(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
多チャネル用マスク試験を行う測定機器であって、
被試験回路からのＭ個の信号を受けるＭ個の信号入力端（Ｍは１よりも大きい整数）と、
該Ｍ個の信号入力端に結合され、上記Ｍ個の信号入力端の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路と、
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器と、
上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有する上記マスクのピクセル・データとを蓄積するラスタ・メモリと、
該ラスタ・メモリの記憶場所を読み取り、上記Ｍ個の信号入力端の各々からの上記信号の取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断するラスタ化回路と、
上記Ｍ個の信号入力端からの上記波形の総てと、上記マスクとを表す表示を同時に行う表示手段と
を具えた測定機器。
【請求項２】
多チャネルのマスク試験を行う測定システムであって、
Ｎ個の入力チャネル及びＭ個の出力チャネルを有し（ＮはＭより大きい整数、Ｍは１よりも大きい整数）、第１制御信号に応答して、Ｍ個の出力チャネルに対するＮ個の入力チャネルからの選択を同時に行うマルチプレクサと、
第２制御信号に応答して動作する測定機器と、
上記マルチプレクサ及び上記測定機器に結合され、上記第１及び第２制御信号を発生する制御手段とを具え、
上記Ｎ個の入力チャネルの各々が、被試験回路のＮ個の出力チャネルの夫々からの信号を受け、
上記測定機器が、
上記Ｍ個の出力チャネルの各々に夫々結合されたＭ個の信号入力端と、
該Ｍ個の信号入力端に結合され、上記Ｍ個の信号入力端の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路と、
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器と、
上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有する上記マスクのピクセル・データとを蓄積するラスタ・メモリと、
該ラスタ・メモリの記憶場所を読み取り、上記Ｍ個の信号入力端の各々からの上記信号の取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断するラスタ化回路と、
上記Ｍ個の信号入力端からの上記波形の総てと、上記マスクとを表す表示を同時に行う表示手段と
を有することを特徴とする測定システム。
【請求項３】
マスク試験機能を有する測定機器を含む測定システムにおいて多チャネル・マスク試験を行う方法であって、
Ｎ個のチャネルから同時にＭ個のチャネルを選択し（ＮはＭより大きい整数、Ｍは１よりも大きい整数）、
上記Ｍ個のチャネルに結合したＭ個の入力チャネルの波形サンプルを取り込み、
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生し、
上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有する上記マスクのピクセル・データとをラスタ・メモリに蓄積し、
ラスタ化回路を用いて、上記ラスタ・メモリの記憶場所を読み取って、上記マスク・ピクセル・データ及び上記波形サンプル・データを比較して、上記取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断し、
上記ラスタ化回路を用いて、上記波形サンプルを上記ラスタ・メモリに展開し、
上記マスク及び上記Ｍ個の波形を表示スクリーンに同時に表示する
ことを特徴とする多チャネル・マスク試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、測定機器及び多チャネル・マスク試験方法に関し、特に、テレコム（テレコミュニケーション）マスク機能を用いる測定機器及び試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
テレコミュニケーション業界においては、ＩＴＵ−Ｔ（International Telecommunication Union-Telecommunication Sector）やＡＮＳＩ（American National Standards Institute）などの通信標準化団体が定めたパラメータに特定信号が適合するか否かの判断を行う試験は一般的である。係る適合試験を行う主要な方法では、オシロスコープにより取り込んだ波形のパルス形状を「マスク」波形と比較する。このマスクは、最小及び最大振幅値、所定のビット・レート、信号エッジの所定の最小傾き（即ち、最小帯域幅）を有する経路（２個のマスクの間の経路）を定義する。被試験信号が経路の境界内に入る場合、この信号は試験を合格する。この種の試験は、テレコム・マスク試験として知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
オシロスコープにおける最近の新機能は、「マスクへの自動設定（AUTOSET TO MASK）」である。（以下、この機能をマスク自動設定機能と呼ぶ。）このマスク自動設定機能は、期待した信号に適合するようにオシロスコープの水平、垂直及びトリガの設定を自動的に設定して、オシロスコープの表示上でマスクを重ねることである。自動設定マスク機能の操作手順では、水平及び垂直のスケール（倍率）を規定値に設定し、波形を取り込み、入力Ａ／Ｄ変換器の設定を調整して波形のスケール（倍率／大きさ）及び位置を調整し、マスクを表示する。
【０００４】
マスク自動設定機能により、取り込み波形をセットアップ（調整）して、マスクを表示した後に、テレコム・マスク（以下、単に、マスクと呼ぶこともある）試験ソフトウェアにより、被試験波形がマスク領域に侵入（即ち、波形とマスクの衝突、又はマスク・ヒット）していないかをチェックする。波形とマスクとが衝突している場合、この波形は、適切なテレコミュニケーション規格に適応していない。
【０００５】
テレコミュニケーション分野において、高いコア及びアクセス・データ・レートには、ネットワーク・インタフェース・カードとして知られている大容量のライン・カードが必要なことが認められる。かかる大容量ライン・カードは、ＳＴＭ（Synchronous Transport Module）１Ｅ信号（１秒当たり１５６Ｍビット）を６３チャネルのＥ１信号（１秒当たり２Ｍビット）にダウン・コンバート（ビット・レートを下げる）できる。多チャネル装置は、ネットワーク・インタフェース・カードに合うように設計されているので、多チャネルの合格／不合格（pass/fail）試験を高速で行うことが必要で重要となる。
【０００６】
テレコム信号をテレコミュニケーション規格に適合させるために、テレコミュニケーション機器の多チャネルのテレコム信号を高速に試験できるようにすることが求められている。
【０００７】
したがって、本発明の目的は、テレコミュニケーション機器の多チャネルのテレコム信号を高速に試験できる測定機器及びマスク試験方法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、多チャネル用マスク試験を行う測定機器であって；被試験回路からのＭ個の信号を受けるＭ個の信号入力端（Ｍは１よりも大きい整数）と、これらＭ個の信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と；マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器（２３０）と；波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有するマスクのピクセル・データとを蓄積するラスタ・メモリ（２５０）と；このラスタ・メモリの記憶場所を読み取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの信号の取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断するラスタ化回路（２４０）と；Ｍ個の信号入力端からの波形の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う表示手段（２８０、２９０）とを具えている。
また、本発明は、多チャネルのマスク試験を行う測定システムであって；Ｎ個の入力チャネル及びＭ個の出力チャネルを有し（ＮはＭより大きい整数、Ｍは１よりも大きい整数）、第１制御信号に応答して、Ｍ個の出力チャネルに対するＮ個の入力チャネルからの選択を同時に行うマルチプレクサ（５２０）と；第２制御信号に応答して動作する測定機器（５３０）と；マルチプレクサ及び測定機器に結合され、これら第１及び第２制御信号を発生する制御手段（５４０）とを具え；Ｎ個の入力チャネルの各々が、被試験回路（５１０）のＮ個の出力チャネルの夫々からの信号を受け；測定機器（５３０）が、Ｍ個の出力チャネルの各々に夫々結合されたＭ個の信号入力端と、これらＭ個の信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と、マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器（２３０）と、波形サンプル及びマスクであることを示すデータ値を有するマスクのピクセル・データとを蓄積するラスタ・メモリ（２５０）と、このラスタ・メモリの記憶場所を読み取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの上記信号の取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断するラスタ化回路（２４０）と、Ｍ個の信号入力端からの波形の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う表示手段（２８０、２９０）とを有することを特徴としている。
さらに、本発明は、マスク試験機能を有する測定機器を含む測定システムにおいて多チャネル・マスク試験を行う方法であって；Ｎ個のチャネルから同時にＭ個のチャネルを選択し（ＮはＭより大きい整数、Ｍは１よりも大きい整数）；Ｍ個のチャネルに結合したＭ個の入力チャネルの波形サンプルを取り込み；マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生し；波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有するマスクのピクセル・データとをラスタ・メモリに蓄積し；ラスタ化回路を用いて、このラスタ・メモリの記憶場所を読み取って、マスク・ピクセル・データ及び波形サンプル・データを比較して、取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断し；上記ラスタ化回路を用いて、波形サンプルを上記ラスタ・メモリに展開し；マスク及びＭ個の波形を表示スクリーンに同時に表示することを特徴としている。
【０００９】
本発明の実施例によれば、Ｍ個の信号入力チャネルを有する測定機器において、各チャネルからの信号を表す個別のサンプル（波形サンプル）をマスク・ピクセルと比較して、所定規格に適合するかしないかを検出する。オシロスコープ（測定機器）の表示スクリーン上のマスク及び波形の初期位置は、マスク自動設定機能で決める。ラスタ化回路（ラスタライザ）によりピクセルをラスタ・メモリに展開する際に、マスク・ピクセルと波形ピクセルとを比較して、波形ピクセル及びマスク・ピクセルの間の衝突（即ち、マスク・バイオレーション）を略実時間で検出できる。取り込みは、同時且つ繰り返し行われる。Ｍ個の信号入力チャネルの総てからの取り込み波形は、後続の取り込み期間中に、マスクと順次比較されて、スクリーンに描かれる。よって、略単一の取り込み期間内に、Ｍ個の波形がテレコム・マスクと適合するかを試験できる。マルチプレクサを用いたシステムは、Ｎ個のチャネルのグループからＭ個のチャネルを同時に選択して、Ｎ個のチャネルの総てを試験するのに要する時間を短縮する。テレコム・マスクとの衝突を視覚的に一層判りやすくするために、マスクと衝突したサンプルを表すピクセルの輝度を高くするのが好ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の理解を助けるために、図５を参照して、従来技術を更に説明する。図５は、従来技術の多チャネル・テレコム・マスク試験装置１００の簡略化したブロック図である。被試験ライン・カード（被試験回路）１１０は、テレコム規格に適合するかを試験するＮ個のチャネルのテレコム信号を含んでいる。これらＮ個のチャネル（典型的には、６３チャネル）をＮ対１のマルチプレクサ１２０（Ｎ個の入力の１つを選択して出力するマルチプレクサ：典型的には、６３対１のマルチプレクサ）に供給する。マルチプレクサ１２０の単一の出力信号は、テレコム・マスク試験機能を有するオシロスコープ１３０の単一チャネルの信号入力端子に供給する。
【００１１】
動作において、オシロスコープ１３０は、信号を取り込み、その信号がマスク試験を合格したか不合格かを判断する。次に、このシーケンスをＮ回、例えば、６３回繰り返して、ライン・カード１１０の各チャネルをチェックする。マルチプレクサ１２０及びオシロスコープ１３０は、ＧＰＩＢ制御器１４０により制御される。ＧＰＩＢ制御器１４０は、ＧＰＩＢ（汎用インタフェース・バス）制御機能を有するマイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、又は専用ＡＳＩＣ制御器でもよい。図５の装置において、１度に、１つのチャネルのみをマスクに対して試験する。したがって、ＧＰＩＢ制御器１４０は、６３個の独立したスイッチング制御命令をマルチプレクサ１２０に送らなければならない。マルチプレクサの各切替選択の後に、整定時間（セットリング・タイム）が必要な場合、ライン・カード１１０の全体を試験する総合時間が延びる。多チャネル・ライン・カードの試験速度は、テレコム分野において非常に重要なことが理解できよう。
【００１２】
図５に示す構成では、オシロスコープは、テレコム・マスクに対して２チャネル以上をほぼ同時に（例えば、１回の信号取り込み以内に）試験できないことに留意されたい。
【００１３】
一方、本発明は、図１に示すようなハードウェア・アーキテクチャにより、多チャネル・ライン・カード（被試験回路）のテレコム試験を実施するのに要する時間を大幅に短縮できるという利点がある。図１は、本発明の好適実施例の簡略化したブロック図であり、本発明を実施するのに有効な４チャネル・デジタル・オシロスコープ（測定機器）２００を示す。かかるオシロスコープ２００は、例えば、本願出願人のテクトロニクス・インコーポレイテッド製ＴＤＳ３０５４型デジタル・フォスファ・オシロスコープ（ＤＰＯ）でもよい。信号入力端の入力信号を取り込み回路２１０に供給する。この取り込み回路２１０は、Ａ／Ｄ（アナログ・デジタル）変換器２１９を具えている。取り込み回路２１０は、供給された入力信号を高速で略連続的にサンプリングし、取り込んだサンプル（波形サンプル）を取り込みメモリ２２０に蓄積する。
【００１４】
動作において、デジタル・オシロスコープ２００は、複数のプローブ（図示せず）が接触した被試験回路の複数の個別ノードに存在する電圧を周期的にサンプリングして、入力信号（即ち、波形）の動きに関する情報を取り込む。上述の如く、図１のオシロスコープ２００は、ＴＤＳ３０５４型ＤＰＯの如き４チャネル・デジタル・オシロスコープである。４チャネルが好ましいが、本発明は、２チャネル・オシロスコープでも有効である。オシロスコープ・プローブ及びオシロスコープ２００の入力段は、入力信号を正確に再現するように、又は、この入力信号を所定の倍率で減衰又は増幅して、Ａ／Ｄ変換器２１９に供給するように設計されている。Ａ／Ｄ変換器２１９の出力信号は、一連の多ビット・デジタル・ワードであり、取り込みメモリ２２０に蓄積される。連続的に取り込んだ複数サンプルを取り込みメモリ２２０内の関連した連続アドレスの記憶場所に蓄積する。なお、これらサンプルは、時間軸（タイム・スケール）に関連している。比較器であるラスタ化回路（ラスタライザ）２４０が、これらアドレスにおけるデータを結局はタイム・スケールに戻し、ラスタ・メモリ２５０に蓄積する。輝度又はカラー・マッピング回路（マッパー：輝度又は色を割り当てる回路）２８０の如き表示ハードウェアにより、ラスタ・メモリ２５０の内容を読み出し、データをラスタ走査表示器２９０に供給する。上述のタイム・スケールは、オシロスコープのラスタ走査表示器２９０のＸ軸に沿った水平距離として示される。これらマッピング回路２８０及び表示器２９０が表示手段を構成する。
【００１５】
従来技術と同様に、ラスタは、水平行と垂直列とで構成されている。各行は、垂直軸（Ｙ軸）に沿った位置番号で識別され、各列は、水平軸（Ｘ軸）に沿った位置番号で識別される。典型的には、デジタル・オシロスコープにおいて、取り込みメモリの記憶場所のデータ内容から得た電圧振幅値が、輝度の高いピクセルの垂直位置（行番号）を決定し、取り込みメモリのアドレスから得た時間値が水平位置（列番号）を決定する。取り込みメモリの内容及びアドレスを処理して、２次元ラスタ・メモリの内容を発生することは、「ラスタ化」として知られている。よって、ラスタ化を行う回路がラスタ化回路（ラスタライザ）である。
【００１６】
ラスタ化回路２４０は、取り込みメモリ２２０の内容を読み出し、ラスタ・メモリ２５０の関連した記憶場所の内容を読み出し、これら２種類の内容を組み合わせて（即ち、複合化して）、その結果の値をラスタ・メモリ２５０に蓄積する。このように、ラスタ化回路の出力をラスタ・メモリにピクセル・データとして蓄積することを、本明細書では「展開」と呼ぶ。ほぼ同時に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０は、ラスタ・メモリ２５０の内容を読み出し、これらデータを所定レートで減衰させて、減衰させた値をラスタ・メモリ２５０に蓄積して、後で表示する。この減衰機能により、デジタル・オシロスコープの表示がアナログ・オシロスコープと同様に時間経過に伴って表示が減衰するようになる。なお、同じ波形の繰り返しならば、常に同じ波形が書き込まれるため、実質的に減衰が生じないように見える。上述の総ての機能は、制御器（制御手段）２３０の制御下で動作する。この制御器２３０は、例えば、パワーＰＣＧ３マイクロプロセッサや、専用ＡＳＩＣでもよく、また、これらの代わりに、制御器２３０を多数のプロセッサで実現してもよい。４個の入力装置が制御器２３０に結合している。
【００１７】
ラスタ・メモリ２５０の詳細を図２にラスタ・メモリ３５０として示す。ラスタ・メモリ３５０は、３個のプレーン・メモリ、即ち、グレー・スケール（ＧＳ）プレーン３５３、ベクトル・プレーン３５４及びＵＩ（ユーザ・インタフェース）プレーン３５６を具えている。この構成をメモリ「プレーン」として考えることは容易であるが、これらは、高速ＳＲＡＭ表示メモリが実際に隣接したブロックであることが当業者には理解できよう。
【００１８】
波形データは、ラスタ化回路２４０により、グレー・スケール・プレーン３５３に書き込まれる。また、制御器２３０が発生したマスク・データも、後述のように、グレー・スケール・プレーン３５３に書き込まれる。（なお、後述のように、マスク・データをベクトル・プレーン２５４に書き込むこともある。）このグレー・スケール・プレーン３５３は、５１２×４０２のマトリクスに配置された２０５８２４個のメモリ記憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は、９ビットの長さがある。これら９ビットが輝度及び色を定義すると共に、そのピクセルがマスク・ピクセルであるか波形ピクセルであるかも定義する。
【００１９】
ベクトル・プレーン３５４を用いて、演算処理（例えば、チャネル１及びチャネル２からの信号の和）結果の波形を表示するか、又は、以前に蓄積した基準波形を表示する。ベクトル・プレーン３５４は、５１２×４０２のマトリクスに配置された２０５８２４個のメモリ記憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は２ビットの長さである。なお、この２ビットは、所定ピクセルに対して、３レベルの輝度と、オフ状態とを定義する点に留意されたい。
【００２０】
ユーザ・インタフェース・プレーン３５６を用いて、テキスト文字に関連したピクセル・データを蓄積するが、このプレーン３５６は、６４０×４８０のスクリーン領域全体をカバーする。よって、ユーザ・インタフェース・プレーン３５６は、６４０×４８０マトリクスに配置された３０７２００個のメモリ記憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は、４ビットの長さである。この４ビットにより、所定ピクセルの色及び輝度を定義する。
【００２１】
表示読出しハードウェア・ユニット３８０により、３個のプレーン３５３、３５４及び３５６から出力信号を読み出して組み合わせ、典型的には、６０Ｈｚレートで表示を行う。このユニット３８０の出力信号が輝度又はカラー・マッピング回路２８０に供給される。
【００２２】
図３は、オシロスコープの表示スクリーンの表示を示す図であり、この表示には、典型的なテレコム・マスクの２個の部分４１０及び４２０が含まれている。図１の制御器２３０は、表示メモリ（ラスタ・メモリ２５０）内に、制御器２３０からのテレコム・マスクを描画する。このテレコム・マスクは、蓄積された一連のＸ−Ｙポイントにより定義される一連のポリゴン（例えば、台形）として描画される。このテレコム・マスクは、その最終的な目的に応じて、２個のメモリ・プレーン３５３、３５４のいずれに書き込んでもよい。その目的が単にテレコム・マスクを観察する場合や、スクリーンでテレコム・マスクを移動させる場合、このテレコム・マスクをベクトル・プレーン３５４に描画する。しかし、その目的が、マスク自動設定機能において、波形データと比較するためならば、テレコム・マスクをグレー・スケール・プレーン３５３に描画する。これは、波形データ及びテレコム・マスク・データをラスタ・メモリ２５０のグレー・スケール・プレーン３５３に描画すれば、波形データ及びテレコム・マスク・データの間の衝突を検出するために（即ち、波形及びマスクの衝突の判断のために）、ラスタ化回路２４０が波形データ及びテレコム・データを比較する際に、グレー・スケール・プレーン３５３のみにアクセスすればよいためである。なお、ラスタ化回路２４０は、比較回路として機能し、波形をラスタ・メモリ２５０に展開する際に、この波形とラスタ・メモリ２５０に蓄積されたマスクとを比較して、マスク及び波形が衝突していないか否かを判断し、衝突した場合に衝突信号を発生する機能も備えている。
【００２３】
図３において、オシロスコープの表示スクリーン４００は、碁盤目状の目盛りを有する波形表示領域と、この波形表示領域の右側及び下側の文字（絵文字及び数字を含む）表示領域とから構成されている。波形表示領域に表示されたテレコム・マスクは、上側部分４１０及び下側部分４２０を有する。上側領域４１０及び下側領域４２０の各々は、複数ポリゴン（例えば、台形）から構成された複数の個別セグメントから構成されている。文字表示領域には、ユーザ・インタフェース・プレーン３５６の記憶内容に基づいて、オシロスコープの設定情報等（メニュー）が表示されているが、本発明の要旨ではないと共に、一般的なデジタル・オシロスコープの設定情報の表示なので、詳細な説明を省略し、その一部についてのみ後述する。
【００２４】
マスク自動設定機能は、表示スクリーン上にテレコム・マスク４１０及び４２０を配置し（即ち、ラスタ・メモリ２５０に書込み）、波形４３０、４４０、４５０及び４６０を取り込み、公称値に調整すると仮定する。上述のマスク自動設定機能の一部は、マスク領域内での任意のピクセル・データの制御を行うと共に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０による減衰を阻止する（よって、マスクを連続的に再描画する必要がない）。
【００２５】
新たなデータをラスタ・メモリ２５０のグレー・スケール・プレーン３５３に書き込む前に、このグレー・スケール・プレーン３５３の関連した記憶場所から既存のデータが読出される点に留意されたい。この既存データを新たなデータと組み合わせて、グレー・スケール機能の内で、増分されたピクセル・データ（即ち、輝度が高くなるピクセル・データ）を実現する。グレー・スケール機能の内で減分されたピクセル・データ（即ち、輝度の低くなるデータ）は、多機能ラスタ減衰ユニット２７０で実現する。この組み合わせたデータをラスタ・メモリ２５０のグレー・スケール・プレーン３５３に書き戻す。
【００２６】
本発明は、既存のデータと波形データとが組み合わさったときに、そのポイントでの衝突検出動作を行うようになっており、非常な高速で（１秒当たり約千万ポイント）この機能動作を実行できる。よって、このピクセルがテレコム・マスクの一部であることを既存のピクセル・データが示しているならば、波形ピクセル及びマスク・ピクセルの間の衝突（即ち、バイオレーション）が検出され、制御器２３０は、衝突の警告を出す。
【００２７】
波形ベースで（即ち、次の波形のピクセルを処理する前に、波形全体を完全に試験するまで、一度に単一波形の１ピクセルずつ）、４チャネルの出力信号をマスクと順次比較する。この手順は高速に行われ、ユーザにとって４チャネルの総てが同時に試験されているように思える。
【００２８】
上述のＴＤＳ３０５４型の如きＴＤＳ３０００シリーズ・オシロスコープにおいて、各チャネルは、異なる色（例えば、赤、緑、黄色、マゼンタ）の制御押しボタンに関連しており、そのチャネルに関連した波形が対応する色で表示スクリーン上に描かれる。すなわち、緑色制御押しボタンを押してチャネル２を選択した場合、チャネル２の波形が緑色で表示スクリーンに描かれる。したがって、図３の波形４３０、４４０、４５０及び４６０は、４つの異なる色で現れる。好適には、テレコム・マスク部分４１０及び４２０は、第５の色、例えば、青で描かれる。マスク衝突（即ち、波形が少なくとも１つのマスク・ピクセルと重なる）がユーザに表示され、マスクと衝突した部分の波形の色は、波形のどの部分がテレコム規格から完全に外れているかを示す。
【００２９】
マスクと衝突しないピクセルは、黒背景に対して表示されるので、波形軌跡（トレース）と背景との間の比較的良好なコントラストにより、容易に観察できる。しかし、マスクと衝突した波形は、青色のマスクに対して表示され、波形軌跡と青色のマスクとの間のコントラストが低下するので、容易には観察できない。この点に関して、青のマスクの上に表示された緑の軌跡を考察する。もし、マスクと衝突した波形ピクセルが、マスクと衝突しない波形の一部のピクセルよりも高い輝度レベルで表示されると、マスクの衝突を一層容易に観察できる。輝度を所望のレベルに明るくするには、次のように行う。ラスタ化回路２４０がラスタ・メモリ２５０から所定ピクセルの現在の値を読み取り、この特定ピクセルがテレコム・マスクの一部であると判断したと仮定する。ラスタ・メモリ２５０の同じ記憶場所に書き込まれる波形ピクセルは、マスクと衝突することになり、マスク衝突が生じる。
【００３０】
より一層見やすくするために、この衝突した波形ピクセルの表示輝度を増加させるには、波形サンプル値をラスタ・メモリ２５０に蓄積する前に、この波形サンプル値の２ビットを変更する。この変更により、輝度又はカラー・マッピング回路２８０の異なる部分を用いる。次に、その特定波形の表示輝度値を既存の値よりも大幅に増加させる。ラスタ・メモリ２５０のその記憶場所に蓄積された特定データ・ワードは、そのピクセルの輝度値や、そのピクセルの色（即ち、波形軌跡の残りの部分と同じ色）を表すが、テレコム・マスクに属する特定のピクセル記憶場所の指示は維持する。その結果得られる表示は、マスク衝突のポイントにおけるマスクに対する波形のコントラストが大きくなる。
【００３１】
図４は、本発明による多チャネル・テレコム・マスク試験システム５００の簡略化したブロック図である。被試験ライン・カード（被試験回路）５１０は、テレコム規格に適合するかが試験されるＮ個のチャネルのテレコム信号を含んでいる。これらＮ個のチャネル（典型的には６３チャネル）の信号をＮ対４マルチプレクサ（この場合、６３対４マルチプレクサ）５２０に供給する。このマルチプレクサ５２０の４つの出力信号を、テレコム・マスク試験機能を有する４チャネル・オシロスコープ（例えば、上述のＴＤＳ３０５４型ＤＰＯ）５３０の４個の信号入力端子に供給する。マルチプレクサ５２０及びオシロスコープ５３０は、ＧＰＩＢ制御器５４０により制御される。すなわち、ＧＰＩＢ制御器５４０は、第１制御信号によりマルチプレクサ５２０の選択動作を制御し、第２制御信号によりオシロスコープ５３０の動作を制御する。ＧＰＩＢ制御器５４０は、ＧＰＩＢ（汎用インタフェース・バス）制御機能を有するマイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、専用ＡＳＩＣ制御器でもよい。
【００３２】
動作において、オシロスコープ５３０は、４つの信号を同時に取り込み、これら信号がテレコム・マスク試験を合格か不合格かを順次判断する。次に、このシーケンスをＮ回、例えば、１６回繰り返して、４チャネルのグループ内のライン・カード５１０の各チャネルを同時にチェックする。よって、上述の如く、本発明は、図１に示したハードウェア・アーキテクチャの利点を達成でき、多チャネル・ライン・カードのテレコム試験に要する時間を大幅に短縮できる。本発明のシステムにおいては、マスクに対して４つの信号を同時に試験するので、試験時間の短縮が実現できる。また、時間短縮ができるのは、図５の従来装置が必要とするスイッチング制御信号の数に対して、４分の１の数のスイッチング制御信号を図４のＮ個のチャネル・マルチプレクサ５２０に送ればよいためでもある（なお、関連した遅延時間及びセットリング・タイムも４分の１になる）。
【００３３】
よって、上述した本発明の装置、システム及び方法では、テレコム・マスクに対する多チャネル波形の試験を非常な高速で行える。
【００３４】
本発明をデジタル・オシロスコープに関連させて説明したが、本発明は、ロジック・アナライザ、コミュニケーション・ネットワーク・アナライザなどの他の測定機器にも適用できることが理解できよう。
【００３５】
上述では、Ｘ−Ｙポイントでマスクを発生して予め蓄積したが、独自のマスクを作成するために、測定機器のデータ・ポートを介してパーソナル・コンピュータから独自のデータをダウンロードできることも当業者には明らかであろう。
【００３６】
【発明の効果】
上述の如く、本発明によれば、多チャネルの入力信号をを略実時間で同時に処理できるので、テレコム・マスクに対する多チャネル波形の試験を非常な高速で行える。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明と共に使用するのに適するオシロスコープ（測定機器）の簡略化されたブロック図である。
【図２】図１のオシロスコープに用いるメモリの複数プレーンを示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施例に応じたテレコム・マスク及び多数の波形を表示するスクリーンを示す図である。
【図４】本発明による多チャネル・テレコム・マスク試験
【図５】従来の多チャネル・テレコム・マスク試験を行う測定システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１００  多チャネル・テレコム・マスク試験装置
１１０、５１０  被試験ライン・カード（被試験回路）
１２０、５２０  マルチプレクサ
１３０、５３０  オシロスコープ
１４０、５４０  ＧＰＩＢ制御器
２００  デジタル・オシロスコープ（測定機器）
２１０  取り込み回路（取り込み手段）
２１９  Ａ／Ｄ変換器
２２０  取り込みメモリ
２３０  制御器（制御手段）
２４０  ラスタ化回路（比較回路）
２５０、３５０  ラスタ・メモリ
２７０  多機能ラスタ減衰ユニット
２８０  輝度又はカラー・マッピング回路（表示手段）
２９０  ラスタ走査表示器（表示手段）
３５３  グレー・スケール・プレーン
３５４  ベクトル・プレーン
３５６  ユーザ・インタフェース・プレーン
３８０  表示読出しハードウェア
４００  表示スクリーン
４１０、４２０  マスク
４３０、４４０、４５０、４６０  波形
５００  測定システム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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