(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、
一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置を備え、
前記部品搬送装置は、前記部品取入口の近傍において、前記搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、前記気体流入口を介して流入された気流によって、外部から前記部品取入口内に向かって部品を送り込むための負圧が前記部品取入口に与えられるとともに、部品を前記搬送通路内で前記部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられ、
前記部品搬送装置は、さらに、前記部品排出口の近傍において、前記搬送通路内の気体を排出するための気体排出口を備え、前記気体排出口を介して気体が排出されることによって、部品の搬送速度を減速するようにされ、
前記搬送通路は、前記部品取入口から前記部品排出口に向かって狭くなるようなテーパを有し、かつ、前記気体流入口が設けられている位置に比べて、前記気体排出口が設けられている位置の方がより狭くされている、
部品の取扱装置。
【請求項２】
前記気体排出口は、気体の排出圧力を制御するための手段を備える、請求項１に記載の部品の取扱装置。
【請求項３】
前記気体排出口は、大気に対して開放されている、請求項１に記載の部品の取扱装置
【請求項４】
前記部品は電子部品であり、さらに、
複数個の収納凹部が周囲に設けられ、回転に従って、前記部品排出口から排出された電子部品を各前記収納凹部に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する、インデックステーブルと、
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部と
を備える、請求項１ないし３のいずれかに記載の部品の取扱装置。
【請求項５】
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上であって、前記特性測定部より下流側の位置に設けられる、特性不良の電子部品を排出するための特性不良品排出部をさらに備える、請求項４に記載の部品の取扱装置。
【請求項６】
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上であって、前記特性不良品排出部より下流側の位置に設けられる、特性良好の電子部品を排出するための特性良好品排出部をさらに備える、請求項５に記載の部品の取扱装置。
【請求項７】
前記特性良好品排出部は、電子部品をテーピングするためのテーピング装置またはバルク詰めするための装置を備える、請求項６に記載の部品の取扱装置。
【請求項８】
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品に対してマーキングを施すためのマーキング部をさらに備える、請求項４ないし７のいずれかに記載の部品の取扱装置。
【請求項９】
部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、
一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置と、
前記部品搬送装置の前記部品取入口に送り込まれる部品を供給するための部品供給装置と、
部品の外観を撮像するための外観検査部と
を備え、
前記部品搬送装置は、前記部品取入口の近傍において、前記搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、前記気体流入口を介して流入された気流によって、外部から前記部品取入口内に向かって部品を送り込むための負圧が前記部品取入口に与えられるとともに、部品を前記搬送通路内で前記部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられ、
前記部品搬送装置は、さらに、前記部品排出口の近傍において、前記搬送通路内の気体を排出するための気体排出口を備え、前記気体排出口を介して気体が排出されることによって、部品の搬送速度を減速するようにされ、
前記部品供給装置は、前記部品取入口に対向するように位置される部品繰り出し部を有し、
前記部品繰り出し部から繰り出される部品は、前記部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、前記部品取入口内に送り込まれるようにされ、
前記外観検査部は、前記部品取入口内に送り込まれる前の部品の外観を空中浮遊状態で撮像するようにされている、
部品の取扱装置。
【請求項１０】
前記部品供給装置は、振動フィーダを備え、前記部品繰り出し部は、無振動状態とされる、請求項９に記載の部品の取扱装置。
【請求項１１】
前記部品繰り出し部は、部品を整列させるために部品の側面に接する断面Ｖ字状に配置された２つの側面を有する整列溝を有し、前記整列溝の側面は、鉛直面に対して１０度〜８０度の範囲の角度をもって傾斜している、請求項９または１０に記載の部品の取扱装置。
【請求項１２】
部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、
部品供給装置と、
部品搬送装置と、
インデックステーブルと
を備え、
前記部品供給装置は、複数の部品を供給するための振動フィーダと、前記振動フィーダによって供給された部品を１個ずつ繰り出すための部品繰り出し部とを備え、
前記部品搬送装置は、一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定するもので、前記部品取入口は前記部品繰り出し部に対向するように位置され、前記部品取入口の近傍において、前記搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、前記気体流入口を介して流入された気流によって、前記部品繰り出し部から前記部品取入口内に向かって部品を送り込むための負圧が前記部品取入口に与えられるとともに、部品を前記搬送通路内で前記部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられ、
前記インデックステーブルは、前記搬送通路内で気流搬送されかつ前記部品排出口から排出された部品を１個ずつ受け入れる、複数個の収納凹部をその周囲に備え、
前記部品繰り出し部から繰り出される部品は、前記部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、前記部品取入口内に送り込まれるようにされ、
前記部品取入口内に送り込まれる前の部品の外観を空中浮遊状態で撮像するための外観検査部をさらに備える、
部品の取扱装置。
【請求項１３】
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、外観不良の部品を排出するための外観不良品排出部をさらに備える、請求項１２に記載の部品の取扱装置。
【請求項１４】
前記部品は電子部品であり、
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部をさらに備える、請求項１２または１３に記載の部品の取扱装置。
【請求項１５】
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、部品をテーピングするためのテーピング装置をさらに備える、請求項１２ないし１４のいずれかに記載の部品の取扱装置。
【請求項１６】
電子部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、
一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、電子部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置を備え、
前記部品搬送装置は、前記部品取入口の近傍において、前記搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、前記気体流入口を介して流入された気流によって、外部から前記部品取入口内に向かって電子部品を送り込むための負圧が前記部品取入口に与えられるとともに、電子部品を前記搬送通路内で前記部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられ、
前記部品搬送装置は、さらに、前記部品排出口の近傍において、前記搬送通路内の気体を排出するための気体排出口を備え、前記気体排出口を介して気体が排出されることによって、電子部品の搬送速度を減速するようにされ、さらに、
前記部品搬送装置の前記部品取入口に送り込まれる電子部品を供給するための部品供給装置と、
電子部品の外観を撮像するための外観検査部と
を備え、
前記部品供給装置は、前記部品取入口に対向するように位置される部品繰り出し部を有し、
前記部品繰り出し部から繰り出される電子部品は、前記部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、前記部品取入口内に送り込まれるようにされ、
前記外観検査部は、前記部品取入口内に送り込まれる前の電子部品の外観を空中浮遊状態で撮像するようにされ、さらに、
複数個の収納凹部が周囲に設けられ、回転に従って、前記部品排出口から排出された電子部品を各前記収納凹部に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する、インデックステーブルと、
前記インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部と
を備える、
部品の取扱装置。
【請求項１７】
請求項１ないし１６のいずれかに記載の取扱装置を用いて取り扱われる、部品の取扱方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、部品の取扱装置および取扱方法に関するもので、特に、たとえば、電子部品のような部品を、外観検査、特性測定、選別、マーキング、テーピング等のために、搬送しながら取り扱うための取扱装置および取扱方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
たとえば積層セラミックコンデンサのような電子部品は、製造された後、出荷するにあたり、外観検査、特性測定、外観および特性の良否に基づく選別、製品記号などのマーキング、テーピング等の工程に付される。
【０００３】
たとえば、外観検査を実施しようとする場合、複数個の電子部品が、１個ずつ順次、外観検査のためのステーションに送り込まれ、この外観検査の結果に基づいて、選別のためのステーションにおいて選別される。また、特性測定を実施しようとする場合には、複数個の電子部品が、１個ずつ順次、特性測定のためのステーションに送り込まれ、この特性測定の結果に基づいて、選別のためのステーションにおいて選別される。また、テーピングを実施しようとする場合には、複数個の電子部品が、１個ずつ順次、テーピングのためのステーションに送り込まれ、テープに設けられたキャビティ内に電子部品が１個ずつ挿入される。
【０００４】
このような外観検査、特性測定、選別、テーピング等のための各工程を実施するにあたっては、複数個の電子部品を搬送しながら取り扱うための取扱技術が必要となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上述したような電子部品の取扱技術において、次のような要望がある。
【０００６】
まず、上述のような外観検査、特性測定、選別、マーキングおよびテーピング等の各工程を能率的に進めるため、電子部品の搬送速度を高めたり、単位時間あたりの取扱い個数を増やしたりできることが望まれる。
【０００７】
また、上述のように搬送速度が高められると、電子部品に及ぼされる衝撃が大きくなって、電子部品に破損が生じたり、電子部品のリバウンドによる所定経路からの飛び出しが生じたりすることがある。したがって、このような搬送の高速化にも関わらず、電子部品に破損が生じたり、電子部品が飛び出したりすることがないようにされることが望まれる。
【０００８】
また、上述したような外観検査、特性測定、選別、マーキング、テーピング等のための工程を連続的に行なえ、好ましくは、自動化できることが望まれる。
【０００９】
また、たとえば特性測定工程にあっては、上述のように高速化を図りながらも、正確な特性測定に必要な時間を個々の電子部品に対して与え得ることが望まれる。
【００１０】
そこで、この発明の目的は、上述したような要望を満たし得る、部品の取扱装置および取扱方法を提供しようとすることである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この発明の第１の局面は、まず、部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置に向けられ、この部品の取扱装置は、一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置を備えている。
【００１２】
上述の部品搬送装置は、部品取入口の近傍において、搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、この気体流入口を介して流入された気流によって、外部から部品取入口内に向かって部品を送り込むための負圧が部品取入口に与えられるとともに、部品を搬送通路内で部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられる。
【００１３】
さらに、部品搬送装置は、部品排出口の近傍において、搬送通路内の気体を排出するための気体排出口を備え、この気体排出口を介して気体が排出されることによって、部品の搬送速度を減速するようにされる。
【００１４】
さらに、搬送通路は、部品取入口から部品排出口に向かって狭くなるようなテーパを有し、かつ、気体流入口が設けられている位置に比べて、気体排出口が設けられている位置の方がより狭くされている。
【００１５】
このような部品の取扱装置において、気体排出口は、気体の排出圧力を制御するための手段を備えていることが好ましい。なお、部品搬送装置の構造の簡略化のためには、気体排出口は、大気に対して開放されていてもよい。
【００１６】
このような部品の取扱装置は、特に電子部品を取り扱う際に有利に適用される。この場合、部品の取扱装置は、電子部品の特性を測定するために用いることができ、より具体的には、複数個の収納凹部が周囲に設けられ、回転に従って、部品排出口から排出された電子部品を各収納凹部に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する、インデックステーブルと、このインデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部とをさらに備える。
【００１７】
上述した電子部品の特性測定に適用される場合、インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上であって、特性測定部より下流側の位置に設けられる、特性不良の電子部品を排出するための特性不良品排出部をさらに備えていたり、この特性不良品排出部より下流側の位置に設けられる、特性良好の電子部品を排出するための特性良好品排出部をさらに備えていたりすることが望ましい。
【００１８】
上述した特性良好品排出部は、たとえば、電子部品をテーピングするためのテーピング装置またはバルク詰めするための装置を備えている。
【００１９】
また、インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に、電子部品に対してマーキングを施すためのマーキング部がさらに設けられていてもよい。
【００２０】
この発明の第２の局面による部品の取扱装置は、部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置と、部品搬送装置の部品取入口に送り込まれる部品を供給するための部品供給装置と、部品の外観を撮像するための外観検査部とを備えている。第２の局面における部品搬送装置については、搬送通路が、部品取入口から部品排出口に向かって狭くなるようなテーパを有し、かつ、気体流入口が設けられている位置に比べて、気体排出口が設けられている位置の方がより狭くされている、という第１の局面における部品搬送装置の特徴的構成を必須とはしない。
【００２１】
この場合、部品供給装置は、部品取入口に対向するように位置される部品繰り出し部を有し、部品繰り出し部から繰り出される部品は、部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口内に送り込まれるようにされる。また、外観検査部は、部品取入口内に送り込まれる前の部品の外観を空中浮遊状態で撮像するようにされる。
【００２２】
上述した部品供給装置は、振動フィーダを備え、部品繰り出し部は、無振動状態とされることが好ましい。
【００２３】
また、上述した部品繰り出し部は、部品を整列させるために部品の側面に接する断面Ｖ字状に配置された２つの側面によって規定される整列溝を有し、この整列溝の側面は、鉛直面に対して１０度〜８０度の角度をもって傾斜していることが好ましい。
【００２４】
この発明の第３の局面による部品の取扱装置は、部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置であって、部品供給装置と、部品搬送装置と、インデックステーブルとを備えている。
【００２５】
上述の部品供給装置は、複数の部品を供給するための振動フィーダと、この振動フィーダによって供給された部品を１個ずつ繰り出すための部品繰り出し部とを備えている。
【００２６】
また、部品搬送装置は、一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、部品を搬送するための中空の搬送通路を規定するもので、部品取入口は部品繰り出し部に対向するように位置され、部品取入口の近傍において、搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、この気体流入口を介して流入された気流によって、部品繰り出し部から部品取入口内に向かって部品を送り込むための負圧が部品取入口に与えられるとともに、部品を搬送通路内で部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられる。
【００２７】
また、インデックステーブルは、搬送通路内で気流搬送されかつ部品排出口から排出された部品を１個ずつ受け入れる、複数個の収納凹部をその周囲に備えている。
【００２８】
このような第３の局面に係る部品の取扱装置において、部品繰り出し部から繰り出される部品は、部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口内に送り込まれるようにされ、部品取り入れ口内に送り込まれる前の部品の外観を空中浮遊状態で撮像するための外観検査部をさらに備えている。
【００２９】
上述のように、この部品の取扱装置が外観検査部を備える場合、インデックステーブルの回転に従って搬送される部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、外観不良の部品を排出するための外観不良品排出部をさらに備えていてもよい。
【００３０】
また、部品が電子部品である場合、インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に、電子部品の特性を測定するための特性測定部がさらに設けられていてもよい。
【００３１】
また、この部品の取扱装置は、インデックステーブルの回転に従って搬送される部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、部品をテーピングするためのテーピング装置をさらに備えていてもよい。
【００３２】
この発明の第４の局面による部品の取扱装置は、より特定的に、電子部品を搬送しながら取り扱うための取扱装置に向けられる。
【００３３】
この取扱装値は、まず、一方端が部品取入口となり、かつ他方端が部品排出口となる、電子部品を搬送するための中空の搬送通路を規定する、部品搬送装置を備えている。
【００３４】
部品搬送装置は、第１の局面の場合と同様、部品取入口の近傍において、搬送通路内に気体を流入するための気体流入口を備え、この気体流入口を介して流入された気流によって、外部から部品取入口内に向かって電子部品を送り込むための負圧が部品取入口に与えられるとともに、電子部品を搬送通路内で部品排出口に向かって気流搬送するための駆動力が与えられる。
【００３５】
部品搬送装置は、さらに、部品排出口の近傍において、搬送通路内の気体を排出するための気体排出口を備え、この気体排出口を介して気体が排出されることによって、電子部品の搬送速度を減速するようにされる。
【００３６】
この取扱装置は、また、部品搬送装置の部品取入口に送り込まれる電子部品を供給するための部品供給装置と、電子部品の外観を撮像するための外観検査部とを備えている。
【００３７】
部品供給装置は、部品取入口に対向するように位置される部品繰り出し部を有し、この部品繰り出し部から繰り出される電子部品は、部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口内に送り込まれるようにされる。
【００３８】
また、外観検査部は、部品取入口内に送り込まれる前の電子部品の外観を空中浮遊状態で撮像するようにされる。
【００３９】
この取扱装置は、さらに、複数個の収納凹部が周囲に設けられ、回転に従って、部品排出口から排出された電子部品を各収納凹部に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する、インデックステーブルと、このインデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部とを備えている。
【００４０】
この発明は、また、上述したような部品の取扱装置を用いて部品を取り扱う、部品の取扱方法にも向けられる。
【００４１】
【発明の実施の形態】
図１には、この発明の一実施形態による電子部品の取扱装置１の全体の概略構成が示されている。
【００４２】
取扱装置１は、部品供給装置２と、外観検査部３と、部品搬送装置４と、インデックステーブル５とを備えている。
【００４３】
部品供給装置２は、パーツフィーダ部分６およびラインフィーダ部分７からなる振動フィーダ８を備える。また、パーツフィーダ部分６からラインフィーダ部分７を介して供給された電子部品９は、部品繰り出し部１０にまで送られる。部品繰り出し部１０は、無振動状態とされる。部品繰り出し部１０の詳細については後述する。
【００４４】
外観検査部３は、部品繰り出し部１０から部品搬送装置４にまで至る間において、電子部品９の外観を撮像するためのもので、たとえばＣＣＤカメラによって構成されるカメラ１１を備えている。この外観検査部３の詳細についても後述する。
【００４５】
部品搬送装置４は、簡単に言えば、電子部品９を気流に基づき搬送するものであるが、その詳細については後述する。
【００４６】
インデックステーブル５は、図１において概略的に示すように、その周囲に複数個の収納凹部１２を形成している。インデックステーブル５は、矢印１３方向へ間欠的に回転され、この回転に従って、部品搬送装置４から排出された電子部品９を収納凹部１２の各々に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する。
【００４７】
インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路に沿って、図１では図示されないが、たとえば、特性測定や選別等の各工程を実施するためのステーションが設けられ、最終的に、外観および特性が良好と判定された電子部品９は、テープ１４のキャビティ（図示せず。）内に収納された状態となるようにテーピングされる。
【００４８】
図２には、図１に示した取扱装置１の主要部がより詳細に示されている。また、図３以降は、この取扱装置１に備える各部分の詳細を説明するためのものである。以下に、図２とともに、図３以降の図面を参照しながら、取扱装置１の詳細について説明する。
【００４９】
部品供給装置２における部品繰り出し部１０から繰り出される電子部品９は、後述するように、部品搬送装置４から及ぼされる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品搬送装置４へと送り込まれる。この場合、部品繰り出し部１０上にある先頭の電子部品９のみが、上述の負圧に基づいて、これに後続する電子部品９から分離されて、部品搬送装置４へと送り込まれることができる。
【００５０】
なお、部品繰り出し部１０上での先頭の電子部品９とこれに後続する電子部品９との間での分離をより確実に達成できるようにするため、図３に示すような構造が採用されてもよい。
【００５１】
図３を参照して、先頭の電子部品９（Ａ）に後続する電子部品９のうちの先頭に位置する電子部品９（Ｂ）に対して作用するように、押さえピン１５が設けられている。押さえピン１５は、両方向矢印１６で示すように、上下動可能であり、その下動に応じて、電子部品９（Ｂ）を押さえることによって、これを位置決めする。押さえピン１５は、たとえばソレノイドによって駆動され、所定のタイミングをもって上下動するように構成されている。
【００５２】
なお、上述した押さえピン１５に代えて、図３において破線で示すような割込みピン１７を用い、これを先頭の電子部品９（Ａ）と後続する電子部品９（Ｂ）との間に割り込ませるようにしてもよい。
【００５３】
外観検査部３は、部品搬送装置４へと送り込まれる前の電子部品９の外観を空中浮遊状態で撮像するようにされている。そのため、この空中浮遊状態での電子部品９の姿勢および軌道が安定していることが望まれる。このような姿勢および軌道の安定化のためには、部品繰り出し部１０において、図４または図５に示すような構成を採用することが好ましい。
【００５４】
図４を参照して、部品繰り出し部１０には、整列溝１８が形成される。整列溝１８は、断面Ｖ字状に配置された２つの側面１９および２０によって規定されている。これら側面１９および２０に各々は、鉛直面２１に対して、所定の角度θをもって傾斜しているが、この角度θは、典型的には、４５度に選ばれる。
【００５５】
したがって、電子部品９は、その側面が整列溝１８の側面１９および２０に接することによって、常に一定の位置に整列され、その結果、部品繰り出し部１０から繰り出された電子部品９を一定の軌道に沿って一定の姿勢で飛行させることが容易になる。また、電子部品９の側面を傾斜させた状態での飛行は、飛行姿勢の安定化にも寄与する。
【００５６】
なお、図示しないが、上述した整列溝１８のような形態の溝は、ラインフィーダ部分７においても設けられることが好ましい。
【００５７】
図４に示した構成では、整列溝１８の側面１９および２０と鉛直面２１とがなす角度θは、４５度に選ばれたが、この角度θは、図５に典型例を示すように、１０度〜８０度の範囲で変更しても、ほぼ同様の効果を得ることができる。
【００５８】
なお、図４および図５では、電子部品９として、四角柱状をなすものを図示したが、電子部品９が円柱状をなす場合であっても、このような電子部品９を整列溝１８によって一定の位置に整列させることができる。
【００５９】
外観検査部３においては、電子部品９を４つの方向からそれぞれ撮像するため、図６に示すように、４個のカメラ１１が設けられることが好ましい。電子部品９が四角柱状をなしている場合には、カメラ１１は、電子部品９の各側面に対応して設けられる。また、電子部品９は、前述したように、その側面を傾斜させた状態で搬送されるので、４個のカメラ１１は、図６に示すように、斜め方向に対向するように配置される。
【００６０】
上述したようにカメラ１１を配置すれば、電子部品９の４側面全面をほぼ同時に撮像することができ、外観検査の処理速度を高めることができる。また、カメラ１１を斜め方向に対向させることで、カメラ１１が水平および鉛直方向に対向するように配置される場合に比べて、カメラ１１の配置のためのスペースをより小さくすることができる。また、下方に位置するカメラ１１のレンズの表面に埃等が堆積しにくくすることができる。したがって、清掃のための機構を特に設けることなく、比較的長期間にわたって、正しい画像を撮像することが可能になる。
【００６１】
上述した４個のカメラ１１は、電子部品９の軌道上の同じ位置に設ける必要はない。言い換えると、４個のカメラ１１が同時に撮像動作を実施するようにする必要はない。すなわち、４個のカメラ１１は、電子部品９の軌道上の複数の位置に分けて設けられてもよい。
【００６２】
たとえば、図６において、上側の２個のカメラ１１と下側の２個のカメラ１１とを異なる位置に設け、対角線方向に対向する２個のカメラ１１を同じ位置に位置させないようにすれば、カメラ１１に関連して設けられる光源２２（図２参照）によって、逆光状態がもたらさせることを防止することができる。
【００６３】
また、電子部品９の４つの側面のうち、２つの側面については、部品繰り出し部１０上において撮像し、残りの２つの側面については、部品繰り出し部１０から繰り出された後の空中浮遊状態で撮像するようにしてもよい。
【００６４】
部品繰り出し部１０上の電子部品９を撮像する場合、部品繰り出し部１０の上方から撮像する方法と部品繰り出し部１０の下方から部品繰り出し部１０を通して撮像する方法とがあり得る。
【００６５】
後者のように、部品繰り出し部１０を通して撮像する場合には、部品繰り出し部１０は、透明な材料で構成される必要があるが、部品繰り出し部１０の整列溝１８にたとえば傷が付けられた場合には、この傷も撮像されてしまうため、電子部品９の外観検査における誤判定につながることがある。このことを防止するためには、整列溝１８に傷が付きにくい透明な材料によって部品繰り出し部１０を構成する必要がある。このような目的のため、部品繰り出し部１０の材料としては、たとえば、アクリル樹脂またはサファイアガラス等を有利に用いることができる。
【００６６】
また、上述したような部品繰り出し部１０上にある電子部品９を撮像する際、部品繰り出し部１０には、振動フィーダ８からの振動が伝達されず、前述したように、部品繰り出し部１０が無振動状態とされているので、電子部品９を安定して撮像することができる。
【００６７】
なお、電子部品９の外観の検査のための撮像は、部品繰り出し部１０上においてのみ実施するようにしてもよい。
【００６８】
図７には、部品搬送装置４が断面図で示されている。
【００６９】
図７に示すように、部品搬送装置４は、一方端が部品取入口２３となり、かつ他方端が部品排出口２４となる、電子部品９を搬送するための中空の搬送通路２５を規定している。
【００７０】
部品搬送装置４は、部品取入口２３の近傍において、搬送通路２５内に、矢印２６で示すように、たとえば空気のような気体を流入するための気体流入口２７を備えている。気体流入口２７には、制御バルブ２８を介して、圧縮空気源２９が接続される。気体流入口２７を介して流入された気体は、搬送通路２５内において、矢印３０で示すような気流を生じさせ、この気流によって、外部から部品取入口２３内に向かって電子部品９を送り込むための負圧が、矢印３１で示すように、部品取入口２３に与えられる。前述した部品繰り出し部１０から繰り出される電子部品９は、このように部品取入口２３に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口２３内に送り込まれることになる。
【００７１】
また、上述のように、気体流入口２７を介して流入された気体によって生じた矢印３０方向の気流は、電子部品９を搬送通路２５内で部品排出口２４に向かって気流搬送するための駆動力を与える。
【００７２】
図８には、電子部品９が気流搬送されている状態が、部品搬送装置４の横断面図をもって示されている。図８に示すように、気流搬送されている電子部品９は、理想的には、搬送通路２５を規定する壁面に接触せず、空中に浮いた状態で搬送される。
【００７３】
再び図７を参照して、部品搬送装置４は、部品排出口２４の近傍において、搬送通路２５内の気体を矢印３２で示すように排出するための気体排出口３３をさらに備えている。気体排出口３３には、制御バルブ３４を介して、真空源３５が接続され、それによって、気体排出口３３を介しての気体の排出を強制的に行なうようにしている。搬送通路２５と気体排出口３３とは、気体の流通を許容する通気壁３６によって区画され、電子部品９が、不所望にも、気体排出口３３側へ反れることを防止している。
【００７４】
上述した気体排出口３３を介しての気体の排出は、搬送通路２５内における電子部品９の搬送速度を減速するように作用する。部品搬送装置４の部品排出口２４から排出された電子部品９は、インデックステーブル５の各収納凹部１２に１個ずつ受け入れられるが、上述のような電子部品９の減速は、電子部品９が収納凹部１２の壁面に強い衝撃を伴って衝突することを防止し、それによる電子部品９の破損を生じにくくするためのものである。
【００７５】
なお、真空源３５からの真空は、制御バルブ３７を介して、インデックステーブル５の各収納凹部１２にも与えられる。この真空は、各収納凹部１２内で電子部品９を吸着に基づいて位置決めするように作用する。
【００７６】
また、図７によく示されているように、搬送通路２５は、部品取入口２３から部品排出口２４に向かって狭くなるようなテーパを有していることが好ましい。このようなテーパの形成によって、部品取入口２３にあっては、負圧による電子部品９の吸引を安定して行なうことができるとともに、部品排出口２４においては、インデックステーブル５の収納凹部１２内へ電子部品９を安定した姿勢で正確な位置に送り込むことがより容易になる。また、図７からわかるように、搬送通路２５は、気体流入口２７が設けられている位置に比べて、気体排出口３３が設けられている位置の方がより狭くされている。
【００７７】
なお、図８に示すように、側面を傾斜させた状態で搬送通路２５内を通過した電子部品９は、収納凹部１２内では、側面を水平または垂直方向に向けた姿勢となる。
【００７８】
図９および図１０には、上述した部品搬送装置４のより具体的な構造が示されている。図９は、部品搬送装置４の縦断面図であり、図１０は、図９の線Ｘ−Ｘに沿う横断面図である。図９および図１０において、図７に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
【００７９】
図９および図１０には、部品搬送装置４の特に気体排出口３３側の好ましい構成が開示されている。
【００８０】
すなわち、搬送通路２５の部品排出口２４の近傍には、図７に示した通気壁３６を与えるための多数個の小径の貫通孔３８が、比較的長い距離にわたって設けられ、これら貫通孔３８を介して搬送通路２５内の空間に連通するように、搬送通路２５の周囲には、排気室３９が設けられる。したがって、搬送通路２５内の気体は、貫通孔３８、排気室３９および気体排出口３３を介して排出される。
【００８１】
上述したように、排気室３９を設け、この排気室３９と搬送通路２５との間に多数個の貫通孔３８を設けて搬送通路２５内の気体を排出するようにすれば、貫通孔３８の各々を介しての排気状態が安定し、矢印３０で示す気流によって搬送されている電子部品９（図８参照）に対する制動を、比較的広い範囲にわたって安定な状態で加えることが可能になる。
【００８２】
再び図２を参照して、インデックステーブル５に関連する構成について説明する。
【００８３】
インデックステーブル５の周囲に設けられた複数個の収納凹部１２の各々には、真空源３５からの真空が与えられ、この真空による吸引に基づいて、各収納凹部１２内で電子部品９が位置決めされる。収納凹部１２の各々には、導管４０を通して真空が与えられる。導管４０には、バルブ４１が設けられる。バルブ４１は、制御装置４２によって制御され、それによって、真空の供給状態と非供給状態とに切り替えられる。
【００８４】
なお、バルブ４１が真空の非供給状態に切り替えられた時、圧縮空気源２９からの圧縮空気が代わりに供給され、電子部品９を収納凹部１２から強制的に排出するように制御装置４２によって制御されることもある。
【００８５】
インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路上の第１の位置には、外観不良品排出部４３が設けられる。外観不良品排出部４３は、外観検査部３において外観不良と判定された電子部品９を排出するためのものである。このように、外観検査部３において外観不良と判定された場合には、制御装置４２からの外観不良信号４４によってバルブ４１が作動され、真空源３５からの真空が非供給状態とされるとともに、圧縮空気源２９からの圧縮空気が導管４０に与えられ、電子部品９が外観不良品排出部４３へと強制的に排出される。
【００８６】
インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路上であって、外観不良品排出部４３に後続する第２の位置には、特性測定部４５が設けられる。特性測定部４５は、電子部品９のたとえば静電容量、抵抗値、インダクタンス値等の特性を測定するためのものである。そのため、特性測定部４５には、図示しないが、電子部品９の端子に接触する測定用端子が設けられている。図２においては、特性測定部４５が２箇所に設けられているが、必要とする測定項目の数に応じて、このような特性測定部４５の数は変更される。
【００８７】
インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路上であって、上述した特性測定部４５に後続する第３の位置には、特性不良品排出部４６が設けられる。特性不良品排出部４６は、特性測定部４５において特性不良と判定された電子部品９を排出するためのものである。なお、図２において、特性不良品排出部４６は２箇所に設けられているが、これは、２箇所に設けられた特性測定部４５にそれぞれ対応させ、測定項目毎に分けて特性不良品を排出するためのものである。
【００８８】
前述した特性測定部４５において得られた測定データ４７は、制御装置４２に与えられ、この制御装置４２において、測定データ４７が不良と判定されたときには、制御装置４２から特性不良信号４８が出力され、この特性不良信号４８によって、特性不良品排出部４６に関連するバルブ４１が作動される。そして、このバルブ４１に作動によって、真空が非供給状態とされるとともに、圧縮空気源２９からの圧縮空気が導管４０を通して収納凹部１２内に導入され、特性不良品としての電子部品９が特性不良品排出部４６へ強制的に排出される。
【００８９】
インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路上であって、上述した特性不良品排出部４６に後続する第４の位置には、特性良好品排出部４９が設けられる。特性良好品排出部４９は、特性測定部４５において特性が良好であると判定された電子部品９を排出するためのものである。この実施形態では、特性良好品排出部４９は、電子部品９をテーピングするためのテーピング装置によって与えられる。そのため、図２においては、電子部品９を収納するための複数個のキャビティ５０が長さ方向に分布するように設けられたテープ１４が図示されている。
【００９０】
特性測定部４５からの測定データ４７が、前述したように、制御装置４２に与えられ、特性測定部４５における電子部品９の特性が良好であると判定されたときには、制御装置４２から特性良好信号５１が出力される。特性良好信号５１は、特性良好品排出部４９に関連するバルブ４１を作動させ、収納凹部１２への真空を非供給状態とする。そして、図示しないピックアップ装置によって、電子部品９が保持され、テープ１４の対応のキャビティ５０内に電子部品９が挿入される。
【００９１】
なお、特性良好品排出部４９は、テーピング装置によって与えられるのではなく、特性が良好と判定された電子部品９を、単にばらの状態で排出するような構成、すなわちバルク詰めを行なうための装置とされてもよい。
【００９２】
図２には図示されないが、インデックステーブル５の回転に従って搬送される電子部品９の搬送経路上の所定の位置に、たとえば、特性不良品排出部４６と特性良好品排出部４９との間の位置に、電子部品９に対してマーキングを施すためのマーキング部がさらに設けられてもよい。
【００９３】
次に、図２を主として参照しながら、この取扱装置１の全体的な動作について説明する。部品供給装置２における部品繰り出し部１０から繰り出された電子部品９は、部品搬送装置４の部品取入口２３に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口２３内に送り込まれる。
【００９４】
上述した電子部品９は、センサ５２によって、その通過が検出され、センサ５２からの部品通過信号５３は、制御装置４２に与えられる。この部品通過信号５３の入力によって、制御装置４２は、所定のタイミングで、光源２２をオンさせる。また、制御装置４２は、画像処理装置５４を制御し、カメラ１１によって撮像された画像に基づく画像信号５５が画像処理装置５４において処理され、この処理信号が制御装置４２に与えられる。制御装置４２においては、画像処理装置５４からの信号に基づき、電子部品９の外観の良否を判定し、外観が不良と判定されたときには、前述したように、外観不良信号４４を出力する。
【００９５】
次に、前述したように、部品搬送装置４の部品取入口２３内に送り込まれた電子部品９は、搬送通路２５内で気流搬送され、部品排出口２４の近傍において、その搬送速度が減速された後、インデックステーブル５の各収納凹部１２内に受け入れられる。
【００９６】
そして、インデックステーブル５の回転に従って、電子部品９が搬送される。この搬送経路に沿って上流側から下流側へ至る間、外観不良排出部４３において、外観不良と判定された電子部品９が排出され、次いで、特性測定部４５において、電子部品９の特性が測定され、次いで、特性不良品排出部４６において、特性不良と判定された電子部品９が排出され、次いで、特性良好品排出部４９において、特性良好と判定された電子部品９がテーピングされる。
【００９７】
このようにして、この取扱装置１によれば、外観検査、外観不良品排出、特性測定、特性不良品排出および特性良好品排出といった一連の工程を連続的に行なうことができる。
【００９８】
図１１は、前述した図７に相当する図であって、部品搬送装置４の代替例が示されている。図１１において、図７に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
【００９９】
図７に示した部品搬送装置４においては、気体排出口３３は、気体の排出圧力を制御するための手段を備えていたが、図１１に示した部品搬送装置４ａにおいては、気体排出口３３が大気に対して開放されていることを特徴としている。
【０１００】
図１１に示した部品搬送装置４ａによれば、装置の構成の簡略化を図ることができるという利点が奏される。なお、この部品搬送装置４ａにおいては、搬送通路２５内で気流搬送される電子部費９の搬送速度の減速の度合いを制御するため、通気壁３６における気体の流通量を調節したり、気体流入口２７から流入される気体の圧力を調整したりすることが行なわれる。
【０１０１】
以上、この発明を図示した実施形態に関連して説明したが、この発明の範囲内において、その他、種々の変形例が可能である。
【０１０２】
たとえば、図示の実施形態では、取り扱うべき部品として電子部品９を開示したが、電子部品以外の部品の取扱いにおいても、この発明を適用することができる。
【０１０３】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、部品を高速で搬送しながら能率的に取り扱うことが可能になる。
【０１０４】
この発明に係る部品の取扱装置において、部品搬送装置が気流搬送される部品の搬送速度を部品排出口の近傍において減速するようにされていると、部品排出口から排出された部品が強い衝撃をもってこれを受ける壁面に衝突することが防止されるので、部品の破損やリバウンドによる飛び出しを防止することができる。また、部品排出口の近傍に至るまでの間は、部品を高速で搬送することが可能となるので、単位時間あたりの部品の取扱個数をより多くすることが容易である。
【０１０５】
また、上述した搬送通路において、部品取入口から部品排出口に向かって狭くなるようなテーパが付されていると、部品取入口への部品の送り込みがより確実に行なわれるようになるとともに、部品排出口からの部品の排出をより正確な位置で行なうことが可能になる。
【０１０６】
また、部品の搬送速度を減速するために気体を排出する気体排出口に、気体の排出圧力を制御するための手段が設けられていると、部品の搬送速度の減速の度合いの調整を容易に行なうことができる。
【０１０７】
また、気体排出口が大気に対して開放されていると、部品搬送装置の構成を簡略化することができる。
【０１０８】
この発明が電子部品の取扱いに適用されるとき、複数個の収納凹部が周囲に設けられ、回転に従って、上述した部品排出口から排出された電子部品を各収納凹部に１個ずつ受け入れかつ周方向に搬送する、インデックステーブルと、インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上の所定の位置に設けられる、電子部品の特性を測定するための特性測定部とをさらに備えていると、部品の一連の搬送の過程で、電子部品の特性を測定することが可能となるとともに、正確な特性測定に必要な時間を電子部品に対して与えることが容易になる。
【０１０９】
また、インデックステーブルの回転に従って搬送される電子部品の搬送経路上であって、上述した特性測定部より下流側の位置に、特性不良の電子部品を排出するための特性不良品排出部が設けられたり、この特性不良品排出部より下流側の位置に、特性良好の電子部品を排出するための特性良好品排出部が設けられたるすると、上述した特性測定工程の後、連続して、特性測定に基づく電子部品の選別を能率的に行なうことができ、このような選別の自動化を容易に図ることができる。たとえば、特性良好品排出部において、電子部品をテーピングするためのテーピング装置が設けられていると、電子部品の最終製品の１つの形態であるテーピング形態を能率的に得ることができる。
【０１１０】
また、この発明において、部品供給装置の部品繰り出し部から繰り出される部品を、前述した部品搬送装置の部品取入口に与えられる負圧に基づいて、空中浮遊状態を維持しながら、部品取入口内に送り込まれるようにし、この部品取入口内に送り込まれる前の部品の外観を空中浮遊状態で撮像するようにすれば、部品の外観を多方向、たとえば４方向から一挙に撮像することが可能となり、部品の外観検査を能率的に行なうことができる。
【０１１１】
上述した部品供給装置が振動フィーダを備えるとき、部品繰り出し部にあっては無振動状態とすることにより、部品の空中浮遊状態での軌道を安定化させることができるので、より正確な外観の撮像が可能になる。
【０１１２】
また、部品繰り出し部が、部品を整列させるために部品の側面に接する断面Ｖ字状に配置された２つの側面によって規定される整列溝を有し、この整列溝の側面が鉛直面に対して１０度〜８０度の範囲の角度をもって傾斜している構成を採用すれば、整列溝内において部品を常に一定の位置に位置させることができるとともに、四角柱状の部品にあっては、その側面を傾斜させた状態とすることができるので、部品搬送装置の部品取入口に至る部品の飛行状態をより安定化させることができるとともに、この飛行軌道を一定にすることが容易になる。
【０１１３】
このようなことから、この発明に係る部品の取扱装置が、部品搬送装置、部品供給装置、外観検査部、インデックステーブルおよび特性測定部を備えていると、たとえば電子部品の外観検査および特性測定を、電子部品の一連の搬送経路の途中で、外観検査および特性測定を行なうことができ、外観検査および特性測定を能率的にかつ連続的に高速搬送の下で行なうことが可能となり、また、これら工程の自動化を実現することが容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施形態による部品の取扱装置１の全体の概略構成を示す平面図である。
【図２】図１に示した取扱装置１の主要部のより詳細な構成を示す平面図であり、併せて、制御系の構成をブロック図で示している。
【図３】図２に示した部品繰り出し部１０において必要に応じて採用され得る電子部品９の分離機構の一例を図解的に示す正面図である。
【図４】図２に示した部品繰り出し部１０の端面図である。
【図５】図４に相当する図であって、整列溝１８の側面１９および２０の傾斜角度θに関する変形例を説明するためのものである。
【図６】図２に示した外観検査部３におけるカメラ１１の配置状態を示す図である。
【図７】図２に示した部品搬送装置４の詳細を、部品繰り出し部１０およびインデックステーブル５とともに示す断面図である。
【図８】図７に示した部品搬送装置４を、電子部品９とともに示す横断面図である。
【図９】図７に示した部品搬送装置４のより具体的構成を示す縦断面図である。
【図１０】図９の線Ｘ−Ｘに沿う横断面図である。
【図１１】図７に相当する図であって、この発明の他の実施形態に係る部品搬送装置４ａを示す。
【符号の説明】
１  部品の取扱装置
２  部品供給装置
３  外観検査部
４，４ａ  部品搬送装置
５  インデックステーブル
８  振動フィーダ
９  電子部品
１０  部品繰り出し部
１１  カメラ
１２  収納凹部
１４  テープ
１８  整列溝
１９，２０  側面
２１  鉛直面
２３  部品取入口
２４  部品排出口
２５  搬送通路
２７  気体流入口
２９  圧縮空気源
３３  気体排出口
３５  真空源
３６  通気壁
４３  外観不良品排出部
４５  特性測定部
４６  特性不良品排出部
４９  特性良好品排出部
θ  整列溝の側面と鉛直面との間の角度
【図１】
0003671789.tif 000002
【図２】
0003671789.tif 000003
【図３】
0003671789.tif 000004
【図４】
0003671789.tif 000005
【図５】
0003671789.tif 000006
【図６】
0003671789.tif 000007
【図７】
0003671789.tif 000008
【図８】
0003671789.tif 000009
【図９】
0003671789.tif 000010
【図１０】
0003671789.tif 000011
【図１１】
0003671789.tif 000012