築することができる効果がある。
さらに、電力系統の系統構成が変更された場合、記憶部２２の記憶内容を書き換えるだけで対処することができるので、当該保護継電装置のプログラム自体は変更せずに済み、メンテナンス性が向上する効果もある。
【００７９】
実施例２．
図５はこの発明の実施例２による保護継電装置を示す構成図であり、図において、２６は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶する記憶部、２７は各ＣＰＵ１〜４から不良情報１５が出力されると、その不良情報１５に対応する部位を記憶部２６から検索して、その部位を不良部位として特定する検索部である。
【００８０】
次に動作について説明する。
記憶部２６及び検索部２７以外は、上記実施例１と同様であるため、記憶部２６及び検索部２７の動作についてのみ説明する。
【００８１】
上記実施例１における記憶部２２は、上述したように、各種の不良情報に対応して不良の可能性のある部位を記憶していたが（図４参照）、この実施例２における記憶部２６は、図６に示すように（図６（ｂ）は具体例）、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶するようにしている点で、相違している。
【００８２】
これにより、検索部２７は、入力処理部２１から割り込み信号を受けると、メモリの論理を読み取って、出力された不良情報１５の内容を認識し、例えば、不良情報１５として”Ｅ０１１”のコードが出力された場合、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”をサーチし、そのサーチした”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”の見出し（不良部位の項目）になっている部位、即ち、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定する。
【００８３】
そして、検索部２７がアナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定すると、表示制御部２４が、上記実施例１と同様にして、アナログ入力ＣＰＵ１に不良が発生した旨を表示器２５に表示させ、一連の処理を終了する。
【００８４】
以上のように、この実施例２によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部２６に記憶しておき、各ＣＰＵ１〜４から不良情報１５が出力されると、その不良情報１５に対応する部位を記憶部２６から検索して、その部位を不良部位として特定するようにしたので、上記従来例のように、論理演算をプログラミングすることなく、各部位ごとに、上記可能性のある不良情報を記憶部２６に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる結果、電力系統の規模が大きくなって不良情報１５の数が増大しても、不良部位をきめ細かく特定することができるとともに、当該保護継電装置を短期間で構築することができる効果がある。
また、論理演算をプログラミングする必要がないので、プログラミングに対する専門的な知識を有する技術者でなくても、当該保護継電装置を構築することができる効果がある。
さらに、電力系統の系統構成が変更された場合、記憶部２６の記憶内容を書き換えるだけで対処することができるので、当該保護継電装置のプログラム自体は変更せずに済み、メンテナンス性が向上する効果もある。
【００８５】
実施例３．
図７はこの発明の実施例３による保護継電装置を示す構成図であり、図において、２８は不良情報１５が入力処理部２１に入力された時刻を管理する時刻管理部、２９は各種の不良情報ごとに、当該不良情報１５が発生すると連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報及び当該不良情報１５に先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶するとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報１５に対応する不良部位を記憶する記憶部、３０は入力処理部２１により不良情報１５が入力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部２９から検索し、当該不良情報１５が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否か、あるいは、当該不良情報１５が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報１５に対応する不良部位を特定する検索部である。
【００８６】
次に動作について説明する。
上記実施例１と同様に、入力処理部２１がメモリの論理を書き換えると割り込み信号が検索部３０に対して出力されるが、その割り込み信号が時刻管理部２８に対しても出力され、この割り込み信号に基づいて時刻管理部２８が、各ＣＰＵ１〜４から不良情報１５が出力された時刻を管理する。
【００８７】
一方、検索部３０は、入力処理部２１から割り込み信号を受けると、メモリの論理を読み取って、出力された不良情報１５の内容を認識し、当該不良情報１５が発生すると、連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報及び先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶部２９から検索する。
具体的に説明すると、記憶部２９には、図８（ａ）に示すように、各種の不良情報ごとに、当該不良情報１５が発生すると、連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報及び先行して発生する可能性のある他の不良情報が記憶されているので（図８（ｂ）は具体例）、例えば、不良情報１５として”Ｅ０１２”のコードが出力された場合、”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”を見出しとする不良情報の項目をサーチし、その項目に定義されている他の不良情報、即ち、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”を他の不良情報として検索する（この例では、先行して発生する可能性のある他の不良情報のみが定義されている）。
【００８８】
そして、先行して発生する可能性のある他の不良情報として”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”を検索すると、記憶部２９には、当該不良情報１５と他の不良情報の時間差がＴと定義されているので、当該不良情報１５が出力される前のＴ時間以内に”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”が出力されているか否かによって、当該不良情報１５に対応する不良部位を特定する。
即ち、Ｔ時間以内に”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”が出力されている場合には、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定し、Ｔ時間以内に”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”が出力されていない場合には、リレーＣＰＵ２を不良部位として特定する。
【００８９】
このように、当該不良情報１５が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって、不良部位を特定できる理由は、例えば、リレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作の停止が原因で停止する場合には、リレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が停止する間のＴ時間以内に、必ずアナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作が停止しているはずであるので、この条件を具備する場合には、リレーＣＰＵ２は健全で、アナログ入力ＣＰＵ１が不良と判断するのが合理的であり、また、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作の停止と無関係に停止する場合には、リレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が停止する間のＴ時間以内に、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作が停止していることは通常考えられないので、この場合には、アナログ入力ＣＰＵ１は健全で、リレーＣＰＵ２が不良と判断するのが合理的だからである。
【００９０】
また、もう一つ例を上げると、不良情報１５として”Ｅ０１１”のコードが出力された場合、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”を見出しとする不良情報の項目をサーチし、その項目に定義されている他の不良情報、即ち、”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”を他の不良情報として検索する（この例では、連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報のみが定義されている）。
【００９１】
そして、連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報として”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”を検索すると、記憶部２９には、当該不良情報１５と他の不良情報の時間差がＴと定義されているので、当該不良情報１５が出力されてから、”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”がＴ時間以内に出力されたか否かによって、当該不良情報１５に対応する不良部位を特定する。
即ち、”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”がＴ時間以内に出力された場合には、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定し、”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”がＴ時間経過後に出力された場合には、アナログ入力ＣＰＵ１とリレーＣＰＵ２を不良部位として特定する。ただし、Ｔ時間経過したのち更に一定時間経過しても”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”が出力されない場合には、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定する。
【００９２】
このように、当該不良情報１５が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否かによって、不良部位を特定できる理由は、例えば、リレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作の停止が原因で停止する場合には、必ずアナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作が停止したのちＴ時間以内にリレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が停止するはずであるので、この条件を具備する場合には、リレーＣＰＵ２は健全で、アナログ入力ＣＰＵ１が不良と判断するのが合理的であり、また、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作の停止と無関係に停止する場合には、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作が停止したのち、直ちにリレーＣＰＵ２のソフトウエア動作も停止するというのは、ソフトウエアの信頼性の点から通常考えられず、Ｔ時間経過後に停止するのが一般的であるので、この場合には、アナログ入力ＣＰＵ１だけでなく、リレーＣＰＵ２も不良と判断するのが合理的だからである。
【００９３】
そして、上記のようにして、検索部３０が不良部位を特定すると、表示制御部２４が、上記実施例１と同様にして、特定した部位に不良が発生した旨を表示器２５に表示させ、一連の処理を終了する。
【００９４】
以上のように、この実施例３によれば、各種の不良情報ごとに、当該不良情報１５が発生すると、連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報及び先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶部２９に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部２９に記憶しておき、各ＣＰＵ１〜４から不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部２９から検索し、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否か、あるいは、当該不良情報が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報１５に対応する不良部位を特定するようにしたので、１つの部位に不良が発生して複数の不良情報１５が出力されても、実際に不良が発生した部位を的確に特定することができる効果がある。
【００９５】
即ち、上記実施例１の場合、例えば、不良情報１５として”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”と”ＣＰＵ２ソフトウエア動作停止”が出力された場合、アナログ入力ＣＰＵ１のソフトウエア動作が停止することによって、リレーＣＰＵ２のソフトウエア動作が停止した場合でも、アナログ入力ＣＰＵ１だけでなくリレーＣＰＵ２も不良部位として特定されたが、この実施例３によれば、かかる場合には、アナログ入力ＣＰＵ１だけが不良部位として特定されるようになる。
【００９６】
実施例４．
図９はこの発明の実施例４による保護継電装置を示す構成図であり、図において、３１は入力処理部２１により複数の不良情報１５が入力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報１５をグループ分けする分類部である。
【００９７】
次に動作について説明する。
この実施例４では、不良部位を特定するに際し、各ＣＰＵ１〜４から出力される不良情報間の時間的関係を考慮すべく、分類部３１が、例えば、図１０に示すように、ある不良情報１５が出力されてから他の不良情報１５が出力されるまでの時間がＴ時間以内であれば、それらの不良情報１５を同一のグループにまとめ、ある不良情報１５が出力されてから他の不良情報１５が出力されるまでの時間がＴ時間以内でなければ、それらの不良情報１５を他のグループとする。
【００９８】
そして、検索部３０は、不良部位を特定するに際し、各グループごとに当該グループに属する不良情報１５のみを考慮して、他のグループに属する不良情報１５を考慮せずに、不良部位を特定する。
これにより、不良部位の特定に考慮すべきでない時間的に古い不良情報を考慮せず、互いに関連性の高い不良情報のみを考慮して、不良部位を特定することができる結果、より的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【００９９】
実施例５．
図１１はこの発明の実施例５による保護継電装置を示す構成図であり、図において、３２は各種の不良情報ごとに、当該不良情報１５に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する記憶部、３３は分類部３１から各グループ１〜４ごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５が出力されると、各不良情報１５に対応する部位をそれぞれ記憶部３２から検索する部位検索部（検索部）、３４は部位検索部３３により検索された各不良情報１５に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定する部位特定部（検索部）である。
【０１００】
次に動作について説明する。
上記実施例４と同様にして、分類部３１が複数の不良情報１５をグループ分けし、各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５を出力すると、部位検索部３３が、各不良情報１５に対応する部位をそれぞれ記憶部３２から検索する。
ただし、この例では説明の便宜上、不良情報１５として、”ＡＤ精度チェック不良”，”回路１の高調波監視不良”，”回路２の高調波監視不良”の３つが出力されたとする。
また、これらの不良情報に対応する部位は図１２に示す通りに記憶部３２に記憶され、各部位間の接続関係は図１３に示す通りであるとする。
【０１０１】
そして、部位検索部３３により各不良情報１５に対応する部位が検索されると、部位特定部３４が、各不良情報１５に対応する部位の集合をそれぞれ求め（図１４（ａ）参照）、各集合のなかで共通する部位、即ち、切換回路とＡＤ変換回路を不良部位として特定する。
このように、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定することができる理由は、互いに関連性の高い複数の不良情報１５がほぼ同時に出力された場合、上記実施例１のように、各不良情報１５に対応する部位のすべてに不良が発生したものと考えることもできるが、各部位の信頼性を考慮すると、一度にすべての部位に不良が発生する可能性は低く、共通する部位の不良によって、複数の不良情報１５が出力されたと考えるのが合理的だからである。
【０１０２】
そして、上記のようにして、部位特定部３４が不良部位を特定すると、表示制御部２４が、上記実施例１と同様にして、特定した部位に不良が発生した旨を表示器２５に表示させ、一連の処理を終了する。
【０１０３】
以上のように、この実施例５によれば、各種の不良情報ごとに、当該不良情報１５に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶部３２に記憶しておき、分類部３１から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５が出力されると、各不良情報１５に対応する部位をそれぞれ記憶部３２から検索して、各不良情報１５に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するようにしたので、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報１５が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【０１０４】
なお、図１４（ｂ）に示すように、各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５が出力された場合に求めた集合が複数できる場合もあり、この場合には、それぞれの集合のなかで共通する部位を不良部位として特定する。
【０１０５】
実施例６．
図１５はこの発明の実施例６による保護継電装置を示す構成図であり、図において、３５は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶する記憶部、３６は分類部３１から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、その可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ記憶部３５から検索する部位検索部（検索部）、３７は部位検索部３６により各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定する部位特定部（検索部）である。
【０１０６】
次に動作について説明する。
上記実施例４と同様にして、分類部３１が複数の不良情報１５をグループ分けし、各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５を出力すると、部位検索部３６が、当該部位ごとに記憶されている上記可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ記憶部３５から検索する。
ただし、この例では説明の便宜上、不良情報１５として、”ＡＤ精度チェック不良”，”回路１の高調波監視不良”，”回路２の高調波監視不良”の３つが出力されたとする。
また、上記可能性のある不良情報は図１６に示す通りに記憶部３５に記憶され、各部位間の接続関係は図１３に示す通りであるとする。
【０１０７】
そして、部位検索部３６により上記可能性のある不良情報のすべてが出力された部位が検索されると、部位特定部３７が、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め（図１７（ａ）参照）、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位、即ち、切換回路とＡＤ変換回路を不良部位として特定する。
このように、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定することができる理由は、互いに関連性の高い複数の不良情報１５がほぼ同時に出力された場合、上記実施例１のように、各不良情報１５に対応する部位のすべてに不良が発生したものと考えることもできるが、各部位の信頼性を考慮すると、一度にすべての部位に不良が発生する可能性は低く、特定の部位の不良によって、複数の不良情報１５が出力されたと考えるのが合理的だからである。
【０１０８】
なお、図１７（ｂ）に示すように、各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報１５が出力された場合に求めた集合が複数できる場合もあり、この場合には、それぞれの集合のなかで、他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定する。
【０１０９】
実施例７．
図１８はこの発明の実施例７による保護継電装置を示す構成図であり、図において、３８は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶する記憶部、３９は可能性のある不良情報のすべてが分類部から出力され、かつ、その可能性のない不良情報が分類部から出力されていない部位を記憶部から検索する部位検索部（検索部）である。
【０１１０】
次に動作について説明する。
各部位間の接続関係が図２０に示す通りである場合において、不良情報１５として、”ＡＤ精度チェック１不良”が出力された場合、上記実施例６では、切換回路１とＡＤ変換回路が不良部位として特定されるが（図１９（ａ）参照）、切換回路１またはＡＤ変換回路の何れに不良が生じたかについては特定することができない。
そこで、この実施例７では、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶部３８に記憶するようにしたものである。
【０１１１】
即ち、不良情報１５として、”ＡＤ精度チェック２不良”が出力されていない場合、基準電圧回路，切換回路２及びＡＤ変換回路は正常であり、この状態で、”ＡＤ精度チェック１不良”が出力された場合には、”切換回路１”のみが不良であるので、”ＡＤ精度チェック１不良”かつ”ＡＤ精度チェック２不良無し”の条件を記憶部３８に記憶しておき（図１９（ｂ）参照）、当該条件を具備する場合には、ＡＤ変換回路は正常で、切換回路２が不良部位であるとして特定するようにしたものである。
【０１１２】
実施例８．
図２１はこの発明の実施例８による保護継電装置を示す構成図であり、図において、４０は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と、発生する可能性のある不良情報と、発生する可能性のない不良情報とを記憶する記憶部、４１は必ず発生する不良情報１５が分類部３１から出力されたときに限り、不良部位を特定するための処理を開始する部位特定部（検索部）である。
【０１１３】
次に動作について説明する。
上記実施例６では、分類部３１から不良情報１５が出力されると、部位検索部３６が、該当する部位をそれぞれ記憶部３５から検索し、部位特定部３７が、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定する処理を行っていたが、当該部位に不良が発生したとき、必ず発生する不良情報が分類部３１から出力されたときに限り、部位特定部４１が、不良部位を特定するための処理を開始するようにしてもよい。
【０１１４】
即ち、図２２に示すように、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに、必ず発生する不良情報に〇印を付す一方、発生する可能性のある不良情報（必ずしも発生しない不良情報）に△印を付し、部位特定部４１は、△印の不良情報１５が出力されても、〇印の不良情報１５が出力されていないときは、不良部位を特定するための処理（集合処理）を開始しても不良部位を特定することができないので、不良部位を特定するための処理を開始せず、〇印の不良情報１５が出力されているときに限り、不良部位を特定するための処理を開始する。
これにより、必ず発生する不良情報１５が分類部３１から出力されない場合には、不良部位を特定するための処理が開始されなくなる結果、無駄な処理を行わずに済み、処理時間が短縮されるようになる。
【０１１５】
実施例９．
図２３はこの発明の実施例９による保護継電装置を示す構成図であり、図において、４２は可能性のある不良情報を関連性のある部位ごとに分割して記憶する記憶部である。
【０１１６】
次に動作について説明する。
上記実施例６では、可能性のある不良情報を１つの記憶部３５のなかにまとめて記憶していたので、例えば、図２４（ａ）に示すように、７個の部位について不良情報を記憶した場合には、分類部３１から不良情報１５が出力されると、７個の部位の不良情報を検索する必要があったので、図２４（ｂ）及び（ｃ）に示すように、記憶部４２を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしてもよい。
これにより、例えば、分類部３１から不良情報１５として”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止”が出力された場合、２個の部位（アナログ入力ＣＰＵ１，リレーＣＰＵ２）の不良情報を検索するだけで済むようになり（図２４（ｂ）（ｃ）参照）、記憶部４２を検索するときの処理時間が短縮されるようになる。
【０１１７】
実施例１０．
図２５はこの発明の実施例１０による保護継電装置を示す構成図であり、図において、４３は互いに関連性のある各不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する複数の記憶部、４４は各ＣＰＵ１〜４から複数の不良情報１５が出力されると、複数の不良情報１５を複数の記憶部４３に対応してグループ分けする分類部である。
【０１１８】
次に動作について説明する。
上記実施例５では、分類部３１が、不良情報１５の出力時刻に基づいて複数のの不良情報をグループ分けするものについて示したが、記憶部４３を互いに関連性のある各不良情報ごとに分割し、分類部４４が複数の不良情報１５を複数の記憶部４３に対応してグループ分けするようにしてもよく、上記実施例５と同様の効果を奏することができる。
【０１１９】
因に、図２６（ａ）に示すように、４つの不良情報１５が出力された場合、１番目の不良情報１５が出力されてから３番目の不良情報までがＴ時間以内に出力されているので、上記実施例５では、１番目と３番目の不良情報１５が互いに関連があり、２番目と４番目の不良情報１５が互いに関連がある一方、１番目及び３番目と２番目及び４番目の不良情報１５に関連が無い場合でも、１番目と２番目と３番目の不良情報１５が同一グループに分類され、４番目の不良情報１５だけが他のグループに分類されることになるが、この実施例１０では、複数の不良情報１５を、互いに関連性のある各不良情報ごとに分割された記憶部４３に対応してグループ分けするようにしているので、図２６（ｂ）に示すように、１番目と３番目の不良情報１５が同一グループに分類される一方、２番目と４番目の不良情報１５が同一のグループに分類されるようになり、その結果、上記実施例５よりも的確にグループ分けを行うことができるため、不良部位の特定精度が向上することになる。
【０１２０】
実施例１１．
図２７はこの発明の実施例１１による保護継電装置を示す構成図であり、図において、４５は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名及び表示先を記憶する記憶部、４６は部位特定部３７により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示させる表示制御部（表示部）である。
【０１２１】
次に動作について説明する。
上記実施例６では、各部位ごとに、発生する可能性のある不良情報のみを記憶部３５に記憶させるようにしていたが、この実施例１１では、各部位ごとに、発生する可能性のある不良情報とともに、故障の障害度（重故障・軽故障等），故障名（アナログ入力ＣＰＵ１等），表示先（表示器２５における画面の位置等）及び推奨処置を記憶部４５に記憶させ（図２８参照）、表示制御部４６が、部位特定部３７により特定された不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示させるようにしてもよい（図２９参照）。
【０１２２】
実施例１２．
上記実施例１１では、記憶部４５に直接、故障の障害度，故障名及び推奨処置を記憶させるものについて示したが、図３０（ａ）に示すように、記憶部４５には、故障の障害度，故障名及び推奨処置をコード化して記憶させる一方、別途、記憶部４５に、各コードに対応する表示文字を文字列集として記憶させ、表示制御部４６が、故障の障害度等を表示器２５に表示させる際、故障の障害度等のコードを読み込んだのち、そのコードに対応する表示文字を文字列集から検索して表示するようにしてもよい。
これにより、同一文字を重複して記憶部４５に記憶させる必要がなくなるため、記憶部４５のメモリ容量を低減することができるようになる。
【０１２３】
実施例１３．
上記実施例１１では、故障の障害度，故障名及び推奨処置を表示器２５に表示させるものについて示したが、図３１に示すように、記憶部４５に、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を記憶しておき、表示制御部４６が、図３２に示すように、部位特定部３７により特定された不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報名の表示が有りの場合に、その不良情報名を表示するようにしてもよい。
これにより、電力系統を監視するうえで、不良情報の内容を認識することが有用である場合に限り、不良情報名を表示することができるようになる。
【０１２４】
実施例１４．
上記実施例１３では、不良情報名の表示が有りの場合に、その不良情報名を表示するようにしたものについて示したが、図３３に示すように、不良情報の表示の優先順位を記憶部４５に記憶しておき、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示するようにしてもよい。
これにより、分類部３１から出力されたすべての不良情報１５を１画面に表示しきれない場合、重要な不良情報１５を優先的に表示できるようになる。
【０１２５】
実施例１５．
上記実施例１４では、不良情報の表示の優先順位を記憶部４５に記憶しておき、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示するものについて示したが、図３４に示すように、不良部位の表示の優先順位を記憶部４５に記憶しておき、優先順位が高い不良部位から順次、当該不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名等を表示するようにしてもよい。
これにより、複数の不良部位が特定され、そのすべての不良部位を１画面に表示しきれない場合、重要な不良部位を優先的に表示できるようになる。
【０１２６】
実施例１６．
上記実施例１１では、故障の障害度，故障名及び推奨処置を表示器２５に表示させるものについて示したが、図３５に示すように、記憶部４５に、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を記憶しておき、表示制御部４６が、部位特定部３７により特定された不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、故障の検査に必要な情報を表示するようにしてもよい。
例えば、不良情報１５として、”高調波監視”が出力された場合には、図３６（ａ）に示すように、故障の検査に必要な情報として、回路番号＝Ａ，高調波電圧値＝Ｂ及び判定基準値＝Ｃなどが表示される。
これにより、特定された不良部位に、故障が実際に生じているか否かの検査を速やかに行うことができるようになる。
【０１２７】
実施例１７．
上記実施例１６では、例えば、回路番号をＡと表示し、障害度を重故障のように表示するものについて示したが、図３７に示すように、回路番号を具体的な名称（この例では、ＣＴ回路Ａ相等）で表示するとともに、基準電圧値Ｂと判定基準値Ｃとの関係を示す式等を障害度に併記して表示するようにしてもよい。
これにより、不良部位の障害の度合いをより的確に判断できるようになる。
【０１２８】
実施例１８．
上記実施例１１〜１７等では、記憶部４５に記憶されている範囲内で、表示器２５に情報を表示するものについて示したが、図３８に示すように、詳細な不良情報を取得するための要求コマンド（詳細不良情報取得制御情報）を記憶部４５に記憶しておき、表示制御部４６が、その要求コマンドを読み込むと、図３９（ａ）に示すように、不良情報１５を出力したＣＰＵに対して、当該要求コマンドを入力処理部２１を介して出力して、そのＣＰＵから詳細な不良情報を取得し、その詳細な不良情報を表示器２５に表示させるようにしてもよい。
これにより、不良発生時点の様相を詳細に分析することができるようになる。
【０１２９】
実施例１９．
上記実施例では、必ず不良部位が特定できることを前提として説明したが、あらかじめ予想していなかった現象が発生して、不良部位が特定できなかった場合には、図４０に示すように、不良部位を特定できない旨を表示するようにしてもよい。
これにより、あらかじめ予想していなかった現象が発生したことを認識できるようになる一方、不良情報１５が出力されたにもかかわらず不良部位が表示されない結果、不良情報１５が出力された事実を知り得ない不具合を解消できるようになる。
なお、この場合の表示例としては、「不良部位を求めることができません」あるいは「すべての部位に不良の可能性があります」などである。
【０１３０】
実施例２０．
図４１はこの発明の実施例２０による保護継電装置を示す構成図であり、図において、５１は電力系統の状態を示す電圧・電流等の状態信号を入力する一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報１５を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報６５を出力するアナログ入力ＣＰＵ（入力用ＣＰＵ）、５２はアナログ入力ＣＰＵ５１により入力された状態信号を用いてリレー演算を行う一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報６５を出力するリレーＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、５３はリレーＣＰＵ５２の演算結果に基づいてシーケンス演算を行い、制御する必要のある遮断器等の制御信号を生成する一方、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報１５を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報６５を出力するシーケンスＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、５４は各ＣＰＵ５１〜５３をバックアップするために設けられた事故検出ＣＰＵであり、各ＣＰＵ５１〜５３と同等の機能を有している。
【０１３１】
６１〜６４は自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると不良情報１５を出力するとともに、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報６５を出力する監視部、６６は各ＣＰＵ１〜４から出力された不良情報１５または不良復帰情報６５を入力する入力処理部、６７は各種の不良情報１５及び不良復帰情報６５に対応する部位を記憶する記憶部、６８は入力処理部６６により入力された不良情報１５または不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部６７から検索し、その部位を不良部位として特定する検索部、６９は検索部６８により不良情報１５に対応する不良部位が特定されると当該不良部位を表示器２５に表示させる一方、不良復帰情報６５に対応する不良部位が特定されると当該不良部位が復帰した旨を表示器２５に表示させる表示制御部（表示部）である。
【０１３２】
次に動作について説明する。
まず、各ＣＰＵ５１〜５４の監視部６１〜６４が、一定周期ごとに（例えば、電気角で３０度に相当する時間ごと）、自己診断を実施し、自己に不具合が発生すると、従来のものと同様に、コード化された不良情報１５を出力する一方、自己に発生した不具合が解消すると不良復帰情報６５を出力する。
【０１３３】
不良情報１５が出力された場合の処理は、上記実施例１と同様であるため、以下、不良復帰情報６５が出力された場合の処理についてのみ説明する。
そして、各監視部６１〜６４から不良復帰情報１５が出力されると、入力処理部６６が、その不良復帰情報６５を入力し、その不良復帰情報６５に対応するアドレスのメモリの論理を”０”から”１”に書き換える処理を行う。当該書き換える処理は、不良情報１５の場合と同様であるため詳細説明を省略する。
【０１３４】
そして、入力処理部６６がメモリの論理を書き換えると割り込み信号を検索部６８に対して出力する。
このようにして、割り込み信号を受けると検索部６８が、メモリの論理を読み取ることにより、不良復帰情報６５が出力されたことを認識する。そして、その不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部６７から検索し、その検索した部位を不良部位として特定する。
具体的に説明すると、記憶部６７には、図４２（ａ）に示すように、各種の不良復帰情報に対応して不良の可能性のある部位が定義されているので（図４２（ｂ）は具体例）、不良復帰情報６５として、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”が出力された場合、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”を見出しとする不良復帰情報の項目をサーチし、その項目に定義されている部位、即ち、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定する。
【０１３５】
そして、検索部６８がアナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定すると、表示制御部６９が、アナログ入力ＣＰＵ１に発生した不良が復帰した旨を表示器２５に表示させ、一連の処理を終了する。
【０１３６】
以上のように、この実施例２０によれば、各種の不良情報１５及び不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部６７に記憶しておき、各ＣＰＵ５１〜５４から不良情報１５または不良復帰情報６５が出力されると、その不良情報１５または不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部６７から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報６５に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたので、不良部位が復帰したことを容易に認識することができる効果がある。
また、不良が復帰したのち、再度、同じ不良が発生すると、再度同じ不良部位を表示することになるので、間欠的な不良発生を認識することができる効果もある。
【０１３７】
実施例２１．
図４３はこの発明の実施例２１による保護継電装置を示す構成図であり、図において、７０は各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶する記憶部、７１は各ＣＰＵ５１〜５４から不良情報１５または不良復帰情報６５が出力されると、その不良情報１５または不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部７０から検索して、その部位を不良部位として特定する検索部である。
【０１３８】
次に動作について説明する。
記憶部７０及び検索部７１以外は、上記実施例２０と同様であるため、記憶部７０及び検索部７１の動作についてのみ説明する。また、不良情報１５が出力された場合の処理は、上記実施例２と同様であるため、不良復帰情報６５が出力された場合の処理についてのみ説明する。
【０１３９】
上記実施例２０と同様にして、検索部７１が、入力処理部６６から割り込み信号を受けると、メモリの論理を読み取って、出力された不良復帰情報６５の内容を認識し、例えば、不良復帰情報６５として、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”が出力された場合、”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”をサーチし、そのサーチした”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”の見出し（不良部位の項目）になっている部位、即ち、アナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定する。
【０１４０】
そして、検索部７１がアナログ入力ＣＰＵ１を不良部位として特定すると、表示制御部６９が、上記実施例２０と同様にして、アナログ入力ＣＰＵ１に発生した不良が復帰した旨を表示器２５に表示させ、一連の処理を終了する。
【０１４１】
以上のように、この実施例２１によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部７０に記憶しておき、各ＣＰＵ５１〜５４から不良情報１５または不良復帰情報６５が出力されると、その不良情報１５または不良復帰情報６５に対応する部位を記憶部７０から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報６５に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するようにしたので、不良部位が復帰したことを容易に認識することができる効果がある。
また、不良が復帰したのち、再度、同じ不良が発生すると、再度同じ不良部位を表示することになるので、間欠的な不良発生を認識することができる効果もある。
【０１４２】
実施例２２．
上記実施例２０，２１では、各ＣＰＵ５１〜５４が、自己に発生した不具合が解消したときに不良復帰情報６５を出力するものについて示したが、自己に発生した不具合を解消するために当該装置の電源を切って修理する場合があり、この場合には、自己に発生した不具合が解消しても、当該装置の電源が切れている関係上、各ＣＰＵ５１〜５４から不良復帰情報６５が出力されないので、当該装置の電源を再投入する場合や当該装置をリセットする場合には、例えば、図４５に示すように、当該装置の初期化処理が完了した時点で、入力処理部６６が各ＣＰＵに対して不良復帰情報６５の出力を要求して（ステップＳＴ２１〜２３）、各ＣＰＵ５１〜５４から不良復帰情報６５を入力するようにしてもよい（ステップＳＴ２４）。
これにより、当該装置を停止して修理した場合でも、当該装置を起動したのち、ただちに不良部位の復帰を表示器２５に表示することができるようになる。
【０１４３】
実施例２３．
図４６はこの発明の実施例２３による保護継電装置を示す構成図であり、図において、７２は可能性のある不良情報を関連性のある部位ごとに分割して記憶する記憶部である。
【０１４４】
次に動作について説明する。
上記実施例２１では、可能性のある不良情報及び不良復帰情報を１つの記憶部７０のなかにまとめて記憶していたので、例えば、図４７（ａ）に示すように、７個の部位について不良情報及び不良復帰情報を記憶した場合には、分類部７１から不良情報１５または不良復帰情報６５が出力されると、７個の部位の不良情報及び不良復帰情報を検索する必要があったので、図４７（ｂ）及び（ｃ）に示すように、記憶部７２を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するようにしてもよい。
これにより、例えば、分類部７１から不良復帰情報６５として”ＣＰＵ１ソフトウエア動作停止復帰”が出力された場合、２個の部位（アナログ入力ＣＰＵ１，リレーＣＰＵ２）の不良情報を検索するだけで済むようになり（図４７（ｂ）（ｃ）参照）、記憶部７２を検索するときの処理時間が短縮されるようになる。
【０１４５】
実施例２４．
上記実施例２０では、各部位の不良が復帰すると、各ＣＰＵ５１〜５４が不良復帰情報６５を出力するものについて示したが、図４８に示すように、各ＣＰＵ内で発生したすべての不良が復帰したとき、不良復帰情報６５を出力するようにしてもよい（ステップＳＴ３１，３２）。
ただし、この場合、記憶部６７には、図４９に示すように、当該ＣＰＵ内の不良がすべて復帰したことを示す不良復帰情報６５に対応する不良部位をＣＰＵ単位で記憶しておく必要がある。
これにより、不良の復帰の判定が比較的大まかな単位でよい場合には、記憶部６７の記憶内容を大幅に低減することができるようになる。
【０１４６】
実施例２５．
上記実施例２１では、各部位の不良が復帰すると、各ＣＰＵ５１〜５４が不良復帰情報６５を出力するものについて示したが、図４８に示すように、各ＣＰＵ内で発生したすべての不良が復帰したとき、不良復帰情報６５を出力するようにしてもよい（ステップＳＴ３１，３２）。
ただし、この場合、記憶部７０には、図５０に示すように、各ＣＰＵ５１〜５４ごとに、すべての不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報６５を記憶しておく必要がある。
これにより、不良の復帰の判定が比較的大まかな単位でよい場合には、記憶部７０の記憶内容を大幅に低減することができるようになる。
【０１４７】
実施例２６．
図５１はこの発明の実施例２６による保護継電装置を示す構成図であり、図において、７３は表示制御部６９から表示器２５に対して出力される表示制御指令を伝送する伝送制御部、７４は伝送路である。
【０１４８】
次に動作について説明する。
上記実施例１〜２５では、表示制御部６９と表示器２５の間を単に信号線で接続していたに過ぎないので、表示器２５をマンマシンＣＰＵ６と隣接して設置せざるをえなかったが、この実施例２６では、表示制御部６９から表示器２５に対して出力される表示制御指令を伝送する伝送制御部７３を設けるようにしたので、表示器２５をマンマシンＣＰＵ６から離れた遠隔地でも設置することができる。
【０１４９】
実施例２７．
図５２はこの発明の実施例２７による保護継電装置を示す構成図であり、図において、７５は入力処理部６６が入力する不良情報１５及び不良復帰情報６５を検索部６８に対して伝送する伝送制御部である。
【０１５０】
次に動作について説明する。
上記実施例１〜２６では、入力処理部６６と検索部６８の間を単に信号線で接続していたに過ぎないので、表示器２５をマンマシンＣＰＵ６と隣接して設置せざるをえなかったが、この実施例２７では、入力処理部６６から検索部６８に対して出力される不良情報１５及び不良復帰情報６５を伝送する伝送制御部７５を設けるようにしたので、表示器２５をマンマシンＣＰＵ６から離れた遠隔地でも設置することができる。
【０１５１】
実施例２８．
上記実施例１〜２７では、記憶部に対して情報を記憶させる際の記憶方法については特に言及しなかったが、図５３に示すように、各ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報及び不良復帰情報を記憶するデータベース７６と、各ＣＰＵの種類を指定されると、各ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報及び不良復帰情報をデータベース７６から読み取り、その不良情報等を記憶部に書き込むデータ書込み部７７とを設けてもよい。
これにより、各ＣＰＵの種類を入力するだけで、不良情報等を記憶部に記憶させることができるようになる結果、不良情報等を記憶させる際の手間を省くことができる。
【０１５２】
実施例２９．
図５４はこの発明の実施例２９による保護継電装置を示す構成図であり、また、図５５はこの発明の実施例２９による保護継電装置に適用するデータ書込み部等を示す構成図であり、図５４及び図５５において、７８は試験制御情報８１を記憶するデータベース、７９は試験結果情報８２を記憶するデータベース、８０は各ＣＰＵの種類を指定されると、各ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報，試験制御情報８１及び試験結果情報８２をそれぞれデータベース７６，７８，７９から読み取り、その不良情報等を記憶部に書き込むデータ書込み部、８３は試験制御情報８１に応じた模擬系統の状態を示す状態信号をアナログ入力ＣＰＵ１に出力する制御回路（比較部）、８４はマンマシンＣＰＵ６の検索部により特定された不良部位と試験結果情報８２を比較する判定回路（比較部）である。
【０１５３】
次に動作について説明する。
当該装置の動作試験に際し、あらかじめ、上記実施例２８と同様にして、各ＣＰＵの種類をデータ書込み部７９に入力して、記憶部に不良情報等を記憶させておく。
【０１５４】
そして、不良情報等を記憶部に記憶させると、制御回路８３が試験制御情報８１に応じた模擬系統の状態を示す状態信号をアナログ入力ＣＰＵ１に出力する。これにより、各ＣＰＵ１〜４がその状態信号に基づいて自己診断を実施し、自己に不具合が発生すれば不良情報１５を出力する。
そして、マンマシンＣＰＵ６の検索部が、当該不良情報１５に対応する不良部位を上記各実施例と同様にして特定し、その不良部位を出力する。
【０１５５】
そして、マンマシンＣＰＵ６の検索部から不良部位が出力されると、判定回路８４が、その不良部位と試験結果情報８２を比較し、一致していれば、当該装置の動作は正常であると判定し、逆に一致していなければ、当該装置の動作は正常でないと判定し、一連の処理を終了する。
【０１５６】
以上のように、この実施例２９によれば、試験制御情報８１に応じた模擬系統の状態を示す状態信号をアナログ入力ＣＰＵ１に出力したのち、検索部により特定された不良部位と試験結果情報８２を比較するようにしたので、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができる結果、当該装置の試験コストを低減できる効果がある。
【０１５７】
実施例３０．
上記各実施例では、部位に不良が発生したとき又は部位に発生した不良が復帰したとき、不良部位等を表示するものについて示したが、各ＣＰＵから出力された不良情報，不良復帰情報，不良情報及び不良復帰情報の出力時刻及びグループ名，検索部により特定された不良部位並びに集合処理の処理内容等を必要に応じて表示するようにしてもよい。
これにより、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができるとともに、当該装置の一連の動作を分析することができる効果がある。
【０１５８】
【発明の効果】
以上のように、請求項１の発明によれば、各種の不良情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するように構成したので、論理演算をプログラミングすることなく、各種の不良情報に対応する部位を記憶部に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる結果、電力系統の規模が大きくなって不良情報の数が増大しても、不良部位をきめ細かく特定することができるとともに、当該保護継電装置を短期間で構築することができる効果がある。
また、論理演算をプログラミングする必要がないので、プログラミングに対する専門的な知識を有する技術者でなくても、当該保護継電装置を構築することができる効果がある。
さらに、電力系統の系統構成が変更された場合、記憶部の記憶内容を書き換えるだけで対処することができるので、当該保護継電装置のプログラム自体は変更せずに済み、メンテナンス性が向上する効果もある。
【０１５９】
請求項２の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、その不良情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定するように構成したので、論理演算をプログラミングすることなく、その可能性のある不良情報を記憶部に記憶させるだけで、不良部位を特定できるようになる結果、電力系統の規模が大きくなって不良情報の数が増大しても、不良部位をきめ細かく特定することができるとともに、当該保護継電装置を短期間で構築することができる効果がある。
また、論理演算をプログラミングする必要がないので、プログラミングに対する専門的な知識を有する技術者でなくても、当該保護継電装置を構築することができる効果がある。
さらに、電力系統の系統構成が変更された場合、記憶部の記憶内容を書き換えるだけで対処することができるので、当該保護継電装置のプログラム自体は変更せずに済み、メンテナンス性が向上する効果もある。
【０１６０】
請求項３の発明によれば、各種の不良情報ごとに、当該不良情報が発生すると連鎖的に発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が一定時間以内に出力されたか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するように構成したので、１つの部位に不良が発生して複数の不良情報が出力されても、実際に不良が発生した部位を的確に特定することができる効果がある。
【０１６１】
請求項４の発明によれば、各種の不良情報ごとに、当該不良情報の発生に先行して発生する可能性のある他の不良情報を記憶部に記憶しておくとともに、他の不良情報の発生の有無に応じて当該不良情報に対応する不良部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報が出力されると、他の不良情報及び不良部位の候補を記憶部から検索し、当該不良情報が出力される前の一定時間以内に他の不良情報が出力されているか否かによって当該不良情報に対応する不良部位を特定するように構成したので、１つの部位に不良が発生して複数の不良情報が出力されても、実際に不良が発生した部位を的確に特定することができる効果がある。
【０１６２】
請求項５の発明によれば、当該不良情報が出力されてから他の不良情報が出力されるまでの一定時間と、他の不良情報が出力されてから当該不良情報が出力されるまでの一定時間とを記憶部に記憶しておくように構成したので、各不良情報間の関連性に応じて、適宜一定時間を変更することができる効果がある。
【０１６３】
請求項６の発明によれば、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、不良情報の出力時刻に基づいて複数の不良情報をグループ分けし、不良部位を特定するに際し、各グループごとに当該グループに属する不良情報のみを考慮して不良部位を特定し、他のグループに属する不良情報を考慮しないように構成したので、不良部位の特定に考慮すべきでない時間的に古い不良情報を考慮せず、互いに関連性の高い不良情報のみを考慮して、不良部位を特定できる結果、より的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【０１６４】
請求項７の発明によれば、各種の不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するように構成したので、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【０１６５】
請求項８の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を記憶部に記憶しておき、分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、その可能性のある不良情報のすべてが出力された部位をそれぞれ記憶部から検索して、各部位に対応する不良情報の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで他のすべての集合を含む集合に係る部位を不良部位として特定するように構成したので、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【０１６６】
請求項９の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報の他に、発生する可能性のない不良情報を記憶部に記憶しておき、その可能性のある不良情報のすべてが分類部から出力され、かつ、その可能性のない不良情報が分類部から出力されていない部位を記憶部から検索するように構成したので、請求項８の発明より更に細かく不良部位を特定することができる効果がある。
【０１６７】
請求項１０の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と、発生する可能性のある不良情報と、発生する可能性のない不良情報とを記憶部に記憶しておき、必ず発生する不良情報が分類部から出力されたときに限り、不良部位を特定するための処理を開始するように構成したので、必ず発生する不良情報が分類部から出力されない場合には、不良部位を特定するための処理が開始されなくなる結果、無駄な処理を行わずに済み、処理時間を短縮できる効果がある。
【０１６８】
請求項１１の発明によれば、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するように構成したので、記憶部を検索するときの処理時間を短縮できる効果がある。
【０１６９】
請求項１２の発明によれば、互いに関連性のある各不良情報ごとに、当該不良情報に対応する少なくとも１つ以上の部位を記憶する複数の記憶部と、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから複数の不良情報が出力されると、複数の不良情報を複数の記憶部に対応してグループ分けする分類部とを設け、その分類部から各グループごとに少なくとも１つ以上の不良情報が出力されると、各不良情報に対応する部位をそれぞれ記憶部から検索して、各不良情報に対応する部位の集合をそれぞれ求め、各集合のなかで共通する部位を不良部位として特定するように構成したので、不良部位が細分化され、ある部位の不良によって多くの不良情報が出力される場合でも、的確に不良部位を特定することができる効果がある。
【０１７０】
請求項１３の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名及び表示先を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するように構成したので、不良部位の認識を容易になるとともに、当該故障が電力系統に対してどの程度影響を与えるものであるのかを把握することができる効果がある。
【０１７１】
請求項１４の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報名の表示が有りの場合、その不良情報名を表示するように構成したので、電力系統を監視するうえで、不良情報の内容を認識することが有用である場合には、不良情報名を表示することができる効果がある。
【０１７２】
請求項１５の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、優先順位が高い不良情報から順次、不良情報名を表示するように構成したので、出力されたすべての不良情報を１画面に表示しきれない場合、重要な不良情報を優先的に表示できる効果がある。
【０１７３】
請求項１６の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び不良部位の優先順位を記憶部に記憶しておき、検索部により複数の不良部位が特定されると、優先順位が高い不良部位から順次、当該不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するように構成したので、複数の不良部位が特定され、そのすべての不良部位を１画面に表示しきれない場合、重要な不良部位を優先的に表示できる効果がある。
【０１７４】
請求項１７の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を記憶部に記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度，故障名及び故障の検査に必要な情報を表示するように構成したので、特定された不良部位に故障が実際に生じているか否かの検査を速やかに行うことができる効果がある。
【０１７５】
請求項１８の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときの故障の障害度，故障名，表示先及び詳細な不良情報を取得するための要求コマンドを記憶しておき、検索部により不良部位が特定されると、その不良部位に対応する表示先に故障の障害度及び故障名を表示するとともに、不良情報を出力したＣＰＵに対して当該要求コマンドを出力して、そのＣＰＵから詳細な不良情報を取得し、その詳細な不良情報を表示するように構成したので、不良発生時点の様相を詳細に分析することができる効果がある。
【０１７６】
請求項１９の発明によれば、記憶部を検索しても不良部位を特定できない場合、不良部位を特定できない旨を表示するように構成したので、あらかじめ予想していなかった現象が発生したことを認識できる一方、不良情報が出力されたにもかかわらず不良部位が表示されない結果、不良情報が出力された事実を知り得ない不具合を解消できる効果がある。
【０１７７】
請求項２０の発明によれば、各種の不良情報及び不良復帰情報に対応する部位を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するように構成したので、不良部位が復帰したことを容易に認識することができる効果がある。
【０１７８】
請求項２１の発明によれば、各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報及び当該部位の不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良情報または不良復帰情報が出力されると、その不良情報または不良復帰情報に対応する部位を記憶部から検索して、その部位を不良部位として特定し、不良復帰情報に対応する不良部位を特定した場合には、当該不良部位が復帰した旨を表示するように構成したので、不良部位が復帰したことを容易に認識することができる効果がある。
【０１７９】
請求項２２の発明によれば、自己に発生した不具合が修理によって解消されて、再度電源が投入された場合、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するように構成したので、当該装置を停止して修理した場合でも、当該装置を起動したのち、ただちに不良部位の復帰を表示できる効果がある。
【０１８０】
請求項２３の発明によれば、記憶部を複数個に分割し、関連性のある部位ごとに分割して記憶するように構成したので、記憶部を検索するときの処理時間を短縮できる効果がある。
【０１８１】
請求項２４の発明によれば、不良復帰情報に対応する不良部位をＣＰＵ単位で記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するように構成したので、記憶部の記憶内容を低減することができる効果がある。
【０１８２】
請求項２５の発明によれば、各ＣＰＵごとに、不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を記憶部に記憶しておき、自己に発生したすべての不具合が解消したとき、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから不良復帰情報を出力するように構成したので、記憶部の記憶内容を低減することができる効果がある。
【０１８３】
請求項２６の発明によれば、検索部から出力される情報を表示部に対して伝送する伝送制御部を設けるように構成したので、検索部と表示部を切り離して、表示部を遠隔地に設置することができる効果がある。
【０１８４】
請求項２７の発明によれば、入力処理部が入力する不良情報を検索部に対して伝送する伝送制御部を設けるように構成したので、入力処理部と検索部を切り離して、表示部を遠隔地に設置することができる効果がある。
【０１８５】
請求項２８の発明によれば、入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を指定されると、その入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵに発生する可能性のある不良情報をデータベースから読み取り、その不良情報を記憶部に書き込むように構成したので、入力用ＣＰＵ及び制御用ＣＰＵの種類を入力するだけで、不良情報を記憶部に記憶させることができるようになる結果、不良情報を記憶させる際の手間を省くことができる効果がある。
【０１８６】
請求項２９の発明によれば、試験制御情報に応じた模擬系統の状態を示す状態信号を入力用ＣＰＵに出力したのち、検索部により特定された不良部位と試験結果情報を比較するように構成したので、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができる結果、当該装置の試験コストを低減できる効果がある。
【０１８７】
請求項３０の発明によれば、入力用ＣＰＵまたは制御用ＣＰＵから出力された不良情報，不良復帰情報，不良情報及び不良復帰情報の出力時刻及びグループ名，並びに検索部により特定された不良部位を必要に応じて表示するように構成したので、記憶部の記憶内容等の誤りを容易に検出することができるとともに、当該装置の一連の動作を分析することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の実施例１による保護継電装置を示す構成図である。
【図２】  この発明の実施例１による保護継電装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】  不良情報の発生の有無を示すメモリのアドレスを説明するメモリ図である。
【図４】  各種の不良情報に対応する部位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図５】  この発明の実施例２による保護継電装置を示す構成図である。
【図６】  各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図７】  この発明の実施例３による保護継電装置を示す構成図である。
【図８】  当該不良情報が発生すると連鎖的又は先行して発生する可能性のある他の不良情報、及び当該不良情報に対応する不良部位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図９】  この発明の実施例４による保護継電装置を示す構成図である。
【図１０】  不良情報の出力時刻に基づくグループ分けを説明する説明図である。
【図１１】  この発明の実施例５による保護継電装置を示す構成図である。
【図１２】  各種の不良情報に対応する部位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図１３】  各部位間の接続関係を示す接続図である。
【図１４】  各不良情報に対応する部位の集合を示す集合図である。
【図１５】  この発明の実施例６による保護継電装置を示す構成図である。
【図１６】  各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図１７】  各部位に対応する不良情報の集合を示す集合図である。
【図１８】  この発明の実施例７による保護継電装置を示す構成図である。
【図１９】  各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報と発生する可能性のない不良情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図２０】  各部位間の接続関係を示す接続図である。
【図２１】  この発明の実施例８による保護継電装置を示す構成図である。
【図２２】  各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに必ず発生する不良情報と発生する可能性のある不良情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図２３】  この発明の実施例９による保護継電装置を示す構成図である。
【図２４】  関連性のある部位ごとに分割したテーブルを示すテーブル図である。
【図２５】  この発明の実施例１０による保護継電装置を示す構成図である。
【図２６】  複数の不良情報のグループ分けをする説明する説明図である。
【図２７】  この発明の実施例１１による保護継電装置を示す構成図である。
【図２８】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先及び推奨処置を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図２９】  画面の表示例を示す画面図である。
【図３０】  故障の障害度，故障名及び推奨処置をコード化して定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３１】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報名の表示の有無を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３２】  画面の表示例を示す画面図である。
【図３３】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良情報の表示の優先順位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３４】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先，不良情報名及び不良部位の表示の優先順位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３５】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先及び故障の検査に必要な情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３６】  画面の表示例を示す画面図である。
【図３７】  回路番号等を具体的な名称で定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３８】  可能性のある不良情報，故障の障害度，故障名，表示先及び詳細な不良情報を取得するための要求コマンドを定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図３９】  要求コマンドのやり取りを説明する説明図である。
【図４０】  この発明の実施例１９による保護継電装置の動作を示すフローチャートである。
【図４１】  この発明の実施例２０による保護継電装置を示す構成図である。
【図４２】  各種の不良情報及び不良復帰情報に対応する部位を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図４３】  この発明の実施例２１による保護継電装置を示す構成図である。
【図４４】  各部位ごとに、当該部位に不良が発生したときに発生する可能性のある不良情報と不良が復帰したときに発生する可能性のある不良復帰情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図４５】  この発明の実施例２２による保護継電装置の動作を示すフローチャートである。
【図４６】  この発明の実施例２３による保護継電装置を示す構成図である。
【図４７】  関連性のある部位ごとに分割したテーブルを示すテーブル図である。
【図４８】  この発明の実施例２４による保護継電装置の動作を示すフローチャートである。
【図４９】  不良復帰情報に対応するＣＰＵを定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図５０】  各ＣＰＵごとに、すべての不良が解消したときに発生する可能性のある不良復帰情報を定義したテーブルを示すテーブル図である。
【図５１】  この発明の実施例２６による保護継電装置を示す構成図である。
【図５２】  この発明の実施例２７による保護継電装置を示す構成図である。
【図５３】  この発明の実施例２８による保護継電装置に適用するデータ書込み部等を示す構成図である。
【図５４】  この発明の実施例２９による保護継電装置を示す構成図である。
【図５５】  この発明の実施例２９による保護継電装置に適用するデータ書込み部等を示す構成図である。
【図５６】  従来の保護継電装置を示す構成図である。
【図５７】  従来の保護継電装置の要部を示す構成図である。
【図５８】  不良の種類に応じてコード化された不良情報を示す説明図である。
【図５９】  不良部位を特定するための論理演算を示す論理図である。
【図６０】  不良部位を特定するための論理演算を示す論理図である。
【符号の説明】
１，５１  アナログ入力ＣＰＵ（入力用ＣＰＵ）、２，５２  リレーＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、３，５３  シーケンスＣＰＵ（制御用ＣＰＵ）、２２，２６，２９，３２，３５，３８，４０，４２，４３，４５，６７，７０，７２  記憶部、２３，２７，３０，６８，７１  検索部、２４，４６，６９  表示制御部（表示部）、２５  表示器（表示部）、３１，４４  分類部、３３，３６，３９  部位検索部（検索部）、３４，３７，４１  部位特定部（検索部）、６６  入力処理部、７３，７５  伝送制御部、７６，７８，７９  データベース、７７，８０データ書込み部、８３  制御回路（比較部）、８４  判定回路（比較部）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【図４９】
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【図５０】
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【図５１】
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【図５２】
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【図５３】
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【図５４】
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【図５５】
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【図５６】
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【図５７】
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【図５８】
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【図５９】
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【図６０】
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