(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転機の絶縁体の絶縁性能の寿命を推定する方法であって、
破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｘ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との第一の相関関係（Ｆｘｙ）の統計的な信頼度に基づいて、破壊検査による限界劣化指標値（Ｘｅ）から非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）を算出する工程と、
経過時間（Ｔ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係（Ｆｔｙ）に基づいて、前記非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）から推定絶縁寿命値（Ｔｅ）を算出する工程と、
を有することを特徴とする回転機の絶縁寿命の推定方法。
【請求項２】
前記推定絶縁寿命値（Ｔｅ）は、前記第二の相関関係（Ｆｔｙ）に基づいて、経過時間値（Ｔｓ）とそれに対応した非破壊検査による絶縁体の劣化指標値（Ｙｓ）と前記非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）とから算出されることを特徴とする請求項１に記載の回転機の絶縁寿命の推定方法。
【請求項３】
前記推定絶縁寿命値（Ｔｅ）は、非破壊検査による劣化指標（Ｙ）を基に無次元化された非破壊検査による劣化指標（Ｙｎ）を用いて算出されることを特徴とする請求項１乃至２に記載の回転機の絶縁寿命の推定方法。
【請求項４】
回転機の絶縁体の絶縁性能の寿命を推定するシステムであって、
非破壊検査による絶縁体の劣化指標値（Ｙｓ）を入力する入力部と、
非破壊検査による絶縁体の第一の劣化指標データ（Ｙｄａ）とこれに応じた破壊検査による絶縁体の劣化指標データ（Ｘｄ）、および非破壊検査による絶縁体の第二の劣化指標データ（Ｙｄｂ）とこれに応じた経過時間値（Ｔｄ）とを格納する記憶部と、
前記非破壊検査による劣化指標値（Ｙｓ）の種類に応じて、前記非破壊検査による第一の劣化指標データ（Ｙｄａ）と破壊検査による劣化指標データ（Ｘｄ）とから求められる第一の相関関係（Ｆｘｙ）と、前記非破壊検査による第二の劣化指標データ（Ｙｄｂ）と経過時間データ（Ｔｄ）とから求められる劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係（Ｆｔｙ）と、前記第一の相関関係（Ｆｘｙ）の統計的な信頼度及び前記劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係（Ｆｔｙ）に基づいて前記非破壊検査による劣化指標値（Ｙｓ）から求められる推定絶縁寿命値（Ｔｅ）と、を算出する演算部と、
を備えたことを特徴とする回転機の絶縁寿命推定システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は昇降機等に用いられる回転機の絶縁寿命の推定方法および絶縁寿命を推定するシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
昇降機等に用いられる回転機の性能劣化については様々なパターンがある。その中でも例えば巻線被覆樹脂等の絶縁物質の絶縁性能劣化はとりわけ重要な問題である。
【０００３】
この絶縁物質の絶縁劣化を示す指標としては、部品や物質の破壊を伴う破壊検査による劣化指標（例えば、絶縁破壊電圧ＢＤＶ等、以下破壊指標と記す）と、非破壊検査による劣化指標（例えば、絶縁抵抗Ｒ、誘電正接ｔａｎδ、弱点比ＷＲ、成極指数ＰＩ、定格電圧における誘電正接と１００Ｖにおける誘電正接との差分Δｔａｎδ、または静電容量Ｃと絶縁抵抗Ｒとの積ＣＲ等、以下非破壊指標と記す）とがある。破壊指標に基づく劣化診断は、文字通り破壊を伴うため、非破壊指標に基づく劣化診断に比べてより詳細かつ正確に劣化状況を知ることができる反面、検査した部品を引き続き使用することができない。従って、従来このような絶縁劣化診断は、非破壊指標により行われてきた。図６に、絶縁抵抗Ｒと運転経過時間Ｔとの相関データを示す。これら非破壊指標に基づく劣化診断は、例えば絶縁抵抗Ｒにおいては１０ＭΩといった経験値を限界指標値Ｙｅとして、この相関に基づいて前記限界指標値に対応する値として推定絶縁寿命値Ｔｅを算出していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の非破壊検査による劣化診断では、非破壊検査による限界指標値が経験的に定められた精度の良くない値である為、または、図６に示されるように、非破壊指標の時間に対するばらつきが大きい為に、種々のサンプルに対して高い精度で絶縁寿命を判定することが困難であった。従って、まだ寿命が十分に残存しているにもかかわらず部品交換を余儀なくされる等、資源やコストの浪費を生じるという問題が生じていた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、回転機の絶縁体の絶縁性能の寿命を推定する方法であって、破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｘ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との第一の相関関係（Ｆｘｙ）の統計的な信頼度に基づいて、破壊検査による限界劣化指標値（Ｘｅ）から非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）を算出する工程と、経過時間（Ｔ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係（Ｆｔｙ）に基づいて、前記非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）から推定絶縁寿命値（Ｔｅ）を算出する工程と、を有することを特徴とする回転機の絶縁寿命の推定方法である。
上記課題に鑑み、本発明は、非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）とさらに詳細かつ正確な劣化状況を把握可能な破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｘ）との第一の相関関係（Ｆｘｙ）に基づいて非破壊検査による限界劣化指標値（Ｙｅ）を定めることにより、より確実な推定絶縁寿命値（Ｔｅ）の算出を行うことができるので、資源やコストの浪費を抑制することができる。
【０００６】
また、本発明は、経過時間（Ｔ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との間の複数の異なる第二の相関関係（Ｆｔｙ）に基づいて推定絶縁寿命値（Ｔｅ）の算出を行うことにより、ばらつきが少なく相関度の高い相関関係に基づいてより精度の高い絶縁寿命の推定を行うことができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
【０００８】
まず、本発明を昇降機用モータの巻線被覆の絶縁寿命推定システムに適用した第一の実施の形態について説明する。まず、本システムの概略構成について図１を用いて説明する。
【０００９】
このシステム１は、絶縁寿命の推定に必要なデータの入力を行う入力部１００例えばキーボード１０１、絶縁寿命の算出に伴う全ての演算を行う演算部２００例えばＣＰＵ２０１、絶縁寿命の演算に必要なデータを格納する記憶部３００例えばメモリ３０１、および計算した絶縁寿命の結果を出力する出力部４００例えばディスプレイ４０１を備える。
【００１０】
図２に、記憶部３００例えばメモリ３０１に記憶されるデータを示す。第一の非破壊指標データＹｄａ（例えば絶縁抵抗Ｒ、誘電正接ｔａｎδ等）、およびこれに対応する破壊指標データＸｄ（例えば絶縁破壊電圧ＢＤＶ）は、第一のデータセットＤａとしてメモリ３０１に格納されている。これを表に示したものが図２の第一のテーブル３１０である。また、第二の非破壊指標データＹｄｂ、およびこれに対応する経過時間データＴｄは、第二のデータセットＤｂとしてメモリ３０１に格納されている。これを表に示したものが図２の第二のテーブル３２０である。この第二のデータセットＤｂは、個体別例えば各モータ個別または部品個別に区分され、また、劣化の進行速度別にも区分されている。これらの区分は個体別フラグＦｕおよび進行速度別フラグＦｓの設定により行われている。なお、本システム１は、メモリ３０１に格納されるこれらのデータの値および種類を必要に応じて入力部１００から追加または変更自在に構成されている。
【００１１】
次に、本実施形態による絶縁寿命の推定方法について図２乃至図５を用いて説明する。図３は絶縁寿命推定方法のフローチャート、図４は破壊指標Ｘと無次元化された非破壊指標Ｙｎとの第一の相関関係Ｆｘｙを示す図、図５は経過時間Ｔと無次元化された非破壊指標Ｙｎとの第二の相関関係Ｆｔｙを示す図である。
【００１２】
まず、入力部１００例えばキーボード１０１より絶縁寿命の推定に必要なデータを入力する（データ入力工程１０）。この工程１０では、絶縁寿命を推定したいサンプル非破壊指標値Ｙｓと、使用開始からサンプル非破壊指標値Ｙｓの測定を実施した時までの経過時間Ｔｓとが入力される。またここでは実施した非破壊検査方法の種類に応じて複数種のサンプル非破壊指標値Ｙｓ（例えば、第一のサンプル非破壊指標値Ｙｓａとして絶縁抵抗値Ｒｓ、および第二のサンプル非破壊指標値Ｙｓｂとして誘電正接値ｔａｎδｓ）を入力することができる。さらに、この工程１０においては、メモリ３０１に格納あるいは絶縁寿命の推定に使用される全てのパラメータの値もしくは種類について、入力、設定、変更、既定値選択、追加あるいは削除を行うことができる。
【００１３】
次いで、破壊指標Ｘと非破壊指標Ｙとの第一の相関関係Ｆｘｙ、および非破壊指標Ｙと経過時間Ｔとの第二の相関関係Ｆｔｙを算出する（相関関係Ｆｘｙ，Ｆｔｙの算出工程２０）。
【００１４】
この工程２０ではまず、前記工程１０により入力されたサンプル非破壊指標値Ｙｓの種類に応じて、メモリ３０１に格納されている演算に必要なデータを呼び出す（データ呼び出し工程２１）。ここでは、破壊指標データＸｄと、それに対応する第一の非破壊指標データＹｄａとが、サンプル非破壊指標値Ｙｓの種類に応じて呼び出される。例えば、一の破壊指標データＸｄに対してサンプル非破壊指標値Ｙｓと同じ種類の第一の非破壊指標データＹｄａ全てが格納されているものについて、破壊指標データＸｄと第一の非破壊指標データＹｄａとが呼び出される。より具体的には、サンプルの非破壊指標値Ｙｓが、例えば絶縁抵抗値Ｙｓａ（Ｒｓ）、および誘電正接値Ｙｓｂ（ｔａｎδｓ）の２種類であった場合には、破壊指標データＸｄに対してこれらと同一種類の非破壊指標データ、即ち、絶縁抵抗データＹｄａａおよび誘電正接データＹｄａｂの２種類のデータが両方入力されているものについて、これらのデータ（Ｘｄ、Ｙｄａａ、Ｙｄａｂ；図２に太線枠で囲んで示したデータ）を呼び出す。また同様にして、サンプル非破壊指標値Ｙｓの種類に応じて、経過時間データＴｄと、それに対応する第二の非破壊指標データＹｄｂとが呼び出される。より具体的には、一の経過時間データＴｄに対してサンプル非破壊指標値Ｙｓと同じ種類の第二の非破壊指標データＹｄｂ全てが格納されているものについて、第二の非破壊指標データＹｄｂと経過時間データＴｄとが呼び出される。
【００１５】
次いで、例えば、発明者らが開発した方法（参考文献：金古、大島、山田、飯島：ファジイ推論を導入したエキスパートシステムによる昇降機用回転機の絶縁診断、電気学会論文誌Ａ、１１２巻１１号、平成４年、ｐｐ９３１〜９３７）により、前の工程２１で呼び出された一または複数の第一の非破壊指標データＹｄａをもとに、無次元化された第一の非破壊指標データＹｄａｎを計算する（非破壊劣化指標データの無次元化工程２２）。例えば、呼び出された第一の非破壊指標データＹｄａが、絶縁抵抗データ（Ｙｄａａ（ｉ）、ｉ＝１，２，３，，，）と、誘電正接データ（Ｙｄａｂ（ｉ）、ｉ＝１，２，３，，，）との２種類であった場合には、この方法に従い、これら２種類のデータ全てを対応関係ｉ毎に統合してそれぞれ無次元化した１種類の第一の非破壊指標データ（Ｙｄａｎ（ｉ）、ｉ＝１，２，３，，，）を算出する。同様に、呼び出された第二の非破壊指標データＹｄｂについても無次元化された第二の非破壊指標データＹｄｂｎを算出する。
【００１６】
そして、第一の無次元非破壊指標データＹｄａｎとそれに対応した破壊指標データＸｄとから第一の相関関係Ｆｘｙを、また、第二の無次元非破壊指標データＹｄｂｎとそれに対応した経過時間データＴｄとから第二の相関関係Ｆｔｙをそれぞれ算出する（相関関係の算出工程２３）。この工程においては、相関関係として、例えば、回帰係数、平均値、標準偏差等が算出される。また、このとき、第二の相関関係Ｆｔｙは、第二のデータセットＤｂに設定されているフラグＦ例えば進行速度別フラグＦｓに応じて算出される。例えばこのフラグＦｓが複数例えば３階級（Ｆｓ＝１、２、３）設定されている場合には、これに応じて同数即ち３階級の第二の相関関係Ｆｔｙ（Ｆｔｙ１、Ｆｔｙ２、Ｆｔｙ３）が算出される。なお、本システム１では、この進行速度別フラグＦｓは例えばデータ入力工程１０において適宜書き換え自在であり、このため、第二の相関関係Ｆｔｙの算出に適用する第二のデータセットＤｂの変更、あるいは第二の相関関係Ｆｔｙの階級数の増大等を容易に行うことができる。
【００１７】
次いで、工程２２と同様の方法により、入力された一または複数のサンプル非破壊指標値Ｙｓをもとに無次元化されたサンプル非破壊指標値Ｙｓｎを計算する（サンプルの非破壊劣化指標値の無次元化工程３０）。例えば、サンプル非破壊指標値として、絶縁抵抗値Ｙｓａ（Ｒｓ）、および誘電正接値Ｙｓｂ（ｔａｎδｓ）が入力された場合には、これらをもとに、先の工程２２と同様の方法に従い、これら全てを統合化した無次元サンプル非破壊指標値Ｙｓｎを計算する。
【００１８】
次に、第一の相関関係Ｆｘｙに基づいて、限界破壊指標値Ｘｅから限界非破壊指標値Ｙｅを求める（非破壊限界劣化指標値の算出工程４０）。この工程４０を図４を用いて説明する。ここでは、例えば、無次元非破壊指標Ｙｎは、劣化状況に応じて０（劣悪）〜５（良好）の幅を有する指標として一または複数種の非破壊指標Ｙをもとに無次元化され、また破壊指標Ｘは、測定値Ｘｄを初期値Ｘ０で除算することにより無次元化されている。図４に、第一の相関関係Ｆｘｙとして、回帰線５０１と、第一の相関関係Ｆｘｙの信頼度Ｒｘｙの線例えば−３σ線５０２（σ：相関の標準偏差）とを示す。また限界破壊指標値Ｘｅ（例えばＸｅ＝０．１５）は、破壊試験により求められた絶縁性能劣化の限界指標値である。ここで、この第一の相関関係Ｆｘｙの−３σ線５０２における限界破壊指標値Ｘｅ（＝０．１５）に対応する無次元非破壊指標Ｙｎの値として無次元限界非破壊指標値Ｙｅｎ（＝１．８）を求める。このように、破壊試験による限界破壊指標値Ｘｅをもとに限界非破壊指標値Ｙｅを定めることにより、非破壊指標による絶縁寿命の推定において、実用的な見地からより精度の高い推定を行うことができる。また、このように第一の相関関係から統計的に信頼度に基づいて行うことにより、さらに確実な絶縁寿命の推定を可能としている。
【００１９】
次に、第二の相関関係Ｆｔｙに基づいて、先の工程４０により求めた限界非破壊指標値Ｙｅから推定絶縁寿命値Ｔｅを推定する（推定絶縁寿命値の算出工程５０）。この工程５０について先の図４に対応した図５を用いて説明する。モータまたは部品の使用開始からの経過時間Ｔと無次元非破壊指標Ｙｎとの第二の相関関係Ｆｔｙは、前述のように、例えば、劣化の進行速度よる区分に応じて、Ｆｔｙ１、Ｆｔｙ２、Ｆｔｙ３の３つの相関関係に区分されている。まず、先の工程３０で算出された無次元サンプル非破壊指標値Ｙｓｎとサンプル経過時間Ｔｓとこれらの相関関係（Ｆｔｙ１、Ｆｔｙ２、Ｆｔｙ３）とを比較し、サンプルの劣化進行度例えば劣化線６０２を推定する（劣化進行度の推定工程５１）。より具体的には、例えば図５に示す例で説明すると、各第一の相関関係ＦｘｙにおけるＹｎ＝Ｙｓｎ（＝４．１）の点（６０３、６０４、６０５）とサンプル６０１とを例えばＴの値により比較し、サンプル６０１の各第二の相関関係Ｆｔｙに対する相対的な位置づけを認識する。そして、サンプル６０１の最も近傍にある２つの第一の相関関係Ｆｔｙ（図５に示す例の場合はＦｔｙ１、Ｆｔｙ２）より、サンプルの劣化進行度例えば劣化線６０２を定める。劣化線６０２は例えば、図５において、サンプル６０１に最も近い二つの第一の相関関係Ｆｔｙ（Ｆｔｙ１、Ｆｔｙ２）と劣化線６０２とのＴの差分（６０６、６０７）の比が各Ｙｎにおいて同一となる線として定める。次いで、この劣化線６０２から先の工程４０で求めた無次元限界非破壊指標値Ｙｅｎ（＝１．８）をもとに推定絶縁寿命値Ｔｅ（＝７３００日）を求める（絶縁寿命値の算出工程５２）。即ち、劣化線６０２におけるＹｎ＝Ｙｅの際のＴ値として推定絶縁寿命値Ｔｅの値を求める。このように、第二の相関関係Ｆｔｙを基にサンプルの経過時間値Ｔｓとこれに対応した非破壊指標値Ｙｓとからサンプル毎の劣化進行度を推定することにより、サンプル個別の劣化状況に応じた精度の高い寿命推定を可能としている。また、劣化進行状況の異なる複数の第二の相関関係Ｆｔｙを基に行うことにより、劣化進行状況に応じて細分化された精度の高い相関関係に基づいてサンプル個別の劣化進行状況をより精度良く推定することができるので、さらに精度の高い絶縁寿命の推定を行うことができる。
【００２０】
そして、信頼度Ｒｘｙを変えて再度推定絶縁寿命値Ｔｅを計算をするか否かを判断する（推定絶縁寿命値の再計算実施の判断工程６０）。例えば、先のデータ入力工程１０において予め複数の信頼度Ｒｘｙが入力設定あるいは選択設定されている場合、あるいは新たに異なる信頼度Ｒｘｙによる寿命の推定が必要となった場合等には非破壊限界劣化指標値の算出工程４０に戻る。図４に示すように、例えば、信頼度Ｒｘｙとして、先の−３σ線５０２とは異なり信頼度の低い−２σ線５０３を用いた場合には、それにより求まる無次元限界非破壊指標値Ｙｅｎ２（＝０．８）は−３σ線５０２から求めた場合における無次元限界非破壊指標値Ｙｅｎ（＝１．８）とは異なった低い値となり、また図５に示すように、それに基づいて算出される絶縁寿命値Ｔｅ２（＝７７００日）は先の絶縁寿命値Ｔｅ（＝７３００日）とは異なる高い値となる。このように信頼度Ｒｘｙの設定の自由度を確保することにより、例えば、特に破損の許されないモータや部品の寿命推定の際にはより安全側とするために信頼度を高く設定したり、あるいは、劣化の進行速度が早いまたは寿命までの余裕が少ない場合には信頼度を高く設定する一方劣化の進行速度が遅いまたは寿命までの余裕が多い場合には信頼度を低く設定する等、寿命推定の用途あるいは絶縁劣化状況に応じて適した信頼度を設定することができ、このため破壊指標Ｘｄとの相関による寿命推定の精度を確保しつつ様々な状況に対して最適な絶縁寿命の推定を行うことができる。
【００２１】
このようにして算出した推定絶縁寿命値Ｔｅまたは残存寿命値Ｔｒ（＝Ｔｅ−Ｔｓ）は、他の各パラメータ例えばＹｓ、Ｙｓｎ、Ｔｓ、Ｒｘｙ等と共に出力部４００例えばディスプレイ４０１により出力される（推定絶縁寿命の出力工程７０）。異なる信頼度Ｒｘｙにより計算された複数の推定絶縁寿命値Ｔｅは、信頼度Ｒｘｙ毎に表示され、グラフ化される。
【００２２】
そして、入力されたサンプルの非破壊指標値Ｙｓおよび経過時間値Ｔｓは記憶部３００例えばメモリ３０１に第二のデータセットＤｂの値として追加される（データの追加工程８０）。追加されたこれらのデータは次のサンプルの寿命推定の際に加味されるため、寿命推定は常に最新のデータに基づいて行われる。
【００２３】
なお、本実施の形態は上記の構成および方法に限られるものではない。
【００２４】
前述の実施の形態では記憶部には非破壊検査の測定値自体が格納されているが、これは無次元化された非破壊指標値を格納するものでもよいし、第一の相関関係Ｆｘｙや第二の相関関係Ｆｔｙあるいは限界破壊指標値Ｘｅを記憶部に格納するような構成としてもよい。これらの構成によれば、絶縁寿命推定のための工程数を減らすことができ、より迅速に寿命の推定を行うことができる。
【００２５】
また、前述の実施形態では、記憶部に格納されるデータセットは、２つに分けられていたが、これは、同一のデータセットとして記憶しても良い。この場合、第一の相関関係Ｆｘｙの算出に際しては破壊指標データＸが格納されているものからデータが呼び出され、第二の相関関係Ｆｔｙの算出に際しては経過時間データＴが格納されているものからデータが呼び出される。
【００２６】
さらに、前述の実施形態では、無次元化された非破壊指標データＹｄｎと無次元化されたサンプル非破壊指標値Ｙｓｎとで、無次元化された非破壊指標Ｙｎ（Ｙｄｎ、Ｙｓｎ）の算出の基として統合する非破壊指標Ｙの種類を同一としている。しかしながら、例えば、サンプル非破壊指標値Ｙｓと同一種類の非破壊指標データＹｄについて、この同一種のデータＹｄの総数が少ない場合や、この同一種のデータＹｄに基づく第一または第二の相関関係Ｆｘｙ，Ｆｔｙの相関が低い場合等、相関関係の相関度が十分に確保できない場合等においては、前記基とする非破壊指標Ｙの種類を互いに異にして例えばより相関度の高い相関関係を適用するようにしても良い。またこのために、前記基とする非破壊指標Ｙの種類を選択あるいは設定する工程を備えても良い。これによりさらに精度の高い寿命推定を行うことができる。
【００２７】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明によれば、より確実な絶縁寿命の推定を行うことができるので、回転機の絶縁寿命に近い長い期間使用することが可能となるため、資源やコストの浪費を抑制することが可能となるとともに、使用中の寿命到達による機能停止を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  第一の実施の形態にかかる昇降機用モータの絶縁寿命推定システムの概略構成を示す説明図である。
【図２】  第一の実施の形態にかかる昇降機用モータの絶縁寿命推定システムの記憶部に格納されるデータを示す説明図である。
【図３】  第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにより行う絶縁寿命推定方法のフローチャート図である。
【図４】  第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにおいて、破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｘ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との第一の相関関係（Ｆｘｙ）を示す説明図である。
【図５】  第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにおいて、経過時間（Ｔ）と非破壊検査による絶縁体の劣化指標（Ｙ）との第二の相関関係（Ｆｔｙ）を示す説明図である。
【図６】  従来の絶縁寿命推定における絶縁抵抗Ｒと運転経過時間Ｔとの相関を示す説明図である。
【符号の説明】
１  絶縁寿命推定システム、２０  相関関係Ｆｘｙ，Ｆｔｙの算出工程、４０非破壊検査による限界劣化指標値Ｙｅの算出工程、５０  推定絶縁寿命値Ｔｅの算出工程、１００  入力部、２００  演算部、３００  記憶部、４００  出力部、Ｘｅ  破壊検査による限界劣化指標値、Ｙｎ  無次元化された非破壊検査による劣化指標、Ｙｅｎ  無次元化された非破壊検査による限界劣化指標値、Ｙｓｎ  サンプルの無次元化された非破壊検査による劣化指標値、Ｔｓ  サンプルの使用開始からの経過時間値。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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