(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ形電子部品の電気特性を検査し、前記検査の結果に基づきチップ形電子部品を分類する分類部分を有するチップ形電子部品特性検査分類装置であって、
前記分類部分は、
前記チップ形電子部品を搬送するための多数の収容孔を複数の同心円上に等分割に配置した円盤と、
前記多数の収容孔に対応し、前記チップ形電子部品を分類するための吐出エアー孔が配置された基準台と、
前記吐出エアー孔からの吐出エアーによって吐出される前記チップ形電子部品を分類するための分類孔および前記分類孔に接続されたシュート用チューブを複数組装着した分類用ブラケットと、を具備し、
前記各分類孔の先端部外周に柔軟性を持った環状体を同心に設け、前記円盤の分類用ブラケットの側の移動表面と前記環状体の先端との距離を前記チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さに保ったことを特徴とするチップ形電子部品特性検査分類装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、チップ形電子部品の電気特性を検査し、検査の結果に基づき分類するチップ形電子部品特性検査分類装置における誤分類を防止する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶テレビ、携帯電話、ゲーム機等に組み込まれているチップコンデンサ等のチップ形電子部品は、近年、生産量が増大している。前記の機器の信頼性を確保するためにチップ形電子部品は全数検査が行われており、検査のためのチップ形電子部品特性検査分類装置の処理能力は多列処理による高速化が求められている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特表２０００−５０１１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前述のように、チップ形電子部品は全数検査が行われており、検査のためのチップ形電子部品特性検査分類装置の処理能力は多列処理による高速化が求められている。
高速化するためには、チップ形電子部品搬送用の円盤をより高速に回転させ、かつ円盤のチップ形電子部品の収容孔をより高密度化すること等により達成することができる。しかし、この高速化によって、チップ型電子部品を収容孔から分類孔に吐出エアーにより吐出（射出）させる際に、より短時間でより強力に射出させなければいけなくなるため吐出エアーの圧力は上昇する。このため、収容孔および分類孔のピッチが狭くなることと相まって、チップ型電子部品があらかじめ定められた選別区分でない、他のランクの分類孔に入ってしまうことがあった。誤分類によって他のランクの物が混入していると、これを組み込んだ機器の信頼性を低下させてしまう結果につながる。
従来のチップ形電子部品特性検査分類装置において、または従来装置を高速化した装置では、前述の誤分類の発生が皆無ではなく、解決されなければならない重要な課題となっていた。
本発明の目的は、多列処理による高速化を実現した装置でありながら誤分類を防止することが可能なチップ形電子部品特性検査分類装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するために本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置は、
チップ形電子部品の電気特性を検査し、前記検査の結果に基づきチップ形電子部品を分類する分類部分を有するチップ形電子部品特性検査分類装置であって、
前記分類部分は、
前記チップ形電子部品を搬送するための多数の収容孔を複数の同心円上に等分割に配置した円盤と、
前記多数の収容孔に対応し、前記チップ形電子部品を分類するための吐出エアー孔が配置された基準台と、
前記吐出エアー孔からの吐出エアーによって吐出される前記チップ形電子部品を分類するための分類孔および前記分類孔に接続されたシュート用チューブを複数組装着した分類用ブラケットと、を具備し、
前記各分類孔の先端部外周に柔軟性を持った環状体を同心に設け、前記円盤の分類用ブラケットの側の移動表面と前記環状体の先端との距離を前記チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さに保ったことを特徴とするものである。
【０００６】
本願明細書において、チップ形電子部品の外形寸法の最小値という概念を用いているが、これを例を挙げて説明する。
チップ形電子部品のタイプは長さ×幅×厚みの数値によって規定されている。すなわち典型的な小形チップ形電子部品の外形寸法は次の通りである。
１００５タイプ：  １．０×０．５×０．５（単位ｍｍ）
０６０３タイプ：  ０．６×０．３×０．３（単位ｍｍ）
０４０２タイプ：  ０．４×０．２×０．２（単位ｍｍ）
各タイプの外形寸法の最小値は順に０．５ｍｍ、０．３ｍｍ、０．２ｍｍであり、この外形寸法の最小値よりも狭い間隙は通過出来ない。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、チップ形電子部品の電気特性を検査し、前記検査の結果に基づきチップ形電子部品を分類する装置において、基準台の吐出エアー孔からの吐出エアーによって吐出されるチップ形電子部品を分類するための分類孔および分類孔に接続されたシュート用チューブを複数組装着した分類用ブラケットを有し、各分類孔の先端部に柔軟性を持った環状体を同心に設け、前記円盤の分類用ブラケットの側の移動表面と前記環状体の先端との距離を前記チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さに保つことによってチップ形電子部品の誤分類を防止する効果が得られる、信頼性の高いチップ形電子部品特性検査分類装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置の概要を示す模式図である。
【図２】本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置で使用する円盤の具体例を示す平面図である。
【図３】図１の分類用ブラケットの部分を拡大した平面図である。
【図４】図３の分類用ブラケットを図示されたＡ矢印方向から見た断面図である。
【図５】図４に示された分類孔部分の拡大図である。
【図６】従来の分類孔部分の拡大図であって、誤分類が発生する説明用の図である。
【図７】本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置の分類孔部分の変形例を示す拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下図面等を参照して本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置の実施の形態を説明する。図１は本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置の概要を示す模式図であり、図２は本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置で使用する円盤の具体例を示す平面図である。
【００１０】
図１に示すように、本発明によるチップ形電子部品特性検査分類装置は、チップ形電子部品搬送用の円盤１、円盤１を間欠回転駆動させるための円盤駆動機構２，円盤１にチップ形電子部品を供給するための供給部３、チップ形電子部品の電気特性を検査するための電極を組み込んだ電極用ブラケット４と検査結果に基づきチップ形電子部品を分類するための機能を組み込んだ分類用ブラケット５によって構成されている。さらに、これらの構成は垂直あるいは垂直より２０°から３０°程度傾斜して設置されている。
【００１１】
図２に示すように、樹脂製の円盤１にはチップ形電子部品を搬送するための多数の収容孔１０１が複数の同心円上に等分割に配置されている。そして、円盤１は円盤駆動機構２によって時計回転方向へ収容孔１０１の１分割毎に間欠回転駆動させられる。
【実施例１】
【００１２】
チップ形電子部品特性検査分類装置の対象とするチップ形電子部品〔０６０３タイプ〕の寸法は０．６ｍｍ長×０．３ｍｍ幅×０．３ｍｍ厚であり、外形寸法の最小値は０．３ｍｍである。
本発明の実施例１に対応したチップ形電子部品特性検査分類装置を図３、４、５および６を参照して説明する。
図３は図１の分類用ブラケットの部分を拡大した平面図であり、図４は図３の分類用ブラケットを図示されたＡ矢印方向から見た断面図であり、図５は図４に示された分類孔部分の拡大図であり、図６は従来の分類孔部分の拡大図であって、誤分類が発生する説明用の図である。
【００１３】
図３、４および５に示すように、円盤１の裏面と極僅かの空隙を持って基準台６が設置され、この空隙は図示しない真空圧源に接続されて円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７を吸着保持していて、収容孔１０１内のチップ形電子部品７の先端が円盤１の表面からの出っ張り量として０．０５ｍｍから０．１ｍｍ未満になるように保持されている。このように突出させるのは、電極用ブラケット４における図示しないプローブとチップ形電子部品７の電極との接触を良好にするためである。
さらに、基準台６には、収容孔１０１内のチップ形電子部品７を分類するために必要な複数個の吐出用エアー孔６０１が加工されていて、チップ形電子部品７の電気特性の検査結果に基づいて指定された箇所の吐出用エアー孔６０１からの吐出エアーによって収容孔１０１内のチップ形電子部品７は分類用ブラケット５に加工された分類孔５０１に向かって吹き飛ばされる。分類用ブラケット５には基準台６に加工された複数個の吐出用エアー孔６０１に対応した複数個の分類孔５０１が加工されていて、分類孔５０１には前述の吹き飛ばされたチップ形電子部品７を収納箱（図示省略）に導入させるためのシュート用チューブ５０３が装着されている。
【００１４】
さらに、分類孔５０１と円盤１との対向する間隙は対象とするチップ形電子部品７の寸法の最大対角線よりも大きい寸法に設置されていて、複数個の分類孔５０１の先端部には柔軟性を持った樹脂性の熱可塑性の環状体としてチューブ５０２が分類孔５０１に同心に被着されている。そして、円盤１の分類用ブラケット５の側の移動表面とチューブ５０２の先端との距離をチップ形電子部品７の外形寸法の最小値０．３ｍｍよりも小さい所定の長さとして０．２ｍｍに保つように設置されている。
【００１５】
図６は従来の分類用ブラケット８を示す図であって、図５のチューブ５０２に相当するものは存在しない。その他の機能は図５の説明と同じである。
次に、図５と図６を対比させて、本発明の目的である誤分類を如何にして防止するかの説明をする。
円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所に送られてくる前に、何らかの原因によって正常位置よりも飛び出している状態になることがある。このような場合にチップ形電子部品７に割れ、欠け、傷を発生させない、あるいは、樹脂製の円盤１の表面傷や収容孔１０１の変形等の損傷を発生させないために、図５および６においては、前述のように分類孔５０１あるいは８０１と円盤１との対向する間隙は対象とするチップ形電子部品７の寸法の最大対角線よりも大きい寸法に設置されている。
【００１６】
円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所に送られてくる前に、何らかの原因によって正常位置よりも飛び出している状態のチップ形電子部品７が円盤１の回転時に収容孔１０１内からこぼれ出て前述の間隙内を落下する現象が、あるいは、円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所で吐出用エアー孔６０１の吐出用エアーによって吹き飛ばされた時に分類孔５０１あるいは８０１に入らずに近傍の端面にぶつかって弾き返されて前述の間隙内を落下する現象が、非常に低い確率であるが発生することがある。この場合に、図６に示す従来の分類用ブラケット８においては、前述の二つの現象により落下してくる電子部品９が落下途中で分類用の吐出エアーが射出されている箇所にさしかかったとすると、この吐出エアーによって、この箇所の分類孔８０１に飛ばされて入ってしまうという誤分類が発生してしまう（図６中で太い矢印で表記）。この現象はチップ形電子部品特性検査分類装置の処理能力が１個当たり３６msecと高速であるので、前述の落下してくる電子部品９が落下途中で分類用の吐出エアーが射出されている箇所に存在し得るためである。
【００１７】
これに対して、本発明である分類用ブラケット５部分を示す図５においては、分類孔５０１の先端部には柔軟性を持ったチューブ５０２が装着されていて、円盤１の分類用ブラケット５の側の移動表面とチューブ５０２の先端との距離をチップ形電子部品７の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さとして０．２ｍｍに保つように設置されているので、チューブ５０２の内部にチップ形電子部品７が入り込むことはできない。そして前述のように、収容孔１０１内のチップ形電子部品７の先端が円盤１の表面からの出っ張り量として０．０５ｍｍから０．１ｍｍ未満になるように保持されているので、チップ形電子部品７の先端がチューブ５０２の先端と接触することはない。従って、分類孔５０１はチューブ５０２によって防御されているために、前述した円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所に送られてくる前に、何らかの原因によって正常位置よりも飛び出している状態のチップ形電子部品７が円盤１の回転時に収容孔１０１内からこぼれ出て落下してきても、チューブ５０２ではじかれて分類孔５０１に入ることはなく、誤分類されることが防止される。
さらに、図５に示すように、チューブ５０２の内径は分類孔５０１の孔径よりも十分に大きくしてあるので、前述した円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所で吐出用エアー孔６０１の吐出用エアーによって吹き飛ばされた時に分類孔５０１に入らずに近傍の端面にぶつかって弾き返されても、チップ形電子部品７はチューブ５０２内に留まるので、前述したように落下して誤分類されることが防止される。
またさらに、前述のように、円盤１の収容孔１０１内のチップ形電子部品７が分類箇所に送られてくる前に何らかの原因によって正常位置よりも飛び出している状態になることがあっても、チューブ５０２は柔軟性をもっているので、チップ形電子部品７に割れ、欠け、傷を発生させることはなく、また、樹脂製の円盤１の表面傷や収容孔１０１の変形等の損傷を発生させることもない。
【００１８】
以上詳しく説明した分類孔拡大部分の変形例について、図７を参照して説明する。
この変形例は、図５に示したチューブ５０２を環状体６０２に置き換えたものである。
この環状体６０２は、樹脂を中心を通る断面が略三角形となるように成形したものであり、先端を基部よりも薄くして柔軟性をもたせ、底面を直接分類用ブラケット５に接着してある。
【実施例２】
【００１９】
チップ形電子部品特性検査分類装置の対象をチップ形電子部品〔１００５タイプ〕とすると、その外形寸法の最小値は０．５ｍｍであるから、チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さを例えば０．４ｍｍとすることができる。
【実施例３】
【００２０】
チップ形電子部品特性検査分類装置の対象をチップ形電子部品〔０４０２タイプ〕とすると、その外形寸法の最小値は０．２ｍｍであるから、チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さを例えば０．１５ｍｍとすることができる。
【００２１】
以上詳しく説明した実施例につき、本発明の範囲内で種々の変形を施すことができる。例えば、チップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さは、この規定内で状況に対応して選択可能である。また、以上の説明から明らかなように、実施例以外の外形寸法を有するチップ形電子部品に対しても本発明の効果は有効である。この際、全ての対象とするチップ形電子部品について言える事として、前述の実施例１に記述した対象チップ形電子部品の収容孔１０１内のチップ形電子部品の先端が円盤１の表面から出っ張る量は、対象とするチップ形電子部品の外形寸法の最小値よりも小さい所定の長さよりも小さい値に決める必要がある。
【符号の説明】
【００２２】
１  円盤
１０１  収容孔
２  円盤駆動機構
３  供給部
４  電極用ブラケット
５、８  分類用ブラケット
５０１、８０１  分類孔
５０２  チューブ状環状体
５０３、８０２  シュート用チューブ
６  基準台
６０１  吐出用エアー孔
６０２  他の環状体
７、９  チップ形電子部品
【図１】
0005383430.tif 000002
【図２】
0005383430.tif 000003
【図３】
0005383430.tif 000004
【図４】
0005383430.tif 000005
【図５】
0005383430.tif 000006
【図６】
0005383430.tif 000007
【図７】
0005383430.tif 000008