(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
励磁用１次巻線と、検出用２次巻線と、これらの巻線が表面に巻回される高透磁率の磁芯とを有する金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサにおいて、
前記磁芯は、段階的に異なる直径を有する多段円柱形状を有するとともに、最小径部の端面が試験片に接するように構成され、
励磁用１次巻線を多段円柱形状を有する磁芯の最小径部分に巻回し、検出用２次巻線を前記磁芯の最小径部分及び直径部分が太くなる多段円柱形状の各部分にそれぞれ分けて巻回したことを特徴とする金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサ。
【請求項２】
上記段階的に異なる直径を有する多段円柱形状の磁芯を検出用磁芯と参照用磁芯の２組備え、検出用および参照用励磁用１次巻線を各磁芯の最小径部分にそれぞれ巻回し、検出用および参照用の検出用２次巻線をそれぞれ各磁芯の最小径部分及び直径部分が太くなる多段円柱形状の各部分にそれぞれ分けて巻回し、それぞれの磁芯は最大径部が参照用巻線と検出用巻線間で磁束の相互干渉を遮る遮蔽金属に接して外覆部内に配置され、検出用磁芯の最小径部の端面が試験片に接するように外覆部内に配置し、参照用磁芯の最小径部の端面に対向して調整用金属を該端面との距離を変更可能に設け、測定用金属無しのとき２次巻線の出力が０となるように前記調整用金属と前記参照用磁芯の端面との距離を調整することを特徴とする請求項１に記載の金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサ。
【請求項３】
磁芯が、パーマロイで構成されることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサ。
【請求項４】
請求項２に記載の金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサと、該金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサの励磁用１次巻線に所定の周波数の励磁電圧を印加する発振器と、前記金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサの検出用２次巻線の出力と前記発振器の励磁電圧を乗算する乗算器と、該乗算器の出力の直流成分を取り出すローパスフィルタと、該ローパスフィルタの出力を表示する表示部とからなる金属疲労・劣化識別装置において、
測定周波数ｆ０を横軸に、前記乗算器出力および検出用２次巻線出力を縦軸にとったときの基準試験片で測定した乗算値のピーク値を示すときの測定周波数ｆｏと、検出用２次巻線の出力電圧が飽和前の直線的に右肩上がりで増加する領域においてピーク値を示す測定周波数ｆｏが略一致するよう、検出用磁芯のそれぞれの磁芯部分に検出用２次巻線を分けて巻回し、この巻線を縦続接続して電気的にトランスフォーマ機能を持たせて検出用２巻線のインダクタンス値を選定し、
測定金属が無いとき、検出用２次巻線の差動出力電圧が零と正しくバランス状態となるようコイルの磁芯の小径部端面と調整用金属の距離を調整する
ことを特徴とする金属の疲労・劣化の進行度合いを検出する金属疲労・劣化識別装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁性体または非磁性体を問わず、あらゆる金属の疲労・劣化の進行度合を識別する金属疲労・劣化識別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
渦流式磁気センサを用いて、金属の疲労・劣化の進行度合を定量的に検出しようとする試みは数多く報告されている。
【０００３】
その一般的な装置構成の一例を、図１を用いて説明する。金属疲労・劣化識別装置は、渦流式磁気センサ１と、発振部２と、乗算器３と、ローパスフィルタ４と、デジタル表示器５とを有して構成され、試験片６を渦流式磁気センサ１の磁芯１３に接触させ、励磁用１次巻線１１に所定の周波数の励磁電圧を印加し、試験片６に渦電流を誘起してこの渦電流を検出用２次巻線１２で検出して、金属の疲労や劣化を検出している。
【０００４】
すなわち、金属の疲労や劣化を検出する基本的な手法は、金属の試験片６が未疲労状態から疲労状態に序々に移行する各段階において、渦流式磁気センサ１から試験片６に磁束を放射し、その結果発生する渦電流の変化による情報を検出し記録して行われる。この変化の推移は、金属の疲労や劣化に伴う、金属の透磁率や導電率の変化が原因と見なしている。このように検出情報の変化推移を金属の疲労や劣化の進行度合として識別することに利用している。
【０００５】
金属の疲労や劣化の進行度合を知るために、渦流式磁気センサを用いて現場で測定を実施すると、下記のようにいろいろな問題点が出てくる。
【０００６】
１）試験片による形状効果・端末効果が大きい。すなわち、未疲労試験片（基準試験片）６に渦流式磁気センサ１から渦電流を発生させ、検出される信号出力を見ると、試験片の形状や磁芯端面迄の距離により、異なった信号出力が表示され、所謂形状効果・端末効果が大きく、無視することができなくなる。
【０００７】
２）金属の疲労や劣化の進行度合による透磁率や導電率の変化を電気信号として検出しても、検出信号のレベル変化は非常に小さく、測定誤差の範囲から抜け出せない場合もある。
【０００８】
以上の様に金属の疲労や劣化の進行度合を定量的に検出しようとする場合、金属疲労や劣化の要因による検出レベルの変化よりも、形状効果や端末効果による検出レベルの変化が大きいことから、検出データの再現性を欠き、信頼性を著しく損なう場合がある。
【０００９】
したがって、従来の亀裂発生箇所で、インピーダンスが急激に変化することを利用した渦流式磁気センサの仕組を、そのまま金属の疲労や劣化の検出に利用することは無理がある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題を解決するもので、金属疲労や劣化を、試験片の形状効果や端末効果の影響を受けることなく検出することができる渦流式磁気センサを提供することを目的とする。
【００１１】
さらに、本発明は、試験片の形状効果や端末効果の影響を受けずに金属疲労や劣化の変化を大きく検出することができる金属疲労・劣化識別装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、これらの課題を解決するために、磁気センサの基本的動作を調べ、コイルの設計方法の見直しを行った。
【００１３】
すなわち、上記課題を解決するために、本発明は、励磁用１次巻線と、検出用２次巻線と、これらの巻線が表面に巻回される高透磁率の磁芯とを有する金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサにおいて、前記磁芯は、段階的に異なる直径を有する多段円柱形状を有するとともに、最小径部の端面が試験片に接するように構成され、励磁用１次巻線を多段円柱形状を有する磁芯の最小径部分に巻回し、検出用２次巻線を前記磁芯の最小径部分及び直径部分が太くなる多段円柱形状の各部分にそれぞれ分けて巻回したことを特徴とする。
【００１４】
さらに本発明は、上記段階的に異なる直径を有する多段円柱形状の磁芯を検出用磁芯と参照用磁芯の２組備え、検出用および参照用励磁用１次巻線を各磁芯の最小径部分にそれぞれ巻回し、検出用および参照用の検出用２次巻線をそれぞれ各磁芯の最小径部分及び直径部分が太くなる多段円柱形状の各部分にそれぞれ分けて巻回し、それぞれの磁芯は最大径部が参照用巻線と検出用巻線間で磁束の相互干渉を遮る遮蔽金属に接して外覆部内に配置され、検出用磁芯の最小径部の端面が試験片に接するように外覆部内に配置し、上参照用磁芯の最小径部の端面に対向して調整用金属を該端面との距離を変更可能に設け、測定用金属無しのとき２次巻線の出力が０となるように前記調整用金属と前記参照用磁芯の端面との距離を調整するようにした。また、本発明は、上記磁芯を、パーマロイで構成した。
【００１５】
上記課題を解決するために、本発明は、上記金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサと、該金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサの励磁用１次巻線に所定の周波数の励磁電圧を印加する発振器と、前記金属疲労・劣化識別用渦流式磁気センサの検出用２次巻線の出力と前記発振器の励磁電圧を乗算する乗算器と、該乗算器の出力の直流成分を取り出すローパスフィルタと、該ローパスフィルタの出力を表示する表示部とからなる金属疲労・劣化識別装置において、測定周波数ｆ０を横軸に、前記乗算器出力および検出用２次巻線出力を縦軸にとったときの基準試験片で測定した乗算値のピーク値を示すときの測定周波数ｆｏと、検出用２次巻線の出力電圧が飽和前の直線的に右肩上がりで増加する領域においてピーク値を示す測定周波数ｆｏが略一致するよう、検出用磁芯のそれぞれの磁芯部分に検出用２次巻線を分けて巻回し、この巻線を縦続接続して電気的にトランスフォーマ機能を持たせて検出用２巻線のインダクタンス値を選定し、測定金属が無いとき、検出用２次巻線の差動出力電圧が零と正しくバランス状態となるようコイルの磁芯の最小径部端面と調整用金属の距離を調整することにより、金属の疲労や劣化の進行度合いを検出して金属疲労や劣化を識別する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明にかかる渦流式磁気センサを用いた金属疲労・劣化識別装置の基本的な実施の形態について図面に基づいて説明する。図１は金属疲労・劣化識別装置の装置構成図、図２〜図6はセンサの電気的特性および等価回路を説明する図、図７は磁芯の形状を説明する図、図８はアンバランス対策を施したセンサ内部の構造を説明する図、図９はセンサ入力周波数対乗算値特性、出力電圧特性、位相特性の関係を説明する図である。
【００１７】
図１に示すように、本発明にかかる渦流式磁気センサ１を用いた金属疲労・劣化識別装置は、渦流式磁気センサ１と、発振器２と、乗算器３と、ローパスフィルタ４と、デジタル表示器５とを有して構成され、試験片６をセンサの磁芯１３に接触させて、金属疲労・劣化を検出している。本発明にかかる渦流式磁気センサを用いた金属疲労・劣化識別装置の基本的な構成は、図１に示す様に一般に用いられている金属疲労・劣化識別装置の回路方式と同様である。
【００１８】
発振器２の信号出力を渦流式磁気センサ１の励磁用１次巻線１１に入力し、磁芯１３を測定金属(試験片)６に密着させることによって測定金属６に渦電流を発生させる。この渦電流により磁芯１３に巻回された検出用２次巻線１２に誘起された電圧(出力信号)Ｖsigを乗算器３に入力する。
【００１９】
一方、乗算器３には、発振器２から電圧振幅および位相が一定の基準信号Ｖrefが供給される。出力信号Ｖsigおよび基準信号Ｖrefの信号周波数は同一であるので、センサ回路の同調周波数が測定周波数に近い場合は、出力信号Ｖsigおよび基準信号Ｖrefの位相差は小さくなり、乗算器３の出力信号は最大値となる。この出力信号をローパスフィルタ４により直流成分のみ取出し、デジタル表示器５に乗算値として定量的に表示させる。
【００２０】
金属の導電率の微小な変化を、最も大きな電気信号として検出する方法を以下に説明する。渦流式磁気センサにおいて、センサ１次側励磁入力周波数（以後、入力周波数ｆと記す）対センサ２次側出力電圧振幅（以後、出力電圧Ｖｏと記す）特性の一般的な傾向を、図２、図３に示す。
【００２１】
図２に示すように、入力周波数ｆ対出力電圧Ｖｏ特性は、低周波のゼロの領域から入力周波数ｆが増大するにつれて略直線的に出力電圧Ｖｏが増大し、やがて飽和領域に入り出力電圧Ｖｏは一定値となる。測定箇所を面積の大、小で比較すると、曲線Ｉ（測定個所の面積大）と曲線ＩＩ（測定個所の面積小）に示すように、入力周波数ｆが高くなり、出力電圧Ｖｏが増大するに従って両者Ｉ、ＩＩの出力電圧Ｖｏの差も大きくなり、形状効果が顕著に出て来る。
【００２２】
金属の疲労が進行し、導電率が低下して来ると、曲線Ｉ、曲線ＩＩは、それぞれ曲線Ｉ´、曲線ＩＩ´と下に傾き出力電圧Ｖｏが低下して来る。曲線の立上がり傾斜が急激である程、変化を大きく検出することが可能となる。
【００２３】
図３を用いて、磁芯１３の透磁率μをパラメータとした、入力周波数ｆ対出力電圧Ｖｏ特性の傾向を説明する。渦流式磁気センサ１の巻線を巻回する磁芯１３は、高透磁率の部材を使用しているが、透磁率μの値を、例えばμ＝１，０００からμ＝１００，０００に変更すると、立ち上がり傾斜を急傾斜にすることができる。
【００２４】
図２および図３から言えることは、金属の疲労や劣化の進行度合により導電率の微小な変化を電気信号として大きく検出するには、磁芯１３としてμの高い部材を採用することによって、出力電圧を高くさせ、且つ形状効果の影響が少ない領域の周波数帯が測定周波数となるよう設計することである。
【００２５】
金属の透磁率の微小な変化を、最も大きな電気信号として検出する方法を以下に述べる。
【００２６】
図４を用いて、入力周波数ｆ対出力電圧Ｖｏの位相特性（以後、出力位相φと記す）の一般的な傾向を説明する。出力位相φは、実線ＩＩＩで示すように入力周波数ｆの増加につれて直線的に変化するが、ある周波数以上になると直線性が劣化する。この直線性を破線ＩＩＩ´で示すように所定の周波数まで維持させるには、渦流式磁気センサ１の検出用２次巻線１２のインダクタンスＬ２を増加させることが必要となる。
【００２７】
図５を用いて、渦流式磁気センサ１の検出用２次巻線１２の等価回路を簡単に示す。Ｌ２は検出用２次巻線１２のインダクタンス、Ｃ２は浮遊容量、ΔＬ２はセンサの磁芯１３を測定金属に密着させた時のインダクタンスの変化分を示す。測定金属が無い時はΔＬ２＝０とする。
【００２８】
図６を用いて、センサ１における検出用２次巻線１２のリアクタンス成分の周波数特性を示す。低い周波数領域では、リアクタンス成分は、図４の曲線ＩＩＩに示すように１／ｊωＣ２成分によって律せられ、周波数が増大するにつれて曲線ＩＶに示すｊωＬ２成分によって律せられる。
【００２９】
図４、図５、図６から以下のことが言える。図４の位相特性は入力周波数ｆの低い領域で変化が大きい。これは浮遊容量Ｃ２の１／ｊωC２成分が低い周波数で影響している為である。検出用２次巻線１２のリアクタンスＬ２のｊωＬ２成分は図６の曲線▲４▼に見られるように、周波数が比較的高い領域で変化が出て来る。
【００３０】
測定周波数帯域にて位相の変化を大きくするには、渦流式磁気センサ１の２次側回路を測定周波数帯に対して同調特性に近づける様にすれば良い。つまり図５に示す検出用２次巻線１２のインダクタンスＬ２を増し、図６に示すように２次側インダクタンスＬ２の特性を曲線ＩＶから曲線ＩＶ´に移行させ、浮遊容量Ｃ２によって形成される１／ｊωＣ２成分を打ち消すことにより、図４の曲線ＩＩＩは曲線ＩＩＩ´の特性となる。
【００３１】
つまり、透磁率の変化成分を最大に検出する方法として、センサ１の検出用２次コイル１２のインダクタンスＬ２を増し、測定周波数に対して同調特性を形成することにより、位相変化を大きく検出することが可能となる。ただし、これは、２次側回路を集中定数素子のみとして考えた場合は正しいが、ここでは図５における（Ｌ２＋ΔＬ２）のインダクタンスの中、変化する成分はΔＬ２のみである。したがってＬ２≫ΔＬ２ならば疲労や劣化の進行によりΔＬ２が多少変化しても全体としては位相の変化は乏しいものとなる。
【００３２】
その対策として、本発明では検出用２次巻線１２の磁芯１３の直径寸法（太さ）を変えて段差を設け、それぞれの磁芯部分に検出用２次巻線１２を複数個に分割して巻回し、この巻線を縦続接続して電気的にはトランスフオーマ機能を持たせることで、検出用２次巻線の巻線数を増加させないで、実効インダクタンスを増大させる手法を試みた。
【００３３】
図７を用いて、本発明に使用する渦流式磁気センサ１のコイル磁芯１３と励磁用１次巻線１１と検出用２次巻線１２からなるコイルの形状の一例を説明する。コイル磁芯１３は、直径がＤ１の部分１３−１と、Ｄ２の部分１３−２と、Ｄ３の部分１３−３とに階段状に変化する形状に構成される。励磁用１次巻線１１は、直径がＤ１の部分１３−１の表面に巻回される。検出用２次巻線１２は、直径がＤ１の部分１３−１の表面に巻回された第１の二次巻線１２−１と、直径がＤ２の部分１３−２の表面に巻回された第２の二次巻線１２−２と、直径がＤ３の部分１３−３の表面に巻回された第３の二次巻線１２−３とに分けて構成され、これらを縦続接続した状態で２次側の合計インダクタンスＬ２が所要の値になる様に各巻線の巻線数を決める。
【００３４】
図７の例では、磁芯１３を３段に構成した場合を示しているが、磁芯１３の段数は、２段でも４段でも良い。段数を増せば検出される位相の変化は大きいが、形状効果も表面化するので妥協点がある。
【００３５】
さらに、磁芯の直径の比Ｄ２／Ｄ１、Ｄ３／Ｄ２、Ｄ４／Ｄ３、を最適値にするなど、磁性体または非磁性体など測定対象の金属の種類に適応できるよう、最適の設計を行った。
【００３６】
以上のように、測定対象の金属の種類により、コイルの部材、形状および最適測定周波数を特定化することにより良い方向性を見出すことができた。しかしこの領域に来ると、検出用２次巻線１２の差動トランス機能の僅かなアンバランスが、問題点として浮上してくる。
【００３７】
本発明にかかる渦流式磁気センサ１内部の構造は、図７に示したコイルを２個、図８に示すように対称に配置して構成される。重要なことは測定金属の種類によって正しく測定周波数を選定することである。
【００３８】
図８を用いて、このようなアンバランスに対処した、センサ内部のコイル配置の一例を説明する。
【００３９】
この例では、コイルを２分割し、２つのコイル間で磁束の相互干渉を避ける為、シールド効果を持たせる金属遮蔽物１５を配置した。試験片無しの時、出力電圧Ｖｏが入力周波数ｆに対して略ゼロとなる様に磁芯の試験片との接触側と反対側に調整用金属１６を配置した点に特徴を有している。
【００４０】
すなわち、渦流式磁気センサ１は、励磁用１次巻線１１と検出用２次巻線１２で構成される。一般に２次側を差動トランス機能としているため、検出用２次巻線１２は２分割されて使用するが、製造上のバラツキにより、測定金属なしのとき２次側出力電圧（出力電圧Ｖｏ）を零（完全にバランス状態）にすることは難しい。しかも本発明の位相変化を感度良く検出する方式においては、この僅かなアンバランス出力電圧の大小が、位相φ成分の形状効果として無視できなくなる。
【００４１】
本発明の渦流式磁気センサ１においては、図８に示す調整用金属１６を回転させることにより、磁芯１３と調整用金属１６の距離Ｌを変化させ、上記アンバランスを是正している。形状効果を最小とするため、外部から調整可能な機構を施した。
【００４２】
本発明にかかる渦流式磁気センサを用いた金属疲労・劣化識別装置は、渦流式磁気センサの動作特性および構造に大きな特徴があるのでその点について詳しく説明する。
【００４３】
図９にセンサ入力周波数ｆ対乗算値特性、出力電圧Ｖｏ特性、位相特性の関係を示す。この場合、入力周波数ｆを、図９(Ｃ)に示すように乗算値がピーク値を示す１．５ｋHｚに固定することである。図９（Ａ）の入力周波数ｆ−出力位相φの特性図に示すように、測定個所の面積が小さく形状効果が生じる場合は、曲線ａの位相特性を示す。測定個所の面積が大きい場合には、曲線ｃの位相特性を示す。したがって、センサ出力位相特性φが曲線ａであるときには、調整用金属１６を回転して距離Ｌを変化させて、曲線ａを曲線ｂに移行させる。形状効果が最も少なく、乗算値がピーク値を示すＶ−Ｗ−Ｘ点が直線で交わる点を発明者らはゴールデン・クロスポイントと称し、その周波数のみを測定周波数としている。
【００４４】
図９(Ｃ)の乗算値特性の示す試験片が未疲労状態ｄから、疲労・劣化が進行すると、ｅカーブに移行し、乗算値のピーク点は低い周波数方向にズレ（位相の変化）、乗算値のピーク値自体も低下する（出力電圧の変化）。乗算値のピーク点ｘからｙ点に変り、乗算値の低下が表示される。
【００４５】
測定対象金属を最初、未疲労試験片（基準試験片）で測定し、乗算値が例えば２００と表示したならば、次は疲労試験片で測定し、例えば１６０と表示したならば、乗算値は２０％低下した事を意味する。この低下の度合をデータとして蓄積し、金属の疲労・劣化の進行度合の識別に利用する。
【００４６】
【発明の効果】
本発明にかかる渦流式磁気センサを用いた金属疲労・劣化識別装置は、従来非常に困難視されていた、非磁性体金属においても疲労や劣化の進行度合を手軽に検出可能とした。亀裂発生懸念箇所の早期発見、さらに破壊までの測定データ推移を蓄積することにより、余寿命推定の確実さも増し、設備の耐用年数の延伸など経済的メリットは大きなものがある。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明にかかる渦流式磁気センサを用いた金属疲労・劣化識別装置の構成を説明する構成図。
【図２】  センサ入力周波数対センサ出力電圧振幅特性図。
【図３】  センサ入力周波数対センサ出力電圧振幅特性図。
【図４】  センサ入力周波数対センサ出力電圧の位相特性図。
【図５】  検出用２次コイルの等価回路。
【図６】  検出用２次コイルのリアクタンス成分の一般的な傾向を説明する図。
【図７】  本発明にかかる渦流式磁気センサの磁芯の形状を模式的に説明する図。
【図８】  本発明にかかる渦流式磁気センサ内部のコイル配置の一例を説明する図。
【図９】  入力周波数対乗算値特性、出力電圧特性、位相特性の一般的な傾向を説明する図。
【符号の説明】
１  渦流式磁気センサ
１１  励磁用１次巻線
１２  検出用２次巻線
１３  磁芯
１４  外覆部
１５  遮蔽金属
１６  調整用金属
２  発振器
３  乗算器
４  ローパスフィルタ
５  デジタルディスプレイ
６  試験片(金属片)
【図１】
0003675780.tif 000002
【図２】
0003675780.tif 000003
【図３】
0003675780.tif 000004
【図４】
0003675780.tif 000005
【図５】
0003675780.tif 000006
【図６】
0003675780.tif 000007
【図７】
0003675780.tif 000008
【図８】
0003675780.tif 000009
【図９】
0003675780.tif 000010