(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
防爆弁を有する電解コンデンサの劣化状態の異常を検知するコンデンサ劣化診断装置であって、
前記防爆弁へ向けて光を発光する発光素子と、
前記防爆弁からの反射光を受光する受光素子と、
前記受光素子の検出値に基づいて、前記電解コンデンサの劣化状態の異常を判定する劣化判定手段と
を備えたことを特徴とするコンデンサ劣化診断装置。
【請求項２】
前記発光素子および前記受光素子は、前記電解コンデンサの前記防爆弁に対向して配置され、
前記劣化判定手段は、
前記受光素子の検出値が所定の劣化判定レベルより小さいとき、前記電解コンデンサの劣化状態の異常を判定する
ことを特徴とする請求項１記載のコンデンサ劣化診断装置。
【請求項３】
前記劣化判定手段は、
前記劣化判定レベルが予め複数設定され、前記電解コンデンサの劣化状態の異常の程度を多段階に判定する
ことを特徴とする請求項２記載のコンデンサ劣化診断装置。
【請求項４】
前記劣化判定手段が判定した劣化状態に関する情報を報知する報知手段を備えた
ことを特徴とする請求項１〜３の何れか一項に記載のコンデンサ劣化診断装置。
【請求項５】
前記発光素子および前記受光素子は、第１基板に搭載され、
前記第１基板は、
前記電解コンデンサが搭載された第２基板に対して固定された
ことを特徴とする請求項１〜４の何れか一項に記載のコンデンサ劣化診断装置。
【請求項６】
整流された電源電圧を平滑する、防爆弁を有する電解コンデンサと、
複数のスイッチング素子を有し、前記電解コンデンサにより平滑された直流電圧を交流電圧に変換して出力するインバータ回路と、
請求項１〜５の何れか一項に記載のコンデンサ劣化診断装置と
を備えたことを特徴とするインバータ装置。
【請求項７】
前記インバータ回路の駆動を制御する制御手段を備え、
前記制御手段は、
前記劣化判定手段の判定結果に応じて、前記インバータ回路の運転を制御する
ことを特徴とする請求項６記載のインバータ装置。
【請求項８】
請求項６または７記載のインバータ装置と、
前記インバータ回路により駆動される負荷と
を備えたことを特徴とする家電機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサの劣化状態を検知するコンデンサ劣化診断装置、及びそれを備えたインバータ装置、及び家電機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
電解コンデンサは、電解液の含浸したコンデンサ素子を金属ケースに収納している。このような電解コンデンサは、経年劣化などにより電解液が気化し、金属ケースの内圧が高まり爆発に至る場合があるため、爆発を防ぐための防爆弁が設けられている。防爆弁は、金属ケースの一部に薄肉部を形成し、内圧が上昇した場合に開弁され機能する。これにより、電解コンデンサは爆発することなく安全に故障に至る。しかし、防爆弁が作動した際に電解コンデンサの内部から気化した電解液が漏洩すると、白煙や異臭が生じ、使用者に発火によるものであるかの誤解を与える可能性がある。
【０００３】
従来の技術においては、温度検出ブロックを電解コンデンサのケースに物理的に取り付け、電解コンデンサの温度上昇を検出することで劣化状態を検知し、防爆弁の作動を防ぐ制御を行う電源装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
また、コンデンサ素子が発熱した場合に、感温素子により発熱を検出してコンデンサの電気回路を遮断することで防爆弁の作動を防ぐアルミ電解コンデンサが提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−２３８９１号公報（段落［００４１］）
【特許文献２】特開平４−２３３２１４号公報（請求項１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の技術では、コンデンサに温度センサーを物理的に取り付けて、この温度センサーの出力に基づいて劣化状態を判定しているため、熱抵抗のばらつきが出やすく検知精度が低い、という問題点があった。
また、熱抵抗のばらつきを低減するためのバンド等を実装する必要があり、製造の手間やバンドを実装するための部品コスト、これを実装するための基板面積を確保する必要があり、結果として、実装基板コストが高くなる、という問題点があった。
【０００６】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、コンデンサの劣化状態の異常を精度良く検出することができるコンデンサ劣化診断装置、インバータ装置、及び家電機器を得るものである。
また、コンデンサの劣化状態の異常の検出を安価な構成で実現することができるコンデンサ劣化診断装置、インバータ装置、及び家電機器を得るものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係るコンデンサ劣化診断装置は、防爆弁を有する電解コンデンサの劣化状態の異常を検知するコンデンサ劣化診断装置であって、前記防爆弁へ向けて光を発光する発光素子と、前記防爆弁からの反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の検出値に基づいて、前記電解コンデンサの劣化状態の異常を判定する劣化判定手段とを備えたものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、防爆弁からの反射光の検出値に基づいて、電解コンデンサの劣化状態の異常を判定するので、コンデンサの劣化状態の異常を精度良く検出することができる。また、コンデンサの劣化状態の異常の検出を安価な構成で実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施の形態１に係るコンデンサ劣化診断装置のブロック構成図である。
【図２】実施の形態１に係る発光素子及び受光素子とアルミ電解コンデンサの配置関係を示す側面図である。
【図３】実施の形態１に係るアルミ電解コンデンサを模式的に示す斜視図である。
【図４】アルミ電解コンデンサの使用時間と防爆弁の膨れとの関係を示す図である。
【図５】実施の形態１に係る防爆弁の膨れ状態での光路を模式的に示す図である。
【図６】実施の形態１に係る防爆弁の膨れと受光素子への入光量との関係を示す図である。
【図７】実施の形態１に係る光部品基板の固定方法の一例を示す図である。
【図８】実施の形態１に係る光部品基板の固定方法の一例を示す図である。
【図９】実施の形態２に係る防爆弁の膨れと受光素子への入光量との関係を示す図である。
【図１０】実施の形態３に係るインバータ装置の回路図である。
【図１１】実施の形態４に係る空気調和機の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
実施の形態１．
図１は実施の形態１に係るコンデンサ劣化診断装置のブロック構成図である。
図２は実施の形態１に係る発光素子及び受光素子とアルミ電解コンデンサの配置関係を示す側面図である。
図１及び図２において、コンデンサ劣化診断装置１００は、発光素子１０、受光素子１１、光部品制御手段１２、劣化判定手段１３、報知手段１４、及び、停止手段１５を備えている。このコンデンサ劣化診断装置１００は、防爆弁２２を有するアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を検知するものである。
発光素子１０および受光素子１１は、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２に対向して配置されている。
例えば図２に示すように、発光素子１０および受光素子１１は、光部品基板１１０に搭載され、この光部品基板１１０が、アルミ電解コンデンサ２００を搭載したコンデンサ搭載基板２１０に対して固定されることで、発光素子１０および受光素子１１が、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２に対向して配置される。
なお、光部品基板１１０は本発明における「第１基板」に相当し、コンデンサ搭載基板２１０は本発明における「第２基板」に相当する。また、アルミ電解コンデンサ２００は本発明における「電解コンデンサ」に相当する。
【００１１】
発光素子１０は、少なくとも防爆弁２２へ向けて光を発光する。発光素子１０は、例えばＬＥＤ（発光ダイオード）で構成し、電気的エネルギーを光エネルギーに変えることで発光する。
受光素子１１は、少なくとも防爆弁２２からの反射光を受光する。受光素子１１は、例えばＰＤ（フォトダイオード）等からなり、例えば、半導体のＰＮ接合に光を照射すると光起電力が発生し、光の強さに基づく電流が流れる逆バイアス方式の回路で構成している。
このように、発光素子１０をＬＥＤで構成し、受光素子１１をＰＤで構成することにより、発光素子１０と受光素子１１とを共に安価な材料で構成することで、コンデンサ劣化診断装置１００の製造原価を非常に安くすることができるとともに小型化することができる。なお、発光素子１０で発光し受光素子１１で受光する光の波長を赤外線領域の波長とすることで、赤外領域の波長を持った光は周囲の光の影響を受けにくいため、検知感度が周囲環境によって影響されにくくすることができる。
【００１２】
発光素子１０及び受光素子１１の配置位置は、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２が膨張していない状態（以下、正常時とも言う）において、発光素子１０で発光した光の少なくとも一部が、防爆弁２２で反射して受光素子１１へ入射する位置に配置されている。なお、図２においては、発光素子１０から防爆弁２２へ向けた光と、防爆弁２２で反射した受光素子１１へ入射する反射光の光路を、矢印にて模式的に示している。
【００１３】
光部品制御手段１２は、発光素子１０への電力供給を行い、また、受光素子１１の信号を増幅して劣化判定手段１３に入力する。これにより、受光素子１１への入光量に応じた光の強さが電圧の信号として検出される。以下、劣化判定手段１３に入力される信号（例えば電圧値）を、「受光素子１１への入光量」と称する。
なお、ここでは光の強さを電圧の信号として検出する場合を説明するが、本発明はこれに限らず、受光素子１１へ入射する反射光に応じた任意の物理量を検出すればよい。
【００１４】
劣化判定手段１３は、受光素子１１への入光量に基づいて、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定する。詳細は後述する。
報知手段１４は、例えばセグメントＬＥＤや液晶表示素子等からなり、劣化判定手段１３の出力に基づいてアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態に関する所定の情報を使用者に報知する。
停止手段１５は、劣化判定手段１３の出力に基づいて、例えばアルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器に対する停止信号などの、劣化状態に応じた所定の信号を出力する。
なお、報知手段１４及び停止手段１５の何れか一方を省略しても良い。
【００１５】
図３は実施の形態１に係るアルミ電解コンデンサを模式的に示す斜視図である。
図３に示すように、アルミ電解コンデンサ２００は、電荷が蓄積される電解コンデンサ素子を収納し、アルミニウム等の金属から成るケース２０の上面２０ａの外周部及び側面が薄い樹脂２１で覆われている。
また、ケース２０の上面２０ａには、Ｘ状の溝２０ｂが形成されており、上面２０ａ及び溝２０ｂにより防爆弁２２を構成している。
防爆弁２２は、ケース２０内部の電解液の分解によりガスが発生してケース２０の内部の圧力が上昇した際に膨張し、ケース２０の爆発よりも先に溝２０ｂが破断（開弁）してガスを逃がすものである。なお、図３の例では、上面２０ａにＸ状の溝を形成しているが、これに限らず任意の形状とすることができる。
このアルミ電解コンデンサ２００は、その他の電子部品とともにコンデンサ搭載基板２１０に取り付けられて使用される。
なお、コンデンサ劣化診断装置１００が劣化状態の異常を検知する対象となるコンデンサはアルミ電解コンデンサに限らず、内圧が上昇した際に膨張して爆発を防止する防爆弁が設けられたコンデンサであればよい。例えば、任意の種類の非固体電解コンデンサを検知対象とすることができる。
【００１６】
次に、本実施の形態１におけるコンデンサ劣化診断装置１００の動作を説明する。
図４はアルミ電解コンデンサの使用時間と防爆弁の膨れとの関係を示す図である。
図４に示すように、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２は、使用時間の経過により電解液の気化が進み、内圧が徐々に上昇して膨張する。そして、防爆弁２２の膨張が更に進み溝２０ｂへの応力が限界を超えると開弁（パンク）して内部のガスが放出され寿命を終える。
【００１７】
図５は実施の形態１に係る防爆弁の膨れ状態での光路を模式的に示す図である。
図６は実施の形態１に係る防爆弁の膨れと受光素子への入光量との関係を示す図である。
図５に示すように、防爆弁２２が膨張すると、発光素子１０からの光の反射角が変化し、受光素子１１へ入射する反射光の量が減少する。これにより、図６に示すように、防爆弁の膨れが進むと受光素子１１への入光量が低下する。そして、防爆弁２２が開弁すると膨張が止まり反射光の量も変化しないため、受光素子１１への入光量は一定となる。
このようなことから、受光素子への入光量を検知することにより、防爆弁２２の膨れを検知することができる。つまり、アルミ電解コンデンサ２００に異常の兆候として現れる防爆弁２２の膨れの程度を検知することによって、結果としてアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定することができる。
【００１８】
本実施の形態においては、図６に示すように、防爆弁２２が開弁となる際の受光素子への入光量より大きい劣化判定レベルを劣化判定手段１３に予め設定する。そして、劣化判定手段１３は、受光素子への入光量がこの劣化判定レベル（図６のｂ点）より小さいとき、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定する。即ち、図２に示したように、防爆弁２２が膨張していない正常時や防爆弁２２の膨れが小さい場合（図６のａ点以下の場合）には、劣化判定手段１３は劣化状態が正常と判定するが、図５に示すように防爆弁２２の膨れが大きい場合（図６のａ点を超えた場合）には、劣化判定手段１３は劣化状態が異常と判定する。
【００１９】
なお、防爆弁２２の膨れ量や防爆弁２２の反射量等はアルミ電解コンデンサ２００の形状や種類によって異なり、また発光素子１０及び受光素子１１とアルミ電解コンデンサ２００との位置関係によっても異なるため、劣化発生時の実際の変化量等を計測した実験値などで設定するのがよい。
【００２０】
劣化判定手段１３は、劣化状態の判定結果を報知手段１４に対して出力する。報知手段１４は、例えばセグメントＬＥＤや液晶表示素子等に判定された劣化状態に関する情報（例えば、エラーコードなど）を表示させる。なお、この表示の際、所定のメンテナンス内容の情報（例えば、部品交換を促すメッセージなど）を表示させるようにしても良い。また、スピーカー等により、当該劣化状態に関する情報を音により報知するようにしても良い。
また、劣化判定手段１３は、劣化状態の判定結果を停止手段１５に対して出力する。停止手段１５は、例えばアルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器に対して停止信号を出力し、当該機器の動作を停止させる。なお、停止手段１５からの出力はこれに限らず、例えば当該機器の出力電力の低下を指示する信号を出力するなど、任意の操作信号を出力するようにしても良い。
【００２１】
以上のように本実施の形態においては、防爆弁２２へ向けて光を発光し、その反射光を受光素子１１で受光する。そして、受光素子１１の検出値に基づいて、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定する。このため、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態異常の検出を、精度良く実現することができる。
また、温度センサー及び温度センサーのためのバンド等を実装する必要が無いので、製造コストを低減することができる。また、従来の温度検知方式に比べ、取付誤差による検知精度の低下を回避できる。また、バンド等の耐熱温度も考慮する必要が無い。
また、防爆弁２２からの反射光を検知するので、アルミ電解コンデンサ２００の発熱の影響を受け難く、高精度、高信頼でアルミ電解コンデンサ２００の異常を検知することが可能となる。
また、アルミ電解コンデンサ２００の異常検知における製造コストの低減や他の電子部品の発熱の影響を受けることも無く、高精度、高信頼でアルミ電解コンデンサ２００の劣化を検知することが可能となる。
また、防爆弁２２の作動（開弁）による内部の電解液が漏出し、使用者に発煙したと誤認され、火災安全に対する不安や、その蒸気による健康への影響に対する不安を解消することができる。
【００２２】
また、光を発光する発光素子１０および反射光を受光する受光素子１１を設けて、受光素子１１の検出値に基づいて、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定するので、コンデンサ劣化診断装置を安価な構成で実現できる。
【００２３】
また、発光素子１０および受光素子１１は、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２に対向して配置され、劣化判定手段１３は、受光素子１１の検出値が所定の劣化判定レベルより小さいとき、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定する。このため、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２の膨れを検知することができ、結果としてアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を精度良く判定することができる。
【００２４】
また、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の判定結果を、報知手段１４により報知することにより、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態に関する情報を使用者に報知することができる。これにより、使用者は例えばアルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器の運転を停止させ、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２の開弁による発煙や異臭の発生を防止することができる。
【００２５】
また、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の判定結果に応じて、停止手段１５は、例えばアルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器に対して停止信号を出力し、当該機器の動作を停止させる。これにより、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態が異常の際に、アルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器の運転を停止させることができ、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２の開弁による発煙や異臭の発生を防止することができる。
【００２６】
また、発光素子１０および受光素子１１は、光部品基板１１０に搭載され、光部品基板１１０は、アルミ電解コンデンサ２００が搭載されたコンデンサ搭載基板２１０に対して固定されている。このため、発光素子１０および受光素子１１と、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２との位置関係が固定され、防爆弁２２の膨れに応じて受光素子１１に入射する反射光が変化することとなり、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を精度良く判定することができる。
【００２７】
なお、光部品基板１１０をコンデンサ搭載基板２１０に対して固定する方法としては、たとえは図７及び図８に示すような方法がある。
例えば図７に示すように、光部品基板１１０とコンデンサ搭載基板２１０との間に、例えばスペーサ１１１を配置し、各基板とスペーサ１１１とをネジ１１２で固定することで、コンデンサ搭載基板２１０に光部品基板１１０を固定する。
また例えば図８に示すように、アルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器の筐体１２０に、光部品基板１１０をネジ１２１で固定する。
なお、光部品基板１１０の固定方法はこれに限るものではなく、発光素子１０および受光素子１１が防爆弁２２に対向して配置できるものであれば良い。
【００２８】
実施の形態２．
本実施の形態２における劣化判定手段１３は、劣化判定レベルが予め複数設定され、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常の程度を多段階に判定する。
以下、本実施の形態２について、上記実施の形態１との相違点を中心に説明する。尚、上記実施の形態１と同一部分については同一符号を付して、その説明を省略する。
【００２９】
図９は実施の形態２に係る防爆弁の膨れと受光素子への入光量との関係を示す図である。
本実施の形態２における劣化判定手段１３には、劣化判定レベルが予め複数設定されている。例えば図９に示すように、防爆弁２２が開弁する膨れより小さい３つの膨れ量ａ１〜ａ３に対応して、劣化判定レベル１〜３（ｂ１〜ｂ３）が設定されている。
劣化判定手段１３は、受光素子への入光量と、劣化判定レベル１〜３とを比較して、各劣化判定レベルに応じて、劣化状態の異常程度を判定する。
尚、防爆弁２２の膨れ量や防爆弁２２の反射量等はアルミ電解コンデンサ２００によって異なるため、複数の劣化判定レベルは実際の変化量等を計測した実験値などで設定するのが良い。
【００３０】
例えば劣化判定手段１３は、受光素子への入光量がｂ１までは、防爆弁２２の膨れ量が小さいため、劣化状態が正常状態であると判定する。
一方、受光素子への入光量がｂ１を下回った場合は、防爆弁２２の膨れ量が大きく、即ち劣化状態が異常であり、劣化判定レベル１〜３に応じて、所定の異常の程度を判定する。劣化判定手段１３は、劣化状態の判定結果を報知手段１４に対して出力する。
例えば劣化判定レベル１を下回った場合は、異常の程度が注意状態であると判定する。また、劣化判定レベル２を下回った場合は、異常の程度が警告状態であると判定する。また、劣化判定レベル３を下回った場合は、異常の程度が遮断状態であると判定する。
そして、報知手段１４は、異常の程度に応じて、例えばセグメントＬＥＤや液晶表示素子等に判定された劣化状態の程度に関する情報（例えば、注意、警告、遮断など）を表示させる。なお、この表示の際、所定のメンテナンス内容の情報を表示させるようにしても良い。例えば、注意の警告の際には部品寿命が近いことを注意喚起し、警告の際には部品交換を促すメッセージを表示し、遮断の際には部品寿命により運転不可である表示などを行う。
【００３１】
また、劣化判定手段１３は、劣化状態の異常程度の判定結果を停止手段１５に対して出力する。停止手段１５は、例えばアルミ電解コンデンサ２００が搭載された機器に対して、判定された異常の程度に応じた出力を行う。
例えば、異常の程度が注意状態である場合は機器に対する出力は行わない。異常の程度が警告状態である場合は、機器の出力電力の低下を指示する信号を出力する。また、異常の程度が遮断状態である場合は、停止信号を出力し、当該機器の動作を停止させる。
【００３２】
なお、劣化判定レベルの数は３つに限らず任意の数を設定することができる。
例えば、防爆弁２２の膨れがない状態から膨れ限界値（寿命）までを等間隔に複数に区分し、この区分毎に劣化判定レベルを設定することで、アルミ電解コンデンサ２００の余寿命を判定するようにしても良い。
【００３３】
以上のように本実施の形態においては、劣化判定手段１３は、劣化判定レベルが予め複数設定され、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常の程度を多段階に判定する。
このため、上記実施の形態１の効果に加え、アルミ電解コンデンサ２００の劣化の程度に応じた判定を行うことができる。
【００３４】
実施の形態３．
図１０は実施の形態３に係るインバータ装置の回路図である。
図１０において、インバータ装置３００は、整流回路３と、直流電圧を交流電圧に変換して出力するインバータ回路５と、アルミ電解コンデンサ２００と、上記実施の形態１または２に記載のコンデンサ劣化診断装置１００と、インバータ回路５の駆動を制御する制御手段６とにより構成されている。このインバータ装置３００は、商用電源１から供給される電力により駆動されるモータ７（負荷）の運転を制御するものである。
【００３５】
整流回路３は、例えば全波整流回路となっており、商用電源１の交流電圧を直流電圧に変換する。この整流回路３は、４個の半導体スイッチ素子の整流ダイオード３ａ〜３ｄをブリッジ接続して構成される。
整流回路３の出力側には平滑用のコンデンサとして、上述したアルミ電解コンデンサ２００が接続されている。
【００３６】
インバータ回路５は、アルミ電解コンデンサ２００により平滑された直流電圧が入力され、制御手段６からの制御により例えばＰＷＭ制御を行い、入力された直流電圧を任意電圧、任意周波数の交流に変換する。このインバータ回路５は、例えばトランジスタ等の半導体によるスイッチング素子５ａ〜５ｆを各々ブリッジ接続して構成される。また、各々のスイッチング素子５ａ〜５ｆには並列に逆電流方向にダイオードが設けられている。
【００３７】
制御手段６は、インバータ回路５のスイッチング素子５ａ〜５ｆのスイッチング時間を決定することでＰＷＭ（パルス幅変調：Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）を行い、モータ７の各巻線に電圧を印加することでモータ７を駆動制御する。
【００３８】
コンデンサ劣化診断装置１００は、上述した実施の形態１または２と同様に、整流回路３の出力側に設けられたアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を検知する。
また、コンデンサ劣化診断装置１００の停止手段１５は、劣化状態に応じた所定の信号を制御手段６に出力する。
例えば、停止手段１５は、劣化判定手段１３の出力に基づいて、制御手段６に対して停止信号や、負荷（モータ７）の出力電力の低下を指示する信号を出力する。
【００３９】
制御手段６は、コンデンサ劣化診断装置１００の判定結果に応じて、インバータ回路５を制御してモータ７を駆動制御する。
例えば、停止信号が入力された場合には、モータ７の駆動を停止させる。また、出力電力の低下を指示する信号が入力された場合には、モータ７の回転数を低減するなどして、インバータ回路５からの出力電力を低下させる。
【００４０】
以上のように本実施の形態においては、劣化判定手段１３の判定結果に応じて、インバータ回路５の運転を制御するので、アルミ電解コンデンサ２００の防爆弁２２の開弁による発煙や異臭の発生を防止することができる。
【００４１】
実施の形態４．
本実施の形態４では、家電機器として例えば空気調和機にコンデンサ劣化診断装置１００を搭載した場合の形態について説明する。
図１１は実施の形態４に係る空気調和機の構成を示す図である。
図１１において、本実施の形態における空気調和機は、室外機３１０、室内機３２０を備え、室外機３１０には、図示しない冷媒回路に接続され冷凍サイクルを構成する冷媒圧縮機３１１、図示しない熱交換機を送風する室外機用の送風機３１２を備えている。そして、この冷媒圧縮機３１１および室外機用の送風機３１２の少なくとも一方は、上述したインバータ装置３００により制御されるモータ７により駆動される。
このような構成においても、上記実施の形態１〜３と同様の効果が得られることはいうまでもない。
【００４２】
なお、本実施の形態４では、家電機器の一例として空気調和機を説明したが、本発明はこれに限るものではなく、インバータ装置３００により駆動される負荷を備えた家電機器であれば良く、例えば冷蔵庫、手乾燥機、ＩＨクッキングヒータ、炊飯器、照明器具などでも良い。
【符号の説明】
【００４３】
１  商用電源、３  整流回路、３ａ〜３ｄ  整流ダイオード、５  インバータ回路、５ａ〜５ｆ  スイッチング素子、６  制御手段、７  モータ、１０  発光素子、１１  受光素子、１２  光部品制御手段、１３  劣化判定手段、１４  報知手段、１５  停止手段、２０  ケース、２０ａ  上面、２０ｂ  溝、２１  樹脂、２２  防爆弁、１００  コンデンサ劣化診断装置、１１０  光部品基板、１１１  スペーサ、１１２  ネジ、１２０  筐体、１２１  ネジ、２００  アルミ電解コンデンサ、２１０  コンデンサ搭載基板、３００  インバータ装置、３１０  室外機、３１１  冷媒圧縮機、３１２  送風機、３２０  室内機。
【要約】
【課題】コンデンサの劣化状態の異常を精度良く検出することができるコンデンサ劣化診断装置、インバータ装置、及び家電機器を得る。
【解決手段】防爆弁２２を有するアルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を検知するコンデンサ劣化診断装置１００であって、防爆弁２２へ向けて光を発光する発光素子１０と、防爆弁２２からの反射光を受光する受光素子１１と、受光素子１１の検出値に基づいて、アルミ電解コンデンサ２００の劣化状態の異常を判定する劣化判定手段１３とを備えたものである。
【選択図】図２【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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