(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＤＭＡ（欠陥管理領域）情報を持つ光ディスクを記録及び再生する記録及び再生装置にて前記ＤＭＡ情報が正しく生成あるいは更新されているか否かを確認する方法において、
前記ＤＭＡ情報を確認するための複数のＤＭＡ情報確認テストモードのうち一つを選択し、前記選択された確認テストモードによるテスト基準を設定する段階と、
前記選択された確認テストモードにより前記記録及び再生装置が生成あるいは更新したＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記選択された確認テストモードでのテスト基準を利用して前記テスト情報を確認するテストモードを実行する段階とを含む方法。
【請求項２】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記テスト情報はテストに使われたディスクのＤＭＡ領域から直接読み出されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記実行されたテストの結果をディスプレーする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記ＤＭＡ情報を確認するための複数の確認テストモードは、光ディスクの欠陥の検証を行う初期化モードあるいは欠陥の検証を行わない初期化モードによるＤＭＡ情報の生成をテストするための第１確認テストモード、光ディスクの検証を行う再初期化モード、リスト変換を持つ再初期化モード、あるいは欠陥リストをクリアリングする再初期化モードによるＤＭＡ情報の生成あるいは更新をテストするための第２確認テストモード、光ディスクのＳＳＡ（追加余裕空間）が拡張できるか否かを確認する第３確認テストモード、及び誤ったＤＭＡ情報による光ディスクの記録が行えるか否かを確認する第４確認テストモードを持つことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記テスト情報を生成する段階は、第２確認モードの選択された確認テストモードについて既決内容のＤＭＡを記録してＳＳＡが一杯でない第１ミラーファイルを選択する段階、第３確認モードの選択された確認テストモードについて既決内容のＤＭＡを記録してＳＳＡが一杯になった第２ミラーファイルを選択する段階、及び第４確認モードの選択された確認テストモードについて、前記既決内容のＤＭＡのうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された第３ミラーファイルを選択する段階を含むことを特徴とする請求項５に記載の方法。
【請求項７】
ブランクディスク上の所定位置に物理的欠陥を形成することにより第１テストディスクを確保し、前記第１確認テストモードにて前記テスト情報を生成するのにおいて前記第１テストディスクを使用する段階をさらに含むことを特徴とする請求項５に記載の方法。
【請求項８】
前記テストの実行段階は、第１確認テストモードにて検証を行わない初期化を行う段階、前記第１テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、及び前記第１テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記テストの実行段階は、第１確認テストモードにて検証を行う初期化を行う段階、前記第１テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、前記第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥のリストをチェックする段階、及び各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡを記録することにより第２テストディスクを確保し、前記ＳＳＡが一杯にならなかったことを示す第１ミラーファイルを前記第１テストディスクに記録し、前記第２確認テストモードにて前記テスト情報を生成するのにおいて前記第２テストディスクを使用する段階をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
前記テストの実行段階は、第２確認テストモードにて検証を行う再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、Ｐ−リストが維持されているか否かをチェックする段階、第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥と同じ欠陥リストをチェックする段階、及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記テストの実行段階は、第２確認テストモードにてリスト変換を持つ再初期化を行って前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、Ｐ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックする段階、リスト変換のためのＰＤＬ（１次欠陥リスト）及びＳＤＬ（２次欠陥リスト）をチェックする段階、及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
前記テスト情報の生成段階は、第２確認テストモードにてリスト変換中のオーバフロー状態をテストするために充分なＳＤＬ項目を準備する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記テストの実行段階は、第２確認テストモードにてクリアリングを行う再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が既決ＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、Ｐ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックする段階、Ｇ２−リスト及びＳＤＬがクリアされたか否かをチェックする段階、及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡを記録することにより第３テストディスクを確保し、前記ＳＳＡを満たすために充分なＳＤＬを持つ第２ミラーファイルを記録し、前記第３確認テストモードにて前記テスト情報を生成するのにおいて前記第３テストディスクを使用する段階をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項１６】
前記テストの実行段階は前記選択された確認テストモードが第３確認テストモードである時に、前記第３テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記テストの実行段階は前記第３テストディスクのＤＭＡ情報がファイルシステムによっているか否かをチェックする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記第４確認テストモードにて前記第１テストディスク上に既決ＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された第３ミラーファイルを記録することにより第４テストディスクを確保する段階をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項１９】
前記テストの実行段階は、前記第４確認テストモードにて前記第４テストディスク上の誤った開始論理セクタ番号が分類されているか否かをチェックする段階、前記第４テストディスクに使用者データが記録されないかをチェックする段階、及び前もって記録されたＤＭＡ情報に基づいてデータが読み出されるか否かをチェックする段階を含むことを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
ＤＭＡ情報を持った光ディスク上に／から情報を記録したり再生する記録及び再生装置にＤＭＡ情報が適切に生成されたりあるいは更新されているか否かを確認する方法において、
所定のＤＭＡ確認テストモードにより、前記記録及び再生装置により生成されたりあるいは更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記ＤＭＡ情報を確認するためのテスト基準を使用して前記テスト情報を確認する段階を含むことを特徴とする方法。
【請求項２１】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記テスト情報の生成段階は前記テスト情報を生成するために使われたディスク上のＤＭＡから前記テスト情報を直接読み出す段階を含むことを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２３】
前記確認の結果をディスプレーする段階をさらに含むことを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２４】
前記所定のＤＭＡ確認テストモードは欠陥の検証を行う初期化モードあるいは欠陥の検証を行わない初期化モードによるＤＭＡ情報の生成をテストするための第１確認テストモード、検証を行う再初期化モード、リスト変換を持つ再初期化モード、あるいは欠陥リストをクリアリングする再初期化モードによるＤＭＡ情報の生成あるいは更新をテストするための第２確認テストモード、ＳＳＡが拡張できるか否かを確認する第３確認テストモード、あるいは誤ったＤＭＡ情報に基いて記録されているかを確認する第４確認テストモードのうち一つであることを特徴とした請求項２０に記載の方法。
【請求項２５】
ＤＭＡ情報が適切に生成あるいは更新されたか否かを確認するためにＤＭＡ情報をもった記録可能及び再生可能な光ディスクに／から情報を記録したり再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、
記録及び再生装置が前記ＤＭＡ情報を確認するための複数のＤＭＡ情報確認テストモードのうち選択されたモードに相応するＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクを処理した後に得られる前記生成されたり更新されたテストディスクのＤＭＡ情報からテスト情報を生成する変形ドライブ装置と、
前記テスト情報と選択されたモードの所定のテスト情報を比較してテスト結果を確認する確認器を含むテスト装置。
【請求項２６】
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２７】
前記変形ドライブ装置は前記テスト情報を前記テストディスクのＤＭＡ領域から読み出し、前記確認器に提供することを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２８】
ＤＭＡ情報を確認するための前記複数のテストモードは、欠陥の検証を行う初期化モードあるいは欠陥の検証を行わない初期化モードによるＤＭＡ情報の生成をテストするための第１確認テストモード、検証を行う再初期化モード、リスト変換を持つ再初期化モード、あるいは欠陥リストをクリアリングする再初期化モードによるＤＭＡ情報の生成あるいは更新をテストするための第２確認テストモード、ＳＳＡの拡張を確認するための第３確認テストモード、及び誤ったＤＭＡ情報により記録されたかを確認するための第４確認テストモードであることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
【請求項２９】
前記第１確認テストモードにて前記テストディスクはブランクディスク上の所定位置に物理的欠陥が形成された第１テストディスクであることを特徴とする請求項２８に記載の装置。
【請求項３０】
前記確認器は検証を行わない初期化が行われる第１確認テストモードの選択された確認テストモードに応じ、前記第１テストディスク上に生成された前記ＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、前記第１テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【請求項３１】
前記確認器は検証を行う初期化が行われる第１確認テストモードの選択された確認テストモードに応じ、前記第１テストディスクの前記ＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、前記所定位置に形成された欠陥のリスト及び前記第１テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【請求項３２】
前記第２確認テストモードにて前記テストディスクは既決内容のＤＭＡが前記第１テストディスクに記録され、前記ＳＳＡが一杯でない第１ミラーファイルが記録される第２テストディスクであることを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【請求項３３】
前記確認器は検証を行う再初期化が行われる第２確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じ、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否か、及びＰ−リストが維持されているか否かをチェックし、第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥と同じ欠陥リスト及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３４】
前記確認器は検証を行う再初期化が行われる第２確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じ、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否か、及びＰ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックし、リスト変換のためのＰＤＬとＳＤＬ及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３５】
前記第２テストディスクは前記リスト変換中のオーバフロー状態をテストするために充分なＳＤＬ項目を持つことを特徴とする請求項３４に記載の装置。
【請求項３６】
前記確認器はクリアリングが行われる第２確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じ、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否か、及びＰ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックし、Ｇ２−リスト及びＳＤＬがクリアされているか否かをチェックし、前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項３２に記載の装置。
【請求項３７】
前記第３確認テストモードにて、前記テストディスクは前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡが記録され、ＳＳＡを満たすのに充分なＳＤＬ欠陥を持つ第２ミラーファイルが記録された第３テストディスクであることを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【請求項３８】
前記確認器は前記第３確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じ、前記第３テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックすることを特徴とする請求項３７に記載の装置。
【請求項３９】
前記第３テストディスクはファイルシステム情報をさらに持ち、前記装置は前記第３確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じて前記第３ディスク上の前記ファイルシステム情報が所定のファイルシステムによっているか否かをチェックするファイルシステム確認器をさらに含むことを特徴とする請求項３８に記載の装置。
【請求項４０】
前記第４確認テストモードにて、前記テストディスクは既決内容のＤＭＡのうち各地域の開始セクタ番号が故意に誤記録された第３ミラーファイルが前記第１テストディスクに記録された第４テストディスクであることを特徴とする請求項２９に記載の装置。
【請求項４１】
前記第４確認テストモードの前記選択された確認テストモードに応じ、前記変形ドライブ装置は前記第４テストディスクのＤＭＡ情報をミラーファイルとして読まず、前記確認器は前記第４テストディスク上の誤った開始論理セクタ番号が分類されているか否かをチェックし、前記第４テストディスクに使用者データが記録されないかをチェックし、記録されたＤＭＡ情報に基づいてデータが読み出されるか否かをチェックすることを特徴とする請求項４０に記載の装置。
【請求項４２】
記録及び再生装置がＤＭＡ情報を適切に読み出して処理しているか否かを確認する方法において、
テストディスク上の実際の欠陥及びテスト情報を生成する記録及び再生装置と何らの関連も持たない既決欠陥情報を含むテストディスクを使用する段階と、
前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の確認を行う段階とを含み、
前記テストディスクを使用する段階は、
ブランクディスクの所定位置に物理的欠陥を生成する段階と、
前記記録及び再生装置が前記テストディスクを処理するようにし、ＤＭＡ情報を持ったディスクを生成する段階と、
基準ドライブを使用して前記ＤＭＡ情報を持ったディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報としてＤＭＡミラーファイルを生成する段階とを含み、
前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする確認方法。
【請求項４３】
テスト情報を生成する段階及び前記基準テスト情報とテスト情報とを比較する段階は、前記ＤＭＡ情報の生成をテストするための確認テストモードによることを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項４４】
前記テスト情報を生成する段階及び前記テスト情報を比較する段階は複数のテストモードのうち一つにより、前記複数のテストモードは欠陥の検証を行う初期化あるいは欠陥の検証を行わない初期化によるＤＭＡ情報の生成をテストするための第１確認テストモード、前記テストディスクの検証を行う再初期化、リスト変換を持つ再初期化あるいは前記光ディスクの欠陥リストをクリアリングする再初期化によるＤＭＡ情報の生成あるいは更新をテストするための第２確認テストモード、前記テストディスクのＳＳＡの拡張を確認するための第３確認テストモード、及び誤ったＤＭＡ情報に基いて行われた前記テストディスク上の記録を確認するための第４確認テストモードであることを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項４５】
前記テスト情報を生成する段階は、第２確認モードの確認テストモードについて既決内容のＤＭＡを記録してＳＳＡが一杯でない第１ミラーファイルを選択する段階、第３確認モードの確認テストモードについて既決内容のＤＭＡを記録してＳＳＡが一杯になった第２ミラーファイルを選択する段階と、
第４確認モードの確認テストモードについて、前記既決内容のＤＭＡのうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された第３ミラーファイルを選択する段階とを含むことを特徴とする請求項４４に記載の方法。
【請求項４６】
第１確認テストモードにて、前記テストディスクを使用する段階は、
ブランクディスクの所定位置に物理的欠陥を生成し、第１テストディスクとしてのテストディスクを生成する段階と、
前記記録及び再生装置が前記第１テストディスクを処理するようにし、ＤＭＡ情報を持った第１テストディスクを生成する段階と、
基準ドライブを使用して前記ＤＭＡ情報を持った第１テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として第１テストＤＭＡミラーファイルを生成する段階とを含み、
前記基準テスト情報は第１基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４４に記載の方法。
【請求項４７】
前記比較段階は、第１確認テストモードにて欠陥の検証を行わない初期化を行う段階、前記第１テストディスクのＤＭＡ情報が既決ＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階と、
前記第１テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】
前記比較段階は、第１確認テストモードにて検証を行う初期化を行う段階、前記第１テストディスクのＤＭＡ情報が既決ＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階と、
前記第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥のリストをチェックする段階、及び各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項４６に記載の方法。
【請求項４９】
第２確認テストモードにて、前記テストディスクを使用する段階は、
前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡを記録することにより第２テストディスクを確保し、ＳＳＡが前記第１テストディスクに一杯にならなかったことを示す第２ミラーファイルを記録する段階と、
前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクを処理するようにし、ＤＭＡ情報を持った第２テストディスクを生成する段階と、
基準ドライブを使用して前記ＤＭＡ情報を持った第２テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として第２テストＤＭＡミラーファイルを生成する段階とを含み、
前記基準テスト情報は第２基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４６に記載の方法。
【請求項５０】
前記比較段階は、第２確認テストモードにて検証を行う再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階と、
Ｐ−リストが維持されているか否かをチェックする段階、第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥と同じ欠陥リストをチェックする段階、及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項５１】
前記比較段階は第２確認テストモードにて、リスト変換を持つ再初期化を行って前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階と、
Ｐ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックする段階と、
リスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬをチェックする段階と、
前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項５２】
前記テスト情報を生成する段階は第２確認テストモードにて、リスト変換中のオーバフロー状態をテストするために充分なＳＤＬ項目を準備する段階をさらに含むことを特徴とする請求項５１に記載の方法。
【請求項５３】
前記比較段階は、第２確認テストモードにてクリアリングを持つ再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が既決ＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階、Ｐ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックする段階、Ｇ２−リスト及びＳＤＬがクリアされたか否かをチェックする段階、及び前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項５４】
第３確認テストモードにて、前記テストディスクを使用する段階は、
前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡを記録することにより第３テストディスクを確保し、前記ＳＳＡを満たす充分なＳＤＬ欠陥を持つ第３ミラーファイルを記録する段階と、
前記記録及び再生装置が前記第３テストディスクを処理するようにし、ＤＭＡ情報を持った第３テストディスクを生成する段階と、
基準ドライブを使用して前記ＤＭＡ情報を持った第３テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として第３テストＤＭＡミラーファイルを生成する段階とを含み、
前記基準テスト情報は第３基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４６に記載の方法。
【請求項５５】
前記比較段階は前記一つの確認テストモードが第３確認テストモードである時に、前記第３テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックする段階を含むことを特徴とする請求項５４に記載の方法。
【請求項５６】
前記比較段階は前記第３テストディスクのＤＭＡ情報がファイルシステムによっているか否かをチェックする段階をさらに含むことを特徴とする請求項５５に記載の方法。
【請求項５７】
第４確認テストモードにて、前記テストディスクを使用する段階は、
前記第１テストディスクに既決ＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された第４ミラーファイルを記録することにより第４テストディスクを確保する段階と、
前記記録及び再生装置が前記第４テストディスクを処理するようにし、ＤＭＡ情報を持った第４テストディスクを生成する段階、
基準ドライブを使用して前記ＤＭＡ情報を持った第４テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として第４テストＤＭＡミラーファイルを生成する段階とを含み、
前記基準テスト情報は第４基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４６に記載の方法。
【請求項５８】
前記比較段階は、前記第４確認テストモードにて、前記第４テストディスク上の誤った開始論理セクタ番号が分類されているか否かをチェックする段階、前記第４テストディスクに使用者データが記録されないかをチェックする段階、及び前もって記録されたＤＭＡ情報に基づいてデータが読み出されるか否かをチェックする段階とを含むことを特徴とする請求項５７に記載の方法。
【請求項５９】
前記テストディスクに追加的な欠陥データを付加して第２テストディスクを形成する段階と、
前記第２テストディスク及び記録及び再生装置を使用して第２テスト情報を生成する段階と、
前記第２テスト情報を第２基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の第２確認を行う段階とをさらに含むことを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項６０】
前記付加段階は基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２ディスクを形成する段階を含み、
前記第２テスト情報を比較する段階は前記第２テスト情報を前記基準ＤＭＡミラーファイルと比較する段階を含むことを特徴とする請求項５９に記載の方法。
【請求項６１】
第２基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２テストディスクを形成する段階と、
前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクを処理するようにし、追加的なＤＭＡ情報を持った他のテストディスクを生成する段階と、
前記他のテストディスクから前記追加的なＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として他のＤＭＡミラーファイルを生成する段階と、
第２基準ＤＭＡミラーファイルを第２基準テストＤＭＡミラーファイルと比較して前記記録及び再生装置の第２確認を行う段階とをさらに含むことを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項６２】
前記付加段階は基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２ディスクを形成する段階を含み、
前記第２テスト情報を比較する段階は前記第２テスト情報を前記基準ＤＭＡミラーファイルと比較する段階を含むことを特徴とする請求項５９に記載の方法。
【請求項６３】
前記再初期化前に、準備されたＳＤＬ項目数は、ｍは旧ＰＤＬ項目数を示してｎは旧ＳＤＬ項目数を示す時、ｍ＋ｎ×１６＞７６７９を満足することを特徴とする請求項５２に記載の方法。
【請求項６４】
欠陥は前記第２テストディスク上の欠陥位置及び数により決定される開始論理セクタ番号及び第１論理セクタ番号の位置が正確であるか否かを決定するのにおいて最も適当な位置前後に集中することを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項６５】
前記第２テストディスクの各地域の開始及び最終セクタが前記記録及び再生装置により欠陥として処理されるように前記第２テストディスク上に欠陥が配置されることを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項６６】
前記ＳＳＡの拡張後に、前記１次余裕空間のための余裕空間フルフラグが維持され、ＳＳＡのための余裕空間フルフラグが前記ＳＳＡが一杯にならなかったことを示すよう変換されるように、前記ＳＤＬに内蔵されて前記ＳＳＡが一杯になった状態に相応する、一つは第１余裕空間のためであり他はＳＳＡのための、余裕空間フルフラグを持つことを特徴とする請求項５４に記載の方法。
【請求項６７】
記録及び再生装置が欠陥情報を適切に解析して処理しているか否かを確認する方法において、
前記テストディスク上の実際の欠陥と関連がない既決欠陥情報を持ったＤＭＡミラーファイルを使用してテストディスクを準備する段階と、
前記記録及び再生装置が前記テストディスクを処理するようにしてＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報に関する確認テストを行う段階とを含むことを特徴とする方法。
【請求項６８】
前記テスト情報を生成する段階は前記テストディスクからテストＤＭＡミラーファイルを生成する段階を含み、
前記確認テストを行う段階は前記テストＤＭＡミラーファイルを基準ＤＭＡミラーファイルと比較する段階を含むことを特徴とする請求項６７に記載の方法。
【請求項６９】
ＤＭＡ情報が適切に生成されたか否かを確認するためにＤＭＡ情報をもった記録可能及び再生可能な光ディスクに／から情報を記録したり再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、
テストディスクの実際的な欠陥とは関係のない所定の欠陥情報を持つテストディスクを処理する再生装置により生成されたテストディスクのＤＭＡ情報に基いてテスト情報を生成する変形ドライブと、
前記テスト情報を基準テスト情報と比較して記録及び再生装置の確認を行う確認器とを含む記録及び再生装置をテストするための装置。
【請求項７０】
前記変形ドライブは、テスト情報としてＤＭＡミラーファイルを生成するために前記ＤＭＡ情報を持ったテストディスクから単にＤＭＡ情報だけを読み出し、
前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項６９に記載の装置。
【請求項７１】
前記変形ドライブは前記テスト情報を生成して前記確認器は前記ＤＭＡ情報の生成をテストするための確認テストモードにより前記テスト情報を前記基準テスト情報と比較することを特徴とする請求項６９に記載の装置。
【請求項７２】
前記変形ドライブは前記テスト情報を生成して前記確認器は複数のテストモードのうち一つにより前記テスト情報を比較し、前記複数のテストモードは、光ディスクの欠陥の検証を行う初期化モードあるいは欠陥の検証を行わない初期化モードによるＤＭＡ情報の生成をテストするための第１確認テストモード、光ディスクの検証を行う再初期化モード、リスト変換を持つ再初期化モード、あるいは欠陥リストをクリアリングする再初期化モードによるＤＭＡ情報の生成あるいは更新をテストするための第２確認テストモード、光ディスクのＳＳＡが拡張されるか否かを確認する第３確認テストモード、及び誤ったＤＭＡ情報による光ディスクの記録が行えるか否かを確認する第４確認テストモードであることを特徴とする請求項６９に記載の装置。
【請求項７３】
前記テスト情報の生成は第２確認モードの前記一つの確認テストモードに応じ、既決内容のＤＭＡの記録とＳＳＡが一杯でない第１ミラーファイルの選択、第３確認モードの前記一つの確認テストモードに応じ、既決内容のＤＭＡの記録と前記ＳＳＡが一杯になった第２ミラーファイルの選択、及び第４確認モードの前記一つの確認テストモードに応じ、既決内容のＤＭＡにて各地域の開始セクタ番号が故意に誤記録された第３ミラーファイルの選択を含むことを特徴とする請求項７２に記載の装置。
【請求項７４】
前記第１確認テストモードは、
前記記録及び再生装置がＤＭＡ情報を持った第１テストディスクを生成するために前記第１テストディスクを処理し、
前記変形ドライブが前記テスト情報として第１テストＤＭＡミラーファイルを生成するために前記ＤＭＡ情報を持つ前記第１テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、
前記基準テスト情報は第１基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７２に記載の装置。
【請求項７５】
前記第１確認テストモードにて、前記確認器は欠陥の検証を行わない初期化を行い、前記第１テストディスクの前記ＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、前記第１テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項７４に記載の装置。
【請求項７６】
前記第１確認テストモードにて、前記確認器は検証を行う初期化を行い、前記第１テストディスクの前記ＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、前記第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥のリストをチェックし、各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項７４に記載の装置。
【請求項７７】
前記第２確認テストモードにて前記変形ドライブは既決内容のＤＭＡを前記第１テストディスクに記録することにより第２テストディスクを生成し、ＳＳＡが一杯にならなかったことを示す第２ミラーファイルを前記第１テストディスクに記録し、
前記記録及び再生装置は前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成するために前記第２テストディスクを処理し、
前記変形ドライブは前記テスト情報として第２テストＤＭＡミラーファイルを生成するために、前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読み出し、
前記基準テスト情報は第２基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７４に記載の装置。
【請求項７８】
前記テストされるドライブは、第２確認テストモードにて検証を行う再初期化を行い、前記確認器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、Ｐ−リストが維持されているか否かをチェックし、第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥と同じ欠陥リストをチェックし、前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項７７に記載の装置。
【請求項７９】
前記テストされるドライブはリスト変換を持つ再初期化を行い、前記確認器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、Ｐ−リスト及びＧ１−リストが維持されているか否かをチェックし、リスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬをチェックし、前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項７７に記載の装置。
【請求項８０】
前記変形ドライブは、第２確認テストモードにてリスト変換中のオーバフロー状態をテストするために前記第２テストディスク上に充分なＳＤＬ項目を準備することを特徴とする請求項７９に記載の装置。
【請求項８１】
前記確認器は第２確認テストモードにて、クリアリングを持つ再初期化を行い、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックし、Ｐ−リスト及びＧ１−リスクが維持されているか否かをチェックし、Ｇ２−リスト及びＳＤＬがクリアされたか否かをチェックし、前記第２テストディスクの各地域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項７９に記載の装置。
【請求項８２】
第３確認テストモードにて、
前記変形ドライブは前記第１テストディスクに既決内容のＤＭＡを記録することにより第３テストディスクを生成し、前記ＳＳＡを満たす充分なＳＤＬ欠陥を持つ第３ミラーファイルを記録し、
前記記録及び再生装置はＤＭＡ情報を持った第３テストディスクを生成するために前記第３テストディスクを処理し、
前記変形ドライブは前記ＤＭＡ情報を持った第３テストディスクからＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として第３テストＤＭＡミラーファイルを生成し、
前記基準テスト情報は第３基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７４に記載の装置。
【請求項８３】
前記比較器は前記一つの確認テストモードが第３確認テストモードである時に、前記第３テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか否かをチェックすることを特徴とする請求項８２に記載の装置。
【請求項８４】
前記確認器は前記第３テストディスクのＤＭＡ情報がファイルシステムによっているか否かをチェックすることを特徴とする請求項８３に記載の装置。
【請求項８５】
第４確認テストモードにて、
前記変形ドライブは前記第１テストディスクに既決ＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された第４ミラーファイルを記録することにより第４テストディスクを生成し、
前記記録及び再生装置は前記第４テストディスクを処理し、ＤＭＡ情報を持った第４テストディスクを生成し、
前記確認器は前記記録及び再生装置からＤＭＡ情報を持ったあるいは持たない第４テストディスクを直接受け入れることを特徴とする請求項７４に記載の装置。
【請求項８６】
前記確認器は前記第４確認テストモードにて、前記第４テストディスク上の誤った開始論理セクタ番号が分類されているか否かをチェックし、前記第４テストディスクに使用者データが記録されないかをチェックし、前もって記録されたＤＭＡ情報に基づいてデータが読み出されるか否かをチェックすることを特徴とする請求項８５に記載の装置。
【請求項８７】
前記変形ドライブは前記テストディスクに追加的な欠陥データを付加して第２テストディスクを形成し、
前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクを処理して第２テスト情報として付加的なＤＭＡ情報を生成し、
前記確認器は前記第２テスト情報を第２基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の第２確認を行うことを特徴とする請求項６９に記載の装置。
【請求項８８】
前記変形ドライブは基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２ディスクを形成し、
前記確認器は前記第２テスト情報を前記基準ＤＭＡミラーファイルと比較することを特徴とする請求項８７に記載の装置。
【請求項８９】
前記変形ドライブは第２基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２テストディスクを形成し、
前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクを処理するようにし、追加的なＤＭＡ情報を持った他のテストディスクを生成し、
前記変形ドライブは前記他のテストディスクから前記追加的なＤＭＡ情報だけを読み出し、テスト情報として他のＤＭＡミラーファイルを生成し、
前記確認器は第２基準ＤＭＡミラーファイルを第２基準テストＤＭＡミラーファイルと比較して前記記録及び再生装置の第２確認を行うことを特徴とする請求項７０に記載の装置。
【請求項９０】
前記変形ドライブは基準ＤＭＡミラーファイルを前記テストディスクに付加して第２ディスクを形成し、
前記確認器は前記第２テスト情報を前記基準ＤＭＡミラーファイルと比較することを特徴とする請求項８７に記載の装置。
【請求項９１】
前記変形ドライブは、前記再初期化前に、ｍは旧ＰＤＬ項目数を示してｎは旧ＳＤＬ項目数を示す時、ｍ＋ｎ×１６＞７６７９を満足するＳＤＬ項目数を準備することを特徴とする請求項８０に記載の装置。
【請求項９２】
前記変形ドライブは前記第２テストディスク上の欠陥位置及び数により決定される開始論理セクタ番号及び第１論理セクタ番号の位置が正確であるか否かを決定するのにおいて最も適当な位置前後に欠陥を集中させることを特徴とする請求項７７に記載の装置。
【請求項９３】
前記変形ドライブは前記第２テストディスクの各地域の開始及び最終セクタが前記記録及び再生装置により欠陥として処理されるように前記第２テストディスク上に欠陥を配置することを特徴とする請求項７７に記載の方法。
【請求項９４】
前記第３ミラーファイルは前記ＳＳＡの拡張後に、前記１次余裕空間のための余裕空間フルフラグが維持され、前記ＳＳＡのための余裕空間フルフラグが前記ＳＳＡが一杯にならなかったことを示すよう変換されるように、前記ＳＤＬに内蔵されて前記ＳＳＡが一杯になった状態に相応する、一つは第１余裕空間のためであり、もう一つはＳＳＡのための余裕空間フルフラグを持つことを特徴とする請求項８２に記載の装置。
【請求項９５】
前記確認器は外部供給源から基準テスト情報を受け入れて前記テスト情報及び前記基準テスト情報間の比較を行うことを特徴とする請求項６９に記載の装置。
【請求項９６】
前記確認器は外部供給源から第２基準ＤＭＡファイルを受け入れて前記第２基準ＤＭＡミラーファイルを前記第２基準テストＤＭＡミラーファイルに比較することを特徴とする請求項８９に記載の装置。
【請求項９７】
前記確認器は前記第２基準ＤＭＡファイルを保存して前記第２基準ＤＭＡミラーファイルを前記第２基準テストＤＭＡミラーファイルに比較することを特徴とする請求項８９に記載の装置。
【請求項９８】
前記確認器は第４確認モードにて前記記録及び再生装置が各地域の誤った論理セクタ番号が前記第４テストディスク上に記録される時、前記テストディスク上のＤＭＡ情報の記録動作を行うことにより前記テストディスクを処理しなければ前記記録及び再生装置を肯定的に確認することを特徴とする請求項７３に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録及び再生分野に係り、特に記録及び再生の可能な光ディスクの欠陥管理領域情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＤＶＤ−ＲＡＭディスクはディスク上の欠陥を正常な記録領域と置換できる機能を持っており、このような機能を欠陥管理といい、欠陥管理に必要な情報をディスク上の欠陥管理領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ：ＤＭＡ）という所に保存している。ＤＭＡはディスク上のリードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ４つの情報が反復記録されている。ＤＭＡ情報は再びＤＤＳ（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ）、ＰＤＬ（Ｐｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ）及びＳＤＬ（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ）に区分される。このようなＤＭＡ情報にはディスクを初期化しつつ検証したりまたはディスクを使用中に発見された欠陥に関する情報だけではなく、余裕空間に関する情報と各地域別の開始論理セクタ番号などに関する重要な情報を含んでいる。
【０００３】
ＤＭＡに含まれている情報は直ちに読み出し使用することができるが、ディスク上の欠陥の位置と数により変化する情報も含まれていて、変換する情報としてＤＭＡに登録されている欠陥情報を根拠として与えられたアルゴリズムによる複雑な計算を通じてのみ得られるものもある。各地域の開始論理セクタ番号または最初の論理セクタ番号の位置情報などがこれに該当する。
【０００４】
このようなＤＭＡ情報はデータの物理的な記録位置と密接な関係を持っていて、ある一つの記録及び再生装置にてＤＭＡ情報を生成または更新して記録したディスクを他の記録及び再生装置でも使用できる、すなわち光ディスクのように移動の可能な記録媒体はＤＭＡ情報が誤っている場合、記録及び再生装置間の互換性の問題が生じる。このような問題を解決するために記録及び再生装置がディスクからＤＭＡ情報を正確に解読してディスク上にＤＭＡ情報を正確に記録するかを確認する手段と方法が必要である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
前記問題を解決するために、本発明の目的は光ディスク記録及び再生装置を通じディスク上の欠陥を検出し、欠陥に関する情報をＤＭＡに記録するにおいて、ディスク上のＤＭＡ情報が正確に生成あるいは更新されているかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００６】
本発明の他の目的は多数回数反復記録及び再生の可能なＤＶＤ−ＲＡＭ記録及び再生装置を通じディスク上の欠陥を検出し、欠陥に関する情報をＤＭＡに記録するにおいて、ディスク上のＤＭＡ情報が正確に生成あるいは更新されているかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００７】
本発明のさらに他の目的は実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を使用するテストディスクを使用して光ディスク記録及び再生装置において欠陥情報が形成されているディスクの実際の状態に影響されずに常に同じ条件で正しく欠陥情報を解読し処理できるかを確認するための方法を提供するところにある。
【０００８】
本発明のさらに他の目的は光ディスク記録及び再生装置を通じディスク上の欠陥を検出し、欠陥に関する情報をＤＭＡに記録するにおいて、ディスク上のＤＭＡ情報が正確に生成あるいは更新されているかを確認するためのテスト装置を提供するところにある。
【０００９】
本発明のさらに他の目的は実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を使用するテストディスクを使用して記録及び再生装置において欠陥情報が形成されているディスクの実際の状態に影響されずに常に同じテスト条件で正しく欠陥情報を解読し処理できるかをテストするためのテスト装置を提供するところにある。
【００１０】
本発明の追加的な目的及び長所は次の説明にて一部説明されるものであり、一部は前記説明から明白になるか、あるいは本発明の実施により理解されるであろう。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
前記の本発明の目的を達成するために、ＤＭＡ情報を持つ光ディスクを記録及び再生する記録及び再生装置にてＤＭＡ情報が正しく生成あるいは更新されるかを確認する方法が提供される。前記方法はＤＭＡ情報を確認するための複数のＤＭＡ情報確認テストモードのうち一つを選択し、選択されたモードによるテスト基準を設定する段階、選択された確認テストモードによりテストされる記録及び再生装置が生成あるいは更新したＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階、テスト基準を利用してテスト情報を確認するテストモードを実行する段階を含む。
【００１２】
また、前記の本発明の目的を達成するために、ＤＭＡ情報が適切に生成あるいは更新されたか否かを確認するためにＤＭＡ情報をもった記録可能及び再生可能な光ディスクに／から情報を記録したり再生する記録及び再生装置をテストするための装置が提供される。前記装置はＤＭＡ情報を確認するための複数のＤＭＡ情報確認テストモードのうち選択されたモードのＤＭＡミラーファイルが記録されているテストディスクを記録及び再生装置にて選択されたモードを実行した後でテストディスクから生成あるいは更新されたＤＭＡ情報をテスト情報に生成する変形ドライブ装置及びテスト情報と選択されたモードの既決テスト情報を比較してテスト結果を確認する確認器を含む。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の望ましい実施形態は添付図面に図示された例を参照して説明され、同じ参照符号は同じ要素を指す。前記図面を参照することにより本発明を説明するために前記実施形態を以下で説明する。
【００１４】
本発明にて使われる光ディスクは４．７ＧＢの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭに関するものである。ＤＶＤ−ＲＡＭは再記録可能なディスクバージョン２．０のためのＤＶＤ規格書に規定されているディスクをいう。
【００１５】
図１は本発明による光ディスクのＤＭＡ情報の確認方法を行うテスト装置のブロック図である。
【００１６】
第１テストタイプディスク１０（以下、Ｃ−１ディスク）はブランクディスク上に故意に所定位置に知っている物理的な欠陥だけを持つディスクである。テストドライブ２０はＣ−１ディスク１０に検証を行う初期化または検証を行わない初期化を行ってＤＭＡ情報を生成し、Ｃ−１ディスク１０に生成されたＤＭＡ情報を記録する。テストドライブ２０から提供されるＤＭＡを持つディスク３０をＤＭＡ情報を読める変形ドライブ４０に装着する。
【００１７】
変形ドライブ４０は製作業者により製作されたテスト専用ドライブとして基準ドライブと示せる。この変形ドライブ４０はＤＭＡを持つディスク３０に記録されたＤＭＡ情報だけを読み出し、読み出されたＤＭＡ情報をファイルシステム上にてＤＭＡミラーファイル５０に生成する。付加的に、テストドライブ２０は一例としてＤＶＤ−ＲＡＭ記録及び再生装置であり、ＤＭＡ情報をミラーファイルに生成できない。
【００１８】
ここで、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録及び再生装置２０の記録及び再生構造をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録及び再生装置を連結するホストインタフェース階層、物理的な信号を記録及び再生する物理的なドライブ階層及び記録媒体階層などのように区分する時、記録媒体と物理的なドライブとによりディスクの物理的なセクタ番号が割り当てられ、ホストインタフェースとファイルシステムとによりディスクの論理的なセクタ番号が割り当てられるために、ＤＭＡ情報に関する記録及び解読は物理的なドライブ階層以下にてなされる。
【００１９】
一般的にコンピュータを通じて記録媒体上にデータを記録する場合にはファイルシステムを通じて論理的なセクタ番号を利用して記録する位置を決定するようになる。このように論理的なセクタ番号で決定されたファイルの位置は論理的な相対位置情報であり、ドライブにて記録動作を行う時は欠陥ディスクの物理的な状況に合うように実際のデータが記録される物理的なセクタ番号に変換する過程が必要である。しかし、実際のファイルシステムにて使用者データを記録する時は論理的なセクタ番号だけを使用して使用者データを記録及び再生装置に伝送し、記録及び再生装置は論理的なセクタ番号を実際のデータが記録される物理的なセクタ番号に変える過程にて欠陥管理情報を使用するようになる。従って、一つの記録及び再生装置にて欠陥管理情報を誤判読したり誤記録した場合には他の記録及び再生装置にて正しいデータを読んだり使えない問題が生じる。
【００２０】
さらに、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合にあらゆる欠陥管理はドライブにて処理するようされているために、ファイルシステムやホストインタフェースはこのような物理的な欠陥管理内容を知らなくともファイルを記録あるいは再生でき、大部分のドライブがＤＭＡに記録または再生できないようになっているだけではなく、このＤＭＡに記録あるいは再生するための標準命令も備わっていない。しかし、このようなＤＭＡの情報が正しく形成されているかを判断するためにはいかなる形にせよこれを分析できるコンピュータにてデータを読める状況にせねばならず、標準テストディスクを作るためには該当ＤＭＡに適切な情報を記録できねばならない。これを効果的に行うためのものがＤＭＡに情報を記録あるいは再生できるように変形した変形ドライブである。このような変形ドライブの設計または変形は該当分野の熟練された技術者により容易になせるために本発明では説明を省略する。
【００２１】
確認器６０は、テストドライブ２０上にて生成されたＤＭＡ情報を持つディスク３０から前記変形ドライブ４０により生成されたＣ−１ディスク１０のためのＤＭＡミラーファイル５０と、前もって保存されていたりまたは図面には図示されていないが外部（ＤＭＡミラーファイルを生成するコントローラ）から提供されるＣ−１ディスク１０のための基準ＤＭＡミラーファイルとを比較し、初期化によるＤＭＡ情報が正しく生成されているかについてのテスト結果を製作業者／使用者に知らせる。ここで、ＤＭＡミラーファイルをテスト情報といえ、基準ＤＭＡミラーファイルを既決テスト情報といえる。
【００２２】
確認器６０はＣ−１ディスク１０のための基準ＤＭＡミラーファイルだけではなく、第２テストタイプディスク１１（Ｃ−２ディスクという）のための基準ＤＭＡミラーファイル、第３テストタイプディスク１２（Ｃ−３ディスクという）のための基準ＤＭＡミラーファイル、第４テストタイプディスク１３（Ｃ−４ディスクという）のための基準ＤＭＡミラーファイルを貯蔵または外部から提供される。
【００２３】
一方、加算器７０はＣ−１ディスク１０上にＣ−２ディスクのための基準ＤＭＡミラーファイル１を加算して変形ドライブ４０に提供すれば、変形ドライブ４０はＣ−２ディスク１１を提供する。ここで、加算器７０は本発明理解の一助とするために変形ドライブ４０の外部に備わっているが、実際には変形ドライブ４０の内部に内蔵されることが望ましい。すなわち、変形ドライブ４０を使用してＣ−１ディスク１０上にＣ−２ディスクのための基準ＤＭＡミラーファイルを記録することを意味する。
【００２４】
Ｃ−２ディスクのための基準ＤＭＡミラーファイル１の特徴はＣ−２ミラーファイルが記録されるディスクの欠陥状態に関係なく既決内容のＤＭＡを持ち、追加余裕空間（Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｓｐａｒｅ Ａｒｅａ：ＳＳＡ）が一杯の状態ではない。
【００２５】
テストドライブ２０はＣ−２ディスク１１が装着されれば、３種類の再初期化モードのうちどれか一つのモード、すなわち検証を行う再初期化モード、ＳＤＬリスト変換を持つ再初期化モードまたはＧ２リストとＳＤＬとをクリアリングする再初期化モードを行ってＤＭＡ情報を生成あるいは更新し、行われた再初期化モードにより生成あるいは更新されたＤＭＡ情報を持つディスク３０を提供する。変形ドライブ４０は再初期化により生成あるいは更新されたＤＭＡ情報を持つディスク３０が装着されればＤＭＡ情報だけをミラーファイルに生成してＤＭＡミラーファイル５０を確認器６０に提供する。
【００２６】
ここで、検証を行う再初期化モードはＰリストだけを維持してディスクを初期化するモードであり、Ｐリストはそのまま維持し、再初期化前の旧Ｇ１リスト、旧Ｇ２リストとＳＤＬとを整理し、再初期化時にあらゆるセクタの検証により発見された欠陥は新しいＧ１リストに登録する。この時に新しいＧ２リストと新しいＳＤＬは空き状態であるが、あらゆるセクタの検証時に発見された欠陥が登録される新しいＧ１リストがオーバフロー状態ならば新しいＳＤＬに登録できる。
【００２７】
工場にて検査した欠陥セクタをＰリストといい、使用者検証時に発生した欠陥セクタをＧ１リストといい、再初期化時、再初期化以前の旧ＳＤＬを変換したものをＧ２リストという。Ｐリスト、Ｇ１リストとＧ２リストとはＰＤＬに属する。
【００２８】
ＳＤＬリスト変換を持つ再初期化モードは線型置換アルゴリズムにより処理されたＳＤＬ項目をなくし、ＳＤＬ項目にて欠陥ブロックに含まれた１６の再度割当てられたセクタを飛越し置換アルゴリズムにより処理されたＰＤＬ項目（すなわち、Ｇ２リスト）に変えるモードであり、Ｐリストと旧Ｇ１リストはそのまま維持され、旧Ｇ２リストと旧ＳＤＬ項目とは新しいＧ２リストに登録され、新しいＳＤＬは空き状態である。しかし、変換されたＧ２リストがオーバフローになれば、すなわちＰＤＬに登録できる最大の項目数を超えた場合、残りのＳＤＬ項目は新しいＳＤＬに登録されうる。
【００２９】
Ｇ２リストとＳＤＬとをクリアリングする再初期化モードはディスクを使用中にＰリストだけを利用し初期化するか、線型置換のための再度割当てられたセクタを除去して最近の検証された状態に戻ることをいう。このモードでは、ＰＤＬのＧ２リストとＳＤＬとが整理され、更新されたＰＤＬはＰリストとＧ１リストとを含む。前述の３種類の再初期化モードについては再記録可能なディスクバージョン２．０のためのＤＶＤ規格書に規定されている。
【００３０】
従って、再初期化テストのためのＣ−２ディスク１１はＰ、Ｇ１、Ｇ２すべての欠陥種類を含んでいることが望ましい。特に、リスト変換をテストするために充分なＳＤＬ項目を持っていなければならない。すなわち、リスト変換のオーバフロー状態をテストするためにリスト変換後にはオーバフローが生じる程に多くのＰＤＬ項目を持っていることが望ましい。すなわち、旧ＰＤＬ項目をｍとして旧ＳＤＬ項目をｎとする時、再初期化によりＳＤＬリストがＧ２リストに変換後に新しいＰＤＬの最大項目数は７６７９個に決定されているので、リスト変換のオーバフロー状態をテストするためには条件（ｍ＋ｎ×１６＞７６７９）を充足する再初期化前の充分なｎ個のＳＤＬ項目を持っていなければならない。
【００３１】
また、Ｃ−２ディスクの欠陥位置及び数により相対的に決定される各地域の開始論理セクタ番号と最初の論理セクタ番号の位置などが正しく形成されるかを判断するために最も適合した位置、例えば論理的なセクタ番号０があらねばならない位置の前後に集中的に欠陥セクタを配置するか、各地域の開始及び最後のセクタを欠陥と処理するなどの特別の位置に欠陥を配置してテストの効果を高められるように欠陥を配置する。
【００３２】
確認器６０はＣ−２ディスク１１のためのＤＭＡミラーファイル５０とＣ−２ディスク１１のための基準ＤＭＡミラーファイルを応用上で比較し、再初期化モードにより生成されたＤＭＡ情報が正しく生成あるいは更新されたかを示すテスト結果を製作業者／使用者に知らせる。
【００３３】
加算器７０はＣ−１ディスク１０上にＣ−３ディスク１３のための基準ＤＭＡミラーファイル２を加算して変形ドライブ４０に提供すれば変形ドライブ４０はＣ−３ディスク１２を提供する。Ｃ−３ディスク１２のための基準ＤＭＡミラーファイル２の特徴はＣ−３ミラーファイルが記録されるディスクの実際のディスク上の物理的欠陥状態に関係なく既決内容のＤＭＡを持ち、ＳＳＡが一杯になる程に充分なＳＤＬ欠陥を持っている状態である。
【００３４】
テストドライブ２０はＣ−３ディスク１２が装着されれば該当ディスクのＳＳＡが一杯である状況を正しく判断して使用者に知らせるかをテストでき、ＳＳＡが一杯の状態でＳＳＡの拡張を行えば、Ｃ−３ディスク１２はＳＳＡ拡張による更新されたＤＭＡ情報を持つディスク３０となる。変形ドライブ４０はＳＳＡ拡張により更新されたＤＭＡ情報を持つディスク３０が装着されればＤＭＡ情報だけをミラーファイルに生成してＤＭＡミラーファイル５０を確認器６０に提供する。
【００３５】
ここで、ＳＳＡが一杯の状態ではＳＳＡの拡張に関する情報は載せられず、ただＳＳＡの大きさと位置とを判断できる情報だけが変更され、ＳＳＡ拡張がされた後にはＳＳＡが一杯にならない状態で情報を変更するようになる。従って、基準になる情報がない場合には、該当ドライブが正常にＳＳＡを拡張したかを判断し難いために基準ＤＭＡミラーファイルを利用することが望ましい。
【００３６】
また、前述の基準情報から提供された基準ＤＭＡミラーファイルのＳＤＬに含まれ、一つは１次余裕空間のためのものであり、他はＳＳＡのためのものである、余裕空間フルフラグが余裕空間が一杯になった状態であるということに対応するように記録されている場合に、余裕空間フルフラグがＳＳＡ拡張処理後には１次余裕空間については一杯の状態に維持され、ＳＳＡに対しては一杯にならない状態に変わったのかをチェックできるように設定されうる。
【００３７】
付加的に、欠陥管理のためのディスク上の余裕空間は１次余裕空間、２次余裕空間及びＳＳＡに区分して下記のように限定する。
【００３８】
１次余裕空間は欠陥置換のためにディスクを初期化する時に先ず最初に配置する余裕空間であって飛越し置換にまず使われ、使われて残った余裕空間は線型置換のための２次余裕空間に使われうる。２次余裕空間はディスクを使用する途中に生じる欠陥を線型置換するための空間であって初期化時に１次余裕空間中に飛越し置換により使われて残った余裕空間または別途に割り当てた余裕空間を意味する。ＳＳＡはディスクを使用する最中に生じる欠陥を線型置換するための余裕空間であって初期化が終わった後に追加で使用中に割り当てた余裕空間を意味する。
【００３９】
初期化が終わった後でディスクを使用中に線型置換のための余裕空間が不足する場合、線型置換のためのＳＳＡをファイルシステム上の論理的ボリューム空間の一番後の方向から所定大きさずつ前に順次的に余裕空間を増加させていきつつ割り当て、線型置換時には論理的ボリューム空間の一番後の方向から逆順に使用している。
【００４０】
一方、確認器６０はＣ−３ディスクのためのＤＭＡミラーファイル５０とＣ−３ディスクのための基準ＤＭＡミラーファイルとを応用上で比較し、ＳＳＡが正しく拡張されているかについてのテスト結果を製作業者／使用者に知らせる。Ｃ−３ディスクをテストする場合にはＳＳＡがファイルシステムの論理的ボリューム空間の後の方向から割当てられるために図面には図示されなかったがファイルシステム確認器を利用して割当てられたＳＳＡが決まった規格のファイルシステムによるかをチェックすることが望ましい。
【００４１】
加算器７０はＣ−１テストディスク１０上にＣ−４ディスクのための基準ＤＭＡミラーファイル３を加算して変形ドライブ４０に提供すれば変形ドライブ４０はＣ−４ディスク１３を提供する。ここで、Ｃ−４ディスク１３のための基準ＤＭＡミラーファイルの特徴は、Ｃ−４ミラーファイルが記録されるディスクの欠陥状態に関係なく既決内容のＤＭＡ情報を持ち、各地域別開始論理セクタ番号が故意に誤記録されている。
【００４２】
テストドライブ２０はＣ−４ディスク１３が装着されれば記録動作を行い、この時はＤＭＡを持つディスク３０を変形ドライブ４０に装着させてＤＭＡミラーファイル５０を生成する過程を経ずに記録動作の実行結果を直ちに確認器６０に提供する。テストドライブ２０は誤った開始論理セクタ番号を区別できねばならず、前もって保存されているＤＭＡ情報に基づいてデータを読み出せねばならず、ディスク上にいかなる使用者データも記録してはならない。
【００４３】
これは以前に記録されている各地域の開始論理セクタ番号が誤記録された場合、以前のドライブが正しいと判断して記録した状況が誤っているので、以前の情報を記録したドライブはＤＭＡに記録されている誤った論理セクタ番号情報を利用してデータを記録したゆえに、このディスク上に新しいデータを記録したり更新する場合に以前のデータに致命的な損傷を加えることがあるためであり、記録されているデータを読み出す場合にも以前のドライブが計算した方法に基づいてデータを読み出すことが望ましい。
【００４４】
確認器６０は各地域別開始論理セクタ番号が誤記録されているディスクがテストドライブ２０に装着されれば記録動作を行ってもディスク上にＤＭＡ情報の記録動作がなされないことが望ましく、テストドライブ２０でＣ−４ディスク１３上に記録動作を行った時、記録動作がなされなければテストドライブ２０が正しく動作していることを知らせ、記録動作がなされればテストドライブ２０が正しく動作していないことを知らせる。
【００４５】
また、このような開始論理セクタ番号が誤記録されているディスクに対する試験はテストをする技術者による手動操作及び前記テストドライブ２０が正常に動作しているか否かの判断によってもテストを行うことができる。
【００４６】
図２は図１に図示されたテスト装置にて使われるテストディスク状態図であり、ブランク基準ディスク１００に知られた物理的な欠陥を作るようになればＣ−１ディスク１０１となる。ブランク基準ディスク１００に知られた物理的な欠陥を作るために相異なる方法が使われうる。一つの例はディスク生産のために使われるスタンパ上に誤ったＰＩＤを作ることである。Ｃ−１ディスク１０１上にＣ−２ミラーファイルを記録するようになればＣ−２ディスク１０２になり、Ｃ−１ディスク１０１上にＣ−３ミラーファイルを記録するようになればＣ−３ディスク１０３になり、Ｃ−１ディスク１０１上にＣ−４ミラーファイルを記録するようになればＣ−４ディスク１０４となる。このように生成されたＣ−２ディスク１０２、Ｃ−３ディスク１０３、Ｃ−４ディスク１０４上に記録されているＤＭＡ情報を消せば再びＣ−１ディスク１０５の状態となる。
【００４７】
ここで、Ｃ−２ミラーファイルにはＣ−２ミラーファイルが記録されるディスクの欠陥状態に関係なく既決内容のＤＭＡが記録され、ＳＳＡは一杯でない状態である。Ｃ−３ミラーファイルにはＣ−３ミラーファイルが記録されるディスクの欠陥状態に関係なく既決ＤＭＡ内容が記録され、ＳＳＡは一杯の状態である。Ｃ−４ミラーファイルにはＣ−４ミラーファイルが記録されるディスクの欠陥状態に関係なく既決ＤＭＡ内容のうち各地域の開始論理セクタ番号が故意に誤記録された状態である。
【００４８】
ミラーファイルを利用してテストディスクを作る理由は、既決欠陥位置に実際の欠陥を数千ずつ作り難いためである。さらに、定位置に欠陥を作ったとしても願わない位置に欠陥が生じるために、このようなディスクを正常な過程を通じてＤＭＡを形成する場合、ディスクごとに物理的な特性に起因した欠陥情報が変わる問題が生じる。特に、Ｃ−２ディスクは一度使用すれば再初期化によりＤＭＡ情報が更新されるのでＣ−２ディスクテスト用に再び使用できないディスクになるために標準ディスクとして管理または提供し難い。従って、標準化されたＤＭＡ内容とこれを記録できる変形されたドライブだけあれば、いつも同じ条件を持ったディスクを作ってテスト可能なのでミラーファイルでテストディスクを作る。
【００４９】
本発明による光ディスクのＤＭＡ情報の確認方法の一実施形態によるフローチャートである図３において、確認メニューまたはキーを通じＤＭＡ確認テストモードを設定する（Ｓ１０１段階）。ＤＭＡ確認テストモードが設定されればディスプレーされる確認テストモード（第１確認テストモード：検証を行う初期化モード、検証の行わない初期化モード、第２確認テストモード：検証を行う再初期化モード、リスト変換を持つ再初期化モード、欠陥リストをクリアリングする再初期化モード、ＳＳＡが拡張できるか否かを確認する第３確認テストモード、誤ったＤＭＡによる記録可否を確認する第４確認テストモード）のうち一つを選択する（Ｓ１０２段階）。選択された確認テストモードによるＤＭＡミラーファイルを選択する（Ｓ１０３段階）。
【００５０】
選択されたＤＭＡミラーファイルを利用して選択された確認テストモードを実行する（Ｓ１０４段階）。すなわち、選択された確認テストモードが検証を行わない初期化モードならば、Ｃ−１ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりテスト結果が前もって規定されたＤＭＡ構造によるかということと各地域の開始論理セクタ番号をチェックする。検証を行う初期化モードならば、Ｃ−１ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりＤＭＡ構造によるかをチェックし、Ｃ−１ディスクの知られた欠陥のための欠陥リストをチェックし、各地域の開始論理セクタ番号をチェックする。検証を行う再初期化モードならば、Ｃ−２ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりＤＭＡ構造によるかをチェックし、Ｐリストが維持されるかをチェックし、ディスクの知られた欠陥（Ｃ−１ディスクの故意的な欠陥と同一である）のための欠陥リストをチェックし、各地域の開始論理セクタ番号をチェックする。リスト変換を持つ再初期化モードはＣ−２ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりＤＭＡ構造を持っているかをチェックし、ＰとＧ１リストが維持されるかをチェックし、リスト変換のためのＰＤＬとＳＤＬをチェックし、各地域の開始論理セクタ番号をチェックする。クリアリングを持つ再初期化モードはＣ−２ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりＤＭＡ構造によるかをチェックし、ＰとＧ１リストが維持されるかをチェックし、Ｇ２リストとＳＤＬが消されるかをチェックし、各地域の開始論理セクタ番号をチェックする。ＳＳＡの拡張を確認する第３確認テストモードはＣ−３ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置によりＤＭＡ構造によるかをチェックし、ファイルシステム確認器を利用してファイルシステムによるかをチェックする。開始論理セクタ番号をテストする第４確認テストモードはＣ−４ディスクを使用して図１に図示されたテスト装置により誤った開始論理セクタ番号を区別しているかをチェックし、ディスク上に使用者データを記録しないかをチェックする。
【００５１】
Ｓ１０４段階にて選択された確認モードが実行された後、実行された確認モードのテスト結果をディスプレーした後（Ｓ１０５段階）、終了する。図３には図示されていないが、他の確認モードを選択するためにＳ１０２段階に進んでＳ１０３、Ｓ１０４、Ｓ１０５段階を行い、終了モードが設定されるまで前述の過程の反復もできる。
【００５２】
図４は光を発するための光源２２、前記光源２２から放出された光をディスクＤ上に集中させるための焦点要素２４、及び前記光源２２を制御する制御器２６を持つ。前記の説明された確認プロセスは制御器２６の適切な動作を確認するためにサーチする。
【００５３】
【発明の効果】
前述のように、本発明はテストタイプにより実際の欠陥を持つディスクの代りに、実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用して記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるかを容易に確認することができる効果と簡単で安くテスト装置を具現できる効果とがある。
【００５４】
たとえ本発明の数種類の実施が図示されて説明されたとしても、本発明の原理及び真意、請求項で限定された範囲及びこれと均等なものから外れずに前記実施形態が変更可能であることは当技術分野の熟練者ならば理解するであろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明による光ディスクのＤＭＡ情報の確認方法を行うテスト装置の一実施形態である。
【図２】  図１に図示されたテスト装置で使われるテストディスクの状態図である。
【図３】  本発明による光ディスクのＤＭＡ情報の確認方法の一実施形態によるフローチャートである。
【図４】  図１に図示されたテストされるドライブのブロック図である。
【符号の説明】
１、２、３  ミラーファイル
１０  Ｃ−１ディスク
１１  Ｃ−２ディスク
１２  Ｃ−３ディスク
１３  Ｃ−４ディスク
２０  テストドライブ
３０  ＤＭＡ情報ドライブ
４０  変形ドライブ
５０  ＤＭＡミラードライブ
６０  確認器
７０  加算器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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