(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
不揮発性記憶手段に記憶されたユーザプログラムの実行に基づいて揮発性記憶手段にワーキングデータを記憶しながら動作するマイクロコンピュータをダイナミックバーンインテストにより検査する方法であって、
前記マイクロコンピュータに接続された検査装置は、前記揮発性記憶手段にバーンインプログラムを転送記憶し、
前記マイクロコンピュータは、前記バーンインプログラムを実行し、
前記検査装置は、前記マイクロコンピュータが前記バーンインプログラムを所定時間実行したときは、前記揮発性記憶手段に記憶されたバーンインプログラムに代えて検査プログラムを転送記憶し、
前記マイクロコンピュータは、前記検査プログラムの実行により自己の動作状態を検査してから、その検査結果を前記検査装置に出力し、
という動作を繰り返して実行することを特徴とするマイクロコンピュータの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、不揮発性記憶手段に記憶されたユーザプログラムの実行に基づいて揮発性記憶手段にワーキングデータを記憶しながら動作するマイクロコンピュータをダイナミックバーンインテストにより検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、マイクロコンピュータの小型化の要求により、ベアチップ実装であるフリップチップが製品化されているが、マイクロコンピュータのスクリーニング技術であるバーンインテストが重要となっている。バーンインテスト方法としては、チップバーンインによるＫＧＤと呼ばれるチップレベルでの保証も可能となってきているが、コストが高いという問題がある。
【０００３】
また、ダイナミックバーンインテストとして、特開平７−１４１２１９号公報のものがある。このものは、マイクロコンピュータにテストＲＯＭ及びダイナミックバーンインコントロールユニットを内蔵し、テストＲＯＭに周辺機能ユニットを動作状態に設定するためのデータを格納し、ダイナミックバーンインコントロールユニットは、テストＲＯＭに格納されたデータを各周辺機能ユニットの制御レジスタに転送し、転送終了後にユーザＲＯＭに格納されているプログラムを実行するというものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特開平７−１４１２１９号公報のものでは、テストＲＯＭやダイナミックバーンインコントロールユニットを内蔵させるため、通常時においては使用しない余分な回路があり、チップサイズ増大と、コスト増加の問題があった。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、特別の回路を付加するなくダイナミックバーンインテストを行うことができるマイクロコンピュータの検査方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、マイクロコンピュータは、不揮発性記憶手段に記憶されたユーザプログラムに基づいて動作すると共に、その実行に応じて揮発性記憶手段にワーキングデータを記憶しながら動作するようになっている。
【０００７】
さて、マイクロコンピュータをダイナミックバーンインテストするときは、検査装置からマイクロコンピュータの揮発性記憶手段にバーンインプログラムを転送記憶させた状態でマイクロコンピュータによりバーンインプログラムを実行させる。このバーンインプログラムの実行により、マイクロコンピュータは最大限の負荷が与えられた状態で動作する。
そして、マイクロコンピュータがバーンインプログラムを所定時間実行したときは、検査装置によりマイクロコンピュータの動作状態を検査する。
【０００８】
この場合、通常時においてワーキングデータ記憶用として使用される揮発性記憶手段にバーンインプログラムを記憶するようにしたので、特別な回路を設けることなくマイクロコンピュータをダイナミックバーンインテストすることができる。
【０００９】
また、バーンインプログラムを所定時間実行したときは、検査装置により揮発性記憶手段に記憶されたバーンインプログラムに代えて検査プログラムを記憶させる。
そして、マイクロコンピュータは、検査プログラムを実行することにより自己の動作状態を検査してから、その検査結果を検査装置に出力する。
【００１０】
この場合、揮発性記憶手段に記憶されているバーンインプログラムに代えて検査プログラムを記憶するので、揮発性記憶手段の記憶容量がバーンインプログラム及び検査プログラムの記憶容量の総和に不足している場合であっても、マイクロコンピュータのダイナミックバーンインテスト及び検査を確実に実行することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を車両に設けられるエンジン制御用ＥＣＵ（電子制御装置）に適用した一実施例を図面を参照して説明する。
図２は車両用エンジン制御装置に用いられるマイクロコンピュータ基板（以下、マイコンボードと称する）の構成を概略的に示している。この図２において、マイコンボード１にはメインマイクロコンピュータ２（以下、メインマイコンと称する）及びサブマイクロコンピュータ３（以下、サブマイコンと称する）、周辺回路４，５が搭載されていると共に、入出力端子６，７が搭載されている。
【００１２】
ここで、メインマイコン２は、ＣＰＵ８、シリアル通信インタフェース９、ＲＡＭ１０（揮発性記憶手段に相当）、ＲＯＭ１１（不揮発性記憶手段に相当）、タイマ１２、ＡＤＣ（Ａ／Ｄコンバータ）１３及び入出力ポート１４から構成されている。
【００１３】
ＲＯＭ１１には車両用エンジンを制御するためのユーザプログラムが予め記憶されている。また、ＲＡＭ１０にはユーザプログラムの実行に応じてワーキングデータが一時的に記憶されると共に、後述するようにダイナミックバーンインテスト時にはバーンインプログラム或いは検査プログラムが一時的に記憶されるようになっている。
【００１４】
タイマ１２はＣＰＵ８からの指令に応じてオンオフ信号を入出力端子７を通じて出力する。
ＡＤＣ１３は、マイコンボード１が車両に搭載された状態で所定のセンサ（図示せず）からの信号を入出力端子７を通じて入力してデジタル変換してＣＰＵ８に与える。
【００１５】
入出力ポート１４は、ＣＰＵ８からの指令に応じてオンオフ信号をマイコンボード１に搭載された内部周辺回路４，５及び入出力端子７を通じて出力すると共に、外部からのオンオフ信号を入出力端子７及び内部周辺回路５を通じて入力する。
【００１６】
サブマイコン３のＣＰＵ１６は、メインマイコン２のタイマ１２から与えられるパルス信号の入力状態を入力回路１５を通じて入力する。また、ＣＰＵ１６は、ＲＯＭ１７に記憶されているプログラムによる所定の演算を実行し、その演算結果をシリアル通信インタフェース１８を通じてメインマイコン２に通知する。この場合、演算結果は入力パルス信号の周期によって変わる。
【００１７】
さて、上記構成のマイコンボード１の製造が終了したときは、マイコンボード１をダイナミックバーンインテストする。
即ち、製造が終了したマイコンボード１を図１に示すように接続する。つまり、タイマ１２から入出力端子７を通じて出力される信号を外部の疑似負荷１９，２０（例えば抵抗）に接続し、一方の負荷１９からの出力を入出力端子７を通じてＡＤＣ１３に入力すると共に、他方の負荷２０からの出力を入出力端子７を通じて入出力ポート１４に入力するように接続する。これは、タイマ１２からの出力を疑似負荷１９，２０を通じてＡＤＣ１３及び入出力ポート１４を通じて入力することにより、ダイナミックバーンインテストによりタイマ１２或いはＡＤＣ１３或いは入出力ポート１４の機能を検査するためである。
【００１８】
また、入出力ポート１４からのオンオフ信号を内部周辺回路４及び入出力端子７を通じて出力すると共に、そのオンオフ信号を入出力端子７及び内部周辺回路５を通じて入力するように接続する。これは、バーンインテストにより内部周辺回路４，５の機能を検査するためである。
【００１９】
一方、メインマイコン２のシリアル通信インタフェース９を入出力端子６を通じてパソコン２１と接続してから、マイコンボード１のみを恒温槽（図示せず）に収納する。この場合、パソコン２１には例えば３００台程度のマイコンボード１を接続するものであり、一台のパソコン２１により複数のマイコンボード１のダイナミックバーンインテストを行うようになっている。
【００２０】
続いて、恒温槽を所定温度に制御すると共にマイコンボード１に電源を供給した状態でパソコン２１から転送プログラム及びバーンインプログラムをメインマイコン２のＲＡＭ１０に転送する（図３のＳ１）。
【００２１】
ここで、メインマイコン２のＣＰＵ８は、ＲＡＭ１０に転送プログラム及びバーンインプログラムが記憶された状態では、転送プログラムを実行するようになる。
【００２２】
この転送プログラムは、バーンインプログラム或いは後述する検査プログラムの転送及び実行を制御するものであり、まず、ＲＡＭ１０に同時に転送記憶されたバーンインプログラムを実行する（Ｓ２）。このバーンインプログラムは、例えば高温の環境条件においてマイコンボード１を実動作に近い状態で動作させることにより、製品の初期不良を発見するためのプログラムである。
【００２３】
さて、バーンインプログラムの実行によりメインマイコン２のＣＰＵ８が動作することにより当該メインマイコン２に搭載されたタイマ１２、ＡＤＣ１３が動作すると共に、サブマイコン３が動作し、さらにマイコンボード１に搭載された内部周辺回路４，５も動作する。
【００２４】
このとき、マイコンボード１は高温の環境条件にあり大きなストレスが与えられているので、マイコンボード１に搭載されたメインマイコン２、サブマイコン３、或いは内部周辺回路４，５が定格を満足しないような場合は、それらの機能が低下したり、動作しなくなるようになる。
【００２５】
そして、バーンインプログラムの実行が所定時間経過して検査開始タイミングとなったときは（Ｓ３：ＹＥＳ）、パソコン２１から１番目の検査プログラムがメインマイコン２に転送される。
【００２６】
このとき、メインマイコン２のＣＰＵ８は、転送プログラムの実行によりバーンインプログラムの記憶領域に１番目の検査プログラムを記憶してから、この第１の検査プログラムに実行を移行する（Ｓ４）。これにより、メインマイコン２は第１の検査プログラムを実行するようになる。
【００２７】
この第１に検査プログラムは、例えばＡＤＣ１３の機能を検査するためのものであり、タイマ１２から出力されたパルス信号に応じて電圧値をＡＤＣ１３を通じて入力し、その入力値に基づいてタイマ１２或いはＡＤＣ１３の機能を検査すると共に、その検査結果をパソコン２１に出力するようになっている。
【００２８】
そして、上述のようにして１番目の検査プログラムに基づいてタイマ１２或いはＡＤＣ１３の検査が終了したときは、第２の検査プログラムをメインマイコン２に転送することにより内部周辺回路の機能を検査し、その検査結果をパソコン２１に出力する。
【００２９】
パソコン２１は、上述のようにしてｎ番目の検査プログラムをメインマイコン２に転送することにより所定の回路の検査を実行したときは（Ｓ５）、ダイナミックバーンインテストが終了したか否かを判断し、終了していないと判断したときは（Ｓ６：ＮＯ）、バーンインプログラムを再びメインマイクロコンピュータ２のＲＡＭ１０に転送してバーンインテストを継続する（Ｓ７）。このとき、ＣＰＵ８は、転送プログラムの実行によりバーンインプログラムをｎ番目の検査プログラムに代えて記憶する。
【００３０】
そして、パソコン２１は、ダイナミックバーンインテストを所定時間継続して実行したときは、１番目の検査プログラムから再び転送記憶することにより各回路の機能検査を順に実行する。
以上のようにしてマイコンボード１のバーンインテストが終了したときは（Ｓ６：ＹＥＳ）、転送プログラムは実行を終了する。
【００３１】
さて、上述したようにしてダイナミックバーンインテストが終了したときは、パソコン２１によりマイクロボード１のテスト結果を解析し、正常と判断したマイコンボード１のみを良品と判断する。
【００３２】
上記検査方法によれば、マイコンボード１のダイナミックバーンインテスト時にメインマイコン２が有するＲＡＭ１０にバーンインプログラム或いは検査プログラムを順に記憶して実行するようにしたので、通常の使用時にワーキングデータの記憶領域として使用されるＲＡＭ１０をバーンインテストとして一時的に利用することができる。従って、バーンインテスト用のテストＲＯＭやダイナミックバーンインコントロールユニットを内蔵した従来構成のものと違って、チップサイズが増大することもないと共に、コストが増加することもない。
【００３３】
また、バーンインプログラムによりダイナミックバーンインテストが終了したときはバーンインプログラムに代えて検査プログラムを記憶すると共に、検査プログラムが終了したときは検査プログラムに代えてバーンインプログラムを記憶するようにしたので、バーンインプログラムと検査プログラムとの記憶容量の総和がＲＡＭ１０の記憶容量を上回るにしても、ＲＡＭ１０の記憶容量を増大することなくマイコンボード１のダイナミックバーンインテスト及び検査を確実に実行することができる。
【００３４】
本発明は上記実施例にのみ限定されるものではなく、次のように変形または拡張できる。
メインマイコン２のＲＡＭ１０にパソコン２１から検査プログラムを転送記憶するのに代えて、パソコン２１によりマイコンボード１の動作を直接検査するようにしてもよい。
検査対象としては、ＣＰＵにＲＡＭ及びＲＯＭが一体に設けられたワンチップマイコンであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例におけるバーンインテスト時の接続関係を示す全体の概略構成図
【図２】マイコンボードの電気的構成を示す概略図
【図３】バーンインテストの手順を示す流れ図
【符号の説明】
１はマイコンボード、２はメインマイコン、３はサブマイコン、４，５は内部周辺回路、６，７は入出力端子、１０はＲＡＭ（揮発性記憶手段）、１１はＲＯＭ（不揮発性記憶手段）、１９，２０は負荷、２１はパソコン（検査装置）である。
【図１】
0003697843.tif 000002
【図２】
0003697843.tif 000003
【図３】
0003697843.tif 000004