(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記収容体内部の被検査物のＸ線透過量に対し異なる複数の値の閾値を予め前記被検査物の種類に応じて設定する閾値設定部（１７ａ）と、
被検査物上でのＸ線透過量が前記閾値設定部で設定された各閾値より低い領域の面積をそれぞれ求める被検査物抽出部（１７ｂ）と、
前記被検査物抽出部で各閾値別に得られた被検査物の面積を予め設定された閾値別の基準面積とそれぞれ比較し、各閾値別の被検査物の面積が全て対応する基準面積を越えた場合のみ前記収容体内の被検査物が正常であると判断する判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置に関し、特に被検査物の不良品を正確に検出できるＸ線異物検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
【０００３】
図６はこの種の従来のＸ線異物検出装置を示す斜視図である。図示のようにコンベア５０上を被検査物Ｗが搬送されて行く途中位置にＸ線発生器５１と、Ｘ線検出器５２が対向配置される。Ｘ線発生器５１は搬送中の被検査物ＷにＸ線を曝射し、Ｘ線検出器５２は被検査物Ｗを透過したＸ線の透過量に応じた電気信号（Ｘ線透過データ）を出力する。図示しない処理手段はこのＸ線の透過量に基づき、異物の混入の有無を判断する。
【０００４】
図７は、被検査物ＷのＸ線透過画像を示す図である。図７（ａ）に示すように、トレイや包装フィルム等の収容体Ｔ内に被検査物Ｗが収容された状態でＸ線検出される。この種Ｘ線異物検出装置は、被検査物Ｗ内における異物の混入の有無を判断する前処理の段階で収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無を検出して欠品（不良品）判別を行うものがある。
【０００５】
この欠品判断処理は、処理手段が画像処理を実行して判断する。画像処理部には、図示のように、収容体Ｔ上における被検査物Ｗの収容位置を想定した座標軸位置に欠品検出用マスク領域Ｍが予め設定される。
そして、入力され図示のように画像展開した被検査物Ｗと、欠品検出用マスク領域Ｍを重ねて、この欠品検出用マスク領域Ｍの位置上に被検査物Ｗが存在していれば正常、存在していなければ欠品と判断し、欠品（不良品）の旨の信号を外部出力するようになっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の欠品判断処理では、上記欠品検出用マスク領域Ｍ部分に完全に被検査物Ｗが重ならなければ被検査物Ｗが欠品であると判断していたため、場合によっては被検査物Ｗが収容体Ｔ上に存在していても欠品であると誤判断することがあった。
【０００７】
この欠品検出用マスク領域Ｍは、装置の操作者によって所定の座標軸位置上に所定の範囲を有して設定される。この際、操作者は収容体Ｔ上での被検査物Ｗの移動（位置ズレ）を考慮して座標軸位置と範囲を設定していた。
簡単に説明すると、収容体Ｔの大きさ（面積）に対し被検査物Ｗの大きさが１／４以上の大きさを有しているとき、収容体Ｔ内で被検査物Ｗが移動しても必ず被検査物Ｗが存在する位置が発生する。この位置を想定して座標軸位置と範囲を設定していた。
【０００８】
このため、図７（ｂ）に示すように、Ｘ線異物検出装置５０で被検査物Ｗを検査した際に、収容体Ｔ上で被検査物Ｗの位置が移動した状態となり、欠品検出用マスク領域Ｍの一部が被検査物Ｗの外側に位置すると欠品であると誤判断されてしまう。
このように、従来は欠品検出用マスク領域Ｍの設定に経験や勘が必要であり、欠品と誤判断する事が多かった。
【０００９】
これを解消すべく、図８（ａ）に示すように、マスク領域Ｍを大きくすることが考えられる。
しかし、単にマスク領域Ｍを大きくすると、収容体Ｔの面積に対して被検査物Ｗの面積が小さい場合、マスク領域Ｍの面積に対する被検査物Ｗの面積（相対面積）が小さくなる。
上記前提において、正常品ならば収容体Ｔ内に被検査物Ｗが複数個（Ｗ１，Ｗ２）収容される場合、収容体Ｔ内に被検査物Ｗが２個収容された場合と、１個のみ収容された（１個欠品）場合とでは、相対面積で大きな相違が得られなくなる。
【００１０】
これにより、図８（ｂ）に示すように１個欠品の発生があってもこれを検出できなくなる問題が生じる。特に、被検査物Ｗの大きさが収容体Ｔに対する割合が小さく複数個収容された製品（例えば袋入りのスコッチエッグ等）で上記問題を発生していた。
【００１１】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、収容体内での被検査物の相対面積が小さく、複数個収容される場合であっても、被検査物の欠品を正確に検出でき、装置の信頼性を向上できるＸ線異物検出装置の提供を目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記収容体内部の被検査物のＸ線透過量に対し異なる複数の値の閾値を予め前記被検査物の種類に応じて設定する閾値設定部（１７ａ）と、
被検査物上でのＸ線透過量が前記閾値設定部で設定された各閾値より低い領域の面積をそれぞれ求める被検査物抽出部（１７ｂ）と、
前記被検査物抽出部で各閾値別に得られた被検査物の面積を予め設定された閾値別の基準面積とそれぞれ比較し、各閾値別の被検査物の面積が全て対応する基準面積を越えた場合のみ前記収容体内の被検査物が正常であると判断する判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とする。
【００１８】
上記構成によれば、閾値設定部１７ａは、被検査物ＷのＸ線透過量に対して異なる複数の値の閾値を設定する。被検査物抽出部１７ｂは、Ｘ線透過量が各閾値より低い領域の面積をそれぞれ求める。判断部（欠品判断部）１７ｃは、各閾値別に得られた被検査物Ｗの面積を予め設定された閾値別の基準面積とそれぞれ比較し、各閾値別の被検査物Ｗの面積が全て対応する基準面積を越えた場合のみ収容体Ｔ内の被検査物Ｗが正常であると判断する。
これにより、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの面積の割合が小さな場合であっても、被検査物Ｗの欠損、欠品等を正確に検出でき、正確な不良品検出が行える。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図１はＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図である。
Ｘ線異物検出装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Ｗ中（表面も含む）に混入される異物の有無を検出する。このＸ線異物検出装置１は、搬送部３と異物検出部４とが装置本体１ａ内部に設けられ、表示器７が装置本体１ａの前面上部に設けられている。
【００２０】
搬送部３は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物Ｗを搬送するもので、この実施形態では被検査物Ｗがトレイや包装フィルム、箱等の収容体Ｔに収容された状態で搬送されるようになっている。
この搬送部３は、装置本体１ａに対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部３は、駆動モータ６の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口３ａから搬入された被検査物Ｗを搬出口３ｂ側（図中搬送方向Ｘ）に向けて搬送させる。
【００２１】
異物検出部４は、搬送される被検査物Ｗを搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部３の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器８と、搬送部３内にＸ線発生器８と対向して設けられるＸ線検出器９を備えて構成される。
【００２２】
Ｘ線発生器８は、金属製の箱体１１内部に設けられる円筒状のＸ線管１２を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交する方向（Ｙ方向）に設けられている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器９に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００２３】
Ｘ線検出器９は、被検査物Ｗに対してＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出し、この検出したＸ線の透過量に応じた電気信号を出力している。このＸ線検出器９は、搬送部３上を搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交するＹ方向に沿って設けられる。このＸ線検出器９には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００２４】
このような構成によるＸ線検出器９では、被検査物Ｗに対してＸ線発生器８からＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このＸ線検出器９は、受けたＸ線の強さに対応したレベルを有した電気信号を処理手段１３に出力する。
【００２５】
図２は、同装置の電気的構成を示すブロック図である。
処理手段１３は、ＣＰＵ等及びメモリ等で構成され、Ｘ線検出器９からＸ線透過のデータが入力される。このＸ線透過のデータは図示しないＡ／Ｄ変換部でＡ／Ｄ変換された後、データメモリ１４に格納される。
データメモリ１４には、例えば１ライン（Ｙ方向）あたり上記６４０個のＸ線透過のデータが、少なくとも搬送される被検査物Ｗ（収容体Ｔ）の搬送方向Ｘの長さ（前端〜後端までの検出期間）に対応した所定ライン数（例えば４８０ライン）が格納される。処理手段１３は、このデータに基づき被検査物Ｗに対する異物混入を検査処理する。
【００２６】
搬送部３には被検査物Ｗを含む収容体Ｔを検出する投受光センサ等の位置検出器１０が設けられる。処理手段１３は、この位置検出器１０の出力を受けて収容体Ｔの先端が投受光位置を遮蔽した時期の出力を開始トリガとして用い、遮蔽している期間が被検査物Ｗの長さ（収容体Ｔの検出期間）であると判断し、データメモリ１４に各被検査物Ｗ単位のＸ線透過のデータを取り込むようになっている。
【００２７】
検査処理内容としては、被検査物Ｗを透過したＸ線の透過レベルに応じた電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入されているか否かの判別を行う。基本原理としては、異物によりＸ線が透過しない状態が生じた場合、即ち、Ｘ線透過量の値が低い場合に異物混入と判別し選別信号等を外部出力する。また、入力データを直接画像展開した画像データを画像処理部１６を介して表示器７の表示部１５に出力する。
【００２８】
この処理手段１３は、上記異物混入に係る不良品判別の処理に先立ち、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無（欠品）を判別する欠品検出部１７が設けられる。この欠品検出部１７は、画像処理部１６における画像処理に関する１機能である。
【００２９】
この欠品検出部１７は、閾値設定部１７ａ、被検査物抽出部１７ｂ、判断部１７ｃを有する。
閾値設定部１７ａには、被検査物ＷのＸ線透過量に所定の値の閾値が設定される。この閾値は、１つあるいはＸ線透過量が異なる値の２つが設定される。
【００３０】
図３は、閾値を説明するための図である。
図３（ａ）には、収容体Ｔ、被検査物Ｗが図示されている。収容体Ｔは、搬送部３の搬送時に先端が位置検出器１０を遮った開始トリガの信号入力時期を基準位置ＲＦとして画像展開される。
図３（ｂ）は、閾値を示す図である。被検査物ＷのＸ線透過量に対し図示の例では値が異なる２つの閾値Ｌ１，Ｌ２が設定されている。
【００３１】
被検査物抽出部１７ｂは、被検査物ＷのＸ線透過画像の面積を抽出する。収容体Ｔと被検査物ＷはＸ線透過量が異なり、一般的に被検査物Ｗの方がＸ線透過量が低い。
被検査物抽出部１７ｂは、上記閾値Ｌ１、Ｌ２に基づき、それぞれの閾値を越えた被検査物Ｗの画素数を求める。便宜上「閾値を越えた」と説明したが、実際には、Ｘ線透過量が閾値より低い側の被検査物Ｗの画素数をカウントすることを指している。
【００３２】
例えば、図３（ｂ）では、被検査物ＷのＸ線透過量が閾値Ｌ１を越えた部分で幅Ｈ１の分の画素がカウントされ、閾値Ｌ２を越えた部分で幅Ｈ２の分の画素がカウントされる。同図では便宜的に幅方向として説明をしたが、同時に長さ方向についても閾値Ｌ１，Ｌ２を越えた部分が生じており、これら閾値Ｌ１，Ｌ２を越えた画素数をカウントして得る。
【００３３】
被検査物Ｗの形状やＸ線透過率の相違により、閾値Ｌ１，Ｌ２を用いて得られる被検査物Ｗの面積は異なり、これを利用して被検査物Ｗの欠品や潰れ等を検出できる。
【００３４】
図３（ｃ）に示す例では、被検査物Ｗは、Ｘ線透過量が高い側の閾値Ｌ１を越えた幅Ｈ１で所定面積の画素を得ることができる。しかし、この被検査物Ｗは、Ｘ線透過量が低い閾値Ｌ２側は越えておらず閾値Ｌ２側での面積は得られず０となった場合が示されている。
閾値Ｌ１，Ｌ２は、被検査物Ｗの種類に合わせていずれも越えるよう設定した場合において、一方の閾値Ｌ２側を越えない時には、被検査物ＷがＸ線透過状態が異常であり、製品不良の判断に用いることができる。
【００３５】
図３（ｄ）に示す例では、被検査物Ｗは、閾値Ｌ１，Ｌ２とも越えており、Ｘ線透過状態に関しては問題なく正常となる。同図においては、閾値Ｌ１により幅Ｈ１が得られる。閾値Ｌ２により幅Ｈ２が得られる。これら幅Ｈ１，Ｈ２が小さい場合、長さによって得られる面積の大きさを判断することができる。例えば、被検査物Ｗが潰されて形状が変形すると、図示のように、幅Ｈ１、Ｈ２が小さくなる。これら幅Ｈ１、Ｈ２が小さくなると、被検査物Ｗの潰れを検出でき、製品不良の判断に用いることができる。
【００３６】
なお、詳細には図示しないが、表示部１５等に表示される画像展開後のＸ線透過画像は、Ｘ線透過量に合わせて表示濃度が異なる。
【００３７】
判断部１７ｃに、被検査物Ｗの種類に対応して予め閾値Ｌ１、Ｌ２別にそれぞれ基準となる基準面積Ｒ１，Ｒ２が設定されている。
この基準面積Ｒ１、Ｒ２に対して、被検査物Ｗを１個ずつＸ線検査した際に得られた面積を比較していずれか一方でも基準面積を超えない場合に、被検査物Ｗの欠品（製品異常）であると判断する。
【００３８】
次に、上記構成によるＸ線異物検出動作について説明する。
上記のように構成されるＸ線異物検出装置１では、被検査物Ｗが搬送部３の搬入口３ａより搬入されると、その搬送過程において被検査物ＷにＸ線発生器８からＸ線が曝射される。このＸ線の曝射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線はＸ線検出器９によって検出される。
【００３９】
そして、処理手段１３は、Ｘ線検出器９によって検出されたＸ線透過量を示す電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に異物が混入している否かを判別し、この判別結果から良品又は不良品を示す選別信号などを外部出力する。具体的には、検出された被検査物ＷのＸ線透過量が異物検出用として設定した閾値を越えた場合に、異物混入であると判断する。この閾値は、上記欠品検出用の閾値Ｌ１、Ｌ２に比してＸ線透過量がより低い値であり、Ｘ線透過量が低くこの異物検出用の閾値を下回った場合に金属等の異物が混入されたと判断する。
そして、上記検査を終えた被検査物Ｗは、処理手段１３から出力される選別信号に応じて良品と不良品とに選別される。
【００４０】
また、処理手段１３の画像処理部１６は、Ｘ線検出器９が出力したＸ線透過量を示す画像データを表示部１５に表示出力する。収容体Ｔを含む被検査物Ｗの平面で見た外形の状態と、この被検査物Ｗ内でのＸ線の透過具合を確認することができ、異物部分の表示濃度が他と異なり（濃く、あるいは周囲と他の色）で表示でき異物の混入位置を把握できるようになる。
また、「ＯＫ」，「ＮＧ」の良否判断結果や、総検査数、良品数、ＮＧ総数の検査結果を表示する。
【００４１】
ここで、処理手段１３は、このデータメモリ１４に格納したデータを基準値と比較し、基準値よりＸ線透過量が低い場合（異物によりＸ線が透過しない場合）にＮＧであると判断し、基準値よりＸ線透過量が高い場合にＯＫであると判断して、「ＮＧ」、あるいは「ＯＫ」の表示を行う。
【００４２】
次に、上記構成における被検査物Ｗの不良品検出動作について説明する。図４は、この不良品検出処理を示すフローチャートである。
上記異物混入の検出動作に先立ち、欠品検出部１７は収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無（欠品や欠損、潰れ等の形状不良等）を検出する。
画像処理部１６は、Ｘ線検出部９から出力されるＸ線透過データは収容体Ｔ及び被検査物を含む状態でＸ線透過画像として画像展開している。
【００４３】
欠品検出部１７ではまず、被検査物Ｗの種類に応じて適切な閾値及び閾値に対応した基準面積Ｒを設定する（Ｓ１）。
上記構成例では、異なる２つの値の閾値Ｌ１，Ｌ２を設定する。上述したが、この閾値Ｌ１，Ｌ２は、異物検出用としての閾値とは異なり、異物と判断されない程度のＸ線透過量が比較的高めに設定する。
基準面積Ｒについては、正常な基準となる被検査物Ｗを閾値Ｌ１で切ったときに得られる面積Ｒ１と、閾値Ｌ２で切ったときに得られる面積Ｒ２をそれぞれ設定しておく。
【００４４】
次に、検査対象である搬送部３上を搬送される被検査物Ｗの画像データを取り込む（Ｓ２）。この際、取り込んだＸ線透過画像に基づき、収容体Ｔの基準位置ＲＦを検出する。この基準位置ＲＦは、位置検出器１０が収容体Ｔの先頭位置を検出した時期であり、Ｘ線透過画像における収容体Ｔの先頭（一端）の位置に相当する。収容体Ｔの基準位置ＲＦが検出されると、この基準位置ＲＦを基準として予め設定された収容体Ｔの搬送方向の長さ分の画像データを取り込む。
【００４５】
次に、取り込んだ画像データに対し、被検査物抽出部１７ｂは、被検査物Ｗの面積を求める。
被検査物抽出部１７ｂは、画像データを閾値設定部１７ａで設定された閾値Ｌ１を越えた（Ｘ線透過量が低い）面積Ｍ１を画素数のカウントで求める（Ｓ３）。同様に、閾値Ｌ２を越えた面積Ｍ２を画素数のカウントで求める（Ｓ４）。
【００４６】
判断部１７ｃは、被検査物Ｗの面積Ｍ１，Ｍ２を基準面積Ｒ１，Ｒ２と比較して、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの状態を検出し、正常あるいは不良（欠品や欠損、潰れ等の形状不良等）を判断する。
【００４７】
まず、閾値Ｌ１に基づき得られた被検査物Ｗの面積Ｍ１を基準面積Ｒ１と比較する（Ｓ５）。比較は画素数の比較で簡単に行える。比較の結果、被検査物Ｗの面積Ｍ１が基準面積Ｒ１より大きければ（Ｓ５ーＹｅｓ）、次にＳ６で閾値Ｌ２での判断を行うが、被検査物Ｗの面積Ｍ１が基準面積Ｒ１より小さければ（Ｓ５ーＮｏ）、不良品のエラー処理を行う（Ｓ８）。エラー時処理においては、被検査物Ｗが規定数収容されていない欠品と判断する。例えば表示部１５上で欠品状態を示す表示出力を行ったり、後段の選別機に対して該当する収容体Ｔを不良品排出させる信号を外部出力する。
【００４８】
次に、閾値Ｌ２に基づき得られた被検査物Ｗの面積Ｍ２を基準面積Ｒ２と比較する（Ｓ６）。比較の結果、被検査物Ｗの面積Ｍ２が基準面積Ｒ２より大きければ（Ｓ６ーＹｅｓ）、被検査物Ｗが正常と判断する（Ｓ７）。
一方、被検査物Ｗの面積Ｍ２が基準面積Ｒ２より小さければ（Ｓ６ーＮｏ）、不良品のエラー処理を行う（Ｓ８）。
上記のように、閾値Ｌ１に基づく面積Ｍ１と基準面積Ｒ１の比較、及び、閾値Ｌ２に基づく面積Ｍ２と基準面積Ｒ２の比較の結果、面積Ｍ１，Ｍ２のいずれか一方が基準面積Ｒ１，Ｒ２より小さければ不良と判断する。正常の判断は、面積Ｍ１，Ｍ２のいずれも基準面積Ｒ１，Ｒ２より大きい場合のみである。
【００４９】
図５は、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの各種状態を示す図である。
（ａ）、（ｂ）は正常状態、（ｃ）〜（ｇ）は不良（エラー状態）を示す図である。被検査物Ｗ内には、Ｘ線透過量が低い異なる種類の内容物Ｆが含まれて製造され、外径がほぼ球状の状態が正常であるとする。
【００５０】
図５（ａ）は、収容体Ｔ内で２個の被検査物Ｗ（Ｗ１，Ｗ２）が個々に検出された状態である。この場合、Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２別に異なる位置で検出される。
また、各被検査物Ｗ１，Ｗ２のＸ線透過量は、閾値Ｌ１，Ｌ２のいずれも越えており、この閾値Ｌ１、Ｌ２に基づき得られた面積Ｍ１，Ｍ２は、基準面積Ｒ１，Ｒ２より大きいため、欠品なく正常と判断される。同時に、この場合には、Ｘ線透過量は、これら２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２が異なる位置で検出されているため、個数が２であることを検出できる。
【００５１】
図５（ｂ）は、収容体Ｔ内で２個の被検査物Ｗ（Ｗ１，Ｗ２）が接して検出された状態である。この場合、Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２がつながった１個の形で検出される。
しかし、各被検査物Ｗ１，Ｗ２のＸ線透過量は、いずれも閾値Ｌ１，Ｌ２を越えている。被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ１の合計は、２個分の基準面積Ｒ１の合計の値より大きい。また、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ２の合計は、２個分の基準面積Ｒ２の合計の値より大きい。いずれも満足しているため、欠品なく正常と判断される。即ち、Ｘ線透過量だけを見ると独立した２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２の波形は得られないが、上記のように面積の合計値が２個分として検出されるため、正常であると判断される。
【００５２】
図５（ｃ）は、収容体Ｔ内で被検査物Ｗ１，Ｗ２が独立しているが、１方の被検査物Ｗ２が小さい不良時状態である。
この場合、Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２別に異なる位置で検出される。
そして、被検査物Ｗ１のＸ線透過量は、閾値Ｌ１を越え、面積Ｍ１は、基準面積Ｒ１より大きい。
しかし、被検査物Ｗ２は小径であるため、閾値Ｌ１の面積Ｍ１は基準面積Ｒ１より小さい。また、Ｘ線透過量で見て閾値Ｌ２を越えず、面積Ｍ２は、基準面積Ｒ２より小さい。これにより、不良（エラー）と判断される。
なお、Ｘ線透過量で見て、これら２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２がそれぞれ異なる位置で検出されているため、個数が２であることを検出できる。
【００５３】
図５（ｄ）は、一方の被検査物Ｗ２が小さい不良時である。図示の例では、幅Ｈ２が小さい。収容体Ｔ内で２個の被検査物Ｗ（Ｗ１，Ｗ２）が接して検出されたとする。この場合、Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２がつながった１個の形で検出される。
各被検査物Ｗ１，Ｗ２のＸ線透過量は、いずれも閾値Ｌ１を越えているが、被検査物Ｗ２の面積Ｍ２が小さいため、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ１の合計は、２個分の基準面積Ｒ１の合計の値より小さくなる。
また、一方の被検査物Ｗ２は小さいため、閾値Ｌ２を越えず、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ２の合計は、２個分の基準面積Ｒ２の合計の値より小さくなる。これらにより、不良（エラー）と判断される。
【００５４】
図５（ｅ）は、収容体Ｔ内で被検査物Ｗ１，Ｗ２が独立しているが、１方の被検査物Ｗ２は内容物Ｆのみ収容された不良時状態である。
この場合、Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２別に異なる位置で検出される。
そして、被検査物Ｗ１のＸ線透過量は、閾値Ｌ１，Ｌ２のいずれも越え、面積Ｍ１は、基準面積Ｒ１より大きい。
しかし、被検査物Ｗ２は内容物Ｆのみで小径である。この際、内容物Ｆが比較的Ｘ線を透過しにくい場合、Ｘ線透過量で見て閾値Ｌ２は越えたとしても、面積Ｍ２は、基準面積Ｒ２より小さくなるため、不良（エラー）と判断される。
このように、閾値Ｌ２だけではなく、この閾値Ｌ２を越えた面積Ｍ２の比較により被検査物Ｗ２の不良を検出することも可能となる。
なお、Ｘ線透過量で見て、これら２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２がそれぞれ異なる位置で検出されているため、個数が２であることを検出できる。
【００５５】
図５（ｆ）は、一方の被検査物Ｗ２が小さい不良時である。図示の例では、幅に直交する長さ方向が小さい。
Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２別に異なる位置で検出される。
各被検査物Ｗ１，Ｗ２のＸ線透過量は、いずれも閾値Ｌ１を越えているが、被検査物Ｗ２の長さ方向が小さいため、幅Ｈ２が所定幅あっても面積Ｍ２が小さくなるため、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ１の合計は、２個分の基準面積Ｒ１の合計の値より小さくなる。
また、一方の被検査物Ｗ２は小さいため、閾値Ｌ２を越えず、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ２の合計は、２個分の基準面積Ｒ２の合計の値より小さくなる。これらにより、不良（エラー）と判断される。
なお、Ｘ線透過量で見て、これら２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２がそれぞれ異なる位置で検出されているため、個数が２であることを検出できる。
【００５６】
図５（ｇ）は、双方の被検査物Ｗ１，Ｗ２が規定の外径を有するが、一方の被検査物Ｗ２に内容物Ｆが含まれていない不良時である。
Ｘ線透過量は各被検査物Ｗ１，Ｗ２別に異なる位置で検出される。
各被検査物Ｗ１，Ｗ２のＸ線透過量は、いずれも閾値Ｌ１を越えており、２個分の面積Ｍ１、Ｍ２の面積は、２個の基準面積Ｒ１，Ｒ２の合計より大きい。
しかし、被検査物Ｗ２は内容物Ｆが含まれていないため、閾値Ｌ２を越えず、面積Ｍ２がゼロであるため、被検査物Ｗ１，Ｗ２の２個分の面積Ｍ２の合計は、２個分の基準面積Ｒ２の合計の値より小さくなる。
これらにより、不良（エラー）と判断される。
なお、Ｘ線透過量で見て、これら２個の被検査物Ｗ１，Ｗ２がそれぞれ異なる位置で検出されているため、個数が２であることを検出できる。
【００５７】
また、図５（ｃ）、（ｄ）、（ｆ）、（ｇ）に示す例において、被検査物Ｗ２側に他種の内容物Ｆが含まれていない不良時において、内容物Ｆが比較的Ｘ線を透過しにくいものである場合、閾値Ｌ２の設定で被検査物Ｗ内における内容物Ｆの欠損を検出することが可能となる。
【００５８】
また、判断部１７ｃは、被検査物抽出部１７ｂで得られた被検査物Ｗ１，Ｗ２の形状に基づき、該被検査物の形状不良を判定することもできる。即ち、各閾値Ｌ１，Ｌ２で得られた幅Ｈ、及び長さにより被検査物Ｗの形状を識別することができ、予め定めた許容範囲の幅、長さより小さい場合、及び大きい場合にいずれも形状不良の不良品と判断することができる。
【００５９】
上記記実施形態では、収容体Ｔを含む被検査物Ｗの搬送方向の先端位置を位置検出器１０で検出して基準位置ＲＦを得る構成とした。これに限らず、画像処理部１６での画像処理時にＸ線透過量に基づき、収容体Ｔの先端位置を検出して基準位置ＲＦを設定しても良い。この場合、位置検出器１０は不要である。
【００６０】
上記被検査物Ｗ及び収容体Ｔの品種を具体的に説明すると、フィルム状の収容体Ｔにスコッチエッグ（球状のハンバーグ内に卵が入ったもの）が２個等複数個収容された製品がある。
この製品は、収容体Ｔの大きさに対し、被検査物Ｗの大きさが小さく、収容体Ｔに対する被検査物Ｗの大きさの割合が小さい上、収容体Ｔ内で被検査物Ｗが移動しやすい。上記実施形態によれば、閾値に基づく面積を用いる構成により、被検査物Ｗの不良（欠損、欠品、及び形状不良等）を正確に検出できるようになる。
【００６１】
【発明の効果】
本発明によれば、Ｘ線検出により収容体内部における被検査物の有無を容易に検出できる。収容体の大きさに対し内部の被検査物の大きさが小さな割合であっても、閾値を用いた面積判断により被検査物の良否を判断でき、被検査物の個数、欠損、欠品、接触があっても誤判断を防止して正確に良否判断でき、不良品検出の信頼性を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図。
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図。
【図３】閾値、及び面積の設定を説明するための図。
【図４】不良品検出処理を示すフローチャート。
【図５】収容体内での被検査物の良否状態を説明するための図。
【図６】Ｘ線異物検出装置の構成を示す斜視図。
【図７】従来の不良品検出処理を説明するための図（その１）。
【図８】従来の不良品検出処理を説明するための図（その２）。
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置、３…搬送部、８…Ｘ線発生器、９…Ｘ線検出部、１３…処理手段、１６…画像処理部、１７…欠品検出部、１７ａ…閾値設定部、１７ｂ…被検査物抽出部、１７ｃ…判断部、Ｔ…収容体、Ｗ（Ｗ１，Ｗ２）…被検査物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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