(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送される穀粒に光を照射して穀粒の透過光を受光し、受光量の変化から穀粒の胴割れの有無を判別する胴割れ判別方法であって、
搬送される穀粒に光源の光を照射し、穀粒の搬送方向の２位置から２種の透過光波形を受光し、該２種の透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差との比較により胴割れを判別することを特徴とする胴割れ粒判別方法。
【請求項２】
穀粒を搬送する搬送手段と、
搬送手段により搬送された穀粒に光を照射する光源を有する光源手段と、
穀粒を透過した透過光を受光する穀粒の搬送方向に設けられた２つの受光手段と、
該受光手段による受光信号を演算処理して選別信号を出力する演算制御手段と、
前記選別信号により作動して穀粒中の不良穀粒と良穀粒とを区分する選別手段を備え、
前記演算制御手段は、設定した基準レベル差を記憶する記憶手段を有し、受光手段による穀粒の２つの透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差とを比較して、基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れと判別して、前記選別手段に選別信号を出力することを特徴とする胴割れ粒選別装置。
【請求項３】
搬送手段は、周囲に穀粒を捕捉可能にした複数の開口部を有する回転円盤であることを特徴とする請求項２記載の胴割れ選別装置。
【請求項４】
搬送手段は、穀粒を流下させる傾斜したシュ−トであることを特徴とする請求項２記載の胴割れ選別装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
穀粒に光を照射しその透過光を検出して、透過光の変化から胴割れ穀粒を判別する胴割れ判別方法とその判別による選別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
穀粒に含まれる胴割れ粒を判別して、胴割れ粒が含まれる比率を演算する検査機器は、従来から様々な形で開発されてきた。従来の判別方法は、穀粒に光を照射して得られる透過信号の波形とそこに生じるくぼみを検出して胴割れ粒を判別する方法が一般的であった。
【０００３】
本出願人はさらに検出精度を向上させるために、搬送される穀粒に光を照射して、得られる２種の透過光の差を演算し、演算して得られた波形を微分した値において基準を超えた信号レベルが複数検出された場合に胴割れ粒と判別するようにしていた。
【０００４】
しかしながら従来の検査機はあくまで検査機器であって選別機とはなりえないものであった。つまり、検査機器の場合、穀粒の供給は１粒ずつであり決して数珠つなぎ状態で供給されるものではない。あくまで１粒ずつ間隔を空けて供給することによって初めて検査機器としての性能が発揮されるものであった。このため、胴割れ粒と整粒とが連続して供給された場合には、胴割れ粒に連続した整粒も胴割れ粒と判別されたり、連続した２粒の穀粒を１粒に認識して間違えたりすることなどが発生しており、従来の判別方式は連続した穀粒の供給には適したものではなかった。
【０００５】
図１０を基に、連続して供給される穀粒を従来の判別方式によって得た波形を説明する。
【０００６】
図１０の（１）には信号イと信号ロとが示されており、前記信号イと信号ロは２つの受光センサの各検出信号である。そして、図１０の（２）の信号ハは、前記信号イと信号ロの差を表した信号を更に微分して得られた信号である。同図１０の（２）の波線は、しきい値を示している。
【０００７】
従来の判別方式は前述のように、前記信号ハにおいて、信号がしきい値よりも２回以上、下がったときに胴割れ粒と判別するものであった。このため、図１０の信号は、連続して供給された２粒（整粒、胴割れ粒の順）から得られた信号であるにもかかわらず、図１０の（２）に示しているように信号ハの値は、しきい値（波線部）よりも２回下回っていることから、胴割れ粒と判別すると共に、２粒を１粒と間違えて認識されてしまう。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、選別装置として穀粒を整粒と胴割れ粒とに区分して整粒に含まれる胴割れ粒を減少させることは、整粒ばかりの穀粒の商品価値を上げ、また区分けされた胴割れ粒はその用途を明確にすることができる。このことから、整粒と胴割れ粒との区分けを早く処理する方法とその装置の開発が望まれている。
【０００９】
また、従来の検査機器においても判別の高速化により、検査時間の短縮が望まれていることから、穀粒を連続して連ねて供給しても、正確に判別できる胴割れ粒判別方法とその装置の開発が望まれている。
【００１０】
以上のことから本発明は、穀粒を連続して連ねて供給しても、正確に判別できる胴割れ粒判別方法とその装置を提供することを技術的課題としたものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するため、
請求項１に係る発明（以下、「第１発明」という）によれば、
搬送される穀粒に光を照射して穀粒の透過光を受光し、受光量の変化から穀粒の胴割れの有無を判別する胴割れ判別方法であって、
搬送される穀粒に光源の光を照射し、穀粒の搬送方向の２位置から２種の透過光波形を受光し、該２種の透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差との比較により胴割れを判別する、という技術的手段を講じるものである。
【００１２】
よって、第１発明は以下の作用を有する。
【００１３】
搬送される穀粒に光源の光を照射し、穀粒の搬送方向の２位置から２種の透過光波形を受光し、該２種の透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差との比較により胴割れを判別する。該判別は、前記レベル差があらかじめ設定された基準レベル差（しきい値）よりも大きい場合に胴割れと判別する。
【００１４】
請求項２に係る発明（以下、「第２発明」という）によれば、胴割れ粒選別装置において、
穀粒を搬送する搬送手段と、
搬送手段により搬送された穀粒に光を照射する光源を有する光源手段と、
穀粒を透過した透過光を受光する穀粒の搬送方向に設けられた２つの受光手段と、
該受光手段による受光信号を演算処理して選別信号を出力する演算制御手段と、
前記選別信号により作動して穀粒中の不良穀粒と良穀粒とを区分する選別手段を備え、
前記演算制御手段は、設定した基準レベル差を記憶する記憶手段を有し、受光手段による穀粒の２つの透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差とを比較して、基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れと判別して、前記選別手段に選別信号を出力する、という技術的手段を講じるものである。
【００１５】
よって、第２発明は以下の作用を有する。
【００１６】
演算制御手段は、受光手段による穀粒の２つの透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差とを比較して、基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れと判別して、前記選別手段に選別信号を出力して胴割れ粒を選別する。前記判別は、前記レベル差があらかじめ設定された基準レベル差（しきい値）よりも大きい場合に胴割れと判別する。
【００１７】
請求項３に係る発明（以下、「第３発明」という）によれば、
前記第２発明に加え、搬送手段は、周囲に穀粒を捕捉可能にした複数の開口部を有する回転円盤とする、という技術的手段を講じるものである。
【００１８】
よって、第３発明は以下の作用を有する。
【００１９】
穀粒は、１粒ずつ前記回転円盤の各開口部によって連続して搬送される。
【００２０】
請求項４に係る発明（以下、「第４発明」という）によれば、
前記第２発明に加え、搬送手段は、穀粒を流下させる傾斜したシュ−トとする、という技術的手段を講じるものである。
【００２１】
よって、第４発明は以下の作用を有する。
【００２２】
穀粒は、前記シュートによって連続して搬送される。
【００２３】
【発明の実施の形態】
本発明による好適な実施の形態を図１により説明する。図１は、穀粒の供給をシュ−トにより行う胴割れ粒選別装置１の主要部を示す。傾斜したシュ−ト２上を穀粒が滑落して落下する落下軌跡Ｃの一方に、落下する穀粒に光を照射する光源となるレ−ザ−光源３を設け、またその光源３と対向する位置において、穀粒が移動する方向の２位置に受光センサ４と受光センサ５とが設けてある。
【００２４】
この受光センサ４，５の穀粒位置Ａにおける視点は、図２のように穀粒の移動方向にずれており、例えば２ｍｍ程度の視点差が設けてある。また、受光センサ４，５を設ける位置は、穀粒が無いときに光源３の光が直接受光しない位置とすることが好ましい。
【００２５】
穀粒の落下軌跡上の穀粒位置Ａの下方には、整粒と胴割れ粒とを区分けする選別装置６が設けられ、本例では、圧縮空気の噴射を電気的に制御する電磁弁とした。
【００２６】
以上の受光センサ４，５と選別装置６は演算制御装置７に接続され、演算制御装置７には記憶部８が設けられている（図３参照）。演算制御装置７は、受光センサ４，５からの２種の受光信号を受け、該２種の受光信号の差を演算してその値を微分し、上下する微分値の２箇所の隣合う高い値と低い値とを比較してレベル差を２つ算出する。そして、算出したレベル差のうち差の小さい方と記憶部８にあらかじめ記憶された基準のレベル差とを比較し、基準のレベル差よりも算出されたレベル差（差の小さい方）が小さい時には整粒と判別し、一方、基準のレベル差よりもレベル差（差の小さい方）が大きいときには胴割れ粒と判別される。
【００２７】
胴割れ粒と判別されたときには演算制御装置７から選別装置６に選別信号が出力されて選別装置６が作動する。選別装置６への選別信号の出力は、穀粒位置Ａと選別装置６との距離を考慮して適宜遅延して出力される。
【００２８】
次に信号処理と胴割れ粒の判別について図４及び図５により詳細に説明する。図４は穀粒のうち胴割れ粒を検出したときの信号であり、図５は穀粒のうち整粒を検出したときの信号をそれぞれ示している。信号イが受光センサ４の受光信号、信号ロが受光センサ５の受光信号、信号ハが受光センサ４の信号と受光センサ５の信号の差を表した信号であり、そして信号ニが信号ハを微分して得られた信号である。
【００２９】
本例では穀粒の透過光を先に検出する受光センサ４の信号が、穀粒を検出して上昇し任意のレベルｂを超えたときに穀粒のはじめと判別し、後に検出する受光センサ５の信号が下降をはじめて任意の下降角度（微小時間における信号傾斜角）となったときｄに穀粒の終わりと判別する。
【００３０】
図４において更に説明する。信号ニにおける信号判定開始点を、信号イにおける穀粒のはじめと判別されたとき以降の信号ニのポイントｅとし、また信号判定終了点を、信号ロにおいて信号が下降をはじめて任意の下降角度（微小時間における信号傾斜角）となったとき（ｄ）の信号ニにおけるポイントｆとする。若しくは信号ニにおける信号判定開始をポイントｅ（同上）とし、穀粒の穀粒位置Ａを通過する速度等を考慮し、例えば３msec程度を設定して、この時間が経過したとき信号判定終了のポイントｆとしてもよい。ここでの説明は前者の方で説明する。
【００３１】
ポイントｅ〜ｆの変化において、最下点をはじめとし、次に隣り合う高い値、更に次に隣合う低い値を順にとり、前記最下点と次の高い値との差と該高い値と次に低い値との差とをそれぞれ演算する。 そして２つの差のうち、小さい方が基準のレベル差より大きければ胴割れ粒と判別するものである。 また、信号ニがこのように最下低・高・低の順になっていないとき、すなわち最下低・高の次に低がないときは、２つのレベル差のうち１つがゼロとされ、このゼロと基準のレベル差とが比較されることになる。この粒子は整粒と判別される。
【００３２】
図４の（４）に示す、ピ−ク（以下「Ｐ」とする）１（最下低）とＰ２（次の高）との信号レベル差とＰ２（前記高）とＰ３（次の低）の信号レベル差は同じ信号レベル差であるが、このレベル差は十分胴割れ粒として判別されるレベル差である。
【００３３】
次に図５の（４）において、各信号の符号については図４と同様として説明する。Ｐ１（最下低）とＰ２（次の高）及びＰ２（前記高）とＰ３（次の低）の各信号レベル差のうち、レベル差の小さい方であるＰ２とＰ３のレベル差は、胴割れ粒と判別するには小さい信号レベル差であるとして胴割れ粒と判別されることはない。
【００３４】
本発明において２つのレベル差を求めるのは、整粒を胴割れ粒と誤って判別しないようにするためである。すなわち、２つのレベル差のうち一方のレベル差が基準のレベル差よりも大きく、もう一方のレベル差が基準のレベル差よりも小さいとき、この穀粒は整粒である。該穀粒は、レベル差の小さい方と基準のレベル差を比較し、この小さいレベル差が基準のレベル差より小さいため整粒として判別される。
【００３５】
以上が本発明の波形処理による判別方法の基本的な部分であるが、このように一粒ごとに搬送される穀粒の信号レベルはきわめて判別しやすい波形となっている。しかしながらこれら穀粒が連続して搬送された場合には従来技術による胴割れ粒の判別はきわめて難しいものとなる。この点について以下に例を示す。
【００３６】
次に本発明の判別方法による際だった特徴を示す。図６に示す信号の例は、従来技術では１粒の胴割れ粒として判別されていた信号で、本発明により確実に胴割れ粒、整粒の順に連続して穀粒信号が検出された例である。図６においても信号イと信号ロが検出され、この２つの信号の差を演算し更に微分した値が信号ニのようになる。まず、信号レベルｂにより各粒の最初が識別され、ｄ１，ｄ２により各粒の最後が認識されて、確実に２粒（ｂ１，ｂ２参照）であることが認識される。さらに本発明によると、それぞれの信号が胴割れ粒の信号か整粒の信号であるかが確実に判別される。つまり最初の胴割れ粒は、Ｐ１とＰ２及びＰ２とＰ３の信号レベル差のうち、信号レベル差の小さい方であるＰ２とＰ３のレベル差が基準のレベル差と比較され、Ｐ２とＰ３のレベル差が基準のレベル差よりも大きいため胴割れ粒と判別される。また次の整粒は、Ｐ４とＰ５及びＰ５とＰ６の信号レベル差のうち、信号レベル差の小さい方であるＰ５とＰ６のレベル差が基準のレベル差と比較され、Ｐ５とＰ６のレベル差が基準のレベル差よりも小さいため整粒と判別される。
【００３７】
また、図７は、整粒、胴割れ粒の順に連続して穀粒信号が検出された例である。図７においても信号イと信号ロが検出され、この２つの信号の差を演算し更に微分した値が信号ニのようになる。まず、信号レベルｂにより各粒の最初が識別され、ｄ１，ｄ２により各粒の最後が認識されて、確実に２粒（ｂ１，ｂ２参照）であることが認識される。さらに本発明によると、それぞれの信号が胴割れ粒の信号か整粒の信号であるかが確実に判別される。つまり最初の整粒は、Ｐ１とＰ２の信号レベル差しか算出することができず、もう一つの信号レベル差はゼロと認識され、このゼロの値と基準のレベル差と比較されて、ゼロの値が基準のレベル差よりも小さいため整粒と判別される。また次の胴割れ粒は、Ｐ４とＰ５及びＰ５とＰ６の信号レベル差のうち、信号レベル差の小さい方であるＰ４とＰ５のレベル差が基準のレベル差と比較され、Ｐ４とＰ５のレベル差が基準のレベル差よりも大きいため胴割れ粒と判別される。
【００３８】
したがって、選別装置のように被選別物が連続して供給されるものにおいては、連続した１穀粒単位での判別と整粒の判別との両方が可能であることが必要であるが、本発明ではこれを可能とし連続して流れる穀粒を整粒と胴割れ粒とに判別して選別することができるようになった。
【００３９】
以上のように、搬送される穀粒に光源の光を照射し、穀粒の搬送方向の２位置から２種の透過光波形を受光し、該２種の透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出して、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差との比較により胴割れを判別することが可能となった。なお、信号をＡ／Ｄ変換することは前記信号ニの信号処理において有効な手段である。
【００４０】
【実施例】
次に、本発明の胴割れ粒選別装置における第１の実施例を図８を基に説明する。
【００４１】
図８は、穀粒を搬送する搬送手段を回転円盤方式とした胴割れ粒選別装置９を示す。該胴割れ粒選別装置９は、回転円盤１０と該回転円盤１０を回転させるモータ１１とを設けてある。回転円盤１０上面の外周には、被選別物である穀粒が各１粒ずつ入る開口部１２が断続的に設けてある。該各開口部１２の底は透明な素材で構成する。
【００４２】
回転円盤１０の上方には、前記穀粒を開口部１２に供給する円筒状の供給部１３を設けている。
【００４３】
一方、前記供給部１３の回転円盤１０の回転方向側（図８の矢線方向）には、被選別物の胴割れを検出する穀粒位置Ａを設け、該穀粒位置Ａの上方には、前記レーザー光源１４を、また回転円盤１０を挟んだ下方には、受光センサ１５，１６をそれぞれ設ける。前記受光センサ１５は、視点を、開口部１２内における回転円盤１０の回転方向の手前側に合わせるように、また、受光センサ１６の視点は、視点を、同じ開口部１２内における回転円盤１０の回転方向の後側に合わせるようにそれぞれずらして配置する。
【００４４】
前記穀粒位置Ａの更に回転円盤１０の回転方向側で、回転円盤１０の下方には、胴割れ粒と判別された粒子を開口部１２から噴風除去する選別装置１７と、整粒子と判別された粒子を開口部１２から噴風除去する選別装置１８とをそれぞれ設けている。
【００４５】
前記受光センサ１５，１６及び選別装置１７，１８には演算制御装置１９を接続し、演算制御装置１９には記憶部２０を接続する。
【００４６】
次に、該第１の実施例の作動について説明する。
【００４７】
前記回転円盤１０を前記モータ１１によって回転させると、前記供給部１３の内部の被選別物である穀粒は１粒ずつ各開口部１２に入り、前記検出位置Ａを通過する。そして、該穀粒位置Ａでは、回転円盤１０の回転によって回ってくる各開口部の穀粒に前記レーザー光源１４のレーザー光を上方から照射し、穀粒を透過した透過光は前記受光センサ１５，１６によって検出される。
【００４８】
該受光センサ１５，１６はそれぞれ、検出された透過光波形を前記演算制御装置１９に送り、演算制御装置１９は、この透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の最下低の値、次に高い値、その次に低い値から高低レベル差を２つ算出し、該レベル差の小さい方とあらかじめ記憶部２０に設定された基準レベル差とを比較して、レベル差（小さい方）が基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れ粒と判別し、前記選別装置１７に選別信号を出力する。該選別装置１７への選別信号の出力は、穀粒位置Ａと選別装置１７との距離を考慮して適宜遅延して出力させる。そして、選別装置１７は噴風を発し、胴割れ粒と判別された粒子は、開口部の底に設けた穴（図示せず）からの噴風によって開口部１２から噴風除去される。噴風除去された胴割れ粒は図示しない送穀筒を通って移送される。
【００４９】
一方、前記演算制御装置１９は、胴割れ粒と判別しなかったとき、穀粒位置Ａと選別装置１８との距離を考慮して適宜遅延して前記選別装置１８に除去信号を出力する。そして、整粒は、選別装置１８により前述の胴割れ粒の噴風除去と同様にして噴風除去される。このようにして前記供給部１３から供給される穀粒は、連続して胴割れ粒と整粒との判別が行われる。
【００５０】
次に、本発明の胴割れ粒選別装置における第２の実施例を図９を基に説明する。
【００５１】
図９は、穀粒を搬送する搬送手段を傾斜状のシュート方式とした胴割れ粒選別装置２１を示す。該胴割れ粒選別装置２１は、上部にホッパー２２を設け、該ホッパー２２の下方に振動フィーダ２３を設ける。そして、該振動フィーダ２３の穀粒を搬出する端部に続いたその下方には、傾斜状のシュート２４を設ける。該シュート２４は穀粒の流下を規制する溝（チャンネル）を、穀粒が１列に整列させて滑走させるような形状で、また、滑走する穀粒が重なり合わないような角度で形成する。
【００５２】
該シュート２４の下端部からの穀粒が落下する落下軌跡Ｃを挟んで、一方側にレーザー光源２５を、また他方側に受光センサ２６をそれぞれ設ける。前記レーザー光源２５の焦点は、前記落下軌跡Ｃ上の穀粒位置Ａに合わせてある。また、前記受光センサ２６は、前記穀粒位置Ａにおける上部側（落下軌跡Ｃ上の上部側）と下部側（落下軌跡Ｃ上の下部側）とにずらして視点を合わした受光部がそれぞれ内蔵させたてある。前記落下軌跡Ｃ上の穀粒位置Ａの更に下方において、下方側には選別装置２７が設けてある。
【００５３】
前記受光センサ２６及び選別装置２７は演算制御装置２８に接続し、演算制御装置２８には記憶部２９を接続させてある。
【００５４】
次に、該第２の実施例の作動について説明する。
【００５５】
被選別物である穀粒は前記ホッパー２２から振動フィーダ２３に供給され、さらに、該振動フィーダ２３によって前記シュート２４に供給される。そして、穀粒は該シュート２４の溝を滑走し、シュート２４の下端部から落下軌跡Ｃを描きながら１列に整列し、かつ、粒子が重なり合うことなく落下する。前記穀粒位置Ａにおいて穀粒は前記レーザー光源２５からレーザー光の照射を受け、穀粒を透過した透過光は前記受光センサ２６によって検出される。
【００５６】
該受光センサ２６に内蔵された前記各受光部で検出された透過光波形は前記演算制御装置２８に送られ、該演算制御装置２８は、この透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の最下低の値、次に高い値、その次に低い値から高低レベル差を２つ算出し、該レベル差の小さい方とあらかじめ記憶部２９に設定された基準レベル差とを比較して、レベル差（小さい方）が基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れ粒と判別し、前記選別装置２７に選別信号を出力する。
【００５７】
そして選別装置２７への選別信号の出力は、穀粒位置Ａと選別装置２７との距離を考慮して適宜遅延して出力させる。そして、選別装置２７は噴風を発し、胴割れ粒子を落下軌跡Ｃから噴風除去する。噴風除去された胴割れ粒は、落下して胴割れ粒収容部３０に収容される。また、整粒は落下軌跡Ｃの延長線上に設けられた整粒収容部３１に収容される。
【００５８】
このようにして、穀粒は、連続して胴割れ粒子と整粒子との判別が行われる。
【００５９】
【発明の効果】
第１発明による方法は、搬送される穀粒に光源の光を照射し、穀粒の搬送方向の２位置から２種の透過光波形を受光し、該２種の透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出し、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差との比較により胴割れを判別することによって、大量の穀粒の判別を、連続的に、かつ、高速に行うことができ、また、判別も正確な胴割れ粒判別方法を得ることができる。
【００６０】
第２の発明による装置は、演算制御手段は、受光手段による穀粒の２つの透過光波形の差を演算した後微分して処理波形を得て、該処理波形の高低レベル差を算出し、該レベル差とあらかじめ設定された基準レベル差とを比較して、基準レベル差より大きいレベル差を検出したとき胴割れと判別し、前記選別手段に選別信号を出力して胴割れ粒を選別することによって、大量の穀粒の判別を、連続的に、かつ、高速に行うことができ、また、判別も正確な胴割れ粒選別装置を得ることができる。
【００６１】
第３の発明により、穀粒は、１粒ずつ前記回転円盤の各開口部によって連続して搬送される回転円盤方式の胴割れ粒選別装置であっても、連続した胴割れ判別を行うことが可能になった。
【００６２】
第４の発明により、穀粒は、前記シュートによって連続して搬送されるシュート方式の胴割れ粒選別装置であっても、連続した胴割れ判別を行うことが可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の胴割れ粒選別装置の主要部を示す図。
【図２】  本発明の穀粒位置Ａにおける受光センサの視点を示す図。
【図３】  本発明の胴割れ粒選別装置の主要部を示すブロック図。
【図４】  本発明における１粒の胴割れ粒を検出した波形である。
【図５】  本発明における１粒の整粒を検出した波形である。
【図６】  本発明における連続して連ねた２粒を検出した波形である。
【図７】  本発明における連続して連ねた２粒を検出した波形である。
【図８】  本発明の具体的な第１実施例を示す胴割れ粒選別装置である。
【図９】  本発明の具体的な第２実施例を示す胴割れ粒選別装置である。
【図１０】  従来の判別方式によって得られた検出波形である。
【符号の説明】
１  胴割れ粒選別装置
２  シュート
３  レーザー光源
４  受光センサ
５  受光センサ
６  選別装置
７  演算制御装置
８  記憶部
Ａ  穀粒位置
Ｃ  落下軌跡
Ｓ  整粒
Ｄ  胴割れ粒
【図１】
0003642172.tif 000002
【図２】
0003642172.tif 000003
【図３】
0003642172.tif 000004
【図４】
0003642172.tif 000005
【図５】
0003642172.tif 000006
【図６】
0003642172.tif 000007
【図７】
0003642172.tif 000008
【図８】
0003642172.tif 000009
【図９】
0003642172.tif 000010
【図１０】
0003642172.tif 000011