(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験するＩＣテストシステムにおいて、
テスト実行プログラムが記述された複数の実行プログラムファイルと、
パターンデータが記述された複数のパターンファイルと、
前記複数の実行プログラムファイルと前記複数のパターンファイルとを関連付けるデータベースと、
このデータベースに基づいて、前記実行プログラムファイルと前記パターンファイルとを読み出し、処理を行う処理手段と
を有することを特徴とするＩＣテストシステム。
【請求項２】
処理手段は、実行プログラムファイルとパターンファイルとにより、被試験対象の試験を行うことを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【請求項３】
処理手段は、実行プログラムファイルとパターンファイルとにより、デバックを行うことを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【請求項４】
処理手段は、実行プログラムファイルとパターンファイルとを外部装置に転送することを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被試験対象（ＩＣ等）を試験するＩＣテストシステムに関し、各ファイルの関連付けをデータベースで行うＩＣテストシステムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＩＣテストシステムにおけるテストプログラムは、テスト実行プログラムを記述した実行プログラムファイルとテストに使用されるパターンデータ（試験パターン，期待値等）を定義したパターンファイル及び各種テスト設定データの設定ファイル等から構成される。従来のＩＣテストシステムでは、テストプログラム毎のディレクトリを設け、そこにテストプログラムに関するファイルを一括して保存していた。
【０００３】
このような装置を図６に示し説明する。
図において、ＩＣテストシステム１０は、ハードディスク（ＨＤ）１１と試験手段１２とを有する。ＨＤ１１は、テストプログラム毎のディレクトリに格納された実行プログラムファイル，パターンファイル，設定ファイル等のテストプログラム１１１を格納する。試験手段１２は、ＨＤ１１のテストプログラムを読み出して、被試験対象（図示せず）の試験を行なう。
【０００４】
このような装置の動作を以下に説明する。
試験手段１２は、ＨＤ１１の実行プログラムファイルＡを実行すると、パターンファイルＡ，設定ファイルＡ等をＨＤ１１から読み出して、被試験対象の試験を行なう。また、試験手段１２は、ＨＤ１１の実行プログラムファイルＢを実行すると、パターンファイルＢ，設定ファイルＢ等をＨＤ１１から読み出して、被試験対象の試験を行なう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
このように、実行プログラムファイルのテスト実行プログラムは、同じディレクトリ内のパターンファイル，設定ファイル等を読み出して実行しているので、他の実行プログラムファイルが同じパターンファイルや設定ファイル等を使用する場合でも、同じディレクトリ内に用意しなければならなかった。
【０００６】
しかし、ロジックＩＣのテストプログラムで使用されるパターファイルのサイズは、数百Ｍｂｙｔｅの大きさとなり、類似ＩＣ間で同じパターンファイルを使用しても、テストプログラムが異なれば、新たにパターンファイルを設けなければならない。このため、ハードディスク容量を無駄に使用していた。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、記憶容量が少なくて済むＩＣテストシステムを実現することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
被試験対象を試験するＩＣテストシステムにおいて、
テスト実行プログラムが記述された複数の実行プログラムファイルと、
パターンデータが記述された複数のパターンファイルと、
前記複数の実行プログラムファイルと前記複数のパターンファイルとを関連付けるデータベースと、
このデータベースに基づいて、前記実行プログラムファイルと前記パターンファイルとを読み出し、処理を行う処理手段と
を有することを特徴とするものである。
【０００９】
このような本発明では、処理手段が、データベースに基づいて、実行プログラムファイルとパターンファイルとを読み出して、処理を行う。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を説明する。
図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
図において、ＩＣテストシステム２０は、記憶部であるハードディスク（ＨＤ）２１と試験手段２２とを有する。ＨＤ２１は、テストプログラム毎のディレクトリに、実行プログラムファイル，パターンファイル，設定ファイル等からなるテストプログラム２１１を格納すると共に、実行プログラムファイル、パターンファイル、設定ファイル等を関連付けるデータベース２１２を格納する。試験手段２２は、データベース２１２に基づいて、ＨＤ２１のテストプログラム２１１を読み出して、被試験対象（図示せず）の試験を行なう。
【００１１】
このような装置の動作を以下に説明する。
図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
テストプログラムＡを実行する場合、試験手段２２は、データベース２１２からテストプログラムＡのデータベース情報を読み出す。このデータベース情報から、試験手段２２は、実行プログラムファイルＡ、パターンファイルＢ，設定ファイルＣ等をＨＤ２１から読み出して、被試験対象の試験を行なう。
【００１２】
このように、データベース２１２に基づいて、試験手段２２が試験を行うので、類似品種のＩＣのテスト等で、同じファイルをテストプログラムごとにもつ必要がなく、ＨＤ２１の使用効率をあげることができる。
【００１３】
また、本発明の他の実施例を図３に示し説明する。
図において、ＩＣテストシステム２０は、ハードディスク（ＨＤ）２３とデバック手段２４と転送手段２５とを有する。ＨＤ２３は、テストプログラムの種類毎のディレクトリに、実行プログラムファイル，パターンファイル，設定ファイル等からなるテストプログラム２３１を格納すると共に、実行プログラムファイルとパターンファイルと設定ファイル等を関連付けるデータベース２３２を格納する。デバック手段２４は、データベース２３２に基づいて、ＨＤ２３のテストプログラム２３１を読み出して、プログラムを修正するデバックを行う。転送手段２４は、データベース２３２に基づいて、ＨＤ２３のテストプログラムを読み出して、外部装置（図示せず）、例えば、他のＩＣテストシステムやプログラムバックアップ装置等に転送を行う。転送は、ビットパラレルに転送してもよく、ビットシリアルに転送してもよい。さらに、転送に、パケット通信を用いてもよい。
【００１４】
このような装置の動作を以下に説明する。
デバック動作を図４に示し以下に説明する。
テストプログラムＡをデバックする場合、デバック手段２４は、データベース２３２からテストプログラムＡのデータベース情報を読み出す。このデータベース情報から、デバック手段２４は、実行プログラムファイルＡ、パターンファイルＡ，設定ファイルＡ等をＨＤ２３から読み出して、デバックを行なう。
【００１５】
次に、転送動作を図５に示し以下に説明する。
テストプログラムＡを転送する場合、転送手段２５は、データベース２３２からテストプログラムＡのデータベース情報を読み出す。このデータベース情報から、デバック手段２４は、実行プログラムファイルＡ、パターンファイルＡ，設定ファイルＡ等をＨＤ２３から読み出して、外部装置に転送を行なう。
【００１６】
このように、デバック手段２４が、データベース２３２に基づいて、デバックを行うので、デバックを行うテストプログラムを１つのディレクトリに格納する必要がない。つまり、格納方法を気にせずに、簡単にデバックを行うことができる。
【００１７】
また、転送手段２５が、データベース２３２に基づいて、外部装置にテストプログラムを転送するので、テストプログラムの格納方法を気にせずに、簡単に転送が行える。
【００１８】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下のような構成でもよい。ＨＤ２１に、テストプログラム毎のディレクトリに実行プログラムファイル、パターンファイル、設定ファイル等を格納していたが、すべての実行プログラムファイル、パターンファイル、設定ファイル等を１つのディレクトリに格納する構成でもよい。
【００１９】
また、ファイルの種類として、実行プログラムファイル、パターンファイル、設定ファイル等を示したが、少なくとも、実行プログラムファイルとパターンファイルとを有するものは、本発明に含まれる。つまり、設定等は、実行プログラムファイルに含むものでもよい。
【００２０】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
データベースに基づいて、処理手段が各種処理（試験、デバック、転送等）を行うので、同じファイルをテストプログラムごとにもつ必要がない。つまり、記憶容量が少なくて済む。また、格納方法も気にする必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図３】本発明の他の実施例を示した構成図である。
【図４】図３に示す装置のデバック動作を示したフローチャートである。
【図５】図３に示す装置の転送動作を示したフローチャートである。
【図６】従来のＩＣテストシステムの構成を示した図である。
【符号の説明】
２０  ＩＣテストシステム
２１，２３  ＨＤ
２２  試験手段
２４  デバック手段
２５  転送手段
２１１，２３１  テストプログラム
２１２，２３２  データベース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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