(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理方法において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更することを特徴とするエネルギーサブトラクション処理方法。
【請求項２】
前記パラメータを、前記信号分布の幅に基づいて変更することを特徴とする請求項１記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
【請求項３】
前記パラメータを、前記信号分布の幅の比に基づいて変更することを特徴とする請求項２記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
【請求項４】
前記信号分布の幅が、前記放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものであることを特徴とする請求項２または３記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
【請求項５】
同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理装置において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更するパラメータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするエネルギーサブトラクション処理装置。
【請求項６】
前記パラメータ変更手段が、前記信号分布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものであることを特徴とする請求項５記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
【請求項７】
前記パラメータ変更手段が、前記信号分布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するものであることを特徴とする請求項６記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
【請求項８】
前記信号分布の幅が、前記放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものであることを特徴とする請求項６または７記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はエネルギーサブトラクション処理方法および装置に関し、詳細にはエネルギーサブトラクション処理のためのパラメータ変更の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、放射線写真フイルムに記録された放射線画像を光電的に読み取って画像データを得、この画像データに適切な画像処理を施した後、画像を再生記録することが種々の分野で行われている。たとえば、後の画像処理に適合するように設計されたガンマ値の低いＸ線フィルムを用いてＸ線画像を記録し、このＸ線画像が記録されたフィルムからＸ線画像を光電的に読み取って電気信号を得、この画像信号をデジタル画像データに変換し、この画像データに画像処理を施した後、コピー写真等に可視像として再生することにより、コントラスト、シャープネス、粒状性等の画質性能の良好な再生画像を得ることが行われている（特公昭61-5193 号参照）。
【０００３】
また本願出願人により、放射線（Ｘ線，α線，β線，γ線，電子線，紫外線等）を照射すると、この放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）を利用して、人体等の被写体の放射線画像情報を一旦シート状の蓄積性蛍光体に記録し、この蓄積性蛍光体シートをレーザー光等の励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、得られた輝尽発光光を光電的に読み取って画像データを得、この画像データに基づき被写体の放射線画像を写真感光材料等の記録材料、ＣＲＴ等に可視像として出力させる放射線画像記録再生システムがすでに提案されている（特開昭55-12429号，同56-11395号，同55-163472 号，同56-104645 号，同55- 116340号等）。このシステムは、従来の銀塩写真を用いる放射線写真システムと比較して極めて広い放射線露出域にわたって画像を記録しうるという実用的な利点を有している。
【０００４】
上記システムにおいて、蓄積性蛍光体シートに照射された放射線の線量等に応じて最適な読取条件で読み取って画像信号を得る前に、予め低レベルの光ビームにより蓄積性蛍光体シートを走査してこのシートに記録された放射線画像の概略を読み取る先読みを行い、この先読みにより得られた先読画像信号を分析し、その後上記シートに高レベルの光ビームを照射して走査し、この放射線画像に最適な読取条件で読み取って画像信号を得る本読みを行うように構成されたシステムが知られている。
【０００５】
ここで読取条件とは、読取りにおける輝尽発光光の光量と読取装置の出力との関係に影響を与える各種の条件を総称するものであり、例えば入出力の関係を定める読取ゲイン、スケールファクタ、あるいは読取りにおける励起光のパワー等を意味するものである。
【０００６】
また、この先読みを行わずに読取条件を設定するための方法が本願出願人により提案されている（特開昭55-48672号，同55-50180号，同56-11348号等）。この方法は、蓄積性蛍光体シートに放射線を照射したときにシートから発せられる瞬時発光光を検光検出器により検出し、この瞬時発光光から放射線画像の特性あるいは蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された放射線の蓄積量等の情報を得て、読取条件を決定する方法である。
【０００７】
さらに、この先読みを行うシステムか先読みを行わないシステムかによらず、得られた画像信号（先読画像信号を含む）を分析し、画像信号に画像処理を施す際の最適な画像処理条件を決定するようにしたシステムもある。ここで画像処理条件とは、画像信号に基づく再生画像の階調や感度等に影響を及ぼす処理を該画像信号に施す際の各種の条件を総称するものであり、前述した先読みを行なわないシステムにおいては前述した読取条件である読取ゲイン、スケールファクタをも含むものである。この画像信号に基づいて最適な画像処理条件を決定する方法は、蓄積性蛍光体シートを用いるシステムに限られず、たとえば従来のＸ線フィルム等の記録シートに記録された放射線画像から画像信号を得るシステムにも適用されている（以下、本明細書中、このような読取条件および／または画像処理条件を決定するシステムをＥＤＲ（Exposure Data Recognizer）処理システムまたはＥＤＲ処理手段ということがある）。
【０００８】
また上記のようにＸ線フイルムや蓄積性蛍光体シート等を用いるシステムにおいて、記録された複数の放射線画像を読み取って複数の画像データを得た後、これらの画像データに基づいて上記放射線画像のサブトラクション処理を施すことがある。
【０００９】
ここで、放射線画像のサブトラクション処理とは、互いに異なった条件で撮影された複数の放射線画像の差に対応する画像を得る処理をいい、具体的にはこれら複数の放射線画像を所定のサンプリング間隔で読み取って各放射線画像に対応する複数のデジタルの画像データを得、これら複数の画像データの各対応するサンプリング点（画素）毎に減算処理を施すことにより、放射線画像中の特定の被写体部分（以下、組織または構造物等の陰影とも称する）のみを強調または抽出した放射線画像を得る処理をいう。
【００１０】
このサブトラクション処理には基本的には次の二つがある。すなわち、造影剤の注入により被写体の特定の部分（たとえば人体を被写体としたときの血管等の陰影）が強調された放射線画像から造影剤が注入されていない放射線画像を引き算（サブトラクト）することによって被写体の特定の部分（血管等の陰影）を抽出するいわゆる時間サブトラクションと、被写体の特定の部分が互いに異なるエネルギーを有する放射線に対して異なる放射線吸収率を有することを利用して、同一の被写体に対して互いに異なるエネルギーを有する放射線を照射してこれら互いに異なるエネルギーを有する各放射線による複数の放射線画像を得、これら複数の放射線画像を適当に重み付けしてその差を演算すること（下記式（１）参照）によって被写体の特定部分を抽出するいわゆるエネルギーサブトラクションとがある。本出願人も蓄積性蛍光体シートを用いたエネルギーサブトラクションについて提案している（特開昭59-83486号，特開昭60-225541号）。
【００１１】
Ｓproc＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ＋Ｋｃ                        （１）
ただし、Ｓprocはサブトラクション処理により得られるサブトラクション画像データ、Ｋａ，Ｋｂは重み付け係数、Ｋｃはバイアス成分（以下、Ｋａ，Ｋｂ，Ｋｃをまとめてサブトラクション処理のパラメータという）、Ｈはいわゆる高圧側の画像データ、Ｌはいわゆる低圧側の画像データをそれぞれ意味する。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記エネルギーサブトラクション処理に関し、被写体の放射線撮影を行なう際、所定のエネルギー分布を有する放射線を被写体に照射すると、例えば被写体の体厚に応じて放射線透過率が異なり、しかも低エネルギーの放射線ほど透過率が低いため、放射線が被写体を透過するにしたがって放射線のエネルギー分布が全体として高エネルギー側に偏るいわゆるビームハードニングの現象が生じることが知られている。
【００１３】
例えば骨部の骨塩定量をエネルギーサブトラクション処理によって行なう場合、骨部の厚さが同一であってもこの骨部を取り囲む軟部組織の厚さが厚い場合はビームハードニングによる影響が大きいため骨部濃度が薄くなり、一方、軟部組織の厚さが薄い場合はビームハードニングによる影響が小さいため骨部濃度が濃くなる。
【００１４】
このようにビームハードニングの影響の大小によって、抽出した組織の濃度が変動したのでは的確な診断に悪影響を与えることになる。特に過去に得られたエネルギーサブトラクション画像と現在得られたエネルギーサブトラクション画像とを比較する場合に、両画像間でビームハードニングの影響度合に差があれば、現在も病巣部が存在するにも拘らず、治癒したとの誤った判断がなされる虞れもある。
【００１５】
またエネルギーサブトラクション画像は、放射線の被写体内部における散乱の影響を受けやすく、散乱の度合に応じてエネルギーサブトラクション画像の画質が変化する。したがってエネルギーサブトラクション画像の画質を向上させるためには放射線の被写体内部における散乱の影響も考慮する必要がある。
【００１６】
そこで本出願人は、ビームハードニングを低減すべく、被写体の体厚に応じて上記サブトラクション処理のパラメータを変更するエネルギーサブトラクション処理方法を提案し（特願平8-278236号（特開平10-118056号））、さらにこの中で本出願人は、体厚と相関を有する、エネルギーサブトラクション処理の対象となる放射線画像中の所望とする組織の陰影を最適な階調で再生し得る画像処理条件（例えば、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター（Ｇｐ）値またはラチチュード（Ｌ）値）に応じて、前記パラメータを変更することも提案している。
【００１７】
しかし、体厚はビームハードニングに影響を与える一因であるものの、体厚によってのみビームハードニングの大小を決定するものではないため、ビームハードニングを十分に低減するには至っていない。
【００１８】
本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、放射線のビームハードニング、散乱の影響を、従来よりも低減することを可能にしたエネルギーサブトラクション処理方法および装置を提供することを目的とするものである。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
本発明のエネルギーサブトラクション処理方法は、同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理方法において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更することを特徴とするものである。
【００２０】
ここで、所定のパラメータに基づいたエネルギーサブトラクション処理とは、例えば下記式（１）に示すものを意味する。
【００２１】
Ｓproc＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ＋Ｋｃ                        （１）
ただし、Ｓprocはエネルギーサブトラクション処理により得られるエネルギーサブトラクション画像データ、Ｋａ，Ｋｂは重み付け係数、Ｋｃはバイアス成分（Ｋａ，Ｋｂ，Ｋｃをサブトラクション処理のパラメータと総称する）、Ｈはいわゆる高圧側の画像データ、Ｌはいわゆる低圧側の画像データをそれぞれ意味する。
【００２２】
高圧側の画像データ、低圧側の画像データとは、それぞれ、他方に対して相対的に高エネルギー成分が強調された（または、低エネルギー成分が抑制された）画像データ、低エネルギー成分が強調された（または高エネルギー成分が抑制された）画像データを意味するものであり、例えば、エネルギー分離フィルターを介して２枚の蓄積性蛍光体シートを重ねるなどして、１回の放射線照射でエネルギー分布が互いに異なるこれら２つの画像データをそれぞれの蓄積性蛍光体シートに略同時に記録する、いわゆる１ショットエネルギーサブトラクション撮影においては、被写体から遠い側に配された蓄積性蛍光体シートからは高圧側の画像データが得られ、被写体に近い側に配された蓄積性蛍光体シートからは低圧側の画像データが得られる。
【００２３】
上記「主たる被写体の信号分布」とは、放射線画像全体の信号分布でもよいし、放射線画像中の一部の関心領域の信号分布でもよい。
【００２４】
また、「複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更する」とは、複数の放射線画像間の信号分布の違いを表わすものに基づいてパラメータを変更することを意味するものであり、例えば、主たる被写体の信号分布の幅に基づいてパラメータを変更するものでもよいし、主たる被写体の信号分布の幅の比に基づいてパラメータを変更するものでもよい。また、これらの他、主たる被写体の信号分布を変数にした関数などに基づいてパラメータを変更するものでもよい。なお、「信号分布の幅」とは、例えば、スケールファクター値（Ｇｐ値）またはラチチュード値（Ｌ値＝４／Ｇｐ）により定まるものや、濃度ヒストグラムの幅、画像全体または関心領域の最大最小濃度の差などを意味するものである。
【００２５】
本発明のエネルギーサブトラクション処理装置は、上記本発明のエネルギーサブトラクション処理方法を実施するための装置であって、同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理装置において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更するパラメータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするものである。
【００２６】
また、前記パラメータ変更手段を、前記信号分布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものとしてもよい。また、前記パラメータ変更手段を、前記信号分布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するものとすることもできる。
【００２７】
また、上記信号分布の幅を、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものとしてもよい。
【００２８】
なお、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法および装置は、複数の放射線画像のそれぞれについての信号分布に基づいてパラメータを変更するものであり、複数の放射線画像のうちいずれか１つについての信号分布に基づくものではない。
【００２９】
【発明の効果】
本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置によれば、複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、サブトラクション処理におけるパラメータを変更するから、放射線のビームハードニングや散乱の影響度合いに応じてパラメータを設定することが可能になり、サブトラクション処理における、ビームハードニング、散乱の影響を、従来よりも低減することが可能になる。
【００３０】
なお、信号分布の幅（特に、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター（Ｇｐ）値またはラチチュード（Ｌ）値）の比に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更すれば、放射線のビームハードニング、散乱の影響をより低減することができる。
【００３１】
すなわち上記式（１）によるエネルギーサブトラクション処理は、高圧画像と低圧画像の間で、骨組織または軟組織のコントラストを一致させて差分をとることにより、軟組織の画像または骨組織の画像を強調、抽出する演算であり、高圧画像と低圧画像の軟組織や骨組織のコントラストの比は、パラメータＫａ，Ｋｂと直接相関があるといえる。一方、信号分布の幅の比（特に、スケールファクター（Ｇｐ）値比やラチチュード（Ｌ）値比）は、高圧画像と低圧画像のコントラスト比を表すため、散乱線やビームハードニングの影響度合いを含めて、パラメータと相関がある。したがって、信号分布の幅の比に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更することにより、放射線のビームハードニング、散乱の影響をより低減することができる。
【００３２】
なお、スケールファクター（Ｇｐ）値やラチチュード（Ｌ）値は体厚を反映したものであり、散乱線やビームハードニングの影響度合いを直接反映したものではないため、パラメータとの相関は低いものと思われる。すなわち、既述の特開平10-118056号による技術は、被写体の体厚との関係から、サブトラクション処理の対象となる画像のうち一方の画像についての画像処理条件単独、または２つの画像の加算平均により得られた画像についての画像処理条件に応じてパラメータを変更するものであり、信号分布の幅の比の方がパラメータＫａ，Ｋｂとの相関度合いがより大きいため、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法および装置によれば、特開平10-118056号による技術よりも効果的にビームハードニング、散乱の影響を低減することができる。
【００３３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置の具体的な実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００３４】
図１は本発明のエネルギーサブトラクション処理装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図２は放射線撮影装置の概略図、図３は放射線画像読取装置と、画像処理装置および図１に示したエネルギーサブトラクション処理装置を内包する画像処理表示装置を示す斜視図である。
【００３５】
図示のエネルギーサブトラクション処理装置１０は、エネルギーサブトラクション処理のための予め設定されたパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃが記憶された記憶手段１と、外部の画像処理装置２０から入力されたスケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）に基づいてパラメータＫａ，Ｋｂ，ＫｃをそれぞれＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に変更するパラメータ変更手段２と、エネルギーサブトラクション処理の対象となる、エネルギー状態が相異なる２つの放射線画像Ｐ１，Ｐ２（Ｐ１；高エネルギー成分が相対的に強調された画像（以下、高圧画像という），Ｐ２；低エネルギー成分が相対的に強調された画像（以下、低圧画像という））をそれぞれ読み取って得られた２つの放射線画像データＳ１，Ｓ２（Ｓ１；高圧画像を読み取って得られた高圧画像データ，Ｓ２；低圧画像を読み取って得られた低圧画像データ）の規格化処理された画像データＳ１′，Ｓ２′（Ｓ１′；高圧画像データを規格化処理して得られた規格化高圧画像データ，Ｓ２′；低圧画像データを規格化処理して得られた規格化低圧画像データ）を記憶する内部メモリ３と、パラメータ変更手段２により変更されたパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に基づき下記式（２）にしたがって内部メモリ３に記憶された２つの規格化画像データＳ１′，Ｓ２′に対してサブトラクション処理を行なうエネルギーサブトラクション処理手段４とを備えた構成である。
【００３６】
Ｓproc＝Ｋａ′・Ｓ１′−Ｋｂ′・Ｓ２′＋Ｋｃ′            （２）
ただし、Ｓprocはサブトラクション処理により得られるサブトラクション画像データを意味する。
【００３７】
なお、サブトラクション処理は、規格化画像データＳ１′，Ｓ２′に対して行なうものに限らず、規格化処理される前の画像データＳ１，Ｓ２や、規格化画像をＧｐ値が一致するように補正した画像データＳ１′，Ｓ２″やＳ１″，Ｓ２′
（ただし、Ｓ１″＝（Ｓ１′−５１２）×Ｇｐ２／Ｇｐ１＋５１２，
Ｓ２″＝（Ｓ２′−５１２）×Ｇｐ１／Ｇｐ２＋５１２）
に対して行なってもよい。
【００３８】
ここで外部の画像処理装置２０は、入力された各画像データＳ１，Ｓ２についてそれぞれ、画像データのレベルごとの頻度の分布を示すヒストグラムを作成し、このヒストグラムの形状に基づいて所望とする画像部分に対応する画像データを認識し、その画像部分を最適な階調の可視像として再生し得るように画像データに対して規格化処理（ＥＤＲ処理）を行うものであり、具体的には、高圧画像データＳ１についてその頻度分布を表すヒストグラムを作成し、このヒストグラムに基づいてスケールファクターＧｐ１，ゲインＳｋ１を求め、これらスケールファクターＧｐ１，ゲインＳｋ１に基づいて高圧画像データＳ１に対して規格化処理を施して規格化高圧画像データＳ１′を得、一方、低圧画像データＳ２についてヒストグラムを作成し、このヒストグラムに基づいてスケールファクターＧｐ２，ゲインＳｋ２を求め、これらスケールファクターＧｐ２，ゲインＳｋ２に基づいて低圧画像データＳ２に対して規格化処理を施して規格化低圧画像データＳ２′を得る処理をなす（特開平4-51229号等）。
【００３９】
記憶手段１に予め記憶されているパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃは、標準的な体型の被写体についての高圧画像データＳ１，Ｓ２から、例えば骨組織を消去または抑制した、主として軟部組織からなるサブトラクション画像データＳprocを得るために設定されたパラメータであり、パラメータ変更手段２によるパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃの変更は、各パラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃごとの、スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比との対応関係を表す、パラメータ変更手段２に記憶されているルックアップテーブルを参照して新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に置換して行なうものである。なおこのルックアップテーブルは、スケールファクターの比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくなるにしたがって、パラメータＫａ，Ｋｂが大きくなるような特性で、かつスケールファクターの比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくなるにしたがって、パラメータＫｃが小さくなるような特性で設定されている。
【００４０】
放射線撮影装置３０の放射線管３１から発せられた放射線Ｘが被写体（人体の胸部）４０に照射される。被写体４０を透過した放射線Ｘａは、被写体４０に近い側に配された第２の蓄積性蛍光体シート５２に照射され、第２のシート５２に被写体４０の放射線画像Ｐ２が蓄積記録される。なおこの放射線画像Ｐ２は、後述する高圧画像Ｐ１に対して相対的に低エネルギー成分を多く含むものであるため、低圧画像と称する。
【００４１】
第２のシート５２を透過した放射線Ｘｂはさらに放射線の低エネルギー成分を抑制するフィルタ５５に到達し、放射線Ｘｂのエネルギーのうち低エネルギー成分が抑制された成分（相対的に高エネルギー成分が強調された成分）Ｘｃがフィルタ５５を透過し、この相対的に高エネルギー成分が強調された放射線Ｘｃが第１の蓄積性蛍光体シート５１に到達し、これにより第１のシート５１に被写体４０の高圧画像Ｐ１が蓄積記録される。
【００４２】
被写体４０には、サブトラクション処理を行なうにあたって２つの放射線画像Ｐ１，Ｐ２の位置合わせを行なうための基準となる２つのマーク４１が付されている。なお上記放射線撮影装置３０は１回の撮影（１ショット）で２つのシート５１，５２にそれぞれ放射線画像Ｐ１，Ｐ２を略同時に蓄積記録するものであるが、中間層にエネルギー分離フィルター５５を有し両面に蓄積性蛍光体層を備えた単一の蓄積性蛍光体シートを用いて撮影を行なうものであってもよいし、時間的に相前後した２つのタイミングでそれぞれ１枚ずつのシートに撮影を行なうもの（２ショット）であってもよい。
【００４３】
図２に示した放射線撮影装置３０で撮影が行なわれた後、第１および第２の蓄積性蛍光体シート５１，５２が一枚ずつ放射線画像読取装置６０の所定位置にセットされる。ここでは、第１の蓄積性蛍光体シート５１に蓄積記録された高圧画像Ｐ１の読取りの場合について説明する。
【００４４】
所定位置にセットされた、高圧画像Ｐ１が蓄積記録された蓄積性蛍光体シート５１は、図示しない駆動手段により駆動されるエンドレスベルト等のシート搬送手段６１により、矢印Ｙ方向に搬送（副走査）される。一方、レーザ光源６２から発せられた光ビームＬはモータ６３により駆動され矢印Ｒ方向に高速回転する回転多面鏡６４によって反射偏向され、ｆθレンズ等の集束レンズ６５を通過した後、ミラー６６により光路を変えて蓄積性蛍光体シート５１に入射し、副走査の方向（矢印Ｙ方向）に略直交する矢印Ｘ方向に主走査する。蓄積性蛍光体シート５１の、光ビームＬが照射された箇所からは、蓄積記録されている高圧画像Ｐ１に応じた光量の輝尽発光光Ｍ１が発せられ、この輝尽発光光Ｍ１は光ガイド６７によって導かれ、フォトマルチプライヤ（光電子増倍管）６８によって光電的に検出される。
【００４５】
フォトマルチプライヤ６８から出力されたアナログ信号Ａ１は、ログアンプ６９で対数的に増幅された後、Ａ／Ｄ変換器７０に入力され、サンプリングされてデジタルの高圧画像データＳ１が得られる。この高圧画像データＳ１は画像処理装置２０内の内部メモリ（図示せず）に一旦記憶される。
【００４６】
画像処理表示装置８０は、画像処理装置２０およびサブトラクション処理装置１０を内包するものであり、画像信号に対して各種の画像処理を施すものであり、種々の指示等を入力するキーボード８１、指示のための補助情報や画像データに基づく可視画像を表示するＣＲＴディスプレイ８２、並びに画像処理装置２０、サブトラクション処理装置１０およびその他の演算機能を備えた本体部８３が備えられている。
【００４７】
次に上記と同様にして、第２の蓄積性蛍光体シート５２に蓄積記録された低圧画像Ｐ２を表わす低圧画像データＳ２が得られ、この低圧画像データＳ２も画像処理装置２０内の内部メモリに一旦記憶される。
【００４８】
画像処理装置は内部メモリに記憶された各画像データＳ１，Ｓ２についてそれぞれ規格化処理を施して規格化画像データＳ１′，Ｓ２′を得、その過程でスケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２を得る。
【００４９】
規格化画像データＳ１′，Ｓ２′は、サブトラクション処理装置１０内の内部メモリ３に一旦記憶される。一方、各スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２はパラメータ変更手段２に入力される。パラメータ変更手段２は入力されたスケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）を算出し、記憶されているルックアップテーブルを参照して、この比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）に応じた新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′を求め、記憶手段１から読み出されたパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃをこの新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に置換して、サブトラクション処理手段４に入力する。
【００５０】
サブトラクション処理手段４には、内部メモリ３から、規格化高圧画像データＳ１′および規格化低圧画像データＳ２′が入力され、パラメータ変更手段２から入力された新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′を用いた上記式（２）にしたがって、サブトラクション画像データＳprocを算出する。
【００５１】
このように算出されたサブトラクション画像データＳprocは、散乱線やビームハードニングの影響度合いをも含めた内容となる、高圧画像と低圧画像のコントラスト比を表すスケールファクター値比、に応じてパラメータを変更するため、従来よりも有効に放射線のビームハードニング、散乱の影響が低減されたものとなる。
【００５２】
そして得られたサブトラクション画像データＳprocは、ＣＲＴ８２に入力され、ビームハードニングの影響が十分に低減された診断性能の高い可視像であるサブトラクション画像Ｐprocとして再生され、画像読影および診断に供される。
【００５３】
なお、本実施形態のエネルギーサブトラクション処理装置は、パラメータ変更手段２が、エネルギーサブトラクション処理の対象となる２つの画像のスケールファクター比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更するものとしたが、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置は、この態様に限定されるものではなく、エネルギーサブトラクション処理の対象となる２つの画像の、特にコントラストに関する画像処理条件の比に応じてパラメータを変更するものであれば、如何なるものであってもよく、例えば、ラチチュード値（Ｌ値＝４／Ｇｐ）の比に応じてパラメータを変更するものなどを適用することもできる。ラチチュードの比（＝Ｌ２／Ｌ１、Ｌ１；高圧画像についてのラチチュード，Ｌ２；低圧画像についてのラチチュード）に応じてパラメータを変更する場合は、このラチチュードの比（＝Ｌ２／Ｌ１）が小さくなるにしたがって、パラメータＫａ，Ｋｂを大きくし、かつパラメータＫｃを小さくするように、パラメータを変更するものとすればよい。
【００５４】
なお、上記実施形態においては、スケールファクターの比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくなるにしたがって、パラメータＫａ，Ｋｂを大きく、パラメータＫｃを小さくする形態を示したが、スケールファクターの比とパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃの関係はこの形態に限るものではない。
【００５５】
なお、処理対象の複数の放射線画像データを得る方式は、上記のような蓄積性蛍光体シートを走査する方式に限られるものではなく、固体検出器を用いる方式などでもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のエネルギーサブトラクション処理装置の一実施形態の構成を示すブロック図
【図２】放射線撮影装置の概略図
【図３】放射線画像読取装置と画像処理表示装置を示す図
【符号の説明】
１    記憶手段
２    パラメータ変更手段
３    内部メモリ
４    サブトラクション処理手段
10    エネルギーサブトラクション処理装置
20    画像処理装置
30    放射線撮影装置
40    被写体
51,52 蓄積性蛍光体シート
82    ＣＲＴ
【図１】
0003723136.tif 000002
【図２】
0003723136.tif 000003
【図３】
0003723136.tif 000004