(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板に実装されると共に、該プリント基板に形成された信号配線に接続されて該信号配線から信号を入力する入力端子を有し、
更に、前記入力端子と一定電圧のラインとの間には、２つの出力端子間の寄生ダイオードがサージ電圧保護用のクランプダイオードとして機能する、保護用トランジスタが接続されている半導体集積回路であって、
前記入力端子が前記信号配線に接続されている正常時と、前記入力端子が前記信号配線に接続されていないオープン異常時とで、前記入力端子の電圧が異なるように、前記保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧と、前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動しているときの前記入力端子の電圧との、両方に基づいて、前記オープン異常の有無を判定する判定手段と、
を備え、
前記判定手段は、
前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧が前記一定電圧から特定値以上離れた電圧であるか否かを判定する第１段階の判定処理を行い、該第１段階の判定処理で肯定判定したなら、第２段階の判定処理として、前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動しているときの前記入力端子の電圧が前記一定電圧であるか否かを判定する判定処理を行い、該第２段階の判定処理で肯定判定したなら、前記オープン異常が発生していると判定すること、
を特徴とする半導体集積回路。
【請求項２】
プリント基板に実装されると共に、該プリント基板に形成された信号配線に接続されて該信号配線から信号を入力する入力端子を有し、
更に、前記入力端子と一定電圧のラインとの間には、２つの出力端子間の寄生ダイオードがサージ電圧保護用のクランプダイオードとして機能する、保護用トランジスタが接続されている半導体集積回路であって、
前記入力端子が前記信号配線に接続されている正常時と、前記入力端子が前記信号配線に接続されていないオープン異常時とで、前記入力端子の電圧が異なるように、前記保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧と、前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動しているときの前記入力端子の電圧との、両方に基づいて、前記オープン異常の有無を判定する判定手段と、
を備え、
前記判定手段は、
前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧が前記一定電圧から特定値以上離れた電圧であるか否かを判定する第１段階の判定処理を行い、該第１段階の判定処理で肯定判定したなら、第２段階の判定処理として、前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧と、前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動しているときの前記入力端子の電圧とに、特定の相関関係があるか否かを判定する判定処理を行い、該第２段階の判定処理で前記相関関係がないと判定したなら、前記オープン異常が発生していると判定すること、
を特徴とする半導体集積回路。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路において、
前記信号配線から前記入力端子に入力される信号は、電圧値が所定範囲で変化するセンサ信号であり、
当該半導体集積回路は、
前記駆動手段が前記保護用トランジスタを駆動していないときの前記入力端子の電圧が、前記所定範囲から外れているか否かを判定し、前記所定範囲から外れていると判定した場合には、前記センサ信号を出力するセンサが異常であると判定するセンサ異常検出手段を備えること、
を特徴とする半導体集積回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路に関し、特に半導体集積回路の入力端子のオープン異常を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、半導体集積回路（以下、ＩＣともいう）は、電子装置を構成するプリント基板に実装され、そのＩＣの各端子は、プリント基板における所定形態の接続端子と接続されることにより、該プリント基板に形成された各配線に接続される。そして、ＩＣにおける信号の入力端子には、プリント基板に形成された信号配線から所望の信号が入力される。
【０００３】
このため、例えばＩＣの入力端子とプリント基板の接続端子との接触が不良となって、ＩＣの入力端子がプリント基板の信号配線に接続されないオープン異常が生じると、ＩＣに所望の信号が正常に入力されなくなり、該ＩＣの機能が正常に実現されなくなる。
【０００４】
そこで、ＩＣの入力端子とプリント基板の信号配線との接続状態が正常か異常かを判別する方法としては、ＩＣの内部において、入力端子にプルアップ抵抗やプルダウン抵抗を付加することで、異常時には、入力端子の電圧が通常の入力電圧とは異なる電圧となるようにしておき、その入力端子の電圧をモニタすることで、異常の有無を判定することが考えられている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
しかし、上記技術は、ＩＣの本来の機能には必要が無いプルアップ抵抗やプルダウン抵抗を入力端子に付加するため、入力端子の信号入力時の電気的特性（入力特性）を変えてしまうこととなる。このため、例えば、入力端子が、アナログのセンサ信号を入力してＡＤ変換するための端子である場合には、プルアップ抵抗やプルダウン抵抗の存在により、ＡＤ変換対象信号の電圧値が変わってしまい、センサ信号の検出精度が悪化してしまう。また、ＩＣの外部に設けられて該ＩＣの入力端子に信号を与える信号出力手段の構成及び電気的特性を、上記プルアップ抵抗やプルダウン抵抗を考慮して決定しなければならず、汎用性に乏しいＩＣとなってしまう。
【０００６】
そこで、上記の欠点を解消するための技術としては、ＩＣ内部において、入力端子と抵抗（プルアップ抵抗やプルダウン抵抗）との間に、更に、その抵抗の有効・無効を切り替えるスイッチを付加し、そのスイッチを必要なときにだけオンする、という手法もある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平０８−２３０７４号公報
【特許文献２】特開２００７−１４７３６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、入力端子と抵抗との間にスイッチを設ける上記手法では、ＩＣの構成素子を益々増やすこととなり、ＩＣの半導体チップサイズやコストの増加を招いてしまう。
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、半導体集積回路において、入力端子のオープン異常を、素子の追加量を抑えつつ且つ入力特性に影響を与えずに、検出可能にすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１発明の半導体集積回路は、当該半導体集積回路が実装されるプリント基板に形成された信号配線に接続されて該信号配線から信号を入力する入力端子を有している。
更に、この半導体集積回路において、入力端子と一定電圧のラインとの間には、２つの出力端子間の寄生ダイオードがサージ電圧保護用のクランプダイオードとして機能する、保護用トランジスタが接続されている。換言すれば、入力端子と一定電圧のラインとの間には、保護用トランジスタの２つの出力端子が、その出力端子間の寄生ダイオードがサージ電圧保護用のクランプダイオードとして機能するように、接続されている。
【００１０】
尚、上記一定電圧が、当該半導体集積回路の電源電圧であれば、保護用トランジスタは、それの寄生ダイオードのアノードが入力端子側となり、カソードが電源電圧のライン側となるように設けられる。また、上記一定電圧が、電源電圧よりも低い基準のグランド電圧（＝０Ｖ）であれば、保護用トランジスタは、それの寄生ダイオードのアノードがグランド電圧のライン側となり、カソードが入力端子側となるように設けられる。そして、このような保護用トランジスタは、半導体集積回路ならば、入力端子及び該入力端子に接続される内部回路をサージ電圧から保護するために、通常設けられるものである。
【００１１】
そこで、第１発明の半導体集積回路では、入力端子が前記信号配線に接続されている正常時と、入力端子が前記信号配線に接続されていないオープン異常時とで、入力端子の電圧が異なるように、駆動手段が保護用トランジスタを駆動する。そして、判定手段が、駆動手段により保護用トランジスタが駆動されたときの、入力端子の電圧に基づいて、オープン異常の有無を判定する。
【００１２】
つまり、この半導体集積回路では、入力端子のサージ電圧保護に不可欠な保護用トランジスタを、抵抗（プルアップ抵抗又はプルダウン抵抗）として機能させることで、オープン異常の有無を判定する。そして、オープン異常の有無を判定しない場合には、保護用トランジスタをオフのままにしておくことで、入力端子に本来不要なプルアップ抵抗又はプルダウン抵抗が接続されていない状態にすることができる。
【００１３】
よって、この半導体集積回路によれば、入力端子のオープン異常を、素子の追加量を抑えつつ且つ入力特性に影響を与えずに、検出可能にすることができるようになる。なぜなら、保護用トランジスタを、前述した従来技術における抵抗とスイッチとの両方として利用しており、そのような抵抗とスイッチとを追加する必要が無いからである。
【００１４】
ここで、駆動手段は、保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動する（換言すれば、完全にオンさせるのではなく能動領域でオンさせる）ように構成することができる。
【００１５】
つまり、駆動手段が保護用トランジスタを駆動しておらず、且つ、オープン異常が生じていない正常時の入力端子の電圧（即ち、本来の入力電圧）を、通常入力電圧と称することにすると、保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動すれば、正常時には、通常入力電圧と特定の相関関係がある電圧であって、通常入力電圧と上記一定電圧との電位差をプリント基板の信号配線上のインピーダンス（信号配線自体のインピーダンスあるいは信号配線上に故意に設けられた抵抗のインピーダンス）と保護用トランジスタの出力端子間のインピーダンスとで分圧した結果の電圧が、入力端子に現れるのに対し、入力端子のオープン異常時には、通常入力電圧に関係なく、入力端子の電圧は上記一定電圧となる。尚、ここで言う一定電圧とは、ハーフオン状態に駆動された保護用トランジスタの出力端子のうち、当該半導体集積回路の入力端子に接続されている方とは違う方の出力端子が接続されているラインの電圧である。このため、保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動すれば、正常時とオープン異常時とで、入力端子の電圧が異なるように、保護用トランジスタを駆動することとなる。
【００１６】
一方、保護用トランジスタがＭＯＳＦＥＴであれば、駆動手段は、保護用トランジスタのゲートに、該保護用トランジスタがハーフオン状態となる電圧を印加することで、該保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。
【００１７】
また、保護用トランジスタがバイポーラトランジスタであれば、駆動手段は、保護用トランジスタのベースに、該保護用トランジスタがハーフオン状態となる電流を流すことで、該保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。
【００１８】
また、保護用トランジスタがＭＯＳＦＥＴであれば、駆動手段は、保護用トランジスタのゲートに印加する電圧を、該保護用トランジスタを十分にオンさせることが可能なオン用電圧（ゲート・ソース間電圧をしきい値電圧より大きくすることのできる電圧）と該保護用トランジスタを完全にオフさせることが可能なオフ用電圧とに所定のデューティ比で切り替える、といったＰＷＭ制御を行うことで、該保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。ＭＯＳＦＥＴのゲート・ソース間には寄生容量があるため、このようなＰＷＭ制御を行うことで、ＭＯＳＦＥＴからなる保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。また、このようなＰＷＭ制御の変形例を述べると、ＭＯＳＦＥＴのゲートに印加する電圧の波形としては、矩形波に限らず、三角波や鋸波でも良い。つまり、保護用トランジスタにゲートに印加する電圧を所定周期で変化させることで、該保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。
【００１９】
ところで、判定手段は、例えば、駆動手段により保護用トランジスタが駆動（ハーフオン状態に駆動）されたときの入力端子の電圧が上記一定電圧か否かを判定して、上記一定電圧と判定したならばオープン異常と判定し、上記一定電圧でないと判定したならば正常と判定するように構成することができる。
【００２０】
但し、一般に、電圧が所定の値か否かを判定するには、ある程度の判定幅（判定範囲）を設けることとなるため、この構成では、プリント基板の信号配線から入力端子に入力される通常入力電圧が上記一定電圧から特定値以上離れた電圧にしかならない、という前提が必要である。逆に、その前提が無いと、通常入力電圧が上記一定電圧から特定値未満しか離れていない電圧になった場合に、本当は正常であっても、保護用トランジスタがハーフオン状態に駆動されたときの入力端子の電圧と上記一定電圧との差が非常に小さくなるため、オープン異常と誤判定してしまう可能性がある。
【００２１】
そこで、このような誤判定を回避するため、判定手段は、駆動手段が保護用トランジスタを駆動していないときの入力端子の電圧Ｖａと、駆動手段が保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧Ｖｂとの両方に基づいて、オープン異常の有無を判定するように構成することが好ましい。
【００２２】
より具体的には、例えば、判定手段は、第１段階として、保護用トランジスタを駆動していないときの入力端子の電圧Ｖａが上記一定電圧から特定値以上離れた電圧であるか否かを判定し、その判定で肯定判定したなら、第２段階として、保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧Ｖｂが上記一定電圧であるか否かを判定し、その第２段階の判定で肯定判定したなら、オープン異常と判定するように構成することができる。
【００２３】
尚、上記特定値をＶｘとすると、その特定値Ｖｘは、通常入力電圧が上記一定電圧からＶｘだけ離れた電圧であれば、その通常入力電圧が入力端子に入力された状態で保護用トランジスタが駆動手段によりハーフオン状態に駆動されても、入力端子の電圧は上記第２段階の判定により一定電圧であるとは判定されない値である。
【００２４】
以上のことを踏まえ、判定手段は、駆動手段が保護用トランジスタを駆動していないときの入力端子の電圧が前記一定電圧から特定値以上離れた電圧であるか否かを判定する第１段階の判定処理を行い、該第１段階の判定処理で肯定判定したなら、第２段階の判定処理として、駆動手段が保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧が前記一定電圧であるか否かを判定する判定処理を行い、該第２段階の判定処理で肯定判定したなら、オープン異常が発生していると判定する、というように構成すると良い。
また例えば、前述したように、正常ならば、保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動すると、通常入力電圧と特定の相関関係がある電圧が、入力端子に現れるため、判定手段は、電圧Ｖａと電圧Ｖｂとに特定の相関関係があるか否かを判定する相関判定処理を行い、両電圧Ｖａ，Ｖｂに特定の相関関係がないと判定したなら、オープン異常と判定するように構成することもできる。更に、この例の場合にも、上記相関判定処理を行う前に、電圧Ｖａが上記一定電圧から所定値以上離れた電圧であるか否かを判定し、その判定で肯定判定したなら上記相関判定処理を行うようにすることで、異常の判定精度を更に上げることができる。
このため、判定手段は、駆動手段が保護用トランジスタを駆動していないときの入力端子の電圧が前記一定電圧から特定値以上離れた電圧であるか否かを判定する第１段階の判定処理を行い、該第１段階の判定処理で肯定判定したなら、第２段階の判定処理として、駆動手段が保護用トランジスタを駆動していないときの入力端子の電圧と、駆動手段が保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧とに、特定の相関関係があるか否かを判定する判定処理を行い、該第２段階の判定処理で前記相関関係がないと判定したなら、オープン異常が発生していると判定する、というように構成しても良い。
【００２５】
また、第２発明の半導体集積回路では、保護用トランジスタとして、入力端子と電源電圧のラインとの間に接続された第１の保護用トランジスタと、入力端子と電源電圧よりも低いグランド電圧のラインとの間に接続された第２の保護用トランジスタとがある。尚、一般に、半導体集積回路の各入力端子には、この２つの保護用トランジスタが存在する。
【００２６】
そして、駆動手段は、前記２つの保護用トランジスタを、１つずつハーフオン状態に駆動する。そこで、判定手段は、駆動手段が第１の保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧Ｖｂ１が電源電圧であると判定し、且つ、駆動手段が第２の保護用トランジスタを駆動しているときの入力端子の電圧Ｖｂ２がグランド電圧であると判定したならば、オープン異常が発生していると判定する。
【００２７】
そして、このような第２発明の半導体集積回路によっても、入力端子への通常入力電圧に関係なく、オープン異常の有無を正しく判定することができる。つまり、前述の誤判定を回避することができる。具体例を挙げて説明すると、正常ならば、例えば、通常入力電圧が電源電圧付近であるときに、２つの保護用トランジスタが順次オンされて、上記電圧Ｖｂ１が電源電圧であると判定されたとしても、上記電圧Ｖｂ２の方は、グランド電圧よりも高い電圧であって、電源電圧をプリント基板の信号配線上のインピーダンスと第２の保護用トランジスタのインピーダンスとで分圧した電圧となるため、オープン異常と誤判定されない。
【００２８】
尚、判定手段が入力端子の電圧を判定するための構成としては、例えば以下の２つの構成が考えられる。
まず第１の構成は、入力端子の電圧を、当該半導体集積回路に設けられているＡＤ変換器によりＡＤ変換して検出する構成である。そして、この構成によれば、詳細な電圧変化を識別することができる。また第２の構成は、入力端子の電圧と所定の閾値との大小関係を、当該半導体集積回路に設けられているコンパレータ（比較器）によって判別する構成である。そして、この構成によれば、簡単な構成で電圧レベルを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】実施形態のマイコンをプリント基板に実装した状態を表す構成図である。
【図２】保護用トランジスタのオン抵抗とゲート・ソース間との関係を表すグラフである。
【図３】駆動回路の構成を説明する構成図である。
【図４】異常検出処理を表すフローチャートである。
【図５】異常検出処理の作用を説明するタイムチャートである。
【図６】変形例を説明する第１の説明図である。
【図７】変形例を説明する第２の説明図である。
【図８】変形例を説明する第３の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下に、本発明が適用された実施形態のＩＣ（半導体集積回路）としてのマイコン（マイクロコンピュータ）について説明する。尚、本実施形態のマイコンは、半導体で構成された電子回路を、複数の端子を有した１つのパッケージに封入して、１つの電子部品としてまとめたＩＣの一種である。
【００３１】
図１に示すように、本実施形態のマイコン２１は、例えば、車両に搭載される電子制御装置を構成するプリント基板１１に実装され、その電子制御装置が担う制御機能を実現するための処理を行う。
【００３２】
プリント基板１１の端子１５には、検出対象の物理量（例えばアクセル操作量）に応じて出力電圧が所定範囲で変化するセンサ１３が接続されている。そして、その端子１５は、プリント基板１１に形成された信号配線１６を介して、マイコン２１の入力端子２３に接続されている。
【００３３】
但し、本実施形態では、センサ１３の出力電圧であるセンサ信号に重畳したノイズが、マイコン２１の入力端子２３に伝達されるのを防ぐために、信号配線１６上には、周知のローパスフィルタ１７が設けられている。
【００３４】
尚、ローパスフィルタ１７は、信号配線１６に直列に設けられた抵抗Ｒ１と、抵抗Ｒ１と入力端子２３とを結ぶ信号配線１６の部分とグランド電圧（＝０Ｖ）のライン（以下、グランドラインという）との間に設けられたコンデンサＣ１とからなる。また、本実施形態において、抵抗Ｒ１の抵抗値は、例えば１０ＫΩである。また、本実施形態において、センサ信号は、センサ１３が正常ならば、１Ｖ〜４Ｖの範囲で変化する。
【００３５】
一方、マイコン２１は、当該マイコン２１のコアを成す周知のＣＰＵ２４や、ＲＯＭ及びＲＡＭ等（図示省略）に加えて、ＡＤ変換器（ＡＤＣ）２５と、そのＡＤ変換器２５に複数のアナログ信号を択一的に切り替えて入力させるマルチプレクサ（ＭＰＸ）２７とを備えている。
【００３６】
そして、マイコン２１においては、入力端子２３から入力されるセンサ信号が、マルチプレクサ２７を介してＡＤ変換器２５に入力され、そのＡＤ変換器２５によりＡＤ変換される。更に、そのセンサ信号のＡＤ変換結果であるＡＤ変換値は、ＣＰＵ２４によって所定の制御処理に使用される。尚、マイコン２１は、ＡＤ変換対象のアナログ信号を入力するための入力端子を複数有しているが、図１では、その入力端子のうちの１つである入力端子２３だけを図示している。
【００３７】
また、マイコン２１において、入力端子２３と電源電圧（本実施形態では５Ｖ）のラインとの間には、２つの出力端子間の寄生ダイオードＤ１がサージ電圧保護用のクランプダイオード（詳しくは、入力端子２３に印加された正のサージ電圧から内部回路を保護するためのクランプダイオード）として機能する、保護用トランジスタＴ１が接続されている。同様に、入力端子２３とグランドラインとの間には、２つの出力端子間の寄生ダイオードＤ２がサージ電圧保護用のクランプダイオード（詳しくは、入力端子２３に印加された負のサージ電圧から内部回路を保護するためのクランプダイオード）として機能する、保護用トランジスタＴ２が接続されている。
【００３８】
本実施形態では、マイコン２１のチップがＣＭＯＳ構造のチップであるため、保護用トランジスタＴ１はＰチャネルＭＯＳＦＥＴであり、保護用トランジスタＴ２はＮチャネルＭＯＳＦＥＴである。
【００３９】
このため、保護用トランジスタＴ１は、寄生ダイオードＤ１のアノードが入力端子２３側となり、寄生ダイオードＤ１のカソードが電源電圧のライン側となるように、２つの出力端子の一方であるドレインが入力端子２３に接続され、２つ出力端子の他方であるソースが電源電圧のラインに接続されている。そして、保護用トランジスタＴ１のゲートとソースとの間には、該保護用トランジスタＴ１がオンしないようにするための抵抗Ｒｇ１が接続されている。
【００４０】
また、保護用トランジスタＴ２は、寄生ダイオードＤ２のアノードがグランドライン側となり、寄生ダイオードＤ２のカソードが入力端子２３側となるように、２つの出力端子の一方であるドレインが入力端子２３に接続され、２つ出力端子の他方であるソースがグランドラインに接続されている。そして、保護用トランジスタＴ２のゲートとソースとの間にも、該保護用トランジスタＴ２がオンしないようにするための抵抗Ｒｇ２が接続されている。
【００４１】
尚、このようなハイ側、ロー側の一組の保護用トランジスタＴ１，Ｔ２は、半導体集積回路ならば、各入力端子についてそれぞれ設けられるものである。
更に、マイコン２１は、入力端子２３がプリント基板１１の信号配線１６に接続されていないオープン異常を検出するために、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２の一方又は両方（本実施形態では、保護用トランジスタＴ２の方）を駆動する駆動回路２９を備えている。
【００４２】
具体的に説明すると、駆動回路２９は、保護用トランジスタＴ２のゲート電圧ＶｉｎＬを制御する回路であり、ゲート電圧ＶｉｎＬを、０Ｖと、所定のハーフオン駆動電圧とに切り替える。
【００４３】
保護用トランジスタＴ２は、ゲート電圧ＶｉｎＬが０Ｖになると、完全にオフするため、通常の保護素子として機能する。つまり、寄生ダイオードＤ２がクランプダイオードとして機能することとなる。
【００４４】
これに対し、駆動回路２９が出力するハーフオン駆動電圧とは、保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動することとなる電圧であって、０Ｖよりも高いが、保護用トランジスタＴ２のしきい値電圧ＶＴ（約２Ｖ）よりは低い電圧である。本実施形態では、図２における点線で示すように、保護用トランジスタＴ２のオン抵抗（ドレイン・ソース間のインピーダンス）ＲＯＮ−Ｔ２が、ローパスフィルタ１７を成す抵抗Ｒ１の抵抗値（＝１０ＫΩ）と同じになるゲート・ソース間電圧Ｖｇｓ（＝１．８Ｖ）を、ハーフオン駆動電圧として設定している。よって、保護用トランジスタＴ２は、ゲート電圧ＶｉｎＬがハーフオン駆動電圧になると、オン抵抗が１０ＫΩのハーフオン状態となる。
【００４５】
そして、図３に示すように、駆動回路２９は、アナログスイッチ３３と、制御レジスタ３５と、セレクタ３７とを備えている。
アナログスイッチ３３は、オンすることで保護用トランジスタＴ２のゲートをハーフオン駆動電圧（＝１．８Ｖ）のラインに接続し、オフすることで保護用トランジスタＴ２のゲートをハーフオン駆動電圧のラインから切り離す。
【００４６】
制御レジスタ３５には、アナログスイッチ３３のオン／オフ（保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態にするかオフさせるかでもある）を示す１ビットのデータがＣＰＵ２４によって書き込まれる。
【００４７】
そして、セレクタ３７は、制御レジスタ３５内のデータが例えば“１”ならば、アナログスイッチ３３をオンさせて、保護用トランジスタＴ２のゲート電圧ＶｉｎＬをハーフオン電圧にする。すると、保護用トランジスタＴ２はハーフオン状態に駆動されて、該保護用トランジスタＴ２のオン抵抗ＲＯＮ−Ｔ２が約１０ＫΩとなる。
【００４８】
また、セレクタ３７は、制御レジスタ３５内のデータが例えば“０”ならば、アナログスイッチ３３をオフさせて、保護用トランジスタＴ２のゲート電圧ＶｉｎＬを０Ｖにする。すると、保護用トランジスタＴ２はオフ状態となる。
【００４９】
尚、本実施形態では、アナログスイッチ３３がＮチャネルＭＯＳＦＥＴである。このため、セレクタ３７は、アナログスイッチ３３のゲートに５Ｖ（該アナログスイッチ３３のしきい値電圧よりも高い電圧）を出力することで、該アナログスイッチ３３をオンさせ、アナログスイッチ３３のゲートに０Ｖを出力することで、該アナログスイッチ３３をオフさせる。
【００５０】
また、本実施形態のマイコン２１では、当該マイコン２１の外部から、所定の電圧入力端子３１を介してハーフオン駆動電圧が入力され、その電圧入力端子３１に接続されるラインが、ハーフオン駆動電圧のラインとなっている。このため、アナログスイッチ３３は、電圧入力端子３１と保護用トランジスタＴ２のゲートとの接続／非接続を切り替えていることとなる。
【００５１】
更に、本実施形態では、マイコン２１におけるコア（ＣＰＵ２４でもある）の動作電圧Ｖｃｏｒｅと、ハーフオン駆動電圧とが、同じ値の１．８Ｖであるため、マイコン２１の外部からコアの動作電圧Ｖｃｏｒｅを入力するための端子が、上記電圧入力端子３１となっている。つまり、コアの動作電圧Ｖｃｏｒｅを、駆動回路２９が保護用トランジスタＴ２のゲートに供給するハーフオン駆動電圧として用いている。
【００５２】
次に、マイコン２１のＣＰＵ２４が、入力端子２３のオープン異常を検出するために実行する異常検出処理について、図４のフローチャートを用い説明する。尚、図４の異常検出処理は、例えば一定時間毎に実行される。
【００５３】
図４に示すように、ＣＰＵ２４が異常検出処理の実行を開始すると、まずＳ１１０にて、ＡＤ変換器２５を初期化すると共に、制御レジスタ３５に“０”を書き込むことにより、駆動回路２９に保護用トランジスタＴ２をオフ状態にさせる。尚、制御レジスタ３５には、ＣＰＵ２４が起動直後に実行する初期化処理によっても“０”が書き込まれるため、上記Ｓ１１０にて制御レジスタ３５に“０”を書き込む処理は、省略しても良い。
【００５４】
次にＳ１２０にて、マルチプレクサ２７を切り替えて、入力端子２３の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５に入力させる。尚、図４では、入力端子２３の電圧ＶｉがＡＤ変換器２５に入力されるようにマルチプレクサ２７を切り替えることを、「ＭＰＸオン」と記載している。
【００５５】
そして、次のＳ１３０にて、入力端子２３の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５にＡＤ変換させ、続くＳ１４０にて、マルチプレクサ２７を切り替えて、入力端子２３の電圧ＶｉがＡＤ変換器２５に入力されないようにする。尚、図４では、入力端子２３の電圧ＶｉがＡＤ変換器２５に入力されないようにマルチプレクサ２７を切り替えることを、「ＭＰＸオフ」と記載している。
【００５６】
次に、Ｓ１５０にて、上記Ｓ１３０で電圧ＶｉをＡＤ変換した結果であるＡＤ変換値を、「ＡＤ０」として記憶する。このため、ＡＤ０は、保護用トランジスタＴ２を駆動していない（オフさせている）ときの電圧Ｖｉを示す。
【００５７】
そして、続くＳ１６０にて、ＡＤ０が例えば２Ｖから４Ｖまでの範囲内（２Ｖ≦ＡＤ０≦４Ｖ）であるか否かを判定し、ＡＤ０が２Ｖから４Ｖまでの範囲内であれば、Ｓ１７０に進む。
【００５８】
Ｓ１７０では、制御レジスタ３５に“１”を書き込むことにより、駆動回路２９に保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動させ、更に、マルチプレクサ２７を切り替えて、入力端子２３の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５に入力させる。そして、続くＳ１８０にて、入力端子２３の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５にＡＤ変換させる。
【００５９】
次に、Ｓ１９０にて、制御レジスタ３５に“０”を書き込むことにより、保護用トランジスタＴ２をオフ状態に戻し、更に、マルチプレクサ２７を切り替えて、入力端子２３の電圧ＶｉがＡＤ変換器２５に入力されないようにする。
【００６０】
そして、続くＳ２００にて、上記Ｓ１８０で電圧ＶｉをＡＤ変換した結果であるＡＤ変換値を、「ＡＤ１」として記憶し、その後、Ｓ２１０に進む。このため、ＡＤ１は、保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動しているときの電圧Ｖｉを示す。
【００６１】
Ｓ２１０では、ＡＤ１が０Ｖであるか否かを判定する判定処理を行う。具体的には、ＡＤ１が、０Ｖと見なすことのできる判定値Ｖｔｈ（本実施形態では例えば０．２Ｖ）未満であるか否かを判定する。そして、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈ未満ではないと判定した場合には、そのまま当該異常検出処理を終了するが、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈ未満であると判定した場合には、入力端子２３のオープン異常が発生していると判定して、Ｓ２２０に進み、オープン異常が発生していることを記憶した後、当該異常検出処理を終了する。
【００６２】
ここで、上記Ｓ２１０の判定処理によってオープン異常の有無が判定できる理由について説明する。
まず、正常ならば、ＡＤ０は、センサ信号の電圧値となり、ＡＤ１は、センサ信号の電圧値を、プリント基板１１における信号配線１６上のインピーダンスである抵抗Ｒ１の抵抗値（以下、この抵抗値もＲ１と記す）と、ハーフオン状態に駆動された保護用トランジスタＴ２のオン抵抗（以下、ＲｏｎＨＦと記す）とで分圧した値となる。
【００６３】
このため、Ｓ１８０で電圧ＶｉをＡＤ変換したとき（即ち、ＡＤ１の値を得たとき）のセンサ信号の電圧値と、ＡＤ０とが同じであると見なすと、ＡＤ１とＡＤ０とには、特定の相関関係として、「ＡＤ１＝ＡＤ０×ＲｏｎＨＦ／（Ｒ１＋ＲｏｎＨＦ）」という関係がある。
【００６４】
そして、本実施形態では、「Ｒ１＝ＲｏｎＨＦ」となるようにしているため、正常ならば、ＡＤ１はＡＤ０の半分（＝ＡＤ０／２）となる。
更に、Ｓ２１０の判定処理が行われる場合、それに先立つＳ１６０の判定処理により、ＡＤ０が２Ｖ以上であることが確認されているため、正常ならば、ＡＤ１は１Ｖ（＝２Ｖ／２）以上となるはずである。
【００６５】
これに対して、入力端子２３のオープン異常が生じていれば、ＡＤ１は、ＡＤ０に関係なく、ハーフオン状態の保護用トランジスタＴ２によるプルダウン作用により、約０Ｖになる。
【００６６】
そこで、Ｓ２１０では、ＡＤ１が、０Ｖ〜１Ｖの間に設定した判定値Ｖｔｈ未満であるか否かを判定し、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈ未満であればオープン異常、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈ未満でなければ正常、と判定している。
【００６７】
逆に言うと、ＡＤ０が、判定値Ｖｔｈの２倍よりも小さい場合、正常であっても、ＡＤ１は判定値Ｖｔｈより小さくなってしまうため、その場合に、Ｓ２１０の判定処理を行うと、本当は正常なのにオープン異常が生じていると誤判定してしまう。このため、本実施形態では、Ｓ１６０にて、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈの２倍よりも大きいことを確認した上で、Ｓ２１０の判定処理を行っている。尚、Ｓ１６０では、後述するＳ２３０でセンサ１３の異常を検出するために、ＡＤ０が所定範囲内か否かを判定しているのであるが、オープン異常の検出だけを考えたなら、Ｓ１６０では、ＡＤ０が所定値以上か否か（あるいは所定値より大きいか否か）の判定だけを行えば良い。また、Ｓ２１０では、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈ以下か否かを判定するようにしても良い。
【００６８】
一方、上記Ｓ１６０にて、ＡＤ０が２Ｖから４Ｖまでの範囲内ではないと判定した場合には、Ｓ２３０に移行する。
Ｓ２３０では、ＡＤ０が１Ｖ未満か又は４Ｖよりも大きいか否かを判定し、ＡＤ０が１Ｖ未満であると判定するか、ＡＤ０が４Ｖよりも大きいと判定した場合には、センサ１３が異常であると判定して、Ｓ２４０に進む。つまり、前述したように、センサ信号は、正常ならば１Ｖ〜４Ｖの範囲で変化するため、ＡＤ０が１Ｖよりも小さかったり、４Ｖよりも大きかったりした場合には、センサ１３が異常であると判定する。
【００６９】
そして、Ｓ２４０では、センサ異常（センサ１３の異常）が発生していることを記憶した後、当該異常検出処理を終了する。
また、上記Ｓ２３０にて、ＡＤ０が１Ｖ未満ではなく４Ｖより大きくもないと判定した場合（即ち「１Ｖ≦ＡＤ０＜２Ｖ」の場合）には、そのまま異常検出処理を終了する。
【００７０】
このような異常検出処理によれば、図５における時刻ｔ１よりも左側に示すように、入力端子２３のオープン異常が生じていない場合には、ＡＤ１がＡＤ０（≧２Ｖ）の半分になって判定値Ｖｔｈ以上となるため、正常（オープン異常は生じていない）と判定することとなる。これに対して、図５における時刻ｔ１よりも右側に示すように、入力端子２３のオープン異常が生じた場合には、ＡＤ１がＡＤ０（≧２Ｖ）に拘わらず判定値Ｖｔｈ未満となるため、オープン異常が生じていると判定することとなる。また、図５には示していないが、ＡＤ０が１Ｖ未満であると判定するか、ＡＤ０が４Ｖよりも大きいと判定した場合には、センサ１３自体が異常であると判定することとなる。
【００７１】
以上のようなマイコン２１では、入力端子２３のサージ電圧保護に不可欠な保護用トランジスタＴ２を、抵抗（プルダウン抵抗）として機能させることで、オープン異常の有無を判定している。そして、オープン異常の有無を判定しない場合（図４の異常検出処理を行っていない期間）には、保護用トランジスタＴ２をオフのままにしておくことで、入力端子２３に本来不要な抵抗が接続されていない状態にすることができる。よって、入力端子２３のオープン異常を、素子の追加量を抑えつつ且つ入力特性に影響を与えずに、検出可能にすることができるようになる。
【００７２】
また、本実施形態では、保護用トランジスタＴ２を駆動していないときの入力端子２３の電圧（ＡＤ０）と、保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動したときの入力端子２３の電圧（ＡＤ１）との、両方を用いてオープン異常の有無を判定しているため、ＡＤ０を考慮しない構成よりも、判定精度を高くすることができる。
【００７３】
但し、上記実施形態において、マイコン２１の入力端子２３に外部から入力される電圧が必ず０Ｖよりも判定値Ｖｔｈの２倍以上大きい、という前提があるのなら、ＡＤ０を用いずに、図４におけるＳ１７０〜Ｓ２２０の処理だけで、オープン異常の有無を判定するように構成しても良い。
【００７４】
また、図４の異常検出処理では、Ｓ２１０の判定処理で「ＹＥＳ」と複数回判定したなら、オープン異常が生じていると確定判定するようになっていても良い。そして、このことは、Ｓ２３０で行うセンサ１３の異常判定についても同様である。
【００７５】
また、図４の異常検出処理では、オープン異常が発生していると判定した後に、Ｓ２１０の判定処理で「ＮＯ」と１回又は複数回判定したなら、オープン異常が解消された（即ち、正常復帰した）と判断するようになっていても良い。
【００７６】
また、図４の異常検出処理では、センサ異常も合わせて検出するものであったが、センサ異常は別の処理で検出するようにしても良い。その場合、図４におけるＳ２３０，Ｓ２４０は削除でき、Ｓ１６０では、ＡＤ０の範囲判定ではなく、ＡＤ０が所定値（前述の例では２Ｖ）以上か否かを判定すれば良い。
【００７７】
尚、マイコン２１の端子のうち、入力端子２３以外の入力端子についても、入力端子２３について述べた構成及び処理によって、同様にオープン異常を検出することができる。
また、プリント基板１１における信号配線１６の断線も、入力端子２３のオープン異常として検出することができる。
【００７８】
一方、上記実施形態では、グランド電圧（＝０Ｖ）が一定電圧に該当し、グランドラインが一定電圧のラインに相当している。また、駆動回路２９が駆動手段に相当し、ＡＤ変換器２５及びＣＰＵ２４が判定手段に相当している。
【００７９】
次に、他の変形例について説明する。尚、以下に説明する各変形例は、適宜組み合わせて適応することができる。
［変形例１］
図４の異常検出処理のＳ２１０では、ＡＤ１とＡＤ０とに特定の相関関係があるか否かを判定する相関判定処理として、ＡＤ１が「ＡＤ０／２」であるか否かを判定する処理を行い、ＡＤ１が「ＡＤ０／２」であると判定したなら正常、ＡＤ１が「ＡＤ０／２」ではないと判定したならオープン異常、と判定するように構成しても良い。
【００８０】
より具体的には、Ｓ１３０で電圧ＶｉをＡＤ変換してから、Ｓ１８０で電圧Ｖｉを再びＡＤ変換するまでの時間（即ち、ＡＤ０の値を得てからＡＤ１の値を得るまでの時間）Ｔｉｎｔ内で、センサ信号は変化し得るため、ＡＤ１に関する判定値は、一点値（＝ＡＤ０／２）ではなく、ある範囲を持った値にしておくべきである。
【００８１】
このため、上記時間Ｔｉｎｔ内でセンサ信号が変化し得る最大変化量の半分の値を「ΔＶ」とすると、Ｓ２１０では、現実的には、下記式１の関係が成立しているか否かを判定すれば良い。
【００８２】
｛（ＡＤ０／２）−ΔＶ｝≦ＡＤ１≦｛（ＡＤ０／２）＋ΔＶ｝  …式１
そして、Ｓ２１０にて、式１の関係が成立していると判定した場合には、正常と判定し、逆に式１の関係が成立していないと判定した場合には、オープン異常が発生していると判定すれ良い。
【００８３】
尚、この変形例１の場合、Ｓ１６０では、ＡＤ０が、上記２１０の処理で誤判定をしない値以上であることを確認すれば更に良い。
つまり、ＡＤ０があまり小さい値の場合に、上記Ｓ２１０の判定処理を行うと、「ＡＤ０／２」がΔＶよりも小さくなるため、本当はオープン異常が生じてＡＤ１が約０Ｖになっても、式１が成立してしまい、正常と誤判定してしまうため、そのような誤判定が生じない程度にＡＤ０が大きい場合に、上記Ｓ２１０の判定処理を行うと良い。
【００８４】
例えば、図４の例では、Ｓ１６０にてＡＤ０が２Ｖ以上であることが確認された上で、Ｓ２１０の判定処理が行われるため、オープン異常時のＡＤ１が０．１Ｖであるとすると、ΔＶが０．９Ｖ以上でなければ、上記の誤判定は生じない。また、Ｓ１６０で判定するＡＤ０の範囲（特に下限値）は、こういった観点から設定すれば良い。
【００８５】
［変形例２］
図６（Ａ）に示すように、駆動回路２９は、マイコン２１内のペリフェラル（即ち、コアであるＣＰＵ２４からみた周辺回路であり、ＡＤ変換器２５やＩ／Ｏ等）で用いられる電源電圧としての５Ｖを、抵抗３８，３９により１．８Ｖに分圧し、その１．８Ｖがアナログスイッチ３３に供給される構成でも良い。
【００８６】
尚、抵抗３８，３９により分圧した電圧は、入力端子２３だけでなく、他の入力端子（図示省略）についてのハーフオン駆動電圧としても使用することができる。
［変形例３］
図６（Ｂ）に示すように、駆動回路２９のアナログスイッチ３３には、前述した電圧入力端子３１（コアの動作電圧Ｖｃｏｒｅを入力するための端子）とは別の端子であって、ハーフオン駆動電圧専用の電圧入力端子４１を介して、マイコン２１の外部から電圧が入力されるようになっていても良い。
【００８７】
この構成の場合、電圧入力端子４１に入力する電圧Ｖｔｅｓｔにより、保護用トランジスタＴ２のゲートに印加されるハーフオン駆動電圧を変えることができるため、保護用トランジスタＴ２のオン抵抗を例えば１００ＫΩや１ＭΩといった他の抵抗値に変更したい場合にも、容易に対応することができるようになる。
【００８８】
尚、電圧入力端子４１から入力する電圧Ｖｔｅｓｔは、入力端子２３だけでなく、他の入力端子（図示省略）についてのハーフオン駆動電圧としても使用することができる。
［変形例４］
図６（Ｃ）に示すように、駆動回路２９は、保護用トランジスタＴ２のゲートに出力する電圧ＶｉｎＬを所定周期で０Ｖと５Ｖとに切り替えるＰＷＭ制御を行うことで、該保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動するように構成することもできる。ＭＯＳＦＥＴのゲート・ソース間には寄生容量があるため、このようなＰＷＭ制御を行うことで、ＭＯＳＦＥＴからなる保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動することができる。
【００８９】
尚、図６（Ｃ）の駆動回路２９では、アナログスイッチ３３として、ＰチャネルＭＯＳＦＥＴを用いると共に、そのアナログスイッチ３３の入力側（ソース）に５Ｖを供給している。このため、セレクタ３７は、制御レジスタ３５内のデータが“０”ならば、アナログスイッチ３３のゲートに５Ｖを出力することで、該アナログスイッチ３３をオフさせて、保護用トランジスタＴ２のゲートへの電圧ＶｉｎＬを０Ｖにする。そして、セレクタ３７は、制御レジスタ３５内のデータが“１”ならば、ＰＷＭ信号生成回路４３から出力されるＰＷＭ信号であって、所定周期且つ所定デューティ比で０Ｖと５Ｖとに切り替わるＰＷＭ信号を、アナログスイッチ３３のゲートに出力して、該アナログスイッチ３３をオン／オフさせて、保護用トランジスタＴ２のゲートへの電圧ＶｉｎＬを０Ｖと５Ｖとに切り替える。この場合、ＰＷＭ信号が０Ｖのときに、アナログスイッチ３３がオンして、保護用トランジスタＴ２への電圧ＶｉｎＬが５Ｖとなる。
【００９０】
また、図１に示したように、マイコン２１の入力端子２３が接続される信号配線１６にローパスフィルタ１７のコンデンサＣ１が接続されている場合、保護用トランジスタＴ２がオンしようとすると、そのコンデンサＣ１から保護用トランジスタＴ２に電流が流れて、該保護用トランジスタＴ２はハーフオン状態になりやすいため、ＰＷＭ制御の周期（ＰＷＭ信号の周期）を長めに設定し易くなる。
【００９１】
また、保護用トランジスタＴ２のゲートに印加する電圧の波形としては、ＰＷＭ信号のような矩形波に限らず、三角波や鋸波でも良い。
［変形例５］
図示は省略するが、図６（Ｂ）の構成を更に変形して、電圧入力端子４１から入力される電圧Ｖｔｅｓｔが、アナログスイッチ３３を介さずに、そのまま保護用トランジスタＴ２のゲートに供給されるように構成しても良い。
【００９２】
この場合、例えば、電子制御装置の製造後のテスト時において、マイコン２１へテストモード信号を与えると、マイコン２１がテストモードとなって、図４と同様の処理を行うと共に、その図４のＳ１７０のタイミングで、外部へ指示を出し、その指示が出されたタイミングで、プリント基板１１側の電圧出力回路が、マイコン２１の電圧入力端子４１へハーフオン駆動電圧を出力するようにしておけば、入力端子２３のオープン異常検出を行うことができる。また逆に、プリント基板１１側の電圧出力回路がマイコン２１の電圧入力端子４１に出力する電圧を０Ｖとハーフオン駆動電圧とに切り替えると、その電圧の切り替えに応じて、マイコン２１が図４と同様の処理を進めていくようにしても良い。
【００９３】
［変形例６］
図７に示すように、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２のうち、ハイ側の保護用トランジスタＴ１をハーフオン状態に駆動するようにしても良い。
【００９４】
即ち、図７のマイコン２１では、駆動回路２９が、保護用トランジスタＴ１のゲート電圧ＶｉｎＨを、該保護用トランジスタＴ１をオフさせる電圧である５Ｖと、ハーフオン駆動電圧とに切り替える。尚、この場合のハーフオン電圧は、保護用トランジスタＴ１のしきい値電圧をＶＴとすると、５Ｖよりも低いが「５Ｖ−ＶＴ」よりは高い電圧である。
【００９５】
そして、この構成の場合でも、図４と同様の処理によって、入力端子２３のオープン異常を検出することができる。
具体的に説明すると、図４のＳ１７０では、保護用トランジスタＴ２に代えて、保護用トランジスタＴ１をハーフオン状態に駆動することとなる。
【００９６】
そして、正常ならば、Ｓ１１０〜Ｓ１５０の処理で得られるＡＤ０は、センサ信号の電圧値となり、Ｓ１７０〜Ｓ２００の処理で得られるＡＤ１は、センサ信号の電圧値をＶｓとすると、５ＶとＶｓとの電位差をＲ１と保護用トランジスタＴ１のオン抵抗ＲｏｎＨＦ（＝Ｒ１）とで分圧した値となり、「ＡＤ１＝（５Ｖ−Ｖｓ）／２＋Ｖｓ」となる。
【００９７】
このため、ＡＤ１の値を得たときのセンサ信号の電圧値Ｖｓと、ＡＤ０とが同じであると見なすと、ＡＤ１とＡＤ０とには、「ＡＤ１＝（５Ｖ−ＡＤ０）／２＋ＡＤ０」という関係がある。
【００９８】
更に、Ｓ２１０の判定処理が行われる場合、それに先立つＳ１６０の判定処理により、ＡＤ０が４Ｖ以下であることが確認されているため、正常ならば、ＡＤ１は４．５Ｖ（＝（５Ｖ−４Ｖ）／２＋４Ｖ）以下となるはずである。
【００９９】
これに対して、入力端子２３のオープン異常が生じていれば、ＡＤ１は、ＡＤ０に関係なく、ハーフオン状態の保護用トランジスタＴ１によるプルアップ作用により、約５Ｖになる。
【０１００】
そこで、Ｓ２１０では、ＡＤ１が、４．５Ｖ〜５Ｖの間に設定した判定値Ｖｔｈよりも高いか否かを判定し、ＡＤ１が判定値よりも高ければオープン異常、ＡＤ１が判定値Ｖｔｈよりも高くなければ正常、と判定すれば良い。
【０１０１】
尚、この場合、Ｓ１６０で判定するＡＤ０の範囲は１Ｖ〜４Ｖで良く、そのように変更したならば、Ｓ２３０は省略できる。また、図４の処理でセンサ異常を検出しない（即ちＳ２３０，Ｓ２４０を行わない）のであれば、Ｓ１６０では、ＡＤ０が所定値（前述の例では４Ｖ）以下か否かを判定すれば良い。一方、Ｓ２１０では、変形例１と同様の手法でオープン異常の有無を判定しても良い。
【０１０２】
［変形例７］
図８に示すように、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２の両方を利用しても良い。
具体的に説明すると、図８のマイコン２１では、ＣＰＵ２４が、駆動回路２９により、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２の各々を、１つずつハーフオン状態に駆動させる。
【０１０３】
そして、ＣＰＵ２４は、保護用トランジスタＴ１をハーフオン状態に駆動しているときの入力端子の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５によりＡＤ変換して、そのＡＤ変換値を「ＡＤＴ１」として記憶し、また、保護用トランジスタＴ２をハーフオン状態に駆動しているときの入力端子の電圧ＶｉをＡＤ変換器２５によりＡＤ変換して、そのＡＤ変換値を「ＡＤＴ２」として記憶する。
【０１０４】
そして更に、ＣＰＵ２４は、ＡＤＴ１が５Ｖであるか否かの判定（実際には、５Ｖよりも少し低い判定値以上であるか否かの判定）と、ＡＤＴ２が０Ｖであるか否かの判定（実際には、０Ｖよりも少し高い判定値以下であるか否かの判定）とを行って、ＡＤＴ１が５Ｖであると判定し、且つ、ＡＤＴ２が０Ｖであると判定したならば、入力端子２３のオープン異常が発生していると判定し、それ以外であれば正常と判定する。
【０１０５】
［変形例８］
マイコン２１内にコンパレータ（比較器）を設け、そのコンパレータによって電圧Ｖｉの値を判定するように構成しても良い。
【０１０６】
［その他］
ところで、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２のうち、保護用トランジスタＴ２の方だけを用いて入力端子２３のオープン異常を検出するように構成した場合には、入力端子２３への入力電圧が高いほど、正常時とオープン異常時とで、マイコン２１内における入力端子２３の電圧Ｖｉの差が大きくなるため、オープン異常の有無を正しく判定し易い。このため、センサ１３の出力電圧が高いほどオープン異常の検出能力（判定能力）が高いと言える。
【０１０７】
逆に、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２のうち、保護用トランジスタＴ１の方だけを用いて入力端子２３のオープン異常を検出するように構成した場合には、入力端子２３への入力電圧が低いほど、正常時とオープン異常時とで、電圧Ｖｉの差が大きくなるため、オープン異常の有無を正しく判定し易い。このため、センサ１３の出力電圧が低いほどオープン異常の検出能力が高いと言える。
【０１０８】
ここで、例えば、センサ１３が、車両運転者によるアクセル操作量が大きいほど出力電圧が高くなるものであるとすると、マイコン２１側では、入力端子２３の電圧Ｖｉが例えば最大の５Ｖになった場合に、それが本当にアクセル操作量を表しているのか、入力端子２３のオープン異常によって偶然検出された値なのかを明確にしたい。なぜなら、入力端子２３がオープン異常によってハイインピーダンスになり、その入力端子２３の不定な電圧Ｖｉが偶然５Ｖになって、それがＡＤ変換されたとすると、その誤った５Ｖという検出結果（＝アクセル操作量最大という検出結果）が車両の出力制御に用いられるのは好ましくないからである。
【０１０９】
そして、センサ１３の出力電圧が高い場合ほど、より確実にオープン異常の有無を判断したいのであれば、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２のうち、保護用トランジスタＴ２の方を用いてオープン異常を検出する構成を採用するのが好ましい。
【０１１０】
また逆に、センサ１３の出力電圧が低い場合ほど、より確実にオープン異常の有無を判断したいのであれば、保護用トランジスタＴ１，Ｔ２のうち、保護用トランジスタＴ１の方を用いてオープン異常を検出する構成を採用するのが好ましい。
【０１１１】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明はこうした実施形態に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施し得ることは勿論である。
【０１１２】
例えば、保護用トランジスタはバイポーラトランジスタであっても良く、その場合には、保護用トランジスタのベースに、該保護用トランジスタがハーフオン状態となる電流を流すことで、該保護用トランジスタをハーフオン状態に駆動することができる。
【０１１３】
また、図４の異常検出処理は、マイコン２１の通常動作中に繰り返し行うことが好ましいが、電子制御装置の製造後のテスト時にも行うようにしても良い。また、電子制御装置の製造後のテスト時にだけ行うようにしても良い。
【符号の説明】
【０１１４】
１１…プリント基板、１３…センサ、１５…端子、１６…信号配線、１７…ローパスフィルタ、Ｒ１…抵抗、Ｃ１…コンデンサ、２１…マイコン、２３…入力端子、２４…ＣＰＵ、Ｔ１，Ｔ２…保護用トランジスタ、Ｄ１，Ｄ２…寄生ダイオード、Ｒｇ１，Ｒｇ２…抵抗、２５…ＡＤ変換器、２７…マルチプレクサ、２９…駆動回路、３１…電圧入力端子、３３…アナログスイッチ、３５…制御レジスタ、３７…セレクタ、３８，３９…抵抗、４１…電圧入力端子、４３…ＰＷＭ信号生成回路
【図１】
0005640718.tif 000002
【図２】
0005640718.tif 000003
【図３】
0005640718.tif 000004
【図４】
0005640718.tif 000005
【図５】
0005640718.tif 000006
【図６】
0005640718.tif 000007
【図７】
0005640718.tif 000008
【図８】
0005640718.tif 000009