(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項３】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第１の累積値算出手段と、
該第１の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第１の最小値算出手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第２の累積値算出手段と、
該第２の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第２の最小値算出手段と、
前記第１の最小値算出手段の算出対象である主走査方向に１列進んだ時に前記第１の最小値算出手段によって算出された最小値の位置と予め設定された比較範囲とから前記第２の累積値算出手段によって各補間ピッチ毎に差分を取る差分領域算出手段と、
前記第１の最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項４】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、前記画像信号のｉ列目又は（ｉ＋１）列目のデータ列のみに前記データ補間手段を施し、副走査方向における相対位置にあるデータ列の画素データと、当該画素データに隣接する左端又は右端のデータ列であって前記データ補間手段によって補間された画素データとにおいてそれぞれ差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項５】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値をなめらかに結合する数値演算を施して累積値間を補間する累積値補間手段と、
該累積値補間手段から予め設定された補間区間の分割数に対応する前記累積値に対して補間データを算出する補間データ算出手段と、
該補間データ算出手段で得られた各累積値の補間データを比較し、補間データの最小値であるところの相対位置を算出する補間データ最小値算出手段と、
該補間データ最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項６】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記各列毎の最小相対位置と前記補正値とから補正された位置ズレ量を算出する位置ズレ補正手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項７】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項８】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第１の累積値算出手段と、
該第１の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第１の最小値算出手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第２の累積値算出手段と、
該第２の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第２の最小値算出手段と、
前記第１の最小値算出手段の算出対象である主走査方向に１列進んだ時に前記第１の最小値算出手段によって算出された最小値の位置と予め設定された比較範囲とから前記第２の累積値算出手段によって各補間ピッチ毎に差分を取る差分領域算出手段と、
前記第１の最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項９】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、前記画像信号のｉ列目又は（ｉ＋１）列目のデータ列のみに前記データ補間手段を施し、副走査方向における相対位置にあるデータ列の画素データと、当該画素データに隣接する左端又は右端のデータ列であって前記データ補間手段によって補間された画素データとにおいてそれぞれ差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１０】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値をなめらかに結合する数値演算を施して累積値間を補間する累積値補間手段と、
該累積値補間手段から予め設定された補間区間の分割数に対応する前記累積値に対して補間データを算出する補間データ算出手段と、
該補間データ算出手段で得られた各累積値の補間データを比較し、補間データの最小値であるところの相対位置を算出する補間データ最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１１】
前記原稿は、主走査方向に水平なパターンが前記画像入寮装置の解像度より大きい万線パターンである請求項１〜１０のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１２】
前記原稿は、主走査方向に水平かつ一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンである請求項１〜１０のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１３】
前記原稿は、主走査方向に水平かつ隣合う万線パターンが等ピッチで幅が異なる万線パターンである請求項１〜１０のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１４】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査方法において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出工程と、
該累積値算出工程で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出工程と、
該最小値算出工程による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出工程と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査方法。
【請求項１５】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査方法において、
主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び該計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号から前記位置パターンの検出位置を算出する位置検出工程と、
前記位置パターンの既知である位置データと該位置データから位置補正値を算出する補正値算出工程と、
前記原稿の前記計測パターンの領域の画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出工程と、
該累積値算出工程で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出工程と、
該最小値算出工程による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出工程と、
前記各列毎の最小相対位置と前記補正値とから補正された位置ズレ量を算出する位置ズレ補正工程と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査方法。
【請求項１６】
請求項１４又は１５に記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査方法を実行するためのプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１７】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１８】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項１９】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第１の累積値算出手段と、
該第１の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第１の最小値算出手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第２の累積値算出手段と、
該第２の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第２の最小値算出手段と、
前記第１の最小値算出手段の算出対象である主走査方向に１列進んだ時に前記第１の最小値算出手段によって算出された最小値の位置と予め設定された比較範囲とから前記第２の累積値算出手段によって各補間ピッチ毎に差分を取る差分領域算出手段と、
前記第１の最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２０】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、前記画像信号のｉ列目又は（ｉ＋１）列目のデータ列のみに前記データ補間手段を施し、副走査方向における相対位置にあるデータ列の画素データと、当該画素データに隣接する左端又は右端のデータ列であって前記データ補間手段によって補間された画素データとにおいてそれぞれ差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２１】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値をなめらかに結合する数値演算を施して累積値間を補間する累積値補間手段と、
該累積値補間手段から予め設定された補間区間の分割数に対応する前記累積値に対して補間データを算出する補間データ算出手段と、
該補間データ算出手段で得られた各累積値の補間データを比較し、補間データの最小値であるところの相対位置を算出する補間データ最小値算出手段と、
該補間データ最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２２】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２３】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２４】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第１の累積値算出手段と、
該第１の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第１の最小値算出手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する第２の累積値算出手段と、
該第２の累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する第２の最小値算出手段と、
前記第１の最小値算出手段の算出対象である主走査方向に１列進んだ時に前記第１の最小値算出手段によって算出された最小値の位置と予め設定された比較範囲とから前記第２の累積値算出手段によって各補間ピッチ毎に差分を取る差分領域算出手段と、
前記第１の最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２５】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号のデータ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施してデータ間を補間するデータ補間手段と、
前記画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、前記画像信号のｉ列目又は（ｉ＋１）列目のデータ列のみに前記データ補間手段を施し、副走査方向における相対位置にあるデータ列の画素データと、当該画素データに隣接する左端又は右端のデータ列であって前記データ補間手段によって補間された画素データとにおいてそれぞれ差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２６】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査装置において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列とに対して前記データ補間手段により算出された補間ピッチ毎に差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、
該累積値算出手段で得られた各累積値をなめらかに結合する数値演算を施して累積値間を補間する累積値補間手段と、
該累積値補間手段から予め設定された補間区間の分割数に対応する前記累積値に対して補間データを算出する補間データ算出手段と、
該補間データ算出手段で得られた各累積値の補間データを比較し、補間データの最小値であるところの相対位置を算出する補間データ最小値算出手段と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２７】
前記原稿は、主走査方向に水平なパターンが前記画像入寮装置の解像度より大きい万線パターンである請求項１７〜２６のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２８】
前記原稿は、主走査方向に水平かつ副走査方向に一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンである請求項１７〜２６のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項２９】
前記原稿は、主走査方向に水平かつ副走査方向に隣接する万線パターンが等ピッチで幅の異なる万線パターンである請求項１７〜２６のいずれかに記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査装置。
【請求項３０】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査方法において、
主走査方向に水平かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出工程と、
該累積値算出工程で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出工程と、
該最小値算出工程による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出工程と、
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査方法。
【請求項３１】
任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して前記被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した前記画像信号における前記光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向と垂直な方向である副走査方向の位置ズレを検出する画像位置ズレ検査方法において、
主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域を前記画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に前記原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、前記相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出工程と、
該累積値算出工程で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出工程と、
該最小値算出手段による算出を前記画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出工程と、
前記斜線パターンの最小位置ズレ量と前記万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出工程と
を有することを特徴とする画像入力装置の画像位置ズレ検査方法。
【請求項３２】
請求項３０又は３１に記載の画像入力装置の画像位置ズレ検査方法を実行するためのプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は画像入力装置の画像位置ズレ検査装置、画像位置ズレ検査方法及び該方法を実行するためのプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関し、詳細にはモノクロ画像入力装置の読取画像の主走査方向位置ズレ又は副走査方向位置ズレを高精度に計測検査するのに有用な装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種類の装置としては、例えば特開平９−９８２５５号公報の「画素の位置誤差測定装置」（以下従来例と称す）がある。これは読取画像データにウィンドウを設定して、白地上に４５°の角度を成す多数の黒の斜線パターンが副走査方向に等ピッチに形成されている斜線パターンの存在を判別すると、ウィンドウを斜線の角度の方向に順次シフトし、各ウィンドウ内における斜線の位置変化に基づいて副走査方向の画素の位置誤差を測定する装置である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来例の装置によれば、副走査方向の画素の位置誤差を測定するのが目的のため、主走査方向の位置誤差、例えばスキャナ内部に搭載されている折り返しミラーのたわみや撮像素子の振動などを測定することが困難であるという問題があった。また、ウィンドウにおける各画素の読取値の重心を計算して位置誤差を測定しているので、原稿面のゴミなどによる読取画像データの外乱に弱く、測定精度が劣化するという問題点もあった。更に、ウィンドウ内の面積重心を計算して位置誤差を測定するので、撮像素子の分解能より細かい精度で位置ズレ量は測定できないという問題点もあった。
【０００４】
本発明はこれらの問題点を解決するためのものであり、光学系の走査方向に均一濃度で、かつ当該走査方向と垂直方向に均一でない濃度を有する原稿を光学的に読み取り、読み取った画像パターンにおける副走査方向の位置ズレを考慮しなくてよく、任意の列の画素と当該画素と隣接する画素の位置ズレ量を算出し、対象データ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施すことによりデータ間を補間することにより、主走査方向の位置ズレと副走査方向の位置ズレを完全に分離して、主走査方向の位置ズレ又は副走査方向の位置ズレを高速にかつ高精度に検査することが可能な画像位置ズレ検査装置、画像位置ズレ検査方法及び該方法を実行するためのプログラムを格納するコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
前記問題点を解決するために、任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した画像信号における光学読取手段の相対的走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する、本発明に係る画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段とを有する。よって、本発明によれば、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測することにより、規格値による良品／不良品判定ができるといった効果を有する。
【０００６】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【０００７】
更に、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【０００８】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【０００９】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【００１０】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【００１１】
また、別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を画像入力装置によって取得した画像信号から位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、位置パターンの既知である位置データと位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、原稿の計測パターンの領域の画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、各列毎の最小相対位置と補正値とから補正された位置ズレ量を算出する位置ズレ補正手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測し、位置補正を行うことで倍率誤差の影響を排除し、より正確に規格値による良品／不良品判定ができる。
【００１２】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【００１３】
更に、位置パターンピッチで計測パターンの最小値を算出し、分割した領域毎に高精度に位置ズレ補正を行い、全体として計測精度を上げることができる。
【００１４】
また、主走査方向の細かい倍率誤差をこれに応じた細かい位置パターンで計測し、この値を用いて補正することで、倍率誤差の影響を排除できるので、正確な周波数解析ができるなど、より正確に規格値による良品／不良品判定ができる。
【００１５】
更に、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【００１６】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【００１７】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【００１８】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【００１９】
次に、更に別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に水平かつ主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の副走査方向の位置ズレ量を計測することにより、規格値による良品／不良品判定ができる。
【００２０】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【００２１】
更に、撮像素子の解像度より斜線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【００２２】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【００２３】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【００２４】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の斜線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【００２５】
また、別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内万線パターンあるいは斜線パターンの任意の領域を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、斜線パターンの最小位置ズレ量と万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測し、副走査方向の位置ズレ量を補正することにより、精度よく副走査方向の位置ズレ量を計測し、規格値による良品／不良品判定ができる。
【００２６】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【００２７】
更に、両側の主走査位置ズレ量を計測することにより、副走査方向の位置ズレ量を高精度に計測することができる。
【００２８】
また、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【００２９】
更に、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【００３０】
また、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【００３１】
更に、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。また、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【００３２】
【発明の実施の形態】
本発明の画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段とを有する。
【００３３】
【実施例】
図１は本発明に係る画像位置ズレ検査装置の検査対象である画像入力装置の構成を示す透視図である。図２は図１の画像入力装置の構成を示す概略図である。図３は本発明における画像入力装置と画像位置ズレ検査装置のシステム構成を示す図であり、図４は本実施例における画像入力装置と画像位置ズレ検査装置のシステム構成を示すブロック図である。また、図５は本発明で使用する万線パターン例と画像信号を示す図であり、図６は本発明の画像位置ズレ検査装置による検査結果表示例を示す図である。
【００３４】
はじめに、本発明に係る画像位置ズレ検査装置の検査対象である画像入力装置の構成について図１を用いて説明すると、本発明の画像位置ズレ検査装置の検査対象である画像入力装置１０は、画像原稿を設置する原稿台である原稿設置場所１１と、当該原稿設置場所１１を副走査方向に走査する走行体１２と、走行体１２と垂直方向に列を成す、例えばラインＣＣＤ等の１次元撮像素子１３と、原稿設置場所１１を１次元撮像素子１３上に像を結合するレンズ１４と、走行体１２に追従して副走査方向に走査して原稿からの反射像をレンズ１４を介して１次元撮像素子１３上に適切に結像させるための走行体１５と、走行体１２が原稿設置場所１１を副走査方向に走査することで、原稿設置場所１１に設置された画像を線順次に画像を取込み、走査することで２次元画像として読取り、当該画像信号を図示していない本実施例の画像位置ズレ検査装置に出力する画像信号出力ポート１６と、走行体１２、１５を駆動させる駆動手段１７とを含んで構成されている。なお、図１の画像入力装置１０は、読取部走査型のフラットタイプスキャナであるが、これに限定する必要はなく、原稿台走査型や相対走査型のスキャナであってもよい。また、デジタルカメラ等の画像形成装置でもよい。
【００３５】
また、本発明に係る画像位置ズレ検査装置の検査対象である画像入力装置の動作について図２を用いて説明すると、コンタクトガラス１８上に基準となるチャート原稿１９を設置し、チャート原稿１９を照明する光源であるランプ２０が撮像領域２１に光を照射する。そして、走行体１５とそれを追従する走行体１２がチャート原稿１９の先頭から終わりまで走査することで折り返しミラー１２−１，１５−１やレンズ１４を反射光が通過して、１次元撮像素子１３で光電変換され、画像信号として取り込まれる。
【００３６】
次に、図１及び図２の画像入力装置と本発明の画像位置ズレ検査装置とから構成されるシステムの構成について図３を用いて説明する。チャート原稿の画像データを取得する検査対象である画像入力装置１０は、それとつながる画像位置ズレ検査装置１側の画像信号入力部３１を介して接続ケーブルで画像位置ズレ検査装置１に接続される。また、本発明の画像位置ズレ検査装置１は、画像入力装置１０からの画像信号を記憶する画像信号記憶部と位置ズレ量などを算出する画像信号演算部とからなる検査装置本体３２と、画像信号演算部で算出された結果を表示する画像表示装置３３とを含んで構成されている。
【００３７】
また、図３に示すようなシステム構成を有する画像入力装置と本発明の画像位置ズレ検査装置のシステムの動作について各装置の構成を示すブロック図である図４を用いて説明する。画像入力装置の原稿の画像が照明され、画像反射光は折り返しミラー、レンズといった光学系を介して到達した１次元撮像素子によって線順次に取り込まれる。取り込まれた原稿反射光は、光電変換部１０−１により光電変換されて、電気信号に変換される。これをＡ／Ｄ変換部１０−２によってＡ／Ｄ変換することにより、アナログデータからデジタルデータとなる。当該データにシェーディング補正部１０−３によってシェーディング補正をかけ、補正をかけられた画像信号は画像信号出力部１０−４のポートから出力される。画像データは制御部１０−５により、線順次に全画像分出力される。そして、画像入力装置の画像信号出力部１０−４から出力された画像信号は、画像位置ズレ検査装置１の画像信号入力部１−１に入力される。全画像データは、画像記憶メモリ１−２に格納され、制御部１−３で２列ずつ画素データが順次取出され、画像処理演算部１−４でシフトと差分処理が行われる。最大ずらし量は予め定められている。画像位置ズレ量算出部１−５で注目する２列のより累積ズレ量を算出し、位置ズレ量の最小値であるところの相対位置（以下最小位置と称す）がメモリに格納される。相対位置とはシフトの中心からの距離をいう。例えば、＋１画素シフトで累積値が最小になる場合、最小位置は＋１となる。算出された全画像位置ズレ量が、画像表示部１−６に表示され、検査結果が確認できる。
【００３８】
ここで、本発明で用いられるチャート原稿には、例えば図５に示すような副走査方向に水平な方向の万線パターンが描かれている。ここでいう「万線パターン」とは、光学系が走査する方向に水平な方向に等間隔のピッチで、例えば、白黒パターンが並ぶものをいう。また、このパターンの間隔が画像入力装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンである。このようなチャート原稿の万線パターンを図６に示すようにＣＣＤ素子によって画像として取り込み、取込んだ画像入力装置に対する検査装置本体そのものは、キーボード、マウス等を含むコンピュータを用いることにより、各種計算、通信、記憶手段としても使用でき、検査結果はＣＲＴ等の画像表示装置に、例えば図７に示すように表示される。
【００３９】
次に、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における主走査方向の画像位置ズレ検査に関する第１の実施例について説明する。はじめに、第１の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作及び位置ズレ算出動作について図８に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００４０】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１０１〜Ｓ１０３）。そして、画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ１０４）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ１０５）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１０６）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小値を算出する（ステップＳ１０７）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ１０８，Ｓ１０９）。これらは、例えば２列目の画素データが配列に入っていれば、１列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、１列で２０４８画素あるとした時、８回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から２０４０画素とすれば、２列目を−４から＋４まで８回シフトして累積値算出を行い、それらの最小値を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を取得する。
【００４１】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作について図９に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００４２】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２０１〜Ｓ２０３）。ここで、例えば６００ｄｐｉの解像度を持つ画像入力装置の場合１画素は約４２．３μｍとなり、画素ピッチは同じく４２．３μｍとなる。これより高精度にするために、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２０４）。ここで、スプライン補間方法を図１０に基づいて説明すると、例えば区間を８分割するとすれば、補間式から５．２μｍの精度で階調を算出できる。当該補間ピッチを用いて２列目の画像データを前記光学系が走査する方向に垂直な方向にずらすことで高精度な位置ズレを計測することができる。基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ２０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小値を算出する（ステップＳ２０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ２０９，Ｓ２１０）。
【００４３】
次に、本実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作について図１１に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００４４】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、またシフト量に画素分をセットする。列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ３０１〜Ｓ３０３）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出し、例えば１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ３０４）。補間ピッチ毎に１列目と２列目の補間式から算出した画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ３０５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の差分の累積値を取得する。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト１００回分の相対位置である累積値の中から最小値を取得する。当該最小値時の位置を記憶する（ステップＳ３０６〜Ｓ３１１）。この最小位置を次回からのずらしの中心位置とし、例えば比較範囲として４０とすると最小位置から−２０の位置を２列目の初期位置とする（ステップＳ３１２）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ３１３）。１画素を１００分割することとは、例えば１画素データから補間ピッチ分ずつ階調を計算し、１個の配列を１００個の配列に変換するのと同じ操作である。最初の１回は、最大シフト１００回行うが、２回目からは１回目の最小位置を、３回目からは２回目のというように、前回の最小位置を中心として−２０から＋２０までの最大４０シフトで最小値を追い込む。例えば、画像データ１列が２０４８画素で、補間ピッチが１画素の１００分の１とした時、１００回累積値を計算するには、比較範囲を比較中心から２０４７画素とすれば、初回は−５０から＋５０まで１００回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小値を求める。最小値になる位置が＋１であれば、次回の比較対象となる２列目は、−１９から＋２１までシフトし、累積値を算出する。当該累積値の最小値を取出し、記憶する。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を取得する。
【００４５】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作について図１２に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００４６】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ４０１〜Ｓ４０３）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と隣接する２列目を読出し、例えば２列目の１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ４０４）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ４０５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ４０６）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ４０７）。これら最大シフト１００回分の累積値の中から最小値を取得する（ステップＳ４０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ４０９，Ｓ４１０）。
【００４７】
次に、本実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作について図１３に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００４８】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ５０１〜Ｓ５０３）。相対的位置関係にある注目１列目と２列目を順次ずらして、すべての累積値の算出が終了したら、当該累積値間を、補間手法、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ５０４）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ５０５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ５０６）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ５０７）。これら最大シフト１００回分の累積値を取得する（ステップＳ５０８）。この累積値補間処理から予め設定されている補間区間の分割数に対応する累積値補間データを算出する（ステップＳ５０９）。これら累積値を含む補間値の中から最小値を取得する（ステップＳ５１０）。例えば、補間ピッチが画素に対し、２０分割したものとする。累積値を補間する時、当該補間ピッチを５分割すると、図９に示すデータ補間動作で１画素を１００分割したものと等価である。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ５１１，Ｓ５１２）。
【００４９】
ここで、本実施例で用いられるチャート原稿に描かれる万線パターンを図５に示したがそれ以外のものとして、図１４の（ａ）に示す濃度パターンがある。この濃度パターンとは、光学系が走査する方向に水平な方向に、例えば白黒パターンであり、同じ幅の黒パターンが等間隔でないピッチで並ぶものをいう。この黒パターンの幅が画像入力装置、例えばＣＣＤを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンである。更には、図１４の（ｂ）に示す万線パターンがある。この万線パターンとは、光学系が走査する方向に水平な方向に、例えば白黒濃度パターンであり、黒パターン幅の相異なるパターンが等間隔ピッチで並ぶものをいう。この黒パターンの幅が画像入力装置、例えばＣＣＤを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンである。
【００５０】
次に、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における主走査方向の画像位置ズレ検査に関する第２の実施例について説明する。はじめに、本実施例における位置検出動作及び補正値算出動作について図１５を用いて説明すると、原稿上の位置パターンにおいては、例えば３次元測定機などを用いて、予め原稿の原点（位置パターン近傍の原稿の１頂点）からの位置パターンまでの距離や位置パターン間のピッチを測定し、設定しておく。そこで、画像入力装置で読み取った原稿の画像信号を格納した本発明の画像位置ズレ検査装置の画像記憶メモリからまず原点を算出する。例えば、図１５に示すように、単純に画像記憶メモリの（０，０）にあたる座標を原点とするとか、または原稿左上の頂点をなす１辺上の２点と隣合う辺の２点からそれぞれ算出される直線の交点を原点とする。位置パターン領域を、例えば光学系が走査する方向に１２８画素分とすると、当該領域内に位置パターンが存在するので画像記憶メモリから位置パターンの原点からの光学系が走査する方向に垂直方向の位置（画素換算）を算出する。予め測定した位置パターンまでの距離と原点からの位置パターンまでの画素ピッチとから位置補正値（画素当たりの距離）を算出する。倍率誤差等が大きいと実測値と画像入力装置の読取位置との差が大きくなるためである。位置パターンは、例えば図１５に示すような十字型、その他Ｌ字型がある。
【００５１】
次に、第２の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作、位置ズレ算出動作及び位置ズレ補正動作について図１６に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００５２】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、上述したように位置パターン間の画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ６０１，Ｓ６０２）。そして、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ６０３，Ｓ６０４）。そして、画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ６０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ６０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ６０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小値を算出し、この最小値にステップＳ６０２で算出した補正値を乗算する（ステップＳ６０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小値を算出する（ステップＳ６０９，Ｓ６１０）。これらは例えば、２列目の画素データが配列に入っていれば、１列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、１列で２０４８画素あるとした時、８回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から２０４０画素とすれば、２列目を−４から＋４まで８回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。当該最小位置に前記位置補正値を乗ずることにより、位置ズレ補正を行う。
【００５３】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作について図１７に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００５４】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、上述したように位置パターン間の画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ７０１，Ｓ７０２）。そして、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ７０３，Ｓ７０４）。ここで、例えば６００ｄｐｉの解像度を持つ画像入力装置の場合１画素は約４２．３μｍとなり、画素ピッチは同じく４２．３μｍとなる。これより高精度にするために、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ７０５）。そして、基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ７０６）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ７０７）。この累積値出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ７０８）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出し、この最小位置にステップＳ６０２で算出した補正値を乗算する（ステップＳ７０９）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ７１０，Ｓ７１１）。
【００５５】
次に、本実施例における位置パターン領域別算出動作について位置パターン領域を示す図１８、また図１９及び図２０に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００５６】
本実施例における位置パターン領域別算出動作においては、上述した累積値算出動作、最小値算出動作、位置ズレ算出動作及び位置ズレ補正動作を位置パターンピッチで適用することで位置パターン領域毎の位置ズレ補正を行うことができる。例えば、Ａ４サイズの原稿幅は２１０ｍｍ、６００ｄｐｉのスキャナー（画像入力装置）とすると、読取画素数は、４９６０画素である。図１８に示すような位置パターンで領域を４分割する場合、例えば、１２４０画素毎に計測パターンから位置ズレ最小位置を算出して、位置補正を行うことになる。または、位置パターンピッチ毎に計測パターンから位置ズレ最小位置を算出して、位置補正を行ってもよい。
【００５７】
先ず、図１９の画像記憶メモリ上の領域カウンタを１にセットする（ステップＳ８０１）。そして、ステップＳ８０２において、図２０に示す動作を行う。図２０において、はじめに画像記憶メモリ上の領域カウンタを１にセットし、上述したように領域幅である画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ９０１，Ｓ９０２）。そして、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ９０３，Ｓ９０４）。そして、画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ９０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ９０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ９０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出し、この最小位置にステップＳ９０２で算出した補正値を乗算する（ステップＳ９０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ９０９，Ｓ９１０）。更に、図１９のステップＳ８０３で領域カウンタを１つ増やし、ステップＳ８０４で最終領域まで順次実施する。
【００５８】
次に、本実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作について図２１に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００５９】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、またシフト量に画素分をセットする。そして、上述したように位置パターン間の画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ１００１，Ｓ１００２）。列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１００３，Ｓ１００４）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出し、例えば１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ１００５）。補間ピッチ毎に１列目と２列目の補間式から算出した画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１００６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の差分の累積値を取得する。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト１００回分の相対位置である累積値の中から最小位置を取得し、この最小位置にステップＳ９０２で算出した補正値を乗算する。当該最小位置の位置を記憶する（ステップＳ１００７〜Ｓ１０１２）。この最小位置を次回からのずらしの中心位置とし、例えば比較範囲として４０とすると最小位置から−２０の位置を２列目の初期位置とする（ステップＳ１０１３）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１０１４）。１画素を１００分割することとは、例えば１画素データから補間ピッチ分ずつ階調を計算し、１個の配列を１００個の配列に変換するのと同じ操作である。最初の１回は、最大シフト１００回行うが、２回目からは１回目の最小位置を、３回目からは２回目のというように、前回の最小位置を中心として−２０から＋２０までの最大４０シフトで最小値を追い込む。例えば、画像データ１列が２０４８画素で、補間ピッチが１画素の１００分の１とした時、１００回累積値を計算するには、比較範囲を比較中心から２０４７画素とすれば、初回は−５０から＋５０まで１００回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。最小位置になる位置が＋１であれば、次回の比較対象となる２列目は、−１９から＋２１までシフトし、累積値を算出する。当該累積値の最小位置を取出し、この最小位置にステップＳ１００２で算出した補正値を乗算して記憶する。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。
【００６０】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作について図２２に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００６１】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、上述したように位置パターン間の画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ１１０１，Ｓ１１０２）。列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１１０３，Ｓ１１０４）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と隣接する２列目を読出し、例えば２列目の１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ１１０５）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１１０６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ１１０７）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１１０８）。これら最大シフト１００回分の累積値の中から最小位置を取得し、この最小位置にステップＳ１１０２で算出した補正値を乗算する（ステップＳ１１０９）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１１１０，Ｓ１１１１）。
【００６２】
次に、本実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作について図２３に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００６３】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、上述したように位置パターン間の画素数を算出し、既知の位置パターン間の距離で補正値を算出しておく（ステップＳ１２０１，Ｓ１２０２）。列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１２０３，Ｓ１２０４）。相対的位置関係にある注目１列目と２列目を順次ずらして、すべての累積値の算出が終了したら、当該累積値間を、補間手法、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ１２０５）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１２０６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ１２０７）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１２０８）。これら最大シフト１００回分の累積値を取得する（ステップＳ１２０９）。この累積値補間処理から予め設定されている補間区間の分割数に対応する累積値補間データを算出する（ステップＳ１２１０）。これら累積値を含む補間値の中から最小位置を取得し、この最小位置にステップＳ１２０２で算出した補正値を乗算する（ステップＳ１２１１）。例えば、補間ピッチが画素に対し、２０分割したものとする。累積値を補間する時、当該補間ピッチを５分割すると、図９に示すデータ補間動作で１画素を１００分割したものと等価である。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１２１２，Ｓ１２１３）。
【００６４】
次に、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における副走査方向の画像位置ズレ検査に関する第１の実施例について説明する。はじめに、第１の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作及び位置ズレ算出動作について図２４に示す動作フローに従って以下に説明する。ここで、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における副走査方向の画像位置ズレ検査に用いられるチャート原稿は、図２５に示すように走行体の走査方向と垂直な方向に対して角度θを持ち、等間隔のピッチで例えば白黒パターンが並ぶものである。
【００６５】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１３０１〜Ｓ１３０３）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθを乗じて原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ１３０４）。そして、画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ１３０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ１３０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１３０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ１３０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１３０９，Ｓ１３１０）。これらは、例えば２列目の画素データが配列に入っていれば、１列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、１列で２０４８画素あるとした時、８回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から２０４０画素とすれば、２列目を−４から＋４まで８回シフトして累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。
【００６６】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作について図２６に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００６７】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１４０１〜Ｓ１４０３）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθを乗じて原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ１４０４）。ここで、例えば６００ｄｐｉの解像度を持つ画像入力装置の場合１画素は約４２．３μｍとなり、画素ピッチは同じく４２．３μｍとなる。これより高精度にするために、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ１４０５）。そして、基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ１４０６）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ１４０７）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１４０８）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ１４０９）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１４１０，Ｓ１４１１）。
【００６８】
次に、本実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作について図２７に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００６９】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、またシフト量に画素分をセットする。列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１５０１〜Ｓ１５０３）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθを乗じて原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ１５０４）。そして、これで得られた画像データ列に対して、例えば１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ１５０５）。補間ピッチ毎に１列目と２列目の補間式から算出した画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１５０６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の差分の累積値を取得する。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト１００回分の相対位置である累積値の中から最小位置を取得する。当該最小値時の位置を記憶する（ステップＳ１５０７〜Ｓ１５１２）。この最小位置を次回からのずらしの中心位置とし、例えば比較範囲として４０とすると最小位置から−２０の位置を２列目の初期位置とする（ステップＳ１５１３）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１５１４）。１画素を１００分割することとは、例えば１画素データから補間ピッチ分ずつ階調を計算し、１個の配列を１００個の配列に変換するのと同じ操作である。最初の１回は、最大シフト１００回行うが、２回目からは１回目の最小位置を、３回目からは２回目のというように、前回の最小位置を中心として−２０から＋２０までの最大４０シフトで最小値を追い込む。例えば、画像データ１列が２０４８画素で、補間ピッチが１画素の１００分の１とした時、１００回累積値を計算するには、比較範囲を比較中心から２０４７画素とすれば、初回は−５０から＋５０まで１００回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。最小位置になる位置が＋１であれば、次回の比較対象となる２列目は、−１９から＋２１までシフトし、累積値を算出する。当該累積値の最小位置を取出し、記憶する。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。
【００７０】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作について図２８に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００７１】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１６０１〜Ｓ１６０３）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθを乗じて原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ１６０４）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と隣接する２列目を読出し、例えば２列目の１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ１６０５）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１６０６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ１６０７）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１６０８）。これら最大シフト１００回分の累積値の中から最小位置を取得する（ステップＳ１６０９）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１６１０，Ｓ１６１１）。
【００７２】
次に、本実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作について図２９に示す動作フローに従って以下に説明する。
【００７３】
先ず、画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ１７０１〜Ｓ１７０３）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθを乗じて原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ１７０４）。そして、相対的位置関係にある注目１列目と２列目を順次ずらして、すべての累積値の算出が終了したら、当該累積値間を、補間手法、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ１７０５）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ１７０６）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ１７０７）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１７０８）。これら最大シフト１００回分の累積値を取得する（ステップＳ１７０９）。この累積値補間処理から予め設定されている補間区間の分割数に対応する累積値補間データを算出する（ステップＳ１７１０）。これら累積値を含む補間値の中から最小位置を取得する（ステップＳ１７１１）。例えば、補間ピッチが画素に対し、２０分割したものとする。累積値を補間する時、当該補間ピッチを５分割すると、図９に示すデータ補間動作で１画素を１００分割したものと等価である。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ１７１２，Ｓ１７１３）。
【００７４】
ここで、本実施例で用いられるチャート原稿に描かれる万線パターンを図２５に示したがそれ以外のものとして、図３０の（ａ）に示す濃度パターンがある。この濃度パターンとは、光学系が走査する方向に対して角度θを持ち、例えば白黒パターンであり、同じ幅の黒パターンが等間隔でないピッチで並ぶものをいう。この黒パターンの幅が画像入力装置、例えばＣＣＤを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンである。更には、図３０の（ｂ）に示す斜線パターンがある。この斜線パターンとは、光学系が走査する方向に対して角度θを持ち、例えば白黒濃度パターンであり、黒パターン幅の相異なるパターンが等間隔ピッチで並ぶものをいう。この黒パターンの幅が画像入力装置、例えばＣＣＤを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンである。
【００７５】
次に、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における副走査方向の画像位置ズレ検査に関する第２の実施例について説明する。はじめに、第２の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作、位置ズレ算出動作及び万線最小位置ズレ量記憶動作並びに光学系走査方向位置ズレ算出動作について本実施例の第１の基本動作フローを示す図３１、主走査位置ズレ計測動作フローを示す図３３及び副走査位置ズレ計測動作フローを示す図３４に従って以下に説明する。ここで、本発明に係る画像位置ズレ検査装置における副走査方向の画像位置ズレ検査に用いられるチャート原稿は、図３２に示すように副走査方向に水平な方向の白黒万線パターンと、副走査方向に水平かつ垂直でない方向、あるいは走行体の走査方向と垂直な方向に対して角度θを持って等間隔のピッチで例えば斜線の白黒万線パターンとが、交互に副走査方向に垂直にレイアウトされたチャートである。
【００７６】
先ず、図３１において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データの１列目と２列目を読出し、画像記録メモリ上の列カウンタを１にセットする（ステップＳ１８０１，Ｓ１８０２）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ１８０３）、図３３の主走査位置ズレ計測動作に移行して画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出す（ステップＳ１９０１，Ｓ１９０２）。そして、画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ１９０３）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ１９０４）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ１９０５）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小値を算出する（ステップＳ１９０６）。一方、図３１において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ１８０４）、図３４の副走査位置ズレ計測動作に移行して画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出す（ステップＳ２００１，Ｓ２００２）。そして、２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ２００３）。これで得られた画素毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値、の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲で加算し、累積値を算出する（ステップＳ２００４）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２００５）。当該累積値算出を、例えば、予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２００６）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ２００７）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する。これらは例えば、２列目の画素データが配列に入っていれば、１列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、１列で２０４８画素あるとした時、８回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から２０４０画素とすれば、２列目を−４から＋４まで８回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。なお、当該画素シフト位置により、最小位置の正負が決まる。図３１において、このように算出された万線パターンの最小位置ズレデータを記憶しておく。例えば、当該万線最小位置ズレ量記憶から万線最小位置ズレデータを読み出して、当該万線パターンと隣接する斜線パターンの最小位置��レ量にｔａｎθを乗算して、当該データを引き算する（ステップＳ１８０５，Ｓ１８０６）。当該結果にさらにｔａｎθを除算することで、主走査方向の位置ズレ成分が除去された副走査方向最小位置ズレ量が算出される（ステップＳ１８０７）。これらの操作を画像の最終列まで実施し、結果をデータ記憶メモリに格納する（ステップＳ１８０８，Ｓ１８０９）。
【００７７】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作について本実施例の第１の基本動作フローを示す図３１、主走査位置ズレ計測動作フローを示す図３５及び副走査位置ズレ計測動作フローを示す図３６に従って以下に説明する。
【００７８】
先ず、図３１において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データの１列目と２列目を読出し、画像記録メモリ上の列カウンタを１にセットする（ステップＳ１８０１，Ｓ１８０２）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ１８０３）、図３５において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２１０１，Ｓ２１０２）。ここで、例えば６００ｄｐｉの解像度を持つ画像入力装置の場合１画素は約４２．３μｍとなり、画素ピッチは同じく４２．３μｍとなる。これより高精度にするために、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２１０３）。ここで、上述したスプライン補間方法に基づいて説明すると、例えば区間を８分割するとすれば、補間式から５．２μｍの精度で階調を算出できる。当該補間ピッチを用いて２列目の画像データを前記光学系が走査する方向に垂直な方向にずらすことで高精度な位置ズレを計測することができる。基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ２１０４）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２１０５）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２１０６）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ２１０７）。一方、図３１において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ１８０４）、図３６の副走査位置ズレ計測動作に移行して画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出す（ステップＳ２２０１，Ｓ２２０２）。そして、２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ２２０３）。ここでも、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２２０４）。そして、基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ２２０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２２０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２２０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ２２０８）。図３１において、このように算出された万線パター��の最小位置ズレデータを記憶しておく。例えば、当該万線最小位置ズレ量記憶から万線最小位置ズレデータを読み出して、当該万線パターンと隣接する斜線パターンの最小位置ズレ量にｔａｎθを乗算して、当該データを引き算する（ステップＳ１８０５，Ｓ１８０６）。当該結果にさらにｔａｎθを除算することで、主走査方向の位置ズレ成分が除去された副走査方向最小位置ズレ量が算出される（ステップＳ１８０７）。これらの操作を画像の最終列まで実施し、結果をデータ記憶メモリに格納する（ステップＳ１８０８，Ｓ１８０９）。
【００７９】
次に、本実施例における万線最小位置ズレ量記憶動作及び光学系走査方向位置ズレ算出動作について主走査位置ズレ計測動作フローを示す図３５、副走査位置ズレ計測動作フローを示す図３６、そして本実施例の第２の基本動作フローを示す図３７に従って以下に説明する。
【００８０】
先ず、図３７において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データの１列目と２列目を読出し、画像記録メモリ上の列カウンタを１にセットする（ステップＳ２３０１，Ｓ２３０２）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ２３０３）、図３５において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２１０１，Ｓ２１０２）。ここで、例えば６００ｄｐｉの解像度を持つ画像入力装置の場合１画素は約４２．３μｍとなり、画素ピッチは同じく４２．３μｍとなる。これより高精度にするために、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２１０３）。ここで、上述したスプライン補間方法に基づいて説明すると、例えば区間を８分割するとすれば、補間式から５．２μｍの精度で階調を算出できる。当該補間ピッチを用いて２列目の画像データを前記光学系が走査する方向に垂直な方向にずらすことで高精度な位置ズレを計測することができる。基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ２１０４）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２１０５）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２１０６）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ２１０７）。一方、図３７において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ２３０４）、図３６の副走査位置ズレ計測動作に移行して画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出す（ステップＳ２２０１，Ｓ２２０２）。そして、２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ２２０３）。ここでも、１画素ピッチ間（画素中心間）を、例えば上述したスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２２０４）。そして、基準ピッチ毎に１列目と２列目の画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲での累積値を算出する（ステップＳ２２０５）。当該累積値の算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１画素分シフトし、１列目と２列目の画素の差分の累積値を取得する（ステップＳ２２０６）。この累積値算出を、例えば予め設定された最大シフト８とすると、−４画素位置から＋４画素位置まで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２２０７）。これら最大シフト８回分の累積値の中から最小位置を算出する（ステップＳ２２０８）。図３７において、このように算出された斜線パター��と隣接する両側の万線パターンの最小位置ズレデータを記憶しておく。例えば、当該万線最小位置ズレ量記憶から２つのデータを読み出して加算し２で割り平均値を求める（ステップＳ２３０５）。万線パターンに挟まれた斜線パターンの最小位置ズレ量にｔａｎθを乗算して、当該データを引き算する（ステップＳ２３０６，Ｓ２３０７）。当該結果にさらにｔａｎθを除算することで、主走査方向の位置ズレ成分が除去された副走査方向最小位置ズレ量が算出される（ステップＳ２３０８）。これらの操作を画像の最終列まで実施し、結果をデータ記憶メモリに格納する（ステップＳ２３０９，Ｓ２３１０）。
【００８１】
次に、本実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作について本実施例の第３の基本動作フローを示す図３８、主走査位置ズレ計測動作フローを示す図３９及び副走査位置ズレ計測動作フローを示す図４０に従って以下に説明する。
【００８２】
先ず、図３８において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データを読出す（ステップＳ２４０１）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ２４０２）、図３９において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、またシフト量に画素分をセットする（ステップＳ２５０１）。そして、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２５０２）。そして、例えば１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ２５０３）。補間ピッチ毎に１列目と２列目の補間式から算出した画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ２５０４）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の差分の累積値を取得する。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト１００回分の相対位置である累積値の中から最小位置を取得し、この最小位置にステップＳ９０２で算出した補正値を乗算する。当該最小値時の位置を記憶する（ステップＳ２５０５〜Ｓ２５１０）。この最小位置を次回からのずらしの中心位置とし、例えば比較範囲として４０とすると最小位置から−２０の位置を２列目の初期位置とする（ステップＳ２５１１）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ２５１２）。一方、図３８において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ２４０３）、図４０の副走査位置ズレ計測動作に移行して画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、またシフト量に画素分をセットする（ステップＳ２６０１）。そして、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２６０２）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ２６０３）。そして、例えば１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ２６０４）。補間ピッチ毎に１列目と２列目の補間式から算出した画素データ、例えば画素のモノクロ階調、８ｂｉｔで０〜２５５までの値の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ２６０５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の差分の累積値を取得する。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト１００回分の相対位置である累積値の中から最小位置を取得し、この最小位置にステップＳ９０２で算出した補正値を乗算する。当該最小値時の位置を記憶する（ステップＳ２６０６〜Ｓ２６１１）。��の最小位置を次回からのずらしの中心位置とし、例えば比較範囲として４０とすると最小位置から−２０の位置を２列目の初期位置とする（ステップＳ２６１２）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ２６１３）。図３８において、このように算出された斜線パターンと隣接する両側の万線パターンの最小位置ズレデータを記憶しておく。例えば、当該万線最小位置ズレ量記憶から２つのデータを読み出して加算し２で割り平均値を求める（ステップＳ２４０４）。万線パターンに挟まれた斜線パターンの最小位置ズレ量にｔａｎθを乗算して、当該データを引き算する（ステップＳ２４０５，Ｓ２４０６）。当該結果にさらにｔａｎθを除算することで、主走査方向の位置ズレ成分が除去された副走査方向最小位置ズレ量が算出される（ステップＳ２４０７）。
【００８３】
次に、本実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作について本実施例の第３の基本動作フローを示す図３８、主走査位置ズレ計測動作フローを示す図４１及び副走査位置ズレ計測動作フローを示す図４２に従って以下に説明する。
【００８４】
先ず、図３８において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データを読出す（ステップＳ２４０１）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ２４０２）、図４１において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２７０１，Ｓ２７０２）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と隣接する２列目を読出し、例えば２列目の１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ２７０３）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ２７０４）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ２７０５）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２７０６）。これら最大シフト１００回分の累積値の中から最小位置を取得する（ステップＳ２７０７）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ２７０８，Ｓ２７０９）。一方、図３８において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ２４０３）、図４２の副走査位置ズレ計測動作に移行して図４２において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２８０１，Ｓ２８０２）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ２８０３）。そして、画像記憶メモリから画像データの１列目と隣接する２列目を読出し、例えば２列目の１画素間をスプライン補間で１００分割して、−５０補間ピッチ分から＋５０補間ピッチ分シフトしてずらす（ステップＳ２８０４）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ２８０５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ２８０６）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２８０７）。これら最大シフト１００回分の累積値の中から最小位置を取得する（ステップＳ２８０８）。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ２８０９，Ｓ２８１０）。
【００８５】
次に、本実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作について本実施例の第３の基本動作フローを示す図３８、主走査位置ズレ計測動作フローを示す図４３及び副走査位置ズレ計測動作フローを示す図４４に従って以下に説明する。
【００８６】
先ず、図３８において図３２に示すような原稿チャートから読取った画像データが格納された画像記憶メモリから万線パターン或いは斜線パターンの画像データを読出す（ステップＳ２４０１）。そして、読み出した画像データが万線パターンであれば（ステップＳ２４０２）、図４３において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ２９０１，Ｓ２９０２）。相対的位置関係にある注目１列目と２列目を順次ずらして、すべての累積値の算出が終了したら、当該累積値間を、補間手法、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ２９０３）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ２９０４）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ２９０５）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ２９０６）。これら最大シフト１００回分の累積値を取得する。この累積値補間処理から予め設定されている補間区間の分割数に対応する累積値補間データを算出する（ステップＳ２９０７）。これら累積値を含む補間値の中から最小位置を取得する（ステップＳ２９０８）。例えば、補間ピッチが画素に対し、２０分割したものとする。累積値を補間する時、当該補間ピッチを５分割すると、図９に示すデータ補間動作で１画素を１００分割したものと等価である。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ２９０９，Ｓ２９１０）。一方、図３８において読み出した画像データが斜線パターンであれば（ステップ２４０３）、図４４の副走査位置ズレ計測動作に移行して図４４において画像記憶メモリ上の列カウンタを１にセットし、列カウンタ＋１が示す列を取出し、画像記憶メモリから画像データの１列目と２列目を読出す（ステップＳ３００１，Ｓ３００２）。２列目のデータ列に１／ｔａｎθ（θは斜線と副走査とがなす角度）を乗算して、原稿パターンの移動分を補正する（ステップＳ３００３）。そして、相対的位置関係にある注目１列目と２列目を順次ずらして、すべての累積値の算出が終了したら、当該累積値間を、補間手法、例えばスプライン補間の手法を用いて補間する（ステップＳ３００４）。画素ピッチ毎に１列目と当該画素ピッチに隣接する、例えば、左端の補間ピッチ毎に２列目の画素データとの差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の比較範囲での累積値を算出する（ステップＳ３００５）。全ての累積値算出が終了したら、２列目の画像データを例えば右に１補間ピッチ分シフトし、１列目と２列目の１画素ピッチ間差分の累積値を取得する（ステップＳ３００６）。予め設定された最大シフト分、例えば１００シフトまで累積値取得を繰り返す（ステップＳ３００７）。これら最大シフト１００回分の累積値を��得する。この累積値補間処理から予め設定されている補間区間の分割数に対応する累積値補間データを算出する（ステップＳ３００８）。これら累積値を含む補間値の中から最小位置を取得する（ステップＳ２００９）。例えば、補間ピッチが画素に対し、２０分割したものとする。累積値を補間する時、当該補間ピッチを５分割すると、図９に示すデータ補間動作で１画素を１００分割したものと等価である。これらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する（ステップＳ３０１０，Ｓ３０１１）。
【００８７】
以上説明したような処理は本装置のＣＰＵにより実行され、そのためのプログラムは通常ＲＯＭに記憶されているが、このプログラムは図４５に示すＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体１０９に記憶しておき、更にＲＯＭ１０３をフラッシュメモリで構成しておけば、ドライブ１０８により記憶媒体１０９からプログラムを読出してフラッシュメモリのＲＯＭ１０３へ書込むことにより、初期状態では上述したような各実施例の機能を有していない汎用装置であっても、本発明を実施できるようになる。
【００８８】
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲内の記載であれば多種の変形や置換可能であることは言うまでもない。
【００８９】
【発明の効果】
以上説明したように、任意の被写体に対して光学読取手段を相対的に走査して被写体の画像を光学的に読取って画像信号を取得する画像入力装置が取得した画像信号における光学読取手段の走査方向である主走査方向の位置ズレを検出する、本発明に係る画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度で、かつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する原稿を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段とを有する。よって、本発明によれば、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測することにより、規格値による良品／不良品判定ができるといった効果を有する。
【００９０】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【００９１】
更に、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【００９２】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【００９３】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【００９４】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【００９５】
そして、別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する計測パターン及び計測パターンに隣接して位置が既知である位置パターンからなる原稿を画像入力装置によって取得した画像信号から位置パターンの検出位置を算出する位置検出手段と、位置パターンの既知である位置データと位置データから位置補正値を算出する補正値算出手段と、原稿の計測パターンの領域の画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、各列毎の最小相対位置と補正値とから補正された位置ズレ量を算出する位置ズレ補正手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測し、位置補正を行うことで倍率誤差の影響を排除し、より正確に規格値による良品／不良品判定ができる。
【００９６】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【００９７】
更に、位置パターンピッチで計測パターンの最小値を算出し、分割した領域毎に高精度に位置ズレ補正を行い、全体として計測精度を上げることができる。
【００９８】
また、主走査方向の細かい倍率誤差をこれに応じた細かい位置パターンで計測し、この値を用いて補正することで、倍率誤差の影響を排除できるので、正確な周波数解析ができるなど、より正確に規格値による良品／不良品判定ができる。
【００９９】
更に、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【０１００】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【０１０１】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【０１０２】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【０１０３】
次に、更に別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に水平かつ主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一な濃度を有する原稿を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の副走査方向の位置ズレ量を計測することにより、規格値による良品／不良品判定ができる。
【０１０４】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【０１０５】
更に、撮像素子の解像度より斜線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【０１０６】
また、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【０１０７】
更に、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【０１０８】
また、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。更には、黒の斜線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【０１０９】
そして、別の発明としての画像位置ズレ検査装置は、主走査方向に均一濃度でかつ該主走査方向と垂直な方向である副走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、主走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一でない濃度を有する斜線パターンとが主走査方向と副走査方向に隣接して配置された原稿の内万線パターンあるいは斜線パターンの任意の領域を画像入力装置によって取得した画像信号における副走査方向のｉ（ｉは正の整数）列目のデータ列と、（ｉ＋１）列目のデータ列の隣接データ列に原稿に応じた演算処理を施した補正隣接データ列とを対象に、副走査方向における相対位置にあるｉ列目のデータ列と（ｉ+１）列目のデータ列との差分を取り、当該差分の絶対値の累積値の算出を、相対位置を副走査方向に順次ずらして行い、各累積値を取得する累積値算出手段と、累積値算出手段で得られた各累積値を比較し、累積値の最小値であるところの相対位置を算出する最小値算出手段と、最小値算出手段による算出を画像信号の全域に順次実施し、各列毎の最小値であるところの相対位置を算出する位置ズレ算出手段と、斜線パターンの最小位置ズレ量と万線パターンの最小位置ズレ量とを用いて主走査方向のみの最小位置ズレ量を検出する主走査方向位置ズレ算出手段とを有する。よって、検査対象である画像入力装置の主走査方向の位置ズレ量を計測し、副走査方向の位置ズレ量を補正することにより、精度よく副走査方向の位置ズレ量を計測し、規格値による良品／不良品判定ができる。
【０１１０】
また、補間手法を用いることにより、画素位置ズレにおいて高精度に計測することができる。
【０１１１】
更に、両側の主走査位置ズレ量を計測することにより、副走査方向の位置ズレ量を高精度に計測することができる。
【０１１２】
また、撮像素子の解像度より万線パターンを大きくすることにより、位置ズレ計測精度を上げることができる。
【０１１３】
更に、前回の累積位置ズレ最小値位置に基づいて次回の最小値位置を推測して比較領域を減らせるので、高速に位置ズレ計算できる。
【０１１４】
また、差分領域における差分の計算回数を削減することで、計算分解能を落とすことなく、高速に位置ズレ計算できる。
【０１１５】
更に、濃度パターンが等ピッチでないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。また、黒の万線パターンが等しい幅でないので、位置ズレの最小値を１つに保証でき、検査精度が向上することができる。
【０１１６】
また、本発明の画像位置ズレ検査方法を実行するプログラムが記録した記憶媒体を用いることにより、既存のシステムを変えることなく、かつ画像位置ズレ検査システムを構築する装置を汎用的に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る画像位置ズレ検査装置の検査対象である画像入力装置の構成を示す透視図である。
【図２】図１の画像入力装置の構成を示す概略図である。
【図３】本発明における画像入力装置と画像位置ズレ検査装置のシステム構成を示す図である。
【図４】本実施例における画像入力装置と画像位置ズレ検査装置のシステム構成を示すブロック図である。
【図５】本発明で使用する万線パターン例と画像信号を示す図である。
【図６】本発明の画像位置ズレ検査装置による検査結果表示例を示す図である。
【図７】画像表示装置における検査結果の表示例を示す図である。
【図８】第１の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作及び位置ズレ算出動作を示すフローチャートである。
【図９】第１の実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作を示すフローチャートである。
【図１０】スプライン補間方法を説明する図である。
【図１１】第１の実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図１２】第１の実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図１３】第１の実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作を示すフローチャートである。
【図１４】本実施例で用いられるチャート原稿に描かれるパターン例を示す図である。
【図１５】本発明に係る第２の本実施例における位置検出動作及び補正値算出動作を示すフローチャートである。
【図１６】第２の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作、位置ズレ算出動作及び位置ズレ補正動作を示すフローチャートである。
【図１７】第２の実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作を示すフローチャートである。
【図１８】第２の実施例における位置パターン領域を示す図である。
【図１９】第２の実施例における位置パターン領域別算出動作を示すフローチャートである。
【図２０】第２の実施例における位置パターン領域別算出動作を示すフローチャートである。
【図２１】第２の実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図２２】第２の実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図２３】第２の実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作を示すフローチャートである。
【図２４】別の発明に係る第１の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作及び位置ズレ算出動作を示すフローチャートである。
【図２５】別の発明の第１の実施例で用いられるチャート原稿に描かれるパターン例を示す図である。
【図２６】別の発明の第１の実施例におけるデータ補間動作及び累積値取得動作を示すフローチャートである。
【図２７】別の発明の第１の実施例における前段最小位置記憶動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図２８】別の発明の第１の実施例におけるデータ補間動作及び差分領域算出動作を示すフローチャートである。
【図２９】別の発明の第１の実施例における累積値補間動作、補間データ算出動作及び最小値取得動作を示すフローチャートである。
【図３０】別の発明の第１の実施例で用いられるチャート原稿に描かれるパターン例を示す図である。
【図３１】別の発明の第２の実施例における累積値算出動作、最小値算出動作、位置ズレ算出動作及び万線最小位置ズレ量記憶動作並びに光学系走査方向位置ズレ算出動作の第１の基本動作を示すフローチャートである。
【図３２】別の発明の第２の実施例で用いられるチャート原稿に描かれるパターン例を示す図である。
【図３３】別の発明の第２の実施例における主走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図３４】別の発明の第２の実施例における副走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図３５】別の発明の第２の実施例における主走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図３６】別の発明の第２の実施例における副走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図３７】別の発明の第２の実施例における第２の基本動作を示すフローチャートである。
【図３８】別の発明の第２の実施例における第３の基本動作を示すフローチャートである。
【図３９】別の発明の第２の実施例における主走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４０】別の発明の第２の実施例における副走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４１】別の発明の第２の実施例における主走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４２】別の発明の第２の実施例における副走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４３】別の発明の第２の実施例における主走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４４】別の発明の第２の実施例における副走査位置ズレ計測動作を示すフローチャートである。
【図４５】本発明を適用する画像位置ズレ検査装置におけるシステムハード構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１；画像位置ズレ検査装置、１−１；画像信号入力部、
１−２；画像記憶メモリ、１−３，１０−５；制御部、
１−４；画像処理演算部、１−５；画像位置ズレ量算出部、
１−６；画像表示部、１０；画像入力装置、１０−１；光電変換部、
１０−２；Ａ／Ｄ変換部、１０−３；シェーディング補正部、
１０−４；画像信号出力部、１１；原稿設置場所、
１２，１５；走行体、１２−１，１５−１；ミラー、
１３；１次元撮像素子、１４；レンズ、１６；画像信号出力ポート、
１７；駆動手段、１８；コンタクトガラス、１９；チャート原稿、
２０；ランプ、２１；撮像領域、３１；画像信号入力部、
３２；検査装置本体、３３；画像表示装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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