(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
書込ヘッドと読出ヘッドとが１つのスライダに取り付けられた複合磁気ヘッドに接続される磁気ディスク書込／読出回路において、正相側と逆相側の２つの入力端子を有する読出回路と、２本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回された第１のチョークコイルあるいは第１のトランスとを有し、前記読出回路の前記２つの入力端子が前記第１のチョークコイルあるいは前記第１のトランスに接続され、さらにこれと前記複合磁気ヘッドの外部配線とを介して前記読出ヘッドの２端子にそれぞれ接続されて前記磁気ディスクからの読出信号を前記読出ヘッドから受け、前記複合磁気ヘッドが前記読出回路に対して前記第１のチョークコイルの前又は後ろ側あるいは前記第１のトランスの前又は後ろ側で着脱可能な接続になっていることを特徴とする磁気ディスク書込／読出回路。
【請求項２】
前記書込ヘッドはインダクティブヘッドであり、前記読出ヘッドはＭＲヘッドであり、さらに、正相側と逆相側の２つの出力端子を有する書込回路と、２本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回された第２のチョークコイルあるいは第２のトランスとを有し、前記書込回路の前記２つの出力端子が前記第２のチョークコイルあるいは前記第２のトランスに接続され、さらにこれと前記外部配線とを介して前記インダクティブヘッドの２端子にそれぞれ接続されて前記磁気ディスクへの書込信号を前記書込ヘッドへ出力し、前記複合磁気ヘッドが前記読出回路に対して前記第２のチョークコイルの前又は後ろ側あるいは前記第２のトランスの前又は後ろ側で着脱可能な接続になっている請求項１記載の磁気ディスク書込／読出回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、磁気ディスク書込／読出回路に関し、詳しくは、磁気ディスクテスタあるいは磁気ヘッドテスタにおいて使用される磁気ディスクに対してＭＲヘッドを用いる書込／読出回路おいて、磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を向上させることができるような磁気ディスク書込／読出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、現在では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッド（薄膜ヘッド）が、そして読出側ヘッドとしてＭＲヘッドが１つのスライダに取り付けられた、いわゆる複合磁気ヘッドが用いられている。さらに最近では、ＭＲヘッドに換えてＧＲＭヘッドが使用されるようになってきている。
そこで、ハード磁気ディスク（以下単にディスク）を検査するディスク検査装置あるいは前記のような磁気ヘッドの検査をする磁気ヘッド検査装置では、同様な磁気ヘッドが用いられるが、磁気ディスクの記録密度の向上とともに、磁気ディスクに対する書込／読出信号の周波数が高くなってきて、その分、S/N比が低下し、検査精度が落ちる問題がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
図３は、書込側のインダクティブヘッド（薄膜ヘッド）による書込電流（図３（ａ））と、これに対応する磁気ディスクのトラック上の磁化状態（図３（ｂ））、そして薄膜ヘッドあるいはＭＲヘッドが磁気ディスクのトラックから書込データを読出したときの読出信号の波形（図３（ｃ））、さらにノイズが重畳した読出信号の波形（図３（ｄ））とを示している。通常は、図３（ｄ）の状態となり、記録再生周波数が高くなればなるほど読出信号の波形に乗るノイズの影響が大きくなる。その上、読出信号の電圧レベルも低くなるので、精度の高い検査が難しくなる。
また、最近では、検査の効率化を図るために、１つの検査装置で多数の磁気ヘッドが用いられ、あるいは、１つの検査テーブルに多数の検査デバイスが並列的に配置されて磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの並列的な検査が行われる検査システムが構築されている。このようなシステムの場合には、データ記録時に高い周波数が使用される関係で、周囲にある読出動作中（再生中）のＭＲヘッド、ＧＭＲヘッドにノイズを誘起させ、それが検査に有害になる。この場合、ＭＲヘッド、ＧＭＲヘッドなどの再生ヘッドで観測されるノイズは、主として記録周波数の偶数次高調波であることが多く、図３（ｄ）のノイズレベルが大きくなる。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を向上させることができる磁気ディスク書込／読出回路を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するためのこの発明の磁気ディスク書込／読出回路の特徴は、書込ヘッドと読出ヘッドとが１つのスライダに取り付けられた複合磁気ヘッドに接続される磁気ディスク書込／読出回路において、正相側と逆相側の２つの入力端子を有する読出回路と、２本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回された第１のチョークコイルあるいは第１のトランスとを有し、読出回路の２つの入力端子が第１のチョークコイルあるいは第１のトランスに接続され、さらにこれと複合磁気ヘッドの外部配線とを介して読出ヘッドの２端子にそれぞれ接続されて磁気ディスクからの読出信号を読出ヘッドから受け、前記複合磁気ヘッドが前記読出回路に対して前記第１のチョークコイルの前又は後ろ側あるいは前記第１のトランスの前又は後ろ側で着脱可能な接続になっているものである。
【０００５】
【発明の実施の形態】
このように、２本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回されたチョークコイル（いわゆる、コモンモードチョークコイル）あるいはトランスを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号を読出回路が入力信号として受けることにより、読出信号に乗るノイズ成分は、２本の信号線に同相成分として乗ることになるのでコアにおいてノイズがキャンセルあるいは抑制される。
その結果、磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を高くすることができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。
【０００６】
【実施例】
図１は、この発明の磁気ディスク書込／読出回路を適用したＭＲヘッドを有する磁気ディスク検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図、図２は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の説明図である。
図１において、２は、書込データ作成回路であって、制御装置（図示せず）から指定されたテスト符号に対応してＨＩＧＨレベル（以下“Ｈ”）とＬＯＷレベル（以下“Ｌ”）との間で変化する所定のテストデータを書込データメモリ（図示せず）から読出して書込／読出回路１の書込回路１１へと送出する。
３は、磁気ヘッドであって、インダクティブヘッド（薄膜ヘッド）３ａとＭＲヘッド３ｂとにより構成される。
書込回路１１は、Ｄフリップフロップ（ＦＦ）１２とプッシュプルあるいは差動のアンプ（ＡＭＰ）１３とから構成され、書込みデータ生成回路２からテストデータをＤフリップフロップ１２のＤ端子に受け、書き込み信号をＤフリップフロップ１２のＱ出力、Ｑバー出力として発生する。そして、プッシュプルのアンプ１３がフリップフロップ１２のＱ出力、Ｑバー出力（Ｑ出力に対して反転出力側）を差動パルス信号として受けてそれぞれを増幅し、差動出力端子ＷＲ＋（正相側）、ＷＲ−（逆相側）に接続されたコモンモードチョークコイル１４を介してインダクティブヘッド（薄膜ヘッド）３ａの２端子に正転電流あるいは反転電流を出力する。これにより、インダクティブヘッド３ａは、磁気ディスクの所定の検査トラックにテストデータを書込む。
【０００７】
一方、読出回路１６は、ＭＲヘッド読出回路１７と差動アンプ（ＡＭＰ）１８とを有し、ＭＲヘッド読出回路１７は、コモンモードチョークコイル１５を介してＭＲヘッド３ｂにバイアス電流を供給してＭＲヘッド３ｂから正相と逆相の検出信号（読出信号）を差動入力端子ＲＤ＋（正相側），ＲＤ−（逆相側）に受けて正相と逆相の２つの差動読出信号（アナログ信号）を発生する。差動アンプ１８は、この正相と逆相の差動読出信号を受けてそれぞれに増幅して正相と逆相の出力を発生する。正相と逆相の出力は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）４を介して欠陥検出回路５に加えられ、その正相出力が正側のピーク追従型欠陥検出回路に、その逆相の出力が負側のピーク追従型欠陥検出回路にそれぞれ加えられて磁気ディスクの欠陥検出が行われる。
【０００８】
コモンモードチョークコイル１４，１５は、図１に示すように、それぞれ２本のコイルを相互に逆方向にフェライトコア（鉄心等）に巻回したものであって、いわゆる、入力に対して逆相出力のトランスに等価の巻線を持つ。それぞれのコイル１４ａ、１４ｂとコイル１５ａ、１５ｂとがそれぞれにその巻回方向が逆になることから同相で信号に乗るノイズ成分は、コア上で打ち消し合ってノイズがキャンセルあるいは抑制され、相互に逆相成分の信号のみが出力側に現れる。その結果、まず、書込信号に重畳するノイズが抑制され、読出信号のノイズも抑制されて実質的に図３（ｃ）に近い波形の読出信号を得ることができる。
【０００９】
図２は、コモンモードチョークコイル１４，１５の基板搭載の説明図である。２０は、磁気ヘッドアッセンブリであって、サスペッンションスプリング２１を介して磁気ヘッド３をその先端側に支持しており、サスペッンションスプリング２１の後端は、ヘッドキャリッジの支持アームに取り付けられる。サスペッンションスプリング２１の表面に沿ってインダクティブヘッド３ａとＭＲヘッド３ｂとにそれぞれ２本の配線（図示せず）が走っていて、図１に示す状態で前記の各ヘッドに配線接続がなされている。
２２、２３は、そのそれぞれの２本の配線を外部へ取り出す外部配線であり、外部配線２２，２３の磁気ヘッドアッセンブリ２０側でない先端側にはパドルコネクタ２５，２６が設けられていて、さらに、このコネクタ付きパドル３０（櫂あるいは駒の形態）が設けられ、これには、コモンモードチョークコイル１４（１４ａ、１４ｂ），コモンモードチョークコイル１５（１５ａ、１５ｂ）が搭載されている。
【００１０】
２９は、基板であって、書込／読出回路１が集積化されたＩＣ２４が搭載されている。この基板２９のＩＣ２４に対応する周辺部には雄型のコネクタ２７，２８が設けられ、これらに対してパドル３０の先端裏面側には点線で示すように、雌型の２端子のコネクタ２５，２６が設けられている。これら雌型２端子のコネクタ２５，２６のそれぞれの２端子が雄型コネクタ２７，２８にそれぞれの２端子に挿着されて磁気ヘッドアッセンブリ２０と書込／読出回路１とが接続される。これにより書込／読出回路１の書込回路１１の２本の出力線と、読出回路１６の２本の入力線とが接続されることになる。
このように、パドル３０にコモンモードチョークコイル１４，１５を搭載することにより既存の基板において書込／読出回路１の入出力端子の近傍にコモンモードチョークコイル１４，１５を配置することができる。
また、磁気ヘッドテスタなどにあっては、磁気ヘッドアッセンブリ２０は、外部配線２２，２３との間で端子接触させることも多く行われるので、前記のような構成を採ることで、コモンモードチョークコイル１４，１５を含めて磁気ヘッドアッセンブリ２０としての部品等の交換が容易になる。
なお、直接基板２９にコモンモードチョークコイル１４，１５を搭載するときには、基板２９側に点線で示すように、ＩＣ２４と雄型２端子のコネクタ２７，２８との間にコモンモードチョークコイル１４，１５を配置して雌型２端子のコネクタ２５，２６を外部配線２２、２３の２本の配線にそれぞれの２本の配線を圧着接続するようにすればよい。
【００１１】
実施例では、磁気ヘッドに対して書込回路の出力側と読出回路の入力側とにコモンモードチョークコイルを挿入しているが、これは、少なくとも読出回路側にコモンモードチョークコイルを挿入すればよく、必ずしも両者に挿入する必要はない。
また、図１に示したコイルとコアの関係からしてコモンモードチョークコイルに換えてトランスを使用してもよいことはもちろんである。
さらに、実施例では、磁気ディスクの検査装置の例を示しているが、この発明は、磁気ヘッドの検査装置に適用できることはもちろんである。
【００１２】
【発明の効果】
以上の説明のとおり、この発明にあっては、２本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回されたチョークコイルあるいはトランスを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号を読出回路が入力信号として受けることにより、読出信号に乗るノイズ成分は、２本の信号線に同相成分として乗ることになるのでコアにおいてノイズがキャンセルあるいは抑制される。
その結果、磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を高くすることができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、この発明の磁気ディスク書込／読出回路を適用したＲＭヘッドを有する検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図である。
【図２】図２は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の説明図である。
【図３】図３は、書込／読出回路の書込信号、読出信号等の説明図である。
【符号の説明】
１…書込／読出回路、２…書込データ作成回路、
３…磁気ヘッド、３ａ…インダクティブヘッド（薄膜ヘッド）、
３ｂ…ＭＲヘッド、４…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、
５…欠陥検出回路、１１…書込回路、１２…フリップフロップ、
１３…プッシュプルアンプ、
１４，１５…コモンモードチョークコイル、
１６…読出回路、１７…ＭＲヘッド読出回路、
２０…磁気ヘッドアッセンブリ、
２１…サスペッンションスプリング、
２２，２３…外部配線、２５，２６…雌型コネクタ、
２７、２８…雄型コネクタ、
２９…基板、３０…パドル。
【図１】
0003685953.tif 000002
【図２】
0003685953.tif 000003
【図３】
0003685953.tif 000004