(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を入力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、
ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設定部と、
このブロック設定部の設定に基づいて、前記時間測定部の時間測定データを格納するメモリと、
このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を行う統計値演算部と、
この統計演算部の演算結果を表示する表示部と
を有し、ブロック設定部は、ブロックごとに、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔ごとの休止時間または休止イベント数とを設定することを特徴とする測定装置。
【請求項２】
統計演算部は、メモリから所望範囲のサンプリングの時間測定データを入力し、所望範囲の統計値演算を行うことを特徴とする請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
表示部は、メモリからの時間測定データを波形表示し、波形のブロック番号を表示することを特徴とする請求項１または２記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、タイムインターバルアナライザ等の測定装置に関し、特に、長いデータ観測において、統計値の変化を解析できる測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
タイムインターバルアナライザ等の測定装置は、入力信号の時間測定を行っている。このような装置を図５に示し、説明する。
【０００３】
図において、時間測定部１は、入力信号を入力し時間測定を行う。この時間測定は、入力信号のパルス幅の測定や、２入力信号の間隔の測定等を行う。アクイジションメモリ２は、時間測定部１からの時間測定データを格納する。時間測定データは、Ｘ軸が測定開始から測定時までの経過時間であるタイムスタンプデータと、Ｙ軸が入力信号のパルス幅または２入力信号の間隔の時間データとからなる。演算条件設定部３は、例えば、キー等で、サンプルの全点と指定範囲の選択を行う。統計演算部４は、演算条件設定部３の設定により、統計値、例えば、平均値、最大値、最小値、ピーク−ピーク、標準偏差、標準偏差／平均値等の演算を行う。表示部５は、統計演算部４の演算結果を表示する。
【０００４】
このような装置の動作を以下に説明する。
図６は図５に示す装置の動作を示したフローチャートである。
図７は図５に示す装置の動作を説明する図である。
【０００５】
演算条件設定部３は、測定サンプル全点または指定範囲サンプル点を設定する。そして、時間測定部１は、入力信号を入力し、時間測定データをアクイジションメモリ２に格納する。統計演算部４は、演算条件設定部３の設定により、サンプル全点または指定範囲サンプル点の統計値を演算する。この演算結果を、表示部５は表示する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このような装置では、すべてのサンプリング点からの統計値か、その一部のみの統計値しか得られなかったため、長いデータ観測において、統計値の変化を解析することができなかった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、長いデータ観測において、統計値の変化を解析できる測定装置を実現することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
入力信号を入力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、
ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設定部と、
このブロック設定部の設定に基づいて、前記時間測定部の時間測定データを格納するメモリと、
このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を行う統計値演算部と、
この統計演算部の演算結果を表示する表示部と
を有し、ブロック設定部は、ブロックごとに、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔ごとの休止時間または休止イベント数とを設定することを特徴とするものである。
【０００９】
このような本発明では、ブロック設定部で、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベントを設定する。この設定により、時間測定部が測定する時間測定データをメモリに格納する。このメモリから時間測定データを入力し、統計演算部は、ブロック毎の統計値を演算する。この演算結果を表示部は表示する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を説明する。
図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
図において、ブロック設定部２１はキー等で、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定する。時間測定部２２は、ブロック設定部２１の設定、または、任意のサンプル数またはサンプル時間のブロックを規定する外部信号に基づいて、入力信号を入力し、入力信号の時間測定を行う。アクイジションメモリ２３は、時間測定部２２からの時間測定データを格納する。
【００１１】
演算条件設定部２４はキー等で、所望範囲（すべての範囲も含む）かブロックかの設定を行う。統計演算部２５は、演算条件設定部２４の設定に基づいて、アクイジションメモリ２３から時間測定データを入力し、統計値の演算を行う。
【００１２】
表示条件設定部２６はキー等で、演算条件がブロック統計値の場合、表示するブロック統計値のブロック番号を設定する。リードマーカ設定部２７はキー等で、リードマーカを設定する。表示部２８は、表示条件設定部２６のブロック番号により、統計演算部２５のブロック統計値を表示、または、所望範囲の統計値を表示する。そして、表示部２８は、アクイジションメモリ２３からの時間測定データを波形表示し、リードマーカ設定部２７が設定するリードマーカの波形のブロック番号を全測定時間データを解析して表示し、リードマーカの測定時間データを表示する。
【００１３】
このような装置の動作を以下で説明する。
図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
図３は図１に示す装置の動作を説明する図である。
図４は図１に示す装置の表示例を示した図である。
【００１４】
ブロック設定部２１は、ブロック数”５”とブロックのサンプル数”６”とブロック間隔の休止時間”１０ｕｓ”とを設定する。演算条件設定部２４は、ブロック統計に設定する。そして、表示条件設定部２６は、ブロック番号”２”を設定する。
【００１５】
時間測定部２２は、ブロック設定部２１の設定により、入力信号を、サンプル数”６”だけサンプリングして、アクイジションメモリ２３に格納後、１０ｕｓ休止し、再び、サンプル数”６”だけサンプリングし、アクイジションメモリ２３に格納する。これを５ブロック分繰返す。
【００１６】
そして、統計演算部２５は、演算条件設定部２４の設定により、アクイジションメモリ２３から時間測定データを入力し、ブロック毎の統計値演算を行う。
【００１７】
この統計値を、表示部２８は、条件設定部２６により、ブロック番号”２”の統計値を表示すると共に、アクイジションメモリ２３から時間測定データを読み出し、波形表示する。
【００１８】
リードマーカ設定部２７が、リードマーカａ，ｂを動かす。表示部２８は、リードマーカａ，ｂの対応する波形のブロック番号”２”，”３”を、全時間測定データを解析して表示し、リードマーカａ，ｂの時間測定データ”×××××”，”×××××”とを表示する。
【００１９】
また、演算条件部２４が、所望範囲、例えば、ブロック番号”２”，”３”で設定する。これにより、統計演算部２５は、ブロック番号”２”，”３”を合わせた時間測定データで、統計値を演算する。この統計値を表示部２８は、ブロック番号”２”，”３”と共に表示する。
【００２０】
そして、ブロック設定部２１の代わりに、外部信号を時間測定部２２に入力し、外部信号がハイレベルのときに、時間測定部２２は、入力信号の時間測定を行い、アクイジションメモリ２３に格納し、外部信号がロウレベルのときに、測定を行わない。このような動作を行い、図３に示されるようなブロックごとの時間測定データをアクイジションメモリ２３に格納する。他の動作は、ブロック設定部２１のときと同様の動作を行う。
【００２１】
このように、ブロック設定部２１で、ブロック数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間測定部２２で入力信号の時間測定を行い、統計演算部２５でブロック毎の統計値を演算したので、長い時間のデータ観測を行い、最初のブロック、途中のブロック、最後のブロックというように、短周期の統計値変化の解析ができる。これにより、例えば、ポリゴンスキャンミラーを備えたモータの起動時の回転むらやジッタなどの統計値の変化を知ることができる。また、休止時間または休止イベント数を設定しているので、自由なブロック間隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求めることができる。
【００２２】
また、統計演算部２５が所定範囲の統計値を演算するので、ブロックの統計値で、短周期ジッタを解析し、所定範囲の統計値で長周期実態を解析できる。
【００２３】
そして、リードマーカ設定部２７により、表示部に表示するリードマーカ２８を設定し、表示部２８が時間測定データの波形表示と共に、リードマーカａ，ｂに対応するブロックのブロック番号と測定時間データを表示するので、指定したブロックの生データの解析を容易に行うことができる。
【００２４】
さらに、外部信号に基づいて、時間測定データをアクイジションメモリ２３に格納したので、外部装置に依存したブロック測定ができ、ブロック解析を行うことができる。
【００２５】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく以下のようなものでもよい。
時間測定部２２が、ブロック設定部２１からの設定により、アクイジションメモリ２３に格納する構成を示したが、アクイジションメモリ２３がブロック設定部２１からの設定により、時間測定データを格納する構成でもよい。
【００２６】
また、サンプル数と休止時間がブロック毎で同じの構成を示したが、任意の構成でもよい。例えば、モータの起動時に、エンコーダからの信号を入力信号とし、サンプル数を多く、休止時間を短くし、定常時には、サンプル数を短く、休止時間を長くする。これにより、過渡特性と、回転むらを同時に測定することができる。このように、各種必要に応じた異なるブロックの測定を行うことができる。
【００２７】
そして、表示部２８は、リードマーカａ，ｂにより指定された波形のブロック番号とリードマーカが示す時間測定データとを表示する構成を示したが、ブロック番号だけでもよい。すなわち、ブロック番号が分かれば波形により解析が行える。
【００２８】
さらに、表示部２８が、リードマーカａ，ｂが示す波形のブロック番号を、時間測定データから解析して表示する構成を示したが、時間測定部２２が、アクイジションメモリ２３に格納するときに、ブロック番号を付して時間測定データを格納する構成にし、表示部２８は、この時間測定データに対応したブロック番号を読み出して表示する構成にしてもよい。
【００２９】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１，２によれば、ブロック設定部で、ブロック数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間測定部で入力信号の時間測定を行い、統計演算部でブロック毎の統計値を演算したので、長い時間のデータ観測を行い、統計値の変化の解析ができる。また、休止時間または休止イベント数を設定しているので、自由なブロック間隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求めることができる。
【００３１】
請求項２によれば、統計演算部が所定範囲の統計値を演算するので、ブロックの統計値で、短周期ジッタを解析し、所定範囲の統計値で長周期ジッタを解析できる。
【００３２】
請求項３によれば、表示部が時間測定データの波形表示と共に、ブロックのブロック番号を表示するので、指定したブロックの生データの解析を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図３】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図４】図１に示す装置の表示例を示した図である。
【図５】従来の測定装置の構成を示した図である。
【図６】図５に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図７】図５に示す装置の動作を説明する図である。
【符号の説明】
２１  ブロック設定部
２２  時間測定部
２３  アクイジションメモリ
２５  統計演算部
２７  リードマーカ設定部
２８  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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