(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
特定の装置の四極イオントラップの中に生成イオンを発生する方法であって、
前記トラップ中に目的の質量電荷比（ｍ／ｚ）を有するイオンを捕獲するステップと、
前記装置における多様なイオンの質量電荷比（ｍ／ｚ）と励起電圧振幅の間の直線的関係を示すデータを作成するステップと、
前記データから最適な振幅を選択するステップと、
前記最適な振幅を持つ励起電圧を印加することによって前記イオンを励起し、前記励起されたイオンを動力学的に励起状態にし、衝突により解離させるステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項２】
イオンが、共鳴点またはその近傍で励起されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
イオンが、共鳴点で励起されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
各装置に対し少なくとも１つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１、請求項２または請求項３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
各装置に対し少なくとも２つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１、請求項２または請求項３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
各質量電荷比に対し親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を求めることによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項７】
各質量電荷比に対し親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を求めることによって、直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項５に記載の方法。
【請求項８】
各質量電荷比に対し固定比率分の親イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を求めることによって、直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項９】
各質量電荷比に対し固定比率分の親イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を求めることによって、直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項５に記載の方法。
【請求項１０】
特定の装置の四極イオントラップ中の親イオンの生成イオンを質量分析する方法であって、
前記トラップ中に２つ以上の質量電荷比（ｍ／ｚ）の親イオンを捕獲するステップと、
前記トラップ中に目的の質量電荷比（ｍ／ｚ）を有する親イオンを分離するステップと、
前記装置における多様なイオンの質量電荷比（ｍ／ｚ）と励起電圧振幅の間の直線的関係を示すデータを作成するステップと、
前記データから最適な振幅を選択するステップと、
前記最適な振幅を持つ励起電圧を印加することによって前記目的の質量電荷比（ｍ／ｚ）を有する親イオンを励起し、前記励起されたイオンが衝突による解離を受けて生成イオンを形成するステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項１１】
イオンが、共鳴点またはその近傍で励起されることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
イオンが、共鳴点で励起されることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
各装置に対する少なくとも１つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１０，請求項１１及び請求項１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１４】
各装置に対する少なくとも２つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１０，請求項１１及び請求項１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１５】
各質量電荷比に対し親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を求めることにより、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
各質量電荷比に対し親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を求めることによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
各質量電荷比に対し固定比率分の生成イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を測定することによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
各質量電荷比に対して固定比率分の生成イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を測定することによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
【請求項１９】
特定の装置の四極イオントラップ中に生成イオンを発生する方法であって、
衝突ガスを前記イオントラップに導入するステップと、
前記トラップ中に目的の質量電荷比（ｍ／ｚ）を有するイオンを捕獲するステップと、
前記装置における多様なイオンの質量電荷比（ｍ／ｚ）と励起電圧振幅の間の直線的関係を示すデータを作成するステップと、
前記データから最適な振幅を選択するステップと、
前記最適な振幅を持つ励起電圧を印加することによって前記イオンを励起し、前記励起されたイオンを動力学的に励起状態にし、衝突により解離させるステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項２０】
イオンが、共鳴点またはその近傍で励起されることを特徴とする請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
イオンが、共鳴点で励起されることを特徴とする請求項１９に記載の方法。
【請求項２２】
各装置に対し少なくとも１つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対する直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１９、請求項２０または請求項２１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２３】
各装置に対し少なくとも２つの質量電荷比（ｍ／ｚ）を持つイオンに対する励起電圧の振幅を求めることによって、前記装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項１９、請求項２０または請求項２１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２４】
各質量電荷比に対して親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を測定することによって直線的関係が各装置に対して較正されていることを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
各質量電荷比に対し固定比率分の生成イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を測定することによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項２６】
各質量電荷比に対し親イオンの強度を固定比率分だけ減少するのに必要な励起振幅を測定することによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【請求項２７】
各質量電荷比に対し固定比率分の生成イオンの強度を産生するのに必要な励起振幅を測定することによって、各装置に対して直線的関係が較正されていることを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
（技術分野）
本発明は、概括的に四極イオントラップにおけるイオンフラグメンテーション方法に関し、さらに詳細には、所与の質量電荷比のイオンに対する選択的励起エネルギーがその質量電荷比（ｍ／ｚ）とほぼ直線的な関係にある方法に関する。
【０００２】
（背景技術）
米国特許第４，５４０，８８４号において、四極イオントラップ使用による標本の質量分析法が説明されている。基本的に、広範な目的イオンがイオン化ステップにおいてイオントラップで生成され、または格納される。１つの方法では、その後、四極イオントラップの環形電極に印加される r.f.電圧が増大され、連続的に増加する固有の質量電荷比（ｍ／ｚ）を有する捕獲イオンがイオントラップを抜け出る。これらのイオンが検出されて、格納イオンの質量を示す出力信号を発する。
【０００３】
米国特許第５，４２０，４２５号において、イオン分析用のイオントラップ質量分析計、より詳細には拡大イオン占有容積を有するほぼ四極のイオントラップ質量分析計が説明されている。そこには、イオン占有容積を拡大する電極形態が説明されている。これらのデバイスでは、同一電荷密度に対し、イオン感度、検出限界及び動的範囲の改善が実現されているが、その理由は、イオン占有容積の拡大によってより多数のイオンの格納が可能であるというものである。説明されたイオントラップの形態は、質量選択不安定性モード、共鳴励起／射出法及び多重マススペクトロメトリー（ＭＳ）のようなほぼ四極のイオントラップの全ての作動モードに当てはまる。
【０００４】
米国再発行特許第３４，０００号において、四極イオントラップにおけるマススペクトロメトリー／マススペクトロメトリー（ＭＳ／ＭＳ）を実行する方法が開示されている。四極イオントラップ内に格納されたイオンは、イオントラップの端部キャップを横切って所定周波数の励起電圧を所定時間印加することによって励起される。励起周波数と共鳴もしくはほぼ共鳴する周波数で環状軌道を移動しているイオンは、それらが交流電力を吸収するにつれ、運動エネルギーを獲得する。この励起を生じたイオンは、トラップ内でのイオン分子またはイオン／イオンの衝突により解離作用を受ける（衝突誘導解離）。その後、解離したイオンは、上記で説明したように捕獲電圧を変化させて解離イオンの質量スペクトルを増強することによって、イオントラップから出ていく。
【０００５】
共鳴励起（ＲＥ）法は、四極イオントラップ内のイオンをフラグメント化するのに非常に効果的で、かつ総電荷をあまり失うことなく親イオンを生成イオンに変える点で非常に効率的であることが分かった。しかし、特定のイオンで最適のフラグメンテーション効率を得るためには、目的イオンごとに印加される共鳴励起電圧の振幅をしばしば補整しなければならない。脆いイオン、例えば２＋または３＋価に荷電したイオンは、一般に同じ質量の１＋価のイオンよりも容易にフラグメント化するはずであり、より小さな共鳴励起電圧振幅しか必要としないとこれまで論じられてきた。荷電状態または他の構造的特徴が、必要な共鳴励起電圧振幅の多様性の基本的な原因であるとしばしば考えられてきた。異なったイオンは異なった共鳴励起電圧振幅を必要とするという事実が、親イオンの選択を前もって決定せずクロマトグラフィーまたは他の高速計測でリアルタイムで行うような、自動化された実験を行う可能性を妨げている。この様な環境下では、電圧振幅の調整は時間のかかる処理なので、実際的ではない。
【０００６】
この限界に加えて、所与のイオンを最適にフラグメント化するのに必要な共鳴励起電圧振幅の特定の設定は、装置ごとに異なることもあり得る。これらの相違は、ヘリウム及び背景ガスの圧力の多様性はもとより、電源及び他の電子機器などの装置パラメータの多様性に依存する。したがって、多数の装置で使用される同一の励起電圧振幅は同一の結果をもたらさない。
【０００７】
これら両方の限界は、異なったイオンに対する最適共鳴励起電圧振幅の基本的多様性、及び装置の相違による多様性を規格化しようとする本発明を使用することにより、著しく改善し得る。
【０００８】
（発明の開示）
本発明の目的は、イオントラップにおける性能改善された衝突誘導解離法を提供することである。
【０００９】
本発明の別の目的は、規格化された励起電圧振幅または衝突エネルギーを利用した衝突誘導解離のためのイオントラップの操作方法を提供することである。
【００１０】
本発明は、特定の装置に対してフラグメント化されるイオンの質量電荷比にほぼ直線的関係にある大きさの励起電圧をイオントラップに印加するステップを含む、イオントラップにおける衝突誘導イオンフラグメント化法、及び単純で高速な較正過程でもって装置それぞれに基づくほぼ直線的な関係を較正することに関する。
本発明の前述した目的及び他の目的は、添付図面と共に以下の記載を読むとき、より明確に理解されるであろう。
【００１１】
（発明を実施するための最良の形態）
図１には、例えばガスクロマトグラフまたは他の標本源（図示せず）などからトラップへ導入された標本をイオン化するための、環形電極１１、間隔をあけた端部キャップ１２、及び電子銃１３を含む四極イオントラップが概略的に図示されている。また、電子銃１３は外部で形成された標本イオンを前記のトラップに射入する外部イオナイザー（イオン化源）とすることができる。以下の説明において、どちらの方法もイオンのイオントラップへの導入として記述される。適切な電圧が、増幅器及び r.f.／ＤＣ発電機１４を介して環形電極１１に印加される。トラップは、米国特許第４，５４０，８８４号及び再発行特許第３４０００号で説明されている衝突あるいは減衰ガスを含んでいることが望ましい。励起または射出電圧が、補充交流電圧発電機１７から、その２次巻き線側が端部キャップを横切って接続されている変圧器１６を介して端部キャップ１２を横切って印加される。走査収集プロセッサ（コンピュータ）が、イオントラップ電極に印加される印加と電圧振幅とを制御する。特定のイオントラップを説明したが、本発明は米国特許第５，４２０，４２５号に示された様な他のタイプの四極イオントラップにも適用可能である。
【００１２】
走査過程の前に、精確な時間にイオントラップ素子に適切なトラップ電圧を印可することによって、イオンが先ずイオントラップに捕獲される。目的の親イオンの分離は、適切なイオン分離技術、この場合にはここに援用される米国特許第５，３２４，９３９号に記載されているような多周波数共鳴射出波形を使って行われる。分離の後、衝突誘導解離すなわちフラグメンテーションが、イオントラップの端部キャップを横切って所定時間、本事例では３０ミリ秒間印加される r.f.励起電圧を用いて、イオントラップ内で行われる。励起期間後、トラップ内の全てのイオンが、米国特許第４，５４０，８８４号及び再発行特許第３４，０００号で説明されるようにトラップ電圧を変えることによって排出され、質量スペクトルを生成するのが検出される。
【００１３】
表１の全てのイオンは共鳴励起電圧振幅を０から４Ｖｐｐまで０．０４ボルト刻みに上げて調べられた。共鳴励起電圧の関数としての親イオンの強度の減少と生成イオンの形成の間の関係の４例が、ｍ／ｚの増加するイオン及び荷電状態について図２ａないし図２ｄに表示されている。より詳細には、カフェイン（Ｍ＋Ｈ）+，ｍ／ｚ＝１９５．１；メリチン（Ｍ＋３Ｈ）3+、ｍ／ｚ＝９４９．８；メリチン（Ｍ＋２Ｈ）2+、ｍ／ｚ＝１４２４．３；及びボンベシン（Ｂｏｍｂｅｓｉｎ）（Ｍ＋Ｈ）+、ｍ／ｚ＝１６１９．８の破壊曲線が図２ａないし図２ｄにそれぞれ示されている。図３は異なった荷電状態のイオンを含め表１から取り出した全てのイオンの総生成イオン強度の５０％を生成するのに必要な共鳴励起振幅を示している。このデータは最適な共鳴励起振幅は、構造、荷電状態及び安定性の多様さにもかかわらず、基本的にイオンの質量電荷比（ｍ／ｚ）とのほぼ直線的関係によって制御されていることを示している。これらの要因は必要な励起振幅に影響するけれども、それらの働きは２次的なものであって、ｍ／ｚの基本的影響を補正した後に力をふるうに過ぎない。イオンに所与の励起周波数で同一の平均速度を与えるのに要求される共鳴励起の振幅は、ｍ／ｚと直線的関係にあるが、これらのデータは、従来、著しい構造的相違や運動エネルギーがフラグメンテーションを支配すると考えられてきたけれども、この依存関係がフラグメンテーション過程をも支配していることを示唆している。
【００１４】
親イオンの減少を測定することで、全生成イオン強度を測定するのより高速で錯綜のない過程が得られる。図２ａないし図２ｄの４つの例が示すように、図４に示す表１の全てのイオンについて親イオンの減少及び生成イオンの産生のための共鳴励起振幅の比較同様に、親イオン強度の５０％減少は生成イオン強度の５０％増大とよく相関している。さらに、図５は、表１の全イオンについて親イオン強度の９０％減少で全生成イオン強度の平均的に約９０％（８６％）が産生されることを指示している。
【００１５】
最適共鳴励起とｍ／ｚの間の精確な直線的関係は、ヘリウムや背景ガス圧、電子機器の多様性及び機械的誤差のような操作条件の相違のために装置ごとに変化する。このことが図６に示されており、そこでは、同一のイオンについて、５０％の親イオンの減少に必要な共鳴励起振幅の相当に異なった直線的関係を示す２つの異なった装置の比較を示している。
【００１６】
たった２つの較正イオンの親イオン強度の９０％の減少に必要な共鳴励起の測定の基本的アプローチを用いることにより、どのような特定の装置にも使える直線的較正を素早く得ることができる。次に、これらの値はその装置に特定されたコンピュータの較正ファイルに格納される。２点較正で、イオンの質量電荷比に対する最適の励起電圧振幅の関係を特徴づけるのに十分であり、装置性能の相違を規格化するのに使用することができる。もし直線の切片がある値または値０に固定されていれば、１点較正を使うこともできる。
【００１７】
上に論じたように、クロマトグラフィーを含む多様な実験において、しばしば産生されたイオンが不明で、各イオンに対する励起電圧振幅を最適化する時間が十分無いことがある。先行技術を使えば、全てのｍ／ｚ値に対して単一の励起電圧振幅値を選択しなければならず、０から１００％の相対衝突エネルギーが０から５ボルトの共鳴励起振幅に相当する相対的衝突エネルギー（ＲＣＥ）の単位で行われた。図７は固定振幅のスキームを示す。図８は規格化衝突エネルギーのスキームであり、本発明を図７のそれと対照している。図８においては、励起電圧は較正値を利用し、ｍ／ｚ値と直線的関係にある。全ての所与のｍ／ｚにおける実際の励起電圧振幅は、相対衝突エネルギーを０から１００％まで変えることによりなおいろいろ変えられるが、実際の励起電圧の変化もまたｍ／ｚに依存している。図８でまた示されていることは、同一の要求相対衝突エネルギーに相当する精確な電圧は装置によって異なるが、実験結果はほぼ等しいことである。
【００１８】
図９は、表１のイオンについて固定励起振幅を使って産生された全生成イオン相対存在率を、規格化励起振幅を使って得た相対存在率と比較している。図９は固定励起振幅の使用に比較して規格化衝突エネルギースキームが効果的であることを明瞭に示している。両ケースにおける相対衝突エネルギー（ＲＣＥ）は３０％になるように選択されている。データは固定電圧法が低ｍ／ｚイオン及び高ｍ／ｚイオンの場合性能が良くなく、ただ中間ｍ／ｚイオンの場合のみ良好な性能を示すことを示している。他方、対照的に、規格化衝突エネルギーの使用は調査した全てのイオンにつき全生成イオン存在率の最低６５％を生み出し、平均値は８０％であることが観察される。図１０Ａ−１ないし図１０Ｄ−２はそれぞれ図９のカフェイン（Ｍ＋Ｈ）+（ｍ／ｚ１９５．１）、メチオニン−アルギニン−フェニルアラニン−アラニン（Ｍ＋２Ｈ）2+（ｍ／ｚ２６２．６）、レニン基質（Ｍ＋２Ｈ）2+（ｍ／ｚ８８０．０）、及びレニン基質（Ｍ＋Ｈ）+（ｍ／ｚ１７５８．９）の場合のデータに相当する質量分光の標本を示しており、固定振幅励起ＲＣＥ３０％及び規格化振幅励起ＲＣＥ３０％を比較している。図１０Ａ１，図１０Ａ２及び図１０Ｂ１，図１０Ｂ２に示される１９５．１及び２６２．６のような低いｍ／ｚ値では、固定振幅スキームを使うと規格化法に比べ生成イオン存在率を図１０Ａ１のように無くしたり、図１０Ｂ１のように減少したりする可能性のある振幅が多くありすぎる。図１０Ｄ１，図１０Ｄ２の１７５８．９のような高いｍ／ｚでは、固定励起電圧は十分なフラグメンテーションを誘導しないので、規格化衝突エネルギースキームに比べスペクトル中に含まれる情報が減少する。図１０Ｃ１、図１０Ｃ２の８８０．０のような中位のｍ／ｚでは、フラグメンテーションは両方の方法で類似している。
【００１９】
以上のように、規格化衝突エネルギーと呼ぶ四極イオントラップ内のイオンのイオン励起法であって、励起電圧の振幅をｍ／ｚにほぼ直線的関係になるように較正及び自動補正することによって四極イオントラップの性能を改善するイオン励起法を開示してきた。この規格化処理の結果、各個別イオン及び各個別の装置に対する共鳴励起振幅を調整する必要性を最小限にし、自動化及びデータ依存イオン活性化（マススペクトロメトリー／マススペクトロメトリー（ＭＳ／ＭＳ）及び多重マススペクトロメトリー（ＭＳn））の性能及びその再現性を顕著に改善するものである。
【００２０】
【表１】
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【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明を実行するのに有用なイオントラップ質量分析計の概略図である。
【図２ａ】  イオンがカフェイン（Ｍ＋Ｈ）+，ｍ／ｚ＝１９５．１における共鳴励起振幅の関数としての親イオン相対強度及び生成イオン相対強度のプロット図である。
【図２ｂ】  イオンがメリチン（Ｍ＋３Ｈ）3+、ｍ／ｚ＝９４９．８における共鳴励起振幅の関数としての親イオン相対強度及び生成イオン相対強度のプロット図である。
【図２ｃ】  イオンがメリチン（Ｍ＋２Ｈ）2+、ｍ／ｚ＝１４２４．３における共鳴励起振幅の関数としての親イオン相対強度及び生成イオン相対強度のプロット図である。
【図２ｄ】  イオンがボンベシン（Ｂｏｍｂｅｓｉｎ）（Ｍ＋Ｈ）+、ｍ／ｚ＝１６１９．８における共鳴励起振幅の関数としての親イオン相対強度及び生成イオン相対強度のプロット図である。
【図３】  異なった荷電状態のイオンを含む多様なイオンに対するｍ／ｚの関数としての最大許容全生成イオン強度の５０％を形成するのに必要な共鳴励起振幅の直線的関係を示す実験データのプロット図である。
【図４】  ５０％の生成イオン強度を産生するのに印加された共鳴励起電圧振幅と、異なった荷電状態のイオンを含む多様なイオンに対するｍ／ｚの関数としての５０％の親イオン強度の減少との間の相関関係を示す実験データのプロット図である。
【図５】  共鳴励起振幅が親イオン強度が９０％減少する様なものである時に、異なった荷電状態のイオンを含む全てのｍ／ｚイオンに対する平均生成イオン強度が８６％であることを示す実験データのプロット図である。
【図６】  要求される共鳴励起振幅が２つの異なった装置に対し異なった直線的関係を有することの示している。
【図７】  先行技術にしたがった励起電圧の振幅の機能的動作を示している。
【図８】  本発明による励起電圧の振幅の機能的動作を示している。
【図９】  多様なｍ／ｚ（及び荷電状態）のイオンに対する、相対衝突エネルギー（ＲＣＥ）の１つの設定でより一貫した生成イオン強度の産生における先行技術と本発明の有効性を示している。
【図１０ａ】  イオンがカフェイン（Ｍ＋Ｈ）+（ｍ／ｚ１９５．１）に対する、相対的励起電圧振幅（衝突エネルギー）の１つの設定の従来の用法と比較した、規格化された励起電圧振幅の使用の有効性を示す図９のデータ組から得られた例示スペクトルを示している。
【図１０ｂ】  イオンがメチオニン−アルギニン−フェニルアラニン−アラニン（Ｍ＋２Ｈ）2+（ｍ／ｚ２６２．６）に対する、相対的励起電圧振幅（衝突エネルギー）の１つの設定の従来の用法と比較した、規格化された励起電圧振幅の使用の有効性を示す図９のデータ組から得られた例示スペクトルを示している。
【図１０ｃ】  イオンがレニン基質（Ｍ＋２Ｈ）2+（ｍ／ｚ８８０．０）に対する、相対的励起電圧振幅（衝突エネルギー）の１つの設定の従来の用法と比較した、規格化された励起電圧振幅の使用の有効性を示す図９のデータ組から得られた例示スペクトルを示している。
【図１０ｄ】  イオンがレニン基質（Ｍ＋Ｈ）+（ｍ／ｚ１７５８．９）に対する、相対的励起電圧振幅（衝突エネルギー）の１つの設定の従来の用法と比較した、規格化された励起電圧振幅の使用の有効性を示す図９のデータ組から得られた例示スペクトルを示している。
【図１】
0003675717.tif 000003
【図２ａ】
0003675717.tif 000004
【図２ｂ】
0003675717.tif 000005
【図２ｃ】
0003675717.tif 000006
【図２ｄ】
0003675717.tif 000007
【図３】
0003675717.tif 000008
【図４】
0003675717.tif 000009
【図５】
0003675717.tif 000010
【図６】
0003675717.tif 000011
【図７】
0003675717.tif 000012
【図８】
0003675717.tif 000013
【図９】
0003675717.tif 000014
【図１０ａ１】
0003675717.tif 000015
【図１０ａ２】
0003675717.tif 000016
【図１０ｂ１】
0003675717.tif 000017
【図１０ｂ２】
0003675717.tif 000018
【図１０ｃ１】
0003675717.tif 000019
【図１０ｃ２】
0003675717.tif 000020
【図１０ｄ１】
0003675717.tif 000021
【図１０ｄ２】
0003675717.tif 000022