(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに独立駆動可能な複数の発光部を有するレーザアレイを備えた光走査記録装置であって、
原画像データに基づいて駆動信号を出力することにより前記複数の発光部の各々を同時に駆動させて光ビームを射出するレーザ駆動手段と、
前記レーザ駆動手段の駆動によって前記複数の発光部の各々から射出される光ビームにより記録媒体を走査して画像を記録する画像記録手段と、
前記光ビームの走査方向に対して白画素、黒画素の順にデータが配置されており、該白画素を着目画素とした場合に、該着目画素を黒画素に変換し、該着目画素の周辺の周辺画素に対応する発光部から発生する熱による影響を補正するための該着目画素に対応する発光部の補正値を演算し、該演算した補正値に基づいて駆動遅延時間を演算し、前記駆動信号が該演算した駆動遅延時間に応じた時間遅延して出力されるように該着目画素に対応する発光部の駆動を補正する補正手段と、
を有する光走査記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光走査記録装置に係り、特にディジタル複写機や光ディスクのヘッドに用いられ、互いに独立駆動可能な複数の発光部を有するレーザアレイを備えた光走査記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光源から射出される光ビームで記録媒体を走査することによって画像を記録するレーザビームプリンタ等の画像記録装置には、処理の効率化を図るために複数の光源を有するレーザアレイが備えられた光走査装置を含んで構成されている。これによれば、レーザアレイから複数の光ビームが同時に射出されるので、記録媒体の回転方向に対して同時に複数のラインを走査することができ、処理効率を向上させることができる。
【０００３】
光走査装置の光源としては、例えば半導体レーザが用いられる。半導体レーザは、光ビームの発振に伴って温度が上昇する。このため、半導体レーザにおける光ビームの発光効率は、図１０に示されるように温度の上昇に伴って低下する。
【０００４】
例えば、図１０の光量−電流特性１００に示されるように温度ＴC が２５℃である場合には、半導体レーザに供給される電流ＩF が６０ｍＡ以下の時にわずかな自然発光状態となる。一方、半導体レーザに供給される電流ＩF が６０ｍＡを越えた時にレーザ発振状態となり光ビームの光量は大きくなる。しかし、図１０の光量−電流特性１０４に示されるように、温度ＴC が５０℃である場合には、半導体レーザに供給される電流ＩF が７０ｍＡを越えた時にレーザ発振状態となる。すなわち、図１０の光量−電流特性１００、１０２、１０４に示されるように、温度ＴC が異なる場合には半導体レーザに供給する電流ＩF が同一であっても半導体レーザから射出される光ビームの光量は変動する。
【０００５】
図１１（Ａ）に示されるように、原画像１０６（一部のみ図示）が２値画像（各画素が黒と白で表現）である場合には、黒画素に対応する半導体レーザが所定時間駆動し、光ビームを射出することによって像を形成している。
【０００６】
４個（４チャンネル）の半導体レーザを備えたレーザアレイから射出される光ビームで記録媒体を走査することによって得られる記録画像１０６Ａは、図１１（Ｂ）に示されるように黒で表現されるべき画素に像欠けが生じ、画質劣化が発生することがある。像欠けが生じた黒画素を含む副走査方向に沿った画素列と主走査方向に隣接する画素列、すなわち像欠けが生じた黒画素を含む画素列に対して既に記録された一列前の画素列では、レーザ駆動ＣＨ．１、２に対応する半導体レーザが駆動し、レーザ駆動ＣＨ．３、４に対応する半導体レーザは駆動しない。これによりレーザ駆動ＣＨ．３、４に対応する半導体レーザはレーザ駆動ＣＨ．１、２に対応する半導体レーザが駆動したことによる熱の影響を受け、温度が上昇する。このため、黒で表現されるべき画素に対応する半導体レーザから射出される光ビームの光量が低下し、像欠けが生じて記録画像１０６Ａに画質劣化が発生する。
【０００７】
なお、レーザ駆動ＣＨ．３に対応する半導体レーザから射出される光ビームによって像が形成される画素は、レーザ駆動ＣＨ．４に対応する半導体レーザよりもレーザ駆動ＣＨ．１、２に対応する半導体レーザによって受ける熱の影響が大きいため、像欠けの範囲が広くなっている。
【０００８】
従って、複数の半導体レーザを備えたレーザアレイでは、各々の半導体レーザの相互間で発生する熱の影響により記録媒体を走査するときに半導体レーザから射出される光ビームの光量が変動する。このため、記録媒体に記録される画像の各画素の露光量が一致せず、記録画像には画質劣化が生じる、という問題を有している。
【０００９】
このようなレーザアレイでは、複数の半導体レーザに対して単一の光量モニタが備えられている。シングルレーザであれば、レーザ素子に内蔵された光量モニタの信号をレーザ点灯制御回路にフィードバックすることで光ビームの光量変動を補正することができるが、複数の半導体レーザが備えられたレーザアレイにおける各々の半導体レーザの相互間で発生する熱の影響による光量変動は上記の方法で補正することができない。
【００１０】
これに対して、閾値電流（例えば、図１０に示される光量−電流特性１００では６０ｍＡ）以下の電流（以下、これをバイアス電流という）を半導体レーザに常時供給することにより、各々の半導体レーザの相互間で発生する熱の影響による光量変動を補正する半導体レーザ走査装置が提案されている（特開平２−１５００８８号公報）。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、バイアス電流を半導体レーザに常時供給する半導体レーザ走査装置では、半導体レーザから光ビームが射出されているか否かに拘らず半導体レーザが常時駆動する。すなわち、光ビームの未射出時においても半導体レーザは駆動しているため、半導体レーザは連続駆動することになる。半導体レーザは所定時間連続駆動することにより、射出される光ビームの光量が減少する。
【００１２】
例えば、図１２（Ｂ）に示されるように、４個の半導体レーザの各々から射出される光ビームの光量が初期状態で２ｍＷとなるように連続駆動させた場合、駆動開始から７０μｓｅｃ後には光ビームの光量は１５％減少する。これは、バイアス電流を半導体レーザに供給しない場合（図１２（Ａ）参照）と比較して変動量は少ないが、記録画像の画質への影響を抑制可能な許容レベルの１０％を超える。
【００１３】
従って、半導体レーザを連続駆動させることにより光ビームの光量が変動するため、半導体レーザの相互間で発生する熱の影響による光量変動分を充分に補正することができず、記録画像に画質劣化が生じる、という問題を有している。
【００１４】
また、複数の半導体レーザの相互間で発生する熱の影響は、原画像の画像パターンに応じて異なる。しかしながら、上述した方法では、原画像の画像パターンに応じた補正を行うことができない、という問題がある。
【００１５】
本発明は上記問題点を解消するためになされたもので、複数の発光部の相互間で発生する熱による影響を補正して画質劣化のない画像を記録することができる光走査記録装置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項１に記載の発明は、互いに独立駆動可能な複数の発光部を有するレーザアレイを備えた光走査記録装置であって、原画像データに基づいて駆動信号を出力することにより前記複数の発光部の各々を同時に駆動させて光ビームを射出するレーザ駆動手段と、前記レーザ駆動手段の駆動によって前記複数の発光部の各々から射出される光ビームにより記録媒体を走査して画像を記録する画像記録手段と、前記光ビームの走査方向に対して白画素、黒画素の順にデータが配置されており、該白画素を着目画素とした場合に、該着目画素を黒画素に変換し、該着目画素の周辺の周辺画素に対応する発光部から発生する熱による影響を補正するための該着目画素に対応する発光部の補正値を演算し、該演算した補正値に基づいて駆動遅延時間を演算し、前記駆動信号が該演算した駆動遅延時間に応じた時間遅延して出力されるように該着目画素に対応する発光部の駆動を補正する補正手段と、を有している。
【００１７】
請求項１に記載の発明によれば、光走査記録装置には、レーザアレイに備えられた複数の発光部の各々を同時に駆動させるレーザ駆動手段が設けられている。レーザ駆動手段は、原画像データに基づいて出力される駆動信号が各発光部に出力され、例えば所定の駆動電流が供給されることによって光ビームを射出する。また、光走査記録装置には、記録媒体に画像を記録する画像記録手段が設けられている。画像記録手段は、複数の発光部の各々から射出される光ビームにより記録媒体を走査することによって画像を記録する。
【００１８】
さらに、光走査記録装置には、補正手段が設けられている。補正手段は、光ビームの走査方向に対して白画素、黒画素の順にデータが配置されており、該白画素を着目画素とした場合に、該着目画素を黒画素に変換し、該着目画素を黒画素に変換し、該着目画素の周辺の周辺画素に対応する発光部から発生する熱による影響を補正するための該着目画素に対応する発光部の補正値を演算し、該演算した補正値に基づいて駆動遅延時間を演算し、前記駆動信号が該演算した駆動遅延時間に応じた時間遅延して出力されるように該着目画素に対応する発光部の駆動を補正する。
【００１９】
以上のように、複数の発光部の相互間に発生する熱による影響を補正して画像を記録するので、記録媒体を走査することによって記録された画像の記録画像データと原画像データが一致する。すなわち、画質劣化のない画像を記録することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
図１に示されるように、画像記録装置１０には回転多面鏡２８を含んで構成された光走査装置２６と、図１に示される矢印Ａ方向に回転する円筒状の感光体１２が配設されている。感光体１２の側面近傍には帯電器１４が備えられており、感光体１２の表面を帯電させる。帯電器１４の配設位置よりも感光体１２の回転方向下流側には現像器１６が配設されており、感光体１２の表面にトナーを付着させる。トナーは、光走査装置２６によって図１に示される矢印Ｂ方向から光ビームが照射された部分に付着するようになっている。
【００２１】
また、現像器１６の配設位置よりも感光体１２の回転方向下流側には、トナーを感光体１２の表面から転写体１８へ転写する転写用帯電器２０が配設されている。また、転写体１８へのトナーの転写後に感光体１２の表面に残留したトナーを除去するクリーナー２２は、転写用帯電器２０の配設位置よりも感光体１２の回転方向下流側に配設されている。
【００２２】
トナーが転写された転写体１８は搬送ローラ対２４によって図１に示される矢印Ｃ方向に搬送され、図示しない定着器によって転写体１８上のトナーが融解固定されるようになっている。
【００２３】
図２に示されるように、光走査装置２６には光源としてのレーザアレイ３０が設けられている。レーザアレイ３０は、図３に示されるように、ヒートシンク３２、Ｎ型半導体層３６、Ｐ型半導体層３８、電極４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ、４０Ｄ、及びレーザダイオード発光部（以下、ＬＤ発光部と称す）３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄから構成されている。４つのＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄは、各々１００μｍ以下の間隔で光走査装置２６におけるの副走査方向に直列に配設されている。これらのＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄは同時に駆動して光ビームが射出される。従って、光走査装置２６は感光体１２の回転方向に対して同時に４ラインを走査することができるようになっている。
【００２４】
レーザアレイ３０の配設位置に対して光ビームの射出側には、レーザアレイ３０に備えられたＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄから射出された光ビームを拡散光線から平行光線に変換するためのコリメータレンズ４４が配置されている。コリメータレンズ４４で平行光線となった光ビームは、シリンダレンズ４６を介して正多角柱状の回転多面鏡２８の側面に設けられた反射面２８Ａに集束される。
【００２５】
回転多面鏡２８は、側面に複数の反射面２８Ａを有する正多角柱（本実施の形態では正六角柱）であり、回転軸４８を中心に矢印Ｄ方向に高速回転する。これにより、各反射面２８Ａへの光ビームの入射角は連続的に変化し、偏向される。
【００２６】
回転多面鏡２８によって偏向された光ビームの進行方向には、ｆθレンズ５０が配置されている。ｆθレンズ５０は、感光体１２に光を照射するときの走査速度を等速度とするためのものであり、第１レンズ５０Ａと第２レンズ５０Ｂから構成されている。ｆθレンズ５０を透過した光ビームは、反射ミラー５２によって屈曲されて感光体１２に照射される。
【００２７】
また、光走査装置２６は感光体１２の回転方向に対して４ラインを同時に走査する構成となっている。このため、４ラインを同時に走査することを制御するライン同期センサ５４が設けられている。ライン同期センサ５４は光走査装置２６の駆動を制御する制御回路６２に接続されている。
【００２８】
前述したレーザアレイ３０には、ＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄの各々の駆動を指示するレーザ駆動回路５６が接続されている。このレーザ駆動回路５６には信号補正回路５８を介して制御回路６２が接続されている。
【００２９】
レーザ駆動回路５６は、レーザアレイ３０にレーザ駆動信号を出力し、各ＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄに所定量の駆動電流を供給する。この駆動電流は、画像データの書き込み外（光ビームによる感光体１２への走査を実行していないとき）のタイミングでレーザアレイ３０に内蔵された図示しない単一のモニタから出力される出力電圧が予め定められた基準電圧と一致するように設定される。すなわち、レーザ駆動回路５６に接続された制御回路６２から出力される光量データを用いて各ＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄに供給する駆動電流を設定する。こうして設定された駆動電流が画像データ書き込み中（感光体１２への光ビームによる走査実行時）にＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄの各々に供給される。これにより、ＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄが駆動して所定光量の光ビームが射出される。なお、レーザアレイ３０へのレーザ駆動信号の出力タイミングは、原画像７０の画像パターンに応じて信号補正回路５８によって制御される。
【００３０】
さらに、制御回路６２にはモータ駆動回路６０が接続されている。モータ駆動回路６０は、制御回路６２から出力されるモータＯＮ／ＯＦＦ信号に基づいてモータ駆動信号を出力し、回転多面鏡２８の回転を指示する図示しないモータの駆動を指示するようになっている。
【００３１】
ここで、信号補正回路５８の詳細を図４（Ｂ）を参照して説明する。なお、図４（Ａ）には、感光体１２に記録する２値画像の原画像７０の一部が示されている。レーザアレイ３０に備えられた各ＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄは、レーザ駆動ＣＨ．１、２、３、４のそれぞれに対応している。例えば、ＬＤ発光部３４Ａはレーザ駆動ＣＨ．１に対応しており、ＬＤ発光部３４Ａから射出される光ビームで原画像７０の画素Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅに対応して感光体１２を走査し、画像を記録する。また、ＬＤ発光部３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄについても同様であり、例えばＬＤ発光部３４Ｂはレーザ駆動ＣＨ．２に対応しており、ＬＤ発光部３４Ｂから射出される光ビームによって原画像７０の画素Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｊ、Ｋに対応して感光体１２を走査し、画像を記録する。
【００３２】
図４（Ｂ）に示されるように、信号補正回路５８は参照データ抽出回路６４、データ演算回路６６及びデータ処理回路６８から構成されている。
【００３３】
参照データ抽出回路６４には複数のメモリが備えられており、原画像７０の各画素に対応するＣＨ．データが記憶される。ＣＨ．データとは、原画像７０の各画素に対応するＬＤ発光部を駆動させるか否かを示すデータである。すなわち、原画像７０の黒画素に対応するＬＤ発光部を駆動させ、白画素に対応するＬＤ発光部を駆動させないように指示する駆動指示信号である。例えば、原画像７０が２値画像である場合には、参照データ抽出回路６４の各メモリに記憶されるＣＨ．データは「１」又は「０」である。すなわち、原画像７０の黒画素に対応するＬＤ発光部を駆動させる場合には「１」で表現され、原画像７０の白画素に対応するＬＤ発光部を駆動させない場合には「０」で表現される。参照データ抽出回路６４は、各メモリに記憶されたＣＨ．データのうちデータ演算回路６６における演算処理で必要なデータのみを抽出し、データ演算回路６６に出力する。
【００３４】
また、第１演算回路６６Ａと第２演算回路６６Ｂから構成されるデータ演算回路６６及びデータ処理回路６８は、参照データ抽出回路６４から出力されたＣＨ．データを原画像７０の画像パターンに応じて各画素毎に補正し、補正信号としてのＣＨ．補正データをレーザ駆動回路５６に出力する。なお、データ演算回路６６では、着目画素を基準として予め定められた周辺画素の重み付けデータ７２（図５参照）を用いて演算処理を施すようになっている。ＬＤ発光部が駆動したときに発せられる熱が与える影響は、着目画素に近い画素ほど大きい。このため、重み付けデータ７２は着目画素に近い画素に対しては大きい数値が設定され、着目画素から遠ざかるに従って小さい数値が設定されている。
【００３５】
以下に、本発明の実施の形態の作用を図６乃至図８を参照して説明する。なお、本実施の形態では、図４（Ａ）に示される原画像７０を感光体１２に記録するときに着目画素を画素Ｊとした場合を例として説明する。
【００３６】
図６に示されるように、参照データ抽出回路６４には複数のメモリが備えられており、メモリには各画素に対応するＬＤ発光部を駆動させるか否かを指示するＣＨ．データが記憶されている。すなわち、原画像７０の画素Ｋ、Ｌ、Ｍ、Ｎ、Ｐに対応するメモリＫ、Ｌ、Ｍ、Ｎ、Ｐに「１」が記憶され、その他のメモリには「０」が記憶される。
【００３７】
画素Ｊに対応するＬＤ発光部３４Ｂの駆動を補正する場合、参照データ抽出回路６４はメモリＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｊ、Ｋ、Ｌ、Ｍ、Ｎ、Ｐ、Ｒ、Ｓ、Ｔ、ＵのＣＨ．データを抽出し、データ演算回路６６に出力する。
【００３８】
データ演算回路６６の第１演算回路６６Ａでは、着目画素を基準とした周辺画素に対して予め定められた重み付けデータ７２を用いて以下に示される式（１）に基づく演算処理が行われ、ＣＨ２．データに対してＣＨ２．補正データを得るための補正値が演算される。
【００３９】
【数１】
0003635909.tif 000002
【００４０】
上記（１）式により演算された補正値は、（２−１OUT ）データとしてデータ処理回路６８に出力される。
【００４１】
一方、データ演算回路６６の第２演算回路６６Ｂは、着目画素としての画素ＪのＣＨ．データを反転させた反転データと、画素Ｊと隣接する画素ＫのＣＨ．データのＡＮＤをとり、その結果である隣接画素データを（２−２OUT ）データとしてデータ処理回路６８に出力する。例えば、画素Ｊの反転データは「１」であり、画素ＫのＣＨ．データは「１」である。従って、隣接画素データの（２−２OUT ）データとしては「１」が出力される。
【００４２】
データ処理回路６８では、データ演算回路６６から出力される補正値及び隣接画素データに基づいてＣＨ２．データを補正する。図８に示されるように、まず、隣接画素データとしての（２−２OUT ）データが「１」であるか否かを判定する。ここで、（２−２OUT ）データが「０」であると判定された場合には、変換等の処理を行わずにＣＨ．データを出力する。
【００４３】
一方、（２−２OUT ）データが「１」であると判定された場合には、着目画素と隣接する画素が黒画素である。この黒画素を記録するために駆動させるＬＤ発光部は、原画像７０の画像パターンに応じて他のＬＤ発光部から発生する熱の影響を受けていることにより記録画像に像欠けが生じる。このため、（２−２OUT ）データが「１」であると判定された場合には、画素Ｊを黒に変換する。すなわち、画素Ｊに対応するＬＤ発光部３４Ｂの駆動を指示する。
【００４４】
続いて、画素Ｊに対応するＬＤ発光部３４Ｂの駆動タイミングを以下に示される式（２）に基づいて算出する。なお、駆動タイミングとしては原画像７０を記録するときの主走査方向におけるＬＤ発光部駆動周期Ｔに対するＬＤ発光部の駆動遅延時間ｔである。
【００４５】
［数２］
ｔ＝Ｔ×（８０−（２−１OUT））／８０  ・・・（２）
【００４６】
例えば、前述したように補正値が３０である場合には駆動遅延時間ｔは５０／８０であり、この駆動遅延時間ｔがＣＨ２．補正データとしてレーザ駆動回路５６に出力される。
【００４７】
レーザ駆動回路５６は、ＬＤ発光部３４Ｂの駆動タイミングを所定時間遅延させてレーザアレイ３０にレーザ駆動信号を出力する。これにより、画素Ｊに対応するＬＤ発光部３４Ｂは他のＬＤ発光部（本実施の形態ではＬＤ発光部３４Ｃ）よりも所定時間遅れて駆動し、光ビームを射出する。従って、画素Ｊに隣接する黒画素の画素Ｋに像欠けが発生することなく感光体１２に画像を記録することができる。
【００４８】
なお、着目画素を画素ＪとしてＬＤ発光部３４Ｂの駆動遅延時間ｔを演算する場合を例として説明したが、他の画素についても同様の方法で駆動遅延時間ｔを求めることができる。従って、求められた駆動遅延時間ｔに基づいてＬＤ発光部の駆動タイミングを遅延することにより着目画素に隣接する黒画素に像欠けが発生することなく画像を記録することができる。
【００４９】
以上のようにして、着目画素に隣接する画素に発生する像欠けを解消するので、原画像７０の画像パターンと光ビームで感光体１２を走査することにより記録された画像の画像パターンが一致し、画質劣化のない画像を記録することができる。すなわち、複数のＬＤ発光部の相互間に発生する熱による影響を補正するので、画質劣化のない画像を記録することができる。
【００５０】
なお、本実施の形態においては、レーザアレイ３０に備えられたＬＤ発光部の駆動タイミングを交換することによって他のＬＤ発光部が駆動したときの熱による影響を補正する場合を例として説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ＬＤ発光部の駆動時間を制御したり、強度を変調することによって補正するようにしてもよい。
【００５１】
また、本実施の形態では、原画像７０が２値画像である場合を例として説明したが、これに限定されるものではなく、多値画像であってもよい。この場合には、データ処理回路６９を図９に示される構成に変更し、所定の演算を施すことによって各画素の濃度を変換する。多値画像の場合には、画像パターンの各画素に対応するＣＨ．データは０〜１の値で示される。例えば、（１−１OUT ）データが６０であり、画素Ｄの値（濃度）が０．８である場合には、変換後の画素Ｄの濃度は以下に示される式（３）に基づいて求めることができる。
【００５２】
【数３】
０．８×（１００＋６０／４）／１００＝０．９２  ・・・（３）
【００５３】
さらに、本実施の形態では、レーザアレイ３０に４つのＬＤ発光部３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ、３４Ｄが備えられている場合を例として説明したが、ＬＤ発光部の個数はこれに限定されるものではなく、複数のＬＤ発光部が備えられていればよい。
【００５４】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複数の発光部の相互間に発生する熱による影響を補正して画像を記録するので、画質劣化のない画像を記録することができる、という優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態に係る光走査装置が備えられた画像記録装置を示す概略構成図である。
【図２】光走査装置及び光走査装置近傍の構成を示す概略構成図である。
【図３】レーザアレイの詳細構成を示す概略斜視図である。
【図４】（Ａ）は原画像を示す概略図であり、（Ｂ）は信号補正回路の構成図を示している。
【図５】着目画素を基準とした重み付けデータを示す概略図である。
【図６】信号補正回路を構成する参照データ抽出回路の詳細を示す説明図である。
【図７】信号補正回路を構成するデータ演算回路の詳細を示す説明図である。
【図８】信号補正回路を構成するデータ処理回路の詳細を示す説明図である。
【図９】その他の実施の形態として、原画像が多値画像である場合の信号補正回路を示す説明図である。
【図１０】キャビティ温度による光量−電流特性図を示している。
【図１１】（Ａ）は原画像の概略図を示しており、（Ｂ）が走査終了後の記録画像の概略図を示している。
【図１２】（Ａ）はレーザアレイに備えられた半導体レーザを複数連続点灯した場合の時間経過による光量変動を示すグラフであり、（Ｂ）は半導体レーザに常時バイアス電流を供給した場合に半導体レーザを連続点灯した場合の時間経過による光量変動を示すグラフである。
【符号の説明】
１０    画像記録装置
２６    光走査装置
５６    レーザ駆動回路（レーザ駆動手段）
５８    信号補正回路（補正手段）
６４    参照データ抽出回路（補正手段）
６６    データ演算回路（補正手段）
６８    データ処理回路（補正手段）
【図１】
0003635909.tif 000003
【図２】
0003635909.tif 000004
【図３】
0003635909.tif 000005
【図４】
0003635909.tif 000006
【図５】
0003635909.tif 000007
【図６】
0003635909.tif 000008
【図７】
0003635909.tif 000009
【図８】
0003635909.tif 000010
【図９】
0003635909.tif 000011
【図１０】
0003635909.tif 000012
【図１１】
0003635909.tif 000013
【図１２】
0003635909.tif 000014