(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
媒体面に照射された光の反射光レベルに応じて得られたトラッキングエラー信号レベルに応じて、照射光の媒体面上の位置補正を行うためのドライブ出力を得るトラッキングサーボ制御回路であって、
所定の反射光が得られず所定のレベル以下となった領域を欠陥として検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出回路と、
リセット信号が入力されるまで、上記欠陥検出信号をラッチしてアクティブなラッチ信号を出力するラッチ回路と、
ゲイン調整用データに基づく減衰率をもって上記トラッキングエラー信号レベルを減衰させて上記ドライブ出力を得るゲイン調整回路と、
上記ゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力し、所定監視周期毎に上記ラッチ回路の出力状態を監視し、ラッチ信号がアクティブの場合には、リセット信号を上記ラッチ回路に出力するとともに、当該監視周期で複数回の出力監視を行い、当該複数回の監視動作で所定回数、上記ラッチ信号がアクティブの場合、トラッキングサーボゲインを減衰させるためのゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力するシステムコントローラと
を有するトラッキングサーボ制御回路。
【請求項２】
上記反射光レベルに応じたＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成回路を有し、
上記欠陥検出回路は、上記ＲＦ信号に基づいて欠陥検出信号の生成を行う
請求項１記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項３】
上記システムコントローラは、ラッチ出力がアクティブになった回数に応じて上記ゲイン調整用データを設定する
請求項１記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項４】
上記システムコントローラは、ラッチ出力がアクティブになった回数の増加に応じて減衰率を大きくするような上記ゲイン調整用データを設定する
請求項３記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項５】
上記システムコントローラから出力されたゲイン調整用データおよびリセット信号を保持するレジスタを有し、
上記レジスタに保持されたゲイン調整用データがゲイン調整回路に供給され、リセット信号がラッチ回路に供給される
請求項１記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項６】
媒体面に照射された光の反射光レベルに応じて得られたトラッキングエラー信号レベルに応じて、照射光の媒体面上の位置補正を行うためのドライブ出力を得るトラッキングサーボ制御回路であって、
所定の反射光が得られず所定のレベル以下となった領域を欠陥として検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出回路と、
リセット信号が入力されるまで、上記欠陥検出信号をラッチしてアクティブなラッチ信号を出力するラッチ回路と、
ゲイン調整用データに基づく減衰率をもって上記トラッキングエラー信号レベルを減衰させて上記ドライブ出力を得るゲイン調整回路と、
上記ラッチ回路の出力がアクティブになった回数をカウントとするカウンタと、
上記ゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力し、所定監視周期毎に上記カウンタのカウント値を監視し、カウント値が所定値の場合、リセット信号を上記ラッチ回路に出力するとともに、当該監視周期で複数回のカウント値の監視を行い、当該複数回の監視動作でカウント値が所定値に達した場合に、トラッキングサーボゲインを減衰させるためのゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力するシステムコントローラと
を有するトラッキングサーボ制御回路。
【請求項７】
上記カウンタは、そのカウント値がプログラム可能である
請求項６記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項８】
上記反射光レベルに応じたＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成回路を有し、
上記欠陥検出回路は、上記ＲＦ信号に基づいて欠陥検出信号の生成を行う
請求項６記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項９】
上記システムコントローラは、上記カウンタのカウント値に応じて上記ゲイン調整用データを設定する
請求項６記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項１０】
上記システムコントローラは、上記カウンタのカウント値が設定値に達した場合に、当該カウンタをリセットするリセット信号を出力する
請求項６記載のトラッキングサーボ制御回路。
【請求項１１】
上記システムコントローラから出力されたゲイン調整用データおよびリセット信号を保持するレジスタを有し、
上記レジスタに保持されたゲイン調整用データがゲイン調整回路に供給され、リセット信号がラッチ回路およびカウンタに供給される
請求項１０記載のトラッキングサーボ制御回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ(Compact Disk)プレーヤー等の光学式ディスク装置等に採用されるトラッキング制御回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光学式ディスクプレーヤーにおいて、ディスク上に刻まれたピット情報を正確に読み取るためには、情報読み取り用光ビームスポットが、ピット列であるトラック上を正確にトレースするように、ディスクのトラックに対する光ビームスポットのディスク半径方向における相対位置の制御を行うためのトラッキングサーボ制御が不可欠である。
【０００３】
このトラッキングサーボ制御では、ディスク面からの反射光ビームに基づいて光ビームスポットのトラックに対するディスク半径方向におけるずれをトラッキングエラー信号として検出し、そのトラッキングエラー信号の大きさに応じたドライブ電圧でトラッキングアクチュエータを駆動することによって、光ビームスポットの位置を連続的に補正し、この光ビームスポットが常にトラックの中央をトレースするような制御が行われる。
【０００４】
ところで、ディスクプレーヤーが再生動作等にある場合に、何らかの突発的な原因、たとえばディスク面に傷等の欠陥があったことによってディスク面からの反射光が得られなくなると、トラッキングエラー信号のレベルが正常時に比べてたとえば高い方向に変動することから、このトラッキングエラー信号レベルに応じたトラッキングサーボゲインにより、いわゆるオフトラック状態となる。
このため、ディスクプレーヤーのトラッキングサーボ回路においては、欠陥の検出回路を設け、欠陥が検出された場合には、サーボゲインを下げ欠陥への追従性を低下させて、オフトラック状態への遷移を防止するトラッキングサーボ制御回路を採用している。
【０００５】
図４は、この欠陥への追従性システムを採用した従来のＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の構成を示すブロック図である。
このトラッキングサーボ制御回路１０は、図４に示すように、トラックアクチュエータ等の駆動系を含む光ピックアップ１１、ＲＦアンプ１２、トラッキングエラーアンプ１３、欠陥検出回路１４、システムコントローラ１５、レジスタ１６、ゲイン調整回路１７、およびトラッキングサーボ回路１８により構成されている。
【０００６】
このような構成において、光ピックアップ１１で、光ディスクＤＫに照射されディスク面から反射された反射光ビームレベルに基づいた電気信号Ｓ１１が生成され、ＲＦアンプ１２およびトラッキングエラーアンプ１３に入力される。
ＲＦアンプ１２では、入力信号Ｓ１１に基づいて、図５に示すようなＲＦ信号Ｓ１２が生成されて欠陥検出回路１４に出力される。
また、トラッキングエラーアンプ１３では、入力信号Ｓ１１に基づいてトラッキングエラー信号Ｓ１３が生成され、ゲイン調整回路１７に出力される。このトラッキングエラー信号Ｓ１３は、理想的には、ビームスポットがトラックの中央に位置したときに「０」となり、トラックの中央からずれたときには、そのずれ方向に対応した極性でかつそのずれ量に応じた大きさとなる、いわゆるＳ字特性を示す。
【０００７】
ここで、ディスクＤＫに欠陥ＤＦがあった場合には、ディスクＤＫからの反射光が得られなくり、ＲＦ信号Ｓ１２も図５（ｂ）に示すように欠陥に応じた箇所で所定の波形が得られず、この領域が欠陥検出回路１４で欠陥として検出され、検出信号Ｓ１４としてシステムコントローラ１５に出力される。
【０００８】
システムコントローラ１５では、欠陥検出信号Ｓ１４が入力されると、内部レジスタ１６へたとえば４ビットからなるトラッキングゲイン調整用データが転送される。そして、この内部レジスタ１６へのデータはゲイン調整回路１７に供給される。
ゲイン調整回路１７では、供給された調整用データに基づく減衰率をもってトラッキングエラー信号Ｓ１３のレベルを減衰させて、サーボゲイン調整が行われ、トラッキングドライブ信号Ｓ１７としてトラッキングサーボ回路１８に入力される。そして、この調整されたトラッキングドライブ信号Ｓ１７に基づいてトラッキングサーボ回路１８によりトラッキングサーボ調整が行われる。
このようにして、ディスク面上の欠陥の有無に応じて、サーボゲインを下げ欠陥への追従性を低下させ、オフトラックしにくくしている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、トラッキングサーボ制御回路１０におけるシステムコントローラ１５は、アクティブな欠陥検出信号Ｓ１４を入力し、ディスクＤＫ面上に欠陥があるものと判断した場合にのみ、内部レジスタ１６へトラッキングゲイン調整用データを転送している。
ところが、欠陥検出信号Ｓ１４は、図５に示すように、ディスクＤＫ面上の欠陥に対応する期間のみアクティブとなるにもかかわらず、システムコントローラ１５は、ディスクＤＫ面上の欠陥の有無を検出するために、常時欠陥検出信号Ｓ１４を監視していなければならない。
システムコントローラ１５は、実際には光ディスクシステム全体をコントロールしており、その他のサーボ系あるいはディスプレイ等のコントロールも行っているため、常時、欠陥検出信号Ｓ１４を監視することは大きな負荷となっている。
【００１０】
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、システム全体の制御を行うシステムコントローラの負荷を軽減できるトラッキングサーボ制御回路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、媒体面に照射された光の反射光レベルに応じて得られたトラッキングエラー信号レベルに応じて、照射光の媒体面上の位置補正を行うためのドライブ出力を得るトラッキングサーボ制御回路であって、所定の反射光が得られず所定のレベル以下となった領域を欠陥として検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出回路と、リセット信号が入力されるまで、上記欠陥検出信号をラッチしてアクティブなラッチ信号を出力するラッチ回路と、ゲイン調整用データに基づく減衰率をもって上記トラッキングエラー信号レベルを減衰させて上記ドライブ出力を得るゲイン調整回路と、上記ゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力し、所定監視周期毎に上記ラッチ回路の出力状態を監視し、ラッチ信号がアクティブの場合には、リセット信号を上記ラッチ回路に出力するとともに、当該監視周期で複数回の出力監視を行い、当該複数回の監視動作で所定回数、上記ラッチ信号がアクティブの場合、トラッキングサーボゲインを減衰させるためのゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力するシステムコントローラとを有する。
【００１２】
また、本発明は、媒体面に照射された光の反射光レベルに応じて得られたトラッキングエラー信号レベルに応じて、照射光の媒体面上の位置補正を行うためのドライブ出力を得るトラッキングサーボ制御回路であって、所定の反射光が得られず所定のレベル以下となった領域を欠陥として検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出回路と、リセット信号が入力されるまで、上記欠陥検出信号をラッチしてアクティブなラッチ信号を出力するラッチ回路と、ゲイン調整用データに基づく減衰率をもって上記トラッキングエラー信号レベルを減衰させて上記ドライブ出力を得るゲイン調整回路と、上記ラッチ回路の出力がアクティブになった回数をカウントとするカウンタと、上記ゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力し、所定監視周期毎に上記カウンタのカウント値を監視し、カウント値が所定値の場合、リセット信号を上記ラッチ回路に出力するとともに、当該監視周期で複数回のカウント値の監視を行い、当該複数回の監視動作でカウント値が所定値に達した場合に、トラッキングサーボゲインを減衰させるためのゲイン調整用データを上記ゲイン調整回路に出力するシステムコントローラとを有する。
【００１３】
本発明によれば、システムコントローラによりゲイン調整用データがゲイン調整回路に供給され、ゲイン調整回路において供給されたゲイン調整用データに基づく減衰率をもってトラッキングエラー信号レベルが減衰される。また、欠陥検出信号出力がラッチ回路で前値ホールドされ、システムコントローラにおいてシステム全体をコントロールする中で、余裕のある時、ラッチ後の信号出力を監視するように、所定周期毎にそのラッチ出力が監視され、ラッチ回路はその都度リセットされる。
そして、ラッチ出力がアクティブになった回数が所定回数に達したならば、ラッチ回路がリセットされるとともに、欠陥が頻繁に現出するものとしてトラッキングサーボゲインを減衰させるためのゲイン調整用データがゲイン調整回路に出力され、サーボゲインが減衰調整されて、欠陥への追従性を低下させ、オフトラックの発生が防止される。
【００１４】
また、本発明によれば、ラッチ回路の出力側にアクティブのラッチ出力回数をカウントするカウンタのカウンタ値が所定周期毎に監視され、カウント値が所定値に達したならば、ラッチ回路がリセットされるとともに、ゲイン調整用データがゲイン調整回路に出力され、サーボゲインが減衰調整されて、欠陥への追従性を低下させ、オフトラックの発生が防止される。
このように、システムをコントロールするシステムコントローラの負荷が低減される。
【００１５】
【発明の実施の形態】
第１実施形態
図１は、本発明に係るＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の第１の実施形態を示すブロック図であり、図２は図１の要部波形を示す図である。
【００１６】
このトラッキングサーボ制御回路２０は、図１に示すように、トラッキングアクチュエータ等の駆動系を含む光ピックアップ２１、ＲＦアンプ２２、トラッキングエラーアンプ２３、欠陥検出回路２４、ラッチ回路２５、システムコントローラ２６、レジスタ２７、ゲイン調整回路２８、およびトラッキングサーボ回路２９により構成されている。また、ＤＫは光ディスクを示している。
【００１７】
光ピックアップ２１は、光ディスクＤＫに照射する光ビームをディスク面上に集束させるべく対物レンズをその光軸方向において駆動するフォーカスアクチュエータ、ディスク面上に集束された光ビームスポットをディスク２１の半径方向において移動させるトラッキングアクチュエータ、光ディスクＤＫに照射した光ビームに基づくディスク面からの反射光ビームを受光し、電気信号Ｓ２１に変換してＲＦアンプ２２、トラッキングエラーアンプ２３に出力する光検出回路等を内蔵し、光ディスクＤＫの半径方向に移動可能に設けられている。
【００１８】
ＲＦアンプ２２は、光ピックアップ２１の図示しない光検出回路の出力信号Ｓ２１を受けて、ＲＦ信号Ｓ２２を生成し欠陥検出回路２４に出力する。
【００１９】
トラッキングエラーアンプ２３は、光ピックアップ２１の図示しない光検出回路の出力信号Ｓ２１を受けて、ビームスポットがトラックの中央に位置したときに「０」となり、トラックの中央からずれたときには、そのずれ方向に対応した極性でかつそのずれ量に応じた大きさとなる、いわゆるＳ字特性を示すトラッキングエラー信号Ｓ２３を生成し、ゲイン調整回路２８に出力する。
【００２０】
欠陥検出回路２４は、ＲＦ信号Ｓ２２を受けて、図２（ａ）に示すように、ディスクＤＫに欠陥ＤＦがあった場合には、ディスクＤＫからの反射光が得られなくり、ＲＦ信号Ｓ２２も図２（ｂ）に示すように欠陥に応じた箇所で所定の波形が得られていない場合に、この領域を欠陥として検出し、図２（ｃ）に示すようハイレベルでアクティブの欠陥検出信号Ｓ２４を生成し、ラッチ回路２５に出力する。
【００２１】
ラッチ回路２５は、レジスタ２７を介して所定周期Ｔで入力されるリセット信号ＲＳＴによりリセット状態となって、その出力をローレベルに設定し、このリセット状態で、ハイレベルの欠陥検出信号Ｓ２４を入力すると、次にリセットＲＳＴが入力されるまで、その出力をハイレベルに設定する。すなわち、ラッチ回路２５は、前値ホールド回路として機能する。
【００２２】
システムコントローラ２６は、マイクロプロセッサにより構成され、トラッキングサーボやフォーカスサーボ等のサーボ系回路の制御等、システム全体の制御を行い、この制御中、所定監視周期Ｔ毎にラッチ回路２５の出力状態を監視し、ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合には、リセット信号ＲＳＴをレジスタ２７に出力し、この監視周期Ｔでたとえばｍ回、出力監視を行い、このｍ回の監視動作でｎ（ｎ＜ｍ）回（たとえば５回）ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合、ディスク面上に傷等の欠陥が頻繁に現出するものとして、トラッキングサーボゲインを減衰させるゲイン調整用データＳ２６をリセット信号ＲＳＴとともにレジスタ２７に出力する。
このゲイン調整用データＳ２６は、たとえば１６段階の減衰調整が可能なように、４ビットのデータとして与えられる。たとえば、上記監視動作において、ハイレベルのラッチ出力信号Ｓ２５の検出回数の増加に応じて減衰率を大きくするようなデータに設定される。
なお、このゲイン調整用データの設定は、システムコントローラ２６の負荷は多少増大するが、ハイレベルのラッチ出力信号Ｓ２５の検出毎に行うように構成することも可能である。
【００２３】
レジスタ２７は、システムコントローラ２６からのリセット信号をラッチ回路２５に供給し、またゲイン調整用データＳ２６をゲイン調整回路２８に信号Ｓ２７として供給する。
【００２４】
ゲイン調整回路２８は、供給された調整用データに基づく減衰率をもってトラッキングエラー信号Ｓ２３のレベルを減衰させて、サーボゲイン調整を行い、トラッキングドライブ信号Ｓ２８としてトラッキングサーボ回路２９に出力する。
【００２５】
トラッキングサーボ回路２９は、トラッキングドライブ信号Ｓ２８のレベルに応じてトラッキングアクチュエータを駆動することによりトラッキングサーボ調整を行う。
【００２６】
次に、上記構成による動作を説明する。
なお、ここでは、ラッチ回路２５は初期状態、すなわちリセット状態にあるものとする。
【００２７】
光ピックアップ２１で、光ディスクＤＫに照射されディスク面から反射された反射光ビームレベルに基づいた電気信号Ｓ２１が生成され、Ｒアンプ２２およびトラッキングエラーアンプ２３に入力される。
ＲＦアンプ２２では、入力信号Ｓ２１に基づいて、図２（ｂ）に示すようなＲＦ信号Ｓ２２が生成されて欠陥検出回路１４に出力される。
また、トラッキングエラーアンプ２３では、入力信号Ｓ２１に基づいてトラッキングエラー信号Ｓ２３が生成され、ゲイン調整回路２８に出力される。
【００２８】
ここで、ディスクＤＫに欠陥があった場合には、ディスクＤＫからの反射光が得られなくり、ＲＦ信号Ｓ２２も図２（ｂ）に示すように欠陥に応じた箇所で所定の波形が得られず、この領域が欠陥検出回路２４で欠陥として検出され、ハイレベルの欠陥検出信号Ｓ２４としてラッチ回路２５に出力される。
【００２９】
ラッチ回路２５では、レジスタ２７を介して所定周期Ｔで入力されるリセット信号ＲＳＴによりリセット状態となっており、その出力をローレベルに設定されているが、ハイレベルの欠陥検出信号Ｓ２４が入力されたことに伴い、次にリセットＲＳＴが入力されるまで、その出力がハイレベルに設定される。このラッチ出力信号Ｓ２５はシステムコントローラ２６に出力される。
【００３０】
システムコントローラ２６では、システム全体の制御が並列的に行われるが、所定監視周期Ｔ毎にラッチ回路２５の出力状態が監視される。そして、ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合には、リセット信号ＲＳＴがレジスタ２７に出力され、これにより、ラッチ回路２５はリセットされる。
この監視周期Ｔでたとえばｍ回、出力監視が行われ、ｍ回の監視動作でｎ（ｎ＜ｍ）回、ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合には、ディスク面上に傷等の欠陥が頻繁に現出するものとして、トラッキングサーボゲインを減衰させるゲイン調整用データＳ２６がリセット信号ＲＳＴとともにレジスタ２７に出力される。
そして、この内部レジスタ２７へのデータはゲイン調整回路２８に供給される。
【００３１】
ゲイン調整回路２８では、供給された調整用データに基づく減衰率をもってトラッキングエラー信号Ｓ２３のレベルを減衰させて、サーボゲイン調整が行われ、トラッキングドライブ信号Ｓ２８としてトラッキングサーボ回路２９に出力される。そして、この調整されたトラッキングドライブ信号Ｓ２８に基づいてトラッキングサーボ回路２９によりトラッキングサーボ調整が行われる。
このようにして、ディスク面上の欠陥の検出が頻繁に行われる場合には、サーボゲインを下げ欠陥への追従性を低下させ、オフトラックしにくくしている。
【００３２】
以上説明したように、欠陥検出回路２４による欠陥検出信号Ｓ２４をリセット信号ＲＳＴが入力するまで保持するラッチ回路２５を設け、かつ、システム全体の制御を行うとともに、この制御中、所定監視周期Ｔ毎にラッチ回路２５の出力状態を監視し、ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合には、リセット信号ＲＳＴをレジスタ２７に出力し、この監視周期Ｔでたとえばｍ回、出力監視を行い、このｍ回の監視動作でｎ（ｎ＜ｍ）回、ラッチ出力信号Ｓ２５がハイレベルの場合、ディスク面上に傷等の欠陥が頻繁に現出するものとして、トラッキングサーボゲインを減衰させるゲイン調整用データＳ２６をリセット信号ＲＳＴとともにレジスタ２７に出力するシステムコントローラ２６とを設けたでの、システムコントローラ２６は、光ディスクシステム全体をコントロールする中で、余裕のある時、ラッチ後の信号出力Ｓ２５を監視することで、ディスク面上の欠陥の有無を検出できることから、システムコントローラ２６の負荷は大幅に低減するという利点がある。
【００３３】
第２実施形態
図３は、本発明に係るＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の第１の実施形態を示すブロック図である。
【００３４】
本第２の実施形態と上記第１の実施形態と異なる点は、ラッチ回路２５の出力側にアクティブのラッチ出力信号Ｓ２５（ハイレベル）の出力回数をカウントするプログラムカウンタ３０を設け、システムコントローラ２６は、そのカウント値Ｓ３０に基づいてゲイン調整用データの出力を行うように構成したことにある。
カウンタ３０は、システムコントローラ２６によりそのカウント値がプログラム可能であり、また、リセット信号ＲＳＴＣによりリセットされる。このリセットのタイミングは、ゲイン調整用データの出力のタイミング、あるいは、設定された最大のカウント値になったときに出力する等、種々の態様が可能である。
【００３５】
本第２の実施形態によれば、上述した第１の実施形態の効果に効果に加えて、ラッチ出力信号がアクティブのハイレベルになった回数をシステムコントローラ２６で記憶しておく必要がなくなり、システムコントローラ２６の負荷がさらに低減できる利点がある。
【００３６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、欠陥検出回路から出力される検出信号レベルを常時監視する必要がなくなり、システムコントローラの負荷を大幅に低減できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の第１の実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図３】本発明に係るＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図４】従来のＣＤプレーヤーのトラッキングサーボ制御回路の構成例を示すブロック図である。
【図５】図４の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【符号の説明】
２０，２０ａ…トラッキングサーボ制御回路、２１…光ピックアップ、２２…ＲＦアンプ、２３…トラッキングエラーアンプ、２４…欠陥検出回路、２５…ラッチ回路、２６…システムコントローラ、２７…レジスタ、２８…ゲイン調整回路、２９…トラッキングサーボ回路、３０…カウンタ、ＤＫ…光ディスク。
【図１】
0003635815.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
0003635815.tif 000005
【図５】
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