(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ
制御部によって温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度が低温から高温に切り換えられると前記加熱手段で加熱された前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、
前記温度設定部で設定された温度が低温から高温に変更されたかどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験槽の温度の上昇率を測定する温度上昇率測定手段と、前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記予熱槽の放熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試験槽の温度の上昇率を付与できる温度上昇率付与手段と、前記温度上昇率測定手段によって測定された測定温度上昇率と前記温度上昇率付与手段によって付与された温度均衡時近傍温度上昇率とを比較する比較手段と、前記設定値変更検出手段が設定された温度が低温から高温に変更されたことを検出した場合において前記比較手段が前記測定温度上昇率と前記温度均衡時近傍温度上昇率とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部の制御に優先して前記加熱手段の加熱能力を大きくするように指示できる指示手段と、を有することを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
【請求項２】
加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ
制御部によって温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度が高温から低温に切り換えられると前記冷却手段で冷却された前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、
前記温度設定部で設定された温度が高温から低温に変更されたどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験槽の温度の下降率を測定する温度下降率測定手段と、前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記予冷槽の吸熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試験槽の温度の下降率を付与できる温度下降率付与手段と、前記温度下降率測定手段によって測定された測定温度下降率と前記温度下降率付与手段によって付与された温度均衡時近傍温度下降率とを比較する比較手段と、前記設定値変更検出手段が設定された温度が高温から低温に変更されたことを検出した場合において前記比較手段が前記測定温度下降率と前記温度均衡時近傍温度下降率とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部の制御に優先して前記冷却手段の冷却能力を大きくするように指示できる指示手段と、を有することを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え試験槽の温度が低温から高温又は高温から低温に切り換えられると加熱手段又は冷却手段で加熱された予熱槽又冷却された予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
冷熱衝撃試験装置では、試験槽内の温度を迅速に且つ小さい変動幅で制御できるように通常ＰＩＤ制御器を用いている。一方、試験槽内に入れられた試料に温度衝撃を与えるために、予冷槽及び予熱槽及びを設け、試料の低温さらし中又は高温さらし中のときを除いて、それぞれの槽内で低温空気又は高温空気を循環させ、低温さらし又は高温さらしモードでは、ダンパーを開閉して低温又は高温の空気を瞬時に試験槽内に導入して循環させ、試験槽内を急激に温度変化させられるようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、ＰＩＤ制御器がダンパーの開閉による試験槽内の急激な温度変化を外乱による制御の暴走と判断し、一時的に冷凍機又は加熱器の出力を下げる方向に制御する現象が発生することが判明した。そのため、冷凍機又は加熱器の出力が低下する分だけ、試験槽内の目標温度への到達時間が遅くなるという不具合が発生した。この場合、試験槽が目的とする温度に到達し、設定温度との偏差が±０℃になるまでＰＩＤ制御器を作動させないようにして、出力を最大値に維持する方法も考えられる。しかし、この場合には、制御遅れによって槽内温度がオーバーシュートする可能性がある。
【０００４】
なお、従来技術として、供試品が設定温度に到達したかどうかを判定すると共に、これを検出して試験モードを切り換え、通常設定される一定のさらし時間を短縮する方法及び装置は提案されている（特開平６ー１２３６８７号公報参照）。しかしこの装置では、試験モード切換からさらし温度へ到達するまでの時間を短縮することはできるない。
【０００５】
そこで本発明は従来技術に於ける上記問題を解決し、試験槽の目的温度への到達が早く且つ的確で、試験能率の向上された冷熱衝撃試験装置を提供することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために、請求項１の発明は、加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度が低温から高温に切り換えられると前記加熱手段で加熱された前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、
前記温度設定部で設定された温度が低温から高温に変更されたかどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験槽の温度の上昇率を測定する温度上昇率測定手段と、前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記予熱槽の放熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試験槽の温度の上昇率を付与できる温度上昇率付与手段と、前記温度上昇率測定手段によって測定された測定温度上昇率と前記温度上昇率付与手段によって付与された温度均衡時近傍温度上昇率とを比較する比較手段と、前記設定値変更検出手段が設定された温度が低温から高温に変更されたことを検出した場合において前記比較手段が前記測定温度上昇率と前記温度均衡時近傍温度上昇率とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部の制御に優先して前記加熱手段の加熱能力を大きくするように指示できる指示手段と、を有することを特徴とする。
【０００７】
請求項２の発明は、加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度が高温から低温に切り換えられると前記冷却手段で冷却された前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、前記温度設定部で設定された温度が高温から低温に変更されたどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験槽の温度の下降率を測定する温度下降率測定手段と、前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記予冷槽の吸熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試験槽の温度の下降率を付与できる温度下降率付与手段と、前記温度下降率測定手段によって測定された測定温度下降率と前記温度下降率付与手段によって付与された温度均衡時近傍温度下降率とを比較する比較手段と、前記設定値変更検出手段が設定された温度が高温から低温に変更されたことを検出した場合において前記比較手段が前記測定温度下降率と前記温度均衡時近傍温度下降率とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部の制御に優先して前記冷却手段の冷却能力を大きくするように指示できる指示手段と、を有することを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
図１は本発明を適用した冷熱衝撃試験装置の構成例を示す。
冷熱衝撃試験装置は本体部分１００、操作制御部分２００等によって構成されている。本体部分１００は、断熱槽１０１に囲われていて、加熱手段としての加熱器１１を備えた予熱槽１と冷却手段としての冷却装置２１を備えた予冷槽２とＰＩＤ制御部３１によって温度設定部３２で設定された温度に制御される試験槽３とを備えている。そして、これらの３槽により、試験槽３の温度条件を例えばＴ1 ＝−６５℃からＴ2 ＝１５０℃までの低温から高温又はこれと反対の高温から低温に切り換え、加熱器１１又は冷却装置２１で加熱又は冷却された予熱槽１又は予冷槽２の気体としての空気を試験槽３に導入して循環させ、低温さらしと高温さらしとの交互の繰り返し試験を行うことができる。
【０００９】
冷熱衝撃試験装置の操作制御部分２００は、前記ＰＩＤ制御部３１に加えて、試験条件切換時の温度制御部分として、設定値変更検出手段としての前記温度設定部３２及び設定変更検出部４、温度上昇率測定手段又は温度下降率測定手段としての試験槽３の温度センサ３３及び温度変化率計算部５、温度上昇率付与手段又は温度下降率付与手段としての温度変化率設定部６、比較手段としての温度変化率比較部７、指示手段としての切換制御部８及び最大出力付与器９、等を備えている。
【００１０】
本体部分１００の予熱槽１内には、前記加熱器１１と共に、試験槽３を介して高温空気を循環させるための高温主送風機１２及び高温空気を内部循環させる補助送風機１３が設けられている。予冷槽２内には、前記冷却装置２１と共に、試験槽３を介して低温空気を循環させる低温送風機２２及び冷熱量を蓄積する蓄冷器２３が設けられている。冷却装置２１は、本例では冷凍機２１ａ及び冷却温度調整用の温調加熱器２１ｂで構成されている。冷凍機２１ａには、図示していないが、冷却用の蒸発器及びこれを通過させて低温空気を供給し槽内循環も可能にする送風機が設けられている。
【００１１】
試験槽３には、高温空気入口及び出口のダンパー１４及び１５と低温空気入口及び出口のダンパー２４及び２５とが装着されている。これらの開閉により、上記の如く高温又は低温空気が導入され、内部に入れられる電気・電子機器やそれらの部品等の試料Ｗを高温さらし及び低温さらしの繰り返しによって冷熱衝撃試験できるようになっている。図の実線及び鎖線はそれぞれ試料Ｗの低温さらし及び高温さらし時のダンパーの開閉状態を示す。なお、図示していないが、通常これらの試験と組み合わせて常温さらし試験もできるように、外気の吸入排出口及びそれらのダンパ等が設けられる。符号３３は温度センサである。
【００１２】
試験条件切換時の温度制御部分の設定変更検出部４は、温度設定部３２で設定された温度が低温から高温又は高温から低温に変更されたどうかを検出する。即ち、前の設定値を記憶しておき、後の設定値を取り入れて両者を比較し、設定温度の低温から高温への切り換え又はこの反対の切り換えを検出する。
【００１３】
設定値は、低温さらし及び高温さらしの繰り返し試験時には、例えば図４に示す如く、一定の時間間隔ｔ1 、ｔ2 で−６５°Ｃの低温Ｔ1 から１５０°Ｃの高温Ｔ2 までの温度変化を繰り返すように、タイマ等を介在させて通常自動的に設定される。但し、マニュアル設定も可能であることは勿論である。この例では、設定変更検出部４がＴ1 を記憶しているときに、自動又は手動操作によって温度設定部３２でＴ2 が設定されたとすると、これらを比較し、低温から高温への切換え、即ち、低温さらしモードから高温さらしモードに変更されたことが検出される。
【００１４】
温度変化率計算部５は、タイマを内蔵していて、試験槽の温度センサ３３の測定値を短い時間間隔をおいて複数回として例えば２回入力し、この間の検出値の差を経過した時間で割って温度変化率Ｔ´pv＝dT/dt(pv) を算出し、これを試験槽の測定温度変化率とする。計算値がプラスのときには温度上昇率とし、マイナスのときには温度下降率とする。マイナスのときには、以下においては絶対値の大小によって判断される。
【００１５】
温度変化率設定部６では、予熱槽１又は予冷槽２の空気が試験槽３に導入されて循環され、予熱槽１の放熱効果又は予冷槽２の吸熱効果がなくなり、試験槽３と同程度の温度になったときの値である温度均衡時近傍温度上昇率又は下降率を設定によって付与することができる。なお、上昇率及び下降率の両方を変化率Ｔ´sv＝dT/dt(sv) とする。又、温度均衡時近傍温度上昇率、下降率又は変化率を、以下では「中和時上昇率」「中和時下降率」又は「中和時変化率」という。
【００１６】
更に説明すると、例えば予熱槽１では、補助送風機１３が連続運転されていると共に、加熱器１１が高温さらし時の温度より少し高い温度に制御されていて、槽内では高温空気が循環され、槽内の装備品や内壁等の熱保有体がこれらと同じ温度になっていて、高温熱量を保有している。その結果、ダンパー１４、１５が開かれると、低温状態になっている試験槽に予熱槽内の空気が送られて循環され、予熱槽が試験槽に保有する高温熱量を移転する放熱作用をなす。そして、この放熱作用とヒータの加熱熱量とによって試験槽３内の温度が次第に上昇するが、一方では、予熱槽１内の蓄熱温度が低下するため、両槽の温度が接近して放熱作用がなくなり、両槽が温度的に中和した状態になる。
【００１７】
その後、試験槽３は加熱器１１の加熱量だけで昇温する。又、試験槽３内の温度が上昇すると、予熱槽１をある程度再加熱することにもなる。試験槽３の中和時温度上昇率とは、このような状態になったときの近傍の温度上昇率を言う。そして、本例では、この中和時温度上昇率を、実際の装置毎に予め熱量計算したり試験することによって求めておき、その値を温度変化率設定部６で設定することによって付与するようにしている。但し、例えば各槽の適当な位置の壁面やその近傍に温度センサを設け、これらの温度が一定値以内に接近しているときの実測値を中和時温度変化率とし、これを自動的に付与できるようにすることも可能である。
【００１８】
温度変化率比較部７は、試験槽の温度センサ３３で測定され温度変化率計算部５で計算された測定温度変化率と前記温度変化率設定部６によって付与された中和時温度変化率とを入力してこれらを比較する。この比較は、それぞれの変化率の絶対値で行われる。
【００１９】
切換制御部８及び最大出力付与部９は、設定変更検出部４が設定された温度が低温から高温又は高温から低温に変更されたことを検出した場合において、温度変化率比較部７が測定温度上昇率又は下降率Ｔ´pvと設定された中和時温度上昇率又は下降率Ｔ´svとがほぼ同じになったと判断するまで、ＰＩＤ制御部３１の制御に優先して加熱器１１の加熱能力又は冷却装置２１の冷却能力を大きくするように指示できる。
【００２０】
即ち、切換制御部８は、予熱槽１又は予冷槽２と試験槽３との間が温度均衡状態に到達していないと判断したときは、最大出力設定部９の方に動作信号を送り、ＰＩＤ制御部３１の制御に優先して、加熱器１１又は冷却装置２１の出力を例えば１００％にするように指示できる。これにより、加熱器１１又は冷却装置２１の駆動器１１ａ又は２１ｃを介してそれぞれを１００％出力で駆動する。なお本例では、冷却装置２１の出力を１００％にするために、温調用加熱器２１ｂを設けてその出力を０％にするようにしている。比較部７が測定温度変化率Ｔ´pvより中和時温度変化率Ｔ´svの方が大きくなったと判断したときには、当然ＰＩＤ制御部３１による制御に移行する。
【００２１】
図２及び図３は、以上のような試験条件切換時の温度制御部分による制御フローの一例を示す。
この制御が開始されると、設定変更検出部４で試験槽３の設定温度Ｔsv2 が前の設定温度Ｔsv1 から変更されたどうかを判断し（Ｓー１）、続いてその変更値が前の値より大きいか小さいかを判断する（Ｓー２）。これにより、低温さらしから高温さらしへの変更又は高温さらしから低温さらしへの変更の何れであるかが判別される。
【００２２】
Ｔsv2 がＴsv1 より大きくなっている場合、即ち低温さらしから高温さらしに設定変更されている場合には、本例では、温度変化率比較部７に追加機能を設け、現在の試験槽の温度Ｔpvと設定温度Ｔsv2 ＋ｘとを比較するようにしている（Ｓー３）。これにより、前者が後者より小さいときには、即ち、低温から高温に設定変更された場合において、ヒステリシスx を加えても温度の実測値が設定値に到達していないときには、その結果を切換制御部８に送り、最大出力付与部９を作動させ、加熱器１１を１００％出力で駆動する（Ｓー４）。なお、このステップ（Ｓー３）を設けるのは、ノイズや外乱又は過渡期の制御乱れ等に対応できるようにするためである。
【００２３】
次に、温度変化率比較部７で実際の温度上昇率Ｔ´pvと温度変化率設定部６で設定された中和時温度上昇率Ｔ´svと比較し（Ｓー５）、前者が後者と同等以下の値になっていれば、即ち予熱槽１と試験槽３とが温度的に中和状態になれば、ＰＩＤ制御部３１による制御の初期値を決定するために更にＴpvとＴsv2 との比較し（Ｓー６）、前者が後者より小さい通常の値になっていれば、初期操作量を１００％にしてＰＩＤ制御部３１を作動させ（Ｓー７）、ノイズや外乱又は過渡期の制御乱れ等のためにＴpvがＴsv2 より小さくなっていた場合には、初期操作量ｙでＰＩＤ制御部３１を作動させる（Ｓー８）。
【００２４】
外乱等によりステップ（Ｓー３）で既にＴpvが（Ｔsv2 ＋ｘ）より大きくなっている場合には、初期操作量０でＰＩＤ制御部３１を作動させる（Ｓー９）。上記初期操作量ｙは、例えばＴpvとＴsv2 との偏差に対応した値に決定される。ステップ（Ｓ−５）で中和点に到達していないと判断された場合には、一定の制御周期でステップ（Ｓ−３）からの制御が繰り返される。その結果、中和点までは加熱器が１００％出力で駆動され、昇温時間が速くなる。
【００２５】
図３は、ダンパー１４、１５が閉鎖され２４、２５が開かれ、高温さらしから低温さらしに設定変更されたときの制御フローを示す。
図２に示すステップ（Ｓー２）でＴsv2 がＴsv1 より小さいことが検出されると、図１に示す冷却装置２１の温調用加熱器２１ｂが制御される。即ち、図２の場合と同様に、切換制御部８で最大出力付与部９を作動させ、温調用加熱器２１ｂの出力を０％にして冷却装置２１の出力を１００％にし（Ｓー１）、以下のステップ（Ｓー２〜５）では図２の（Ｓー５〜８）と全く同様の制御を行う。なお、Ｔ´pvとＴ´svとを絶対値で比較するのは、温度上昇時と温度下降時とを同様に扱うためである。低温さらしモードへの切換時にも、中和点までは冷却装置の能力が１００％に維持されるので、試験槽の温度下降速度が速くなる。
【００２６】
図４は、低温さらしモードと高温さらしモードとを交互に切り換えたときの試験槽温度の変化状態の一例を示す。
例えば点Ｐ1 で設定温度が低温Ｔ1 から高温Ｔ2 に切り換えられ、ダンパー２４、２５が閉じてダンパー１４、１５が開くと、予熱槽内の高温空気が試験槽に流入し、予熱槽の蓄熱量が加熱器の加熱量と共に試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度が急上昇する。このようなときに加熱器出力のＰＩＤ制御を継続すると、急激な温度変化を外乱による温度の暴走と判断し、加熱器出力を下げるように操作されるが、以上のように、点Ｐ1 で加熱出力を１００％にするので、温度上昇曲線のＣ部分は最大又はこれに近い温度上昇率Ｔ´pv＝ tanθ1 で推移する。
【００２７】
両室の温度が中和点Ｐ2 に近づくと、予熱槽熱量の持込み量が減少するため、加熱器出力が１００％であっても試験槽の温度上昇率は低下する。そして、中和温度になると、試験槽は加熱器の出力だけで加熱される。このような状態のときに、加熱器出力１００％制御からＰＩＤ制御に移行する。従って、ＰＩＤ制御が暴走することなく、このときの状況に適合した制御を行なう。その結果、加熱器の能力を最も効率良く利用することができ、モード切換から高温到達までの時間ｔを最短にして、試験能率を上げることができる。なお、中和点Ｐ2 が高温Ｔ2 に近い位置にあるのは、通常予熱槽が試験槽よりも十分大きい熱容量を持つためである。
【００２８】
中和点Ｐ2 では、曲線Ｃ部分に較べて温度上昇率Ｔ´pv＝ tanθ2 が十分小さくなり、計算等で求めた中和時温度上昇率である設定値Ｔ´svが正確で測定値と一致していれば、丁度中和点Ｐ2 でＰＩＤ制御に移行する。しかし、測定温度変化率Ｔ´pvは中和点Ｐ2 の近傍で大きく変化するので、設定値Ｔ´pvがそれ程正確でなくても、この近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実行される。従って、本発明の制御方式によれば、加熱器の出力が有効に利用されると共に、試験槽温度がオーバーシュートするおそれがなく、試験槽温度を安定して高温Ｔ2 へ到達させることができる。
【００２９】
点Ｐ3 で設定温度を高温Ｔ2 から低温Ｔ1 に切り換えたときには、温度は下降するが、上記と同様の温度変化傾向になる。即ち、予冷槽内の低温空気が試験槽に流入し、蓄冷器２４を含む予冷槽の蓄熱量が冷却装置の冷却量と共に試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度が急下降する。この場合、点Ｐ3 で冷却出力を１００％にするので、温度下降曲線のＣ´部分は最大又はこれに近い温度下降率Ｔ´pv＝ tanθ3 の絶対値で推移する。
【００３０】
両室の温度が中和点Ｐ4 に近づくと温度下降率は低下し、中和温度になると、冷却出力１００％制御からＰＩＤ制御に移行し、このときの状況に適合した制御を行なう。その結果、冷却装置の能力を最も効率良く利用することができ、モード切換から低温到達までの時間ｔ´を最短にして、試験能率を上げることができる。又、中和点Ｐ4 では、曲線Ｃ´部分に較べて温度下降率Ｔ´pv＝ tanθ4 の絶対値が十分小さくなり、中和点Ｐ4 又はその近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実行され、試験槽温度をオーバーシュートさせることなく安定して低温Ｔ1 へ到達させることができる。なお、中和点Ｐ4 が低温に近い位置にあるのは、蓄熱器２３同の熱保有体を持つ予冷槽が試験槽よりも十分大きい熱容量を持つためである。
【００３１】
【発明の効果】
以上の如く本発明によれば、試験槽の温度が低温から高温又は高温から低温に切り換えられると加熱手段又は冷却手段で加熱又は冷却された予熱槽又は予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環されるので、試験槽には加熱手段又は冷却手段の加熱熱量又は冷却熱量と共に予熱槽又は予冷槽の保有する高温熱量又は低温熱量が導入される。このときには、試験槽に与えられる加熱熱量又は冷却熱量が多く、この状態を持続させることによって試験槽を早く温度上昇又は温度下降させることができる。一方、この試験槽の温度は基本的にはＰＩＤ制御の対象になっている。
【００３２】
ここで、設定値変更検出手段と温度上昇率又は下降率測定手段と温度上昇率又は下降率付与手段と比較手段と指示手段とを設けているので、これらにより、温度設定部で設定された温度が変更されたかどうかを検出し、設定された温度の変更が検出されると、ＰＩＤ制御部の制御に優先して加熱手段の加熱能力又は冷却手段の冷却能力を大きくするように指示できるので、例えばこれらの能力を１００％にすることができる。その結果、設定変更時の急激な温度変化がＰＩＤ制御部の制御能力を超えるような状態のときに、ＰＩＤ制御部によって加熱手段又は冷却手段の能力を低下させるような制御が確実に防止される。
【００３３】
予熱槽又は予冷槽の高温又は低温気体が試験槽を循環すると、試験槽の温度が上昇又は下降すると共に予熱槽の温度が低下するか又は予冷槽の温度が上昇し、各槽間の温度が均衡した状態になる。この時からは、加熱手段又は冷却手段は試験槽と共に予熱槽又は予冷槽もある程度加熱又は冷却しつつ試験槽を昇温又は降温させるので、温度上昇率又は下降率が大幅に低下する。本発明では、比較手段により、測定温度上昇率又は下降率と付与された温度均衡時近傍温度上昇率又は下降率とを比較し、比較手段が測定値と付与値とが同程度になったと判断するまで指示手段がＰＩＤ制御を保留させるので、それまでの間、試験槽の温度上昇率又は温度下降率を最大にし、昇温及び降温時間を最短にして試験能率を上げることができる。
【００３４】
一方、その後は原則的なＰＩＤ制御に復帰するので、ＰＩＤ制御部が的確に試験槽の温度を制御をすることができる。その結果、設定変更時の強制的な大出力付与制御を温度均衡時点でＰＩＤ制御に切り換えることにより、その後の試験槽の温度上昇を迅速且つ適正な状態にし、到達温度のオーバーシュートも確実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した冷熱衝撃試験装置の全体構成を示す説明図である。
【図２】上記装置によって低温さらしから高温さらしに切り換えたときの制御の一例を示すフローチャートである。
【図３】上記装置によって高温さらしから低温さらしに切り換えたときの制御の一例を示す部分フローチャートである。
【図４】低温さらしと高温さらしとの切換時の試験槽温度の変化状態を示す曲線図である。
【符号の説明】
１              予熱槽
２              予冷槽
３              試験槽
４              設定変更検出部（設定値変更検出手段）
５              温度変化率計算部（温度上昇率及び下降率測定手段）
６              温度変化率付与部（温度上昇率及び下降率付与手段）
７              温度変化率比較部（比較手段）
８              切換制御部（指示手段）
９              最大出力付与部（指示手段）
１１            加熱器（加熱手段）
２１            冷却装置（冷却手段）
２１ａ          冷凍機（冷却手段）
２１ｂ          温調用加熱器（冷却手段）
３１            ＰＩＤ制御部
３２            温度設定部（設定値変更検出手段）
３３            温度センサ（温度上昇率及び下降率測定手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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