(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
懸架溝と摺接部を有し、上記摺接部と懸架溝との間に摩耗限界位置を定め、上記摺接部に、該摺接部の幅が増大又は減少する方向の段差部をもった段部を形成し、該段部を前記懸架溝に達せしめると共に、該段部上に前記の摩耗限界位置を定めたトロリー線において、前記段差部が前記摺接部の幅を増大する方向に形成され、摩耗測定光に対する反射率が、上記段差部と上記摺接部とで差があることを特徴とするトロリー線。
【請求項２】
前記の段部が同方向の複数の段差部を有する複数の段部により形成され、懸架溝に最も近い段部上に前記の摩耗限界位置を定めたことを特徴とする請求項１に記載のトロリー線。
【請求項３】
前記懸架溝はトロリー線の両側面に形成され、前記段差部は上記懸架溝間の中心線に直角か又は所要角度傾斜して形成され、前記段部の側面は段差部から上記中心線と平行か又は外方へ突き出して形成されたことを特徴とする請求項１又は２に記載のトロリー線。
【請求項４】
前記段差部に連続した前記摺接部が円弧状であることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載のトロリー線。
【請求項５】
前記段差部に連続した前記摺接部が前記中心線と平行であることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載のトロリー線。
【請求項６】
前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対する反射率に差をもたせるために、該摺接部を除き、かつ少なくとも該段差部を含む部分に皮膜を形成するか又は粗面化処理を施したことを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載のトロリー線。
【請求項７】
前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対する反射率に差をもたせるために、少なくとも該段差部と摺接部の両方を含む部分に予め皮膜を形成するか又はこれらの部分に粗面化処理を施し、該摺接部がパンタグラフと摺接することにより上記皮膜又は粗面化処理部分が除去されて該摺接部に現われる摺接面の反射率と、前記段差部の反射率とに差をもたせたことを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載のトロリー線。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明はトロリー線に関し、特にレーザ等の摩耗測定光を用いた光学式摩耗測定装置による摩耗管理の精度を向上させたトロリー線に関する。
【０００２】
【従来の技術と発明が解決しようとする課題】
図１２は従来のトロリー線断面形状の一例である。このトロリー線の断面形状の外周は中心Ｏを有する円１上に小円弧部２及び大円弧部３を有し、中心Ｏを通る中心線Ａに対し左右対称形をなす。
【０００３】
上記の中心線Ａと中心Ｏで直交する直交線Ｂよりも上部における両側にＶ形の懸架溝４が形成され、その懸架溝４の上縁相互間に前記の小円弧部２が形成される。
【０００４】
大円弧部３は摺接面となる部分であり、その上端は直交線Ｂより若干高い位置において前記懸架溝４の下縁に連続している。
【０００５】
上記のトロリー線が使用に供された場合、摺接面の摩耗に伴う残存直径を測定することにより、管理限度以上にトロリー線が摩耗することがないよう定期的な摩耗管理が行なわれる。
【０００６】
トロリー線の残存直径の測定方法としては、残存直径自体を測定する方法のほかに、トロリー線断面の幾何学的な形状から換算して残存直径を求める方法がある。これらの測定方法を実施するために、残存直径自体の測定手段や、摩耗幅を機械的、電気的又は光学的に測定する機器が実用化されている。
【０００７】
このほかに、トロリー線の摩耗状態を目視により簡便に確認することができるように、摩耗限界近傍に凹所を形成したり、識票用の塗料を塗布することも提案されている（実開昭５６−１３０２７号公報）。
【０００８】
一般的に摩耗量の測定精度は残存直径径自体を測定する方法がよいとされているが、トロリー線は懸架溝に取り付けられた金具を介して、ちょう架線に吊るされているため、この取り付け金具により、トロリー線の残存直径そのものを連続測定する場合、低速での測定に限られているという制約がある。
【０００９】
これらの問題を解決し、トロリー線の残存直径を高速で連続測定するために、光学式摩耗測定装置により摩耗幅を測定してこれを残存直径に換算する方法が実用化されている。光学式摩耗測定装置による摩耗幅の測定原理は、レーザー等の摩耗測定光をトロリー線の幅方向に照射し、その反射光を受光検出するものである。
【００１０】
しかし、図１２のごとき円形をしたトロリー線の摩耗幅を測定する場合、トロリー線の幾何学的な形状から摩耗初期にはトロリー線の残存直径の変化に対して、摩耗幅の変化量が大きいため測定精度の面では有利であるが、摩耗限の直径の１／２近傍では、残存直径の変化に対して、摩耗幅の変化量が小さくなるため、測定誤差の影響が相対的に大きくなり、測定精度が低下する問題がある。
【００１１】
その測定精度を上げるためには、測定装置の検出精度の向上等に多大な費用がかかる。
【００１２】
更に、図１３のごとく、懸架溝４に連続した摺接部５が中心線Ａに対して平行であるトロリー線の場合は、平行部分において残存直径に対する摩耗幅の変化量が零となるため、摩耗限界位置の検出が不可能になる。
【００１３】
光学式摩耗測定装置を用いた場合の上記のごとき問題を解決するために、図１４（ａ）に示すごとき溝付きトロリー線を用いることが一応考えられる（実開昭５６−１３０２７号公報参照）。このトロリー線は視覚検査のためにその摩耗限界位置に溝５を形成したものであるが、摩耗がその溝５の下縁に達すると摩耗幅が急激に変化するので、光学式摩耗測定装置による測定に適しているように一応考えられる。
【００１４】
しかし、このような溝５は、摺接部６の点ａと溝５内の点ｂとが同一線上に位置し、これらの２点での摩耗幅が同一となるため、ａ、ｂ２点の位置を区別できない問題、即ち摩耗幅と摩耗高さの一対一の対応関係が維持できないという問題がある。
【００１５】
また、図１４（ｂ）に示すような外方へ突した突条７を設けたもの（前掲の実開昭５６−１３０２７号公報参照）は、突条７の高さが低いため、場合によっては突条７が摩耗によって消失してしまい、突条７の前後ａ、ｂ２点の位置を区別できず、この場合も摩耗幅と摩耗高さの一対一の対応関係が維持できない問題がある。
【００１６】
上記のように、図１４（ａ）（ｂ）のいずれの場合も光学式摩耗測定装置による測定には適さない。
【００１７】
この発明は以上のごとき従来技術の問題点にかんがみ、トロリー線の断面形状に工夫を加えることにより光学式摩耗測定装置によってトロリー線の摩耗量を高い精度で測定できるようにすることを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、この発明は、懸架溝と摺接部を有し、上記摺接部と懸架溝との間に摩耗限界位置を定めてなるトロリー線において、上記摺接部に、該摺接部の幅が増大又は減少する方向の段差部をもった段部を形成し、該段部を前記懸架溝に達せしめると共に、該段部上に前記の摩耗限界位置を定めた構成としたものである。
【００１９】
上記構成のトロリー線は、摩耗が段部に達すると、その前後で段差部の幅分だけ摩耗幅が急激に変化するので、光学式摩耗測定装置によって、精度よくその段差を検知することができる。また、上記の段部は摩耗の進行方向に十分な高さを有するので、摩耗によって段部が消失することが避けられる。
【００２０】
上記の場合において、その段部が同方向の複数の段差部を有する複数の段部により形成され、懸架溝に最も近い段部上に前記の摩耗限界位置を定めた構成を採用すると、摩耗幅の定期的な測定を行うことにより、段階的な摩耗検知が可能となる。また、摩耗限界位置を定めた段部よりも時間的に早い段階で摩耗を受ける段部は、摩耗限界到達の予報的な役割を果す。
【００２１】
また、前記懸架溝をトロリー線の両側面に形成すると共に、前記段差部を上記懸架溝間の中心線に直角か又は所要角度傾斜して形成し、前記段部の側面を段差部から上記中心線と平行か又は外方へ突き出して形成した構成を採用することもできる。
【００２２】
このような構成を採用したトロリー線において、段差部が懸架溝間の中心線に対して直角に突き出す形状に形成されたものは、トロリー線の使用初期の段階では直角に突き出した段差部で摩耗測定光が反射され、その反射光が受光される結果、その段差部を摩耗面であると誤認するおそれがある。このため該段差部を所要角度傾斜して形成しておくと反射光が受光されないので、誤認のおそれは無くなる。なお、段差部が摺接部の幅を減少させるように凹入形状に形成されたものは、このような反射の問題はない。
【００２３】
上記の段部は前記の中心線と平行か又は外方へ突き出して形成されているので、段部における摩耗が進行しても、摺接部の幅と同一幅になることがなく、摩耗幅と摩耗高さの一対一の対応関係を維持することができる。
【００２４】
前記摺接部の段差部に連続した部分を円弧状に形成したり、摺接部の段差に連続した部分を前記中心線と平行に形成することもできる。摺接部の形状は測定精度に影響をもたらさないので、上記のように円弧状としたり、中心線と平行とするなど適宜な形状をとることができる。
【００２５】
前記段差部が摺接部の幅を増大する方向に形成された場合において、摩耗測定光に対する反射率が、該段差部と摺接部とで差がある構成をとることができる。
【００２６】
上記の構成によると、段差部と摺接部における反射率の差により、測定装置において段差部からの反射光を区別することができる。
【００２７】
前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対する反射率に差をもたせるために、該摺接部を除き、かつ少なくとも該段差部を含む部分に皮膜を形成するか又は粗面化処理を施した構成をとることができる。
【００２８】
更に、前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対する反射率に差をもたせるために、少なくとも該段差部と摺接部の両方を含む部分に予め皮膜を形成するか又はこれらの部分に粗面化処理を施し、該摺接部がパンタグラフと摺接することにより上記皮膜又は処理部分が除去されて該摺接部に現われる摺接面の反射率と、前記段差部の反射率とに差をもたせた構成をとることもできる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
図１に示した第１の実施の形態に係るトロリー線の断面形状は、中心Ｏを有する円１０を基本形状とし、その中心Ｏを通る中心線Ａを基準とし、該中心Ｏより高い位置において左右対称形の懸架溝１１が形成される。各懸架溝１１の上縁相互間の円１０上に小円弧部１２が形成される。また、各懸架溝１１の下縁相互間に摺接部１３が形成される。
【００３０】
摺接部１３は前記中心線Ａとの交点１４を含む大円弧部１５と、その大円弧部１５の両端に形成された段部１６とから成り、段部１６は大円弧部１５の両端から一定幅の段差をつくる段差部１７によって外方、即ち摺接部１３の幅が増大する方向へ突き出す。
【００３１】
上記の段差部１７は中心線Ａに対して直角であり、また段部１６の側面１８は中心線Ａに対して平行、即ち段差部１７に直角である。上記の側面１８は、懸架溝１１の下縁に連続する。
【００３２】
中心線Ａと中心Ｏで直交する直交線Ｂは、前記の側面１８上にあり、その直交線Ｂと段差部１７との間にその段差部１７から一定の距離をおいて摩耗限界位置Ｃが設定される。
なお、摺接部１３の摺接開始部分は、図１（ａ）の一点鎖線で示すように直交線Ｂと平行な平坦面１９であってもよい。
【００３３】
上記の段差部１７の幅は、トロリー線の幅の約３０％を上限値とし、０．１mmを下限値とする範囲で適宜選定される。上限値は、加工性、ドラム等への巻取り性を考慮して決定され、下限値は、レーザー式摩耗測定装置の測定精度及びトロリー線そのものの幅の許容差に基づいて決定される。
【００３４】
図１（ａ）のごとき直角の段差部１７の場合は、トロリー線が金属光沢を有する使用初期において、その段差部１７により摩耗測定光が反射され、その反射光を受光してこの段差部１７を含めた幅を摩耗幅であると誤認する可能性がある。その防止策として、図１（ｂ）に示すように、段差部１７の中心線Ａに対する傾き角θ（即ち、段差部１７の延長線と中心線Ａとの交点における外角θ）が鈍角となるように段差部１７に傾斜をもたせる。
【００３５】
なお、図示のように、側面１８が中心線Ａと平行に形成されている場合は、段差部１７の側面１８に対する傾き角θが鈍角となるように段差部１７に傾斜をもたせると云っても同じである。
【００３６】
上記のように、段差部１７が傾斜していると、その段差部１７からの反射光が外部に散乱されるので、上記のごとき誤認を生じることがない。
【００３７】
図２に示した第２の実施の形態は、小円弧部１２の曲率半径Ｒｕを、大円弧部１５の曲率半径Ｒｂより大きく設定したものである。その他の形状は図１のものと同様である。
【００３８】
なお、この場合も一点鎖線で示すように、段差部１７に傾斜を付けてもよく、また側面１８を外方に傾斜させて段部１６を外側方へ突き出すようにしてもよい。
【００３９】
図３（ａ）（ｂ）に示した第３の実施の形態は、懸架溝１１相互間の辺２０を緩やかな（曲率半径の大きい）円弧に形成し、また摺接部１３の下面も同様の緩やかな円弧に形成し、その両端から小さい曲率半径で立上がらせ、中心線Ａと平行な辺２１の上端を段差部１７に連続させたものである。
【００４０】
段差部１７は図３（ａ）のように中心線Ａ又は辺２１と直角に形成してもよく、また図３（ｂ）のように傾斜を付与してもよい。
【００４１】
前記第１の実施の形態〔図１（ａ）（ｂ）〕と従来例（図１２）のトロリー線についての残存直径Ｈと摩耗幅Ｗの関係を図４の摩耗推移図によって示す。図４のａは図１（ａ）、ｂは図１（ｂ）、ｃは図１２の場合を示す。この図からわかるように、いずれも摩耗の初期には摩耗幅の変化量（ΔＷ／ΔＨ）が大きいが、摩耗の進行に伴い、その変化量は減少し、従来例ｃの場合はついには零となる。
【００４２】
これに対して、ａの場合は、摩耗の進行が段差部１７の位置まで進むと、摩耗幅Ｗの変化量（ΔＷ／ΔＨ）が急増する。また、ｂの場合は段差部１７が傾斜しているため、変化量（ΔＷ／ΔＨ）はａの場合ほど急増しないが、ｃの場合より大きく増大する。
【００４３】
前述のレーザー式摩耗測定装置によると、ａの場合は勿論、ｂの場合も、摩耗幅の変化量が顕著に変化するため、段差部１７を確実に検出することができ、これにより摩耗が摩耗限界位置に近づいたことを確実に検知することができる。
【００４４】
図５は前記の第３の実施の形態〔図３（ａ）（ｂ）〕と、従来例（図１３）のトロリー線について、残存直径Ｈと摩耗幅Ｗの関係を示した摩耗推移図である。ｄが図３（ａ）、ｅが図３（ｂ）、ｆが図１３の場合を示す。この場合も、段差部１７の部分において前述の場合と同様の変化を示す。
【００４５】
図６に示した第４の実施の形態は、１段目と２段目の２つの段差部１７ａ、１７ｂにより、２段の段部１６ａ、１６ｂを形成したものである。摩耗限界位置Ｃは、２段目の段部１６ｂ（懸架溝１１に近い方の段部１６ｂ）に設定される。その他の構成は前述の第３の実施の形態（図３（ａ）参照）と同様である。
【００４６】
上記のように複数の段部１６ａ、１６ｂを形成した場合は、摩耗の進行状況を段階的に検知できる。また、段部１６ａを検知することにより、少なくとも摩耗が段部１６ｂまで達していないことを意味するので、この点で段部１６ａは予報的な役割を果すことになる。
なお、上記の段差部１７ａ、１７ｂを、図６の一点鎖線で示すように傾斜をもたせてもよい。
【００４７】
図７（ａ）〜（ｃ）に示した第５の実施の形態は、段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂが摺接部１３の幅が減少する方向に形成されたものである。このような段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂであってもその部分において摩耗幅が急激に変化することになるので、前述の各実施の形態と同様に、光学式摩耗測定装置により、その変化を確実に検知することができる。
なお、図７（ｂ）の辺２１’は、若干の曲率を有する。
【００４８】
上記の第４及び第５の実施の形態に関する摩耗推移図は、図４、図５に示した第１から第３の実施の形態のものから類推できるので、添付を省略する。
【００４９】
上記の段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂのように、摺接部１３の幅が減少する方向に形成されたものは、これらの部分によって摩耗測定光が反射されることがないので、反射防止対策は不要である。
【００５０】
以上述べた各実施の形態における段差部における反射防止対策は、その段差部に傾斜を付けるものであったが、これ以外に以下のごとき反射防止対策がある。
【００５１】
基本的には、摩耗測定光に対する反射率に、段差部１７（段差部１７ａ、１７ｂにおいても同じ）と摺接部１３とにおいて差をもたせ、受光側で適当な閾値を定め、その閾値を基準にして、摺接部１３からの反射光のみを取入れるようにすればよい。段差部１７と摺接部１３の反射率に差をもたせる手段として、次のような第１及び第２の方法がある。
【００５２】
(1) 第１の方法
段差部１７に粗面化処理を施して、粗面２２を形成する（図８参照）。粗面２２の粗さ係数Ｒａは１μｍ以上、３００μｍ以下に選定される。１μｍ以下では反射率の低下が不充分であり、３００μｍを超えるとトロリー線の寸法精度上問題となる。
【００５３】
粗面化処理の方法としては、ショットブラストによる梨地肌加工や、粉末潤滑伸線による梨地加工を施す方法がある。後者の方法は、伸線加工と表面の粗面加工とが同時にできる利点がある。
【００５４】
上記の粗面化処理は、段差部１７以外の部分にマスクを掛け、段差部１７のみに上記処理を施すか（図８（ａ）参照）又は摺接部１３にのみマスクを掛け、段差部１７を含むその他の部分に上記処理を施すか（図８（ｂ）参照）のいずれでもよい。この粗面化処理により、段差部１７に粗面２２が形成される一方、摺接部１３は平滑な面のまま残されるので、摩耗測定光に対する反射率に差を生じる。
【００５５】
また、上記の粗面化処理をトロリー線の全周に施すか（図９（ａ）参照）或いは段差部１７と摺接部１３に施すこともできる（図９（ｂ）参照）。勿論、そのままでは段差部１７と摺接部１３との間に反射率の差は生じないが、トロリー線が使用に供され、パンタグラフと摺接することにより、粗面２２の部分が次第に摩滅し平滑化された摺接面２３が現われる（図９（ｃ）（ｄ）参照）。その摺接面２３と段差部１７とでは反射率に差が生じる。
【００５６】
パンタグラフとの摺接によって摺接部１３に現われた上記のごとき摺接面２３の反射率も本発明にいう摺接部の反射率の概念に含まれる。
【００５７】
なお、トロリー線の使用の初期は、摺接面２３は平滑ではないが使用開始後第１回の摩耗測定までの間（例えば１ヶ月）に十分平滑化され、段差部１７との間で反射率に差を生じる。
【００５８】
(2) 第２の方法
段差部１７に皮膜２４を形成する方法である（図１０（ａ）参照）。この場合の皮膜２４も、前述の粗面化処理の場合と同様、摺接部１３以外の部分に皮膜２４を形成する（図１０（ｂ）参照）、全周に皮膜２４を形成し使用により摺接面２３を露出させる（図１１（ａ）（ｃ）参照）、摺接部１３と段差部１８に皮膜２４を形成し、使用により摺接面２３を露出させる（図１１（ｂ）（ｄ）参照）などの方法をとることができる。
【００５９】
皮膜２４は摺接部１３（摺接面２３を含む）の反射率より低い金属、金属化合物、酸化物、硫化物、塩化物、窒化物、有機物の一種又はこれらの複合物や混合物により形成される。
【００６０】
なお、上記の皮膜２４が薄過ぎると、反射率を十分低減する効果が得られない。例えば、錫、ニッケル等の金属めっきで皮膜２４を形成する場合は、０．１μｍ以上の厚さが必要である。銀化合物の場合は０．０１μｍ以上あればよい。厚さの上限はコストの面及びトロリー線寸法精度からの制限を受けるので、いずれの場合も１００μｍ以下とすることが望ましい。
【００６１】
なお、皮膜が絶縁物であって、これがトロリー線の懸架溝にも施される場合は、懸垂金物と接触する部分において皮膜を部分的に破るか又は剥離する手段が必要である。
【００６２】
【実施例】
図１に示す断面形状を有する錫入り銅合金製トロリー線（平坦部１９を有するもの）につき、波長５２０ｎｍのアルゴンレーザを照射して以下の測定を行った。測定結果を表１に示す。
【００６３】
(1) 比較基準
上記トロリー線の何らの処理を施さない地金のままの摺接部１３（粗さ係数０．０５μｍ）からの反射強度を１００とし、これを比較基準とした。段差部１７の反射強度が１００より小さいと、段差部１７の方が反射率が低いことを意味する。
【００６４】
(2) 比較例１、２
上記トロリー線の全体に薄い錫めっき及びニッケルメッキを施した場合の該段差部１７の厚み、粗さ係数Ｒａ及び反射強度を測定した。
【００６５】
(3) 実施例１〜１４
上記トロリー線の段差部１７に種々の処理を施して、その厚み、粗さ係数Ｒａ反射強度を測定した。
【００６６】
（実施例１、２）
上記トロリー線の段差部１７にブラストショットによる粗面化処理▲１▼、▲２▼を施した。
【００６７】
（実施例３、４）
上記トロリー線の全体に錫めっき（実施例３）、ニッケルめっき（実施例４）を施した。
【００６８】
（実施例５、６）
上記トロリー線に硝酸銀処理▲１▼（実施例５）、同▲２▼（実施例６）を試みた。
【００６９】
・実施例５
上記トロリー線の表面に脱脂処理を施したのち、段差部１７に硝酸銀の０．０１Ｎ水溶液を塗布後、８０℃の熱風で乾燥。表面に銀化合物と溶出した銅イオンから構成される銅化合物の黒色の処理層が１０μｍ生成した。
【００７０】
・実施例６
同様に、硝酸銀の０．０１Ｎエチルアルコール溶液を塗布後、送風乾燥。同様の処理層が５μｍ生成した。
【００７１】
（実施例７、８、９）
上記トロリー線に化成処理▲１▼（実施例７）、同▲２▼（同８）、同▲３▼（同９）を試みた。
【００７２】
・実施例７
上記トロリー線の全体に脱脂処理を施したのち、塩素酸カリウム１０ｇ／Ｌ、過塩素酸カリウム２ｇ／Ｌを含む溶液を８０℃に加熱し、これに５分間浸漬。表面に酸化第１銅を主成分とする赤色の処理層が１μｍ形成された。
【００７３】
・実施例８
同様に、水酸化ナトリウム５ｗ％、過硫酸カリウム１ｗ％を含む溶液を沸騰させながら２分間浸漬。表面に酸化第２銅を主成分とする黒色の処理層が３μｍ形成された。
【００７４】
・実施例９
同様に、重クロム酸ナトリウム８０ｇ／Ｌ、クロム酸３０ｇ／Ｌ、臭化カリウム２５ｇ／Ｌの溶液を４０℃に加温して６０秒間浸漬。表面に酸化第１銅と酸化第２銅が混在した黒褐色の処理層が１μｍ形成された。
【００７５】
（実施例１０）
トロリー線全体に脱脂処理を施したのち、硼酸アンモニウム３ｇ／Ｌの水溶液中でトロリー線を陰極として１０Ｖの電圧を５０秒間印加する陽極酸化処理を行った。トロリー線の表面に、酸化第１銅、酸化第２銅、水和化合物より構成される処理層が５μｍ形成された。
【００７６】
（実施例１１）
トロリー線全体に脱脂処理を施したのち、硫化カリウム１０ｇ／ｌの水溶液中に２０秒間浸漬させた。トロリー線の表面に黒色の硫化第一銅、硫化第二銅、酸化第一銅、酸化第二銅、水和化合物により構成される処理層が４μｍ形成された。
【００７７】
（実施例１２）
段差部１７に黒色ビニル被覆を施した。
【００７８】
（実施例１３）
段差部１７に黒色塗料を塗布した。
【００７９】
【表１】
0003729942.tif 000002
【００８０】
【発明の効果】
以上のように、この発明のトロリー線は、摩耗限界に達する前に、一定高さの段差部の部分で摩耗幅が顕著に変化する。このため、摩耗限界付近でのレーザー式摩耗測定装置の測定精度が向上し、トロリー線の摩耗が摩耗限界位置に近づいたことを確実に検知することができる。
【００８１】
また、上記段差部を傾斜させたり、或いは該段差部と摺接部と摩耗測定光に対する反射率に差をもたせることにより、段差部からの反射光の影響を受けることなく、摺接部の摩耗幅を正確に検知することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）第１の実施の形態の断面図
（ｂ）同上の変形例の断面図
【図２】第２の実施の形態の断面図
【図３】（ａ）第３の実施の形態の断面図
（ｂ）同上の変形例の断面図
【図４】第１の実施の形態の摩耗推移図
【図５】第３の実施の形態の摩耗推移図
【図６】第４実施の形態の断面図
【図７】（ａ）〜（ｃ）第５の実施の形態の断面図
【図８】（ａ）、（ｂ）トロリー線の粗面化処理の態様を示す切欠斜視図
【図９】（ａ）〜（ｄ）トロリー線の粗面化処理の態様を示す切欠斜視図
【図１０】（ａ）、（ｂ）トロリー線の皮膜形成態様を示す切欠斜視図
【図１１】（ａ）〜（ｄ）トロリー線の皮膜形成態様を示す切欠斜視図
【図１２】従来例の断面図
【図１３】他の従来例の断面図
【図１４】（ａ）他の従来例の断面図
（ｂ）他の従来例の断面図
【符号の説明】
１０  円
１１  懸架溝
１２  小円弧部
１３  摺接部
１４  交点
１５  大円弧部
１６  段部
１７  段差
１８  側面
１９  平坦面
２０、２１、２１’  辺
２２  粗面
２３  摺接面
【図１】
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【図２】
0003729942.tif 000004
【図３】
0003729942.tif 000005
【図４】
0003729942.tif 000006
【図５】
0003729942.tif 000007
【図６】
0003729942.tif 000008
【図７】
0003729942.tif 000009
【図８】
0003729942.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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